(57)【要約】【課題】内蔵された集積回路に発生した故障現象を、ダウンロードしたテストプログラムにより試験することのできる携帯端末装置を提供する。【解決手段】利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部１０６と、テスト用のプログラムをダウンロードするダウンロード部１０７と、テスト用のプログラムを格納する第１の記憶装置１０４と、制御用のプログラムを格納した第２の記憶装置１０５と、携帯端末装置基地局との通信を行い、集積回路を試験する中央処理装置１０２と、読み込み領域を指定するメモリ制御部１０３と、リセット信号を前記中央処理装置に出力するリセット部とを備え、中央処理装置１０２は、リセット信号を受け付けると、読み込み領域として指定されている第１の記憶装置または前記第２の記憶装置から前記プログラムを読み込んで実行する携帯端末装置である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
携帯端末装置基地局との通信を行い、該通信を行うための信号処理を行う集積回路を内蔵する携帯端末装置において、
前記携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部と、
前記キー入力部への入力内容が、前記集積回路の試験をするテスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合、所定の外部格納手段から、前記テスト用のプログラムをダウンロードするダウンロード部と、
前記テスト用のプログラムを格納する第１の記憶装置と、
前記携帯端末装置基地局との通信を行うための制御用のプログラムを格納した第２の記憶装置と、
前記制御用のプログラムを前記第２の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記携帯端末装置基地局との通信を行い、前記テスト用のプログラムを前記第１の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記集積回路を試験する中央処理装置と、
前記テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、前記第２の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定し、第１の記憶装置に前記テスト用のプログラムが格納された場合に、前記第１の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定するメモリ制御部と、
前記中央処理装置の読み込み領域の指定が前記メモリ制御部により変更された場合、または、前記携帯端末装置の前記利用者から指定された場合に、リセット信号を前記中央処理装置に出力するリセット部と、を備え、
前記中央処理装置は、前記リセット信号を受け付けると、前記メモリ制御部により前記読み込み領域として指定されている前記第１または前記第２の記憶装置から前記プログラムを読み込んで実行することを特徴とする携帯端末装置。
【請求項２】
請求項１に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置基地局に接続されたデータサーバである携帯端末装置。
【請求項３】
請求項１に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置に有線接続可能なパーソナルコンピュータまたは外部記憶装置である携帯端末装置。
【請求項４】
請求項１に記載の携帯端末装置において、
前記集積回路に電源を供給し、
前記集積回路に供給される電源の電圧を、前記中央処理装置の制御に応じて変化させる電源制御部をさらに備えた携帯端末装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯端末装置に係り、特に内蔵された集積回路の試験に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機、ＰＨＳ（Personal Handy phone System：簡易型携帯電話）などの携帯端末装置に故障が生じた場合、故障原因が分析される。
【０００３】
故障原因の分析は、発生した故障現象の確認から行われ、携帯端末装置に搭載されているＬＳＩ（Large Scale Integration：集積回路）に起因する故障か、電源の出力電圧の降下による故障かなどが推測される。
【０００４】
これらの推測を確認するため、次に示すような試験が行われる。
【０００５】
故障原因が搭載されている集積回路にあると推測される場合には、故障の原因と思われる集積回路を携帯端末装置から取り外して試験したり、取り外された集積回路の後に、代わりとなる良品の集積回路を取り付けて、携帯端末装置の動作を試験することが行われる。
【０００６】
上記のように集積回路を携帯端末装置から取り外して試験を行う代わりに、通常の携帯端末装置の動作を制御するための制御用プログラムが格納されているＲＯＭ（Read Only Memory：読み出し専用メモリ）の内容を集積回路の試験を行うテストプログラムに書き換えて、このテストプログラムにより試験する方法がある。
【０００７】
この場合、試験を行う際にはＲＯＭにテストプログラムを書き込み、試験が終了すると動作を制御する制御用プログラムを再度ＲＯＭに書き込むことでＲＯＭに格納する内容を元に戻す必要がある。
