(57)【要約】【課題】  欠陥部がある記録媒体に対しても安定したサーボ制御を行えるようにし、その結果安定したデータの記録と再生を行えるようにする。【解決手段】  光ピックアップ装置４が光ディスク２の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射し、再生信号処理回路５が第１の光スポットの反射光に基づいて第１の光スポットのフォーカスずれの検出信号を出力し、第１の光スポットの反射光に基づいて第１の光スポットのトラックずれの検出信号を出力し、キズ検出センサ１６が第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射し、キズ検出回路１７が第２の光スポットの反射光に基づいて記録面の欠陥の検出信号を出力し、サーボコントローラ６が上記検出信号に対して第１の光スポットと第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力してフォーカス制御とトラッキング制御を行う。【選択図】        図１
2007035123.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射する第１の光スポット照射手段と、
前記第１の光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットによる前記記録面からの反射光に基づいて前記記録面上での前記第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号を出力するフォーカスずれ検出手段と、
前記光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットの反射光に基づいて前記記録面上での前記第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号を出力するトラックずれ検出手段と、
前記記録面に前記第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射する第２の光スポット照射手段と、
前記第２の光スポット照射手段によって照射した第２の光スポットによる前記記録面からの反射光に基づいて前記記録面の欠陥を検出する検出信号を出力する記録面欠陥検出手段と、
前記記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号に対して前記第１の光スポットと前記第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力するタイミング補正手段と、
前記フォーカスずれ検出手段によって出力された検出信号及び前記タイミング補正手段によって出力された信号に応じてフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、
前記トラックずれ検出手段によって出力された検出信号と前記タイミング補正手段によって出力された信号に応じてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段とを備えたことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
前記タイミング補正手段の補正は、固定クロックを基準にして行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項３】
前記タイミング補正手段の補正は、周波数が可変である発振器から出力されるクロックを基準にして行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項４】
前記タイミング補正手段の補正は、前記記録媒体の再生信号から生成したクロックを基準にして行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項５】
前記タイミング補正手段の補正は、前記記録媒体のウォブル信号から生成したクロックを基準にして行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項６】
前記タイミング補正手段は、周波数が可変である発振器から出力されるクロックと、前記記録媒体の再生信号から生成したクロックと、前記記録媒体のウォブル信号から生成したクロックとのいずれかを選択して出力するクロック選択出力手段を有し、前記補正を前記クロック選択出力によって出力されたクロックを基準にして行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項７】
前記タイミング補正手段に、前記記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号を複数のタイミングでそれぞれ遅延させて出力する遅延手段と、前記遅延手段によって出力された複数の信号を入力し、そのうちの１つの信号を選択して出力する選択出力手段とを設けたことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項８】
前記記録面欠陥検出手段は、前記第２の光スポットの反射光に比例した信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する信号レベル保持出力手段と、前記信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する信号レベル減衰手段と、前記信号レベル減衰手段によって出力された信号と前記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する比較手段と、前記比較手段によって出力された信号のパルス幅を延長して出力するパルス幅延長手段とを有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項９】
前記信号レベル減衰手段の信号レベルの減衰量は可変であることを特徴とする請求項８記載の記録再生装置。
【請求項１０】
前記パルス幅延長手段の信号のパルス幅の延長幅は可変であることを特徴とする請求項８記載の記録再生装置。
【請求項１１】
前記記録面欠陥検出手段は、前記第２の光スポットの反射光に比例した信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第１の信号レベル保持出力手段と、前記第１の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第１の信号レベル減衰手段と、前記第１の信号レベル減衰手段によって出力された信号と前記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第１の比較手段と、前記第１の光スポットから得られる和信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第２の信号レベル保持出力手段と、前記第２の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第２の信号レベル減衰手段と、前記第２の信号レベル減衰手段によって出力された信号と前記第１の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第２の比較手段と、前記第１の比較手段によって出力された信号と前記第２の比較手段によって出力された信号との遅延量を検出する遅延量検出手段と、前記遅延量検出手段によって検出された遅延量を記憶する遅延量記憶手段とを有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項１２】
記録媒体の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射する第１の光スポット照射工程と、
前記第１の光スポット照射工程によって照射した第１の光スポットによる前記記録面からの反射光に基づいて前記記録面上での前記第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号を出力するフォーカスずれ検出工程と、
前記光スポット照射工程によって照射した第１の光スポットの反射光に基づいて前記記録面上での前記第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号を出力するトラックずれ検出工程と、
前記記録面に前記第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射する第２の光スポット照射工程と、
前記第２の光スポット照射工程によって照射した第２の光スポットによる前記記録面からの反射光に基づいて前記記録面の欠陥を検出する検出信号を出力する記録面欠陥検出工程と、
前記記録面欠陥検出工程によって出力された検出信号に対して前記第１の光スポットと前記第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力するタイミング補正工程と、
前記フォーカスずれ検出工程によって出力された検出信号及び前記タイミング補正工程によって出力された信号に応じてフォーカス制御を行うフォーカス制御工程と、
前記トラックずれ検出工程によって出力された検出信号と前記タイミング補正工程によって出力された信号に応じてトラッキング制御を行うトラッキング制御工程とからなることを特徴とする記録再生方法。
【請求項１３】
前記記録面欠陥検出工程は、前記第２の光スポットの反射光に比例した信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する信号レベル保持出力工程と、前記信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する信号レベル減衰工程と、前記信号レベル減衰工程によって出力された信号と前記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する比較工程と、前記比較工程によって出力された信号のパルス幅を延長して出力するパルス幅延長工程とを有することを特徴とする請求項１２に記載の記録再生方法。
【請求項１４】
