(57)【要約】【課題】受信する信号に含まれるオーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェック可能な伝送装置を提供する。【解決手段】試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段４と、試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段５と、試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段６とを備える伝送装置。伝送装置間における回線試験を行うにあたり、試験パタン信号生成手段により得られた信号を対向する伝送装置へ送信し、この試験パタン信号を受けた伝送装置では、試験パタン信号検出手段を用いて、受信した信号が試験パタン信号であることを検出することにより、装置間における回線試験の実施を認識し、回線試験設定手段で伝送装置内部における回線試験に必要な設定を自動的に行う。【選択図】図６
2007243914.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段と、
該試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段と、
前記試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段とを備えることを特徴とする回線試験機能を有する伝送装置。
【請求項２】
前記試験パタン信号生成手段は、任意のランダムパタン信号を生成し、前記ランダムパタン信号を前記試験パタン信号として出力し、
前記試験パタン検出手段は、前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出することを特徴とする請求項１に記載の回線試験機能を有する伝送装置。
【請求項３】
前記試験パタン信号生成手段は、所定の固定パタン信号を生成する固定パタン生成手段と、任意のランダムパタン信号を生成するランダムパタン生成手段とを備え、前記固定パタン信号と前記ランダムパタン信号を組み合わせて前記試験パタン信号を生成し、
前記試験パタン信号検出手段は、前記固定パタン信号を検出する固定パタン検出手段と、前記ランダムパタン信号を検出するランダムパタン検出手段とを備え、前記固定パタン信号及び前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出することを特徴とする請求項１に記載の回線試験機能を有する伝送装置。
【請求項４】
前記試験パタン信号検出手段は、
入力信号と前記試験パタン信号を、排他的論理和をとることで比較し、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する試験信号検出回路と、
該試験信号検出回路から出力されたパルス信号のパルス数をカウントするカウンタと、
該カウンタから出力されたエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う保護回路とを備えることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の回線試験機能を有する伝送装置。
【請求項５】
前記回線試験設定手段は、２つの出力端子を有するセレクタを備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の回線試験機能を有する伝送装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回線試験機能を有する伝送装置に関し、特に、信号終端機能を備えなくとも、回線試験を行うことが可能な伝送装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、回線試験機能を有する伝送装置は、信号を送信する際に管理情報やメンテナンス用の情報（以降、「オーバヘッド情報」という）を付加し、この中に回線試験の開始又は終了を指示するための制御コードを挿入して対向する伝送装置に通知を行うため、対向装置から信号を受信した際にオーバヘッド情報を終端して必要な情報の抽出を行う必要があった。
【０００３】
例えば、特許文献１に記載のフレーム伝送装置は、試験対象のフレーム伝達区間の折返し接続を要求するコードをＭＡＣフレームの特定の領域に割当てたループ制御要求フレームを対向伝送装置に送信し、対向伝送装置でループを形成し、ループ制御応答フレームを返送し、フレーム伝送装置は、ループ制御応答フレームを受信した後、試験フレームをフレーム伝達区間に送出し、返送された試験フレームをチェックして回線の品質を試験する。
【０００４】
