(57)【要約】【課題】発光不良の画素の検出精度を向上させることが可能な電気光学装置の検査方法及びその検査方法によって検査された電気光学装置を備えた電子機器を提供する【解決手段】ストライプ状に配置した赤用画素Ｒ、緑用画素Ｇ及び青用画素Ｂを、それぞれ、１列おきに点灯させ、その点灯させた各赤用画素Ｒ、緑用画素Ｇ及び青用画素Ｂの各発光状態を目視によって検査するようにした。【選択図】図３
2007264243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、列方向に同じ色の光を出射する複数の画素を配置した画素列を、複数行方向に
併設した電気光学パネルを具備した電気光学装置の検査方法において、
前記同じ色の光を出射する画素の画素列を、少なくとも１列おきに点灯させ、その点灯
する画素列の各画素の発光状態を検出するようにしたことを特徴とする電気光学装置の検
査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の電気光学装置の検査方法において、
前記複数の画素を配置した画素列は、赤色の光を出射する赤用画素の画素列と、緑色の
光を出射する緑用画素の画素列と、青色の光を出射する青用画素の画素列とからなり、そ
の赤用画素の画素列、緑用画素の画素列、青用画素の画素列が、行方向に予め定めた順番
で繰り返して併設されていることを特徴とする電気光学装置の検査方法。
【請求項３】
請求項２に記載の電気光学装置の検査方法において、
先に点灯させて検出した画素の画素列とは異なった色の光を出射する各画素の画素列の
発光状態を検出する場合は、前記先に点灯させた画素の画素列と隣接していない列の画素
群を点灯させて、その各画素の発光状態を検出するようにしたことを特徴とする電気光学
装置の検査方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一つに記載の電気光学装置の検査方法において、
前記電気光学パネルは、液晶パネルであることを特徴とする電気光学装置の検査方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一つに記載の電気光学装置の検査方法によって検査された電気光
学装置を搭載したことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学装置の検査方法及び電子機器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、軽量化・薄型化等の観点から、表示ディスプレイとして液晶ディスプレイや
有機ＥＬディスプレイ等が注目されている。液晶ディスプレイは、基板上に液晶素子を有
した画素をマトリクス状に配置されているとともに、各画素に対応して赤色変換層、緑色
変換層及び青色変換層を備えたカラーフィルタが設けられている。
【０００３】
一般に、上記カラーフィルタの赤、緑及び青色変換層は、同色の色変換層が列方向に沿
うように、ストライプ状に配置されている。そして、各画素から出射した光を各色変換層
に透過させることで、赤色の光、緑色の光及び青色の光にそれぞれ変換することで、所望
のカラー画像を表示するようにしている。
【０００４】
ところで、一般に、上記した各種ディスプレイは、出荷前に、各画素が適切な輝度で発
光するか否かを検査するようにしている。具体的には、図８（ａ）に示すように、まず、
複数の画素のうち、赤色変換層に対向した画素（赤用画素）Ｒのみを点灯させその様子を
目視することによって発光不良の赤用画素Ｒを検出する。次に、図８（ｂ）に示すように
、緑色変換層に対向した画素（緑用画素）Ｇのみを点灯させその様子を目視することによ
って発光不良の緑用画素Ｇを検出する。その後、図８（ｃ）に示すように、青色変換層に
対向した画素（青用画素）のみを点灯させその様子を目視することによって発光不良の青
用画素Ｂを検出するようにしている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−１３７２００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、近年、高精彩な画像を表示可能とする表示ディスプレイに対する要求が
高まっており、そのために各画素のサイズを小さくし、各画素の配置ピッチを狭くするこ
とで画素を高密度に配置するようにしている。従って、隣接した同色の画素の配置ピッチ
