(57)【要約】【課題】各発光素子の駆動を制御して、明るい画像表示部と暗い画像表示部の、経時的な相対輝度差を一定にさせる表示装置および表示方法を提供する。【解決手段】支持基板１１と対向基板１２との間に配列形成してなる複数の発光素子１３と、対向基板１２の表面側における発光素子１３間に配置され、発光素子１３の漏れ光を検出して光電変換する受光素子１９と、発光素子１３への入力信号と受光素子１９からの出力信号に基づいて、各発光素子１３の経時的な相対輝度差が一定となるように、各発光素子１３の駆動を制御する制御部２０を備えたことを特徴とする表示装置および表示方法である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の基板間に配列形成してなる複数の発光素子と、
前記一対の基板のうち一方の基板の前記発光素子間に配置され、当該発光素子の漏れ光を検出して光電変換する受光素子と、
前記発光素子への入力信号と前記受光素子からの出力信号に基づいて、各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、前記各発光素子の駆動を制御する制御部を備えた
ことを特徴とする表示装置。
【請求項２】
請求項１記載の表示装置において、
前記受光素子は、当該受光素子に隣接する一方の前記発光素子のスキャン周期と同周期で光漏れ量をモニタリングするように構成されている
ことを特徴とする表示装置。
【請求項３】
請求項１記載の表示装置において、
前記制御部は、
前記入力信号と前記出力信号とに基づき、前記各発光素子の相対輝度劣化量をそれぞれ算出する輝度劣化量演算回路と、
前記相対輝度劣化量が最も小さい前記発光素子とこの発光素子以外の前記各発光素子との前記相対輝度劣化量の差に相当する前記電圧値の差分を算出する電圧値差分演算回路と、
前記相対輝度劣化量が最も小さい前記発光素子を除く前記各発光素子の前記入力信号に、前記電圧値の差分を印加して補正する選択制御回路とを備えた
ことを特徴とする表示装置。
【請求項４】
請求項３記載の表示装置において、
前記制御部は、前記入力信号の信号レベルと前記出力信号の信号レベルとを対応させるように、前記入力信号および前記出力信号の少なくとも一方を処理する信号処理回路を備えており、
前記輝度劣化量演算回路では、前記信号処理回路で処理された前記入力信号と前記出力信号とに基づき、前記各発光素子の相対輝度劣化量をそれぞれ算出する
ことを特徴とする表示装置。
【請求項５】
請求項３記載の表示装置において、
前記制御部は、前記輝度劣化量演算回路で算出された前記各発光素子の前記相対輝度劣化量から、当該相対輝度劣化量に相当する劣化分の電圧値を算出する電圧値演算回路を備えており、
前記電圧値差分演算回路では、前記電圧値演算回路で算出された前記劣化分の電圧値が最も小さい前記発光素子とこの発光素子以外の前記各発光素子との前記電圧値の差分を算出する
ことを特徴とする表示装置。
【請求項６】
請求項３記載の表示装置において、
前記制御部は、前記入力信号に基づいて動画か静止画かを認識し、動画か静止画かを判定する動画・静止画認識回路を備えており、静止画と認識された前記入力信号のみが前記輝度劣化量演算回路に入力されるように構成されている
ことを特徴とする表示装置。
【請求項７】
各発光素子の漏れ光を受光素子で検出し、前記発光素子への入力信号と前記受光素子により光電変換された出力信号とに基づいて、前記各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、前記各発光素子の駆動を制御する
ことを特徴とする表示方法。
【請求項８】
請求項７記載の表示方法において、
前記入力信号と前記出力信号とに基づき、前記各発光素子の相対輝度劣化量をそれぞれ算出する工程と、
前記相対輝度劣化量が最も小さい前記発光素子とこの発光素子以外の前記各発光素子との前記相対輝度劣化量の差分に相当する電圧値の差分を算出する工程と、
前記相対輝度劣化量が最も小さい前記発光素子を除く前記各発光素子の前記入力信号に、前記電圧値の差分を印加して補正する工程とを有する
