(57)【要約】【課題】同一ディスク内でＲＦ信号波形のアシンメトリ特性が変化する場合にも、データ読み取りのリトライを円滑に抑制でき、且つ、高い再生品質レベルを維持できる参照値推定回路およびそれを用いた再生装置を提供する。【解決手段】参照値推定部１〜ｎの推定精度は、参照値推定部１が最も低く、参照値推定部ｎに向かうにつれて段階的に上昇する。一方、参照値推定の所要時間は、参照値推定部１が最も短く、参照値推定部ｎに向かうにつれて徐々に長くなっている。参照値推定部１〜ｎは、アシンメトリ検出部８０ａからの検出結果に応じて参照値の推定処理を同時に開始する。そして、推定が終了したものから順に、推定結果が参照値選択出力部８０ｃに出力される。参照値選択出力部８０ｃは、入力された参照値のうち、最も推定精度が高い系からの参照値をイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。【選択図】図１
2007334969.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、
前記参照値レベルの変更要否を検出する検出部と、
前記検出部からの検出結果に応じて前記参照値レベルの推定処理を行うｎ段（ｎは２以上の整数）の参照値推定部と、
前記ｎ段の参照値推定部のそれぞれから入力される前記参照値レベルのうち一つを前記最尤復号器にて用いられる参照値レベルとして選択する選択部とを備え、
前記ｎ段の参照値推定部は、推定処理に要する時間が段階的に変化しており、且つ、推定処理に要する時間が長いほど前記参照値レベルの推定精度が向上するよう構成され、
前記選択部は、前記ｎ段の参照値推定部のそれぞれから入力される前記参照値レベルのうち、推定精度が最も高い前記参照値推定部からの参照値を前記最尤復号器にて用いられる参照値レベルとして設定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項２】
請求項１に記載の参照値推定回路において、
前記検出部は、前記ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性の変化から前記参照値レベルの変更要否を検出する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項３】
請求項１または２に記載の参照値推定回路において、
前記ｎ段の参照値推定部は、前記検出部からの検出結果に応じて同時に前記参照値レベルの推定処理を開始する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項４】
請求項１ないし３の何れか一項に記載の参照値推定回路において、
前記ｎ段の参照値推定部のうち参照値推定処理に要する時間が最も小さい参照値推定部は、当該所要時間が、前記検出部による検出の後、誤り訂正処理にて訂正可能な最大データ量を再生するまでの時間以下に設定されている、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項５】
請求項１ないし４の何れか一項に記載の参照値推定回路において、
前記参照値推定部の段数は、２ないし４段の何れかとされている、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項６】
請求項１ないし５の何れか一項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有する、
ことを特徴とする再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号に用いる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路およびこれを用いた再生装置に関し、たとえば、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクを再生する際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
高密度光ディスクを再生する光ディスク装置では、データ復号器として、ビタビ復号器等の最尤復号器が用いられる。この復号器では、ＲＦ信号波形にアシンメトリ（非対称性）が生じると、ビタビ復号化処理を適正に行えないため、ビタビ復号化処理に用いる参照値レベルを、ＲＦ信号波形のアシンメトリに応じて調整する手段が必要となる。
【０００３】
以下の特許文献１には、参照値として使用される振幅基準値を再生信号に基づいてクロック毎に更新する手法が示されている。
【０００４】
しかし、この手法は、記録レーザパワーのキャリブレーションを行う際に、３Ｔパターン等の所定のデータパターンを使用して、振幅基準値（参照値）の適応化を図るものであるため、他のドライブによってデータ記録が行われ、その結果、たとえば図１３に示す如く、ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性が同一ディスク内で変化するような場合には、振幅基準値（参照値）の適正化を図ることができないとの問題が生じる。
