(57)【要約】【課題】  対物レンズの最適ラジアルチルト角度を正確に検出することが可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】  この光ディスク装置では、対物レンズ１１を基準位置から内側方向に回動させて高周波信号ＲＦのレベルを検出した後、対物レンズ１１を基準位置から外側方向に回動させて信号ＲＦのレベルを検出し、対物レンズ１１を基準位置に設定したときの信号ＲＦのレベル検出値の差に基づいてオフセットを補正し、ラジアルチルト角度θと信号ＲＦのレベル検出値の関係を示す近似式から最適ラジアルチルト角度θ１を求める。したがって、最適ラジアルチルト角度θ１を正確に検出することができる。【選択図】        図７
2007042170.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備え、
前記光ピックアップは、
前記光ビームを出射する光源と、
前記反射光を光電変換して前記電気信号を出力する光電変換部と、
前記光ビームを前記光ディスクに集光させるとともに前記反射光を前記光電変換部に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズをラジアルチルト方向に回動させる駆動部とを含み、
さらに、前記駆動部を制御して前記対物レンズを回動させるとともに前記電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて前記対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める制御部を備え、
前記制御部は、
前記ラジアルチルト角度を基準値に設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを一方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第１のステップと、
前記ラジアルチルト角度を前記基準値に再度設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを他方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第２のステップと、
前記第１および第２のステップにおいて前記ラジアルチルト角度を前記基準値に設定したときの前記電気信号のレベル検出値の差を求め、その差を前記第１のステップにおける前記電気信号のレベル検出値から減算するか、その差を前記第２のステップにおける前記電気信号のレベル検出値に加算して、前記第１および第２のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第３のステップと、
前記ラジアルチルト角度と前記電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において前記電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を前記最適値と決定する第４のステップを実行することを特徴とする、光ディスク装置。
【請求項２】
回転する光ディスクに対物レンズを介して光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、前記対物レンズをラジアルチルト方向に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて前記対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める方法であって、
前記ラジアルチルト角度を基準値に設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを一方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第１のステップと、
前記ラジアルチルト角度を前記基準値に再度設定して前記電気信号のレベルを検出した後、前記対物レンズを他方側に回動させながら前記電気信号のレベルを検出し、前記電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて前記対物レンズの回動を停止させる第２のステップと、
前記第１および第２のステップにおいて前記ラジアルチルト角度を前記基準値に設定したときの前記電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、前記第１および第２のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第３のステップと、