ことを特徴とする表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置および表示方法に関し、特に、有機電界発光素子（有機ＥＬ素子）等の自発光素子を備えた表示装置および表示方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、発光ダイオード（ＬＥＤ）、レーザ・ダイオード（ＬＤ）、有機ＥＬ素子、蛍光体などの自発光素子を用いた表示装置（ディスプレイ）の開発がなされている。この種の表示装置は、一般に、自発光素子をマトリクス状に複数個配置して画面部（表示パネル）が構成され、各素子を映像信号に応じて選択的に発光させることにより、映像表示が行われる。表示媒体として、テレビジョン受像機、コンピュータモニター、携帯情報端末等、我々の日常生活の中でディスプレイは大きな役割を担っている。インターネットの進展に伴い、ヒューマンインターフェイスとしてのディスプレイの重要性は益々大きくなっている。目に優しく、高精細な画面で見やすく、かつ動画が遅れなしにくっきりと綺麗に見える高解像度、高速応答のディスプレイが要求されている。
【０００３】
自発光素子を用いた表示装置は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ；Liquid Crystal Display）などの非自発光型の表示装置に比べて、バックライトが不要であるなどの利点がある。しかし、自発光表示装置として、陰極線管（Cathode Ray Tube（ＣＲＴ）)、プラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel（ＰＤＰ））などの蛍光体を用いた表示装置および有機ＥＬ表示装置では、静止画像の長時間表示による焼付き現象を起こすことが知られている。
【０００４】
そこで、焼付きを軽減する装置等が各種使用されている。従来の焼付き軽減装置においては、時計表示部などの文字情報表示部とその背景部との輝度の反転（白黒反転）や色の補色反転といったような、極性反転をある一定期間内に数回行う期間を設けることで、焼付きを軽減するものがある（従来技術１）。
【０００５】
また、もう一つの手法としては、文字情報などの表示画像を、視覚的に認識できないレベルの速度でゆっくりと、ある一定量上下左右にシフトすることで、一定箇所の長期間の静止画像表示を防ぐものがある（従来技術２）。
【０００６】
さらには、スクリーンセーバーなどを設定することで、一定期間以上の静止画像を表示した場合は、その静止画像から任意の動画画像を表示するといった手法、あるいは極端な手法では、ある一定期間静止画像を表示した場合、表示そのものをシステム全体としてダウンさせるような手法も用いられている（従来技術３）。
【０００７】
ただし、上述したような従来技術では充分には情報表示媒体としては満足できていない。たとえば、風景画などを表示する自然画情報においては、静止画像を提供する場合、極性反転を行ってしまう従来技術１のような手法では、純粋な自然画を静止表示できずに違和感を持たせてしまう。
【０００８】
また、表示画像を一定量上下左右にシフトさせる従来技術２においては、あまりにシフトできる量が小さいために、大幅な焼付き軽減を期待することは出来ない。逆に、シフトしたことで移動箇所そのものも徐々に焼付きが連鎖的に発生して、静止表示文字情報そのものが次第に鮮明さを徐々に失われていく問題がある。
【０００９】
さらに、公共機関などを交通手段とし利用する場合によく利用される時刻表示案内、病院、市役所などで表示される順番待ち時間案内進捗案内などを情報表示として用いる場合、常時静止画像を用いなければならず、従来技術３のような手法を用いることは出来ない。
【００１０】
上述したようなＣＲＴ、ＰＤＰおよび有機ＥＬ表示装置では、輝度が高いほど、蛍光体または有機ＥＬ素子が劣化し易く、静止画像に対して焼付きを発生してしまうことが判っている。
【００１１】