【特許文献１】特開平１１−１６２５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ディスクに対して初期設定されたビタビ参照値レベルを、そのディスク全体を通して用いると、アシンメトリ特性が変化した後に、データの復号精度が悪化し、ディスクに対するデータ読み取りのリトライが頻発するとの問題が生じる。この問題を回避するには、アシンメトリ特性が変化した後に、再度、ビタビ参照値レベルを設定し直す必要がある。
【０００６】
ビタビ参照値レベルを再設定する方法として、ＲＦ信号波形のピークトゥピーク値を常時監視し、ピークトゥピーク値の変化に応じて、アシンメトリ特性変化後の参照値レベルを推定する等の簡易な手法を用いることができる。この手法は、データ読み取りのリトライを抑制するには一応有効と言える。しかし、たとえば、アシンメトリ特性の変化がディスク内で度々生じるような場合には、再設定（推定）を繰り返すことによって、徐々に、参照値レベルに誤差が累積することが想定される。このため、この手法では、長期的視野に立った場合に、満足のいく信号品質が得られないとの問題が生じる。
【０００７】
そこで、本発明は、同一ディスク内でＲＦ信号波形のアシンメトリ特性が変化するような場合にも、データ読み取りのリトライを円滑に抑制でき、且つ、高い再生品質レベルを維持できる参照値推定回路およびそれを用いた再生装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題に鑑み本発明は、それぞれ以下の特徴を有する。
【０００９】
請求項１の発明は、最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、前記参照値レベルの変更要否を検出する検出部と、前記検出部からの検出結果に応じて前記参照値レベルの推定処理を行うｎ段（ｎは２以上の整数）の参照値推定部と、前記ｎ段の参照値推定部のそれぞれから入力される前記参照値レベルのうち一つを前記最尤復号器にて用いられる参照値レベルとして選択する選択部とを備え、前記ｎ段の参照値推定部は、推定処理に要する時間が段階的に変化しており、且つ、推定処理に要する時間が長いほど前記参照値レベルの推定精度が向上するよう構成され、前記選択部は、前記ｎ段の参照値推定部のそれぞれから入力される前記参照値レベルのうち、推定精度が最も高い前記参照値推定部からの参照値を前記最尤復号器にて用いられる参照値レベルとして設定することを特徴とする。
【００１０】
請求項２の発明は、請求項１に記載の参照値推定回路において、前記検出部は、前記ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性の変化から前記参照値レベルの変更要否を検出することを特徴とする。
【００１１】
請求項３の発明は、請求項１または２に記載の参照値推定回路において、前記ｎ段の参照値推定部は、前記検出部からの検出結果に応じて同時に前記参照値レベルの推定処理を開始することを特徴とする。
【００１２】
請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れか一項に記載の参照値推定回路において、前記ｎ段の参照値推定部のうち参照値推定処理に要する時間が最も小さい参照値推定部は、当該所要時間が、前記検出部による検出の後、誤り訂正処理にて訂正可能な最大データ量を再生するまでの時間以下に設定されていることを特徴とする。
【００１３】
請求項５の発明は、請求項１ないし４の何れか一項に記載の参照値推定回路において、前記参照値推定部の段数は、２ないし４段の何れかとされていることを特徴とする。
【００１４】
請求項６の発明は、請求項１ないし５の何れか一項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有することを特徴とする。
【００１５】
なお、上記請求項に記載の「参照値推定回路」は、以下の実施形態において、ビタビ参照値推定回路８０が対応する。また、上記請求項に記載の「検出部」は、以下の実施形態において、アシンメトリ検出部８０ａが対応する。また、上記請求項に記載の「参照値推定部」は、以下の実施形態において、参照値推定部８０ｂが対応する。さらに、上記請求項に記載の「選択部」は、以下の実施形態において、参照値選択出力部８０ｃが対応する。
【００１６】
ただし、以下の実施形態は、本発明の技術的範囲を何ら制限するものではない。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、たとえば、ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性に変化が生じた場合など、参照値レベルを再設定する必要が生じた場合には、迅速に、精度の高い参照値レベルを最尤復号器に設定することができ、且つ、その後、時間が経過するにしたがって、最尤復号器に設定される参照値レベルの精度をさらに引き上げることができる。
【００１８】
よって、本発明によれば、同一ディスク内でＲＦ信号波形のアシンメトリ特性が変化するような場合にも、データ読み取りのリトライを円滑に抑制でき、且つ、高い再生品質レベルを維持することができる。
