(57)【要約】【課題】稼働停止時には搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出することができ、かつ、不良品の発生を抑えることのできる電子部品搬送装置及びその制御方法を得る。【解決手段】電子部品搬送装置の稼働を停止させる際には、貫通孔３内の負圧状態を停止し、圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１から、電子部品搬送装置の稼働時より強い圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔３の案内部材５側の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品３０が貫通孔３内に入るのを防止する。噴出口１１の位置より搬送方向Ｘの下流側に位置する貫通孔３内に残った残留電子部品３０は、測定区間まで搬送されて測定されるとともに排出区間において排出機構によって排出され、その後、搬送部材２の回転が停止する。【選択図】図４
2007153477.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備えた電子部品搬送装置であって、
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする電子部品搬送装置。
【請求項２】
前記搬送テーブルはその搬送面が上向きに４０〜９０°傾斜しており、
前記搬送部材は円盤状をなし、前記駆動機構によって回転駆動されること、
を特徴とする請求項１に記載の電子部品搬送装置。
【請求項３】
前記案内部材は時計文字盤上で５時から１０時に相当する領域内で前記搬送部材の貫通孔に電子部品を供給することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電子部品搬送装置。
【請求項４】
前記案内部材は前記圧縮空気噴出し機構にて前記搬送部材から払い落とされた電子部品を受け取る位置に設置されていることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の電子部品搬送装置。
【請求項５】
前記搬送部材を停止させるに際して、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から前記貫通孔に入っている電子部品を取り出す強さの圧縮空気を噴き出すことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の電子部品搬送装置。
【請求項６】
搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備えた電子部品搬送装置の制御方法であって、
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする電子部品搬送装置の制御方法。
【請求項７】
前記残留電子部品を前記測定部で測定することを特徴とする請求項６に記載の電子部品搬送装置の制御方法。
【請求項８】
前記搬送部材を停止させるに際して、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から前記貫通孔に入っている電子部品を取り出す強さの圧縮空気を噴き出すことを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の電子部品搬送装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品搬送装置、特に、コンデンサなどの電子部品を搬送しつつその特性を測定して良品／不良品を選別する電子部品搬送装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品搬送装置として、従来、特許文献１に記載のものが知られている。この電子部品搬送装置は、概略、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を貫通孔に案内する案内部材と、搬送部材を回転駆動させる駆動機構と、貫通孔内を負圧にして電子部品を貫通孔内に引き込む吸引機構と、搬送部材に近接して設けられた測定端子と、搬送部材に近接して設けられた排出機構と、案内部材の出口に近接して設けられ、搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構とを備えている。ここに、圧縮空気噴出し機構は、搬送部材表面に静電気などで付着している電子部品を搬送部材から払い落とすために使用されている。
【０００３】
しかしながら、この電子部品搬送装置において、稼働を停止する場合、搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出してから搬送部材の回転を停止しようとしても、電子部品が貫通孔内に取り込まれ続けるため、搬送部材の貫通孔内に電子部品が残った状態となる。そのため、メンテナンス時に測定端子清掃の邪魔になったり、測定端子下にある電子部品に端子痕が付いたり、圧電効果によってコンデンサの容量が変化したりする。また、電子部品をそのまま放置し続ければ、特性が変化して不良品となるおそれがある。
