(57)【要約】【課題】記憶装置の記憶媒体の領域及び状態について、空間的及び／又は時間的に細かい管理により、欠陥的特徴に応じて適した対処を施し、情報損失などを抑える。【解決手段】ＣＰＵ及び処理対象ＨＤＤにおいて、ディスクの領域における空間的及び／又は時間的な状態の管理に応じて、監視や交代処理などを行う。ＣＰＵ及びＨＤＤは、ベリファイ等により欠陥を発見し（Ｓ１０）、ある領域を、欠陥の個数などによって同じ欠陥的特徴を有するグループとしてグルーピングし（Ｓ２０）、そのグループについて、特徴の判断に応じて（Ｓ３０）、ベリファイや交代処理による空間的及び／又は時間的な領域又は範囲を変えた対処処理を実行する（Ｓ４０）。特に丘状領域を検出して対処処理する。【選択図】図６
2007164823.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶媒体を駆動する記憶装置であって、
前記記憶媒体の領域をベリファイ動作することにより前記記憶媒体の所定の単位領域に正常にデータを保持しているかどうかを確認することにより欠陥を検出する第１の手段と、
前記記憶媒体における第１の領域が、所定の範囲のリトライ回数で当該第１の領域のデータをリード可能な程度の欠陥であった場合に、当該第１の領域のデータを前記記憶媒体上の第２の領域へ書き込む処理を行う第２の手段と、
前記記憶媒体における前記所定の単位領域以上の大きさの第３の領域内における、前記第１の手段により検出した欠陥の個数又は密度の判断をもとに、当該第３の領域を、欠陥的特徴に応じたグループとしてグルーピングする第３の手段と、
前記グループについて、その欠陥的特徴に応じて、前記第１の手段及び／又は第２の手段による空間的及び／又は時間的な処理対象の領域又は範囲を変えた対処処理を実行する第４の手段とを有することを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
記憶媒体を駆動する記憶装置であって、
前記記憶媒体の領域を所定のタイミングで全部又は一部ベリファイ動作することにより前記記憶媒体の所定の単位領域に正常にデータを保持しているかを確認することにより欠陥を検出する手段と、
前記手段により欠陥が検出された領域又は交代処理された領域の周囲にある正常な領域に対して、その前記手段によるベリファイ動作の実行の頻度をその他の正常な領域に比べて上げる手段とを有することを特徴とする記憶装置。
【請求項３】
請求項１記載の記憶装置において、
前記第３の手段の判断において前記第３の領域内における前記欠陥の個数又は密度が所定の第１の範囲内であった場合に、前記第４の手段の対処処理として、当該第３の領域の全体を対象として、そのデータを前記第２の手段により前記第２の領域へ書き込む処理を行うことを特徴とする記憶装置。
【請求項４】
請求項１記載の記憶装置において、
前記第３の手段の判断において前記第３の領域内における前記欠陥の個数又は密度が所定の第２の範囲内であった場合に、前記第４の手段の対処処理として、当該第３の領域を包含するシリンダ領域全体を対象として、そのデータを前記第２の手段により前記第２の領域へ書き込む処理を行うことを特徴とする記憶装置。
【請求項５】
記憶媒体であるディスクを駆動する記憶装置であって、
前記ディスクの領域をベリファイ動作することにより前記ディスクの所定の単位領域に正常にデータを保持しているかどうかを確認することにより欠陥を検出する第１の手段と、
前記ディスクにおける第１の領域が、所定の範囲のリトライ回数で当該第１の領域のデータをリード可能な程度の欠陥であった場合に、当該第１の領域のデータを前記ディスク上の予め用意されている第２の領域へ書き込む処理、又は、当該第１の領域をデフェクト処理して前記第２の領域以外の領域へ該当データを書き換える処理を行う第２の手段と、
前記ディスクにおける前記所定の単位領域以上の大きさの第３の領域における、前記第１の手段により検出した欠陥の個数又は密度が所定の範囲内であった場合に、当該第３の領域を、同じ欠陥的特徴を有するグループとしてグルーピングする第３の手段とを有し、
前記第３の手段により前記欠陥を含む領域をグルーピング及び特徴付ける際に、前記欠陥の検出及び識別が可能な最小の単位領域の個数又は密度を用い、前記最小の単位領域として、前記ディスクのセクタ単位よりもサイズが小さい単位領域であるＥＣＣブロックを用いることを特徴とする記憶装置。
【請求項６】
記憶媒体を駆動する記憶装置であって、
前記記憶媒体の領域をベリファイ動作することにより前記記憶媒体の所定の単位領域に正常にデータを保持しているかどうかを確認することにより欠陥を検出する第１の手段と、
前記記憶媒体における第１の領域が、所定の範囲のリトライ回数で当該第１の領域のデータをリード可能な程度の欠陥であった場合に、当該第１の領域のデータを前記記憶媒体上の予め用意されている第２の領域へ書き込む処理、又は、当該第１の領域をデフェクト処理して前記第２の領域以外の領域へ該当データを書き換える処理を行う第２の手段と、
前記第２の手段による前記第２の領域へ書き込む処理又は前記書き換える処理の際に、その書き込み先の領域として、前記欠陥を含む領域から空間的に相対的に近くにあるトラック用交代領域を選択し、その領域に該当データを詰めて書き込む処理を行う手段とを有することを特徴とする記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶媒体又は記録媒体を駆動してその領域にデータ／情報を読み書きする記憶媒体駆動装置などの記憶装置の技術に関し、特に、磁気ディスクドライブ（ＨＤＤ）や光ディスクドライブ等のディスク駆動装置及びその制御手段を含む記憶システムなどにおいて、そのディスク等の記憶媒体の領域を対象とした、ベリファイ（検証）動作による、欠陥（欠陥領域）の検出や、その欠陥に対する交代処理などの対処を行う記憶制御及び処理方法などに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のＨＤＤに関し、ディスクにおける情報損失を招く欠陥、欠陥による情報損失を防ぐための交代処理、欠陥の管理方法と問題点、及び、交代領域リード（データ読み取り）時の問題点などについて以下に述べる。
【０００３】
まず、欠陥の種類と交代処理について述べる。ＨＤＤの記録面（ディスク面）には、ミクロレベルで見ると凹凸がある。図８には、ＨＤＤの記録面において発生し得る欠陥として、単発的な欠陥（凸状領域）と丘状の欠陥（丘状領域）との比較のためのイメージを示す。記録面において、高い凸状になっている部分（凸状領域９０１）がヘッドの飛行高度（破線で示す）にかかっている場合は、これらが接触して記録面の一部が削られてしまうことがある。その際、削られた部分に記録されていた情報が消えてしまう。この削られた部分を、欠陥又は欠陥領域などと称する。欠陥の種類には、このように面上で単発的に発生するものや、丘状領域９０２のような、ある領域で集中して発生するものがある。