も狭くなることから、上記各画素の検査工程において、ある所定の列の各画素からの光と
、前記画素と同じ色の光を出射する隣接する他の列の画素からの光とが混じり合うように
なる。その結果、発光しない不良な画素であっても、その隣接した画素からの光によって
あたかも不良な画素も適切な輝度で光っているように見えてしまう。従って、発光不良の
画素の位置を特定するのが困難となることから、発光不良の画素の検出精度が低下してし
まうという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記の問題点に鑑みなされたもので、発光不良の画素の検出精度を向上させ
ることが可能な電気光学装置の検査方法及びその検査方法によって検査された電気光学装
置を備えた電子機器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の電気光学装置の検査方法は、基板上に、列方向に同じ色の光を出射する複数の
画素を配置した画素列を、複数行方向に併設した電気光学パネルを具備した電気光学装置
の検査方法において、前記同じ色の光を出射する画素の画素列を、少なくとも１列おきに
点灯させ、その点灯する画素列の各画素の発光状態を検出するようにした。
【０００８】
これによれば、複数の画素のうち、所定の色の光を出射する画素列を、少なくとも１列
おきに発光させるようにしたので、点灯させる同色の画素列の列間の間隔が広がる。従っ
て、高精彩な画像表示を可能とするような画素の配置ピッチが狭い場合であっても、ある
所定の列に沿って配置された各画素からの光が、他の列に沿って配置された画素の光と混
じり合うことはないので、発光しない不良な画素の位置の特定が検出しやすくなる。この
結果、検出精度を向上させることができる。
【０００９】
この電気光学装置の検査方法において、前記複数の画素を配置した画素列は、赤色の光
を出射する赤用画素の画素列と、緑色の光を出射する緑用画素の画素列と、青色の光を出
射する青用画素の画素列とからなり、その赤用画素の画素列、緑用画素の画素列、青用画
素の画素列が、行方向に予め定めた順番で繰り返して併設されていてもよい。
【００１０】
これによれば、赤、緑及び青色の光を出射してフルカラー表示を行う電気光学装置の電
気光学パネルにおける、発光しない不良な画素の位置の特定が検出しやすくなる。
この電気光学装置の検査方法において、先に点灯させて検出した画素の画素列とは異な
った色の光を出射する各画素の画素列の発光状態を検出する場合は、前記先に点灯させた
画素の画素列と隣接していない列の画素群を点灯させて、その各画素の発光状態を検出す
るようにしてもよい。
【００１１】
これによれば、先に検査した画素の画素列とは異なった色の光を出射する画素の画素列
は、その先に点灯させた隣接する画素列の画素に続いて検査されることはない。従って、
残像の視認を無くすことが可能となる。この結果、互いに隣接した画素列の画素の電極同
士が電気的に接続してしまい、その結果として、所望の輝度に比べて低く発光してしまう
、所謂連結欠陥の検出精度を向上させることができる。
【００１２】
この電気光学装置の検査方法において、前記電気光学パネルは、液晶パネルであっても
よい。
これによれば、液晶パネルにおける発光不良の画素の検出精度を向上させることができ
る。
【００１３】
本発明の電子機器は、上記記載の電気光学装置の検査方法によって検査された電気光学
装置を搭載している。
これによれば、電気光学装置は、上記検査方法によってその発光不良の画素を検出した
ものであることから、発光不良のほとんど無い画素を備えている。従って、高画質の画像
を表示することの可能な電子機器を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
（第１実施形態）
以下、本発明を具体化した第１実施形態を図１〜図４に従って説明する。まず、本発明
の検査方法によって検査される電気光学装置としての液晶ディスプレイについて説明する
。
【００１５】
図１は、液晶ディスプレイの斜視図であり、図２は、図１のＡ−Ａ線断面図である。
図１において、液晶ディスプレイ１は公知の液晶ディスプレイであって、電気光学パネ
ルとしての液晶パネル２、及び、該液晶パネル２の図１中Ｚ矢印方向側に設けられ、液晶
パネル２に向かう平面光Ｌｏ（図２参照）を照射する図示しない照射装置を備えている。
【００１６】
