(57)【要約】【課題】情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、ワンチップＣＰＵ素子、及びコンピュータプログラムを提供する。【解決手段】第１記録層１１に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行い、第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件を導出し、第１記録層のテストにて行ったテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第２及び第３記録層１２，１３にテスト情報の記録及び再生を行い、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件を導出する。これにより、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項３】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項４】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行し、
前記基準記録層テストステップは、
前記一の記録層にテスト情報の記録を行う第１テスト情報記録ステップと、
前記第１テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第１テスト情報再生ステップを含み、
前記他の記録層テストステップは、
前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第２テスト情報記録ステップと、
前記第２テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第２テスト情報再生ステップとを含み、
前記第１テスト情報記録ステップと前記第１テスト情報再生ステップとを切り替える回数よりも前記第２テスト情報記録ステップと前記第２テスト情報再生ステップとを切り替える回数が少なく設定されている
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項５】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項６】
前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、
前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生又はパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の何れか一方を行う
ことを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れかに記載の光記録方法。
【請求項７】
前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、
前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生を行い、
前記他の記録層照射条件導出ステップでは、前記基準記録層テストステップにおいて得られたレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標と、前記他の記録層テストステップにおいて得られたレーザパワーの段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標とから、前記他の記録層におけるパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するパルス幅調整用評価指標を導出し、
さらに、前記光記録装置は、前記他の記録層におけるレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標が情報の記録に適した所定の値になるように前記他の記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する調整ステップを実行する
ことを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れかに記載の光記録方法。
【請求項８】
前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、
前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生を行い、
前記他の記録層照射条件導出ステップでは、前記基準記録層テストステップにおいて得られたレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標と、前記他の記録層テストステップにおいて得られたパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するパルス幅調整用評価指標とから、レーザパワーの段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を導出し、
さらに、前記光記録装置は、前記他の記録層におけるレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標が情報の記録に適した所定の値になるように前記他の記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する調整ステップを実行する
ことを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れかに記載の光記録方法。
【請求項９】
さらに前記光記録装置は、予め定められた所定の記録速度において、前記調整ステップによる調整によって所定の品位での記録が可能な場合を記録可能と判断すると共に、前記調整ステップによる調整によって所定の品位での記録が不可能な場合を記録困難と判断する判断ステップを実行する
ことを特徴とする請求項７又は請求項８に記載の光記録方法。
【請求項１０】
さらに前記光記録装置は、前記判断ステップにおいて予め定められた所定の記録速度で記録可能と判断された場合に、当該所定の記録速度で実記録を行い、前記判断ステップにおいて当該所定の記録速度では記録困難と判断された場合に、当該所定の記録速度よりも低い記録速度で記録を行うか又は記録を中止する制御ステップを実行する
ことを特徴とする請求項９に記載の光記録方法。
【請求項１１】
前記光記録装置は、前記判断ステップにおいて予め定められた所定の記録速度で記録可能と判断された場合に、当該所定の記録速度で実記録を行い、前記判断ステップにおいて当該所定の記録速度では記録困難と判断された場合には、前記他の記録層テストステップを再度実行する
ことを特徴とする請求項９に記載の光記録方法。
【請求項１２】
さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果または判断結果に対する処理内容の少なくとも何れか一方を表示する表示ステップを実行する
ことを特徴とする請求項９乃至請求項１１の何れかに記載の光記録方法。
【請求項１３】
さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果または判断結果に対する処理内容の少なくとも何れか一方を、テスト記録が行われた記録媒体又はテスト記録を行った当該光記録装置の少なくとも何れか一方に記録するステップを実行する
ことを特徴とする請求項９乃至請求項１２の何れかに記載の光記録方法。
【請求項１４】
さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果と、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて導出された評価指標と、前記調整ステップにおける調整結果を示すデータのうちの少なくとも何れか１つを、テスト記録が行われた記録媒体又はテスト記録を行った当該光記録装置の少なくとも何れか一方に記録するステップを実行する
ことを特徴とする請求項９に記載の光記録方法。
【請求項１５】
前記評価指標及び前記調整結果を示すデータのうちの一方は、テスト記録条件に関するデータを含む
ことを特徴とする請求項１４に記載の光記録方法。
【請求項１６】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を決定するための評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、
前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか１つを含むパルス幅調整用評価指標の変化を取得する取得ステップと、
前記レーザパワーの変化と前記取得したパルス幅調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、
前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、
前記第２のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、
前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを実行する
ことを特徴とする評価指標取得方法。
【請求項１７】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、
前記光記録装置は、
前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、
前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、
前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、
前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、
前記第２のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、
前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるレーザパワー条件を決定するためのレーザパワー調整用評価指標を求めるステップとを実行する
ことを特徴とする評価指標取得方法。
【請求項１８】
光記録装置が、記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、
前記光記録装置は、
前記記録層にテスト記録情報および／またはユーザーデータ記録情報の記録を行う情報記録ステップと、
前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを実行する
ことを特徴とする評価指標取得方法。
【請求項１９】
前記複数種の評価指標は少なくともレーザパワー調整用評価指標とパルス幅調整用評価指標の何れかを含む
ことを特徴とする請求項１８に記載の評価指標取得方法。
【請求項２０】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、
前記基準記録層テスト手段によって行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段により得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２１】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、
前記基準記録層テスト手段によって行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段により得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２２】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、
前記基準記録層テスト手段で用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２３】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第１テスト情報記録手段と、
