(57)【要約】【課題】発光素子の特性を精緻に反映した補正値を発光素子に流れる電流に応じて決定する。【解決手段】単位回路Ｕは、給電線１７から供給される電流ＩELに応じて発光する発光素子Ｅと電流ＩELをゲートの電圧に応じて制御する駆動トランジスタＴdrとを含む。電圧制御部５２は、給電線１７の電源電圧ＶELを駆動期間にて電圧値Ｖ1に設定して設定期間にて電圧値Ｖ2に設定する。電圧値Ｖ1は駆動トランジスタＴdrを飽和領域にて動作させる電圧であり、電圧値Ｖ2は非飽和領域にて動作させる電圧である。電流測定部５３は、設定期間にて給電線１７から発光素子Ｅに流れる電流値Ｑを測定する。データ生成部５４および補正値決定部４２１は、電流値Ｑに応じて補正値Ａを決定する。駆動期間においては、階調データＧ2と補正値Ａとに応じた電圧が駆動トランジスタＴdrのゲートに印加されることで各発光素子Ｅが駆動される。【選択図】図２
2007240694.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
給電線に供給される電圧を第１期間にて第１電圧に制御するとともに第２期間にて第１電圧よりも低い第２電圧に設定する電圧制御手段と、
前記給電線を経由して供給される電流に応じて発光する発光素子と、
前記給電線を経由して前記発光素子に供給される電流の経路上に配置されて当該電流をゲートの電圧に応じて制御する駆動トランジスタと、
前記第２期間にて前記給電線を経由して前記発光素子に流れる電流を測定する電流測定手段と、
前記電流測定手段が測定した電流に応じて補正値を決定する補正値決定手段と、
階調データと前記補正値決定手段が決定した補正値とに応じた電圧を前記第１期間にて前記駆動トランジスタのゲートに供給する駆動手段と
を具備する発光装置。
【請求項２】
前記第１電圧は、前記駆動トランジスタを飽和領域にて動作させる電圧であり、前記第２電圧は、前記駆動トランジスタを非飽和領域にて動作させる電圧である
請求項１に記載の発光装置。
【請求項３】
各々が発光素子と駆動トランジスタとを含む複数の単位回路を具備し、
前記電流測定手段は、前記複数の発光素子を区分した素子群の各々について、当該素子群に属する所定数の発光素子に流れる電流を測定し、
前記補正値決定手段は、前記電流測定手段が測定した各電流に応じて前記素子群ごとに補正値を決定し、前記各補正値の補間によって前記各発光素子の補正値を決定する
請求項１または請求項２に記載の発光装置。
【請求項４】
当該発光装置の周囲の温度を測定する温度測定手段を具備し、
前記補正値決定手段は、前記電流測定手段が測定した電流と前記温度測定手段が測定した温度とに応じて補正値を決定する
請求項１から請求項３の何れかに記載の発光装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４の何れかに記載の発光装置を具備する電子機器。
【請求項６】
給電線を経由して供給される電流に応じて発光する発光素子と前記電流の経路上に配置された駆動トランジスタとを具備し、前記給電線に第１電圧が供給される期間にて前記駆動トランジスタのゲートを階調データと補正値とに応じた電圧に設定することで前記発光素子が制御される発光装置について、前記補正値を決定する方法であって、
前記給電線を前記第１電圧よりも低い第２電圧に設定する電圧制御過程と、
前記駆動トランジスタを導通状態に制御することで、前記電圧制御過程にて前記第２電圧に設定した前記給電線を経由して前記発光素子に電流を流す電流供給過程と、
前記電流供給過程にて前記発光素子に流れた電流を測定する電流測定過程と、
前記電流測定過程にて測定した電流に応じて前記補正値を決定する補正値決定過程と
を有する補正値の決定方法。
【請求項７】
前記第１電圧は、前記駆動トランジスタを飽和領域にて動作させる電圧であり、前記第２電圧は、前記駆動トランジスタを非飽和領域にて動作させる電圧である
請求項６に記載の補正値の決定方法。
【請求項８】
前記発光装置は、各々が発光素子と駆動トランジスタとを含む複数の単位回路を具備し、
前記電流測定過程においては、前記複数の発光素子を区分した複数の素子群の各々について、当該素子群に属する所定数の発光素子に流れる電流を測定し、
前記補正値決定過程においては、前記電流測定過程にて測定した各電流に応じて前記素子群ごとに補正値を決定し、前記各補正値の補間によって前記各発光素子の補正値を決定する
請求項６または請求項７に記載の補正値の決定方法。
【請求項９】
当該発光装置の周囲の温度を測定する温度測定過程を含み、
前記補正値決定過程においては、前記電流測定過程にて測定した電流と前記温度測定過程にて測定した温度とに応じて前記補正値を決定する
請求項６から請求項８の何れかに記載の補正値の決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光ダイオード素子などの発光素子の輝度（光量）を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
発光素子の制御のためにトランジスタ（以下「駆動トランジスタ」という）を利用した発光装置が従来から提案されている。駆動トランジスタは、例えば電源線と発光素子との間に介在する。電源線から発光素子に供給される電流は、駆動トランジスタのゲートの電圧に応じて制御される。
【０００３】
ところで、発光素子の電圧−電流特性（発光素子に印加される電圧と発光素子に流れる電流との関係）や電流−輝度特性（発光素子に流れる電流と発光素子の輝度との関係）といった様々な特性には初期的または経時的に誤差が発生する場合がある。この誤差の影響を低減するために各発光素子の輝度を補正する技術が従来から提案されている。
【０００４】
例えば特許文献１には、駆動トランジスタを導通状態としたときに各発光素子に流れる電流を測定し、この測定の結果に基づいて各発光素子の補正値を決定する技術が開示されている。発光装置の実際の使用時には、発光素子の階調（輝度）を指定する階調データと予め決定された補正値とに応じた電圧が駆動トランジスタのゲートに供給される。
【特許文献１】特開２００２−２７８５１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１の技術のもとで補正値の決定に際して測定される電流は、実際には駆動トランジスタのゲートの電圧に応じて支配的に決定され、各発光素子の特性（特に電圧−電流特性）がこの電流に与える影響は僅かである。したがって、以上の技術においては発光素子の特性の誤差を高い感度で検出することができず、各発光素子の特性を高精度に反映した補正の実現が困難であるという問題があった。このような事情に鑑みて、本発明は、発光素子の特性を精緻に反映した補正値を発光素子に流れる電流に応じて決定するという課題の解決を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
