(57)【要約】【課題】記録可能領域の減少を招くことなく記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定する。【解決手段】データトラックパターンおよびサーボパターンが凹凸パターン１１ｔ，１１ｓで形成された磁気ディスク１０と、信号を書き込む記録ヘッド２ｗと、書き込まれた信号を読み出す再生ヘッド２ｒと、磁気ディスク１０に対する測定用信号の書き込みおよび読み出しを実行して両ヘッド２ｗ，２ｒについての所定のパラメータを測定する制御部とを備え、制御部は、所定のパラメータを測定する際に、サーボパターン領域Ａｓ内の各凸部１１ａのうちの磁気ディスク１０の径方向に沿って連続的に形成された第１の凸部（プリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａ）に記録ヘッド２ｗを介して測定用信号を書き込むと共に再生ヘッド２ｒを介して測定用信号を読み出し、その読出し結果に基づいて所定のパラメータを測定する。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録領域と非記録領域とを有するパターンによってデータトラックパターン領域にデータトラックパターンが形成されると共に当該記録領域と当該非記録領域とを有する当該パターンによってサーボパターン領域にサーボパターンが形成された磁気記録媒体と、当該磁気記録媒体に信号を書き込む記録ヘッドと、前記磁気記録媒体に書き込まれた信号を読み出す再生ヘッドと、前記記録ヘッドによる前記信号の書き込みおよび前記再生ヘッドによる前記信号の読み出しを制御すると共に前記磁気記録媒体に対する測定用信号の書き込みおよび読み出しを実行して当該両ヘッドについての所定のパラメータを測定する制御部とを備え、
前記制御部は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域に形成された複数の前記記録領域のうちの前記磁気記録媒体の径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域に前記記録ヘッドを介して前記測定用信号を書き込むと共に前記再生ヘッドを介して当該測定用信号を読み出し、その読出し結果に基づいて当該所定のパラメータを測定する記録再生装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記所定のパラメータの測定として、前記記録ヘッドにおける前記磁気記録媒体の径方向に対応する長さの中心と前記再生ヘッドにおける当該径方向に対応する長さの中心との間の当該径方向に沿った離間距離を測定する請求項１記載の記録再生装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記所定のパラメータの測定として、前記記録ヘッドの磁気的書込み幅と前記再生ヘッドの磁気的読出し幅との少なくとも一方を測定する請求項１または２記載の記録再生装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域内に形成された前記各第１の記録領域のうちの予め規定された一部の第１の記録領域にのみ前記測定用信号を書き込む請求項１から３のいずれかに記載の記録再生装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記測定用信号を書き込んだ前記各第１の記録領域が形成されている前記サーボパターン領域に対して前記磁気記録媒体の周方向において隣接しないサーボパターン領域内に形成された前記各第１の記録領域に当該測定用信号を書き込む請求項１から４のいずれかに記載の記録再生装置。
【請求項６】
記録領域と非記録領域とを有するパターンによってデータトラックパターン領域にデータトラックパターンが形成されると共に当該記録領域と当該非記録領域とを有する当該パターンによってサーボパターン領域にサーボパターンが形成された磁気記録媒体と、当該磁気記録媒体に信号を書き込む記録ヘッドと、前記磁気記録媒体に書き込まれた信号を読み出す再生ヘッドとを備えた記録再生装置における前記磁気記録媒体に対する測定用信号の書き込みおよび読み出しを実行して当該両ヘッドについての所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域に形成された複数の前記記録領域のうちの前記磁気記録媒体の径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域に前記記録ヘッドを介して前記測定用信号を書き込むと共に前記再生ヘッドを介して当該測定用信号を読み出し、その読出し結果に基づいて当該所定のパラメータを測定するパラメータ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録領域と非記録領域とを有するパターンによってデータトラックパターンとサーボパターンとが形成された磁気記録媒体、記録ヘッド、および再生ヘッドを有する記録再生装置に関するものである。また、記録再生装置に搭載されている記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定するパラメータ測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のパラメータ測定方法によって記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定可能な記録再生装置として、オフセット量測定機能を有するハードディスクドライブ装置（磁気記録装置）が特開２００５−１６６１１５号公報に開示されている。このハードディスクドライブ装置は、ディスクリート領域（データトラックパターン領域）における各トラック間に非磁性領域が形成されたディスクリートトラック型のハードディスク（磁気記録媒体）と、記録ヘッドおよび再生ヘッドを有する複合型の磁気ヘッドと、ハードディスク上における内周部と外周部との間において磁気ヘッドを移動させる駆動機構部と、ハードディスクドライブ装置を総括的に制御する制御部とを備えている。また、上記のハードディスクは、記録データを記録するためのディスクリート領域（データトラックパターン領域）と、サーボデータが記録されたサーボ領域（サーボパターン領域）との間に、オフセット量測定処理を実行するためのオフセット量測定領域が設けられている。この場合、オフセット量測定領域は、領域内に非磁性領域が形成されることなく全域が磁性体で構成されている。
【０００３】
このハードディスクドライブ装置によるオフセット量の測定処理に際しては、記録データの記録が行われていないハードディスクにおけるオフセット量測定領域を初期化した状態において、オフセット量測定領域にオフセット量測定用の信号（測定パターン：以下、「測定用信号」ともいう）を書き込む。具体的には、例えば最内周のトラックに再生ヘッドをオントラックさせた状態において、記録ヘッドを介してオフセット量測定領域に測定用信号を書き込む。この際に、この種のハードディスクドライブ装置では、ハードディスクの内周または外周に磁気ヘッドを移動させたときに、記録ヘッドにおける幅方向の中心と再生ヘッドにおける幅方向の中心とを結んだ線分（一例として、アームの延在方向と平行な線分）に対してトラックの中心線が交差する状態（スキュー角が生じた状態）となる。したがって、再生ヘッドをオントラックさせたとき（再生ヘッドにおける幅方向の中心をトラックにおける幅方向の中心に一致させたとき）には、記録ヘッドにおける幅方向の中心がトラックの中心から外れて記録ヘッドがオフトラックした状態となる。このため、記録ヘッドのオフトラック量に応じた分だけトラックの中心線から外れた部位に測定用信号が記録される。
【０００４】
次いで、再生ヘッドを介して測定用信号を読み出すことにより、測定用信号が書き込まれた領域の径方向における中心、すなわち、測定用信号の書き込み時における記録ヘッドの幅方向における中心と一致していた位置を特定する。具体的には、再生ヘッドをハードディスクの径方向に所定量ずつ移動させつつ、オフセット量測定領域から測定用信号を読み出す。この際に、測定用信号の書込み領域に対して再生ヘッドが内周側または外周側に外れた状態では、読み出した測定用信号についての再生信号の振幅値が小さくなる。これに対して、測定用信号の書込み領域における径方向の中心と再生ヘッドにおける幅方向（径方向）の中心とが一致する状態では、読み出した測定用信号についての再生信号の振幅値が極大値なる。したがって、制御部は、測定用信号についての再生信号の振幅値が極大値となったときの再生ヘッドの中心位置を測定用信号が書き込まれた領域の径方向における中心として特定し、特定した中心と、測定用信号の書き込み時における再生ヘッドの中心（すなわち、トラックの中心）との間の距離を再生ヘッドに対する記録ヘッドのオフセット量として取り込み、この測定処理を終了する。
【特許文献１】特開２００５−１６６１１５号公報（第７−１８頁、第１−２６図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、従来のハードディスクドライブ装置によるオフセット量の測定処理には、以下の問題点がある。すなわち、このハードディスクドライブ装置では、ディスクリート領域およびサーボ領域の間にオフセット量測定領域を設けてオフセット量測定用の測定用信号を書き込む構成が採用されている。この場合、オフセット量測定領域は、測定用信号の書き込みを可能とするために、領域内に非磁性領域が形成されることなく、全域が磁性体で形成されている。このため、オフセット量測定領域への記録データの記録や、サーボデータの記録（磁性体で形成された記録領域と、上記の非磁性領域とを有するパターンによるサーボパターンの形成）ができなくなっている。したがって、従来のハードディスクドライブには、オフセット量の測定以外の用途がないオフセット量測定領域によってハードディスク上の貴重な領域が占有されていることに起因して、ハードディスクの記録可能容量が減少しているという問題点がある。
