(57)【要約】【課題】劣化量差の解消を優先する補正では、補正実行時に画質の低下が知覚され易い。【解決手段】焼き付き補正装置に、（ａ）ｍビット長（ｍは自然数）の階調値をｍ＋ｎビット長（ｎは自然数）の階調値に変換するビット長変換部と、（ｂ）ビット長変換によって新たに使用可能となった隙間階調範囲内で補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように変更する階調変更部とを搭載する。この場合、補正動作の実行による階調の変化は、原画像では表現できない隙間階調範囲に留めることができる。従って、原画像の階調情報を保持した状態のまま焼き付き補正の効果を発揮できる。【選択図】図１
2007286294.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｍビット長（ｍは自然数）の階調値をｍ＋ｎビット長（ｎは自然数）の階調値に変換するビット長変換部と、
ビット長変換によって新たに使用可能となった隙間階調範囲内で補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように変更する階調変更部と
を有することを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記ターゲット画素は、フレーム全体の平均階調値である
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記ターゲット画素は、フレーム内の最大階調値である
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記ターゲット画素は、フレーム内の最小階調値である
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記ターゲット画素は、任意に定めた特定画素の階調値である
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項６】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記階調変更部は、階調変更前の階調値に隣接する隙間階調範囲のうち最もターゲット画素に近い階調値に変更する
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項７】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記階調変更部は、画素毎に算出される第２のターゲット画素との累積劣化量差と閾値とを比較し、累積劣化量差が閾値より小さい画素に対しては入力された階調値をそのまま出力する
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項８】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
前記階調変更部は、画素毎に算出される第２のターゲット画素との累積劣化量差と閾値とを比較し、累積劣化量差が閾値より大きい画素の階調値は第１の階調差だけ階調値を変更し、累積劣化量差が閾値より小さい画素の階調値は第２の階調差（第１の階調差より小さい）だけ階調値を変更する
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項９】
請求項１に記載の焼き付き補正装置において、
表示デバイスに供給される階調補正後の階調値に基づいて、各画素と第２のターゲット画素との劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記劣化量差の累積値を格納する累積劣化量差蓄積部と、
前記累積劣化量差蓄積部に格納された累積劣化量差の解消に必要な補正量を算出する補正量算出部と、
算出された補正量に基づいて、前記階調変更部より与えられる階調変更後の階調値を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の焼き付き補正装置において、
前記劣化量差補正部は、前記累積劣化量差と閾値とを比較し、累積劣化量差が閾値より大きい場合に限り、前記補正量による階調値の補正動作を実行する
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項１１】
請求項９に記載の焼き付き補正装置において、
前記劣化量差補正部は、前記累積劣化量差のフレーム平均値と閾値とを比較し、前記平均値が閾値より大きい場合に限り、前記補正量による階調値の補正動作を実行する
ことを特徴とする焼き付き補正装置。
【請求項１２】
自発光素子がマトリクス状に配置された表示デバイスと、
ｍビット長（ｍは自然数）の階調値をｍ＋ｎビット長（ｎは自然数）の階調値に変換するビット長変換部と、
