(57)【要約】【課題】電子写真用感光体の試験方法において、電子写真用感光体の劣化領域全体に渡り帯電ムラを抑制する劣化加速試験方法を提供する。【解決手段】帯電工程は、１方向に張架され前記感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない複数のワイヤにより高電圧を印加する帯電装置１１によって行う。また、帯電工程と露光工程とを同時に行い、帯電装置１１は、ワイヤが張架されている方向に対して同一方向に連続して往復稼動又は略水平でかつ異なる方向に連続して往復稼動する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する電子写真用感光体劣化加速試験方法において、
前記帯電工程は、１方向に張架され前記感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない複数のワイヤにより高電圧を印加する帯電装置によって行う工程であり、
前記帯電工程と前記露光工程とを同時に行い、前記ワイヤが張架されている方向に対して同一方向に連続して往復稼動又は略水平でかつ異なる方向に連続して往復稼動することを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項２】
前記帯電装置が前記ワイヤ張架方向と同一方向に連続往復稼動することを特徴とする請求項１記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項３】
前記感光体がワイヤ張架方向と同一方向に連続往復移動することを特徴とする請求項１又は２記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項４】
前記感光体の劣化領域を決定する試料押さえの開口部の面積は、帯電器の開口部の面積よりも小さく、かつ前記感光体又は前記帯電装置の移動する範囲は、試料押さえの開口領域が帯電器の開口領域内で略水平方向に稼動することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項５】
高電圧が印加される複数のワイヤを有し、前記ワイヤが１方向に張架され、前記ワイヤを囲むケーシングは、感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置と、
前記ワイヤの張架されている方向に対して同一又は略水平方向でかつ異なる方向に連続的に往復稼動する稼動手段とを有することを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザープリンタ、複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体劣化加速試験方法及び電子写真用感光体劣化加速試験機に関し、特に誘電体薄膜の非接触、非破壊の劣化試験等に応用可能な感光体への帯電装置の改善に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば特許文献１に記載された感光体の評価方法が知られている。同文献には、既知数の像形成サイクルのサイクル操作寿命を有する少なくとも１つの電子写真像形成部材を用意し、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに繰り返しかけてサイクル中の上記電子写真像形成部材中の光導電性層の暗減衰量が最高値に達するまで測定し、上記最高値により暗減衰最高値対像形成サイクルの参照データを確立し、新鮮な電子写真像形成部材を静電気帯電工程と光放電工程を含む上記サイクルに、さらにサイクル操作にかけても実質的に一定のままである最高値に暗減衰量が達するまで繰り返しかけ、上記新鮮な電子写真像形成部材の暗減衰最高値を上記参照データと比較して上記新鮮な電子写真像形成部材の推定サイクル寿命を確認する各工程を含む電子写真像形成部材の推定像形成サイクル寿命の確認方法が開示されている。
【０００３】
しかしながら、上記方法では、透明ガラスを圧着させてバイアス印加を行うとともに光を照射させており、コロナ帯電、ローラ帯電という実際の電子写真プロセスとは異なる方法での劣化加速試験法といえる。また、寿命に到ったサンプルの暗減衰特性があらかじめ分かっていないといけないため、一度感光体を実機に搭載して通紙試験を行う必要があり、多大な手間がかかってしまうという問題があった。
【０００４】