また、特許文献２に記載のディジタル信号伝送装置は、試験開始検出部と、試験終了検出部と、試験開始パターン生成部と、試験終了パターン生成部と、試験信号生成部と、試験開始パターン検出部と、試験終了パターン検出部と、試験信号検出等を備え、回線試験を実行するときに、自局装置より試験信号を回線に挿入する場合、対向局装置に対して“分岐実施命令”を外部より入力することなく実行し、さらに、対向局装置での分岐実行の際に、不要な警報が発出しないようにしている。
【特許文献１】特開２００５−２０３９１４号公報
【特許文献２】特開平５−１４５６０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記従来の伝送装置においては、試験動作を確立するにあたり、伝送する信号に含まれるオーバヘッド情報に試験開始又は終了を識別するための制御コードを挿入するため、信号の受信後にオーバヘッド情報を終端し、この制御コードの抽出を行う処理が必要となり、試験動作を確立するための手段が複雑であるという問題があった。
【０００６】
そこで、本発明は、上記従来の伝送装置等における問題点に鑑みてなされたものであって、受信する信号に含まれるオーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることのできる伝送装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明は、回線試験機能を有する伝送装置であって、試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段と、該試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段と、前記試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
そして、本発明によれば、伝送装置間における回線試験を行うにあたり、試験パタン信号生成手段により得られた信号を対向する伝送装置へ送信し、この試験パタン信号を受けた伝送装置では、試験パタン信号検出手段を用い、受信した信号が試験パタン信号であることを検出することにより、装置間における回線試験の実施を認識し、回線試験設定手段で伝送装置内部における回線試験に必要な設定を自動的に行うことができる。これによって、オーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることが可能となり、回線試験における装置内部の処理を軽減することができる。
【０００９】
また、本発明によれば、信号速度やインタフェースのタイプによらず、試験パタン信号を一意に決めて組み込めばよいため、通常扱う信号のタイプによらず同一試験回路構成を用いることができ、同一ポートにおいて、必要に応じてデータタイプの異なる信号を取り扱うことができる。
【００１０】
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号生成手段が、任意のランダムパタン信号を生成し、前記ランダムパタン信号を前記試験パタン信号として出力し、前記試験パタン検出手段が、前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出するように構成することができる。
【００１１】
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号生成手段が、所定の固定パタン信号を生成する固定パタン生成手段と、任意のランダムパタン信号を生成するランダムパタン生成手段とを備え、前記固定パタン信号と前記ランダムパタン信号を組み合わせて前記試験パタン信号を生成し、前記試験パタン信号検出手段が、前記固定パタン信号を検出する固定パタン検出手段と、前記ランダムパタン信号を検出するランダムパタン検出手段とを備え、前記固定パタン信号及び前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出するように構成することができる。
【００１２】
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号検出手段を、入力信号と、期待する生成式で生成される試験パタン信号とを、排他的論理和をとることで比較し、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する試験信号検出回路と、該試験信号検出回路から出力されたパルス信号のパルス数をカウントするカウンタと、該カウンタから出力されたエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う保護回路とを備えるように構成することができる。
【００１３】
また、前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記回線試験設定手段を、２つの出力端子を有するセレクタを備えるように構成することができる。
