(57)【要約】【課題】ライトフォルトによる、隣接トラックのデータを保証する保証処理方法に関し、所定のリードオフセット量以上でセクタをリードした場合に、ライトフォルト時に寄書きの可能性のある場合のみデータ保証する。【解決手段】オフセットリードリトライが成功しても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性があるかをヘッドの動きで判定し、寄書き可能性のある場合には、寄書きにより読みづらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトする。このため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みづらくなったことをリードチエックで検出するため、読みづらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。【選択図】図１１
2007141448.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ヘッドにより、所定のトラックの所望のセクタのデータをリードした時に、前記所定のトラックに隣接するトラックのデータを保証する隣接データの保証処理方法において、
前記ヘッドが、所定のリードオフセット量以上で、前記トラックのセクタのデータをリードしたことを検出するステップと、
前記リードできたリードオフセット量により、前記隣接トラックに寄書きした可能性があるかを検出するステップと、
前記寄書きした可能性がある場合に、前記隣接トラックのセクタのデータをオフセットして、リードするステップと、
前記リードステップで読み出せないセクタをリトライリードし、データをリードするステップと、
前記隣接トラックの前記リトライリードで読み出せたセクタと前記所定のトラックのセクタをリライトするステップとを有し、
前記リトライリードするステップは、
前記第１のリトライリードステップと、
前記第１のリトライリードステップで、読めなかったセクタがあった場合に、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットイレーズした後、前記第１のリトライリードステップで読めなかったセクタをリトライリードするステップとからなる
ことを特徴とする隣接データの保証処理方法。
【請求項２】
データを記憶するデイスクに、データをリード及びライトするデイスク装置において、
前記デイスクの所定のトラックの所望のセクタにデータをリード及びライトするヘッドと、
前記ヘッドを前記デイスクの所定のトラックに位置付けるアクチュエータと、
前記ヘッドと前記アクチュエータを制御し、前記ヘッドが、所定のリードオフセット量以上で、前記トラックのセクタのデータをリードしたことを検出する制御部とを有し、
前記制御部は、
前記リードできたリードオフセット量により、前記隣接トラックに寄書きした可能性があるかを検出し、前記寄書きした可能性がある場合に、前記隣接トラックのセクタのデータをオフセットして、リードし、前記リードステップで読み出せないセクタをリトライリードし、データをリードし、前記隣接トラックの前記リトライリードで読み出せたセクタと前記所定のトラックのセクタをリライトするとともに、
前記リトライリードで、読めなかったセクタがあった場合に、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットイレーズした後、前記第リトライリードで読めなかったセクタをリトライリードする
ことを特徴とするデイスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デイスク上の所定のトラックのデータ書込みにより影響を受けた隣接トラックのデータを保証処理する隣接トラックデータの保証処理方法及びそれを使用したデイスク装置に関し、特に、所定度合以上の寄書きを検出した際のみ、データ消去の影響を受けた可能性のある隣接データをオフセットリードチェックした後リライトし、寄書きによって隣接データが完全に読めなくなることを未然に防止するための隣接トラックデータの保証処理方法及びデイスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
小型で大容量な記憶装置が広く利用されている。このような記憶装置は、多数の記録トラックが同心円又は渦巻き状に形成された記憶媒体と、光又は磁気ヘッドと、ヘッドを所望のトラックに位置付けるアクチュエータとを備える。ヘッドは、位置付けたトラックのデータをリード又はライトする。
【０００３】
このようなデイスク装置では、所望のトラックにヘッドを位置付け、ヘッドは、トラックサーボ制御によりトラック追従動作する。この場合に、トラックのある箇所で、ヘッドがデータを規格内の揺れでライトしても、ライトしたデータが隣接トラックのデータに影響を及ぼさないよう且つ揺れて書かれたデータが読めるようにトラックピッチ等の設計をしていた。
【０００４】
また、規格外でヘッドが揺れてデータが書かれても、隣接トラックのデータに影響を及ぼさないように、十分マージンを見込んで、トラックピッチ等の設計をしている。更に、恒久的に規格外でヘッドが揺れる装置は、不良品として出荷されることはない。
【０００５】
従って、データライト中に、ヘッドの位置が規格外でライトした場合でも、規格内で書けるまで、該当セクタのライトリトライのみを行なっていた。尚、磁気デイスク装置は、ヘッドの規格外位置ライトを検出すると（ライトフォルト）、直ぐにライト動作を一旦止めることと、検出するヘッドのサンプリング速度はヘッドの揺れに対して充分速いことから、ヘッドの位置規格外ライト動作は、1フレームにとどまる。
【０００６】
前述した通り、磁気デイスク装置は、通常使用する環境下で、データを仮に規格外の揺れで、ライトしてしまっても、メカニカル及び検出サンプリング速度上、隣接データに影響を与えることはない設計になっている。
【０００７】
しかし、近年、デイスクの記憶データの高密度化が進み、デイスクのトラック幅が益々狭くなってきている。又、磁気デイスク装置の使用用途も拡大され、固定端末から携帯端末に内蔵されるようになってきた。このため、規格外の衝撃を受ける機会が増え、それに対するＤＡＴＡの保証も求められてきている。
【０００８】
また、隣接トラックデータに影響を与えない設計になっているとは言え、ヘッドの特性上、数万回そのトラックをライトすれば、隣接トラックのデータは少なからず影響される(消される)。
【０００９】
このため、従来から、ある度合を超した寄書き(ライトフォルト)を検出した時点で、影響したであろう方の隣接シリンダのデータをその場でリライトし、データが読めなくなる事態を未然に防ぐ技術が多数提案されている。
【００１０】
図１８は、磁気デイスク装置のセクタフォーマットの略図であり、サーボ部とデータ部１、２、３、４、５で１セクタを構成し、サーボ部の信号で、ヘッドのポジショニングを行なう。図１８は、データライト時のフォーマット略図であり、通常使用では、ヘッドの規格外揺れが発生しても、隣接トラックに位置する隣接セクタに影響を与えないように、トラック間隔が設計されている。
【００１１】
図２０は、磁気デイスク装置における従来の寄書きが発生した場合の処理の説明図である。ライトヘッドの位置により、データライト時に寄書きを検出すると（オフトラックライト又はライトフォルト）、検出したセクタから特定セクタ戻ってライトをし直すことにより、自分自身のトラックデータの復旧を行なう。しかし、寄書きによって隣接セクタのデータＤ５は、この寄書きにより、読み辛くなる。このままにしておき、逆トラックｎ＋２からの寄書き等の影響を受けると完全に読めなくなってしまう。
【００１２】
