(57)【要約】 【課題】  部品相互間の近接部分を複数箇所検出することができる設計支援装置および設計支援方法を提供し、部品相互間のクリアランス量によって、部品上の各部分に余裕度を出力することができる設計支援装置および設計支援方法を提供する。【解決手段】  検証処理部５は、検証対象定義部４によってクリアランスチェックの対象部品として抽出された部品の検証単位毎にクリアランスチェックを行い、クリアランス量を算出する。次にＲＡＭに表示態様を記憶する。その後、検証結果表示部６は、検証処理部５によって検証単位毎に算出されたクリアランス量と、検証対象定義部４にて定義され前記ＲＡＭに記憶された表示態様にて検証結果を表示する。検証対象として選択された部品またはユニットを構成する部品の検証単位毎に、検証結果を出力する。【選択図】      図１
2007048004.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品を構成する複数の部品であって各部品の形状の情報を表す形状情報と、これら複数の部品を相対的に配置する配置情報とを記憶する記憶手段と、
前記複数の部品から検証対象部品を選択する検証対象定義手段と、
前記記憶手段に記憶された形状情報、配置情報および予め定められた検証単位に基づいて、部品相互間の距離を算出するクリアランスチェック手段と、
前記クリアランスチェック手段にて算出された距離に応じて、検証対象部品の表示態様を変更するように記憶する表示態様記憶手段と、
前記クリアランスチェック手段にて算出された距離、および表示態様記憶手段に記憶された表示態様から、検証結果を出力する出力制御手段とを含むことを特徴とする設計支援装置。
【請求項２】
前記検証対象定義手段は、部品、部品の形状を成す面、および頂点の少なくともいずれか１つを選択することを特徴とする請求項１に記載の設計支援装置。
【請求項３】
前記検証対象定義手段は、検証対象部品を構成する面を検証単位に分割することを特徴とする請求項１または２に記載の設計支援装置。
【請求項４】
製品を構成する複数の部品であって各部品の形状の情報を表す形状情報と、これら複数の部品を相対的に配置する配置情報とを記憶する記憶工程と、
前記複数の部品から検証対象部品を選択する検証対象定義工程と、
前記記憶工程で記憶された形状情報、配置情報および予め定められた検証単位に基づいて、部品相互間の距離を算出するクリアランスチェック工程と、
前記クリアランスチェック工程にて算出された距離に応じて、検証対象部品の表示態様を変更するように記憶する表示態様記憶工程と、
前記クリアランスチェック工程にて算出された距離、および表示態様記憶工程にて記憶された表示態様から、検証結果を出力する出力工程とを含むことを特徴とする設計支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品を構成する部品相互間のクリアランスをチェックする設計支援装置および設計支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
製品設計において、製品の形状およびレイアウトは、計算機支援設計装置（以下、ＣＡＤ（Computer Aided Design）装置あるいはＣＡＤシステムという）を用いて、三次元の座標系における図形データとして定義され設計される。
【０００３】
部品点数の多い製品、たとえばデジタル複合機あるいは自動車などの製品においては、次のように設計する。（１）製品を構成する部品は、機能単位たとえばユニット単位にグルーピングされる。（２）複数の設計者が、それぞれに割り当てられたユニットを並行して設計する。（３）各設計者は、自分が担当しているユニットと機械的に接続する他のユニットとの接続部分について、前記他のユニットの設計者と事前に取り決めを行う。
【０００４】
各設計者は、その取り決めに従って設計を行うが、接続部分について、取り決め通りの設計が行われているか否かを、ＣＡＤ装置によって設計された三次元の図形データを用いてチェックすることができる。たとえば干渉チェックを行う対象である２つの部品の図形データに対して、加減乗除などの演算を行うことによって、干渉などの不具合があるか否かを判断することができる。
【０００５】
したがって、設計図面に基づいて製作された試作機の組立段階で顕在化していた部品相互間の干渉による不具合を、ＣＡＤ装置によって設計された三次元の図形データを用いてチェックすることによって、試作機の組立開始前に排除することができ、製品設計の品質を向上することができる。