【発明の効果】
【００１４】
以上のように、本発明によれば、受信する信号に含まれるオーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることのできる伝送装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
図１は、本発明にかかる回線試験機能を有する伝送装置（以下、「伝送装置」と略称する）の一実施の形態を示し、スイッチ１〜３は、２つの入力端子と、２つの出力端子を有し、どちらの出力端子からも２つの入力端子から入力された信号のいずれかを選択して出力することができる。
【００１７】
スイッチ１は、入力信号７と、スイッチ３の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路６の出力論理により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。スイッチ２は、入力信号９と、スイッチ１の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路６の出力論理により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。スイッチ３は、スイッチ２の一方の出力信号と、擬似ランダム信号発生器４の出力とを、スイッチ制御回路６の出力論理により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。
【００１８】
擬似ランダム信号発生器（試験パタン信号生成手段）４は、任意の擬似ランダムパタンを常に生成して出力する。試験パタン信号として使用する擬似ランダム信号の速度は、通常運用中に扱う伝送信号と区別可能なように、異なる速度にて生成する。
【００１９】
擬似ランダム信号検出器（試験パタン信号検出手段）５は、スイッチ３の一方の出力信号をモニタし、擬似ランダム信号発生器４で生成している擬似ランダム信号と同等の信号を受信した際に、検出フラグ信号を出力するとともに、受信信号が期待するパタンではない場合にエラー情報を出力し、それに基づいてエラービット数としてカウントする。
【００２０】
スイッチ制御回路（回線試験設定手段）６は、外部からの回線試験制御信号１１、又は擬似ランダム信号検出器５から出力される検出フラグ信号のどちらかを回線試験制御信号として選択し、装置内部のスイッチ１〜３に対してスイッチ制御信号を出力する。
【００２１】
次に、スイッチ１〜３の詳細な構成について、図２を参照しながら説明する。これらのスイッチ１〜３は、例えば２つの入力端子を有するセレクタ２０、２１を２組配置することで実現可能である。
【００２２】
同図において、セレクタ２０は、選択制御信号２２の論理により、入力信号Ａ又は入力信号Ｂのどちらかを選択して出力する。セレクタ２１は、選択制御信号２３の論理により、入力信号Ａ又は入力信号Ｂのどちらかを選択して出力する。これより、入力された２つの信号を２つの出力端子より自由に出力することが可能となる。
【００２３】
次に、スイッチ制御回路６の詳細な構成について、図３を参照しながら説明する。このスイッチ制御回路６は、例えば２つの入力端子を有するセレクタ３０を用いることで実現可能である。
【００２４】
同図において、セレクタ３０は、選択信号の論理により、スイッチ信号制御Ａ又はスイッチ制御信号Ｂのどちらかを選択して出力することで、優先順位の高い制御信号を選択することができる。また、このセレクタ３０をＯＲゲートに置き換えれば、優先順位を持たせずに、いずれかの制御信号がアクティブ（この場合には’１’論理）となった場合に、出力となるスイッチ制御信号Ｃをアクティブ状態とすることもできる。
【００２５】
次に、擬似ランダム信号検出器５の詳細な構成について、図４を参照しながら説明する。この擬似ランダム信号検出器５は、例えば、クロック抽出回路４０と、試験信号検出回路４１と、カウンタ４２と、保護回路４３とで構成することができる。
【００２６】
同図において、クロック抽出回路４０は、入力信号からクロック成分の抽出を行い、後段のデータ処理に使用するクロック信号を生成するものであり、ここでは試験パタン信号の速度と同等のクロック周波数成分のみを抽出できるものを使用する。これにより、通常運用中において、クロック抽出回路４０では、伝送信号速度が試験パタン信号速度と異なり、クロック信号の生成ができないため、後段の試験信号検出回路４１にて試験パタン信号が検出されることがなくなることから、試験パタン信号の誤検出を防ぐことができる。
【００２７】
試験信号検出回路４１は、例えば、ＰＮ符号検出器のように、入力信号と期待する生成式で生成される試験パタン信号とを排他的論理和をとることで比較するものであり、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する。
