(57)【要約】【課題】簡便な回路構成で迅速に画素部を検査する。【解決手段】データ線駆動回路１００は、差動増幅回路１５からデータ線Ｓｅ及びＳｏの夫々を介して第１出力信号Ｒｏ１、・・・、Ｒｏｋ、及び第２出力信号Ｒｅ１、・・・、Ｒｅｋを読み出す際に、サンプリング回路１１０を構成するサンプリングスイッチ１１１にサンプリング信号Ｐ１、・・・、Ｐｋを供給し、各データ線群を構成するデータ線に電気的に接続されたサンプリングスイッチ１１１をオン状態に切り換える。サンプリング回路１１０は、画素部７０を検査する際に、検査回路４が有する差動増幅回路１５から出力された第１出力信号Ｒｏ及び第２出力信号Ｒｅ等の複数の出力信号を４本のデータ線を含むデータ線群毎に４本の画像信号線９１に出力し、４本の画像信号線９１を介して外部のテスト回路に第１出力信号Ｒｏ及び第２出力信号Ｒｅをデータ線群毎に一括で読み出す。【選択図】図８
2007240667.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、
互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、
前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部と、  
前記複数の画素部で保持された検査信号が入力され、入力された前記検査信号の電位を基準電位に比べて高い電位又は低い電位に増幅した信号を出力信号として出力する検査回路と、
前記複数の出力信号のうち、前記複数のデータ線のうちＮ（Ｎは２以上の自然数）本のデータ線に出力されたＮ個の出力信号を同時に読み出す読み出し手段とを備えたこと
を特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記読み出し手段は、前記Ｎ本のデータ線の夫々に電気的に接続され、Ｎ系統にシリアル−パラレル変換された画像信号を供給するためのＮ本の画像信号線を含むこと
を特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記読み出し手段は、サンプリング回路駆動信号に応じて前記Ｎ系統の画像信号の夫々を前記Ｎ本のデータ線の夫々に供給する複数のサンプリングスイッチを含むサンプリング回路と、前記複数のサンプリングスイッチのうち前記Ｎ本のデータ線に対応するサンプリングスイッチ毎に、前記サンプリング回路駆動信号を順番に供給するデータ線駆動回路とを有しており、
前記Ｎ個の出力信号は、前記Ｎ個の出力信号が読み出される際に前記データ線駆動回路から出力されたサンプリング回路駆動信号によってオン状態に切り換えられた前記Ｎ本のデータ線に対応するサンプリングスイッチを介して前記Ｎ本のデータ線毎に読み出されること
を特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記検査回路は、前記Ｎ本のデータ線のうち２本のデータ線の組に対応して設けられた差動増幅回路を有しており、
前記差動増幅回路は、前記２本のデータ線の一のデータ線を介して前記画素部から第１電位信号を読み出すと共に、前記２本のデータ線の他のデータ線に電気的に接続された他の画素部から前記基準電位を有する第２電位信号を前記他のデータ線を介して読み出し、前記一のデータ線及び前記他のデータ線の夫々に基準電位より高い電位、又は低い電位を有する第１出力信号及び第２出力信号を出力すること
を特徴とする請求項１から３の何れか一項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記差動増幅回路は、前記第１電位信号の電位と前記基準電位とを比較して、（ｉ）前記第１電位信号の電位が前記基準電位より低い場合には、前記第１電位信号の電位より低い電位を有する低電位信号を、（ｉｉ）前記第１電位信号の電位が前記基準電位より高い場合には、前記第１電位信号の電位より高い電位を有する高電位信号を前記第１出力信号として前記一のデータ線に出力すること
を特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
【請求項６】
基板上で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部で保持された検査信号が入力され、入力された前記検査信号の電位を基準電位に比べて高い電位又は低い電位に増幅した信号を出力信号として出力する出力ステップと、
前記複数の出力信号のうち前記複数のデータ線に含まれるＮ（Ｎは２以上の自然数）本のデータ線に出力されたＮ個の出力信号を同時に読み出す読み出しステップとを備えたこと
を特徴とする電気光学装置の検査方法。
【請求項７】
請求項１から５の何れか一項に記載の電気光学装置を具備してなること
を特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置、及びそのような電気光学装置を備えた液晶プロジェクタ等の電子機器、並びに液晶装置等の電気光学装置を検査するための検査方法の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶装置等の電気光学装置は、薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor；以下「ＴＦＴ」と称す。）等が形成されたＴＦＴアレイ基板等の電気光学装置用基板を検査する工程と、ＴＦＴアレイ基板及び液晶等の電気光学素子を駆動するための対向電極が形成された対向基板間に液晶を封入する工程とを経て形成される。完成品である液晶装置が正常に作動するか否かの検査は、完成された液晶装置によって表示された画像が正しく表示されるか否かによって行われる。このような電気光学装置において、ＴＦＴアレイ基板に形成されたＴＦＴの不具合がＴＦＴアレイ基板を検査する工程で検出されなかった場合には、完成品である液晶装置に対して行う検査によって不具合が検出されることになる。
【０００３】
完成品である液晶装置で不具合が検出された場合の対応策として、液晶装置から液晶を抜き取った後、ＴＦＴアレイ基板を交換する或いは不具合箇所を修理する等の措置が考えられるが、電気光学装置を製造する際の歩留まりの低下及びコストの増大を考慮すると実質的にこれらの措置を採用することは難しい。加えて、ＴＦＴアレイ基板を形成した後の工程が無駄な工程となってしまい、液晶装置等の電気光学装置を製造する際の歩留まりの低下及びコストの増大を招く問題点がある。
【０００４】
このような問題点を解決する手段の一つとして、例えば特許文献１は、画素アレイ内においてコンパレータに電気的に接続された２本の信号線を介して供給された電位情報を比較することによって画素に不良が生じているか否かを検査する技術を開示している。
【０００５】
【特許文献１】特開２００４―２２６５５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示された技術によれば、各画素の良否を反映した電位情報を全ての信号線から各コンパレータに読み出し、複数のコンパレータの夫々から同時に出力された出力信号をパラレル−シリアル変換することによってシリアルデータとして読み出しており、複数のコンパレータから並列に出力されるパラレルな出力信号をシリアルデータに変換することになる。したがって、高速でデータを処理し、迅速に画素部を検査することが困難であるという技術的に見て本質的な問題点を抱えている。
【０００７】
加えて、特許文献１によれば、複数のコンパレータの夫々から出力された複数の出力信号をパラレル−シリアル変換するための変換回路を、ＴＦＴアレイ基板等の基板上の狭い領域に形成する必要がある。したがって、基板上に限られた領域に各種回路をレイアウトすることが困難になるという設計上の問題点、及び変換回路を設けることによるコストの増大を招く問題点もある。
【０００８】
よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、安価な回路構成によって、迅速且つ画素部の良否を検査可能な電気光学装置、及びそのような電気光学装置を具備してなる電子機器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部と、前記複数の画素部で保持された検査信号が入力され、入力された前記検査信号の電位を基準電位に比べて高い電位又は低い電位に増幅した信号を出力信号として出力する検査回路と、前記複数の出力信号のうち、前記複数のデータ線のうちＮ（Ｎは２以上の自然数）本のデータ線に出力されたＮ個の出力信号を同時に読み出す読み出し手段とを備える。