【特許文献１】特表２０００−５０１１７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、本発明の目的は、稼働停止時には搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出することができ、かつ、不良品の発生を抑えることのできる電子部品搬送装置及びその制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するため、本発明に係る電子部品搬送装置は、
搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備えた電子部品搬送装置であって、
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする。
【０００６】
また、本発明に係る電子部品搬送装置の制御方法は、
搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備えた電子部品搬送装置の制御方法であって、
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする。
【０００７】
本発明においては、電子部品搬送装置の稼働を停止させる際には、吸引機構の動作を停止し、圧縮空気噴出し機構の噴出口から電子部品搬送装置の稼働時より強い（少なくとも電子部品が貫通孔に入るのを防止する強さの）圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品が貫通孔内に入るのを防止する。あるいは、この圧縮空気によってサクション効果（負圧）がもたらされ、既に貫通孔内にある電子部品が貫通孔内から引き出され、電子部品が供給されなくなる。噴出口の位置から搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品は、測定部を経て排出機構によって排出され、貫通孔内にある電子部品が全て排出されると搬送部材の移動が停止する。なお、残留電子部品を測定部で測定するようにしてもよい。
【０００８】
本発明に係る電子部品搬送装置においては、搬送テーブルはその搬送面が上向きに４０〜９０°傾斜しており、搬送部材は円盤状をなし、駆動機構によって回転駆動されるように構成してもよい。また、案内部材は時計文字盤上で５時から１０時に相当する領域内で搬送部材の貫通孔に電子部品を供給することが好ましい。さらに、案内部材は圧縮空気噴出し機構にて搬送部材から払い落とされた電子部品を受け取る位置に設置されていることがより好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出してから搬送部材の移動を停止するので、電子部品は測定端子によって端子痕が付いたり、また、そのまま放置し続けて特性の変化が生じるなどのおそれがなくなる。この結果、電子部品の不良品発生率を改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明に係る電子部品搬送装置及びその制御方法の実施例について添付図面を参照して説明する。
【００１１】
（第１実施例、図１〜図４参照）
図１及び図２に示すように、第１実施例である電子部品搬送装置は、概略、搬送面１ａを有する搬送テーブル１と、搬送テーブル１上に取り付けられ、複数の貫通孔３を設けた円盤状の搬送部材２と、電子部品３０を貫通孔３に案内する案内部材５と、搬送部材２を回転駆動させる図示しない駆動機構と、貫通孔３内を負圧にする図示しない吸引機構と、搬送部材２に近接して設けられた複数の測定端子部７と、搬送部材２に近接して設けられた図示しない排出機構と、案内部材５の出口に近接して設けられ、搬送部材２の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口１１を有する圧縮空気噴出し機構１０とを備えている。
【００１２】
搬送テーブル１は、本第１実施例において搬送面１ａがほぼ９０°に直立されており、上向きに４０〜９０°に傾斜していればよい。搬送部材２は、電子部品３０の両端部に設けた外部電極３０ａが搬送部材２の表裏側に位置するように、電子部品３０をその長辺方向に収容すること（図３参照）ができる貫通孔３を複数有している。電子部品３０は、貫通孔３の底部（図３の右側）より吸引機構にて真空吸引することにより、貫通孔３内に取り込まれる。搬送部材２は矢印Ｘ方向への間欠的な回転によって貫通孔３に収容した電子部品３０を次々に搬送する。
【００１３】
案内部材５は、トンネル上の周知の機構からなり、搬送部材２上に時計文字盤上で５時から９時に相当する領域にわたって設けられている。なお、案内部材５を設ける領域は５時から１０時に相当する領域内であればよい。電子部品３０は案内部材５の６時相当領域に滞留し、そこから貫通孔３内に振り込まれる。また、排出機構は搬送テーブル１の搬送面１ａに圧縮空気噴出口を有している。
【００１４】
なお、吸引機構、駆動機構及び排出機構のそれぞれはこの種の電子部品搬送装置として従来から周知の構成を備えており、その説明は省略する。
【００１５】
次に、以上の構成からなる電子部品搬送装置の制御方法について説明する。まず、電子部品搬送装置の稼働時には、貫通孔３内を負圧にするとともに、搬送部材２を駆動機構によって矢印Ｘ方向に回転駆動する。案内部材５によって貫通孔３の開口部にまで運ばれた電子部品３０は、負圧によって貫通孔３内に取り込まれる。電子部品３０を取り込んだ貫通孔３は、圧縮空気噴出し機構１０を経て測定区間Ａまで間欠的に搬送される。
【００１６】