【０００８】
このような試験を行う際の手間を避けるため、あらかじめテストプログラムが格納された試験専用のＲＯＭが、携帯端末装置を動作させるための制御用プログラムを記憶したＲＯＭとは別に携帯端末装置内に設けられ、この試験専用のＲＯＭに格納されたテストプログラムによって、内蔵された集積回路の試験を行う携帯端末装置がある。
【０００９】
故障原因が、電源の出力電圧の降下によるものと推測される場合には、内蔵された電気部品に供給する電源の電圧を変化させて、試験する。
【００１０】
このような電源電圧を変化させて集積回路、電気部品の試験を行う方式として、電圧を変化させるための制御を行う電源制御部と、電源制御部の制御を受け出力電圧を変動可能な電源部と、電源制御部から試験電圧値の書き込みが可能なバッテリバックアップメモリと、バッテリバックアップメモリにメモリ保持用電源を供給するバッテリとを有した情報処理装置の電源電圧を変化させる電圧マージン試験方式が開示されている（特許文献１参照）。
【００１１】
この情報処理装置においては、バッテリバックアップメモリに書き込まれた試験電圧値が電源制御部に読み込まれ、電源制御部はこの読み込んだ試験電圧値になるように電源部の電圧を変化させて情報処理装置の電圧マージン試験が行なわれる。
【００１２】
この電源部の電圧の変化により情報処理装置に故障が再現するときは、この故障が電圧の変化に起因することが分かる。
【特許文献１】特開平０５−００２５０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
取り外した集積回路に試験を実施して故障の再現を行うことで、取り外した集積回路が故障を発生していたと判断され、故障原因が取り外した集積回路にあることが分かる。
【００１４】
他方、集積回路が取り外された後に良品の集積回路が携帯端末装置に取り付けられ、この携帯端末装置に対して試験を実施して、携帯端末装置に故障が発生しなくなったことを確認することで、故障を生じていた集積回路が携帯端末装置から除去されたことが分かる。
【００１５】
しかしながら携帯端末装置には、多数の集積回路および電気部品が搭載されており、これらの集積回路や電気部品を取り外して試験し原因となっている故障部品を特定するまでの調査には、多くの手間と長い時間が掛かるという問題があった。
【００１６】
携帯端末装置は、このように多数の電気部品が狭いスペースに搭載された複雑な構造となっているため、集積回路および電気部品の交換の際に他の構成部品を破損したり、集積回路および電気部品が搭載されている回路基板を損傷することがあるという問題があった。
【００１７】
制御用プログラムが格納されたＲＯＭにテストプログラムを書き込んで試験を行う場合、試験終了後にＲＯＭの記憶内容を元に戻すため制御用プログラムをＲＯＭに再度焼きなおす手間が掛かるという問題があった。
【００１８】
テストプログラムを記憶する専用のＲＯＭが別に設けられている場合には、この専用のＲＯＭを搭載するスペースを携帯端末装置に確保する必要があり、携帯端末装置の小型化、軽量化に対しての制約となるという問題があった。
【００１９】
集積回路、電気部品に供給される電源電圧を電源部により変化させて試験を行う電圧マージン試験では、この試験を行うためのバックアップメモリが必要であり、このバックアップメモリおよび専用のバッテリを設置するスペースを設ける必要があるという問題があった。
【００２０】
そこで本発明の目的は、内蔵された集積回路に発生した故障現象を、ダウンロードしたテストプログラムにより試験することのできる携帯端末装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記目的を達成するために、本発明の携帯端末装置の第１の発明は、携帯端末装置基地局との通信を行い、該通信を行うための信号処理を行う集積回路を内蔵する携帯端末装置において、
前記携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部と、
前記キー入力部への入力内容が、前記集積回路の試験をするテスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合、所定の外部格納手段から、前記テスト用のプログラムをダウンロードするダウンロード部と、
前記テスト用のプログラムを格納する第１の記憶装置と、
前記携帯端末装置基地局との通信を行うための制御用のプログラムを格納した第２の記憶装置と、
前記制御用のプログラムを前記第２の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記携帯端末装置基地局との通信を行い、前記テスト用のプログラムを前記第１の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記集積回路を試験する中央処理装置と、
前記テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、前記第２の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定し、第１の記憶装置に前記テスト用のプログラムが格納された場合に、前記第１の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定するメモリ制御部と、