【０００６】
一方、干渉不具合を事前に全て取り除いた図形データを用いて試作機の製作を行った場合でも、試作機製作の際に製造誤差などの原因で寸法にばらつきが生じ、干渉不具合が発生する場合がある。これは、図形データ上干渉していなくても、部品間の最も近接した距離を測定し、設計時の部品間距離が十分か否か部品間距離の余裕度を検証することで検証が可能である。そのための検証を「クリアランスチェック」と呼ぶ。
【０００７】
ＣＡＤシステムにおけるクリアランスチェック装置として、従来、２つの物体間の距離を高速に算出することのできる物体間距離演算装置、対象部品の近接部品を検索するための近接部品検索装置などが提案されている（たとえば特許文献１、２参照）。
【０００８】
特許文献１には、対象とされる２つの凸物体双方もしくは一方が凸曲面パッチで表される任意の凸物体について、それら２つの凸物体の最近接点間距離が高精度に、かつ高速に求められる技術が開示されている。たとえば表示画面上に２つの凸物体を表示して移動ないし変形させながら、リアルタイムにそれら２つの凸物体の最近接点間距離ないし干渉状態を算出する旨記載されている。
【０００９】
特許文献２には、仮想空間内でシミュレーションによって運動する複数の物体の干渉を表現する物体干渉表現装置が開示されている。つまり物体の干渉度合いごとに、各干渉度合いを表現するための表現態様を対応付けて記憶する表現態様記憶手段と、シミュレーションによって運動する複数の物体の干渉度合いを算出する干渉度合算出手段と、表現態様記憶手段によって記憶された表現態様のうち、干渉度合算出手段によって算出された干渉度合いに対応する表現態様を用いて該干渉度合いを表現するよう制御する表現制御手段とを備える物体干渉表現装置が開示されている。
【００１０】
【特許文献１】特許第３３９１６５７号公報
【特許文献２】特開２００４−２５２７５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
特許文献１は、対象部品相互間の最近接距離を高速に算出することを目的としたものであるが、製品形状において部品は常に他の部品に接合されており、部品間のクリアランスチェックを実施する際には、最近接部分一箇所のクリアランスを確認しただけでは不十分である。すなわち、一部が接触または干渉している二部品の場合、クリアランスチェックを実施しても他の設計余裕度確認が必要な箇所の確認ができない。
【００１２】
特許文献２によって、部品の干渉度合い（クリアランス距離）により物体の表現態様を制御する技術では、次のような問題がある。相対的に大きな部品が対象部品の場合に、部品全体が同一の表現形態であれば、問題箇所が発見し難い。
【００１３】
図１３および図１４は、従来技術の課題を説明する平面図である。図１３に示すように、製品を構成する部品５１，５２において、部品５１，５２のクリアランスチェックを行うと、二部品間の最近接部分５３を検出する。ただし製品設計の過程で、前記最近接部分５３の検証結果部分に対して対策が講じられた場合、設計者は、次に対策が必要な箇所の無いかを順次見る必要がある。たとえば次候補「５４」の箇所が、最近接点ではないが問題発生の可能性があり対策を講じる必要がある場合に、従来技術では確認できない。設計者は、図１４に示すように、相手部品との距離が短い順（図１４の四角形内に表記する順）に順次確認していき、問題があれば都度対策を講じる必要がある。
【００１４】
本発明の目的は、部品相互間の近接部分を複数箇所検出することができる設計支援装置および設計支援方法を提供すること、部品相互間のクリアランス量によって、部品上の各部分に余裕度を出力することができる設計支援装置および設計支援方法を提供することなどである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、製品を構成する複数の部品であって各部品の形状の情報を表す形状情報と、これら複数の部品を相対的に配置する配置情報とを記憶する記憶手段と、
前記複数の部品から検証対象部品を選択する検証対象定義手段と、
前記記憶手段に記憶された形状情報、配置情報および予め定められた検証単位に基づいて、部品相互間の距離を算出するクリアランスチェック手段と、
前記クリアランスチェック手段にて算出された距離に応じて、検証対象部品の表示態様を変更するように記憶する表示態様記憶手段と、
前記クリアランスチェック手段にて算出された距離、および表示態様記憶手段に記憶された表示態様から、検証結果を出力する出力制御手段とを含むことを特徴とする設計支援装置である。
