(57)【要約】      （修正有）【課題】発光ダイオードの断線故障時において、どの発光ダイオードが故障しているかを特定することができ、また、回路の断線による全消灯を回避して正常な発光ダイオードの点灯を維持することができる故障検出装置を実現する。【解決手段】直列に接続された複数の発光素子２１ａ〜２１ｆと、この発光素子に流れる電流を検出する電流検出部３１を有し、前記電流検出部の出力から前記発光素子のいずれかが断線故障したことを検出する故障検出装置において、前記発光素子のそれぞれに並列に接続された複数のスイッチ４１ａ〜４１ｆと、このスイッチのオン／オフを制御する制御部５１と、前記電流検出部の出力と前記複数のスイッチのオン／オフ情報とからどの発光素子が故障しているかを判定する判定部５２と、を有することを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
直列に接続された複数の発光素子と、この発光素子に流れる電流を検出する電流検出部を有し、前記電流検出部の出力から前記発光素子のいずれかが断線故障したことを検出する故障検出装置において、
前記発光素子のそれぞれに並列に接続された複数のスイッチと、
このスイッチのオン／オフを制御する制御部と、
前記電流検出部の出力と前記複数のスイッチのオン／オフ情報とからどの発光素子が故障しているかを判定する判定部と、
を有することを特徴とする故障検出装置。
【請求項２】
前記複数のスイッチは電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項１に記載の故障検出装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチを一つずつ順次オンにすることを特徴とする請求項１または２に記載の故障検出装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチを一旦全部オンにし、その後一つずつ順次オフにしていくことを特徴とする請求項１または２に記載の故障検出装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチのうち２以上のスイッチを任意に組み合わせて制御することを特徴とする請求項１または２に記載の故障検出装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数の発光素子を２以上の群に分け、群ごとにその群の発光素子に接続された複数のスイッチをまとめて制御し、
前記判定部は故障した発光素子が含まれる群がどれであるかを判定することを特徴とする請求項１または２に記載の故障検出装置。
【請求項７】
前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について同様の動作を繰り返すことにより、故障した発光素子が含まれる群が所定の数以下となるまで絞り込むことを特徴とする請求項６に記載の故障検出装置。
【請求項８】
前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について、その群に含まれる複数のスイッチを一つずつ順次オンにすることを特徴とする請求項６または７に記載の故障検出装置。
【請求項９】
前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について、その群に含まれる複数のスイッチを一旦全部オンにし、その後一つずつ順次オフにしていくことを特徴とする請求項６または７に記載の故障検出装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記断線故障検出動作により故障と判定した発光素子に接続されたスイッチをオンとして、正常な発光素子における発光動作を維持するとともに、故障した発光素子の位置を通知することを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の故障検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、直列に接続された発光ダイオードなどの発光素子の故障を検出する故障検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、発光ダイオードは高輝度の製品が開発され、屋外信号等の光源に使用されたり、航空機のコックピット用液晶ディスプレイのバックライトとしての使用も検討されている。発光ダイオードをこのように信号等の光源やバックライトとして用いるときには、多数の発光ダイオードを基板上に並べて実装するため、使用する発光ダイオードの輝度はすべて均一であることが望ましい。