前記記録面欠陥検出工程は、前記第２の光スポットの反射光に比例した信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第１の信号レベル保持出力工程と、前記第１の信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第１の信号レベル減衰工程と、前記第１の信号レベル減衰工程によって出力された信号と前記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第１の比較工程と、前記第１の光スポットから得られる和信号から前記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第２の信号レベル保持出力工程と、前記第２の信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第２の信号レベル減衰工程と、前記第２の信号レベル減衰工程によって出力された信号と前記第１の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して前記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第２の比較工程と、前記第１の比較工程によって出力された信号と前記第２の比較工程によって出力された信号との遅延量を検出する遅延量検出工程と、前記遅延量検出工程によって検出された遅延量を記憶する遅延量記憶工程とを有することを特徴とする請求項１２に記載の記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、記録媒体に対するデータの記録と再生を行う光ディスク装置を含む記録再生装置と記録媒体に対するデータの記録と再生を行う記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、メインビームがごみ、よごれ、傷の光ディスクの記録面に生じた欠陥部（ディスク欠陥部）に突入する前に先行ビームを用いて検出し、ディスク欠陥部ではフォーカシング、トラッキングのサーボをホールドすることによって記録と再生の安定性を高める記録再生方法（例えば、特許文献１、２参照）があった。
また、先行ビームを別光学系として用意し、ディスク欠陥部を早期に検出することによってフォーカシング、トラッキングサーボをホールドして記録と再生の安定性を高める記録再生方法（例えば、特許文献３参照）があった。
【特許文献１】特開平９−１６９８１号公報
【特許文献２】特開２００４−１４６０１３号公報
【特許文献３】特開平５−７３９３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述の特許文献１、２の記録再生方法では、先行ビームを用いてトラッキングエラー信号などのサーボで使用する信号を生成し、ディスク欠陥部の検出は先行ビームの光量が減少したことによって検出するため、ディスク欠陥部を検出した時には先行ビームがディスク欠陥部の影響を受けていることになり、トラッキングエラー信号もディスク欠陥部の影響を受けることになって、サーボが若干不安定になるという問題があった。
これに対して、上述の特許文献３の記録再生方法では、先行ビームはディスク欠陥部の検出のみを行うことになっており、上記のような原因でサーボが不安定になることはない。
【０００４】
しかし、以下のような問題点がある。
１．先行ビームではディスク欠陥部はメインビームに対して早く検出されるが、ディスク欠陥部を通過するのも早く通過するが、その対策がなされていない。
２．先行ビームとメインビームを別光学系とするため、先行ビームとメインビームスポットの相対距離の時間差を合わせることが困難なことが予想されるが、その対策がなされていない。
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、欠陥部がある記録媒体に対しても安定したサーボ制御を行えるようにし、その結果安定したデータの記録と再生を行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この発明は上記の目的を達成するため、次の記録再生装置と記録再生方法を提供する。
（１）記録媒体の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射する第１の光スポット照射手段と、上記第１の光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットによる上記記録面からの反射光に基づいて上記記録面上での上記第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号を出力するフォーカスずれ検出手段と、上記光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットの反射光に基づいて上記記録面上での上記第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号を出力するトラックずれ検出手段と、上記記録面に上記第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射する第２の光スポット照射手段と、上記第２の光スポット照射手段によって照射した第２の光スポットによる上記記録面からの反射光に基づいて上記記録面の欠陥を検出する検出信号を出力する記録面欠陥検出手段と、上記記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号に対して上記第１の光スポットと上記第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力するタイミング補正手段と、上記フォーカスずれ検出手段によって出力された検出信号及び上記タイミング補正手段によって出力された信号に応じてフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、上記トラックずれ検出手段によって出力された検出信号と上記タイミング補正手段によって出力された信号に応じてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段を備えた記録再生装置。
【０００６】
（２）上記（１）の記録再生装置において、上記タイミング補正手段の補正は、固定クロックを基準にして行う記録再生装置。
（３）上記（１）の記録再生装置において、上記タイミング補正手段の補正は、周波数が可変である発振器から出力されるクロックを基準にして行う記録再生装置。
（４）上記（１）の記録再生装置において、上記タイミング補正手段の補正は、上記記録媒体の再生信号から生成したクロックを基準にして行う記録再生装置。
（５）上記（１）の記録再生装置において、上記タイミング補正手段の補正は、上記記録媒体のウォブル信号から生成したクロックを基準にして行う記録再生装置。
（６）上記（１）の記録再生装置において、上記タイミング補正手段は、周波数が可変である発振器から出力されるクロックと、上記記録媒体の再生信号から生成したクロックと、上記記録媒体のウォブル信号から生成したクロックとのいずれかを選択して出力するクロック選択出力手段を有し、上記補正を上記クロック選択出力によって出力されたクロックを基準にして行う記録再生装置。
【０００７】
（７）上記（１）〜（６）のいずれかの記録再生装置において、上記タイミング補正手段に、上記記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号を複数のタイミングでそれぞれ遅延させて出力する遅延手段と、上記遅延手段によって出力された複数の信号を入力し、そのうちの１つの信号を選択して出力する選択出力手段を設けた記録再生装置。
（８）上記（１）〜（７）のいずれかの記録再生装置において、上記記録面欠陥検出手段は、上記第２の光スポットの反射光に比例した信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する信号レベル保持出力手段と、上記信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する信号レベル減衰手段と、上記信号レベル減衰手段によって出力された信号と上記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する比較手段と、上記比較手段によって出力された信号のパルス幅を延長して出力するパルス幅延長手段を有する記録再生装置。
【０００８】
（９）上記（８）の記録再生装置において、上記信号レベル減衰手段の信号レベルの減衰量は可変である記録再生装置。
（１０）上記（８）の記録再生装置において、上記パルス幅延長手段の信号のパルス幅の延長幅は可変である記録再生装置。
【０００９】
（１１）上記（１）〜（７）のいずれかの記録再生装置において、上記記録面欠陥検出手段は、上記第２の光スポットの反射光に比例した信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第１の信号レベル保持出力手段と、上記第１の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第１の信号レベル減衰手段と、上記第１の信号レベル減衰手段によって出力された信号と上記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第１の比較手段と、上記第１の光スポットから得られる和信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第２の信号レベル保持出力手段と、上記第２の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第２の信号レベル減衰手段と、上記第２の信号レベル減衰手段によって出力された信号と上記第１の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第２の比較手段と、上記第１の比較手段によって出力された信号と上記第２の比較手段によって出力された信号との遅延量を検出する遅延量検出手段と、上記遅延量検出手段によって検出された遅延量を記憶する遅延量記憶手段を有する記録再生装置。
【００１０】
