(57)【要約】【課題】下位ビットの階調の不具合を視覚的に素早く判別することのできる検査装置、および液晶テレビジョン用液晶モジュールを提供する。【解決手段】検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。このとき、各ビットの送信不良によって、画面に表示されるテストパターンの階調は変化するため、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できる。【選択図】図１
2007322533.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印加電圧により分子の配列を変化させる液晶物質を充填した画素をマトリクス状に配置し、上記画素の光の透過率を変化させることにより階調を変化させ映像を表示する液晶パネルと、
上記液晶パネルに、階調を表現するための数ビットのデータを有する映像信号を所定周期で出力するコントローラＩＣと、
上記液晶パネルに表示される映像の階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表現するテストパターンに対応した映像信号を上記コントローラＩＣに出力する検査装置とを有する液晶テレビジョン用液晶モジュールにおいて、
入力端子を介して外部から入力される映像信号と、上記検査装置から入力される映像信号とを切り替えて上記コントローラＩＣに入力するスイッチ部を有するとともに、
上記テストパターンは、映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンを画面上側に表示し、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを画面下側に表示するとともに、
上位ビットが表す階調値を白色から黒色までのグラデーションにて表示し、下位ビットが表す階調値を白色と黒色との間の中間色のグラデーションにて下側に表示し、
上位ビットが不良な場合は、画面に表示する上位ビットに対応するパターンのグラデーションを変化させるとともに、下位ビットが不良な場合は、画面に表示する下位ビットに対応するパターンのグラデーションを変化させることで、各ビットの不良を視覚的に画面に表示することを特徴とする液晶テレビジョン用液晶モジュール。
【請求項２】
映像信号のビット数により表現される階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表すテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置において、
映像信号の上位ビットと下位ビットを分割する分割手段と、
上記分割された上記映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する表示手段とを有し、
上記表示手段が表現する各パターンの変化によって、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できるよう表示することを特徴とする検査装置。
【請求項３】
映像信号のビット数により表現される階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表すテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置と、
印加電圧の値に基づいて光源の透過率を変化させ、映像を表示する液晶パネルと、
上記検査装置から出力された映像信号を基に、上記液晶パネルに映像を表示させるコントローラＩＣとを有する液晶モジュールにおいて、
上記テストパターンは、上記映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示し、  各パターンの変化によって、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できるよう表示することを特徴とする液晶テレビジョン用液晶モジュール。
【請求項４】
上記表示手段は、上位ビットが表す階調値をグラデーションにて画面上側に表示し、下位ビットが表す階調値をグラデーションにて画面下側に表示し、
上記上位ビット、並びに下位ビットの各ビットの不良を、上記パターンのグラデーションの変化により視覚的に画面に表示することを特徴とする請求項２に記載の検査装置。
【請求項５】
上記表示手段により表示される上記テストパターンは、上位ビットに対応するパターンを白色から黒色までのグラデーションとし、下位ビットに対応するパターンを白色と黒色の中間色のグラデーションとしたことを特徴とする請求項４に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶モジュールを検査する検査方法に関し、特に、液晶モジュールの信号ラインの通電を検査する検査方法、および上記検査方法を実行する検査装置を実装する液晶テレビジョン用液晶モジュールに関する。 