前記中央処理装置の読み込み領域の指定が前記メモリ制御部により変更された場合、または、前記携帯端末装置の前記利用者から指定された場合に、リセット信号を前記中央処理装置に出力するリセット部と、を備え、
前記中央処理装置は、前記リセット信号を受け付けると、前記メモリ制御部により前記読み込み領域として指定されている前記第１または前記第２の記憶装置から前記プログラムを読み込んで実行する携帯端末装置である。
【００２２】
第２の発明は、第１の発明に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置基地局に接続されたデータサーバであるものである。
【００２３】
第３の発明は、第１の発明に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置に有線接続可能なパーソナルコンピュータまたは外部記憶装置であるものである。
【００２４】
第４の発明は、第１の発明に記載の携帯端末装置において、
前記集積回路に電源を供給し、
前記集積回路に供給される電源の電圧を、前記中央処理装置の制御に応じて変化させる電源制御部をさらに備えたものである。
【００２５】
従来携帯端末装置に故障が生じ、この故障の原因が内蔵されている集積回路にあると推測されるときには、この内蔵された集積回路を携帯端末装置から取り外して、集積回路の試験を行っていた。
【００２６】
これに対して、本発明では携帯端末装置に故障が生じ、内蔵された集積回路の試験を行う必要があるときには、集積回路の試験を行うためのテスト用のプログラムのダウンロードを所定の外部格納手段から携帯端末装置に行う。
【００２７】
このダウンロードされたテスト用のプログラムは、通常携帯端末装置の制御用のプログラムが格納されている読み出し専用の第２の記憶装置ではなく、制御用のプログラムを実行する上で必要とされるデータを一時的に格納する第１の記憶装置に格納される。
【００２８】
このように、テスト用のプログラムの第１の記憶装置への格納は、既に第２の記憶装置に格納されている制御用のプログラムの格納には影響しない。
【００２９】
テスト用のプログラムが格納された第１の記憶装置は、テスト用のプログラムが格納された後に、メモリ制御部によって中央処理装置の読み込み領域に指定される。
【００３０】
メモリ制御部の読み込み領域の指定により、第２の記憶装置が読み込み領域に指定されているときは制御用のプログラムの中央処理装置への読み込みが可能な状態となり、第１の記憶装置にテスト用のプログラムが格納され第１の記憶装置が読み込み領域に指定されているときはテスト用のプログラムの中央処理装置への読み込みが可能な状態となる。
【００３１】
中央処理装置は、通常リセット信号が入力されると中央処理装置の読み込み領域に指定された領域を読み込みに行き、読み込まれたプログラムを起動・実行する。
【００３２】
電源投入時には、第１の記憶装置にテスト用のプログラムは格納されておらず、第１の記憶装置は中央処理装置の読み込み領域に指定されておらず、第２の記憶装置が読み込み領域に指定されおり、第２の記憶装置から制御用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ、起動・実行される。
【００３３】
この携帯端末装置の通常の使用状態から、テスト用のプログラムのダウンロード、第１の記憶装置への格納、第１の記憶装置の読み込み領域の指定が終了した状態で、中央処理装置にリセット信号が入力されることで、テスト用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ、起動・実行される。
【００３４】
テスト用のプログラムの実行により、集積回路の試験が行われる際には、集積回路に供給される電源電圧を変化させる試験も併せて行われる。
【００３５】
集積回路に供給する電源電圧を変化させた電圧マージン試験を行うことで、集積回路の電圧動作マージンを確認し、集積回路への供給電源の電圧が降下したような場合の故障の再現も行う。
【００３６】
テスト用のプログラムによる試験が終了すると、第２の記憶装置がメモリ制御部によって読み込み領域として指定され、リセット部によって中央処理装置にリセット信号が入力されることで中央処理装置にリセットが掛けられる。
【００３７】
このリセットにより、通常の制御用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ実行され、携帯端末装置基地局と通信を行う状態に復帰する。
【発明の効果】
【００３８】
本発明によれば、内蔵された集積回路に発生した故障現象を、ダウンロードしたテストプログラムにより試験することのできる携帯端末装置を得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３９】
本発明を実施するための形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００４０】
図１は、本実施形態の携帯端末装置の構成例を示すブロック図である。
【００４１】
本携帯端末装置は、従来の携帯電話端末と同様に、図示しない携帯端末装置基地局との通信を行うことで他の電話機との音声通信を行い、また携帯端末装置基地局を介して携帯端末装置基地局に接続された携帯電話用ウェブサイトとの間でデータ通信を行う。