【００１０】
本発明に係る電気光学装置では、例えば、ＴＦＴアレイ基板と対向基板との間に液晶等の電気光学物質が狭持されることにより電気光学装置が形成される。電気光学装置の動作時には、走査線を介して走査信号が各画素部に供給され、画像信号がデータ線を介して各画素部に供給される。より具体的には、例えば画素部毎に設けられた画素スイッチング用の薄膜トランジスタ（以下、適宜「ＴＦＴ」という。）は、走査線にゲートが接続されており、走査信号に応じて画像信号をデータ線を介して画素電極へ選択的に供給する。これらにより、例えば、画素電極及び対向電極間に挟持された、例えば液晶等の電気光学物質を各画素部で駆動することで、アクティブマトリクス駆動が可能である。
【００１１】
このような電気光学装置に対しては、画素部の良否を判定する検査が行う必要がある。電気光学装置の検査時には、例えば、１本の走査線毎に画素部とデータ線との電気的な接続がオンにされ、検査対象である画素部に対して、この画素部に対応するデータ線に検査信号が入力され、検査回路は、入力された検査信号の電位を基準電位に比べて高い電位又は低い電位に増幅した信号を出力信号として出力する。出力信号は、画素部の良否に関する情報を含む信号である。出力信号は、画素部に供給された検査信号に基づいて当該画素部の良否に応じて供給された信号であり、例えば画素部の良否に応じて検査信号の電位と異なる電位を有している。より具体的には画素部から読み出された出力信号は、検査時に予め複数の画素部に供給された検査信号が、画素部における電荷のリーク等の不具合の有無、即ち、画素部の良否を反映した結果として得られる信号である。
【００１２】
尚、画素部の良否は、基準電位に対する検査信号の電位の高低と、当該画素部に対応する出力信号の基準電位に対する電位の高低とを比較することにより判定される。基準電位は、検査信号及び検査対象の画素部から出力される出力信号を評価する際の基準となる電位である。
【００１３】
検査回路は、例えば上述した検査時において、１本の走査線毎に、検査対象である画素部から出力信号を読み出し、複数のデータ線へ複数の出力信号を正確に出力できる。より具体的には、例えば、複数の走査線及び複数のデータ線の交差の夫々に画素部が設けられている場合には、検査時に１本の走査線毎に複数の画素部とデータ線との電気的な接続がオンにされ、これら画素部に検査信号が供給される。尚、画素部から読み出される信号と比較される基準電位は、例えば当該画素部に隣接する画素部に電気的に接続されたデータ線から読み出される。
【００１４】
読み出し手段は、複数の出力信号のうち複数のデータ線に含まれるＮ（Ｎは２以上の自然数）本のデータ線に出力されたＮ個の出力信号を同時に読み出す。これにより、基準電位を基準として電位が高いか、或いは低いかを示す個別の出力信号がＮ個集合してなるＮビットのデータとして同時に読み出される。したがって、複数の画素部から同時に出力されるパラレルなデータをシリアルデータに変換することなく、Ｎ本のデータ線を介して出力されたＮビットのデータに基づいて迅速に画素部の良否を判定できる。加えて、複数の画素部に対応して同時に出力された複数の出力信号をパラレル−シリアル変換するための変換回路が不要であるため、基板上に形成される回路構成を簡便にでき、且つ電気光学装置に要するコストの増大を抑制できる。尚、画素部の良否の判定は、電気光学装置に別途設けられた判定回路、或いは外部回路等の判定手段によって行うことが可能である。
【００１５】
以上説明したように、本発明に係る電気光学装置によれば、複数の画素部を簡便な回路構成によって、迅速に各画素部の良否が検査された液晶装置等の電気光学装置を提供できる。
【００１６】
本発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記読み出し手段は、前記Ｎ本のデータ線の夫々に電気的に接続され、Ｎ系統にシリアル−パラレル変換された画像信号を供給するためのＮ本の画像信号線を含んでいてもよい。
【００１７】
この態様によれば、シリアルな画像信号を複数系列にシリアル−パラレル変換して得られた、パラレルなＮ系統の画像信号を、データ線群毎に、データ線群に属するＮ本のデータ線に夫々同時に供給することが可能となる。
【００１８】
シリアル−パラレル変換は、駆動周波数の上昇を抑えつつ高精細な画像表示を実現すべく、典型的には、電気光学装置の外部に設けられた外部回路によって行われる。この場合、外部回路にシリアルな画像信号が入力されると共に、外部回路によって、このシリアルな画像信号は、４相、１２相、２４相、・・・など、複数のパラレルな画像信号に変換される。このような「シリアル−パラレル変換」とは、「シリアル−パラレル展開」或いは「相展開」とも呼ばれる。
【００１９】
この態様では、Ｎ個の出力信号は、Ｎ本の画像信号線を介して同時に読み出される。即ち、電気光学装置によって画像を表示する際に画像信号を供給するために用いられたＮ本の画像信号線をＮ個の出力信号を読み出す際に用いることによって、画像表示及び画素部の検査時にＮ本の画像信号線を共用できる。したがって、ＴＦＴアレイ基板等の基板上に複雑なデータ変換回路を設けることなく、且つデータ変換を要することなく、迅速且つ簡便に画素部を検査できる。
【００２０】
この態様では、前記読み出し手段は、サンプリング回路駆動信号に応じて前記Ｎ系統の画像信号の夫々を前記Ｎ本のデータ線の夫々に供給する複数のサンプリングスイッチを含むサンプリング回路と、前記複数のサンプリングスイッチのうち前記Ｎ本のデータ線に対応するサンプリングスイッチ毎に、前記サンプリング回路駆動信号を順番に供給するデータ線駆動回路とを有しており、前記Ｎ個の出力信号は、前記Ｎ個の出力信号が読み出される際に前記データ線駆動回路から出力されたサンプリング回路駆動信号によってオン状態に切り換えられた前記Ｎ本のデータ線に対応するサンプリングスイッチを介して前記Ｎ本のデータ線毎に読み出されてもよい。
【００２１】
この態様によれば、電気光学装置の駆動時、シリアル−パラレル変換されたＮ系統の画像信号が、Ｎ本の画像信号線に供給され、更に、これらの画像信号線よりサンプリング回路へと供給される。Ｎ系統の画像信号のサンプリング回路への供給と並行して、データ線駆動回路によって、データ線群に対応するサンプリングスイッチ毎に、例えばシフトレジスタから順次出力される転送信号からサンプリング信号（即ち、サンプリング回路駆動信号）が生成され、該生成されたサンプリング信号が順次供給される。すると、サンプリング回路における各サンプリングスイッチによって、複数のデータ線には、サンプリング信号に応じてデータ線群毎にＮ系統の画像信号が順次供給される。これにより、同一のデータ線群に属するＮ本のデータ線に対しては、パラレルとされたＮ系統の画像信号が一挙に供給されることとなる。
【００２２】
他方、電気光学装置の検査時において、Ｎ個の出力信号が読み出される際には、Ｎ系統の画像信号が供給される場合とは逆に、データ線駆動回路によって、データ線群に対応するサンプリングスイッチ毎に、シフトレジスタから順次出力される転送信号からサンプリング信号（即ち、サンプリング回路駆動信号）が生成され、該生成されたサンプリング信号が順次供給される。すると、サンプリング回路における各サンプリングスイッチによって、複数のデータ線から、サンプリング信号に応じてデータ線群毎にＮ個の出力信号が一挙に読み出される。
【００２３】
したがって、この態様によれば、画像を表示する際に用いられたＮ本の画像信号線を検査時に共用して迅速にＮ個の出力信号をデータ線群毎に読み出すことが可能であり、複数の出力信号の読み出し速度を高めることが可能である。
【００２４】
本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記検査回路は、前記Ｎ本のデータ線のうち２本のデータ線の組に対応して設けられた差動増幅回路を有しており、前記差動増幅回路は、前記２本のデータ線の一のデータ線を介して前記画素部から第１電位信号を読み出すと共に、前記２本のデータ線の他のデータ線に電気的に接続された他の画素部から前記基準電位を有する第２電位信号を前記他のデータ線を介して読み出し、前記一のデータ線及び前記他のデータ線の夫々に基準電位より高い電位、又は低い電位を有する第１出力信号及び第２出力信号を出力してもよい。
