(57)【要約】【課題】試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。【解決手段】光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第１の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。また、試験装置が出射した光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、記憶部が記憶している複数の終端装置の反射光強度のうち記憶部が記憶している反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを判定する減衰量判定部を有する。また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。【選択図】図１
2007205967.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験装置（２）からスプリッタ（３）で分岐され、複数の終端装置（４）に接続される光線路（ｆ）の障害を監視するための光線路監視装置（１）であって、
前記光線路に障害が発生していない状態において前記試験装置が出射する光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第１の記憶手段（１４）と、
第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第１の制御手段（１２）と、
前記第１の制御手段が出射した光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第２の記憶手段（１４）と、
前記第２の記憶手段が記憶している複数の終端装置の反射光強度のうち前記第１の記憶手段が記憶している反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを判定する減衰量判定手段（１２ａ）と、
反射光強度が減衰している終端装置があると前記減衰量判定手段が判定した場合に、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第２の制御手段（１２）と、
を有することを特徴とする光線路監視装置。
【請求項２】
前記第２の平均化時間は前記第１の平均化時間よりも長く、前記第２のパルス幅は前記第１のパルス幅よりも広いことを特徴とする請求項１に記載の光線路監視装置。
【請求項３】
前記第２の制御手段が出射した光信号に対する戻り光の波形に、反射及び／又は損失の異常が存在するか否かを判定する第３の制御手段（１２）と、
反射及び／又は損失の異常が存在すると前記第３の制御手段が判定した場合に、前記試験装置から前記異常が発生している地点までの距離を算出する第４の制御手段（１２）と、
を更に有することを特徴とする請求項１又は２に記載の光線路監視装置。
【請求項４】
前記試験装置と反射光強度が減衰していると前記減衰量判定手段が判定した終端装置とを結ぶ光線路上であって、前記試験装置から前記第４の制御手段が算出した距離だけ離れた地点でどのような障害が発生しているかについて表示する表示手段（１５）を更に有することを特徴とする請求項１から３までのいずれかの項に記載の光線路監視装置。
【請求項５】
試験装置（２）からスプリッタ（３）で分岐され、複数の終端装置（４）に接続される光線路（ｆ）の障害を監視するための光線路監視方法であって、
前記光線路に障害が発生していない状態において前記試験装置が出射する光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第１のステップと、
第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第２のステップと、
前記第２のステップで出射した光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第３のステップと、
前記第３のステップで記憶した複数の終端装置の反射光強度のうち前記第１のステップで記憶した反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを判定する第４のステップと、
反射光強度が減衰している終端装置があると第４のステップで判定した場合に、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第５のステップと、