そこで、例えばＣＲＴ、ＰＤＰでは、静止画のＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色毎の信号レベルが予め設定された所定の閾値レベルより高いか低いかを判別する色レベル判別部と、各色毎の表示用出力信号の信号レベルを個別に設定する色レベル設定部とを備え、静止画が予め設定された所定の時間以上継続表示する場合、色レベル判別部が判別する閾値レベルより高い色の部分を焼付きの要因と判定し、その信号レベルを色レベル設定部が段階的に下げるように設定する表示焼付防止装置が報告されている（例えば、特許文献１参照）。
【００１２】
【特許文献１】特開２００１−２２８８４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかし、実際には輝度の低い暗い画像表示部でも、自発光素子を低輝度に光らせて表示していることから、焼付きが生じている。このため、焼付きを軽減するために、上述したように明るい静止画像のみの輝度だけをコントロールして輝度を下げると、周囲の暗い画像表示部との比較認識で鮮やかさを低減させ、違和感を覚えるものである。そこで、暗い静止画像の輝度もコントロールして、明るい静止画像と同様のレートで輝度を下げていくことが考えられている。しかし、実際には、明るい表示素子と暗い表示素子とで素子の劣化による輝度低下もそれぞれ生じている。このため、明るい画像表示部と暗い画像表示部とで、経時的な相対輝度差を一定にすることは難しい。
【００１４】
そこで、本発明は、各発光素子１３の駆動を制御して、明るい画像表示部と暗い画像表示部の経時的な相対輝度差を一定にさせる表示装置および表示方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
このような目的を達成するために、本発明の表示装置は、一対の基板間に配列形成してなる複数の発光素子と、一対の基板のうち一方の基板の発光素子間に配置され、発光素子の漏れ光を検出して光電変換する受光素子と、発光素子への入力信号と受光素子からの出力信号に基づいて、各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、各発光素子の駆動を制御する制御部とを備えたことを特徴としている。
【００１６】
このような表示装置によれば、各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、発光素子の駆動を制御するため、各発光素子の劣化による輝度低下分が一定となるように補正される。これにより、焼付き防止のための輝度コントロールを制御性良く行うことができるとともに、明るい画像表示部と暗い画像表示部とでコントラストが維持される。
【００１７】
また、本発明の表示方法は、各発光素子の漏れ光を受光素子で検出し、発光素子への入力信号と受光素子により光電変換された出力信号に基づいて、各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、各発光素子の駆動を制御することを特徴としている。
【００１８】
このような表示方法によれば、各発光素子の経時的な相対輝度差が一定となるように、発光素子の駆動を制御するため、各発光素子の劣化による輝度低下分が一定となるように補正される。これにより、焼付き防止のための輝度コントロールを制御性良く行うことができるとともに、明るい画像表示部と暗い画像表示部とでコントラストが維持される。
【発明の効果】
【００１９】
以上説明したように、本発明の表示装置および表示方法によれば、焼付き防止のための輝度コントロールを制御性良く行うことができるとともに、明るい画像表示部と暗い画像表示部とでコントラストが経時的に維持されるため、静止画像が長時間表示された場合であっても、違和感を感じさせることなく焼付きを軽減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明に係る表示装置および表示方法の実施形態を、図面に基づいて詳細に説明する。
【００２１】
図１は、本発明に係る有機ＥＬ表示装置の構成の概略を示す要部断面図である。ここでは、アクティブマトリクス方式の上面発光型の有機ＥＬ表示装置を例にとり説明する。図１に示すように、有機ＥＬ表示装置１０は、支持基板１１と対向基板１２との間に、発光素子１３を挟持して構成されている。