【０００４】
ＨＤＤにおいて記録面の欠陥をリードまたはベリファイすると、ＥＣＣ（Error Correcting Code：誤り訂正符号乃至その処理）エラーが発生する場合がある。ここで、ベリファイとは、該当領域に記録（書き込み）されているデータを読み取ってＥＣＣ検査を行う動作であり、リードとは、ベリファイに加え読み取ったデータ（正しいデータ）をホストに転送する動作である。欠陥の状態によって、その症状が軽い場合は、規定回数のリトライ（再試行動作）でデータ（正しいデータ）を何とか取得することができる。
【０００５】
通常のディスク、即ち従来存在するある仕様のディスクの記録面には、通常のデータ（ユーザデータ）が記録される領域（データ領域、ユーザ領域などと称する）とは別に、ユーザデータが記録される領域が破損等（即ち欠陥相当）により使用できないと判断した場合に代わりにデータを記録することができる領域（交代領域や予備領域などと称する）が予め用意されている。
【０００６】
従来、前記リトライでデータを取得できた場合、取得したデータを交代領域に記録しなおす処理（交代処理）を行い、これにより情報損失を防いでいる。前記欠陥の状態における症状が重い場合は、リトライでもデータを取得することができず、情報損失になってしまう。
【０００７】
また、記憶媒体のある領域に対するベリファイやリード等の動作を禁止して未使用にすることをデフェクト処理と称し、デフェクト処理された領域をデフェクト領域と称する。また、交代処理とは、ある領域のデータを交代領域に記録しなおす処理（換言すれば移動や退避する処理）、あるいは、欠陥領域をデフェクト処理して、そのデフェクト領域のデータを交代領域へ記録しなおす処理である。潜在的な欠陥は、前記ベリファイ及びリトライ等の動作により、顕在化された欠陥領域として検出され認知される。
【０００８】
前記交代処理は、通常、セクタ単位で行われ、また、処理されたセクタ（交代元）を欠陥セクタ等と称する。欠陥セクタは、例えば従来のある仕様のＨＤＤのディスクでは、約15[セクタ/年]程度発生する。
【０００９】
この場合、欠陥に対処する手段として、通常は月に一度、記憶媒体の全面をベリファイしてテスト／確認する動作（パトロールベリファイと称する）を行い、欠陥の症状が軽いうちにリトライでデータを何とか取得して交代処理等することにより、情報損失を未然に防いでいる。
【００１０】
また、ヘッドと記録面が接触することにより、その接触領域が削られて欠陥領域となると共に、ヘッド側も同様に傷つく。最悪の場合は、ヘッドが破損することもあり得る。
【００１１】
更に、ＨＤＤの記録面には、基準面よりも高い丘状の領域になっている部分（丘状領域９０２）、即ち、単発的な凸状領域９０１よりも広く連続して凸状に盛り上がっている領域がある。この丘状領域９０２（以下、単に丘ともいう）にも更に凹凸があり、その凸部にヘッドが接触した場合には削られて欠陥となる。この丘状領域９０２の上では、欠陥が高い頻度で集中して発生するものであり、ＥＣＣ検査結果でエラー訂正不可となる頻度や、前記ヘッドが傷つき破損する可能性が高くなる。
【００１２】
記録面上の高い山（９０１）や高い丘（９０２）は、ディスク製造時から存在する。製造時にそれらを均すために、ワッフルヘッドと呼ばれる特殊なヘッドで記録面を削っているが、完全には削りきれない。さらに、ライト（データ書き込み）＆ベリファイを行い、規定回数のリトライでエラーとなるセクタについては、出荷前に交代処理される。またこの際、上記対処と同時に、欠陥が拡がることを懸念して、その周囲のセクタに対しても交代処理を施している。
【００１３】
特開平５−１２０８１５号公報（特許文献１）においては、交代処理の回数から記録媒体の劣化状態を監視すると共に、交代処理の回数が規定値を越えたときに警告を発する技術（第１の方法とする）が開示されている。
【００１４】
特開平１０−２７４２４号公報（特許文献２）において、実施例の第６の態様には、交代領域を先読みしてバッファから読むことで交代領域のリード時間を短縮する技術が開示されている。本特許文献２では、交代領域の読み込み時の工夫が述べられている。
【特許文献１】特開平５−１２０８１５号公報
【特許文献２】特開平１０−２７４２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
前記従来の仕様のディスクでは、欠陥の発生は、15[セクタ/年]以下の割合となっている。このディスクに関しては、平均1〜2[セクタ/月]の欠陥が発生することになり、月１回がパトロールベリファイの実行頻度として適切と考えられている。しかし、欠陥や丘（９０２）は、空間的な記録面で平均して発生するわけではなく、また時間的にも平均して発生するわけではない。従って、記録面のある場所（空間的範囲）で、あるいは、ある時間的範囲で、欠陥が集中して増えた場合でも、従来技術では記録面全体としての欠陥数しか判らないため、その集中的な欠陥の発生を認知できず情報損失してしまうことになる。
【００１６】
また、従来の欠陥管理方法及び監視・交代処理方法などの問題点について以下に述べる。記録面におけるある範囲（面領域）で集中的／爆発的に欠陥が増えた場合は情報損失の可能性が高い。そのため、その部分の範囲でデータを保持することを避けたい、という考えがある。
【００１７】
しかし、前記特許文献１の第１の方法の場合、記録面全体としてまとめて欠陥を監視しているため、ある範囲で集中して欠陥が増えているのか、記録面全体で平均して欠陥が増えているのか、については判らないという問題点がある。
【００１８】
また、交代領域をリードする際の問題点を以下に述べる。例えばある領域をデフェクト処理及び交代処理している場合で該当データをリードしたい場合、物理的なヘッドの動作として、該当デフェクト領域とは離れた交代領域にアクセスしなければならない。即ちヘッドをより遠くへ移動させなければならない。そのため、該当データをリードするのに時間がかかるという問題がある。
【００１９】
従来、交代領域は、目的別に二種類が設けてある。一つは、トラック毎などに設けられている。この領域は、該当トラックで起きた欠陥の交代処理に使用され、近いため比較的高速にアクセスできる。この領域をトラック用（第１種）交代領域と称する。もう一つは、ディスクにおける最終トラックなどに設けられている。この領域は、トラック上のトラック用交代領域が使い尽くされてしまった場合に用いられ、遠いため比較的アクセスは遅くなる。この領域をディスク用（第２種）交代領域と称する。
【００２０】
主な問題点をまとめると、従来では記録媒体面の場所毎や時間毎の危険度／状態に応じた監視や交代処理などの対処は行っていないため、欠陥の管理及び対処が不十分であること、特に、前述した集中的な欠陥の発生に対応できず、情報損失、機器劣化、処理性能劣化などを招いてしまうことである。
【００２１】