液晶パネル２は、基板としての素子基板３、対向基板４及びカラーフィルタ５を備え、
前記照射装置側から順に、即ち、図１中反Ｚ矢印方向に、素子基板３→対向基板４→カラ
ーフィルタ５の順に積層された構成を成している。尚、図１では、説明の便宜上、対向基
板４とカラーフィルタ５とを離間して描いている。
【００１７】
図１に示すように、素子基板３は、四角板状の無アルカリガラス基板であって、その対
向基板４側の側面（素子形成面３ａ）には、図１中Ｘ矢印方向（行方向）に沿って延設さ
れたｎ本の走査線６が互いに所定のピッチで形成されている。各走査線６は、図示しない
走査線駆動回路に電気的に接続され、該走査線駆動回路から所定のタイミングで対応する
走査信号が供給されるようになっている。
【００１８】
また、素子形成面３ａには、各走査線６と直交する図１中Ｙ矢印方向（列方向）に沿っ
て延設されたｍ本のデータ線７が互いに所定のピッチで形成されている。各データ線７は
、図示しないデータ線駆動回路に電気的に接続されている。そして、各データ線７には、
各走査線６に走査信号が供給されるタイミングでデータ線駆動回路から画像データに基づ
くデータ信号が供給されるようになっている。
【００１９】
さらに、各走査線６とデータ線７との交差に対応する位置には画素領域８が形成されて
いる。各画素領域８内には、画素電極９（図２参照）及び薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等
からなる図示しない制御素子が形成されている。画素電極９は、例えば、錫−インジウム
酸化物（ＩＴＯ）といった光透過性導電物質で構成されている。つまり、素子基板３上に
は、ｎ×ｍ個の画素領域８がマトリックス状に形成されている。また、図２に示すように
、データ線７（走査線６）及び画素電極９の下側（対向電極形成面４ａ側）には、ラビン
グ処理等による配向処理の施された配向膜１０が積層されている。
【００２０】
図１に示すように、対向基板４は、素子基板３と略同じ大きさの四角板状の無アルカリ
ガラス基板であって、図２に示すように、その素子基板３側の側面（対向電極形成面４ａ
）には、対向電極１１が積層されている。対向電極１１は、例えば、錫−インジウム酸化
物（ＩＴＯ）といった光透過性導電物質で構成されている。また、対向電極１１には、図
示しない電源回路に電気的に接続され、該電源回路から所定の共通電圧が供給されるよう
になっている。さらに、対向電極１１の上側（素子基板３側）には、ラビング処理等によ
る配向処理の施された配向膜１２が積層されている。
【００２１】
また、図２に示すように、素子基板３（配向膜１０）と対向基板４（配向膜１２）との
間には、対向基板４（素子基板３）の外縁に沿うようにして四角枠状に、スペーサ１３ａ
を有したシール材１３が配設されている。このシール材１３が各基板３，４の外縁に沿っ
て四角枠状に形成されることによって、素子基板３（素子形成面３ａ）と対向基板４（対
向電極形成面４ａ）とが一定の間隔（スペーサ１３ａの外径）で離間するようになってい
る。そして、素子基板３（配向膜１０）と対向基板４（配向膜１２）とシール材１３によ
って区画されて封止される空間には、液晶１５が充填された液晶層１５Ｌが形成されてい
る。
【００２２】
そして、走査線６が前記走査線駆動回路による線順次走査に基づいて１本ずつ順次選択
されると、画素領域８内の前記制御素子が順次、選択期間中だけオン状態となり、そのタ
イミングで、前記データ線駆動回路から出力されたデータ信号が対応するデータ線７及び
制御素子を介して、対応する前記画素電極９に出力される。すると、選択された画素領域
８の画素電極９と対向電極１１との間に配置された液晶１５の配向状態が、その画素電極
９と対向電極１１の電位差に応じて制御される。この結果、前記照射装置から発せられた
平面光Ｌｏは、液晶１５の配向状態に応じて変調され対向基板４を透過してカラーフィル
タ５に向かって出射される。
【００２３】
図１に示すように、カラーフィルタ５は、Ｙ矢印方向（列方向）に沿って細長の形状を
した赤色変換層１６Ｒ、緑色変換層１６Ｇ及び青色変換層１６Ｂを備えている。つまり、
赤色変換層１６Ｒ、緑色変換層１６Ｇ及び青色変換層１６Ｂは、Ｘ矢印方向（行方向）に
沿って赤色変換層１６Ｒ→緑色変換層１６Ｇ→青色変換層１６Ｂ→赤色変換層１６Ｒ→緑
色変換層１６Ｇ→…→青色変換層１６Ｂの順に等ピッチで繰り返して配置されている。各
