(57)【要約】【課題】  距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらずエラーと判定すること。【解決手段】  信号発生回路１２の変調信号を周波数制御回路１８で掃引し、掃引された変調信号で変調された測距光をレーザダイオード１６から目標物に向けて出射し、目標物からの反射光を受光ダイオード２０で受光して測距信号に変換し、この測距信号を周波数変換回路２４で中間周波の測距信号に変換し、この測距信号を基にＣＰＵ４４で目標物までの距離を求めるに際して、測距信号を検波回路３０で検波し、この検波出力の最大値と最小値との差をＣＰＵ４０で求め、この差が設定値よりも大きいときには、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するとして、エラーを表示器３４に表示する。【選択図】        図１
2007218728.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
変調信号を発生する変調信号発生手段と、前記変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記変調信号とは周波数が異なるローカル信号を発生するローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記ローカル信号とを混合して前記測距信号を中間周波の測距信号に変換する周波数変換手段と、前記変調信号と前記周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差を求め、前記位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【請求項２】
変調信号を発生する変調信号発生手段と、前記変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記変調信号とは周波数が異なるローカル信号を発生するローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記ローカル信号とを混合して前記測距信号を中間周波の測距信号に変換する周波数変換手段と、前記周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、前記位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【請求項３】
周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号のうちいずれか一つの変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各変調信号と前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【請求項４】
周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号のうちいずれか一つの変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【請求項５】
周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御する複数の周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各変調信号と前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【請求項６】
周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御する複数の周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えてなる測距装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変調信号によって変調された測距光を目標物（ターゲット）に向けて出射し、出射前の光と目標物で反射して戻ってきた光との位相差を基に目標物までの距離を求めることができる測距装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、測距装置としては、例えば、光を周波数の異なる複数の変調信号で強度変調し、強度変調された変調光を目標物に向けて出射し、目標物からの反射光と参照光との間の位相差をヘテロダイン検波して目標物までの距離を測定するようにしたものが知られている（特許文献１参照）。
【０００３】
位相差方式の測距装置においては、例えば、２種類または３種類の変調信号を用いることで、短距離から長距離までの距離測定を行うことができる。この際、各変調信号を用いて得られた測距値の桁の突き合わせを行うことで、図示していない目標物からの反射光を基に距離測定を行ったか否かを判定することができる。例えば、高い周波数の変調信号から得られた測距値が３．４５ｍであって、低い周波数の変調信号によって得られた測距値が１２３ｍであるときには、両者の測距値の１位の桁の数値が一致しているところから、各測距値は正しい目標物からの反射光を基に得られた測距値と判定することができる。一方、測距値の１位の桁の数値が両者で異なるときにはエラー表示される。各測距値は目的とする目標物以外からの反射光を基に得られた測距値と判定することができる。このように、各変調信号に応じた測距値の桁の突き合わせを行うことで、測距値が正しいか否かを判定することができる。
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−１６２５１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
