(57)【要約】【課題】検査の信頼性を向上させた表示基板の検査方法及びこれを用いた表示基板の検査装置を提供する。【解決手段】テスト配線、テスト配線のそれぞれと電気的に接続された信号印加パッド、及び信号印加パッドと電気的に接続された信号線を備える表示基板を検査する方法は、テスト配線に第１テスト信号を印加して第１信号不良の発生可否を検査し、第１信号不良が発生した場合、信号印加パッドを互いに短絡させ、及びテスト配線に第２テスト信号を印加して第２信号不良の発生可否を検査することを含む。このように、第１信号不良を検査した後に信号印加パッドを互いに短絡させて、更に第２信号不良を検査することにより、表示パネルのどこで不良が発生したかを把握する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト配線、前記テスト配線のそれぞれと電気的に接続された信号印加パッド、及び前記信号印加パッドと電気的に接続された信号線を備える表示基板を検査する方法において、
前記テスト配線に第１テスト信号を印加して第１信号不良の発生可否を検査し、
前記第１信号不良が発生した場合、前記信号印加パッドを互いに短絡させ、
前記テスト配線に第２テスト信号を印加して第２信号不良の発生可否を検査すること、を特徴とする表示基板の検査方法。
【請求項２】
前記第２テスト信号は、互いに同じであることを特徴とする請求項１記載の表示基板の検査方法。
【請求項３】
前記第１信号不良は、前記テスト配線及び前記信号線のうち、少なくとも１つの不良で、
前記第２信号不良は、前記信号線の不良であることを特徴とする請求項１記載の表示基板の検査方法。
【請求項４】
前記第２信号不良が発生しない場合、前記表示基板に発生した不良は前記テスト配線の不良で、
前記第２信号不良が発生した場合、前記表示基板に発生した不良は前記信号線の不良であることを特徴とする請求項３記載の表示基板の検査方法。
【請求項５】
前記テスト配線は、
前記信号印加パッドのそれぞれと電気的に接続された第１テスト線と、
前記第２テスト線と交差されるように配置され、前記第１テスト線のそれぞれと電気的に接続された第２テスト線と、を含むことを特徴とする請求項３記載の表示基板の検査方法。
【請求項６】
前記表示基板は、前記第２テスト線のそれぞれと電気的に接続され前記テスト信号を印加するテストパッドを更に含むことを特徴とする請求項５記載の表示基板の検査方法。
【請求項７】
前記信号線は、第１方向に沿って形成されたデータ配線及び前記第１方向と垂直な第２方向に沿って形成されたゲート配線を含み、
前記信号印加パッドは、前記データ配線のそれぞれと電気的に接続されたデータパッド及び前記ゲート配線のそれぞれと電気的に接続されたゲートパッドを含み、
前記信号印加パッドを互いに短絡させることは、
前記データパッドを６個ずつグループ化して互いに短絡させ、前記ゲートパッドを４個ずつグループ化して互いに短絡させることを特徴とする請求項１記載の表示基板の検査方法。
【請求項８】
ベース本体部と、
前記ベース本体部と結合され、表示基板のテストパッドと接触して前記テストパッドのそれぞれにテスト信号を印加するテスト信号印加部と、
前記ベース本体部と結合され、前記表示基板の信号印加パッドと接触して前記信号印加パッドを互いに短絡させるパッド短絡部と、を含むことを特徴とする表示基板の検査装置。
【請求項９】
前記パッド短絡部は、
前記ベース本体部と結合されたメイン本体と、
前記メイン本体と結合され、前記信号印加パッドと接触して前記信号印加パッドを互いに短絡させるパッド短絡ユニットと、を含むことを特徴とする請求項８記載の表示基板の検査装置。
【請求項１０】
前記パッド短絡ユニットは、
前記信号印加パッドと向かい合うように前記メイン本体の下方に配置され、前記信号印加パッドと接触して前記信号印加パッドを互いに短絡させる短絡本体と、
前記短絡本体と連結され、前記メイン本体を貫通して前記メイン本体の上部に突出した連結柱と、
前記連結柱と連結され前記短絡本体と対向するように前記メイン本体の上方に配置され、外力によって前記短絡本体を前記信号印加パッドと接触及び分離させる押え本体と、を含むことを特徴とする請求項９記載の表示基板の検査装置。
【請求項１１】
前記パッド短絡ユニットは、前記連結柱と結合される前記押え本体及び前記メイン本体の間に配置され、前記押え本体を元の位置に回復することができるように復元力を提供するスプリングを更に含むことを特徴とする請求項１０記載の表示基板の検査装置。
【請求項１２】
前記テスト信号印加部は、
前記ベース本体部と結合された信号印加本体と、
前記信号印加本体と結合され前記テストパッドと向かい合うように前記信号印加本体の下部に突出し、前記テストパッドと接触して前記テストパッドのそれぞれに前記テスト信号を印加する信号印加ピンと、を含むことを特徴とする請求項８記載の表示基板の検査装置。
【請求項１３】
