(57)【要約】【課題】検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを用いて偏光子を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき部材を適切な順序で配置する。【解決手段】偏光板１と、光学補償層とが積層された積層フィルム１１の欠陥検出方法であって、積層フィルム１１のフィルム面の偏光板積層側に配置された光源により光を照射する工程と、フィルム面の光学補償層側に配置された撮像部１２により、積層フィルム１１の透過光像を撮影する工程と、撮像部１２により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルム１１に存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程とを有し、光源１３と撮像部１２の間の光路上であって、撮像部１３に隣接配置される検査用偏光フィルタ１５と、光源１３と撮像部１２の間の光路上であって、検査用偏光フィルタ１５と積層フィルム１１の間に配置される検査用位相差フィルタ１６と介して撮像部１２による撮像が行われる。【選択図】図１
2007212442.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも、偏光板と、光学補償層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、
製造された積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有する積層フィルムの製造方法であって、前記欠陥検査工程は、
積層フィルムの偏光板積層側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
積層フィルムの光学補償層側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程とを有し、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを介して前記撮像部による撮像が行われることを特徴とする積層フィルムの製造方法。
【請求項２】
少なくとも、偏光板と、光学補償層とが積層された積層フィルムの欠陥検出方法であって、
積層フィルムの偏光板積層側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
積層フィルムの光学補償層側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程とを有し、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを介して前記撮像部による撮像が行われることを特徴とする積層フィルムの欠陥検出方法。
【請求項３】
少なくとも、偏光板と、光学補償層とが積層された積層フィルムの欠陥検出装置であって、
積層フィルムの偏光板積層側に配置され、積層フィルムに対して光を照射する光源と、
積層フィルムの光学補償層側に配置され、積層フィルムの透過光像を撮影する撮像部と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出部と、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを備えていることを特徴とする積層フィルムの欠陥検出装置。
【請求項４】
前記光学補償層は、位相差の配向角ばらつきが４゜以内となるように制御された位相差層であり、前記検査用位相差フィルタは位相差層と同じ特性を有することを特徴とする請求項３に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
【請求項５】
前記光学補償層は、ディスコチック液晶層を含み、前記検査用位相差フィルタは、同じ特性を有する検査用ディスコチック液晶層であることを特徴とする請求項３又は４に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
【請求項６】
検査用偏光フィルタの偏光軸と、偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する第１光軸調整部を備えていることを特徴とする請求項３〜５のいずれか１項に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
【請求項７】
検査用位相差フィルタの光学軸と前記光学補償層の光学軸との相対角度位置を調整する第２光軸調整部を備えていることを特徴とする請求項３〜６のいずれか１項に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
【請求項８】
請求項３〜７のいずれか１項に記載の欠陥検出装置により検査された積層フィルム。
【請求項９】
請求項８に記載の積層フィルムに少なくとも１層の光学層を積層した積層フィルム。
【請求項１０】
請求項９に記載の積層フィルムを有する画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、少なくとも、偏光板と、光学補償層とが積層された積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
本発明における積層フィルムとしては、偏光板に粘着剤層を介して位相差フィルム（光学補償層に相当）が積層されたものが知られている。かかる積層フィルムの積層構成例を図１２に示す。この積層フィルム１１は、偏光子１ａとこの両側に接着層を介して積層される保護フィルム１ｂからなる偏光板１と、光学補償層、例えば、偏光板１の一方の面に粘着剤層２ａを介して積層される位相差フィルム２（あるいは、偏光板１の一方の面に直接積層される位相差層）により構成される。この偏光板１に存在する異物、傷、クニック等の欠陥を検査する場合、偏光板１に対して適宜な光源により光を照射し、その反射光像や透過光像をラインセンサカメラや２次元ＴＶカメラなどの撮像部を介して取得し、取得された画像データに基づいて、欠陥検出を行う。また、偏光板の検査を行う場合には、光源と撮像部の間の光路中に検査用の偏光フィルムを介在させた状態で画像データを取得する。通常、この検査用偏光フィルタの偏光軸（例えば、偏光吸収軸）は、検査対象である偏光板１の偏光軸（例えば、偏光吸収軸）と直交する状態（クロスニコル）となるように配置される。クロスニコルに配置することで、仮に欠陥が存在しなければ撮像部から全面黒の画像が入力されるが、欠陥が存在すれば、その部分が黒にならない。従って、適宜のしきい値を設定することで、欠陥を検出することができる。
【０００３】
しかしながら、偏光子のほかに位相差を有する光学補償層が存在する積層フィルムでは、光源からの光が光学補償層を通過することで光軸がずれてしまい、実質的には偏光子と検査用偏光フィルタとがクロスニコルの状態にはならない。その結果、偏光板の欠陥検査を精度よくできないという問題が生じる。
【０００４】
かかる問題を解決した積層フィルム（保護膜付き偏光板）の欠陥検出装置として、下記特許文献１に開示される偏光板検査装置が公知である。この偏光板検査装置は、偏光板の一方側に配置される光源と、偏光板の他方側に配置され偏光板の透過光像を撮影する撮像部と、偏光板と光源の間の光路中に配置される検査用偏光フィルタ及び検査用位相差板とが配置されている。光源からの光を直線偏光にする検査用偏光フィルタを用い、この直線偏光を保護膜付き偏光板に入力させ、その透過光像に基づいて欠陥検出を行う。さらに、光源から保護膜付き偏光板を透過する光路上に、保護膜による光の複屈折を補償する位相差板が配置されている。この位相差板を別途配置することで、位相差を有する保護膜による位相変化をキャンセルして、保護膜による光の複屈折を補償するようにしている。さらに、製品ごとに微妙に異なる保護膜による複屈折を補償するため、電圧により光の位相角が調整可能な可変偏光用光学素子を配置する構成例も開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−９９１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら最近では、偏光板を含む積層フィルムも大型化が進み、前記特許文献１のような方法では不具合が多い。
