(57)【要約】【課題】電源再投入による誤動作を防止できる測距装置を提供すること。【解決手段】測距対象物に向けて光束を複数回投光するＩＲＥＤ４と、測距対象物に投光された光束の反射光を受光し測距対象物までの距離に応じた信号を出力するＰＳＤ５と、そのＰＳＤ５の出力信号を信号処理するＡＦＩＣ１０と、そのＡＦＩＣ１０に対し電源供給された後であってその電源供給が停止される直前にＡＦＩＣ１０を初期状態にリセットするリセット信号を出力するＣＰＵ１とを備えている。ＡＦＩＣ１０への電源供給停止の直前にＡＦＩＣ１０のリセットが行われるため、電源電圧が一定電圧以下になる前に再投入されパワーオンリセットが行われない場合でも、正常な測距ルーチンを行うことができ、測距装置の誤動作の防止が図れる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、
前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を受光し前記測距対象物までの距離に応じた信号を出力する受光手段と、
前記受光手段の出力信号を信号処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段に対し電源供給された後であってその電源供給が停止される直前に前記信号処理手段を初期状態にリセットするリセット信号を出力する制御手段と、
を備えた測距装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測距対象物までの距離を測定する測距装置に関し、特に、カメラ等に用いられるアクティブ型の測距装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、カメラ等に用いられるアクティブ型の測距装置としては、特開平１０−２７４５２４号公報に記載されるように、測距対象物での反射光を受けてその測距対象物までの距離に応じた近側信号及び遠側信号を出力する受光手段を有し、その遠側信号と予め設定されるクランプ信号とを大小比較し、その比較により大きい信号と近側信号との比から出力比信号を算出し、その出力比信号の値に基づいて異なる変換式により出力比信号を距離信号に変換するものが知られている。
【０００３】
この測距装置は、回路規模を大きくすることなく、かつ、短時間に、従来の光量測距併用方式と同程度の測距結果を得て、測距対象物までの距離が大きくても一意的かつ安定に距離を求めようとするものである。
【特許文献１】特開平１０−２７４５２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、この種の測距装置において、信号処理などを行う信号処理用ＩＣでは、データの初期化のため、測距ルーチンの開始時にパワーオンリセットが行われる。また、信号処理用ＩＣにマイコンなどからリセット信号を入力してリセットが行われる場合がある。
【０００５】
しかしながら、信号処理用ＩＣへの電源供給が停止された後、その電源電圧がゼロとなる前に再び電源が投入されると、信号処理用ＩＣではパワーオンリセットが行われない場合がある。この場合、信号処理用ＩＣのデータが初期化されないため、正常な測距が行えず、誤動作するおそれがある。
【０００６】
そこで本発明は、このような技術課題を解決するためになされたものであって、電源再投入による誤動作を防止できる測距装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このような目的を達成するために、本発明に係る測距装置は、測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、測距対象物に投光された光束の反射光を受光し測距対象物までの距離に応じた信号を出力する受光手段と、受光手段の出力信号を信号処理する信号処理手段と、信号処理手段に対し電源供給された後であってその電源供給が停止される直前に信号処理手段を初期状態にリセットするリセット信号を出力する制御手段とを備えている。
【０００８】
