(57)【要約】【課題】  検査内容の変更を容易且つ安価に行えるようにして、的確な品質検査を実施できるようにした検査システムおよびその検査方法を提供する。【解決手段】  この検査システム１０では、被検査機器２０に対する市場からのクレーム情報（以下、市場クレーム情報）と、生産工程における検査情報（以下、生産工程検査情報）とに基づき被検査機器２０に対して行う品質検査の内容を決定する。そして、ここで決定した検査内容に基づき検査コマンド列を生成し、それを被検査機器２０に送信することで、被検査機器２０の品質検査を行うことになる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
各種機能部品から構成された被検査機器の品質検査を行う検査システムにおいて、
前記各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定する決定手段と、
前記決定手段で決定された検査内容に基づいて検査コマンド列を生成し、それを前記被検査機器に送出する検査コマンド出力手段と
を具備し、
前記被検査機器は、
前記検査コマンド出力手段からの検査コマンド列に基づいた検査処理を実行する実行手段
を具備することを特徴とする検査システム。
【請求項２】
前記決定手段は、
前記被検査機器に対する市場からのクレーム情報、生産工程における検査情報のいずれか一方、あるいはその両方を含む情報に基づき前記各種機能部品についての品質情報を集計した結果を分析することで、該各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定する
ことを特徴とする請求項１記載の検査システム。
【請求項３】
前記被検査機器は、
前記実行手段で実行される検査処理の状況を表示装置に出力する出力手段
を更に具備することを特徴とする請求項１記載の検査システム。
【請求項４】
前記被検査機器は、
前記実行手段で実行される検査処理の状況を記憶装置に出力する出力手段
を更に具備することを特徴とする請求項１記載の検査システム。
【請求項５】
各種機能部品から構成された被検査機器の品質検査を行う検査システムの検査方法において、
前記各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定手段で決定し、
前記決定手段で決定された検査項目とその検査レベルとに基づいて検査コマンド列を生成し、それを前記被検査機器に検査コマンド出力手段で送出し、
前記被検査機器は、前記検査コマンド出力手段からの検査コマンド列に基づいた検査処理を実行手段で実行する
ことを特徴とする検査システムの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種機能部品から構成された被検査機器の品質検査を行う検査システムおよびその検査方法に係わり、詳しくは、検査内容に基づき生成した検査コマンド列を被検査機器に送出することにより、該被検査機器の品質検査を行うようにした検査システムおよびその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、市場に製品を供給するベンダメーカでは、製品の品質を維持あるいは向上させるために、市場投入前の検査工程において、不具合等がないか厳格な検査を行っている。
【０００３】
この検査技術に関するものとしては、例えば、特許文献１のように、市場の販売店からの品質関連データと製造工場内での製品に関する情報である検査結果データとの対比を行う技術が知られている。
【０００４】
これは、製品出荷後に発見された不具合事象と、製品出荷前に行われた検査結果とを照らし合わせることで、不具合事象の原因が生産工程にあるのか否かが早急に分かるため、不具合に対する対応を生産工程や検査工程へ迅速に反映できるというものである。
【０００５】
また、例えば、特許文献２には、生産実績データ、顧客からの品質に対するクレームのデータに基づき、クレーム発生率を成型設備別に算出し、このクレーム発生率に基づいて、成型設備ごとの工程計画を立案するという技術が開示される。
【特許文献１】特開２００２−３３４１３０号
【特許文献２】特開２００１−１１７６２０号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
さて、上述した検査工程では、製品（以下、被検査機器と言う）の品質検査を行うことになるが、ここで行われる検査内容は、実際の生産工程の前の段階で、過去の実績や被検査機器の特徴に基づいて考案される。
【０００７】
そして、この検査内容が診断モードとして被検査機器に組み込まれ、検査に際し検査システム側からこのモードの起動を指示すると、被検査機器において、かかるモードに従った検査処理が実行されることになる。
【０００８】
