(57)【要約】【課題】光コヒーレンストモグラフィー計測において、測定開始位置の調整を短時間かつ簡便に行う。【解決手段】制御手段７０は、測定対象Ｓの深さ方向の断層画像の取得を開始する測定開始位置を調整する測定開始位置調整モードと、測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える機能を有している。そして、制御手段７０は、画像取得モード時には干渉光検出手段４０および画像取得手段５０が第１光検出手段４４により検出された干渉光を検出するように制御し、測定開始位置調整モード時には第２光検出手段４４ａにより検出される、光路長調整手段２０における光路長の調整により測定対象の各深さ位置の異なる干渉光Ｌ４を検出するように制御する。【選択図】図１
2007101264.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置において、
低コヒーレンス光を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された前記低コヒーレンス光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された前記測定光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記光分割手段により分割された前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの前記反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の各深さ位置における前記測定光の反射強度を検出し前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、
前記測定対象の深さ方向について断層画像信号を得る位置に調整する測定開始位置調整モードと、前記測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える制御手段と
を有し、
前記干渉光検出手段が、前記干渉光を分光する分光手段と、前記画像取得モード時において該分光手段により分光された前記干渉光を波長帯域毎に検出する複数の光センサを備えた第１光検出手段と、前記開始位置調整モード時において前記分光手段により分光された全波長帯域のうち一部の波長帯域の前記干渉光を検出する第２光検出手段とを備えたものであり、
前記制御手段が、前記画像取得モード時には前記第１光検出手段により前記干渉光を検出するように前記干渉光検出手段を制御し、前記測定開始位置調整モード時には前記第２光検出手段により前記干渉光を検出するように前記干渉光検出手段を制御するものであることを特徴とする光断層画像化装置。
【請求項２】
制御手段が、前記測定開始位置調整モード時には、干渉信号発生領域内に参照光と測定光との光路長差が入るように前記光路長調整手段を制御するものであることを特徴とする光断層画像化装置。
【請求項３】
前記第２光検出手段が、前記第１光検出手段の前記複数の光センサの一部からなるものであることを特徴とする請求項１または２記載の光断層画像化装置。
【請求項４】
前記測定光と前記参照光との間に周波数差を与える位相変調手段をさらに有し、前記制御手段が、前記画像取得モード時に前記位相変調手段を駆動させるように制御するものであることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の光断層画像化装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）計測による光断層画像を取得する光断層画像化装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、体腔内の断層画像を取得する装置として超音波を用いた超音波断層画像取得装置等が知られているが、その他に低コヒーレンス光による光干渉を用いた光断層画像取得装置を用いることが提案されている（たとえば特許文献１参照）。特許文献１においては、ＴＤ−ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）計測により断層画像を取得するものであって、内視鏡の鉗子口から鉗子チャンネルを介して体腔内にプローブを挿入することにより測定光が体腔内に導波されるようになっている。
【０００３】
