(57)【要約】【課題】光ディスクの特性に応じた最適な記録レーザーパワーで記録し、良質な記録を実現する。【解決手段】光ディスクにデータを記録処理するのに先立ち、光ディスクの内周部位と外周部位とにおいて、ＯＰＣ学習に基づいて最適記録パワーを演算する。さらに光ディスクにデータを記録処理するに先立ち、光ディスクの内周部位と外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位において、ＯＰＣ学習に基づいて最適記録パワーを演算する。内周部位と前記外周部位と中間部位とにおける光ディスクの径方向に沿った位置変位量と、各部位で演算された最適記録パワーとの間の相関関係を算定する。データ記録に際して、相関関係に基づいて現記録部位における最適記録パワーを設定しながら、設定した最適記録パワーでレーザー駆動制御を行って光ディスクにデータを記録する。【選択図】図２
2007035237.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを記録処理するのに先立って、前記光ディスクの内周部位と、当該光ディスクの外周部位と、前記内周部位と前記外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位とのそれぞれにおいて、ＯＰＣ（Optimum Power Control）学習に基づいて最適記録パワーを演算する工程と、
データ記録に際して、前記内周部位と前記外周部位と前記中間部位とにおける前記光ディスクの径方向に沿った位置変位量と、前記各部位で演算された前記最適記録パワーとの間の相関関係に基づいて現記録部位における最適記録パワーを設定しながら、設定した前記最適記録パワーでレーザー駆動制御を行って前記光ディスクにデータ記録を行う工程と、
を含む、
光ディスクの記録制御方法。
【請求項２】
前記光ディスクはトラックを有し、前記トラックはデータが記録されるグルーブ部と補助情報が記録されるランド部とを備え、
前記中間部位では、前記ＯＰＣ学習に基づいて前記ランド部における前記最適記録パワーを演算する、
請求項１の光ディスクの記録制御方法。
【請求項３】
前記内周部位と前記外周部位とでは、前記グルーブ部における前記最適記録パワーを演算する、
請求項２の光ディスクの記録制御方法。
【請求項４】
前記内周部位と前記外周部位とでは、ＰＣＡ（Power Calibration Area）における前記最適記録パワーを演算する、
請求項１の光ディスクの記録制御方法。
【請求項５】
前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位において前記Ｏ  ＰＣ学習に基づいて前記最適記録パワーを演算する工程を実施する前に、
前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位に表面不良があるか否かを検出する工程を、
さらに含み、
前記ＯＰＣ学習に基づいて最適記録パワーを演算する工程では、前記表面不良が検出された前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位のディスク径方向位置を、当該表面不良の存在しない位置に変更したうえで、ＯＰＣ学習に基づいて最適記録パワーを演算する、
請求項１の光ディスク記録制御方法。
【請求項６】
光ディスクにデータ記録を行う光ヘッドと、
光ディスクにデータを記録処理するのに先立ってＯＰＣ（Optimum Power Control）学習の対象となる、光ディスクの内周部位のディスク径方向位置、外周部位のディスク径方向位置、および前記内周部位と前記外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位のディスク径方向位置を決定するＯＰＣ学習アドレス決定部と、
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部で前記ディスク径方向位置が決定された前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれに前記光ヘッドを移動させる光ヘッド移動部と、
前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれに移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれにおける最適記録パワーを算定する最適パワー演算部と、
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部が決定した前記外周部位と前記内周部位と前記中間部位とにおけるディスク径方向に沿った位置変位量と、前記最適パワー演算部が算定した前記各部位における前記最適記録パワーとの間の相関関係を記憶する記憶部と、
データ記録に際して、前記記憶部から読み出した前記相関関係に基づいて前記光ディスクの現記録部位における最適記録パワーを設定する記録パワー制御部と、
データ記録に際して、前記光ディスクの現記録部位における最適記録パワーを、前記記録パワー制御部の設定値により制御しながら、前記光ディスクに前記光ヘッドを介してデータ記録するレーザー駆動装置と、
を備える光ディスク記録制御装置。
【請求項７】
前記光ディスクはトラックを有し、前記トラックはデータが記録されるグルーブ部と補助情報が記録されるランド部とを備え、
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部は、前記中間部位の前記ディスク径方向位置として、前記中間部位にある任意の前記ランド部のディスク径方向位置を決定する、
請求項６の光ディスクの記録制御装置。
【請求項８】
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部は、前記内周部位の前記ディスク径方向位置と前記外周部位の前記ディスク径方向位置として、前記内周部位または前記外周部位にある任意の前記グルーブ部における前記ディスク径方向位置を決定する、
請求項７の光ディスクの記録制御装置。
【請求項９】
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部は、前記内周部位の前記ディスク径方向位置と前記外周部位の前記ディスク径方向位置として、前記内周部位または前記外周部位にあるＰＣＡ（Power Calibration Area）のディスク径方向位置を決定する、
請求項６の光ディスクの記録制御装置。
【請求項１０】
前記レーザー光の検出信号に含まれるＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出部と、
前記ＲＦ信号検出部で検出された前記ＲＦ信号から光ディスク特性の不均整を表すベータ値を測定するベータ値演算部と、
をさらに備え、
前記最適パワー演算部は、前記ベータ値演算部が測定する前記ベータ値を前記光ディスク特性の不均整を表す情報として扱う、
請求項６の光ディスク記録制御装置。
【請求項１１】
グルーブ記録パワー補正部をさらに備え、
当該グルーブ記録パワー補正部は、前記最適パワー演算部によって算定される前記中間部位の前記ランド部における最適記録パワーを、前記中間部位の前記グルーブ部における最適記録パワーに補正する、
請求項７の光ディスク記録制御装置。
【請求項１２】
ランド・グルーブ補正部をさらに備え、
当該ランド・グルーブ補正部は、前記最適パワー演算部によって算定された前記中間部位の前記ランド部における最適記録パワーから、当該ランド部における最適記録パワーを得るために行うレーザー光照射が当該ランド部に隣接する前記グルーブ部に与える影響を除去する補正を行う、
請求項７の光ディスク記録制御装置。
【請求項１３】
前記ランド・グルーブ補正部は、前記内周部位または前記外周部位にある前記グルーブ部と前記ランド部とから反射される前記レーザー光どうしの比較結果に基づいて、前記中間部位の前記ランド部における最適記録パワーを得るために行うレーザー光照射が当該ランド部に隣接する前記グルーブ部に与える影響を除去する補正を行う、
請求項１２の光ディスク記録制御装置。
【請求項１４】
前記最適パワー演算部が前記最適パワーを算定する際に、前記ＲＦ信号検出部で検出されたＲＦ信号レベルに異常が生じるか否かを検出するＲＦ信号レベル異常検出部と、
前記ＲＦ信号レベル異常検出部が異常を検出すると、当該異常が検出された前記ディスク径方向位置を補正するランド部学習アドレス補正部と、
をさらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記ランド部学習アドレス補正部が補正した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、補正されたディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記ディスク径方向位置それぞれにおける最適記録パワーを再算定する、
請求項１０の光ディスク記録制御装置。
【請求項１５】
前記最適パワー演算部が前記最適パワーを算定する際に、前記ベータ値演算部で演算されたベータ値に異常が生じるか否かを検出するベータ値異常検出部と、
前記ベータ値異常検出部が異常を検出すると、当該異常が検出された前記ディスク径方向位置を補正するランド部学習アドレス補正部と、
を備え、
前記光ヘッド移動部は、前記ランド部学習アドレス補正部が補正した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、補正されたディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記ディスク径方向位置それぞれにおける最適記録パワーを再算定する
請求項１０の光ディスク記録制御装置。
【請求項１６】
前記記録パワー制御部は、前記相関関係を線形補間処理することで、前記現記録部位における最適記録パワーを設定する、
請求項６の光ディスク記録制御装置。
【請求項１７】
前記記録パワー制御部は、前記相関関係を最小二乗法で処理することで、前記現記録部位における最適記録パワーを設定する、
請求項６の光ディスク記録制御装置。
【請求項１８】
データ記録に際して、記録中断をもたらすエラーが発生すると記録を中断させるエラー監視部を、
さらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記エラーが発生した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、前記エラーが発生した前記ディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記エラーが発生したディスク径方向位置における最適記録パワーを算定し、
