(57)【要約】【課題】  再チャッキングを行う基準となる閾値を予め設定せずに、装着された光ディスクに応じてフレキシブルに閾値を設定することができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】  光ディスク２１を載置するトレイ１６と、トレイ１６に載置された光ディスク２１を装着するチャッキング手段２３，２５と、チャッキング手段２３，２５によって装着された光ディスク２１の偏芯量を測定する偏芯量測定手段４４と、チャッキング手段２３，２５を制御してチャッキングを所定回数行い、その都度偏芯量測定手段４４によって偏芯量を測定させて複数の偏芯量を取得する制御手段４０と、取得した複数の偏芯量から閾値を算出する閾値算出手段４５とを具備し、制御手段４０は、閾値算出手段４４によって算出された閾値の範囲内となるまで、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段２３，２５を制御する。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを載置するトレイと、
トレイに載置された光ディスクを装着するチャッキング手段と、
チャッキング手段によって装着された光ディスクの偏芯量を測定する偏芯量測定手段と、
チャッキング手段を制御してチャッキングを所定回数行い、その都度偏芯量測定手段によって偏芯量を測定させて複数の偏芯量を取得する制御手段と、
取得した複数の偏芯量から閾値を算出する閾値算出手段とを具備し、
制御手段は、
閾値算出手段によって算出された閾値の範囲内となるまで、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記閾値算出手段は、
取得した複数の偏芯量のうち、最大値と最小値との間の範囲内における所定の値を閾値として決定することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、チャッキングされた光ディスクの偏芯量に基づいて再チャッキングを行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、スピンドルモータの回転軸先端に設けられたターンテーブルに光ディスクを装着し、回転する光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからデータの読み取り、または光ディスクへデータの書き込みを行う。
【０００３】
ターンテーブルは、光ディスクの中央に形成されたクランピングエリアにはまり込むような形状に形成され、光ディスクを挟んで対向する側に配置されたチャッキングプーリとの間で光ディスクをチャッキングする。ターンテーブルとチャッキングプーリとの間はマグネットの磁力により吸引力が働いており、ターンテーブルとチャッキングプーリとの間で光ディスクは確実にチャッキングされる。
【０００４】
しかし、光ディスクの挿入時の位置ずれや機構的な誤差などの原因により、チャッキング位置が光ディスクの中心に対してずれてしまう偏芯が生じることもある。特に高速再生、高速書き込みにより光ディスクが高速回転する場合には、偏芯があると光ピックアップがトラックを正確に追尾することができず、読み取りエラーや書き込みエラーが頻発する。
【０００５】
そこで、チャッキングによる偏芯の問題を解消するために、偏芯量を測定する偏芯量測定手段を設け、偏芯量が閾値を超えた場合にはチャッキングをやり直す（再チャッキングする）構成がすでに開示されている（例えば、特許文献１、特許文献２および特許文献３参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開平５−１０９１７１号公報
【特許文献２】特開平１０−１２４９９１号公報
【特許文献３】特開２００１−２５０３１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記のような各特許文献に開示された構成では、閾値は予め設定してメモリ内に記憶させており、どのような光ディスクに対しても画一的に用いられてきた。
しかし、現実には、もともと偏芯度が悪かったりする精度が低い光ディスクも存在する。このような精度の低い光ディスクに対してまで予め設定した閾値に基づいて再チャッキングを行う場合には、偏芯量が閾値以下になるまでに時間がかかり過ぎてしまうという課題がある。
【０００８】
そこで、本発明は、上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、再チャッキングを行う基準となる閾値を予め設定せずに、装着された光ディスクに応じてフレキシブルに閾値を設定することができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、光ディスクを載置するトレイと、トレイに載置された光ディスクを装着するチャッキング手段と、チャッキング手段によって装着された光ディスクの偏芯量を測定する偏芯量測定手段と、チャッキング手段を制御してチャッキングを所定回数行い、その都度偏芯量測定手段によって偏芯量を測定させて複数の偏芯量を取得する制御手段と、取得した複数の偏芯量から閾値を算出する閾値算出手段とを具備し、制御手段は、閾値算出手段によって算出された閾値の範囲内となるまで、再度チャッキングを行うようにチャッキング手段を制御することを特徴としている。
