(57)【要約】【課題】  測定時間を短縮すると共に歪を精度良く測定することが可能な光ファイバ歪測定装置を実現する。【解決手段】  測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、パルス光を出射する光源と、パルス光を光ファイバの一端に入射させ、光ファイバの一端から出射される後方散乱光を波長帯毎に分岐させて出射させる光分岐手段と、この光分岐手段からブリルアン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射されブリルアン散乱光を検出して歪を測定する歪検出手段と、光分岐手段からラマン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射されラマン散乱光を検出して温度を測定する温度検出手段と、歪検出手段から歪の測定データを取り込み温度検出手段から温度の測定データを取り込むと共に歪の測定データを温度データで補償する演算制御手段とを設ける。【選択図】                    図１
2007240294.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、
パルス光を出射する光源と、
前記パルス光を前記光ファイバの一端に入射させ、前記光ファイバの一端から出射される後方散乱光を波長帯毎に分岐させて出射させる光分岐手段と、
この光分岐手段からブリルアン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射され前記ブリルアン散乱光を検出して歪を測定する歪検出手段と、
前記光分岐手段からラマン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射され前記ラマン散乱光を検出して温度を測定する温度検出手段と、
前記歪検出手段から歪の測定データを取り込み前記温度検出手段から温度の測定データを取り込むと共に歪の測定データを温度データで補償する演算制御手段と
を備えたことを特徴とする光ファイバ歪測定装置。
【請求項２】
前記光分岐手段が、
前記パルス光を前記光ファイバの一端に入射させ、前記光ファイバの一端から出射される後方散乱光を分岐させる光方向性結合器と、
この光方向性結合器の分岐光を２つの波長帯に分けてそれぞれ出射する第１の光フィルタと、
この第１の光フィルタの一方の分岐光を２つの波長帯に分けてそれぞれ出射する第２の光フィルタとから構成されたことを特徴とする
請求項１記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項３】
前記第１の光フィルタが、
前記ラマン散乱光のアンチストークス光を含む波長帯と前記ラマン散乱光のストークス光及び前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射し、
前記第２の光フィルタが、
前記ラマン散乱光のストークス光を含む波長帯と前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射することを特徴とする
請求項２記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項４】
前記第１の光フィルタが、
前記ラマン散乱光のストークス光を含む波長帯と前記ラマン散乱光のアンチストークス光及び前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射し、
前記第２の光フィルタが、
前記ラマン散乱光のアンチストークス光を含む波長帯と前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射することを特徴とする
請求項２記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項５】
前記第１及び前記第２の光フィルタが、
反射型、エタロン型、或いは、回折格子型の光フィルタであることを特徴とする
請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の光ファイバ歪測定装置。
【請求項６】
前記第１及び前記第２の光フィルタが、
ファイバカプラ型、或いは、空間光型の光フィルタであることを特徴とする