前記記憶部は、前記最適パワー演算部が算定した前記エラーが発生したディスク径方向位置における前記最適記録パワーを加えた前記相関関係を記憶する、
請求項６の光ディスク記録制御装置。
【請求項１９】
前記光ディスクへの追記記録に際して、当該追記位置の前記ディスク径方向位置を検出する追記位置検出部を、
さらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記追記位置検出部が前記ディスク径方向位置を検出した前記追記位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、前記追記位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記追記位置における最適記録パワーを算定し、
前記記憶部は、前記最適パワー演算部が算定した前記追記位置における前記最適記録パワーを加えた前記相関関係を記憶する、
請求項６の光ディスク記録制御装置。
【請求項２０】
前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位において前記ＯＰＣ学習に基づいて前記最適記録パワーを演算する前に、前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位に表面不良が存在するか否かを検出するディフェクト検出部を、
さらに備え、
前記ＯＰＣアドレス決定部は、前記ディフェクト検出部が前記表面不良を検出すると、当該表面不良が検出された前記内周部位のディスク径方向位置、前記外周部位のディスク径方向位置、または前記中間部位のディスク径方向位置を、当該表面不良の存在しない位置に変更する、
請求項６の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、グルーブ記録可能な光ディスクへの書き込み制御にかかわる記録制御方法および記録制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
今日、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の光ディスクが、映像情報や音声情報、その他様々な形式の情報を保存する記録媒体として主流となっている。その理由として、光ディスクは、高密度な記録が可能であり、また所望のデータを高速にアクセスできることなどが挙げられる。
【０００３】
再生専用の光ディスクには、光ディスク基板上に螺旋状または同心円状に形成されたトラック上にピットといわれる凹凸が形成される。レーザーダイオードから出射されたレーザー光を前記トラック上に沿って追従させていき、ピットからの反射光がフォトダイオードにて検出され、その反射光の強度に応じて光ディスク上に記録された情報が読み取られる。
【０００４】
一方、記録型の光ディスクでは反射層の上に記録層が構成される。グルーブ記録可能な光ディスクには、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等がある。
【０００５】
以下、図２４が参照されて、記録型光ディスク基板の構造および記録／読取方法が説明される。図２４は光ディスク基板の反射層および記録層の一部を表す。９１は記録なしの記録層部分である。９２は記録ありの記録層の部分である。９３は反射層である。９４はレーザー光の入射光である。９５は記録なしの記録層９１からのレーザー光の反射光である。９６は記録ありの記録層９２からのレーザー光の反射光である。この場合、記録なしの記録層９１を通過した反射光９５よりも記録ありの記録層９２を通過した反射光９６の方が高い反射率で反射されている。以下、その理由が説明される。
【０００６】
記録型光ディスクでは、反射層の上に記録層が形成される。記録層は高いレーザーパワーを照射することによって性質が変化する性質を有しており、この性質を利用して光ディスクへの情報書き込みが行われる。記録層の性質の変化とは、レーザー光の吸収率若しくは屈折率の変化をいう。記録部分のレーザー光の吸収率が増加すれば、再生時に光ディスクの反射率は低くなる。また、記録層の屈折率が変化すると、再生時に記録部分を透過するレーザー光の波長（位相）が変わり、見かけ上は反射膜に凹凸ができたものと同等になる。これら見かけ上の反射膜からの反射率を変化させることで、情報の書き込みが行われる。なお、再生時におけるレーザー光は、記録時とまったく同じ出力では読み出しのたびに記録内容が損なわれる可能性があるため、再生時には記録時よりも低い出力のレーザー光が用いられる。
【０００７】
記録型光ディスクには一度だけ記録可能なものと書き換え可能なものとがある。一度だけ記録可能な光ディスクでは、記録層にアゾ・シアニン系の有機色素が使われる。この色素に赤色の可視光であるレーザー光が照射されると、色素がこのレーザー光をよく吸収する。そのため見かけ上、反射膜からの反射率が変化して、情報が書き込まれる。なお、この色素系の材料は化学的に変化して色が変化し、元の状態に戻すことができないため、一度だけの記録が可能となる。一方、書き換え可能な光ディスクには、相変化記録という技術が使われる。これは、アンチモンとテルルとの合金が有する以下の性質が利用される。すなわち、この合金は、光がある程度透過するほどの薄膜形状にされると、短時間で強いパワーのレーザー光が当てられてこの合金が融ける温度まで熱されたうえで急冷されるとアモルファス状態になり、さらには、アモルファス状態の上記合金は弱いパワーで加熱されると元の結晶状態に戻る、という性質を有する。
【０００８】
この合金にゲルマニウムを混ぜることで、アモルファス状態と結晶状態とでレーザー光の吸収率に差を生じさせ、また、銀とインジウムを混ぜることで屈折率に差を生じさせる。すなわち、融点加熱で記録ピットを作ることが情報記録となり、これを再結晶させることが消去となる。なお、このような変化は何回でも繰り返すことが可能であるので、この記録膜を有した記録型光ディスクは書き換え可能な光ディスクとなる。
【０００９】
以上のようなレーザー光を用いた光ディスクへの記録制御においては、正確な情報の書き込みを実現するために最適な記録レーザーパワーを出力する必要がある。最適な記録レーザーパワーは、光ディスクごとに異なる。これは光ディスク記録媒体に、レーザー光に対する感度のばらつきが存在するためである。また、この感度は記録時の温度の影響も受けるため、やはり適宜実際にレーザー記録を実行して、最適なレーザーパワーの情報を取得しなければならない。
【００１０】
記録媒体では、取り扱う情報量の増加に伴って従来よりも一層の高密度化が要求される。このような要求を満たすためには、光ディスクにおいても、その記録形式において種々の改良がなされている。その一例として、光ディスクにおけるトラックの幅を狭めることや、トラックピッチなどを狭めるなどによって、情報を高密度に記録する方法がある。この記録方法では、アドレス情報の読み取り精度や光ディスクの回転制御精度の向上が目的とされて、光ディスク基板上に形成されるトラックにおいて、ウォブル（wobble：揺動）するグルーブ部（groove：細い溝）とウォブルするランド部とが対にされる。ランド部はグルーブ部同士の間に形成される。そして、対にされたグルーブ部とランド部とが、ディスクの最内周から最外周に向かって螺旋状または同心円状に形成される。この記録方法は、例えば特許文献１に開示されている。以下、この記録方法の詳細が説明される。
【００１１】
図２５は従来のグルーブ部およびランド部への記録形式を表した図であり、図２６は光ディスクのデータ構造を表した図である。光ディスクには、所定の周波数成分のウォブル信号でウォブルされて情報を記録するためのグルーブ部１１と、隣り合うグルーブ部１１の間に位置するランド部１２とが光ディスク上に螺旋状または同心円状に形成される。また、ランド部１２には、ウォブル信号に対して所定の位相関係を有するランドプリピット１３が形成される。ランドプリピット１３は、データを記録するためのアドレス情報などの補助情報を表す。
【００１２】
図２５、図２６に示される記録形式を有する光ディスクでは、データが記録されるグルーブ部１１が予め情報単位としてシンクフレームごとに分割されている。そして、シンクフレームにより１つのレコーディングセクタが構成され、更に、レコーディングセクタにより１つの誤り訂正コードが構成される。なお、データを記録する際の記録フォーマットにより規定されるピット間隔に対応する単位長さをＴとすると、１つのシンクフレームは１４８８Ｔの長さを有していることになり、また１つのシンクフレームの先頭の１４Ｔの長さの部分はシンクフレーム毎の同期をとるための同期情報１９として用いられる。
【００１３】
上述したランドプリピット１３は、シンクフレームごとに記録される。各々のシンクフレームにおける同期情報が記録される領域に隣接するランド部上に、プリ情報における同期信号を示すランドプリピット１３が形成される。また記録すべきプリ情報の内容を示すものとして１つまたは２つのランドプリピット１３が形成される場合がある。
【００１４】
以上の記録形式を有する光ディスクへの情報記録では、グルーブ部から抽出されたウォブル信号の位相を担う信号の位相と、ランド部上のランドプリピットから検出されたランドプリピット信号の位相との比較結果に基づいて位相差信号が出力され、この位相差信号に基づいてクロック信号の位相が調整される。すなわち、クロストークの影響を無視できないウォブル信号に基づいて生成されるクロック信号の調整軸上の変動が、クロストークの影響を受けないランドプリピットを用いて補正されるので、光ディスクの回転に高い精度で同期した記録用のクロック信号を生成することが可能であり、正確な情報記録が実現される。また、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷでは、レーザースポットがグルーブ部に照射されることによりデータ記録が行われる。
【００１５】