具体的には、光源から射出された低コヒーレンス光が測定光と参照光とに分割された後、測定光は測定対象に照射され、測定対象からの反射光が合波手段に導波される。一方、参照光は光路長の変更が施された後に合波手段に導波される。そして、合波手段により反射光と参照光とが合波され、合波されたことによる干渉光がヘテロダイン検波等により測定される。ここで、ＴＤ−ＯＣＴ計測は測定光と参照光との光路長が一致したときに干渉光が検出されることを利用した計測方法であり、参照光の光路長を変更することにより、測定対象に対する測定位置（測定深さ）が変更されるようになっている。
【０００４】
体腔内にプローブを挿入してＯＣＴ計測を行う場合、プローブを使用後に消毒・洗浄等する必要があるため、プローブは光断層画像化装置の本体に対し着脱可能に設けられている。つまり、光断層画像化装置に用いられるプローブは複数用意されており、測定毎にプローブを付け替えることができるようになっている。このとき各プローブには光ファイバの長さに製造誤差等による個体差があり、測定光側の光路長がプローブを替える度に変化してしまうという問題がある。そこで、特許文献１においては、プローブ内の光ファイバを被覆するチューブ（シース）の内壁面からの反射光を利用し参照光の光路長の調整して測定光と参照光との光路長を一致させるようになっている。
【０００５】
ところで、近年、干渉光を空間的あるいは時間的に分光することにより、特許文献１に示すような参照光の光路長を変更ことなく高速に断層画像を取得する方法が提案されている（たとえば特許文献２、３参照）。このうち、光源から射出される光の周波数を空間的に分光して干渉光を時間的に一括して検出を行うＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｏｕｒｃｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）装置が提案されている。ＳＤ−ＯＣＴ装置においては、マイケルソン型干渉計を用いて、光源から広帯域の低コヒーレンス光を射出して測定光と参照光とに分割した後、測定対象に測定光が照射されたときの反射光と参照光との干渉光を各周波数成分に分解したチャンネルドスペクトル信号をフーリエ解析することにより、深さ方向の走査を行わずに断層画像を取得するようになっている。
【特許文献１】特開２００３−１７２６９０号公報
【特許文献２】米国特許第５５６５９８６号明細書
【特許文献３】特開平１１−８２８１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このように、ＳＤ−ＯＣＴ計測においては周波数解析を行うことにより各深さ方向における反射情報を得ることができるため、測定光と参照光との光路長を一致させる必要はない。しかし、実際には光路長差が大きくなってしまうと空間周波数が拡大してしまうため、干渉光を検出するＣＣＤ等のフォトダイオードのサンプリング時間や最大空間周波数等により、検出された干渉光のＳ／Ｎが劣化してしまうという問題がある。よって、ＳＳ−ＯＣＴ計測においても、測定光と参照光との光路長が一致するように光路長の調整を行う必要がある。
【０００７】
さらに、ＳＤ−ＯＣＴ計測において測定可能（断層画像の取得可能）な深さ方向の測定可能領域は有限の限られた範囲であって、測定可能領域内に測定対象が位置されるように測定開始位置を調整するため、プローブと測定対象との距離に応じた参照光の光路長調整を行う必要がある。つまり、ＳＤ−ＯＣＴ計測においては、特許文献１のようなプローブの個体差を調整するための光路長の調整を行う他に、取得可能な範囲内に測定対象が位置決めするための測定開始位置の調整を行う必要がある。
【０００８】
ここで、ＴＤ−ＯＣＴ計測においては参照光の光路長を調整することにより測定する深さを変更するものであるため、干渉光のビート信号測定やインターフェログラム測定等による信号強度や信号波形を観測しながら光路長の調整を行うことにより測定可能領域の調整を行うことができる。しかし、ＳＤ−ＯＣＴ計測においては検出した干渉光に対しフーリエ変換処理等の周波数解析処理を施さなければ各深さ位置における反射情報を得ることができないため、測定対象の位置を確認し測定開始位置を調整する際にも周波数解析処理が必要となり、測定開始位置の調整に時間が掛かってしまうという問題がある。
【０００９】