（１２）記録媒体の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射する第１の光スポット照射工程と、上記第１の光スポット照射工程によって照射した第１の光スポットによる上記記録面からの反射光に基づいて上記記録面上での上記第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号を出力するフォーカスずれ検出工程と、上記光スポット照射工程によって照射した第１の光スポットの反射光に基づいて上記記録面上での上記第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号を出力するトラックずれ検出工程と、上記記録面に上記第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射する第２の光スポット照射工程と、上記第２の光スポット照射工程によって照射した第２の光スポットによる上記記録面からの反射光に基づいて上記記録面の欠陥を検出する検出信号を出力する記録面欠陥検出工程と、上記記録面欠陥検出工程によって出力された検出信号に対して上記第１の光スポットと上記第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力するタイミング補正工程と、上記フォーカスずれ検出工程によって出力された検出信号及び上記タイミング補正工程によって出力された信号に応じてフォーカス制御を行うフォーカス制御工程と、上記トラックずれ検出工程によって出力された検出信号と上記タイミング補正工程によって出力された信号に応じてトラッキング制御を行うトラッキング制御工程とからなる記録再生方法。
【００１１】
（１３）上記（１２）の記録再生方法において、上記記録面欠陥検出工程は、上記第２の光スポットの反射光に比例した信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する信号レベル保持出力工程と、上記信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する信号レベル減衰工程と、上記信号レベル減衰工程によって出力された信号と上記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する比較工程と、上記比較工程によって出力された信号のパルス幅を延長して出力するパルス幅延長工程を有する記録再生方法。
【００１２】
（１４）上記（１２）の記録再生方法において、上記記録面欠陥検出工程は、上記第２の光スポットの反射光に比例した信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第１の信号レベル保持出力工程と、上記第１の信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第１の信号レベル減衰工程と、上記第１の信号レベル減衰工程によって出力された信号と上記第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第１の比較工程と、上記第１の光スポットから得られる和信号から上記記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第２の信号レベル保持出力工程と、上記第２の信号レベル保持出力工程によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第２の信号レベル減衰工程と、上記第２の信号レベル減衰工程によって出力された信号と上記第１の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して上記記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第２の比較工程と、上記第１の比較工程によって出力された信号と上記第２の比較工程によって出力された信号との遅延量を検出する遅延量検出工程と、上記遅延量検出工程によって検出された遅延量を記憶する遅延量記憶工程を有する記録再生方法。
【発明の効果】
【００１３】
この発明による記録再生装置と記録再生方法は、欠陥部がある記録媒体に対しても安定したサーボ制御を行えるので、その結果安定したデータの記録と再生を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
〔実施例〕
図１は本実施の形態の光ディスク装置１の概略構成を示すブロック図である。
この光ディスク装置１は、ＣＤ系、ＤＶＤ系の光ディスク２に対して情報の記録と再生を行う装置の一例である。
ＤＶＤ系の光ディスク２としては、例えば、ＤＶＤ−ＲＯＭディスク、１層のＤＶＤ＋Ｒディスク及び２層のＤＶＤ＋Ｒディスクを含むディスクが利用可能である。
また、ＣＤ系の光ディスク２としては、例えば、ＣＤ−ＲＯＭディスク、ＣＤ−Ｒディスク、ＣＤ−ＲＷディスク、ＣＤ＋ＲＷディスクを含むディスクが利用可能である。
【００１５】
この光ディスク装置１は、記録媒体としての光ディスク２を回転駆動するためのスピンドルモータ３、光ピックアップ装置４、再生信号処理回路５、サーボコントローラ６、モータドライバ７、バッファＲＡＭ８、バッファマネージャ９、エンコーダ１０、レーザコントロール回路１１、インタフェース１２、ＣＰＵ１３、フラッシュメモリ１４、ＲＡＭ１５、キズ検出センサ１６、キズ検出回路１７を備えて構成されている。
なお、図１中に示す接続線は代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。
【００１６】
光ピックアップ装置４は、図示を省略した公知の半導体レーザ光源であるレーザダイオード（ＬＤ）によって光ディスク２にレーザ光Ｌを照射し、光ディスク２からの戻り光束である反射光を受光する装置であり、その反射光の受光量に応じた再生信号（電流）を再生信号処理回路５に出力する。すなわち、上記レーザ光Ｌが第１の光スポットに相当し、この光ピックアップ装置４が記録媒体の記録面にデータの再生又は記録を行う第１の光スポットを照射する第１の光スポット照射手段の機能を果たす。
また、図示を省略した公知のシークモータを備え、そのシークモータを駆動源として自装置を光ディスク２の半径方向に移動自在にしている。
【００１７】
キズ検出センサ１６は、ＬＥＤを含む光源を備え、その光源によって光ディスク２に光ビームＢを照射し、光ディスク２からの戻り光束である反射光を受光するセンサであり、その反射光の受光量に応じた信号（電流）をキズ検出回路１７に出力する。
このキズ検出センサ１６は、光ディスク２に対して照射移動させる光ビームＢを、上記光ピックアップ装置４のＬＤから光ディスク２に照射移動させるレーザ光Ｌよりも先行する位置になるように配置されている。
【００１８】
すなわち、このキズ検出センサ１６が記録媒体の記録面に第１の光スポットに先行する所定位置に第２の光スポットを照射する第２の光スポット照射手段の機能を果たす。
このキズ検出センサ１６によって受光した反射光の受光量は光ディスク２上のキズが生じた部分、ごみが付着した部分、汚れを生じた部分を含むディスク欠陥部では減少するため、キズ検出センサ１６から出力される信号を用いて光ディスク２上のディスク欠陥部（以下「キズ」という）の検出を行う。
このキズ検出センサ１６は、図１では光ピックアップ装置４とは別体に図示しているが、光ピックアップ装置４上に設置するとよりよい。
【００１９】
再生信号処理回路５は、光ピックアップ装置４から入力した再生信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラックエラー信号（以下「トラッキングエラー信号」ともいう）を含むサーボ信号を生成してサーボコントローラ６に出力する。すなわち、上記フォーカスエラー信号は記録面上での第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号に相当し、上記トラックエラー信号は記録媒体の記録面上での第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号に相当し、この再生信号処理回路５が、第１の光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットによる記録媒体の記録面からの反射光に基づいて記録面上での第１の光スポットのフォーカスずれを検出する検出信号を出力するフォーカスずれ検出手段と、光スポット照射手段によって照射した第１の光スポットの反射光に基づいて記録媒体の記録面上での第１の光スポットのトラックずれを検出する検出信号を出力するトラックずれ検出手段の機能を果たす。
【００２０】
キズ検出回路１７は、キズ検出センサ１６から入力した信号に基づいて光ディスク２上のキズが生じた部分、ごみが付着した部分、汚れを生じた部分を含むディスク欠陥部を検出し、その検出信号をサーボコントローラ６に出力する。
すなわち、このキズ検出回路１７が、第２の光スポット照射手段によって照射した第２の光スポットによる記録媒体の記録面からの反射光に基づいて記録面の欠陥を検出する検出信号を出力する記録面欠陥検出手段の機能を果たす。
【００２１】
サーボコントローラ６は、再生信号処理回路５から入力したフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスずれを補正するためのフォーカス制御信号を生成すると共に、トラックエラー信号に基づいてトラックずれを補正するためのトラッキング制御信号を生成してモータドライバ７へ出力する。また、キズ検出回路１７から入力した検出信号に基づいてフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号のホールド処理を行う。
上記フォーカス制御信号及びトラッキング制御信号は、サーボオンのときにサーボコントローラ６からモータドライバ７に出力され、サーボオフのときには出力されない。上記サーボオン及びサーボオフは、ＣＰＵ１３がサーボコントローラ６に対して設定する。
すなわち、サーボコントローラ６とＣＰＵ１３が、記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号に対して第１の光スポットと第２の光スポット位置の違いにより生じるタイミング差を補正した信号を出力するタイミング補正手段の機能を果たす。
【００２２】
モータドライバ７は、サーボコントローラ６から入力したフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号に基づいて各種の駆動信号を光ピックアップ装置４に出力する。
すなわち、再生信号処理回路５、サーボコントローラ６及びモータドライバ７によってトラッキング制御及びフォーカス制御が行われ、それらの各部が、フォーカスずれ検出手段によって出力された検出信号及びタイミング補正手段によって出力された信号に応じてフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、トラックずれ検出手段によって出力された検出信号とタイミング補正手段によって出力された信号に応じてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段の機能を果たす。
【００２３】
また、モータドライバ７は、ＣＰＵ１３からの制御信号に基づいて、スピンドルモータ３及び図示を省略したシークモータ用の駆動信号をそれぞれ出力する。