この発明によれば、信号処理手段への電源供給停止の直前に信号処理手段のリセットが行われるため、電源電圧が一定電圧以下になる前に再投入されパワーオンリセットが行われない場合でも、正常な測距ルーチンを行うことができ、測距装置の誤動作の防止が図れる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、信号処理手段への電源供給停止の直前に信号処理手段のリセットを行うことにより、電源電圧が一定電圧以下になる前に再投入されパワーオンリセットが行われない場合でも、正常な測距ルーチンを行うことができ、測距装置の誤動作防止が図れる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、添付図面に基づき、本発明の種々の実施形態について説明する。尚、各図において同一要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。
【００１１】
（第一実施形態）
【００１２】
図１に本実施形態に係る測距装置の構成図を示す。
【００１３】
図１に示すように、本実施形態に係る測距装置には、ＣＰＵ１が設けられている。ＣＰＵ１は、測距装置を備えるカメラ全体の制御を行うものであり、ＥＥＰＲＯＭ２に予め記憶されているプログラム及びパラメータに基づいて測距装置を含むカメラ全体の制御を行う。
【００１４】
測距装置には、ＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード）４が設けられている。ＩＲＥＤ４は、発光により測距対象物へ投光ビームを投光する投光手段として機能する。このＩＲＥＤ４は、ドライバ３を介してそれぞれＣＰＵ１に接続されており、ＣＰＵ１に発光制御されている。
【００１５】
ドライバ３は、カメラに内蔵されるバッテリ（図示なし）の電源供給を受けＣＰＵ１の制御信号に従って、ＩＲＥＤ４のほか、レンズ駆動回路７、ＡＦＩＣ１０などのカメラの構成部品に電源供給を行うものであり、例えばドライバＩＣなどが用いられる。
【００１６】
また、測距装置には、ＰＳＤ（位置検出素子）５が設けられている。ＰＳＤ５は、各ＩＲＥＤ４から測距対象物に投光された投光ビームの各反射ビームを受光する受光手段として機能するものである。
【００１７】
更に、測距装置には、自動焦点用ＩＣ（以下「ＡＦＩＣ」という。）１０が設けられている。ＡＦＩＣ１０は、ＰＳＤ５の出力信号を処理する信号処理手段として機能するものであり、このＡＦＩＣ１０の動作はＣＰＵ１により制御され、ＡＦＩＣ１０から出力されるＡＦ信号（積分信号）はＣＰＵ１に入力される。
【００１８】
ＩＲＥＤ４から赤外光である投光ビームが出射されると、その投光ビームはＩＲＥＤ４の前面に配置された投光レンズ（図示せず）を介して測距対象物に投光される。その投光ビームの一部が反射され、ＰＳＤ５の前面に配置された受光レンズ（図示せず）を介してＰＳＤ５の受光面上の何れかの位置で受光される。この受光位置は、測距対象物までの距離に応じたものである。そして、ＰＳＤ５は、その受光位置に応じた２つの信号Ｉ1及びＩ2を出力する。
【００１９】
信号Ｉ1は、受光光量が一定であれば距離が近いほど大きな値となる近側信号であり、信号Ｉ2は、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値となる遠側信号である。信号Ｉ1及びＩ2の和は、ＰＳＤ５が受光した反射光の光量を表す。近側信号Ｉ1はＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子に入力され、遠側信号Ｉ2はＡＦＩＣ１０のＰＳＤＦ端子に入力される。ただし、実際には外界条件により近側信号Ｉ1 及び遠側信号Ｉ2それぞれに定常光成分Ｉ0が付加された信号がＡＦＩＣ１０に入力される。
【００２０】
ＡＦＩＣ１０は、集積回路（ＩＣ）であって、第１信号処理回路１１、第２信号処理回路１２、クランプ回路１３、演算回路１４、積分回路１５、ロジック回路１６及びリセット回路１７を備えて構成されている。
【００２１】
第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出力された信号Ｉ1＋Ｉ0の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分Ｉ0を除去して近側信号Ｉ1を出力する。また、第２信号処理回路１２は、ＰＳＤ５から出力された信号Ｉ2＋Ｉ0の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分Ｉ0を除去して遠側信号Ｉ2を出力する。
【００２２】
クランプ回路１３は、第２信号処理回路１２から出力された遠側信号Ｉ2を入力し、その遠側信号Ｉ2を予め設定されたクランプ信号ＩCと比較し、遠側信号Ｉ2がクランプ信号ＩC以上であるときには遠側信号Ｉ2をそのまま出力し、遠側信号Ｉ2がクランプ信号ＩCより小さいときにクランプ信号ＩCを出力する。以下、クランプ回路１３から出力される出力信号をＩ2Cで表す。
