(57)【要約】    【課題】  磁気ディスク装置に電源を供給して機能注入プログラムを実行させ、実行状態の表示をすることができる試験用基板を提供する。    【解決手段】  磁気ディスク装置は、複数のフェーズに分割された機能注入プログラムを格納する。試験用基板１００は、電源コネクタ１１３と、ジャンパ・コネクタ１１と制御部１０３と表示部１０７とを備える。ジャンパ・コネクタのジャンパ・ピンは、磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させてジャンパ・ピンを経由して磁気ディスク装置から情報の転送ができるように構成されている。制御部は転送された情報に応答して表示部を制御し、機能注入プログラムの実行状態を表示させる。【選択図】      図５
2007018447.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のフェーズに分割された機能注入プログラムを格納する磁気ディスク装置に接続可能な試験用基板であって、
前記磁気ディスク装置に接続可能な複数のジャンパ・ピンを備え、該ジャンパ・ピンが前記磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させて前記ジャンパ・ピンを経由して前記磁気ディスク装置から情報の転送ができるように構成されたジャンパ・コネクタと、
前記ジャンパ・コネクタに接続され前記磁気ディスク装置から転送された情報に応答して動作する制御部と、
前記制御部に接続された表示部と
を有する試験用基板。
【請求項２】
前記制御部は、前記磁気ディスク装置から各フェーズの実行開始を示す開始信号を受け取り実行中のフェーズの識別子を前記表示部に表示させる請求項１記載の試験用基板。
【請求項３】
前記制御部は、前記磁気ディスク装置から前記機能注入プログラムの実行中に前記磁気ディスク装置に発生したエラー信号を受け取り前記表示部にエラーの表示をさせる請求項１記載の試験用基板。
【請求項４】
前記制御部は、前記磁気ディスク装置から各フェーズの実行完了を示す完了信号を受け取り実行が完了したフェーズの識別子を前記表示部に表示させる請求項１記載の試験用基板。
【請求項５】
前記試験用基板が時間計測部を備え、前記制御部は前記磁気ディスク装置から受け取った前記複数のフェーズに含まれる第１フェーズの実行開始を示す開始信号に応答して前記時間計測部に経過時間を計測させ、前記時間計測部から前記第１フェーズに対応して設定されたタイム・アウトを示すタイム・アウト信号を受け取ったときに前記表示部にハングアップの表示をさせる請求項１記載の試験用基板。
【請求項６】
前記制御部は、前記第１フェーズに対応するタイム・アウト時間の値を前記磁気ディスク装置から受け取る請求項５記載の試験用基板。
【請求項７】
前記制御部は、前記第１フェーズの次に実行される第２フェーズの実行開始を示す開始信号を前記磁気ディスク装置から受け取ったときに前記時間計測部が計測した経過時間をリセットする請求項５記載の試験用基板。
【請求項８】
前記試験用基板が前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタを備え、前記制御部が該インターフェース・コネクタのハード・リセット・ラインに接続され、前記制御部は前記時間計測部からタイム・アウト信号を受け取ったときに前記ハード・リセット・ラインにハード・リセット信号を供給する請求項５記載の試験用基板。
【請求項９】
前記試験用基板が前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタを備え、前記制御部が該インターフェース・コネクタのハード・リセット・ラインに接続され、前記制御部は前記磁気ディスク装置から前記エラー信号を受け取ったときに前記ハード・リセット・ラインにハード・リセット信号を供給する請求項５記載の試験用基板。
【請求項１０】
前記機能注入プログラムが前記磁気ディスク装置の磁気ディスクにサーボ・データを書き込むモジュールを含む請求項１記載の試験用基板。
【請求項１１】
前記機能注入プログラムが前記磁気ディスク装置の磁気ディスクに発生した欠陥セクタを検出して登録するモジュールを含む請求項１記載の試験用基板。
【請求項１２】
前記機能注入プログラムが前記磁気ディスク装置のチャネル系統のパラメータを調整するモジュールを含む請求項１記載の試験用基板。
【請求項１３】
前記機能注入プログラムは前記磁気ディスク装置の磁気ディスクの専用領域に格納されている請求項１記載の試験用基板。
【請求項１４】
複数のフェーズに分割された機能注入プログラムを格納する磁気ディスク装置に接続可能な試験用基板であって、
前記磁気ディスク装置に接続可能な複数のジャンパ・ピンを備え、該ジャンパ・ピンが前記磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させるように構成されたジャンパ・コネクタと、
前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタと、
前記インターフェース・コネクタに接続され前記磁気ディスク装置の機能注入プログラムの実行状態を監視する制御部と、
前記制御部に接続された表示部と、
前記制御部に接続された時間計測部とを有し、
前記制御部は前記磁気ディスク装置から受け取った前記複数のフェーズに含まれる第１フェーズの実行開始を示す開始信号に応答して前記時間計測部に経過時間を計測させ、前記時間計測部から前記第１フェーズに対応して設定されたタイム・アウトを示すタイム・アウト信号を受け取ったときに前記表示部にハングアップの表示をさせる試験用基板。
【請求項１５】
前記制御部は、前記磁気ディスク装置から前記開始信号を受け取るときに前記第１フェーズの識別子と前記第１フェーズに対応するタイム・アウト時間の値とを受け取る請求項１４記載の試験用基板。
【請求項１６】
前記制御部は、前記磁気ディスク装置から受け取った前記第１フェーズの次に実行される第２フェーズの実行開始を示す開始信号に応答してそれまで計測していた経過時間をリセットし前記時間計測部に前記第２フェーズのハングアップを検出するための経過時間を計測させる請求項１４記載の試験用基板。
【請求項１７】
複数のフェーズに分割された機能注入プログラムをそれぞれが格納している複数の磁気ディスク装置を収納する複数のセルと、該セルに設けられ前記磁気ディスク装置を接続することができる試験用基板とを備えたテスト・チャンバであって、前記試験用基板が、
前記磁気ディスク装置に接続可能な複数のジャンパ・ピンを備え、該ジャンパ・ピンが前記磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させるように構成されたジャンパ・コネクタと、
前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタと、
前記インターフェース・コネクタに接続され前記磁気ディスク装置の機能注入プログラムの実行状態を監視する制御部と、