前記第１テスト情報記録手段により記録されたテスト情報を再生する第１テスト情報再生手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、
前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第２テスト情報記録手段と、
前記第２テスト情報記録手段により記録されたテスト情報を再生する第２テスト情報再生手段と、
前記第１テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第１テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数よりも、前記第２テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第２テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数を少なくして、前記テスト情報の記録と再生を切り替える切替手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２４】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、
前記他の記録層に、前記基準記録層テスト手段におけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、
前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２５】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録手段と、
前記テスト情報記録手段によって記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか１つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得手段と、
前記レーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求める相関関係取得手段と、
前記他の層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録手段と、
前記第２のテスト記録の結果を前記相関関係取得手段によって求めた相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出手段と、
前記算出手段によって得られた関係を用いて前記他の層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるパルス幅調整用評価指標取得手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２６】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録手段と、
前記テスト情報記録手段によって前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得するレーザパワー調整用評価指標取得手段と、
前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求める相関取得手段と、
前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録手段と、
前記第２のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を算出する算出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２７】
記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
前記記録層にテスト記録情報および／またはユーザーデータ記録情報の記録を行う情報記録手段と、
前記情報記録手段によって記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得する評価指標取得手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２８】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップによって行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項２９】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３０】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３１】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第１テスト情報記録ステップと、
前記第１テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第１テスト情報再生ステップと、
前記基準記録層テストステップによって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第２テスト情報記録ステップと、
前記第２テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第２テスト情報再生ステップと、
前記第１テスト情報記録ステップによるテスト情報の記録と前記第１テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数よりも、前記第２テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第２テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数を少なくして、前記テスト情報の記録と再生を切り替えるステップと、
前記基準記録層テストステップによって得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップによって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３２】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、
前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、
前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３３】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、
前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか１つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得ステップと、
前記パワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、
前記他の層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、
前記第２のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、
前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３４】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、
前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、
前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、
前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、
前記第２のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を算出する算出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３５】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層に情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、
前記メモリ回路には、
前記記録層にテスト記録情報および／またはユーザデータ記録情報の記録を行う記録ステップと、
前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項３６】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるＣＰＵ素子を動作させるコンピュータプログラムであって、
前記請求項１乃至請求項１９の何れかに記載の処理ステップを含むことを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層を有する光記録媒体への情報の記録に関するもので、特に、情報書き込み時のテスト時間を短縮可能な光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、マイクロＣＰＵ素子、及びコンピュータプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、レーザ光を用いて周知のＤＶＤ等の光記録メディア（光記録媒体）にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアにデータ記録を行う場合、一般的には、実際のデータ記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。
【０００３】
しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアにデータ記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率、熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。
【０００４】
このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図２５及び図２６に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記録が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ（光記録装置）のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアにデータ記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。
【０００５】
また、記録ドライブ自体の個体差やバラツキ或いはレーザの温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみをデータ記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
【特許文献１】特開２００５−１００６１０号公報
【特許文献２】特開２００３−２２５３２号公報
【特許文献３】特開２００４−１７１７４０号公報
【特許文献４】特開２００４−２４７０２４号公報
【特許文献５】ＷＯ２００２−０２９７９１号公報
【特許文献６】特開２００３−１７８４４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来技術においては、有限である記録ドライブのメモリ容量への負担が大きく、高容量のメモリーを用いた場合は記録ドライブのコストアップに繋がるため、対応できる記録メディアの数が制限されるといった第１の課題点を有する。
【０００７】
また記録レーザパワーのみで補えない記録メディアおよび記録ドライブの持つ特性バラツキに十分に対応できず、さらには記録ドライブのメモリに予め記憶されなかった記録メディアおよび記録ドライブが発売された後に発売された記録メディア等の「未知の種類の光記録メディア」に対しても、一部ではファームアップという形で対応しているが、十分な対応ができないといった第２の課題点を有する。
