(57)【要約】      （修正有）【課題】高速記録時においても精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができる光情報記録再生装置および光情報記録方法を提供する。【解決手段】  所定のライトストラテジに従って、光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させ、テスト記録された情報を読み取り、マーク及びスペースに応じた２値の再生信号を生成する。所定周波数のクロックを生成し、生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、エッジのタイミングとクロックとのずれを検出する。そして、エッジ毎に検出されたずれが全て一致するように、 所定のライトストラテジをマーク毎に補正する。【選択図】図２
2007018582.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録装置であって、
前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させるテスト記録手段と、
前記テスト記録手段により前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた２値の再生信号を生成する再生信号生成手段と、
所定周波数のクロックを生成するクロック生成手段と、
前記再生信号生成手段で生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングと前記クロック生成手段で生成された前記クロックとのずれを検出する検出手段と、
前記検出手段により前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、 前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする光情報記録装置。
【請求項２】
各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量が、当該エッジの固有変化量として予め記憶された記憶手段を備え、
前記補正手段が、前記記憶手段に記憶されている固有変化量に基づいて、前記所定のライトストラテジの補正量を定める、
ことを特徴とする請求項１に記載の光情報記録装置。
【請求項３】
前記テスト記録手段が、
各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従ったテスト記録をさらに実行し、
前記補正手段が、
各マークの前記エッジ毎に、前記テスト記録手段により当該エッジのタイミングを所定量変化させるライトストラテジに従ってテスト記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量を当該エッジの固有変化量として求め、
該求めた固有変化量に基づいて、前記所定のライトストラテジの補正量を定める
ことを特徴とする請求項１に記載の光情報記録装置。
【請求項４】
各前記エッジの固有変化量が、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、及び当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む、
ことを特徴とする請求項２または請求項３に記載の光情報記録装置。
【請求項５】
各前記エッジの固有変化量が、当該エッジを挟むマークとスペースとの組み合わせ毎に定められ、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジ、及び当該エッジとスペースを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む、
ことを特徴とする請求項２または請求項３に記載の光情報記録装置。
【請求項６】
所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録方法であって、
前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させる第１のステップと、
前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた２値の再生信号を生成する第２のステップと、
所定周波数のクロックを生成する第３のステップと、
前記生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングとクロックとのずれを検出する第４のステップと、
前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、 前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する第５のステップと、
を備えることを特徴とする光情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体に情報を記録するための好適なライトストラテジを設定する光情報記録装置および光情報記録方法に関する。        
【背景技術】
【０００２】
