(57)【要約】【課題】プロジェクタ検査用の検査補助装置であって、市場要求に応じて迅速に配備することができ、かつ、増設コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペースを小さくできる検査補助装置を提供すること。【解決手段】暗室１０と、プロジェクタ１００を配置するための検査用架台３０を有する検査補助装置８であって、暗室１０の作業用開口と投影スクリーン配置部との距離は、プロジェクタが投影スクリーン５０に対して投射光を投射して像を形成するために必要な距離として規定されており、プロジェクタ１００による投射光が通過しない領域が、検査用架台３０の一部を配置する検査用架台配置領域として規定されている。【選択図】図１
2007249146.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
暗室と、プロジェクタを配置するための検査用架台を有する検査補助装置であって、
前記暗室は、
投影スクリーンが配置される投影スクリーン配置部と、
前記投影スクリーン配置部に対向する作業用開口と、
前記作業用開口に配置された遮光カーテンと、
側壁部と、
底部と、
天井部と、
を有し、
前記作業用開口と前記投影スクリーン配置部との距離は、前記プロジェクタが前記投影
スクリーンに対して投射光を投射して像を形成するために必要な距離に基づいて規定され
ており、
前記プロジェクタによる投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配置する
検査用架台配置領域として規定されており、
前記遮光カーテンは、
前記プロジェクタからの投射光を通過させるための入射用開口を有し、
前記検査用架台は、
前記暗室内部に格納されない部分に規定される前記プロジェクタを配置するプロジェク
タ配置部を有し、
前記プロジェクタ配置部は、前記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタ
の投影レンズが前記遮光用カーテンの前記入射用開口に対応する位置として規定されてい
ることを特徴とする検査補助装置。
【請求項２】
前記検査用架台は、比較的大きな検査関連機器を配置する奥行き方向が長い下部領域を
有し、
前記下部領域の一部が、前記検査用架台配置領域に配置されることを特徴とする請求項
１に記載の検査補助装置。
【請求項３】
前記検査用架台配置領域に配置される前記下部領域には、光の反射を防止する反射防止
手段が配置されていることを特徴とする請求項２に記載の検査補助装置。
【請求項４】
前記プロジェクタ配置部には、光の反射を防止するための遮光板が配置されており、
前記遮光板は、前記投影レンズから投射される投射光を通過させる入射孔を有すること
を特徴とする請求項１に記載の検査補助装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プロジェクタの検査において使用される検査補助装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、プロジェクタからスクリーンに投射された投射像を観測して、プロジェクタ内部
の部品の位置が適切か否か等の検査が行われている。
このような検査には、例えば、諧調検査、色むら検査、光軸調整のための検査等がある
。これらの検査の精度を確保するために、これらの検査は外部からの光による外乱を遮断
することができる暗室において行われる。この暗室と、プロジェクタを載置する検査用架
台（作業机とも呼ぶ）から検査補助装置が構成される。
これらの検査補助装置は、多種の検査を行う工程ごとに必要であるため、検査の種類に
応じて多数必要である。このため、プロジェクタ製造工場において、検査補助装置のため
に大きなスペースが必要となるという問題がある。
これに対して、収束レンズ、透過型スクリーン、ＣＣＤカメラを備えた小型の検査補助
装置が提案されている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−４５６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、現在の激しく変動する市場要求に応じるために、製造ラインを迅速に増設す
る必要がある場合がある。このとき、プロジェクタの検査用の検査補助装置も増設する必
要がある場合がある。
しかし、上述の技術においては、例えば、収束レンズ、透過型スクリーン、ＣＣＤカメ
ラという部材を調達する必要があり、迅速に検査補助装置を増設できない場合がある。ま
た、多数の検査補助装置を増設するための収束レンズ等の部材の調達コストが過大となる
場合がある。
【０００５】
