(57)【要約】【課題】ホールセンサを用いた位置検出装置のゲイン調節範囲を広げる。【解決手段】ホールセンサを用いた位置検出装置は、磁束変化に応じた検出信号を出力するホールセンサと、ホールセンサへの印加電圧Vsを変化させる印加電圧可変手段と、ホールセンサへの供給電流Ihを変化させる供給電流可変手段とを備える。【選択図】図２
2007278797.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁束変化に応じた検出信号を出力するホールセンサと、
前記ホールセンサへの印加電圧を変化させる印加電圧可変手段と、
前記ホールセンサへの供給電流を変化させる供給電流可変手段とを備えることを特徴とする位置検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の位置検出装置において、
前記印加電圧可変手段は前記ホールセンサの検出ゲインを粗調節する第１のゲイン調節回路を構成し、
前記供給電流可変手段は前記検出ゲインを微調節する第２のゲイン調節回路を構成することを特徴とする位置検出装置。
【請求項３】
請求項２に記載の位置検出装置において、
前記第２のゲイン調節回路による調節範囲は、前記第１のゲイン調節回路による最小調節範囲より広いことを特徴とする位置検出装置。
【請求項４】
請求項３に記載の位置検出装置において、
前記第２のゲイン調節回路は、通電開始時に前記検出ゲインを微調節することを特徴とする位置検出装置。
【請求項５】
請求項２〜４のいずれか一項に記載の位置検出装置において、
前記第１のゲイン調節回路は前記ホールセンサの検出信号の変動幅を決定し、
前記第２のゲイン調節回路は前記磁束の変動に対する前記ホールセンサの検出信号の変動比を決定することを特徴とする位置検出装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の位置検出装置を備え、当該位置検出装置で防振光学系の駆動状態を検出することを特徴とするレンズ鏡筒。
【請求項７】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の位置検出装置を備え、当該位置検出装置で防振光学系の駆動状態を検出することを特徴とするカメラ。
【請求項８】
磁束変化に応じた検出信号を出力するホールセンサを用いた位置検出回路の調節方法において、
前記ホールセンサへの印加電圧を調節する第１ステップと、
前記ホールセンサへの供給電流を調節する第２ステップとを有することを特徴とする位置検出回路の調節方法。
【請求項９】
請求項８に記載の位置検出回路の調節方法において、
前記第２のステップは、通電開始ごとに行うことを特徴とする位置検出回路の調節方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置検出装置、レンズ鏡筒、カメラおよび位置検出回路の調節方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ホールセンサを用いて位置検出を行う技術が知られている（特許文献１参照）。特許文献１に記載の検出装置は、ホールセンサへ供給する電流が可変に構成される。
【０００３】
【特許文献１】特開平７−２３６０８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ホールセンサによる検出回路のゲインを調節する場合、ホールセンサへの供給電流を変化させるだけでは十分な調節範囲が得られない。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明による位置検出装置は、磁束変化に応じた検出信号を出力するホールセンサと、ホールセンサへの印加電圧を変化させる印加電圧可変手段と、ホールセンサへの供給電流を変化させる供給電流可変手段とを備えることを特徴とする。