ビット長変換によって新たに使用可能となった隙間階調範囲内で補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように変更する階調変更部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項１３】
自発光素子がマトリクス状に配置された表示デバイスの焼き付き補正動作をコンピュータを通じて実現するプログラムであって、
ｍビット長（ｍは自然数）の階調値をｍ＋ｎビット長（ｎは自然数）の階調値に変換する処理と、
ビット長変換によって新たに使用可能となった隙間階調範囲内で補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように変更する処理と
をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、自発光表示装置の焼き付き補正技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、焼き付き補正装置、自発光表示装置及びプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイを構成する発光素子の発光輝度は、発光量と時間に比例して低下する特性がある。この発光輝度の低下は、発光特性の劣化が原因である。発光特性の劣化が進行すると、同じ駆動条件下でも輝度低下が次第に進行し、初期輝度を維持できなくなる。
このような発光特性の劣化は、自発光素子では避け得ない特性として知られている。すなわち、自発光素子における発光特性の劣化は進行するのみであり、発光特性の回復は未だ確認されていない。
【０００３】
ところで、実際の使用態様では、表示内容が一様でないこと等を原因として発光素子の劣化が部分的に進行し、劣化量差がある値以上に広がった領域で焼き付きが確認される問題がある。
そこで、発生した焼き付きを目立たなくする仕組みが従来より提案されている。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、一度発生した劣化量差を解消するには、劣化量差の大きさに応じて対象画素の表示階調を上下させる補正動作が必要になる。
しかし、劣化量差の解消を優先する補正動作の場合には、補正量が大きくなり易い。結果として、入力画像の画質が大きく変化する問題がある。すなわち、画質が大幅に低下する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
発明者らは、焼き付き補正中にも階調情報を基本的に保持したまま表示する仕組みを提案する。
このため、発明者らは、焼き付き補正装置に、（ａ）ｍビット長（ｍは自然数）の階調値をｍ＋ｎビット長（ｎは自然数）の階調値に変換するビット長変換部と、（ｂ）ビット長変換によって新たに使用可能となった隙間階調範囲内で補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように変更する階調変更部とを搭載する。
【発明の効果】
【０００６】
発明者らの提案する発明によれば、補正動作の実行による階調の変化は、原画像では表現できない隙間階調範囲内で実行される。従って、原画像の階調情報を保持した状態のまま、画素間の劣化量差を縮小する方向に補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、発明に係る補正技術を採用する自発光装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【０００８】
（Ａ）形態例１
図１に、有機ＥＬディスプレイ装置１の機能構成例を示す。
有機ＥＬディスプレイ装置１は、有機ＥＬパネル３と焼き付き補正部５で構成される。
有機ＥＬパネル３は、３種類の基本原色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）で構成される表示上の１画素がマトリクス状に配置された表示デバイスである。個々の基本原色は、有機ＥＬ素子が発生する。
【０００９】
有機ＥＬパネル３には、データ線駆動回路が搭載される他、画像処理回路その他の周辺回路が搭載される。この周辺回路の一つが焼き付き補正回路５である。
焼き付き補正部５は、原画像の階調情報を保持したまま状態のまま焼き付き現象の原因である劣化量差を縮小させるように階調値を変更する処理デバイスである。
焼き付き補正部５は、ビット長変換部５０１と階調変更部５０３で構成される。
【００１０】
ビット長変換部５０１は、各画素の階調値に対応するビット長を上げる変換処理を実行する処理デバイスである。例えば８ビットの階調値を１０ビットの階調値に変換したり、１０ビットの階調値を１２ビットの階調値に変換する処理を実行する。この変換処理により、原画像の最小階調以下の階調（この明細書では、「隙間階調」という。）を表現できる状態になる。
【００１１】
階調変更部５０３は、新たに発生した隙間階調の範囲内で、各補正対象画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけるように階調値の変更処理を実行する処理デバイスである。
