(57)【要約】【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。【解決手段】有効表示領域の外側にダミー画素を配置する。この際、ダミー画素とその光検出素子の周辺全体を硬化性濃色接着剤で被覆し、外光その他の予定しない光が検出対象の光に混入するのを確実に遮断する。この結果、ダミー画素の使用による輝度低下を正確に測定することができる。この後、測定結果を焼き付き現象の抑制又は改善処理に使用することにより、焼き付き現象を確実に解消することができる。。【選択図】図８
2007242830.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示素子がマトリクス状に配置された有効表示領域と、
前記有効表示領域の外側に配置されたダミー画素と、
前記ダミー画素と対面するように位置決めされた光検出素子と、
前記ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように配置された硬化性濃色接着層と
を有することを特徴とする表示装置。
【請求項２】
有効表示領域の外側に配置されるダミー画素の対面位置に光検出素子を位置決めする処理と、
前記ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着層を形成する処理と
を有することを特徴とする表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、有効表示領域を構成する各画素の劣化状態を正確に観察するために搭載するダミー画素の配置技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、ダミー画素を搭載する表示装置及びその製造方法としての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。
【０００３】
このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列した有機ＥＬディスプレイパネルである。有機ＥＬディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
【０００４】
ところで、有機ＥＬディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体（有機ＥＬ素子）の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
【０００５】
劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
【０００６】
従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００３−５０９７２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このうち特許文献１と特許文献２は、発光体の劣化状態を入力表示データ（階調値）の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。
【０００８】
その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ＥＬディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。
【０００９】
一方、特許文献３に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより１画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
また、特許文献３に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで、発明者らは、有効表示領域の外側にダミー画素を配置し、有効表示領域内の劣化状態を実時間で検証可能とする手法を提案する。
この際、発明者らは、表示装置として、（ａ）表示素子がマトリクス状に配置された有効表示領域と、（ｂ）有効表示領域の外側に配置されたダミー画素と、（ｃ）ダミー画素と対面するように位置決めされた光検出素子と、（ｄ）ダミー画素及び前記光検出素子の周囲全体を覆うように配置された硬化性濃色接着層とを有するものを提案する。
【００１１】
なお、このような構造を有する表示装置の製造方法として、（ａ）有効表示領域の外側に配置されるダミー画素の対面位置に光検出素子を位置決めする処理と、（ｂ）ダミー画素及び光検出素子の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着層を形成する処理とを有するものを提案する。
【発明の効果】
【００１２】
発明者らの提案する発明によれば、ダミー画素と光検出素子とを硬化製濃色接着層で接着することで、特別な筐体構造等を採用しなくても、受光対象とするダミー画素の光だけを確実に受光できる環境を実現することができる。この信頼性の高い検出結果を焼き付き補正に使用することにより、焼き付き現象を確実に抑制又は改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【００１４】
（Ａ）発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機ＥＬ素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
【００１５】
そこで、発明者らは、有機ＥＬ素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図１に、発光時点の違いによる劣化速度（率）の変動を示す。図１は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線ＤAPL は、ある画素（例えば、劣化特性測定用のダミー画素）を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
