(57)【要約】【課題】  ワイヤハーネスや基板の交換を伴う不正行為を検知する。【解決手段】  電源部２０５にバックアップ電源２ｂを設けるとともに、不正行為の際に取り外されるメイン基板１や第２ワイヤハーネスＷＨ２を経由してバックアップ電力を、サブ基板２の電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）２ｃに供給する。メイン基板１や第２ワイヤハーネスＷＨ２が取り外されると、ＲＴＣ２ｃのＶＬＦ（Voltage Low Flag）フラグがセットされる。これを判定部２ｄで検知し、必要に応じて音や光などの人間が感知できるような方法でエラー報知を行う。【選択図】        図５
2007222250.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するためのバックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記バックアップ電源から電力の供給を受ける電圧低下検出半導体素子と、
前記電圧低下検出半導体素子の電源投入時のフラグ又は信号に基づき前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定する判定部とを備え、
前記電圧低下検出半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受けることを特徴とする遊技機。
【請求項２】
遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源切断時に電力を供給するためのバックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び第２半導体素子と、
前記第1半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第２半導体素子は、前記第１ワイヤハーネス又は前記第３ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とする遊技機。
【請求項３】
遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するための第１バックアップ電源及び第２バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記第１バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び前記第２バックアップ電源から電力の供給を受ける第２半導体素子と、
前記第1半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記第１バックアップ電源及び前記第２バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記第１バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第２半導体素子は、前記第１ワイヤハーネス又は前記第３ワイヤハーネスを通じて前記第２バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とする遊技機。
【請求項４】
遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するための第１バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、電源断時に電力を供給するための第２バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記第１バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び前記第２バックアップ電源から電力の供給を受ける第２半導体素子と、
前記第１半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記第１バックアップ電源及び前記第２バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記第１バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とする遊技機。
【請求項５】
前記第２バックアップ電源の容量は、前記第１バックアップ電源の容量よりも小さいことを特徴とする請求項３又は４記載の遊技機。
【請求項６】
前記判定部は、前記第１半導体素子に関する判定結果が電圧低下を示し、かつ、前記第２半導体素子に関する判定結果が電圧低下を示していないとき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しが有ったと判定し、エラー報知又は遊技停止のうちの少なくともいずれかを行うことを特徴とする請求項２乃至請求項５いずれかに記載の遊技機。
【請求項７】
前記判定部は、電源切断時に前記揮発性記憶素子のデータの特徴値を求め、これを電源切断時の特徴値として保持し、電源投入時に前記揮発性記憶素子のデータの特徴値を求め、これを前記電源切断時の特徴値と比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定することを特徴とする請求項２乃至請求項５いずれかに記載の遊技機。
【請求項８】
前記判定部は、前記特徴値を得るために、前記揮発性記憶素子の全データ又は一部のデータについてチェックサムを求めること、論理積、論理和又は排他的論理和を含む論理演算を行うこと、又は、ハッシュ関数によりハッシュ値を求めることの少なくとも何れかを行うことを特徴とする請求項７記載の遊技機。
【請求項９】
前記判定部は、電源切断時に前記揮発性記憶素子の全部又は一部のデータを退避させ、電源投入時に前記揮発性記憶素子の全部又は一部のデータを読み取り、これを退避させたデータと比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定することを特徴とする請求項２乃至請求項５いずれかに記載の遊技機。
【請求項１０】
前記判定部は、前記揮発性記憶素子の予め定められたアドレスに予め定められたデータを書き込み、電源投入時に前記揮発性記憶素子の前記予め定められたアドレスのデータを読み出し、これを前記予め定められたデータと比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定することを特徴とする請求項２乃至請求項５いずれかに記載の遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、スロットマシンなどの遊技機に関し、特に、複数の基板と、これらの間を電気的に接続するワイヤハーネスとを備える遊技機において、不正な電子部品を追加して行う不正行為を抑止できる遊技機に関する。
【背景技術】
【０００２】
パチンコ店などの遊技場に設置して使用されるパチンコ機やスロットマシン等の遊技機は、パチンコ球やメダル等の遊技媒体に一定の価値が与えられて、ゲームを行って獲得した遊技媒体を種々の景品に交換することができる。遊技機には、その筐体内部に、遊技媒体の供給に基づいて作動させるランプ装置や音声発生装置などの様々な各種駆動装置及びこれら駆動装置を制御させるために対応させた制御回路装置を備えており、遊技者が遊技を行う際にこれらを適宜作動させることによって遊技を興趣に溢れたものとしている。また、近年では、所定の識別情報（図柄）を変動表示し得るリール表示装置または液晶画像表示装置等の図柄可変表示装置を内蔵し、所定条件を満たしたときに識別情報を変動させた後に停止表示させるように図柄可変表示装置を作動させるものが主流となっている。これらの装置は制御回路装置によって制御されている。
【０００３】
最近の遊技機の内部に配設されている制御回路装置は、基板上に設けられたＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）が、制御プログラムに従って電子制御を行うものが一般的である。制御プログラムは、マスクＲＯＭ（ｒｅａｄ ｏｎｌｙ ｍｅｍｏｒｙ）のような基板上に装着されたＩＣチップにデータとして記憶されており、ＣＰＵは、遊技状態に応じてＩＣチップから制御プログラムのデータを逐次読み出して実行することによって制御を行っている。