請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の光ファイバ歪測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光（ブリルアン散乱した後方散乱光）を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置に関し、特に測定時間を短縮すると共に歪を精度良く測定することが可能な光ファイバ歪測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバ中を伝播する光の一部は、ガラスの構造分子の運動エネルギーとして吸収される。吸収されたエネルギーは一定値を超えたときに音響フォノンとして放出される。そして、ブリルアン散乱とは、放出された音響フォノンと透過光との相互干渉により、音響フォノンの周波数分だけシフト（ブリルアン周波数シフト）したストークス光が発生する現象である。
【０００３】
従来の被測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００４】
【特許文献１】特開平０４−２４８４２６号公報
【特許文献２】特開平０４−２７６５１８号公報
【特許文献３】特開平０５−２３１９２３号公報
【特許文献４】特開平１１−２５７９２８号公報
【特許文献５】特開２００１−２８１４７１号公報
【特許文献６】特開２００２−２２１４０７号公報
【特許文献７】特開２００２−３４０５３１号公報
【０００５】
そして、光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置では、ブリルアン周波数シフトの変化が歪の変化にのみ依存するのではなく、温度変化によってもブリルアン周波数シフトに変化が生じてしまう。
【０００６】
このため、光ファイバ内の温度を別途測定して温度補償することにより、歪を精度良く測定することが必要となる。光ファイバ内の温度を測定する方法としてはラマン散乱光を用いて温度を測定する方法がある。
【０００７】
ここで、ラマン散乱光とは、ブリルアン散乱光の発生と同時に後方散乱光として、ガラスの構成分子の振動や回転に基づき周波数がシフトしたラマン散乱光が発生する。このラマン散乱光はその光強度が温度に対して感応性の高いアンチストークス光と、感応性の低いストークス光が同時に発生し、発生したアンチストークス光とストークス光との光強度比から温度を得ることができる。
【０００８】
図１５は「特許文献４」に記載された歪の温度補償を行う従来の光ファイバ歪測定装置の一例を示す構成ブロック図である。図１５において、１は歪の測定対象である光ファイバ、２は光スイッチ等の入射光の光路を切り替える光路切替手段、３はブリルアン散乱光を検出して歪を測定する歪検出手段、４はラマン散乱光を検出して温度を測定する温度検出手段、５は光路切替手段を制御し歪検出手段３及び温度検出手段４からの測定データを取り込み処理するＣＰＵ（Central Processing Unit）等の演算制御手段である。
【０００９】
光ファイバ１の一端は光路切替手段２の入射端に接続される。そして、光路切替手段２の一方の出射端からの出力光は歪検出手段３の入射端に入射され、光路切替手段２の他方の出射端からの出力光は温度検出手段４の入射端に入射される。
【００１０】
歪検出手段３及び温度検出手段４の出力はそれぞれ演算制御手段５に接続され、演算制御手段５の制御信号は光路切替手段２の制御端子に接続される。
【００１１】
ここで、図１５に示す従来例の動作を説明する。図示しない光源等の手段から測定対象である光ファイバ１の一端に入射された光によって生じた後方散乱光（ブリルアン散乱光及びラマン散乱光）は、図１５中”ＬＧ０１”に示すように伝播して光ファイバ１の一端から出射されて光路切替手段２に入射される。
【００１２】
そして、演算制御手段５は、図１５中”ＣＴ０１”に示す制御信号により図１５中”ＬＧ０１”に示すように入射された後方散乱光の光路を切り替えて歪検出手段３若しくは温度検出手段４に入射させる。
【００１３】
例えば、演算制御手段５は、光路切替手段２を制御して図１５中”ＬＧ０２”に示すように後方散乱光を歪検出手段３に入射させ、歪検出手段３において後方散乱光のうちブリルアン散乱光に基づき歪を測定させ、歪の測定データを取得する。
【００１４】
その後、演算制御手段５は、光路切替手段２を制御して図１５中”ＬＧ０３”に示すように後方散乱光を温度検出手段４に入射させ、温度検出手段４において後方散乱光のうちラマン散乱光に基づき温度を測定させ、温度の測定データを取得すると共に先に取得した歪の測定データを当該温度データで補償して正確な歪を得る。
【００１５】