【００１６】
また本発明は、前記検証対象定義手段は、部品、部品の形状を成す面、および頂点の少なくともいずれか１つを選択することを特徴とする。
【００１７】
また本発明は、前記検証対象定義手段は、検証対象部品を構成する面を検証単位に分割することを特徴とする。
【００１８】
また本発明は、製品を構成する複数の部品であって各部品の形状の情報を表す形状情報と、これら複数の部品を相対的に配置する配置情報とを記憶する記憶工程と、
前記複数の部品から検証対象部品を選択する検証対象定義工程と、
前記記憶工程で記憶された形状情報、配置情報および予め定められた検証単位に基づいて、部品相互間の距離を算出するクリアランスチェック工程と、
前記クリアランスチェック工程にて算出された距離に応じて、検証対象部品の表示態様を変更するように記憶する表示態様記憶工程と、
前記クリアランスチェック工程にて算出された距離、および表示態様記憶工程にて記憶された表示態様から、検証結果を出力する出力工程とを含むことを特徴とする設計支援方法である。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、記憶手段は、各部品の形状情報と配置情報とを記憶する。検証対象定義手段は検証対象部品を選択する。クリアランスチェック手段は、これら形状情報、配置情報および予め定められた検証単位に基づいて、部品相互間の距離を算出する。その算出された距離に応じて、表示態様記憶手段は、表示態様を変更するように記憶する。出力制御手段は、クリアランスチェック手段にて算出された距離、および表示態様記憶手段に記憶された表示態様から、検証結果を出力する。
【００２０】
検証対象として選択された部品またはユニットを構成する部品の検証単位毎に、検証結果が出力されるので、部品単位の検証結果表示では認識不可能な問題箇所を確認することができる。
【００２１】
また本発明によれば、部品、部品の形状を成す面、および頂点の少なくともいずれか１つを選択することで、検証対象部品を確実に選択できる。相手部品の検証単位に直線を結び、途中遮る面があれば、検証単位から除外することができる。このように検証単位から除外することにより、検証単位の絞込みを容易に行うことができる。
【００２２】
また本発明によれば、検証対象定義手段によって、検証対象部品を構成する面が検証単位に分割され、分割された検証単位などに基づいて、部品相互間の距離が算出される。
【００２３】
また本発明によれば、出力制御工程において、クリアランスチェック工程で算出された距離、および表示態様記憶工程で記憶された表示態様から、検証結果が出力される。検証対象として選択された部品またはユニットを構成する部品の検証単位毎に、検証結果が出力されるので、部品単位の検証結果表示では認識不可能な問題箇所を確認することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面を参照しながら本発明を実施するための形態について説明する。図１は、本発明の実施形態に係る設計支援装置１の構成を表すブロック図である。本実施形態は、たとえばデジタル複合機の部品相互間のクリアランスをチェックする際などに好適に用いられる。ただしデジタル複合機用だけに限定されるものではない。以下の説明は設計支援方法の説明をも含む。設計支援装置１は、部品形状情報設計部２、製品アセンブリ設定部３、検証対象定義部４、検証処理部５、検証結果表示部６、データ入力部７、部品形状情報記憶部８、アセンブリ情報記憶部９および情報転送路１０を含む。
【００２５】
部品形状情報設計部２は、各部品の形状の情報を表す形状情報を部品形状情報記憶部８に記憶する。形状情報には、部品の形状を表現するための頂点座標および面情報などの情報が含まれる。製品アセンブリ設定部３は、部品を配置する位置を表す位置情報と、部品を配置する方向を表す方向情報とを含む配置情報であるアセンブリ情報を設定し、アセンブリ情報記憶部９に記憶する。アセンブリ情報は、たとえば部品をグループ化したユニット間の親子関係、つまり包含関係と、部品間の相対位置などの位置情報と、部品を配置する際の部品毎のローカル座標と、配置座標とが含まれる。
【００２６】
