(57)【要約】【課題】  圧着不良の判定の要因となったエリアおよび判定条件となった許容公差を特定し、その許容公差のみを自動的に変更することによって対処の容易化を図った端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ調整方法を提供する。【解決手段】  端子圧着装置による端子圧着処理時に圧着不良と判定された圧着加工品に、圧着不良が存在しない場合に、自動パラメータ生成モードスイッチを操作するデータ調整開始工程と、自動パラメータ生成モードスイッチの操作により、圧着不良判定条件検出手段が良否判定手段によって圧着不良と判定されたエリアＴ２および該エリアＴ２の許容公差Ｓｃ、Ｓｄを検出する判定条件検出工程と、圧着不良判定条件検出手段で検出されたエリアＴ２の許容公差Ｓｃ、Ｓｄを、許容公差調整手段により所定値拡大して調整するデータ調整工程とを備える。【選択図】    図４
2007103220.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子圧着装置による端子圧着処理時の所定箇所で発生する圧力値の変化から生成された検出波形データに基づき、予め設定されている良否判定用データにおける基準波形データの許容公差範囲内かどうかにより圧着処理の良否を判定する端子圧着不良検出装置において、
前記端子圧着不良検出装置は、前記検出波形データを時間軸に沿って分割された複数のエリア毎に、それぞれ前記基準波形データの前記許容公差の範囲内かどうかを判定する良否判定手段と、
前記良否判定手段により圧着不良と判定された前記エリアおよび該エリアの前記許容公差を検出する圧着不良判定条件検出手段と、
前記圧着不良判定条件検出手段で検出された前記エリアの前記許容公差を所定値拡大させる許容公差調整手段と、
前記許容公差調整手段により前記許容公差の前記拡大を実行させるためのデータ調整実行手段と、
を備えることを特徴とする端子圧着不良検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ調整方法であって、
前記端子圧着装置による端子圧着処理時に圧着不良と判定された圧着加工品に、圧着不良が存在しない場合に、前記データ調整実行手段を操作するデータ調整開始工程と、
前記データ調整実行手段の操作により、前記圧着不良判定条件検出手段が前記良否判定手段によって前記圧着不良と判定された前記エリアおよび該エリアの前記許容公差を検出する判定条件検出工程と、
前記圧着不良判定条件検出手段で検出された前記エリアの前記許容公差を、前記許容公差調整手段により所定値拡大して調整するデータ調整工程と、
を備えることを端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被覆部を皮剥ぎした被覆電線の端末部に、端子圧着装置により端子を圧着する際、端子の圧着状態を監視して圧着不良を自動的に検出する端子圧着不良検出装置およびその圧着不良判定データ調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、端子圧着装置は、被覆部が所定長さ皮剥ぎされた被覆電線の端末部に、所定形状の端子を圧着する構造とされていた。そして、このような端子圧着装置において、端子圧着処理時に、芯線部の一部が端子から食み出した状態で圧着されるいわゆる芯線こぼれ不良や、芯線部に圧着されるべき部分が被覆部の一部をも含めて圧着されるいわゆる被覆噛み不良等の種々の圧着不良が発生することがあり、そのような圧着不良が発生した場合に、それらを検出して排除する必要がある。
【０００３】
そこで、端子圧着処理時の異常を検出して圧着状態を識別するための端子圧着不良検出装置が登場している（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
即ち、図１２に示されるように、端子圧着装置１は、ベース板２上にアプリケータ３を備え、該アプリケータ３は被覆電線４の端末部に端子５を圧着するためのアンビル６およびクリンパ７を備えている。また、端子５は被覆電線４の芯線部４ａに圧着される芯線圧着部５ａと、被覆部４ｂに圧着される被覆圧着部５ｂとを備えている。
【０００５】
そして、ベース板２の下側に圧力センサ１０（例えばピエゾセンサ）が備えられ、圧力センサ１０からリード線１１が引き出されている。
