(57)【要約】【課題】ディスクに検査のために与えた光学的特性の変化の付与による影響を、光学的特性の変化前から存在する欠陥による光学的な影響から分離して計測する。【解決手段】情報記録トラックを、所定の誤り率以上の特性を有する事前検査トラック２１ａ、２１ｂ、２１ｃと所定の誤り率以下の特性を有する事前検査トラック２１ｄ、２１ｅ、２１ｆに分類し、上記事前検査トラック２１ｄ、２１ｅ、２１ｆに挟まれた非事前検査トラック２２ｄ、２２ｅを被検査トラックとして用いて、ディスクの記録再生特性を評価する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することによりディスクの特性を検査するディスク検査装置において、
ディスク上の欠陥の検出のための第１のテスト信号を発生する記録信号発生手段と、
ディスク上に上記第１のテスト信号を間欠的に記録して上記第１のテスト信号が記録されたトラックと上記第１のテスト信号が記録されないトラックとが径方向に交互に配置されるように、上記第１のテスト信号を記録すべきトラックを選択するトラック選択手段と、
上記記録信号発生手段で発生された上記第１のテスト信号を上記トラック選択手段で選択されたトラックに記録し、上記記録した信号を再生する記録再生手段と、
上記再生の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥による光学的な影響を評価する再生信号評価手段と、
上記再生信号評価手段における評価の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接するトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する上記欠陥による光学的な影響の程度を推定し、上記における推定の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のトラックの中から、ディスクの表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のために使用するトラックを、上記トラック選択手段に選択させる制御手段と
を有するディスク検査装置。
【請求項２】
上記制御手段は、
第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックの双方について、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥の影響が基準値以下である場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥の影響が許容量以下であると推定し、
上記第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックのいずれか一方について、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥の影響が基準値を超える場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥の影響が許容量を超えると推定する
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク検査装置。
【請求項３】
上記記録再生手段は、少なくとも上記選択された被検査トラックに対して、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、
上記再生信号評価手段は、上記選択されたトラックからの上記第２のテスト信号の再生結果に基づいて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査する
ことを特徴とする請求項１に記載のディスク検査装置。
【請求項４】
上記記録再生手段は、上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、
上記制御手段は、上記再生信号評価手段に、記録再生手段による再生信号のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生信号に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価させることを特徴とする請求項３に記載のディスク検査装置。
【請求項５】
上記再生信号評価手段は、
選択されたトラックの各々についての上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化についての検査の結果を、すべての選択されたトラックについて総合評価することにより、ディスク全体について上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の評価を行うことを特徴とする請求項３又は４に記載のディスク検査装置。
【請求項６】
上記トラック選択手段は、
上記第１のテスト信号を記録するトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが１周毎に交互に配置されるように、上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載のディスク検査装置。
【請求項７】
上記トラック選択手段は、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが３周以上連続するように上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載のディスク検査装置。
【請求項８】
上記トラック選択手段は、
上記第１のテスト信号を記録するトラックが３周以上連続するように上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載のディスク検査装置。
【請求項９】
上記ディスクが光学式記録媒体であることを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載のディスク検査装置。
【請求項１０】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することによりディスク上の欠陥による影響が検査されたディスクにおいて、
ディスク上に、上記欠陥の影響を測定するための第１のテスト信号を間欠的に記録することにより上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが交互に配置され、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生しディスクの欠陥の影響を評価することにより、上記第１のテスト信号を記録したトラックにディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録前から上記ディスクが有する欠陥の影響を推定し、この推定結果に基づいて、表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査に用いられる被検査トラックが選択されたディスク。
【請求項１１】
上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録前から上記ディスクが有する欠陥の影響を、該第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおけるおいて、上記第１のテスト信号の記録前から上記ディスクが有する欠陥の影響に基づいて、推定したことを特徴とする請求項１０に記載のディスク。
