(57)【要約】【課題】如何なる眼鏡レンズであっても、所望の面取り加工を実施できる眼鏡レンズの面取り方法および眼鏡レンズの面取り装置を提供する。【解決手段】Ｚ軸プレート６５に面取り加工ツール２６と測定子２８を搭載する。眼鏡レンズＬの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて、面取り加工ツール２６でエッジ部１８Ａ，１８Ｂを加工する際の面取り加工ツール２６の加工軌跡を示す第１の面取り軌跡データを、第１の面取り軌跡データ算出手段５によって算出する。エッジ部測定手段２９は、測定子２８によってエッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺを測定する。第２の面取り軌跡データ算出手段７は、このずれ量ΔＺを用いて第１の面取り軌跡データを補正して第２の面取り軌跡データを算出する。面取り加工ツール２６は、第２の面取り軌跡データに基づいて、エッジ部１８Ａ，１８Ｂを面取り加工する。【選択図】  図４
2007301695.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の眼鏡枠形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工ツールを用いて面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り方法において、
前記面取り加工ツールと測定子とを搭載し、眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートを有し、
前記面取り加工ツールで前記エッジ部を加工する際の面取り加工ツールの加工軌跡を示す第１の面取り軌跡データを、眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づき計算によって求める第１の面取り軌跡データ算出工程と、
前記測定子を前記眼鏡レンズの周面仕上げ加工後のエッジ部に自重により接触させた状態で前記プレートを前記第１の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第１の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定工程と、
前記第１の面取り軌跡データを前記エッジ部測定工程で得られた前記ずれ量を用いて補正することにより実際に面取り加工を行うための第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出工程と、
前記第２の面取り軌跡データ算出工程によって算出された前記第２の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記面取り加工ツールと前記眼鏡レンズとを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工工程と、
を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの面取り方法。
【請求項２】
前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面は、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されていることを特徴とする請求項１記載の眼鏡レンズの面取り方法。
【請求項３】
前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面は、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されていることを特徴とする請求項１記載の眼鏡レンズの面取り方法。
【請求項４】
請求項1に記載の面取り方法によって面取りされていることを特徴とする眼鏡レンズ。
【請求項５】
所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り装置において、
前記眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートと、
前記プレートに搭載され前記眼鏡レンズのエッジ部を面取り加工する面取り加工ツールおよび前記エッジ部を測定する測定子と、
前記眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて第１の面取り軌跡データを算出する第１の面取り軌跡データ算出手段と、
前記眼鏡レンズの前記エッジ部に測定子を自重により接触させた状態で前記プレートを前記第１の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子を相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第１の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定手段と、
前記エッジ部測定手段によって測定された前記ずれ量を用いて前記第１の面取り軌跡データを補正することにより、実際に面取り加工を行うための第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出手段と、
前記第２の面取り軌跡データ算出手段によって算出された前記第２の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記眼鏡レンズと前記面取り加工ツールとを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工手段と、
を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの面取り装置。
【請求項６】
前記エッジ部測定手段の測定子の接触面は、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されていることを特徴とする請求項５記載の眼鏡レンズの面取り装置。
【請求項７】
前記エッジ部測定手段の測定子の接触面は、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されていることを特徴とする請求項５記載の眼鏡レンズの面取り装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼鏡レンズのエッジ部に面取り加工を施す面取り方法および面取り装置に関し、さらにはこれら方法および装置によってエッジ部に面取り加工が施された眼鏡レンズに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、眼鏡レンズの製造に用いられる装置としては、周面とこの周面に隣接するレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す面取り方法および面取り装置が提案されている。例えば、特開２００１−８７９２２号公報に記載されているレンズの面取り方法およびレンズ加工装置には、レンズ周面のエッジ部を面取り加工する研削ツールとしてボールエンドミルを使用することが提案されている。また、引用文献１に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置には、レンズ周面を眼鏡枠の玉型形状に研削する方法において、仕上げ加工の直前段階の荒加工済みレンズを測定して仕上げレンズの形状情報を得、その測定結果に基づいて仕上げ加工を施して仕上げレンズを得、続いて必要に応じて溝掘り加工、面取り加工を行う方法が提案されている。
【０００３】