検証対象定義手段としての検証対象定義部４は、先ず、製品アセンブリ設定部３で記憶されたアセンブリ情報に含まれるユニット間の親子関係を用いて、検証対象とする部品またはユニットを選択する。検証対象定義部４は、さらに検証のための前処理を行う。前処理は、選択された部品またはユニットを構成する部品の形状情報をもとに設定された検証単位に、検証対象となる可能性のある相手部品の検証単位を絞込み、検証の処理時間を短縮するために行う処理と同義である。検証単位は、たとえば、部品の形状を構成する面、頂点、面を分割するパッチである。絞込みは、検証単位がたとえば面の場合、面を構成する稜線または頂点から、相手部品の検証単位に直線を結び、途中遮る面があれば、検証単位から除外することにより、検証単位から除外することにより、検証単位の絞込みを行う。
【００２７】
クリアランスチェック手段としての検証処理部５は、検証対象定義部４で抽出された対象部品に対してクリアランスチェックを行う。表示部およびデータ入力部７は、選択する部品またはユニットを指示する選択指示を行ったり、検証対象を範囲選択したり、検証単位などの情報を入力するデータ入力部と、ユーザへの情報を表示する表示部とを含む。部品形状情報記憶部８およびアセンブリ情報記憶部９は、それぞれ形状情報およびアセンブリ情報を記憶する。形状情報は、部品設計データに含まれる部品形状データであり、この部品形状データは、頂点座標および面情報などを含む。部品形状データは、他に部品などの情報を含む。情報転送路１０は、各機能間で情報を転送するための転送路である。
【００２８】
図２は、設計支援装置１のハードウェアの構成を表すブロック図である。設計支援装置１は、たとえば情報処理装置によって構成され、データ入力装置１１、入力インタフェース１２、中央演算処理装置１３（ＣＰＵ：Central Processing Unit）、記憶装置１４、ラム１５（ＲＡＭ：Random Access Memory）、出力インタフェース１６、出力装置１７およびデータバス１８を含む。
【００２９】
データ入力装置１１は、ユーザが部品の位置を表す位置情報および部品の方向を表す方向情報を含むアセンブリ情報などの情報を入力するための入力装置であり、たとえばキーボード、ポインティングデバイス、マウス、あるいはタッチパネルなどの少なくともいずれか１つで構成されている。データ入力装置１１は、入力されたアセンブリ情報などの情報を、入力インタフェース１２を介して、ＣＰＵ１３に入力する。入力インタフェース１２は、データ入力装置１１をデータバス１８に接続するための接続装置である。
【００３０】
ＣＰＵ１３は、記憶装置１４に記憶されたプログラムを実行することによって、部品形状情報設計部２、製品アセンブリ設定部３、検証対象定義部４および検証処理部５の機能を実現する中央演算処理装置である。記憶装置１４は、たとえばロム（ロム：Read Only Memory）、磁気ディスク装置、光ディスク装置、光磁気ディスク装置などの少なくともいずれか１つで構成されている。記憶装置１４には、ＣＰＵ１３によって実行されるプログラムが格納されるとともに、ＣＰＵ１３によって用いられるデータが記憶される。部品形状情報設計部２、製品アセンブリ設定部３、検証対象定義部４および検証処理部５は、記憶装置１４に記憶されたプログラムに実装されている機能である。
【００３１】
記憶手段であるＲＡＭ１５は、半導体メモリなどで構成される常駐メモリであり、形状情報を記憶するための部品形状情報メモリ領域、およびアセンブリ情報を記憶するためのアセンブリ情報メモリ領域を含む。部品形状情報メモリ領域は、形状情報記憶部８に対応し、ＣＰＵ１３が記憶装置１４から読み出した部品形状のデータつまり形状情報を記憶する。アセンブリ情報メモリ領域は、アセンブリ情報記憶部９に対応し、データ入力装置１１によって入力された情報に基づいて、ＣＰＵ１３が設定したアセンブリ情報を格納する。
【００３２】
出力インタフェース１６は、出力装置１７をデータバス１８に接続するための接続装置である。出力制御手段としての出力装置１７は、液晶ディスプレイ、タッチパネル、あるいは印刷装置などで構成される出力装置である。この出力装置１７は、ＣＰＵ１３から出力インタフェース１６を介して送られてきた情報、たとえば干渉チェックの結果などの情報を表示する。データバス１８は、各ハードウェア間で情報を送受信するためのデータバスである。
【００３３】
