(57)【要約】【課題】  デポピュレート版磁気ディスク装置において、劣化が予測された磁気ヘッド又は磁気ディスクの面の情報の喪失を、安価且つ確実に防止する。【解決手段】  磁気ディスク装置の出荷前の試験で特性が所定閾値以下の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対を含む1対以上の磁気ヘッドと磁気ディスクを読み書きのスキップ対象とし、１モデルだけ容量の少ない磁気ディスク装置として販売するデポピュレート版磁気ディスク装置（１１１）の情報保護方法であって、使用中の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対の劣化状態を検出し、劣化していると判断された対の磁気ディスク面に記録されている情報をスキップ対象とされている磁気ディスクの中で使用可能な磁気ヘッドに対応する面に書き換え、使用中の磁気ヘッドを使用禁止状態にする。【選択図】      図３
2007042171.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の磁気ディスクと、該磁気ディスクの各々の両面に対して読み書きする磁気ヘッドとを備えた磁気ディスク装置の出荷前の試験で特性が所定閾値以下の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対を含む1対以上の磁気ヘッドと磁気ディスクを読み書きのスキップ対象とし、１モデルだけ容量の少ない磁気ディスク装置として販売するデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法であって、
使用中の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対の劣化状態を検出し、
劣化していると判断された対の磁気ディスク面に記録されている情報を前記スキップ対象とされている磁気ディスクの中で使用可能な磁気ヘッドに対応する面に書き換え、
前記使用中の磁気ヘッドを使用禁止状態にすることを特徴とするデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法。
【請求項２】
前記劣化状態の検出は、リードチャネル機能を使用して、VMM値、AGCのVGA値、磁気ヘッドの出力波形の上下非対称の度合い、及び磁気ヘッドのＭＲ抵抗値の測定を、予め設定されているスライス値と比較して行われることを特徴とする請求項１に記載のデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法。
【請求項３】
前記劣化状態の検出は、前記磁気ディスク装置への電源投入時、前記磁気ディスク装置内の内臓タイマーによる設定時、及び前記磁気ディスク装置の非動作時の空き時間のいずれかで行うことを特徴とする請求項１に記載のデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法に関し、特に出荷後のデポピュレート版磁気ディスク装置における磁気ヘッド又は磁気ディスクの劣化によって顧客情報等のデータが失われることを防止する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は周知の磁気ディスク装置の構成の概略を示す図である。同図において、１１は磁気ディスク（プラッタともいう）が4枚搭載されている４P（プラッタ）構成の磁気ディスク装置、１１１は４P構成の磁気ディスク装置を２P装置として使用するデポピュレート版磁気ディスク装置、１１aは磁気ディスクが2枚搭載されている２P構成の磁気ディスク装置、１１a1は２P構成の磁気ディスク装置を１P装置として使用するデポピュレート版磁気ディスク装置である。
【０００３】
磁気ディスク装置１１及び１１aのように、磁気ディスク装置の筐体は同じでもユーザの要望に応じて記憶容量の異なる磁気ディスク装置が販売されている。例えば、４Pの磁気ディスク装置の容量は１５０ギガバイト、２Pの磁気ディスク装置の容量は７５ギガバイトである。図示しないが、磁気ディスクが1枚だけの３６ギガバイトの１Pの磁気ディスク装置も存在する。
【０００４】
磁気ディスク装置１１及び１１１内で１２は磁気ディスクを回転させるスピンドル、１３は磁気ヘッドを磁気ディスクの読み出し又は書き込み位置に移動させるアクチュエータ、１４〜１７は4枚のプラッタである磁気ディスク、１４１及び１４２は磁気ディスク１４の両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッド、１５１及び１５２は磁気ディスク１５の両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッド、１６１及び１６２は磁気ディスク１６の両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッド、１７１及び１７２は磁気ディスク１７の両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッドである。
【０００５】
磁気ディスク装置１１a及び１１a１内で１２aは磁気ディスクを回転させるスピンドル、１３aは磁気ヘッドを磁気ディスクの読み出し又は書き込み位置に移動させるアクチュエータ、１４a及び１５aは2枚のプラッタである磁気ディスク、１４a１及び１４a２は磁気ディスク１４aの両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッド、１５a１及び１５a２は磁気ディスク１５aの両面に対する読み出し又は書き込み用の磁気ヘッドである。
【０００６】