【背景技術】
【０００２】
図７は、液晶モジュール１とテストパターン出力装置２を用いた液晶モジュール検査方法を表す図である。液晶モジュール１の概略構成として、印加電圧の値によって光源の透過率を変化させる液晶物質を充填した画素をマトリクス状に配置する液晶パネル１ａと、液晶パネル１ａの各画素に印加電圧を出力するソースドライバ１ｂとゲートドライバ１ｃ、映像信号を受信して同期信号に基づいてソースドライバ１ｂとゲートドライバ１ｃに信号を出力するコントローラＩＣ１ｄ、さらには信号を液晶モジュール１に入力するための入力端子１ｅと有する構成である。
【０００３】
上述した構成により、テストパターン出力装置２から出力されたテストパターン映像信号は、入力端子１ｅを介してコントローラＩＣ１ｄに入力される。コントローラＩＣ１ｄは、内部で生成した同期信号に基づいて、ソースドライバ１ｂとゲートドライバ１ｃに映像信号を出力する。このとき、ソースドライバ１ｂに出力される映像信号は、階調を表現する所定ビット数を有している。例えばソースドライバ１ｂに入力されるビット数が８ビットの場合では、階調は２５６階調となる。
【０００４】
図８は、従来のテストパターンを表す図である。同図より、帯状のパターン３ａ〜３ｐまでが画面上に一列に表示され、映像信号の各階調を表現している。具体的には、映像信号のビット数を８ビットとした場合、帯状のパターン３ａ〜３ｐは黒（１１１１１１１１）から白（００００００００）までを１６階調飛ばしで表示している。左端のパターン３ａは（１１１１１１１１）に対応し、右に進むに従い１６ずつ値が減少していく。上述した構成にて、最上位のビットに対応する信号の入力が断線等で遮断された場合、パターン３ａは、（０１１１１１１１）となるため、パターン３ａと３ｂの階調差がなくなり、画面には色潰れが表示されたテストパターンが表示されることとなる。
【０００５】
作業者は上記した色潰れのテストパターンを確認すると、液晶モジュール１を不良品とみなすことで、液晶モジュールの検査をおこなっていた。しかしながら、上述したテストパターンを用いた検査方法では、階調の間隔は数ビット存在するため、下位ビットの異常の検出を行うことができなかった。仮に、下位ビットを含めた階調を上述した一列の階調で表現した場合、階調を表現するビット数に応じて、帯状のパターンを表示する必要があり、視覚的にも非常に見ずらく不良を発見し難かった。
【０００６】
下位ビットに対応した階調の検出を行う方法としては、カラーレーザープリンタにおいて、テストチャートが目視できる便利な階調特性のキャリブレーションにおいて、ユーザがプリンタに出力することで、階調特性を判別する方法が開示されている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開２００２−０４４４５５１号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述した特許文献１の発明は、次のような課題があった。つまり、特許文献１の発明は、カラープリンタに限定したものであり、画面に階調を表示させる液晶ディスプレイには適応することはできなかった。
【０００８】
本発明は、上記課題にかんがみてなされたもので、下位ビットの階調の不具合を視覚的に判別することが可能であるとともに、作業者、並びにユーザが検出結果を即座に判別することが可能な検査装置、および上記検査装置を使用した液晶テレビジョン用の液晶モジュールの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１にかかる発明では、印加電圧により分子の配列を変化させる液晶物質を充填した画素をマトリクス状に配置し、上記画素の光の透過率を変化させることにより階調を変化させ映像を表示する液晶パネルと、上記液晶パネルに、階調を表現するための数ビットのデータを有する映像信号を所定周期で出力するコントローラＩＣと、上記液晶パネルに表示される映像の階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表現するテストパターンに対応した映像信号を上記コントローラＩＣに出力する検査装置とを有する液晶テレビジョン用液晶モジュールにおいて、