【請求項１２】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することにより表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査したディスクにおいて、
ディスク上に、欠陥の影響を測定するための第１のテスト信号を間欠的に記録することにより上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが交互に配置され、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生しディスクが上記第１のテスト信号の記録前から有する欠陥の影響を評価することにより、上記第１のテスト信号を記録したトラックにディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおいて上記ディスクが上記第１のテスト信号の記録前から有する欠陥の影響を推定し、この推定結果に基づいて、表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査に用いられる被検査トラックが選択され、
選択された被検査トラックに第２のテスト信号を記録し、再生し、この再生信号を用いて、表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化が評価されたディスク。
【請求項１３】
上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおいて上記ディスクが上記第１のテスト信号の記録前から有する欠陥の影響を、該第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおいて上記ディスクが上記第１のテスト信号の記録前から有する欠陥の影響に基づいて、推定したことを特徴とする請求項１２に記載のディスク。
【請求項１４】
上記第１のテスト信号を記録するトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックを１周毎に交互に配置したことを特徴とする請求項１０乃至１３のいずれかに記載のディスク。
【請求項１５】
上記第１のテスト信号を記録しないトラックが３周以上連続して配置されたことを特徴とする請求項１０乃至１３のいずれかに記載のディスク。
【請求項１６】
上記第１のテスト信号を記録したトラックが３周以上連続して配置されたことを特徴とする請求項１０乃至１３のいずれかに記載のディスク。
【請求項１７】
上記ディスクは光学式情報記録媒体であることを特徴とする請求項１０乃至１６のいずれかに記載のディスク。
【請求項１８】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域が、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による影響が検出されたトラック及びこれにディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第１のテスト信号の間欠的な記録が、上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われ、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行い、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択し、
少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価する
検査方法によって、
表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査の結果、満足できるとの判定を受けた被検査ディスクと同じ条件で製造されたディスク。
【請求項１９】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域が、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による影響が検出されたトラック及びこれにディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第１のテスト信号の間欠的な記録が、上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われ、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行い、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択し、
少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価する
検査方法によって、
表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査の結果、満足できるとの判定を受けた被検査ディスクが製造されたのと同じ条件でディスクを製造する方法。
【請求項２０】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域が、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による影響が検出されたトラック及びこれにディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第１のテスト信号の間欠的な記録が、上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われ、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行い、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択し、
少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価する
検査方法によって、
表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査の結果、満足できるとの判定を受けた製造条件で製造されたディスク。
【請求項２１】
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥より光学的な影響を受ける領域が、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による影響が検出されたトラック及びこれにディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第１のテスト信号の間欠的な記録が、上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われ、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが、上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行い、
