(57)【要約】【課題】  ＳＮＲ(Signal to Noise Ratio)劣化や、ディスク上の欠陥等による劣化状態においても、高密度光ディスクに対する再生信頼性を確保した光ディスク再生装置を提供する。【解決手段】  本発明における光ディスク装置は、ビタビ復号アルゴリズムに基づき第1の符号列を復号する第１の復号手段と、振幅制限後の再生信号より抽出した高域成分を加算し振幅強調を行う等化器と、等化器出力の振幅値に基づき第２の符号列を復号する第２の復号手段とを設け、データ復調処理を行う符号列の選択を、第１或いは第２の符号列から行う光ディスク装置を構成することで解決される。【選択図】 図１
2007234174.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク再生信号に対する符号列の復号機能を備えた光ディスク装置であって、
ビタビ復号アルゴリズムに基づき第1の符号列を復号する第１の復号手段と
振幅制限後の再生信号より抽出した高域成分を加算し振幅強調を行う等化器と、
等化器出力の振幅値に基づき第２の符号列を復号する第２の復号手段と、
第1或いは第2の符号列の選択を行う選択手段と、
選択された符号列に対し、データ復調処理を行う復調手段と、
装置全体のシステム制御手段を備え、
該システム制御手段は、復調手段における復調結果に基づき選択手段に対し第1或いは第2の符号列の選択制御を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記システム制御手段は、通常再生時には第1の符号列を選択し、再生リトライ時には第2の符号列を選択することを特徴とする光ディスク装置
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記等化器は、再生信号に対する振幅制限を行う際の制限値を可変可能であり、
前記システム制御手段は、第2の符号列の選択を行う際、その制限値の調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスク再生信号に同期したサンプリングクロック生成機能を備えた光ディスク装置であって、
サンプリングクロックにより再生信号に対するサンプリングデータを生成するアナログ−ディジタル変換器と、
サンプリングデータに対するエッジから、位相誤差を検出する位相比較器と、
検出位相誤差からサンプリングクロック周波数の制御信号を生成するループフィルタと、
ループフィルタ出力に応じたサンプリングクロックを生成するクロック発振手段と、
装置全体のシステム制御手段を備え、
前記位相比較器は、位相誤差検出の際に、サンプリングデータ振幅値と閾値の比較から、位相比較契機の取捨選択を制御し、
前記システム制御手段は、サンプリングデータから生成した符号列に対する復調結果に基づき閾値の調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
前記位相比較器は、再生リトライ時に閾値の調整を行いながら位相比較契機の取捨選択を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスク再生信号に同期したサンプリングクロック生成機能を備えた光ディスク装置であって、
サンプリングクロックにより再生信号に対するサンプリングデータを生成するアナログ−ディジタル変換器と、
サンプリングデータに対するエッジから、第1の位相誤差を検出する第1の位相比較器と、
振幅制限後のサンプリングデータより抽出した高域成分を加算し振幅強調を行う等化器と、
等化器出力に対するエッジから、第２の位相誤差を検出する第２の位相比較器と、
第1、第2の位相誤差選択を行う選択手段と、
選択した位相誤差からサンプリングクロック周波数の制御信号を生成するループフィルタと、
ループフィルタ出力に応じたサンプリングクロックを生成するクロック発振手段と、
装置全体のシステム制御手段を備え、
システム制御手段はサンプリングデータから生成した符号列に対する復調結果に基づき、選択手段に対して第1或いは第2の位相誤差選択を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光ディスク装置において、
前記システム制御手段は、通常再生時には第1の位相誤差を選択し、再生リトライ時には第2の位相誤差を選択することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項６に記載の光ディスク装置において、