色変換層１６Ｒ,１６Ｇ，１６Ｂは、Ｙ矢印方向（列方向）に沿って配列したｎ個の画素
領域８群に対向する位置に配置されている。尚、図１に示すように、隣接する他の色変換
層同士間の配置ピッチを符号「Ｄｏ」で示す。
【００２４】
赤色変換層１６Ｒは、該赤色変換層１６Ｒに対向した画素領域８から出射された光を赤
色の光ＬＲに変換する色変換層である。また、緑色変換層１６Ｇは、該緑色変換層１６Ｇ
に対向した画素領域８から出射された光を緑色の光ＬＧに変換する色変換層であり、青色
変換層１６Ｂは、該青色変換層１６Ｂに対向した画素領域８から出射された光を青色の光
ＬＢに変換する色変換層である。
【００２５】
尚、図２に示すように、赤色変換層１６Ｒに対向した位置にある各画素領域８が赤用画
素Ｒとなり、緑色変換層１６Ｇに対向した位置にある各画素領域８が緑用画素Ｇとなり、
青色変換層１６Ｂに対向した位置にある各画素領域８が青用画素Ｂとなる。このように液
晶パネル２は、Ｙ矢印方向（列方向）に沿っては、同じ赤色の光を出射するｎ個の赤用画
素Ｒ、緑色の光を出射するｎ個の緑用画素Ｇ、青色の光を出射するｎ個の青用画素Ｇが配
置されるとともに、Ｘ矢印方向（行方向）に沿っては、異なった色の光を出射するｍ個の
画素Ｒ，Ｇ，Ｂが繰り返して配置されている。つまり、各画素Ｒ，Ｇ，Ｂは、同色の色の
画素が列方向に沿ってストライプ状に配置される。
【００２６】
そして、各画素領域８を透過して対向基板４から出射した光は、カラーフィルタ５に入
射されることで該カラーフィルタ５上に所望するフルカラー画像が表示される。
次に、前記のように構成された液晶パネル２の検査方法について図３及び図４に従って
説明する。
【００２７】
図３及び図４は、それぞれ、前述した液晶パネル２を、そのカラーフィルタ５側から見
た上面図であって、赤、緑、及び青色画素Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の検査用表示パターンを示す。
まず、図３（ａ）に示すように、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させ
て、Ｘ矢印方向（行方向）に沿って繰り返し配置された赤用画素Ｒの列を１列おきに点灯
させる。本実施形態では、図３（ａ）において左端側から第１列目、第７列目、第１３列
目、…に配列された赤用画素Ｒ群を点灯させる。つまり、全赤用画素Ｒのうち、第４目、
第１０目、第１６列目、…に配列された赤用画素Ｒ群を非点灯にすることによって、半分
の数の赤用画素Ｒを点灯させる。そして、目視によって発光状態を確認して発光不良の赤
用画素Ｒがあるか否かを判断し、その位置を特定する。
【００２８】
このとき、検査するために点灯させた隣り合う赤用画素Ｒ群のピッチＤＲは、６×Ｄｏ
となり、赤用画素Ｒ群のピッチＤＢの２倍となる。従って、検査するために点灯させた赤
用画素Ｒ群において、所定の列の赤用画素Ｒからの光ＬＲと、隣接する他の点灯する列の
赤用画素Ｒの光ＬＲとが混じり合うのが回避される。
【００２９】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図３（ｂ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した赤用画素Ｒ群に隣接した緑用画素Ｇ群を点灯させ
る。本実施形態では、図３（ｂ）において左端側から第２列目、第８列目、第１４列目、
…に配列された緑用画素Ｇ群を点灯させる。つまり、Ｘ矢印方向（行方向）に沿って繰り
返し配置された緑用画素Ｇ群を１列おきに点灯させて、全緑用画素Ｇのうち、半分の数の
緑用画素Ｇの発光状態を検査する。
【００３０】
このとき、検査するために点灯させた隣り合う緑用画素Ｇ群のピッチＤＧは、６×Ｄｏ
となり、緑用画素Ｇ群のピッチＤＢの２倍となる。従って、検査するために点灯させた緑
用画素Ｇ群において、所定の列の緑用画素Ｇからの光ＬＧと、隣接する他の点灯する列の
緑用画素Ｇの光ＬＧとが混じり合うのが回避される。
【００３１】
続いて、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図３（ｃ）に示すよ
うに、先に点灯させて発光状態を検査した緑用画素Ｇに隣接した青用画素Ｂ群を点灯させ
る。本実施形態では、図３（ｃ）において左端側から第３列目、第９列目、第１５列目、
…に配列された青用画素Ｂ群を点灯させる。つまり、Ｘ矢印方向（行方向）に沿って繰り