【０００４】
遊技機に対する不正行為が大きな問題になっている。不正行為にはさまざまなものがある。ＲＯＭを交換したり、メイン基板そのものを交換することのほか、不正行為のひとつに遊技機の扉を開け、基板や複数の基板を結ぶワイヤハーネス（a wire harness：組み電線。電線やケーブルを結束したもの。以下、単に「ハーネス」と記すことがある）に不正な電子部品を取り付けるといったやり方がある。実際には、予め不正な電子部品を搭載したコネクタやハーネスを正規のものと交換しているようである。不正な電子部品は、不正行為を行う者にとって遊技が有利になるような不正な処理を行うものである。
【０００５】
不正行為を大別すれば、ハーネスの交換、つまりコネクタの挿抜を伴うものと、そうでないものがある。前者の例として、メイン基板の交換、コネクタやハーネスの交換があり、後者の例としてＲＯＭの交換がある。以下の説明において、もっぱら前者のハーネスの交換（コネクタの挿抜）を伴う不正行為について述べる。
【０００６】
ハーネスが不正なものに交換された場合でも、その後遊技が可能であり、しかも遊技機の外部からでは不正な電子部品を発見することができない。従来の遊技機では、遊技中もしくは遊技待機中にハーネスなどの信号線を接続する媒体が一時的に外されても、それが接続されている先の基板上の電子部品等が動作をしなくなるだけで、それ以外の基板や電子部品等には影響を及ぼさないものであった。このような理由から、上記不正行為を防止することは困難であった。
【０００７】
上記不正行為を防止するための技術として以下の特許文献１に記載のものがある。
【０００８】
【特許文献１】特開２００５−５８６３７号公報「遊技機の不正配線検出装置及び方法並びにプログラム」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特許文献１の技術は、検出回路でハーネスの両端の信号を比較し、これが一致しないときに不正な電子部品が取り付けられたと判断するものであった。しかし、特許文献１のやり方は、当該不正な電子部品が実際に動作して信号を改変しない限り不正行為を検知することができなかった。不正な電子部品が取り付けられたことを、その直後に検知し報知することはできなかった。不正行為の実行を許さないためには、当該不正な電子部品の取り付けを速やかに検知することが望ましい。
【００１０】
本発明は、不正な電子部品が取り付けられたことを、その直後の電源投入時に検知し報知することを可能にする。すなわち、前記複数の基板間を接続するハーネスに不正な操作（例えばハーネスの交換や不正なコネクタの挿抜）が加えられたときにこれを検知し、音や光などの人間が感知できるような方法でエラー状態を知らせることで、容易に不正な部品を取り付けることができない遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この発明は、遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するためのバックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記バックアップ電源から電力の供給を受ける電圧低下検出半導体素子と、
前記電圧低下検出半導体素子の電源投入時のフラグ又は信号に基づき前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定する判定部とを備え、
前記電圧低下検出半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受けることを特徴とするものである。
【００１２】
この発明は、遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源切断時に電力を供給するためのバックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び第２半導体素子と、
前記第1半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第２半導体素子は、前記第１ワイヤハーネス又は前記第３ワイヤハーネスを通じて前記バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とするものである。
【００１３】
この発明は、遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するための第１バックアップ電源及び第２バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記第１バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び前記第２バックアップ電源から電力の供給を受ける第２半導体素子と、
前記第1半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記第１バックアップ電源及び前記第２バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記第１バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第２半導体素子は、前記第１ワイヤハーネス又は前記第３ワイヤハーネスを通じて前記第２バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とするものである。
【００１４】
この発明は、遊技に係る抽選処理を行うメイン基板と、前記メイン基板からコマンド信号を受けて演出処理を行うサブ基板と、前記メイン基板及び前記サブ基板に電力を供給する電源部と、前記メイン基板に電力を供給するための第１ワイヤハーネスと、前記サブ基板に電力を供給するための第２ワイヤハーネス及び第３ワイヤハーネスとを備える遊技機において、
前記電源部に設けられ、電源断時に電力を供給するための第１バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、電源断時に電力を供給するための第２バックアップ電源と、
前記サブ基板に設けられ、前記第１バックアップ電源から電力の供給を受ける第１半導体素子及び前記第２バックアップ電源から電力の供給を受ける第２半導体素子と、
前記第１半導体素子及び前記第２半導体素子の出力に基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無又は前記第１バックアップ電源及び前記第２バックアップ電源の劣化を判定する判定部と、を備え、
前記第１半導体素子は、前記第２ワイヤハーネスを通じて前記第１バックアップ電源から電力の供給を受け、
前記第１半導体素子又は前記第２半導体素子の一方は、電源電圧が低下したときにそのことを示すフラグをセットするか又は信号を出力する電圧低下検出半導体素子であり、他方は揮発性記憶素子であることを特徴とするものである。
【００１５】
前記第２バックアップ電源の容量は、好ましくは、前記第１バックアップ電源の容量よりも小さい。
【００１６】
前記判定部は、前記第１半導体素子に関する判定結果が電圧低下を示し、かつ、前記第２半導体素子に関する判定結果が電圧低下を示していないとき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しが有ったと判定し、エラー報知又は遊技停止のうちの少なくともいずれかを行うようにしてもよい。
【００１７】
前記判定部は、例えば、電源切断時に前記揮発性記憶素子のデータの特徴値を求め、これを電源切断時の特徴値として保持し、電源投入時に前記揮発性記憶素子のデータの特徴値を求め、これを前記電源切断時の特徴値と比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定する。
【００１８】