この結果、測定対象である光ファイバから出射する後方散乱光のうちブリルアン散乱光に基づき歪を測定すると共に、ラマン散乱光に基づき測定された温度で歪を補償することにより、ブリルアン散乱光の温度による影響を除去して、歪を精度良く測定することが可能になる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
しかし、図１５に示す従来例では、後方散乱光を光路切替手段２で順次切り替えて歪や温度を測定しているため、同時刻のブリルアン散乱光及びラマン散乱光に基づき歪や温度を測定することができないといった問題点があった。
【００１７】
例えば、歪を温度補償するといっても同時刻の温度で補償することはできず、歪の測定時間や温度の測定時間が長い場合には、温度補償の精度が悪化してしまう恐れがあった。
【００１８】
また、歪の測定時間と温度の測定時間の合計時間が全体の測定時間となるため、測定に要する時間が長くなってしまうと言った問題点があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、測定時間を短縮すると共に歪を精度良く測定することが可能な光ファイバ歪測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、
パルス光を出射する光源と、前記パルス光を前記光ファイバの一端に入射させ、前記光ファイバの一端から出射される後方散乱光を波長帯毎に分岐させて出射させる光分岐手段と、この光分岐手段からブリルアン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射され前記ブリルアン散乱光を検出して歪を測定する歪検出手段と、前記光分岐手段からラマン散乱光を含む波長帯の分岐光が入射され前記ラマン散乱光を検出して温度を測定する温度検出手段と、前記歪検出手段から歪の測定データを取り込み前記温度検出手段から温度の測定データを取り込むと共に歪の測定データを温度データで補償する演算制御手段とを備えたことにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００２０】
請求項２記載の発明は、
請求項１記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記光分岐手段が、
前記パルス光を前記光ファイバの一端に入射させ、前記光ファイバの一端から出射される後方散乱光を分岐させる光方向性結合器と、この光方向性結合器の分岐光を２つの波長帯に分けてそれぞれ出射する第１の光フィルタと、この第１の光フィルタの一方の分岐光を２つの波長帯に分けてそれぞれ出射する第２の光フィルタとから構成されたことにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００２１】
請求項３記載の発明は、
請求項２記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記第１の光フィルタが、前記ラマン散乱光のアンチストークス光を含む波長帯と前記ラマン散乱光のストークス光及び前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射し、前記第２の光フィルタが、前記ラマン散乱光のストークス光を含む波長帯と前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射することにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００２２】
請求項４記載の発明は、
請求項２記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記第１の光フィルタが、前記ラマン散乱光のストークス光を含む波長帯と前記ラマン散乱光のアンチストークス光及び前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射し、前記第２の光フィルタが、前記ラマン散乱光のアンチストークス光を含む波長帯と前記ブリルアン散乱光を含む波長帯に分けてそれぞれ出射することにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００２３】
請求項５記載の発明は、
請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記第１及び前記第２の光フィルタが、
反射型、エタロン型、或いは、回折格子型の光フィルタであることにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００２４】
請求項６記載の発明は、
請求項２乃至請求項４のいずれかに記載の発明である光ファイバ歪測定装置において、
