(57)【要約】【課題】最適なディスク回転速度をより適切に制御する。【解決手段】スピンドルモータおよび光ピックアップは、ピックアップベースに配置され、ピックアップユニットとしてユニット化されている。このピックアップユニットは、ダンパを介して固定部材であるシャシーに固定されている。ディスク回転速度を制御する際は、ピックアップユニットに生じる振動量だけでなく、温度変化に伴うダンパの振動減衰能力の変化も考慮して行う。具体的には、速度を高速から低速に切り替えるピックアップユニットの振動量の閾値Ａｔを、ピックアップユニット周辺の温度に応じて可変としている。【選択図】図３
2007334931.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくともスピンドルモータと光ピックアップを含むピックアップユニットが弾性体を介して固定部材に固定される光ディスク装置であって、
スピンドルモータによる光ディスクの回転に伴って生じるピックアップユニットの振動量を測定する振動測定手段と、
ピックアップユニット周辺の温度を測定する温度測定手段と、
測定された温度および振動量に基づいて、光ディスクの回転速度を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
制御手段は、測定された温度に基づいて回転速度を変更する振動量の閾値を決定し、当該決定された閾値と測定された振動量との比較結果に基づいて回転速度を決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置であって、
温度によって可変の振動量の閾値を閾値情報として記憶する記憶手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載の光ディスク装置であって、
制御手段は、一定時間ごとに光ディスクの回転速度の制御動作を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１から３のいずれか１項に記載の光ディスク装置であって、
制御手段は、所定の基準以上の温度変化があった場合に回転速度の制御動作を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、少なくともスピンドルモータと光ピックアップを含むピックアップユニットが弾性体を介して固定部材に固定された光ディスク装置における光ディスクの回転速度の制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、光ディスクの回転速度は、光ディスクや光ディスク装置の振動量、データの記録・再生品質、発生熱量などに大きな影響を与えるため、適切に制御されることが望ましい。そこで、従来から、光ディスクの振動量や光ディスク装置内部の温度変化を考慮して光ディスクの回転速度を制御する技術が多数提案されている。例えば、特許文献１には、レーザ発光部（光ピックアップ）周辺の温度に基づいて記録速度を決定し、決定された記録速度以下でデータ記録されるようにモータの回転速度を制御することが開示されている。これは、ドライブの許容定格温度を超えないように決定されたレーザパワーで好適なデータ記録を行うためである。また、特許文献２には、回転中のディスクの振動に起因してトラッキング／フォーカスアクチュエータの温度上昇、ひいては、焼損を防止するために、ディスクの偏重心量および面振れ量に基づいて回転速度を決定する技術が開示されている。さらに、デジタル記録信号のエラー訂正やエラー検出の有無に応じてディスクの駆動速度を可変する技術（特許文献３）や、データを消去するときにスピンドルモータの回転数を下げる技術（特許文献４）なども開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−７８７７７号公報
【特許文献２】特開平１０−８３６１５号公報
【特許文献３】特開平９−２０４７４１号公報
【特許文献４】特開平５−２８６２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、これまでの従来技術の中には、光ディスクの回転速度の制御において、ディスク回転時に生じる光ディスク装置の振動と、光ディスク装置内部の温度変化の双方を考慮しているものは少ない。特に、光ディスクの偏重心に起因する振動と光ディスクの記録再生動作に起因する温度変化とを関連付けて、光ディスクの回転速度を制御しているものはない。