このため、寄書きを検出すると、検出したセクタから特定セクタ戻って、ライトし直すことにより、自分自身のデータの復旧をまず行なうと共に、隣接セクタのデータについても、データが読めるまで、リード動作を試み、データが読めた時点で、データをリライトすることにより読み辛くなったデータを復旧させる。尚、図上では、復旧させる隣接セクタを１セクタとしたが、隣接トラックの特定セクタ戻って複数セクタのデータの復旧を行なう場合もある。
【００１３】
又、データのリードの際も、図２１に示すように、トラックｎでオントラックリードが出来ず、オフセットしてリードした時に、このデータ２は、寄書きの可能性ありと判定し、検出したセクタから特定セクタ戻って、ライトし直すことにより、自分自身のデータの復旧をまず行なうと共に、隣接セクタのデータ２についても、データが読めるまで、リード動作を試み、データが読めた時点で、データをリライトすることにより読み辛くなったデータを復旧させる。
【００１４】
これら寄書き検出時の隣接データの保証処理は、下記特許文献１、２，３，４で提案されている。
【特許文献１】特開平６−５２６３５号公報
【特許文献２】特開平１１−２０３６１４号公報
【特許文献３】特開２００１−１４６０６号公報
【特許文献４】特開２００１−１１８３４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
このような従来技術では、隣接データの保証処理をする条件が、ライトフォルト検出や、所定量のオフセットリードリトライ検出時であった。このライトフォルト検出は、データライト時に、対象セクタのフレームでヘッドの位置が、ライトオフトラックスライスを越えたことを認識したことにより、検出する。このライトオフトラックスライスの値は、トラックのセンター位置からのずれで定義され、ヘッドや媒体の特性及び調査から導き出され値である。
【００１６】
そして、ヘッドが、このライトオフトラックスライス内で、オフセットしてデータを書いても、リードヘッドが、そのトラックのセンターで（オントラック）、問題なくデータをリードできるよう、ライトオフトラックスライス値は決定される。同様に、リード時の保証処理条件は、リードリトライ時に所定量のヘッドオフセットで、リードできた時であった。
【００１７】
従来は、このライトフォルト検出時やオフセットリードリトライでデータリードできた場合には、何ら条件もなく、隣接セクタが読めなくなるおそれがあると判断し、隣接セクタをリードし、リライトし直して、隣接データの保証処理を行っていた。
【００１８】
しかし、前述したように、携帯機器等に使用された場合には、振動している場所での設置等の装置の環境によっては、単発のライトフォルトは頻繁に起こりうる。尚、複数回連続でライトリトライを行なっても、正常にライトできない場合のみ、装置がホストにライトフォルトを報告する。
【００１９】
従って、毎回単発のライトフォルトを検出する度に、隣接セクタ保証処理を行なうと、データの保証の面では、安全度が高いが、隣接セクタをリードし、ライトし直すという処理が多発し、装置のパフォーマンス、特にリード／ライト速度が落ち、非効率である。また、前述した通り、本来ライトフォルトが発生しても、隣接セクタが読めなくなるような影響を与えないよう十分にマージンを持たせて設計されているため、隣接セクタに影響を与えるような酷い衝撃によるライトフォルトは、非常に希であるといえる。このため、隣接セクタに影響を与えないライトフォルトも存在するため、従来の隣接セクタ保証処理は、過剰な保証処理であり、装置の高速読出し、書込み性能を低下する。
【００２０】
従って、本発明の目的は、所定の度合いの寄書きを検出した時点で、影響したであろう隣接セクタのデータをチエックして、保証処理を行うための隣接トラックデータの保証処理方法及びそのデイスク装置を提供するにある。
【００２１】
又、本発明の他の目的は、リードリトライ時のリードオフセット量が所定量を越えたことを検出して、隣接セクタのデータをリードチエックして、影響されたデータの保証処理を行う隣接トラックデータの保証処理方法及びそのデイスク装置を提供するにある。
【００２２】
更に、本発明の別の目的は、所定の度合いの寄書きを検出した時点で、影響したであろう隣接セクタのデータをリードチエックし易くし、影響されたデータの保証処理を行う隣接トラックデータの保証処理方法及びそのデイスク装置を提供するにある。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
この目的の達成のため、本発明の隣接データの保証処理方法は、ヘッドが、所定のリードオフセット量以上で前記トラックのセクタのデータをリードしたことを検出するステップと、前記リードできたリードオフセット量により、前記隣接トラックに寄書きした可能性があるかを検出するステップと、前記寄書きした可能性がある場合に、前記隣接トラックのセクタのデータをオフセットして、リードするステップと、前記リードステップで読み出せないセクタをリトライリードし、データをリードするステップと、前記隣接トラックの前記前記リトライリードで読み出せたセクタと前記所定のトラックのセクタをリライトするステップとを有し、前記リトライリードするステップは、前記第１のリトライリードステップと、前記第１のリトライリードステップで、読めなかったセクタがあった場合に、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットイレーズした後、前記第１のリトライリードステップで読めなかったセクタをリトライリードするステップとを有する。
【００２４】
本発明では、オフセットリードリトライが成功しても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性のあるオフセットリードリトライであるかを判定し、寄書き可能性のあるオフセットリードリトライである場合には、寄書きにより読みづらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトする。
【００２５】
このため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みづらくなったことをリードチエックで検出するため、読みづらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。
【００２６】
又、本発明では、好ましくは、前記リトライリードステップは、第１のリトライリードステップと、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタがあった場合、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットＤＣイレーズするステップと、前記ＤＣイレーズ後、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタをリトライリードするステップからなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明の実施の形態を、デイスク記憶装置、第１の実施の形態、第２の実施の形態、第３の実施の形態、第４の実施の形態、第５の実施の形態、他の実施の形態で、説明するが、本発明は、下記実施の形態に限られない。
【００２８】
［デイスク記憶装置］
図１は、本発明の一実施の形態のデイスク記憶装置の構成図である。図１は、デイスク記憶装置として、磁気デイスク装置を示す。図１に示すように、磁気記憶媒体である磁気デイスク１２が、スピンドルモータ３６の回転軸に設けられている。スピンドルモータ３６は、磁気デイスク１２を回転する。アクチュエータ１６は、先端に磁気ヘッド１８を備え、磁気ヘッド１８を磁気デイスク１２の半径方向に移動する。
【００２９】
アクチュエータ１６は、回転軸を中心に回転するアームと、アームの後端に設けられた駆動コイルと、アームの先端に設けられたサスペンション（ジンバル）からなるＶＣＭ（Voice  Coil  Motor）で構成され、このサスペンションに磁気ヘッドが設けられる。
