(57)【要約】  【課題】  ディスク表面の汚れやキズの外乱的影響で最適なゲインの設定変更ができない。  【解決手段】  光ディスク１１を一定の線速度で回転させるスピンドルモータ１２と、光ピックアップ１３で得たデータ信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部２２と、トラッキングエラー信号の振幅値を測定する振幅値測定部３１と、振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部３７とを有する光ディスクプレーヤ１であって、光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部３３と、振幅値測定回数を設定する測定回数設定部３９と、回転周期と測定回数とに基づき、振幅値測定部が光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部３４と、測定タイミングに基づき、振幅値測定部の測定動作を実行する測定タイミング監視部３５とを有するようにした。【選択図】  図２
2007004899.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを一定の線速度で回転させるスピンドルモータと、この光ディスクに対して光ビームを照射することで、その光ディスクの反射光からデータ信号を得る光ピックアップと、この光ピックアップからのデータ信号に基づいて誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号生成部にて生成した誤差信号に基づいて、前記光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボ部と、前記誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、前記振幅値測定部にて測定された振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、この最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、前記誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有する光ディスクプレーヤであって、
前記光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部と、
前記振幅値測定部の振幅値測定回数を設定する測定回数設定部と、
前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部と、
この測定タイミング算出部にて算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行させる測定タイミング監視部とを有することを特徴とする光ディスクプレーヤ。
【請求項２】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の平均値を算出する平均値算出部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項１記載の光ディスクプレーヤ。
【請求項３】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択する振幅値選択部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記振幅値選択部にて選択した振幅値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項１記載の光ディスクプレーヤ。
【請求項４】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値で平均値を算出する平均値算出部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項１記載の光ディスクプレーヤ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数種の光ディスク、例えば再生専用ディスク(以下、単にＣＤ−ＤＡディスクと称する)や記録再生用ディスク（以下、単にＣＤ−ＲＷディスクと称する）等を再生可能とする光ディスクプレーヤに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、このような光ディスクプレーヤとしては、光ディスクからデータ信号を得る光ピックアップと、データ信号に基づいて、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等の誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号に基づいて、光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボプロセッサ部とを有する光ディスクプレーヤであって、光ディスク挿入時又は光ディスク再生動作開始時に、誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、予め最適な振幅値を最適振幅値として記憶した最適振幅値記憶部と、振幅値測定部にて測定された振幅値と最適振幅値記憶部に記憶中の最適振幅値とに基づいて、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有するようにしたものが本出願人から提案されている(例えば特許文献１参照)。
【０００３】
このような特許文献１によれば、光ディスク挿入時又は光ディスク再生動作開始時に測定した誤差信号の振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、前記誤差信号の振幅値のゲインを設定変更するようにしたので、個々の製品のバラツキ等に対応したゲイン出力を設定することで、信号精度のバラツキをなくして、ひいてはプレイアビリティの安定を図ることができる。
【特許文献１】特開２００３−２８１７５０号公報（要約書及び図２参照）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このような特許文献１の光ディスクプレーヤによれば、振幅値測定部にて誤差信号の振幅値を測定し、この測定した誤差信号の振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、前記誤差信号の振幅値のゲインを設定変更するようにしたが、例えば光ディスク表面にキズや汚れがある箇所で振幅値測定部の測定動作が実施された場合には、このキズや汚れのために測定結果である振幅値のレベルが小さくなるため、この振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出した場合には、最適ゲイン値が非常に大きくなってしまうため、その結果、光ディスクプレーヤのサーボ性能が変化してプレイアビリティが悪化してしまう虞がある。