入力端子を介して外部から入力される映像信号と、上記検査装置から入力される映像信号とを切り替えて上記コントローラＩＣに入力するスイッチ部を有するとともに、上記テストパターンは、映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンを画面上側に表示し、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを画面下側に表示するとともに、上位ビットが表す階調値を白色から黒色までのグラデーションにて表示し、下位ビットが表す階調値を白色と黒色との間の中間色のグラデーションにて下側に表示し、上位ビットが不良な場合は、画面に表示する上位ビットに対応するパターンのグラデーションを変化させるとともに、下位ビットが不良な場合は、画面に表示する下位ビットに対応するパターンのグラデーションを変化させることで、各ビットの不良を視覚的に画面に表示することを特徴とする構成としてある。
【００１０】
上記のように構成した請求項１にかかる発明においては、検査装置から送信された映像信号により、上位ビットの不良の場合は、画面上の上位ビットに対応したパターンのグラデーションが変化することで上位ビットの不良を表示し、下位ビットの不良の場合は、画面上の下位ビットに対応したパターンのグラデーションが変化することにより、画面上で各ビットの不良を視覚的に認識する。
【００１１】
また、上記目的を達成するために、本発明は映像信号のビット数により表現される階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表すテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置において、
映像信号の上位ビットと下位ビットを分割する分割手段と、上記分割された上記映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する表示手段とを有し、上記表示手段が表現する各パターンの変化によって、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できるよう表示する構成としてある。
【００１２】
上記のように構成した発明において、上位ビットと下位ビットが表現する階調値を画面上のテストパターンにより、一画面で個別に表示するため下位ビットの不良を認識し易くすることができる。また、上記した、分割手段と、表示手段は、マイコンを用いて実現してもよいし、予め上述した分割手段での分割を実施した映像信号を記録するものであってもよい。
【００１３】
そして、上記検査装置を予め実装する製品として、映像信号のビット数により表現される階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表すテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置と、印加電圧の値に基づいて光源の透過率を変化させ、映像を表示する液晶パネルと、上記検査装置から出力された映像信号を基に、上記液晶パネルに映像を表示させるコントローラＩＣとを有する液晶モジュールにおいて、
上記テストパターンは、上記映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示し、各パターンの変化によって、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できるよう表示する構成としてある。
【００１４】
上記のように構成した発明において、検査装置から出力されたテストパターンを液晶パネルの画面上に表示させることで、工場出荷後でも各ビットの不良を検査できる液晶テレビジョン用液晶モジュールを提供することが可能となる。
【００１５】
さらに、表示手段が表示するテストパターンの一例として、上記表示手段が表示する上記テストパターンは、上位ビットが表す階調値をグラデーションにて画面上側に表示し、下位ビットが表す階調値をグラデーションにて画面下側に表示し、上記上位ビット、並びに下位ビットの各ビットの不良を、上記パターンのグラデーションの変化により視覚的に画面に表示する構成としてある。
【００１６】
上記のように構成した発明において、画面上に表示されたテストパターンのグラデーションにより、各ビットの不良を判断することができるため、不良を簡単に判断することが可能となる。
【００１７】
また、上記表示手段が表示するテストパターンの一例として、上記表示手段が表示する上記テストパターンは、上位ビットに対応するパターンを白色から黒色までのグラデーションとし、下位ビットに対応するパターンを白色と黒色の中間色のグラデーションとした構成としてもよい。
【００１８】
上記のように構成した発明において、下位ビットの階調値の変化を中間色とすることで、上位ビットと下位ビットに対応するパターンの判別を明確にするとともに、下位ビットでの各階調値の違いを見易くし不良の判定速度をより一層高めることができる
【発明の効果】
【００１９】
以上説明したように本発明によれば、下位ビットの階調の不具合を視覚的に素早く判別することが可能である。
