(57)【要約】【課題】環境温度の影響を受けずに、サーミスタの良否を精度良く判定することができる検査装置を提供する。【解決手段】電子機器に内蔵される温度検出用のサーミスタ１０の良否を検査する検査装置２において、サーミスタ１０と直列に接続されるサーミスタ２０を設け、このサーミスタ２０をサーミスタ１０と同等の特性を有するサーミスタから構成する。サーミスタ１０，２０の直列回路における分圧点Ａの電圧をＣＰＵ２１で検出し、この電圧値を基準値Ｖｏと比較する。基準値ＶｏとしてＶｏ＝Ｖｃｃ／２を設定し、検出した電圧値がＶｃｃ／２であればサーミスタ１０を良品と判定し、検出した電圧値がＶｃｃ／２でなければサーミスタ１０を不良品と判定する。判定結果は表示部２２に表示される。【選択図】図１
2007192642.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器に内蔵される温度検出用の第１のサーミスタの良否を検査するための装置であって、
前記第１のサーミスタが電気的に接続される一対の端子と、
前記一対の端子間に接続された第１のサーミスタと直列に接続される第２のサーミスタと、
前記第１および第２のサーミスタからなる直列回路における分圧点の電圧を検出する電圧検出手段と、
前記電圧検出手段が検出した電圧値と基準値とを比較し、当該比較結果に基づいて前記第１のサーミスタの良否を判定する判定手段と、
前記判定手段で判定された結果を表示する表示手段とを備え、
前記第２のサーミスタが、前記第１のサーミスタと同等の特性を有するサーミスタからなり、
前記判定手段は、前記直列回路の両端に印加される直流電圧をＶｃｃとしたとき、Ｖｃｃ／２を前記基準値に設定し、前記電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２である場合に、前記第１のサーミスタを良品と判定し、前記電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２でない場合に、前記第１のサーミスタを不良品と判定することを特徴とするサーミスタの検査装置。
【請求項２】
電子機器に内蔵される温度検出用の第１のサーミスタの良否を検査するための装置であって、
前記第１のサーミスタと直列に接続される第２のサーミスタと、
前記第１および第２のサーミスタからなる直列回路における分圧点の電圧を検出する電圧検出手段と、
前記電圧検出手段が検出した電圧値と基準値とを比較し、当該比較結果に基づいて前記第１のサーミスタの良否を判定する判定手段とを備え、
前記第２のサーミスタが、前記第１のサーミスタと同等の特性を有するサーミスタからなることを特徴とするサーミスタの検査装置。
【請求項３】
請求項２に記載の検査装置において、
前記判定手段は、前記直列回路の両端に印加される直流電圧をＶｃｃとしたとき、Ｖｃｃ／２を前記基準値に設定し、前記電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２である場合に、前記第１のサーミスタを良品と判定し、前記電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２でない場合に、前記第１のサーミスタを不良品と判定することを特徴とするサーミスタの検査装置。
【請求項４】
請求項２に記載の検査装置において、
前記第２のサーミスタは、互いに異なる特性を有する複数のサーミスタからなり、当該サーミスタのそれぞれに、ＯＮ／ＯＦＦ動作を行うスイッチング素子が接続されており、
前記スイッチング素子のいずれかを選択して、当該スイッチング素子をＯＮ状態にする選択手段が設けられ、
前記選択手段で選択されたスイッチング素子に接続されている第２のサーミスタと第１のサーミスタとの直列回路へ、当該スイッチング素子を介して直流電圧Ｖｃｃを印加し、
前記電圧検出手段は、前記スイッチング素子が選択されるごとに、前記直列回路における分圧点の電圧を検出することを特徴とするサーミスタの検査装置。
【請求項５】
請求項４に記載の検査装置において、