このとき、圧縮空気噴出し機構１０は、図３に示すように、噴出口１１からエアーを噴き出すことによって搬送部材２の表面に静電気などで付着している電子部品３０を搬送部材２から払い落とす。案内部材５の上部は圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１に近接して開口しており、払い落とされた電子部品３０は案内部材５に戻される。噴出口１１からのエアー圧が弱いと十分な払い落とし効果が得られず、強いと案内部材５上で電子部品３０が攪拌され、電子部品３０どうしが衝突し、クラックが入ったり、案内部材５から溢れてしまうことがあるので、エアー圧は適度の圧力に設定される。
【００１７】
測定区間Ａに搬送された電子部品３０は、所定の位置にて測定端子部７を構成する個々の接触端子（図示せず）によって電子部品３０の電気特性が測定された後、排出区間Ｂに搬送され、そこで良品／不良品を分けて排出機構によって排出される。
【００１８】
次に、電子部品搬送装置の稼働を停止させる際には、貫通孔３内を負圧にする動作を停止し、図４に示すように、圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１から、電子部品搬送装置の稼働時より強い圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔３の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品３０が貫通孔３内に入るのを防止する。また、この圧縮空気によってサクション効果（負圧）がもたらされ、既に貫通孔３内にある電子部品３０が貫通孔３内から引き出される。稼動停止時において噴出口１１から噴き出される圧縮空気は、少なくとも電子部品３０が貫通孔３に入るのを防止する強さであればよい。あるいは、貫通孔３に入っている電子部品３０を取り出す強さの圧縮空気であってもよく、この場合には、既に貫通孔３に入っている電子部品３０を取り出してしまうので、以下に説明する搬送部材２の移動距離が短くて済み、早く停止動作を終えることができる。
【００１９】
圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１の位置より搬送方向Ｘの下流側に位置する貫通孔３内に残った電子部品３０は、測定区間Ａまで搬送されて特性を測定された後、排出区間Ｂにおいて排出機構によって排出される。貫通孔３内にある電子部品３０が全て排出されると、搬送部材２の回転が停止する。なお、残留電子部品３０については、測定することなく測定区間Ａを通過させ、排出区間Ｂで排出してもよい。
【００２０】
このように、搬送部材２の貫通孔３内から電子部品３０を全て排出してから搬送部材２が停止するので、測定端子部７の接触端子によって電子部品３０に端子痕が付いたり、また、そのまま貫通孔３内に電子部品３０を放置し続けて電子部品特性の変化が生じるなどのおそれがなくなる。この結果、電子部品３０の不良品発生率が改善される。
【００２１】
（第２実施例、図５及び図６参照）
次に、本発明の第２実施例である電子部品搬送装置を図５及び図６を参照して説明する。この搬送装置は、圧縮空気噴出し機構１０の直下に搬送部材２とほぼ直交する水平方向に延在する案内部材５’を設けたものである。この案内部材５’は振動などの作用により電子部品３０を矢印Ｙ方向に移動させて貫通孔３内に振り込む。
【００２２】
本第２実施例において、案内部材５’以外の構成は前記第１実施例と同様であり、図５及び図６には図１〜図４と同じ部材、部分には共通した符号を付し、重複した説明は省略する。また、図５において搬送部材２の貫通口は図示を省略している。
【００２３】
なお、本発明に係る電子部品搬送装置及びその制御方法は前記実施例に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】電子部品搬送装置の第１実施例を示す概略構成図。
【図２】図１に示した圧縮空気噴出し機構近傍の拡大斜視図。
【図３】本発明に係る電子部品搬送装置の制御方法を説明するための断面模式図。
【図４】図３に続く電子部品搬送装置の制御方法を説明するための断面模式図。
【図５】電子部品搬送装置の第２実施例を示す概略構成図。
【図６】図５のＣ−Ｃ断面図。
【符号の説明】
【００２５】
１…搬送テーブル
１ａ…搬送面
２…搬送部材
３…貫通孔
５，５’…案内部材
７…測定端子部
１０…圧縮空気噴出し機構
１１…噴出口
【図１】
2007153477.tif 000003
【図２】
2007153477.tif 000004
【図３】
2007153477.tif 000005
【図４】
2007153477.tif 000006
【図５】
2007153477.tif 000007
【図６】
2007153477.tif 000008
【手続補正書】
【提出日】平成18年12月27日(2006.12.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上向きに４０°〜９０°傾斜した搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた円盤状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備え、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品を前記案内部材から前記搬送部材に送り込んで前記貫通孔に収容して搬送し、該貫通孔に収容された電子部品を搬送中に前記測定部で測定する、
電子部品測定装置であって、
