(57)【要約】【課題】帯電バイアスを可変制御する画像形成装置において、装置のコストアップを招くことなく、被帯電体の磨耗度合いに応じて適切な対応をとる。【解決手段】画像形成装置１０は、表面に静電潜像が形成される回転可能な感光体１と、帯電バイアスの印加を受けて感光体１表面を帯電させる帯電装置２とを備える。制御装置７は、感光体１の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出し、算出された積算値に基づいて帯電バイアス等の画像形成条件を制御する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて前記被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備え、前記帯電バイアスが可変制御される画像形成装置であって、
前記被帯電体の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出する算出手段と、
当該算出手段により算出された積算値に基づいて、画像形成条件を制御する画像形成条件制御手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像形成装置であって、
前記画像形成条件制御手段は、前記積算値に応じて前記帯電バイアスを変化させることを特徴とする画像形成装置。
【請求項３】
表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて前記被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備え、前記帯電バイアスが可変制御される画像形成装置であって、
前記被帯電体の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出する算出手段と、
当該算出手段により算出された積算値に基づいて、前記被帯電体の寿命に関する情報を報知する報知手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表面に静電潜像が形成される感光体等の被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備える画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
上記のような画像形成装置では、使用に伴って被帯電体である感光体の表面が磨耗し、これによって感光体の特性（帯電特性や感光感度等）が変化していく。このため、従来より、感光体の膜厚または膜減り量を推定し、推定結果に応じて画像形成条件（露光量や現像バイアス等）を制御する技術が利用されている。
【０００３】
例えば、特許文献１には、感光体の回転量の積算値に応じて画像形成パラメータを変更するものが開示されている。また、特許文献２には、帯電時に感光体に流れ込む電流を検出し、検出結果に基づいて画像形成条件を設定するものが記載されている。
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−２０２５７２号公報
【特許文献２】特開平４−５７０６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、感光体表面を良好に帯電するための必要最小限の帯電バイアスは、感光体の膜厚や環境温湿度によって異なる。また、帯電バイアスが大きいほど、感光体の磨耗度合いが大きくなる。したがって、感光体の磨耗を少なくして長寿命化を図るためには、帯電バイアスを一定とするのではなく、膜厚や環境温湿度に応じて帯電バイアスを適切に変化させることが好ましい。
【０００６】
しかし、上記特許文献１に記載の技術では、上記帯電バイアスを可変制御する構成に対応することができない。これは、帯電バイアスを可変制御する構成では、単位回転数当たりの膜減り量が一定でなくなり、感光体回転量の積算値が膜減り量を示さなくなるからである。一方、上記特許文献２に記載の技術は、感光体に流れ込む電流を検出するデバイスが必要とされ、コストアップしてしまう。
【０００７】