近年、情報通信技術の発達により、インターネット等が目覚しい勢いで普及したことにより、ネットワークを介して多くの情報がさかんにやり取りされている。こうした状況の中、近年、情報記録装置の分野において、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＣＤ−ＲＷなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として注目を浴びている。また、最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数（Numerical Aperture）を有する高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量の光ディスクが情報記録装置において用いられている。
【０００３】
ここで、ＣＤ−Ｒ等への情報の記録は、ＰＣ（ＰＣ：Personal Computer）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（ＥＦＭ：Eight to Fourteen Modulation）信号に変換して行われるが、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いから、光記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のマークやスペースを形成することはできない。
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスクに固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されているが、使用する個々の光ディスク固有のライトストラテジを決定するためには、開発者の負担が大きく、しかも、情報記録装置の開発終了後に発売されるような光情報記録媒体に対するライトストラテジの対応が難しいという問題がある。
【０００４】
こうした問題に対応して、基準ライトストラテジを用いて光ディスクに情報を記録し、記録した情報を再生して、各マークあるいはスペースの記録長を求め、この記録長と各マークあるいはスペースの理論長とのずれ量が最小になるように、各マークあるいはスペースに対応した各記録パルスの立ち上がりあるいは立下りエッジ位置を調整して好適なライトストラテジを自動的に生成する技術（例えば、特許文献１参照。）や、こうした技術に加えて、さらに、各マークの前側位相ずれ量あるいは後側位相ずれ量を算出して、各マークごとの理論長に対する記録長のずれ方向を求め、これによって好適なライトストラテジを自動的に設定する技術が提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特開２００２−２３０７７０号公報
【特許文献２】特開２００４−３５５７２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前者の方法では、例えば、マークに着目して、その記録長を理論長に合わせるようにライトストラテジを設定しても、マークの前エッジおよび後エッジがどれだけずれているのかがわからないために、マークの前後に位置するスペースの記録長がその理論長に対してばらついてしまうという問題がある。
【０００６】
また、後者の方法では、前後のマークおよびスペースごとに、そのずれ量を比較する処理が発生するために、処理時間が長くなるという問題がある。さらに、記録パルスのエッジを調整する際に、調整対象の記録パルスエッジに対応するマークエッジ位置のみへの影響が考慮され、さらに隣接するマークのエッジ位置に対する影響が考慮されていないために、特に、マーク間、スペース間の熱干渉の大きい高速記録時においては、精度の高いライトストラテジの設定が困難であるという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、マークおよびスペースの理論長に対する記録長の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジからのずれ量を簡易な方法で算出することにより、高速記録時においても精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができる光情報記録装置および光情報記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明は以下の事項を提案している。
請求項１に係る発明は、所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録装置であって、前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させるテスト記録手段と、前記テスト記録手段により前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた２値の再生信号を生成する再生信号生成手段と、所定周波数のクロックを生成するクロック生成手段と、前記再生信号生成手段で生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングと前記クロック生成手段で生成された前記クロックとのずれを検出する検出手段と、前記検出手段により前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、 前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光情報記録装置を提案している。
