(57)【要約】【課題】光記録媒体に対する試し書きを行って、記録用のレーザ出力パワーを適切に設定するようにした光記録再生装置において、試し書きの手順を簡明化して短時間で完了できるようにし、併せて、光記録媒体やレーザダイオードの製品としてのばらつきや、レーザダイオードの経年変化にも良好に対処できるようにする。【解決手段】光記録再生装置１０のデータ格納部４０に３つの温度対制御信号値パターンを格納しておき、各パターンに基づいて、装置内温度の測定値に対応したレーザ出力パワー制御信号の値を生成し、それら３つのレーザ出力パワー制御信号の値の各々を用いて、合計３回の試し書きを行う。試し書きの結果、最もエラーレートの小さかったパターンを選択し、その選択したパターンに基づいて設定したレーザ出力パワー制御信号を用いて、実際の記録を実行する。【選択図】  図１
2007048345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオードと、該レーザダイオードの出力パワーを制御する出力パワー制御手段と、光記録媒体に対して情報の試し書きを行う試し書き手段と、装置内温度を測定する温度測定手段とを備え、前記出力パワー制御手段が、出力パワー制御信号を発生する制御信号発生手段と、前記出力パワー制御信号に応じて前記レーザダイオードを駆動するレーザダイオード駆動回路とから成る、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置において、
前記制御信号発生手段は、装置内温度と前記出力パワー制御信号の値とを関連付けた温度対制御信号値のパターンとして、互いに異なる複数の温度対制御信号値パターンを格納したデータ格納手段を備えており、
前記試し書き手段は、前記制御信号発生手段が前記複数の温度対制御信号値パターンの各々に基づいて発生した装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を用いて、複数回の試し書きを行うように構成されており、
前記制御信号発生手段は、前記複数回の試し書きの結果に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択するパターン選択手段を備えており、
前記制御信号発生手段は、選択された温度対制御信号値パターンに基づいて装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を発生し、こうして発生された出力パワー制御信号値を用いて光記録媒体への記録を行うようにした、
ことを特徴とする光記録再生装置。
【請求項２】
前記パターン選択手段は、前記複数回の試し書きにおいて得られた夫々のエラーレートの値に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択することを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。
【請求項３】
前記複数の温度対制御信号値パターンは、温度補正係数が互いに異なる温度の一次関数のパターンであることを特徴とする請求項２記載の光記録再生装置。
【請求項４】
前記光記録媒体は、書込可能なコンパクトディスク、書込可能なＤＶＤディスク、または光磁気ディスクであることを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。
【請求項５】
前記複数の所定の温度補正係数が、３つの所定の温度補正係数であることを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。
【請求項６】
記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオードと、該レーザダイオードの出力パワーを制御する出力パワー制御手段と、光記録媒体に対して情報の試し書きを行う試し書き手段と、装置内温度を測定する温度測定手段とを備え、前記出力パワー制御手段が、出力パワー制御信号を発生する制御信号発生手段と、前記出力パワー制御信号に応じて前記レーザダイオードを駆動するレーザダイオード駆動回路とから成る、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法において、
装置内温度と前記出力パワー制御信号の値とを関連付けた温度対制御信号値のパターンとして、互いに異なる複数の温度対制御信号値パターンを用意し、
前記制御信号発生手段が前記複数の温度対制御信号値パターンの各々に基づいて発生した装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を用いて、複数回の試し書きを行い、
