(57)【要約】【課題】光ディスクの反射光のばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことを可能にする光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置１は、アナログ演算回路５、ＡＧＣ回路６、サーボ回路７、システムコントローラ回路８等を備えて構成される。アナログ演算回路５は、ピックアップユニット４の光検出器の出力信号１０に基づき、トラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部５ａを備える。サーボ回路７は、乗算器Ｃ７ａとＴＥ振幅測定部７ｄとを備えて構成されている。システムコントローラ回路８は、ＣＰＵ８ａ、メモリ等を備えて構成され、ＣＰＵ８ａは、ＴＥ振幅測定部７ｄで測定したトラッキングエラー信号の振幅の情報をＴＥ振幅２０として読み取り可能である。ＣＰＵ８ａは、読み取ったＴＥ振幅２０の情報に基づき、サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａのゲインを補正するＧＣ信号１９を出力する。【選択図】        図１
2007335051.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、前記光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、
前記光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、前記光ディスクのトラックに追従するように前記光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置において、
前記光ピックアップのトラッキングエラー信号の振幅を測定する測定手段と、
前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正するゲイン補正手段とを備え、
前記測定手段は、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記ゲイン補正手段は、
前記測定手段により測定した、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、トラッキング制御時の前記光ピックアップの任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、
推定した前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記測定手段は、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の少なくとも２箇所におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記ゲイン補正手段は、
前記測定手段により測定した、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の少なくとも２箇所におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、前記光ピックアップの前記光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅との間を線形近似し、
前記光ピックアップの前記光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅との間の線形近似に基づき、トラッキング制御時の前記光ピックアップの任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、
推定した前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記測定手段は、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の所定の２箇所におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記ゲイン補正手段は、
前記測定手段により測定した、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の所定の２箇所におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、前記光ピックアップの前記光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅との間を一次式で近似し、
前記光ピックアップの前記光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅との間を近似した一次式に基づき、トラッキング制御時の前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、
推定した前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、前記光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、
前記光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、前記光ディスクのトラックに追従するように前記光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置において、
前記光ピックアップのトラッキングエラー信号の振幅を測定する測定手段と、
前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを調整するゲイン補正手段とを備え、
前記測定手段は、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の所定の調整位置及びトラッキング制御時の任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記ゲイン補正手段は、
前記光ピックアップの、前記調整位置における前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正し、
前記光ピックアップの、トラッキング制御時の制御位置及び予め測定した前記調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び前記調整位置における前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、前記光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、
前記光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、前記光ディスクのトラックに追従するように前記光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置の調整方法において、
前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
測定した、前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、トラッキング制御時の前記光ピックアップの任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、
推定した前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする光ディスク装置の調整方法。
【請求項６】