本発明は以上のような問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、ディスク駆動装置などの記憶装置の技術において、記憶媒体の領域及び状態について、空間的及び／又は時間的に細かく観察するような管理・制御により、欠陥の種類／特徴などに応じて、適した監視・検査や交代処理などの対処を施して、情報損失などを抑えることができる技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。前記目的を達成するために、本発明は、記憶媒体を駆動する機能、少なくともベリファイ機能やリード／ライト機能を備える記憶装置又は記憶システム、例えばＨＤＤ等のディスク駆動装置の技術であって、以下に示す技術的手段を備えることを特徴とする。なお、処理対象となる記憶媒体の領域（記憶領域、即ちデータ記録層など）は、面（２次元）や体（３次元）など、媒体及び記録の形式に応じる。
【００２３】
（１）グループの欠陥的特徴に応じた対処処理手段：  本記憶装置は、記憶媒体の領域における全体ではなく、部分的な領域（範囲、場所、エリアなどとも称する）、例えば磁気ディスクのセクタ単位などの領域毎の状態、及び／又は、ある領域の時間的な状態に着目して、特に欠陥の発生に係わる危険度に着目して、該当領域の特徴に応じた監視（パトロール）・検査や交代処理などの対処処理を施す手段を備えることを最も主要な特徴とする。
【００２４】
本記憶装置は、特に記憶媒体における丘状領域９０２に着目して、ある領域（エリア）の危険度を、空間的及び／又は時間的な欠陥的特徴の判断に応じてグルーピングし特徴付ける。即ち欠陥の個数、密度や、頻度などに応じて、いくつかのレベルなどに区分する。例えば、＜レベル１＞：「欠陥領域を含まないエリア」：危険度小：第１種グループ、→＜レベル２＞：「丘ではなく単発的な欠陥を含むエリア」：危険度中：第２種グループ、→＜レベル３＞：「丘を含むエリア」：危険度大：第３種グループ、といったように所定の判定に応じて区分する。そして、本記憶装置は、上記グループの特徴付けに応じて、監視や交代処理などの対処を施すようにする。
【００２５】
本記憶装置は、まず、記憶媒体の領域を、定期的あるいは所定のスケジュールに従うタイミング等で、その全部又は一部をベリファイ動作することにより、セクタ等の所定の単位領域に正常にデータ／情報を保持しているかどうかを確認して、欠陥領域乃至単位があれば検出する第１の手段（ベリファイ手段及び欠陥検出手段）を備える。前記確認は例えばＥＣＣ検査による。また、本記憶装置は、第１の手段により記憶媒体におけるある第１の領域が、所定の範囲のリトライ回数などで該当データをリード（読み書き）可能な程度の欠陥であった場合に、記憶媒体に予め用意されている第２の領域（交代領域）などへ、第１の領域の該当データを書き込みする処理（交代処理）を行う第２の手段、更には欠陥領域をデフェクト処理する手段を備える。そして、本記憶装置は、記憶媒体における所定の単位領域以上の大きさの第３の領域内における、第１の手段により検出した欠陥の個数又は密度などの判断をもとに、例えば欠陥の個数が所定の範囲（閾値）内であった場合に、当該第３の領域を、同じ欠陥的特徴（レベル）を有するグループとしてグルーピングする第３の手段を備える。そして、本記憶装置は、そのグループについて、その欠陥的特徴に応じて、第１及び／又は第２の手段による空間的及び／又は時間的な処理対象（領域、範囲、頻度など）を変えた対処処理を実行する第４の手段を有する。
【００２６】
前記第１及び／又は第２の手段による処理方法・内容は、例えば、１：欠陥領域乃至それを含む交代処理対象領域、２：ベリファイの対象となる空間的な領域あるいは時間的な頻度、３：交代先となる領域の種類やサイズや位置や交代処理方法、といった要素の違いによる。それらの要素乃至その設定を第４の手段で変更して第１や第２の手段で実行する。これにより、グループの特徴付けに応じた対処処理が実現される。
【００２７】
（２）欠陥領域の周囲領域に対するベリファイ手段：  また、本記憶装置は、記憶媒体の一部領域を対象として、定期的などのパトロールベリファイ（全領域／一部領域ベリファイ）を行う。その一部領域として、欠陥領域又はそのデフェクト領域（交代処理された領域）の周辺の領域に対して、その他の領域よりも、上記ベリファイの頻度や回数を多くする。即ち、欠陥の周囲領域を予め監視して予防する。
【００２８】
（３）丘状領域に対する交代処理手段：  また、本記憶装置は、ベリファイ等により欠陥を発見すると、その周りの領域を探索する。そして、これにより別の欠陥を発見した場合は、それらの付近において、最も丘（９０２）らしい範囲を判定する。即ち、ある領域内に、欠陥単位が、ある閾値、例えば所定範囲内の個数、存在する場合は、その領域を、丘状領域、即ち潜在的な欠陥を内在した中規模のグループ領域であると判定及び特徴付ける。そしてその後、この丘状領域の全体を対象として、交代処理等の対処処理を施す。例えば、ある領域における潜在的な欠陥の程度は、欠陥単位の密度（＝個数／面積）や、危険度×個数などを計算して、その値を所定の閾値と比較することで判定する。
【００２９】
（４）丘状領域を含むシリンダに対する交代処理手段：  また、本記憶装置は、前述の手段によって丘状領域と判定した場合に、当該領域について、欠陥の程度が、ある閾値の範囲であれば当該領域を交代処理し、更に、より大きなある閾値以上であれば、その丘状領域を包含するシリンダ領域を、交代領域へ交代処理する。または、交代領域の容量は限られているため、そのシリンダ領域の容量がある値より大きければ、そのシリンダ領域のデータを別の所にコピーし、そのシリンダ領域をデフェクト処理する。
【００３０】
（５）セクタより小さい単位での処理手段：  また、本記憶装置は、前述の各処理において、例えばセクタ単位で欠陥領域として処理する以外にも、セクタ単位よりもサイズが小さい領域単位、例えばＥＣＣブロックを用いて処理する。ＥＣＣブロック単位で、欠陥単位の個数をカウントし、これによりグループの特徴付けを行う。欠陥単位の個数としてＥＣＣブロックを用いて、密度（空間上の欠陥発生程度）や成長速度（時間上の欠陥発生程度）などを計算して特徴付ける。
【００３１】
（６）交代処理で領域を選択・使用する手段：  また、本記憶装置は、交代処理または書き換え処理などにおいて、交代元の領域から相対的に近くにある領域を交代領域として選択して使用する。丘といった比較的大きな範囲を交代処理する場合、あるトラックでの欠陥の大きさが、そのトラック用の交代領域の大きさより大きい場合が考えられ、その場合にはディスク用（第２種）交代領域を使用しなければならずアクセスが遅くなる懸念がある。そこで、前記ディスク用（第２種）交代領域を使用しないで高速に交代領域をアクセスするために、前記丘状領域に対する交代領域として、前記ディスク用交代領域を使用せずに、該当欠陥の生じているトラックの近接トラックの前記トラック用（第１種）交代領域を使用、確保する。また、その領域に、該当データをできる限り詰めて書き込むようにし、使用領域を節約する。この手段では、前記特開平１０−２７４２４号公報（特許文献２）における第６の態様とは異なり、交代領域を書き込む時点で工夫をしている。