【００４２】
図示したように携帯端末装置は、携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部１０６と、キー入力部１０６への入力内容が、集積回路の試験をするテスト用のプログラムとしてのテストプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合所定の外部格納手段から、テストプログラムをダウンロードするダウンロード部１０１と、ダウンロードしたテストプログラムを格納する第１の記憶装置であるＲＡＭ１０４と、携帯端末装置基地局との通信を行う際の制御を行う制御用のプログラムとしての制御用プログラムをあらかじめ格納した第２の記憶装置であるＲＯＭ１０５と、テストプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部１０６へのキー入力がなされるまではＲＯＭ１０５を中央処理装置１０２の初期の読み込み領域として指定し、ＲＡＭ１０４にテストプログラムが格納された場合にＲＡＭ１０４を初期の読み込み領域として指定するメモリ制御部１０３と、制御用プログラムをＲＯＭ１０５から読み込んで実行することにより携帯端末装置基地局との通信を行い、テストプログラムをＲＡＭ１０４から読み込んで実行することにより集積回路を試験する中央処理装置１０２と、中央処理装置１０２の読み込み領域の指定がメモリ制御部１０３により変更された場合または携帯端末装置の利用者から指定された場合にリセット信号を中央処理装置１０２に出力し中央処理装置を１０２をリセットさせるリセット部１０７と、携帯端末装置の状態などを表示する表示部１０９と、表示部１０９の表示を制御するＬＣＤ制御部１０８と、携帯端末装置に内蔵され通信を行うために信号処理を行う集積回路などのテスト対象ブロック１１１、１１２と、テスト対象ブロック１１１、１１２に供給される電源の電圧を中央処理装置１０２の制御に応じて変化させる電源制御部１１０とを備えて構成されている。
【００４３】
ダウンロード部１０１は中央処理装置１０２に接続されており、中央処理装置１０２はリセット部１０７に接続されており、リセット部１０７はキー入力部１０６に接続されており、キー入力部１０６はメモリ制御部１０３に接続されており、メモリ制御部１０３はＲＯＭ１０５に接続されており、ＲＡＭ１０４はメモリ制御部１０３に接続されており、メモリ制御部１０３はリセット部１０７に接続されており、キー入力部１０６は中央処理装置１０２に接続されている。
【００４４】
メモリ制御部１０３は中央処理装置１０２に接続されており、中央処理装置１０２は電源制御部１１０に接続されており、電源制御部１１０はテスト対象ブロック１１２に接続されており、テスト対象ブロック１１２は中央処理装置１０２に接続されており、中央処理装置１０２はテスト対象ブロック１１１に接続されており、テスト対象ブロック１１１は電源制御部１１０に接続されており、中央処理装置１０２はＬＣＤ制御部１０８に接続されており、ＬＣＤ制御部１０８は表示部１０９に接続されている。
【００４５】
中央処理装置１０２は、一般的にＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算処理装置）と称される演算処理のための装置であり、中央処理装置１０２と本携帯端末装置内の各部構成部位とはバスを介して接続されている。
【００４６】
中央処理装置１０２は、このバスを介した各部構成部位との接続によって、これら各部構成部位の制御を行う機能を有する。
【００４７】
中央処理装置１０２は、ＲＡＭ１０４にテストプログラムが格納された後、ＲＡＭ１０４が初期の読み込み領域に指定され、リセット部１０７からのリセット信号の入力によって中央処理装置１０２がリセットされたときに、ＲＡＭ１０４からテストプログラムを読み込んで実行することができる。
【００４８】
中央処理装置１０２は、テストプログラムの実行が終了し、メモリ制御部１０３によってＲＯＭ１０５が初期の読み込み領域に指定され、リセット部１０７からのリセット信号の入力によって中央処理装置１０２がリセットされたときに、ＲＯＭ１０５から制御用プログラムを読み込んで実行することができる。
【００４９】
ＲＯＭ１０５は、中央処理装置１０２が実行するための各種の制御用プログラムや固定的なデータを格納した読み出し専用のメモリである。
【００５０】
このＲＯＭ１０５に格納された制御用プログラムなどの実行ソフトウェアの中には、テストプログラムのダウンロードを行うためのダウンロードプログラムも含まれている。
【００５１】
このダウンロードプログラムが、ＲＯＭ１０５から中央処理装置１０２に読み込まれて、読み込まれたダウンロードプログラムが中央処理装置１０２で実行されることによって、テスト対象ブロック１１１、１１２の試験を行うためのテストプログラムを携帯端末装置基地局を介して本携帯端末装置にダウンロードすることができる。
【００５２】
このダウンロードプログラムによりダウンロードされたテストプログラムは、内蔵された集積回路（以下、ＬＳＩと表記する）などのテスト対象ブロック１１１、１１２の診断のためのテストプログラムであって、単体機能ブロック試験を実施するためのテストプログラムがテスト対象ブロック１１１、１１２ごとに用意されてもよく、テスト対象ブロック１１１、１１２を一括して行う総合的なテストプログラムが用意されてもよい。