【０００６】
端子５の圧着処理に際しては、端末部の被覆部４ｂが皮剥ぎされた被覆電線４と端子５とが、アンビル６とクリンパ７との間の所定位置に配置され、この状態で、クリンパ７を下降操作することにより、クリンパ７とアンビル６とで端子５の芯線圧着部５ａと被覆圧着部５ｂが圧縮され、芯線圧着部５ａが被覆電線４の芯線部４ａに圧着されると共に被覆圧着部５ｂが被覆電線４の被覆部４ｂに圧着されて、被覆電線４の端末部に端子５が接続固定される構造とされていた。
【０００７】
そして、このクリンパ７による端子圧着処理において、圧力センサ１０はアンビル６やベース板２等を介して圧力を受け、その圧力値に応じた信号を出力する。端子圧着不良検出装置は、この圧力センサ１０からの出力の時間的変化を波形として捉え、デジタル処理して、予めメモリ等に記憶された正常時の基準波形データと、検査時に出力された検出波形データとを比較することにより、良品か不良品かを判定し、不良品を排除する方式とされていた。
【０００８】
このような検出された波形データにより圧着状態の良否を判定する方法として、図１３に示されるように、正常圧着状態における基準波形データＡを基準に上下方向に所定値シフトして得られる許容値の範囲を許容公差Ｓとし、検出波形データが、その波形データ全域に渡ってその許容公差Ｓ範囲内にあるか否かで圧着状態の良否を判定する方法や、検出波形データを時間軸に沿って複数のエリア（例えばＴ１、Ｔ２、Ｔ３等）に分割し、各エリアの面積を基準波形データＡの対応エリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３等）の面積と比較して許容公差範囲内にあるか否かにより圧着状態の良否を判定する方法や、波形データのピーク値や総面積を基準波形データのものと比較して許容公差範囲内にあるか否かにより圧着状態の良否を判定する方法等がある。
【０００９】
そして、上記のような基準波形データや許容公差を設定する方法として、正常な圧着状態における基準波形データを作成するために、実際に端子圧着処理を行い、正常状態の端子圧着処理を基に、その際の圧力センサからの出力の時間的変化を解析処理し、基準波形データを求め、その後、その基準波形データに対する許容公差を操作画面より適宜、人手で入力する方法がある。
【００１０】
また、特許文献１に開示のように、許容公差をサンプリングしたデータから算出された標準偏差に基づいて自動的に設定する方法もある。
【００１１】
【特許文献１】特開２００５−１３５８２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、上記のような基準波形データや許容公差からなる良否判定用データが設定された端子圧着不良検出装置の監視状態で、端子圧着装置により端子圧着処理を行っている場合に、圧着不良の判定により不良品として撥ねられた圧着加工品であっても、実際にその圧着加工品を調べた結果、圧着状態に何ら問題がない場合がある。
【００１３】
これは良否判定用データの許容公差が厳し過ぎることによるためであり、このような判定ミスを有効に防止するためには許容公差を若干緩める必要がある。
【００１４】
このような場合、端子圧着不良検出装置が圧着処理過程におけるどのような場所（エリア）で、どのような判定条件により圧着不良の判定をしたかが解りがたく、従って、作業者は判定の基準となる許容公差の変更に際して、どのようなデータを入力すればよいかが解りがたく、時間がかかると共に、考え違いによる入力ミスが発生するおそれもある。
【００１５】
また、やみくもに許容公差を変更すれば、本来適切であった部分の許容公差まで不適切なものになり、判定の信頼性低下を招くおそれがある。
【００１６】