前記選択手段は、予め定められた順序に従って、前記スイッチング素子を順番に選択することを特徴とするサーミスタの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器に内蔵される温度検出用サーミスタの良否を検査するための検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、デジタルカメラにおいては、夏場などに直射日光が照射する高温環境下で撮影を行うと、バッテリが温度上昇によって劣化したり、場合によっては発火や破裂をひき起こしたりすることがある。また、異常高温によりレンズ周りが熱変形したり素子の特性が変化したりすると、撮影画像に歪みが生じるという問題がある。このため、温度検出用のサーミスタをカメラに内蔵し、所定温度以上になった場合には警告表示をしたり、電源を自動的に遮断したりすることが行われている。
【０００３】
上記のようなサーミスタを内蔵した電子機器を生産する工場では、検査装置（冶具）を用いて、サーミスタの良否の検査が行われる。図４は、この検査装置の一例を示した構成図である。１はデジタルカメラのような電子機器に内蔵される回路基板（以下、単に「基板」という。）であって、この基板１には温度検出用のサーミスタ１０が搭載されている。１１ａ、１１ｂは、基板１上のサーミスタ１０の接続部である。３はサーミスタ１０を検査するための検査装置であって、ＣＰＵ３１、表示部３２、メモリ３３、端子３４ａ，３４ｂ、および抵抗体３０を備えている。
【０００４】
基板１が検査装置３にセットされると、基板１の一方のサーミスタ接続部１１ａと検査装置３の端子３４ａとが電気的に接続されるとともに、基板１の他方のサーミスタ接続部１１ｂと検査装置３の端子３４ｂとが電気的に接続される。端子３４ｂは接地されている。検査装置３の抵抗体３０は、サーミスタ１０と直列に接続されるよう、一端が端子３４ａに接続されている。また、抵抗体３０の他端には直流電圧Ｖｃｃが印加される。ＣＰＵ３１はサーミスタ１０と抵抗体３０とからなる直列回路の分圧点Ａの電圧を検出し、この電圧とあらかじめ決められた基準値とを比較し、その比較結果に基づいてサーミスタ１０の良否を判定する。この場合、基準値として下限値Ｖｍｉｎおよび上限値Ｖｍａｘを設定し、検出された分圧点Ａの電圧ＶがＶｍｉｎ＜Ｖ＜Ｖｍａｘの範囲にあれば、サーミスタ１０は良品であると判定し、電圧Ｖが上記範囲になければ、サーミスタ１０は不良品であると判定する。このように、基準値にある程度の余裕を持たせるのは、環境温度によってサーミスタ１０と抵抗体３０の抵抗値が変動することを考慮する必要があるためである。表示部３２は、ＣＰＵ３１での良否判定の結果を表示する。メモリ３３は、ＣＰＵ３１の動作プログラムが格納されたＲＯＭ、基準値を記憶したフラッシュメモリ、検出された電圧値等のデータが一時的に記憶されるＲＡＭなどから構成される。
【０００５】
サーミスタの異常検出に関する先行技術文献としては、例えば後掲の特許文献１〜特許文献３がある。特許文献１には、２つのサーミスタを直列に接続して、直列回路全体の電圧Ｖ１と分圧点の電圧Ｖ２を検出し、Ｖ１：Ｖ２が２：１でない場合に素子に劣化が生じていると判定し、異常検知ランプを点灯させるようにした温度センサの劣化検知装置が記載されている。特許文献２には、略同一条件で使用される略同一の特性を有する２つのサーミスタの出力を比較する比較回路と、この比較回路の出力によりそれぞれ駆動される２つのレベル回路とを設けることにより、２つのサーミスタのいずれが故障したのかを判別できるようにした故障検出装置が記載されている。特許文献３には、サーミスタとアース間にスイッチ素子を接続し、スイッチ素子がオープンの状態でサーミスタの端子電圧が電源電圧と等しくない場合に、隣接機器などの中間電位の箇所と短絡していると判定するようにした温度センサの異常検知装置が記載されている。
【０００６】
【特許文献１】特開平４−３６４４３２号公報
【特許文献２】特開昭５１−５３８７９号公報
