(57)【要約】【課題】撮像手段により取得された撮像データを高精度に補正することのできる撮像データ補正方法、および、撮像データ補正装置を提供すること。【解決手段】本発明の撮像データ補正方法は、波長の異なる均一光をラインセンサカメラで撮像し、波長に応じてＣＣＤ画素ｎから出力されるサンプル撮像データＳＷｎを取得し、サンプル撮像データＳＷｎから、波長Ｌに応じたＣＣＤ画素ｎの補正係数Ｋｎ，Ｌを作成し、ＯＬＥＤパネルを波長計測装置で測定して、ＯＬＥＤパネルの波長分布を取得し、波長分布からＣＣＤ画素ｎに受光される画素波長Ｌｎを取得し、ＯＬＥＤパネルをラインセンサカメラで撮像してＣＣＤ画素ｎの撮像データＰＷｎを取得し、ＣＣＤ画素ごとに、画素波長Ｌｎに応じた補正係数Ｋｎ，Ｌを用いて撮像データＰＷｎを補正する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一様に均一なサンプル波長を有するサンプル光を、前記サンプル波長を変えながら撮像手段で複数回撮像し、前記サンプル波長に応じて前記撮像手段の撮像画素から出力されるサンプル撮像データを取得するサンプル撮像データ取得ステップと、
前記サンプル撮像データから、波長に応じた前記各撮像画素の補正係数を作成する補正係数作成ステップと、
測定対象物を前記撮像手段で撮像し、前記各撮像画素から出力される撮像データを取得する撮像データ取得ステップと、
前記測定対象物を波長計測手段で測定し、前記撮像手段の前記各撮像画素に受光される画素波長を取得する波長取得ステップと、
前記画素波長に応じた前記補正係数を用いて、前記各撮像画素ごとの前記撮像データを補正し、前記各撮像画素ごとの補正撮像データを取得する撮像データ補正ステップとを備えていることを特徴とする撮像データ補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像データ補正方法において、
前記補正係数作成ステップは、前記各撮像画素における任意の波長に応じた補正係数を、前記サンプル波長および前記補正係数の関係に基づき補間により導出することを特徴とする撮像データ補正方法。
【請求項３】
請求項１に記載の撮像データ補正方法において、
前記補正係数作成ステップは、前記各撮像画素における任意の波長に応じた補正係数を、前記任意の波長に最も近接する前記サンプル波長に応じた前記補正係数として導出することを特徴とする撮像データ補正方法。
【請求項４】
一様に均一なサンプル波長を有するサンプル光を、前記サンプル波長を変えながら撮像手段に複数回撮像させ、前記サンプル波長に応じて前記撮像手段の撮像画素から出力されるサンプル撮像データを取得するサンプル撮像データ取得部と、
前記サンプル撮像データから、波長に応じた前記各撮像画素の補正係数を作成する補正係数作成部と、
測定対象物を前記撮像手段に撮像させ、前記各撮像画素から出力される撮像データを取得する撮像データ取得部と、
前記測定対象物を波長計測手段に測定させ、前記撮像手段の前記各撮像画素に受光される画素波長を取得する波長取得部と、
前記画素波長に応じた前記補正係数を用いて、前記各撮像画素ごとの前記撮像データを補正し、前記各撮像画素ごとの補正撮像データを取得する撮像データ補正部とを備えていることを特徴とする撮像データ補正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像データ補正方法、および、撮像データ補正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶パネル、プラズマディスプレイパネルおよびＯＬＥＤ(Organic Light Emitting Diode)等の画像表示パネルを検査する際、画像表示パネルの光量測定が行われる。