【０００８】
従って、データ記録を行う記録メディアおよび記録ドライブの特性に応じて、記録速度毎の最適記録条件を短時間で求めるための技術開発が望まれている。
【０００９】
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、ワンチップＣＰＵ素子、及びコンピュータプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。
【００１１】
本発明の光記録方法によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。
【００１２】
さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。
【００１３】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。
【００１４】
本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。
【００１５】
さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。
【００１６】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。
【００１７】
本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。
【００１８】
さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。
【００１９】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行し、前記基準記録層テストステップは、前記一の記録層にテスト情報の記録を行う第１テスト情報記録ステップと、前記第１テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第１テスト情報再生ステップを含み、前記他の記録層テストステップは、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第２テスト情報記録ステップと、前記第２テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第２テスト情報再生ステップとを含み、前記第１テスト情報記録ステップと前記第１テスト情報再生ステップとを切り替える回数よりも前記第２テスト情報記録ステップと前記第２テスト情報再生ステップとを切り替える回数が少なく設定されている光記録方法を提案する。
【００２０】
本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第１テスト情報記録ステップと、前記第１テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第１テスト情報再生ステップが、所定回数切り替えて実行される。
【００２１】
さらに、基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。
【００２２】
また、前記他の記録層テストステップにおいて、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第２テスト情報記録ステップと、前記第２テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第２テスト情報再生ステップが、前記基準記録層テストステップにおける切替回数よりも少なく設定された回数切り替えられて実行される。
【００２３】
さらに、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。
【００２４】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。
【００２５】
本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。
【００２６】
さらに、他の記録層テストステップにおいて、前記他の記録層に対して、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。
【００２７】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を決定するための評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか１つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得ステップと、前記パワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、前記第２のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。
【００２８】
本発明の評価指標取得方法によれば、前記一の記録層におけるレーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係と、前記他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係が算出され、該関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標が求められる。
【００２９】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第２のテスト情報記録ステップと、前記第２のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるレーザパワー条件を決定するためのレーザパワー調整用評価指標を求めるステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。
【００３０】
本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が取得される。さらに、パルス幅の変化とレーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係が求められる。また、他の記録層に対して、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、この記録結果が前記相関関係に適合されて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が算出される。
【００３１】
また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記記録層にテスト記録情報および／またはユーザーデータ記録情報の記録を行う記録ステップと、前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。
【００３２】
本発明の評価指標取得方法によれば、前記記録層に情報の記録が行われ、これにより記録された情報が再生されて、該再生情報及び前記記録条件から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標が取得される。
【００３３】
また、本発明は、上記課題を解決するために、上記光記録方法における各処理ステップを実行する手段を備えた光記録装置と、該光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子、及び前記光記録装置に用いるＣＰＵを駆動して前記光記録方法を実行するコンピュータプログラムを提案する。
【発明の効果】
【００３４】
本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３５】
また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３６】
また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３７】
また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が前記一の記録層における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３８】
また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層に対して、前記一の記録層のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３９】
また、本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層におけるレーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係と、他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係が算出され、該関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標が求められるため、前記他の記録層におけるパルス幅評価指標が計算によって算出され、このパルス幅評価指標を求めるために実際のテスト記録を行う必要がないので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００４０】
また、本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層におけるパルス幅の変化とレーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係に対して、他の記録層においてパルス幅の記録条件を段階的に変化させて行われたテストの記録結果が適合されて、他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が算出されるため、評価指標の種類毎にテスト情報の記録を行う必要がないので、テスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００４１】
また、本発明の評価指標取得方法によれば、記録層に記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、これにより記録されたテスト情報が再生されて、該再生情報及び前記記録条件から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標が取得されるため、評価指標の種類毎にテスト情報の記録を行う必要がないので、テスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００４２】
また、本発明の光記録装置によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。
【００４３】
さらに、本発明のマイクロＣＰＵ素子によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。
【００４４】
また、本発明のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録方法を容易に実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４５】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。
【００４６】
図１は本発明の第１実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図である。図において、１０は光ディスクで、周知のＤＶＤ、ＨＤ−ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙディスク等の多層型光記録媒体であり、本実施形態ではレーザ光照射面から最も離れた位置から第１記録層１１、第２記録層１２、第３記録層１３の順で３つの記録層を有する光記録媒体である。尚、本実施形態では３つの記録層を有する光記録媒体を用いて説明するが、２層以上の記録層を有する光記録媒体を光ディスク１０として光記録装置100によって情報の記録再生を行うことができる。