前記テスト信号印加部は、前記表示基板の端部と平行な一方向に複数個が配置されることを特徴とする請求項８記載の表示基板の検査装置。
【請求項１４】
前記パッド短絡部は、前記テスト信号印加部の間に配置されることを特徴とする請求項１３記載の表示基板の検査装置。
【請求項１５】
前記ベース本体部上に配置され、前記パッド短絡部と結合され前記パッド短絡部を前記一方向に移送させる移送部を更に含むことを特徴とする請求項１３記載の表示基板の検査装置。
【請求項１６】
前記移送部は、
前記パッド短絡部を貫通するように前記一方向に長く形成され、前記パッド短絡部を前記一方向に動くようにガイドする移送棒と、
前記移送棒の両端部と結合され前記移送棒を支持する支持本体と、を含むことを特徴とする請求項１５記載の表示基板の検査装置。
【請求項１７】
前記移送棒は、互いに平行に少なくとも２つで構成されることを特徴とする請求項１６記載の表示基板の検査装置。
【請求項１８】
前記移送棒の長さは、３００ｍｍ以下であることを特徴とする請求項１７記載の表示基板の検査装置。
【請求項１９】
前記移送部は、前記一方向に長く形成され前記パッド短絡部と結合され、前記パッド短絡部を前記一方向に動くようにガイドする移送レールを含み、
前記パッド短絡部には、前記移送レールと結合するための結合溝が形成されることを特徴とする請求項１５記載の表示基板の検査装置。
【請求項２０】
前記移送部は、前記パッド短絡部の結合溝及び前記移送レールの間に配置され、前記パッド短絡部と前記移送レールとの間の摩擦力を減少させる移送ボールを更に含むことを特徴とする請求項１９記載の表示基板の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示基板の検査方法及びこれを用いた表示基板の検査装置に関し、より詳細には、検査の信頼性を向上させた表示基板の検査方法及びこれを用いた表示基板の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、液晶表示装置は、液晶の光透過率を利用して画像を表示する液晶表示パネル及び液晶表示パネルの下方に配置され液晶表示パネルに光を提供するバックライトアセンブリを含む。
【０００３】
液晶表示パネルは、薄膜トランジスタと画素電極とを有するアレイ基板、カラーフィルタと共通電極とを有するカラーフィルタ基板、及びアレイ基板とカラーフィルタ基板との間に介在する液晶層を含む。
【０００４】
アレイ基板は、薄膜トランジスタのそれぞれと電気的に接続された信号線、信号線のそれぞれと電気的に接続された信号印加パッド、信号印加パッドのそれぞれと電気的に接続されたテスト配線、及びテスト配線のそれぞれと電気的に接続されたテストパッドを更に含む。この際、テスト配線及びテストパッドは、一般的に液晶表示パネルが所望する画像を充分に実現するかを検査した後、アレイ基板から除去される。テスト配線及びテストパッドが除去された後、信号印加パッド上には薄膜トランジスタを駆動させるための別の駆動チップが装着される。
【０００５】
液晶表示パネルを検査する方法を簡単に説明すると、テストパッドにテスト信号を印加して液晶表示パネルにテスト画像を表示し、テスト画像を分析して液晶表示パネルの表示不良の可否を判断する。
【０００６】
しかし、テスト信号を印加して前記表示不良の可否を判断した結果、前記液晶表示パネルに表示不良が発生した場合、液晶表示パネルのどこに不良が発生して表示不良が生じたかを正確に分からない。特に、信号印加パッドを基準にテスト配線及びテストパッドの不良で表示不良が生じたか、或いは、信号線の不良で表示不良が生じたか分からない。このように、従来の検査方法は、表示不良の原因を正確に把握することができず、検査の信頼性が低いという問題点を有する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従って、本発明の技術的課題はこのような従来の問題点を解決することであって、本発明の目的は、表示不良の原因を検出して検査の信頼性を向上させた表示基板の検査方法を提供することにある。
【０００８】
本発明の他の目的は、前記した検査方法を用いた表示基板の検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の目的を達成するための一実施例による表示基板の検査方法は、テスト配線、テスト配線のそれぞれと電気的に接続された信号印加パッド、及び信号印加パッドと電気的に接続された信号線を具備する表示基板を検査する方法において、テスト配線に第１テスト信号を印加して第１信号の不良の発生の可否を検査し、第１信号不良が発生した場合、信号印加パッドを互いに短絡させ、テスト配線に第２テスト信号を印加して第２信号の不良の発生の可否を検査すること、を特徴とする。
【００１０】
一方、第１信号の不良は、テスト配線及び信号線のうち、少なくとも１つの不良で、第２信号の不良は、信号線の不良であると言える。例えば、第２信号不良が発生しない場合、表示基板に発生した不良はテスト配線の不良で、第２信号不良が発生した場合、表示基板に発生した不良は信号線の不良である。
