(57)【要約】【課題】分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする三刺激値直読型計測器の校正方法を提供する。【解決手段】校正方法は、基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させ、リファレンス光源の明るさ毎に分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、分光型計測器にて生成される分光スペクトルおよび三刺激値直読型計測器の計測値を取得する計測工程Ｓ３と、リファレンス光源の明るさ毎の分光スペクトル、三刺激値直読型計測器の分光透過特性および分光感度特性に基づいて、リファレンス光源の明るさ毎に、三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出工程Ｓ８と、リファレンス光源の明るさ毎の計測値および仮想照度に基づいて、三刺激値直読型計測器の計測値を仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出工程Ｓ９とを備える。【選択図】図7
2007322203.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させ、前記リファレンス光源の明るさ毎に分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルおよび前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する計測工程と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性、および前記三刺激値直読型計測器の各受光素子の分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出工程と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記三刺激値直読型計測器の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出工程とを備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の校正方法において、
前記計測工程は、前記リファレンス光源の明るさを複数段階に変化させるとともに、前記リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させ、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎に前記分光型計測器および前記三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルおよび基準色空間での基準測定値と前記三刺激値直読型計測器の計測値とを取得し、
前記仮想照度算出工程は、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎に、前記仮想照度を算出し、
前記リファレンス光源の所定の明るさでの前記３段階のスペクトル形状の前記仮想照度および前記基準測定値に基づいて、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を前記基準色空間に変換するための色変換パラメータを算出する色変換パラメータ算出工程を備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正方法。
【請求項３】
請求項２に記載の校正方法において、
前記色変換パラメータ算出工程は、前記リファレンス光源の複数段階の明るさのうち最大の明るさでの前記３段階のスペクトル形状の前記仮想照度および前記基準測定値に基づいて前記色変換パラメータを算出することを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正方法。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の校正方法において、
前記リファレンス光源は、赤、緑、青のスペクトル形状の異なる光を射出可能に構成され、
前記計測工程は、前記リファレンス光源から射出される光を赤、緑、青に変化させて前記リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正方法。
【請求項５】
校正対象となる三刺激値直読型計測器と、基準となるリファレンス光源と、入射した光の分光スペクトルを生成する分光型計測器と、前記三刺激値直読型計測器、前記リファレンス光源、および前記分光型計測器を制御する校正制御装置とを備え、
前記校正制御装置は、
前記リファレンス光源を駆動制御するリファレンス光源制御部と、
前記リファレンス光源の明るさが複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記分光型計測器に計測させ、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記リファレンス光源の明るさが前記複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記三刺激値直読型計測器に計測させ、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する校正用計測値取得部と、
前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性、および前記三刺激値直読型計測器の各受光素子の分光感度特性に関する特性情報を記憶する特性情報記憶部と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出部と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記三刺激値直読型計測器の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部とを備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正システム。
【請求項６】
校正対象となる三刺激値直読型計測器と、基準となるリファレンス光源と、入射した光の分光スペクトルを生成する分光型計測器とを備え、
前記三刺激値直読型計測器は、計測器本体と、前記計測器本体、前記リファレンス光源、および前記分光型計測器を制御する校正制御装置とを備え、
前記校正制御装置は、
前記リファレンス光源を駆動制御するリファレンス光源制御部と、
前記リファレンス光源の明るさが複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記分光型計測器に計測させ、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記リファレンス光源の明るさが前記複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記計測器本体に計測させ、前記計測器本体の計測値を取得する校正用計測値取得部と、
前記計測器本体の各光学フィルタの分光透過特性、および前記計測器本体の各受光素子の分光感度特性に関する特性情報を記憶する特性情報記憶部と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記計測器本体固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出部と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記計測器本体の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部とを備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正システム。
【請求項７】
三刺激値直読型計測器を用いて測定対象から出力される光を計測し、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する実測用計測値取得工程と、
請求項１から請求項４のいずれかに記載の校正方法において予め算出されている補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出工程と、
前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力工程とを備えていることを特徴とする色測定方法。
【請求項８】
測定対象から出力される光を計測する三刺激値直読型計測器と、前記三刺激値直読型計測器から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置とを備え、
前記測定制御装置は、
請求項１から請求項４のいずれかに記載の校正方法において予め算出された補正パラメータ、および前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータが記憶されたパラメータ記憶部と、
前記測定対象から出力される光を前記三刺激値直読型計測器に計測させ、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する実測用計測値取得部と、
前記補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出部と、
前記色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力部とを備えていることを特徴とする色測定装置。
【請求項９】
測定対象から出力される光を計測する計測器本体と、前記計測器本体から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置とを備え、
前記測定制御装置は、
