(57)【要約】【課題】テストプログラムの確認を容易に行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、被試験対象を試験部により試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験部により試験を行うＩＣテスタにおいて、
パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、
この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、前記試験部を制御する実行手段と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
記憶部のテストプログラムの全表示またはパステストのみの表示を表示部に行う表示処理手段を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象、例えばＩＣ，ＬＳＩ等の試験を行うＩＣテスタに関し、テストプログラムの確認を容易に行えるＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、下記特許文献１等に示されるように、テストプログラムにより動作し、被試験対象（以下ＤＵＴ）の試験を行っている。
【０００３】
【特許文献１】特開平２−２７６９７８号公報
【０００４】
テストプログラムを作成する場合、パステストとフェイルテストとを交互に記述し、テストプログラムを実行して、パステストの正当性をフェイルテストにより確認している。ここで、パステストはＤＵＴが正常に動作しているか確認を行うテストで、フェイルテストはパステストの正当性を確認するために、ＤＵＴの出力がフェイルとなるように記述されている。そして、通常のＤＵＴの試験時には、フェイルテストは削除し、フェイルテストが削除されたテストプログラムにより、ＤＵＴの試験を行っていた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような装置では、後日、テストプログラムの途中に新しいパステストを追加したい場合、削除したフェイルテストを再度記述し直し、追加したパステストが他のテストに影響しないか確認を行っていた。このため、テストプログラムの確認作業が大変であった。
【０００６】
そこで、本発明の目的は、テストプログラムの確認を容易に行えるＩＣテスタを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象を試験部により試験を行うＩＣテスタにおいて、
パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、
この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、前記試験部を制御する実行手段と
を備えたことを特徴とするものである
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
記憶部のテストプログラムの全表示またはパステストのみの表示を表示部に行う表示処理手段を設けたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項１によれば、実行手段が、テストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御するので、フェイルテストをテストプログラムから削除する必要がない。つまり、パステスト文を追加しても、他のテストに影響しないか確認を行うことができ、テストプログラムの確認を容易に行える。
【０００９】
請求項２によれば、表示処理手段が、テストプログラムの全表示またはパステストのみの表示を表示部に行うので、パステストのみの確認を行うことができ、実際のテスト実行時のプログラム確認を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１１】
図１において、ＤＵＴ１は、ＩＣ，ＬＳＩ等である。試験部２は、ＤＵＴ１の試験を行う。記憶部３は、複数のパステストと複数のフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する。制御部４は、試験部２に接続し、実行手段４１、表示処理手段４２を有する。実行手段４１は、記憶部３のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部２を制御する。表示処理手段４２は、記憶部３のテストプログラムの全表示またはパステストのみの表示を表示部５に行う。表示部５は、例えばＣＲＴ、ＬＣＤディスプレイ等で、ボタン５１，５２、テストプログラムを表示する表示領域５３を有する。入力部６は、例えばキーボード、マウス等で、制御部４に入力を行う。
【００１２】
このような装置の動作を以下に説明する。まず、テストプログラムの表示動作について説明する。図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートで、図３，４は図１に示す装置の表示部５の表示例を示した図である。
【００１３】
表示部５のボタン５１またはボタン５２が入力部６により表示処理手段４を介して押され、入力部によりテストプログラムの読み出しが指示されると、制御部４の表示処理手段４２が、記憶部３からテストプログラムを読み出す（Ｓ１１）。そして、フェイルモードのとき、表示処理手段４２が、図１に示すように、表示部５の表示領域５３に全テストプログラム文、つまり、パステスト文Ｐ１、フェイルテスト文Ｆ１、パステスト文Ｐ２、フェイルテスト文Ｆ２、・・・を表示する（Ｓ１２，Ｓ１３）。フェイルモードでない、つまり、パスモードのとき、表示処理手段４２が、表示部５の表示領域５３にパステストプログラム文、つまり、パステスト文Ｐ１，Ｐ２，・・・を図３に示すように表示領域５３に表示する（Ｓ１２，Ｓ１４）。
【００１４】
ここで、パステスト文Ｐ１〜Ｐ５，・・・，ＰＡ、フェイルテスト文Ｆ１〜Ｆ５，・・・は、例えば、先頭のプログラム文に”パステスト”、”フェイルテスト”のコメント文を記述し、パステスト文とフェイルテスト文とが区別される。
【００１５】
そして、テストプログラムにパステスト文ＰＡを追加する場合、入力部６により入力し、図４に示すように追加する。
【００１６】
次に、テストプログラムによる試験動作について説明する。図５は図１に示す装置のフローチャートである。
【００１７】
入力部６により、フェイルモードか、パスモードかを制御部４に指定し、実行を指示する。制御部４の実行手段４１は、記憶部３からテストプログラムを読み出す（Ｓ２１）。そして、フェイルモードのとき、実行手段４１は、全テストプログラム、つまり、図１に示すように、パステスト文Ｐ１、フェイルテスト文Ｆ１、パステスト文Ｐ２、フェイルテスト文Ｆ２、・・・を実行し、試験部２に対して制御を行い、試験部２がＤＵＴ１の試験を行う（Ｓ２２，Ｓ２３）。パスモードのとき、実行手段４１は、パステストのみ、つまり、図３に示すように、パステスト文Ｐ１，Ｐ２，・・・を実行し、試験部２に対して制御を行い、試験部２がＤＵＴ１の試験を行う（Ｓ２２，Ｓ２４）。
【００１８】
このように、実行手段４１が、テストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部２を制御するので、フェイルテストをテストプログラムから削除する必要がない。つまり、パステスト文ＰＡを追加しても、他のテストに影響しないか確認を行うことができ、テストプログラムの確認を容易に行える。
【００１９】
また、表示処理手段４２が、テストプログラムの全表示またはパステスト文のみの表示を表示部に行うので、パステスト文のみの確認を行うことができ、実際のテスト実行時のプログラム確認を行うことができる。
【００２０】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、実行手段４１が、記憶部３からテストプログラムを読み出し、テストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行する構成を示したが、表示処理手段４２が、記憶部３からテストプログラムを読み出し、テストプログラムの全部またはパステストのどちらかを実行手段４１に渡し、実行手段４１がテストプログラムの実行をする構成でもよい。
【００２１】
また、パステスト文とフェイルテスト文とをコメント文で区別する構成を示したが、コメント文ではなく、特有のプログラム文を挿入する構成でもよい。また、パステスト文とフェイル文とが交互に記述され、プログラムも追加する場合も交互に記述する規則にすれば、プログラムの区切りでパステストとフェイルテストの区別する構成でもよい。要するに、パステストとフェイルテストの区別に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図３】図１に示す装置の表示部５の表示例を示した図である。
【図４】図１に示す装置の表示部５の表示例を示した図である。
【図５】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００２３】
１  ＤＵＴ
２  試験部
３  記憶部
４１  実行手段
４２  表示処理手段
５  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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