図３は、設計支援装置１と記録媒体１９等との関係を表すブロック図である。設計支援装置１は、媒体駆動装置２０をさらに含む。媒体駆動装置２０は、記録媒体１９に記録されたプログラムおよび／またはデータ２１ａを記憶装置１４にロードする機能を有する。記録媒体１９はプログラムおよび／またはデータを記録する。この記録媒体１９は、たとえばハードディスクドライブ、メモリカード、フロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read Only Memory）、光ディスク、光磁気ディスクなどの記録媒体である。設計支援装置１は、媒体駆動装置２０を介して、記録媒体１９に記録されたプログラムおよび／またはデータ２１ａを記憶装置１４にロードし、ロードしたプログラムおよび／またはデータ２１を用いて必要な処理を行う。
【００３４】
設計支援装置１はネットワーク接続装置２２をさらに含む。このネットワーク接続装置２２は、ネットワークに接続されている情報処理装置２３に記憶されたプログラムおよび／またはデータ２１ｂを記憶装置１４にロードする機能を有する。またネットワーク接続装置２２は、ネットワークに接続されている他の装置と通信し、プログラムおよび／またはデータを送受信し得る。設計支援装置１は、ネットワーク接続装置２２を介して、情報処理装置２３に記憶されたプログラムおよび／またはデータ２１ｂを記憶装置１４にロードし、ロードしたプログラムおよび／またはデータ２１を用いて必要な処理を行う。
【００３５】
図４は、本発明の実施形態に係る設計支援方法の処理手順を示すフローチャートである。図１および図２も参照しつつ説明する。このフローチャートは、設計支援装置１の部品形状情報設計部２、製品アセンブリ設定部３、検証対象定義部４、および検証処理部５によって処理される。設計支援装置１が部品間のクリアランスチェックを行うときに、ステップＳ１に移行する。
【００３６】
ステップＳ１では、部品形状情報設計部２は、検証の対象である製品を構成する部品の形状を表す形状情報を、記憶装置１４から取得して、部品形状情報記憶部８に記憶する。前記形状情報は、部品の形状を表現するための頂点座標および面情報を含む。さらに、製品アセンブリ設定部３は、部品をグループ化したユニット間の親子関係、つまり包含関係と、部品間の相対位置などの位置情報と、部品を配置する際の部品毎のローカル座標と、配置座標とを含む配置情報であるアセンブリ情報を設定し、アセンブリ情報記憶部９に記憶する。部品形状情報記憶部８およびアセンブリ情報記憶部９は、それぞれＲＡＭ１５の部品形状情報メモリ領域およびアセンブリ情報メモリ領域に対応する。
【００３７】
次にステップＳ２に移行して、検証対象定義部４は、先ず、少なくとも一つのユニットまたは部品を選択する。部品またはユニットが選択されなかった場合、プログラムの内部では表示部品全てが選択されたと判断する。また、部品ではなく、検証単位（面、稜線、頂点、パッチ）が選択されることも可能とする。
【００３８】
ステップＳ３では、検証対象定義部４はクリアランス量を指定する。図５は、部品相互間のクリアランス量２４が指定される場合、指定されない場合の説明をするための平面図である。ステップＳ２において、部品２５と部品２６とが選択され、クリアランス量２４が指定されたとする。このようにクリアランス量が指定された場合は、指定されたクリアランス量以下の距離で近接するか否かの検証を行う。クリアランス量が指定されない場合は、選択部品の最近接距離を計測する。
【００３９】
ステップＳ４では、検証対象定義部４は、検証単位を設定する。ステップＳ２で選択された部品またはユニットを構成する部品の構成要素を元に、面、または稜線、頂点、または面を分割したパッチを、前記検証単位として設定する。この検証単位が検証結果表示の表示態様を変化させる単位になる。図５に示す部品２６の検証結果としては、面上の検証単位２７，２８，２９に検証結果を表示する。従来技術では、二部品間に接触箇所（２９）がある場合には、「接触」または「干渉」結果のみ（２９）に表示され、設計者が本来確認すべき箇所については検証結果から除外されていた。
【００４０】
ステップＳ５では、検証処理部５は、検証対象定義部４によってクリアランスチェックの対象部品として抽出された部品の、検証単位毎にクリアランスチェックを行い、クリアランス量を算出する。次にステップＳ６に移行して、ＲＡＭ１５に表示態様を記憶する。ステップＳ７では、検証結果表示部６は、検証処理部５によって検証単位毎に算出されたクリアランス量と、検証対象定義部４にて定義されステップＳ６で記憶された表示態様にて検証結果を表示する。その後本フローを終了する。
【００４１】