返し配置された青用画素Ｂ群を１列おきに点灯させて、全青用画素Ｂのうち、半分の数の
青用画素Ｂの発光状態を検査する。
【００３２】
このとき、検査するために点灯させた隣り合う青用画素Ｂ群のピッチＤＢは、６×Ｄｏ
となり、青用画素Ｂ群のピッチＤＢの２倍となる。従って、検査するために点灯させた青
用画素Ｂ群において、所定の列の青用画素Ｂからの光ＬＢと、隣接する他の点灯する列の
青用画素Ｂの光ＬＢとが混じり合うのが回避される。
【００３３】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図４（ａ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した赤用画素Ｒ群に隣接した列の赤用画素Ｒ群を点灯
させる。本実施形態では、図４（ａ）において左端側から第４列目、第１０列目、第１６
列目、…に配列された赤用画素Ｒ群を点灯させる。つまり、全赤用画素Ｂのうち、検査を
していない残り半分の数の赤用画素Ｒの発光状態を検査する。このとき、前記と同様に、
検査するために点灯させた隣り合う赤用画素Ｒ群のピッチＤＲは、６×Ｄｏとなり、赤用
画素Ｒ群のピッチＤＲの２倍となる。従って、検査するために点灯させた赤用画素Ｒ群に
おいて、所定の列の赤用画素Ｒからの光ＬＲと、隣接する他の点灯する列の赤用画素Ｒの
光ＬＲとが混じり合うのが回避される。
【００３４】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図４（ｂ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した緑用画素Ｇ群に隣接した緑用画素Ｇ群を点灯させ
る。本実施形態では、図４（ｂ）において左端側から第５列目、第１１列目、第１７列目
、…に配列された緑用画素Ｇ群を点灯させる。つまり、全緑用画素Ｇのうち、検査をして
いない残り半分の数の緑用画素Ｇの発光状態を検査する。このとき、前記と同様に、検査
するために点灯させた隣り合う緑用画素Ｇ群のピッチＤＧは、６×Ｄｏとなり、緑用画素
ＧのピッチＤＢの２倍となる。従って、検査するために点灯させた緑用画素Ｇ群において
、所定の列の緑用画素Ｇからの光ＬＧと、隣接する他の点灯する列の緑用画素Ｒの光ＬＧ
とが混じり合うのが回避される。
【００３５】
続いて、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図４（ｃ）に示すよ
うに、先に点灯させて発光状態を検査した青用画素Ｂ群に隣接した青用画素Ｂ群を点灯さ
せる。本実施形態では、図４（ｃ）おいて左端側から第６列目、第１２列目、…に配列さ
れた青用画素Ｂ群を点灯させる。つまり、全青用画素Ｂのうち、検査をしていない残り半
分の数の青用画素Ｂの発光状態を検査する。このとき、前記と同様に、検査するために点
灯させた隣り合う青用画素Ｂ群のピッチＤＢは、６×Ｄｏとなり、青用画素Ｂの２倍とな
る。従って、検査するために点灯させた青用画素Ｂ群において、所定の列の青用画素Ｂか
らの光ＬＢと、隣接する他の点灯する列の青用画素Ｂの光ＬＢとが混じり合うのが回避さ
れる。
【００３６】
以上により、全ての赤、緑及び青用画素Ｒ，Ｇ，Ｂの発光状態の検査が完了する。
上記したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
（１）本実施形態によれば、ストライプ状に配置した赤用画素Ｒを１列おきに点灯させ、
その点灯させた各赤用画素Ｒの発光状態を目視によって検査するようにした。従って、従
来のように、全ての赤用画素Ｒを一斉に点灯させて検査する場合に比べて、点灯させる赤
用画素Ｒ群同士の配置ピッチを２倍に広げることができることから、検査するために点灯
させた赤用画素Ｒ群において、所定の列に沿って配置された赤用画素Ｒからの光ＬＲと、
他の列に沿って配置された赤用画素Ｒの光ＬＲとが混じり合うのが回避される。この結果
、発光不良の赤用画素Ｒの検出精度を向上させることができる。
【００３７】
また、上記と同様に、ストライプ状に配置した緑用画素Ｇ及び青用画素Ｂに対しても、
それぞれ１列おきに点灯させ、その点灯させた各緑用画素Ｇ及び青用画素Ｂの各発光状態
を目視によって検査するようにした。従って、従来のように、全ての緑用画素Ｇ及び青用
画素Ｂをそれぞれ一斉に点灯させて検査する場合に比べて、点灯させる緑用画素Ｇ群同士
