(57)【要約】【課題】高輝度被写体等による大量の入射光量にともなうＯＢ部への光漏れの影響を受けないようにする対策を安価に施すことができるようにする。【解決手段】ＯＢ画素部における出力レベルが有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出し、その検出結果に応じて、ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えるようにすることにより、高輝度被写体等による大量の入射光量にともなうＯＢ画素部への光漏れの影響を受けない適切なダークレベルを検出することができるようにする。【選択図】図２
2007158830.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮像して生成された画像データを記録媒体に記録する撮像装置であって、
前記被写体からの反射光により露光した光信号を電気信号へと変換する画素を複数有する有効画素部と、前記有効画素部に隣接して形成され、その前面が遮光されたＯＢ画素部とから構成される撮像素子と、
前記ＯＢ画素部における出力レベルに基づいて前記画像データのダークレベルを決定するＯＢクランプ手段と、
前記ＯＢ画素部における出力レベルが前記有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出するＯＢ画素部変化検出手段とを有し、
前記ＯＢクランプ手段は、前記ＯＢ画素部変化検出手段による検出結果に応じて、前記ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記ＯＢ画素部変化検出手段は、前記ＯＢ画素部における出力レベルの変化がない範囲を抽出する平坦部抽出手段を有し、
前記ＯＢクランプ手段は、前記平坦部抽出手段によって抽出されたＯＢ範囲の出力レベルをもとにクランプレベルを決定することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記ＯＢ画素部変化検出手段は、前記ＯＢ画素部において前記有効画素部に近づくにつれて出力レベルが上昇している場合に、前記ＯＢ画素部への光漏れが起こっていると判定する光漏れ判定手段を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記ＯＢクランプ手段は、前記光漏れ判定手段により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記有効画素部から離れたＯＢ範囲の出力レベルをもとに前記クランプレベルを決定することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記ＯＢクランプ手段は、前記撮像素子の各行毎に水平ＯＢ画素部の所定の範囲の出力レベルをもとに前記ダークレベルのクランプを行う水平ＯＢクランプ手段を有することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記光漏れ判定手段は、前記撮像素子の各行毎に判定を行うことを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記ＯＢクランプ手段は、前記光漏れ判定手段により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記クランプレベルを求めるＯＢ範囲を前記有効画素部から離れた範囲へと変更することを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記ＯＢクランプ手段は、前記光漏れ判定手段により前記光漏れが起こっていると判定された行においては、前記光漏れが検出される直前の行のクランプレベルを用いてクランプを行うことを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記ＯＢクランプ手段は、前記ＯＢ画素部の所定領域の平均出力値をもとにダークレベルのクランプを行うＯＢ積分手段を有することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記ＯＢ積分手段は、前記光漏れ判定手段により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、ＯＢ積分範囲を前記有効画素部から離れた範囲へと変更することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記ＯＢ積分手段は、前記光漏れ判定手段により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記ＯＢ積分領域として前記光漏れが起こっている行を含まないでＯＢ積分を行うことを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１２】
被写体を撮像して生成された画像データを記録媒体に記録する撮像装置の制御方法であって、
前記被写体からの反射光により露光した光信号を電気信号へと変換する画素を複数有する有効画素部と、前記有効画素部に隣接して形成され、その前面が遮光されたＯＢ画素部とから構成される撮像素子において、前記ＯＢ画素部における出力レベルに基づいて前記画像データのダークレベルを決定するＯＢクランプ工程と、