【００２８】
カウンタ４２は、上記パルス信号のパルス数をカウントすることでエラービット数の積算を行う。保護回路４３は、カウンタ４２の出力するエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う。
【００２９】
以上、スイッチ１〜３等の構成について詳細に説明したが、図１の擬似ランダム信号発生器４の構成及び作用は、当業者にとってよく知られているため、詳細説明を省略する。
【００３０】
次に、上記構成を有する図１の伝送装置を使用した装置間回線試験の実施及び解除動作について、図５及び図６を参照しながら説明する。
【００３１】
図５及び図６は、図１に示す伝送装置を対向させて接続した場合の運用状態における構成である。尚、図中の実線は信号の有効な伝達を示し、破線は無効として扱う信号を示している。また、スイッチ１〜３内の矢印は、２つの入力信号のうち、どちらの信号を選択して出力しているかを表している。
【００３２】
初めに、ここでいう回線試験について簡単に説明する。回線試験とは、接続される伝送装置間において、一方の伝送装置から任意の試験パタン信号を送信し、対向するもう一方の伝送装置において、受信した試験パタン信号を装置内部で折り返し、対向する伝送装置に対してそのまま返送するものである。このとき、各伝送装置では、受信した試験パタン信号の受信状態、及びエラービット数のカウントを行うなどして接続回線に使用される伝送路の性能を回線毎に確認する。
【００３３】
まず、本実施の形態にかかる回線試験方式を説明するにあたり、図５を用いて、図１の伝送装置での通常運用時の動作を簡単に説明する。
【００３４】
伝送装置５０においては、伝送装置５０に入力される入力信号７と等価の信号を伝送装置５１に対して出力し、伝送装置５１から受信した信号の等価信号を出力信号１０として出力するように、スイッチ１〜３が設定される。一方、伝送装置５１においては、入力される入力信号９の等価信号を伝送装置５０に対して出力し、伝送装置５０から受信した信号の等価信号を出力信号８として出力するように、スイッチ１〜３が設定される。スイッチ２、３は、伝送装置５０及び５１の何れにおいても、対向する伝送装置から入力される信号を分岐し、擬似ランダム信号検出器５に出力する設定とされ、伝送装置５０及び５１は、任意に設定された擬似ランダム信号の受信の有無をモニタする状態となる。ここで、擬似ランダム信号とは、通常運用中に伝送装置間で扱う信号とは異なる信号をいう。
【００３５】
次に、図６を参照しながら、本実施の形態にかかる回線試験方式について説明する。
【００３６】
図５に示す通常運用状態から、オペレータが装置制御端末５２を介して回線試験実施制御を行うと、伝送装置５０のスイッチ制御回路６に対して回線試験の開始が通知され、伝送装置５０内のスイッチ１〜３に対して回線試験用の設定が行われる。このとき、伝送装置５０における各スイッチ１〜３の状態は以下のようになる。
【００３７】
スイッチ３は、試験パタン信号となる擬似ランダム信号を伝送装置５１に対して出力できるように、擬似ランダム信号発生器４の出力をスイッチ１へ出力するとともに、もう一方の出力へ、伝送装置５１から受信する信号を擬似ランダム信号検出器５にてモニタできるように設定の変更を行う。ここで、擬似ランダム信号とは、例えば、ＰＮ符号のような生成式により得られる信号であり、受信した際に同じ生成式を用いることで検出することができる信号である。
【００３８】
スイッチ１は、伝送装置５１に対して入力信号７を出力する設定から、スイッチ３から受信する擬似ランダム信号を出力する設定へ変更する。これにより、試験パタン信号が、対向する伝送装置５１へ送信される。このとき、スイッチ２については、特に変更設定を行わなくとも、伝送装置５１から受信する信号を擬似ランダム信号検出器５においてモニタすることができる。
【００３９】
試験パタン信号を受信した伝送装置５１は、伝送装置５０より受信する信号が試験パタン信号であることから、擬似ランダム信号検出器５より検出フラグをスイッチ制御回路６に対して出力する。スイッチ制御回路６は、擬似ランダム信号検出器５より検出フラグを受信することで回線試験の実施を認識し、自律的にスイッチ１〜３へ、受信した試験パタン信号を装置内で折り返して伝送装置５０へ返送するような設定を行う。
【００４０】
スイッチ２及びスイッチ３については、設定の変更はなく、受信する信号を常に擬似ランダム信号検出器５にてモニタできる接続となっている。スイッチ１については、入力信号９を伝送装置５０に出力する設定から、スイッチ３から受信する信号を伝送装置５０へ出力する設定へ変更する。これにより、伝送装置５０より受信する信号を伝送装置５１内で折り返して伝送装置５０へ返送するスイッチ設定となり、伝送装置５０及び伝送装置５１間の回線試験を実施する試験系の構築が完了する。
【００４１】
