(57)【要約】【課題】より大きな力でプローブ先端をクランプ固定できると共に、プローブ先端を一度に１つずつ個別にクランプ固定することのできるオシロスコーププローブ用テスト装置を提供する。【解決手段】本発明に係るテスト装置は、軸２９にそれぞれのプローブ先端に対応した複数のクランプ３３、３４、３５が設けられており、クランプ３３、３４、３５がそれぞれのプローブ先端を基板２４の中心導体２６またはグラウンドプレーン２５に押しつけることを特徴とするものである。【選択図】図３
2007071872.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
オシロスコーププローブ用のテスト装置であって、
介在領域により分離された第一及び第二の端部を持つ担体と、
前記担体の前記第一の端部上に配置された第一のＲＦコネクタと、
前記担体の前記介在領域上に配置され、上に少なくとも第一及び第二の導体を含む伝送線がパターニングされた少なくとも１つの金属面を持つ誘電体基板と、
前記伝送線の前記第一の導体へと接続された前記第一のＲＦコネクタの第一の導体及び前記伝送線の前記第二の導体へと接続された前記第一のＲＦコネクタの第二の導体と、
前記誘電体基板が軸と前記担体の介在領域との間に来るように、更には、その軸が前記伝送線を上にパターニングした前記金属面に対して平行となるように、そして前記伝送線の前記導体の１つの軸に対して概ね直角となるように、前記誘電体基板上に配置された軸と、
各々が前記軸を通してそれらを保持する為の貫通穴を持ち、各々が前記貫通穴の一方の側に足部分、前記貫通穴の他方の側にハンドル部分を有する第一及び第二のレバーであって、前記レバーの一方の前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記伝送線の前記第一の導体へと接触させることになり、他方のレバーの前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記伝送線の前記第二の導体へと接触させることになるように配置されている前記第一及び第二のレバーと、
前記第一及び第二のレバーと前記担体との間にそれぞれ配置された第一及び第二のスプリングであって、前記第一及び第二のスプリングが前記第一及び第二のレバーの前記足部分を前記誘電体基板に対して押しつける前記第一及び第二のスプリングと、
を備えることを特徴とするテスト装置。
【請求項２】
前記担体の前記第二の端部上に配置され、前記伝送線へと結合された第二のＲＦコネクタを更に備えることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項３】
前記担体の前記第二の端部上に配置され、前記伝送線へと結合されたＲＦ終端器を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項４】
前記第一のＲＦコネクタが前記伝送線へと接続されている場所から離れた側の前記伝送線の末端部に接続されたＲＦ終端抵抗器を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項５】
前記担体から突出し、前記軸を支持するヨーク部を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項６】
前記軸上に捕捉され、前記ヨーク部に保持されたスペーサを更に備え、前記スペーサが前記第一及び第二のレバーを前記伝送線の前記第一及び第二の導体上に位置合わせするものであることを特徴とする請求項５に記載のテスト装置。
【請求項７】
前記軸に沿った方向で前記スペーサと前記第一及び第二のレバーとを、前記ヨーク部の一面に対して押し付けるバイアス機構を更に備えることを特徴とする請求項６に記載のテスト装置。
【請求項８】
オシロスコーププローブ用のテスト装置であって、
介在領域により分離された第一及び第二の端部を持つ担体と、
前記担体の前記第一の端部上に配置された第一の同軸ＲＦコネクタと、
前記担体の前記介在領域上に配置され、上に中心導体を含むストリップ伝送線と２つの隣接するグラウンドプレーンとがパターニングされた少なくとも１つの金属面を持つ誘電体基板と、
前記ストリップ伝送線の前記中心導体へと接続された前記第一の同軸ＲＦコネクタの中心導体と、
