(57)【要約】【課題】環境から隔絶した容器に入った製品を環境からの隔絶又は環境からの密閉が確実に維持されるようにして分析を行うことができる分析装置と分析方法の提供。【解決手段】製品の入った容器の結合要素（２）に密閉連結されるドッキング要素（４）と、測定要素（１４）と、ビーム経路内で前記プローブハウジング（１１）の壁内に配置される測定窓（１６）と、分析用の検出要素（１５）とを設けた測定プローブ（１０）とを備えた分析装置であり、少なくとも前記プローブハウジング（１１）の前記測定窓（１６）が位置する部分が、分析のために前記ドッキング要素（４）及び前記結合要素（２）を通って、分析すべき前記製品が入れられた前記容器（１）内へ挿入されることができるように、前記プローブハウジング（１１）を前記測定プローブ（１０）とともに構成し、かつガイドハウジング（１２）内を変位可能に案内される。【選択図】図３
2007256289.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
特に、粉末、ばら荷材料、粒状材料等の測光用及び／又は分光光度分析用の装置について、環境から隔絶され、この目的のために、密閉結合要素（２）を備える容器（１）に入れられた製品を分析する装置であって、
前記結合要素（２）に密閉連結されるドッキング要素（４）と、プローブハウジング（１１）内に配置された測定プローブ（１０）とを備えており、該測定プローブ（１０）は、少なくとも１つの放射光又は光測定要素（１４）と、ビーム経路内に配置され、かつ前記プローブハウジング（１１）の壁内に配置された少なくとも１つの測定窓（１６）と、分析用の少なくとも１つの検出要素（１５）と、を有しており、
少なくとも前記プローブハウジング（１１）の前記測定窓（１６）が位置する部分が、分析のために前記ドッキング要素（４）及び前記結合要素（２）を通って、分析すべき前記製品が入れられた前記容器（１）内へ挿入されることができるように、前記プローブハウジング（１１）を前記測定プローブ（１０）とともに構成し、かつガイドハウジング（１２）内を変位可能に案内されることを特徴とする分析用の装置。
【請求項２】
少なくとも１つの密閉部材（１３、２３）が、前記プローブハウジング（１１）と前記ガイドハウジング（１２）との間に配置される請求項１記載の装置。
【請求項３】
前記少なくとも１つの測定窓（１６）は、前記プローブハウジング（１１）の外周壁の少なくとも一部領域内に配置される請求項１または請求項２記載の装置。
【請求項４】
前記プローブハウジング（１１）の前端面と前記外周壁内に配置された前記測定窓（１６）との間に密閉キャップ（１７）が位置し、該密閉キャップは、前記測定窓（１６）が前記容器（１）の外に位置する前記測定プローブ（１０）の後退位置において、該密閉キャップが前記容器（１）の開口の前記結合要素（２）によって開かれた領域内に少なくとも部分的にまだ位置することで前記開口を覆う請求項３記載の装置。
【請求項５】
前記ガイドハウジング（１２）は、前記プローブハウジング（１１）の前記測定窓（１６）及び／又は前記密閉キャップ（１７）と協働する密閉部分（２３）を備える請求項３記載の装置。
【請求項６】
前記密閉部分（２３）は、スクレーパーリングとして構成される請求項５記載の装置。
【請求項７】
前記測定プローブ（１０）の前記後退位置にある該測定プローブ（１０）の少なくとも前記測定窓（１６）をクリーニングするための洗浄装置（１９）が設けられる請求項１〜請求項６何れか１項記載の装置。
【請求項８】
前記洗浄装置（１９）は、少なくとも前記測定窓（１６）の近くで前記プローブハウジング（１１）と前記ガイドハウジング（１２）との間の中間領域内に配置された洗浄媒体室（２１）を有する請求項７記載の装置。
【請求項９】
前記密閉キャップ（１７）のクリーニングを行うために、該密閉キャップ（１７）が前記洗浄媒体室（２１）の内部に位置する位置へ前記測定プローブ（１０）が押し込まれる請求項８記載の装置。