請求項１に記載の位置検出装置において、印加電圧可変手段はホールセンサの検出ゲインを粗調節する第１のゲイン調節回路を構成し、供給電流可変手段は検出ゲインを微調節する第２のゲイン調節回路を構成することが好ましい。
請求項２に記載の位置検出装置において、第２のゲイン調節回路による調節範囲は、第１のゲイン調節回路による最小調節範囲より広いことが好ましい。
請求項３に記載の位置検出装置において、第２のゲイン調節回路は、通電開始時に検出ゲインを微調節することが好ましい。
請求項２〜４のいずれか一項に記載の位置検出装置において、第１のゲイン調節回路はホールセンサの検出信号の変動幅を決定し、第２のゲイン調節回路は磁束の変動に対するホールセンサの検出信号の変動比を決定することが好ましい。
本発明によるレンズ鏡筒は、請求項１〜５のいずれか一項に記載の位置検出装置を備え、当該位置検出装置で防振光学系の駆動状態を検出することを特徴とする。
本発明によるカメラは、請求項１〜５のいずれか一項に記載の位置検出装置を備え、当該位置検出装置で防振光学系の駆動状態を検出することを特徴とする。
請求項８に記載の発明は、磁束変化に応じた検出信号を出力するホールセンサを用いた位置検出回路の調節方法に適用され、ホールセンサへの印加電圧を調節する第１ステップと、ホールセンサへの供給電流を調節する第２ステップとを有することを特徴とする。
請求項８に記載の位置検出回路の調節方法において、第２のステップは、通電開始ごとに行うことが好ましい。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、ホールセンサを用いた位置検出装置のゲイン調節範囲を広げることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態について説明する。図１は、本発明の一実施の形態によるカメラシステムを説明するブロック図である。本実施形態のカメラシステムは、カメラボディ２００と、交換レンズとしてカメラボディ２００のレンズマウント（不図示）に装着されるレンズ鏡筒１００とで構成される。
【０００８】
レンズ鏡筒１００は筐体８内に電気回路を有し、カメラボディ２００は筐体７内に電気回路を有する。レンズ鏡筒１００がカメラボディ２００に装着されると、レンズ鏡筒１００側の電気回路とカメラボディ２００側の電気回路とが電気接点６−１〜６−６を介して接続される。また、筐体８および筐体７間が不図示のレンズマウントを介して電気的に導通する。
【０００９】
レンズ鏡筒１００の電気回路は、レンズＣＰＵ９と、外部操作スイッチ群１０と、電源回路１１と、ＡＦモータ制御回路１２と、ブレ補正回路１３と、ＡＦ(Auto Focus)モータ１４と、ＶＲ(Vibration Reduction)モータ１５とを含む。
【００１０】
カメラボディ２００の電気回路は、電源回路２と、ボディＣＰＵ３と、外部操作スイッチ群４と、給電スイッチ５と、ダイオードＤ１およびＤ２とを含む。電池１は、電源としてカメラボディ２００内に装填される。
【００１１】
≪カメラボディ≫
カメラボディ２００に装填された電池１は、カメラボディ２００およびレンズ鏡筒１００に給電する。電源回路２はボディＣＰＵ３から送信される信号(CTL)に応じてオン／オフされ、オン時に入力端子(IN)から入力される電池１の電圧を出力端子(OUT)へ出力する。これにより、電源回路２のオン時に電池１からの電圧がダイオードＤ２を介してボディＣＰＵ３へ、レンズ鏡筒１００側の回路電源として電気接点６−２を介してレンズＣＰＵ９へ、それぞれ供給される。電池１からの電圧はダイオードＤ１を介する経路でもボディＣＰＵ３へ供給されるように構成されるため、ボディＣＰＵ３は電池１が装填された時点で起動する。電池１の負極は、電気接点６−６を介してカメラボディ２００およびレンズ鏡筒１００間で接続される。
【００１２】