測距値が正しいか否かを判定するために、各変調信号に対応した測距値の桁の突き合わせを行う方式では、目標物の異常に伴うエラーの有無を確実に判定できないことがある。例えば、目標物に段差があったり、距離が異なる複数の目標物が近接して配置されていたりして、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在していても、目標物の段差の値または距離差が最も周波数の高い変調信号の波長以下であるときには、この変調信号を用いたときの測距値に目標物の異常が反映されないことがある。また、各変調信号の周波数は固定されているため、目標物の段差または距離差が測距値の桁の突き合わせが可能な長さであったとしても、その長さによっては目標物の異常に伴うエラーを検出できない場合がある。例えば、目標物の段差の値または複数の目標物間の距離差が変調周波数の波長λのＮ倍（Ｎは自然数）となるときには、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在していても、両者の測距値（各目標物までの距離値）は等しくなり、エラーを検出することができない。
【０００６】
本発明は、前記従来技術の課題に鑑みて為されたものであり、その目的は、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために、請求項１に係る測距装置においては、変調信号を発生する変調信号発生手段と、前記変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記変調信号とは周波数が異なるローカル信号を発生するローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記ローカル信号とを混合して前記測距信号を中間周波の測距信号に変換する周波数変換手段と、前記変調信号と前記周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差を求め、前記位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【０００８】
（作用）変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成し、測距信号とローカル信号とを混合して測距信号を中間周波の測距信号に変換し、変調信号と中間周波の測距信号との位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、変調信号の周波数を制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【０００９】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００１０】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数のターゲットからの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値（設定レベル）とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００１１】
請求項２に係る測距装置においては、変調信号を発生する変調信号発生手段と、前記変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記変調信号発生手段からの変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記変調信号とは周波数が異なるローカル信号を発生するローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記ローカル信号とを混合して前記測距信号を中間周波の測距信号に変換する周波数変換手段と、前記周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、前記位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【００１２】
（作用）変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光または参照光を受光したときに光電変換を行って測距信号を生成し、測距信号とローカル信号とを混合して測距信号を中間周波の測距信号に変換し、中間周波の測距信号のうち目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、この位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、変調信号の周波数を制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００１３】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００１４】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００１５】
請求項３に係る測距装置においては、周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号のうちいずれか一つの変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各変調信号と前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【００１６】
（作用）複数の変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を生成し、この測距信号と各ローカル信号とをそれぞれ混合して測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換し、各変調信号と各中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、各位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、複数の変調信号のうちいずれか１つの変調信号の周波数を制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００１７】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００１８】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００１９】