【００２３】
演算回路１４は、第１信号処理回路１１から出力された近側信号Ｉ1と、クランプ回路１３から出力された出力信号Ｉ2Cとの入力を受け、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2C））を演算し、その結果を表す出力比信号を出力する。なお、この出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2C））は、ＰＳＤ５の受光面上の受光位置、即ち測距対象物までの距離を表す。
【００２４】
積分回路１５は、この出力比信号の入力を受け、ＡＦＩＣ１０のＣＩＮＴ端子に接続された積分コンデンサ６とともにその出力比を多数回積算するものであり、これによりＳ／Ｎ比の改善が図られる。このとき、積分コンデンサ６への出力比の積算は、放電した状態の積分コンデンサ６に出力比信号に応じて徐々に充電していくことにより行われる。
【００２５】
そして、その積算された出力比は、ＡＦ信号（積分信号）としてＡＦＩＣ１０のＳＯＵＴ端子から出力される。ＣＰＵ１は、ＡＦＩＣ１０から出力されたＡＦ信号の入力を受け、所定の演算を行ってＡＦ信号を距離信号に変換し、その距離信号をレンズ駆動回路７に送出する。レンズ駆動回路７は、その距離信号に基づいて撮影レンズ８を合焦動作させる。
【００２６】
ロジック回路１６は、論理演算を行う回路であり、ＡＦＩＣ１０の入力端子であるＣＬＡＬＶ端子に接続されており、そのＣＬＡＬＶ端子を通じてＣＰＵ１から出力されるパルス信号を入力する。ロジック回路１６は、例えばＤフリップフロップからなる４ビットのバイナリカウンタ回路などを備えて構成され、ＣＰＵ１から出力されるパルス信号のパルス入力に応じて、クランプ回路１３に信号を出力しクランプ電流及びクランプ信号ＩCを設定する共に、ＡＦＩＣ１０のリセットを行う。
【００２７】
ロジック回路１６には、ＣＰＵ１からのパルス信号のパルス入力数に応じて、クランプ回路１３又はリセット回路１７のいずれかに信号を出力するように論理回路が組まれている。
【００２８】
具体的には、図２に示すように、ロジック回路１６が、１パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．１２５ｎＡとする信号を出力し、２パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．２５ｎＡとする信号を出力し、３パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．３７５ｎＡとする信号を出力し、４パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．５ｎＡとする信号を出力し、５パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．６２５ｎＡとする信号を出力する。
【００２９】
また、ロジック回路１６が６パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．７５ｎＡとする信号を出力し、７パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を０．８７５ｎＡとする信号を出力し、８パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．０ｎＡとする信号を出力し、９パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．１２５ｎＡとする信号を出力し、１０パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．２５ｎＡとする信号を出力し、１１パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．３７５ｎＡとする信号を出力し、１２パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．５ｎＡとする信号を出力し、１３パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．６２５ｎＡとする信号を出力し、１４パルスからなるパルス信号を入力したときにはクランプ回路１３にクランプ電流を１．７５ｎＡとする信号を出力する。