【０００６】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、記録可能領域の減少を招くことなく記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定し得る記録再生装置およびパラメータ測定方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成すべく本発明に係る記録再生装置は、記録領域と非記録領域とを有するパターンによってデータトラックパターン領域にデータトラックパターンが形成されると共に当該記録領域と当該非記録領域とを有する当該パターンによってサーボパターン領域にサーボパターンが形成された磁気記録媒体と、当該磁気記録媒体に信号を書き込む記録ヘッドと、前記磁気記録媒体に書き込まれた信号を読み出す再生ヘッドと、前記記録ヘッドによる前記信号の書き込みおよび前記再生ヘッドによる前記信号の読み出しを制御すると共に前記磁気記録媒体に対する測定用信号の書き込みおよび読み出しを実行して当該両ヘッドについての所定のパラメータを測定する制御部とを備え、前記制御部は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域に形成された複数の前記記録領域のうちの前記磁気記録媒体の径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域に前記記録ヘッドを介して前記測定用信号を書き込むと共に前記再生ヘッドを介して当該測定用信号を読み出し、その読出し結果に基づいて当該所定のパラメータを測定する。
【０００８】
なお、本明細書における記録領域とは、記録された磁気的信号を読み出し可能に保持するように構成された領域（つまり磁気的信号を読み出し可能に保持する能力を有するように構成された領域）を意味する。また、本明細書における非記録領域とは、磁気的信号を読み出し可能に保持する上記の能力が記録領域の能力よりも低くなるように構成された領域、または、その能力を実質的に有しないように構成された領域を意味する。具体的には、本明細書における非記録領域とは、磁気的信号を記録した状態において、その領域から発生する磁界が記録領域よりも小さい領域、または、その領域から発生する磁界が実質的には存在しない領域を意味する。さらに、本明細書における「記録領域」とは、例えば、磁気記録媒体の内周部や外周部等において複数の記録領域が繋がって恰も１つの記録領域であるかのように形成されている構成については、周方向において非記録領域を介して分離されている各記録領域の各々を意味する。
【０００９】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記所定のパラメータの測定として、前記制御部が前記記録ヘッドにおける前記磁気記録媒体の径方向に対応する長さの中心と前記再生ヘッドにおける当該径方向に対応する長さの中心との間の当該径方向に沿った離間距離を測定する。
【００１０】
さらに、本発明に係る記録再生装置は、前記所定のパラメータの測定として、前記制御部が前記記録ヘッドの磁気的書込み幅と前記再生ヘッドの磁気的読出し幅との少なくとも一方を測定する。
【００１１】
また、本発明に係る記録再生装置は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域内に形成された前記各第１の記録領域のうちの予め規定された一部の第１の記録領域にのみ前記測定用信号を書き込む。
【００１２】
さらに、本発明に係る記録再生装置は、前記所定のパラメータを測定する際に、前記測定用信号を書き込んだ前記各第１の記録領域が形成されている前記サーボパターン領域に対して前記磁気記録媒体の周方向において隣接しないサーボパターン領域内に形成された前記各第１の記録領域に当該測定用信号を書き込む。
【００１３】
また、本発明に係るパラメータ測定方法は、記録領域と非記録領域とを有するパターンによってデータトラックパターン領域にデータトラックパターンが形成されると共に当該記録領域と当該非記録領域とを有する当該パターンによってサーボパターン領域にサーボパターンが形成された磁気記録媒体と、当該磁気記録媒体に信号を書き込む記録ヘッドと、前記磁気記録媒体に書き込まれた信号を読み出す再生ヘッドとを備えた記録再生装置における前記磁気記録媒体に対する測定用信号の書き込みおよび読み出しを実行して当該両ヘッドについての所定のパラメータを測定する際に、前記サーボパターン領域に形成された複数の前記記録領域のうちの前記磁気記録媒体の径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域に前記記録ヘッドを介して前記測定用信号を書き込むと共に前記再生ヘッドを介して当該測定用信号を読み出し、その読出し結果に基づいて当該所定のパラメータを測定する。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係る記録再生装置およびパラメータ測定方法によれば、サーボパターン領域に形成された複数の記録領域のうちの径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域に記録ヘッドを介して測定用信号を書き込んで所定のパラメータを測定することにより、所定のパラメータについての測定処理が完了した後に測定処理時に利用した各第１の記録領域をＤＣ着磁することで、その第１の記録領域を通常のサーボパターンとして使用することができる。したがって、記録データの記録やサーボパターンの記録ができない測定処理専用の領域を設けることなく、記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定することができる。この結果、記録可能領域の減少を招くことなく記録ヘッドおよび再生ヘッドについての所定のパラメータを測定し得る記録再生装置およびパラメータ測定方法を提供することができる。
【００１５】
また、本発明に係る記録再生装置によれば、所定のパラメータの測定として、記録ヘッドの中心と再生ヘッドの中心との間の径方向に沿った離間距離を測定することにより、製造誤差や各部品の個体差などに起因して記録ヘッドおよび再生ヘッドの相互間の位置関係等が相違する各種の記録再生装置について、磁気記録媒体の内周部から外周部までの全域についての上記の離間距離（オフセット量）を正確に測定することができる結果、記録ヘッドおよび再生ヘッドの双方を磁気記録媒体上の各トラックに対して確実にオントラックさせることができる。
【００１６】
さらに、本発明に係る記録再生装置によれば、所定のパラメータの測定として、記録ヘッドの磁気的書込み幅と再生ヘッドの磁気的読出し幅との少なくとも一方を測定することにより、各記録再生装置に実際に搭載された磁気記録媒体と記録ヘッドおよび再生ヘッドとの組み合わせにおける磁気的書込み幅や磁気的読出し幅を正確に測定することができる。これにより、測定した磁気的書込み幅や磁気的読出し幅に基づいてトラッキングサーボ制御用の各種の制御パラメータを各記録再生装置毎に実機に合わせて微調整することができる。また、測定した磁気的書込み幅に基づく書き込み電流値の微調整や、測定した磁気的読出し幅に基づくゲイン調整などを実行することができる。したがって、磁気記録媒体の内周部から外周部までの全域について、記録データを確実に記録することができると共に、記録データやサーボデータを確実に読み出すことができる記録再生装置を提供することができる。
【００１７】
また、本発明に係る記録再生装置によれば、サーボパターン領域内に形成された各第１の記録領域のうちの予め規定された一部の第１の記録領域にのみ測定用信号を書き込むことにより、測定処理に際して測定用信号を書き込まなかった各第１の記録領域を通常のサーボパターン用の記録領域として用いて、測定処理時に正確なトラッキングサーボ制御を実行することができる。したがって、測定処理による測定結果の確度を十分に高めることができる。
【００１８】
さらに、本発明に係る記録再生装置によれば、所定のパラメータを測定する際に、測定用信号を書き込んだ各第１の記録領域が形成されているサーボパターン領域に対して周方向において隣接しないサーボパターン領域内の各第１の記録領域に測定用信号を書き込むことにより、測定処理に際して第１の記録領域に測定用信号を書き込まなかったサーボパターン領域内の各記録領域を通常のサーボパターン用の記録領域として用いて、測定処理時に正確なトラッキングサーボ制御を実行することができる。したがって、測定処理による測定結果の確度を十分に高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る記録再生装置およびパラメータ測定方法の最良の形態について説明する。
【００２０】
最初に、本発明に係る記録再生装置の構成について、図面を参照して説明する。
【００２１】
