(57)【要約】【課題】  固体撮像素子の点滅欠陥画素検出において、限られたフレームメモリでできるだけ長い周期の点滅欠陥を検出する。【解決手段】  赤外線固体撮像素子の各画素が呈する出力を順次フレームメモリに取り込み、その取り込み周期をあらかじめ設定した値に順次切り替えるタイミングコントローラを備えて、フレームメモリを複数に亘り積分した積分画素出力と全画素出力の平均値との差分に基づいて、点滅欠陥画素を所定の周期で検出するようにした。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
２次元的に配置された複数の画素から構成される赤外線固体撮像素子と、
前記赤外線固体撮像素子の画素出力を所定の時間間隔を有して順次書き込む複数のフレームメモリを含み、当該全てのフレームメモリに書き込まれた画像を積分するフレームメモリ積分器と、
前記フレームメモリに順次書き込みを行う所定の時間間隔を設定し、設定した所定の時間間隔を全てのフレームメモリ数分総じた時間を、周期的に変化させるタイミングコントローラと、
前記フレームメモリ積分器の全画素における積分画素出力の平均値を算出する全画素平均値算出手段と、
前記タイミングコントローラで設定された所定の時間間隔で、前記積分画素出力の値と前記画素出力平均値との差分を求め、求められた差分値が所定の閾値よりも大きくなる画素を、点滅欠陥画素として検出する全画素平均値比較器と、
前記全画素平均値比較器で検出された点滅欠陥画素の画素出力を補正する欠陥補正手段と、
を備えた撮像装置。
【請求項２】
前記欠陥補正手段により欠陥補正を行った後の画像データについて、全画素の出力の標準偏差を算出する標準偏差算出手段を備え、
前記タイミングコントローラが前記赤外線固体撮像素子の画素出力をフレームメモリに取り込む所定の時間間隔を、標準偏差算出手段で算出された標準偏差の大きさに応じて切り替えることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記全画素平均値比較器により検出された点滅欠陥画素の数を検出する点滅欠陥画素数検出手段を備え、
前記点滅欠陥画素数検出手段が検出した点滅欠陥画素の数に応じて、前記タイミングコントローラが前記赤外線固体撮像素子の画素出力をフレームメモリに取り込む所定の時間間隔を切り替えることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、固体撮像素子において発生した点滅欠陥画素を検出するための点滅欠陥検出方法、撮像用のデバイスとして固体撮像素子を用いた赤外線カメラ等の撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体撮像素子においては、固定欠陥画素とは別に点滅欠陥画素が存在する。ここで、点滅欠陥画素とは、あるときは正常な輝度のように動作する一方、他のあるときは異常輝度を出力する等、非定常的な振る舞いをする画素のことを示す。
点滅欠陥画素の輝度変動には周期性や規則性がほぼないため、固定欠陥画素検出と同様の方法では検出は難しい。
【０００３】
このような点滅欠陥画素を検出するシステムの一例としては、均一温度被写体を撮像し、輝度変化、ばらつきにより検出する従来技術が知られている。（例えば、特許文献１参照）
【特許文献１】特開２００３−２９８９４９号公報（第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上掲の手法では、オフセット補正、感度補正、固定欠陥補正および点滅欠陥補正を実施するためには、固体撮像素子の画角ほぼ全体に亘りほぼ均一な温度を有する被写体を撮像（以下、キャリブレーションという）することが必要である。
特に点滅欠陥検出に関しては、非定常的に異常輝度を呈し、点滅欠陥出現の周期が不定であるため、長い時間のキャリブレーションが必要になる。長い時間のキャリブレーションは、数１００フレームに渡る長時間を要することもあり、莫大なフレームメモリを必要とする。
【０００５】