前記判定部は、例えば、前記特徴値を得るために、前記揮発性記憶素子の全データ又は一部のデータについてチェックサムを求めること、論理積、論理和又は排他的論理和を含む論理演算を行うこと、又は、ハッシュ関数によりハッシュ値を求めることの少なくとも何れかを行う。
【００１９】
前記判定部は、例えば、電源切断時に前記揮発性記憶素子の全部又は一部のデータを退避させ、電源投入時に前記揮発性記憶素子の全部又は一部のデータを読み取り、これを退避させたデータと比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定する。
【００２０】
前記判定部は、例えば、前記揮発性記憶素子の予め定められたアドレスに予め定められたデータを書き込み、電源投入時に前記揮発性記憶素子の前記予め定められたアドレスのデータを読み出し、これを前記予め定められたデータと比較することにより電圧低下の有無を判定し、
電源投入時に前記電圧低下検出半導体素子の前記フラグ又は前記信号に基づき電圧低下の有無を判定し、
前記揮発性記憶素子に関する電圧低下の判定結果と前記電圧低下検出半導体素子に関する電圧低下の判定結果とに基づき、前記第２ワイヤハーネスの取り外しの有無を判定する。
【発明の効果】
【００２１】
この発明によれば、電源部にバックアップ電源を設けるとともに、不正行為の際に取り外される第２ワイヤハーネスを経由してバックアップ電源を電圧低下検出半導体素子（又は揮発性記憶素子）に供給することにより、前記第２ワイヤハーネスが取り外されたことを検知し、必要に応じて音や光などの人間が感知できるような方法でエラー報知を行う。これにより不正行為を抑止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
この発明の実施の形態に係る遊技機（スロットマシン）について図面を参照して説明する。
【００２３】
図１は前扉を閉めた状態を示すスロットマシンの正面図、図２は前扉を１８０度開いた状態を示すスロットマシンの正面図を示す。
【００２４】
図１及び図２中、１００はスロットマシンを示すもので、このスロットマシン１００は、図１に示すように、スロットマシン本体１２０と、このスロットマシン本体１２０の前面片側にヒンジ等により開閉可能に取り付けられた前扉１３０とを備えている。前記前扉１３０の前面には、図１に示すように、ほぼ中央にゲーム表示部１３１を設け、ゲーム表示部１３１の右下隅部に、遊技者がメダルを投入するためのメダル投入口１３２を設け、メダル投入口１３２のさらに下側には、メダル投入口１３２から投入され、詰まってしまったメダルをスロットマシン１００外に強制的に排出するためのリジェクトボタン１３３が設けられている。
【００２５】
また、前記ゲーム表示部１３１の左下方には、ゲームを開始するためのスタートスイッチ１３４を設けてあり、３つのリールのそれぞれに対応して３つのストップボタン１４０を設けてある。前扉の下端部中央には、メダルの払出し口１３５を設けてある。
【００２６】
スロットマシン本体１２０の内部には、図２に示すように、その内底面に固定され、内部に複数のメダルを貯留して、貯留したメダルを前扉１３０の前面に設けた払出し口１３５に１枚ずつ払い出すためのホッパ装置１２１が設置されている。このホッパ装置１２１の上部には、上方に向けて開口し、内部に複数のメダルを貯留するホッパタンク１２２を備えている。スロットマシン本体１２０の内部には、前扉１３０を閉めたときにゲーム表示部１３１が来る位置に三個の回転リールからなるリールユニット２０３が設置されている。ゲーム表示部１３１には開口部が設けられていて、それを通して遊技者が前記リールユニット２０３の各回転リールの図柄を見ることができるようになっている。ホッパ装置１２１の上側のリールユニット２０３との間には電源部２０５が設けられている。
【００２７】
前記前扉１３０の裏面には、図２に示すように、メダル（コイン）セレクタ１が、前扉１３０の前面に設けられたメダル投入口１３２の裏側に取り付けられている。このメダルセレクタ１は、メダル投入口１３２から投入されたメダルの通過を検出しながら、当該メダルをホッパ装置１２１に向かって転動させ、外径が所定寸法と違う異径メダルや、鉄又は鉄合金で作製された不正メダルを選別して排除するとともに、１ゲームあたりに投入可能な所定枚数以上のメダルを選別して排除するための装置である。
【００２８】
また、メダルセレクタ１の下側には、図２に示すように、その下部側を覆って前扉１３０の払出し口１３５に連通する導出路１３６が設けられている。メダルセレクタ１により振り分けられたメダルは、この導出路１３６を介して払出し口１３５から遊技者に返却される。
【００２９】
図３は電源部２０５のパネルの詳細を示す。
図３において、電源スイッチ２０５１は電源のオン／オフスイッチであり、電源部パイロットランプ２０５２は電源がオンのとき点灯するランプ（ＬＥＤ）であり、打ち止め有無スイッチ２０５３はメダルの払い出し枚数を制限する打ち止めを「有り」または「無し」に設定するスイッチである。打ち止め有無スイッチ２０５３は通常「無し」に設定されていて、頻繁に使用されることはない。設定キースイッチ２０５４は設定変更を行うためのスイッチであり、設定変更／リセットスイッチ２０５５は設定値を変更したり、装置をリセットするためのスイッチであり、ＡＣ１００Ｖパイロットランプ２０５６は筐体の電源であるＡＣ１００Ｖが供給されていることを示すランプであり、ＡＣ電源出力及び電源ケーブル２０５７は電源を供給するためのものである。
【００３０】
図４は発明の実施の形態に係るスロットマシンの機能ブロック図を示す。
この図において電源系統についての表示は省略されている。スロットマシン１００は、その主要な処理装置としてメイン基板１とこれからコマンドを受けて動作するサブ基板２とを備える。なお、少なくともメイン基板１は、外部から接触不能となるようにケース内部に収容され、これら基板を取り外す際に痕跡が残るように封印処理が施されている。
【００３１】
メイン基板１は、遊技者の操作を受けて内部抽選を行ったり、リールの回転・停止やメダルの払い出しなどの処理を行うためのものである。メイン基板１は、予め設定されたプログラムに従って制御動作を行うＣＰＵと、前記プログラムを記憶する記憶手段であるＲＯＭおよび処理結果などを一時的に記憶するＲＡＭを含む。
【００３２】
サブ基板２は、メイン基板１からコマンド信号を受けて内部抽選の結果を報知したり各種演出を行うためのものである。サブ基板２は、前記コマンド信号に応じた予め設定されたプログラムに従って制御動作を行うＣＰＵと、前記プログラムを記憶する記憶手段であるＲＯＭおよび処理結果などを一時的に記憶するＲＡＭを含む。コマンドの流れはメイン基板１からサブ基板２への一方のみであり、逆にサブ基板２からメイン基板１へコマンド等が出されることはない。
【００３３】
メイン基板１にはスタートスイッチ１３４，ストップボタン１４０，リールユニット（リール駆動装置を含む）７０，リール位置検出回路７１、ホッパ駆動部８０、ホッパ８１及びホッパ８１から払い出されたメダルの枚数を数えるためのメダル検出部８２（これらは前述のホッパ装置１２１を構成する）が接続されている。サブ基板２には液晶表示装置の制御基板２００、スピーカ２０１、ＬＥＤ基板２０２などの周辺基板（ローカル基板）が接続されている。
【００３４】
上述のように、メイン基板１及びサブ基板２は、ＣＰＵを中心に構成され、ＲＯＭ、ＲＡＭ、Ｉ／Ｏ等を備えている。そして、ＣＰＵ（処理部）が遊技者の操作を受けてＲＯＭ（記憶部）に記憶されたプログラムを読み込むことで所定の動作を行う。具体的には、スタートスイッチ１３４及びストップボタン１４０の操作に基づきリールユニット７０に内蔵される３つの回転リールの回転及び停止を制御するとともに、ランプやスピーカ等の表示を制御する。ＣＰＵが動作する際に必要な一時的なデータなどはＲＡＭ（一般にＲＡＭは揮発性メモリであり、その電源断によりデータは原則失われるが、本遊技機においてはその一部又は全部についてバッテリなどのバックアップ電源が用意されていることがあり、この場合は電源断でもデータは失われない）に記憶される。ＣＰＵはＲＯＭに記録されたプログラムに従って所定の動作を行うとともに、処理に必要な一時的なデータをＲＡＭに記録するとともに記録されたデータを必要に応じて読み出して参照する。
【００３５】