請求項４に係る測距装置においては、周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号のうちいずれか一つの変調信号の周波数を制御する周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【００２０】
（作用）複数の変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を生成し、この測距信号と各ローカル信号とをそれぞれ混合して測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換し、中間周波の測距信号のうち目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、この位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、複数の変調信号のうちいずれか１つの変調信号の周波数を制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００２１】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００２２】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００２３】
請求項５に係る測距装置においては、周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御する複数の周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各変調信号と前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【００２４】
（作用）複数の変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を生成し、この測距信号と各ローカル信号とをそれぞれ混合して測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換し、各変調信号と各中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、各位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００２５】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００２６】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００２７】
請求項６に係る測距装置においては、周波数の相異なる複数の変調信号を発生する複数の変調信号発生手段と、前記複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御する複数の周波数制御手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段と、前記複数の変調信号発生手段からの複数の変調信号によって変調された参照光を発光する参照光発光手段と、前記参照光または目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を出力する受光手段と、前記各変調信号とは周波数が異なる複数のローカル信号を発生する複数のローカル信号発生手段と、前記測距信号と前記各ローカル信号とをそれぞれ混合して前記測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換する複数の周波数変換手段と、前記各周波数変換手段の出力による中間周波の測距信号のうち前記目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と前記参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差をそれぞれ求め、前記各位相差を基に前記目標物までの距離を演算する演算手段と、前記測距信号を検波する検波手段と、前記検波手段の検波出力と設定値とを比較して前記目標物の異常に伴うエラーの有無を判定する判定手段とを備えた構成とした。
【００２８】
（作用）複数の変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光したときに光電変換を行って測距信号を生成し、この測距信号と各ローカル信号とをそれぞれ混合して測距信号をそれぞれ中間周波の測距信号に変換し、中間周波の測距信号のうち目標物からの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、この位相差を基に目標物までの距離を求めるに際して、複数の変調信号の周波数をそれぞれ制御するとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光を目標物に向けて照射し、目標物からの反射光を受光して測距信号を生成するとともに測距信号を検波し、この検波出力と設定値とを比較して、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定するようにしたため、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００２９】
すなわち、周波数の制御された変調信号、例えば、変調信号の周波数が掃引されたり、あるいは変調信号の周波数がステップ状に変化したりすると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて照射される。そして、この測距光が目標物で反射した後、反射光として光電変換されて測距信号に変換されたときに、この測距信号を検波すると、この検波出力のレベルは、変調信号の周波数の変化に伴って変化するので、検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００３０】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【発明の効果】
【００３１】
以上の説明から明らかなように、請求項１に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【００３２】
請求項２に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【００３３】
