(57)【要約】【課題】  より適切な記録パルスの調整を行うことを課題とする。【解決手段】  本発明としての記録パルス調整方法は、異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、ファーストパルスの立ち上がり位置を変化させるｄＴｏｐパラメータ、クーリングパルスの立ち上がり位置を変化させるｄＴｓパラメータを調整する工程と、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスであるラストパルスの立ち上がり位置を変化させるｄＴｌｐパラメータを調整する工程とを備えている。【選択図】図１２
2007048412.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える記録パルス調整方法。
【請求項２】
トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える記録パルス調整方法。
【請求項３】
情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスであって、前記ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える記録パルス調整方法。
【請求項４】
前記中間パルスの幅を変化させる第３パラメータを調整する第３パラメータ調整工程をさらに備える、
請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録パルス調整方法。
【請求項５】
前記中間パルスは、前記ファーストパルスの次のセカンドパルスである、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録パルス調整方法。
【請求項６】
前記中間パルスは、前記クーリングパルスの直前のラストパルスである、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録パルス調整方法。
【請求項７】
前記記録マークは、情報の記録のために形成される複数の記録マークのマーク長のうち、２番目に短いマーク長を有する、
請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録パルス調整方法。
【請求項８】
前記記録マークのマーク長は、３Ｔ（Ｔは、クロック周期）である、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の記録パルス調整方法。
【請求項９】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法であって、
記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、前記マーク長調整パラメータを、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する第１工程と、
前記第１工程の後、前記記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、前記マーク位置調整パラメータを、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する第２工程と、
を備え、
前記第１工程または前記第２工程は、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む、
記録パルス調整方法。
【請求項１０】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法であって、
記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、
前記記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程と、
を備え、
前記マーク長調整パラメータまたは前記マーク位置調整パラメータの調整は、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む、
記録パルス調整方法。
【請求項１１】
異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムであって、
前記記録パルス調整方法は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える、
記録パルス調整プログラム。
【請求項１２】
トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムであって、
前記記録パルス調整方法は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える、
記録パルス調整プログラム。
【請求項１３】
情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムであって、
前記記録パルス調整方法は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスであって、前記ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程と、
を備える、
記録パルス調整プログラム。
【請求項１４】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムであって、
前記記録パルス調整方法は、
記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、前記マーク長調整パラメータを、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する第１工程と、
前記第１工程の後、前記記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、前記マーク位置調整パラメータを、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する第２工程と、
を備え、
前記第１工程または前記第２工程は、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む、
記録パルス調整プログラム。
【請求項１５】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムであって、
前記記録パルス調整方法は、
記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、
前記記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程と、
を備え、
前記マーク長調整パラメータまたは前記マーク位置調整パラメータの調整は、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む、
記録パルス調整プログラム。
【請求項１６】
異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する、
記録パルス調整装置。
【請求項１７】
トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する、
記録パルス調整装置。
【請求項１８】
情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、
ファーストパルスの立ち上がり位置、前記ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、
前記ファーストパルスおよび前記クーリングパルス以外のパルスであって、前記ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する、
記録パルス調整装置。
【請求項１９】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整した後に、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整し、
前記マーク長調整パラメータの調整では、前記マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値に前記マーク長調整パラメータを調整し、
前記マーク位置調整パラメータの調整では、前記マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値に前記マーク位置調整パラメータを調整し、
前記マーク長調整パラメータの調整または前記マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する、
記録パルス調整装置。
【請求項２０】
書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）の調整と、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）の調整とを行い、
前記マーク長調整パラメータまたは前記マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する、
記録パルス調整装置。
【請求項２１】
請求項１６〜２０のいずれか一項に記載の記録パルス調整装置と、
前記記録パルス調整装置により調整された記録パルスに基づいて、レーザを情報記録媒体に照射し、前記情報記録媒体に記録マークを形成するとともに、形成された前記記録マークに対してレーザを照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する光学ヘッドと、
前記再生信号を取得し、前記情報記録媒体に形成された記録マークと、基準となる記録マークとの誤差を検出する誤差検出手段と、
を備える情報記録装置。
【請求項２２】
同心円状あるいはスパイラル状のトラックに形成されたマークおよび前記マーク間のスペースにより情報を記録する情報記録媒体であって、
前記情報の記録に用いられる情報記録領域と、
前記情報記録領域に前記情報を記録するための記録パルスのパラメータが格納されているパラメータ格納領域と、
を備え、
前記パラメータ格納領域は、前記記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータのデフォルト値と、前記中間パルスの幅を変化させるパラメータのデフォルト値とをそれぞれ対応づけて格納している、
情報記録媒体。
【請求項２３】
前記中間パルスは、前記ファーストパルスの次のセカンドパルスである、
請求項２２に記載の情報記録媒体。
【請求項２４】
前記中間パルスは、前記クーリングパルスの直前のラストパルスである、
請求項２２に記載の情報記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パルス調整方法、記録パルス調整プログラム、記録パルス調整装置、情報記録装置、情報記録媒体、特に、情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法、記録パルス調整プログラム、記録パルス調整装置、情報記録装置、および記録パルスを調整するためのパラメータを格納する情報記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
可搬情報記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一の記録パルスの形状を用いても、装置や情報記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きく異なる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、情報記録媒体の脱着時などに校正動作を行っている。校正とは、ユーザデータの信頼性を確保するために、再生系の特性の設定、記録パルスの形状などの最適化を行う制御である。