また請求項３にかかる発明によれば、検査装置を内蔵することで、工場出荷後でも各ビットの不良を検査できる液晶テレビジョン用液晶モジュールを提供することが可能となる。
そして請求項４にかかる発明によれば、グラデーションによって階調の異常を判別するので、異常を簡単に判断することが可能となる。
さらに請求項５にかかる発明によれば、上位ビットと下位ビットに対応するパターンの判別を明確にするとともに、下位ビットの階調値の変化を中間色とすることで、各階調値の違いを見易くし不良の判定速度をより一層高めることができる。
さらに請求項１のような、より具体的な構成において、上述した請求項２〜請求項５の各発明と同様の作用を奏することはいうまでもない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、下記の順序に従って本発明の実施形態である液晶テレビジョン用モジュールを説明する。
（１）液晶テレビジョン用液晶モジュールの構成
（２）階調検査方法
（３）まとめ
【００２１】
（１）液晶テレビジョン用液晶モジュールの構成 
以下、図１〜図６を参照して、この発明に係る液晶テレビジョン用液晶モジュール１０を具体化した第１の実施の形態について説明する。図１は液晶テレビジョン用液晶モジュール１０のブロック構成図である。同図より、液晶テレビジョン用液晶モジュール１０は、映像を表示するための液晶パネル１１、液晶パネル１１の各画素に駆動電圧を印加するためのソースドライバ１２とゲートドライバ１３、ソースドライバ１２とゲートドライバ１３に映像信号を所定のタイミングで出力するコントローラＩＣ１４、コントローラＩＣ１４に映像信号を出力する入力端子１６、コントローラＩＣ１４に所定のテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置１７、さらには入力端子１６からの信号と検査装置１７からの信号を切り替えるスイッチ部１５とを有する構成である
【００２２】
上述した、液晶テレビジョン用液晶モジュールの構成にて、まず、入力端子１６から入力される映像信号を基に液晶パネル１１に映像を表示する場合は、スイッチ部１５の１５ａと１５ｂを接続するように切り替え、入力端子１６から出力される映像信号をコントローラＩＣ１４に出力させる。本発明の実施の形態では、スイッチ部１５の構成を機械式の切り替えスイッチとし、必要に応じて作業者、またはユーザが手動で切り替える構成としている。無論スイッチ部１５の構成としてはこれに限定されず、電磁式のリレーやトランジスタを使用して検査装置１７から出力される信号、並びに入力端子１６から出力される信号に基づいてスイッチ部１５が自動で切り替えるものであってもよい。
【００２３】
スイッチ部１５を入力端子１６側に切り替えた状態で、入力端子１６を外部機器と接続し、映像信号をコントローラＩＣ１４に出力する。液晶テレビジョン用液晶モジュール１０は、液晶テレビジョン装置の映像を表示するために使用されるため、通常は、図示しない基板から送信される映像信号を入力端子１６を介してコントローラＩＣ１４に出力する。コントローラＩＣ１４は、内蔵されたマイコン１４ａに入力された映像信号を所定の周期で出力させる。また、映像信号は入力端子１６に入力される前に、図示しない基板に実装されたスケーラ部によって液晶パネル１１に配置された画素に対応するよう分割されて入力されている。そのため、コントローラＩＣ１４のマイコン１４ａに入力される映像信号は、すでに分割され、さらには映像信号が液晶パネル１１のどの画素に対応するかがすでに決定されている。逆に、スケーラ部をコントローラＩＣ１４の内部に実装する場合では、当然入力端子１６から入力される映像信号はコントローラＩＣ１４でスケーリング処理される。このため、後述する検査装置１７から出力するテストパターンに対応する映像信号を、コントローラＩＣの構成に合わせて変化させる必要がある。 
【００２４】
コントローラＩＣ１４のマイコン１４ａに入力される映像信号は各画素の階調を表現するために、データを６ビットとし６４段階の階調を表現する。マイコン１４ａは、上記スケーリング処理された映像信号を受け取ると、映像信号をソースドライバ１２に出力するとともに、マイコン１４ａの内部クロックに基づいてスイッチ信号を生成し、ゲートドライバ１３にスイッチ信号を出力する。ソースドライバ１２は、入力された映像信号のビットの値に基づいてディジタル信号をアナログ信号である駆動電圧に変換し、対応する液晶パネル１１の画素１１ａに出力する。ソースドライバ１２が駆動電圧を生成する方法は、周知技術であるためここでは以下簡略的に述べるにとどめる。
【００２５】
ソースドライバ１２が生成する駆動電圧は、上記した映像信号の（００００００）〜（１１１１１１）までのビット数を、内部で生成する基準電圧に基づいて６４の電圧値を有する駆動電圧に対応させている。そのため、映像信号の各ビット数により所定の電圧値が決定されることとなる。そのため、映像信号のビット数に不良が起こると、当然生成される駆動電圧の電圧値の値も異なるものとなる。