【００１９】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。但し、以下の実施の形態は、本発明を実施する際の例示であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施形態に記載されたものに制限されるべきではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したものである。
【００２１】
図１に、実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。なお、図１には、再生系のみを図示し記録系については図示省略している。また、フォーカスサーボ回路やトラッキングサーボ回路等も図示省略している。
【００２２】
図１に示す如く、本実施の形態に係る光ディスク装置は、光ピックアップ１０と、増幅回路２０と、ＡＤ変換回路３０と、オフセット調整回路４０と、デジタルＰＬＬ５０と、イコライザ６０と、ビタビ復号器７０と、ビタビ参照値推定回路８０を備えている。
【００２３】
光ピックアップ１０は、ディスクにレーザ光を照射してデータの書き込みを行うとともに、ディスクからの反射光を受光してデータの読み取りを行う。増幅回路２０は、光ピックアップ１０から供給される再生ＲＦ信号を増幅してＡＤ変換回路３０に出力する。ＡＤ変換回路３０は、非同期クロックに応じたタイミングにて再生ＲＦ信号をサンプリングし、サンプル値をデジタルデータに変換してオフセット調整回路４０に出力する。オフセット調整回路４０は、再生ＲＦ信号に含まれるＤＣオフセットを検出してこれを除去し、オフセットのない再生ＲＦ信号（デジタルデータ）を出力する。
【００２４】
デジタルＰＬＬ５０は、ＡＤ変換回路３０にてサンプリングされたデータを補間して、正規のサンプリングタイミングにおけるデータを生成する。イコライザ６０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルに合うよう、デジタルＰＬＬ５０から供給されるデータに対して波形等化処理を施してビタビ復号器７０に出力する。ビタビ復号器７０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルをもとに、イコライザ６０から入力されるデジタルデータにビタビ復号処理を施して１、０の２値化データを生成出力する。
【００２５】
ビタビ参照値推定回路８０は、オフセット調整回路４０から供給されるオフセット調整後のデジタルデータをもとにビタビ復号器７０にて期待値として参照される参照値を生成し、これをイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。
【００２６】
図示の如く、ビタビ参照値推定回路８０は、アシンメトリ検出部８０ａと、ｎ段の参照値推定部８０ｂと、参照値選択出力部８０ｃを備えている。このうち、アシンメトリ検出部８０ａは、再生ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性に変化が生じたかを検出する。参照値推定部８０ｂは、アシンメトリ検出部８０ａによって再生ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性に変化が生じたことが検出されたことに応じて、参照値の推定処理を開始し、推定結果を参照値選択出力部８０ｃに出力する。参照値選択出力部８０ｃは、ｎ段の参照値推定部８０ｂから入力される参照値のうち、最も精度の高い参照値をイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。
【００２７】
なお、参照値推定部１〜ｎは、参照値の推定精度が相違している。具体的には、参照値推定部１の参照値推定精度が最も低く、参照値推定部ｎに向かうにつれて参照値推定精度のレベルが段階的に上昇する。その一方、参照値推定の所要時間は、参照値推定部１が最も短く、参照値推定部ｎに向かうにつれて徐々に長くなっている。
【００２８】
参照値推定部１〜ｎは、アシンメトリ検出部８０ａからの検出結果に応じて参照値の推定処理を同時に開始する。そして、推定が終了したものから順に、推定結果が参照値選択出力部８０ｃに出力される。参照値選択出力部８０ｃは、入力された参照値のうち、最も推定精度が高い系からの参照値をイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。
【００２９】
図２を参照して、参照値推定部８０ｂの格段（参照値推定部１〜ｎ）の構成について説明する。なお、参照値推定部１〜ｎは、同図のＮｐとＮｍの加算値Ｎｓ＝Ｎｐ＋Ｎｍと、閾値Ｎｔｈを変化させることによって、上記の如く、参照値推定の所要時間と参照値推定精度が調整されている。
【００３０】
再生ＲＦ信号にアシンメトリが存在する場合、再生ＲＦ信号の振幅は、０レベルを境に上下で異なっている。したがって、この波形をサンプリングすると、サンプル点の分布に偏りが生じる。
【００３１】