前記誘電体基板が軸と前記担体の平坦領域との間に来るように、更には、その軸が前記ストリップ伝送線を上にパターニングした前記金属面に対して平行となるように、そして前記ストリップ伝送線の前記中心導体の軸に対して概ね直角となるように、前記誘電体基板上に配置された軸と、
各々が前記軸を通してそれらを保持する為の貫通穴を持ち、各々が前記貫通穴の一方の側に足部分、前記貫通穴の他方の側にハンドル部分を有する第一及び第二のレバーであって、前記レバーのうちの１つの、前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記伝送線の前記中心導体へと接触させることになり、他方のレバーの前記軸を中心とした回転が、その足部分を前記隣接するグラウンドプレーンの一方に接触させることになるように配置されている前記第一及び第二のレバーと、
前記第一及び第二のレバーと前記担体との間にそれぞれ配置された第一及び第二のスプリングであって、前記第一及び第二のスプリングが前記第一及び第二のレバーの前記足部分を前記誘電体基板に対して押しつけるものである前記第一及び第二のスプリングと、
を備えることを特徴とするテスト装置。
【請求項９】
前記担体の前記第二の端部上に配置され、前記ストリップ伝送線へと結合した第二のＲＦコネクタを更に備えることを特徴とする請求項８に記載のテスト装置。
【請求項１０】
前記担体の前記第二の端部上に配置され、前記ストリップ伝送線へと結合されたＲＦ終端器を更に備えることを特徴とする請求項８に記載のテスト装置。
【請求項１１】
前記第一のＲＦコネクタが前記ストリップ伝送線へと接続されている場所から離れた側の前記ストリップ伝送線の末端部に接続されたＲＦ終端抵抗器を更に備えることを特徴とする請求項８に記載のテスト装置。
【請求項１２】
前記担体から突出し、前記軸を支持するヨーク部を更に備えることを特徴とする請求項８に記載のテスト装置。
【請求項１３】
前記軸上に捕捉され、前記ヨーク部に保持されたスペーサを更に備え、前記スペーサが前記第一及び第二のレバーを前記ストリップ伝送線のそれぞれの要素上に位置合わせするものであることを特徴とする請求項１２に記載のテスト装置。
【請求項１４】
前記軸に沿った方向で前記スペーサと前記第一及び第二のレバーとを、前記ヨーク部の一面に対して押し付けるバイアス機構を更に備えることを特徴とする請求項１３に記載のテスト装置。
【請求項１５】
前記軸を通す貫通穴を有し、前記貫通穴の一方の側に足部分、前記貫通穴の他方の側にハンドル部分を有する第三のレバーであって、前記軸を中心とした回転が、その足部分を、前記第一及び第二のレバーのどちらの足部分も接触していない方の隣接するグラウンドプレーンへと接触させることになるように配置されている前記第三のレバーを更に備えることを特徴とする請求項８に記載のテスト装置。
【請求項１６】
前記第三のレバーと、前記第一及び第二のレバーのうちの前記グラウンドプレーン上にあるレバーとが外側レバーであり、残されたレバーが中間レバーとしてそれらを分離しており、そして前記外側レバーが、概ね逆方向へと突き出た拡張ハンドル部分を有していることを特徴とする請求項１５に記載のテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高周波小型プローブアセンブリ用クランプテスト装置に関し、特にオシロスコーププローブ用のテスト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近の高周波オシロスコーププローブは、アクティブ差動プローブとして製作されることが多い。差動プローブは、その差が所望の入力信号として形成されて使われる２つの印加信号を持っている。ここで図１を見ると、そのような従来技術に基づくＡｇｉｌｅｎｔ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社製ディジタルオシロスコープ３用プローブ構成１は、連結用アセンブリ５中で終わる３又は４フィート長のケーブル４を通じてスコープ３へと接続されたハウジング２内に比較的に高い周波数の増幅器（図示せず）を含んでおり、その増幅器は、末端部分に実際のプローブ先端を保持するハンドヘルド式のブラウザ（図にはブラウザは描かれていないが、以下を読まれたい）を含むことのできる、かなり短く（４〜６インチ）、小径の同軸伝送線６を通じて被検回路又は被検デバイスへと結合している。