前記複数階の試し書きの結果に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択し、
選択された温度対制御信号値パターンに基づいて装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を発生し、こうして発生された出力パワー制御信号値を用いて光記録媒体への記録を行う、
ことを特徴とする光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法。
【請求項７】
前記複数回の試し書きにおいて得られた夫々のエラーレートの値に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択することを特徴とする請求項６記載の光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法。
【請求項８】
前記複数の温度対制御信号値パターンは、温度補正係数が互いに異なる温度の一次関数のパターンであることを特徴とする請求項７記載の光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法。
【請求項９】
前記光記録媒体は、書込可能なコンパクトディスク、書込可能なＤＶＤディスク、または光磁気ディスクであることを特徴とする請求項６記載の光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法。
【請求項１０】
前記複数の所定の温度補正係数が、３つの所定の温度補正係数であることを特徴とする請求項６記載の光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置と、かかる光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法とに関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザビームを照射して情報を記録する光記録媒体には様々な規格のものがあり、例えばミニディスク（ＭＤ）をはじめとする各種の光磁気ディスク（ＭＯディスク）、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＷＲなどの書込可能なコンパクトディスク（ＣＤ）、それにＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＷＲなどの書込可能なＤＶＤディスクなどがある。これら光記録媒体に情報を記録する際には、記録用レーザビームの光強度（記録パワー）を適切に設定する必要があり、記録パワーが不適切であると書き込みエラーが発生する。
【０００３】
そのため、記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオードの出力パワーを制御して、記録パワーが適切な大きさとなるようにしている。これに関して考慮せねばならないのは、記録パワーの最適値は、光記録再生装置の装置内温度に応じて変化すること、即ち、最適記録パワーが温度依存性を有することである。光記録媒体に記録用レーザビームを照射するのは、光記録媒体の表面を加熱して所定温度へ昇温させるためであり、従って、装置内温度が低く光記録媒体が低温であれば、最適記録パワーは大きく、装置内温度が高くなって光記録媒体が高温になるほど最適記録パワーは低下する。このことが、最適記録パワーの温度依存性の大きな原因であるが、もう１つの原因として、レーザダイオードの出力特性が温度依存性を有するということもある。しかも、レーザダイオードの出力特性は、経年変化の影響を受け、そのことも、記録パワーを適切に設定する上での問題となっている。
【０００４】
従来、光記録再生装置の装置内温度とレーザダイオードの最適出力パワーとを関連付けたデータを格納しておき、そのデータのうちから、装置内温度の測定値に対応した出力パワーの値を読み出して、レーザダイオードの出力パワーを制御するということが行われていた（例えば、特許文献１、特許文献２など）。また、光記録媒体に対して試し書きを行い、その試し書きの結果に基づいて、レーザダイオードの出力パワーの最適値を求め、その値に従ってレーザダイオードの出力パワーを制御するということも行われていた（例えば、特許文献３、特許文献４など）。
【０００５】
【特許文献１】特開平１−１９６７３３号公報
【特許文献２】特開平８−１５３３４８号公報
【特許文献３】特開平６−２６７０７３号公報