前記ラジアルチルト角度と前記電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において前記電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を前記最適値と決定する第４のステップを含むことを特徴とする、最適ラジアルチルト角度検出方法。  
【請求項３】
前記第３のステップでは、前記第１のステップにおける前記電気信号のレベル検出値から前記オフセット値を減算するか、前記第２のステップにおける前記電気信号のレベル検出値に前記オフセット値を加算して、前記第１および第２のステップ間における前記電気信号のレベル検出値のオフセットを補正することを特徴とする、請求項２に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。  
【請求項４】
前記電気信号は高周波信号であることを特徴とする、請求項２または請求項３に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。  
【請求項５】
前記電気信号はトラッキングエラー信号であることを特徴とする、請求項２または請求項３に記載の最適ラジアルチルト角度検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法に関し、特に、光ピックアップの出力信号のレベルが最大になる対物レンズのラジアルチルト角度を検出する光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc-Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（Digital Versatile Disc-ReWritable）などの光ディスクのデータの読出／書込を行なう光ディスク装置では、光ディスクの仕様上、対物レンズのラジアルチルト角度の補正が不可欠である。
【０００３】
すなわち光ディスク装置では、光ピックアップから光ディスクに光ビームを照射してデータの読出／書込を行なう。この光ビームは光ディスクの表面に対して垂直に照射されるのが理想的である。しかし、光ディスクにそりなどがあると、光ディスクの表面と光ピックアップの対物レンズの光軸との角度が垂直からずれてしまい、光ビームに収差が生じる。この収差が生じると、データの書込時には記録マークが光ディスクに適切に形成されず、データの読出時にはクロストークなどの増加により再生信号のＳ／Ｎが悪化し、ジッタが生じる。
【０００４】
そこで、このような光ディスク装置では、光ピックアップ本体に赤外線センサなどを用いたチルトセンサを設け、このチルトセンサによって光ディスクのそりを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度を補正することにより、対物レンズの光軸を光ディスクの表面に対して垂直に設定している。
【０００５】
また、光ビームを光ディスクに照射しながら対物レンズのラジアルチルト角度を所定の範囲（たとえば−０．８度〜＋０．８度）で変化させ、光ピックアップから出力される高周波信号またはトラッキングエラー信号のレベルが最大になる最適ラジアルチルト角度を求め、その角度に対物レンズを設定する方法がある（たとえば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−８５３０７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、光ピックアップにチルトセンサを設ける方法では、チルトセンサの分だけ光ピックアップの寸法が大きくなり、コスト高になるという問題がある。
【０００７】
また、高周波信号またはトラッキングエラー信号から最適ラジアルチルト角度を求める方法では、常に対物レンズのラジアルチルト角度を所定の範囲で変化させていたので、最適ラジアルチルト角度の検出時間が長くなるという問題があった。
【０００８】
それゆえに、この発明の主たる目的は、光ピックアップの寸法が小さく、低コストであり、最適ラジアルチルト角度を正確かつ迅速に検出することが可能な光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明に係る光ディスク装置は、回転する光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備える。この光ピックアップは、光ビームを出射する光源と、反射光を光電変換して電気信号を出力する光電変換部と、光ビームを光ディスクに集光させるとともに反射光を光電変換部に集光させる対物レンズと、対物レンズをラジアルチルト方向に回動させる駆動部とを含む。この光ディスク装置は、さらに、駆動部を制御して対物レンズを回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める制御部を備える。