(57)【要約】【課題】記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行う。【解決手段】記録中に記録面からの反射光に基づいて欠陥検出を同時に行い（ステップ４１１、４１３）、欠陥が検出されると、一旦記録を中断し（ステップ４１９）、欠陥の大きさを計測する（ステップ４２１）。そして、欠陥の大きさが予め設定されている大きさを超えているときには、欠陥を回避した位置から記録を再開し（ステップ４３１、４３２）、一方、、欠陥の大きさが予め設定されている大きさ以下のときには、中断した位置から記録を再開する（ステップ４４１）。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、
記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かを判断する工程と；
前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する工程と；
前記検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する工程と；を含む記録方法。
【請求項２】
前記検出された欠陥の大きさが、前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する工程を、更に含むことを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項３】
前記欠陥の回避により生じた未記録領域にダミーデータを記録する工程を、更に含むことを特徴とする請求項２に記載の記録方法。
【請求項４】
前記欠陥の領域に関する情報を前記光ディスクに記録する工程を、更に含むことを特徴とする請求項２又は３に記載の記録方法。
【請求項５】
前記欠陥があるか否かを判断する工程では、前記反射光の光量低下が予め設定されている時間以上、継続したときに、欠陥があると判断することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録方法。
【請求項６】
前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のいずれかを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録方法。
【請求項７】
前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のうち大きいほうを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録方法。
【請求項８】
前記欠陥の大きさを検出する工程では、前記光ディスクの半径方向に、少なくとも１トラック分だけトラックジャンプしつつ、前記欠陥の大きさを検出することを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項に記載の記録方法。
【請求項９】
スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置であって、
光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置と；
記録中に、前記光電変換信号に基づいて欠陥の有無を監視し、欠陥が検出されると記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開させる処理装置と；を備える光ディスク装置。
【請求項１０】
前記処理装置は、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開させることを特徴とする請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記光ディスクに記録される記録用データが一時的に蓄積されるバッファメモリを更に備え、
前記処理装置は、欠陥が検出されたときに前記バッファメモリに蓄積されている記録用データのデータ量が予め設定されている値よりも少ない場合に記録を一時的に中断することを特徴とする請求項９又は１０に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置を有し、光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
前記光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断する手順と；
前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する手順と；
前記検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較する手順と；
前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１３】
前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項１２に記載のプログラム。
【請求項１４】
請求項１２又は１３に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体に係り、更に詳しくは、情報を光ディスクに記録する記録方法及び該記録方法の実施に好適な光ディスク装置、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学的あるいは磁気的に情報が記録される各種のディスク状メディアが広く普及しており、これらは一般的に、光ディスクと総称されている。光ディスクの種類としては、音楽用ＣＤやＣＤ−ＲＯＭ、あるいはＤＶＤ−ＲＯＭのように情報が予め記録されているものの他に、一度だけ書き込みが可能な追記型光ディスク、及び書き換えが可能な書換型光ディスクがある。
【０００３】
追記型光ディスクや書換型光ディスクのように記録可能な光ディスクでは、その記録面にスポット状に絞りこんだレーザ光を照射し、非常に小さなマーク（記録マーク）を形成することで情報を高密度に記録している。しかしながら、高密度ゆえに、記録面上の僅かな欠陥によっても失われる情報量は非常に大きい。また、光ディスクは交換媒体であるため劣悪な環境に置かれることが多く、製造上の先天的な欠陥に加え、ゴミ、ホコリ、油、キズなどによる後天的な欠陥の発生が否めない。そこで、欠陥領域があると、その領域を回避して情報を記録している。