、青用画素Ｂ群同士の配置ピッチをそれぞれ２倍に広げることができることから、緑用画
素Ｇ、及び青用画素Ｂについてもそれぞれその発光不良の緑用画素Ｇ及び青用画素Ｂの検
出精度を向上させることができる。
（２）本実施形態によれば、従来のように、全ての赤用画素Ｒ、緑用画素Ｇ、青用画素Ｂ
をそれぞれ一斉に点灯させて検査する場合に比べて、点灯させる画素Ｒ，Ｇ，Ｂ群同士の
配置ピッチを２倍に広げることができる。従って、高精彩な画像表示を可能とするような
画素Ｒ，Ｇ，Ｂの配置ピッチが狭い場合であっても、発光しない不良な画素の位置の特定
が検出しやすくなる。この結果、高精彩な画像表示を可能とする液晶パネルに対して、そ
の発光不良の画素の検出精度を向上させることができる。
（３）本実施形態によれば、液晶パネル２は、ストライプ状に赤用画素Ｒ、緑用画素Ｇ及
び青用画素Ｂを備え、画像データに応じて各画素Ｒ，Ｇ，Ｂから出射される光ＬＲ，ＬＧ
，ＬＢを制御することでフルカラー画像を表示するようにした。従って、このようなフル
カラー表示が可能な液晶パネル２に対して、その発光不良の画素の検出精度を向上させる
ことができる。
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態に係る液晶パネル２の検査方法について図５及び図６を参
照して説明する。尚、検査に使用する液晶ディスプレイ１の構成については、上記第１実
施形態のものと同じ構成であるので、その説明は省略する。
【００３８】
図５及び図６は、それぞれ、第２実施形態に係る赤、緑、及び青色画素Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の
検査用表示パターンを示す。
まず、図５（ａ）に示すように、上記第１実施形態と同様に、前記走査線駆動回路及び
データ線駆動回路を駆動させて、Ｘ矢印方向（行方向）に沿って繰り返し配置された赤用
画素Ｒ群を１列おきに点灯させる。本実施形態では、図５（ａ）おいて左端側から第１列
目、第７列目、第１３列目、…に配列された赤用画素Ｒ群を点灯させる。そして、目視に
よって発光状態を確認して発光不良の赤用画素Ｒがあるか否かを判断し、その位置を特定
する。
【００３９】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図５（ｂ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した赤用画素Ｒ群に隣接していない緑用画素Ｇ群を点
灯させる。本実施形態では、図５（ｂ）おいて左端側から第５列目、第１１列目、第１７
列目、…に配列された緑用画素Ｇ群を点灯させる。そして、目視によって発光状態を確認
して発光不良の緑用画素Ｇがあるか否かを判断し、その位置を特定する。
【００４０】
このとき、検査を行う緑用画素Ｇ群は、先に点灯させて検査を行った赤用画素Ｒの列と
は離間していることから、先に検査を行った赤用画素Ｒの光ＬＲの残像が検査を行う緑用
画素Ｇ群の光ＬＧと重なって視認されることはない。従って、隣接した画素Ｒ，Ｇの画素
電極９同士が、何らかの原因によって電気的に接続してしまうことによって生じる発光不
良（連結欠陥）を精度良く検出することができる。
【００４１】
続いて、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図５（ｃ）に示すよ
うに、先に点灯させて発光状態を検査した緑用画素Ｇに隣接していない青用画素Ｂ群を点
灯させる。本実施形態では、図５（ｃ）おいて左端側から第３列目、第９列目、第１５列
目、…に配列された青用画素Ｂ群を点灯させる。そして、目視によって発光状態を確認し
て発光不良の青用画素Ｂがあるか否かを判断し、その位置を特定する。
【００４２】
このとき、検査を行う青用画素Ｂの列は、先に点灯させて検査を行った緑用画素Ｇの列
とは離間していることから、先に検査を行った緑用画素Ｇの光ＬＧの残像が検査を行う青
用画素Ｂ群の光ＬＢと重なって視認されることはない。従って、隣接した画素Ｇ，Ｂの画
素電極９同士が、何らかの原因によって電気的に接続してしまうことによって生じる発光
不良（連結欠陥）を精度良く検出することができる。
【００４３】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図６（ａ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した赤用画素Ｒ群に隣接した赤用画素Ｒ群を点灯させ