【００３２】
以上のような手段により、記憶媒体の場所毎や時間毎の危険度／状態に応じた監視や交代処理などの対処を行い、欠陥の管理及び対処を十分に行い、特に、前述した集中的な欠陥の発生に対応する。
【発明の効果】
【００３３】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。本発明によれば、ディスク駆動装置などの記憶装置の技術において、記憶媒体の領域及び状態について、空間的及び／又は時間的に細かく観察するような管理・制御により、欠陥の種類／特徴などに応じて、適した監視・検査や交代処理などの対処を施して、情報損失などを抑えることができる。特に、集中的な欠陥（丘状領域）による情報損失、ヘッド等の早期劣化、交代処理等によるアクセス時間の悪化などを防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部には原則として同一符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００３５】
＜システム構成＞
まず、本発明の各実施の形態における記憶システムとなる情報処理装置１００の基本的な構成を説明し、その後、各実施の形態の特徴部分について説明する。図１は、情報処理装置（記憶システム）１００の構成として、各部とその接続、プログラムの配置などを示す。本システムは、各部がバスで接続される一般的なコンピュータ乃至情報処理装置である。本情報処理装置１００は、本実施の形態の記憶装置となるＨＤＤ１０を内蔵し、各実施の形態で共通の構成である。本情報処理装置１００は、ＣＰＵ１、メモリ２、ＨＤＤ制御プログラム記憶部３、及び、ＨＤＤ１０を有する。情報処理装置１００は、パトロールベリファイプログラム２０によるパトロールベリファイ機能を備える。本パトロールベリファイ機能は、各記憶制御及び処理方法に従う処理機能を含む。
【００３６】
ホストとなるＣＰＵ１と、検査や交代処理などの処理対象となる１つ以上のＨＤＤ（処理対象ＨＤＤ）１０とが接続されている。処理対象ＨＤＤ１０は、例として２台（１０−１，１０−２）が接続される場合を示している。ＨＤＤ制御プログラム記憶部３は、ＨＤＤ等の記憶手段であり、パトロールベリファイプログラム２０を含むＨＤＤ制御プログラムが記憶されている。ＨＤＤ制御プログラムは、ＨＤＤ制御プログラム記憶部３からＲＡＭ等のメモリ２に呼び出され、ＣＰＵ１により実行される。これにより、ＨＤＤ１０に対するパトロールベリファイや対処処理などの各制御及び処理が実現される。
【００３７】
ＨＤＤ制御プログラムの構成として、パトロールベリファイプログラム２０は、スケジュールモジュール２１、ベリファイモジュール２２、交代処理モジュール２３等から成る。必要に応じて各モジュールが呼び出され実行される。図１中にパトロールベリファイプログラム２０の各モジュールの呼び出し関係を示している。スケジュールモジュール２１は、ベリファイ等の各処理の実行スケジュール／タイミングの管理・制御を行うためのプログラムである。ベリファイモジュール２２は、ベリファイ及びその関連処理のためのプログラムである。交代処理モジュール２３は、交代処理及びその関連処理のためのプログラムである。
【００３８】
パトロールベリファイプログラム２０による処理動作として、スケジュールモジュール２１が、規定された時刻に、ベリファイモジュール２２を呼び出して、それによりＨＤＤ１０内の記憶媒体を対象としたベリファイを行う。また、そのベリファイにより記憶媒体における欠陥を発見した場合は、更に交代処理モジュール２３等を呼び出して、それにより交代処理等の対処処理を行う。
【００３９】
図２は、処理対象ＨＤＤ１０の構成を示す。ＨＤＤ１０は、ホストバスＩ/Ｆコントロール部１０１、制御部１０２、駆動部１０３、記憶媒体部１０４等を有する。ホストバスＩ/Ｆコントロール部１０１は、ホストとなるＣＰＵ１と接続されるバスＩ/Ｆ（インタフェース）の制御機能を備える。制御部１０２は、駆動部１０３を含むＨＤＤ１０全体を制御する。制御部１０２は、コマンド処理部１０５を有し、また、欠陥リスト１２０、ＨＤＤプロパティ１３０、欠陥グループ表１４０などの情報を有する。駆動部１０３は、記憶媒体部１０４を駆動し、媒体アクセス要求処理部１０６を有する。記憶媒体部１０４は、複数のディスク（磁気ディスク）１５０及び対応するヘッド１６０を備える。複数のディスク１５０は、トラック（同心円状領域）、セクタ（トラックを区分した領域）、シリンダ（各ディスク１５０のトラックの集合）等の公知の単位領域を有する。ヘッド１６０の物理動作やレーザー光の照射などは、駆動部１０３により駆動制御される。
【００４０】
コマンド処理部１０５は、バス及びホストバスＩ/Ｆコントロール部１０１を介してＣＰＵ１から受け取ったコマンドを処理する。コマンド処理部１０５は、特徴処理部１１０、交代処理部１１１、ＥＣＣ検査部１１２などを有する。交代処理部１１１は、交代処理、即ち対象領域に書き込まれているデータを交代領域へ書き込む処理を行う。ＥＣＣ検査部１１２は、ベリファイにより読み出されたデータについてのＥＣＣ検査処理を行う。特徴処理部１１０は、グルーピング、特徴付け、特徴判定、処理実行といった各処理を行う（後述の図６の各処理ステップ（Ｓ２１，Ｓ２２，Ｓ３０，Ｓ４０）に対応している）。
【００４１】
媒体アクセス要求処理部１０６は、コマンド処理部１０５からの要求（媒体アクセス要求）を受けて、記憶媒体部１０４のディスク１５０に対する処理動作、即ち、ヘッド１６０の移動などの物理的な駆動動作を制御及び処理する。
【００４２】
例えば、ベリファイ実行の場合、ＣＰＵ１からバスを通じてＨＤＤ１０にベリファイコマンド等を送信する。ベリファイコマンドを受信したＨＤＤ１０の制御部１０２は、コマンド処理部１０５から媒体アクセス要求処理部１０６へベリファイ要求を送る。媒体アクセス要求処理部１０６はベリファイ要求を受けて、対象ディスク１５０領域に対するベリファイの動作を駆動し、その結果の読み取りデータを得て制御部１０２へ返す。コマンド処理部１０５は、読み取りデータを受け取り、ＥＣＣ検査部１１２でＥＣＣ検査処理する。これにより、正常データを得るか、またはＥＣＣエラーとなる。
【００４３】
ＨＤＤ１０に格納されている欠陥リスト１２０には、ディスク１５０の領域における、検出され交代処理された欠陥（顕在化した欠陥領域）が記録されている。欠陥リスト１２０は、例えば欠陥セクタが、ディスク１５０上のセクタ番号（ＩＤ）やＬＢＡ（論理ブロックアドレス）等により管理される。
【００４４】