そこで、本発明は、装置のコストアップを招くことなく、被帯電体の磨耗度合いに応じた適切な対応をとることが可能な画像形成装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る画像形成装置は、表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて前記被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備え、前記帯電バイアスが可変制御される画像形成装置であって、前記被帯電体の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出する算出手段と、当該算出手段により算出された積算値に基づいて、画像形成条件を制御する画像形成条件制御手段と、を有することを特徴とする。
【０００９】
本発明の好適な態様では、前記画像形成条件制御手段は、前記積算値に応じて前記帯電バイアスを変化させる。
【００１０】
また、本発明に係る画像形成装置は、表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて前記被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備え、前記帯電バイアスが可変制御される画像形成装置であって、前記被帯電体の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出する算出手段と、当該算出手段により算出された積算値に基づいて、前記被帯電体の寿命に関する情報を報知する報知手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、装置のコストアップを招くことなく、被帯電体の磨耗度合いに応じた適切な対応をとることが可能な画像形成装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施の形態を図面に従って説明する。
【００１３】
図１は、本実施の形態に係る画像形成装置１０の概略構成図である。この画像形成装置１０は、電子写真方式を利用して紙等の転写材に画像を印刷するものであり、例えば、デジタル複写機、アナログ複写機、プリンタ、ファクシミリなどである。
【００１４】
［画像形成装置全体について］
まず、画像形成装置１０の全体的な構成および動作について説明する。なお、電子写真プロセスについては広く知られているので、ここでは簡単に説明することとする。
【００１５】
図１において、画像形成装置１０は、表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体として、矢印Ｒ方向に回転する感光体１を備えている。ここでは、感光体１は、アルミニウム等の導電性の基体上に電荷発生層（ＣＧＬ）や電荷輸送層（ＣＴＬ）等の光導電層が積層された積層型有機感光体ドラムである。ただし、感光体１は、感光体ベルト等、他のタイプのものであっても構わない。
【００１６】
感光体１の周囲には、その回転方向（矢印Ｒ方向）に沿って、感光体１表面を所定の電位に一様に帯電させる帯電装置２、帯電された感光体１表面に画像に応じた光を照射して静電潜像を形成する露光装置３、トナーにより静電潜像を現像する現像装置４、現像されたトナー像を記録紙（転写材）Ｐ上に転写する転写装置（ここでは転写ロール）５、および転写後の感光体１表面に残留するトナーを除去するクリーニング装置（ここではクリーニングブレードを備えるクリーナ）６が順に配置されている。
【００１７】
また、画像形成装置１０は、装置全体を制御する制御装置７を備えている。この制御装置７は、感光体１を回転駆動する不図示のモータ、帯電装置２に印加される帯電バイアス、露光装置３による露光量、現像装置４に印加される現像バイアス、転写装置５に印加される転写バイアスなどを制御する。制御装置７は、ここでは、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等が搭載された回路基板であり、その機能は、ＲＯＭ等の記録媒体に格納されたプログラムがＣＰＵにより実行されることによって実現される。
【００１８】
上記構成を有する画像形成装置１０は、次のように動作する。すなわち、感光体１は、不図示のモータにより矢印Ｒ方向に回転駆動される。帯電位置において、帯電装置２は、感光体１表面を例えば−６００Ｖ〜−８００Ｖ程度の所定電位に一様に帯電させる。このように一様に帯電された感光体１表面は、感光体１の回転により露光位置に搬送される。
【００１９】