さて、上述したように共にウォブルするグルーブ部およびランド部が螺旋状または同心円状に形成されたトラックを有する光ディスクにおいて、データを記録するためには、最適な記録レーザーパワーを決定する必要がある。従来、この最適な記録レーザーパワーを決定するためには、実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの最内周、最外周に存在する試し書き領域（ＰＣＡ領域：Power Calibration Area）において、記録ピークパワーを変化させた試し書きが行わられることで、ディスクごとにそのディスクに適した記録レーザーパワーが決定される。これを、以下、ＯＰＣ学習（ＯＰＣ：Optimum Power Control）という。ＯＰＣ学習では、ディスク最内周において記録ピークパワーを変化させながら実際に記録され（テスト記録）、記録されたテストデータの信号が読み取られ、読み取られたＲＦ信号のベータ値（レーザー光のパワーによる光ディスクに書き込まれたピットの深さの不均整を表す）が測定されることで、記録ディスクの領域の状態が検査され、その検査結果に基づいてその光ディスクに最適な記録レーザーパワーが決定される。以下、さらに図２７Ａ−図２７Ｃが参照されてＯＰＣ学習が詳細に説明される。
【００１６】
図２７Ａ−図２７ＣはＯＰＣ学習の最適記録パワーの決定方法を示す図である。まず図２７Ａに示されるように、ピークパワーを階段状に変化させながらテスト記録が行われ、書き込まれたデータから読み取られるＲＦ信号を基に光ディスクのベータ値が算出される。ランダムパターンのテスト記録光ディスクのベータ値は図２７Ｂに示される式により算定することができる。この式において、Peakはテスト記録によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号のピークを、Bottomはテスト記録によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号のボトム値を、Aveはテスト記録によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号の平均値をそれぞれ示す。また、図２７Ｃはレーザーパワーとベータ値の関係を示すグラフである。図２７Ｂの式にて、いくつかのレーザーパワーのサンプルに対応するベータ値が算出されていき、ベータ値が０になるときのレーザーパワーが最適な記録レーザーパワーとして決定される。
【００１７】
実際では上記の方法で決まった最適な記録レーザーパワーの使用方法は、ＣＬＶ(Constant Linear Velocity)記録とＣＡＶ記録（Constant Angular Velocity）とで異なる。ＣＬＶとは線速度一定で光ディスクの回転を行うスピンドル制御であり、ＣＡＶとは回転速度一定で光ディスクの回転を行うスピンドル制御である。ＣＬＶでは線速度が一定のため単位時間に通過する光ディスク上の距離が光ディスクの内周と外周とで同じになる。そのため、記録パワーとしては光ディスクの内外周とも一定である。通常、ＤＶＤの記録においてはＣＬＶ記録が行われる。また、ＣＬＶ記録においては光ディスクのＰＣＡ領域でＯＰＣ学習が行われ、最適記録パワーが決定された後、光ディスクの内周から外周まで同一記録パワーで記録が行われる。一方、ＣＡＶ記録では回転速度が一定のため単位時間に通過する距離(つまり線速度)が内外周で異なる。外周にいく程、線速度は速くなるため、当然最適記録パワーも上がる。
【００１８】
ここで従来のＣＡＶ記録について説明する。図２８Ａ−図２８Ｂは従来の最適記録パワーの算出の説明図である。図２８Ａは従来のＣＡＶ記録におけるＯＰＣ実行箇所が示される。通常、ＣＡＶ記録においては最内周のＰＣＡ領域と最外周のＰＣＡ領域でＯＰＣ学習が実施され、図２８Ｂに示されるように線形近似することにより最適記録パワーテーブルが算定されたうえで、最適記録パワーテーブルを基にして逐次記録パワーを変えて記録が行われる。
【００１９】
図２９は従来技術における記録制御を実行する光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。２１は光ヘッドである。光ヘッド２１は、光ディスク２０にレーザー光を出射するレーザーダイオードと、光ディスク２０から反射されるレーザー光を検出するフォトディテクタおよびレーザー光の前光を受光する前光フォトディテクタとを有する光信号処理回路などを含む。２２は光ヘッド２１における光信号処理回路で生成される信号からＲＦ信号成分を検出するＲＦ信号検出部である。２３はレーザー光のパワーにより光ディスク２０に書き込まれたピットの深さの不均整を表すベータ値を算出するベータ値演算部である。２４はベータ値演算部２３の演算結果および光ディスクの特性を基に最適なレーザーパワーを算出する最適パワー演算部である。２５はＯＰＣ学習アドレスとＯＰＣ学習結果とを格納する記憶部である。５０は内周・外周ＯＰＣ学習結果を２点線形近似する内外点線形補間部である。２７は最適パワー演算部２４の算出結果を基にして光ヘッド２１における光信号処理回路の駆動電流を制御するレーザー駆動装置である。３０は光ヘッド２１における光信号処理回路のフォトディテクタが光ディスクからの反射光を検出して出力する信号からフォーカス信号およびトラッキング信号を生成し、それらの信号を基にして光ヘッド２１における光信号処理回路を制御して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行するフォーカス・トラッキングサーボ部である。５１は最内周および最外周のＯＰＣ学習を実施する位置を決定するＰＣＡ位置決定部である。２８は光信号処理回路を移動させる光ヘッド移動部である。
【００２０】
次に、図２９の光ディスク記録制御装置を用いて図２５の光ディスクに記録する従来の記録方法が、図３０のフローチャートが参照されて説明される。
【００２１】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、テスト記録が実施される（ｎ１０）。まず最内周部位のＰＣＡ領域におけるＯＰＣ学習（ｎ１１）では、記録ピークパワーが階段状に変化する状態で光ディスクに記録するテスト記録が行われる（ｎ５１）。そのうえで、テスト記録が行われた部位に再度レーザー光が照射され、光ディスクから反射されるレーザー光がフォトディテクタで受光され、受光された反射光が電気信号に変換され、その電気信号からＲＦ信号検出部２２にてＲＦ成分が抽出される（ｎ５２）。抽出されたＲＦ成分を基にしてベータ値演算部２３にて光ディスクに書き込まれたピット１８の深さ等が検出され、記録パワーと光ディスク媒体の特性との関係が算出され、ベータ値が取得される（ｎ５３）。最適パワー演算部２４では、ベータ値演算部２３にて算出されたベータ値を基にして、このテスト中の光ディスクの記録に適した記録パワーが算出される（ｎ５４）。最内周部位での最適記録パワーが決定されると、光ヘッド移動部２８が制御されて、レーザー光のスポットが最外周部位のＰＣＡ領域に移動して、ここで再度ＯＰＣ学習が実施されて最適記録パワーが算定される（ｎ１２）。このとき、ＯＰＣ学習アドレスと算出した最適パワーとはそれぞれ記憶部２５に記憶される。
【００２２】
次に、現記録部位の最適記録パワーが決定される（ｎ１３）。先の工程で算定された各ＯＰＣ学習アドレスとその部位での最適記録パワーとが記憶部２５から読み出される（ｎ１０１）。読み出されたデータを基にして、最内周部位と最外周部位との学習結果がそれぞれ２点線形近似されることで、現記録部位の最適記録パワーが算定される（ｎ１０２）。最後に、算定された現記録部位の最適記録パワーに基づいてＣＡＶ記録が開始される（ｎ１４）。
【特許文献１】特開平１０−２９３９２６号公報（第４−６頁、第１−２図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
ところが、昨今においては、光ディスクの記録制御において記録速度の高速化が進んでおり、光ディスク記録の分野においても高速ＣＡＶ記録が主流となっている。しかしながら、従来の方法では最内周部位と最外周部位のみのＯＰＣ学習結果に基づいて光ディスクの径方向中間部位での最適記録パワーが算定されるため、光ディスク面内の特性にバラつきがある場合、ディスクの径方向中間部位における最適記録パワーが所望の値からずれて記録品質が悪くなる。そのため、ＰＩエラーレートの悪化によるアドレス誤取得、他社ドライブとの互換性の低下などの課題が生じる。近年、光ディスクの面内感度、面内膜厚、面内歪みが非常に大きい粗悪ディスクが光ディスク市場に多数出回っているため、この問題はより深刻化してきている。
【００２４】
本発明の主たる目的は、光ディスクの特性に応じた最適な記録レーザーパワーで記録し、良質な記録を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００２５】
本発明は、光ディスクの径方向の中間部位においてＯＰＣ学習を逐次実行し、ＣＡＶ記録における光ディスク内周部位から外周部位における最適記録パワースケジュールを決定するものである。
【００２６】
本発明による光ディスク記録制御方法は、
光ディスクにデータを記録処理するのに先立って、前記光ディスクの内周部位と、前記光ディスクの外周部位と、前記内周部位と前記外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位とのそれぞれにおいて、ＯＰＣ（Optimum Power Control）学習に基づいて最適記録パワーを演算する工程と、
データ記録に際して、前記内周部位と前記外周部位と前記中間部位とにおける前記光ディスクの径方向に沿った位置変位量と、前記各部位で演算された前記最適記録パワーとの間の相関関係に基づいて現記録部位における最適記録パワーを設定しながら、設定した前記最適記録パワーでレーザー駆動制御を行って前記光ディスクにデータ記録を行う工程と、
を含む。
【００２７】
なお、前記光ディスクはトラックを有し、前記トラックはグルーブ部とランド部とを備え、前記中間部位では、前記ランド部における前記最適記録パワーを演算するのが好ましい。
【００２８】
光ディスクの内周部位（ＰＣＡ領域）と外周部位（ＰＣＡ領域）とで挟まれた中間部位のディスク領域（データ領域）においてグルーブ部は、本来記録すべき情報のために用意された領域である。これに対して、ランド部は、データを記録するためのアドレス情報などの補助情報を有する領域である。本発明は、ＯＰＣ学習を内周部位および外周部位だけでなく、データ領域である中間部位（好ましくはランド部）でも実施する。その結果として、光ディスクの特性に応じた最適なレーザーパワーでデータを記録し、品質の良いＣＡＶ記録が実現される。そして、中間部位でのＯＰＣ学習は、好ましくはランド部において行うので、有機色素を有する光ディスクの特性上、一度しか書き込むことができないＲ系のＤＶＤであっても、対応することができる。
【００２９】
