(57)【要約】【課題】  光ディスクが最初に挿入されてきた場合にあっては、偏芯量の測定を省いてとにかく再チャッキングを行うことによって、チャッキング完了までの時間短縮を図ることができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】  最初に光ディスク２１がトレイ１６に載置されて光ディスク装置内に挿入された際には、偏芯量の測定を実行させずに、光ディスク２１のチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段２３，２５を制御し、その後、再チャッキングされた光ディスク２１の偏芯量を測定するように偏芯量測定手段４４を制御し、偏芯量測定手段４４によって測定された偏芯量が予め設定された閾値４５を越えた場合には、光ディスク２１のチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段２３，２５を制御する。【選択図】        図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを載置するトレイと、
トレイに載置された光ディスクを装着するチャッキング手段と、
チャッキング手段によって装着された光ディスクの偏芯量を測定する偏芯量測定手段と、
偏芯量測定手段によって測定された偏芯量が予め設定された閾値を越えた場合には、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御する制御手段とを具備する光ディスク装置において、
制御手段は、
最初に光ディスクがトレイに載置されて光ディスク装置内に挿入された際には、前記偏芯量の測定を実行させずに、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御し、その後、再チャッキングされた光ディスクの偏芯量を測定するように偏芯量測定手段を制御し、偏芯量測定手段によって測定された偏芯量が予め設定された閾値を越えた場合には、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
チャッキングを解除して再チャッキング動作を実行するか否かをユーザが選択可能に設けられていることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、チャッキングされた光ディスクの偏芯量が閾値を越えている場合には、再チャッキングを行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、スピンドルモータの回転軸先端に設けられたターンテーブルに光ディスクを装着し、回転する光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからデータの読み取りや、光ディスクへのデータ書き込みを行う。
【０００３】
ターンテーブルは、光ディスクの中央に形成されたクランピングエリアにはまり込むような形状に形成され、光ディスクを挟んで対向する側に配置されたチャッキングプーリとの間で光ディスクをチャッキングする。ターンテーブルとチャッキングプーリとの間はマグネットの磁力により吸引力が働いており、ターンテーブルとチャッキングプーリとの間で光ディスクは確実にチャッキングされる。
【０００４】
しかし、光ディスクの挿入時の位置ずれや機構的な誤差などの原因により、チャッキング位置が光ディスクの中心に対してずれてしまう偏芯が生じることもある。特に高速再生、高速書き込みにより光ディスクが高速回転する場合には、偏芯があると光ピックアップがトラックを正確に追尾することができず、読み取りエラーや書き込みエラーが頻発する。
【０００５】
そこで、チャッキングによる偏芯の問題を解消するために、偏芯量を測定する偏芯量測定手段を設け、偏芯量が閾値を超えた場合にはチャッキングをやり直す（再チャッキングする）構成がすでに開示されている（例えば、特許文献１、特許文献２および特許文献３参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開平５−１０９１７１号公報
【特許文献２】特開平１０−１２４９９１号公報
【特許文献３】特開２００１−２５０３１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記のような各特許文献に開示された構成では、最初に光ディスクが挿入されてきた場合であっても偏芯量を測定した後に再チャッキングを実行するか否かを判断している。
しかし、最初に挿入されてきた状態においては偏芯量が大きい蓋然性が高いことが経験上判明しており、このような偏芯量が大きい可能性が高い場合にまで、偏芯量を測定することはチャッキング完了までに余計な時間を費やすことになってしまうという課題がある。
【０００８】