【０００４】
欠陥領域を回避する方法としては大きく二つの方法がある。記録後に情報が正常に読み出せるかどうかをチェックするいわゆるベリファイ動作により行う方法と、サーティファイ動作やフォーマット動作による記録前の欠陥チェックで欠陥領域を予め把握しておく方法である。簡単に言うと記録後に欠陥を検出する方法と記録前に欠陥を検出する方法である。これら２つの方法は、光ディスクが書き換え可能か否かや記録フォーマットなどにより使い分けられ、また併用されることもある。
【０００５】
例えばＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合には、情報の記録前に検出された欠陥はＰＤＬ(Primary Defect List)に登録され、欠陥のあるセクタを飛ばして記録再生するスリッピングと呼ばれる処理が行われ、情報の記録後に検出された欠陥はＳＤＬ(Secondary Defect List)に登録され、各ゾーンのスペア領域に記録再生するリプレースメントと呼ばれる処理が行われる。
【０００６】
しかしながら、記録後に欠陥を検出する方法は、確実で信頼性は高いが、記録に要する時間（以下、「記録時間」と略述する）が増大し、その結果として記録速度が低下し、例えば、放送番組のビデオ録画の際に、情報の欠損が生じない最低の記録速度を確保するのが困難となる場合があるいう不都合があった。また、記録前に欠陥を検出する方法は、記録速度の低下は小さいが、欠陥をチェックした後に生じた欠陥に対応できなかったり、すぐに記録を開始できないという不都合があった。
【０００７】
そこで、処理の短縮化や省略化などの方法がいろいろ提案された（例えば、特許文献１及び特許文献２参照）。特許文献１では、記録前に行うサーティファイに時間がかかることを問題視し、所定トラックの小さな領域を記録に先立って欠陥検査することで記録前の処理時間を最小にする方法が開示されている。特許文献２では、欠陥検査を高速な粗検査と正確な微検査とに分けて行うことで記録前の処理時間を短縮する方法が開示されている。
【０００８】
しかしながら、特許文献１に開示されている方法では、記録中に記録・再生を繰り返して欠陥チェックを行う方法と基本的に同じであり、記録速度が大幅に低下する場合があった。また、特許文献２に開示されている方法では、記録開始前の処理時間を要求されるレベルまで短縮できない場合があった。
【０００９】
【特許文献１】特開２０００−２９８８３号公報
【特許文献２】特開２００３−１９６８２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことができる記録方法を提供することにある。
【００１１】
また、本発明の第２の目的は、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１２】
また、本発明の第３の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことを可能とするプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
請求項１に記載の発明は、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かを判断する工程と；前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する工程と；前記検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する工程と；を含む記録方法である。
【００１４】
これによれば、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する際に、記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かが判断され、その判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、欠陥の大きさが検出される。そして、検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。すなわち、トラック上に欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
【００１５】
この場合において、請求項２に記載の記録方法の如く、前記検出された欠陥の大きさが、前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する工程を、更に含むこととすることができる。
【００１６】
この場合において、請求項３に記載の記録方法の如く、前記欠陥の回避により生じた未記録領域にダミーデータを記録する工程を、更に含むこととすることができる。
【００１７】
上記請求項２及び３に記載の各記録方法において、請求項４に記載の記録方法の如く、前記欠陥の領域に関する情報を前記光ディスクに記録する工程を、更に含むこととすることができる。
【００１８】
上記請求項１〜４に記載の各記録方法において、請求項５に記載の記録方法の如く、前記欠陥があるか否かを判断する工程では、前記反射光の光量低下が予め設定されている時間以上、継続したときに、欠陥があると判断することとすることができる。
【００１９】
上記請求項１〜５に記載の各記録方法において、請求項６に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のいずれかを前記欠陥の大きさとすることとすることができる。
【００２０】
上記請求項１〜５に記載の各記録方法において、請求項７に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のうち大きいほうを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録方法。
【００２１】
上記請求項１〜７に記載の各記録方法において、請求項８に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、前記光ディスクの半径方向に、少なくとも１トラック分だけトラックジャンプしつつ、前記欠陥の大きさを検出することとすることができる。
【００２２】