このような画像表示パネルの光量測定には、一般的に、ＣＣＤ（Charge Coupled Devices）カメラなどの撮像手段が用いられ、撮像手段から出力される撮像データから光量が解析される。
しかしながら、この撮像データには、光学系（ＣＣＤカメラに内蔵されているレンズやプリズム、ＣＣＤカメラの外部に配置されるレンズなど）の影響で生じる画像の歪み、ＣＣＤカメラにおける各ＣＣＤ画素の感度のばらつきなどによって、明暗のむら等の誤差が生じることがある。従来、このような検査対象物以外の要因によって生じる撮像データ中の誤差を補正することを目的として、撮像データに対しシェーディング補正が行われている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１に記載の撮像データ補正方法では、白、黒およびグレー等の無彩色の基準物から射出される光をＣＣＤカメラによって撮像し、このＣＣＤカメラから出力された撮像データに基づいて、各ＣＣＤ画素の出力値に対するシェーディング補正用の補正係数を作成している。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２８３８２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の撮像データ補正方法では、白、黒およびグレー等の無彩色を有する対象物を撮像した際の撮像データに対しては、高い補正精度が得られるものの、有彩色を有する対象物の撮像データに対しては、補正精度が低下するという課題がある。
【０００６】
本発明の目的は、撮像手段により取得された撮像データを高精度に補正することのできる撮像データ補正方法、および、撮像データ補正装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記した目的を達成するために、本発明の撮像データ補正方法は、一様に均一なサンプル波長を有するサンプル光を、前記サンプル波長を変えながら撮像手段で複数回撮像し、前記サンプル波長に応じて前記撮像手段の撮像画素から出力されるサンプル撮像データを取得するサンプル撮像データ取得ステップと、前記サンプル撮像データから、波長に応じた前記各撮像画素の補正係数を作成する補正係数作成ステップと、測定対象物を前記撮像手段で撮像し、前記各撮像画素から出力される撮像データを取得する撮像データ取得ステップと、前記測定対象物を波長計測手段で測定し、前記撮像手段の前記各撮像画素に受光される画素波長を取得する波長取得ステップと、前記画素波長に応じた前記補正係数を用いて、前記各撮像画素ごとの前記撮像データを補正し、前記各撮像画素ごとの補正撮像データを取得する撮像データ補正ステップとを備えていることを特徴とする。
【０００８】
撮像手段として、例えば、撮像画素としてＣＣＤ（Charge Coupled Devices）画素を有するラインセンサカメラ等が挙げられる。また、測定対象物として、例えば、液晶パネル、プラズマディスプレイパネルおよびＯＬＥＤ(Organic Light Emitting Diode)パネル等が挙げられる。
【０００９】
本発明によれば、撮像画素ごとに波長に応じた補正係数を予め作成しておき、この補正係数の中から測定対象物の波長特性に応じた補正係数を適用して、各撮像画素から出力される撮像データを補正する。すなわち、測定対象物の波長特性に応じて撮像データの補正を行うことができる。従って、測定対象物の波長特性、すなわち無彩色・有彩色に関わらず、撮像手段により取得された撮像データを高精度に補正することができる。
また、補正係数は、撮像手段の撮像画素ごとに作成するため、各撮像画素の感度に応じた補正を行うことができる。従って、撮像手段の光学系で生じる誤差を抑制することができる。
