(57)【要約】【課題】過去に行った基板の試験結果や、異常発生時の状況などを調査したい場合、その試験結果の確認や調査が簡単にできる回路基板の試験装置を提供すること。【解決手段】バックプレーン８に、バスアダプタ９、テストパターン送信基板１０、テストパターン受信基板１１、さらには、機能試験対象の回路基板７などが電気的に接続されている回路基板試験用ラック３と、ハードディスクが内蔵されているパソコン２とからなる回路基板試験装置１において、前記パソコン２と前記回路基板試験用ラック３とを、前記バスアダプタ９を介して接続し、前記パソコン２からの制御信号に基づき、前記回路基板７の機能試験ごとの試験結果を前記ハードディスクに記憶保存させる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
バスアダプタおよびバックプレーンを備え、このバックプレーンには、テストパターンを送信するテストパターン送信基板、テストパターンを受信するテストパターン受信基板および試験対象回路基板が電気的に接続される回路基板試験用ラックと、この回路基板試験用ラックに前記バスアダプタを介して接続された、ハードディスク駆動装置を内蔵するパソコンと、このパソコンに接続された入出力装置とを備え、前記ハードディスク駆動装置には、前記パソコンのオペレーティングシステム、前記回路基板の機能試験プログラムが記憶され、前記パソコンに入力された試験対象回路基板の情報により、前記回路基板に対して前記ハードディスク駆動装置に記憶された機能試験プログラムを選択して実行するとともに、実行された機能試験ごとの試験結果を前記ハードディスクに記憶保存させることを特徴とする回路基板の試験装置。
【請求項２】
前記バスアダプタは、前記パソコンから送出する制御信号を受信して、前記回路基板に対応した信号形式に変換し、その変換後に、制御信号を前記テストパターン送信基板、前記テストパターン受信基板あるいは前記回路基板に送出することを特徴とする請求項１記載の回路基板の試験装置。
【請求項３】
前記機能試験ごとの試験結果は、一時的に、前記テストパターン受信基板、または前記回路基板のいずれかに保存されることを特徴とする請求項２記載の回路基板の試験装置。
【請求項４】
前記パソコンと前記回路基板試験用ラックとの電源は、別個に設定されていることを特徴とする請求項３記載の回路基板の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板、例えば、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）回路基板の機能確認試験を行う試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の試験装置で回路基板の機能確認試験を行った場合、下記特許文献１に記載されているように、回路基板に対してキーボードから出力する信号をシミュレートした模擬信号を入力し、さらに、電子回路の検査を行う制御信号を供給して、正常に動作するか否かの試験を行っていた。
【０００３】
その際、試験装置の表示画面上に試験結果を表示したり、ビープ音によって合否を示したりするが、試験結果をハードディスクやフロッピー（登録商標）ディスクなどの記録媒体に保存することがなかった。
【特許文献１】特開２００２−２９６３１５公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
したがって、過去に行った基板の試験結果や、異常発生時の状況などを調査したい場合、そのことを簡単には知ることができないという問題があった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、過去に行った基板の試験結果や、異常発生時の状況などを調査したい場合、その試験結果の確認や調査が簡単にできる回路基板の試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の回路基板の試験装置は、バックプレーンとバスアダプタ、テストパターンを送信するテストパターン送信基板、テストパターンを受信するテストパターン受信基板および試験対象回路基板が電気的に接続された回路基板試験用ラックと、この回路基板試験用ラックに前記バスアダプタを介して接続され、ハードディスク駆動装置を内蔵し、入出力装置及び表示ディスプレーが接続されたパソコンとを備え、前記ハードディスク駆動装置には、前記パソコンのオペレーティングシステム、前記回路基板の機能試験プログラムが記憶され、前記パソコンに入力された試験対象回路基板の情報により、前記回路基板に対して前記ハードディスク駆動装置に記憶された機能試験プログラムを選択して実行するとともに、実行された機能試験ごとの試験結果を前記ハードディスクに記憶保存させることを特徴とするものである。
【０００７】