各々の伝送装置５０、５１においては、対向する伝送装置より受信する試験パタン信号を各々の擬似ランダム信号検出器５にてモニタし、伝送路の性能が劣化して受信状態が悪くなると、エラービット数をカウントすることができる。
【００４２】
回線試験の終了については、装置制御端末５２より回線試験終了、すなわち通常運用状態へ戻す（図４の状態に戻す）設定がなされることで、伝送装置５１へ入力信号７が伝送されることになる。この信号を受信した伝送装置５１の擬似ランダム信号検出器５では、試験信号の受信を確認できなくなることで回線試験の終了と認識し、自律的に通常運用状態へ装置内部のスイッチ１〜３の設定を戻すようにスイッチ制御回路６より制御し、回線試験状態から通常運用状態への遷移を行う。
【００４３】
尚、本発明においては、試験パタン信号を検出することで回線試験の実施の認識を行っており、伝送路が劣化するなどして受信する信号にエラーが生じている状態から回線試験を開始しようとしても、試験パタン信号を検出できずに回線試験へ遷移しないことも考えられる。これは、擬似ランダム信号検出器５に保護回路４３を設けていることで回避できる。
【００４４】
擬似ランダム信号は、一般的には生成式を用いて生成するもので、その生成式に応じたビット幅単位に処理されて生成されている。伝送路の劣化による信号のエラーは、断続的に発生することが多く、正常に見える時間もあることから、受信信号において、擬似ランダム信号生成式による処理単位となるビット幅と同数の連続したビット列でエラーを１ビットでも検出しなかった場合には、即時に試験信号の検出フラグにより試験信号の受信の通知を行うようにすることで回線試験への遷移を行い、試験解除にあたっては、任意の単位時間中に含まれるエラービット数に任意の閾値を設け、これを満たした場合にのみ解除するような保護を設けることにより、回線試験中に見られる伝送路上のエラービット数をカウントすることもできる。この試験解除閾値以上のビットエラーが見られて試験状態が解除されたとしても、伝送路不良（例えば断線等）と判断できるような閾値としておけば、伝送路劣化、又は伝送路不良の判別も行うことができ、回線試験としての支障はない。
【００４５】
上記実施の形態では、回線試験の実施を試験パタン信号の検出の有無で判断し、これまでの伝送装置のように伝送する信号のオーバヘッド情報を使用していないので、受信する信号を終端する必要がなく、伝装置内における回線試験設定処理を簡略化し、かつ自動化することができる。
【００４６】
また、上記実施の形態では、信号速度やインタフェースのタイプによらず、試験パタン信号を一意に決めて組み込めばよいため、通常扱う信号のタイプによらず同一試験回路構成を用いることができ、同一ポートにおいて、必要に応じてデータタイプの異なる信号を取り扱うことができる。
【００４７】
次に、本発明にかかる伝送装置の第２の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００４８】
図７は、本発明にかかる伝送装置の第２の実施の形態を示すブロック図であり、同図において、図１に示す伝送装置と同一の構成要素については、同一符号を付す。
【００４９】
同図において、スイッチ１は、入力信号７と、スイッチ３の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路６から出力されるスイッチ制御信号により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。スイッチ２は、入力信号９と、スイッチ１の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路６から出力されるスイッチ制御信号により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。スイッチ３は、スイッチ２の一方の出力信号と、試験信号発生器６０の出力とを、スイッチ制御回路６から出力されるスイッチ制御信号により、２つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。
【００５０】
試験信号発生器６０は、任意の擬似ランダム信号に、試験信号であることを認識させるための試験認識パタン信号を、一定周期で挿入し、試験パタン信号として出力する。
【００５１】
試験信号検出器６１は、スイッチ３の一方の出力信号をモニタして、その出力信号中に試験信号発生器６０で生成された試験認識パタン信号が含まれているか否かを判定し、試験認識パタン信号を検出したときに、スイッチ３の出力信号が試験パタン信号であることを擬似ランダム信号検出器６２に通知する。
【００５２】
擬似ランダム信号検出器６２は、試験信号検出器６１から試験パタン信号を検出した旨の通知を受けたときに、試験パタン信号中の擬似ランダム信号のモニタを開始し、擬似ランダム信号を検出するのに応答して、検出フラグ信号を出力する。一方、試験信号中の擬似ランダム信号が期待するパタンでない場合は、エラー情報を出力するとともに、エラー情報に基づいてエラービット数をカウントする。
