(57)【要約】【課題】座標群に含まれる座標から外れ値を効率的に取除いて、精度の高い近似直線の実現をする。【解決手段】ＣＰＵは、エッジ位置を示す座標からなる座標群を取得し（ステップＳ２）、所定の規則に従って座標群から３個以上の座標を選択する（ステップＳ４）。そして、ＣＰＵは、選択した座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出し（ステップＳ６）、当該選択した座標の各々と対応付けて、評価値を累積加算する（ステップＳ８）。さらに、ＣＰＵは、座標群を構成する各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、上述したステップＳ４〜Ｓ１０を繰返し実行する。その後、ＣＰＵは、累積加算された各座標の評価値（累積値）に基づいて、座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出し（ステップＳ１２）、近似直線を算出する（ステップＳ１４）。【選択図】図４
2007249555.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の特定の位置を示す座標を４個以上含む座標群を取得する座標群取得手段と、
所定規則に従って、前記座標群から３個以上の座標を選択する座標選択手段と、
前記座標選択手段により選択された前記３個以上の座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する評価値算出手段と、
当該３個以上の座標の各々と対応付けて、前記評価値算出手段により算出される前記評価値を累積加算する評価値加算手段と、
前記座標群の各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、前記座標選択手段、前記評価値算出手段および前記評価値加算手段における処理を繰返し実行させる繰返手段と、
前記評価値加算手段により累積加算された前記評価値に基づいて、前記座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された複数の座標に基づいて近似直線を算出する近似直線算出手段とを備える、画像処理装置。
【請求項２】
前記座標群取得手段は、
画像を取得する画像取得部と、
前記画像取得部により取得された画像中において、色情報に変化を生じるエッジ位置を検出して前記座標群を取得するエッジ検出部とを含む、請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記画像取得部は、直線形状部位を有する対象物を撮影して得られた画像を取得する、請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記評価値算出手段は、前記３個以上の座標のうち２個の座標を含む直線を規定し、残余の座標の各々と当該規定された直線との距離に基づいて前記評価値を算出する、請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記評価値算出手段は、前記３個以上の座標についての相関係数に基づいて、前記評価値を算出する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記繰返手段は、前記座標選択手段により前記座標群から３個以上の座標を選ぶ組合せのすべてが選択されるまで、前記座標選択手段、前記評価値算出手段および前記評価値加算手段における処理を繰返し実行させる、請求項１〜５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記座標群は、２次元または３次元の座標からなる、請求項１〜６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
４個以上の座標を含む座標群を取得する座標群取得手段と、
所定規則に従って、前記座標群から３個以上の座標を選択する座標選択手段と、
前記座標選択手段により選択された前記３個以上の座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する評価値算出手段と、
当該３個以上の座標の各々と対応付けて、前記評価値算出手段により算出される前記評価値を累積加算する評価値加算手段と、
前記座標群の各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、前記座標選択手段、前記評価値算出手段および前記評価値加算手段における処理を繰返し実行させる繰返手段と、
前記評価値加算手段により累積加算された前記評価値に基づいて、前記座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された複数の座標に基づいて近似直線を算出する近似直線算出手段とを備える、近似直線算出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は複数の座標を含む座標群から近似直線を算出する画像処理装置および近似直線算出装置に関し、特に誤差発生要因となる外れ値を効率的に取除いて、近似直線を高精度に算出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
製造現場においては、省力化および高効率化の観点から、オートメーション化が推進されている。このようなオートメーション化を実現するためには、数多くのセンサ類が用いられている。特に、製品や半製品などを撮影し、その撮影した画像を処理することで、当該製品の寸法計測検査や位置決めなどを行なうことのできる画像処理装置が有効である。
【０００３】
このような画像処理装置においては、撮影した画像内の情報（明度、輝度、色差など）により、対象物（製品や半製品など）のエッジ（輪郭）検出が行なわれる。特に、対象物の直線形状部位に対してエッジ検出が行なわれることが多い。これは、対象物の多くは直線形状部位を含むことと、直線形状部位を基準にすることにより、精度の高い寸法計測や位置決めを容易に実現できることによる。
【０００４】
しかしながら、対象物の背景における汚れや、対象物の欠陥（成型バリや欠け）などにより、誤ったエッジ位置が検出される場合も多い。そこで、所定の領域内で検出された複数のエッジ位置に基づいて、対象物の直線形状部位を示す近似直線を算出することが一般的に行なわれる。たとえば、特許第２８５０６０８号公報（特許文献１）には、複数のエッジ点の座標を計測し、直線近似することが開示されている。