【０００５】
光ディスクの回転速度の制御において、光ディスク（光ディスク装置）の振動量に基づく回転速度と光ディスク装置内部の温度変化に基づく回転速度制御との間には、ある部分において相関関係が存在する。光ディスク（光ディスク装置）の振動は、光ディスクの偏重心の大きさに比例しており、光ディスクの偏重心が大きくなるほど、また、光ディスクの回転速度が高速になるほど、光ディスク（光ディスク装置）に発生する振動量は大きくなる。逆に言えば、偏重心が小さい光ディスクほど、光ディスク装置に発生する振動量が小さくなるため、光ディスクを高速で回転することが可能となる。ところが、光ディスクを高速で回転させ、光ディスクに対する情報の記録再生動作を高速にすると、スピンドルモータや光ピックアップ、信号処理回路などの発熱量が大きくなり、光ディスク装置内部の温度が上昇するため、熱による部品の損傷や情報の記録再生特性（信号品質）の低下を招くことがある。また、光ディスク装置内部の温度変化に伴い、スピンドルモータや光ピックアップが配置されるピックアップユニットの振動を吸収するための弾性体であるダンパの振動減衰特性が変化する。その結果、光ディスク装置内部の温度が上昇すると、偏重心が小さい光ディスクであっても、高速回転時に振動が発生しやすくなるという問題がある。そのため、光ディスク装置内部の温度上昇を防止し、光ディスク装置の動作を安定化させようとすると、光ディスクの回転速度を高速に出来ないということになる。
【０００６】
このように、光ディスク（光ディスク装置）の振動量に基づいて光ディスクの回転速度を制御する方法では、偏重心が小さい光ディスクほど高速に回転させることができ、光ディスク装置の性能をフルに発揮することができるが、光ディスク装置内部の温度上昇により、思わぬアクシデントが発生する恐れがあるといった問題があった。
【０００７】
一方、光ディスク装置内部の温度変化に基づいて光ディスクの回転速度を制御する方法では、光ディスク装置内部の温度上昇を抑制することができ、熱の影響によるアクシデントの発生を防止することができるが、光ディスクの高速回転が平均して抑制されてしまうため、光ディスク装置の性能を発揮しきれないといった問題があった。
【０００８】
そこで、本発明では、ディスクの回転速度をより適切に制御でき得る光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の光ディスク装置は、少なくともスピンドルモータと光ピックアップを含むピックアップユニットが弾性体を介して固定部材に固定される光ディスク装置であって、スピンドルモータによる光ディスクの回転に伴って生じるピックアップユニットの振動量を測定する振動測定手段と、ピックアップユニット周辺の温度を測定する温度測定手段と、測定された温度および振動量に基づいて、光ディスクの回転速度を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
好適な態様では、制御手段は、測定された温度に基づいて回転速度を変更する振動量の閾値を決定し、当該決定された閾値と測定された振動量との比較結果に基づいて回転速度を決定する。この場合、温度によって可変の振動量の閾値を閾値情報として記憶する記憶手段を備えることが望ましい。
【００１１】
他の好適な態様では、制御手段は、一定時間ごとに光ディスクの回転速度の制御動作を行う。他の好適な態様では、制御手段は、所定の基準以上の温度変化があった場合に回転速度の制御動作を行う。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ピックアップユニットの振動量と、ピックアップユニット周辺の温度と、に基づいてディスク回転速度を制御している。ピックアップユニット周辺の温度を考慮することにより、ピックアップユニットと固定部材の間に配された弾性体の振動減衰能力を考慮することができ、より適切にディスク回転速度を制御できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態である光ディスク装置１０の概略構成を示すブロック図である。
【００１４】