スロットマシンで遊技を楽しもうとする遊技者は、まずメダル貸機（図示しない）等から遊技媒体であるメダルを借り、メダル投入装置のメダル投入口１３２に直接メダルを入れることができる。スタートスイッチ１３４は回転リールの斜め下方に位置するレバーであって、遊技メダルの投入を条件に、リールユニット７０の駆動を開始させる。リールユニット７０は、ストップボタン１４０によりその駆動が停止される。リールユニット７０は、三個の回転リールから構成されている。そして、各回転リールは、合成樹脂からなる回転ドラムと、この回転ドラムの周囲に貼付されるテープ状のリールテープとを備えている。このリールテープの外周面には、複数個（例えば２１個）の図柄が表示されている。
【００３６】
本発明の実施の形態１に係る電源部２０５とメイン基板１及びサブ基板２の電源系統（バックアップ電源に関する部分のみ）を図５に示す。同図は本発明の実施の形態１の動作を説明するために必要な部分のみを示し、サブ基板２上のＲＯＭその他の表示、アドレス信号やデータ信号の表示を省略している。
【００３７】
図５において、２ｂは電源部２０５に設けられ、電源切断時にサブ基板２の電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）２ｃへ電力を供給するためのバックアップ電源である。バックアップ電源２ｂは、リチウム電池等の二次電池であるが、本発明は二次電池に限定されない。一次電池やコンデンサなどの蓄電器であってもよい。２ｃは、バックアップ電源から電力の供給を受けるリアルタイムクロックＩＣ（半導体素子。後述のように電源電圧の低下を検出する機能をもつ「電圧低下検出半導体素子」である。以下、ＲＴＣと記す）である。ＲＴＣ２ｃは市販のＩＣであって、例えば、年・月・日・曜日・時・分・秒のカレンダー機能やカウンタ機能とともに、時刻アラーム・インターバルタイマー・時刻変更割り込みなどの機能を備えるものである。２ｄはメイン基板１とサブ基板２を接続するワイヤハーネスＷＨ２の取り外しの有無を判定する判定部である。判定部２ｄは、ＲＴＣ２ｃからデータやフラグを読み出したり、ＲＴＣ２ｃにデータやフラグを書き込むことができる。判定部２ｄは、例えば所定のプログラムで動作する図示しないＣＰＵで実現される。サブ基板２のＣＰＵが判定部２ｄのＣＰＵを兼ねることもできる。判定部２ｄはメイン基板１とサブ基板２を接続するワイヤハーネスＷＨ２の取り外しの有無を判定する以外にも、バックアップ電源２ｂの劣化を判断することもある。２ｅは、電源部２０５の電源（直流電圧）ＶＤＤを受けてバックアップ電源２ｂに供給し充電を行うとともに、電源断のバックアップ時にバックアップ電源２ｂの電流が電源ＶＤＤに逆流しないようにするためのダイオードである。
【００３８】
図５において、サブ基板２のＲＴＣ２ｃ用のバックアップ電源２ｂは電源部２０５に搭載され、その出力はワイヤハーネスＷＨ１、メイン基板１内部の配線Ｐ１及びワイヤハーネスＷＨ２を経由してサブ基板２に到達し、ＲＴＣ２ｃに電力を供給するように構成されている。図５において、Ｐ２０５はバックアップ電源２ｂから電源部２０５の出力端子（ワイヤハーネスＷＨ１に接続されるもの）までの配線を示し、Ｐ１はメイン基板１の入力端子（ワイヤハーネスＷＨ１に接続されるもの）から出力端子（ワイヤハーネスＷＨ２に接続されるもの）までの配線を示し、Ｐ２はサブ基板２の入力端子からＲＴＣ２ｃの電源入力端（少なくともバックアンプ電源２ｂからの電力を受けるもの）までの配線を示す。なお、Ｓ１はメイン基板１の出力信号線、Ｓ２はサブ基板の入力信号線を示す。
【００３９】
本発明の実施の形態１に係る装置／方法は、バックアップ電源２ｂを電源部２０５に設け、サブ基板２上にある電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）２ｃへのバックアップ電源の供給を、電源部２０５とメイン基板１を接続するワイヤハーネスＷＨ１、メイン基板１とサブ基板２を接続するワイヤハーネスＷＨ２、及び、メイン基板１に設けられた配線Ｐ１を経由して行うものである。ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれかが外された場合には（少なくともワイヤハーネスＷＨ２が外された場合、これは信号線を含み、メイン基板１やサブ基板２を交換する際には取り外す必要がある）、ＲＴＣ２ｃへのバックアップ電源の供給がなくなるようにし、そして、電源投入時にＲＴＣ２ｃの出力（データやフラグ）の内容を確認することで、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたかどうか判定することを特徴とする。
【００４０】
ＲＴＣ２ｃはその内部にフラグレジスタを持ち、少なくともその１ビットは電源電圧が低下したときにセットされるフラグ（ＶＬＦ（Voltage Low Flag）ビット）である。ＶＬＦビットがセット（＝１）であることは、電源電圧の低下などによって計時データ等が消失している可能性があることを意味し、レジスタ等を初期設定することが推奨されている。
【００４１】
ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２及びメイン基板１のいずれも外されていなければ電源バックアップは正常に行われており、電源投入時において内部フラグのＶＬＦビットはセットされていない（＝０）はずである。ＶＬＦビットがセットされているとすればワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された可能性があると判断できる（バックアップ電源２ｂが劣化したときも同様の現象が生じるが、この場合も不正行為検知と同様にエラー報知する必要があるので、バックアップ電源劣化の場合も含めて以下に述べる処理を行っても問題は生じない）。
【００４２】
図７に電源スイッチをオンにしたときの処理フローチャートを示す。図８（ａ）に電源スイッチをオフにしたときのタイミングチャートを示し、図８（ｂ）に電源スイッチをオンにしたときのタイミングチャートを示す。これらの図を参照して発明の実施の形態１の動作を説明する。
【００４３】
図８（ａ）において電源スイッチがオンのとき、電源電圧は規定値である（期間Ｐ１）。期間Ｐ１では、ダイオード２ｅを経由して電源ＶＤＤがＲＴＣ２ｃに供給されるとともにバックアップ電源２ｂを充電している。電源スイッチがオンからオフにされたとき（時刻Ｔ１）サブ基板２等に供給される電源電圧はすぐには低下せず、電源スイッチのオフからしばらく時間が経ってから電源電圧がゼロになる（時刻Ｔ２）。この間（期間Ｐ２）でサブ基板２のＣＰＵ等は所定の処理を行うことができる。電源スイッチがオンからオフにされたとき（時刻Ｔ１）の直後にその旨を示す電源断信号が有効になるので、ＣＰＵ等は電源断信号を契機に電源終了時の処理を実行することができる。
【００４４】
電源ＶＤＤの電圧が低下すると、図５の太線Ｐ２０５，Ｐ１，Ｐ２で示すように、ＲＴＣ２ｃに対してバックアップ電源２ｂから電力が供給される。したがって、電源スイッチがオフにされたとしても、ＲＴＣ２ｃのフラグ（ＶＬＦビット）がセットされることはない。
【００４５】
次に、電源スイッチがオンになると電源電圧が上昇し速やかに規定値に達する。その際に通常はリセット信号が発生し、その後の期間においてＣＰＵ等は初期動作を開始する。初期動作のひとつとして図７の処理を行う。
【００４６】
すなわち、ＲＴＣ２ｃのフラグレジスタを調べ（Ｓ１０）、ＶＬＦビットがセットされているかどうか調べる（Ｓ１１）。ＶＬＦビットがセットされていないとき（ＮＯ）、ＲＴＣ２ｃが電源断中もバッテリバックアップされたことを意味するから、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２及びメイン基板１のいずれもが外されず、かつ、バックアップ電源２ｂが正常であると判断できる。これは正常状態であるので通常の起動処理を行う（Ｓ１３）。
【００４７】