【０００５】
さらに、直線近似の精度をより高めるために、たとえば非特許文献１に開示されるようなＬＴＳ推定法（Least Trimmed Squares Estimate Method）が提案されている。ＬＴＳ推定法によれば、最小二乗法により複数のエッジ位置から暫定近似直線が算出し、複数のエッジ位置のうち、各エッジ位置から暫定近似直線までの距離（残差）が小さいものを抽出する。そして、抽出されたエッジ位置から、再度、最小二乗法により近似直線が算出される。このＬＴＳ推定法によれば、本来の値から大きく外れた外れ値（outlier）の影響を低減できる。
【特許文献１】特許第２８５０６０８号公報
【非特許文献１】佐久間  彩、「回帰分析法のロバストネスの理論とその応用に関する研究」、２００４年度  卒業論文要旨集、２００５年３月７日、南山大学数理情報学部数理科学科、インターネット＜ＵＲＬ：http://www.seto.nanzan-u.ac.jp/msie/gr-thesis/ms/2004/kimura/01mm075.pdf＞
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述のようなＬＴＳ推定法を用いたとしても、検出された複数のエッジ位置に数多くの外れ値が含まれている場合には、暫定近似直線自体が大きな誤差影響を受けてしまう。そのため、本来正常なエッジ位置であっても、暫定近似直線からの距離が大きくなる場合があり、このような場合には、本来正常なエッジ位置が取除かれてしまい、外れ値に基づいて誤差の大きな近似直線が算出されてしまう場合があった。
【０００７】
そこで、この発明は、かかる問題を解決するためになされたものであり、その目的は、座標群に含まれる座標から外れ値を効率的に取除いて、精度の高い近似直線を算出できる画像処理装置および近似直線算出装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１の発明によれば、画像の特定の位置を示す座標を４個以上含む座標群を取得する座標群取得手段と、所定規則に従って、座標群から３個以上の座標を選択する座標選択手段と、座標選択手段により選択された３個以上の座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する評価値算出手段と、当該３個以上の座標の各々と対応付けて、評価値算出手段により算出される評価値を累積加算する評価値加算手段と、座標群の各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、座標選択手段、評価値算出手段および評価値加算手段における処理を繰返し実行させる繰返手段と、評価値加算手段により累積加算された評価値に基づいて、座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出する抽出手段と、抽出手段により抽出された複数の座標に基づいて近似直線を算出する近似直線算出手段とを備える画像処理装置である。
【０００９】
第１の発明によれば、座標群から選択された３個以上の座標の組合せ毎に、同一直線上に配置される度合を示す評価値が算出される。このように、評価値は、座標群全体から算出される暫定近似直線に基づいて算出されるのではなく、選択された３個以上の座標の間でミクロ的に算出される。外れ値である座標は、いずれの組合せにおいても、同一直線上に配置される度合が低い一方、正常な座標は、正常な座標同士の組合せにおいて、同一直線上に配置される度合が高くなる。その結果、座標の各々と対応付けて評価値が累積されることで、正常な座標と外れ値の座標との差が顕著に表れるため、外れ値を効率的に取除くことができる。
【００１０】
好ましくは、座標群取得手段は、画像を取得する画像取得部と、画像取得部により取得された画像中において、色情報に変化を生じるエッジ位置を検出して座標群を取得するエッジ検出部とを含む。
【００１１】
好ましくは、画像取得部は、直線形状部位を有する対象物を撮影して得られた画像を取得する。
【００１２】
好ましくは、評価値算出手段は、３個以上の座標のうち２個の座標を含む直線を規定し、残余の座標の各々と当該規定された直線との距離に基づいて評価値を算出する。
【００１３】
好ましくは、評価値算出手段は、３個以上の座標についての相関係数に基づいて、評価値を算出する。
【００１４】
好ましくは、繰返手段は、座標選択手段により座標群から３個以上の座標を選ぶ組合せのすべてが選択されるまで、座標選択手段、評価値算出手段および評価値加算手段における処理を繰返し実行させる。
【００１５】
好ましくは、座標群は、２次元または３次元の座標からなる。
第２の発明によれば、４個以上の座標を含む座標群を取得する座標群取得手段と、所定規則に従って、座標群から３個以上の座標を選択する座標選択手段と、座標選択手段により選択された３個以上の座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する評価値算出手段と、当該３個以上の座標の各々と対応付けて、評価値算出手段により算出される評価値を累積加算する評価値加算手段と、座標群の各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、座標選択手段、評価値算出手段および評価値加算手段における処理を繰返し実行させる繰返手段と、評価値加算手段により累積加算された評価値に基づいて、座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出する抽出手段と、抽出手段により抽出された複数の座標に基づいて近似直線を算出する近似直線算出手段とを備える近似直線算出装置である。
【００１６】
第２の発明によれば、座標群から選択された３個以上の座標の組合せ毎に、同一直線上に配置される度合を示す評価値が算出される。このように、評価値は、座標群全体から算出される暫定近似直線に基づいて算出されるのではなく、選択された３個以上の座標の間でミクロ的に算出される。外れ値である座標は、いずれの組合せにおいても、同一直線上に配置される度合が低い一方、正常な座標は、正常な座標同士の組合せにおいて、同一直線上に配置される度合が高くなる。その結果、座標の各々と対応付けて評価値が累積されることで、正常な座標と外れ値の座標との差が顕著に表れるため、外れ値を効率的に取除くことができる。
