(57)【要約】【課題】  長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現する。【解決手段】    測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、出力光の光周波数を変化させることが可能な可変波長光源と、この可変波長光源の出力光を２つに分岐する光分岐手段と、一方の分岐光に対して光周波数をシフトさせて出射する光周波数シフタと、光検出器と、他方の分岐光と光周波数シフタの出力光を合波して光ファイバの一端に入射すると共に光ファイバの一端からの出射光を分岐して光検出器に入射する光合分岐手段と、光ファイバの他端に設けられた反射端とを備え、可変波長光源の変調周期を変化させて、対向して伝播するポンプ光と反射端で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を選択し、光周波数シフタによる光周波数のシフト分を走査する。【選択図】                    図１
2007232618.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、
出力光の光周波数を変化させることが可能な可変波長光源と、
この可変波長光源の出力光を２つに分岐する光分岐手段と、
一方の分岐光に対して光周波数をシフトさせて出射する光周波数シフタと、
光検出器と、
他方の分岐光と前記光周波数シフタの出力光を合波して前記光ファイバの一端に入射すると共に前記光ファイバの一端からの出射光を分岐して前記光検出器に入射する光合分岐手段と、
前記光ファイバの他端に設けられた反射端とを備え、
前記可変波長光源の変調周期を変化させて、対向して伝播するポンプ光と前記反射端で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を選択し、前記光周波数シフタによる光周波数のシフト分を走査する
ことを特徴とする光ファイバ歪測定装置。
【請求項２】
前記可変波長光源が、
ブリルアン周波数シフト以上の広い周波数範囲で高速に変化させることを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項３】
前記可変波長光源の変調周期波形が、
三角波、若しくは、正弦波であることを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項４】
前記可変波長光源の変調周期が、
１μｓｅｃ以上であることを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項５】
前記光検出器の前段に前記変波長光源の変調周期と同期した可変バンドパスフィルタを設けたことを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項６】
前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項７】
別特性の光ファイバを融着して前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることを特徴とする
請求項５記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項８】
歪を加えて前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることを特徴とする
請求項５記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項９】
前記反射端材料を選択して前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることを特徴とする
請求項５記載の光ファイバ歪測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置に関し、特に長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバ中を伝播する光の一部は、ガラスの構造分子の運動エネルギーとして吸収される。吸収されたエネルギーは一定値を超えたときに音響フォノンとして放出される。そして、ブリルアン散乱とは、放出された音響フォノンと透過光との相互干渉により、音響フォノンの周波数分だけシフト（ブリルアン周波数シフト）したストークス光が発生する現象である。
【０００３】
従来の被測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００４】
【特許文献１】特開平０２−００６７２５号公報
【特許文献２】特開平０６−２３００９１号公報
【特許文献３】特開２０００−１８０２６５号公報
【特許文献４】特開２００３−０１４５８４号公報