そこで、本発明はこれらの問題点に鑑み、圧着不良の判定の要因となったエリアおよび判定条件となった許容公差を特定し、その許容公差のみを自動的に変更することによって対処の容易化を図った端子圧着不良検出装置およびその圧着不良判定データ調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記課題を解決するための端子圧着不良検出装置の技術的手段は、端子圧着装置による端子圧着処理時の所定箇所で発生する圧力値の変化から生成された検出波形データに基づき、予め設定されている良否判定用データにおける基準波形データの許容公差範囲内かどうかにより圧着処理の良否を判定する端子圧着不良検出装置において、前記端子圧着不良検出装置は、前記検出波形データを時間軸に沿って分割された複数のエリア毎に、それぞれ前記基準波形データの前記許容公差の範囲内かどうかを判定する良否判定手段と、前記良否判定手段により圧着不良と判定された前記エリアおよび該エリアの前記許容公差を検出する圧着不良判定条件検出手段と、前記圧着不良判定条件検出手段で検出された前記エリアの前記許容公差を所定値拡大させる許容公差調整手段と、前記許容公差調整手段により前記許容公差の前記拡大を実行させるためのデータ調整実行手段と、を備える点にある。
【００１８】
また、上記課題を解決するための圧着不良判定データ調整方法の技術的手段は、前記端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ調整方法であって、前記端子圧着装置による端子圧着処理時に圧着不良と判定された圧着加工品に、圧着不良が存在しない場合に、前記データ調整実行手段を操作するデータ調整開始工程と、前記データ調整実行手段の操作により、前記圧着不良判定条件検出手段が前記良否判定手段によって前記圧着不良と判定された前記エリアおよび該エリアの前記許容公差を検出する判定条件検出工程と、前記圧着不良判定条件検出手段で検出された前記エリアの前記許容公差を、前記許容公差調整手段により所定値拡大して調整するデータ調整工程と、を備える点にある。
【発明の効果】
【００１９】
以上のように、本発明の端子圧着不良検出装置によれば、検出波形データを時間軸に沿って分割された複数のエリア毎に、それぞれ基準波形データの許容公差の範囲内かどうかを判定する良否判定手段と、良否判定手段により圧着不良と判定されたエリアおよび該エリアの許容公差を検出する圧着不良判定条件検出手段と、圧着不良判定条件検出手段で検出されたエリアの許容公差を所定値拡大させる許容公差調整手段と、許容公差調整手段により許容公差の前記拡大を実行させるためのデータ調整実行手段と、を備える構成とされているため、圧着不良の判定により不良品として撥ねられた圧着加工品を調べた結果、圧着状態に問題がない場合に、データ調整実行手段を操作すれば、圧着不良判定条件検出手段により圧着不良の判定の要因となったエリアおよびその判定条件となった許容公差が特定され、許容公差調整手段によりそのエリアにおける判定条件となった許容公差を所定値拡大させる方式であり、圧着不良の判定の基礎となったエリアの許容公差のみを自動的に変更するため、その他のエリアの許容公差に何ら影響を与えることがなく、許容公差の入力の手間や入力ミスもなく、良否判定用データの調整に際しての対処の容易化が図れる利点がある。
【００２０】
また、本発明の前記端子圧着不良検出装置による圧着不良判定データ調整方法によれば、端子圧着装置による端子圧着処理時に圧着不良と判定された圧着加工品に、圧着不良が存在しない場合に、データ調整実行手段を操作するデータ調整開始工程と、データ調整実行手段の操作により、圧着不良判定条件検出手段が良否判定手段によって圧着不良と判定されたエリアおよび該エリアの許容公差を検出する判定条件検出工程と、圧着不良判定条件検出手段で検出されたエリアの許容公差を、許容公差調整手段により所定値拡大して調整するデータ調整工程と、を備える方法であり、圧着不良の判定により不良品として撥ねられた圧着加工品を調べた結果、圧着状態に問題がない場合には、データ調整実行手段を操作すれば、圧着不良判定条件検出手段は圧着不良の判定の要因となったエリアおよびその判定条件となった許容公差を特定し、許容公差調整手段はそのエリアにおける判定条件となった許容公差を所定値拡大させて調整する方式であるため、圧着不良の判定の基礎となったエリアの許容公差のみを自動的に変更し、その他のエリアの許容公差に何ら影響を与えることがないため、判定の信頼性向上が図れると共に、許容公差の入力の手間や入力ミスもなく、良否判定用データの調整に際しての対処の容易化が図れる利点がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明すると、図１は全体概略構成、図２は概略ブロック図を示し、２０は両端端子打機で、順次供給される被覆電線の下流側端末部における被覆部を所定長さ皮剥ぎし、その皮剥ぎされた被覆電線の端末部に所定形状の端子を圧着する。その後、所定長さに測長して切断すると共に、その切断された被覆電線の上流側端末部における被覆部を所定長さ皮剥ぎし、その皮剥ぎされた被覆電線の端末部に所定形状の端子を圧着して、両端末部に端子がそれぞれ圧着された所定長さの被覆電線を順次製造する構造とされており、その被覆電線における両端末部に端子を圧着するための端子圧着装置２１、２１がそれぞれ備えられた構造とされている。