【０００７】
まず、検査対象の積層フィルムが大型化するに伴い、フィルム面内に均一な光を照射するために、光源も大型化している。それに伴って、特許文献１のような構成では、光源を覆うことのできる相応の面積を有する検査用フィルタが必要となる。例えば、１５００ｍｍもの幅方向長さを有するフィルムを検査するためには、端部にも均一な光を照射するために、一般に１８００ｍｍ幅程度の光源を用いる必要があるが、同様に１８００ｍｍ幅以上の検査用フィルタが必要となる。そのため、検査用フィルタのメンテナンスが大変困難なものになる。さらに、製品ごとに異なる偏光軸や光学軸に合わせて前記検査用フィルタを回転させる場合があるが、その場合には、光源と同等の大きさの検査用フィルタが必要となり、交換等のメンテナンスや回転に要する作業はより大変なものになる。
【０００８】
次に、前記特許文献１の構成では、検査用フィルタが光源に近く、常に一定状態でさらされるため、熱や光エネルギによるフィルタの劣化が生じやすくなる。この結果、検査用フィルタの交換のためのコストがかかるばかりでなく、検査用フィルタの劣化に伴い、欠陥の検出精度も劣化するため、欠陥製品の流出が増加する。
【０００９】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その課題は、検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを用いて偏光板を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき部材を適切に配置することにより、前記積層フィルムの欠陥の検出漏れが極めて少なく、長期間安定した品質で提供できる積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、及び、積層フィルムの欠陥検出装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの製造方法は、
少なくとも、偏光板と、光学補償層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、
製造された積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有する積層フィルムの製造方法であって、前記欠陥検査工程は、
積層フィルムの偏光板積層側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
積層フィルムの光学補償層側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程とを有し、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを介して前記撮像部による撮像が行われることを特徴とするものである。
【００１１】
上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの欠陥検出方法は、
少なくとも、偏光板と、光学補償層とが積層された積層フィルムの欠陥検出方法であって、
積層フィルムの偏光板積層側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
積層フィルムの光学補償層側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程とを有し、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを介して前記撮像部による撮像が行われることを特徴とするものである。
【００１２】
この構成による積層フィルムの欠陥検出装置の作用・効果を説明する。検査対象となる積層フィルムは、少なくとも偏光板と、光学補償層が積層されている。積層フィルムのフィルム面の偏光板側に光源が配置され、光学補償層側に撮像部（例えば、ラインセンサカメラ）が配置される。また、光源と撮像部の間の光路中に検査用偏光フィルタ及び検査用位相差フィルタが配置される。検査用偏光フィルタは、撮像部に隣接配置され、検査用位相差フィルタは、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される。光源から照射される光は、検査用偏光フィルタにより偏光され、撮像部には積層フィルムの透過光像が入力される。また、検査用位相差フィルタにより、光学補償層による位相差を打ち消す方向に作用させることができる。欠陥検出部は、この入力された透過光像の画像データに基づいて、欠陥検出を行う。なお、欠陥検出を行う場合の手法やアルゴリズムは多数知られており、特定の検出方法に限定されるものではない。
【００１３】
上記構成によれば、検査用偏光フィルタは撮像部に隣接配置されているので、積層フィルムを挟んで光源とは反対側に位置することになる。従って、光源による光や熱の影響を緩和することができ、偏光フィルタが劣化しにくくなるため、所望の特性を維持することができる。これは、検査用位相差フィルタに関しても同様である。さらに、検査対象の積層フィルムは、順次交換されるものであるため、常時一定の位置にある検査用フィルタと比べて、光や熱による劣化への影響が少ない。その結果、検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを用いて偏光子を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき部材を適切な順序で配置した積層フィルムの製造方法及び欠陥検出方法を提供することができる。
【００１４】
さらに本発明の構成は、幅方向長さが１３５０ｍｍ以上有する大型積層フィルムの製造において、その効果が特に顕著であり、大面積を有する積層フィルムにおける欠陥検査の精度向上および、装置の大型化に伴う効率化に大きく寄与するものである。
【００１５】
本発明に係る積層フィルムの製造方法は、少なくとも、偏光板と、位相差層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、前述のような積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有しているため、欠陥を有する不良品の流出をなくすことができる。
【００１６】
上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの欠陥検出装置は、
少なくとも、偏光板と、光学補償層とが積層された積層フィルムの欠陥検出装置であって、
積層フィルムの偏光板積層側に配置され、積層フィルムに対して光を照射する光源と、
積層フィルムの光学補償層側に配置され、積層フィルムの透過光像を撮影する撮像部と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出部と、
光源と撮像部の間の光路上であって、撮像部に隣接配置される検査用偏光フィルタと、
光源と撮像部の間の光路上であって、検査用偏光フィルタと積層フィルムの間に配置される検査用位相差フィルタとを備えていることを特徴とするものである。
【００１７】
