(57)【要約】【課題】  磁気テープのエッジを高い精度で測定する。【解決手段】  長手方向に張力を付与した磁気テープを両面より透明体からなる基板で挟み込み、基板で挟み込まれた磁気テープを照明手段により光を照射し、磁気テープを介し、照明手段と反対方向に画像測定手段を設置し、磁気テープの幅方向の両端のエッジ部分のうち一方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、光量を基準に一方のエッジ部分の位置座標を測定し、その後、他方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、光量を基準に他方のエッジ部分の位置座標を測定し、その後、画像測定手段を磁気テープの長手方向に所定距離移動させ、エッジの位置座標の測定と長手方向の移動と繰り返すことにより磁気テープの両端のエッジ部分の形状を測定することを特徴とする磁気テープの形状測定方法を提供することにより上記課題を解決する。【選択図】  図３
2007250130.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
長手方向に張力を付与した磁気テープを両面より透明体からなる基板で挟み込むと共に、前記基板で挟み込まれた磁気テープを照明手段により光を照射する挟み込み工程と、
前記磁気テープを介し、前記照明手段と反対方向に画像測定手段を設置する設置工程と、
前記磁気テープの幅方向の両端のエッジ部分のうち一方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、前記照明手段からの光量を基準に一方のエッジ部分の位置座標を測定し、前記測定終了後、前記磁気テープの幅方向の他方のエッジ部分に画像測定手段を幅方向にのみ移動させ、前記照明手段からの光量を基準に他方のエッジ部分の位置座標を測定する磁気テープ測定工程と、
前記測定終了後、前記画像測定手段を前記磁気テープの長手方向に所定距離移動させる画像測定手段移動工程からなり、
前記磁気テープ測定工程と、前記画像測定手段移動工程を繰り返し複数回行うことにより、前記磁気テープの両端のエッジ部分の位置座標を検出し、前記磁気テープの両端のエッジ部分の形状を測定することを特徴とする磁気テープの形状測定方法。
【請求項２】
前記磁気テープのエッジ部分の位置座標についてフーリエ変換を行うことにより、前記磁気テープのエッジ部分の周期性を検出し、磁気テープの測定を行うことを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの形状測定方法。
【請求項３】
長手方向に張力を付与した前記磁気テープを両面より透明体からなる基板で挟み込む磁気テープ固定部材と、
前記基板で挟み込まれた磁気テープに光を照射する照明手段と、
前記磁気テープを介し、前記照明手段と反対方向に設置した画像測定手段と、
少なくとも前記磁気テープの幅方向及び長手方向に対し前記画像測定手段を移動させることが可能であり、移動後の前記画像測定手段の位置を検出することが可能な測定位置制御機構と、
前記測定位置制御機構により前記磁気テープの幅方向の両端のエッジ部分のうち一方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、前記照明手段からの光量を基準に一方の位置座標を測定し、前記測定終了後、前記磁気テープの幅方向の他方のエッジ部分に画像測定手段を幅方向にのみ移動させ、前記照明手段からの光量を基準に他方の位置座標を測定し、前記測定終了後、測定位置制御機構により、画像測定手段を前記磁気テープの長手方向に所定距離移動させる工程を複数回行わせることが可能な測定制御部と、
を有し、
測定により得られた前記磁気テープの両端のエッジ部分の位置座標の基づき、前記磁気テープの両端のエッジ部分の形状を測定することを特徴とする磁気テープの形状測定装置。
【請求項４】
前記磁気テープのエッジ部分の位置座標についてフーリエ変換を行う演算処理部を有し、