前記等化器はサンプリングデータに対する振幅制限を行う際の制限値を可変可能であり、前記システム制御手段は、第2の位相誤差を選択した場合に、その制限値の調整も行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスク再生信号に対し復号処理を行い符号列を得る光ディスク再生方法であって、
ビタビ復号アルゴリズムに基づき第1の符号列を復号する第１の復号と
振幅制限後の再生信号より抽出した高域成分を加算し振幅強調を行った高域強調信号を生成し、その信号振幅値に基づき第２の符号列を復号する第２の復号を行い、
第1或いは、第2の符号列に対するデータ復調結果に基づき、データ復調処理に使用する第1或いは第2の符号列の選択を行うことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の光ディスク再生方法において、
再生信号に対する振幅制限を行う際には、その制限値が可変可能であり、第2の符号列に対し復号を行う際には、その制限値の調整を行うことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１１】
光ディスク再生信号に同期したサンプリングクロックを得るための方法であって、
サンプリングクロックにより再生信号に対する第1のサンプリングデータと、
振幅制限後のサンプリングデータより抽出した高域成分を加算し振幅強調を行った第2のサンプリングデータを生成し、
第1のサンプリングデータに対するエッジから第1の位相誤差を検出、
第2のサンプリングデータに対するエッジから第２の位相誤差を検出し、
符号列に対するデータ復調結果に基づき、第1或いは第2の位相誤差を選択し、それに基づきサンプリングクロックの生成を行うことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の光ディスク再生方法において、
サンプリングデータに対する振幅制限を行う際には、その制限値を可変可能であり、サンプリングクロック生成の際に第2の位相誤差を選択した場合には、その制限値の調整を行うことを特徴とする光ディスク再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び、光ディスク再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年Blu−rayに代表される高密度ディスク、記録再生装置の開発が進んでいる。Blu−rayディスクは2Tマーク（Tはチャネルビットで光ディスクの記録単位）記録に伴う符号間干渉の影響で、短マークに対する再生振幅が劣化するため、ディスクの傾き（チルト）や、高速再生により、再生信号に対するＳＮＲ(Signal to Noise Ratio)劣化がDVD(Digital Versatile Disc)に比べ著しい。
【０００３】
一方、光ディスク再生信号に対するディジタル信号処理システムとして、再生信号に同期したサンプリングクロックを生成するデータPLLと、連続したサンプリングデータに対する振幅レベルから、最尤復号により確からしい符号列を決定するビタビ復号方式を組み合わせたディジタル信号処理システムが近年、用いられるようになった(特許文献１)。
【０００４】
更に高密度ディスクの再生信頼性確保の目的で、再生信号の劣化に追従し、最適なフィルタ特性に調整する適応等化器（特許文献１）や、符号間干渉の影響で劣化した再生信号に対しサンプリングクロックとサンプリングデータ間の位相差、つまりジッタを悪化させることなく、高域（短マーク）成分のみを強調するリミットイコライザーが提案されている（例えば非特許文献1参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−８５７６４
【非特許文献１】Signal Processing for 15/27GB Read-only Disk System (Pioneer Co.)Jpn.J.Appl.Phys.Vol.39 (2000) pp.819-823 Part1, No.2B, February 2000
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光ディスク再生は、再生信号品質が良好な場合のみならず、ＳＮＲ劣化や、ディスク上の傷やマークの欠陥等による劣化状態においても、再生信頼性の確保が必要である。一方でビタビ復号器はその演算処理上、符号列が確定するまでには、ある程度の再生時間が必要である。これは連続したサンプリングデータに基づいて確からしい符号列を決定するためである。特にBlu-rayディスク等、符号間干渉による高域成分の劣化が元々大きい高密度ディスク再生では、微小な再生振幅劣化で再生信頼性が低下するという課題がある。