【００５３】
スイッチ制御回路６は、外部からの回線試験制御信号１１、又は擬似ランダム信号検出器６２から出力される検出フラグ信号の何れかを回線試験制御信号として選択し、スイッチ１〜３に対してスイッチ制御信号を出力する。
【００５４】
次に、試験信号発生器６０の詳細な構成について図８を参照しながら説明する。この試験信号発生器６０は、例えば、カウンタ７０と、擬似ランダムパタン生成器７１と、試験認識パタン生成器７２と、セレクタ７３とで構成することができる。
【００５５】
同図において、カウンタ７０は、任意の数をカウント可能なフリーランカウンタである。このカウンタ７０のカウント値は、擬似ランダムパタン生成器７１、試験認識パタン生成器７２及びセレクタ７３に、各々出力される。
【００５６】
擬似ランダムパタン生成器７１は、ＰＮ符号のような擬似ランダム信号を生成して出力する。この擬似ランダムパタン生成器７１は、カウンタ７０のカウント値により出力を停止する機能を有する。
【００５７】
試験認識パタン生成器７２は、所定の固定パタン信号を生成し、試験認識パタン信号として出力する。この試験認識パタン生成器７２も、擬似ランダムパタン生成器７１と同様に、カウンタ７０のカウント値により出力を停止する機能を有する。
【００５８】
セレクタ７３は、カウンタ７０から出力されるカウント値により、擬似ランダムパタン生成器７１で生成される擬似ランダム信号と、試験認識パタン生成器７２で生成される試験認識パタン信号とを選択的に出力し、試験パタン信号として出力する。例えば、図９に示すように、カウンタ７０のカウント値が０〜１０までの間は、試験認識パタン生成器７２より出力される試験認識パタン信号を選択して出力し、カウンタ７０のカウント値が１１〜９９の間は、擬似ランダムパタン生成器７１より出力される擬似ランダム信号を選択して出力する。これより、試験認識パタン信号と擬似ランダム信号を含む試験パタン信号を生成することが可能となる。
【００５９】
次に、試験信号検出器６１の詳細な構成について図１０を参照しながら説明する。この試験信号検出器６１は、例えば、比較回路８０と、保護回路８１とで構成することができる。
【００６０】
同図において、比較回路８０は、入力信号であるスイッチ３の出力信号を、試験認識パタン信号として設定した固定パタン信号と同一パタンを有する信号と、固定パタン信号のビット長で比較し、期待する固定パタン信号と同一パタンを検出したときに、検出フラグを出力する。
【００６１】
保護回路８１は、試験信号中に試験認識パタン信号が挿入される周期よりも長めの任意の時間に亘って、検出フラグの状態を保持して、試験信号受信通知を出力し、スイッチ３の出力端子から試験パタン信号が出力されている旨を擬似ランダム信号検出器６２に通知する。一方、保持時間よりも更に長い時間が経過しても、検出フラグが入力されない場合には、試験信号受信通知の状態を変更し、スイッチ３の出力端子から試験パタン信号が出力されていない旨を通知する。これにより、試験パタン信号が継続的に入力されている場合に、試験パタン信号の受信を示す試験信号受信通知を出力し、試験パタン信号の入力が終了した場合に、試験パタン信号を受信しないことを示す試験信号受信通知を出力することが可能になる。
【００６２】
次に、擬似ランダム信号検出器６２の詳細な構成について図１１を参照しながら説明する。擬似ランダム信号検出器６２は、例えば、擬似ランダム信号検出回路９０と、カウンタ９１と、保護回路９２とで構成することができる。
【００６３】
擬似ランダム信号検出回路９０は、例えば、ＰＮ符号検出器のように、入力信号と期待する生成式で生成される擬似ランダム信号とを排他的論理和をとることで比較するものであり、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する。この擬似ランダム信号検出回路９０は、検出イネーブル信号に応じて動作し、検出イネーブル信号をアクティブにすることによって、擬似ランダム信号の検出動作を停止することができる。
【００６４】
カウンタ９１は、擬似ランダム信号検出回路９０から出力されるパルス信号のパルス数をカウントすることでエラービット数の積算を行う。保護回路９２は、カウンタ９１の出力するエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う。
【００６５】
次に、上記構成を有する図７の伝送装置を使用した装置間回線試験の実施及び解除動作について、図１２及び図１３を参照して説明する。
【００６６】
図１２及び図１３は、図７に示す伝送装置を対向させて接続した場合の運用状態における構成である。尚、図５及び図６と同様に、図中の実線は信号の有効な伝達を示し、破線は無効として扱う信号を示している。また、スイッチ１〜３内の矢印は、２つの入力信号のうち、どちらの信号を選択して出力しているかを表している。