請求項９に記載の発明は、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置であって、光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置と；記録中に、前記光電変換信号に基づいて欠陥の有無を監視し、欠陥が検出されると記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開させる処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００２３】
これによれば、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する際に、処理装置により記録中に、光電変換信号に基づいて欠陥の有無が監視されており、欠陥が検出されると記録が一時的に中断され、欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。そこで、トラック上に欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
【００２４】
この場合において、請求項１０に記載の光ディスク装置の如く、前記処理装置は、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開させることとすることができる。
【００２５】
上記請求項９及び１０に記載の各光ディスク装置において、請求項１１に記載の光ディスク装置の如く、前記光ディスクに記録される記録用データが一時的に蓄積されるバッファメモリを更に備え、前記処理装置は、欠陥が検出されたときに前記バッファメモリに蓄積されている記録用データのデータ量が予め設定されている値よりも少ない場合に記録を一時的に中断することとすることができる。
【００２６】
請求項１２に記載の発明は、光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置を有し、光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断する手順と；前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する手順と；前記検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較する手順と；前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００２７】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断し、その判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、欠陥の大きさを検出する。そして、検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較し、その比較の結果、欠陥の大きさが上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに請求項１に記載の発明に係る記録方法を実行させることができ、これにより、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
【００２８】
この場合において、請求項１３に記載のプログラムの如く、前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
【００２９】
請求項１４に記載の発明は、請求項１２又は１３に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００３０】
これによれば、請求項１２又は１３に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図６に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００３２】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、モータ制御回路２６、ＰＵ制御回路２７、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における接続線は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、一例として、ＤＶＤ系の記録可能な光ディスクが光ディスク１５に用いられるものとする。
【００３３】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、その記録面からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置２３は、波長が６６０ｎｍのレーザ光を出射する光源、該光源からの光を記録面に集光する対物レンズ、記録面で反射され対物レンズを介した戻り光を受光する受光器、及び対物レンズをフォーカス方向及びトラッキング方向に微小駆動する駆動系（いずれも図示省略）などを備えている。
【００３４】
前記再生信号処理回路２８は、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ及び欠陥検出回路２８ｆなどから構成されている。
【００３５】
前記Ｉ／Ｖアンプ２８ａは、光ピックアップ装置２３の受光器の出力信号（光電変換信号）を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。
【００３６】
前記サーボ信号検出回路２８ｂは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号などのサーボ信号を検出する。
【００３７】
前記ウォブル信号検出回路２８ｃは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。
【００３８】
前記ＲＦ信号検出回路２８ｄは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。
【００３９】
前記デコーダ２８ｅは前記ウォブル信号からアドレス情報、同期情報などを抽出する。また、デコーダ２８ｅは前記ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。
【００４０】
