(57)【要約】      （修正有）【課題】  被溶接部材の位置を正しく測定するための技術を提供する。【解決手段】  溶接装置１０は、被溶接部材よりも幅広のスリット光Ｌを被溶接部材１０１，１０２に向けて照射する照射装置１６と、前記スリット光が被溶接部材で反射した反射光Ｒを受光して被溶接部材に投影されている前記スリット光の像を結像する受光器２２と、一端が前記受光器の結像面に配列されている複数の光ファイバ３４と、前記複数の光ファイバのなかで前記反射光が入射した光ファイバ群を特定する特定手段と、前記特定手段が特定した光ファイバ群の前記結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の位置を計算する計算手段４０とを備えている。【選択図】  図１
2007210003.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射する照射装置と、
前記スリット光が被溶接部材で反射した反射光を受光して被溶接部材に投影されている前記スリット光の像を結像する受光器と、
一端が前記受光器の結像面に配列されている複数の光ファイバと、
前記複数の光ファイバのなかで前記反射光が入射した光ファイバ群を特定する特定手段と、
前記特定手段が特定した光ファイバ群の前記結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の位置を計算する計算手段と、
を備える溶接装置。
【請求項２】
前記照射装置は、溶接トーチと被溶接部材を結ぶ方向に対して所定の角度を成す方向から前記スリット光を照射することを特徴とする請求項１の溶接装置。
【請求項３】
前記受光器は、前記照射装置が照射する前記スリット光の被溶接部材における正反射方向に位置していることを特徴とする請求項１又は２の溶接装置。
【請求項４】
前記計算手段によって計算された被溶接部材の位置に基づいて、前記溶接トーチと被溶接部材との相対位置を調整する手段が付加されていることを特徴とする請求項１から３のいずれかの溶接装置。
【請求項５】
前記特定手段が特定した光ファイバ群の前記結像面における配列長さに基づいて、被溶接部材の幅を計算する手段が付加されていることを特徴とする請求項１から４のいずれかの溶接装置。
【請求項６】
前記照射装置は、光源と、その光源が発する光を案内する光ファイバと、光ファイバによって案内された光をスリット光に変換して被溶接部材に照射する照射器とを備えることを特徴とする請求項１から５のいずれかの照射装置。
【請求項７】
被溶接部材の位置を測定する方法であって、
被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射する工程と、
前記スリット光が被溶接部材において反射した反射光を受光して被溶接部材に投影されている前記スリット光の像を複数の光ファイバの端面が配列されている結像面に結像する工程と、
前記複数の光ファイバのなかで前記反射光が入射した光ファイバ群を特定する工程と、
特定した光ファイバ群の前記結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の相対位置を計算する工程と、
を備える被溶接部材の位置測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被溶接部材の位置を測定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
被溶接部材の位置を測定する技術が開発されている。例えば特許文献１には、被溶接部材に光を照射する照射装置と、被溶接部材を撮像する撮像装置とを用い、撮像装置によって撮像した画像に基づいて、被溶接部材の位置を測定する技術が開発されている。
【特許文献１】特開２００４−４２１１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
溶接トーチに対する被溶接部材の位置を正しく測定するためには、溶接トーチによって溶接を施工する溶接点の近傍において、被溶接部材の位置を測定することが好ましい。この場合、特許文献１の技術では、照射装置や撮像装置を溶接点の近傍に配置することが必要となる。しかしながら、照射装置や撮像装置を溶接点の近傍に配置しようとすると、照射装置や撮像装置が溶接トーチと干渉してしまう。特許文献１の技術では、照射装置や撮像装置を溶接点の近傍に配置することができず、被溶接部材の位置を正しく測定することができないという問題が生じる。例えば、被溶接部材の溶接中における熱歪に追従して溶接トーチの位置をリアルタイムに補正する場合、外乱光が強い溶接点の近傍において被溶接部材の位置を測定する必要があるが、このような溶接トーチの位置制御に特許文献１の技術は採用することはできない。