光ディスク１００はスピンドルモータ１２により回転駆動される。この光ディスク１００の回転速度は、後述するようにコントローラ３４により決定される。光ピックアップ（ＰＵ）１４は光ディスク１００に対向配置され、光ディスク１００の記録面にレーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）及びフォトディテクタを含んで構成される。レーザダイオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）２２により駆動され、データを再生する際には再生パワーのレーザ光を照射し、記録する際には記録パワーのレーザ光を照射する。レーザダイオードから照射された光は、対物レンズ等の光学系により集光され、光ディスク１００の記録面で合焦する。記録面で反射された反射光の光量は、フォトディテクタにより検出される。フォトディテクタは、受光した反射光の光量に応じた検出信号を信号処理部２６に出力する。
【００１５】
光ＰＵ１４の近傍には、温度を測定する温度センサ１６が設けられている。光ＰＵ１４は、光ディスク装置１０を構成する部品の中で最大の熱源となる。したがって、従来から、この熱源である光ＰＵ１４の近傍に温度センサ１６を設け、各種パラメータの値制御に利用している。さらに、本実施形態では、この温度センサ１６での検出結果を、後述するディスク回転速度の決定にも利用している。
【００１６】
このスピンドルモータ１２、光ＰＵ１４および温度センサ１６はピックアップベース（図１では図示せず）に配置されており、ピックアップ（ＰＵ）ユニットとしてユニット化されている。そして、このＰＵユニットは、光ディスク装置１０のシャシーに固定配置される。このとき、ＰＵユニットからシャシーへ伝達される振動を緩和するために、ＰＵユニットとシャシーの間には、弾性体（例えば防振ゴムなど）からなるダンパが配される。
【００１７】
信号処理部２６は、光ＰＵ１４からの信号に基づいて再生ＲＦ信号や、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等を生成する。生成された再生ＲＦ信号はデコーダ３２に、トラッキングエラー信号はトラッキング制御部２８に、フォーカスエラー信号はフォーカス制御部３０にそれぞれ出力される。
【００１８】
トラッキング制御部２８は、トラッキングエラー信号に基づき光ＰＵを光ディスクのトラック幅方向に駆動してオントラック状態に維持する。また、フォーカス制御部３０はフォーカスエラー信号に基づき光ピックアップをフォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態に維持する。通常、このトラッキング制御部２８およびフォーカス制御部３０は、トラッキングサーボおよびフォーカスサーボが常時オンになるべく光ＰＵ１４の駆動系を制御する。しかし、後述する光ＰＵ１４の振動量測定の際には、フォーカスサーボのみがオンで、トラッキングサーボはオフとする特殊な駆動態様をとる。
【００１９】
デコーダ３２は、再生ＲＦ信号を所定の閾値で二値化し、二値化信号を復調してコントローラ３４に出力する。復調は、図示しないＰＬＬ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出することにより実行される。エンコーダ２４は、コントローラ３４から入力された信号を符号化し、ＬＤＤ２２に出力する。ＬＤＤ２２は、符号化された信号に応じてレーザ光を照射させるべく光ＰＵ１４のレーザダイオードを駆動する。
【００２０】
メモリ３６は、各種駆動プログラムを記憶する記憶手段である。また、このメモリ３６は、ディスク回転速度を切り替える振動量の閾値、すなわち、速度変更閾値も記憶している。速度変更閾値は、後に詳説するが、光ＰＵ１４周辺の温度により可変する閾値である。この速度変更閾値の具体的な値は、予め、実験等により取得され、出荷前にメモリ３６に記憶される。コントローラは、ディスク回転速度を制御する際には、このメモリ３６に記憶されている速度変更閾値を参照する。
【００２１】
コントローラ３４は、上位装置からの指示にしたがって、光ディスク装置１０の各部を制御する。具体的には、所定のシーケンスに従って各部に駆動信号や停止信号を出力する他、好適なデータ記録・再生に必要な各種パラメータ、例えば、レーザ光強度などを算出する。この一連の制御の詳細は、従来の公知技術と同様であるため、ここでは、詳細な説明は省略する。
【００２２】