そこで、本発明は、プロジェクタ検査用の検査補助装置であって、市場要求に応じて迅
速に配備することができ、かつ、増設コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペー
スを小さくできる検査補助装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記目的は、第１の発明によれば、暗室と、プロジェクタを配置するための検査用架台
を有する検査補助装置であって、前記暗室は、投影スクリーンが配置される投影スクリー
ン配置部と、前記投影スクリーン配置部に対向する作業用開口と、前記作業用開口に配置
された遮光カーテンと、側壁部と、底部と、天井部と、を有し、前記作業用開口と前記投
影スクリーン配置部との距離は、前記プロジェクタが前記投影スクリーンに対して投射光
を投射して像を形成するために必要な距離に基づいて規定されており、前記プロジェクタ
による投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配置する検査用架台配置領域
として規定されており、前記遮光カーテンは、前記プロジェクタからの投射光を通過させ
るための入射用開口を有し、前記検査用架台は、前記暗室内部に格納されない部分に規定
される前記プロジェクタを配置するプロジェクタ配置部を有し、前記プロジェクタ配置部
は、前記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタの投影レンズが前記遮光用
カーテンの前記入射用開口に対応する位置として規定されていることを特徴とする検査補
助装置により達成される。
【０００７】
第１の発明の構成によれば、前記作業用開口と前記投影スクリーン配置部との距離は、
前記プロジェクタが前記投影スクリーンに対して投射光を投射して像を形成するために必
要な距離に基づいて規定されている。これは、上述の検査をするために必要十分な距離を
確保しつつ、奥行き方向において、無駄なスペースを排除していることを意味する。
また、前記プロジェクタによる投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配
置する検査用架台配置領域として規定されている。このため、前記暗室内の空間は有効に
利用することができるとともに、前記検査補助装置を配備するためのスペースを小さくす
ることができる。
さらに、前記検査用架台は、前記暗室内部に格納されない部分に規定される前記プロジ
ェクタを配置するプロジェクタ配置部を有する。そして、前記プロジェクタ配置部は、前
記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタの投影レンズが前記遮光用カーテ
ンの前記入射用開口に対応する位置として規定されている。このため、前記プロジェクタ
を前記暗室の外に置き、前記プロジェクタからの投射光のみを前記暗室内に入射させるこ
とができる。
また、作業担当者は、前記暗室の外で検査作業をすることができる。
前記検査補助装置は、その大きさ及び形状を規定するだけで構成でき、収束レンズや透
過型スクリーン、ＣＣＤカメラ等の部材を調達する必要はないから、市場要求に応じて迅
速に配備することができ、かつ、増設コストが低廉である。
このように、前記検査補助装置は、市場要求に応じて迅速に配備することができ、かつ
、増設コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペースを小さくできる。
【０００８】
第２の発明は、第１の発明の構成において、前記検査用架台は、比較的大きな検査関連
機器を配置する奥行き方向が長い下部領域を有し、前記下部領域の一部が、前記検査用架
台配置領域に配置されることを特徴とする検査補助装置である。
【０００９】
第２の発明の構成によれば、前記下部領域の一部が前記検査用架台配置領域に配置され
るから、前記検査補助装置を配備するためのスペースを小さくすることができる。
【００１０】
第３の発明は、第２の発明の構成において、前記検査用架台配置領域に配置される前記
下部領域には、光の反射を防止する反射防止手段が配置されていることを特徴とする検査
補助装置である。
【００１１】
第３の発明の構成によれば、例えば、前記投影スクリーンからの反射光が、前記検査用
架台配置領域に配置された前記下部領域に反射して、再び前記投影スクリーンに到達する
ことを防止することができる。これにより、前記下部領域からの反射光が検査の障害とな
ることを防止することができる。
【００１２】
第４の発明は、第１の発明の構成において、前記プロジェクタ配置部には、光の反射を
防止するための遮光板が配置されており、前記遮光板は、前記投影レンズから投射される