そこで、本発明は、測定開始位置の調整を短時間で行うことができる光断層画像化装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光断層画像化装置は、測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置において、低コヒーレンス光を射出する光源ユニットと、光源ユニットから射出された低コヒーレンス光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、光分割手段により分割された測定光または参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、光分割手段により分割された測定光が測定対象に照射されたときの測定対象からの反射光と参照光とを合波する合波手段と、合波手段により合波された反射光と参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、干渉光検出手段により検出された干渉光を周波数解析することにより測定対象の各深さ位置における測定光の反射強度を検出し測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、測定対象の深さ方向について断層画像信号を得る位置に調整する測定開始位置調整モードと、測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える制御手段とを有し、干渉光検出手段が、干渉光を分光する分光手段と、画像取得モード時において分光手段により分光された干渉光を波長帯域毎に検出する複数の光センサを備えた第１光検出手段と、開始位置調整モード時において分光手段により分光された全波長帯域のうち一部の波長帯域の干渉光を検出する第２光検出手段とを備えたものであり、制御手段が、画像取得モード時には第１光検出手段により干渉光を検出するように干渉光検出手段を制御し、測定開始位置調整モード時には第２光検出手段により干渉光を検出するように干渉光検出手段を制御するものであることを特徴とするものである。
【００１１】
なお、第２光検出手段は全波長帯域のうち一部の波長帯域の干渉光を検出するものであればその構成は問わず、第１光検出手段の他に別途第２検出手段を設けるようにしても良いし、第１光検出手段の複数の光センサの一部からなるものであってもよい。
【００１２】
また、制御手段は、上述のように各モードに応じて干渉光検出手段を制御する機能を有する他に、測定開始位置調整モード時には干渉信号発生領域内に参照光と測定光との光路長差が入るように光路長調整手段を自動的に制御するものであってもよい。ここで、「干渉光発生領域」とは、測定光と参照光の光路差がコヒーレンス長未満となり干渉が起こる領域をいう。
【００１３】
さらに、測定開始位置調整モード時において、干渉光検出手段は、第２低コヒーレンス光による干渉光をインターフェログラムとして検出してもよいし、ビート信号として検出しても良い。干渉光検出手段がビート信号として検出する場合、測定光と参照光との間に周波数差を与える位相変調手段が設けられており、制御手段は、画像取得モード時に位相変調手段を駆動するようになる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明の光断層画像化装置によれば、干渉光検出手段が、干渉光を分光する分光手段と、画像取得モード時において分光手段により分光された干渉光を波長帯域毎に検出する複数の光センサを備えた第１光検出手段と、開始位置調整モード時において分光手段により分光された全波長帯域のうち一部の波長帯域の干渉光を検出する第２光検出手段とを備えたものであり、制御手段が、画像取得モード時には第１光検出手段により干渉光を検出するように干渉光検出手段を制御し、測定開始位置調整モード時には第２光検出手段により干渉光を検出するように干渉光検出手段を制御することにより、測定開始位置調整モード時において断層画像の取得する際の測定開始位置を設定するとき、第２光検出手段において検出された干渉光を用いていわゆるＴＤ−ＯＣＴ計測により断層画像の取得を行い測定対象の位置を特定するため、測定開始位置を検出するための干渉光への信号処理時間の短縮を図ることができ、測定開始位置の調整を短時間に行うことができる。
【００１５】
なお、制御手段が、測定開始位置調整モード時には干渉信号発生領域内に参照光と測定光との光路長差が入るように光路長調整手段を制御すれば、光路長の調整を自動的に行うことができるため、効率よく断層画像信号の取得および位置調整を確実に行うことができる。
【００１６】