【０００５】
図５はこのような従来の誘導型（Brillouin Optical Time Domain Analysis：ＢＯＴＤＡ）の光ファイバ歪測定装置の一例を示す構成ブロック図である。図５において、１はレーザ光を出射する半導体レーザ光源等の光源、２及び５は光を分岐する光分岐手段、３は入射光を強度変調する光変調器、４は光スイッチ等の入射光をパルス化して出射させると共に光周波数シフトを可変できるパルス変調器、６は歪の測定対象である光ファイバ、７はフォトダイオード等の光検出器である。
【０００６】
光源１からの出射光は光分岐手段２に入射され、一方の分岐光は光変調器３の入射端に入射され、他方の分岐光はパルス変調器４の入射端に入射される。光変調器３の出力光はプローブ光として光ファイバ６の一端に入射され、パルス変調器４の出力光はパルス光として光分岐手段５を介して光ファイバ６の他端に入射される。
【０００７】
一方、光ファイバ６からのブリルアン散乱光は光ファイバ６の他端から出射され、光分岐手段５で分岐され光検出器７に入射される。
【０００８】
ここで、図５に示す従来例の動作を図６及び図７を用いて説明ずる。図６はプローブ光、パルス光及びブリルアン散乱光の関係を説明する説明図、図７は光検出器７で検出される光強度の一例を示す特性曲線図である。
【０００９】
図６中”ＴＭ０１”に示す光ファイバ６の一端に入射されるプローブ光の光周波数を”ｆ０”、図６中”ＴＭ０２”に示す光ファイバ６の他端から入射されるポンプ光の光周波数はパルス変調器４で”Δｆ”だけ光周波数シフトされた”ｆ０＋Δｆ”であるとする。
【００１０】
光周波数のシフト分”Δｆ”がブリルアン周波数シフト”ｆＢ”と一致しなければ、ブリルアン散乱は発生せず、図６中”ＴＭ０２”に示す光ファイバ６の他端からは光ファイバ６を伝播してきたプローブ光が出射される。
【００１１】
例えば、光周波数のシフト分”Δｆ”がブリルアン周波数シフト”ｆＢ”と一致しなければ、図７中”ＣＨ１１”に示す光強度の特性曲線が光検出器７で測定される。言いかえれば、図７中”ＣＨ１１”に示すようにプローブ光の光強度に相当する光強度が時間経過と共に測定される。
【００１２】
一方、光周波数のシフト分”Δｆ”がブリルアン周波数シフト”ｆＢ”と一致した場合に、図６中”ＴＭ０２”に示す光ファイバ６の他端から光周波数が”ｆ０＋ｆＢ”であるブリルアン散乱光（パルス光）が、光ファイバ６を伝播してきたプローブ光と共に出射される。
【００１３】
例えば、光周波数のシフト分”Δｆ”がブリルアン周波数シフト”ｆＢ”と一致した場合には、図７中”ＣＨ１２”に示す光強度の特性曲線が光検出器７で測定される。言いかえれば、図７中”ＣＨ１２”に示すように図７中”ＰＳ１１”に示すある時刻にパルス状の光強度変化（ブリルアン散乱光（パルス光））を伴う特性が時間経過と共に測定される。
【００１４】
すなわち、光ファイバ６中で歪が発生している部分のブリルアン周波数シフト”ｆＢ”と光周波数のシフト分”Δｆ”が一致すれば、当該歪が発生している部分からブリルアン散乱光（パルス光）が戻ってくることになる。
【００１５】
ここで、図７に示す特性曲線図の横軸の時間は、光ファイバ６内の光の伝播速度を勘案すれば光ファイバの位置（或いは、光ファイバの他端からの距離）に相当するので、図７中”ＰＳ１１”に示すある時刻に相当する位置を特定することにより、光ファイバ６内で発生している歪の位置を得ることが可能になる。
【００１６】
また、ブリルアン周波数シフトは歪の大きさに依存する性質を有する、言い換えれば、歪の大きさによってブリルアン周波数シフトが変化することになるので、パルス変調器４で光周波数シフト”Δｆ”を走査することにより、光ファイバ６中の大きさの異なる歪が発生している部分からブリルアン散乱光（パルス光）が順次戻ってくることになる。
【００１７】
この結果、光ファイバ６の一端からプローブ光（光周波数”ｆ０”）を入射し、光ファイバ６の他端から光周波数をシフトさせたパルス光（光周波数”ｆ０＋Δｆ”）を入射させ、光ファイバ６の他端から出射される光を光検出器で測定すると共に光周波数シフトを走査することにより、光ファイバ６内で発生している様々な大きさの歪の位置を測定することが可能になる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
しかし、この従来例では、高分解能化を図るべく、パルス幅を狭くすると、パルス光の周波数スペクトルが広がってしまい、ブリルアン周波数を検知することが困難となってしまう問題点がある。
【００１９】
また、「特許文献３」に記載された従来の相関型（ＢＯＣＤＡ）の光ファイバ歪測定装置では高分解能を実現したものの、測定可能な光ファイバの距離が数ｍ程度にとどまってしまうと言った問題点があった。
【００２０】