請求項１から請求項４のいずれかに記載の校正方法において予め算出された補正パラメータ、および前記計測器本体固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータが記憶されたパラメータ記憶部と、
前記測定対象から出力される光を前記計測器本体に計測させ、前記計測器本体から出力される計測値を取得する実測用計測値取得部と、
前記補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出部と、
前記色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力部とを備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする三刺激値直読型計測器の校正方法、校正システム、色測定方法、色測定装置、および三刺激値直読型計測器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、プロジェクタなどの画像表示装置における表示画像の品質を検査するために、安価でかつ測定時間の短い三刺激値直読型計測器が用いられている。
この三刺激値直読型計測器としては、複数の光学フィルタと、各光学フィルタに対応して設けられるフォトダイオード等の複数の受光素子とを備え、光学フィルタの分光透過特性、および受光素子の分光感度特性により決定される分光応答度に応じた計測値を出力する構成とされている。
そして、三刺激値直読型計測器において、分光応答度が等色関数と一致するように、光学フィルタや受光素子を設計することは困難である。すなわち、分光応答度と等色関数との差異により、三刺激値直読型計測器にて得られる計測値は、例えば等色関数に準拠した分光型計測器により得られる計測値（基準測定値）と誤差が生じてしまう。
このような分光応答度と等色関数との差異を埋める一般的な方法として、分光型計測器を用いて三刺激値直読型計測器の校正を行う方法が知られている。
例えば、校正用の光源を、三刺激値直読型計測器および分光型計測器で計測し、各計測器の出力を比較し、三刺激値直読型計測器の計測値が分光型計測器の基準測定値に一致するような色変換パラメータ（例えば、色変換マトリクス）を求めて記憶しておく。そして、測定対象を三刺激値直読型計測器にて実測する際に、三刺激値直読型計測器の計測値を色変換パラメータで補正し、補正した計測値を測定値として出力する。
【０００３】
しかしながら、分光応答度と等色関数とに差異が生じている場合、分光型計測器の基準測定値に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係は、スペクトル形状の異なる光源毎に異なるものとなり、一意の関係（１対１の関係）にならない。このため、校正用の光源と同一のスペクトル形状の光源を計測した場合には測定値と分光型計測器の基準測定値とを一致させることができるが、校正用の光源とスペクトル形状の異なる光源を計測した場合には測定値と分光型計測器の基準測定値とを一致させることができない。すなわち、スペクトル形状の差異により、測定値と基準測定値とに誤差が生じてしまう。
そこで、スペクトル形状の差異により生じる前記誤差を低減させるために、色変換パラメータ（校正値）を光源の波長毎に複数設定しておき、三刺激値直読型計測器の計測値を光源の波長に応じた色変換パラメータを用いて補正し、補正した計測値を測定値として出力するものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−３２４３８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、三刺激値直読型計測器の受光素子や回路内のアンプ等は、光源の明るさに対して非線形に信号出力するものである。すなわち、三刺激値直読型計測器は、光源の明るさに対して非線形な特性を有している。このため、分光型計測器の基準測定値に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係は、非線形な関係となる。
しかしながら、特許文献１に記載の技術では、三刺激値直読型計測器における明るさに対する非線形な特性に対応していない。すなわち、特許文献１に記載の技術では、校正時の光源の明るさと同一の明るさの光源を計測した場合には測定値と分光型計測器の基準測定値とを一致させることができるが、校正時の光源の明るさと異なる明るさの光源を計測した場合には測定値と分光型計測器の基準測定値とを一致させることができない。すなわち、明るさの差異により、測定値と基準測定値とに誤差が生じてしまう。
このため、スペクトル形状の差異や明るさの差異に対応して分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする技術が要望されている。
【０００６】
本発明の目的は、分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする三刺激値直読型計測器の校正方法、校正システム、色測定方法、色測定装置、および三刺激値直読型計測器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の三刺激値直読型計測器の校正方法は、基準となるリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させ、前記リファレンス光源の明るさ毎に分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルおよび前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する計測工程と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性、および前記三刺激値直読型計測器の各受光素子の分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出工程と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記三刺激値直読型計測器の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出工程とを備えていることを特徴とする。
【０００８】
本発明では、仮想照度算出工程にて、計測工程にて取得したリファレンス光源の明るさ毎の分光スペクトル、分光透過特性、および分光感度特性に基づいて、リファレンス光源の明るさ毎に、三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度（明るさ）を算出する。ここで、計測値は、分光透過特性および分光感度特性にて決定される分光応答度に応じた三刺激値直読型計測器固有の色空間での値であり、仮想照度も分光応答度に応じた三刺激値直読型計測器固有の色空間での値であるため、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係は、スペクトル形状の異なる光源においても、一意の関係となる。
また、補正パラメータ算出工程にて、計測工程にて取得したリファレンス光源の明るさ毎の計測値、および仮想照度算出工程にて算出したリファレンス光源の明るさ毎の仮想照度に基づいて、三刺激値直読型計測器の計測値を仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する。この補正パラメータを算出することで、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係を明らかにし、すなわち、明るさに対する三刺激値直読型計測器の非線形な特性を明らかにすることができる。
【０００９】
以上の校正方法により補正パラメータを算出しておけば、測定対象の実測時において、測定対象を計測した三刺激値直読型計測器の計測値を補正パラメータにより一旦、仮想照度に近似し、近似した仮想照度を、三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータを用いて色変換することで、分光型計測器の基準測定値に対して誤差の低減した測定値を算出できる。すなわち、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係を、スペクトル形状の異なる光源においても、一意の関係としかつ、明るさに対する三刺激値直読型計測器の非線形な特性を明らかにした状態で、測定値を算出できる。したがって、スペクトル形状の差異や明るさの差異に対応して測定値と分光型計測器の基準測定値との誤差を低減し、分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする。
【００１０】
本発明の校正方法では、前記計測工程は、前記リファレンス光源の明るさを複数段階に変化させるとともに、前記リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させ、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎に前記分光型計測器および前記三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルおよび基準色空間での基準測定値と前記三刺激値直読型計測器の計測値とを取得し、前記仮想照度算出工程は、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさおよびスペクトル形状毎に、前記仮想照度を算出し、前記リファレンス光源の所定の明るさでの前記３段階のスペクトル形状の前記仮想照度および前記基準測定値に基づいて、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を前記基準色空間に変換するための色変換パラメータを算出する色変換パラメータ算出工程を備えていることが好ましい。
【００１１】
ここで、計測工程において、リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させる場合には、同一のリファレンス光源を用いて例えば赤、緑、青等のスペクトル形状の異なる光を射出させてもよいし、スペクトル形状の異なる３つのリファレンス光源を切り替えてもよい。
