(57)【要約】【課題】導電性異物に起因する欠陥画素を容易に検出する。【解決手段】互いに対向して配置されたアクティブマトリクス基板１０ａ及び対向基板１０ｂと、それら両基板の間に設けられた液晶層１１とを備えた液晶パネル１０において、液晶パネル１０の表面を押圧しながら点灯検査することにより、液晶層１１の内部に混入した導電性異物１１ａを検出するための検査治具４０であって、液晶パネル１０の表面を周壁で押圧するための透明なローラー４２ａを有している。【選択図】図１０
2007316327.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、該液晶パネルの表面を押圧しながら点灯検査することにより、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出方法であって、
上記液晶パネルの表面を透明なローラーの周壁で押圧することを特徴とする異物検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載された異物検出方法において、
上記ローラーは、薄肉な円筒部を有していることを特徴とする異物検出方法。
【請求項３】
請求項１に記載された異物検出方法において、
上記液晶パネルは、バックライトと共に筐体の内部に収容され、
上記ローラーは、上記筐体に設けられた開口部を介して上記液晶パネルの表面を押圧することを特徴とする異物検出方法。
【請求項４】
互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、該液晶パネルの表面を押圧しながら点灯検査することにより、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出するための検査治具であって、
上記液晶パネルの表面を周壁で押圧するための透明なローラーを有していることを特徴とする検査治具。
【請求項５】
請求項４に記載された検査治具において、
上記ローラーは、薄肉な円筒部を有していることを特徴とする検査治具。
【請求項６】
請求項５に記載された検査治具において、
上記ローラーは、上記円筒部の両端に設けられ該円筒部の内周壁を支持する一対の外側支持板と、該一対の外側支持板の間で上記円筒部の内周壁を支持する内側支持板とを備えていることを特徴とする検査治具。
【請求項７】
請求項４に記載された検査治具において、
上記ローラーは、透明な樹脂により形成されていることを特徴とする検査治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異物検出方法及びそれに用いられる検査治具に関し、特に、液晶パネルの液晶層内に混入した異物を検出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶パネルは、例えば、複数の画素電極がマトリクス状に配置されたアクティブマトリクス基板と、そのアクティブマトリクス基板に対向して配置され共通電極を有する対向基板と、アクティブマトリクス基板及び対向基板の間に設けられた液晶層とを備えている。
【０００３】
また、液晶パネルは、上記アクティブマトリクス基板及び対向基板をそれぞれ作製した後に、両基板を貼り合わせて空のパネルを作製し、そのパネルを構成する基板の間に液晶材料を注入及び封止することにより製造される。そして、製造された液晶パネルに対して、点灯検査などの製品検査が行われる。
【０００４】
上記点灯検査では、例えば、アクティブマトリクス基板の全ての画素電極と、対向基板の共通電極とにそれぞれ検査用信号を入力して全ての画素を点灯状態にすると共に、液晶パネルの背面からバックライトからの光を当てることにより、画素電極と共通電極との間に導電性を有する異物（導電性異物）が介在して短絡した画素、すなわち、欠陥のある画素（欠陥画素）が輝点として検出される。
【０００５】
しかしながら、上記点灯検査では、導電性異物の大きさが画素電極と共通電極との間隔程度であれば欠陥画素を検出することが可能であるが、導電性異物の大きさが画素電極と共通電極との間隔よりも小さい場合のように、短絡が不安定で常時発生しない画素の欠陥、すなわち、不安定なリーク欠陥を検出することが困難である。そして、この不安定なリーク欠陥を内在した液晶パネルが後工程に流出されることによって、製品出荷後、市場に流通した液晶パネルにおいて欠陥が発生するおそれがある。
