(57)【要約】      （修正有）【課題】リテーナの形状や大きさに拘わらず、接触子の開口量測定時等に、リテーナを確実にカメラの視野外に退避させることができるソケット及び該ソケットと共に使用されるソケット基台を提供する。【解決手段】ソケットは、複数の接触子を支持する基板２００と、集積回路装置の上面部分に接触する進出位置と集積回路装置上から退避する退避位置との間を移動できるように、基板に揺動可能に設けられたリテーナ３００と、リテーナを退避位置から進出位置に向けて付勢するばねを有する。基板２００は、複数のリテーナ３００のそれぞれに対応して基板に形成された複数の孔を有する。これらの孔は、基板の下方から孔に操作ピン１００４を挿入して基板上に突出させたとき、操作ピンの上部が進出位置にあるリテーナ３００に接触して退避位置に向けて移動させる場所に配置されている。【選択図】図９
2007141670.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
集積回路装置の主面に配置されている複数の端子に対応した複数の接触子を備えた集積回路装置用ソケットであって、
上記複数の接触子を支持するベースと、
上記複数の接触子上に配置された集積回路装置上に進出して上記集積回路装置の上面部分に接触する進出位置と上記集積回路装置上から退避する退避位置との間を移動できるように、上記基板に揺動可能に設けられたリテーナと、
上記リテーナを上記退避位置から上記進出位置に向けて付勢するばねを有し、
上記べースは、上記複数のリテーナのそれぞれに対応して上記基板に形成された複数の孔を有し、
上記孔は、上記基板の下方から上記孔に操作ピンを挿入して上記基板上に突出させたとき、上記操作ピンの上部が上記進出位置にあるリテーナに接触して上記退避位置に向けて移動させる場所に配置されていることを特徴とするソケット。
【請求項２】
請求項１のソケットを支持する基台であって、上記操作ピンを有することを特徴とするソケット基台。
【請求項３】
集積回路装置用のソケットを操作する方法であって、
（ａ）複数の貫通孔を有するベースと、上記ベースに設けられた複数の接触子と、上記接触子上に設けられた集積回路装置上に位置して上記接触子上に上記集積回路装置を保持する第１の位置と上記集積回路装置を解放する第２の位置との間を移動する複数のリテーナと、上記複数のリテーナを上記第２の位置から第１の位置に付勢するばねを準備する工程と、
（ｂ）上記貫通孔に対応する複数のピンを備えたソケット支持用のソケット基台を準備する工程と、
（ｃ）上記ソケット基台のピンが上記ベースの対応する貫通孔を通り、上記ばねに対抗して上記複数のリテーナを上記第１の位置から上記第２の位置に移動させるように、上記ソケット基台上に上記ソケットを載せる工程と、
を備えたことを特徴とするソケットの操作方法。
【請求項４】
集積回路装置用のソケットを検査する方法であって、
（ａ）複数の貫通孔を有するベースと、上記ベースに設けられた複数の接触子と、上記接触子上に設けられた集積回路装置上に位置して上記接触子上に上記集積回路装置を保持する第１の位置と上記集積回路装置を解放する第２の位置との間を移動する複数のリテーナと、上記複数のリテーナを上記第２の位置から第１の位置に付勢するばねを準備する工程と、
（ｂ）上記貫通孔に対応する複数のピンを備えたソケット支持用のソケット基台を準備する工程と、
（ｃ）上記ソケット基台のピンが上記ベースの対応する貫通孔を通り、上記ばねに対抗して上記複数のリテーナを上記第１の位置から上記第２の位置に移動させるように、上記ソケット基台上に上記ソケットを載せる工程と、