【００３０】
アクチュエータ１６には、磁気ヘッド１８と電気的に接続されたライトドライバを含むヘッドＩＣ３４が設けられる。更に、エンクロージャ１０内の温度を検出する温度センサ１４が設けられる。図１に示すように、これらは、デイスクエンクロージャ１０内に収容される。
【００３１】
磁気ヘッド１８は、スライダと、リード素子（ＭＲ素子）と、ライト素子とからなる。磁気ヘッド１８は、スライダに、磁気抵抗素子を含むリード素子を積層し、その上にライトコイルを含むライト素子を積層して、構成される。この磁気抵抗素子のコア幅は、磁気デイスク１２のトラックの幅に対応し、例えば、０．３〜０．４マイクロメータである。
【００３２】
デイスクエンクロージャ１０と別に、プリント回路アセンブリー２０が設けられる。プリント回路アセンブリー２０は、磁気デイスク装置の制御回路を搭載する。この制御回路は、サーボコントローラ２４と、リードライトコントローラ２６と、ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８と、データバッファ３０と、フラッシュＲＯＭ３２である。
【００３３】
更に、プリント回路アセンブリー２０には、装置に付与されるショックを検出するショックセンサ２２と、発振器３８とが設けられる。サーボコントローラ２４は、ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８の指示された位置に磁気ヘッドを位置付けるように、アクチュエータをサーボ制御する。
【００３４】
リードライトコントローラ２６は、ヘッドＩＣ３４を介し磁気ヘッド１８にライトデータを転送し、且つ磁気ヘッド１８からリードデータを受ける。又、ヘッド切換え、リード／ライトのタイミング制御を行う。ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８は、フラッシュＲＯＭ２４に格納されたパラメータを含むプログラムを、データバッファ３０を使用して実行する。
【００３５】
ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８は、サーボコントローラ２４にヘッド位置指令を発し、サーボコントローラ２４は、これに従いアクチュエータ１６をサーボ制御し、磁気ヘッド１８を所望のトラック位置に位置つける。
【００３６】
又、ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８は、ＡＴＡインターフェイス等のインターフェイスで、図示しないホストと接続され、ライト時に、ライトデータをリードライトコントローラ２６に転送し、ヘッドＩＣ３４を介し磁気ヘッド１８で書込みを行わせる。同様に、リード時に、リードライトコントローラ２６にリード指示を与え、リードライトコントローラ２６は、これに従い磁気ヘッド１８からのリードデータをヘッドＩＣ３４を介し受け、ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８に転送する。
【００３７】
このような構成の磁気デイスク装置において、ライト時及びリード時の隣接データ保証処理は、ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、プログラムの実行により行う。
【００３８】
次に、本発明の隣接データ保証処理の原理を説明する。図２は、磁気デイスク１２のトラックｎにライトヘッドでデータをライトしている状況を説明する説明図である。
【００３９】
図２に示すように、サーボ信号Servoを読取り、サーボコントローラ２４は、ヘッドの現在位置を認識する。但し、位置情報を読取ってから認識するまでにデレイがあるので、実際には現在位置は、サーボ信号を読み終わってから認識される。又、ライトオフトラックスライスは、トラックのセンター位置（オントラック位置という）から、ヘッドの位置ずれを許容する最大値であり、ヘッドや媒体の特性及び調査から導き出した値である。
【００４０】
このライトオフトラックスライスは、ライトオフトラックスライス内で、ライトヘッドが位置オフセットして、データを書き込んでも、オントラック位置でリードヘッドが、書込みデータを問題なく読める値に本来設定される。ライトオフトラックスライスは、ヘッドのバラツキ等のマージンを考慮して決定される。
【００４１】
ライトフォルトは、データライト時に、対象セクタのフレームで、ライトヘッドの位置が、ライトオフトラックスライスを越えたことを、装置（ハードデイスクコントローラ２８）が認識した時に、発生する。尚、他にもライトフォルト発生要因はある。
【００４２】
図２に示すように、ライトヘッドの位置が、αでもβでも、ライトフォルト検出されるが、殆どのライトフォルトは、αであり、図２に示すように、隣接セクタ（トラックｎ＋１のデータ）には影響を与えない。一方、同じ、ライトフォルト検出でも、βの場合には、隣接セクタのデータに影響を与える可能性が強い。
【００４３】
図３は、速度や加速度を考慮したライトフォルト検出の一例の説明図であり、２つ或は３つ連続の位置情報（サーボ信号）からヘッドの速度或は加速度を計算し、次の位置情報を予測する。速度や加速度自身或は、次の予測位置が規格外（ライトオフセットスライス外）であると検出した時、装置はライトフォルトと認識する。
【００４４】
図５に示すように、速度や加速度が大きい場合には、ライトヘッド１８が傾き、トラックピッチに対し、ライト領域が拡大する。即ち、何かしらの要因で加速度が異常である時には、隣接セクタに影響を与える可能性が高い。
【００４５】
図４は、ライト時に、規格外のオフセットライトを装置が認識できない一例の説明図である。つまり１フレーム内でヘッド１８が激しく動いた場合である。適切なオフセットスライスは、隣接セクタに影響を与える可能性があるライトオフセット量である。
【００４６】
図４の場合、装置は単純なライトフォルトと検出できるが、実際には、隣接セクタに影響を与えている可能性がある。本来、このような１フレーム内で装置が悪影響度合を認識できない程の激しい(高周波の)揺れは、メカ的にも、ヘッド位置決め制御からも発生しない設計になっている。つまり、このようなケースは、非常に希であるが、外部から衝撃を与えられた場合に生じる可能性があり、万が一発生し隣接セクタに影響を与えた場合、次の対象隣接セクタのリード時に検出する。
【００４７】
このように、ライトフォルト検出時に、それが隣接セクタに影響を与える寄書きであるかを更にチエックし、隣接セクタに影響を与える寄書きでない場合には、隣接セクタの保証処理を行わず、隣接セクタに影響を与える寄書きである場合には、隣接セクタの保証処理を行う。このため、無駄な保証処理の実行を防止でき、磁気デイスク装置のパフォーマンスの低下を防止できる。
【００４８】
［第１の実施の形態］
図６は、本発明の第１の実施の形態の隣接セクタ保証処理フロー図、図７は、その動作説明図である。図６の処理は、図１のハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、実行する。
【００４９】
（Ｓ１）データライト動作を開始後、ライトフォルトを検出したかを判定する。即ち、データライト中に、ヘッドの現在位置とライトオフセットスライス（図２参照）とを比較し、ヘッドの現在位置がライトオフセットスライスを越えたかを判定する。同様に、ヘッドの検出位置から次のサンプルでの予測位置を計算し、予測位置が、ライトオフセットスライスを越えたかを判定することもできる。
【００５０】
（Ｓ２）本実施の形態では、データライト時に、単にライトフォルトを検出しても、隣接セクタの保証処理は行わない。即ち、ライトフォルト検出されたヘッドのライト位置が、寄書き可能性のある位置であるかを調べる。例えば、ヘッドのライト位置が、図７に示す予め設定されている特定オフセット量（保証処理オフセットライトスライス）α１（α１＞ライトオフトラックスライス）を越えているかを判定し、寄書き可能性を判定する。
