(57)【要約】【課題】トラックピッチ異常によるトラックのズレを検出し、さらにそのずれ量を測定する。【解決手段】リードヘッドＲによって位置決めされるライトヘッドＷにより、磁気ディスクの偶数トラックＴ０、Ｔ２、・・・に一つおきにデータを書き込み、次に奇数トラックＴ１、Ｔ３・・・にデータを書き込む。データは、ライト位置ＷＰに書き込まれ、リードヘッドＲはリード位置ＲＰに位置決めされて、順に書き込まれたデータを読み出す。その結果リードエラーが起きるか否かを判定する。さらに、リードエラーが起きたトラックＴ２〜Ｔ６の位置のずれを、リードヘッドのオフセットマージンあるいはリード信号のＡＧＣゲインを利用して測定する。【選択図】図５
2007164887.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクのトラックに一つおきにデータを書き込むステップと、
残りのトラックにデータを書き込むステップと、
データが書き込まれたすべてのトラックからデータを読み出すステップと、
リードエラーが起きるか否かを判定するステップと
を少なくとも有することを特徴とする磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項２】
さらに、リードエラーが起きたトラックにデータが書き込まれ、該トラックの周囲はデータが書き込まれていない状態を形成するステップと、
前記トラックの一方側の、前記トラックから離れた位置からデータの読み出しを開始して、読み出し位置を前記トラックに近づけながら、所定の読み出し位置で前記データを読み出すステップと、
前記データを読み出す際のエラーレートが所定のエラーレートに達した第１の位置を求めるステップとを有し、
少なくとも該第１の位置に基づいて、前記トラックの位置を算出することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項３】
さらに、前記トラックの他方側の、前記トラックから離れた位置から前記データの読み出しを開始して、読み出し位置を前記トラックに近づけながら各位置で前記データを読み出すステップと、
前記データの読み出す際のエラーレートが所定のエラーレートに達した第２の位置を求めるステップと、
前記第１の位置と前記第２の位置とに基づいて、前記トラックの位置を算出することを特徴とする請求項２に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項４】
さらに、読み出しエラーが起きたトラックにデータが書き込まれ、該トラックの周囲はデータが書き込まれていない状態を形成するステップと、
前記トラックから離れた位置からデータの読み出しを開始して、リード位置を前記トラックに近づけながら、所定のリード位置で前記データを読み出すステップと、
得られたリード信号が通過するＡＧＣ回路のゲインを測定するステップとを有し、
前記ゲインの値に基づいて、前記トラックの位置を求めることを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項５】
前記リード位置と前記ゲインとの関係を示すゲイングラフの面積を求め、面積が半分となるリード位置を前記トラックの位置とすることを特徴とする請求項４に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置の試験方法に関し、特にトラックピッチ異常に起因するトラックのずれを検出する磁気ディスク装置の試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では一般に、ライトヘッドを用いて磁気ディスクにデータあるいは情報を記録し、リードヘッドを用いて記録されたデータあるいは情報を再生する。近年の磁気ディスク装置では、ライトヘッドとリードヘッドを兼用することなく、それぞれ別のヘッドを用いる場合が多い。ライトヘッドでデータをディスクに書き込む場合には、磁気ディスクにサーボパターンとしてあらかじめ書き込まれている位置決め情報すなわちサーボ情報をリードヘッドで読みとって、読み取ったサーボ情報に基づいてライトヘッドを所定のトラックに位置決めして、データを書き込む。リードヘッドによりデータを読み出す場合は、リードヘッドで読み取ったサーボ情報に基づいて、リードヘッドを所定のトラックに位置決めして行う。
