(57)【要約】【課題】  照明光源と、照明光源からの照明光を画像信号に応じて変調する光変調素子と、光変調素子により変調された画像をスクリーン上に投影する投射光学系を有するプロジェクタにおいて、光変調素子に起因する画像欠陥のみを検出する。【解決手段】  光変調素子１をスクリーン４に対して所定の２つの地点の間を移動させて光変調素子が２つの地点のそれぞれに位置するときにスクリーンに投影された画像Ａ、Ｂを撮像装置５により撮像し、２つの地点の位置でそれぞれ撮像装置により撮像された画像Ａ、Ｂにおいて移動していない欠陥画素１２を光変調素子以外に起因する画素欠陥として除去し、残った欠陥画素１１に基づいて光変調素子の画素欠陥を検出する。【選択図】  図３
2007071785.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
照明光源と、前記照明光源からの照明光を画像信号に応じて変調する光変調素子と、前記光変調素子により変調された画像をスクリーン上に投影する投射光学系を有するプロジェクタの検査方法であって、
前記光変調素子を前記スクリーンに対して所定の２つの地点の間を移動させるステップと、
前記光変調素子が前記２つの地点のそれぞれに位置するときに前記スクリーンに投影された画像を撮像装置により撮像するステップと、
前記２つの地点の位置でそれぞれ前記撮像装置により撮像された各画像において移動していない欠陥画素を前記光変調素子以外の画素欠陥として除去し、残った欠陥画素に基づいて前記光変調素子の画素欠陥を検出するステップとを、
有するプロジェクタの検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の検査方法を実行する前に前記撮像装置の画素欠陥を検査するプロジェクタの検査方法であって、
前記撮像装置を前記スクリーンに対して所定の２つの地点の間を移動させて前記２つの地点の位置にそれぞれ位置するときに前記スクリーンに投影された各画像を撮像装置により撮像するステップと、
前記２つの地点の位置でそれぞれ前記撮像装置により撮像された各画像において移動していない欠陥画素を前記撮像装置の画素欠陥として除去するステップとを有し、
残った欠陥画素に基づいて請求項１に記載の検査方法を実行するようにしたプロジェクタの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、照明光源と、照明光源からの照明光を画像信号に応じて変調する光変調素子と、光変調素子により変調された画像をスクリーン上に投影する投射光学系を有するプロジェクタの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
上記の構成のプロジェクタにおいて、光変調素子は画素と呼ばれる微小面積単位ごとに光の透過率、若しくは反射率を電気的に変化させることにより、スクリーンに画像を投影している。この光変調素子において、照明光源を受光する面内において局所的に透過率又は反射率が変化した場合には、投影された画像の一部が所望の輝度より明るくなる輝点や、暗くなる黒点になるなどの局所的な画像欠陥となってしまう。このために、光変調素子の画像欠陥を検査するためには、光変調素子を駆動してスクリーン上に投影された画像を評価し、投影画像面内で局所的な輝度異常があるか否かを検査してきた。なお、液晶パネルの画素欠陥を検出する従来技術としては、例えば下記の特許文献１に開示されているものがある。
【特許文献１】特開２００１−１４７４１３号公報（要約書）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記の検査を行うために、スクリーンに投影した画像を固体撮像素子の撮像装置で画像取得し、面内の輝度異常を検出しようとすると、光変調素子から投射レンズまでの光路上のゴミ、キズや、スクリーン表面の汚れ、表面の平坦性に起因する反射率の変化や、撮像装置の固体撮像素子を構成する画素欠陥などにより、撮像装置で取得した画像の面内の輝度異常点は、光変調素子に起因するものだけでなく複数の要因が加味されたものとなる。このため、光変調素子自体の検査を目的とした場合でも、光変調素子に起因する画像欠陥のみを検出することができなかった。
【０００４】
本発明は上記従来例の問題点に鑑み、照明光源と、照明光源からの照明光を画像信号に応じて変調する光変調素子と、光変調素子により変調された画像をスクリーン上に投影する投射光学系を有するプロジェクタにおいて、光変調素子に起因する画像欠陥のみを検出することができるプロジェクタの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は上記目的を達成するために、照明光源と、前記照明光源からの照明光を画像信号に応じて変調する光変調素子と、前記光変調素子により変調された画像をスクリーン上に投影する投射光学系を有するプロジェクタの検査方法であって、