露光位置において、露光装置３は、一様に帯電された感光体１表面に対し、形成されるべき画像パターンに応じた光（例えば画像データに基づくレーザ光線）を照射し、画像パターンに応じて感光体１表面を除電して静電潜像を形成する。このように形成された静電潜像は、感光体１の回転により現像位置に搬送される。
【００２０】
現像位置において、現像装置４は、静電潜像をトナーにより現像する。具体的には、反転現像にあっては潜像電荷と同極性のトナーを感光体１表面の除電された部分に静電的に付着させ、正規現像にあっては潜像電荷と逆極性のトナーを感光体１表面の除電されていない部分に静電的に付着させ、これにより画像パターンに応じたトナー像を形成する。このように形成されたトナー像は、感光体１の回転により転写位置に搬送される。
【００２１】
転写位置において、転写装置５は、感光体１表面に形成されたトナー像を、感光体１の回転に合わせて転写位置に搬送されてくる記録紙Ｐ上に転写する。具体的には、転写装置５にはトナーと逆極性の転写バイアスが印加され、感光体１から転写装置５に向かう静電気力によって感光体１表面のトナーが記録紙Ｐ上に転移する。転写後の感光体１表面は、感光体１の回転によりクリーニング位置に搬送され、感光体１表面上の残留トナーが除去される。一方、トナー像が転写された記録紙Ｐは不図示の定着装置へ搬送され、定着装置によって記録紙Ｐ上にトナー像が定着させられる。
【００２２】
［帯電装置について］
上記の帯電装置２は、帯電バイアスの印加を受けて感光体１の表面を所定の電位に一様に帯電させるものである。この帯電装置２は、低電圧化やオゾン低減等の観点より、感光体１の表面に接触して帯電を行う接触式帯電装置であることが好ましい。接触式帯電装置としては、ロール状、ブラシ状、ブレード状、ベルト状等、様々なタイプのものが利用可能であるが、ここではロール状の帯電ロールである。帯電装置（以下、帯電ロールと称す）２には、電源装置８が電気的に接続されており、電源装置８から帯電ロール２に対して所定の帯電バイアスが印加される。
【００２３】
帯電ロールを用いた帯電方式には、直流（ＤＣ）電圧に交流（ＡＣ）電圧を重畳した帯電バイアスを印加するＡＣ帯電方式と、ＤＣ電圧のみを印加するＤＣ帯電方式とがあり、いずれの帯電方式も採用可能であるが、ここではＡＣ帯電方式を用いるものとする。なお、このＡＣ帯電方式は、ＤＣ帯電方式と比較して、帯電均一性に優れ高画質が得られるメリットがある一方、感光体１の表層の膜減り（削れ）の度合いが大きいというデメリットがある。
【００２４】
帯電ロール２に印加される帯電バイアス、例えばＡＣピーク間電圧値ＶｐｐやＤＣ電圧値Ｖｄｃは、後述するように、感光体１の膜厚、環境温度・湿度、ユーザ設定、またはプロセススピード（感光体１の回転速度）などに応じて可変制御される。
【００２５】
［制御装置について］
先述したとおり、感光体１の特性（帯電特性や感光感度）は、その膜厚によって変化する。そこで、制御装置７は、感光体１の膜減り量（削れ量）を推定し、推定結果に基づいて画像形成条件を制御する機能を有する。以下、この機能に係る制御装置７の構成および動作について具体的に説明する。
【００２６】
図１に示されるように、制御装置７は、その機能ブロックとして、膜減り量算出部７ａ、膜減り量保持部７ｂ、および画像形成条件制御部７ｃを有する。
【００２７】
膜減り量算出部７ａは、感光体１の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出するものであり、実質的に言えば、感光体１の膜減り量を推定するものである。
【００２８】
この膜減り量算出部７ａによる膜減り量の推定の考え方は、次のとおりである。感光体１は、その回転に伴いクリーニング装置６等との摺擦によって表層が削れていく。このときの膜減りの度合いは帯電バイアス（特にＡＣピーク間電圧Ｖｐｐ）が大きいほど大きく、単位回転数当たりの膜減り量は、帯電バイアスｂの関数α（ｂ）として表すことができる。したがって、感光体１が回転数Δｎだけ回転したときの膜減り量は、回転数Δｎと、その回転時の帯電バイアスｂに対応する単位回転数当たりの膜減り量α（ｂ）との積Δｎ・α（ｂ）で表すことができ、この積Δｎ・α（ｂ）を感光体１の使用開始から現時点まで積算していけば、感光体１の初期膜厚からの膜減り量を求めることができる。そこで、膜減り量算出部７ａは、推定膜減り量として、感光体１の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出する。
【００２９】
