(57)【要約】【課題】プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブを実現する。【解決手段】一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第１のフック部と途中に設けられた第１のヒンジ部と他端に測定プローブ本体と接続する第１の接続手段とを有する導電材よりなる第１の測定アームと、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第２のフック部と途中が前記第１のヒンジ部に回動自由に接続された第２のヒンジ部と他端に前記測定プローブ本体と接続する第２の接続手段とを有する導電材よりなる第２の測定アームと、前記ヒンジ部に設けられ前記第１，第２の測定対象端子を前記第１のフック部と前記第２のフック部とが協同して弾性的に挟持するように前記第１，第２の測定アームとに力を印加する力印加手段とを具備したことを特徴とする測定プローブである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電材よりなり、一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第１のフック部と、途中に設けられた第１のヒンジ部と、他端に測定プローブ本体と接続する第１の接続手段とを有する第１の測定アームと、
導電材よりなり、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第２のフック部と、途中が前記第１のヒンジ部に回動自由に接続された第２のヒンジ部と、他端に前記測定プローブ本体と接続する第２の接続手段とを有する第２の測定アームと、
前記ヒンジ部に設けられ前記第１，第２の測定対象端子を前記第１のフック部と前記第２のフック部とが協同して弾性的に挟持するように前記第１，第２の測定アームとに力を印加する力印加手段と
を具備したことを特徴とする測定プローブ。
【請求項２】
前記接続手段は、ソケットが使用されたこと
を特徴とする請求項１記載の測定プローブ。
【請求項３】
前記第１，第２の測定アームは、前記フック部を除き絶縁被覆により覆われたこと
を特徴とする請求項１又は請求項２記載の測定プローブ。
【請求項４】
前記第１，第２の測定アームは、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたこと
を特徴とする請求項１乃至請求項３の何れかに記載の測定プローブ。
【請求項５】
前記第１，第２の測定アームの他端側の少なくとも一方に設けられ前記第１，第２のフック部間を開くレバー
を具備したことを特徴とする請求項１乃至請求項４の何れかに記載の測定プローブ。
【請求項６】
前記力印加手段は、ばねが使用されたこと
を特徴とする請求項１乃至請求項５の何れかに記載の測定プローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
測定プローブに関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開平６−５３２１号公報
【０００４】
図４は従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、（Ａ）は正面図、（Ｂ）は側面図である。
ＩＣクリップ１０は絶縁体のモールド部分１１と、図示せぬＩＣの複数の端子に夫々対応して並設された複数のピン１２と、バネ１３とにより構成されている。
【０００５】
ＩＣクリップを使用する際には、ＩＣをこのＩＣクリップ１０の先端部分で挟むことによって各ピン１２の下端がＩＣの対応端子（リード端子）に夫々接触するようになるので、ピン１２の上端のモールド部分１１から露出した部分を、プローブ（図示せず）により接触してプロービングすることで、ＩＣの電気的波形の観測が可能となる。
【０００６】
この種のＩＣクリップ１０では、各ピン１２の電位等を測定するために、特定ピン（一般にはグランドピン）を基準とするが、この特定ピンにプローブのグランド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようとするピンに接続させるが、この場合、特定ピンと各測定ピンとの距離が全て異なっているために、図５に示す様なプローブ２０を用いている。
【０００７】
プローブ２０はプローブ本体２１と、グランド線２２と、このグランド線２２の先端に取付けられたワニ口クリップ２３と、プローブ先端の接触子２４とからなっている。
【０００８】
プローブ２０のグランド線２２をある程度の長さに設定しておいて、接触子２４を測定すべきピンに接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピンが離れていても、このグランド線２２により測定を容易としているのである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このような装置においては、以下の間題点がある。