給電スイッチ５はボディＣＰＵ３から送信される給電指示に応じてオン／オフされる。これにより、給電スイッチ５のオン時に電池１からの電圧がパワー電源として、電気接点６−１を介してレンズ鏡筒１００側の電源回路１１、ＡＦモータ１４およびＶＲモータ１５へそれぞれ印加される。
【００１３】
外部操作スイッチ群４は半押しスイッチ、全押しスイッチなどを含み、各スイッチ操作に対応する操作信号をボディＣＰＵ３へ出力する。半押しスイッチは、不図示のシャッターボタンの押下量に連動してオン／オフし、押下量が半押し操作量に達するとオンし、半押し操作量に達しない場合にオフする。全押しスイッチは、シャッターボタンの押下量が半押し操作量より大きな全押し操作量に達するとオンし、全押し操作量に達しない場合にオフする。
【００１４】
ボディＣＰＵ３は、半押しスイッチがオンされると周知の露出演算、周知のオートフォーカス（ＡＦ）演算を行い、全押しスイッチがオンされると撮影制御を開始する。ボディＣＰＵ３はさらに、ＡＦ演算後にレンズＣＰＵ９との間で通信を行う。レンズＣＰＵ９との間の通信ラインは、ハンドシェイクライン、DATAラインおよびCLKラインで構成され、各ラインはそれぞれ電気接点６−３、６−４および６−５を介してレンズＣＰＵ９と接続される。ボディＣＰＵ３がレンズＣＰＵ９へ送信する内容は、ＡＦ演算によって算出したフォーカス光学系の移動量、移動方向、および移動開始指示などである。
【００１５】
≪レンズ鏡筒≫
電源回路１１はレンズＣＰＵ９から送信される信号(CTL)に応じてオン／オフされ、オン時に入力端子(IN)から入力されるパワー電源を出力端子(OUT)へ出力する。これにより、電源回路１１のオン時にＡＦモータ制御回路１２およびブレ補正回路１３へパワー電源が供給される。なお、電池１からの電圧がＡＦモータ１４およびＶＲモータ１５へ供給されており、ＡＦモータ１４およびＶＲモータ１５が動作可能な状態で、電気回路１１によるパワー電源の出力が何らかの理由で停止した場合、ＡＦモータ１４およびＶＲモータ１５を電池１からの電源供給経路から自動的に切り離すように構成されている。
【００１６】
レンズＣＰＵ９は、カメラボディ２００から回路電源が供給されると起動する。レンズＣＰＵ９は、ボディＣＰＵ３との間で通信を行う他、ＡＦモータ制御回路１２へ指示を送り、ＡＦモータ１４の回転を制御させる。ＡＦモータ制御回路１２は、ボディＣＰＵ３から送信されるデータに応じてＡＦモータ１４の駆動を開始させるとともに、検出装置（不図示）による検出信号を用いて、フォーカス調節用のフォーカス光学系（不図示）の移動量を検出する。
【００１７】
ＡＦモータ１４は、フォーカス光学系を光軸方向へ進退移動させる駆動源である。ＡＦモータ制御回路１２は、フォーカス光学系の移動量が指示された移動量に合致するように駆動電圧を発生し、この駆動電圧をＡＦモータ１４へ印加する。ＡＦモータ１４が回転することによってフォーカス光学系が合焦位置まで移動され、不図示の感光部材上に主要被写体の尖鋭像が結ばれる。
【００１８】
レンズＣＰＵ９はさらに、ブレ補正回路１３へ指示を送り、ＶＲモータ１５の駆動を制御させる。ブレ補正回路１３は、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて感光部材上に結像される被写体像の揺れ量を演算し、揺れ量に応じてＶＲモータ１５を駆動させる。
【００１９】
ＶＲモータ１５は、手ブレ補正光学系（不図示）を光軸方向と直交する面内で移動させる駆動源である。ブレ補正回路１３は、演算した揺れ量を打ち消すように駆動電圧を発生し、この駆動電圧をＶＲモータ１５へ印加する。ＶＲモータ１５が駆動することによって手ブレ補正光学系が移動され、レンズ鏡筒１００（すなわちカメラシステム）の揺動に起因する感光部材上における被写体像の相対的な揺れが抑えられる。
【００２０】
レンズＣＰＵ９は、上記ＡＦモータ１４およびＶＲモータ１５の駆動制御の他に、手ブレ補正光学系の移動状態（位置情報）を検出する位置検出回路（図２）に対する制御も行う。位置検出回路の詳細については後述する。