図２に、処理イメージを示す。このように階調値の変更幅を、原画像の最小階調値以下に留めることにより、画質を保った状態のままターゲット画素との間の劣化量差を確実に縮めることが可能になる。
【００１２】
図３に、階調変更部５０３の内部構成を示す。階調変更部５０３は、フレームバッファ５０３１と階調処理部５０３３で実現する。フレームバッファ５０３１は、ビット長変換後の階調値を少なくとも１フレーム分保持するバッファメモリである。階調処理部５０３３は、ターゲット画素情報に従い、フレームバッファ５０３１から読み出される各画素の階調値を隙間階調の範囲内でシフトする処理を実行する。
【００１３】
図４に、階調処理部５０３３による階調値の変更動作例を示す。図４は、ビット長変換によりビット長が２ビット長くなる場合の例である。なお、図４では、補正対象画素の階調値が「１０１９」であるものとして表している。
図４（Ａ）は、ターゲット画素の階調値の方が補正対象画素の階調値よりも大きい場合の変更動作例に対応する。また、図４（Ｂ）は、ターゲット画素の階調値の方が補正対象画素の階調値よりも小さい場合の変更動作例に対応する。
【００１４】
この例の場合、元の階調値「１０１９」に隣接する隙間階調は、「１０２０」〜「１０２２」までの３階調と「１０１８」〜「１０１６」までの３階調で与えられる。
ここで、階調処理部５０３３は、ターゲット画素と補正対象画素の階調値を比較し、ターゲット画素の階調値の方が大きい場合には、ターゲット画素の階調値に最も近い隙間階調である「１０２３」に階調値をシフトする。
【００１５】
一方、ターゲット画素の方が補正対象画素の階調値よりも小さい場合には、階調処理部５０３３は、ターゲット画素の階調値に最も近い隙間階調である「１０１６」に階調値をシフトする。
このように、階調処理部５０３３は、入力された階調値の大きさを３階調分だけ一律に増減する処理を実行する。
【００１６】
すなわち、階調処理部５０３３は、ビット長変換により増加するビット分の階調幅だけ階調値を増減する処理を実行する。なお、増減処理は、演算により実行しても良いし、各階調値に対応付けられたテーブル値の読み出しにより実現しても良い。
【００１７】
図５に、焼き付き補正部５による補正動作の具体例を示す。図５は、原画像の階調値が８ビットで与えられる場合に、ビット長変換部５０１が階調値を１０ビットに変換するときの動作例である。なお、ターゲット画素の階調値は８ビット換算時の「１２７」であるものとする。
【００１８】
ターゲット画素の階調値を特定する情報（ターゲット画素情報）は、特定の画素を指定する情報として又は特定の階調値を指定する情報として与えられる。ターゲット画素情報の与え方には、予め内部に格納する方法と外部から与える方法がある。ターゲット画素情報の与え方については後述する。
この例の場合、８ビット換算の「１２７」は、ビット長変換後の「５１１」に対応する。従って、焼き付き補正部５は、各画素の階調値を１０ビット換算後の「５１１」に近い隙間階調幅だけシフトする。
【００１９】
例えば、８ビット換算の「２５４」は、１０ビット換算の「１０１９」に変換された後、１０ビット階調の３階調だけ小さい値、すなわち「１０１６」にシフトされる。
また例えば、８ビット換算の「１」は、１０ビット換算の「４」に変換された後、１０ビット階調の３階調だけ大きい値、すなわち「７」にシフトされる。
いずれも、補正効果は、変換前の最小階調単位（８ビット換算での最小階調単位）の３／４である。
【００２０】
図６に、以上の焼き付き補正動作をコンピュータプログラムの処理を通じて実現する場合の処理手順を示す。
このプログラムは、まずｍビット長の階調値をｍ＋ｎビット長の階調値に変換する処理を実行する（Ｓ１）。
次に、ターゲット画素の階調に近づくように隙間階調内で各画素の階調値を変更する処理を実行する（Ｓ２）。
この処理動作を、フレーム単位で繰り返し実行する。
【００２１】
以上のように、この形態例に係る焼き付き補正部５の搭載により、原画像の階調情報は保持した状態のまま、各画素の階調値をターゲット画素の階調値に近づけることができる。結果的に、有機ＥＬパネル３の画面上に表示される画質を維持した状態のまま、画素間の劣化量差を縮小させる焼き付き補正動作を実現できる。
【００２２】
（Ｂ）形態例２
ここでは、ターゲット画素情報の与え方に着目して、有機ＥＬディスプレイ装置の他の形態例を説明する。
図７に、有機ＥＬディスプレイ装置１１の構成例を示す。なお、図７は、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
【００２３】
この形態例の場合、ターゲット画素の階調値を入力画像データに基づいて算出し、階調変換部５０３に与える手法を採用する。すなわち、有機ＥＬディスプレイ装置１１では、焼き付き補正部１５にターゲット階調算出部５０５を新たに追加する。
例えばターゲット階調算出部５０５は、１フレーム毎に全画素の平均値を算出し、この平均値をターゲット画素情報として階調変換部５０３に出力する。