上記記録制御方法において、光ディスクの内周部位、外周部位および中間部位での少なくともひとつの領域におけるＯＰＣ学習を行う前に、ＯＰＣ学習を行う光ディスクの部位に、指紋、傷などの表面不良（ディフェクト）があるか否かを検出することで、表面不良のない位置に光ヘッドを移動させるという態様もある。この場合、指紋、傷などの表面不良が無い領域でＯＰＣ学習を行うことができるのでＯＰＣ学習を高精度に行うことができる、あるいはＯＰＣ学習の失敗を防ぐことができる。その結果、より高精度に最適記録パワーを決定し、良質な記録を行うことができる。
【００３０】
また、本発明の光ディスク記録制御装置は、
光ディスクにデータ記録を行う光ヘッドと、
光ディスクにデータを記録処理するのに先立ってＯＰＣ（Optimum Power Control）学習の対象となる、光ディスクの内周部位のディスク径方向位置、外周部位のディスク径方向位置、および前記内周部位と前記外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位のディスク径方向位置を決定するＯＰＣ学習アドレス決定部と、
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部で前記ディスク径方向位置が決定された前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれに前記光ヘッドを移動させる光ヘッド移動部と、
前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれに移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記外周部位、前記内周部位、および前記中間部位それぞれにおける最適記録パワーを算定する最適パワー演算部と、
前記ＯＰＣ学習アドレス決定部が決定した前記外周部位と前記内周部位と前記中間部位とにおけるディスク径方向に沿った位置変位量と、前記最適パワー演算部が算定した前記各部位における前記最適記録パワーとの間の相関関係を記憶する記憶部と、
データ記録に際して、前記記憶部から読み出した前記相関関係に基づいて前記光ディスクの現記録部位における最適記録パワーを設定する記録パワー制御部と、
データ記録に際して、前記光ディスクの現記録部位における最適記録パワーを、前記記録パワー制御部の設定値により制御しながら、前記光ディスクに前記光ヘッドを介してデータ記録するレーザー駆動装置と、
を備える。
【００３１】
これにより、データ記録に先立って、ＯＰＣ学習を行ったディスク部位（アドレス）と最適記録パワーとの相関関係が記憶部に記憶されたことになる。なお、ＯＰＣ学習の順序については、内周部位→中間部位→外周部位の順に限られるものではなく、任意の順序でかまわない。そして、データ記録に際して、記録パワー制御部は記憶部に記憶されている前記相関関係に基づいて現記録部位における最適記録パワーを設定してその設定値でレーザー駆動装置を制御し、データ記録を行う。その結果として、光ディスクの特性に応じた最適なレーザーパワーでデータを記録し、品質の良いＣＡＶ記録を実現できる。
【００３２】
なお、前記レーザー光の検出信号に含まれるＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出部と、
前記ＲＦ信号検出部で検出された前記ＲＦ信号から光ディスク特性の不均整を表すベータ値を測定するベータ値演算部と、
をさらに備え、
前記最適パワー演算部は、前記ベータ値演算部が測定する前記ベータ値を前記光ディスク特性の不均整を表す情報として扱うのが好ましい。
【００３３】
そうすれば、最適パワー演算部は、ベータ値（レーザー光による光ディスクへの記録強さの不均整を表す）に基づいてＯＰＣ学習部位での最適記録パワーが設定されることになる。
【００３４】
なお、グルーブ記録パワー補正部をさらに備え、
当該グルーブ記録パワー補正部は、前記最適パワー演算部によって算定される前記中間部位の前記ランド部における最適記録パワーを、前記中間部位の前記グルーブ部における最適記録パワーに補正するものであるのが好ましい。
【００３５】
中間部位（ランド部）でのテスト記録はグルーブ部でのデータ記録時の最適記録パワーを算定するためである。ランド部での記録がグルーブ部での記録と等価的であれば補正する必要はないが、ランド部とグルーブ部との形状の相違から、ランド部でのテスト記録で得られた最適記録パワーとグルーブ部でのデータ記録に際しての最適記録パワーとの間に誤差が生じている場合がある。そこで、グルーブ記録パワー補正部を設けて、ランド部でのＯＰＣ学習で算定した最適記録パワーを補正することで、最適記録パワーの設定精度を向上されることができる。
【００３６】
なお、ランド・グルーブ補正部をさらに備え、
当該ランド・グルーブ補正部は、前記最適パワー演算部によって算定された前記中間部位の前記ランド部における最適記録パワーから、当該ランド部における最適記録パワーを得るために行うレーザー光照射が当該ランド部に隣接する前記グルーブ部に与える影響を除去する補正を行うものであるのが好ましい。
【００３７】
ランド部でＯＰＣ学習を行うと、そのランド部に隣接するグルーブ部は少なからず影響を受ける。そこで、最適パワー演算部で算定された最適記録パワーを、ランド・グルーブ補正部でランド部でのＯＰＣ学習がグルーブ部に与える影響を排除するように補正する。これにより、最適記録パワーの設定精度を高めることができる。
【００３８】
なお、前記最適パワー演算部が前記最適パワーを算定する際に、前記ＲＦ信号検出部で検出されたＲＦ信号レベルに異常が生じるか否かを検出するＲＦ信号レベル異常検出部と、
前記ＲＦ信号レベル異常検出部が異常を検出すると、当該異常が検出された前記ディスク径方向位置を補正するランド部学習アドレス補正部と、
をさらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記ランド部学習アドレス補正部が補正した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、補正されたディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記ディスク径方向位置それぞれにおける最適記録パワーを再算定する、
のが好ましい。
【００３９】
ＯＰＣ学習が実施された中間部位に指紋や傷などの表面不良（ディフェクト）が存在することに起因して、ＲＦ信号のレベルが異常になる場合がある。このような場合は、ＯＰＣ学習を実施する部位の位置（アドレス）を補正して再度ＯＰＣ学習を実施することにより、より高精度に最適記録パワーを決定して、より良質な記録を実現することができる。
【００４０】
なお、前記最適パワー演算部が前記最適パワーを算定する際に、前記ベータ値演算部で演算されたベータ値に異常が生じるか否かを検出するベータ値異常検出部と、
前記ベータ値異常検出部が異常を検出すると、当該異常が検出された前記ディスク径方向位置を補正するランド部学習アドレス補正部と、
を備え、
前記光ヘッド移動部は、前記ランド部学習アドレス補正部が補正した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、補正されたディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記ディスク径方向位置それぞれにおける最適記録パワーを再算定するのが好ましい。
【００４１】
ＯＰＣ学習が実施された中間部位に指紋や傷などの表面不良が存在することに起因してベータ値が異常となっている場合がある。このような場合は、ＯＰＣ学習アドレスを補正して再度ＯＰＣ学習を実施することにより、より高精度に最適記録パワーを決定し、より良質な記録を実現できる
なお、前記記録パワー制御部は、前記相関関係を線形補間処理することで、前記現記録部位における最適記録パワーを設定するか、前記相関関係を最小二乗法で処理することで、前記現記録部位における最適記録パワーを設定するのが好ましい。特に、各ランド部でのＯＰＣ学習結果を最小二乗法分析によって、Ｐ（ｘ）＝Ａｘ＋Ｂの単純式として内外周を一直線で線形補間すれば、最適記録パワーテーブルを生成する場合のファームウェアでの処理負担が軽減され、高速記録が実現される。
【００４２】
なお、データ記録に際して、記録中断をもたらすエラーが発生すると記録を中断させるエラー監視部を、
さらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記エラーが発生した前記ディスク径方向位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、前記エラーが発生した前記ディスク径方向位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記エラーが発生したディスク径方向位置における最適記録パワーを算定し、
前記記憶部は、前記最適パワー演算部が算定した前記エラーが発生したディスク径方向位置における前記最適記録パワーを加えた前記相関関係を記憶するのが好ましい。そうすれば、記録品質をより向上させることができる。
【００４３】
なお、前記光ディスクへの追記記録に際して、当該追記位置の前記ディスク径方向位置を検出する追記位置検出部を、
さらに備え、
前記光ヘッド移動部は、前記追記位置検出部が前記ディスク径方向位置を検出した前記追記位置に前記光ヘッドを移動させ、
前記最適パワー演算部は、前記追記位置に移動した前記光ヘッドから出射されたのち当該光ディスクから反射されるレーザー光に含まれる光ディスク特性の不均整を表す情報から、前記追記位置における最適記録パワーを算定し、
前記記憶部は、前記最適パワー演算部が算定した前記追記位置における前記最適記録パワーを加えた前記相関関係を記憶するのが好ましい。
【００４４】
そうすれば、光ディスクへの追記記録に先立ち、追記記録する位置からランド部ＯＰＣ学習を行うことにより、ＯＰＣ学習時間の短縮を図り、より高精度に最適記録パワーを決定し、良質な追記記録をすることができる。
【００４５】
なお、前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位において前記ＯＰＣ学習に基づいて前記最適記録パワーを演算する前に、前記内周部位、前記外周部位、または前記中間部位に表面不良が存在するか否かを検出するディフェクト検出部を、
さらに備え、
前記ＯＰＣアドレス決定部は、前記ディフェクト検出部が前記表面不良を検出すると、当該表面不良が検出された前記内周部位のディスク径方向位置、前記外周部位のディスク径方向位置、または前記中間部位のディスク径方向位置を、当該表面不良の存在しない位置に変更するのが好ましい。
【００４６】