を有することを特徴とする光線路監視方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置、スプリッタ、終端装置の間を結ぶＰＯＮ（Passive Optical Network）伝送路などの光分岐線路に発生する障害を監視するための光線路監視装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、スプリッタと終端装置を使用した分岐線路の監視を行う方法として、終端装置の反射光強度の変動を確認することにより光線路の異常を確認する方法が知られている（特許文献１）。この方法では、パルス幅を広げて測定を行うと終端装置の反射光の間隔が短い場合に反射光同士が重なってしまう場合がある。この場合は、一方の反射光強度に変動があっても、他方の終端装置の反射光のせいで、反射光強度の変動が確認できない。そのため、パルス幅は２０ｎｓ以下程度の短い値が用いられ、反射光ができるだけ重ならないようにしている。
また、どの終端装置で異常が発生しているのかを確認するだけでなく、スプリッタと終端装置間のどの距離で異常が発生しているかを確認したい場合がある。一般的な光線路の異常を検出する方法として、正常時と障害監視時の測定結果の差分を解析して障害が発生している地点を特定する方法が知られている。この方法は、スプリッタと終端装置間の障害検出にも用いることができる。
【特許文献１】特開平１０−１７０３９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
終端装置間の距離が短い場合、つまり各終端装置と試験装置との距離に差がない場合、反射光が重ならないようにするためには、パルス幅を短くして測定を行う必要がある。その際に光線路の損失が大きいとダイナミックレンジが不足し、ノイズが発生するという問題がある。特に、スプリッタを使用した分岐線路では、スプリッタで大きな損失が発生する。ノイズの大きい波形では、正常時と障害監視時の測定結果の差分を確認しても障害発生地点を特定することは難しい。また、ソフトウェア等で自動判定を行う際には、誤判定の確率が非常に高くなる。ノイズの発生を抑えるためにパルス幅を広げると終端装置の反射光が重なってしまうという問題が発生する。
つまり、終端装置ではＦＢＧ（Fiber Bragg Grating）フィルタを使用していると、フィルタの反射レベルが大きいため、平均化処理時間は比較的短く設定してもＳ／Ｎ比（Signal to Noise Ratio）が大で反射ピークを安定して検出することができるが、フィルタ反射以外の部分、例えば破断点などの障害発生点からの反射はノイズに埋もれてしまい判別困難になる場合がある。
しかし、破断点などが容易に判別できる程度にＳ／Ｎ比が大きな測定をするには、例えば一つの測定に９０秒程度必要であるから、１００ルートの測定を全部行うには非常に長い時間がかかってしまう。更に１回あたりの測定時間が長いために目的の異常ルートにたどり着くまでの時間が非常にかかり緊急時には対応することができないという問題があった。
【０００４】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、各終端装置の障害を確実に検出することができるとともに、その障害が発生している地点までの距離をノイズに影響されることなく正確に求めることができる光線路監視装置及び方法を提供することにある。また、本発明の目的は、障害点の発生箇所を正確かつ短時間で特定できる光線路監視装置及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、請求項１に記載の発明は、試験装置（２）からスプリッタ（３）で分岐され、複数の終端装置（４）に接続される光線路（ｆ）の障害を監視するための光線路監視装置（１）であって、前記光線路に障害が発生していない状態において前記試験装置が出射する光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第１の記憶手段（１４）と、第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第１の制御手段（１２）と、前記第１の制御手段が出射した光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第２の記憶手段（１４）と、前記第２の記憶手段が記憶している複数の終端装置の反射光強度のうち前記第１の記憶手段が記憶している反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを判定する減衰量判定手段（１２ａ）と、反射光強度が減衰している終端装置があると前記減衰量判定手段が判定した場合に、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第２の制御手段（１２）とを有することを特徴とする光線路監視装置である。