投射光を通過させる入射孔を有することを特徴とする検査補助装置である。
【００１３】
第４の発明の構成によれば、前記検査補助装置は前記遮光板を有するから、不要な光が
検査の障害となることを防止しつつ、前記投影レンズからの投射光を前記暗室内に入射さ
せることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明の好適な実施の形態を添付図面等を参照しながら、詳細に説明する。
尚、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい
種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【００１５】
（実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態に係る検査装置８を示す概略側面図である。検査装置８は
、後述のプロジェクタ１００（図５参照）の検査用の検査装置である。検査装置８は、検
査補助装置の一例である。
図２は、暗室１０を示す概略斜視図である。暗室１０は、暗室の一例である。
図３は、作業机３０等を示す概略図である。作業机３０は、作業用架台の一例である。
作業机３０には、プロジェクタ１００が配置される。
図４は、作業机３０等を示す概略図である。
検査装置８においては、プロジェクタ１００からスクリーン５０に投射された投射像を
観測して、プロジェクタ１００内部の部品の位置が適切か否か等の検査が行わる。このよ
うな検査には、例えば、諧調検査、色むら検査、光軸調整のための検査等がある。
【００１６】
（プロジェクタ１００の構成について）
図５は、検査装置８において検査の対象となるプロジェクタ１００の概観の一例を示す
概略斜視図である。
図６は、プロジェクタ１００を構成する光学ユニット４の主な部品を示す概略図である
。
まず、プロジェクタ１００の構成を簡単に説明する。
【００１７】
図５に示すように、プロジェクタ１００は筐体１００ａと投影レンズ１００ｂ等を有す
る。
図６に示すように、プロジェクタ１００の光学ユニット４は、インテグレータ照明光学
系４１、色分離光学系４２、リレー光学系４３、光変調光学系及び色合成光学系を一体化
した光学装置４４、及び、投射光学系としての投影レンズ１００ｂを有する。
【００１８】
インテグレータ照明光学系４１は、光学装置４４を構成する３枚の液晶パネル４４１（
赤、緑、青の色光ごとにそれぞれ液晶パネル４４１Ｒ，４４１Ｇ，４４１Ｂとする）の画
像形成領域を略均一に照明するための光学系である。インテグレータ照明光学系４１は、
光源装置４１１、第１レンズアレイ４１２、第２レンズアレイ４１３、偏光変換素子４１
４、及び重畳レンズ４１５を備える。
【００１９】
色分離光学系４２は、２枚のダイクロイックミラー４２１，４２２と、反射ミラー４２
３を有する。ダイクロイックミラー４２１，４２２は、インテグレータ照明光学系４１か
ら射出された複数の部分光束を赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の色光に分離する機
能を有している。
【００２０】
リレー光学系４３は、入射側レンズ４３１と、リレーレンズ４３３と、反射ミラー４３
２，４３４を備え、色分離光学系４２で分離された色光である赤色光を液晶パネル４４１
Ｒまで導く機能を有している。
【００２１】
光学装置４４は、入射された光束を画像情報に応じて変調してカラー画像を形成する機
能を有する。光学装置４４は、色分離光学系４２で分離された各色光が入射される３つの
入射側偏光板４４２と、各入射側偏光板４４２の後段に配置される光変調装置としての液
晶パネル４４１Ｒ，４４１Ｇ，４４１Ｂと、各液晶パネル４４１Ｒ，４４１Ｇ，４４１Ｂ
の後段に配置される射出側偏光板４４３と、色合成光学系としてのクロスダイクロイック
プリズム４４４（以後、「プリズム４４４」と呼ぶ）を有する。
【００２２】
各液晶パネル４４１Ｒ，４４１Ｇ，４４１Ｂは、例えば、ポリシリコンＴＦＴをスイッ
チング素子として用いたものである。
入射側偏光板４４２は、色分離光学系４２で分離された各色光のうち、一定方向の偏光
光のみ透過させ、その他の光束を吸収するものである。入射側偏光板４４２は、サファイ
ヤガラス等の基板に偏光膜が貼付されたものである。
射出側偏光板４４３も、入射側偏光板４４２と略同様に構成され、液晶パネル４４１（
４４１Ｒ，４４１Ｇ，４４１Ｂ）から射出された光束のうち、所定方向の偏光光のみ透過
させ、他の光束を吸収するものである。
入射側偏光板４４２と射出側偏光板４４３は、互いの偏光軸の方向が直交するように設
定されている。
【００２３】