【００４７】
100は光記録装置で、光ピックアップ110と、レーザダイオード（以下、ＬＤと称する）ドライバ121、スライサ122、復調回路123、特性値検出部124、ワンチップＣＰＵ素子（以下、ＣＰＵと称する）125、メモリ127、インタフェース（以下、Ｉ／Ｆと称する）128とを備えている。尚、ここでは、本発明に特に関係する構成部分のみを記載して説明する。
【００４８】
また、光記録装置100には、パーソナルコンピュータやディスプレイ等からなる表示部131と、キーボード等からなる操作部132が接続されている。
【００４９】
光ピックアップ110は、レーザダイオード（以下、ＬＤと称する）111と、フォトディテクタ（以下、ＰＤと称する）112、コリメートレンズ113、対物レンズ114、検出レンズ115、ビームスプリッタ116を有している。ＬＤ111から射出されたレーザ光はコリメートレンズ113とビームスプリッタ116と対物レンズ114を透過して光ディスク１０に照射される。また、光ディスク１０によって反射されたレーザ光は対物レンズ114を透過した後にビームスプリッタ116によって反射され、検出レンズ115を介してＰＤ112に入射される。ＰＤ112は入射した光の光量に対応した値の電流を出力する。
【００５０】
ＬＤドライバ121はＣＰＵ素子125から入力した記録信号に基づいてＬＤ111に駆動電流を供給してＬＤ111を発光させる。
【００５１】
スライサ122は、ＰＤ112から出力電流を所定の閾値でスライスして２値化電圧信号に変換して出力する。
【００５２】
復調回路123は、スライサ122から出力される符号化されている２値化信号を復調してＣＰＵ125に出力する回路であり、例えば、スライサ122から出力された２値化電圧信号である３Ｔ〜１１Ｔのパルス幅でＥＦＭ変調されて符号化された信号を復調したディジタル信号をＣＰＵ125に出力する。
【００５３】
特性値検出部124は、ＰＤ112から出力された電流信号を入力し、この電流値に基づいて光ディスク１０からの反射光から特性値を検出してディジタル情報としてＣＰＵ125に出力する。この反射光から検出する特性値としては、例えば、記録レーザパワーや記録パルス条件に依存し、且つ記録パルス条件を最適化するのに相応しい特性値であればよく、本実施形態では、β、アシンメトリ(Asymmetry)、位相、振幅等を検出している。
【００５４】
ＣＰＵ125は、周知のワンチップＣＰＵ素子で、内部にＣＰＵをどうさせるためのコンピュータプログラムが格納されているメモリ回路126を備えている。また、ＣＰＵ125は、駆動機構部（図示せず）を制御して光りピックアップ110の位置、トラッキング、フォーカスの調整及び光ディスク１０の回転駆動制御を行うと共に、メモリ127に蓄積されているデータテーブルに基づいて外部から入力された情報を光ディスク１０に記録する（書き込む）、或いは光ディスク１０に記録されている情報を読み出して外部装置に出力する。また、後述する処理によって光ディスク１０への情報記録時におけるテストを行い最適なレーザ光条件を求めて、情報の記録を行えるようにしている。
【００５５】
メモリ回路127は、ＣＰＵ125に接続され、内部には従来例と同様のストラテジテーブルとして他種類の光ディスクに対応したデータがデータテーブルに記録されている。
【００５６】
Ｉ／Ｆ128はＣＰＵと外部の表示部131及び操作部132を接続するためのインタフェースであると共に、外部装置とＣＰＵ125との間の記録・再生情報の転送を行う。
【００５７】
上記構成では、ＬＤ111から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク１０に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等の外部装置との間で情報の送受信を行う。尚、光記録装置100は、光ディスク１０へ情報を記録するときに、第１記録層１１、第２記録１２、第３記録層１３の順に情報の記録を行うものである。
【００５８】
光ディスク１０に対して情報の記録を行う場合は、記録情報を符号化し、この符号化した記録情報をＣＰＵ125で処理することで、光ディスク１０に対する記録条件となるストラデジを決定し、このストラテジをＬＤドライバ121で記録パルスに変換し、この記録パルスに基づいてパルス化されたレーザ光をＬＤ111から出力する。
【００５９】
ＬＤドライバ121は、入力された記録パルスに基づいてＬＤ111を駆動し、ＬＤ111はこの記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメートレンズ113、ビームスプリッタ116、対物レンズ114を介して、線速度一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射し、これにより光ディスク１０に、所望の記録情報に対応したピットとスペース列からなる記録パターンが記録される。
【００６０】
また、光ディスク１０に情報を記録する際には、周知のように光ディスク１０のテスト領域にテスト情報の記録及びその再生を行って最適なレーザ光の照射条件を決定する。本実施形態の光記録装置100では、このレーザ光の照射条件を決定するテスト時間を従来よりも短縮することができる。
【００６１】
以下に、本実施形態におけるレーザ光の照射条件を決定する方法に関して詳細に説明する。
【００６２】
図２及び図３は第１実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【００６３】
即ち、第１記録層１１に情報を記録する際には、図２に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様の記録レーザ光強度最適化（ＯＰＣ：Optimum Power Control ，以下ＯＰＣと称する）によって所定回数のレーザパワー調整用テスト記録と所定回数のパルス幅調整用テスト記録の２種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＡ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＡ２）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【００６４】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＡ３）。この特性関係式としては、例えば、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図７のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相の関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から２種類のパラメータ（評価指標）、すなわち図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式と、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。
【００６５】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＡ４）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＡ５）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【００６６】
前記ＳＡ５の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＡ８の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＡ６）、記録中止か否かを判定して（ＳＡ７）、記録中止のときは後述するＳＡ１０の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＡ５の処理に移行する。
【００６７】
前記ＳＡ５の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＡ８）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【００６８】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＡ９）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＡ１０）、第１記録層１１への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【００６９】
また、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３へ情報記録を行うときは、図３に示す処理を行う。
【００７０】
即ち、第１記録層１１以外の記録層１２，１３に情報を記録する際には、図３に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＢ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＢ２）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【００７１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＢ３）。この特性関係式としては、例えば、図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【００７２】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＢ４）。
【００７３】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＢ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＢ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【００７４】
前記ＳＢ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＢ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＢ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＢ８）、記録中止のときは後述するＳＢ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＢ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＢ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【００７５】
前記ＳＢ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＢ９）。
【００７６】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＢ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＢ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。