【０００３】
したがって、サーボパターンは、トラックの位置を正確に指示するように、一定の送りピッチすなわちトラックピッチに従って書き込まれなければならない。しかしながら、サーボパターンをディスクに書き込む場合、トラックピッチにずれが生じることがある。このトラックピッチのずれは、サーボパターンを書き込むためにライトヘッドを移動させるボイスコイルモータの回りしぶり、あるいはサーボトラック・ライタで用いるヘッドを移動させるためのプッシュピンの当たり具合、さらには周辺環境の振動、衝撃等で生じる。なお、このようなトラックピッチのずれは、磁気ディスク装置に組み立てた後に、磁気ディスクにサーボパターンを書き込む場合でも、あるいは磁気ディスク装置に組み立てる前の磁気ディスクにサーボパターンを書き込む場合でも、同様に起こり得るものである。
【０００４】
トラックピッチのずれにより、トラック幅が無視できない程度に狭くなったトラックは、使用することができない。また、リードヘッドとライトヘッドが異なる場合には、ヘッドを搭載するアームの振れ角によってリードヘッドとライトヘッドとの関係が変化するのに加えて、トラック幅のずれによってもリードヘッドとライトヘッドとの関係が変化する。すなわち、リードヘッドとライトヘッドがまたぐトラックにトラック幅の狭いあるいは広いトラックがあると、リードヘッドを基準にライトヘッドを所定のトラックに正確に位置決めする制御ができなくなる。
【０００５】
なお、従来、アームの振れ角すなわちヨー角によって起こるずれを補正することは、公知である（特許文献１参照）が、トラックピッチ異常に起因するトラックのズレを検出ししようとするものではない。
【特許文献１】特開２０００−３２２８４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、上記問題点に鑑み、トラックピッチのズレを検出して、そのずれ量を測定する磁気ディスク装置の試験方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上記課題を解決するために、磁気ディスクのトラックに一つおきにデータを書き込み、次に残りのトラックにデータを書き込み、データが書き込まれたすべてのトラックからデータを読み出して、リードエラーが起きるか否かを判定する磁気ディスク装置の試験方法を提供する。
【０００８】
本発明の一態様によれば、さらにリードエラーが起きたトラックにデータが書き込まれ、かつ該トラックの周囲はデータが書き込まれていない状態を形成し、トラックの一方側の、前記トラックから離れた位置からデータの読み出しを開始して、リード位置を前記トラックに近づけながら、所定のリード位置で前記データを読み出して、前記データを読み出す際のエラーレートが所定のエラーレートに達した第１の位置を求めて、前記トラックの位置を算出することができる。
【０００９】
また、前記トラックの他方側の、前記トラックから離れた位置から前記データの読み出しを開始して、リード位置を前記トラックに近づけながら各位置で前記データを読み出し、前記データの読み出しのエラーレートが所定のエラーレートに達した第２の位置を求め、前記第１の位置と前記第２の位置とに基づいて、前記トラックの位置を算出することができる。
【００１０】
本発明の他の態様によれば、さらにリードエラーが起きたトラックにデータが書き込まれ、該トラックの周囲はデータが書き込まれていない状態を形成し、前記トラックから離れた位置からデータの読み出しを開始して、リード位置を前記トラックに近づけながら、所定のリード位置で前記データを読み出し、得られたリード信号が通過するＡＧＣ回路のゲインを測定して、前記ゲインの値に基づいて、前記トラックの位置を求めることができる。
また、前記リード位置と前記ゲインとの関係を示すゲイングラフの面積を求め、面積が半分となるリード位置を前記トラックの位置とすることもできる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明は、トラックを一つおきに書き込むステップを繰り返して全トラックにライトした後読み出すことによって、サーボ情報書き込み時の送りピッチのムラすなわちトラックピッチ異常に起因するトラックのずれを正確に検出することができる。また、トラックのずれを測定することによって、信頼性の高い試験が実施できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