請求項３に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【００３４】
請求項４に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【００３５】
請求項５に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【００３６】
請求項６に係る測距装置によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができ、誤測定の防止に寄与することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、本発明の実施の形態を実施例に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施例を示す測距装置のブロック構成図、図２は、中間周波信号をサンプリングしたときのサンプリング特性図、図３は、中間周波信号の同位相のサンプリングデータを加算した中間周波１周期分のデータを示す図、図４は、測距信号と参照信号との位相差から目標物までの距離を求める方法を説明するための波形図、図５は、測距装置の作用を説明するためのフローチャート、図６は、本発明の第２実施例を示す測距装置のブロック構成図、図７は、本発明の第３実施例を示す測距装置のブロック構成図である。
【００３８】
これらの図において、位相差方式の測距装置１０は、図１に示すように、送光系として、信号発生回路１２、変調回路１４、レーザダイオード１６、周波数制御回路１８を備えて構成されており、受光・処理系として、受光ダイオード２０、増幅器２２、周波数変換回路２４、増幅器２６、増幅器２８、検波回路３０、演算処理３２、表示器３４を備えて構成されている。演算処理部３２は、測距処理を行うためのＡ／Ｄ変換器３６、レベル検知を行うためのＡ／Ｄ変換器３８、各種演算を行うための演算器としてのＣＰＵ４０を備えて構成されている。
【００３９】
信号発生回路１２は、単一の変調信号（基準信号）を発生する変調信号発生手段として、例えば、水晶発振器を用いて構成されている。信号発生回路１２から発生する変調信号は変調回路１４に入力され、変調回路１４は、信号発生回路１２からの変調信号にしたがってレーザダイオード１６の発光による光を強度変調する変調手段として構成されている。
【００４０】
レーザダイオード１６は、例えば、１周波のレーザダイオードを用いて構成されており、レーザダイオード１６の発光に伴う光が変調回路１４によって変調されると、変調信号によって変調された光が測距光として、測点に設けられた目標物（ターゲット）に向けて出射されるようになっている。すなわち、レーザダイオード１６は、変調回路１４とともに、変調信号によって変調された測距光を発光する測距光発光手段として構成されている。また、レーザダイオード１６は、変調回路１４によって変調された光を参照光１１として、例えば、光ファイバを介して受光ダイオード２０に伝送するようになっている。すなわち、レーザダイオード１６は、変調回路１４とともに、変調信号によって変調された参照光１１を光ファイバにより受光ダイオード２０に導くように構成されている。
【００４１】
周波数制御回路１８は、演算処理部３２からの指令にしたがって、信号発生回路１２の変調信号の周波数を指定の周波数帯域に亘って制御する周波数制御手段として構成されている。周波数制御回路（掃引回路）１８は、信号発生回路１２の変調信号の周波数を制御するに際して、例えば、変調信号の周波数を指定の周波数帯域に亘って掃引したり、あるいは、変調信号の周波数をステップ状に変化させたりするように構成されている。信号発生回路１２の変調信号の周波数が周波数制御回路（掃引回路）１８によって制御されると、周波数の制御された変調信号によって変調された測距光がレーザダイオード１６から出射されるとともに、周波数の制御された変調信号によって変調された参照光がレーザダイオード１６から受光ダイオード２０に伝送されるようになっている。
【００４２】
一方、受光ダイオード２０は、例えば、光電変換素子としてのフォトダイオードを用いて構成されており、レーザダイオード１６の発光に伴う測距光が目標物で反射したときの反射光またはレーザダイオード１６の発光に伴う参照光１１を受光したときに光電変換を行って測距信号を増幅器２２に出力する受光手段として構成されている。この際、受光ダイオード２０は、目標物からの反射光またはレーザダイオード１６からの参照光１１をそれぞれ受光タイミングを変えて受光するようになっている。
【００４３】
増幅器２２は、受光ダイオード２０の出力による測距信号を増幅し、増幅した測距信号を周波数変換回路２４と増幅器２８に出力するようになっている。周波数変換回路２４は、例えば、変調信号に対応した周波数の信号のみを通過させるバンドパスフィルタと、測距信号とは周波数が異なるローカル信号を発生する局部発振器と、バンドパスフィルタを通過した測距信号と局部発振器から出力されるローカル信号とを混合し、測距信号を中間周波の測距信号に変換する混合器と、混合器の出力信号のうち測距信号よりも周波数の低い中間周波の測距信号、例えば、周波数１０ｋＨｚの測距信号のみを通過させるローパスフィルタとを備えて構成されている。中間周波の測距信号は増幅器２６で増幅されたあとＡ／Ｄ変換器３６でデジタル信号に変換されたあとＣＰＵ４０に入力される。この際、Ａ／Ｄ変換器３６に入力される測距信号は中間周波の測距信号の４倍以上の周波数のサンプリング信号によってサンプリングされるようになっている。
【００４４】
ＣＰＵ４０は、Ａ／Ｄ変換器３６の出力によるデジタル信号をデジタルデータとしてメモリ（図示せず）に格納するとともに、格納されたデジタルデータを基に各種の演算を行うようになっている。例えば、ＣＰＵ４０は、変調信号（基準信号）と中間周波の測距信号との位相差を求め、この位相差を基に目標物までの距離を演算する演算手段として構成されているか、あるいは、測距光が目標物へ反射したときの反射光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角と参照光に基づいて得られた中間周波の測距信号の位相角との位相差を求め、この位相差を基に目標物までの距離を演算する演算手段として構成されている。