図１に示すハードディスクドライブ１は、本発明に係る記録再生装置の一例であって、磁気ヘッド２、アーム３、アクチュエータ４、コントローラ５、モータ６、制御部７、記憶部８および磁気ディスク１０を備えている。この場合、磁気ディスク１０は、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であって、図２に示すように、各データトラックパターン領域Ａｔの間にサーボパターン領域Ａｓが設けられてデータトラックパターン領域Ａｔおよびサーボパターン領域Ａｓが磁気ディスク１０の回転方向（矢印Ｔの向き）において交互に並ぶように規定されている。なお、本明細書では、回転方向において並ぶ２つのデータトラックパターン領域Ａｔによって挟まれた領域（１つのデータトラックパターン領域Ａｔにおける回転方向に対して下流側の端部から、他の１つのデータトラックパターン領域Ａｔにおける回転方向に対して上流側の端部までの間の領域）をサーボパターン領域Ａｓとする。
【００２２】
また、図３に示すように、データトラックパターン領域Ａｔには、所定の配列ピッチで互いに分割された同心円状の数多くのデータ記録用トラックを構成する複数の凸部１１ａと、ガードバンド部を構成する複数の凹部１１ｂとを有する凹凸パターン１１（凹凸パターン１１ｔ：本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」）で構成された磁性層が形成されている。なお、この磁気ディスク１０では、凸部１１ａの形成領域が「記録領域」に相当し、凹部１１ｂの形成領域が「非記録領域」に相当する。また、同図、および後に参照する図６〜１１，１７では、凸部１１ａの形成部位を斜線で塗り潰して図示すると共に、凹部１１ｂの形成部位を白色で図示している。この場合、データトラックパターン領域Ａｔに形成されている各凸部１１ａは、少なくともその突端部（一例として、その基端部から突端部までのほぼ全体）が上記の磁性層を構成する磁性材料で形成され、磁気ディスク１０の周方向（回転方向）に沿って連続的に形成されて周方向に長い帯状に形成されている。また、データトラックパターン領域Ａｔ内の各凸部１１ａおよび各凹部１１ｂは、一例として、その径方向の長さが互いにほぼ等しくなるように規定されると共に、凸部１１ａの形成ピッチ（すなわち、データ記録トラックのトラックピッチ）や、径方向の長さ（すなわち、データ記録トラックやガードバンド部の径方向の長さ）が磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域において互いにほぼ等しくなるように形成されている。
【００２３】
さらに、図３に示すように、サーボパターン領域Ａｓには、トラッキングサーボ制御用の各種サーボパターンを構成する複数の凸部１１ａおよび複数の凹部１１ｂを有する凹凸パターン１１（凹凸パターン１１ｓ：本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」）で構成された磁性層が形成されている。具体的には、サーボパターン領域Ａｓ内には、凹凸パターン１１ｓによってプリアンブルパターンが形成されたプリアンブルパターン領域Ａｐと、凹凸パターン１１ｓによってアドレスパターンが形成されたアドレスパターン形成領域と（図示せず）、凹凸パターン１１ｓによってバーストパターンが形成されたバーストパターン領域Ａｂとが規定されている。また、バーストパターン領域Ａｂ内には、バーストパターンにおける各信号領域に対応する領域Ａｂ１〜Ａｂ４の４つの領域（同図では領域Ａｂ１，Ａｂ４のみを図示する）が規定されている。この場合、このハードディスクドライブ１では、磁気ディスク１０を角速度一定で回転させた状態においてサーボパターン領域Ａｓからトラッキングサーボ制御用のサーボ信号が読み取られる。このため、図２に示すように、この磁気ディスク１０では、サーボパターン領域Ａｓの周方向の長さが内周部Ａｉから外周部Ａｏに向かって徐々に長くなるように規定され、これに伴い、プリアンブルパターン領域Ａｐ、アドレスパターン領域およびバーストパターン領域Ａｂ等の各領域における周方向の長さも内周部Ａｉから外周部Ａｏに向かって徐々に長くなるように規定されている。
【００２４】
また、サーボパターン領域Ａｓにおけるプリアンブルパターン領域Ａｐに形成されている各凸部１１ａは、少なくともその突端部（一例として、その基端部から突端部までのほぼ全体）が上記の磁性層を構成する磁性材料で形成され、磁気ディスク１０の径方向に沿って連続的に形成されて径方向に長い帯状に形成されている。このプリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成されている各凸部１１ａは、本発明における第１の記録領域の一例であって、その径方向の長さが磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの長さとほぼ等しくなるように形成されている。また、プリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成されている各凸部１１ａは、その周方向の長さが内周部Ａｉから外周部Ａｏに向かって徐々に長くなるように形成されている。なお、プリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成されている各凹部１１ｂは、その径方向の長さが凸部１１ａの径方向の長さとほぼ等しく、かつ、その周方向の長さが同一半径位置における凸部１１ａの周方向の長さとほぼ等しくなるように形成されている。また、この磁気ディスク１０では、一例として、３０本程度の凸部１１ａがプリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成されている。
【００２５】
さらに、サーボパターン領域Ａｓにおけるアドレスパターン形成領域には、上記のプリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成された各凸部１１ａと同様にして、少なくともその突端部（一例として、その基端部から突端部までのほぼ全体）が上記の磁性層を構成する磁性材料で形成され、径方向に沿って長い複数の凸部１１ａ（本発明における第１の記録領域の他の一例）がセクタアドレスパターン用の凸部として形成されている（図示せず）。また、サーボパターン領域Ａｓにおけるバーストパターン領域Ａｂの各領域Ａｂ１〜Ａｂ４に形成されている各凸部１１ａは、バーストパターンにおける単位バースト領域を構成する凸部であって、少なくともその突端部（一例として、その基端部から突端部までのほぼ全体）が上記の磁性層を構成する磁性材料で形成され、一例として、その径方向の長さが１トラックピッチに対応する長さで、その周方向の長さがプリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａにおける同一半径位置の周方向の長さとほぼ等しくなるように形成されている。
【００２６】
一方、図２に示すように、磁気ヘッド２は、記録ヘッド２ｗと再生ヘッド２ｒとがスライダー２ｓの底面に配設された複合型の磁気ヘッドであって、アーム３を介してアクチュエータ４に取り付けられている。この場合、この磁気ヘッド２では、一例として、スライダー２ｓにおける先端部側に記録ヘッド２ｗが設けられると共に、スライダー２ｓにおける基端部側（アーム３側）に再生ヘッド２ｒが設けられている。また、この磁気ヘッド２では、図４に示すように、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒ（径方向に対応する長さの中心：シーク動作方向に沿った長さの中心）に対して、記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗ（径方向に対応する長さの中心：シーク動作方向に沿った長さの中心）が距離Ｌ１だけ離間するように再生ヘッド２ｒおよび記録ヘッド２ｗが形成されている。なお、同図、および後に参照する図５〜１１では、本発明についての理解を容易とするために、再生ヘッド２ｒおよび記録ヘッド２ｗにおける各部の長さや、再生ヘッド２ｒおよび記録ヘッド２ｗ間の距離などを実際とは相違する長さや距離で図示している。また、同図に示す一点鎖線Ｘは、アーム３の延在方向、すなわち、アクチュエータ４における回動軸が存在する方向を示す仮想線であって、以下の説明においては、磁気ヘッド２における各部の長さのうちの一点鎖線Ｘと交差する向きの長さを幅ともいう。さらに、本明細書では、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとの間のアーム３の延在方向（一点鎖線Ｘ）に沿った向きの距離Ｌ１については、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒを基点とし、かつアーム３の基端部から先端部に向かう向き（矢印Ａの向き）の距離を「＋の距離」とする。
【００２７】