なお、第２光検出手段が第１光検出手段の複数の光センサの一部からなるものであれば、第２光検出手段を別途設ける必要がなく、装置の簡略化を図ることができる。
【００１７】
また、測定光と参照光との間に周波数差を与える位相変調手段をさらに有し、制御手段が、画像取得モード時に位相変調手段を駆動させるものであれば、測定開始位置調整モードにおいて干渉光検出手段は干渉光を差周波数で強弱を繰り返すビート信号として検出することができるため、測定開始位置の調整に掛かる時間の短縮をさらに図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を参照して本発明の光断層画像化装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の光断層画像化装置の好ましい実施の形態を示す模式図である。光断層画像化装置１は、たとえば体腔内の生体組織や細胞等の測定対象の断層画像をＳＤ−ＯＣＴ計測により取得するものであって、低コヒーレンス光Ｌを射出する光源ユニット１０と、光源ユニット１０から射出された低コヒーレンス光Ｌを測定光Ｌ１と参照光Ｌ２とに分割する光分割手段３と、光分割手段３により分割された参照光Ｌ２の光路長を調整する光路長調整手段２０と、光分割手段３により分割された測定光Ｌ１を測定対象Ｓまで導波するプローブ３０と、プローブ３０から測定光Ｌ１が測定対象Ｓに照射されたときの測定対象からの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２とを合波する合波手段４と、合波手段４により合波された反射光Ｌ３と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ４を検出する干渉光検出手段４０と、干渉光検出手段４０により検出された干渉光Ｌ４を周波数解析することにより測定対象の各深さ位置における干渉光Ｌ４の強度を検出し測定対象Ｓの断層画像を取得する画像取得手段５０とを有している。
【００１９】
光源ユニット１０は、たとえばＳＬＤ（Super Luminescent Diode）やＡＳＥ（Amplified Spontaneous Emission）等の低コヒーレント光を射出する光源１１と、光源１１から射出された光を光ファイバＦＢ１内に入射するための光学系１２とを有している。なお、光断層画像化装置１は体腔内の生体を測定対象Ｓとしたときの断層画像を取得するものであるため、測定対象Ｓ内を透過するときの散乱・吸収による光の減衰を最小限に抑えることができる、たとえば広スペクトル帯域の超短パルス光源ユニット等を用いるのが好ましい。
【００２０】
光分割手段３は、たとえば２×２の光ファイバカプラからなっており、光源ユニット１０から光ファイバＦＢ１を介して導波された低コヒーレンス光Ｌを測定光Ｌ１と参照光Ｌ２に分割するようになっている。光分割手段３は、２つの光ファイバＦＢ２、ＦＢ３にそれぞれ光学的に接続されており、測定光Ｌ１は光ファイバＦＢ２側により導波され、参照光Ｌ２は光ファイバＦＢ３側に導波される。なお、図１においては光分割手段３は合波手段４としても機能するものである。
【００２１】
光ファイバＦＢ２にはプローブ３０が光学的に接続されており、測定光Ｌ１は光ファイバＦＢ２からプローブ３０へ導波されるようになっている。プローブ３０は、たとえば鉗子口から鉗子チャンネルを介して体腔内に挿入されるものであって、光学コネクタＯＣにより光ファイバＦＢ２に対し着脱可能に取り付けられている。
【００２２】
一方、光ファイバＦＢ３における参照光Ｌ２の射出側には光路長調整手段２０が配置されている。光路長調整手段２０は、測定対象Ｓに対する測定開始位置を調整するために、参照光Ｌ２の光路長を変えるものであって、コリメータレンズ２１および反射ミラー２２を有している。そして、光ファイバＦＢ３から射出した参照光Ｌ２はコリメータレンズ２１を透過した後反射ミラー２２により反射され、再びコリメータレンズ２１を介して光ファイバＦＢ３に入射される。
【００２３】
ここで、反射ミラー２２は基台２３上に配置されており、基台２３はミラー移動手段２４により矢印Ａ方向に移動可能に設けられている。そして基台２３が矢印Ａ方向に移動することにより、参照光Ｌ２の光路長が変更するようになっている。
【００２４】
合波手段４は、２×２の光ファイバカプラからなり、光路長調整手段２０により周波数シフトおよび光路長の変更が施された参照光Ｌ２と測定対象Ｓからの反射光Ｌ３とを合波し光ファイバＦＢ４を介して干渉光検出手段４０側に射出するようになっている。