【００２５】
この態様によれば、第１出力電位及び第２出力電位の夫々の電位の高低関係が、第１電位信号及び第２電位信号の夫々に基づいて決まる。より具体的には、差動増幅回路は、第１電位信号の電位と、基準電位とされる第２電位信号の電位との電位差より電位差が増幅された第１出力信号及び第２出力信号を出力する。第１出力信号及び第２出力信号によれば、画素部の良否を確実に判定できる。
【００２６】
この態様では、前記差動増幅回路は、前記差動増幅回路は、前記第１電位信号の電位と前記基準電位とを比較して、（ｉ）前記第１電位信号の電位が前記基準電位より低い場合には、前記第１電位信号の電位より低い電位を有する低電位信号を、（ｉｉ）前記第１電位信号の電位が前記基準電位より高い場合には、前記第１電位信号の電位より高い電位を有する高電位信号を前記第１出力信号として前記一のデータ線に出力してもよい。
【００２７】
この態様では、差動増幅回路が、画素部から読み出された第１電位信号及び第２電位信号の電位差を画素部の良否に応じて増幅する。より具体的には、画素部から読み出された第１電位信号が基準電位より高い場合には、基準電位に比べてより一層高く電位が高められた第１出力信号を出力し、画素部から読み出された第１電位信号が基準電位より低い場合には、基準電位に比べてより一層電位が低くされた第１出力信号を出力する。このような出力信号によれば、画素部の良否を判定するための第１出力信号及び第２出力信号の電位差が明確になり、検査精度を高めることが可能である。
【００２８】
本発明に係る電気光学装置の検査方法は上記課題を解決するために、基板上で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部で保持された検査信号が入力され、入力された前記検査信号の電位を基準電位に比べて高い電位又は低い電位に増幅した信号を出力信号として出力する出力ステップと、前記複数の出力信号のうち前記複数のデータ線に含まれるＮ（Ｎは２以上の自然数）本のデータ線に出力されたＮ個の出力信号を同時に読み出す読み出しステップとを備える。
【００２９】
本発明に係る電気光学装置の検査方法によれば、上述の電気光学装置と同様に、複数の画素部を簡便な回路構成によって、迅速に検査することが可能であり、歩留まりが高く、且つ高品位の液晶装置等の電気光学装置を提供できる。
【００３０】
本発明に係る電子機器は、上述した本発明の電気光学装置を具備してなるので、高品質な画像表示を行うことが可能な、投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。本発明に係る電子機器によれば、電気泳動装置、電子放出装置を用いた装置としてＤＬＰ（Digital Light Processing）等を実現することも可能である。本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置を含んでいるため、歩留まりが向上している。
【００３１】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下図面を参照しながら、本発明の電気光学装置、及びその検査方法、並びに電子機器の各実施形態を説明する。尚、本実施形態では、本発明に係る電気光学装置の一例としてＴＦＴアクティブマトリクス方式で駆動される液晶装置を挙げる。
【００３３】
本実施形態に係る液晶装置１について、図１乃至図１２を参照して説明する。
【００３４】
先ず、図１及び図２を参照して、本実施形態に係る液晶装置１の全体構成について説明する。ここに図１は、本実施形態に係る液晶装置１の全体構成を示す平面図である。図２は、図１のＨ−Ｈ´線での断面図である。
【００３５】
図１及び図２において、本実施形態に係る液晶装置１では、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とが対向配置されている。ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間に液晶層５０が封入されており、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とは、画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材５２により相互に接着されている。
【００３６】
図１において、シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２がＴＦＴアレイ基板１０の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側に、サンプリング回路１１０が額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。また、走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺に沿ったシール領域の内側に、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。また、ＴＦＴアレイ基板１０上には、対向基板２０の４つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材１０７で接続するための上下導通端子１０６が配置されている。これらにより、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間で電気的な導通をとることができる。
【００３７】
ＴＦＴアレイ基板１０上には、外部回接続端子１０２と、本発明の「読み出し手段」の一例である画像信号供給回路１０１、走査線駆動回路１０４、及び上下導通端子１０６等とを電気的に接続するための引回配線９０が形成されている。
【００３８】
図２において、ＴＦＴアレイ基板１０上には、駆動素子である画素スイッチング用のＴＦＴ（Thin Film Transistor）や走査線、信号線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。画像表示領域１０ａには、画素スイッチング用ＴＦＴや走査線、信号線等の配線の上層に画素電極９ａが設けられている。画素電極９ａ上には、配向膜が形成されている。他方、対向基板２０上には、対向電極２１の他、格子状又はストライプ状の遮光膜２３、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。
【００３９】
尚、ここでは図示しないが、ＴＦＴアレイ基板１０上には、画像信号供給回路１０１、走査線駆動回路１０４の他に、後述する検査回路に含まれる複数の差動増幅回路、プリチャージ回路、トランスミッションゲート等が形成されている。
【００４０】
次に、図３乃至図８を参照して、本実施形態に係る液晶装置１の主要な回路構成を説明する。ここに図３は、本実施形態に係る液晶装置１の主要な回路構成を示したブロック図である。図４は、画素部の電気的な構成を示す回路図である。図５は、プルダウン回路の電気的な構成を示す回路図である。図６は、プルアップ回路の電気的な構成を示す回路図である。図７は、差動増幅回路の電気的な構成を示す回路図である。図８は、画像信号供給回路１０１の回路構成を示したブロック図である。
【００４１】
尚、説明の便宜上、図３では図中左側から見て走査線Ｇｊ（ｊ＝１、２、・・・、ｎ；ｎは２以上の整数）の延びる方向に沿って奇数番目（即ち１番目、３番目、５番目、・・・）に配線されたデータ線Ｓｏｉ（ｉ＝１、２、・・・、ｍ；ｍは２以上の整数）と、偶数番目（２番目、４番目、６番目、・・・）に配線されたデータ線Ｓｅｉ（ｉ＝１、２、・・・、ｍ；ｍは整数）とにデータ線を区別して説明する。
図３において、本実施形態の液晶装置１は、ＴＦＴアレイ基板１０上に走査線駆動回路１０４、画像信号供給回路１０１、検査回路４及び画素部７０を備えている。
【００４２】
走査線駆動回路１０４は、画素部７０の検査時において、スイッチング信号を走査線１１６毎に順次供給する。ここで、スイッチング信号とは、画像を表示する際に画素部７０に供給される画像表示用の走査信号とは異なる信号であり、予め画素部７０に供給された後述する検査信号を、検査対象とされる画素部７０から第１電位信号として出力させるために画素部７０が備えるスイッチング素子をオン状態に切り換えるための信号である。