すなわち、モータドライバ７では、ＣＰＵ１３からの指示に基づいて、光ディスク２の線速度が一定となるようにスピンドルモータ３の回転を制御し、さらに、図示を省略したシークモータを駆動して光ピックアップ装置４を光ディスク２の目標トラックに向けて半径方向（光ディスク２の半径方向の所定位置）に移動させる。
【００２４】
バッファＲＡＭ８は、光ディスク２に記録するデータ（記録用データ）及び光ディスク２から再生したデータ（再生データ）を含むデータを一時的に格納するバッファ領域と、各種プログラム変数を含むデータを格納する変数領域とを有している読み書き可能なメモリである。
バッファマネージャ９は、バッファＲＡＭ８へのデータの入出力を管理し、バッファＲＡＭ８のバッファ領域に蓄積されたデータ量が所定量になると、ＣＰＵ１３に通知する。
エンコーダ１０は、ＣＰＵ１３からの指示に基づいて、バッファＲＡＭ８に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ９を介して取り出し、データ変調及びエラー訂正コードの付加を含む各種の処理を行い、光ディスク２へのデータの書き込み信号を生成し、その生成した書き込み信号をレーザコントロール回路１１に出力する。
【００２５】
レーザコントロール回路１１は、エンコーダ１０から入力した書き込み信号及び図示を省略した半導体レーザＬＤのレーザ光Ｌの発光特性を含むデータに基づいて、半導体レーザＬＤのレーザ光Ｌの発光の駆動信号を生成し、光ピックアップ装置４へ出力する。
すなわち、レーザコントロール回路１１は、光ピックアップ装置４に対して光ディスク２に照射されるレーザ光Ｌの発光パワーを制御する。
インタフェース１２は、外部装置となるホストコンピュータ（例えば、パーソナルコンピュータを含む装置）との双方向の通信インタフェースであり、例えば、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ、ＡＴＡＰＩ及びＳＣＳＩを含む標準インタフェースに準拠している。
【００２６】
ＣＰＵ１３は、フラッシュメモリ１４及びＲＡＭ１５と共に光ディスク装置１が備えるマイクロコンピュータ（コンピュータ）を構成している。
フラッシュメモリ１４は、ＣＰＵ１３が参照するプログラム領域とデータ領域とを備えている。そのプログラム領域には、ＣＰＵ１３により解読可能なコードで記述された制御プログラムを含む各種のプログラムが格納されている。また、データ領域には、半導体レーザＬＤの発光特性に関するデータ（情報）、光ピックアップ装置４のシークモータのシーク動作に関する情報（以下「シーク情報」ともいう）及び記録条件を含む各種の情報が格納されている。
ＣＰＵ１３は、フラッシュメモリ１４のプログラム領域に格納されている各種のプログラムに従って上述の各部の動作を制御すると共に、その制御に必要なデータをバッファＲＡＭ８の変数領域及びＲＡＭ１５に格納する。
【００２７】
この光ディスク装置１の電源が投入されると、フラッシュメモリ１４に格納されているプログラムは、ＣＰＵ１３の図示を省略した公知のメインメモリにロード（インストール）される。また、各種データを一時記憶するデータ記憶デバイスとしては、フラッシュメモリ１４やＲＡＭ１５を用い、予め記録されたプログラム（ソフトウェアプログラム）をマイクロコンピュータに提供できる記録媒体としては、メインメモリ、ＨＤＤ、ＣＤ−ＲＯＭディスクを含む記録媒体を用いることができる。
その他、予め記録されたプログラム（ソフトウェアプログラム）をＣＰＵ１３に提供できる記録媒体としては、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＭＯ、ＭＤ、ＣＤ±Ｒディスク、ＣＤ±ＲＷディスク、ＤＶＤ±ＲＡＭディスク、ＤＶＤ±ＲＷディスク及び各種のメモリカードが用いられる。
【００２８】
次に、上記サーボコントローラ６の内部構成について説明する。
図２は、図１に示すサーボコントローラ６の内部構成を示すブロック図である。
サーボコントローラ６は、再生信号処理回路５から入力したフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスずれを補正するためのフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御信号生成回路１６０と、フォーカス制御信号生成回路１６０から出力されるフォーカス制御信号の低域成分を検出して出力する低域検出回路１６１と、再生信号処理回路５から入力したトラックエラー信号に基づいてトラックずれを補正するためのトラッキング制御信号を生成するトラッキング制御信号生成回路１６３と、トラッキング制御信号生成回路１６３から出力されるトラッキング制御信号の低域成分を検出して出力する低域検出回路１６４と、フォーカス制御信号生成回路１６０から出力されたフォーカス制御信号と低域検出回路１６１から出力されたフォーカス制御信号の低域成分の信号のいずれか一方を選択してモータドライバ７へ出力するセレクタ１６２と、トラッキング制御信号生成回路１６３から出力されたトラッキング制御信号と低域検出回路１６４から出力されたトラッキング制御信号の低域成分の信号のいずれか一方を選択してモータドライバ７へ出力するセレクタ１６５とから構成されている。
【００２９】
このサーボコントローラ６は、さらにキズ検出回路１７から出力された検出信号（「キズ検出信号」ともいう）をセレクタ１６２とセレクタ１６５の選択信号として入力するように構成することにより、キズ検出回路１７から出力された検出信号が光ディスク２のディスク欠陥部ではない部分に基づく信号をセレクタ１６２とセレクタ１６５に入力した場合、セレクタ１６２はフォーカス制御信号生成回路１６０から入力したフォーカス制御信号を選択してモータドライバ７へ出力し、セレクタ１６５はトラッキング制御信号生成回路１６３から入力したトラッキング制御信号を選択してモータドライバ７へ出力する。
【００３０】
一方、キズ検出回路１７から出力された検出信号が光ディスク２のディスク欠陥部に基づく信号をセレクタ１６２とセレクタ１６５に入力した場合、セレクタ１６２は低域検出回路１６１から入力したフォーカス制御信号の低域成分の信号を選択してフォーカス制御信号としてモータドライバ７へ出力し、セレクタ１６５は低域検出回路１６４から入力したトラッキング制御信号の低域成分の信号を選択してトラッキング制御信号としてモータドライバ７へ出力する。
【００３１】
このようにして、光ディスク２の正常な部分ではフォーカス制御信号生成回路１６０とトラッキング制御信号生成回路１６３の出力をそれぞれセレクタ１６２、セレクタ１６５から出力することによりサーボコントロールを行い、光ディスク２のディスク欠陥部では低域検出回路１６１、低域検出回路１６４の出力をそれぞれセレクタ１６２、セレクタ１６５から出力することによりフォーカス制御信号及びトラッキング制御信号のホールド処理を行う。
【００３２】
次に、光ピックアップ装置４について図３乃至図６を参照して詳述する。
図３は光ピックアップ装置４の概略構成を示す縦断面図、図４は図３に示す受光器ＰＤの概略構成を示す平面図である。
図３に示すように、光ピックアップ装置４は、受発光モジュール３０、回折素子３１、コリメートレンズ３２、対物レンズ３３及び図示を省略した公知のフォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ、シークモータを含む駆動系部を備えている。
なお、本実施の形態では、図３中に示す座標軸２０のように、光ディスク２に対するフォーカス方向をＺ軸方向、トラッキング方向及びシーク方向をＸ軸方向、トラックの接線方向に対応する方向をＹ軸方向とする。
【００３３】
受発光モジュール３０は、例えば、波長が６６０ｎｍのレーザ光Ｌを発光する光源としての半導体レーザ光源ＬＤ及び光ディスク２からの戻り光束である反射光を受光する受光器ＰＤから構成されている。
なお、ここでは、受発光モジュール３０から出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｚ軸とする。
受光器ＰＤは、半導体レーザ光源ＬＤの近傍に配置され、回折素子３１で回折された戻り光束を受光する。
この受光器ＰＤは、図４に示すように、例えば、４つの部分受光素子Ｑａ，Ｑｂ，Ｑｃ，Ｑｄからなる４分割受光素子Ｐｄ１と、２つの部分受光素子Ｑｅ，Ｑｆからなる２分割受光素子Ｐｄ２と、２つの部分受光素子Ｑｇ，Ｑｈからなる２分割受光素子Ｐｄ３とを含んで構成されている。
【００３４】
４分割受光素子Ｐｄ１は、トラックの接線方向に対応する方向（ここでは図中に示す座標軸２１のＹ軸方向）の分割線ＤＬ１と、トラッキング方向に対応する方向（ここでは図中に示す座標軸２１のＸ軸方向）の分割線ＤＬ２とによって４分割されている。
部分受光素子Ｑａは、分割線ＤＬ１の＋Ｘ側で、かつ分割線ＤＬ２の＋Ｙ側に位置しており、部分受光素子Ｑｂは、分割線ＤＬ１の−Ｘ側で、かつ分割線ＤＬ２の＋Ｙ側に位置している。また、部分受光素子Ｑｃは、分割線ＤＬ１の−Ｘ側で、かつ分割線ＤＬ２の−Ｙ側に位置しており、部分受光素子Ｑｄは、分割線ＤＬ１の＋Ｘ側で、かつ分割線ＤＬ２の−Ｙ側に位置している。
【００３５】
２分割受光素子Ｐｄ２は、トラックの接線方向に対応する方向の分割線ＤＬ３によって２分割されている。部分受光素子Ｑｅは分割線ＤＬ３の−Ｘ側に位置しており、部分受光素子Ｑｄは分割線ＤＬ３の＋Ｘ側に位置している。
また、２分割受光素子Ｐｄ３は、トラックの接線方向に対応する方向の分割線ＤＬ４によって２分割されている。部分受光素子Ｑｇは分割線ＤＬ４の−Ｘ側に位置しており、部分受光素子Ｑｈは分割線ＤＬ４の＋Ｘ側に位置している。
各部分受光素子Ｑａ〜Ｑｈは、それぞれ光電変換を行って受光量に応じた電流信号を生成し、それぞれ再生信号処理回路５に出力する。
【００３６】
図３に示すように、回折素子３１は、受発光モジュール３０の＋Ｚ側に配置され、グレーティング３１ａ及びホログラム３１ｂを有している。
なお、本実施の形態では、例えば、回折素子３１と受発光モジュール３０とは一体化されている例を示している。
これにより、組み付け時の部品点数が減少し、作業性を向上させることができ、さらに、調整工程を簡素化することもできる。
グレーティング３１ａは、受発光モジュール３０から出射された光束（以下「出射光束」ともいう）を主ビームとしての０次光と、副ビームとしての２つの１次回折光（＋１次回折光及び−１次回折光）とに分割（３ビーム化）する。
【００３７】
図５は主ビームによる光スポットと副ビームによる光スポットとの位置関係を説明するための模式図である。
図５に示すように、光ディスクの記録層Ｍ０，Ｍ１において、０次光による光スポットＳＰ０の中心からトラッキング方向に関してトラックピッチＰｔの１／２（Ｐｔ／２）だけずれた位置に、各１次回折光による光スポットＳＰ１とＳＰ２がそれぞれ形成されるように設定されている。