これに対し、電源断の期間Ｐ３においてワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されると（メイン基板１やそのＲＯＭを交換する際、及び、そのＲＯＭを有効にするためには、一度は電源を切断する必要がある）、図６に示すようにワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された時点でＲＴＣ２ｃへの電力の供給が絶たれる。バックアップ電源２ｂからＲＴＣ２ｃへの電力の供給線の少なくとも一部はワイヤハーネスＷＨ２を経由するように配置されているためである。図６の状態になるとＲＴＣ２ｃのＶＬＦビットがセット（＝１）され、再度電源が供給されても当該ビットがリセット（＝０）されることはない。その結果、Ｓ１１の判定結果はＹＥＳとなり、エラー処理を行い、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたことを報知する（Ｓ１２）。これ以降は通常の起動処理を行わないので、遊技を行うことができなくなる。なお、電源断の期間以外でもＶＬＦビットのセットを検出したときにエラー処理を行うようにしてもよい。
【００４８】
発明の実施の形態１によれば、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）を介して半導体素子（ＲＴＣ）へのバックアップ電源の供給を行い、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合に半導体素子へのバックアップ電源の供給が遮断されるようにし、バックアップ不良を発生させる。電源投入時には判定部により半導体素子のフラグのチェックが行われるため、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合にはバックアップ不良を検出することになる。ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された可能性があると判断し、エラー状態などに移行して遊技を停止させる。当該エラー状態に、バックアップ電源の劣化によるバックアップ不良という意味とともに、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたという意味を持たせるようにした。以上のような構成により、ワイヤハーネスＷＨ２の不正な交換を検知しエラー報知することができ、不正行為を抑止することが可能になる。なお、メイン基板１の交換も検知し報知することが可能である。
【００４９】
なお、以上の説明において、バックアップ電源の供給の受ける電源電圧低下検出半導体素子としてリアルタイムクロックＩＣ（ＲＴＣ）を例にとり説明を加えたが、これは一例であって他の半導体素子を使用することもできる。例えば、電源低下時にこれを検出して信号（例えばリセット信号）を出力するＩＣを用いるとともに、例えばレジスタや不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭなど）によりその出力を電源投入時まで保持するようにしてもよい。
【００５０】
発明の実施の形態２．
発明の実施の形態２について図面を参照して説明を加える。
図９は、発明の実施の形態２に係るバックアップ電源系統を示すブロック図である。図９において、２ｂは電源切断時に電力を供給するためのバックアップ電源である。２ｃ−１はバックアップ電源２ｂから電力の供給を受けるＲＴＣである。２ｃ−２はバックアップ電源２ｂから電力の供給を受けるＲＡＭ（揮発性記憶素子）である。ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２は電源断時に同じバックアップ電源２ｂから電力の供給を受けるが、バックアップ電源２ｂからの配線のルートが異なっている（この点はさらに後述する）。２ｄはワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しの有無を判定する判定部である。判定部２ｄはＲＴＣ２ｃ−１，ＲＡＭ２ｃ−２からデータ（フラグ）を読み出したり、ＲＴＣ２ｃ−１，ＲＡＭ２ｃ−２にデータを書き込む（フラグをセット／リセットする）ことができる。判定部２ｄは、例えば所定のプログラムで動作する図示しないＣＰＵで実現される。サブ基板２のＣＰＵが判定部２ｄのＣＰＵを兼ねることもできる。判定部２ｄはワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しの有無を判定する以外にも、バックアップ電源２ｂの劣化を判断することもある。２ｅは基板の電源（直流電圧）ＶＤＤを受けてバックアップ電源２ｂに供給し充電を行うとともに、電源断のバックアップ時にバックアップ電源２ｂの電流が電源ＶＤＤに逆流しないようにするためのダイオードである。
【００５１】
図９において、バックアップ電源２ｂからＲＴＣ２ｃ−１への電力は、電源部２０５の配線Ｐ２０５、ワイヤハーネスＷＨ１、メイン基板１の配線Ｐ１、ワイヤハーネスＷＨ２及びサブ基板２の配線Ｐ２を経由している（発明の実施の形態１と同じ）。これに対し、ＲＡＭ２ｃ−２のバックアップ電源２ｂからの電力は、電源部２０５の配線Ｐ２０５、ワイヤハーネスＷＨ１、メイン基板１の配線Ｐ１から分岐された配線Ｐ１’、ワイヤハーネスＷＨ３及びサブ基板２の配線Ｐ２１を経由している。すなわち、ワイヤハーネスＷＨ２を取り外すと、ＲＴＣ２ｃ−１についてバックアップ不良が生じるが、ＲＡＭ２ｃ−２については生じない。なお、ワイヤハーネスＷＨ３は、原則として外す必要のない、バックアップ電源供給専用のものであるとする。
【００５２】
バックアップ電源の系統を図１０に示すようにしてもよい。すなわち、分岐を電源部２０５内で行い、その配線Ｐ２０５’をワイヤハーネスＷＨ３１で直接サブ基板２の配線Ｐ２１に接続するのである。図９及び図１０の構成によれば、後述のように、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれかが取り外されたことを、バックアップ電源２ｂの劣化によるバックアップ不良と区別して検知することができる。
【００５３】
本発明の実施の形態２に係る装置／方法は、サブ基板２上にある揮発性記憶素子（ＲＡＭ）２ｃ−２へのバックアップ電源の供給を、ワイヤハーネスＷＨ２を経由しないで（図９ではワイヤハーネスＷＨ３を経由して、図１０ではワイヤハーネスＷＨ３１を経由して）行うが、ＲＴＣ２ｃ−１へのバックアップ電源の供給を、ワイヤハーネスＷＨ２を介して行う。ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合にはＲＴＣ２ｃ−１へのバックアップ電源の供給がなくなるようにし、そして、電源投入時にＲＴＣ２ｃ−１に関して電源電圧の低下があったかどうかと、ＲＡＭ２ｃ−２の内容が電源断時と同じかどうか（不一致であればＲＡＭ２ｃ−２に関して電源電圧の低下があったことを意味する）をそれぞれ確認することで、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたかどうかを、バックアップ電源２ｂの劣化と区別して判定することを特徴とする。
【００５４】
ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２及びメイン基板１のいずれかもが外されていなければバックアップは正常に行われており、電源切断時と電源投入時（つまり電源断の間）にＲＴＣ２ｃ−１が電源電圧の低下を検出することはないはずである。ＲＴＣ２ｃ−１が電源電圧の低下を検出したとすれば、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された可能性があると判断できる。
【００５５】
バックアップ電源２ｂが劣化したときも同様にＲＴＣ２ｃ−１は電源電圧の低下を検出するが、この場合はＲＡＭ２ｃ−２の内容にも変化が生じる。ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２それぞれについて電源電圧の低下の有無の確認を行い、これらの結果を総合的に判断することで、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合を、バックアップ電源２ｂが劣化した場合と区別することができる。
【００５６】