以上の課題を解決するために、本発明に係る発光装置は、給電線に供給される電圧を第１期間（例えば以下の各形態における駆動期間）にて第１電圧（例えば各形態における電圧値Ｖ1）に制御するとともに第２期間（例えば各形態における設定期間）にて第１電圧よりも低い第２電圧（例えば各形態における電圧値Ｖ2）に設定する電圧制御手段（例えば図２の電圧制御部５２）と、給電線を経由して供給される電流に応じて発光する発光素子と、給電線を経由して発光素子に供給される電流の経路上に配置されて当該電流をゲートの電圧に応じて制御する駆動トランジスタと、第２期間にて給電線を経由して発光素子に流れる電流を測定する電流測定手段（例えば図２の電流測定部５３）と、電流測定手段が測定した電流に応じて補正値を決定する補正値決定手段（例えば図２のデータ生成部５４や補正値決定部４２１）と、階調データと補正値決定手段が決定した補正値とに応じた電圧を第１期間にて駆動トランジスタのゲートに供給する駆動手段（例えばデータ線駆動回路２５）とを具備する。
【０００７】
以上の構成においては、補正値の決定の基礎となる電流値を電流測定手段が測定するときに、給電線の電圧が第１期間（すなわち発光素子の輝度が補正値に応じて補正される期間）の第１電圧よりも低い第２電圧に設定される。したがって、電流測定手段が測定する電流には発光素子の電圧−電流特性（以下「ＩＶ特性」という）が顕著に影響するから、発光素子の特性を精緻に反映した補正値を決定することが可能となる。
【０００８】
本発明の好適な態様において、第１電圧は、駆動トランジスタを飽和領域にて動作させる電圧であり、第２電圧は、駆動トランジスタを非飽和領域（線形領域）にて動作させる電圧である。この態様によれば、第１期間にて駆動トランジスタが飽和領域にて動作するから、発光素子に供給される電流が駆動トランジスタのゲートの電圧に応じて高精度に制御される。一方、補正値を決定する第２期間においては駆動トランジスタが非飽和領域にて動作するから、電流測定手段が測定する電流に発光素子の特性（特にＩＶ特性）を顕著に反映させることが可能となる。
【０００９】
なお、本発明においては、複数の発光素子について共通の補正値が決定される構成（例えば後述する第１実施形態）が採用される。ただし、発光素子ごとの特性の相違を補正するためには発光素子ごとに個別に補正値を決定する構成が好適である。この構成においては、例えばひとつの発光素子に流れる電流を測定した結果に応じて補正値が決定される。ただし、ひとつの発光素子に流れる電流は極めて微弱であるから、これを検出するためには高性能な電流検出手段が必要となって発光装置の製造コストが嵩むという問題がある。
そこで、本発明の好適な態様に係る発光装置は、各々が発光素子と駆動トランジスタとを含む複数の単位回路を含み、電流測定手段は、複数の発光素子を区分した素子群（例えば図７の領域Ｂ0に属する発光素子Ｅの集合）の各々について、当該素子群に属する所定数の発光素子（例えば図７の領域Ｂ1に属する複数の発光素子Ｅ）に流れる電流を測定し、補正値決定手段は、電流測定手段が測定した各電流に応じて素子群ごとに補正値（例えば図７の部分(b)に白丸で示された補正値）を決定し、各補正値の補間によって各発光素子の補正値（例えば図７の部分(b)に黒丸で示された補正値）を決定する。なお、以上の態様の具体例は第２実施形態として後述される。
この態様によれば、所定数の発光素子に流れる電流を測定した結果に応じた各素子群の補正値を補間することで各発光素子の補正値が決定される。したがって、ひとつの発光素子に流れる微弱な電流を検出するような性能は電流測定手段に要求されない。したがって、発光素子の製造コストを低減しながら各発光素子の補正値を決定できるという利点がある。
【００１０】
また、発光素子の特性は温度によっても変化する。そこで、本発明の好適な態様においては、当該発光装置の周囲の温度を測定する温度測定手段がさらに配置され、補正値決定手段は、電流測定手段が測定した電流と温度測定手段が測定した温度とに応じて補正値を決定する。この態様によれば、発光素子の温度に応じた最適な補正を実現することが可能である。以上の態様の具体例は第４実施形態として後述される。
【００１１】
本発明に係る発光装置は各種の電子機器に利用される。この電子機器の典型例は、発光装置を表示装置として利用した機器である。この種の電子機器としては、パーソナルコンピュータや携帯電話機などがある。もっとも、本発明に係る発光装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成するための露光装置（露光ヘッド）、液晶装置の背面側に配置されてこれを照明する装置（バックライト）、あるいは、スキャナなどの画像読取装置に搭載されて原稿を照明する装置など各種の照明装置など、様々な用途に本発明の発光装置を適用することができる。
【００１２】
本発明は、発光素子の輝度の補正値を決定する方法としても特定される。本発明に係る方法が利用される発光装置は、給電線を経由して供給される電流に応じて発光する発光素子と電流の経路上に配置された駆動トランジスタとを具備し、給電線に第１電圧が供給される期間にて駆動トランジスタのゲートを階調データと補正値とに応じた電圧に設定することで発光素子が制御される装置である。この補正値の決定方法は、給電線を第１電圧よりも低い第２電圧に設定する電圧制御過程と、駆動トランジスタを導通状態に制御することで、電圧制御過程にて第２電圧に設定した給電線を経由して発光素子に電流を流す電流供給過程と、電流供給過程にて発光素子に流れた電流を測定する電流測定過程と、電流測定過程にて測定した電流に応じて補正値を決定する補正値決定過程とを含む。以上の方法によれば、本発明に係る発光装置と同様の理由により、発光素子の特性を精緻に反映した補正値を発光素子に流れる電流に応じて決定することが可能となる。
【００１３】
各々が発光素子と駆動トランジスタとを含む複数の単位回路を具備する発光装置については、電流測定過程においては、複数の発光素子を区分した複数の素子群の各々について、当該素子群に属する所定数の発光素子に流れる電流を測定し、補正値決定過程においては、電流測定過程にて測定した各電流に応じて素子群ごとに補正値を決定し、各補正値の補間によって各発光素子の補正値を決定することが望ましい。この方法によれば、発光素子の電流の測定に要求される精度を抑制しながら各発光素子について補正値を決定することが可能である。なお、この態様の具体例は第２実施形態として後述される。