また、本発明の回路基板の試験装置においては、前記バスアダプタは、前記パソコンから送出する制御信号を受信して、前記回路基板に対応した信号形式に変換し、その変換後に、制御信号を前記テストパターン送信基板、前記テストパターン受信基板あるいは前記回路基板に送出することを特徴とするものである。
【０００８】
さらに、本発明の回路基板の試験装置においては、前記機能試験ごとの試験結果は、一時的に、前記テストパターン受信基板、または前記回路基板のいずれかに保存されることを特徴とするものである。
【０００９】
さらに、本発明の回路基板の試験装置においては、前記パソコンと前記回路基板試験用ラックとの電源は、別個に設定されていることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、回路基板の機能確認試験ごとに、その試験結果を残すことができるため、過去に実施した試験結果を容易に確認することができ、さらに、試験結果が異常となった場合にも、小試験ごと、すなわち、試験した機能項目ごとに記録したログが残るので、このログを表計算ソフトなどで解析することにより、異常の発生傾向を分析することができ、さらに、その解析結果から異常の発生原因を究明することが可能となる。
【００１１】
また、本発明によれば、回路基板試験装置とパソコンとが、それぞれ個別の電源で動作するように構成されているので、パソコンに関係なく回路基板試験用ラックのみの電源を切ることができ、したがって、試験作業の効率を著しく向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態を図１乃至図３について説明する。
【００１３】
図１は、本発明による回路基板試験装置の実施形態を示した構成ブロック図で、この回路基板試験装置１は、パソコン２と回路基板試験用ラック３とからなっている。
【００１４】
このうち、パソコン２には、ハードディスク駆動装置（以下単にＨＤＤという。）４が内蔵されており、このＨＤＤ４にはパソコン２のオペレーティングシステム、試験プログラムおよび試験結果などが格納されている。
【００１５】
また、このＨＤＤ４にはＣＲＴや液晶などからなる表示ディスプレー５と、キーボードやマウスなどからなる入力装置６とが接続されており、このうち、表示ディスプレー５には、試験プログラムのユーザインターフェース、および試験の設定や試験結果などが表示され、入力装置６からは、試験対象となる回路基板７の情報入力や試験プログラムの実行指示、およびパソコン２の制御などが行われる。
【００１６】
一方、回路基板試験用ラック３は、後記する各基板を電気的に接続するバックプレーン８を有し、このバックプレーン８にはバスアダプタ９と、前記各基板、すなわち、機能試験の際、テストパターンを送信するテストパターン送信基板１０およびテストパターンを受信するテストパターン受信基板１１とが電気的に挿抜可能に接続されている。
【００１７】
さらに、前記バックプレーン８には、機能確認試験を行う回路基板７が、同じく、挿抜可能に接続されるようになっている。
【００１８】
回路基板試験用ラック３は、図示しないが、正面側が開放されたシェルフと、このシェルフの上下の板に形成された複数のスロットにより構成されており、このシェルフの最奥面にバックプレーン８が設置されている。この回路基板試験用ラック３における各スロットには、バスアダプタ９、テストパターン送信基板１０、テストパターン受信基板１１、および回路基板７が挿抜可能に挿入されるとともに、バックプレーン８に接続される構成になっている。
【００１９】
これら構成要素のうち、バスアダプタ９は、パソコン２から送出する制御信号を受信して、回路基板７に対応した信号形式に変換し、その変換後に、制御信号をテストパターン送信基板１０、テストパターン受信基板１１あるいは回路基板７に送出する機能を有している。バスアダプタ９は、また、テストパターン受信基板１１または回路基板７のいずれかに保存された試験結果を読み取り、パソコン２に内蔵されているＨＤＤ４に格納される。
【００２０】
なお、パソコン２とバスアダプタ９との間は、光ケーブルで接続されており、電気的に絶縁されている。
【００２１】
また、回路基板試験装置１において、パソコン２と回路基板試験用ラック７とは、それぞれ個別の電源で動作する接続構成になっている。
【００２２】
その理由は、試験の中で、テストパターン送信基板１０およびテストパターン受信基板１１と回路基板７との接続を変更する際に、回路基板試験装置１の電源を切る必要があり、パソコン２と回路基板試験用ラック３との電源が共通の場合、パソコン２で動作するオペレーティングシステムの起動および終了に時間がかかって、作業効率が悪くなる。
【００２３】
そこで、パソコン２と回路基板試験用ラック３とが、それぞれ個別の電源で動作するようにすれば、パソコン２に関係なく回路基板試験用ラック３の電源のみを切ることができる。
【００２４】
このように構成された回路基板試験装置の動作を、図２乃至図３について説明する。
【００２５】