【０００６】
そこで、液晶パネルの表面を押圧しながら点灯検査することが提案されている。ここで、図１７は、導電性異物１１１ａが混入した液晶パネル１１０の断面図であり、図１８は、液晶パネル１１０の表面をゴムローラー１４２で押圧したときの断面図である。
【０００７】
図１８に示すように、液晶パネル１１０の表面をゴムローラー１４２で押圧した場合には、押圧された領域でアクティブマトリクス基板１１０ａと対向基板１１０ｂとの間隔が狭くなるので、導電性異物１１１ａを介してアクティブマトリクス基板１１０ａ上の画素電極（不図示）と対向基板１１０ｂ上の共通電極（不図示）とが短絡して不安定なリーク欠陥を検出することができる（例えば、特許文献１参照）。
【０００８】
また、特許文献２には、液晶パネルの表面に偏光板を貼り付けるローラーによって、液晶パネルの表面を押圧して短絡を検出する方法が開示されている。
【０００９】
さらに、特許文献３には、液晶パネルを上側ローラーと下側ローラーとの間に挟んで、液晶パネルの表面を押圧して短絡を検出する方法が開示されている。
【特許文献１】特開昭６３−２９３５８１号公報
【特許文献２】特開平１０−２３２３７８号公報
【特許文献３】特開２００２−６２５１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記のような液晶パネルの表面をローラーで押圧した場合には、リーク欠陥がローラー自身の影に隠れてしまうので、リーク欠陥を見逃してしまうことがある。
【００１１】
具体的には、図１９及び図２０を用いて説明する。ここで、図１９は、従来の異物検査方法を示す平面模式図であり、図２０は、図１９中のXX−XX断面に沿った断面模式図である。
【００１２】
従来の異物検査方法では、例えば、図１９及び図２０に示すような点灯治具１２０が用いられる。この点灯治具１２０は、液晶パネル１１０の表示領域が露出するように矩形状に開口し、液晶パネル１１０を載置するための枠状の下側フレーム１２０ｂと、下側フレーム１２０ｂに対向して配置された枠状の上側フレーム１２０ａと、下側フレーム１２０ｂに載置された液晶パネル１１０に対し背面から光を供給するバックライト光源１３０とを備えている。そして、点灯治具１２０では、図２０に示すように、液晶パネル１１０の表面にゴムローラー１４２を転動させながら、その転動するゴムローラー１４２の周りの液晶パネル１１０の表面を斜め上方などから観察することによって、導電性異物１１１ａを輝点として検出して点灯検査が行われる。ここで、ゴムローラー１４２の表面と液晶パネル１１０の表面とが接触して最も押圧されている領域は、ゴムローラー１４２自身の影となってしまうので、点灯検査を行う作業者がゴムローラー１４２の斜め後方Ａ、上方Ｂ及び斜め前方Ｃの何れの方向からも導電性異物１１１ａによる輝点を観察することが困難である。
【００１３】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、導電性異物に起因する欠陥画素を容易に検出することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために、本発明は、液晶パネルの表面を透明なローラーの周壁で押圧するようにしたものである。
【００１５】
具体的に本発明に係る異物検出方法は、互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、該液晶パネルの表面を押圧しながら点灯検査することにより、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出方法であって、上記液晶パネルの表面を透明なローラーの周壁で押圧することを特徴とする。
【００１６】
上記の方法によれば、液晶パネルの表面を押圧するローラーが透明であるので、液晶パネルにおいてローラーの表面と接触して最も押圧されるローラーの下の領域が容易に観察される。そのため、液晶パネルの表面をローラーの周壁で押圧しながら点灯検査する際には、導電性を有する異物に起因する欠陥画素が輝点として容易に検出される。したがって、本発明によれば、導電性異物に起因する欠陥画素が容易に検出される。
【００１７】
上記ローラーは、薄肉な円筒部を有していてもよい。
【００１８】
上記の方法によれば、ローラーの円筒部が薄くなっているので、円筒部における光の屈折が抑制され、ローラーの下の欠陥画素が容易に検出される。
【００１９】
上記液晶パネルは、バックライトと共に筐体の内部に収容され、上記ローラーは、上記筐体に設けられた開口部を介して上記液晶パネルの表面を押圧してもよい。
【００２０】
上記の方法によれば、液晶パネルがバックライトと共に筐体の内部に収容（実装）された液晶表示装置に対しても、本発明の作用効果が有効に奏される。
【００２１】
また、本発明に係る検査治具は、互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、該液晶パネルの表面を押圧しながら点灯検査することにより、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出するための検査治具であって、上記液晶パネルの表面を周壁で押圧するための透明なローラーを有していることを特徴とする。
【００２２】
上記の構成によれば、検査治具の一部であると共に液晶パネルの表面を押圧するローラーが透明であるので、液晶パネルにおいてローラーの表面と接触して最も押圧されるローラーの下の領域が容易に観察される。そのため、液晶パネルの表面をローラーの周壁で押圧しながら点灯検査する際には、導電性を有する異物に起因する欠陥画素が輝点として容易に検出される。したがって、本発明によれば、導電性異物に起因する欠陥画素が容易に検出される。
【００２３】
上記ローラーは、薄肉な円筒部を有していてもよい。
【００２４】
上記の構成によれば、ローラーの円筒部が薄くなっているので、円筒部における光の屈折が抑制され、ローラーの下の欠陥画素が容易に検出される。
【００２５】
上記ローラーは、上記円筒部の両端に設けられ該円筒部の内周壁を支持する一対の外側支持板と、該一対の外側支持板の間で上記円筒部の内周壁を支持する内側支持板とを備えていてもよい。
【００２６】
上記の構成によれば、一対の外側支持板及び内側支持板がローラーの円筒部の内周壁をそれぞれ支持することになるので、液晶パネルの表面をローラーの周壁で押圧した際におけるローラーの円筒部の変形が抑制される。
【００２７】
上記ローラーは、透明な樹脂により形成されていてもよい。
【００２８】
上記の構成によれば、ローラーが透明な樹脂製のパイプなどによって構成されるので、本発明の作用効果が具体的に奏される。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、液晶パネルの表面を透明なローラーの周壁で押圧するため、導電性異物に起因する欠陥画素を容易に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
【００３１】
《発明の実施形態１》
図１〜図１０は、本発明に係る異物検出方法及びそれに用いられる検査治具の実施形態１を示している。ここで、図１は、本実施形態に係る異物検出方法に用いる点灯治具２０を示す上面図である。そして、図２は、図１の点灯治具２０を図中下側からみた側面図であり、図３は、図１の点灯治具２０を図中右側からみた側面図である。
【００３２】
点灯治具２０は、図１〜図３に示すように、液晶パネル１０の少なくとも表示領域が露出するように矩形状に開口し、液晶パネル１０を載置するための枠状の下側フレーム２０ｂと、下側フレーム２０ｂに対向して配置された枠状の上側フレーム２０ａと、下側フレーム２０ｂに載置された液晶パネル１０に対し背面から光を供給するバックライト光源３０とを備えている。
【００３３】
ここで、点灯治具２０を用いて異物が検出される液晶パネル１０は、図１０に示すように、互いに対向して配置された一対の基板、すなわち、アクティブマトリクス基板１０ａ及び対向基板１０ｂと、アクティブマトリクス基板１０ａ及び対向基板１０ｂの間に設けられた液晶層１１と、アクティブマトリクス基板１０ａ及び対向基板１０ｂを互いに接着すると共に液晶層１１を包囲するように枠状に設けられたシール部１０ｃとを備えている。