眼鏡レンズのエッジ部の面取り作業においては、例えば０．２ｍｍ〜１．０ｍｍの範囲で所望の面取り量（幅）を適宜選択し、レンズの全周に対して均一に面取りを行うことが要求される。このため、例えば前記引用文献１に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置では、先ず一対のレンズ保持軸によって周面加工された面取り加工前の仕上げレンズを、その凸側レンズ面と凹側レンズ面の両側から挟み込んで固定する。しかる後、そのレンズをレンズ保持軸とともに回転させながら、周面のエッジ部にダイヤモンドホイール等の研削ツール(面取り加工ツール)を押し当てて面取り加工を行っている。この加工ツールの制御データとして用いられる加工ツールの面取り軌跡データは、周面仕上げ加工前の荒加工済みレンズを測定して周面仕上げ加工後のレンズの周面におけるエッジ部の位置データを算出し、このエッジ部の位置データに基づいて算出されたものである。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３００１３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前記引用文献１に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置においては、周面仕上げ加工前の荒加工済みレンズを測定して周面仕上げ加工後のレンズの周面におけるエッジ部の位置データを算出し、このエッジ部の位置データに基づいて面取り加工しているので、面取り精度が低いという問題があった。すなわち、周面仕上げ加工前のレンズの周面におけるエッジ部の位置データと、実際に周面が仕上げ加工された後のレンズの周面におけるエッジ部の位置とは、周面加工するための加工ツールの磨耗や周面加工によるレンズ面形状の変化や動作機構部のがたつき等により、異なることがある。このため、周面加工前の面取り軌跡データを制御データとして加工ツールにより面取り加工を行うと、面取り量が不均一になったり、面取り部分が全く無くなるという不具合が発生し、必要とされる面取り精度を十分に確保できない。特に、レンズ面が装用者の顔の側面に沿うように後方に大きく湾曲した眼鏡レンズの場合は、面取り加工することができない部分が生じる。
【０００６】
縁摺り加工されたレンズのコバ位置は、測定子またはレンズをレンズの軸線方向（この方向をここではＸ方向とする）に相対的に移動させ、このＸ方向の移動量と、測定子の前記軸線と直交する方向（Ｚ方向）の変化を測定することにより求めることができる。このような作業をレンズの全周（レンズを軸線回りに回転させる：θ方向）にわたって行えばレンズ全体のコバ位置を知ることができる。しかしながら、このような測定方法においては、Ｘ方向とＺ方向の２方向の変位を測定してコバ位置を算出する必要があるため、コバ位置を算出するための演算時間が長くかかるという問題があった。なお、レーザー変位計等の非接触型の測定装置を用いた場合も同様である。
【０００７】
本発明はこのような従来の問題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、如何なる眼鏡レンズであっても、対応して面取り量を自由に制御することができ、また複雑な測定機構や複雑な演算が不要で短時間に面取り軌跡データを補正することができ、所望の面取り加工を実施できる眼鏡レンズの面取り方法を提供することにある。
【０００８】
また、本発明の他の目的は、如何なる眼鏡レンズであっても、対応して面取り量を自由に制御することができ、また複雑な測定機構や複雑な演算が不要で短時間に面取り軌跡データを補正することができ、所望の面取り加工できる眼鏡レンズの面取り装置を提供することにある。
【０００９】
さらに、本発明の他の目的は、上記方法または装置によって所望の面取りがなされた眼鏡レンズを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために第１の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、所定の眼鏡枠形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工ツールを用いて面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り方法において、前記面取り加工ツールと測定子とを搭載し、眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートを有し、前記面取り加工ツールで前記エッジ部を加工する際の面取り加工ツールの加工軌跡を示す第１の面取り軌跡データを、眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づき計算によって求める第１の面取り軌跡データ算出工程と、前記測定子を前記眼鏡レンズの周面仕上げ加工後のエッジ部に自重により接触させた状態で前記プレートを前記第１の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第１の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定工程と、前記第１の面取り軌跡データを前記エッジ部測定工程で得られた前記ずれ量を用いて補正することにより実際に面取り加工を行うための第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出工程と、前記第２の面取り軌跡データ算出工程によって算出された前記第２の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記面取り加工ツールと前記眼鏡レンズを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工工程とを備えているものである。
【００１１】
第２の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、上記第１の発明において、前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面が、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されているものである。
【００１２】
第３の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、上記第１の発明において、前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面が、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されているものである。
【００１３】
第４の発明に係る眼鏡レンズは、上記第１の発明にによって面取りされているものである。
【００１４】
第５の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り装置において、前記眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートと、前記プレートに搭載され前記眼鏡レンズのエッジ部を面取り加工する面取り加工ツールおよび前記エッジ部を測定する測定子と、前記眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて第１の面取り軌跡データを算出する第１の面取り軌跡データ算出手段と、前記眼鏡レンズの前記エッジ部に測定子を自重により接触させた状態で前記プレートを前記第１の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第１の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定手段と、前記エッジ部測定手段によって測定された前記ずれ量を用いて前記第１の面取り軌跡データを補正することにより、実際に面取り加工を行うための第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出手段と、前記第２の面取り軌跡データ算出手段によって算出された前記第２の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記眼鏡レンズと前記面取り加工ツールを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工手段とを備えているものである。
【００１５】
第６の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、前記エッジ部測定手段の測定子の接触面が、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されているものである。
【００１６】