図１に、本発明が対象とする磁気ディスクを用いた磁気ディスク装置１００の一例の概略構成を示す。磁気ディスク装置１００は、ディスク・エンクロージャ１０とプリント回路基板２０を有する。ディスク・エンクロージャ１０は、磁気記憶媒体であるハードディスク１１と、ハードディスク１１を回転させるための直流モータ（DCM）１３と、ハードディスク１１上のデータを読み書きするヘッド１５と、ヘッド１５を支持するアーム１６と、アーム１６を回転させてヘッド１５をハードディスク１１の半径方向に移動させるボイスコイルモータ１７と、ヘッド１５により読み出されたリード信号を増幅するとともに、ヘッド１５によって書き込まれるライト信号を増幅するヘッドアンプ１９を備える。
【００１３】
プリント回路基板２０には、直流モータ（DCM）１３及びボイスコイルモータ１７への供給電流を制御するサーボコントローラ２７と、ヘッドアンプ１９からのリード信号を受信するとともに、ライト信号を送信するリードチャネル（RDC）２３と、データを処理するハードディスク・コントローラ２１と、データバッファ２２と、制御を行うマイクロコントロール・ユニット２５とが配置される。ハードディスク・コントローラ２１は、ホストコンピュータ３０に対しては、データを送信するとともに命令を受信し、リードチャネル２３に対しては、ライト信号を送信し、リード信号を受信する。また、これらの信号は、データバッファ２２にも格納される。マイクロコントロール・ユニット２５は、ハードディスク・コントローラ２１からアドレス情報を得て、またリードチャネル２３から位置情報を得て、サーボコントローラ２７、ボイスコイルモータ１７、リードチャネル２３を制御する。
【００１４】
本発明による磁気ディスクの試験は、通常図１のような磁気ディスク装置における試験として行われるが、まず、本発明の試験方法の理解を助けるために、本発明の検出対象であるトラックピッチ異常を具体的に説明する。
【００１５】
サーボパターンが書き込まれた磁気ディスクには、サーボパターンによって定まる同心円状のトラックが形成され、このトラックにデータが書き込まれ、読み出される。トラックにデータが書き込まれた状態を図式的に図２に示す。図２（ａ）は、サーボパターンが正常に形成された場合で、トラックＴ０〜Ｔ３までトラックピッチＬ０が一定にそろっている。（ｂ）は、トラックＴ１とＴ２との間で、何らかの異常によりトラックピッチＬ１が短く（Ｌ０＞Ｌ１）なった場合である。図からわかるように、トラック１に書き込まれたデータの一部は、その後トラック２に書き込まれるデータにより上書きされてしまう。この場合、トラック１のデータを読み出すにはエラーレートが高くなり、読み出しができなくなる。逆に、トラック２に書き込まれたデータの一部は、その後トラック１にデータが書き込まれると、そのデータによって上書きされてしまう。このように、トラック１及びトラック２は、正常な使用ができなくなる。
【００１６】
さらに、図３（a）に示すように、例えばＭＲ（Magneto Resistive）ヘッド、ＧＭＲ（Giant Magneto Resistive）ヘッド、ＴｕＭＲ（Tunneling Magneto Resistive）ヘッド等のヘッド１５であって、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとをそれぞれ持つ場合には、直線上に配置されたリードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとの間に物理的な間隔が生じる。これは、水平磁気記録あるいは垂直磁気記録のいずれに対応するヘッドであっても同様である。
【００１７】
このようなヘッド１５を用いる場合、ヘッド１５のオントラック位置の変更には、通常ロータリー式のＶＣＭによるヘッド位置制御が行われている。具体的には、図３（ｂ）に示すように、アーム１６の先端に配置された磁気ヘッド１５が、ボイスコイルモータにより駆動されるアーム１６の回動に伴い、磁気ディスク１１の半径方向に円弧の軌跡を描いて移動する。図のＯは、磁気ヘッドの回転中心を表す。