本発明では、計測工程および仮想照度算出工程にてリファレンス光源の明るさを複数段階に変化させかつ、リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させながら、明るさおよびスペクトル形状毎に、分光スペクトル、基準測定値、計測値、および仮想照度を取得・算出する。そして、色変換パラメータ算出工程にて、リファレンス光源の所定の明るさでの３段階のスペクトル形状の各仮想照度および各基準測定値に基づいて、三刺激値直読型計測器固有の色空間を基準色空間に変換するための色変換パラメータ（例えば、色変換マトリクス）を算出する。したがって、測定対象の実測時において、補正パラメータにより一旦、近似した仮想照度（計測値）を、前記色変換パラメータにより色変換することで、分光型計測器の基準測定値に対してより誤差の低減した測定値を算出できる。
また、上述した校正方法によれば、計測工程、仮想照度算出工程、補正パラメータ算出工程、および色変換パラメータ算出工程の一連の工程で補正パラメータおよび色変換パラメータを迅速に算出できる。
【００１２】
本発明の校正方法では、前記色変換パラメータ算出工程は、前記リファレンス光源の複数段階の明るさのうち最大の明るさでの前記３段階のスペクトル形状の前記仮想照度および前記基準測定値に基づいて前記色変換パラメータを算出することが好ましい。
本発明によれば、色変換パラメータ算出工程は、最大の明るさでの３段階のスペクトル形状の各仮想照度および各基準測定値に基づいて色変換パラメータを算出するので、すなわち、色座標が最も離れた各仮想照度および各基準測定値に基づいて色変換パラメータを算出するので、色変換精度の高い色変換パラメータを算出できる。したがって、測定対象の実測時において、補正パラメータにより一旦、近似した仮想照度（計測値）を、前記色変換パラメータにより色変換することで、分光型計測器の基準測定値に対してさらに誤差の低減した測定値を算出できる。
【００１３】
本発明の校正方法では、前記リファレンス光源は、赤、緑、青のスペクトル形状の異なる光を射出可能に構成され、前記計測工程は、前記リファレンス光源から射出される光を赤、緑、青に変化させて前記リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させることが好ましい。
本発明では、計測工程は、リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変化させる際、リファレンス光源から射出される光を赤、緑、青の３段階に変化させる。このことにより、例えば、スペクトル形状の異なる３つのリファレンス光源を切り替える工程と比較して、同一のリファレンス光源を用いることができ、計測工程を迅速に実施でき、ひいては、三刺激値直読型計測器の校正を短時間で完了できる。
【００１４】
本発明の三刺激値直読型計測器の校正システムは、校正対象となる三刺激値直読型計測器と、基準となるリファレンス光源と、入射した光の分光スペクトルを生成する分光型計測器と、前記三刺激値直読型計測器、前記リファレンス光源、および前記分光型計測器を制御する校正制御装置とを備え、前記校正制御装置は、前記リファレンス光源を駆動制御するリファレンス光源制御部と、前記リファレンス光源の明るさが複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記分光型計測器に計測させ、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルを取得するスペクトル取得部と、前記リファレンス光源の明るさが前記複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記三刺激値直読型計測器に計測させ、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する校正用計測値取得部と、前記三刺激値直読型計測器の各光学フィルタの分光透過特性、および前記三刺激値直読型計測器の各受光素子の分光感度特性に関する特性情報を記憶する特性情報記憶部と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出部と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記三刺激値直読型計測器の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部とを備えていることを特徴とする。
【００１５】
本発明の校正システムによれば、三刺激値直読型計測器、リファレンス光源、および分光型計測器を制御する校正制御装置が、リファレンス光源制御部、スペクトル取得部、校正用計測値取得部、特性情報記憶部、仮想照度算出部、および補正パラメータ算出部を備えているので、該校正システムにより上述した校正方法を実行でき、上述した校正方法と同様の作用効果を享受できる。
【００１６】
本発明の三刺激値直読型計測器の校正システムは、校正対象となる三刺激値直読型計測器と、基準となるリファレンス光源と、入射した光の分光スペクトルを生成する分光型計測器とを備え、前記三刺激値直読型計測器は、計測器本体と、前記計測器本体、前記リファレンス光源、および前記分光型計測器を制御する校正制御装置とを備え、前記校正制御装置は、前記リファレンス光源を駆動制御するリファレンス光源制御部と、前記リファレンス光源の明るさが複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記分光型計測器に計測させ、前記分光型計測器にて生成される分光スペクトルを取得するスペクトル取得部と、前記リファレンス光源の明るさが前記複数段階に変化した際に、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記計測器本体に計測させ、前記計測器本体の計測値を取得する校正用計測値取得部と、前記計測器本体の各光学フィルタの分光透過特性、および前記計測器本体の各受光素子の分光感度特性に関する特性情報を記憶する特性情報記憶部と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて、前記リファレンス光源の明るさ毎に、前記計測器本体固有の色空間での仮想照度を算出する仮想照度算出部と、前記リファレンス光源の明るさ毎の前記計測値および前記仮想照度に基づいて、前記計測器本体の計測値を前記仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部とを備えていることを特徴とする。
【００１７】
本発明の校正システムによれば、三刺激値直読型計測器が、計測器本体と、計測器本体、リファレンス光源、および分光型計測器を制御する校正制御装置とを備え、校正制御装置が、リファレンス光源制御部、スペクトル測定値取得部、校正用計測値取得部、特性情報記憶部、仮想照度算出部、および補正パラメータ算出部を備えているので、該校正システムにより上述した校正方法を実行でき、上述した校正方法と同様の作用効果を享受できる。
また、三刺激値直読型計測器に校正制御装置が組み込まれた構成であるので、三刺激値直読型計測器とは別に校正制御装置を設ける構成と比較して、校正時の作業スペースの効率化が図れ、利便性の向上が図れる。
【００１８】
本発明の色測定方法は、三刺激値直読型計測器を用いて測定対象から出力される光を計測し、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する実測用計測値取得工程と、上述した校正方法において予め算出されている補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出工程と、前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力工程とを備えていることを特徴とする。
本発明によれば、色測定方法は、実測用計測値取得工程、補正計測値算出工程、および測定値出力工程を備えているので、上述した校正方法にて予め算出されている補正パラメータを用いて、測定対象を計測した三刺激値直読型計測器の計測値を一旦、仮想照度（補正計測値）に近似し、近似した補正計測値を、三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータを用いて色変換することで、分光型計測器の基準測定値に対して誤差の低減した測定値を算出できる。すなわち、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係を、スペクトル形状の異なる光源においても、一意の関係としかつ、明るさに対する三刺激値直読型計測器の非線形な特性を明らかにした状態で、測定値を算出できる。したがって、スペクトル形状の差異や明るさの差異に対応して測定値と分光型計測器の基準測定値との誤差を低減し、分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする。
【００１９】
本発明の色測定装置は、測定対象から出力される光を計測する三刺激値直読型計測器と、前記三刺激値直読型計測器から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置とを備え、前記測定制御装置は、上述した校正方法において予め算出された補正パラメータ、および前記三刺激値直読型計測器固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータが記憶されたパラメータ記憶部と、前記測定対象から出力される光を前記三刺激値直読型計測器に計測させ、前記三刺激値直読型計測器の計測値を取得する実測用計測値取得部と、前記補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出部と、前記色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力部とを備えていることを特徴とする。