前記貫通孔は前記搬送部材の上面に開口した状態で形成されており、
前記案内部材は前記貫通孔の移動経路に沿って設けられ、
前記圧縮空気噴出し機構は前記搬送部材の上面に沿って流れる方向に圧縮空気を噴き出し、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品が前記案内部材上に存在している状態で
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする電子部品測定装置。
【請求項２】
前記案内部材は時計文字盤上で５時から１０時に相当する領域内で前記搬送部材の貫通孔に電子部品を供給することを特徴とする請求項１に記載の電子部品測定装置。
【請求項３】
前記案内部材は前記圧縮空気噴出し機構にて前記搬送部材から払い落とされた電子部品を受け取る位置に設置されていることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電子部品測定装置。
【請求項４】
前記搬送部材を停止させるに際して、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から前記貫通孔に入っている電子部品を取り出す強さの圧縮空気を噴き出すことを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の電子部品測定装置。
【請求項５】
上向きに４０°〜９０°傾斜した搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた円盤状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備え、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品を前記案内部材から前記搬送部材に送り込んで前記貫通孔に収容して搬送し、該貫通孔に収容された電子部品を搬送中に前記測定部で測定する、
電子部品測定装置の制御方法であって、
前記貫通孔は前記搬送部材の上面に開口した状態で形成されており、
前記案内部材は前記貫通孔の移動経路に沿って設けられ、
前記圧縮空気噴出し機構は前記搬送部材の上面に沿って流れる方向に圧縮空気を噴き出し、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品が前記案内部材上に存在している状態で
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする電子部品測定装置の制御方法。
【請求項６】
前記搬送部材を停止させるに際して、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から前記貫通孔に入っている電子部品を取り出す強さの圧縮空気を噴き出すことを特徴とする請求項５に記載の電子部品測定装置の制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品測定装置、特に、コンデンサなどの電子部品を搬送しつつその特性を測定して良品／不良品を選別する電子部品測定装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品測定装置として、従来、特許文献１に記載のものが知られている。この電子部品測定装置は、概略、複数の貫通孔を設けた板状の搬送部材と、電子部品を貫通孔に案内する案内部材と、搬送部材を回転駆動させる駆動機構と、貫通孔内を負圧にして電子部品を貫通孔内に引き込む吸引機構と、搬送部材に近接して設けられた測定端子と、搬送部材に近接して設けられた排出機構と、案内部材の出口に近接して設けられ、搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構とを備えている。ここに、圧縮空気噴出し機構は、搬送部材表面に静電気などで付着している電子部品を搬送部材から払い落とすために使用されている。
【０００３】
しかしながら、この電子部品測定装置において、稼働を停止する場合、搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出してから搬送部材の回転を停止しようとしても、電子部品が貫通孔内に取り込まれ続けるため、搬送部材の貫通孔内に電子部品が残った状態となる。そのため、メンテナンス時に測定端子清掃の邪魔になったり、測定端子下にある電子部品に端子痕が付いたり、圧電効果によってコンデンサの容量が変化したりする。また、電子部品をそのまま放置し続ければ、特性が変化して不良品となるおそれがある。
【特許文献１】特表２０００−５０１１７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、本発明の目的は、稼働停止時には搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出することができ、かつ、不良品の発生を抑えることのできる電子部品測定装置及びその制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するため、本発明に係る電子部品測定装置は、
上向きに４０°〜９０°傾斜した搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた円盤状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備え、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品を前記案内部材から前記搬送部材に送り込んで前記貫通孔に収容して搬送し、該貫通孔に収容された電子部品を搬送中に前記測定部で測定する、