【００２６】
上述した方法で生成された駆動電圧は、ソースドライバ１２により所定の画素に出力される。図より、ソースドライバ１２は各画素と電界効果トランジスタ１１ｂを介して接続しており、ソースドライバ１２により生成された駆動電圧は、電界効果トランジスタ１１ｂのドレイン電極に出力される。また、ゲートドライバ１３は、スイッチ信号を電界効果トランジスタ１１ｂのゲート電極に出力する。これにより、電界効果トランジスタ１１ｂのドレイン電極からソース電極が同通し、画素１１ａに駆動電圧が出力される。
【００２７】
液晶パネル１１は、印加電圧により分子の配列を変化させる液晶物質を充填した画素をマトリクス状に配置し、上記画素の光の透過率を変化させることにより階調を変化させ映像を表示する。そのため、駆動電圧を印加された液晶パネル１１の画素１１ａは、バックライトからの光源の透過率を変化させ画素ごとの階調を変化させる。また、各画素には、ＲＧＢの各色に対応したフィルムが塗布されているため、ＲＧＢのフィルムが塗布された画素の、階調をそれぞれ変化させることによりカラー画面を表示させていく。
【００２８】
（２）階調検査方法
次に、検査装置１７を使用しての階調を検査する方法を説明する。検査装置１７は、所定のテストパターンに対応する映像信号を内部メモリ１７ａに記録しており、内部メモリ１７ａに記録されたテストパターンを基にコントローラＩＣ１４に映像信号を出力する。上述したように、本発明の実施形態では、メモリ１７ａに記録するテストパターンに対応する映像信号は、コントローラＩＣ１４がスケーリング部を実装しないため、スケーリング処理を施しておく必要がある。これにより、コントローラＩＣ１４、さらには検査装置１７により分割手段を実現する。また、検査装置１７、ソースドライバ１２、さらにはゲートドライバ１３により表示手段を実現する。
【００２９】
図２は、本発明の検査装置に記録されるテストパターンを表す図である。同図より、帯状のパターンが上側と下側に各８本ずつ一列に配置され、各パターンは映像信号の各ビット数に対応している。上側のテストパターンは、図中左より、（１１１０００）〜（００００００）までのビット数に対応する階調をビット数が８ずつ変化するよう表示している。これにより、上位３ビットまでのビットの変化に対応した階調の変化を白色から黒色までのグラデーションで表示している。同様に下側のテストパターンは、図中左より、（１００１１１）〜（１０００００）までのビット数に対応する階調をビット数が１ずつ変化するよう表示している。これにより、下位３ビットまでのビットの変化に対応した階調の変化を中間色のグラデーションで表示している。図中では、便宜上、各パターンを階調の濃淡で表現する変わりに、十進数にて上側のパターンを０〜５６までの８飛ばしで表し、下のパターンを３２〜３９までの数値で表しているが、実際には各パターンは十進数に対応した濃淡を有する階調が表現されている。上述したように階調の不良をグラデーションによって階調の異常を判別するので、異常を簡単に判断することが可能となる。
【００３０】
上述した、テストパターンの形状は、これに限定されず、上位ビットと下位ビットの変化に対応した階調の変化が視覚的に認識できるものであればよい。また、下位のビットに対応する階調の変化を（１００１１１）〜（１０００００）の間で行っているが、これは中間階調を選択することで、画面に表示された際、変化を認識しやすいようにしたためであり、液晶パネル１１、並びに階調数に応じて適宜変更すればよい。
【００３１】
上述した、テストパターンを用いた階調不良の判別について説明する。図３は、下位３ビットの不良により表現されるビット数を表す信号表である。図中より、上から３−ａは、６ビットが正常に出力された場合の各ビットが表現するビット数を表す、以下同様に、３−ｂは、最下位のビットが不良の場合に表現されるビット数。３−ｃは、下から二番目のビットが不良の場合に表現されるビット数。３−ｄは、下から三番目のビットが不良の場合に表現されるビット数を表している。
【００３２】
図３を用いて、最下位のビットの不良の場合を説明する。最下位のビットが、配線の断線等により不良となると、３−ｂより、下１桁は全て「０」となる。そのため、信号表では、２行ずつ同じビット数が表示されることとなる。そのため、画面に表示されるテストパターンでは、隣り合う２本ずつが同じ階調で表示されたパターンによりグラデーションが表示されることとなる。図４は、最下位のビットが不良により画面に表示されるテストパターンを表す図である。同図より、画面上側に表示されたテストパターンは、上位３ビットにより表示されるパターンであるため、グラデーションはなにも変化せず、画面下側に表示されるパターンのグラデーションのみが上記したように、隣り合う２本が同階調（図では同数）となって表示されている。