かかる構成によれば、既に述べたように、検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを用いて偏光子を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき部材を適切な順序で配置した積層フィルムの欠陥検出装置を提供することができる。
【００１８】
本発明に係る光学補償層は、位相差の配向角ばらつきが４゜以内となるように制御された位相差層であり、前記検査用位相差フィルタは位相差層と同じ特性を有する検査用位相差フィルタであることが好ましい。
【００１９】
かかる構成により、位相差のずれを効率よくキャンセルすることができる。前記配向角ばらつきは、フィルム面内の位相差ばらつきを示し、光学補償層の位相差を制御する分子の所望の配向方向（配向角度）からどの程度ずれているかを表す指標である。本発明では、画像表示装置等の最終製品に用いられる光学補償層を有する積層フィルムであり、配向角ばらつきが４゜以下に制御されている光学補償層を有する積層フィルムにおいて、好ましく適用することができ、精度の良い検査を可能とする。この配向角ばらつきは、例えば、フィルムの幅方向に均等に３〜６点程度の配向角を測定し、この最大値と最小値の差を求めれば良く、前記配向角は市販の位相差測定装置で測定でき、例えば、王子計測機器（株）製のＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨを用いて測定できる。
【００２０】
本発明に係る光学補償層は、ディスコチック液晶層を含み、前記検査用位相差フィルタは、同じ特性を有する検査用ディスコチック液晶層であることが好ましい。これにより、位相差のずれを効率よくキャンセルすることができる。
【００２１】
本発明においてはさらに、検査用偏光フィルタの偏光軸と、偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する第１光軸調整部を備えていることが好ましい。かかる構成により、最適な相対角度位置を見出すことができ、積層フィルムの種類やフィルム面内の配向角ばらつきに応じて、検査用偏光フィルタの偏光軸を調整することで、個々の種類の製品に対して適切な位置に検査用偏光フィルタを配置することができる。
【００２２】
本発明においてはさらに、検査用位相差フィルタの光学軸と前記光学補償層の光学軸との相対角度位置を調整する第２光軸調整部を備えていることが好ましい。かかる構成により、最適な相対角度位置を見出すことができ、積層フィルムの種類やフィルム面内の配向角ばらつきに応じて、検査用位相差フィルタの光学軸を調整することで、個々の種類の製品に対して適切な位置に検査用位相差フィルタを配置することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明に係る積層フィルムの欠陥検出方法および装置の好適な実施形態を図面を用いて説明する。図１は、欠陥検出方法および装置の構成を示す概念図である。検査対象である積層フィルム１１は、図１２に示すように、少なくとも、偏光板１とこの偏光板１に積層される光学補償層により構成される。光学補償層としては、位相差フィルムや配向液晶層が例としてあげられる。
【００２４】
図１において、積層フィルム１１は、不図示のロールに巻き取られた状態から引き出されて、図の左側から右側へと搬送される。積層フィルム１１のフィルム面の一方側（図１では下方）には、検査用の光源１３が配置される。光源１３としては、蛍光灯、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、ＬＥＤ等を用いることができ、検査対象である積層フィルム１１の種類に応じて適切な光源１３が選択される。光源１３の形状としては、平面状や電球形、フィルム幅方向に長形のもの等が適宜使用できる。
【００２５】
撮像部１２として、ラインセンサカメラや２次元ＴＶカメラなどにより構成される。撮像部１２は、偏光板１の幅方向サイズに対応して、幅方向に沿って１つもしくは複数配置される。画像処理装置１４は、撮像部１２により撮影された画像データに対して画像処理を行うことで、偏光板１の欠陥検出を行う機能を有する。撮像部１２と光源１３を結ぶ光路は、積層フィルム１１のフィルム面に対して垂直となるように設定されているが、光源１３や撮像部１２の設置場所の制約により、図２に示すように光路をフィルム面に対して傾斜させて配置してもよい。
【００２６】
検査用偏光フィルタ１５は、図１に示すように、撮像部１２の前面に配置される。検査用偏光フィルタ１５の偏光軸Ｌ２（図３参照）は、偏光板１の偏光子の偏光軸Ｌ１とクロスニコルの位置関係となるように配置される。クロスニコルに配置することで、仮に欠陥が存在しなければ撮像部から全面黒の画像が入力されるが、欠陥が存在すれば、その部分が黒にならない。従って、適宜のしきい値を設定することで、欠陥を検出することができる。ただし、偏光板１１には、上記光学補償層が設けられているため、光源からの光が光学補償層を通過することで光軸がずれてしまい、実質的にクロスニコルの状態にはならない。なお、検査用偏光フィルタ１５は、偏光板１と同様のものであって、かつ欠陥が存在しないものを使用する。
【００２７】
また、光学補償層は面内位相差を有していることから、積層フィルム１１上の位置により撮像部１２に入力される光量が異なるため、撮像部１２に入力される画像も中心部と端部とで明るさが異なるという問題が生じる。理想的には、欠陥部とそれ以外の画像部分とのコントラストが、画像中の場所に限らず一定であることであるが、上記理由によりコントラストが不均一になる。その結果、明らかに大きなピンホールなどの輝点が存在するにもかかわらず合格と判定されたり、逆に、合格と判定されるべき非常に小さな欠陥であるにもかかわらず、不合格であると誤判定される恐れがある。すなわち、画像の中央部と端部とでは、欠陥検出能力は一定である必要がある。
【００２８】
かかる問題点に鑑みて、検査用偏光フィルタ１５に隣接して検査用位相差フィルタ１６が配置される。検査用位相差フィルタ１６は、検査用偏光フィルタ１５に隣接する形で、検査用偏光フィルタ１５と積層フィルム１１の間に配置される。隣接させることで、検査装置の小型化を図るとともに、メンテナンス性を向上させることができる。検査用位相差フィルタ１６は、積層フィルム１１を構成する光学補償層と同じ特性（例えば、同じ材質、厚み、位相差）を有していることが好ましい。例えば、光学補償層がディスコチック液晶層付きのトリアセチルセルロースフィルム（偏光子保護フィルム）であれば、同じ特性を有する検査用ディスコチック液晶層を有するフィルムが用いられる。これにより、光学補償層の存在に起因する位相差をキャンセルし（もしくは抑制し）、欠陥検出を安定して行うことができる。
【００２９】
図３は、検査用偏光フィルタ１５の偏光軸Ｌ２及び検査用位相差フィルタ１６の光学軸Ｌ３の調整を説明する図である。第１光軸調整部３１は、検査用偏光フィルタ１５を平面内で回転駆動する機構を提供する。回転中心は、光源１３と撮像部１２を結ぶ光路に一致する。同様に、第２光軸調整部３２は、検査用位相差フィルタ１６を平面内で回転する機構を提供する。回転中心は、光源１３と撮像部１２を結ぶ光路に一致する。検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６は、固定した状態で配置することもできるが、回転可能にすることで、光学補償層の配向角ばらつきも考慮したうえで、偏光板１の偏光軸Ｌ１に対して偏光フィルタの偏光軸を調整したり、光学補償層の光学軸に対して検査用位相差フィルタ１６の光学軸を調整することができ、最適な位置に設定することができる。
【００３０】