さらに、コントローラ３４は、ディスク回転速度も算出する。本実施形態において、コントローラ３４は、ＰＵユニット周辺の温度およびＰＵユニットの振動量に基づいてディスク回転速度を決定する。ここで、ＰＵユニット周辺の温度は、既述の温度センサ１６により測定される。また、本実施形態では、光ピックアップ１４を支持するサスペンションに生じる共振量をＰＵユニットの振動量として利用している。サスペンションの共振量は、トラッキングサーボをオフにした状態で、ディスクが一回転する間にレーザスポット光がトラックを横断する回数に基づいて算出されている。したがって、本実施形態では、光ＰＵ１４や、信号処理部２６、デコーダ３２、コントローラ３４、トラッキング制御部２８、フォーカス制御部３０等によって振動量測定手段が構成されることになる。
【００２３】
なお、本実施形態では、温度センサ１６での測定結果を、ディスク回転速度の算出以外にも利用しているため、当該温度センサ１６を光ＰＵ１４の近傍に設けている。しかし、当然ながら、これ以外の場所、例えば、後述するダンパ近傍に温度センサ１６を設けるようにしてもよい。また、上記説明以外の方法でＰＵユニットの振動量を測定してもよい。例えば、ＰＵユニットのピックアップベースに振動センサ等を配置し、ＰＵユニットの振動量を直接測定するようにしてもよい。
【００２４】
次に、この光ディスク装置１０の物理的な構成について簡単に説明する。図２は、光ディスク装置１０の物理的構成を概略的に示す図である。
【００２５】
既述したとおり、スピンドルモータ１２および光ＰＵ１４は、ピックアップベース１８に配置され、ＰＵユニット２０としてユニット化されている。このＰＵユニット２０は、防振ゴムなどの弾性体からなるダンパ４０を介してシャシー４２に固定される。
【００２６】
スピンドルモータ１２で光ディスク１００を回転駆動させると、当該光ディスク１００の偏重心に起因して振動が発生する。この振動は、ＰＵユニット２０全体に伝達され、光ＰＵ１４を支持するサスペンションワイヤ（図示せず）に共振が発生することになる。この共振量、ひいては、ＰＵユニット２０の振動量は、当然ながら、光ディスク１００の偏重心が大きいほど、また、ディスク回転速度が速いほど増加する。
【００２７】
光ディスク１００の回転に伴いＰＵユニット２０に生じた振動は、ダンパ４０により吸収、緩和される。しかし、ＰＵユニット２０で生じた振動が過大、あるいは、ダンパ４０の振動減衰能力（ダンパ係数）が低いと、ダンパ４０で振動緩和できず、シャシー４２に大きな振動が伝達されてしまう。その結果、光ディスク装置全体が大きく振動してしまい、騒音発生や寿命低下といった問題を招く。
【００２８】
かかる光ディスク装置全体としての振動を低減するには、ディスク回転速度を低減し、
ＰＵユニット２０の振動量を低減することが有効である。しかしながら、ディスク回転速度を必要以上に低減した場合、情報の記録再生速度の低下を招き、光ディスク装置全体としての効率を低下させてしまう。そこで、ＰＵユニット２０の振動量を測定し、当該振動量が一定基準以上になった場合にのみ、ディスク回転数を下げてＰＵユニット２０の振動量を低減させることが考えられる。かかる技術によれば、大幅な効率低下を招くことなく、光ディスク装置全体としての振動量を低減できる。
【００２９】
しかしながら、ＰＵユニット２０の振動量と光ディスク装置全体の振動量（シャシーに伝達される振動量）は、必ずしも、比例関係ではなく、両者の関係はダンパ４０の振動減衰特性によって大きく変化する。そして、ダンパ４０の振動減衰特性は、一定ではなく、その周辺温度によって大きく変化する。ここでダンパ４０が設けられているＰＵユニット２０の周辺は、熱源となる光ＰＵ１４やモータの近傍であるため温度変化が大きく、ダンパ４０の振動減衰特性は大きく変動するといえる。このような状況下において、ＰＵユニット２０の振動量にのみ基づいてディスク回転速度を制御したとしても、光ディスク装置全体の振動量を一定基準以下に抑えることは困難であった。
【００３０】
そこで、本実施形態では、ＰＵユニット２０の振動量だけでなく、ダンパ４０の振動減衰特性の変化も考慮してディスク回転速度を決定するようにしている。以下、このディスク回転速度の決定について説明する。
【００３１】
本実施形態では、ＰＵユニット２０の振動量に応じて、ディスク回転速度を高速から低速、または、低速から高速に切り替えている。このディスク回転速度の切り替えを行う振動量の閾値を、本実施形態では、温度によって可変としている。
【００３２】