この制御部は、ラジアルチルト角度を基準値に設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを一方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第１のステップと、ラジアルチルト角度を基準値に再度設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを他方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第２のステップと、第１および第２のステップにおいてラジアルチルト角度を基準値に設定したときの電気信号のレベル検出値の差を求め、その差を第１のステップにおける電気信号のレベル検出値から減算するか、その差を第２のステップにおける電気信号のレベル検出値に加算して、第１および第２のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第３のステップと、ラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を最適値と決定する第４のステップを実行することを特徴とする。
【００１０】
また、この発明に係る最適ラジアルチルト角度検出方法は、回転する光ディスクに対物レンズを介して光ビームを照射し、その反射光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光ピックアップを備えた光ディスク装置において、対物レンズをラジアルチルト方向に回動させながら電気信号のレベルを検出し、その検出結果に基づいて対物レンズのラジアルチルト角度の最適値を求める方法である。この方法は、ラジアルチルト角度を基準値に設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを一方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第１のステップと、ラジアルチルト角度を基準値に再度設定して電気信号のレベルを検出した後、対物レンズを他方側に回動させながら電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少する傾向になったことに応じて対物レンズの回動を停止させる第２のステップと、第１および第２のステップにおいてラジアルチルト角度を基準値に設定したときの電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、第１および第２のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する第３のステップと、ラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の補正値との関係を示す近似式を算出し、その近似式において電気信号のレベルが最大になるラジアルチルト角度を最適値と決定する第４のステップを含むことを特徴とする。
【００１１】
好ましくは、第３のステップでは、第１のステップにおける電気信号のレベル検出値からオフセット値を減算するか、第２のステップにおける電気信号のレベル検出値にオフセット値を加算して、第１および第２のステップ間における電気信号のレベル検出値のオフセットを補正する。
【００１２】
また好ましくは、電気信号は高周波信号である。
また好ましくは、電気信号はトラッキングエラー信号である。
【発明の効果】
【００１３】
この発明に係る光ディスク装置および最適ラジアルチルト角度検出方法では、対物レンズを基準位置から一方方向に回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズの回動を停止させ、次に、対物レンズを基準位置から他方方向に回動させるとともに電気信号のレベルを検出し、電気信号のレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズの回動を停止させ、対物レンズのラジアルチルト角度と電気信号のレベル検出値の関係を示す近似式からラジアルチルト角度の最適値を求める。したがって、常に所定の角度だけ対物レンズを回動させていた従来に比べ、対物レンズの回動角度を小さくすることができ、検出時間の短縮化を図ることができる。
【００１４】
また、対物レンズを基準位置に設定したときの２つの電気信号のレベル検出値の差をオフセット値とし、対物レンズを一方方向に回動させたときの電気信号のレベル検出値と対物レンズを他方方向に回動させたときの電気信号のレベル検出値とのオフセットを補正するので、ラジアルチルト角度の最適値を正確に検出することができる。
【００１５】