これに対して、測定可能な距離を伸ばすために、パルス化してゲートする「特許文献４」に記載された方法も考案されているが、構成が複雑であり、光ファイバの両端から光を入射しなければならないと言った問題点があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、
出力光の光周波数を変化させることが可能な可変波長光源と、この可変波長光源の出力光を２つに分岐する光分岐手段と、一方の分岐光に対して光周波数をシフトさせて出射する光周波数シフタと、光検出器と、他方の分岐光と前記光周波数シフタの出力光を合波して前記光ファイバの一端に入射すると共に前記光ファイバの一端からの出射光を分岐して前記光検出器に入射する光合分岐手段と、前記光ファイバの他端に設けられた反射端とを備え、前記可変波長光源の変調周期を変化させて、対向して伝播するポンプ光と前記反射端で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を選択し、前記光周波数シフタによる光周波数のシフト分を走査することにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。また、反射端で折り返す構造であるため位置の基準点が分かりやすくなる。
【００２２】
請求項２記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記可変波長光源が、
ブリルアン周波数シフト以上の広い周波数範囲で高速に変化させることにより、長距離の測定が可能になる。
【００２３】
請求項３記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記可変波長光源の変調周期波形が、
三角波、若しくは、正弦波であることにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。また、反射端で折り返す構造であるため位置の基準点が分かりやすくなる。
【００２４】
請求項４記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記可変波長光源の変調周期が、
１μｓｅｃ以上であることにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。また、反射端で折り返す構造であるため位置の基準点が分かりやすくなる。
【００２５】
請求項５記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記光検出器の前段に前記変波長光源の変調周期と同期した可変バンドパスフィルタを設けたことにより、不要な光周波数の光を除去することが可能になる。
【００２６】
請求項６記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることにより、可変波長光源の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【００２７】
請求項７記載の発明は、
請求項５記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
別特性の光ファイバを融着して前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることにより、可変波長光源の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【００２８】
請求項８記載の発明は、
請求項５記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
歪を加えて前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることにより、可変波長光源の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【００２９】
請求項９記載の発明は、
請求項５記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記反射端材料を選択して前記反射端の周辺の位置の前記光ファイバの特性を変えることにより、可変波長光源の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１，２，３及び請求項４の発明によれば、可変波長光源の変調周期を順次変化させ、対向して伝播するポンプ光と反射端で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を適宜選択し、光周波数シフタによる光周波数のシフト分”Δｆ”を走査することにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。また、反射端で折り返す構造であるため位置の基準点が分かりやすくなる。
【００３１】