一般的な記録再生装置においては、再生信号に含まれるクロック情報を抽出し再生信号から抽出されたクロックをもとに原デジタル情報を弁別するＰＬＬ回路が用いられている。図２０に、従来の光ディスクドライブの構成図を示す。光ディスク３７からの反射光は、光学ヘッド３８により再生信号に変換される。再生信号は、波形等化器３９により波形整形される。波形整形された再生信号は、コンパレータ２０で２値化される。通常コンパレータ２０のしきい値は、２値化出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器２１は、２値化出力と再生クロックとの位相誤差を求める。求められた位相誤差は、ＬＰＦ２２により平均処理され、ＶＣＯ２３の制御電圧となる。位相比較器２１から出力される位相誤差が常に０になるようにフィードバック制御が行われる。熱記録される情報記録媒体においては、媒体上の熱干渉のため、前後の記録パターンに応じて媒体上に形成されるマークの形状が異なる。したがって個々のパターンの記録に最適な記録パラメータ設定をすることが求められる。
【０００３】
記録パラメータを評価する指標が上記誤差検出出力である。誤差検出出力が最小となるように、記録パラメータの設定を行う。具体的には、記録補償回路２７は、初期設定された記録パラメータを用いて、パターン発生回路２６から出力された記録パターンを所定のパルス波形とする。レーザ駆動回路２８は、このパルス波形を用いて、光ディスクに記録を行う。さらに、所定の記録パターンが記録されたトラックを再生し、誤差検出回路２４は、コンパレータ２０の出力とＶＣＯ２３の出力との位相誤差の絶対値を積分することで再生クロックと２値化パルスエッジとのジッタと相関を持つ検出信号を得る。さらに、記録パラメータを変化させ記録し、再生を繰り返す。検出値が最小となるときの記録パラメータを最適とする。
誤差検出回路２４の具体的な動作の様子を図２１に示す。例えば６Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔから成る繰り返し記録パルスを用いて、４Ｔマークと６Ｔスペースの記録パターンにおけるマーク終端エッジの最適化を図る場合について説明する。６Ｔスペースと８Ｔマークとのマーク始端エッジ、８Ｔマークと６Ｔスペースとの終端エッジは、既に最適な記録パラメータで記録されているものとする。図２１（ａ）のような周期的なＮＲＺＩ信号がパターン発生回路２６から与えられると、一般的な書換え型光ディスクに対しては、記録補償回路２７は、図２１（ｂ）のようなレーザ駆動波形を生成する。ここで、Ｔｓｆｐは、マーク始端位置を設定するパラメータで、Ｔｅｌｐは、マーク終端位置を設定するパラメータである。レーザ駆動回路２８は、図２１（ｂ）のような発光パワーの変調をかける。レーザ発光により、図２１（ｃ）に示すように、トラック上に物理的にアモルファス領域が形成される。ここで、４Ｔマークの終端位置を定めるＴｅｌｐをＴｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合、形成されるマークの形状は、図２１（ｃ）のように変化する。このようなトラックを再生した場合について説明を加える。
【０００４】
４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図２１（ｄ−１）の実線の再生信号が得られる。コンパレータ出力の積分値が０となるよう、しきい値が定められる。コンパレータ出力と再生クロックとの位相差を検出し、位相誤差の積分値が０となるよう図２１（ｅ−１）のような再生クロックが生成される。
次に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より小さくし、Ｔｅｌｐ１とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−２）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−２）に示す一点鎖線のように大きくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−２）に示すように位相が進む。
逆に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より大きくし、Ｔｅｌｐ３とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−３）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−３）に示す一点鎖線のように小さくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−３）に示すように位相が遅れる。
【０００５】
マーク終端エッジ（再生信号の立ち上がり）と再生クロックとの時間差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、図２１（ｆ）のような分布が得られる。ただし、４Ｔマーク終端、８Ｔマーク終端エッジは、同じ分散値の正規分布となるようなばらつきを持つことを仮定している。図２１（ｄ−１）、図２１（ｅ−１）のような再生信号と再生クロックの場合、立ち上がりエッジ（マーク終端エッジ）のコンパレータ出力と再生クロックとの時間差の分布を求めると、図２１（ｆ−２）のようになる。すなわち、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布のそれぞれの平均値が０となる。
しかし、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−１）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布を示す。したがって、立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。同様に、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−３）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布となる。ただし、図２１（ｆ−１）とは、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布が入れ替わっていることになる。この場合も立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。
【０００６】
図２０のように位相誤差の絶対値を累積し誤差検出出力とする場合、記録パラメータＴｅｌｐの変化に従って、図２１（ｇ）のように誤差検出値が変化する。したがって記録パラメータを変化させ、誤差検出回路２４の出力が最小となるパラメータを最適値とする。上記の例では、４Ｔマーク終端のパラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、その他のパラメータについてもそれぞれに対応した特定パターンを用いてテスト記録を行い、誤差検出出力から最適パラメータを求める。
以上の手順をすべての記録パラメータを求める際の動作をフローチャートで示すと、図２２のようになる。テスト記録を行う情報記録媒体の領域にジャンプし、マーク始端あるいはマーク終端の記録パラメータを領域（例えばセクタ）ごとに変化させながら記録を行う。記録領域の再生を行い、パラメータを変化させた領域ごとに誤差検出出力を取り込む。さらに、誤差検出出力が最小となるパラメータを求める。次のパラメータを求めるため、以上の動作をすべてのパラメータが求められるまで繰り返す。例えば、上記方法は、特許文献１、特許文献２に記載されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（第１図）
【特許文献２】特開２００１−１０９５９７号公報（第１図）
【特許文献３】特開２００２−１４１８２３号公報（第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
近年、光ディスクの分野では、記録密度の高密度化が求められている。このため、より適切な記録パルスの調整が求められている。例えば、高密度化に伴い、形成される記録マークが微少化するため、より適切に記録パルスを調整することが求められている。
そこで本発明では、より適切な記録パルスの調整を行うための記録パルス調整方法、記録パルス調整プログラム、記録パルス調整装置、情報記録装置、情報記録媒体を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１の発明としての記録パルス調整方法は、異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、第１パラメータ調整工程と、第２パラメータ調整工程とを備えている。第１パラメータ調整工程は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する。第２パラメータ調整工程は、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
ここで、中間パルスとは、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルスの間に位置するパルスであり、マルチパルス、ラストパルスなどを含む（以下、この欄において同じ）。より具体的には、記録マークのマーク長によっては、中間パルスとは、ラストパルス（またはマルチパルス）を１つだけ含むものであってもよい。この場合、記録パルスは、ファーストパルス、１つの中間パルス、クーリングパルスの組み合わせにより構成される。
中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータとは、例えば、中間パルスのそれぞれの位置（立ち上がり位置、中間位置、立ち下がり位置など）と所定の基準との距離（時間的距離、空間的距離など）を個別にあるいは全体として定義するものであってもよい（以下、この欄において同じ）。
【０００９】
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整が可能であるため、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。さらに付随的には、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
また、情報記録媒体とは、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクである。本発明は、光ディスク一般に対して有用であるが、特に高い記録密度が要求され、微細な記録マークの形成が求められるＢＤ、さらに詳しくは、ＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）においても有効である。
【００１０】
第２の発明としての記録パルス調整方法は、トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、第１パラメータ調整工程と、第２パラメータ調整工程とを備えている。第１パラメータ調整工程は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する。第２パラメータ調整工程は、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に対しても、適切な記録パルスの調整により、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。さらに付随的には、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
【００１１】