【特許文献４】特開２００３−３１７２５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光記録媒体の温度を原因とする最適記録パワーの温度依存性は、レーザダイオードの最適出力パワーをデータとして格納しておく方法によってもかなり良好に対処できるが、レーザダイオードの出力特性の温度依存性を原因とするものは、この方法では良好に対処することが難しく、光記録媒体に対して試し書きを行う方法を用いることが望まれる。しかしながら、試し書きによって記録した情報を読み出して、その試し書きの結果を評価し、それに基づいて最適出力パワーを決定する手順を実行するためには、かなりの時間を要することに加えて、試し書きを実行するごとに、光記録媒体上の試し書きに使用した領域が消費されないしは劣化するという問題がある。特許文献３や特許文献４に記載されている方法では、試し書きによって得たデータを格納しておくことで、試し書きを頻繁に行わずに済むようにしているが、このような方法では、レーザダイオードの経年変化に対処できなくなる。更に、試し書きによって得たデータを光記録再生装置のメモリに格納しておく場合には、光記録媒体のばらつきによる最適出力パワーのばらつきに対処できず、一方、そのデータを個々の光記録媒体に記録して格納しておく場合には、ある光記録再生装置にある光記録媒体をはじめて装填したときに、時間のかかる試し書きの手順の全体を実行しなければならない。
【０００７】
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであって、光記録媒体に対する試し書きを行って、記録用のレーザ出力パワーを適切に設定するようにした光記録再生装置において、試し書きの手順を簡明化して短時間で完了できるようにし、併せて、光記録媒体やレーザダイオードの製品としてのばらつきや、レーザダイオードの経年変化にも良好に対処できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
かかる目的を達成するため、本発明に係る光記録再生装置は、記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオードと、該レーザダイオードの出力パワーを制御する出力パワー制御手段と、光記録媒体に対して情報の試し書きを行う試し書き手段と、装置内温度を測定する温度測定手段とを備え、前記出力パワー制御手段が、出力パワー制御信号を発生する制御信号発生手段と、前記出力パワー制御信号に応じて前記レーザダイオードを駆動するレーザダイオード駆動回路とから成る、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置において、前記制御信号発生手段は、装置内温度と前記出力パワー制御信号の値とを関連付けた温度対制御信号値のパターンとして、互いに異なる複数の温度対制御信号値パターンを格納したデータ格納手段を備えており、前記試し書き手段は、前記制御信号発生手段が前記複数の温度対制御信号値パターンの各々に基づいて発生した装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を用いて、複数回の試し書きを行うように構成されており、前記制御信号発生手段は、前記複数回の試し書きの結果に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択するパターン選択手段を備えており、前記制御信号発生手段は、選択された温度対制御信号値パターンに基づいて装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を発生し、こうして発生された出力パワー制御信号値を用いて光記録媒体への記録を行うようにしたことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明に係る光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法は、記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオードと、該レーザダイオードの出力パワーを制御する出力パワー制御手段と、光記録媒体に対して情報の試し書きを行う試し書き手段と、装置内温度を測定する温度測定手段とを備え、前記出力パワー制御手段が、出力パワー制御信号を発生する制御信号発生手段と、前記出力パワー制御信号に応じて前記レーザダイオードを駆動するレーザダイオード駆動回路とから成る、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置のレーザ出力パワー設定方法において、装置内温度と前記出力パワー制御信号の値とを関連付けた温度対制御信号値のパターンとして、互いに異なる複数の温度対制御信号値パターンを用意し、前記制御信号発生手段が前記複数の温度対制御信号値パターンの各々に基づいて発生した装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を用いて、複数回の試し書きを行い、前記複数階の試し書きの結果に基づいて前記複数の温度対制御信号値パターンのうちの１つを選択し、選択された温度対制御信号値パターンに基づいて装置内温度の測定値に対応した出力パワー制御信号値を発生し、こうして発生された出力パワー制御信号値を用いて光記録媒体への記録を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光記録媒体に対する試し書きは、従来の方法のように最適記録パワーの温度依存性の全体を把握するために行うのではなく、予め用意されている複数の温度対制御信号値パターンのうちから１つを選択するためにだけ行う。それゆえ、試し書きの手順が格段に簡明となり、短時間で完了し得るものとなる。そのため、例えば、光記録再生装置にリムーバブル形光記録媒体を装填するたびに試し書きを行うようにした場合でも、ユーザを長く待たせることがなく、また、光記録媒体やレーザダイオードの製品としてのばらつきにも好適に対処することができる。更に、短時間で完了する試し書きは、頻繁に行っても負担とならないため、これを反復して実行することで、レーザダイオードの経年変化にも良好に対処することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下に本発明の実施の形態について説明する。図１は、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置１０の要部を示したブロック図であり、この光記録再生装置１０は、本発明の実施の形態に係る装置であって、録音機能付ミニディスクプレーヤ（ＭＤプレーヤ）として構成されている。従って、この実施の形態において、光記録媒体とは光磁気ディスクの一種であるミニディスク（ＭＤ）である。尚、光記録再生装置１０は、録音機能付ＭＤプレーヤに必要とされる全ての構成要素及び機能を備えたものであるが、図１には、本発明に関連した構成要素及び機能のみを示した。
【００１２】
光記録再生装置１０は、ＭＤディスクのケース（不図示）内に収容されている光磁気ディスク１２を回転駆動するスピンドルモータ１４を備えている。図示例のＭＤディスクは「Ｈｉ−ＭＤ（ソニー株式会社の商標）」規格のものであって、その記録面の一部に試し書きのためのキャリブレーションエリアが設けられている。ただし、本発明の適用対象は「Ｈｉ−ＭＤ（ソニー株式会社の商標）」規格のＭＤプレーヤに限定されず、本発明は広範な適用範囲を有するものである。光磁気ディスク１２の表面に対向する位置に、光ピックアップ１６及び磁気ヘッド１８が装備されており、光ピックアップ１６は光ピックアップ駆動機構２０によって、また、磁気ヘッド１８は磁気ヘッド駆動機構２１によって、光磁気ディスク１２の径方向へ移動制御される。
【００１３】
光記録媒体である光磁気ディスク１２に情報を記録する際には、光ピックアップ１６から光磁気ディスク１２の記録面へ記録用レーザビームを照射し、照射点の温度をキュリー温度以上に加熱した上で、磁気ヘッド１８からの磁束によって書き込みを行う。そのため光ピックアップ１６は、記録用レーザビームを形成するレーザ光を出力するレーザダイオード２２を備えている。また、光ディスク１２から情報を読み出す際には、光ピックアップ１６から光磁気ディスク１２の記録面へ再生用レーザビームを照射し、その照射点からの反射光を検出して、その反射光の強度を反映した出力信号を得る。光ピックアップ１６から送出された出力信号は、高周波信号（ＲＦ信号）生成回路２４へ供給され、そこから更に、アナログデジタルコンバータ（Ａ／Ｄ）及びフェーズロックループ（ＰＬＬ）を含む信号処理部２６へ供給されて、所定のフォーマットを有するデジタルデータに再生される。再生されたデジタルデータは、誤り検出／訂正部（ＥＣＣ）２８へ供給され、ここでデータに含まれているエラーの検出及び訂正が行われる。更に、光記録再生装置１０においては、試し書きを行って再生したデータのエラーレートを計測するようにしており、そのために、ＥＣＣ２８にエラーレート計測部３０を接続してある。
【００１４】
光ピックアップ１６のレーザダイオード２２は、レーザダイオード駆動回路として機能する自動パワー制御回路（ＡＰＣ）３２により駆動されて、記録用レーザビームを形成するレーザ光を発生する。ＡＰＣ３２は、受取った制御信号（ＡＰＣｒｅｆ信号）に応じた大きさの電流をレーザダイオード２２へ供給するように構成されており、それゆえ、このＡＰＣ３２へ供給するＡＰＣｒｅｆ信号の信号値を適宜設定することによって、レーザダイオード２２の出力パワーを適切に設定することができる。従って、ＡＰＣｒｅｆ信号はレーザダイオード２２の出力パワーを制御するための出力パワー制御信号である。尚、かかる構成及び機能を有する自動パワー制御回路は公知のものである。