【００３４】
また、液晶パネル１０は、例えば、縦１００ｍｍ〜１４０ｍｍ、横１６０ｍｍ〜２２０ｍｍの表示領域を有している。そして、アクティブマトリクス基板１０ａの表示領域には、それぞれが画素を構成する複数の画素電極（不図示）がマトリクス状に配設されている。一方、対向基板１０ｂの表示領域には、アクティブマトリクス基板１０ａ上に設けられた複数の画素電極の群に対向して配置される共通電極（不図示）が設けられている。さらに、アクティブマトリクス基板１０ａは、対向基板１０ｂと重ならない領域を有し、その重ならない領域には、表示領域内に信号を入力するための信号入力端子（不図示）が複数配列した信号入力部などが設けられている。
【００３５】
また、液晶パネル１０では、例えば、アクティブマトリクス基板１０ａや対向基板１０ｂの作製工程などで発生した導電性を有する異物、すなわち、導電性異物１１ａが液晶層１１に混入した場合にアクティブマトリクス基板１０ａの画素電極と対向基板１０ｂの共通電極とが導電性異物１１ａを介して短絡するおそれがある。
【００３６】
下側フレーム２０ｂは、例えば、外形が縦１８０ｍｍ〜２２０ｍｍ、横２５０ｍｍ〜３００ｍｍ、高さ５ｍｍ〜１０ｍｍであり、縦１００ｍｍ〜１４０ｍｍ、横１６０ｍｍ〜２２０ｍｍの開口部を有し、アルミニウム・ステンレス・鉄などの金属材料、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）・ＭＣ（モノマーキャスティング）ナイロン・アクリルなどの樹脂材料やセラミック材料などにより構成されている。なお、下側フレーム２０ｂを金属材料によって構成する場合には、その金属表面に、アルマイトなどのメッキやフッ素コーティングなどの表面処理を施してもよい。
【００３７】
また、下側フレーム２０ｂの上面には、液晶パネル１０の端縁に当接して、液晶パネル１０を位置決めするための位置決めピン２１が設けられている。この位置決めピン２１は、例えば、直径５ｍｍ〜１０ｍｍの円柱状に形成され、ＰＥＥＫ・ＭＣナイロン・アクリルなどの樹脂材料やセラミック材料などにより構成されている。
【００３８】
上側フレーム２０ａの形状及び材質は、上述した下側フレーム２０ｂと実質的に同じである。
【００３９】
上側フレーム２０ａの下面には、下側フレーム２０ｂに載置された液晶パネル１０の信号入力部に当接して、各信号入力端子に検査信号を入力するための信号入力ピン２２が設けられている。
【００４０】
信号入力ピン２２は、例えば、外形が直径０．５ｍｍ〜１．０ｍｍ、高さ５ｍｍ〜１０ｍｍであり、表面が金メッキ（上層）及びニッケルメッキ（下層）によって被覆された銅により構成されている。また、信号入力ピン２２は、先端が液晶パネル１０の信号入力端子の表面に当接されたときに、その先端が微小なバネによってピン本体に押し込まれるように構成されている。
【００４１】
図４は、本実施形態に係る検査治具４０の斜視図である。そして、図５は、検査治具４０を構成するローラー４２ａの横断面図であり、図６は、ローラー４２ａの縦断面図である。
【００４２】
検査治具４０は、図４に示すように、例えば、幅Ｗが１０ｍｍ〜５０ｍｍ、直径Ｄが２０ｍｍ〜３０ｍｍであり、その周壁で液晶パネル１０の表面を押圧するローラー４２ａと、例えば、長さＬ１が１００ｍｍ、長さＬ２が７５ｍｍであり、ローラー４２ａの回転軸を枢支する軸受け部（長さＬ１−Ｌ２）、及び作業者が掴むための把持部（長さＬ２）を有する取っ手４１を備えている。
【００４３】
ローラー４２ａは、図６に示すように、例えば、厚さ１．０ｍｍ〜２．０ｍｍの薄肉な円筒部４３と、円筒部４３の両端に設けられ、円筒部４３の内周壁の両端部を支持する一対の円盤状の外側支持板４４とを備えている。また、ローラー４２ａは、図７に示すように、内部に内側支持板４５を有するローラー４２ｂであってもよい。このローラー４２ｂでは、一対の外側支持板４４の間に、円筒部４３の内周壁の中央部を支持する円盤状の内側支持板４５が設けられているので、液晶パネル１０の表面をローラー４２ｂの周壁で押圧した際におけるローラー４２ｂの円筒部４３の変形をローラー４２ａよりも抑制することができる。さらに、ローラー４２ａ（４２ｂ）は、アクリル樹脂やスチレン系樹脂などの透明な樹脂により構成され、取っ手４１は、アルミニウムなどの剛性のある材料により構成されている。