前記演算処理部において前記磁気テープのエッジ部分の周期性を検出し、磁気テープの測定を行うことを特徴とする請求項３に記載の磁気テープの形状測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープの形状測定方法及び磁気テープの形状測定装置に関するものであり、特に、精度の高い磁気テープの形状測定方法及び磁気テープの形状測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、コンピュータバックアップテープなどの磁気テープは、幅広のウエブ状の磁気テープ原反をスリッタに連続的に通過させて裁断することによって製造される。製造された磁気テープには、幅方向の縁部の位置を基準として、微狭のサーボトラックが書き込まれる。従って、縁部の直線性が低いとサーボトラックの直線性も低くなり、書き込んだサーボトラック信号を検出することが困難となる。
【０００３】
このため、製造後の走行中の磁気テープの形状を測定して、磁気テープの形状が所定の規格内に収まっているか否かを判別する必要がある。従来の測定装置は、磁気テープの片方の縁部の位置を検出するとともに、磁気テープの幅を測定することによってテープ形状を把握し、このテープ形状が規格内に収まっているか否かを判別していた。
【０００４】
ところで、テープの生産性を高めるには、磁気テープが規格から外れた際に、その原因（以下、「ＮＧ原因」と称する）を究明することが重要であるが、従来の測定装置は、ＮＧ原因を測定データから究明することは困難であった。このため、特許文献１では、連続走行する磁気テープの幅方向の両縁部の位置を検出し、前記検出値に基づいて前記両縁部の中点、及び前記両縁部間の距離を算出し、前記算出値のデータを周波数解析し、前記周波数解析した結果から前記テープの不良発生原因を判別するテープの形状測定方法が開示されている。
【特許文献１】特開２００４−２８７１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、近年よりコンピュータバックアップテープを代表とし、より一層テープエッジの直線性に関する要求精度が高くなってきている。即ち、磁気テープの記録密度を高めるため磁気テープに記録するトラック数を増加させた場合、磁気テープのエッジに近い領域の直線性が低いと、エッジに近い領域の信号が正確に記録、再生されなくなってしまうおそれがある。このため、磁気テープエッジの直線性（特に周期性とその強度）を正確に測定することは非常に重要な技術である。現在、上記に記載したように、テープエッジの直線性の測定方法は、磁気テープを走行させながら測定するものが主である。しかしながら、この測定方法では、磁気テープの測定により得られた周期性が、磁気テープ自体に起因する要因であるのか、走行装置の外乱要因によるものであるのか分離することができない。
【０００６】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、走行装置の外乱要因が含まれない磁気テープのテープエッジの直線性（特に周期性とその強度）を正確に測定することができる磁気テープの形状測定方法及び磁気テープの形状測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の発明は、長手方向に張力を付与した磁気テープを両面より透明体からなる基板で挟み込むと共に、前記基板で挟み込まれた磁気テープを照明手段により光を照射する挟み込み工程と、前記磁気テープを介し、前記照明手段と反対方向に画像測定手段を設置する設置工程と、前記磁気テープの幅方向の両端のエッジ部分のうち一方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、前記照明手段からの光量を基準に一方のエッジ部分の位置座標を測定し、前記測定終了後、前記磁気テープの幅方向の他方のエッジ部分に画像測定手段を幅方向にのみ移動させ、前記照明手段からの光量を基準に他方のエッジ部分の位置座標を測定する磁気テープ測定工程と、前記測定終了後、前記画像測定手段を前記磁気テープの長手方向に所定距離移動させる画像測定手段移動工程からなり、前記磁気テープ測定工程と、前記画像測定手段移動工程を繰り返し複数回行うことにより、前記磁気テープの両端のエッジ部分の位置座標を検出し、前記磁気テープの両端のエッジ部分の形状を測定することを特徴とする磁気テープの形状測定方法である。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、前記磁気テープのエッジ部分の位置座標についてフーリエ変換を行うことにより、前記磁気テープのエッジ部分の周期性を検出し、磁気テープの測定を行うことを特徴とする請求項１に記載の磁気テープの形状測定方法である。