上記ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥の影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択し、
少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査し、
上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価する
検査方法によって、
表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査の結果、満足できるとの判定を受けた製造条件でディスクを製造する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、情報記録用のディスクが有する特性を検査するためのディスク検査方法、ディスク検査装置及びディスクに係わるもので、特に製造後のディスクを意図的に（検査のために）光学的特性を変化させ（例えば汚れ、傷を付与し）、その変化に対する耐性（光学的特性の変化の付与による再生特性の変化）を検査するに当たり、変化（光学的特性の変化）を与える前からディスクが有していた欠陥による影響を除去することができるディスク検査方法、ディスク検査装置、及び検査対象としてのディスク、並びに検査の結果を利用した製造方法、及び該製造方法で製造されたディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成された光ディスクや磁気ディスク等の情報記録媒体の検査として、情報記録媒体に所定の信号を記録した後、その信号を再生して誤りの程度や再生信号の品質を調べる記録再生検査が行われている。また、情報記録媒体の全面を検査するのではなく検査トラックを適切に選択することにより、検査時間を短縮することも知られている。このような技術を開示したものとして、例えば、下記の特許文献１がある。
【０００３】
【特許文献１】特開平６−２３１４９１号公報（第１〜５項、段落００１１、００１６、図１〜４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら上記のような従来の方法では、情報記録媒体の状態を意図的に変化させ
(検査のために光学的特性を変化させ）、その影響を定量的に評価するといった検査を行う場合に、観測結果が情報記録媒体の状態を変化させる前から（光学的特性を変化させる前から）存在していた欠陥による影響を反映したものか、意図的に与えた変化（検査のために与えた光学的特性の変化）を反映したものかを区別することができないため、正しい評価が行えないという問題点があった。
【０００５】
この発明は上述のような課題を解決するためになされたもので、情報記録媒体が意図的な変化（検査のための光学的特性の変化）の付与前から有する欠陥の影響を受けることなく、意図的に付与された変化（検査のために付与された光学的特性の変化）の影響のみを評価することができる検査方法、検査装置、及びその検査の対象としてディスク、並びに検査の結果を利用した製造方法及び該製造方法により製造されたディスクを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係るディスク検査装置は、
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することによりディスクの特性を検査するディスク検査装置において、
ディスク上の欠陥の検出のための第１のテスト信号を発生する記録信号発生手段と、
ディスク上に上記第１のテスト信号を間欠的に記録して上記第１のテスト信号が記録されたトラックと上記第１のテスト信号が記録されないトラックとが径方向に交互に配置されるように、上記第１のテスト信号を記録すべきトラックを選択するトラック選択手段と、
上記記録信号発生手段で発生された上記第１のテスト信号を上記トラック選択手段で選択されたトラックに記録し、上記記録した信号を再生する記録再生手段と、
上記再生の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する欠陥による光学的な影響を評価する再生信号評価手段と、
上記再生信号評価手段における評価の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接するトラックにおいて、上記第１のテスト信号の記録の前から上記ディスクが有する上記欠陥による光学的な影響の程度を推定し、上記における推定の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のトラックの中から、ディスクの表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のために使用するトラックを、上記トラック選択手段に選択させる制御手段と
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
このようなディスク検査装置によれば、ディスクに対して検査のために与えた光学的特性の変化による記録再生特性の変動分のみを正確に評価することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下ディスクが光ディスクである場合について説明する。しかし、本発明は、光ディスク以外のディスクにも適用可能である。
また情報記録トラックがスパイラル状に形成されたものについて説明する。しかし本発明は、情報記録トラックが同心円状に形成されたディスクにも適用可能である。
【０００９】
実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１における光ディスクの概略図、図２は図１における光ディスク上の記録領域の一部を拡大して示す概略拡大図、図３はこの発明の実施の形態１におけるディスク検査装置の概略図、図４及び図５はディスク検査方法の手順を示すためのフローチャートである。
【００１０】
以下、本発明の実施の形態１について図を用いて説明する。図１及び図２において、光ディスク１１には、トラック１４がスパイラル状に形成されている。スパイラル状に形成されたトラック１４は連続したものであるが、１周分を「１トラック」と呼ぶこともある。一方、長さを意識せず、１周の一部、又は１周よりも長い部分例えばディスク全体に及ぶ部分を「トラック」と言うこともある。さらに、同じ性質乃至特徴を有する一続きの部分を「トラック」と言うこともある。後述の「事前検査トラック」、「非事前検査トラック」、「被検査トラック」、「第１のテスト信号を記録するトラック」などにおける「トラック」はそのような意味で用いられている。
【００１１】
１周分のトラックは複数のセクタに分かれ、複数のセクタで１ＥＣＣ（誤り訂正符号）ブロックが形成される。
【００１２】
本発明では、トラックの一部に第１のテスト信号が記録され、トラックの他の部分に第２のテスト信号が記録される。
第１のテスト信号は、ディスクの製造中に生じた欠陥を検査するために記録される。第２のテスト信号は、完成したディスクに対して指紋の付着、傷付けなどにより、意図的に変化を与え（検査のために光学的特性の変化を与え）、そのような変化に対する耐性（光学的特性の変化の付与による再生特性の変化）を検査するために記録される。
【００１３】
第１のテスト信号と第２のテスト信号は互いに役割が異なり、第１のテスト信号は、欠陥の検出に適したものである必要があり、第２のテスト信号は上記した意図的な変化に対する耐性（検査のための光学的特性の変化の付与による再生特性の変化）を検査するのに適したものである必要があるが、第１のテスト信号と第２のテスト信号は同じ内容のものであっても良い。