この場合、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとが磁気ヘッド２の幅方向において離間することなく、両中心Ｃｒ，Ｃｗが例えば一点鎖線Ｘ上に位置するように再生ヘッド２ｒおよび記録ヘッド２ｗが形成されているのが好ましい。しかしながら、この種の磁気ヘッドでは、その製造誤差に起因して、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとが磁気ヘッド２の幅方向において距離Ｌ２だけ離間した状態となることがある。なお、本明細書では、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとの間の幅方向の距離Ｌ２については、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒを基点とし、かつ磁気ヘッド２を磁気ディスク１０上に配置した状態において磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏに向かう向き（矢印Ｂの向き）の距離を「＋の距離」とする。一方、単一の回転軸（アクチュエータ４）を中心として磁気ヘッド２（アーム３）がシーク動作するハードディスクドライブ１では、例えば、磁気ディスク１０の内周部Ａｉや外周部Ａｏに磁気ヘッド２が位置させられたときに、同図に示すように、磁気ヘッド２の位置に応じた角度のスキュー角θが生じる。なお、同図、および後に参照する図６〜８では、本発明についての理解を容易とするために、スキュー角θを実際の角度とは相違する角度で図示している。また、本明細書では、上記のスキュー角θについては、矢印Ｃで示す向きの角度、すなわち、トラック中心Ｃｔと平行な線分を基準として外周部Ａｏ側に生じた角度を「＋の角度」とし、内周部Ａｉ側に生じた角度を「−の角度」とする。
【００２８】
この場合、前述したように、記録ヘッド２ｗが再生ヘッド２ｒに対して距離Ｌ１だけ離間しているため、図４に示すように、スキュー角θが生じている状態では、例えば、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒをトラック中心Ｃｔに一致させたとき（再生ヘッド２ｒをオントラックさせたとき）に、記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗがトラック中心Ｃｔから離れた位置に位置する（記録ヘッド２ｗがオフトラックする）こととなる。この記録ヘッド２ｗのオフトラック量、すなわち、スキュー角θが生じた状態における再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとの間の径方向に沿った離間距離（距離Ｌ３）は、スキュー角θの大きさに応じて相違する。具体的には、「距離Ｌ３＝距離Ｌ１×ｓｉｎθ＋距離Ｌ２×ｃｏｓθ」となる。したがって、再生ヘッド２ｒによるサーボデータおよび記録データの読み出し時と、記録ヘッド２ｗによる記録データの記録時との双方において、再生ヘッド２ｒおよび記録ヘッド２ｗを所望のトラックにオントラックさせるようにトラッキング制御するには、磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域において、上記の距離Ｌ３、すなわち、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとのオフセット量ＯＷ（本発明における所定のパラメータの一例）を測定し、その測定結果を各トラックに関連付けてオフセットデータＤｏとして記憶しておく必要がある。なお、本明細書では、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒと記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗとの間のオフセット量ＯＷについては、再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒを基点とし、かつ磁気ディスク１０の半径方向において内周部Ａｉから外周部Ａｏに向かう向き（矢印Ｄの向き）の距離を「＋の距離」とする。
【００２９】
また、図５に示すように、この磁気ヘッド２では、記録ヘッド２ｗが再生ヘッド２ｒよりも幅広となるように形成されている。したがって、この磁気ヘッド２では、再生ヘッド２ｒによる磁気的読出し幅ＭＲＷよりも記録ヘッド２ｗによる磁気的書込み幅ＭＷＷの方が幅広となっている。この場合、磁気ディスク１０の全域において、再生ヘッド２ｒによるサーボデータおよび記録データの確実な読み出しと、記録ヘッド２ｗによる記録データの確実な記録を行うためには、上記の磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷ（本発明における所定のパラメータの他の一例）を測定し、その測定結果を書込み幅データＤｗおよび読出し幅データＤｒとして記憶し、記憶した両データＤｗ，Ｄｒに基づいてトラッキングサーボ制御用の各種の制御パラメータを実機に合わせて微調整するのが好ましい。このため、このハードディスクドライブ１では、後述するように、その内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域について上記のオフセット量ＯＷを測定する測定処理を実行して各トラック毎のオフセットデータＤｏを記憶部８に記憶させると共に、例えば中周部Ａｃにおいて磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷを測定する測定処理を実行して書込み幅データＤｗおよび読出し幅データＤｒを記憶部８に記憶させるように構成されている。
【００３０】
一方、アクチュエータ４は、コントローラ５の制御に従ってアーム３を図２に示す矢印Ｓの方向に回動（シーク）させる。コントローラ５は、制御部７の制御に従い、アクチュエータ４を制御してアーム３を回動させることにより、磁気ヘッド２を磁気ディスク１０上の所望のトラックにオントラックさせる。モータ６は、制御部７の制御に従い、一例として、磁気ディスク１０を５４００ｒｐｍの回転速度で定速回転させる。制御部７は、ハードディスクドライブ１を総括的に制御する。具体的には、制御部７は、コントローラ５を制御してアクチュエータ４を駆動させることで磁気ヘッド２を磁気ディスク１０上の所望のトラックにオントラックさせると共に、記録ヘッド２ｗによる記録データの書き込みや、再生ヘッド２ｒよるサーボデータおよび記録データの読み出しを制御する。また、制御部７は、本発明におけるパラメータ測定方法に従い、オフセット量ＯＷ、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷを測定する測定処理を実行する。記憶部８は、制御部７が実行する上記の各測定処理についての測定処理プログラムＤｐを記憶すると共に、各測定処理によって生成したオフセットデータＤｏ、書込み幅データＤｗおよび読出し幅データＤｒ等を記憶する。
【００３１】
次に、ハードディスクドライブ１によるオフセット量ＯＷの測定処理について、図面を参照して説明する。なお、ハードディスクドライブ１に搭載されている磁気ディスク１０は、ハードディスクドライブ１の筐体（図示せず）に組み込まれる以前に、各データトラックパターン領域Ａｔおよび各サーボパターン領域Ａｓの全域がＤＣ着磁されているものとする。
【００３２】
このハードディスクドライブ１では、例えば、電源が供給されている状態において外部装置から測定処理開始を指示する制御信号が出力されたときに、制御部７が、オフセット量ＯＷを測定する測定処理を開始する。この際に、制御部７は、まず、コントローラ５を制御して磁気ヘッド２を磁気ディスク１０の内周部Ａｉに移動させると共に、磁気ヘッド２を外周部Ａｏに向けて移動させつつ、各データトラックパターン領域Ａｔのすべての凸部１１ａ、および各サーボパターン領域Ａｓのうちの所定のサーボパターン領域Ａｓにおけるプリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａに対するＡＣイレース処理を実行する。具体的には、データトラックパターン領域Ａｔ内の各データ記録トラックに対する記録データの記録時に用いる信号の周波数よりも高い周波数の信号をデータトラックパターン領域Ａｔのすべての凸部１１ａ、および所定のサーボパターン領域Ａｓにおけるプリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａに対して記録ヘッド２ｗを介して書き込ませる。この際には、一例として、周方向において隣接するサーボパターン領域Ａｓ，Ａｓの双方に対してＡＣイレース処理を実行することなく、少なくとも１つおき（一例として、３つおき）のサーボパターン領域Ａｓに対してＡＣイレース処理を実行する。また、ＡＣイレース処理を実行するサーボパターン領域Ａｓに対しては、一例として、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の３０本の凸部１１ａのうちのデータトラックパターン領域Ａｔ側の１５本の凸部１１ａ（本発明における「予め規定された一部の第１の記録領域」の一例）を対象とするＡＣイレース処理を実行する。これにより、各データトラックパターン領域Ａｔについての初期化処理が完了すると共に、各サーボパターン領域Ａｓのうちの一部のサーボパターン領域Ａｓにおけるプリアンブルパターン領域Ａｐ内の１５本の凸部１１ａに対する測定用信号の書き込みが可能な状態となる。なお、ＡＣイレース処理を実行しなかったサーボパターン領域Ａｓにおける凹凸パターン１１ｓについては、以下の処理において通常のサーボパターン用の凹凸パターンとして利用されてトラッキングサーボ制御が実行される。
【００３３】