さらに、検査対象となる積層フィルム１１を構成する光学補償層には、種々の種類があるため、積層フィルム１１の種類によっては最適な検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６の配置が異なる。従って、図３に示すように検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６を水平に回転させる機構を設けておくことで、積層フィルム１１の種類に応じて適切な欠陥検出を行うことができる。この場合、検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６を基準位置に対して何度回転させたかが分かるように、検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６に回転角度を刻印・印刷したり、目印を貼り付けておくことが好ましい。また、積層フィルム１１の種類と角度位置との関係をメモリに記憶させておき、第１光軸調整部３１や第２光軸調整部３２により、所定の角度位置に自動設定されるように構成してもよい。
【００３１】
図１に戻り、撮像部１２により撮影された画像信号は、画像データ取得部１７によりデジタルデータ化された画像データに変換され、画像処理装置１４へ送られる。画像処理装置１４は、ソフトウェアの機能を中核として構成され、欠陥検出部の機能を備えている。欠陥検出部は、撮像部１２により取得された画像データを画像処理することで、欠陥検出を行うものであり、欠陥検出アルゴリズムについては公知の手法を用いることができる。例えば、欠陥が存在する場所の輝度は明るくなるため、取得された画像データを所定レベルのしきい値により二値化することで、欠陥を抽出することができる。抽出された欠陥の面積、長さ、幅、輝度などの特徴量を算出して、この特徴量から１つないしは複数を選んで合否判定を行うことができる。
【００３２】
モニター１８は、撮像部１２により撮影された画像を映し出すことができ、欠陥の存在を目視確認することができる。記憶装置１９は、欠陥を検出した場合に、その位置座標や欠陥の特徴量などを記憶しておく。マーキング装置２０は、欠陥が抽出された場合、その欠陥位置をマーキングするための装置である。マーキング制御部２１は、マーキング装置２０の動作を制御する。具体的には、記憶装置１９に記憶されている欠陥位置の座標信号に基づいて、欠陥位置（あるいは、積層フィルム１１の幅方向の端部）に正確にマーキングができるようにマーキング装置２０を制御する。マーキング装置２０に関しては、公知の構造を有する装置を用いることができる。例えば、マーキングはマジックマーカーにより行うことができる。また、欠陥の特徴量（欠陥情報）をインクジェットプリンタ等により積層フィルム１１上にプリントするようにしてもよい。
【００３３】
図４は、検査用偏光フィルタ１５の別実施形態を示す図である。図４（ａ）は、偏光軸が異なる３つの検査用偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃを直線的に連結させたものであり、いずれか１つの偏光フィルタ１５を光路上に設置することで、偏光軸の相対角度位置を調整することができる。各検査用偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃの偏光軸Ｌ２１，Ｌ２２，Ｌ２３は、少しずつ異ならせている。図４（ｂ）は、偏光軸が異なる３つの偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃを円周方向に連結させたものである。図４の例では、偏光フィルタ１５の数は、３つであるが、これに限定されるものではなく、適宜決めることができる。検査用位相差フィルタ１６についても同様の構成を採用することができる。
【００３４】
次に、具体的な実施例をあげて説明する。積層フィルム１１としては、市販の偏光板の一方の面に光学補償層（富士写真フィルム（株）製ＷＶフィルム、「ＷＶＡ０３８」配向角ばらつき１．０゜）を積層したものを使用した。光源１３としてハロゲンランプを使用し、撮像部１２としてラインセンサカメラを使用した。撮影光路中における各部材の配置は、図１の配置構成に従って行った。まず、検査対象の積層フィルム１１として、位相差を制御された位相差フィルムが積層されると共に、欠陥が存在しないものを使用する。撮像部１２の前面には、撮像部１２側から順に検査用偏光フィルタ１５、検査用位相差フィルタ１６を配置している。撮像部１２により得られた画像信号を図５に示す。画像の中央部と端部とで若干のゆらぎはあるものの、ラインセンサカメラの視野方向（主走査方向）の輝度はほぼ一定となっており、欠陥がどの位置にあったとしても安定して検査できるものと考えられる。
【００３５】
検証で使用した光源１３は、モリテックス社製ハロゲン光源装置ＭＨＦ−１００（１００ワット）を使用し、光源明るさ（光源より３０ｃｍ上方にて測定の明るさ）が６０６０ｃｄ／ｍ2になるように調整した。
【００３６】
一方、検査用位相差フィルタ１６を配置しないこと以外は前記実施例と同様の条件とした場合に得られる画像信号を図６に示す。図５と比較すると、中央部の輝度が低く、周辺にいくほど輝度が高くなっている。すなわち、中央部と端部で輝度の差が大きく安定していないため、安定して欠陥の合否の判定を行うことができない。
【００３７】
さらに、偏光板１で欠陥が存在しないもののみを使用して、検査用偏光フィルタ１５のみを配置した場合（検査用位相差フィルタ１６は使用しない場合）の画像信号は図７に示される。
【００３８】
ここで、図７の中央の位置で面積「２０」として検出される欠陥を図５〜７の条件で、左端、中央、右端の位置で検出したときの面積（画素単位）を表１に示す。このときの面積算出にはＭａｔｒｏｘ社製Ｉｎｓｐｅｃｔｏｒを使用した。
【表１】
2007212442.tif 000003
【００３９】
図５又は図７の場合は、欠陥がどの位置に存在していたとしても、ほぼ同じ面積であるが、図６の場合は、位置によって面積が「０」になることがあり、安定した欠陥検出ができないことがわかる。従って、検査対象物が偏光板１のみの場合（偏光板１に位相差層が積層されていない場合）は、特に検査用位相差フィルタ１６を使用することなく、検査用偏光フィルタ１５のみで安定した検査を行うことができ、位相差層が積層された積層フィルム１１の場合は、この位相差層と同じ特性を有する検査用位相差フィルタ１６を更に配置し、その順を撮像部１２側から検査用偏光フィルタ１５、検査用位相差フィルタ１６の順に配置することで、安定した検査を行うことができる。
【００４０】
図５の場合の実際の画像を図８に示す。図８において（ａ１）（ｂ１）は原画像を示し、（ａ２）（ｂ２）は欠陥周辺の原画像を二値化処理した画像を示している。中央部から端部まで明るさに差がないことから、欠陥検出を安定して行うことができる。図６の場合の実際の画像を図９に示す。図９において（ａ１）は右端近傍の原画像を示し（ａ２）は欠陥周辺の二値化画像を示している。欠陥とその周辺とで輝度差が小さいため、欠陥検出が困難な状態である。（ｂ１）は中央部近傍の原画像を示し（ｂ２）は欠陥周辺の原画像を二値化処理した画像である。欠陥検出はできてはいるものの、実際の欠陥の大きさとは異なっており、欠陥が見えにくい状態となっている。
【００４１】
次に、検査用位相差フィルタ１６に代えて、積層フィルム１１の位相差層とは異なる特性を有する偏光板用保護フィルム（東レフィルム加工製セパレータ、セラピールＭＤＡ３８、配向角ばらつき８．６゜）を挿入した場合の比較実験を行った。その結果を表２に示す。表２中の数値は、表１と同様の方法で検出した欠陥の面積（画素単位）を示している。
【表２】
2007212442.tif 000004
【００４２】
検査用位相差フィルタの場合（表１に示すデータと同じ）は、ばらつきは少ないが、偏光板用保護フィルムを用いるとばらつきが非常に大きく、安定した欠陥検出ができないことがわかる。偏光板用保護フィルムは、最終的には剥がされてしまうため、積層フィルム１１の位相差層に比べて配向角ばらつきが大きくなっている。従って、かかる保護フィルムと同じ材質のものを検査用として使用することはできない。積層フィルム１１の光学補償層についても同様であり、本発明は、配向角ばらつきの小さいものに好ましく用いられる。このときの配向角ばらつきとしては、４゜以下が好ましく、３゜以下がより好ましい。