ブラウザとは、短く柔軟な伝送線間に挟まれたインピーダンス整合素子又はその他の受動回路網と実際のプローブ先端とを含む小型のアセンブリである。ブラウザは通常、オシロスコーププローブの小型化がかなう範囲において、極めて小型のものであるが、しかしながら、例えば小さな間隙で平行に配置された２枚のプリント回路基板アセンブリの間等、特定の配置に使用するには大きすぎる場合もよくある。このような場合、ハンドヘルドブラウザははんだ付け可能なプローブアセンブリ７へと置き換えられ、そのプローブ先端８は実際に測定する信号が搬送されている位置へとはんだ付けされる。これはブラウザをハンドヘルドとしていたハンドルを排除し、短く柔軟な同軸伝送線６及びインピーダンス整合素子９を支持するに必要最低限の要素のみを残したものである。このようなはんだ付け可能なプローブアセンブリ７は、４分の１インチ程度の長さ（プローブ先端を除く）と、１６分の３インチ程度の幅と、１６分の１インチ程度の高さとすることが出来る。プローブ先端８は、短く（１／１６インチ）、小径（例えば０．００７インチ）のニッケルワイヤであって、これははんだ付け可能、折り曲げ可能（例えば断線までに１５から３０回は折り曲げることが出来る）、そして交換可能なものである。一巻きの交換用ワイヤがプローブアセンブリと共に提供されており、技術者は新たなプローブ先端を取り付ける場合は顕微鏡と微小なはんだごてを使う。
【０００３】
次に図２を参照する。様々な周知の理由から、はんだ付け可能なプローブアセンブリ７を受容する校正用テスト装置１０があることが望ましい。プローブの出力は、スコープの入力チャネルへと通常の様式で結合される。校正用テスト装置はスコープが提供するフロントパネル校正テスト信号（図示せず）へと、直接的に（実際にはこちらが推奨される）又はケーブル１１を通じて接続される。実行命令が下されると、スコープはチャネル／プローブアセンブリの組み合わせによって計測された既知の校正テスト信号を解釈することにより、計測結果の適切な後処理補償を見つけて設定し、これによってその特定のプローブアセンブリを他の対象信号に使用した場合により正確な計測値が提供される。
【０００４】
校正用テスト装置１０向けの従来デザインの１つは、Ａｇｉｌｅｎｔ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社から出されている製品Ｅ２６５５Ａ及びＥ２６５５Ｂに実現されている。このデザインは基板１３上に形成された終端ストリップ伝送線１２を含み、装置上に印刷されたインデクスマーク１５の交差部がクランプ１４に開けられたスロット１６と共に概ね示している２つの異なる可能位置の一方にプローブ先端８を挟み込んでこの伝送線へと押し当てる為のクランプ１４を有している。（スロットはプローブ先端がクランプに固定された場合に付加されるプローブ間静電容量を低減する為に設けられている。）クランプ１４の機能を機械的に言うと、テスト装置１０上にあるクランプ１４が著しく小さく、絶縁材料から成るものであることを除けば、携行する紙面にものを書く為の一般的な板紙に取り付けられた型抜き金属クリップ又はプラスチック製クリップボードを連想させるものである。ストリップ伝送線１２は装置１０の一部であるコネクタ１８へと取り付けられた終端器１７により直接終端することができ、又は随意、装置１０の下流端部に接続する一定長の同軸伝送線（図示せず）を通じてスコープ３の持つチャネルの１つの５０Ω測定値入力へと終端することが出来る。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
図２に示したデザインには、その効果と利便性を制約する複数の欠点がある。それらの一部として挙げられることは、クランプ１４が両方のプローブ先端に用いられる単一の部品であることから、プローブアセンブリ７を開けられたクランプの下の正しい位置に配置し、クランプが緩められる前に両方のプローブ先端を同時にアライメントしなければならないという点である。プローブ先端の位置がずれてアライメントされてしまうと、計測結果に誤った偏りが導入されてしまい、このような状況は避けるべきものである。しかしながら、クランプが開いた状態で適正なアライメントを得て、そしてクランプを閉じる間にそれを維持するということは困難である。小さく動いてしまう傾向があるのである。また、クランプ力は控えめとはなっているものの、クランプの下でクランプに押さえられたプローブ先端の位置を強制的に移動させることも困難である。特にしばらく使われたものであれば、むしろ曲がったり折れたりする可能性がある。