【００４５】
具体的には、ＣＰＵ４０が前者の方法を採用したときには、ＣＰＵ４０は、Ａ／Ｄ変換器３６に対して、変調信号（基準信号）と同期した状態で中間信号の測距信号をサンプリングするとともに、図２に示すように、Ａ／Ｄ変換器３６のサンプリング周期を、中間周波の測距信号の１周期分を常に一定の位相角でサンプリングできるように設定する。例えば、１周期をｎ（ｎ≧３）等分する。そして、ＣＰＵ４０は、このサンプリング周期で中間周波の測距信号を数１０００以上の多数周期に亘って連続してサンプリングしてサンプリングデータを取得する。この際、Ａ／Ｄ変換器３６の入力レンジを超えたり、入力レンジに対して小さすぎるサンプリングデータはＣＰＵ４０によって破棄される。
【００４６】
ＣＰＵ４０がサンプリングデータをメモリに記録するに際しては、中間周波の測距信号の１周期分のｎ個のデータに対する記憶領域をメモリ内に用意しておき、図３に示すように、ＣＰＵ４０が同位相のサンプリングデータを加算してメモリに記憶していく処理方式を採用することができる。このような処理をＣＰＵ４０が実行すると、同位相のサンプリングデータが加算され、１周期分の中間周波の測距信号に関する合成データとして、大きな振幅の合成データが生成される。各合成データは、最小二乗法により正弦波Ｓに当てはめることができるので、ＣＰＵ４０において、合成データから合成データに応じた正弦波Ｓが生成されると、正弦波Ｓの初期位相φを求めることができる。この際、Ａ／Ｄ変換器３６においては、変調信号（基準信号）と同期して測距信号をサンプリングしているので、正弦波Ｓの初期位相φは、変調信号（基準信号）と中間周波の測距信号との位相差に等しくなる。このため、ＣＰＵ４０は、正弦波Ｓの初期位相φを基に目標物までの距離を演算で求めることができる。例えば、測距信号から正弦波Ｓの初期位相φが得られたときには、距離ｄ＝（初期位相φ）・（測距信号の波長λ）／２πから目標物までの距離ｄを求めることができる。
【００４７】
一方、ＣＰＵ４０が後者の方法を採用したときには、ＣＰＵ４０は、Ａ／Ｄ変換器３６において、変調信号（基準信号）と同期した状態で中間周波の測距信号をサンプリングするとともに、図４に示すように、例えば、中間周波の測距信号の１周期を８分割するようにサンプリングする。この際、Ａ／Ｄ変換器３６は、受光ダイオード２０が目標物からの反射光を受光したときに得られた中間周波の測距信号をサンプリングするとともに、受光ダイオード２０が参照光１１を受光した受光タイミングに合わせて、受光ダイオード２０が参照光１１を受光したときに得られた中間周波の測距信号をサンプリングする。さらに、サンプリング信号の任意の立ち上がりの位置を位相角０度に設定し、サンプリング信号の立ち上がりで測距信号を順次サンプリングすると、０度から４５度ごとにそれぞれ８個のサンプリングデータが得られる。
【００４８】
これらのサンプリングデータを基にＣＰＵ４０において、最小二乗法により正弦波を生成すると、例えば、発光ダイオード２０が目標物からの反射光を受光したときに得られた中間周波の測距信号を基に正弦波Ｓ１が得られ、受光ダイオード２０が参照光１１を受光したときに得られた中間周波の測距信号を基に正弦波Ｓ１’が得られる。正弦波Ｓ１、Ｓ１’が得られたときには、ＣＰＵ４０は、正弦波Ｓ１、Ｓ１’の位相角φｍ，φｃをそれぞれ求めることができるとともに、位相角φｍと位相角φｃとの位相差φｍ−φｃを基に目標物までの距離を求めることができる。すなわち、距離ｄ＝（位相差φｍ−φｃ）・（測距信号の波長λ）／２πから、目標物までの距離ｄを求めることができる。
【００４９】
ＣＰＵ４０が後者の方法を採用したときには、測距光と参照光１１とが比較されるので、前者の方法を採用したときよりも、目標物（測点）までの距離ｄを高精度に求めることができる。
【００５０】
一方、増幅器２２の出力による測距信号は増幅器２８でさらに増幅され、増幅された測距信号は検波回路３０で検波される。検波回路３０は、増幅器２８の出力による測距信号を検波してその直流成分を抽出する検波手段として構成されており、検波回路３０の検波出力はＡ／Ｄ変換器３８に出力される。Ａ／Ｄ変換器３８は検波回路３０の検波出力をサンプリング信号にしたがってサンプリングし、サンプリングにより得られてデジタル信号をＣＰＵ４０に転送するようになっている。ＣＰＵ４０は、Ａ／Ｄ変換器３８の出力によるデジタル信号をデジタルデータとしてメモリに格納するとともに、デジタルデータと設定値（デジタルの設定値）とを比較して目標物の異常に伴うエラーの有無を判定し、その判定結果を表示器３４に出力する判定手段として構成されている。前記設定値は固定でもよいし、反射光量が変動している場合、光量に応じて可変としてもよい。
【００５１】
ここで、信号発生回路１２の変調信号の周波数が周波数制御回路（掃引回路）１８によって制御され、変調信号の周波数が掃引されると、掃引された変調信号によって変調された測距光が目標物に向けて出射され、目標物からの反射光を受光ダイオード２０が受光して得られた測距信号を検波回路３０で検波すると、この検波出力のレベルは変調信号の掃引（変動）に伴って変化する。このため、ＣＰＵ４０において、検波回路３０の検波出力のレベルを監視することで、目標物の異常に伴うエラーの有無を判定することができる。
【００５２】
例えば、変調信号の周波数をある周波数帯域に亘って掃引するに際して、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときに、掃引周波数の中のある周波数における波長をλとすると、複数の目標物間の距離がＭ×λ／２（Ｍは奇数）であれば、複数の目標物からの反射光の位相差は１８０度シフトした関係となり、両者の反射光を合成したものから得られた検波出力のレベルは、他の掃引周波数における検波出力と比較して著しく低下したものとなる。この場合、特に、複数、例えば、２つの目標物からの反射光量が等しいときには、その混合波（反射光）から得られた検波出力レベルは理論的には０となる。
【００５３】
これに対して、単一の目標物からの反射光のみが存在するときには、掃引周波数によらず、いずれの周波数の変調信号においても、検波出力のレベルは常に一定となる。従って、変調信号の周波数を変化させながら測距信号の検波出力レベルと設定値（設定レベル）とを比較することで、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらず目標物の異常に伴うエラーと判定することができる。