【００５３】
このテストプログラムは、携帯端末装置が例えばｉモード（株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ：登録商標）などの通信機能を用いて数種類のテストプログラムが収められている携帯電話用ウェブサイトの所定の外部格納手段であるデータサーバに携帯端末装置基地局を介してアクセスして、この所定の外部格納手段であるデータサーバと通信することにより、携帯端末装置にエアーダウンロードできるようにしておくとよい。
【００５４】
またテストプログラムは、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）ケーブルもしくはＲＳ−２３２Ｃ（TIA/EIA-232-E規格）ケーブルなどを用いて、本携帯端末装置と複数のテストプログラムを保存してある所定の外部格納手段である図示しないパーソナルコンピュータとを有線接続して、接続されたパーソナルコンピュータから必要なテストプログラムをダウンロード部１０１を介してダウンロードできるようにしておいてもよい。
【００５５】
またこのテストプログラムを格納している所定の外部格納手段である図示しない外部記憶装置を用意しておいて、本携帯端末装置と外部記憶装置とを有線接続して、接続された外部記憶装置から必要なテストプログラムをダウンロードできるようにしておいてもよい。
【００５６】
この場合、ダウンロード部１０１は、携帯端末装置基地局と通信を行う高周波送受信機能のほかに、パーソナルコンピュータまたは外部記憶装置とデータの送受信ができるＵＳＢもしくはＲＳ−２３２Ｃなどのインタフェース機能を有するとよい。
【００５７】
ＲＡＭ１０４は、作業用に割り当てられるメモリであり、中央処理装置１０２が制御用プログラムを実行する上で必要とされるデータを一時的に格納する機能を有する。
【００５８】
メモリ制御部１０３は、中央処理装置１０２がＲＯＭ１０５およびＲＡＭ１０４にアクセスしてメモリの読み出し／書き込みをするためのメモリバスの制御を行うメモリコントローラの機能を有する。
【００５９】
さらにこのメモリ制御部１０３は、キー入力部１０６への入力内容に応じて、ＲＯＭ１０５およびＲＡＭ１０４のメモリマッピングを行う機能を有しており、この機能によって行われたメモリマッピングによって、必要な領域を０番地に指定することができる。
【００６０】
この０番地は、通常本携帯端末装置に電源が投入されたとき、もしくは本携帯端末装置の中央処理装置１０２がリセット部１０７によりリセットされたときに、中央処理装置１０２がメモリに記憶されているプログラム、データを最初に読み込みに行く初期の読み込み領域のアドレスの先頭の番地である。
【００６１】
すなわち、通常は中央処理装置１０２の起動時に中央処理装置１０２がプログラムを読み込みにいくのはメモリの０番地からであり、テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、０番地からのアクセス領域は通常メモリ制御部１０３の指定によりＲＯＭ１０５に割り当てられている。
【００６２】
中央処理装置１０２が、０番地からのアクセス領域を読みに行くことにより、ＲＯＭ１０５に格納された制御用プログラムが中央処理装置１０２に読み込まれる。
【００６３】
これに対して、例えばこのメモリ制御部１０３におけるメモリマッピングの仕方によっては、ＲＡＭ１０４の領域を０番地に指定することにより、ＲＡＭ１０４を制御用プログラム領域またはテストプログラム領域に設定することが可能である。
【００６４】
このＲＡＭ１０４の領域が０番地に指定されることで、ＲＡＭ１０４にテストプログラムが格納されているときは、リセット部１０７によるリセット信号の出力によりこのテストプログラムがＲＡＭ１０４から中央処理装置１０２に読み込まれる。
【００６５】
このようにメモリ制御部１０３によるＲＡＭ１０４領域の０番地指定により、制御用プログラムなどの実行ソフトウェアをＲＯＭ１０５に格納したままで、中央処理装置１０２は、０番地に指定されたＲＡＭ１０４に格納されたテストプログラムをＲＡＭ１０４から読み出し実行できる。
【００６６】
また、テストプログラムの実行が終了した後、メモリ制御部１０３によるＲＯＭ１０５領域の０番地再指定により制御用プログラムを実行することができ、従来のような試験終了後にＲＯＭ１０５に実行ソフトウェアである制御用プログラムなどをやき直す手間はいらない。
【００６７】
表示部１０９は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display：液晶ディスプレイ）モジュールなどで構成されており、ＬＣＤ制御部１０８から表示部１０９に入力された信号に応じて表示を行う表示機能を有している。
【００６８】
表示部１０９の表示内容は、本携帯端末装置の操作状態や通話状態などのほか、試験を行うためのテストプログラムをダウンロードする際の指示、操作状態の表示であったり、ダウンロードされたテストプログラムにより行われる試験の試験項目、試験結果などである。
【００６９】
ＬＣＤ制御部１０８は、表示部１０９に種々の表示をさせるための制御を行う機能を有しており、ＬＣＤ制御部１０８に入力された信号を変換、処理して表示部１０９に入力することにより、この変換、処理された信号に対応した表示を表示部１０９に表示させることができる。