この構成を採用することによって、装着された個々の光ディスクに対して偏芯量の閾値を設定することができるので、各光ディスクに適した偏芯量で再チャッキングを行うことができる。
【００１０】
また、前記閾値算出手段は、取得した複数の偏芯量のうち、最大値と最小値との間の範囲内における所定の値を閾値として決定することを特徴としてもよい。
【発明の効果】
【００１１】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、再チャッキングを行う基準となる偏芯量の閾値を、装着された光ディスク毎に設定するので、その光ディスクに適したチャッキングを実行することができ、特に精度の低い光ディスクに対してのチャッキング完了までの時間短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
最良の実施形態における光ディスク装置は、所定回数チャッキングを行ってその都度偏芯量を測定する。そして、複数の偏芯量の最大値と最小値の間の範囲において最小値から３０％の値を閾値として決定する。
【実施例】
【００１３】
光ディスクの実施例について、図１および図２に基づいて説明する。
光ディスク装置２０は、筐体１９内に、光ディスク２１を装着するターンテーブル２３が回転軸の先端に設けられたスピンドルモータ２２と、光ディスク２１にレーザ光を照射すると共に光ディスク２１から反射されたレーザ光を受光する光ピックアップ２４（図１、図２では図示せず）とを具備している。
筐体１９の上方はトップケース１８によって覆われるように設けられ、筐体の下方はボトムケース１７によって覆われるように設けられている。
【００１４】
光ディスク２１は、光ディスク装置２０に対して突出入動作可能に設けられたトレイ１６に載置される。トレイ１６は、ほぼ中央部に光ディスク２１を収容するための凹みであるディスク収容部１４が形成されている。このディスク収容部１４内に光ディスク２１が載置される。
光ディスク装置２０には、トレイ１６を突出入させるためにトレイ１６を駆動するトレイ駆動モータ２６（図１では図示せず）が設けられている。
【００１５】
ターンテーブル２３は、チャッキングプーリ２５との間で光ディスク２１を挟み込んで光ディスク２１をチャッキングする。チャッキングプーリ２５は、トップケース１８の上面に配置されている。ターンテーブル２３は磁石が内蔵されており、磁力によってチャッキングプーリ２５を吸引する。
トップケース１８の上面には、チャッキングプーリ２５を配置するための開口凹部１３が形成されている。開口凹部１３にチャッキングプーリ２５が配置されると、チャッキングプーリ２５の中心部分がトップケース１８の下面側に露出し、ターンテーブル２３と当接可能となる。
【００１６】
また、スピンドルモータ２２と光ピックアップ２４は、筐体１９に対してチルトするメカシャーシ１１に設けられている。メカシャーシ１１は、トレイ１６の駆動と連動してメカシャーシ１１をチルトさせるチルト動作部１０に接続されている。
トレイ１６が光ディスク装置２０の外部に突出しているときにはメカシャーシ１１の前面側が下降し、トレイ１６が光ディスク装置２０の内部に収納されているときにはメカシャーシ１１はほぼ水平状態となる。
【００１７】
メカシャーシ１１が水平状態となっているときに、ターンテーブル２３の上面がチャッキングプーリ２５の下面に接触して、磁力により固定される。このとき、トレイ１６に載置された光ディスク２１がターンテーブル２３とチャッキングプーリ２５との間に挟み込まれてチャッキングされる。
チャッキングの解除は、メカシャーシ１１の前面側を下降させるチルト動作によって行われる。すなわち、メカシャーシ１１の前面が下降すると、ターンテーブル２３はチャッキングプーリ２５との間の磁力に抗して下降するのでチャッキングが解除される。
【００１８】
次に、光ディスク装置の制御系の構成について図３に基いて説明する。
光ピックアップ２４は、レーザ光を出力するレーザダイオード（ＬＤ）２８と、受光素子であるフォトディテクタ（ＰＤ）３０とを有している。また、レーザ光を集光して光ディスク２１の記録層に焦点を合わせるための対物レンズ３１が光ピックアップ２４内に設けられている。
フォトディテクタ３０では、受光面で受けた光強度が電圧値に変換されて光ピックアップ２４の外部に設けられているＲＦアンプ３２に入力される。
光ピックアップ２４は、スレッド軸３３上に配置され、送りモータ３４の駆動により光ディスク２１の径方向に移動する。
【００１９】
ＲＦアンプ３２は、光ピックアップ２４から送られてくる光強度信号を２値化したＲＦ信号を生成するとともに、フォトディテクタ３０の各受光面で受光した光強度の差や和をとることにより、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）およびフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成することができる。トラッキングエラー信号は、後述する制御部４０にも入力される。
【００２０】
ＲＦアンプ３２を経てフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号は、サーボプロセッサ３６に入力される。