【発明の効果】
【００１７】
この発明によれば、座標群に含まれる座標から外れ値を効率的に取除いて、精度の高い近似直線を算出できる画像処理装置および近似直線算出装置を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
この発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００１９】
［実施の形態１］
図１は、この発明の実施の形態１に従う近似直線算出装置を備える画像処理装置１００の概略構成図である。
【００２０】
図１を参照して、画像処理装置１００は、カメラ２により撮影された画像を取得して、近似直線を算出した後、その算出結果を表示装置４や外部機器６へ出力する。
【００２１】
カメラ２は、一例として、ＣＣＤ（Coupled Charged Device）やＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサなどの撮像素子およびレンズからなり、製造ライン上などを連続的に搬送される製品や半製品といった対象物を撮影し、その撮影した画像を画像処理装置１００へ出力する。なお、カメラ２が撮影する画像は、濃淡画像（白黒画像）およびカラー画像のいずれでもよく、さらに静止画像および動画像のいずれでもよい。この発明の実施の形態１においては、カラー画像を用いる場合について説明を行なう。
【００２２】
表示装置４は、画像処理装置１００において算出された近似直線や検出されたエッジ位置などを、カメラ２により撮影された画像とともに表示する。一例として、表示装置４は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：Liquid Crystal Display）、プラズマディスプレイ（Plasma Display）、有機ＥＬディスプレイ（Electro Luminescence display）などからなる。
【００２３】
外部機器６は、一例として、製造ラインなどを監視制御するプログラマブルコントローラなどからなり、画像処理装置１００において算出された近似直線に応じて、各種の制御や計測を実行する。
【００２４】
画像処理装置１００は、ＣＰＵ１０と、ＲＯＭ（Read Only Memory）１２と、ＲＡＭ（Random Access Memory）１４と、ＨＤＤ（Hard Disk Drive：ハードディスクドライブ）１６と、入出力部１８と、画像入力部２０と、フィルタ２２と、画像メモリ２４と、エッジ検出部２６と、画像出力部２８とからなる。そして、画像入力部２０を除く各部は、バス３０を介して互いに接続される。画像処理装置１００は、一例としてパーソナルコンピュータなどで実現される。
【００２５】
画像入力部２０は、カメラ２と電気的に接続され、カメラ２で撮影された映像信号を受け、所定の信号変換処理を行ない各画素の色情報を取得した後、その取得した色情報をフィルタ２２へ出力する。具体的には、画像入力部２０は、カメラ２から受けた映像信号に対してフレーム同期を行ない、時間軸上に展開されて伝送される各画素の色情報を復調し、各画素についての色情報を取得する。
【００２６】
フィルタ２２は、画像入力部２０から順次出力される画像を受けて、当該画像の各画素に対して色情報変換などのフィルタ処理を行なう。そして、フィルタ２２は、フィルタ処理後の画像を画像メモリ２４およびエッジ検出部２６へ出力する。一例として、フィルタ２２は、ＣＰＵ１０により設定された所定の規則（テーブル）に従って処理を行なう、ＬＵＴ（Look-Up Table）型のフィルタである。そのため、フィルタ２２は、対象物や撮影条件などに応じて、フィルタ処理の内容を変更することが可能に構成される。
【００２７】
画像メモリ２４は、所定周期毎またはＣＰＵ１０から指令を受けたタイミングで、フィルタ２２から出力される画像を一次的に格納する。また、画像メモリ２４は、エッジ検出部２６から受けたエッジ位置についても一次的に格納する。そして、画像メモリ２４は、格納している画像を画像出力部２８やＣＰＵ１０などへ出力する。
【００２８】
エッジ検出部２６は、ＣＰＵ１０からの指令を受けて、フィルタ２２から出力される画像を構成する各画素の色情報に基づいて、画像中において色情報に変化を生じるエッジ位置（輪郭）を検出する。そして、エッジ検出部２６は、検出した複数のエッジ位置を座標群としてＣＰＵ１０および画像メモリ２４へ出力する。さらに、エッジ検出部２６は、入出力部１８などを介して与えられるマスク領域に応じて、フィルタ２２から出力される画像の特定領域に対するエッジ位置の検出が可能に構成される。なお、濃淡画像（白黒画像）が入力される場合には、色情報は濃淡値であり、カラー画像が入力される場合には、色情報はＲＧＢ値（赤色、緑色、青色の各濃淡値）、ＣＭＹ値（シアン、マゼンダ、黄色の各濃淡値）もしくは色変数（色相（Hue）、明度（Value）、彩度（Chroma））などである。
【００２９】
画像出力部２８は、画像メモリ２４からの画像、およびＣＰＵ１０などからの各種表示情報を受け、映像信号を生成して表示装置４へ出力する。一例として、画像出力部２８は、表示装置４に対応してアナログ信号（コンポジット信号やコンポーネント信号）またはデジタル信号を出力する。
【００３０】
ＲＯＭ１２は、ＣＰＵ１０の起動時などに実行されるプログラムや各種設定を格納する。
【００３１】
ＲＡＭ１４は、ＣＰＵ１０で実行されるプログラムや後述する近似直線算出に係るワークデータなどを格納する。そして、ＲＡＭ１４は、一例として、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）やＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）などの半導体記憶素子からなる。
【００３２】
ＨＤＤ１６は、ＣＰＵ１０で実行されるプログラムやＣＰＵ１０における算出結果などを格納し、ＣＰＵ１０からの要求により読出しおよび書込みを行なう。なお、ＨＤＤ１６に代えて、半導体メモリ（フラッシュメモリカード、ＳＤメモリカード、ＩＣメモリカードなど）や、光ディスク（ＣＤ（Compact Disk）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−ＲＯＭ／ＲＡＭ／Ｒ／ＲＷ、ＭＯ（Magnetic Optical Disc）、ＭＤ（Mini Disc））などの不揮発的にデータを担持可能な装置を用いてもよい。