【０００５】
本発明は上記点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、振幅値の測定精度を大幅に向上させることで、ディスクのキズや汚れ等の外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインを設定変更することができ、その結果、プレイアビリティを良好にすることができる光ディスクプレーヤを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記のように構成された本発明の光ディスクプレーヤは、光ディスクを一定の線速度で回転させるスピンドルモータと、この光ディスクに対して光ビームを照射することで、その光ディスクの反射光からデータ信号を得る光ピックアップと、この光ピックアップからのデータ信号に基づいて誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号生成部にて生成した誤差信号に基づいて、前記光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボ部と、前記誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、前記振幅値測定部にて測定された振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、この最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、前記誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有する光ディスクプレーヤであって、前記光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部と、前記振幅値測定部の振幅値測定回数を設定する測定回数設定部と、前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部と、この測定タイミング算出部にて算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行させる測定タイミング監視部とを有するようにした。
【０００７】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の平均値を算出する平均値算出部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【０００８】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択する振幅値選択部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記振幅値選択部にて選択した振幅値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【０００９】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値で平均値を算出する平均値算出部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【発明の効果】
【００１０】
上記のように構成された本発明の光ディスクプレーヤによれば、前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、前記光ディスクの前記誤差信号の振幅値を測定するようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【００１１】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この振幅値の平均値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【００１２】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択し、この最大の振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【００１３】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値の平均値を算出し、この振幅値の平均値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を示す光ディスクプレーヤについて説明する。図１は本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ内部の概略構成を示すブロック図である。
【００１５】
図１に示す光ディスクプレーヤ１は、光ディスク１１を回転させるスピンドルモータ１２と、光ディスク１１に対して光ビームを照射することで、その光ディスク１１の反射光からデータ信号を得る光ピックアップ１３と、光ピックアップ１３から得られるデータ信号を増幅する再生信号としてＲＦ出力するＲＦアンプ部１４と、このＲＦアンプ部１４からの再生信号にオーディオ信号にオーディオ信号処理を施す信号処理部１５と、この信号処理部１５にてオーディオ信号処理を施したオーディオデータをアナログ変換するＤ／Ａ変換部１６と、光ピックアップ１３をフォーカス方向に移動調整するフォーカスサーボ１７と、光ピックアップ１３をトラッキング方向に移動調整するトラッキングサーボ１８と、スピンドルモータ１２の回転速度を調整するスピンドルサーボ１９と、これらフォーカスサーボ１７、トラッキングサーボ１８及びスピンドルサーボ１９を制御するサーボプロセッサ部２０と、光ピックアップ１３から得られるデータ信号に基づいて、光ピックアップ１３内にある対物レンズの光軸方向のズレ量を示すフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部２１と、光ピックアップ１３から得られるデータ信号に基づいて、対物レンズの径方向のズレ量を示すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部２２と、様々なコマンド等を入力する操作部２３と、この光ディスクプレーヤ１全体を制御するシステムコントロール部２４とを有している。