本発明の色測定装置によれば、三刺激値直読型計測器から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置が、パラメータ記憶部、実測用計測値取得部、補正計測値算出部、および測定値出力部を備えているので、該色測定装置により上述した色測定方法を実行でき、上述した色測定方法と同様の作用効果を享受できる。
【００２０】
本発明の三刺激値直読型計測器は、測定対象から出力される光を計測する計測器本体と、前記計測器本体から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置とを備え、前記測定制御装置は、上述した校正方法において予め算出された補正パラメータ、および前記計測器本体固有の色空間を分光型計測器の基準色空間に変換するための色変換パラメータが記憶されたパラメータ記憶部と、前記測定対象から出力される光を前記計測器本体に計測させ、前記計測器本体から出力される計測値を取得する実測用計測値取得部と、前記補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出部と、前記色変換パラメータを用いて前記補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力部とを備えていることを特徴とする。
本発明の三刺激値直読型計測器によれば、計測器本体から出力される計測値に基づいて測定値を出力する測定制御装置が、パラメータ記憶部、実測用計測値取得部、補正計測値算出部、および測定値出力部を備えているので、該三刺激値直読型計測器により上述した色測定方法を実行でき、上述した色測定方法と同様の作用効果を享受できる。
また、三刺激値直読型計測器に測定制御装置が組み込まれた構成であるので、三刺激値直読型計測器とは別に測定制御装置を設ける構成と比較して、実測時の作業スペースの効率化が図れ、利便性の向上が図れる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
[第１実施形態]
本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔校正システムの構成〕
図１は、第１実施形態における校正システム１の構成を示すブロック図である。
校正システム１は、三刺激値直読型計測器２を校正するシステムである。この校正システム１は、図１に示すように、校正対象である三刺激値直読型計測器２と、分光型計測器３と、校正ステージ４と、リファレンス光源としてのプロジェクタ５と、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）６とを備える。
【００２２】
図２は、三刺激値直読型計測器２の構成を示すブロック図である。
三刺激値直読型計測器２は、図２に示すように、赤（ＲＥＤ）、緑（ＧＲＥＥＮ）、青（ＢＬＵＥ）の３種類の光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂと、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂと、電流／電圧変換回路（Ｉ／Ｖ変換回路）２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂと、増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂと、アナログ／デジタル変換回路（Ａ／Ｄ変換回路）２５Ｒ，２５Ｇ，２５Ｂと、制御回路２６と、記憶回路２７とを備えて構成されている。
【００２３】
図３は、光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂの分光透過特性ＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）を示す図である。なお、図３において、各特性ＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）は、最大値を１に正規化したものである。
光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂは、図３に示すように、波長λ（３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ）に対し、それぞれＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）の分光透過特性を有している。そして、光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂは、入射した光のうち、各分光透過特性ＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）に応じた光を透過する。
【００２４】
図４は、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂの分光感度特性Ｔ（λ）を示す図である。なお、図４において、特性Ｔ（λ）は、最大値を１に正規化したものである。
受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂは、フォトダイオード等で構成され、光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂに対応して設けられている。そして、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂは、図４に示すように、波長λ（３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ）に対しＴ（λ）の分光感度特性を有し、各光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂを透過した光が照射されると、分光感度特性Ｔ(λ)に基づく受光感度の強さに応じた信号（電流）を出力する。
【００２５】
Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂは、各受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂに接続され、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂから出力される電流を電圧に変換する。
増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂは、各Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂに接続され、各Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂから出力される電圧を増幅する。
Ａ／Ｄ変換回路２５Ｒ，２５Ｇ，２５Ｂは、増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂで増幅された電圧（アナログ値）をデジタル値に変換し、制御回路２６に出力する。
【００２６】
制御回路２６は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等で構成され、Ａ／Ｄ変換回路２５Ｒ，２５Ｇ，２５Ｂから出力されるデジタル値（計測値）をＰＣ６に出力する処理等を実施する。
記憶回路２７は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)やＲＡＭ(Random Access Memory)等のメモリや、ハードディスク等で構成され、前記ＣＰＵを駆動するためのプログラムや、処理によって得られたデータ等を記憶する。
【００２７】
以上の三刺激値直読型計測器２では、光学フィルタ２１Ｒ、受光素子２２Ｒ、Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ、増幅回路２４Ｒ、Ａ／Ｄ変換回路２５Ｒを備えてＲ（赤）用のセンサが構成され、光学フィルタ２１Ｇ、受光素子２２Ｇ、Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｇ、増幅回路２４Ｇ、Ａ／Ｄ変換回路２５Ｇを備えてＧ（緑）用のセンサが構成され、光学フィルタ２１Ｂ、受光素子２２Ｂ、Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｂ、増幅回路２４Ｂ、Ａ／Ｄ変換回路２５Ｂを備えてＢ（青）用のセンサが構成されている。
【００２８】
分光型計測器３は、従来から用いられている公知の分光型の色測定装置であり、入射した光の分光スペクトルおよび基準色空間（CIE XYZ色空間）での基準測定値（三刺激値ＸＹＺ）を生成する。
校正ステージ４は、三刺激値直読型計測器２および分光型計測器３を載置するステージであり、ＰＣ６による制御の下、スライド移動可能に構成されている。そして、これにより、校正ステージ４上の三刺激値直読型計測器２および分光型計測器３を、プロジェクタ５の正面に交互に配置可能に構成されている。
プロジェクタ５は、液晶素子を利用した一般的なプロジェクタであり、ＰＣ６による制御（後述する校正制御）の下、駆動制御される。
【００２９】
図５は、ＰＣ６の構成を示すブロック図である。
ＰＣ６は、図５に示すように、ＣＲＴ(Cathode-Ray Tube)や液晶ディスプレイ等で構成された表示装置６１と、キーボードやマウス等で構成された入力装置６２と、ＰＣ本体６３とを備える。
ＰＣ本体６３は、ＣＰＵ等の演算処理装置を含んで構成され、作業者による入力装置６２への所定の入力操作により所定のプログラムにしたがって処理を実行する。このＰＣ本体６３は、図５に示すように、校正制御部６３１と、測定制御部６３２等を備える。なお、測定制御部６３２の構成については、後述する色測定装置１０を説明する際に、説明する。
【００３０】