【００１４】
本実施の形態では、ディスク上に第１のテスト信号が間欠的に記録される。図１に示す例では、１周おきのトラック１２（太い線で示されている）に第１のテスト信号が記録され、トラック１２に挟まれるトラック１３（細い線で示されている）には第１のテスト信号が記録されない。その結果、第１のテスト信号が記録される一続きのトラック１２と第２のテスト信号が記録されない一続きのトラックとがそれぞれ１周分の長さを有し、１周毎に交互に配置されている。以下、第１のテスト信号を記録するトラックを「事前検査トラック」と言い、第１のテスト信号を記録しないトラックを「非事前検査トラック」と言う。
【００１５】
通常、第１のテスト信号及び第２のテスト信号はそれぞれランダム信号で構成され、誤り訂正符号が付加される。この場合、第１のテスト信号及び第２のテスト信号はＥＣＣブロック単位で記録され、従ってテスト信号が記録される一続きのトラックの長さは、１ＥＣＣブロックを構成する長さ又はその整数倍である。
図１では、図示及び説明の簡略化のため、１ＥＣＣブロック又はその整数倍が１トラック（１周分）に一致するものと仮定している。１ＥＣＣブロック又はその整数倍が１トラック（１周分）に一致しない場合には、第１のテスト信号を記録する一続きのトラック及び第１のテスト信号を記録しない一続きのトラックは１トラック（１周分）よりも長くされる。
【００１６】
図２は、ディスクの製造中に形成された欠陥２３、言換えると、意図的な変化（検査のための光学的特性の変化）の付与前にすでに存在する欠陥２３の一例を示す。
図２では、図１の事前検査トラック１２に相当するトラックが符号２１ａ〜２１ｆで示され、図１の非事前検査トラック１３に相当するトラックが符号２２ａ〜２２ｅで示されている。
事前検査トラックトラック２１ａ〜２１ｆと、非事前検査トラック２２ａ〜２２ｅは交互に配置されている。図示の例の欠陥２３は、事前検査トラック２１ｂ、２１ｃ、非事前検査トラック２２ａ、２２ｂ、２２ｃの５本のトラックにまたがって存在している。
【００１７】
ディスクからの再生信号は、付着物、傷などによる影響のみならず、図２に示す欠陥２３の影響をも受けるが、本発明は、付着物、傷などに対する耐性（付着物、傷などによる再生特性の変化）を検査するに当たり、図２に示すような欠陥２３による影響を排除し、付着物、傷などによる影響のみを評価する。
そのため、付着物、傷などの変化（光学的特性の変化）を与える前に、ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、ディスクが上記変化
(光学的特性の変化)の付与前から有する欠陥２３の影響を受ける領域（欠陥２３により光学的影響を受ける領域）を検出し、該欠陥２３の影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記変化に対する耐性（光学的特性の変化の付与による再生特性の変化)を検査する。この「欠陥の影響を受ける領域（欠陥により光学的な影響を受ける領域）」は、例えば、該欠陥の影響が検出されたトラック（２１ｂ、２１ｃ）及びこれに、ディスクの径方向において近接、例えば隣接するトラック（２２ａ、２２ｂ、２２ｃ）から成るものとして定義される。
【００１８】
図３は、本実施の形態の検査装置を示す。
図示の検査装置４０は、記録再生手段４１、記録信号発生手段４３、トラック選択手段４２、再生信号評価手段４５、及び制御手段４４を有する。
記録再生手段４１は、ディスク１１への信号の記録及びディスク１１からの信号の再生を行う。
記録信号発生手段４３は、上記した第１のテスト信号及び第２のテスト信号を発生する。
トラック選択手段４２は、第１のテスト信号を記録すべきトラック（事前検査トラック）及び第２のテスト信号による検査の対象とすべきトラックを選択し、選択結果を内部のメモリ４２ａに記憶する。トラックを特定するための情報としては、トラック番号、又はそのトラックに属するセクタを示すセクタ番号等を記憶する。
【００１９】
トラック選択手段４２は、上記のような第１のテスト信号を記録するトラックの選択に当たり、事前検査トラックと非事前検査トラックとが１周毎に交互に配置されるように、事前検査トラックを指定する。
再生評価手段４５は、記録再生手段４１で再生された信号を受けて、欠陥の影響、付着物、傷などの影響を評価する。
【００２０】
本実施の形態の検査装置４０は、図３に示される変化付与手段４８とともに用いられる。変化付与手段４８は、第１のテスト信号の再生が終わった後であって、第２のテスト信号の記録の前に、ディスク上に変化
(光学的特性の変化)を生じさせるために用いられる。変化（光学的特性の変化）の付与は、例えば擬似的指紋や手脂等の付着、傷の付与である。
変化付与手段４８は、記録再生手段４１とは別体で構成されるのが一般的であり、記録再生手段４１と変化付与手段４８の間のディスクの搬送、並びに記録再生手段４１へのディスクの装着、除去、及び変化付与手段４８へのディスクの装着、除去は手作業で行われるのが一般的であるが、これを自動的に行う搬送手段（図示しない）を設けても良い。
【００２１】
制御手段４４は、記録再生手段４１、トラック選択手段４２、記録信号発生手段４３、再生評価手段４５を制御し、これらを所定の順序、所定のタイミングで、上記のように動作させる。例えば、記録信号発生手段４３で発生された第１のテスト信号をトラック選択手段４２で選択されたトラックに記録再生手段４１で記録させ、記録した信号を記録再生手段４１で再生させる。そして、再生の結果に基づいて、第１のテスト信号を記録したトラックにおける欠陥の影響を再生信号評価手段４５に評価させる。
【００２２】
制御手段４４はさらに、再生信号評価手段４５における評価の結果に基づいて、事前検査トラック以外のトラックにおける欠陥の影響の程度を推定する。例えば、非事前検査トラックに径方向の内周側及び外周側において隣接する事前検査トラックの双方について、欠陥の影響が基準値以下である場合に、該非事前検査トラックに対する欠陥の影響が許容量以下（小さい、又はない）と推定し、非事前検査トラックに、径方向の内周側及び外周側において隣接する、事前検査トラックのいずれか一方について、欠陥の影響が基準値を超える場合に、該非事前検査トラックに対する欠陥の影響が許容量を超えていると推定する。
制御手段４４は、この推定の結果に基づいて、事前検査トラック以外のトラックの中から、表面の変化（光学的特性の変化）、例えば付着物、傷等に対する耐性(付着物、傷などによる再生特性の変化）の検査のために使用するトラックを、トラック選択手段４２に選択させる。
【００２３】
制御手段４４における、非事前検査トラックについての、欠陥の影響が許容量以下かどうかの推定の結果がトラック選択手段４２に送られ、トラック選択手段４２は、送られた推定結果に基いて、上記耐性の検査
(再生特性の変化の検査)のために使用するトラックを示す情報を内部のメモリ４２ａに記憶し、第２のテスト信号の記録再生の際に、アクセスすべきトラックを指定する。このように非事前検査トラック１３のうち、表面の変化に対する耐性の検査
(光学的特性の変化による再生特性の変化の検査）のために選択されたトラックを「被検査トラック」と呼ぶ。
【００２４】