【００３３】
入出力部１８は、ＣＰＵ１０における算出結果などを外部機器６へ出力する。一例として、入出力部１８は、フォトダイオード、トランジスタまたはリレーなどから構成される接点出力（ＤＯ）や、フィールドバス、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＲＳ−２３２Ｃ（Recommended Standard 232 version C）、ＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronic Engineers）１３９４、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）およびイーサネット（登録商標）などに従う通信手段などからなる。
【００３４】
ＣＰＵ１０は、カメラ２により撮影された画像に対してエッジ検出部２６により検出された複数のエッジ位置（２次元座標）を示す座標群を取得する。特に、この発明の実施の形態１においては、ＣＰＵ１０は、４個以上のエッジ位置からなる座標群を取得する。そして、ＣＰＵ１０は、取得した座標群から所定規則に従って３個以上の座標を選択し、選択した３個以上の座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する。さらに、ＣＰＵ１０は、当該選択した３個以上の評価値の各々と対応付けて、算出した評価値を累積加算する。
【００３５】
以下同様にして、ＣＰＵ１０は、座標群の各座標が互いに同一回数だけ選択されるように、３個以上の座標を順次選択して上述の処理を繰返し実行する。
【００３６】
そして、ＣＰＵ１０は、累積加算された評価値に基づいて、座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出し、抽出した座標に基づいて近似直線を算出する。
【００３７】
さらに、ＣＰＵ１０は、それぞれ画像出力部２８および入出力部１８を介して、算出した近似直線を表示装置４および外部機器６などへ出力する。
【００３８】
この発明の実施の形態１においては、画像入力部２０が「画像取得部」に相当し、画像入力部２０およびエッジ検出部２６が「座標群取得手段」を実現する。また、ＣＰＵ１０が「座標選択手段」、「評価値算出手段」、「評価値加算手段」、「繰返手段」、「抽出手段」および「近似直線算出手段」を実現する。
【００３９】
（エッジ位置の検出処理）
図２は、エッジ検出部２６におけるエッジ位置の検出処理の概要を説明するための図である。
【００４０】
図２を参照して、一例として、エッジ検出部２６は、カメラ２により撮影された画像ＩＭＧに対してｘ方向に走査を行ない、エッジ位置を順次検出する。
【００４１】
具体的には、エッジ検出部２６は、画像ＩＭＧ中の予め定められたｘ方向の走査位置４０．１を中心として、所定幅をもつ領域４２．１を定義する。そして、エッジ検出部２６は、定義された領域４２．１に含まれる画素の色情報を、ｙ方向の値と対応付けて、ｘ方向に累積加算した色情報ヒストグラム４６．１を算出する。なお、図２の場合には、１次元の色情報から色情報ヒストグラム４６．１を算出するので、カラー画像の場合には、色情報として１次元の明度（赤色、青色および緑色の各濃淡値の合計）などを用いることができる。そして、エッジ検出部２６は、この算出された色情報ヒストグラム４６．１において、急激な変化を生じるｙ方向の変化位置４８．１を検出する。
【００４２】
このような手順によって、エッジ検出部２６は、ｘ方向の走査位置４０．１と、ｙ方向の変化位置４８．１との交差点であるエッジ位置４４．１を検出し、このエッジ位置４４．１の座標（ｘ１，ｙ１）を取得する。
【００４３】
続いて、エッジ検出部２６は、ｘ方向の次の走査位置４０．２を中心として、所定幅をもつ領域４２．２を定義する。そして、エッジ検出部２６は、上述したのと同様に、色情報ヒストグラム４６．２を算出する。さらに、エッジ検出部２６は、この算出された色情報ヒストグラム４６．２において、急激な変化を生じるｙ方向の変化位置４８．２を検出する。エッジ検出部２６は、このｘ方向の走査位置４０．２およびｙ方向の変化位置４８．２から、エッジ位置４４．２を検出し、その座標（ｘ２，ｙ２）を取得する。
【００４４】
以下同様にして、エッジ検出部２６は、ｘ方向に順次走査を行なって、複数のエッジ位置からなるエッジ位置群４４を検出し、各エッジ位置を示す座標からなる座標群を取得する。
【００４５】
なお、エッジ検出部２６は、入出力部１８（図１）を介して与えられるマスク領域（図示しない）に従い、画像ＩＭＧの全領域ではなく、特定の領域のみに対してエッジ位置の検出を行なうことも可能である。
【００４６】
このようにしてエッジ検出部２６により取得された座標群は、ＣＰＵ１０へ出力される。
【００４７】
（近似直線の算出処理）
図３は、ＣＰＵ１０における近似直線の算出処理の概要を説明するための図である。なお、図３は、画像メモリ２４（図１）に格納される画像ＩＭＧを模式的に記載したものである。
【００４８】
図３を参照して、画像ＩＭＧは、直線形状部位を有する対象物ＯＢＪを撮影したものである。一例として、エッジ検出部２６は、予め設定されたマスク領域５０内においてエッジ検出を実行し、エッジ位置ａ〜ｅにそれぞれ対応する座標ａ〜ｅを取得しているものとする。このとき、エッジ検出部２６は、対象物ＯＢＪの直線状の輪郭線ＥＤＧ上にエッジ位置ａ〜ｄを検出する一方、対象物ＯＢＪの背景にある汚れなどのノイズ領域５２をエッジ位置ｅであると誤検出しているとする。ＣＰＵ１０は、このエッジ位置ａ〜ｅにそれぞれ対応する座標ａ〜ｅに基づいて、最小二乗法に従って近似直線を算出し、算出した近似直線を対象物ＯＢＪの輪郭線ＥＤＧとみなす。
【００４９】
しかしながら、このエッジ位置ｅは、輪郭線ＥＤＧから大きくずれた「外れ値」であり、このような座標を含んで算出した近似直線は、本質的に大きな誤差を含む。そこで、ＣＰＵ１０は、このような外れ値を効率的に取除いた上で、近似直線を算出する。
【００５０】
図４は、ＣＰＵ１０における近似直線算出に係る制御構造を示すフローチャートである。
【００５１】