【００４３】
＜配置構成＞
次に、本発明による配置構成と比較例による配置構成について説明する。本発明による構成では図１０（ａ）に示すように、積層フィルム１１の下側に光源１３を配置し、上側に撮像部１２、検査用偏光フィルタ１５、検査用位相差フィルタ１６の順番で配置する。また、検査対象である積層フィルム１１については、偏光板１１ａが光源側、位相差層１１ｂが撮像部側を向くように配置する。その理由は、位相差層１１ｂが光源側だと偏光板１１ａに光が入る前に位相差の影響が出るから、フィルタでうまく明るさのばらつきがキャンセルできなくなるからである。
【００４４】
また、光源１３の直上にフィルタ類があると、検査対象の種類によって、フィルタの切り替えや回転をするための操作がしづらくなる。例えば、前述のように、１５００ｍｍもの幅方向長さを有する積層フィルム１１を検査する場合には、フィルタも大型化するため、交換等のメンテナンスや回転に要する作業が多大なものになる。
【００４５】
一方、比較例である（ｂ１）〜（ｂ６）（ｂ１０）（ｂ１１）であるが、光源１３側に検査用偏光フィルタ１５あるいは検査用位相差フィルタ１６が配置されている。これら検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６は、常時光路中に挿入されて固定された状態であり、光源１３に近いため、常に光と熱にさらされてしまい、熱エネルギーや光エネルギーによるフィルタの劣化が生じやすくなる。従って、欠陥の検出精度も劣化してしまう。また、これらの比較例は、光源１３と積層フィルム１１の間にフィルタを配置するため、光量不足により積層フィルム１１の微細な欠陥を見逃す可能性がある。この問題に対処するには、光源１３の光量を十分に増加させれば良いが、消費電力量の増大や光源の劣化を招き、更にフィルタの劣化も激しくなる。
【００４６】
また、検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６は、できるだけ撮像部１２に近く配置することでサイズも小さくすることができ、メンテナンスも容易になる。従って、（ｂ１）〜（ｂ６）（ｂ１０）（ｂ１１）は、検査用偏光フィルタ１５や検査用位相差フィルタ１６が撮像部１２から離れて配置されているものがあり、好ましくない。また、（ｂ８）（ｂ９）については、検査用偏光フィルタ１５よりも検査用位相差フィルタ１６の方が、撮像部１２の近くなるように配置されている。従って、位相差層を通った光が検査用偏光フィルタ１５で偏光されてから検査用位相差フィルタ１６に入るのでうまくキャンセルできないという問題がある。また、比較例（ｂ７）については、本発明による配置構成とほぼ同じであるが、偏光板１１ａの方が位相差層１１ｂよりも撮像部１２側に位置している。従って、位相差層１１ｂが光源側だと偏光板１１ａに光が入る前に位相差の影響が出るから、フィルタでうまく明るさのばらつきがキャンセルできなくなるという問題がある。
【００４７】
＜経時変化に関するデータ比較＞
次に、経時変化の影響について実験を行った結果を説明する。図５に示すデータを取得した本発明に係る配置構成（図１０（ａ）と同じ）の初期データと４８時間後のデータを比較したものが表３（左側）及び図１０Ａ（上段）に示される。同じく比較例として図１０（ｂ４）の配置構成の初期データと４８時間後のデータを比較したものが表３（右側）及び図１０Ａ（下段）に示される。
【表３】
2007212442.tif 000005
【００４８】
これらの実験データからも分かるように、本発明による配置構成ではフィルターの劣化が生じないため、４８時間を経過した後も欠陥検出の精度を保持することができている。一方、図１０（ｂ４）の構成は、熱エネルギーや光エネルギーによりフィルターの劣化が生じ、欠陥検出が行ないにくくなっていることがわかる。
【００４９】
なお、実験を行うに際して使用した光源は、前述のモリテックス社製ハロゲン光源装置ＭＨＦ−１００（１００ワット）を使用し、光源明るさ（光源より３０ｃｍ上方にて測定の明るさ）が６０６０ｃｄ／ｍ2になるように調整した。
【００５０】
また、図５のデータでは、光源１３と積層フィルム１１の距離は２０ｃｍ、積層フィルム１１と検査用位相差フィルタ１６の距離は８ｃｍ、検査用位相差フィルタ１６と検査用偏光フィルタ１５との距離は６ｃｍ、検査用偏光フィルタ１５と撮像部１２との距離は６ｃｍに設定されている。
【００５１】
また、図１０（ｂ４）のデータでは、光源１３と検査用偏光フィルタ１５の距離は６ｃｍ、検査用偏光フィルタ１５と検査用位相差フィルタ１６の距離は６ｃｍ、検査用位相差フィルタ１６と積層フィルム１１との距離は８ｃｍ、積層フィルム１１と撮像部１２との距離は２０ｃｍに設定されている。
【００５２】
＜配置構成の違いによる撮影画像の差＞
図１１は、配置構成の違いによる撮影画像の差を比較したものである。検査対象である積層フィルム１１は、偏光板と位相差層が積層されたものを使用した。図１１（ａ）は、従来技術に係る配置構成であり、検査用偏光フィルタ１５のみを配置し、検査用位相差フィルタ１６を配置していない。上段に配置構成を示し、中段に実際の撮影画像を示し、下段に撮影画像のＰ線に沿った輝度分布を示している。従来技術の場合、中央と端部とで輝度分布が異なっている。（ｂ）は、検査用位相差フィルタ１６を撮像部１２側に配置し、検査用偏光フィルタ１５を光源１３に密着配置している。輝度分布を見ると、（ａ）よりも輝度ばらつきが大きくなっていることが分かる。（ｃ）は本発明による配置構成であり、中央部から周辺に掛けてほぼ均一な明るさになっていることが分かる。
【００５３】
なお、実験を行うに際して使用した光源は、前述のモリテックス社製ハロゲン光源装置ＭＨＦ−１００（１００ワット）を使用し、光源明るさ（光源より３０ｃｍ上方にて測定の明るさ）が６０６０ｃｄ／ｍ2になるように調整した。
【００５４】
また、具体的な寸法関係を説明する。図１１（ａ）は、光源１３と積層フィルム１１の距離は２０ｃｍ、積層フィルム１１と検査用偏光フィルタ１５との距離は１４ｃｍ、検査用偏光フィルタ１５と撮像部１２との距離は６ｃｍに設定されている。
【００５５】
図１１（ｂ）では、光源１３と検査用偏光フィルタ１５とを密着させ、検査用偏光フィルタ１５と積層フィルム１１との距離は２０ｃｍ、積層フィルム１１と検査用位相差フィルタ１６との距離は１４ｃｍ、検査用位相差フィルタ１６と撮像部１２との距離は６ｃｍに設定されている。
【００５６】
図１１（ｃ）では、光源１３と積層フィルム１１の距離は２０ｃｍ、積層フィルム１１と検査用位相差フィルタ１６の距離は８ｃｍ、検査用位相差フィルタ１６と検査用偏光フィルタ１５との距離は６ｃｍ、検査用偏光フィルタ１５と撮像部１２との距離は６ｃｍに設定されている。
【００５７】
＜積層フィルムの具体例＞
本発明において扱う積層フィルムの例として、偏光板が積層された構造を説明したが、さらに具体的な構成例について説明する。偏光板は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜きにより得るようにしている。偏光板原反は、予め製造しておいたＰＶＡフィルム（偏光子）の表裏両面に例えばＴＡＣフィルム（保護層）を貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反Ｎの表面あるいは内部に存在する欠陥（キズや異物など）を検出する必要がある。
【００５８】
偏光板原反Ｎは、（Ａ）染色、架橋および延伸処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを乾燥して偏光子を得る工程、（Ｂ）該偏光子の片側または両側に保護層を貼り合わせる工程、（Ｃ）貼り合わせた後に加熱処理する工程、を含む製造方法により製造される。