【００２５】
干渉光検出手段４０は、合波手段４により合波された反射光Ｌ３と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ４を検出するものであって、一定の波長帯域を有する干渉光Ｌ４を各波長帯域毎に分光する分光手段４２と、分光手段４２により分光された干渉光Ｌ４の各波長毎の光量を検出する第１光検出手段４４と、第１光検出手段４４と分光手段４２との間に配置された、分光手段４２により分光された干渉光Ｌ４を第１光検出手段４４上に結像する光学レンズ４３とを有している。
【００２６】
分光手段４２はたとえば回折格子素子等により構成されており、光ファイバＦＢ４からコリメータレンズ４１を介して入射される干渉光Ｌ４を分光し、第１光検出手段４４側に射出するようになっている。光学レンズ４３は分光手段４２により分光された干渉光Ｌ４を第１光検出手段４４上に集光するものである。第１光検出手段４４は、たとえば１次元もしくは２次元のＣＣＤやフォトダイオード等の複数の光センサを配列した構造を有し、各光センサが光学レンズ４３を介して入射される干渉光Ｌ４を波長帯域毎にそれぞれ検出するようになっている。
【００２７】
画像取得手段５０は干渉光検出手段４０において検出された干渉光Ｌ４を周波数解析することにより深さ位置における測定光Ｌ１の反射情報を取得するようになっている。画像取得手段５０は、各深さ位置における反射光Ｌ３の強度を用いて測定対象Ｓの断層画像を取得し、この断層画像が表示装置６０において表示されるようになっている。
【００２８】
ここで、干渉光検出手段４０および画像取得手段５０における干渉光Ｌ４の検出および画像の生成について簡単に説明する。なお、詳細については「武田  光夫、「光周波数走査スペクトル干渉顕微鏡」、光技術コンタクト、２００３、Ｖｏｌ４１、Ｎｏ７、ｐ４２６−ｐ４３２」に記載されている。
【００２９】
スペクトル強度分布Ｓ（ｋ）を持つ測定光Ｌ１が測定対象Ｓに照射されたとき、それぞれのスペクトル成分による干渉光縞強度を重ね合わせたインターフェログラムとして干渉光検出手段４０において検出される光強度Ｉ（ｋ）は、
Ｉ（ｌ）＝∫０∞Ｓ（ｋ）［１＋ｃｏｓ（ｋｌ）］ｄｋ  ・・・（１）
で表される。ここで、ｋは角周波数、ｌは測定光Ｌ１と参照光Ｌ２との光路長差である。式（１）は各分光成分のスペクトル強度分布Ｓ（ｋ）が干渉縞Ｉ（ｌ）の中に干渉縞の角周波数ｋの成分がどれだけ含まれるかを表すものである。また、干渉縞の角周波数ｋから測定光Ｌ１と参照光Ｌ２との光路長差、すなわち測定する深さ位置の情報が与えられる。このため、画像取得手段５０において、干渉光検出手段４０が検出したインターフェログラムをフーリエ変換による周波数解析を行い、干渉光Ｌ４の分光スペクトルＳ（ｋ）を求めることができる。そして、測定対象Ｓの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成するようになっている。そして生成された断層画像は、表示装置６０において表示される。
【００３０】
次に、図１を参照して光断層画像化装置１の動作例について説明する。まず、基台２３が矢印Ａ方向に移動することにより、測定可能領域内に測定対象Ｓが位置するように光路長の調整が行われる。その後、光源ユニット１０から低コヒーレンス光Ｌが射出され、低コヒーレンス光Ｌは光分割手段３により測定光Ｌ１と参照光Ｌ２とに分割される。測定光Ｌ１はプローブ３０により体腔内に導波され測定対象Ｓに照射される。そして、測定対象Ｓからの反射光Ｌ３が反射ミラー２２において反射した参照光Ｌ２と合波され、反射光Ｌ３と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ４が干渉光検出手段４０により検出される。この検出された干渉光Ｌ４の信号が画像取得手段５０において周波数解析されることにより断層画像が取得される。このように、ＳＤ−ＯＣＴ計測により断層画像を取得する光断層画像化装置１においては、干渉光Ｌ４の周波数および光強度に基づいて各深さ位置における画像情報を取得するようになっており、反射ミラー２２の矢印Ａ方向の移動は測定開始位置の調整に用いられる。
【００３１】