【００５１】
又、図３で説明したように、ライトフォルトを検出した時に、ヘッドの速度や加速度が、保証処理Ｙ軸速度α２、保証処理Ｙ軸加速度α３を越えたことを検出して、寄書き可能性を判定しても良い。この時、寄書きの方向が、トラックセンターのプラス側かマイナス側かも判定する。寄書き可能性がない場合には、ステップＳ７に進む。
【００５２】
（Ｓ３）トラックｎ，セクタｐで寄書き可能性を検出すると、保証処理に入る。寄書きの方向が、プラス側なら、方向ポインタａを「＋１」に、マイナス側なら、方向ポインタａを「−１」にセットする。この時、バッファメモリ３０の格納領域をクリアする。
【００５３】
（Ｓ４）寄書き可能性を検出すると、まず寄書きによって影響を受けたであろう隣接セクタのデータリードを、特定オフセット量ε1を掛けて行う。ε1とは、寄書きを受けていない場合、確実にデータが読めるオフセット量である。即ち、ライトフォルト検出されたトラックがトラックｎ、セクタｐであった場合には、（ｎ＋ａ）トラックを、即ち、寄書きによって、影響を受けたであろうトラックを、セクタ＜ｐ−γ１＞からセクタ＜γ１＋γ２＋１＞数、リードできるかをチエックする。ここで、γ１は、隣接トラックのセクタｐの前に位置する保証セクタ数であり、γ２は、隣接トラックのセクタｐの後ろに位置する保証セクタ数である。
【００５４】
更に、このリードチエックを、ヘッド位置を隣接トラックｎ＋ａのセンターから（−ａ×ε１）オフセットして、行う。この場合に、（−ａ×ε１）のオフセット量であるから、図７に示すように、ａ＝１であるｎ＋１トラックの場合には、ｎ＋１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。又、ａ＝−１であるｎ−１トラックの場合には、ｎ−１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。
【００５５】
即ち、トラックｎのライトフォルトで、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１に寄書きしたかを、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、トラックｎ方向にオントラック位置からオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書き（読みずらくなったか）の有無を検出できる。このリードチエックでデータが読めなかったセクタアドレスを記憶部（バッファ）３０に保持する。
【００５６】
（Ｓ５）このチエックで読めなかったセクタのみ読めるまで試みる。即ち、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、ヘッドの位置オフセット量やアンプゲイン等の読み取りパラメータを変え、リードリトライする。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【００５７】
（Ｓ６）図７に示すように、読めた時点でデータを、そのセクタにリライトする。これにより、寄書きにより読みずらくなったセクタを復旧できる。リライトしたので、記憶部（バッファ）３０をクリアする。このアドレスデータは、障害等の解析のため、他のバッファ領域にエラー履歴として格納する。
【００５８】
（Ｓ７）次に、本来ライトするべきトラックｎにおいて、ライトフォルト検出したセクタｐから特定セクタ（ｐ−β１）戻って、（β１＋β２＋１）セクタ数分ライトをし直す。これにより、自分自身のデータの復旧を行なう。そして、終了する。
【００５９】
尚、特定箇所で寄書きしやすいメカ的或はサーボトラックライタ上の要因を仮に含んでいる装置では、何度も同一箇所で同一方向の寄書きが発生する。この場合、特定の隣接セクタで何度も寄書きを受けることになり、この様なセクタは危険なので交代処理をさせておく方が望ましい場合がある。
【００６０】
その為に、図６で説明したように、リードチエックで読めなかったアドレスを動的記憶部から別の静的記憶部に保存しておくような機構があっても良い。また、リードチエックで読めなかったアドレスのデータを再び使うことになる場合があるので、動的記憶部のデータをクリアするタイミングは指定しない。
【００６１】
このように、ライトフォルト検出しても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性のあるライトフォルトであるかを判定し、寄書き可能性のあるライトフォルトである場合には、寄書きにより読みずらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトする。
【００６２】
このため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みずらくなったことをリードチエックで検出するため、読みずらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。
【００６３】
［第２の実施の形態］
図８は、本発明の第２の実施の形態の隣接セクタ保証処理フロー図、図９、図１０は、その動作説明図である。図８の処理も、図１のハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、実行する。
【００６４】
第１の実施の形態では、寄書きによって影響を受けた隣接セクタのデータが、リードチエック後のリードリトライで全て復旧できることを仮定している。第２の実施の形態では、隣接セクタのデータが、リードリトライでも復旧することができなかった場合の対処を追加する。
【００６５】
図１０は、ＤＣ（直流）イレーズによる寄書きデータ救済率向上の説明図である。図において、オフセット（トラック）＝０．０を中心に左右±０．３トラック程度がデータ救済率が高い。これに対し、図のトラック＝−１．０のライトで、点線のように、寄書きを受け、トラック＝０．０のデータが殆ど読めない場合に、オーバーライトした（寄書きセクタ）をＤＣイレーズすると、救済率が向上することが予測される。
【００６６】
この場合に、寄書きしたセクタをオントラック（トラック＝−１．０）でＤＣイレーズしても、図１０に示すように、隣接セクタの救済率は殆ど向上しない。ある程度、隣接セクタ側（トラック＝０．０）であるプラス側にオフセットε２して，寄書きセクタをＤＣイレーズすると、寄書きされたオーバーライトが消去され、データ救済率が向上する。この処理により寄書きにより読まなかったセクタも読めるようになり、データをリライトすることにより読み辛くなったデータを復旧できる。
【００６７】
以下、図９を参照し、図８の処理フローを説明する。
【００６８】
（Ｓ１１）データライト動作を開始後、ライトフォルトを検出したかを判定する。即ち、データライト中に、ヘッドの現在位置とライトオフセットスライス（図２参照）とを比較し、ヘッドの現在位置がライトオフセットスライスを越えたかを判定する。同様に、ヘッドの検出位置から次のサンプルでの予測位置を計算し、予測位置が、ライトオフセットスライスを越えたかを判定することもできる。
【００６９】
（Ｓ１２）本実施の形態でも、データライト時に、単にライトフォルトを検出しても、隣接セクタの保証処理は行わない。即ち、ライトフォルト検出されたヘッドのライト位置が、寄書き可能性のある位置であるかを調べる。例えば、ヘッドのライト位置が、図９に示す予め設定されている特定オフセット量（保証処理オフセットライトスライス）α１（α１＞ライトオフトラックスライス）を越えているかを判定し、寄書き可能性を判定する。同様に、図３で説明したように、ライトフォルトを検出した時に、ヘッドの速度や加速度が、保証処理Ｙ軸速度α２、保証処理Ｙ軸加速度α３を越えたことを検出して、寄書き可能性を判定しても良い。この時、寄書きの方向が、トラックセンターのプラス側かマイナス側かも判定する。寄書き可能性がない場合には、ステップＳ１８に進む。