ビタビ参照値が、マイナス値側からプラス値側に掛けて９段階のレベル（Ｅ０、Ｅ１、…、Ｅ８）に分かれているとすると、ＤＣオフセットが除去されている場合、ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルがビタビ参照値レベルＥ４となる。また、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminを求めることにより、ＲＦ信号波形の最も外側にあるビタビ参照値レベルＥ０とＥ８を、Ｅ０＝Ｌmin、Ｅ８＝Ｌmaxとして取得することができる。図２に示すビタビ参照値推定回路８０では、このようにして取得されるビタビ参照値レベルＥ４、Ｅ０、Ｅ８から、これら以外のビタビ参照値レベルが推定および設定される。
【００３２】
ノイズのない理想的なＲＦ信号の場合、０レベルを中心にして対称となる２つの参照値レベルをそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数をある期間においてカウントしたとき、それぞれのカウント値は互いに等しい筈である。すなわち、この期間において、参照値レベルＥ１とＥ７をそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数は互いに等しく、同様に、参照値レベルＥ２とＥ６、Ｅ３とＥ５をそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数も互いに等しい筈である。したがって、０レベルを中心にして対称となる２つの参照値レベルをペアとして、その参照値レベルを与えるサンプル点の個数が一定期間において等しくなるように、各ペアの参照値レベルを正または負にシフトさせることにより、各ペアの参照値レベルを適正値に調整することができる。
【００３３】
しかし、実際のＲＦ信号には、ノイズが加わっているため、各参照値レベルを与えるサンプル点の個数をそのまま比較して適正な参照値レベルを推定・設定するのは難しい。そこで、本実施の形態では、各ペアの外側にあるサンプル点の個数がほぼ等しくなるように、各ペアのレベルを推定・設定する。たとえば、参照値レベルＥ３とＥ５については、Ｅ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数と、Ｅ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数を比較し、両者の差が閾値よりも小さくなるよう、Ｅ３とＥ５を推定・設定する。このとき、Ｅ３とＥ５のレベル差は、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminから、（Ｌmax−Ｌmin）／４に設定する。そして、このレベル差を保ったまま、上記サンプル点の個数の差が閾値よりも小さくなるよう、Ｅ３とＥ５を正または負の方向にシフトさせる。
【００３４】
同様に、Ｅ２とＥ６、Ｅ１とＥ７のペアについても、各ペアのレベル差をそれぞれ、２×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝、３×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝に設定し、このレベル差を保ったまま、各レベルの外側にあるサンプル点の個数の差が閾値よりも小さくなるよう、各ペアのレベルを正または負の方向にシフトさせる。
【００３５】
図２を参照して、ビタビ参照値推定回路８０は、サンプル検出器８０１と、Ｎｐカウンタ８０２と、Ｎｍカウンタ８０３と、絶対値減算部８０４と、比較部８０５、８０６と、積算部８０７と、プラス側参照値推定部８０８と、マイナス側参照値推定部８０９を備えている。
【００３６】
サンプル検出器８０１は、プラス側参照値推定部８０８から入力される参照値Ｅ4+i（i=1,2,3）よりも大きな振幅値を与えるサンプル点を検出したとき、その検出信号をＮｐカウンタ８０２に出力する。また、マイナス側参照値推定部８０９から入力される参照値Ｅ4-i（i=1,2,3）よりも小さな振幅値を与えるサンプル点を検出したとき、その検出信号をＮｍカウンタ８０３に出力する。
【００３７】
Ｎｐカウンタ８０２は、サンプル検出器８０１から上記検出信号が入力されることに応じて１カウントアップされる。Ｎｍカウンタ８０３は、サンプル検出器８０１から上記検出信号が入力されることに応じて１カウントアップされる。
【００３８】
絶対値減算回路８０４は、Ｎｐカウンタ８０２のカウント値ＮｐとＮｍカウンタ８０３のカウント値Ｎｍを減算し、その絶対値Ｄを比較部８０５に出力する。比較部８０５は、絶対値Ｄと閾値Ｎｔｈとを比較し、Ｄ＞Ｎｔｈならば１を、Ｄ≦Ｎｔｈならば０を乗算部８０７に出力する。なお、ここで出力される“１”は、ＲＦ信号波形のサンプル値の分解能を２５６レベル（８ビット）としたときの１レベルである。
【００３９】