そうすれば、ＯＰＣ学習を行う前にＯＰＣ学習を行う部位に指紋、傷などの表面不良が存在するか否かを検出して表面不良が存在しない部位に光ヘッドを移動させてＯＰＣ学習を行うことができる。これにより、ＯＰＣ学習を高精度に行うことができる、あるいはＯＰＣ学習の失敗を防ぐことができる。その結果、より高精度に最適記録パワーを決定し、良質な記録を行うことができる。
【発明の効果】
【００４７】
本発明では、内周部位と外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位においてテスト記録を逐次実行して、光ディスクの最適記録パワーを決定する。これにより、光ディスクの特性に応じた最適記録パワーで記録して、良質な記録をすることができる。
【００４８】
特に、本来記録すべき情報のために用意されるグルーブ部ではなく、アドレス情報などの補助情報を有するランド部にテスト記録を行えば、データ記録に支障が生じることもない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
以下、本発明の好ましい具体例が図面が参照されて説明される。
【００５０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク記録媒体の基板上の構造の一部を示す斜視図である。図１において、１１は光ディスク上に螺旋状または同心円状に形成されたグルーブ部である。グルーブ部１１はウォブル（蛇行）している。１２は各グルーブ部１１間に挟まれたランド部である。１３はデータを記録するためのアドレス情報などの補助情報を表すランドプリピットである。ランドプリピット１３は、ウォブル信号に対して所定の位相関係を有する。ランドプリピット１３は、ランド部１２に設けられる。１４は記録用レーザーパワーを出力するレーザー光により光の吸収率または屈折率が変化する記録層である。１５は光ディスクに出射されたレーザー光を反射する反射層である。１６は耐熱および耐擦傷のために設けられた保護層である。１７はグルーブ部１１に記録実行時に書き込まれるデータを示すデータ記録ピットである。１８はＯＰＣ学習時テスト記録を示すテスト記録ピットである。保護層１６は主に耐熱性、耐擦傷性、密着性、強度等が要求されるため、熱硬化性樹脂、紫外線硬化型樹脂、電子線硬化型樹脂等の強度の高い樹脂を主体とし、滑材成分が併用されることが望ましい。
【００５１】
また、図２は本発明の実施の形態１における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。２１は光ヘッドである。光ヘッド２１は光信号処理回路を含む。光信号処理回路は、光ディスクにレーザー光を出射するレーザーダイオードと、光ディスクから反射されるレーザー光を検出するフォトディテクタと、レーザー光の前光を受光する前光フォトディテクタとを有する。２２は光ヘッド２１が受光した反射光から生成される信号からＲＦ信号成分を検出するＲＦ信号検出部である。２３はベータ値を算出するベータ値演算部である。ベータ値は、レーザー光のパワーによる光ディスクに書き込まれたピットの深さの不均整を表す。２４はベータ値演算部２３の演算結果を基にして光ディスクの特性にとって最適なレーザーパワーを算出する最適パワー演算部である。２５はＯＰＣ学習アドレスとＯＰＣ学習結果とを格納する記憶部である。２６は記録パワー制御部の一例であって、複数のＯＰＣ学習結果を近似する複数点線形補間を行って現在アドレスでの最適記録パワーを算定する記録パワー制御部（複数点線形補間部）である。２７は記録パワー制御部２６からの最適記録パワーを基にして光ヘッド２１における光信号処理回路の駆動電流を制御するレーザー駆動装置である。３０はフォーカス信号およびトラッキング信号を生成したうえで、それらの信号を基にして光ヘッド２１における光信号処理回路を制御して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行するフォーカス・トラッキングサーボ部である。フォーカス信号およびトラッキング信号は、光ヘッド２１におけるフォトディテクタが光ディスクからの反射光を検出して出力する信号に基づいて、フォーカス・トラッキングサーボ部３０により、生成される。３１は現在光スポットが位置する領域がランド部かグルーブ部かを判別するランド・グルーブ判別部である。２９は光ディスク２０の最内周部位と、最外周部位と、最内周部位と最外周部位との間に位置する１箇所以上の中間部位とのそれぞれにおいて、ＯＰＣ学習を実施する位置を決定するＯＰＣ学習アドレス決定部である。２８は光ヘッド２１を移動させる光ヘッド移動部である。
【００５２】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図３のフローチャートが参照されて具体的に説明される。図１に示される構造を有する光ディスクへのデータの記録に先立ち、まず最内周部位のＰＣＡ領域のグレーブ部１１でＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１１）。Ｓ１１のＯＰＣ学習では、まず、記録ピークパワーが階段状に変化させた状態で光ディスクに記録するテスト記録が行われる（Ｓ５１）。その後、テスト記録が行わられた領域に戻って、光ディスクから反射されたレーザー光がフォトディテクタにて受光され、受光された反射光が電気信号に変換され、その電気信号からＲＦ信号検出部２２にてＲＦ成分が抽出される（Ｓ５２）。抽出されたＲＦ成分を基にベータ値演算部２３にて、光ディスクに書き込まれたテスト記録ピット１８の深さ等が検出され、記録パワーと光ディスク媒体の特性との関係が算出されて、ベータ値が取得される（Ｓ５３）。最適パワー演算部２４は、ベータ値演算部２３にて取得されたベータ値を基にして、このテスト中の光ディスクの記録に適した最適記録パワーが算出される（Ｓ５４）。最内周部位におけるＯＰＣ学習結果（最適記録パワー）とＯＰＣ学習アドレス（ディスク径方向の位置変位量）は互いに対応付けされた状態で記憶部２５に記憶される。
【００５３】
最内周部位での最適記録パワーが決定されると、光ヘッド２１における光信号処理回路が制御されて、レーザー光のスポットがデータ領域の中間部位にあるランド部１２に移動させられる（Ｓ１２）。ここで中間部位のランド部１２のＯＰＣ学習が再度実施されて最適記録パワーが算定される（Ｓ１３）。ＯＰＣ学習が終了すると、中間部位におけるＯＰＣ学習アドレス（ディスク径方向の位置変位量）とその部位で算出された最適記録パワーとが互いに対応付けされた状態で記憶部２５に記憶される（Ｓ１４）。この状態で光ヘッド２１における光信号処理回路が制御されて、レーザー光のスポットが光ディスクの外周側に移動させられつつ、（Ｓ１５）、最外周部位になるまでＯＰＣ学習とその記録とが１回ないし複数回実施される。最外周部位に到達したら、最外周部位にあるＰＣＡ領域（グレーブ部１１）にてＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１６）。最外周部位におけるＯＰＣ学習アドレス（ディスク径方向の位置変位量）とその部位で算出されたＯＰＣ学習結果とが、互いに関連付けされた状態で記憶部２５に記憶される。
【００５４】
以上のＯＰＣ学習が実施されたのち、データ記録が実施される。データ記録に際しては、まず、現記録部位における最適記録パワーが演算される（Ｓ１７）。現記録部位の最適記録パワーの決定では、先の工程で算定される各ＯＰＣ学習結果（最適記録パワー）と各ＯＰＣ学習アドレス（ディスク径方向変位量）とが記憶部２５より読み出され（Ｓ１０１）、隣接するＯＰＣ学習実施領域の学習結果がそれぞれ２点線形近似されることにより現記録部位の最適記録パワーが算定される（Ｓ１０２、Ｓ１０３）。図４Ａ、図４Ｂは最適記録パワーの算出の説明図である。図４ＡはＣＡＶ記録におけるＯＰＣ実行箇所が示される。最内周部位と最外周部位と中周部位とでＯＰＣ学習が行われ、図４Ｂに示されるように、各ゾーンでの２点線形近似されることにより最適記録パワーテーブルが算出される。
【００５５】
最後に、光ヘッド２１がグルーブ部１２に移動されたうえで（Ｓ１８）、算定された現記録部位における最適記録パワーに基づいてＣＡＶ記録が開始される（Ｓ１９）。
【００５６】
なお、本実施の形態においては、中間部位におけるＯＰＣ学習の実施回数は、基本的に特性の悪い光ディスクほど多く実施することが望ましい。そうすれば、面内感度や面内膜厚の変動に対応した精度の良い現記録部位の最適記録パワーが得られる。一方、中間部位（ランド部１２）でのＯＰＣ学習を多く繰り返すと記録開始までに時間がかかってしまう。そのため、光ディスクの特性に合わせてＯＰＣ学習の回数が設定されることが望ましい。光ディスクの特性に合わせたＯＰＣ学習実施回数は実験的に算定することができる。
【００５７】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って中間部位（特にそのランド部１２）でＯＰＣ学習を繰り返し実施し、最終的な最適記録パワーを決定することにより、品質の良いＣＡＶ記録を実現できる。
【００５８】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２は、ランド部とグルーブ部の形状の違いによる最適記録パワーの差を補正するものである。データ記録を行うのはグルーブ部１１であり、中間部位（具体的にはそのランド部１２）でのテスト記録はグルーブ部１１でのデータ記録のための最適記録パワーを算定するためである。中間部位のランド部１２での記録がグルーブ部１１での記録と等価的であれば補正の必要はないが、実際にはランド部１２とグルーブ部１１とは形状の相違があり、ランド部１２でのテスト記録で得られた最適記録パワーは、グルーブ部１１でのデータ記録に際しては補正を行うことが望ましい。このことに対応するのが本発明の実施の形態２である。以下、本発明の実施の形態２における光ディスク記録制御装置が説明される。
【００５９】
図５は、本発明の実施の形態２における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図５において、３２は最適パワー演算部２４で算定されたランド部１２での最適記録パワーをグルーブ部１１での最適記録パワーに補正した上で記憶部２５に送出するグルーブ記録パワー補正部である。その他の構成については、実施の形態１の場合の図２と同じであり、同一の構成要素について同一の参照符号を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。
【００６０】
