(57)【要約】【課題】光ディスクのＯＰＣ領域に傷や指紋などのディフェクトが存在する場合、評価データの差が記録条件だけでなくディフェクトの影響によって生じ、検出した評価データから真に最適な記録条件を決定することができない。【解決手段】評価データ検出部１５１は、光ディスクのＯＰＣ領域から再生された再生ＲＦ信号から評価データを検出する。近似評価データ算出部１５２は、入力された評価データから組み合わせを複数用意し、各組み合わせに対して、それに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件毎に評価データの近似値を算出する。最適記録条件決定部１５３は、入力された近似値の総和を組み合わせ毎に算出し、総和が最小となる組み合わせにより算出された近似値のうち最小となるものに対応する記録条件を最適とする。ディフェクトの影響を受ける評価データは大きな値となるためである。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能な光ディスクにデータを記録再生する記録再生装置において、
複数種類の記録条件を所定の記録単位で順次切り替えながらテスト信号を前記光ディスクの予め定めたテスト領域に記録する記録手段と、
前記光ディスクの前記テスト領域から再生した前記テスト信号に基づいて、前記複数種類の記録条件の記録特性を評価する評価データを、前記所定の記録単位毎に検出する評価データ検出手段と、
前記評価データ検出手段により検出した前記複数種類の記録条件の評価データから、異なる種類の記録条件の評価データをＭ個（Ｍは検出した評価データの数より小さい自然数）以上含む組み合わせを複数用意し、各組み合わせ毎に、その組み合わせに属する評価データのみを用いて前記複数種類の記録条件に対する評価データの近似値である近似評価データを算出する近似評価データ算出手段と、
前記近似評価データ算出手段により算出した前記近似評価データの総和を、前記組み合わせ毎に算出し、前記総和が最小となる組み合わせにより算出された前記近似評価データのうち最小となるものに対応する記録条件を最適な記録条件であると決定する最適記録条件決定手段と
を有することを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
前記近似評価データ算出手段は、前記評価データ検出手段により検出した前記複数種類の記録条件の評価データのうち、前記テスト領域の１トラックに対する前記所定の記録単位の数から求めた周期で検出した評価データを含まず、かつ、異なる種類の記録条件の評価データを前記Ｍ個以上含む組み合わせを全て用意し、その用意した各組み合わせ毎に、その組み合わせに属する評価データのみを用いて前記複数種類の記録条件に対する近似評価データを算出することを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は記録再生装置に係り、特に書き換え可能な光ディスクのＯＰＣ（Optimum Power Control）領域に複数種類の記録条件（記録パワー、記録パルス幅）を順次切り替えながら記録を行い、評価データ（ジッタ、エラーレート）を用いて最適な記録条件を決定する際に、ＯＰＣ領域に傷や指紋などのディフェクトが存在しても最適な記録条件を決定する記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＢＤ−ＲＥ規格などで定められた書き換え可能な光ディスクでは、図５の平面図に示すように、ユーザが任意の情報を記録再生するためのユーザデータ領域３１の内周側に、ＯＰＣ領域３０が定められている。従来の記録再生装置では、そのＯＰＣ領域３０に複数種類の記録条件を順次切り替えながら、ランダムＥＦＭ（eight to fourteen modulation）データをテスト記録し、評価データを用いて最適な記録条件を決定することが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
具体的には、ランダムＥＦＭデータであるテスト信号は、図５のユーザデータ領域３１に記録されるユーザデータと同様に、所定バイト数で所定のフォーマットの誤り訂正ブロック（ＥＣＣブロック）単位でＲＦ信号の形態でＯＰＣ領域３０に記録される。テスト信号記録後、ＯＰＣ領域３０を再生して、その再生ＲＦ信号から評価データを検出し、評価データとしてジッタを用いた場合は、ジッタが最小となる記録条件を最適な記録条件として決定する。
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−１３７９１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ＢＤ−ＲＥ規格などで定められた書き換え可能な光ディスクのＯＰＣ領域３０に、複数種類の記録条件を順次切り替えながらテスト信号の記録を行い、評価データを用いて最適な記録条件を決定する際に、ＯＰＣ領域３０に図５に示すように、傷や指紋などのディフェクト３２が存在する場合には、確からしい評価データを検出することができなくなる。
【０００６】