【０００６】
次に、クランプで固定したプローブを維持する上で、クランプ力が常に十分と言える訳では無い点があげられる。これは、一部にはスプリング１９が原因であり、また一部にはスプリング及びクランプ端部２１間の旋回軸２０の中心位置付近が原因である。しかしながら、単にスプリングをより堅く作るには限界があり、クランプ端部２１はプローブ先端８と接触した時に曲がってしまい、プローブ先端に印加する応力が低下してしまう傾向がある。特定のクランプ１４に関わる関連問題としては、その全体長により、プローブ先端８と伝送線１２の接続位置をテスト装置１０の中心部分よりに置かなければならないという点があげられる。これは致命的なものではないが、最も高い周波数を使用する状況、そして最高精度が求められる状況においては、装置をスコープのフロントパネル上のコネクタへと直接接続する為にケーブル１１を無くすこと、更に望ましくはプローブ先端８が接触する伝送線１２の位置が可能な限りスコープに近い方が良い。最後に、図２に示した構成は、プローブ先端を真っ直ぐに伸ばしてプローブアセンブリ７を基板１３にぴったりと接触配置させてクランプ固定する（そしてその状態のままにしておく）ことに適していることが経験から明らかになった。残念ながらデザインによってこのことが推奨されてしまうのは良くないことである。（プローブのグラウンドシールド付近がストリップ伝送線１２を邪魔してしまう点が良くない。）
より大きな力でプローブ先端をクランプ固定すると共に、プローブ先端を一度に１つずつ個別にクランプ固定することを可能とすることにより、一連の繰り返し調整によって両方のプローブ先端をその適正位置へとクランプすることが出来る別のデザインがあることが望ましい。更にその適正位置はテスト装置の駆動端に可能な限り近く配置されるべきである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
テスト装置におけるストリップ伝送線への差動プローブアセンブリ先端の繰り返し調整を可能とする問題に対する解決策は、それぞれのプローブ先端用に別個のクランプを設けることである。好ましい実施形態においては、３つの隣接したクランプが共通軸を共有している。２クランプの実施形態もまた、可能である。３クランプの実施形態においては、２つの外側クランプが、伝送線の中心導体に接するそれぞれのグラウンドプレーン上に配置されている一方で、中心クランプはその中心導体上に配置されている。３つのクランプは間に介在するスペーサワッシャで分割されている一方で、クランプ群全体としてバイアスが軸に沿って、そして末端のスペーサに対して掛けられており、これがクランプ群全体を伝送線に相対配置させている。個々のクランプは軸の一方の側にそれぞれの圧縮スプリングを持っていることで他方の側にクランプ力を生成しており、そして軸からスプリングまでの長さが、プローブ先端を受容する為に各クランプを開けることが出来るようにする親指レバーとして作用する。軸からスプリングへの長さは、軸から実際のクランプ面への長さよりも大幅に長く、より大きいクランプ力を提供している（各クランプは別個の一級レバー(first class lever)）。実際にプローブ先端を伝送線へと押しつける各クランプの足部分は、ほぼ軸の下にあり、それらの親指レバー部分はストリップ伝送線が設けられた基板と平行に延びている。これにより、クランプ位置をテスト装置の駆動端の非常に近くとすることが出来る。伝送線は、第一の外部バルクヘッドマウントＲＦコネクタを通じて送られる印加テスト信号により駆動される。マルチクランプ型装置のストリップ伝送線は、内部終端器により、外部バルクヘッドマウント終端器により、第二の外部バルクヘッドマウントＲＦコネクタに固定された終端器により、又は介在する同軸ＲＦ伝送線（ケーブル）で繋がれたスコープの他の計測入力にある離れた終端器により終端することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