【００２４】
なお、この例の場合、ターゲット階調算出部５０５は、算出された平均値の最下位ビットに２ビットを追加した値を出力する。すなわち、ビット長変換部５０１と同じ変換処理によりビット長を変換した平均値を出力する。
因みに、フレーム平均値に対するビット変換処理は、階調変更部５０３内で実行する手法を採用しても良い。
【００２５】
この形態例の場合、全画素の階調値をフレーム平均値に近づくように隙間階調分だけ一律にシフトする補正動作が継続的に実行される。この補正動作の実行により、視聴者に画質の低下を感じさせること無く、焼き付きの原因になる画素間の劣化量差が広がらないように補正できる。
【００２６】
（Ｃ）形態例３
引き続き、ターゲット画素情報の与え方に着目した他の形態例を説明する。
図８に、有機ＥＬディスプレイ装置２１の構成例を示す。なお、図８は、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
【００２７】
この形態例の場合、ターゲット画素の階調値を入力画像データに基づいて決定し、階調変換部５０３に与える手法を採用する。すなわち、有機ＥＬディスプレイ装置２１では、焼き付き補正部２５にターゲット階調決定部５０７を新たに追加する。
例えばターゲット階調決定部５０７は、１フレーム内の全画素のうち階調値が最も大きい値や最も小さい値をターゲット画素情報として階調変換部５０３に出力する。
【００２８】
この例の場合も、ターゲット階調決定部５０７は、決定された階調値の最下位ビットに２ビットを追加した値を出力する。すなわち、ビット長変換部５０１と同じ変換処理によりビット長を変換した階調値を出力する。
勿論、最大又は最小階調値に対するビット変換処理は、階調変更部５０３内で実行する手法を採用しても良い。
【００２９】
この形態例の場合、図９に示すように、全ての画素が各フレームの最大階調値又は最小階調値に近づくように階調補正される。この補正動作の結果、全画素のフレーム平均階調値も、ターゲット画素である最大階調値又は最小階調値に近づけるように制御できる。
勿論、視聴者には画質の低下を感じさせること無く、焼き付きの原因になる画素間の劣化量差が広がらないように補正できる。
【００３０】
（Ｄ）形態例４
続いて、隙間階調範囲内の補正動作に、劣化量差の解消を優先する補正動作を組み合わせる有機ＥＬディスプレイ装置について説明する。
図１０に、この種の有機ＥＬディスプレイ装置３１の機能構成例を示す。図１０には図７との対応部分に同一符号を付して示す。
有機ＥＬディスプレイ装置３１は、有機ＥＬパネル３と焼き付き補正部３５で構成される。
【００３１】
焼き付き補正部３５は、ビット長変換部５０１、階調変更部５０３、ターゲット階調算出部５０５、劣化量差算出部５０９、累積劣化量差蓄積部５１１、補正量算出部５１３、劣化量差補正部５１５で構成される。
このうち劣化量差算出部５０９、累積劣化量差蓄積部５１１、補正量算出部５１３、劣化量差補正部５１５が、劣化量差の解消を優先する補正機能に対応する。この補正動作では、一般に隙間階調を越えて階調値が変換される。
【００３２】
劣化量差算出部５０９は、有機ＥＬパネル３に出力される各画素の階調値に基づいて、基準画素に対する画素別の劣化量差を算出する処理デバイスである。劣化量差の算出方法には、既知の手法も含めて様々な手法が存在する。
この形態例では、既知の手法に比べてより正確な劣化量差を算出できる手法として、階調値と劣化量とを対応付けた変換テーブルを参照する仕組みを採用する。
【００３３】
図１１に、この仕組みを採用する劣化量差算出部５０９の内部構成例を示す。
この劣化量差算出部５０９は、劣化量変換部５０９１、階調値／劣化量変換テーブル５０９３及び差分算出部５０９５で構成する。
劣化量変換部５０９１は、図１２に示す階調値／劣化量変換テーブル５０９３を参照して各画素の階調値を劣化量に変換する処理を実行する。
【００３４】
なお、劣化率とは、単位時間当たりにおける階調値の変化量である。従って、各発光期間内の劣化量は、劣化率に発光期間ｔを乗算することにより求めることができる。
因みに、階調値／劣化量変換テーブル５０９３には、事前の実験により特定した階調値と劣化量の対応関係が登録されているものとする。
もっとも、有機ＥＬパネル３にダミー画素領域を設け、輝度センサーの検出結果に基づいて対応関係を逐次更新する手法を採用しても良い。
【００３５】
差分算出部５０９５は、各画素の劣化量と基準画素の劣化量との差分を算出する処理を実行する。
基準画素は、特許請求の範囲における「第２のターゲット画素」に対応する。ここでの基準画素は、階調変更部５０３で使用するターゲット画素とは独立に設定する。
基準画素の与え方は任意である。例えば１フレーム又は複数フレームの平均階調値で発光する画素、最も劣化の進んだ画素、最も劣化の遅れた画素等を使用する。
【００３６】