第７の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、前記エッジ部測定手段の測定子の接触面が、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されているものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係る面取り方法によれば、エッジ部測定工程により眼鏡枠のエッジ部の位置データに基づいて算出した第１の面取り軌跡データを第２の面取り軌跡データ算出工程で補正して第２の面取り軌跡データを算出し、この補正したデータに基づいて面取り加工を実施するようにしたので、エッジ部に対する補正の仕方によって部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量を均一にすることができ、レンズカーブの小さいものから大きいものまで、各種の眼鏡レンズに対して所望の面取り加工を実施することができる。
【００１８】
また、本発明に係る眼鏡レンズによれば、部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量が均一な眼鏡レンズを得ることができる。
【００１９】
さらに、本発明に係る眼鏡レンズの面取り装置によれば、第１の面取り軌跡データ算出手段と、エッジ部測定手段と、第２の面取り軌跡データ算出手段と、面取り加工手段とを備え、眼鏡レンズにおける周面のエッジ部が面取り加工ツールの周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データからずれるずれ量をエッジ部測定手段によって測定し、第２の面取り軌跡データ算出手段によりエッジ部のずれ量を用いて、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データを補正することにより第２の面取り軌跡データを算出し、このデータに基づいて面取り加工を行うようにしたので、エッジ部に対する補正の仕方によって部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量を均一にすることができ、レンズカーブの小さいものから大きいものまで、各種の眼鏡レンズに対して所望の面取り加工を行うことができる。
【００２０】
また、本発明による面取り方向および面取り装置によれば、眼鏡レンズにおける周面のエッジ部が面取り加工ツールの周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データからずれるずれ量は、プレートの移動方向（眼鏡レンズの軸線方向と直交する方向）のみで、回転方向と眼鏡レンズの軸線方向についてはずれが生じないので、データ補正が簡単で、エッジ部の３次元位置を測定するために必要な複雑な測定機構や複雑な演算が不要となり、高精度な面取りを簡単に実施できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明を図面に示す実施の形態に基づいて説明する。
図１は、本発明に係る面取り方法および面取り装置の一実施形態が適用された眼鏡レンズ加工システムを示す全体構成図である。
同図において、全体を参照符号１１で示す眼鏡レンズ加工システム１１は、工場サーバ１と周縁加工システム３とを備え、これらを通信回線のＬＡＮ１を介して接続している。レンズメーカーの工場では、この工場サーバ１を中心にＬＡＮ１を介して周縁加工システム３の他に、図示しないレンズ設計システム、レンズ面研削システム、マーキングシステム、検査システム等が接続されることにより、ネットワークが構築されている。
【００２２】
工場サーバ１は、眼鏡レンズの処方情報等を外部より取得して、当該処方に適合するように眼鏡レンズの設計を行うもので、記憶部、演算制御部、および通信部等を備えている。工場サーバ１の記憶部には、設計プログラムや加工データ生成プログラム等が格納されている。設計プログラムは、左右一対の眼鏡レンズの処方情報を取得する機能と、取得した処方情報に基づいて各眼鏡レンズの設計データを作成する機能とを有する。加工データ生成プログラムは、設計プログラムによって作成された設計データに基づいて、周縁加工システム３が実際にレンズを加工する際に必要となる加工データを生成する機能を有する。
【００２３】
工場サーバ１の演算制御部は、設計プログラム等を実行することにより、設計処理等を実行する。また、演算制御部は、加工データ生成プログラムを実行することにより、周縁加工システム３の制御情報としての加工データを生成するとともに、生成した加工データを周縁加工システム３へ送信する制御を行う。工場サーバ１の通信部は、演算制御部による制御の下で、周縁加工システムサーバ４との間でデータの送受信を行う。
【００２４】
周縁加工システム３は、周縁加工システムサーバ４、周面加工装置１２、面取り装置１３および周長測定装置１４を有しており、ＬＡＮ１を介して上位の工場サーバ１から取得する加工データに基づいて、実際に眼鏡レンズを周縁加工を行う。なお、図１では便宜上、周縁加工システム３を１つ示したが、工場サーバ１には同様な周縁加工システム３が複数接続されていてもよい。周縁加工システムサーバ４と各装置１２，１３，１４とは、例えば通信回線のＬＡＮ２を介して接続されている。
【００２５】
周縁加工システムサーバ４は、工場サーバ１より周縁加工情報であるジョブ番号、レンズ面形状データなどのレンズ情報、眼鏡枠の玉型形状情報、瞳孔間距離などの眼鏡装用者のレイアウト情報、ヤゲンの有無などの加工指示情報等を受け取る。そして、周縁加工システムサーバ４は、周縁加工システム３で扱われる周縁加工情報のすべてを一元管理しており、周縁加工情報管理、周縁加工工程管理、周縁加工履歴管理、制御命令の発令などの処理を行う。
【００２６】
周面加工装置１２は、周面加工用端末５と周面加工部６とを有しており、周縁加工システムサーバ４より指令を受け取り、指令情報にしたがって眼鏡レンズの周面の加工を行うものである。
【００２７】
面取り装置１３は、面取り加工用端末７と面取り加工部８とを有し、周面加工装置１２により眼鏡枠に適合する玉型形状に加工された眼鏡レンズの周面のエッジ部に面取り加工を施すものである。この周面加工装置１２および面取り装置１３のそれぞれの端末と加工部とは、例えばＲＳ２３２Ｃ通信回線で接続されている。
【００２８】
周長測定装置１４は、周長測定用端末９と周長測定部１０とを有し、玉型形状に加工された眼鏡レンズの周長測定を行うものである。周長測定装置１４の周長測定用端末９と周長測定部１０も同様に、例えばＲＳ２３２Ｃ通信回線で接続されている。
【００２９】
眼鏡レンズの周縁加工は、前工程である周面加工工程と、次工程である面取り加工工程とから構成され、周面加工工程が周面加工装置１２により実施され、面取り加工工程が面取り装置１３により実施される。
【００３０】
周面加工装置１２の周面加工部６は、図示しないが、眼鏡レンズをレンズ中心部で保持し、保持した眼鏡レンズを回転させるレンズ保持回転ユニットと、このレンズ保持回転ユニットに保持された眼鏡レンズに使われる眼鏡枠の玉型形状に沿ったレンズ面位置を測定するレンズ面測定ユニットと、このレンズ面測定ユニットによって得られた測定データに基づいて眼鏡レンズを所定の周面形状に周面加工を行う周面加工ユニットとを有し、周縁加工システムサーバ４および周面加工用端末５が図２に示す周面加工工程を実施させる。
【００３１】
以下、周面加工工程を図１および図２に基づいて説明する。
図２は、図１の周面加工装置による眼鏡レンズの周面加工工程を示すフローチャートである。
まず、周縁加工システムサーバ４は、眼鏡レンズを収納しているレンズトレーのバーコードを取得して、このバーコードに対応する眼鏡レンズに関するレンズ情報、玉型形状情報、レイアウト情報、加工指示情報等を工場サーバ１からＬＡＮ１を通して取得し認識する（Ｓ１）。
【００３２】
次に、周面加工装置１２の周面加工用端末５は、周縁加工システムサーバ４より眼鏡枠の玉型形状データを読み込む（Ｓ２）。作業者は、所定位置にレンズホルダが取り付けられた眼鏡レンズを、周面加工部６のレンズ保持回転ユニットに装着する（Ｓ３）。レンズ保持回転ユニットは、同軸に配置され眼鏡レンズの両レンズ面の中心部を挟持するレンズ回転軸およびチャック軸を備えている。
【００３３】
周面加工装置１２の周面加工用端末５は、レンズ面測定ユニットを用いて、眼鏡枠の玉型形状の軌跡に沿って眼鏡レンズの凹側レンズ面および凸側レンズ面の位置データを測定する（Ｓ４）。さらに、この得られた位置データより、ヤゲン位置やヤゲンカーブ等の周面研削軌跡データを計算する（Ｓ５）。また、周面加工用端末５は、周面研削軌跡データに基づいて周面加工部６の周面加工ユニットを動作させる。これにより周面加工部６がレンズ周面荒加工（Ｓ６）およびレンズ周面仕上げ加工（Ｓ７）を行う。