【０００９】
請求項６に係る発明は、所定のライトストラテジに従って記録パルス光を生成し、生成した記録パルス光を光記録媒体に照射することにより当該光記録媒体上にマーク及びスペースの並びを形成して情報を記録する光情報記録方法であって、前記所定のライトストラテジに従って、前記光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録させる第１のステップと、前記光記録媒体にテスト記録された情報を読み取り、前記マーク及びスペースに応じた２値の再生信号を生成する第２のステップと、所定周波数のクロックを生成する第３のステップと、前記生成された再生信号において値が切り替わる各マークのエッジ毎に、当該エッジのタイミングとクロックとのずれを検出する第４のステップと、前記エッジ毎に検出された前記ずれが全て一致するように、 前記所定のライトストラテジを前記マーク毎に補正する第５のステップと、を備えることを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００１０】
これらの発明によれば、所定のライトストラテジに従って、光記録媒体に複数種のマークを含む情報をテスト記録し、テスト記録された情報を読み取って、マークおよびスペースに応じた２値の再生信号を生成する。さらに、生成された再生信号において、値が切り替わる各マークのエッジ毎に、このエッジのタイミングとクロックとのずれが検出される。そして、検出されたエッジ毎のずれがすべて一致するように、所定のライトストラテジをマーク毎に補正する。したがって、各マークの理論的な記録長をクロックとのずれで検出し、かつ、このずれが全て一致するように補正を行うため、煩雑な測定処理を伴うことなく的確なライトストラテジを設定することができる。
【００１１】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載の光情報記録装置について、各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量が、当該エッジの固有変化量として予め記憶された記憶手段を備え、前記補正手段が、前記記憶手段に記憶されている固有変化量に基づいて、前記所定のライトストラテジの補正量を定める、ことを特徴とする光情報記録装置を提案している。
【００１２】
請求項３に係る発明は、請求項１に記載の光情報記録装置について、前記テスト記録手段が、各マークの前記エッジ毎に、前記所定のライトストラテジに対して当該エッジのタイミングのみを所定量変化させるライトストラテジを設定し、当該設定したライトストラテジに従ったテスト記録をさらに実行し、前記補正手段が、各マークの前記エッジ毎に、前記テスト記録手段により当該エッジのタイミングを所定量変化させるライトストラテジに従ってテスト記録された情報を読み取って得られた再生信号におけるエッジと、前記所定のライトストラテジに従って記録された情報を読み取って得られた再生信号における対応するエッジとのタイミングの変化量を当該エッジの固有変化量として求め、該求めた固有変化量に基づいて、前記所定のライトストラテジの補正量を定めることを特徴とする光情報記録装置を提案している。
【００１３】
請求項４に係る発明は、請求項２または請求項３に記載の光情報記録装置について、各前記エッジの固有変化量が、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、及び当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む、ことを特徴とする光情報記録装置を提案している。
【００１４】
請求項５に係る発明は、請求項２または請求項３に記載の光情報記録装置について、各前記エッジの固有変化量が、当該エッジを挟むマークとスペースとの組み合わせ毎に定められ、前記ライトストラテジの設定でタイミングを前記所定量ずらした当該エッジ、当該エッジとマークを挟んで隣接するエッジ、及び当該エッジとスペースを挟んで隣接するエッジの各々のタイミングの変化量を含む、ことを特徴とする光情報記録装置を提案している。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、マークおよびスペースの理論長に対する記録長の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジからのずれ量を簡易な方法で算出することにより、高速記録時においても精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
＜第１の実施形態＞