【００４４】
次に、上記構成の点灯治具２０及び検査治具４０によって、液晶パネル１０を点灯検査する方法、すなわち、異物検出方法について、図８〜図１０を用いて説明する。ここで、図８は、本実施形態の異物検出方法を示すフローチャートである、なお、図９は、本実施形態の異物検出方法を示す平面模式図であり、図１０は、図９中のX−X断面に沿った断面模式図である。
【００４５】
まず、ＳｔＡ１では、検査対象である液晶パネル１０を点灯治具２０の下側フレーム２０ｂにセットする。
【００４６】
続いて、ＳｔＡ２では、液晶パネル１０の端縁を下側フレーム２０ｂの各位置決めピン２１に当接させて液晶パネル１０の位置決めをする。
【００４７】
そして、ＳｔＡ３では、下側フレーム２０ｂに重ね合わせるように上側フレーム２０ａを下降させ、液晶パネル１０の信号入力部の各信号入力端子に信号入力ピン２２を当接させる。これによって、検査信号を発生する信号発生回路（不図示）と液晶パネル１０とが、信号入力ピン２２及び信号入力端子を介して電気的に接続状態になる。
【００４８】
さらに、ＳｔＡ４では、信号発生回路の電源をオン状態にして、液晶パネル１０に検査信号を入力することにより、表示領域の全ての画素を点灯状態にする。
【００４９】
そして、ＳｔＡ５では、バックライト３０を点灯させた後に、図９及び図１０に示すように、液晶パネル１０の表面にローラー４２ａを転動させることにより、液晶パネル１０の表面をローラー４２ａの周壁（円筒部４３）で押圧する。
【００５０】
続いて、ＳｔＡ６では、ローラー４２ａによって押圧されたとき、及び押圧された後の液晶パネル１０の表面を観察して、リーク欠陥の有無を確認する。このとき、導電性異物１１ａが液晶層１１に混入して、アクティブマトリクス基板１０ａの画素電極と対向基板１０ｂの共通電極とが導電性異物１１ａを介して短絡した場合には、その短絡した画素が輝点として検出される。ここで、輝点が検出された液晶パネル１０は、ＳｔＡ１０を介して不良品となり、輝点が検出されなかった液晶パネル１０は、次のＳｔＡ７に進む。なお、ＳｔＡ１０は、後述するＳｔＡ８と実質的に同じであるので、説明を省略する。
【００５１】
ＳｔＡ７では、検査信号を他の信号に切り替えて、ＳｔＡ６と同様にリーク欠陥の有無を確認して、その他の項目の検査を行う。ここで、輝点が検出された液晶パネル１０は、ＳｔＡ１０を介して不良品となり、輝点が検出されなかった液晶パネル１０は、次のＳｔＡ８に進む。
【００５２】
ＳｔＡ８では、上側フレーム２０ａを上昇させ、液晶パネル１０の信号入力部の各信号入力端子と信号入力ピン２２との間の電気的な接続状態を解除させた後に、点灯治具２０から液晶パネル１０を取り出す。
【００５３】
最後に、ＳｔＡ９では、液晶パネル１０の割れ、カケ、キズなどの外観不良の有無を確認して、外観検査を行う。ここで、外観不良が確認された液晶パネル１０は、不良品となり、外観不良が確認されなかった液晶パネル１０は、良品となる。
【００５４】
以上のようにして、液晶パネル１０の点灯検査、すなわち、導電性異物１１ａの検出を行うことができる。
【００５５】
以上説明したように、本実施形態の異物検出方法及び検査治具４０によれば、液晶パネル１０の表面を押圧するローラー４２ａが透明であるので、液晶パネル１０においてローラー４２ａの表面と接触して最も押圧されるローラー４２ａの下の領域を容易に観察することができる。そのため、液晶パネル１０の表面をローラー４２ａの周壁で押圧しながら点灯検査する際には、導電性異物１１ａに起因する欠陥画素を輝点として容易に検出することができる。これにより、欠陥画素を容易に検出して、不良品の流出を抑制することができる。
【００５６】
また、ローラー４２ａは、薄肉な円筒部４３を有しているので、円筒部４３における光の屈折を抑制することができ、ローラー４２ａの下の欠陥画素を容易に検出することができる。
【００５７】
《発明の実施形態２》
