(57)【要約】【課題】テストデータに選択的にログするための選択的テストデータログ方法および選択的テストデータログシステムを提供する。【解決手段】選択的テストデータログシステムであって、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成するためのコードと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正するためのコードとを備える。一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
選択的テストデータログシステムであって、
複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタし、前記テストデータに関する統計を生成するためのコードと、
前記テストデータに関する前記統計に応答して、前記テストデータを生成したテスタを選択的に調整して前記複数のデバイスに対して前記テスタによりログされる前記テストデータを修正するためのコードとを備えることを特徴とする選択的テストデータログシステム。
【請求項２】
前記テストデータに関する前記統計に対応して前記テスタを選択的に調整するための前記コードにより生成されるフィードバック信号をさらに含み、前記フィードバック信号は、前記デバイスから前記テスタによりログされた前記テストデータを調整することを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項３】
前記デバイスに対してテストを行い、前記デバイスから取得したテストデータをログするためのテスタをさらに備え、前記テスタは、前記テストデータをモニタするためのコードを含み、前記テスタは、前記テスタを選択的に調整するためのコードを含むことを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項４】
前記テスタが取得した前記テストデータをモニタするためのコードと、前記テスタを選択的に調整するための前記コードとを有するコントローラをさらに備え、前記コントローラは、前記テスタとは別個であることを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項５】
前記テスタは、前記テストデータをモニタするための前記コードを含み、前記テスタは、前記テスタを選択的に調整するための前記コードを含むことを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項６】
前記テストデータに関する前記統計は、所定の閾値と比較され、前記テスタを選択的に調整するための前記コードは、前記統計が前記所定の閾値の枠外である場合、前記テスタを調整して付加的テストデータを取得することを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項７】
前記テスタを選択的に調整するための前記コードは、前記統計が前記所定の閾値の枠内の場合、前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項８】
前記より少数のテストデータは、前記デバイス各々に対して行ったより少数のテストから取得されるテスト結果を含むことを特徴とする請求項７記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項９】
前記付加的テストデータは、付加的デバイスから取得されるテスト結果を含むことを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１０】
前記付加的テストデータは、前記デバイス各々に対して行われる付加的テストから取得されるテスト結果を含むことを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１１】
前記より少数のテストデータは、より少数のデバイスから取得されるテスト結果を含むことを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１２】
前記所定の閾値は、前記デバイスについての最大不合格率を含むことを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１３】
前記所定の閾値は、前記デバイスからのテストデータの最大範囲を規定し、前記テストデータに関する前記統計は、前記所定の閾値のテストデータの前記最大範囲と比較され、前記統計が前記所定の閾値の前記最大範囲の枠外である場合、前記テスタを選択的に調整するための前記コードは前記テスタを調整して付加的テストデータを取得することを特徴とする請求項６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１４】
前記テストデータに関する前記統計は、所定の傾向と比較され、前記統計が前記所定の傾向よりも高い不合格率を示す場合、前記テスタを選択的に調整するためのコードは前記テスタを調整して付加的テストデータを取得することを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１５】
前記テストデータに関する前記統計は、前記所定の傾向と比較され、前記統計が前記所定の傾向よりも低い不合格率を示す場合、前記テスタを選択的に調整するためのコードは前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することを特徴とする請求項１４記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１６】
前記テストデータに関する前記統計は、前記所定の傾向と比較され、前記統計が前記所定の傾向の予め定められた範囲の枠外にある場合、前記テスタを選択的に調整するためのコードは前記テスタを再調整して付加的テストデータを取得することを特徴とする請求項１記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１７】