【００６７】
まず、本実施の形態にかかる回線試験方式を説明するにあたり、図１２を用いて、図７に示す伝送装置での通常運用時の動作を簡単に説明する。
【００６８】
通常運用時においては、図５と同様に、対向する伝送装置から送信された信号を出力信号として出力するように、伝送装置１００及び１０１のスイッチ１〜３が設定される。スイッチ２及び３は、伝送装置１００及び１０１の何れにおいても、対向する伝送装置から入力される信号を分岐して、試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２に出力する設定とされ、伝送装置１００及び１０１は、試験信号の受信の有無をモニタする状態となる。
【００６９】
次に、図１３を参照しながら、本実施の形態にかかる回線試験方式について説明する。
【００７０】
図１２に示す通常運用状態から、オペレータが装置制御端末５２を介して回線試験実施制御を行うと、伝送装置１００のスイッチ制御回路６に対して回線試験の開始が通知され、伝送装置１００内のスイッチ１〜３に対して回線試験用の設定が行われる。このとき伝送装置１００における各スイッチの状態は以下のようになる。
【００７１】
スイッチ３は、試験パタン信号を伝送装置１０１に対して出力できるよう、試験信号発生器６０の出力をスイッチ１へ出力するとともに、もう一方の出力へ、伝送装置１０１から受信する信号を試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２にてモニタできるように設定を変更する。
【００７２】
スイッチ１は、伝送装置１０１に対して入力信号７を出力する設定から、スイッチ３から受信する試験パタン信号を出力する設定へ変更する。これにより、試験パタン信号が、対向する伝送装置１０１へ送信される。このとき、スイッチ２については、特に変更設定は行わなくとも、伝送装置１０１から受信する信号を試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２に出力する設定となっているため、通常運用時の設定が維持される。
【００７３】
試験パタン信号を受信した伝送装置１０１は、試験信号検出器６１により試験パタン信号に含まれる試験認識パタン信号を検出する。それによって、試験パタン信号の受信を認識し、擬似ランダム信号検出器６２に試験パタン信号の受信を通知する。擬似ランダム信号検出器６２は、この通知を受けて、擬似ランダム信号のモニタを開始し、試験パタン信号の信号パタン中から期待する擬似ランダム信号を検出すると、試験信号検出フラグをスイッチ制御回路６に対して出力する。
【００７４】
スイッチ制御回路６は、擬似ランダム信号検出器５より試験信号検出フラグを受信することで回線試験の実施を認識し、自律的にスイッチ１〜３へ、受信した試験信号を装置内で折り返して、伝送装置１００へ返送するような設定を行う。
【００７５】
スイッチ２及びスイッチ３については設定の変更はなく、受信する信号を常に試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２にてモニタできる接続となっている。スイッチ１については、入力信号９を伝送装置１００に出力する設定から、スイッチ３から受信する信号を伝送装置１００へ出力する設定へ変更する。これにより、伝送装置１００より受信する信号を伝送装置１０１内で折り返して伝送装置１００へ返送するスイッチ設定となり、伝送装置１００及び伝送装置１０１間の回線試験を実施する試験系の構築が完了する。
【００７６】
試験系の構築が完了した後は、図１〜図６に示した実施の形態と同様に、対向する伝送装置より受信する試験パタン信号が、各々の試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２でモニタされ、伝送路の性能が劣化して受信状態が悪くなると、エラービットの数がカウントされる。
【００７７】
上記実施の形態でも、図１〜図６に示した実施の形態と同様に、回線試験の実施を試験パタン信号の検出の有無で判断し、これまでの伝送装置のように伝送する信号のオーバヘッド情報を使用していないので、受信する信号を終端する必要がなく、伝送装置における回線試験設定処理を簡略化し、かつ、自動化することができる。
【００７８】
また、上記実施の形態では、試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２の二重の試験信号確認手段で試験信号の受信を確認した後に、回線試験状態へ遷移するため、通常運用時の信号が試験パタン信号と同一速度であったり、ランダム性の高い信号が入力されるなどの試験信号を認識し難い状況であっても、試験信号の誤検出を防止し、意図しない回線状態に遷移するのを回避することができる。
【００７９】