前記欠陥検出回路２８ｆは、一例として図２に示されるように、Ｉ／Ｖアンプ２８ａを介した光ピックアップ装置２３の受光器の出力信号を全て加算し、所定のゲインで増幅する増幅器ｆ１と、該増幅器ｆ１の出力信号に含まれる高周波成分を除去するローパスフィルタｆ２と、ローパスフィルタｆ２の出力信号と所定のスライスレベルとを比較し、その比較結果を出力するコンパレータｆ３と、トラックのスパイラル方向又は円周方向（以下便宜上、「トラック方向」という）に関する欠陥の大きさを検出するためのタイマカウンタｆ４と、を含んでいる。なお、増幅器ｆ１のゲインは可変であり、ローパスフィルタｆ２の出力レベルがほぼ一定となるように調整される。また、スライスレベルは、欠陥を精度良く検出できるように、予め適切な値に設定されている。
【００４１】
例えば、図３（Ａ）に示されるように、走査対象のトラック（以下、「走査トラック」と略述する）上に欠陥があると、記録面からの反射光の光量は、記録時には一例として図３（Ｂ）に示されるように、欠陥のない部分では変調されたレーザ光に応じた光量となり、欠陥部分では反射率の低下により低い光量となる。また、記録が中断されている時には、一定の低い発光パワーで光源を駆動するため、一例として図３（Ｃ）に示されるように、欠陥のない部分は一定光量となり、欠陥部分は、欠陥のない部分よりも少し低い光量となる。そこで、ローパスフィルタｆ２の出力レベル（図３（Ｄ））が記録時と記録中断時とでほぼ同じ（図３（Ｄ））となるように増幅器ｆ１のゲインが調整される。なお、未記録トラックに欠陥がある場合には、反射光量は図３（Ｃ）と同様なレベルとなる。そして、ローパスフィルタｆ２の出力信号はコンパレータｆ３で二値化され、コンパレータｆ３の出力信号は、一例として図３（Ｅ）に示されるように、パルス信号となる。従って、パルス信号におけるパルス幅はトラック方向に関する欠陥の大きさに対応することとなる。このパルス信号は、タイマカウンタｆ４のゲート端子及びＣＰＵ４０の割り込み端子に出力される。なお、増幅器ｆ１のゲイン調整は、ＣＰＵ４０の指示によって行われる。
【００４２】
タイマカウンタｆ４は、パルス信号が入力されると、パルス信号の立ち上がりのタイミングに同期してカウント値が０リセットされ、カウントアップを開始する。そして、一定時間毎にカウント値を＋１し、パルス信号の立ち下がりのタイミングに同期してカウントアップを停止する。従って、カウント値はパルス幅の大きさ、すなわち、トラック方向に関する欠陥の大きさに応じた値となる。なお、タイマカウンタｆ４のカウント値はＣＰＵ４０から読出し可能である。
【００４３】
前記ＰＵ制御回路２７は、サーボ信号検出回路２８ｂからのサーボ信号に基づいてフォーカスずれやトラックずれを補正するための制御信号を生成し、光ピックアップ装置２３の駆動系に出力する。
【００４４】
前記モータ制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、スピンドルモータ２２及びシークモータ２１をそれぞれ駆動制御する。
【００４５】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００４６】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加等を行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。
【００４７】
前記レーザ制御回路２４は、光ピックアップ装置２３から出射されるレーザ光のパワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録条件、及び光源の発光特性などに基づいて、光源の駆動信号が生成される。
【００４８】
前記インターフェース３８は、上位装置（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）、及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）などの標準インターフェースに準拠している。
【００４９】
前記フラッシュメモリ３９には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された本発明に係るプログラムを含む各種プログラム、記録条件及び光源の発光特性などが格納されている。
【００５０】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９に格納されているプログラムに従って上記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１に保存する。
【００５１】
《記録処理》
次に、上位装置から記録要求があったときの、光ディスク装置２０における処理について図４を用いて説明する。図４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。上位装置から記録要求コマンドを受信すると、フラッシュメモリ３９に格納されている図４のフローチャートに対応するプログラム（以下「記録処理プログラム」という）の先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。なお、上位装置からの記録用データは、一例として録画データのようなストリーミングデータであるものとする。
【００５２】
最初のステップ４０１では、記録中断が禁止されているか否かを示す記録中断禁止フラグｆに、記録中断が禁止されていないことを意味する「０」を設定する。
【００５３】
次のステップ４０３では、所定の線速度（又は角速度）で光ディスク１５が回転するようにモータ制御回路２６に指示するとともに、上位装置から記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【００５４】
次のステップ４０５では、指定アドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、モータ制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
【００５５】
次のステップ４０７では、記録を許可する。これにより、エンコーダ２５、レーザ制御回路２４、及び再生信号処理回路２８などにより、記録動作が開始され、前述のようにして記録用データに対応した情報が順次、光ディスク１５の記録面に記録される。また、増幅器ｆ１のゲインを記録時のゲインに調整する。
【００５６】
次のステップ４０９では、記録要求コマンドで指定されたデータ量と、現時点までに記録されたデータ量とを比較し、記録が完了しているか否かを判断する。記録が完了していなければ、ここでの判断は否定され、ステップ４１１に移行する。
【００５７】
このステップ４１１では、タイマカウンタｆ４のカウント値ｃを読出す。