比較部８０６は、カウント値ＮｐとＮｍを比較し、Ｎｐ＞Ｎｍならば１を、Ｎｐ＜Ｎｍならば−１を乗算部８０７に出力する。乗算部８０７は、比較部８０５および８０６から入力された値を乗算し、乗算値δをプラス側参照値推定部８０８とマイナス側参照値推定部８０９に出力する。乗算値δは、δ＝１または−１のときに、それぞれ参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-i（i=1,2,3）に加算される。これにより、上述のごとく、参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）のペアが、設定されたレベル差を保ったまま、正または負の方向にシフトされる。
【００４０】
かかるシフトは、比較部８０５の出力がゼロになるまで、すなわち、カウント値ＮｐとＮｍの差（絶対値）が閾値Ｎｔｈよりも小さくなるまで行われる。そして、カウント値ＮｐとＮｍの差（絶対値）が閾値Ｎｔｈよりも小さくなったときの参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）が、当該ペアの参照値レベルとして推定・設定される。
【００４１】
図３に、参照値レベル設定時のフローチャートを示す。
【００４２】
参照値レベルの設定動作が開始されると、変数ｉが０に設定された後、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminが取得される（Ｓ１０１）。さらに、取得された平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminをもとに、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の初期値が設定される（Ｓ１０２）。かかる初期値は、たとえば、参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）（i=1,2,3,4）のペアのレベル差を、
Ｅ4+i−Ｅ4-i＝ｉ×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝
として求め、このレベル差にて、各参照値レベルのペアをＲＦ信号波形の中心レベル（参照値レベルＥ４）を中心として対称に位置づけるようにして設定される。この場合、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の初期値は、図４に示すものとなる。なお、初期値の設定方法はこれに限定されるものではない。
【００４３】
このようにして初期値が設定されると、次に、Ｓ１０１にて取得された平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminがそれぞれ参照値レベルＥ８およびＥ０に設定される（Ｓ１０３）。そして、Ｓ１０４以降の処理によって、初期設定されたＥ１〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ７に対する調整が行われる。
【００４４】
まず、最初のルーチンでは変数ｉがｉ＝１となっているため、Ｓ１０４以降の処理ステップにて、参照値レベルＥ３、Ｅ５のペアの調整がなされる。すなわち、Ｓ１０４にて、参照値レベルＥ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｐと、参照値レベルＥ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｍが、Ｎｐ＋Ｎｍ＝Ｎｓになるまでカウントされる。
【００４５】
次に、Ｓ１０５にて、カウント値Ｎｐ、Ｎｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈよりも大きいかが判別され、大きければ、Ｓ１０６にて、乗算値δの算出が行われる。すなわち、Ｎｐ＞Ｎｍのときは比較部８０６から乗算部８０７に１が入力されて乗算値δは、δ＝１となる。また、Ｎｐ＜Ｎｍのときは比較部８０６から乗算部８０７に−１が入力されて乗算値δは、δ＝−１となる。
【００４６】
このようにして得られた乗算値は、Ｓ１０７にて、参照値レベルＥ３、Ｅ５にそれぞれ加算される。これにより、参照値レベルＥ３、Ｅ５は、サンプル値の分解能を２５６レベルとしたときに１レベルだけ正または負の方向にシフトされる。
【００４７】
しかして、参照値レベルＥ３、Ｅ５がシフトされると、Ｓ１０４に戻り、シフト後の参照値レベルＥ３、Ｅ５に対して同様の処理が行われる。この処理は、Ｓ１０５にて、参照値レベルＥ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｐと、参照値レベルＥ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下になるまで繰り返される。すなわち、参照値レベルＥ３、Ｅ５は、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ３、Ｅ５の適正レベルとして推定される。
【００４８】
しかして、参照値レベルＥ３、Ｅ５の推定がなされると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝２とされた後、Ｓ１０４に戻る。これにより、参照値レベルＥ２とＥ６のペアに対する推定処理が行われる。ここでの処理は、上記参照値レベルＥ３、Ｅ５のペアに対する処理と同じである。すなわち、参照値レベルＥ２、Ｅ６は、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ２、Ｅ６の適正レベルとして推定される。