プローブに長いグランド線２２を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を有する信号を測定する際に、このグランド線のインダクタンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないという欠点がある。
【００１０】
この欠点を解決するために、図６の様にグランド線２２の代りに短いグランド用裸線２５を接触子２４の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピンと測定しようとするピンとの間の距離が全て異なっているので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いという欠点がある。
【００１１】
本発明の目的は、上記の課題を解決するもので、測定対象に低インダクタンスで、手軽にクリップオンできる測定プローブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
このような課題を達成するために、本発明では、請求項１の測定プローブにおいては、
導電材よりなり、一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第１のフック部と、途中に設けられた第１のヒンジ部と、他端に測定プローブ本体と接続する第１の接続手段とを有する第１の測定アームと、導電材よりなり、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第２のフック部と、途中が前記第１のヒンジ部に回動自由に接続された第２のヒンジ部と、他端に前記測定プローブ本体と接続する第２の接続手段とを有する第２の測定アームと、前記ヒンジ部に設けられ前記第１，第２の測定対象端子を前記第１のフック部と前記第２のフック部とが協同して弾性的に挟持するように前記第１，第２の測定アームとに力を印加する力印加手段とを具備したことを特徴とする。
【００１３】
本発明の請求項２の測定プローブにおいては、請求項１記載の測定プローブにおいて、
前記接続手段は、ソケットが使用されたことを特徴とする。
【００１４】
本発明の請求項３の測定プローブにおいては、請求項１又は請求項２記載の測定プローブにおいて、
前記第１，第２の測定アームは、前記フック部を除き絶縁被覆により覆われたことを特徴とする。
【００１５】
本発明の請求項４の測定プローブにおいては、請求項１乃至請求項３の何れかに記載の測定プローブにおいて、
前記第１，第２の測定アームは、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたことを特徴とする。
【００１６】
本発明の請求項５の測定プローブにおいては、請求項１乃至請求項４の何れかに記載の測定プローブにおいて、
前記第１，第２の測定アームの他端側の少なくとも一方に設けられ前記第１，第２のフック部間を開くレバーを具備したことを特徴とする。
【００１７】
本発明の請求項６の測定プローブにおいては、請求項１乃至請求項５の何れかに記載の測定プローブにおいて、
前記力印加手段は、ばねが使用されたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の請求項１によれば、次のような効果がある。
構造が単純で小さくできるため、フック部から測定プローブ本体への接続部分までを短くすることができ、プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブが得られる。
【００１９】
本発明の請求項２によれば、次のような効果がある。
接続手段は、ソケットが使用されたので、電気的着脱が容易にできる測定プローブが得られる。
【００２０】
本発明の請求項３によれば、次のような効果がある。
第１，第２の測定アームは、フック部を除き絶縁被覆により覆われたので、測定中に回路等とショートする恐れを防止できる測定プローブが得られる。
【００２１】
本発明の請求項４によれば、次のような効果がある。
第１，第２の測定アームは、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたので、力印加手段を兼ねることができ、部品を減らすことができ、安価な測定プローブが得られる。
【００２２】
本発明の請求項５によれば、次のような効果がある。
第１，第２の測定アームの他端側の少なくとも一方に設けられ、第１，第２のフック部間を開くレバーが設けられたので、第１，第２のフック部間を開くことが容易にできる測定プローブが得られる。
【００２３】
本発明の請求項６によれば、次のような効果がある。
力印加手段は、ばねが使用されたので、ばねは市場性があり容易に入手できるので、安価な測定プローブが得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。
図１は本発明の一実施例の要部構成説明図、図２は図１の動作説明図である。
【００２５】
図１において、３１は測定プローブ本体，３２は第１の測定アーム，３３は第２の測定アーム、３４は力印加手段である。