【００２２】
支持基板１１は、ガラス等の透明基板や、シリコン基板等の中から適宜選択して用いられることとする。ここでは、この有機ＥＬ表示装置１０の駆動方式がアクティブマトリクス方式であることから、各発光素子１３に応じてＴＦＴを設けてなるＴＦＴ基板が支持基板１１として用いられる。また、支持基板１１には、ここでの図示を省略した駆動回路が設けられている。なお、ここでは、アクティブマトリクス方式の有機ＥＬ表示装置１０を例にとり説明するが、有機ＥＬ表示装置１０がパッシブマトリクス方式であっても、本発明は適用可能である。
【００２３】
上記発光素子１３は、有機ＥＬ素子からなり、支持基板１１の一主面側中央の表示領域にマトリクス状に配置されている。これらの発光素子１３は、それぞれが例えばＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色に発光するものであり、所定の配列形式に従って表示領域に配列されている。また、各発光素子１３の間には、各発光素子１３を分離する素子分離絶縁層１４が配置されている。
【００２４】
上記各発光素子１３は、支持基板１１上に各発光素子１３に応じて配列形成される下部電極（陽極）１５と、下部電極１５上に配置され、各色に発光する発光層を含む有機層１６と、各有機層１６および素子分離絶縁層１４を覆う状態でベタ膜状に配置され、各発光素子１３の共通電極となる上部電極（陰極）１７とが順次積層されている。なお、ここでは下部電極１５を陽極、上部電極１７を陰極とするが、下部電極１５が陰極で、上部電極１７が陽極であってもよい。また、上部電極１７と対向基板１２との間には、例えば窒化シリコンからなる透明材料膜１８が設けられている。
【００２５】
ここで、本発明に特徴的な構成として、対向基板１２の表面側には、各発光素子１３の間となる位置に複数の受光素子１９が配置されている。
【００２６】
この受光素子１９は、例えばアモルファスシリコン半導体により形成されたＰＩＮ（ＰＮ）フォトダイオードからなり、対向基板１２の表面側に設けられた凹部１２ａを埋め込む状態で設けられている。この凹部１２ａは、支持基板１１と対向基板１２とを対向配置させる前に、エッチング等により設けられることとする。
【００２７】
なお、ここでは、受光素子１９が対向基板１２の表面側に設けられた凹部１２ａを埋め込まれていることとするが、対向基板１２における発光素子１３側に設けられた凹部に埋め込まれていてもよい。また、受光素子１９が、透明材料膜１８の対向基板１２側に設けられた凹部に埋め込まれていてもよい。
【００２８】
この受光素子１９は、発光素子１３からの漏れ光を受光して、受光量に応じて電気信号を出力させる。これにより、後述するように、発光素子１３への入力信号と受光素子１９からの出力信号に基づき、各発光素子１３の相対輝度劣化量が検出可能となる。ここで、受光素子１９に発光強度の２０％以下の光量のみを検出する制限を設けることで、他の光散乱漏れ量を検出することを防止し、発光素子１３からの漏れ光のみを受光することができる。また、この受光素子１９には、受光した光の階調値を保存する機能を備えていることとする。
【００２９】
また、図２の平面図に示すように、受光素子１９はスキャン方向に平面視的に隣接する各発光素子１３の間に配置されており、例えば１つの受光素子１９は、この受光素子１９に平面視的に隣接する一方の発光素子１３のスキャン周期と同周期で光漏れ量をモニタリングするように構成されている。これにより、この受光素子１９に隣接する一方の発光素子１３からの光漏れ量のみが受光され、他方の発光素子１３からの光漏れ量が受光されることが防止される。ここで、図２のＡ−Ａ’断面図が図１の断面構成図となる。
【００３０】
そして、この有機ＥＬ表示装置１０は、図３のブロック図に示す制御部２０を備えている。この制御部２０は、発光素子１３（前記図１参照）への入力信号と受光素子１９からの出力信号に基づいて、各発光素子１３の経時的な相対輝度差が一定となるように、発光素子１３の駆動を制御するものである。
【００３１】