被検査トラックの選択の後、変化付与手段４８によりディスクの表面に変化 (光学的特性の変化)が付与される。その後、制御手段４４は、記録再生手段４１に、非事前検査トラックに、第２のテスト信号を記録させ、再生させ、再生信号評価手段４５に、第２のテスト信号の再生結果に基づいて、付着物、傷等に対する耐性を検査させる（再生特性の変化を検査させる）。
【００２５】
例えば、制御手段４４は、記録再生手段４１に、すべての非事前検査トラック１３に第２のテスト信号を記録させ、再生させ、再生信号評価手段４５に、再生結果のうちの、選択された非事前検査トラック（被検査トラック）からの再生信号に基づいて、変化に対する耐性を評価させる(光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価させる）。
【００２６】
上記のように、変化付与手段４８は、記録再生手段４１、記録信号発生手段４３、トラック選択手段４２、再生信号評価手段４５、及び制御手段４４を備えた検査装置４０とともに用いられるものであり、検査装置４０と変化付与手段４８の組合せにより検査システムが構成されている。
【００２７】
以下、図４及び図５を参照して、処理の手順を説明する。
図４は、事前検査トラックへの第１のテスト信号の記録及び再生、並びにその再生信号に基づく被検査トラックの選択の手順を示し、図５は、被検査トラックの選択後に行われる、非事前検査トラックへの信号の記録及び再生、並びに再生信号に基づく変化に対する耐性の評価（光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の評価）のための手順を示す。
【００２８】
検査用に選択されたディスク１１が記録再生手段４１に装着されると、トラック選択手段４２からトラック選択信号４６が記録再生手段４１に供給され、所望のトラックにアクセスされる。そして、記録信号４７が供給され、ディスク１１上のトラックに対して所望の信号を記録する。事前検査トラックに信号を記録するときは、記録信号４７として、上記した第１のテスト信号が供給され、非事前検査トラックに信号を記録するときは、上記の記録信号４７として、第２のテスト信号が用いられる。
【００２９】
以下、被検査トラックを選択するための手順について図４を参照して説明する。
図４において、まず、事前検査トラックを指定する。指定は例えばトラック番号又はセクタ番号により行われる。指定結果はトラック選択手段４２内のメモリ４２ａに記憶される。そして、指定された事前検査トラック２１ａ〜２１ｆに対してランダム信号等（誤り訂正符号を付加したもの）から成る第１のテスト信号を記録し（ステップＳＴ３１）、その事前検査トラック２１ａ〜２１ｆから信号を再生する（ステップＳＴ３２）ことにより事前検査トラック２１ａ〜２１ｆ上の欠陥を検出する。欠陥の検出は、各事前検査トラックからの再生信号について誤り検出を行って、誤り率が基準値以下かどうかを判定することにより行われる。
【００３０】
図２に示す例では、事前検査トラック２１ｂおよび２１ｃにおいて欠陥２３の影響で、誤り率が基準値を超えるものとなる。言い換えると、事前検査トラック２１ｂ及び２１ｃにおいて欠陥が検出される。
【００３１】
次に欠陥の影響が小さい、即ち許容量以下であると推定される非事前検査トラックを推定により検出する方法を説明する。まず、全ての事前検査トラック２１ａ〜２１ｆ等から順に第１のテスト信号を再生し（ステップＳＴ３２）、誤り検出を行って、誤り率が基準値以下かどうかの判定を行う。この場合、例えばディスクの最内周側又は最外周側から順に事前検査トラックを選択し、誤り率の検出及び誤り率が基準値以下かどうかの判定を行う。
そして、非事前検査トラックを挟んで互いに隣り合い、かつ誤り率が基準値以下である事前検査トラック２１ｄ、２１ｅ、２１ｆの組合せ乃至は対を検出する（ステップＳＴ３３）。即ち、ある事前検査トラックについて欠陥が基準値以下かどうかの判定を行い（ステップＳＴ３３ａ）、基準値以下であれば、次に直前に判定を受けた事前検査トラックの欠陥は基準値以下かどうかの判定を行い（ステップＳＴ３３ｂ）、基準値以下であれば、直前の非事前検査トラック（従って誤り率が基準値以下であるとの判定を受けた事前検査トラック相互間に位置する非事前検査トラック）は、欠陥の影響が許容量以下であると推定する（ステップＳＴ３３ｃ）。
【００３２】
ステップＳＴ３３ａ、３３ｂのいずれかにおいて、欠陥の影響が基準値を超えている場合には、ステップＳＴ３３ｄに進み、直前の非事前検査トラックは欠陥の影響が許容量を超える（欠陥の影響が大きい）と推定する。このように、内周側及び外周側において隣接する事前検査トラックの少なくとも一方において誤り率が基準値を超えていると判定された非事前検査トラックは、欠陥の影響が大きいと推定される。
ステップＳＴ３３ａ〜３３ｄにより、誤り率が基準値以下である事前検査トラックの間に位置する非事前検査トラックが選択される。
ステップＳＴ３３ｃ、３３ｄの後、すべての事前検査トラックについて評価が終わったかどうかの判定を行い（ステップＳＴ３４）、まだであれば、ステップＳＴ３２に戻る。
すべての事前検査トラックについて評価が終わったら、処理を終了する。
選択された非事前検査トラックを示す情報は、トラック選択手段４２内のメモリ４２ａに記憶される。
【００３３】
上記のような処理を、例えば図２に示すトラックを含むディスクに対して行うと、事前検査トラック２１ｄ、２１ｅ、２１ｆ上には欠陥２３がないので、事前検査トラック２１ｄと２１ｅの間の非事前検査トラック２２ｄ、同様に事前検査トラック２１ｅと２１ｆの間の非事前検査トラック２２ｅには欠陥の影響が小さいと推定される。このようにして欠陥の影響が小さい非事前検査トラック２２ｄ、２２ｅが、被検査トラック（後に第２のテスト信号による評価に用いられるトラック）として選択される（ステップＳＴ３３）。選択の結果は、上記のように、トラック選択手段４２内のメモリ４２ａに記憶される。
【００３４】
次に、ディスクを一旦検査装置４０の記録再生手段４１から除去して、変化付与手段４８において、意図的に変化を与える（検査のために光学的特性の変化を与える）（ステップＳＴ５１）。意図的変化（検査のための光学的特性の変化）としては、擬似的指紋の付着、損傷の付与などがあり、これらの一つ又は二以上が行われる。
意図的変化（検査のための光学的特性の変化）の付与後、ディスクを記録再生手段４１に再び装着する。
【００３５】
次に、記録再生手段４１に再び装着されたディスクの、すべての非事前検査トラックに第２のテスト信号を記録し（ステップＳＴ５２）、再生し、意図的変化（検査のための光学的特性の変化の付与）による影響を検出する（ステップＳＴ５３）。
例えば、第２のテスト信号を記録したトラックの一つを選んで、そこから信号を再生し、再生評価を行う（ステップＳＴ５３ａ）。
次に、再生評価を受けた非事前検査トラックが欠陥の影響が小さいトラックかどうかの判定を行い（ステップＳＴ５３ｂ）、欠陥の影響の小さいものであれば、ステップＳＴ５３ａで得られた再生評価の結果を示す有効なデータとして蓄積する（ステップＳＴ５３ｃ）。
【００３６】
次に、ディスク上の最後の非事前検査トラックかどうか即ち、すべての非事前検査トラックについての処理が終了したかどうかの判定を行い（ステップＳＴ５４）、最後の非事前検査トラックでなければ、ステップＳＴ５３ａに戻り、次の非事前検査トラックについて同様の処理を行う。
最後の非事前検査トラックであれば、ステップＳＴ５５に進み、ステップＳＴ５３ｃにおける、各被検査トラックについての評価の結果を、ディスク上のすべての被検査トラックについて総合し、ディスクが全体として満足できる特性（付着物、傷などに対する耐性）を有するかどうか（付着物、傷などに再生特性の変化が十分に小さいかどうか）の総合的判定を行う。