図４を参照して、ＣＰＵ１０は、まず、エッジ検出部２６により検出されたエッジ位置を示す座標からなる座標群を取得する（ステップＳ２）。そして、ＣＰＵ１０は、所定の規則に従って座標群から３個以上の座標を選択する（ステップＳ４）。続いて、ＣＰＵ１０は、選択した座標について、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する（ステップＳ６）。すなわち、ＣＰＵ１０は、選択した座標についての評価値を後述する方法に従って算出する。そして、ＣＰＵ１０は、当該選択した座標の各々と対応付けて、算出した評価値を累積加算する（ステップＳ８）。
【００５２】
さらに、ＣＰＵ１０は、座標群を構成する各座標が互いに同一回数だけ選択されたか否かを判断する（ステップＳ１０）。座標群を構成する各座標が互いに同一回数だけ選択されていない場合（ステップＳ１０においてＮＯの場合）には、ＣＰＵ１０は、上述したステップＳ４〜Ｓ１０を繰返し実行する。
【００５３】
座標群を構成する各座標が互いに同一回数だけ選択されていた場合（ステップＳ１０においてＹＥＳの場合）には、ＣＰＵ１０は、累積加算された各座標の評価値（累積値）に基づいて、座標群から同一直線上に配置される度合が相対的に高い複数の座標を抽出する（ステップＳ１２）。そして、ＣＰＵ１０は、抽出した複数の座標に基づいて、最小二乗法に従って近似直線を算出する（ステップＳ１４）。なお、最小二乗法に従う近似直線の算出は周知の方法であるので、詳細な説明は省略する。さらに、ＣＰＵ１０は、その算出した近似直線を表示装置４や外部機器６へ出力し（ステップＳ１６）、処理を終了する。
【００５４】
上述したように、本発明によれば、各座標と対応付けて評価値を累積加算するので、各座標は互いに同一回数だけ選択されなければならない。そこで、ＣＰＵ１０は、所定規則に従って、座標群から３個以上の座標の組合せを順次選択する。
【００５５】
一般的には、ｎ個の座標を含む座標群から異なるｒ個の座標を選ぶ組合せは、ｎＣｒ＝ｎ！／｛ｒ！×（ｎ−ｒ）！｝通り存在する。このすべての組合せについて見ると、各座標は、いずれもｎＣｒ×ｒ／ｎ回選択されることになる。したがって、座標群を構成する各座標が互いに同一回数だけ選択される一例として、ＣＰＵ１０は、座標群から３個以上の座標を選ぶすべての組合せに対して、上述のステップＳ６およびＳ８を実行する。
【００５６】
以下では、理解を容易にするために、評価値を算出するために選択される座標の数が３個である場合について例示する。
【００５７】
（評価値の算出処理および累積加算処理）
ＣＰＵ１０は、選択する３個の座標に対して、同一直線上に配置される度合を示す評価値を算出する。
【００５８】
図５は、評価値の算出に係る処理の一例を説明するための図である。
図５（ａ）は、図３に示す座標ａ、座標ｃおよび座標ｅに対して評価値を算出する場合である。
【００５９】
図５（ｂ）は、図３に示す座標ａ、座標ｃおよび座標ｄに対して評価値を算出する場合である。
【００６０】
図５（ａ）および図５（ｂ）を参照して、ＣＰＵ１０は、選択した３個の座標のうち、２個の座標を含む直線を規定する。そして、ＣＰＵ１０は、残余の座標と当該直線との距離に基づいて評価値を算出する。すなわち、残余の座標と当該直線との距離が小さいほど、選択された３個の座標は、同一直線上に配置される度合が高いと言える。
【００６１】
図５（ａ）を参照して、外れ値である座標ｅを含む場合には、座標ａおよび座標ｅを含む直線６０ａｅと残余の座標である座標ｃとの距離Ｌは、比較的大きな値となる。
【００６２】
一方、図５（ｂ）を参照して、いずれも対象物ＯＢＪの輪郭線ＥＤＧに沿って検出された座標ａ、座標ｃおよび座標ｄからなる場合には、座標ａおよび座標ｄを含む直線６０ａｄと残余の座標である座標ｃとの距離は、略ゼロとなる。
【００６３】
そこで、この発明の実施の形態１においては、同一直線上に配置される度合が大きいほど、高い値をとる評価値を採用する。具体的には、選択される３個の座標を、座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ）、座標ｊ（ｘｊ，ｙｊ）、座標ｋ（ｘｋ，ｙｋ）とすると、座標ｉおよび座標ｋを含む直線と座標ｊとの距離Ｌｉｊｋについて座標ｉから座標ｋまでの距離で規格化して、（１）式に示す評価値Ｖｉｊｋを採用する。
【００６４】
【数１】
2007249555.tif 000003
【００６５】
この評価値Ｖｉｊｋは、座標ｉ、座標ｊ、座標ｋが同一直線上に配置される場合において、最大値である「１」をとる。なお、座標ｉ、座標ｊ、座標ｋの配置順はいずれでもよく、たとえば座標上において、座標ｊが座標ｉと座標ｋとの間に配置されていなくともよい。
【００６６】
そして、ＣＰＵ１０は、選択された座標ｉ、座標ｊ、座標ｋとそれぞれ対応付けて評価値Ｖｉｊｋをそれぞれ累積値Ｐ（ｉ）、Ｐ（ｊ）、Ｐ（ｋ）に累積加算する。すべての組合せに対する評価値Ｖｉｊｋの算出、および評価値の加算が終了すると、ＣＰＵ１０は、座標群の中から累積値が相対的に高い座標を抽出する。一例として、座標群に含まれる座標のうち累積値が上位から所定数にある座標を抽出してもよい。
【００６７】
図６は、図４に示すステップＳ４〜Ｓ１０における処理をより具体的に実現するためのフローチャートである。なお、座標群には、座標１，座標２，・・・，座標ｎまでのｎ個の座標が含まれるとし、各座標は、（ｘｉ，ｙｉ；但し、１≦ｉ≦ｎ）で表されるとする。
【００６８】
図６を参照して、ＣＰＵ１０は、累積値Ｐ（ｉ）（但し、１≦ｉ≦ｎ）にゼロを代入して累積値を初期化する（ステップＳ１００）。続いて、ＣＰＵ１０は、ループカウンタｉに１を代入して初期化し（ステップＳ１０２）、ループカウンタｊにループカウンタｉの値に１を加算した値を代入し（ステップＳ１０４）、ループカウンタｋにループカウンタｊの値に１を加算した値を代入する（ステップＳ１０６）。
【００６９】
ＣＰＵ１０は、エッジ検出部２６により検出された座標群から、座標（ｘｉ，ｙｉ），（ｘｊ，ｙｊ），（ｘｋ，ｙｋ）を取得し、評価値Ｖｉｊｋを算出する（ステップＳ１０８）。さらに、ＣＰＵ１０は、算出した評価値Ｖｉｊｋをそれぞれ累積値Ｐ（ｉ），Ｐ（ｊ），Ｐ（ｋ）に累積加算する（ステップＳ１１０）。
【００７０】
そして、ＣＰＵ１０は、ループカウンタｋに１を加算し（ステップＳ１１２）、ループカウンタｋが座標数ｎを超過していないか否かを判断する（ステップＳ１１４）。ループカウンタｋが座標数ｎを超過していない場合（ステップＳ１１４においてＮＯの場合）には、ＣＰＵ１０は、ステップＳ１０８〜Ｓ１１４を繰返し実行する。