ここで、上記帯電バイアスに応じた係数は、帯電バイアス（具体的には、ＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐ、ＤＣ電圧値Ｖｄｃ、またはこれらの組み合わせ等）に応じた膜減りの度合いを示す係数であり、例えば実験により得られる単位回転数当たりの膜減り量（μｍ／１回転）である。なお、当該係数として、帯電バイアス値そのものを用いることも可能である。
【００３０】
また、上記積算値を算出することには、実質的に上記積算値を示す値を算出することが含まれる。例えば、感光体１の回転時間（または走行距離）と上記係数との積の積算値を算出することが含まれる。
【００３１】
また、膜減り量算出部７ａは、実質的に上記積算値を示す値を結果として算出することができればよく、その具体的な計算方法は特に限定されない。例えば、膜減り量算出部７ａは、下記式（１）、（２）のように、積算値ｙとして、上記係数を感光体１の回転数や回転時間で積分した積分値を求めることができる。
【００３２】
【数１】
2007047630.tif 000003
【００３３】
【数２】
2007047630.tif 000004
【００３４】
上記式（１）において、ｎは感光体１の使用開始からの回転数であり、ｂ（ｎ）は回転数ｎの時点における帯電バイアスであり、α｛ｂ（ｎ）｝は回転数ｎの時点における帯電バイアスに応じた係数であり、ｎａは現時点（膜減り量推定時点）の回転数である。また、上記式（２）において、ｔは感光体１の使用開始からの回転時間であり、ｂ（ｔ）は回転時間ｔの時点における帯電バイアスであり、α｛ｂ（ｔ）｝は回転時間ｔの時点における帯電バイアスに応じた係数であり、ｔａは現時点（膜減り量推定時点）の回転時間である。
【００３５】
また例えば、膜減り量算出部７ａは、下記式（３）のように、帯電バイアス毎の係数と回転数との積を合計して、積算値ｙを求めてもよい。
【００３６】
【数３】
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【００３７】
上記式（３）において、ｉ（０〜ｋ）は各帯電バイアスを区別するための添え字であり、ｂｉはｉ番目の帯電バイアスであり、α（ｂｉ）は帯電バイアスｂｉに応じた係数であり、Ｎｉは帯電バイアスｂｉが印加された状態での累積回転数である。
【００３８】
本実施の形態では、膜減り量算出部７ａは、上記式（３）を用いて推定膜減り量ｙ（μｍ）を算出するものとする。ここでは、上記式（３）においてｋ＝２５であり、帯電バイアスｂ０は［Ｖｄｃ＝０Ｖ，Ｖｐｐ＝０Ｖ］、ｂｉ（ｉ＝１〜２５）は［Ｖｄｃ＝−７００Ｖ，Ｖｐｐ＝（１３５０＋１０×ｉ）Ｖ］である。係数α（ｂｉ）は、予め実験により求められた単位回転数当たりの膜減り量（μｍ／１回転）であり、予め設定された定数である。累積回転数Ｎｉは、膜減り量算出部７ａによって計数され、所定の回転数保持領域に格納され、感光体１が新品に交換されると０にクリアされる。
【００３９】
膜減り量保持部７ｂは、膜減り量算出部７ａにより算出された積算値を保持する不揮発性の記憶領域であり、例えばＮＶＲＡＭ（Non Volatile RAM）等により実現される。本実施の形態では、膜減り量保持部７ｂは、上記積算値として膜減り量算出部７ａにより算出された推定膜減り量ｙ（μｍ）を保持する。
【００４０】
画像形成条件制御部７ｃは、膜減り量保持部７ｂに保持されている積算値に基づいて画像形成条件を制御するものであり、実質的に言えば、膜減り量算出部７ａにより算出された推定膜減り量に基づいて画像形成条件を制御するものである。本実施の形態では、画像形成条件制御部７ｃは、推定膜減り量ｙに応じて帯電バイアスを変化させる。具体的には、感光体１の膜厚が薄くなるほど放電開始電圧が低くなるので、推定膜減り量の増加に伴ってＡＣピーク間電圧Ｖｐｐが小さくなるように、帯電ロール２に印加されるＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐを段階的に変化させる。より具体的には、画像形成条件制御部７ｃは、図２に示される推定膜減り量と帯電バイアスとの対応テーブルを予め保持しており、この対応テーブルに従って帯電バイアスを段階的に切り替える。
【００４１】
なお、本実施の形態では、積算値に基づいて帯電バイアスを制御することとしたが、露光装置３の露光量や現像バイアス等、他の画像形成条件を積算値に基づいて制御することとしてもよい。例えば、感光体１の膜厚が薄くなるほど感光体１の感光感度が低下するので、積算値の増加に伴って露光量が大きくなるように、露光装置３による露光量を変化させるとよい。