【０００６】
また、請求項２に記載の発明は、前記第２の平均化時間は前記第１の平均化時間よりも長く、前記第２のパルス幅は前記第１のパルス幅よりも広いことを特徴とする請求項１に記載の光線路監視装置である。
【０００７】
また、請求項３に記載の発明は、前記第２の制御手段が出射した光信号に対する戻り光の波形に、反射及び／又は損失の異常が存在するか否かを判定する第３の制御手段（１２）と、反射及び／又は損失の異常が存在すると前記第３の制御手段が判定した場合に、前記試験装置から前記異常が発生している地点までの距離を算出する第４の制御手段（１２）とを更に有することを特徴とする請求項１又は２に記載の光線路監視装置である。
【０００８】
また、請求項４に記載の発明は、前記試験装置と反射光強度が減衰していると前記減衰量判定手段が判定した終端装置とを結ぶ光線路上であって、前記試験装置から前記第４の制御手段が算出した距離だけ離れた地点でどのような障害が発生しているかについて表示する表示手段（１５）を更に有することを特徴とする請求項１から３までのいずれかの項に記載の光線路監視装置である。
【０００９】
また、請求項５に記載の発明は、試験装置（２）からスプリッタ（３）で分岐され、複数の終端装置（４）に接続される光線路（ｆ）の障害を監視するための光線路監視方法であって、前記光線路に障害が発生していない状態において前記試験装置が出射する光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第１のステップと、第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第２のステップと、前記第２のステップで出射した光信号に対する前記複数の終端装置からの反射光強度を記憶する第３のステップと、前記第３のステップで記憶した複数の終端装置の反射光強度のうち前記第１のステップで記憶した反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを判定する第４のステップと、反射光強度が減衰している終端装置があると第４のステップで判定した場合に、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を適用した光信号を前記試験装置から出射する第５のステップとを有することを特徴とする光線路監視方法である。
【発明の効果】
【００１０】
本発明では、光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を第１の記憶手段により記憶し、第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を適用した光信号を試験装置から第１の制御手段により出射し、第１の制御手段が出射した光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を第２の記憶手段により記憶し、第２の記憶手段が記憶している複数の終端装置の反射光強度のうち第１の記憶手段が記憶している反射光強度に比べて減衰している終端装置があるか否かを減衰量判定手段により判定し、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定手段が判定した場合に、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を適用した光信号を試験装置から第２の制御手段により出射するようにした。
このため、第２の平均化時間を第１の平均化時間よりも長く設定するとともに、第２のパルス幅を第１のパルス幅よりも広く設定して測定を行うことにより、第１の平均化時間及び／又は第１のパルス幅を使用した測定では、近接した反射光を持つ終端装置同士を識別することができる。あるいは、短い平均化時間で近接した反射光を持つ終端装置同士を識別することができる。また、第２の平均化時間及び／又は第２のパルス幅を使用した測定では、ノイズに影響されることなく終端装置や障害点等の発生箇所からの反射光強度を測定することができる。よって、高い精度で光線路上の障害発生地点を特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面を参照し、本発明の実施形態について説明する。