ここで、反射ミラー２２を矢印Ａ方向へ移動させながら干渉光Ｌ４を測定開始位置の調整を行う場合、反射ミラー２２の位置を移動させた後、その反射ミラー２２の位置における干渉光Ｌ４の検出とともに周波数解析等の信号処理を行い、再び反射ミラー２２の位置を調整するという行程が必要となる。つまり、反射ミラー２２を移動させたときにどのような干渉光Ｌ４が検出されるかは信号処理を行うまではわからず、測定開始位置の調整に時間が掛かってしまうという問題がある。
【００３２】
そこで、図１の光断層画像化装置１には、測定対象Ｓの深さ方向について断層画像信号を得る位置に調整する測定開始位置調整モードと、測定対象Ｓの断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える制御手段７０が設けられており、測定開始位置調整モードにおいて測定開始位置が調整された後に画像取得モードに切り替え、断層画像の取得が行われるようになっている。
【００３３】
ここで、光ファイバＦＢ３には参照光Ｌ２の周波数をシフトさせるピエゾ素子等の位相変調手段２５が設けられており、制御手段７０は、測定開始位置調整モード時にこの位相変調手段２５を駆動する。そして、制御手段７０は、光源ユニット１０から射出された低コヒーレンス光Ｌを用いて、反射ミラー２２の移動により測定する深さ方向の変わるＴＤ−ＯＣＴ計測を行うように干渉光検出手段４０を制御する。このとき、第１光検出手段４４の複数の光センサのうち、たとえば中央に配置された光センサ４４ａが第２光検出手段として機能するようになっており、この光センサ４４ａにより検出された干渉光Ｌ４を用いて画像取得手段５０により断層画像が取得される。
【００３４】
つまり、制御手段７０は、光センサ４４ａおよび画像取得手段５０が干渉光Ｌ４をヘテロダイン検波するように制御する。そして光源ユニット１０から射出した低コヒーレンス光Ｌは光分割手段３により測定光Ｌ１と参照光Ｌ２とに分割され、測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２とが合波手段４により合波され干渉光Ｌ４が発生する。このとき、光路長調整手段２０における反射ミラー２２が矢印Ａ方向に走査し参照光Ｌ２の光路長が変化する。
【００３５】
干渉光検出手段４０の光センサ４４ａにおいて、測定光Ｌ１と参照光Ｌ２との光路長と等しいときに、参照光Ｌ２と反射光Ｌ３との差周波数で強弱を繰り返すビート信号が干渉光Ｌ４として検出される。光路長調整手段２０により光路長が変更されていくにつれて、測定光と参照光の光路差が変化していき、測定光と参照光の光路長が一致した位置で第２検出手段４４ａはビート信号を検出する。そのため光路長調整手段２０における反射ミラー２２の位置を調整することにより、測定開始位置の調整が行われる。
【００３６】
このとき、光路長調整手段２０において制御手段７０により自動的に光路長の調整が行われるようにしても良い。このとき、測定開始位置調整モード時には、光路長調整手段２０を干渉信号発生領域内に参照光Ｌ２と測定光Ｌ１との光路長差が入るように制御されるようになる。ここで、干渉光発生領域とは、測定光Ｌ１と参照光Ｌ２の光路差Δｌがコヒーレンス長未満となるような干渉が起こる領域をいう。
【００３７】
測定開始位置の調整が終了した後、制御手段７０は測定開始位置調整モードから画像取得モードに切り替え、断層画像の取得を行う。このとき、制御手段７０は、光源ユニット１０から波長変動する低コヒーレンス光Ｌが射出されるように制御するとともに、干渉光検出手段４０および画像取得手段５０が上述した各深さ位置の反射情報が重畳した干渉光Ｌ４を検出するように制御する。そして、画像取得手段５０が干渉光検出手段４０により検出された干渉光Ｌ４に基づいて断層画像を取得する。
【００３８】
断層画像の取得に反射ミラー２２を動かす必要のないＳＤ−ＯＣＴ計測はＴＤ−ＯＣＴ計測よりも高速に断層画像を取得することができるが、ＴＤ−ＯＣＴ計測はＳＤ−ＯＣＴ計測は測定可能領域を広いという特徴を有している。一方、測定開始位置を調整する際に取得する断層画像は高分解能である必要はない。そこで、測定開始位置調整モードにおいては、ＳＤ−ＯＣＴ計測により断層画像を取得する一方、ＴＤ−ＯＣＴ計測により測定対象を検出し光路長の調整を行う。これにより、測定対象Ｓが断層画像内に映し出しやすくなるとともに信号処理の短縮化を図り、光路長の調整を迅速かつ簡便に行うことができる。
【００３９】
図２は本発明の光断層画像化装置の第２の実施形態を示す模式図であり、図２を参照して光断層画像化装置１００について説明する。なお、図２の光断層画像化装置１００において図１の光断層画像化装置１と同一の構成を有する部位には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００４０】