【００４３】
画像信号供給回路１０１は、液晶装置１の動作時、即ち画像表示がなされる際に、各データ線Ｓｏ及びＳｅに画像信号ＶＩＤ１〜４を供給する。画像信号供給回路１０１は、後に詳細に説明するように、画素部７０の検査時に、画素部７０の良否を判定するために検査回路４から出力された出力信号を外部回路等により構成される判定手段に読み出す。
【００４４】
画素部７０は、画像表示領域１０ａにデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉと走査線Ｇｊとの交差に対応して設けられている。
【００４５】
ここで、図４を参照しながら画素部７０の詳細な構成を説明する。図４において、画素部７０は、ＴＦＴ７１、液晶素子７２及び蓄積容量７３を備えている。
【００４６】
ＴＦＴ７１は、ソースがデータ線Ｓｏｉ又はＳｅｉに電気的に接続されており、ゲートが走査線Ｇｊに電気的に接続されている。ＴＦＴ７１は、走査線駆動回路１０４から供給されるスイッチング信号によってオンオフが切り換えられる。
【００４７】
液晶素子７２は、ＴＦＴアレイ基板１０及びＴＦＴアレイ基板１０に対応するように配置される対向基板間に注入される液晶と、この液晶を挟持する一対の電極を有している。
【００４８】
蓄積容量７３は、画像表示が行われる際に画素部７０に供給された画像信号を一時的に保持し、複数の画素部７０のアクティブマトリクス駆動を可能にする。
【００４９】
再び図３において、検査回路４は、ＴＦＴアレイ基板１０上に、差動増幅回路１５、第１駆動信号供給回路２１、第２駆動信号供給回路２２、イコライズ回路２３、電圧印加用配線２４、プリチャージ回路２５、接続回路２６、ＴＦＴ１１、１２ａ、１２ｂ、１３ｐ、及び１３ｎと、データ線Ｓｏ及びＳｅに電気的に接続されたトランスミッションゲート６を備えている。
【００５０】
データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉは、画像表示領域１０ａから差動増幅回路１５まで夫々複数本延在されており、差動増幅回路１５のノードＳｏ及びＳｅに夫々電気的に接続されている。データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉは、画像表示領域１０ａに設けられた複数の走査線Ｇｊ（ｊ＝１、２、・・・、ｎ；ｎは２以上の整数）に交差するように画像表示領域１０ａの画像表示領域内に延在している。画像表示領域１０ａに設けられた画素部７０は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉと複数の走査線Ｇｊとの交差に合わせて配置され、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉに電気的に接続されている。
【００５１】
接続回路２６は、テスト回路接続ゲート端子を介してテスト回路と電気的に接続されたテスト信号供給線４５と、プルダウン回路３５とを備えている。テスト信号供給線４５は、画素部７０を検査する際に、テスト回路から供給された一系列のテスト信号をトランスミッションゲート６に供給する。プルダウン回路３５は、テスト信号供給線４５を介してトランスミッションゲート６に供給されるテスト信号が変動しないようにテスト信号供給線４５の電位を安定化させる。
【００５２】
ここで、図５を参照しながらプルダウン回路の詳細な構成を説明する。図５に示すように、プルダウン回路３５は、電源ＶＤＤに電気的に接続されたゲート、アースされたソース、及びテスト信号供給線４５に電気的に接続されたドレインを備えたＴＦＴ１３５を備えており、テスト信号が供給される際にテスト信号供給線４５の電位が変動することを低減する。尚、プルダウン回路３２、３３及び３４もプルダウン回路３５と同様の回路構成を有している。
【００５３】
再び図３において、トランスミッションゲート６は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々の途中に設けられている。トランスミッションゲート６は、画素部７０からみて差動増幅回路１５に近い側に設けられており、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々の途中に電気的に接続された複数のＴＦＴ１４を備えている。複数のＴＦＴ１４は、画素部７０を検査する際にテスト信号供給線４５を介してテスト回路から供給されるテスト信号に応じて一括でオン状態に切り換えられる。これにより、各画素部７０の良否を反映した信号が差動増幅回路１５のノードＳｅ及びＳｏの夫々に供給可能な状態となる。より具体的には、画素部７０に設けられたＴＦＴ７１がオン状態に切り換えられていれば、各画素部７０から各差動増幅回路１５にデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々を介して各画素部７０の良否を反映する第１電位信号及び第２電位信号を一括で供給できる。
【００５４】
画素部の検査時において、複数の画素部７０には、予め所定電位の検査信号及び基準信号が供給されている。
【００５５】
図９に示すように、データ線Ｓｏｉに対応して設けられた画素部７０には、基準電位としての中間電位（図中、「Ｍ」と示す。）よりも高い電位（以下、適宜「ＨＩＧＨ電位」という。図中「Ｈ」と示す。）の検査信号が供給され、データ線Ｓｅｉに対応して設けられた画素部７０には、基準電位である中間電位を有する基準信号が供給される。本実施形態では、中間電位を電源ＶＤＤの電源電圧Ｖｄｄの半分、即ちＶｄｄ／２とする。よって、画像表示領域１０ａにおいて、中間電位の信号が供給された画素部７０の列とＨＩＧＨ電位の信号が供給された画素部７０の列が交互に配列された状態となる。
【００５６】
第１電位信号は、予め画素部７０に供給されていた検査信号が画素部７０から読み出された信号であり、画素部７０に不具合が生じている場合には検査信号の電位、即ちＨＩＧＨ電位と異なる電位で出力される。第２電位信号は、予め画素部７０に供給されていた基準信号が画素部７０から読み出された信号であり、第１電位信号と同時にデータ線Ｓｅｉを介して差動増幅回路１５に読み出される。尚、中間電位とは、差動増幅回路１５が第１電位信号の電位の高低を判定する際に比較対象となる基準電位、即ち参照電位である。尚、第１電位信号は、複数の画素部７０の全部又は一部に供給された信号であり、第２電位信号は、外部から供給される信号であってもよい。この場合には、画素部の良否に関係なく基準信号を外部から安定して供給することができるので、より確実に画素部７０の良否を判定することが可能となる。
【００５７】
ここで、図１０を参照しながら、画素部に不具合が生じていない場合の出力信号の電位を説明する。図１０は、差動増幅回路１５から出力された第１出力信号及び第２出力信号を含む出力信号の電位の状態を模式的に示した図である。
【００５８】
図１０に示すように、画素部に不具合が生じていない場合には、ＨＩＧＨ電位である第１電位信号は、より高いＨＩＧＨ電位（Ｈ）を有する第１出力信号として出力され、第２電位信号は、基準電位より低いＬＯＷ電位（Ｌ）を有する第２出力信号として出力される。画素部に不具合が生じている場合には、第１出力信号及び第２出力信号の夫々の相対的な電位が逆転した状態で出力される。
【００５９】
再び図３において、イコライズ回路２３は、イコライズ信号供給線４３及びプルダウン回路３３を備えており、ＴＦＴ１１のオンオフを切り換えるためのプリチャージ信号がイコライズ信号供給線４３を介してＴＦＴ１１のゲートに供給される。プルダウン回路３３は、イコライズ信号供給線４３の電位が変動することを低減する。
【００６０】
プリチャージ回路２５は、ＴＦＴ１２ａ及び１２ｂのゲートに電気的に接続されたプリチャージ信号供給線４４と、プリチャージ信号供給線４４に電気的に接続されたプルダウン回路３４とを備えている。プリチャージ信号供給線４４はイコライズ信号供給線４３にも電気的に接続されている。プリチャージ信号供給線４４は、ＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂのオンオフを切り換えるためにプリチャージ端子を介して外部から供給されたプリチャージ信号をＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂのゲートに供給する。プルダウン回路３４は、プリチャージ信号供給線４４の電位の変動を低減する。