この発明は、この様な問題点を解決することを課題としてなされたものであり、固体撮像素子の点滅欠陥画素検出において、限られたフレームメモリでできるだけ長い周期の点滅欠陥を検出する、または点滅欠陥の検出に要する時間を短くすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明にかかる撮像装置は、２次元的に配置された複数の画素から構成される赤外線固体撮像素子と、前記赤外線固体撮像素子の画素出力を所定の時間間隔を有して順次書き込む複数のフレームメモリを含み、当該全てのフレームメモリに書き込まれた画像を積分するフレームメモリ積分器と、前記フレームメモリに順次書き込みを行う所定の時間間隔を設定し、設定した所定の時間間隔を全てのフレームメモリ数分総じた時間を、周期的に変化させるタイミングコントローラと、前記フレームメモリ積分器の全画素における積分画素出力の平均値を算出する全画素平均値算出手段と、前記タイミングコントローラで設定された所定の時間間隔で、前記積分画素出力の値と前記画素出力平均値との差分を求め、求められた差分値が、例えば全画素平均値算出手段で算出された画素出力平均値に基づいて閾値を算出する閾値算出手段で設定された、所定の閾値よりも大きくなる画素を、点滅欠陥画素として検出する全画素平均値比較器と、前記全画素平均値比較器で検出された点滅欠陥画素の画素出力を、例えば他の画素の出力から得られる代替値を用いて代替することにより、欠陥補正を行う欠陥補正手段と、を備えたものである。
【発明の効果】
【０００７】
この発明によれば、タイミングコントローラを用いて、画素撮像出力をフレームメモリに書き込む時刻間隔を時間軸方向に適切に設定することにより、限られたフレームメモリで、より長い周期の点滅欠陥を検出することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、この発明の好適な実施の形態に関し図面に基づき説明する。実施の形態同士で同様の構成には互いに同一の符号を付し、重複説明を省略する。
【０００９】
実施の形態１．
図１に、この発明の実施の形態１に係る撮像装置としての赤外線カメラ１００の構成を示す。
図において、赤外線カメラ１００は、赤外線固体撮像素子（以下、固体撮像素子という）１と、画素間の出力オフセットを補正するオフセット補正手段２と、画素間の感度差を補正する感度補正手段４と、点滅欠陥画素を検出し点滅欠陥画素の位置を特定する点滅欠陥画素検出手段５０と、欠陥補正手段６とを備えて構成される。
【００１０】
固体撮像素子１は、二次元的に配置された多数の画素から構成され、各画素にはそれぞれの画素の位置（ｘ、ｙ）を示すアドレスが付されており、各画素はそれぞれ赤外線の受光強度に応じた出力を呈する。オフセット補正手段２は、固体撮像素子１の画角ほぼ全体に亘りほぼ均一な温度を有する被写体（図示せず）を撮像したときの固体撮像素子１からの補正前画素データ１０１を利用して画素間の出力オフセットを補正する。感度補正手段４は、上記被写体の温度変化による各画素の撮像出力の変化を利用して画素間の感度差を補正する。欠陥補正手段６は、点滅欠陥画素を含め欠陥画素に係る出力を他の画素の出力から導出した代替値により代替させることによって補正を行い、補正後の画素データを後段の画像信号処理器（図示せず）に出力する。後段の画像信号処理器では、補正後画素データを用いて二値化処理、エッジ抽出処理、クラスター処理等を行い、画像内から物体の像や変化領域の画像を検出する。
【００１１】
被写体から到来する光線のうち主として赤外線領域に属する光線が、レンズ２０によって集光され、赤外線固体撮像素子１に結像する。赤外線固体撮像素子１は補正前画素データ１０１を出力する。赤外線カメラ１００は、赤外線固体撮像素子１からの補正前画素データ１０１に対し、１）オフセット補正、２）感度補正、３）欠陥補正による補正処理を、順に施す。以下これについて、１）〜３）の順に説明する。
【００１２】
１）オフセット補正
画素間には出力値のずれ（出力オフセット）が生じうる。固体撮像素子１の画素配列に従って出力オフセットの生じている画素の出力オフセットを示すデータを配列すると、画素間の出力オフセットが画素配列上でどのようなパターンを有しているかがわかる。出力オフセットが画素配列上で有しているパターンをオフセットパターンと呼ぶ。