プリズム４４４は、射出側偏光板４４３から射出され、各色光ごとに変調された光学像
を合成してカラー画像を形成するものである。
プリズム４４４には、赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜
とが、４つの直角プリズムの界面に沿って略Ｘ字状に設けられ、これらの誘電体多層膜に
よる３つの色光が合成される。
【００２４】
投影レンズ１００ｂは、光学装置４４のプリズム４４４で合成されたカラー画像を拡大
して、外部のスクリーン５０に投射するものである。
図１に示すように、投影レンズ１００ｂから投射される光束は、次第に広がってスクリ
ーン５０に到達する。
【００２５】
（検査装置８の構造）
図２に示すように、暗室１０は、スクリーン５０（図１参照）が配置されるスクリーン
配置壁１６を有する。スクリーン配置壁１６は、スクリーン配置部の一例である。
また、暗室１０は、作業用開口１２を有する。作業用開口１２は、スクリーン配置壁１
６に対向して配置されている。作業用開口１２は、作業用開口の一例である。作業用開口
１２には遮光カーテン１３が配置されており、検査目的に応じて開閉される。
遮光カーテン１３は、入射用開口１３ａを有する。入射用開口１３ａは、プロジェクタ
１００の投影レンズ１００ｂからの投射光Ｓ（図１参照）を通過させるための構成である
。入射用開口１３ａは入射用開口の一例である。
また、遮光カーテン１３は、作業台下部配置用開口１３ｂを有する。作業台下部配置用
開口１３ｂは、図１に示すように、作業台３０の下部３０Ｂの一部である下部領域３０Ｂ
ｂを暗室１０内に配置するための構成である。
【００２６】
作業用開口１２とスクリーン配置壁１６との距離ｄ１（図１参照）は、プロジェクタ１
００がスクリーン５０に対して、投射光Ｓを投射して像を形成するために必要な距離に基
づいて規定されている。具体的には、距離ｄ１は、プロジェクタ１００の焦点距離に、ス
クリーン５０を配置するために必要な距離を加えた距離である。
また、図１に示すように、暗室１０内部において、投射光Ｓが通過しない領域Ｐが、下
部領域３０Ｂｂを配置するための領域として規定されている。領域Ｐは、検査用架台配置
領域の一例である。
【００２７】
また、暗室１０は、側壁１８Ａ及び１８Ｂ、底部１４及び天井２０を有する。側壁１８
Ａ及び１８Ｂは側壁部の一例である。底部１４は底部の一例である。天井２０は天井部の
一例である。
【００２８】
図３に示すように、作業机３０は、上部板３０ａ、中間板３０ｂ及び底部板３０ｃを有
する。中間板３０ｂの上側が、上部領域３０Ａ（図４（ａ）参照）である。そして、中間
板３０ｂの下側が、下部領域３０Ｂである。下部領域３０Ｂは、奥行き方向Ｂ１の長さが
、幅方向Ｂ２に比べて長い。
【００２９】
また、上部板３０ａには、モニタ支持台３０ｄが配置されており、モニタ１０２が配置
される。さらに、上部板３０ａには、プロジェクタ１００、スピーカ１０４、変換器（切
替器）１０６、照度計１０８が配置される。
プロジェクタ１００は、図３に示す上部板３０ａのプロジェクタ配置領域３０ａａに配
置されている。プロジェクタ配置領域３０ａａは、プロジェクタ配置部の一例である。
プロジェクタ配置領域３０ａａは、作業机３０にプロジェクタ１００が配置されたとき
に、投影レンズ１００ｂが遮光カーテン１３の入射用開口１３ａ（図２参照）に対応する
位置として規定されている。このため、遮光カーテン１３は、投影レンズ１００ｂからの
投射光Ｓの通過を妨げることはない。
【００３０】
また、上部板３０ａには、遮光板３２（図４（ｂ）参照）が配置されている。
図４（ｂ）に示すように、遮光板３２は、入射孔３２ａを有する。入射孔３２ａは入射
孔の一例である。
また、遮光板３２は、光の反射を防止する性質を有する。この遮光板３２は遮光板の一
例である。
この入射孔３２ａの位置はプロジェクタ１００が作業机３０に配置されたときに、投影
レンズ１００ｂと対応するようになっている。具体的には、投影レンズ１００ｂの先端部
分は遮光板３２と接する。そして、投射光Ｓは入射孔３２ａを通過して、暗室１０内部に
侵入する。
図４（ｂ）に示すように、遮光板３２の形状は、遮光カーテン１３の入射用開口１３ａ
よりも大きい。そして、作業机３０にプロジェクタ１００が配置された状態において、遮
光板３２と遮光カーテン１３は接している。このため、入射用開口１３ａの形状を投影レ
ンズ１００ｂの形状よりも大きく形成した場合であっても、遮光板３２によって、外部の
光が暗室１０内に侵入することを防止することができる。
【００３１】
中間板３０ｂには、暖機運転用のプロジェクタ１００Ａ、及び、信号発生機１１０が配
置される。
底部板３０ｃには、電源１１２等の比較的大きな検査関連機器が配置される。
【００３２】