【請求項１０】
前記ガイドハウジング（１２）が前記ガイドハウジング（１２）の内部に乾燥ガスを供給するための少なくとも１つのガス接続部（２６）を備える請求項１〜請求項９何れか１項記載の装置。
【請求項１１】
対照要素及び／又は試験要素（２４、２５）が、前記ガイドハウジング（１２）上又はその内部に配置される請求項１〜請求項１０何れか１項記載の装置。
【請求項１２】
試験要素として、少なくとも１つの校正機構（２５）が設けられる請求項１１記載の装置。
【請求項１３】
白色標準（対照）として少なくとも１つの白色標準校正要素（２４）が設けられる請求項１２記載の装置。
【請求項１４】
前記測定プローブ（１０）は、測定要素として１つ以上の送り光ガイド（１４）を備える請求項１〜請求項１３何れか１項記載の装置。
【請求項１５】
１つ以上の受取り光ガイド（１５）が、検出要素として設けられる請求項１〜請求項１４何れか１項記載の装置。
【請求項１６】
軸方向に設けられた送り光ガイドと受取り光ガイド（１４、１５）が、それぞれ前記容器（１）に面するそれらの前部領域において、少なくともほぼ半径方向から少なくとも１つの測定窓（１６）の方向に偏向される請求項１４または請求項１５記載の装置。
【請求項１７】
前記プローブハウジング（１１）の内部の前記測定窓（１６）の近くに、少なくとも１つのビーム偏向機構（１８）が配置される請求項１〜請求項１５何れか１項記載の装置。
【請求項１８】
ビーム偏向機構として、前記送り光ガイド（１４）を経て軸方向に入射した光又は放射光を少なくともほぼ半径方向に偏向させることができるように配置された少なくとも１つのミラー（１８）を備える請求項１７記載の装置。
【請求項１９】
円周全体に分散配置された多数のミラー（１８）又は反射面を備える請求項１８記載の装置。
【請求項２０】
前記少なくとも１つのミラー（１８）が、多数の反射面を有する少なくともほぼピラミッド又は円錐の形状を有する請求項１９記載の装置。
【請求項２１】
前記ビーム偏向機構（１８）が、回転可能又は回動可能な構造である請求項１〜請求項２０何れか１項記載の装置。
【請求項２２】
前記測定窓（１６）が、サファイア又は水晶から形成される請求項１〜請求項２１何れか１項記載の装置。
【請求項２３】
前記密閉キャップ（１７）が、くさび形又は円錐形構造である請求項４記載の装置。
【請求項２４】
前記ドッキング要素（４）に前記測定プローブ（１０）が前記プローブハウジング（１１）とともに通過するための開口（９）を有する請求項１〜請求項２３何れか１項記載の装置。
【請求項２５】
前記ドッキング要素（４）の少なくとも前記開口（９）領域が弾性的な構造である請求項２４記載の装置。
【請求項２６】
前記開口がスリット（９）として構成される請求項２５記載の装置。
【請求項２７】
特に、粉末、ばら荷材料、粒状材料等の測光及び／又は分光光度の分析方法について、環境から隔絶したやり方で容器（１）に入れられた分析すべき製品を分析する分析方法であって、
前記容器（１）を、開放可能な結合要素（２）によってドッキング要素（４）を介して、測定プローブ（１０）を内部に配置したプローブハウジング（１１）に、環境から気密であるやり方で連結し、
前記測定プローブ（１０）が、少なくとも１つの放射光又は光測定要素（１４）と、ビーム経路内に配置された少なくとも１つの測定窓（１６）と、分析用の少なくとも１つの検出要素（１５）とを備えたものであって、
前記プローブハウジング（１１）が、前記測定プローブ（１０）とともに、ガイドハウジング（１２）の内部を変位可能に案内され、また測定目的のため前記ドッキング要素（４）と前記結合要素（２）を通過して、分析すべき前記製品が入れられた前記容器（１）内に浸されて、その後、前記少なくとも１つの測定窓（１６）を通して測定を実行するようにした分析方法。
【請求項２８】