ここで図３を参照するが、ここには高周波差動はんだ付け可能プローブアセンブリ７をディジタルオシロスコープ３と共に使う為の、複数（３つ）のクランプを持つ改良型校正用テスト装置２２の部分的な斜視図が示されている。（現時点で同じ構造体の全体像を別の視点から示した図４を見ておくことも有用である。）担体２３は、以下に説明する様々な他の部品をその上に搭載した筐体としての働きを持つ。担体２３は、その強度、耐久性及び良好なＲＦグラウンドを作ることの容易性から、銅、真鍮又はアルミニウム等の金属から作ることが出来る。とは言えプラスチック製の担体を想定することが出来ないということではない。そうすることは可能であるが、金属製のものが推奨されるということである。担体２３の筐体機能とは、（１）テスト信号により駆動され、はんだ付け可能プローブアセンブリ７のプローブ先端が接触するストリップ伝送線を持つ基板２４（セラミック又はＦＲ４等、いずれの好適な誘電体としても良い）を搭載すること、（２）ＲＦコネクタ３８を通じてテスト信号がストリップ伝送線の入力端へと印加されるが、このＲＦコネクタ３８を搭載する為のバルクヘッドとして働く、そして更に（一部の実施例においては）、伝送線の出力端に結合する、他のコネクタ又は終端器（図４中の符合４０）のいずれかを搭載する為のバルクヘッドとして働くこと、そして（３）ストリップ伝送線に対してプローブ先端８を個々にクランプ固定する為に様々なクランプ部品を搭載するヨーク２７を載せることである。
【０００９】
基板２４及びそのストリップ伝送線から話を始める。基板２４の上面には、中心導体２６のそれぞれの側に設けられた２つのグラウンドプレーン２５がある。基板２４の底面には、基板の全幅、全長にわたって延びるグラウンドプレーン５６がある。好適な密度に設けられたバイア２８のパターンは、上部グラウンドプレーン２５を底部グラウンドプレーン５６へと接続している。底部グラウンドプレーン５６はまた、導電性接着剤で金属製担体２３へと固定されており、金属製担体２３とは密接な電気接触状態にあるもので、入力（同軸）ＲＦコネクタ３８の外部導体の延長として優れている（そして出力同軸コネクタ又は終端器４０の外部シールドへも同様に接続される）。
【００１０】
中心導体２６の幅は、プローブ先端８の一方がそれと接触した場合に他方のプローブ先端が確実にグラウンドプレーン部分２５のいずれか一方の上に（ある範囲又は限界内で）来ることになるような幅となっている。勿論、中心導体２６は一端においてはコネクタ３８の中心導体へと、そして他端においてはコネクタ終端器４０の中心導体へと電気的に接続（例えばはんだ付け）されているもので、これら（３８、４０）はいずれも担体２３のそれぞれの端部に取り付けられた（例えばネジにより）バルクヘッド型の部品であることが望ましい。
【００１１】
ヨーク２７は金属製のものとすることが出来、小さいネジ（図示せず）により担体２３の下側へと固定されている。代わりに、ヨークを別個部として取り付けずに、担体の一体部分としても良い（例えばキャスティング又はモールディングしたヨークとすることが出来る）。ヨークには３つの個々のレバー（クランプ）３３、３４及び３５を装着した軸２９が取り付けられている。（クランプ／レバーを２つとした実施例も可能である。）このため、各レバーが軸２９を通す為に各レバーを貫通する穴を含んでいる。レバー３５におけるこの穴４６の位置を点線で示した。レバーは中空スペーサ又はスタンドオフ３０、３１、そしてこれに併せて用いられるバイアススプリング３２によって、伝送線部分の上で軸に沿ったそれらの適正配置に位置合わせされている。スペーサワッシャ３６（全容は見えていない）を軸に通すことにより、レバー３３を３４から、レバー３４を３５から分離することが出来る。スペーサワッシャ３６の代わりとしては、レバーの各々に隆起させた水平部、即ちハブ部分を軸用の穴の周辺に持たせることである。レバー同士を離間する理由は、必要に応じ、製造又は修理において伝送線部分に対するそれらのアライメントを可能とする為であると共に、レバーを一本づつ差動させ易いようにいくらかの間隔を設ける為でもある。更なる理由としては、プローブ先端がクランプで支持されている場合において付加されるプローブ間静電容量を最小とする為である。この３レバー／クランプ実施例においては、レバーの１つ（３４）は伝送線の中心導体２６の上に配置され、他の２つはグラウンドプレーン部分２５の異なる方に配置されることになる。２レバー／クランプ実施例においては、レバーの１つ（３４）は伝送線の中心導体２６の上に配置され、他方はグラウンドプレーン部分２５の一方のみに配置されることになる。いずれの場合においても、隣接するレバーの中心間距離はプローブ先端８の中心間距離に一致する。