すなわち、ＯＰＣ領域３０の再生ＲＦ信号から評価データを検出すると、ディフェクト３２が存在する領域から検出した評価データは、ディフェクト３２が存在しない領域から検出した評価データに比べて同じ記録条件でも大きい値となってしまう。そのため、それぞれの評価データの差が記録条件だけでなくディフェクト３２の影響によって生じ、検出した評価データから真に最適な記録条件を決定することができない。
【０００７】
また、評価データに上限値を定めた場合でも、上限値を超える原因が、記録条件の悪化によるものか、それともディフェクト３２の影響によるものかを判断することが難しく、最適な記録条件を決定するのが困難である。
【０００８】
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、ＯＰＣ領域に傷や指紋などのディフェクトが存在する場合でも、複数種類の記録条件毎に検出した評価データからディフェクトの影響が小さい評価データの組み合わせを見付け出し、その組み合わせに属する評価データのみを用いて最適な記録条件を決定し得る記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の目的を達成するため、本発明は、書き換え可能な光ディスクにデータを記録再生する記録再生装置において、複数種類の記録条件を所定の記録単位で順次切り替えながらテスト信号を光ディスクの予め定めたテスト領域に記録する記録手段と、光ディスクのテスト領域から再生したテスト信号に基づいて、複数種類の記録条件の記録特性を評価する評価データを、所定の記録単位毎に検出する評価データ検出手段と、評価データ検出手段により検出した複数種類の記録条件の評価データから、異なる種類の記録条件の評価データをＭ個（Ｍは検出した評価データの数より小さい自然数）以上含む組み合わせを複数用意し、各組み合わせ毎に、その組み合わせに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件に対する評価データの近似値である近似評価データを算出する近似評価データ算出手段と、近似評価データ算出手段により算出した近似評価データの総和を、組み合わせ毎に算出し、総和が最小となる組み合わせにより算出された近似評価データのうち最小となるものに対応する記録条件を最適な記録条件であると決定する最適記録条件決定手段とを有することを特徴とする。
【００１０】
この発明では、テスト領域から再生された再生テスト信号に基づいて得た複数種類の記録条件毎に検出した評価データの中からいくつか選び出し、選び出した評価データのみを用いて各記録条件に対応する近似評価データを算出する、という総和を繰り返す。更に、先ほど選んだ評価データの組み合わせ毎に、近似評価データの総和を算出し、総和が最小となる組み合わせに属する評価データのみを用いて最適な記録条件を決定する。これは、ディフェクトの影響を受ける評価データは大きな値となるため、ディフェクトの影響を受ける評価データが少ない組み合わせほど近似値の総和が小さくなると考えられるためである。これにより、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を取り除くことができる。
【００１１】
また、上記の目的を達成するため、本発明は、近似評価データ算出手段を、評価データ検出手段により検出した複数種類の記録条件の評価データのうち、テスト領域の１トラックに対する所定の記録単位の数から求めた周期で検出した評価データを含まず、かつ、異なる種類の記録条件の評価データをＭ個以上含む組み合わせを全て用意し、その用意した各組み合わせ毎に、その組み合わせに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件に対する近似評価データを算出する構成としたことを特徴とする。
【００１２】
この発明では、ディフェクトに影響される評価データが１トラック毎に周期的に現れるものとして、評価データ検出手段により検出した複数種類の記録条件の評価データのうち、テスト領域の１トラックに対する所定の記録単位の数から求めた周期で検出した評価データを含まないＭ個の評価データからなる組み合わせに限定することにより、評価データの組み合わせの数を減少させることができ、かつ、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を取り除くことができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ディフェクトの影響をうける評価データは大きな値となるため、ディフェクトの影響を受ける評価データが少ない組み合わせほど近似評価データの総和が小さくなることに着目し、異なる種類の記録条件の評価データをＭ個（Ｍは検出した評価データの数より小さい自然数）以上含む組み合わせを複数用意し、各組み合わせ毎に、その組み合わせに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件に対する評価データの近似値である近似評価データを算出し、その近似評価データの総和を、組み合わせ毎に算出し、総和が最小となる組み合わせにより算出された近似評価データのうち最小となるものに対応する記録条件を最適な記録条件であると決定するようにしたため、ディフェクトの影響を取り除いた最適な記録条件を正確に決定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。
