(57)【要約】【課題】タッチパネルの内部の接続状態を観測及び監視する。【解決手段】入力装置は、上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える。前記配線は、前記上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、前記導体から前記上部電極基板の上面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備える。前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、
前記配線は、前記上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、前記導体から前記上部電極基板の上面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備え、
前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備えることを特徴とする入力装置。
【請求項２】
上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、
前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられたスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に観測端子を備えることを特徴とする入力装置。
【請求項３】
前記第１の観測端子と前記第２の観測端子とによって挟まれた前記導体の抵抗値を測定することにより、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを観測できるようにしたことを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
【請求項４】
前記配線と前記観測端子とによって挟まれた前記導体の抵抗値を測定することにより、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを観測できるようにしたことを特徴とする請求項２に記載の入力装置。
【請求項５】
前記導体は、異方性導電体であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の入力装置。
【請求項６】
前記接続用配線と前記接続用基板とが、外部装置のケーブルに接続されていることを特徴とする請求項１に記載の入力装置。
【請求項７】
前記入力装置は、タッチパネルとして使用されることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の入力装置。
【請求項８】
上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、
前記配線は、前記上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、前記導体から前記上部電極基板の上面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備え、
前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備え、
前記第１の観測端子と前記第２の観測端子とにコネクタをつけて電極を接続し、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを測定することを特徴とする入力装置測定方法。
【請求項９】
上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、
前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられたスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に観測端子を備え、
前記配線と前記観測端子とにコネクタをつけて電極を接続し、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを測定することを特徴とする入力装置測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力装置に関するものであり、特にタッチパネルを備える入力装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、タッチパネルは、情報機器製品、家電製品などのディスプレイ兼入力用表示部品として、幅広く普及している。
【０００３】
しかしながら、タッチパネルは、導電膜を有する上部基板と下部基板が対向するように配置されるので、基板間のショートを防ぐために上部基板と下部基板が重ならないように、或いは接触しないように配置される必要があった。
【０００４】
このようなタッチパネルでは、タッチパネル内で使用する基板の配置対策として、例えば後述する特許文献１（図４参照）に記載されたものがある。
特許文献１に記載されたタッチパネル及びその製造方法は、上部電極基板５の導電膜５１と下部電極基板８の導電膜８１の間に、上下の導電膜に対向するように導電膜とフィルム状の絶縁層を備えたコントロール等を行う制御基板６０を設けたものが記載されている。
【０００５】
ここで、従来のタッチパネルの原理について、図５を用いて説明する。