【００５９】
ポリビニルアルコール系フィルムの染色、架橋、延伸の各処理は、別々に行う必要はなく同時に行ってもよく、また、各処理の順番も任意でよい。なお、ポリビニルアルコール系フィルムとして、膨潤処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを用いてもよい。一般には、ポリビニルアルコール系フィルムを、ヨウ素や二色性色素を含む溶液に浸漬し、ヨウ素や二色性色素を吸着させて染色した後洗浄し、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中で延伸倍率３倍〜７倍で一軸延伸した後、乾燥する。ヨウ素や二色性色素を含む溶液中で延伸した後、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中でさらに延伸（二段延伸）した後、乾燥することにより、ヨウ素の配向が高くなり、偏光度特性が良くなるため、特に好ましい。
【００６０】
上記のポリビニルアルコール系ポリマーとしては、例えば、酢酸ビニルを重合した後にケン化したものや、酢酸ビニルに少量の不飽和カルボン酸、不飽和スルホン酸、カチオン性モノマー等の共重合可能なモノマーを共重合したもの、等が挙げられる。ポリビニルアルコール系ポリマーの平均重合度は、特に制限されず任意のものを使用することができるが、１０００以上が好ましく、より好ましくは２０００〜５０００である。また、ポリビニルアルコール系ポリマーのケン化度は８５モル％以上が好ましく、より好ましくは９８〜１００モル％である。
【００６１】
製造される偏光子の厚さは、５〜８０μｍが一般的であるが、これに限定するものではなく、また、偏光子の厚さを調整する方法に関しても、特に限定するものではなく、テンター、ロール延伸や圧延等の通常の方法を用いることができる。
【００６２】
偏光子と偏光子保護フィルムとの接着処理は、特に限定されるものではないが、例えば、ビニルアルコール系ポリマーからなる接着剤、あるいは、ホウ酸やホウ砂、グルタルアルデヒドやメラミン、シュウ酸などのビニルアルコール系ポリマーの水溶性架橋剤から少なくともなる接着剤等を介して行うことができる。かかる接着層は、水溶液の塗布乾燥層等として形成されるが、その水溶液の調製に際しては必要に応じて、他の添加剤や、酸等の触媒も配合することができる。
【００６３】
偏光子の片側又は両側に設ける偏光子保護フィルムには、適宜な透明フィルムを用いることができる。中でも、透明性や機械的強度、熱安定性や水分遮蔽性等に優れるポリマーからなるフィルムが好ましく用いられる。そのポリマーとしては、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリアリレート、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリノルボルネン系樹脂、ポリメチルメタクリレート系樹脂、液晶ポリマー等が挙げられる。フィルムは、キャスティング法、カレンダー法、押出し法のいずれで製造したものでもよい。
【００６４】
また、特開２００１−３４３５２９号公報（ＷＯ０１／３７００７）に記載のポリマーフィルム、たとえば、（Ａ）側鎖に置換および／または非置換イミド基を有する熱可塑性樹脂と、（Ｂ）側鎖に置換および／非置換フェニルならびにニトリル基を有する熱可塑性樹脂を含有する樹脂組成物があげられる。具体例としてはイソブチレンとＮ−メチルマレイミドからなる交互共重合体とアクリロニトリル・スチレン共重合体とを含有する樹脂組成物のフィルムがあげられる。フィルムは樹脂組成物の混合押出品などからなるフィルムを用いることができる。これらのフィルムは位相差が小さく、光弾性係数が小さいため偏光板の歪みによるムラなどの不具合を解消することができ、また透湿度が小さいため、加湿耐久性に優れる。
【００６５】
また、偏光子保護フィルムは、できるだけ色付きがないことが好ましい。したがって、Ｒｔｈ＝［（ｎｘ＋ｎｙ）／２−ｎｚ］・ｄ（ただし、ｎｘ、ｎｙはフィルム平面内の主屈折率、ｎｚはフィルム厚方向の屈折率、ｄはフィルム厚みである）で表されるフィルム厚み方向の位相差値が−９０ｎｍ〜＋９０ｎｍである保護層が好ましく用いられる。かかる厚み方向の位相差値（Ｒｔｈ）が−９０ｎｍ〜＋９０ｎｍのものを使用することにより、保護層に起因する偏光板の着色（光学的な着色）をほぼ解消することができる。厚み方向位相差値（Ｒｔｈ）は、さらに好ましくは−８０ｎｍ〜＋８０ｎｍ、特に−７０ｎｍ〜＋７０ｎｍが好ましい。
【００６６】
偏光特性や耐久性などの点から、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂が好ましく、特に表面をアルカリなどでケン化処理したトリアセチルセルロースフィルムが好ましい。なお、偏光フィルムの両側に偏光子保護フィルムを設ける場合、その表裏で異なるポリマーからなる偏光子保護フィルムを用いてもよい。偏光子保護フィルムの厚さは、任意であるが、一般には偏光板の薄型化等を目的に、５００μｍ以下、好ましくは１〜３００μｍ、特に好ましくは５〜２００μｍとされる。
【００６７】
前記偏光板と積層する光学補償層としては、後述の表面処理層、光学層、位相差フィルムおよび配向液晶層に本発明を適用できる。その際に使用する位相差フィルタとしては、光学補償層と同様の構成を有するものが簡便に用いられるが、光学補償層と同等の光学特性を有するものを用いても良い。本発明では、ディスコティック液晶の配向層や位相差フィルムからなる光学補償層において、特に有効に利用することができる。
【００６８】
偏光子保護フィルムは、本発明の目的を損なわない限り、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散ないしアンチグレア等を目的とした処理等を施したものであってもよい。ハードコート処理は、偏光板表面の傷付き防止などを目的に施されるものであり、例えばシリコーン系などの適宜な紫外線硬化型樹脂による硬度や滑り性等に優れる硬化皮膜を透明保護層の表面に付加する方式などにて形成することができる。
【００６９】
一方、反射防止処理は、偏光板表面での外光の反射防止を目的に施されるものであり、従来に準じた反射防止膜などの形成により達成することができる。また、スティッキング防止は隣接層との密着防止を目的に、アンチグレア処理は偏光板の表面で外光が反射して偏光板透過光の視認を阻害することの防止などを目的に施されるものであり、例えばサンドブラスト方式やエンボス加工方式等による粗面化方式や透明微粒子の配合方式などの適宜な方式にて透明保護層の表面に微細凹凸構造を付与することにより形成することができる。
【００７０】
本発明による積層フィルムは、実用に際して各種光学層を積層して光学フィルムとして用いることができる。その光学層については特に限定されるものではないが、例えば、前記透明保護層の偏光子を接着させない面（前記接着剤塗布層を設けない面）に対して、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキング防止や、拡散ないしアンチグレアを目的とした表面処理を施したり、視角補償等を目的とした配向液晶層を積層する方法があげられる。また、反射板や半透過板、位相差フィルム（１／２や１／４等の波長板（λ板）を含む）、視角補償フィルムなどの液晶表示装置等の形成に用いられる光学フィルムを１層または２層以上貼りあわせたものもあげられる。特にシート状製品が偏光板であれば、反射板または半透過反射板が積層されてなる反射型偏光板または半透過型偏光板、位相差フィルムが積層されてなる楕円偏光板または円偏光板、視角補償層または視角補償フィルムが積層されてなる広視野角偏光板、あるいは輝度向上フィルムが積層されてなる偏光板として好ましく適用される。