上記制御部２０は、各発光素子１３への入力信号を処理し、入力データとして出力する入力信号処理回路２１と、受光素子１９により検出された漏れ光量に応じた出力信号を処理し、出力データとして出力する出力信号処理回路２２とを備えている。
【００３２】
具体的には、上記入力信号処理回路２１は、表示部３０中の発光素子１３へのデジタル入力信号を保存する第１メモリー部２１ａと、第１メモリー部２１ａで保存された発光素子１３への入力信号に、それぞれ２０％の乗算処理を行い、入力データとする入力信号演算回路２１ｂとを備えている。ここで、入力信号演算回路２１ｂが設けられている理由は、上述したように、受光素子１９には、発光強度の２０％以下の光漏れ量のみを検出する制限を設けているため、入力信号処理回路２１から出力される信号レベルと、受光素子１９から出力信号処理回路２２を介して出力される信号レベルとを対応させるためである。
【００３３】
なお、ここでは、入力信号に２０％の乗算処理を行うこととしたが、後述する出力信号処理回路２２において、出力信号に５倍の乗算処理を行うことによっても、入力信号処理回路２１から出力される信号レベルと、受光素子１９から出力信号処理回路２２を介して出力される信号レベルとを対応させることが可能である。
【００３４】
一方、上記出力信号処理回路２２は、受光素子１９で検出された漏れ光量に応じた出力信号を、受光素子１９に保存された階調値で除算する出力信号演算回路２２ａと、この除算値をデジタル信号に変換するアナログデジタルコンバータ（ＡＤＣ）２２ｂと、このデジタル変換された出力信号を出力データとして保存する第２メモリー部２２ｃを備えている。
【００３５】
上記出力信号演算回路２２ａにおいて、出力信号を階調値で除算することで、受光素子１９で検出した電圧値からスキャン方向の1ライン前の受光素子１９で検出した電圧値を差分したことと同じことになり、発光素子１３とその光漏れ量をモニタリングする受光素子１９とを対応させることができる。
【００３６】
そして、上記制御部２０は、入力信号処理回路２１からの各発光素子１３の入力データと、出力信号処理回路２２からの各発光素子１３の出力データとが入力されるデータ検知部２３と、データ検知部２３を経た入力信号処理回路２１からの入力データと出力信号処理回路２２からの出力データとに基づき、１フレーム分の各発光素子１３の相対輝度劣化量を算出する輝度劣化量演算回路２４を備えている。
【００３７】
また、制御部２０は、上記輝度劣化量演算回路２４で算出された各発光素子１３の相対輝度劣化量から各発光素子１３の劣化分の電圧値を算出する電圧値演算回路２５と、電圧値演算回路２５で算出された劣化分の電圧値から、１フレーム中で最も小さい劣化分の電圧値を示す発光素子１３とこの発光素子１３以外の各発光素子１３との劣化分の電圧値の差分を算出する電圧値差分演算回路２６を備えている。さらに、制御部２０は、最も小さい劣化分の電圧値を示す発光素子１３を除く各発光素子１３の入力信号に、上記電圧値の差分を印加して補正する選択制御回路２７とを備えている。これにより、１フレーム中で相対輝度劣化量の最も小さい発光素子１３に合わせて、各発光素子１３の劣化による輝度低下分が補正される。
【００３８】
ここで、上記電圧値演算回路２５、電圧値差分回路２６および選択制御回路２７には、演算される電圧値と輝度との対応表が組み込まれていることとする。これにより、輝度補正を行う上で、演算される電圧値がどれくらいの輝度値に相当するかを各回路に照会できるためスムーズな補正が可能となる。
【００３９】
次に、上述した表示装置の表示方法について、図３のブロック図および図４のフローチャートを用いて説明する。なお、本発明の表示方法は、動画であっても静止画であっても適用可能である。
【００４０】
ここでは、一例として、輝度低下が大きい明表示される１つの発光素子１３（明表示素子１３ａ）と、相対輝度劣化量が最も小さい暗表示される発光素子１３（暗表示素子１３ｂ）の補正について説明する。ここで、例えば明表示される発光素子１３は、１ｃｄ／ｍ2より高い輝度で発光する発光素子１３を指し、暗表示される発光素子１３は、１ｃｄ／ｍ2以下の輝度で発光する発光素子１３を指すこととする。