前記制御部に接続された表示部と、
前記制御部に接続された時間計測部とを有し、
前記制御部は前記磁気ディスク装置から受け取った各フェーズの実行開始を示す開始信号に応答して前記時間計測部に経過時間を計測させ、前記時間計測部から前記各フェーズに対応して設定されたタイム・アウトを示すタイム・アウト信号を受け取ったときに前記表示部にハングアップの表示をさせるテスト・チャンバ。
【請求項１８】
前記試験用基板が前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタを備え、前記テスト・チャンバが、前記磁気ディスク装置に対して電源の供給と前記機能注入プログラムの転送をする試験装置に接続されている請求項１７記載のテスト・チャンバ。
【請求項１９】
前記テスト・チャンバが前記磁気ディスク装置に対して電源の供給をする電源装置に接続されている請求項１７記載のテスト・チャンバ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ハードウエアの組み立てが完成したあとの磁気ディスク装置を出荷できる完成品にするために機能を注入する技術に関し、さらに詳細には、磁気ディスク装置に機能を注入する機能注入工程に使用する試験用基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置は、ハードウエアを組み立てたあとに磁気ディスクにサーボ・データを書き込んだり、磁気ヘッドやリード・ライト・チャネルに関するパラメータを設定したり、あるいは、磁気ディスクの欠陥セクタを登録したりといった機能注入工程を経て完成品となりユーザに出荷される。このようにハードウエアとしての組み立てが完了した磁気ディスク装置を完成品にするために機能を注入する工程を本明細書においては機能注入工程ということにする。
【０００３】
磁気ディスク装置の機能注入工程は、一般に専用の試験装置に接続されたテスト・チャンバのセルに多数の磁気ディスク装置をセットして行われる。機能注入工程では各セルのコネクタに接続された磁気ディスク装置に対して試験装置からコマンドを送って応答動作を確認したり、各磁気ディスク装置が実行する機能注入プログラムを送ったりする作業を含む。さらに機能注入工程では、機能注入プログラムを受け取った磁気ディスク装置が、自らのプロセッサで機能注入プログラムを実行する。
【０００４】
特許文献１には、最適化／検査の工程を終了していない子供磁気ディスク装置に最適化／検査の工程を終了した親磁気ディスク装置から成長プログラムを送り、子供磁気ディスク装置が成長プログラムを実行して自らの最適化／検査工程を実行する技術を開示する。この技術によれば、成長した磁気ディスク装置を試験装置として使用できるので、大量生産に対応するための試験装置に対する投資を抑制することができると記載されている。
【特許文献１】特開２００４−１７８７４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
磁気ディスク装置に設けられたプロセッサがプログラムを実行して、磁気ディスク装置が自ら機能注入工程を行う方法または工程を、本明細書においては自己実行的な機能注入方法または自己実行的な機能注入工程といい、それに供するプログラムを機能注入プログラムということにする。自己実行的な機能注入工程は、専用の試験装置に接続しないで磁気ディスク装置に電源を供給するだけで行うことができる。試験装置に対する投資を抑制しながら大量生産に対応するために、機能注入工程の多くを自己実行的な機能注入工程で行うことは有効である。
【０００６】
その結果、機能注入プログラムは大規模になり自己実行的な機能注入工程に費やす時間は、３０時間程度にまで達する場合もある。自己実行的な機能注入工程に費やす時間は、各磁気ディスク装置の製造上の特質によるバラツキがあるので、複数の磁気ディスク装置が同時に機能注入プログラムを実行しても完了までの時間はすべて異なる。また、機能注入プログラムの実行途中でエラーが発生して磁気ディスク装置がハングアップしてしまう場合もある。
【０００７】
機能注入工程を担当する検査員は、各磁気ディスク装置における機能注入工程の実行状態を監視して、機能注入工程を完了した磁気ディスク装置があれば新たな磁気ディスク装置に交換してセルの利用率を高めて歩留まりを向上する必要がある。また、磁気ディスク装置がハングアップした場合には迅速に対応する必要がある。
【０００８】
しかし、自己実行的な機能注入工程は、機能注入プログラムを格納した磁気ディスク装置に対して電源を供給するだけで実施することができるので、機能注入プログラムを実行している間は、専用の試験装置を接続しておく必要がない。よって、試験装置から磁気ディスク装置に機能注入プログラムを転送し、試験装置から磁気ディスク装置にコマンドを送り応答を確認するといった方法でインターフェース回路の試験を行ったあとは、試験装置と磁気ディスク装置の接続を取り外して試験装置の利用率を高めることが望ましい。
【０００９】
この場合、検査員が多数の磁気ディスク装置に対してそれぞれの機能注入工程の進捗状況やハングアップを確認するための手段が必要となる。磁気ディスク装置のベースや回路基板に表示機能を設けることもできるが、機能注入工程のためだけを目的として表示機能を設けることはコスト上昇につながり得策ではない。
【００１０】
そこで本発明の目的は、磁気ディスク装置に電源を供給して機能注入プログラムを実行させ、実行状態の表示をすることができる試験用基板を提供することにある。さらに本発明の目的は、多数の磁気ディスク装置に対して自己実行的な機能注入工程を行うためのテスト・チャンバを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の第１の態様は、複数のフェーズに分割された機能注入プログラムを格納する磁気ディスク装置に接続可能な試験用基板であって、前記磁気ディスク装置に接続可能な複数のジャンパ・ピンを備え、該ジャンパ・ピンが前記磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させて前記ジャンパ・ピンを経由して前記磁気ディスク装置から情報の転送ができるように構成されたジャンパ・コネクタと、前記ジャンパ・コネクタに接続され前記磁気ディスク装置から転送された情報に応答して動作する制御部と、前記制御部に接続された表示部とを有する試験用基板を提供する。
【００１２】
機能注入プログラムは複数のフェーズに分割されている。したがって、機能注入プログラムの実行途中で磁気ディスク装置の電源が遮断されたり磁気ディスク装置にハングアップが発生したりしても、正常に完了したフェーズのつぎのフェーズから機能注入プログラムを再開することができるので、それまでに費やした時間が無駄になることはない。試験用基板は電源コネクタを備えており、磁気ディスク装置に対して電源を供給することができる。したがって、機能注入プログラムが格納された磁気ディスク装置は試験用基板に接続されるだけで自己実行的な機能注入工程を開始することができる。
【００１３】