また、光ピックアップから出力される電気信号を利用するので、チルトセンサを別途設けていた従来に比べ、装置寸法の小型化と低コスト化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図１は、この発明の一実施の形態による光ディスク装置の要部を示すブロック図である。図１において、この光ディスク装置は、光ピックアップ１とサーボブロック２を備え、サーボブロック２は信号処理部３とドライバ４を含む。
【００１７】
光ピックアップ１は、ドライバ４によって駆動され、光ディスク１の表面に光ビームを照射し、その反射光を光電変換して高周波信号ＲＦ、トラッキングエラー信号ＴＥなどを出力する。
【００１８】
信号処理部３は、通常動作時は、トラッキングエラー信号ＴＥなどに基づき、ドライバ４を介して光ピックアップ１を制御し、光ビームを光ディスク５表面のトラックの中心に垂直に照射させる。また、信号制御部３は、最適ラジアルチルト角度の検出時は、光ピックアップ１内の対物レンズのラジアルチルト角度を変化させながら高周波信号ＲＦのレベルを検出し、高周波信号ＲＦのレベル検出値が最大になる最適ラジアルチルト角度を検出する。ドライバ４は、信号処理部３から出力された制御信号ＣＮＴに従って光ピックアップ１を駆動させる。
【００１９】
図２は、光ピックアップ１の要部を示す図である。図２において、光ピックアップ１は、半導体レーザのような光源１０と、光源１０から出射された光ビームαを光ディスク５の信号面に集光させる対物レンズ１１と、対物レンズ１０をラジアルチルト方向に回動させるチルトコイル１２，１３とを含む。ドライバ４からチルトコイル１２，１３に電流が供給されると、その電流に応じた角度に対物レンズ１０のラジアルチルト角度が設定される。なお、光ピックアップ１には、対物レンズ１０をフォーカス方向およびトラッキング方向に移動させる機構（図示せず）も設けられている。
【００２０】
図３（ａ）（ｂ）は、ラジアルチルト角度を説明する図である。図３（ａ）（ｂ）を参照して、軸２１は、光ディスク５を回転させるスピンドルの軸である。軸２２は、軸２１と垂直に交わる軸である。理想的には、光ディスク５の面は軸２２上に位置し、光ディスク５の面と軸２２との角度が０度になり、スピンドルに光ディスク５が装着された場合、スピンドルの軸２１と光ディスク５の面とは垂直に交わる。
【００２１】
しかし、光ディスク５にそりがある場合、光ディスク５の面と軸２２とは０度以外の角度θで交わる。すなわち、光ディスク５の面に接する軸２３と軸２２との角度は、θである。この場合、光源１０から対物レンズ１１を介して光ディスク５に照射される光ビームαが光ディスク５の面と垂直に交わるためには、対物レンズ１１の光軸２５が、光ディスク５の面に接する軸２３に対して垂直である必要がある。光ビームαが光ディスク５に照射される位置を通り、スピンドルの軸２１と平行の軸２４に対して、対物レンズ１１の光軸２５はθで交わることになる。このθを、対物レンズ１１のラジアルチルト（radial tilt）角度と称する。
【００２２】
図４は、光ピックアップ１のうちのトラッキングエラー信号ＴＥの生成に関連ずる部分を示すブロック図である。図４において、光ディスク５の表面には、トラック３０が所定の間隔で設けられている。トラック３０には、情報が記録されている。トラッキングが行われている状態においては、主ビーム３１は、その中心がトラッキングしているトラック３０の中心に位置するように、光ディスク５に照射される。先行ビーム３２は、光ディスク５の、主ビーム３１に対して前方であって、＋１／２トラックずれた位置に照射される。後行ビーム３３は、光ディスク５の、主ビーム３１に対して後方であって、−１／２トラックずれた位置に照射される。
【００２３】
光ピックアップ１は、主ビーム３１が光ディスク５から反射されたビームを電気信号Ａ〜Ｄに変換するディテクタ４１と、先行ビーム３２が光ディスク５から反射されたビームを電気信号Ｅ，Ｆに変換するディテクタ４２と、後行ビーム３３が光ディスク５から反射されたビームを電気信号Ｇ，Ｈに変換するディテクタ４３とを含む。
【００２４】
すなわち、ディテクタ４１の受光領域は、４つに分割される。主ビーム３１による走査の方向の前方左側、前方右側、後方右側、後方左側の受光領域によって検出された主ビーム３１は、それぞれ信号Ａ〜Ｄに変換される。ディテクタ４２の受光領域は、２つに分割される。先行ビーム３２による走査方向に対して、左側および右側の受光領域によって検出された先行ビーム３２は、それぞれ信号Ｅ，Ｆに変換される。ディテクタ４３の受光領域は、２つに分割される。後行ビーム３３による走査方向に対して、左側および右側の受光領域によって検出された後行ビーム３３は、それぞれ信号Ｇ，Ｈに変換される。
【００２５】