【００６１】
電圧印加用配線２４は、ＴＦＴ１２ａのソース及びＴＦＴ１２ｂのドレインに電気的に接続されており、ＴＦＴ１２ａ及び１２ｂにプリチャージ電圧を印加する。プリチャージ電圧は、予め中間電位に設定されており、ＴＦＴ１２ａ及び１２ｂに供給される。尚、プリチャージ電圧は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々を介して第１及び第２電位信号が差動増幅回路１５に供給される前にＴＦＴ１２ａ及び１２ｂに供給される。
【００６２】
ＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂは、プリチャージ信号によってオン状態に切り換えられ、第１及び第２電位信号がデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉに夫々供給される前にデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの電位差が小さくなるようにデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの電位を設定する。より具体的には、ＴＦＴＦ１１のソース及びドレインと、ＴＦＴ１２ａのドレイン及びＴＦＴ１２ｂのソースの夫々がデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉに電気的に接続されており、プリチャージ信号がＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂのゲートに供給された後、プリチャージ電圧がＴＦＴ１２ａ及び１２ｂの夫々のソース及びドレイン間に供給される。これにより、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの電位差を小さくするように、ＴＦＴ１１のソース及びドレイン間、ＴＦＴ１２ａ及び１２ｂの夫々のソース及びドレイン間に電流が流れ、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々の電位が中間電位に等しくなる。従って、差動増幅回路１５が第１及び第２電位信号を比較する前提として、これら信号を差動増幅回路１５に供給するデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの電位を揃えることができる。
【００６３】
第１及び第２電位信号が、電位が揃ったデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々を介して差動増幅回路１５に供給された場合、第１及び第２電位信号の電位の高低関係が維持されたまま第１及び第２電位信号が差動増幅回路１５に供給される。従って、第１電位信号の電位及び第２電位信号の電位の高低関係がデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉ間の電位差に起因して変動することを低減でき、第１電位信号及び第２電位信号の電位の高低関係が逆転することを低減できる。
【００６４】
第１駆動信号供給回路２１は、第１駆動信号供給線４１及びプルアップ回路３１を備えている。第１駆動信号供給線４１は、差動増幅回路１５に電気的に接続されたＴＦＴ１３ｐのゲートに電気的に接続されており、外部から供給された第１駆動信号ＳＡｐＥをＴＦＴ１３ｐのゲートに供給する。第１駆動信号ＳＡｐＥは、差動増幅回路１５を駆動するための駆動信号であり、後述するように差動増幅回路１５は、ノードＳｏ及びＳｅの夫々に入力される信号のうち高い電位を有する信号の電位をより高くし、低い信号の電位をより低くするセンスアンプとして機能する。ＴＦＴ１３ｐはｐチャネル型のＴＦＴであり、ＴＦＴ１３ｐは第１駆動信号ＳＡｐＥがゲートに供給されるとオン状態に切り換わり、電源ＶＤＤを差動増幅回路１５のノードＳｐに供給する。
【００６５】
ここで、図６を参照しながらプルアップ回路３１の構成を説明する。
【００６６】
図６において、プルアップ回路３１はゲートが接地されたｐチャネル型のＴＦＴ１３１を備えている。ＴＦＴ１３１は、第１駆動信号供給線４１に電源ＶＤＤを供給する。
【００６７】
再び図３において、第２駆動信号供給回路２２は、第２駆動信号供給線４２及びプルダウン回路３２を備えている。第２駆動信号供給線４２は、差動増幅回路１５に電気的に接続されたＴＦＴ１３ｎのゲートに電気的に接続されており、外部から供給された第２駆動信号ＳＡｎＥをＴＦＴ１３ｎのゲートに供給する。ＴＦＴ１３ｎはｎチャネル型のＴＦＴであり、第２駆動信号ＳＡｎＥがゲートに供給されるとオン状態に切り換わり、電源ＶＤＤを差動増幅回路１５に供給する。プルダウン回路３２は、第２駆動信号供給線４２の電位を維持する。
【００６８】
差動増幅回路１５は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉを一組とするデータ線の組毎に一つずつ設けられている。トランスミッションゲート６がオン状態になった際に、第１及び第２電位信号がデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々から差動増幅回路１５のノードＳｏ及びＳｅの夫々に供給される。差動増幅回路１５は、第１及び第２電位信号を比較し、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々に、相互に異なる電位を有する第１出力信号及び第２出力信号を出力する。
【００６９】
次に、図７を参照して、差動増幅回路の構成について詳細に説明する。
【００７０】
図７において、差動増幅回路１５は、ｐチャネル型のＴＦＴ５１及び５２と、ｎチャネル型のＴＦＴ５３及び５４とを備えた交差結合型の差動増幅回路である。より具体的には、ＴＦＴ５１及び５２が電気的に直列に接続された直列回路と、ＴＦＴ５３及び５４が電気的に直列に接続された直列回路とが電気的に並列に接続されている。ＴＦＴ５１のゲートが、ＴＦＴ５２及び５４のノードＳｏに電気的に接続されている。ＴＦＴ５２のゲートは、ＴＦＴ５１及び５３のノードＳｅに電気的に接続されている。ＴＦＴ５３のゲートは、ＴＦＴ５２及び５４のノードＳｏに電気的に接続されている。ＴＦＴ５４のゲートは、ＴＦＴ５１及び５３のノードＳｅに電気的に接続されている。ノードＳｏは、データ線Ｓｏｉに電気的に接続されており、ノードＳｅは、データ線Ｓｅｉに電気的に接続されている。ＴＦＴ５１及び５２のノードＳｐは、ＴＦＴ１３ｐのドレインに電気的に接続されている。ＴＦＴ５３及び５４のノードＳｎは、ＴＦＴ１３ｎのドレインに電気的に接続されている。
【００７１】
差動増幅回路１５は、第１電位信号が第２電位信号より僅かに高い電位を有している場合には、第１電位信号に比べて電位が高められた第１出力信号をデータ線Ｓｏｉに出力すると共に、第２電位信号より電位が低く設定された第２出力信号をデータ線Ｓｅｉに出力する。このように電位が高められた第１出力信号及び電位が低く設定された第２出力信号によれば、第１電位信号の電位が第２電位信号の電位より高いことを明確に判別できる。差動増幅回路１５は、第１電位信号が第２電位信号より僅かに低い電位を有している場合には、第１電位信号に比べて電位がより低くされた第１出力信号をデータ線Ｓｏｉに出力すると共に、基準電位より電位が高められた第２出力信号をデータ線Ｓｅｉに出力する。
【００７２】
このような低電位の第１出力信号及び高電位の２出力信号によれば、第１電位信号の電位が第２電位信号の電位より低いことを明確に判別できる。したがって、第１電位信号及び第２電位信号に比べて電位差が増幅された第１出力信号及び第２出力信号の電位の高低関係が、予め画素部に供給した基準電位を有する基準信号及び検査信号の電位の高低関係と一致するか否かを判別することによって、検査対象とされる画素部の良否が精度良く判定可能となる。尚、基準信号が供給された画素部及び検査対象とされた画素部の夫々に供給する検査信号及び基準信号を入れ換えて再度検査を行うことによって全ての画素部を検査可能である。
【００７３】
次に、図３及び図７を参照して、差動増幅回路１５が第１出力信号及び第２出力信号を出力する手順について説明する。ここでは、中間電位を有する第２電位信号の電位に比べて高い電位を有する第１電位信号が差動増幅回路１５に供給された場合、即ち各データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々の電位が図９に示す状態を例に挙げて説明する。