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、長手方向に張力を付与した前記磁気テープを両面より透明体からなる基板で挟み込む磁気テープ固定部材と、前記基板で挟み込まれた磁気テープに光を照射する照明手段と、前記磁気テープを介し、前記照明手段と反対方向に設置した画像測定手段と、少なくとも前記磁気テープの幅方向及び長手方向に対し前記画像測定手段を移動させることが可能であり、移動後の前記画像測定手段の位置を検出することが可能な測定位置制御機構と、前記測定位置制御機構により前記磁気テープの幅方向の両端のエッジ部分のうち一方のエッジ部分に画像測定手段を移動させ、前記照明手段からの光量を基準に一方の位置座標を測定し、前記測定終了後、前記磁気テープの幅方向の他方のエッジ部分に画像測定手段を幅方向にのみ移動させ、前記照明手段からの光量を基準に他方の位置座標を測定し、前記測定終了後、測定位置制御機構により、画像測定手段を前記磁気テープの長手方向に所定距離移動させる工程を複数回行わせることが可能な測定制御部と、を有し、測定により得られた前記磁気テープの両端のエッジ部分の位置座標の基づき、前記磁気テープの両端のエッジ部分の形状を測定することを特徴とする磁気テープの形状測定装置である。
【００１０】
請求項４に記載の発明は、前記磁気テープのエッジ部分の位置座標についてフーリエ変換を行う演算処理部を有し、前記演算処理部において前記磁気テープのエッジ部分の周期性を検出し、磁気テープの測定を行うことを特徴とする請求項３に記載の磁気テープの形状測定装置である。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、走行装置の外乱要因が含まれない磁気テープのテープエッジの直線性（特に周期性とその強度）を正確に測定することができるため、テープエッジの直線性の測定精度を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明に係る磁気テープの測定方法について説明する。
【００１３】
〔磁気テープ測定装置〕
図１に、本発明に係る磁気テープ測定装置のブロック図、図２（ａ）に、本発明に係る磁気テープ測定装置の上面図を示す。図２（ｂ）は、図２（ａ）の部分拡大図である。
【００１４】
本発明に係る磁気テープ測定装置７０は、制御部７２、測定制御部７４、測定位置制御機構７６、画像測定手段８０、演算処理部８２から構成されている。
【００１５】
制御部７２は、磁気テープ測定装置７０の全体を制御する機能を有している。
【００１６】
測定制御部７４は、測定位置制御機構７６及び画像測定手段８０の制御を行う。
【００１７】
測定位置制御機構７６は、測定制御部７４からの制御信号に基づき、画像測定手段８０の位置制御並びに画像測定手段８０の座標位置の出力を行う。具体的には、画像測定手段８０をＸ軸方向である磁気テープ５１の長手方向、Ｙ軸方向である磁気テープ５１の幅方向、磁気テープ５１に対し上下方向となるＺ軸方向について移動させ位置制御を行う。Ｘ方向である磁気テープ５１の長手方向の位置制御は、Ｘ軸方向の位置制御が可能なアクチュエーター等からなるＸ軸制御手段６４により行い、Ｙ軸方向である磁気テープ５１の幅方向の位置制御は、Ｙ軸方向の位置制御が可能なアクチュエーター等からなるＹ軸制御手段６３により行い、Ｚ方向である磁気テープ５１の上下方向の位置制御は、Ｚ軸方向の位置制御が可能なアクチュエーター等からなるＺ軸制御手段６２により行う。
【００１８】
画像測定手段８０は、ＣＣＤカメラ等からなり、入射した光を電気信号に変換する。変換された電気信号は測定制御部７４に伝達され、測定制御部７４は、この情報をもとに測定位置制御機構７６の制御を行う。
【００１９】
演算処理部８２は、測定位置制御機構７６により得られた位置座標の情報をもとに、高速フーリエ変換等の演算処理を行う。図１では測定位置制御機構７６により得られた位置座標の情報は、測定制御部７４を介し、演算処理部８２に伝達しているが、測定制御部７４を介することなく、直接演算処理部８２に伝達してもよい。
【００２０】
図３に、本発明に係る磁気テープ測定装置の磁気テープ５１の長手方向の断面図を示し、図４に、本発明に係る磁気テープ測定装置に含まれる磁気テープ固定部材の磁気テープ５１の幅方向の断面図を示す。図３（ａ）、図４（ａ）に基づき、磁気テープ固定部材５０について説明する。