図１は、本発明の実施形態による光線路監視システムの概略構成図である。この光線路監視システムは、光線路監視装置１、試験装置２、スプリッタ３、終端装置４（４ａ〜４ｄ）を有する。なお、本実施形態では、試験装置２としてＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）を使用し、終端装置４としてＯＮＵ（Optical Network Unit）を使用する場合について説明する。
光線路監視装置１と試験装置２は、ＲＳ２３２−Ｃ（Recommended Standard 232 version C）などのケーブルｃ１を介して接続されており、１つの筐体１ａ内に収納されている。光線路ｆ１の一端は試験装置２に接続されており、光線路ｆ１の他端はコネクタ５に接続されている。また、光線路ｆ２の一端はコネクタ５に接続されており、光線路ｆ２の他端はスプリッタ３に接続されている。なお、光線路ｆ１と光線路ｆ２をコネクタ５により接続せずに、融着などにより接続してもよい。また、光線路ｆ３〜ｆ６の一端はスプリッタ３に接続されており、光線路ｆ３〜ｆ６の他端はそれぞれ終端装置４ａ〜４ｄに接続されている。
本実施形態では、光線路ｆ１、ｆ２として、それぞれ長さが１０ｋｍ、３５０ｍの光ファイバを用いた。また、光線路ｆ３〜ｆ６として、それぞれ長さが２８０ｍ、２９０ｍ、３００ｍ、３１０ｍの光ファイバを用いた。
【００１２】
光線路監視装置１は、ケーブルｃ１を介して、試験装置２を制御したり、試験装置２が測定した光信号の波形の情報等を取得したりする。試験装置２は、光線路監視装置１の制御に基づいて、光線路ｆ１を介して、スプリッタ３に向けて光信号を出射したり、スプリッタ３から出射する光信号を受光したりする。
スプリッタ３は、上位に接続されている試験装置２から光信号を受光すると、その光信号を等パワーで分岐させ、下位に接続されている終端装置４ａ〜４ｄに光信号を出射する。また、スプリッタ３は、下位に接続されている終端装置４ａ〜４ｄからの光信号を受光すると、それらの光信号を合波して、上位に接続されている試験装置２に出射する。スプリッタ３としては、例えば、石英基板上に光導波路がツリー状に分岐しているＰＬＣ（Planar Lightwave Circuit）型のものを用いることができる。
ここで、上位とは、試験装置２から終端装置４ａ〜４ｄに対して、ツリー（木）状に敷設されている光線路の根に相当する試験装置２が接続されている方向をいう。また、下位とは、試験装置２から各終端装置４ａ〜４ｄに対して、木状に敷設されている光線路の葉に相当する終端装置４が接続されている方向をいう。
【００１３】
終端装置４は、スプリッタ３から光信号を受光した場合に、光信号の特定波長をスプリッタ３に対して反射する。終端装置４としては、例えば、特定波長の光信号を反射するファイバグレーティングフィルタを内蔵している光コネクタなどを用いることができる。
なお、本実施形態では、スプリッタ３に終端装置４ａ〜４ｄを接続している場合について説明しているが、スプリッタ３に接続する終端装置４の台数は、スプリッタ３の分岐数以下であれば何台でもよい。また、本実施形態では、スプリッタ３に終端装置４ａ〜４ｄを接続している場合について説明しているが、スプリッタ３と終端装置４ａ〜４ｄとの間に更に他のスプリッタを配置することにより、多段構成にしてもよい。
【００１４】
図２は、本実施形態による光線路監視装置１の構成を示すブロック図である。光線路監視装置１は、入力部１１、制御部１２（第１〜第４の制御手段）、試験装置接続部１３、記憶部１４（第１及び第２の記憶手段）、表示部１５（表示手段）を有する。光線路監視装置１としては、ＰＣ（Personal Computer）などの機器が用いられる。
入力部１１は、キーボードなどの入力機器により構成される。入力部１１には、本実施形態による光線路監視システムの管理者等の操作により、試験装置２から各終端装置４ａ〜４ｄまでの距離や名称などの情報が入力される。
【００１５】
制御部１２は、光線路監視装置１を構成する入力部１１、試験装置接続部１３、記憶部１４、表示部１５を制御する。制御部１２は、減衰量判定部１２ａ（減衰量判定手段）、平均化時間設定部１２ｂ、パルス幅設定部１２ｃを有する。
減衰量判定部１２ａは、試験装置２が受光する各終端装置４からの反射光の波形を解析することにより、各終端装置４からの反射光の強度が減衰しているか否かを判定する。
平均化時間設定部１２ｂは、試験装置２から出射する光信号の平均化時間の長短を設定する。なお、平均化時間とは、平均化処理時間、つまり平均化処理回数のことをいう。
【００１６】
パルス幅設定部１２ｃは、試験装置２から出射する光信号のパルス幅の広狭を設定する。パルス幅が狭いと距離分解能が高くなり、終端装置４ａ〜４ｄからの反射が近接していても反射が重複し難い。ただし、ダイナミックレンジ（測定精度を維持できる距離）は短くなる。一方、パルス幅が広いと距離分解能が低くなり、終端装置４ａ〜４ｄからの反射が近接していた場合に、反射が重複してしまう。ただし、ダイナミックレンジは長くなる。