【０００７】
一方、データＰＬＬで行われ、サンプリングデータとサンプリングクロックとの位相差を検出する位相比較についても符号間干渉の影響を受けやすい。つまり再生信号の劣化により、位相誤差検出が正しく行われず、再生信号の入力レートに対する正しいサンプリングクロックが生成できない、つまりジッタを抑制しきれずに再生信頼性が低下するという課題がある。
【０００８】
更に、再生信号劣化状態でデータＰＬＬにおける位相誤差の誤検出を回避する目的で、リミットイコライザー出力を位相比較に用いる場合も考えられるが、サンプリングデータに対し適切な振幅制限を行わない場合は、リミットイコライザー出力ジッタが悪化する場合があり、リミットイコライザーを利用する際には、振幅制限レベルの制御方法が課題となる。本発明の目的は上記課題を解決する光ディスク装置及び、ディスク再生方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記第１の課題に対し、ビタビ復号アルゴリズムに基づき第1の符号列を復号する第１の復号手段と、振幅制限後の再生信号より抽出した高域成分を加算し振幅強調を行う等化器と、等化器出力の振幅値に基づき第２の符号列を復号する第２の復号手段とを設け、データ復調処理を行う符号列の選択を、第1或いは第2の符号列から行う光ディスク装置を構成することで解決される。更に上記等化器でサンプリングデータに対する振幅制限を行う際には、その制限値を可変可能な等化器の構成を採り、第2の符号列の選択を行う際にはその制限値の調整を行う光ディスク装置を構成することで解決される。
【００１０】
上記第２の課題に対しては、データPLLを構成し、サンプリングデータにおけるのエッジを検出し位相誤差を検出する位相比較器に対し、位相誤差検出の際に、サンプリングデータ振幅値と閾値の比較から、位相誤差検出の取捨選択を制御する位相比較器を構成し、その閾値の調整を行う光ディスク装置を構成することで解決される。
【００１１】
また、上記第３の課題に対し、上記第１の位相誤差を検出する第１の位相比較器に加え、振幅制限後のサンプリングデータより抽出した高域成分を加算し振幅強調を行う等化器と、等化器出力に対するエッジを検出し第２の位相誤差を検出する第２の位相比較器を設け、第１、第２の位相誤差検出の選択を行うデータPLLを含む光ディスク装置を構成、等化器は、振幅制限を行う際に、その制限値を可変可能とし、第2の符号列の選択を行う際にその制限値の調整を行う光ディスク装置を構成することで解決される。
【発明の効果】
【００１２】
本発明により、劣化部分に対する位相比較の回避や、位相比較の際のジッタ抑制が可能となり、エラーレートの改善、再生信頼性の確保が可能となる。
【００１３】
また、符号列復号としてビタビ復号を含むデータパスと、リミットイコライザー、レベルスライサーで構成されるデータパスを設け、再生リトライ契機で切り替えることでエラーレートの改善、再生信頼性の確保が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の第１の実施例について図面を用いて説明する。
【００１５】
図１で光ディスク装置の構成を説明する。図１において１は光ディスク、２は光ディスク１上の記録マーク、ピットの読み取りを行う光ヘッド、３は光ヘッド２の移動手段、４は光ディスクからの戻り光に対する増幅を行い、再生信号として出力するプリアンプ、５は再生信号に対し１Ｔ（Ｔは自然数で記録マーク、ピット長に対する最小単位を示すチャネルビット）単位のサンプリングクロックを用いて再生信号のサンプリングを行い、サンプル信号をディジタル値へ変換するADC、６はAD変換後のサンプリングデータとサンプリングクロックの位相誤差を検出する位相比較器１、７はサンプリングデータに対し高域強調を行うリミットイコライザー出力（高域強調出力）とサンプリングクロックの位相誤差を検出する位相比較器２、８は位相比較器選択手段、９は再生信号の入力レートに対するサンプリングクロック周波数の追従特性を決定するループフィルタ、１０はループフィルタ出力に従いサンプリングクロックを生成するクロック発振器である。以上５から１０までの構成要素でデータＰＬＬを構成する。従って図１の装置におけるデータPLLは、ADC５からのサンプリングデータに対し位相比較を行う第1の位相比較ループと、後述するリミットイコライザー１３からの高域強調データに対し位相比較を行う第2の位相比較ループの２種類を設け、８の選択手段により使用する位相比較ループを切り替える構成となっている。
【００１６】