測定及び分析を実行した後、前記プローブハウジング（１１）を前記測定プローブ（１０）とともに、クリーニングのために、前記容器（１）の開口から、前記測定窓（１６）が再び該容器（１）の外に位置するまで後退させる請求項２７記載の分析方法。
【請求項２９】
前記測定プローブ（１０）を前記容器（１）から部分的に後退させるとき、該測定プローブ（１０）の前記プローブハウジング（１１）を案内して、密閉部分（２３）としてのスクレーパーリングを通過させる請求項２８記載の分析方法。
【請求項３０】
前記測定プローブ（１０）の前記プローブハウジング（１１）内に配置された前記測定窓（１６）を少なくともクリーニングするために、前記ガイドハウジング（１２）と前記測定プローブ（１０）の前記プローブハウジング（１１）との間の中間領域（２１）内へクリーニング媒体を導入する請求項２８または請求項２９記載の分析方法。
【請求項３１】
前記測定プローブ（１０）が前記後退位置にあるとき校正が実行される請求項２８〜請求項３０何れか１項記載の分析方法。
【請求項３２】
前記測定プローブ（１０）が前記後退位置にあるとき、乾燥ガスが前記ガイドハウジング（１２）の内部に導入される請求項２８〜請求項３１何れか１項記載の分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、環境から隔絶され、この目的のために密閉結合要素を備えるコンテナに入れられた製品分析用の装置に関する。
【０００２】
本発明はまた、環境から隔絶したやり方で容器に入れられた分析すべき製品の分析方法に関する。
【背景技術】
【０００３】
多くの産業分野、たとえば化学、製薬又は食品加工産業において、１つ以上の原材料又は原製品から最終製品が製造される。原料は、ほとんどの場合、中間製品又は最終製品を形成するための処理を行うことができる場所や工場へ、袋等の容器又は他のしっかりしたコンテナに入れて粉末等のばら荷材料や、粒状材料、流体等の形で運ばれる。
【０００４】
しかしながら、これらの原料は、環境や健康を損なう高濃度で存在する場合が多い。この理由から、移し替え又は充填作業は、可能な限り製品や環境の汚染を回避し、かつ製品によって健康が危険にさらされることを回避できるようにして実行される。
【０００５】
この目的のために、たとえばヨーロッパ特許第１４４１９５３号では、原料を入れる容器は、密閉ドッキング機構を備え、それにより、いわゆる「完全封じ込め」状態で移し替え又は充填が行われ、環境から隔絶した密閉が維持される。この場合、ドッキング機構は、容器に連結される第１結合要素と、第２結合要素又はドッキング要素とを有し、このドッキング要素は、容器に密閉連結されるようになっており、この容器から、供給された原料の移し替えや充填が行われる。この場合、２つの容器又はコンテナを結合要素を介して相互連結することによる移し替えは、連結開口が移し替えのためだけに開くように、各結合要素が弾性変形することができることによって実行される。
【０００６】
環境から隔絶したやり方で行うべき上述した充填や移し替え作業に加えて、供給製品の分析、たとえばその組成、濃度、純度等の分析を行うこともしばしば必要である。したがって、この目的のために、容器を開いて重大な汚染や環境破壊をできる限りなくして試料を取り出し、それにより、分析研究所で後にそれらを検査することが可能であった。しかしながら、この分析方法の場合、分析すべき製品の汚染や漏れ若しくは放出を確実に防止することができなかった。
【特許文献１】欧州特許第１４４１９５３号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、環境から隔絶した容器に入った製品の分析装置であって、不可欠な分析を行う場合であっても、環境からの隔絶又は環境からの密閉が確実に維持されるようにして分析を行うために使用できる分析装置を提供することである。
【０００８】