試験装置接続部１３は、試験装置２とケーブルｃ１（図１参照）を介して接続されている。試験装置接続部１３は、制御部１２の制御に基づいて、試験装置２から光線路ｆ１を介してスプリッタ３に向けて光信号を出射する。また、試験装置接続部１３は、試験装置２が受光する各終端装置４からの反射光の波形の情報を、ケーブルｃ１を介して取得する。
【００１７】
図３は、本実施形態による記憶部１４が記憶する情報の一例を示す図である。図に示すように、記憶部１４は、終端装置名（終端装置４ａなど）と、試験装置２から終端装置４までの距離を示す光線路長（２８０ｍなど）と、正常時における終端装置４の反射光強度（４８．０ｄＢなど）と、障害監視時における終端装置４の反射光強度（４８．０ｄＢなど）とを対応付けて記憶する。
ここで、正常時とは、光線路ｆ（ｆ１〜ｆ６）に障害が発生していない場合をいう。また、障害監視時とは、光線路ｆ（ｆ１〜ｆ６）や終端装置４ａ〜４ｄを設置した後の定期的な検査時、あるいは、障害発生通報時（アラームが発生したとき）に障害点を発見しようとする場合を指している。
に障害が発生しているか否かの測定を行う場合をいう。
【００１８】
終端装置名の情報と光線路長の情報とは、本実施形態による光線路監視システムの管理者等の操作により、入力部１１から入力される。また、正常時の反射光強度の情報と路障害監視時の反射光強度の情報は、試験装置２が各終端装置４から受光する戻り光の波形に基づいて求められる。
試験装置２から各終端装置４までの距離は異なる。よって、試験装置２から光信号を出射してから、反射光を受光するまでの時間に違いが生じるので、その時間の違いからどの反射光がどの終端装置４からの反射光であるのかを特定することができる。
【００１９】
表示部１５は、液晶表示装置などにより構成される。表示部１５は、各終端装置４ａ〜４ｄから受光する反射光の波形を表示したり、障害が発生している光線路ｆ１〜ｆ６の情報を表示したりする。
次に、本発明の第１の実施形態による光線路監視システムの処理について説明する。
【００２０】
図４は、本発明の第１の実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャートである。始めに、制御部１２は、光線路ｆ（ｆ１〜ｆ６）に障害が発生していない正常時において、スプリッタ３に向けて光信号を出射するように試験装置２に対して指示を与える。試験装置２から出射された光信号は、ツリー状に敷設されたスプリッタ３で分岐され、各終端装置４ａ〜４ｄで反射されて試験装置２に戻ってくる。試験装置接続部１３は、試験装置２が受光した戻り光の波形（図５）の情報を取得する。
【００２１】
図５は、本発明の第１の実施形態において、正常時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。横軸は試験装置２からの距離を示しており、縦軸は反射光強度を示している。図５の波形では、４つの反射ｐ１〜ｐ４が生じている。これらの反射ｐ１〜ｐ４は、それぞれ終端装置４ａ〜４ｄからの反射光を示している。なお、図５の波形の測定は、平均化時間５秒、パルス幅２０ｎｓという条件で行った。
【００２２】
制御部１２は試験装置２が受光した波形（図５）を解析することにより、各終端装置４ａ〜４ｄの反射ｐ１〜ｐ４の正常時の反射光強度を、終端装置名と対応付けて記憶部１４に記憶する（図４のステップＳ０１）。なお、光線路長は、図５で反射が生じている横軸の値を読み取ることにより求めることができる。
【００２３】
また、本実施形態による光線路監視システムの管理者等は、入力部１１から終端装置名の情報と光線路長の情報とを入力する。これにより、入力部１１は、終端装置名の情報と光線路長の情報とを取得する（ステップＳ０２）。制御部１２は、入力部１１が取得した終端装置名の情報と光線路長の情報とを、記憶部１４に対応付けて記憶する（図３参照）。
【００２４】
図４に戻り、制御部１２は、入力部１１から光線路の障害監視を開始するための指示が入力されたか否かについて判定する（ステップＳ０３）。指示が入力されていない場合には、ステップＳ０３で「ＮＯ」と判定し、再度、ステップ０３へ進む。一方、指示が入力された場合には、ステップＳ０３で「ＹＥＳ」と判定する。平均化時間設定部１２ａは、試験装置２に対して、第１の測定条件を使用して光信号を光線路ｆ１に出射するように指示を与える（ステップＳ０４）。本実施形態では、第１の測定条件として、平均化時間５秒、パルス幅２０ｎｓという条件により測定を行った。