本発明は、上記の問題を鑑みて、被溶接部材の位置を正しく測定することを可能とする技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の技術によって具現化される溶接装置は、被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射する照射装置と、前記スリット光が被溶接部材で反射した反射光を受光して被溶接部材に投影されている前記スリット光の像を結像する受光器と、一端が前記受光器の結像面に配列されている複数の光ファイバと、前記複数の光ファイバのなかで前記反射光が入射した光ファイバ群を特定する特定手段と、前記特定手段が特定した光ファイバ群の前記結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の位置を計算する計算手段とを備えている。
【０００５】
この溶接装置では、被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射し、被溶接部材に投影されるスリット光の像を受光し、複数の光ファイバを用いて受光する。溶接点の近傍には受光器のみを配置すればよいことから、溶接点の近傍に投影されたスリット光の像を、溶接トーチと干渉することなく受光することができる。
被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射すると、被溶接部材の位置が変化したときでも、被溶接部材の全幅に亘ってスリット光の像が投影される。従って、被溶接部材の位置が変化すると、被溶接部材に投影されるスリット光の像の位置が変化し、スリット光の像を受光する光ファイバが変化する。そのことから、スリット光の像を受光した光ファイバの結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の位置を計算することができる。
この溶接装置によると、被溶接部材の位置を溶接点の近傍において正しく測定することができる。
【０００６】
上記の溶接装置において、照射装置は、溶接トーチと被溶接部材を結ぶ方向に対して所定の角度を成す方向からスリット光を照射することが好ましい。
溶接トーチと被溶接部材を結ぶ方向に対して所定の角度を成す方向からスリット光を照射すると、溶接トーチと被溶接部材との距離に追従して、被溶接部材に投影されるスリット光の像の位置は変化する。それにより、スリット光の像を受光した光ファイバの配列位置に基づいて、溶接トーチと被溶接部材との距離を計算することが可能となる。
【０００７】
上記の溶接装置において、受光器は、照射装置が照射するスリット光の被溶接部材における正反射方向に位置していることが好ましい。
それにより、受光器は、スリット光が被溶接部材で反射した反射光を強い強度で受光することができる。
【０００８】
上記の溶接装置では、計算手段によって計算された被溶接部材の位置に基づいて、溶接トーチと被溶接部材との相対位置を調整する手段が付加されていることが好ましい。
それにより、被溶接部材の位置に溶接トーチの位置を追従させることが可能となる。
【０００９】
上記の溶接装置では、特定手段が特定した光ファイバ群の結像面における配列長さに基づいて、被溶接部材の幅を計算する手段が付加されていることが好ましい。
被溶接部材に投影されるスリット光の像の長さは、被溶接部材の幅に応じて変化する。そのことから、被溶接部材に投影されているスリット光の像を受光した光ファイバ群の結像面における配列長さに基づいて、被溶接部材の幅を計算することができる。
【００１０】
上記の溶接装置において、照射装置は、光源と、その光源が発する光を案内する光ファイバと、光ファイバによって案内された光をスリット光に変換して被溶接部材に照射する照射器とを備えることが好ましい。
この溶接装置では、光源を溶接トーチから離反させて配置し、照射器のみを溶接トーチの近傍に配置することができる。それにより、溶接トーチと干渉することなく、溶接点の近傍にスリット光を照射することができる。例えばスリット光の強度を高めるために、大型の光源を採用した場合でも、光源が溶接トーチと干渉することがない。
【００１１】