【００１１】
本発明の更なる他の目的を達成するための一実施例による表示基板の製造方法は、ベース本体部、テスト信号印加部、及びパッド短絡部を含む。
【００１２】
テスト信号印加部はベース本体部と結合され、表示基板のテストパッドと接触してテストパッドのそれぞれにテスト信号を印加する。パッド短絡部はベース本体部と結合され、表示パネルの信号印加パッドと接触して信号印加パッドを互いに短絡させる。
【００１３】
一方、テスト信号印加部は、表示基板の端部と平行な一方向に複数個が配置されてもよい。この際、パッド短絡部は、テスト信号印加部の間に配置してもよい。
【００１４】
選択的に表示基板の検査装置は、ベース本体部上に配置され、パッド短絡部と結合されて、パッド短絡部を前記一方向に移送させる移送部を更に含んでもよい。
【００１５】
本発明によると、第１信号不良を検査した後に信号印加パッドを互いに短絡させ、更に第２信号不良を検査することにより、表示基板のテスト配線及び信号線のうち、どこで不良が発生したかを把握することができ、それによって検査の信頼性をより向上させることができるのみならず、表示基板の不良の原因を検出する別の検査を省略して検査費用を減少させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、添付図面を参照して、本発明の望ましい実施例をより詳細に説明する。
【００１７】
図１は、本発明の一実施例による表示基板の検査方法を示す順序図で、図２は、図１の表示基板の検査方法において検査対象である表示基板を概念的に示す平面図である。
【００１８】
まず、本実施例による表示基板の検査方法を説明する前に、検査方法の検査対象である表示基板について説明し、その後に表示基板の検査方法について詳細に説明する。
【００１９】
図２を参照すると、表示基板１００は、画素電極（図示せず）、薄膜トランジスタ（図示せず）、信号線１１０、信号印加パッド１２０、テスト配線１３０、及びテストパッド１４０を含む。この際、表示基板１００は、液晶表示パネル（図示せず）の構成要素の１つであるアレイ基板である。即ち、液晶表示パネルは、アレイ基板、アレイ基板とそれに対して対向配置されるカラーフィルタ基板、及びアレイ基板とカラーフィルタ基板との間に介在する液晶層を含むが、表示基板１００はこのような構成要素のうち、アレイ基板である。
【００２０】
画素電極は透明な導電性物質からなり、マトリックス形状に配置される。
【００２１】
薄膜トランジスタは、画素電極と電気的に接続され画素電極に充電される画素電圧を制御する。
【００２２】
信号線１１０は、薄膜トランジスタと電気的に接続され薄膜トランジスタを制御する。具体的に、信号線１１０は、第１方向に形成されたデータ配線１１２及び第１方向に対して垂直な第２方向に形成されたゲート配線１１４を含む。
【００２３】
信号印加パッド１２０は、信号線１１０のそれぞれと電気的に接続される。信号印加パッド１２０上には、別の駆動チップ（図示せず）が配置される。ここで、駆動チップは、信号印加パッド１２０と電気的に接続され、信号印加パッド１２０に画像を実現するための駆動信号を印加する。具体的に、信号印加パッド１２０は、データ配線１１２のそれぞれと電気的に接続されたデータパッド１２２及びゲート配線１１４のそれぞれと電気的に接続されたゲートパッド１２４を含む。
【００２４】
テスト配線１３０は、信号印加パッド１２０のそれぞれと電気的に接続される。具体的に、テスト配線１３０は、データパッド１２２のそれぞれと電気的に接続されたデータテスト配線１３２及びゲートパッド１２４と電気的に接続されたゲートテスト配線１３４を含む。
【００２５】
テストパッド１４０は、テスト配線１３０のそれぞれと電気的に接続される。テストパッド１４０上には、信号印加ピン（図示せず）が接触される。信号印加ピンは、テストパッド１４０にテスト画像信号を印加して、液晶表示パネルの画像をテストする。具体的に、テストパッド１４０は、テスト配線１３２のそれぞれと電気的に接続されたデータテストパッド１４２及びゲートテスト配線１３４のそれぞれと電気的に接続されたゲートテストパッド１４４を含む。
【００２６】
図３は、図２のＡ部分を拡大して示す平面図である。
【００２７】
図３を参照すると、データパッド１２２は、所定の個数が集まって１つのグループを形成し、このような複数個のグループが前記第２方向に沿って配置される。一例として、データパッド１２２は６個ずつグループ化される。このような１つのグループのデータパッド１２２は、データ配線１１２と一対一対応するように電気的に接続される。
【００２８】
データテスト配線１３２は、第１データテスト線１３２ａ及び第２データテスト線１３２ｂを含む。
【００２９】