【００１２】
レバーを一度に一本づつ作動させることに関しては、以下のことに留意して本願を読んで頂きたい。３レバー実施例においては、中心レバー３４を単独で作動させることが困難であるかのように見える。確かにそうであるかも知れないが、しかし熟考してみれば分かるようにそうする必要性は無く、それはプローブ先端が２つであり、これらが常に隣り合うレバーに対応する位置にある為である。プローブ先端の一方は必ず中心導体２６に接触する為、隣り合うレバーの一方は常に中心レバーである。ここでレバー３４及び３５が使用されているとした場合、中心レバー３４はレバー３３と一緒に押すことが出来る（レバー３３が使用されておらず、この行動には何の不都合も無い為）。しかしながら３３／３４を一緒に押すことはレバー３４を単独に押すよりも容易であるかもしれない。レバー３３及び３４が利用される場合はその鏡像の状況となる。レバー３４と一緒にレバー３５を押すことは、レバー３４を容易に作動させる方法である。
【００１３】
最後に、図５に示したように外側レバーの端部に「曲げたハンドル拡張部」を設けることも出来る。これは外側レバーを単独で（例えば３４及び３５が使用中レバーであった場合、３５のみ）作動させる場合に役に立つものである。
【００１４】
次にプローブ先端８をどのように伝送線へと接触させるかについて考える。始めに、ユーザーはプローブ先端８を図示したようにプローブアセンブリ７のハウジングに対して直角に、そして相互に対して平行（又はほぼ平行）となるように折り曲げる。ユーザーは親指又は指の爪を使ってレバー３３〜３５の１つ（又は１つ以上）を（レバー３４及び３５についてはそれぞれ矢印４４及び４５で示したように）押し下げる。次にユーザーは各プローブ先端を、押したレバーの上がった足（例えば反対側端部）の下に滑り込ませる。（レバー３５は足４３を持っている。）レバーを離すと、スプリング３７（図４においては４１／４２）からのバネ張力によりプローブ先端８の各々が対応する足と基板２４の上面（例えば伝送線）との間に挟まれる。レバー３３〜３５はそれぞれ独立したもので、個々にバイアスがかけられている為、プローブアセンブリ７のテスト装置２２中の配置を、一度につき一つのプローブ先端を容易に調節することが可能となっている。これは一度に一つのレバーを開放し（他方のプローブ先端は挟まれて続けている為、プローブアセンブリ７は固定されたままである）、自由になったプローブ先端を小刻みにより適正な位置へと移動させることにより行われる。次に他方のプローブ先端が同様に調節され、両方のプローブ先端が長さ方向に沿った同じ位置において伝送線と接触することになる迄、調節が繰り返し実施される。そのような推奨位置は、基板２４の上面のインデクス線３９で表示しておくことが出来る。
【００１５】
次に図４を参照する。この図はテスト装置を反対側から見たものである。見ている方向を除き、全ての状況は図３と同じであり、図中の要素を示す符号も同じである。図４では、（入力）ＲＦコネクタ３８（高精度ＡＰＣ３．５ｍｍコネクタが推奨される）及びその好ましい搭載方法がより分かり易くなっており、また、図３においては見えていなかったレバースプリング４１及び４２も見えている。ここで、これも図３では見えていなかった図４の部品４０について考察する。部品４０はもう１つのＲＦコネクタ、又は基板２４上のストリップ伝送線用に恒久的に装着された終端器とすることが出来る。これがもう１つのコネクタであった場合、終端器がそれに取り付けられているか、又は一定長の伝送線がこれに取り付けられ、それがスコープの入力チャネルの１つへの接続により終端されているかのいずれかであることが予想される。代わりに、これは伝送線用のＲＦ終端器であり、実際のコネクタではない場合もある。
【００１６】
