(57)【要約】【課題】  各画素間の光電変換特性のバラツキを抑制し、ＩＣ全体にわたり均一な光電変換特性を有するＭＯＳイメージセンサＩＣを提供する。【解決手段】  複数の画素領域は、全て同一の電位に固定された電位固定用の導電体で囲んだ。また内部には細い形状で形成された電位固定用の導電体を配置し、全てシリコン基板と同電位になるように電気的に接続するようにした。これにより、保護膜形成時における下地となる領域の電位が、全ての画素領域にわたり一定になり保護膜厚、膜質を均一に出来る。これによって画素間の光電変換特性バラツキを無くすことができる。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
フォトダイオードやＭＯＳトランジスタなどの素子を同一シリコン基板上に構成するＭＯＳイメージセンサＩＣの、前記フォトダイオードからなる複数の画素領域において、前記画素領域の周囲に位置する保護膜の下面には、全て同一の電位に固定された電位固定用の導電体が前記画素領域を囲むように配置されているＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【請求項２】
前記複数の画素領域における前記保護膜の下には、さらに、光の入射を妨げないように細い形状で形成された電位固定用の導電体が配置されており、それぞれが同一の電位となるように電気的に接続されている請求項１記載のＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【請求項３】
前記導電体はアルミニウム配線からなることを特徴とする請求項１記載のＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【請求項４】
前記導電体はアルミニウム配線からなることを特徴とする請求項２記載のＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【請求項５】
前記導電体は前記シリコン基板の基板電位と同電位になるように電気的に接続されていることを特徴とする請求項１記載のＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【請求項６】
前記導電体は前記シリコン基板の基板電位と同電位になるように電気的に接続されていることを特徴とする請求項２記載のＭＯＳイメージセンサＩＣ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像情報を読み取り電送する装置、ファクシミリ、イメージスキャナ、電子カメラに用いられるＭＯＳイメージセンサＩＣに関する。
【背景技術】
【０００２】
図４は従来のイメージセンサの一例を示す回路図である。ＭＯＳイメージセンサのセンサ回路１０では、ＰＮ接合を用いたフォトダイオード１２に、前記フォトダイオード１２に適当な電圧にリセットするためのスイッチング素子であるリセットトランジスタ１１と、前記フォトダイオード１２で蓄積された光電荷を増幅するための増幅回路１３が結線されている。
【０００３】
リセットトランジスタ１１をＯＮしフォトダイオード１２が十分にリセット電圧となるリセット動作と、リセットトランジスタ１１をＯＦＦし、一定時間中フォトダイオード１２に光電荷を蓄積させる蓄積動作と、増幅回路１３をＯＮしフォトダイオード１２に蓄積された光電荷を増幅して読み出す読み出し動作で、連続的に光情報を読み取ることができる構成になっている。
【０００４】
また、読み出し動作後に増幅された信号を一時的に記憶することも、容量素子２１と２つのスイッチトランジスタ（２２Ａおよび２２Ｂ）からなる保持回路２０を用いて行うことができる。
【０００５】
読み出し動作中にスイッチトランジスタ２２ＡをＯＮし、増幅回路１３により保持容量２１へ信号を電荷として貯え、スイッチトランジスタ２２ＡをＯＦＦした後、任意の保持時間後にスイッチトランジスタ２２ＢをＯＮし保持容量２１から読み出すことができる。
【０００６】
リセット、蓄積、読み出しの一連の動作を複数のフォトダイオードに対して一括に処理し、保持回路から個別に任意に読み出すことが可能である。
【０００７】
ここで、フォトダイオード１２に入射した光の強度に応じて光電変換をおこなうことになるが、光電変換特性はもっとも重要な特性の一つである。