【００１０】
本発明では、前記補正係数作成ステップは、前記各撮像画素における任意の波長に応じた補正係数を、前記サンプル波長および前記補正係数の関係に基づき補間により導出することが好ましい。
本発明によれば、任意の波長に対応する補正係数を補間により導出することから、サンプル波長および補正係数の関係に沿う補正係数を取得することができる。従って、撮像手段により取得された撮像データを高精度に補正することができる。
さらに、任意の波長に対応する補正係数を補間により導出することから、サンプル撮像データ取得ステップにおいて、サンプル光のサンプル波長を細かいピッチで変えながら撮像する必要はない。従って、撮像データの補正に要する作業量、時間およびデータ量を低減させることができる。
【００１１】
本発明では、前記補正係数作成ステップは、前記各撮像画素における任意の波長に応じた補正係数を、前記任意の波長に最も近接する前記サンプル波長に応じた前記補正係数として導出することが好ましい。
本発明によれば、任意の波長に対応する補正係数を、最も近接するサンプル波長に応じた補正係数とすることから、補正係数を導出するために複雑な計算等を行う必要がないため、補正係数作成ステップにおける処理量を軽減することができる。
さらに、任意の波長に対応する補正係数を補間により導出することから、サンプル撮像データ取得ステップにおいて、サンプル光のサンプル波長を細かいピッチで変えながら撮像する必要はない。従って、撮像データの補正に要する作業量、時間およびデータ量を低減させることができる。
【００１２】
本発明の撮像データ補正装置は、一様に均一なサンプル波長を有するサンプル光を、前記サンプル波長を変えながら撮像手段に複数回撮像させ、前記サンプル波長に応じて前記撮像手段の撮像画素から出力されるサンプル撮像データを取得するサンプル撮像データ取得部と、前記サンプル撮像データから、波長に応じた前記各撮像画素の補正係数を作成する補正係数作成部と、測定対象物を前記撮像手段に撮像させ、前記各撮像画素から出力される撮像データを取得する撮像データ取得部と、前記測定対象物を波長計測手段に測定させ、前記撮像手段の前記各撮像画素に受光される画素波長を取得する波長取得部と、前記画素波長に応じた前記補正係数を用いて、前記各撮像画素ごとの前記撮像データを補正し、前記各撮像画素ごとの補正撮像データを取得する撮像データ補正部とを備えていることを特徴とする。
本発明によれば、前述した撮像データ補正方法の作用および効果と同様の作用および効果を享受することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の実施形態の図面を用いて説明する。本実施形態では、検査対象であるＯＬＥＤパネルの光量測定を、ラインセンサカメラ１を用いて行う。
〔測定システム１０の構成〕  
図１は、本実施形態の測定システム１０の構成を示す模式図である。
測定システム１０は、図１に示すように、撮像手段としてのラインセンサカメラ１と、波長計測手段としての波長計測装置２と、撮像データ補正装置としての制御装置３と、コンベア４とを備えている。ラインセンサカメラ１および波長計測装置２は、図１に示すように、コンベア４の上方においてコンベア流れ方向に沿って配置されている。
コンベア４は、測定システム１０に測定させる測定対象物（後述するＯＬＥＤ(Organic Light Emitting Diode)パネル６）を上面に載置させ、この測定対象物をラインセンサカメラ１および波長計測装置２の下方を通過させる。ラインセンサカメラ１および波長計測装置２は、それぞれ測定対象物が下方に位置した際に、対象物の撮像・測定を行う。
【００１４】
図２は、ラインセンサカメラ１の受光部１１の構成を説明するための模式図である。