電子部品測定装置であって、
前記貫通孔は前記搬送部材の上面に開口した状態で形成されており、
前記案内部材は前記貫通孔の移動経路に沿って設けられ、
前記圧縮空気噴出し機構は前記搬送部材の上面に沿って流れる方向に圧縮空気を噴き出し、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品が前記案内部材上に存在している状態で
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする。
【０００６】
また、本発明に係る電子部品測定装置の制御方法は、
上向きに４０°〜９０°傾斜した搬送面を有する搬送テーブルと、前記搬送テーブル上に取り付けられ、複数の貫通孔を設けた円盤状の搬送部材と、電子部品を前記貫通孔に案内する案内部材と、前記搬送部材を移動させる駆動機構と、前記貫通孔内を負圧にする吸引機構と、前記搬送部材に近接して設けられた測定部と、前記搬送部材に近接して設けられた排出機構と、前記案内部材の出口に近接して設けられ、前記搬送部材の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口を有する圧縮空気噴出し機構と、を備え、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品を前記案内部材から前記搬送部材に送り込んで前記貫通孔に収容して搬送し、該貫通孔に収容された電子部品を搬送中に前記測定部で測定する、
電子部品測定装置の制御方法であって、
前記貫通孔は前記搬送部材の上面に開口した状態で形成されており、
前記案内部材は前記貫通孔の移動経路に沿って設けられ、
前記圧縮空気噴出し機構は前記搬送部材の上面に沿って流れる方向に圧縮空気を噴き出し、
ランダムな姿勢で待機している複数の電子部品が前記案内部材上に存在している状態で
前記搬送部材を停止させるに際して、前記吸引機構の動作を停止させ、前記圧縮空気噴出し機構の前記噴出口から電子部品が前記貫通孔に入るのを防止する圧縮空気を噴き出し、噴出口の位置より搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品を前記測定部を経て前記排出機構まで搬送して排出した後、搬送部材を停止させること、
を特徴とする。
【０００７】
本発明においては、電子部品測定装置の稼働を停止させる際には、吸引機構の動作を停止し、圧縮空気噴出し機構の噴出口から電子部品測定装置の稼働時より強い（少なくとも電子部品が貫通孔に入るのを防止する強さの）圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品が貫通孔内に入るのを防止する。あるいは、この圧縮空気によってサクション効果（負圧）がもたらされ、既に貫通孔内にある電子部品が貫通孔内から引き出され、電子部品が供給されなくなる。噴出口の位置から搬送方向下流側に位置する貫通孔内の残留電子部品は、測定部を経て排出機構によって排出され、貫通孔内にある電子部品が全て排出されると搬送部材の移動が停止する。なお、残留電子部品を測定部で測定するようにしてもよい。
【０００８】
本発明に係る電子部品測定装置においては、案内部材は時計文字盤上で５時から１０時に相当する領域内で搬送部材の貫通孔に電子部品を供給することが好ましい。さらに、案内部材は圧縮空気噴出し機構にて搬送部材から払い落とされた電子部品を受け取る位置に設置されていることがより好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出してから搬送部材の移動を停止するので、電子部品は測定端子によって端子痕が付いたり、また、そのまま放置し続けて特性の変化が生じるなどのおそれがなくなる。この結果、電子部品の不良品発生率を改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明に係る電子部品測定装置及びその制御方法の実施例について添付図面を参照して説明する。
【００１１】
（第１実施例、図１〜図４参照）
図１及び図２に示すように、第１実施例である電子部品測定装置は、概略、搬送面１ａを有する搬送テーブル１と、搬送テーブル１上に取り付けられ、複数の貫通孔３を設けた円盤状の搬送部材２と、電子部品３０を貫通孔３に案内する案内部材５と、搬送部材２を回転駆動させる図示しない駆動機構と、貫通孔３内を負圧にする図示しない吸引機構と、搬送部材２に近接して設けられた複数の測定端子部７と、搬送部材２に近接して設けられた図示しない排出機構と、案内部材５の出口に近接して設けられ、搬送部材２の上面に圧縮空気を噴き出すための噴出口１１を有する圧縮空気噴出し機構１０とを備えている。
【００１２】
搬送テーブル１は、本第１実施例において搬送面１ａがほぼ９０°に直立されており、上向きに４０〜９０°に傾斜していればよい。搬送部材２は、電子部品３０の両端部に設けた外部電極３０ａが搬送部材２の表裏側に位置するように、電子部品３０をその長辺方向に収容すること（図３参照）ができる貫通孔３を複数有している。電子部品３０は、貫通孔３の底部（図３の右側）より吸引機構にて真空吸引することにより、貫通孔３内に取り込まれる。搬送部材２は矢印Ｘ方向への間欠的な回転によって貫通孔３に収容した電子
部品３０を次々に搬送する。
【００１３】