電源断の間すなわち電源切断時と電源投入時でＲＡＭ２ｃ−２の内容に変化が生じたかどうかを判定するために、発明の実施の形態２ではチェックサム（検査合計）を利用する。チェックサムとは、ＲＡＭの全アドレスのデータ又は一部のアドレスのデータについて求めた総合計である。ひとつのデータの１ビットが変化したときでもこれをチェックサムで検出することができる。チェックサムはＲＡＭ２ｃ−２のデータ全体をそれぞれ表現する特徴値と言える。
【００５７】
図１１に電源スイッチをオフにしたときの処理フローチャートを示し、図１２に電源スイッチをオンにしたときの処理フローチャートを示す。発明の実施の形態２においても、タイミングチャートは図８と同じであるので、これを参照する。
【００５８】
図８（ａ）において電源スイッチがオンのとき、電源電圧は規定値である（期間Ｐ１）。期間Ｐ１では、電源ＶＤＤがＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２にそれぞれ供給されるとともにバックアップ電源２ｂを充電している。電源スイッチがオンからオフにされたとき（時刻Ｔ１）サブ基板２等に供給される電源電圧はすぐには低下せず、電源スイッチのオフからしばらく時間が経ってから電源電圧がゼロになる（時刻Ｔ２）。この間（期間Ｐ２）でサブ基板２のＣＰＵ等は所定の処理を行うことができる。電源スイッチがオンからオフにされたとき（時刻Ｔ１）、その直後にその旨を示す電源断信号が有効になるので、ＣＰＵ等は電源断信号を契機に電源終了時の処理を実行することができる。具体的には期間Ｐ２において図１１の処理を行う。
【００５９】
すなわち、ＲＡＭのチェックサムを求め（Ｓ２１）、求めたチェックサムをＲＡＭの任意のアドレス（予めどのアドレスにするか決めておく）にそれぞれ記憶する（Ｓ２２）。ＲＡＭ２ｃ−２にはバックアップ電源が供給されているから、電源断の際のＲＡＭ２ｃ−２の特徴値（チェックサム）が電源断の期間（図８の期間Ｐ３）においてＲＡＭ２ｃ−２で保持されることになる。
【００６０】
図８（ａ）の時刻Ｔ２以降の期間Ｐ３において電源電圧はゼロであるが、図９及び図１０に太線で示すようにＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２に対してバックアップ電源２ｂから電力が供給される。したがって、ＲＴＣ２ｃ−１は電源電圧の低下を検出せず、ＲＡＭ２ｃ−２の内容は保持されたままである。
【００６１】
次に、図８（ｂ）に示すように、電源スイッチがオンになると（時刻Ｔ３）電源電圧が上昇し速やかに規定値に達する。その際に通常はリセット信号が発生し、その後の期間Ｐ４においてＣＰＵ等は初期動作を開始する。初期動作のひとつとして図１２の処理を行う。
【００６２】
すなわち、ＲＡＭ２ｃ−２のチェックサムを求め（Ｓ３０）、電源断の際にＲＡＭ２ｃ−２に記憶させたチェックサムを読み出し（Ｓ３１）、両者を比較する（Ｓ３２）。Ｓ３２の比較処理は電源電圧低下、すなわちバックアップ電源２ｂの劣化の有無の判断を行うものである。
【００６３】
ＲＡＭ２ｃ−２に関してＳ３１で読み出したチェックサムがＳ３０で求めたチェックサムに一致した場合（Ｓ３２で一致）、ＲＡＭ２ｃ−２の内容が電源断中も保持されたことを意味する。バックアップ電源２ｂが正常であると判断できるから、次にワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が取り外されたかどうかを判定するためにＳ３４以降の処理を行う。
【００６４】
チェックサムが一致しなかったら（Ｓ３２で不一致）、バックアップ電源２ｂが劣化したことを意味するから、エラー処理（Ｓ３３）を行いその旨の報知を行う。
【００６５】
次に、ＲＴＣ２ｃ−１のフラグレジスタを調べ（Ｓ３４）、ＶＬＦビットがセットされているかどうか調べる（Ｓ３５）。ＶＬＦビットがセットされていないとき（ＮＯ）、ＲＴＣ２ｃ−１が電源断中もバッテリバックアップされたことを意味するから、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が取り外されなかったと判断できる。これは正常状態であるので通常の起動処理を行う（Ｓ３７）。なお、この際にＲＡＭ２ｃ−２に記憶されたチェックサムをクリアするようにしてもよい。
【００６６】
これに対し、電源断の期間においてワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が交換されると（メイン基板１やそのＲＯＭを交換する際、及び、そのＲＯＭを有効にするためには、一度は電源を切断する必要がある）、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された時点でＲＴＣ２ｃ−１への電力の供給が絶たれる。バックアップ電源２ｂからＲＴＣ２ｃ−１への電力の供給線の少なくとも一部はワイヤハーネスＷＨ２を経由するように配置されているためである。ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が取り外されると、ＲＴＣ２ｃ−１のＶＬＦビットがセット（＝１）され、再度電源が供給されても当該ビットがリセット（＝０）されることはない。その結果、Ｓ３５の判定結果はＹＥＳとなり、エラー処理を行い、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が交換されたことを報知する（Ｓ３６）。これ以降は通常の起動処理を行わないので、遊技を行うことができなくなる。なお、電源断の期間以外でもＶＬＦビットのセットを検出したときにエラー処理を行うようにしてもよい。
【００６７】
発明の実施の形態２によれば、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）を介して電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）へのバックアップ電源の供給を行い、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合に電圧低下検出半導体素子へのバックアップ電源の供給が遮断されるようにし、バックアップ不良を発生させる。電源投入時には電圧低下検出半導体素子に関して電圧低下の有無のチェックが行われるため、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合には電圧低下が有ったことを検出することになり、不正行為の可能性があると判断し、エラー状態などに移行して遊技を停止させる。
【００６８】
他方、揮発性記憶素子（ＲＡＭ）は、そのバックアップ電力の供給線がワイヤハーネスＷＨ２を経由しないので、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が取り外されても電圧は低下せず、その特徴値が一致する。そこで、電圧低下検出半導体素子のみに関して電圧の低下を検出したときに、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたと判定し、エラー処理を行う。このように処理することで、バックアップ電源の劣化によるバックアップ不良と区別して、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたということを判定できるようにした。
【００６９】
なお、以上の説明で、特徴値としてチェックサムを求める場合を例にとり説明を加えたが、本発明はこれに限定されない。揮発性記憶素子（ＲＡＭ）の内容に固有の特徴値を求めることができればよく、例えば、論理積、論理和又は排他的論理和を含む論理演算を行ったり、又は、ハッシュ関数によりハッシュ値を求めるようにしてもよい。ハッシュ関数とは、与えられた原文から固定長の疑似乱数を生成する演算手法であり、生成した値は「ハッシュ値」と呼ばれる。「要約関数」「メッセージダイジェスト」とも呼ばれる。不可逆な一方向関数を含むため、ハッシュ値から原文を再現することはできず、また同じハッシュ値を持つ異なるデータを作成することは極めて困難である。
【００７０】
以上の説明で、特徴値をＲＡＭ２ｃ−２自身に書き込んだが、本発明はこれに限定されない。バックアップ電源の供給されるほかのＲＡＭ又は不揮発性記憶素子（ＥＥＰＲＯＭなど）に書き込むようにしてもよい。