【００７０】
（Ｓ１３）トラックｎ，セクタｐで寄書き可能性を検出すると、保証処理に入る。寄書きの方向が、プラス側なら、方向ポインタａを「＋１」に、マイナス側なら、方向ポインタａを「−１」にセットする。この時、バッファメモリ３０の格納領域をクリアする。
【００７１】
（Ｓ１４）寄書き可能性を検出すると、まず寄書きによって影響を受けたであろう隣接セクタのデータリードを、特定オフセット量ε1を掛けて行う。ε1とは、寄書きを受けていない場合、確実にデータが読めるオフセット量である。即ち、ライトフォルト検出されたトラックがトラックｎ、セクタｐであった場合には、（ｎ＋ａ）トラックを、即ち、寄書きによって、影響を受けたであろうトラックを、セクタ＜ｐ−γ１＞からセクタ＜γ１＋γ２＋１＞数、リードできるかをチエックする。ここで、γ１は、隣接トラックのセクタｐの前に位置する保証セクタ数であり、γ２は、隣接トラックのセクタｐの後ろに位置する保証セクタ数である。
【００７２】
更に、このリードチエックを、ヘッド位置を隣接トラックｎ＋ａのセンターから（−ａ×ε１）オフセットして、行う。この場合に、（−ａ×ε１）のオフセット量であるから、図９に示すように、ａ＝１であるｎ＋１トラックの場合には、ｎ＋１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。又、ａ＝−１であるｎ−１トラックの場合には、ｎ−１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。
【００７３】
即ち、トラックｎのライトフォルトで、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１に寄書きしたかを、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、トラックｎ方向にオントラック位置からオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書き（読みずらくなったか）の有無を検出できる。このリードチエックでデータが読めなかったセクタアドレスを記憶部（バッファ）３０に保持する。
【００７４】
（Ｓ１５）このチエックで読めなかったセクタのみ読めるまで試みる。即ち、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、ヘッドの位置オフセット量やアンプゲイン等の読み取りパラメータを変え、リードリトライする。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【００７５】
（Ｓ１６）一方、ステップＳ１５のリードリトライでデータが読めなかったセクタ＜ｑ＞に対し、寄書きしたトラックｎのセクタ＜ｑ＞のデータを保持後、寄書きされたトラック方向に、ａ×ε２オフセットして、トラックｎのセクタ＜ｑ＞をＤＣイレーズする。そして、データが読めなかったトラックｎ＋ａのセクタ＜ｑ＞を再度リードリトライにより、データを読み出す。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【００７６】
（Ｓ１７）図９に示すように、読めた時点でデータを、そのセクタにリライトする。これにより、寄書きにより読みずらくなったセクタを復旧できる。リライトしたので、記憶部（バッファ）３０をクリアする。このデータは、障害等の解析のため、他のバッファ領域にエラー履歴として格納する。
【００７７】
（Ｓ１８）次に、本来ライトするべきトラックｎにおいて、ライトフォルト検出したセクタｐから特定セクタ（ｐ−β１）戻って、（β１＋β２＋１）セクタ数分及びセクタ＜ｑ＞ライトし直す。これにより、自分自身のデータの復旧を行なう。そして、終了する。
【００７８】
尚、特定箇所で寄書きしやすいメカ的或はサーボトラックライタ上の要因を仮に含んでいる装置では、何度も同一箇所で同一方向の寄書きが発生する。この場合、特定の隣接セクタで何度も寄書きを受けることになり、この様なセクタは危険なので交代処理をさせておく方が望ましい場合がある。
【００７９】
その為に、図６で説明したように、リードチエックで読めなかったアドレスを動的記憶部から別の静的記憶部に保存しておくような機構があっても良い。また、リードチエックで読めなかったアドレスのデータを再び使うことになる場合があるので、動的記憶部のデータをクリアするタイミングは指定しない。
【００８０】
この例でも、ライトフォルト検出しても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性のあるライトフォルトであるかを判定し、寄書き可能性のあるライトフォルトである場合には、寄書きにより読みずらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトする。
【００８１】
このため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みずらくなったことをリードチエックで検出するため、読みずらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。
【００８２】
更に、寄書きを受けたトラックのデータが殆ど読めない場合でも、隣接セクタ側であるプラス側にオフセットε２して，寄書きセクタをＤＣイレーズすることにより、寄書きされたオーバーライトが消去され、データ救済率が向上する。この処理により寄書きにより読まなかったセクタも読めるようになり、データをリライトすることにより読み辛くなったデータを復旧できる。
【００８３】
［第３の実施の形態］
次に、リード時に寄書きを検出した場合の保証処理を説明する。上述した通り、データは、本来ライトオフトラックスライス内でしか書かれない。また、ライトオフトラックスライス内で書かれたデータは、オントラックで本来読める。しかし、ライト性能が悪くなる条件(例えば低温)でデータを書くと、オフセットマージンが、設計値より小さくなってしまうものがある。この場合は、少しオフセットリードしないと読めない。
【００８４】
また、リード時も、ヘッドは規格内で揺れながら読んでいる。このため、ライトオフトラックスライス内のオフセットライトであっても、オントラックリードで、読み辛くなることには変わりがない。この場合も、少しオフセットしてリードすることにより、問題なく読むことができる。オフセットリードリトライで救済される原因のほとんどがこれらであり、少ないオフセット量で救済される。
【００８５】
しかし、寄書きによりデータの片側が消されてしまった場合は、オフセットをかなりしないと読めなくなってしまう。つまり、救済できたリトライのオフセット量をチエックすることで、寄書きされた可能性を予測することができる。従って、何らかの原因で規格外の寄書きを検出できなくても、リード時にこれを検出して、データ保証処理を行うことができる。
【００８６】
図１１は、本発明の第３の実施の形態の隣接セクタ保証処理フロー図、図１２及び図１３は、その動作説明図である。図１１の処理は、図１のハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、実行する。
【００８７】
（Ｓ２１）データリード動作を開始後、リードリトライを行い、トラックｎ、セクタｐのデータをリードリトライで救済できた。
【００８８】
（Ｓ２２）本実施の形態では、オフセットによるリードリトライを検出しても、単純に、隣接セクタの保証処理は行わない。即ち、リードリトライで救済できたリトライ時のヘッドのリードオフセット量から、寄書きした又はされた可能性のセクタであるかを調べる。例えば、ヘッドのリードオフセット量が、図１２及び図１３に示す予め設定されている特定オフセット量（保証処理オフセットリードスライス）α４を越えているかを判定し、寄書き可能性を判定する。この時、寄書きの方向が、トラックセンターのプラス側かマイナス側かも判定する。寄書き可能性がない場合には、終了する。