前記テストデータに関する前記統計は、前記所定の傾向と比較され、前記統計が前記所定の傾向の予め定められた範囲の枠内にある場合、前記テスタを選択的に調整するためのコードは前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することを特徴とする請求項１６記載の選択的テストデータログシステム。
【請求項１８】
選択的テストデータログ方法であって、
複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタし、前記テストデータに関する統計を生成することと、
前記テストデータに関する前記統計に応答して、前記テストデータを生成したテスタを選択的に調整して前記デバイスから取得される前記テストデータを修正することとを含む、選択的テストデータログ方法。
【請求項１９】
前記テストデータに関する前記統計に対応して前記テスタを選択的に調整するためのフィードバック信号を生成することを含み、前記フィードバック信号は前記デバイスから前記テスタにより取得される前記テストデータを選択的に調整することを特徴とする請求項１８記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２０】
前記テストデータに関する前記統計を、所定の閾値と比較することと、前記統計が前記所定の閾値の枠外であった場合に、付加的テストデータを取得することとをさらに含むことを特徴とする請求項１９記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２１】
前記付加的テストデータを取得することは、付加的デバイスからテスト結果を取得することを含むことを特徴とする請求項２０記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２２】
前記付加的テストデータを取得することは、前記デバイス各々に対しておこなわれる付加的テストからテスト結果を取得することを含むことを特徴とする請求項２１記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２３】
前記統計が前記所定の閾値の枠内であった場合に、前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することをさらに含むことを特徴とする請求項２１記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２４】
前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することは、より少数のデバイスからテスト結果を取得することを含むことを特徴とする請求項２３記載の選択的テストデータログ方法。
【請求項２５】
前記テスタを再調整してより少数のテストデータを取得することは、前記デバイス各々に対してより少数のテストをおこないテスト結果を取得することを含むことを特徴とする請求項２３記載の選択的テストデータログ方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、テストデータの選択的ログシステムおよび選択的ログ方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
システムオンチップ（ＳＯＣ）デバイスのテストのために大量の情報にログすることができる。単一のテストについて多数のパラメータ測定を行うこともある。潜在的には、これらの測定値全てが、それに対応するテストの限界値とともにログされうる。そのためには、相当の時間、システムメモリ、およびファイルスペースが必要となる可能性がある。
【０００３】
生産工程およびテスト工程が安定している場合には、ユーザはサマリレベルでの情報しか必要としない。通常、生産においてまたはテスタに関連して問題が発生した場合には、問題を特定するためにより詳細な情報が必要となる。
【０００４】
通常、ユーザは、テスタが取得した詳細な情報のサンプリングにログするだけである。例えば、ユーザは、テストデバイス５つごとに、測定値および限界値を含む詳細な情報にログするだろう。他のテストデバイスについては、例えば合格・不合格についての情報といった基本的な情報にログするだろう。アジレント９３０００テスタの場合には、ユーザは、詳細なテストデータの取得頻度を選択することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
課題の一つは、特定のデバイスについては、通常すべての詳細な結果にログしなければ詳細な結果に全くログしないことである。通常、必要なデータを取得するために、不必要な詳細データをログせねばならないことになる。
【０００６】
現在、ユーザは、問題が発生するか、データの取得率が変わるかを予測することができない。ユーザは問題の発生に気づくと手動でデータ取得のための設定を変更せねばならない。多くのデバイスについては、必要な詳細データを取得するための再テストが必要となるだろう。テスト結果がドリフティグし、より詳細な情報が必要となった場合に、ユーザがこれを検知することは容易ではないだろう。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、一実施形態として選択的テストデータログシステムを提供する。当該選択的テストデータログシステムは、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタし、当該テストデータに関する統計を生成するためのコードと、前記テストデータに関する前記統計に応答して前記テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、前記複数のデバイスのために前記テスタがログするテストデータを修正するためのコードとを含む。