【００３０】
更に、ロジック回路１６が１５パルスからなるパルス信号を入力したときにはリセット回路１７にＡＦＩＣ１０をリセットする信号を出力する。
【００３１】
このように、ロジック回路１６が異なるパルス数のパルス信号を単一のＣＬＡＬＶ端子を介して入力することにより、クランプレベルを決めるクランプ電流の設定と共に、ＡＦＩＣ１０のリセットが行える。また、その際、ＣＰＵ１から出力されるパルス信号は、クランプ設定信号及びリセット信号として機能する。
【００３２】
リセット回路１７は、ＡＦＩＣ１０の各データを初期状態にリセットする回路であり、ロジック回路１６の出力信号を受けて作動する。
【００３３】
図３にＡＦＩＣ１０の第１信号処理回路１１、積分回路１５の具体的な構成図を示す。なお、第２信号処理回路１２も、第１信号処理回路１１と同様な回路構成を有している。
図３に示すように、第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出力された定常光成分Ｉ0を含む近側信号Ｉ1を入力し、定常光成分Ｉ0を除去して、近側信号Ｉ1を出力するものである。ＰＳＤ５の近距離側端子から出力される電流（Ｉ1＋Ｉ0）は、ＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子を経て、第１信号処理回路１１のオペアンプ２０の−入力端子に入力される。オペアンプ２０の出力端子はトランジスタ２１のベース端子に接続されており、トランジスタ２１のコレクタ端子は、トランジスタ２２のベース端子に接続されている。トランジスタ２２のコレクタ端子には、オペアンプ２３の−入力端子が接続され、このコレクタ端子には圧縮ダイオード２４のカソード端子が接続されている。また、オペアンプ２３の＋入力端子には圧縮ダイオード２５のカソード端子が接続されており、圧縮ダイオード２４及び２５のそれぞれのアノード端子には第１基準電源２６が接続されている。
【００３４】
また、ＡＦＩＣ１０のＣＨＦ端子には、定常光除去コンデンサ２７が外付けされている。この定常光除去コンデンサ２７は、第１信号処理回路１１内の定常光除去用トランジスタ２８のベース端子に接続されている。定常光除去コンデンサ２７とオペアンプ２３は、スイッチ２９を介して接続されており、このスイッチ２９のオンオフはＣＰＵ１により制御される。定常光除去用トランジスタ２８のコレクタ端子はオペアンプ２０の−入力端子に接続されており、トランジスタ２８のエミッタ端子は他端が接地された抵抗３０に接続されている。
【００３５】
一方、図３において、積分回路１５は、ＡＦＩＣ１０のＣINT端子に外付けされた積分コンデンサ６を備えている。積分コンデンサ６は、スイッチ６０を介して演算回路１４の出力端子に接続され、スイッチ６２を介して定電流源６３に接続され、スイッチ６４を介して接地されている。これらのスイッチ６０、６２及び６４は、ＣＰＵ１からの制御信号により制御される。
【００３６】
図４にＡＦＩＣ１０のクランプ回路１３の具体的な構成図を示す。
【００３７】
図４に示すように、クランプ回路１３には、遠側信号Ｉ2のレベルを判定するコンパレータ３７が設けられている。コンパレータ３７の＋入力端子は、第２信号処理回路１２のトランジスタ２２のコレクタ端子に接続されるとともに、スイッチ３８を介して演算回路１４の入力端子に接続されている。一方、コンパレータ３７の−入力端子は、＋入力端子に接続されているトランジスタ２２及び圧縮ダイオード２４と同様に、トランジスタ５１のコレクタ端子及び圧縮ダイオード５２のカソード端子と接続されるとともに、スイッチ３９を介して演算回路１４の入力端子に接続されている。
【００３８】
また、トランジスタ５１のベース端子には、クランプ電流源４１が接続されている。クランプ電流源４１には、定電流源４２ａとスイッチ４３ａが直列接続され、定電流源４２ｂとスイッチ４３ｂが直列接続され、定電流源４２ｃとスイッチ４３ｃが直列接続され、定電流源４２ｄとスイッチ４３ｄが直列接続されており、それらのスイッチ４３ａ〜４３ｄの他端側がトランジスタ５１のベース端子に接続されている。
【００３９】
例えば、定電流源４２ａは一定電流値０．１２５ｎＡを出力し、定電流源４２ｂは一定電流値０．２５ｎＡを出力し、定電流源４２ｃは一定電流値０．５ｎＡを出力し、定電流源４２ｄは一定電流値１．０ｎＡを出力するものが用いられる。
【００４０】