その他の従来技術として、通紙試験を行わないで寿命を確認する方法が知られている。当該方法は、電子写真用感光体（以下、感光体と略す）を高速（1,000〜2,000r.p.m）で回転させた状態で感光体の周囲に配置された帯電器、露光装置で帯電、露光を繰り返してその寿命を予測する方法である。当該方法はさらに２つの試験方法に分かれる。１つ目は、帯電器の出力と露光装置の光量をあらかじめ決めて固定し、決められた時間だけ試験を行い、その後感光体の特性を測定し、劣化状態を判定する。２つ目は、試験中の感光体の露光後、電位Ｖと感光体を通して流れる通過電流Ｉを計測し、この２つが常に決められたレベルにあるように帯電器の出力と露光装置の光量を調整しながら行う方法である。
【０００５】
上記の２つの方法で重要な点は、試験中に感光体に流れた通過電流を計測し、これを単位面積当りの電荷量Ｑに変換し、一方、Ａ４サイズ１枚を実機でプリントアウトする時、感光体を流れる通過電流が感光体の単位面積当りの静電容量をＣ、帯電電位Ｖ、感光体のサイズはＡ４紙１枚が感光体上をダブリなく印字されるサイズとすると、Ｃ・Ｖで求まることから、比Ｑ／（Ｃ・Ｖ）は、寿命試験時間を実機のプリント枚数に対応させることができる点である。また、もう１つ重要な点はこの試験が加速寿命試験になっていることである。
【０００６】
具体的に示すと、感光体に5μA/10cm2の試料通過電流を流し20Hr試験すると（１日１
０時間の試験とすると２日間）、（5／10）×10-6×20×60×60＝0.036（C/cm2）の電
荷が感光体を通過したことになる（感光体を通過した電荷量を、以下通過電荷量と呼ぶ）。そして、Ａ４用紙を縦送りで印字する場合を想定すると、感光体の静電容量Ｑを100(pF/cm2)とし、帯電電位を-700（V）とし、除電後も含めた露光後電位を0(V)とすると、100×10-12×700＝7×10-8（C/cm2）がＡ４版の用紙１枚をプリントアウトする時の通
過電荷量であるので、比Ｑ／（Ｃ・Ｖ）を求めると、0.036/(7×10-8)≒514,000枚のＡ４版用紙をプリントアウトしたことになり、大幅な加速試験を実施したのと同等になる。
【０００７】
このため、上述した２つ目の方法を用いて寿命試験が行われることが多いが、前述の具体的な計算で分かるように、試験中に感光体を通過する電流が一定であれば、プリントアウト何枚相当の試験を行ったのか、計算がしやすいことになる。そのため、試験は通過電流を一定にするようにして実施することが一般的に行われているが、その本質は通過電荷量を知る（検知あるいは算出する）ことにある。また、感光体によっては帯電電位がどのレベルにあるかによって寿命試験の結果が異なることがあり、帯電電位も一定にして試験を行うことが要求される。このように、帯電電位及び通過電流を一定にするために、帯電器の高圧電源出力調整、及び露光装置の光量調整を行う装置あるいはシステムが必要であり、例えば特許文献２のような従来の寿命試験装置が構築されていた。
【０００８】
この従来の劣化加速試験は、図２に示すような、感光体試料片の特性評価装置によって劣化を加速する方法が知られている。上記の特性評価装置での劣化加速試験方法では、ターンテーブル１には感光体試料片を装着する開口部３が設けられており、開口部３の面積として、例えば19.36cm2（開口部：44×44mm）程度である。さらに、ターンテーブル１に付属して導電性金属板からなる試料片押さえ板２が設けられている。
【０００９】
当該装置では、約1,100r.p.mの回転速度で感光体の周囲に配置された帯電器４と露光装置５により帯電・露光を繰り返し、また、高速回転させながら試料片をコロナ帯電器４に何度も通過させることが可能な構成となっている。さらに、コロナ帯電器４から試料片に与えられ試料片を充電するパルス電流は、所定の検出間隔で電流計６に送られその中の平滑化回路で平滑化された後、Ａ／Ｄ変換器８で変換されコントローラ９に送られ演算処理される。
【００１０】
また、試料片の表面電位は、コロナ帯電器４と別の位置に配置された表面電位計７のモニタ部である表面電位計電極５でモニタされ、モニタされた信号は所定の検出間隔で表面電位計７に送られ、その中の増幅器で増幅等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８で変換され、コントローラ９に送られ演算処理される。
【００１１】
しかしながら、このような従来のシステムでは、２つの測定量、表面電位Ｘと通過電流Ｙ、及び、２つの操作量、帯電器高圧電源の出力制御値Ａと除電露光ランプ光量の出力制御値Ｂとの関係は以下のようになっている。すなわち、Ａを増加するとＸ，Ｙの両方が増加し、Ａを減少させるとＸ，Ｙの両方ともに減少し、また、Ｂを増加するとＸは減少するのに対しＹは増加し、Ｂを減少するとＸは増加するのに対しＹは減少するという関係があり、仮にＸが目標値からはずれ、これを目標範囲に入れようとＡまたはＢを操作すると、もう１方の測定量Ｙが変化してしまい、Ｙにとっては外乱が作用することになる。これを目標範囲に維持しようとＡあるいはＢを操作すると今度はＸが変化するという状態になってしまい、複雑な制御を繰り返さねばならなかった。また、劣化加速試験中に感光体表面電位、通過電流の瞬間的なバラツキがあった場合でも、それらが瞬間的な誤差として通過電荷量算出に反映されないような測定システムとなっており、正確な劣化加速試験を行う上でさらなる改善の必要性があった。