る。つまり、全赤用画素Ｂのうち、検査をしていない残り半分の数の赤用画素Ｒの発光状
態を検査する。本実施形態では、図６（ａ）おいて左端側から第４列目、第１０列目、第
１６列目、…に配列された赤用画素Ｒ群を点灯させる。
【００４４】
次に、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図６（ｂ）に示すよう
に、先に点灯させて発光状態を検査した緑用画素Ｇ群に隣接した緑用画素Ｇ群を点灯させ
て、検査をしていない残り半分の数の緑用画素Ｇの発光状態を検査する。本実施形態では
、図６（ｂ）おいて左端側から第２列目、第８列目、第１４列目、…に配列された緑用画
素Ｇ群を点灯させる。このとき、前記と同様に、検査を行う緑用画素Ｇの列は、先に点灯
させて検査を行った赤用画素Ｒの列とは離間していることから、先に検査を行った赤用画
素Ｒの光ＬＲの残像が検査を行う緑用画素Ｇ群の光ＬＧと重なって視認されることはない
。従って、隣接した画素Ｒ，Ｇの画素電極９同士が、何らかの原因によって電気的に接続
してしまうことによって生じる発光不良（連結欠陥）を精度良く検出することができる。
【００４５】
続いて、前記走査線駆動回路及びデータ線駆動回路を駆動させて、図６（ｃ）に示すよ
うに、先に点灯させて発光状態を検査した青用画素Ｂ群に隣接した青用画素Ｂ群を点灯さ
せて、検査をしていない残り半分の数の青用画素Ｂの発光状態を検査する。本実施形態で
は、図６（ｃ）において左端側から第６列目、第１２列目、…に配列された青用画素Ｂ群
を点灯させる。このとき、前記と同様に、検査を行う緑用画素Ｇの列は、先に点灯させて
検査を行った緑用画素Ｇの列とは離間していることから、先に検査を行った緑用画素Ｇの
光ＬＧの残像が検査を行う青用画素Ｂ群の光ＬＢと重なって視認されることはない。従っ
て、隣接した画素Ｇ，Ｂの画素電極９同士が、何らかの原因によって電気的に接続してし
まうことによって生じる発光不良（連結欠陥）を精度良く検出することができる。
【００４６】
上記したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
（１）本実施形態によれば、上記第１実施形態と同様に、ストライプ状に配置した赤用画
素Ｒを１列おきに点灯させ、その点灯させた各赤用画素Ｒの発光状態を目視によって検査
するようにした。その後、先に検査した赤用画素Ｒの列と隣接していない緑用画素Ｇの列
を点灯させてその各緑用画素Ｇの発光状態を目視によって検査するようにした。従って、
各緑用画素Ｇの発光状態を目視によって検査する際、先に検査した赤用画素Ｒからの光Ｌ
Ｒの残像による影響を無くすことができる。
【００４７】
この結果、上記第１実施形態と同様に、赤用画素Ｒの発光不良の検出を向上させること
ができることに加えて、隣接して配置された画素Ｒ，Ｇ間に生じる連結欠陥の検出精度を
向上させることができる。
（２）本実施形態によれば、上記と同様に、ストライプ状に配置した緑用画素Ｇを１列お
きに点灯させ、その点灯させた各緑用画素Ｇの発光状態を目視によって検査するようにし
た。その後、先に検査した緑用画素Ｇの列と隣接していない青用画素Ｂの列を点灯させて
その各青用画素Ｂの発光状態を目視によって検査するようにした。従って、各青用画素Ｂ
の発光状態を目視によって検査する際、先に検査した緑用画素Ｇからの光ＬＧの残像によ
る影響を無くすことができる。
【００４８】
この結果、上記第１実施形態と同様に、緑用画素Ｇの発光不良の検出を向上させること
ができることに加えて、隣接して配置された画素Ｇ，Ｂ間に生じる連結欠陥の検出精度を
向上させることができる。
（第３実施形態）
次に、第１及び第２実施形態で説明した検査方法によって検査された液晶ディスプレイ
１の電子機器の適用について図７に従って説明する。液晶ディスプレイ１は、モバイル型
のパーソナルコンピュータ、携帯電話、デジタルカメラ等種々の電子機器に適用できる。
【００４９】
図７は、携帯電話２０の斜視図である。この携帯電話２０は、液晶ディスプレイ１を搭
載した表示ユニット２１と、通話口２２と、複数の操作ボタン２３とを備えている。この
場合でも、液晶ディスプレイ１を用いた表示ユニット２１は、精度の高い欠陥検出がなさ
れているため、表示不良のない画像を表示することができる。
【００５０】
尚、発明の実施形態は、上記実施形態に限定されるものではなく、以下のように実施し