【００１８】
図からわかるように、トラックは同心円状に形成されているので、リードヘッド１５Ｒがトレースするトラックと、ライトヘッド１５Ｗがトレースするトラックとは異なることになる。図３（ｂ）では、実線がライトヘッドが位置するトラックであり、点線がリードヘッドが位置するトラックを示す。例えば、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとの間隔が５μｍ〜１０μｍであったとしても、トラックピッチは、０．２〜０．３μｍであるので、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとは、多くのトラックをまたぐことになる。さらに、アームの振れによって、トラックの接線とヘッドの中心線との角度であるヨー角の大きさが変化し、リードヘッド１５Ｒとライトヘッド１５Ｗとがまたぐトラックの数、すなわちコアずれの大きさも変化する。したがって、従来から、ヨー角の大きさに対応して、コアずれ補正の量を変化させるように制御している。
【００１９】
このようなヘッドを用いる磁気ディスク装置では、サーボパターンの書き込み時の送りピッチのむら等に起因するトラックピッチ異常があると、さらにトラックピッチ異常に起因するトラックのずれが生じる。
【００２０】
図４（ａ）〜（ｃ）に、ヘッドとトラックの関係を示す。図４（ａ）に示すように、ヨー角によるコアずれが５トラック分であったとすると、トラックＴ１にデータを書き込むためには、リードヘッド１５Ｒを５トラックずらせて、トラックＴ６にオントラックする必要がある。すなわち、リードヘッド１５ＲによってトラックＴ６に書き込まれたサーボパターンを読み出して、リードヘッド１５ＲをトラックＴ６に位置するように制御しながら、ライトヘッド１５Ｗによってトラック１にデータを書き込む。したがって、予め定められた一定のトラックピッチでサーボパターンが書き込まれていると、トラックに対して正常なデータの書き込みができ、また正常に読み出しが可能となる。なお、ヨー角が大きく変化すると、コアずれの大きさも変化するが、その場合には、ヨー角に見合ったコアずれ補正を行うようにすればよい。
【００２１】
しかしながら、図４（ｂ）に示すように、サーボパターンの書き込みに異常があり、例えばトラックＴ５に所定のトラックピッチより狭くなった部分があるとする。トラックＴ１にデータを書き込むために、リードヘッド１５ＲをトラックＴ６にオントラックしていても、トラックピッチが狭い部分にくると、ライトヘッド１５ＷをトラックＴ１にオントラックさせることができなくなる。この結果、トラックＴ０とトラックＴ１にまたがってデータを書き込んでしまう。また、トラックＴ０にデータが書き込まれていた場合には、書き込まれたデータは、トラック１に書き込まれるべきデータにより上書きされてしまい、トラックＴ０に書き込まれていたデータを読み出しできなくなる。また、トラックＴ１のデータを読み出すために、トラックＴ１をリードヘッド１５Ｒで読み出しても、そのデータはトラックＴ１からずれて書き込まれているので、エラーレートが高くなって、読み出しできなくなる。
【００２２】
図４（ｃ）は、サーボパターンを形成するときに、トラックＴ５にトラックピッチの広い個所ができてしまった場合を示す。このようにトラックピッチが大きくなった場合でもヨー角が零であれば、トラックピッチが小さくなった場合とは異なり、隣接トラックがトラックＴ５を消去あるいは上書きするということはない。しかしながら、ヨー角が零でなくなれば、トラックピッチに狭い部分が形成された場合と同様にライトヘッドの位置決めにずれが生じる。図４（ｃ）からわかるように、トラックＴ１にデータを書き込むために、リードヘッド１５ＲをトラックＴ６にオントラックするように制御しても、ライトヘッド１５Ｗは、トラックＴ１に正確に位置づけることができない。その結果、トラックＴ１とトラックＴ２をまたいでデータが書き込まれてしまい、トラックＴ２に書き込まれていたデータがあれば、トラック１に書き込まれるべきデータにより上書きされてしまう。また、トラックＴ１のデータを読み出そうとしても、データはトラックＴ１からずれて書き込まれているので、エラーレートが高くなって、読み出しできなくなる。
【００２３】