ラインセンサカメラ１の受光部１１には、図２に示すように、撮像画素としてのＣＣＤ（Charge Coupled Devices）画素が、コンベア流れ方向に対し直交するライン状に整列配置されている。このように、ＣＣＤ画素がライン状に配置されていることから、ラインセンサカメラ１の撮像範囲は、コンベア流れ方向に対し直交する１次元領域となる。なお、２次元領域を撮像するには、コンベア流れ方向に沿って領域をスキャンすることで実現できる。
本実施形態では、受光部１１にＮ個のＣＣＤ画素が整列されているとし、一端側から数えてｎ番目のＣＣＤ画素をＣＣＤ画素ｎとする。個々のＣＣＤ画素は、受光量に応じた電気信号を出力する。以下、ＣＣＤ画素ｎが出力する電気信号を撮像データＷｎと称する。
【００１５】
波長計測装置２（図１）は、レンズ、スリット、分光器およびエリアカメラ（図示略）等を備え、受光された光の波長を測定する。レンズから入射された光がスリットに介されることで、波長計測装置２の測定範囲は、コンベア流れ方向に直交する１次元領域となる。なお、ラインセンサカメラ１と同様に、波長計測装置２は、コンベア流れ方向に沿って領域をスキャンすることで、２次元領域の波長を測定することができる。
【００１６】
〔制御装置３の機能的構成〕
図３は、制御装置３の機能的構成を示すブロック図である。
制御装置３は、ＣＰＵ、メモリなどを備える一般的なコンピュータで構成され、所定のプログラムを組み込むことで実行される以下の各機能部を備えている。
制御装置３は、ラインセンサカメラ１および波長計測装置２に電気的に接続され、ラインセンサカメラ１および波長計測装置２の駆動を制御するとともに、ラインセンサカメラ１および波長計測装置２で取得された撮像データおよび波長に基づくデータ処理を行う。
制御装置３は、図３に示すように、補正係数取得部３１と、補正撮像データ取得部３２と、光量解析部３３と、メモリ３４とを備えている。
【００１７】
補正係数取得部３１は、一様に均一な輝度および波長を有するサンプル光を、５ｎｍずつ波長を変えながらラインセンサカメラ１で撮像させ、サンプル光の波長Ｌに応じたＣＣＤ画素ｎ（図２）の補正係数Ｋｎ，Ｌを導出する。
補正撮像データ取得部３２は、波長計測装置２により測定対象物の波長分布を求め、この波長分布に応じて、ラインセンサカメラ１により取得される前記測定対象物の撮像データＰＷｎを補正係数Ｋｎ，Ｌで補正し、補正撮像データＰＷｎ’を算出する。
光量解析部３３は、補正撮像データＰＷｎ’を基に、前記測定対象物の各画素の光量を解析する。
なお、各機能部３１〜３４の具体的な構成および作用については後述する。
【００１８】
〔制御装置３の作用〕
本実施形態の制御装置３による測定対象物の光量測定方法について、図３〜図８を用いて説明する。本実施形態の光量測定方法では、補正係数Ｋｎ，Ｌを予め取得するための準備処理が実行され、次に、補正係数Ｋｎ，Ｌを用いて測定対象物を測定し、前記測定対象物の光量を解析する実測処理が実行される。
なお、図４は、準備処理を説明するためのフロー図、図５は、実測処理を説明するためのフロー図である。
【００１９】
まず、図３、図４および図６を参照して、準備処理を説明する。
制御装置３において補正係数取得部３１を構成するサンプル撮像データ取得部３１１は、積分球５から射出される一様に均一な輝度および波長を有するサンプル光を、波長を変えながらラインセンサカメラ１に撮像させて、サンプル撮像データＳＷを取得する（Ｓ１）。
【００２０】
図６は、ラインセンサカメラ１による積分球５の撮像の様子を示す模式平面図である。
積分球５は、予め設定された輝度および波長Ｌに基づく均一なサンプル光を形成し射出することができる。