【００１２】
これらの上記問題点を解決するために、感光体の電位を一定条件に保つように制御し、試験中計測された通過電流から通過電荷量を算出できるシステムあるいは装置を、単純に操作でき、しかも精度の良い結果が得られるものとしようとすることが考えられる。
【００１３】
しかし、最近の感光体は従来品と比べると群を抜いて高寿命化されてきており、このような劣化加速試験装置においても、寿命を知るまで試験を行うには、多大な時間を必要とする。
【００１４】
そこで、さらに劣化速度を加速した、短時間で寿命を判断可能な劣化加速試験方法が要望されている。例えば、特許文献３では、高電圧が印加される複数のワイヤを有し、このワイヤが１方向のみに張架され、かつワイヤを囲むケーシングの形状は感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置によって、単位面積あたりの感光体面への電流量を増加させ、単位面積あたりの通過電荷量を増大させて試験する方法が採用されている。
【００１５】
しかし、この劣化加速試験では、ワイヤの劣化等によるワイヤ張架方向の帯電ムラが発生することがあり、劣化領域全体にわたり帯電ムラを抑制した劣化加速試験方法が要望されていた。
【特許文献１】特許第３２０４３２７号公報
【特許文献２】特開２００２−１４９００５号公報
【特許文献３】特開２００５−９９１１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
本発明は、上述した実情を考慮してなされたもので、電子写真用感光体の劣化加速試験方法において、電子写真用感光体の劣化領域全体に渡り帯電ムラを抑制する劣化加速試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本願発明の発明者は、上記課題に鑑み鋭意検討した結果、電子写真用感光体をワイヤ張架方向に対して垂直方向に往復移動させるだけでなく、ワイヤ張架方向に帯電装置を常に移動させることで、電子写真用感光体の劣化領域全体の帯電ムラを抑制させ、複雑な動作や構造も必要ない劣化加速試験方法を完成するに至った。
【００１８】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記帯電工程は、１方向に張架され前記感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない複数のワイヤにより高電圧を印加する帯電装置によって行う工程であり、前記帯電工程と前記露光工程とを同時に行い、前記ワイヤが張架されている方向に対して同一方向に連続して往復稼動又は略水平でかつ異なる方向に連続して往復稼動することを特徴とする。
【００１９】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記帯電装置が前記ワイヤ張架方向と同一方向に連続往復稼動することを特徴とする。
【００２０】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は２記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体がワイヤ張架方向と同一方向に連続往復移動することを特徴とする。
【００２１】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１から３のいずれか１項に記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体の劣化領域を決定する試料押さえの開口部の面積は、帯電器の開口部の面積よりも小さく、かつ前記感光体又は前記帯電装置の移動する範囲は、試料押さえの開口領域が帯電器の開口領域内で略水平方向に稼動することを特徴とする。
【００２２】
また、請求項５に記載の発明は、電子写真用感光体劣化加速試験機において、高電圧が印加される複数のワイヤを有し、前記ワイヤが１方向に張架され、前記ワイヤを囲むケーシングは、感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置と、前記ワイヤの張架されている方向に対して同一又は略水平方向でかつ異なる方向に連続的に往復稼動する稼動手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、帯電装置のワイヤ張架方向に対して垂直方向だけでなく、ワイヤ張架方向に対する方向でも帯電ムラを抑制する等、電子写真用感光体の劣化領域全体に渡る帯電ムラの抑制が可能となる電子写真用感光体の劣化加速試験方法が実現される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００２５】