図５には、従来のタッチパネルの断面図を示しており、上部電極基板５と下部電極基板８とを備えている。上部電極基板５には、導電膜５１と配線２と異方性導電体３３とケーブル３とが付けられている。また下部電極基板８には、導電膜８１が付けられている。導電膜５１は、ユーザによって押圧操作されることにより、導電膜８１と接触する。その際、導電膜５１と導電膜８１とが接触した地点の電圧が検出され、配線２、異方性導電体３３及びケーブル３を介して、その検出された電圧を分圧された電圧として、位置を検出するようになっている。
【０００６】
また、この分圧された電圧は、上部電極基板５、下部電極基板８、導電膜５１、導電体８１、配線２、配線６、異方性導電体３３、ケーブル３の配線３１の各材料ならびに、各々の接合部分の接続状態（接触状態）によって抵抗値が変化する。
また、導電膜５１と導電膜８１の抵抗値は、数百［Ω］という値であり、その他の抵抗値は、それより２桁程度、小さい値となっている。
【特許文献１】特開２００３-２９９３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、図４に示す特許文献１に記載されたタッチパネル及びその製造方法では、タッチパネル内の上部電極基板５と下部電極基板８との間に、新たに制御基板６０を設けているので、外部に接続するケーブル３とタッチパネルとの接触する部分について、接触低下などの接続状態（接触状態）の変化を観測することができない。
【０００８】
また、上述したように、図５に示したタッチパネルの導電膜５１と導電膜８１の抵抗値は、数百［Ω］という値であるのに対し、その他の抵抗値は、それより２桁程度小さい値となっているため、配線２とその配線２に接続される異方性導電体３３との接続状態の変化は、タッチパネルの押下点における位置座標の信号の誤差の値に隠れてしまい、その接合部分の接触低下などの異常に気付くことができないという問題があった。
【０００９】
また、異方性導電体３３の接合部分は、上部電極基板５の内側に具備される配線２とケーブル３の配線３１との間にあったため、これまでは引きはがし時の強度や、その部分の断面観察でしか接続状態を判断することができず、分解、破壊するなどでしか観察が出来ないという問題があった。
【００１０】
更には、破壊による機械的な強度のみ観測でき、電気的な接続状態は、仮定による判断しかできないという問題があった。
【００１１】
本発明は、以上の点を鑑みてなされてものであり、タッチパネルに具備された配線と、その配線から信号を引き出すケーブルとの電気的な接続状態を確認・監視でき、その電気的な接続の信頼性を向上させる入力装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明に係る入力装置は、上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、前記配線は、前記上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、前記導体から前記上部電極基板の上面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備え、前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備えることを特徴とする。
【００１３】
本発明に係る入力装置は、上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられたスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に観測端子を備えることを特徴とする。
【００１４】
また本発明に係る入力装置は、前記第１の観測端子と前記第２の観測端子とによって挟まれた前記導体の抵抗値を測定することにより、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを観測できるようにしても良い。
【００１５】
また本発明に係る入力装置は、前記配線と前記観測端子とによって挟まれた前記導体の抵抗値を測定することにより、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを観測できるようにしても良い。
【００１６】
また本発明に係る入力装置は、前記導体は、異方性導電体であるようにしても良い。
【００１７】
また本発明に係る入力装置は、前記接続用配線と前記接続用基板とが、外部装置のケーブルに接続されているようにしても良い。
【００１８】
また本発明に係る入力装置は、前記入力装置は、タッチパネルとして使用されるようにしても良い。
【００１９】
本発明に係る入力装置測定方法は、上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、前記配線は、前記上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、前記導体から前記上部電極基板の上面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備え、前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備え、前記第１の観測端子と前記第２の観測端子とにコネクタをつけて電極を接続し、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを測定することを特徴とする。
【００２０】