また、請求項５の発明によれば、前記光検出器の前段に前記変波長光源の変調周期と同期した可変バンドパスフィルタを設けたことにより、不要な光周波数の光を除去することが可能になる。
【００３２】
また、請求項６，７，８及び請求項９の発明によれば、反射端の周辺の位置の光ファイバ特性を変えることにより、可変波長光源の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は相関型（ＢＯＴＤＡ）の光ファイバ歪測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【００３４】
図１において、８は出力光の光周波数（光波長）を変化させることが可能な可変波長光源、９は光を分岐する光分岐手段、１０は入射光に対して光周波数（光波長）をシフトさせる光周波数シフタ、１１は光を合波し分岐させる光合分岐手段、１２は歪の測定対象である光ファイバ、１３は光ファイバの他端に設けられた反射端、１４はフォトダイオード等の光検出器である。
【００３５】
可変波長光源８の出力光は光分岐手段９に入射され、一方の分岐光は光周波数シフタ１０の入射端に入射され、他方の分岐光は光合分岐手段１１の第１の入射端に入射される。光周波数シフタ１０の出射光は光合分岐手段１１の第２の入射端に入射され、前記他方の分岐光と合波されて光ファイバ１２の一端に入射される。
【００３６】
一方、光ファイバ１２の他端に設けられた反射端１３で反射された反射光及び発生したブリルアン散乱光等の戻り光は、光ファイバ１２の一端から出射され、光合分岐手段１１で分岐されて光検出器１４に入射される。
【００３７】
ここで、図１に示す実施例の動作を図２、図３及び図４を用いて説明する。図２は可変波長光源８の出力光の光周波数（光波長）の時間変化を示す特性曲線図、図３及び図４はプローブ光、パルス光及びブリルアン散乱光の関係を説明する説明図である。
【００３８】
図２中”ＣＨ３１”に示すように可変波長光源８の出力光は一定の変調周期”Ｔ”で出力光周波数（光波長）を掃引される。
【００３９】
このような出力光は光分岐手段９で２つに分岐され、図１中”ＬＧ２１”に示す分岐された出力光は光合分岐手段１１を介して直接光ファイバ１２の一端に入射され、他端に設けられた反射端で反射され折り返し、図１中”ＬＧ２２”に示すように伝播してプローブ光（周波数：Ｆ１）となる。
【００４０】
一方、図１中”ＬＧ２３”に示す分岐された出力光は、光周波数シフタで光周波数シフトを受けた後、図１中”ＬＧ２４”に示すように光合分岐手段１１を介して光ファイバ１２の一端にポンプ光（周波数：Ｆ０＋Δｆ）として入射される。
【００４１】
光ファイバ１２内では、反射端１３で折り返したプローブ光と、光周波数シフトを受けたポンプ光とが互いに対向して伝播し、光ファイバ１２の長さと、可変波長光源８の変調周期とで一意に決まる特定の位置でのみ強い相関によりブリルアン増幅が行われ、ブリルアン散乱光が光ファイバ１２の一端から出射される。
【００４２】
例えば、光合分岐手段１１に入射されるまでのプローブ光とポンプ光の光路長は同一であり、光ファイバ１２内の光の伝播速度”ｖ”、光ファイバ１２の長さ”Ｌ”、変調周期”Ｔ”をそれぞれ、
ｖ＝２００［ｍ／μｓｅｃ］
Ｌ＝１５００［ｍ］
Ｔ＝１０［μｓｅｃ］
とする。
【００４３】
この場合、変調周期”１０μｓｅｃ”は、
２００［ｍ／μｓｅｃ］×１０［μｓｅｃ］＝２０００［ｍ］
に相当し、光ファイバ１２の長さが”１５００ｍ”であるので、光ファイバ１２の一端（入射端）から”１０００ｍ”の地点において反射端１３で折り返してくるプローブ光が”２０００ｍ”伝播したことになる。
【００４４】
このため、測定光ファイバ１２の一端（入射端）から”５００ｍ”の地点では、対向して伝播するポンプ光と、反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる。
【００４５】
基本的に、可変波長光源８の出力光の光周波数は、例えば、図２中”ＣＨ３１”に示すように光周波数が変調周期毎に掃引されているので、ポンプ光の光周波数シフト分”Δｆ”を除いた光周波数”Ｆ０”と、プローブ光の光周波数”Ｆ１”とは一致しない。
【００４６】
但し、測定光ファイバ１２の一端（入射端）から”５００ｍ”の地点では、対向して伝播するポンプ光と、反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になるので、
Ｆ０＝Ｆ１
となる。
【００４７】
この時、光周波数シフタ１０における光周波数シフト”Δｆ”と、ポンプ光とプローブ光とが同位相になる地点におけるブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が一致している場合には、強い相関によりブリルアン増幅が行われ、ブリルアン散乱光が光ファイバ１２の一端から出射され、光検出器１４で光強度が検出される。
【００４８】