本発明は、このようなトラックピッチ異常に起因するトラックピッチのむらすなわちトラックのずれを検出するものであり、またずれ量を測定するものである。以下、本発明の実施の形態を、図面を用いて説明する。
【００２４】
図５は、サーボパターンが書き込まれたディスクのトラックを図式的に示すもので、図５の上部の番号はトラック番号を示し、縦方向にトラックＴ０〜Ｔ１３を示す。トラックＴ６のピッチが通常の幅より狭くなっている。（ａ）〜（ｉ）は、データライト時のライトヘッドＷとリードヘッドＲとの関係を示す。ライトヘッドＷとリードヘッドＲとを結ぶ矢印付の線分は、コアずれ補正量を表す。
【００２５】
（ａ）〜（ｅ）は、それぞれ偶数トラックＴ０、Ｔ２、Ｔ４、Ｔ６を書き込む場合を示し、（ｆ）〜（ｉ）は、それぞれ奇数トラックＴ１、Ｔ３、Ｔ５、Ｔ７を書き込む場合を示す。さらに、図面の下部に、ライトヘッドＷによりデータが書き込まれた位置をトラックライト位置ＷＰとして示す。また、ライトデータを読み出すためにリードヘッドが位置するリード位置をトラックリード位置ＲＰとして示す。
【００２６】
図６及び図７には、図５に示すトラックの試験方法を説明するフローを示す。図６は、トラックピッチ異常を検出するステップを示し、図７は、トラックピッチ異常が検出されたトラックピッチのズレの量を測定するステップ示す。
【００２７】
まず、図５と図６とを用いて、トラックピッチ異常を検出するステップを説明する。
試験工程が始まると、まず、サーボパターンによって定められるトラックＴ０，Ｔ１、Ｔ２、・・・のうち、偶数トラックＴ０、Ｔ２、Ｔ４、・・・に対して、それぞれ異なる所定のデータを書き込む（ステップＳ１）。
【００２８】
本例では、図５に示したように、コアずれ補正量は５トラック分であるので、（ａ）でトラック０にデータを書き込むときには、リードヘッドＲをトラック５にオントラックして行う。次に、（ｂ）では、リードヘッドＲをトラック７にオントラックして、トラックＴ２にデータを書き込む。さらに、（ｃ）では、リードヘッドＲをトラックＴ９にオントラックして、トラックＴ４にデータを書き込む。以下、（ｄ）（ｅ）と、ライトヘッドＷをライトすべきトラックに位置決めするために、コアずれ補正量を考慮してリードヘッドを位置決めして、データを所定のトラックに書き込んでゆく。このようにして、ディスク上のすべての偶数トラックに対してデータを書き込む。
【００２９】
ここで、（ｂ）のリードヘッドＲをトラックＴ７にオントラックして、トラックＴ２にデータを書き込む場合、トラックＴ６がトラックピッチが狭くなっているので、ライトヘッドはトラックＴ２に正確にオントラックされないで、トラックＴ１とトラックＴ２をまたいでデータが書き込まれてしまう。次の（ｃ）のトラックＴ４にデータを書き込む場合も同様に、トラックピッチが狭くなったトラックＴ６を挟むので、トラックＴ４に書き込まれるべきデータは、トラックＴ３とトラックＴ４をまたぐように書き込まれる。（ｄ）のトラックＴ６に書き込むときは、トラックＴ６が狭いので、トラックＴ５にはみでてデータが書き込まれる。次の（ｅ）のトラックＴ８にデータを書き込むときには、トラックピッチ異常のトラックをまたぐことがないので、リードヘッドＲをトラック１３にオントラックさせると、トラックＴ８に正常に書き込まれる。
【００３０】
すべての偶数トラックへのデータライトが終了、すなわちトラックＴ０から最後のトラックまで、ひとつおきにデータをライトし終われば、次に、奇数トラックＴ１、Ｔ３、Ｔ５・・・にデータを書き込む（ステップＳ２）。
【００３１】
（ｆ）では、トラックＴ６にリードヘッドＲをオントラックすることにより、トラックＴ１に正確にデータが書き込まれる。トラックＴ６は狭くなっているが、リードヘッドＲは、トラックＴ６にオントラックすることができる。（ｇ）では、トラックＴ３は、トラックＴ８にリードヘッドＲをオントラックして、書き込まれる。この場合狭いトラックＴ６をまたぐので、ライトヘッドＷは、トラックＴ３にオントラックせず、トラックＴ２とトラックＴ３とをまたいで、データを書き込むことになる。（ｈ）のトラックＴ５についても同様、データはトラックＴ４とトラックＴ５をまたいで書き込まれる。（ｉ）のトラックＴ７では、リードヘッドは、トラックＴ１２にオントラックされ、狭いトラックＴ６をまたぐことはないので、正しくライトヘッドがオントラックされて、正常に書き込まれる。このようにして、すべての奇数のトラックにデータを書き込む。すべてのトラックにデータを書き込んだ結果を、トラックライト位置ＷＰとして示す。図からわかるように、データが書き込まれたトラックＷＰ２〜ＷＰ６は、サーボパターンが示すトラックＴ２〜Ｔ６に正確に位置づけられないで、隣接するトラックにまたがって形成されている。