【００３７】
ステップＳＴ５３ａにおける、再生評価の対象となるトラックの選択は、例えば最内周側又は最外周側から順に行われる。
【００３８】
ステップＳＴ５３ａで、欠陥の影響が大きい非事前検査トラックであれば、そのトラックについての再生評価の結果を採用せず（破棄し）、ステップＳＴ５４に進む。
【００３９】
以上の処理により、ディスク１１上に意図的変化（検査のための光学的特性の変化）の付与前から存在する欠陥（２３等）の影響を受けることなく、後から加えた変化（光学的特性の変化）の影響を評価することができる。
【００４０】
なお、上記の例では、第２のテスト信号の記録前に、ディスクの表面への意図的変化(検査のための光学的特性の変化)を付与しているが、第２のテスト信号の記録の後であって再生の前に行うこととしても良い。このようにすれば、表面の変化（光学的特性の変化）による、記録特性の変化とは独立に、再生特性の変化を調べることができる。
【００４１】
なお、図５の例では、非事前検査トラックのうち、欠陥の影響が小さいか大きいかに関係なく、すべての非事前検査トラックにテスト信号を記録することとしているが、このようにする代わりに、欠陥の影響が小さいトラックに対してのみ、信号を記録するようにしても良い。なおまた、事前検査トラックにも第２のテスト信号を記録しても良い。その場合、そのトラックは再生評価の対象から除外すれば良い。
【００４２】
また、上記の説明では、ディスクの全面に亘り、第１のテスト信号を間欠的に記録するようにしているが、所定の検査ゾーン内においてのみ第１のテスト信号を間欠的に記録するようにしても良い。同様に、上記の実施の形態では、ディスクの全面に亘りすべての非事前検査トラックに対して、第２のテスト信号を記録するようにしているが、所定の検査ゾーン内の非事前検査トラックにのみ第２のテスト信号を記録するようにしても良い。
例えば、意図的な変化（検査のための光学的特性の変化）がディスクの所定の半径方向位置、例えばディスクの中心から所定の距離の範囲に亘って付与される場合、その距離の範囲内においてのみ第１のテスト信号を間欠的に書込み、その範囲内に位置する非事前検査トラックに対してのみ第２のテスト信号を書込むようにしても良い。
【００４３】
上記の実施の形態では事前検査トラック１２と非事前検査トラック１３とを１周おきに配置した例を示したが、径方向に隣接又は近接する非事前検査トラックからの影響を抑制するため、一続きの事前検査トラックの長さを３周以上としても良い。
一続きの事前検査トラックの長さを３周分以上とした場合、例えば図６（事前検査トラック及び非事前検査トラックがそれぞれちょうど３周分の場合を示す）の非事前検査トラック１３ａ、１３ｃに隣接する事前検査トラック１２ａ、１２ｃにおける再生評価の結果（誤り率）ではなく、他の事前検査トラック１２ａ、１２ｃで挟まれた事前検査トラック１２ｂにおける再生評価の結果を、一続きの事前検査トラック１２ａ〜１２ｃに対する再生評価の結果として用いても良く、非事前検査トラック１３ａ、１３ｃに隣接する事前検査トラック１２ａ、１２ｃにおける再生評価の結果（誤り率）と、他の事前検査トラック１２ａ、１２ｂで挟まれた事前検査トラック１２ｂにおける再生評価の結果とを（例えば重み付け加算により）合成したものを、一続きの事前検査トラック１２ａ〜１２ｃに対する再生評価の結果として用いても良い。
【００４４】
非事前検査トラック１３ａ、１３ｃに隣接する事前検査トラック１２ａ、１２ｃにおける再生評価の結果（誤り率）ではなく、他の事前検査トラック（１２ａ、１２ｃ）で挟まれた事前検査トラック１２ｂにおける再生評価の結果を用いる場合、該事前検査トラック１２ｂに近接する非事前検査トラック１３ａ〜１３ｃが被検査トラックとして適切かどうかの推定を行っていると見ることもできる。
【００４５】
また、一続きの非事前検査トラックの長さを１周としたが、径方向に隣接又は近接する事前検査トラックからの影響を抑制するために、３周以上としても良い。
この場合、図６の事前検査トラック１２ａ、１２ｃに隣接する非事前検査トラック１３ａ、１３ｃにおける再生評価の結果（誤り率）ではなく、他の非事前検査トラック（１３ａ、１３ｃ）で挟まれた非事前検査トラック１３ｂにおける再生評価の結果を、一続きの非事前検査トラック１３ａ〜１３ｃについての再生評価（耐性検査）（再生特性の変化の検査）の結果として、用いても良く、事前検査トラック１２ａ、１２ｃに隣接する非事前検査トラック１３ａ、１３ｃにおける再生評価の結果（誤り率）と、他の非事前検査トラック１３ａ、１３ｃで挟まれた非事前検査トラック１３ｂにおける再生評価の結果とを（例えば重み付け加算により）合成したものを、一続きの非事前検査トラック１３ａ〜１３ｃについての再生評価（耐性検査）（再生特性の変化の検査）の結果として用いても良い。
【００４６】
なおまた、事前検査トラック相互の間隔は、想定される欠陥の大きさよりも小さくする必要がある。言換えると一続きの非事前検査トラック１３ａ〜１３ｃで分離される事前検査トラック１２ａ〜１２ｃ相互間の径方向の距離（間隔）Ｇは、想定され、検出する必要のある、（ディスクの径方向の寸法が）最小の欠陥の、ディスクの径方向の寸法（図２の符号Ｄが、欠陥のディスクの径方向寸法を表す）よりも小さく定める必要がある。この場合、欠陥の影響による誤り率が基準値を超えることになる径方向位置はその欠陥の一部である（欠陥の占める領域内に入る）と定義される。
【００４７】
また、一続きの事前検査トラック１２及び一続きの非事前検査トラック１３がディスク１周以上の長さを持つように設定しているが、その必要が無ければ１周以下の長さとしても良い。例えば、１周の奇数分の１ずつの長さとすれば、どの周方向位置においても事前検査トラック１２と非事前検査トラック１３とが、ディスクの径方向に交互に配置された構成を得ることができる。
【００４８】
上記のようなディスクの検査は、例えば同じ方法乃至条件で製造された複数のディスク（１ロット）のうちの１枚に対して行われる。そして、検査によって満足できる耐性を有する（再生特性の変化が十分に小さい）と判定された場合には、同じ方法乃至条件で製造された他のディスク（同じロット内の他のディスク）も、満足できる耐性を有する（再生特性の変化が十分に小さい）ものと判定され、例えば、良品として、販売される。
このようにディスクに対する検査は、間接的にディスクの製造方法乃至は製造条件に対する検査であると見ることもできる。従って、そのような製造方法、並びにそのような製造方法により製造されたディスクもまた本発明の一部乃至一側面を構成する。
【００４９】
以下に本発明の更なる特徴を有するディスク検査方法、検査装置及びディスクを要約して記載する。
【００５０】
（１）  情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスクの表面に意図的に変化を付与し、該変化に対する耐性を検査する検査方法において、
上記変化の付与前に、上記ディスク上に第１のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記ディスクが上記変化の付与前から有する欠陥の影響を受ける領域を検出し、該欠陥の影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記変化に対する耐性を検査することを特徴とするディスク検査方法。
【００５１】