校正制御部６３１は、所定のプログラムにしたがって、測定対象の色測定を実施する前に予め三刺激値直読型計測器２の計測値を補正するための補正パラメータおよび色変換パラメータを算出する校正制御を実施する。この校正制御部６３１は、図５に示すように、校正ステージ４の移動を制御するステージ制御部６３１１と、プロジェクタ５の駆動状態を制御するリファレンス光源制御部６３１２と、分光型計測器３にて生成される分光スペクトルおよび基準測定値を取得するスペクトル取得部６３１３と、三刺激値直読型計測器２の計測値を取得する校正用計測値取得部６３１４と、前記分光スペクトル、前記分光透過特性、および前記分光感度特性に基づいて仮想照度を算出する仮想照度算出部６３１５と、前記計測値および前記仮想照度に基づいて補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部６３１６と、前記基準測定値および前記仮想照度に基づいて色変換パラメータを算出する色変換パラメータ算出部６３１７と、校正制御を実施するためのプログラム、校正制御に必要な情報（前記分光透過特性や前記分光感度特性に関する特性情報等）、および校正制御の際、取得・算出した情報等を記憶する特性情報記憶部としての校正制御情報記憶部６３１８とを備える。
すなわち、校正制御部６３１が本発明に係る校正制御装置に相当する。
【００３１】
〔色測定装置の構成〕
図６は、色測定装置１０の構成を示すブロック図である。
色測定装置１０は、例えば、三刺激値、色度、照度、あるいは、輝度を測定表示する色彩計、照度計、あるいは、輝度計として用いられる装置である。この色測定装置１０は、図６に示すように、測定対象となるプロジェクタ５Ａから射出される光を三刺激値直読型計測器２に計測させ、三刺激値直読型計測器２の計測値をＰＣ６にて所定の処理を実行して測定値を算出する。なお、プロジェクタ５Ａの構成は、上述したプロジェクタ５と同様の構成である。すなわち、色測定装置１０は、図６に示すように、三刺激値直読型計測器２と、ＰＣ６（測定制御部６３２）とで構成される。
【００３２】
測定制御部６３２は、所定のプログラムにしたがって、プロジェクタ５Ａから射出された光を計測した三刺激値直読型計測器２の計測値を、前記補正パラメータおよび前記色変換パラメータを用いて補正して測定値（三刺激値ＸＹＺ）を出力する測定制御を実施する。この測定制御部６３２は、図５に示すように、プロジェクタ５Ａの駆動状態を制御する測定対象制御部６３２１と、測定制御を実施するためのプログラム、校正制御部６３１にて予め算出された補正パラメータおよび色変換パラメータ、および測定制御の際、取得・算出した情報等を記憶するパラメータ記憶部としての測定制御情報記憶部６３２５と、プロジェクタ５Ａから射出される光を計測した三刺激値直読型計測器２の計測値を取得する実測用計測値取得部６３２２と、補正パラメータを用いて前記計測値を補正して補正計測値を算出する補正計測値算出部６３２３と、色変換パラメータを用いて補正計測値を色変換し、色変換した補正計測値を測定値として出力する測定値出力部６３２４とを備える。
すなわち、測定制御部６３２が本発明に係る測定制御装置に相当する。
【００３３】
〔校正方法〕
次に、上述した校正システム１による三刺激値直読型計測器２の校正方法を説明する。
図７は、校正システム１による三刺激値直読型計測器２の校正方法を説明するフローチャートである。
先ず、作業者は、ＰＣ６の入力装置６２に、「三刺激値直読型計測器２の校正作業を開始する」旨の入力操作を実施する。そして、ＰＣ本体６３の校正制御部６３１は、入力装置６２から出力される操作信号に応じて、校正制御情報記憶部６３１８からプログラムを読み出し、以下に示すように、校正制御を実施する。
【００３４】
校正制御部６３１のリファレンス光源制御部６３１２は、プロジェクタ５を駆動制御し、プロジェクタ５の明るさi(i=1,・・・n)を所定の明るさ１に設定するとともに（ステップＳ１）、赤（ＲＥＤ）を点灯させる（ステップＳ２）。なお、明るさiは、それぞれ異なる明るさである。また、ｎは２以上であればよい。
ステップＳ２の後、校正制御部６３１は、三刺激値直読型計測器２および分光型計測器３にプロジェクタ５から射出される光を計測させる（ステップＳ３：計測工程）。
【００３５】
図８は、計測工程Ｓ３を説明するフローチャートである。
具体的に、校正制御部６３１のステージ制御部６３１１は、三刺激値直読型計測器２がプロジェクタ５の正面に来るように校正ステージ４をスライドする（ステップＳ３１）。
そして、校正制御部６３１の校正用計測値取得部６３１４は、プロジェクタ５から射出される光を三刺激値直読型計測器２に計測させ、三刺激値直読型計測器２の計測値を取得する（ステップＳ３２）。そして、校正用計測値取得部６３１４は、取得した計測値を校正制御情報記憶部６３１８に記憶させる。
【００３６】
ステップＳ３２の後、ステージ制御部６３１１は、分光型計測器３がプロジェクタ５の正面に来るように校正ステージ４をスライドする（ステップＳ３３）。
ステップＳ３３の後、校正制御部６３１のスペクトル取得部６３１３は、プロジェクタ５から射出される光を分光型計測器３に計測させ、分光型計測器３にて生成される分光スペクトルおよび基準測定値を取得する（ステップＳ３４）。そして、スペクトル取得部６３１３は、取得した分光スペクトルおよび基準測定値を校正制御情報記憶部６３１８に記憶させる。
【００３７】
以上により、所定の明るさｉ（例えば明るさ１）でかつＲＥＤでの三刺激値直読型計測器２の計測値（ＸAD_R_i，ＹAD_R_i，ＺAD_R_i）、分光型計測器３にて生成された分光スペクトルＷR_i(λ)および基準測定値（ＸR_i，ＹR_i，ＺR_i）が取得・記憶され、計測工程Ｓ３が終了する。
【００３８】
次に、リファレンス光源制御部６３１２は、プロジェクタ５を駆動制御し、プロジェクタ５の明るさiを所定の明るさ（例えば明るさ１）のままで緑（ＧＲＥＥＮ）を点灯させる（ステップＳ４）。
ステップＳ４の後、校正制御部６３１は、三刺激値直読型計測器２および分光型計測器３にプロジェクタ５から射出される光を計測させる計測工程を再度実施する（ステップＳ３）。これにより、所定の明るさ（例えば明るさ１）でかつＧＲＥＥＮでの三刺激値直読型計測器２の計測値（ＸAD_G_i，ＹAD_G_i，ＺAD_G_i）、分光型計測器３にて生成された分光スペクトルＷG_i(λ)および基準測定値（ＸG_i，ＹG_i，ＺG_i）が取得・記憶される。
【００３９】
次に、リファレンス光源制御部６３１２は、プロジェクタ５を駆動制御し、プロジェクタ５の明るさiを所定の明るさ（例えば明るさ１）のままで青（ＢＬＵＥ）を点灯させる（ステップＳ５）。
ステップＳ５の後、校正制御部６３１は、三刺激値直読型計測器２および分光型計測器３にプロジェクタ５から射出される光を計測させる計測工程を再度実施する（ステップＳ３）。これにより、所定の明るさ（例えば明るさ１）でかつＢＬＵＥでの三刺激値直読型計測器２の計測値（ＸAD_B_i，ＹAD_B_i，ＺAD_B_i）、分光型計測器３にて生成された分光スペクトルＷB_i(λ)および基準測定値（ＸB_i，ＹB_i，ＺB_i）が取得・記憶される。
【００４０】
次に、校正制御部６３１は、リファレンス光源制御部６３１２により駆動制御されるプロジェクタ５の明るさiが「明るさｎ」であるかを判定する（ステップＳ６）。
ステップＳ６において、校正制御部６３１は、「Ｎ」と判定した場合、すなわち、プロジェクタ５の明るさが「明るさｎ」ではないと判定した場合には、リファレンス光源制御部６３１２により駆動制御されるプロジェクタ５の明るさを１増加させ（ステップＳ７）、上述したステップＳ２〜Ｓ６を再度実行する。すなわち、校正制御部６３１は、プロジェクタ５の明るさが「明るさｎ」となるまで、ステップＳ７においてプロジェクタ５の明るさを１増加させ、上述したステップＳ２〜Ｓ６を繰り返し実行する。
以上の工程により、プロジェクタ５の複数段階の明るさiでかつ各色（Ｒ，Ｇ，Ｂ）での三刺激値直読型計測器２の計測値（ＸAD_i（ＸAD_R_i，ＸAD_G_i，ＸAD_B_i），ＹAD_i（ＹAD_R_i，ＹAD_G_i，ＹAD_B_i），ＺAD_i（ＺAD_R_i，ＺAD_G_i，ＺAD_B_i））、分光型計測器３にて生成された分光スペクトルＷ_i(λ)(ＷR_i(λ)，ＷG_i(λ)，ＷB_i(λ))および基準測定値（Ｘ_i（ＸB_i，ＸG_i，ＸB_i），Ｙ_i（ＹB_i，ＹG_i，ＹB_i），Ｚ_i（ＺB_i，ＺG_i，ＺB_i））が取得され、校正制御情報記憶部６３１８に記憶される。
【００４１】
図９は、三刺激値直読型計測器２の分光応答度と等色関数との関係の一例を示す図である。
図１０は、明るさ（分光型計測器３にて計測した基準測定値）に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係の一例を示す図である。
ところで、三刺激値直読型計測器２の計測値ＸAD，ＹAD，ＺADは、光源の分光スペクトルＷ(λ)、上述した分光透過特性ＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）、および上述した分光感度特性Ｔ(λ)を用いて、以下の式（１）で決定される。
なお、式（１）において、分光透過特性および分光感度特性を乗算したｘ´(λ)，ｙ´(λ)，ｚ´(λ)を、以下では、分光応答度として記載する。また、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂや回路内の増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂが明るさに対して非線形に信号出力するため、式（１）において、ｋR，ｋG，ｋBは、前記明るさに対する非線形性を含んだ係数としている。
【００４２】
【数１】
2007322203.tif 000003
【００４３】
以上のように、三刺激値直読型計測器２は、分光応答度に応じた、すなわち、当該三刺激値直読型計測器２固有の色空間で計測値ＸAD，ＹAD，ＺADを出力する。
【００４４】
また、分光型計測器３から出力される基準測定値Ｘ，Ｙ，Ｚは、光源の分光スペクトルＷ(λ)、および等色関数ｘ(λ)，ｙ(λ)，ｚ(λ)を用いて、以下の式（２）で決定される。
なお、式（２）において、ｋは、定数である。
【００４５】
【数２】
2007322203.tif 000004
【００４６】
