(57)【要約】【課題】  プリント基板の導通部分にテストプローブを接触させて検査するにあたって、導通部分とプローブの接触不良を解決し、検査の信頼性、安定性を確保することを目的とする。【解決手段】  プリント基板１の導通部分に対してテストプローブ３を接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査装置１０において、プリント基板を位置決めして保持するリフターボード２と、テストローブを保持するフィクスチヤ治具４と、前記フィクスチヤ治具若しくはリフターボードを振動させる振動手段５とを備え、前記リフターボード２若しくはフィクスチヤ治具４の振動によって、プリント基板１の導通部分に対してテストプローブ３を振動させた状態で接触させ、当該プリント基板の電気的試験を行う。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板（１）の導通部分に対してテストプローブ（３）を接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査装置において、
プリント基板（１）を位置決めして保持するリフターボード（２）と、
テストローブ（３）を保持するフィクスチヤ治具（４）と、
前記フィクスチヤ治具（４）若しくはリフターボード（２）を振動させる振動手段（５）とを備え、
プリント基板の導通部分に対してテストプローブを振動させながら接触させることを特徴とするプリント基板の検査装置。
【請求項２】
不均一負荷を主軸に取り付けた振動モータからなる振動手段を設けたことを特徴とする請求項１に記載のプリント基板の検査装置。
【請求項３】
プリント基板（１）の導通部分に対してテストプローブ（３）を接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査方法において、
プリント基板を位置決めして保持するリフターボード（２）、若しくはテストローブを保持するフィクスチヤ治具（４）を振動させ、
プリント基板の導通部分に対してテストプローブを振動させながら接触させることを特徴とするプリント基板の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子部品などを実装したプリント基板の導通部分にテストプローブを接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査装置及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品などを実装したプリント基板をインサーキットテストまたはファンクションテストなどの電気的試験をする場合、被測定物であるプリント基板の導通部分（以下、テストポイントという）に対して、フィクスチヤ治具に埋め込まれているテストプローブの先端を押し付け、当該テストプローブによって導通部分の抵抗値などを測定し、プリント基板を検査している。
従来技術では、プリント基板の導通部分へのテストプローブの接触状態を確実なものとし、検査の信頼性を高めるため、プリント基板に対するテストプローブの接触圧力を高めたり、テストプローブを回転させることによって当該プローブの接触面の改善を図っていた（例えば特許文献１を参照）。
【特許文献１】特許第３０５９５５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
プリント基板に電子部品などを実装する場合、フローハンダ工程では、フレキシブル基板のハンダ面（テストポイント）にフラックスが残留し、リフロー工程では、フレキシブル基板の銅箔表面（テストポイント）に酸化膜が形成される。つまり、テストポイント表面にフラックスや酸化膜などの異物による絶縁層が形成される。
従って、テストポイントに対してテストプローブの先端を単に押し付けただけでは、テストプローブとテストポイントとが接触不良を引き起こし、プリント基板の検査の信頼性や安定性を確保することができなかった。
【０００４】
なお図４（ａ）に示すように、先端形状が鋭角なテストプローブを加圧しながらハンダ面に押し付けることによって、プローブ先端のハンダ面への喰い込みによる摺動作用によって、テストポイント表面の異物が排除され、接触面の改善を図ることができる。
しかしながら、電子機器の小型軽量化、高機能化に伴うプリント基板の導体パターンの高密度・狭ピッチ化への対応と、コスト低減を目的として、ハンダレベラー処理からプリフラックス処理が行われるようになり、銅箔表面（テストポイント）にテストプローブを押し付けて検査するようになってきた。そして、銅箔表面はハンダ面に比べ硬度が高く、加圧によりプローブ先端を喰い込ませることができないため、テストポイント表面の異物を排除することができなかった。（図４（ｂ）を参照）
またプローブ先端をテストポイントに押し付けてプリント基板を検査するにあたって、測定回数を重ねるにつれ、プローブ先端にフラックスや酸化物の異物がこびりつき、プローブ先端にこびりついた異物（絶縁体）によって、テストプローブとテストポイントとの接触不良が引き起こされ、プリント基板の検査の信頼性を確保することができなかった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
そこで本発明による検査装置は、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査装置において、プリント基板を位置決めして保持するリフターボードと、テストプローブを保持するフィクスチヤ治具と、前記フィクスチヤ治具若しくはリフターボードを振動させる振動手段とを備え、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを振動させながら接触させるものである。
【０００６】
また本発明による検査方法は、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを接触させて当該プリント基板の電気的試験を行うプリント基板の検査方法において、プリント基板を位置決めして保持するリフターボード、若しくはテストローブを保持するフィクスチヤ治具を振動させることによって、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを振動させて接触させるものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明のプリント基板の検査方法によれば、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを接触させるにあたって、前記導通部分に対してプローブ先端が振動しながら接触するため、前記振動による摺動によって接触面の異物が排除され、導通部分とテストプローブが良好に接触し、プリント基板の検査の信頼性・安定性を確保することができる。