光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、前記光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、
前記光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、前記光ディスクのトラックに追従するように前記光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置の調整方法において、
前記光ピックアップの、前記光ディスクの半径方向の所定の調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記光ピックアップの、前記調整位置における前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正し、
前記光ピックアップの、トラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、
前記光ピックアップの、前記調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び前記調整位置における前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、前記トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正する
ことを特徴とする光ディスク装置の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御する光ディスク装置及び光ディスク装置の調整方法に関する。詳しくは、トラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御のサーボゲインを補正することにより、反射率以外の、光ディスクの製造に起因するトラッキングエラー信号のばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことを可能とするものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクの記録面に光ビームを照射することにより、情報の記録及び再生を行う光ディスク記録再生装置においては、回転している光ディスクのトラックに光ビームを確実に照射するために、ピックアップユニットの位置決めを行うフォーカスサーボ及びトラッキングサーボが用いられる。
【０００３】
フォーカスサーボは対物レンズのフォーカス位置を光ディスクの記録面に一致させるものであり、トラッキングサーボは対物レンズを光ディスクのトラックに追従させるものである。これらのサーボは、光ディスクからの反射光を検出する多分割光検出器からの各出力信号を演算して得られるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて制御される。
【０００４】
一般に、光ディスクの記録面の反射率は、半径方向に移動するに従って変化する。このため、ピックアップユニットが光ディスクの半径方向に移動するに伴い、反射光の光量が変化してフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の信号レベルが変化し、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボの制御が不安定になる問題があった。
【０００５】
このような問題を解決するため、光ディスクからの反射光に応じて、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボのサーボゲインを補正する光ディスク記録再生装置が提案されている（例えば特許文献１参照）。特許文献１に開示される光ディスク記録再生装置は、多分割光検出器からの各出力信号の和信号（プルイン信号）に基づき、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボのサーボゲインを補正するものである。これにより、光ディスクの記録面の反射率の変化による各信号レベルの変化により、各サーボ制御が不安定になることを防ぐものである。
【０００６】
【特許文献１】特許第２６２９２０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、上述した従来の光ディスク記録再生装置では、次のような問題がある。図８は、多分割光検出器からの各出力信号を演算して得られる各信号の振幅の、光ディスクの半径方向の位置における変化を示す説明図である。Ｈは多分割光検出器からの各出力信号の和信号であるプルイン信号（ＰＩ信号）の振幅の変化を示し、Ｊは多分割光検出器からの各出力信号のトラッキング方向の誤差信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）の振幅の変化を示している。また、ＩはＰＩ信号により正規化した後のＴＥ信号の振幅を示している。
【０００８】
光ディスクの各半径位置におけるＴＥ信号の信号レベルの変化は、光ディスクの記録面の反射率だけではなく、ピット深さのむら等の光ディスク製造時のばらつきによっても生じる。このため、ＰＩ信号によりＴＥ信号を完全に補正することはできず、図８のＫに示すように、ＰＩ信号により正規化したＴＥ信号の振幅は、例えば半径３８ｍｍの位置において、信号レベルが１．５ｄＢ以上補正されない状態となってしまう。即ち、ＰＩ信号によるＴＥ信号の正規化では、光ディスクの反射光のばらつきによる影響を抑えて、トラッキングサーボの制御を安定して行うことができない問題がある。
【０００９】
本発明はこのような問題を解決するためになされたものであり、光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御のサーボゲインを補正することにより、光ディスクの製造に起因するトラッキングエラー信号のばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことを可能にする光ディスク装置及び光ディスク装置の調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決するため、請求項１の発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置において、光ピックアップのトラッキングエラー信号の振幅を測定する測定手段と、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正するゲイン補正手段とを備え、測定手段は、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、ゲイン補正手段は、測定手段により測定した、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、トラッキング制御時の光ピックアップの任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、推定した光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正することを特徴とするものである。
【００１１】
請求項１の発明に係る光ディスク装置は、光ピックアップのレーザ光源より、光ディスクの記録面に光ビームを照射することにより、光ディスクに対する情報の記録又は再生を行う。光ピックアップを光ディスクの目標トラックに追従させるトラッキング制御は、トラッキングサーボ手段により行われる。このトラッキングサーボ手段によるトラッキング制御は、光ピックアップの、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器の出力信号から算出させるトラッキングエラー信号に基づいて行われる。
【００１２】