前記ＯＢ画素部における出力レベルが前記有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出するＯＢ画素部変化検出工程とを有し、
前記ＯＢクランプ工程は、前記ＯＢ画素部変化検出工程による検出結果に応じて、前記ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えることを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項１３】
前記ＯＢ画素部変化検出工程は、前記ＯＢ画素部における出力レベルの変化がない範囲を抽出する平坦部抽出工程を有し、
前記ＯＢクランプ工程は、前記平坦部抽出工程によって抽出されたＯＢ範囲の出力レベルをもとにクランプレベルを決定することを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１４】
前記ＯＢ画素部変化検出工程は、前記ＯＢ画素部において前記有効画素部に近づくにつれて出力レベルが上昇している場合に、前記ＯＢ画素部への光漏れが起こっていると判定する光漏れ判定工程を有することを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１５】
前記ＯＢクランプ工程は、前記光漏れ判定工程により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記有効画素部から離れたＯＢ範囲の出力レベルをもとに前記クランプレベルを決定することを特徴とする請求項１４に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１６】
前記ＯＢクランプ工程は、前記撮像素子の各行毎に水平ＯＢ画素部の所定の範囲の出力レベルをもとに前記ダークレベルのクランプを行う水平ＯＢクランプ工程を有することを特徴とする請求項１４に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１７】
前記光漏れ判定工程は、前記撮像素子の各行毎に判定を行うことを特徴とする請求項１６に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１８】
前記ＯＢクランプ工程は、前記光漏れ判定工程により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記クランプレベルを求めるＯＢ範囲を前記有効画素部から離れた範囲へと変更することを特徴とする請求項１７に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項１９】
前記ＯＢクランプ工程は、前記光漏れ判定工程により前記光漏れが起こっていると判定された行においては、前記光漏れが検出される直前の行のクランプレベルを用いてクランプを行うことを特徴とする請求項１７に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項２０】
前記ＯＢクランプ工程は、前記ＯＢ画素部の所定領域の平均出力値をもとにダークレベルのクランプを行うＯＢ積分工程を有することを特徴とする請求項１４に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項２１】
前記ＯＢ積分工程は、前記光漏れ判定工程により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、ＯＢ積分範囲を前記有効画素部から離れた範囲へと変更することを特徴とする請求項２０に記載の撮像装置の制御方法。
【請求項２２】
前記ＯＢ積分工程は、前記光漏れ判定工程により前記光漏れが起こっていると判定された場合には、前記ＯＢ積分領域として前記光漏れが起こっている行を含まないでＯＢ積分を行うことを特徴とする請求項２０に記載の撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は撮像装置、撮像装置の制御方法に関し、特に、ＯＢクランプを行う際に用いて好適な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、固体メモリ素子を有するメモリカードを記録媒体として、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像素子で撮像した静止画像や動画像を記録及び再生する電子カメラ等の画像処理装置は既に市販されている。
【０００３】
これらの電子カメラの撮像素子の多くは、ＯＢ（Optical Black）画素と呼ばれるアルミニウム膜等によって遮光された複数の画素を備えており、そのＯＢ画素範囲（以下、ＯＢ部とする）の出力値をもって、ダークレベルとしてＯＢクランプを行っている撮像装置が多い。ここで、ＯＢクランプによるダークレベルの調整には以下のような問題があった。
【０００４】