光記録媒体に情報を記録するために用いられるライトストラテジの品質は、一般に、再生ジッタにより評価される。この再生ジッタを最適化する手法としては、光記録媒体に記録されるそれぞれのマークおよびスペースの記録長が理論長と一致するように、ライトストラテジを調整する方法が考えられる。具体的には、光記録媒体の基準ライトストラテジにより、マークおよびスペースを記録し、これを再生してそれぞれのマークおよびスペースの記録長を求めるとともに、これらの記録長が理論長に一致するよう基準ライトストラテジを構成するそれぞれの記録パルス幅を調整する。
【００１７】
ところが、図３に示すように、例えば、３Ｔマークに対応する記録パルスの立下りエッジをある量変化させた場合、この変化による影響は、記録された３Ｔマークの対応エッジ（図３のＢエッジ）のみならず、このエッジと対向するエッジ（図３のＡエッジ）にも現れる。図４は、図３における３Ｔマークに対応する記録パルスの立下りエッジに付加する変化量を増減した場合の図３におけるＡエッジおよびＢエッジの変化の様子を示したものであるが、この図からも明らかなように、ＡエッジおよびＢエッジの変化は、３Ｔマークに対応する記録パルスの立下りエッジに付加する変化量の増減に比例し、ほぼ線形性を有して変化する。
【００１８】
つまり、例えば、３Ｔマークに対応する記録パルス幅を調整して、３Ｔマークの記録長を３Ｔマークの理論長に合わせ込んだとしても、３Ｔマークに対応する記録パルス幅を調整した影響は、上述のように、３Ｔマークの両エッジに生ずることから、３Ｔマークに対応する記録パルス幅を調整した影響が３Ｔマークに隣接するスペース等に影響を与え、結果として、全体の再生ジッタが改善しない状態が生ずることになる。したがって、精度の高いライトストラテジを設定するためには、変化させる記録パルスのエッジ部に対応する記録マークエッジのみならず、これに対向するエッジへの影響も考慮する必要がある。
【００１９】
そこで、本実施形態においては、再生信号から抽出されるクロック信号を用いて、記録されたマークに対応する再生パルス信号とクロック信号とのずれ量を検出し、現に記録されたマークの両エッジが本来あるべきマークの両エッジからどれだけずれているのかを求める。そして、このずれ量を基準ライトストラテジにおいて、例えば、３Ｔマークの立ち上がりエッジあるいは立下りエッジの一方だけをそれぞれ所定量変化させたときに形成されるマークの両エッジが本来あるべき３Ｔマークの両エッジからどれだけずれているのかといったマーク固有の変化量を用いて、すべてのマークおよびスペースについてそのずれ量が一定値になるよう、さらに具体的には、すべてのマークおよびスペースのエッジのタイミングがクロックに対して、同じだけずれた状態になるよう全体をシフトさせて調整を行うことにより、ライトストラテジの補正を実行し、好適なライトストラテジを設定することを特徴としている。
【００２０】
以下、図１、図２、図５を用いて、本実施形態に係る光情報記録装置について詳細に説明する。
本実施形態に係る光情報記録装置は、図１に示すように、光ディスク（光記録媒体）１と、光ピックアップ２と、ヘッドアンプ３と、データデコーダ（再生信号生成手段、クロック信号生成手段）４と、差分検出部（検出手段）５と、ＲＯＭ６と、ＲＡＭ７と、ライトストラテジ設定部（補正手段）８と、制御部（テスト記録手段）９と、記録パルス列補正部１０と、コントローラ１１と、データエンコーダ１２と、レーザ駆動部１３とから構成されている。
【００２１】
光ディスク１は、レーザダイオードにより情報の記録、再生を行える光記録媒体であり、例えば、ＤＶＤ±Ｒ等である。
光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。
【００２２】
ヘッドアンプ３は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出する信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出する信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。
【００２３】
データデコーダ４は、ヘッドアンプ３において生成されたＲＦ信号から二値化信号を生成し、さらにこれを所望の形式の信号に変換してコントローラ１３に出力する。また、生成した二値化信号からクロック信号の抽出を行う。
差分検出部５は、データデコーダ４から二値化信号とクロック信号を入力し、各マークごとに、クロック信号により定まる各マークの理論パルス信号エッジと二値化信号中の当該マークに対応する再生パルス信号の立ち上がりエッジとの差分値および理論パルス信号のエッジと再生パルス信号の立ち下がりエッジとの差分値を検出する。この差分値が「クロック信号とのずれ量」に対応する。
【００２４】
ＲＯＭ６は、書き換え不能の記憶装置であり、光情報記録装置全体を制御するための制御プログラムや基準ライトストラテジ等が記憶されている。また、本実施形態においては、差分検出部５により検出された各マークの差分値をすべて一定値とするために用いられる各マークごとの固有変化量（詳細は後述する。）等も格納されている。ＲＡＭ７は書き換え可能な記憶装置であり、差分検出部５において検出された各マークごとの差分値やライトストラテジ設定部８において設定されたライトストラテジ等が一時的に記憶される。
【００２５】