【００７１】
反射型偏光板は、偏光板に反射層を設けたもので、視認側（表示側）からの入射光を反射させて表示するタイプの液晶表示装置などを形成するためのものであり、バックライト等の光源の内蔵を省略できて、液晶表示装置の薄型化を図りやすいなどの利点を有する。反射型偏光板の形成は、必要に応じ透明保護層等を介して偏光板の片面に金属等からなる反射層を付設する方式などの適宜な方式にて行なうことができる。
【００７２】
なお、半透過型偏光板は、上記において反射層で光を反射し、かつ透過するハーフミラー等の半透過型の反射層とすることにより得ることができる。半透過型偏光板は、通常液晶セルの裏側に設けられ、液晶表示装置などを比較的明るい雰囲気で使用する場合には、視認側（表示側）からの入射光を反射させて画像を表示し、比較的暗い雰囲気においては、半透過型偏光板のバックサイドに内蔵されているバックライト等の内蔵光源を使用して画像を表示するタイプの液晶表示装置などを形成できる。すなわち、半透過型偏光板は、明るい雰囲気下では、バックライト等の光源使用のエネルギーを節約でき、比較的暗い雰囲気下においても内蔵光源を用いて使用できるタイプの液晶表示装置などの形成に有用である。
【００７３】
偏光板に更に位相差フィルムが積層されてなる楕円偏光板または円偏光板について説明する。直線偏光を楕円偏光または円偏光に変えたり、楕円偏光または円偏光を直線偏光に変えたり、あるいは直線偏光の偏光方向を変える場合に、位相差フィルムなどが用いられる。特に、直線偏光を円偏光に変えたり、円偏光を直線偏光に変える位相差フィルムとしては、いわゆる１／４波長板（λ／４板とも言う）が用いられる。１／２波長板（λ／２板とも言う）は、通常、直線偏光の偏光方向を変える場合に用いられる。
【００７４】
楕円偏光板はスーパーツイストネマチック（ＳＴＮ）型液晶表示装置の液晶層の複屈折により生じた着色（青又は黄）を補償（防止）して、前記着色のない白黒表示する場合などに有効に用いられる。更に、三次元の屈折率を制御したものは、液晶表示装置の画面を斜め方向から見た際に生じる着色も補償（防止）することができて好ましい。円偏光板は、例えば画像がカラー表示になる反射型液晶表示装置の画像の色調を整える場合などに有効に用いられ、また、反射防止の機能も有する。
【００７５】
位相差フィルムとしては、高分子素材を一軸または二軸延伸処理してなる福屈折性フィルム、液晶ポリマーの配向フィルム、液晶ポリマーの配向層をフィルムにて支持したものなどがあげられる。延伸処理は、例えばロール延伸法、長間隙沿延伸法、テンター延伸法、チューブラー延伸法などにより行うことができる。延伸倍率は、一軸延伸の場合には１．１〜３倍程度が一般的である。位相差フィルムの厚さも特に制限されないが、一般的には１０〜２００μｍ、好ましくは２０〜１００μｍである。
【００７６】
前記高分子材料としては、例えば、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリメチルビニルエーテル、ポリヒドロキシエチルアクリレート、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース、ポリカーボネイト、ポリアリレート、ポリスルホン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルファイド、ポリフェニレンオキサイド、ポリアリルスルホン、ポリビニルアルコール、ポリアミド、ポリイミド、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、セルロース系重合体、またはこれらの二元系、三元系各種共重合体、グラフト共重合体、ブレンド物などがあげられる。これら高分子素材は延伸等により配向物（延伸フィルム）となる。
【００７７】
前記液晶ポリマーとしては、例えば、液晶配向性を付与する共役性の直線状原子団（メソゲン）がポリマーの主鎖や側鎖に導入された主鎖型や側鎖型の各種のものなどがあげられる。主鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、屈曲性を付与するスペーサ部でメソゲン基を結合した構造の、例えばネマチック配向性のポリエステル系液晶性ポリマー、ディスコティックポリマーやコレステリックポリマーなどがあげられる。側鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、ポリシロキサン、ポリアクリレート、ポリメタクリレートまたはポリマロネートを主鎖骨格とし、側鎖として共役性の原子団からなるスペーサ部を介してネマチック配向付与性のパラ置換環状化合物単位からなるメソゲン部を有するものなどがあげられる。これら液晶性ポリマーは、例えば、ガラス板上に形成したポリイミドやポリビニルアルコール等の薄膜の表面をラビング処理したもの、酸化ケイ素を斜方蒸着したものなどの配向処理面上に液晶性ポリマーの溶液を展開して熱処理することにより行われる。
【００７８】
位相差フィルムは、例えば各種波長板や液晶層の複屈折による着色や視角等の補償を目的としたものなどの使用目的に応じた適宜な位相差を有するものであってよく、２種以上の位相差フィルムを積層して位相差等の光学特性を制御したものなどであってもよい。
【００７９】
偏光板と輝度向上フィルムを貼り合わせた偏光板は、通常液晶セルの裏側サイドに設けられて使用される。輝度向上フィルムは、液晶表示装置などのバックライトや裏側からの反射などにより自然光が入射すると所定偏光軸の直線偏光または所定方向の円偏光を反射し、他の光は透過する特性を示すもので、輝度向上フィルムを偏光板と積層した偏光板は、バックライト等の光源からの光を入射させて所定偏光状態の透過光を得ると共に、前記所定偏光状態以外の光は透過せずに反射される。この輝度向上フィルム面で反射した光を更にその後ろ側に設けられた反射層等を介し反転させて輝度向上フィルムに再入射させ、その一部又は全部を所定偏光状態の光として透過させて輝度向上フィルムを透過する光の増量を図ると共に、偏光子に吸収させにくい偏光を供給して液晶表示画像表示等に利用しうる光量の増大を図ることにより輝度を向上させうるものである。
【００８０】
また、本発明の積層フィルムは、上記の偏光分離型偏光板の如く、偏光板と２層又は３層以上の光学層とを積層したものからなっていてもよい。従って、上記の反射型偏光板や半透過型偏光板と位相差フィルムを組み合わせた反射型楕円偏光板や半透過型楕円偏光板などであってもよい。
【００８１】
偏光板に前記光学層を積層した光学フィルムは、液晶表示装置等の製造過程で順次別個に積層する方式にても形成することができるが、予め積層して光学フィルムとしたものは、品質の安定性や組立作業等に優れていて液晶表示装置などの製造工程を向上させうる利点がある。積層には粘着剤層等の適宜な接着手段を用いうる。前記の偏光板と他の光学層の接着に際し、それらの光学軸は目的とする位相差特性などに応じて適宜な配置角度とすることができる。
【００８２】
本発明による偏光板や、前記の積層光学部材には、液晶セル等の他部材と接着するための粘着層を設けることもできる。その粘着層は、特に限定されるものではないが、アクリル系等の従来に準じた適宜な粘着剤にて形成することができる。吸湿による発泡現象や剥がれ現象の防止、熱膨脹差等による光学特性の低下や液晶セルの反り防止、ひいては高品質で耐久性に優れる画像表示装置の形成性等の点により、吸湿率が低くて耐熱性に優れる粘着層であることが好ましい。また、微粒子を含有して光拡散性を示す粘着層などとすることができる。粘着層は必要に応じて必要な面に設ければよく、例えば、偏光子と保護層からなる偏光板について言及するならば、必要に応じて、保護層の片面または両面に粘着層を設ければよい。
【００８３】