【０００８】
また、他の実施形態として、選択的テストデータログ方法を提供する。当該選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタし、当該テストデータに関する統計を生成することと、前記テストデータに関する前記統計に応答して前記テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、前記デバイスから取得される前記テストデータを修正することとを含む。
【０００９】
さらに他の実施形態も開示する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
一実施形態に係る、テストデータ１０２に選択的にログするための選択的テストデータログシステム１００を図１に示す。システム１００は、デバイス１０８に対してテスト１０６を行い、デバイス１０８から取得したテストデータ１０２をログするためのテスタ１０４を備えうる。システム１００は、テスタ１０４により取得されたテストデータ１０２をモニタして、テストデータ１０２に関する統計１１２を生成するためのコード１１０を含みうる。システム１００は、テストデータ１０２に関する統計１１２に応答して、選択的にテスタ１０４を調整してデバイス１０８からログされるテストデータ１０２を修正するためのコードを含みうる。
【００１１】
図２に示すように、一実施形態に係るシステム１００は、テストデータ１０２に関する統計１１２に対応して選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４により生成されるフィードバック信号２００を含みうる。フィードバック信号２００は、デバイス１０８からテスタ１０４によりログされるテストデータ１０２を調整するために使用されうる。
【００１２】
図３に示すように、一実施形態に係るテスタ１０４は、テストデータ１０２をモニタするためのコード１１０を含みうる。テスタ１０４はまた、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４を含みうる。
【００１３】
図４に示すように、他実施形態においては、システム１００はさらに、テスタ１０４が取得するテストデータ１０２をモニタするためのコード１１０を有するコントローラ４００を備えうる。コントローラ４００は、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４を有しうる。コントローラ４００は、テスタ１０４とは別個の装置であってもよい。
【００１４】
一実施形態に係るテスタ１０４は、自動テスト装置（ＡＴＥ）を備えうる。以下、ＡＴＥを自動テスト装置１０４とも称する。自動テスト装置１０４は、テストデータ１０２をモニタするためのコード１１０を含みうる。自動テスト装置１０４は、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４を含みうる。
【００１５】
図１に示すように、一実施形態においては、テストデータ１０２に関する統計１１２を、所定の閾値１１６と比較することができる。統計１１２が所定の閾値の枠外である場合には、テスタ１０４を選択的に調整するためのコード１１４は、テスタ１０４を調整して付加的テストデータ１１８を取得することができる。統計１１２が所定の閾値１１６の枠内にあった場合は、テスタ１０４を選択的に調整するためのコード１１４は、テスタを再調整してより少数のテストデータ１２０を取得することができる。少数のテストデータ１２０は、初めにテスタ１０４によりログされたテストデータ１０２と同じであってもよく、または同様のものであってもよい。また、少数のテストデータ１２０は、初めにテスタ１０４によりログされたテストデータ１０２よりも少なくてもよく、または初めにテスタ１０４によりログされたテストデータ１０２とは異なるものであってもよい。
【００１６】
付加的テストデータ１１８は、付加的デバイス１２２から取得されたテスト結果を含みうる。付加的テストデータ１１８は、各デバイス１０８に対して行われた付加的テスト１２４から取得されたテスト結果を含みうる。付加的テストデータ１１８は、個別のピン結果がログされたテスト結果を含みうる。
【００１７】
より少数のテストデータ１２０は、より少数のデバイス１２６から取得されたテスト結果を含みうる。より少数のテストデータ１２０は、各デバイス１０８に対して行われる、より少数のテスト１２８から取得されたテスト結果を含みうる。より少数のテストデータ１２０は、個別のピン結果がログされたテスト結果を含みうる。
【００１８】
所定の閾値１１６は、デバイス１０８についての最大不合格率１３０を含みうる。所定の閾値１１６は、デバイス１０８からのテストデータの最大範囲１３２を含みうる。一実施形態においては、所定の閾値１１６は、ユーザにより選択的に構成可能であってよい。
【００１９】
一実施形態においては、テストデータ１０２に関する統計１１２を、所定の傾向１３４と比較することができる。統計１１２が所定の傾向１３４よりも高い不合格率を示した場合、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４は、テスタ１０４を調整して付加的テストデータ１１８を取得することができる。統計１１２が所定の傾向１３４よりも低い不合格率を示した場合、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４は、テスタ１０４を再調整してより少数のテストデータ１２０を取得することができる。
【００２０】