すなわち、ＯＢ部の全体もしくは一部分が有効画素部のダークレベルとは異なったレベルとなってしまう現象が発生してしまう恐れがある。具体例として、例えば、ＯＢ部の付近に高輝度の被写体が存在し、入射光量が大量であった場合を説明する。このような場合、遮光しているにもかかわらず、隣接する有効画素領域からの光漏れやブルーミングにより、ＯＢ部のレベルが有効画素部のダークレベルを維持できなくなるという現象が発生する。
【０００５】
ＯＢ部の出力レベルと有効画素部のダークレベルとの間にずれが発生すると、入射光が無いダーク状態の値を誤ってしまい、入射光量に対する出力信号のリニアリティが保てなくなる。その結果、例えば、ホワイトバランス処理後の色がおかしくなってしまう等の問題が発生する。
【０００６】
図８は、ＯＢ部と有効画素部の境界付近に高輝度被写体による入射光があった場合に発生するＯＢ浮きが生じている問題例を示す図である。図８（ａ）は水平ＯＢクランプを行う前を示し、図８（ｂ)は水平ＯＢクランプを行った後を示している。ここで言う水平ＯＢクランプとは、得られた画像における各行のダークレベルをその行の水平ＯＢ部のレベルにクランプすることをいう。
【０００７】
この問題例においては、図８（ａ）に示される高輝度入射部によってＯＢ部のレベルが一部持ち上がり、このＯＢ部を用いて水平ＯＢクランプを行うと、図８（ｂ)のように、ＯＢが持ち上がった部分の行のダークレベルが引き下げられて、沈んだ部分が帯状に発生してしまう。
【０００８】
このようなＯＢ領域への光漏れに対する対策としては様々な提案がなされており、例えば特許文献１において提案されている撮像装置においては、高輝度入射光によるＯＢ部への光漏れの発生を、ＯＢ部の出力レベルを算出することによって検知している。そして、そのＯＢ部の出力結果に基づき、ＯＢ部のレベルが大きい場合には、光漏れの影響の受けにくい、有効画素領域から離れたＯＢ領域を使用する等の対策を施している。
【０００９】
【特許文献１】特開平９−２４７５５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、このような従来の電子カメラ等の固体撮像装置におけるＯＢ領域への光漏れ問題の対処法においては、以下のような問題があった。すなわち、ＯＢ部の出力レベルが有効画素部のダークのレベルと異なる現象としては、光漏れだけではない。例えば、図９（ａ）に示すような、暗電流量がＯＢ部と有効画素部とで異なる「ＯＢ段差」と呼ばれる現象が発生することがある。図９（ｂ）は輝度分布を示している。また、図１０（ａ）に示すような、暗電流量が局所的に異なるムラとなり、例えば、周辺回路の発熱等により画素領域の周辺ほど暗電流量が多くなるといった現象などがある。同様に図１０（ｂ）は輝度分布を示している。これらの現象に対して「有効画素領域から離れたＯＢ領域を使用する」などの「光漏れ」の場合と同様の対策を施してしまうと、図９の現象に対しては効果がなく、更には、図１０の現象に対しては、かえって逆効果となってしまう問題点があった。
【００１１】
また、有効画素領域から離れたＯＢ領域を使用する対策を施す場合に、高輝度入射の影響を確実に受けないＯＢ領域を確保しようとすると、ＯＢ領域を大幅に拡大しなければならなくなるので、チップサイズを拡大することが必要となり、撮像素子の製造コストがアップしてしまうという問題点があった。
【００１２】
本発明は前述の問題点に鑑み、高輝度被写体等による大量の入射光量にともなうＯＢ部への光漏れの影響を受けないようにする対策を安価に施すことができるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の撮像装置は、被写体を撮像して生成された画像データを記録媒体に記録する撮像装置であって、前記被写体からの反射光により露光した光信号を電気信号へと変換する画素を複数有する有効画素部と、前記有効画素部に隣接して形成され、その前面が遮光されたＯＢ画素部とから構成される撮像素子と、前記ＯＢ画素部における出力レベルに基づいて前記画像データのダークレベルを決定するＯＢクランプ手段と、前記ＯＢ画素部における出力レベルが前記有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出するＯＢ画素部変化検出手段とを有し、前記ＯＢクランプ手段は、前記ＯＢ画素部変化検出手段による検出結果に応じて、前記ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えることを特徴とする。
【００１４】
本発明の撮像装置の制御方法は、被写体を撮像して生成された画像データを記録媒体に記録する撮像装置の制御方法であって、前記被写体からの反射光により露光した光信号を電気信号へと変換する画素を複数有する有効画素部と、前記有効画素部に隣接して形成され、その前面が遮光されたＯＢ画素部とから構成される撮像素子において、前記ＯＢ画素部における出力レベルに基づいて前記画像データのダークレベルを決定するＯＢクランプ工程と、前記ＯＢ画素部における出力レベルが前記有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出するＯＢ画素部変化検出工程とを有し、前記ＯＢクランプ工程は、前記ＯＢ画素部変化検出工程による検出結果に応じて、前記ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、ＯＢ部における出力レベルが有効画素部からの距離に応じて変化していることを検出し、その検出結果に応じて、ダークレベルを算出するＯＢ領域を変えるようにしたので、高輝度被写体等による大量の入射光量にともなうＯＢ部への光漏れの影響を受けない適切なダークレベルを安価に検出することができる。これにより、ＯＢクランプエラーが生じることを防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