【０００３】
一般に、発光ダイオードは電流に応じた輝度を発生し、流れる電流が大きいと輝度も高くなる。発光ダイオードの順電圧には個体差があり、発光ダイオードを並列接続して定電圧で駆動すると、順電圧の違いにより個々の発光ダイオードを流れる電流が一定とならず、各発光ダイオードの輝度にばらつきが生じる。そのため、流れる電流を一定にするために各発光ダイオードを直列に接続して駆動する必要がある。
【０００４】
図５は従来の故障検出装置の一例を示す図である。定電流電源１は直列接続された発光ダイオード２ａ〜２ｆに一定の電流を供給する。電流検出抵抗３１で構成された電流検出部３は、発光ダイオード２ａ〜２ｆに直列接続され、電流が流れることで電流検出抵抗３１の両端に発生する電位差を電流検出信号Ｖ１として出力する。
【０００５】
ここで、発光ダイオード２ａ〜２ｆがサージなどの影響をうけて故障する場合、短絡故障よりも断線故障（オープンモード故障）の発生が多い。そのため、発光ダイオード２ａ〜２ｆのうちのいずれかが故障すると回路に電流が流れなくなる。したがって、電流検出部３で回路に電流が流れているか否かを検出することにより、発光ダイオード２ａ〜２ｆにおける故障の発生を検出することができる。
【０００６】
【特許文献１】特開平０７−２８７０４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記のような方式では、発光ダイオード２ａ〜２ｆのいずれかに故障が発生したことは検出できるものの、どの発光ダイオードが故障したかまで判別することはできない。
【０００８】
また、発光ダイオードの故障により回路は断線状態となり、故障した発光ダイオードだけでなくその他の正常な発光ダイオードもすべて消灯してしまう。これにより、液晶のバックライトなどでは画面表示ができなくなり、特に航空機のコックピット用ディスプレイにおいてはパイロットのオペレーションに対し非常に重大な影響を与えてしまう。
【０００９】
本発明は、上記のような従来技術の欠点をなくし、発光ダイオードの断線故障時において、どの発光ダイオードが故障しているかを特定することができ、また、回路の断線による全消灯を回避して正常な発光ダイオードの点灯を維持することができる故障検出装置を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記のような目的を達成するために、本発明の請求項１では、直列に接続された複数の発光素子と、この発光素子に流れる電流を検出する電流検出部を有し、前記電流検出部の出力から前記発光素子のいずれかが断線故障したことを検出する故障検出装置において、
前記発光素子のそれぞれに並列に接続された複数のスイッチと、
このスイッチのオン／オフを制御する制御部と、
前記電流検出部の出力と前記複数のスイッチのオン／オフ情報とからどの発光素子が故障しているかを判定する判定部と、
を有することを特徴とする。
【００１１】
請求項２では、請求項１に記載の故障検出装置において、前記複数のスイッチは電界効果トランジスタであることを特徴とする。
【００１２】
請求項３では、請求項１または２に記載の故障検出装置において、前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチを一つずつ順次オンにすることを特徴とする。
【００１３】
請求項４では、請求項１または２に記載の故障検出装置において、前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチを一旦全部オンにし、その後一つずつ順次オフにしていくことを特徴とする。
【００１４】
請求項５では、請求項１または２に記載の故障検出装置において、前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数のスイッチのうち２以上のスイッチを任意に組み合わせて制御することを特徴とする。
【００１５】
請求項６では、請求項１または２に記載の故障検出装置において、前記制御部は、前記断線故障検出動作時に、前記複数の発光素子を２以上の群に分け、群ごとにその群の発光素子に接続された複数のスイッチをまとめて制御し、
前記判定部は故障した発光素子が含まれる群がどれであるかを判定することを特徴とする。
【００１６】
請求項７では、請求項６に記載の故障検出装置において、前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について同様の動作を繰り返すことにより、故障した発光素子が含まれる群が所定の数以下となるまで絞り込むことを特徴とする。