サーボプロセッサ３６は、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に基づき、フォーカスドライブ信号（ＦＤＯ信号）とトラッキングドライブ信号（ＴＤＯ信号）を光ピックアップ２４に出力してフォーカスサーボやトラッキングサーボを制御する。
【００２１】
さらにサーボプロセッサ３６は、制御部４０から入力される制御信号に基づいて、回転制御信号を出力してスピンドルモータ２２のスピンドルサーボを制御し、駆動制御信号を送りモータ３４へ出力して光ピックアップ２４のスレッドサーボを制御する。
【００２２】
制御部４０は、予め記憶されている制御プログラムに基づいて動作するＣＰＵ４２、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリ４３から構成されている。
制御部４０は、制御プログラムに基づいて、各部材に制御信号を出力することで光ディスク装置２０全体の動作を統括制御する。
【００２３】
制御部４０は、トラッキングエラー信号に基いて、偏芯量を測定する偏芯量測定手段４４を備えている。偏芯量測定手段４４は、ＣＰＵ４２が、メモリ４３内に予め記憶されている偏芯量測定プログラムを読み込んで実行することにより実現される。
【００２４】
制御部４０は、所定回数偏芯量を測定し、取得された複数の偏芯量に基づいて偏芯量の閾値を算出する閾値算出手段４５を備えている。閾値算出手段４５は、ＣＰＵ４２が、メモリ４３内に予め記憶されている閾値算出プログラムを読み込んで実行することにより実現される。
【００２５】
閾値算出手段４５による具体的な閾値の算出方法の例について、図４に基いて以下に説明する。
制御部４０は、光ディスク装置２０内に挿入されてきた光ディスク２１をチャッキングして偏芯量を測定する。そして、チャッキングを解除せさて再度チャッキングし、偏芯量を測定する。このように、制御部４０は、再チャッキングして偏芯量の測定を行う動作を所定回数（ここでは３０回）実行する。
【００２６】
閾値算出手段４５は、３０回測定された偏芯量の範囲において、最大値と最小値の範囲の３０％の値を算出し、この値を閾値として決定する。
図４の例では、偏芯量の最大値が１９４μｍ、最小値が２３μｍである。したがって、この例では閾値は、（１９４−２３）×０．３＋２３＝７４．３より、７４．３μｍと算出される。
【００２７】
また、本実施例では、チャッキングはメカシャーシ１１のチルト動作によって行われ、メカシャーシ１１をチルトさせるチルト動作部１０はトレイ１６の突出入動作に連動してチルト動作を行わせる（図２参照）。
したがって、制御部４０がチャッキングを解除させるには、トレイ１６をイジェクト方向に移動させるようにトレイ駆動信号をトレイ駆動モータ２６へ出力することにより実行される。トレイ１６がイジェクト方向に移動すると、チルト動作部１０がメカシャーシ１１の前方側（イジェクト方向側）を下降させるチルト動作を行わせる。メカシャーシ１１の前方側が下降することによって、ターンテーブル２３が下降してチャッキングが解除される。
【００２８】
制御部４０は、トレイ１６をイジェクト方向に移動させてチャッキングを解除した後、再度トレイ１６を元のチャッキング位置に戻すようにトレイ駆動信号をトレイ駆動モータ２６へ出力する。トレイ１６がチャッキング位置に到達すると、トレイ１６の動作に連動してチルト動作部１０がメカシャーシ１１を水平となるように移動させるので、ターンテーブル２３が上昇して再チャッキングがなされる。
【００２９】
なお、制御部４０の偏芯量測定手段４４が偏芯量の測定を実行する際には、フォーカスサーボとスピンドルサーボのみをオンとして、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとし、このときに得られるトラッキングエラー信号をモニタすることによって行われる。
【００３０】
トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとすることで、光ピックアップ２４内の対物レンズ３１は、光ディスク２１のトラックに対して追従せずに、その位置で固定されることとなる。すなわち、光ピックアップ２４の対物レンズ３１は、面振れ方向には固定されているので、偏芯があれば光ピックアップ２４から照射されるレーザ光はトラックを横切ることとなる。このため、制御部４０は、トラッキングエラー信号の振幅値をモニタして、光ピックアップ２４から照射されるレーザ光が所定時間内にトラックを横切った回数をカウントすることで、偏芯の度合いを測定できる。
【００３１】
制御部４０における具体的な偏芯量の算出方法は、フォーカスサーボとスピンドルサーボのみをオンとして、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとしたとき得られたトラッキングエラー信号を２値化し、ディスクが１回転する間に信号がＨＩとなった回数をカウントし、この回数を２で割り、トラックピッチを乗算した値を偏芯量とするように行っている。
【００３２】
次に、図５に基いて、本実施例におけるチャッキング動作の制御方法について説明する。
光ディスク２１が載置されたトレイ１６が光ディスク装置２０内に進入してくると、光ディスク２１がチャッキング位置に来たときに、チルト動作部１０によってメカシャーシ１１が上昇し、ターンテーブル２３がチャッキングプーリ２５との間で光ディスク２１のクランピングエリアを挟み込み、チャッキングが行われる（ステップＳ１００）。
【００３３】
次に、制御部４０の偏芯量測定手段４４が偏芯量を測定する（ステップＳ１０２）。