【特許文献３】特開平４−３６４４３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
図４に示した検査装置３を用いてサーミスタ１０を検査する場合、前述のように、下限値Ｖｍｉｎおよび上限値Ｖｍａｘを設定して、検出した電圧ＶがＶｍｉｎ＜Ｖ＜Ｖｍａｘの範囲にあるか否かによりサーミスタ１０の良／不良を判定している。しかしながら、サーミスタ１０は、抵抗体３０に比べて、温度により抵抗値が大きく変動するため、サーミスタ１０が良品であっても、環境温度によっては、上記基準範囲に入らずに不良品と判定される場合が生じる。また、これを回避するために、下限値Ｖｍｉｎと上限値Ｖｍａｘとの幅を大きくして基準範囲を広く設定すると、逆に不良品であっても良品と判定される場合が多くなり、検査を行う意味がなくなってしまう。
【０００８】
このような技術的課題に対して、前記の特許文献１〜３は有効な解決手段を提供していない。特許文献１は、分圧電圧からサーミスタの劣化を検出するものであるが、サーミスタを内蔵した電子機器と検査装置との関係については、全く言及されていない。特許文献２は故障したサーミスタを識別するための技術、特許文献３は短絡を検知するための技術を開示したものであって、いずれも本発明の課題とは直接関係がない。また、これらの文献にも、サーミスタを内蔵した電子機器と検査装置との関係については記載がない。
【０００９】
そこで、本発明の目的とするところは、環境温度の影響を受けずに、サーミスタの良否を精度良く判定することができる検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る検査装置は、電子機器に内蔵される温度検出用の第１のサーミスタの良否を検査するための装置であって、第１のサーミスタと直列に接続される第２のサーミスタと、第１および第２のサーミスタからなる直列回路における分圧点の電圧を検出する電圧検出手段と、この電圧検出手段が検出した電圧値と基準値とを比較し、当該比較結果に基づいて第１のサーミスタの良否を判定する判定手段とを備え、第２のサーミスタが、第１のサーミスタと同等の特性を有するサーミスタからなるものである。
【００１１】
このように、従来の抵抗体に代えて、電子機器に内蔵されるサーミスタと同等の特性を有するサーミスタを用いることにより、環境温度により電子機器側のサーミスタの抵抗値が変化しても、検査装置側のサーミスタの抵抗値が同じ割合で変化するため、両サーミスタの温度による抵抗変化が相殺され、２つのサーミスタの分圧点からは、安定した電圧を取り出すことができる。したがって、判定基準値の幅を狭く設定しても誤判定のおそれがなくなり、環境温度に左右されずにサーミスタの良／不良を精度良く判別することが可能となる。
【００１２】
本発明の実施形態では、第１および第２のサーミスタからなる直列回路の両端に印加される直流電圧をＶｃｃとしたとき、Ｖｃｃ／２を基準値に設定し、電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２である場合に、第１のサーミスタを良品と判定し、電圧検出手段が検出した電圧値がＶｃｃ／２でない場合に、第１のサーミスタを不良品と判定する。これによると、基準値を１つの値に固定してサーミスタの良・不良を判別することで、誤判定をほぼ皆無にすることができる。
【００１３】
また、本発明の実施形態では、第２のサーミスタは、互いに異なる特性を有する複数のサーミスタからなり、当該サーミスタのそれぞれに、ＯＮ／ＯＦＦ動作を行うスイッチング素子が接続される。さらに、スイッチング素子のいずれかを選択して、当該スイッチング素子をＯＮ状態にする選択手段が設けられ、この選択手段で選択されたスイッチング素子に接続されている第２のサーミスタと第１のサーミスタとの直列回路へ、当該スイッチング素子を介して直流電圧Ｖｃｃを印加する。そして、電圧検出手段は、スイッチング素子が選択されるごとに、前記直列回路における分圧点の電圧を検出する。
【００１４】