【００３３】
図５は、下から２ビット目が不良となった場合のテストパターンを表す図である。図３の３−ｃより、最下位のビットを「０」〜「１」へ２回繰り返した後、４行目で下から３ビット目が「１」に変化し、再度最下位のビットを「０」〜「１」へ２回繰り返す。そのため、４行目までのビット数と、５行目からのビット数の差が大きくなる。そのため図５にて、テストパターンは図表す３２、３３のグラデーション２回表した後、再度３６、３７のグラデーションを繰り替えす。
【００３４】
図６は、下から３ビット目が不良となった場合のテストパターンを表す図である。同様に、下から３ビット目の不良では、下位２ビットが「００」、「０１」、「１０」、「１１」を２回繰り返す。そのため、図６より、テストパターンのグラデーションは３２、３３、３４、３５を二回繰り返すグラデーションとして表示される。
【００３５】
また、最下位のビットと下から２番目のビットが不良の場合は、画面上で下側のテストパターンの４本ずつのパターンが同じ階調で表示される。同様に、最下位のビット、下から二番目のビット、さらには下から三番目のビットの全てのビットが不良の場合には、下側のテストパターンの全てのパターンが同じ階調で表示されることとなる。上述した画面に表示されるグラデーションの変化によって、作業者は下位ビットの階調の不具合を視覚的に素早く判別することが可能となる。
【００３６】
上述したテストパターンの表示は、上位３ビットに対しても同様に行われることとなる。下位３ビットの不良に対する表示が、画面下側に表示されたパターンにて表されたのに対して、上位３ビットの不良に対するテストパターンの表示は、上側に表示されたテストパターンにて同様に表示されることとなる。そのため、作業者は、上述したテストパターンを予め覚えておくことで、画面に表示されるパターンに対応した、各ビットの不良を視覚的に素早く判断することが可能となる。
【００３７】
（３）まとめ
映像信号のビット数により表現される階調の不良を検査するために、上記階調の各階調値を表すテストパターンに対応する映像信号を出力する検査装置において、上記テストパターンは、上記映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示し、各パターンの変化によって、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できるよう表示する。
【００３８】
なお、本発明は上記実施例に限られるものでないことは言うまでもない。当業者であれば言うまでもないことであるが、
・上記実施例の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用すること
・上記実施例の中で開示されていないが、公知技術であって上記実施例の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること
・上記実施例の中で開示されていないが、公知技術等に基づいて当業者が上記実施例の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること
は本発明の一実施例として開示されるものである。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】液晶テレビジョン用液晶モジュールのブロック構成図である。
【図２】検査装置に記録されるテストパターンを表す図である。
【図３】下位３ビットの不良により表示される信号表を表す図である。
【図４】最下位のビットの不良により表示されるテストパターンを表す図である。
【図５】下から２ビット目が不良となった場合のテストパターンを表す図である。
【図６】下から３ビット目が不良となった場合のテストパターンを表す図である。
【図７】従来の液晶モジュールの検査方法を現すブロック構成図である。
【図８】従来のテストパターンを表す図である。
【符号の説明】
【００４０】
１０…液晶テレビジョン用液晶モジュール、１１…液晶パネル、１１ａ…画素、１１ｂ…電界効果トランジスタ、１２…ソースドライバ、１３…ゲートドライバ、１４…コントローラーＩＣ、１４ａ…マイコン、１５…スイッチ部、１６…入力端子、１７…検査装置、１７ａ…内部メモリ、
【図１】
2007322533.tif 000003
【図２】
2007322533.tif 000004
【図３】
2007322533.tif 000005
【図４】
2007322533.tif 000006
【図５】
2007322533.tif 000007
【図６】
2007322533.tif 000008
【図７】
2007322533.tif 000009
【図８】
2007322533.tif 000010