【００４２】
図３は、制御装置７の動作を説明するためのタイミングチャートである。以下、図３を用いて、上記構成を有する制御装置７の動作の一例を具体的に説明する。なお、ここでは、膜減り量保持部７ｂには、現時点において推定膜減り量ｙ＝７．００μｍが保持されているものとする。
【００４３】
図３の時刻ｔ０において、制御装置７は、不図示のユーザインタフェースを介してユーザからコピー開始の指示を受け付けると、不図示のモータをオンして感光体１の回転駆動を開始させる。このとき、帯電バイアスはｂ０すなわちオフとなっている。
【００４４】
ついで、時刻ｔ０からｔ１までの非画像形成期間において、画像形成条件制御部７ｃは、膜減り量保持部７ｂから推定膜減り量ｙを読み出し、予め設定された対応テーブルを参照して、推定膜減り量ｙ＝７．００μｍに対応する帯電バイアスｂ１３（Ｖｄｃ＝−７００Ｖ，Ｖｐｐ＝１４８０Ｖ）を特定する。そして、画像形成条件制御部７ｃは、特定された帯電バイアスｂ１３に対して、環境温湿度、ユーザ設定、プロセススピード等の補正要因に基づく補正を行い、最終的な帯電バイアスを決定する。本実施の形態では、画像形成条件制御部７ｃは、不図示の湿度センサの出力に基づき、予め設定されたテーブルまたは計算式に従って、湿度が基準より高い場合には、基準との差分に応じて帯電バイアスをｂ１３→ｂ１２→・・・と下げていき、湿度が基準より低い場合には、基準との差分に応じて帯電バイアスをｂ１３→ｂ１４→・・・と上げていく。ここでは、湿度は基準より低く、帯電バイアスはｂ１３からｂ１５に変更されたものとする。
【００４５】
ついで、時刻ｔ１において、画像形成条件制御部７ｃは、上記決定された帯電バイアスｂ１５の印加を電源装置８に指示する。これにより、帯電ロール２には電源装置８から帯電バイアスｂ１５（Ｖｄｃ＝−７００Ｖ，Ｖｐｐ＝１５００Ｖ）が印加され、感光体１表面は約−７００Ｖに一様に帯電される。この後、時刻ｔ２までの期間において画像形成が行われる。
【００４６】
そして、時刻ｔ２において、画像形成条件制御部７ｃは、帯電バイアスをｂ０すなわちオフにする。
【００４７】
時刻ｔ２からｔ３までの非画像形成期間において、膜減り量算出部７ａは、回転数保持領域に格納されている帯電バイアス毎の累積回転数Ｎｉ（ｉ＝０〜２５）の更新処理を行う。具体的には、膜減り量算出部７ａは、回転数保持領域から帯電バイアスｂ０の累積回転数Ｎ０を読み出し、読み出された累積回転数Ｎ０に、回転時間｛（ｔ１−ｔ０）＋（ｔ３−ｔ２）｝に対応する感光体１の回転数を加算して新たな累積回転数Ｎ０を求め、これを回転数保持領域に書き込む。また、回転数保持領域から帯電バイアスｂ１５の累積回転数Ｎ１５を読み出し、読み出された累積回転数Ｎ１５に、回転時間（ｔ２−ｔ１）に対応する感光体１の回転数を加算して新たな累積回転数Ｎ１５を求め、これを回転数保持領域に書き込む。なお、回転時間に対応する回転数は、プロセススピードおよび感光体１の周長に基づいて求められる。そして、膜減り量算出部７ａは、更新後の累積回転数Ｎｉを上記式（３）に代入して推定膜減り量ｙを算出し、これを新たな推定膜減り量として膜減り量保持部７ｂに書き込む。この新たな推定膜減り量ｙは、次の印刷ジョブにおいて画像形成条件制御部７ｃに利用されることとなる。
【００４８】
以上、１回の印刷ジョブにおける制御装置７の動作について説明したが、このように制御装置７が動作することにより、感光体１の使用開始から寿命到達までの長い期間でみると、感光体１の使用に伴ってＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐは図４，５に示されるように遷移する。図４は、膜減り量の増加に伴うＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐの変化の様子を示し、図５は、感光体１の回転数の増加に伴うＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐの変化の様子を示している。なお、図４，５には、環境等に基づく補正前のＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐが示されている。
【００４９】
