(57)【要約】【構成】電子カメラ１０は、ＣＰＵ２６を含み、ＣＣＤイメージャ１４は、複数の画素が２次元に配列された撮像面１４ｆを有する。撮像面１４ｆで捉えられた被写界を表す生画像データは、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成される。複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する周辺８画素の輝度値は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データからＣＰＵ２６によって検出される。ＣＰＵ２６は、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像領域の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを、検出された複数の輝度値に基づいて判別し、欠陥画素の輝度値を判別結果に応じて異なる態様で補正する。【効果】的確な欠陥画素補正が実現される。【選択図】図１
2007267072.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有する撮像手段、
前記撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段、
前記複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を前記作成手段によって作成された画像データから検出する検出手段、
前記欠陥画素および前記複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に前記欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを前記検出手段によって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別手段、および
前記欠陥画素のデータ値を前記判別手段の判別結果に応じて異なる態様で補正する補正手段を備える、電子カメラ。
【請求項２】
前記複数の周辺画素を低輝度画素および高輝度画素に分類する分類手段をさらに備え、
前記判別手段は、前記複数の周辺画素が既定の第１パターンに沿うか否かを判別する第１パターン判別手段、前記複数の周辺画素が既定の第２パターンに沿うか否かを判別する第２パターン判別手段、および前記分類手段の分類結果に基づいて前記第１パターン判別手段および前記第２パターン判別手段の一方を能動化する能動化手段を含む、請求項１記載の電子カメラ。
【請求項３】
前記補正手段は、前記第１パターン判別手段の判別結果が否定的であるとき前記低輝度画素および前記高輝度画素のうち前記低輝度画素のみを参照して補正処理を実行する第１補正手段、前記第２パターン判別手段の判別結果が否定的であるとき前記低輝度画素および前記高輝度画素のうち前記高輝度画素のみを参照して補正処理を実行する第２補正手段を含む、請求項２記載の電子カメラ。
【請求項４】
前記補正手段は、前記第１パターン判別手段の判別結果および前記第２パターン判別手段の判別結果のいずれか一方が肯定的であるとき前記低輝度画素および前記高輝度画素の両方を参照して補正処理を実行する第３補正手段をさらに含む、請求項３記載の電子カメラ。
【請求項５】
前記欠陥画素を識別する画素情報を保持する保持手段をさらに備え、
前記検出手段は前記保持手段によって保持された画素情報に基づいて検出処理を実行する、請求項１または４のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項６】
前記保持手段によって保持される前記欠陥画素の画素情報は前記欠陥画素が現れた位置を示す位置情報と前記欠陥画素の明るさを示す明るさ情報とを含む、請求項５記載の電子カメラ。
【請求項７】
前記複数の画素をそれぞれ覆う複数の色要素を有する色フィルタをさらに備え、前記複数の色要素の各々は複数の色のいずれか１つを有し、前記周辺画素を覆う色フィルタの色は前記欠陥画素を覆う色フィルタの色と一致する、請求項１ないし６のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項８】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有する撮像手段、前記撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段を備える電子カメラのプロセサに、
前記複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を前記作成手段によって作成された画像データから検出する検出ステップ、
前記欠陥画素および前記複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に前記欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを前記検出ステップによって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別ステップ、および
前記欠陥画素のデータ値を前記判別ステップの判別結果に応じて異なる態様で補正する補正ステップを実行させるための、画像処理プログラム。
【請求項９】
複数の画素が２次元に配列された撮像面を有する撮像手段、前記撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段を備える電子カメラの画像処理方法であって、
前記複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を前記作成手段によって作成された画像データから検出する検出ステップ、
前記欠陥画素および前記複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に前記欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを前記検出ステップによって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別ステップ、および