【００２１】
外部操作スイッチ群１０はマニュアルフォーカススイッチ、フォーカス制限スイッチ、防振モード切替スイッチなどを含み、各スイッチ操作に対応する操作信号をレンズＣＰＵ９へ出力する。マニュアルフォーカススイッチは、撮影者が手操作でフォーカス調節を行う場合に操作されるスイッチであり、フォーカス制限スイッチは、ＡＦ動作の対象とする被写体距離に応じて操作されるスイッチである。また、防振モード切替スイッチは、想定される手ブレの状況に応じて操作されるスイッチである。
【００２２】
ブレ補正回路１３についてさらに詳細に説明する。本実施形態では、上述したようにＶＲモータ１５を駆動させて手ブレ補正光学系を移動させる際、手ブレ補正光学系の位置情報をホールセンサを用いた位置検出回路によって検出し、ＶＲモータ１５の駆動量を制御する。図２は、位置検出回路１３０を例示する図であり、ブレ補正回路１３内に構成される。
【００２３】
図２において、位置検出回路１３０は、ホールセンサ３１と、演算増幅器（以後オペアンプと呼ぶ）３０、２３および３３と、抵抗器２４、２７〜２９、３４、４１、４２および４４と、ＡＤコンバータ２２と、ＤＡコンバータ３６および４３と、コントロールＩＣ３８と、トランス３９と、トランジスタ３２ａ、３２ｂおよび４０と、温度センサ３５とを有する。位置検出回路１３０には、電源回路１１の出力端子(OUT)から出力されるパワーVCCが供給され、レンズＣＰＵ９から制御信号が入力される。
【００２４】
位置検出回路１３０は、パワーVCCと、このパワーVCCをトランス３９によって変圧した電源（AVDD2とする）とを用いる。トランス３９の変圧比は、コントロールＩＣ３８によって可変制御される。コントロールＩＣ３８は、トランス３９の二次側出力電圧AVDD2を抵抗器４１および４２で分圧した電圧と、ＤＡコンバータ３６から出力される電圧（粗調指示電圧）とを比較し、両者を合致させるようにトランジスタ４０のゲート電流を調節する。これによってトランス３９の一次側コイルの電流が制御され、トランス３９は上記粗調指示電圧に応じた電圧AVDD2を二次側へ出力する。なお、ＤＡコンバータ３６は、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて電圧AVDD2を調節するための粗調指示電圧を出力するように構成される。
【００２５】
電圧AVDD2はホールセンサ３１の給電回路に用いられる。給電回路はオペアンプ３０、抵抗器２８および２９によって構成される。オペアンプ３０は、電圧AVDD2を抵抗器２８および２９で分圧した電圧Vrefとホールセンサ３１の端子３１ｂの電圧とを比較し、両者を等電位にするように出力電圧Vsを調節する。これにより、ホールセンサ３１へ印加される電圧Vsは電圧AVDD2の増減に応じて変化する。すなわち、ホールセンサ３１への印加電圧Vsは、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて可変に構成されている。
【００２６】
電圧AVDD1は上記給電回路を除く他の回路に用いられる。オペアンプ２３は、ホールセンサ３１の出力電圧（端子３１ａおよび端子３１ｂ間に発生する不平衡電圧で、ホール電圧と呼ばれる）を所定倍率で増幅する。この増幅率は、抵抗器２４および抵抗器２７の抵抗値で決定される。増幅後の電圧VhoはＡＤコンバータ２２によってディジタルデータに変換され、手ブレ補正光学系の位置情報として用いられる。
【００２７】
ＤＡコンバータ４３は、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて所定のオフセット調節電圧VDAを出力する。オフセット調節電圧VDAは抵抗器４４を介してオペアンプ２３の反転入力端子へ入力される。これにより、オペアンプ２３から出力される電圧信号Vhoのオフセットが調節される。
【００２８】