【００８９】
（Ｓ２３）トラックｎ，セクタｐでリードオフセット量により寄書き可能性を検出すると、保証処理に入る。寄書きの方向が、プラス側なら、方向ポインタａを「＋１」に、マイナス側なら、方向ポインタａを「−１」にセットする。この時、バッファメモリ３０の格納領域をクリアする。
【００９０】
（Ｓ２４）寄書き可能性を検出すると、まず寄書きによって影響を受けたであろう隣接セクタと寄書きされた隣接セクタのデータリードを、特定オフセット量ε1を掛けて行う。ε1とは、寄書きを受けていない場合、確実にデータが読めるオフセット量である。即ち、リードオフセット量により寄書きの可能性のあるトラックがトラックｎ、セクタｐであった場合には、（ｎ−ａ）及び（ｎ＋ａ）トラックを、即ち、寄書きした又は寄書きによって、影響を受けたであろうトラックを、セクタ＜ｐ−γ１＞からセクタ＜γ１＋γ２＋１＞数、リードできるかをチエックする。ここで、γ１は、隣接トラックのセクタｐの前に位置する保証セクタ数であり、γ２は、隣接トラックのセクタｐの後ろに位置する保証セクタ数である。
【００９１】
更に、このリードチエックを、ヘッド位置を隣接トラックｎ−ａ、ｎ＋ａのセンターから（−ａ×ε１）オフセットして、行う。この場合に、（−ａ×ε１）のオフセット量であるから、図１２に示すように、ａ＝１であるｎ＋１トラックの場合には、ｎ＋１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。又、ａ＝１であるｎ−１トラックの場合には、ｎ−１トラックのセンター位置から、ｎトラックから離れる方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。
【００９２】
即ち、図１２に示すように、トラックｎのライトフォルトで、隣接トラックｎ＋１に寄書きしたかを、隣接トラックｎ＋１で、トラックｎ方向にオントラック位置からオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書き（読みずらくなったか）の有無を検出できる。又、図１３に示すように、トラックｎのオフセットリードで、隣接トラックｎ−１のライトオフトラックで、トラックｎが寄書きされたかを、隣接トラックｎ−１で、トラックｎから離れた方向にオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書きされたかを検出できる。このリードチエックでデータが読めなかったセクタアドレスを記憶部（バッファ）３０に保持する。
【００９３】
（Ｓ２５）このチエックで読めなかったセクタのみを読めるまで試みる。即ち、図１２及び図１３に示すように、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、ヘッドの位置オフセット量やアンプゲイン等の読み取りパラメータを変え、リードリトライする。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【００９４】
（Ｓ２６）図１２及び図１３に示すように、読めた時点でデータを、そのセクタにリライトする。これにより、寄書きにより読みずらくなったセクタを復旧できる。リライトしたので、記憶部（バッファ）３０をクリアする。このデータは、障害等の解析のため、他のバッファ領域にエラー履歴として格納する。
【００９５】
（Ｓ２７）次に、本来リードするべきトラックｎにおいて、検出したセクタｐをライトし直す。これにより、自分自身のデータの復旧を行なう。そして、終了する。
【００９６】
尚、同様に、特定箇所で寄書きしやすいメカ的或はサーボトラックライタ上の要因を仮に含んでいる装置では、何度も同一箇所で同一方向の寄書きが発生する。この場合、特定の隣接セクタで何度も寄書きを受けることになり、この様なセクタは危険なので交代処理をさせておく方が望ましい場合がある。
【００９７】
その為に、図１１で説明したように、リードチエックで読めなかったアドレスを動的記憶部から別の静的記憶部に保存しておくような機構があっても良い。また、リードチエックで読めなかったアドレスのデータを再び使うことになる場合があるので、動的記憶部のデータをクリアするタイミングは指定しない。
【００９８】
このように、オフセットリードリトライしても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性のあるリードリトライであるかを判定し、寄書き可能性のあるリードリトライである場合には、寄書きにより読みずらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトする。
【００９９】
このため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みずらくなったことをリードチエックで検出するため、読みずらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。
【０１００】
［第４の実施の形態］
次に、オフセットリードで救済できても、影響した又は影響されたセクタがリードできない場合がある。本実施の形態は、第３の実施の形態に、第２の実施の形態のオフセットＤＣイレーズを付加し、リード救済率を向上する。
【０１０１】
図１４は、本発明の第４の実施の形態の隣接セクタ保証処理フロー図、図１５は、その動作説明図である。図１４の処理は、図１のハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、実行する。
【０１０２】
（Ｓ３１）データリード動作を開始後、リードリトライを行い、トラックｎ、セクタｐのデータをリードリトライで救済できた。
【０１０３】
（Ｓ３２）本実施の形態でも、オフセットによるリードリトライを検出しても、単純に、隣接セクタの保証処理は行わない。即ち、リードリトライで救済できたリトライ時のヘッドのリードオフセット量から、寄書きした又はされた可能性のセクタであるかを調べる。例えば、ヘッドのリードオフセット量が、図１２及び図１３に示す予め設定されている特定オフセット量（保証処理オフセットリードスライス）α４を越えているかを判定し、寄書き可能性を判定する。この時、寄書きの方向が、トラックセンターのプラス側かマイナス側かも判定する。寄書き可能性がない場合には、終了する。
【０１０４】
（Ｓ３３）トラックｎ，セクタｐでリードオフセット量により寄書き可能性を検出すると、保証処理に入る。寄書きの方向が、プラス側なら、方向ポインタａを「＋１」に、マイナス側なら、方向ポインタａを「−１」にセットする。この時、バッファメモリ３０の格納領域をクリアする。
【０１０５】
（Ｓ３４）寄書き可能性を検出すると、まず寄書きによって影響を受けたであろう隣接セクタと寄書きされた隣接セクタのデータリードを、特定オフセット量ε1を掛けて行う。ε1とは、寄書きを受けていない場合、確実にデータが読めるオフセット量である。即ち、リードオフセット量により寄書きの可能性のあるトラックがトラックｎ、セクタｐであった場合には、（ｎ−ａ）及び（ｎ＋ａ）トラックを、即ち、寄書きした又は寄書きによって、影響を受けたであろうトラックを、セクタ＜ｐ−γ１＞からセクタ＜γ１＋γ２＋１＞数、リードできるかをチエックする。ここで、γ１は、隣接トラックのセクタｐの前に位置する保証セクタ数であり、γ２は、隣接トラックのセクタｐの後ろに位置する保証セクタ数である。
【０１０６】
更に、このリードチエックを、ヘッド位置を隣接トラックｎ−ａ、ｎ＋ａのセンターから（−ａ×ε１）オフセットして、行う。この場合に、（−ａ×ε１）のオフセット量であるから、ａ＝１であるｎ＋１トラックの場合には、ｎ＋１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。又、ａ＝１であるｎ−１トラックの場合には、ｎ−１トラックのセンター位置から、ｎトラックから離れる方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。
