(57)【要約】      （修正有）【課題】ピン治具を挿入、接続してなる汎用充電器性能検査器において、ピン治具を交換して、自動的にその機種のシーケンスデータを選択する。【解決手段】交換可能なピン治具に充電器を検査するピン治具内に、充電器の固有情報を保存させ、ピン治具を汎用充電器性能検査装置に挿入、接続するのみで、固有の検査のシーケンスデータを自動で選択できるようにし、検査器の安価性に加え、自動による検査の高速性を可能にした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
充電器性能検査装置内に、交換可能なピン治具を挿入、接続して検査を行なう充電器性能検査装置で、前記ピン治具に、充電器を検査する固有情報を保存していることを特徴とする充電器検査装置。
【請求項２】
充電器を検査する固有情報を、スイッチでコード化して保存することを特徴とする請求項１記載の充電器検査装置。
【請求項３】
充電器を検査する固有情報を、不揮発性メモリーに保存していることを特徴とする請求項１記載の充電器検査装置。
【請求項４】
充電器の機種名及び、または機種コードを充電器検査の固有情報とした請求項１から３いずれかに記載の充電器検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充電器の性能検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタルスチルカメラやビデオムービー、携帯電話といった携帯可能な電子機器の市場が急速に伸びている。その中で、携帯型電子機器に電源を供給するための充電型電池パック及び充電器は重要な役割を担っている。民生用の充電器の性能検査は、充電器の中の、部品実装済みの基板の検査を用いて行なうのが通常である。充電器内の基板にテストポイント（以下、TPと記す。）を設け、性能検査装置に設置するテストピンを、TPに刺し、そのTPより得られる出力電圧、電流等で、充電器の性能検査を行なうのが通常である。
【０００３】
ＴＰから検査の為の信号を、基板に入力することもある。民生用充電器は、非常に種類が多い。充電器の形状が変わると、それら充電器の中の、基板の形状も変わる。基板が変わると、TPの位置が変わり、その固有の基板に応じた性能検査装置を作成する必要性が生じ、検査器作成に要する費用も莫大となる。一方、充電器の性能検査の内容は、基板が変わっても同じ内容が多く、性能検査に共通の部分を、汎用検査装置として構成し、基板が変わる毎にかわる部分を、ピン治具として作成し、汎用検査装置内に交換可能なピン治具を挿入、接続して性能検査装置とする方が、安価で性能検査が出来る。
【０００４】
しかしながら、充電器の性能検査は、従来のように、充電器の出力に負荷抵抗を接続して、その負荷電流（充電電流）を測定し、製品の良否を検査する単純な方式に比べ、複雑化して来ている。又、検査のトレーサビリティを確保する為、パソコン（以下、ＰＣと記す。）を搭載した汎用検査装置が主流となりつつある。又、検査の高速化も要求される。そのような状況の中、その充電器固有の性能検査の為に作成した交換可能なピン治具を汎用検査装置内に挿入、接続して以後の、検査の自動化が課題となっている。
【０００５】
上記、安価で基板検査装置を構成する課題に関して、ピンを固定する分割台部を用いて汎用検査装置上に設置する方法（例えば、特許文献１参照）などが提案されている。
【０００６】
又、汎用検査装置内に交換可能なピン治具を挿入、接続した充電器性能検査装置の検査の自動化の課題に関しては、図４に示すような構成の充電器性能検査装置を用いた検査方法が実施されている。
【特許文献１】特開２００５−０６９９５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、図４に示す充電器性能検査装置は、ＰＣ内のシーケンスデータ格納部に、検査シーケンスを格納する構成になっており、このシーケンスデータ格納部に、充電器毎の夫々のシーケンスデータが格納されており、汎用検査装置として検査出来る充電器の機種が増えると、そのシーケンスデータの数も莫大となる。検査の項目が同じでも、検査の合否を判定する数値が異なれば、シーケンスデータも変わり、ＰＣに格納されるシーケンスデータの数は莫大なものである。そこで、一つの機種の充電器性能検査をする場合、交換可能なピン治具を交換すると同時に、手動で、その機種のシーケンスデータも選択し、検査を開始しなければならず、検査の自動化とは程遠い実態があった。
【０００８】
特に、生産ライン上、頻繁に機種を変える場合、その交換時間ロスは大きいものがあっ
た。
【０００９】
本発明は、この様な課題を解決するものであり、汎用性のある検査装置に、交換可能なピン治具を挿入、接続してなる充電器性能検査装置で、ピン治具を交換すれば、自動的にその機種のシーケンスデータも選択出来、自動で、かつ安価で構成できる充電器性能検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明の充電器性能検査装置は、汎用の充電器性能検査装置内に、交換可能なピン治具を挿入、接続して検査を行なう充電器性能検査装置で、該ピン治具に、充電器を検査する固有情報を保存していることを特徴としている。
【００１１】