第１データテスト線１３２ａは、前記第１方向に形成される。第１データテスト線１３２ａは、データパッド１２２と同じ個数にグループ化され、データパッド１２２と一対一対応するように電気的に接続される。
【００３０】
第２データテスト線１３２ｂは、第１データテスト線１３２ａと交差するように第２方向に形成される。第２データテスト線１３２ｂは、第１データテスト線１３２ａと同じ個数にグループ化され、第１コンタクトホール５０を通じて第１データテスト線１３２ａと一対一対応するように電気的に接続される。
【００３１】
データテストパッド１４２は、第２データテスト線１３２ｂと同じ個数にグループ化され、第２データテスト線１３２ｂと一対一対応するように電気的に接続される。好ましく、第２データテスト線１３２ｂの両端は、互いに異なる２つのグループのデータテストパッド１４２と電気的に接続される。その結果、データテストパッド１４２の全てのグループは、一対一対応するように電気的に接続される。
【００３２】
一方、１グループのデータパッド１２２は、第１短絡部１０を通じて互いに電気的に短絡されることができる。又、本実施例による検査方法を用いて表示基板１００を検査した後、仮像の第１カットライン３０に沿って切断してデータテスト配線１３２及びデータテストパッド１４２が表示基板１００から除去してもよい。ここで、第１カットライン３０は、第１データテスト線１３２ａと交差するようにデータパッド１２２と第２データテスト線１３２ｂの間に形成される。
【００３３】
図４は、図２のＢ部分を拡大して示す平面図である。
【００３４】
図４を参照すると、ゲートパッド１２４は、所定の個数が集まって１つのグループを形成し、このような複数個のグループが前記第１方向に沿って配置される。一例として、ゲートパッド１２４は４個ずつグループ化される。このような１つのグループのゲートパッド１２４は、ゲート配線１１４と一対一対応するように電気的に接続される。
【００３５】
ゲートテスト配線１３４は、第１ゲートテスト線１３４ａ及び第２ゲートテスト線１３４ｂを含む。
【００３６】
第１ゲートテスト線１３４ａは、第２方向に形成される。第１ゲートテスト線１３４ａは、ゲートパッド１２４と同じ個数にグループ化され、ゲートパッド１２４と一対一対応するように電気的に接続される。
【００３７】
第２ゲートテスト線１３４ｂは、第１ゲートテスト線１３４ａと交差するように第１方向に形成される。第２ゲートテスト線１３４ｂは、第１ゲートテスト線１３４ａと同じ個数にグループ化され、第２コンタクトホール６０を通じて第１ゲートテスト線１３４ａと一対一対応するように電気的に接続される。
【００３８】
ゲートテストパッド１４４は、第２ゲートテスト線１３４ｂと同じ個数にグループ化され、第２ゲートテスト線１３４ｂと一対一対応するように電気的に接続される。
【００３９】
一方、１つのグループのゲートパッド１２４は、第２短絡部２０を通じて互いに電気的に短絡されることができる。又、本実施例による検査方法を用いて表示基板１００を検査した後、仮像の第２カットライン４０に沿って切断してゲートテスト配線１３４及びゲートテストパッド１４４が表示基板１００から除去してもよい。ここで、第２カットライン４０は、第１ゲートテスト線１３４ａと交差するようにゲートパッド１２４と第２ゲートテスト線１３４ｂの間に形成される。
【００４０】
以下、図１を参照して、前述した表示基板１００を検査する方法について説明する。
【００４１】
まず、テスト配線１３０に第１テスト信号を印加する（Ｓ１０）。この際、テスト配線１３０に第１テスト信号が印加されると、表示基板１００の画素電極に電圧が充電され第１テスト画像を表示する。第１テスト信号は、第１データテスト信号及び第１ゲートテスト信号を含む。
【００４２】
より具体的に説明すると、第１データテスト信号はデータテストパッド１４２に印加され、このように印加された第１データテスト信号は、第１及び第２データテスト線１３２ａ、１３２ｂを経由して、データパッド１２２に更に印加される。データパッド１２２に印加された第１データテスト信号は、データ配線１１２を経由して薄膜トランジスタに印加され、薄膜トランジスタを制御する。
【００４３】
第１ゲートテスト信号は、ゲートテストパッド１４４に印加され、このように印加された第１ゲートテスト信号は、第１ゲートテスト線１３４ａ、第２ゲートテスト線１３４ｂ、ゲートパッド１２４、及びゲート配線１１４を通じて薄膜トランジスタに印加され、薄膜トランジスタを制御する。
【００４４】
このように、第１データテスト信号及び第１ゲートテスト信号によって制御された薄膜トランジスタは、画素電極に電圧を充電して第１テスト画像を表示する。第１テスト画像は、所望する画像が十分に表示されるか、即ち、色相、輝度等において所望する表示品質で画像が表示されるかを判断するための画像である。
【００４５】
その後、第１テスト画像を観察して第１信号不良が発生したかの可否を検査する（Ｓ２０）。ここで、第１信号不良は、テスト配線１３０の不良によって発生するか、信号線１１０の不良によっても発生することがありうる。