【０１０７】
即ち、図１５に示すように、トラックｎのライトフォルトで、隣接トラックｎ＋１に寄書きしたかを、隣接トラックｎ＋１で、トラックｎ方向にオントラック位置からオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書き（読みずらくなったか）の有無を検出できる。又、トラックｎのオフセットリードで、隣接トラックｎ−１のライトオフトラックで、トラックｎが寄書きされたかを、隣接トラックｎ−１で、トラックｎから離れた方向にオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書きされたかを検出できる。このリードチエックでデータが読めなかったセクタアドレスを記憶部（バッファ）３０に保持する。
【０１０８】
（Ｓ３５）このチエックで読めなかったセクタのみを読めるまで試みる。即ち、図１５に示すように、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、ヘッドの位置オフセット量やアンプゲイン等の読み取りパラメータを変え、リードリトライする。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【０１０９】
（Ｓ３６）全ての読めなかったセクタのデータ読出しが成功したかを判定し、全ての読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、ステップＳ３８に進む。
【０１１０】
（Ｓ３７）一方、ステップＳ３５で全てのセクタのデータの読み出しができない場合、リードリトライでデータが読めなかったセクタ＜ｑ＞に対し、トラックｎのセクタ＜ｑ＞のデータを保持後、寄書きされたトラック方向に、ａ×ε２オフセットして、トラックｎのセクタ＜ｑ＞をオフセットＤＣイレーズする。そして、データが読めなかったトラックｎ＋ａのセクタ＜ｑ＞を再度リードリトライにより、データを読み出す。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【０１１１】
（Ｓ３８）リードチエックにより、読めなかったデータが、読めた時点でデータを、そのセクタにリライトする。これにより、寄書きにより読みずらくなったセクタを復旧できる。リライトしたので、記憶部（バッファ）３０をクリアする。このデータは、障害等の解析のため、他のバッファ領域にエラー履歴として格納する。
【０１１２】
（Ｓ３９）次に、本来リードするべきトラックｎにおいて、検出したセクタｐをライトし直す。これにより、自分自身のデータの復旧を行なう。そして、終了する。
【０１１３】
このように、何らかの理由で規格外寄書きを検出しなかった場合、寄書きしたセクタ自身及び影響を受けた隣接セクタは、特定量以上ヘッドをオフセットしてリードしないと救済できなくなる。つまり、通常リード(オントラックでリード)でデータが読めず何度かリトライを試み、ある特定量以上のオフセットリードでデータが読めた場合、そのセクタは寄書きを受けたか寄書きをした可能性が高い。これらの読み辛いデータを復旧させる為、自分自身の他に隣接セクタとその前後もリードチエックし、チエックエラーのセクタをリードリトライで読んだ後、リライトを行なう。これにより、全く読めなくなる事態を未然に防ぐことができる。
【０１１４】
更に、隣接セクタ救済処理時（データリード成功後にリライト）にＤＣイレーズを加えたため、よりデータリードの成功率が向上する。
【０１１５】
［第５の実施の形態］
この実施の形態は、リード時に、隣接セクタから寄書きされてリード対象セクタ自身が読めなくなった救済処理時に、オフセットＤＣイレーズを加え、リード対象セクタのリード成功率を向上するものである。図１６は、本発明の第４の実施の形態の隣接セクタ保証処理フロー図、図１７は、その動作説明図である。図１６の処理も、図１のハードデイスクコントローラ／メインコントローラ２８が、実行する。
【０１１６】
第３の実施の形態では、寄書きによって影響を受けたセクタのデータが、リードチエック後のリードリトライで全て復旧できることを仮定している。この第５の実施の形態では、リード対象セクタのデータが、リードリトライでも復旧することができなかった場合の対処を追加する。
【０１１７】
以下、図１７を参照し、図１６の処理フローを説明する。
【０１１８】
（Ｓ４１）データリード動作を開始後、オフセットリードリトライしても、トラックｎのセクタｐのデータがリードできないかを判定する。
【０１１９】
（Ｓ４２）このリードリトライで救済できないセクタｐが、寄書きされた可能性があるかを判定し、寄書き可能性を判定する。即ち、図１７に示すように、トラックｎ＋１のセクタｐを、＋ε１オフセットさせてリードチエックする。同様に、トラックｎ−１のセクタｐを、−ε１オフセットさせて、リードチエックする。両リードチエックにおいて、片側だけ読めないかを判定する。片側だけ読めない場合には、その読めない片側から寄書きされたことを検出できる。そうでない場合には、救済できないとし、エラー処理する。
【０１２０】
（Ｓ４３）トラックｎ，セクタｐで寄書き可能性を検出すると、保証処理に入る。トラックｎ＋１のリードエラーなら、方向ポインタａを「＋１」に、トラックｎ−１のリードエラーなら、方向ポインタａを「−１」にセットする。この時、バッファメモリ３０の格納領域をクリアする。
【０１２１】
（Ｓ４４）寄書き可能性を検出すると、まず寄書きをしたであろう隣接セクタのデータリードを、特定オフセット量ε1を掛けて行う。ε1とは、寄書きを受けていない場合、確実にデータが読めるオフセット量である。即ち、検出されたトラックがトラックｎ、セクタｐであった場合には、（ｎ＋ａ）トラックを、即ち、寄書きによって、影響を受けたであろうトラックを、セクタ＜ｐ−γ１＞からセクタ＜γ１＋γ２＋１＞数、リードできるかをチエックする。ここで、γ１は、隣接トラックのセクタｐの前に位置する保証セクタ数であり、γ２は、隣接トラックのセクタｐの後ろに位置する保証セクタ数である。
【０１２２】
更に、このリードチエックを、ヘッド位置を隣接トラックｎ＋ａのセンターから（ａ×ε１）オフセットして、行う。この場合に、（ａ×ε１）のオフセット量であるから、図１７に示すように、ａ＝−１であるｎ−１トラックの場合には、ｎ−１トラックのセンター位置から、ｎトラック方向にａ×ε１オフセットした位置で、リードチエックを行う。
【０１２３】
即ち、トラックｎのリードエラーで、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１が寄書きしたかを、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、トラックｎ方向にオントラック位置からオフセットした位置で、リードチエックすることにより、寄書き（読みずらくなったか）の有無を検出できる。このリードチエックでデータが読めなかったセクタアドレスを記憶部（バッファ）３０に保持する。
【０１２４】
（Ｓ４５）このチエックで読めなかったセクタのみ読めるまで試みる。即ち、隣接トラックｎ＋１又はｎ−１で、ヘッドの位置オフセット量やアンプゲイン等の読み取りパラメータを変え、リードリトライする。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【０１２５】
（Ｓ４６）一方、リードリトライでデータが読めなかったトラックｎのセクタ＜ｐ＞に対し、寄書きしたトラックｎ−１のセクタ＜ｐ＞のデータを保持後、寄書きされたトラック方向に、−ａ×ε２オフセットして、トラックｎ−１のセクタ＜ｐ＞をオフセットＤＣイレーズする。そして、データが読めなかったトラックｎのセクタ＜ｐ＞を再度リードリトライにより、データを読み出す。リードリトライにより、読めなかったセクタのデータの読出しが成功すると、記憶部（バッファ）３０にいったんデータを保持する。