図２の光断層画像化装置１００が図１の光断層画像化装置１と異なる点は、第２光検出手段の構成である。すなわち、図２において、第２光検出手段１４４は、第１光検出手段４４とは別に設けられており、測定位置調整モード時には第２光検出手段１４４により検出された干渉光Ｌ４に基づいたＴＤ−ＯＣＴ計測が行われる。ここで、第２光検出手段１４４に干渉光Ｌ４を導波するために、コリメータレンズ４１を透過した干渉光Ｌ４を第２光検出手段１４４側に反射するミラー１４１と、ミラー１４１により反射された干渉光Ｌ４を光検出手段１４４に集光する集光レンズ１４２とが配置されている。そして、制御手段７０は、位置調整モード時のみコリメータレンズ４１と分光手段４２との間にミラー１４１を挿入し、画像取得モード時にはミラー１４１を取り外すように制御する。
【００４１】
この場合であっても、測定開始位置調整モードにおいてはＴＤ−ＯＣＴ計測により測定対象を検出し光路長の調整を行い、信号処理の短縮化を図り、光路長の調整を迅速かつ簡便に行うことができる。
【００４２】
なお、上記実施の形態において、画像取得モード時と位置調整モード時とにおいて同一の波長帯域を有する低コヒーレンス光Ｌを用いているが、図３に示すように、位置調整モード時のみバンドパスフィルタを設け、低コヒーレンス光Ｌの波長帯域を狭くするようにしてもよい。
【００４３】
また、上記実施の形態の測定開始位置調整モードにおいて、低コヒーレンス光Ｌによる干渉光Ｌ４をビート信号として検出するようにしているが、図４に示すように、参照光Ｌ２の光路中（たとえば光ファイバＦＢ３）に位相変調手段２５を設けず、干渉光Ｌ４をインターフェログラムとして検出するようにしても良い。
【００４４】
さらに、図１において、光路長調整手段２０は参照光Ｌ２側の光路長を調整する場合について例示しているが、測定光Ｌ１側の光路長を調整するものであってもよい。この場合、たとえば図１の測定光Ｌ１を導波する光ファイバＦＢ２中に上述した光路長調整手段２０を介在させることになる。一方、光ファイバＦＢ３側においては固定されたミラーを配置するようにする。
【００４５】
上記実施の形態によれば、干渉光検出手段４０が、干渉光Ｌ４を分光する分光手段４２と、画像取得モード時において分光手段４２により分光された干渉光を波長帯域毎に検出する複数の光センサを備えた第１光検出手段４０と、開始位置調整モード時において分光手段４２により分光された全波長帯域のうち一部の波長帯域の干渉光Ｌ４を検出する第２光検出手段４４ａ、１４４とを備えたものであり、制御手段７０が、画像取得モード時には干渉光検出手段４０および画像取得手段５０が第１光検出手段４４により検出された干渉光を検出するように制御し、測定開始位置調整モード時には第２光検出手段４４ａにより検出される、光路長調整手段２０における光路長の調整により測定対象の各深さ位置の異なる干渉光Ｌ４を検出するように制御することにより、測定開始位置調整モード時において断層画像の取得する際の測定開始位置を設定するとき、第２光検出手段４４ａにおいて検出された干渉光Ｌ４を用いていわゆるＴＤ−ＯＣＴ計測により断層画像の取得を行い測定対象の位置を特定するため、測定開始位置を検出するための干渉光への信号処理時間の短縮を図ることができ、測定開始位置の調整を短時間に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の光断層画像化装置の好ましい実施の形態を示す模式図
【図２】本発明の光断層画像化装置の第２の実施の形態を示す模式図
【図３】本発明の光断層画像化装置の別の実施の形態を示す模式図
【図４】本発明の光断層画像化装置の別の実施の形態を示す模式図
【符号の説明】
【００４７】
１、１００     光断層画像化装置
３     光分割手段
４     合波手段
１０   光源ユニット
２０   光路長調整手段
２５   位相変調手段
３０   プローブ
４０   干渉光検出手段
４４ａ 光センサ（第２検出手段）
５０   画像取得手段
７０   制御手段
１４４ 第２光検出手段
Ｌ     低コヒーレンス光
Ｌ１   測定光
Ｌ２   参照光
Ｌ３   反射光
Ｌ４   干渉光
【図１】
2007101264.tif 000003
【図２】
2007101264.tif 000004
【図３】
2007101264.tif 000005
【図４】
2007101264.tif 000006