【００１５】
光記録再生装置１０は、この光記録再生装置１０の装置内温度を測定するための温度センサ３４を備えており、この温度センサ３４は、光ピックアップ１６及び光磁気ディスク１２に近接した位置に配設されている。温度センサ３４は、装置内温度の測定値を表すアナログ出力信号を送出し、このアナログ出力信号は、アナログデジタルコンバータ（Ａ／Ｄ）３６へ供給されて、デジタル信号に変換される。
【００１６】
光記録再生装置１０は、ワンチップコンピュータ（ＣＰＵ）３８を備えている。ＣＰＵ３８には、ＭＤプレーヤに必要とされる種々の制御を実行するための様々な機能モジュールが、ハードウェア、ソフトウェア、ないしはファームウェアによって構築されており、ただし図１には、それら機能モジュールのうち、本発明に関連した機能モジュールだけをブロックで示した。それらブロックには、データ格納部４０、パターン選択部４２、ＡＰＣｒｅｆ信号生成部４４、それに、試し書き実行部４６が含まれている。
【００１７】
データ格納部４０には、装置内温度とＡＰＣｒｅｆ信号の値とを関連付けたデータテーブルが３つ格納されており、各データテーブルにおける、装置内温度とＡＰＣｒｅｆ信号の値との関係を示すパターン（温度対制御信号値パターン）は、互いに異なっている。この温度対制御信号値パターンについて以下に説明する。
【００１８】
光磁気ディスクドライブ、ＣＤドライブ、それにＤＶＤドライブなどのように、光記録媒体にレーザビームを照射して記録を行う光記録再生装置では、記録パワーの最適値が温度依存性を有するため、装置内温度に応じて記録パワーを適切に設定する必要がある。この温度依存性は、第１に、装置内温度が低く光記録媒体が低温であれば、目的温度にまで昇温するのに必要なエネルギが大きいことから最適記録パワーが大きくなり、装置内温度が高くなって光記録媒体が高温になるほど必要エネルギが小さくなって最適記録パワーが低下することによるものである。また、第２に、レーザーダイオードの出力特性が、その素子温度（レーザ光を出力しているレーザダイオードの素子温度は、通常、装置内温度より僅かに高いものの、略々装置内温度に等しい）に応じて変動すること、即ち、レーザダイオードの出力パワーが温度依存性を有することも、最適記録パワーの温度依存性の原因となっている。
【００１９】
図２Ａ〜図２Ｅに、これら２つの原因により生じる記録パワーの最適値の変動の具体例を示した。図２において、Ａ、Ｃ、Ｅは、レーザダイオードの３通りの出力特性を示したグラフであり、Ｂ、Ｄ、Ｆは、レーザダイオードの出力特性が夫々Ａ、Ｃ、Ｅに示したものである場合の、光記録再生装置１０の装置内温度ｔに対するＡＰＣｒｅｆ信号の最適値（「ＡＰＣｒｅｆ信号の最適値」とは記録パワーを最適値にするＡＰＣｒｅｆ信号の値のことである）を示したグラフである。
【００２０】
図２のＡ、Ｃ、Ｅに示したレーザダイオードの出力特性のグラフは、ＡＰＣｒｅｆ信号の設定値（この設定値はレーザダイオードへ供給される電流に比例している）に対する、レーザダイオードが発生するレーザ光の出力パワーを表したグラフである。図２Ｃ及び図２Ｅのグラフには、レーザダイオードの素子温度（通常、装置内温度ｔと略々等しい）が夫々、低温、常温、高温の３通りであるときのグラフが、３本の直線によって示されており、図２Ａでは、それら３本の直線が重なり合って１本の直線で示されている。３つのグラフによって３通りの出力特性を示したのは、レーザダイオードの出力特性は、同一型番の製品であっても、個々の製品ごとにばらつきがあるからである。図２Ａに示したのは、レーザダイオードの出力特性の温度係数がたまたまゼロであった場合、即ち、出力特性が温度依存性を有していなかった場合であり、素子温度の高低にかかわらず、出力パワーはＡＰＣｒｅｆ信号の設定値のみに応じて決まった大きさになる。図２Ｃに示したのは、レーザダイオードの出力特性の温度係数が負の場合であって、ＡＰＣｒｅｆ信号の設定値が同一であっても、素子温度が低いほど出力パワーが大きく、高温になるにつれて出力パワーが低下する。図２Ｅに示したのは、これとは逆に、レーザダイオードの出力特性の温度係数が正の場合であって、ＡＰＣｒｅｆ信号の設定値が同一であっても、素子温度が低いほど出力パワーが小さく、高温になるにつれて出力パワーが増大する。
【００２１】