そこで、本発明は、上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、光ディスクが最初に挿入されてきた場合にあっては、偏芯量の測定を省いてとにかく再チャッキングを行うことによって、チャッキング完了までの時間短縮を図ることができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、光ディスクを載置するトレイと、トレイに載置された光ディスクを装着するチャッキング手段と、チャッキング手段によって装着された光ディスクの偏芯量を測定する偏芯量測定手段と、偏芯量測定手段によって測定された偏芯量が予め設定された閾値を越えた場合には、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御する制御手段とを具備する光ディスク装置において、制御手段は、最初に光ディスクがトレイに載置されて光ディスク装置内に挿入された際には、前記偏芯量の測定を実行させずに、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御し、その後、再チャッキングされた光ディスクの偏芯量を測定するように偏芯量測定手段を制御し、偏芯量測定手段によって測定された偏芯量が予め設定された閾値を越えた場合には、光ディスクのチャッキングを一旦解除し、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御することを特徴としている。
この構成を採用することによって、最初に光ディスクが挿入されてきたときは、偏芯量を測定せずに再チャッキングを行うので、偏芯量測定の時間を省くことによるチャッキング完了までの時間短縮を図れる。
【００１０】
また、チャッキングを解除して再チャッキング動作を実行するか否かをユーザが選択可能に設けられていることを特徴としてもよい。
この構成によれば、ユーザが再チャッキング不要であると考える場合には、再チャッキング動作を一切行わずに、迅速にデータ再生やデータ書き込みへ移行できる。また、再チャッキングを自動的に実行するモードをユーザが選択した場合には、光ディスク挿入時に再チャッキングの動作音がユーザには聞こえるため、再チャッキングを自動的に行うモードになっていることをユーザが確認することができ、ユーザの安心感が増す。
【発明の効果】
【００１１】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、偏芯量測定の時間を省くことによるチャッキング完了までの時間短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の光ディスク装置の実施例について、図１および図２に基づいて説明する。
光ディスク装置２０は、筐体１９内に、光ディスク２１を装着するターンテーブル２３が回転軸の先端に設けられたスピンドルモータ２２と、光ディスク２１にレーザ光を照射すると共に光ディスク２１から反射されたレーザ光を受光する光ピックアップ２４（図１、図２では図示せず）とを具備している。
筐体１９の上方はトップケース１８によって覆われるように設けられ、筐体の下方はボトムケース１７によって覆われるように設けられている。
【００１３】
光ディスク２１は、光ディスク装置２０に対して突出入動作可能に設けられたトレイ１６に載置される。トレイ１６は、ほぼ中央部に光ディスク２１を収容するための凹みであるディスク収容部１４が形成されている。このディスク収容部１４内に光ディスク２１が載置される。
光ディスク装置２０には、トレイ１６を突出入させるためにトレイ１６を駆動するトレイ駆動モータ２６（図１では図示せず）が設けられている。
【００１４】
ターンテーブル２３は、チャッキングプーリ２５との間で光ディスク２１を挟み込んで光ディスク２１をチャッキングする。チャッキングプーリ２５は、トップケース１８の上面に配置されている。ターンテーブル２３は磁石が内蔵されており、磁力によってチャッキングプーリ２５を吸引する。
トップケース１８の上面には、チャッキングプーリ２５を配置するための開口凹部１３が形成されている。開口凹部１３にチャッキングプーリ２５が配置されると、チャッキングプーリ２５の中心部分がトップケース１８の下面側に露出し、ターンテーブル２３と当接可能となる。
【００１５】
また、スピンドルモータ２２と光ピックアップ２４は、筐体１９に対してチルトするメカシャーシ１１に設けられている。メカシャーシ１１は、トレイ１６の駆動と連動してメカシャーシ１１をチルトさせるチルト動作部１０に接続されている。
トレイ１６が光ディスク装置２０の外部に突出しているときにはメカシャーシ１１の前面側が下降し、トレイ１６が光ディスク装置２０の内部に収納されているときにはメカシャーシ１１はほぼ水平状態となる。
【００１６】
メカシャーシ１１が水平状態となっているときに、ターンテーブル２３の上面がチャッキングプーリ２５の下面に接触して、磁力により固定される。このとき、トレイ１６に載置された光ディスク２１がターンテーブル２３とチャッキングプーリ２５との間に挟み込まれてチャッキングされる。