【００１７】
請求項８では、請求項６または７に記載の故障検出装置において、前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について、その群に含まれる複数のスイッチを一つずつ順次オンにすることを特徴とする。
【００１８】
請求項９では、請求項６または７に記載の故障検出装置において、前記制御部は、故障した発光素子が含まれると判定された群について、その群に含まれる複数のスイッチを一旦全部オンにし、その後一つずつ順次オフにしていくことを特徴とする。
【００１９】
請求項１０では、請求項１乃至９のいずれかに記載の故障検出装置において、前記制御部は、前記断線故障検出動作により故障と判定した発光素子に接続されたスイッチをオンとして、正常な発光素子における発光動作を維持するとともに、故障した発光素子の位置を通知することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
このように、各発光素子にそれぞれ並列に接続したスイッチを設け、断線故障時にこのスイッチをオン／オフさせて電流が流れるかどうかをチェックすることにより、どの発光素子が故障しているかを特定することができる。また、故障した発光素子を特定することができるため、修理・交換が容易となる。
【００２１】
請求項２によれば、スイッチが電界効果トランジスタであるため、オン／オフのスイッチ操作を高速化することができる。
【００２２】
請求項３および４によれば、回路中の発光素子を一つずつ確認することができ、確実に故障した発光素子を特定することができる。
【００２３】
請求項５によれば、２以上のスイッチを任意に組み合わせて制御するため、回路中に故障した発光素子が２個以上含まれている場合でもそれらの発光素子を確実に特定することができる。
【００２４】
請求項６によれば、発光素子を群に分け、群ごとに故障した発光素子が含まれるかどうかをまとめて検出するため、多数の発光素子が使用されている場合でも故障した発光素子がおよそどの位置にあるかを短時間で検出することができる。
また、請求項７のように、故障した発光素子が含まれると判断した群について、さらにその群を細かい群に分け、故障した発光素子が含まれる群の検出を繰り返せば、故障した発光素子を短時間で効率的に絞り込んでいくことができる。
さらに、請求項８または９のように、故障した発光素子が含まれると判断した群について、その群に含まれる発光素子を一つずつ確認すれば、故障した発光素子の短時間の絞り込みと確実な特定を両立することができる。
【００２５】
請求項１０によれば、故障した発光素子に接続されたスイッチをオンするため、その発光素子の両端間がスイッチにより短絡され、回路の断線による全消灯を回避して正常な発光素子の点灯を維持することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を用いて本発明の故障検出装置を説明する。
【実施例１】
【００２７】
図１は本発明による故障検出装置の一実施例を示す図であり、回路に一定電流を供給する定電流電源１１、直列接続された発光ダイオード２１ａ〜２１ｆ、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆに流れる電流を検出し電流検出信号Ｖ１を出力する電流検出部３１、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆに並列に接続された電界効果トランジスタ（以下ＦＥＴという。）４１ａ〜４１ｆ、ＦＥＴ４１ａ〜４１ｆのゲート端子に接続され各ＦＥＴのオン／オフを制御する制御部５１、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆの正常／故障を判断する判定部５２から構成される。電流検出部３１は電流検出抵抗３１１で構成され、電流検出抵抗３１１の両端に発生する電圧を電流検出信号Ｖ１として出力する。制御部５１と判定部５２はＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）５に設ける。
【００２８】
本発明の故障検出装置の動作の概要を以下に説明する。
まず正常動作時について説明する。制御部５１でＦＥＴ４１ａ〜４１ｆをすべてオフに設定しておく。定電流電源１１より発光ダイオード２１ａ〜２１ｆに電流が供給されると、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆに電流が流れ、点灯する。また、電流検出部３１に電流が流れ、電流検出抵抗３１１に電圧が発生する。この電圧を電流検出信号Ｖ１として判定部５２でモニターし、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆが正常に動作していることを確認する。