【００１６】
図１に示す矢印Ｄ100 は、画素に１００％信号レベルの階調値を与えた場合の輝度劣化の進行速度（劣化率）を示す。時点ｔ１を基点とする矢印Ｄ100の傾きと時点ｔ２を基点とする矢印Ｄ100の傾きとを比べて分かるように、同じ階調値によりある画素の発光を制御する場合でも、発光開始時の輝度劣化が異なると劣化速度は同じにならない。
【００１７】
劣化速度が異なれば、発光時間長は同じでも該当期間内に発生する劣化量は異なる値になる。すなわち、階調値と劣化量との対応関係は時間の経過と共に変化する。
そこで、発明者らは、ダミー画素を有効表示領域の外側に配置して劣化状態を実測し、有効表示領域を構成する各画素の累積劣化量差の見積もり値やその算出時に参照する階調値／劣化量変換テーブル値を逐次修正する手法を提案する。
【００１８】
ただし、ダミー画素を配置する場合には、新たな問題の可能性を考慮する必要がある。光検出素子の誤検出の問題である。
通常、光検出素子は発光面の対向位置に配置され、当該発光面を有する画素の光のみを受光する。しかし、受光面に検出対象とするダミー画素以外の光が混入する可能性がある。
例えば、図２に示すように、ガラス基板１と筐体３の隙間から入射する外光、表示画素から伝搬する光、隣接する他のダミー画素から伝搬する光が混入する可能性がある。
【００１９】
これらの事象は、有効表示領域の外側を覆う筐体３が、該当領域を外部から保護することを目的とし、ダミー画素の配置や誤検出を想定していないことに起因する。
もっとも、この場合でも検出目的がダミー画素の光量をおおまかに検出することであれば、他の光源光が混入しても大きな問題にならない。
しかし、発明者らの提案するシステムでは、ダミー画素の輝度劣化量を正確に検出する必要がある。すなわち、誤検出が焼き付き補正処理に悪影響を与える可能性を否定できない。
【００２０】
この誤検出に対する対策案の一つに、筐体３の構造自体を工夫する方法が考えられる。すなわち、光検出素子に検出対象以外の光源光が影響を与えないように筐体構造を変更する方法が考えられる。
しかし、この手法は筐体構造に細心の注意が必要となる。加えて、筐体構造の変更に伴うコストアップの問題が発生する。
そこで、発明者らは、光検出素子の周囲全体を硬化性濃色接着剤で覆う手法を採用する。遮光効果が期待できる濃色の接着剤を用いることにより、誤検出の原因となる漏れ光や伝搬光を簡単にかつ効果的に遮光することができる。
【００２１】
（Ｂ）好適な形態例
以下、前述した遮光技術と累積劣化情報の修正技術を採用する有機ＥＬディスプレイ装置の形態例を説明する。
（ａ）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
図３に、累積劣化情報の修正機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図３に示す有機ＥＬディスプレイ装置１１は、映像信号変換部１１１、劣化量算出部１１３、階調値／劣化量変換テーブル１１５、累積劣化量差算出部１１７、累積劣化量差蓄積部１１９、補正量決定部１２１、自発光パネル１２３、ダミー画素発光検出部１２５、劣化特性実測部１２７、ダミー画素累積劣化量算出部１２９、平均階調値（ＡＰＬ：average picture level）算出部１３１、見積もり精度改善部１３３、ダミー画素データ決定部１３５で構成する。
【００２２】
映像信号変換部１１１は、入力表示データ信号を補正表示データ信号に変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号変換部１１１は、入力表示データ信号に補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１２１より与えられる。また、補正表示データ信号には、ダミー画素データ決定部１３５から与えられるダミー画素用の表示データ信号が多重される。補正表示データ信号は、劣化量算出部１１３と、自発光パネル１２３と、ＡＰＬ算出部１３１に与えられる。
【００２３】
劣化量算出部１１３は、各画素に対応する階調値に基づいて画像の表示に伴う各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例では、階調値／劣化量変換テーブル１１５を使用する。ここでの画素は、有効表示領域内の画素とダミー画素の両方を含む。従って、劣化量算出部１１３は、有効表示領域内の各画素についての見積もり劣化量とダミー画素についての見積もり劣化量を計算する。
【００２４】
図４に、階調値／劣化量変換テーブル１１５の一例を示す。階調／劣化量変換テーブル１１５には、入力表示データ信号が採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。なお、劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。
【００２５】
累積劣化量差算出部１１７は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する劣化量差の累積値を算出する処理デバイスである。基準画素は、実在する画素でも良いし、仮想的に設定した画素でも良い。前者には、例えば画素単位の累積劣化量が最も小さい画素、画素単位の累積劣化量が最も大きい画素がある。後者には、１フレーム内の平均階調値で発光する仮想の画素がある。この形態例の場合、基準画素は、画面全体の平均階調値で発光制御される画素を想定する。
有効表示領域内の各画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部１１３より与えられる。