【００４６】
まず、テスト配線１３０の不良は、第１及び第２データテスト線１３２ａ、１３２ｂの電気的な接続関係での不良と、第１及び第２ゲートテスト線１３４ａ、１３４ｂの電気的な接続関係での不良を意味する。
【００４７】
より具体的に、第１及び第２データテスト線１３２ａ、１３２ｂは、第１コンタクトホール５０を通じて一対一対応するように電気的に接続されるが、このような電気的な接続関係に問題点が発生することがありうる。一例として、１つの第１データテスト線１３２ａが２以上の第２データテスト線１３２ｂと電気的に接続されるか、又は、前記第２データテスト線１３２ｂのうち、いずれか１つとも電気的に接続されない不良が発生することがありうる。
【００４８】
同様に、第１及び第２ゲートテスト線１３４ａ、１３４ｂは、第２コンタクトホール６０を通じて一対一対応するように電気的に接続されるが、このような接続関係でも問題点が発生することがありうる。
【００４９】
一方、信号線１１０の不良は、データ配線及びゲート配線が断線するか、短絡する不良を意味する。
【００５０】
このように、第１信号不良の発生可否を検査した結果、第１信号不良が発生しない場合、表示基板１００に不良が発生しないことがわかる（Ｓ７０ａ）。
【００５１】
一方、第１信号不良の発生可否を検査した結果、第１信号不良が発生した場合、テスト配線１３０及び信号線１１０のうち、いずれか一つに不良が発生したことがわかる。しかし、第１信号不良の原因がテスト配線１３０の不良によるか、それとも信号線１１０の不良によるかは正確にわからない。
【００５２】
従って、第１信号不良の原因を正確に把握するために、後述の検査を更に行う。
【００５３】
まず、導電性物質からなる別の短絡本体を利いて信号印加パッド１２０を互いに短絡させる（Ｓ３０）。好ましくは、第１信号不良が発生された部分と対応する信号印加パッド１２０のグループを短絡本体を用いて互いに短絡させる。
【００５４】
具体的に例を挙げて説明すると、第１信号不良がデータ配線１１２のうち、一部に沿って形成された場合には、前記データ配線１１２の一部と対応するデータパッド１２２のグループを第１短絡部１０によって互いに短絡させる。
【００５５】
第１信号不良がゲート配線１１４のうち、一部に沿って形成された場合には、ゲート配線１１４の一部と対応するゲートパッド１２４のグループを第２短絡部２０によって互いに短絡させる。
【００５６】
短絡本体を用いて信号印加パッド１２０を互いに短絡させた後、テスト配線１３０に第２テスト信号を印加する（Ｓ４０）。即ち、第２テスト信号が第２データテスト信号及び第２ゲートテスト信号を含むと仮定する場合、第２データテスト信号はデータテストパッド１４２に印加し、第２ゲートテスト信号はゲートテストパッド１４４に印加する。
【００５７】
第２テスト信号は、互いに同じ信号であることが好ましい。即ち、第２データテスト信号と第２ゲートテスト信号は互いに同じ信号であることが好ましい。
【００５８】
このように、テスト配線１３０に第２テスト信号を印加すると、液晶表示パネル上には第２テスト画像が表示される。
【００５９】
その後、前記第２テスト画像を観察して第２信号不良が発生したかの可否を検査する（Ｓ５０）。ここで、第２信号不良は信号線１１０の不良によって発生される。
【００６０】
第２信号不良が発生したかの可否を検査した結果、第２信号不良が発生しない場合、表示基板１００に発生した不良は、テスト配線１３０に発生した不良であることがわかる（Ｓ７０ｂ）。即ち、第１信号不良は、テスト配線１３０及び信号線１１０のうち、いずれか一つの不良で、第２信号不良は、信号線１１０の不良なので、第１信号不良は発生するが、第２信号不良が発生しない場合は、表示基板１００で発生した不良は、テスト配線１３０による不良であることがわかる。
【００６１】
第２信号不良の発生可否を検査した結果、第２信号不良が発生した場合、表示基板１００に発生した不良は、テスト配線１３０の不良ではなく、信号線１１０の不良であることがわかる（Ｓ７０ｃ）。
【００６２】
このように本実施例による表示基板１００の検査方法によると、表示基板１００に発生した不良がテスト配線１３０及び信号線１１０のうち、どの位置で不良が発生したかを把握することができ、それによって検査の信頼性をより向上させることができる。又、表示基板１００の不良の原因が何かを検出する別の検査を省略して検査費用を減少させることができる。
【００６３】
又、テスト配線１３０は、一般的に表示基板１００を検査した後に表示基板１００から除去されるので、表示基板１００に発生した不良がテスト配線１３０のみの不良であると判断される場合、テスト配線１３０が表示基板から除去されるとき、表示基板１００の不良も共に除去することができる。その結果、液晶表示パネルに所要される費用及び時間が減少し、液晶表示パネルの生産性がより向上することができる。