【００２１】
磁気テープ固定部材５０は、透明なアクリルからなる上部基板５２と、ガラスからなる下部基板５３、上部基板５２の両側に設けられたゴム等の弾性体５４、弾性体５４を介し、上部基板５２と下部基板５３とを接続する側面板５５により構成されており、磁気テープ固定部材５０の下部基板５３には、減圧孔５６が設けられている。磁気テープ５１の進入部分と排出部分には、それぞれダンパー５７が設けられており、磁気テープ固定部材５０内は、密閉された状態に近い状態となっている。尚、図３（ａ）に示すように、磁気テープ固定部材５０の磁気テープ５１の存在している面の反対面には、蛍光灯やハロゲンランプ等からなる照明手段６５が設けられている。また、上記照明手段６５等の制御は、磁気テープ測定装置７０内の制御部７２により行われる。
【００２２】
〔磁気テープ測定方法〕
図５に、本発明に係る磁気テープの測定方法の流れを示す。
【００２３】
最初にステップ１０２（Ｓ１０２）において、Ｎカウンターの値を１に設定する。
【００２４】
次に、ステップ１０４（Ｓ１０４）において、測定対象となる磁気テープ５１の長手方向に張力を付与する。具体的には、図２（ａ）、図３（ａ）に示すように、磁気テープ固定部材５０内、即ち、上部基板５２と下部基板５３の間に磁気テープ５１を通した後、磁気テープ５１の長手方向に張力を付与する。具体的には、磁気テープ５１を巻き取るための不図示の複数のローラー等により磁気テープ５１の長手方向に張力を付与する。本実施の形態では、磁気テープ５１の長手方向に０．３〔Ｎ〕の張力を付与した。
【００２５】
次に、ステップ１０６（Ｓ１０６）において、磁気テープ５１の測定対象となる領域を板状の透明体で挟み込む。具体的には、磁気テープ固定部材５０に磁気テープ５１を通した状態で、図４（ａ）に示すように、下部基板５３に設けられた減圧孔５６より、磁気テープ固定部材５０内の空気を不図示の真空ポンプにより矢印の方向に排気し、減圧することにより、磁気テープ５１を上部基板５２と下部基板５３により挟み込む。磁気テープ固定部材５０内は、図３（ａ）に示すように、密閉に近い状態となっており、上部基板５２の両側には弾性体５３が設けられているため、減圧孔５６より排気し磁気テープ固定部材５０内を減圧することにより、図３（ｂ）、図４（ｂ）に示すように、上部基板５２と下部基板５３によって、容易に磁気テープ５１を挟み込むことができる。この状態では、磁気テープ５１は、上部基板５２、及び、下部基板５３と密着した状態となっているため、上部基板５２と下部基板５３の間で、磁気テープ５１は移動することはない。
【００２６】
次に、ステップ１０８（Ｓ１０８）において、照明手段６５により、磁気テープ５１の下部基板５３側より光を照射する。尚、本実施の形態では、挟み込み工程は、ステップ１０４からステップ１０８からなる工程に相当する。
【００２７】
次に、ステップ１１０（Ｓ１１０）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの設置を行う。具体的には、測定対象となる磁気テープ５１に対し、照明手段６５の設けられている面と反対の面に画像測定手段８０であるＣＣＤカメラを設置する。画像測定手段８０であるＣＣＤカメラは、先に説明したように、位置制御が可能なアクチュエーターにより、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向、Ｚ軸方向に移動させることが可能である。尚、本実施の形態では、設置工程は、ステップ１１０に相当する。
【００２８】
次に、ステップ１１２（Ｓ１１２）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内に磁気テープ５１の奥エッジ５１ＯＥの画像が映し出されるような位置に、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＹ軸制御手段６３により移動させる。尚、本発明では、磁気テープ５１のエッジであって、−Ｙ方向側に位置しているエッジを奥エッジ５１ＯＥ、それに対し、＋Ｙ方向側に位置しているエッジを手前エッジ５１ＴＥと称する。
【００２９】