【００３２】
このようにして、すべてのトラックにデータが書き込まれると、次に、トラックＴ０から順に読み出す（ステップＳ３）。トラックＴ０から順に読み出すときのリードヘッドの位置は、リード位置ＲＰとして示されている。
【００３３】
トラックＴ０には、リードヘッドがオントラックして、正常にトラックＴ０に書き込まれたデータがリードされる。トラックＴ１では、ステップＳ１の偶数トラックのライトにより、ラックＴ２に書き込まれるべきデータの一部がトラックＴ１に書き込まれるが、次のステップ２における奇数トラックのライトで上書きされているので、ステップＳ２でトラックＴ１に書き込まれたデータが正常に読み出される。
【００３４】
しかしながら、トラックＴ２を読み出す場合には、トラックＴ２には、トラックＴ２に書き込まれたデータとトラックＴ３に書き込まれたデータが混在している（ライト位置ＷＰ参照）ので、エラーレートが高くなり正常に読み出すことはできない。したがって、トラックＴ２にはエラーがあると判断され、エラー個所として登録される（ステップＳ５）。
【００３５】
同様に、トラックＴ３〜トラックＴ６まで、隣接するトラックのデータが混在して、リードエラーとなる。トラックＴ８からは、正常な読み出しが行われる。以上のように、サーボパターンのライトエラーによりトラックピッチが狭くなると、トラックピッチが狭いトラックのみならず、当該トラックピッチが狭いトラックをまたいでコアずれ補正を行うトラックにも悪影響を及ぼす。これは、トラックピッチが広くなる場合も同様である。
【００３６】
なお、トラックにデータを順次書き込んで、データが書き込まれたトラックを読み出す方法では、ピッチ異常を正確に検出することはできない。すべてのトラックを順次書き込む場合には、トラックＴ２に書き込まれるべきデータによって、正常に書き込まれたトラックＴ１のデータが上書きされることになり、正常なトラックＴ１のデータを読み出すことができなくなる。
【００３７】
本発明では、偶数トラックと奇数トラックに分けて書き込んだ後、トラックＴ０から順に読み出すことにより、サーボパターン形成時のエラーによるトラックピッチ異常を正確に検出することができる。
【００３８】
以下、図７〜図１１を参照して、正常にデータが書き込まれず、リードエラーとなったトラックについて、その位置を測定する方法を説明する。
【００３９】
すべてのトラックについてリードエラーのチェックが終了すると、最初にエラーが出たトラックを測定すべきターゲットトラックとして選択する（ステップＳ８）。
【００４０】
次に、ターゲットトラックの位置を測定する（ステップＳ９）、本実施形態では、リードヘッドのオフセットマージンを利用する方法、あるいはリード信号のＡＧＣ（Automatic Gain control）ゲインを利用する方法を用いて、ターゲットトラックの位置を求める。
【００４１】
図８、９を参照して、リードヘッドのオフセットマージンを利用してトラック位置を求まる方法を説明する。ここで、オフセットマージンは、トラック中心からリードヘッド中心の距離に対応する。この測定方法によれば、リードヘッドを測定対象のトラックから離れた位置にあるようにオフセットマージンを設定し、オフセットマージンを変化させて徐々にトラックに近づけてゆき、トラックに書き込まれたデータを読み取れるか否かを判定して、トラックの位置を測定する。
【００４２】
まず、目標エラーレートを決めておく。特にこの数値に限定するというわけではないが、ここでは、目標エラーレートとして１×１０−３とする（図９参照）。このエラーレートは、読み出したセクタに対するエラーの率であり、例えば１０００セクタ読むと１セクタ読めないという程度である。
【００４３】