【００１４】
本発明に係る方法の好適な態様においては、当該発光装置の周囲の温度を測定する温度測定過程が実行され、補正値決定過程においては、電流測定過程にて測定した電流と温度測定過程にて測定した温度とに応じて補正値を決定する。この態様によれば、発光素子の温度に応じた最適な補正を実現することが可能である。以上の態様の具体例は第４実施形態として後述される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、画像を表示する手段として各種の電子機器に使用される発光装置の具体的な形態を示すブロック図である。同図に示すように、発光装置Ｄは、画像を表示する表示パネル１０と、発光装置Ｄの各部を制御する制御回路４０と、電源電圧ＶELおよび接地電圧Ｇndを生成して表示パネル１０に供給する電源回路５０とを具備する。
【００１６】
表示パネル１０は、複数の単位回路（画素回路）Ｕが配列された素子アレイ部１１と、制御回路４０による制御のもとに各単位回路Ｕを制御する走査線駆動回路２２、発光制御回路２３およびデータ線駆動回路２５とを具備する。各単位回路Ｕは、電気エネルギの供給によって発光する発光素子Ｅを含む。各発光素子Ｅは、複数の発光色（赤色・緑色・青色）の何れかに発光する。赤色・緑色・青色に発光する３個の発光素子Ｅによって、画像の最小の単位である画素が構成される。
【００１７】
素子アレイ部１１には、Ｘ方向に延在するｍ本の走査線１２と、各走査線１２に対をなしてＸ方向に延在するｍ本の発光制御線１３と、Ｘ方向に直交するＹ方向に延在するｎ本のデータ線１５とが形成される（ｍおよびｎの各々は２以上の自然数）。各単位回路Ｕは、走査線１２および発光制御線１３の対とデータ線１５との各交差に対応した位置に配置される。したがって、これらの単位回路Ｕは、縦ｍ行×横ｎ列のマトリクス状に配列する。また、素子アレイ部１１には、電源回路５０から各単位回路Ｕに至る給電線１７が形成される。電源回路５０から出力された電源電圧ＶELは給電線１７を経由して各単位回路Ｕに供給される。
【００１８】
制御回路４０は、クロック信号や同期信号など各種の制御信号の供給によって発光装置Ｄの各部の動作のタイミングを規定する。本実施形態の制御回路４０は、階調データＧ1の補正によって階調データＧ2を生成する補正回路４２を含む。階調データＧ1は、各発光素子Ｅの階調（輝度）を指定するデータであり、発光装置Ｄが搭載される電子機器のＣＰＵなど各種の上位装置から補正回路４２に対してシリアルに供給される。
【００１９】
発光装置Ｄが動作する期間は、設定期間と駆動期間とに区分される。設定期間は、補正回路４２による補正に適用される数値（以下「補正値」という）を各発光素子Ｅの特性に応じて決定するための期間である。駆動期間は、設定期間にて決定された補正値と上位装置から供給される階調データＧ1とに応じて各発光素子Ｅを駆動する期間（補正回路４２が生成した階調データＧ2に応じて各単位回路Ｕの発光素子Ｅを駆動する期間）である。換言すると、駆動期間は、上位装置によって指定された画像が素子アレイ部１１に実際に表示される期間である。
【００２０】
本実施形態における設定期間は、発光装置Ｄの電源が投入された直後の期間であり、駆動期間は設定期間の経過後の期間である。制御回路４０は、設定期間および駆動期間の何れかを指定する制御信号Ｓc（例えば設定期間と駆動期間とで論理レベルが変化する信号）を電源回路５０に出力する。なお、設定期間の時機や回数は任意である。例えば、補正値を決定する動作が複数回にわたって周期的に（例えば所定数のフレーム期間ごとに）実行される構成としてもよい。
【００２１】
走査線駆動回路２２は、ｍ本の走査線１２の各々を選択するための走査信号Ｙ1〜Ｙmを生成して各走査線１２に出力する。駆動期間において走査信号Ｙ1〜Ｙmの各々は順番にハイレベルに遷移する。すなわち、第ｉ行目（ｉは１≦ｉ≦ｍを満たす整数）の走査線１２に出力される走査信号Ｙiは、フレーム期間のうち第ｉ番目の水平走査期間にてハイレベルとなり（すなわち第ｉ行目の走査線１２が選択され）、それ以外の期間にてローレベルを維持する。
【００２２】
発光制御回路２３は、各単位回路Ｕの発光素子Ｅが実際に発光する期間を規定する発光制御信号Ｃ1〜Ｃmを生成して各発光制御線１３に出力する。駆動期間において、第ｉ行目の発光制御線１３に供給される発光制御信号Ｃiは、走査信号Ｙiがハイレベルとなる水平走査期間にてローレベルに遷移し、それ以外の期間にてハイレベルを維持する。したがって、走査信号Ｙiの論理レベルを反転した信号が発光制御信号Ｃiとして利用される。なお、図１においては発光制御回路２３と走査線駆動回路２２とが別個の回路として図示されているが、発光制御回路２３と走査線駆動回路２２とが単一のＩＣチップに搭載された構成も採用される。
【００２３】
データ線駆動回路２５は、各データ線１５にデータ信号Ｘ1〜Ｘnを出力する。データ信号Ｘ1〜Ｘnは、各単位回路Ｕの発光素子Ｅの輝度を指定する電圧信号である。駆動期間のうち走査信号Ｙiがハイレベルを維持する水平走査期間において、第ｊ列目（ｊは１≦ｊ≦ｎを満たす整数）のデータ線１５に供給されるデータ信号Ｘjは、第ｉ行に属する第ｊ列目の単位回路Ｕの発光素子Ｅに指定された輝度に応じた電圧Ｖdataとなる。各発光素子Ｅの輝度（データ信号Ｘjの電圧Ｖdata）は、制御回路４０からデータ線駆動回路２５に供給される階調データＧ2によって指定される。
【００２４】
図２は、電源回路５０および補正回路４２の具体的な構成を示すブロック図である。なお、同図においては制御回路４０のうち補正回路４２以外の部分の図示が省略されている。図２に示すように、補正回路４２は、補正値決定部４２１および分離部４２２と、各々が別個の発光色に対応する３個の補正部４２３（４２３r・４２３g・４２３b）とを含む。補正値決定部４２１は、各発光素子Ｅの実際の特性に基づいて発光色ごとに補正値Ａ（Ａr・Ａg・Ａb）を決定する手段である。本実施形態においては、発光色が共通する各発光素子Ｅについて共通の補正値Ａが決定される。なお、補正値Ａを決定する動作の具体例については後述する。
【００２５】
駆動期間において分離部４２２には上位装置から階調データＧ1がシリアルに供給される。分離部４２２は、階調データＧ1を発光色ごとに別個の系統の階調データ（Ｇ1[r]・Ｇ1[g]・Ｇ1[b]）に分離する。赤色の発光素子Ｅに対応する階調データＧ1[r]は分離部４２２から補正部４２３rに供給される。同様に、緑色に対応する階調データＧ1[g]は補正部４２３gに供給され、青色に対応する階調データＧ1[b]は補正部４２３bに供給される。