【００５４】
具体的には、ＣＰＵ４０は、図５に示すように、Ａ／Ｄ変換器３８の出力によるデジタルデータを取り込んで検波出力の最大値と最小値を測定する（ステップＳ１）。このあと検波出力の最大値と最小値との差を求める（ステップＳ２）。さらに最大値と最小値との差と設定値（設定値）とを比較し（ステップＳ３）、最大値と最小値との差が設定値よりも小さいときには目標物に異常がないとして、すなわち、単一の目標物からの反射光のみが存在するとして、測距値を表示器３４に表示する（ステップＳ５）。
【００５５】
一方、最大値と最小値の差が設定値よりも大きいときには、目標物の異常に伴うエラーがあるとして、すなわち、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するとして、表示器３４の画面上にエラーを表示する（ステップＳ６）。
【００５６】
このように、本実施例においては、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらずエラーを表示することができるため、複数の目標物間の中間距離などを測距値として誤って表示するのを防止することができるとともに、誤測定を防止することが可能になる。
【００５７】
次に、本発明の第２実施例を図６にしたがって説明する。本実施例は、一つの発振器から送光系に、信号発生回路１２の他に、信号発生回路１２から出力される変調信号とは周波数の異なる複数の変調信号を発生する信号発生回路４２を設けるとともに、信号発生回路１２の出力による変調信号と信号発生回路４２の出力による変調信号を合成する合成回路４４を設け、合成された複数の変調信号を変調回路１４に出力するようにするとともに、変調信号の数に対応して、周波数変換回路２４と増幅器２６およびＡ／Ｄ変換器３６を複数系統設けたものであり、他の構成は図１のものと同様である。
【００５８】
すなわち、本実施例においては、周波数制御回路（掃引回路）１８によって変調信号の周波数が制御された変調信号と信号発生回路４２から出力される複数の変調信号とを合成回路４４で合成し、合成された複数の変調信号によって変調された測距光をレーザダイオード１６から測距光または参照光１１が出射されるようになっている。  
この場合、ＣＰＵ４０は、各変調信号（基準信号）と各中間周波の測距信号との位相差をそれぞれ求め、各位相差を基に目標物までの距離を演算する演算手段として構成されているか、あるいは、測距光が目標物で反射したときの反射光に基づいて得られた各測距信号の位相角と参照光１１に基づいて得られた各測距信号の位相角との位相差をそれぞれ各変調信号に対応づけて求め、各位相差を基に目標物までの距離を演算する演算手段として構成されている。
【００５９】
本実施例によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらずエラーを表示することができるため、複数の目標物間の中間距離などを測距値として誤って表示するのを防止することができるとともに、誤測定を防止することが可能になる。
【００６０】
次に、本発明の第３実施例を図７にしたがって説明する。本実施例は、送光系において、信号発生回路４２の複数の変調信号のうち少なくとも１つの変調信号の周波数を制御する周波数制御回路（掃引回路）４６を設け、受光・処理系において、増幅器２８の出力側に、検波回路３０の検波対象とは異なる測距信号のみを通過させるフィルタ４８を設けるとともに、フィルタ４８を通過した測距信号を検波してその直流成分を抽出する検波回路５０を設け、検波回路５０の検波出力をＡ／Ｄ変換器３８に出力するようにしたものであり、他の構成は図６のものと同様である。
【００６１】
周波数制御回路（掃引回路）１８、４６において、変調信号の周波数を掃引するに際しては、目標物の段差あるいは複数の目標物間の距離差を検出対象としたときに、この検出対象の大きさによって掃引レンジを決定することができる。
【００６２】
また、周波数制御回路（掃引回路）１８、４６において、複数の変調信号のうちいずれかの変調信号を掃引するに際しては、検出対象となる複数の目標物間の距離が短いときには、変調信号のうち最も周波数の高い変調信号のみを掃引することができる。
【００６３】
また、信号発生回路１２、４２の他に、目標物の異常を検出するための専用の掃引発振回路を用意し、この掃引発振回路と測距用の信号発生回路１２、４２とを切り替えて使用することもできる。この際、測距用の信号発生回路１２、４２の周波数は固定のままでよい。また、このとき掃引発振回路と測距用の信号発生回路１２、４２は同期、非同期のいずれの方式で駆動してもよい。
【００６４】
本実施例によれば、距離が異なる複数の目標物からの反射光が存在するときには、その距離差によらずエラーを表示することができるため、複数の目標物間の中間距離などを測距値として誤って表示するのを防止することができるとともに、誤測定を防止することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の一実施例を示す測距装置のブロック構成図である。
【図２】中間周波信号をサンプリングしたときのサンプリング特性図である。
【図３】中間周波信号の同位相のサンプリングデータを加算した中間周波１周期分のデータを示す図である。
【図４】測距信号と参照信号との位相差から目標物までの距離を求める方法を説明するための波形図である。
【図５】測距装置の作用を説明するためのフローチャートである。
【図６】本発明の第２実施例を示す測距装置のブロック構成図である。
【図７】本発明の第３実施例を示す測距装置のブロック構成図である。
【符号の説明】
【００６６】
１０  測距装置
１２  信号発生回路
１４  変調回路
１６  レーザダイオード
１８  周波数制御回路（掃引回路）
２０  受光ダイオード
２４  周波数変換回路
３０  検波回路
３２  演算処理部
３４  表示器
３６、３８  Ａ／Ｄ変換器
４０  ＣＰＵ
４２  信号発生回路
４４  合成回路
４６  周波数制御回路（掃引回路）
５０  検波回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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