【００７１】
発明の実施の形態２の変形例．
上記例ではワイヤハーネスＷＨ２経由でバックアップ電源を供給する素子（第１半導体素子）に電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）を適用し、ワイヤハーネスＷＨ２を経由せずにバックアップ電源を供給する素子（第２半導体素子）に揮発性記憶素子（ＲＡＭ）を適用したが、本発明はこれに限定されない。ワイヤハーネスＷＨ２経由でバックアップ電源を供給する素子（第１半導体素子）に揮発性記憶素子（ＲＡＭ）を適用し、ワイヤハーネスＷＨ２を経由せずにバックアップ電源を供給する素子（第２半導体素子）に電圧低下検出半導体素子（ＲＴＣ）を適用するようにしてもよい。
【００７２】
この場合、図１２のＳ３０乃至Ｓ３２の処理とＳ３４乃至Ｓ３５の処理を入れ替える。
【００７３】
すなわち、まず、ＲＴＣ２ｃ−１のフラグレジスタを調べ、ＶＬＦビットがセットされているかどうか調べる。ＶＬＦビットがセットされていないとき、ＲＴＣ２ｃ−１が電源断中もバッテリバックアップされたことを意味するから、バックアップ電源２ｂが正常であると判断できるので、次にＲＡＭ２ｃ−２に関する電圧低下の有無を判定する。ＶＬＦビットがセットされているときは、バックアップ電源２ｂが劣化したことを意味するから、エラー処理（Ｓ３３）を行いその旨の報知を行う。
【００７４】
電源断の期間Ｐ３においてワイヤハーネスＷＨ２が外された場合、ワイヤハーネスＷＨ２が外された時点でＲＡＭ２ｃ−２へのバックアップ電力の供給が絶たれる。ＲＡＭ２ｃ−２の内容は失われ、再度電源が供給されても回復することはない（でたらめな内容になる）。そのため、ＲＡＭ２ｃ−２に関して、読み出したチェックサム（電源断時のチェックサム）が電源投入時に求めたチェックサムに一致しなくなる。ＲＡＭ２ｃ−２の内容が失われるから電源投入時に求めたチェックサムは電源断時に求めたものと当然異なるし、記憶していたチェックサム自体も失われるからである。そこでエラー処理を行い、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外されたことを報知する（Ｓ３６）。
【００７５】
発明の実施の形態２の変形例も、発明の実施の形態２と同様の作用効果を奏する。
【００７６】
発明の実施の形態３．
発明の実施の形態２では揮発性記憶素子の内容の特徴値を利用して電源電圧の低下を検出したが、特徴値を求めることなくデータそのものを比較することにより同様の検出を行うこともできる。その例を列挙する。なお、以下の例は発明の実施の形態２の変形例にも適用できる。
【００７７】
（１）ＲＡＭ２ｃ−２の全データを退避させることにより、例えばバックアップ電源の供給されるほかのＲＡＭ又は不揮発性記憶素子（ＥＥＰＲＯＭなど）に書き込むことにより、電源断中も保持する。退避とは、一般的には、主記憶装置(main storage)上の特定の記憶位置(location)、領域(region)、レジスタ(register)などの内容を他の目的に使用するために、一時的に主記憶装置の他の記憶場所又は補助記憶に格納しておくことである。
電源切断時にＲＡＭ２ｃ−２の全データを読み取り、これらを他のＲＡＭ又は不揮発性記憶素子に書き込む。電源投入時にＲＡＭ２ｃ−２の全データを読み取り、これを退避したデータと比較する。比較の結果、全部又は一部のデータについて不一致が生じたとき、電源電圧が低下したと判定する。
【００７８】
（２）ＲＡＭ２ｃ−２の一部のデータを退避させることにより、例えばバックアップ電源の供給されるほかのＲＡＭ又は不揮発性記憶素子（ＥＥＰＲＯＭなど）に書き込むことにより、電源断中も保持する。
電源切断時にＲＡＭ２ｃ−２の一部のデータを読み取り、これらを他のＲＡＭ又は不揮発性記憶素子に書き込む。電源投入時にＲＡＭ２ｃ−２の一部のデータ（電源切断時と同じアドレスのもの）を読み取り、これを退避したデータと比較する。比較の結果、全部又は一部のデータについて不一致が生じたとき、電源電圧が低下したと判定する。なお、ひとつのアドレスのデータのみを退避するようにしてもよい。電源断によりＲＡＭの全てのアドレスのデータが影響を受けるので、ひとつのアドレスのデータを監視するだけでも判定可能である。
【００７９】
（３）ＲＡＭ２ｃ−２の一部のデータを、ＲＡＭ２ｃ−２自身の予め用意された領域に書き込む（退避させる）。他の点は上記（２）と同様である。
【００８０】
発明の実施の形態３は、発明の実施の形態２と同様の作用効果を奏する。
【００８１】
発明の実施の形態４．
ＲＡＭの特定のアドレスに特定の値を書き込んでおき、電源投入時にそれが維持されているかどうか判断するようにしても、上記発明の実施の形態１乃至３と同様の効果を奏する。ＲＡＭの特定のアドレスは、少なくとも電源断時において常に特定の値であると決めておき、電源投入時にそれが維持されていなければ電源電圧が低下したと判断するのである。この場合、特徴値を求める必要はないし、電源断時にＲＡＭの内容を読み取る必要もない。
【００８２】
発明の実施の形態４に係る事前データ書き込み処理のフローチャートを図１３に、電源スイッチをオンしたときの処理のフローチャートを図１４に示す。図１３の特定のアドレスに特定の値を書き込む処理は電源断時（図８の期間Ｐ２）に行ってもよいし、それ以外の任意のタイミング（初期化時など）に行ってもよいし、定期的又は不定期に繰り返し行うようにしてもよい。
【００８３】
発明の実施の形態４は、発明の実施の形態１と同様の作用効果を奏する。
【００８４】
発明の実施の形態５．
本発明の実施の形態５に係るバックアップ電源系統の接続図を図１５に示す。同図は本発明の実施の形態５の動作を説明するために必要な部分のみを示し、サブ基板２上のＣＰＵやＲＯＭの表示や、アドレス信号やデータ信号の表示を省略している。
【００８５】
図１５において、２ｂ−１及び２ｂ−２は電源切断時にそれぞれＲＴＣ２ｃ−１及びＲＡＭ２ｃ−２に電力を供給するためのバックアップ電源である。バックアップ電源２ｂ−１は電源部２０５に設けられ、バックアップ電源２ｂ−２はサブ基板２に設けられている。バックアップ電源２ｂ−２の容量は、バックアップ電源２ｂ−１のそれよりも小さいように設定されている。例えば、ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２の消費電流が同じで、かつ、ＲＴＣ２ｃ−１で電圧低下と判定する電圧値（しきい値）とＲＡＭ２ｃ−２の内容が失われる電圧値が同じであるような場合に、バックアップ電源２ｂ−２を１本の二次電池で構成し、バックアップ電源２ｂ−１を２本の二次電池で構成したり、あるいはそのように異なる容量の二次電池を用いたりするということである。一般的には、電池（電源）の容量は、どれだけの電流をどれだけの時間供給することができるかで表され、例えば流すことのできる電流（Ａ：アンペア）とその時間（Ｈ：時間(Hour））の積（ＡＨ）で表される。ただし、本発明の実施の形態の説明において使用する「容量の大小」は、単なる電池（電源）そのものの容量の大小のことではない（詳しくは後述する）。バックアップ電源２ｂ−２の容量がバックアップ電源２ｂ−１のそれよりも小さいということは、バックアップ電池２ｂ−１と２ｂ−２を遊技機に装着した状態で、バックアップ電池２ｂ−２のほうが先に蓄えた電気エネルギーが尽きる（上がる）ことを意味する。一般的な運用をしている限り、遊技機においてバックアップ電源が上がることはないので、そのような場合はバックアップ電源自体の性能が劣化したと考え、バックアップ電源を交換することが望ましい（実際は２つのバックアップ電源２ｂ−１と２ｂ−２を一緒に交換することが多い）。
【００８６】
２ｃ−１はバックアップ電源（第１バックアップ電源）２ｂ−１から電力の供給を受けるＲＴＣである。２ｃ−２はバックアップ電源（第２バックアップ電源）２ｂ−２から電力の供給を受けるＲＡＭ（揮発性記憶素子）である。ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２は電源断時にバックアップ電源から電力の供給を受けるが、電力供給を受けるバックアップ電源が異なり、しかも、バックアップ電源からの配線のルートが異なっている。２ｄはワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しの有無を判定する判定部である。２ｅ−１は基板の電源（直流電圧）ＶＤＤを受けてバックアップ電源２ｂ−１に供給し充電を行うとともに、電源断のバックアップ時にバックアップ電源２ｂ−１の電流が電源ＶＤＤに逆流しないようにするためのダイオードである。２ｅ−２はバックアップ電源２ｂ−２に設けられているダイオードであり、同様の機能を果たす。