他実施形態としては、統計１１２が所定の傾向１３４の予め定められた範囲の枠外にある場合、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４は、テスタ１０４を再調整して、付加的なテストデータ１１８を取得することができる。統計１１２が所定の傾向１３４の予め定められた範囲の枠内にある場合、選択的にテスタ１０４を調整するためのコード１１４は、テスタ１０４を再調整してより少数のテストデータ１２０を取得することができる。
【００２１】
一実施形態においては、システム１００は、歩留まり等の高次のデータの統計１１２をトラックすることができ、システム１００はまた、標準偏差、Ｃｐ、Ｃｐｋ等の個別の測定値についての統計１１２をトラックすることができる。閾値１１６は、例えば各種統計１１２についてのデバイス閾値として、予め設定することができる。デバイス歩留まり等の、統計１１２の一つが閾値１１６の枠外になった場合、システム１００は自動的にテスタ１０４の設定を変更し、ログされるテストデータ１０２の量を適当に増加させることができる。計算された統計１１２が閾値１１６の枠外から閾値１１６の枠内になった場合は、システム１００は自動的にテスタ１０４の設定を変更し、ログされるテストデータ１０２の量を減じることができる。
【００２２】
一実施形態に係る、選択的テストデータログ方法５００を図５に示す。方法５００は、テスタによりデバイスに対するテストを行いデバイスから取得したテストデータをログすること５０２を含みうる。方法５００は、テスタが取得したテストデータをモニタしてテストデータに関する統計を生成すること５０４を含みうる。方法５００は、テストデータに関する統計に応答して、テスタを選択的に調整してデバイスから取得されるテストデータを修正すること５０６を含みうる。
【００２３】
他実施形態においては、方法５００は、テストデータに関する統計に対応してテスタを選択的に調整するためのフィードバック信号を生成すること５０８を任意に含みうる。フィードバック信号は、デバイスからテスタが取得するテストデータを選択的に調整することができる。
【００２４】
一実施形態においては、テストデータをモニタしてテストデータに関する統計を生成すること５０４は、テスタが実行することができる。他実施形態においては、テストデータをモニタしてテストデータに関する統計を生成すること５０４は、コントローラが実行することができる。
【００２５】
一実施形態においては、テスタによりデバイスに対するテストを行うこと５０２は、自動テスト装置が実行することができる。
【００２６】
一実施形態においては、方法５００はさらに、テストデータに関する統計を所定の閾値と比較すること５１０と、統計が所定の閾値の枠外であった場合、付加的テストデータを取得すること５１２とを任意に含みうる。方法５００はさらに、統計が所定の閾値の枠内であった場合、テスタを再調整してより少数のテストデータを取得すること５１４を含みうる。
【００２７】
付加的テストデータを取得すること５１２は、付加的デバイスからテスト結果を取得することを含みうる。他実施形態においては、付加的テストデータを取得すること５１２は、各デバイスに対して行った付加的テストからテスト結果を取得することを含みうる。
【００２８】
テスタを再調整してより少数のテストデータを取得すること５１４は、より少数のデバイスからテスト結果を取得することを含みうる。他実施形態においては、テスタを再調整してより少数のテストデータを取得すること５１４は、各デバイスに対してより少数のテストを行いテスト結果を取得することを含みうる。
【００２９】
一実施形態においては、どのテストデータにログするかを決定するため、ロギング工程中にテストデータをモニタすることができる。高次の情報へのロギングには、データ傾向のトラッキングも含まれうる。もし全テストフローについて、または個別のテストスーツもしくはテストに不合格傾向が認められれば、全テストフローまたは個別のテストスーツもしくはテストに対してログされるデータ量を増加させることができる。
【００３０】
他実施形態においては、個別のテストについて、または全テストフローについて詳細な結果のログができる。結果が範囲内にあり合格かつ近似していれば、全テストフローまたは個別のテストスーツ若しくはテストについてログされる詳細データの量を減じることができる。
【００３１】
一実施形態においては、ユーザがテスト結果を綿密にモニタしていつデータフローを増減させるかを決定する必要はない。同様に、ユーザは、テスタのデータロギング設定をマニュアルで変更する必要はない。
【００３２】
さらに、問題のあるテストだけをカバーするように、ログされるデータの量をカスタマイズすることができる。それによって必要なテストデータにはログする一方で、ログされるデータ量が減じられる。
【００３３】
以下、本願の付記を示す。
【００３４】
（付記１）
テストデータ１０２を選択的にログするシステム１００であって、
複数のデバイス１０６により生成されたテストデータ１０２をモニタし、前記テストデータ１０２に関する統計１１４を生成するためのコード１１０と、
前記テストデータ１０２に関する前記統計１１４に応答して、前記テストデータ１０２を生成したテスタ１０４を選択的に調整して前記複数のデバイス１０６に対して前記テスタ１０４によりログされる前記テストデータ１０２を修正するためのコード１１４とを備えることを特徴とする選択的テストデータログシステム。
【００３５】
（付記２）
前記テストデータ１０２に関する前記統計１１４に対応して前記テスタ１０４を選択的に調整するための前記コード１１４により生成されるフィードバック信号２００をさらに含み、前記フィードバック信号２００は、前記デバイス１０６から前記テスタ１０４によりログされた前記テストデータ１０２を調整することを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００３６】
（付記３）