また、請求項１の発明に係る光ディスク装置では、トラッキングサーボ手段により光ピックアップのトラッキング制御を行う際のサーボゲインの補正が、次のように行われる。まず、光ディスクが装着され当該光ディスク装置が起動する際に、測定手段により、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報が測定される。このトラッキングエラー信号は、各光ディスクの製造に起因するばらつき等の反射光の特性により異なる。
【００１３】
その後、測定された、複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報に基づき、ゲイン補正手段により、トラッキング制御時の光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が推定される。その後、推定された、光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、ゲイン補正手段により、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。
【００１４】
上述した課題を解決するため、請求項４の発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置において、光ピックアップのトラッキングエラー信号の振幅を測定する測定手段と、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを調整するゲイン補正手段とを備え、測定手段は、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の所定の調整位置及びトラッキング制御時の任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、ゲイン補正手段は、光ピックアップの、調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正し、光ピックアップの、トラッキング制御時の制御位置及び予め測定した調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正することを特徴とするものである。
【００１５】
請求項４の発明に係る光ディスク装置は、光ピックアップのレーザ光源より、光ディスクの記録面に光ビームを照射することにより、光ディスクに対する情報の記録又は再生を行う。光ピックアップを光ディスクの目標トラックに追従させるトラッキング制御は、トラッキングサーボ手段により行われる。このトラッキングサーボ手段によるトラッキング制御は、光ピックアップの、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器の出力信号から算出させるトラッキングエラー信号に基づいて行われる。
【００１６】
また、請求項４の発明に係る光ディスク装置では、トラッキングサーボ手段により光ピックアップのトラッキング制御を行う際のサーボゲインの補正が、次のように行われる。まず、測定手段により、光ピックアップの光ディスクの半径方向の所定の調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が測定される。このトラッキングエラー信号は、各光ディスクの製造に起因するばらつき等の反射光の特性により異なる。
【００１７】
その後、ゲイン補正手段により、光ピックアップの、調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。その後、測定手段により、トラッキング制御時の前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が測定される。
【００１８】
その後、光ピックアップの、調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、ゲイン補正手段により、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。
【００１９】
上述した課題を解決するため、請求項５の発明に係る光ディスク装置の調整方法は、光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置の調整方法において、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、測定した、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報に基づき、トラッキング制御時の光ピックアップの任意の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を推定し、推定した光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正することを特徴とするものである。
【００２０】
請求項５の発明に係る光ディスク装置の調整方法は、次のような光ディスク装置に適用される。光ピックアップのレーザ光源より、光ディスクの記録面に光ビームを照射することにより、光ディスクに対する情報の記録又は再生を行う。光ピックアップを光ディスクの目標トラックに追従させるトラッキング制御は、トラッキングサーボ手段により行われる。このトラッキングサーボ手段によるトラッキング制御は、光ピックアップの、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器の出力信号から算出させるトラッキングエラー信号に基づいて行われる。
【００２１】
また、請求項５の発明に係る光ディスク装置の調整方法では、トラッキングサーボ手段により光ピックアップのトラッキング制御を行う際のサーボゲインの補正が、次のように行われる。まず、光ディスクが装着され当該光ディスク装置が起動する際に、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報が測定される。このトラッキングエラー信号は、各光ディスクの製造に起因するばらつき等の反射光の特性により異なる。
【００２２】
その後、測定された、複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報に基づき、トラッキング制御時の光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が推定される。その後、推定された、光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。
【００２３】
上述した課題を解決するため、請求項６の発明に係る光ディスク装置の調整方法は、光ディスクに光ビームを照射するレーザ光源と、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを有する光ピックアップと、光検出器の出力信号より算出されるトラッキングエラー信号に基づき、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御するトラッキングサーボ手段とを備える光ディスク装置の調整方法において、光ピックアップの、光ディスクの半径方向の所定の調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、光ピックアップの、調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正し、光ピックアップの、トラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、光ピックアップの、調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインを補正することを特徴とするものである。
【００２４】