オペアンプ３３、トランジスタ３２ａ、トランジスタ３２ｂ、および抵抗器３４は定電流制御回路を構成する。トランジスタ３２ａおよび３２ｂはカレントミラー回路を構成し、抵抗器３４を介してトランジスタ３２ｂを流れる電流と略等しい電流Ihをトランジスタ３２ａ（すなわちホールセンサ３１）に流すように定電流制御を行う。
【００２９】
ＤＡコンバータ３６は、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて供給電流調節を行うための微調指示電圧を出力する。オペアンプ３３は、この微調指示電圧に応じてトランジスタ３２ａおよびトランジスタ３２ｂのゲート電圧を変化させる。ゲート電圧の変化によって両トランジスタ３２ａおよび３２ｂに流れる電流が変化する結果、ホールセンサ３１に流される電流Ih（供給電流）が変化する。すなわち、ホールセンサ３１への供給電流Ihは、レンズＣＰＵ９からの指示に応じて可変に構成されている。
【００３０】
温度センサ３５はホールセンサ３１の近傍に配設され、温度検出信号をレンズＣＰＵ９へ出力する。レンズＣＰＵ９が温度検出信号に応じて温度補償指示をＤＡコンバータ３６へ送ると、ＤＡコンバータ３６は温度補償を行うための微調指示電圧を出力する。このように、温度変動に起因するホールセンサ３１の出力電圧の変動を抑制する場合にも、定電流制御回路が用いられる。
【００３１】
上記の位置検出回路１３０では、手ブレ補正光学系を進退移動する移動機構（不図示）にマグネット５３が配設され、マグネット５３による磁束がホールセンサ３１を流れる電流Ihと垂直に交叉するように構成される。このため、上記ホール電圧は、ホールセンサ３１に交叉する磁束量および上記定電流制御回路による供給電流Ihに比例する。つまり、ＡＤコンバータ２２から出力されるディジタルデータは、ホールセンサ３１とマグネット５３との相対位置（すなわち手ブレ補正光学系の位置情報）を示す。
【００３２】
図３は、ホールセンサ３１に対するマグネット５３の可動範囲と、ホールセンサ３１からの出力電圧との関係を例示する図である。図３の例では、ホールセンサ３１の出力電圧がマグネット５３の移動とともに右上がりに増加する。センサ出力特性を示す直線Ｌ１〜Ｌ４は、供給電流Ihを４段階に異ならせた場合のホールセンサ３１の出力電圧を示し、例えば、直線Ｌ１は供給電流Ih＝１mA時、直線Ｌ２は供給電流Ih＝２mA時、直線Ｌ３は供給電流Ih＝３mA時、直線Ｌ４は供給電流Ih＝４mA時に対応する。供給電流Ihを増やことによって磁束変動に対する出力電圧の変動比（検出ゲイン）が大きくなるので、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３＜Ｌ４の順に直線の傾きが大きくなる。すなわち、供給電流Ihを増やすほど位置検出回路１３０の検出ゲインが高まる。
【００３３】
ホールセンサ３１の出力電圧の変動幅は、その下限が電池１の負極電位＋α１に、その上限が印加電圧Vs−α２に、それぞれ制限される。ただし、α１、α２はそれぞれ回路部品の損失等に対応する所定値である。位置検出回路１３０は、上記センサ出力特性直線の最大値が上記上限より小さく、かつ、センサ出力特性直線の最小値が上記下限より大きくなるように調節されることが好ましい。さらに、上記上限および下限で示される範囲（変動幅）に収まっていれば、センサ出力特性直線の傾きはより大きく調節されることが好ましい。
【００３４】
図３において、印加電圧Vsが第１電圧（例えば４Ｖ）に設定されている場合の出力範囲（上限Ｕ１および下限Ｄ１で示される変動幅）をＶＬ、印加電圧Vsが第２電圧（例えば５Ｖ）に設定されている場合の出力範囲（上限Ｕ２および下限Ｄ２で示される変動幅）をＶＨと表す。
【００３５】
印加電圧Vsを第１電圧（例えば４Ｖ）に設定した状態で得られるセンサ出力特性直線が直線Ｌ１に相当する場合、ホールセンサ３１への供給電流Ihを増やしてセンサ出力特性直線を直線Ｌ２の傾きに近づけることが好ましい。出力範囲ＶＬの全域を使用することで、ＡＤコンバータ２２によるディジタル変換時の変換精度を高められる。