ランド部１２とグルーブ部１１とはそれぞれ凸部と凹部になっており、光スポットが照射される部分の形状が異なり、ランド部１２の最適記録パワーとグルーブ部１１の最適記録パワーとは異なる。そのため、実施の形態１で説明した中間部位（ランド部１２）におけるＯＰＣ学習により算定した最適記録パワーをグルーブ記録パワー補正部３２で補正して、中間部位におけるグルーブ部１１の最適記録パワーに改変する。これにより、高品質の記録が実現される。
【００６１】
グルーブ部１１に適した最適記録パワーは、次式に示すようにランド部１１での最適記録パワーにある係数ｋを掛けることにより算定される。
［グルーブ部での最適記録パワー］＝ｋ＊［ランド部での最適記録パワー］
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図６に示されるフローチャートが参照されて説明される。ステップＳ１５の次の終了の判断までは実施の形態１の場合と同様である。ステップＳ１６の直前にステップＳ１５ａが挿入される。ステップＳ１５ａでは、先の工程で算定された中間部位（ランド部１２）での最適記録パワーに係数ｋが掛けられることで補正が行われ、中間部位（グルーブ部１１）での最適記録パワーが決定される。
【００６２】
（実施の形態３）
図７は本発明の実施の形態３における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図７において、３３は最適パワー演算部２４の値をランド記録の影響を考えて補正するランド・グルーブ補正部であり、その他の構成要素については実施の形態１（図２）と同一であるので同一の参照符号を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。
【００６３】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図８のフローチャートが参照されて具体的に説明される。
【００６４】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、まず最内周部位のＰＣＡ領域のグルーブ部１１でＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１１）。さらに、最内周部位の他のＰＣＡ領域のランド部１２でＯＰＣ学習が実施される。（Ｓ１１ａ、Ｓ１１ｂ）。ランド部１２でのＯＰＣ学習結果とグルーブ部１１でのＯＰＣ学習結果とから補正係数が決定される（Ｓ１１ｃ）。
【００６５】
次いで実施の形態１の場合と同様の処理であるステップＳ１２，Ｓ１３の処理が行われたのち、ステップＳ１３ａで中間部位での最適記録パワーの補正計算が行われる。ここでの最適記録パワーの補正計算は、Ｓ１１ｃで決定された補正係数を使って行われる。続いて、実施の形態１と同様の処理であるステップＳ１４−Ｓ１８が行われる。
【００６６】
なお、本実施の形態においては、中間部位におけるＯＰＣ学習の実施回数は、基本的に特性の悪い光ディスクほど多く実施することが望ましい。面内感度や面内膜厚の変動に対応した精度の良い現記録部位での最適記録パワーが得られる。一方、中間部位でのＯＰＣ学習を多く繰り返すと記録開始までに時間がかかってしまうため、光ディスクの特性に合わせてＯＰＣ学習の回数を設定することが望ましい。光ディスクの特性に合わせたＯＰＣ学習実施回数は実験的に算定することができる。
【００６７】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って最内周部位（最外周部位でもよい）において、グルーブ部１１とランド部１２とにおいて実施するＯＰＣ学習結果に基づいて、中間部位（ランド部１２）における最適記録パワーが補正される。これにより、品質の良いＣＡＶ記録が実現される。
【００６８】
（実施の形態４）
中間部位（データ領域）のランド部１２でのＯＰＣ学習において、そのランド部１２に指紋や傷などの表面不良（ディフェクト）が存在しておれば、反射光のＲＦ信号のレベルが減衰し、ＯＰＣ学習に基づく最適記録パワーが不正確なものになってしまう。本発明の実施の形態４は、この不都合に対処するものである。
【００６９】
図９は本発明の実施の形態４における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図９において、３４はＲＦ信号レベル異常検出部である。ＲＦ信号レベル異常検出部３４はＲＦ信号検出部２２で検出されたＲＦ信号のレベルが異常であるかを検出する。３５はランド部学習アドレス補正部である。ランド部学習アドレス補正部３５は、ＲＦ信号のレベルが異常であると検出された場合に、再度ＯＰＣ学習を実施するためのランド部学習アドレスを決定する。その他の構成については、実施の形態１（図２）と同様であるので、同一の構成要素について同一の参照符号を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。
【００７０】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図１０のフローチャートが参照されて具体的に説明される。ここでは、ＯＰＣ学習におけるＲＦ信号レベルの異常検出方法と、異常検出した際に再度ＯＰＣ学習を実施するアドレス補正方法とが主として説明される。その他の動作については実施の形態１と同様である。
【００７１】
ＯＰＣ学習のサブルーチンＳ１１においては、ステップＳ５２でＲＦ成分が抽出されるが、次のステップＳ５２ａにおいて、抽出したＲＦ成分のレベルが所定の範囲内にあるか否かがＲＦ信号レベル異常検出部３４によって判断される。ここで、所定範囲内でないと判断される場合には、ＲＦ成分のレベルが異常値（エラー）であると見なされてそのＯＰＣ学習が終了させられる。例えば、光ディスク上の指紋や傷などの光ディスク２０の表面不良が存在する部位にＯＰＣ学習用の記録処理が実施された場合、反射光であるＲＦ信号のレベルは正常な記録処理が行われた場合におけるＲＦ信号のレベルより小さくなる。この異常値を判断するためのＲＦ信号レベルの範囲は実験的に算定することが可能である。抽出したＲＦ成分のレベルが所定範囲内の場合は、ステップＳ５３以下の処理に移行する。
【００７２】
ＯＰＣ学習が上記エラーにより終了した場合、今回のＯＰＣ学習が実施されるディスク径方向位置（アドレス）が補正されたうえで、補正された径方向位置で再度ＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１３ｂ，Ｓ１３ｃ）。ＯＰＣ学習が正常に終了した場合には、ＯＰＣ学習部位のディスク径方向変位量とそのＯＰＣ学習部位で算出された最適記録パワーとが、互いに対応付けされた状態で記憶部２５に記憶される（Ｓ１４）。続くステップＳ１５−Ｓ１８の処理は実施の形態１と同様である。
【００７３】
光ディスク上の指紋や傷などの表面不良は、光ディスク２０の周方向より径方向に沿ってより多く存在する傾向がある。そこで、ＯＰＣ学習部位の補正方法については、エラーにより終了した部位（アドレス）を基点にして周方向に連続するアドレスに設定することが好ましい。
【００７４】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って実施される中間部位（データ領域）でのＯＰＣ学習において、指紋や傷などのディスク表面不良に起因してＲＦ信号のレベルが異常となっている場合に、ＯＰＣ学習部位を他の部位に替えて再度ＯＰＣ学習を実施することにより、より高精度に最適記録パワーを決定して良質な記録を実現できる。
【００７５】
（実施の形態５）
中間部位のランド部１２でのＯＰＣ学習において、光ディスク２０のランド部１２に指紋や傷などのディスク表面不良が存在しておれば、ベータ値が異常となり、ＯＰＣ学習に基づいて設定される最適記録パワーが不正確なものになってしまう。本発明の実施の形態５は、この不都合に対応するものである。
【００７６】
図１１は本発明の実施の形態５における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図１１において、３６はベータ値演算部２３で演算されたベータ値の異常を検出するベータ値異常検出部である。３５ａはランド部学習アドレス補正部である。ランド部学習アドレス補正部３５ａは、ベータ値が異常であると検出された場合に、再度ＯＰＣ学習を実施するための中間部位のアドレス（径方向位置）を決定する。その他の構成については、実施の形態１の場合の図２と同様である。
【００７７】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が、図１２のフローチャートが参照されて具体的に説明される。ここでは、主として、ＯＰＣ学習におけるベータ値の異常検出方法と、異常検出した際に再度ＯＰＣ学習を実施するアドレスの補正方法とが説明される。その他の構成については、実施の形態１（図２）と同様であるので、同一の構成要素について同一の参照符号を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。
【００７８】
ＯＰＣ学習のサブルーチンＳ１１においては、ステップＳ５３でベータ値が演算されるが、次のステップＳ５３ａにおいて、演算されたベータ値が所定の範囲内にあるか否かがベータ値異常検出部３６によって判断され、所定範囲内にないと判断される場合には、ベータ値が異常値（エラー）であると見なされてＯＰＣ学習が終了させられる。例えば、指紋や傷などの表面不良が存在する光ディスク上の部位が、ＯＰＣ学習部位として設定された場合、反射光であるＲＦ信号のレベルは正常な記録処理が行われた場合におけるＲＦ信号のレベルより小さくなる。そのため、ＲＦ信号から算定されるベータ値は通常時と異なる値となる。この異常値を判断するためのベータ値の範囲は実験的に算定することが可能である。算定されたベータ値が所定範囲である場合は、ステップＳ５４の処理に移行する。
【００７９】
ＯＰＣ学習が上記エラーにより終了した場合、今回のＯＰＣ学習部位の径方向位置（アドレス）が変更されたうえで、変更された部位で再度ＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１３ｃ）。ＯＰＣ学習が正常に終了した場合には、ＯＰＣ学習部位と算出された最適記録パワーと互いに対応付けされた状態で記憶部２５に記憶される（Ｓ１４）。続くステップＳ１５〜Ｓ１８の処理は実施の形態１と同様である。
【００８０】
ＯＰＣ学習部位の位置変更方法については、前述した実施の形態と同様、エラーによりＯＰＣ学習が終了させられた部位を基点にして周方向に連続するアドレスに補正することが好ましい。