【００７０】
キー入力部１０６は、本携帯端末装置の操作を行うためのキー入力を行う機能を有しており、このキー入力部１０６からのキー入力によりテストプログラムのダウンロードを行う指示を出したり、表示部１０９に表示された試験項目を選択したりすることができる。
【００７１】
このキー入力部１０６のキー入力は、携帯端末装置の利用者からの指定によりリセット部１０７から出力されるリセット信号を中央処理装置１０２に入力させることを意味したり、メモリ制御部１０３により中央処理装置１０２の読み込み領域の指定が変更されることを意味することもある。
【００７２】
リセット部１０７は、キー入力部１０６より特定のキーが入力されることにより、メモリ制御部１０３が０番地の領域をＲＡＭ１０４に割り当てた後、リセットが指定されたときに、リセット部１０７から中央処理装置１０２に対しリセット信号の挿入を行い、中央処理装置１０２にリセットを掛ける機能を有した回路である。
【００７３】
またリセット部１０７は、キー入力部１０６より特定のキーが入力される代わりにメモリ制御部１０３から出力されたメモリマッピングの切り替えの完了の通知により、中央処理装置１０２に対しリセット信号の挿入を行い、中央処理装置１０２にリセットを掛けることを行ってもよい。
【００７４】
ダウンロード部１０１は、本携帯端末装置が携帯端末装置基地局との送受信を行う機能を有した回路であり、携帯端末装置基地局を介して携帯電話用ウェブサイトからテストプログラムをダウンロードする機能を有する。
【００７５】
テスト対象ブロック１１１、１１２は、集積回路などの電気回路で構成され、通信を行うための処理を中央処理装置１０２とともに行う信号処理、データ処理、演算処理などの機能を有する。
【００７６】
電源制御部１１０は、テスト対象ブロック１１１、１１２に電源を供給し、また供給される電源電圧を制御する機能を有する。
【００７７】
このため、テストプログラムによりテスト対象ブロック１１１、１１２の試験を行うときに、中央処理装置１０２からの指令によりテスト対象ブロック１１１、１１２に供給される電源電圧を変化させることができる。
【００７８】
電源制御部１１０による供給電源の電圧の変化は、内蔵されたＬＳＩなどのテスト対象ブロック１１１、１１２の故障、不良を判定する際に、テスト対象ブロック１１１、１１２の動作における電圧マージンをみるために行う。
【００７９】
従来は、このようなＬＳＩの供給電源の電圧を変化させるような試験は携帯端末装置の図示しない回路基板からＬＳＩなどのテスト対象ブロック１１１、１１２を１つずつ取り外してテスト用の回路基板、試験治具などに装着して行っていた。
【００８０】
本携帯端末装置は、電源制御部１１０を設けテスト対象ブロック１１１、１１２への供給電源の電圧を変化させる機能を持たせることにより、携帯端末装置の回路基板にテスト対象ブロック１１１、１１２を装着したまま取り外さずに供給電源電圧を通常のレベルから変化させて自己テストすることが可能となる。
【００８１】
これらのダウンロード部１０１、中央処理装置１０２、ＲＯＭ１０５、ＲＡＭ１０４、キー入力部１０６、ＬＣＤ制御部１０８および表示部１０９などの構成部位は、従来の携帯端末装置に備えられている構成部位をそのまま使用してもよく、これらの構成部位を既に説明したような構成、機能とすることにより、本実施形態に用いてもよい。
【００８２】
次に本実施形態の携帯端末装置の動作について、図１および図２を用いて詳細に説明する。
【００８３】
図２は、本実施形態の携帯端末装置の処理動作を示すフローチャートである。
【００８４】
本携帯端末装置の利用者が、本携帯端末装置に内蔵されたＬＳＩの動作について試験を行いたい場合には、利用者はテスト用のプログラムのダウンロードを開始することを指示するキー入力部１０６の特定のキーを押す。
【００８５】
利用者はこのキー入力により表示部１０９のメニュー画面の指示にしたがって、キー入力部１０６からの入力によりダウンロードするテストプログラムの選択を行う。
【００８６】
利用者のテストプログラムの選択に応じて、試験に必要なテストプログラムが携帯端末装置基地局からダウンロード部１０１を介してダウンロードされる（ステップ２１０）。
【００８７】
このようにテストプログラムが携帯端末装置にダウンロードされると、ダウンロードされたテストプログラムは、中央処理装置１０２の指示によりメモリ制御部１０３を介してＲＡＭ１０４メモリに保存される（ステップ２２０）。
【００８８】
次に利用者は、テストプログラムのダウンロードが終了しテストプログラムがＲＡＭ１０４に保存された旨の通知が表示部１０９に表示されると、表示部１０９に表示された指示によって指定されたキー入力部１０６のメモリマッピングを切り替える特定のキーによるキー入力を行う。
【００８９】
この特定のキー入力によってメモリ制御部１０３は、それまでＲＯＭ１０５領域に割り当てられていた０番地を新たにＲＡＭ１０４領域に割り当てるように携帯端末装置内のメモリマッピングを切り替える（ステップ２３０）。
【００９０】
メモリマッピングの切り替えを完了したメモリ制御部１０３は、このメモリマッピングの切り替えの完了をリセット部１０７に通知し、この通知を受けたリセット部１０７は、中央処理装置１０２に対してリセット信号の挿入を行う（ステップ２３５）。
【００９１】