（２）  上記欠陥の影響を受ける領域が、欠陥による影響が検出されたトラック及びこれにディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第１のテスト信号の間欠的な記録が、上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われることを特徴とする上記（１）項に記載のディスク検査方法。
（３）  上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが、上記欠陥の影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行うことを特徴とする上記（２）項に記載のディスク検査方法。
【００５２】
（４）  上記第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックの双方について、上記欠陥の影響が基準値以下である場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記欠陥の影響が許容量以下であると推定し、
上記第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックのいずれか一方について、上記欠陥の影響が基準値を超える場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記欠陥の影響が許容量を超えると推定する
ことを特徴とする上記（３）項に記載のディスク検査方法。
（５）  さらに、上記欠陥の影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択することを特徴とする上記（３）又は（４）項に記載のディスク検査方法。
【００５３】
（６）  少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の変化に対する耐性の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記耐性を検査することを特徴とする上記（５）項に記載のディスク検査方法。
（７）  上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記耐性を評価することを特徴とする上記（６）項に記載のディスク検査方法。
（８）  上記選択されたトラックの各々についての上記耐性の検査の結果を、すべての選択されたトラックについて総合評価することにより、ディスク全体について上記耐性の評価を行うことを特徴とする上記（６）又は（７）項に記載のディスク検査方法。
【００５４】
（９）  上記第１のテスト信号の再生の後であって、上記第２のテスト信号の再生の前に、ディスク上に上記変化の付与を行うことを特徴とする上記（７）項に記載のディスク検査方法。
（１０）  上記第２のテスト信号の記録の前に、上記変化の付与を行うことを特徴とする上記（９）項に記載のディスク検査方法。
（１１）  上記変化の付与は、上記ディスクに対する付着物又は傷の付与であることを特徴とする上記（１）項に記載のディスク検査方法。
（１２）  上記第１のテスト信号を記録するトラックと、上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが１周毎に交互に配置されるようにすることを特徴とする上記（１）乃至（１１）項のいずれかに記載のディスク検査方法。
【００５５】
（１３）  上記第１のテスト信号を記録しないトラックが３周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする上記（１）乃至（１１）項のいずれかに記載のディスク検査方法。
（１４）  上記第１のテスト信号を記録するトラックが１周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする上記（１）乃至（１１）項のいずれかに記載のディスク検査方法。
（１５）  上記第１のテスト信号を記録するトラックが３周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする上記（１４）項に記載のディスク検査方法。
（１６）  上記ディスクが光学式情報記録媒体であることを特徴とする上記（１）乃至（１５）項のいずれかに記載のディスク検査方法。
【００５６】
（１７）  情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することによりディスクの特性を検査するディスク検査装置において、
ディスク上の欠陥の検出のための第１のテスト信号を発生する記録信号発生手段と、
ディスク上に上記第１のテスト信号を間欠的に記録して上記第１のテスト信号が記録されたトラックと上記第１のテスト信号が記録されないトラックとが径方向に交互に配置されるように、上記第１のテスト信号を記録すべきトラックを選択するトラック選択手段と、
上記記録信号発生手段で発生された上記第１のテスト信号を上記トラック選択手段で選択されたトラックに記録し、上記記録した信号を再生する記録再生手段と、
上記再生の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおける欠陥の影響を評価する再生信号評価手段と、
上記再生信号評価手段における評価の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラックに、ディスクの径方向において近接するトラックにおける上記欠陥の影響の程度を推定し、上記における推定の結果に基づいて、上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のトラックの中から、ディスクの表面の変化に対する耐性の検査のために使用するトラックを、上記トラック選択手段に選択させる制御手段と
を有するディスク検査装置。
【００５７】
（１８）  上記制御手段は、
第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックの双方について、上記欠陥の影響が基準値以下である場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記欠陥の影響が許容量以下であると推定し、
上記第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックのいずれか一方について、上記欠陥の影響が基準値を超える場合に、上記第１のテスト信号を記録しないトラックに対する上記欠陥の影響が許容量を超えると推定する
ことを特徴とする上記（１７）項に記載のディスク検査装置。
【００５８】
（１９）  上記記録再生手段は、少なくとも上記選択された被検査トラックに対して、上記変化に対する耐性の検査のための第２のテスト信号を記録し、再生し、
上記再生信号評価手段は、上記選択されたトラックからの上記第２のテスト信号の再生結果に基づいて、上記変化に対する耐性を検査する
ことを特徴とする上記（１７）項に記載のディスク検査装置。
（２０）  上記記録再生手段は、上記第１のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第２のテスト信号を記録し、再生し、
上記制御手段は、上記再生信号評価手段に、記録再生手段による再生信号のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生信号に基づいて上記耐性を評価させることを特徴とする上記（１９）項に記載のディスク検査装置。