図３は、ＨＤＤ１０に格納されているＨＤＤプロパティ１３０の例を示す。ＨＤＤプロパティ１３０のファイルには、パトロールベリファイの頻度など、ＨＤＤ１０毎に固有の情報（そのＨＤＤ１０の性質に起因するプロパティ）を保持・登録しておく。ＨＤＤプロパティ１３０に応じてＨＤＤ１０毎に異なる制御が可能である。ＨＤＤプロパティ１３０の管理項目として、Ｔ１：通常ベリファイ間隔３１、Ｔ２：丘ベリファイ間隔３２、Ｎ１：半径方向のベリファイセクタ数３３、Ｎ２：トラック方向のベリファイセクタ数３４、Ｎ３：半径方向のグルーピングセクタ数３５、Ｎ４：トラック方向のグルーピングセクタ数３６、Ｄ１：丘欠陥密度３７、Ｄ２：ヘッド破損欠陥密度３８を有する。右の値は各項目の設定値を示す。
【００４５】
Ｔ１，Ｔ２は、それぞれ、通常領域に対するベリファイ、丘状領域９０２（それに対応するグループ）に対するベリファイの実行間隔を日単位で示す。Ｎ１，Ｎ２は、ディスク１５０における半径方向及びトラック方向の、ベリファイの動作における対象領域のサイズをセクタ数で規定するものである。Ｎ３，Ｎ４は、同様にグルーピングの動作における対象領域のサイズを規定する。Ｄ１は、領域における欠陥単位の密度をセクタ比で規定するもので、丘状領域９０２相当の危険度（レベル）のグループの判定用の閾値として使用する。Ｄ２は、Ｄ１と同様に、ヘッド１６０破損相当の危険度（レベル）のグループの判定用の閾値として使用する。欠陥密度の関係は、Ｄ１＜Ｄ２である。
【００４６】
図４は、ＨＤＤ１０に格納されている欠陥グループ表１４０の例を示す。欠陥グループ表１４０は、特徴処理部１１０によりグルーピング及び特徴付けされたグループ（欠陥グループ）が管理される。欠陥グループ表１４０は、管理項目として、グループ４１、欠陥セクタ４２、正常セクタ４３等を有する。グループ４１は、グループ番号（ＩＤ）を示す。欠陥セクタ４２は、グループ４１内におけるすべての欠陥セクタをセクタ番号で示す。正常セクタ４３は、グループ４１内におけるすべての正常セクタをセクタ番号で示す。その他、グループ４１の欠陥的特徴付けのレベルを表す情報や、対処処理の種類や処理状態を表す情報などを対応付けて管理してもよい。
【００４７】
図５は、特徴処理部１１０により作成されるグループの例として、図４の欠陥グループ表１４０に対応したグループ番号（４１）が「１」のグループ（太線で囲った領域）を示す。各矩形領域はセクタ単位を模式的に表すものであり、各番号はセクタ番号を示し、白領域は正常セクタ、グレー領域は単発的な欠陥セクタを示す。このグループの場合、単発的な２つの欠陥セクタ（「１８」，「２４」）の周りに、各正常セクタ（「７」〜「３５」）を有する。グループ領域の大きさは、Ｎ３，Ｎ４等により変更可能である。
【００４８】
（実施の形態１）
実施の形態１の記憶システム及び記憶装置（ＨＤＤ１０）を説明する。実施の形態１では、ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０で、ベリファイ等によりＨＤＤ１０のディスク１５０上の領域において発見した欠陥が、丘状領域９０２に属していると判断した場合、その欠陥が成長することを懸念して、その欠陥の周囲領域を、その他の欠陥の無い箇所と比べて高頻度に監視・検査（パトロールベリファイ／ベリファイ）するようにする。
【００４９】
本実施の形態１では、パトロールベリファイプログラム２０は、通常のパトロールベリファイに加え、実施の形態１で特に対象となるベリファイ領域、即ち欠陥領域の周囲領域を、より高頻度にベリファイするように、スケジュールモジュール２１のスケジューラを設定する。
【００５０】
処理例として図５のグループの場合であれば、単発的な欠陥セクタ（「１８」，「２４」）の周りの各正常セクタ（「７」〜「３５」）に対するベリファイ頻度を上げる。例えば図３のように、Ｔ１が３０日に対し、Ｔ２をその半分の１５日と設定する。これにより欠陥の周囲領域に対するベリファイ頻度を通常領域の倍にする。
【００５１】
ＨＤＤ１０でのベリファイ動作では、ＣＰＵ１は、ＨＤＤプロパティ１３０から、Ｎ１とＮ２の値をメモリに読み出す。次に、欠陥リスト１２０から欠陥セクタのＬＢＡをメモリに読み出す。次に、欠陥リスト１２０中の欠陥セクタについて、順次、その欠陥セクタを中心に、ベリファイ範囲、即ち（Ｎ１×Ｎ２）分、ベリファイする。ディスク１５０上、丘（９０２）は平面的に拡がっており、またセクタ単位は１ビット幅で５１２バイト長の直線であるので、ベリファイ範囲の半径方向及びトラック方向の長さは、ベリファイ範囲が近似的に円または正方形などになるようにすると良い。更に、ベリファイ範囲（Ｎ１×Ｎ２）については、欠陥数が多ければより拡げるようにしても良い。
【００５２】
実施の形態１によれば、単発的な欠陥の周囲領域を無駄に交代処理してデータ領域を減らしてしまう等、効率の悪い交代処理をせずとも、それと同程度に情報損失を防げるようになる。ある領域内に欠陥セクタがある場合に、それが単発的なものか丘状領域９０２の一部かは判らない。しかし、丘状領域９０２だった場合には、その箇所に集中して欠陥が発生すると判断できるので、パトロールベリファイの頻度を上げることで早期に丘状領域９０２を発見し、当該領域をデフェクト処理して非使用にすることより、情報損失の可能性を低くできる。また、従来、工場出荷前に発見した欠陥の周囲領域を、欠陥の成長を懸念して一様（全面）に交代処理していたが、その代わりに欠陥の周囲領域に対するパトロールベリファイの頻度を上げることで、無駄に交代処理せずに、データ領域を残し、欠陥の成長による情報損失を防止できる。また、このパトロールベリファイにより丘状領域９０２（潜在的な欠陥を含む領域）が早期に顕在化する。
【００５３】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２を説明する。実施の形態２では、同一又は同程度の欠陥的特徴を有すると想定（未確定な予想）される、欠陥を含む領域を、グルーピングし、そのグループ（グループ領域）を欠陥的に特徴付ける。更にその後の処理ステップで、グループを特徴に応じて対処処理する。実施の形態２は、各実施の形態の特徴的な機能をまとめて実装した形態に対応する。
【００５４】
図６は、実施の形態２での処理動作のフローを示す。大きな流れとしては、Ｓ１０（欠陥の発見），Ｓ２０（グルーピング及び特徴付け），Ｓ３０（特徴判断），Ｓ４０（特徴に応じた対処処理）に分かれる（Ｓは処理ステップを示す）。
【００５５】