【００２６】
各補正部４２３は、駆動期間において、分離部４２２から供給される階調データＧ1と補正値決定部４２１から供給される補正値Ａとの演算（例えば加算や乗算）によって階調データＧ2を生成する手段である。例えば、補正部４２３rは、階調データＧ1[r]と補正値Ａrとの演算によって階調データＧ2[r]を生成して出力する。同様に、補正部４２３gは、階調データＧ1[g]と補正値Ａgとから階調データＧ2[g]を生成し、補正部４２３bは、階調データＧ1[b]と補正値Ａbとから階調データＧ2[b]を生成する。各補正部４２３から出力された３系統の階調データＧ2（Ｇ2[r]・Ｇ2[g]・Ｇ2[b]）はデータ線駆動回路２５に入力されてデータ信号Ｘjの生成に使用される。したがって、データ線駆動回路２５が駆動期間にて出力するデータ信号Ｘjの電圧Ｖdataは補正値Ａ（Ａr・Ａg・Ａb）と階調データＧ1（Ｇ1[r]・Ｇ1[g]・Ｇ1[b]）とに応じた電圧値となる。
【００２７】
次に、図３を参照して、各単位回路Ｕの構成を説明する。なお、同図においては第ｉ行に属する第ｊ列目のひとつの単位回路Ｕのみが図示されているが、素子アレイ部１１の総ての単位回路Ｕは同様の構成である。図３に示すように、単位回路Ｕは、給電線１７から接地線（接地電圧Ｇnd）に至る経路上に配置された発光素子Ｅを含む。本実施形態の発光素子Ｅは、有機ＥＬ（ElectroLuminescent）材料からなる発光層が陽極と陰極との間に介在する有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ：Organic Light Emitting Diode）素子である。発光層は、給電線１７から供給される電流ＩELの電流値に応じた輝度（光度）で発光する。発光素子Ｅの陰極は接地（接地電圧Ｇnd）される。
【００２８】
電流ＩELの経路上（給電線１７と発光素子Ｅとの間）にはｐチャネル型のトランジスタ（以下「駆動トランジスタ」という）Ｔdrが配置される。駆動トランジスタＴdrは、電流ＩELの電流値をゲートの電圧に応じて制御するＭＯＳＦＥＴ（Metal  Oxide  Semiconductor  Field  Effect  Transistor）である。駆動トランジスタＴdrのソースは給電線１７に電気的に接続される。駆動トランジスタＴdrのゲートとソース（給電線１７）との間には容量素子Ｃが介挿される。
【００２９】
駆動トランジスタＴdrのドレインと発光素子Ｅの陽極との間には両者間の電気的な接続（導通／非導通）を制御するｎチャネル型のトランジスタ（以下「発光制御トランジスタ」という）Ｔelが介在する。第ｉ行の各単位回路Ｕにおける発光制御トランジスタＴelのゲートは第ｉ行目の発光制御線１３に対して共通に接続される。また、駆動トランジスタＴdrのゲートとデータ線１５との間には両者間の電気的な接続を制御するｎチャネル型のトランジスタ（以下「選択トランジスタ」という）Ｔslが介在する。第ｉ行の各単位回路Ｕにおける選択トランジスタＴslのゲートは第ｉ行目の走査線１２に対して共通に接続される。
【００３０】
次に、駆動期間における単位回路Ｕの動作を説明する。各フレーム期間のうち第ｉ番目の水平走査期間にて走査信号Ｙiがハイレベルに遷移して選択トランジスタＴslがオン状態に変化すると、その時点でデータ線１５に供給されているデータ信号Ｘjの電圧Ｖdataが駆動トランジスタＴdrのゲートに印加される。また、走査信号Ｙiがハイレベルである期間においては発光制御信号Ｃiがローレベルとなって発光制御トランジスタＴelはオフ状態を維持するから、電流ＩELの経路が遮断されて発光素子Ｅは消灯する。
【００３１】
走査信号Ｙiがハイレベルを維持する期間においては電圧Ｖdataに応じた電荷が容量素子Ｃに蓄積されるから、走査信号Ｙiがローレベルに遷移して選択トランジスタＴslがオフ状態に変化しても、駆動トランジスタＴdrのゲートは電圧Ｖdataに維持される。一方、発光制御信号Ｃiがハイレベルに遷移すると、発光制御トランジスタＴelがオン状態に変化して電流ＩELの経路が確立される。したがって、発光素子Ｅには、駆動トランジスタＴdrのゲートの電圧Ｖdataに応じた電流ＩELが供給される。電流ＩELの供給によって発光素子Ｅは電圧Ｖdataに応じた輝度で発光する。電圧Ｖdataは階調データＧ1と補正値Ａとに応じて生成されるから、本実施形態においては発光素子Ｅの輝度が補正値Ａに応じて補正されると言うことができる。
【００３２】
電源回路５０から各単位回路Ｕに供給される電源電圧ＶELは、駆動期間において電圧値Ｖ1に設定される。電圧値Ｖ1は、駆動トランジスタＴdrのソース（給電線１７）に印加されたときに駆動トランジスタＴdrを飽和領域にて動作させるレベルである。すなわち、駆動トランジスタＴdrのゲート−ソース間の電圧ＶGSとドレイン−ソース間の電圧ＶDSと閾値電圧Ｖthとが「ＶGS−Ｖth＞ＶDS」という条件を満たすように電圧値Ｖ1は設定される。以上のように駆動期間では駆動トランジスタＴdrが飽和領域で動作するから、駆動トランジスタＴdrが駆動期間で非飽和領域にある構成と比較して、ドレイン−ソース間の電圧ＶDSが電流ＩELに与える影響は低減される（理想的には電流ＩELは電圧ＶDSに依存しない）。したがって、電流ＩELの電流値やそれに対応する発光素子Ｅの輝度を、ゲート−ソース間の電圧ＶGS（データ信号Ｘjの電圧Ｖdata）に応じて高精度に設定することが可能となる。
【００３３】
次に、図２を参照して、電源回路５０の具体的な構成を説明する。同図に示すように、電源回路５０は制御部５１と電圧制御部５２と電流測定部５３とデータ生成部５４とを含む。制御部５１は、制御回路４０から供給される制御信号Ｓcに応じて電源回路５０の各部を制御する。
【００３４】
電流測定部５３は、素子アレイ部１１の発光素子Ｅに実際に流れる電流（給電線１７に流れる電流）を設定期間にて検出する。本実施形態の電流測定部５３は、給電線１７に流れる電流の電流値Ｑをデジタルデータとして出力するＤＡＣ（Digital to Analog Converter）である。一方、データ生成部５４は、補正回路４２の補正値決定部４２１とともに、電流測定部５３から出力される電流値Ｑに基づいて補正値Ａ（Ａr・Ａg・Ａb）を決定する手段として機能する。以上のように本実施形態においては、発光素子Ｅに実際に流れる電流を検出した結果に基づいて補正値Ａが決定される。制御部５１は、制御信号Ｓcが設定期間を指定する場合には電流測定部５３およびデータ生成部５４を作動させ、制御信号Ｓcが駆動期間を指定する場合には電流測定部５３およびデータ生成部５４の動作を停止させる。