【００２２】
そして、端子圧着装置２１、２１による端子圧着処理時の所定箇所で発生する圧力値を検出すべく、例えば、図１２に示される従来構造と同様、端子圧着不良検出装置２２の装置本体２２ａに配線２３接続された圧力センサ２２ｂ（例えばピエゾセンサ）が端子圧着装置２１、２１におけるベース板の下側にそれぞれ配置された構造とされている。なお、圧力センサ２２ｂの配置位置はこれらに何ら限定されない。
【００２３】
また、端子圧着不良検出装置２２は、圧力センサ２２ｂで検出された圧力値の出力に基づき波形データを生成する基準波形生成部２２ｃ、圧力センサ２２ｂで検出された圧力値のデータを取得するデータ取得部２２ｄ、記憶装置としてのＲＯＭやＲＡＭ等のメモリ２２ｅ、許容公差の設定や調整を行う許容公差設定部２２ｆ、良否判定用の基準波形データおよび許容公差を設定する良否判定データ設定部２２ｇ、検出波形データが基準波形データの許容公差の範囲内かどうかを比較する比較部２２ｈ、比較部２２ｈの比較結果に基づいて良否の判定を行う判定部２２ｊ、表示装置の表示を制御する表示制御部２２ｋ等を備え、このような端子圧着不良検出装置２２としては、例えば、クリンプフォースモニタがある。
【００２４】
前記両端端子打機２０を駆動制御する制御部２４に、端子圧着不良検出装置２２が入出力ケーブル２５を介して接続されると共に、操作部としてのパーソナルコンピュータ（いわゆるパソコン）２６がデータ通信ケーブル２７を介して接続されている。さらに、装置本体２２ａとパソコン２６とがＬＡＮケーブル２８を介してＬＡＮ接続されている。
【００２５】
そして、パソコン２６の表示画面２６ａに、端子打機２０の操作画面や端子圧着不良検出装置２２の操作画面や圧力波形モニター画面等を表示する構成とされている。
【００２６】
また、両端端子打機２０の制御部２４における記憶装置としての内部メモリもしくは外部メモリとしてのパソコン２６のハードディスクには、各種径・各種材質の被覆電線の端末部に各種形状・各種材質の端子をそれぞれ圧着処理するために予め生成された端子加工データの複数のファイルを記憶する端子加工データ記憶部２４ａが備えられている。この端子加工データ記憶部２４ａに格納されている各端子加工データのファイルには、それぞれを識別して特定するために、例えば、端子加工データのファイルナンバー、電線名称、端子名称、加工データ等の情報が適宜入力されている。
【００２７】
さらに、端子圧着不良検出装置２２のメモリ２２ｅとしての内部メモリもしくは外部メモリとしてのパソコン２６のハードディスクには、端子圧着処理時における良品／不良品を判定するための前記各端子加工データにそれぞれ対応する各良否判定用データとして、基準波形データと該基準波形データに対応する許容公差との組合せからなる良否判定用データの複数のファイルを記憶する良否判定データ記憶部２２ｍが備えられている。この良否判定データ記憶部２２ｍに格納されている各良否判定用データのファイルには、前記端子加工データと同様、それぞれを識別して特定するために、ファイルナンバー、電線名称、端子名称等の情報が適宜入力されている。そして、表示画面２６ａから入力設定することにより、良否判定データ記憶部２２ｍの中から対応する良否判定用データが選択されて、良否判定データ設定部２２ｇに設定される構成とされている。
【００２８】
また、本実施形態においては、図４に示されるように、良否判定データ設定部２２ｇで設定された良否判定用データは、その基準波形データＡを時間軸に沿って予め設定された所定の時間に応じて複数のエリア（例えばＴ１、Ｔ２、Ｔ３等）に分割し、各エリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３等）毎に、それぞれ上下方向に所定値シフトして得られる許容値の範囲となる許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ等）が設定された方式とされている。