ステップ２３０において行われるメモリマッピングを切り替えおよびステップ２３５において行われるリセット信号の挿入は、代わりに下記のように行ってもよい。
【００９２】
ダウンロードが終了したことが中央処理装置１０２からメモリ制御部１０３に通知され、この通知にしたがってメモリ制御部１０３はＲＡＭ１０４を初期の読み込み領域に指定した後、メモリ制御部１０３からリセット部１０７への読み込み領域の指定終了の通知により、リセット部１０７が中央処理装置１０２をリセットさせるようにしておいてもよい。
【００９３】
メモリ制御部１０３によりメモリマッピングの切り替えを行った場合、通常はメモリマッピングの切り替えを行った後も中央処理装置１０２がリセットされない限り、通常の制御用プログラムが中央処理装置１０２で実行されている状態のままである。
【００９４】
リセット部１０７から中央処理装置１０２へのリセット信号の挿入によって、中央処理装置１０２は、ステップ２３０のメモリマッピングの切り替えまで０番地に指定されたＲＯＭ１０５に保存されている制御用プログラムを読み込み実行していた代わりに、新たに０番地に指定されたＲＡＭ１０４に保存されているテストプログラムを読み込み、読み込んだテストプログラムを起動する（ステップ２４０）。
【００９５】
中央処理装置１０２は、起動したテストプログラムにしたがって、内蔵されたＬＳＩであるテスト対象ブロック１１１、１１２の試験項目をＬＣＤ制御部１０８を介して表示部１０９に表示させる（ステップ２５０）。
【００９６】
利用者は、表示部１０９に表示されたテスト対象ブロック１１１、１１２の試験項目から希望する項目をキー入力部１０６のキー入力により選択して（ステップ２５５）、試験項目で選択された試験をテスト対象ブロック１１１、１１２に対して行う。
【００９７】
または、テストプログラムの実行により、自動的に各試験項目が行われるようにしておいもよい。
【００９８】
この実行中の試験項目は、随時表示部１０９に表示される（ステップ２６０）。
【００９９】
この試験の実行は、テスト対象ブロック１１１、１１２の動作が正常か否かを確認するためのもので、具体的にはテスト対象ブロック１１１、１１２の演算機能が正常に動作しているかの確認を行ったり、テスト対象ブロック１１１、１１２の信号処理機能、データ処理機能や制御機能などが正常に動作しているかの確認を行う試験である。
【０１００】
この試験は、例えばＬＳＩなどのテスト対象ブロック１１１、１１２の出荷検査に用いられる試験と同様の試験であってもよい。
【０１０１】
またこれらの試験を実行するに当たっては、テストプログラムの指示にしたがって、電源制御部１１０の制御によりテスト対象ブロック１１１、１１２に供給されている電源の供給電圧を段階的に変化させる（ステップ２７０）。
【０１０２】
この電源の供給電圧を段階的に変化させる試験の実施は、携帯端末装置に装着された図示しない電池パックの供給電圧が降下して低電圧になったことによりこの特定の低電圧値の状態でテスト対象ブロック１１１、１１２が故障を示す異常な動作を、この試験により再現させることを意味する。
【０１０３】
この試験の実施により、ＬＳＩ故障の中でも半導体メーカの出荷選別で流出しやすいＬＳＩ内のトランジスタのスピード不良を試験により容易に発見することができる。
【０１０４】
またこの電源電圧を変化させる試験の実施は、携帯端末装置が特定の温度において動作が正常でない状態になることがあり、この特定の温度において正常でない動作を擬似的に作り出し再現させることを意味する。
【０１０５】
次に、電圧変動試験終了の判定を行う（ステップ２８０）。
【０１０６】
あらかじめ定められた供給電圧を段階的に変化させる一連の電圧振り試験が完了したと判定された場合には、ステップ２８０の下方の「ＹＥＳ」の流れを辿る。
【０１０７】
中央処理装置１０２は、テストプログラムによって行った試験結果をＬＣＤ制御部１０８を介して表示部１０９に表示させる。（ステップ２９０）。
【０１０８】
この表示部１０９に表示された試験結果により、本携帯端末装置の利用者は試験結果の良否を知ることができる。
【０１０９】
この表示部１０９に試験結果を表示させるとともに、行われた試験項目のなかで試験結果が否である項目がある場合には、テストプログラムによる中央処理装置１０２の指示によって、ＬＣＤ制御部１０８を介して表示部１０９に表示を行い本携帯端末装置の修理を行う必要があることを利用者に通知させてもよい。
【０１１０】
さらには、行われた試験項目のなかで試験結果が否である項目がある場合には、この試験結果を携帯端末装置基地局を介して例えば携帯端末装置の修理サービスセンターに通知し、本携帯端末装置の故障履歴を修理サービスセンターにおいて記録させたり、通知を受けた修理サービスセンターが修理の対応をしたりしてもよい。
【０１１１】
あらかじめ定められた供給電圧を段階的に変化させる一連の電圧振り試験が完了していないと判定された場合には、ステップ２８０の右方の「ＮＯ」の流れを辿り、テストプログラムによってさらにステップ２６０の試験実行し、ステップ２７０のテスト対象ブロック１１１、１１２への供給電圧を変化させ、引き続き試験を行う。
【０１１２】
このようにして、テストプログラムによる試験が終了して試験結果が表示された後、利用者が本携帯端末装置への電源再投入をキー入力部１０６へのキー入力によって行うことにより、メモリ制御部１０３を介してＲＡＭ１０４に０番地が再度割当てられて、この再割当の後リセット部１０７を介して中央処理装置１０２がリセットされる（ステップ３００）。