自己実行的な機能注入工程が完了すると磁気ディスク装置は機能的には出荷できる状態になる。ジャンパ・コネクタは、磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させるようにピン同士が短絡された特有のピン構成になっている。機能注入モードはユーザが使用するときの動作モードであるデバイス・モードとは異なり、機能注入プログラムを実行する動作モードである。さらに、ジャンパ・コネクタの特有のピン構成は、ジャンパ・ピンを経由して情報の転送を可能にしている。制御部は、インターフェース・コネクタを使用して情報の転送をしないので、インターフェース・コネクタの規格の影響を受けないで機能注入工程のための通信経路を確保することができる。制御部は転送された情報により磁気ディスク装置の機能注入プログラムの実行状況を認識し、表示部に表示させる。
【００１４】
表示部に表示する内容は、機能注入プログラムのフェーズ番号といったフェーズの識別子を含む。機能注入プログラムが多数のフェーズを含んでいるような場合は、検査員は磁気ディスク装置が実行完了したフェーズ番号を知ることで、機能注入工程の進捗状況を把握することができる。磁気ディスク装置はハングアップはしないが機能注入プログラムの実行中にエラーを発生する場合がある。この場合はジャンパ・ピンを通じて制御部にエラー信号を送るようになっており、制御部は表示部にエラーの表示をさせる。
【００１５】
磁気ディスク装置が機能注入プログラムの実行途中でハングアップした場合は、磁気ディスク装置は制御部に情報を転送することができない。試験用基板は、時間計測部を備えており、時間計測部は各フェーズの機能注入プログラムの開始とともに経過時間を計測する。また制御部は時間計測部に対して、各フェーズの機能注入プログラムが正常に実行される場合の予定時間をタイム・アウト時間として設定する。各フェーズの機能注入プログラムが対応するタイム・アウト時間以内に完了しない場合には、制御部は磁気ディスク装置がハングアップしたものと判断して表示部にハングアップの表示をさせる。時間計測部は、制御部と一体となるように同一の半導体チップの中に設けてもよい。
【００１６】
タイム・アウト時間は、機能注入プログラムのフェーズごとに定められている。タイム・アウト時間は制御部が磁気ディスク装置から受け取るようにしてもよく、また、試験装置などから受け取るようにしてもよい。完了信号は時間計測部の時間計測動作のリセット信号に相当する。いま、第１のフェーズの機能注入プログラムに続いて第２のフェーズの機能注入プログラムを実行することになっているとすれば、第２のフェーズの機能注入プログラムに関する開始信号を第１のフェーズの機能注入プログラムに関する完了信号として時間計測部のリセット動作に利用することができる。
【００１７】
磁気ディスク装置にエラーやハングアップが発生したときは、リセット動作をすることで回復することがある。リセット動作はハード・リセット・ラインにリセット信号を供給し、磁気ディスク装置の電源を再投入しないでプロセッサ回路の電源だけを再投入して、レジスタをクリアしたのちに機能注入プログラムを再起動する。機能注入工程では多数の磁気ディスク装置が非同期で機能注入プログラムを実行するので、ある磁気ディスク装置の電源の再投入が機能注入プログラムを実行している他の磁気ディスク装置に対してノイズを与える場合があるが、ハード・リセット・ラインにリセット信号を供給することでこのような自体を回避できる。機能注入プログラムは、サーボ・データの書き込み、欠陥セクタの登録、チャネル系統のパラメータ調整に関するものを含む。
【００１８】
本発明の第２の態様は、複数のフェーズに分割された機能注入プログラムを格納する磁気ディスク装置に接続可能な試験用基板であって、前記磁気ディスク装置に接続可能な複数のジャンパ・ピンを備え、該ジャンパ・ピンが前記磁気ディスク装置を機能注入モードで動作させるように構成されたジャンパ・コネクタと、前記磁気ディスク装置に接続可能なインターフェース・コネクタと、前記インターフェース・コネクタに接続され前記磁気ディスク装置の機能注入プログラムの実行状態を監視する制御部と、前記制御部に接続された表示部と、前記制御部に接続された時間計測部とを有し、前記制御部は前記磁気ディスク装置から受け取った前記複数のフェーズに含まれる第１フェーズの実行開始を示す開始信号に応答して前記時間計測部に経過時間を計測させ、前記時間計測部から前記第１フェーズに対応して設定されたタイム・アウトを示すタイム・アウト信号を受け取ったときに前記表示部にハングアップの表示をさせる試験用基板を提供する。
【００１９】
以上の試験用基板をテスト・チャンバの各セルに設けることで多数の磁気ディスク装置に対する機能注入工程を実施することができる。テスト・チャンバは、各セルの磁気ディスク装置に対して電源と機能注入プログラムの転送をする試験装置に接続してもよい。このようなテスト・チャンバでは、試験装置は機能注入プログラムの転送が終了した磁気ディスク装置に対しては電源装置として機能するので利用率が悪いが、機能注入プログラムを転送してから完了するまで磁気ディスク装置をセルから取り外す必要がないので検査員の手間が省ける。また、テスト・チャンバは各セルの磁気ディスク装置に対して電源の供給をする電源装置に接続してもよい。このようなテスト・チャンバに対しては、試験装置に接続された他のテスト・チャンバで機能注入プログラムが転送された磁気ディスク装置が装着される。よって、機能注入プログラムを実行している磁気ディスク装置が試験装置を占有することがないので、試験装置の利用率が向上する。
【発明の効果】
【００２０】
本発明により、磁気ディスク装置に電源を供給して機能注入プログラムを実行させ、実行状態の表示をすることができる試験用基板を提供することができた。さらに本発明により、多数の磁気ディスク装置に対して自己実行的な機能注入工程を行うためのテスト・チャンバを提供することができた。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
［磁気ディスク装置］
図１、図２を参照して本実施の形態にかかる磁気ディスク装置の構成を説明する。図１は、本発明の実施の形態にかかる磁気ディスク装置１０の概略ブロック図である。磁気ディスク装置１０は、クリーン・ルーム内でベースに構成機器が組み込まれたあとにベースとベース・カバーが接合される。記録媒体としての２枚の磁気ディスク１１、１２は、それぞれ記録面１１ａ、１１ｂおよび記録面１２ａ、１２ｂを備えている。各記録面にはデータ記録のための磁性層が形成され表面には保護層が設けられている。磁気ディスク１１、１２は、所定の間隔でスピンドル軸１５に固定されており、スピンドル・モータ１３により両者一体となって回転する。
【００２２】