【００１５】
図１は本発明になる記録再生装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図において、光ディスク１０はスピンドルモータ１１により等線速度（ＣＬＶ:constant linear velocity）あるいは等角速度（ＣＡＶ:constant angular velocity）で回転される。光ディスク１０に離間対向してピックアップ１２が設けられ、ピックアップ１２から設定されている記録条件のレーザ光を射出して光ディスク１０に集光することにより、光ディスク１０にデータを記録することができる。
【００１６】
すなわち、データを記録する場合、記録データはエンコード１６で所定フォーマットにエンコードされた後、レーザ駆動部１３に供給される。レーザ駆動部１３は、エンコードされた記録データに基づき駆動信号を生成し、ピックアップ１２内の光源である半導体レーザを、その半導体レーザから出射されるレーザ光の強度が記録データで変調されるように駆動する。ピックアップ１２は、そのレーザ光を光ディスク１０上に焦点一致して照射させることにより、データを記録する。
【００１７】
レーザ駆動部１３における記録条件は制御部１５からの制御信号により決定される。具体的には、光ディスク１０のＯＰＣ領域において複数種類の記録条件を順次切り替えながらデータを記録し、その再生データの信号品質に基づき最適な記録条件が決定される。
【００１８】
一方、再生時は、ピックアップ１２から再生条件のレーザ光を出射して光ディスク１０に集光し、これにより光ディスク１０から反射される反射光をピックアップ１２内の検出光学系で受光して光電変換することにより、光ディスク１０の記録データを読み取ることができる。すなわち、ピックアップ１２内の検出光学系から出力された再生ＲＦ信号は、ＲＦ信号処理部１４に供給される。ＲＦ信号処理部１４は、再生ＲＦ信号に対して所定の信号処理を行って得たベースバンド帯の信号をデコーダ１７に供給する。デコーダ１７は、入力信号をデコードし再生データとして出力する。
【００１９】
制御部１５は、データの再生信号品質に基づき最適な記録条件を決定する。すなわち、ＲＦ信号処理部１４からの再生ＲＦ信号の評価データを検出し、評価データを用いて最適な記録条件を決定する。
【００２０】
図２は制御部１５の一実施の形態のブロック図を示す。図２に示すように、制御部１５は、評価データ検出部１５１、近似評価データ算出部１５２及び最適記録条件決定部１５３から構成される。評価データ検出部１５１は、入力された再生ＲＦ信号から評価データを検出する。評価データを例えばジッタとした場合、例えば前記特許文献１などに記載された公知の方法で検出することができる。すなわち、再生ＲＦ信号を２値化して位相同期ループ（ＰＬＬ）回路に供給してクロックを生成し、そのクロックを基準として、２値化した再生ＲＦ信号のジッタを測定する。
【００２１】
近似評価データ算出部１５２は、入力された評価データから組み合わせを複数用意し、各組み合わせに対して、それに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件毎に評価データの近似値を算出する。最適記録条件決定部１５３は、入力された近似値の総和を組み合わせ毎に算出し、総和が最小となる組み合わせにより算出された近似値のうち最小となるものに対応する記録条件を最適とする。
【００２２】
次に、制御部１５による最適記録条件の設定方法の第一実施例の動作原理を、図３を用いて説明する。図３は、ＥＣＣブロック単位で記録条件を順次切り替えながら９ＥＣＣブロックをＯＰＣ領域に記録し、評価データとしてジッタを用いたときの９種類の記録条件と記録条件毎に検出したジッタ（×印）との関係を示している。ここでは、記録条件２、８で記録されたＯＰＣ領域の位置に、図５に３２で示したような傷や指紋などのディフェクトが存在する場合を考える。
【００２３】
まず、検出した９個のジッタから７個取り出したときの組み合わせ（３６通り）をすべて用意する。この例では、ディフェクトの影響を受けるジッタの数が予め分かっているため、全ジッタから取り出すジッタの数を全ジッタの数（９個）からディフェクトに影響を受けたジッタの数（２個）を引いた７個とした。しかし、本来ディフェクトに影響を受けるジッタの数は不明なため、取り出すべきジッタの数は、ディフェクトの影響及び、記録条件とジッタの関係を表す近似式の精度の両方を考慮し設定する必要がある。
【００２４】
図３に、ディフェクトの影響を受けたジッタを２個含む組み合わせＡ（記録条件１、２、３、４、６、７、８で記録した位置から検出したジッタ）から算出した近似式Ａ（実線I）、ディフェクトの影響を受けたジッタを１個含む組み合わせＢ（記録条件１、３、４、６、７、８、９で記録した位置から検出したジッタ）から算出した近似式Ｂ（破線II）、及びディフェクトの影響を受けたジッタを含まない組み合わせＣ（記録条件１、３、４、５、６、７、９で記録した位置から検出したジッタ）から算出した近似式Ｃ（点線III）を示す。