第３の発明としての記録パルス調整方法は、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する方法であって、第１パラメータ調整工程と、第２パラメータ調整工程とを備えている。第１パラメータ調整工程は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する。第２パラメータ調整工程は、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスであって、ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整により、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。さらに付随的には、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
【００１２】
第４の発明としての記録パルス調整方法は、第１〜第３の発明であって、中間パルスの幅を変化させる第３パラメータを調整する第３パラメータ調整工程をさらに備える。
ここで、中間パルスの幅を変化させるパラメータとは、例えば、中間パルスのそれぞれの幅を個別にあるいは全体として定義するものであってもよい。
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置と幅とを調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整により、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。
第５の発明としての記録パルス調整方法は、第１〜第４の発明であって、中間パルスは、ファーストパルスの次のセカンドパルスである。
ここで、セカンドパルスとは、ファーストパルスの次に位置し、ファーストパルスとほぼ同様のパワーを有するパルスである。なお、中間パルスが１つのパルスから構成される場合、セカンドパルスとは、クーリングパルスの直前のラストパルスと同じものである。
【００１３】
本発明の記録パルス調整方法では、セカンドパルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、セカンドパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、セカンドパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。特に、セカンドパルスの調整により、記録マークの前端の位置を微調整し、記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。
第６の発明としての記録パルス調整方法は、第１〜第４の発明であって、中間パルスは、クーリングパルスの直前のラストパルスである。
ここで、ラストパルスとは、クーリングパルスの直前に位置し、ファーストパルスとほぼ同様のパワーのパルスである。なお、中間パルスが１つのパルスから構成される場合、ラストパルスとは、ファーストパルスの次に位置するセカンドパルス（マルチパルス）と同じものである。
本発明の記録パルス調整方法では、ラストパルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、ラストパルスの立ち上がり位置の調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、ラストパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。特に、ラストパルスの調整により、記録マークの後端の位置を微調整し、記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。
【００１４】
第７の発明としての記録パルス調整方法は、第１〜第６の発明であって、記録マークは、情報の記録のために形成される複数の記録マークのマーク長のうち、２番目に短いマーク長を有する。
一般に、短いマーク長の記録マークほど、記録マークの位置や長さを適切に調整することが求められる。これは一般に、短いマーク長の記録マークほど、発生確率が高く、情報の記録品質に影響を与えるからである。一方、最短のマーク長を有する記録マークを形成するための記録パルスは、一般に、ファーストパルスとクーリングパルスとだけで構成されることが多い。この場合には、ファーストパルスとクーリングパルスとの位置および幅を調整することで、記録パルス全体を調整することが可能となり、適切に記録マークを形成することが可能となる。一方、２番目に短いマーク長を有する記録マークを形成するための記録パルスは、一般に、ファーストパルスと１つの中間パルス（マルチパルスまたはラストパルス）とクーリングパルスとから構成されることが多い。従来では、短い記録マークの適切な調整が求められているにもかかわらず、中間パルスの位置を調整するパラメータが定義されていないため、記録パルス全体を調整することができない。一方、本発明では、中間パルスの位置を変化させるためのパラメータを調整することができるため、記録パルス全体を調整することが可能となる。これにより、本発明では、短い記録マークの適切な調整を行うことが可能となる。また付随的には、短い記録マークの適切な調整を行うことが可能であるため、情報の記録品質を向上させることも可能となる。
【００１５】
第８の発明としての記録パルス調整方法は、第１〜第７の発明であって、記録マークのマーク長は、３Ｔ（Ｔは、クロック周期）である。
一般に、短いマーク長の記録マークほど、記録マークの位置や長さを適切に調整することが求められる。これは一般に、短いマーク長の記録マークほど、発生確率が高く、情報の記録品質に影響を与えるからである。例えば、ＢＤ−Ｒのように、２Ｔ〜９Ｔのマーク長の記録マークが情報の記録に用いられるような場合には、２Ｔや３Ｔのマーク長の記録マークの位置や長さを適切に調整することが求められる。一方、最短のマーク長（例えば、２Ｔ）を有する記録マークを形成するための記録パルスは、一般に、ファーストパルスとクーリングパルスとだけで構成されることが多い。この場合には、ファーストパルスとクーリングパルスとの位置および幅を調整することで、記録パルス全体を調整することが可能となり、適切に記録マークを形成することが可能となる。一方、２番目に短いマーク長（例えば、３Ｔ）を有する記録マークを形成するための記録パルスは、一般に、ファーストパルスと１つの中間パルス（マルチパルスまたはラストパルス）とクーリングパルスとから構成されることが多い。従来では、短い記録マークの適切な調整が求められているにもかかわらず、中間パルスの位置を調整するパラメータが定義されていないため、記録パルス全体を調整することができない。一方、本発明では、中間パルスの位置を変化させるためのパラメータを調整することができるため、記録パルス全体を調整することが可能となる。これにより、本発明では、短い記録マークの適切な調整、特に３Ｔのマーク長の記録マークの適切な調整を行うことが可能となる。また付随的には、短い記録マークの適切な調整を行うことが可能であるため、情報の記録品質を向上させることも可能となる。
【００１６】
第９の発明としての記録パルス調整方法は、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法であって、第１工程と、第２工程とを備えている。第１工程は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、マーク長調整パラメータを、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第２工程は、第１工程の後、記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、マーク位置調整パラメータを、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第１工程または第２工程は、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む。
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整が可能であるため、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。例えば、第１工程において中間パルスの立ち上がり位置が調整される場合には、記録マークの長さを微調整することが可能となる。また例えば、第２工程において、中間パルスの立ち上がり位置が調整される場合には、記録マークの位置を微調整することが可能となる。さらに付随的には、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
【００１７】
また、情報記録媒体とは、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクである。本発明は、光ディスク一般に対して有用であるが、特に高い記録密度が要求され、微細な記録マークの形成が求められるＢＤ、さらに詳しくは、ＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）においても有効である。
第１０の発明としての記録パルス調整方法は、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法であって、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程とを備えている。マーク長調整パラメータまたはマーク位置調整パラメータの調整は、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む。
本発明の記録パルス調整方法では、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、中間パルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、中間パルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整が可能であるため、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。例えば、マーク長調整パラメータの調整において中間パルスの立ち上がり位置が調整される場合には、記録マークの長さを微調整することが可能となる。また例えば、マーク位置調整パラメータの調整において中間パルスの立ち上がり位置が調整される場合には、記録マークの位置を微調整することが可能となる。さらに付随的には、中間パルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
【００１８】
また、情報記録媒体とは、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクである。本発明は、光ディスク一般に対して有用であるが、特に高い記録密度が要求され、微細な記録マークの形成が求められるＢＤ、さらに詳しくは、ＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）においても有効である。
第１１の発明としての記録パルス調整プログラムは、異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムである。記録パルス調整方法は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程とを備えている。
本発明の記録パルス調整プログラムは、第１の発明と同様の効果を奏する。
第１２の発明としての記録パルス調整プログラムは、トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムである。記録パルス調整方法は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程とを備えている。
【００１９】
本発明の記録パルス調整プログラムは、第２の発明と同様の効果を奏する。