これは、温度変化に伴うダンパ４０の振動減衰特性の変動を反映させるためである。すなわち、通常、防振ゴムなどからなるダンパ４０は、温度が低くなるにつれ、振動減衰特性が低下することが知られている。そして、ダンパ４０の振動減衰特性が低下した場合、ＰＵユニット２０の振動量が一定であっても、シャシー４２に伝達される振動量は増加することになり、結果として、光ディスク装置全体として振動量が増加する。
【００３３】
そこで、本実施形態では、ディスク回転速度の切り替えを行う振動量の閾値を温度によって可変としている。図３は、温度により可変の速度変更閾値Ａｔの一例を示すグラフである。図３において、横軸は、ＰＵユニット周辺の温度を、縦軸は、ＰＵユニット２０の振動量をそれぞれ示している。各温度のもとで測定されたＰＵユニット２０の振動量（測定振動量Ａｒ）が、当該温度下における速度変更閾値Ａｔより上回った場合、コントローラは、ディスク回転速度を低速に設定する。逆に、測定振動量Ａｒが、速度変更閾値Ａｔより小さい場合には、ディスク回転速度を高速に設定する。
【００３４】
この図３から明らかなように、本実施形態では、温度が高くなるにつれ、換言すれば、ダンパ４０の振動減衰能力が増加するにつれ、速度変更閾値Ａｔ、すなわち、ＰＵユニット２０の振動量の許容範囲を増加させている。逆に、温度が低くダンパ４０の振動減衰能力が低下している場合には、ＰＵユニット２０の振動量が比較的小さくても、低速回転に切り替わるように、速度変更閾値Ａｔを低くしている。
【００３５】
このように温度変化、ひいては、ダンパ４０の振動減衰特性変化に応じて、速度変更閾値Ａｔを変化させることにより、ディスク回転速度の過度な低下を極力抑えつつ、光ディスク装置全体としての振動量を一定基準以下に抑えることができる。その結果、騒音発生や寿命低下などの問題を防止しつつ、効率的な情報の記録再生が可能となる。
【００３６】
なお、当然ながら、図３に図示した速度変更閾値Ａｔは、一例であり、異なる態様の速度変更閾値Ａｔを採用してもよい。例えば、図３に図示した速度変更閾値Ａｔは、温度２０度までは変動せず、２０度以降では比例的に増加する、いわば、直線的な変動態様であった。しかし、図４に図示するように、図３に図示した直線的な速度変更閾値を、二次式等で近似した曲線的な速度変更閾値Ａｔを用いてもよい。また、本実施形態では、高速と低速の二段階にのみ速度切替を行っているが、当然、より多段階に速度切替を行うようにしてもよい。例えば、図５に図示するように、高速、中速、低速の三段階の速度を設定しておき、それぞれの速度ごとに、温度によって可変の速度変更閾値Ａｔ１，Ａｔ２を設定するようにしておいてもよい。
【００３７】
また、上述の例では、いずれも、高温になればなるほど、高速でのディスク回転を許容するＰＵユニット２０の振動量を大きくしている。これは、高温領域ではダンパの振動減衰能力が向上しており、ＰＵユニット２０の振動量がある程度大きくても、ダンパで吸収することができるからである。しかしながら、例え、ダンパの振動減衰能力が高くても、ＰＵユニットの振動量が過度に大きい場合には記録再生品質の低下や、スピンドルモータ等の各種部品の発熱量の増加などの種々の問題を引き起こす。そこで、図６に図示するように、ＰＵユニットの振動量が、記録再生品質などの観点から設定された振動限界値Ｋを超えた場合には、必ず、低速のディスク回転速度に変更される速度変更閾値Ａｔを用いてもよい。すなわち、図３などに図示したようなダンパ４０の温度変化に伴う振動減衰特性変化に基づいて設定された速度変更閾値を、ＰＵユニット２０の振動限界値Ｋでクリッピングした速度変更閾値Ａｔを用いてもよい。
【００３８】
次に、具体的に、本実施形態におけるディスク回転速度の決定の流れについて説明する。図７は、ディスク回転速度決定の流れを示すフローチャートである。
【００３９】
本実施形態の光ディスク装置１０は、予め、温度により可変の速度変更閾値Ａｔに関する情報を閾値情報としてメモリ３６に記憶している。なお、この閾値情報は、温度Ｔと速度変更閾値Ａｔとを項目とするテーブルであってもよいし、温度Ｔを変数とする速度変更閾値Ａｔの関数（Ａｒ＝ｆ（Ｔ））などであってもよい。
【００４０】
この光ディスク装置１０に光ディスク１００が装填されると、光ディスク１００はスピンドルモータ１２により回転駆動される（Ｓ１０）。通常、この時点での回転速度は、効率的な情報の記録・再生が可能な高速である。また、光ＰＵ１４は、光ディスク１００の記録面に対してレーザ光の照射を開始する。このレーザ光の照射や、各種モータの駆動によって、ＰＵユニット２０周辺の温度は徐々に上昇することになる。また、光ディスク１００の回転により、ＰＵユニット２０には、当該光ディスク１００の偏重心に起因する振動が発生する。