【００７７】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層のテストにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第２及び第３記録層１２，１３にテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【００７８】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【００７９】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはレーザパワー調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【００８０】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【００８１】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。また、光ディスク１０として周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いる場合はＤＶＤとは規格が異なるため、第１記録層においては、図１０のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）とアシンメトリー（Asymmetry）との関係を表した特性関係式と、図１１のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式と、図１２のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出し、第１記録層以外の記録層においては、テストによって図１３のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を求め、これらの特性関係式の相関関係から他の記録層における図１４のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測して、他の記録層における最適値を求めることができる。また、パルス幅調整用パラメータ（評価指標）とは、位相ずれ、長さずれ、振幅ずれを意味するものである。
【００８２】
次に、本発明の第２実施形態を説明する。
【００８３】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第２実施形態では第１記録層１１以外の記録層１２，１３における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【００８４】
即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク１０の第１記録層１１への情報記録処理は図２のフローチャートに示す第１実施形態の処理と同じである。また、第１記録層１１以外の記録層１２，１３への情報記録処理は図１５のフローチャートに示すように、従来と同様のＯＰＣによってパルス幅調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＣ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＣ２）。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。
【００８５】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＣ３）。この特性関係式としては、例えば、図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【００８６】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるレーザパワーとパルスの位置ズレとの関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＣ４）。
【００８７】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＣ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＣ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【００８８】
前記ＳＣ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＣ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＣ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＣ８）、記録中止のときは後述するＳＣ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＣ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＣ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【００８９】
前記ＳＣ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＣ９）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【００９０】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＣ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＣ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【００９１】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層のテストにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第２及び第３記録層１２，１３にテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【００９２】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【００９３】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【００９４】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【００９５】
次に、本発明の第３実施形態を説明する。
【００９６】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第３実施形態では光ディスク１０の各記録層１１，１２，１３における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【００９７】
図１６及び図１７は第３実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【００９８】
即ち、第１記録層１１に情報を記録する際には、図１６のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のＯＰＣによって所定条件数のレーザパワー調整用テスト記録と所定条件数のパルス幅調整用テスト記録の２種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＤ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＤ２）。
【００９９】
例えば、レーザパワー調整用テスト記録に用いる条件としては、レーザパワーを、１ｍＷ、２ｍＷ、…、１０ｍＷとした１０個の条件にて行う。さらに、パルス幅調整用テスト記録の条件も同様に異なる１０個の条件にて行う。
【０１００】
また、パラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１０１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＤ３）。この特性関係式としては、例えば、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図７のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から２種類のパラメータ（評価指標）、すなわち図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式と、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。
【０１０２】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＤ４）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＤ５）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１０３】
前記ＳＤ５の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＤ８の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＤ６）、記録中止か否かを判定して（ＳＤ７）、記録中止のときは後述するＳＤ１０の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＤ５の処理に移行する。
【０１０４】
前記ＳＤ５の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＤ８）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１０５】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＤ９）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＤ１０）、第１記録層１１への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１０６】
また、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３へ情報記録を行うときは、図１７のフローチャートに示す処理を行う。
【０１０７】
即ち、第１記録層１１以外の記録層１２，１３に情報を記録する際には、図１７に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における条件数よりも少ない条件数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＥ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＥ２）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。ここでは、第１記録層１１のテスト記録において用いていた１０の条件（１ｍＷ、…、１０ｍＷ）の中の５つの条件を用いてテスト記録を行う。
【０１０８】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＥ３）。この特性関係式としては、例えば、図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１０９】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＥ４）。
【０１１０】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＥ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＥ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１１１】
前記ＳＥ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＥ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＥ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＥ８）、記録中止のときは後述するＳＥ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＥ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＥ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１１２】
前記ＳＥ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＥ９）。
【０１１３】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＥ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＥ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。