【００２６】
累積劣化量差蓄積部１１９は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、ある画素の劣化の基準画素に対する進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部１２１は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。
図５に、補正量決定部１２１の内部構成例を示す。補正量決定部１２１は、見積もり誤差量補正部１２１１と補正量算出部１２１３とで構成される。
【００２７】
見積もり誤差量補正部１２１１は、見積もり精度改善部１３３から与えられる見積もり誤差率αに基づいて、階調値／劣化量変換テーブル１１５を参照して算出された各画素の累積劣化量差が実際の累積劣化量差に一致するように一律に修正する処理デバイスである。
この形態例の場合、見積もり誤差量αは、見積もり精度改善部１３３より、１００分率値として与えられる。従って、累積誤差量は、累積劣化量に見積もり誤差量αを乗算することで算出できる。補正原理は後述する。
【００２８】
補正量算出部１２１３は、補正後の累積劣化量差に基づいて各画素に対応する補正量を算出する処理デバイスである。なお、補正量算出部１２１３による補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
以上の通り、補正量決定部１２１は、累積劣化量差から累積誤差量を取り除いた値に基づいて補正値を決定する。
【００２９】
自発光パネル１２３は、発光体（自発光素子）を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機ＥＬ素子を使用する。
図６に、自発光パネル１２３の平面構成例を示す。なお、図６は、主に画素配置の観点から表しており、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
図６に示す自発光パネル１２３の場合、有効表示領域１２３１の外方下部に１つのダミー画素１２３３を配置する。
【００３０】
有効表示領域１２３１は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。
一方、ダミー画素１２３３は、劣化状態の測定に用いられる領域であり、その発光が外部から観察されないように遮光される。
なお、図６では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の基本発光色に対応する基本画素を集積した表示上の１画素を１つの四角で表している。このように、この形態例では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色を基本発光色とする。
【００３１】
図７に、ダミー画素１２３３の構造例を示す。なお、図７には、ダミー画素１２３３の発光輝度を検出する光検出素子１２３３１とこれらの全体を封止する硬化性濃色接着剤１２３３３の外縁を破線で示している。
図８に、ダミー画素部分の断面層構造を示す。図８に示すように、光検出素子１２３３１は、ダミー画素１２３３の真上に受光面が配置されており、さらにその表面が硬化性濃色接着剤１２で覆われている。硬化性の接着剤を使用するのは、出荷後等に遮光状況が変化しないようにするためである。
【００３２】
なお、硬化性濃色接着剤１２には、電気電子部品の固定に使用される一般的な接着剤を使用することが可能である。ただし、条件は透明でないこと（光を通さないこと）である。例えばシリコーンゴム系、ポリエステル樹脂系、クロロプレンコム系等の接着剤をそのまま使用する。具体的には、ソニーケミカル製のＳＣ９０１／ＳＣ９０５（シリコーン系）、ＳＣ６０８Ｚ２（ポリエステル系）、ＳＣ１２Ｎ（クロロプレン系）を使用する。
図９に、製造プロセス例を示す。まず、図９（Ａ）に示すように、有効表示領域１２３１の外側にダミー画素１２３３が形成された表示パネルを用意する。
【００３３】
次に、図９（Ｂ）に示すように、ダミー画素１２３３の真上に光検出素子１２３３１を配置し、その受光面がダミー画素１２３３の発光面を覆うように配置する。この状態で、図９（Ｃ）に示すように、光検出素子１２３３１をダミー画素１２３３の表面に固定する。この後、図９（Ｄ）に示すように、ダミー画素１２３３と光検出素子１２３３１の周囲全体を覆うように硬化性濃色接着剤１２３３３を塗布する。以後、これらの構造を有する表示パネルのうち有効表示領域の外側表面を筐体で隠すことにより表示装置が完成される。
【００３４】
なお、使用時には、ダミー画素１２３３を構成する各基本画素は、入力表示データ信号のブランキング期間を利用して個別に発光制御される。
また、前述した図６に示すように、ダミー画素１２３３の駆動用にデータ駆動線とゲート駆動線をそれぞれ１本配置するだけで実現できる。
以上のように、ダミー画素１２３３は有効表示領域１２３１内の各画素と同じ構造で実現でき、専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
【００３５】
また、ダミー画素１２３３の構造は、有効表示領域１２３１の各画素に対応する画素回路と同構造で良い。すなわち、選択トランジスタと駆動トランジスタとで構成する。従って、表示パネル自体の生産上の難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。
【００３６】
ダミー画素発光検出部１２５は、ダミー画素１２３３から出力される可視光を検出して電気信号に変換する光検出素子１２３３１に対応する。光検出素子１２３３１には、任意の検出センサーを適用する。一般に、光検出素子１２３３１は、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーのようなものが望ましく、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、検出信号として出力される。