本発明の目的はまた、環境から隔絶した容器に入った製品を分析する方法であって、この方法により、環境からの隔絶又は密閉が維持される分析方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明によれば、この目的は、請求項１に記載された特徴を有する分析装置によって達成される。
【００１０】
請求項２７は、環境から隔絶するやり方で容器に入った分析すべき製品を分析する方法であって、同様に密閉及び環境からの隔絶を維持しながら実行することができる分析方法を記載している。
【００１１】
しかしながら、放出された製品についてさらなる分析を行わなければならない場合でも、本発明の装置及び方法によって「完全封じ込め」を維持することが可能である。
【００１２】
試料を取り出して研究所で外部分析を実施する代わりに、ドッキング要素を備えた本発明の装置は、同一の結合要素を介して、また測定プローブを内部に配置したプローブハウジングとの密閉状態を維持しながら、製品の移し替えや充填以外にも使用される容器内に設置される。
【００１３】
処理した後に製品を容器に入れて大量に再び運び出しているとき、処理済み製品が入っている容器が結合要素を備え、それに本発明の装置をそのドッキング要素によって連結することができる場合、本発明を同様に使用して、上記の受入検査に加えて、最終品質管理を実行することもできる。この場合も同様に、環境の影響及び／又は処理済み製品の汚染が確実に回避される。
【００１４】
結合要素及びドッキング要素による密閉に加えて、さらにもっと確実に外部から封止したい場合、プローブハウジングとガイドハウジングとの間に、少なくとも１つのさらなる追加密閉部材を配置することが好ましい。
【００１５】
本発明の優れた改良では、プローブハウジングの外周壁の少なくとも一部領域内に、少なくとも１つの測定窓を配置することができる。
【００１６】
必要ならば、１つ以上の測定窓を上記のように配置することにより３６０°にわたる測定及び／又は容器のそれぞれの特定領域に対するさまざまな測定方法を実行することが可能になる。
【００１７】
プローブハウジングの外周壁、たとえば円筒形外周壁内に少なくとも１つの測定窓を配置するさらなる利点は、測定プローブを容器から後退させるとき、弾性的な結合要素とドッキング要素の通過時に、また適当であれば、加えて別の密閉部材でも、測定窓をクリーニングすることができることにある。
【００１８】
本発明のさらに優れた改良では、プローブハウジングの前端面と、外周壁内に配置された測定窓との間に密閉キャップが位置し、この密閉キャップは、測定窓が容器の外に位置する測定プローブの後退位置において、容器の内部に通じる開口の、結合要素によって開かれた領域内に少なくとも部分的にまだ位置することで開口を覆うようにすることができる。
【００１９】
密閉キャップにより、容器に通じる開口が密閉されるため、装置が再び完全に取り出される前に、測定プローブの、特にプローブハウジングの、製品と接触する領域をクリーニングすることが可能である中間位置が設けられる。
【００２０】
そのようなクリーニングは、たとえば、少なくとも測定窓の近くでプローブハウジング及びガイドハウジング間の中間領域内に配置された洗浄媒体室を有する洗浄装置によって行うことができる。この目的のために、洗浄媒体室は洗浄媒体用の流入部及び少なくとも１つの流出部に対応して備えることができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の分析装置や分析方法によれば、環境からの隔絶又は環境からの密閉が確実に維持されるようにして分析を行うことができる。
【００２２】
本発明の有利な発展及び改善が、残りの従属請求項から、かつ原則的に図面を利用して以下に説明する例示的な実施形態から理解される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