【００３４】
その後、周面加工用端末５は、ステップＳ４で測定された凹側レンズ面と凸側レンズ面のそれぞれの位置データに基づき、面取り装置１３に必要な第１の面取り軌跡データを算出する（Ｓ８）。周面加工用端末５は、この第１の面取り軌跡データを周縁加工システムサーバ４へ送信して、周面加工の終了を通知する（Ｓ９）。
【００３５】
周面加工の終了が通知されると、作業者は眼鏡レンズを、レンズホルダが装着された状態で周面加工装置１２から取り外して周面切削工程を終了し、周面仕上げ加工済みレンズを得る（Ｓ１０）。そして、この周面仕上げ加工済みレンズをレンズトレーに戻す。
【００３６】
上述のステップＳ４において、レンズ面の位置データを測定するレンズ面測定ユニットは、図３に示すように、スタイラス（測定子）１５，１６によって眼鏡枠の玉型形状に沿って眼鏡レンズＬの凹側レンズ面１７Ａ、凸側レンズ面１７Ｂをそれぞれトレースさせ、その軌跡の各点においてスタイラス１５，１６の各位置を検出する。この検出により、周面仕上げ加工後の状態における周面２０の両端のエッジ部１８Ａ（周面２０と凹側レンズ面１７Ａとが交叉する部分）とエッジ部１８Ｂ（周面２０と凸側レンズ面１７Ｂとが交叉する部分）との位置をそれぞれ測定する。２０’は周面加工仕上げ前の周面である。
【００３７】
エッジ部１８Ａ，１８Ｂの位置データは、眼鏡レンズＬのレンズ軸１９回りの回転方向θ、レンズ軸１９からの半径方向ｒ、および厚さ方向ｔの３次元データとして規定される値である。したがって、このエッジ部１８Ａ，１８Ｂの位置データ（θ，ｒ，ｔ）から算出される周面研削軌跡データおよび第１の面取り軌跡データも３次元データとなっている。
【００３８】
なお、スタイラス１５，１６が、周面仕上げ加工後にエッジ部１８Ａ，１８Ｂとなるレンズ面位置よりも外側の位置１００Ａ，１００Ｂに接触して、眼鏡レンズＬの凹側レンズ面１７Ａ、凸側レンズ面１７Ｂをそれぞれトレースし、この位置１００Ａ，１００Ｂにおいてスタイラス１５，１６により測定された位置データと、凹側レンズ面１７Ａ、凸側レンズ面１７Ｂのレンズ面形状データ等とから、周面仕上げ加工後における眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの位置を演算によって求めるようにしてもよい。このようにすれば、スタイラス１５，１６により、周面仕上げ加工後の有効な凹側レンズ面１７Ａおよび凸側レンズ面１７Ｂに傷をつけることを未然に防止できる。
【００３９】
次に、面取り装置の構成等を図４〜図９に基づいて詳述する。
図４は図１の面取り装置における面取り加工部を示す正面図、図５は図４の面取り加工部を示す平面図、図６は図４の面取り加工部を示す左側面図、図７は図４の面取り加工部を示す右側面図、図８は図４の面取り加工部における面取り加工状況を示す部分側断面図、図９は図６の一部を拡大して示す側面図である。
【００４０】
これらの図において、面取り装置１３は、前述のように、所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズＬの周面２０が、隣接する凹側レンズ面１７Ａ、凸側レンズ面１７Ｂと交差するエッジ部１８Ａ，１８Ｂに面取り加工を施す装置である。この面取り装置１３は、眼鏡レンズＬの軸線方向（Ｘ軸方向）に移動自在なＸ軸テーブル２１を備えた水平方向移動ユニット２２と、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４を備えたレンズ保持回転ユニット２５と、面取り加工ツール２６を備えた面取り加工ユニット２７と、測定子２８を備えたエッジ部測定手段としてのエッジ部測定ユニット２９と、第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出ユニット（手段）としても機能する面取り加工用端末７(図１)とを有している。水平方向移動ユニット２２、レンズ保持回転ユニット２５および面取り加工ユニット２７は、面取り加工手段として機能する。また、周面加工装置１２の周面加工用端末５は、面取り装置１３における第１の面取り軌跡データ算出手段として用いられる。
【００４１】
水平方向移動ユニット２２は、面取り装置１３の本体３０における基台３１上に、水平方向に平行に並設された複数本（例えば２本）のＸ軸ガイドレール３２を備え、これらのＸ軸ガイドレール３２にＸ軸テーブル２１に固定されたスライドブロック３３が摺動自在に支持されている。また、基台３１には、Ｘ軸ガイドレール３２と平行なＸ軸ボールねじ３４が回転自在に設けられており、このＸ軸ボールねじ３４にはＸ軸テーブル２１の下面に固定されたナットブロック３５が螺合している。Ｘ軸ボールねじ３４は、基台３１に設置されたＸ軸モータ３６により、プーリ３７およびタイミングベルト３８を介して回転する。なお、Ｘ軸モータ３６としては、例えばステッピングモータが用いられる。
【００４２】
Ｘ軸モータ３６の駆動により、プーリ３７およびタイミングベルト３８を介してＸ軸ボールねじ３４が回転すると、このＸ軸ボールねじ３４に螺合しているナットブロック３５を介して、Ｘ軸テーブル２１がＸ軸ガイドレール３２に沿って水平方向（Ｘ軸方向）に移動する。この水平方向は、レンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４によって保持されている眼鏡レンズＬの厚さ方向ｔ（図３）と一致している。
【００４３】
レンズ保持回転ユニット２５は、Ｘ軸テーブル２１の上方に複数本の支持柱３９を介して設置されたレンズブロック４０を備え、このレンズブロック４０内にレンズ回転軸２３およびチャック軸２４が回転自在に支承されている。これらのレンズ回転軸２３およびチャック軸２４は、Ｘ軸テーブル２１の移動方向（Ｘ軸方向）に平行で且つ同軸に配設されている。チャック軸２４は、レンズブロック４０に装着されたチャックシリンダ４１のシリンダロッド４２にカップリング４３を介して連結されている。レンズ回転軸２３の先端には、眼鏡レンズＬの凸側レンズ面１７Ｂに取り付けられたレンズホルダ４４が装着されており、チャックシリンダ４１により押し出されたチャック軸２４の先端が眼鏡レンズＬの凹側レンズ面１７Ａを押圧することで、このチャック軸２４と協働して眼鏡レンズＬを挟持する。なお、カップリング４３は、シリンダロッド４２に固定されており、チャック軸２４にベアリング等を介して結合されることにより、シリンダロッド４２に対するチャック軸２４の回転を許容している。
【００４４】
さらに、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４は、レンズブロック４０に設置されたレンズ回転軸モータ４５により回転駆動する。このレンズ回転軸モータ４５は、例えばステッピングモータからなり、図５および図６に示すように、レンズブロック４０の背面側下方に設置され、図示を省略したモータシャフトに取付けられた小径プーリ４６を有している。レンズブロック４０の背面でレンズ回転軸モータ４５の上方には、回転自在な連動軸４７が当該モータのモータシャフトと平行に設けられており、この連動軸４７の一端に取り付けられた大径プーリ４８とモータシャフトの小径プーリ４６との間に張設したタイミングベルト４９により、レンズ回転軸モータ４５の回転駆動力を連動軸４７に減速して伝達するようにしている。
【００４５】
大径プーリ４８には小径プーリ５０が一体に設けられている。この小径プーリ５０の回転は、レンズ回転軸２３に取り付けられたプーリ５１にタイミングベルト５２を介して伝達される。また、連動軸４７の他端には、小径プーリ５０と同径のプーリ５３が取付けられており、このプーリ５３の回転はチャック軸２４に取り付けられたスプライン５４にタイミングベルト５５を介して伝達される。これにより、レンズ回転軸モータ４５の回転駆動力が大径プーリ４８により減速されて連動軸４７に伝達されると、レンズ回転軸２３とチャック軸２４は同一の回転速度で回転し、眼鏡レンズＬをレンズ軸１９の回りに回転させる。
【００４６】