【００７１】
一方、ループカウンタｋが座標数ｎを超過している場合（ステップＳ１１４においてＹＥＳの場合）には、ＣＰＵ１０は、ループカウンタｊに１を加算し（ステップＳ１１６）、ループカウンタｊが（座標数ｎ−１）を超過していないか否かを判断する（ステップＳ１１８）。ループカウンタｊが（座標数ｎ−１）を超過していない場合（ステップＳ１１８においてＮＯの場合）には、ＣＰＵ１０は、ステップＳ１０６〜Ｓ１１８を繰返し実行する。
【００７２】
一方、ループカウンタｊが（座標数ｎ−１）を超過している場合（ステップＳ１１８においてＹＥＳの場合）には、ＣＰＵ１０は、ループカウンタｉに１を加算し（ステップＳ１２０）、ループカウンタｉが（座標数ｎ−２）を超過していないか否かを判断する（ステップＳ１２２）。ループカウンタｉが（座標数ｎ−２）を超過していない場合（ステップＳ１２２においてＮＯの場合）には、ＣＰＵ１０は、ステップＳ１０４〜Ｓ１２２を繰返し実行する。
【００７３】
一方、ループカウンタｉが（座標数ｎ−２）を超過している場合（ステップＳ１２２においてＹＥＳの場合）には、ＣＰＵ１０は、図４に示すステップＳ１２以降の処理を実行する。
【００７４】
上述した処理の内容をより理解できるように、一例として図３に示すエッジ位置ａ〜ｅに対して、本発明を適用した場合の処理結果を表１に示す。なお、エッジ位置ａ〜ｅの座標は、一例として、それぞれ（ｘａ，ｙａ）＝（１，０），（ｘｂ，ｙｂ）＝（２，０），（ｘｃ，ｙｃ）＝（３，０），（ｘｄ，ｙｄ）＝（４，０），（ｘｅ，ｙｅ）＝（５，−１）とした。
【００７５】
【表１】
2007249555.tif 000004
【００７６】
表１を参照して、５個のエッジ位置から３個を選ぶ組合せは、５Ｃ３＝１０通りとなる。そして、ＣＰＵ１０は、各組合せに対して評価値Ｖを算出する。なお、表中において「○」印は、対応する座標が評価値Ｖの算出に用いられたことを示し、その右側の値は、そのときの評価値Ｖを示す。
【００７７】
各座標ａ〜ｅは、それぞれ６回ずつ選択され、各選択時において算出された評価値Ｖの累積値Ｐは、表１の最下欄に示された値となる。特に、外れ値である座標ｅについては、いずれの組合せにおいても相対的に低い評価値Ｖが算出される一方、それ以外の座標ａ〜ｄのみからなる組合せでは、高い評価値Ｖが算出されている。
【００７８】
そのため、座標ｅにおける累積値Ｐは、座標ａ〜ｄのいずれにおける累積値Ｐに対しても、大幅に低い値となっている。そして、座標ａ〜ｅのうち、たとえば累積値Ｐの上位３個までを抽出する場合には、座標ａ〜ｃが抽出されることになる。この結果、外れ値である座標ｅが取除かれ、高い精度の近似直線が算出されることがわかる。
【００７９】
（比較例）
図７は、本発明の効果を従来のＬＴＳ推定法における効果と比較する比較例である。
【００８０】
図７（ａ）は、従来のＬＴＳ推定法による近似直線算出を示す。
図７（ｂ）は、本発明による近似直線算出を示す。
【００８１】
なお、図７（ａ）および図７（ｂ）においては、同一の画像に対して直線算出処理が行なわれており、マスク領域５０内において検出された３２個のエッジ位置（＋マーク）は、互いに同一である。そして、従来のＬＴＳ推定法（図７（ａ））においては、各エッジ位置から暫定近似直線までの距離（残差）が小さい順に全体の５０％（１６個）を抽出して近似直線を算出した。一方、本発明の場合（図７（ｂ））においては、累積値が大きい順に全体の５０％（１６個）を抽出して近似直線を算出した。なお、図７（ａ）および図７（ｂ）においては、近似直線の算出に使用されたエッジ位置は、その＋マークの中心に○印をさらに付加している。
【００８２】
図７（ａ）を参照して、マスク領域５０の紙面右上において、対象物ＯＢＪの輪郭線以外の位置が集中的にエッジ位置として誤検出されている。このように対象物ＯＢＪの輪郭線以外で検出されたエッジ位置は、本来的に外れ値であるが、その数が多いため、結果的に外れ値が優勢となっている。そのため、対象物ＯＢＪの輪郭線を正常に検出しているエッジ位置が取除かれて、誤った近似直線６０ａが算出されていることがわかる。
【００８３】
一方、図７（ｂ）を参照して、本発明を適用した場合には、マスク領域５０の紙面右上において集中的に誤検出されている外れ値のエッジ位置がすべて取除かれていることがわかる。この結果、算出される近似直線６０ｂは、対象物ＯＢＪの輪郭線と略一致した、正確なものとなる。
【００８４】
この発明の実施の形態１によれば、座標群から選択された３個の座標の組合せ毎に、同一直線上に配置される度合を示す評価値が算出される。このように、評価値は、座標群全体から算出される暫定近似直線に基づいて算出されるのではなく、選択された３個の座標の間でミクロ的に算出される。外れ値である座標は、いずれの組合せにおいても、同一直線上に配置される度合が低い一方、正常な座標は、正常な座標同士の組合せにおいて、同一直線上に配置される度合が高くなる。その結果、座標の各々と対応付けて評価値が累積されることで、正常な座標と外れ値の座標との差が顕著に表れるため、外れ値を効率的に取除くことができる。よって、座標群に含まれる座標から外れ値を効率的に取除いて、精度の高い近似直線を算出できる画像処理装置を実現できる。
【００８５】
（変形例１）
上述したこの発明の実施の形態１においては、座標群から異なる３個の座標を選んで評価値を算出する場合について説明したが、４個以上の座標を選んで評価値を算出してもよい。この場合には、選ばれた４個以上の座標のうち、２個の座標を含む直線を規定し、当該直線に対する残余の各座標との距離の積算値に基づいて評価値を算出する。
【００８６】
すなわち、選択されるｒ（ｒ≧４）個の座標を、座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ）、座標ｌ（ｘｌ，ｙｌ）、・・・、座標ｍ（ｘｍ，ｙｍ）、座標ｋ（ｘｋ，ｙｋ）とすると、上述した（１）式を拡張して、（２）式のような評価値Ｖｉ〜ｋが算出できる。
【００８７】
【数２】
2007249555.tif 000005
【００８８】
この評価値Ｖｉ〜ｋについても、同一直線上に配置される度合が大きいほど高い値をとる。評価値Ｖｉ〜ｋの算出方法を除いては、上述したこの発明の実施の形態１と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。
【００８９】