図３及び図４の両方から明らかなように、コネクタ３８は入力コネクタである。即ち、スコープ（又はテスト機器の他の何らかの部品）から提供される校正用テスト信号は、この入力コネクタ３８を介して校正用テスト装置２２へと印加されるものである。先にも述べたように、図示した構成は、プローブアセンブリ７を可能な限りコネクタ３８近傍に置くことが出来るようにしたものである。
【００１７】
ここで図５を見るが、ここにはマルチクランプ型テスト装置の他の実施例４７が示されている。この代替実施例においては、外側レバー４８及び４９が拡張「サムパッド」領域を含んでおり、これによりレバーを別々に起動すること（例えば単独に１つのレバーを起動する等）がより容易になっている。先にも説明したが、中心レバー３４の起動は常に外側レバー４８及び４９のいずれか一方と一緒に実施されることから、中心レバー３４を単独に動かす必要性が無く、これにそのような拡張部を作る必要は無い。しかしながら、望ましい場合には、中心レバー３４にも何らかの拡張部を設けること、例えば単純により長くする、又はその最上面が他のレバーの上面よりも高くなるように隆起部を設ける等は可能である。
【００１８】
次に図６を見るが、ここにはマルチクランプ型テスト装置の他の実施例５０が示されている。この実施例は、伝送線へと印加される信号が（被検下のプローブアセンブリ７により計測されることに加えて）常に単純に終端され、スコープの入力チャネルへと戻されることが無い場合に有用である。このような場合、第二のＲＦコネクタ（又はバルクヘッド型の外部終端器）の必要性は排除することが出来、伝送線自体に直接好適な（内部）終端器を含むことで若干単純化された担体５４とすることが出来る。従って図６は、第二のＲＦコネクタ／終端（図４においては符号４０）が無く、基板５３上の伝送線（５２、５１、５２）が抵抗終端器（例えば表面実装５０Ω抵抗器）５５により終端されたマルチクランプ型テスト装置実施例５０を示している。先の図から変化の無い要素を示す本図中の他の様々な符号は、先の図と同じものである。
【００１９】
ここ迄、はんだ付け可能なプローブアセンブリを「重要部」とする差動オシロスコーププローブ用のマルチクランプ型テスト装置について説明して来た。それは、最も高い周波数のプローブが差動プローブである為である。しかしながら、プローブ（高周波プローブであっても）は明確に１つの信号グラウンドを参照する「シングルエンド」入力を持つものである場合がある。このような場合であっても、そのプローブは単一の「入力」とグラウンドの「２プローブ先端」に関わるものである。明らかなように、上述したマルチクランプ型テスト装置は、そのようなシングルエンドプローブアセンブリにも利用可能であり、差動入力を持つプローブのみに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】校正用テスト装置（図示せず）と共に利用されるはんだ付け可能プローブアセンブリを含む従来のオシロスコープシステムを単純化して示した複合図である。
【図２】図１のはんだ付け可能プローブアセンブリと共に利用される従来の単クランプ校正用テスト装置の斜視図である。
【図３】改良型マルチクランプ型校正用テスト装置の第一の斜視図である。
【図４】図３のマルチクランプ型校正用テスト装置を概ね逆方向から見た第二の斜視図である。
【図５】図３及び図４に示したマルチクランプ型テスト装置の他の実施例を示す斜視図である。
【図６】図３及び図４に示したマルチクランプ型テスト装置の更に他の実施例を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００２１】
７      プローブアセンブリ
２２、４７、５０  校正用テスト装置
２３    担体
２４    基板
２５    グラウンドプレーン
２６    中心導体
２７    ヨーク
２９    軸
３２    バイアススプリング
３３、３４、３５  レバー
３６    スペーサ
３８    ＲＦコネクタ
４０    ＲＦコネクタ（ＲＦ終端器）
４３  足部分
４８、４９  拡張ハンドル部分
５５    抵抗終端器
【図１】
2007071872.tif 000003
【図２】
2007071872.tif 000004
【図３】
2007071872.tif 000005
【図４】
2007071872.tif 000006
【図５】
2007071872.tif 000007
【図６】
2007071872.tif 000008