（第１の実施形態）
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
図１は、本実施形態における電子カメラの構成例を示すブロック図である。
図１において、１００は、画像処理装置である。１２は、撮像素子１４の露光量を制御する絞り機能を有したシャッタである。１４は、光学像を電気信号に変換する撮像素子である。複数のレンズ、絞り、シャッタ等で構成されるレンズユニット３００に入射した光線は、撮像素子１４上に光学像として決像する。
【００１７】
レンズユニット３００内の撮影レンズ３１０に入射した光線は、絞り３１２、外側レンズマウント３０６、内側レンズマウント１０６、第１のミラー１３０及びシャッタ１２を通じて一眼レフ方式により導かれた撮像素子１４上に光学像として結像する。
【００１８】
１５は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号に対して各種処理を行うアナログ信号処理回路（ＡＦＥ）である。アナログ信号処理回路１５は、入力アナログ画像信号の相関２重サンプリングを行うＣＤＳ部１６と、アナログ画像信号に所定のゲインをかけるＰＧＡ部１７と、及びアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１８とから構成されている。なお、本実施形態において後述する水平ＯＢクランプはこのアナログ信号処理回路１５で行われる。
【００１９】
１９は、撮像素子１４及びアナログ信号処理回路１５等にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０によって制御される。
【００２０】
２０は、画像処理回路であり、アナログ信号処理回路１５からのデータあるいはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０は、必要に応じて撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理を行う。なお、本実施形態において後述するＯＢ積分はこの画像処理回路２０で行われる。
【００２１】
２２は、メモリ制御回路であり、アナログ信号処理回路１５、タイミング発生回路１９、画像処理回路２０、メモリ３０及び圧縮・伸長回路３２を制御する。アナログ信号処理回路１５から送られるデータは、画像処理回路２０及びメモリ制御回路２２を介して、あるいは直接、メモリ制御回路２２を介して画像表示メモリ２４あるいはメモリ３０に書き込まれる。
【００２２】
２４は、画像表示メモリであり、２６は、Ｄ／Ａ変換器である。２８は、ＴＦＴ方式のＬＣＤからなる画像表示部である。画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データはＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８に表示される。撮像された画像データを画像表示部２８で逐次表示する場合は、電子ファインダ機能を実現することが可能である。
【００２３】
３０は、撮影された静止画像や動画像を格納するためのメモリである。また、メモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）などにより画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路であり、メモリ３０に格納された画像を読み出して圧縮処理あるいは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。
【００２４】
４０は、システム制御回路５０による制御に基づいて、絞り３１２を制御する絞り制御部３４０と連携しながらシャッタ１２を制御するシャッタ制御部である。５０は、画像処理装置１００全体を制御するシステム制御回路であり、シャッタ制御回路４０を介したシャッタ１２の制御や絞り制御部３４０を介した絞り制御を含めた一連の撮像動作を制御する。また、システム制御回路５０は不図示のＡＥ（自動露出）、ＡＦ（オートフォーカス）回路による各種動作などを、各種設定に従い制御する回路である。
【００２５】
９０及び９４は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体との第１及び第２のインターフェースであり、９２及び９６は、メモリカードやハードディスクなどの記録媒体との接続を行う第１及び第２の内側コネクタである。
【００２６】
９８は、第１の内側コネクタ９２、第２の内側コネクタ９６に第１及び第２の記録媒体２００、２１０が装着されているか否かを検知する記録媒体着脱検知部である。１２０は、内側レンズマウント１０６内で画像処理装置１００をレンズユニット３００と接続するための第５のインターフェースである。