面取り加工ユニット２７は、図４〜図７に示すように、本体３０の天板５６に設けた支持プレート５７の裏面側に並設されたＺ軸モータ（例えば、ステッピングモータ）５８およびＺ軸ボールねじ５９を備えている。一方、支持プレート５７の表面側には、鉛直方向（Ｘ軸方向に直交するＺ軸方向）に延在する複数本（例えば２本）のガイドレール６０が並設されており、これらのガイドレール６０にＺ軸テーブル６２に設けたスライドブロック６１が摺動自在に嵌合している。また、支持プレート５７は略中央に形成された開口６３（図７）を有し、この開口６３にＺ軸テーブル６２に突設したナットブロック６４が貫通している。ナットブロック６４は、Ｚ軸ボールねじ５９に螺合している。そして、Ｚ軸テーブル６２はさらに一体的に設けられたＺ軸プレート６５を有し、このＺ軸プレート６５に面取り加工ツール２６を先端に備えたスピンドル機構部６６が取り付けられている。
【００４７】
Ｚ軸モータ５８の回転駆動力は、そのモータシャフトに取り付けられたプーリ６７と、Ｚ軸ボールねじ５９に取り付けられたプーリ６８と、これらプーリ間に張設されたタイミングベルト６９を介してＺ軸ボールねじ５９に伝達され、これによりスライドクロック６４をＺ軸ボールねじ５９に沿って上下動させる。このため、Ｚ軸テーブル６２はガイドレール６０に沿って鉛直方向（Ｚ軸方向）に移動し、スピンドル機構部６６を同方向に移動させる。この鉛直方向は、レンズ保持回転ユニット２５に保持されている眼鏡レンズＬの半径方向ｒ（図３）と一致している。
【００４８】
スピンドル機構部６６は、図８に示すように、スピンドルケース７０と、このスピンドルケース７０内に回転自在に組み込まれたスピンドル７１と、このスピンドル７１の下端に取付けられた面取り加工ツール２６とを有する。スピンドル７１の上端には、図４に示すプーリ７２を有し、スピンドルモータ７３はモータシャフトに固定されたプーリ７４を有し、これらのプーリ７２，７４間にはタイミングベルト７５が張設されている。したがって、スピンドルモータ７３を駆動すると、その回転駆動力はプーリ７４、タイミングベルト７５およびプーリ７２を介してスピンドル７１へ伝達され、面取り加工ツール２６を所定の回転速度で回転させることができる。この面取り加工ツール２６としては、回転時の研削形状が例えば略半球形状になるボールエンドミルが用いられる。なお、スピンドルモータ７３は、Ｚ軸テーブル６２またはＺ軸プレート６５に下向きに取り付けられている。
【００４９】
面取り加工ツール２６と眼鏡レンズＬとの相対位置は、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４による眼鏡レンズＬの回転と、Ｘ軸テーブル２１による眼鏡レンズＬの水平方向（Ｘ軸方向）の移動と、Ｚ軸テーブル６２による面取り加工ツール２６の鉛直方向（Ｚ軸方向）の移動とによって決定される。面取り装置１３の面取り加工用端末７は、面取り加工時に、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４を回転駆動するレンズ回転軸モータ４５、Ｘ軸テーブル２１を水平方向に移動させるＸ軸モータ３６、Ｚ軸テーブル６２を鉛直方向に移動させるＺ軸モータ５８をそれぞれ数値制御し、また面取り加工ツール２６を回転させるスピンドルモータ７３の回転速度、方向、回転開始、停止等を制御することにより、面取り加工ツール２６が所定の回転数で回転しながらＺ方向およびＸ方向に移動し、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａおよび１８Ｂ（図３）を面取り加工する。また、面取り加工用端末７は、レンズ回転軸２３とチャック軸２４とにより眼鏡レンズＬをチャッキングするためのチャックシリンダ４１を制御するとともに、眼鏡レンズＬおよび面取り加工ツール２６に切削水を供給する給水ポンプ（不図示）の起動、停止を制御する。
【００５０】
図４および図９において、面取り装置１３のエッジ部測定ユニット２９は、面取り加工ユニット２７のＺ軸プレート６５に固定された測定子ケース７６と、この測定子ケース７６内にブッシュ（不図示）などを介して回転自在に配設された測定子ロッド７７を有している。測定子ロッド７７は、上下端が測定ケース７６の外部に突出し、下端側突出端に測定子２８が取付けられている。
【００５１】
測定子２８の眼鏡レンズＬに接触する接触面は、面取り加工ツール２６における回転時の研削面の形状と対応する球面に形成されている。また、測定子２８は、自身が測定子ケース７６の下面に当接する位置を上死点とし、カラー７８が測定子ケース７６の上面に当接する位置を下死点とする範囲内で、鉛直方向（Ｚ軸方向）に自由に移動可能にかつ回転自在に設けられており、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの非測定時においては眼鏡レンズＬに接触しないように上死点位置に保持され、測定時に解放されると自重によって下降しエッジ部１８Ａまたは１８Ｂに接触するように構成されている。
【００５２】
一方、測定子ロッド７７の上端は、測定子ケース７６の上方に延在し、鍔７８Ａを有するカラー７８とセンサーシャフト７９が取付けられている。センサーシャフト７９は、カラー７８の上方に設けられており、磁気センサ８０を非接触状態で貫通している。磁気センサ８０は、Ｚ軸プレート６５に立設したステー８１の先端に取り付けられており、センサーシャフト７９の上下動、言い換えれば測定子２８の上下動を間接的に検出する。Ｚ軸プレート６５は、面取り加工ツール２６と測定子２８を搭載し、Ｚ軸モータ５８の駆動によりＺ軸テーブル６２が上下動すると、これと一体に上下動する。
【００５３】
上述のように構成されたエッジ部測定ユニット２９は、測定子２８によって眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂを順次測定する。測定に際しては、Ｘ軸モータ３６の駆動によってＸ軸テーブル２１をＸ方向に移動させ、Ｚ軸モータ５８の駆動によってＺ軸プレート６５をＺ軸方向に移動させ、測定子２８をエッジ部１８Ａの上方に移動させる。測定子２８が眼鏡レンズＬの上方に移動すると、Ｘ軸モータ３６およびＺ軸モータ５８の駆動を停止してＸ軸テーブル２１およびＺ軸プレート６５を停止させ、測定子２８を測定子ケース７６に対して解放状態にする。測定子２８は測定子ケース７６から解放されると自重によって下降し、エッジ部１８Ａに接触する。この状態で眼鏡レンズＬとＺ軸プレート６５を、周面加工時にステップＳ８（図２）で算出されたエッジ部１８Ａ用の第１の面取り軌跡データ（θ，Ｘ，Ｚ）に基づいて相対的に移動、回転させる。すなわち、レンズ回転軸モータ４５の駆動によりレンズ回転軸２３およびチャック軸２４に保持されている眼鏡レンズＬをレンズ軸１９回りに回転させ、Ｘ軸モータ３６の駆動により、Ｘ軸テーブル２１をＸ軸ガイドレール３２に沿ってＸ軸方向に移動させる。また、Ｚ軸モータ５８の駆動によりＺ軸プレート６５をＺ方向に移動させ、それぞれ最初の測定位置Ｘ1 ＋ΔＸ，Ｙ1 ，Ｚ1 に移動させる。Ｘ1 ，Ｙ1 ，Ｚ1 は、レンズ枠形状加工時に計算された最初の面取り軌跡、ΔＸは面取り加工ツール２６と測定子２８の回転中心間距離（図１０）である。測定子２８は面取り加工ツール２６が眼鏡レンズＬに接触するようにレンズに当たり、この位置での測定子２８の位置を測定する。このとき、面取り加工ツール２６と全く同じレンズへの当たり方であれば、すれ量は０、違う当たり方をすればそれがずれ量として測定値に反映される。次に、モータの駆動によってＸ軸テーブル２１をＺ軸プレート６５を２番目の測定位置Ｘ2 ＋ΔＸ，Ｙ2 ，Ｚ2 に移動させ、測定子２８の位置を測定する。これをレンズ全周にわたって行う。
【００５４】
眼鏡レンズＬをその軸線回りに回転させると、エッジ部１８Ａに自重により接触している測定子２８は、エッジ部１８ＡのＺ方向の変位にともない上下動し、この測定子２８の上下動が磁気センサ８０によってエッジ部１８Ａの位置データとして測定される。そして、このエッジ部１８Ａの位置データと、周面加工時にステップＳ８（図２）で算出されたエッジ部１８Ａ用の第１の面取り軌跡データのＺ方向の位置データとを比較し、この第１の面取り軌跡データに対する位置データのＺ軸方向におけるずれ量ΔＺ（図１０）を算出する。なお、本発明による面取り測定方法は、測定時にレンズ枠形状加工時に計算された面取り軌跡を用いることでＺ方向の１軸の測定系で（θ，Ｘ）を含めたずれの補正ができることを特徴とするものである。
【００５５】