積分球５の具体的な構成として、図６に示すように、積分球５の本体５１には、光源５２から光が入射される入射窓５１１と、光が出射される出射窓５１２とが形成されている。中空の本体５１の内面は反射面となっており、入射窓５１１から入射される光源５２の光は、当該内面にて反射されて均一光となり、出射窓５１２から射出されるようになっている。
【００２１】
処理Ｓ１では、この射出窓５１２から射出されるサンプル光を、ライセンサカメラ１により撮像する。すなわち、サンプル光がライセンサカメラ１のＣＣＤ画素ｎに受光され、ＣＣＤ画素ｎは、入射されたサンプル光に基づく撮像データＷｎを出力する。
なお、本実施形態では、積分球５を基準輝度Ｅ０および波長Ｌの発光条件で発光させる。そして、サンプル光の波長Ｌを、６００ｎｍ〜６４０ｎｍの間で５ｎｍずつ変化させながら、各波長Ｌを有するサンプル光を撮像する。
【００２２】
次に、輝度解析部３１２は、処理Ｓ１で取得された波長Ｌのサンプル光の撮像データＳＷＬを基に、ＣＣＤ画素ｎに受光された光の測定輝度Ｅを解析する（Ｓ２）。
補正係数作成部３１３は、積分球５に予め設定された基準輝度Ｅ０、および、処理Ｓ２で解析された測定輝度Ｅから、ＣＣＤ画素ｎが波長Ｌの光を撮像した際の撮像データＷｎに対する補正係数Ｋｎ，Ｌを作成する（Ｓ３）。
具体的には、ＣＣＤ画素ｎにおける基準輝度Ｅ０および測定輝度Ｅの比Ｅ０/Ｅを、補正係数Ｋｎ，Ｌの値に反映させる。すなわち、補正係数Ｋｎ，Ｌは、測定定輝度Ｅで補正することにより基準輝度Ｅ０が導出される値である。
【００２３】
補正係数作成部３１３は、波長Ｌのサンプル光を撮像した撮像データＳＷＬから、全てのＣＣＤ画素の補正係数Ｋｎ，Ｌを作成したか否かを判定する（Ｓ４）。全てのＣＣＤ画素の補正係数Ｋｎ，Ｌを作成していない場合、処理Ｓ２に戻り、撮像データＳＷＬを基に、ＣＣＤ画素ｎ+１に受光された光の測定輝度を解析する。
【００２４】
一方、全てのＣＣＤ画素の補正係数Ｋｎ，Ｌを作成した場合、補正係数作成部３１３は、処理Ｓ１で撮像されたサンプル光の全波長分（６００ｎｍ〜６４０ｎｍ）に対して、補正係数Ｋｎ，Ｌを作成したか否かを判定する（Ｓ５）。全波長分に対して、補正係数Ｋｎ，Ｌを作成していない場合、処理Ｓ２に戻り、波長Ｌ+５ｎｍのサンプル光を撮像した撮像データＳＷＬ+５を基に、ＣＣＤ画素ｎに受光された光の測定輝度Ｅを解析する。
【００２５】
一方、サンプル光の全波長分に対して、補正係数Ｋｎ，Ｌを作成した場合、補正係数作成部３１３は、ＣＣＤ画素ｎにおけるサンプル光の波長Ｌと補正係数補正係数Ｋｎ，Ｌの関係から、補間式を用いて、６００ｎｍ〜６４０ｎｍにおける１ｎｍごとの波長Ｌに対する補正係数Ｋｎ，Ｌを導出する。そして、補正係数作成部３１３は、波長Ｌに対応する補正係数Ｋｎ，Ｌを表す波長‐補正係数テーブル３４１を、メモリ３４に書き込む（Ｓ６）。
【００２６】
図７は、メモリ３４に書き込まれた波長‐補正係数テーブル３４１に基づき、ＣＣＤ画素ｎにおける波長Ｌおよび補正係数Ｋｎ，Ｌの関係を表したものである。
図７に示されるように、入射される光の波長Ｌの値に応じて、ＣＣＤ画素ｎの補正係数Ｋｎ，Ｌは変化される。
【００２７】
次に、図３、図５および図８を参照して、実測処理を説明する。
まず、補正撮像データ取得部３２を構成する撮像データ取得部３２３は、ラインセンサカメラ１に測定対象物であるＯＬＥＤパネル６を撮像させて、ＯＬＥＤパネル６の撮像データＰＷを取得する（Ｓ７）。
次に、波長特性取得部３２１は、波長計測装置２にＯＬＥＤパネル６を測定させて、ＯＬＥＤパネル６から発光される光の波長分布を取得する（Ｓ８）。
【００２８】
図８は、ＯＬＥＤパネル６を説明するための模式平面図である。
ＯＬＥＤパネル６は、図８に示すように、マトリックス状に整列配置されたパネル画素６１から構成されている。各パネル画素６１は、通電により発光される。