またプローブ先端の振動によって、導通部分への接触ポイントが測定時毎に微妙にずれるため、プリント基板の検査の信頼性が向上する。
さらに本発明によるプリント基板の検査装置によれば、フィクスチヤ治具若しくはリフターボードを振動せしめる振動手段を設けることによって、プリント基板の導通部分に対してテストプローブを振動させながら接触させることができるため、小型で、かつ既存のフィクスチヤ治具への増設が容易であり、コストを削減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明によるプリント基板の検査装置及び検査方法について、図１から図３を参照して説明する。
【０００９】
図１は、この発明の第１実施例によるプリント基板の検査装置１０を示す図である。
図１に示すプリント基板の検査装置１０は、被測定物であるプリント基板１を位置決めして保持するリフターボード２と、プリント基板の導通部分（テストポイント）に接触して、当該ポイントの電気抵抗を測定するテストプローブ３と、複数本のテストローブ３を保持し、当該テストプローブ３をプリント基板１に対して押し付けるフィクスチヤ治具４と、前記フィクスチヤ治具４を振動させる振動手段５とから構成される。
【００１０】
この実施例では、フィクスチヤ治具４を振動させる振動手段５として、不均一負荷を主軸に取り付けた振動モータを使用し、当該振動モータの固定部をフィクスチヤ治具４に取り付けた。
図１に示す実施例では、周波数が約１００ＨｚのＤＣモータの主軸に不均一負荷として２ｇｆ／ｍｍ２の偏芯ウェイトを取り付けた駆動モータをフィクスチヤ治具４に固定し、前記振動モータの回転によってフィクスチヤ治具４を振動させた。
【００１１】
なおこの実施例では駆動源としてＤＣモータを使用したが、ステッピングモータやサーボモータなどのＡＣモータを使用してもよい。
またモータ周波数と不均一負荷の組合せを任意に可変できるように構成し、フィクスチヤ治具４の振動を任意に可変することができるようにすることが好ましい。
さらに振動手段５として他の振動発生装置を使用し、フィクスチヤ治具４に固定してもよい。
【００１２】
さらに図１に示す検査装置１０では、テストプローブ３としてスプリングプローブを使用し、スプリングの力によってプローブ先端をテストポイントに押し付けるとともに、駆動手段５を取り付けたフィクスチヤ治具４の振動によって、前記テストプローブ３を振動せしめ、プローブ先端をテストポイントに接触させた。
【００１３】
なおテストプローブ３が振動しながらプリント基板１に押し付けられるため、当該プリント基板１を保持するリフターボード２に形成されるプローブ貫通孔には、テストプローブ３の振動（振幅）を寛容するためのゆとり（クリアランス寸法）が設けられている。
また、複数本のテストプローブ３を保持するフィクスチヤ治具４に対してリフターボード２に保持されたプリント基板１を位置合わせするため、フィクスチヤ治具４に固定されているガイドピン６が、リフターボード２（およびプリント基板１）のガイド孔に挿入されているが、当該ガイド孔にも、フィクスチヤ治具４の振動（振幅）を寛容するためのゆとり（クリアランス寸法）が設けられている。
【００１４】
図２は、図１に示す検査装置１０によるプリント基板の検査方法を説明する図である。
この実施例によれば、フィクスチヤ治具４の振動によって、プリント基板の導通部分（テストポイント）に対してテストプローブ３の先端が振動しながら接触するため、テストポイント面の異物が排除され、テストプローブとテストポイントとの良好な接触を確保することができた。
【００１５】
また、テストポイントにプローブ先端を振動させながら押し付けても何らかの接触不良原因があった場合でも、フィクスチヤ治具４の振動によってテストポイント面に対するプローブ先端の接触位置（接触ポイント）が測定時毎に微妙にずれるため、一回目の測定時の接触ポイントでは良好な接触ができなくても、再度測定時は前回の接触ポイントからずれた位置で再度測定を行うことができ、検査の信頼性を向上させることができる。
【００１６】
なお、図２に示すようにテストポイントに対してプローブ先端を振動させながら接触させるにあたって、電磁式バイブレータを用いてテストプローブ３を振動させたり、ソレノイドによる衝撃を与えてテストプローブ３を振動させる方法も考えられるが、これらの振動手段をテストプローブ個々に取り付けた場合、既存のフィクスチヤ治具への追加搭載（増設）に費用がかかるとともに、取り付けスペースがかさんでしまう。
またプリント基板１にテストプローブ３を押し付けるための加圧手段と振動手段を併用する場合、テストプローブ個々に振動手段を設けると大掛かりな機器となってしまう虞がある。
従って、この実施例では図１に示すように、テストプローブ３を保持するフィクスチヤ治具４自体を振動させる振動手段５を設けることによって、テストポイントに対してテストプローブ３の先端を振動させながら接触させるようにした。
【００１７】
次に図３を参照して、本発明の第２実施例によるプリント基板の検査装置を説明する。
図３に示すプリント基板の検査装置１０´は、被測定物であるプリント基板１を位置決めして保持するリフターボード２と、プリント基板の導通部分（テストポイント）に接触して、当該ポイントの電気抵抗を測定するテストプローブ３と、複数本のテストローブ３を保持し、当該テストプローブ３をプリント基板１に対して押し付けるフィクスチヤ治具４と、前記リフターボード２を振動させる振動手段５´とから構成される。
【００１８】
この実施例でも、第１実施例と同様に、リフターボード２を振動させる振動手段５´として、ＤＣモータの主軸に偏芯ウェイトを取り付けた駆動モータを使用し、当該振動モータの固定部をリフターボード２に取り付けた。
図２に示す検査装置１０´においても、図１に示す検査装置と同様に、テストポイントに対してプローブ先端を振動させながら接触させることができ、テストポイントに対してテストプローブ３を良好に接触させることができるため、プリント基板の検査の信頼性および安定性を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】第１実施例によるプリント基板の検査装置を説明する図である。
【図２】この発明によるプリント基板の検査方法を説明する図である。
【図３】第２実施例によるプリント基板の検査装置を説明する図である。
【図４】従来技術によるプリント基板の検査方法を説明する図である。
【符号の説明】
【００２０】
１    プリント基板
２    リフターボード
３    テストプローブ
４    フィクスチヤ治具
５，５´    振動手段
６    ガイドピン
１０，１０´    検査装置
【図１】
2007071537.tif 000003
【図２】
2007071537.tif 000004
【図３】
2007071537.tif 000005
【図４】
2007071537.tif 000006