第１３の発明としての記録パルス調整プログラムは、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムである。記録パルス調整方法は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整する第１パラメータ調整工程と、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスであって、ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する第２パラメータ調整工程とを備えている。
本発明の記録パルス調整プログラムは、第３の発明と同様の効果を奏する。
第１４の発明としての記録パルス調整プログラムは、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムである。記録パルス調整方法は、第１工程と、第２工程とを備えている。第１工程は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、マーク長調整パラメータを、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第２工程は、第１工程の後、記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、マーク位置調整パラメータを、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第１工程または第２工程は、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む。
【００２０】
本発明の記録パルス調整プログラムは、第９の発明と同様の効果を奏する。
第１５の発明としての記録パルス調整プログラムは、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整方法をコンピュータにより行うためのプログラムである。記録パルス調整方法は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、記録パルスパラメータのうち、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する工程とを備えている。マーク長調整パラメータまたはマーク位置調整パラメータの調整は、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する工程を含む。
本発明の記録パルス調整プログラムは、第１０の発明と同様の効果を奏する。
第１６の発明としての記録パルス調整装置は、異なるボトムパワーとバイアスパワーとを有し、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。パラメータ調整部は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
【００２１】
本発明の記録パルス調整装置は、第１の発明と同様の効果を奏する。
第１７の発明としての記録パルス調整装置は、トラックピッチが０．３０〜０．３５μｍの情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。パラメータ調整部は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
本発明の記録パルス調整装置は、第２の発明と同様の効果を奏する。
第１８の発明としての記録パルス調整装置は、情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パルスを調整する装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。パラメータ調整部は、ファーストパルスの立ち上がり位置、ファーストパルスの幅、クーリングパルスの立ち上がり位置、の少なくとも１つを変化させる第１パラメータを調整し、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスであって、ファーストパルスの幅の５０％〜１００％の幅を有する中間パルスの立ち上がり位置を変化させる第２パラメータを調整する。
【００２２】
本発明の記録パルス調整装置は、第３の発明と同様の効果を奏する。
第１９の発明としての記録パルス調整装置は、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）を調整した後に、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）を調整する。マーク長調整パラメータの調整では、マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定のマーク長に最も近い記録マークを形成する値にマーク長調整パラメータを調整し、マーク位置調整パラメータの調整では、マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定のマーク位置に最も近い記録マークを形成する値にマーク位置調整パラメータを調整する。マーク長調整パラメータの調整またはマーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する。
【００２３】
本発明の記録パルス調整装置は、第９の発明と同様の効果を奏する。
第２０の発明としての記録パルス調整装置は、書き込み可能な情報記録媒体に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス調整装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、マーク長の調整に関するパラメータ（以下、マーク長調整パラメータ）の調整と、マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、マーク位置調整パラメータ）の調整とを行う。マーク長調整パラメータまたはマーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの幅を維持しつつ、立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整する。
本発明の記録パルス調整装置は、第１０の発明と同様の効果を奏する。
第２１の発明としての情報記録装置は、第１６〜第２０の発明としての記録パルス調整装置と、光学ヘッドと、誤差検出手段とを備えている。光学ヘッドは、記録パルス調整装置により調整された記録パルスに基づいて、レーザを情報記録媒体に照射し、情報記録媒体に記録マークを形成するとともに、形成された記録マークに対してレーザを照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する。誤差検出手段は、再生信号を取得し、情報記録媒体に形成された記録マークと、基準となる記録マークとの誤差を検出する。
【００２４】
本発明の情報記録装置は、第１６〜第２０の発明と同様の効果を奏する。
第２２の発明としての情報記録媒体は、同心円状あるいはスパイラル状のトラックに形成されたマークおよびマーク間のスペースにより情報を記録する情報記録媒体であって、情報記録領域と、パラメータ格納領域とを備えている。情報記録領域は、情報の記録に用いられる。パラメータ格納領域は、情報記録領域に情報を記録するための記録パルスのパラメータが格納されている。パラメータ格納領域は、記録パルスのうち、ファーストパルスおよびクーリングパルス以外のパルスである中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータのデフォルト値と、中間パルスの幅を変化させるパラメータのデフォルト値とをそれぞれ対応づけて格納している。
本発明の情報記録媒体により与えられるパラメータ格納領域に中間パルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータのデフォルト値と、それに対応した中間パルスの幅を変化させるパラメータのデフォルト値とにより、中間パルスの立ち上がり位置および幅を調整することが可能となる。このため、記録パルスの調整を適切に行うことが可能となる。
第２３の発明としての情報記録媒体は、第２２の発明であって、中間パルスは、ファーストパルスの次のセカンドパルスである。
【００２５】
第２４の発明としての情報記録媒体は、第２２の発明であって、中間パルスは、クーリングパルスの直前のラストパルスである。
【発明の効果】
【００２６】
本発明により、より適切な記録パルスの調整を行うための記録パルス調整方法、記録パルス調整プログラム、記録パルス調整装置、情報記録装置、情報記録媒体を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態）
〈概要〉
まず、本発明の記録パルス調整の目的は、光ディスク上に記録されたデータを最小のエラーで再生するために、最良の記録を行うことである。最良の記録状態を実現するために、記録に係わるパラメータを最適にする必要がある。記録に係わるパラメータには、主に、記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータ、記録時のサーボパラメータ等あるが、本発明は特に、記録パルスパラメータ、すなわち記録パルス波形の形状に係わるパラメータの調整に関する。
なお、本発明は、光ディスク一般に対して適用可能であるが、本実施の形態では、特にＢＤに対して適用する場合を例に説明を行う。なお、ＢＤは、最短マークの周波数が、１Ｘで１６．５メガヘルツ（２Ｘで３３メガヘルツ）、最短マーク長が０．１４９ミクロン（容量２５Ｇバイト）、トラックピッチが０．３２ミクロン、厚みが単層ディスクで０．１ｍｍ、２層ディスクで０．１ｍｍと０．０７５ｍｍなどといった物理的な特徴を有しており、特に、記録の高密度化、すなわち微細な記録マークの形成が求められている。
【００２８】
図１を用いて、記録パルスパラメータについて説明する。
図１は、ＢＤで用いられる２Ｔ〜９Ｔまでの記録マークを形成するための記録パルスの形状を示す。６Ｔ〜８Ｔまでの記録マークを形成するための記録パルスは、５Ｔの記録パルスのマルチパルスが１つずつ増えた形状を有している。すなわち、５Ｔでは、マルチパルスが２つであるのに対して、６Ｔでは、３つ、７Ｔでは４つ、８Ｔでは５つのマルチパルスを有している。マルチパルス記録パルスの形状に係わる記録パルスパラメータとしては、記録パルスのファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）、ファーストパルスの立ち上がり位置（ｄＴｔｏｐ）、マルチパルスの幅（Ｔｍｐ）、マルチパルスの立ち上がり位置（ｄＴｍｐ）、ラストパルスの幅（Ｔｌｐ）、ラストパルスの立ち上がり位置（ｄＴｌｐ）、ラストパルス（最終のマルチパルス）の後ろに付けるクーリングパルスの幅（立ち上がり位置）（ｄＴｓ）などがある。
なお、本発明は、マルチパルスの位置（ｄＴｍｐ）、ラストパルスの立ち上がり位置（ｄＴｌｐ）を示すパラメータを定義した点に特徴を有している。
図１に示すように、２Ｔマークを形成するための記録パルスでは、マルチパルスおよびラストパルスが無い形状となっている。
【００２９】
また、３Ｔマークを形成するための記録パルスでは、ファーストパルスとクーリングパルスとの間に位置する中間パルスを１つのみ有している。すなわち、ファーストパルスの次のマルチパルス（セカンドパルス）が、クーリングパルスの直前のマルチパルス（ラストパルス）である。図１では、この中間パルスの形状を、ラストパルスのパラメータ（Ｔｌｐ，ｄＴｌｐ）を用いて定義しているが、マルチパルスのパラメータ（Ｔｍｐ，ｄＴｍｐ）を用いて定義してもよい。
また、４Ｔ以上のマークを形成するための記録パルスでは、マルチパルスを有している。特に、５Ｔ以上のマークを形成するための記録パルスでは、複数のマルチパルスを有している。この場合、記録パルスのパラメータとしては、それぞれのマルチパルス毎に異なる幅（Ｔｍｐ）と異なる位置（ｄＴｍｐ）を定義するパラメータを有していてもよいし、マルチパルス全体に対して同じ幅および位置を定義するパラメータを有してもよい。なお、当然であるが、マルチパルス全体に同じ位置を定義するパラメータとは、絶対位置を定義するパラメータではなく、マルチパルス毎に決められた基準位置からの相対位置を定義するパラメータである。以下の説明では、４Ｔ以上のマークに対しては、マルチパルス毎に異なる幅（Ｔｍｐ）は定義されていないとして説明を行う。