このように、レーザダイオードの出力特性には、素子温度が上昇するほど出力パワーが大きくなる正の温度係数を持つものもあれば、逆に出力パワーが小さくなる負の温度係数を持つものもあり、大量生産された同一型番の製品のレーザダイオードであっても、個々の素子ごとにばらつきがある。図３はこの温度係数のばらつきの具体例を示した頻度分布グラフであり、同一型番の製品の１５個のレーザダイオードについて、それらレーザダイオードの出力特性の温度係数（＝出力パワー変動量（％）／温度変動量（℃））の値が、０．０４（％／℃）幅に分割した値域のどこに属するかを示したものである。グラフの横軸に付した数字は、各値域の中央値を示している。このグラフからは、この型式番号の製品は、その出力特性の温度係数が、おそらく、−０．２４〜＋０．０４（％／℃）の範囲内に分布しているであろうということが推察される。
【００２２】
図２のＢ、Ｄ、Ｆのグラフは、レーザダイオードの出力特性が夫々図２のＡ、Ｃ、Ｅに示したものであった場合の、光記録再生装置１０の装置内温度ｔに対するＡＰＣｒｅｆ信号の最適値を示したグラフであり、既述のごとく、ＡＰＣｒｅｆ信号の最適値とは、最適記録パワーに対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設定値である。図２Ｂのグラフは、レーザダイオードの出力特性が、図２Ａに示したように温度依存性を持たないものであった場合を示しており、最適記録パワーの温度依存性は、光記録媒体の温度の高低のみを原因として発生しており、装置内温度が上昇するにつれて、最適記録パワーが低下しており、従って、ＡＰＣｒｅｆ信号の最適値が低下している。その変化は略々直線的、即ち一次関数的であって、この直線の傾きが、光記録再生装置１０の温度補正係数である。
【００２３】
図２Ｄのグラフは、レーザダイオードの出力特性が、図２Ｃに示したように負の温度係数を有するものである場合を示しており、最適記録パワーの温度依存性のうち、光記録媒体の温度の高低を原因とする温度依存性（図中に破線で示した）の幾分かが、レーザダイオードの出力特性を原因とする温度依存性によって相殺されており、その結果、グラフの直線の傾きが緩やかになり、光記録再生装置１０の温度補正係数の絶対値が小さくなっている。
【００２４】
図２Ｆのグラフは、レーザダイオードの出力特性が、図２Ｅに示したように正の温度係数を有するものである場合を示しており、最適記録パワーの温度依存性のうち、光記録媒体の温度の高低を原因とする温度依存性（図中に破線で示した）に、レーザダイオードの出力特性を原因とする温度依存性が重畳しており、その結果、グラフの直線の傾きが急峻になり光記録再生装置１０の温度補正係数の絶対値が大きくなっている。尚、図２Ｄ及び図２Ｆにおいて、破線のグラフと実線のグラフとが温度ｔ＝２５℃で交わっているのは、基準温度２５℃におけるレーザダイオードの出力パワーを基準出力パワーとみなし、この基準温度と素子温度との差を温度変動量とみなしているからである。
【００２５】
上述したようにデータ格納部４０に格納してある、装置内温度とＡＰＣｒｅｆ信号の値とを関連付けた３つのデータテーブルは、その各々が、装置内温度とＡＰＣｒｅｆ信号の値との関係を示すパターン（温度対制御信号値パターン）として、図２Ｂ、図２Ｄ、及び図２Ｆのグラフに例示したようなパターンを規定したものであり、従って、温度補正係数が互いに異なる温度の一次関数のパターンを規定している。より具体的には、各データテーブルは、光記録再生装置１０の使用温度範囲（例えば、−１０℃〜＋４０℃）を、適当な細かさの温度領域に分割して、それら各温度領域と、それら各温度領域に対応したＡＰＣｒｅｆ信号の最適値とを関連付けたデータテーブルとすればよい。
【００２６】
ただし、ここで重要なことは、互いに異なる複数の温度対制御信号値パターンを格納しておくことであって、それをデータテーブルの形で格納することは、必ずしも要求されない。例えば、温度対制御信号値パターンが温度の一次関数であることを利用して、装置内温度が基準温度（例えば２５℃）のときのＡＰＣｒｅｆ信号の最適値Ｐ０と、その一次関数の傾きとをデータとして格納しておけば、それらに基づいて、装置内温度の測定値に応じたＡＰＣｒｅｆ信号の最適値を算出することができるため、そのようなデータを格納しておくことも、温度対制御信号値パターンを格納しておくことに該当する。また、場合によっては温度の一次関数ではない温度対制御信号値パターンを格納しておくことが効果的なこともあり得る。
【００２７】