前記欠陥画素のデータ値を前記判別ステップの判別結果に応じて異なる態様で補正する補正ステップを備える、画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子カメラに関し、特にたとえば、イメージセンサに含まれる欠陥画素を補正する、電子カメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種の装置の一例が、特許文献１に開示されている。この従来技術によれば、イメージセンサの欠陥画素が、メカニカルシャッタが閉じられた状態での露光によってイメージセンサで生成された黒画像データに基づいて検出される。検出された欠陥画素の座標データは、メモリに一旦記憶される。被写界を表す画像データの欠陥画素は、メモリに記憶された座標データを参照して、メディアンフィルタ処理によって補正される。
【特許文献１】特開２００４−２３３３１号公報[H04N  5/335]
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、従来技術では、コントラストが高い被写界を撮影すると、欠陥画素の画素データにいわゆる画素潰れが発生し、撮影された画像データの品質が低下する。
【０００４】
それゆえに、この発明の主たる目的は、撮影された画像データの品質を改善することができる、電子カメラを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１の発明に従う電子カメラ(10)は、複数の画素が２次元に配列された撮像面(14f)を有する撮像手段(14)、撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段(16)、複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を作成手段によって作成された画像データから検出する検出手段(S21)、欠陥画素および複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを検出手段によって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別手段(S47,S49,S51,S53)、および欠陥画素のデータ値を判別手段の判別結果に応じて異なる態様で補正する補正手段(S55,S57,S33)を備える。
【０００６】
撮像手段は、複数の画素が２次元に配列された撮像面を有する。撮像面で捉えられた被写界を表す画像データは、作成手段によって作成される。複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値は、作成手段によって作成された画像データから検出手段によって検出される。判別手段は、欠陥画素および複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを、検出手段によって検出された複数のデータ値に基づいて判別する。補正手段は、欠陥画素のデータ値を判別手段の判別結果に応じて異なる態様で補正する。
【０００７】
欠陥画素のデータ値の補正態様は、欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かによって異なる。これによって、的確な欠陥画素補正が実現される。
【０００８】
請求項２の発明に従う電子カメラは、請求項１に従属し、複数の周辺画素を低輝度画素および高輝度画素に分類する分類手段(S45)をさらに備え、判別手段は、複数の周辺画素が既定の第１パターンに沿うか否かを判別する第１パターン判別手段(S51)、複数の周辺画素が既定の第２パターンに沿うか否かを判別する第２パターン判別手段(S53)、および分類手段の分類結果に基づいて第１パターン判別手段および第２パターン判別手段の一方を能動化する能動化手段(S47,S49)を含む。
【０００９】
請求項２の発明によれば、部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれていない場合は、第１パターン判別手段および第２パターン判別手段によって判別される。これによって、欠陥画素が迅速に補正される。
【００１０】
請求項３の発明に従う電子カメラは、請求項２に従属し、補正手段は、第１パターン判別手段の判別結果が否定的であるとき低輝度画素および高輝度画素のうち低輝度画素のみを参照して補正処理を実行する第１補正手段、第２パターン判別手段の判別結果が否定的であるとき低輝度画素および高輝度画素のうち高輝度画素のみを参照して補正処理を実行する第２補正手段を含む。
【００１１】
請求項３の発明によれば、複数の周辺画素が既定の第１パターンに沿わないとき、部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ低輝度の線が描かれていると判断される。つまり、欠陥画素の明るさは低輝度画素に近似する明るさを示すと判断される。欠陥画素は、低輝度画素および高輝度画素のうち低輝度画素のみを参照する第１補正手段によって補正される。また、複数の周辺画素が既定の第２パターンに沿わないとき、部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ高輝度の線が描かれていると判断される。つまり、欠陥画素の明るさは低輝度画素に近似する明るさを示すと判断される。欠陥画素は、低輝度画素および高輝度画素のうち高輝度画素のみを参照する第２補正手段によって補正される。これによって、線と背景との関係を考慮した的確な補正処理が実現される。
【００１２】
請求項４の発明に従う電子カメラは、請求項３に従属し、補正手段は、第１パターン判別手段の判別結果および第２パターン判別手段の判別結果のいずれか一方が肯定的であるとき低輝度画素および高輝度画素の両方を参照して補正処理を実行する第３補正手段をさらに含む。この結果、欠陥画素が的確に補正される。
【００１３】