【００３５】
ここで、図４の部分(a)は、飽和領域で動作する駆動トランジスタＴdrのゲートの電圧（データ信号Ｘjの電圧Ｖdata）と発光素子Ｅに流れる電流ＩELとの関係を示すグラフである。同図の曲線Ｆa1は、発光素子Ｅが劣化していない初期的な段階（すなわち製造の直後）の特性を示し、曲線Ｆa2は、発光素子Ｅが経時的に劣化した段階の特性を示す。曲線Ｆa1と曲線Ｆa2とが殆ど合致することから理解されるように、駆動トランジスタＴdrが飽和領域にて動作している状態で発光素子Ｅに流れる電流ＩELは、駆動トランジスタＴdrのゲートの電圧Ｖdataに応じて支配的に決定され、各発光素子Ｅの特性は電流ＩELに殆ど反映されない。したがって、駆動トランジスタＴdrが飽和領域にて動作しているときに電流測定部５３が電流値Ｑを測定するとすれば、発光素子Ｅの特性の変化が高感度に検出されず、各発光素子Ｅの特性を精緻に反映した補正値Ａを設定できない（発光素子Ｅの輝度を補正する精度が制限される）という問題がある。なお、駆動トランジスタＴdrが飽和領域で動作する場合であっても、ゲートの電圧Ｖdataを充分に低下させれば、発光素子Ｅの特性の劣化に伴なう電流ＩELの変化（曲線Ｆa1と曲線Ｆa2との差異）は有効な補正値を選定できる程度に拡大する。しかしながら、この場合には図４の部分(a)に示すように所定の許容値を上回る過大な電流が発光素子Ｅに流れるから、発光素子Ｅが電気的に破壊される可能性がある。
【００３６】
以上の事情に鑑みて、本実施形態では、設定期間における駆動トランジスタＴdrの動作点が非飽和領域に設定される。図４の部分(b)は、非飽和領域で動作する駆動トランジスタＴdrのゲートの電圧Ｖdataと発光素子Ｅに流れる電流ＩELとの関係を示すグラフである。同図の曲線Ｆb1は、発光素子Ｅが劣化していない段階（部分(a)の特性Ｆa1と同じ段階）の特性を示し、曲線Ｆb2は、発光素子Ｅが経時的に劣化した段階（部分(b)の曲線Ｆa2と同じ段階）の特性を示す。
【００３７】
駆動トランジスタＴdrのドレイン−ソース間の電圧ＶDSは、発光素子Ｅの特性（より詳細には、発光素子Ｅの特性に応じた電源電圧ＶELの分圧比）によって変化する。そして、非飽和領域で動作する駆動トランジスタＴdrに流れる電流ＩELはドレイン−ソース間の電圧ＶDSによって変化する。したがって、図４の部分(b)に示すように、駆動トランジスタＴdrを非飽和領域にて動作させた場合、初期的な段階で発光素子Ｅに流れる電流ＩELと特性が劣化した段階で発光素子Ｅに流れる電流との相違は、駆動トランジスタＴdrが飽和領域で動作する場合と比較して増大する。しかも、発光素子Ｅに流れる電流は、電圧Ｖdataが充分に低い場合（例えばデータ電圧がゼロ（Ｇnd）である場合）であっても許容値を下回る電流値に抑制される。すなわち、発光素子Ｅに対する過電流の供給を抑制しながら、各発光素子Ｅの変化の影響を高感度に反映した電流値Ｑを電流測定部５３によって検出することが可能である。
【００３８】
以上のように、駆動トランジスタＴdrは、駆動期間においては飽和領域で動作するとともに設定期間においては非飽和領域で動作する。図２の電圧制御部５２は、給電線１７に供給される電源電圧ＶELの電圧値の制御によって駆動トランジスタＴdrの動作点を決定する手段である。すなわち、電圧制御部５２は、電源電圧ＶELを電圧値Ｖ1および電圧値Ｖ2の何れかに設定する。
【００３９】
電圧値Ｖ1は、既に説明したように駆動トランジスタＴdrを飽和領域にて動作させるレベルである。一方、電圧値Ｖ2は、ソースに印加されたときに駆動トランジスタＴdrが非飽和領域にて動作するように電圧値Ｖ1よりも低位に設定される。より具体的には、駆動トランジスタＴdrのゲート−ソース間の電圧ＶGSとドレイン−ソース間の電圧ＶDSと閾値電圧Ｖthとが「ＶGS−Ｖth＜ＶDS」という条件を満たすように電圧値Ｖ2は設定される。
【００４０】
制御部５１は、制御信号Ｓcが駆動期間を指定する場合には電圧制御部５２に電圧値Ｖ1を指示し、制御信号Ｓcが設定期間を指定する場合には電圧制御部５２に電圧値Ｖ2を指示する。したがって、電圧制御部５２は、駆動期間にて電源電圧ＶELを電圧値Ｖ1に設定して駆動トランジスタＴdrを飽和領域にて動作させる一方、設定期間にて電源電圧ＶELを電圧値Ｖ2に設定して駆動トランジスタＴdrを非飽和領域にて動作させる。
【００４１】
次に、設定期間における発光装置Ｄの動作（補正値Ａを決定する動作）を説明する。設定期間においては、電源電圧ＶELが電圧制御部５２によって電圧値Ｖ2に設定されることで駆動トランジスタＴdrの動作点は非飽和領域に設定される。また、制御回路４０は、赤色・緑色・青色のうちひとつの発光色（以下「測定対象色」という）に対応した各単位回路Ｕの発光制御トランジスタＴelおよび選択トランジスタＴslがオン状態となるように走査線駆動回路２２と発光制御回路２３とを制御する。さらに、制御回路４０は、各データ信号Ｘ1〜Ｘnの電圧Ｖdataが接地電圧Ｇndとなるようにデータ線駆動回路２５を制御する。
【００４２】
以上の動作によって、測定対象色の単位回路Ｕにおける駆動トランジスタＴdrは、ゲートに対する接地電圧Ｇnd（電圧Ｖdata）の供給によって非飽和領域でオン状態となる。したがって、測定対象色の各発光素子Ｅには、当該発光素子Ｅの特性を反映した電流ＩEL（図４の部分(b)における電流値Ｉ1）が流れる。電流測定部５３は、このときに給電線１７に流れる電流（すなわち測定対象色の総ての発光素子Ｅに流れる電流ＩELの総和）を検出してその電流値Ｑを特定する。
【００４３】
本実施形態においては、発光素子Ｅに供給される電流とその供給時の発光素子Ｅの輝度との関係（以下「ＩＬ特性」という）に基づいて発光色ごとに補正値Ａが決定される。一方、電流値Ｑは、発光素子Ｅに印加される電圧とその印加時に流れる電流との関係（ＩＶ特性）を反映した数値である。発光素子Ｅの劣化に伴なうＩＶ特性とＩＬ特性との変化には相関があるから、本実施形態においては、第１に、測定対象色の各発光素子Ｅの平均的なＩＶ特性が電流値Ｑから特定され、第２に、ＩＶ特性とＩＬ特性との相関に基づいてＩＶ特性からＩＬ特性が特定され、このＩＬ特性に基づいて補正値Ａが決定される。以上の手順について詳述すると以下の通りである。
【００４４】