光ピックアップ１は、さらに、差動アンプ４４〜４６，４９およびアンプ４７，４８を含む。差動アンプ４４は、ディテクタ４１の出力信号Ａ〜Ｄを受け、信号ＡとＤのレベルの和Ａ＋Ｄから信号ＢとＣのレベルの和Ｂ＋Ｃを減算し、その演算結果Ａ＋Ｄ−（Ｂ＋Ｃ）を示す信号を出力する。差動アンプ４５は、ディテクタ４２の出力信号Ｅ，Ｆを受け、信号Ｅのレベルから信号Ｆのレベルを減算し、その演算結果Ｅ−Ｆを示す信号を出力する。差動アンプ４６は、ディテクタ４３の出力信号Ｇ，Ｈを受け、信号Ｇのレベルから信号Ｈのレベルを減算し、その演算結果Ｇ−Ｈを示す信号を出力する。アンプ４７，４８は、それぞれ差動アンプ４５，４６の出力信号を所定の利得Ｋで増幅する。
【００２６】
差動アンプ４９は、差動アンプ４４の出力信号のレベルからアンプ４７，４８の出力信号のレベルを減算し、その演算結果（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）−Ｋ[（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）]を示す信号をトラッキングエラー信号ＴＥとして出力する。サーボブロック２は、トラッキングエラー信号ＴＥに基づき、主ビーム３１がトラック３０の中心を通るように対物レンズ１１のトラッキング方向（トラック３０と直交する方向）の位置を制御する。
【００２７】
図５は、光ピックアップ１のうちの高周波信号ＲＦの生成に関連ずる部分を示すブロック図である。図５において、光ピックアップ１は、さらに差動アンプ５０を含む。差動アンプ５０は、ディテクタ４１の出力信号Ａ〜Ｄを受け、信号Ａ〜Ｄのレベルの和Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄを示す信号を高周波信号ＲＦとして出力する。サーボブロック２は、最適ラジアルチルト角度の検出時は、対物レンズ１１のラジアルチルト角度θを変化させながら高周波信号ＲＦのレベルを検出し、高周波信号ＲＦのレベル検出値が最大になるラジアルチルト角度θ１を検出する。対物レンズ１１のラジアルチルト角度θをθ１に設定すると、光ビームαは光ディスク５の面に略垂直に照射され、収差は最小になる。なお、高周波信号ＲＦはトラック３０に記録された情報を含んでおり、光ディスク５に記録された情報は高周波信号ＲＦから再生される。
【００２８】
次に、この光ディスク装置の特徴となる最適ラジアルチルト角度検出方法について説明する。図６は、この光ディスク装置の最適ラジアルチルト角度検出動作を示すフローチャートであり、図７はその動作を例示する図である。最適ラジアルチルト角度検出動作時には、所望の光ディスク５がセットされて回転され、光ピックアップ１が光ディスク５の半径方向の所定位置（たとえば中央）にセットされる。
【００２９】
図６および図７を参照して、信号処理部３は、ステップＳ１において対物レンズ１１のラジアルチルト角度θを基準値θ０（たとえば０度）に設定し、ステップＳ２において高周波信号ＲＦの信号レベルを検出し、ステップＳ３において高周波信号ＲＦのレベル検出値を保存する。
【００３０】
ステップＳ４において信号処理部３は、検出端であるか否かを判別する。検出端であるか否かは、高周波信号ＲＦのレベルが減少傾向になったか否かによって判別される。具体的には、検出端であるか否かは、高周波信号ＲＦのレベルの今回の検出値がθ＝θ０のときの検出値の１／Ｃ（ただし、Ｃは正の定数である）になったか否かによって判別してもよいし、高周波信号ＲＦのレベルの今回の検出値がθ＝θ０のときの検出値よりも所定値だけ小さくなったか否かによって判別してもよい。また、検出端であるか否かは、高周波信号ＲＦのレベル検出値が連続して所定回数小さくなったか否か、あるいは単に前回の検出値よりも小さくなったか否かによって判別してもよい。
【００３１】
ステップＳ４において検出端でないと判別した場合は、ステップＳ５においてラジアルチルト角度θを所定量シフトし、ステップＳ２に戻る。ステップＳ５におけるθのシフト量は、対物レンズ１１を光ディスク５の内側方向に回動させる場合は負の値に設定され、対物レンズ１１を光ディスク５の外側方向に回動させる場合は正の値に設定される。
【００３２】
ステップＳ２〜Ｓ５を繰り返してステップＳ４において検出端であると判別した場合は、ステップＳ６において外側端であるか否かを判別し、外側端である場合はステップＳ１１に進み、外側端でない場合はステップＳ７において再度対物レンズ１１のラジアルチルト角度θを基準値θ０に設定し、ステップＳ８において高周波信号ＲＦのレベルを検出する。
【００３３】
次いでステップＳ９において信号処理部３は、ステップＳ８において検出した高周波信号ＲＦのレベルが、最初にθ＝θ０として検出したときの高周波信号ＲＦのレベルと同じか否かを判別し、同じ場合はステップＳ２に直接戻り、同じでない場合はステップＳ１０に進む。ステップＳ１０では、最初にθ＝θ０として検出したときの高周波信号ＲＦのレベルと、ステップＳ８において検出した高周波信号ＲＦのレベルとの差をオフセット値とし、そのオフセット値を内側方向の各レベル検出値から減算し、内側方向の検出と外側方向の検出のオフセットを補正してステップＳ２に戻る。