請求項５の発明に従う電子カメラは、請求項１ないし４のいずれかに従属し、欠陥画素を識別する画素情報を保持する保持手段(52)をさらに備え、検出手段は保持手段によって保持された画素情報に基づいて検出処理を実行する。
【００１４】
請求項６の発明に従う電子カメラは、請求項５に従属し、保持手段によって保持される欠陥画素の画素情報は欠陥画素が現れた位置を示す位置情報と欠陥画素の明るさを示す明るさ情報とを含む。
【００１５】
請求項７の発明に従う電子カメラは、請求項１または６に従属し、複数の画素をそれぞれ覆う複数の色要素を有する色フィルタをさらに備え、複数の色要素の各々は複数の色のいずれか１つを有し、周辺画素を覆う色フィルタの色は前記欠陥画素を覆う色フィルタの色と一致する。
【００１６】
請求項８の発明に従う画像処理プログラムは、複数の画素が２次元に配列された撮像面(14f)を有する撮像手段(14)、撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段(16)を備える電子カメラ(10)のプロセサ(26)に、複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を作成手段によって作成された画像データから検出する検出ステップ(S21)、欠陥画素および複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを検出ステップによって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別ステップ(S47,S49,S51,S53)、および欠陥画素のデータ値を判別ステップの判別結果に応じて異なる態様で補正する補正ステップ(S55,S57,S33)を実行させるための、画像処理プログラムである。
【００１７】
請求項７の発明に従う画像処理方法は、複数の画素が２次元に配列された撮像面(14f)を有する撮像手段(14)、撮像面で捉えられた被写界を表す画像データを作成する作成手段(16)を備える電子カメラ(10)の画像処理方法であって、複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する複数の周辺画素のデータ値を作成手段によって作成された画像データから検出する検出ステップ(S21)、欠陥画素および複数の周辺画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを検出ステップによって検出された複数のデータ値に基づいて判別する判別ステップ(S47,S49,S51,S53)、および欠陥画素のデータ値を判別ステップの判別結果に応じて異なる態様で補正する補正ステップ(S55,S57,S33)を備える、画像処理方法である。
【００１８】
請求項７および８についても、請求項１の発明と同様に、欠陥画素のデータ値の補正態様は、欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かによって異なる。的確な欠陥画素補正が実現される。
【発明の効果】
【００１９】
この発明によれば、欠陥画素のデータ値の補正態様は、欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かによって異なる。これによって、的確な欠陥画素補正が実現される。
【００２０】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１を参照して、この実施例のディジタルカメラ（電子カメラ）１０は、光学レンズ１２を含む。被写界の光学像は、光学レンズ１２を経てＣＣＤイメージャ１４の受光面つまり撮像面１４ｆに照射される。
【００２２】
撮像面１４ｆは、原色ベイヤ配列の色フィルタ（図２参照）によって覆われる。色フィルタを構成する複数のフィルタ要素は、撮像面１４ｆを形成する複数の受光素子にそれぞれ対応する。したがって、各々の受光素子で生成される電荷量は、Ｒ(Red)，Ｇ(Green)およびＢ(Blue)のいずれか１つの光量を反映する。なお、受光素子は“画素”と定義する。
【００２３】
撮像面１４ｆを形成する複数の画素は、正常画素および欠陥画素に区分される。欠陥画素は、正常画素に比べ極大な電荷量を出力する高感度の欠陥画素と、正常画素に比べ極小な電荷量を出力する高感度の欠陥画素とを有する。
【００２４】
電源が投入されると、欠陥画素情報読み出し処理とスルー画像処理とが実行される。具体的には、ＣＰＵ２６はまず、フラッシュメモリ５２に記憶された欠陥画素情報をバスＢ１を経て読み出す。ここで、欠陥画素情報は、ＣＣＤイメージャ１４に含まれる複数の欠陥画素の位置情報Ａｄｒを含み、ＣＰＵ２６に形成されるメモリ２６ｍに格納される。位置情報Ａｄｒは欠陥画素の位置を表す。
【００２５】
ＣＰＵ２６は続いて、スイッチＳＷ１およびＳＷ２を端子Ｔ１およびＴ３にそれぞれ接続し、プリ露光および間引き読み出しの繰り返しをタイミングジェネレータ（ＴＧ）／シグナルジェネレータ（ＳＧ）１８に命令し、そしてメモリ制御回路３８の書き込み先をＳＤＲＡＭ４０のスルー画像エリア４０ａに設定する。
【００２６】
図３を参照して、ＳＤＲＡＭ４０は、スルー画像エリア４０ａ，生画像エリア４０ｂ，ワークエリア４０ｃおよび圧縮画像エリア４０ｄを有する。スルー画像エリア４０ａは電源が投入されてから使用され、生画像エリア３８ｂは記録操作つまりシャッタボタン５４による全押し操作が行われてから使用され、ワークエリア４０ｃは画素修正処理（後述）のときに使用され、そして圧縮画像エリア４０ｄはＪＰＥＧ圧縮処理（後述）のときに使用される。
【００２７】
図１に戻って、ＴＧ／ＳＧ１８は、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃを１／３０秒毎に発生し、これに同期する複数のタイミング信号をＣＣＤイメージャ１４およびＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６の各々に与える。撮像面１４ｆは垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生する毎にプリ露光を施され、撮像面１４ｆで生成された電荷はラスタ走査による間引き読み出しを施される。読み出された電荷によって形成される低解像度の生画像信号は、３０ｆｐｓのフレームレートを有する。