【００４９】
参照値レベルＥ２、Ｅ６の推定が終わると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝３とされた後、Ｓ１０４に戻る。そして、上記と同様にして、参照値レベルＥ１とＥ７のペアに対する推定処理が行われる。すなわち、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、参照値レベルＥ１、Ｅ７が初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ１、Ｅ７の適正レベルとして推定される。
【００５０】
このようにして、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の推定が全て終了すると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝４となり、Ｓ１０９からＳ１１０へと移行する。これにより、ビタビ参照値レベルの推定が終了され、Ｓ１０１以降の処理にて推定されたそれぞれの参照値レベルが新たな参照値レベルとして設定される（Ｓ１１２）。設定後の参照値レベルは図５のようになる。
【００５１】
設定された参照値レベルは、参照値選択出力部８０ｃに出力される。参照値選択出力部８０ｃには、図３の処理に従って、ｎ段の参照値推定部１〜ｎから順次、参照値レベルが入力される。上記の如く、参照値選択出力部８０ｃは、入力された参照値レベルのうち、最も精度の高い系から入力された参照値レベルをイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。イコライザ６０は、入力された参照値レベルをもとに波形等化処理を行い、ビタビ復号器７０は、入力された参照値レベルをもとに復号処理を行う。
【００５２】
図６は、参照値推定部８０ｂが４段の場合の、参照値レベルの推定精度と参照値推定の所要時間を、系毎に比較して、模式的に示したものである。
【００５３】
同図では、参照値推定部１、２、３、４における推定所要時間は、それぞれ、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４となっている。したがって、アシンメトリ検出部８０ａによってアシンメトリ特性の変化が検出された後、Ｔ１秒後からＴ２秒後までの期間は、参照値推定部１にて推定された参照値レベルＲ１が、参照値選択出力部８０ｃからイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力される。以後、Ｔ２秒後からＴ３秒後までの期間、Ｔ３秒後からＴ４秒後までの期間およびＴ４秒後以降の期間は、それぞれ、参照値推定部２、３、４にて推定された参照値レベルＲ２、Ｒ３、Ｒ４が、参照値選択出力部８０ｃからイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力される。
【００５４】
図７に、ビタビ参照値推定回路８０における処理動作を示す。
【００５５】
処理が開始されると、変数ｋに１がセットされ、アシンメトリ検出部８０ａにて、再生ＲＦ信号のアシンメトリ特性に変化が生じたかが判別される（Ｓ２０１，Ｓ２０２）。この判別は、たとえば、図４における参照値レベルＥ０、Ｅ８のサンプル個数をＮ（Ｅ０）、Ｎ（Ｅ８）とした場合、一定期間におけるＮ（Ｅ０）とＮ（Ｅ８）の差が、設定値αよりも大きくなったかを検出することによって行われる。
【００５６】
Ｓ２０１、２０２の処理にて、再生ＲＦ信号のアシンメトリ特性に変化が生じたと判別されると、この判別結果に応じて同時に、参照値推定部１〜ｎにおける処理が開始される（Ｓ２０３）。その後、参照値推定部ｋ（ｋ＝１）における推定処理が終了すると（Ｓ２０４：ＹＥＳ）、参照値推定部ｋ（ｋ＝１）から入力された参照値レベルが、参照値選択出力部８０ｃからイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定される（Ｓ２０５）。
【００５７】
このようにして参照値レベルが設定されると、次に、変数ｋに１が加算され（Ｓ２０６）、加算後の変数ｋが参照値推定部８０ｂの段数ｎを越えたかが判別される（Ｓ２０７）。ここで、変数ｋが段数ｎを越えていなければ（Ｓ２０７：ＮＯ）、Ｓ２０４に戻り、参照値推定部ｋ（ｋ＝２）における推定処理の終了が待機される。しかる後、参照値推定部ｋ（ｋ＝２）における推定処理が終了すると（Ｓ２０４：ＹＥＳ）、参照値推定部ｋ（ｋ＝２）から入力された参照値レベルが、参照値選択出力部８０ｃからイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定される（Ｓ２０５）。
【００５８】