【００３６】
一方、印加電圧Vsを第１電圧（例えば４Ｖ）に設定した状態で得られるセンサ出力特性直線が直線Ｌ３や直線Ｌ４のように飽和する場合には、ホールセンサ３１への印加電圧Vsを第２電圧（例えば５Ｖ）に上げて出力範囲をＶＬからＶＨへ広げることが好ましい。図３によれば、センサ出力特性直線が直線Ｌ３に相当する場合の最大値は上限Ｕ１を超え、その最小値は下限Ｄ１を下回る。なお、実施のホールセンサ３１の出力電圧は、上限側が上限Ｕ１で飽和し、下限側は下限Ｄ１に制限される。
【００３７】
印加電圧Vsを第１電圧（例えば４Ｖ）から第２電圧（例えば５Ｖ）へ上げると、出力範囲はＶＬからＶＨへ広がる。すなわち、上限がＵ１からＵ２へ広がり、下限がＤ１からＤ２へ広がる。これにより、センサ出力特性直線Ｌ３は広がった出力範囲ＶＨ内に収まって飽和が回避される。つまり、印加電圧Vsを上げるほど位置検出回路１３０の出力値が高まる。なお、印加電圧Vsを第２電圧（例えば５Ｖ）へ上げてもなおセンサ出力特性直線が直線Ｌ４のように飽和する場合には、印加電圧Vsをさらに高めて（例えば６Ｖ）出力範囲をＶＨよりさらに広げることが好ましい。
【００３８】
≪調節処理≫
以上説明した調節手順の流れについて、図４〜図６のフローチャートを参照して説明する。図４の調整手順は、位置検出回路１３０の組立調整工程において行われる。ステップＳ１において、レンズＣＰＵ９は位置検出回路１３０に対する初期設定を行ってステップＳ２へ進む。初期設定では、ホールセンサ３１への印加電圧Vsを初期値（例えば４Ｖ）に設定し、続いてホールセンサ３１への供給電流Ihを初期値（例えば２mA）に設定し、さらにオフセットの初期調節を行う。具体的には、印加電圧Vsを４Ｖに設定するための粗調指示電圧と、供給電流Ihを２mAに設定するための微調指示電圧とをそれぞれ出力するように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ３６へ指示を送る。また、組立調整作業者によってマグネット５３が可動範囲いっぱい（フルストローク）に操作される状態で、図３におけるセンサ出力特性直線の可動中心を出力範囲の中心値に対応させるように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ４３へオフセット調節電圧の指示を行う。
【００３９】
ステップＳ２において、レンズＣＰＵ９は印加電圧調節処理（粗調節）を行ってステップＳ３へ進む。印加電圧調節処理の詳細手順は後述する。ステップＳ３において、レンズＣＰＵ９は印加電圧調節処理後のオフセット調節を行ってステップＳ４へ進む。ステップＳ１におけるオフセットの初期調節と同様に、組立調整作業者によってマグネット５３が可動範囲いっぱい（フルストローク）に操作される状態で、図３におけるセンサ出力特性直線の可動中心を出力範囲の中心値に対応させるように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ４３へオフセット調節電圧の指示を行う。
【００４０】
ステップＳ４において、レンズＣＰＵ９は供給電流調節処理（微調節）を行って図４による調節手順を終了する。供給電流調節処理の詳細手順は後述する。
【００４１】
≪粗調節≫
印加電圧調節処理（粗調節）手順について、図５のフローチャートを参照して説明する。ステップＳ２１において、レンズＣＰＵ９は、ホールセンサ３１からのセンサ出力値が飽和しているか否かを判定する。レンズＣＰＵ９はセンサ出力特性直線が直線Ｌ３もしくは直線Ｌ４（図３）に相当する場合にステップＳ２１を肯定判定してステップＳ２５へ進み、センサ出力特性直線が直線Ｌ１もしくは直線Ｌ２（図３）に相当する場合にはステップＳ２１を否定判定し、ステップＳ２２へ進む。
【００４２】