【００７４】
図３及び図７において、第２駆動信号供給回路２２からＴＦＴ１３ｎに第２駆動信号ＳＡｎＥが供給されると、ＴＦＴ１３ｎがオン状態に切り換えられ、ＴＦＴ１３ｎを介してノードＳｎの電位がグランド電位に近づく。ＴＦＴ５３のソースの電位は中間電位に設定されているため、ＴＦＴ５３のソース・ドレイン間に電流が流れ、ノードＳｅの電位が低下する。このとき、ｐチャネル型のＴＦＴ５２のゲートはノードＳｅに電気的に接続されているため、ノードＳｅの電位が低下していることによってＴＦＴ５２がオン状態に切り換えられる。第１駆動信号供給回路２１からＴＦＴ１３ｐに第１駆動信号ＳＡｐＥが供給されると、ＴＦＴ１３ｐがオン状態に切り換えられ、ＴＦＴ１３ｐを介してノードＳｐに電源ＶＤＤが供給される。これにより、電源ＶＤＤがＴＦＴ１３ｐ及び５２を介してノードＳｏに供給され、ノードＳｏの電位が高められる。
【００７５】
このようにして差動増幅回路１５は、第１電位信号の電位を高め、且つ第２電位信号の電位を低くする。差動増幅回路１５によれば、第１電位信号が中間電位より高い場合には、第１電位信号より高い電位を有する第１出力信号が出力される。
【００７６】
第１電位信号の電位が第２電位信号の電位より低い場合には、上述したＴＦＴ５２及び５３と同様にＴＦＴ５１及び５４が動作し、第１電位信号に基づいて低電位の第１出力信号が出力される。この場合には、中間電位に設定された第２電位信号は電位が高められた第２出力信号として出力され、これと共に第１電位信号は第２出力信号の電位より低い電位を有する低電位信号として出力される。
【００７７】
次に、図３及び図１２を参照して、差動増幅回路１５が、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉを介して第１出力信号及び第２出力信号を出力する際の各種信号のタイミングを説明する。図１２は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉを介して各種信号を出力するタイミングを示したタイミングチャートである。尚、図１２では、データ線Ｓｏｉに対応する画素部７０を検査対象としている。即ち、図９を参照して説明したように、画像表示領域１０ａにおいて、中間電位の信号が供給された画素部７０の列とＨＩＧＨ電位の信号が供給された画素部７０の列が交互に配列された状態となる場合を例にとる。
【００７８】
図１２において、タイミングｔ１までに画素部７０ｏには検査信号及び画素部７０ｅには基準信号が供給されている。即ち、図９を参照して説明したように画像表示領域１０ａにおいて、中間電位の信号が供給された画素部の列とＨＩＧＨ電位の信号が供給された画素部の列が交互に配列された状態となっている。プリチャージ回路２５は、プリチャージ信号供給線４４を介してタイミングｔ１にプリチャージ信号ＰＣＧをＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂのゲートに供給する。ＴＦＴ１１、１２ａ及び１２ｂはオン状態となり、電圧印加用配線２４を介してプリチャージ電圧がデータ線Ｓｏｉ及びＳｅｉに印加される。これにより、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの電位が中間電位に設定される。その後、プリチャージ回路２５は、タイミングｔ２にプリチャージ信号ＰＣＧの供給を終了する。
【００７９】
トランスミッションゲート６がオン状態に切り換えられた後、走査線Ｇ１は、タイミングｔ３においてスイッチング信号を画素部７０に供給し、第１及び第２電位信号が夫々、信号線Ｓｏｉ及びＳｅｉを介して差動増幅回路１５に供給される。尚、走査線Ｇ１は、走査線Ｇ１に電気的に接続された画素部７０の全てにスイッチング信号を供給し、走査線Ｇ１に電気的に接続された画素部７０が備えるＴＦＴ７１がオン状態に切り換えられる。第１及び第２電位信号は、走査線Ｇ１に電気的に接続された複数の画素部７０の夫々からこれら画素部７０に対応する差動増幅回路１５に供給される。
【００８０】
ここで、画素部７０ｏに不具合が生じていない場合には、予め画素部７０ｏに供給された検査信号の電位と同様に、中間電位より高い電位、即ちＨＩＧＨ電位を有する第１電位信号がデータ線Ｓｏｉを介して差動増幅回路１５に供給される。このとき、第１電位信号は、中間電位よりわずかに高い電位を有している。第２電位信号が出力されるデータ線Ｓｅｉの電位は、予め設定された中間電位であり、第１電位信号の電位より僅かに低い。このように、画素部７０ｏに不具合が生じていない場合には、画素部７０ｏに予め供給された検査信号の電位及び中間電位間の電位の高低関係が、第１電位信号の電位及び第２電位信号の電位の高低関係にそのまま維持されている。
【００８１】
タイミングｔ４に第２駆動信号供給回路２２からＴＦＴ１３ｎに第２駆動信号ＳＡｎＥが供給されると、差動増幅回路１５はデータ線Ｓｅｉの電位を低下させる。これにより、第１電位信号が供給されたノードＳｏの電位より低い電位を有するノードＳｅの電位は、第２電位信号を供給された時点より低い電位に下げられる。
【００８２】
タイミングｔ５において、第１駆動信号供給回路２１からＴＦＴ１３ｐに第１駆動信号ＳＡｐＥが供給されると、差動増幅回路１５は第１電位信号が供給されたノードＳｏの電位を第２電位信号が供給された時点の電位より高める。
【００８３】
タイミングｔ４及びｔ５の夫々において、差動増幅回路１５に供給された信号のうち低い電位を有する第２電位信号が供給されたノードＳｅの電位はより低く下げられ、高い電位を有する第１電位信号が供給されたノードＳｏの電位はより高く上げられる。これにより、ノードＳｏ及びＳｅの夫々の電位の高低関係が明確になる。差動増幅回路１５は、ノードＳｏを介して出力された第１出力信号をデータ線Ｓｏｉを介してテスト回路等の判定手段に出力する。これと同時に差動増幅回路１５は、ノードＳｅを介して出力された第２出力信号をデータ線Ｓｅｉを介してテスト回路等の判定手段に出力する。
【００８４】
テスト回路は、第１出力信号の電位及び第２出力信号の電位を比較する。第１出力信号は第１電位信号より電位が高められており、且つ第２出力信号は中間電位より電位が下げられているので、テスト回路は、第２電位信号及びこの第２電位信号よりわずかに高い電位を有する第１電位信号を比較する場合に比べて、第１出力信号の電位が第２出力信号の電位より高いことを明確に判定できる。ここで、検査信号の電位及び中間電位の高低関係と、第１出力信号の電位及び第２出力信号の電位の高低関係は一致しているため、テスト回路は検査対象である画素部７０ｏに不具合が生じていないと判定する。
【００８５】
次に、走査線Ｇ２に電気的に接続された画素部の良否を判定するために、タイミングｔ６からｔ７間において、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉにプリチャージ電圧が供給され、これらデータ線が再び中間電位に設定される。
【００８６】
タイミングｔ８において、走査線Ｇ２がスイッチング信号を出力し、走査線Ｇ２に電気的に接続された画素部７０にスイッチング信号が供給される。スイッチング信号が供給された画素部７０ｏは、走査線Ｇ１に電気的に接続された画素部７０ｏと同様に第１電位信号をデータ線Ｓｏｉを介して差動増幅回路１５に出力する。このとき、データ線Ｓｅｉは第２電位信号を差動増幅回路１５に供給する。これにより、走査線Ｇ１と同様にしてデータ線Ｓｏｉに電気的に接続された画素部７０ｏのうち走査線Ｇ２に電気的に接続された画素部７０ｏに対応した第１出力信号と、画素部７０ｅに対応した第２出力信号とが差動増幅回路１５から各データ線を介してテスト回路に出力され、走査線Ｇ２に電気的に接続された画素部７０の良否を判定できる。このようにして、順次走査線Ｇ３、Ｇ４、・・・、Ｇｎの夫々に電気的に接続された画素部の良否を順次判定することが可能である。
【００８７】
次に、図３及び図１２を参照して、画素部に不具合が生じている場合について説明する。
【００８８】