ここで説明している実施の形態において、光記録再生装置１０のデータ格納部４０に、温度補正係数が互いに異なる３つの温度対制御信号値パターンを格納しているのは、それらパターンのうちから１つを選択して、光記録媒体への情報の記録を行う際に使用するためである。それら３つの温度対制御信号値パターンにおける各々の温度補正係数の値は、光記録再生装置１０を大量生産する際に部品として使用する、同一型番の製品の多数のレーザダイオードの出力特性の温度係数を計測して、図３に示したような温度係数の頻度分布グラフを作成し、そのグラフから、そのレーザダイオード製品における出力特性の温度係数の取り得る値の範囲を推定し、その範囲の中央付近の値と、左右両端付近の値とを選定するようにすればよい。例えば、そのレーザダイオード製品における出力特性の温度係数の頻度分布が、図３に示したようなものであった場合には、データ格納部４０に格納する３つの温度対制御信号値パターンの各々の温度補正係数として、−０．２０、−０．０８、及び＋０．０４の、３つの値を選択するとよい。
【００２８】
尚、ここで説明している実施の形態では、データ格納部４０に格納する温度対制御信号値パターンの個数を３つとしているが、格納する温度対制御信号値パターンの個数を２つとしても、また４つ以上としても、本発明を実施することができる。ただし、格納する温度対制御信号値パターンの個数を多くするほど、記録パワーを高精度で最適値に近付けることができるが、その個数を少なくするほど、それら温度対制御信号値パターンのうちから１つを選択するために実行する複数回の試し書きに要する時間を短縮できるため、その個数を３個としたこの実施の形態は、それら２つの条件の好適な兼ね合いを提供するものである。
【００２９】
格納してある３つの温度対制御信号値パターンのうちから１つを選択する際には、ＡＰＣｒｅｆ信号生成部４４が、それら３つの温度対制御信号値パターンの各々に基づいて、そのときの装置内温度の測定値に対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設置値を生成し、従って、３つのパターンの各々に対応した３つのＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を生成する。そして、試し書き実行部４６が、それら３つのＡＰＣｒｅｆ信号の設定値の各々を用いて、３回の試し書きを実行する。更に、パターン選択部４２が、それら３回の試し書きの結果として得られる３つのエラーレートの値をエラーレート計測部３０から受け取り、受け取ったそれらエラーレートの値に基づいて、データ格納部４０に格納されている３つの温度補正係数のうちから１つを選択する。この後、ＡＰＣｒｅｆ信号生成部４４は、選択された温度対制御信号値パターンに基づいて、装置内温度の測定値に対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を発生し、光記録再生装置１０は、こうして発生されたＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を用いて光記録媒体への記録を行う。
【００３０】
図４は、以上に説明した光記録再生装置１０において実行される、本発明の実施の形態に係るレーザ出力パワー設定方法を示したフローチャートである。このフローチャートに示した手順は、ユーザが、光記録再生装置１０の記録実行キー（録音キー）を操作して、光記録媒体への記録を実行させようとしたときに開始される。フローチャートのステップ４０２では、装置内温度を測定する。続いてステップ４０４では、データ格納部４０に格納されている３つの温度対制御信号値パターンのうちの１つが既に選択されているか否かを、それを表しているフラグを参照することにより判定する。このフラグは、温度対制御信号値パターンの選択が行われたときにセットされ、光記録媒体であるＭＤディスクが光記録再生装置１０からアンロードされたときにリセットされるものである。この判定の結果が肯定（ＹＥＳ）であったならば、フローチャートの流れはステップ４２６へ進み、そこでは、ＡＰＣｒｅｆ信号精製部４４が、既に選択されている温度対制御信号値パターンに基づいて、装置内温度の測定値に対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を生成し、これによって、レーザ出力パワーの設定手順は完了する。これ以後、こうして生成されたＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を用いて光記録媒体への記録が実行される。
【００３１】
一方、ステップ４０４における判定の結果が否定（ＮＯ）であった場合には、フローチャートの流れはステップ４０６へ進み、そこでは、ＡＰＣｒｅｆ信号精製部４４が、データ格納部４０に格納されている３つの温度対制御信号値パターンのうちの第１のパターンに基づいて、そのときの装置内温度の測定値に１対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を生成する。続いてステップ４０８において、試し書き実行部４６が、光ピックアップ１６及び磁気ヘッド１８を駆動して、光記録媒体１２上のキャリブレーションエリアにアクセスし、このキャリブレーションエリアに対して試し書きを実行する。続いてステップ４１０において、その試し書きにより記録した情報を再生してエラーレートを計測し、そのエラーレートの値ＥＲ１を格納する。