【００５８】
次のステップ４１３では、カウント値ｃと予め設定されている閾値Ｎとを比較して、欠陥が検出されたか否かを判断する。カウント値ｃが閾値Ｎ以上であれば、欠陥が検出されたと判断され、ステップ４１５に移行する。すなわち、ここでは、記録面からの反射光量を低下させる要因（例えば、後天的なものとしてはゴミ、ホコリ、油、キズなど）のトラック方向に関する大きさが、予め設定されている値以上のものを欠陥とみなしている。
【００５９】
このステップ４１５では、記録中断禁止フラグｆが１であるか否かを判断する。記録中断禁止フラグｆが１でなければ、ここでの判断は否定され、ステップ４１７に移行する。
【００６０】
このステップ４１７では、バッファマネージャ３７を介して、現在バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データのデータ量を取得し、予め設定されている上限値Ｍ以上であるか否かを判断する。記録用データの蓄積量が上限値Ｍ以上でなければ、ここでの判断は否定され、ステップ４１９に移行する。
【００６１】
このステップ４１９では、エンコーダ２５、レーザ制御回路２４、及び再生信号処理回路２８などに記録の中断を指示する。
【００６２】
次のステップ４２１では、増幅器ｆ１のゲインを記録中断時のゲインに調整し、欠陥の規模情報として、トラック方向に関する欠陥の最大の長さ（以下便宜上、「欠陥の長さｄ」という）を算出する。具体的には、そのままトラッキングを続け、記録中断位置を基点として１回転毎に、周回トラック数をカウントアップするとともに、タイマカウンタｆ４のカウント値ｃを読出してＲＡＭ４１に順次保存する。そして、１回転しても欠陥検出回路２８ｆからの割込みが発生しなくなると、欠陥領域を越えたと判断し、ＲＡＭ４１に保存されているカウント値ｃの最大値と、アドレスから求めた半径位置と、スピンドルモータ２２の回転数から求めた線速度とから、欠陥の長さｄを算出する。
【００６３】
次のステップ４２３では、欠陥の長さｄが予め設定されている閾値Ｌ（例えば０．５ｍｍ）を超えているか否かを判断する。欠陥の長さｄが閾値Ｌを超えていれば、ここでの判断は肯定されステップ４３１に移行する。なお、閾値Ｌは、再生に影響しない欠陥の長さの上限値であり、実験、及びシミュレーションなどにより予め取得されている。
【００６４】
このステップ４３１では、欠陥領域を回避した位置を算出する。具体的には、記録を中断した位置の物理アドレスに、前記周回トラック数分のＥＣＣブロック単位のセクタ数を加算し、得られた物理アドレスを欠陥領域を回避した位置とする。
【００６５】
次のステップ４３３では、欠陥領域を回避した位置からの記録再開を指示する。
【００６６】
次のステップ４３５では、欠陥領域に関する情報をＲＡＭ４１に保存する。そして、前記ステップ４０９に戻る。
【００６７】
なお、上記ステップ４２３において、欠陥の長さｄが閾値Ｌ以下であれば、ここでの判断は否定されステップ４４１に移行する。
【００６８】
このステップ４４１では、中断した位置からの記録再開を指示する。
【００６９】
次のステップ４４３では、記録中断禁止フラグｆに、記録中断が禁止されていることを意味する「１」を設定する。そして、前記ステップ４０９に戻る。
【００７０】
また、上記ステップ４１７において、記録用データの蓄積量が上限値Ｍ以上であれば、ここでの判断は肯定され、ステップ４５１に移行する。
【００７１】
このステップ４５１では、１周以上欠陥検出回路２８ｆからの割込みがなかったか否かを判断する。１周以内で欠陥検出回路２８ｆからの割込みがあったならば、ここでの判断は否定され、前記ステップ４０９に戻る。一方、１周以上欠陥検出回路２８ｆからの割込みがなかったならば、ここでの判断は肯定され、ステップ４５３に移行する。
【００７２】
このステップ４５３では、記録中断禁止フラグｆに、記録中断が禁止されていないことを意味する「０」を設定する。そして、前記ステップ４０９に戻る。
【００７３】
また、上記ステップ４１５において、記録中断禁止フラグｆが１であれば、ここでの判断は肯定され、上記ステップ４５１に移行する。
【００７４】
また、上記ステップ４１３において、カウント値ｃが閾値Ｎ以上でなければ、欠陥は検出されなかったと判断され、上記ステップ４５１に移行する。
【００７５】
さらに、上記ステップ４０９において、記録が完了していれば、ここでの判断は肯定され、ステップ４６１に移行する。
【００７６】
このステップ４６１では、ＲＡＭ４１に欠陥情報が保存されているか否かを判断する。ＲＡＭ４１に欠陥情報が保存されていれば、ここでの判断は肯定され、ステップ４６３に移行する。
【００７７】
このステップ４６３では、ＲＡＭ４１に保存されている欠陥情報を光ディスク１５に記録する。ここでは、一例として光ディスク１５のリードイン領域に欠陥情報が記録される。
【００７８】
次のステップ４６５では、光ディスク１５の欠陥領域にダミーデータを記録する。
【００７９】
次のステップ４６７では、記録終了を上位装置に通知する。そして、記録処理を終了する。
【００８０】
すなわち、記録中に並行して記録面からの反射光に基づいて欠陥検出を行い、欠陥が検出されると、一旦記録を中断し欠陥の大きさを計測する。そして、欠陥の大きさが予め設定されている大きさを超えているときには、一例として図５に示されるように、欠陥を回避した位置から記録を再開し、一方、、欠陥の大きさが予め設定されている大きさ以下のときには、一例として図６に示されるように、中断した位置から記録を再開する。これにより、記録品質を低下させることなく、従来よりも短時間で記録を行うことができる。
【００８１】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、処理装置が構成されている。なお、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【００８２】
また、本実施形態では、記録媒体としてのフラッシュメモリ３９に記録されているプログラムのうち、図４に対応するプログラムによって、本発明に係るプログラムが実行されている。
【００８３】
そして、上記記録処理にて、本発明に係る記録方法が実施されている。
【００８４】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、記録中に、光電変換信号に基づいて欠陥の有無が監視されており、欠陥が検出されると記録が一時的に中断され、欠陥の大きさが予め設定されている再生に影響しない上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。これにより、複数のトラックをまたぐような欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