図２（Ａ）は、磁気ディスク１１の記録面１１ａの概略的なフォーマット構造を示している。他の記録面も同じフォーマット構造になっている。サーボ・セクタ６１は、記録面１１ａの半径方向に向かって放射状に配置され、各サーボ・セクタ６１の間には、図２（Ｂ）に示すような複数のデータ・セクタで構成されるデータ領域６３が設けられている。磁気ディスク装置１０は、機能注入プログラムを実行してサーボ・データの書き込みをセルフ・サーボ・ライト方式で行う。セルフ・サーボ・ライト方式では磁気ディスクに組み込まれる磁気ヘッド１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄを使用して、すでに書き込んだサーボ・データを基準にして新たな書き込み位置を決定しながら自己伝搬して記録面の全体にサーボ・データを書き込む。
【００２３】
ただし、ハードウエアの組み立てが完成した時点での磁気ディスク装置では、磁気ディスク１１、１２の各記録面には、まだサーボ・データが一切書き込まれていない。記録面１１ａの内側には、最内周トラックを含む専用領域６５が定義されている。専用領域６５は、磁気ディスク装置のシステムが使用する記録領域で、ユーザ・データの記録には使用されない記録領域である。
【００２４】
磁気ディスク装置１０には、各記録面１１ａ、１１ｂ、１２ａ、１２ｂにそれぞれ対応して４つの磁気ヘッド１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄが設けられている。各磁気ヘッドは、誘導型記録ヘッドとＧＭＲ再生ヘッドの複合型ヘッドとして各スライダに形成されている。４つの磁気ヘッドは、ホスト装置から指定されたアドレスのデータ・セクタにアクセスするために動作中にいずれか１つがアクティブになるように切り替えられる。
【００２５】
磁気ヘッド１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄが形成されたそれぞれのヘッド／スライダは、ヘッド支持機構２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、２５ｄに取り付けられている。ヘッド支持機構は、サスペンション・アセンブリ、キャリッジ、およびボイス・コイル１９で構成される。ボイス・コイル１９は、ベースに取り付けられたヨークおよびヨークに取り付けられたマグネットとともにボイス・コイル・モータを構成し、ボイス・コイル・モータはヘッド支持機構をピボット軸を中心に回動させて各磁気ヘッドを対応する記録面の所定のシリンダに位置づける。
【００２６】
シリンダとは、磁気ヘッドが磁気ディスクの所定のトラックに位置づけられたときに、各磁気ヘッド１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄに対応する各記録面１１ａ、１１ｂ、１２ａ、１２ｂのトラックで構成される円環状の記録領域をいう。ヘッド支持機構には、磁気ヘッドとリード／ライト・チャネル２９に接続されたヘッド・アンプ２１が取り付けられている。ヘッド・アンプ２１は、リード／ライト・ドライバ、ドライバ・レジスタ、リード／ライト切替回路などで構成される。
【００２７】
磁気ディスク装置１０は、リード／ライト・チャネル２９、ＭＰＵユニット３１、電源／ドライバ３５、ハード・ディスク・コントローラ（ＨＤＣ）３７、およびバッファ・メモリ４１を実装する回路基板２７を備える。回路基板２７は、ベースの外側に取り付けられ、端子またはフレキシブル・ケーブルを介してベース内部の機器に接続される。リード／ライト・チャネル２９は、データのビット列を磁気ディスクに記録するビット列に変換する変調回路および逆方向に変換する復調回路、パラレル・データとシリアル・データを変換するパラレル／シリアル変換器、再生信号を一定の電圧レベルに調整する可変利得増幅器（ＶＧＡ）などを備えている。
【００２８】
リード／ライト・チャネル２９は、ユーザ・データを処理するデータ系とサーボ・データの位置情報を処理するサーボ系を含んでおり、これらを構成するフィルターやアンプに対しては、磁気ディスクにサーボ・データや試験データを書き込んでからパラメータの設定を行う必要があるが、ハードウエアの組み立てが完成しただけの段階ではまだパラメータは設定されていない。
【００２９】
ＭＰＵユニット３１においては、図３（Ａ）に示すように、マイクロ・プロセッサ（ＭＰＵ）４３、揮発性メモリ（ＲＡＭ）４５、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）４７、および書き換え可能な不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）４９がバス４２に接続されている。ＭＰＵ４３は、各種プログラムを実行して磁気ディスク装置１０の動作を全体的に制御する。ＲＡＭ４５は、ＭＰＵ４３がプログラムの実行や作業領域として使用するメモリである。ＲＯＭ４７は、磁気ディスク装置が最初に動作するときに必要な初期動作プログラムを格納している。初期動作プログラムは、インターフェース・コネクタ３９を通じて外部装置から送られたプログラムやパラメータをバッファ・メモリ４１やＥＥＰＲＯＭ４９に格納するためのプログラムを含み、磁気ディスク装置１０に電源を投入したときにＭＰＵ４３が最初に実行するようになっている。
【００３０】
機能注入プログラムは、磁気ディスクに対するサーボ・データの書き込みに関するモジュール、磁気ディスクに対する欠陥セクタの検出および登録に関するモジュール、サーボ・データで定義されたトラック情報の収集および記録に関するモジュール、ＰＥＳゲインやリード／ライト・チャネルのパラメータ設定に関するモジュールなどの複数のモジュールで構成されている。機能注入プログラムの各モジュールは実行の順番が決められており、また、各モジュールは実行の順番に並んだ複数のフェーズに分割されている。
【００３１】
ＥＥＰＲＯＭ４９は、図３（Ｂ）に示すように、機能注入プログラムの各フェーズを実行する順番に並べたフラグ・ビット５１を備えている。フラグ・ビット５１は、該当するフェーズの機能注入プログラムの実行が完了したあとにＭＰＵ４３によって設定されるが、最初はフェーズ１のフラグ・ビットが設定されている。
【００３２】
ファームウエアと機能注入プログラムは、磁気ディスクの専用領域６５が使用できるようになる前はバッファ・メモリ４１に記憶され、磁気ディスクの専用領域６５が使用できるようになったあとは、専用領域６５に格納される。ファームウエアと機能注入プログラムがバッファ・メモリ４１と専用領域６５のいずれに格納されているかは、機能注入プログラムのフェーズを示すＥＥＰＲＯＭ４９のフラグ・ビットを参照してＭＰＵ４３が認識するようになっている。
【００３３】
ＥＥＰＲＯＭ４９には、パラメータ領域５５が設けられており、磁気ディスク装置が機能注入プログラムを実行する上で必要なパラメータおよびデバイス・モードで動作するときに必要なパラメータが記憶される。さらに、ＥＥＰＲＯＭ４９には、データ・セクタの欠陥登録をする一次欠陥登録マップ（ＰＤＭ）５７を含む。ＰＤＭ５７は、磁気ディスクに存在する欠陥のあるデータ・セクタを使用しないように、それらのアドレスを登録しておくためのものである。ハードウエアの組み立てが完了した時点では、ＥＥＰＲＯＭ４９にはデータが記録されていない。
【００３４】