【００２７】
１３０、１３２はそれぞれ第１及び第２のミラーであり、撮影レンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファインダ１０４に導く。第２のミラー１３２はクイックリターンミラーの構成にしてもハーフミラーの構成にしてもどちらでもよい。
【００２８】
２００は、メモリカードやハードディスクなどの第１の記録媒体である。第１の記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスクなどから構成される第１の記録部２０２、画像処理装置１００と接続するための第３のインターフェース２０４、及び画像処理装置１００との接続を行う第１の外側コネクタ２０６とを有している。
【００２９】
２１０は、第１の記録媒体２００と同様であり、メモリカードやハードディスク等の第２の記録媒体である。第２の記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される第２の記録部２１２、画像処理装置１００と接続するための第４のインターフェース２１４、及び画像処理装置１００との接続を行う第２の外側コネクタ２１６とを有している。
【００３０】
３００は、交換レンズタイプのレンズユニットである。３０６は、レンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結合する外側レンズマウントである。外側レンズマウント３０６内には、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機能が含まれている。
【００３１】
３１０は、撮影レンズであり、３１２は、絞りである。３２０は、外側レンズマウント３０６内でレンズユニット３００を画像処理装置１００と接続するための第６のインターフェースである。
【００３２】
３２２は、レンズユニット３００を画像処理装置１００と電気的に接続する第３の外側コネクタであり、画像処理装置１００の第３の内側コネクタ１２２と接続されている。第３の外側コネクタ３２２は、画像処理装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信号、データ信号などを伝え合うとともに、各種電流が供給され、あるいは電流を供給する機能を備えている。
【００３３】
３４０は、システム制御回路５０による制御に基づいて、シャッタ１２を制御するシャッタ制御部４０と連携しながら、絞り３１２を制御する絞り制御部である。３４２は、撮影レンズ３１０のフォーカシングを制御する測距制御部である。また、３４４は、撮影レンズ３１０のズーミングを制御するズーム制御部であり、３５０は、レンズユニット３００全体を制御するレンズシステム制御回路である。
【００３４】
次に図２乃至図６を参照して、本実施形態の動作を説明する。
図２は、本実施形態において、第１の例として水平ＯＢクランプを用いてダークレベルへのクランプを行う構成の撮像装置における撮像シーケンスを示すフローチャートである。
【００３５】
撮影開始に伴い、システム制御回路５０はタイミング発生回路１９を介して撮像素子１４における信号蓄積を開始させる（ステップＳ１０１）。次に、シャッタ１２が開閉することによって露光を行った後（ステップＳ１０２）、撮像素子１４における信号蓄積を終了させる（ステップＳ１０３）。
【００３６】
次に、水平ＯＢ部において先頭行から読出しを始める（ステップＳ１０４）。そして、アナログ信号処理回路１５は、行の読出しにおける水平ＯＢ部の読出し時に水平ＯＢ部を出力する際の光漏れを検出する（ステップＳ１０５）。次に、その検出結果に基づいて水平ＯＢクランプにおいてダーククランプに使用するダークレベルを設定する（ステップＳ１０６）。
【００３７】
アナログ信号処理回路１５は、ステップＳ１０６で求めたダークレベルが所定値になるようにクランプを施しながら、有効画素部の行読出しを行う（ステップＳ１０７）。有効画素部の行読出しが完了したら、その行が最終行であるかを判定する（ステップＳ１０８）。この判定の結果、最終行である場合は、一連の撮影動作を終了する。一方、ステップＳ１０８の判定の結果、最終行でない場合は、ステップＳ１０４に戻り、次の行の読出しを行う。
【００３８】
図３は、本実施形態において、第２の例として水平ＯＢ部の平均出力値をもってダークレベルとし、水平ＯＢ積分によってダーククランプを行う構成の撮像装置における撮像シーケンスを示すフローチャートである。
撮影開始に伴い、システム制御回路５０はタイミング発生回路１９を介して撮像素子１４における信号蓄積を開始させる（ステップＳ２０１）。次に、シャッタ１２が開閉することによって露光を行った後（ステップＳ２０２）、撮像素子１４における信号蓄積を終了させる（ステップＳ２０３）。
【００３９】
次に、アナログ信号処理回路１５を介して蓄積された信号を読出し（ステップＳ２０４）、一旦メモリ３０に格納する。そして、画像処理回路２０は、メモリ３０に格納された取得画像に対し、各行における水平ＯＢ部への光漏れを検出し（ステップＳ２０５）、その結果、光漏れが発生しているか否かを判定する（ステップＳ２０６）。