【０００８】
この特性を向上させるため、フォトダイオード１２内部の空乏層が形成される半導体領域の欠陥発生が抑制された光電変換素子が開示されている。（例えば、特許文献１参照。）
【特許文献１】特開２００４−３１２０３９（第24図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、一つのＩＣチップ内に複数の画素を配置したイメージセンサＩＣにおいては、画素を構成する複数のフォトダイオード１２における光電変換特性が、それらの上面の位置する保護膜厚のばらつきにより入射光の強度が変化してしまうことを原因として、光電特性がばらついてしまうという問題があった。
【００１０】
改善策として、保護膜形成後に平坦化を行ったり、更なる膜厚均一化を目的に第二の保護膜を形成したりする例も提案されているが、工程が増加して製造コストが増大してしまうこと、十分な均一性が得られないなどの問題点があった。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記問題点を解決するために、本発明はＭＯＳイメージセンサを以下のように構成した。
【００１２】
フォトダイオードやＭＯＳトランジスタなどの素子を同一シリコン基板上に構成するＭＯＳイメージセンサＩＣの、フォトダイオードから構成される複数の画素領域において、画素領域の保護膜の下面には、全て同一の電位に固定された電位固定用の導電体が画素領域を囲むように配置する構造とした。あるいは、複数の画素領域における前記保護膜の下には、フォトダイオードへの光の入射を妨げないように細い形状で形成された電位固定用の導電体が配置されており、それぞれが同一の電位となるように電気的に接続される構造とした。あるいは導電体はシリコン基板と同電位になるように電気的に接続するようにした。
【００１３】
これらの手段により、保護膜形成時における下地となる領域の電位が、全ての画素領域にわたりほぼ一定に固定することができるようになるため、各画素上の保護膜形成スピードや、膜質が一定に保たれ、各画素上に形成された保護膜は、ほぼ均一な膜厚、および膜質を有するようになる。
【００１４】
これによって、各画素のフォトダイオードに入射する光の強度は、一定に保つことが可能になるため、各画素間の光電変換特性のバラツキを抑制し、ＩＣ全体にわたり均一な光電変換特性を有するイメージセンサＩＣを得ることができる。
【発明の効果】
【００１５】
以上説明したように、本発明はＭＯＳイメージセンサにおいてフォトダイオードからなる複数の画素領域において、画素領域の保護膜の下面には、全て同一の電位に固定された電位固定用の導電体が画素領域を囲むように配置する構造とした。あるいは、複数の画素領域における前記保護膜の下には、光の入射を妨げないように細い形状で形成された電位固定用の導電体が配置されており、それぞれが同一の電位となるように電気的に接続される構造とした。あるいは導電体はシリコン基板と同電位になるように電気的に接続するようにした。
【００１６】
これらにより、保護膜形成時における下地となる領域の電位が、全ての画素領域にわたりほぼ一定に固定することができるようになる。これにより各画素上の保護膜形成スピードや、膜質が一定に保たれ、各画素上に形成された保護膜は、ほぼ均一な膜厚、および膜質を有するようになる。
【００１７】
従って各画素のフォトダイオードに入射する光の強度は、一定に保つことが可能になるため、各画素間の光電変換特性のバラツキを抑制し、ＩＣ全体にわたり画素毎のバラツキを無くした均一な光電変換特性を有するイメージセンサＩＣを得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
【実施例】
【００１９】
図１は、本発明によるＭＯＳイメージセンサの画素領域における第１の実施例を示す模式的平面図である。
【００２０】