【００２９】
そして、端子圧着不良検出装置２２に組み込まれている良否判定用ソフトは、端子圧着処理により圧力センサ２２ｂから送られてくる圧力値の変化をデータ取得部２２ｄで取得し、その検出データを解析して検出波形データを生成し、その検出波形データが、良否判定データ設定部２２ｇで設定された基準波形データＡの各エリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）毎にそのエリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）における基準波形データＡの許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ）の範囲内かどうかを比較部２２ｈで比較し、判定部２２ｊにより良品か不良品かの判定を行う良否判定手段としての良否判定機能と、圧着不良の判定を行ったエリアおよびその判定条件としての許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ）をメモリ２２ｅに記録する判定結果記録機能とを有している。
【００３０】
また、端子圧着不良検出装置２２には、良否判定用データにおける許容公差Ｓの算出式のパラメータを調整するためのデータ調整ソフトが組み込まれており、このデータ調整ソフトは、良否判定機能により圧着不良と判定されたエリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）およびそのエリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）における許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ）を検索機能により検出してメモリ２２ｅから読み出す圧着不良判定条件検出手段としての圧着不良判定条件検出機能と、圧着不良判定条件検出機能で検出されたエリア（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）における許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ）を許容公差設定部２２ｆに予め設定されたパラメータにより所定値拡大させる許容公差調整手段としての許容公差調整機能を有しており、この許容公差Ｓ（Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄ、Ｓｅ、Ｓｆ）の拡大を実行させるためのデータ調整実行手段としての自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎが端子圧着不良検出装置２２に備えられている。
【００３１】
次に、この端子圧着不良検出装置２２における良否判定用データの調整方法を、図３に示すフローチャートに基づき説明する。
【００３２】
なおこの際、端子圧着処理される被覆電線、端子に応じた端子加工データが、端子圧着装置２１に設定されると共に、端子圧着不良検出装置２２には、対応する基準波形データＡと許容公差Ｓとからなる良否判定用データが予め設定されている。
【００３３】
そして、両端端子打機２０の駆動により各端子圧着装置２１、２１で端子圧着処理が行われると（ステップＳ１）、その都度、端子圧着不良検出装置２２は良否判定用データに基づき圧着状態の良否を判定し、この際に圧着不良が検出されたかどうかが判断される（ステップＳ２）。
【００３４】
そして、圧着不良が検出された場合には、作業者は圧着不良と判定された圧着加工品をチェックして（ステップＳ３）、圧着不良が存在するかどうかを判断し（ステップＳ４）、圧着加工品に判定通りに圧着不良が存在する場合には、不良品として廃棄する（ステップＳ５）。
【００３５】
また、ステップＳ４において、圧着加工品における圧着状態に何ら問題がなく、圧着不良が存在しない場合には、許容公差Ｓが厳しすぎるためと判断して、自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎを押し操作する（ステップＳ６）（データ調整開始工程）。
【００３６】