前記第１及び前記第２の光フィルタが、
ファイバカプラ型、或いは、空間光型の光フィルタであることにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１，２，３，４，５及び請求項６の発明によれば、光ファイバにパルス光を入射させ発生した後方散乱光を光分岐手段でブリルアン散乱光とラマン散乱光とに分岐させ、ブリルアン散乱光に基づき歪を測定し、ラマン散乱光に基づき温度を測定して、歪の測定データを温度データで補償することにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は歪の温度補償を行う本発明に係る光ファイバ歪測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【００２７】
図１において、６は出力光としてパルス光を出射する光源、７は入射端からの入射光を入出射端から出射させ、この入出射端からの入射光を３つの波長帯に分岐させて出射させる光分岐手段、８は歪の測定対象である光ファイバ、９はブリルアン散乱光を検出して歪を測定する歪検出手段、１０はラマン散乱光（アンチストークス光及びストークス光）を検出して温度を測定する温度検出手段、１１は歪検出手段９及び温度検出手段１０からの測定データを取り込み処理するＣＰＵ等の演算制御手段である。
【００２８】
光源６の出力光であるパルス光は図１中”ＬＧ１１”に示すように光分岐手段７の入射端に入射され、光分岐手段７の入出射端から出射され光ファイバ８の一端から入射されて図１中”ＬＧ１２”に示すように光ファイバ８内を伝播する。
【００２９】
図１中”ＬＧ１２”に示すように光ファイバ８内を伝播するパルス光によって生じた後方散乱光（ブリルアン散乱光及びラマン散乱光）は、図１中”ＬＧ１３”に示すように伝播して光ファイバ８の一端から出射され光分岐手段７の入出射端に入射される。
【００３０】
光分岐手段７では入射された後方散乱光のうちブリルアン散乱光を分岐させて図１中”ＬＧ１４”に示すように歪検出手段９に入射させ、後方散乱光のうちラマン散乱光（アンチストークス光）を分岐させて図１中”ＬＧ１５”に示すように温度検出手段１０に入射させ、後方散乱光のうちラマン散乱光（ストークス光）を分岐させて図１中”ＬＧ１６”に示すように温度検出手段１０に入射させる。
【００３１】
演算制御手段１１は、歪検出手段９において図１中”ＬＧ１４”に示すように入射された後方散乱光のうちブリルアン散乱光に基づき歪を測定させ、歪の測定データを取得する。
【００３２】
同様に、演算制御手段１１は、温度検出手段１０において図１中”ＬＧ１５”及び図１中”ＬＧ１６”に示すように入射された後方散乱光のうちラマン散乱光に基づき温度を測定させ、温度の測定データを取得すると共に先に取得した歪の測定データを当該温度データで補償して正確な歪を得る。
【００３３】
ここで、光分岐手段７の動作を図２、図３、図４、図５、図６、図７、図８、図９、図１０、図１１、図１２、図１３及び図１４を用いて詳細に説明する。
【００３４】
図２は光分岐手段の構成を説明する説明図、図３は光ファイバ８に入射されるパルス光のスペクトルの一例を示す特性曲線図、図４は光ファイバ８から出射される後方散乱光の一例を示す特性曲線図、図５は光フィルタの構成を説明する説明図、図６及び図９は光フィルタの特性の一例を示す説明図、図７、図８、図１０及び図１１は光フィルタの出力光のスペクトルの一例を示す特性曲線図、図１２は歪の測定データの一例を示す特性曲線図、図１３は温度の測定データの一例を示す特性曲線図、図１４は温度補償された歪の測定データの一例を示す特性曲線図である。
【００３５】
図２において”ＬＧ１１”，”ＬＧ１２”、”ＬＧ１３”、”ＬＧ１４”、”ＬＧ１５”及び”ＬＧ１６”は図１と同一符号を付してあり、１２は入射端からの入射光を入出射端から出射させると共に入出射端からの入射光を出射端から出射させる光方向性結合器、１３及び１４は反射膜を用いた反射型でファイバカプラ型の光フィルタである。また、１２，１３及び１４は光分岐手段５０を構成している。
【００３６】
図２中”ＬＧ１１”に示す光源６からのパルス光は光方向性結合器１２の入射端に入射され、図２中”ＬＧ１２”及び”ＬＧ１３”に示す出射光及び入射光は光方向性結合器１２の入出射端から出射、或いは、入射される。
【００３７】
光方向性結合器１２の出射端からの出射光は光フィルタ１３の入射端に入射され、光フィルタ１３の透過端からは図２中”ＬＧ１５”に示すようなラマン散乱光（アンチストークス光）が出射される。
【００３８】