まず、Ｓ１０では、ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、パトロールベリファイプログラム２０によるパトロールベリファイ、ライト／リードエラー等の動作によって、ディスク１５０上に欠陥、例えば欠陥セクタ、があれば検出する（従来と同様の処理）。Ｓ１０で新たな欠陥を発見した場合、Ｓ２１で、特徴処理部１１０により、その欠陥を含む領域についてのグルーピング動作を行うことで図４，図５に例示するようなグループを作成する。そして、Ｓ２２で、グルーピングしたグループの欠陥的特徴付け、換言すれば、該当領域の欠陥の程度（危険度）や状態に応じてレベル分けを行う。そして、Ｓ３０の処理（Ｓ３１，Ｓ３２）での該当グループの特徴（レベル）の判断をもとに、Ｓ４０の処理（Ｓ４１〜Ｓ４３）で、グループの特徴（レベル）によって、交代処理等の対処処理を実行する。Ｓ５０では、別タイミング等で繰り返し実行する場合（Ｙ）、同様処理（Ｓ１０〜Ｓ４０）を繰り返し実行し、そうでなければ（Ｎ）、終了する。
【００５６】
Ｓ１０で新たに単発的な欠陥（第１の欠陥セクタとする）を発見したとする。Ｓ２１のグルーピング動作では、ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、ＨＤＤプロパティ１３０から、Ｎ３とＮ４の値をメモリ（メモリ２又は制御部１０２内メモリ等）に読み出す。次に、欠陥リスト１２０から、欠陥セクタのＬＢＡをメモリに読み出す。そして、第１の欠陥セクタを中心に、グルーピング範囲、即ち（Ｎ３×Ｎ４）分の範囲だけ、他に欠陥が無いかどうか探索する。丘状領域９０２は平面的に拡がっており、またセクタ単位は１ビット幅で５１２バイト長の直線であるので、半径方向及びトラック方向のグルーピング範囲は、近似的に円または正方形になるようにしても良い。
【００５７】
上記探索で該当グルーピング範囲（Ｎ３×Ｎ４）内に他の欠陥（第２の欠陥セクタとする）を発見した場合、図４の欠陥グループ表１４０を調べる。その第２の欠陥セクタが、既に作成済みのグループ（例えばグループ番号が「１」）に属している場合は、そのグループの欠陥セクタ４２欄に第１の欠陥セクタを番号登録し、当該第１の欠陥セクタを交代処理する。前記作成済みのグループに属していない場合は、その第２の欠陥を含んで新たに別のグループ（例えばグループ番号が「２」）を作成し、当該第１の欠陥セクタと他の第２の欠陥セクタを新たなグループ４１の欠陥セクタ４２欄に番号登録して、当該第１及び第２の欠陥セクタを交代処理する。更に、グルーピング範囲（Ｎ３×Ｎ４）内の正常セクタについて、欠陥グループ表１４０の正常セクタ４３欄に、重複しないように登録する。
【００５８】
上記と同様に、パトロールベリファイ等によって新たに発見された欠陥のすべてについて、グルーピングを実行して登録する。なお、本実施の形態２では、ディスク１５０でグループに属する欠陥領域を２次元的に探索したが、対象記憶媒体が垂直磁気記録方式のように３次元で記録されているものの場合には３次元的に探索しても良い。
【００５９】
次に、実施の形態２における、単発的な欠陥またはグルーピングした欠陥の特徴によって交代処理等を行う処理方法について説明する。図６は、各実施の形態での特徴的な処理を一連の流れとして実行する場合を示している。Ｓ３０，Ｓ４０中に、欠陥の程度によって対処処理方法を決定して実行する部分を示している。
【００６０】
まず、前記Ｓ１０でディスク１５０上の欠陥（第１の欠陥セクタ）が発見される。次に、前記Ｓ２１でその欠陥がグルーピングされグループ作成される。次に、Ｓ２２で、ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、ＨＤＤプロパティ１３０から、Ｄ１：丘欠陥密度３７とＤ２：ヘッド破損丘欠陥密度３８をメモリに読み出す。
【００６１】
次に、Ｓ３１で、特徴処理部１１０は、上記発見した第１の欠陥セクタが、新たに発見した単発的な欠陥（単体）であるか、もしくは、新たに発見した欠陥の所属するグループの欠陥密度（欠陥セクタと正常セクタの比）がＤ１：丘欠陥密度３７以下であるかを判断する。そうである場合（Ｓ３１−Ｙ）、Ｓ４１で、＜レベル１＞の対処処理として、その第１の欠陥セクタを交代処理する。そして、単体の欠陥セクタ、または、該当グループの欠陥セクタとその周囲の正常セクタに対して、実施の形態１で示したように、パトロールベリファイの頻度を上げる処理を行う。Ｓ３１及びＳ４１では、ある領域（エリア）について、丘状領域９０２（欠陥が成長する可能性が高い領域）に相当するかを判断し、結果、丘状領域９０２未満で危険度が相対的に小（＜レベル１＞）の領域であると特徴付けて、相応の対処処理を実行している。
【００６２】
次に、前記Ｓ３１−Ｎの場合、Ｓ３２で、特徴処理部１１０は、新たに発見した欠陥（第１の欠陥セクタ）の所属するグループの欠陥密度が、Ｄ２：ヘッド破損欠陥密度３８以下であるかを判断する。即ち、ある領域の欠陥の程度について、丘状領域９０２（欠陥が成長する可能性が高い領域）相当であるがヘッド１６０の破損までは至らない程度であるかを判断している。そのように判断した場合（Ｓ３２−Ｙ）、丘状領域９０２以上で危険度が相対的に中（＜レベル２＞）の領域であると特徴付けて、Ｓ４２で、＜レベル２＞の対処処理として、実施の形態３に示すように、該当グループ領域（丘状領域９０２）を交代処理する。
【００６３】
最後に、Ｓ３２で、特徴処理部１１０は、新たに発見した欠陥の所属するグループの欠陥密度がＤ２より大きく、ヘッド１６０の破損に至るような程度の危険度の領域であると判断した場合（Ｓ３２−Ｎ）、危険度が相対的に大（＜レベル３＞）の領域であると特徴付ける。そして、Ｓ４３で、＜レベル３＞の対処処理として、実施の形態４で示すように、該当グループ領域の欠陥セクタと正常セクタを含むシリンダ領域を交代処理する。
【００６４】
上記では、グループを特徴付ける数値としては、グループの欠陥密度を用いたが、欠陥的特徴を示す他の数値、例えばグループの欠陥密度の増加速度などの欠陥の拡大を示す他の数値を用いても良い。また、グループ、特徴付け、及び対処処理などをより細かく設定すること等も可能である。
【００６５】
なお、前記実施の形態１での特徴処理は、実施の形態２でのＳ４２の＜レベル２＞の対処処理として、交代処理ではなく、周囲領域に対するベリファイ頻度を上げる処理に変えたものに対応する。
【００６６】
実施の形態２によれば、領域の状態として単発的な欠陥と丘（９０２）等とを区別し、特に丘（９０２）を特定することで積極的な交代処理などが可能になり、情報損失を防止できる。更に、丘（９０２）等の領域を欠陥的に特徴付けし、それによって交代処理などの処理方法を適切に変えることにより、必要十分で効率的な対処が可能になる。
【００６７】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３を説明する。実施の形態３では、実施の形態２で＜レベル２＞のグループ、即ち欠陥が成長する可能性が高い領域（丘状領域９０２）であるがヘッド１６０の破損までは至らない程度であると判断したグループを、その全体を対象として交代処理する。これにより、そのグループに含まれている欠陥が成長して情報損失を招く前に対処する。
【００６８】