電流測定部５３が電流値Ｑを測定するときに発光素子Ｅに印加される電圧は駆動トランジスタＴdrの特性（電源電圧ＶEL（電圧値Ｖ2）の分圧比）によって変化するから、電流値Ｑが発光素子ＥのＩＶ特性のみを反映した数値とならない場合（駆動トランジスタＴdrの特性の影響を受ける場合）もある。そこで、図２のデータ生成部５４は、各発光素子ＥのＩＶ特性のみを反映した数値（以下「ＩＶ特性値」という）Ｒを電流値Ｑから算定する。ＩＶ特性値Ｒは、発光素子Ｅにおける電流の流れ易さの指標（所定の電圧を発光素子Ｅの陽極と陰極との間に印加したときに流れる電流）となる数値である。
【００４５】
図５は、電流値ＱとＩＶ特性値Ｒとの関係を示すグラフである。同図に示される特性は、駆動トランジスタＴdrの電気的な特性などを考慮して実験的または統計的に決定される。データ生成部５４は、電流測定部５３が測定した電流値Ｑとの間で図５の関係が成立するようにＩＶ特性値Ｒを特定する。例えば、図５に示すように、電流値Ｑが「Ｑ1」であれば、データ生成部５４はＩＶ特性値Ｒを「Ｒ1」と特定する。データ生成部５４は、電流値ＱとＩＶ特性値Ｒとを対応付けるテーブル（電流測定部５３から供給される電流値Ｑに対応したＩＶ特性値Ｒを出力するテーブル）によって実現される。あるいは、図５の特性を反映した係数（例えば図５のグラフの傾斜）と電流値Ｑとの乗算によってデータ生成部５４がＩＶ特性値Ｒを算定する構成としてもよい。
【００４６】
次に、補正値決定部４２１は、データ生成部５４が特定したＩＶ特性値Ｒから、発光素子ＥのＩＬ特性に応じた数値（以下「ＩＬ特性値」という）Ｓを決定する。ＩＬ特性値Ｓは、例えば、発光素子Ｅに供給される電流が単位量だけ変化したときの発光素子Ｅの輝度の変化量である発光効率（すなわち電流−輝度の関係を示すグラフの傾斜）の指標となる数値である。
【００４７】
図６は、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの相関を示すグラフである。なお、同図においては、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの相関が赤色（Ｆr）・緑色（Ｆg）・青色（Ｆb）の各々について図示されている。図６に図示された各相関は実験的または統計的に決定される。なお、図６の「Ｓr0」は、赤色の発光素子Ｅの初期的なＩＬ特性値Ｓ（発光素子Ｅが劣化していない段階のＩＬ特性値Ｓ）である。同様に、「Ｓg0」は緑色のＩＬ特性値Ｓの初期値であり、「Ｓb0」は青色のＩＬ特性値Ｓの初期値である。図６に示すように、ＩＶ特性値ＲおよびＩＬ特性値Ｓとの間には、発光素子Ｅの経時的な劣化に伴なって双方の数値が低下する（発光素子Ｅが劣化するほどその特性が同図の矢印に沿って変化する）という相関がある。
【００４８】
補正値決定部４２１は、データ生成部５４が特定したＩＶ特性値Ｒとの間で、図６のうち測定対象色に対応した関係が成立するようにＩＬ特性値Ｓを特定する。例えば、測定対象色が赤色（特性Ｆr）である場合、ＩＶ特性値Ｒが「Ｒ1」であれば補正値決定部４２１はＩＬ特性値Ｓを「Ｓ1」と特定する。補正値決定部４２１は、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとを対応付けるテーブル（データ生成部５４から供給されるＩＶ特性値Ｒに対応したＩＬ特性値Ｓを出力するテーブル）によって実現される。あるいは、図６の各特性を反映した係数（例えば図６の各グラフの傾斜）とＩＶ特性値Ｒとの乗算によって補正値決定部４２１がＩＬ特性値Ｓを算定する構成としてもよい。そして、補正値決定部４２１は、ＩＶ特性値Ｒに応じて特定したＩＬ特性値Ｓが、発光素子Ｅの初期的なＩＬ特性値（Ｓr0・Ｓg0・Ｓb0）となるように測定対象色の補正値Ａを決定する。以上の過程を総ての発光色について実行することで発光色ごとの補正値Ａ（Ａr・Ａg・Ａb）が決定される。
【００４９】
以上のように、本実施形態においては、電流値Ｑの測定に際して駆動トランジスタＴdrが非飽和領域にて動作するから、発光素子Ｅの特性の僅かな変化をも忠実に反映した補正値を決定することができる。したがって、発光素子Ｅの特性を高い精度で初期的な状態に近づけることが可能である。
【００５０】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。第１実施形態においては補正値が発光色ごとに決定される構成を例示した。これに対し、本実施形態においては、素子アレイ部１１を区分した複数の領域の各々について補正値が決定される。なお、以下に示す各形態のうち作用や機能が第１実施形態と共通する要素については、図１ないし図３と同じ符号を付してその詳細な説明を適宜に省略する。
【００５１】
図７の部分(a)は、素子アレイ部１１における単位回路Ｕの部分的な配列の様子を示す概念図である。同図に示すように、素子アレイ部１１は複数の領域Ｂ0に区分される。各領域Ｂ0は複数の単位回路Ｕ（発光素子Ｅ）を含む。さらに、各領域Ｂ0内には、所定数の単位回路Ｕを含む領域（図７の部分(a)において斜線が付された領域）Ｂ1が画定される。
【００５２】
本実施形態においては、第１実施形態と同様の手順で複数の領域Ｂ1の各々について補正値が決定される。すなわち、ひとつの領域Ｂ1に属する各単位回路Ｕの駆動トランジスタＴdrが非飽和領域にてオン状態とされたうえで当該領域Ｂ1の各発光素子Ｅに流れる電流の総和が電流値Ｑとして特定され、この電流値Ｑに基づいて補正値Ａが決定される。
【００５３】
図７の部分(b)は、各単位回路Ｕの位置（横軸）と補正値（縦軸）との関係を示すグラフである。同図に図示された白丸は、各領域Ｂ1について決定された補正値Ａを示す。以上のように各領域Ｂ1について決定された補正値Ａを、当該領域Ｂ1を含む領域Ｂ0の総ての発光素子Ｅの輝度の補正に適用する構成も考えられる。しかしながら、この構成においては、領域Ｂ0の境界を挟んで隣接する発光素子Ｅの輝度の相違が顕著となって利用者に明確に知覚される可能性がある。そこで、本実施形態においては、図７の部分(b)に黒丸で示すように、領域Ｂ1について決定された各補正値Ａを補間することで、総ての単位回路Ｕの各々について補正値Ａが決定される。この構成によれば、各領域Ｂ0の境界を挟んで隣接する各発光素子Ｅの輝度の不連続性を解消することが可能である。なお、補正値Ａを補間によって算定する方法としては公知の様々な技術が適用される。例えば、各領域Ｂ1のＸ方向またはＹ方向に沿った補正値の変動を直線で近似して各単位回路Ｕの補正値を決定してもよいし、補正値の変動を曲線で近似して各単位回路Ｕの補正値を決定してもよい。
【００５４】
なお、以上の形態においては領域Ｂ0の部分である領域Ｂ1の各単位回路Ｕを対象として補正値Ａが算定される構成を例示したが、領域Ｂ0に属する総ての単位回路Ｕを対象として補正値Ａを算定してもよい。また、領域Ｂ0や領域Ｂ1の画定の仕方（各領域の形状や単位回路Ｕの個数）は任意に変更される。