【０１１４】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して１０回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層のテスト記録で用いたテスト記録条件数より少ない５つの条件で他の記録層１２，１３にテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２或いは第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１１５】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１１６】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関しては条件数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１１７】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１１８】
次に、本発明の第４実施形態を説明する。
【０１１９】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第４実施形態では第１記録層１１以外の記録層１２，１３における記録処理が第３実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１２０】
即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク１０の第１記録層１１への情報記録処理は図１６のフローチャートに示す第３実施形態の処理と同じである。また、第１記録層１１以外の記録層１２，１３への情報記録処理は図１８のフローチャートに示すように、従来と同様のＯＰＣによってパルス幅調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における条件数よりも少ない条件数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＦ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＦ２）。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。ここでは、第１記録層１１のテスト記録において用いていた１０のパルス幅条件の中の５つの条件を用いてテスト記録を行う。
【０１２１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＦ３）。この特性関係式としては、例えば、図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１２２】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるレーザパワーとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＦ４）。
【０１２３】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＦ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＦ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１２４】
前記ＳＦ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＦ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＦ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＦ８）、記録中止のときは後述するＳＦ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＦ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＦ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１２５】
前記ＳＦ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＦ９）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１２６】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＦ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＦ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１２７】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して１０回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層のテスト記録で用いたテスト記録条件数より少ない５つの条件で他の記録層１２，１３にテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２或いは第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１２８】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１２９】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１３０】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１３１】
次に、本発明の第５実施形態を説明する。
【０１３２】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第５実施形態では光ディスク１０の各記録層１１，１２，１３における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１３３】
図１９及び図２０は第５実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【０１３４】
即ち、第１記録層１１に情報を記録する際には、図１９のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録の２種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＧ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＧ２）。この際、記録と再生が所定回数切り替えて行われる
また、パラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１３５】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＧ３）。この特性関係式としては、例えば、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図７のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から２種類のパラメータ（評価指標）、すなわち図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式と、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。
【０１３６】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＧ４）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＧ５）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１３７】
前記ＳＧ５の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＧ８の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＧ６）、記録中止か否かを判定して（ＳＧ７）、記録中止のときは後述するＳＧ１０の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＧ５の処理に移行する。
【０１３８】
前記ＳＧ５の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＧ８）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１３９】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＧ９）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＧ１０）、第１記録層１１への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１４０】
また、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３へ情報記録を行うときは、図２０のフローチャートに示す処理を行う。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における記録と再生の切り替え数よりも少ない切り替え数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＨ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＨ２）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【０１４１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＨ３）。この特性関係式としては、例えば、図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１４２】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＨ４）。
【０１４３】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＨ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＨ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１４４】
前記ＳＨ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＨ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＨ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＨ８）、記録中止のときは後述するＳＨ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＨ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＨ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１４５】
前記ＳＨ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＨ９）。
【０１４６】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＨ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＨ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。