図１及び図２に示す容器１は、結合要素２を備える。結合要素２の構造及び構成は、ヨーロッパ登録特許第１４４１９５３号に開示されているため、ここでは簡単に説明する。ヨーロッパ登録特許第１４４１９５３号は同様に、本出願に関連した開示内容を構成している。結合要素２は、細長い構成の弾性体の形状に構成されており、側部ガイド溝３を有し、別のコンテナ又は別の装置に連結するために、ガイド溝３に対して組み合わされる輪郭を有する第２結合要素又はドッキング要素４（図３〜図５を参照）をこのガイド溝３に押し込むことができ、これにより、容器１に入っている製品を取り出したり移し替えることができる。この目的のために、ドッキング要素４は、対応の側縁部５を有し、これは、結合要素２の溝３に変位可能にはめ込むことができるような形状になっている。このタイプの連結部はそれ自体は既知であるが一種のダブテールコネクション(dovetail  connection)を構成し、したがって、確実でありながら容易に切り離し可能な連結を生じる。結合要素２は、２つの側面の間にスリット６を有し、このスリット６は、上側から底側まで連続した構造であって、結合要素２の長さの一部領域にわたって延在している。
【００２４】
結合要素２が外力をまったく受けないとき、それは閉鎖状態にあり、この状態では、スリット６も同様に気密に密閉されている。この閉鎖状態では、製品を入れた容器１の内部は、環境から密閉される。さらにもっと確実に密閉しかつ輸送又は取り扱い中にスリット６を誤って開くことを回避するために、結合要素２にロッキング要素を取り付けることもさらに可能であり、これにより、スリット６もさらに密閉可能である。たとえば、ヨーロッパ登録特許第１４４１９５３号は、そのようなロッキング要素を記載している。後に説明する分析のためにはロッキング要素に代えてドッキング要素４が押し付けられる。
【００２５】
図２は、結合要素２を部分的に開いた状態を示す。適当な弾性構造である結合要素２の前側７及び後側８に、矢印の方向で示されているように力を加えるときはいつもこの状態が生じる。このように圧力を印加するとき、結合要素２がそれに対応して変形し、それにより、スリット６が開いてより大きい割れ目を形成する。
【００２６】
密閉状態を維持するために、対応の圧力印加によるこの開口動作は、第２結合要素、又は本例では、ドッキング要素４を対応して取り付けるときだけ実行される。この目的のために、ドッキング要素４も同様に、結合要素２とほぼ同一の寸法を有する弾性体として構成される。連結を行うために、ドッキング要素４を結合要素２上に一端部から適当に押し付け、その場合、適当ならば、結合要素２に設けられているロッキング要素（図示せず）を押し下げる。ドッキング要素４も同様に、スリット６に対応する位置及び長さのスリット９を有する。ドッキング要素４は、図３及び図５に記載した分析用装置に連結されている。
【００２７】
この装置は、容器１に入れられた分析すべき製品の分析のために、さまざまな機構を備えたプローブハウジング１１を有する測定プローブ１０を備える。もちろん、袋状の容器１の代わりに、任意の他のタイプのコンテナを設けることが可能である。重要なのはドッキング要素４と適合する容器１上の結合要素２である。測定プローブ１０は、ガイドハウジング１２、たとえば閉鎖型円筒形ガイドと、ガイドハウジング１２の後端部壁内に配置された密閉リング１３とによって外部から密閉される。ガイドハウジング１２は同時に、プローブハウジング１１用の、従って測定プローブ１０用のガイドも構成する。プローブハウジング１１及びガイドハウジング１２は、円筒形構造であり、測定プローブ１０は、プローブハウジング１１とともに、ガイドハウジング１２に対して軸方向に変位可能であり、その結果、より詳細に後述するように、測定プローブ１０を容器１の内部に浸すことができる。
【００２８】
一般的な測定プローブの構造は既知であるため本発明に重要な部分だけをより詳細に後述する。
【００２９】