図１に戻って、ＨＤＣ３７は、サーボ・データから取得した情報に基づいてシーク動作やトラック・フォローイング動作を制御するサーボ・コントローラ、バッファ・メモリ４１を制御するバッファ・コントローラ、ホスト・コンピュータから送られたデータ・ビットに対する訂正ビットを生成したり、磁気ディスクから再生したユーザ・データを訂正したりするＥＣＣ回路などを含んでいる。さらに、インターフェース・コネクタ３９に接続されたホスト装置が参照することができるＡＴＡレジスタを備えている。
【００３５】
バッファ・メモリ４１はＤＲＡＭで構成され、ホスト・コンピュータと磁気ディスク装置１０との間で高速のデータ転送を実現するために使用するが、本実施の形態では、機能注入プログラムを実行するためにファームウエアや機能注入プログラムの一時的な記憶にも使用する。電源／ドライバ３５は、スピンドル・モータ１３に動作電流を供給するスピンドル・モータ・ドライバ、ボイス・コイル１９に動作電流を供給するボイス・コイル・モータ・ドライバ、ＤＡコンバータ、電源回路などで構成されている。
【００３６】
回路基板２７には、磁気ディスク装置１０をホスト装置に接続するためのインターフェース・コネクタ３９と、磁気ディスク装置の動作モードを設定するジャンパ・コネクタ３３、および電源／ドライバ３５に電源を供給する電源コネクタ６８が取り付けられている。インターフェース・コネクタ３９は、ＡＴＡ規格に適合するようにピンが構成されている。ジャンパ・コネクタ３３は、ＭＰＵ４３のポートに接続されている。ジャンパ・コネクタ３３には８本のジャンパ・ピンが設けられており、機能注入モードのジャンパ・ブロック６６およびデバイス・モードのジャンパ・ブロック６７のいずれか一方が取り付けられるようになっている。いずれのジャンパ・ブロックもジャンパ・ピン相互間を特有の構成で短絡してＭＰＵ４３のレジスタに反映させる状態を設定することができる。
【００３７】
ジャンパ・コネクタ３３にジャンパ・ブロック６６が装着されたときは、磁気ディスク装置１０は機能注入モードで動作し、ジャンパ・ブロック６７が装着されたときはデバイス・モードで動作する。機能注入モードは、機能注入プログラムを実行する動作モードであり、デバイス・モードは機能注入プログラムを実行しないで、完成した磁気ディスク装置として動作する動作モードである。初期動作プログラムは、磁気ディスク装置１０またはＭＰＵユニット３１に電源が投入されたときに最初にＭＰＵ４３にジャンパ・ブロック６６、６７によってジャンパ・コネクタ３３に設定された状態を参照させて動作モードを判断させる。
【００３８】
［試験制御装置］
図４は、磁気ディスク装置１０の機能注入工程を実施するテスト・チャンバ７３の外形図である。テスト・チャンバ７３には１００〜２００個のセルがアレイ状に形成されている。各セルは磁気ディスク装置１０を保持して電源を供給したり、機能注入プログラムを転送したりすることができる。テスト・チャンバ７３には、試験装置７１が接続されている。試験装置７１は、各セルに設けられた試験用基板１００（図５参照）に接続された磁気ディスク装置に対して機能注入プログラムを転送したり、コマンド試験行ったりすることができる。機能注入プログラムが磁気ディスク装置で実行されるときは、当該磁気ディスク装置に対して試験装置７１は電源を供給するだけの機能を発揮する。機能注入プログラムの実行はまた、試験装置７１に代えて電源装置が接続されたテスト・チャンバに磁気ディスク装置を装着して行うこともできる。このような機能注入プログラムの実行環境下では、テスト・チャンバに収納された多数の磁気ディスク装置の自己実行的な機能注入工程の進捗状況を検査員が管理する表示方法が必要となる。
【００３９】
図５（Ａ）は、磁気ディスク装置１０の外形図で、図５（Ｂ）は、テスト・チャンバ７３の各セルに設けられた試験用基板１００の概略ブロック図である。図５（Ａ）には、磁気ディスク装置１０の側面にインターフェース・コネクタ３９、ジャンパ・コネクタ３３、および電源コネクタ６８が取り付けられている。図５（Ｂ）の試験用基板１００には、回路基板１０１にインターフェース・コネクタ１０９、ジャンパ・コネクタ１１１、電源コネクタ１１３、制御部１０３、時間計測部１０５、表示部１０７、信号コネクタ１１５、電源コネクタ１１７が取り付けられている。
【００４０】
インターフェース・コネクタ１０９、ジャンパ・コネクタ１１１、および電源コネクタ１１３は、磁気ディスク装置１０をテスト・チャンバ７３のセルに装着したとき、それぞれ磁気ディスク装置１０のインターフェース・コネクタ３９、ジャンパ・コネクタ３３、および電源コネクタ６８と接続できるように構成されている。ジャンパ・コネクタ１１１は、８本のピンの中から選択されたピン同士が短絡されており、２本のピンが制御部１０３に接続されている。ジャンパ・コネクタ３３とジャンパ・コネクタ１１１が接続されて磁気ディスク装置に電源が投入されると、磁気ディスク装置１０のＭＰＵ４３は初期動作プログラムを実行してジャンパ・コネクタ１１１でレジスタに設定された状態を参照して機能注入モードで動作して機能注入プログラムを実行する。また、磁気ディスク装置１０は、機能注入プログラムを実行するときは、制御部１０３に接続されたジャンパ・コネクタ１１１の２本のピンを通じて制御部１０３にコマンドやデータをシリアル転送する。また、磁気ディスク装置１０は、機能注入プログラムを実行するときは、制御部１０３に接続されたジャンパ・コネクタ１１１のピンを通じて制御部１０３にコマンドやデータをパラレル転送をすることができる。
【００４１】
制御部１０３は、プロセッサおよびメモリを備えておりインターフェース・コネクタ１０９のハード・リセット・ラインに接続されている。ハード・リセット・ラインにハード・リセット信号が供給されると、機能注入モードで動作する磁気ディスク装置は磁気ディスク装置全体の電源を遮断しないでＭＰＵユニットの電源だけを遮断したあとに再投入し、各種レジスタをクリアしたり所定のフェーズの機能注入プログラムを再実行したりする。制御部１０３は、ジャンパ・コネクタ１１１を通じて磁気ディスク装置から転送されたコマンドやデータを受け取り時間計測部１０５および表示部１０７の動作を制御したり、インターフェース・コネクタ１０９を通じて磁気ディスク装置１０のハード・リセット・ラインにリセット信号を送ったりする。
【００４２】
時間計測部１０５は、制御部１０３に接続され制御部１０３からタイム・アウト時間とスタート信号を受け取ったときに、経過時間の計測を開始しタイム・アウト時間が経過したときにタイム・アウト信号を制御部１０３に送る。経過時間の計測を開始した時間計測部１０５はまた制御部１０３からストップ信号を受け取ったときにタイム・アウト信号を送らないで計測動作を中止する。磁気ディスク装置が機能注入プログラムを実行して機能注入を行う場合は、従来のように専用の試験装置に接続して機能注入を行う場合と異なり内部で絶対時刻（時、分、秒）の計測ができない。機能注入工程では、実行中に様々なトラブルが予想され、トラブル発生の時刻をテスト・ログとして残しておくことが望ましい。たとえば、製造施設で電源に瞬時停電が発生し、機能注入工程に何らかの影響が出た場合でも、検査員が絶対時刻のタイム・スタンプが付加されたテスト・ログを見ることで、比較的容易に瞬時停電が原因であったことにたどり着くことができる場合がある。