図８に示すように、ターゲットトラックをトラックＴ２とすると、トラックＴ２に書き込まれたデータだけを残して、その周囲のデータを消去する。あるいは、トラックＴ２とその周辺の領域のデータを直流消去あるいは高周波の交流消去を行ってから、トラックＴ２にのみデータを書き込むようにしてもよい。
【００４４】
次いで、トラックＴ２のデータから離れたオフセット位置ｐ１にリードヘッドＲをセットして、オフセット位置ｐ１でのデータを読み出し、そのエラーレートを測定する。オフセット位置ｐ１では、書き込まれたデータはないので、エラーレートも零である。
【００４５】
次に、リードヘッドを所定のわずかな距離だけトラックＴ２に近づけて、オフセット位置ｐ２でデータを読み出し、そのエラーレートを測定する。続いて、リードヘッドを所定距離だけターゲットトラックＴ２に近づけながら、オフセット位置ｐ３、ｐ４でデータを読み出して、エラーレートを測定する。
【００４６】
図９に、図８の各位置でのエラーレートの測定例を示す。オフセット位置ｐ２では、トラックＴ２に少しかかり、読み出しできる場合もあるので、エラーレートは、ゼロではないある数値として現れてくる。オフセット位置ｐ４に至って、エラーレートが目標値を超えると、次は、トラックＴ２に対してオフセット位置ｐ１とは反対側で、トラックＴ２から離れた位置すなわちオフセット位置ｐ５にリードヘッドＲをセットする。これ以降は、オフセット位置ｐ５でエラーレートを測定し、順次オフセット位置ｐ６〜ｐ１２まで、トラックＴ２に近づけながら、各位置でエラーレートを測定する。
【００４７】
オフセット位置ｐ４とｐ１２とで、目標レート１×１０−３を超えていることがわかる。オフセット位置ｐ４は、トラックＴ２の左側を規定し、オフセット位置ｐ１２は、トラックＴ２の右側を規定するので、両者の位置の中間点を求めれば、それがトラックＴ２の位置を示すものである。
【００４８】
このように、本測定方法では、トラックＴ２の両側からリードヘッドを近づけながら、所定の位置でデータを読み出してエラーレートを測定し、エラーレートが目標値に達するあるいは超える点を探す。エラーレートが目標値に達するあるいは超える点は２点あるので、２点の中央が求めるトラックの位置となる。なお、トラック幅が予め分かっていると、決っていれば、エラーレートが目標値に達する一点の位置に基づいて、トラックの中央位置を求めることもできる。
【００４９】
次に、図１０、１１を参照して、リード信号のＡＧＣ（Automatic Gain control）ゲインを利用して、ターゲットトラックの位置を求める方法を説明する。リードチャネル２３（図１）には、ヘッドアンプ１９からのヘッド出力信号を一定の信号レベルに保つためにＡＧＣ回路が内蔵されている。ＡＧＣ回路のゲインは、リード信号の出力が小さい場合には大きくなり、リード信号の出力が大きい場合には小さくなる。
【００５０】
前述のオフセットマージンを利用する方法と同様に、ターゲットトラックＴ２にのみデータが書き込まれ、その周囲にはデータがないという状態を形成する。その後、トラックＴ２から離れたオフセット位置ｑ１に、リードヘッドＲを位置決めし、データを読み出し、得られたリード信号に対するＡＧＣ回路のゲインを読み取る。位置ｑ１では、トラックＴ２から離れているので、リード信号は零で、ＡＧＣゲインは最大値をとる。次に、オフセット位置ｑ２にリードヘッドＲを位置決めし、データを読み出す。得られたリード信号に対するＡＧＣ回路のゲインを読み取る。ここでは、トラックＴ２の一部を読むことができるので、得られたリード信号に対するＡＧＣゲインは最大値より低くなる。このようにして、順次トラックＴ２に近づくオフセット位置ｑ２、ｑ３・・・で、データを読み出して、得られたリード信号に対するＡＧＣゲインの値を読み取っていく。オフセット位置ｑ５では、書き込まれたデータをすべてリードヘッドで読み出すことができ、信号出力は最大となり、したがってＡＧＣゲインは最小となる。オフセット位置ｐ５を過ぎると、位置ｐ６、ｐ７・・・とＡＧＣゲインは大きくなってゆく。オフセット位置ｐ９では、トラックＴ２から離れるので、再びＡＧＣゲインは、最大値となる。
【００５１】
図１１は、オフセット位置ｑ１〜ｑ１２に対するＡＧＣゲインを示すグラフで、ＡＧＣゲインの最小値を０、最大値を１００として、正規化したものである。ゲイングラフの最大値から減少して最小値に達し、さらに最小値から増大して最大値に達する部分の面積を求め、面積が半分となる中心位置、このグラフの場合は位置Ｐ５を割り出して、トラックＴ２の位置を求めることができる。トラックＴ２の位置を求める手法としては、これに限定することなく種々の手法を選択することができる。
