(57)【要約】【課題】ロール式ＩＣインレットの検査装置において、検査装置全体のスペースを拡大することなく、ＩＣインレットの検査及び不良ＩＣインレットの除去を可能にする。【解決手段】ロール式ＩＣインレットの検査装置（１００）は、ＩＣインレットが連続的に貼り付けられている剥離紙（１２０）がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロール（１３０）と、ＩＣインレット・ロールから剥離紙を巻き取る巻き取りロール（１４０）と、ＩＣインレットを検査するテスター（１５０）と、からなり、テスターはＩＣインレット・ロールに近接して配置されている。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣインレットが連続的に貼り付けられている剥離紙がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロールと、
前記ＩＣインレット・ロールから前記剥離紙を巻き取る巻き取りロールと、
前記ＩＣインレットを検査するテスターと、
からなり、
前記テスターは前記ＩＣインレット・ロールに近接して配置されていることを特徴とするロール式ＩＣインレットの検査装置。
【請求項２】
前記テスターにより不良品と判定されたＩＣインレットを前記剥離紙から取り外す不良品除去装置をさらに備えており、
前記不良品除去装置は前記ＩＣインレット・ロールと前記巻き取りロールとの間に配置されていることを特徴とする請求項１に記載のロール式ＩＣインレットの検査装置。
【請求項３】
ＩＣインレットが連続的に貼り付けられている剥離紙がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロールから、前記剥離紙を巻き取る巻き取りロールまでの間において、前記ＩＣインレットを検査するロール式ＩＣインレットの検査方法であって、
前記ＩＣインレット・ロールに近接して、前記ＩＣインレットの検査を行う過程を備えることを特徴とするロール式ＩＣインレットの検査方法。
【請求項４】
前記ＩＣインレット・ロールから前記巻き取りロールまでの間の領域において、不良品と判定されたＩＣインレットを前記剥離紙から取り外す過程を備えることを特徴とする請求項１に記載のロール式ＩＣインレットの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＩＣインレットが連続的に貼り付けられている剥離紙がロール状に巻かれてなるＩＣインレット・ロールにおけるＩＣインレットの各々を検査する装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図４は、従来のロール式ＩＣインレットの検査装置の一例を示す概略図である。
【０００３】
ＩＣインレット・ロール１０は、ＩＣインレットが連続的に貼り付けられている剥離紙２０がロール状に巻かれてなる。
【０００４】
剥離紙２０は巻き取りロール３０により巻き取られる。このため、剥離紙２０はＩＣインレット・ロール１０から巻き取りロール３０に向かってＦ１の方向に搬送される。
【０００５】
ＩＣインレット・ロール１０と巻き取りロール３０との間のほぼ中央には、剥離紙２０に取り付けられているＩＣインレットの良否を検査するテスター４０が配置されている。
【０００６】
テスター４０の上方には、剥離紙２０を保持するための保持部５０が配置されている。
【０００７】
保持部５０は、Ｆ１の方向に間隔をあけて配置され、剥離紙２０の上面に接する一対のローラー５１ａ、５１ｂと、ローラー５１ａ、５１ｂに対向して配置され、剥離紙２０の下面に接する支持プレート５２ａ、５２ｂとから構成されている。
【０００８】
剥離紙２０は、ＩＣインレット・ロール１０において、長時間ロール状に巻かれていたため、カールする傾向がある。このため、保持部５０を構成するローラー５１ａ、５１ｂと支持プレート５２ａ、５２ｂとの間に挟むことにより、剥離紙２０を真っ直ぐに引き延ばし、剥離紙２０を引き延ばした状態でテスター４０により各ＩＣインレットの良否がテストされる。
【特許文献１】特開２００４−２８６５６６号公報（図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
テスター４０により不良品と判定されたＩＣインレットは、適当な除去装置を用いて、あるいは、人手で、剥離紙２０から除去される。
【００１０】
不良品と判定されたＩＣインレットを適当な除去装置で、あるいは、人手で除去するにしても、除去装置を配置するスペースあるいは作業員が除去作業を行うスペースが必要である。このスペースはＩＣインレット・ロール１０と巻き取りロール３０との間に確保することが必要である。
【００１１】
しかしながら、図４に示した従来のロール式ＩＣインレットの検査装置においては、テスター４０がＩＣインレット・ロール１０と巻き取りロール３０とのほぼ中間に配置されているため、除去装置または作業員を配置するスペースとしては、ＩＣインレット・ロール１０とテスター４０との間のスペース及びテスター４０と巻き取りロール３０との間のスペースの何れかを選択しなければならない。
【００１２】
このため、これら二つのスペースの双方が除去装置または作業員を配置するスペースとしては小さすぎる場合には、ＩＣインレット・ロール１０とテスター４０との間の間隔またはテスター４０と巻き取りロール３０との間の間隔を拡げなければならず、検査装置の全体としてのスペースが拡大するという問題点が生じていた。