【００２９】
次に、故障時の動作について説明する。たとえば発光ダイオード２１ｂにオープンモード故障が発生しているとする。回路は断線状態となり、電流検出部３１には電流が流れない。そのため電流検出抵抗３１１には電圧が発生せず、判定部５２は電流検出信号Ｖ１が得られなくなり、回路に異常が発生したことを検出する。
【００３０】
判定部５２により故障の発生が検出されると、制御部５１は順番にＦＥＴ４１ａ〜４１ｆをオンにし、電流検出抵抗３１１に電圧が発生するかを確認する。
【００３１】
制御部５１はまずＦＥＴ４１ａのゲートに電圧を印加し、電流検出信号Ｖ１が得られるか確認する。ＦＥＴ４１ａのゲートに電圧を印加すると、発光ダイオード２１ａの両端間がＦＥＴ４１ａにより短絡される。しかし、依然としてＦＥＴ４１ｂが故障しているため回路に電流が流れず、電流検出抵抗３１１には電圧が発生しない。したがって、判定部５１は異常を検出したままとなる。
【００３２】
次に、ＦＥＴ４１ａをオフにし、ＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加する。ＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加すると、発光ダイオード２１ｂの両端間がＦＥＴ４１ｂにより短絡される。以降の発光ダイオード２１ｃ〜２１ｆは故障を起こしていないため、発光ダイオード２１ｂを除いた全ての発光ダイオードに電流が流れるようになる。
【００３３】
これより、電流検出抵抗３１１にも電流が流れて電圧が発生し、判定部５２は電流検出信号Ｖ１を得て回路が正常動作に復帰したことを確認する。このとき、判定部５２はＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加して正常復帰したことから、発光ダイオード２１ｂが故障であることを検出することができる。制御部５１はＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加し続けるとともに、判定部５２から発光ダイオードの故障フラグや故障情報を出力する。故障情報としては故障した発光ダイオードを示す番号や位置などが考えられる。
【００３４】
図２は本発明による故障検出動作のフローチャートである。
定電流電源１１から回路に電流が供給され（Ｓ１）、判定部５２において発光ダイオードの総数（本実施例の場合は発光ダイオード２ａ〜２ｆの６個）を定数Ｎにセットし、変数ｎに初期値＝１をセットする（Ｓ２）。発光ダイオード２ａ〜２ｆのすべてが正常に動作している場合には、電流の供給より発光ダイオード２ａ〜２ｆが点灯するとともに、電流検出抵抗３１１の両端に電圧が発生する（Ｓ３）。次にＦＥＴ４１ａ〜４１ｆのいずれかのゲートに電圧を印加しているかどうかを判断する（Ｓ４）。正常動作の場合にはどのＦＥＴに対してもゲート電圧の印加を行っていないため、回路が正常動作していると判断し、正常動作フラグを出力する（Ｓ５）。
【００３５】
発光ダイオード２１ｂが故障している場合の動作フローは以下の通りである。
回路が断線状態であるため、電流検出抵抗３１１に電圧が発生しない（Ｓ３）。そのため、判定部５２で回路の異常を検出し、まず変数ｎ＝１番目のＦＥＴ４１ａのゲートに電圧を印加する（Ｓ６）。まだゲートに電圧を印加していないＦＥＴが残っている（ｎ＝Ｎでない）ため（Ｓ７）、変数ｎを１プラスして２に更新し（Ｓ８）、ステップＳ３に戻り電流検出抵抗３１１に電圧が発生しているか確認する（Ｓ３）。
【００３６】
ＦＥＴ４１ａをオンにしても回路に電流は流れないため、ｎ番目（２番目）のＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加する（Ｓ６）。まだゲートに電圧を印加していないＦＥＴが残っているため（Ｓ７）、変数ｎを１プラスして３に更新し（Ｓ８）、ステップＳ３に戻り電流検出抵抗３１１に電圧が発生しているか確認する（Ｓ３）。
【００３７】
今度はオン状態となったＦＥＴ４１ｂを経由して回路に電流が流れ、電流検出抵抗３１１に電圧が発生する。そこでステップＳ４に移り、ＦＥＴ４１ａ〜４１ｆのいずれかのゲートに電圧を印加しているかどうかを判断する（Ｓ４）。ＦＥＴ４１ｂに対してゲート電圧を印加しているため、発光ダイオード２１ｂが故障と判断するとともに故障フラグや故障情報を出力する（Ｓ８）。また、ＦＥＴ４１ｂのゲートに電圧を印加し続け、発光ダイオード２１ｂ以外の正常な発光ダイオードを点灯させる。