【００３８】
図３に示すように、ホログラム３１ｂは、グレーティング３１ａの＋Ｚ側に配置され、光ディスク２からの戻り光束である反射光を受光器ＰＤの受光面方向に回折する。
図６は各ビームの戻り光束と受光器ＰＤを構成する各部分受光素子との位置関係を説明するための模式図であり、図４と共通する部分には同一符号を付している。
図６に示すように、０次光（図５の光スポットＳＰ０）の戻り光束は４分割受光素子Ｐｄ１で受光され、各１次回折光（図５の光スポットＳＰ１とＳＰ２）の戻り光束は２分割受光素子Ｐｄ２，Ｐｄ３でそれぞれ受光されるように設定されている。
なお、ホログラム３１ｂからの回折光がグレーティング３１ａで回折されないように、例えばホログラム３１ｂとグレーティング３１ａとの間隔は１．５〜２．０ｍｍ程度に設定されている。
【００３９】
コリメートレンズ３２は、回折素子３１の＋Ｚ側に配置され、回折素子３１によって３ビーム化された各光束をそれぞれほぼ平行光とする。
対物レンズ３３は、コリメートレンズ３２の＋Ｚ側に配置され、コリメートレンズ３２を透過した各光束を集光し、光ディスク２の記録面に光スポットをそれぞれ形成する。
【００４０】
次に、図１に示す再生信号処理回路５について図７乃至図１３を参照して詳述する。
図７は図１に示す再生信号処理回路５の内部構成を示すブロック図、図８は図１に示す再生信号処理回路５が備えるＤＰＰ法（差動プッシュプル法）に対応したトラックエラー検出回路の構成を示すブロック図、図９は図１に示す再生信号処理回路５が備えるＤＰＤ法（位相差法）に対応したトラックエラー検出回路の構成を示すブロック図、図１０は図１に示す再生信号処理回路５が備えるフォーカスエラー検出回路の構成を示すブロック図、図１１は図７に示すウォブル信号検出回路５ｃの内部構成を示すブロック図、図１２は図７に示すクロック生成回路５ｆの内部構成を示すブロック図、図１３は図７に示すアドレス検出回路５ｇの内部構成を示すブロック図である。
【００４１】
図７に示すように、再生信号処理回路５は、Ｉ／Ｖアンプ５ａ、サーボ信号検出回路５ｂ、ウォブル信号検出回路５ｃ、再生（ＲＦ）信号検出回路５ｄ、デコーダ５ｅ、クロック生成回路５ｆ及びアドレス検出回路５ｇから構成されている。
Ｉ／Ｖアンプ５ａは、受光器ＰＤの各部分受光素子Ｑａ〜Ｑｈから入力した各電流信号をそれぞれ電圧信号に変換する。
サーボ信号検出回路５ｂは、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号を含むサーボ信号を検出してサーボコントローラ６へ出力する。
【００４２】
例えば、光ディスク２が記録可能な場合には、トラックエラー信号は、主ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号と副ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号との差を利用する、いわゆるＤＰＰ法を用いて検出する。
また、例えばディスククローズされた光ディスク２のように記録不可能な場合には、トラックエラー信号は、主ビームの戻り光束における強度パターンの回転変化を利用する、いわゆるＤＰＤ法を用いて検出する。
したがって、サーボ信号検出回路５ｂは、例えば、図８に示すＤＰＰ法を用いてトラックエラー信号を検出するためのトラックエラー検出回路（ＴＥ検出回路）４０と、図９に示すＤＰＤ法を用いてトラックエラー信号を検出するためのトラックエラー検出回路（ＴＥ検出回路）４１とを備えると共に、図１０に示すフォーカスエラー検出回路４２を備えている。
【００４３】
まず、ＤＰＰ法を用いてトラックエラー信号を検出するためのＴＥ検出回路４０について説明する。
図８に示すように、ＴＥ検出回路４０は、４つの加算器ａ１，ａ２，ａ３，ａ４、３つの減算器ａ５，ａ６，ａ８、ゲインアンプａ７、トラックエラー信号（ＴＥ）極性設定回路ａ９及びローパスフィルタ（ＬＰＦ）ａ１０を有している。
加算器ａ１は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓａと出力信号Ｓｄとを加算して減算器ａ５へ出力する。出力信号Ｓａは、部分受光素子Ｑａの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｄは、部分受光素子Ｑｄの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
【００４４】
加算器ａ２は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｂと出力信号Ｓｃとを加算して減算器ａ５へ出力する。出力信号Ｓｂは、部分受光素子Ｑｂの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｃは、部分受光素子Ｑｃの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
加算器ａ３は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｅと出力信号Ｓｇとを加算して減算器ａ６へ出力する。出力信号Ｓｅは、部分受光素子Ｑｅの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｇは、部分受光素子Ｑｇの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
加算器ａ４は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｆと出力信号Ｓｈとを加算して減算器ａ６へ出力する。出力信号Ｓｆは、部分受光素子Ｑｆの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｈは、部分受光素子Ｑｈの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
【００４５】
減算器ａ５は、加算器ａ１の出力信号から加算器ａ２の出力信号を減算して減算器ａ８へ出力する。すなわち、減算器ａ５の出力信号は（Ｓａ＋Ｓｄ）−（Ｓｂ＋Ｓｃ）であり、主ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号である。
減算器ａ６は、加算器ａ３の出力信号から加算器ａ４の出力信号を減算してゲインアンプａ７へ出力する。すなわち、減算器ａ６の出力信号は（Ｓｅ＋Ｓｇ）−（Ｓｆ＋Ｓｈ）であり、副ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号である。
ゲインアンプａ７は、減算器ａ６の出力段に配置され、減算器ａ６の出力信号が減算器ａ５の出力信号とほぼ同じレベルとなるように減算器ａ６の出力信号を調整して減算器ａ８へ出力する。
例えば、ゲインアンプａ７でのゲインをＫとすると、ゲインアンプａ７の出力信号はＫ（（Ｓｅ＋Ｓｇ）−（Ｓｆ＋Ｓｈ））である。
【００４６】
減算器ａ８は、減算器ａ５の出力信号からゲインアンプａ７の出力信号を減算してＴＥ極性設定回路ａ９へ出力する。減算器ａ８の出力信号は（（Ｓａ＋Ｓｄ）−（Ｓｂ＋Ｓｃ））−Ｋ（（Ｓｅ＋Ｓｇ）−（Ｓｆ＋Ｓｈ））である。
すなわち、主ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号と副ビームの戻り光束から得られるプッシュプル信号との差信号が出力される。
これにより、光ディスク２の偏心や対物レンズ３３のレンズシフトに起因するオフセット、及びノイズ（同期ノイズ）が除去される。
ＴＥ極性設定回路ａ９は、ＣＰＵ１３から出力されるＴＥ極性設定信号Ｓｋｔに基づいて減算器ａ８の出力信号の極性を設定してＬＰＦａ１０へ出力する。
【００４７】
例えば、ＴＥ極性設定回路ａ９は、ＴＥ極性設定信号Ｓｋｔが０（ローレベル）であれば、減算器ａ８の出力信号をそのままの極性でＬＰＦａ１０へ出力し、ＴＥ極性設定信号Ｓｋｔが１（ハイレベル）であれば、減算器ａ８の出力信号の極性を反転してＬＰＦａ１０へ出力する。
ローパスフィルタａ１０は、ＴＥ極性設定回路ａ９の出力信号に含まれる高周波成分を除去する。ローパスフィルタａ１０の出力信号は、トラックエラー信号Ｓｔｅとしてサーボコントローラ６に供給される。
【００４８】
次に、ＤＰＤ法を用いてトラックエラー信号を検出するためのＴＥ検出回路４１について説明する。
図９に示すように、ＴＥ検出回路４１は、２つの加算器ｂ１，ｂ２、２つのリミッタｂ３，ｂ４、位相比較器ｂ５及びローパスフィルタ（ＬＰＦ）ｂ６を有している。
加算器ｂ１は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓａと出力信号Ｓｄとを加算してリミッタｂ３へ出力する。
加算器ｂ２は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｂと出力信号Ｓｃとを加算してリミッタｂ４へ出力する。
リミッタｂ３は、加算器ｂ１の出力信号のレベル変動に対して、出力信号の信号レベルを一定に保って出力する。
【００４９】
リミッタｂ４は、加算器ｂ２の出力信号のレベル変動に対して、出力信号の信号レベルを一定に保って出力する。
位相比較器ｂ５は、リミッタｂ３の出力信号とリミッタｂ４の出力信号との位相を比較し、その比較結果の信号を出力する。
ローパスフィルタｂ６は、位相比較器ｂ５の出力信号に含まれる高周波成分を除去する。ローパスフィルタｂ６の出力信号は、トラックエラー信号Ｓｔｅとしてサーボコントローラ６に供給される。
なお、トラックエラー信号を検出する際には、ＣＰＵ１３によってＴＥ検出回路４０とＴＥ検出回路４１のいずれか一方が選択されて動作する。
【００５０】
次に、フォーカスエラー検出回路（ＦＥ検出回路）４２について説明する。
図１０に示すように、ＦＥ検出回路４２は、２つの加算器ｇ１，ｇ２、１つの減算器ｇ３、及びローパスフィルタ（ＬＰＦ）ｇ４を有している。
加算器ｇ１は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓａと出力信号Ｓｃとを加算して出力する。出力信号Ｓａは、部分受光素子Ｑａの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｃは、部分受光素子Ｑｃの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
【００５１】
加算器ｇ２は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｂと出力信号Ｓｄとを加算して出力する。出力信号Ｓｂは、部分受光素子Ｑｂの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号であり、出力信号Ｓｄは、部分受光素子Ｑｄの出力信号に対応するＩ／Ｖアンプ５ａの出力信号である。