前記図６と同様の処理フローに従い、Ｓ１０で新たな欠陥を発見した場合、Ｓ２１でグルーピング動作を行い、Ｓ２２で欠陥の特徴付けを行い、その特徴（レベル）によってＳ４０（Ｓ４２）で交代処理等を行う。
【００６９】
ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、前記グループの特徴付け（Ｓ２２）及び判断（Ｓ３０）においてグループの欠陥密度がＤ１より大きくＤ２以下であると判断された＜レベル２＞のグループについて、Ｓ４２で、欠陥セクタとその周囲の正常セクタをまとめて交代処理する。
【００７０】
上記交代処理で、交代セクタ数が交代領域のサイズを越える場合、または交代セクタ数が多い場合は、交代処理せずに該当セクタをデフェクト処理して、ＦＡＴ等のフォーマットのアドレスを変更して他の領域（予め用意されている交代領域とは別の領域）に書き換え処理を行っても良い。
【００７１】
実施の形態３によれば、丘状領域９０２を交代処理することで、集中的な欠陥の発生などによる情報損失を防ぐことができる。
【００７２】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４を説明する。実施の形態４では、実施の形態２で＜レベル３＞のグループ、即ちヘッド１６０破損に至る丘状領域９０２であると判断されたグループについて、そのグループを包含するシリンダ領域をまとめて交代処理する。これにより、ヘッド１６０が丘状領域９０２に頻繁にぶつかって損傷しないように事前に対処する。
【００７３】
前記図６と同様の処理フローに従い、ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、前記グループの特徴付け（Ｓ２２）及び判断（Ｓ３０）においてグループの欠陥密度がＤ２より大きいと判断された＜レベル３＞のグループについて、Ｓ４３で、その欠陥セクタとその周囲の正常セクタとを包含するシリンダ領域を、まとめて交代処理する。即ち、あるヘッド１６０が該当グループ領域の範囲を移動する際に他のすべてのヘッド１６０が移動する範囲、を対象として交代処理する。更に、その交代処理した範囲（シリンダ領域）を、パトロールベリファイの対象から外し、以後完全にアクセスされないようにする。
【００７４】
上記交代処理で、交代処理対象領域が交代領域より大きい場合などには、実施の形態３と同様に他の領域に書き換え処理を行っても良い。
【００７５】
実施の形態４によれば、丘状領域９０２を含むシリンダ領域を交代処理することで、ヘッド１６０の損傷などを防ぐことができる。
【００７６】
（実施の形態５）
次に、実施の形態５を説明する。実施の形態５では、欠陥やグループに対し、欠陥単位の個数をもとにした特徴付けを行う際に、セクタよりも小さい単位を用いて、より厳密な特徴付けを行う。従来、欠陥をセクタ単位で計数しているが、実施の形態５では、ある領域における欠陥の密度を求める際に、計数する欠陥の個数として、ＥＣＣエラー検出可能な最小単位であるＥＣＣブロックを１つと数える。ＥＣＣブロックは、ＥＣＣ検査部１１２での処理単位である。ディスク１５０のセクタ単位が複数のＥＣＣブロック単位に分割されてＥＣＣ検査処理される構成である。これにより、より厳密に欠陥の状態・状況を把握できる。
【００７７】
セクタ単位は、前述のような略直線形状となっている。このセクタ単位がいくつかの所定サイズのＥＣＣブロックに分けられ、ＥＣＣ検査部１１２でこのＥＣＣブロックの検査によりＥＣＣエラーを検出する構成とする。例えばセクタ内部が６個に分割されてＥＣＣエラー検出処理される構成において、２つの欠陥セクタがあり、一方の欠陥セクタはエラーＥＣＣブロックが１個のみであり、もう一方の欠陥セクタはエラーＥＣＣブロックが５個であるとする。この場合、後者の欠陥セクタの方が、情報損失の危険性が高いと言える。
【００７８】
本実施の形態５での第１の処理方法を以下に示す。ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、パトロールベリファイやリード／ライトエラー発生時などに、対象セクタ中のエラーＥＣＣブロック数を判断し、条件としてその数が規定個数（閾値）以上である場合に、対処処理として当該セクタを交代処理する。また、この判定の際には、ＥＣＣエラー時に、ベリファイ、リード、ライト等のリトライ規定回数に達しなくても、上記条件を満たす場合は交代処理する。
【００７９】
ある領域（セクタ）を欠陥の対処処理の対象とするか否かの判定の際の閾値（リトライ数：Ａ）として、Ａ回未満のリトライでエラー（ＥＣＣエラー）であっても、Ｒ回目のリトライでエラー無く該当セクタをベリファイやリードできた場合は、対処処理の対象としない、という処理方法が従来一般的である。しかし、例えば、５回目のリトライでエラーが出なくても、４回目までのベリファイやリード時にセクタ中の多くのＥＣＣブロックでエラーが起こっていれば、そのセクタは危険であると言える。そのため、本実施の形態５では、数（Ａ）回のリトライでエラーが出なくなるセクタであっても、それより前のエラーでセクタ中のＥＣＣブロックが数多く、即ちある個数（Ｂ）以上、エラーを起こしている場合は、当該セクタを対処処理対象として決定し、交代処理等する。
【００８０】
また、セクタ中のＥＣＣブロックのエラーがある個数以上であった場合は、もうそのセクタは回復不能と考えて、規定回数（Ａ）リトライしなくても回復不能として即エラーとして処理するようにして、無駄にリトライしないようにしても良い。
【００８１】
本実施の形態５での第２の処理方法を以下に示す。ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、交代処理したセクタ中のエラーＥＣＣブロック数がある個数（Ｃ）よりも多い場合は、パトロールベリファイにおいてベリファイする範囲を拡げる、及び／又は、パトロールベリファイの頻度を上げるようにする。
【００８２】
実施の形態１では、欠陥セクタの周りのパトロールベリファイの範囲／頻度の詳細については特に限定していない。しかし、欠陥セクタ中のエラーＥＣＣブロック数が多ければ、欠陥が拡がる可能性がより高いと言えるため、パトロールベリファイの範囲を拡げれば、あるいは頻度を上げれば、情報損失に至る集中的な欠陥をより確実に発見して対処できる。
【００８３】
本実施の形態５での第３の処理方法を以下に示す。ＣＰＵ１及びＨＤＤ１０は、グループ中のエラーＥＣＣブロック数をもとに、そのグループの特徴付けを行う。この場合、パトロールベリファイでは既に欠陥セクタと判明しているセクタに対してもベリファイを行い、欠陥セクタ内のエラーＥＣＣブロック数が増加した場合は、そのグループの特徴付けをやり直す。
【００８４】
前記実施の形態２では、領域中の欠陥セクタ数をもとにグループの特徴付けを行った。ここで、グループ中の欠陥セクタが３個と５個の２つのグループがあり、そして各グループ内のエラーＥＣＣブロック数が９個と５個であったとする。この場合、セクタ単位の判断では後者のグループの方が危険であるが、エラーＥＣＣブロック数の判断では前者のグループも後者に劣らず危険であるということになる。このように、エラーＥＣＣブロック数を用いてより正確なグループの特徴付けを行うことが可能になる。