図１１〜図１６は、本発明に係る異物検出方法及びそれに用いられる検査治具の実施形態２を示している。ここで、図１１は、本実施形態に係る異物検出方法で検査される液晶表示装置１５の上面図である。そして、図１２は、図１１の液晶表示装置１５を図中下側からみた側面図であり、図１３は、図１１の液晶表示装置１５を図中右側からみた側面図である。なお、以下の各実施形態において、図１〜図１０と同じ部分については同じ符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００５８】
液晶表示装置１５は、図１１〜図１３に示すように、少なくとも上面が矩形状に開口したシャーシ１６と、シャーシ１６の内部の上側及び下側にそれぞれ収容された液晶パネル１０及びバックライト１９とを備えている。また、液晶パネル１０を構成するアクティブマトリクス基板１０ａの対向基板１０ｂと重ならない領域には、駆動回路として複数のＩＣチップ１７が実装されている。各ＩＣチップ１７は、アクティブマトリクス基板１０ａや対向基板１０ｂに配設された表示用配線に電気的に接続されると共に、ＦＰＣ（フレキシブルプリント配線板）１８を介して外部回路などと電気的に接続されるように構成されている。
【００５９】
シャーシ１６は、例えば、縦１８０ｍｍ〜２２０ｍｍ、横２５０ｍｍ〜３００ｍｍ、厚さ０．５ｍｍ〜１．０ｍｍであり、縦１００ｍｍ〜１４０ｍｍ、横１６０ｍｍ〜２２０ｍｍの開口部１６ａを有し、アルミニウム・ステンレス・鉄などの金属材料により構成された筐体である。
【００６０】
バックライト１９は、上記実施形態１のバックライト光源３０と同様に、液晶パネル１０に対し背面から光を供給するものであり、シャーシ１６内に収容するように、バックライト光源３０をより薄型にユニット化したものである。
【００６１】
次に、上記構成の液晶表示装置１５を製造する方法について、検査治具４０によって点灯検査する方法、すなわち、異物検査方法を含めて、図１４〜図１６を用いて説明する。ここで、図１４は、本実施形態の異物検出方法を示すフローチャートである、なお、図１５は、本実施形態の異物検出方法を示す平面模式図であり、図１６は、図１５中のXVI−XVI断面に沿った断面模式図である。
【００６２】
まず、ＳｔＢ１では、液晶パネル１０の上面及び下面のそれぞれに偏光板を貼り付ける。
【００６３】
続いて、ＳｔＢ２では、液晶パネル１０にＩＣチップ１７及びＦＰＣ１８を取り付ける。
【００６４】
そして、ＳｔＢ３では、液晶パネル１０、ＩＣチップ１７及びＦＰＣ１８の三者間における電気的な接続検査を行う。
【００６５】
さらに、ＳｔＢ４では、シャーシ１６の内部に、ＩＣチップ１７及びＦＰＣ１８が取り付けられた液晶パネル１０、及びバックライト１９を組み込むことにより、液晶表示装置１５を作製する。
【００６６】
その後、ＳｔＢ５では、液晶表示装置１５のＦＰＣ１８と、検査信号を発生する信号発生回路とを接続する。
【００６７】
続いて、ＳｔＢ６では、信号発生回路の電源をオン状態にして、液晶パネル１０に検査信号を入力することにより、表示領域の全ての画素を点灯状態にする。
【００６８】
そして、ＳｔＢ７では、バックライト１９を点灯させた後に、図１５及び図１６に示すように、液晶表示装置１５の表面を、具体的には、シャーシ１６の開口部１６ａを介して液晶パネル１０の表面を、ローラー４２ａの周壁で押圧する。
【００６９】
さらに、ＳｔＢ８では、ローラー４２ａによって押圧されたとき、及び押圧された後の液晶表示装置１５（液晶パネル１０）の表面を観察して、リーク欠陥の有無を確認する。このとき、導電性異物１１ａが液晶層１１に混入して、アクティブマトリクス基板１０ａの画素電極と対向基板１０ｂの共通電極とが導電性異物１１ａを介して短絡した場合には、その短絡した画素が輝点として検出される。ここで、輝点が検出された液晶表示装置１５は、ＳｔＢ１２を介して不良品となり、輝点が検出されなかった液晶表示装置１５は、次のＳｔＢ９に進む。なお、ＳｔＢ１２は、後述するＳｔＢ１０と実質的に同じであるので、説明を省略する。
【００７０】
ＳｔＢ９では、検査信号を他の信号に切り替えて、ＳｔＡ６と同様にリーク欠陥の有無を確認して、その他の項目の検査を行う。ここで、輝点が検出された液晶表示装置１５は、ＳｔＢ１２を介して不良品となり、輝点が検出されなかった液晶表示装置１５は、次のＳｔＢ１０に進む。