そのため、市場や生産工程においてトラブルが多発したとしても、検査内容が固定で組み込まれているため変更が難しく、また変更する際には、多額のコストがかかることから、検査内容が変更できず、トラブルの原因究明が容易には行えなかった。
【０００９】
上述した特許文献１の技術では、市場や生産工程での品質トラブルを分析し、その結果を発令するだけなので、検査内容の変更が容易に行えるものではなく、この種の問題を解決できるものではなかった。
【００１０】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、検査内容の変更を容易且つ安価に行えるようにして、的確な品質検査を実施できるようにした検査システムおよびその検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、各種機能部品から構成された被検査機器の品質検査を行う検査システムにおいて、前記各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定する決定手段と、前記決定手段で決定された検査内容に基づいて検査コマンド列を生成し、それを前記被検査機器に送出する検査コマンド出力手段とを具備し、前記被検査機器は、前記検査コマンド出力手段からの検査コマンド列に基づいた検査処理を実行する実行手段を具備することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記決定手段は、前記被検査機器に対する市場からのクレーム情報、生産工程における検査情報のいずれか一方、あるいはその両方を含む情報に基づき前記各種機能部品についての品質情報を集計した結果を分析することで、該各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定することを特徴とする。
【００１３】
また、請求項３の発明は、請求項１の発明において、前記被検査機器は、前記実行手段で実行される検査処理の状況を表示装置に出力する出力手段を更に具備することを特徴とする。
【００１４】
また、請求項４の発明は、請求項１の発明において、前記被検査機器は、前記実行手段で実行される検査処理の状況を記憶装置に出力する出力手段を更に具備することを特徴とする。
【００１５】
また、請求項５の発明は、各種機能部品から構成された被検査機器の品質検査を行う検査システムの検査方法において、前記各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定手段で決定し、前記決定手段で決定された検査項目とその検査レベルとに基づいて検査コマンド列を生成し、それを前記被検査機器に検査コマンド出力手段で送出し、前記被検査機器は、前記検査コマンド出力手段からの検査コマンド列に基づいた検査処理を実行手段で実行することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、検査システムにおいて、被検査機器を構成する各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定し、該決定された検査内容に基づいて検査コマンド列を生成し、それを被検査機器に送出し、該検査コマンド列に基づいた検査処理を被検査機器に実行させるように構成したため、検査システム側から送出する検査コマンド列を変更するだけで、被検査機器に対する検査内容を変更できることになる。
【００１７】
これにより、不要な検査を省いたり、必要な検査を追加したりといった検査内容の変更を容易且つ安価に行えることから、的確な品質検査の実施が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明に係わる検査システムおよびその検査方法の実施例について添付図面を参照して詳細に説明する。
【実施例】
【００１９】
図１は、本発明に係わる実施例の代表的な構成を示す図である。
【００２０】
この検査システム１０では、被検査機器２０に対する市場からのクレーム情報（以下、市場クレーム情報と略する）や、生産工程における検査情報（以下、生産工程検査情報と略する）に基づき被検査機器２０に対して行う品質検査の内容を決定する。そして、ここで決定した検査内容に基づき検査コマンド列を生成し、それを被検査機器２０に送信することで、被検査機器２０の品質検査を行う。
【００２１】
被検査機器２０には、検査システム１０からの検査コマンド列に従って検査を実行する検査プログラムが内蔵で組み込まれており、被検査機器２０では、この検査プログラムの制御に従って検査処理を行うことになる。
【００２２】
ここで、検査システム１０と被検査機器２０とを構成する各種処理機能について説明する。なお、ここでは、本発明に係わる構成要素のみを挙げて説明する。
【００２３】
検査システム１０は、その機能構成として、集計・分析処理部１１と、検査内容決定部１２と、検査コマンド出力部１３とを具備して構成される。
【００２４】