図１２において、画素部７０は、図９を参照して説明したように画像表示領域１０ａにおいて、中間電位の信号が供給された画素部７０ｅの列とＨＩＧＨ電位の信号（即ち、検査信号）が供給された画素部７０ｏの列が交互に配列された状態になっている。走査線Ｇ１からスイッチング信号が画素部７０に供給されたタイミングｔ３において、画素部７０ｏは中間電位より僅かに低い電位を有する第１電位信号を差動増幅回路１５に供給する。尚、中間電位より低い電位を有する第１電位信号が供給されたノードＳｏの電位を図中点線で示したＬ０とする。ここで、第１電位信号が中間電位より低い電位を有しているのは、例えば電流リークが生じているＴＦＴ、或いは電流リークが生じている蓄積容量７３を画素部７０ｏが含んでいる場合に相当する。
【００８９】
タイミングｔ４において、第２駆動信号供給回路２２からＴＦＴ１３ｎに第２駆動信号ＳＡｎＥが供給されると、差動増幅回路１５は、中間電位より低い電位を有する第１電位信号が供給されたノードＳｏの電位を更に低い電位に低下させる（図中点線Ｌ１で示す）。より具体的には、差動増幅回路１５のノードＳｏに供給された第１電位信号の電位は、差動増幅回路１５のノードＳｅに供給された第２電位信号の電位より僅かに低いため、差動増幅回路１５は第１電位信号及び第２電位信号の電位を比較し、信号線Ｓｏｉの電位をより低い電位に下げる。差動増幅回路１５は、ノードＳｏの電位と等しい電位を有する低電位の第１電位信号を出力する。
【００９０】
タイミングｔ５において、第１駆動信号供給回路２１からＴＦＴ１３ｐに第１駆動信号ＳＡｐＥが供給されると、差動増幅回路１５は第２電位信号の電位を高める。ノードＳｅの電位は差動増幅回路１５によって電位が下げられたノードＳｏの電位より高い電位であるため、差動増幅回路１５は、ノードＳｅの電位を中間電位より高い電位に高める。差動増幅回路１５は、中間電位より電位が高められたノードＳｅの電位と等しい高電位の第２出力信号を出力する。
【００９１】
この結果、テスト回路は、データ線Ｓｏｉ及びＳｅｉの夫々に供給された第１電位信号の電位及び第２電位信号の電位の高低関係が維持された第１出力信号および第２出力信号を出力する。テスト回路は、第１電位信号より電位が下げられた第１出力信号を検出することによって第１電位信号の電位が中間電位より低いことを明確に検出できる。尚、ここでは、第１出力信号及び第２出力信号の夫々の電位間の高低関係と、中間電位の電位に対する検査信号の電位の高低関係とは逆であり、このような場合にはテスト回路は画素部７０ｏに不具合が生じていると判定する。
【００９２】
なお、第１、第２出力信号の電位としては、第１、２電位信号が中間電位より低い場合は、グラウンドの電源電位（ＶＳＳ電源；０Ｖ）を用い、中間電位より高い場合は、高電位の電源電位（ＶＤＤ電源；例えば１５Ｖ）を用いるとよい。
【００９３】
このように、本実施形態の液晶装置１によれば、予め画素部７０に供給された検査信号の電位及び中間電位の高低関係と、テスト回路で電位が比較される第１出力信号の電位及び第２出力信号の電位の高低関係が一致するか否かを判定することによって、画素部７０ｏに不具合が生じているか否かを判定できる。更に、画像表示領域１０ａにおけるいずれの領域に位置する画素部７０からの第１及び第２電位信号も正確且つ高速に検出可能であり、画素部７０の良否を正確に且つ短時間で判定できる。これに伴い液晶装置等の電気光学装置の歩留まりを高めることができ、製造コストを低減することも可能である。
【００９４】
次に、図８を参照しながら画像信号供給回路１０１の電気的な接続構成を説明する。後述するように、画像信号供給回路１０１によれば、第１出力信号および第２出力信号を迅速にテスト回路の読み出すことが可能である。本実施形態では、４本のデータ線を一群とするデータ線群毎に４相に相展開された画像信号ＶＩＤ１〜４が一括で供給されることによって画像が表示され、第１出力信号及び第２出力信号はデータ線群毎に一括で読み出される点に特徴を有している。
【００９５】
図８において、画像信号供給回路１０１は、データ線駆動回路１００、サンプリング回路１１０、及びデータ線に電気的に接続された複数の画像信号線９１を備えている。
【００９６】
データ線駆動回路１００は、液晶装置１の動作時、即ち画像表示が行われる際には、外部から供給されたイネーブル信号ＥＮＢ、クロック信号ＣＬＸ、反転クロック信号ＣＬＸｉｎｖ、及びスタートパルスＤＸに基づいて、第（１）データ線群から第（ｍ）データ線群までデータ線群毎にサンプリング信号Ｐ１、・・・、Ｐｋ（ｋ：ｍ／４で算出される整数）を順番に供給し、データ線群毎にサンプリングスイッチ１１１をオン状態に切り換える。より具体的には、データ線駆動回路１００は、第（１）データ線群にサンプリング信号Ｐ１を供給し、データ線Ｓｅ１、Ｓｏ１、Ｓｅ２、及びＳｏ２の夫々の途中に電気的に接続されたサンプリングスイッチ１１１をオン状態に切り換える。４本の画像信号線９１ａ、９１ｂ、９１ｃ及び９１ｄの夫々に供給された４相の画像信号ＶＩＤ１、ＶＩＤ２、ＶＩＤ３及びＶＩＤ４の夫々は、４本の画像信号線９１ａ、９１ｂ、９１ｃ及び９１ｄの夫々に電気的に接続されたデータ線Ｓｅ１、Ｓｏ１、Ｓｅ２、及びＳｏ２を介して、各画素部７０に供給される。その後、順番に第（ｋ）データ線群まで順番にデータ線群毎にサンプリング信号が供給され、各データ線群に含まれるデータ線に電気的に接続された画素部に画像信号ＶＩＤ１、ＶＩＤ２、ＶＩＤ３及びＶＩＤ４の夫々が供給される。
【００９７】
他方、データ線駆動回路１００は、差動増幅回路１５からデータ線Ｓｅ及びＳｏの夫々を介して第１出力信号Ｒｏ１、・・・、Ｒｏｋ、及び第２出力信号Ｒｅ１、・・・、Ｒｅｋを読み出す際には、サンプリング回路１１０を構成するサンプリングスイッチ１１１にサンプリング信号Ｐ１、・・・、Ｐｋを供給し、各データ線群を構成するデータ線に電気的に接続されたサンプリングスイッチ１１１をオン状態に切り換える。ここでいう「サンプリング信号」とは、画像を表示する際にデータ線駆動回路１０１からサンプリング回路１１０に供給される信号とは異なり、後述する差動増幅回路１５から出力された第１出力信号及び第２出力信号をデータ線群毎に読み出すためのサンプリングスイッチをオン状態に切り換えるための信号である。
【００９８】
サンプリング回路１１０は、画素部７０を検査する際に、検査回路４が有する差動増幅回路１５から出力された第１出力信号Ｒｏ及び第２出力信号Ｒｅ等の複数の出力信号を４本のデータ線を含むデータ線群毎に４本の画像信号線９１に出力し、４本の画像信号線９１を介して外部のテスト回路に第１出力信号Ｒｏ及び第２出力信号Ｒｅをデータ線群毎に一括で読み出す。
【００９９】
より具体的には、本実施形態に係る液晶装置１では、検査時に、各データ線群から４個（系統）の出力信号、即ち２個の第１出力信号Ｒｏ及び２個の第２出力信号Ｒｅが同時に、即ちパラレルで４本の画像信号線９１を介して読み出される。このようにしてデータ線群毎にパラレルに読み出された４個の出力信号は、全体で４ビットのデータとなる。したがって、本実施形態に係る液晶装置１によれば、複数の画素部から並列に出力されるパラレルな出力信号をシリアルデータに変換することなく、４本のデータ線と、４本の画像信号線を介して出力された４ビットのデータに基づいてデータ線群毎に迅速に画素部の良否を判定できる。加えて、本実施形態に係る液晶装置１によれば、複数の画素部に対応して同時に出力された複数の出力信号をパラレル−シリアル変換するための変換回路が不要であるため、基板上に形成される回路構成を簡便にでき、且つ液晶装置に要するコストの増大を抑制できる。
【０１００】
また、４個の出力信号は、４本の画像信号線を介して同時に読み出されるため、画像を表示する際に画像信号を供給するために用いられた４本の画像信号線９１は４個の出力信号を読み出す際に用いられる。したがって、画像表示及び画素部の検査時に４本の画像信号線を共用できる。このような構成を有する液晶装置１によれば、ＴＦＴアレイ基板１０上に複雑なデータ変換回路を設けることなく、且つデータ変換を要することなく、迅速且つ簡便に画素部を検査することが可能である。
【０１０１】
画像信号線９１を介して読み出された４ビットのデジタルデータは、図１１に示すように、液晶装置１とは別に設けられたメモリ等を含む記憶装置２００に記憶される。より具体的には、画像信号供給回路１０１は、データ線群毎に４ビットのデジタルデータを記憶装置２００に順次供給し、供給されたデジタルデータは記憶装置２００に順に記憶される。尚、このようなデジタルデータは、各出力信号に対応して基準電位より出力信号の電位が低い（ＬＯＷ）或いは高い（ＨＩＧＨ）を示す２値のデジタルデータで構成されている。
【０１０２】