【００４３】
機能注入工程を自己実行的に行う場合も同様にテスト・ログに絶対時刻のタイム・スタンプが付加されていれば、故障解析の有効なデータとして利用することができる。機能注入プログラムの実行は、個々の磁気ディスク装置において独立的に進むのでその必要性はなおさらである。このようなニーズに対応するために、本実施の形態では、時間計測部１０５に絶対時刻を計測する機能をもたせることができる。時間計測部１０５の絶対時刻は制御部１０５のレジスタに反映させる。磁気ディスク装置は、機能注入工程で何らかの不具合が発生したときはジャンパ・コネクタ１１１を通じて制御部１０３のレジスタを参照し絶対時刻を獲得してテスト・ログにタイム・スタンプとして付加することができる。
【００４４】
表示部１０７は、試験用基板１００がテスト・チャンバ７３に取り付けられ、かつ、磁気ディスク装置１０がセルに装着されたときに検査員からみえる位置に設けられている。表示部１０７は制御部１０３に接続されて制御部１０３からの指示で表示動作をする。表示部１０７は、ＬＥＤやＬＣＤで構成されており、実行中の機能注入プログラムのフェーズ番号、エラーが発生したときの状態、ハングアップしたときの状態、機能注入プログラムをすべて実行したときの状態などを表示する。信号コネクタ１１５はインターフェース・コネクタ１０９と試験装置７１に接続されている。試験装置７１は、信号コネクタ１１５を通じて各磁気ディスク装置１０に機能注入プログラムやコマンドを転送する。電源コネクタ１１７は、電源コネクタ１１３と試験装置７１に接続される。試験装置７１は電源コネクタ１１７を通じて磁気ディスク装置１０に電源を供給する。
【００４５】
［磁気ディスク装置の製造方法］
テスト・チャンバ７３を使用してハードウエアの組み立てが完成した磁気ディスク装置１０を完成品にするまでの方法を図６、図７のフローチャートを参照して説明する。図６のブロック２０１において、磁気ディスク装置１０は、ベースの中に磁気ディスク１１、１２、ヘッド支持機構２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、２５ｄ、スピンドル・モータ１３などが取り付けられてベース・カバーで封入されている。さらにベースの外側に回路基板２７が取り付けられている。
【００４６】
また、ＲＯＭ４７には初期動作プログラムが格納され、機能注入工程を実行していくために必要な外部との通信をすることができる状態になっている。ＥＥＰＲＯＭ４９のフラグ・ビット５１は第１フェーズが設定されている。またパラメータ領域５５には、パラメータは格納されておらず、ＰＤＭ５７にもデータは記憶されていない。磁気ディスク１１、１２にはいずれの記録面にもサーボ・データが一切書き込まれておらず、磁気ディスク装置１０は、ハードウエアとして完成しただけの状態になっている。
【００４７】
本実施の形態における機能注入工程は、テスト・チャンバ７３の各セルに磁気ディスク装置１０を装着して実施する。機能注入工程は、試験装置７１に要求する機能の相違により第１ブロックと第２ブロックとに分かれている。第１ブロックの機能注入工程は、試験装置７１からの機能注入プログラムの転送と、試験装置７１による磁気ディスク装置のコマンド試験と、磁気ディスクの専用領域６５を記録領域として使用できるようにするための機能注入プログラムの実行からなる。
【００４８】
第１ブロックの機能注入プログラムは、専用領域６５に対するサーボ・データの書き込みに関するモジュール、リード／ライト・チャネルのパラメータ設定に関するモジュール、専用領域６５のデータ・セクタの欠陥登録をするモジュールを含む。第２ブロックの機能注入工程は、第１ブロックの機能注入工程が完了してから磁気ディスク装置を出荷できる状態にするまでの工程で、完全に自己実行的な機能注入工程となっている。
【００４９】
ブロック２０３では磁気ディスク装置１０をテスト・チャンバ７３のセルに装着して試験用基板１００に接続する。テスト・チャンバ７３に接続された試験装置７１から各磁気ディスク装置１０に電源が供給されると、ＲＯＭ４７に格納された初期動作プログラムがＲＡＭ４５に読み出されてこれをＭＰＵ４３が実行する。試験装置７１は続いてＥＥＰＲＯＭ４９に格納するパラメータを磁気ディスク装置に送り、ＭＰＵ４３はそれらをＥＥＰＲＯＭ４９のパラメータ領域５５に書き込む。パラメータは、機能注入プログラムを実行する上で最低限必要な範囲のものであり、たとえば、セルフ・サーボ・ライト方式でサーボ・データを書き込んでゆくときに必要なリード／ライト・チャネルに関するものや、ヘッド／アンプ２１の書き込み電流の設定に関するものなどがある。
【００５０】
ブロック２０５では、試験装置７１から各磁気ディスク装置１０に、磁気ディスク装置の動作を制御するファームウエアおよび第１ブロックの機能注入プログラムを転送する。サーボ・データを書き込む機能注入プログラムには、フェーズ番号１が割り付けられている。試験装置７１からコマンドを受け取ったＭＰＵ４３は初期動作プログラムを実行して、転送されたファームウエアとプログラムをバッファ・メモリ４１に記憶する。
【００５１】
試験装置７１から機能注入工程を開始するコマンドを受け取ると、ＭＰＵ４３は、ＥＥＰＲＯＭ４９のフラグ・ビット５１を参照して、第１フェーズが設定されていることを認識してＲＡＭに記憶されたサーボ・データ書き込みの機能注入プログラムの実行を開始する。ブロック２０７では、ＭＰＵ４３が機能注入プログラムを実行して周知のセルフ・サーボ・ライト方式により記録面１１ａの最内周トラックから最外周トラックに向かって専用領域６５にあるサーボ・セクタ６１にサーボ・データを書き込んでゆく。このとき、サーボ・データの書き込みに必要なリード／ライト・チャネル２９やヘッド・アンプ２１のパラメータはＥＥＰＲＯＭ４９のパラメータ領域５５に格納された値を使用する。
【００５２】
サーボ・データは、サーボ・データを読み出す前にリード／ライト・ドライバの増幅率を調整して振幅を一定にするサーボＡＧＣ、サーボ・データの始まりを示すサーボ検出マーク、トラック番号およびセクタ番号を含むサーボ・アドレス情報、および磁気ヘッドを目的とするトラックに正確に位置決めするためのサーボ・バースト情報で構成されている。磁気ディスク装置１０が最終的な完成品となるには磁気ディスク１１、１２の４つの記録面それぞれの全体に渡ってサーボ・データを書き込む必要があるが、ブロック２０７では、最内周トラックを含む専用領域６５だけにしかサーボ・データを書き込まない。したがって、すべての記録面にサーボ・データを書き込む場合よりも書き込みに費やす時間は短い。専用領域６５は、記録面１１ｂ、１２ａ、１２ｂにも設けるようにしてもよい。
【００５３】