を備えたことを特徴とするソケットの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ボールグリッドアレイ（ＢＧＡ）などの集積回路装置の底面に配置されている複数の端子に対応した複数の接触子を備えたソケットに関する。また、本発明は、そのようなソケットと共に使用されるソケット基台に関する。さらに、それらの、使用、操作方法並びに、ソケットの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、ボールグリッドアレイ（ＢＧＡ）集積回路装置を試験回路に一時的に接続するためのソケットが開示されている。このソケットは、集積回路装置の底面に設けられた端子パターンに対応する接触子パターンを備えている。各接触子は、集積回路装置が有する複数のはんだボールの一つを弾性的に把持する一対の先端部を有する。一方、ソケットは、はんだボールを収容するために十分距離をあけて離間する開放位置と、はんだボールを弾性的に把持する閉鎖位置との間で、一対の対向する接触子先端部を移動させるための構造を備えている。
【０００３】
また、特許文献２には、ソケットの接触子と集積回路装置のはんだボールとの間に安定した接触状態を得るために、接触子に向けて集積回路装置を押圧する一組または複数組のリテーナを備えているソケットが開示されており、そこでは、各リテーナは、集積回路装置上に進出して集積回路装置の上面部分に付勢接触する進出位置と集積回路装置上から退避した退避位置との間を移動できるように揺動可能に支持されており、ばねによって常に進出位置に付勢されている。
【特許文献１】米国特許第５，４９８，９７０号公報
【特許文献２】特開平２００１−２２８２０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような形式のソケットによれば、複数のリテーナによって、集積回路装置のはんだボールとソケットの接触子との間に安定した電気的接触状態を形成できるという利点があるものの、各接触子が開放位置ではんだボールを収容し得る開口量（距離）及び、その他の接触子の物理状態が確保されていることを光学的方法等により検査する際、リテーナの形状や大きさによっては、進出位置に付勢されているリテーナがカメラと一部の接触子の間に介在して該接触子の開口量等が計測できないという問題がある。そのため、開口量等の計測前に、特殊な治具を用いてリテーナを退避位置に保持し、その状態でソケットを検査基台に装着しなければならず、このような特殊治具の着脱に多くの時間と手間を要していた。
【０００５】
そこで、本発明は、リテーナの形状や大きさに拘わらず、接触子の開口量等の測定時、リテーナを確実にカメラの視野外に退避させることができるソケット及び該ソケットと共に使用されるソケット基台を提供すること、そのソケットのリテーナの揺動方法、並びに、ソケットの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この目的を達成するため、本発明に係るソケットは、集積回路装置の底面に配置されている複数の端子に対応した複数の接触子を備えており、これら各接触子の対向先端部で対応する端子を挟持するようにしたもので、上記複数の接触子を支持する基板と、上記複数の接触子上に配置された集積回路装置上に進出して上記集積回路装置の上面部分に接触する進出位置と上記集積回路装置上から退避する退避位置との間を移動できるように、上記基板に揺動可能に設けられたリテーナと、上記リテーナを上記退避位置から上記進出位置に向けて付勢するばねを有し、上記基板は、上記複数のリテーナのそれぞれに対応して上記基板に形成された複数の孔を有し、上記孔は、上記基板の下方から上記孔に操作ピンを挿入して上記基板上に突出させたとき、上記操作ピンの上部が上記進出位置にあるリテーナに接触して上記退避位置に向けて移動させる場所に配置されていることを特徴とする。
【０００７】
本発明の他の形態のソケット基台は、上述のソケットを支持する基台であって、上記操作ピンを有することを特徴とする。
【０００８】
本発明の他の形態の集積回路装置用ソケットの操作方法は、（ａ）複数の貫通孔を有するベースと、上記ベースに設けられた複数の接触子と、上記接触子上に設けられた集積回路装置上に位置して上記接触子上に上記集積回路装置を保持する第１の位置と上記集積回路装置を解放する第２の位置との間を移動する複数のリテーナと、上記複数のリテーナを上記第２の位置から第１の位置に付勢するばねを準備する工程と、（ｂ）上記貫通孔に対応する複数のピンを備えたソケット支持用のソケット基台を準備する工程と、（ｃ）上記ソケット基台のピンが上記ベースの対応する貫通孔を通り、上記ばねに対抗して上記複数のリテーナを上記第１の位置から上記第２の位置に移動させるように、上記ソケット基台上に上記ソケットを載せる工程を備えたことを特徴とする。