チャッキングの解除は、メカシャーシ１１の前面側を下降させるチルト動作によって行われる。すなわち、メカシャーシ１１の前面が下降すると、ターンテーブル２３はチャッキングプーリ２５との間の磁力に抗して下降するのでチャッキングが解除される。
【００１７】
次に、光ディスク装置の制御系の構成について図３に基いて説明する。
光ピックアップ２４は、レーザ光を出力するレーザダイオード（ＬＤ）２８と、受光素子であるフォトディテクタ（ＰＤ）３０とを有している。また、レーザ光を集光して光ディスク２１の記録層に焦点を合わせるための対物レンズ３１が光ピックアップ２４内に設けられている。
フォトディテクタ３０では、受光面で受けた光強度が電圧値に変換されて光ピックアップ２４の外部に設けられているＲＦアンプ３２に入力される。
光ピックアップ２４は、スレッド軸３３上に配置され、送りモータ３４の駆動により光ディスク２１の径方向に移動する。
【００１８】
ＲＦアンプ３２は、光ピックアップ２４から送られてくる光強度信号を２値化したＲＦ信号を生成するとともに、フォトディテクタ３０の各受光面で受光した光強度の差や和をとることにより、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）およびフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成することができる。トラッキングエラー信号は、後述する制御部４０にも入力される。
【００１９】
ＲＦアンプ３２を経てフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号は、サーボプロセッサ３６に入力される。
サーボプロセッサ３６は、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に基づき、フォーカスドライブ信号（ＦＤＯ信号）とトラッキングドライブ信号（ＴＤＯ信号）を光ピックアップ２４に出力してフォーカスサーボやトラッキングサーボを制御する。
【００２０】
さらにサーボプロセッサ３６は、制御部４０から入力される制御信号に基づいて、回転制御信号を出力してスピンドルモータ２２のスピンドルサーボを制御し、駆動制御信号を送りモータ３４へ出力して光ピックアップ２４のスレッドサーボを制御する。
【００２１】
制御部４０は、予め記憶されている制御プログラムに基づいて動作するＣＰＵ４２、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリ４３から構成されている。
制御部４０は、制御プログラムに基づいて、各部材に制御信号を出力することで光ディスク装置２０全体の動作を統括制御する。
【００２２】
制御部４０は、トラッキングエラー信号に基いて、偏芯量を測定する偏芯量測定手段４４を備えている。偏芯量測定手段４４は、ＣＰＵ４２が、メモリ４３内に予め記憶されている偏芯量測定プログラムを読み込んで実行することにより実現される。
【００２３】
制御部４０は、最初に光ディスクが挿入されてきたときは、チャッキングを一旦解除し、再チャッキングを実行する。さらに、再チャッキング後に偏芯量を測定し、測定した偏芯量を閾値４５と比較し、測定された偏芯量が閾値４５を越えている場合にはさらに再チャッキングを実行させる。閾値４５は、予め設定してメモリ４３内に記憶されている。
【００２４】
本実施例では、チャッキングはメカシャーシ１１のチルト動作によって行われ、メカシャーシ１１をチルトさせるチルト動作部１０はトレイ１６の突出入動作に連動してチルト動作を行わせる（図２参照）。
したがって、制御部４０がチャッキングを解除させるには、トレイ１６をイジェクト方向に移動させるようにトレイ駆動信号をトレイ駆動モータ２６へ出力することにより実行される。トレイ１６がイジェクト方向に移動すると、チルト動作部１０がメカシャーシ１１の前方側（イジェクト方向側）を下降させるチルト動作を行わせる。メカシャーシ１１の前方側が下降することによって、ターンテーブル２３が下降してチャッキングが解除される。
【００２５】
制御部４０は、トレイ１６をイジェクト方向に移動させてチャッキングを解除した後、再度トレイ１６を元のチャッキング位置に戻すようにトレイ駆動信号をトレイ駆動モータ２６へ出力する。トレイ１６がチャッキング位置に到達すると、トレイ１６の動作に連動してチルト動作部１０がメカシャーシ１１を水平となるように移動させるので、ターンテーブル２３が上昇して再チャッキングがなされる。
【００２６】
このように、再チャッキング前にトレイ１６を動作させることで、トレイ１６におけるディスク収容部１４内での光ディスク２１の位置が変化し、且つトレイ１６の位置も前の位置とは若干変化することも考えられ、再チャッキングした後に、偏芯量が正常になる可能性が高くなる。