オフセットパターンは、例えば、赤外線固体撮像素子１の画角のほぼ全体に亘って均一な温度を有する物体を被写体として撮像を行ったときの、赤外線固体撮像素子１の出力から得ることができる。例えば、均一な温度を有する物体として、レンズ２０と赤外線固体撮像素子１の光路間にシャッタを配置して、シャッタを均一な温度を有する物体として撮像を行う。オフセットパターンは、製造の初期段階でＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に入れられている。
【００１３】
オフセット補正処理は、オフセット補正データ３に予め記憶させておいたオフセットパターンに従い、通常使用時における赤外線固体撮像素子１の撮像出力から、画素間の出力オフセットを除去又は抑圧する処理であり、オフセット補正手段２により実行される。なお、オフセット補正処理に使用されるオフセットパターンを、オフセット補正パターンと呼ぶ。また、上掲の均一温度被写体を撮像した結果得られるオフセット補正パターンは、オフセット補正データ３に記憶させる。この記憶処理をキャリブレーションと呼ぶ。
【００１４】
２）感度補正
オフセット補正手段２により、オフセット補正処理を経たオフセット補正後画素撮像出力１０２には、画素間の感度差が残っている。感度補正手段４は、全画面（全画素）に亘り均一な出力特性を実現するため、オフセット補正手段２を経たオフセット補正後画素撮像出力１０２に対し感度補正係数ΔＶａｖｅ／ΔＶ（ｘ，ｙ）を乗じて、感度補正処理を実行する。ここで、（ｘ，ｙ）は画素の位置、ΔＶ（ｘ，ｙ）は温度による出力変化分、即ちオフセット差分値、ΔＶａｖｅはΔＶ（ｘ，ｙ）の全画面平均値である。
【００１５】
なお、ΔＶ（ｘ，ｙ）は、例えば、任意温度Ｔを有する物体を被写体としたときのオフセットパターンと、他の任意温度Ｔ＋ΔＴを有する物体を被写体としたときのオフセットパターンとから、求めることができる。ΔＶａｖｅは、そのようにして求めたΔＶ（ｘ，ｙ）を、全画面（全画素）に亘り平均することにより得ることができる。ΔＶａｖｅはは製造の初期段階でＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に入れられている。感度補正は、例えば、赤外線固体撮像素子１の画角のほぼ全体に亘って均一な温度を有する、異なる被写体を撮像することによって実施される。例えば上記シャッタを被写体として撮像する場合と、焦点をボカシテ遠方を撮像した場合との、２つを被写体とする。
【００１６】
３）欠陥補正
オフセット補正処理及び感度補正処理を経た感度補正後画素撮像出力１０３は、更に、点滅欠陥補正手段６及びフレームメモリ積分器８に入力される。フレームメモリ積分器８は、入力された感度補正後画素撮像出力１０３を、設定された所定の時間間隔で順次所有するフレームメモリに書き込む。このフレームメモリに書き込まれた全画素の画像データは、全てのフレームメモリについて順次フレーム積分され、積分結果を積分画素出力Ｖｎ（ｘ，ｙ）１１１として出力する。点滅欠陥画素検出手段５０は積分画素出力Ｖｎ（ｘ，ｙ）１１１に基づいて欠陥画素検出を行い、欠陥画素を検出した点滅画素の位置（アドレス１１５）を欠陥補正データ７に入力する。なお、オフセット補正と同様に、例えば、赤外線固体撮像素子１の画角のほぼ全体に亘って均一な温度を有する物体を被写体として撮像を行うことにより、欠陥補正が行われる。
【００１７】
欠陥補正手段６は欠陥補正データ７に基づいて、感度補正後画素撮像出力１０３に対し欠陥補正処理を施す。この欠陥補正処理は、異常輝度出力を呈する画素である欠陥画素について、その画素の出力に代えて代替値を後段に供給する処理である。ここでの代替値としては、例えばその欠陥画素を取り巻く周囲の画素の平均出力を用いる。
【００１８】
この欠陥補正処理を行うためには、点滅欠陥画素検出手段５０において欠陥画素を検出する必要がある。点滅欠陥画素検出手段５０は、全画素平均値算出手段１２、輝度閾値算出手段１３、及び全画素平均値比較器９から構成される。
【００１９】
以下、この欠陥画素検出について説明する。
ａ）固定欠陥画素検出
欠陥画素検出のうち、まずは固定欠陥画素の検出について説明を行う。