【００２８】
ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６は、ＣＣＤイメージャ１４から出力された生画像信号に相関２重サンプリング，ゲイン調整およびＡ／Ｄ変換の一連の処理を施し、ディジタル信号である生画像データを出力する。ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６から出力された生画像データは、スイッチＳＷ１およびＳＷ２を経て、信号処理回路２０に与えられる。
【００２９】
信号処理回路２０は、与えられた生画像データに白バランス調整，色分離，ＹＵＶ変換などの処理を施し、これによって生成されたＹＵＶ形式の画像データは、バッファ回路２２およびバスＢ１を経てメモリ制御回路３８に与えられ、メモリ制御回路３８によってＳＤＲＡＭ４０のスルー画像エリア４０ａに書き込まれる。
【００３０】
ビデオエンコーダ４４は、こうしてＳＤＲＡＭ４０に格納された画像データをメモリ制御回路３８を通して読み出す。読み出された画像データは、バスＢ１およびバッファ回路４２を経てビデオエンコーダ４４に与えられ、ＮＴＳＣ方式のコンポジットビデオ信号に変換される。変換されたコンポジットビデオ信号はＬＣＤ(Liquid Crystal Display)４６に与えられ、この結果、被写界を表すスルー画像がＬＣＤ４６に再現される。
【００３１】
輝度評価回路２４は、信号処理回路２０によって生成されたＹＵＶ形式の画像データのうちＹデータに基づいて、１／３０秒毎に被写界の輝度を評価する。評価結果つまり輝度評価値は、ＣＰＵ２６によるスルー画像用ＡＥ処理に利用される。ＣＰＵ２６は、輝度評価値に基づいて最適露光時間を算出し、算出された最適露光時間に従うプリ露光処理をＴＧ／ＳＧ１８に命令する。この結果、ＬＣＤ４６に表示されるスルー画像の明るさが適度に調整される。
【００３２】
シャッタボタン５４が半押しされると、ＣＰＵ２６は、記録用ＡＥ処理を実行する。ＣＣＤイメージャ１４のプリ露光時間は、上述の輝度評価値に基づいてより厳密に調整される。記録用ＡＥ処理によってＴＧ／ＳＧ１８に設定された最適露光時間は、シャッタボタン５４の半押し状態が継続される限り、変更されることはない。
【００３３】
シャッタボタン５４が全押しされると、撮影処理が実行される。具体的には、ＣＰＵ２６は、スイッチＳＷ１およびＳＷ２を端子Ｔ２およびＴ４にそれぞれ接続し、最適露光時間に従う本露光及び全画素読み出しの実行をＴＧ／ＳＧ１８に命令し、そして書き込み設定の変更をメモリ制御回路３８に命令する。書き込み設定の変更によって、生画像エリア４０ｂ（図３参照）が書き込み先として設定される。
【００３４】
ＴＧ／ＳＧ１８は、記録用ＡＥ処理によって算出された最適露光時間に従う本露光をＣＣＤイメージャ１４に施し、生成された電荷の全てをラスタ走査態様で読み出す。撮像面１４ｆはこのとき、飛び越し態様で走査される。全ての電荷によって形成される高画素数の生画像信号は、２フィールド期間（＝１／３０秒＊２）かけて、ＣＣＤイメージャ１４から出力される。
【００３５】
ＣＣＤイメージャ１４から出力された各フィールドの生画像信号は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６で上述と同じ処理を施され、生画像データに変換される。変換された生画像データは、スイッチＳＷ１を経てバッファ回路２８に与えられ、その後バスＢ１およびメモリ制御回路３８を経てＳＤＲＡＭ４０の生画像エリア４０ｂに書き込まれる。
【００３６】
生画像エリア４０ｂに生画像データが格納されると、画素修正処理が実行される。具体的には、ＣＰＵ２６はまず、テーブル２６ｔに登録された欠陥画素の位置情報Ａｄｒに基づいて欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴと周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］とを生画像データから検出する。
【００３７】
周辺８画素の各々は、図４に示すように、欠陥画素を覆うフィルタ要素の色と同色のフィルタ要素によって覆われる。このように同色に注目することによって、欠陥画素が正確に修正される。
【００３８】
図１に戻って、ＣＰＵ２６は次に、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］の各々を昇順に整列し、こうして得られる整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｓｏｒｔ［７］をＳＤＲＡＭ４０のワークエリア４０ｃ（図３参照）に格納する。なお、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］のうち最も高い輝度値が整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］に置換され、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］のうち最も低い輝度値が整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［７］に置換される。
【００３９】
整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｓｏｒｔ［７］が格納されると、ＣＰＵ２６は続いて、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が低コントラスト画像であるか否かを判別する。具体的には、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［１］を整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［６］によって除算された数値が定数Ｇａｐ以上であるか否かが判別される。なお、定数Ｇａｐと比較する値の算出式に整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［１］および整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［６］が採用されることによって、この判別結果の信頼性が向上される。