この自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎの押し操作により、自動パラメータ生成モードとなり、データ調整ソフトは圧着不良判定条件検出機能により、良否判定用ソフトの良否判定機能で判定された圧着不良判定要因をチェックしにいき（ステップＳ７）、先ず、どのエリアで圧着不良が発生したのか、発生エリアをチェックし、特定する（ステップＳ８）。次に、どのような判定式で圧着不良と判定したのかをチェックし、特定する（ステップＳ９）。この場合の判定式としては、圧力センサ２２ｂで検出される各ポイント・ポイントにおける圧力値が許容公差Ｓの範囲内であるか否かで判定する所定の判定式や、分割されたエリア毎の面積（いわゆる和）が許容公差Ｓの範囲内であるか否かで判定する所定の判定式等がある。
【００３７】
そして、上記特定された発生エリアと判定式とにより、どのエリアの、どの許容公差Ｓを大きくするかを特定し（ステップＳ１０）（判定条件検出工程）、特定後、特定した許容公差Ｓを所定値大きくするように許容公差Ｓの算出のためのパラメータを自動で変更する（ステップＳ１１）（データ調整工程）。パラメータの変更後は、自動パラメータ生成モードが解除され、両端端子打機２０は通常の端子圧着処理モードの戻され、一連の良否判定用データの調整が終了する（ステップＳ１２）。
【００３８】
例えば、図４に示されるような基準波形データＡと許容公差Ｓの良否判定用データにおいて、端子圧着処理時に検出された検出波形データＢが点線で示されるような波形の場合、圧着不良の判定の要因となったのは、エリアＴ２で、判定条件は基準波形データＡを基準に上下方向に所定値シフトして得られる許容公差Ｓｃ、Ｓｄである。そして、この特定された許容公差Ｓｃ、Ｓｄのパラメータが所定値変更され、変更後、許容公差Ｓｃ、Ｓｄは例えば許容公差Ｓｃ１、Ｓｄ１に拡大されて書き換えられる。
【００３９】
そして、この状態で端子の圧着処理が開始されると、調整された良否判定用データの基準波形データＡと許容公差Ｓを基準に、端子が圧着処理された被覆電線における圧着処理の良否が判定され、良品であるか不良品であるか識別されていく。
【００４０】
その後も同様にして、圧着不良が検出される度に（ステップＳ２）、圧着不良と判定された圧着加工品をチェックして（ステップＳ３）、圧着不良が存在するかどうかを判断し（ステップＳ４）、圧着加工品における圧着状態に何ら問題がなく、圧着不良が存在しない場合には、その都度、自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎを押し操作して、良否判定用データが漸次調整されていく。
【００４１】
なお、許容公差Ｓを所定値毎、拡大させるためのパラメータ値は、細かく設定し、判定の都度、僅かずつ段階的に許容公差Ｓを拡げていくことが、判定の信頼性向上の観点から好ましい。
【００４２】
以上のように、本実施形態の端子圧着不良検出装置２２における圧着不良判定データ調整方法によれば、端子圧着処理時において、圧着不良の判定により不良品として撥ねられた圧着加工品を調べた結果、圧着状態に問題がない場合には、自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎを押し操作するだけで、圧着不良判定条件検出機能により圧着不良の判定の要因となったエリアおよびその判定条件となった許容公差を特定し、許容公差調整機能はそのエリアにおける判定条件となった許容公差を所定値拡大させて調整する方式であるため、圧着不良の判定の基礎となったエリアの許容公差のみを自動的に変更し、その他のエリアの許容公差に何ら影響を与えることがないため、判定の信頼性向上が図れると共に、許容公差の入力の手間や入力ミスもなく、良否判定用データの調整に際しての対処の容易化が図れる利点がある。
【００４３】
なお、上記実施形態において、基準波形データＡを３エリアに分割した方法を示しているが、さらに細かくエリアを分割する方法等であってもよく、実施形態のエリア数に何ら限定されない。
【００４４】
また、上下の許容公差Ｓｃ、Ｓｄを同時に調整する方法を示しているが、対応する側の一方の許容公差Ｓ、例えば許容公差Ｓｃのみを許容公差Ｓｃ１に調整する方法であってもよく、より厳密な調整により、判定の信頼性のより向上が図れる。
【００４５】