偏芯量の測定の際は、制御部４０がフォーカスサーボとスピンドルサーボをオンとし、トラッキングサーボとスレッドサーボをオフとすることで、光ピックアップ２４の対物レンズ３１を面振れ方向に固定した状態で測定が行われる。この状態で制御部４０は、スピンドルモータ２２を回転させ、入力されるトラッキング信号をモニタリングする。制御部４０は、トラッキング信号を２値化し、光ディスク１回転あたりにおいてトラッキング信号のＨＩとなった回数をカウントした値を２で割り、これにトラックピッチをかけたものを偏芯量とする。
【００３４】
次に、制御部４０は、チャッキングを解除するようにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はイジェクト方向に移動し、トレイ１６のイジェクト方向への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が下降し、ターンテーブル２３が下降してチャッキングプーリ２５から離間し、光ディスク２１のチャッキングが解除される（ステップＳ１０４）。
【００３５】
制御部４０は、再度チャッキングをさせるためにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、トレイ１６はチャッキング位置へ移動し、トレイ１６のチャッキング位置への移動によりチルト動作部１０によってメカシャーシ１１の前方側が上昇し、ターンテーブル２３が上昇してチャッキングプーリ２５に当接し、光ディスク２１のチャッキングがなされる（ステップＳ１０６）。
【００３６】
そして、制御部４０の偏芯量測定手段４４が再度偏芯量を測定する（ステップＳ１０８）。
制御部４０は、チャッキング解除、再チャッキング、偏芯量の測定を所定回数に達するまで繰り返し実行させる（ステップＳ１１０）。
【００３７】
偏芯量の測定が所定回数に達した場合、閾値算出手段４５は、測定した所定回数分の偏芯量に基いて、閾値を算出する（ステップＳ１１２）。算出方法は、図４に示したように、最大値と最小値の範囲で最小値から３０％の値を閾値として行うとよい。
【００３８】
制御部４０は、チャッキングを解除するようにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、上述してきた動作と同様に光ディスク２１のチャッキングが解除される（ステップＳ１１４）。
【００３９】
制御部４０は、再度チャッキングをさせるためにトレイ駆動モータ２６を制御する。これにより、上述してきた動作と同様に光ディスク２１のチャッキングがなされる（ステップＳ１１６）。
【００４０】
そして、制御部４０の偏芯量測定手段４４が再度偏芯量を測定する（ステップＳ１１８）。
制御部４０は、測定された偏芯量を、算出した閾値と比較する（ステップＳ１２０）。
比較の結果、偏芯量が閾値以下である場合には、チャッキングは正常であるとしてイニシャライズ動作へ移行する（ステップＳ１２２）。
【００４１】
比較の結果、偏芯量が閾値を越えている場合には、ステップＳ１１４へ戻り、制御部４０は、光ディスク２１のチャッキングを解除し（ステップＳ１１４）、光ディスク２１の再チャッキング（ステップＳ１１６）を行い、再チャッキングの後、制御部４０の偏芯量測定手段４４は、偏芯量を測定し（ステップＳ１１８）、算出された閾値と比較する（ステップＳ１２０）。
そして、制御部４０は、偏芯量が閾値以下となるまで、再チャッキング動作を繰り返し実行させる。
【００４２】
上述した実施例では、チャッキングがメカシャーシのチルトによるものであり、メカシャーシのチルトはトレイの動作に基くものであった。すなわち、制御部４０がチャッキング解除や再チャッキングをさせる場合には、トレイを動作させる制御を行っていた。
しかし、本発明は、このような実施例に限定されることなく、チャッキング手段としてトレイの動作とは無関係に動作するものであってもよい。
【００４３】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】光ディスク装置の構成を示す組み立て分解図である。
【図２】光ディスク装置のチャッキング手段の構成について示す説明図である。
【図３】光ディスク装置の制御系のブロック図である。
【図４】閾値算出手段の算出方法について説明する説明図である。
【図５】光ディスク装置の制御方法について説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００４５】
１０  チルト動作部
１１  メカシャーシ
１３  開口凹部
１４  ディスク収容部
１６  トレイ
１７  ボトムケース
１８  トップケース
１９  筐体
２０  光ディスク装置
２１  光ディスク
２２  スピンドルモータ
２３  ターンテーブル
２４  光ピックアップ
２５  チャッキングプーリ
２６  トレイ駆動モータ
３０  フォトディテクタ
３１  対物レンズ
３２  ＲＦアンプ
３３  スレッド軸
３４  送りモータ
３６  サーボプロセッサ
４０  制御部
４２  ＣＰＵ
４３  メモリ
４４  偏芯量測定手段
４５  閾値算出手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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