また、１１は、再生信号つまり、サンプリングデータの劣化に応じてフィルタ係数を調整することで劣化信号に対する改善を行う適応等化器、１２はビタビ復号アルゴリズムにより求めた符号列を出力するビタビ復号器、１３はサンプリングデータにおいて符号間干渉により劣化した高域成分を増幅するリミットイコライザー、１４はリミットイコライザー出力の振幅に従った符号列を出力するレベルスライサー、１５はレベルスライサー１４或いはビタビ復号器によって復号された符号列の選択を行うデータパス選択手段、１６は選択後の符号列に含まれる同期信号の検出、データ復調処理を行うことで光ディスク１に記録前の元の情報を得るデータ復調回路、１７はアクセス命令に従い光ヘッド移動手段３を制御し、光ヘッド２をアクセス目標ブロックへ移動制御するアクセス制御回路である。従って、図１の装置において符号列の復号を行うデータパスについては、適応イコライザー１１、ビタビ復号器１２を使用する第1のデータパスと、リミットイコライザー１３、レベルスライサー１４を使用する第2のデータパスの２種類を設け、１５の選択手段により使用する符号列を切り替えてデータ復調処理を行う構成となっている。
【００１７】
なお、装置全体を制御するうステムコントローラについては図示していないが、少なくともアクセス制御回路１４に対するアクセス命令生成、６の位相比較器１に対するＰＤレベル設定、位相比較器選択手段８に対するPD1/2選択命令、リミットイコライザー１３に対するＬＭＴレベル設定、データパス選択手段１５に対する選択命令を生成する。
【００１８】
図１の光ディスク装置における再生制御を図２の状態遷移図を用いて説明する。図２において装置における通常再生時の各設定パラメータの初期設定を行う。図１の構成要素の中で、パラメータの設定対象となる手段は６の位相比較器１、位相比較器選択手段８、リミットイコライザー１３、データパス選択手段１５であり、初期設定時の設定パラメータとして例えば、図６の初期設定の欄に示す設定が、位相比較器１、位相比較器選択手段、データパス選択手段、リミットイコライザーに対し設定される。更にアクセス制御回路１７に対しアクセス目標ブロックに対するアクセス命令を生成する（S20）。
【００１９】
アクセス制御回路１７は移動手段３の制御で光ヘッド２を移動させ、記録トラックのトレースを開始し、アクセス目標ブロックへアクセスする（S21）。アクセス目標ブロックへのアクセス後、プリアンプ４、ADC５を介し得られるサンプリングデータに対し、サンプリングクロックとの位相誤差が最小となるように、ループフィルタ９、クロック発振器を介してサンプリングクロック周波数を制御する。一方でビタビ復号器１２、レベルスライサー１４における符号列の復号も同時に行われ、データパス選択手段１５で選択された符号列に対しデータ復調回路１６による復調処理も開始され、再生目標ブロックからの再生を行う（S22）。
【００２０】
S22に遷移後、復調処理に対する誤り訂正処理等の結果、再生不能と判断された場合、その検出ブロック以降の再生を中断し、リトライ処理に遷移する（S23）。リトライ処理への遷移後、再生不能ブロックを再生目標ブロックとして再度再生を試みるリトライ処理を行うが、その前に設定パラメータの変更を行う。設定パラメータとして少なくとも図１における（１）ＰＤレベル設定、（２）ＬＭＴレベル設定、（３）PD1/2選択命令、（４）データパス選択が変更される（S24）。設定パラメータの変更後、アクセス制御回路１7の制御によりアクセス目標ブロックにアクセスし（S21）、再生目標ブロックからの再生を行う（S22）。この後再度S23に遷移した場合はS24で設定パラメータの変更を行うが、S23において、リトライ回数の上限を超えた場合はリトライ処理を停止する。
【００２１】
図２のS24でシステムコントローラにより変更される各設定パラメータの変更方法の一例について図３、図４、図５、図６を用いて説明する。図３では６の位相比較器１に対するＰＤレベル設定について、図４ではリミットイコライザー１３に対するＬＭＴレベル設定について、図５ではデータパス選択手段１５の選択に対する符号列の復号動作、図６では設定パラメータの組合せの一例についての説明図である。
【００２２】
まず、６の位相比較器１に対するPDレベル設定について説明する。図３において3-(a)は、ADC５出力のサンプリングデータと、それに対し位相比較契機となるゼロクロスポイントを示す。サンプリングデータにはゼロレベルを境界とする２点間のプラス、マイナス方向の振幅が不均衡である劣化１、劣化２が存在する。3-(a)の場合、６の位相比較器１において全てのゼロクロスポイント（１）〜（７）に対し位相比較を行う。3-(a)の位相比較契機についてはゼロクロスポイント２点間のサンプリングデータの振幅が均等な場合が連続する場合に適する。