このようにすると、１台の検査装置で複数仕様のサーミスタの良否を判定できるだけでなく、検査対象となっている仕様のサーミスタの中に、不良品ではないが仕様が異なるサーミスタが混入していたような場合に、当該サーミスタを識別して排除することができるので、誤った仕様のサーミスタが電子機器に組み込まれるのを未然に防止することができる。
【００１５】
スイッチング素子の選択にあたっては、キー等を手動で操作することにより選択を行ってもよいが、選択手段が、予め定められた順序に従って、スイッチング素子を順番に選択するようにしてもよい。このようにすると、サーミスタの良否判定や、仕様が異なるサーミスタの識別を自動的に行うことができ、検査効率をアップして生産性の向上を図ることが可能となる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、電子機器に内蔵されるサーミスタと同等の特性を有するサーミスタを用いることにより、サーミスタの直列回路の分圧点から安定した電圧を取り出すことができるので、環境温度に左右されずにサーミスタの良／不良を精度良く判別することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態につき、図を参照しながら説明する。
【００１８】
図１は、本発明による検査装置の一例を示した構成図である。１はデジタルカメラのような電子機器に内蔵される回路基板（以下、単に「基板」という。）であって、この基板１には温度検出用のサーミスタ１０が搭載されている。１１ａ、１１ｂは、基板１上のサーミスタ１０の接続部である。２はサーミスタ１０を検査するための検査装置であって、ＣＰＵ２１、表示部２２、メモリ２３、端子２４ａ，２４ｂ、およびサーミスタ２０を備えている。この検査装置２では、図４の検査装置３における抵抗体３０に代えて、サーミスタ２０が用いられている。そして、サーミスタ２０としては、サーミスタ１０と同等の特性を有するサーミスタが用いられる。図２は、サーミスタ１０，２０の温度特性の一例を示している。図からわかるように、サーミスタ１０，２０は、温度の上昇とともに抵抗値が減少するＮＴＣ（Negative Temperature Coefficient）サーミスタである。
【００１９】
図１において、基板１が検査装置２にセットされると、基板１の一方のサーミスタ接続部１１ａと検査装置２の端子２４ａとが電気的に接続されるとともに、基板１の他方のサーミスタ接続部１１ｂと検査装置２の端子２４ｂとが電気的に接続される。端子２４ｂは接地されている。検査装置２のサーミスタ２０は、サーミスタ１０と直列に接続されるよう、一端が端子２４ａに接続されている。また、サーミスタ２０の他端は、直流電圧Ｖｃｃのラインに接続されている。ＣＰＵ２１はサーミスタ１０とサーミスタ２０とからなる直列回路の分圧点Ａの電圧を検出し、この電圧とあらかじめ決められた基準値Ｖｏとを比較し、その比較結果に基づいてサーミスタ１０の良否を判定する。
【００２０】
この場合、サーミスタ１０とサーミスタ２０とは同等の温度特性を有しているから、環境温度の変化によってサーミスタ１０の抵抗値が変化すると、サーミスタ２０の抵抗値も同じだけ変化する。したがって、サーミスタ１０が良品であれば、分圧点Ａの電圧はＶｃｃ／２となるはずである。そこで、上記基準値ＶｏとしてＶｏ＝Ｖｃｃ／２を設定し、検出された分圧点Ａの電圧ＶがＶ＝Ｖｃｃ／２であれば、サーミスタ１０は良品であると判定し、電圧ＶがＶ＝Ｖｃｃ／２でなければ、サーミスタ１０は不良品であると判定する。
【００２１】
表示部２２は、ＣＰＵ２１での良否判定の結果を表示する。判定結果が良品であれば、例えば、「良」「ＯＫ」のような表示を行ったり、青色のランプを点灯させたりする。また、判定結果が不良品であれば、例えば、「不良」「ＮＧ」のような表示を行ったり、赤色のランプを点灯させたりする。メモリ２３は、ＣＰＵ２１の動作プログラムが格納されたＲＯＭ、基準値を記憶したフラッシュメモリ、検出された電圧値等のデータが一時的に記憶されるＲＡＭなどから構成される。
【００２２】