固定欠陥画素に関しては、画素の位置（ｘ，ｙ）が変化することがない。そこで、予め、画素の位置（ｘ，ｙ）毎に求めた感度補正係数ΔＶａｖｅ／ΔＶ（ｘ，ｙ）が所定の閾値を上回っている画素を、異常な感度を有する欠陥画素として特定することができ、欠陥補正データ７として特定された欠陥画素の位置（ｘ，ｙ）を、製造の初期段階でＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に記憶しておく。
欠陥補正手段６は、欠陥補正データ７に欠陥画素位置として記憶されている位置（ｘ，ｙ）の画素について、感度補正後画素撮像出力１０３に対し上掲の欠陥補正処理を実行する。
【００２０】
次に、欠陥画素検出のうち、点滅欠陥画素の検出について説明する。
図４は点滅欠陥画素を検出する検出フローを示す。なお、図において、図１と同一のものは同一符号としている。
【００２１】
図において、オフセット補正手段２及び感度補正手段４により、出力オフセット補正及び感度補正が施された感度補正後画素撮像出力１０３は、フレームメモリに書き込まれる。
【００２２】
まず、ステップＳ１０１では、フレームメモリ積分器８が、フレームメモリに書き込まれたそれぞれの画素の位置（ｘ，ｙ）ごとに画素データの読み出しを行い、読み出した画素データを全画面分フレーム積分して、積分画素出力Ｖｎを出力する。この際、フレーム積分におけるフレーム時間間隔ｔは、タイミングコントローラ１０であらかじめ設定した値に順次切り替えられていく。タイミングコントローラ１０はフレームメモリ積分器８におけるフレームメモリへの書き込み時間と読み込み時間を制御するフレームメモリ制御信号を、フレームメモリ積分器８に出力する。
【００２３】
ステップＳ１０２において、全画素平均値算出手段１２は、ステップＳ１０１の出力である積分画素出力Ｖｎを用いて全画素の平均輝度データＶａｖｅ１１２を計算する。
【００２４】
次にステップＳ１０３において、輝度閾値算出手段１３は、全画素平均輝度データＶａｖｅ１１２を基準として、検出対象画素の輝度差が一定の比率内かどうかを判定するための閾値を計算する。このときの比率を閾値係数εとすると、例えば、全画素平均値に対して５０％を閾値とした場合、閾値は、全画素の平均輝度データＶａｖｅ  １１２×ε（ε＝0.5）となり、ここで算出した閾値を平均値閾値データ１１３として出力する。
【００２５】
次にＳ１０４において、全画素平均値比較器９は、或る画素（ｘ，ｙ）についての積分画素出力Ｖｎ（ｘ，ｙ）１１１と、全画素の平均輝度データ１１２との差分の大きさを、Ｓ１０３で算出した平均値閾値データ１１３を介して比較する。比較の結果、平均値閾値データ１１３内に属していない出力を呈した画素を以て、点滅欠陥画素として特定する。また、比較の結果、平均値閾値データ１１３内に属している場合は、次の画素について同様にして判定を行う。全画素平均値比較器９は、点滅欠陥画素として特定した画素位置（ｘ、ｙ）のアドレスを点滅画素アドレス１１５として出力する。これによって、全画素平均値比較器９は、タイミングコントローラ１０であらかじめ設定した時間間隔を周期的に変化させて、点滅欠陥画素検出を行う。
【００２６】
ステップＳ１０５では、欠陥補正データ７に点滅画素アドレス１１５を追加する。ステップＳ１０６では、欠陥補正手段６が欠陥補正データ７に基づいて欠陥補正を行う。欠陥補正は、固定欠陥画素と同様に、欠陥画素を全画素出力代表値（例えば平均値）で置換することによって行う。
【００２７】
長時間周期で点滅している点滅欠陥画素を検出する場合、画素出力をフレームメモリに書き込む（取り込む）時刻及びフレームメモリ積分結果から欠陥画素検出を行う時刻を、タイミングコントローラ１０により時間軸方向に適切に設定することにより、１）限られたフレームメモリで長い周期の点滅欠陥を検出することができ、２）点滅欠陥画素補正処理の処理時間を短くすることができる。
【００２８】
ここで、点滅欠陥画素の検出処理動作について詳しく説明する。
フレームメモリの総容量をＶｐ×Ｎとし、ある点滅欠陥画素Ａの点滅周期はＴｐ×Ｍであるとする。但し、Ｍ＞＞Ｎとする。
【００２９】
まず、画素撮像出力１０３のフレームメモリへの書き込み時間間隔をＴｐとし、全画素をフレームメモリにＮ回書き込みフレーム積分を実施する。フレーム積分を行う際、Ｔｐ×Ｎの時間間隔で全てのフレームメモリからの画像が読み出されてフレーム積分が実施される。このとき、全画素平均値比較器９がフレーム積分結果に基づいて、時間間隔Ｔｐ×（Ｎ−１）毎に、周期Ｔｐ（最小周期）〜周期Ｔｐ×（Ｎ−１）（最大周期）の点滅欠陥を検出する。