測定プローブ１０の内部に、たとえば、円周全体に均一に分散配置された多数の送り光ガイド（測定要素）１４と、検出要素１５としての１つ以上の受取り光ガイド１５とが配置されている。この場合、たとえば、ラマン、蛍光、ＬＩＦ、ＬＩＢＳ等の多様な既知の測定方法を実行するために、各光ガイドは、必要ならば、多数の光ガイドの組み合わせを有するか、光ガイド束であることができる。異なる光ガイド構成と測定方法との多様な組み合わせで、たとえば、反射の測定及び蛍光測定等を実行することもできる。適当であれば、この目的のために、関連の光ガイドを対応の検出器（図示せず）と結合する。送り光ガイド１４及び受取り光ガイド１５はそれぞれ、既知のやり方で接続部を備え、これを介して、詳細には説明しない試験及び評価ユニットとの接続が行われる。
【００３０】
１つ以上の測定窓１６が、容器１内に浸る前部領域において、測定プローブ１０のプローブハウジング１１の外周壁に配置されている。測定窓１６が、プローブハウジング１１の全周にわたって環状に延在するとき３６０°測定が可能である。強力な媒体に耐える材料、たとえばサファイア又は水晶が、測定窓１６用の材料として使用することができる。プローブハウジング１１の末端部として、測定窓１６が密閉キャップ１７につながっており、密閉キャップ１７は、測定窓１６及びプローブハウジング１１の残り部分に、詳細に示さないやり方で気密に連結され、それにより、密閉状態を生じている。たとえば、密閉要素とのねじ式連結部（図示せず）を締結部として設けることができる。必要ならば、分析すべき製品を入れた容器１の内部の温度を測定するために、密閉キャップ１７内に温度センサを配置することもできる。
【００３１】
送り光ガイド１４によって発生するビームを偏向させるために、１つ以上の偏向ミラー１８の形の放射偏向機構が、測定プローブ１０の内部で測定窓１６の近くに配置される。偏向ミラー１８は、たとえば、円周全体にわたって測定プローブ１０及びプローブハウジング１１の長手軸に対して４５°の角度を成して分散するように配置し、それにより、軸方向に入射したビームを半径方向に偏向させて、測定窓１６から半径方向に出現させることができ、それにより、分析すべき製品を適当に分析することができる。偏向ミラー１８は同時に、容器の内部で反射した放射光及びさらなる測定値を偏向させるようにも働き、これらは、受取り光ガイド１５を経て評価ユニット（図示せず）に戻される。
【００３２】
円周全体に分散配置された多数のミラーの代わりに、対応の反射面が設けられた円錐形、円錐台形又はピラミッド形のミラーユニットを使用することもできる。３６０°にわたって延在する１つ又はそれ以上の測定窓１６を使用する場合、対応する数の受取り光ガイド１５が設けられていれば、異なった測定方法を多数のミラー１８又は反射面と組み合わせて同時に実行することができる。
【００３３】
必要ならば、プローブハウジング１１の内部で多種多様な測定及び分析を行うために、多数の送り光ガイド１４又は受取り光ガイド１５を設けることができる。したがって、たとえば、円周全体に分散配置された６本の送り光ガイド１４と、１本の中央の受取り光ガイド１５とを設けることが可能である。ここで、多種多様な組み合わせも可能である。送り光ガイド１４及び受取り光ガイド１５のそれぞれの均一な配置及び分散も同様に可能である。それらの形態及び配置は、意図する用途によって決まる。
【００３４】
測定領域に十分な照明を確保するために、適当ならば、送り光ガイド１４の数が受取り光ガイド１５の数を上回ることもできる。プローブハウジング１１を測定プローブ１０とともに、無段階式又は段階式に容器１の内部に浸すことができる。
【００３５】
図３は、まだ押し込まれていない位置にあるときの測定プローブ１０の位置を示す。
【００３６】