例えば、図３中”ＳＰ４１”に示す地点が、図３中”ＬＧ４１”に示す対向して伝播するポンプ光”Ｆ０＋Δｆ”と、図３中”ＬＧ４２”に示す反射端１３で折り返してくるプローブ光”Ｆ１”とが同位相になる地点だとした場合、光周波数シフタ１０における光周波数のシフト分”Δｆ”とブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が一致すると、強い相関によりブリルアン増幅が行われ、ブリルアン散乱光”Ｆ０＋ｆｂ”が光ファイバ１２の一端から出射される。
【００４９】
ここで、ポンプ光は従来例のようにパルス光ではなく連続光であるので、光検出器１４では、検出される光の光強度は、光周波数シフタ１０による光周波数のシフト分”Δｆ”に対応して一定の光強度となる。
【００５０】
言い換えれば、光周波数シフタ１０による光周波数のシフト分”Δｆ”を順次走査して行くことにより、光ファイバ１２の長さと、可変波長光源８の変調周期とで一意に決まる特定の位置におけるブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が分かり、歪の大きさなどを測定することが可能になる。
【００５１】
一方、可変波長光源８の変調周期”Ｔ”を変化させると、光ファイバ１２の長さと、可変波長光源８の変調周期とで一意に決まる特定の位置がずれることになる。
【００５２】
例えば、光合分岐手段１１に入射されるまでのプローブ光とポンプ光の光路長は同一であり、変調周期”Ｔ”をそれぞれ、
Ｔ＝１２［μｓｅｃ］
とした場合、変調周期”１２μｓｅｃ”は、
２００［ｍ／μｓｅｃ］×１２［μｓｅｃ］＝２４００［ｍ］
に相当し、光ファイバ１２の長さが”１５００ｍ”であるので、光ファイバ１２の一端（入射端）から”６００ｍ”の地点において反射端１３で折り返してくるプローブ光が”２４００ｍ”伝播したことになる。
【００５３】
このため、測定光ファイバ１２の一端（入射端）から”３００ｍ”の地点では、対向して伝播するポンプ光と、反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる。
【００５４】
すなわち、可変波長光源８の変調周期”Ｔ”を順次変化させることにより、光ファイバ１２の長さと、可変波長光源８の変調周期とで一意に決まる特定の位置を適宜選択することが可能になる。
【００５５】
例えば、図４中”ＬＧ５１”に示す対向して伝播するポンプ光”Ｆ０＋Δｆ”と、図４中”ＬＧ５２”に示す反射端１３で折り返してくるプローブ光”Ｆ１”とが同位相になる地点が、図４中”ＳＰ５１”に示す地点に移動することになる。
【００５６】
そして、この地点で、光周波数シフタ１０における光周波数のシフト分”Δｆ”とブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が一致すると、強い相関によりブリルアン増幅が行われ、ブリルアン散乱光”Ｆ０＋ｆｂ”が光ファイバ１２の一端から出射されることになる。
【００５７】
そして、前述のように、光周波数シフタ１０による光周波数のシフト分”Δｆ”を順次走査して行くことにより、図４中”ＳＰ５１”に示す地点におけるブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が分かり、歪の大きさなどを測定することが可能になる。
【００５８】
すなわち、可変波長光源８の変調周期を順次変化させ、対向して伝播するポンプ光と反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を適宜選択し、光周波数シフタ１０による光周波数のシフト分”Δｆ”を走査することにより、当該地点におけるブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が分かり、歪の大きさなどを測定することが可能になる。
【００５９】
この結果、可変波長光源８の変調周期を順次変化させ、対向して伝播するポンプ光と反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を適宜選択し、光周波数シフタ１０による光周波数のシフト分”Δｆ”を走査することにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。また、反射端で折り返す構造であるため位置の基準点が分かりやすくなる。
【００６０】
また、可変波長光源８の変調周期を順次変化させることにより、例えば、１５００ｍ程度の距離の測定が可能になり、従来例と比較して長距離の測定が可能になる。さらに、空間分解能は従来例と同様に可変波長光源８の波長振れ幅に依存するものの、変調周期”１０μｓｅｃ”で、可変波長光源８の波長振れ幅を”〜１．６ｎｍ（２００ＧＨｚ）とした場合、およそ”数ｃｍ”の高分解能を得ることができる。
【００６１】