本発明に係る入力装置測定方法は、上部電極基板と、前記上部電極基板に設けられた上部導電膜と、前記上部導電膜と接触することにより導通する下部導電膜と、前記上部電極基板に配設された配線と、前記配線に接続された導体と、前記導体に接続された接続用配線と、前記接続用配線が設けられた接続用基板とを備える入力装置であって、前記接続用配線は、前記接続用基板に設けられたスルーホールを貫通し、前記導体から前記接続用基板の下面まで到達して、当該スルーホールを貫通した前記接続用基板の表面部分に観測端子を備え、前記配線と前記観測端子とにコネクタをつけて電極を接続し、前記配線と前記導体との接続状態、及び前記導体と前記接続用配線との接続状態とを測定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、配線が上部電極基板に設けられた第１のスルーホールを貫通し、導体から前記上部電極基板の上面まで到達している。そして、第１のスルーホールを貫通した配線は、上部電極基板の表面部分に第１の観測端子を備えている。接続用配線が接続用基板に設けられた第２のスルーホールを貫通し、導体から前記接続用基板の下面まで到達している。そして、第２のスルーホールを貫通した接続用配線は、接続用基板の表面部分に第２の観測端子を備えている。
【００２２】
これにより、第１の観測端子と第２の観測端子との接合部分の接続状態を観測・監視することができる。また接合部分の接続状態を観測することによって、接触低下などの接続状態を把握することができ、接合部分における接触異常などを早期に発見することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明による実施の形態の構成について、図面を用いて詳細に説明する。なお、前述した図５と同一の構成部分には同一の符号を付すこととする。
【００２４】
図１の断面図において、タッチパネルの配線２と異方性導電体（本発明の導体を構成する。）３３とが接続されている。また、異方性導電体３３とケーブル３とが接続されている。そして、ケーブル３と上位装置（図示せず）とが接続されている。
【００２５】
そして、配線２と異方性導電体３３との電気的な接続の安定性を確認することができるように、配線２が上部電極基板５と導電膜５１とに設けられたスルーホール（本発明の第１のスルーホールを構成する。）４１を貫通し、上部電極基板５の上面まで延びている。また、配線２がスルーホール４１を貫通した表面部分には、観測面（本発明の第１の観測端子を構成する。）１０１が付けられている。
【００２６】
一方、ケーブル３の配線（本発明の接続用配線を構成する。）３１が、ケーブル３の基板（本発明の接続用基板を構成する。）３２に設けられたスルーホール（本発明の第２のスルーホールを構成する。）４２を貫通し、基板３２の下面まで延びている。そして、配線３１がスルーホール４２を貫通した表面部分には、観測面（本発明の第２の観測端子を構成する。）１０２が付けられている。
【００２７】
従って、異方性導電体３３に接続されている配線２とケーブル３の配線３１との接続状態は、観測面１０１と観測面１０２との間の抵抗値を測定することによって知ることができ、タッチパネルの構造を解体または破壊することなく外部から容易に監視する事が可能になっている。
【００２８】
以下、図面を用いて、本発明の一実施例の構成について詳述する。
【００２９】
図１では、本発明の一実施例の構成としてのタッチパネルの断面図が示されている。
図１の実施例において、タッチパネルは、上部電極基板５と下部電極基板８とを備えている。
【００３０】
上部電極基板５には、下側面に透明な導電膜５１と絶縁層７とが付けられている。また、上部電極基板５と向かい合う面の位置に下部電極基板８が配置され、上部電極基板５が押圧操作されることにより、導電膜５１と下部電極基板８に付けられた透明な導電膜８１とが導通する。
【００３１】
また、タッチパネルの配線２と異方性導電体３３とが接続されている。そして、異方性導電体３３とケーブル３とが接続されている。更に、ケーブル３と上位装置（図示せず）とが接続されている。
【００３２】
また、上部電極基板５の絶縁層７は、下部電極基板８の導電膜８１と上部電極基板５の導電膜５１とがショートすることを防ぐために備えられている。
【００３３】
また、下部電極基板８の導電膜８１には絶縁層９が備えられ、導電膜５１と導電膜８１とがショートすることを防ぐために備えられている。
【００３４】
更に、下部電極基板８の導電膜８１には、一定間隔で設けられたスペーサ１１が備えられている。また、配線２と配線６との間には、貼り合わせ材１０が備えられている。
【００３５】
従って、上部電極基板５と下部電極基板８とを対向させて貼り合わせる際に、上部電極基板５の導電膜５１と下部電極基板８の導電膜８１とが無押下時に、スペーサ１１によって接触しないようになっている。
【００３６】
ここで、上部電極基板５上にはスルーホール４１が設けられ、配線２が異方性導電体３３からスルーホール４１を貫通して、上部電極基板５の上面まで延びている。そして、配線２がスルーホール４１を貫通した表面部分には、観測面１０１が付けられている。
また、ケーブル３の基板３２上にもスルーホール４２が設けられ、ケーブル３の配線３１が異方性導電体３３からスルーホール４２を貫通して、基板３２の下面まで延びている。そして、配線３１がスルーホール４２を貫通した表面部分には、観測面１０２が付けられている。
【００３７】
次に、図１の構成における動作ついて、図面を参照して説明する。
【００３８】
通常、ユーザがタッチパネルから入力する際には、上部電極基板５の入力面、すなわち導電膜５１との接触面とは反対面を押下し、または専用のペンなどで摺動する。