ブロック２０９では、ＭＰＵ４３は機能注入プログラムを実行して専用領域６５に対してデータの記録と再生を可能にするために必要なリード／ライト・チャネルなどのパラメータ設定を行い、ＥＥＰＲＯＭ４９のパラメータ領域５５に記録する。設定するパラメータには、位置誤差信号（ＰＥＳ：Position Error Signal）をサーボ・トラック間で連続させるためのＰＥＳゲインの設定、リード／ライト・チャネルに使用されるフィルター係数の設定、ヨー角の関数となる再生ヘッドと記録ヘッドとの位置関係をサーボ・データに基づいて計算するための情報の登録などを含む。
【００５４】
ブロック２０９ではさらに専用領域６５のデータ・セクタにリード／ライト試験を行って欠陥セクタを検出し、ＥＥＰＲＯＭ４９のＰＤＭ５７に欠陥セクタのアドレスを登録して使用できないようにする。なお、ＰＤＭ５７は、磁気ディスクの専用領域６５に設けてもよい。ブロック２１１では、試験装置７１から磁気ディスク装置１０に対してコマンドを送り、磁気ディスク装置がそれに応答するといった形式でインターフェース回路の試験を行う。
【００５５】
ブロック２１３では、試験装置７１から第２ブロックの機能注入プログラムを磁気ディスク装置１０に転送し、磁気ディスク装置１０は専用領域６５に格納する。さらにＲＡＭに記憶していたファームウエアも専用領域６５に格納する。この結果、磁気ディスク装置１０の電源を遮断しても、第２ブロックの機能注入プログラムとファームウエアの記録を維持することができる。一例として、第１ブロックの機能注入プログラムは１時間程度で完了し、第２ブロックの機能注入プログラムは２７時間程度で完了する。ただし、機能注入プログラムの実行時間は各磁気ディスク装置の製造上の特質に起因して異なったものになる。たとえば、磁気ディスクの欠陥セクタの数が多い磁気ディスク装置では登録のための時間が長くなったり、チャネル系統の最適パラメータを設定するまでの時間も電子回路の特性により異なったりする。
【００５６】
第２ブロックの機能注入工程が完了するとブロック２１７で磁気ディスク装置は出荷される。つぎに、図７を参照して第２ブロックの機能注入工程を説明する。第２ブロックの機能注入工程は試験装置７１からコマンドやプログラムを受け取らないで行うことができるようになっており、磁気ディスク装置１０に対してジャンパ・コネクタ３３に対する状態設定と、電源コネクタ６８に対する電源の供給をするだけですべて専用領域に格納された第２ブロックの機能注入プログラムで実施できるようになっている。したがって、第１ブロックの機能注入工程が完了した磁気ディスク装置に対して試験装置７１は単に電源を供給するだけの機能を提供する。よって、第２ブロックの機能注入プログラムが転送された磁気ディスク装置は、電源だけを供給する別のテスト・チャンバに装着してもよい。このようにすると、磁気ディスク装置を移し替える手間はかかるが、高価な試験装置７１の利用率を高めることができる。
【００５７】
第２ブロックの機能注入工程は機能注入工程全体の大部分の時間を占有しており、途中で磁気ディスク装置の電源が遮断されたりハングアップしたりして中断したときに、それまで完了した機能注入工程を無駄にしないように再開始位置を効率的に設定するために１００個程度のフェーズに区分されている。あるいは１００個程度のプログラムに分割されているということもできる。
【００５８】
機能注入プログラムの各フェーズが完了するたびにＭＰＵ４３はＥＥＲＯＭのフラグ・ビット５１を設定してゆく。したがって、機能注入工程の途中で電源が遮断されたりハングアップしたりしてもＭＰＵ４３はすでに完了した機能注入プログラムを認識することができ、中断直前まで完了していたフェーズのプログラムに続くフェーズのプログラムを実行することができる。
【００５９】
ブロック３０１では、電源が投入された磁気ディスク装置は、ジャンパ・コネクタ１１１で設定された状態を参照して機能注入モードで動作する。ブロック３０３では、ＭＰＵ４３は初期動作プログラムを実行して機能注入モードで動作する。ＭＰＵ４３は、専用領域６５から機能注入プログラムとファームウエアをＲＡＭ４５に読み出し、ＥＥＰＲＯＭ４９を参照してつぎに実行すべき機能注入プログラムのフェーズをたとえば第ｎフェーズと認識してこれを実行する。最初に実行する機能注入工程は、専用領域６５以外の領域に対するサーボ・データのき込みとすることができる。
【００６０】
ブロック３０５では磁気ディスク装置から制御部１０３に対してジャンパ・コネクタ１１１の２本のピンを経由して、シリアル転送で実行にかかる第ｎフェーズの機能注入プログラムのフェーズ番号と当該フェーズを正常に完了するために設定されたタイム・アウト時間の値を制御部１０３に転送する。以後、磁気ディスク装置１０から制御部１０３に対するデータの転送は、シリアル転送で行う。フェーズ番号は当該フェーズの実行開始のタイミングを示す開始信号に相当し、これが送られると制御部１０３はブロック３０７で時間計測部１０５に対してタイム・アウト時間を設定してスタート信号を送り経過時間の計測を開始させる。さらに、制御部１０３は同時に表示部１０７に磁気ディスク装置１０が実行している機能注入プログラムのフェーズ番号を表示させる。
【００６１】
ブロック３０９では機能注入プログラムの実行過程においてエラーが発生したときは、磁気ディスク装置１０は制御部１０３にエラー通知をして動作を停止する。この場合のエラー通知は磁気ディスク装置１０がハングアップしないでエラー通知ができる状態の中で行われる。エラー通知を受け取った制御部１０３は、ブロック３１１で時間計測部１０５にストップ信号を送って時間計測をリセットして表示部１０７にエラー表示をさせる。また、磁気ディスク装置から送られたエラー信号は、磁気ディスク装置に対するリセット要求信号としての意義を有する。
【００６２】
エラー信号を受け取った制御部１０３は、ブロック３１９でインターフェース・コネクタ１０９のハード・リセット・ラインにリセット信号を供給する。リセット信号を受け取った磁気ディスク装置１０はＭＰＵユニットの電源だけを遮断したあとに再投入して、レジスタを初期化したあとにエラーが発生したフェーズの機能注入プログラムを再度実行する。ブロック３１３では、制御部１０３は時間計測部１０５からタイム・アウト信号を受け取ると当該フェーズの機能注入プログラムがタイム・アウト時間内に完了できないためハングアップしたと判断して、ブロック３１５で表示部１０７にハングアップの表示をさせ、さらにブロック３１９で磁気ディスク装置１０にリセット信号を供給する。
【００６３】
ブロック３１３で制御部１０３が時間計測部１０５からタイム・アウト信号を受け取る前に、制御部１０３が実行にかかる第ｎフェーズの機能注入プログラムが完了したことを示す完了信号をブロック３１７で受け取ると、第ｎフェーズの機能注入プログラムが正常に完了したと判断して時間計測部１０５にストップ信号を送り時間計測をリセットする。時間計測がリセットされた時間計測部１０５はタイム・アウト信号を制御部１０３に送らない。ブロック３２１では、第２ブロックの機能注入プログラムが全フェーズ完了したかどうかを判断し、完了している場合はブロック３２３で制御部１０３は表示部１０７に機能注入工程の完了表示をさせる。完了表示がされた磁気ディスク装置は、ユーザに出荷できる状態になっている。磁気ディスク装置１０をセルから取り出して出荷する前に、ジャンパ・コネクタ３３には、デバイス・モードのジャンパ・ブロック６７を装着する。この結果、つぎに磁気ディスク装置１０の電源が投入されたときには、ＭＰＵ４３は初期動作プログラムを実行してジャンパ・コネクタ３３に設定された状態を参照し、専用領域６５からファームウエアを、ＥＥＰＲＯＭ４９からパラメータをＲＡＭ４５に読み出して、完成した磁気ディスク装置として動作する。