本発明の技術はまた、被溶接部材の位置を測定する方法に具現化することもできる。この方法は、被溶接部材よりも幅広のスリット光を被溶接部材に向けて照射する工程と、前記スリット光が被溶接部材において反射した反射光を受光して被溶接部材に投影されている前記スリット光の像を複数の光ファイバの端面が配列されている結像面に結像する工程と、前記複数の光ファイバのなかで前記反射光が入射した光ファイバ群を特定する工程と、特定した光ファイバ群の前記結像面における配列位置に基づいて、被溶接部材の相対位置を計算する工程とを備えている。
この方法によると、被溶接部材の位置を溶接点の近傍において正しく測定することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明により、溶接トーチに対する被溶接部材の位置を正確に測定することが可能となる。溶接トーチと被溶接部材との相対位置を適切に維持することによって、被溶接部材を適切に溶接することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
最初に、以下に説明する実施例の主要な特徴を列記する。
（形態１）  溶接装置は、参照光の光源にレーザダイオードを用いている。
（形態２）  溶接装置は、複数本の光ファイバをマトリクス状に配列したバンドルファイバを用いて、ワークに投影されているスリット光の像を受光する。
（形態３）  溶接装置は、ワークの位置を計算する位置演算部を備えている。位置演算部は、バンドルファイバを構成する複数の光ファイバのなかからワークによる反射光を受光した光ファイバ群を特定し、その光ファイバ群の結像面における列方向の位置に基づいて、溶接トーチに対するワークのｙ軸方向の位置を計算する。また、その光ファイバ群の結像面における行方向の位置に基づいて、溶接トーチに対するワークのｚ軸方向の位置を計算する。
【実施例】
【００１４】
図１は、本発明を実施したレーザ溶接装置１０の構成を模式的に示している。図１に示すように、レーザ溶接装置１０は、例えば重畳配置した金属板（ワーク）１０１、１０２の端面１０１ａ、１０２ａにレーザを照射し、ワーク１０１、１０２の端面１０１ａ、１０２ａを溶着するヘリ継ぎ手溶接を実施することができる。
図１に示すように、レーザ溶接装置１０は、ワーク１０１、１０２に向けて溶接レーザを照射する溶接トーチ１８と、溶接トーチ１８の位置や姿勢を変化させる移動装置２０と、移動装置２０の動作を制御するコントローラ２２を備えている。溶接トーチ１８は、ヘッドフレーム１９を介して移動装置２０に固定されている。溶接トーチ１８には、図示しないレーザ発振器が接続されている。レーザ発振器や溶接トーチ１８は、汎用のレーザ溶接装置と同一のものを採用することができる。また、移動装置２０とコントローラ２２は、汎用のアーム型のロボット装置等を採用することができる。コントローラ２２には、ワーク端面１０１、１０２を溶接するための溶接トーチ１８の移動軌跡が予め教示されている。
図１に示すように、レーザ溶接装置１０では、溶接トーチ１８に固定されたｘｙｚ座標系が定義されている。ｘ軸は、溶接トーチ１８に定められている溶接時の進行方向に定義されている。ｚ軸は、溶接トーチ１８がレーザを照射する方向に定義されている。ｙ軸は、ｘ軸およびｚ軸に対して垂直に定義されている。
【００１５】
レーザ溶接装置１０は、参照光光源器１２と、参照光照射器１６と、参照光光源器１２と参照光照射器１６を接続している光ファイバ１４を備えている。参照光照射器１６は、ヘッドフレーム１９に取付けられており、溶接トーチ１８との相対的な位置関係が維持されるようになっている。
参照光光源器１２は、複数のレーザダイオード１２ａを備えており、所定の波長成分のみを有する単一波長光（レーザ光）を発生する。参照光光源器１２は、複数のレーザダイオード１２ａにより、全体として略３０ワットの出力を有している。参照光光源器１２が発生した単一波長光は、光ファイバ１４を介して、参照光照射器１６に入力される。
光ファイバ１４は、一端から参照光光源器１２が発した単一波長光を受光し、受光した単一波長光を他端へと案内し、他端から参照光照射器１６へ単一波長光を照射する。
参照光照射器１６は、シリンドリカルレンズ等を有しており、入力した単一波長光をｙ軸方向に沿って線状に伸びる線状参照光（スリット光）Ｌに変換し、ワーク端面１０１ａ、１０２ａに向けて線状参照光Ｌを照射する。参照光照射器１６の光軸Ｄａとワーク端面１０１ａ、１０２ａの法線方向Ｎとの成す角は、所定の角度θに調整されている。即ち、線状参照光Ｌは、ワーク端面１０１ａ、１０２ａに対して所定の入射角θで入射するようになっている。ワーク端面１０１ａ、１０２ａに照射される線状参照光Ｌは、ワーク１０１、１０２に入射する位置において、ワーク１０１、１０２を重畳した厚み（ワーク幅）よりも十分に長く伸びるように調整されている。それにより、ワーク１０１、１０２の端面１０１ａ、１０２ａに照射された線状参照光Ｌの像が、その両端面１０１ａ、１０２ａの厚み方向全体に亘って伸びるようになっている。