次に、本発明にかかる伝送装置の第３の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００８０】
その基本的構成は、上記の図１の通りであるが、本実施の形態においては、図１４に示すように、図１の構成に対して、受信した信号データからクロックを抽出するクロック抽出回路１２０を追加している。この場合、クロック抽出回路１２０にてクロック成分を抽出し、伝送装置内部にてクロック信号として利用するが、抽出可能なクロック周波数範囲が広いものをクロック抽出回路１２０に用いることで、同じ入力ポートを利用して様々な速度の信号を扱うことが可能となる。
【００８１】
この場合、回線試験を行う際に使用する試験パタン信号と通常運用時に扱う信号との速度差が生じることもあるが、試験パタン信号を生成する擬似ランダム信号発生器４と、その試験パタン信号を検出する擬似ランダム信号検出器５において、扱う試験パタンの信号のタイプを一意に決めておくことで、試験パタン信号速度や符号方式の変更を行わずに、伝送装置の同一受信ポートで対応できるデータ速度の多様化が可能となる。
【００８２】
また、図１５に示すように、図７の構成に対して、受信した信号データからクロックを抽出するクロック抽出回路１２０を追加することもできる。この場合も、試験信号発生器６０、試験信号検出器６１及び擬似ランダム信号検出器６２において、扱う試験パタンの信号のタイプを一意に決めておくことで、試験パタン信号速度や符号方式の変更を行わずに、伝送装置の同一受信ポートで対応できるデータ速度の多様化が可能となる。
【００８３】
また、図１４及び図１５の構成において、図１６及び図１７に示すように、伝送装置の入出力インタフェースに、入力信号を光−電気変換の後、装置内部へ出力し、また、装置内の電気信号を電気−光変換の後、光信号として装置外部へ出力する光モジュール１６０を備える構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明にかかる伝送装置の第１の実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１の伝送装置のスイッチを示すブロック図である。
【図３】図１の伝送装置のスイッチ制御回路を示すブロック図である。
【図４】図１の伝送装置の擬似ランダム信号検出器を示すブロック図である。
【図５】図１の伝送装置の動作を説明するためのブロック図である。
【図６】図１の伝送装置の動作を説明するためのブロック図である。
【図７】本発明にかかる伝送装置の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図８】図７の試験信号発生器を示すブロック図である。
【図９】試験パタン信号の一例を示す模式図である。
【図１０】図７の試験信号検出器を示すブロック図である。
【図１１】図７の擬似ランダム信号検出器を示すブロック図である。
【図１２】図７の伝送装置の動作を説明するためのブロック図である。
【図１３】図７の伝送装置の動作を説明するためのブロック図である。
【図１４】本発明にかかる伝送装置の第３の実施形態を示すブロック図である。
【図１５】本発明にかかる伝送装置の第４の実施形態を示すブロック図である。
【図１６】本発明にかかる伝送装置の第５の実施形態を示すブロック図である。
【図１７】本発明にかかる伝送装置の第６の実施形態を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００８５】
１〜３  スイッチ
４    擬似ランダム信号発生器
５    擬似ランダム信号検出器
６    スイッチ制御回路
７    入力信号
８    出力信号
９    入力信号
１０  出力信号
１１  回線試験制御信号
２０  セレクタ
２１  セレクタ
２２  選択制御信号
２３  選択制御信号
３０  セレクタ
４０  クロック抽出回路
４１  試験信号検出回路
４２  カウンタ
４３  保護回路
５０  伝送装置
５１  伝送装置
５２  装置制御端末
６０  試験信号発生器
６１  試験信号検出器
６２  擬似ランダム信号検出器
７０  カウンタ
７１  擬似ランダムパタン生成器
７２  試験認識パタン生成器
７３  セレクタ
８０  比較回路
８１  保護回路
９０  擬似ランダム信号検出回路
９１  カウンタ
９２  保護回路
１００  伝送装置
１０１  伝送装置
１１０  伝送装置
１１１  伝送装置
１２０  クロック抽出回路
１３０  伝送装置
１３１  伝送装置
１４０  伝送装置
１４１  伝送装置
１５０  伝送装置
１５１  伝送装置
１６０  光モジュール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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