【００４０】
この判定の結果、光漏れが発生していない場合は、ＯＢ積分領域として有効画素領域に近い第１のＯＢ積分領域を選択する（ステップＳ２０７）。一方、ステップＳ２０６の判定の結果、光漏れが発生している場合は、第１のＯＢ積分領域よりも有効画素領域から離れた第２のＯＢ積分領域をＯＢ積分領域として設定する（ステップＳ２０８）。
【００４１】
次に、設定されたＯＢ積分領域の出力レベルの算出結果からダークレベルを求める（ステップＳ２０９）。そして最後に、画像処理回路２０により、ダークレベルが所定値となるように画面全体のレベルのオフセットを施し（ステップＳ２１０）、一連の撮影動作を終了する。
【００４２】
図４は、図２のステップＳ１０５及び図３のステップＳ２０５における水平ＯＢ部への光漏れの有無を検出するシーケンスのフローチャートである。
まず、各行において、複数に分割した領域それぞれの平均出力値を算出し（ステップＳ３０１）、その複数領域の平均出力値のばらつきが所定範囲内に収まっているか否かを判定する（ステップＳ３０２）。この判定の結果、平均出力値のばらつきが所定範囲内に収まっている場合は、その行においてはＯＢ部への光漏れは発生していないと判断する（ステップＳ３０５）。
【００４３】
一方、ステップＳ３０２の判定の結果、複数領域の平均出力値のばらつきが予め定められた範囲を超えていた場合は、続けて、各領域の平均出力値が、有効画素領域に近い領域ほど大きくなっているか否かを判定する（ステップＳ３０３）。この判定の結果、有効画素領域に近い領域ほど平均出力値が大きくなっている場合は、その行においてＯＢ部への光漏れが発生していると判断する（ステップＳ３０４）。
【００４４】
一方、ステップＳ３０３の判定の結果、有効画素領域に近い領域ほど平均出力値が大きくなっていない場合は、その行におけるＯＢ部への光漏れは発生していないと判断する（ステップＳ３０５）。そして、ステップＳ３０４、ステップＳ３０５におけるＯＢ部への光漏れの有無の判定がなされたところで、水平ＯＢ部への光漏れ検出ルーチンを終了する。
【００４５】
図５は、図２のステップＳ１０６におけるＯＢクランプレベルの設定手順の一例を示すフローチャートである。
ＯＢクランプレベル設定ルーチンの開始に伴い、まず光漏れの有無を判定する（ステップＳ４０１）。この判定の結果、光漏れが発生していない場合は、水平ＯＢクランプ領域として有効画素領域に近い第１のＯＢクランプ領域を選択する（ステップＳ４０２）。一方、ステップＳ４０１の判定の結果、光漏れが発生している場合は、第１のＯＢクランプ領域よりも有効画素領域から離れた第２のＯＢクランプ領域を選択する（ステップＳ４０３）。そして、ステップＳ４０２、ステップＳ４０３で設定されたＯＢクランプ領域の出力値を算出する（ステップＳ４０４）。次に、その行のＯＢクランプレベルを設定し（ステップＳ４０５）、ＯＢクランプレベル設定ルーチンを終了する。
【００４６】
図６は、図２のステップＳ１０６における図５のフローチャートとは異なるＯＢクランプレベル設定手順の一例を説明するフローチャートである。
ＯＢクランプレベル設定ルーチンの開始に伴い、まず光漏れの有無を判定する（ステップＳ５０１）。
【００４７】
この判定の結果、光漏れが発生していない場合は、水平ＯＢクランプ領域として予め定められた領域における出力値を算出する（ステップＳ５０２）。次に、その値を、その行のＯＢクランプレベルを設定し（ステップＳ５０３）、ＯＢクランプレベル設定ルーチンを終了する。一方、ステップＳ５０１の判定の結果、光漏れが発生している場合には、ＯＢクランプレベルを更新することなく、そのままＯＢクランプレベル設定ルーチンを終了する。
【００４８】
図７は、本実施形態におけるＯＢ部の傾斜（変化）検出方法の一例を詳細に説明する図である。
図７に示すグラフはある行の出力レベルを表している。横軸は水平方向のアドレスであり、特に水平ＯＢ部を中心に表記している。また、縦軸は出力レベルである。図７では、水平ＯＢ部に近い有効画素領域に大きな入射光量があるために、水平ＯＢ部へ光漏れが発生し、水平ＯＢ内での出力レベルが有効画素に近い領域ほど大きくなるような傾斜を有している状態を表している。
【００４９】
この図７を用いて説明する傾斜検出方法においては、水平ＯＢ部を（１）〜（５）の５つのブロックに分割し、それぞれのブロックにおける平均出力値を算出する。そして、各ブロックの平均出力値が所定範囲内に収まっているか否かを判定する。この判定の結果、所定範囲内に収まっていないブロックが存在し、かつ、各ブロックの値が有効画素領域に近いほど値が大きい場合には、「光漏れによるＯＢ浮き」が発生していると判定する。
【００５０】
図２〜図６のフローチャートにおいて、通常時は周辺回路の発熱等の影響を受けやすいブロック（１）と、光漏れの影響の受けやすいブロック（５）を除いた、ブロック（２）、（３）、（４）の領域の出力値の平均値をもってダークレベルとする。そして、水平ＯＢクランプもしくは水平ＯＢ積分を行うが、前記水平ＯＢ部の傾斜検出の結果「光漏れによるＯＢ浮き」が発生していると判定された場合には、判定結果に応じてダークレベルを定める領域を変更する。
【００５１】