第１の測定アーム３２は、第１のフック部３２１と第１のヒンジ部３２２と第１の接続手段３２３とを有する。
【００２６】
第１のフック部３２１は、第１の測定アーム３２の一端に設けられ、一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる。
第１のヒンジ部３２２は、第１の測定アーム３２の途中に設けられている。
第１の接続手段３２３は、第１の測定アーム３２の他端に設けられ、測定プローブ本体３１と接続する。
【００２７】
第２の測定アーム３３は、第２のフック部３３１と第２のヒンジ部３３２と第２の接続手段３３３とを有する。
第２のフック部３３１は、第２の測定アーム３３の一端に設けられ、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる。
【００２８】
第２のヒンジ部３３２は、第２の測定アーム３３の途中に設けられ、第１のヒンジ部３２２に回動自由に接続されている。
第２の接続手段３３３は、第２の測定アーム３３の他端に設けられ、測定プローブ本体３１と接続する。
【００２９】
力印加手段３４は、ヒンジ部３２２，３３２に設けられ、第１，第２の測定対象端子を、第１のフック部３２１と第２のフック部３３１とが協同して弾性的に挟持するように、第１，第２の測定アーム３２，３３とに力を印加する。
【００３０】
この場合は、第１の接続手段３２３はソケットが使用され、第２の接続手段３３３はリング状の接触リングが使用されている。また、第１，第２の測定アーム３２，３３は、フック部３２１，３３１を除き、第１，第２の絶縁被覆３２４，３３４により覆われている。
また、第１，第２の測定アーム３２，３３は、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたている。この場合は、第２の測定アーム３３は、りん青銅の板ばねが使用されている。
【００３１】
また、レバーは、第１，第２の測定アーム３２，３３の他端側の少なくとも一方に設けられ、第１，第２のフック部３２１，３３１の間を開く、この場合は、第２の測定アーム３３の他端側にレバー３３５が設けられている。
また、力印加手段３４は、コイル状のばねが使用されている。
【００３２】
以上の構成において、図２に示す如く、測定対象端子に測定プローブを接続する際には、レバー３３５を押し込んで、第１，第２のフック部３２１，３３１間を広げて、測定対象の信号端子Ａとグランド端子Ｇとに合わせて、レバー３３５を離すと、第２の測定アーム３３の板ばねの復元力で、測定対象の信号端子Ａとグランド端子Ｇとを掴み、固定される。
【００３３】
この結果、
構造が単純で小さくできるため、フック部３２１，３３１から測定プローブ本体３１への接続部分までを短くすることができ、プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブが得られる。
また、第１，第２のフック部３２１，３３１を細くあるいは薄く作ることにより、ファインピッチのパッケージ部品のプロービングにも容易に対応できる測定プローブが得られる。
【００３４】
接続手段３２３は、ソケットが使用されたので、電気的着脱が容易にできる測定プローブが得られる。
【００３５】
第１，第２の測定アーム３２，３３は、フック部３２１，３３１を除き絶縁被覆３２４，３３４により覆われたので、測定中に回路等とショートする恐れを防止できる測定プローブが得られる。
【００３６】
第１，第２の測定アーム３２，３３は、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたので、力印加手段３４を兼ねることができ、部品を減らすことができ、安価な測定プローブが得られる。
【００３７】
第１，第２の測定アーム３２，３３の他端側の少なくとも一方に設けられ、第１，第２のフック部３２１，３３１の間を開くレバー３３５が設けられたので、第１，第２のフック部３２１，３３１の間を開くことが容易にできる測定プローブが得られる。
【００３８】
力印加手段３４は、ばねが使用されたので、ばねは市場性があり容易に入手できるので、安価な測定プローブが得られる。
【００３９】
図３は、本発明の他の実施例の要部構成説明図である。
図３において、４１は測定プローブ本体，４２は第１の測定アーム，４３は第２の測定アーム、４４は力印加手段である。
第１の測定アーム４２は、第１のフック部４２１と第１のヒンジ部４２２と第１の接続手段４２３とを有する。
【００４０】
第１のフック部４２１は、第１の測定アーム４２の一端に設けられ、一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる。
第１のヒンジ部４２２は、第１の測定アーム４２の途中に設けられている。
第１の接続手段４２３は、第１の測定アーム４２の他端に設けられ、測定プローブ本体４１と接続する。
【００４１】
第２の測定アーム４３は、第２のフック部４３１と第２のヒンジ部４３２と第２の接続手段４３３とを有する。
第２のフック部４３１は、第２の測定アーム４２の一端に設けられ、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる。