【００６４】
図１を用いて説明した表示パネルの検査方法は、第１信号不良がテスト配線１３０及び信号線１１０のうち、いずれか一つの不良であることを仮定して説明したことである。
【００６５】
しかし、第１信号不良がテスト配線１３０及び信号線１１０のうち、少なくともいずれか一つの不良である場合、即ち、第１信号不良がテスト配線１３０の不良であるか、信号線１１０の不良であるか、又は、テスト配線１３０及び信号線１１０の不良である場合には、図１の検査方法に第１及び第２信号不良を比較することが追加されることが好ましい。
【００６６】
図５は、図１と異なる表示基板の検査方法を示す順序図である。
【００６７】
以下、図５を参照して、新規に追加されることを詳細に説明する。
【００６８】
第２信号不良の発生可否を検査した結果（Ｓ５０）、第２信号不良が発生した場合には、第１信号不良及び第２信号不良を互いに比較することを更に行う（Ｓ６０）。この際、第１及び第２信号不良を互いに比較することは、表示される画像を通じて視覚的に比較してもよいが、これと異なり、電流測定装置のような別の装置を通じて比較してもよい。
【００６９】
第１及び第２信号不良を互いに比較した結果、第１及び第２信号不良が互いに同じ場合、表示基板１００に発生した不良は、信号線１１０のみの不良であることがわかる（Ｓ７０ｃ）。ここで、第１及び第２信号不良が互いに同じであるというのは、第１信号不良が発生した位置と第２信号不良が発生した位置が互いに同じであるということを意味する。
【００７０】
一方、第１及び第２信号不良を互いに比較した結果、第１及び第２信号不良が互いに異なる場合、表示基板１００に発生した不良は、テスト配線１３０と信号線１１０の双方に発生した不良であることがわかる（Ｓ７０ｄ）。即ち、表示基板１００のうち、テスト配線１３０の一部にも不良が発生し、信号線１１０の一部にも不良が発生したことがわかる。
【００７１】
このように、図１の検査方法に第１及び第２信号不良を比較することを更に追加することにより、表示基板１００に発生した不良がテスト配線１３０のみの不良であるか、信号線１１０のみの不良であるか、又はテスト配線１３０及び信号線１１０の不良であるかをより正確に判断することができる。
【００７２】
図６は、本発明の第１実施例による表示基板の検査装置を示す斜視図で、図７は、図５のＣ部分を拡大して示す平面図である。
【００７３】
図６及び図７を参照すると、本実施例による表示基板の検査装置２００は、ベース本体部２１０、テスト信号印加部２２０、及びパッド短絡部２３０を含む。この際、表示基板の検査装置２００は、液晶表示パネルのアレイ基板１００のうち、データ配線及びゲート配線にテスト信号を印加するために、データ側及びゲート側にそれぞれ一対が配置されることが好ましい。
【００７４】
ベース本体部２１０は、テスト信号印加部２２０及びパッド短絡部２３０と結合する。ベース本体部２１０は、好ましくは、上下に移動して、テスト信号印加部２２０及びパッド短絡部２３０を上下に移動させる。
【００７５】
テスト信号印加部２２０はベース本体部２１０と結合し、アレイ基板１００のテストパッド１４０と接触してテストパッド１４０のそれぞれにテスト信号を印加する。
【００７６】
具体的に、テスト信号印加部２２０は、信号印加本体２２２及び信号印加ピン２２４を含む。信号印加本体２２２は、ベース本体部２１０と結合される。信号印加ピン２２４は信号印加本体２２２と結合され、テストパッド１４０と向かい合うように信号印加本体２２２の下部に突出した形状を有する。この際、信号印加ピン２２４は、テストパッド１４０と同じ個数を有することが好ましい。信号印加ピン２２４は、ベース本体部２１０の上下運動によってテストパッド１４０と接触してテストパッド１４０のそれぞれにテスト信号を印加する。
【００７７】
一方、テスト信号印加部２２０は、アレイ基板１００の端部と平行な一方向に沿って複数個が配置される。この際、テスト信号印加部２２０の個数は、テストパッド１４０のグループの個数と同じであることが好ましい。
【００７８】
パッド短絡部２３０はベース本体部２１０と結合して、アレイ基板１００の信号印加パッド１２０と接触して信号印加パッド１２０を互いに短絡させる。ここで、パッド短絡部２３０は、一方向に沿って配置されたテスト信号印加部２２０の間に配置されることが好ましく、パッド短絡部２３０の個数は信号印加パッド１２０のグループの個数と同じであることが好ましい。
【００７９】
具体的に、パッド短絡部２３０は、メイン本体２３２及びパッド短絡ユニット２３４を含む。メイン本体２３２は、ベース本体部２１０と結合する。パッド短絡ユニット２３４はメイン本体２３２と結合し、信号印加パッド１２０と接触して信号印加パッド１２０を互いに電気的に短絡させる。
【００８０】
パッド短絡ユニット２３４は、一例として、短絡本体２３４ａ、連結柱２３４ｂ、押え本体２３４ｃ、及びスプリング２３４ｄを含む。
【００８１】