以上において、サーミスタ１０は本発明における第１のサーミスタを構成し、サーミスタ２０は本発明における第２のサーミスタを構成し、ＣＰＵ２１は本発明における電圧検出手段および判定手段を構成し、表示部２２は本発明における表示手段を構成している。
【００２３】
図１の検査装置２においては、電子機器に内蔵されるサーミスタ１０と同等の特性を有するサーミスタ２０を用いることにより、環境温度により電子機器側のサーミスタ１０の抵抗値が変化しても、検査装置２側のサーミスタ２０の抵抗値が同じ割合で変化するため、両サーミスタ１０，２０の温度による抵抗変化が相殺され、２つのサーミスタ１０，２０の分圧点Ａからは、安定した電圧を取り出すことができる。したがって、Ｖｏ＝Ｖｃｃ／２を基準値として、ＣＰＵ２１で検出された分圧点Ａの電圧がＶｃｃ／２である場合に、サーミスタ１０を良品と判定し、分圧点Ａの電圧がＶｃｃ／２でない場合に、サーミスタ１０を不良品と判定することで、誤判定をほぼ皆無にすることができる。
【００２４】
なお、ここでは基準値Ｖｏを１つの値Ｖｃｃ／２に固定したが、Ｖｃｃ／２に対し±ΔＶの狭い範囲で、ある程度の幅を持たせてもよい。本発明では、このように基準値の幅を狭く設定しても誤判定のおそれがなくなり、環境温度に左右されずにサーミスタ１０の良／不良を精度良く判別することが可能となる。
【００２５】
図３は、本発明による検査装置の他の例を示した構成図である。図３では、図１と同一部分に同一符号を付してある。１はデジタルカメラのような電子機器に内蔵される回路基板（以下、単に「基板」という。）であって、この基板１には温度検出用のサーミスタ１０が搭載されている。１１ａ、１１ｂは、基板１上のサーミスタ１０の接続部である。２はサーミスタ１０を検査するための検査装置であって、ＣＰＵ２１、表示部２２、メモリ２３、端子２４ａ，２４ｂ、操作部２５、および複数のサーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎを備えている。これらのサーミスタは、検査対象となる電子機器の仕様に応じて互いに異なる特性を有するサーミスタであって、例えば、サーミスタ２０ａは甲仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ａの検査用サーミスタ、サーミスタ２０ｂは乙仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ｂの検査用サーミスタである。この場合、サーミスタ２０ａと２０ｂの特性は異なっているが、サーミスタ２０ａと１０ａには同等の特性を有するサーミスタが用いられ、サーミスタ２０ｂと１０ｂにも同等の特性を有するサーミスタが用いられる。他のサーミスタについても、同様の関係が成立する。
【００２６】
Ｑａ，Ｑｂ，…Ｑｎは、ＯＮ／ＯＦＦ動作を行うスイッチング素子としてのトランジスタであって、それぞれのエミッタはサーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎに個別に接続され、コレクタは直流電圧Ｖｃｃのラインに共通に接続されている。トランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎのベースには、ＣＰＵ２１からの選択信号が与えられ、この選択信号によりトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎのいずれか１つが選択されてＯＮ状態となる。例えば、トランジスタＱａが選択されてＯＮ状態になると、このトランジスタＱａに接続されているサーミスタ２０ａとサーミスタ１０との直列回路に、トランジスタＱａを介して直流電圧Ｖｃｃが印加され、分圧点Ａには、Ｖｃｃをサーミスタ２０ａとサーミスタ１０とで分圧した電圧が現れる。
【００２７】