図３に示された測定プローブ１０の位置から始めて、該測定プローブを、プローブハウジング１１の、１つ以上の測定窓１６が位置する領域とともに、測定及び分析のために容器１の内部に押し込む。この目的のために、測定プローブ１０はプローブハウジング１１とともに、ガイドハウジング１２の内部を軸方向に、矢印Ａの方向へ変位する。プローブハウジング１１の前端面上の密閉キャップ１７はくさび形を有するか、又は円錐構造であり、また、スリット（開口）９を設けたドッキング要素４も弾性的に従順であるように構成されているので、測定プローブ１０は、スリット９及び結合要素２のスリット６の適当な拡張により、容器１の内部に浸ることができる。
【００３７】
測定窓１６が容器１の内部に位置し、適当な測定及び分析を行うことができる程度まで、測定プローブ１０を軸方向に浸す。
【００３８】
プローブハウジング１１の長さに応じて、測定プローブ１０を容器１内に適当な深さまで浸し、このようにして高さを基準にした製品のプロフィールを得ることができる。ドッキング要素４及び結合要素２の弾性とともに２つのスリット６，９の弾性拡張に基づき、スリット壁はプローブハウジング１１に対して密閉に耐えるので、測定中も密閉が生じている。さらに、密閉リング２３も、確実な密閉に役立つ。
【００３９】
分析後、図３に示す位置において、測定窓１６及びプローブハウジング１１の外壁を洗浄装置１９によってクリーニングすることも可能である。洗浄媒体は、この目的のために、洗浄装置１９から出発して、ガイドハウジング１２内に配置された１つ以上のチャネル２０を経て、ガイドハウジング１２の内壁とプローブハウジング１１の外壁との間の中間領域（洗浄媒体室）２１に導入され、またそこから１つ以上の出口チャネル２２を経て排出される。
【００４０】
図３及び図５に示されているような位置付けからわかるように、プローブハウジング１１の端面上に配置されている密閉キャップ１７が、容器の内部に密閉要素として少なくとも部分的に位置し、したがって、容器１の内部においてまだ密閉状態が存続しているような早期に、測定窓１６をクリーニングすることも可能である。他方、測定窓１６の領域が容器１の外に位置する場合にもこのようにクリーニングすることができる。
【００４１】
同時に、図３に従った位置では、必要ならば、特定の対照（基準）物質（対照要素）により、たとえば白色均衡機構(white  balancing  device)によってさらなる測定方法を実行することも可能である。この目的のために、白色標準校正要素（対照要素）２４が設けられる。たとえば、第２校正位置で黒色標準校正要素との比較を行う同一又は別のセンサである。同様にして校正機構（試験要素）２５を設けることができる。これは白色均衡機構２４とまったく同じように、ガイドハウジング１２内に設けられて、校正作業を実行することができる。
【００４２】
プローブハウジング１１の外壁に付着して容器１の内部から出る製品は、測定プローブ１０の後退中に、スクレーパーリングとして構成された密閉部分２３で掻き落とすことができる。すなわち、この密閉部分２３は、プローブハウジング１１の移動によって測定窓（１６）や密閉キャップ（１７）に沿って開閉し、これらの部分と協働してプローブハウジング１１の外壁に付着した製品を掻き落とす。
【００４３】
中間領域２１は、圧力接続部（ガス接続部）２６を経て圧縮空気源２７にも接続されることができる。測定窓１６及びプローブハウジング１１の残りの領域のクリーニング後、圧縮ガスを中間領域２１に加えることによって乾燥を達成することができる。また、ガス圧力試験装置２８への接続部も存在する場合、気密性について中間領域２１の圧力試験を実施することもできる。
【００４４】
原則的に図３から、送り光ガイド１４に接続された光源２９も記されている。
【００４５】
受取り光ガイド１５を経て戻った光又はビームを受け取るために、光ファイバコレクタ３０を設けることができる。
【００４６】
たとえば、図示の偏向ミラー１８を備えたビーム偏向機構の代わりに、送り光ガイド１４及び受取り光ガイド１５をそれらの下部領域で、すなわち測定窓１６の近くで、それらの軸方向から半径方向に、又は斜めに偏向させ、それにより、ビーム又は光が直接的に進み、また直接的に受け取られるようにすることもできる（それぞれ図３に示された送り光ガイド及び受取り光ガイドの方向転換部の破線表示を参照されたい）。