測定子２８による一方のエッジ部１８Ａの測定が終了すると、他方のエッジ部１８Ｂの測定を同様に行う。このエッジ部１８Ｂの測定に際しては、Ｘ軸モータ３６の駆動によって眼鏡レンズＬをＸ軸方向に所定距離移動させて測定子２８を他方のエッジ部１８Ｂの上方に位置させ、測定子２８を自重によってエッジ部１８Ｂに接触させる。そして、この状態で眼鏡レンズＬとＺ軸プレート６５を、上記と同様に周面加工時にステップＳ８（図２）で算出されたエッジ部１８Ｂ用の第１の面取り軌跡データ（θ，Ｘ，Ｚ）に基づいて相対的に移動、回転させ、測定子２８の上下動を磁気センサ８０によってエッジ部１８Ｂの位置データとして測定する。そして、このエッジ部１８Ｂの位置データと、周面加工時にステップＳ８（図２）で算出されたエッジ部１８Ｂ用の第１の面取り軌跡データとを比較し、この第１の面取り軌跡データに対する位置データのＺ軸方向におけるずれ量ΔＺ（図１０）を算出する。
【００５６】
つまり、本発明においては、図１０に示すように面取り加工用端末７（図１）のＺ軸プレート６５に面取り加工ツール２６と測定子２８とをＸ軸方向にΔＸだけ離間させて搭載しておく。そして、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの測定時に、図２のステップＳ８で算出された第１の面取り軌跡データを、測定子２８と面取り加工ツール２６との距離ΔＸだけＸ軸方向にシフトさせ、測定子２８をエッジ部１８Ａまたは１８Ｂに接触させて測定し、各エッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺをそれぞれ測定するものである。
【００５７】
眼鏡レンズＬの周面２０が周面加工装置１２により理想的に周面加工され、かつ、この周面加工装置１２と面取り装置１３との間で眼鏡レンズＬの保持（チャッキング）に関してずれが存在しない場合には、面取り装置１３のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４により保持された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂは、周面加工時にステップＳ８で算出された第１の面取り軌跡データと一致する。このため、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺは零となり、この零位置をエッジ部測定ユニット２９が測定し、面取り加工用端末７が記憶する。
【００５８】
また、眼鏡レンズＬが周面加工装置１２により周面加工されて小さいサイズ（小径）に加工された場合には、図１１に示すように、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４によって保持された眼鏡レンズＬは、周面２０のエッジ部１８Ａおよび１８Ｂが、周面加工時にステップＳ８で算出された第１の面取り軌跡データに対して下方にずれてしまう。このため、測定子２８は、サイズが小さくなった分だけ自重で下降して眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂに接触する。そして、この測定子２８を備えたエッジ部測定ユニット２９は、眼鏡レンズＬの周面２０におけるエッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量を、鉛直（Ｚ軸）方向におけるずれ量ΔＺ＝ΔＺ１として測定し、このずれ量ΔＺ１が面取り加工用端末７に記憶される。ここで、ずれ量ΔＺ１は、測定子２８の下端高さと、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データに基づいて移動する面取り加工ツール２６の下端高さとの差と一致する。
【００５９】
さらに、例えば面取り装置１３におけるレンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４に眼鏡レンズＬを保持させるためにチャッキング操作が複数回行われる場合がある。このようなときは、図１２に示すように、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４に保持された眼鏡レンズＬは、周面２０のエッジ部１８Ａ，１８Ｂが、周面加工時に図２のステップＳ８で算出された第１の面取り軌跡データに対して水平方向（Ｘ軸方向）にずれてしまうことがある。この場合、眼鏡レンズＬは、第１の面取り軌跡データでは図１２の破線位置にあるものが実線位置となり、測定子２８は、この眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂに接触するまで自重で下降する。したがって、この測定子２８を備えたエッジ部測定ユニット２９は、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量を、面取り加工ツール２６の鉛直（Ｚ軸）移動方向のずれ量ΔＺ＝ΔＺ２として測定子２８を用いて測定する。このずれ量ΔＺ２は面取り加工用端末７に記憶される。ここでも、ずれ量ΔＺ２は、測定子２８の下端高さと、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データに基づいて移動する面取り加工ツール２６の下端高さとの差と一致する。
【００６０】
図１３は、レンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４に保持された１枚の眼鏡レンズＬの周面２０について、エッジ部１８Ａまたは１８Ｂの全周にわたって求めたずれ量ΔＺの変化を示す図である。このずれ量ΔＺは、レンズ回転軸２３とチャック軸２４により保持された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの各位置をつなぐ軌跡である面取り加工軌跡に対して、周面加工時に図２のステップＳ８で求めてある第１の面取り軌跡データによる面取り軌跡がずれている場合のずれ量である。つまり、このずれ量ΔＺは、面取り加工ツール２６の鉛直方向の位置が先に求めた第１の面取り軌跡データで示される対応位置からずれている場合のずれ量である。図１３では、横軸は、レンズ回転軸２３およびチャック軸２４により保持された眼鏡レンズＬの周面２０におけるエッジ部１８Ａ，１８Ｂの、レンズ軸１９を中心とする回転角度位置である。また縦軸は、そのエッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺを示す。なお、この場合、ΔＺはエッジ部１８Ａと、エッジ部１８Ｂとでは、その変化の状態が異なる場合も多いが、図１３では説明を簡単にするためにいずれもΔＺとして示している。
【００６１】
図１３において、ずれ量ΔＺが零のときには、測定子２８が面取り加工ツール２６と同一高さであり、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂがその角度位置において、水平方向（Ｘ軸方向）にずれが存在しない場合には、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データと一致していることを表す。
【００６２】
また、ずれ量ΔＺの値がプラスのときには、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂがその角度位置において、第１の面取り軌跡データよりもレンズ軸１９から離れる方向の位置にあるか、または、水平方向（Ｘ軸方向）において眼鏡レンズＬが面取り加工ツール２６の反対側にずれが存在することを表す。
【００６３】
さらに、ずれ量ΔＺの値がマイナスのときには、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂがその角度位置において、第１の面取り軌跡データよりもレンズ軸１９に近い方向の位置にあるか、または、水平方向（Ｘ軸方向）において眼鏡レンズＬが面取り加工ツール２６の側にずれが存在することを表す。
【００６４】
なお、上述のように、眼鏡レンズＬの周面２０におけるエッジ部１８Ａ，１８Ｂが周面加工時に算出された面取り加工ツール２６の第１の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール２６の鉛直（Ｚ軸）移動方向においてずれ量ΔＺとして正確に測定可能な条件は、周面加工時において加工された周面２０が許容の公差範囲内にあることである。測定子２８を用いたエッジ部測定ユニット２９によるエッジ部１８Ａ，１８Ｂの測定時に、このエッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺが許容の値（例えば±２ｍｍ）を外れた場合には、面取り加工用端末７(図１)は眼鏡レンズＬの周面２０が公差範囲から外れていると判断して、その後の測定を中止する。