図６は、検証対象のクリアランスチェックと検証結果とを表示する斜視図である。本実施形態では、たとえば検証対象が部品Ａおよび部品Ｂ、検証単位を「パッチ」としたとき、の検証処理におけるクリアランスチェックとその結果表示の一例とを示す。検証処理により、検証単位毎に検証結果値が求められ、最近接箇所３０が検出される。結果表示は、表示態様表（図９参照）から検証単位毎に表示態様を求める。表示態様表は、しきい値３１と、各しきい値３１に対応する表示形態３２（たとえば色）から成る。しきい値は、範囲をもってもよく、しきい値の上限、下限の値と表示色の上限、下限を同比率で対応付けてもよい。
【００４２】
図７は、三部品の検証対象のクリアランスチェックと検証結果とを表示する斜視図である。部品Ａと部品Ｂとにおいて検証した結果、最も近接した箇所３３が検出される。また、部品Ａと部品Ｃとにおいて検証した結果、最も近接した部分３４が検出される。検証結果表示部６は、部品Ａの検証単位に対して部品Ｂおよび部品Ｃから検出されたクリアランス量の小さい方を検証結果として表示する。
【００４３】
図８は、３つ以上の部品を選択した場合の部品Ａの検証単位の検証結果選択を説明する図表である。検証処理は、二部品単位にクリアランスチェックを実施する。すなわち、部品Ａの検証単位Ａ１、Ａ２、Ａ３と部品Ｂの検証単位Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３のクリアランス量ｄａｂ１１からｄａｂ３３と、部品Ａの検証単位Ａ１、Ａ２、Ａ３と部品Ｃの検証単位Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３のクリアランス量ｄａｃ１１からｄａｃ３３が検証結果として検出される。
【００４４】
部品Ａの検証単位に表示される表示態様表の検証結果は、先ず部品Ｂの検証単位とのクリアランス量の最小値を選択する。たとえば、各結果を比較し短い方のクリアランス値を結果として選択する。たとえば、ｄａｂ１１＜ｄａｂ１２かつｄａｂ１１＜ｄａｂ１３ならば、Ａ１＝ｄａｂ１１となる。さらに部品Ｃの検証単位との検証結果が、ｄａｃ１２＜ｄａｃ１１かつｄａｃ１２＜ｄａｃ１３ならば、Ａ１＝ｄａｃ１２、さらにｄａｂ１１＞ｄａｃ１２ならばＡ１＝ｄａｃ１２となる。
【００４５】
図９は、表示態様を表す図表である。検証結果表示は、このＡ１の値を図９に示す態様表からしきい値に対応する表示色を検証単位に表示する。すなわち、ｋ１＜Ａ１≦ｋ２ならば、「Ｃｏｌ２」を表示する。検証対象定義において、検証対象を絞り込むことによって検証処理を早めることができる。
【００４６】
図１０は、検証対象から除外する絞込みの一例を表す斜視図であり、図１１は、検証対象から除外する絞込みの一例を表す正面図である。検証単位毎に他部品との検証単位に直線を結び、途中に遮るものがある場合には、検証対象から除外することにより、結果表示の際に対策不要箇所として結果表示することができる。たとえば図１０の「Ｂ１」から検証対象部品の検証単位に直線を生成する。図１１の面「１１１」に示す影の部分に含まれる検証単位は検証対象から除外する。図１２は、検証対象の絞込みの一例を表す正面図である。部品Ａの検証単位Ａ１と部品Ｂの検証単位Ｂ１からＢ６とするこのとき、検証単位Ｂ５は、面「Ｂ４−Ｂ５」の影になるため、検証対象から除外することができる。このことにより、検証結果表示における処理を高速化できる。
【００４７】
以上説明した設計支援装置１および設計支援方法によれば、検証処理部５は、検証対象定義部４によってクリアランスチェックの対象部品として抽出された部品の、検証単位毎にクリアランスチェックを行い、クリアランス量を算出する。次にＲＡＭ１５に表示態様を記憶する。その後、検証結果表示部６は、検証処理部５によって検証単位毎に算出されたクリアランス量と、検証対象定義部４にて定義され前記ＲＡＭ１５に記憶された表示態様にて検証結果を表示する。検証対象として選択された部品またはユニットを構成する部品の検証単位毎に、検証結果が出力されるので、部品単位の検証結果表示では認識不可能な問題箇所を確認することができる。
【００４８】
検証対象定義部４は、検証対象とする部品またはユニットを選択し、さらに検証単位（部品の形状を構成する面、頂点、面を分割するパッチ）で前処理を行う。つまり検証単位で、検証対象部品を確実に選択できる。相手部品の検証単位に直線を結び、途中遮る面があれば、検証単位から除外することができる。このように検証単位から除外することにより、検証単位の絞込みを容易に行うことができる。前記検証対象定義部４によって、検証対象部品を構成する面が検証単位に分割され、分割された検証単位などに基づいて、部品相互間の距離が算出される。したがって部品相互間の近接部分を複数箇所検出することができる設計支援装置１および設計支援方法を実現できる。