【００８５】
また、本実施形態によると、記録を中断する前にバッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データの蓄積量をチェックし、蓄積量が上限値Ｍ以上のときには、記録を継続している。これにより、記録用データのオーバーフローを防止することができる。例えば、テレビ放送の録画のように、情報を随時記録しなければならない場合には、バッファＲＡＭ３４の空き容量と上位装置からのデータ転送レートとで算出される時間が、記録中断から記録再開までに利用できる時間である。すなわち、記録中断から記録再開までに要する時間が確保できないときには記録中断を延期する。
【００８６】
また、本実施形態によると、欠陥を回避したときには、欠陥情報を光ディスク１５に記録している。これにより、光ディスク１５が他の光ディスク装置にセットされた場合に、その光ディスク装置では、欠陥情報に基づいて物理的に途切れた情報を連続的な情報として取り扱うことが可能となる。
【００８７】
また、本実施形態によると、欠陥を回避したときには、その欠陥領域にダミーデータを記録している。これにより、誤って欠陥領域を再生しても、そこが欠陥領域であることを直ちに認識できるため、アクセス速度を向上させることができる。
【００８８】
なお、上記実施形態では、前記ステップ４２１において、そのままトラッキングを続けて欠陥の長さｄを算出する場合について説明したが、これに限らず、例えば図７に示されるように、記録を中断後、所定のトラック数だけアドレスを加算する方向にジャンプして、前記欠陥の長さｄを算出しても良い。これにより、処理時間を短縮することができる。また、一例として図８に示されるように、所定のトラック数だけアドレスを加算する方向にジャンプし、欠陥の有無がジャンプ前と同じならばジャンプ前と同一方向に、欠陥の有無がジャンプ前と異なるならばジャンプ前と反対方向に、ジャンプするトラック数を半分にして順次ジャンプし、前記欠陥の長さｄを算出しても良い。これにより、処理時間を更に短縮することができる。
【００８９】
また、上記実施形態では、前記ステップ４２１において、欠陥の規模情報として、トラック方向に関する欠陥の最大の長さを算出する場合について説明したが、これに限らず、例えば半径方向に関する欠陥の最大の長さを、欠陥の規模情報として算出しても良い。
【００９０】
また、この場合に、トラック方向に関する欠陥の最大の長さ、及び半径方向に関する欠陥の最大の長さ、のうち大きいほうを欠陥の規模情報としても良い。
【００９１】
また、上記実施形態において、バッファＲＡＭ３４の容量が記録用データに比べて十分に大きいことが確実な場合には、上記記録処理における前記ステップ４１７の処理を省くことができる。
【００９２】
また、上記実施形態では、光ディスク１５がＤＶＤ系の光ディスクの場合について説明したが、これに限らず、例えば波長が４０５ｎｍの光に対応する次世代の光ディスクであっても良い。
【００９３】
また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の記録が可能な光ディスク装置であれば良い。また、光ディスク装置として、上記記録処理が可能なＤＶＤレコーダであっても良い。
【００９４】
また、上記実施形態では、光ディスクが１つの記録層を有する場合について説明したが、これに限らず、複数の記録層を有していてもよい。
【００９５】
また、上記実施形態では、本発明に係るプログラムは、フラッシュメモリ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ、光磁気ディスク、ＤＶＤ、メモリカード、ＵＳＢメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応する再生装置（又は専用インターフェース）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９にロードすることとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９に転送しても良い。要するに、本発明に係るプログラムがフラッシュメモリ３９にロードされれば良い。
【００９６】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００９７】
以上説明したように、本発明の記録方法によれば、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うのに適している。また、本発明の光ディスク装置によれば、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うのに適している。また、本発明のプログラム及び記憶媒体によれば、光ディスク装置に、記録品質を低下させることなく、短時間で光ディスクに記録をさせるのに適している。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における欠陥検出回路を説明するための図である。
【図３】図３（Ａ）〜図３（Ｅ）は、それぞれ図２の欠陥検出回路の動作を説明するための図である。
【図４】上位装置から記録要求を受信したときの図１の光ディスク装置での処理を説明するためのフローチャートである。
【図５】上位装置から記録要求を受信したときの図１の光ディスク装置での処理を説明するための図（その１）である。
【図６】上位装置から記録要求を受信したときの図１の光ディスク装置での処理を説明するための図（その２）である。
【図７】図４におけるステップ４２１での処理の変形例１を説明するための図である。
【図８】図４におけるステップ４２１での処理の変形例２を説明するための図である。
【符号の説明】
【００９９】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、３９…フラッシュメモリ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（処理装置、制御用コンピュータ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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