このように、溶接装置１０では、参照光光源器１２が発した光を、光ファイバ１４を用いて溶接トーチ１８の近傍へと案内する。それにより、参照光光源器１２を溶接トーチ１８の近傍に配置する必要がない。参照光照射器１６のみを溶接トーチ１８の近傍に設ければよいことから、ワーク１０１、１０２の溶接点の近傍に線状参照光Ｌを照射することができる。
【００１６】
レーザ溶接装置１０は、参照光受光器３２と、一端が参照光受光器３２に接続されているバンドルファイバ３４と、バンドルファイバ３４の他端が接続されている光電変換器３６と、光電変換器３６に接続されているアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器３８と、Ａ／Ｄ変換器３８に接続されている位置演算器４０を備えている。参照光受光器３２は、ヘッドフレーム１９に取付けられており、溶接トーチ１８や参照光照射器１６との相対的な位置関係を維持できるようになっている。
参照光受光器３２は、線状参照光Ｌがワーク端面１０１ａ、１０２ａにおいて反射された反射参照光Ｒを受光する。参照光受光器３２の光軸Ｄｂとワーク端面１０１ａ、１０２ａの法線方向Ｎとの成す角は、線状参照光Ｌの入射角θに等しく調整されている。即ち、参照光受光器３２の光軸Ｄｂは、線状参照光Ｌがワーク端面１０１ａ、１０２ａに入射したときの正反射方向に一致している。それにより、参照光受光器３２は、反射参照光Ｒを強い強度で受光できるようになっている。また、参照光受光器３２は、波長フィルタ３２ａやレンズ３２ｂ等を備えている。波長フィルタ３２ａは、いわゆるカラーフィルタであり、参照光光源器１２が発生する単一波長光を透過し、他の波長光を吸収する。それにより、レーザ溶接時に発生するプラズマによる外乱光を受光することが防止される。レンズ３２ｂは、ワーク端面１０１ａ、１０２ａに投影されている線状参照光Ｌの像を、参照光受光器３２の結像面３２ｃに結像する。
図３は、参照光受光器３２に汎用の光度計を取り付け、レーザ溶接時に参照光受光器３２が受光する光の強度を測定したものである。図３に示すように、参照光受光器３２では、プラズマによる外乱光を受光することが防止され、反射参照光Ｒが強く受光されることが確認されている。参照光受光器３２は、反射参照光Ｒを高いＳ／Ｎ比で受光することができる。
【００１７】
バンドルファイバ３４は、複数の光ファイバが束ねられて構成されている。バンドルファイバ３４の一端は、参照光受光器３２の結像面３２ｃに配列されている。図２は、バンドルファイバ３４を構成する光ファイバ３４ａ群の結像面３２ｃにおける配列を模式的に示している。図２に示すように、バンドルファイバ３４では、複数の光ファイバ３４ａがｍ行×ｎ列のマトリクス状に配列されている。各光ファイバ３４ａには、例えばコア径が０．０５ｍｍの光ファイバを用いることができる。参照光受光器３２によって受光された反射参照光Ｒは、バンドルファイバ３４の一部の光ファイバ３４ａに入射する。図２において、ハッチングが付された光ファイバ３４ａ群は、反射参照光Ｒが入射する光ファイバ３４ａ群の一例を示している。バンドルファイバ３４に入射した反射参照光Ｌは、バンドルファイバ３４内を伝播し、光電変換器３６へと入力される。
【００１８】
光電変換器３６は、バンドルファイバ３４の各光ファイバ３４ａから入力された光を、光ファイバ３４ａ毎に、光強度に比例する電気信号（電圧）に変換する。即ち、光電変換器３６は、ｍ行×ｎ列に配列された光ファイバ群３４ａから入力した光信号を、光ファイバ３４ａ群の配置位置に対応付けられたｍ×ｎ個の電気信号に変換する。光電変換器３６の出力信号は、Ａ／Ｄ変換器３８に入力される。なお、光電変換器３６には、例えば、少なくともｍ×ｎ個の電荷結合素子（ＣＣＤ）がマトリクス状に配列されたＣＣＤパネルを用いることができる。
Ａ／Ｄ変換器３８は、光電変換器３６が出力するｍ×ｎ個の電気信号のそれぞれを、所定の閾値によって二値化処理する。図３に示したように、参照光受光器３２は、外乱光に対して反射参照光Ｒを十分な強度で受光することができる。そのことから、光電変換器３６が出力するｍ×ｎ個の電気信号において、反射参照光Ｒを受光した光ファイバ３４ａに対応する電気信号と、反射参照光Ｒを受光しなかった光ファイバ３４ａに対応する電気信号との間で、大きな差が生じる。従って、光電変換器３６が出力するｍ×ｎ個の電気信号を二値化処理することによって、バンドルファイバ３４のｍ×ｎ本の光ファイバ３４ａ群のなかから、反射参照光Ｒを受光した光ファイバ３４ａ群を正確に特定することができる。Ａ／Ｄ変換器３８によって二値化されたｍ×ｎ個の電気信号は、位置演算器４０に入力される。