請求項６の発明に係る光ディスク装置の調整方法は、次のような光ディスク装置に適用される。光ピックアップのレーザ光源より、光ディスクの記録面に光ビームを照射することにより、光ディスクに対する情報の記録又は再生を行う。光ピックアップを光ディスクの目標トラックに追従させるトラッキング制御は、トラッキングサーボ手段により行われる。このトラッキングサーボ手段によるトラッキング制御は、光ピックアップの、光ディスクに照射された光ビームの反射光を検出する光検出器の出力信号から算出させるトラッキングエラー信号に基づいて行われる。
【００２５】
また、請求項６の発明に係る光ディスク装置の調整方法では、トラッキングサーボ手段により光ピックアップのトラッキング制御を行う際のサーボゲインの補正が、次のように行われる。まず、光ピックアップの光ディスクの半径方向の所定の調整位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が測定される。このトラッキングエラー信号は、各光ディスクの製造に起因するばらつき等の反射光の特性により異なる。
【００２６】
その後、光ピックアップの、調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。その後、トラッキング制御時の前記光ピックアップの制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が測定される。
【００２７】
その後、光ピックアップの、調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。
【発明の効果】
【００２８】
請求項１の発明に係る光ディスク装置では、各光ディスクの反射光の特性により異なるトラッキングエラー信号の振幅を、光ディスクの半径方向の複数の所定位置で測定し、光ピックアップのトラッキング制御を行う際には、この複数の所定位置で測定されたトラッキングエラー信号の振幅に情報に基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。このため、個別の光ディスクの製造に起因する信号ばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【００２９】
請求項４の発明に係る光ディスク装置では、光ピックアップのトラッキング制御を行う際に、光ピックアップの、所定の調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び所定の調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づいてトラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。このため、個別の光ディスクの製造に起因する信号ばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【００３０】
請求項５の発明に係る光ディスク装置の調整方法では、各光ディスクの反射光の特性により異なるトラッキングエラー信号の振幅を、光ディスクの半径方向の複数の所定位置で測定し、光ピックアップのトラッキング制御を行う際には、この複数の所定位置で測定されたトラッキングエラー信号の振幅に情報に基づき、トラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。このため、個別の光ディスクの製造に起因する信号ばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【００３１】
請求項６の発明に係る光ディスク装置の調整方法では、光ピックアップのトラッキング制御を行う際に、光ピックアップの、所定の調整位置及びトラッキング制御時の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報、及び所定の調整位置におけるトラッキングサーボ手段のサーボゲインの補正の情報とに基づいてトラッキングサーボ手段のサーボゲインが補正される。このため、個別の光ディスクの製造に起因する信号ばらつきによる影響を抑え、光ピックアップのトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下図面を参照して、本発明の光ディスク装置及び光ディスク装置の調整方法の実施の形態について説明する。
【００３３】
＜本発明の光ディスク装置の構成例＞
図１は本実施の形態の光ディスク装置１の一部の構成を示す説明図である。光ディスク装置１は、例えば、高密度なデータの記録、再生が可能なＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等のドライブ装置である。光ディスク装置１は光ディスク２をスピンドルモータ３により回転駆動しながら、ピックアップユニット４により光ビームの照射及び反射光の検出を行うことにより、光ディスク２に対するデータの記録及び再生を行うものである。光ディスク２は図示しない送りモータ、アクチュエータを備えており、ピックアップユニット４は、送りモータにより光ディスク２の半径方向に移動され（スレッド移動という）、アクチュエータによりフォーカス制御及びトラッキング制御される。ピックアップユニット４は光ピックアップの一例である。
【００３４】
図１に示すように、光ディスク装置１は、ピックアップユニット４及びスピンドルモータ３に加え、アナログ演算回路５、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路６、サーボ回路７、システムコントローラ回路８、及びドライバ回路９を備えて構成される。ピックアップユニット４は、光ディスク２に対して光ビームを照射するレーザ光源である半導体レーザと、光ディスク２に対して照射された光ビームの反射光を検出する光検出器とを備える。
【００３５】
光検出器は、検出した反射光に応じた出力信号１０を、アナログ演算回路５に対して出力する。光検出器は、例えば、検出面を光ディスク２のトラック方向とトラック接線方向にそれぞれ２分割してなる４分割検出器である。４分割検出器は、分割された４つの検出面に応じた４つの出力信号１０を、アナログ演算回路５に対して出力する。
【００３６】
アナログ演算回路５は、ピックアップユニット４の光検出器の出力信号１０に基づき、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を生成するＴＥ信号生成部５ａと、プルイン信号（ＰＩ信号）を生成するＰＩ信号生成部５ｂと、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成するＦＥ信号生成部５ｃとを備える。
【００３７】
ここで、トラッキングエラー信号は、光ディスク２上のトラックに対するピックアップユニット４のトラッキング方向の位置の誤差（トラッキングエラー）を示すものである。ＴＥ信号生成部５ａは、ピックアップユニット４の検出部からの出力信号１０に基づきＴＥ信号を算出し、ＴＥ信号ａ１１としてＡＧＣ回路６に対して出力する。ピックアップユニット４の検出部からの出力信号１０に基づくトラッキングエラー信号の検出は、例えばプッシュプル法などの方法により行われる。
【００３８】
また、ＦＥ信号は、ピックアップユニット４のフォーカス方向の位置の誤差（フォーカスエラー）を示すものである。ＦＥ信号生成部５ｃは、ピックアップユニット４の検出部からの出力信号に基づきＦＥ信号を算出し、ＦＥ信号ａ１２としてＡＧＣ回路６に対して出力する。ピックアップユニット４の検出部からの出力信号１０に基づくフォーカスエラー信号の検出は、例えばビームサイズ法などの方法により行われる。
【００３９】
また、ＰＩ信号は、光検出器の出力信号の全加算信号である。ピックアップユニット４の検出器が、例えば前述した４分割検出器である場合、各検出面に応じた出力信号の全加算分が、ＰＩ信号となる。ＰＩ信号生成部５ｂは、ピックアップユニット４の検出部からの出力信号に基づきＰＩ信号を算出し、ＰＩ信号１３としてＡＧＣ回路６に対して出力する。