【００５５】
＜Ｃ：第３実施形態＞
次に、本発明の第３実施形態について説明する。第１実施形態においては補正値Ａと階調データＧ1との演算によって各発光素子Ｅの輝度が補正される構成を例示したが、補正値Ａを各発光素子Ｅの輝度に反映させるための構成は以下の例示のように適宜に変更される。
【００５６】
本実施形態の制御回路４０は、上位装置から供給される階調データＧ1をそのまま階調データＧ2としてデータ線駆動回路２５に出力する。データ線駆動回路２５は、階調データＧ2に応じた電圧Ｖdataのデータ信号Ｘ1〜Ｘnを所定の電圧（以下「基準電圧」という）に基づいて生成する電圧出力型のＤＡＣを含む。制御回路４０は、補正値決定部４２１が決定した補正値Ａに応じて基準電圧を変化させる。例えば、発光素子Ｅは劣化によって発光効率が低下する。したがって、発光素子Ｅの経時的な劣化が進行するほど（すなわちＩＶ特性値ＲやＩＬ特性値Ｓが低下するほど）、データ信号Ｘjの電圧Ｖdataの範囲が拡大するように（より具体的には電圧Ｖdataの最低値が低下するように）、制御回路４０は基準電圧を補正値Ａに基づいて補正する。この構成によれば、発光素子Ｅに供給される電流の最大値が上昇するから、発光素子Ｅの劣化の程度に拘わらず輝度を所定値（例えば初期値）に維持することが可能である。また、各発光色の発光素子Ｅの輝度の相対比が維持されるようにデータ線駆動回路２５の基準電圧を補正してもよい。以上に説明したように、階調データＧ1と補正値Ａとの演算は本発明において必須ではない。
【００５７】
なお、発光素子Ｅが経時的に劣化していくとＩＶ特性値Ｒが低下して発光素子Ｅに電流が流れ難くなる。以上においては電圧Ｖdataの調整によって発光素子Ｅの輝度を維持する構成を例示したが、駆動期間における電源電圧ＶELの電圧値Ｖ1を調整することで発光素子Ｅの輝度を所定値に維持する構成も採用される。すなわち、発光素子Ｅの経時的な劣化が進行するほど電圧値Ｖ1が高くなるように、制御回路４０が補正値に基づいて電源回路５０（電圧制御部５２）を制御してもよい。以上のように、発光装置Ｄにおいては発光素子Ｅの輝度に補正値が反映される構成であれば足り、輝度を補正する具体的な構成や方法は任意である。
【００５８】
＜Ｄ：第４実施形態＞
発光素子ＥのＩＶ特性値ＲやＩＬ特性値Ｓは、発光素子Ｅの経時的な劣化の程度のほかに発光素子Ｅの温度によっても変化する。温度に応じた変化の態様はＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとで相違するから、図４に例示したＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの相関は発光素子Ｅの温度に応じて相違する。以上の事情を考慮して、本実施形態においては、電流測定部５３が検出した電流値Ｑと発光装置Ｄの周囲の温度（理想的には発光素子Ｅの温度）とに応じて補正値Ａが決定される。
【００５９】
図８は、本実施形態に係る発光装置Ｄの構成を示すブロック図である。同図に示すように、発光装置Ｄは、第１実施形態の要素に加えて温度センサ６０を具備する。温度センサ６０は、発光装置Ｄまたはその周囲の温度を測定する手段である。温度センサ６０によって測定された温度（以下では単に「計測温度」という）Ｔは補正回路４２の補正値決定部４２１に出力される。
【００６０】
図９は、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの関係を示すグラフ（図４に対応するグラフ）である。同図の曲線Ｆc1は計測温度Ｔが「Ｔ1」である場合の特性を示し、曲線Ｆc2は計測温度Ｔが「Ｔ2（Ｔ2＞Ｔ1）」である場合の特性を示す。図９に示すように、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの相関は発光装置Ｄの温度に応じて変化する。例えば、発光素子Ｅが劣化していない段階におけるＩＶ特性値ＲおよびＩＬ特性値Ｓは、計測温度Ｔが「Ｔ1」であれば点Ｐ1の数値となるのに対し、計測温度Ｔが「Ｔ2」であれば点Ｐ2の数値となる。なお、点Ｐ1と点Ｐ2とを通過する曲線ＣＬは、未だ劣化していない発光素子ＥのＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの関係が温度の変化に応じて変化する様子を示している。
【００６１】
補正値決定部４２１は、温度センサ６０による計測温度Ｔが「Ｔ1」であれば、データ生成部５４が特定したＩＶ特性値Ｒとの間で特性Ｆc1の関係を満たすようにＩＬ特性値Ｓを特定し、温度センサ６０による計測温度が「Ｔ2」であれば、ＩＶ特性値Ｒとの間で特性Ｆc2の関係を満たすようにＩＬ特性値Ｓを特定する。例えば、ＩＶ特性値Ｒが「Ｒ1」である場合、補正値決定部４２１は、計測温度Ｔが「Ｔ1」であればＩＬ特性値Ｓとして「Ｓa」を特定し、計測温度Ｔが「Ｔ2」であればＩＬ特性値Ｓとして「Ｓb」を特定する。そして、補正値決定部４２１は、第１実施形態と同様にＩＬ特性値Ｓに応じた補正値Ａを決定する。したがって、階調データＧ1の補正に適用される補正値Ａは計測温度Ｔに応じて相違する。
【００６２】
補正値決定部４２１は、ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとを対応付けるテーブルを計測温度Ｔの数値（範囲）ごとに設定することで実現される。すなわち、補正値決定部４２１は、複数のテーブルのうち温度センサ６０から通知される計測温度Ｔに対応したテーブルを選択するとともに、データ生成部５４が特定したＩＶ特性値Ｒに対応するＩＬ特性値Ｓを、この選択したテーブルから特定して出力する。あるいは、図６の特性を反映した係数を計測温度Ｔの範囲ごとに保持し、これらの係数のうち温度センサ６０から通知される計測温度Ｔに対応する係数とＩＶ特性値Ｒとの演算（例えば乗算）によってＩＬ特性値Ｓを算定してもよい。
【００６３】
以上に説明したように、本実施形態によれば、電流値Ｑと計測温度Ｔとに応じて補正値Ａが決定されるから、電流値Ｑや計測温度Ｔに拘わらず各発光素子Ｅの輝度を所定値に調整することが可能となる。なお、以上においては第１実施形態を基礎として本実施形態の構成を説明したが、本実施形態のように計測温度Ｔに応じて補正値Ａを決定する構成は第２実施形態や第３実施形態にも同様に採用される。
【００６４】
＜Ｅ：変形例＞
以上の各形態には様々な変形を加えることができる。具体的な変形の態様を例示すれば以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。