【００２９】
次に、画素波長解析部３２２は、処理Ｓ８で取得されたＯＬＥＤパネル６の波長分布を基に、ＯＬＥＤパネル６からラインセンサカメラ１のＣＣＤ画素ｎに受光される画素波長Ｌｎを解析する（Ｓ９）。
具体的には、ＯＬＥＤパネル６に座標を割当て、当該座標と各ＣＣＤ画素との位置関係に基づいて、波長分布から画素波長Ｌｎを求める。なお、波長特性取得部３２１および画素波長解析部３２２は、本発明の波長取得部に相当する。
【００３０】
撮像データ補正部３２４は、処理Ｓ９で解析されたＣＣＤ画素ｎの画素波長Ｌｎに基づいて、メモリ３４内のＣＣＤ画素ｎの波長‐補正係数テーブル３４１を参照し、画素波長Ｌｎに対応する補正係数Ｋｎ，Ｌを読み出す。
そして、撮像データ補正部３２４は、補正係数Ｋｎ，Ｌを用いて、処理Ｓ７で取得されたＣＣＤ画素ｎの撮像データＰＷｎを補正し、補正撮像データＰＷｎ’を導出する（Ｓ１０）。
【００３１】
撮像データ補正部３２４は、全ＣＣＤ画素に対し、補正撮像データＰＷｎ’を取得したか否かを判定する（Ｓ１１）。全ＣＣＤ画素に対して補正撮像データＰＷｎ’を取得していない場合、処理Ｓ１０に戻り、撮像データ補正部３２４は、ＣＣＤ画素ｎ＋１の補正撮像データＰＷｎ＋１’を導出する。
【００３２】
全ＣＣＤ画素に対して補正撮像データＰＷｎ’を取得した場合、光量解析部３３は、補正撮像データＰＷ’から各ＣＣＤ画素に受光された光量を解析する（Ｓ１２）。
そして、光量解析部３３は、各ＣＣＤ画素に受光された光量を基に、ＯＬＥＤパネル６の各パネル画素６１の光量を解析する（Ｓ１３）。具体的には、ＯＬＥＤパネル６のパネル画素６１に対応する各ＣＣＤ画素ｎの補正撮像データＰＷｎ’の平均値から、パネル画素６１Ｗの光量を求める。
【００３３】
本実施形態によれば、ＣＣＤ画素ｎごとに波長Ｌに応じた補正係数Ｋｎ，Ｌを予め作成しておき、この補正係数Ｋｎ，Ｌの中からＯＬＥＤパネル６の波長特性に応じた補正係数Ｋｎ，Ｌを適用して、ＣＣＤ画素ｎから出力される撮像データＷｎを補正する。すなわち、測定対象物の波長特性に応じて撮像データＷの補正を行うことができる。従って、ＯＬＥＤパネル６の波長特性、すなわち色に関わらず、ラインセンサカメラ１により取得された撮像データＷを高精度に補正することができる。
また、補正係数Ｋｎ，Ｌは、ラインセンサカメラ１のＣＣＤ画素ごとに作成するため、各ＣＣＤ画素の感度に応じた補正を行うことができる。従って、ラインセンサカメラ１の光学系で生じる誤差を抑制することができる。
【００３４】
ＯＬＥＤパネル６の波長特性に応じて光量測定を行うために、波長計測装置２を用いた光量測定方法も考えられるが、波長計測装置２のみを用いた光量測定では、測定画像の各画素から波長データおよび光量を求めるため、測定に時間を要しデータ容量が膨大となる。
これに対し、本実施形態では、波長計測装置２の測定画像から、ラインセンサカメラ１の撮像データＷの補正に用いる波長データのみを解析すればよい。さらに、波長計測装置２の分解能は、検査工程および撮像データに求められる精度に応じて設定すればよい。従って、本実施形態の光量測定は、波長計測装置２のみを用いた光量測定と比べて、測定時間およびデータ容量を軽減することができる。
【００３５】
〔前記実施形態の変形〕
本発明を実施するための最良の構成などは、以上の記載で開示されているが、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、前記実施形態は、本発明を限定するものではないから、それらの形状、材質などの限定の一部若しくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、処理Ｓ７においてＯＬＥＤパネル６の撮像データＰＷを取得し、次に、処理Ｓ８,Ｓ９においてＣＣＤ画素ｎの画素波長Ｌｎを取得するとした。しかしながら、本発明では、これらを逆の手順で行ってもよい。すなわち、まずＣＣＤ画素ｎの画素波長Ｌｎを取得し、次に、ＯＬＥＤパネル６の撮像データＰＷを取得してもよい。