【００３０】
次に、フレームメモリへの書き込み時間間隔をＴｐ×２として、全画素をフレームメモリにＮ回書き込みフレーム積分を実施する。このとき、全画素平均値比較器９がフレーム積分結果に基づいて時間間隔Ｔｐ×２×（Ｎ−１）毎に、周期Ｔｐ×２（最小周期）〜周期Ｔｐ×２×（Ｎ−１）（最大周期）の点滅欠陥を検出する。フレームメモリへの書き込み時間間隔を変えることは、タイミングコントローラ１０がフレームへの取り込み周期を変えることを意味する。
【００３１】
更に、時間間隔をＴｐ×３として全画素をフレームメモリにＮ回書き込みフレーム積分を実施する。このとき、全画素平均値比較器９がフレーム積分結果に基づいて時間間隔Ｔｐ×３×（Ｎ−１）毎に、周期Ｔｐ×３（最小周期）〜周期Ｔｐ×３×（Ｎ−１）（最大周期）の点滅欠陥を検出する。
以下、この様にして時間間隔を周期的に変化させ、時間間隔をＴｐ×ｎ（ｎ＝４〜Ｍ）として全画素をフレームメモリにＮ回書き込み、全画素平均値比較器９がフレーム積分結果に基づいて時間間隔Ｔｐ×ｎ×（Ｎ−１）毎に、周期Ｔｐ×ｎ（最小周期）〜周期Ｔｐ×ｎ×（Ｎ−１）（最大周期）の点滅欠陥を検出する。時間間隔がＴｐ×Ｍになったら、前記の点滅欠陥画素Ａの検出が達成される。
【００３２】
このように、画素撮像出力１０３をフレームメモリに書き込む時刻間隔（フレーム積分におけるフレーム時間間隔ｔ）を、タイミングコントローラ１０で時間軸方向に適切に設定することにより、限られたフレームメモリでより長い周期の点滅欠陥を検出できる。図５を用いてこの効果を説明する。
【００３３】
全画素撮像出力に必要なフレームメモリ容量をＶｐとし、全画素撮像出力をフレームメモリに書き込むのに要する最小の時間をＴｐとする。また、フレームメモリの総容量をＶｐ×４であるとする。
【００３４】
この場合、図５（ａ）に示すように時間間隔Ｔｐで全画素をフレームメモリに書き込む場合（前者）と、図５（ｂ）に示すように時間間隔Ｔｐ×２で全画素をフレームメモリに書き込む場合（後者）とを比較する。図から明らかなように、前者で検出可能な点滅欠陥周期の最大値はＴｐ×３であるのに対し、後者で検出可能な点滅欠陥の周期の最大値はＴｐ×６となる。つまり、後者は限られた容量Ｖｐ×４においてより長い周期の点滅欠陥の検出が可能であることになる。
【００３５】
以上説明したように、この実施の形態は、２次元的に配置された複数の画素から構成される赤外線固体撮像素子と、各々の前記画素について前期画素が呈する出力を順次フレームメモリに取り込み、その取り込み周期をあらかじめ設定した値に順次切り替えていくことのできるタイミングコントローラと、前記フレームメモリを複数に亘り積分して積分画素出力を算出するフレームメモリ積分器と、全画素における前記積分画素出力の平均を算出する隣接画素平均値算出手段と、検出対象画素の前記積分画素出力の値と、前記全画素における前記積分画素出力の平均の値との差分をとり、前記差分の値が予め設定した判定基準を上回った画素を以って点滅欠陥画素であると特定する全画素平均値比較器と、前記全画素平均値比較器により特定された点滅欠陥画素を含めた欠陥画素にかかる出力を他の画素の出力から導出した代替値により代替させる欠陥補正手段とを備えたことを特徴としている。
この構成により、タイミングコントローラを用いて、画素撮像出力をフレームメモリに書き込む時刻間隔を時間軸方向に適切に設定することによって、限られたフレームメモリで、より長い周期の点滅欠陥を検出することができる。
【００３６】
実施の形態２．
図２に、この発明の実施の形態２に係る赤外線カメラの構成を示す。
この実施の形態は、実施の形態１の構成に加えて、更に補正後全画素標準偏差算出手段１１を設けている。この実施の形態では、補正後全画素標準偏差算出手段１１で計算される標準偏差の大きさに応じて、タイミングコントローラ１０が画素出力をフレームメモリに取り込む周期（時間間隔）を切り替える処理を行うことを特徴とする。
【００３７】
この実施の形態では、タイミングコントローラ１０が画素出力をフレームメモリに取り込む周期を、補正後全画素の標準偏差の大きさに応じて切り替えることにより、より短時間に点滅欠陥画素補正処理を終わらせることが可能になる。