短絡本体２３４ａは、信号印加パッド１２０と向かい合うようにメイン本体２３２の下方に配置され、信号印加パッド１２０と接触して信号印加パッド１２０を互いに短絡させる。この際、短絡本体２３４ａは全体が導電性物質からなるか、信号印加パッド１２０と接触する部分のみ導電性物質からなることとしてもよい。
【００８２】
連結柱２３４ｂは短絡本体２３４ａと連結され、メイン本体２３２を貫通してメイン本体２３２の上部に突出する。連結柱２３４ｂは複数個で構成することが好ましく、一例として２個で構成する。
【００８３】
押え本体２３４ｃは連結柱２３４ｂと連結され、短絡本体２３４ａと対向するようにメイン本体２３２の上方に配置される。押え本体２３４ｃは、外力によって上下に動くことにより、短絡本体２３４ａを信号印加パッド１２０と接触及び分離させる。
【００８４】
スプリング２３４ｄは連結柱２３４ｂと結合され、押え本体２３４ｃ及びメイン本体２３２の間に配置される。スプリング２３４ｄは、連結柱２３４ｂと同じ個数で構成することが好ましい。スプリング２３４ｄは、押え本体２３４ｃが元位置を回復できるように復元力を提供する。即ち、スプリング２３４ｄは、押え本体２３４ｃに外力を印加して短絡本体２３４ａを信号印加パッド１２０と接触させた後に外力を除去すると、押え本体２３４ｃに復元力を提供して、短絡本体２３４ａを信号印加パッド１２０から分離させる。
【００８５】
このように本実施例による表示基板の検査装置２００によると、テスト信号印加部２２０を通じて液晶表示パネルに画像が充分に表示されるかの可否を検査し、パッド短絡部２３０を通じて液晶表示パネルの不良の原因を検査することができる。
【００８６】
従って、本実施例による検査装置２００を用いて、液晶表示パネルのうち、アレイ基板１００に不良が発生したかの可否を検査する場合、アレイ基板１００の不良発生可否のみならず、不良の原因も把握することができ、検査の信頼性がより向上することができる。
【００８７】
図８は、本発明の第２実施例による表示基板の検査装置のうちの一部を示す斜視図である。本実施例による表示基板の検査装置は、移送部を更に含むことを除いては、前述した第１実施例の検査装置と同じ構成を有するので、その重複説明は省略し、同じ構成要素には同じ参照符号及び名称を付与する。
【００８８】
図８を参照すると、本実施例による表示基板の検査装置２００は、ベース本体部２１０、テスト信号印加部２２０、パッド短絡部２３０、及び移送部２４０を含む。
【００８９】
移送部２４０は、パッド短絡部２３０を移送させる移送棒２４２及び移送棒２４２の両端を支持する支持本体２４４を含む。
【００９０】
移送棒２４２は、アレイ基板１００の端部と平行な一方向に長く形成され、パッド短絡部２３０を貫通する。具体的に、パッド短絡部２３０のメイン本体２３２に貫通ホール２３２ａが形成され、移送棒２４２は、このような貫通ホール２３２ａを通じてメイン本体２３２を貫通する。
【００９１】
このように移送棒２４２がパッド短絡部２３０のメイン本体２３２を貫通することにより、パッド短絡部２３０は移送棒２４２によって一方向に動くようにガイドされる。
【００９２】
支持本体２４４は、ベース本体部２１０上に一対が形成され、移送棒２４２の両端部と結合して移送棒２４２を支持する。
【００９３】
一方、移送棒２４２は、複数個が互いに平行に構成されることが好ましく、一例として２個で構成される。この際、移送棒２４２の長さは３００ｍｍ以下であることが好ましい。一例として、２つの移送棒２４２が互いに平行に３００ｍｍの長さでパッド短絡部２３０をガイドする場合、このような一対の移送棒２４２は、パッド短絡部２３０が曲がらない程度の強度を有してもよい。
【００９４】
このようにパッド短絡部２３０が移送部２４０によって移送されることにより、第１実施例による表示基板の検査装置２００よりパッド短絡部２３０の個数を減少させることができる。より具体的に説明すると、第１実施例による表示基板の検査装置２００では、パッド短絡部２３０がテスト信号印加部２２０の間に配置されるが、本実施例による表示基板の検査装置２００では、パッド短絡部２３０が移送部２４０によって移送されることにより、パッド短絡部２３０の個数をより減少させることができる。即ち、アレイ基板１００のうち、不良が発生された部分にパッド短絡部２３０を移動させてアレイ基板１００を再検査することにより、パッド短絡部２３０の個数をより減少させることができる。
【００９５】
図９は、本発明の第３実施例による表示基板の検査装置のうちの一部を示す斜視図で、図１０は、図９のＩ−Ｉ’に沿って切断した断面図である。本実施例による表示基板の検査装置は、移送部を更に含むことを除いては、前述した第１実施例の検査装置と同じ構成を有するので、その重複された説明は省略し、同じ構成要素には同じ参照符号及び名称を付与する。
【００９６】
図９及び図１０を参照すると、本実施例による表示基板の検査装置２００は、ベース本体部２１０、テスト信号印加部２２０、パッド短絡部２３０、及び移送部２５０を含む。