前記粘着層の露出面に対しては、実用に供するまでの間、その汚染防止等を目的にセパレータが仮着されてカバーされる。これにより、通例の取扱状態で粘着層に接触することを防止できる。セパレータとしては、ポリエステルやポリエチレンテレフタレート等の透光性プラスチックフィルムに、シリコーン系や長鎖アルキル系、フッ素系、硫化モリブデン等の適宜な剥離剤でコート処理したものが用いられる。また、積層フィルムの粘着層を有しない面には、前記のような透光性プラスチックフィルムに粘着剤層が積層された、易剥離型の保護フィルムを仮着し、積層フィルムを保護しても良い。
【００８４】
なお本発明において、上記した偏光板を形成する偏光子や透明保護層や光学フィルム等、また粘着層などの各層には、例えばサリチル酸エステル系化合物やべンゾフェノール系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物やシアノアクリレート系化合物、ニッケル錯塩系化合物等の紫外線吸収剤で処理する方式などの方式により紫外線吸収能をもたせたものなどであってもよい。
【００８５】
本発明による積層フィルムは、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、ＰＤＰ等の画像表示装置の形成に好ましく用いることができる。
本発明の偏光板または光学フィルムは液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置の形成は、従来に準じて行いうる。すなわち液晶表示装置は一般に、液晶セルと偏光板または光学フィルム、及び必要に応じての照明システム等の構成部品を適宜に組立てて駆動回路を組込むことなどにより形成されるが、本発明においては本発明による偏光板または光学フィルムを用いる点を除いて特に限定はなく、従来に準じうる。液晶セルについても、例えばＴＮ型やＳＴＮ型、π型などの任意なタイプのものを用いうる。
【００８６】
液晶セルの片側又は両側に偏光板または光学フィルムを配置した液晶表示装置や、照明システムにバックライトあるいは反射板を用いたものなどの適宜な液晶表示装置を形成することができる。その場合、本発明による偏光板または光学フィルムは液晶セルの片側又は両側に設置することができる。両側に偏光板または光学フィルムを設ける場合、それらは同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えば拡散板、アンチグレア層、反射防止膜、保護板、プリズムアレイ、レンズアレイシート、光拡散板、バックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に１層又は２層以上配置することができる。
【００８７】
次いで有機エレクトロルミネセンス装置（有機ＥＬ表示装置）について説明する。一般に、有機ＥＬ表示装置は、透明基板上に透明電極と有機発光層と金属電極とを順に積層して発光体（有機エレクトロルミネセンス発光体）を形成している。ここで、有機発光層は、種々の有機薄膜の積層体であり、例えばトリフェニルアミン誘導体等からなる正孔注入層と、アントラセン等の蛍光性の有機固体からなる発光層との積層体や、あるいはこのような発光層とペリレン誘導体等からなる電子注入層の積層体や、またあるいはこれらの正孔注入層、発光層、および電子注入層の積層体等、種々の組合せをもった構成が知られている。
【００８８】
電圧の印加によって発光する有機発光層の表面側に透明電極を備えるとともに、有機発光層の裏面側に金属電極を備えてなる有機エレクトロルミネセンス発光体を含む有機ＥＬ表示装置において、透明電極の表面側に偏光板を設けるとともに、これら透明電極と偏光板との間に位相差フィルムを設けることができる。
【００８９】
位相差フィルムおよび偏光板は、外部から入射して金属電極で反射してきた光を偏光する作用を有するため、その偏光作用によって金属電極の鏡面を外部から視認させないという効果がある。特に、位相差フィルムを１／４波長板で構成し、かつ偏光板と位相差フィルムとの偏光方向のなす角をπ／４に調整すれば、金属電極の鏡面を完全に遮蔽することができる。
【００９０】
本発明による積層フィルムは、液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置は、本発明による積層フィルム（例えば偏光板）を液晶セルの片側または両側に配置してなる透過型や反射型、あるいは透過・反射両用型の従来に準じた適宜な構造を有するものとして形成することができる。従って、液晶表示装置を形成する液晶セルは任意であり、例えば薄膜トランジスタ型に代表される単純マトリクス駆動型のものなどの適宜なタイプの液晶セルを用いたものであってもよい。
【００９１】
本発明によれば、検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタ（検査用位相差フィルタや検査用ディスコチック液晶層）を用いて偏光板及び光学補償層（位相差フィルムやディスコチック液晶付きＴＡＣ）を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき上記検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを適切な順序で配置することで、安定して欠陥検出を行うことができる。
【００９２】
また、積層フィルム１１の断面構造を図１２に示したが、本発明は、ここに示す層構造に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】積層フィルムの欠陥検出装置の構成を示す概念図
【図２】積層フィルムの欠陥検出装置の別構成を示す概念図
【図３】検査用偏光フィルタと検査用位相差フィルタの偏光軸の調整機構を説明する図
【図４】検査用偏光フィルタの偏光軸の調整機構の別実施形態を説明する図
【図５】位相差層を有する偏光板を撮影したときの画像信号を示す図
【図６】位相差層を有する偏光板に対してクロスニコルに配置した偏光フィルタを用いて撮影したときの画像信号を示す図
【図７】位相差層を有さない偏光板に対してクロスニコルに配置した偏光フィルタを用いて撮影したときの画像信号を示す図
【図８】図５の例での原画像と二値化画像を示す図
【図９】図６の例での原画像と二値化画像を示す図
【図１０】本発明による配置構成と比較例による配置構成を示す図
【図１０Ａ】経時変化の影響について実験を行った結果を示す図
【図１１】本発明による配置構成で撮影した画像と比較例による配置構成で撮影した画像を示す図
【図１２】積層フィルムの積層構成例を示す図
【符号の説明】
【００９４】
１ａ      偏光子
１ｂ      保護フィルム
２        位相差フィルム（光学補償層）
１１      積層フィルム
１２      撮像部
１３      光源
１４      画像処理装置
１５      検査用偏光フィルタ
１６      検査用位相差フィルタ
１７      画像データ取得部
１８      モニター
１９      記憶装置
２０      マーキング装置
２１      マーキング制御部
３１      第１光軸調整部
３２      第２光軸調整部
【図１】
2007212442.tif 000006
【図２】
2007212442.tif 000007
【図３】
2007212442.tif 000008
【図４】
2007212442.tif 000009
【図５】
2007212442.tif 000010
【図６】
2007212442.tif 000011
【図７】
2007212442.tif 000012
【図８】
2007212442.tif 000013
【図９】
2007212442.tif 000014
【図１０】
2007212442.tif 000015
【図１０Ａ】
2007212442.tif 000016
【図１１】
2007212442.tif 000017
【図１２】
2007212442.tif 000018