又、充電器を検査する固有情報を、スイッチでコード化して保存することを特徴とする。又、充電器を検査する固有情報を、不揮発性メモリーに保存していることを特徴とする。更に、充電器の機種名及び、又は充電器を検査する固有情報とすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によると、汎用の充電器性能検査装置内に、交換可能なピン治具を挿入、接続するのみで、充電器性能検査装置は、検査すべき特定のシーケンスデータを選び出し、検査を開始できるので、生産ラインに於いて機種切換が発生した場合でも、手動でシーケンスデータを選び出す必要がなく、切換時間ロスの少ない、高速で検査出来る充電器性能検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。尚、各図において、同一の構成要素には同一の番号を付している。
【００１４】
図１は、本発明の実施形態に係る充電器性能検査装置のブロック図を示している。
【００１５】
充電器の性能は、充電器内の基板に配置されたTPから、汎用性のある充電器性能検査装置１ａ内に挿入、接続されるピン治具２ａに取り付けられたテストピンを介して、検査制御回路３ａに入力され、入出力制御装置４で、適正な信号形式に変換し、ＰＣ５に入力され、検査される。機器制御装置６は、充電器の性能検査で使用される、DC電源７や、電子負荷８を制御し、ＰＣ５内のシーケンスデータ格納部９に格納された、検査対象の充電器のシーケンスに基づいて検査制御回路３ａ内の、リレー等の制御を行なう。充電器性能検査装置１ａは、汎用性があるので、ＰＣ５内のシーケンスデータ格納部９には、検査対象の夫々の充電器のシーケンスが格納されている。従来は、充電器に応じて、ピン治具を取り替えた際に、同時に、ＰＣ５のキーボードを操作して、莫大な量のシーケンスデータから、その充電器のシーケンスデータを手動で選び出し、検査を開始していた。
【００１６】
ピン治具内の固有情報保存手段１０は、検査対象の充電器の固有情報を保存する。固有情報として、充電器の機種名（機種コード）等を予め設定しておけば、その機種名コードは、ピン治具２ａ内の入出力手段１１、検査制御回路３ａ内の入出力手段１２を介し、検査制御回路３ａ、入出力制御装置４を通して、ＰＣ５に入力される。ＰＣ５は、その入力情報に基づいて、シーケンスデータ格納部９に格納された、莫大なシーケンスデータから、検査対象の充電器特有のシーケンスデータを、自動で選択し、そのシーケンスデータに基づいた、検査制御情報を、入出力制御装置４を介して、検査制御回路３ａに、機器制御装置６を介して、DC電源７や電子負荷８に制御信号を送り、その充電器固有の検査が開始できる状態になる。
【００１７】
次に、固有情報保存手段１０の固有情報を保存する実施例を、図２、図３を用いて説明する。
【００１８】
図２中、ピン治具２ｂ内には、入出力手段として、接続コネクタ１１ｂを用いている。接続コネクタ１１ｂの端子は、スイッチ（以後ＳＷと記す。）１３ｂ１に接続されており、Ｈ（＋Ｖｃｃに接続された状態）か、Ｌ（ＧＮＤに接続された状態）のどちらかに設定できる。２番目の端子は、ＳＷ１３ｂ２に、最後の端子は、ＳＷｂｎに接続される。これらのＨ，Ｌ情報は接続コネクタ１２ｂを介して、検査制御回路３ｂ、入出力制御装置４を通り、ＰＣ５に伝えられる。接続コネクタとして、１２個の端子を用いると、４０９６通りの設定が可能となる。４０９６個の充電器の機種コードが設定可能となる。
【００１９】
図３中、ピン治具２ｃ内には、入出力手段として、接続コネクタ１１ｃを用いている。接続コネクタ１１ｃの端子は、不揮発性メモリー１４のデータ出力に接続されている。不揮発性メモリー１４には、充電器の機種コードが入力されており、このデータは、接続コネクタ１２ｃを介して、検査制御回路３ｃ、入出力制御装置４を通り、ＰＣ５に伝えられる。８ビットの不揮発性メモリーであれば、２５６通りの設定が可能となり、２５６個の充電器の機種コードが設定可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００２０】
以上の説明の通り本発明によれば、充電器性能検査において、汎用性のある充電器性能検査装置に挿入、接続する、検査対象固有の充電器専用のピン治具に、その充電器の機種コードなどの情報を予め入力しているので、汎用充電器性能検査装置は、ピン治具を挿入、接続しただけでシーケンスデータを自動で選択出来、充電器性能検査を高速で行ない、安価で構成するのに好適である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施形態に係る充電器性能検査装置の構成を示すブロック図
【図２】ピン治具構成の第１の実施例を示すブロック図
【図３】ピン治具構成の第２の実施例を示すブロック図
【図４】従来例の充電器性能検査装置の構成を示すブロック図
【符号の説明】
【００２２】
１ａ、１ｄ  充電器性能検査装置
２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ  ピン治具  
３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ  検査制御回路
４  入出力制御装置
５  ＰＣ
６  機器制御装置
７  ＤＣ電源
８  電子負荷
９  シーケンスデータ格納部
１０  固有情報格納手段
１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１２ａ、１２ｂ、１２ｃ  入出力手段
１３ｂ１、１３ｂ２、１３ｂｎ、１３ｂ（ｎ＋１）スイッチ（ＳＷ）
１４  不揮発性メモリー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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