詳細に説明すると、図２及び図５を用いて説明した第１の例においては、水平ＯＢ部傾斜検出時所定範囲内に収まっていると算出されたブロック（１）〜（３）の領域の平均出力値をもってダークレベルとする。そして、図３で説明した第２の例においては、例えば有効画素領域から離れているブロック（１）、（２）の領域の平均出力値をもってダークレベルとして水平ＯＢクランプもしくは水平ＯＢ積分を行う。
【００５２】
図２及び図６で説明した第１の例の別の形態においては、「光漏れによるＯＢ浮き」が発生していると判定された行に対してはその行の水平ＯＢ部からはダークレベルを求めない。代わりに、ＯＢ浮き発生直前の行のダークレベルを用いて、その行のダークレベルと定めて、水平ＯＢクランプを行う。また、水平ＯＢ積分の場合は、「光漏れによるＯＢ浮き」が発生している行を除いて算出する。
【００５３】
なお、本実施形態においては水平ＯＢ部を５分割したが、より多くのブロックに分割することにより、より分解能の高い傾斜の検出も可能である。また、より少ない分割数として各ブロックの領域を広げることによって、ランダムノイズやキズなどの影響による誤判定の可能性を減らすことも可能である。
【００５４】
以上、図１〜図７を用いて本実施形態の説明を行った。
なお、本実施形態においては、水平ＯＢの出力をクランプするために、水平ＯＢ部の傾斜を検出して水平ＯＢ部への光漏れを求めたが、垂直ＯＢの出力をクランプするために、垂直ＯＢ部の傾斜を検出して垂直ＯＢ部への光漏れを求めてもよい。勿論、水平及び垂直の両ＯＢともモニタする構成としても問題ない。
【００５５】
また、本実施形態の説明においては、ＯＢクランプレベルの算出及び設定を行う際に、図３を用いて説明したＯＢ積分領域の設定及び、図５，図６を用いて説明した水平ＯＢクランプ領域の設定において、光漏れが発生しているときと発生していないときとのそれぞれに対応する２つの領域から一方を選択するという構成として説明したが、ＯＢクランプレベル算出の領域として３つ以上の領域から選択するような構成としても問題ない。例えば、図４においてＯＢ領域内の出力の傾斜を検出する際に使用した複数の分割領域の出力値をもとに、異常出力となっていない分割領域の全てもしくは一部をＯＢクランプレベル算出領域として設定し、その領域の平均出力値をＯＢクランプレベルとするような構成としても問題ない。
【００５６】
なお、第１及び第２の記録媒体２００、２１０は、PCMCIAカードやコンパクトフラッシュ（登録商標）等のメモリカード、ハードディスク等だけでない。マイクロDAT、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷ等の光ディスク、ＤＶＤ等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論問題無い。
【００５７】
また、第１及び第２の記録媒体２００、２１０がメモリカードとハードディスク等が一体となった複合媒体であっても勿論問題無い。さらに、その複合媒体から一部が着脱可能な構成としても勿論問題無い。
【００５８】
そして、本実施形態の説明においては、第１及び第２の記録媒体２００、２１０は画像処理装置１００と分離していて任意に接続可能なものとして説明したが、いずれか或いは全ての記録媒体が画像処理装置１００に固定したままとなっていても勿論問題無い。
【００５９】
また、第１の記録媒体２００または第２の記録媒体２１０が、画像処理装置１００に単数或いは複数接続可能な構成であっても構わない。そして、第１及び第２の記録媒体２００、２１０が画像処理装置１００に装着する構成として説明したが、記録媒体は単数或いは複数の何れの組み合わせの構成であっても、勿論問題無い。
【００６０】
（本発明に係る他の実施形態）
前述した本発明の実施形態における撮像装置を構成する各手段、並びに撮像装置の制御方法の各工程は、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び前記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は本発明に含まれる。
【００６１】
また、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラムもしくは記録媒体等としての実施形態も可能であり、具体的には、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
【００６２】
なお、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム（実施形態では図２〜６に示すフローチャートに対応したプログラム）を、システムまたは装置に直接、または遠隔から供給する。そして、そのシステムまたは装置のコンピュータが前記供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。
【００６３】
したがって、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、前記コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。
【００６４】