【００４０】
欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が低コントラスト画像であれば、メディアンフィルタ処理によって欠陥画素が補正される。具体的には、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴおよび周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］を降順に整列し、整列された９つの輝度値の中央値つまり１番低い輝度値から５番目の輝度値が欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴに置換される。換言すると、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］の全てがメディアンフィルタ処理のときに参照される。
【００４１】
一方、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が高コントラスト画像であれば、ＣＰＵ２６はさらに、平均値フィルタ処理に利用する標本の信頼性を判断するべく、欠陥画素の周辺８画素に欠陥画素が存在するか否かを判別する。欠陥画素の周辺８画素に欠陥画素が存在すれば、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］は平均値フィルタ処理に対して信頼性の低い標本であるとみなされ、上述のメディアンフィルタ処理が実行される。
【００４２】
一方、欠陥画素の周辺８画素に欠陥画素が存在しなければ、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］は平均値フィルタ処理に対して信頼性の高い標本であるとみなされ、平均値フィルタ処理が実行される。
【００４３】
具体的には、ＣＰＵ２６はまず、閾値ＴＨを算出する。閾値ＴＨは、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［１］および整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［６］を互いに加算することで得られた数値の１／２に等しい。なお、閾値ＴＨの算出式に整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［１］および整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［６］が採用されることによって、欠陥画素が迅速に修正される。
【００４４】
ＣＰＵ２６は次に、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｓｏｒｔ［７］のうち閾値ＴＨを上回る整列輝度値を高輝度画素に分類し、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｓｏｒｔ［７］のうち閾値ＴＨ以下の整列輝度値を高輝度画素に分類する。
【００４５】
周辺８画素のうち低輝度画素に分類された画素数が“２”または“３”個の場合、周辺８画素のうち低輝度画素に分類された画素の各々は欠陥画素が本来示すべき輝度値に近似すると判断され、周辺８画素が除外パターン１（図５（Ａ）〜（Ｐ）参照）に該当するか否かがＣＰＵ２６によって判別される。なお、低輝度画素が“２”個のとき高輝度画素に分類された画素は“６”個であり、低輝度画素が“３”個のとき高輝度画素に分類された画素は“５”個である。
【００４６】
図６（Ａ）に示すような画像領域の中心に欠陥画素が存在するとき、周辺８画素は除外パターン１（図５（Ｊ）参照）に該当するため、上述のメディアンフィルタ処理が実行される。この結果、図６（Ｂ）に示すように、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴは低輝度画素に分類された輝度値のいずれか一つによって置換される。
【００４７】
図７（Ａ）に示すような画像領域の中心に欠陥画素が存在するとき、周辺８画素は除外パターン１に該当しないため、欠陥画素は低輝度値によって表される線を形成する低輝度画素と判断される。ＣＰＵ２６はこのとき、低輝度画素に分類された整列輝度値の平均値を算出し、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴを算出された平均値によって置換する。この結果、図７（Ｂ）に示すように、欠陥画素は低輝度値によって表される線によって形成される低輝度画素に近似する輝度値を有する。
【００４８】
周辺８画素のうち高輝度画素に分類された画素が“２”または“３”個の場合、ＣＰＵ２６は、周辺８画素のうち高輝度画素に分類された画素の各々は欠陥画素が本来示すべき輝度値に近似すると判断され、周辺８画素が除外パターン２（図８（Ａ）〜（Ｐ）参照）に該当するか否かを判別する。なお、高輝度画素が“２”個のとき低輝度画素に分類された画素は“６”個であり、高輝度画素が“３”個のとき低輝度画素に分類された画素は“５”個である。
【００４９】
図９（Ａ）に示すような画像領域の中心に欠陥画素が存在するとき、周辺８画素は除外パターン２（図８（Ｃ）参照）に該当するため、上述のメディアンフィルタ処理が実行される。この結果、図９（Ｂ）に示すように、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴは高輝度画素に分類された輝度値のいずれか一つによって置換される。
【００５０】