【００４１】
まず、各発光素子１３へのデジタル入力信号を第１メモリー部２１ａにそれぞれ保存する（Ｓ１０１）。この入力信号は、焼付き防止のため、明表示される発光素子１３と暗表示される発光素子１３の両方で段階的に輝度が低下するようにコントロールされていることとする。次いで、第１メモリー部２１ａから入力信号を読み出し、入力信号演算処理部２１ｂで、入力信号の２０％の乗算処理を行い、この値を入力データとする（Ｓ１０２）。
【００４２】
一方、受光素子１９では、各発光素子１３のスキャン周期と同周期でモニタリングが順次連続して行われる。受光素子１９では、各発光素子１３から検出された漏れ光の階調値が保存されるとともに、漏れ光量が光電変換される（Ｓ２０１）。
【００４３】
次いで、出力信号回路２２ａにおいて、光電変換された出力信号を上記階調値で除算する（Ｓ２０２）。次いで、ＡＤＣ２２ｂにおいて、この除算値をＡ／Ｄ変換し（Ｓ２０３）、第２メモリー部２２ｃに出力データとして保存する（Ｓ２０４）。
【００４４】
そして、データ検知部２３に、上記入力データと上記出力データとが入力される（Ｓ３０１）。次いで、輝度劣化量演算回路２４において、１フレーム分の各発光素子１３の相対輝度劣化量を算出する（Ｓ３０２）。ここでは、一例として、図５に示すように、上記明表示素子１３ａの相対輝度劣化量（ΔＬa）が７％、と上記暗表示素子１３ｂの相対輝度劣化量（ΔＬb）が２％であることとする（ΔＬa＞ΔＬb）。
【００４５】
次いで、電圧値演算回路２５において、各発光素子１３の相対輝度劣化量から、劣化分の電圧値をそれぞれ算出する（Ｓ３０３）。ここでは、明表示素子１３ａの７％の相対輝度劣化量（ΔＬa）は１．４Ｖに相当し、暗表示素子１３ｂの２％の相対輝度劣化量（ΔＬb）は０．４Ｖに相当することとする。
【００４６】
その後、電圧値差分演算回路２６にて、１フレーム分の相対輝度劣化量に相当する劣化分の電圧値が最も小さい発光素子１３とこの発光素子１３以外の各発光素子１３との劣化分の電圧値の差分を算出する（Ｓ３０４）。ここでは、暗表示素子１３ｂと明表示素子１３ａとの劣化分の電圧値の差分は１．０Ｖとなる。
【００４７】
続いて、選択制御回路２７にて、劣化分の電圧値が最も小さい発光素子１３以外の各発光素子１３に、電圧値差分演算回路２６にて算出された電圧値の差分を印加した補正を行う（Ｓ３０５）。ここでは、明表示素子１３ａの入力信号に１．０Ｖを印加した補正を行う。ここで、以上説明したような一連の補正は、明るい画像表示部と暗い画像表示部とでコントラストの劣化が視認されない程度の期間で行われることとし、演算処理および補正処理は、非表示期間内に行われることとする。
【００４８】
このような表示装置および表示方法によれば、各発光素子１３の経時的な相対輝度差が一定となるように、相対輝度劣化量が最も小さい発光素子１３（暗表示素子１３ｂ）に合わせて、この発光素子１３を除く各発光素子１３の駆動を制御するため、各発光素子１３の劣化による輝度低下分が一定となるように補正される。これにより、焼付き防止のための輝度コントロールを制御性よく行うことができるため、明るい画像表示部と暗い画像表示部とでコントラストが維持される。したがって、静止画像が長時間表示された場合であっても、違和感を感じさせることなく焼付きを軽減することができる。
【００４９】
（変形例１）
また、第１実施形態で説明した表示方法は、動画であっても静止画であっても適用可能であるが、各発光素子１３の相対輝度劣化量の差は、静止画像を長時間表示する静止画の場合に顕著である。このため、上述したような各発光素子１３の補正を行う前に、動画か静止画かを認識させて、静止画のときにのみ補正を行ってもよい。
【００５０】
この場合には、図６に示すように、例えば入力信号処理回路２１（前記図３参照）の第１メモリー部２１ａと入力信号演算回路２１ｂとの間に、動画・静止画認識回路４１を備えていることとする。
【００５１】
この動画・静止画認識回路４１は、Ｎフレームの出力電圧値（Ｖ1N）とＮ−１フレームの出力電圧値（Ｖ1(N-1)）とを用い、下記式（１）に示す演算処理を行う映像フレーム出力電圧演算回路４１ａと、この映像フレーム出力電圧演算回路４１ａで演算処理された値により、動画か静止画かを判定する動画・静止画判定回路４１ｂとを備えている。