減算器ｇ３は、加算器ｇ１の出力信号から加算器ｇ２の出力信号を減算して出力する。減算器ｇ３の出力信号は（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）である。
ローパスフィルタｇ４は、減算器ｇ３の出力信号に含まれる高周波成分を除去する。ローパスフィルタｇ４の出力信号は、フォーカスエラー信号Ｓｆｅとしてサーボコントローラ６に供給される。
【００５２】
次に、図７のウォブル信号検出回路５ｃについて詳しく説明する。
ウォブル信号検出回路５ｃは、図１１に示すように、例えば、２つの加算器ｃ１，ｃ２、２つのハイパスフィルタ（ＨＰＦ）ｃ３，ｃ４、２つのＡＧＣアンプｃ５，ｃ６、減算器ｃ７及びウォブル信号（ＷＢ）極性設定回路ｃ８を備えており、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出して出力する。
加算器ｃ１は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓａと出力信号Ｓｄとを加算して出力する。加算器ｃ２は、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号Ｓｂと出力信号Ｓｃとを加算して出力する。
【００５３】
ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）ｃ３は、加算器ｃ１の出力信号に含まれる低周波成分を除去して出力する。
ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）ｃ４は、加算器ｃ２の出力信号に含まれる低周波成分を除去して出力する。
ＡＧＣアンプｃ５は、ハイパスフィルタｃ３の出力信号が所定の信号レベルを維持するように信号調整を行って出力する。
ＡＧＣアンプｃ６は、ハイパスフィルタｃ４の出力信号が所定の信号レベルを維持するように信号調整を行って出力する。
これにより、ＡＧＣアンプｃ５の出力信号とＡＧＣアンプｃ６の出力信号とは、互いにほぼ同じ信号レベルとなる。
【００５４】
減算器ｃ７は、ＡＧＣアンプｃ５の出力信号からＡＧＣアンプｃ６の出力信号を減算して出力する。
これにより、光ディスク２の偏心や対物レンズ３３のレンズシフトに起因するオフセット、及びノイズ（同期ノイズ）が除去される。
ＷＢ極性設定回路ｃ８は、ＣＰＵ１３からのＷＢ極性設定信号Ｓｋｗに基づいて減算器ｃ７の出力信号の極性を設定する。
例えば、ＷＢ極性設定回路ｃ８は、ＷＢ極性設定信号Ｓｋｗが０（ローレベル）であれば、減算器ｃ７の出力信号をそのままの極性で出力し、ＷＢ極性設定信号Ｓｋｗが１（ハイレベル）であれば、減算器ｃ７の出力信号の極性を反転して出力する。
ＷＢ極性設定回路ｃ８の出力信号は、ウォブル信号Ｓｗｂとしてクロック生成回路５ｆ及びアドレス検出回路５ｇに供給される。
【００５５】
次に、図７のクロック生成回路５ｆについて詳しく説明する。
クロック生成回路５ｆは、図１２に示すように、例えば、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）ｄ１、２値化回路ｄ２及びフェーズロックループ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ：ＰＬＬ）回路ｄ３を備えており、ウォブル信号Ｓｗｂに基づいて基準クロック信号Ｗｃｋを生成して出力する。
バンドパスフィルタｄ１は、ウォブル信号Ｓｗｂから搬送波成分を抽出して出力する。
２値化回路ｄ２は、バンドパスフィルタｄ１の出力信号を２値化して出力する。
ＰＬＬ回路ｄ３は、２値化回路ｄ２の出力信号に同期した逓倍クロックを生成し、基準クロックＷｃｋとしてエンコーダ１０及びアドレス検出回路５ｇを含む各部に供給する。
【００５６】
次に、図７のアドレス検出回路５ｇについて詳しく説明する。
アドレス検出回路５ｇは、図１３に示すように、例えば、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）ｅ１、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）ｅ２、位相復調回路ｅ３及びＡＤＩＰ復号回路ｅ４を備えており、ウォブル信号検出回路５ｃから出力されるウォブル信号Ｓｗｂからアドレス情報を取得して出力する。
ハイパスフィルタｅ１は、ウォブル信号Ｓｗｂに含まれる低周波成分を除去して出力する。
ローパスフィルタｅ２は、ハイパスフィルタｅ１の出力信号に含まれる高周波成分を除去して出力する。
位相復調回路ｅ３は、クロック生成回路５ｆから出力される基準クロック信号Ｗｃｋに同期してローパスフィルタｅ２の出力信号を復調して出力する。
ＡＤＩＰ復号回路ｅ４は、位相復調回路ｅ３の出力信号からアドレス情報を抽出し、その抽出したアドレス情報が所定量（例えば、５１データビット分）に達すると、アドレスデータに復号する。その復号されたアドレスデータは、アドレス信号ＳａｄとしてＣＰＵ１３及びエンコーダ１０に出力される。
【００５７】
図７のＲＦ信号検出回路５ｄは、Ｉ／Ｖアンプ５ａの出力信号に基づいて再生（ＲＦ）信号を検出してデコーダ５ｅへ出力する。
図７のデコーダ５ｅは、ＲＦ信号検出回路５ｄで検出されたＲＦ信号に対して再生用クロック用のＰＬＬ回路（公知なので図示を省略）により再生クロックのリカバーを行うとともに、ＲＦ信号の復号処理及び誤り検出処理を含む各種の処理を行った後、再生データとしてバッファマネージャ９を介してバッファＲＡＭ８に格納する。このデコーダ５ｅは、誤り検出処理において誤りが検出されると、所定の誤り訂正処理を行う。
【００５８】
次に、図１のキズ検出回路１７について詳しく説明する。
図１４は図１に示すキズ検出回路１７の内部構成を示すブロック図、図１５は図１４の各部の出力信号のタイミングを示すタイミングチャート図である。
キズ検出回路１７は、図１４に示すように、キズ検出センサ１６から出力された検出信号を電圧に変換して出力するＩＶアンプ１１０、そのＩＶアンプ１１０から出力された信号の低周波成分のみを検出する回路であり、例えばＬＰＦである低域検出回路１１１、その低域検出回路１１１の出力信号を減衰させて次段のコンパレータ１１３にスライスレベルを供給するゲインアンプ１１２、ＩＶアンプ１１０の出力信号とゲインアンプ１１２の出力信号を比較するコンパレータ１１３、コンパレータ１１３から出力された２値化パルス信号のパルス幅を延長するパルス幅延長回路１１４、そのパルス幅延長回路１１４から出力される信号を遅延させて検出信号（キズ検出信号）としてサーボコントローラ６へ出力するシフトレジスタ１１５、分周器１１６からなる。
【００５９】
すなわち、上記低域検出回路１１１が、第２の光スポットの反射光に比例した信号から記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する信号レベル保持出力手段の機能を果たし、上記ゲインアンプ１１２が、信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する信号レベル減衰手段の機能を果たし、上記コンパレータ１１３が信号レベル減衰手段によって出力された信号と第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する比較手段の機能を果たし、上記パルス幅延長回路１１４が比較手段によって出力された信号のパルス幅を延長して出力するパルス幅延長手段の機能を果たす。
【００６０】
上記各回路から出力される信号は図１５に示すようになる。
光ディスクにキズを含むディスク欠陥部がない場合はキズ検出回路１７の出力信号はほぼ一定レベルとなるが、ディスク欠陥部がある場合はその部分での出力信号のレベルがディスク欠陥部がない場合のレベルよりも小さくなる。
図１５の（ａ）に示すＩＶアンプ１１０の出力で、図中ロ〜チの信号レベルが小さくなっているところ（ローレベル）がキズ部分、それ以外の部分である図中イ〜ロとチ〜ルはキズのない部分の信号レベル（ハイレベル）である。
低域検出回路１１１はＩＶアンプ１１０の出力信号の周波数の低域成分のみを検出するので、光ディスクのキズ部分であってもＩＶアンプ１１０の出力信号のキズのない部分のレベルを保持した信号が出力される。
【００６１】
その信号をゲインアンプ１１２で減衰するため、ゲインアンプ１１２からは、図１５中にハ〜トの“コンパレータのスライスレベル”で示したレベルの信号が出力される。
上記スライスレベルは、ゲインアンプ１１２の減衰率によって変更され、そのレベルによりどの程度のキズを検出するかが決定される。
このゲインアンプ１１２の減衰率はＣＰＵ１３によって設定できるようにした構成が望ましい。つまり、ゲインアンプ１１２の信号レベルの減衰量はＣＰＵ１３によって可変にするとよい。
コンパレータ１１３には、ＩＶアンプ１１０の出力と、基準レベルとしてゲインアンプ１１２から出力されたスライスレベルが入力されるため、コンパレータ１１３からはディスク欠陥部の有無を示す検出信号を出力することができる。
【００６２】
コンパレータ１１３から出力される信号で、ディスク欠陥部に対応する部分は、図１５の（ｂ）に示すハ〜トのハイレベルの部分であり、パルス幅としてはＩＶアンプ１１０から出力されるパルス幅（ロ〜チ）よりも狭くなっている。
これは、ＩＶアンプ１１０の出力が少し下がり始めたところからディスク欠陥部が始まっていると考えられ、コンパレータ１１３から出力される信号は、図１５に示したようになるのでその幅よりもせまくなる。
また、キズ検出センサ１６がディスク欠陥部を検出するために光ディスクに照射する光ビームＢの照射位置は、光ピックアップ装置４の照射するレーザ光Ｌのスポットの照射位置よりも記録方向に対して先行した位置である。
【００６３】
図１６は、キズ検出センサ１６の光ビームＢのスポット位置と光ピックアップ装置４のレーザ光Ｌのスポット位置の関係を示す図である。
図１６中に示す座標軸２１でＹ軸方向がトラックの接線方向であり、光ディスクの照射位置はキズ検出センサ１６の光ビームＢのスポット位置の次に光ピックアップ装置４のレーザ光Ｌのスポット位置を通過する。すなわち、キズ検出センサ１６の光ビームＢのスポットが先頭になり、その後を追って光ピックアップ装置４のレーザ光Ｌのスポットが照射される。
パルス幅延長回路１１４は、コンパレータ１１３の出力信号のハイレベルの部分のパルス幅の補正を行うために設置されている。