【００３２】
続くステップ４１２、ステップ４１４、ステップ４１６では、データ格納部４０に格納されている３つの温度対制御信号値パターンのうちの第２のパターンに基づいて、ステップ４０６、ステップ４０８、ステップ４１０と同一の手順を反復して実行し、第２の温度対制御信号値パターンに対応したエラーレートの値ＥＲ２を計測して格納する。更に、続くステップ４１８、ステップ４２０、ステップ４２２では、データ格納部４０に格納されている３つの温度対制御信号値パターンのうちの第３のパターンに基づいて、ステップ４０６、ステップ４０８、ステップ４１０と同一の手順を反復して実行し、第３の温度対制御信号値パターンに対応したエラーレートの値ＥＲ３を計測して格納する。続いてステップ４２４では、以上によって得られた３つのエラーレートの値ＥＲ１、ＥＲ２、ＥＲ３を比較して、対応するエラーレートの値が最も小さい温度対制御信号値パターンを選択した上で、温度対制御信号値パターンの選択が行われたことを表すフラグをセットする。もし２つ以上の温度対制御信号値パターンでエラーレートの値が同一となり、それが最小のエラーレートの値であった場合には、それら温度対制御信号値パターンのうちの任意のものを選択して構わない。続いて、フローチャートの流れは上述したステップ４２６へ進み、そこで、選択された温度対制御信号値パターンに基づいて、装置内温度の測定値に対応したＡＰＣｒｅｆ信号の設定値を生成し、これによって、実際の記録に用いるＡＰＣｒｅｆ信号の値が設定される。
【００３３】
本発明によれば、光記録媒体に対する試し書きは、従来の方法のように最適記録パワーの温度依存性の全体を把握するために行うのではなく、予め用意されている複数の温度対制御信号値パターンのうちから１つを選択するためにだけ行う。それゆえ、試し書きの手順が格段に簡明となり、短時間で完了し得るものとなる。そのため、例えば、光記録再生装置にリムーバブル形光記録媒体を装填するたびに試し書きを行うようにした場合でも、ユーザを長く待たせることがなく、また、光記録媒体やレーザダイオードの製品としてのばらつきにも好適に対処することができる。更に、短時間で完了する試し書きは、頻繁に行っても負担とならないため、これを反復して実行することで、レーザダイオードの経年変化にも良好に対処することができる。
【００３４】
以上に説明した実施の形態において、光記録媒体は、光磁気ディスクの一種である「Ｈｉ−ＭＤ（ソニー株式会社の商標）」規格のＭＤディスクであったが、本発明の適用対象はこれに限られるものではなく、その他の光磁気ディスクや、書込可能なコンパクトディスク、それに書込可能なＤＶＤディスクにも適用することができる。また、光記録媒体がキャリブレーションエリアを備えたものである場合には、そのエリアを利用して試し書きを行うが、キャリブレーションエリアを備えない光記録媒体であっても、実際の記録に用いる領域を利用して本発明を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施の形態に係る、光記録媒体に対して記録及び再生を行う光記録再生装置の要部を示したブロック図である。
【図２】Ａ、Ｃ、Ｅはレーザダイオードの３通りの出力特性を示したグラフであり、Ｂ、Ｄ、Ｆはレーザダイオードの出力特性が夫々Ａ、Ｃ、Ｅに示したものである場合の、光記録再生装置の装置内温度に対するＡＰＣｒｅｆ信号の最適値を示したグラフである。
【図３】レーザダイオードの出力特性における温度係数のばらつきの具体例を示した頻度分布グラフである。
【図４】本発明の実施の形態に係るレーザ出力パワー設定方法を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００３６】
１０……光記録再生装置、１２……光記録媒体（光磁気ディスク）、１６……光ピックアップ、２２……レーザダイオード、２８……誤り検出／訂正部（ＥＣＣ）、３２……自動パワー制御回路（ＡＰＣ）、３４……温度センサ、３８……ＣＰＵ、４０……データ格納部、４２……パターン選択部、４４……ＡＰＣｒｅｆ信号生成部、４６……試し書き実行部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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