以下、同様にして、参照値推定部ｋ（ｋ＝３、…、ｎ）における推定処理の終了が順次待機され（Ｓ２０４）、各系における推定処理が終了すると（Ｓ２０４：ＹＥＳ）、参照値推定部ｋ（ｋ＝３、…、ｎ）から入力された参照値レベルが、順次、参照値選択出力部８０ｃからイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定される（Ｓ２０５）。そして、最も推定精度が高い参照値推定部ｎからの参照値レベルがイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定されると、変数ｋがｋ＝１にリセットされた後、Ｓ２０１に戻り、次のアシンメトリ特性の変化が検出されるまで、参照値推定部ｎからの参照値レベルが維持される。
【００５９】
Ｓ２０１からＳ２０７などの処理の途中に、次のアシンメトリ特性の変化が検出された場合には、変数ｋがｋ＝１にリセットされ、Ｓ２０３以降の処理が行われる。
【００６０】
なお、前記ｎ段の参照値推定部８０ｂのうち参照値推定処理に要する時間が最も小さい参照値推定部１は、その所要時間が、アシンメトリ検出部８０ａによるアシンメトリ特性変化の検出の後、後段の誤り訂正処理にて訂正可能な最大データ量を再生するまでの時間以下に設定されるのが好ましい。
【００６１】
参照値推定部１によって参照値レベルが推定されるまでの間に、アシンメトリ特性が変化する前の参照値レベルを用いて復号化処理を行っても、これにより復号されたデータは、後段の誤り訂正処理にて誤り訂正される。このため、この期間に、再設定前の参照値レベルを用いて復号化処理を行っても、ディスクに対するデータ読み出しのリトライが生じることはない。よって、少なくとも、参照値推定部１における処理の所要時間を、アシンメトリ特性の変化後、訂正処理にて訂正可能な最大データ量を再生するまでの時間以下に設定しておけば、アシンメトリ特性の変化後にデータ読み出しのリトライが生じることはなく、円滑な再生動作を維持することができる。
【００６２】
＜検証例１＞
図８に、参照値推定部８０ｂを４段（参照値推定部１〜４）としたときの検証例を示す。なお、図中のＰＲＳＮＲはＰＲ系における信号品質を示す指標であり、値が大きいほど再生信号の品質が高くなる。また、図中の半セクタ数とは１セクタの半分を示す単位であり、その数に１４５０８を乗じた値が図４および図５に示すサンプル点数となる。同図には、参照値推定部１、２、３、４におけるＰＲＳＮＲが示されている。なお、参照値推定部１、２、３、４におけるＮｓとＮｔｈは、表１に示す値に設定されている。
【００６３】
【表１】
2007334969.tif 000003
【００６４】
この検証例では、図中のＴ１〜Ｔ２の期間、Ｔ２〜Ｔ３の期間、Ｔ３〜Ｔ４の期間およびＴ４以降の期間において、それぞれ、参照値推定部１、２、３および４における参照値レベルがビタビ復号に用いられる。各期間のＰＲＳＮＲを統合すると、図９に示すようになる。
【００６５】
図８と図９を比較して分かるとおり、本実施の形態によれば、参照値推定部８０ｂを１段のみとした場合に比べ、再生ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性に変化が生じた後、迅速に、精度の高い参照値レベルをイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定することができ、且つ、その後、時間が経過するにしたがって、イコライザ６０とビタビ復号器７０に供給される参照値レベルの精度をさらに引き上げることができる。
【００６６】
図８を参照して分かるとおり、参照値推定部８０ｂを参照値推定部１のみにて構成した場合には、参照値レベルの推定精度を迅速に引き上げることができるが、その後の推定精度が頭打ち状態となり、逆に、参照値推定部８０ｂを参照値推定部１のみにて構成すると、推定精度の高い参照値レベルを供給するまでに長期を要することとなる。また、推定精度が中間のもの（参照値推定部２、３）のみから参照値推定部８０ｂを構成した場合も、参照値推定までに比較的長期の時間を要し、また、ディスクの品質によっては、満足のいく推定精度を確保できるとは限らない。
【００６７】
これに対し、本実施の形態によれば、図９から分かるとおり、精度の高い参照値レベルを、迅速に、イコライザ６０とビタビ復号器７０に設定することができ、且つ、その後に、参照値レベルの精度をさらに引き上げることができる。
【００６８】
＜検証例２＞
図１０に、参照値推定部８０ｂを２段（参照値推定部１、２）としたときの検証例を示す。なお、参照値推定部１、２におけるＮｓとＮｔｈは、表２に示す値に設定されている。
【００６９】
【表２】
2007334969.tif 000004
【００７０】
各期間のＰＲＳＮＲを統合すると、図１１に示すようになる。
【００７１】
この検証例においても、上記検証例と同様、参照値推定部８０ｂを１段のみにて構成した場合に比べ、再生ＲＦ信号波形のアシンメトリ特性に変化が生じた後、迅速に、精度の高い参照値レベルをイコライザ６０とビタビ復号器７０に設定することができ、且つ、その後、時間が経過するにしたがって、イコライザ６０とビタビ復号器７０に供給される参照値レベルの精度をさらに引き上げることができる。
【００７２】