【０００９】
本発明の他の形態の集積回路装置用ソケットの検査方法は、（ａ）複数の貫通孔を有するベースと、上記ベースに設けられた複数の接触子と、上記接触子上に設けられた集積回路装置上に位置して上記接触子上に上記集積回路装置を保持する第１の位置と上記集積回路装置を解放する第２の位置との間を移動する複数のリテーナと、上記複数のリテーナを上記第２の位置から第１の位置に付勢するばねを準備する工程と、（ｂ）上記貫通孔に対応する複数のピンを備えたソケット支持用のソケット基台を準備する工程と、（ｃ）上記ソケット基台のピンが上記ベースの対応する貫通孔を通り、上記ばねに対抗して上記複数のリテーナを上記第１の位置から上記第２の位置に移動させるように、上記ソケット基台上に上記ソケットを載せる工程を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
このような構成を備えたソケット、ソケット基台、およびそれらの組み合わせによれば、ソケットをソケット基台に装着すると、ソケット基台の操作ピンがソケット基板の対応する孔を介して基板上に突出し、対応するリテーナを進出位置から退避位置に向けて移動させる。そのため、接触子開口量、又は、接触子先端のベースに対する高さ等の物理的状態の測定時、ソケット上面上方からカメラ等の光学的検査装置は全ての接触子の開口量等の物理的状態を確実に計測できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照して本発明に係るソケットおよびソケット基台の実施例を接触子の開口量を測定する場合を例にあげて説明する。図１〜図３、特に図３を参照すると、本実施例のソケット１０は、アライメントプレート１００、ベース２００、リテーナ３００、ネストアセンブリ４００、ガイドフレーム５００、レバーアセンブリ６００、トップカバー７００を有する。
【００１２】
アライメントプレート１００は、電気絶縁材料からなる略長方形の板で形成されており、長方形の接触子整列領域１０２を有する。接触子整列領域１０２には、Ｘ方向とこれに直交するＹ方向に所定の間隔をあけて行列状態で複数の接触子整列孔１０４が形成されている。また、アライメントプレート１００は、接触子整列領域１０２の矢印Ｘ方向に伸びる対向縁部の中央外側にそれぞれ、アライメントプレート１００の上面と下面を貫通して上下方向に伸びる貫通孔１０６（一方の貫通孔は図面から省略されている。）を有する。
【００１３】
図４に示すように、ベース２００は、電気絶縁材料からなり、四角形の底部２０２と、底部２０２の周囲を囲む外周壁部２０４を有する。底部２０２は、アライメントプレート１００の表面領域１０２に対応する長方形の接触子整列領域２０６を有する。接触子整列領域２０６は、アライメントプレート１００の接触子整列領域１０２と同様に、Ｘ方向とＹ方向に所定の間隔をあけて行列状態に配置された複数の接触子整列孔２０８を有する。
【００１４】
図５に接触子８００の一例を示す。図示する接触子８００は、導電材料からなり、上方から見たときに略Ｕ形状を有する中央部８０２を有する。中央部８０２の両端は上方に伸ばして一対の片持ちアーム８０４が形成されている。これら片持ちアーム８０４はそれぞれ先端部８０６で終っている。中央部８０２はその一部を下方に伸ばして脚部８０８が形成されている。そして、各接触子８００は、ベース接触子整列孔２０８内に中央部８０２をはめ込み、片持ちアーム８０４及び先端部８０６を底部上面から突出させると共に脚部８０８を底部下面から突出させた状態でベース２００に固定されている。
【００１５】
