(57)【要約】【課題】  転写するドラム外周ブランケット上インキのムラの有無を検知できるムラ検査装置を提供すること。【解決手段】  印刷方式のカラーフィルタ製造工程において、インキ転写用ブランケット面上にインキ塗工ムラがあった場合、転写されたガラス基板もインキ塗工ムラを有するパターンが形成される。欠陥を有するガラス基板は洗浄工程へ回さなければならない。このため転写前のブランケット面をラインカメラ４で撮像し、ブランケット面にインキ塗工ムラがある場合は、印刷機を停止させ、ブランケット洗浄工程へ移行させ、またはブランケット洗浄工程へ移行させるための信号を出力する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
反転印刷方式透明着色膜製造時における、転写用回転ドラム外周ブランケット面のインキ塗工ムラを検出するムラ検査装置であって、
前記転写用回転ドラム外周ブランケット面に対し均一光を照射する照明部と、
前記転写用回転ドラム外周ブランケット面を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置により前記転写用回転ドラム外周ブランケット面を撮像することで得られる画像データをもとに、前記転写用回転ドラム外周ブランケット面のインキ塗工ムラを判定する判定部と、
を備えたことを特徴とするムラ検査装置。
【請求項２】
前記転写用回転ドラム外周ブランケットは、前記照明部から照射された均一光に対し拡散性を有していることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記撮像装置は暗視野照明で撮像することを特徴とする請求項２記載のムラ検査装置。
【請求項４】
前記撮像装置は正反射照明で撮像することを特徴とする請求項２記載のムラ検査装置。
【請求項５】
少なくともインキと同じ色の波長帯域を含む光を発する光源と、照射された光のうちのインキを透過させる波長帯域のみを透過させるフィルタとを備えることを特徴とする請求項３または４記載のムラ検査装置。
【請求項６】
前記判定部は、暗視野照明または正反射照明で撮像することにより得られた画像に対し、画像を縦方向にプロジェクションを取り、移動平均との差が閾値を越えた場合に欠陥とみなすことを特徴とする請求項３、４または５記載のムラ検査装置。
【請求項７】
前記判定部が欠陥とみなした直後または転写前に印刷機を停止させる機能と、ブランケット洗浄工程へ移行させる機能または移行させる信号を出力する機能を具備することを特徴とする請求項６記載のムラ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反転印刷方式透明着色膜製造工程における、転写用回転ドラム外周ブランケット面インキ塗工時のムラを検出するムラ検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のムラ検査装置、例えばカラーフィルタのＢＭを除く色検査機にはガラス基板にインキを塗工した後に検査するものがある（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−２２３４３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従って、従来のムラ検査装置では、反転印刷の場合、塗工する前の版にインキムラが生じている場合、転写したガラス基盤にも同様のムラが形成されてしまうという課題があった。
【０００４】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、転写するドラム外周ブランケット上インキのムラの有無を検知できるムラ検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明のムラ検査装置は、反転印刷方式透明着色膜製造時における、転写用回転ドラム外周ブランケット面のインキ塗工ムラを検出するムラ検査装置であって、前記転写用回転ドラム外周ブランケット面に対し均一光を照射する照明部と、前記転写用回転ドラム外周ブランケット面を撮像する撮像装置と、前記撮像装置により前記転写用回転ドラム外周ブランケット面を撮像することで得られる画像データをもとに、前記転写用回転ドラム外周ブランケット面のインキ塗工ムラを判定する判定部とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明のムラ検査装置によれば、転写するドラム外周ブランケット上のインキムラの有無を検知でき、透明着色膜製造時における収率の改善が図れるムラ検査装置を提供できる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本実施の形態では、印刷方式のカラーフィルタ製造工程において、インキ転写用ブランケット面上にインキ塗工ムラがあった場合、転写されたガラス基板にもインキ塗工ムラを有するパターンが形成される。欠陥を有するガラス基板は洗浄工程へ回さなければならない。このため転写前のブランケット面をラインカメラで撮像し、ブランケット面にインキ塗工ムラがある場合は、印刷機を停止させ、ブランケット洗浄工程へ移行させ、またはブランケット洗浄工程へ移行させるための信号を出力する。
図１は、本実施の形態のムラ検査装置を説明するための印刷方式カラーフィルタ塗工装置と検査装置との概要を示す斜視図である。
回転ドラム１の外周にはブランケット２が巻かれており、回転する回転ドラム１に対しインキをノズルより噴射させることでブランケット２表面に均一にインキを塗工する。
【０００８】
インキがブランケット２表面上に均一に塗工されると、諸条件の下、回転ドラム１は、回転基準位置から転写基準位置へ移動し、ガラス基板３に転写する。
【０００９】
回転ドラム１が回転し、ブランケット２表面にインキ塗工を開始した後、インキ塗工開始地点を回転ドラム１のエンコーダから読み取った信号をもとに回転角度に換算し、ラインカメラ４により撮像開始する。
【００１０】
光源は、３波長直管型蛍光灯５を使用し、塗工面に均一光を照射する。ラインカメラ４の前面には、塗工されるインキと同色のバンドパスフィルタ６を装着し、このバンドパスフィルタ６を通過した光を取得する。