図３において、基板１が検査装置２にセットされると、基板１の一方のサーミスタ接続部１１ａと検査装置２の端子２４ａとが電気的に接続されるとともに、基板１の他方のサーミスタ接続部１１ｂと検査装置２の端子２４ｂとが電気的に接続される。端子２４ｂは接地されている。検査装置２のサーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎは、サーミスタ１０（１０ａ，１０ｂ，…１０ｎ）と直列に接続されるよう、それぞれの一端が端子２４ａに接続されている。また、サーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎの他端は、それぞれトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎを介して直流電圧Ｖｃｃのラインに接続されている。
【００２８】
以上において、サーミスタ１０は本発明における第１のサーミスタを構成し、サーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎは本発明における第２のサーミスタを構成し、ＣＰＵ２１は本発明における電圧検出手段および判定手段を構成し、表示部２２は本発明における表示手段を構成し、操作部２５はＣＰＵ２１とともに本発明における選択手段を構成している。
【００２９】
今、検査装置２にセットされた基板１に搭載されているサーミスタ１０が、甲仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ａである場合は、操作部２５のキー等を操作して、ＣＰＵ２１からの選択信号によりトランジスタＱａが選択されるようにする。これにより、トランジスタＱａがＯＮ状態となって、分圧点Ａには、直流電圧Ｖｃｃをサーミスタ２０ａとサーミスタ１０ａとで分圧した電圧が現れる。ここで、前述のように、サーミスタ１０ａとサーミスタ２０ａとは同等の温度特性を有しているため、環境温度の変化によってサーミスタ１０ａの抵抗値が変化すると、サーミスタ２０ａの抵抗値も同じだけ変化する。したがって、サーミスタ１０ａが良品であれば、分圧点Ａの電圧はＶｃｃ／２となるはずである。そこで、基準値ＶｏとしてＶｏ＝Ｖｃｃ／２を設定し、検出された分圧点Ａの電圧ＶａがＶａ＝Ｖｃｃ／２であれば、サーミスタ１０ａは良品であると判定し、電圧ＶａがＶａ＝Ｖｃｃ／２でなければ、サーミスタ１０ａは不良品であると判定する。これらの判定結果は、前述の要領で表示部２２に表示される。
【００３０】
また、検査装置２にセットされた基板１に搭載されているサーミスタ１０が、乙仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ｂである場合は、操作部２５のキー等を操作して、ＣＰＵ２１からの選択信号によりトランジスタＱｂが選択されるようにする。これにより、トランジスタＱｂがＯＮ状態となって、分圧点Ｂには、直流電圧Ｖｃｃをサーミスタ２０ｂとサーミスタ１０ｂとで分圧した電圧が現れる。この場合もサーミスタ１０ｂとサーミスタ２０ｂとは同等の温度特性を有しているため、基準値ＶｏとしてＶｏ＝Ｖｃｃ／２を設定し、検出された分圧点Ｂの電圧ＶｂがＶｂ＝Ｖｃｃ／２であれば、サーミスタ１０ｂは良品であると判定し、電圧ＶｂがＶｂ＝Ｖｃｃ／２でなければ、サーミスタ１０ｂは不良品であると判定する。これらの判定結果は、前述の要領で表示部２２に表示される。
【００３１】
一方、甲仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ａの検査を行っている場合、すなわち操作部２５の設定によりトランジスタＱａが選択されている場合に、乙仕様の電子機器に内蔵されるサーミスタ１０ｂを搭載した基板１が検査装置２にセットされると、サーミスタ２０ａとサーミスタ１０ｂとの温度特性が異なるため、分圧点Ａに現れる電圧はＶｃｃ／２にはならない。これによって、別仕様の電子機器用のサーミスタ１０ｂを、不良品と判定して排除することができる。但し、この判定のみでは、そのサーミスタ１０ｂが乙仕様の電子機器用としても本当に不良品なのか、あるいは、良品であるがたまたま甲仕様の検査対象の中に紛れ込んだために不良品と判定されたのかの区別がつかない。そこで、操作部２５の操作によりトランジスタＱｂを選択して再検査を行い、このときの分圧点Ｂに現れる電圧がＶｃｃ／２であれば、サーミスタ１０ｂは乙仕様の電子機器用であって、かつ良品であると判定することができる。また、分圧点Ｂの電圧がＶｃｃ／２でなければ、次のトランジスタＱｃ（図示省略）を選択して、丙仕様について同様に検査を行えばよい。全てのトランジスタを選択して再検査を行ったにもかかわらず、分圧点からＶｃｃ／２の電圧が得られない場合は、サーミスタ１０は最終的に不良品と判定される。このようにして順次検査を行った結果は、表示部２２に表示される。