【００８１】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って実施されるＯＰＣ学習部位において、指紋や傷などのディスク表面不良に起因してベータ値が異常となっている場合に、ＯＰＣ学習部位を変更して再度ＯＰＣ学習を実施することにより、より高精度に最適記録パワーを決定して良質な記録を実現できる。
【００８２】
（実施の形態６)
本発明の実施の形態６では、記録パワー制御部が、複数点線形補間に代えて最小二乗法による線形補間を行うものに構成されている。上述の実施の形態１〜５においては、最適記録パワーをテーブル化して記憶部に登録しておく方式である。この最適記録パワーテーブルを用いる方式では、テーブルを生成するファームウェアでの処理負担が大きい。本実施の形態は、この不都合に対応するものである。
【００８３】
図１３は本発明の実施の形態６における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態においては、実施の形態１（図２）において、記録パワー制御部として、実施の形態１−５の場合の複数点線形補間部に代えて、最小二乗法線形補間部を備えている。その他の構成については、実施の形態１の場合の図２と同様であるので、同一の構成要素について同一の参照符号を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。
【００８４】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図１４のフローチャートが参照されて具体的に説明される。本実施の形態は、実施の形態１を基本とするため、主として最小二乗法近似による現記録部位の最適記録パワーの決定方法が説明される。他のＯＰＣ動作および最適記録パワーが決定されてからの動作は、実施の形態１と同様である。
【００８５】
実施の形態１と同様、最内周部位、最外周部位、および中間部位でのＯＰＣ学習が実施されて、そのＯＰＣ学習結果が、各部位のディスク径の位置変位量に対応付けされた状態で記億部２５に記憶される。次に、データ記録時において、現記録部位の最適記録パワーが決定される（Ｓ１７）。現記録部位での最適記録パワーの決定では、先の工程で算定した各ＯＰＣ学習結果と各ＯＰＣ学習部位の径方向位置変位量とが記憶部２５から読み出されたうえで（Ｓ１０１）、図１５Ｂに示されるように全体のＯＰＣ学習結果から、最小二乗法直線近似式[Ｐ（ｘ）＝Ａｘ＋Ｂ]が生成される（Ｓ１０４）。この近似式により現記録部位での最適記録パワーが算定される（Ｓ１０５）。そして、光ヘッド２１がグルーブ部１１に移動させられたうえで（Ｓ１８）、算定された現記録部位での最適記録パワーに基づいてＣＡＶ記録が開始される（Ｓ１９）。
【００８６】
本実施の形態によれば、最適記録パワーテーブルを使用せずに、データ記録の動作の最中に、非常に簡単な最小二乗法直線近似式の公式[Ｐ（ｘ）＝Ａｘ＋Ｂ]に従って現在アドレスに対応した最適記録パワーが計算されたうえで、データ記録がなされる。これにより、ファームウェアでの処理負担が軽減された状態で高速記録が実現される。また、局所的な表面不良(傷やブラックドット)の影響を排除した形で最終的な最適記録パワーが決定されるので、より品質の良いＣＡＶ記録が実現される。
【００８７】
なお、本実施の形態の技術は、実施の形態２−５でも適用することが可能である。
【００８８】
（実施の形態７）
図１６は本発明の実施の形態７における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図１６において、実施の形態１（図２）と同一であるので同一の参照符合を付すにとどめ、詳しい説明は省略される。本実施の形態は、エラー監視部３７を備える。エラー監視部３７は、バッファアンダーラン等のエラーを監視し、エラーが発生したときはデータ記録の動作を一時停止したうえでＯＰＣ学習を再度実行する。その他の構成については、実施の形態１と同様である。
【００８９】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図１７のフローチャートが参照されて具体的に説明される。記録方法については実施の形態１と同様である。実施の形態７では、記録一時停止時に下記の記録方法が再度繰り返される処理が行われる。以下説明される。
【００９０】
実施の形態１と同様の動作の実行中に、エラー発生等で記録が一時停止した場合、エラー監視部３７が、エラー発生地点（記録部位）での最適記録パワーを算定し直す（Ｓ２０）。すなわち、エラー監視部３７は、逐次にエラーを監視しておき（Ｓ２１）、エラーが発生した場合は、その地点でＯＰＣ学習を行う（Ｓ２２）。エラー発生地点のＯＰＣ学習は、ステップＳ３１−Ｓ３５に従って行われる。すなわち、レーザー光スポットがエラー位置の直近のランド部１２に来るように光ヘッド２１が移動させられたうえで（Ｓ３１）、ＯＰＣ学習が行われる（Ｓ３２）。ここで算定されたＯＰＣ学習部位のディスク径方向位置（アドレス）と最適記録パワーとが、記憶部２５に相関関係として追加記憶される（Ｓ３３）。データ記録に際しては、エラー発生箇所での最適記録パワーが追加記録された相関関係に基づいて現記録部位の最適記録パワーが決定される（Ｓ３４）。現記録部位における最適記録パワーの演算では、先の工程で算定された各ＯＰＣ学習結果（最適記録パワー）と各ＯＰＣ学習部位のディスク径方向位置（アドレス）とが記憶部２５より読み出されたうえで、エラー発生部位（現記録部位の直前の記録部位）におけるＯＰＣ学習結果と、現記録部位記録前方側で隣接するＯＰＣ学習部位におけるＯＰＣ学習結果とに基づいて、２点線形近似処理されることで（図４参照）、現記録部位における最適記録パワーが算定される。以上の処理が行われたうえで、光ヘッド２１が、データ記録が一時停止された径方向位置（エラー発生部位）に移動させられて（Ｓ３５）、データ記録が再開される。
【００９１】
なお、本実施の形態においては、ランド部におけるＯＰＣ学習の実施回数は、基本的に特性の悪い光ディスクほど多く実施することが望ましい。面内感度や面内膜厚の変動に対応した精度の良い現アドレスの最適記録パワーが得られる。一方、ランド部でのＯＰＣ学習を多く繰り返すと記録開始までに時間がかかってしまうため、光ディスクの特性に合わせてＯＰＣ学習の回数を設定することが望ましい。光ディスクの特性に合わせたＯＰＣ学習実施回数は実験的に算定することができる。
【００９２】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って中間部位でＯＰＣ学習を繰り返し実施したうえで、さらにデータ記録時においてエラーが発生した場合でも、そのエラー発生部位をＯＰＣ学習部位として利用して、より精度の高く最適記録パワーを決定することができる。これにより、品質の良いＣＡＶ記録を実現し、他社の光ディスク再生装置で再生することができる。
【００９３】
（実施の形態８）
図１８は本発明の実施の形態８における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図１８において、実施の形態１（図２）における符号と同じ符号は同一構成要素を指しており、詳しい説明は省略される。本実施の形態においては、光ディスクへの追記記録の際に、追記位置を検出する追記位置検出部３８が追加されている。
【００９４】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が図１９のフローチャートが参照されて具体的に説明される。
【００９５】
光ディスクへの追記記録の際には、データの記録に先立ち、データ記録時に使用する最適記録パワーを算定するためにテスト記録が実施される（Ｓ１０）。テスト記録では、まず追記位置検出部３８が、追記記録を開始する追記部位のディスク径方向位置（アドレス）を取得する（Ｓ１１ａ）。次に、光ヘッド２１における光信号処理回路が制御されて、レーザー光のスポットが追記部位のランド部に移動させられたうえで（Ｓ１２ａ）、その部位でＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１３）。ＯＰＣ学習（Ｓ１３）以降では、実施の形態１と同様の処理が行われる。
【００９６】
なお、本実施の形態においては、実施の形態１と同等の中心部位における最適記録パワーが得られる場合、追記記録する部位は少なくなるため、ＯＰＣ学習の実施回数を少なくできる。すなわち、ＯＰＣ学習の実施時間を短縮することが可能となる。また、実施の形態１と同じ回数ＯＰＣ学習を実施する場合、ＯＰＣ学習の実施時間は同じで、より精度の良い最適記録パワーを得ることが可能である。光ディスクの特性に合わせたＯＰＣ学習実施回数は実験的に算定することができる。
【００９７】
本実施の形態によれば、光ディスクへの追記記録に先立ち、追記記録部位でＯＰＣ学習を行うことにより、ＯＰＣ学習時間の短縮を図り、より高精度に最適記録パワーを決定し、良質な追記記録をすることができる。
【００９８】
（実施の形態９）
図２０は本発明の実施の形態９における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図２０において、実施の形態１（図２）と同じ符号は同一構成要素を指しているので、詳しい説明は省略される。本実施の形態においては、図２０の点線部内は本実施の形態における記録制御を実行する信号回路の構成図である。
【００９９】
本実施の形態は記録パワー制御部２６を備える。記録パワー制御部２６は複数のＯＰＣ学習結果に近似する駆動電流制御信号を、最適パワー演算部２４の算出結果を基にして生成し、生成した駆動電流制御信号をレーザー駆動装置２７に出力する。
【０１００】
本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作は、実施の形態１の場合と同様である。
【０１０１】
（実施の形態１０）
図２１は本発明の実施の形態１０における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。図２１において、実施の形態１（図２）のと同じ符号は同一構成要素を指しており、それらについての詳しい説明は省略される。本実施の形態においては、光ディスクのＯＰＣ学習に際して、ＯＰＣ学習が実施されるディスク上の部位に指紋や傷などの表面不良（ディフェクト）が存在すか否かを検出するディフェクト検出部３９が追加される。
【０１０２】