図１０（Ａ）に示すような画像領域の中心に欠陥画素が存在するとき、周辺８画素は除外パターン２に該当しないため、欠陥画素は高輝度値によって表される線を形成する高輝度画素と判断される。ＣＰＵ２６はこのとき、高輝度画素に分類された整列輝度値の平均値を算出し、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴを算出された平均値によって置換する。この結果、図１０（Ｂ）に示すように、欠陥画素は高輝度値によって表される線によって形成される高輝度画素に近似する輝度値を有する。
【００５１】
つまり、周辺８画素が除外１グループに沿うとき、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ低輝度の線が描かれていると判断される。換言すると、欠陥画素の明るさは低輝度画素に近似する明るさを示すと判断される。ＣＰＵ２６は、低輝度画素および高輝度画素のうち低輝度画素のみを参照して欠陥画素を補正する。また、周辺８画素が除外２グループに沿うとき、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ高輝度の線が描かれていると判断される。換言すると、欠陥画素の明るさは高輝度画素に近似する明るさを示すと判断される。ＣＰＵ２６は、低輝度画素および高輝度画素のうち高輝度画素のみを参照して欠陥画素を補正する。これによって、線と背景との関係を考慮した的確な補正処理が実現される。なお、周辺８画素の一部が平均値フィルタ処理のときに参照される。
【００５２】
なお、上述の処理は、全ての欠陥画素の修正処理を完了するまで継続され、ＳＤＲＡＭ４０のワークエリア４０ｃが利用される。
【００５３】
生画像データの画素修正処理が完了すると、ＣＰＵ２６は、記録処理を実行するべく、信号処理回路２０，ＪＰＥＧエンコーダ３４，メモリ制御回路３８およびＩ／Ｆ回路４８に命令を与える。信号処理回路２０は、生画像領域４０ｂに格納された生画像データを、メモリ制御回路３８を通してプログレッシブ走査態様で読み出す。読み出された生画像データは、バスＢ１，バッファ回路３０およびスイッチＳＷ２を介して信号処理回路２０に与えられ、ＹＵＶ形式の画像データに変換される。変換された画像データはバッファ回路２２およびバスＢ１を介してメモリ制御回路３８に与えられ、メモリ制御回路３８によってＳＤＲＡＭ４０に書き込まれる。
【００５４】
なお、スイッチＳＷ１およびＳＷ２が端子Ｔ１および端子Ｔ３にそれぞれ接続されるとき、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６から出力される生画像データは信号処理回路２０に与えられる。一方、スイッチＳＷ１およびＳＷ２が端子Ｔ２および端子Ｔ４にそれぞれ接続されるとき、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６から出力される生画像データはバッファ回路２８，バスＢ１およびメモリ制御回路３８を経てＳＤＲＡＭ４０に与えられる。
【００５５】
ＪＰＥＧエンコーダ３４は、生画像領域４０ｂに格納された画像データをメモリ制御回路３８を通して読み出す。読み出された画像データは、バスＢ１およびバッファ回路３２を経てＪＰＥＧエンコーダ３４に与えられ、ＪＰＥＧ圧縮を施される。これによって生成された圧縮画像データは、バッファ回路３６およびバスＢ１を経てメモリ制御回路３８に与えられ、ＳＤＲＡＭ４０の圧縮画像エリア４０ｄ（図３参照）に書き込まれる。Ｉ／Ｆ回路４８は、圧縮画像エリア４０ｄに格納された圧縮画像データをメモリ制御回路３８を通して読み出し、読み出された圧縮画像データをファイル形式で記録媒体５０に記録する。なお、記録媒体５０は、着脱自在であり、図示しないスロットに装着されたときにＣＰＵ２６によってアクセス可能となる。
【００５６】
このように、ＣＣＤイメージャ１４は、複数の画素が２次元に配列された撮像面１４ｆを有する。撮像面１４ｆで捉えられた被写界を表す生画像データは、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成される。複数の画素のうち欠陥画素の周辺に存在する周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路１６によって作成された生画像データからＣＰＵ２６によって検出される。ＣＰＵ２６は、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像領域の上に欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かを、検出された複数の輝度値に基づいて判別し、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴを判別結果に応じて異なる態様で補正する。
【００５７】
欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴの補正態様は、欠陥画素を跨ぐ線が描かれているか否かによって異なる。これによって、的確な欠陥画素補正が実現される。
【００５８】
ＣＰＵ２６は、図示しないキー入力装置によって撮影モードに設定されたとき、具体的には図１１〜図１３に示すフロー図に従う処理を行う。なお、このフロー図に対応するプログラムは、フラッシュメモリ５２に記憶される。
【００５９】
図１１を参照して、ステップＳ１ではフラッシュメモリ５２から欠陥画素情報を読み出す。読み出された欠陥画素情報は、メモリ２６ｍに格納される。ステップＳ３では、スルー画像処理を実行する。この結果、被写界を表すスルー画像がＬＣＤ４６に再現される。
【００６０】
ステップＳ５では、シャッタボタン５４が半押しされたか否かを判別する。判別結果が否定的であれば、ステップＳ７でスルー画像用ＡＥ処理を実行する。この結果、ＬＣＤ４６に表示されるスルー画像の明るさが適度に調整される。判別結果が肯定的であれば、ステップＳ９で記録用ＡＥ処理を実行する。この結果、輝度評価回路２４から取り込んだ輝度評価値に基づいてより厳密に調整される。
【００６１】
ステップＳ１１では、シャッタボタン５４が全押しされたか否かを判別する。判別結果が否定的であればステップＳ１３でシャッタボタン５４が解除されたか否かを判別する。シャッタボタン５２が解除されると、ステップＳ３に戻り、シャッタボタン５４が保持されると、ステップＳ１１に戻る。