ライトストラテジ設定部８は、差分検出部５により検出された各マークの差分値をＲＯＭ６に格納された各マークごとの補正値を用いて、そのすべてが一定値となるような演算を行い、好適なライトストラテジを設定する。制御部９は、光情報記録装置全体をＲＯＭ６内に格納した制御プログラムにしたがって制御する。
【００２６】
記録パルス列補正部１０は、制御部９からライトストラテジあるいはパラメータを入力し、これに基づいて記録パルス列を形成し、レーザ駆動部１３に出力する。コントローラ１１は、記録信号をデータエンコーダ１２に供給し、また、データデコーダ４から記録信号を読み出す装置であり、データエンコーダ１２は、コントローラ１１からの記録信号をＥＦＭ信号等に変換して記録パルス列補正部１０に出力する。レーザ駆動部１３は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給する。
【００２７】
次に、図２を用いて、本実施形態における処理の流れを説明する。
まず、制御部９は、ＲＯＭ６から基準のライトストラテジに関するパラメータを読み出して、記録パルス列補正部１０にこれらのパラメータをセットする。記録パルス列補正部１０はセットされたパラメータに基づいて、基準ライトストラテジを生成して、これをレーザ駆動部１３に出力する。レーザ駆動部１３は、入力した基準ライトストラテジに対応する記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給することにより、光ディスク１内の試し書きエリアにマークおよびスペースの記録を行う（ステップ１０１）。
【００２８】
マークおよびスペースの記録が終了すると、制御部９は、光ピックアップ２を試し書きエリア内の記録トラックに移動して、情報の再生を行う。光ピックアップ２により読み取られた信号は、ヘッドアンプ３を介してデータデコーダ４に入力されて、二値化信号が生成される。また、データデコーダ４では、この二値化信号からクロック信号の抽出が行われる。データデコーダ４において生成された二値化信号およびクロック信号は差分検出部５に入力され、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の各マークに対応する再生パルス信号とクロック信号により定まる各マークの理論長に相当する理論パルス信号との差分値がそれぞれのパルス信号の両エッジ間の差分値として検出され、その値がＲＡＭ７に格納される（ステップ１０２）。
【００２９】
次に、ライトストラテジ設定部８は、ＲＡＭ７から差分検出部５が検出した差分値（例えば、図５中のＤＬ３、ＤＴ３、ＤＬ４、ＤＴ４）を読み出す。また、ＲＯＭ６から図５に示すように、例えば、３Ｔマークの記録パルスの立ち上がりエッジを制御可能な最小分解能分変化させたときの再生パルス信号の両エッジにおける変化量（図５中のＦＬ３、ＦＴ３。４ＴマークについてはＦＬ４、ＦＴ４であり、以下、他のマークについても同様）、３Ｔマークの記録パルスの立ち下がりエッジを制御可能な最小分解能分変化させたときの再生パルス信号の両エッジにおける変化量（図５中のＲＬ３、ＲＴ３。４ＴマークについてはＲＬ４、ＲＴ４であり、以下、他のマークについても同様）である各マークの固有変化量を読み出す。
【００３０】
そして、これらの値に基づいて、各マークに対応する再生パルス信号とクロック信号により定まる各マークの理論長に相当する理論パルス信号の両エッジ間の差分値がすべて同じ値ｋとなるように、以下に示す連立方程式を解いて、ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・・の値を求める（ステップ１０３）。
ＤＬ３−（ＦＬ３＊ｎ１＋ＲＬ３＊ｎ２）＝ｋ
ＤＴ３−（ＦＴ３＊ｎ１＋ＲＴ３＊ｎ２）＝ｋ
ＤＬ４−（ＦＬ４＊ｎ３＋ＲＬ４＊ｎ４）＝ｋ
ＤＴ４−（ＦＴ４＊ｎ３＋ＲＴ４＊ｎ４）＝ｋ
・
・
・
また、隣接マークからの熱干渉の影響が少ない場合は、変化を与えたエッジのみの効果として、以下の連立方程式を解くことで、ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・の値を求めることもできる。
ＤＬ３−ＦＬ３＊ｎ１＝ｋ
ＤＴ３−ＲＴ３＊ｎ２＝ｋ
ＤＬ４−ＦＬ４＊ｎ３＝ｋ
ＤＴ４−ＲＴ４＊ｎ４＝ｋ
・
・
・
【００３１】
上式により、ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・・の値が求まると、これが基準ライトストラテジに対して、各マークに対応する記録パルスの立ち上がりエッジ、立下りエッジの調整量となる。この決定したライトストラテジはＲＡＭ７に格納され、マークおよびスペースの記録動作がこの格納されたライトストラテジを用いて実行される（ステップ１０４）。
【００３２】
なお、本実施形態においては、マークごとに、そのマークの記録パルスの立ち上がりエッジのみを最小分解能分変化させたときの再生パルス信号の両エッジにおける変化量あるいは立ち上がりエッジのみを最小分解能分変化させたときの再生パルス信号の両エッジにおける変化量を求めておく場合について説明したが、これらの値は、使用する光記録媒体に上記のようなマーク等を実際に記録することにより、記録したマークの再生パルス信号から求めるようにしてもよい。
【００３３】