【００３７】
劣化特性実測部１２７は、ダミー画素１２３３の劣化状態を検出するタイミング（実測タイミング）と、検出タイミング時にダミー画素１２３３に印加する表示データ信号（階調値）とをダミー画素データ決定部１３５に与える処理デバイスである。この形態例の場合は、劣化状態の検出は、一定周期（一定のフレーム数毎）で実行する。また、劣化状態の検出は、常に同じ階調値を使用して実行する。同じ階調値でダミー画素１２３３を光らせることで、発光体の劣化を発光輝度の推移として検出することが可能になる。
【００３８】
なお、劣化特性実測部１２７がダミー画素データ決定部１３５に与える階調値は、ＲＧＢ別に設定しても良いし、ＲＧＢのいずれにも同じ値を用いても良い。例えば、１００％階調値（階調が８ビットの場合は「２５５」）を使用する。因みに、同じ発光色に対応するダミー画素には同じ階調値を与える。
また、劣化特性実測部１２７は、初期状態に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔＲを、実測期間内（実測期間の初回検出タイミングから今回の検出タイミングの間）に生じた累積劣化情報として見積もり精度改善部１３３に与える処理デバイスとしても機能する。
【００３９】
なお、劣化特性実測部１２７は、ダミー画素１２３３の劣化に要した時間（この例の場合は固定値）と平均階調値も見積もり精度改善部１３３に与える。
もっとも、劣化特性実測部１２７において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが見積もり精度改善部１３３に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔＲを実測期間のフレーム数で割ることで求めることができる。
【００４０】
ダミー画素累積劣化量算出部１２９は、ダミー画素について算出された見積もり劣化量の累積値を基本発光色別（ＲＧＢ別）に算出する処理デバイスである。各ダミー画素に対応するフレーム単位の見積もり劣化量は、劣化量算出部１１３で算出される。
ＡＰＬ算出部１３１は、補正表示データ信号についてフレーム単位の平均階調値をＲＧＢ画素別に算出する処理と、過去に算出されたＲＧＢ画素別の平均階調値の平均値（以下「平均ＡＰＬ値」という。）を算出する処理とを実行する処理デバイスである。
【００４１】
なお、フレーム単位で算出されるＲＧＢ画素別の平均階調値は、ダミー画素データ決定部１３５に与えられる。また、平均ＡＰＬ値は、見積もり精度改善部１３３に与えられる。
見積もり精度改善部１３３は、劣化量の算出に使用する階調値／劣化量変換テーブル１１５の精度を改善する処理機能と、補正量の算出に使用する累積劣化量差の精度を改善する処理機能とを提供する処理デバイスである。
【００４２】
図１０に、見積もり精度改善部１３３の内部構成例を示す。見積もり精度改善部１３３は、実測劣化率算出部１３３１と、テーブル更新部１３３３と、見積もり誤差率算出部１３３５とで構成される。
実測劣化率算出部１３３１は、ダミー画素１２３３についてＲＧＢ別に実測された劣化率とその実測期間内の平均ＡＰＬ値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する。
【００４３】
テーブル更新部１３３３は、計算結果に基づいて階調値と劣化量とを関連付けた階調値／劣化量変換テーブル１１５を更新する処理を実行する。
見積もり誤差率算出部１３３５は、ダミー画素１２３３についてＲＧＢ別に実測された劣化量ΔＲと、ダミー画素累積劣化量算出部１２９で算出された累積劣化量とを比較し、実測劣化量ΔＲに対する見積もり誤差量αを１００分率で算出する。算出された見積もり誤差量αは、補正量決定部１２１に与えられる。
【００４４】
ダミー画素データ決定部１３５は、ダミー画素１２３３に与えるダミー画素データ（階調値）を決定する処理デバイスである。例えば、ダミー画素１２３３の劣化状態を実測しない期間、ダミー画素データ決定部１３５は、有効表示領域全体の平均階調値をダミー画素データに決定する。この平均階調値は、ＡＰＬ算出部１３１より与えられる。また例えば、ダミー画素１２３３の劣化状態を実測するタイミングには、ダミー画素データ決定部１３５は、劣化特性実測部１２７から与えられる劣化状態検出用の固定階調値をダミー画素データに決定する。
【００４５】
（ｂ）処理動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１１で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域１２３１に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部１１１で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル１２３に与えられる。
【００４６】
ダミー画素データ決定部１３５は、ダミー画素１２３３の劣化状態の検出期間でない限り、各フレームについて算出される平均階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部１１１に与える。すなわち、２つのダミー画素１２３３には、同じ表示データ信号が与えられる。
この結果、Ｒ画素用のダミー画素１２３３は、直前フレームを構成する全Ｒ画素の平均階調値で発光制御される。また、Ｇ画素用のダミー画素１２３３は、直前フレームを構成する全Ｇ画素の平均階調値で発光制御される。同様に、Ｂ画素用のダミー画素１２３３は、直前フレームを構成する全Ｂ画素の平均階調値で発光制御される。
【００４７】