テスト回路を含む判定装置３００は、検査に先立ち各画素部に供給した検査信号及び基準電位の高低関係と、データ線群毎に読み出されたデジタルデータ、即ち画素部の個数と同数のビット数で、第１出力信号及び第２出力信号の夫々の電位の高低関係の情報を含むデジタルデータとを記憶装置２００から読み出して相互に比較することによって、画素部の良否を判定する。
【０１０３】
以上説明したように、本実施形態に係る液晶装置１によれば、複数の画素部を簡便な回路構成によって、迅速に検査することが可能である。したがって、液晶装置を完成させる前に予め画素部の良否を判定しておくことにより、歩留まりが高く、且つ高品位の液晶装置等の電気光学装置を提供できる。
【０１０４】
次に、図１３及び図１４を参照しながら本実施形態に係る電気光学装置の検査方法を説明する。尚、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法として、上述の液晶装置１の検査方法を例に挙げる。図１３は、本実施形態に係る液晶装置の検査方法のフローチャートであり、図１４は、出力信号を読み出す際のタイミングチャートである。
【０１０５】
図１３において、画素部７０ｏに検査信号を供給する（Ｓ１０ａ）と共に、画素部７０ｅに基準電位を有する参照信号を供給する（Ｓ１０ｂ）。次に、画像信号線９１を中間電位にプリチャージする（Ｓ２０）。次に、検査回路４を駆動し、データ線Ｓｏ及びＳｅを介して第１電位信号及び第２電位信号を差動増幅回路１５に読み込んで、データ線Ｓｏ及びＳｅの夫々に第１出力信号及び第２出力信号を出力し（Ｓ３０）、各データ線の電位を確定する（Ｓ４０）。次に、第１出力信号及び第２出力信号をデータ線群毎に読み出すための出力用のサンプリング信号を各データ線群に対応するサンプリングスイッチ１１１に供給する（Ｓ５０）。次に、データ線群毎に、第１出力信号及び第２出力信号を画像信号線９１に読み出す（Ｓ６０）。尚、本実施形態では、すでに述べたように一のデータ線群を構成する４本のデータ線を介して２個の第１出力信号及び２個の第２出力信号からなる４個の出力信号がデータ線群毎に一括で読み出され、記憶装置２００に順次記憶される。
【０１０６】
ここで、図１４を参照しながら、第１出力信号及び第２出力信号を読み出す手順を説明する。尚、ここでは、説明を簡便にするために第（１）データ線群及び第（２）データ線群から出力信号を読み出す場合を例に挙げる。
【０１０７】
図１４において、第１駆動信号ＳＡｐＥがタイミングｔ１０にノードｓｐに供給されると差動増幅回路１５が駆動状態となる。次に、タイミング２０に第（１）データ線群に対応するサンプリングスイッチ１１１にサンプリング信号Ｐ１が供給されると、第１出力信号Ｒｏ１（１）及びＲｏ１（２）と、第２出力信号Ｒｅ１（１）及びＲｅ１（２）とが４本の画像信号線９１の夫々に読み出される。次に、タイミング３０においてサンプリング信号Ｐ１の供給を終了し、続くタイミング４０に第（２）データ線群に対応するサンプリングスイッチ１１１にサンプリング信号Ｐ２が供給されると、第１出力信号Ｒｏ２（１）及びＲｏ２（２）と、第２出力信号Ｒｅ２（１）及びＲｅ２（２）とが４本の画像信号線９１の夫々に読み出される。サンプリング信号Ｐ２の供給をタイミング５０に終了し、同様に第（ｋ）データ線群まで第１出力信号及び第２出力信号からなる出力信号を読み出す。
【０１０８】
次に、再び図１３において、再度画像信号線９１を中間電位にプリチャージして、次の出力信号の読み出しに備える（Ｓ７０）。次に、第（ｋ）データ線群まで出力信号の読み出しが終了したか否かが判定され（Ｓ８０）、第（ｋ）データ線群まで出力信号の読み出しが終了していない場合には、再度サンプリング信号を供給するステップ（Ｓ５０）に戻り、全ての画素部について第１出力信号及び第２出力信号を読み出す。次に、記憶装置２００に記憶されたデジタルデータと、予め記憶された検査信号及び基準信号の夫々の電位との高低関係を比較することによって各画素部の良否を検査する（Ｓ９０）。
【０１０９】
以上説明したように、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によれば、すでに液晶装置１で述べたように、画素部の良否を判定するための出力信号を迅速且つ確実に読み出すことが可能である。
【０１１０】
＜電子機器＞
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。
【０１１１】
まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図１５は、本発明の電子機器の一例であるプロジェクタの構成例を示す平面図である。図１５に示されるように、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６および２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇに入射される。
【０１１２】
液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、ＲおよびＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。
【０１１３】
ここで、各液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇによる表示像について着目すると、液晶パネル１１１０Ｇによる表示像は、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂによる表示像に対して左右反転することが必要となる。
【０１１４】
なお、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇには、ダイクロイックミラー１１０８によって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
【０１１５】
尚、図１５を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。
【０１１６】
また本発明は、上述の実施形態で説明した液晶装置以外にも、シリコン基板上に素子を形成する反射型液晶装置（ＬＣＯＳ）、プラズマディスプレイ（ＰＤＰ）、電界放出型ディスプレイ（ＦＥＤ、ＳＥＤ）、有機ＥＬディスプレイ等にも適用可能である。
【０１１７】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置、及びその検査方法、並びにその電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【０１１８】
【図１】本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。
【図２】図１のＨ−Ｈ´断面図である。
【図３】本実施形態に係る液晶装置の主要な回路構成を示すブロック図である。
【図４】画素部の電気的な構成を示す回路図である。
【図５】プルダウン回路の電気的な構成を示す回路図である。
【図６】プルアップ回路の電気的な構成を示す回路図である。
【図７】差動増幅回路の電気的な構成を示す回路図である。
【図８】画像信号供給回路の電気的な構成を示すブロック図である。
【図９】検査時に予め信号が供給された画素部の状態を示す概念図である。
【図１０】第１電位信号及び第２電位信号を出力する際の画素部の電位の状態を示す概念図である。
【図１１】検査システムの構成図である。
【図１２】検査時における各種信号のタイミングを示したタイミングチャートである。
【図１３】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法のフローチャートである。
【図１４】出力信号を読み出す際の各種信号のタイミングチャートである。
【図１５】本実施形態に係る電子機器の平面図である。
【符号の説明】
【０１１９】
１・・・液晶装置、１０・・・ＴＦＴアレイ基板、１０１・・・画像信号供給回路、１００・・・データ線駆動回路、１１０・・・サンプリング回路、１１１・・・サンプリングスイッチ、９１・・・画像信号線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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