【００３４】
ステップＳ２〜Ｓ５を繰り返してステップＳ４において検出端であると判別され、さらにステップＳ６において外側端であると判別された場合は、ステップＳ１１において内側方向の補正後の検出値と外側方向の検出値とに基づいて近似式を算出し、その近似式において高周波信号ＲＦのレベルが最大値になるラジアルチルト角度θ１を算出する。
【００３５】
以上の最適ラジアルチルト角度θ１の検出は、光ディスク５の半径方向の複数の位置で行なわれる。複数の位置で検出したθ１から任意の位置のθ１が演算される。信号処理部３は、光ピックアップ１の光ディスク５の半径方向の位置に応じて対物レンズ１１の最適ラジアルチルト角度θ１を設定する。これにより、光ディスク５にそりがある場合でも、光源１０から出射された光ビームαは対物レンズ１１を介して光ディスク５の表面に垂直に照射され、光ビームの収差がなくなる。したがって、データの書込時には記録マークが光ディスクに適切に形成され、データの読出時にはジッタのない良好な再生信号を得ることができる。
【００３６】
この実施の形態では、対物レンズ１１を基準位置から内側方向に回動させて高周波信号ＲＦのレベルを検出し、高周波信号ＲＦのレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズ１１の回動を停止させ、次に、対物レンズ１１を基準位置から外側方向に回動させて高周波信号ＲＦのレベルを検出し、高周波信号ＲＦのレベル検出値が減少傾向になったら対物レンズ１１の回動を停止させ、ラジアルチルト角度θと高周波信号ＲＦのレベル検出値の関係を示す近似式からラジアルチルト角度θの最適値θ１を求める。したがって、常に所定の角度だけ対物レンズを回動させていた従来に比べ、対物レンズ１１の回動角度を小さくすることができ、検出時間の短縮化を図ることができる。
【００３７】
また、対物レンズ１１を基準位置に設定したときの２つの高周波信号ＲＦのレベル検出値の差をオフセット値とし、対物レンズ１１を内側方向に回動させたときの高周波信号ＲＦのレベル検出値と対物レンズ１１を外側方向に回動させたときの高周波信号ＲＦのレベル検出値とのオフセットを補正するので、ラジアルチルト角度θの最適値θ１を正確に検出することができる。
【００３８】
また、光ピックアップ１から出力される高周波信号ＲＦを利用するので、チルトセンサを別途設けていた従来に比べ、装置寸法の小型化と低コスト化を図ることができる。
【００３９】
なお、この実施の形態では、対物レンズ１１を内側方向に回動させた場合の高周波信号ＲＦのレベル検出値からオフセット値を減算したが、対物レンズ１１を外側方向に回動させた場合の高周波信号ＲＦのレベル検出値にオフセット値を加算しても同じ結果が得られることは言うまでもない。
【００４０】
また、この実施の形態では、高周波信号ＲＦのレベル検出値を利用して最適ラジアルチルト角度θ１を検出したが、高周波信号ＲＦの代わりにトラッキングエラー信号ＴＥを用いても同じ結果が得られることは言うまでもない。
【００４１】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】この発明の一実施の形態による光ディスク装置の要部を示すブロック図である。
【図２】図１に示した光ピックアップに含まれる光源、対物レンズおよびチルトコイルを示す図である。
【図３】図２に示した対物レンズのラジアルチルト角度を説明するための図である。
【図４】図１に示した光ピックアップのうちのトラッキングエラー信号の生成に関連する部分を示すブロック図である。
【図５】図１に示した光ピックアップのうちの高周波信号の生成に関連する部分を示すブロック図である。
【図６】図１に示した光ディスク装置の最適ラジアルチルト角度検出動作を示すフローチャートである。
【図７】図１に示した光ディスク装置の最適ラジアルチルト角度検出動作を例示する図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  光ピックアップ、２  サーボブロック、３  信号処理部、４  ドライバ、１０  光源、１１  対物レンズ、１２，１３  チルトコイル、２１〜２４  軸、２５  光軸、θ  ラジアルチルト角度、３０  トラック、３１  主ビーム、３２  先行ビーム、３３  後行ビーム、４１〜４３  ディテクタ、４４〜４６，４９，５０  差動アンプ、４７，４８  アンプ。
【図１】
2007042170.tif 000003
【図２】
2007042170.tif 000004
【図３】
2007042170.tif 000005
【図４】
2007042170.tif 000006
【図５】
2007042170.tif 000007
【図６】
2007042170.tif 000008
【図７】
2007042170.tif 000009