さらに、図５は良品の検出波形の一例で、図６ないし図１１は良品の検出波形に、芯線部の一部が切断されてしまう芯線切れ不良、芯線部の圧着部分に被覆部をも圧着してしまう被覆噛み不良、被覆部の皮剥ぎ残りが生じる被覆残り不良、芯線部の一部が端子から食み出した状態で圧着される芯線こぼれ不良、芯線部が端子の芯線圧着部の所定位置より行き過ぎる深打ち不良、芯線部が端子の芯線圧着部の所定位置まで達していない浅打ち不良のそれぞれの場合の検出波形を一点鎖線で重ねて表示した例である。
【００４６】
これらから端子圧着処理時に得られる検出波形データは、圧着不良の種類に応じてそれぞれ所定の傾向があるため、検出波形データの特徴から圧着不良の要因毎に、エリアの分割位置や判定条件となる許容公差Ｓをそれぞれ設定して記憶する構成であってもよい。そして、圧着不良の要因毎に分割エリアや許容公差Ｓを微調整する方法を採用すれば、判定の精度の信頼性がより向上する。
【００４７】
さらに、良否判定用データによる良品・不良品の判定に際して、各圧力センサ２２ｂで検出される各ポイント・ポイントにおける圧力値が許容公差Ｓの範囲内であるか否かで判定する方法を示しているが、適宜分割されたエリア毎の面積（いわゆる和）が許容公差Ｓの範囲内であるか否かで判定する方法としてもよく、さらには、圧着不良の要因に応じてそれらを選択的に採用する方法としてもよく、圧着不良の要因に応じたより精度のよい良否判定も可能となる利点がある。
【００４８】
また、上記実施形態においては、予め生成されている良否判定用データの調整方法を示しているが、良否判定用データの基準波形データＡを生成後、予め厳しめの許容公差Ｓを設定し、上記調整方法により圧着不良判定のための良否判定用データを作成する方法としても利用できる。
【００４９】
さらに、データ調整実行手段として、自動パラメータ生成モードスイッチ２２ｎを示しているが、パソコン２６のキー操作による構成であってもよい。
【００５０】
さらにまた、端子圧着不良検出装置２２の装置本体２２ａがパソコン２６内に含まれる構成であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の実施形態にかかる全体概略図である。
【図２】端子圧着不良検出装置の概略ブロック図である。
【図３】圧着不良判定データ調整工程を示すフローチャートである。
【図４】基準波形と検出波形の時間と圧力値との関係の一例を示す説明図である。
【図５】良品の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図６】芯線切れ不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図７】被覆噛み不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図８】被覆残り不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図９】芯線こぼれ不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図１０】深打ち不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図１１】浅打ち不良の場合の時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【図１２】端子圧着装置の概略説明図である。
【図１３】端子圧着装置における時間と圧力値との関係の波形の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５２】
２０  両端端子打機
２１  端子圧着装置
２２  端子圧着不良検出装置
２２ｂ  圧力センサ
２２ｃ  基準波形生成部
２２ｄ  データ取得部
２２ｅ  メモリ
２２ｆ  許容公差設定部
２２ｈ  比較部
２２ｊ  判定部
２２ｎ  自動パラメータ生成モードスイッチ
２４  制御部
２４ａ  端子加工データ記憶部
２６  パソコン
２６ａ  表示画面
【図１】
2007103220.tif 000003
【図２】
2007103220.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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