【００３０】
３Ｔ〜９Ｔのマーク長の記録パルス波形では、それぞれのマルチパルスの幅（Ｔｍｐ）またはラストパルスの幅（Ｔｌｐ）は、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）の５０％〜１００％である。
また、記録パルス波形では、ファーストパルスとマルチパルスとラストパルスとがそれぞれほぼ同様のトップパワー（Ｐｗ）を有し、クーリングパルスがクーリングパワー（Ｐｃ）を有し、ファーストパルスとマルチパルス間およびマルチパルス間がほぼ同様のボトムパワー（Ｐｂｗ）を有している。さらに、マークとマークとのスペース部分は、そのスペース長に応じた幅のバイアスパワー（Ｐｓ）を有している。さらに、図１に示すように、バイアスパワーＰｓとボトムパワーＰｂｗとは異なるレベルを有している。
ここで、本実施の形態で用いる記録方式について述べる。
光ディスクにデータを書き込む場合に複数のパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報としてディスクに書き込む。また、マークの長さが、２Ｔから９Ｔ（Ｔはクロック１周期分の時間）、スペースの長さが、２Ｔから９Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を使うものとする。さらに、本実施の形態では、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のマーク（２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍと略す。）と、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のスペース（２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓと略す。）との組合せにおいて、マークとスペースとの境界部分で、マーク形状のひずみやマーク間熱干渉が発生すると仮定する。ひとつのマークについて、スペースと隣接する部分は、マークの前端と後端との２箇所ある。したがって、記録時に用いる記録パルスのエッジ位置を、これらの組み合わせで記録パルス調整（記録補償）することで正しいマーク長の記録状態が達成される。４Ｔｍ以上と４Ｔｓ以上との組み合わせを一つの組合せとすると、マーク前端パルス条件は３×３の９通り、マーク後端パルス条件も３×３の９通りの組み合わせがあり、それぞれ異なる値の条件を設定することが出来、合計１８の条件の設定値を持つ。
【００３１】
図２は、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件との値の表である。たとえば、図２の表（Ａ）において、右下の「４Ｔｓ４Ｔｍ」は、４Ｔ以上のスペースとそれに続く４Ｔ以上のマークとの境界におけるマーク前端パルスの条件が入っていることを示す。図２の表（Ｂ）において、右上の「２Ｔｍ４Ｔｓ」は、２Ｔのマークとそれに続く４Ｔ以上のスペースとの境界におけるマーク後端パルスの条件が入っていることを示す。図２の表で示したように、マーク長とスペース長との組み合わせごとに記録パルス条件を調整、決定する必要がある。
特性の基準となる代表ディスクと、基準となる代表記録再生装置を用いて、図２に示す１８個の条件を決定する。決定された記録パルス条件を、記録パルス標準条件として、ディスク上の特定領域に予め記録しておくものとする。なお、記録パルス標準条件としては、上述した記録パルスパラメータ（Ｔｔｏｐ，ｄＴｔｏｐ，Ｔｍｐ，ｄＴｍｐ，Ｔｌｐ，ｄＴｌｐ，ｄＴｓ）の標準値が決定されている。すなわち、本発明で新たに定義されたＴｍｐパラメータとｄＴｍｐパラメータとは、それぞれ関連づけられて格納されている。また、本発明で新たに定義されたＴｌｐパラメータとｄＴｌｐパラメータとは、それぞれ関連づけられて格納されている。また、本実施の形態では、一例として、記録するマークとスペースとの組み合わせパターンによって適応的に値が変わるパルス条件を対象として説明する。
【００３２】
〈記録パルス調整方法〉
図３は、本発明の実施の形態における記録パルス調整方法を説明するためのフローチャートである。
記録パルスの調整を行うための手順として、まず、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス条件として設定する。特定の記録領域に試し記録を行い、試し記録を行った領域を再生する。このとき、記録状態を調査するために、再生時のエラーと相関のあるパラメータを求める。本実施の形態では、後述するエッジシフト量を求めて、記録状態を確認する。エッジシフト量が所定量以下または、最小付近であればＯＫとし、記録パルス調整を終了する。一方、エッジシフト量が所定量以上また、最小付近でなければＮＧとし、エッジシフト量から最良となる記録パルス条件を予測し、その記録パルス条件を再設定し、上述した試し記録からのシーケンスを繰り返し行い、エッジシフト量が所定量以下、または最小付近になれば終了とする。
また、読み出された記録パルス標準条件を基点に、予め記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。しかし、前述した記録パルス標準条件を基点から用意した記録パルス条件よりもさらに異なった記録パルス条件の方が、エッジシフト量が小さくなると判断した場合は、エッジシフト量が小さくなると思われる記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。上述したように再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小付近となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。これは、第一の記録では記録パルス標準条件に比較的近い設定にパラメータの最適点を求めたが最適条件を求めることができず、さらに第二の記録を行うことで、パラメータの探索範囲を広げたことを意味する。このようなことは、ディスクの特性と記録パルス標準条件との特性が異なった場合にあり得る。また、ディスクと記録再生装置との組み合わせにより、記録再生特性が標準特性と大きく異なった場合にもあり得る。
【００３３】
図４に、記録するオリジナル信号（ＮＲＺＩ信号）と、記録パルス波形および記録パルス波形を構成するパラメータと、記録パルスを用いて記録した場合のディスク上のマークとの関係を示す。
図４の例は、２Ｔマークと３Ｔスペースと３Ｔマークの２Ｔｍ３Ｔｓ３Ｔｍの記録系列である。最短マークである２Ｔマークを形成するための記録パルスのパラメータは、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）と、ファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）と、クーリングパルスの幅（ｄＴｓ）である。一方、３Ｔのマークを形成するための記録パルスのパラメータは、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）と、ファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）と、ラストパルスの幅（Ｔｌｐ）と、ラストパルスの位置（ｄＴｌｐ）と、クーリングパルスの幅（ｄＴｓ）である。
図５を用いて、エッジシフト量の求め方を説明する。
図５では、３Ｔマークの終端エッジ位置を、図４で説明したクーリングパルスの幅のパラメータであるｄＴｓパラメータを用いて変化させ、形成されるマークとそのマークを再生した場合の再生信号の様子を示している。記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれｄＴｓを例えば、−１、０、１とし、クーリングパルス幅を変えながら形成されるマーク幅を変化させている。図５（ｂ）の再生信号から、エッジシフト検出ポイントにおいて、コンパレータしきい値基準からの再生信号の振幅レベルをサンプリングして、エッジシフト値を求めている。ここでは、振幅値を時間軸のズレとしてエッジシフトを求めたが、もちろん時間軸のズレそのものでもよい。すなわち、図２１で説明したように、再生クロックとコンパレータによる２値化パルスとの時間差であってもよい。
【００３４】
図５に示すように、記録パルス条件Ａで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｘとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｘは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、プラスの値として求まり、マーク長が基準より短いと判断できる。一方、記録パルス条件Ｃで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｚとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｚは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、マイナスの値として求まり、マーク長が基準より長いと判断できる。記録パルス条件Ｂで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｙとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｙは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、ほぼ０として求まり、マーク長はほぼ最適と判断できる。再生時に、これらのエッジシフトを所定区間積算する、または所定区間の平均を求めることで、エッジシフト量を求めることができる。上述の図２で示したマーク長とスペース長との組み合わせごとにエッジシフト量を求めれば、どの長さのマークが最適設定からずれているかを判断することができる。
なお、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルが用いられてもよい。ここで、波形の全エッジの中心となるレベルとは、例えば、そのレベルをしきい値として再生波形の位相誤差を検出した場合に、検出される位相誤差を最小化するレベルのことである。また、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルが用いられてもよい。
【００３５】
先に、本発明の記録パルス調整の流れを図３のフローチャートを用いて説明した。次に、記録パルスの詳細な調整方法および調整手順について説明する。
図６に、調整手順のフローチャートを示す。まず、記録マークの長さが適切な長さになるように調整する。その次に、記録マークの位置が適切な位置になるように調整する。これを、すべてのマークについてそれぞれ行う。
まず、２Ｔマークの調整方法について説明する。
２Ｔマークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したようにＴｔｏｐとｄＴｔｏｐとｄＴｓとである。
第１のステップは、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを調整することによるマーク長調整である。図７は、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルスの立下り位置およびクーリングパルス幅は固定で、ファーストパルス幅のみ変化させることを意味する。ファーストパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１０（ａ）に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。図１で示したように、２Ｔマークを形成する記録パルスには、中間パルス（マルチパルスおよびラストパルス）が存在しない。そのため、ファーストパルス幅が終端エッジにも大きく影響を与え、ファーストパルス幅を変化させると、始端エッジだけでなく終端エッジも変化する。すなわち、マーク幅が始端方向と終端方向とに同時に変化することを意味する。