スイッチ４３ａ〜４３ｄは、ロジック回路１６から出力される信号Ｑ１〜Ｑ４により制御されて開閉する。そして、クランプ電流源４１は、その閉じられたスイッチに対応する定電流源それぞれからの電流の総和であるクランプ電流をトランジスタ５１のベース端子に入力する。このクランプ電流はトランジスタ５１のベース電流となり、その大きさに応じたコレクタ電位がコンパレータ３７の−入力端子に入力される。なお、クランプ電流は、測距装置の製造時に適宜設定される。
【００４１】
また、スイッチ３９にはコンパレータ３７の出力端子が接続されており、コンパレータ３７の出力信号が入力される。また、スイッチ３８にはインバータ４０を介してコンパレータ３７の出力端子が接続されており、コンパレータ３７の出力信号が反転されて入力される。従って、スイッチ３８及び３９は、コンパレータ３７の出力信号により、一方がオン状態となると他方がオフ状態となる関係にある。
【００４２】
次に、本実施形態に係る測距装置の動作について説明する。
【００４３】
図５に測距装置の動作に係るタイミングチャートを示す。
【００４４】
カメラのシャッタが押されると、測距ルーチンが開始され、図５に示すように、ＡＦＩＣ１０にドライバ３から電源電圧ＶＣＣが供給される。また、その電源供給とほぼ同時に、ＡＦＩＣ１０にてパワーオンリセットが行われ、積分コンデンサ６の予備充電が開始される。
【００４５】
そして、ＡＦＩＣ１０のＣＬＡＬＶ端子にクランプ設定信号としてパルス信号が入力され、複数のパルスが入力される。このパルス入力数に応じてクランプ回路１３のクランプ電流及びクランプ信号レベルが設定される。次いで、ＡＦＩＣ１０のＣＯＮＴ端子にコントロール信号が入力される。すなわち、ＣＯＮＴ端子に、六つのパルスＰ１〜Ｐ６が入力された後、積分動作用のパルスＰ１０、Ｐ２０が繰り返し入力される。
【００４６】
パルスＰ１の入力により積分コンデンサの予備充電が終了する。また、パルスＰ３の入力により積分コンデンサ６に一定時間一定電流を流す補正用の積分動作が開始される。
【００４７】
そして、パルスＰ４の入力により、補正用の積分動作が終了し、積分コンデンサ６の充電電圧がＡ／Ｄ変換され、ＣＰＵ１に読み込まれる。ＣＰＵ１では、Ａ／Ｄ変換された電圧値から積分コンデンサ６の容量を算出する。この実測の容量に基づいて測距演算結果に補正を行うことにより、測距精度の向上が図れる。
【００４８】
そして、パルスＰ５の入力により積分コンデンサ６が放電される。
【００４９】
そして、パルスＰ１０、Ｐ２０の入力ごとに積分動作が行われ、出力比（Ｉ1／（Ｉ1＋Ｉ2C））に応じて積分コンデンサ６に充電が行われる。そして、一定回数の積分動作が終了すると、ＡＦＩＣ１０のＣＬＡＬＶ端子にリセット信号としてパルス信号が入力される。すなわち、ＣＬＡＬＶ端子に１５パルスの入力が行われ、この１５パルスの入力を受けてロジック回路１６がリセット回路１７に信号を出力し、リセット回路１７が作動してＡＦＩＣ１０のリセットが行われる。このリセットにより、ＡＦＩＣ１０の各種のデータが初期状態となる。
【００５０】
そして、ＡＦＩＣ１０への電源供給が停止され（ＶＣＣオフ）、測距ルーチンが終了する。
【００５１】
以上のように、本実施形態に係る測距装置によれば、クランプ設定信号とリセット信号をＡＦＩＣ１０のＣＬＡＬＶ端子に入力するため、ＡＦＩＣ１０における入力端子の設置数を少なくすることができる。このため、信号処理手段であるＡＦＩＣ１０のコスト削減、ひいては測距装置全体のコスト削減が図れる。
【００５２】
また、測距動作（積分動作）の終了時にＡＦＩＣ１０のリセットが行われるため、電源電圧が一定電圧以下になる前に再投入されパワーオンリセットが行われない場合でも、正常な測距ルーチンが行え、測距装置の誤動作を防止できる。
【００５３】
（第二実施形態）
【００５４】
次に、第二実施形態に係る測距装置について説明する。
【００５５】
本実施形態に係る測距装置は、第一実施形態に係る測距装置とほぼ同様な構成を有するものであるが、制御手段であるＣＰＵ１から信号処理手段であるＡＦＩＣ１０へリセット信号がＡＦＩＣ１０への電源供給の停止直前に行われる点で異なっている。
【００５６】
図６に測距装置の動作についてのタイミングチャートを示す。
【００５７】
図１において、ズーミング操作などが行われると、ＣＰＵ１からドライバ３に制御信号が出力され、ドライバ３からレンズ駆動回路７に電源電圧が供給される。  このとき、図６に示すように、ＡＦＩＣ１０にも同様に電源電圧が供給される（図６のＶＣＣ）。ＡＦＩＣ１０は、この電源供給を受けてパワーオンリセットが行われる。