【００４０】
ＡＧＣ回路６は、乗算器Ａ６ａ及び乗算器Ｂ６ｂと、乗算器Ａ６ａ及び乗算器Ｂ６ｂで乗じられるゲインを調整するゲイン調整部６ｃとを備えて構成される。乗算器Ａ６ａには、ＴＥ信号生成部５ａから出力されたＴＥ信号ａ１１が入力され、ゲイン調整部６ｃにより調整されたゲインが乗じられてＴＥ信号ｂ１４としてサーボ回路７に対して出力される。また、乗算器Ｂ６ｂには、ＦＥ信号生成部５ｃから出力されたＦＥ信号ａ１２が入力され、ゲイン調整部６ｃにより調整されたゲインが乗じられてＦＥ信号ｂ１５としてサーボ回路７に対して出力される。更に、ゲイン調整部６ｃには、ＰＩ信号生成部５ｂから出力されたＰＩ信号１３が入力され、ゲイン調整部６ｃはＰＩ信号１３に基づいて、乗算器Ａ６ａ及び乗算器Ｂ６ｂのゲインの調整を行う。
【００４１】
サーボ回路７は、乗算器Ｃ７ａと、サーボフィルタ部Ａ７ｂと、サーボフィルタ部Ｂ７ｃと、ＴＥ振幅測定部７ｄとを備えて構成されている。サーボフィルタ部Ａ７ｂは位相補償回路を備え、入力されたＦＥ信号ｂ１５の位相補償を行い、ＦＥ信号ｃ１６としてドライバ回路９に対して出力する。
【００４２】
乗算器Ｃ７ａには、ＡＧＣ回路６から出力されたＴＥ信号ｂ１４が入力され、後述するシステムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａにより調整されたゲインが乗じられて、ＴＥ信号ｃ１７としてサーボフィルタ部Ｂ７ｃに対して出力される。サーボフィルタ部Ｂ７ｃは位相補償回路を備え、入力されたＴＥ信号ｃ１７の位相補償を行い、ＴＥ信号ｄ１８としてドライバ回路に対して出力する。ＴＥ振幅測定部７ｄは、測定手段の一例であり、入力されたトラッキングエラー信号（ＴＥ信号ｂ１４）の振幅を測定するためのピークホールド回路、ボトムホールド回路等を備える。ＴＥ振幅測定部７ｄにより測定されたＴＥ信号ｂ１４の振幅の情報は、ＴＥ振幅２０としてシステムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａにより読み取り可能となる。サーボ回路７はトラッキングサーボ手段の一例である。
【００４３】
システムコントローラ回路８は、ＣＰＵ８ａ、図示しないメモリ等を備えて構成される。ＣＰＵ８ａは、サーボ回路７のＴＥ振幅測定部７ｄで測定したトラッキングエラー信号（ＴＥ信号ｂ１４）の振幅の情報を、ＴＥ振幅２０として読み取り可能である。ＣＰＵ８ａは、読み取ったＴＥ振幅２０の情報に基づき、サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａのゲインを補正するＧＣ信号１９を出力する。ＣＰＵ８ａによる、サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａのゲイン補正の方法については、後述する。システムコントローラ回路８はゲイン補正手段の一例である。
【００４４】
ドライバ回路９は、スピンドルモータ３、ピックアップユニット４のスレッド移動を行う送りモータ、フォーカス制御及びトラッキング制御を行うアクチュエータをそれぞれ駆動させるドライバを備える。サーボ回路７から入力されたＦＥ信号ｃ１６及びＴＥ信号ｄ１８により、アクチュエータを駆動させる。
【００４５】
また、図１に示す光ディスク装置１では、ＡＧＣ回路６において、ＰＩ信号１３に基づいて調整されたゲインをＴＥ信号ａ１１に乗じ、ＴＥ信号ｂ１４としてサーボ回路７の乗算器Ｃ７ａに入力するとした。しかし、ＡＧＣ回路６において、ＰＩ信号１３に基づいて調整されたゲインをＴＥ信号ａ１１に乗じず、ＴＥ信号ａ１１を直接サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａに入力するとしてもよい。
【００４６】
更に、光ディスク装置１において、衝撃等によるトラック跨ぎを検出する検出回路として、サーボ回路７のコンパレータ７ｅ及び、エンコーダ回路２３を備えるとしてもよい。コンパレータ７ｅには、乗算器Ｃ７ａよりＴＥ信号ｃ１７が入力されると共に、ＣＰＵ８ａよりショック検出閾値２１が入力され、ＴＥ信号ｃ１７とショック検出閾値２１の比較が行われる。この比較結果に基づき、コンパレータ７ｅより記録停止信号２２がエンコーダ回路２３に対して出力され、エンコーダ回路２３よりピックアップユニット４の制御が行われる。
【００４７】
＜本発明の光ディスク装置の第１の動作例＞
次に、本発明の光ディスク装置１の第１の動作例について説明する。本発明の光ディスク装置１第１の動作例においては、まず、光ディスク２の装着時に、光ディスク２の半径方向の複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報を測定する。その後、Ｓｅｅｋ動作時に、光ディスク２装着時に測定された、複数の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報に基づき、ピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅が推定され、推定されたトラッキングエラー信号の振幅に基づいて、サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａのゲインが補正される。
【００４８】
図２は、第１の動作例における、光ディスクの装着時の動作を示すフローチャートである。一般に、光ディスクに対する情報の記録、再生を行う光ディスク装置においては、装着される光ディスクの特性のばらつきにおける影響を抑えるため、光ディスクの装着時にサーボの調整が行われる。光ディスク装置１の第１の動作例においては、光ディスク２の装着時に、以下のような動作が行われる。
【００４９】
まず、ドライバ回路９のドライバによりスピンドルモータ３が起動される（図２のステップＳＴ０１）。その後、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行うＴＥ信号振幅測定位置に、ピックアップユニット４を移動させる（ステップＳＴ０２）。ピックアップユニット４の移動は、ドライバ回路９のドライバにより送りモータを駆動させることにより行う。以下に示す例では、光ディスク２の最内周と最外周の２点のＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行う。
【００５０】
ピックアップユニット４をＴＥ信号振幅測定位置に移動した後、フォーカスサーボをオンする（ステップＳＴ０３）。フォーカスサーボのオンは次のように行われる。ピックアップユニット４の半導体レーザより光ディスク２の記録面に対して光ビームが照射され、光ビームの反射光が光検出器により検出される。光検出器は検出した反射光に応じた出力信号１０をアナログ演算回路５に対して出力する。アナログ演算回路５のＰＩ信号生成部５ｂは、入力された出力信号１０に基づいてＰＩ信号１３を生成してＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃに対して出力する。また、アナログ演算回路５のＦＥ信号生成部５ｃは、入力された出力信号１０に基づいてＦＥ信号ａ１２を生成してＡＧＣ回路６の乗算器Ｂ６ｂに対して出力する。
【００５１】
ＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃは、入力されたＰＩ信号１３に基づいて、乗算器Ｂ６ｂのゲインの調整を行う。乗算器Ｂ６ｂに入力されたＦＥ信号ａ１２は、ゲイン調整部６ｃにより調整されたゲインが乗じられ、ＦＥ信号ｂ１５としてサーボ回路７のサーボフィルタ部Ａ７ｂに入力される。サーボ回路７のサーボフィルタ部Ａ７ｂは、ＦＥ信号ｂ１５の位相補償を行い、位相補償後の信号をＦＥ信号ｃ１６としてドライバ回路９に出力する。ドライバ回路９のドライバは、ＦＥ信号ｃ１６に基づいてピックアップユニット４のアクチュエータを駆動する。
【００５２】