次いで、図６に示すように、制御部７は、コントローラ５を制御して再生ヘッド２ｒを測定対象のトラック（一例として、外周部Ａｏ側の所定のトラック）にオントラックさせた状態において（再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒをトラック中心Ｃｔに一致させた状態において）、上記のイレース処理が完了したプリアンブルパターン領域Ａｐ内の１５本の凸部１１ａに対してオフセット量測定用の測定用信号を書き込む。具体的には、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の１５本の凸部１１ａに対して記録ヘッド２ｗを介してＤＣ着磁処理を実行する。この場合、前述したように、磁気ディスク１０における内周部Ａｉや外周部Ａｏにおいてスキュー角θが生じている状態では、再生ヘッド２ｒをオントラックさせた状態において記録ヘッド２ｗが距離Ｌ３だけオフトラックした状態となる。したがって、同図に示すように、記録ヘッド２ｗを介してオフセット量測定用の測定用信号を書き込んだ際には（ＤＣ着磁処理した際には）、測定用信号が書き込まれた（ＤＣ着磁された）領域Ａｗにおける径方向の中心がトラック中心Ｃｔから外れた状態となる。
【００３４】
続いて、制御部７は、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａに書き込んだ測定用信号を読み出し、その読み出し結果に基づいて上記のオフセット量ＯＷを測定する。具体的には、制御部７は、コントローラ５を制御して再生ヘッド２ｒを予め規定された測定位置（測定対象のトラック中心Ｃｔに対して所定量だけ径方向にオフセットした位置）に移動させた状態において、各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐから上記の測定用信号を読み出させる。この際に、測定用信号の書き込みによってプリアンブルパターン領域Ａｐ内の１５本の凸部１１ａにおける周方向全域がＤＣ着磁されているため、再生ヘッド２ｒを介してプリアンブルパターン領域Ａｐから読み出された再生信号は、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａの形成ピッチに応じたパルス波形となる。次いで、制御部７は、再生ヘッド２ｒを予め規定された所定量（一例として、１トラックピッチに対する１／２０程度）だけ径方向に移動させた状態において、各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐから上記の測定用信号を読み出させる。
【００３５】
この場合、図７，８に示すように、ＤＣ着磁されている領域Ａｗに対して再生ヘッド２ｒが幅方向において殆ど重なる状態では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が比較的大きくなる（大きな出力値の再生信号が得られる）。これに対して、再生ヘッド２ｒの幅方向の一部のみが領域Ａｗと重なる状態（図示せず）では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が小さくなる。このため、再生ヘッド２ｒを移動させる都度、再生信号の振幅値を取り込んで比較することにより、領域Ａｗに対して再生ヘッド２ｒが殆ど重なった状態の再生ヘッド２ｒの位置を特定でき、これにより、領域Ａｗの径方向の長さを特定することができる。したがって、特定した結果に基づいて領域Ａｗの径方向における中心、すなわち、測定用信号を書き込んだ際の記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗに対応する位置を特定することができる。具体的には、制御部７は、再生ヘッド２ｒを介して読み出した再生信号の振幅値が極大値となる再生ヘッド２ｒのヘッド位置、または、振幅値が極大値の再生信号が読み出される再生ヘッド２ｒの移動範囲の中心を領域Ａｗの径方向における中心として特定する。次いで、制御部７は、特定した中心と、その領域Ａｗに対して測定用信号を書き込んだ際に再生ヘッド２ｒをオントラックさせたトラックのトラック中心Ｃｔとの間の距離をオフセット量ＯＷとして演算し、演算結果をそのトラックについてのオフセットデータＤｏとして記憶部８に記憶させる。
【００３６】
この後、制御部７は、磁気ディスク１０の外周部Ａｏから内周部Ａｉまでの全域に対して数百トラックおきに、上記の測定用信号の測定用信号の書き込み処理、測定用信号の読み出し処理、およびオフセット量ＯＷの演算処理を順次実行する。また、磁気ディスク１０の全域に対する数百トラックおきの上記の各処理が完了したときには、制御部７は、演算結果（記憶部８に記憶させた各オフセットデータＤｏ）に基づき、測定用信号の書き込みおよび読み出し等の各処理を実行していないトラックについてのオフセット量ＯＷを補間処理によって求める。これにより、記憶部８には、磁気ディスク１０の全域についてのオフセットデータＤｏが各トラックに対応して記憶される。
【００３７】
次いで、ハードディスクドライブ１によるヘッド幅の測定処理について、図面を参照して説明する。
【００３８】
制御部７は、上記のオフセット量ＯＷについての測定処理が完了した際に、前述した磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理を開始する。この測定処理では、制御部７は、まず、上記のオフセット量ＯＷの測定処理時に測定用信号を書き込んだ各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐ内における各凸部１１ａに対して磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏの全域に亘ってＡＣイレース処理を実行する。次いで、図９に示すように、例えば、磁気ディスク１０における中周部Ａｃの所定のトラックに記録ヘッド２ｗをオントラックさせた状態において（記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗをトラック中心Ｃｔに一致させた状態において）、一例として、上記のオフセット量ＯＷの測定処理時に測定用信号を書き込んだ各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐ内における３０本の凸部１１ａのうちのデータトラックパターン領域Ａｔ側の１５本の凸部１１ａ（本発明における「予め規定された一部の第１の記録領域」の一例）に対してヘッド幅測定用の測定用信号を書き込む（ＤＣ着磁処理する）。
【００３９】
次いで、制御部７は、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａに書き込んだ測定用信号を読み出し、その読み出し結果に基づいて上記の磁気的書込み幅ＭＷＷを取り込む。具体的には、制御部７は、コントローラ５を制御して再生ヘッド２ｒを予め規定された測定位置（測定対象のトラック中心Ｃｔに対して所定量だけ径方向に移動させた位置）に移動させた状態において、各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐから上記の測定用信号を読み出させる。次いで、制御部７は、再生ヘッド２ｒを予め規定された所定量（一例として、１トラックピッチに対する１／２０程度）だけ径方向に移動させた後に、各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐから上記の測定用信号を読み出させる。この際に、前述したオフセット量ＯＷの測定処理時と同様にして、測定用信号の書き込みによってＤＣ着磁された領域Ａｗ１に対して再生ヘッド２ｒが幅方向において殆ど重なる状態では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が比較的大きくなる（大きな出力値の再生信号が得られる）。これに対して、再生ヘッド２ｒの幅方向の一部のみが領域Ａｗ１と重なる状態では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が小さくなる。
【００４０】
したがって、再生ヘッド２ｒを移動させる都度、再生信号の振幅値を取り込んで比較することにより、その振幅値と読み出される再生ヘッド２ｒのヘッド位置とに基づき、領域Ａｗ１の径方向における長さ、すなわち、磁気的書込み幅ＭＷＷを演算することができる。具体的には、一例として、再生ヘッド２ｒのヘッド位置と振幅値とのプロファイルにおける極大値の半値幅を磁気的書込み幅ＭＷＷとする。次いで、制御部７は、演算した磁気的書込み幅ＭＷＷを書込み幅データＤｗとして記憶部８に記憶させる。以上で、磁気的書込み幅ＭＷＷの測定処理が完了する。なお、磁気ディスク１０の中周部Ａｃにおいて磁気的書込み幅ＭＷＷの測定処理を実行する構成について説明したが、磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域に対して上記の測定処理を実行する構成を採用することもできる。この際に、前述したオフセット量ＯＷについての測定処理と同様にして、数百トラックおきに磁気的書込み幅ＭＷＷの測定処理を実行すると共に、測定処理を実行していないトラックについての磁気的書込み幅ＭＷＷを補間処理によって求める構成を採用することもできる。
【００４１】