【０１４７】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層１２，１３に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が第１記録層１１における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１４８】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１４９】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関しては記録と再生の切り替え数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１５０】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１５１】
次に、本発明の第６実施形態を説明する。
【０１５２】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第６実施形態では第１記録層１１以外の記録層１２，１３における記録処理が第５実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１５３】
即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク１０の第１記録層１１への情報記録処理は図１９のフローチャートに示す第５実施形態の処理と同じである。また、第１記録層１１以外の記録層１２，１３への情報記録処理は図２１のフローチャートに示すように、従来と同様のＯＰＣによってパルス幅調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における記録と再生の切り替え数よりも少ない切り替え数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＩ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＩ２）。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。
【０１５４】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＩ３）。この特性関係式としては、例えば、図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１５５】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるパルスの位置ズレとパルス位相補正パラメータとの関係、すなわち図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＩ４）。
【０１５６】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＩ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＩ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１５７】
前記ＳＩ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＩ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＩ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＩ８）、記録中止のときは後述するＳＩ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＩ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＩ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１５８】
前記ＳＩ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＩ９）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１５９】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＩ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＩ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１６０】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層１２，１３に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が第１記録層１１における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１６１】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１６２】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１６３】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１６４】
次に、本発明の第７実施形態を説明する。
【０１６５】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第７実施形態では光ディスク１０の各記録層１１，１２，１３における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１６６】
図２２及び図２３は第７実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【０１６７】
即ち、第１記録層１１に情報を記録する際には、図２２のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録の２種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＪ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＪ２）。この際、記録と再生を１セットとしてこのセットが所定回数行われる。
【０１６８】
また、パラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１６９】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＪ３）。この特性関係式としては、例えば、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相すなわちパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとの関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図７のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から２種類のパラメータ（評価指標）、すなわち図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式と、図６のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。
【０１７０】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＪ４）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＪ５）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１７１】
前記ＳＪ５の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＪ８の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＪ６）、記録中止か否かを判定して（ＳＪ７）、記録中止のときは後述するＳＪ１０の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＪ５の処理に移行する。
【０１７２】
前記ＳＪ５の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＪ８）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１７３】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＪ９）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＪ１０）、第１記録層１１への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１７４】
また、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３へ情報記録を行うときは、図２３のフローチャートに示す処理を行う。この処理では、従来と同様のＯＰＣによってレーザパワー調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における記録と再生のセット実行回数よりも少ないセット実行回数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＫ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＫ２）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図４に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【０１７５】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＫ３）。この特性関係式としては、例えば、図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１７６】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＫ４）。
【０１７７】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＫ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＫ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１７８】
前記ＳＫ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＫ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＫ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＫ８）、記録中止のときは後述するＳＫ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＫ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＫ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１７９】
前記ＳＫ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録する共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＫ９）。
【０１８０】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＫ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＫ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。