【００２５】
上記と同様にして、全部で３６通り全ての組み合わせに対して近似式を求め、記録条件１〜９に対するジッタの近似値（近似ジッタ）の総和が最小となる組み合わせをディフェクトの影響が小さいと判断し、その組み合わせから求められた記録条件１〜９に対する近似ジッタのなかで最小となるものに対応する記録条件を最適な記録条件であると決定する。
【００２６】
図３に示す通り、同じ記録条件でも近似式Ｃ（点線III）の値が一番小さく、組み合わせＣから算出した記録条件１〜９に対する近似ジッタの総和が最小になることがよく分かる。よって、ディフェクトの影響を受けたジッタを含まない組み合わせＣを最もディフェクトの影響が小さいと判断することができ、近似式Ｃから算出される記録条件１〜９に対する近似ジッタの中で最小となるものに対応する記録条件５を最適な記録条件であると決定する。
【００２７】
次に、制御部１５による最適記録条件の設定方法の第二実施例の動作原理を、図４を用いて説明する。図４は、ＥＣＣブロック単位で記録条件を順次切り替えながら９ＥＣＣブロックをＯＰＣ領域に記録し、評価データとしてジッタを用いたときの９種類の記録条件と記録条件毎に検出したジッタ（×印）との関係を示している。ここでは、図５に示した光ディスク上のＯＰＣ領域３０は、１トラックに３ＥＣＣブロック記録再生可能であるものとする。
【００２８】
よって、この場合はＯＰＣ領域３０に図５に３２で示すような傷や指紋などのディフェクトが存在する場合、ディフェクトの特性からトラックを一周すると、同じ半径方向にディフェクトが存在すると予測し、３ＥＣＣブロック毎にディフェクトの影響を受けたジッタを検出すると考えられる。そこで、検出した９個のジッタから３ＥＣＣブロック周期で検出されたジッタを除いた組み合わせのみを用意する。
【００２９】
この場合、９種類の記録条件のうち、３ＥＣＣブロック周期の記録条件３、６、９を除いた記録条件１、２、４、５、７、８で記録した位置から検出したジッタ（組み合わせＡ）、３ＥＣＣブロック周期の記録条件２、５、８を除いた記録条件１、３、４、６、７、９で記録した位置から検出したジッタ（組み合わせＢ）、及び３ＥＣＣブロック周期の記録条件１、４、７を除いた記録条件２、３、５、６、８、９で記録した位置から検出したジッタ（組み合わせＣ）の３種類の組み合わせを用意する必要がある。
【００３０】
次に、組み合わせ毎に、それに属するジッタから記録条件とジッタの関係を表わす近似式を求め、記録条件１〜９に対する近似ジッタ（ジッタの近似値）を算出し、近似ジッタの総和を求める。さらに組み合わせＡ、Ｂ及びＣの中で近似ジッタの総和が最小となる組み合わせを最もディフェクトの影響が小さいと判断し、その組み合わせに属するジッタから算出した近似ジッタのうち最小となるものに対応する記録条件を最適な記録条件であるとする。
【００３１】
図４では、近似式Ａ（実線IV）、近似式Ｂ（破線V）及び近似式Ｃ（点線VI）は、それぞれ組み合わせＡ、Ｂ及びＣに属するジッタから算出した近似式を示しており、図４から実線IVで示す近似式Ａにより算出される近似ジッタの総和が最小であることが分かる。よって、記録条件３、６、９で記録した位置にディフェクトが存在するとして、それらの位置から検出したジッタを除いた組み合わせＡに属すジッタから算出した近似ジッタの中で最小となるものに対応する記録条件５を最適な記録条件であると決定する。
【００３２】
このようにして、本実施例によれば、検出した９個のジッタから３ＥＣＣブロック周期で検出されたジッタを除いた組み合わせのみを用意することで、ジッタの組み合わせの数を減少させることができ、かつ、ディフェクトによる最適な記録条件決定に対する影響を取り除くことができる。
【００３３】
なお、本発明は、以上の実施の形態及び実施例に限定されるものではなく、ＢＤ−ＲＥ規格以外の書き換え可能型光ディスクの規格にも適用可能である。また、記録条件の記録特性を評価する評価データとしては、ジッタに限定されるものではなく、再生信号の誤り率等も可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の光ディスク記録再生装置の位置実施の形態のブロック図である。
【図２】図１中の制御部の一実施の形態のブロック図である。
【図３】ジッタと記録条件の関係の一例を示す図である。
【図４】ジッタと記録条件の関係の他の例を示す図である。
【図５】光ディスクのＯＰＣ領域の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０  光ディスク
１１  スピンドルモータ
１２  ピックアップ
１３  レーザ駆動部
１４  ＲＦ信号処理部
１５  制御部
１６  エンコーダ
１７  デコーダ
１５１  評価データ検出部
１５２  近似評価データ算出部
１５３  最適記録条件決定部
３０  ＯＰＣ領域
３１  ユーザデータ領域
３２  ディフェクト
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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