【００６５】
（１）変形例１  
以上の各形態においては、電流値Ｑの測定からＩＶ特性値ＲおよびＩＬ特性値Ｓの特定を経て補正値Ａが決定される構成を例示したが、電流値Ｑに対応した補正値Ａを決定するための具体的な手順は適宜に変更される。例えば、電流値Ｑと補正値Ａとの相関を予め設定し、この相関に基づいて電流値Ｑから直接的に補正値Ａが決定される構成としてもよい。この構成は、例えば、電流値Ｑと補正値Ａとが対応付けられたテーブル（電流測定部５３から供給される電流値Ｑに対応した補正値Ａを出力するテーブル）によって実現される。あるいは、電流値Ｑと補正値Ａとの相関を示す演算式に基づいて、電流値Ｑの演算によって補正値Ａが算定される構成としてもよい。
【００６６】
（２）変形例２  
各単位回路Ｕの構成は適宜に変更される。例えば、図３の発光制御トランジスタＴelが省略された構成（駆動トランジスタＴdrのドレインが発光素子Ｅに対して直接に接続された構成）としてもよい。また、例えば画像形成装置において感光体ドラムを露光するラインヘッド（光ヘッド）として、複数の単位回路Ｕがひとつの方向のみに配列されて単位回路Ｕごとにデータ線１５が形成された発光装置Ｄが利用される。この発光装置Ｄにおいては、選択トランジスタＴslが省略された構成（駆動トランジスタＴdrのゲートがデータ線１５に対して直接に接続された構成）としてもよい。また、単位回路Ｕを構成する各トランジスタの導電型は任意に変更される。
【００６７】
（３）変形例３  
以上の各形態においては発光素子Ｅとして有機発光ダイオード素子を例示したが、これ以外の発光素子を利用した発光装置にも本発明は適用される。例えば、無機ＥＬ材料からなる発光層を含む発光素子や発光ダイオード素子、電界放出（ＦＥ：Field  Emission）素子、表面導電型電子放出（ＳＥ：Surface-conduction  Electron-emitter）素子、弾道電子放出（ＢＳ：Ballistic  electron  Surface  emitting）素子など様々な発光素子を本発明の発光装置に採用することができる。
【００６８】
＜Ｆ：応用例＞
次に、本発明に係る発光装置を利用した電子機器について説明する。図１０ないし図１２には、以上の何れかの形態に係る発光装置Ｄを表示装置として採用した電子機器の形態が図示されている。
【００６９】
図１０は、発光装置Ｄを採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、各種の画像を表示する発光装置Ｄと、電源スイッチ２００１やキーボード２００２が設置された本体部２０１０とを具備する。発光装置Ｄは有機発光ダイオード素子を発光素子Ｅとして使用しているので、視野角が広く見易い画面を表示できる。
【００７０】
図１１は、発光装置Ｄを適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２と、各種の画像を表示する発光装置Ｄとを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、発光装置Ｄに表示される画面がスクロールされる。
【００７１】
図１２は、発光装置Ｄを適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal  Digital  Assistants）の構成を示す斜視図である。携帯情報端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２と、各種の画像を表示する発光装置Ｄとを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった様々な情報が発光装置Ｄに表示される。
【００７２】
なお、本発明に係る発光装置が適用される電子機器としては、図１０から図１２に示した機器のほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る発光装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光書込型のプリンタや電子複写機といった画像形成装置においては、用紙などの記録材に形成されるべき画像に応じて感光体を露光する光ヘッド（書込ヘッド）が使用されるが、この種の光ヘッドとしても本発明の発光装置は利用される。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明の第１実施形態に係る発光装置の構成を示すブロック図である。
【図２】電源回路および補正回路の構成を示すブロック図である。
【図３】単位回路の構成を示すブロック図である。
【図４】駆動期間および設定期間の各々について駆動トランジスタのゲートの電圧と発光素子に流れる電流との関係を示すグラフである。
【図５】電流値ＱとＩＶ特性値Ｒとの関係を示すグラフである。
【図６】ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの関係を示すグラフである。
【図７】第２実施形態において補正値を決定する方法を説明する概念図である。
【図８】第４実施形態に係る発光装置の構成を示すブロック図である。
【図９】ＩＶ特性値ＲとＩＬ特性値Ｓとの相関が温度に応じて変化する様子を示すグラフである。
【図１０】本発明に係る電子機器の形態（パーソナルコンピュータ）を示す斜視図である。
【図１１】本発明に係る電子機器の形態（携帯電話機）を示す斜視図である。
【図１２】本発明に係る電子機器の形態（携帯情報端末）を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００７４】
Ｄ……発光装置、１０……表示パネル、１１……素子アレイ部、Ｕ……単位回路、Ｅ……発光素子、１２……走査線、１３……発光制御線、１５……データ線、１７……給電線、２２……走査線駆動回路、２３……発光制御回路、２５……データ線駆動回路、４０……制御回路、４２……補正回路、４２１……補正値決定部、４２２……分離部、４２３（４２３r，４２３g，４２３b）……補正部、５０……電源回路、５１……制御部、５２……電圧制御部、５３……電流測定部、５４……データ生成部、６０……温度センサ、Ｔdr……駆動トランジスタ、Ｔel……発光制御トランジスタ、Ｔsl……選択トランジスタ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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