図３と図４に示すように、ベース２００はさらに、接触子整列領域２０６の外側に、接触子整列領域２０６を挟んで対向する一対のリテーナ支持部２１０を有する。各リテーナ支持部２１０は、接触子整列領域２０６の外周縁と平行に且つ間隔をあけて配置された一対の垂直壁２１２を有し、これら一対の垂直壁２１２の間に垂直スロット２１４が形成されている。各垂直壁２１２の背後には、後方に突出した上部係合部２１６と下部係合部２１８が形成されている。また、ベース底部２０２には、接触子整列領域２０６の外側であって垂直スロット２１４の下に、ベース底部２０２を上下方向に貫通する貫通孔２２０が形成されている。
【００１６】
図３に示すように、ベース２００とアライメントプレート１００は、上下に重ね合わされて組み立てられる。このとき、ベース底部の下面から突出した複数の接触子脚部８０８が、アライメントプレート１００の接触子整列孔１０４に挿入され、アライメントプレート１００の下面から突出される。このように組み立てた状態で、ベース底部２０２の貫通孔２２０とアライメントプレート１００の貫通孔１０６は一列に整列する。そのために、アライメントプレート１０６の貫通孔１０６は、アライメントプレート１００にベース２００を組み付けた状態で、それらの貫通孔１０６、２２０が一致する場所に配置されている。
【００１７】
アライメントプレート１００とベース２００は、例えば、アライメントプレート１００の四隅に形成された４つの直立脚部１０８とベース２００に形成された４つの窪み又は貫通孔２２２からなるスナップフィット機構を用い、脚部１０８を係合孔２２２に挿入係合して組み付けることが好ましい。
【００１８】
図４に示すように、リテーナ３００は、本実施形態では、略逆Ｊ字形状又は略逆Ｌ字形状の本体３０２を有し、この本体３０２はその上端から前方に向けて突出する先端部３０４を有する。本体３０２は、基端部（下部）３０６の左右両側から突出する一対の軸部３０８を備えている。また、基部３０６の前面中央には、前方に向けて突出する前方突出部３１０が形成されており、基部３０２の背面には後方に向けて突出する後方突出部３１２が形成されている。
【００１９】
このように構成されたリテーナ３００は、ベース２００のリテーナ支持部２１０に対して組み付けられる。このとき、垂直壁２１２の背後に本体３０２に位置させ、左右の軸部３０８を上下係合部２１６と下部係合部２１８の間に位置させ、先端部３０４がベース２００の接触子整列領域２０８に進出した第１の位置である進出位置（図２参照）と、先端部３０４が接触子整列領域２０８の後方に退避した第２の位置である退避位置（図７参照）との間を回転するように保持される。また、リテーナ３００の前方突出部３１０は垂直スロット２１４に配置されており、リテーナ３００が進出位置にあるとき、前方突出部３１０が貫通孔２２０の上に位置する。また、ベース２００の上面とこれに対向する後方突出部３１０との間には付勢手段であるばね３１４が配置され、本体３０２を垂直壁２１２に押し当てた状態で、リテーナ３００を進出位置に付勢している。
【００２０】
図３に示すように、ネストアセンブリ４００は、米国特許第５，４９８，９７０号公報に記載されているように、一対の櫛構造４０２を有する。各櫛構造４０２は、電気絶縁材料で形成されており、端部フレーム部分４０４と、この端部フレーム部分４０４からこれと直交する方向に伸びる複数の片持ちラック４０６を有する。隣接するラック４０６の間に形成されている空間はラックの幅よりも僅かに大きくしてあり、一方の隣接する片持ちラック４０６の間に他方の櫛構造４０２の片持ちラックを配置した状態で、これら２つの櫛構造４０２を組み合わせることができるようになっている。
【００２１】
ネストアセンブリ４００は、２つの櫛構造４０２を逆方向に向けた状態で、一方の櫛構造４０２の隣接する片持ちラック４０６の間に他方の櫛構造４０２の片持ちラック４０６を位置させて組み合わされる。組み合わされたネストアセンブリ４００は、片持ちラック４０６をＸ方向に向けて、ベース２００の上に設置される。このとき、図６Ａに示すように、一方の接触子先端部８０６が、一方の櫛構造４０２のラック４０６に形成された隣接する突起部４０８間に配置され、他方の接触子先端部８０６が、他方の櫛構造４０２のラック４０６に形成された隣接する突起部４０８間に配置される。そのため、図６Ａ〜図６Ｄに示すように、片持ちアーム８０４の弾性に対抗して櫛構造４０２を対向方向（矢印Ｘ方向）に押圧すると、接触子先端部８０６は自由状態（図６Ａ参照）から開放状態（図６Ｂ参照）に広げられ、接触子先端部８０６はそれらの間に、集積回路装置９００の主面（例えば底面）に設けた端子であるはんだボール９０２を収容するために必要な空間が形成される。