ディフェクト検出部３９では光ヘッド２１に包含される光ディスク２０から反射されるレーザー光を検出するフォトディテクタ（図示省略）の出力が入力される。ディフェクト検出部３９は、フォトディテクタの出力レベルが所定値よりも減衰したことを検知すると、光ディスク２０上のレーザー光照射部位に指紋や傷などの表面不良があると判断する。ディフェクト検出部３９は、判断結果をＯＰＣ学習アドレス決定部２９に供給する。光ディスク２０上のレーザー光照射部位に表面不良があることがディフェクト検出部３９から報知されたＯＰＣ学習アドレス決定部２９はＯＰＣ学習位置変更命令を光ヘッド移動部２８に出力する。ＯＰＣ学習位置変更命令は、表面不良が存在しないディスク部位に光ヘッド２１を移動させることを指し示す。
【０１０３】
以下、本実施の形態の光ディスク記録制御装置の動作が、図２２−図２３のフローチャートが参照されて具体的に説明される。光ディスクへのデータの記録に先立ち、データ記録時に使用する最適記録パワーを算定するために、光ヘッド２１による記録位置が移動される（Ｓ１０ａ）。移動先は最内周のＰＣＡ領域のＯＰＣ学習を実施するトラック（好ましくはグルーブ部１１）に設定される。続いて、光ディスク２０上に出射するレーザー光のパワーを一定にした状態で、テスト記録を行う領域における表面不良の有無が確認される（Ｓ１０ｂ）。Ｓ１０ｂの処理において、テスト記録を行う領域に表面不良が検出された場合、ディフェクト検出部３９は、光ヘッド２１による記録位置を当該ＰＣＡ領域内の異なる位置に移動させる命令をＯＰＣ学習アドレス決定部２９と光ヘッド移動部２８とに発する。この命令を受けた光ヘッド移動部２８はＯＰＣ学習アドレス決定部２９が指定するＰＣＡ領域内の異なる部位（表面不良がないと推定される部位）に光ヘッド２１の記録位置を移動させる（Ｓ１０ｃ）。そのうえで、再びＳ１０ｂのステップが実行される。一方、Ｓ１０ｂにおいてテスト記録を行う領域に表面不良が検出されなかった場合、Ｓ１０ｃの処理が実施されることなくＯＰＣ学習が実施される（Ｓ１１）。ＯＰＣ学習（Ｓ１１）以降では、実施の形態１と同様の処理を行う。
【０１０４】
なお、Ｓ１０ａ−Ｓ１０ｃの処理は、中間部位（データ記録領域）および最外周部位でのＯＰＣ学習が実行されるステップ（Ｓ１３、Ｓ１６）の実行前に実行されてもよい。このときＳ１０ｃのステップでは、ＰＣＡ領域内を移動するのではなく、ＯＰＣ学習が実行されるトラックの近傍を移動するように設定される（図２２中のＳ１０ｄ）。
【０１０５】
本実施の形態によれば、データ記録に先立って実施されるＯＰＣ学習において、指紋や傷などの表面不良に起因してＲＦ信号レベルが異常になってＯＰＣ学習精度が著しく劣化する、あるいはＯＰＣ学習に失敗する等のエラーが発生することが、ＯＰＣ学習前に防止される。そのため、より高精度に最適記録パワーが決定された良質な記録が実現される。
【産業上の利用可能性】
【０１０６】
本発明の光ディスク記録制御装置は、高速対応の光ディスク記録制御装置において、レーザーダイオードの特性または光ディスクの特性を取得することが必要とされる制御等において有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク記録媒体の基板上の構造の一部を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態１における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図４Ａ】本発明の実施の形態１における現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図４Ｂ】本発明の実施の形態１における現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図５】本発明の実施の形態２における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態２における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態３における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態３における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態４における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態４における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の実施の形態５における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の実施の形態５における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の実施の形態６における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の実施の形態６における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図１５Ａ】本発明の実施の形態６における現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図１５Ｂ】本発明の実施の形態６における現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図１６】本発明の実施の形態７における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の実施の形態７における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図１８】本発明の実施の形態８における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図１９】本発明の実施の形態８における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図２０】本発明の実施の形態９における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図２１】本発明の実施の形態１０における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図２２】本発明の実施の形態１０における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図２３】本発明の実施の形態１０における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【図２４】記録型光ディスクの断面図である。
【図２５】記録型光ディスクの表面を示す斜視図である。
【図２６】記録型光ディスクのデータ構造図である。
【図２７Ａ】ＯＰＣ学習の最適パワーの算出の説明図である。
【図２７Ｂ】ＯＰＣ学習の最適パワーの算出の説明図である。
【図２７Ｃ】ＯＰＣ学習の最適パワーの算出の説明図である。
【図２８Ａ】従来の現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図２８Ｂ】従来の現アドレスの最適記録パワーの算出の説明図である。
【図２９】従来の技術における光ディスク記録制御装置の構成を示すブロック図である。
【図３０】従来の技術における光ディスク記録制御装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０８】
１１  グルーブ部
１２  ランド部
１３  ランドプリピット
１４  記録層
１５  反射層
１６  保護層
１７  データ記録ピット
１８  テスト記録ピット
２０  光ディスク
２１  光ヘッド（光信号処理回路）
２２  ＲＦ信号検出部
２３  ベータ値演算部
２４  最適パワー演算部
２５  記憶部
２６  記録パワー制御部（複数点線形補間部、最小二乗法線形補間部）
２７  レーザー駆動装置
２８  光ヘッド移動部
２９  ＯＰＣ学習アドレス決定部
３０  フォーカス・トラッキングサーボ部
３１  ランド・グルーブ判定部
３２  グルーブ記録パワー補正部
３３  ランド・グルーブ補正部
３４  ＲＦ信号レベル異常検出部
３５，３５ａ  ランド部学習アドレス補正部
３６  ベータ値異常検出部
３７  エラー監視部
３８  追記位置検出部
３９  ディフェクト検出部
【図１】
2007035237.tif 000003
【図２】
2007035237.tif 000004
【図３】
2007035237.tif 000005
【図４Ａ】
2007035237.tif 000006
【図４Ｂ】
2007035237.tif 000007
【図５】
2007035237.tif 000008
【図６】
2007035237.tif 000009
【図７】
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【図８】
2007035237.tif 000011
【図９】
2007035237.tif 000012
【図１０】
2007035237.tif 000013
【図１１】
2007035237.tif 000014
【図１２】
2007035237.tif 000015
【図１３】
2007035237.tif 000016
【図１４】
2007035237.tif 000017
【図１５Ａ】
2007035237.tif 000018
【図１５Ｂ】
2007035237.tif 000019
【図１６】
2007035237.tif 000020
【図１７】
2007035237.tif 000021
【図１８】
2007035237.tif 000022
【図１９】
2007035237.tif 000023
【図２０】
2007035237.tif 000024
【図２１】
2007035237.tif 000025
【図２２】
2007035237.tif 000026
【図２３】
2007035237.tif 000027
【図２４】
2007035237.tif 000028
【図２５】
2007035237.tif 000029
【図２６】
2007035237.tif 000030
【図２７Ａ】
2007035237.tif 000031
【図２７Ｂ】
2007035237.tif 000032
【図２７Ｃ】
2007035237.tif 000033
【図２８Ａ】
2007035237.tif 000034
【図２８Ｂ】
2007035237.tif 000035
【図２９】
2007035237.tif 000036
【図３０】
2007035237.tif 000037