以上のとおり、本実施の形態では、表面に静電潜像が形成される回転可能な被帯電体と、帯電バイアスの印加を受けて被帯電体の表面を帯電させる帯電装置とを備える画像形成装置において、被帯電体の回転数と、そのときの帯電バイアスに応じた係数との積の積算値を算出し、算出された積算値に基づいて画像形成条件を制御する。このため、本実施の形態によれば、所定条件（被帯電体の摩耗度合い、環境温湿度、ユーザ設定等）に基づいて帯電バイアスが可変制御される場合であっても、電流検出器等の特別のデバイスを用いることなく、被帯電体の摩耗度合いに応じて適切な画像形成条件を設定することができる。すなわち、装置のコストアップを招くことなく、被帯電体の摩耗度合いに応じた適切な対応をとることができる。具体的に言えば、感光体１の膜減り量を、特別なデバイスの追加なしに良好に推定することができ、感光体１の膜厚に応じた適切な画像形成パラメータを設定することができる。
【００５０】
また、本実施の形態では、積算値に応じて帯電バイアスを変化させるので、被帯電体の摩耗度合いに応じて帯電バイアスを適切な大きさに制御することができる。このため、帯電バイアスを一定とする場合と比較して、被帯電体の摩耗を低減させることができ、被帯電体の長寿命化を図ることができる。
【００５１】
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変更することができる。例えば、上記実施の形態では、制御装置７は、積算値に基づいて画像形成条件を制御するが、積算値に基づいて被帯電体の寿命に関する情報を報知してもよい。この構成における一態様では、制御装置７は、膜減り量算出部７ａにより算出された推定膜減り量が所定のライフエンド膜減り閾値を超えたとき、感光体１の寿命が尽きた旨を画面表示等によりユーザに報知する。また別の態様では、制御装置７は、推定膜減り量に基づいて残存寿命（残りの印刷可能枚数等）を推定し、この残存寿命を画面表示等によりユーザに報知する。さらに別の態様では、制御装置７は、推定膜減り量を通信回線を介してメーカ等のサービスセンターに報知する。
【００５２】
また、上記実施の形態では、帯電バイアスのＡＣ成分を定電圧制御することとしたが、定電流制御することも可能である。この場合、膜減り量算出部７ａは、感光体１の回転数と、そのときのＡＣ電流値に応じた係数との積の積算値を算出すればよい。また、画像形成条件制御部７ｃは、積算値に基づいてＡＣ電流値を変化させればよい。また、ＤＣ帯電方式とすることもでき、この場合、膜減り量算出部７ａは、感光体１の回転数と、そのときのＤＣ電圧値に応じた係数との積の積算値を算出すればよい。また、画像形成条件制御部７ｃは、積算値に基づいてＤＣ電圧値を変化させればよい。また、ＡＣ帯電方式において、積算値の増加に応じてＡＣピーク間電圧を低下させるとともに、帯電ＤＣ電圧および現像ＤＣ電圧を低下させてもよい。
【００５３】
また、上記実施の形態では、推定膜減り量に基づいて帯電バイアス等の画像形成条件を制御することとしたが、初期膜厚値と推定膜減り量とから推定膜厚を求め、この推定膜厚に基づいて画像形成条件を制御してもよい。
【００５４】
また、感光体１を含むプロセスユニットが装置本体に着脱可能に装着される構成においては、膜減り量保持部７ｂは当該プロセスユニットに設けられることが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】実施の形態に係る画像形成装置の概略構成図である。
【図２】推定膜減り量と帯電バイアスとの対応テーブルを示す図である。
【図３】制御装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図４】膜減り量の増加に伴うＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐの変化の様子を示す図である。
【図５】感光体の回転数の増加に伴うＡＣピーク間電圧値Ｖｐｐの変化の様子を示す図である。
【符号の説明】
【００５６】
１  感光体、２  帯電装置（帯電ロール）、３  露光装置、４  現像装置、５  転写装置、６  クリーニング装置、７  制御装置、７ａ  膜減り量算出部、７ｂ  膜減り量保持部、７ｃ  画像形成条件制御部、８  電源装置、１０  画像形成装置。
【図１】
2007047630.tif 000006
【図２】
2007047630.tif 000007
【図３】
2007047630.tif 000008
【図４】
2007047630.tif 000009
【図５】
2007047630.tif 000010