【００１６】
図２は本実施の形態に関わるシステムコントロール部２４内の概略構成を示すブロック図である。
【００１７】
図２に示すシステムコントロール部２４は、トラッキングエラー信号生成部２２にて生成したトラッキングエラー信号の振幅値を測定する振幅値測定部３１と、スピンドルモータ１２のディスク回転速度を検出する回転速度検出部３２と、この回転速度検出部３２にて検出したディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出する回転周期算出部３３と、ディスク回転周期での振幅値測定部３１の測定回数を設定する測定回数設定部３９と、回転周期算出部３３にて算出したディスク回転周期及び測定回数設定部３９にて設定した測定回数に基づき、振幅値測定部３１の測定タイミングを算出する測定タイミング算出部３４と、この測定タイミング算出部３４にて算出した測定タイミングに基づき、振幅値測定部３１の測定動作を監視制御する測定タイミング監視部３５と、振幅値測定部３１にて測定した複数箇所の振幅値からトラッキングエラー用の振幅値を決定する振幅値決定部３６と、この振幅値決定部３６にて決定したトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、トラッキングエラー用の最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部３７と、この最適ゲイン値算出部３７にて算出した最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部３８とを有している。
【００１８】
回転周期算出部３３は、回転速度検出部３２にて検出したディスク回転速度に基づき、光ディスクの回転周期を算出するものである。
【００１９】
測定回数設定部３９は、光ディスク１１のディスク回転周期での振幅値測定部３１による測定回数を設定するものである。尚、測定回数は、操作部２３の入力操作で任意に設定可能である。
【００２０】
測定タイミング算出部３４は、ディスク回転周期及び測定回数に基づき、振幅値測定部３１の測定タイミングを算出するものであり、例えばディスク回転周期を２００ｍ秒とし、測定回数を４回と設定した場合、２００ｍ秒÷４回で５０ｍ秒の測定タイミングを算出することになる。
【００２１】
測定タイミング監視部３５は、振幅値測定部３１にて５０ｍ秒毎に１回の振幅値測定動作を実行すると、ディスク回転周期で４個の振幅値を取得することができ、しかも、これら４個の振幅値は必ず光ディスク１１上の異なった箇所で測定されることになる。
【００２２】
振幅値決定部３６は、これら４個の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用の振幅値として決定するものである。
【００２３】
最適ゲイン値算出部３７は、振幅値決定部３６にて決定されたトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、同平均値が目標値となるように最適ゲイン値を算出するものである。尚、目標値は、正常時の最適な振幅値に相当するものである。
【００２４】
尚、請求項記載の誤差信号生成部はトラッキングエラー信号生成部２２、サーボ部はトラッキングサーボ１８及びサーボプロセッサ部２０、平均値算出部及び振幅値選択部は振幅値決定部３６に相当するものである。
【００２５】
次に本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ１の動作について説明する。図３は本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ１のトラッキングエラー用ゲイン設定処理に関わるシステムコントロール部２４の処理動作を示すフローチャートである。
【００２６】
図３に示すトラッキングエラー用ゲイン設定処理とは、光ディスク１１の異なる複数箇所の振幅値を順次測定し、これら複数箇所の振幅値の平均値をトラッキングエラー用の振幅値に決定し、このトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更する処理である。
【００２７】
図３においてシステムコントロール部２４は、スピンドルモータ１２を駆動制御することで光ディスク１１の回転駆動を開始し(ステップＳ１１)、フォーカスサーボ１７をＯＮし(ステップＳ１２)、回転速度検出部３２を通じてディスク回転速度を検出しながら、同ディスク回転速度を一定速度に安定させるべくスピンドルサーボ１９内のＣＬＶをＯＮする(ステップＳ１３)。
【００２８】
システムコントロール部２４の回転周期算出部３３は、ディスク回転速度が一定速度に安定すると、ディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出する(ステップＳ１４)。
【００２９】
さらにシステムコントロール部２４の測定タイミング監視部３５は、測定回数設定部２３Ａにて測定回数ｎを設定する(ステップＳ１５)。この際、測定タイミング算出部３４は、ディスク回転周期及び設定測定回数に基づき、ディスク回転周期内の振幅値測定部３１の１回分の測定動作を開始する測定タイミングを監視するためのタイマ時間(ディスク回転周期÷設定測定回数)を算出するものとする。例えばディスク回転周期を２００ｍ秒、測定回数を４回とした場合、タイマ時間は２００ｍ秒÷４回で５０ｍ秒となる。
【００３０】
まず、測定タイミング監視部３５は、振幅値測定部３１にて振幅値の測定動作を実行することで同測定箇所の振幅値を得る(ステップＳ１６)。
【００３１】
測定タイミング監視部３５は、現在の測定回数ｎから−１デクリメントすることで残り測定回数ｎ−１を算出し(ステップＳ１７)、残り測定回数が“０”であるか否かを判定する(ステップＳ１８)。
【００３２】
測定タイミング監視部３５は、残り測定回数が“０”でないと判定されると、次の振幅値測定部３１の測定動作の開始タイミングを監視すべく、測定タイミング算出部３４にて算出した測定タイミングを監視するためのタイマ時間（ディスク回転周期÷設定測定回数）の計時動作を開始する(ステップＳ１９)。
【００３３】
測定タイミング監視部３５は、測定タイミングを監視するためのタイマ時間の計時動作を開始すると、タイマ時間がタイムアップしたか否かを判定する(ステップＳ２０)。測定タイミング監視部３５は、タイマ時間がタイムアップしたと判定されると、振幅値測定部３１にて振幅値の測定動作を実行することで同測定箇所の振幅値を得て(ステップＳ２１)、現在の測定回数から−１デクリメントすべく、ステップＳ１７に移行する。