次いで、制御部７は、磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理を開始する。この磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理に際しては、図１０に示すように、制御部７は、まず、磁気的書込み幅ＭＷＷの測定処理時にプリアンブルパターン領域Ａｐ内の１５本の凸部１１ａに対して測定用の測定用信号を書き込んだ（ＤＣ着磁処理した）各領域Ａｗ１に対して、その径方向における内周側の１／３の領域Ａｅと、径方向における外周側の１／３の領域ＡｅとをＡＣイレース処理することで、領域Ａｗ１の径方向に沿った長さ（この例では、磁気的書込み幅ＭＷＷ）に対して径方向の幅Ｗが１／３の長さの領域Ａｗ２のみがＤＣ着磁された状態にする（測定しようとしている磁気的読出し幅ＭＲＷよりも、領域Ａｗ２における径方向の幅Ｗの方が狭くなるようにする）。次いで、制御部７は、再生ヘッド２ｒを径方向に移動させつつ、各領域Ａｗ２から再生ヘッド２ｒを介して測定用信号を読み出し、その読み出し結果に基づいて上記の磁気的読出し幅ＭＲＷを取り込む。この場合、図１１に示すように、ＤＣ着磁されている領域Ａｗ２における径方向の全域が再生ヘッド２ｒにおける磁気的読出し幅ＭＲＷの範囲内に位置している状態では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が比較的大きくなる（大きな出力値の再生信号が得られる）。これに対して、ＤＣ着磁されている領域Ａｗ２における径方向の一部のみが再生ヘッド２ｒにおける磁気的読出し幅ＭＲＷの範囲内に位置している状態では、プリアンブルパターン領域Ａｐから読み出した再生信号の振幅値が小さくなる。
【００４２】
したがって、再生ヘッド２ｒを移動させる都度、再生信号の振幅値を取り込んで比較することにより、その振幅値と読み出される再生ヘッド２ｒのヘッド位置とに基づき、再生ヘッド２ｒの磁気的読出し幅ＭＲＷを演算することができる。具体的には、一例として、再生ヘッド２ｒのヘッド位置と振幅値とのプロファイルにおける極大値の半値幅を磁気的読出し幅ＭＲＷとする。次いで、制御部７は、演算した磁気的読出し幅ＭＲＷを読出し幅データＤｒとして記憶部８に記憶させる。なお、磁気ディスク１０の中周部Ａｃにおいて磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理を実行する構成のみならず、磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域に対して上記の測定処理を実行する構成を採用することもできる。この際に、前述したオフセット量ＯＷについての測定処理と同様にして、数百トラックおきに磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理を実行すると共に、測定処理を実行していないトラックについての磁気的読出し幅ＭＲＷを補間処理によって求める構成を採用することもできる。以上で、磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理が完了する。この後、制御部７は、記録ヘッド２ｗを用いて、上記の各測定処理において利用したすべてのプリアンブルパターン領域Ａｐに対するＤＣ着磁処理を実行する。これにより、各サーボパターン領域Ａｓ内のプリアンブルパターン領域Ａｐに形成された３０本の凸部１１ａのすべてをプリアンブルパターン用の凸部として使用することができる状態となる。
【００４３】
このように、このハードディスクドライブ１によれば、サーボパターン領域Ａｓに形成された各凸部１１ａのうちの径方向に沿って連続的に形成された第１の記録領域（例えば、プリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成されたプリアンブルパターン用の凸部１１ａ）に記録ヘッド２ｗを介して測定用信号を書き込んで本発明における所定のパラメータを測定することにより、オフセット量ＯＷの測定処理や、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理が完了した後に測定処理時に利用した各第１の記録領域（各凸部１１ａ）をＤＣ着磁することで、その第１の記録領域（凸部１１ａ）を通常のサーボパターン（この例では、プリアンブルパターン）として使用することができる。したがって、記録データの記録やサーボパターンの記録ができない測定処理専用の領域を設けることなく、磁気ヘッド２についての所定のパラメータを測定することができる。この結果、記録可能領域の減少を招くことなく記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒについての所定のパラメータを測定し得るハードディスクドライブ１を提供することができる。
【００４４】
また、このハードディスクドライブ１によれば、本発明における所定のパラメータの測定として、記録ヘッド２ｗの中心Ｃｗと再生ヘッド２ｒの中心Ｃｒとの間の径方向に沿った離間距離（オフセット量ＯＷ）を測定することにより、製造誤差や各部品の個体差などに起因して記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒの相互間の位置関係等が相違する各ハードディスクドライブ１について、磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域についてのオフセット量ＯＷを正確に測定することができる結果、記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒの双方を各トラックに対して確実にオントラックさせることができる。
【００４５】
さらに、このハードディスクドライブ１によれば、本発明における所定のパラメータの測定として、記録ヘッド２ｗの磁気的書込み幅ＭＷＷと再生ヘッド２ｒの磁気的読出し幅ＭＲＷとを測定することにより、各ハードディスクドライブ１に実際に搭載された磁気ディスク１０と磁気ヘッド２（記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒ）との組み合わせた状態における磁気的書込み幅ＭＷＷや磁気的読出し幅ＭＲＷを正確に測定することができる。これにより、測定した磁気的書込み幅ＭＷＷや磁気的読出し幅ＭＲＷに基づいてトラッキングサーボ制御用の各種の制御パラメータを各ハードディスクドライブ１毎に実機に合わせて微調整することができる。また、測定した磁気的書込み幅ＭＷＷに基づく書き込み電流値の微調整や、測定した磁気的読出し幅ＭＲＷに基づくゲイン調整などを実行することができる。したがって、磁気ディスク１０の内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域について、記録データを確実に記録することができると共に、記録データやサーボデータを確実に読み出すことができるハードディスクドライブ１を提供することができる。
【００４６】
また、このハードディスクドライブ１によれば、本発明における所定のパラメータを測定する際に、測定用信号を書き込んだ各第１の記録領域（凸部１１ａ）が形成されているサーボパターン領域Ａｓに対して周方向において隣接しないサーボパターン領域Ａｓ内の各第１の記録領域（凸部１１ａ）に測定用信号を書き込むことにより、測定処理に際して第１の記録領域（凸部１１ａ）に測定用信号を書き込まなかった（ＤＣ着磁しなかった）サーボパターン領域Ａｓ内の凹凸パターン１１ｓを通常のサーボパターン用の凹凸パターンとして用いて、測定処理時に正確なトラッキングサーボ制御を実行することができる。したがって、測定処理による測定結果の確度を十分に高めることができる。
【００４７】
なお、本発明は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、上記の磁気ディスク１０では、図１２に示すように、隣り合う凸部１１ａ，１１ａの間に形成された凹部１１ｂ（磁性材料が存在しない空間）によって本発明における「非記録領域」を構成しているが、本発明における「非記録領域」の構成はこれに限定されない。具体的には、例えば、図１３に示す磁気ディスク１０Ａのように、磁気的信号を読み出し可能に保持する能力が上記の磁性層２２を構成する磁性材料よりも低い各種の材料、または、上記の能力を実質的に有していない各種の材料（一例として、酸化シリコンや非磁性樹脂材料等の非磁性材料２３）を各凹部１１ｂに埋め込み、これにより、磁気的信号を読み出し可能に保持する能力が上記の記録領域（凸部１１ａの形成領域）よりも低い、または、その能力を実質的に有していない非記録領域を構成することもできる。この構成を採用することにより、磁気ディスク１０Ａの表面が平坦化される結果、磁気ディスク１０Ａの全域において磁気ヘッド２のヘッド浮上量を均一化することができる。
【００４８】
なお、図１２，１３に示す磁気ディスク１０，１０Ａでは、基材２１の上に磁性層２２を直接形成している状態を図示しているが、実際には、基材２１および磁性層２２の間に軟磁性層や中間層等の各種機能層が必要に応じて形成されている。また、磁性層２２（凸部１１ａ）の上や、凹部１１ｂに埋め込まれた非磁性材料２３の上には、磁気ディスク１０，１０Ａの傷付きを回避するための保護層が形成されている。以下、本発明についての理解を容易とするために、これらの層の図示および説明を省略する。また、図１３に示す磁気ディスク１０Ａ、および後に説明する磁気ディスク１０Ｂ〜１０Ｅにおいて、上記の磁気ディスク１０と同一の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
【００４９】