【００６２】
シャッタボタン５４が全押しされると、ステップＳ１５で撮影処理を実行する。生画像データがＳＤＲＡＭ４０に格納されると、ステップＳ１７で画素修正処理を実行する。欠陥画素の修正処理が完了すると、ステップＳ１９で記録処理を実行する。この処理が完了すると、ステップＳ３に戻る。この結果、シャッタボタン５４が全押し操作された時点の被写界像を表す圧縮画像データがファイル形式で記録媒体５０に記録される。
【００６３】
ステップＳ１７の画素修正処理は、図１２に示すサブルーチンに従って実行される。ステップＳ２１では、メモリ２６ｍに登録された欠陥画素の位置情報Ａｄｒに基づいて欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴおよび周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］を生画像データから検出する。ステップＳ２３では、整列処理を実行する。この結果、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｏｓｒｔ［７］がワークエリア４０ｃに格納される。
【００６４】
ステップＳ２５では、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が低コントラスト画像であるか否かを判別する。欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が低コントラスト画像であれば、ステップＳ３３に進む一方、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像が高コントラスト画像であれば、ステップＳ２７で周辺８画素は欠陥画素を有するか否かを判別する。周辺８画素が欠陥画素を有すれば、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］は平均値フィルタ処理に対して信頼性の低い標本であるとみなし、ステップＳ３３に進む。周辺８画素が欠陥画素を有しなければ、周辺８画素の輝度値Ｌａｒｏｕｎｄ［０］〜Ｌａｒｏｕｎｄ［７］は平均値フィルタ処理に対して信頼性の高い標本であるとみなし、ステップＳ２９で平均値フィルタ処理を実行する。
【００６５】
ステップＳ３１では、後述するフラグＦｌａｇが“０”であるか否かを判別する。フラグＦｌａｇが“１”であればステップＳ３５に進む一方、フラグＦｌａｇが“０”であれば、ステップＳ３３でメディアンフィルタ処理を実行する。この結果、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴが上述で示す中央値によって置換される。
【００６６】
ステップＳ３５では、全欠陥画素の修正が完了したか否かを判別する。判別結果が否定的であれば、ステップＳ２１に戻り、判別結果が肯定的であれば、上階層のルーチンに復帰する。
【００６７】
ステップＳ２９の平均値フィルタ処理は、図１３に示すサブルーチンに従って実行される。ステップＳ４１では、フラグＦｌａｇを“０”に設定し、ステップＳ４３で閾値ＴＨを算出し、ステップＳ４５で分類処理を実行する。この結果、整列輝度値Ｌｓｏｒｔ［０］〜Ｌｓｏｒｔ［７］の各々は、閾値ＴＨに基づいて高輝度画素および低輝度画素のいずれか一方に分類される。
【００６８】
ステップＳ４７では、低輝度画素に分類された整列輝度値は“２”および“３”個のいずれか一方であるか否かを判別する。判別結果がＹＥＳであれば、ステップＳ５１で欠陥画素および周辺８画素が除外パターン１（図５（Ａ）〜（Ｐ）参照）に該当するか否かを判別する。欠陥画素および周辺８画素が除外パターン１に該当すれば、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ低輝度の線が描かれていないと判断され、上階層のルーチンに復帰する一方、欠陥画素および周辺８画素が除外パターン１に該当しなければ、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ低輝度の線が描かれていると判断され、ステップＳ５５で低輝度画素に分類された整列輝度値の平均値を算出し、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴを算出された平均値によって置換する。この結果、欠陥画素は低輝度値によって表される線によって形成される低輝度画素に近似する輝度値を有する。
【００６９】
一方、ステップＳ４７の判別結果がＮＯであれば、ステップＳ４９で高輝度画素に分類された整列輝度値は“２”または“３”個のいずれか一方であるか否かを判別する。判別結果が否定的であれば、低輝度画素に分類された整列輝度値は“１”，“４”および“７”個のいずれか一つであると判断され、上階層のルーチンに復帰する。
【００７０】
判別結果が肯定的であれば、ステップＳ５３で欠陥画素および周辺８画素が除外パターン２（図８（Ａ）〜（Ｐ）参照）に該当するか否かを判別する。欠陥画素および周辺８画素が除外パターン２に該当すれば、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ高輝度の線が描かれていないと判断され、上階層のルーチンに復帰する一方、欠陥画素および周辺８画素が除外パターン２に該当しなければ、欠陥画素および周辺８画素によって表現される部分画像の上に欠陥画素を跨ぐ高輝度の線が描かれていると判断され、ステップＳ５７で高輝度画素に分類された整列輝度値の平均値を算出し、欠陥画素の輝度値ＤＥＦＥＣＴを算出された平均値によって置換する。この結果、欠陥画素は高輝度値によって表される線によって形成される高輝度画素に近似する輝度値を有する。
【００７１】
ステップＳ５９では、フラグＦｌａｇを“１”に設定し、上階層のルーチンに復帰する。この結果、メディアンフィルタ処理が禁止され、欠陥画素が迅速に修正される。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１実施例に適用されるＣＣＤイメージャ１４に形成された撮像面１４ｆの一例を示す図解図である。