【００５９】
（２１）  上記再生信号評価手段は、
選択されたトラックの各々についての上記耐性についての検査の結果を、すべての選択されたトラックについて総合評価することにより、ディスク全体について上記耐性の評価を行うことを特徴とする上記（１９）又は（２０）項に記載のディスク検査装置。
（２２）  上記トラック選択手段は、
上記第１のテスト信号を記録するトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが１周毎に交互に配置されるように、上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする上記（１７）乃至（２１）項のいずれかに記載のディスク検査装置。
（２３）  上記トラック選択手段は、上記第１のテスト信号を記録しないトラックが３周以上連続するように上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする上記（１７）乃至（２１）項のいずれかに記載のディスク検査装置。
【００６０】
（２４）  上記トラック選択手段は、
上記第１のテスト信号を記録するトラックが３周以上連続するように上記第１のテスト信号を記録するトラックの指定を行うことを特徴とする上記（１７）乃至（２１）項のいずれかに記載のディスク検査装置。
（２５）  上記ディスクが光学式記録媒体であることを特徴とする上記（１７）乃至（２４）項のいずれかに記載のディスク検査装置。
【００６１】
（２６）  情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することによりディスク上の欠陥による影響が検査されたディスクにおいて、
ディスク上に、上記欠陥の影響を測定するための第１のテスト信号を間欠的に記録することにより上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが交互に配置され、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生しディスクの欠陥の影響を評価することにより、上記第１のテスト信号を記録したトラックにディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおける欠陥の影響を推定し、この推定結果に基づいて、表面の変化に対する耐性の検査に用いられる被検査トラックが選択されたディスク。
【００６２】
（２７）  上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおける上記欠陥の影響を、該第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおける欠陥の影響に基づいて、推定したことを特徴とする上記（２６）項に記載のディスク。
【００６３】
（２８）  情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成されたディスク上に信号を記録し、再生することにより表面の変化に対する耐性を検査したディスクにおいて、
ディスク上に、上記欠陥の影響を測定するための第１のテスト信号を間欠的に記録することにより上記第１のテスト信号を記録したトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックとが交互に配置され、
上記第１のテスト信号を記録したトラックから上記第１のテスト信号を再生しディスクの欠陥の影響を評価することにより、上記第１のテスト信号を記録したトラックにディスクの径方向において近接する、上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおける欠陥の影響を推定し、この推定結果に基づいて、表面の変化に対する耐性の検査に用いられる被検査トラックが選択され、
選択された被検査トラックに第２のテスト信号を記録し、再生し、この再生信号を用いて、表面の変化に対する耐性が評価されたディスク。
【００６４】
（２９）  上記第１のテスト信号を記録しないトラックにおける上記欠陥の影響を、該第１のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第１のテスト信号を記録したトラックにおける欠陥の影響に基づいて、推定したことを特徴とする上記（２８）項に記載のディスク。
（３０）  上記第１のテスト信号を記録するトラックと上記第１のテスト信号を記録しないトラックを１周毎に交互に配置したことを特徴とする上記（２６）乃至（２９）項のいずれかに記載のディスク。
（３１）  上記第１のテスト信号を記録しないトラックが３周以上連続して配置されたことを特徴とする上記（２６）乃至（２９）項のいずれかに記載のディスク。
（３２）  上記第１のテスト信号を記録したトラックが３周以上連続して配置されたことを特徴とする上記（２６）乃至（２９）項のいずれかに記載のディスク。
（３３）  上記ディスクは光学式情報記録媒体であることを特徴とする上記（２６）乃至（３２）項のいずれかに記載のディスク。
【００６５】
（３４）  上記（７）、（８）、（９）又は（１０）項に記載の検査方法によって、表面の変化に対する耐性の検査の結果、満足できるとの判定を受けた被検査ディスクと同じ条件で製造されたディスク。
（３５）  上記（７）、（８）、（９）又は（１０）項に記載の検査方法によって、表面の変化に対する耐性の検査の結果、満足できるとの判定を受けた被検査ディスクが製造されたのと同じ条件でディスクを製造する方法。
（３６）  上記（７）、（８）、（９）又は（１０）項に記載の検査方法によって、表面の変化に対する耐性の検査の結果、満足できるとの判定を受けた製造条件で製造されたディスク。
（３７）  上記（７）、（８）、（９）又は（１０）項に記載の検査方法によって、表面の変化に対する耐性の検査の結果、満足できるとの判定を受けた製造条件でディスクを製造する方法。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】この発明の実施の形態に係わる光ディスクの概略図である。
【図２】この発明の実施の形態に係わる光ディスク上の欠陥を示す概略拡大図である。
【図３】この発明の実施の形態のディスク検査装置を示す概略図である。
【図４】この発明の実施の形態のディスク検査方法の手順を示すためのフローチャートである。
【図５】この発明の実施の形態のディスク検査方法の手順を示すためのフローチャートである。
【図６】事前検査トラックと非事前検査トラックの配置の異なる例を示す図である。
【符号の説明】
【００６７】
１１  ディスク、  １２，１２ａ〜１２ｃ，２１ａ〜２１ｆ  事前検査トラック、  １３，１３ａ〜１３ｃ，２２ａ〜２２ｅ  非事前検査トラック、  ２２ｄ、２２ｅ  被検査トラック、  ２３  欠陥、  ４１  記録再生手段、  ４２  トラック選択手段、  ４３  記録信号発生手段、  ４４  制御手段、  ４５  再生評価手段、  ４８  変化付与手段。
【図１】
2007141446.tif 000003
【図２】
2007141446.tif 000004
【図３】
2007141446.tif 000005
【図４】
2007141446.tif 000006
【図５】
2007141446.tif 000007
【図６】
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