この発明の実施の形態１の変形例１によれば、評価値を算出するために座標群から選ぶ座標の数を４個以上に拡張できる。そのため、その選ばれる座標の個数を適切に選択することで、座標群から異なる３個の座標を選ぶ場合に比較して、組合せ数をより少なくできる。これにより、上述したこの発明の実施の形態１における効果に加えて、その評価値を算出するための処理回数を低減できるので、多数の座標からなる座標群に対して本発明を適用する場合においても、その処理速度を維持できる。
【００９０】
（変形例２）
上述したこの発明の実施の形態１およびその変形例１においては、選択された座標のうち２個の座標を含む直線を規定し、残余の座標の各々と当該規定された直線との距離に基づいて評価値を算出する構成について説明した。一方、この発明の実施の形態１の変形例２においては、選択された座標についての相関係数に基づいて評価値を算出する構成について説明する。
【００９１】
評価値を算出するために選択されるｒ（ｒ≧３）個以上の座標の組合せを、座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ；１≦ｉ≦ｒ）とすると、座標ｉ（１≦ｉ≦ｒ）についての相関係数と一致する評価値Ｖを算出することができる。
【００９２】
【数３】
2007249555.tif 000006
【００９３】
この評価値Ｖは、座標ｉについての相関係数と一致するので、座標の同一直線上に配置される度合に応じて、−１≦Ｖ≦１の範囲で変化し、いずれの座標も同一直線上に配置される場合には、最大値の「１」をとる。したがって、上述したこの発明の実施の形態１およびその変形例１と同様に、累積値の大きい順に所定の数の座標を抽出することで、近似直線を算出できる。
【００９４】
この評価値の算出方法以外は、上述したこの発明の実施の形態１と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。
【００９５】
この発明の実施の形態１の変形例２によれば、評価値を算出するために座標群から選ばれる座標の数にかかわらず同一の演算式を用いることができる。これにより、上述したこの発明の実施の形態１における効果に加えて、評価値の算出に係る処理を比較的自由に変更できるため、対象物の大きさや画像の品質（サイズや解像度）などに応じて、処理を最適化できる。
【００９６】
［実施の形態２］
上述のこの発明の実施の形態１およびその変形例においては、２次元画像を対象として近似直線を算出する構成について説明した。一方、この発明の実施の形態２においては、３次元画像を対象として近似直線を算出する構成について説明する。３次元画像には、一例として、いわゆるステレオ画像などが含まれ、３次元の値で各座標が定義される。
【００９７】
図８は、この発明の実施の形態２に従う近似直線算出装置を備える画像処理装置１００＃の概略構成図である。
【００９８】
図８を参照して、画像処理装置１００＃は、２つのカメラ２．１，２．２により撮影された２次元画像をそれぞれ取得して３次元画像を生成すると同時に、３次元画像上のエッジ位置に基づいて近似直線を算出する。そして、画像処理装置１００＃は、図１に示すこの発明の実施の形態１に従う画像処理装置１００において、画像入力部２０、フィルタ２２、画像メモリ２４に代えて、それぞれ画像入力部２０．１，２０．２、フィルタ２２．１，２２．２、画像メモリ２４．１，２４．２を配置し、エッジ検出部２６および画像出力部２８に代えて、それぞれエッジ検出部２６および画像出力部２８を配置したものである。
【００９９】
カメラ２．１および２．２は、互いに異なる方向から同一の対象物を撮影するように配置される。その他の点については、カメラ２と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。フィルタ２２．１，２２．２および画像メモリ２４．１，２４．２は、それぞれフィルタ２２および画像メモリ２４と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。
【０１００】
画像出力部２８＃は、カメラ２．１，２．２により撮影された２つの画像を対比し、３次元空間中に対象物が描画された３次元画像を生成する。具体的には、画像出力部２８＃は、一方の画像の各画素について、他方のいずれの画素に対応するのかを算出し、この画素のずれを画素情報とする視差画像を生成し、この生成した視差画像に基づいて、３次元画像を生成する。
【０１０１】
エッジ検出部２６＃は、カメラ２．１および２．２により撮影された画像のそれぞれにおいてエッジ位置を検出するとともに、上述した画像出力部２８＃と同様に、２つの画像の対比に基づいて画素のずれを算出し、検出したエッジ位置の３次元空間中における座標を算出する。そして、エッジ検出部２６＃は、検出した複数のエッジ位置を座標群としてＣＰＵ１０および画像メモリ２４．１，２４．２へ出力する。
【０１０２】
その他については、この発明の実施の形態１に従う画像処理装置１００と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。
【０１０３】
このような３次元画像に対して本発明を適用する場合には、評価値の算出に係る数式を以下のように変更する点を除いて、上述したこの発明の実施の形態１に従う画像処理装置１００における処理と同一であるので、詳細な説明は繰返さない。
【０１０４】
（評価値の算出処理）
上述したこの発明の実施の形態１と同様に、座標群から選択された３個以上の座標のうち、２個の座標を含む直線を規定するとともに、残余の座標と当該規定された直線との距離に基づいて評価値を算出する。
【０１０５】
まず、座標群から３個の座標が選択される場合には、選択される座標を座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ，ｚｉ）、座標ｊ（ｘｊ，ｙｊ，ｚｊ）、座標ｋ（ｘｋ，ｙｋ，ｚｋ）とすると、（１）式を拡張して（４）式のような３次元座標についての評価値Ｖｉｊｋを算出できる。
【０１０６】
【数４】
2007249555.tif 000007
【０１０７】
さらに、座標群から４個以上の座標が選択される場合には、選択されるｒ（ｒ≧４）個の座標を、座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ，ｚｉ）、座標ｌ（ｘｌ，ｙｌ，ｚｌ）、・・・、座標ｍ（ｘｍ，ｙｍ，ｚｍ）、座標ｋ（ｘｋ，ｙｋ，ｚｋ）とすると、上述した（４）式を拡張して、（５）式のように評価値Ｖｉ〜ｋを算出できる。