図４（ａ）に示すように、下部領域３０Ｂｂには、遮光布３４が配置されている。遮光
布３４は、光を吸収し、反射しない性質を有する。この遮光布３４によって、例えば、ス
クリーン５０からの光が反射することを防止することができる。遮光布３４は、反射防止
手段の一例である。
【００３３】
検査装置８は、上述のように構成されている。
プロジェクタからスクリーンに投射された投射像を観測して行う検査においては、暗室
１０は投射光Ｓが通過できれば十分である。プロジェクタ１００を暗室１０内に配置する
必要はない。また、検査担当者が暗室１０内で検査作業する必要もない。特に、近時、プ
ロジェクタの光源の性能が向上しており、検査担当者は暗室外に位置して暗室内のスクリ
ーンを観測しても、検査目的を達成することができるようになっている。具体的には、従
来約８００ＡＮＳＩ（Ａｍｅｒｉｃａｎ  Ｎａｔｉｏｎａｌ  Ｓｔａｎｄａｒｄｓ  Ｉｎ
ｓｔｉｔｕｔｅ）ルーメンであった輝度が、現在では、２０００乃至３０００ＡＮＳＩル
ーメンに向上している。なお、ルーメンとは、ＡＮＳＩ（米国規格協会）で統一されたプ
ロジェクターの輝度を表す単位である。
この点、検査装置８によれば、作業用開口１２とスクリーン配置壁１６との距離ｄ１（
図１参照）は、プロジェクタ１００がスクリーン５０に対して投射光Ｓを投射して像を形
成するために必要な距離として規定されている。これは、上述の検査をするために必要十
分な距離を確保しつつ、奥行き方向において、無駄なスペースを排除していることを意味
する。
また、プロジェクタ１００による投射光Ｓが通過しない領域が、作業机３０の一部を配
置するための領域Ｐ（図１参照）として規定されている。このため、暗室１０内の空間は
有効に利用することができるとともに、検査装置８を配備するためのスペースを小さくす
ることができる。
さらに、作業机３０は、暗室１０内部に格納されない部分に規定されるプロジェクタ配
置領域３０ａａ（図３参照）を有する。そして、プロジェクタ配置領域３０ａａは、プロ
ジェクタ１００が配置されたときに、プロジェクタ１００の投影レンズ１００ｂが遮光用
カーテン１３の入射用開口１３ａに対応する位置として規定されている。このため、プロ
ジェクタ１００を暗室１０の外に置き、プロジェクタ１００からの投射光Ｓのみを暗室１
０内に入射させることができる。
また、検査担当者は、暗室１０の外で検査作業をすることができる。
検査装置８は、その大きさ及び形状を規定するだけで構成でき、収束レンズや透過型ス
クリーン、ＣＣＤカメラ等の部材を調達する必要はないから、市場要求に応じて迅速に配
備することができ、かつ、増設コストが低廉である。
このように、検査装置８は、市場要求に応じて迅速に配備することができ、かつ、増設
コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペースを小さくできる。
【００３４】
また、下部領域３０Ｂｂには、光の反射を防止する遮光布３４（図４参照）が配置され
ている。
このため、例えば、スクリーン５０からの反射光が、下部領域３０Ｂｂに反射して、再
びスクリーン５０に到達することを防止することができる。これにより、下部領域３０Ｂ
ｂからの反射光が検査の障害となることを防止することができる。
【００３５】
さらに、プロジェクタ配置領域３０ａａには、光の反射を防止するための遮光板３２が
配置されており、遮光板３２は、入射孔３２ａを有するから、不要な光が検査の障害とな
ることを防止しつつ、投影レンズ１００ｂからの投射光Ｓを暗室１０内に入射させること
ができる。
【００３６】
本発明は、上述の各実施の形態に限定されない。さらに、上述の各実施の形態は、相互
に組み合わせて構成するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の実施の形態に係る検査装置を示す概略側面図。
【図２】暗室を示す概略斜視図。
【図３】作業机等を示す概略図。
【図４】作業机等を示す概略図。
【図５】プロジェクタの概観の一例を示す概略斜視図。
【図６】プロジェクタを構成する光学ユニットの主な部品を示す概略図。
【符号の説明】
【００３８】
８…検査装置、１０…暗室、１２…作業用開口、１４…底部、１６…スクリーン配置壁
、１８Ａ，１８Ｂ…側壁、２０…天井、５０…スクリーン、１００…プロジェクタ、１０
０ｂ…投影レンズ。
【図１】
2007249146.tif 000003
【図２】
2007249146.tif 000004
【図３】
2007249146.tif 000005
【図４】
2007249146.tif 000006
【図５】
2007249146.tif 000007
【図６】
2007249146.tif 000008