また、上記の磁気ディスク１０，１０Ａでは、その基端部から突端部までのほぼ全体が磁性材料（磁性層２２）で形成された凸部１１ａによって本発明における「記録領域」を構成しているが、本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」の構成はこれに限定されない。具体的には、例えば、図１４に示す磁気ディスク１０Ｂのように、基材２１に形成した凹凸パターン（凹凸パターン１１と凹凸の位置関係が同様の凹凸パターン）を覆うようにして薄厚の磁性層２２を形成することにより、その表面が磁性材料で形成された複数の凸部１１ａ（記録領域）と、底面が磁性材料で形成された複数の凹部１１ｂ（非記録領域）とによって本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」に相当する凹凸パターン１１を構成することができる。また、図１５に示す磁気ディスク１０Ｃのように、磁気ディスク１０，１０Ａにおける凹凸パターン１１の凸部１１ａの突端部のみを磁性層２２で形成して基端部側を非磁性材料または軟磁性材料等（この例では、基材２１）で形成した複数の凸部１１ａ（記録領域）を備えて本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」に相当する凹凸パターン１１を構成することもできる。
【００５０】
さらに、図１６に示す磁気ディスク１０Ｄのように、凸部１１ａ（記録領域）だけではなく凹部１１ｂ（非記録領域）の底部を含めて磁性層２２で形成して本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」に相当する凹凸パターン１１を構成することもできる。このように、本発明における磁気記録媒体の記録領域を凸部で構成するときには、凸部の少なくとも突端部を磁性材料で形成することで、磁気的信号を読み出し可能に保持する能力を非記録領域よりも十分に高くすることができる。
【００５１】
また、本発明における磁気記録媒体は、凸部で構成された記録領域と凹部で構成された非記録領域とを有するパターンを備えたものに限定されない。具体的には、磁気的信号を読み出し可能に保持する能力が低い各種の材料、または、その能力を実質的に有しない各種の材料（一例として、非磁性材料）で形成した層に、上記の凹凸パターン１１とは凹凸位置関係を反転させた凹凸パターン（凸部が非磁性材料等で構成された凹凸パターン）を形成し、この凹凸パターンの凹部内に磁気的信号を読み出し可能に保持する能力が高い各種の材料（一例として、磁性材料）を埋め込むことで、磁性材料が埋め込まれた凹部で構成された記録領域と、凸部で構成された非記録領域とを有するパターンを備えて本発明における磁気記録媒体を構成することができる（図示せず）。さらに、基材上に形成した連続磁性層の磁気的特性をイオン照射等によって部分的に変化させることで本発明における非記録領域を連続磁性層に形成し、これにより、本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」を形成して磁気記録媒体を構成することができる（図示せず）。
【００５２】
また、プリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成された凸部１１ａを本発明における第１の記録領域として用いて測定用信号を書き込んだ例について説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、アドレスパターン領域に形成されたセクタアドレスパターン用の凸部１１ａを第１の記録領域として用いて上記の各測定処理を実行する構成を採用することができる。また、例えば、図１７に示す磁気ディスク１０Ｅのように、周方向に沿ってジグザグ状となる複数の凸部１１ａ（記録領域）および複数の凹部１１ｂ（非記録領域）を径方向に並べた凹凸パターン１１（本発明における「記録領域と非記録領域とを有するパターン」の他の一例）によってバーストパターン領域Ａｂ内にバーストパターンを形成した場合には、このバーストパターン用の凸部１１ａを本発明における第１の記録領域として用いて上記の各測定処理を実行する構成を採用することができる。この磁気ディスク１０Ｅにおけるバーストパターン領域Ａｂ内の凸部１１ａでは、同図に示す矢印Ｅの部位が径方向沿って連続的に形成されている。
【００５３】
なお、同図に示すように、本発明における「径方向沿って連続的に形成されている」との状態には、周方向（同図に示す矢印Ｔの向き）に対して直交する向きに沿って連続的に形成されている状態のみならず、径方向に対して鋭角に交差する向きに沿って連続的に形成されている状態が含まれる。これらの構成を採用した場合であっても、測定処理の完了後に、測定用信号を書き込んだ凸部１１ａをＤＣ着磁処理することで通常のサーボパターンとして用いることができるため、記録可能領域の減少を招くことなく記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒについての所定のパラメータを測定し得るハードディスクドライブ１を提供することができる。この場合、本発明における第１の記録領域として測定用信号を書き込む凸部は、前述したオフセット量ＯＷの測定処理や、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理を確実に実行可能とするために、その径方向の長さが少なくとも２０トラックピッチ以上の長さの凸部であるのが好ましい。
【００５４】
また、磁気ディスク１０における内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域について数百トラックおきにオフセット量ＯＷを測定してオフセットデータＤｏを求めると共に、残りのトラックについては、補間処理によってオフセットデータＤｏを求める構成について説明したが、本発明はこれに限定されず、磁気ディスク１０における内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全トラックに対して上記の測定処理を実行する構成を採用することができる。同様にして、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理についても、磁気ディスク１０における中周部Ａｃのみ、または、磁気ディスク１０における内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全域について数百トラックおきに測定する構成のみならず、磁気ディスク１０における内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの全トラックに対して上記の測定処理を実行する構成を採用することができる。加えて、本発明における所定のパラメータを測定する処理を所定トラックおきに実行する構成を採用する場合には、１トラックおき以上の任意のトラック数おきに測定処理を実行することができる。この場合、磁気ディスク１０における内周部Ａｉから外周部Ａｏまでの間における任意の２トラックにおいて測定処理を実行し、得られた測定結果（演算結果）と、測定処理を実行した両トラックにおけるスキュー角θとに基づき、前述した「距離Ｌ３＝距離Ｌ１×ｓｉｎθ＋距離Ｌ２×ｃｏｓθ」との式における距離Ｌ１，Ｌ２を求めることで、測定処理を実行していない各トラックについての距離Ｌ３をそのトラックのスキュー角θに基づいて演算する構成を採用することもできる。この構成を採用することにより、例えばすべてのトラックに対して測定処理を実行する構成と比較して、オフセット量ＯＷ等を短時間で測定することができる。
【００５５】
また、各測定処理に際して回転方向において並ぶ各サーボパターン領域Ａｓのうちの一部に対して測定用信号を書き込む場合においては、そのプリアンブルパターン領域Ａｐ内の３０本の凸部１１ａのすべてに測定用信号を書き込む構成を採用することもできる。さらに、本発明における所定のパラメータの測定に際して、周方向において隣接する各サーボパターン領域Ａｓのうちの一部（この例では、３つおき）に対して測定用信号を書き込み、残りのサーボパターン領域Ａｓ内の各凸部１１ａを通常のサーボパターン用の凸部１１ａとして用いる構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、正確なトラッキングサーボ制御が実行できる場合においては、周方向において連続する３つのサーボパターン領域Ａｓのうち、連続する２つのサーボパターン領域Ａｓ内におけるプリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａに対して測定用信号を書き込むと共に、残りの１つのサーボパターン領域Ａｓ内のサーボパターンをトラッキング制御に用いて測定処理を実行する構成を採用することができる。また、周方向において隣接する各サーボパターン領域Ａｓのうちの任意の１つのサーボパターン領域Ａｓ内に測定用信号を書き込んで（磁気ディスク１０の１回転当りに１つのサーボパターン領域Ａｓ内に測定用信号を書き込んで）本発明における所定のパラメータを測定する構成を採用することもできる。
【００５６】