【００６５】
面取り加工用端末７は、周面加工時に図２のステップＳ８で算出された面取り加工ツール２６の第１の面取り軌跡データのうちのＺ軸方向のデータを、エッジ部測定ユニット２９によって測定された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂのずれ量ΔＺ、すなわち、エッジ部１８Ａ，１８Ｂが周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データからずれるずれ量のうち、測定子２８により測定された面取り加工ツール２６の鉛直（Ｚ軸）移動方向におけるずれ量を用いて次のように補正し、第２の面取り軌跡データを演算する。
【００６６】
例えば、エッジ部測定ユニット２９により測定された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂのずれ量ΔＺが図１３に示すプラス側の場合には、面取り加工用端末７は、このプラスのずれ量ΔＺを相殺するために、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データのＺ軸方向データをマイナス側にシフトして補正する。また、エッジ部測定ユニット２９により測定された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂのずれ量ΔＺが図１３に示すマイナス側の場合には、面取り加工用端末７は、このマイナスのずれ量ΔＺを相殺するために、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データのＺ軸方向データをプラス側にシフトして補正する。エッジ部測定ユニット２９により測定された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂのずれ量ΔＺが零の場合には、面取り加工用端末７は、周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データのＺ軸方向データをそのまま使用する。
これらの関係を式に表すと下式のようになる。
Ａi ＝Ｂi −ΔＺi       ・・・（１）
但し、Ａi は所定の角度位置i における第２の面取り軌跡データ、Ｂi は所定の角度位置i における第１の面取り軌跡データ、ΔＺi は所定の角度位置i における第１の面取り軌跡データからのずれ量を示す。
【００６７】
このように、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの全周にわたってずれ量ΔＺが零となるように第１の面取り軌跡データを補正して第２の面取り軌跡データを算出すると、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの全周にわたって面取り量を均一にすることができる。ただし、本発明においては、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの全周にわたってずれ量ΔＺを必ずしも零になるように補正する必要はなく、部分的に補正値を変えると面取り量を自由に変えることができ、眼鏡レンズに合った所望の面取り加工を行うようにしてもよい。
【００６８】
眼鏡レンズＬの面取り加工に際しては、面取り加工ユニット２７の面取り加工ツール２６によって眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂに面取り加工を施す。つまり、面取り加工用端末７は、エッジ部測定ユニット２９により測定された眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂのずれ量ΔＺがエッジ部の全周にわたって零になるように第１の面取り軌跡データを補正することにより、第２の面取り軌跡データを算出する。そして、この第２の面取り軌跡データに基づいて、レンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４に保持された眼鏡レンズＬを、レンズ回転軸モータ４５の駆動によりレンズ軸１９の回りに回転させるとともに、Ｘ軸モータ３６の駆動により水平方向（Ｘ軸方向）に移動させる。さらに、スピンドルモータ７３の駆動により面取り加工ユニット２７の面取り加工ツール２６を回転させつつ、Ｚ軸モータ５８の駆動によりＺ軸プレート６５を鉛直方向（Ｚ軸方向）に移動させて面取り加工ツール２６をエッジ部１８Ａまたは１８Ｂに接触させ、エッジ部１８Ａ，１８Ｂを順次面取りする。これにより、各エッジ部１８Ａ，１８Ｂの全周にわたって面取り量が均一な眼鏡レンズＬが得られる。
【００６９】
また、ずれ量ΔＺの補正に際しては、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの全周にわたってずれ量を零にするのではなく、部分的にずれ量ΔＺが零にならないようにすると、面取り量が均一にならず、面取り箇所を強調したり弱めたりすることができる。
【００７０】
次に、上述のように構成された面取り装置１３による面取り加工工程を図１４に基づいて説明する。
まず、周縁加工システムサーバ４(図１)は、周面仕上げ加工済みレンズを収納しているレンズトレーのバーコードを取得して、このバーコードに対応する眼鏡レンズＬに関するレンズ面形状データなどのレンズ情報、眼鏡枠の玉型形状情報、眼鏡装用者の瞳孔間距離などのレイアウト情報、ヤゲンの有無などの加工指示情報等を、工場サーバ１よりＬＡＮ１を通して取得し認識する（Ｓ１１）。
【００７１】
面取り加工用端末７は、周縁加工システムサーバ４から、周面加工時にステップＳ８（図２)で算出された第１の面取り軌跡データを読み込む（Ｓ１２）。
【００７２】
作業者は、周面加工工程で所定位置にレンズホルダ４４（図４）が取り付けられた眼鏡レンズＬを、面取り加工部８におけるレンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３およびチャック軸２４にチャッキングして固定する（Ｓ１３）。
【００７３】
その後、周面２０が仕上げ加工されて面取り装置１３のレンズ保持回転ユニット２５のレンズ回転軸２３とチャック軸２４に保持された眼鏡レンズＬに対し、その周面２０のエッジ部１８Ａ，１８Ｂをエッジ部測定ユニット２９を用いて測定するエッジ部測定工程を実施する（Ｓ１４、Ｓ１５）。次に、このエッジ部測定工程で得られた測定データを用いて、第１の面取り軌跡データを補正して第２の面取り軌跡データを算出する第２の面取り軌跡データ算出工程を実施する（Ｓ１６）。
【００７４】
次に、この第２の面取り軌跡データ算出工程で得られた第２の面取り軌跡データに基づき、面取り加工ツール２６を用いて眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａ，１８Ｂを面取り加工する面取り加工工程を実施する（Ｓ１７〜Ｓ２０）。
【００７５】
エッジ部測定工程では、作業者により面取り装置１３がＯＮ操作されると、この面取り装置１３の面取り加工用端末７は、面取り加工部８におけるエッジ部測定ユニット２９を用いる。まず、レンズ保持回転ユニット２５に保持されている眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａが、当該エッジ部１８Ａを面取り加工するために周面加工時に算出された面取り加工ツール２６の第１の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール２６の鉛直（Ｚ軸）移動方向においてずれ量ΔＺとして測定する（Ｓ１４）。
【００７６】
次に、面取り加工用端末７は、同様にして、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ｂが、当該エッジ部１８Ｂを面取り加工するために周面加工時に算出された第１の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール２６の鉛直（Ｚ軸）移動方向においてずれ量ΔＺとして測定する（Ｓ１５）。なお、これらステップＳ１５とＳ１６の順序は逆であってもよい。
【００７７】