【００２２】
櫛構造４０２の相対移動を保証するために、ネストアセンブリ４００は、少なくともいずれか一方の櫛構造４０２が他方に対して進退できるようにベース２００に連結されている。そのために、実施の形態では、図３に示すように、櫛構造４０２は、端部フレーム部分４０４の両端に係合脚部４１０を備えている。他方、ベース２００は、係合脚部４１０が挿入されて係合される４つの係合孔２２２が形成されている。また、Ｘ方向に関する係合孔２２２の大きさは対応する脚部４１０の該方向の大きさよりも大きくしてあり、これにより、係合孔２２２に挿入された脚部４１０がＸ方向に僅かに移動でき、自由状態と開放状態との間で上述した櫛構造４０２が同方向に相対移動できるようになっている。
【００２３】
パッケージガイド５００は、電気絶縁材料で形成されており、ネストアセンブリ４００の適正な場所にＢＧＡ集積回路装置をガイドするために用いられるもので、四角形の枠５０２を有し、その内側に集積回路装置の外形に対応した四角形の開口領域５０４を形成しており、ネストアセンブリ４００が装着されているベース２００に組み付けられる。組み付けた状態で、開口領域５０４の内側にはネストアセンブリ４００に保持されている接触子先端部８０６が露出しており、開口領域５０４に装着される集積回路装置９００の底面に設けられたはんだボール９０２（図６Ａ〜図６Ｄ参照）が対応する接触子８００に把持できるようになる。なお、開口領域５０４に集積回路装置を容易に挿入できるように、四角形枠５０２の各辺の内側には、上方から下方に向かって内方に傾斜した傾斜面５０６を設けるのが好ましい。また、図示するように、矢印Ｘ方向に配置される枠部分５０８には、リテーナ３００の後方への回転を確保するために、その上面から下方に伸びる切欠部５１０を形成することが好ましい。さらに、ベース２００のリテーナ支持部２１０に装着されているリテーナ軸部３０８をその背後から規制する規制部５１２を設けることが好ましい。さらにまた、パッケージガイド５００は、パッケージガイド５００の脚部５１４（図３には２つだけ示されている。）とこれが係合するベース２００の窪み２２４からなる構成によって、ネストアセンブリ４００に固定するのが好ましい。
【００２４】
図３を参照すると、レバーアセンブリ６００は、２つのＵ字型ブラケット６０２を有する。ブラケット６０２は、Ｙ方向に配置される板状の横部材６０４と、該横部材６０４の両端からほほ垂直に伸びる側部アーム６０６からなる。これら２つのブラケット６０２は、一方と他方のブラケット６０２のアーム６０６を互いに交叉させた状態で、ベース２００上に設置される。このとき、図示するようにアーム６０６を斜め上方に向けた状態で、横部材６０４が、ベース２００に装着されているネストアセンブリ４００の端部フレーム部分４０４とこれに対向するベース２００の内壁の間に規制される。したがって、アーム５０６の上端を下方に押圧すると、横部材６０４が回転し、ネストアセンブリ４００の端部フレーム部分４０４を対向方向に付勢し、接触子８００の先端部８０６が自由状態から開放状態に移動する。この下方に向けた押圧力が除かれると、先端部８０６は接触子８００の弾性によって開放状態から自由状態に向かって移動する。
【００２５】