【００７１】
ＳｔＢ１０では、液晶表示装置１５からＦＰＣ１８及び信号発生回路を取り外す。
【００７２】
最後に、ＳｔＢ１１では、液晶表示装置１５の割れ、カケ、キズなどの外観不良の有無を確認して、外観検査を行う。ここで、外観不良が確認された液晶表示装置１５は、不良品となり、外観不良が確認されなかった液晶表示装置１５は、良品となる。
【００７３】
以上のようにして、液晶表示装置１５（液晶パネル１０）の点灯検査を行うと共に、液晶表示装置１５を製造することができる。
【００７４】
以上説明したように、本実施形態の異物検出方法及び検査治具４０によれば、液晶パネル１０がバックライト１９と共にシャーシ１６の内部に収容された液晶表示装置１５において、液晶パネル１０の表面を押圧するローラー４２ａが透明であるので、ローラー４２ａの表面と接触して最も押圧される液晶パネル１０の領域、すなわち、ローラー４２ａの下の領域を容易に観察することができる。そのため、液晶パネル１０の表面をローラー４２ａの周壁で押圧しながら点灯検査する際には、導電性異物１１ａに起因する欠陥画素を輝点として容易に検出することができる。これにより、欠陥画素を容易に検出して、不良品の流出を抑制することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
以上説明したように、本発明は、欠陥画素を容易に検出することができるので、高品質が要求されるカーナビなどの車載用の液晶パネルの検査において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】実施形態１に係る異物検出方法に用いる点灯治具２０を示す上面図である。
【図２】実施形態１に係る異物検出方法に用いる点灯治具２０を示す第１の側面図である。
【図３】実施形態１に係る異物検出方法に用いる点灯治具２０を示す第２の側面図である。
【図４】実施形態１に係る異物検出方法に用いる検査治具４０の斜視図である。
【図５】検査治具４０を構成するローラー４２ａの横断面図である。
【図６】検査治具４０を構成するローラー４２ａの縦断面図である。
【図７】検査治具４０を構成するローラー４２ｂの縦断面図である。
【図８】実施形態１に係る異物検出方法を示すフローチャートである。
【図９】実施形態１に係る異物検出方法を示す平面模式図である。
【図１０】図９中のX−X断面に沿った断面模式図である。
【図１１】実施形態２に係る異物検出方法で検査される液晶表示装置１５の上面図である。
【図１２】実施形態２に係る異物検出方法で検査される液晶表示装置１５の第１の側面図である。
【図１３】実施形態２に係る異物検出方法で検査される液晶表示装置１５の第２の側面図である。
【図１４】実施形態２に係る異物検出方法を示すフローチャートである。
【図１５】実施形態２に係る異物検出方法を示す平面模式図である。
【図１６】図９中のXVI−XVI断面に沿った断面模式図である。
【図１７】導電性異物１１１ａが混入した液晶パネル１１０の断面図である。
【図１８】液晶パネル１１０の表面をローラー１４２で押圧したときの断面図である。
【図１９】従来の異物検査方法を示す平面模式図である。
【図２０】図１９中のXX−XX断面に沿った断面模式図である。
【符号の説明】
【００７７】
１０      液晶パネル
１０ａ    アクティブマトリクス基板
１０ｂ    対向基板
１１      液晶層
１１ａ    導電性異物
１６      シャーシ（筐体）
１６ａ    開口部
１９      バックライト
４０      検査治具
４２ａ，４２ｂ    ローラー
４３      円筒部
４４      外側支持板
４５      内側支持板
【図１】
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【図２】
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【図３】
2007316327.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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