品質情報集計部１１は、市場クレーム情報と生産工程検査情報とに基づいて被検査機器２０を構成する各種機能部品についての品質情報を集計し、その集計結果を作成する機能を果たす。なお、この検査システム１０への市場クレーム情報や、生産工程検査情報の入力は、例えば、オペレータによる手入力、ネットワークを介した自動入力、等が挙げられる。
【００２５】
検査内容決定部１２は、品質情報集計部１１で作成された集計結果を分析し、被検査機器２０を構成する各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定する機能を果たす。また、検査コマンド出力部１３は、検査内容決定部１２で決定された検査内容に基づいた検査コマンド列を生成し、その生成された検査コマンド列を被検査機器２０に対し送出する機能を果たす。
【００２６】
次に、被検査機器２０について説明する。被検査機器２０は、その機能構成として、検査処理実行部２１と、検査ログ出力部２２とを具備して構成される。
【００２７】
検査処理実行部２１は、検査システム１０からの検査コマンド列を解釈するとともに、かかるコマンド列に基づいて検査処理を実行する機能を果たす。また、検査ログ出力部２２は、この検査処理実行部２１による処理の状況を検査ログとして出力する機能を果たす。
【００２８】
この検査ログ出力部２２から出力された検査ログは、ＵＩ（User Interface）部３１へ出力されるため、オペレータは、このディスプレィ等の表示装置を含んで構成されたＵＩ部３１から、検査結果を把握できることになる。
【００２９】
なお、本実施例においては、検査ログ出力部２２からＵＩ部３１へ検査ログを出力する場合を例に挙げて説明するが、この検査ログを記憶装置に出力し保存するように構成してもよい。また、同図ではＵＩ部３１が、検査システム１０および被検査機器２０上にはなく、それ以外に実装される場合を示しているが、このＵＩ部３１が検査システム１０や被検査機器２０上にあってもよい。
【００３０】
ここで、図２を用いて、図１に示す検査システム１０における品質検査処理の動作について説明する。
【００３１】
この品質検査処理では、まず、品質情報集計部１１が、市場クレーム情報と生産工程検査情報とに基づき各種機能部品についてのトラブル数を集計することになる（ステップＳ１０１）。
【００３２】
この集計処理が完了すると、次に、検査内容決定部１２において、この集計結果の分析が行われ、各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとが決定される（ステップＳ１０２〜ステップＳ１０６）。ここで、この処理について詳述すると、検査内容決定部１２においては、図３に示すような、品質情報集計部１１で集計された機能部品毎のトラブル数と、その許容品質範囲（目標）との関係を分析することにより、品質に応じて機能部品をレベル分け（分類）する。この場合、３段階にレベル分けされており、品質の優れたものからグループ３、グループ１、グループ２となっている。
【００３３】
そして、この分析の結果、導出されたグループ番号を、図４に示す検査内容が定義された一覧データ内に分類コードとして設定し、各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとを決定することになる。
【００３４】
この分類コードは、グループ番号に対応しており、例えば、当該機能部品の品質がグループ１に属する場合には、分類コードとして「１」を設定することになる。例えば、図４で言うと、検査項目「ＤＲＡＭ」はグループ１に該当するため、その分類コードには「１」が設定されている。
【００３５】
このようにして各種機能部品に対する検査項目とその検査レベルとが決定すると、検査コマンド出力部１３では、この決定された検査内容に基づいて検査コマンド列を生成する（ステップＳ１０７）。この検査コマンド列の生成は、例えば、図５に示すように、検査コマンド名が「ｄｇ」であるならば、そのパラメータに「項目番号」と「分類コード」とを設定したコマンド列を生成することになる。
【００３６】
すなわち、図４で説明した一覧データ内の、検査項目に対応した「項目番号」と、その検査レベルを示す「分類コード」とをパラメータとして設定することになる。例えばここで「ＰＲＯＧＲＡＭ  ＲＯＭ」、「ＦＯＮＴ  ＲＯＭ」、「ＤＲＡＭ」について検査を行う場合には「dg 0 3 LF dg 1 3 LF dg 2 1 LF」といった検査コマンド列を生成することになる。
【００３７】
そして、この生成した検査コマンド列を被検査機器２０に対し送出すると（ステップＳ１０８）、これを受けた被検査機器２０側では、検査処理実行部２１において、この検査コマンド列を解釈するとともに、かかるコマンド列に基づいて検査処理を実行することになる。
【００３８】
ここで、例えば、図６には、半年後に集計した品質情報に基づいて初期製造時の検査内容を変更した場合の変更内容の一例が示される。