【００４１】
このときのＰＵユニット２０周辺における温度は、温度センサ１６により測定される（Ｓ１２）。温度センサ１６は、測定された温度Ｔｎをコントローラ３４に出力する。コントローラ３４は、温度センサ１６から入力された測定温度Ｔｎと、メモリ３６に記憶されている閾値情報と、に基づいて速度変更閾値Ａｔを算出する（Ｓ１４）。ここで算出された速度変更閾値Ａｔは、温度変動に伴うダンパ４０の振動減衰能力の変動を反映した閾値であり、シャシー４２に伝達される振動量が一定基準以下となり得る値である。コントローラ３４は、この算出された速度変更閾値Ａｔをメモリ３６に一時記憶する。
【００４２】
続いて、ＰＵユニット２０の振動量Ａｒを測定する（Ｓ１６）。具体的には、一時的に、トラッキングサーボをオフにするとともに、その状態で光ディスクの記録面にレーザ光を照射する。そして、その際、光ＰＵ１４から得られる信号に基づいて、光ディスクが１回転する間に、レーザスポットが光ディスク１００のトラックを横断する回数をカウントする。ＰＵユニット２０の振動量Ａｒが大きいほどトラック横断回数は多くなるため、コントローラ３４は、トラック横断回数のカウント結果に基づいてＰＵユニット２０の振動量Ａｒを算出する。
【００４３】
ＰＵユニットの振動量Ａｒが測定できれば、コントローラ３４は、当該振動量Ａｒと先に算出した速度変更閾値Ａｔを比較する（Ｓ１８）。比較の結果、測定振動量Ａｒが速度変更閾値Ａｔを上回っている場合には、シャシー４２に伝達される振動量が過大であると判断し、ディスク回転速度を低速に切り替える（Ｓ２０）。逆に、測定振動量Ａｒが速度変更閾値Ａｔ以下の場合には、シャシー４２に伝達される振動量は所定の基準値未満と判断し、高速でのディスク回転を維持する（Ｓ２２）。
【００４４】
ディスク回転速度が決定すれば、その後、一定時間は、当該決定されたディスク回転速度で駆動する（Ｓ２４，Ｓ２６）。そして、一定時間が経過すれば、再び、ステップＳ１２からステップＳ２２の処理を繰り返す。このように、一定時間ごとにディスク回転速度の見直しを行うことにより、経時的に変動する温度、換言すればダンパ４０の振動減衰能力にも追従でき、常に高効率かつ低振動での駆動が可能となる。
【００４５】
以上の説明から明らかなように、本実施形態によれば、ＰＵユニット２０周辺の温度、換言すれば、ダンパ４０の振動減衰能力と、ＰＵユニット２０の振動量Ａｒに基づいて、ディスク回転速度を決定している。そのため、光ディスク装置全体としての振動を一定基準以下に抑えつつも、過度なディスク回転速度の低下を防止できる。その結果、高効率かつ低振動の光ディスク装置が実現できる。
【００４６】
なお、本実施形態では、周期的にディスク回転速度の決定動作（図７ステップＳ１２からステップＳ２２）を行っているが、当然、これ以外のタイミングでディスク回転速度の決定動作を行ってもよい。例えば、ＰＵユニット２０周辺の温度測定を定期的に行い、前回のディスク回転速度決定動作時の測定温度Ｔｎからみて、一定以上の温度変化が生じた場合にディスク回転速度の決定動作を実行するようにしてもよい。
【００４７】
図８は、この場合のディスク回転速度決定の流れを示すフローチャートである。なお、図８において、ステップＳ１４〜Ｓ２２の詳細な内容は、図７と同じであるため、図８では、詳細の図示は省略している。
【００４８】
この場合においても、光ディスク１００が光ディスク装置１０に装填され、情報の記録再生がユーザから指示されると、高速での光ディスクの回転が開始される（Ｓ１０）。このとき、コントローラ３４は、ＰＵユニット２０周辺の温度ＴｎおよびＰＵユニット２０の振動量Ａｒに基づいてディスク回転速度を決定、制御する（Ｓ１２〜Ｓ２２）。具体的には、図７を用いて説明した場合と同様に、まず、ＰＵユニット２０の周辺温度Ｔｎを温度センサ１６により測定する（Ｓ１２）。続いて、測定された周辺温度Ｔｎに基づいて速度変更閾値Ａｔを決定する（Ｓ１４）。速度変更閾値Ａｔが決定すれば、光ＰＵ１４から照射されるレーザスポットのトラック横断回数に基づいて、ＰＵユニット２０の振動量Ａｒを測定し（Ｓ１６）、当該測定振動量Ａｒと速度変更閾値Ａｔとを比較する（Ｓ１８）。比較の結果、測定振動量Ａｒが速度変更閾値Ａｔを上回っている場合にはディスク回転速度を低速に変更し（Ｓ２０）、測定振動量Ａｒが速度変更閾値Ａｔ以下の場合にはディスク回転速度を高速のまま維持する（Ｓ２２）。