試験装置２が出射した光信号は、ツリー状に敷設されたスプリッタ３で分岐され、各終端装置４で反射されて試験装置２に戻ってくる。試験装置接続部１３は、試験装置２が受光した戻り光の波形（図６）の情報を取得する。
【００２５】
図６は、本発明の第１の実施形態において、障害発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。横軸は試験装置２からの距離を示しており、縦軸は反射光強度を示している。制御部１２は、図６に示す波形において、各終端装置４ａ〜４ｄにおける光線路長に対応する反射光強度を読み取る。そして、各終端装置４ａ〜４ｄにおける光線路長と反射光強度とを対応付けて記憶部１４に障害監視時の反射光強度として記憶する（ステップＳ０５）。
【００２６】
次に、減衰量判定部１２ａは、記憶部１４に記憶されている各終端装置４ａ〜４ｄの障害監視時の反射光強度が、記憶部１４に記憶されている正常時の反射光強度から減衰しているか否かを判定する（ステップＳ０６）。
【００２７】
反射光強度が減衰していない場合には、ステップＳ０６で「ＮＯ」と判定し、所定時間待機した後（ステップＳ０７）、再度ステップＳ０５へ進み、処理を再開する。
一方、反射光強度が減衰している場合には、ステップＳ０６で「ＹＥＳ」と判定し、平均化時間設定部１２ａは、試験装置２に対して、第２の測定条件を使用して光信号を光線路ｆ１に出射するように指示を与える（ステップＳ０８）。本実施形態では、第２の測定条件として、平均化時間１４４秒、パルス幅２０ｎｓという条件により測定を行った。
【００２８】
制御部１２は、第２の測定条件を使用してスプリッタ３に向けて光信号を出射するように試験装置２に対して指示を与える。試験装置２が出射した光信号は、ツリー状に敷設されたスプリッタ３で分岐され、各終端装置４ａ〜４ｄで反射されて試験装置２に戻ってくる。試験装置接続部１３は、試験装置２が受光した戻り光の波形（図７）の情報を取得する。
【００２９】
図７は、本発明の第１の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。横軸は試験装置２からの距離を示しており、縦軸は反射光強度を示している。平均化時間を１４４秒に設定して測定を行った測定結果（図７）では、平均化時間を５秒に設定して測定を行った測定結果（図６）に比べて、波形の縦軸方向の変動であるノイズが少なくなり、光線路の故障に基づいて反射の異常ｐ５を明確に識別することができるようになっている。
【００３０】
図４に戻り、制御部１２は、各終端装置４ａ〜４ｄの反射ｐ１〜ｐ４以外の反射が存在するか否かを判定する（ステップＳ１０）。反射ｐ１〜ｐ４以外の反射が存在しない場合には、ステップＳ１０で「ＮＯ」と判定し、ステップＳ０６で反射光強度が減衰していると判定した終端装置（ここでは、終端装置４ｃ）に故障が発生していることを、表示部１５に表示することにより（ステップＳ１１）、本実施形態による光線路監視システムの管理者等に通知する。
【００３１】
一方、反射ｐ１〜ｐ４以外の反射が存在する場合、つまり、図７に示すように所定の反射光強度以上の反射の異常ｐ５が存在する場合には、ステップＳ１０で「ＹＥＳ」と判定し、ステップＳ１２へ進む。制御部１２は、その反射の異常ｐ５が生じている横軸の値を読み取ることにより、試験装置２からの障害発生距離を求める（ステップＳ１２）。制御部１２は、試験装置２とステップＳ０６で反射光強度が減衰していると判定した終端装置４（ここでは、終端装置４ｃ）とを結ぶ光線路ｆ（ここでは、ｆ１、ｆ２、ｆ５）上であって、試験装置２から障害発生距離だけ離れた地点（ここでは、光線路ｆ５上の地点）に故障が発生していることを、表示部１５に表示することにより（ステップＳ１３）、本実施形態による光線路監視システムの管理者等に通知する。
【００３２】
本発明の第１の実施形態による光線路監視システムを使用すれば、第１の測定条件として短い平均化時間（平均化時間５秒）を使用して測定を行い、終端装置の反射光強度が減衰している場合には、第２の測定条件として長い平均化時間（平均化時間１４４秒）を使用して測定を行うようにした。これにより、第１の測定条件の使用時には測定時間を短くできるとともに、第２の測定条件の使用時にはノイズの少ない波形から、光線路の故障に基づく反射の異常を認識することができる。よって、故障が発生している地点までの距離を正確に算出することができ、光線路の監視を精度良く行うことができる。
上記各測定において、終端装置からの反射戻り光の強度を測定することにより、終端装置の異常だけではなく、送端（送信側）から終端装置までの過大な線路損失の発生の有無を検知することができる。つまり、線路に異常があり損失が過大に発生すれば、反射戻り光のピークがその分だけ減るからである。