さらに、例えば、上記の各測定処理の実行時に、すべてのサーボパターン領域Ａｓについて、そのプリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成された３０本の凸部１１ａうちの例えばデータトラックパターン領域Ａｔ側の１５本の凸部１１ａ（本発明における「予め規定された一部の第１の記録領域」の一例）を用いて測定用信号を書き込み、測定用信号を書き込まなかった残りの１５本の凸部１１ａからの読み出しによって得られたサーボ信号を用いてトラッキングサーボ制御しつつ、測定処理を実行する構成を採用することができる。このように、本発明における所定のパラメータを測定する際に、サーボパターン領域Ａｓ内に形成された各凸部（第１の記録領域）１１ａのうちの予め規定された一部の凸部（第１の記録領域）１１ａ（この例では、プリアンブルパターン領域Ａｐ内に形成された３０本の凸部１１ａのうちの１５本）にのみ測定用信号を書き込むことにより、測定処理に際して測定用信号を書き込まなかった（ＤＣ着磁しなかった）各凸部１１ａを通常のサーボパターン（この例では、プリアンブルパターン）用の凸部１１ａとして用いて、測定処理時に正確なトラッキングサーボ制御を実行することができる。したがって、測定処理による測定結果の確度を十分に高めることができる。なお、プリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａのうちの何本の凸部１１ａに対して測定用信号を書き込むかについては、測定用信号を書き込まない残りの凸部１１ａによって正確なトラッキングサーボ制御が実行できる範囲において任意に規定することができる。
【００５７】
また、測定処理に際して、本発明における第１の記録領域をＡＣイレース処理した後に測定用信号を書き込むことでＤＣ着磁し、ＤＣ着磁された領域Ａｗ（または、領域Ａｗ１，Ａｗ２）についての再生信号に基づいてオフセット量ＯＷ、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷを測定する例について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、本発明における各第１の記録領域のすべてについて、その全域をＤＣ着磁した状態において、前述した各測定処理時にＤＣ着磁した各領域Ａｗ，Ａｗ１，Ａｗ２に対応する領域に対して記録ヘッド２ｗを介してＡＣイレース処理を実行し（測定用信号の書き込みの他の一例）、この領域についての再生信号に基づいて、オフセット量ＯＷ、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷを測定する構成を採用することができる。なお、この場合、磁気的読出し幅ＭＲＷの測定処理に際しては、ＡＣイレース処理を実行した領域Ａｗ１における半径方向の両側（前述した領域Ａｅに対応する領域）をＤＣ着磁することで、領域Ａｗ２に対応する領域のみがＡＣイレースされた状態にして測定用信号を読み出す。このように、ＡＣイレース処理によって測定用信号を書き込む測定方法では、前述した測定処理時に振幅値が大きい再生信号が得られたヘッド位置において振幅値が小さい再生信号が得られ、かつ振幅値が小さい再生信号が得られたヘッド位置において振幅値が大きい再生信号が得られる。したがって、例えばオフセット量ＯＷの測定時には、再生信号の振幅値が極小値となる再生ヘッド２ｒのヘッド位置、または、振幅値が極小値の再生信号が読み出されるヘッド位置範囲の中心を領域Ａｗの径方向における中心として特定する。これにより、前述した測定処理時と同様にして、オフセット量ＯＷを測定することができる。
【００５８】
また、測定用信号の書き込みによって凸部１１ａにおける径方向の全域をＤＣ着磁した例について説明したが、本発明はこれに限定されず、凸部１１ａの形成ピッチよりも波長が短い測定用信号（例えば、プリアンブルパターンについての再生信号の周波数よりも高い周波数の測定用信号）を第１の記録領域に書き込み、書き込んだ測定用信号を読み出すことでオフセット量ＯＷ、磁気的書込み幅ＭＷＷおよび磁気的読出し幅ＭＲＷを測定する構成を採用することもできる。この場合、大きい出力値の再生信号を得るために、１つの凸部１１ａに対して少なくとも１周期分の測定用信号を記録するのが好ましい。したがって、例えばプリアンブルパターン領域Ａｐ内の各凸部１１ａを第１の記録領域として用いる場合には、プリアンブルパターンの形成ピッチに対する１／２倍以下の波長の測定用信号を記録するのが好ましい。なお、測定用信号の書き込み方法としては、書込み対象の第１の記録領域における全域をＡＣイレースした状態において所定周波数の測定用信号を書き込み対象の第１の記録領域に書き込む方法と、書込み対象の第１の記録領域における全域をＤＣ着磁した状態において所定周波数の測定用信号を書き込み対象の第１の記録領域に書き込む方法とのいずれかを採用することができる。
【００５９】
さらに、本発明における磁気記録媒体は、上記の磁気ディスク１０等のように複数の同心円状または螺旋状の凸部１１ａ（記録領域）を有する凹凸パターン１１によってデータ記録領域Ａｔにデータトラックパターン（凹凸パターン１１ｔ）が形成されたものに限定されず、データトラックパターンにおけるデータ記録トラックを構成する記録領域（一例として、凸部１１ａ）が磁気記録媒体の周方向において非記録領域（一例として、凹部１１ｂ）を挟むようにして互いに分離させられているパターンド媒体に適用することができる。また、本発明における磁気記録媒体は、垂直記録方式の磁気記録媒体、および面内記録方式の磁気記録媒体の双方に適用することができる。加えて、ハードディスクドライブ１の制御部７が各測定処理を実行する構成について説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、ハードディスクドライブ１に検査装置（図示せず）を接続して、検査装置の制御部が上記の各測定処理を実行する構成を採用することができる。この構成では、ハードディスクドライブ１と検査装置とが相俟って本発明に係る記録再生装置を構成する。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】ハードディスクドライブ１の構成を示すブロック図である。
【図２】磁気ディスク１０の平面図である。
【図３】磁気ディスク１０におけるデータトラックパターン領域Ａｔおよびサーボパターン領域Ａｓの平面図である。
【図４】磁気ヘッド２における記録ヘッド２ｗおよび再生ヘッド２ｒの各サイズについて説明するための説明図である。
【図５】磁気ヘッド２における記録ヘッド２ｗの磁気的書込み幅ＭＷＷおよび再生ヘッド２ｒの磁気的読出し幅ＭＲＷについて説明するための説明図である。
【図６】再生ヘッド２ｒをオントラックさせた状態においてプリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａに測定用信号を書き込んでいる状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の平面図である。
【図７】プリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａから測定用信号を読み込んでいる状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の平面図である。
【図８】プリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａから測定用信号を読み込んでいる状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の他の平面図である。
【図９】記録ヘッド２ｗをオントラックさせた状態においてプリアンブルパターン領域Ａｐ内の凸部１１ａに測定用信号を書き込んでいる状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の平面図である。
【図１０】測定用信号を書き込んだ領域Ａｗ１における外周側の領域Ａｅおよび内周側の領域Ａｅに対してＡＣイレース処理を実行した状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の平面図である。
【図１１】ＡＣイレース処理を完了した状態のプリアンブルパターン領域Ａｐ内における凸部１１ａから測定用信号を読み込んでいる状態の磁気ディスク１０および磁気ヘッド２の平面図である。
【図１２】磁気ディスク１０の断面図である。
【図１３】磁気ディスク１０Ａの断面図である。
【図１４】磁気ディスク１０Ｂの断面図である。
【図１５】磁気ディスク１０Ｃの断面図である。
【図１６】磁気ディスク１０Ｄの断面図である。
【図１７】磁気ディスク１０Ｅにおけるバーストパターン領域Ａｂの平面図である。
【符号の説明】
【００６１】
１  ハードディスクドライブ
２  磁気ヘッド
２ｒ  再生ヘッド
２ｓ  スライダー
２ｗ  記録ヘッド
７  制御部
１０，１０Ａ〜１０Ｅ  磁気ディスク
１１，１１ｓ，１１ｔ  凹凸パターン
１１ａ  凸部
１１ｂ  凹部
２１  基材
２２  磁性層
２３  非磁性材料
Ａｐ  プリアンブルパターン領域
Ａｓ  サーボパターン領域
Ａｔ  データトラックパターン領域
Ｃｒ，Ｃｗ  中心
Ｄｏ  オフセットデータ
Ｄｐ  測定処理プログラム
Ｄｒ  読出し幅データ
Ｄｗ  書込み幅データ
Ｌ１〜Ｌ３  距離
ＭＲＷ  磁気的読出し幅
ＭＷＷ  磁気的書込み幅
ＯＷ  オフセット量
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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