以上のように、分光型計測器３は、等色関数に応じた、すなわち、基準色空間（CIE XYZ色空間）で基準測定値Ｘ，Ｙ，Ｚを出力する。
【００４７】
ここで、図９に示すように、分光応答度ｘ´(λ)，ｙ´(λ)，ｚ´(λ)と等色関数ｘ(λ)，ｙ(λ)，ｚ(λ)とには一般的に差異が生じるものである。そして、前記差異が生じていることにより、図１０に示すように、明るさ（分光型計測器３にて計測した基準測定値）に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係は、スペクトル形状の異なる光源ＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３毎に異なるものとなり、一意な関係（１対１の関係）にならない。
また、上述したように受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂや回路内の増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂが明るさに対して非線形に信号出力するため、図１０に示すように、明るさ（分光型計測器３にて計測した基準測定値）に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係が非線形な関係となる。なお、図１０における破線は、明るさ（分光型計測器３にて計測した基準測定値）に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係が理想的な線形関係となっている状態を示している。
【００４８】
上記のような状態において、例えば、所定のスペクトル形状でかつ所定の明るさで、三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値と分光型計測器３にて計測された基準測定値に基づいて、三刺激値直読型計測器２固有の色空間を基準色空間に変換するための色変換パラメータを生成する。この色変換パラメータを用いた場合には、前記所定のスペクトル形状でかつ前記所定の明るさ付近で三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値については基準色空間に良好に色変換できる。すなわち、三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値を色変換した値と、分光型計測器３にて計測された基準測定値との誤差を小さくできる。
しかしながら、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係を一意な関係としていないため、前記色変換パラメータを用いても、前記所定のスペクトル形状とは異なるスペクトル形状で三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値については基準色空間に良好に色変換できない。すなわち、三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値を色変換した値と、分光型計測器３にて計測された基準測定値との誤差が大きくなる。
同様に、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の計測値の非線形な関係を明らかにしていないため、前記色変換パラメータを用いても、前記所定の明るさとは異なる明るさで三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値については基準色空間に良好に色変換できない。すなわち、三刺激値直読型計測器２にて計測された計測値を色変換した値と、分光型計測器３にて計測された基準測定値との誤差が大きくなる。
【００４９】
そこで、前記誤差を低減する方法として、ステップＳ６において、校正制御部６３１は、「Ｙ」と判定した場合、すなわち、プロジェクタ５の明るさiが「明るさｎ」であると判定した場合には、先ず、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係を一意な関係とするために仮想照度算出工程Ｓ８を実施し、次に、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の計測値の非線形な関係を明らかにするために補正パラメータ算出工程Ｓ９を実施する。
【００５０】
図１１は、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係の一例を示す図である。
具体的に、校正制御部６３１の仮想照度算出部６３１５は、複数段階の明るさi毎に、校正制御情報記憶部６３１８に記憶された分光スペクトルＷ_i(λ)、分光透過特性ＳR（λ），ＳG（λ），ＳB（λ）、および分光感度特性Ｔ(λ)を用いて、以下の式（３）により、仮想照度ＸLUM_i（ＸLUM_R_i，ＸLUM_G_i，ＸLUM_B_i），ＹLUM_i（ＹLUM_R_i，ＹLUM_G_i，ＹLUM_B_i），ＺLUM_i（ＺLUM_R_i，ＺLUM_G_i，ＺLUM_B_i）を算出する（ステップＳ８：仮想照度算出工程）。そして、仮想照度算出部６３１５は、算出した仮想照度ＸLUM_i，ＹLUM_i，ＺLUM_iを校正制御情報記憶部６３１８に記憶させる。
【００５１】
【数３】
2007322203.tif 000005
【００５２】
すなわち、式（１）に示すように計測値ＸAD，ＹAD，ＺADは分光応答度に応じた三刺激値直読型計測器２固有の色空間での値であり、式（３）に示すように算出した仮想照度ＸLUM_i，ＹLUM_i，ＺLUM_iも分光応答度に応じた三刺激値直読型計測器２固有の色空間での値であるため、図１１に示すように、仮想照度（明るさ）に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係は、スペクトル形状の異なる光源ＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３においても、一意の関係となる。
【００５３】
ステップＳ８の後、校正制御部６３１の補正パラメータ算出部６３１６は、校正制御情報記憶部６３１８に記憶された計測値ＸAD_i，ＹAD_i，ＺAD_iおよび仮想照度ＸLUM_i，ＹLUM_i，ＺLUM_iの関係を求め、三刺激値直読型計測器２の計測値を仮想照度に近似するための補正パラメータを算出する（ステップＳ９：補正パラメータ算出工程）。そして、補正パラメータ算出部６３１６は、算出した補正パラメータを測定制御部６３２の測定制御情報記憶部６３２５に記憶させる。
【００５４】
図１２は、補正パラメータ算出工程Ｓ９を説明するための一例を示す図である。具体的に、図１２では、明るさi毎に、計測値ＸAD_i，ＹAD_i，ＺAD_iおよび仮想照度ＸLUM_i，ＹLUM_i，ＺLUM_iを対応させてプロットした図である。なお、図１２の例では、明るさiは６段階の場合、すなわち、計測点が計測点Ｐ１〜Ｐ６の場合を示している。
具体的に、補正パラメータ算出部６３１６は、図１２に示すように、明るさi毎に記憶された計測値ＸAD_i，ＹAD_i，ＺAD_iおよび仮想照度ＸLUM_i，ＹLUM_i，ＺLUM_iの各計測点Ｐ１〜Ｐ６に基づいて、計測値と仮想照度との関係を求め、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の計測値の非線形な関係を明らかにし、三刺激値直読型計測器２の計測値を仮想照度に近似するための補正パラメータ（例えば、ＬＵＴ(Look Up Table)等）を算出する。
なお、計測値と仮想照度との関係を求める際、各計測点Ｐ１〜Ｐ６の間は、直線補間や二次・三次曲線補間またはスプライン補間で補ってもよく、または、各計測点Ｐ１〜Ｐ６に対して最小二乗法などの近似曲線を適用してもよい。
【００５５】
ステップＳ９の後、校正制御部６３１の色変換パラメータ算出部６３１７は、校正制御情報記憶部６３１８に記憶された基準測定値Ｘ_i（ＸB_i，ＸG_i，ＸB_i），Ｙ_i（ＹB_i，ＹG_i，ＹB_i），Ｚ_i（ＺB_i，ＺG_i，ＺB_i）のうち所定の明るさでの基準測定値と、仮想照度ＸLUM_i（ＸLUM_R_i，ＸLUM_G_i，ＸLUM_B_i），ＹLUM_i（ＹLUM_R_i，ＹLUM_G_i，ＹLUM_B_i），ＺLUM_i（ＺLUM_R_i，ＺLUM_G_i，ＺLUM_B_i）のうち前記所定の明るさでの仮想照度とに基づいて、三刺激値直読型計測器２固有の色空間を基準色空間に変換するための色変換パラメータを算出する（ステップＳ１０：色変換パラメータ算出工程）。そして、色変換パラメータ算出部６３１７は、算出した色変換パラメータを測定制御部６３２の測定制御情報記憶部６３２５に記憶する。
【００５６】
具体的に、色変換パラメータ算出部６３１７は、明るさが最大で最大値となる、基準測定値（ＸR_max，ＹR_max，ＺR_max），（ＸG_max，ＹG_max，ＺG_max），（ＸB_max，ＹB_max，ＺB_max）と、仮想照度（ＸLUM_R_max，ＹLUM_R_max，ＺLUM_R_max），（ＸLUM_G_max，ＹLUM_G_max，ＺLUM_G_max），（ＸLUM_B_max，ＹLUM_B_max，ＺLUM_B_max）とに基づいて、以下の式（４）を用いて、色変換パラメータとしての色変換マトリクスＭLUMを算出する。
【００５７】
【数４】
2007322203.tif 000006
【００５８】
〔色測定方法〕
次に、上述した校正方法が終了した後に色測定装置１０により測定対象を実測する際の色測定方法を説明する。
図１３は、色測定装置１０による色測定方法を説明するフローチャートである。
先ず、作業者は、ＰＣ６の入力装置６２に、「測定対象となるプロジェクタ５Ａから出力される光を実測する」旨の入力操作を実施する。そして、ＰＣ本体６３の測定制御部６３２は、入力装置６２から出力される操作信号に応じて、測定制御情報記憶部６３２５からプログラムを読み出し、以下に示すように、測定制御を実施する。
【００５９】
測定制御部６３２の測定対象制御部６３２１は、プロジェクタ５Ａの駆動を制御する（ステップＳ１１）。