【００５８】
そして、ズーミング操作などが終了すると、レンズ駆動回路７への電源供給の停止に伴い、ＡＦＩＣ１０への電源供給も停止されるが、その電源供給の停止の直前にＣＰＵ１からＡＦＩＣ１０のＣＬＡＬＶ端子にリセット信号としてパルス信号が入力される。すなわち、ＣＬＡＬＶ端子に１５パルスの入力が行われ、この１５パルスの入力を受けてロジック回路１６がリセット回路１７に信号を出力し、リセット回路１７が作動してＡＦＩＣ１０のリセットが行われる。このリセットにより、ＡＦＩＣ１０の各種のデータが初期状態となる。
【００５９】
ここで、電源供給の停止の「直前」とは、ＡＦＩＣ１０以外の他の回路等の動作の終了時からＡＦＩＣ１０への電源供給停止時までの間を意味する。
【００６０】
以上のように、本実施形態に係る測距装置によれば、ＡＦＩＣ１０への電源供給停止の直前にＡＦＩＣ１０のリセットが行われるため、電源電圧が一定電圧以下になる前に再投入されパワーオンリセットが行われない場合でも、正常な測距ルーチンが行え、測距装置の誤動作防止が図れる。
（第三実施形態）
【００６１】
第一実施形態及び第二実施形態では、測距動作を１回行う場合について説明したが、本発明に係る測距装置はそのようなものに限られるものではない。本発明に係る測距装置は、測距動作を複数回行い、その結果から測定対象物までの距離を計測するものであってもよい。
【００６２】
ここで、「測距動作」とは、ＩＲＥＤ４の投光、ＰＳＤ５の受光、積分コンデンサ６への充電の各工程を所定回数繰り返す動作をいう。
【００６３】
図７に測距動作を３回行う場合のタイミングチャートを示す。図７に示すように、測距動作を複数回行う場合、一回目の測距動作における積分コンデンサ６の充電時間ｔａ１に対し、二回目以降の測距動作における積分コンデンサ６の充電時間ｔａ２、ｔａ３を短くすることが望ましい。
【００６４】
また、一回目の測距動作における補正積分の時間ｔｂ１に対し、二回目以降の測距動作における補正積分の時間ｔｂ２、ｔｂ３を短くすることが望ましい。
【００６５】
このように、二回目以降の測距動作における積分コンデンサ６の充電時間及び補正積分の時間を短くすることにより、測距時間を短くしてタイムパララックスを低減させることができる。
【００６６】
また、測距動作を複数回行い測距結果を平均化することにより、測距精度を向上させることができる。
【００６７】
なお、複数回連続して測距動作を行う場合には、補正積分は一回目の結果を共通して用いることができる。このため、二回目以降の測距動作における補正積分を省略してもよい。本実施形態に係る測距装置では、コントロール信号のパルス入力に従って制御処理が進行するため、二回目以降の測距動作では補正積分の時間を短くしている。
【００６８】
また、一回目の測距動作における急速充電（図７中の時間ｔａ１の充電）により、積分コンデンサ６の誘電体吸収は除去されている。このため、二回目以降の測距動作における急速充電を省略してもよい。本実施形態に係る測距装置では、コントロール信号のパルスに従って制御処理が進行するため、二回目以降の測距動作では急速充電の時間（ｔａ２、ｔａ３）を短くしている。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】実施形態に係る測距装置の構成図である。
【図２】ＡＦＩＣへのパルス入力と処理内容の説明図である。
【図３】図１の測距装置の信号処理回路等の説明図である。
【図４】図１の測距装置におけるクランプ回路等の説明図である。
【図５】第一実施形態に係る測距装置の動作時のタイミングチャートである。
【図６】第二実施形態に係る測距装置の動作時のタイミングチャートである。
【図７】第三実施形態に係る測距装置の動作時のタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００７０】
１…ＣＰＵ（制御手段）、２…ＥＥＰＲＯＭ、４…ＩＲＥＤ（投光手段）、５…ＰＳＤ（受光手段）、１０…ＡＦＩＣ（信号処理手段）、１３…クランプ回路、１５…積分回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2007232730.tif 000007
【図６】
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【図７】
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