【００３８】
点滅欠陥画素を補正した補正後画素データにおける、ある点滅周期Ｔｂの点滅欠陥画素数をＢ、標準偏差をσｂとする。
Ｂが大きい場合σｂも比較的大きく、Ｂが小さくなるに従いσｂは小さくなり、全ての点滅画素を検出した場合σｂは０に近づく。つまりσｂが小さくなれば残りの点滅画素数は小さく、その時の取り込み周期Ｔｐにおける点滅欠陥画素の大半を検出し補正したことになる。
【００３９】
よって、全画素に対して点滅画素検出と補正を実施しながら、タイミングコントローラによりフレームメモリへの取り込み周期Ｔｐを順次換えていく際に、ある画素でσｂの値がある値σｂｏより小さくなったら、その画素でフレームメモリ取り込み周期Ｔｐでの点滅画素検出は終了し、周期Ｔｐを変える。その上で、再び最初の画素から点滅画素検出処理の再開を繰り返すことにより、点滅欠陥画素補正に要する時間を短くすることができる。
【００４０】
実施の形態３．
図３に、この発明の実施の形態３に係る赤外線カメラの構成を示す。この実施の形態は、実施の形態１に加えて、全画素平均値比較器９により検出された点滅欠陥画素の数を検出する点滅欠陥画素数検出手段１４を備えている。この実施の形態では、点滅欠陥画素数検出手段１４によって検出された点滅欠陥の数に応じて、前記タイミングコントローラ１０が画素出力をフレームメモリに取り込む周期（時間間隔）を切り替えることを特徴とする。
【００４１】
タイミングコントローラが画素出力をフレームメモリに取り込む周期を、その時々の画素出力をフレームメモリに取り込む周期において検出した点滅欠陥画素の数に応じて切り替えることにより、より短時間に点滅欠陥画素補正処理を終わらせることが可能になる。
【００４２】
ここで、フレームメモリに取り込む周期Ｔｐｃにおいて検出した点滅欠陥画素の数をＣとする。全画素に対して点滅画素検出と補正を実施しながらタイミングコントローラ１０によりフレームメモリへの取り込み周期Ｔｐを順次換えていく際、Ｃは最初急激に大きくなるが、ある程度時間がたつと変化の割合が小さくなり、一定時間たつとＣは一定値になる。
【００４３】
よって、ある画素でＣの変化率がある値Ｃｏより小さくなったら、その画素でフレームメモリ取り込み周期Ｔｐｃでの点滅画素検出は終了し、周期Ｔｐを変えた上で再び最初の画素から点滅画素検出処理を再開することを繰り返すことにより、点滅欠陥画素補正に要する時間を短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】この発明の実施の形態１に係る赤外線カメラの構成を示すブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態２に係る赤外線カメラの構成を示すブロック図である。
【図３】この発明の実施の形態３に係る赤外線カメラの構成を示すブロック図である。
【図４】この発明の実施の形態４に係る点滅欠陥画素を検出する検出フロー図である。
【図５】この発明の実施の形態１に係り、限られたフレームメモリでより長い周期の点滅欠陥を検出できることの効果を説明する図である。
【符号の説明】
【００４５】
１  赤外線固体撮像素子、２  オフセット補正手段、３  オフセット補正データ、４  感度補正手段、５  感度補正データ、６  欠陥補正手段、７  欠陥補正データ、８  フレームメモリ積分器、９  全画素平均値比較器、１０  タイミングコントローラ、１１  全画素標準偏差算出手段、１２  全画素平均値算出手段、１３  輝度閾値算出手段、１４  検出された点滅欠陥画素の数を検出する手段、２０  レンズ、５０ 点滅欠陥画素検出手段、１００ 赤外線カメラ、１０１ 補正前画素データ、１０２ オフセット補正後画素撮像出力、１０３ 感度補正後画素撮像出力、１１０ フレームメモリ制御信号、１１１ 積分画素出力Ｖｎ（ｘ，ｙ）、１１２ 全画素の平均輝度データ、１１３ 平均値閾値データ、１１４ 比較タイミング信号、１１５ 点滅画素アドレスデータ、１１６  検出された点滅欠陥画素数データ、１２０ 全画素標準偏差データ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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