図１及び図９は、本発明の実施形態に係る感光体の劣化加速試験装置の概略図である。まずは、図１、図９を参照しながら劣化加速試験を説明する。
【００２６】
試験試料１４（ここでは感光体試料片を使用）の感光体表面が上になるように試験試料台１５の上に載せる。試験試料台１５の表面には、アースに接続された導電性の部材が取り付けられており、またこの試験試料台１５の上面と側面には図３及び図４にそれぞれ示すように、エアー吸引口２１が設けられている。試料台上面図を図３に、また側面図を図４に示す。
【００２７】
さらに、試験試料台１５には、エアーチューブ１７が取り付けられており、吸引バルブ１８でエアーの吸引開閉の調整を行い、レギュレータ１９でエアー圧を調整可能となっている。また排気口には、オゾンフィルタ２０が取り付けられ、オゾンを除去している。
【００２８】
試験試料１４が試験試料台１５に密着するように試験試料押さえ１２で押さえる。試験試料を設置したときの試料台上面図を図５に示す。試験試料押さえ１２は、試験時の劣化領域の設定と、帯電時に感光体端部へ放電が集中するのを防止する機能を持つ。
【００２９】
試験試料１４の上面で所定の光量になるように設定された露光装置１０によって感光体面に露光し、高圧電源１３に接続された帯電器１１でコロナ放電と露光を同時に行うことにより、帯電同時露光による劣化加速試験が可能となる。帯電器１１は、図６〜８に表されており、図７及び図８に示すように、複数のワイヤ２３を有し、このワイヤ２３が図８に示すように同一方向に張架されており、帯電器１１の資料対向面（下面）は開口しており、ワイヤ支持部材であるワイヤ張架治具２２は絶縁性で、ワイヤ２３のテンション（張力）は図８に示すワイヤ張架治具２２によって適宜調整可能に構成されている。
【００３０】
帯電器１１は、図９に示すように、帯電器保持治具２４によって保持され、帯電器保持治具２４の下に帯電器移動用レール２５が取り付けられ、帯電器１１をワイヤ張架方向（紙面横方向）と同一方向（張架方向と平行も含む）あるいは張架方向と異なる方向であってかつ、略水平の方向に移動する事が可能である。なお、張架方向に対して異なる場合の方向角度は、ｘ−ｙステージ等を用いて前記レールの方向を調整することができ、さらに他の公知の手段を用いることもできる。
【００３１】
また、試験試料台１５は、ステージ１６によって、劣化加速試験中に帯電器１１のワイヤ２３が張架されている方向に対して垂直方向に往復移動が可能であり、帯電ムラの抑制が可能である。劣化加速試験中の試験試料に流れる電流の大きさを変化させることにより、単位時間あたりの通過電荷量の変化が可能となり、劣化の加速の度合い（加速勾配あるいは加速強度）を変化させることが可能になる。劣化加速試験終了後、帯電能、電荷保持性能、感光層中の蓄積電荷（残留電位）等の特性値を測定し評価する。あるいは（さらに）、感光体の表面観察によって、感光体の劣化度合いも確認する。また、感光体の評価方法として、画像形成装置の画像形成プロセスにおいて感光体に流れる通紙枚数に対応した通過電荷量の分を、本実施形態における劣化加速試験装置を用いて短時間に流せば、画像形成装置への通紙後の感光体の静電特性を予測することができる。
【００３２】
試験試料台１５の上面と側面のエアー吸引口２１から吸引するエアーは、１つの吸引バルブ１８から吸引するのが望ましい。２つの吸引バルブで吸引した場合では、装置が複雑化する。また、劣化加速試験装置で使用する試験試料押さえ１２は、絶縁性部材が望ましい。導電性部材では帯電時に試験試料押さえ１２に放電され易くなり、試料側への放電が少なくなり、また感光体の電荷が試験試料押さえ１２に移動し易くなるため、試験試料１４への電流量を増加することが困難となる。
【００３３】
露光装置１１には、蛍光灯、タングステンランプ、ハロゲンランプ、水銀灯、ナトリウム灯、発光ダイオード（ＬＥＤ）、半導体レーザ（ＬＤ）、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）等の発光物全般を用いることができる。そして、所望の波長域の光のみを照射するために、シャープカットフィルタ、バンドパスフィルタ、近赤外カットフィルタ、ダイクロイックフィルタ、干渉フィルタ、色温度変換フィルタ等の各種フィルタを用いることもでき、光量低下のためにニュートラルデンシティフルタを用いることもできる。
【００３４】