【００４２】
第２のヒンジ部４３２は、第２の測定アーム４３の途中に設けられ、第１のヒンジ部に回動自由に接続されている。
第２の接続手段４３３は、第２の測定アーム４３の他端に設けられ、測定プローブ本体４１と接続する。
【００４３】
力印加手段４４は、ヒンジ部４２２，４３２に設けられ、第１，第２の測定対象端子を、第１のフック部４２１と第２のフック部４３１とが協同して弾性的に挟持するように、第１，第２の測定アーム４２，４３とに力を印加する。
【００４４】
この場合は、接続手段４２３，４３３はソケットが使用されている。また、第１，第２の測定アーム４２，４３は、フック部４２１，４３１を除き絶縁被覆４２４，４３４により覆われている。
また、第１，第２の測定アーム４２，４３は、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたている。この場合は、第２の測定アーム４３は、りん青銅の板ばねが使用されている。
【００４５】
また、レバー４２５，４３５は、第１，第２の測定アーム４２，４３の他端側にそれぞれ設けられ、第１，第２のフック部４２１，４３１の間を開く。
また、力印加手段４４は、コイル状のばねが使用されている。
【００４６】
この結果、
構造が単純で小さくできるため、フック部４２１，４３１から測定プローブ本体４１への接続部分までを短くすることができ、プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブが得られる。
また、第１，第２のフック部４２１，４３１を細くあるいは薄く作ることにより、ファインピッチのパッケージ部品のプロービングにも容易に対応できる測定プローブが得られる。
【００４７】
接続手段４２３，４３３は、ソケットが使用されたので、電気的着脱が容易にできる測定プローブが得られる。
【００４８】
第１，第２の測定アーム４２，４３は、フック部４２１，４３１を除き絶縁被覆４２４，４３４により覆われたので、測定中に回路等とショートする恐れを防止できる測定プローブが得られる。
【００４９】
第１，第２の測定アーム４２，４３は、少なくとも一方が導電性のばね材が使用されたので、力印加手段４４を兼ねることができ、部品を減らすことができ、安価な測定プローブが得られる。
【００５０】
第１，第２の測定アーム４２，４３の他端側に設けられ、第１，第２のフック部４２１，４３１の間を開く第１，第２のレバー４２５，４３５が設けられたので、第１，第２のフック部４２１，４３１の間を開くことが容易にできる測定プローブが得られる。
【００５１】
力印加手段４４は、ばねが使用されたので、ばねは市場性があり容易に入手できるので、安価な測定プローブが得られる。
【００５２】
接続手段４２３，４３３の形状を変えることで、種々の測定プローブ本体に接続でき、例えば、両入力の構成とすることで、平衡差動入力の測定プローブ本体に使用可能とすることができる。
【００５３】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。
したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の一実施例の要部構成説明図である。
【図２】図１の動作説明図である。
【図３】本発明の他の実施例の要部構成説明図である。
【図４】従来より一般に使用されているＩＣクリップの従来例の構成説明図である。
【図５】従来より一般に使用されている測定プローブの従来例の構成説明図である。
【図６】従来より一般に使用されている他の測定プローブの従来例の構成説明図である。
【符号の説明】
【００５５】
１０    ＩＣクリップ
１１    モールド部分
１２    ピン
１３    バネ
２０    プローブ
２１    ピン
２２    グランド線
２３    ワニ口クリップ
２４    接触子
２５    グランド用裸線
３１    測定プローブ本体
３２    第１の測定アーム
３２１  第１のフック部
３２２  第１のヒンジ部
３２３  第１の接続手段
３２４  第１の絶縁被覆
３３    第２の測定アーム
３３１  第２のフック部
３３２  第２のヒンジ部
３３３  第２の接続手段
３３４  第２の絶縁被覆
３３５  レバー
３４    力印加手段
４１    測定プローブ本体
４２    第１の測定アーム
４２１  第１のフック部
４２２  第１のヒンジ部
４２３  第１の接続手段
４２４  第１の絶縁被覆
４２５  第１のレバー
４３    第２の測定アーム
４３１  第２のフック部
４３２  第２のヒンジ部
４３３  第２の接続手段
４３４  第２の絶縁被覆
４３５  第２のレバー
４４    力印加手段
Ａ      信号端子
Ｇ      グランド端子
【図１】
2007192705.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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