なお、基準画素としてフレーム平均値を用いる場合には、階調値のフレーム平均値を算出する信号処理部を用意する。また、基準画素として劣化量の最も進んだ画素や最も遅れた画素を用いる場合には、画素毎に蓄積した劣化量の累積値の最大値又は最小値を与える画素の階調値を求める信号処理部を用意する。なお、基準画素が確定して階調値が求まれば、劣化量変換部５０９１を使用して劣化量に換算することができる。
差分算出部５０９５は、これらの信号処理部を通じて取得した基準画素の劣化量と各画素の劣化量との差分を算出する処理デバイスである。
【００３７】
累積劣化量差蓄積部５１１は、算出された劣化量差を画素毎に蓄積する記憶領域又は記憶デバイスをいう。
補正量算出部５１３は、対応する累積劣化量差に基づいて各画素の補正量を算出する処理デバイスである。補正量算出部５１３は、例えば将来期間に発生する各画素の劣化量と基準画素の劣化量とを予測し、ある時点における累積劣化量差を当該将来期間に解消するのに必要な補正値を算出する処理を実行する。
【００３８】
この補正量の算出手法についても既知の手法を利用できる。なお、算出される補正値は、基準画素との間の劣化量差の縮小を最優先とする。このため、一般にはビット長変換前の最小階調単位より大きな値となる。また、補正量も画素毎に異なる値となる。
劣化量差補正部５１５は、階調変更部５０３から入力される階調値を、画素毎に算出された補正量で補正する処理デバイスである。
【００３９】
例えば基準画素に対して劣化が進んでいる場合、劣化量差補正部５１５は、対応画素の階調を下げるように（暗くするように）補正する。一方、基準画素に対して劣化が遅れている場合、劣化量差補正部５１５は、対応画素の階調を上げるように（明るくするように）補正する。
ただし、この補正動作は、従来技術の課題として指摘したように、一般には画質の低下を伴い易い。
【００４０】
しかし、この形態例の場合、階調変更部５０３が、わずかでも劣化量差を縮小する補正動作を継続的に実行する。このため、劣化量差補正部５１５が補正すべき劣化量差の増加は少なく済む。
相乗効果として、劣化量差補正部５１５による劣化量差の解消を優先した補正動作の実行回数を減らしたり、補正量の低下を実現できる。
【００４１】
結果的に、焼き付き補正動作と画質低下の最小化を実現できる。
また、この形態例のように、階調変更部５０３の後段に劣化量差の縮小を優先した劣化量差補正部５１５を配置することにより、階調変更部５０３だけでは効果的に劣化量差を縮小できない場合にも、焼き付き補正動作の実効を確保できる。
【００４２】
（Ｅ）形態例５
前述した形態例１〜４では、隙間階調範囲内の補正動作を常に実行する場合について説明した。
しかし、劣化量差が十分小さい場合には、この補正動作を一時的に中断する仕組みを搭載することが望ましい。そこで、この形態例では、累積劣化量差に応じて隙間階調範囲内の補正動作を制御する仕組みを採用する有機ＥＬディスプレイ装置例について説明する。
【００４３】
図１３に、この種の有機ＥＬディスプレイ装置４１の機能構成例を示す。図１３には図１０との対応部分に同一符号を付して示す。
有機ＥＬディスプレイ装置４１の基本構成は、図１０に示す有機ＥＬディスプレイ装置３１と同じである。
ただし、焼き付き補正部４５の階調変更部５０３には、累積劣化量差蓄積部５１１から与えられる累積劣化量差に基づいて階調変更動作を選択的に実行する機能を搭載する。
【００４４】
図１４に、この階調変更部５０３で実行される焼き付き補正動作の処理手順例を示す。なお、以下に説明する焼き付き補正動作は、コンピュータプログラムの処理として実現することも可能である。
まず、階調変更部５０３は、ビット長変換後の階調値をフレームバッファから読み出す（Ｓ１１）。
【００４５】
次に、階調変更部５０３は、各画素に対応する累積劣化量差と閾値を比較する（Ｓ１２）。この閾値には、例えば焼き付き現象が知覚される付近の境界値よりも小さい値を使用する。例えば境界値の１／２や１／３等、焼き付き現象の改善よりも画質を優先する範囲として定めた値を使用する。
【００４６】
このとき、累積劣化量差が閾値より小さければ、階調変更部５０３は、入力された階調値をそのまま出力する（Ｓ１３）。
これに対し、累積劣化量差が閾値より大きければ、階調変更部５０３は、前述した処理、すなわちターゲット画素に近づくように隙間階調分だけ一律にシフトする補正動作を実行する（Ｓ１４）。
【００４７】
この後、階調変更部５０３は、フレーム内の全ての画素について、前述した判定処理と補正動作の選択実行動作とが実行されたかを判定する（Ｓ１５）。
ここで、階調変更部５０３は、フレーム内の全画素について判定処理が終了していない間は処理Ｓ１２に戻って一連の処理動作を繰り返す。
【００４８】
一方、フレーム内の全画素について判定処理が終了すると、再び処理Ｓ１１に戻って、次フレームの階調値を読み出す処理に移る。
この形態例のように、隙間階調部分の補正動作を選択的に実行することにより、累積劣化量差の小さい画素に対しては、可能な限り原画像の階調情報のまま画像が出力されるように制御できる。
【００４９】
（Ｆ）形態例６