位置演算器４０は、Ａ／Ｄ変換器３８によって二値化されたｍ×ｎ個の電気信号群に基づいて、反射参照光Ｒを受光した光ファイバ３４ａ群を特定する。そして、特定した光ファイバ３４ａ群の結像面３２ｃにおける配列位置に基づいて、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２の相対位置を演算する。
【００１９】
図４〜図８を参照して、反射参照光Ｒを受光した光ファイバ群３４ａの配列位置と、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２の位置との関係について説明する。
図４、図５は、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｙ軸方向の位置と、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群（ハッチングを付して示す）の位置との関係を模式的に示している。図４、図５を比較してわかるように、溶接トーチ１８に対してワーク１０１、１０２がｙ軸方向に移動すると、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群は列方向（ｎ方向）に移動する。一方、行方向（ｍ方向）には移動しない。このように、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の列方向（ｎ方向）の位置は、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｙ軸方向の位置に対応する。そのことから、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の列方向（ｎ方向）の位置に基づいて、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｙ軸方向の位置を演算することができる。
また、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の両端間距離（例えばｎ１列〜ｎ２列）は、重畳配置したワーク１０１、１０２の合計の厚みに対応する。そのことから、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の両端間距離（例えばｎ１列〜ｎ２列）に基づいて、重畳配置したワーク１０１、１０２の合計の厚みを演算することができる。
【００２０】
図６、図７は、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｚ軸方向の位置と、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群（ハッチングを付して示す）の位置との関係を模式的に示している。図６、図７を比較してわかるように、溶接トーチ１８に対してワーク１０１、１０２がｚ軸方向に移動すると、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群は行方向（ｍ方向）に移動する。一方、列方向（ｎ方向）には移動しない。このように、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の行方向（ｍ方向）の位置は、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｚ軸方向の位置に対応する。そのことから、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の行方向（ｍ方向）の位置に基づいて、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｚ軸方向の位置を演算することができる。ここで、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群の行方向（ｍ方向）の位置変化量｜ｍ２−ｍ１｜と、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｚ軸方向の位置変化量｜ｚ２−ｚ１｜との関係は、線状参照光Ｌの入射角や反射参照光Ｒの受光角に応じて定まる。本実施例では、線状参照光Ｌの入射角と反射参照光Ｒの受光角が共に角度θに設定されているので、｜ｍ２−ｍ１｜＝｜ｚ２−ｚ１｜×（ｃｏｓθ／ｓｉｎ２θ）の関係が成立する。