【００１３】
本発明は、このような従来のロール式ＩＣインレットの検査装置における問題点に鑑みてなされたものであり、検査装置全体のスペースを拡大することなく、ＩＣインレットの検査及び不良ＩＣインレットの除去を可能にするロール式ＩＣインレットの検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
以下に、「発明の実施の形態」において使用される参照符号を用いて、上述の課題を解決するための手段を説明する。これらの参照符号は、「特許請求の範囲」の記載と「発明の実施の形態」の記載との間の対応関係を明らかにするためにのみ付加されたものであり、「特許請求の範囲」に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いるべきものではない。
【００１５】
上記の目的を達成するため、本発明は、ＩＣインレット（１１０）が連続的に貼り付けられている剥離紙（１２０）がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロール（１３０）と、前記ＩＣインレット・ロール（１３０）から前記剥離紙（１２０）を巻き取る巻き取りロール（１４０）と、前記ＩＣインレット（１１０）を検査するテスター（１５０）と、からなり、前記テスター（１５０）は前記ＩＣインレット・ロール（１３０）に近接して配置されていることを特徴とするロール式ＩＣインレットの検査装置を提供する。
【００１６】
本検査装置は、前記テスター（１５０）により不良品と判定されたＩＣインレット（１１０）を前記剥離紙（１２０）から取り外す不良品除去装置（１８０）をさらに備えており、前記不良品除去装置（１８０）は前記ＩＣインレット・ロール（１３０）と前記巻き取りロール（１４０）との間に配置されていることが好ましい。
【００１７】
さらに、本発明は、ＩＣインレット（１１０）が連続的に貼り付けられている剥離紙（１２０）がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロール（１３０）から、前記剥離紙（１２０）を巻き取る巻き取りロール（１４０）までの間において、前記ＩＣインレット（１１０）を検査するロール式ＩＣインレットの検査方法であって、前記ＩＣインレット・ロール（１３０）に近接して、前記ＩＣインレット（１１０）の検査を行う過程を備えることを特徴とするロール式ＩＣインレットの検査方法を提供する。
【００１８】
本検査方法は、前記ＩＣインレット・ロール（１３０）から前記巻き取りロール（１４０）までの間の領域において、不良品と判定されたＩＣインレットを前記剥離紙（１２０）から取り外す過程を備えることが好ましい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に係るロール式ＩＣインレットの検査装置によれば、検査装置の中の空いたスペースとしての、ＩＣインレット・ロールと巻き取りロールとの間のスペースを利用してＩＣインレットの検査及び不良ＩＣインレットの除去を行うため、検査装置全体のスペースを拡大することなく、ＩＣインレットの検査及び不良ＩＣインレットの除去を行うことができる。
【００２０】
本発明に係るロール式ＩＣインレットの検査方法によっても、同様の効果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１は、本発明の第一の実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置の概略図である。
【００２２】
本実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置１００は、ＩＣインレット１１０（図２参照）が連続的に貼り付けられている剥離紙１２０がロール状に巻かれているＩＣインレット・ロール１３０と、ＩＣインレット・ロール１３０から剥離紙１２０を巻き取る巻き取りロール１４０と、ＩＣインレット１１０を検査するテスターとしてのリーダー／ライター１５０と、から構成されている。
【００２３】
図２は、剥離紙１２０に貼り付けられたＩＣインレット１１０を示す平面図である。
【００２４】
図２に示すように、一の方向に延びる剥離紙１２０の表面上には、ＩＣインレット１１０が等間隔に貼り付けられている。各ＩＣインレット１１０は、メモリを備えるＩＣチップ１１０ａと、ＩＣチップ１１０ａに接続され、ＩＣチップ１１０ａと非接触式の通信（データの送受信）を行うアンテナ１１０ｂと、から構成されており、ＩＣチップ１１０ａとアンテナ１１０ｂとは絶縁性基板１１０ｃ上に形成されている。
【００２５】
リーダー／ライター１５０はＩＣインレット・ロール１３０に近接して配置されている。
【００２６】
例えば、リーダー／ライター１５０は、ＩＣインレット・ロール１３０の中心と、剥離紙１２０がＩＣインレット・ロール１３０から離れる点とを結ぶ線分１３０ａに対向するように配置されている。あるいは、剥離紙１２０がＩＣインレット・ロール１３０から離れる点よりも上流側（ＩＣインレット・ロール１３０が回転する方向Ｒとは反対側の方向にＩＣインレット・ロール１３０の外周面に沿って進んだ位置、すなわち、図３に示す位置）にリーダー／ライター１５０を配置することも可能である。
【００２７】
例えば、リーダー／ライター１５０は、ＣＰＵからなる制御装置１６０に接続されており、制御装置１６０にはディスプレイ１７０が接続されている。