ステップＳ２２において、レンズＣＰＵ９は、センサ出力値が飽和レベルまで所定値以上の開きを有するか否かを判定する。レンズＣＰＵ９は、センサ出力特性直線の最大値と上限（例えばＵ１）とのレベル差、もしくはセンサ出力特性直線の最小値と下限（例えばＤ１）とのレベル差が所定値以上（例えばセンサ出力特性直線が直線Ｌ１に相当）あればステップＳ２２を肯定判定してステップＳ２３へ進み、どちらのレベル差も所定値未満（例えばセンサ出力特性直線が直線Ｌ２に相当）であればステップＳ２２を否定判定して図５による粗調節処理を終了する。
【００４３】
ステップＳ２５において、レンズＣＰＵ９は、印加電圧Vsを上げてステップＳ２６へ進む。具体的には、印加電圧Vsを１段階高く（例えば第１電圧→第２電圧）設定するための粗調指示電圧を出力するように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ３６へ指示を送る。
【００４４】
ステップＳ２６において、レンズＣＰＵ９は電圧値限界か否かを判定する。レンズＣＰＵ９は、印加電圧Vsが設定許容範囲の上限に達した場合にステップＳ２６を肯定判定して図５による粗調節処理を終了し、印加電圧Vsが設定許容範囲の上限に達していない場合にはステップＳ２６を否定判定してステップＳ２１へ戻る。ステップＳ２１へ戻る場合は、上述した処理が繰り返される。設定許容範囲の情報は、あらかじめレンズＣＰＵ９内の不揮発性メモリ（不図示）に記録されている。
【００４５】
ステップＳ２３において、レンズＣＰＵ９は、印加電圧Vsを下げてステップＳ２４へ進む。具体的には、印加電圧Vsを１段階低く（例えば第２電圧→第１電圧）設定するための粗調指示電圧を出力するように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ３６へ指示を送る。
【００４６】
ステップＳ２４において、レンズＣＰＵ９は電圧値限界か否かを判定する。レンズＣＰＵ９は、印加電圧Vsが設定許容範囲の下限に達した場合にステップＳ２４を肯定判定して図５による粗調節処理を終了し、印加電圧Vsが設定許容範囲の下限に達していない場合にはステップＳ２４を否定判定してステップＳ２２へ戻る。ステップＳ２２へ戻る場合は、上述した処理が繰り返される。上記印加電圧Vsについての設定許容範囲の情報は、あらかじめレンズＣＰＵ９内の不揮発性メモリ（不図示）に記録されている。
【００４７】
≪微調節≫
供給電流調節処理（微調節）手順について、図６のフローチャートを参照して説明する。ステップＳ４１において、レンズＣＰＵ９は、ホールセンサ３１からのセンサ出力値が飽和レベルまで所定値以上の開きを有するか否かを判定する。レンズＣＰＵ９は、センサ出力特性直線の最大値と上限（例えばＵ１）とのレベル差、もしくはセンサ出力特性直線の最小値と下限（例えばＤ１）とのレベル差が所定値以上（例えばセンサ出力特性直線が直線Ｌ１に相当）あればステップＳ４１を肯定判定してステップＳ４２へ進み、どちらのレベル差も所定値未満（例えばセンサ出力特性直線が直線Ｌ２に相当）であれば、ステップＳ４１を否定判定して図６による微調節処理を終了する。
【００４８】
ステップＳ４２において、レンズＣＰＵ９は、供給電流Ihを増やしてステップＳ４３へ進む。具体的には、供給電流Ihを１段階高く（例えば２mA→３mA）設定するための微調指示電圧を出力するように、レンズＣＰＵ９がＤＡコンバータ３６へ指示を送る。
【００４９】
ステップＳ４３において、レンズＣＰＵ９は電流値限界か否かを判定する。レンズＣＰＵ９は、供給電流Ihが設定許容範囲の上限に達した場合にステップＳ４３を肯定判定して図６による微調節処理を終了し、供給電流Ihが設定許容範囲の上限に達していない場合にはステップＳ４３を否定判定してステップＳ４１へ戻る。ステップＳ４１へ戻る場合は、上述した処理が繰り返される。なお、設定許容範囲内において供給電流Ihを変化させた場合のセンサ出力特性直線の傾きの変動幅（検出ゲインの調節範囲）は、印加電圧Vsを１段階変化させた場合の出力範囲の変化｜ＶＨ−ＶＬ｜（最小単位の調節範囲）より広くするように構成される。また、上記供給電流Ihについての設定許容範囲の情報は、あらかじめレンズＣＰＵ９内の不揮発性メモリ（不図示）に記録されている。