【００３９】
この時、上部電極基板５に付いている導電膜５１と、下部電極基板８についている導電膜８１とが接触する。
【００４０】
そして、導電膜５１と導電膜８１とが接触することにより、上部電極基板５に付いている導電膜５１が、配線６に印加された電圧を検出する。そして検出された電圧は、電圧が印加されていない上部電極基板５に付いている導電膜５１を介して配線２に伝わり、異方性導電体３３を介してケーブル３を経由し、上位装置（図示せず）に伝えられる。
上位装置（図示せず）では、検出された電圧からＡ／Ｄコンバータなどでこの分圧電圧を検出してデジタル値に変換し、タッチパネルの押下された位置（座標）が分かるようになっている。
【００４１】
以上の構成において、本発明では、配線２が上部電極基板５と導電膜５１とに設けられたスルーホール４１を貫通し、上部電極基板５の上面まで延びている。また、ケーブル３の配線３１が基板３２に設けられたスルーホール４２を貫通し、基板３２の下面まで延びている。
【００４２】
従って、スルーホール４１を介して接続された観察面１０１は、異方性導電体３３と配線２とが接続されている部分にある。また、もう一方のスルーホール４２を介して接続された観測面１０２は、異方性導電体３３とケーブル３の配線３１とが接続されている部分にある。
【００４３】
このため、このタッチパネルでは、配線２の観測面１０１と配線３１の観測面１０２との間の抵抗値を測定することにより、上部電極基板５、上部電極基板５の導電膜５１、下部電極基板８、下部電極基板８の導電体８１、配線２、及び配線３１などの抵抗成分は、観測面１０１及び１０２によって測定される抵抗値には含まれない構造となっている。
【００４４】
以上の構成によれば、配線２と異方性導電体３３との接続状態、及び異方性導電体３３と配線３１との接続状態とを高精度に観測し、監視することができる。
【００４５】
なお本発明では、配線２が上部電極基板５と導電膜５１とに設けられたスルーホール４１を貫通し、上部電極基板５の上面まで延びている。また、ケーブル３の配線３１が基板３２に設けられたスルーホール４２を貫通し、基板３２の下面まで延びている。
【００４６】
従って、このタッチパネルでは、配線２の観測面１０１と配線３１の観測面１０２との間の抵抗値を測定することにより、スルーホール４１及び４２を介して、異方性導電体３３に接続されている配線２とケーブル３の配線３１との電気的な接続状態を観測、監視することができる。
【００４７】
このように、配線２と異方性導電体３３との接続状態、及び異方性導電体３３と配線３１との接続状態とを電気的に観測したり、監視することができる。
【００４８】
従って、タッチパネルの故障による適正範囲外の誤入力を監視したり、直接ユーザが検査確認することができない場所での使用や、遠隔地からの入力装置の接続状態を監視する機能を有する端末などに、適用することができる。
（他の実施例）
次に、本発明の他の実施例について、図２を参照して詳細に説明する。
【００４９】
図２を参照すると、タッチパネルの基本的な構造と動作原理については上述と同様であり、ケーブル３の配線３１が基板３２のスルーホール４２を貫通し、基板３２の下面に延びる構造を有している。
【００５０】
一方、配線２は、ケーブル３が接続される上部電極基板５の導電膜５１の下面側において、配線２と上部電極基板５とが下部電極基板８の端からせり出し、その分だけ外側へ伸びた構造を有している。
【００５１】
この場合、図３に示すように、ケーブル３を上位装置（図示せず）のコネクタ１０３に直接接続することができ、前述の端からせり出した上部電極基板５と配線２と共に、同時に上位装置（図示せず）のコネクタ１０３に接続する事ができる。
【００５２】
従って、この上位装置（図示せず）では、ケーブル３、上部電極基板５、及び配線２をコネクタ１０３に直接接続することによって、上位装置（図示せず）の制御の一部として、本入力装置を直すことはできないものの、電気的な接触状態を随時監視することができる。
【００５３】
なお、本実施例では、タッチパネルについて５線式抵抗膜方式を用いて説明したが、本発明はこれに限らず、４線式抵抗膜方式のタッチパネルでも良い。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明の入力装置は、例えば、情報機器や家電製品などのディスプレイ兼入力表示部品に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明に係る実施の形態におけるタッチパネルの断面図である。
【図２】本発明に係る他の実施例におけるタッチパネルの断面図である。
【図３】本発明に係る他の実施例におけるコネクタの接続図である。
【図４】特許文献１に記載されているタッチパネルの断面図である。
【図５】従来から使用されているタッチパネルの断面図である。
【符号の説明】
【００５６】
２  配線
３  ケーブル
５  上部電極基板
６  配線
７  絶縁層
８  下部電極基板
９  絶縁層
１０  貼り合わせ材
１１  スペーサ
３１  配線
３２  基板
３３  異方性導電体
４１  スルーホール
４２  スルーホール
５１  導電膜
６０  制御基板
８１  導電膜
１０１  観測面
１０２  観測面
１０３  コネクタ
【図１】
2007250378.tif 000003
【図２】
2007250378.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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