てもよい。
○上記第１実施形態では、赤用画素Ｒの列、緑用画素Ｇの列、及び青用画素Ｂの列をそ
れぞれ１列おきに点灯させるようにしたが、本発明はこれに限定されない。各色の画素Ｒ
，Ｇ，Ｂの列を、それぞれ、２列おき、または、３列おきに点灯させるようにしてもよい
。このようにすることでも上記第１実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００５１】
○上記第１及び第２実施形態では、電気光学装置として液晶パネル２を備えた液晶ディ
スプレイ１に適用したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、各画素領域
８に有機エレクトロルミネッセンス素子を備えた有機エレクトロルミネッセンスディスプ
レイに適用してもよい。要は、赤、緑、青用画素をストライプ状に配列した電気光学パネ
ルを有したものであれは、どんなものであってもよく、上記第１及び第２実施形態と同様
の効果を得ることができる。
【００５２】
○上記第１及び第２実施形態の電気光学装置は、画素領域８に対向した位置に、赤、緑
及び青色変換層１６Ｒ，１６Ｇ，１６Ｂを備えたカラーフィルタ５を設けることで赤用画
素Ｒ、緑用画素Ｇ、青用画素Ｂを実現した液晶ディスプレイ１であったが、本発明はこれ
に限定されない。カラーフィルタ５を使用せず、各画素領域８がそれぞれ赤色の光ＬＲを
出射する赤用画素Ｒ、緑色の光ＬＧを出射する緑用画素Ｇ、青色の光ＬＢを出射する青用
画素Ｂである電気光学装置に適用してよい。
【００５３】
○上記第１実施形態では、まず、全赤用画素Ｒのうち半分の赤用画素Ｒの検査を行った
後に、全緑用画素Ｇのうち半分の緑用画素Ｇの検査を行い、さらに、その後、全青用画素
Ｂのうち半分の青用画素Ｂの検査を行った。その後、検査を行っていない残りの半分の赤
用画素Ｒの検査を行い、残り半分の緑用画素Ｇの検査を行い、さらに、その後、残り半分
の青用画素Ｂの検査を行うようにした。これを、まず、全赤用画素Ｒのうち半分の赤用画
素Ｒの検査を行った後に、続けて、残りの半分の赤用画素Ｒの検査を行うことで、全赤用
画素Ｒの検査を終了させる。その後、全緑用画素Ｇのうち半分の緑用画素Ｇの検査を行っ
た後に、続けて、残りの半分の緑用画素Ｇの検査を行うことで、全緑用画素Ｇの検査を終
了させる。さらにその後、全青用画素Ｂのうち半分の青用画素Ｂの検査を行った後に、続
けて、残りの半分の青用画素Ｂの検査を行うことで、全青用画素Ｂの検査を終了させるよ
うにしてのよい。このようにすることによっても、第１実施形態と同様の効果を得ること
ができる。
【００５４】
○上記第１及び第２実施形態では、複数の画素は、赤色の光ＬＲを出射する赤用画素Ｒ
、緑色の光ＬＧを出射する緑用画素Ｇ及び青色の光ＬＢを出射する青用画素Ｂであったが
、赤、緑、青以外の色の光を出射する画素であっても本発明は適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の電気光学装置の検査方法によって検査された液晶ディスプレイの全体斜視図。
【図２】液晶ディスプレイの断面図。
【図３】（ａ），（ｂ），（ｃ）は、それぞれ、第１実施形態に係る液晶ディスプレイの検査用表示パターン。
【図４】同じく、（ａ），（ｂ），（ｃ）は、それぞれ、第１実施形態に係る液晶ディスプレイの検査用表示パターン。
【図５】（ａ），（ｂ），（ｃ）は、それぞれ、第２実施形態に係る液晶ディスプレイの検査用表示パターン。
【図６】（ａ），（ｂ），（ｃ）は、それぞれ、第２実施形態に係る液晶ディスプレイの検査用表示パターン。
【図７】本発明の電気光学装置の検査方法によって検査された液晶ディスプレイを搭載した携帯電話の斜視図。
【図８】（ａ），（ｂ），（ｃ）は、それぞれ、従来の液晶ディスプレイの検査用表示パターン。
【符号の説明】
【００５６】
Ｂ…青用画素、Ｇ…緑用画素、Ｒ…赤用画素、１…電気光学装置としての液晶ディスプレ
イ、２…電気光学パネルとしての液晶パネル、３…基板としての素子基板、２０…電子機
器としての携帯電話。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2007264243.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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