図２は、本発明による回路基板試験装置の動作手順を示したフローチャート、図３は、図２に示した動作の一部の動作手順を示したフローチャートである。
【００２６】
まず、パソコン２を起動して（ステップＳ２１）、回路基板７を回路基板試験用ラック３に接続装着し、後述するように、ＨＤＤ４に格納されている各種の試験プログラムを選択して実行する（ステップＳ２２）。
【００２７】
前記した試験プログラムの起動後、回路基板７の型番号および製造番号の情報を入力する（図３ステップＳ３１）。
【００２８】
そして、回路基板７に合わせて回路基板試験装置１の設定を行い（ステップＳ３２）、試験を開始する。
【００２９】
この時、ステップＳ３２で入力した回路基板７の型番号および製造番号から名前を付けたログファイルを作成する。
【００３０】
この場合、試験内容は、回路基板７ごとに実施する項目が異なるが、ステップＳ３１で入力した複数種類ある回路基板７の情報から、この回路基板７に適用する試験プログラムを、予めＨＤＤ４内に保存された試験プログラムから自動的に選択して、順次実行する（ステップＳ３３〜Ｓ３６）。
【００３１】
すなわち、ｎ項目の試験数が設定されたら（ステップＳ３３）、1項目ずつｎ回の小試験が実施され（ステップＳ３４）、１項目の試験が終了するごとに、その終了した試験結果をログファイルに追記する（ステップＳ３５）、そして、この動作が必要数のｎ回繰り返される。（ステップＳ３６）。
【００３２】
そして、全項目の機能確認試験が終了すると、回路基板７の機能確認試験結果をログファイルに追記して（ステップＳ３７）、機能確認試験を終了する。
【００３３】
ここで、実施される試験内容の一例を説明すると、まず、テストパターン送信基板１０から試験信号を送出し、その試験信号を回路基板７で受信する。
【００３４】
受信した試験信号はバックプレーン８およびバスアダプタ９を通じて、パソコン２内のＨＤＤ４に保存される。
【００３５】
この時、試験プログラムでは、新たに保存された試験信号と、ＨＤＤ４内に予め用意された期待値データとを照合することで、回路基板７が正しく機能しているかを判定し、その判定結果は表示ディスプレー５に表示される。
【００３６】
次いで、他の例について述べると、この例では、回路基板７から試験信号を送出し、その試験信号をテストパターン受信基板１１で受信する、その受信した試験信号はバックプレーン８およびバスアダプタ９を通じて、パソコン２（図1）内のＨＤＤ４に保存される。
【００３７】
そして、試験プログラムでは、前記例の場合と同様に、新たに保存された試験信号と、ＨＤＤ４内に予め用意された期待値データとを照合することで、回路基板７が正しく機能しているかを判定し、その判定結果は表示ディスプレー５に表示される。
【００３８】
なお、上記実施形態の試験手法は、機能試験プログラムを、パソコン２に内蔵されているＨＤＤ４以外の記録媒体、例えば、フレキシブルディスクやハードディスクなどの磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−ＲＯＭおよびＭＯなどの光ディスク、さらには、ＲＯＭやＲＡＭおよびフラッシュメモリーなどの半導体メモリーなどに格納することにより、或いは、通信媒体などで伝送することによって、頒布することができる。
【００３９】
このように、本発明によれば、回路基板の機能確認試験ごとに、その試験結果を残すことができるため、過去に実施した試験結果を容易に確認することができ、また、試験結果が異常となった場合にも、小試験ごと、すなわち、機能項目ごとに記録したログが残るので、このログを表計算ソフトなどで解析することにより、異常の発生傾向を分析することができ、さらに、その解析結果から異常の発生原因も究明するができる。
【００４０】
また、本発明によれば、パソコンと回路基板試験用ラックとが、それぞれ個別の電源で動作するように構成されているので、パソコンに関係なく回路基板試験用ラックのみの電源を切ることができ、したがって、試験作業の効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明による回路基板試験装置の実施形態を示した構成ブロック図である。
【図２】本発明による回路基板試験装置の動作手順を示したフローチャートである。
【図３】本発明による回路基板試験装置の動作手順の一部を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００４２】
１    回路基板試験装置
２    パソコン
３    回路基板試験用ラック
４    ハードディスク駆動装置（ＨＤＤ）
５    表示ディスプレー
６    入力装置
７    回路基板
８    バックプレーン
９    バスアダプタ
１０    テストパターン送信基板
１１    テストパターン受信基板
【図１】
2007218598.tif 000003
【図２】
2007218598.tif 000004
【図３】
2007218598.tif 000005