トップカバー７００は、電気絶縁材料からなる四角形の枠７０２からなり、枠７０２の内側に集積回路装置９００が通過できる大きさと形状の開口部７０４を有し、以上のようにネストアセンブリ４００、ガイドフレーム５００、レバーアセンブリ６００が装着されたベース２００に組み付けられる。このとき、ベース２００に対してトップカバー７００が図１に示す上昇位置と図示しない下降位置との間を上下方向に移動できるように、トップカバー７００は下方に伸びる複数の脚部７０６を有し、ベース２００はその外周壁部２０４の外面に複数の脚部７０６が装入される上下方向の溝２２６を有し、脚部７０６を対応する溝２２６に位置させた状態で、脚部７０６が溝２２６に沿って上下できるようにしてある。また、脚部７０６の内面には係合部７１２が形成され、ベース溝２２６にはその上部に突起２２８が形成され、これら係合部７１２と突起２２８との係合により、トップカバー７００が上昇位置から上方への移動が規制されている。さらに、トップカバー７００とベース２００との間には、複数のばね７０８が配置されており、通常の状態でトップカバー７００が上昇位置に付勢されている。さらにまた、トップカバー７００は、上昇位置から下降位置に移動したとき、進出位置にあるリテーナ３００の後方突出部３１２に係合してリテーナ３００を退避位置に移動させるために、下方に伸びる一対の操作部７１０（図３に一方のみを示す）を有する。
【００２６】
以上のように構成されたソケット１０を用いてＢＧＡ集積回路装置９００（図６Ａ〜図６Ｄ参照）を試験する場合、アライメントプレート１００の底面から突出した接触子８００の脚部８０８を試験回路（図示せず）に接続する。この状態で、トップカバー７００を押下してレバーアセンブリ６００におけるアーム６０６の先端を押下する。これにより、レバーアセンブリ６００における横部材６０４が回転し、ネストアセンブリ４００における端部フレーム部分４０４を他方に向けて付勢する。その結果、トップカバー７００の操作部７１０によってリテーナ３００の後方突出部３１２が押下され、リテーナ３００は進出位置から退避位置に移動する。また、各接触子８００における先端部８０６の間隔が広がって両者の間に開口が形成され、その開口に集積回路装置９００の底部に設けたはんだボール９０２が収容される（図６Ａ〜図６Ｄ参照）。
【００２７】
押圧力が解除されると、トップカバー７００がばね７０８の付勢力によって上昇位置に復帰する。その結果、櫛構造４０２は、接触子８００を構成する片持ちアーム８０４の弾性によって閉鎖状態になり、斜めに対向する接触子先端部８０６にはんだボール９０２が把持され、集積回路装置９００は試験回路に電気的に接続される。また、リテーナ３００は進出位置に移動し、その先端部３０４が集積回路装置９００の上面部分を押圧して保持する。このとき集積回路基板底面に設けられたはんだボール９０２の反対上面部分を先端部３０４が押圧するように、リテーナ３００、特に先端部３０４の形状と大きさが決められている。これは、はんだボール９０２が配置されている外側の領域で集積回路装置９００を押圧すると、集積回路装置９００の中央部が上方に向けて反り上がり、その結果、中央部のはんだボール９０２と接触子先端部８０６との接触が不十分になり得ることを防止するためである。
【００２８】
集積回路装置９００の試験が終了すると、トップカバー７００を介してレバーアセンブリ６００のアーム先端が再び押下され、接触子先端部８０６がはんだボール９０２から離間し、閉鎖状態から開放状態に移動する。このとき、リテーナ３００が進出位置から退避位置に移動する。これにより、集積回路装置９００をソケット１０から取り出し、試験回路との電気的接続を絶つことができる。
【００２９】
接触子８００の開口量（すなわち、対向する先端部８０６の間隔）が所定の開口量を形成し得るか否か検査する場合、ソケット１０は図７に示すソケット基台１０００に装着される。ソケット基台１０００は、電気絶縁材料からなり、ベース２００の外周形状に対応して配置された例えば４つの位置決め部１００２を有する。ソケット基台１０００はまた、位置決め部１００２に囲まれた領域内に、ソケット基台１０００に対して位置決め部１０００２を用いてソケット１０を位置決めした状態で、アライメントプレート貫通孔１０６とこれに整列されたベース貫通孔２２０に対向する位置に、上方に伸びる棒状の操作ロッド又は操作ピン１００４を備えている。
【００３０】