特に、スプリッタ分岐された線路では、スプリッタと送端との間に障害が発生してロスが生じると、当該スプリッタに接続された終端装置からの戻り光のピークが全て減ることから、スプリッタと送端との間で障害が発生していることがわかる。障害は、接続点の異常、線路（光ファイバケーブル）の異常など種々の要因により発生する。
以上のように、第１又は第２の測定条件、好ましくは、第２の測定条件で線路損失の有無などを正確に測定する。
【００３３】
次に、本発明の第２の実施形態による光線路監視システムの処理について説明する。本実施形態による光線路監視システムの構成及び光線路監視装置１の構成については、第１の実施形態による光線路監視システムの構成（図１）及び光線路監視装置１の構成（図２）と同様であるので、その説明を省略する。
【００３４】
次に、本発明の第２の実施形態による光線路監視システムの処理について説明する。本実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャートは、本発明の第１の実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャート（図４）とほぼ同様であるが、図４におけるステップＳ０８の処理が異なる。本実施形態において、ステップＳ０５の処理で試験装置２から第１の条件（平均化時間５秒、パルス幅２０ｎｓ）を使用した光信号を出射することにより、受光する戻り光の波形は、図６と同じである。
【００３５】
本実施形態のステップＳ０８では、パルス幅設定部１２ｂは、試験装置２に対して、第２の測定条件を使用して光信号を光線路ｆ１に出射するように指示を与える。本実施形態では、第２の測定条件として、平均化時間５秒、パルス幅１００ｎｓという条件により測定を行った。
制御部１２は、第２の測定条件を使用してスプリッタ３に向けて光信号を出射するように試験装置２に対して指示を与える。試験装置接続部１３は、試験装置２が受光した戻り光の波形（図８）の情報を取得する。
【００３６】
図８は、本発明の第２の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。横軸は試験装置２からの距離を示しており、縦軸は反射光強度を示している。パルス幅を１００ｎｓに設定して測定を行った測定結果（図８）では、パルス幅を２０ｎｓに設定して測定を行った測定結果（図６）に比べて、波形の縦軸方向の変動であるノイズが少なくなり、光線路の故障に基づいて反射の異常ｐ５を明確に識別することができるようになっている。
【００３７】
本発明の第２の実施形態による光線路監視システムを使用すれば、第１の測定条件として狭いパルス幅（パルス幅２０ｎｓ）を使用して測定を行い、終端装置の反射光強度が減衰している場合には、第２の測定条件として広いパルス幅（パルス幅１００ｎｓ）を使用して測定を行うようにした。これにより、第１の測定条件の使用時には各終端装置からの反射光の反射の異常を明確に区別することができるとともに、第２の測定条件の使用時にはノイズの少ない波形から故障が発生している地点までの距離を算出することができるので、光線路の監視を精度良く行うことができる。
【００３８】
次に、本発明の第３の実施形態による光線路監視システムの処理について説明する。本実施形態による光線路監視システムの構成及び光線路監視装置１の構成については、第１の実施形態による光線路監視システムの構成（図１）及び光線路監視装置１の構成（図２）と同様であるので、その説明を省略する。
【００３９】
次に、本発明の第３の実施形態による光線路監視システムの処理について説明する。本実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャートは、本発明の第１の実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャート（図４）とほぼ同様であるが、図４におけるステップＳ０８の処理が異なる。本実施形態において、ステップＳ０５の処理で試験装置２から第１の条件（平均化時間５秒、パルス幅２０ｎｓ）を使用した光信号を出射することにより、受光する反射光の波形は、図６と同じである。
【００４０】
本実施形態のステップＳ０８では、平均化時間設定部１２ａ及びパルス幅設定部１２ｂは、試験装置２に対して、第２の測定条件を使用して光信号を光線路ｆ１に出射するように指示を与える。本実施形態では、第２の測定条件として、平均化時間１４４秒、パルス幅１００ｎｓという条件により測定を行った。
制御部１２は、第２の測定条件を使用してスプリッタ３に向けて光信号を出射するように試験装置２に対して指示を与える。試験装置接続部１３は、試験装置２が受光した戻り光の波形（図９）の情報を取得する。
【００４１】