前述した形態例５の場合には、隙間階調範囲内の補正動作を累積劣化量差に応じて選択的に実行する場合について説明した。
しかし、隙間階調範囲内における階調値の変更量を累積劣化量差に応じて切り替える仕組みを採用しても良い。
【００５０】
図１５に、この種の有機ＥＬディスプレイ装置５１の機能構成例を示す。図１５には図１３との対応部分に同一符号を付して示す。
有機ＥＬディスプレイ装置５１の基本構成は、図１３に示す有機ＥＬディスプレイ装置４１と同じである。
ただし、焼き付き補正部５５の階調変更部５０３には、累積劣化量差蓄積部５１１から与えられる累積劣化量差に基づいて階調値の変更量を選択的に切り替える機能を搭載する。
【００５１】
図１６に、この階調変更部５０３で実行される焼き付き補正動作の処理手順例を示す。なお、以下に説明する焼き付き補正動作は、コンピュータプログラムの処理として実現することも可能である。
まず、階調変更部５０３は、ビット長変換後の階調値をフレームバッファから読み出す（Ｓ２１）。
【００５２】
次に、階調変更部５０３は、各画素に対応する累積劣化量差と閾値を比較する（Ｓ２２）。ここでの閾値にも、例えば焼き付き現象が知覚される付近の境界値よりも小さい値を使用する。例えば境界値の１／２や１／３等、焼き付き現象の改善よりも画質を優先する範囲として定めた値を使用する。
【００５３】
このとき、累積劣化量差が閾値より小さければ、階調変更部５０３は、予め用意した２種類の変更幅のうち小さい方の変更幅で各画素の階調幅を変更する（Ｓ２３）。ここでの変更幅は、ビット長変換で使用可能になった隙間階調の最小単位分とする。図１７（Ａ）に、階調値の変更イメージを示す。
【００５４】
これに対し、累積劣化量差が閾値より大きければ、階調変更部５０３は、予め用意した２種類の変更幅のうち大きい方の変更幅で各画素の階調幅を変更する（Ｓ２４）。ここでの変更幅は、ビット長変換で使用可能になった隙間階調幅の最大値とする。図１７（Ｂ）に、階調値の変更イメージを示す。
【００５５】
この後、階調変更部５０３は、フレーム内の全ての画素について、前述した判定処理と補正動作の選択実行動作とが実行されたかを判定する（Ｓ２５）。
ここで、階調変更部５０３は、フレーム内の全画素について判定処理が終了していない間は処理Ｓ２２に戻って一連の処理動作を繰り返す。
一方、フレーム内の全画素について判定処理が終了すると、再び処理Ｓ２１に戻って、次フレームの階調値を読み出す処理に移る。
【００５６】
この形態例のように、隙間階調部分の補正量を選択的に切り替えることにより、劣化量差の小さい画素に対しては、可能な限り原画像の階調情報に近い状態で画像が出力されるように制御できる。
なお、この例では、２種類の変更幅を選択的に適用したが、累積劣化量差の大きさに応じてより細かく変更幅を制御しても良い。この形態例のように、ビット長変換で２ビットが追加される場合には、３種類の変更幅を選択的に適用しても良い。
【００５７】
（Ｇ）形態例７
前述した形態例５及び６においては、累積劣化量差に応じて隙間階調範囲内の補正動作を選択的に実行する場合について説明した。
ここでは、累積劣化量差の解消を優先して動作する劣化量差補正部５１５の補正動作を、累積劣化量差に応じて切り替える仕組みを採用する場合について説明する。
【００５８】
図１８に、この種の有機ＥＬディスプレイ装置６１の機能構成例を示す。図１８には図１３との対応部分に同一符号を付して示す。
有機ＥＬディスプレイ装置６１の基本構成は、図１３に示す有機ＥＬディスプレイ装置４１と同じである。
ただし、焼き付き補正部６５の劣化量差補正部５１５には、累積劣化量差蓄積部５１１から与えられる累積劣化量差に基づいて階調値の補正動作を選択的に実行する機能を搭載する。
【００５９】
図１９に、劣化量差補正部５１５で実行される焼き付き補正動作の処理手順例を示す。なお、以下に説明する焼き付き補正動作は、コンピュータプログラムの処理として実現することも可能である。
まず、劣化量差補正部５１５は、処理対象とする画素に対応する累積劣化量差を読み込む（Ｓ３１）。
【００６０】
次に、劣化量差補正部５１５は、各画素に対応する累積劣化量差と閾値を比較する（Ｓ３２）。この閾値には、例えば焼き付き現象が知覚される境界値付近の値を使用する。
このとき、累積劣化量差が閾値より大きければ、劣化量差補正部５１５は、補正値による補正動作を実行する（Ｓ３３）。
【００６１】
これに対し、累積劣化量差が閾値より小さければ、劣化量差補正部５１５は、補正値による階調値の補正動作を回避し、入力された階調値をそのまま出力する（Ｓ３３）。
劣化量差補正部５１５は、この動作を繰り返し実行する。
【００６２】
この形態例のように、累積劣化量差の大きさに応じてその解消を優先する劣化量差補正部５１５の補正動作を選択的に実行することにより、補正動作の必要性が低い段階では隙間階調範囲での補正動作を優先させることができる。すなわち、階調情報の改変を伴い易い補正動作の実行を最小限に留めることができる。
【００６３】
（Ｈ）形態例８