ステップＳ１１の後、測定制御部６３２の実測用計測値取得部６３２２は、三刺激値直読型計測器２にプロジェクタ５Ａから射出される光を計測させ、三刺激値直読型計測器２から出力される計測値ＸAD，ＹAD，ＺADを取得する（ステップＳ１２：実測用計測値取得工程）。そして、実測用計測値取得部６３２２は、取得した計測値ＸAD，ＹAD，ＺADを測定制御情報記憶部６３２５に記憶する。
【００６０】
ステップＳ１２の後、測定制御部６３２の補正計測値算出部６３２３は、測定制御情報記憶部６３２５に記憶された補正パラメータ（例えばＬＵＴ）を用いて前記取得した実測ＸAD，ＹAD，ＺADを補正し（仮想照度に補正し）、補正計測値ＸLUM，ＹLUM，ＺLUMを算出する（ステップＳ１３：補正計測値算出工程）。そして、補正計測値算出部６３２３は、算出した補正計測値ＸLUM，ＹLUM，ＺLUMを測定制御情報記憶部６３２５に記憶する。
ステップＳ１３の後、測定制御部６３２の測定値出力部６３２４は、補正計測値ＸLUM，ＹLUM，ＺLUMを測定制御情報記憶部６３２５に記憶された色変換パラメータとしての色変換マトリクスＭLUMを用いて、以下の式（５）により色変換し、色変換した補正計測値を測定値Ｘ，Ｙ，Ｚとして出力する（ステップＳ１４：測定値出力工程）。そして、例えば、ＰＣ本体６３は、表示装置６１等に三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ、色度、照度、輝度等を表示させる。
【００６１】
【数５】
2007322203.tif 000007
【００６２】
上述した第１実施形態によれば、以下の効果がある。
本実施形態では、三刺激値直読型計測器２の校正時（校正制御時）において、ＰＣ６が計測工程Ｓ３および仮想照度算出工程Ｓ８を実施して仮想照度を算出する。三刺激値直読型計測器２の計測値、および仮想照度は、共に、三刺激値直読型計測器２固有の色空間の値であるため、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係は、スペクトル形状の異なる光源においても、一意な関係となる。また、ＰＣ６が補正パラメータ算出工程Ｓ９を実施して補正パラメータを算出することで、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係を明らかにし、すなわち、明るさに対する三刺激値直読型計測器２（受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂや回路内の増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ）の非線形な特性を明らかにすることができる。
このため、測定対象であるプロジェクタ５Ａから射出される光の実測時（測定制御時）において、ＰＣ６が、実測用計測値取得工程Ｓ１２および補正計測値算出工程Ｓ１３を実施して、測定対象を計測した三刺激値直読型計測器２の計測値を補正パラメータにより一旦、補正計測値（仮想照度）に近似し、補正計測値を色変換パラメータにより色変換して測定値を算出することで、分光型計測器３の基準測定値に対して誤差の低減した測定値を算出できる。すなわち、仮想照度に対する三刺激値直読型計測器２の計測値の関係を、スペクトル形状の異なる光源においても、一意の関係としかつ、明るさに対する三刺激値直読型計測器２の非線形な関係を明らかにした状態で、測定値を算出できる。したがって、スペクトル形状の差異や明るさの差異に対応して測定値と分光型計測器３の基準測定値との誤差を低減し、分光型計測器３に合わせた高精度の測定を可能とする。
【００６３】
また、本実施形態では、計測工程Ｓ３および仮想照度算出工程Ｓ８にて、プロジェクタ５の明るさｉを複数段階に変化させかつ、プロジェクタ５の色をＲ，Ｇ，Ｂの３段階に変化させながら、明るさｉおよび色（Ｒ，Ｇ，Ｂ）毎に、分光スペクトル、基準測定値、計測値、および仮想照度を取得・算出する。そして、色変換パラメータ算出工程Ｓ１０にて、プロジェクタ５の所定の明るさでの各色（Ｒ，Ｇ，Ｂ）の各仮想照度および各基準測定値に基づいて、三刺激値直読型計測器２固有の色空間を基準色空間に変換するための色変換マトリクスＭLUMを算出している。したがって、測定対象であるプロジェクタ５Ａから射出される光の実測時において、補正パラメータにより一旦、近似した補正計測値を、色変換マトリクスＭLUMにより色変換することで、分光型計測器３の基準測定値に対してより誤差の低減した測定値を算出できる。
また、本実施形態の校正方法によれば、計測工程Ｓ３、仮想照度算出工程Ｓ８、補正パラメータ算出工程Ｓ９、および色変換パラメータ算出工程Ｓ９の一連の工程で補正パラメータおよび色変換パラメータを迅速に算出できる。
【００６４】
さらに、本実施形態では、色変換パラメータ算出工程Ｓ１０は、明るさが最大で最大値となる、基準測定値（ＸR_max，ＹR_max，ＺR_max），（ＸG_max，ＹG_max，ＺG_max），（ＸB_max，ＹB_max，ＺB_max）と、仮想照度（ＸLUM_R_max，ＹLUM_R_max，ＺLUM_R_max），（ＸLUM_G_max，ＹLUM_G_max，ＺLUM_G_max），（ＸLUM_B_max，ＹLUM_B_max，ＺLUM_B_max）とに基づいて、色変換マトリクスＭLUMを算出しているので、すなわち、色座標が最も離れた各ＲＧＢの色座標を用いて色変換マトリクスＭLUMを算出しているので、色変換精度の高い色変換マトリクスＭLUMを算出できる。したがって、測定値と分光型計測器３の基準測定値との誤差をさらに低減でき、分光型計測器３に合わせたより高精度の測定を可能とする。
【００６５】
さらにまた、本実施形態では、計測工程Ｓ３は、プロジェクタ５から射出される光を赤、緑、青の３段階に変化させているので、例えば、スペクトル形状の異なる３つの光源を切り替える工程と比較して、同一のリファレンス光源（プロジェクタ５）を用いることができ、計測工程Ｓ３を迅速に実施でき、ひいては、三刺激値直読型計測器２の校正を短時間で完了できる。
【００６６】
[第２実施形態]
次に、本発明の第２実施形態を図面に基づいて説明する。
以下の説明では、前記第１実施形態と同様の構造および同一部材には同一符号を付して、その詳細な説明は省略または簡略化する。
図１４は、第２実施形態における校正システム１Ａの構成を示すブロック図である。
図１５は、第２実施形態における三刺激値直読型計測器２Ａの構成を示すブロック図である。
図１６は、第２実施形態におけるＰＣ６Ａの構成を示すブロック図である。
本実施形態では、図１４ないし図１６に示すように、前記第１実施形態に対して、校正システム１Ａにおいて、ＰＣ６におけるＰＣ本体６３の一部の機能を、三刺激値直読型計測器２Ａに持たせた構成としている点が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。より具体的に、制御回路２６Ａは、図１５に示すように、前記第１実施形態で説明した測定制御部６３２における測定対象制御部６３２１、実測用計測値取得部６３２２、補正計測値算出部６３２３、および測定値出力部６３２４の機能を有する。また、記憶回路２７Ａは、図１５に示すように、前記第１実施形態で説明した測定制御情報記憶部６３２５の機能を有する。そして、ＰＣ本体６３Ａは、図１６に示すように、測定制御部６３２の機能を有さない。本実施形態では、三刺激値直読型計測器２Ａにおいて、光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂ、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂ、Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂ、増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ、およびＡ／Ｄ変換回路２５Ｒ，２５Ｇ，２５Ｂが本発明に係る計測器本体に相当する。
【００６７】
したがって、本実施形態では、前記第１実施形態に対して上述した点が異なるのみであるため、三刺激値直読型計測器２Ａの校正方法は、前記第１実施形態で説明した校正方法と略同様であり、ＰＣ本体６３Ａの校正制御部６３１が算出した補正パラメータおよび色変換パラメータを三刺激値直読型計測器２Ａの記憶回路２７Ａに記憶する点が異なるのみである。また、本実施形態では、測定対象を実測する色測定方法は、前記第１実施形態で説明した色測定方法と略同様であり、三刺激値直読型計測器２Ａ単体で、すなわち、ＰＣ６Ａを用いることなく測定対象を実測して制御回路２６Ａが測定値を算出し、例えば三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ、色度、照度、輝度等を表示部２８Ａ（図１５）に表示させる点が異なるのみである。
【００６８】
上述した第２実施形態においては、前記第１実施形態で説明した効果の他、以下の効果がある。
本実施形態では、三刺激値直読型計測器２Ａに前記第１実施形態で説明した測定制御部６３２の機能が組み込まれた構成であるので、測定対象の実測時に、ＰＣ６Ａを用いることなく三刺激値直読型計測器２Ａ単体で実施でき、実測時の作業スペースの効率化が図れ、利便性の向上が図れる。
【００６９】
[第３実施形態]
次に、本発明の第３実施形態を図面に基づいて説明する。
以下の説明では、前記第１実施形態と同様の構造および同一部材には同一符号を付して、その詳細な説明は省略または簡略化する。
図１７は、第３実施形態における校正システム１Ｂの構成を示すブロック図である。
図１８は、第３実施形態における三刺激値直読型計測器２Ｂの構成を示すブロック図である。