また、光フィルタ１３の反射端からの出射光は光フィルタ１４の入射端に入射され、光フィルタ１４の透過端からは図２中”ＬＧ１４”に示すようなブリルアン散乱光が出射される。さらに、光フィルタ１４の反射端からは図２中”ＬＧ１６”に示すようなラマン散乱光（ストークス光）が出射される。
【００３９】
例えば、図３中”ＳＰ２１”に示すようなスペクトル（出力波長：１５５０ｎｍ帯）を有するパルス光が光ファイバ８の一端から入射された場合を想定すると、当該パルス光によって生じる後方散乱光のスペクトル分布は図４に示すようになる。
【００４０】
すなわち、図４中”ＳＰ３１”に示すような入射光（パルス光）と同一波長のレイリー散乱光／フレネル散乱光（１５５０ｎｍ帯）、図４中”ＳＰ３２”及び”ＳＰ３３”に示すようなブリルアン散乱光、図４中”ＳＰ３４”に示すラマン散乱光（アンチストークス光：１４５０ｎｍ帯）、図４中”ＳＰ３５”に示すラマン散乱光（ストークス光：１６５０ｎｍ帯）からなる後方散乱光が発生して、光方向性結合器１２を介して光フィルタ１３の入射端に入射されることになる。
【００４１】
ここで、図５に示す光フィルタは図５中”ＩＰ４１”に示す入射端から光が入射され、或る波長以下の光は反射膜を透過して図５中”ＴＰ４１”に示す透過端から出射され、或る波長以上の光は反射膜で反射され図５中”ＲＰ４１”に示す反射端から出射される。
【００４２】
例えば、光フィルタ１３の特性を図６に示す特性とした場合、図６中”ＴＢ５１”に示す波長帯の光は透過端から出射され、図６中”ＴＢ５２”に示す波長帯の光は反射端から出射されることになる。
【００４３】
このため、ラマン散乱光（アンチストークス光：１４５０ｎｍ帯）は反射膜を透過して、図２中”ＬＧ１５”のように透過端から出射され、残りの後方散乱光は反射膜で反射され反射端から出射される。
【００４４】
このため、図２中”ＬＧ１５”に示す光フィルタ１３の透過端から出射される光のスペクトルは図７に示すようになり、図７中”ＳＰ３４”に示すラマン散乱光（アンチストークス光：１４５０ｎｍ帯）の成分が抽出される。
【００４５】
一方、光フィルタ１３の反射端から出射される光のスペクトルは図８に示すようになり、図８中”ＳＰ３１”に示すような入射光（パルス光）と同一波長のレイリー散乱光／フレネル散乱光、図８中”ＳＰ３２”及び”ＳＰ３３”に示すようなブリルアン散乱光、図８中”ＳＰ３５”に示すラマン散乱光（ストークス光：１６５０ｎｍ帯）からなる後方散乱光となる。
【００４６】
また、例えば、光フィルタ１４の特性を図９に示す特性とした場合、図９中”ＴＢ６１”に示す波長帯の光は透過端から出射され、図９中”ＴＢ６２”に示す波長帯の光は反射端から出射されることになる。
【００４７】
このため、レイリー散乱光／フレネル散乱光（１５５０ｎｍ帯）及びブリルアン散乱光は反射膜を透過して、図２中”ＬＧ１４”のように透過端から出射され、残りの後方散乱光は反射膜で反射され反射端から出射される。
【００４８】
このため、図２中”ＬＧ１４”に示す光フィルタ１４の透過端から出射される光のスペクトルは図１０に示すようになり、図１０中”ＳＰ３１”に示すような入射光（パルス光）と同一波長のレイリー散乱光／フレネル散乱光（１５５０ｎｍ帯）、図１０中”ＳＰ３２”及び”ＳＰ３３”に示すようなブリルアン散乱光の成分が抽出される。
【００４９】
一方、図２中”ＬＧ１６”に示す光フィルタ１４の反射端から出射される光のスペクトルは図１１に示すようになり、図１１中”ＳＰ３５”に示すラマン散乱光（ストークス光：１６５０ｎｍ帯）の成分が抽出される。
【００５０】
このように、抽出された各後方散乱光は、前述のように、歪検出手段３において図２中”ＬＧ１４”に示すように入射された後方散乱光のうちブリルアン散乱光に基づき歪を測定され、演算制御手段１１は歪検出手段３から歪の測定データを取得する。
【００５１】
例えば、演算制御手段１１が歪検出手段３から取得した歪の測定データが図１２中”ＣＨ７１”に示すような特性を有していたと想定する。
【００５２】
同様に、温度検出手段４において図２中”ＬＧ１５”及び図２中”ＬＧ１６”に示すように入射された後方散乱光のうちラマン散乱光に基づき温度を測定され、演算制御手段１１は温度検出手段４から温度の測定データを取得すると共に先に取得した歪の測定データを当該温度データで補償して正確な歪を得る。
【００５３】
同様に、例えば、演算制御手段１１が温度検出手段４から取得した温度の測定データが図１３中”ＣＨ８１”に示すような特性を有していたと想定する。
【００５４】
ここで、ブリルアン散乱光の周波数シフトは、以下の式（１）に示されるように、光ファイバの歪量”δε”に応じて変化する。但し、”∂νｂ／∂ε”はブリルアン周波数シフトの歪係数、”∂νｂ／∂Ｔ”はブリルアン周波数シフトの温度係数である。