前述した形態例７の場合には、累積劣化量差に応じて劣化量差補正部５１５の補正動作を選択的に実行する場合について説明した。ただし、この選択動作は画素単位で実行されるため、１フレーム内で補正動作を実行する画素と補正動作を実行しない画素とが混在的に発生する。この際、累積劣化量差の解消を優先する画素の比率が多ければ、やはり画質の低下が目立ちやすくなる。
【００６４】
そこで、この形態例では、累積劣化量差の平均値を参照することにより、劣化量差補正部５１５の補正動作を制御する。
図２０に、この種の有機ＥＬディスプレイ装置７１の機能構成例を示す。図２０には図１３との対応部分に同一符号を付して示す。
【００６５】
焼き付き補正部７５の基本構成は、累積劣化量差の平均値を算出する平均値算出部５１７を設ける点を除いて、図１３に示す焼き付き補正部４５と基本的に同じである。
図２１に、劣化量差補正部５１５で実行される焼き付き補正動作の処理手順例を示す。なお、以下に説明する焼き付き補正動作は、コンピュータプログラムの処理として実現することも可能である。
【００６６】
まず、劣化量差補正部５１５は、処理対象とする画素に対応する累積劣化量差の平均値を平均値算出部５１７より読み込む（Ｓ４１）。
次に、劣化量差補正部５１５は、各画素に対応する平均累積劣化量差と閾値を比較する（Ｓ４２）。この閾値には、例えば焼き付き現象が知覚される境界値付近の値を使用する。
【００６７】
このとき、累積劣化量差が閾値より大きければ、劣化量差補正部５１５は、補正値による補正動作を実行する（Ｓ４３）。
これに対し、累積劣化量差が閾値より小さければ、劣化量差補正部５１５は、補正値による階調値の補正動作を回避し、入力された階調値をそのまま出力する。
劣化量差補正部５１５は、この動作を繰り返し実行する。
【００６８】
この形態例のように、累積劣化量差のフレーム平均値の大きさに応じて劣化量差補正部５１５の補正動作を選択的に実行することにより、フレーム単位で補正動作を切替制御できる。
この結果、累積劣化量差が大きくない段階では、隙間階調範囲での補正動作のみを適用したフレーム画像を表示できる。隙間階調を用いた補正では、原画像の階調情報が保存されるため、原画像本来の画質を維持できる。
【００６９】
その一方で、累積劣化量が大きくなった段階では、ある程度の画質低下は生じても焼き付き現象の早期の解消を優先できる。
なお、前述したように、隙間階調だけの焼き付き補正でも確実に補正効果は存在する。このため、累積劣化量差の解消を優先した補正動作の実行頻度は既存の処理手法に比して少なく済むことは言うまでもない。結果的に、焼き付き補正に伴う画質低下の知覚され難い有機ＥＬディスプレイ装置を実現することができる。
【００７０】
（Ｉ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、画像データ（階調値）の大きさや平均階調値に基づいてターゲット画素に対応する階調値を決定する場合について説明した。
しかし、製造者や使用者等が任意にターゲット画素を特定する場合には、ターゲット階調決定部５０７が該当画素に対応する階調値を読み出して階調変更部５０３に与える仕組みを採用すれば良い。
この場合、時刻表示や電子番組表のタイトルと言った固定パターンの表示される領域画素や画面中央付近に各画素の劣化状態を近づける補正動作を実現できる。
【００７１】
（ｂ）前述の形態例では、基本原色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本原色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。
（ｃ）前述の形態例では、基本原色の発色形態について説明しなかったが、基本原色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本原色を生成しても良い。
【００７２】
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００７３】
（ｅ）前述の形態例では、焼き付き補正部を有機ＥＬディスプレイに搭載する場合について説明した。
しかし、焼き付き補正部は、自発光表示装置を搭載又は制御する様々な電子機器に搭載できる。
【００７４】
例えば、コンピュータ、印刷装置、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゲーム機器、携帯情報端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型ゲーム機、電子書籍等）、時計、画像再生装置（例えば、光ディスク装置、ホームサーバー）に搭載できる。
【００７５】
なお、いずれの電子機器の場合にも、筐体と、信号処理部（ＭＰＵ）と、外部インターフェースとを共通構成とし、商品形態に応じた周辺装置が組み合わされて構成される。
例えば、携帯電話機その他の通信機能を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、送受信回路やアンテナを有する。