一般に、磁気ディスクや磁気ヘッドは振動や衝撃に弱く、容易に破壊される。このため、例えば４Pの磁気ディスク装置を工場から出荷する前に試験を行い、磁気ディスク１４〜１７の両面のいずれか、又は磁気ヘッド１４１及び１４２、１５１及び１５２、１６１及び１６２、１７１及び１７２のいずれかの特性が予め定められている閾値を下回っていると、その磁気ディスク又はその磁気ヘッドに対応する磁気ディスクは不良品であることになる。不良品の磁気ディスク又はその磁気ヘッドに対応する磁気ディスクを修理に出したり交換したりするのではコストがかかりすぎるので、その磁気ディスク又はその磁気ヘッドに対応する磁気ディスクは使用不能状態として４Pの磁気ディスク装置より1モデルだけ容量の少ない２Pの磁気ディスク装置として出荷するようにしている。これをデポピュレート版の磁気ディスク装置という。例えば、図示のように4個の磁気ディスクが搭載される磁気ディスク装置１１において磁気ディスク１６の表面又はその表面に対応する磁気ヘッドの特性が所定閾値を下回っていると、その磁気ディスク１６は使用不能状態となる。そこで磁気ディスク１６及び１７はスキップ対象ディスクとし、残りの２枚の磁気ディスク１４及び１５だけを利用可能にしてデポピュレート版磁気ディスク装置１１１として出荷している。デポピュレート版磁気ディスク装置１１１においては、最大で３個の使用可能ヘッドが存在する可能性がある。
【０００７】
同様に、２Pの磁気ディスク装置において出荷前に1個の磁気ヘッド又は1枚の磁気ディスクの片面の特性が所定閾値を下回っている場合には１Pのデポピュレート版磁気ディスク装置として出荷している。
【０００８】
出荷後の磁気ディスク装置でも、経年変化により磁気ヘッドの浮上量の変化、MR抵抗の変化、及びライト特性の変化など特性劣化が生じてくる。磁気ヘッドや磁気ディスクが完全に機能不全に陥った場合はデータの読み出しが不可能となり顧客に多大な迷惑をかけることになる。これを防止するために、従来の磁気ディスクでは、エラーに関するログを収集するスマート機能を有しており、エラーログの保存を行い故障の予測を行っていて、磁気ディスク装置内の一部の磁気ディスク又は磁気ヘッドの故障の予測がなされた場合、磁気ディスク装置内の全ての情報を新しい磁気ディスク装置等にコピーをし、故障が予測された磁気ディスク又は磁気ヘッドを有する磁気ディスク装置全体を交換して、情報が喪失することを防止していた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、デポピュレート版磁気ディスク装置においてスキップ対象となっている磁気ディスクであっても、片面又は両面が使用可能である場合があるため、その使用可能ヘッドを有効に活用可能である。例えば、デポピュレート版磁気ディスク装置１１１ではスキップ対象となっている磁気ディスクのうち磁気ディスク１６の裏面及び磁気ディスク１７の両面が使用可能であり、スキップ対象となっている磁気ヘッドのうち磁気ヘッド１６２，１７１，１７２は使用可能である。
【００１０】
本発明の目的は、デポピュレート版磁気ディスク装置において、劣化が予測された磁気ヘッドに対応する磁気ディスクの面の情報又は劣化が予測された磁気ディスクの面の情報を、スキップ対象となっている磁気ディスクの使用可能な面にコピーすることにより、新たな磁気ディスク装置を用意することなく、したがって余分な費用を必要とすることなく、磁気ディスク装置内の情報の喪失を未然に防止し磁気ディスクの寿命を延ばすことにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の目的を達成するために、本発明により、複数の磁気ディスクの各々の両面に対して読み書きする磁気ヘッドを備えた磁気ディスク装置の出荷前の試験で特性が所定閾値以下の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対を含む1対以上の磁気ヘッドと磁気ディスクを読み書きのスキップ対象とし、１モデルだけ容量の少ない磁気ディスク装置として販売するデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法であって、使用中の磁気ヘッドと磁気ディスク面の対の劣化状態を検出し、劣化していると判断された対の磁気ディスク面に記録されている情報をスキップ対象とされている磁気ディスクの中で使用可能な磁気ヘッドに対応する面に書き換え、使用中の磁気ヘッドを使用禁止状態にすることを特徴とするデポピュレート版磁気ディスク装置の情報保護方法が提供される。
【発明の効果】
【００１２】
本発明により、スキップ対象の磁気ディスクであっても使用可能なものに情報をコピーするので、磁気ヘッド又は磁気ディスクの劣化が予測されてすぐにはデータ損失に至らない。したがって、経済的且つ安全に、磁気ディスク装置内のデータの保証及び、磁気ディスク装置の寿命を延ばすことができる。また、磁気ディスク装置の信頼性の向上につながり、保守による工数及び費用の削減が可能になるという効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図２は本発明の一実施の形態による磁気ディスクドライブ装置（磁気ディスク装置）の構成を示すブロック図である。同図において、１は磁気ディスク、２はプリアンプ（HDIC）であって、磁気ディスク１への信号の書き込み及び磁気ディスクから読み出した信号の増幅をするもの、３はデータの復調を行なうリードチャネル（RDC）IC、４はサーボコントローラ（SVC)であって磁気ディスクの回転用スピンドルのコントロールや磁気ヘッドのアームを制御するVCM(Voice Coil Motor)コントロールを行うもの、５は書き込みや読み出しの制御及びトラック情報の提供などを行うマイクロプロセッサ（MPU)、６はMPU ５及びリードチャネル３を介して磁気ディスク装置１を制御し、データの書き込みやフォーマッタの起動などを行うハードディスクコントローラ（HDC)、７はスキップする磁気ディスクや磁気ヘッドに関する情報、劣化判定の基準となるスライス値、使用可能な磁気ヘッドの数などのパラメータを格納しているメモリ、８はハードディスクコントローラ（HDC)6との間で信号の送受して磁気ディスク装置全体を制御するホストコンピュータである。