上記のように、本実施形態においては、特定マークの記録パルス信号エッジを変化させたときに、各マークに対応する再生パルス信号とクロック信号の両エッジ間に生ずる差分値を求め、各マークごとの固有変化量を用いて、すべてのマークについてこの差分値が一定値となるような演算式を立てて、この演算式を解くことによりライトストラテジを設定することから、精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができる。
【００３４】
＜第２の実施形態＞
第１の実施形態では、特定のマークに着目し、特定のマークに対応する記録パルス信号の立ち上がりエッジあるいは立下りエッジを所定量変化させると、その影響が再生パルス信号の立ち上がりエッジおよび立下りエッジに現れることを述べた。しかし、実際には、図６に示すように、特定のマークに対応する記録パルス信号の立ち上がりエッジあるいは立下りエッジを所定量変化させると、その影響は再生パルス信号の立ち上がりエッジおよび立下りエッジのみならず、スペースを挟んだ隣接するマークにも及ぶ。
【００３５】
図６は、３Ｔマークと３Ｔスペースの組み合わせにおいて、３Ｔマークに対応する記録パルス信号の立下りエッジを所定量変化させたときに、記録されるマークへの影響を示したものである。この図によれば、その影響は、エッジを変化させた記録パルス信号に対応するマークの両エッジ（図中、Ａエッジ、Ｂエッジ）のみならず、スペースを挟んで隣接するマークのエッジ（図中、Ｃエッジ）にも及ぶことがわかる。
【００３６】
また、図７は、図６における３Ｔマークに対応する記録パルス信号の立下りエッジの変化量を増減させたときのＡエッジ、Ｂエッジ、Ｃエッジの変化の様子を示しているが、この図からわかるように、Ａエッジ、Ｂエッジ、Ｃエッジの変化の度合いは、３Ｔマークに対応する記録パルス信号の立下りエッジの変化量の増減に比例し、ほぼ線形性を有していることがわかる。
【００３７】
これらのことから、さらに厳密に精度の高いライトストラテジを設定しようとすれば、調整の対象を特定のマークではなく、特定のマークとスペースの組み合わせとして捉える必要がある。そこで、本実施形態においては、ライトストラテジ設定のための調整の対象を特定のマークとスペースの組み合わせとしたことに特徴を有するものである。
【００３８】
以下、図８、図９を用いて、本実施形態に係る光情報記録装置について詳細に説明する。
本実施形態に係る光情報記録装置の基本的な構成は、図１に示される第１の実施形態に係る光情報記録装置の構成と同様であるが、ライトストラテジ設定のための調整の対象を特定のマークとスペースの組み合わせとするため、差分検出部５は、特定のマークとスペースおよびスペースとマークの組み合わせごとに、その差分値を検出する。また、ＲＯＭ６には、差分検出部５により検出された特定のマークとスペースの組み合わせについての差分値をすべて一定値とするために用いられる補正値等が格納され、ＲＡＭ７には、差分検出部５において検出された特定のマークとスペースの組み合わせごとの差分値やライトストラテジ設定部８において設定されたライトストラテジ等が一時的に記憶される。
【００３９】
次に、図９を用いて、本実施形態における処理の流れを説明する。
まず、制御部９は、ＲＯＭ６から基準のライトストラテジに関するパラメータを読み出して、記録パルス列補正部１０にこれらのパラメータをセットする。記録パルス列補正部１０はセットされたパラメータに基づいて、基準ライトストラテジを生成して、これをレーザ駆動部１３に出力する。レーザ駆動部１３は、入力した基準ライトストラテジに対応する記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給することにより、光ディスク１内の試し書きエリアにマークおよびスペースの記録を行う（ステップ２０１）。
【００４０】
マークおよびスペースの記録が終了すると、制御部９は、光ピックアップ２を試し書きエリア内の記録トラックに移動して、情報の再生を行う。光ピックアップ２により読み取られた信号は、ヘッドアンプ３を介してデータデコーダ４に入力されて、二値化信号が生成される。また、データデコーダ４では、再生信号からクロック信号の抽出が行われる。データデコーダ４において生成された二値化信号およびクロック信号は差分検出部５に入力され、特定のマークとスペースの組み合わせにおいて３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の各マークに対応する再生パルス信号とクロック信号により定まる各マークの理論長に相当する理論パルス信号との差分値がそれぞれのパルス信号の両エッジ間の差分値として検出され、その値がＲＡＭ７に格納される（ステップ２０２）。
【００４１】
次に、ライトストラテジ設定部８は、ＲＡＭ７から差分検出部５が検出した差分値（例えば、図８中のＤＴ（ｍ、ｎ）、ＤＬ（ｍ、ｎ））を読み出す。また、ＲＯＭ６から図８に示すように、例えば、ｍＴマークとｎＴスペースの組み合わせにおけるｍＴマークの記録パルス信号の立ち下がりエッジを最小分解能分変化させたときの変化量（図８中のＲａ（ｍ、ｎ）、Ｒｂ（ｍ、ｎ）、Ｒｃ（ｍ、ｎ））、ｍＴスペースとｎＴマークの組み合わせにおけるｍＴスペース後の記録パルス信号の立ち上がりエッジを最小分解能分変化させたときの再生パルス信号の両エッジにおける変化量（図８中のＦａ（ｍ、ｎ）、Ｆｂ（ｍ、ｎ）、Ｆｃ（ｍ、ｎ））である固有変化量を読み出す。