【００２７】
そして制御部４０は、上述したような再チャッキング動作を、偏芯量が閾値４５以下となるまで繰り返し実行する。
【００２８】
なお、制御部４０の偏芯量測定手段４４が偏芯量の測定を実行する際には、フォーカスサーボとスピンドルサーボのみをオンとして、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとし、このときに得られるトラッキングエラー信号をモニタすることによって行われる。
【００２９】
トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとすることで、光ピックアップ２４内の対物レンズ３１は、光ディスク２１のトラックに対して追従せずに、その位置で固定されることとなる。すなわち、光ピックアップ２４の対物レンズ３１は、面振れ方向には固定されているので、偏芯があれば光ピックアップ２４から照射されるレーザ光はトラックを横切ることとなる。このため、制御部４０は、トラッキングエラー信号の振幅値をモニタして、光ピックアップ２４から照射されるレーザ光が所定時間内にトラックを横切った回数をカウントすることで、偏芯の度合いを測定できる。
【００３０】
制御部４０における具体的な偏芯量の算出方法は、フォーカスサーボとスピンドルサーボのみをオンとして、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとしたとき得られたトラッキングエラー信号を２値化し、ディスクが１回転する間に信号がＨＩとなった回数をカウントし、この回数を２で割り、トラックピッチを乗算した値を偏芯量とするように行っている。
【００３１】
なお、制御部４０は、上述したような偏芯量の測定および再チャッキング動作を全く実行せずに、挿入された光ディスクに対してすぐにイニシャライズ動作をすることもできる。
偏芯量の測定および再チャッキング動作をするか否かについては、ユーザが選択することができる。
【００３２】
偏芯量の測定および再チャッキング動作をするか否かの選択は、光ディスク装置２０自体に切換スイッチ（図示せず）を設けても良いし、ホストコンピュータ５０からのコマンド指示によって行われてもよい。
すなわち、光ディスク装置２０は、インターフェース部４８を介してホストコンピュータ５０に接続されており、ホストコンピュータ５０から各コマンドを受信する。偏芯量の測定および再チャッキング動作をするか否かについてユーザがホストコンピュータ５０を操作してコマンドを光ディスク装置２０に送信した場合、受信した制御部４０が、コマンド指示に基いて偏芯量の測定および再チャッキング動作をするか否かの動作切換を実行する。
【００３３】
次に、図４に基いて、本実施例におけるチャッキング動作の制御方法について説明する。
まずユーザは、偏芯量の測定および再チャッキングを実行して最適なマウントとなるように光ディスク装置２０内で自動的に設定をするベストマウントモードを選択するかどうかを判断する。ユーザは、ホストコンピュータ５０を操作することにより、ベストマウントモードで光ディスクをドライブするか否を選択する。ユーザの操作によりベストマウントモードを選択する場合にはホストコンピュータ５０はベストマウントモードを実行する指示内容のコマンドを光ディスク装置２０に出力し、ベストマウントモードを選択しない場合にはホストコンピュータ５０はベストマウントモードを実行しない指示内容のコマンドを光ディスク装置２０に出力する（ステップＳ１００）。
【００３４】
ベストマウントモードを選択しないコマンドを受信した光ディスク装置２０の制御部４０は、光ディスク２１が挿入されると（ステップＳ１０１）、偏芯量の測定および再チャッキング動作を何ら行わずにイニシャライズ動作を実行するように制御する（ステップＳ１１８）。
【００３５】
ベストマウントモードを選択するコマンドを受信した光ディスク装置２０では、光ディスク２１が載置されたトレイ１６が光ディスク装置２０内に進入してくると（ステップＳ１０２）、光ディスク２１がチャッキング位置に来たときに、チルト動作部１０によってメカシャーシ１１が上昇し、ターンテーブル２３がチャッキングプーリ２５との間で光ディスク２１のクランピングエリアを挟み込み、チャッキングが行われる（ステップＳ１０４）。
【００３６】
次に、制御部４０は、チャッキングを解除するようにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はイジェクト方向に移動するとともに（ステップＳ１０６）、トレイ１６のイジェクト方向への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が下降し、ターンテーブル２３が下降してチャッキングプーリ２５から離間し、光ディスク２１のチャッキングが解除される（ステップＳ１０８）。
トレイ１６のイジェクト方向への移動は、わずかな距離だけでよく、具体的には数ｃｍ程度移動させるだけでよい。