【００２３】
3-(b)は振幅劣化部分を含むサンプリングデータに対し、位相比較を行わない振幅範囲としてPDlv1（PDlv1は正の整数）を設定した場合の位相比較契機を示している。3-(b)の場合、劣化２の部分に対する位相比較は回避され、±PDlv1範囲外のゼロクロスポイントで位相比較を行う。この場合、劣化が著しい部分に対してのみ位相比較が回避されることで、異常な位相誤差検出を回避できると共にデータＰＬＬにおけるループゲイン減少も最小限に抑えることが可能となる。
【００２４】
3-(c)は振幅劣化部分を含むサンプリングデータに対し、位相比較を行わない振幅範囲としてPDlv2（（PDlv2は正の整数でPDlv1 < PDlv2）を設定した場合の位相比較契機を示している。3-(c)の場合、劣化１、２の部分に対する位相比較は回避され、±PDlv2範囲外のゼロクロスポイントで位相比較を行う。3-(b)、3-(c)の場合、例えばSNR劣化の状態で３T―２T−３Tパターン等２Tの振幅劣化しやすいパターンが再生信号に含まれる場合に有効である。
【００２５】
次に、リミットイコライザー１３の構成と、ＬＭＴレベル設定について説明する。図４のブロック図はリミットイコライザーの構成例を示しており、１８はADC５出力のサンプリングデータに対し設定したＬＭＴレベルを超える範囲のサンプリングデータに対し振幅制限を行うリミッタ、１９は振幅制限後のサンプリングデータに対し高域成分のみを取り出すHPF（高域フィルタ）、20はサンプリングデータの補間関係を変更（サンプリングポイントを0.5Tシフト）する補間器、２１は補間器出力をリミッタ１８、HPF19の処理時間分、遅延させる遅延回路、２２はHPFと遅延回路出力同士を加算する加算回路である。リミットイコライザー動作は入力サンプリングデータに対し振幅制限、高域成分のみを抽出し、遅延させたサンプリングデータと加算することで再生信号に含まれる2T成分に対する振幅の改善を行う。なお時刻nのHPF出力は例えば、
Y(n)＝-K・X(n-2) +K・X(n-1) +K・X(n) -K・X(n+1)  （Kは正の整数、X(n)はサンプリングデータ）で求められ、リミッタ出力に対し高域成分のみを抽出する。
【００２６】
以上で説明したリミットイコライザーの構成に対し劣化部分を含むサンプリングデータに対する動作とＬＭＴレベル設定について説明する。4-(a)はリミットイコライザーに入力され、振幅劣化部分を含むサンプリングデータの一例と、２つのＬＭＴレベルLMT1、LMT2（LMT1、LMT2は正の整数でLMT1＞LMT2）の関係を示す。
【００２７】
4-(b)はLMT1設定の場合の振幅制限を示し、4-(c)は振幅制限後の出力に対しHPF１９による高域成分の抽出を示す。この場合、劣化部分の振幅はＬＭＴ１を超えないため、HPF出力としてはゼロレベルのサンプリングデータが０とならない。従ってリミットイコライザー出力として劣化部分に対するサンプリングデータは０レベルにはならず、ジッタは悪化する。しかしながら高域成分に対する振幅レベルは改善される。以上から振幅レベルの改善を優先する場合に用いる。
【００２８】
一方  4-(d)はLMT2設定の場合の振幅制限を示し、4-(e)は振幅制限後の出力に対しHPF１９による高域成分の抽出を示す。この場合、劣化部分の振幅はＬＭＴ2を超え、HPF出力としてはゼロレベルのサンプリングデータが０となる。従ってリミットイコライザー出力として劣化部分に対するサンプリングデータも０となり、ジッタ悪化は回避される。しかしながら高域成分に対する振幅レベルの改善はLMT1設定の場合に比べ小さい。以上からジッタ悪化回避を優先する場合に用いる。
【００２９】
次に、サンプリングデータに対する符号列の復号動作について説明する。図５において5-(a)は欠陥が存在する再生信号の一例を示しており、5-(b)は適応等化器１１、ビタビ復号器１２を介して符号列の復号を行う場合、5-(c)はリミットイコライザー１３、レベルスライサー１４を介して符号列の復号を行う場合の動作を示している。5-(b) 、5-(c)共に欠陥期間、サンプリングクロック周波数のズレを補正するPLL同期期間で正しい符号列の復号は不可能である。更に5-(b)の場合、ビタビ復号器が正しい復号結果を出力するまでに要する復帰期間が必要となる。これはビタビ復号アルゴリズムにおけるメトリック演算に依存し、ビタビ復号器には必ずこの復帰期間が必要となる。例えばこのような欠陥が頻発した場合、レベルスライサーを用いる場合に比べ、ビタビ復帰期間で発生するエラーが再生信頼性を低下させる要因となる場合がある。一方5-(c)の場合、ビタビ復帰期間は不要となり、エラー発生を最小に留めることが可能である。但しレベルスライサー１４による符号列の復号を行う前に、リミットイコライザー１３によって、劣化しやすい高域成分の振幅を改善しておく必要がある。従ってリミットイコライザーに設定するLMTレベルは、高域成分の強調が十分得られる設定が有利となる。