複数の画素領域１０１、１０２、１０３，１０４は、アルミニウムなどからなる電位固定用の導電体２０１によりそれぞれ囲まれており、画素領域１０１、１０２、１０３、１０４を囲む導電体２０１は、それぞれ電気的に接続されており、全体に同一の電位を有する構造を取る。また図示しないが導電体２０１はＭＯＳイメージセンサを形成するシリコン基板の基板電位と同一の電位となるように電気的に接続されている。これによって、アルミニウムなどの配線工程の後に形成される保護膜形成時において、下地となる画素領域の電位をＭＯＳイメージセンサＩＣ内の全ての画素領域にわたりほぼ一定に保つことができるようになる。これにより、各画素上の保護膜形成スピードや膜質が一定に保たれ、各画素上に形成された保護膜は、ほぼ均一な膜厚と膜質とを有するようになる。従って各画素のフォトダイオードに入射する光の強度は、一定に保つことが可能になるため、各画素間の光電変換特性のバラツキを抑制し、ＭＯＳイメージセンサＩＣ全体にわたり均一な光電変換特性を有するＭＯＳイメージセンサＩＣを得ることができる。
【００２１】
図２は、本発明によるＭＯＳイメージセンサの画素領域における第２の実施例を示す模式的平面図である。
【００２２】
第１の実施例と異なる点は、図１の例で示した、画素領域１０１を囲むアルミニウムなどからなる電位固定用の導電体２０１に加えて、一つの画素領域１０１内に、光の入射を妨げないように細い形状として構成された電位固定用のアルミニウムなどからなる導電体３０１を十字型に形成した点である。
【００２３】
画素領域１０１の面積が大きい場合に、画素領域１０１の周囲を囲むアルミニウムなどからなる電位固定用の導電体２０１だけでは、画素領域１０１上の電位を十分に固定できない可能性があり、その対応として画素領域１０１内にも電位固定用の導電体を形成するようにした。
【００２４】
その際、画素領域１０１への光入射を妨げると良くないので、導電体３０１は出来るだけ細い形状で形成されていることが望ましい。また、第１の実施例と同様に、導電体３０１の電位もＭＯＳイメージセンサを形成するシリコン基板の基板電位と同一の電位となるように電気的に接続されるようにすることが望ましい。その他の説明については図１と同一の記号を付記することで説明に代える。
【００２５】
図３は、本発明のＭＯＳイメージセンサの画素領域における第３の実施例を示す模式的平面図である。
【００２６】
第２の実施例と異なる点は、一つの画素領域１０１内に、光の入射を妨げないように細い形状として構成された電位固定用のアルミニウムなどからなる導電体３０１の形状を十字型ではなく、画素領域１０１内部まで延びた細い直線状と四角い輪形状の組み合わせとした点である。
【００２７】
第３の実施例においても、画素領域１０１の面積が大きい場合に、画素領域１０１の周囲を囲むアルミニウムなどからなる電位固定用の導電体２０１だけでは、画素領域１０１上の電位を十分に固定できない可能性があり、その対応として画素領域１０１内にも電位固定用の導電体を形成するようにした目的は第２の実施例と同様である。
【００２８】
その他の説明については、図２と同一の記号を付記することで説明に代える。
【００２９】
以上、実施例２および３では、電位固定用の導電体２０１に加えて、一つの画素領域１０１内に、光の入射を妨げないように細い形状として構成された電位固定用のアルミニウムなどからなる導電体３０１をいくつかの形状で形成した例を示したが、その他の形状でも構わない。また、簡単のため、画素領域１０１だけを取り出して説明したが、複数の画素領域全てに対して、同一の形状で電位固定用のアルミニウムなどからなる導電体３０１が形成されてなるものである。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明のＭＯＳイメージセンサの画素領域における第１の実施例を示す模式的平面図である。
【図２】本発明のＭＯＳイメージセンサの画素領域における第２の実施例を示す模式的平面図である。
【図３】本発明のＭＯＳイメージセンサの画素領域における第３の実施例を示す模式的平面図である。
【図４】従来のイメージセンサの一例を示す回路図である。
【符号の説明】
【００３１】
１０  センサ回路
１１  リセットトランジスタ
１２  フォトダイオード
１３  増幅回路
２０  保持回路
２１  保持容量
２２Ａ、２２Ｂ  スイッチトランジスタ
１０１  画素領域
１０２  画素領域
１０３  画素領域
１０４  画素領域
２０１  導電体
３０１  導電体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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