【００４７】
図３には、測定プローブ１０を容器１内へ浸すことができるとともに、再びそれから部分的又は完全に取り出すこともできるようにするアクチュエータ３１も示されている。
【００４８】
ガイドハウジング１２及びプローブハウジング１１が円形構造である必要はなく、必要ならば、断面で見たとき、楕円形、多角形又は他の何らかの形状を有することもできることは、言うまでもない。
【００４９】
結合要素２及びドッキング要素４は、完全弾性構造である必要はなく、また、必ずしも図２の矢印に従って外側からの力の作用によってスリットを開く必要もないことは、言うまでもない。重要なことは、２つの要素が、少なくともスリット６，９の領域で弾性的であり、それにより、スリット６，９が弾性的に拡張して割れ目を形成することができ、その割れ目を通して測定プローブ１０を押し込むことができることだけであり、これはまた、密閉キャップ１７のくさび形又は円錐形によって特に容易になる。
【００５０】
測定プローブ１０はガイドハウジング１２の内部にあり、外部から封止されているので、不作動状態では、閉鎖状態のスリット９によってドッキング要素４を必ずしも密閉する必要もなく、適当であれば、測定プローブ１１又はプローブハウジング１０の直径の大きさの開口を有することもできる。分析装置を結合要素２にドッキング要素４を介して連結するとき、測定プローブ１０と容器１の内部との間に環境に漏れない気密連結を生じるために、密閉キャップ１７は、結合要素２のスリット６を拡張させるだけでもよい。
【００５１】
測定プローブ１０が後退位置にあるとき、一般的に既知の試験標準に従って、システム試験を行うことができる。したがって、校正以外のシステムチェックも可能であり、また、クリーニング以外に、測定プローブ１０又はプローブハウジング１１の乾燥も可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】結合要素備える容器の斜視図。
【図２】スリットが一部開いた状態における図１の結合要素の上面図。
【図３】容器の結合要素に結合したドッキング要素を有する本発明の分析用装置であり、測定プローブが容器内に進入していない状態の本発明の分析用装置の断面図。
【図４】ドッキング要素を有する図３の本発明の分析用装置下部の詳細を示す本発明の分析用装置の部分斜視図。
【図５】図３に示す本発明の分析用装置の測定プローブが容器内に進入した状態の本発明の分析用装置の断面図。
【符号の説明】
【００５３】
１    容器
２    結合要素
３    （側部）ガイド溝
４    ドッキング要素
５    側縁部
６    スリット
７    前側
８    後側
９    スリット
１０    測定プローブ
１１    プローブハウジング
１２    ガイドハウジング
１３    密閉リング
１４    送り光ガイド（測定要素）
１５    受取り光ガイド（検出要素）
１６    測定窓
１７    密閉キャップ
１８    偏向ミラー（ビーム偏向機構、放射偏向機構）
１９    洗浄装置
２０    チャネル
２１    中間領域（洗浄媒体室）
２２    出口チャネル
２３    密閉リング（密閉部分）
２４    白色標準校正要素（白色均衡機構）
２５    校正機構
２６    圧力接続部（ガス接続部）
２７    圧縮空気源
２８    ガス圧力試験装置  
２９    光源
３０    光ファイバコレクタ
３１    アクチュエータ
【図１】
2007256289.tif 000003
【図２】
2007256289.tif 000004
【図３】
2007256289.tif 000005
【図４】
2007256289.tif 000006
【図５】
2007256289.tif 000007