すなわち、可変波長光源８の変調周期を”１μｓｅｃ”以上にすることにより、長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現することができる。
【００６２】
なお、反射端１３の周辺の位置は、同じ位相で光ファイバ１２の一端に入射されたプローブ光とポンプ光とが折り返す位置であり同位相点に相当するので、前述のように、この地点で、光周波数シフタ１０における光周波数のシフト分”Δｆ”とブリルアン周波数シフト”ｆＢ”が一致すると、強い相関によりブリルアン増幅が行われ、ブリルアン散乱光”Ｆ０＋ｆｂ”が光ファイバ１２の一端から出射されることになる。
【００６３】
但し、光検出器１４側では、このままでは可変波長光源８の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光であるのか、反射端１３の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光であるのか区別することができない。
【００６４】
このため、可変波長光源８の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端１３の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別するために、反射端１３の周辺の位置の光ファイバ特性を変えておく必要性がある。
【００６５】
具体的には、別特性の光ファイバを融着したり、別途歪を加えたり、反射端材料を適宜選択することにより、反射端１３の周辺の位置における光ファイバ特性（言い換えれば、ブリルアン周波数シフト）を可変波長光源８の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点とは異なる光ファイバ特性（言い換えれば、ブリルアン周波数シフト）に変化させておくことになる。
【００６６】
この結果、反射端１３の周辺の位置の光ファイバ特性を変えることにより、可変波長光源８の変調周期を順次変化させて適宜選択された地点で発生したブリルアン散乱光と、反射端１３の周辺の位置で発生したブリルアン散乱光とを区別することが可能になる。
【００６７】
また、可変波長光源８の変調周期波形として図２に示すような三角波を例示しているが、勿論、変調波形として正弦波等の変調周期波形を用いても構わない。
【００６８】
また、必要に応じて光増幅器を適宜用いても構わないし、光検出器１４の前段に可変波長光源８の変調周期と同期した可変バンドパスフィルタを設けて、不要な光周波数の光を除去しても構わない。
【００６９】
また、可変波長光源８の変調周期”Ｔ”を変えて、対向して伝播するポンプ光と、反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を適宜選択するのではなく、プローブ光の光路長を可変にして当該地点を適宜選択しても構わない。
【００７０】
また、プローブ光とポンプ光を同一周期、且つ、同一可変波長（周波数）幅で動作する別個の光源として、両光源の位相差を変化させることにより、対向して伝播するポンプ光と、反射端１３で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を適宜選択しても構わない。
【００７１】
また、可変波長光源８としてＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）式外部共振器型等の光源を用いてブリルアン周波数シフト以上の広い周波数（波長）範囲を高速に変化させることにより、長距離の測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】相関型の光ファイバ歪測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【図２】可変波長光源の出力光の光周波数（光波長）の時間変化を示す特性曲線図である。
【図３】プローブ光、パルス光及びブリルアン散乱光の関係を説明する説明図である。
【図４】プローブ光、パルス光及びブリルアン散乱光の関係を説明する説明図である。
【図５】従来の相関型の光ファイバ歪測定装置の一例を示す構成ブロック図である。
【図６】プローブ光、パルス光及びブリルアン散乱光の関係を説明する説明図である。
【図７】光検出器で検出される光強度の一例を示す特性曲線図である。
【符号の説明】
【００７３】
１  光源
２，５，９  光分岐手段
３  光変調器
４  パルス変調器
６，１２  光ファイバ
７，１４  光検出器
８  可変波長光源
１０  光周波数シフタ
１１  光合分岐手段
１３  反射端
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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