【００５２】
【数１】
2007079200.tif 000003
【００５３】
このような動画・静止画認識回路４１を制御部２０中に設ける場合には、上記式（１）の演算処理の結果により、動画・静止画判定回路４１ｂにて、７０％以上であるときは動画、７０％未満であるときは静止画であると判定する。この際、静止画と判別した場合には、映像フレーム認識前後の各々の測定信号レベルの数値に対して、１００倍乗算させた数値にて検出することで、前後の微妙な測定レベルの推移検出演算を容易にすることが好ましい。そして、例えば静止画と判定されたときのみに、入力信号が入力信号演算回路２１ｂに入力されることとする。
【００５４】
（第２実施形態）
次に、本発明に係る表示装置の第２の実施形態について図７を用いて説明する。第１実施形態では、上面発光型の有機ＥＬ表示装置を例にとり説明したが、本実施形態では、下面発光型の有機ＥＬ表示装置１０’の例について説明する。なお、第１実施形態で説明した表示装置と同様の構成には同一の番号を付して説明する。
【００５５】
図７に示すように、下面発光型の場合には有機層１６からの発光光が支持基板１１側から取り出されるため、上部電極１７は反射性材料で形成され、下部電極１５は透明性材料で形成される。ここで、下部電極１５は、支持基板１１に配置されたＴＦＴを覆う状態で設けられた平坦化絶縁膜（図示省略）上に、各発光素子１３に対応する状態で配置されている。そして、受光素子１９’は、下部電極１５間の平坦化絶縁膜上に、隣接する下部電極１５とは離間する状態で配置されている。また、この受光素子１９’で発光素子１３の漏れ光を検出するため、上記受光素子１９’を覆う状態で配置される素子分離絶縁層１４は、透明材料により構成される。
【００５６】
このような構成の有機ＥＬ表示装置１０’を用いても、第１実施形態と同様の表示方法を行うことができ、明表示素子１３ａと暗表示素子１３ｂとの経時的な相対輝度差が一定となるように、発光素子１３の駆動を制御することができるため、第１実施形態と同様の効果を奏することができる。なお、第１実施形態の変形例１は第２実施形態でも適用可能である。
【００５７】
また、上記第１実施形態および第２実施形態では、ＲＧＢ各色を発光する発光素子１３を備えた有機ＥＬ表示装置１０，１０’の例について説明したが、本発明はこれに限定されず、白色発光する発光素子を備えた有機ＥＬ表示装置であっても、本発明は適用可能である。また、上記第１実施形態および上記第２実施形態では、有機ＥＬ表示装置の例を用いて説明したが、本発明は有機ＥＬ表示装置に限定されることなく、ＰＤＰ等の自発光素子を備えた表示装置に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の表示装置に係る第１実施形態を説明するための構成断面図である。
【図２】本発明の表示装置に係る第１実施形態を説明するための平面図である。
【図３】本発明の表示装置に係る第１実施形態を説明するためのブロック図である。
【図４】本発明の表示方法に係る第１実施形態を説明するためのフローチャートである。
【図５】本発明の表示方法に係る第１実施形態の明表示素子と暗表示素子の相対輝度劣化量を示すグラフである。
【図６】本発明の表示方法に係る第１実施形態の変形例１を説明するためのブロック図である。
【図７】本発明の表示装置に係る第２実施形態を説明するための構成断面図である。
【符号の説明】
【００５９】
１０，１０’…有機ＥＬ表示装置、１１…支持基板、１２…対向基板、１３…発光素子、１３ａ…明表示素子、１３ｂ…暗表示素子、１９，１９’…受光素子、２０…制御部、２４…輝度劣化量演算回路、２５…電圧値演算回路、２６…電圧値差分演算回路、２７…選択制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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