次に、ステップ１１４（Ｓ１１４）において、磁気テープ５１におけるピントが合うように画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＺ軸方向に移動し調整を行う。具体的には、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＺ軸制御手段６２により移動し、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内のピントの調整を行う。
【００３０】
次に、ステップ１１６（Ｓ１１６）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラのＹ軸方向の位置の微調整を行う。図２（ｂ）は、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内６１に磁気テープ５１が写し出された際の様子を透過して示した図である。図２（ｂ）に基づき具体的に説明すると、磁気テープ５１のエッジ部分である奥エッジ５１ＯＥが、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内６１の中心部に位置するよう画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＹ軸制御手段６３により移動させ位置の調整を行う。具体的には、ＣＣＤカメラの視野内６１より得られた画像の全体光量の値に基づき、エッジ部分がＣＣＤカメラの視野内６１の中心部にくるよう位置合わせを行う。言い換えれば、磁気テープ５１は、背面より照明手段６５により光を照射しているが、磁気テープ５１の存在している部分は、光が遮られるため、殆ど光は透過することはない。従って、ＣＣＤカメラの視野内６１に入射する光は、照明手段６５により照射された光のうち磁気テープ５１の存在していない領域より入射する光である。このため、ＣＣＤカメラの視野内６１の中心部に磁気テープ５１のエッジ部分がくるように位置あわせした後は、この時の光量の値を基準として磁気テープ５１のエッジの位置あわせを行うことにより、常に、ＣＣＤカメラの視野内６１の中心部に磁気テープ５１のエッジがくるように位置合わせを行うことが可能となる。
【００３１】
次に、ステップ１１８（Ｓ１１８）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの現在の位置情報を出力する。具体的には、磁気テープ５１の長手方向であるＸ軸の座標（Ｘ座標）、それに対し直角な方向であるＹ軸（略磁気テープ５１の幅方向）の座標（Ｙ座標）の位置情報を画像測定手段８０であるＣＣＤカメラより出力し、測定制御部７４に伝達する。尚、Ｘ座標、Ｙ座標ともに出力するのは、最初の一回（Ｎ＝１）の場合のみで、それ以降（Ｎ＞１）の場合は、Ｙ座標の情報のみ画像測定手段８０であるＣＣＤカメラより出力する。即ち、Ｎ＝１の場合は、Ｘ座標：α１、奥エッジ５１ＯＥであるＹ座標：β１の値が出力され伝達されるが、それ以降のＮ＞１の場合では、奥エッジ５１ＯＥであるＹ座標：βＮの値のみ伝達される。
【００３２】
次に、ステップ１２０（Ｓ１２０）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内６１に磁気テープ５１の手前エッジ５１ＴＥの画像が写し出される位置に、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラを移動させる。尚、この画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの移動については、Ｙ軸制御手段６３のみを用いる。
【００３３】
次に、ステップ１２２（Ｓ１２２）において、磁気テープ５１におけるピントが合うように画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＺ軸方向に移動させ調整を行う。具体的には、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＺ軸制御手段６２により移動させ、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内のピントの調整を行う。
【００３４】