【数１】
2007240294.tif 000003
【００５５】
このため、その周波数の変化量”δνｂ ”を検出することで歪量”δε”を得ることができるとされているが、式（１）から分かるように、温度のパラメータを含んでおり、温度変化”δＴ”によっても周波数シフトが生じる。
【００５６】
また、”δＴ”は温度変化量であるので、ラマン散乱光から得られた温度分布波形の温度を”ＴＲ ”、基準温度を”ＴＲＥＦ ”とすると、
δＴ＝ＴＲ −ＴＲＥＦ          （２）
となる。
【００５７】
事前に、ブリルアン周波数シフトの歪係数と温度係数を測定しておけば、ブリルアン散乱光の周波数シフト”δνｂ（ε、Ｔ）”と、ラマン散乱光のよる温度”ＴＲ ”の測定により、言い換えれば、温度補償により温度の影響を受けない歪量を得ることができる。
【００５８】
同様に、例えば、演算制御手段１１が歪検出手段３から取得した歪の測定データを、温度検出手段４から取得した温度の測定データで補償することにより、図１４中”ＣＨ９１”に示すような温度の影響を受けない特性を得ることができる。
【００５９】
すなわち、図１２中”ＣＨ７１”に示すような歪の測定データの特性から、図１３中”ＣＨ８１”に示すような温度の測定データの特性を除去した図１４中”ＣＨ９１”に示すような温度補償された歪の測定データの特性を得ることができる。
【００６０】
この結果、光ファイバにパルス光を入射させ発生した後方散乱光を光分岐手段でブリルアン散乱光とラマン散乱光とに分岐させ、ブリルアン散乱光に基づき歪を測定し、ラマン散乱光に基づき温度を測定して、歪の測定データを温度データで補償することにより、歪を精度良く測定することが可能になる。また、歪の測定と温度の測定は同時に行われるため測定時間を短縮することが可能になる。
【００６１】
なお、図２に示す実施例では光分岐手段ではラマン散乱光（アンチストークス光：１４５０ｎｍ帯）、ブリルアン散乱光（レイリー散乱光／フレネル散乱光（１５５０ｎｍ帯）を含む）及びラマン散乱光（ストークス光：１６５０ｎｍ帯）の順番で散乱光を分離抽出しているが、勿論、分離抽出の順番はどのような順番であっても構わない。
【００６２】
例えば、最初にラマン散乱光（ストークス光：１６５０ｎｍ帯）を抽出し、ブリルアン散乱光（レイリー散乱光／フレネル散乱光（１５５０ｎｍ帯）を含む）、ラマン散乱光（アンチストークス光：１４５０ｎｍ帯）の順番で散乱光を分離抽出しても良い。
【００６３】
また、光フィルタとしては反射膜を用いた反射型の光フィルタを例示したが、勿論、エタロン型の光フィルタや回折格子型の光フィルタであっても構わない。
【００６４】
また、光フィルタとしてはファイバカプラ型の光フィルタを例示したが、勿論、空間光型の光フィルタであっても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明に係る光ファイバ歪測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【図２】光分岐手段の構成を説明する説明図である。
【図３】光ファイバに入射されるパルス光のスペクトルの一例を示す特性曲線図である。
【図４】光ファイバから出射される後方散乱光の一例を示す特性曲線図である。
【図５】光フィルタの構成を説明する説明図である。
【図６】光フィルタの特性の一例を示す説明図である。
【図７】光フィルタの出力光のスペクトルの一例を示す特性曲線図である。
【図８】光フィルタの出力光のスペクトルの一例を示す特性曲線図である。
【図９】光フィルタの特性の一例を示す説明図である。
【図１０】光フィルタの出力光のスペクトルの一例を示す特性曲線図である。
【図１１】光フィルタの出力光のスペクトルの一例を示す特性曲線図である。
【図１２】歪の測定データの一例を示す特性曲線図である。
【図１３】温度の測定データの一例を示す特性曲線図である。
【図１４】温度補償された歪の測定データの一例を示す特性曲線図である。
【図１５】歪の温度補償を行う従来の光ファイバ歪測定装置の一例を示す構成ブロック図である。
【符号の説明】
【００６６】
１，８  光ファイバ
２  光路切替手段
３，９  歪検出手段
４，１０  温度検出手段
５，１１  演算制御手段
６  光源
７，５０  光分岐手段
１２  光方向性結合器
１３，１４  光フィルタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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