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等の形態であってもよい。
【００６５】
プログラムを供給するための記録媒体としては、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスクなどがある。さらに、ＭＯ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ、ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ）などもある。
【００６６】
その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続する方法がある。そして、前記ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。
【００６７】
また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるＷＷＷサーバも、本発明に含まれるものである。
【００６８】
また、その他の方法として、本発明のプログラムを暗号化してＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせる。そして、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。
【００６９】
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される。さらに、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが、実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得る。
【００７０】
さらに、その他の方法として、まず記録媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。そして、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現される。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の第１の実施形態における機能構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態において、主ルーチンの第１の例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第１の実施形態において、主ルーチンの第２の例を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態における光漏れを検知する処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図５】本発明の第１の実施形態におけるＯＢクランプレベルを設定する処理手順の第１の例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第１の実施形態におけるＯＢクランプレベルを設定する処理手順の第２の例を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第１の実施形態におけるＯＢ部の傾斜検出方法の一例を示す図である。
【図８】従来の問題例を説明する図である。
【図９】従来例によって解決できない問題例を説明する図である。
【図１０】従来例によって解決できない他の問題例を説明する図である。
【符号の説明】
【００７２】
１２  シャッタ
１４  撮像素子
１５  アナログ信号処理回路
１６  ＣＤＳ部
１７  ＰＧＡ部
１８  Ａ／Ｄ変換部
１９  タイミング発生回路
２０  画像処理回路
２２  メモリ制御回路
２４  画像表示メモリ
２６  Ｄ／Ａ変換器
２８  画像表示部
３０  メモリ
３２  圧縮・伸長回路
４０  シャッタ制御部
５０  システム制御回路
９０  第１のインターフェース
９２  第１の内側コネクタ
９４  第２のインターフェース
９６  第２の内側コネクタ
９８  記録媒体着脱検知部
１００  画像処理装置
１０４  光学ファインダ
１０６  内側レンズマウント
１２０  第５のインターフェース
１２２  第３の内側コネクタ
１３０  第１のミラー
１３２  第２のミラー
２００  第１の記録媒体
２０２  第１の記録部
２０４  第３のインターフェース
２０６  第１の外側コネクタ
２１０  第２の記録媒体
２１２  第２の記録部
２１４  第４のインターフェース
２１６  第２の外側コネクタ
３００  レンズユニット
３０６  外側レンズマウント
３１０  撮影レンズ
３１２  絞り
３２０  第６のインターフェース
３２２  第３の外側コネクタ
３４０  絞り制御部
３４２  測距制御部
３４４  ズーム制御部
３５０  レンズシステム制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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