パルス幅延長回路１１４では、図１５に示すように、コンパレータ１１３の出力信号のハイレベルの部分（図中ハ〜ト）についてパルス幅を後ろ側へ広げる。つまり、コンパレータ１１３の出力信号の図中ハ〜トのハイレベルの部分の後ろ側を延長して、図中ハ〜リがハイレベルである信号を出力する。そのパルス幅の延長は再生信号処理回路５で生成される再生クロック信号を分周器１１６で分周したクロック信号を基準にしてその整数倍で行う。
【００６４】
次に、パルス幅延長回路１１４について詳しく説明する。
図１７は図１４に示すパルス幅延長回路１１４の内部構成例を示すブロック図、図１８は図１７に示すパルス幅延長回路１１４の各部を流れる信号の波形図である。
パルス幅延長回路１１４は、図１７に示すように、コンパレータ１１３から入力される信号Ａを再生信号処理回路５から入力される再生クロック信号に基づいて遅延させるシフトレジスタ（ここではコンパレータ１１３から入力される信号Ａを３クロック分遅延する例を示す）２００と、コンパレータ１１３から入力される信号Ａとシフトレジスタ２００から入力される信号Ｂの２つの信号の論理和の信号Ｃを出力する論理和演算回路２０１からなる。
【００６５】
パルス幅延長回路１１４は、図１８に示すように、信号Ａのパルス幅を後ろ側に延長した信号Ｃを出力する。
ここで、パルス幅の延長幅はシフトレジスタ２００でシフトを行う幅だけ延長されることになる。したがって、この幅の設定幅はＣＰＵ１３により自由に設定できることが望ましい。すなわち、パルス幅延長回路１１４の信号のパルス幅の延長幅はＣＰＵ１３によって可変にするとよい。
なお、上述の構成は１例であり別の構成でもかまわない。例えば、シフトレジスタ２００の代わりにディレイラインを含む遅延素子を用いた構成でも実現できる。
【００６６】
図１４のシフトレジスタ１１５は、キズ検出センサ１６の光ビームＢのスポットと光ピックアップ装置４のレーザ光Ｌ間の距離を補正するために使用される。
また、シフトレジスタ１１５では検出信号全体が遅延され、光ピックアップ装置４がディスク欠陥部を通過するタイミングに調整される。
シフトレジスタ１１５での遅延は、再生信号処理回路５で生成される再生クロック信号を分周器１１６で分周したクロックを基準にしてその整数倍で行われる。すなわち、再生クロック信号が記録媒体の再生信号から生成したクロックである。
このようにして、タイミング補正をＲＦ信号から生成したクロックを基準として行うようにすれば、再生ディスクやデータが記録されている記録ディスクでＣＡＶによる記録と再生ができる。
【００６７】
本実施の形態では、ＣＡＶリード時でも対応できるように再生クロック信号を供給する場合の構成例を示したが、固定クロック信号を基準にして行う構成にしてもよい。
このようにして、タイミング補正を固定クロックを基準として行うようにすれば、簡単な回路構成で実現することができ、装置製造のコストを低減することができる。
また、周波数が可変である発振器から出力されるクロックを基準にして行う構成にしてもよい。
このように、タイミング補正を周波数が可変である発振器を基準として行うようにすれば、ＰＬＬの引き込み動作中であっても安定したサーボ制御を行うことができる。
さらに、記録媒体のウォブル信号から生成したクロックを基準にして行う構成にしてもよい。
このように、タイミング補正をウォブル信号から生成したクロックを基準として行うようにすれば、記録可能な光ディスクにＣＡＶで記録することができる。
【００６８】
このようにして、図１４に示したキズ検出回路１７により、光ピックアップ装置４が光ディスク２のディスク欠陥部を通過するタイミングを正確に検出することが可能である。
上述したようにキズ検出回路１７が出力する検出信号はサーボコントローラ６へ入力され、ディスク欠陥部ではサーボの制御を直前の制御信号のＤＣレベルでホールドするためにサーボ制御の乱れを最小限に抑えることができ、安定したデータの再生を行うことが可能である。
なお、本実施の形態ではキズ検出のためのセンサを別途設ける場合を示したが、光ピックアップ装置４で使用しているレーザ光Ｌのビームを分割して使用する構成にしてもよい。その場合、部品点数を削減することが可能である。ただし、データの記録と再生やサーボ制御に用いている光ビームを使用するのではなくキズ検出専用の光ビームにする必要がある。
また、再生ＰＬＬのホールドを行うことによりキズ部分でのＰＬＬの乱れを防ぐことができる。つまり、キズ検出信号期間では位相比較器（図示省略）の出力をＰＬＬループの制御に反映しないからである。
【００６９】
次に、図１に示したキズ検出回路の他の構成例について説明する。
図１９は、図１に示したキズ検出回路の他の構成例を示すブロック図であり、図１４と共通する部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
このキズ検出回路１７０は、図１９に示すように、上述の回路の各部に加えて、再生信号処理回路５から入力される再生クロック信号と記録クロック信号（光ディスク２から得られるウォブル信号からＰＬＬで再生したクロック信号）と、周波数が可変である発振器から出力されるクロック信号のいずれかひとつを選択して出力するセレクタ１２０を設けている。上記３クロック信号の中からひとつを選択するのはＣＰＵ１３が行う。
【００７０】
すなわち、セレクタ１２０が、周波数が可変である発振器から出力されるクロックと、記録媒体の再生信号から生成したクロックと、記録媒体のウォブル信号から生成したクロックとのいずれかを選択して出力するクロック選択出力手段の機能を果たし、上記補正をクロック選択出力によって出力されたクロックを基準にして行う。
この構成により、光ディスク２がＤＶＤ−ＲＯＭディスクを含む再生専用ディスクである場合は再生クロック信号を選択することにより再生専用ディスクのディスク欠陥部を安定して検出することができる。
【００７１】
また、記録クロック信号を選択することにより、光ディスク２がＤＶＤ＋Ｒディスクを含む記録用ディスクであっても安定したディスク欠陥部の検出を行うことができる。
さらに、通常、再生クロック信号と記録クロック信号はそれぞれ再生用ＰＬＬと記録用ＰＬＬにより生成されるが、ＰＬＬがロックするまでには引き込み時間が必要となり、その間にディスク欠陥部の検出を正確に行うことができなくなる可能性がある。
そのような期間では、周波数の設定が可能である発振器の出力するクロック信号に切り換えることにより安定したディスク欠陥部の検出を行うことができる。
【００７２】
例えば、予め光ディスク装置１が記録と再生を行う位置で想定される記録クロック信号と再生クロック信号の周波数に発振器の周波数を設定し、セレクタ１２０の設定を発振器の出力するクロック信号が選択されるようにしておくことにより、記録ＰＬＬと再生ＰＬＬの周波数の引き込み期間であったとしても光ディスク２のディスク欠陥部を安定して検出することができる。また、ＰＬＬがロックした後はＣＡＶで徐々にクロック周波数がずれるためにＣＡＶ追従する再生クロック信号か記録クロック信号に切り替えるとよい。こうして、ＰＬＬの引き込み時でも安定してディスク欠陥部の検出を行うことができる。
このようにして、再生ディスク、記録ディスクに対応することができ、また、再生クロック用ＰＬＬや記録クロック用ＰＬＬの引き込み時間であっても安定したサーボ制御を行うことができる。
【００７３】
次に、図１に示したキズ検出回路のまた他の構成例について説明する。
図２０は、図１に示したキズ検出回路のまた他の構成例を示すブロック図であり、図１４、図１９と共通する部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
このキズ検出回路１７１は、図１９に示すように、上述の回路のシフトレジスタに変えて、そのシフトレジスタとは異なる機能のシフトレジスタ１４０を設け、入力される複数の信号のうちの１つを選択して出力するセレクタ１４１を新たに設けており、それ以外は上述の回路と同じ構成である。
【００７４】
シフトレジスタ１４０は、パルス幅延長回路１１４から入力される信号を分周器１１６から出力されるクロック信号に基づいて１クロック遅れの信号、２クロック遅れの信号、…、５クロック遅れの信号の５種類の信号をセレクタ１４１に対して出力する。
セレクタ１４１ではその入力された５つの信号のうちの１つをＣＰＵ１３による設定に従って出力する。セレクタ１４１に対する遅延量の設定はＣＰＵ１３により行われる。
すなわち、シフトレジスタ１４０が、記録面欠陥検出手段によって出力された検出信号を複数のタイミングでそれぞれ遅延させて出力する遅延手段の機能を果たし、セレクタ１４１が遅延手段によって出力された複数の信号を入力し、そのうちの１つの信号を選択して出力する選択出力手段の機能を果たす。
【００７５】
上記遅延量は、先行するキズ検出センサ１６の光ビームによるキズ検出位置と光ピックアップ装置４のレーザ光のスポット位置の距離に伴って変更する必要があるが、キズ検出回路がＬＳＩとして集積されている場合、図１４に示した構成では対応することができないが、図２０に示す構成であれば光ピックアップ装置４やキズ検出センサ１６が変更時や、設計変更によりそれぞれの相対距離が変わった場合であっても、ＣＰＵ１３からの設定によって遅延量を自在に変更することができるのでＬＳＩの変更を行わなくても対応することができる。
また、本実施の形態では、図１９に示したキズ検出回路のように、記録クロック信号を選択できる構成とすることにより記録メディアへも対応することができる。
【００７６】
さらに、上記シフトレジスタ１４０の遅延させて出力する信号は１〜５であったが、これらは一例であり、２〜４の信号を用いるようにしてもよいし、５本以上の信号を用いるようにしてもよい。
このようにして、タイミング補正をＬＳＩとして作成した場合、光ディスク装置の第１のスポットと第２のスポットの距離が変更になった場合であっても、例えばＣＰＵによってタイミング補正量を変更することにより対応可能である。
【００７７】
次に、図１に示したキズ検出回路のさらに他の構成例について説明する。
図２１は、図１に示したキズ検出回路のさらに他の構成例を示すブロック図であり、図１４、図１９、図２０と共通する部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
図２２は、図２１に示すキズ検出回路の各部の出力信号の波形図である。
このキズ検出回路１７２は、上記キズ検出回路１７１の構成に、図２１に示すように、光ピックアップ装置４からの和信号の低域成分を検出する低域検出回路１５０、低域検出回路１５０の出力を減衰して出力するゲインアンプ１５１、光ピックアップ装置４からの和信号を入力とし、ゲインアンプ１５１からの出力をスライスレベルとするコンパレータ１５２、コンパレータ１１３から出力する信号の立上りエッジとコンパレータ１５２から出力される信号の立上りエッジの遅延量を検出する遅延量検出回路１５３、遅延量検出回路１５３で検出した遅延量を記憶しておくレジスタ１５４を新たに設けている。