次に、ステップ１２４（Ｓ１２４）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラのＹ軸方向の位置の微調整を行う。具体的には、磁気テープ５１のエッジ部分である手前エッジ５１ＴＥが、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの視野内６１の中心部に位置するよう画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＹ軸制御手段６３により移動させ位置の調整を行う。具体的な、位置合せの方法は先に述べた方法と同様である。
【００３５】
次に、ステップ１２６（Ｓ１２６）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラの現在の位置情報を出力する。具体的には、磁気テープ５１の手前エッジ５１ＴＥのＹ座標の位置情報のみを画像測定手段８０であるＣＣＤカメラより出力し、測定制御部７４に伝達する。即ち、手前エッジ５１ＴＥであるＹ座標：γＮの値のみ伝達される。尚、本実施の形態では、磁気テープ測定工程は、ステップ１１２からステップ１２６までの工程に相当する。
【００３６】
次に、ステップ１２８（Ｓ１２８）において、画像測定手段８０であるＣＣＤカメラをＸ軸の＋方向にα〔ｍｍ〕移動させる。尚、本実施の形態では、画像測定手段移動工程は、ステップ１２８に相当する。
【００３７】
次に、ステップ１３０（Ｓ１３０）において、Ｎカウンターの値に１を加える。
【００３８】
次に、ステップ１３２（Ｓ１３２）において、Ｎカウンターの値が、１０２４を超えているか否かの判断を行う。Ｎカウンターの値が、１０２４を超える値である場合、測定はこれで終了する。一方、Ｎカウンターの値が、１０２４を超える値でない場合、ステップ１１２に移行する。これにより、Ｘ方向の位置をα〔ｍｍ〕移動させなから、磁気テープ５１の奥エッジ５１ＯＥと手前エッジ５１ＴＥのＹ方向の位置座標を順次測定することにより、各々１０２４個の位置座標を得ることができる。尚、本実施の形態では、１０２４個の位置情報を得る場合について説明したが、Ｎカウンターの値を変えることにより、任意の回数測定を行うことが可能である。測定回数は、後にフーリエ変換を行う場合を考慮すれば、２のべき乗の値が好ましい。
【００３９】
測定の順序に関しては、本実施の形態以外の方法であっても良く、本実施の形態とは逆に、手前エッジ５１ＴＥを測定した後、奥エッジ５１ＯＥの測定を行う測定方法や、奥エッジ５１ＯＥの測定→手前エッジ５１ＴＥの測定→Ｘ方向にα〔ｍｍ〕移動→手前エッジ５１ＴＥの測定→奥エッジ５１ＯＥの測定→Ｘ方向にα〔ｍｍ〕移動といった順序で測定を行っても良い。
【００４０】
以上の流れにより得られた情報は、測定制御部７４により処理が行われる。具体的には、最初に測定した磁気テープ５１のＸ座標：α１、Ｎ番目に測定した奥エッジ５１ＯＥのＹ座標：βＮ、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標：γＮとした場合、
Ｎ番目の奥エッジ５１ＯＥの座標（Ｘ、Ｙ）＝（α１＋（Ｎ−１）α、βＮ）
Ｎ番目の手前エッジ５１ＴＥの座標（Ｘ、Ｙ）＝（α１＋（Ｎ−１）α、γＮ）
となる。また、測定により得られた情報により、測定制御部７４では、磁気テープ５１の奥エッジ５１ＯＥと手前エッジ５１ＴＥの中心点である中点の算出と、磁気テープ５１の幅が算出される。
Ｎ番目の中点の座標（Ｘ、Ｙ）＝（α１＋（Ｎ−１）α、（βＮ＋γＮ）／２）
Ｎ番目の位置の幅＝｜βＮ−γＮ｜
以上得られたデータ及び算出されたデータは、測定制御部７４内では、図６に示す構造のファイルとして記憶される。
【００４１】
〔直線性の評価方法〕
次に、直線性の評価方法について説明する。
【００４２】
図６に示す構造のファイルについて、Ｘ座標を時間と置換し、奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標、中点、幅の値の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を図１に示す演算処理部８２により行う。これにより、奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標、中点、幅の周波数λと振幅（スペクトラム）Ｓ（ｆ）を算出することができる。ここで、振幅（スペクトラム）Ｓ（ｆ）は、算出した周波数ｆ〔Ｈｚ〕の関数であり、周期λ（＝１／ｆ）〔ｍｍ〕に対する奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標、中点、幅の振幅（スペクトラム）Ｓ（ｆ）の関数ともなる。