【００３６】
第２のステップは、ｄＴｓパラメータを調整することによるマーク長調整である。図８は、ｄＴｓパラメータを変化させることによりクーリングパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ｄＴｓパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅およびファーストパルスの立下り位置は固定で、クーリングパルス幅のみ変化させることを意味する。クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１０（ｂ）に、ｄＴｓパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。
第３のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとによるマーク位置調整である。図９は、ｄＴｔｏｐとｄＴｓパラメータとを同時に同方向に変化させることにより記録パルス全体の位置を変化させることで、形成される２Ｔのマークの位置が変化している様子を示している。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルス幅およびクーリングパルス幅は固定で、記録パルス全体の位置を変化させることを意味する。記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１０（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄｔｓパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、第１のステップから第３のステップで、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
【００３７】
マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅の変化によるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。または、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から全く変化させなくともよい。これは、クーリングパルス幅の変化は、ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度湿度等の環境変化による記録劣化などの原因となる可能性が高いためである。
これに関し、図１１を用いてさらに詳しく説明を加える。図１１（ａ）は、最適パワーで記録された領域に記録パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これをクロスパワー特性と呼ぶこととする。図１１（ｂ）は、最適パワーで同じ領域を繰り返し記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これを繰り返し記録特性と呼ぶこととする。クロスパワー特性および繰り返し記録特性は、意図的に記録ストレスを与え、記録劣化が発生した領域を作成し、その領域を再生した場合のエラーが発生する確率を求めたものである。図１１において、クーリングパルス幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、クーリングパルス幅が、記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、エラー発生確率が大きくなり、記録劣化が進行しやすい状態となる可能性がある。
【００３８】
次に、３Ｔマークの調整方法について説明する。３Ｔマークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したように、Ｔｔｏｐと、ｄＴｔｏｐと、Ｔｌｐと、ｄＴｌｐと、ｄＴｓとである。
３Ｔマークの調整は、図１２に示す手順で行われる。３Ｔマークの調整は、マーク長の調整（第１のステップＳ１０１〜第３のステップＳ１０３）と、マーク位置の調整（第４のステップＳ１０４）とを備えている。第１のステップＳ１０１では、形成される記録マークのマーク長が所望の長さ（３Ｔ）に最も近づくように、ｄＴｏｐパラメータが調整される。第２のステップＳ１０２では、形成される記録マークのマーク長が所望の長さ（３Ｔ）に最も近づくように、ｄＴｓパラメータが調整される。第３のステップＳ１０３では、形成される記録マークのマーク長が所望の長さ（３Ｔ）に最も近づくように、ｄＴｌｐパラメータが調整される。第４のステップＳ１０４では、形成される記録マークの位置が所望の位置に最も近づくように、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとｄＴｌｐパラメータとが調整される。
以下、それぞれのステップについて詳しく説明する。
第１のステップＳ１０１は、ｄＴｔｏｐパラメータによるマーク長調整である。２Ｔマーク調整と同様に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成されるマーク長を変化させることも可能である。しかし、本発明の実施の形態では、ファーストパルス幅のパラメータであるＴｔｏｐパラメータは、記録パルス標準設定とし、ファーストパルスの位置を制御するパラメータであるｄＴｔｏｐパラメータのみで、マーク長の調整を行うとする。このとき、ラストパルス位置や幅を制御するパラメータであるｄＴｌｐやＴｌｐパラメータは記録パルス標準設定とする。
【００３９】
ｄＴｔｏｐパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ラストパルスの幅および立ち上がり位置、クーリングパルスの幅は固定で、ファーストパルスの立下り位置のみ変化させることを意味する。図１３の設定Ａから設定Ｃで示すように、ファーストパルスの立下り位置を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴとの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１７（ａ）に、ｄＴｔｏｐパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。マークの始端エッジに係わるパラメータｄＴｔｏｐのみを変化させたので、始端のエッジシフト量Ｌのみが変化しており、終端エッジシフト量Ｔは変化していない。そのため、｜Ｌ＋Ｔ｜で示すマーク長は、変化しており、｜Ｌ＋Ｔ｜が最小となるｄＴｔｏｐ設定は、設定０もしくは１として選択される。
第２のステップＳ１０２は、ｄＴｓパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｓパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立下り位置、ラストパルスの幅、ラストパルスの立ち上がり位置は固定で、クーリングパルスの幅のみ変化させることを意味する。図１４の設定Ａから設定Ｃで示すように、クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１７（ｂ）に、ｄＴｓパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定１が選択される。
【００４０】
第３のステップＳ１０３は、ラストパルスの位置を制御するｄＴｌｐパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｌｐパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立ち上がり位置、ラストパルスの幅、クーリングパルスの幅は固定で、ラストパルスの立ち上がり位置のみを変化させることを意味する。図１５の設定Ａから設定Ｃで示すように、ラストパルス位置を変化させると、形成されるマーク長が変化する。
このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。
第４のステップＳ１０４は、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとｄＴｌｐパラメータによるマーク位置調整である。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとｄＴｌｐパラメータとを同時に同方向に変化させることにより、記録パルスの全体形状を維持したまま、記録パルス全体の位置を変化させることが可能となる。これにより、形成される３Ｔのマークの位置を変化させることが可能となる。図１６の設定Ａから設定Ｃで示すように、記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１７（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｓパラメータとｄＴｌｐパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、３Ｔのマーク長に対して、第１のステップＳ１０１から第４のステップＳ１０４で、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
【００４１】
第１のステップＳ１０１でのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を短い側に変化させると、上述したクロスパワー特性が悪化する可能性がある。また、第１のステップＳ１０１でのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を長い側に変化させると、上述した繰り返し記録特性が悪化する可能性がある。図１１において、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、記録劣化が起こりやすい状態となる可能性がある。これに対し、本発明では、第１のステップＳ１０１におけるマーク長調整では、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件とし、ファーストパルスの位置のみを調整している。マーク長調整は、第１のステップＳ１０１と第２のステップＳ１０２とで行われるが、第２のステップＳ１０２におけるクーリングパルス幅を変化させることによるマーク長調整は、第１のステップＳ１０１の補助的な役割である。このため、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。
なお、マーク長調整では、マークの前端位置と後端位置とを同時に変化させるようにパラメータを調整してもよい。さらに、この調整を主調整とし、その後に微調整を行ってもよい。微調整では、マークの前端位置を変化させるパラメータと、後端位置を変化させるパラメータとのうち、パラメータの変化により形成されるマークの変化の小さいパラメータの調整が行われてもよい。
【００４２】
４Ｔマーク以上の調整に際しては、３Ｔマークとほぼ同様の調整が行われる。４Ｔマークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したように、Ｔｔｏｐと、ｄＴｔｏｐと、Ｔｍｐと、ｄＴｍｐと、Ｔｌｐと、ｄＴｌｐと、ｄＴｓとである。