第２の面取り軌跡データ算出工程では、面取り加工用端末７は、周面加工時のステップＳ８で算出された面取り加工ツール２６の、エッジ部１８Ａを面取り加工するための第１の面取り軌跡データを、ステップＳ１４により得られた眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａにおける第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺを用いて補正し、第２の面取り軌跡データを算出する。さらに、面取り加工用端末７は、周面加工工程のステップＳ８で算出された面取り加工ツール２６の、エッジ部１８Ｂを面取り加工するための第１の面取り軌跡データを、ステップＳ１５で得られた眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ｂにおける第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺを用いて補正し、第２の面取り軌跡データを算出する（Ｓ１６）。
【００７８】
面取り加工工程では、面取り加工用端末７は、まず面取り加工ユニット２７のスピンドルモータ７３を駆動して面取り加工ツール２６を回転させ、給水ポンプ（不図示）を起動させて面取り加工ツール２６および眼鏡レンズＬに切削水を供給する（Ｓ１７）。次に、面取り加工用端末７は、ステップＳ１６で得られた、眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａを面取り加工するための補正された第２の面取り軌跡データに基づいて、Ｘ軸モータ３６、レンズ回転軸モータ４５およびＺ軸モータ５８を駆動し、面取り加工ツール２６を用いて眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａに面取り加工を実施する（Ｓ１８）。
【００７９】
次に、面取り加工用端末７は、ステップＳ１６で得られた眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ｂを面取り加工するための補正された第２の面取り軌跡データに基づいて、Ｘ軸モータ３６、レンズ回転軸モータ４５およびＺ軸モータ５８を駆動し、面取り加工ツール２６を用いて眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ｂに面取り加工を実施する（Ｓ１９）。眼鏡レンズＬのエッジ部１８Ａとエッジ部１８Ｂの全周にわたって面取り加工を実施した後、面取り加工用端末７は、スピンドルモータ７３を停止して面取り加工ツール２６を回転停止させ、給水ポンプを停止して切削水の供給を停止する（Ｓ２０）。
【００８０】
この面取り加工工程の終了後、面取り加工用端末７は、周縁加工システムサーバ４へ面取り加工の終了を通知する（Ｓ２１）。面取り加工の終了が通知されると、作業者は、面取り装置１３の面取り加工部８におけるレンズ保持回転ユニット２５から眼鏡レンズＬを取り外して面取り加工を終了し、面取り加工済みの眼鏡レンズＬを得る（Ｓ２２）。
【００８１】
上述のように、本発明に係る眼鏡レンズの面取り方法および面取り装置は、面取り加工ツール２６と測定子２８が搭載され、眼鏡レンズｌの軸線と直交するＺ軸方向に移動自在なＺ軸プレート６５を備えている。また、測定子２８の接触面を、面取り加工時の面取り加工ツール２６の回転時における研削面に対応する球面に形成し、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの測定時に自重によってエッジ部１８Ａ，１８Ｂに接触させるようにしている。さらに、予め面取り加工ツール２６でエッジ部１８Ａ，１８Ｂを加工する際の面取り加工ツール２６の加工軌跡を示す第１の面取り軌跡データを、眼鏡レンズＬの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて計算によって算出しておく。そして、測定子２８をエッジ部１８Ａ，１８Ｂに自重によって接触させた状態でＺ軸プレート６５を第１の面取り軌跡データに基づいて移動させ、眼鏡レンズＬと測定子２８を相対的に移動および回転させる。これにより、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの第１の面取り軌跡データからのずれ量ΔＺを測定し、このずれ量ΔＺを用いて第１の面取り軌跡データを補正して第２の面取り軌跡データを算出するようにしている。そして、この算出された第２の面取り軌跡データに基づいて眼鏡レンズＬと面取り加工ツール２６を相対的に移動、回転させることにより、エッジ部１８Ａ，１８Ｂを面取り加工するようにしたので、ずれ量の補正の仕方によってはエッジ部の全周にわたって面取り量を均一にしたり、部分的に変化させたりすることができ、所望の面取り加工を実施することができる。また、ずれ量の補正はＺ軸方向のずれ量ΔＺだけであるため、エッジ部１８Ａ，１８Ｂの３次元位置を測定するために必要な複雑な測定機構や複雑な演算が不要で、高精度な面取り加工を簡単に実施することができる。
【００８２】
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明したが、本発明はこれに何ら限定されるものではない。
例えば、本実施の形態では、測定子２８の接触面を面取り加工ツール２６の回転時における研削面と同一の球面になるように形成した場合について述べたが、眼鏡レンズＬの周面２０にヤゲンが形成されない眼鏡レンズにあっては、面取り加工ツール２６と測定子２８を三角錐形状に形成してもよい。面取り加工ツール２６と測定子２８を同一の三角錐形状に形成した場合には、測定子２８の接触面が円錐となるため、眼鏡レンズＬの位置が鉛直（Ｚ軸）方向または水平（Ｘ軸）移動方向のいずれかにずれていても、眼鏡レンズＬと接触する際の鉛直（Ｚ軸）方向の位置が異なっても面取りの角度は常に一定に保たれる。特に眼鏡レンズＬが、水平（Ｘ軸）移動方向にずれている場合には、三角錐形状であることが好ましい。
【００８３】
また、本実施の形態では、周面加工装置１２と面取り装置１３とを分離した装置の形態としたが、周面加工装置１２に面取り装置１３の機能を備えた装置を内蔵させた形態としてもよい。その場合は、眼鏡レンズＬのチャッキングによるずれの発生を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明に係る面取り方法および面取り装置の一実施形態が適用された眼鏡レンズ加工システムを示す全体構成図である。
【図２】図１の周面加工装置による眼鏡レンズの周面加工工程を示すフローチャートである。
【図３】図２における凹側レンズ面および凸側レンズ面の位置データの測定状況を示す側面図である。
【図４】図１の面取り装置における面取り加工部を示す正面図である。
【図５】図４の面取り加工部を示す平面図である。
【図６】図４の面取り加工部を示す左側面図である。
【図７】図４の面取り加工部を示す右側面図である。
【図８】図４の面取り加工部における面取り加工状況を示す部分側断面図である。
【図９】図６の一部を拡大して示す側面図である。
【図１０】図４の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。
【図１１】図４の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。
【図１２】図４の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。
【図１３】測定子により測定された、眼鏡レンズの周面エッジ部の第２の第１の面取り軌跡データからのずれ量の変化を示すグラフである。
【図１４】図４の面取り装置により眼鏡レンズの周面のエッジ部を面取り加工する面取り加工工程を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８５】
５…周面加工用端末（第１の面取り軌跡データ算出手段）、６…周面加工部、７…面取り加工用端末（第２の面取り軌跡データ算出手段）、８…面取り加工部、１０…周長測定部、１２…周面加工装置、１３…面取り装置、１５，１６，２８…測定子、１８Ａ，１８Ｂ…エッジ部、１９…レンズ軸、２４…チャック軸、２６…面取り加工ツール、２７…面取り加工ユニット（面取り加工手段）、２９…エッジ部測定ユニット（エッジ部測定手段）、６５…Ｚ軸プレート、Ｌ…眼鏡レンズ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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