【００３６】
前記実施形態では、処理Ｓ１において、サンプル光の波長Ｌを５ｎｍずつ変化させて撮像するとした。しかし、本発明では、この波長Ｌのピッチは限定されるものではなく、求められる撮像データＰＷの補正精度およびＯＬＥＤパネル６の検査精度に応じて設定すればよい。また、サンプル光の波長Ｌの撮像範囲も、測定対象物の波長特性に応じて適宜設定すればよい。
【００３７】
波長計測装置２は、１次元領域の測定を繰り返すことで２次元領域の波長を測定するとしたが、このスキャンのピッチも、求められる撮像データＰＷの補正精度およびＯＬＥＤパネル６の検査精度に応じて設定すればよい。さらに、波長計測装置２の分解能も、これら求められる精度に応じて設定すればよい。
さらに、ラインセンサカメラ１の解像度も同様に、求められる撮像データＷの補正精度およびＯＬＥＤパネル６の検査精度に応じて設定すればよく、少なくとも、撮像画像上においてＯＬＥＤパネル６の各パネル画素６１が認識できる解像度を有していればよい。
【００３８】
なお、前記実施形態では、処理Ｓ６において、補間式を用いて、１ｎｍごとの波長Ｌに対応する補正係数Ｋｎ，Ｌを導出するとした。しかしながら、本発明では、補間による導出に限らず、例えば、サンプル光の実測波長間の波長に対応する補正係数Ｋｎ，Ｌを、当該波長に最も近接するサンプル光の波長Ｌに対応する補正係数Ｋｎ，Ｌとしてもよい。
このように補正係数Ｋｎ，Ｌを導出することで、補正係数Ｋｎ，Ｌを導出するために複雑な解析等を行う必要がなく、処理Ｓ６における作業を軽減することができる。
なお、処理Ｓ１において、波長Ｌを１ｎｍごとに変化させながらサンプル光を撮像し、波長１ｎｍごとの撮像データＳＷを予め取得してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３９】
本発明は、撮像手段により取得された撮像データ補正装置、および、撮像データの補正方法に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施形態に係る測定システムの構成を示す模式図。
【図２】前記実施形態に係るラインセンサカメラの受光部の構成を示す模式図。
【図３】前記実施形態に係る制御装置の機能的構成を示すブロック図。
【図４】前記実施形態に係る制御装置の作用を説明するためのフロー図。
【図５】前記実施形態に係る制御装置の作用を説明するためのフロー図。
【図６】前記実施形態に係る積分球を測定する様子を説明するための模式図。
【図７】前記実施形態に係るＣＣＤ画素ｎにおける波長および補正係数の関係を示すグラフ。
【図８】前記実施形態に係るＯＬＥＤパネルを説明するための模式平面図。
【符号の説明】
【００４１】
１…ラインセンサカメラ（撮像手段）、２…波長計測装置（波長計測手段）、３１１…サンプル撮像データ取得部、３１３…補正係数作成部、３２１…波長特性取得部（波長取得部）、３２２…画素波長解析部（波長取得部）、３２３…撮像データ取得部、３２４…撮像データ補正部、６…ＯＬＥＤパネル（測定対象物）、Ｋｎ，Ｌ…補正係数、Ｌ…波長、Ｌｎ…画素波長、ｎ…ＣＣＤ画素（撮像画素）、Ｗ，Ｗｎ…撮像データ、ＳＷ，ＳＷＬ…サンプル撮像データ、ＰＷ，ＰＷｎ…撮像データ、ＰＷｎ’…補正撮像データ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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