第１のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータによるマーク長調整である。２Ｔマーク調整と同様に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成されるマーク長を変化させることも可能である。しかし、本発明の実施の形態では、ファーストパルス幅のパラメータであるＴｔｏｐパラメータは、記録パルス標準設定とし、ファーストパルスの位置を制御するパラメータであるｄＴｔｏｐパラメータのみで、マーク長の調整を行う。その他のパラメータについては、記録パルス標準設定とし固定しておく。マーク長の調整は、３Ｔマークの第１のステップＳ１０１と同様にして行う。
第２のステップは、ｄＴｓパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｓパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立下り位置、マルチパルスの幅、マルチパルスの立ち上がり位置、ラストパルスの幅、ラストパルスの立ち上がり位置は固定で、クーリングパルスの幅のみ変化させることを意味する。マーク長の調整は、３Ｔマークの第２のステップＳ１０２と同様にして行う。
【００４３】
第３のステップは、マルチパルスの立ち上がり位置を制御するｄＴｍｐとラストパルスの立ち上がり位置を制御するｄＴｌｐパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｍｐパラメータ、ｄＴｌｐパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立ち上がり位置、マルチパルスの幅、ラストパルスの幅、クーリングパルスの幅は固定で、マルチパルスおよびラストパルスの立ち上がり位置のみを変化させることを意味する。マルチパルスおよびラストパルス位置を変化させると、形成されるマーク長が変化する。
このとき、４Ｔ以上のマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。
第４のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータと、ｄＴｓパラメータと、ｄＴｍｐパラメータと、ｄＴｌｐパラメータとによるマーク位置調整である。これらのパラメータを同時に同方向に変化させることにより、記録パルス全体の形状を維持したまま、記録パルス全体の位置を変化させることが可能となる。これにより、形成される４Ｔ以上のマークの位置を変化させることが可能となる。なお、マーク位置の調整は、３Ｔマークの第４ステップＳ１０４と同様にして行う。
【００４４】
第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を短い側に変化させると、上述したクロスパワー特性が悪化する可能性がある。また、第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を長い側に変化させると、上述した繰り返し記録特性が悪化する可能性がある。図１１において、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、記録劣化が起こりやすい状態となる可能性がある。これに対し、本発明では、第１のステップにおけるマーク長調整では、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件とし、ファーストパルスの位置のみを調整することに特徴がある。マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅を変化させることによるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。
なお、マーク長調整では、マークの前端位置と後端位置とを同時に変化させるようにパラメータを調整してもよい。さらに、この調整を主調整とし、その後に微調整を行ってもよい。微調整では、マークの前端位置を変化させるパラメータと、後端位置を変化させるパラメータとのうち、パラメータの変化により形成されるマークの変化の小さいパラメータの調整が行われてもよい。
【００４５】
なお、以上の説明では、４Ｔ以上のマークについて、マルチパルスの立ち上がり位置、ラストパルスの立ち上がり位置を変化させるパラメータを調整すると記載したが、４Ｔ以上のマークについては、これらのパラメータの調整は行わないとしてもよい。
また、３Ｔ以上のマークについて、マルチパルスやラストパルスの幅を記録パルス標準条件に固定すると説明したが、これに限らず、マーク長の調整やマーク位置の調整において調整が行われてもよい。
〈記録再生装置〉
本発明の光ディスクの記録パルス制御方法を実現する光ディスクの記録再生装置（情報記録装置）について説明する。
図１８に、本発明の記録再生装置の一例を示す。光学ヘッド１から光ディスク２に照射されたレーザ光は、反射により媒体上の情報を再生信号に変換する。再生信号は、波形等化器３により波形整形される。波形整形された再生信号は、再生クロックに基づいて、Ａ／Ｄ変換器４により量子化される。量子化された再生信号は、高域通過フィルタ５により低周波数成分を除去される。位相比較器６は、高域通過フィルタ５の出力から位相誤差情報を検出する。検出された位相誤差から、ＬＰＦ７は、追随すべき周波数成分を検出する。ＬＰＦ７の出力は、Ｄ／Ａ変換器８によりアナログ信号に変換される。変換されたアナログ信号により、ＶＣＯ９は制御され、再生クロックを生成する。位相比較器６で検出された位相誤差の平均が０となるよう、再生クロックの位相はフィードバック制御されている。以上に説明した、Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により、再生クロックを生成するためのＰＬＬ回路が構成されている。
【００４６】
また高域通過フィルタ５からの出力から、２値化回路１０は、原デジタル情報を判別する。判別された２値化データから、パターン検出回路１１は、所定長のマークとスペースとの組み合わせからなるパターンを識別する。エッジシフト検出回路１２は、パターン検出回路１１で検出された所定長のマークとスペースとに含まれる位相誤差情報をパターンごとに累積加算し、記録パルスパラメータの最適値からのずれ（エッジシフト）を求める。ここでは、上記図５で説明したエッジシフト検出が行われる。以上に説明した、２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により、エッジシフト量を検出するエッジ検出回路が構成されている。さらに、ＰＬＬ回路（Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により構成）と、エッジ検出回路（２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により構成）とにより、光ディスク２に形成された記録マークと所定の基準との誤差を検出する誤差検出回路（誤差検出手段）が構成されている。
光ディスクコントローラ１３（パラメータ調整部）は、パターンごとのエッジシフト量から、変更が必要と判断された記録パルスパラメータを変更する。記録パルスパラメータの変更方法は、上記で説明したため、説明を省略する。パターン発生回路１４は、試し記記録用の記録補償学習用パターンを出力する。記録補償回路１５（記録パルス調整部）は、光ディスクコントローラ１３からの記録パルスパラメータをもとに、記録補償学習パターンにしたがってレーザ発光波形を作成する。以上の光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とにより、上記誤差検出回路が検出する誤差に基づいて、光ディスク２に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御回路（記録パルス調整装置）が構成されている。作成されたレーザ発光パターンにしたがって、レーザ駆動回路１６は、光学ヘッド１のレーザを駆動する。
【００４７】
〈効果〉
本発明の記録パルス調整により、マルチパルスやラストパルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、マルチパルスの位置やラストパルスの立ち上がり位置の調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、マルチパルスやラストパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。
また、適切な記録パルスの調整が可能であるため、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。このため、この記録パルスの調整により、高密度化が求められる情報記録媒体への記録を行うことが可能となる。
また、マルチパルスやラストパルスの立ち上がり位置を調整することが可能であるため、記録パルスの形状を変更せずに全体の位置を調整することが可能となる。すなわち、形成される記録マークの長さを変更せずに、位置を変更することが可能となる。これにより、記録マークの位置の調整を記録マークの長さの調整と独立に行うことが可能となる。
また、本発明の記録パルス調整により、マルチパルスやラストパルスの立ち上がり位置と幅とを調整することも可能である。一般に、マルチパルスの位置やラストパルスの立ち上がり位置の調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、マルチパルスやラストパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。すなわち、より適切な記録パルスの調整を行うことが可能となる。また付随的には、適切な記録パルスの調整により、微細な記録マークの調整を行うことが可能となる。
【００４８】
本発明の記録パルス調整により、セカンドパルス（ファーストパルスの次に位置するマルチパルス）の立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、セカンドパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、セカンドパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。特に、セカンドパルスの調整により、記録マークの前端の位置を微調整し、記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。
本発明の記録パルス調整により、ラストパルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。一般に、ラストパルスの立ち上がり位置の調整が記録マークの位置および長さに与える影響は、ファーストパルスやクーリングパルスの調整が記録マークの位置および長さに与える影響よりも小さい。このため、ラストパルスの調整により、形成される記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。特に、ラストパルスの調整により、記録マークの後端の位置を微調整し、記録マークの位置や長さを微調整することが可能となる。
また、本発明の記録パルス調整により、情報の記録のために形成される複数の記録マークのマーク長のうち、２番目に短いマーク長の記録マーク（３Ｔマーク）を形成するための記録パルスにおいて、ラストパルスの立ち上がり位置を調整することが可能となる。
【００４９】
一般に、短いマーク長の記録マークほど、記録マークの位置や長さを適切に調整することが求められる。これは一般に、短いマーク長の記録マークほど、発生確率が高く、情報の記録品質に影響を与えるからである。一方、最短のマーク長を有する記録マーク（２Ｔマーク）を形成するための記録パルスは、ファーストパルスとクーリングパルスとだけで構成される。この場合には、ファーストパルスとクーリングパルスとの位置および幅を調整することで、記録パルス全体を調整することが可能となり、適切に記録マークを形成することが可能となる。