【００５０】
以上説明した図４の調節手順（ステップＳ１〜ステップＳ４）は、通常、組立調整時（および保守時）に行われる。また、ステップＳ４の供給電流調節は、位置検出回路１３０への通電が開始された時点（すなわち、カメラボディ２００からレンズ鏡筒１００へ回路電源が供給開始されたタイミングで）に毎回行われる。
【００５１】
なお、温度補償を目的とするホールセンサ３１への供給電流調節は、上記ステップＳ４の調節処理と別に適宜行われる。
【００５２】
以上説明した実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）ホールセンサ３１へ供給する電流Ihを可変にする手段に加えて、ホールセンサ３１へ印加する電圧Vsを可変にする手段を備えたので、ホールセンサ３１の出力電圧の変動幅（出力電圧の下限および上限で示される範囲）を、供給電流Ihのみを変化させる場合の検出ゲインの調節範囲よりも広げることができる。これにより、位置検出回路１３０の検出ゲインを広範囲で適切に調節できる。
【００５３】
（２）印加電圧Vsを可変にする手段を粗調節に用い、供給電流Ihを可変にする手段を微調節に用いるようにしたので、印加電圧Vsの最小単位の調節範囲を細かく設定しなくてよくなり、印加電圧可変手段の回路構成が簡単になる。
【００５４】
（３）供給電流Ihを変化させた場合の検出ゲインの調節範囲は、印加電圧Vsを１段階変化させた場合の最小単位の調節範囲より広くするようにしたので、粗調節と微調節とを組み合わせることによって、設定許容範囲内において切れめなくゲイン調節を行うことができる。
【００５５】
（４）供給電流Ihを可変にする手段で通電開始ごとに検出ゲインを調節するので、位置検出回路１３０の検出ゲインを常に適切に設定した状態で使用できる。
【００５６】
（５）印加電圧Vsを可変にする手段でホールセンサ３１の出力電圧の変動幅（出力電圧の下限および上限で示される範囲）を決定し、供給電流Ihを可変にする手段で検出ゲイン（磁束変動に対する出力電圧の変動比）を決定するので、調節手順が簡単である。
【００５７】
ホールセンサ３１を用いて位置検出を行うものであれば、カメラシステムに限らず、カメラ単体、レンズ鏡筒、双眼鏡、フィールドスコープなどにも本発明の適用が可能である。
【００５８】
以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の一実施の形態によるカメラシステムを説明するブロック図である。
【図２】位置検出回路を例示する図である。
【図３】ホールセンサに対するマグネットの可動範囲と、ホールセンサからの出力電圧との関係を例示する図である。
【図４】位置検出回路の調整手順を説明するフローチャートである。
【図５】印加電圧調節処理（粗調節）手順を説明するフローチャートである。
【図６】供給電流調節処理（微調節）手順を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００６０】
９…レンズＣＰＵ
１３…ブレ補正回路
２２…ＡＤコンバータ
２３、３０、３３…オペアンプ
２４、２７〜２９、３４、４１、４２…抵抗器
３１…ホールセンサ
３２ａ、３２ｂ，４０…トランジスタ
３６、４３…ＤＡコンバータ
３８…コントロールＩＣ
３９…トランス
５３…マグネット
１００…レンズ鏡筒
１３０…位置検出回路
２００…カメラボディ
Ｉｈ…供給電流
Ｖｓ…印加電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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