【００７６】
図２２（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器１００１は、信号処理部１００３、操作部１００５、通信部１００７、表示パネル１００９で構成する。
【００７７】
また例えば、ゲーム機や電子書籍その他の記憶媒体を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、記憶媒体の駆動回路等を有する。図２２（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器１１０１は、信号処理部１１０３、操作部１１０５、媒体駆動部１１０７、表示パネル１１０９で構成する。
【００７８】
また例えば、印刷装置であれば、前述の構成に加え、印刷ユニットを搭載する。印刷ユニットは、印刷方式に応じて最適なものを搭載する。印刷方式には、例えばレーザー方式、インクジェット方式その他がある。図２３（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。
【００７９】
この例の場合、電子機器１２０１は、信号処理部１２０３、操作部１２０５、印刷ユニット１２０７、表示パネル１２０９で構成する。
また例えば、ビデオカメラやデジタルカメラであれば、前述の構成に加え、カメラユニットや撮像された映像データを記憶媒体に保存するための書き込み回路を搭載する。
【００８０】
図２３（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。
この例の場合、電子機器１３０１は、信号処理部１３０３、操作部１３０５、撮像部１３０７、表示パネル１３０９で構成する。
（ｆ）前述の形態例では、焼き付き補正機能を機能的な側面から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
【００８１】
（ｇ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例１）を示す図である。
【図２】隙間階調補正の原理を説明する図である。
【図３】階調変更部の内部構成例を示す図である。
【図４】隙間階調範囲内における階調変更動作を説明する図である。
【図５】補正動作例を示す図である。
【図６】焼き付き補正動作の処理手順例を示す図である。
【図７】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例２）を示す図である。
【図８】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例３）を示す図である。
【図９】隙間階調補正の原理を説明する図である。
【図１０】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例４）を示す図である。
【図１１】劣化量差算出部の機能構成例を示す図である。
【図１２】階調値／劣化量変換テーブルの一例を示す図である。
【図１３】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例５）を示す図である。
【図１４】焼き付き補正動作の処理手順例を示す図である。
【図１５】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例６）を示す図である。
【図１６】焼き付き補正動作の処理手順例を示す図である。
【図１７】隙間階調補正の原理を説明する図である。
【図１８】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例６）を示す図である。
【図１９】焼き付き補正動作の処理手順例を示す図である。
【図２０】有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例（形態例７）を示す図である。
【図２１】焼き付き補正動作の処理手順例を示す図である。
【図２２】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【図２３】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【符号の説明】
【００８３】
５０１          ビット長変換部
５０３          階調変更部
５０３１        フレームバッファ
５０３３        階調処理部
５０５          ターゲット階調算出部
５０７          ターゲット階調決定部
５０９          劣化量差算出部
５１１          累積劣化量差蓄積部
５１３          補正量算出部
５１５          劣化量差補正部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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