【００９７】
移送部２５０は、パッド短絡部２３０の移送経路をガイドする移送レール２５２及びパッド短絡部２３０の摩擦力を減少させる移送ボール２５４を含む。
【００９８】
移送レール２５２はベース本体部２１０上に配置され、アレイ基板１００の端部と平行な一方向に長く形成された形状を有する。移送レール２５２はパッド短絡部２３０と結合し、パッド短絡部２３０を一方向に動くようにガイドする。
【００９９】
具体的に、パッド短絡部２３０のメイン本体２３２には、移送レール２５２と結合するための結合溝２３２ｂが形成される。このようなメイン本体２３２の結合溝２３２ｂに移送レール２５２が結合されることにより、パッド短絡部２３０が移送レール２５２に沿って動くようにガイドされる。この際、移送レール２５２には、パッド短絡部２３０との結合力を向上させるためのガイド溝２５２ａを更に形成してもよい。
【０１００】
移送ボール２５４は、メイン本体２３２の結合溝２３２ｂ及び移送レール２５２の間に配置され、パッド短絡部２３０と移送レール２５２との間の摩擦力を減少させる。即ち、パッド短絡部２３０が移送レール２５２に沿って動く時、パッド短絡部２３０と移送レール２５２との間にはある程度の摩擦力が発生する。このような摩擦力はパッド短絡部２３０がテスト信号印加部２２０の間の正確な位置に移動することを妨げる。従って、移送ボール２５４がパッド短絡部２３０と移送レール２５２との間の摩擦力を減少させて、パッド短絡部２３０をより正確な位置に移動させることができる。
【０１０１】
一方、移送ボール２５４は、所定の個数でグループを形成して多様な位置に配置してもよい。一例として、移送ボール２５４は、移送レール２５２の両側面と向かい合うように配置するか、又は、移送レール２５２の上面と向かい合うように配置してもよい。この際、所定の個数でグループを形成した移送ボール２５２は、メイン本体２３２の内部及び結合溝２３２ｂの内面間を、一例として、楕円軌跡を形成して移動しながら、パッド短絡部２３０と移送レール２５２との間の摩擦力をより減少させることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０２】
本発明によると、第１信号不良を検査した後に信号印加パッドを互いに短絡させて更に第２信号不良を再検査することにより、表示基板に発生した不良がテスト配線及び信号線のうち、どこで不良が発生したかを把握することができ、それによる検査の信頼性がより向上することができ、更に表示基板の不良の原因が何であるかを検出する別の検査を省略して検査費用を減少させることができる。
【０１０３】
又、表示基板に発生した不良がテスト配線のみの不良であると判断される場合、テスト配線が表示基板から除去されるときに、表示基板の不良も共に除去されることにより、液晶表示パネルの生産性がより向上される。
【０１０４】
以上、本発明を実施例によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有するものであれば本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】本発明の一実施例による表示基板の検査方法を示す順序図である。
【図２】図１の表示基板の検査方法において、検査対象である表示基板を概念的に示す平面図である。
【図３】図２のＡ部分を拡大して示す平面図である。
【図４】図２のＢ部分を拡大して示す平面図である。
【図５】図１と異なる表示基板の検査方法を示す順序図である。
【図６】本発明の第１実施例による表示基板の検査装置を示す斜視図である。
【図７】図６のＣ部分を拡大して示す平面図である。
【図８】本発明の第２実施例による表示基板の検査装置のうち、一部を示す斜視図である。
【図９】本発明の第３実施例による表示基板の検査装置のうち、一部を示す斜視図である。
【図１０】図９のＩ−Ｉ’に沿って切断した断面図である。
【符号の説明】
【０１０６】
１００    表示基板
１１０    信号線
１２０    信号印加パッド
１３０    テスト配線
１４０    テストパッド
２００    表示基板の検査装置
２１０    ベース本体部
２２０    テスト信号印加部
２３０    パッド短絡部
２４０、２５０    移送部
【図１】
2007304083.tif 000003
【図２】
2007304083.tif 000004
【図３】
2007304083.tif 000005
【図４】
2007304083.tif 000006
【図５】
2007304083.tif 000007
【図６】
2007304083.tif 000008
【図７】
2007304083.tif 000009
【図８】
2007304083.tif 000010
【図９】
2007304083.tif 000011
【図１０】
2007304083.tif 000012