一方、２番目に短いマーク長を有する記録マーク（３Ｔマーク）を形成するための記録パルスは、ファーストパルスとラストパルスとクーリングパルスとから構成される。従来では、短い記録マークの適切な調整が求められているにもかかわらず、ラストパルスの位置を調整するパラメータが定義されていないため、記録パルス全体を調整することができない。一方、本発明では、ラストパルスの位置を変化させるためのパラメータを調整することができるため、記録パルス全体を調整することが可能となる。これにより、本発明では、短い記録マークの適切な調整を行うことが可能となる。また付随的には、短い記録マークの適切な調整を行うことが可能であるため、情報の記録品質を向上させることも可能となる。
【００５０】
（その他）
〈１〉
図１８に示す本発明の記録再生装置では、高域通過フィルタ５の出力を２値化回路１０で２値化し、２値化結果からパターン検出を行う構成とした。しかし、これに限らず、図１９のように記録再生装置を構成し、パターン検出を行ってもよい。すなわち、高域通過フィルタ５の出力をＦＩＲフィルタ１７に入力し、ＦＩＲフィルタ１７の出力から等化誤差を求めてＦＩＲフィルタ１７のタップ係数を更新するＬＭＳブロック１８により、適応等化を行うとともに、ＦＩＲフィルタ１７の出力から、確率的に最も確からしい状態遷移を推定するビタビ復号回路１９が２値化結果を出力する。ビタビ復号回路１９の２値化結果を用いて、パターン検出回路１１は、パターン検出を行う。このようにしてパターン検出を行い、エッジシフト量を求める構成であれば、より確からしい２値化結果を用いることができるために、より正確なエッジシフト量を求めることができる。
〈２〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マークの位置調整後にマーク長調整を行ってもよい。
【００５１】
〈３〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マーク長調整とマーク位置調整とを同時に行ってもよい。具体的には、記録マークの前端位置と後端位置とが適切な位置に位置するように調整が行われる。
従来、このような調整を行うと、前端位置と後端位置との調整を独立に行うことができず、前端位置の調整が後端位置に影響を与えるとともに、後端位置の調整が前端位置に影響を与え、繰り返し前端位置と後端位置との調整を行う必要がある。
一方、本発明のように、マーク長調整とマーク位置調整とでは、マルチパルスまたはラストパルスの位置や幅の調整が行われる。この場合、マルチパルスまたはラストパルスの位置や幅の調整が、形成される記録マークに与える影響は小さい。すなわち、形成される記録マークの微調整を行うことが可能となる。特に、セカンドパルスの調整では、形成される記録マークの前端位置の微調整を行うことが可能となり、ラストパルスの調整では、形成される記録マークの後端位置の微調整を行うことが可能となる。
〈４〉
上記実施の形態では、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス標準条件を基点に記録パルス条件を調整すると説明した。ここで、同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいて、記録パルス条件を決定した後、その記録パルス条件をディスク上の特定の領域に記録しておき、その記録パルス条件を基点に上記記録パルス制御方法を用いて記録パルス条件を再調整してもよい。同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいては、記録パルス条件は、大きく変化しないので、微小な調整、または、ほとんど無調整で、最適な記録パルス条件を決定することができる。これにより、調整時間を短縮できるという利点がある。また、温度湿度等の環境変化に比較的影響を受けやすいのは、最短マーク長の記録である。そのため、最短マーク長に関する調整のみは、上記実施の形態で説明した記録パルス制御方法を用いて行うとしてもよい。
【００５２】
〈５〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を求め、エッジシフト量を用いた所定の計算が最小となるように記録パルス条件を決定するとしたが、本発明はこれに限定しない。他の計算方法を用いてもよい。
〈６〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を用いたが、本発明はこれに限定しない。例えば、特許文献３に記載されているＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式の再生信号評価指標を再生時の特定のパラメータとして用いてもよい。
〈７〉
実施の形態で説明した装置は、集積回路等により実現されてもよい。具体的には、上記実施の形態で図１８や図１９で説明した記録再生装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
具体的には、光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とが１チップ化されてもよい。また、図１８や図１９で符号４０で示す構成、すなわち光学ヘッド１および光ディスク２以外の構成が半導体装置として１チップ化されてもよい。さらに、符号４０で示す構成のうち、レーザ駆動回路１６以外の構成だけが半導体装置として１チップ化されてもよい。なお、半導体装置として製造されるとした構成、例えば、符号４０で示す構成は、半導体装置として実装されるだけでなく、例えば、ＲＯＭやＲＡＭなどの記憶装置とＣＰＵなどの演算装置との協働により実現されるものであってもよい。この場合、ＲＯＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを予め記憶しており、ＣＰＵは、ＲＯＭが記憶するプログラムを実行する。また、ＲＡＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを読み込み、ＣＰＵは、ＲＡＭに読み込まれたプログラムを実行する。
【００５３】
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
〈８〉
パターン発生回路１４が発生する記録補償学習用パターンは、次のようなものであってよい。例えば、記録パルス調整用の記録パターンは、ユーザデータのパターンである必要はない。より詳しくは、例えば、２Ｔマークの調整にユーザデータを用いると、２Ｔマークの発生確率が大きいため、２Ｔマークの変化により、記録パターンの再生波形から求められるコンパレータのしきい値（図５参照）、すなわち基準レベルが変化する。基準レベルが変動すると、マーク長とマーク位置とを適切に検出することができなくなる。
【００５４】
そこで、記録パルス調整用の記録パターンとしては、基準レベルが変化しにくい記録パターンが用いられることが好ましい。例えば、変復調規則で発生する最短から最長までのマーク長（例えば、２Ｔ〜９Ｔまで）を含み、その各マーク長の発生確率がほぼ同一なパターンが用いられることが好ましい。この場合、ある１つの記録マークのマーク長あるいはマーク位置などを変化させると、その影響は、全エッジ（２Ｔ〜９Ｔ）に対しては、１／１６の影響に過ぎず、基準レベルを全エッジの中心となるレベルとして決めた場合でも、基準レベルに与える影響はほとんどなく、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。
〈９〉
記録マークの調整は、波形のしきい値（基準レベル）への影響を抑制するような手順で行われても良い。例えば、１つの記録パターンで、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークに対しては、短い方向から長い方向へ変化するようにパラメータの調整を行い、３Ｔマークに対しては、長い方向から短い方向へ変化するようにパラメータの調整を行う。このようにすることで、波形の全エッジの中心または波形の全エネルギーの中心はほとんど変化せず、記録マークの調整による基準レベルへの影響はほとんどなくなる。これにより、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。また、マーク位置の調整においても同様に、波形のしきい値への影響を抑制するような手順で調整が行われることが好ましい。具体的には、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークと３Ｔマークとが逆位相に移動するように、すなわち２Ｔマークと３Ｔマークとが逆方向（時間進み方向と時間遅れ方向）に移動するように調整が行われる。
【００５５】
〈１０〉
本実施の形態では、本発明をＢＤに対して適用する場合を例に説明を行った。ここで、本発明は、特にＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）に対して適用されてもよい。さらに、その他の光ディスク、例えば、ＣＤやＤＶＤに適用されてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明の記録パルス調整方法、記録パルス調整プログラム、記録パルス調整装置、情報記録装置、情報記録媒体は、より適切な記録パルスの調整を行うことが求められる分野において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】各マーク長の記録パルスの波形図
【図２】記録パルス条件を示す説明図
【図３】記録パルス調整について説明するフローチャート
【図４】記録パルス条件の説明図
【図５】エッジシフト検出の説明図
【図６】記録パルス調整について説明するフローチャート図
【図７】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図８】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図９】２Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図１０】２Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１１】クロスパワー特性と繰り返し特性を示す図
【図１２】３Ｔマークの記録パルス調整について説明するフローチャート
【図１３】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１４】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１５】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１６】３Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図１７】３Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１８】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図１９】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図２０】従来の記録再生装置の構成を示すブロック図
【図２１】従来例の誤差検出回路の具体的な動作の様子を示した図
【図２２】従来例の記録パルスパラメータを求める動作のフローチャート図
【符号の説明】
【００５８】
１，３８  光学ヘッド
２，３７  光ディスク
３，３９  波形等化器
４        Ａ／Ｄ変換器
５        高域通過フィルタ
６，２１  位相比較器
７，２２  ＬＰＦ
８        Ｄ／Ａ変換器
９，２３  ＶＣＯ
１０        ２値化回路
１１        パターン検出回路
１２        エッジシフト検出回路
１３，２５  光ディスクコントローラ
１４，２６  パターン発生器
１５，２７  記録補償回路
１６，２８  レーザ駆動回路
１７        ＦＩＲフィルタ
１８        ＬＭＳブロック
１９        ビタビ復号回路
２０        コンパレータ
２４        誤差検出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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