【００３９】
図６を参照すると、ＲＯＭ検査とＮＥＴ−ＣＨＩＰ検査については、トラブル数がほとんどないため、検査内容が縮小されているのが分かるが、トラブル数が比較的多いＤＲＡＭ検査については、検査内容が強化されているのが分かる。
【００４０】
この検査内容が変更された後の、実際の検査フローについて説明すると、図７に示すように、変更前では、ＲＯＭ（Read Only Memory）検査（メモリ内全エリア）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）検査、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）検査（メモリ内全エリア）、ＮＥＴ−ＣＨＩＰ検査が行われているが、変更後には、ＤＲＡＭ検査の検査内容が、全エリアについて３回検査を行うように強化されているのが分かり、ＲＯＭ検査の検査内容は、先頭１ＫＢについてのみ検査を行うように縮小されているのが分かる。また、ＮＥＴ−ＣＨＩＰ検査に至っては検査対象から除外されているのが分かる。すなわちこれは、不要な検査が省かれ、必要な検査が強化されているということである。
【００４１】
以上説明したように本発明においては、市場クレーム情報と生産工程検査情報とに基づき集計した品質情報の結果を分析することで、各種機能部品についての検査内容を決定し、この検査内容に基づいた検査コマンド列を生成し、それを被検査機器２０に送出して被検査機器２０の検査を行うように構成したため、検査システム１０側から送出する検査コマンド列を変更するだけで、被検査機器２０に対する検査内容を変更できることになる。
【００４２】
これにより、不要な検査を省いたり、必要な検査を追加したりといった検査内容の変更を容易且つ安価に行えることから、的確な品質検査の実施が可能となる。
【００４３】
なお、上記実施例においては、被検査機器２０を構成する各種機能部品の品質を３段階（グループ１〜グループ３）にレベル分けして検査レベルを決定する場合を例に挙げて説明したが、これに限られず、機能部品の品質をさらに細かくレベル分けするように構成し、このレベル分けに応じて検査レベルを複数段階設けるようにしてもよい。
【００４４】
また、上記実施例においては、市場クレーム情報と生産工程検査情報とに基づき集計した品質情報の結果を分析することで、各種機能部品についての検査内容を決定する場合を例に挙げて説明したが、これに限られず、この市場クレーム情報と生産工程検査情報以外の情報に基づいて検査内容を決定するように構成してもよいし、また、この市場クレーム情報と生産工程検査情報のいずれか一方、あるいはその両方を含む情報に基づいて検査内容を決定するように構成してもよい。
【００４５】
また、上記実施例においては、主に、１つの機能部品に付き１つの検査項目を設け被検査機器２０の品質検査を行う場合を例に挙げて説明したが、これに限られず、１つの機能部品に対し複数の検査項目を設けて品質検査を行うことができる。
【００４６】
この他、本発明は、上記および図面に示す実施例に限定することなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施できるものである。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明の検査システムおよびその検査方法は、各種機能部品から構成された被検査機器（製品）の品質検査を行う検査システム全般に適用可能であり、特に、市場に製品を供給するベンダメーカにおける検査工程において有効利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明に係わる実施例の代表的な構成を示す図である。
【図２】図１に示す検査システム１０における品質検査処理の動作を示すフローチャートである。
【図３】検査内容決定部１２における分析結果によるレベル分けの概要を示す図である。
【図４】検査内容決定部１２が保持する検査内容一覧データの一例を示す図である。
【図５】検査コマンド出力部１３で生成される検査コマンド列の一例を示す図である。
【図６】検査システム１０により検査内容を変更した場合の一例を示す図である。
【図７】図６に示す変更内容に従った検査処理のシーケンスチャートである。
【符号の説明】
【００４９】
１０    検査システム
１１    品質情報集計部
１２    検査内容決定部
１３    検査コマンド出力部
２０    被検査機器
２１    検査処理実行部
２２    検査ログ出力部
３１    ＵＩ（User Interface）部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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