案内部材５は、トンネル上の周知の機構からなり、搬送部材２上に時計文字盤上で５時から９時に相当する領域にわたって設けられている。なお、案内部材５を設ける領域は５時から１０時に相当する領域内であればよい。電子部品３０は案内部材５の６時相当領域に滞留し、そこから貫通孔３内に振り込まれる。また、排出機構は搬送テーブル１の搬送面１ａに圧縮空気噴出口を有している。
【００１４】
なお、吸引機構、駆動機構及び排出機構のそれぞれはこの種の電子部品測定装置として従来から周知の構成を備えており、その説明は省略する。
【００１５】
次に、以上の構成からなる電子部品測定装置の制御方法について説明する。まず、電子部品測定装置の稼働時には、貫通孔３内を負圧にするとともに、搬送部材２を駆動機構によって矢印Ｘ方向に回転駆動する。案内部材５によって貫通孔３の開口部にまで運ばれた電子部品３０は、負圧によって貫通孔３内に取り込まれる。電子部品３０を取り込んだ貫通孔３は、圧縮空気噴出し機構１０を経て測定区間Ａまで間欠的に搬送される。
【００１６】
このとき、圧縮空気噴出し機構１０は、図３に示すように、噴出口１１からエアーを噴き出すことによって搬送部材２の表面に静電気などで付着している電子部品３０を搬送部材２から払い落とす。案内部材５の上部は圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１に近接して開口しており、払い落とされた電子部品３０は案内部材５に戻される。噴出口１１からのエアー圧が弱いと十分な払い落とし効果が得られず、強いと案内部材５上で電子部品３０が攪拌され、電子部品３０どうしが衝突し、クラックが入ったり、案内部材５から溢れてしまうことがあるので、エアー圧は適度の圧力に設定される。
【００１７】
測定区間Ａに搬送された電子部品３０は、所定の位置にて測定端子部７を構成する個々の接触端子（図示せず）によって電子部品３０の電気特性が測定された後、排出区間Ｂに搬送され、そこで良品／不良品を分けて排出機構によって排出される。
【００１８】
次に、電子部品測定装置の稼働を停止させる際には、貫通孔３内を負圧にする動作を停止し、図４に示すように、圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１から、電子部品測定装置の稼働時より強い圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔３の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品３０が貫通孔３内に入るのを防止する。また、この圧縮空気によってサクション効果（負圧）がもたらされ、既に貫通孔３内にある電子部品３０が貫通孔３内から引き出される。稼動停止時において噴出口１１から噴き出される圧縮空気は、少なくとも電子部品３０が貫通孔３に入るのを防止する強さであればよい。あるいは、貫通孔３に入っている電子部品３０を取り出す強さの圧縮空気であってもよく、この場合には、既に貫通孔３に入っている電子部品３０を取り出してしまうので、以下に説明する搬送部材２の移動距離が短くて済み、早く停止動作を終えることができる。
【００１９】
圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１の位置より搬送方向Ｘの下流側に位置する貫通孔３内に残った電子部品３０は、測定区間Ａまで搬送されて特性を測定された後、排出区間Ｂにおいて排出機構によって排出される。貫通孔３内にある電子部品３０が全て排出されると、搬送部材２の回転が停止する。なお、残留電子部品３０については、測定することなく測定区間Ａを通過させ、排出区間Ｂで排出してもよい。
【００２０】
このように、搬送部材２の貫通孔３内から電子部品３０を全て排出してから搬送部材２が停止するので、測定端子部７の接触端子によって電子部品３０に端子痕が付いたり、また、そのまま貫通孔３内に電子部品３０を放置し続けて電子部品特性の変化が生じるなどのおそれがなくなる。この結果、電子部品３０の不良品発生率が改善される。
【００２１】
（第２実施例、図５及び図６参照）
次に、本発明の第２実施例である電子部品測定装置を図５及び図６を参照して説明する。この測定装置は、圧縮空気噴出し機構１０の直下に搬送部材２とほぼ直交する水平方向に延在する案内部材５’を設けたものである。この案内部材５’は振動などの作用により電子部品３０を矢印Ｙ方向に移動させて貫通孔３内に振り込む。
【００２２】
本第２実施例において、案内部材５’以外の構成は前記第１実施例と同様であり、図５及び図６には図１〜図４と同じ部材、部分には共通した符号を付し、重複した説明は省略する。また、図５において搬送部材２の貫通口は図示を省略している。
【００２３】
なお、本発明に係る電子部品測定装置及びその制御方法は前記実施例に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】電子部品測定装置の第１実施例を示す概略構成図。
【図２】図１に示した圧縮空気噴出し機構近傍の拡大斜視図。
【図３】本発明に係る電子部品測定装置の制御方法を説明するための断面模式図。
【図４】図３に続く電子部品測定装置の制御方法を説明するための断面模式図。
【図５】電子部品測定装置の第２実施例を示す概略構成図。
【図６】図５のＣ−Ｃ断面図。
【符号の説明】
【００２５】
１…搬送テーブル
１ａ…搬送面
２…搬送部材
３…貫通孔
５，５’…案内部材
７…測定端子部
１０…圧縮空気噴出し機構
１１…噴出口