図３は図２におけるMPU５の動作を説明するフローチャートである。同図において、ステップS1で磁気ヘッド情報をメモリ７から読み取る。磁気ヘッド情報には、スキップ対象の磁気ヘッドのうち交替可能な磁気ヘッド及び磁気ディスクの位置を記録しているヘッドスキップテーブル（図示せず）が含まれている。次いでステップS２にてヘッドスキップテーブルに交替可能な磁気ヘッド及び磁気ディスクが記録されているかを確認する。交替可能磁気ヘッド及び磁気ディスクが無ければステップS3にて処理を終了する。
交替可能磁気ヘッド及び磁気ディスクがあれば、ステップS4に進み現在使用中の磁気ヘッド及び磁気ディスクを選択し、ステップS5にて現在使用中の磁気ヘッド及び磁気ディスクによるライト/リード動作を行いVMM値を読み取る。
【００１４】
次いでステップS6にて、ステップS5で読み出したVMM値を所定のスライス値と比較する。読み出したVMM値が所定のスライス値を下回っている場合（NGの場合）はその磁気ヘッド又はその磁気ディスクにダメージがあるかダメージが予測されると判断してステップS7にて交換可能な磁気ヘッド及び磁気ディスクに切り替えて、ステップS8にてその磁気ディスクに対してライト/リード動作を行いVMM値を読み取る。ステップS5にて読み出したVMM値が所定のスライス値以上であればその磁気ヘッド及び磁気ディスクにはダメージが予測されないと判断してステップS9にて処理を終了する。
【００１５】
ステップS8にてVMM値を読み取った後にステップS9にて再びVMM値を所定のスライス値と比較する。読み出したVMM値が所定のスライス値を下回っている場合（NGの場合）はその磁気ヘッド又はその磁気ディスクにダメージがあるかダメージが予測されると判断してステップS１０にて、ステップS2と同様にヘッドスキップテーブルに交替可能な磁気ヘッド及び磁気ディスクが記録されているかを確認する。交替可能磁気ヘッド及び磁気ディスクが無ければステップS１１にて処理を終了する。
【００１６】
交替可能磁気ヘッド及び磁気ディスクがあれば、ステップS7に戻り、ステップS7〜S9を繰り返す。
【００１７】
ステップS9の判断で読み出したVMM値がスライス値以上であれば（OKの場合）ステップS１２にてヘッドスキップテーブルの情報を更新して切り替えられた磁気ヘッド及び磁気ディスクをスキップ対象から外し、ステップS6にて劣化が検出された磁気ヘッド及び磁気ディスクを書き込み禁止とし、書き込み禁止とされた磁気ディスクスに記録されているデータを、ステップS7にて交替された磁気ヘッドによりその磁気ヘッドに対応する磁気ディスクに書き換えてから磁気ヘッド及び磁気ディスクをステップS4での現在使用中のものからステップS7にて切り替えた磁気ヘッド及び磁気ディスクに交替して使用する。
【００１８】
上記劣化状態の検出は、磁気ディスク装置への電源投入時、磁気ディスク装置内の内臓タイマーによる設定時、及び磁気ディスク装置の非動作時の空き時間のいずれかで行う。
【００１９】
これにより、例えば４Pのデポピュレート版磁気ディスク装置において１つの磁気ヘッド又は磁気ディスクの劣化が予測された場合に、スキップ対象となっている磁気ヘッド及び磁気ディスクの中で使用可能なものにデータを書き換えてそのデポピュレート版磁気ディスク装置を継続して使用することが可能になる。
【００２０】
図３では、磁気ヘッド及び磁気ディスクの劣化をVMM値の測定により行う例を示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、AGCのVGA値、磁気ヘッドの出力波形の上下非対称の度合い、及び磁気ヘッドのMR抵抗値の測定、又は他の任意の手段により磁気ヘッド又は磁気ディスクの劣化を予測してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００２１】
以上の説明から明らかなように、本発明により、デポピュレート版磁気ディスク装置において１つの磁気ヘッド又は磁気ディスクの劣化が予測された場合に、スキップ対象となっている磁気ヘッド及び磁気ディスクの中で使用可能なものにデータを書き換えてそのデポピュレート版磁気ディスク装置を継続して使用することが可能になるので、新たに磁気ディスク装置を用意する必要がなくなり、安価で且つ確実に磁気ディスク装置内の情報の喪失を防止することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】周知の磁気ディスク装置の構成の概略を示す図である。
【図２】本発明の一実施の形態による磁気ディスクドライブ装置（磁気ディスク装置）の構成を示すブロック図である。
【図３】図２におけるMPU５の動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００２３】
１    磁気ディスク
１１    ４P構成の磁気ディスク装置
１４〜１７    磁気ディスク
１４１，１４２，１５１，１５２，１６１，１６２，１７１、１７２    磁気ヘッド
【図１】
2007042171.tif 000003
【図２】
2007042171.tif 000004
【図３】
2007042171.tif 000005