【００２１】
図８は、ワーク１０１の端面１０１ａとワーク１０２の端面１０２ａとの間に位置ずれが生じている場合を示している。図８（ｂ）に示すように、ワーク１０１の端面１０１ａの位置とワーク１０２の端面１０２ａとの位置がｚ軸方向に距離ｄだけ異なる場合、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群は、行方向（ｍ方向）に距離ｇだけ離反する２つの範囲に分布することとなる。そのことから、反射参照光Ｒを受光する光ファイバ３４ａ群が、行方向（ｍ方向）に離反する２つの範囲に分布している場合は、ワーク１０１の端面１０１ａとワーク１０２の端面１０２ａとの間に位置ずれが生じていると判定することができる。ここで、図８（ａ）に示すバンドルファイバ３４上の距離ｇと、図８（ｂ）に示すワーク端面１０１ａ、１０２ａ間の位置ずれ量ｄとの関係は、線状参照光Ｌの入射角や反射参照光Ｒの受光角に応じて定まる。本実施例では、線状参照光Ｌの入射角と反射参照光Ｒの受光角が共に角度θに設定されているので、ｄ＝ｇ×（ｃｏｓθ／ｓｉｎ２θ）の関係が成立する。
【００２２】
位置演算器４０は、上記した関係に基づいて、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２のｙ軸方向の位置や、ｚ軸方向の位置や、ワーク１０１、１０２の厚み等を演算する。位置演算器４０によって演算されたワーク１０１、１０２の位置は、移動装置２０の動作を制御するコントローラ２２に教示される。
コントローラ２２は、位置演算器４０から教示された溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２の相対位置に基づいて、予め教示されている溶接トーチ１８の移動軌跡を逐次修正する。それにより、溶接トーチ１８とワーク端面１０１ａ、１０２ａとの相対位置は正しく維持されることとなり、ワーク端面１０１ａ、１０２ａを正しく溶接することができる。
【００２３】
このように、溶接装置１０では、ワーク端面１０１ａ、１０２ａによって反射された反射参照光Ｒを参照光受光器３２によって受光し、ワーク端面１０１ａ、１０２ａに投影された線状参照光Ｌの像を、バンドルファイバ３４を用いて光電変換器３６へと伝播する。それにより、光電変換器３６を溶接トーチ１８の近傍に設ける必要がない。参照光受光器３２のみを溶接トーチ１８の近傍に設ければよいことから、ワーク１０１、１０２の溶接点の近傍に投影されている線状参照光Ｌの像を、比較的に近い位置から受光することができる。それにより、ワーク１０１、１０２の位置を溶接点の近傍において測定することによって、溶接トーチ１８に対するワーク１０１、１０２の相対位置を正しく測定することができる。
【００２４】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数の目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】溶接装置の構成を示す模式図。
【図２】バンドルファイバにおける光ファイバの配列を示す模式図。
【図３】受光器が受光する光の強度分布を示すグラフ。
【図４】スリット光の像を受光する光ファイバの配列位置とワークのｙ軸方向の位置との関係を示す図。
【図５】スリット光の像を受光する光ファイバの配列位置とワークのｙ軸方向の位置との関係を示す図。
【図６】スリット光の像を受光する光ファイバの配列位置とワークのｚ軸方向の位置との関係を示す図。
【図７】スリット光の像を受光する光ファイバの配列位置とワークのｚ軸方向の位置との関係を示す図。
【図８】スリット光の像を受光する光ファイバの配列位置とワーク同士のｚ軸方向の位置ずれとの関係を示す図。
【符号の説明】
【００２６】
１０：溶接装置
１２：光源
１４：光ファイバ
１６：照射器
１８：溶接トーチ
２０：移動装置
２２：コントローラ
３２：受光器
３２ａ：波長フィルタ
３２ｂ：レンズ
３４：バンドルファイバ
３４ａ：光ファイバ
３６：光電変換器
３８：Ａ／Ｄ変換器
４０：位置演算器
【図１】
2007210003.tif 000003
【図２】
2007210003.tif 000004
【図３】
2007210003.tif 000005
【図４】
2007210003.tif 000006
【図５】
2007210003.tif 000007
【図６】
2007210003.tif 000008
【図７】
2007210003.tif 000009
【図８】
2007210003.tif 000010