【００３４】
そして、測定タイミング監視部３５は、ステップＳ１８にて残り測定回数が“０”であると判定されると、ディスク回転周期での全ての測定箇所に関わる振幅値の測定動作が完了したものと判断する。つまり、ディスク回転周期を２００ｍ秒、測定回数を４回とした場合、振幅値測定部３１にて５０ｍ秒毎に振幅値を測定することで、光ディスク１１表面の異なる４箇所の振幅値が得られたことになる。
【００３５】
振幅値決定部３６は、測定タイミング監視部３５にてディスク回転周期の複数箇所の振幅値の測定動作が完了すると、これら複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この算出した平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定する(ステップＳ２２)。
【００３６】
最適ゲイン値設定部３８は、最適ゲイン値算出部３７を通じて、振幅値決定部３６にて決定したトラッキングエラー用振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出し、同最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更することで(ステップＳ２３)、この処理動作を終了する。
【００３７】
本実施の形態によれば、回転周期算出部３３にて算出したディスク回転周期と測定回数設定部３９にて設定した測定回数とに基づき、振幅値測定部３１が光ディスク１１の異なる複数箇所でトラッキングエラー信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、光ディスク１１のトラッキングエラー信号の振幅値を振幅値測定部３１に測定させるようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク１１表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【００３８】
本実施の形態によれば、振幅値測定部３１にて複数箇所の振幅値を測定し、振幅値決定部３６にて複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定し、このトラッキングエラー用振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク１１表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【００３９】
尚、上記実施の形態においては、例えばディスク回転周期を２００ｍ秒、測定回数を４回として、２００ｍ秒÷４回で５０ｍ秒毎に振幅値測定部３１の測定動作を合計４回実行することで異なる４箇所の振幅値を取得できることを説明したが、例えば測定回数を１０回とした場合、２００ｍ秒÷１０回で２０ｍ秒毎に振幅値測定部３１の測定動作を１０回実行することで、異なる１０箇所の振幅値を取得することができることは言うまでもない。
【００４０】
また、上記実施の形態においては、振幅値決定部３６にて複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしたが、例えば複数箇所の振幅値の内、最大振幅値及び最小振幅値を除いた振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしても良く、また、複数箇所の振幅値の内、最大振幅値を選択し、この最大振幅値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしても良く、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００４１】
また、上記実施の形態においては、回転周期算出部３３にてディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出するようにしたが、スピンドルモータ１２からディスク回転周期を直接取得するようにしても良いことは言うまでもない。
【００４２】
また、上記実施の形態においては、回転周期算出部３３にてディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出するようにしたが、光ピックアップ１１のディスク再生位置及びディスク再生時間、すなわち、例えばＴＯＣ情報から得られる再生位置Ａから再生位置Ｂまでの位置関係及び、再生位置Ａから再生位置Ｂまでのディスク再生時間に基づき、ディスク回転周期を算出するようにしても良く、また、ＴＯＣ情報が得られない場合、ディスク最内周でディスク再生を開始しているため、同最内周でのディスク回転周期を算出するようにしても良く、いずれにしても同様の効果が得られることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明の光ディスクプレーヤによれば、回転周期算出部にて算出した光ディスクの回転周期と測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行するようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができるため、例えば車載用光ディスクプレーヤ等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施の形態を示す光ディスクプレーヤ内部の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本実施の形態を示す光ディスクプレーヤのシステムコントロール部内部の概略構成を示すブロック図である。
【図３】本実施の形態を示す光ディスクプレーヤのトラッキングエラー用ゲイン設定処理に関わるシステムコントロールの処理動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４５】
１  光ディスクプレーヤ
１１  光ディスク
１２  スピンドルモータ
１３  光ピックアップ
１８  トラッキングサーボ(サーボ部)
２０  サーボプロセッサ部(サーボ部)
２２  トラッキングエラー信号生成部(誤差信号生成部)
３１  振幅値測定部
３３  回転周期算出部
３４  測定タイミング算出部
３５  測定タイミング監視部
３６  振幅値決定部(平均値算出部、振幅値選択部)
３７  最適ゲイン値算出部
３８  最適ゲイン値設定部
【図１】
2007004899.tif 000003
【図２】
2007004899.tif 000004
【図３】
2007004899.tif 000005