【００６４】
ブロック３２１で実行が完了していないフェーズの機能注入プログラムがある場合は、ＭＰＵ４３はブロック３２５でＥＥＰＲＯＭ４９のフラグ・ビット５１を参照してつぎに実行する機能注入プログラムがたとえば第ｎ＋１フェーズであることを認識して、これをＲＡＭに読み出す。ブロック３０５に戻り、磁気ディスク装置は第ｎ＋１フェーズの機能注入プログラムのフェーズ番号とタイム・アウト時間を試験用基板の制御部１０３に転送する。
【００６５】
第ｎ＋１フェーズの機能注入プログラムのフェーズ番号は実行開始のタイミングを示す開始信号に相当し、これが送られると制御部１０３はブロック３０７で時間計測部１０５にタイム・アウト時間を設定してスタート信号を送り経過時間の計測を開始させる。第ｎ＋１フェーズの開始信号を第ｎフェーズの完了信号に利用して時間計測部１０５にストップ信号を送るようにしてもよい。以後第ｎ＋１フェーズの機能注入プログラムに対して第ｎフェーズの機能注入プログラムの実行と同様の手順を繰り返す。ＭＰＵ４３は、機能注入プログラムの各フェーズが完了する都度ＥＥＰＲＯＭ４９のフラグ・ビット５１を設定する。これにより、第２ブロックの機能注入プログラムの実行途中で磁気ディスク装置１０の電源が遮断されたりハングアップしたりしても、ＭＰＵ４３は再開するときに開始すべき機能注入プログラムのフェーズを認識することができる。
【００６６】
このようにブロック３１１、ブロック３１９、およびブロック３２３では磁気ディスク装置が実行している機能注入工程の状態に対応する表示を試験用基板の表示部に行うことができるため、検査員はエラー発生時に迅速に対応したり、時間のロスを生ずることなく機能注入工程が完了した磁気ディスク装置を新たな磁気ディスク装置に交換をしたりすることができる。また、そのような表示部１０７を磁気ディスク装置１０の回路基板２７に設けた場合には、磁気ディスク装置のコストが増大するので望ましくないが、本実施の形態にかかる試験用基板に表示部１０７を設けることでコストを増大させないで機能注入工程を効率的に行うことができる。
【００６７】
以上の実施例では、最初に磁気ディスクの専用領域６５にサーボ・データを書き込んで記録領域を形成し、専用領域に第２ブロックの機能注入プログラムを記憶した。これは通常磁気ディスク装置に設けられるＲＡＭやＥＥＰＲＯＭの容量が小さいため、機能注入プログラムのすべてを格納することができないためである。しかし、本発明は大型のＲＡＭやＥＥＰＲＯＭを備えることで、一旦試験装置７１からファームウエアと第１ブロックおよび第２ブロックの機能注入プログラムを転送した後は、ジャンパ・コネクタ３３に対する状態設定と電源の供給だけでほとんどの機能注入工程を実施することができる。ただし、この場合はＲＡＭに対する停電対策をすることが望ましい。
【００６８】
図８は他の実施の形態にかかる試験用基板１３０の概略ブロック図を示す。試験用基板１００と同一構成要素には同一参照番号を付して説明を省略する。試験用基板１３０は、試験用基板１００と同様にテスト・チャンバ７３のセルを構成して試験装置７１に接続される。切替部１３７は、ＦＥＴなどの半導体スイッチで構成されている。切替部１３７は、通常状態では信号コネクタ１１５とインターフェース・コネクタ１０９を接続するが、試験装置７１からの操作信号で信号コネクタ１１５とインターフェース・コネクタ１０９を切り離し、制御部１３３とインターフェース・コネクタ１０９とを接続する。制御部１３３は、プロセッサ、ＲＡＭ、およびＲＯＭで構成され、ＲＯＭにはプロセッサが実行するプログラムが格納されている。
【００６９】
制御部１３３は、試験用基板１３０に接続された磁気ディスク装置１０に対するホスト・コンピュータとして動作し、磁気ディスク装置１０のレジスタを参照した結果に応じて時間計測部１０５および表示部１０７を制御する。制御部１３３は、レジスタの値を参照して、磁気ディスク装置が実行している機能注入プログラムのフェーズ番号、エラー発生状態、および機能注入プログラムの完了を認識することができる。機能注入モードのジャンパ・ブロック６７は、磁気ディスク装置１０に電源が投入されたときに機能注入モードで動作させるようなピン構成になっているが、磁気ディスク装置１０と制御部１３３のデータ通信はすべてインターフェース・コネクタ１０９を経由して行うので制御部１３３には接続されていない。
【００７０】
これまで本発明について図面に示した特定の実施の形態をもって説明してきたが、本発明は図面に示した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の効果を奏する限り、これまで知られたいかなる構成であっても採用することができることはいうまでもないことである。
【産業上の利用可能性】
【００７１】
磁気ディスク装置や光磁気ディスク装置などの機能注入工程に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】磁気ディスク装置の概略ブロック図である。
【図２】磁気ディスクのフォーマットを説明する図である。
【図３】ＭＰＵユニットとＥＥＰＲＯＭの構成を説明する図である。
【図４】テスト・チャンバの外形図である。
【図５】磁気ディスク装置の外形図と試験装置のブロック図である。
【図６】機能注入工程を含む磁気ディスク装置の製造方法を示すフローチャートである。
【図７】自己実行的な機能注入工程の手順を示すフローチャートである。
【図８】試験用基板の他の実施形態を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００７３】
１０  磁気ディスク装置
３３、１１１  ジャンパ・コネクタ
３９、１０９  インターフェース・コネクタ
６５  専用領域
６６、１３５  機能注入モードのジャンパ・ブロック
６７  デバイス・モードのジャンパ・ブロック
６８、１１３、１１７  電源コネクタ
７１  試験装置
７３  テスト・チャンバ
１００、１３０  試験用基板
１０１  回路基板
１０３、１３３  制御部
１０５  時間計測部
１０７  表示部
１１５  信号コネクタ
１３７  切替部
【図１】
2007018447.tif 000003
【図２】
2007018447.tif 000004
【図３】
2007018447.tif 000005
【図４】
2007018447.tif 000006
【図５】
2007018447.tif 000007
【図６】
2007018447.tif 000008
【図７】
2007018447.tif 000009
【図８】
2007018447.tif 000010