【００４２】
そして、これらの値に基づいて、ステップ２０２で求めた差分値がすべて同じ値ｋとなるように、第１の実施形態と同様に連立方程式をたて、これを解いて、ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・・の値を求める（ステップ２０３）。また、隣接マークからの熱干渉の影響が少ない場合は、変化を与えたエッジのみの効果として、Ｒｂ（ｍ、ｎ）、Ｆｂ（ｍ、ｎ）のみを使用して、クロックエッジとマーク、スペースエッジの差分値が同じ値（ｋ）となるように、ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・を求めることもできる。
【００４３】
ｎ１、ｎ２、ｎ３・・・・の値が求まると、これが基準ライトストラテジに対して、各マークに対応する記録パルスの立ち上がりエッジ、立下りエッジの調整量となる。この決定したライトストラテジはＲＡＭ７に格納され、マークおよびスペースの記録動作がこの格納されたライトストラテジを用いて実行される（ステップ２０４）。
【００４４】
なお、本実施形態においては、特定のマークとスペースの組み合わせについて、マークの記録パルス信号の立ち上がりエッジのみを最小分解能分変化させたときの変化量あるいは立ち上がりエッジのみを最小分解能分変化させたときの変化量を求めておく場合について説明したが、これらの値は、使用する光記録媒体に上記のマーク等を実際に記録することにより、記録したマーク等の再生パルス信号から求めるようにしてもよい。
【００４５】
上記のように、本実施形態においては、調整の対象を特定マークとスペースの組み合わせとしたことから、さらに精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができる。
【００４６】
図１０および図１１は、本発明の効果を示すものであり、図１０は、各種ＣＤ−Ｒメディア、記録速度において、ライトストラテジの設定方法によるマークのジッタ値を示しており、図１１は、スペースのジッタ値を示している。なお、図１０および図１１において、「Ｄｅｆａｕｌｔ」、「１エッジ法」、「２エッジ法」、「３エッジ法」とは、ライトストラテジの種別を示すものであり、「Ｄｅｆａｕｌｔ」のライトストラテジとは、例えば、（n―ｋ）Tのような形のライトストラテジであり、特定のマーク、スペース若しくはマークとスペースの組み合わせでの補正を一切行っていないライトストラテジである。また、「１エッジ法」のライトストラテジとは、マークに対応する記録パルスの立ち上がりエッジ、立下りエッジを調整することができ、特定の記録パルスにおけるエッジを調整するときに、該当するエッジのみにその変化の影響を考慮した、ライトストラテジの設定方法によるライトストラテジである。「２エッジ法」のライトストラテジとは、第１の実施形態に対応するライトストラテジであり、「３エッジ法」のライトストラテジとは、第２の実施形態に対応するライトストラテジである。
【００４７】
図１０および図１１から、「１エッジ法」、「２エッジ法」や「３エッジ法」は、総じて「Ｄｅｆａｕｌｔ」に比べて、ジッタ値が低くなっている。特に、記録速度が速くなると、その傾向は顕著となる。また、「３エッジ法」は、総合的に見ても、他の方法に比べて、極めて良好な結果を示している。
【００４８】
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本実施形態に係る光情報記録装置の構成図である。
【図２】第１の実施形態の処理フローである。
【図３】３Ｔマークの記録パルス信号の立下りエッジを所定量変化させたときの３Ｔ記録マークに対する影響を示したものである。
【図４】３Ｔマークの記録パルス信号の立下りエッジに対する変化量を増減した場合の３Ｔ記録マークに対する影響度を示したものである。
【図５】第１の実施形態に係る差分値と固有補正量との関係を示したものである。
【図６】３Ｔマークと３Ｔスペースの組み合わせにおいて、３Ｔマークの記録パルス信号の立下りエッジを所定量変化させたときの影響を示したものである。
【図７】３Ｔマークと３Ｔスペースの組み合わせにおいて、３Ｔマークの記録パルス信号の立下りエッジに対する変化量を増減した場合の影響度を示したものである。
【図８】第２の実施形態に係る差分値と固有補正量との関係を示したものである。
【図９】第２の実施形態の処理フローである。
【図１０】本発明の効果を示す図である。
【図１１】本発明の効果を示す図である。
【符号の説明】
【００５０】
１・・・光ディスク（光記録媒体）、２・・・光ピックアップ、３・・・ヘッドアンプ、４・・・データデコーダ（再生信号生成手段、クロック信号生成手段）、５・・・差分検出部（検出手段）、６・・・ＲＯＭ、７・・・ＲＡＭ、８・・・ライトストラテジ設定部（補正手段）、９・・・制御部（テスト記録手段）、１０・・・記録パルス列補正部、１１・・・コントローラ、１２・・・データエンコーダ、１３・・・レーザ駆動部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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