【００８７】
図１５においてバックアップ電源２ｂ−１は電源部２０５に搭載されているが、バックアップ電源２ｂ−１からＲＡＭ２ｃ−１への電力の供給線の少なくとも一部はワイヤハーネスＷＨ２を経由するように配置されている。これに対し、バックアップ電源２ｂ−２はサブ基板２に設けられ、これからＲＡＭ２ｃ−２への電力の供給線は外部を経由しないようになっている。すなわち、バックアップ電源２ｂ−２とＲＡＭ２ｃ−２間の接続はサブ基板２上にのみ存在し、その外部に出ることはない。
【００８８】
バックアップ電源の系統を図１６に示すようにしてもよい。電源部２０５にバックアップ電源２ｂ−２を設け、その出力をワイヤハーネスＷＨ３１で直接サブ基板２の配線Ｐ２１に接続するのである。
【００８９】
図１５及び図１６の構成によれば、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれかが取り外されたことを、バックアップ電源２ｂの劣化によるバックアップ不良と区別して検知することができる。
発明の実施の形態５における判定部２ｄの処理は、発明の実施の形態２〜４の場合と同様であるので、その説明は省略する。
【００９０】
本発明の実施の形態の説明において使用する「容量の大小」の意味について説明を加える。
バックアップ電源２ｂ−１が劣化したときも、ワイヤハーネスＷＨ２が外されたときと同様にＲＴＣ２ｃ−１は電源電圧の低下を検出するが、バックアップ電源２ｂ−１の容量はバックアップ電源２ｂ−２の容量よりも大きいので、先にバックアップ電源２ｂ−２の電力が尽きてＲＡＭ２ｃ−２の内容にも変化が生じる。ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２それぞれについて電源電圧の低下の有無の確認を行い、これらの結果を総合的に判断することで、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）が外された場合をバックアップ電源が劣化した場合と区別することができる。
【００９１】
バックアップ電源２ｂ−２がバックアップ電源２ｂ−１よりも容量が小さくなるように構成されているので、自然に放電した場合には必ずＲＡＭ２ｃ−２の方が先にバックアップ不良になる。容量の異なるバックアップ電池を複数用意する理由は、ＲＴＣとＲＡＭでバックアップ不良になる電圧と消費電流に差があるためである。仮に、ＲＴＣの消費電力との関係でバックアップ電池２ｂ−１が先に電力尽きるとすれば、ワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しが無いのにワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しがあったと判断されてしまう頻度が高くなる。容量に差を設けることで、自然放電時にはＲＡＭ２ｃ−２が確実に先にバックアップ不良となり、誤警報すなわち誤ってワイヤハーネスＷＨ１、ＷＨ２又はメイン基板１のいずれか（少なくともワイヤハーネスＷＨ２）の取り外しがあった（不正行為があった）とエラー報知することを避けることができる。
【００９２】
このような観点から、自然放電時にはＲＡＭ２ｃ−２が確実に先にバックアップ不良となるように、バックアップ電源２ｂ−１の容量と同２ｂ−２の容量の差を、ＲＴＣ２ｃ−１のバックアップ不良になる電圧及び／又は消費電流とＲＡＭ２ｃ−２のバックアップ不良になる電圧及び／又は消費電流の差に基づき決定することが好ましい。例えば、ＲＴＣ２ｃ−１の消費電流とＲＡＭ２ｃ−２の消費電流の比が１：２であれば、バックアップ電源２ｂ−１の容量とバックアップ電源２ｂ−２の容量の比が１：１であっても「バックアップ電源２ｂ−２はバックアップ電源２ｂ−１よりも容量が小さい」と言うことができる。また、ＲＴＣ２ｃ−１の消費電流とＲＡＭ２ｃ−２の消費電流の比が１：１０であれば、バックアップ電源２ｂ−１の容量とバックアップ電源２ｂ−２の容量の比が１：５であっても「バックアップ電源２ｂ−２はバックアップ電源２ｂ−１よりも容量が小さい」と言うことができる。このように、本発明の実施の形態に係る容量の大小は、そのバックアップ電源が対象としているデバイスの消費電力の大小（及び／又はバックアップ不良となる電圧の高低）との関係で相対的に判断されるものであり、単に電池そのものの容量の大小ではないことに注意されたい（なお、ＲＴＣ２ｃ−１とＲＡＭ２ｃ−２のバックアップ時の消費電力（及び／又はバックアップ不良となる電圧の高低）に関する特性が同じであれば、通常の意味の容量の大小が本発明の実施の形態でも適用できることは言うまでもない）。
【００９３】
発明の実施の形態５によれば、発明の実施の形態２等と同様の作用効果を奏するとともに、ＲＴＣ用のバックアップ電源の容量をＲＡＭ用のバックアップ電源の容量よりも小さくすることで、誤ったエラー報知を行うことを避けることができ、信頼性を向上できる。
【００９４】
本発明は、以上の実施の形態に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で、種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】前扉を閉めた状態を示すスロットマシンの正面図である。
【図２】前扉を１８０度開いた状態を示すスロットマシンの正面図である。
【図３】スロットマシンの電源部の正面図である。
【図４】遊技機のブロック図である。
【図５】発明の実施の形態１に係るバックアップ電源系統を示すブロック図である。
【図６】発明の実施の形態１に係るバックアップ電源系統で第２ワイヤハーネスを外した状態を示すブロック図である。
【図７】発明の実施の形態１に係る電源スイッチのオン時の処理フローチャートである。
【図８】発明の実施の形態１の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図９】発明の実施の形態２に係るバックアップ電源系統を示すブロック図である。
【図１０】発明の実施の形態２に係る他のバックアップ電源系統を示すブロック図である。
【図１１】発明の実施の形態２に係る電源スイッチのオフ時の処理フローチャートである。
【図１２】発明の実施の形態２に係る電源スイッチのオン時の処理フローチャートである。
【図１３】発明の実施の形態４に係る事前データ書き込み処理のフローチャートで
【図１４】発明の実施の形態４に係る電源スイッチのオン時の処理フローチャートである。
【図１５】発明の実施の形態５に係るバックアップ電源系統を示すブロック図である。
【図１６】発明の実施の形態５に係る他のバックアップ電源系統を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００９６】
１    メイン基板
２    サブ基板
２ｂ、２ｂ−１、２ｂ−２  バックアップ電源
２ｃ、２ｃ−１  ＲＴＣ（電圧低下検出半導体素子）
２ｃ−２  ＲＡＭ（揮発性記憶素子）
２ｄ  判定部
２ｅ，２ｅ−１，２ｅ−２  ダイオード
１００    スロットマシン
１２０    スロットマシン本体
１２１    ホッパ装置
１２２    ホッパタンク
１３０    前扉
１３１    ゲーム表示部
１３２    メダル投入口
１３３    リジェクトボタン
１３４    スタートスイッチ
１３５    払出し口
１３６    導出路
１４０    ストップボタン
２０５    電源部
Ｐ１、Ｐ２，Ｐ２０５  バックアップ電源の配線
ＷＨ    ワイヤハーネス（ハーネス）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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