【００８５】
また他には、セクタ中のエラーＥＣＣブロック数が規定数を満たすようなセクタを欠陥セクタとした欠陥セクタ数をもとに、グループの特徴付けを行うようにしても良い。また、グルーピングやグループの特徴付けを行う際も、画像処理技術等を用いてより細かい単位で領域及び欠陥などを判断する処理方法を用いれば、グルーピング及び特徴付けがより正確に実施できて望ましい。
【００８６】
実施の形態５の各処理方法によれば、より厳密なグルーピング及び特徴付けを行うことで、より厳密に欠陥の状態・状況を把握でき、効率的な対処が可能となる。
【００８７】
（実施の形態６）
次に、実施の形態６を説明する。実施の形態６では、処理対象領域の選択により、交代処理や書き換え処理を行った部分を、より高速にアクセス（データ書き込み／読み出し）可能なようにする。図７（ａ）に、従来の交代処理方法、図７（ｂ）に本実施の形態６での処理方法を示す。
【００８８】
前述のように丘（９０２）を想定して将来的な欠陥（潜在的な欠陥）についても積極的に交代処理を行う場合、まとまった範囲を交代処理することとなる。従って、複数トラックに渡った領域を交代処理する場合、そのうちの一部（数トラック）でトラック用交代領域よりも多くの交代セクタが生じる場合がある。
【００８９】
図７（ａ）において、複数のトラック／セクタ７４を含むデータ領域７１で、複数トラックに渡った欠陥グループ（欠陥を含むグループ）７５が存在するものとする。ディスク１５０上にトラック用交代領域７２とディスク用交代領域７３を有する。欠陥グループ７５を交代処理する場合、トラック／セクタ７４毎に、トラック用交代領域７２の対応トラック／セクタへ、該当記録データ７６（細線で示す）を記録することになる。例えばその欠陥グループ７５の中央辺りのトラックの欠陥セクタ数（交代処理対象セクタ数）が、トラック用交代領域７２の対応セクタ数（サイズ）よりも多かった場合、従来ではトラック用交代領域７２に該当データを記録し切れずに溢れてしまい、溢れた該当記録データ７７を、ディスク用交代領域７３に記録することになる。そのため、トラック用交代領域７２よりもディスク用交代領域７３の方が遠くにありヘッド１６０の移動に時間がかかることから、当該交代処理及びその後の処理における当該データの書き込み／読み出しが遅くなってしまう。
【００９０】
一方、本実施の形態６の処理方法では、図７（ｂ）の同様ケースの欠陥グループ７５の交代処理において、欠陥のあるトラック／セクタ７４に対応した交代領域（対応トラック／セクタ）にこだわらずに、欠陥が発生したトラック／セクタ７４の近くにあるトラック用交代領域７２から、できる限り詰めて該当データの書き込みを行う。このため、ディスク用交代領域７３を使用せずに済む又は使用領域が減ることになるため、当該処理及びその後の処理において当該領域（交代セクタ）のデータの書き込み／読み出しが高速に可能である。特に、将来的に欠陥に成長すると予測される正常セクタについても積極的に交代処理する場合は、交代領域等が比較的大きくなる。そのため、交代領域等のアクセス時間の増加を抑えることにより効率化することが有効となる。
【００９１】
実施の形態６によれば、交代や書き換え先の領域を選択することで、交代セクタのリード等のアクセス時間をできるだけ抑えることが可能になる。
【００９２】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例えば、各実施の形態では、記憶装置であるＨＤＤ１０は、ＣＰＵ１により制御されるものであるが、これらが一体化された装置の形態、即ち制御部１０２がＣＰＵ１による制御機能相当を備える形態なども可能である。
【００９３】
本発明の技術は、データが記憶／記録可能な媒体における、その状態が一方向に変化又は成長する欠陥などであって、直接その状態が確認できないものに対して、その欠陥などの状態に応じて適切に処置（対処処理）を施すような用途に適用できる。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明は、記憶媒体／記録媒体に対しデータの記憶／記録が行われその状態を検査・検証する機能に対応した記憶装置及びそれを含むシステム全般、特にディスク駆動装置などに対して利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】本発明の一実施の形態における記憶システムとなる情報処理装置の基本的な構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施の形態の記憶システムに含まれる、本発明の一実施の形態における記憶装置である処理対象ＨＤＤの構成を示す図である。
【図３】本発明の一実施の形態における記憶装置であるＨＤＤに格納されているＨＤＤプロパティの例を示す図である。
【図４】本発明の一実施の形態における記憶装置であるＨＤＤに格納されている欠陥グループ表の例を示す図である。
【図５】本発明の一実施の形態における記憶装置であるＨＤＤにより作成されるグループの例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態２における記憶システムにおける処理動作のフローを示す図である。
【図７】（ａ）は、従来技術での交代処理方法を、（ｂ）は、本発明の実施の形態６の記憶システムでの交代処理方法を示す図である。
【図８】従来技術及び本発明の各実施の形態における、単発的な凸状領域（欠陥領域）と丘状領域との比較のための図である。
【符号の説明】
【００９６】
１…ＣＰＵ、２…メモリ、３…ＨＤＤ制御プログラム記憶部、１０，１０−１，１０−２…ＨＤＤ（処理対象ＨＤＤ）、２０…パトロールベリファイプログラム、２１…スケジュールモジュール、２２…ベリファイモジュール、２３…交代処理モジュール、７１…トラックのデータ領域、７２…トラック用交代領域、７３…ディスク用交代領域、７４…トラック／セクタ、７５…欠陥を含むグループ、７６，７７…記録データ、１００…情報処理装置（記憶システム）、１０１…ホストバスＩ/Ｆコントロール部、１０２…制御部、１０３…駆動部、１０４…記憶媒体部、１０５…コマンド処理部、１０６…媒体アクセス要求処理部、１１０…特徴処理部、１１１…交代処理部、１１２…ＥＣＣ検査部、１２０…欠陥リスト、１３０…ＨＤＤプロパティ、１４０…欠陥グループ表、１５０…ディスク、１６０…ヘッド、９０１…凸状領域（欠陥領域）、９０２…丘状領域。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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