【００３８】
なお、ＦＥＴ４１ａ〜４１ｆまですべて確認しても電流検出抵抗３１１に電圧が発生することがなかった場合には、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆの２つ以上の発光ダイオードが故障していると判断し、故障フラグを出力する（Ｓ９）。このとき定電流電源１１をオフに切り替える構成としてもよい。
【００３９】
このように、使用する発光ダイオード２１ａ〜２１ｆにそれぞれＦＥＴ４１ａ〜４１ｆを並列接続し、断線故障時にこれらのＦＥＴをオン／オフして電流が流れるかどうかをチェックすることにより、どの発光ダイオードが故障しているかを正確に特定することができる。そのため、発光ダイオードの修理・交換が容易になるとともに、正常な発光ダイオードについて点灯を維持して全消灯を回避することができる。また、ＦＥＴはオン／オフ操作の高速化を図ることができ、電圧駆動であるため制御部や判定部をＦＰＧＡなどで構成すれば容易に制御することができる。
【００４０】
なお、本実施例ではＦＥＴを順次一つずつオンにして電流が流れるかどうかを確認したが、ＦＥＴを一旦すべてオンにしてから一つずつオフに切り替えていき、どの時点で電流が流れなくなるかを確認する構成としてもよい。
【００４１】
また、ＦＥＴを一つずつ変化させるだけではなく、２以上のＦＥＴを組み合わせて変化させることも可能である。たとえばＦＥＴ４１ａ〜４１ｆを一つずつ変化させても電流検出信号Ｖ１が得られなかった場合に、複数のＦＥＴを組み合わせて変化させて電流検出信号Ｖ１が得られるかどうかを確認する。発光ダイオード２１ａ〜２１ｆのすべての組み合わせを網羅するようにＦＥＴを制御すれば、発光ダイオード２１ａ〜２１ｆが２ヵ所以上同時に故障が発生しているような場合でも、故障した発光ダイオードの全部を確実に特定することができる。
【００４２】
このような故障検出装置の使用例としては、液晶表示装置のエッジライト型バックライトとして発光ダイオードを用いるような場合に適していると考えられる。エッジライト型のバックライトは、回路が断線して発光ダイオードが点灯しなくなると画面表示が全く見えなくなってしまうため、故障した発光ダイオードを検出して正常な発光ダイオードの点灯を維持させることは非常に重要である。
【実施例２】
【００４３】
前記実施例１では発光ダイオード回路が１系統のみであったが、発光ダイオード回路は複数系統存在してもよい。
【００４４】
図３は本発明による故障検出装置の他の一例を示す図であり、発光ダイオード回路がｎ系統存在する場合を示したものである。図中１１〜１ｎは定電流電源であり、それぞれに接続されている発光ダイオード２１ａ〜２１ｆ、・・・、２ｎａ〜２ｎｆに電流を供給する。各発光ダイオードにはそれぞれＦＥＴ４１ａ〜４１ｆ、・・・、４ｎ１〜４ｎｆが並列接続されている。系ごとに電流検出部３１〜３ｎが設けられ、それぞれ電流検出抵抗３１１〜３ｎ１で構成されている。電流検出部３１〜３ｎからは電流検出信号Ｖ１〜Ｖｎが出力され、判定部６２に入力される。各ＦＥＴのゲート端子は制御部６１に接続され、制御部６１でオン／オフを制御する。判定部６２では、入力された電流検出信号Ｖ１〜Ｖｎや各ＦＥＴのオン／オフ情報を用いて発光ダイオードの正常／故障を判断する。制御部６１と判定部６２はＦＰＧＡ６に設ける。
【００４５】
制御部６１および判定部６２では、図２で示すような故障検出動作を系ごとに行う。たとえば、系統ｎの発光ダイオード２ｎｄが故障した場合、電流検出抵抗３ｎ１に電圧が発生しなくなり、判定部６２において系統ｎに故障が発生したことを検出する。制御部６１はＦＥＴ４ｎ１〜４ｎｆを順次一つずつオンにし、電流検出信号Ｖｎが得られるかどうかを確認する。発光ダイオード２ｎｄに対応するＦＥＴ４ｎｄをオンすると、故障した発光ダイオード２ｎｄの両端間がＦＥＴ４ｎｄにより短絡され、発光ダイオード２ｎｄ以外の発光ダイオードが点灯するとともに、電流検出抵抗３ｎ１に電圧が発生して電流検出信号Ｖｎが出力される。判定部６２は電流検出信号Ｖｎを得て回路が正常動作に復帰したことを確認し、発光ダイオード２ｎｄが故障であることを検出する。制御部６１はＦＥＴ４ｎｄのゲートに電圧を印加し続けるとともに、判定部６２から発光ダイオードの故障情報を出力する。
【００４６】