【０１１３】
このリセットがなされなければ、メモリ制御部１０３によってＲＯＭ１０５に０番地が再度割当てられはいるが、ＲＡＭ１０４に格納されテストプログラムがステップ２４０から起動・実行されて試験が終了したテストモードの状態のままである。
【０１１４】
このリセット部１０７によるリセットがなされることで、携帯端末装置は電源投入時の初期設定に戻り、ＲＡＭ１０４に格納されていたデータはクリアされるとよい。
【０１１５】
電源投入時の初期設定では０番地に指定されるアクセス領域はＲＯＭ１０５であり、制御用プログラムである実行ソフトウェアはＲＯＭ１０５に格納されたままであるので、この制御用プログラムが読み出されることになる。
【０１１６】
中央処理装置１０２は、リセットされたことにより、ＲＯＭ１０５に格納されている制御用プログラムを読み込んで、制御用プログラムの再起動を行う（ステップ３１０）。
【０１１７】
この再起動によりＬＳＩの試験実施状態であった携帯端末装置は、通常の通話、通信を行う運用状態に復帰する。
【０１１８】
ステップ３００において行われるリセットおよびステップ３１０において行われる制御用プログラムの再起動は、代わりに下記のように行ってもよい。
【０１１９】
試験が終了したことが中央処理装置１０２からメモリ制御部１０３に通知され、この通知にしたがってメモリ制御部１０３はＲＯＭ１０５を初期の読み込み領域に再度指定した後、メモリ制御部１０３からリセット部１０７への読み込み領域の指定終了の通知により、リセット部１０７が中央処理装置１０２をリセットさせ、再起動が自動的に行われるようにしておいてもよい。
【０１２０】
このようにして、テストプログラムをダウンロードしてＬＳＩの試験を行うことで、携帯端末装置に故障が発生した場合に、故障が搭載されているＬＳＩに起因するものか、内蔵されているソフトウェアによる不具合であるのか、ユーザの操作ミスによるものであるのか、電源の出力電圧の降下によるものであるのかなどを分析するための情報となる。
【０１２１】
以上説明したように本発明によれば、次に示すような優れた効果を得られる。
（１）本携帯端末装置は、動作に異常があった場合、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているＬＳＩの試験を行うことにより、利用者にこの携帯端末装置の動作の異常が搭載されているＬＳＩに起因するものか、また電源の出力電圧の降下に起因する故障かを知らせることができる。
（２）本携帯端末装置は、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているＬＳＩの試験を行うことにより、従来行っていたＬＳＩを取り外して試験を行うことが不要となり、調査に掛かる手間と時間を従来に比べて大幅に短縮することができる。
（３）本携帯端末装置は、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているＬＳＩの試験を行うことにより、従来のように試験を行うに当たってのＬＳＩの取り外し、交換の際に生じる他の構成部品やＬＳＩの搭載されている回路基板または、ＬＳＩを損傷することがなくなる。
（４）また本携帯端末装置は、ＲＯＭに格納された制御用プログラムをそのままにしてダウンロードされたテストプログラムをＲＡＭに格納して使用することにより、テストプログラムを制御用プログラムの代わりにＲＯＭに格納し試験終了後に元の状態に戻すために制御用プログラムなどのソフトウェアをＲＯＭに再度焼きなおす手間が掛からない。試験終了後は、本携帯端末装置を再起動することによって携帯端末装置を通常使用する状態に戻すことができる。
（５）また本携帯端末装置は、ダウンロードしたテストプログラムを通常使用しているＲＡＭに一時的に保存して試験に用いるため、このテストプログラムを保存する専用のＲＯＭを用意する必要がなく、携帯端末装置の小型化、軽量化が容易になる。
（６）本携帯端末装置は、電源制御部が設けられていることにより、内蔵のＬＳＩを携帯端末装置から取り外すことなく、供給電源の電圧変化によるＬＳＩの動作の良否を試験により判定することができる。この電源制御部の電圧変化により故障現象が再現するときは、この故障が電圧の変化に起因することが分かる。本携帯端末装置では、従来のような試験を行うためのバッテリバックアップメモリおよび専用のメモリ保持用電源は不要である。
【図面の簡単な説明】
【０１２２】
【図１】本実施形態の携帯端末装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本実施形態の携帯端末装置の処理動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１２３】
１０１    ダウンロード部
１０２    中央処理装置
１０３    メモリ制御部
１０４    ＲＡＭ（第１の記憶装置）
１０５    ＲＯＭ（第２の記憶装置）
１０６    キー入力部
１０７    リセット部
１０８    ＬＣＤ制御部
１０９    表示部
１１０    電源制御部
１１１    テスト対象ブロック
１１２    テスト対象ブロック
２１０〜３１０    ステップ
【図１】
2007150543.tif 000003
【図２】
2007150543.tif 000004