本実施形態では、図１７または図１８に示すように、前記第１実施形態に対して、校正システム１Ｂにおいて、ＰＣ６が省略され、ＰＣ６のＰＣ本体６３における校正制御部６３１および測定制御部６３２の機能を、三刺激値直読型計測器２Ｂに持たせた構成としている点が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。より具体的に、制御回路２６Ｂは、図１８に示すように、前記第１実施形態で説明した校正制御部６３１におけるステージ制御部６３１１、リファレンス光源制御部６３１２、スペクトル取得部６３１３、校正用計測値取得部６３１４、仮想照度算出部６３１５、補正パラメータ算出部６３１６、および色変換パラメータ算出部６３１７の機能と、測定制御部６３２における測定対象制御部６３２１、実測用計測値取得部６３２２、補正計測値算出部６３２３、および測定値出力部６３２４の機能を有する。また、記憶回路２７Ｂは、図１８に示すように、前記第１実施形態で説明した校正制御情報記憶部６３１８および測定制御情報記憶部６３２５の機能を有する。本実施形態では、三刺激値直読型計測器２Ｂにおいて、光学フィルタ２１Ｒ，２１Ｇ，２１Ｂ、受光素子２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂ、Ｉ／Ｖ変換回路２３Ｒ，２３Ｇ，２３Ｂ、増幅回路２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ、およびＡ／Ｄ変換回路２５Ｒ，２５Ｇ，２５Ｂが本発明に係る計測器本体に相当する。
【００７０】
したがって、本実施形態では、前記第１実施形態に対して上述した点が異なるのみであるため、三刺激値直読型計測器２Ｂの校正方法は、前記第１実施形態で説明した校正方法と略同様であり、ＰＣ６を用いることなく三刺激値直読型計測器２Ｂが校正制御を実施する点が異なるのみである。また、本実施形態では、測定対象を実測する色測定方法は、前記第２実施形態で説明した色測定方法と同様である。
【００７１】
上述した第３実施形態においては、前記第１実施形態で説明した効果の他、以下の効果がある。
本実施形態では、三刺激値直読型計測器２Ｂに前記第１実施形態で説明した校正制御部６３１および測定制御部６３２の機能が組み込まれた構成であるので、三刺激値直読型計測器２Ｂの校正時および測定対象の実測時に、ＰＣ６を用いることなく三刺激値直読型計測器２Ｂ単体で実施でき、校正時および実測時の作業スペースの効率化が図れ、利便性の向上が図れる。
【００７２】
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記各実施形態では、計測工程Ｓ３において、プロジェクタ５の明るさｉを複数段階に変化させかつ、色を赤、緑、青に切り替えながら、明るさおよび色毎に、計測値、分光スペクトル、および基準測定値を取得し、補正パラメータ算出工程Ｓ９および色変換パラメータ算出工程Ｓ１０を一連の工程で実施していたが、これに限らない。例えば、補正パラメータ算出工程Ｓ９および色変換パラメータ算出工程Ｓ１０を一連の工程ではなく、別の工程で実施してもよい。すなわち、補正パラメータを算出する際には、計測工程Ｓ３および仮想照度算出工程Ｓ８を実施した後、補正パラメータ算出工程Ｓ９を実施する。また、色変換パラメータを算出する際も同様に、計測工程Ｓ３および仮想照度算出工程Ｓ８を実施した後、色変換パラメータ算出工程Ｓ１０を実施する。このように、補正パラメータ算出工程Ｓ９および色変換パラメータ算出工程Ｓ１０を別工程で実施する場合には、補正パラメータを算出する際にプロジェクタ５の明るさ毎に、分光スペクトルおよび計測値を取得すればよいため、例えば、計測工程Ｓ３において、プロジェクタ５の色を切り替えなくても構わない。
【００７３】
前記各実施形態では、計測工程Ｓ３において、プロジェクタ５の色を赤、緑、青に切り替えながら、計測値、分光スペクトル、および基準測定値を取得していたが、これに限らず、例えば、プロジェクタ５の光源ランプを、ハロゲンランプ、高圧水銀ランプ、およびキセノンランプに変更しながら、計測値、分光スペクトル、および基準測定値を取得しても構わない。すなわち、リファレンス光源のスペクトル形状を３段階に変更しながら、計測値、分光スペクトル、および基準測定値を取得すればよい。
【００７４】
前記各実施形態では、仮想照度を算出するために式（３）を用いていたが、分光スペクトル、分光透過特性、および分光感度特性に基づいて算出するものであれば、その他の式で算出する構成を採用しても構わない。
【００７５】
前記各実施形態では、色変換マトリクスＭLUMを算出する際、明るさが最大で最大値となる基準測定値および仮想照度を用いていたが、これに限らず、他の明るさでの基準測定値および仮想照度を用いても構わない。
【００７６】
前記各実施形態では、プロジェクタ５の明るさｉを所定の明るさに設定した後に、各色を順次切り替えて計測工程Ｓ３を実施していたが、例えば赤を点灯している状態で、各明るさｉを切り替えて計測工程Ｓ３を実施し、その後、点灯色を変更して明るさを順次切り替えて計測工程Ｓ３を実施してもよい。また、校正対象の三刺激値直読型計測器２，２Ａ，２Ｂにおいて、各明るさおよび色を順次切り替えて計測値を取得した後に、校正ステージ４を移動して分光型計測器３における計測を実施してもよい。
要するに、各色および明るさ毎に三刺激値直読型計測器２，２Ａ，２Ｂ、分光型計測器３の計測が実施できればよく、その順序は特に限定されない。
【００７７】
前記実施形態では、プロジェクタ５を利用して校正を実施していたが、標準光源等を三刺激値直読型計測器２，２Ａ，２Ｂおよび分光型計測器３で計測することで校正を実施してもよい。
本発明によって校正される三刺激値直読型計測器２，２Ａ，２Ｂは、液晶製品の品質評価に用いられるものに限らず、様々なものの色評価等に利用できる。
さらに、本発明の校正方法は、三刺激値直読型の色彩計、照度計、輝度計に限らず、ＣＣＤ(Charge Coupled Device)やＭＯＳ(Metal Oxide Semiconductor)等の二次元センサを用いた三刺激値直読型計測器にも適用可能である。
【００７８】
本発明を実施するための最良の構成などは、以上の記載で開示されているが、本発明は、これに限定されるものではない。すなわち、本発明は、主に特定の実施形態に関して特に図示され、かつ、説明されているが、本発明の技術的思想及び目的の範囲から逸脱することなく、以上述べた実施形態に対し、形状、材質、数量、その他の詳細な構成において、当業者が様々な変形を加えることができるものである。
したがって、上記に開示した形状、材質などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それらの形状、材質などの限定の一部もしくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】第１実施形態における校正システムの構成を示すブロック図。
【図２】前記実施形態における三刺激値直読型計測器の構成を示すブロック図。
【図３】前記実施形態における光学フィルタの分光透過特性を示す図。
【図４】前記実施形態における受光素子の分光感度特性を示す図。
【図５】前記実施形態におけるＰＣの構成を示すブロック図。
【図６】前記実施形態における色測定装置の構成を示すブロック図。
【図７】前記実施形態における校正システムによる三刺激値直読型計測器の校正方法を説明するフローチャート。
【図８】前記実施形態における計測工程を説明するフローチャート。
【図９】前記実施形態における三刺激値直読型計測器の分光応答度と等色関数との関係の一例を示す図。
【図１０】前記実施形態における明るさに対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係の一例を示す図。
【図１１】前記実施形態における仮想照度に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係の一例を示す図。
【図１２】前記実施形態における補正パラメータ算出工程を説明するための一例を示す図。
【図１３】前記実施形態における色測定装置による色測定方法を説明するフローチャート。
【図１４】第２実施形態における校正システムの構成を示すブロック図。
【図１５】前記実施形態における三刺激値直読型計測器の構成を示すブロック図。
【図１６】前記実施形態におけるＰＣの構成を示すブロック図。
【図１７】第３実施形態における校正システムの構成を示すブロック図。
【図１８】前記実施形態における三刺激値直読型計測器の構成を示すブロック図。
【符号の説明】
【００８０】
１，１Ａ，１Ｂ・・・校正システム、２，２Ａ，２Ｂ・・・三刺激値直読型計測器、３・・・分光型計測器、５，５Ａ・・・プロジェクタ（リファレンス光源、測定対象）、６３１・・・校正制御部（校正制御装置）、６３２・・・測定制御部（測定制御装置）、６３１２・・・リファレンス光源制御部、６３１３・・・スペクトル取得部、６３１４・・・校正用計測値取得部、６３１５・・・仮想照度算出部、６３１６・・・補正パラメータ算出部、６３１７・・・色変換パラメータ算出部、６３１８・・・校正制御情報記憶部（特性情報記憶部）、６３２２・・・実測用計測値取得部、６３２３・・・補正計測値算出部、６３２４・・・測定値出力部、６３２５・・・測定制御情報記憶部（パラメータ記憶部）、Ｓ３・・・計測工程、Ｓ８・・・仮想照度算出工程、Ｓ９・・・補正パラメータ算出工程、Ｓ１０・・・色変換パラメータ算出工程、Ｓ１２・・・実測用計測値取得工程、Ｓ１３・・・補正計測値算出工程、Ｓ１４・・・測定値出力工程。
【図１】
2007322203.tif 000008
【図２】
2007322203.tif 000009
【図３】
2007322203.tif 000010
【図４】
2007322203.tif 000011
【図５】
2007322203.tif 000012
【図６】
2007322203.tif 000013
【図７】
2007322203.tif 000014
【図８】
2007322203.tif 000015
【図９】
2007322203.tif 000016
【図１０】
2007322203.tif 000017
【図１１】
2007322203.tif 000018
【図１２】
2007322203.tif 000019
【図１３】
2007322203.tif 000020
【図１４】
2007322203.tif 000021
【図１５】
2007322203.tif 000022
【図１６】
2007322203.tif 000023
【図１７】
2007322203.tif 000024
【図１８】
2007322203.tif 000025