前記デバイス１０６に対してテストを行い、前記デバイス１０６から取得したテストデータ１０２をログするためのテスタ１０４をさらに備え、前記テスタ１０４は、前記テストデータ１０２をモニタするためのコード１１０を含み、前記テスタ１０４は、前記テスタ１０４を選択的に調整するためのコードを含むことを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００３７】
（付記４）
前記テスタ１０４が取得した前記テストデータ１０２をモニタするためのコードと、前記テスタ１０４を選択的に調整するための前記コードとを有するコントローラ４００をさらに備え、前記コントローラ４００は、前記テスタ１０４とは別個であることを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００３８】
（付記５）
前記テスタ１０４は、前記テストデータ１０２をモニタするための前記コードを含み、前記テスタ１０４は、前記テスタ１０４を選択的に調整するための前記コードを含むことを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００３９】
（付記６）
前記テストデータ１０２に関する前記統計１１４は、所定の閾値１１６と比較され、前記テスタ１０４を選択的に調整するための前記コードは、前記統計１１４が前記所定の閾値１１６の枠外である場合、前記テスタ１０４を調整して付加的テストデータ１１８を取得することを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００４０】
（付記７）
前記テスタ１０４を選択的に調整するための前記コードは、前記統計１１４が前記所定の閾値１１６の枠内の場合、前記テスタ１０４を再調整してより少数のテストデータ１０２を取得することを特徴とする付記６記載の選択的テストデータログシステム。
【００４１】
（付記８）
前記テストデータ１０２に関する前記統計１１４は、所定の傾向と比較され、前記統計１１４が前記所定の傾向よりも高い不合格率を示す場合、前記テスタ１０４を選択的に調整するためのコードは前記テスタ１０４を調整して付加的テストデータ１１８を取得することを特徴とする付記１記載の選択的テストデータログシステム。
【００４２】
（付記９）
選択的テストデータログ方法５００であって、
複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタし（５０４）、前記テストデータに関する統計を生成することと、
前記テストデータに関する前記統計に応答して、前記テストデータを生成したテスタを選択的に調整し（５０６）、前記デバイスから取得される前記テストデータを修正することとを含む、選択的テストデータログ方法。
【００４３】
（付記１０）
前記テストデータに関する前記統計に対応して前記テスタを選択的に調整するためのフィードバック信号を生成すること（５０６)を含み、前記フィードバック信号は前記デバイスから前記テスタにより取得される前記テストデータを選択的に調整することを特徴とする付記９記載の選択的テストデータログ方法。
【産業上の利用可能性】
【００４４】
この発明の選択的テストデータログ方法および選択的テストデータログシステムは、テストデータを選択的にログするためのシステムおよび方法に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】選択的テストデータログシステムの図である。
【図２】図１に示す選択的テストデータログシステムの、選択的にテスタを調整するためのコードにより生成されるフィードバック信号を示す図である。
【図３】図１に示す選択的テストデータログシステムに対して任意に搭載されるテスタの図であり、当該テスタは、テストデータをモニタするためのコードと選択的にテスタを調整するためのコードとを含む。
【図４】図１に示す選択的テストデータログシステムに対して任意に搭載されるコントローラの図であり、当該コントローラは、テスタにより取得されたテストデータをモニタするためのコードと選択的にテスタを調整するためのコードとを含む。
【図５】選択的テストデータログ方法の図である。
【符号の説明】
【００４６】
１００  テストデータログシステム
１０２  テストデータ
１０４  テスタ
１０６  テスト
１０８  デバイス
１１０  テストデータをモニタするためのコード
１１２  統計
１１４  選択的にテスタを調整するためのコード
１１６  所定の閾値
１１８  付加的テストデータ
１２０  より少数のテストデータ
１２２  付加的デバイス
１２４  付加的テスト
１２６  より少数のデバイス
１３０  最大不合格率
１３２  テストデータの最大範囲
１３４  所定の傾向
２００  フィードバック信号
４００  コントローラ
５００  選択的テストデータログ方法
５０２  テスタによりデバイスに対するテストを行いデバイスから取得したテストデータをログすること
５０４  テスタが取得したテストデータをモニタしてテストデータに関する統計を生成すること
５０６  テストデータに関する統計に応答して、テスタを選択的に調整してデバイスから取得されるテストデータを修正すること
５０８  テストデータに関する統計に対応してテスタを選択的に調整するためのフィードバック信号を生成すること
５１０  テストデータに関する統計を所定の閾値と比較すること
５１２  統計が所定の閾値の枠外であった場合、付加的テストデータを取得すること
５１４  統計が所定の閾値の枠内であった場合、テスタを再調整してより少数のテストデータを取得すること
【図１】
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【図２】
2007286055.tif 000004
【図３】
2007286055.tif 000005
【図４】
2007286055.tif 000006
【図５】
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【外国語明細書】
2007286055000001.pdf