高輝度の液晶表示装置において発光ダイオードをバックライトに使用する場合は、発光ダイオードを複数系列に構成する。このような場合においても、系ごとに前記実施例１と同様な構成をとることによって、オープンモード故障が発生した場合でも系の断線状態を回避でき、点灯を維持することができる。また、同様に故障箇所を検出することができる。多数の発光ダイオードを用いた構成では、故障の発光ダイオードがどれかを特定することによって修理・交換等が容易となるため、非常に有効である。
【実施例３】
【００４７】
図４は本発明による故障検出装置の他の一例を示す図である。図中の丸は発光ダイオードであり、（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は２０個の発光ダイオードが直列に接続されている様子を示したものである。白い丸は正常に動作している発光ダイオード、黒く塗りつぶされた丸は故障した発光ダイオードである。各発光ダイオードにはそれぞれＦＥＴが並列接続され、実施例１や実施例２で示したような電流検出部、制御部、判定部が設けられているものとする。
【００４８】
前記実施例１および実施例２では、ＦＥＴを制御することによって発光ダイオードを一つずつ故障確認したが、特に発光ダイオードの数が多い場合には、一つずつ確認するよりも絞り込みを行なうことが有効と考えられる。
【００４９】
図４（ａ）において、直列接続された２０個の発光ダイオードを左半分の１０個と右半分の１０個の２つの群に分け、群ごとに故障の発光ダイオードが含まれているかどうかを確認する。まず、左半分の群の発光ダイオードに接続されたＦＥＴをすべてオンし、回路に電流が流れるかを確認する。左半分の群には故障の発光ダイオードが含まれていないため、回路に電流は流れない。次に、右半分の群の発光ダイオードに接続されたＦＥＴをすべてオンし、回路に電流が流れるかを確認する。右半分の群には故障の発光ダイオードが含まれているため、回路に電流が流れる。これにより、故障した発光ダイオードが右半分の群に含まれていることが分かる。
【００５０】
次に、図４（ｂ）のように、右半分の群をさらに左半分・右半分５個ずつの２つの群に分け、どちらの群に故障の発光ダイオードが含まれるか確認する。左半分の群の発光ダイオードに接続されたＦＥＴをすべてオンすると、回路に電流が流れるようになり、この群に故障の発光ダイオードが含まれていることがわかる。一方、右半分の群の発光ダイオードに接続されたＦＥＴをすべてオンしても回路に電流は流れず、故障した発光ダイオードが右半分の群に含まれないことが確認できる。
【００５１】
このように、発光ダイオードを複数の群に分け、どの群に故障の発光ダイオードが含まれるかを絞り込んでいくことにより、発光ダイオードの数が多い場合に故障部分の特定にかかる時間を短縮化することができる。本実施例では発光ダイオードの数が２０個であるが、必要に応じて絞り込みの回数を増やしたり、群の数を多くすることができる。どの程度の個数まで絞り込むかは任意に設定できるようにする。
【００５２】
絞り込みの結果得られた群に含まれる発光ダイオードをすべて故障とみなし、それらの発光ダイオードに接続されたＦＥＴをオンしたまま通常の点灯動作に戻ってもよい。また、図４（ｃ）のように、その群の中で一つずつＦＥＴを制御して、故障の発光ダイオードを特定するようにしてもよい。このとき、群に含まれる発光ダイオードのＦＥＴを一つずつオンにして故障の確認を行なってもよいし、一旦全部のＦＥＴをオンしてから一つずつオフして故障の確認を行なうこととしてもよい。
【００５３】
故障の発光ダイオードを所定数以下に絞り込んでから個別的に故障かどうかを確認するため、発光ダイオードを始めから一つずつ確認するよりもはるかに短い時間で故障した発光ダイオードを特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】図１は本発明による故障検出装置の一実施例を示す図。
【図２】図２は検出回路２０の動作を示す動作説明図。
【図３】図３は本発明による故障検出装置の他の一例を示す図。
【図４】図４は本発明による故障検出装置の他の一例を示す図。
【図５】図５は従来の故障検出装置の一例を示す図。
【符号の説明】
【００５５】
１１〜１ｎ      定電流電源
２１ａ〜２１ｆ，・・・，２ｎａ〜２ｎｆ  発光ダイオード
３１〜３ｎ      電流検出部
３１１〜３ｎ１  電流検出抵抗
４１ａ〜４１ｆ，・・・，４ｎａ〜４ｎｆ  ＦＥＴ
５，６          ＦＰＧＡ
５１，６１      制御部
５２，６２      判定部
【図１】
2007327753.tif 000003
【図２】
2007327753.tif 000004
【図３】
2007327753.tif 000005
【図４】
2007327753.tif 000006
【図５】
2007327753.tif 000007