【０１０８】
【数５】
2007249555.tif 000008
【０１０９】
この評価値Ｖｉｊｋおよび評価値Ｖｉ〜ｋについても、同一直線上に配置される度合が大きいほど高い値をとる。ＣＰＵ１０は、このように算出される３次元座標についての評価値を用いて、上述の処理と同様に、近似直線を算出する。
【０１１０】
この発明の実施の形態２においては、この発明の実施の形態１における効果に加えて、今後ますます適用範囲の拡大が予想される３次元画像についても、精度の高い近似直線を算出できる。
【０１１１】
（変形例）
さらに、上述したこの発明の実施の形態１の変形例２と同様に、選択された座標についての相関係数に基づいて評価値を算出することもできる。
【０１１２】
具体的には、評価値を算出するために選択されるｒ（ｒ≧３）個以上の座標を、座標ｉ（ｘｉ，ｙｉ，ｚｉ；１≦ｉ≦ｒ）とすると、２つの成分間（ｘｙ成分、ｙｚ成分、ｚｘ成分）における相関係数（Ｖｘｙ，Ｖｙｚ，Ｖｚｘ）に基づいて、（６）式または（７）式にように、評価値Ｖを算出できる。
【０１１３】
【数６】
2007249555.tif 000009
【０１１４】
これらの式からわかるように、３つの成分についての相関係数を算出することはできないので、３次元の座標値のうち、いずれか２つの成分についての相関係数をそれぞれ算出した後、各相関係数から評価値Ｖを算出する。
【０１１５】
（６）式に示す評価値Ｖにおいては、座標の同一直線上に配置される度合に応じて、−３≦Ｖ≦３の範囲で変化し、いずれの座標も同一直線上に配置される場合には、最大値の「３」をとる。
【０１１６】
一方、（７）式に示す評価値Ｖにおいては、座標の同一直線上に配置される度合に応じて、−１≦Ｖ≦１の範囲で変化し、いずれの座標も同一直線上に配置される場合には、最大値の「１」をとる。
【０１１７】
したがって、上述したこの発明の実施の形態２と同様に、累積加算後の累積値が大きい順に、所定の数の座標を抽出することで、近似直線を算出できる。この評価値の算出方法以外は、上述したこの発明の実施の形態２と同様であるので、詳細な説明は繰返さない。
【０１１８】
［その他の実施の形態］
上述した実施の形態の説明においては、エッジ検出部を備える画像処理装置を一例として示したが、エッジ検出部が必ずしも画像処理装置に含まれている必要はない。たとえば、外部装置により検出されたエッジ位置の座標を受けて、当該座標に基づいて近似直線を算出する近似直線算出装置を構成してもよい。
【０１１９】
上述した実施の形態の説明においては、エッジ検出部が画像中の所定幅をもつ領域に対して色情報を累積してエッジ位置を検出する構成について説明したが、エッジ位置の検出方法は、これに限られず、周知のエッジ位置検出手段を適用することができる。さらに、エッジ位置を検出するための走査方向も対象物の直線形状部位の位置や方向などに応じて、たとえば画像の斜め方向に走査してもよい。
【０１２０】
上述した実施の形態の説明においては、エッジ検出部により検出された座標群から選ばれる３個以上の座標の組合せのすべてに対して評価値を算出する構成について説明したが、必ずしもすべての組合せに対して評価値を算出する必要はない。
【０１２１】
たとえば、画像上における距離が所定値（所定画素）以下となるように３個以上の座標を選択してもよい。このように選択された画素は互いに近接するため、より適切にその同一直線上に配置される度合を評価できる。
【０１２２】
また、各座標に対応するエッジ位置における色情報の変化度に応じて、評価値を算出するための座標の組合せを決定してもよい。具体的には、エッジ位置周辺における画素の「色距離」を評価し、色距離の小さい（色情報の変化が小さい）エッジ位置に対応する座標を、色距離の大きいエッジ位置に対応する座標と組合せるようにしてもよい。この「色距離」とは、互いに直交するように配置された赤軸，緑軸，青軸からなる３次元の色空間において、２つの画素の距離として規定される。このような組合せを採用することで、色距離が小さく信頼性の低い（誤検出された可能性の高い）座標と、色距離が小さく信頼性の高い座標との評価値の差がより顕著となるため、信頼性の低い座標が取除かれる割合が高まる。このため、より正確な近似直線を算出できる。
【０１２３】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】この発明の実施の形態１に従う近似直線算出装置を備える画像処理装置の概略構成図である。
【図２】エッジ検出部におけるエッジ位置の検出処理の概要を説明するための図である。
【図３】ＣＰＵにおける近似直線の算出処理の概要を説明するための図である。
【図４】ＣＰＵにおける近似直線算出に係る制御構造を示すフローチャートである。
【図５】評価値の算出に係る処理の一例を説明するための図である。
【図６】図４に示すステップＳ４〜Ｓ１０における処理をより具体的に実現するためのフローチャートである。
【図７】本発明の効果を従来のＬＴＳ推定法における効果と比較する比較例である。
【図８】この発明の実施の形態２に従う近似直線算出装置を備える画像処理装置の概略構成図である。
【符号の説明】
【０１２５】
２，２．１，２．２  カメラ、４  表示装置、６  外部機器、１８  入出力部、２０，２０．１，２０．２  画像入力部、２２，２２．１，２２．２  フィルタ、２４，２４．１，２４．２  画像メモリ、２６，２６＃  エッジ検出部、２８，２８＃  画像出力部、３０  バス、４０．１，４０．２  走査位置、４２．１，４２．２  領域、４４  エッジ位置群、４４．１，４４．２  エッジ位置、４６．１，４６．２  色情報ヒストグラム、４８．１，４８．２  変化位置、５０  マスク領域、５２  ノイズ領域、６０ａ，６０ｂ  近似直線、１００  画像処理装置、ＥＤＧ  輪郭線、ＩＭＧ  画像、ＯＢＪ  対象物、Ｐ  累積値、Ｖ  評価値。
【図１】
2007249555.tif 000010
【図２】
2007249555.tif 000011
【図３】
2007249555.tif 000012
【図４】
2007249555.tif 000013
【図５】
2007249555.tif 000014
【図６】
2007249555.tif 000015
【図７】
2007249555.tif 000016
【図８】
2007249555.tif 000017