【００３２】
以上のように、図３の検査装置２においては、互いに異なる特性を有する複数のサーミスタ２０ａ，２０ｂ，…２０ｎと、それらに接続されたトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎとを設け、ＣＰＵ２１からの選択信号によりトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎのいずれかを選択し、このときの分圧点Ａ，Ｂ，…Ｎの電圧と基準値（Ｖｃｃ／２）とを比較することによりサーミスタ１０ａ，１０ｂ，…１０ｎの良否を判定している。このため、１台の検査装置２で複数仕様のサーミスタ１０ａ，１０ｂ，…１０ｎの良否を判定できるだけでなく、検査対象となっている仕様のサーミスタの中に、不良品ではないが仕様が異なるサーミスタが混入していたような場合に、当該サーミスタを識別して排除することができるので、誤った仕様のサーミスタが電子機器に組み込まれるのを未然に防止することができる。
【００３３】
図３の説明では、トランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎの選択にあたって、操作部２５のキー等を手動で操作する例を挙げたが、例えば基板１に設けられた識別符号に基づいてＣＰＵ２１が電子機器の仕様を認識し、その結果に基づいて該当するトランジスタを自動的に選択するようにしてもよい。また、検査装置２にオートチェッカーの機能を持たせ、操作部２５に設けられたスタートキーを押すと、ＣＰＵ２１が予め定められた順序に従って、一定時間間隔でトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎを順番に選択するようにしてもよい。この場合、選択されたトランジスタがＯＮするごとに、分圧点Ａ，Ｂ，…Ｎの電圧がＣＰＵ２１で順次検出され、その値が基準値（Ｖｃｃ／２）と比較される。そして、判定結果が表示部２２に順次表示される。このようにすると、サーミスタの良否判定や、仕様が異なるサーミスタの識別を自動的に行うことができ、検査効率をアップして生産性の向上を図ることが可能となる。
【００３４】
上記実施形態においては、スイッチング素子としてトランジスタＱａ，Ｑｂ，…Ｑｎを例に挙げたが、スイッチング素子はこれに限らず、例えばリレーやスイッチの接点などであってもよい。
【００３５】
また、上記実施形態においては、サーミスタが内蔵される電子機器としてデジタルカメラを例に挙げたが、本発明はデジタルカメラ以外の電子機器、例えばプロジェクタやプリンタのような電子機器にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明による検査装置の一例を示した構成図である。
【図２】サーミスタの温度特性の一例である。
【図３】本発明による検査装置の他の例を示した構成図である。
【図４】従来の検査装置の一例を示した構成図である。
【符号の説明】
【００３７】
１    回路基板
２    検査装置
１０，１０ａ，１０ｂ，…１０ｎ  サーミスタ
２０，２０ａ，２０ｂ，…２０ｎ  サーミスタ
２１  ＣＰＵ
２２  表示部
２４ａ，２４ｂ  端子
２５  操作部
Ｑａ，Ｑｂ，…Ｑｎ  トランジスタ
【図１】
2007192642.tif 000003
【図２】
2007192642.tif 000004
【図３】
2007192642.tif 000005
【図４】
2007192642.tif 000006