フォーカスサーボをオンした後、トラッキングエラー信号の振幅を測定する（ステップＳＴ０４）。トラッキングエラー信号の振幅の測定は次のように行われる。ピックアップユニット４の半導体レーザより光ディスク２の記録面に対して光ビームが照射され、光ビームの反射光が光検出器により検出される。光検出器は検出した反射光に応じた出力信号１０をアナログ演算回路５に対して出力する。アナログ演算回路５のＰＩ信号生成部５ｂは、入力された出力信号１０に基づいてＰＩ信号１３を生成してＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃに対して出力する。また、アナログ演算回路５のＴＥ信号生成部５ａは、入力された出力信号１０に基づいてＴＥ信号ａ１１を生成してＡＧＣ回路６の乗算器Ｂ６ｂに対して出力する。
【００５３】
ＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃは、入力されたＰＩ信号１３に基づいて、乗算器Ａ６ａのゲインの調整を行う。乗算器Ａ６ａに入力されたＴＥ信号ａ１１は、ゲイン調整部６ｃにより調整されたゲインが乗じられ、ＴＥ信号ｂ１４としてサーボ回路７のサーボフィルタ部Ａ７ｂに入力される。サーボ回路７のＴＥ振幅測定部７ｄは、入力されたＴＥ信号ｂ１４の振幅の測定を行う。システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、ＴＥ振幅測定部７ｄで測定されたＴＥ信号ｂ１４の振幅の情報を、ＴＥ振幅２０として読み取る。ＣＰＵ８ａは、読み取ったＴＥ信号ｂ１４の振幅の情報及び、トラッキングエラー信号の振幅測定を行ったピックアップユニット４の位置の情報をシステムコントローラ回路８の図示しないメモリ等に保存する。
【００５４】
トラッキングエラー信号の振幅を測定した後、ＡＧＣ回路６の有無が判別される（ステップＳＴ０５）。ＡＧＣ回路６を備える装置である場合、ステップＳＴ０６へ進む。ＡＧＣ回路６を備えない装置においては、トラッキングエラー信号の振幅を測定した測定場所が、記録領域であるか非記録領域であるかの確認（ＲＦの有無の確認）が行われる（ステップＳＴ０６）。これは、測定場所が、記録領域であるか非記録領域であるかにより、反射率が異なり、トラッキングエラー信号の振幅の測定結果が大きく異なるために行われる。例えば、測定場所が記録領域である場合（ＲＦ有りの場合）、トラッキングエラー信号の振幅の測定結果を非記録領域の値に変換して、前述したメモリ等に保存する。その後、ステップＳＴ０７へ進む。
【００５５】
ステップＳＴ０７において、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、トラッキングサーボのゲインを調整し、調整したサーボゲインの情報を、前述したメモリ等に保存する。ここで、ステップＳＴ０７の終了後、全てのＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定が終了したか否かを判別する（ステップＳＴ０８）。全てのＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定が終了していない場合、ステップＳＴ０２に移動し、次のＴＥ信号振幅測定位置でのトラッキングエラー信号の振幅の測定を行う。
【００５６】
ステップＳＴ０８で、全てのＴＥ信号振幅測定位置でのトラッキングエラー信号の振幅の測定が終了したと判別した後、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、トラッキングエラー信号の振幅と光ディスク２の半径位置の間の関係を示す近似式を作成する（ステップＳＴ０９）。図３は光ディスクの半径方向の位置とトラキングエラー信号の振幅の関係を示す説明図である。ＣはＰＩ信号により正規化した後のＴＥ信号の振幅を示し、ＤはＴＥ信号振幅の近似直線を示す。本動作例においては、光ディスク２の最内周（図３のＡ点）と最外周（図３のＢ点）の２点のＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行う。このＡ点及びＢ点におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報により、図３のＤに示すように、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を示す近似式を作成する。ここで図３に示すような８ｃｍのディスク（半径４０ｍｍ）では、一次式による直線近似により、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を有効に近似することが可能となる。システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、トラッキングエラー信号の振幅と光ディスク２の半径位置の間の関係を示す近似式を作成した後、メモリ等に保存する。これにより、図２に示すフロー動作は終了となる。
【００５７】
また、上述した動作例においては、光ディスク２の最内周（図３のＡ点）と最外周（図３のＢ点）の２点のＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行い、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を示す近似式として、図３のＤに示すように一次式による直線近似を行うとした。しかし、３点以上のＴＥ信号振幅測定位置でトラッキングエラー信号の振幅の測定を行い、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を、多項式近似を行うとしてもよい。これにより、例えば１２ｃｍのディスク（半径６０ｍｍ）等でも、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を、より高精度で行うことが可能となる。
【００５８】
次に、光ディスク装置１の第１の動作例におけるＳｅｅｋ動作について説明する。図４は、第１の動作例における、Ｓｅｅｋ動作を示すフローチャートである。光ディスク装置１の第１の動作例においては次のようにＳｅｅｋ動作が行われる。まず、光ディスク装置１外部の制御部等からＳｅｅｋ命令が発行される（図４のステップＳＴ０１）。Ｓｅｅｋ命令が発行された後、ピックアップユニット４のスレッドを移動するか否かが判別される（ステップＳＴ０２）。ステップＳＴ０２において、スレッドを移動する必要がないと判別した場合、ステップＳＴ０９においてトラックジャンプが実行され、ステップＳＴ０８に移動する。
【００５９】
ステップＳＴ０２において、スレッドを移動する必要があると判別した場合、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、Ｓｅｅｋ先のＴＥ信号振幅及びトラッキングサーボゲインを算出する（ステップＳＴ０３）。Ｓｅｅｋ先のＴＥ信号振幅は、図２のステップＳＴ０８作成した、トラッキングエラー信号の振幅と光ディスク２の半径位置の間の関係を示す近似式により、Ｓｅｅｋ先の半径位置を基に算出する。Ｓｅｅｋ先のＴＥ信号振幅を算出した後、Ｓｅｅｋ先のトラッキングサーボゲインを算出する。Ｓｅｅｋ先のＴＥ信号振幅をＴＥ＿Ｓ１、光ディスク２の最内周（図３のＡ点）におけるＴＥ信号振幅をＴＥ＿Ａ、光ディスク２の最内周（図３のＡ点）におけるトラッキングサーボゲインをＴＧ＿Ａとすると、算出するＳｅｅｋ先のトラッキングサーボゲインをＴＧ＿Ｓ１は以下の式（１）により算出することができる。
ＴＧ＿Ｓ１＝ＴＥ＿Ｓ１／ＴＥ＿Ａ・ＴＧ＿Ａ  ・・・（１）
【００６０】
ステップＳＴ０３でＳｅｅｋ先のトラッキングサーボゲインを算出した後、トラッキングサーボをオフする（ステップＳＴ０４）。その後、Ｓｅｅｋ先に、ピックアップユニット４を移動させる（ステップＳＴ０５）。ピックアップユニット４の移動は、ドライバ回路９のドライバにより送りモータを駆動させることにより行う。
【００６１】