【００２８】
本実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置１００は次のように作動する。
【００２９】
剥離紙１２０は巻き取りロール１４０により巻き取られる。このため、剥離紙１２０はＩＣインレット・ロール１３０から巻き取りロール１４０に向かってＦ１の方向に搬送される。
【００３０】
ＩＣインレット・ロール１３０に近接して配置されているリーダー／ライター１５０は、Ｆ１の方向に連続的に搬送される各ＩＣインレット１１０を順に検査する。検査は、例えば、リーダー／ライター１５０から各ＩＣインレット１１０にテスト信号を送信し、返信信号を受信することにより、行う。
【００３１】
各ＩＣインレット１１０のテスト結果はリーダー／ライター１５０から制御装置１６０に送信され、制御装置１６０は送信されてきたテスト結果に基づいて、各ＩＣインレット１１０の良否を判定する。
【００３２】
次いで、制御装置１６０は判定結果をディスプレイ１７０に表示する。
【００３３】
本実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置１００のオペーレータは、ディスプレイ１７０に表示された判定結果を見ることにより、各ＩＣインレット１１０の良否を知ることができる。
【００３４】
不良と判定されたＩＣインレット１１０は、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースを利用して、除去することができる。例えば、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースに不良品除去装置を配置することにより、不良品のＩＣインレット１１０を除去することが可能である。
【００３５】
あるいは、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースに作業員を配置して人手で不良品のＩＣインレット１１０を除去することも可能である。この場合、作業員は、ディスプレイ１７０に表示された不良品のＩＣインレット１１０に関するデータに基づいて、不良品のＩＣインレット１１０を剥離紙１２０から取り外す。
【００３６】
図３は、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースに不良品除去装置１８０を配置した例を示す概略図である。
【００３７】
図３に示すように、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースには不良品除去装置１８０が配置され、不良品除去装置１８０は制御装置１６０と接続されている。
【００３８】
制御装置１６０が不良品と判定したＩＣインレット１１０の位置に関するデータ（そのＩＣインレット１１０が、任意の基準となるＩＣインレット１１０から数えて何番目に位置するかを示すデータ）は不良品除去装置１８０に送信される。不良品除去装置１８０は、制御装置１６０から受信したデータに基づいて、不良品のＩＣインレット１１０を剥離紙１２０から取り外し、廃棄する。
【００３９】
このような不良品除去装置１８０の一例としては、例えば、特開２００４−２８７７９９号に記載されたものがある。
【００４０】
なお、不良品除去装置１８０は、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースの全てにわたって配置されていてもよく、あるいは、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースの一部についてのみ配置されていてもよい。
【００４１】
以上のように、本実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置１００によれば、検査装置１００の中の空いたスペースとしての、ＩＣインレット・ロール１３０と巻き取りロール１４０との間のスペースを利用してＩＣインレット１１０の検査及び不良ＩＣインレットの除去を行うため、検査装置１００全体のスペースを拡大することなく、ＩＣインレット１１０の検査及び不良ＩＣインレットの除去を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の第一の実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置の概略図である。
【図２】剥離紙に貼り付けられたＩＣインレットを示す平面図である。
【図３】本発明の第一の実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置の応用例を示す概略図である。
【図４】従来のロール式ＩＣインレットの検査装置の概略図である。
【符号の説明】
【００４３】
１００  本発明の第一の実施形態に係るロール式ＩＣインレットの検査装置
１１０  ＩＣインレット
１１０ａ  ＩＣチップ
１１０ｂ  アンテナ
１１０ｃ  絶縁性基板
１２０  剥離紙
１３０  ＩＣインレット・ロール
１４０  巻き取りロール
１５０  リーダー／ライター
１６０  制御装置
１７０  ディスプレイ
１８０  不良品除去装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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