【０１８１】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３に対して、第１記録層１１のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ないセット回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１８２】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１８３】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関しては記録と再生を１セットとしてこのセット数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１８４】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１８５】
次に、本発明の第８実施形態を説明する。
【０１８６】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第８実施形態では第１記録層１１以外の記録層１２，１３における記録処理が第７実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１８７】
即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク１０の第１記録層１１への情報記録処理は図２２のフローチャートに示す第７実施形態の処理と同じである。また、第１記録層１１以外の記録層１２，１３への情報記録処理は図２４のフローチャートに示すように、従来と同様のＯＰＣによってパルス幅調整用テスト記録だけの１種類のテスト記録条件によるテストを第１記録層１１における記録と再生のセット実行回数よりも少ないセット実行回数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＬ１）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（評価指標）を検出する（ＳＬ２）。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。
【０１８８】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＬ３）。この特性関係式としては、例えば、図９のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。
【０１８９】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２，１３におけるレーザパワーとパルス位相との間系におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＬ４）。
【０１９０】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する（ＳＬ５）。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する（ＳＬ６）。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ（評価指標）及びパルス幅調整用パラメータ（評価指標）が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはＯＰＣを行っても良い。
【０１９１】
前記ＳＬ６の判定の結果、適用可能であるときは後述するＳＬ９の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し（ＳＬ７）、記録中止か否かを判定して（ＳＬ８）、記録中止のときは後述するＳＬ１１の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記ＳＬ６の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記ＳＬ１の処理から繰り返すようにしても良い。
【０１９２】
前記ＳＬ６の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ（評価指標）と調整結果の情報を、光ディスク１０に記録すると共にメモリ127に光ディスク１０のメディアＩＤに対応させて記録する（ＳＬ９）。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク１０に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク１０或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ（評価指標）或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。
【０１９３】
この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク１０への情報記録を行う（ＳＬ１０）。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して（ＳＬ１２）、第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。
【０１９４】
上記実施形態によれば、第１記録層１１に対して記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて第１記録層１１への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第１記録層１１以外の他の記録層１２，１３に対して、第１記録層１１のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ないセット回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、第１記録層１１のテスト結果と第２或いは第３記録層１２，１３のテスト結果とに基づいて、第２或いは第３記録層１２，１３への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第２或いは第３記録層１２，１３への情報記録が行われるので、第２及び第３記録層１２，１３の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１９５】
また、第２或いは第３記録層１２，１３のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。
【０１９６】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【０１９７】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１９８】
また、上記実施形態は、本発明の一具体例にすぎず、本発明が上記実施形態の構成のみに限定されることはない。例えば、上記各実施形態では最適値を求めた後に調整処理を行っているが、調整処理を行う必要がなければ、この調整処理を省いても良い。また、記録速度の低下や記録中止の処理、判断処理の結果等の表示処理及びこの情報の記録処理なども必要に応じて実施することが好ましい。
【０１９９】
また、上記各実施形態では、第１記録層１１を基準として他の記録層１２，１３への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしたが、第１記録層以外の記録層を基準として他の記録層への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしても良い。また、上記各実施形態ではレーザ光照射面から離れた位置にある第１記録層１１から順に照射面に近い位置にある第３記録層１３へと順に情報記録を行うようにしたがこれに限定されることはなく、第１記録層１１以外の記録層を初めとして情報記録を行うようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【０２００】
【図１】本発明の第１実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図
【図２】本発明の第１実施形態における第１記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図３】本発明の第１実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図４】レーザパワー調整用テスト記録における段階的なレーザパワー変化を説明する図
【図５】レーザパワーとβとの関係を表した特性関係を示す図
【図６】レーザパワーとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図７】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図８】レーザパワーとパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図９】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１０】レーザパワーとアシンメトリーとの関係を表した特性関係を示す図
【図１１】レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１２】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１３】レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１４】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１５】本発明の第２実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１６】本発明の第３実施形態における第１記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１７】本発明の第３実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１８】本発明の第４実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１９】本発明の第５実施形態における第１記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２０】本発明の第５実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２１】本発明の第６実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２２】本発明の第７実施形態における第１記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２３】本発明の第７実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２４】本発明の第８実施形態における第１記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図２５】従来例のストラテジテーブルを示す図
【図２６】従来例のストラテジテーブルを示す図
【符号の説明】
【０２０１】
１０…光ディスク（記録媒体）、１１…第１記録層（一の記録層）、１２…第２記録層（他の記録層）、１３…第３記録層（他の記録層）、100…光記録装置、110…光ピックアップ、111…レーザダイオード（ＬＤ）、112…フォトディテクタ（ＰＤ）、113…コリメートレンズ、114…対物レンズ、115…検出レンズ、116…ビームスプリッタ、121…ＬＤドライバ、122…スライサ、123…復調回路、124…特性値検出部、125…ワンチップＣＰＵ素子（ＣＰＵ）、126…メモリ回路、127…メモリ、128…インタフェース（Ｉ／Ｆ）、131…表示部、132…操作部。
【図１】
2007048359.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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