【図３】図１実施例に適用されるＳＤＲＡＭ４０のメモリマッピングの一例を示す図解図である。
【図４】図１実施例に適用されるＣＣＤイメージャ１４に形成された撮像面１４ｆの他の一例を示す図解図である。
【図５】（Ａ）は除外パターン１の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は除外パターン１の他の一例を示す図解図であり、（Ｃ）は除外パターン１のその他の一例を示す図解図であり、（Ｄ）は除外パターン１のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｅ）は除外パターン１の他の一例を示す図解図であり、（Ｆ）は除外パターン１のその他の一例を示す図解図であり、（Ｇ）は除外パターン１のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｈ）は除外パターン１の他の一例を示す図解図であり、（Ｉ）は除外パターン１のその他の一例を示す図解図であり、（Ｊ）は除外パターン１のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｋ）は除外パターン１の他の一例を示す図解図であり、（Ｌ）は除外パターン１のその他の一例を示す図解図であり、（Ｍ）は除外パターン１のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｎ）は除外パターン１の他の一例を示す図解図であり、（Ｏ）は除外パターン１のその他の一例を示す図解図であり、そして（Ｐ）は除外パターン１のさらにその他の一例を示す図解図である。
【図６】（Ａ）は高周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理前の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は高周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理後の一例を示す図解図である。
【図７】（Ａ）は低周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理前の一例を示す図解図であり、（Ｄ）は低周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理後の一例を示す図解図である。
【図８】（Ａ）は除外パターン２の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は除外パターン２の他の一例を示す図解図であり、（Ｃ）は除外パターン２のその他の一例を示す図解図であり、（Ｄ）は除外パターン２のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｅ）は除外パターン２の他の一例を示す図解図であり、（Ｆ）は除外パターン２のその他の一例を示す図解図であり、（Ｇ）は除外パターン２のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｈ）は除外パターン２の他の一例を示す図解図であり、（Ｉ）は除外パターン２のその他の一例を示す図解図であり、（Ｊ）は除外パターン２のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｋ）は除外パターン２の他の一例を示す図解図であり、（Ｌ）は除外パターン２のその他の一例を示す図解図であり、（Ｍ）は除外パターン２のさらにその他の一例を示す図解図であり、（Ｎ）は除外パターン２の他の一例を示す図解図であり、（Ｏ）は除外パターン２のその他の一例を示す図解図であり、そして（Ｐ）は除外パターン２のさらにその他の一例を示す図解図である。
【図９】（Ａ）は高周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理前の他の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は高周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理後の他の一例を示す図解図である。
【図１０】（Ａ）は低周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理前の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は低周波の画像領域に存在する欠陥画素の画素修正処理後の一例を示す図解図である。
【図１１】図１実施例に適用されるＣＰＵ２６の動作の一部を示すフロー図である。
【図１２】図１実施例に適用されるＣＰＵ２６の動作の他の一部を示すフロー図である。
【図１３】図１実施例に適用されるＣＰＵ２６の動作のその他の一部を示すフロー図である。
【符号の説明】
【００７３】
１０  …  ディジタルカメラ
１４  …  ＣＣＤイメージャ
１６  …  ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ
５０  …  フラッシュメモリ
【図１】
2007267072.tif 000003
【図２】
2007267072.tif 000004
【図３】
2007267072.tif 000005
【図４】
2007267072.tif 000006
【図５】
2007267072.tif 000007
【図６】
2007267072.tif 000008
【図７】
2007267072.tif 000009
【図８】
2007267072.tif 000010
【図９】
2007267072.tif 000011
【図１０】
2007267072.tif 000012
【図１１】
2007267072.tif 000013
【図１２】
2007267072.tif 000014
【図１３】
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