Ｓｅｅｋ先へピックアップユニット４を移動させた後、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、ステップＳＴ０３で算出したトラッキングサーボゲインを、ＧＣ信号１９で乗算器Ｃ７ａに設定する（ステップＳＴ０６）。
【００６２】
トラッキングサーボゲインを設定した後、トラッキングサーボをオンする（ステップＳＴ０７）。トラキングサーボのオンは次のように行われる。ピックアップユニット４の半導体レーザより光ディスク２の記録面に対して光ビームが照射され、光ビームの反射光が光検出器により検出される。光検出器は検出した反射光に応じた出力信号１０をアナログ演算回路５に対して出力する。アナログ演算回路５のＰＩ信号生成部５Ｂは、入力された出力信号１０に基づいてＰＩ信号を生成してＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃに対して出力する。また、アナログ演算回路５のＴＥ信号生成部５ａは、入力された出力信号１０に基づいてＴＥ信号ａ１１を生成してＡＧＣ回路６の乗算器Ａ６ａに対して出力する。
【００６３】
ＡＧＣ回路６のゲイン調整部６ｃは、入力されたＰＩ信号１３に基づいて、乗算器Ａ６ａのゲインの調整を行う。乗算器Ａ６ａに入力されたＴＥ信号ａ１１は、ゲイン調整部６ｃにより調整されたゲインが乗じられ、ＴＥ信号ｂ１４としてサーボ回路７の乗算器Ｃ７ａに入力される。乗算器Ｃ７ａに入力されたＴＥ信号ｂ１４は、ステップＳＴ０６で設定されたトラキングサーボゲインが乗じられ、ＴＥ信号ｃ１７としてサーボフィルタ部Ｂ７ｃに入力される。サーボフィルタ部Ｂ７ｃは、ＴＥ信号ｃ１７の位相補償を行い、位相補償後の信号をＴＥ信号ｄ１８としてドライバ回路９に出力する。ドライバ回路９のドライバは、ＴＥ信号ｄ１８に基づいてピックアップユニット４のアクチュエータを駆動する。
【００６４】
ステップＳＴ０７でトラッキングサーボをオンした後、Ｓｅｅｋ動作の終了か否かを判別する（ステップＳＴ０８）。Ｓｅｅｋ動作が終了であると判別された場合、図４に示すフロー動作は終了となる。また、ステップＳＴ０８においてＳｅｅｋ動作が終了であると判別されない場合、ステップＳＴ０２に移動して各フローが実行される。
【００６５】
なお、上述した例においては、図２のステップＳＴ０８でトラッキングエラー信号の振幅と光ディスク２の半径位置の間の関係を示す近似式を作成し、この近似式をもとに、図４のステップＳＴ０３でＳｅｅｋ先のＴＥ信号振幅及びトラッキングサーボゲインを算出するとした。しかし、例えば以下に示す方法により、予めピックアップユニット４光ディスク２の半径位置とトラッキングサーボゲインとの変換表を作成し、この変換表により求めたトラッキングサーボゲインを設定するとしてもよい。
【００６６】
まず、図２のステップＳＴ０８において、前述したように、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、トラッキングエラー信号の振幅と光ディスク２の半径位置の間の関係を示す近似式を算出する。その後、ＣＰＵ８ａは、算出した近似式及び式（１）により、ピックアップユニット４の光ディスク２の半径位置とトラッキングサーボゲインの関係を算出して、変換表としてメモリ等に保存する。図４のステップＳＴ０６において、ＣＰＵ８ａは、この変換表からＳｅｅｋ先におけるトラッキングサーボゲインを読み出し、乗算器Ｃ７ａに対して設定する。これにより、図４のステップＳＴ０３において、Ｓｅｅｋ先のＴＥ信号振幅及びトラッキングサーボゲインの算出を実行する必要がなくなることによりＣＰＵ８ａの負荷が減少し、光ディスク装置１のＳｅｅｋ動作の速度を向上させることが可能となる。
【００６７】
図５は、ＡＧＣ回路６において、ＰＩ信号１３に基づいて調整されたゲインをＴＥ信号ａ１１に乗じず、ＴＥ信号ａ１１を直接サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａに入力するとした光ディスク装置１における、光ディスクの半径方向の位置とトラキングエラー信号の振幅の関係を示す説明図である。ＧはＴＥ信号の振幅を示し、ＨはＴＥ信号振幅の近似直線を示す。図５に示すように、ＡＧＣ回路６においてトラッキングエラー信号の補正を行わない構成であっても、光ディスク２の最内周（図５のＥ点）と最外周（図５のＦ点）の２点のＴＥ信号振幅測定位置で、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行い、このＣ点及びＤ点におけるトラッキングエラー信号の振幅の情報により、図５のＨに示すように、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を示す近似式を作成することができる。
【００６８】
即ち、ＡＧＣ回路６を用いない構成であっても、光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の間の関係を有効に近似することが可能となる。これにより、ＡＧＣ回路及びＡＧＣ回路の制御回路が不要となり、光ディスク装置１を安価に構成することが可能となる。
【００６９】
光ディスク装置１の第１の動作例では、各光ディスク２の反射光の特性により異なるトラッキングエラー信号の振幅を、光ディスク２の半径方向の複数の所定位置で測定し、ピックアップユニット４のトラッキング制御を行う際には、この複数の所定位置で測定されたトラッキングエラー信号の振幅に情報に基づき、サーボ回路７のサーボゲイン（乗算器Ｃ７ａ）が補正される。このため、個別の光ディスク２の反射光のばらつきによる影響を抑え、ピックアップユニット４のトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【００７０】
＜本発明の光ディスク装置の第２の動作例＞
次に、本発明の光ディスク装置１の第２の動作例について説明する。本発明の光ディスク装置１の第２の動作例においては、まず、光ディスク２の装着時に、光ディスク２の半径方向の所定位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報及びトラッキングサーボゲインを測定する。その後、Ｓｅｅｋ動作時に、ピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅を測定し、光ディスク２装着時に測定されたトラッキングエラー信号の振幅情報とトラッキングサーボゲイン、及びピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅に基づいて、サーボ回路７の乗算器Ｃ７ａのゲインが補正される。
【００７１】
図６は、光ディスク装置１の第２の動作例における、光ディスクの装着時の動作を示すフローチャートである。光ディスク装置１の２の動作例においては、光ディスク２の装着時に、以下のような動作が行われる。
【００７２】
まず、ドライバ回路９のドライバによりスピンドルモータ３が起動される（図６のステップＳＴ０１）。その後、トラッキングエラー信号の振幅の測定を行うＴＥ信号振幅測定位置に、ピックアップユニット４を移動させる（ステップＳＴ０２）。ピックアップユニット４の移動は、ドライバ回路９のドライバにより送りモータを駆動させることにより行う。トラッキングエラー信号の振幅の測定を行うＴＥ信号振幅測定位置は、例えば、光ディスク２の最内周である。
【００７３】
ピックアップユニット４をＴＥ信号振幅測定位置に移動した後、フォーカスサーボをオンする（ステップＳＴ０３）。フォーカスサーボのオンは、図２のステップＳＴ０３と同様の方法により行われる。
【００７４】
フォーカスサーボをオンした後、トラッキングエラー信号の振幅を測定する（ステップＳＴ０４）。トラッキングエラー信号の振幅の測定は、図２のステップＳＴ０４と同様の方法により行われる。ＣＰＵ８ａは、測定したトラッキングエラー信号の振幅の情報及び、トラッキングエラー信号の振幅測定を行ったピックアップユニット４の位置の情報をシステムコントローラ回路８の図示しないメモリ等に保存する。