【００７８】
すなわち、低域検出回路１１１が第２の光スポットの反射光に比例した信号から記録媒体の記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第１の信号レベル保持出力手段の機能を果たし、ゲインアンプ１１２が第１の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第１の信号レベル減衰手段の機能を果たし、コンパレータ１１３が第１の信号レベル減衰手段によって出力された信号と第２の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第１の比較手段の機能を果たす。
【００７９】
また、低域検出回路１５０が第１の光スポットから得られる和信号から記録媒体の記録面の欠陥部分以外の部分の信号レベルを保持した信号を出力する第２の信号レベル保持出力手段の機能を果たし、ゲインアンプ１５１が第２の信号レベル保持出力手段によって出力された信号の信号レベルを減衰して出力する第２の信号レベル減衰手段の機能を果たし、コンパレータ１５２が第２の信号レベル減衰手段によって出力された信号と第１の光スポットの反射光に比例した信号とを比較して記録面の欠陥部分の信号レベルの信号を出力する第２の比較手段の機能を果たす。
さらに、遅延量検出回路１５３が第１の比較手段によって出力された信号と第２の比較手段によって出力された信号との遅延量を検出する遅延量検出手段の機能を果たし、レジスタ１５４が遅延量検出手段によって検出された遅延量を記憶する遅延量記憶手段の機能を果たす。
【００８０】
このように、１５０から１５２で構成される回路は、上述の１１１から１１３で構成される回路と同じ構成となっており、光ピックアップ装置４の和信号で検出できるディスク欠陥部の検出を行うことができる。
図２２は、キズ検出回路１７２の各回路の出力信号のタイミングを示している。
遅延量検出回路１５３は、コンパレータ１１３とコンパレータ１５２の２つの出力信号の立上り位置の差を、分周器１１６から入力されるクロック信号で数えることにより検出する。
ここでは、分周器１１６から入力されるクロック信号を再生クロック信号とし、４クロック分の遅延が検出されている場合を示す。
このコンパレータ１１３とコンパレータ１５２の２つの出力信号の遅延量をレジスタ１５４に蓄えておく。
【００８１】
例えば、工場出荷前に記録面にディスク欠陥部のある光ディスク（「キズディスク」という）を再生する。その際、キズ検出センサ１６によって検出された検出信号と、光ピックアップ装置４の出力する和信号に基づいて検出された信号の遅延量を検出し、レジスタ１５４に蓄える。その後、ＣＰＵ１３でレジスタ１５４の内容を読み出し、上述したフラッシュメモリ１４に蓄えておく。このフラッシュメモリ１４は不揮発性メモリであるため電源がオフとなっても記憶内容は保たれる。これで出荷前調整は終了となる。
【００８２】
そして、調整工程ではなく実際にデータの記録と再生を行うとき（実動作時）には、ＣＰＵ１３はフラッシュメモリ１４から出荷前調整の内容（キズ検出センサからの検出信号による遅延量と光ピックアップ装置の和信号に基づく遅延量）を読み出し、その遅延量に相当する遅延量だけをセレクタ１４１に設定する。
このようにして、正確な遅延量を設定することができる。
これは光ピックアップ装置やキズ検出センサが変更になったときや、設計変更などによりそれぞれの相対距離が変更になったときに対応することができ、さらに部品精度のばらつきや部品組み付けのばらつきなどにも対応することができる。
こうして、出荷前調整などで第１のスポットと第２のスポットの相対距離を正確に把握することができる。そのため、タイミング調整手段の調整設定値を正確に設定することができるために安定したサーボ制御を行うことができ、また安定したデータの記録と再生を行うことができる。
【００８３】
この実施例の光ディスク装置は、先行したデータの記録と再生には関係しない照射光の光スポットで光ディスク上のディスク欠陥部の検出信号を得て、その後、データの記録と再生に関係する照射光の光スポットまでのタイミング補正を行い、その結果に従ってサーボ制御を行うので、ディスク欠陥部がある光ディスクであっても安定したサーボ制御を行うことができ、その結果、安定したデータの記録と再生を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００８４】
この発明による記録再生装置は、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、ＣＤ−Ｒドライブ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブ、ＤＶＤ＋Ｒドライブ、ＤＶＤ＋ＲＷドライブ、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ、ＭＯドライブを含む記録媒体に光を用いてデータを記録又は再生する装置全般に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本実施の形態の光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すサーボコントローラの内部構成を示すブロック図である。
【図３】図１に示す光ピックアップ装置の概略構成を示す縦断面図である。
【図４】図３に示す受光器の概略構成を示す平面図である。
【図５】主ビームによる光スポットと副ビームによる光スポットとの位置関係を説明するための模式図である。
【００８６】
【図６】図５に示す各ビームの戻り光束と受光器を構成する各部分受光素子との位置関係を説明するための模式図である。
【図７】図１に示す再生信号処理回路の内部構成を示すブロック図である
【図８】図１に示す再生信号処理回路が備えるＤＰＰ法に対応したトラックエラー検出回路の構成を示すブロック図である。
【図９】図１に示す再生信号処理回路が備えるＰＤＰ法に対応したトラックエラー検出回路の構成を示すブロック図である。
【００８７】
【図１０】図１に示す再生信号処理回路が備えるフォーカスエラー検出回路の構成を示すブロック図である。
【図１１】図７に示すウォブル信号検出回路の内部構成を示すブロック図である。
【図１２】図７に示すクロック生成回路の内部構成を示すブロック図である。
【図１３】図７に示すアドレス検出回路の内部構成を示すブロック図である。
【図１４】図１に示すキズ検出回路の内部構成を示すブロック図である。
【００８８】
【図１５】図１４に示す各部の出力信号のタイミングを示すタイミングチャート図である。
【図１６】図１に示すキズ検出センサの光ビームのスポット位置と光ピックアップ装置のレーザ光のスポット位置の関係を示す図である。
【図１７】図１４に示すパルス幅延長回路の内部構成例を示すブロック図である。
【図１８】図１７に示すパルス幅延長回路の各部を流れる信号の波形図である。
【図１９】図１に示すキズ検出回路の他の構成例を示すブロック図である。
【００８９】
【図２０】図１に示すキズ検出回路のまた他の構成例を示すブロック図である。
【図２１】図１に示すキズ検出回路のさらに他の構成例を示すブロック図である。
【図２２】図２１に示すキズ検出回路の各部の出力信号の波形図である。
【符号の説明】
【００９０】
１：光ディスク装置    ２：光ディスク    ３：スピンドルモータ    ４：光ピックアップ装置    ５：再生信号処理回路    ５ａ：Ｉ／Ｖアンプ    ５ｂ：サーボ信号検出回路    ５ｃ：ウォブル信号検出回路    ５ｄ：再生（ＲＦ）信号検出回路    ５ｅ：デコーダ    ５ｆ：クロック生成回路    ５ｇ：アドレス検出回路    ６：サーボコントローラ    ７：モータドライバ    ８：バッファＲＡＭ    ９：バッファマネージャ    １０：エンコーダ    １１：レーザコントロール回路    １２：インタフェース    １３：ＣＰＵ    １４：フラッシュメモリ    １５：ＲＡＭ    １６：キズ検出センサ    １７，１７０，１７１，１７２：キズ検出回路    ２０，２１：座標軸    ３０：受発光モジュール    ３１：回折素子    ３２：コリメートレンズ    ３３：対物レンズ    ３１ａ：グレーティング    ３１ｂ：ホログラム    ４０，４１，４２：ＴＥ検出回路    １１０：ＩＶアンプ    １１１，１５０：低域検出回路    １１２，１５１：ゲインアンプ    １１３，１５２：コンパレータ    １１４：パルス幅延長回路    １１５，２００，１４０：シフトレジスタ    １１６：分周器    １６０：フォーカス制御信号生成回路    １６１，１６４：低域検出回路    １６２，１６５，１２０，１４１：セレクタ    １６３：トラッキング制御信号生成回路    １５３：遅延量検出回路    １５４：レジスタ    ２０１：論理和演算回路    ＬＤ：半導体レーザ光源    ＰＤ：受光器    Ｑａ，Ｑｂ，Ｑｃ，Ｑｄ，Ｑｅ，Ｑｆ，Ｑｇ，Ｑｈ：部分受光素子    Ｐｄ１：４分割受光素子    Ｐｄ２，Ｐｄ３：２分割受光素子    ＤＬ１，ＤＬ２，ＤＬ３，ＤＬ４：分割線    ＳＰ０〜ＳＰ２：光スポット    Ｐｔ：トラックピッチ    ａ１〜ａ４，ｂ１，ｂ２，ｃ１，ｃ２，ｇ１，ｇ２：加算器    ａ５，ａ６，ａ８，ｃ７，ｇ３：減算器    ａ７：ゲインアンプ    ａ９：トラックエラー信号（ＴＥ）極性設定回路    ａ１０，ｂ６，ｅ２，ｇ４：ローパスフィルタ（ＬＰＦ）    ｂ３，ｂ４：リミッタ    ｂ５：位相比較器    ｃ３，ｃ４，ｅ１：ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）    ｃ５，ｃ６：ＡＧＣアンプ    ｃ８：ＷＢ極性設定回路    ｄ１：バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）    ｄ２：２値化回路    ｄ３：フェーズロックループ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ：ＰＬＬ）回路    ｅ３：位相復調回路    ｅ４：ＡＤＩＰ復号回路    Ｓａ〜Ｓｈ：出力信号    Ｓａｄ：アドレス信号
Ｓｆｅ：フォーカスエラー信号    Ｓｋｔ：ＴＥ極性設定信号    Ｓｋｗ：ＷＢ極性設定信号    Ｓｔｅ：トラックエラー信号    Ｓｗｂ：ウォブル信号    Ｗｃｋ：基準クロック
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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