【０１２６】
（Ｓ４７）図１７に示すように、読めた時点でデータを、その隣接トラックｎ−１のセクタにリライトする。これにより、寄書きして読みずらくなったセクタを復旧できる。リライトしたので、記憶部（バッファ）３０をクリアする。このデータは、障害等の解析のため、他のバッファ領域にエラー履歴として格納する。
【０１２７】
（Ｓ４８）次に、本来リードするべきトラックｎにおいて、検出したセクタｐから特定セクタ（ｐ−β１）戻って、（β１＋β２＋１）セクタ数分及びセクタ＜ｑ＞ライトし直す。これにより、自分自身のデータの復旧を行なう。そして、終了する。
【０１２８】
このように、寄書きを受けたトラックのデータが殆ど読めない場合でも、隣接セクタ側であるプラス側にオフセットε２して，寄書きセクタをオフセットＤＣイレーズすることにより、寄書きされたオーバーライトが消去され、データ救済率が向上する。この処理により寄書きにより読めなかったセクタも読めるようになり、データをリライトすることにより読み辛くなったデータを復旧できる。
【０１２９】
［他の実施の形態］
デイスク記憶装置を、磁気デイスク装置で説明したが、光デイスク装置、光磁気デイスク装置等の他のデイスク記憶装置にも適用できる。
【０１３０】
以上、本発明を、実施の形態で説明したが、本発明の趣旨の範囲内において、種々の変形が可能であり、これらを本発明の技術的範囲から排除するものではない。
【０１３１】
（付記１）ヘッドにより、所定のトラックの所望のセクタのデータをリードした時に、前記所定のトラックに隣接するトラックのデータを保証する隣接データの保証処理方法において、前記ヘッドが、所定のリードオフセット量以上で前記トラックのセクタのデータをリードしたことを検出するステップと、前記リードできたリードオフセット量により、前記所定のトラック又は前記隣接トラックに寄書きした可能性があるかを検出するステップと、前記寄書きした可能性がある場合に、前記隣接トラックのセクタのデータをオフセットして、リードするステップと、前記リードステップで読み出せないセクタをリトライリードし、データをリードするステップと、前記隣接トラックの前記読み出せないセクタと前記所定のトラックのセクタをリライトするステップとを有することを特徴とする隣接データの保証処理方法。
【０１３２】
（付記２）前記リトライリードステップは、第１のリトライリードステップと、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタがあった場合、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットＤＣイレーズするステップと、前記ＤＣイレーズ後、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタをリトライリードするステップからなることを特徴とする付記２の隣接データの保証処理方法。
【０１３３】
（付記３）データを記憶するデイスクに、データをリード及びライトするデイスク装置において、前記デイスクの所定のトラックの所望のセクタにデータをリード及びライトするヘッドと、前記ヘッドを前記デイスクの所定のトラックに位置付けるアクチュエータと、前記ヘッドと前記アクチュエータを制御し、前記ヘッドが、所定のリードオフセット量以上で前記トラックのセクタのデータをリードしたことを検出して、前記リードできたリードオフセット量により、前記所定のトラック又は前記隣接トラックに寄書きした可能性があるかを検出する制御部とを有し、前記制御部は、前記寄書きした可能性がある場合に、前記隣接トラックのセクタのデータをオフセットリードし、前記リードステップで読み出せないセクタをリトライリードし、前記隣接トラックの前記読み出せないセクタと前記所定のトラックのセクタをリライトすることを特徴とするデイスク装置。
【０１３４】
（付記４）前記制御部は、前記リトライリードするため、第１のリトライリードステップと、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタがあった場合、前記読めなかったセクタに対応する前記所定のトラックのセクタをオフセットＤＣイレーズするステップと、前記ＤＣイレーズ後、前記第１のリトライリードで読めなかったセクタをリトライリードするステップとを実行することを特徴とする付記３のデイスク装置。
【産業上の利用可能性】
【０１３５】
オフセットリードリトライが成功しても、直ちに、隣接トラックの保証のリライトを行わずに、寄書き可能性のあるかを判定し、寄書き可能性のある場合には、寄書きにより読みづらくなったセクタを検出して、そのセクタのみをリライトするため、頻繁にライトフォルトが検出される環境で使用されても、隣接トラックのデータ保証処理の回数が減少し、リード／ライト性能の低下を防止でき、且つ所定のオフセットで、実際に読みづらくなったことをリードチエックで検出するため、読みづらくなったセクタのみをリライトでき、保証処理時間も短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【０１３６】
【図１】本発明の一実施の形態のデイスク記憶装置の構成図である。
【図２】図１の寄書き検出動作の説明図である。
【図３】図１の他の寄書き検出動作の説明図である。
【図４】図１の別の寄書き状態の説明図である。
【図５】図３の他の寄書き状態の説明図である。
【図６】本発明の第１の実施の形態のデータ保証処理フロー図である。
【図７】図６のデータ保証処理の動作説明図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態のデータ保証処理フロー図である。
【図９】図８のデータ保証処理の動作説明図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態のＤＣイレーズ動作の説明図である。
【図１１】本発明の第３の実施の形態のデータ保証処理フロー図である。
【図１２】図１１のデータ保証処理の動作説明図である。
【図１３】図１１のデータ保証処理の他の動作説明図である。
【図１４】本発明の第４の実施の形態のデータ保証処理フロー図である。
【図１５】図１４のデータ保証処理の動作説明図である。
【図１６】本発明の第５の実施の形態のデータ保証処理フロー図である。
【図１７】図１６のデータ保証処理の動作説明図である。
【図１８】磁気デイスクのセクタフォーマットの説明図である。
【図１９】磁気デイスクのライトフォーマットの説明図である。
【図２０】従来のライトフォルト時のデータ保証処理の説明図である。
【図２１】従来のオフセットリードリトライ時のデータ保証処理の説明図である。
【符号の説明】
【０１３７】
１０  デイスクエンクロージャ
１２  磁気デイスク
１６  アクチュエータ
１８  磁気ヘッド
２４  サーボコントローラ
２６  リードライトコントローラ
２８  ハードデイスクコントローラ／メインコントローラ
３０  バッファメモリ
【図１】
2007141448.tif 000003
【図２】
2007141448.tif 000004
【図３】
2007141448.tif 000005
【図４】
2007141448.tif 000006
【図５】
2007141448.tif 000007
【図６】
2007141448.tif 000008
【図７】
2007141448.tif 000009
【図８】
2007141448.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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