前記光変調素子を前記スクリーンに対して所定の２つの地点の間を移動させるステップと、
前記光変調素子が前記２つの地点のそれぞれに位置するときに前記スクリーンに投影された画像を撮像装置により撮像するステップと、
前記２つの地点の位置でそれぞれ前記撮像装置により撮像された各画像において移動していない欠陥画素を前記光変調素子以外の画素欠陥として除去し、残った欠陥画素に基づいて前記光変調素子の画素欠陥を検出するステップとを有することを特徴とする。
【０００６】
本発明はまた、請求項１に記載の検査方法を実行する前に前記撮像装置の画素欠陥を検査するプロジェクタの検査方法であって、
前記撮像装置を前記スクリーンに対して所定の２つの地点の間を移動させて前記２つの地点の位置にそれぞれ位置するときに前記スクリーンに投影された各画像を撮像装置により撮像するステップと、
前記２つの地点の位置でそれぞれ前記撮像装置により撮像された各画像において移動していない欠陥画素を前記撮像装置の画素欠陥として除去するステップとを有し、
残った欠陥画素に基づいて請求項１記載の検査方法を実行するようにしたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光変調素子をスクリーンに対して平行に移動させて撮像装置により撮像された各画像において移動していない画素欠陥を光変調素子以外の画素欠陥として除去するので、光変調素子に起因する画像欠陥のみを検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明に係るプロジェクタの検査方法の一実施の形態を示す説明図、図２は図１の光変調素子の移動を示す説明図、図３は図１の光変調素子の移動前と移動後の撮像画像を示す説明図、図４は撮像装置の移動を示す説明図である。
【０００９】
図１では、光変調素子１により変調された映像３を投射光学系２を介してスクリーン４に投射し、スクリーン４に投射された映像（以下、投影像とも言う）３を撮像装置５により撮像する。本発明では、光変調素子１と撮像装置５との間に介在する光学的な外乱要因を排除するために、図２のように光変調素子１を投射光学系２、スクリーン４に対して平行に移動させることで、スクリーン４上の投影像３を撮像装置５に対して移動させる。
【００１０】
図３（ａ）（ｂ）はそれぞれ移動前の撮影画像Ａ、移動後の撮影画像Ｂを示し、撮影画像Ａ、Ｂにおいて移動した欠陥画素１１と、移動していない欠陥画素１２が検出されたことを示す。光変調素子１が持つ欠陥画素１１は移動量に応じてスクリーン４上を移動し、また撮影装置５で取得した画像Ａ、Ｂにおいても光変調素子１に起因する欠陥画素１１は画像Ａ、Ｂ間で移動する。しかし、投射光学系２のゴミ、キズなどに起因する画像の乱れや、スクリーン４上のゴミ、キズ、反射率の乱れに起因する画像の乱れや、撮像装置５自体の欠陥画素１２は撮像装置５の画像内で移動せずに固定の位置で検出されるため、光変調素子１に起因する欠陥画素１１との識別が可能となる。
【００１１】
また、図４のように撮像装置５を光変調素子１、投射光学系２、スクリーン４に対して平行に移動させると、撮像装置５が持つ画像欠陥は移動量に応じて、撮影装置５で取得した撮像画像間で移動する。しかし、撮像装置５以外の光変調素子１に起因する画像欠陥、投射光学系２のゴミ、キズなどに起因する画像の乱れや、スクリーン４上のゴミ、キズ、反射率の乱れに起因する画像の乱れなどの画素欠陥は撮像装置５の画像間で移動せずに固定の位置で検出されるため、撮影装置５に起因する画像欠陥との識別が可能となる。
【００１２】
上記のいずれの場合にも、撮像装置５で画像を取得して画像処理によって面内輝度分布から輝度異常点を検出し、相対位置関係を変化させた複数の画像から検出した輝度異常点との比較演算をすることで、光変調素子１以外の画像欠陥を除去して光変調素子１のみに起因する画像欠陥を識別することができ、また、撮影装置５以外の画像欠陥を除去して撮影装置５のみに起因する画像欠陥を識別することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は本発明に係るプロジェクタの検査方法の一実施の形態を示す説明図である。
【図２】図１の光変調素子の移動を示す説明図である。
【図３】図１の光変調素子の移動前と移動後の撮像画像を示す説明図である。
【図４】撮像装置の移動を示す説明図である。
【符号の説明】
【００１４】
１  光変調素子
２  投影光学系(投影レンズを含む)
３  スクリーン上の投影像
４  スクリーン
５  撮像装置
１１、１２  欠陥画素
【図１】
2007071785.tif 000003
【図２】
2007071785.tif 000004
【図３】
2007071785.tif 000005
【図４】
2007071785.tif 000006