【００４９】
最初のディスク回転速度が決定すれば、以降は、ＰＵユニット周辺の温度変化を監視する。すなわち、周期的に、ＰＵユニット２０の周辺温度Ｔｍを測定する（Ｓ３２）。このときの周辺温度Ｔｍの測定間隔（Ｓ３０で設定）は、比較的短い時間に設定されることが望ましい。これは、ＰＵユニット２０周辺の温度が急激に変化した場合でも、これを検知できるようにするためである。
【００５０】
また、ここで測定された周辺温度Ｔｍは、ディスク回転速度の決定に用いられた周辺温度Ｔｎとは別個の値として一時記憶される。周辺温度Ｔｍが測定されれば、続いて、前回のディスク回転速度決定時からの温度変化量ΔＴ（ΔＴ＝｜Ｔｎ−Ｔｍ｜）を算出する（Ｓ３４）。そして、算出された温度変化量ΔＴと予め設定されている基準値とを比較する（Ｓ３６）。比較の結果、周辺温度変化量ΔＴが基準値を上回っている場合には、ダンパ４０の振動減衰特性が変化し、発生振動量も大きく変化していることが予想されるため、改めて、ディスク回転速度を決定しなおす（Ｓ３８、Ｓ１４〜Ｓ２２）。すなわち、Ｔｎ＝Ｔｍとして速度変更閾値Ａｔを算出するとともに、ＰＵユニット２０周辺の測定振動量Ａｒと算出された速度変更閾値Ａｔとを比較して、ディスク回転速度の見直しを図る。
【００５１】
一方、周辺温度変化量ΔＴが基準値以下の場合には、ディスク回転速度の見直しを行うことなく、ステップＳ４０へと進む。すなわち、情報の記録再生処理を終了させるべきか否かを判断し、終了すべき場合はそのまま全体の処理を終了させる。情報の記録再生処理を続行させる場合には、ステップＳ３０〜Ｓ４０を繰り返す。なお、周辺温度Ｔｍの測定は、常に行うようにしてもよく（Ｓ３２〜Ｓ４０を常に実行）、この場合は、ステップＳ３０が省略される。
【００５２】
このように、定期的あるいは常に温度変化量ΔＴを検知し、一定以上の温度変化があった場合にディスク回転速度の決定動作を行うことにより、不必要なディスク回転速度の決定動作、すなわち、ダンパの振動減衰特性、ひいては、発生振動量に大きな変化が生じていないのに行われるディスク回転速度の決定動作を防止でき、効率的なディスク回転速度の制御が可能となる。また、比較的、短い周期（常時含む）で周辺温度Ｔｍを測定し続けることで、短時間のうちに生じた大きな温度変化も迅速に検知することができ、ひいては、ディスク回転速度の見直しを適切なタイミングで行うことができる。つまり、一定以上の温度変化があった場合にディスク回転速度の決定動作を行うことにより、常に、効率的かつ適切なディスク回転速度の制御が可能となる。
【００５３】
また、本実施形態では、段階的に速度を切り替えるようにしているが、ＰＵユニット周辺の温度とＰＵユニットの振動量の両方を反映できるのであれば連続的に速度を変更するようにしてもよい。例えば、ディスク回転速度Ｗを、ＰＵユニット周辺の温度ＴおよびＰＵユニットの振動量Ａｒの関数として定義しておき（Ｗ＝ｆ（Ｔ，Ａｒ））、定期的に、当該関数に測定温度Ｔ、測定振動量Ａｒを代入して最適ディスク回転速度Ｗを求めるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の実施形態である光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】光ディスク装置の物理的構成の概略図である。
【図３】速度変更閾値の一例を示す図である。
【図４】速度変更閾値の他の例を示す図である。
【図５】速度変更閾値の他の例を示す図である。
【図６】速度変更閾値の他の例を示す図である。
【図７】ディスク回転速度の制御の流れを示すフローチャートである。
【図８】ディスク回転速度の制御の流れの他の例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５５】
１０  光ディスク装置、１２  スピンドルモータ、１４  光ピックアップ、１６  温度センサ、１８  ピックアップベース、２０  ユニット、２４  エンコーダ、２６  信号処理部、２８  トラッキング制御部、３０  フォーカス制御部、３２  デコーダ、３４  コントローラ、３６  メモリ、４０  ダンパ、４２  シャシー、１００  光ディスク。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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