したがって、接触子開口量を計測する場合、ソケット１０をソケット基台１０００に装着する。このとき、ソケット１０は、４つの位置決め部１００２によってソケット基台１０００に対して位置決めされる。また、図８及び図９に示すように、操作ピン１００４がアライメントプレート貫通孔１０６とベース貫通孔２２０を貫通してベース底部２０２上に突出し、このベース貫通孔２２０上にあるリテーナ３００の前方突出部３１０をばね３１４の付勢力に対抗して押し上げる。その結果、リテーナ３００は進出位置から退避位置に向けて回転し、リテーナ先端部３０４が接触子８００の上から退避する。その結果、図示しないカメラ等の撮像装置を用いて全ての接触子８００についてその開口量を計測することができる。開口量の計測が終了してソケット１０をソケット基台１０００から取り外すと、リテーナ３００はばね３１４の付勢力によって再び進出位置に復帰する。
【００３１】
以上の説明から明らかなように、本発明に係るソケット１０によれば、接触子開口量等の物理状態を計測する場合、ソケット１０をソケット基台１０００に装着するだけでリテーナ３００を進出位置から退避位置に移動させることができ、わざわざ特殊な治具を用いてリテーナ３００を退避位置に移動させた状態でソケット基台に装着する必要がない。そのため、接触子開口量等の計測作業が非常に簡単になる。
【００３２】
以上のように本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲において、種種の変形、変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明に係るソケットの斜視図である。
【図２】本発明に係るソケットの平面図である。
【図３】本発明に係るソケットの分解斜視図である。
【図４】図１に示すソケットのベースとリテーナを示す斜視図である。
【図５】図１に示すソケットに設けた接触子を拡大した斜視図である。
【図６Ａ】ネストアセンブリと接触子の動作を説明するための拡大斜視図で、接触子先端部が自由状態にある状況を示す。
【図６Ｂ】ネストアセンブリと接触子の動作を説明するための拡大斜視図で、接触子先端部が開放状態にある状況を示す。
【図６Ｃ】ネストアセンブリと接触子の動作を説明するための拡大斜視図で、接触子先端部が開放状態から閉鎖状態に移行する状況を示す。
【図６Ｄ】ネストアセンブリと接触子の動作を説明するための拡大斜視図で、接触子先端部が閉鎖状態から開放状態に移行する状況を示す。
【図７】ソケットの一部とソケット基台の斜視図である。
【図８】ソケットをソケット基台に取り付けた状態を示す部分斜視図。
【図９】ソケットをソケット基台に取り付けるときの動作を説明する説明図。
【符号の説明】
【００３４】
１０：ソケット、１００：アライメントプレート、１０２：接触子整列領域、１０４：接触子整列孔、１０６：貫通孔、１０８：直立脚部、２００：ベース、２０２：底部、２０４：外周壁部、２０６：接触子整列領域、２０８：接触子整列孔、２１０：リテーナ支持部、２１２：垂直壁、２１４；垂直スロット、２１６：上部係合部、２１８：下部係合部、２２０：貫通孔、２２２：係合孔、２２４：窪み、２２６：溝、２２８：突起、３００：リテーナ、３０２：本体、３０４：先端部、３０６：基端部、３０８：軸部、３１０：前方突出部、３１２：後方突出部、３１４：ばね、４００：ネストアセンブリ、４０２：櫛構造、４０４：端部フレーム部分、４０６：片持ちラック、４０８：突起部、４１０：係合脚部、５００：パッケージガイド、５０２：枠、５０４：開口領域、５０６：傾斜面、５０８：枠部分、５１０：切欠部、５１２：規制部、５１４：脚部、６００：レバーアセンブリ、６０２：ブラケット、６０４：横部材、６０６：アーム、７００：トップカバー、７０２：枠、７０４：開口部、７０６：脚部、７０８：ばね、８００：接触子、８０２：中央部、８０４：片持ちアーム、８０６：先端部、８０８：脚部、９００：集積回路装置、９０２：はんだボール、１０００：ソケット基台、１００２：位置決め部、１００４：操作ピン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【図６Ｄ】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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