【００３０】
以上、図１の構成要素に対し、図２の状態遷移図におけるリトライ処理において設定するパラメータと動作について説明したが、最後に各設定パラメータの組合せの一例について図６を用いて説明する。図６は各設定パラメータについて、通常再生で用いる初期設定値と、再生リトライの実施回数に応じた各設定パラメータの組合せの一例を示している。
【００３１】
通常再生時に用いる設定パラメータの組合せにおいて、データPLLに対する設定として位相比較器１の選択と、位相比較器１において全てのゼロクロスポイントに対し位相比較を行う（例えば図３の3-(a)に相当する）。データパスの選択として、サンプリングデータに対し、適応等化器１１、ビタビ復号器１２のデータパスを選択する。
【００３２】
第１、第２回目の再生リトライ実施時には、位相比較器１に対する調整のみを行い、サンプリングデータの劣化部分に対する位相比較を回避する（図３の3-(b)、3-(c)参照）。なおPDレベル調整により、位相比較回数が減少、つまりＰＬＬループゲインが不足する場合に対し、ループフィルタ９に対するループゲイン調整をPDレベル調整と同時に行う場合もある。
【００３３】
第３、第４回目の再生リトライ処理時には、位相比較器２を選択、それに用いるリミットイコライザーに対する振幅制限レベルを調整する（図４の4-(b)から4-(e)参照）。
【００３４】
第５、第６回目の再生リトライ実施時には、リミットイコライザー１３とレベルスライサー１４で構成されるデータパスを選択し、符号列の復号を行う（図５の5-(c)参照）。この第５、第６回目の再生リトライ実施時には、位相比較器２を用いた位相誤差検出も同時に行う例を示しており、リミットイコライザーに対する振幅制限レベルの調整も同時に行う（図４の4-(b)から4-(e)参照）。
【００３５】
なお初期設定値、リトライ実施時の設定パラメータは、図６における順序に限定されない。また第５、第６回目の再生リトライ実施時には、データパスの選択と、位相比較器２による位相誤差検出を同時に行うことに限定されず、データパスの選択のみを行う場合や、データパスの選択と、第１、第２回目の再生リトライ処理実施時に行う位相比較器１の調整を同時に行うことも考えられる。
【００３６】
更に、再生リトライ実施時には、光ディスク１の回転速度を減速する場合も考えられるが、減速後の再生リトライ実施時にも、図６の設定パラメータの組合せが適用できる。
【００３７】
また、図１の装置構成において、光ヘッド２以降の各構成要素が半導体チップ上に実現される場合データパスは例えば図１に示す接続関係が固定されることに限定されず、各手段同士を接続する選択手段を設け、様々な接続関係を実現できるアーキテクチャーが採用される場合についても、図１の各データパスと等価となる場合には本発明の内容が適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】本発明の光ディスク装置に対する再生リトライ制御を説明する状態遷移図。
【図３】位相比較器１における位相誤差検出の制御方法を示す説明図。
【図４】リミットイコライザーの構成例と、振幅制限の制御方法を示す説明図。
【図５】再生信号の欠陥の一例と、各データパスにおける復号動作を示す説明図。
【図６】再生リトライ契機で変更する設定パラメータと組合せの一例を示す説明図。
【符号の説明】
【００３９】
１…光ディスク、２…光ヘッド、３…光ヘッド移動手段、４…プリアンプ、５…ＡDコンバータ、６…位相比較器１、７…位相比較器２、８…位相比較器選択手段、９…ループフィルタ、１０…クロック発振器、１１…適応等化器、１２…ビタビ復号器、１３…リミットイコライザー、１４…レベルスライサー、１５…データパス選択手段、１６…データ復調回路、１７…アクセス制御回路、１８…リミッタ、１９…ＨＰＦ、２０…補間器、２１…遅延回路、２２…加算回路。
【図１】
2007234174.tif 000003
【図２】
2007234174.tif 000004
【図３】
2007234174.tif 000005
【図４】
2007234174.tif 000006
【図５】
2007234174.tif 000007
【図６】
2007234174.tif 000008