【００４３】
この振幅（スペクトラム）Ｓ（ｆ）の関数について、所定の周期区間の最初の波長をλＳ、最後の波長をλＥとした場合、下記の式より所定の周期区間の振幅の積分値（スペクトラム）Ｐを得ることができる。
【００４４】
Ｐ＝∫Ｓ（ｆ）ｄｆ  （１／λＳ≦ｆ≦１／λＥ）
所定の周期区間の振幅の積分値（スペクトラム）Ｐは、所定の周期区間（λＳからλＥ）における積分値となり、この所定の周期区間の振幅の積分値（スペクトラム）Ｐに基づき、磁気テープ５１の直線性を評価することができる。
【００４５】
これにより、磁気テープ巻取り装置等の走行装置の外乱が含まれない磁気テープのエッジの形状を測定し評価することができ、磁気テープのもつ周期性を正確に得ることができる。
【実施例】
【００４６】
本発明に係る実施の形態により、総膜厚が７〔μｍ〕の磁気テープ５１を測定した。具体的には、照明手段６５として蛍光灯を用い、ステップ１２８におけるＸ軸の移動量α＝１〔ｍｍ〕とし、取得した奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標の値を各々１０２４個得た。  
【００４７】
この測定結果を図７に示す。また、測定した情報に基づき、Ｘ座標を時間と置換し、奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標、中点、幅の値の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行った結果を図８に示す。更に、奥エッジ５１ＯＥのＹ座標、手前エッジ５１ＴＥのＹ座標、中点、幅の値の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）を行った結果について、周期が５０〔ｍｍ〕以下（λＳ＝０〔ｍｍ〕、λＥ＝５０〔ｍｍ〕）の振幅の積分値（スペクトラム）Ｐを図９に示す。周期が５０〔ｍｍ〕以下を対象にしているのは、特にこの値以下での振幅の積分値（スペクトラム）Ｐが磁気テープ５１の直線性の評価において重要な指標となるからである。
【００４８】
このように、磁気テープ５１の奥エッジ５１ＯＥ、手前エッジ５１ＴＥの形状の周期性を高い精度で得ることができ、磁気テープ５１の周期性を調べる上で重要なデータとなる。
【００４９】
以上、本発明に係る磁気テープの形状測定方法及び、磁気テープの形状測定装置について詳細に説明したが、本発明は、以上の例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変形を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明に係る磁気テープの形状測定装置のブロック図
【図２】本発明に係る磁気テープの形状測定装置の上面図
【図３】本発明に係る磁気テープの形状測定装置の側面図
【図４】本発明に係る磁気テープの形状測定装置の磁気テープ固定部材の断面図
【図５】本発明に係る磁気テープの形状測定方法のフローチャート
【図６】本発明に係る磁気テープの形状測定方法により測定した磁気テープの測定情報のデータ構造を示す概要図
【図７】本発明の実施例において磁気テープを測定したＸ座標とＹ座標の関係図
【図８】本発明の実施例において演算処理により得られた周期とスペクトラムの関係図
【図９】本発明の実施例において演算処理により得られたスペクトラムの積分値のグラフ
【符号の説明】
【００５１】
５０…磁気テープ固定部材、５１…磁気テープ、５１ＯＥ…奥エッジ、５１ＴＥ…手前エッジ、５２…上部基板、５３…下部基板、５４…弾性体、５５…側面板、５６…減圧孔、５７…ダンパー、６１…ＣＣＤカメラの視野内、６２…Ｚ軸制御手段、６３…Ｙ軸制御手段、６４…Ｘ軸制御手段、８０…画像測定手段（ＣＣＤカメラ）、５１ＯＥ…奥エッジ、５１ＴＥ…手前エッジ
【図１】
2007250130.tif 000003
【図２】
2007250130.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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