被試験試料１４の表面を帯電処理するための帯電装置用電源回路の制御手段、該被試験試料を光照射するための光源用電源回路の制御手段は、図示していないが、これらは、従来公知のものをそのまま用いることができる。
【００３５】
加速劣化試験装置は、光を透過しない暗箱あるいは暗幕等で覆われていることが好ましい。加速劣化試験装置が暗箱あるいは暗幕で覆われていないと、試験時に外部環境（風、雨、塵、光、湿度等）の影響を受け、正確な劣化加速試験が困難となる。
【００３６】
本実施形態に用いる感光体は、導電性支持体の上に電荷発生層、電荷輸送層が形成されたもの、さらに電荷輸送層の上に保護層が形成されたもの等が使用可能である。導電性支持体及び電荷発生層、電荷輸送層としては、公知のものならば如何なるものでも使用することができる。
【００３７】
続いて、以下実施例により本発明の実施形態をさらに具体的に説明するが、本実施形態はこれらの実施例により、何等限定されるものではない。
【００３８】
劣化試験は、図１に示す感光体劣化加速試験装置を使用する。その試験装置で使用する帯電装置は、対向する感光体面に対して平行な面にケーシングは無く60×60（mm）の開口枠を有し、その枠内に10mm間隔で１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンレスワイヤ、ワイヤ径：60μm）が張られ、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフルオロエチレン  ＰＴＦＥ（テフロン（登録商標）））である帯電装置を使用し、露光装置にはハロゲンランプを使用する。また、この試験装置での感光体面とワイヤの距離は5mmとし、サンプル台（サイズ：75mm×75mm×50mm）の上に感光体試料片を置く。サンプル台には、上面と側面にエアー吸引口があり、エアー排気口にはオゾンフィルタが設置されている。エアー吸引口は、φ2mmの穴が16個開いており（12mm４列に均等間隔で）、側面の４面全てに、φ2mmの穴が各面に４つ12mm間隔で均等に開いている。試験試料押さえ１２には、絶縁性部材（材質：PTFE（テフロン（登録商標））、開口部：50×40mm）を使用し、感光体１４を試験試料台１５に密着させた。また、感光体試料片１４は、リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料で同一に構成したものを使用し、劣化加速試験を実施した。
【実施例１】
【００３９】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流（通過電流密度）を5.8μA／cm2、照度を
130luxに設定し、120分間劣化加速試験を行った。劣化試験中は、帯電器移動用レールを使用して、帯電器をワイヤ張架している方向に2mm連続往復移動させ、かつ劣化試験中は、サンプル台をワイヤが張架している方向に対して垂直方向に10mm連続往復移動させ、劣化加速試験を実施した。
【実施例２】
【００４０】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA／cm2、照度を130luxに設定し120分間劣化加速試験を行った。劣化試験中は、帯電器移動用レールを使用して、帯電器をワイヤ張架している方向に10mm連続往復移動させ、かつ劣化試験中はサンプル台をワイヤが張架している方向（図８に示す紙面横方向）に対して垂直方向に（図８に示す紙面上下方向）10mm連続往復移動させ、劣化加速試験を実施した。
【実施例３】
【００４１】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA／cm2、照度を130luxに設定し、120分間劣化加速試験を行った。サンプル台のステージを帯電器１１の対角線方向（図８の紙面斜め方向）に移動可能な構造に改造し、劣化試験中にサンプル台のステージを帯電器の対角線方向へ14.1mm連続往復移動させ、劣化加速試験を実施した。これにより、サンプル台を帯電器の対角線方向に往復移動させることは、サンプル台をワイヤが張架している方向に対して垂直方向に往復移動させることと、ワイヤ張架方向に往復移動させることという両方の往復移動を実現させている。
【００４２】
＜比較例１＞
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA／cm2、照度を130luxに設定し、120分間劣化加速試験を行った。劣化試験中は、サンプル台をワイヤが張架している方向に対して垂直方向に10mm連続往復移動させ、帯電器のワイヤ張架方向への移動は全く行わずに劣化加速試験を実施した。
【００４３】
＜比較例２＞