【００１１】
正反射照明の場合、インキ表面で正反射した光はＲＧＢ全ての光が反射するが、インキと同色のバンドパスフィルタ６を介在させているため、表面反射光としてはインキと同色の光を取得することとなる。そして、この表面反射光と、インキを通過しブランケット２表面で正反射し、インキを再び通過してくる光とが干渉し合い、インキムラが強調される。
【００１２】
暗視野照明の場合、インキ表面では光は反射されずインキ表面からは返って来ないが、インキを通過してブランケット下層で生じる散乱光から再度インキを通過してくる光を撮像することになる。これは、転写後のガラス基板を透過目視で見たものと同じような画像が得られる。
【００１３】
ラインカメラ４で取得したデータは、画像解析、欠陥判定装置７に転送され解析される。この結果、図２に示すような２次元配列データが得られる。
図２は、ラインカメラ４で取得したデータをもとに得られた２次元配列データの一例を示す図である。図中、符号８はスジ状のインキ塗工ムラを示している。
これを平均化フィルタまたはメディアンフィルタの１次フィルタを通し、垂直方向に輝度値を足し込み、垂直画素数で割ることで平均輝度の水平方向１次元配列データ、例えば図３の符号９で示す波形が得られ、ムラと異なる周波数帯で移動平均を取ったデータ波形として同図中の符号１０で示す波形との差分値を得る。これを図４の符号１１で示す波形とすれば、この波形の波高値が符号１２で示す閾値を越えた場合、欠陥すなわちインキムラと判定する。
図３は、前記平均輝度の水平方向１次元配列データの一例を示す波形図である。
図４は、前記差分値の一例を示す波形図である。
【００１４】
欠陥判定装置７により欠陥と判断された場合、直ちに回転ドラム１の回転または移動の停止信号を出力し、印刷機を停止させる。また、さらにブランケット２の洗浄工程へ移行する信号を出力しブランケット２表面を手動または自動にて洗浄する。
【００１５】
以上のように、本実施の形態のムラ検査装置が適用される反転印刷方式は、回転ドラム１に転写用のブランケット２が巻き付けられており、インキをブランケット２表面に均一に塗工し、諸条件の下、ドラムが移動、ガラス基板に転写してカラーフィルタを形成するものである。
また、ガラス基板に塗工する前に、転写用回転ドラム外周ブランケット面内にインキムラの有無を検査するものである。
また、下地に拡散性を有する白地ブランケットを回転ドラム外周に巻きつけた構成を備えている。
また、ブランケット面の撮像視野内を均一光照射し、インキ面を透過し、ブランケット２からの拡散光をラインカメラ４により取得するものである。
また、３波長直管型蛍光灯はＲＧＢにそれぞれ輝線の光量分布と均一光を併せ持つ。蛍光灯以外でもメタハラの場合は、光ファイバを通し、拡散板を通して照射させ、ＬＥＤの場合は、直列に並べ、ＬＥＤ前面に拡散板を取り付け、均一光を照射させる。これらを検査面に照射し、インキの透過する領域の波長帯域のみを透過させるバンドパスフィルタまたはダイクロイックフィルタといった光学フィルタをラインカメラ４のレンズ前面に取り付け、ブランケット面からの散乱光によるインキ透過光を取得するムラ検査装置である。
また、ブランケット面の撮像視野内を均一光照射し、インキ面を透過し、下地白色ブランケットからの透過光と、インキ表面の反射光をラインカメラ４により取得するものである。
また、３波長直管型蛍光灯はＲＧＢにそれぞれ輝線の光量分布と均一光を併せ持つ。また蛍光灯以外でもメタハラの場合は、光ファイバを通し、拡散板を通して照射させ、ＬＥＤの場合は、直列に並べ、ＬＥＤ前面に拡散板を取り付け、均一光を照射させる。これらを検査面に照射し、インキの透過する領域の波長帯域のみを透過させるバンドパスフィルタまたはダイクロイックフィルタといった光学フィルタをラインカメラ４のレンズ前面に取り付け、インキ面を透過し、下地白色ブランケット面からの透過光と、インキ表面の反射光を取得するムラ検査装置である。
【００１６】
また、ブランケット面の撮像視野内を均一光照射したときの、インキ面を透過した下地白色ブランケットからの拡散光から得られた画像、またはインキ面を透過した下地白色ブランケットからの透過光と、インキ表面の反射光とから得られた画像に対し、画像の縦方向にプロジェクションを取り、１次元配列データとし、これの移動平均との差が閾値を越えた場合、欠陥とみなすようにしたものである。
また、ブランケット面からの散乱光によるインキ透過光を取得するムラ検査装置、インキ面を透過し、下地白色ブランケット面からの透過光と、インキ表面の反射光を取得するムラ検査装置であって、ムラを有すると判断した場合、回転ドラムを直ちに停止させ、洗浄工程へ推移させる機能、または洗浄工程へ推移させるための信号を出力する機能を具備するものである。
【００１７】
以上、説明したように、本実施の形態によれば、ガラス基板にインキを塗工する前の工程、すなわち転写前のドラム外周ブランケット上のインキムラの有無を検知でき、カラーフィルタ製造時における収率の改善を図れるムラ検査装置を提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施の形態のムラ検査装置を説明するための印刷方式カラーフィルタ塗工装置と検査装置との概要を示す斜視図である。
【図２】本実施の形態のムラ検査装置におけるラインカメラで取得したデータをもとに得られた２次元配列データの一例を示す図である。
【図３】本実施の形態のムラ検査装置における平均輝度の水平方向１次元配列データの一例を示す波形図である。
【図４】本実施の形態のムラ検査装置における差分値の一例を示す波形図である。
【符号の説明】
【００１９】
１……回転ドラム、２……ブランケット、３……ガラス基板、４……ラインカメラ（撮像装置）、５……直管型蛍光灯（照明部）、６……バンドパスフィルタ、７……欠陥判定装置（判定部）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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