図９は、本発明の第３の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。横軸は試験装置２からの距離を示しており、縦軸は反射光強度を示している。平均化時間を１４４秒に設定するとともにパルス幅を１００ｎｓに設定して測定を行った測定結果（図９）では、平均化時間を５秒に設定するとともにパルス幅を２０ｎｓに設定して測定を行った測定結果（図６）に比べて、波形の縦軸方向の変動であるノイズが更に少なくなり、光線路の故障に基づいて反射の異常ｐ５を明確に識別することができるようになっている。
【００４２】
本発明の第３の実施形態による光線路監視システムを使用すれば、第１の測定条件として短い平均化時間（平均化時間５秒）及び狭いパルス幅（パルス幅２０ｎｓ）を使用して測定を行い、終端装置の反射光強度が減衰している場合には、第２の測定条件として長い平均化時間（平均化時間１４４秒）及び広いパルス幅（パルス幅１００ｎｓ）を使用して測定を行うようにした。これにより、第１及び第２の実施形態に比べて、第１の測定条件の使用時には各終端装置からの反射光を明確に区別することができるとともに測定時間も短くすることができる。また、第１及び第２の実施形態に比べて、第２の測定条件の使用時にはノイズの更に少ない波形から障害が発生している地点までの距離を算出することができる。よって、光線路の監視を極めて精度良く行うことができる。
以上、各実施形態において、平均化時間とパルス幅の長短の組み合わせは任意であるが、少なくとも第２の測定条件で障害が容易に検知できるような選択が必要である。
【００４３】
なお、以上説明した実施形態において、図２の入力部１１、制御部１２、減衰量判定部１２ａ、平均化時間節制部１２ｂ、パルス幅設定部１２ｃ、試験装置接続部１３、記憶部１４の機能又はこれらの機能の一部を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより光線路監視装置の制御を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
【００４４】
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを出力する場合の通信線のように、短時刻の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時刻プログラムを保持しているものも含むものとする。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであっても良い。
【００４５】
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の実施形態による光線路監視システムの概略構成図である。
【図２】本実施形態による光線路監視装置１の構成を示すブロック図である。
【図３】本実施形態による記憶部１４が記憶する情報の一例を示す図である。
【図４】本発明の第１の実施形態による光線路監視装置１の処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】本発明の第１の実施形態において、正常時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。
【図６】本発明の第１の実施形態において、障害発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。
【図７】本発明の第１の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。
【図８】本発明の第２の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。
【図９】本発明の第３の実施形態において、故障発生時に試験装置２が受光する光信号の波形の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００４７】
１・・・光線路監視装置、１ａ・・・筐体、２・・・試験装置、３・・・スプリッタ、４（４ａ〜４ｄ）・・・終端装置、５・・・コネクタ、１１・・・入力部、１２・・・制御部、１２ａ・・・減衰量判定部、１２ｂ・・・平均化時間設定部、１２ｃ・・・パルス幅設定部、１３・・・試験装置接続部、１４・・・記憶部、１５・・・表示部、ｃ１・・・ケーブル、ｆ（ｆ１〜ｆ６）・・・光線路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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