【００４９】
本発明の実施の他の形態として、部品形状情報設計部２、製品アセンブリ設定部３、検証対象定義部４、および検証処理部５などの機能が実装されたプログラムは、予め記憶装置に記憶しておいてもよい。前記プログラムは、記録媒体１９あるいは情報処理装置２３から記憶装置１４に読込むようにしてもよいし、記録媒体１９および情報処理装置２３の両方から記憶装置１４に読込むことができるようにしてもよい。
【００５０】
記録媒体１９に記録されたプログラムあるいは情報処理装置２３に記憶されたプログラムを読込むためのプログラムは、予め記憶装置１４に記憶しておく。記録媒体１９に記録されたプログラムあるいは情報処理装置２３に記憶されたデータを読込むプログラムは、予め記憶装置１４に記憶しておいてもよいし、記録媒体１９あるいは情報処理装置２３からロードされるプログラムに含めておいてもよい。
【００５１】
このように本発明の実施の他の形態に係る設計支援方法は、コンピュータに実行させるためのプログラムとして提供することができる。さらにまた、この設計支援方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータで読取り可能な記録媒体として提供することができる。
【００５２】
上述した実施の各形態によれば、形状が複雑な部品および、一部接触した部分がある部品相互間の設計余裕度を部品単位だけではなく、部品を構成する要素（面、稜線、点、パッチなど）単位に問題箇所を設計者に知らせることにより、問題箇所を早期に対策することが可能となる。その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を付加した形態で実施することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の実施形態に係る設計支援装置１の構成を表すブロック図である。
【図２】設計支援装置１のハードウェアの構成を表すブロック図である。
【図３】設計支援装置１と記録媒体１９等との関係を表すブロック図である。
【図４】本発明の実施形態に係る設計支援方法の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】部品相互間のクリアランス量２４が指定される場合、指定されない場合の説明をするための平面図である。
【図６】検証対象のクリアランスチェックと検証結果とを表示する斜視図である。
【図７】三部品の検証対象のクリアランスチェックと検証結果とを表示する斜視図である。
【図８】３つ以上の部品を選択した場合の部品Ａの検証単位の検証結果選択を説明する図表である。
【図９】表示態様を表す図表である。
【図１０】検証対象から除外する絞込みの一例を表す斜視図である。
【図１１】検証対象から除外する絞込みの一例を表す正面図である。
【図１２】検証対象の絞込みの一例を表す正面図である。
【図１３】従来技術の課題を説明する平面図である。
【図１４】従来技術の課題を説明する平面図である。
【符号の説明】
【００５４】
１  設計支援装置
２  部品形状情報設計部
３  製品アセンブリ設定部
４  検証対象定義部
５  検証処理部
６  検証結果表示部
７  データ入力部
８  部品形状情報記憶部
９  アセンブリ情報記憶部
１０  情報転送路
１１  データ入力装置
１２  入力インタフェース
１３  ＣＰＵ
１４  記憶装置
１５  ＲＡＭ
１６  出力インタフェース
１７  出力装置
１８  データバス
【図１】
2007048004.tif 000003
【図２】
2007048004.tif 000004
【図３】
2007048004.tif 000005
【図４】
2007048004.tif 000006
【図５】
2007048004.tif 000007
【図６】
2007048004.tif 000008
【図７】
2007048004.tif 000009
【図８】
2007048004.tif 000010
【図９】
2007048004.tif 000011
【図１０】
2007048004.tif 000012
【図１１】
2007048004.tif 000013
【図１２】
2007048004.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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