なお、図９と図１１を比較すると、参照値推定部８０ｂの段数を４段とした方が２段の場合に比べ、推定精度が上昇することが分かる。ただし、両者を比較して分かるとおり、段数を４段以上としても、それほど大きな推定精度の向上は期待できない。よって、ビタビ参照値推定回路８０の構成コストを考慮すると、参照値推定部８０ｂの段数は４段程度までが現実的と考えられる。
【００７３】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、上記以外の形態によっても適宜実施可能なものである。
【００７４】
たとえば、参照値推定部８０ｂの構成は、図２に示すものに限定されず、他の構成を用いることもできる。また、アシンメトリ検出部８０ａにおける検出手法も上記に限られるものではなく、他の手法を用いることもできる。
【００７５】
また、上記実施の形態では、ビタビ参照値レベルを９段階としたが、本発明は、これ以外の段数のビタビ参照値レベルが設定されている場合にも適用可能である。さらに、上記実施の形態では、オフセット調整回路４０から出力されるサンプルデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うようにしたが、デジタルＰＬＬ回路５０から出力されるデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うように変更することもできる。
【００７６】
さらに、上記実施の形態では、非同期クロックを用いてＡＤ変換回路３０にてサンプリングされたデータを、デジタルＰＬＬ５０にて補間して、正規のサンプリングタイミングにおけるデータを生成するようにしたが、本発明は、デジタルＰＬＬを用いる回路構成に限定されるものではなく、アナログＰＬＬを用いる場合等、他の回路構成にも広く適用可能なものである。
【００７７】
図１２に、光ディスク装置の変更例を示す。
【００７８】
この構成例では、ＰＬＬ回路９０によって、再生ＲＦ信号に同期したクロックが生成され、Ａ／Ｄ変換回路３０に供給される。なお、ＰＬＬ９０の構成は、アナログ／デジタルのどちらでも良い。
【００７９】
Ａ／Ｄ変換回路３０は、ＰＬＬ回路９０から入力されるクロックに応じて再生ＲＦ信号をサンプリングし、サンプル値をデジタルデータに変換してオフセット調整回路４０に出力する。オフセット調整回路４０は、再生ＲＦ信号に含まれるＤＣオフセットを検出してこれを除去し、オフセットのない再生ＲＦ信号（デジタルデータ）を出力する。
【００８０】
イコライザ６０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルに合うよう、オフセット調整回路４０から供給されるデータに対して波形等化処理を施してビタビ復号器７０に出力する。ビタビ復号器７０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルをもとに、イコライザ６０から入力されるデジタルデータにビタビ復号処理を施して１、０の２値化データを生成出力する。なお、ビタビ参照値推定回路８０の構成および機能は、上記実施の形態と同様である。
【００８１】
この他、上記実施の形態では、次世代ＤＶＤ等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用した例を示したが、これ以外のディスク再生装置やその他の再生装置に本発明を適用することも可能である。
【００８２】
本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図２】実施の形態に係る参照値推定部の構成を示す図
【図３】実施の形態に係るビタビ参照値レベル設定時のフローチャート
【図４】実施の形態に係る参照値レベルの初期値の設定を説明する図
【図５】実施の形態に係る参照値レベルの推定状態を説明する図
【図６】実施の形態に係る参照値推定精度と推定所要時間の関係を示す図
【図７】実施の形態に係るビタビ参照値推定回路の処理フローチャート
【図８】実施の形態に係る検証例（検証例１）を示す図
【図９】実施の形態に係る検証例（検証例１）を示す図
【図１０】実施の形態に係る検証例（検証例２）を示す図
【図１１】実施の形態に係る検証例（検証例２）を示す図
【図１２】実施の形態に係る光ディスク装置の構成の変更例を示す図
【図１３】再生信号波形のアシンメトリ特性を示す図
【符号の説明】
【００８４】
８０    ビタビ参照値推定回路
８０ａ  アシンメトリ検出部
８０ｂ  参照値推定部
８０ｃ  参照値選択出力部
【図１】
2007334969.tif 000005
【図２】
2007334969.tif 000006
【図３】
2007334969.tif 000007
【図４】
2007334969.tif 000008
【図５】
2007334969.tif 000009
【図６】
2007334969.tif 000010
【図７】
2007334969.tif 000011
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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