【００７５】
トラッキングエラー信号の振幅を測定した後、ＡＧＣ回路６の有無が判別される（ステップＳＴ０５）。ＡＧＣ回路６を備える装置である場合、ステップＳＴ０６へ進む。ＡＧＣ回路６を備えない装置においては、トラッキングエラー信号の振幅を測定した測定場所が、記録領域であるか非記録領域であるかの確認（ＲＦの有無の確認）が行われる（ステップＳＴ０６）。これは、測定場所が、記録領域であるか非記録領域であるかにより、反射率が異なり、トラッキングエラー信号の振幅の測定結果が大きく異なるために行われる。例えば、測定場所が記録領域である場合（ＲＦ有りの場合）、トラッキングエラー信号の振幅の測定結果を非記録領域の値に変換して、前述したメモリ等に保存する。その後、ステップＳＴ０７へ進む。
【００７６】
ステップＳＴ０７において、トラッキングエラー信号の振幅を測定した測定場所のＲＦの有無を確認した後、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、トラッキングサーボのゲインを調整し、調整したサーボゲインの情報を、前述したメモリ等に保存する。これにより、図６に示すフロー動作は終了となる。
【００７７】
次に、光ディスク装置１の第２の動作例におけるＳｅｅｋ動作について説明する。図７は、第２の動作例における、Ｓｅｅｋ動作を示すフローチャートである。光ディスク装置１の第２の動作例においては次のようにＳｅｅｋ動作が行われる。まず、光ディスク装置１外部の制御部等からＳｅｅｋ命令が発行される（図７のステップＳＴ０１）。Ｓｅｅｋ命令が発行された後、ピックアップユニット４のスレッドを移動するか否かが判別される（ステップＳＴ０２）。ステップＳＴ０２において、スレッドを移動する必要がないと判別した場合、ステップＳＴ１０においてトラックジャンプが実行され、ステップＳＴ０９に移動する。
【００７８】
ステップＳＴ０２において、スレッドを移動する必要があると判別した場合、トラッキングサーボをオフする（ステップＳＴ０３）。その後、Ｓｅｅｋ先に、ピックアップユニット４を移動させる（ステップＳＴ０４）。ピックアップユニット４の移動は、ドライバ回路９のドライバにより送りモータを駆動させることにより行う。
【００７９】
ピックアップユニット４を移動した後、トラッキングエラー信号の振幅を測定する（ステップＳＴ０５）。トラッキングエラー信号の振幅の測定は、図２のステップＳＴ０４と同様の方法により行われる。ＣＰＵ８ａは、測定したトラッキングエラー信号の振幅の情報をシステムコントローラ回路８の図示しないメモリ等に保存する。
【００８０】
トラッキングエラー信号の振幅の測定を行った後、トラッキングサーボゲインの算出を行う（ステップＳＴ０６）。ステップＳＴ０５で算出したトラッキングエラー信号の振幅（ピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅）をＴＥ＿Ｓ２、ＴＥ信号振幅位置におけるＴＥ信号振幅をＴＥ＿Ｔ、ＴＥ信号振幅位置におけるトラッキングサーボゲインをＴＧ＿Ｔとすると、算出するピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングサーボゲインをＴＧ＿Ｓ２は以下の式（２）により算出することができる。
ＴＧ＿Ｓ２＝ＴＥ＿Ｓ１／ＴＥ＿Ｔ・ＴＧ＿Ｔ  ・・・（２）
【００８１】
ステップＳＴ０６でピックアップユニット４のトラッキング制御位置におけるトラッキングサーボゲインを算出した後、システムコントローラ回路８のＣＰＵ８ａは、ステップＳＴ０６で算出したトラッキングサーボゲインを、ＧＣ信号１９で乗算器Ｃ７ａに設定する（ステップＳＴ０７）。
【００８２】
トラッキングサーボゲインを設定した後、トラッキングサーボをオンする（ステップＳＴ０８）。トラキングサーボのオンは、図４のステップＳＴ０７と同様の方法により行われる。
【００８３】
ステップＳＴ０８でトラッキングサーボをオンした後、Ｓｅｅｋ動作の終了か否かを判別する（ステップＳＴ０８）。Ｓｅｅｋ動作が終了であると判別された場合、図７に示すフロー動作は終了となる。また、ステップＳＴ０８においてＳｅｅｋ動作が終了であると判別されない場合、ステップＳＴ０２に移動して各フローが実行される。
【００８４】
光ディスク装置１の第２の動作例では、ピックアップユニット４のトラッキング制御を行う際に、各光ディスク２の反射光の特性により異なるトラッキングエラー信号の振幅を、ピックアップユニット４の制御位置において測定し、測定したトラッキングエラー信号の振幅に基づいてサーボ回路７のサーボゲイン（乗算器Ｃ７ａ）が補正される。このため、個別の光ディスクの反射光のばらつきによる影響を抑え、ピックアップユニット４のトラッキング制御を安定して行うことが可能となる。
【００８５】
また、光ディスク装置１の第２の動作例では、ピックアップユニット４のトラッキング制御を行う際に、トラッキングエラー信号の振幅をピックアップユニット４の制御位置において測定し、測定した結果に基づいてサーボ回路７のサーボゲイン（乗算器Ｃ７ａ）が補正される。このため、光ディスク装置１の第１の動作例と比較して、ピックアップユニット４の制御位置におけるトラッキングエラー信号の振幅情報を高精度で取得することができ、その結果、ピックアップユニット４のトラッキング制御を更に安定して行うことが可能となる。
【００８６】
また、本発明の光ディスク装置１では、トラッキングエラー信号の振幅を測定する測定手段としてＴＥ振幅測定部７ｄを備え、このＴＥ振幅測定部７ｄで測定したトラッキングエラー信号の振幅を、ＣＰＵ８ａにより読み取ることが可能である。よって、振動衝撃等によるトラック跨ぎを検出する検出回路を有する場合、光ディスク装置１の動作中にトラッキングエラー信号の振幅情報を読み取り、読み取ったトラッキングエラー信号の振幅よりショック検出閾値２１を設定し、このショック検出閾値２１とトラッキングエラー信号の振幅とを比較することにより、光ディスク装置１に与えられた衝撃の検出をより高い精度で行うことが可能となる。光ディスク装置１に与えられた衝撃を高い精度で検出することにより、光ディスク装置１に衝撃が与えられた際の誤書き込み、誤読み取り等の誤動作を防ぐことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００８７】
本発明は、光ディスクのトラックに追従するように光ピックアップをトラッキング制御する光ディスク装置及び光ディスクの調整方法に適用される。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本実施の形態の光ディスク装置の構成例である。
【図２】第１の動作例における光ディスク装着時のフローチャートである。
【図３】光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の関係を示す説明図である。
【図４】第１の動作例におけるＳｅｅｋ動作時のフローチャートである。
【図５】光ディスクの半径方向の位置とトラッキングエラー信号の振幅の関係を示す説明図である。
【図６】第２の動作例における光ディスク装着時のフローチャートである。
【図７】第２の動作例におけるＳｅｅｋ動作時のフローチャートである。
【図８】光ディスクの半径方向の位置における信号の変化を示す説明図である。
【符号の説明】
【００８９】
１・・・光ディスク装置、２・・・光ディスク、４・・・ピックアップユニット、５・・・アナログ演算回路、５ａ・・・ＴＥ信号生成部、５ｂ・・・ＰＩ信号生成部、５ｃ・・・ＦＥ信号生成部、６・・・ＡＧＣ回路、７・・・サーボ回路、７ａ・・・乗算器Ｃ、７ｄ・・・ＴＥ信号測定部、８・・・システムコントローラ回路、８ａ・・・ＣＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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