【００５２】
ターゲットトラックの位置が測定されれば、サーボパターンに基づいて決定されるトラックとのずれがあるか否かを判定し（ステップＳ１０）、ずれがなければ、媒体欠陥等の別の要因でエラーが発生していると判断し、ステップＳ１２へ進む。ずれがあれば、ステップＳ１１でずれのある箇所のアドレスとそのずれ量をメモリに保存して、ステップ１２へ進む。ずれ量は、ずれているトラックの位置とそのトラックのサーボパターンが示す位置との差により容易に求めることができる。ステップＳ１２ではエラートラックの最後に至ったか否かを判定し、最後でなければステップＳ１３で、次のターゲットトラックすなわち次のエラートラックを選択して、ステップＳ９に戻り、ターゲットトラックの位置を測定して、ずれがあればずれの個所とずれ量を保存する。
【００５３】
すべてのエラートラックでずれ量を測定し終わると、ステップＳ１４に進み、すべてのずれの箇所のアドレスとそのずれ量を、たとえばコアずれ補正量が格納されているテーブルに保存する。
【００５４】
このように、本実施形態によれば、トラックピッチ異常に起因するトラックの位置ずれを正確に検出することができ、さらに位置ずれが起きているトラックの位置が測定でき、トラックのずれ量を求めることができる。
【００５５】
なお、本実施形態では、最初に偶数トラックに対してデータを書き込んだが、奇数トラックにデータを書き込んだ後、偶数トラックにデータを書き込むようにしてもよいのはもちろんである。
【００５６】
また、本実施形態では、全トラックに対してデータを書き込んだ後、そのデータを読み出すようにしたが、全トラックをいくつかの環状の領域に分割して、順次試験を行うようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明を実施するための磁気ディスク装置の一例を示す図である。
【図２】（ａ）は、トラックピッチが正常な場合を説明する図であり、（ｂ）は、トラックピッチが狭い場合を説明する図である。
【図３】（ａ）は、ライトヘッドとリードヘッドの関係を説明する図であり、（ｂ）は、ライトヘッドとリードヘッドが磁気ディスク上で示す関係を説明する図である。
【図４】（ａ）は、通常のコアずれ補正を説明する図であり、（ｂ）は、トラックピッチが狭い箇所をライトヘッドとリードヘッドがまたいだ場合を説明する図であり、（ｃ）は、トラックピッチが広い箇所をライトヘッドとリードヘッドがまたいだ場合を説明する図である。
【図５】本発明による偶数トラックと奇数トラックを別に書き込んで行うトラックずれの検出を説明する図である。
【図６】本発明によるトラックずれ検出の動作フローを示す図である。
【図７】本発明によるトラックずれ検出後のずれ量測定の動作フローを示す図である。
【図８】本発明によるオフセットマージンを用いるトラックずれ量測定方法を説明する図である。
【図９】本発明によるオフセットマージンを用いるトラックずれ量測定方法によるエラーレート検出結果の一例を示す図である。
【図１０】本発明によるＡＧＣゲインを用いるトラックずれ量測定方法を説明する図である。
【図１１】本発明により測定されたオフセット位置とＡＧＣゲインとの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５８】
１００    磁気ディスク装置
１０    ディスク・エンクロージャ
１１    ハードディスク
１３    直流モータ
１５    ヘッド
１６    アーム
１７    ボイスコイルモータ
１９    ヘッドアンプ
２０    プリント回路基板
２１    ハードディスク・コントローラ
２２    データバッファ
２３    リードチャネル
２５    マイクロコントロール・ユニット
２７    サーボコントローラ
３０    ホストコンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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