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA／cm2、照度を130luxに設定し、120分間劣化加速試験を行った。劣化試験中は、帯電器移動用レールを使用して、帯電器をワイヤ張架している方向に30mm連続往復移動させ、かつ劣化試験中は、サンプル台をワイヤが張架している方向に対して垂直方向に10mm連続往復移動させ、劣化加速試験を実施した。
【００４４】
それぞれの条件で劣化加速試験を行った後の感光体表面を観察し、感光体表面の放電生成物付着状況についての結果を表１に示す。なお、劣化に伴って放電生成物が付着していくが、付着している状況によって帯電ムラを判断した。
【００４５】
【表１】
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○：付着ムラなし。
△：付着ムラは確認できるが、放電生成物付着が全く無い箇所は確認されない。
×：付着ムラが確認でき、放電生成物付着が全く無い箇所が確認できる。
（放電生成物付着ムラを確認した対象面積は、劣化面積の中心部30mm×30mmの位置のみを目視で確認した結果である。）
【００４６】
表１の観察結果から、サンプル台をワイヤ張架している方向に対して垂直方向に連続往復移動させて電子写真用感光体をワイヤ張架している方向に対して垂直方向に連続往復移動させ、かつ帯電器自体をワイヤ張架方向にも往復移動させることで、放電生成物付着ムラが抑制され、帯電ムラが抑制されることが分かる。また、電子写真用感光体をワイヤ張架している方向に対して垂直方向に連続往復移動させ、かつ電子写真用感光体をワイヤ張架方向にも往復移動させる方法によっても、放電生成物付着ムラが抑制され、帯電ムラが抑制されることが分かる。さらに、ワイヤ張架方向への移動量は、大きい方がワイヤ張架方向の放電生成物の付着ムラは良くなることが分かる。しかし、帯電器自体をワイヤ張架方向に往復移動させる範囲は、試料押さえの開口領域が帯電器の開口領域内となるような水平方向の位置関係でなければ、電子写真用感光体の劣化領域が帯電領域から外れてしまい、試験精度が悪くなり、放電生成物付着ムラ結果で確認されているように、帯電ムラが発生してしまうことが分かる。
【００４７】
なお、上述する実施形態は、本発明の好適な実施形態であり、上記実施形態のみに本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更を施した形態での実施が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施形態に係る感光体劣化加速試験装置の概略構成図である。
【図２】従来の感光体試料片の特性評価及び劣化試験装置の概略構成図である。
【図３】本発明の実施形態における感光体で使用される試料台の上面の概略構成図である。
【図４】本発明の実施形態における感光体で使用される試料台の側面の概略構成図である。
【図５】本発明の実施形態に係る感光体劣化加速試験装置の試験試料台の上面の概略構成図である。
【図６】本発明の実施形態に係る感光体劣化加速試験装置の帯電器上面の概略構成図である。
【図７】本発明の実施形態に係る感光体劣化加速試験装置の帯電器正面の概略構成図である。
【図８】本発明の実施形態に係る感光体劣化加速試験装置の帯電器下面の概略構成図である。
【図９】本発明の実施形態に係る感光体劣化試験装置の帯電部の他の概略構成図である。
【符号の説明】
【００４９】
１    ターンテーブル
２    試料片押さえ板
３    開口部
４    コロナ帯電器
５    表面電位計電極部・露光装置
６    電流計測・平滑化回路、他
７    表面電位計：アンプ回路、他
８    インターフェース（Ａ／Ｄ変換）
９    コントローラ
１０    露光装置
１１    帯電器
１２    試験試料押さえ
１３    高圧電源
１４    試験試料
１５    試験試料台
１６    ステージ
１７    エアチューブ
１８    吸引バルブ
１９    レギュレータ
２０    オゾンフィルタ
２１    エアー吸引口
２２    ワイヤ張架治具
２３    ワイヤ
２４    帯電器保持治具
２５    帯電器移動用レール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2007155993.tif 000009
【図７】
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【図８】
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【図９】
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