【００３７】
制御部４０は、再度チャッキングをさせるためにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はチャッキング位置へ移動するとともに（ステップＳ１１０）、トレイ１６のチャッキング位置への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が上昇し、ターンテーブル２３が上昇してチャッキングプーリ２５に当接し、光ディスク２１のチャッキングがなされる（ステップＳ１１２）。
【００３８】
次に、制御部４０の偏芯量測定手段４４が偏芯量を測定する（ステップＳ１１４）。
偏芯量の測定の際は、制御部４０がフォーカスサーボとスピンドルサーボをオンとし、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとすることで、光ピックアップ２４の対物レンズ３１を面振れ方向に固定した状態で測定が行われる。この状態で制御部４０は、スピンドルモータ２２を回転させ、入力されるトラッキング信号をモニタリングする。制御部４０は、トラッキング信号を２値化し、光ディスク１回転あたりにおいてトラッキング信号のＨＩとなった回数をカウントした値を２で割り、これにトラックピッチをかけたものを偏芯量とする。
【００３９】
制御部４０は、測定された偏芯量を、予め設定しておいた閾値４５と比較する（ステップＳ１１６）。
比較の結果、偏芯量が閾値以下である場合には、チャッキングは正常であるとしてイニシャライズ動作へ移行する（ステップＳ１１８）。
比較の結果、偏芯量が閾値を越えている場合には、ステップＳ１０２へ戻り、制御部４０は、チャッキングを解除するようにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はイジェクト方向に移動し（ステップＳ１０６）、トレイ１６のイジェクト方向への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が下降し、ターンテーブル２３が下降してチャッキングプーリ２５から離間し、光ディスク２１のチャッキングが解除される（ステップＳ１０８）。
【００４０】
制御部４０は、再度チャッキングをさせるためにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はチャッキング位置へ移動し（ステップＳ１１０）、トレイ１６のチャッキング位置への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が上昇し、ターンテーブル２３が上昇してチャッキングプーリ２５に当接し、光ディスク２１のチャッキングがなされる（ステップＳ１１２）。
【００４１】
再チャッキングの後、制御部４０の偏芯量測定手段は、偏芯量を測定し（ステップＳ１１４）、閾値４５と比較する（ステップＳ１１６）。
そして、制御部４０は、偏芯量が閾値以下となるまで、再チャッキング動作を繰り返し実行させる。
【００４２】
なお、上述した実施例では、チャッキングがメカシャーシのチルトによるものであり、メカシャーシのチルトはトレイの動作に基くものであった。すなわち、制御部がチャッキング解除や再チャッキングをさせる場合には、トレイを動作させる制御を行っていた。
しかし、本発明は、このような実施例に限定されることなく、チャッキング手段としてトレイの動作とは無関係に動作するものであってもよい。
【００４３】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】光ディスク装置の構成を示す組み立て分解図である。
【図２】光ディスク装置のチャッキング手段の構成について示す説明図である。
【図３】光ディスク装置の制御系のブロック図である。
【図４】光ディスク装置の制御方法について説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００４５】
１０  チルト動作部
１１  メカシャーシ
１３  開口凹部
１４  ディスク収容部
１６  トレイ
１７  ボトムケース
１８  トップケース
１９  筐体
２０  光ディスク装置
２１  光ディスク
２２  スピンドルモータ
２３  ターンテーブル
２４  光ピックアップ
２５  チャッキングプーリ
２６  トレイ駆動モータ
３０  フォトディテクタ
３１  対物レンズ
３２  ＲＦアンプ
３３  スレッド軸
３４  送りモータ
３６  サーボプロセッサ
４０  制御部
４２  ＣＰＵ
４３  メモリ
４４  偏芯量測定手段
４５  閾値
４８  インターフェース部
５０  ホストコンピュータ
【図１】
2007234116.tif 000003
【図２】
2007234116.tif 000004
【図３】
2007234116.tif 000005
【図４】
2007234116.tif 000006