図１１に、ダミー画素データ決定部１３５が映像信号変換部１１１に出力するダミー画素１２３３用の表示データ信号例を示す。この結果、有効表示領域の外側に配置されたダミー画素１２３３は、有効表示領域１２３１内の平均的なＲＧＢ画素と全く同じ状態で発光することになる。すなわち、画素間の個体誤差を無視すれば、有効表示領域と全く同様に劣化が進行する。
【００４８】
やがて、ダミー画素１２３３の劣化状態を検出するタイミングになると、ダミー画素データ決定部１３５は、劣化特性実測部１２７から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部１１１に与える。図１１は、検出タイミングに１００％の階調値が与えられる様子を表している。
【００４９】
劣化特性実測部１２７は、この検出タイミングにダミー画素発光検出部１２５で検出された発光輝度値を入力する。
図１２に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ１００％階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図１２は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。
【００５０】
劣化特性実測部１２７は、ダミー画素の発光輝度が新たに検出される度に、実測期間の初回の検出値との差分ΔＲを算出する。
図１２は、発光時間ｔ０とｔ６の間について差分ΔＲを求める様子を表している。
差分ΔＲが求まると、見積もり精度改善部１３３は、実測期間内に生じた劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出することができる。
図１３に、劣化率の算出原理を示す。図１３は、実測期間の初回の検出タイミングｔ（ｎ）での検出輝度が１００％であり、今回の検出タイミングｔ（ｍ）での検出輝度が８５％の場合を示す。
【００５１】
従って、差分ΔＲは１５％である。また、検出タイミングｔ（ｎ）とｔ（ｍ）との間のフレーム数がＦであるとすると、見積もり精度改善部１３３は、ＲＧＢ画素に対応する劣化率をそれぞれΔＲ／Ｆとして算出する。
この後、見積もり精度改善部１３３は、実測期間に対応するＲＧＢ画素別の平均ＡＰＬ値をＡＰＬ算出部１３１から取得する。図１３の場合、平均階調値は、階調値換算で１００（階調値が８ビットの場合）である。
【００５２】
このように、実測期間内の実測劣化率と実測期間の平均ＡＰＬ値との関係が確定する。この対応関係は実測値であるので、表示画像の内容や使用環境等の全てを反映する。すなわち、平均ＡＰＬ値と劣化率（劣化量）との対応関係を正確に反映する。
ただし、実測された対応関係は、２５６通り（階調が８ビットで与えられる場合）の対応関係の１つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率（劣化量）を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率（実測劣化率）を算出する必要がある。
【００５３】
そこで、見積もり精度改善部１３３（実測劣化率算出部１３３１）は、この対応関係を図１４に示す階調値と劣化率との基本対応関係を用いて算出する。基本対応関係を参照するのは、階調値に対応する劣化率の実測値が変化しても、実測された対応関係と他の対応関係とは基本的に図１４に示す関係を維持すると考えられるからである。図１４に示す基本対応関係は、基本テーブル情報として実測劣化率算出部１３３１に格納される。
図１５に、実測劣化率算出部１３３１による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。
【００５４】
図１５は、実測された対応関係が階調値の１００（階調が８ビットで表される場合）であり、その際の実測劣化率をＸ100 として表している。このとき、任意の階調値ａに対応する実測劣化率Ｘa は、図１６に示す基本テーブル曲線を通じて特定される劣化率間の比率αa ／α100 を実測劣化率Ｘ100 に乗算することにより算出できる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
【００５５】
見積もり精度改善部１３３は、全ての階調値に対応する実測劣化率Ｘa が算出されると、これらの値で階調値／劣化量変換テーブル１１５を更新する。なお、劣化量は、実測劣化率Ｘa と発光期間ｔとの積として算出する。図１７に、階調値／劣化量変換テーブル１１５を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、検出期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
【００５６】
また、この階調値／劣化量変換テーブル１１５の更新処理と並行して、見積もり誤差率算出部１３３５は、見積もり誤差率αを算出する。見積もり誤差とは、劣化量の予測時に発生した誤差が累積することにより生じる劣化量差をいう。また、見積もり誤差率とは、実輝度劣化率に対する見積もり劣化率との間の誤差の１００分率をいう。
図１８に対応関係を示す。図中、太線は実輝度劣化率ｂの変移に対応し、細線は見積もり輝度劣化率ａの変移に対応する。見積もり輝度劣化率は、劣化量算出部１１３で算出される劣化量である。
【００５７】
図１８は、輝度劣化率を初期値に対する１００分率で表している。この場合、見積もり誤差率αは、ｂ／ａ％で表される。従って、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも進んでいれば、見積もり誤差率αは１００％超の値になる。一方、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも遅れていれば、見積もり誤差率αは１００％未満の値になる。なお、実輝度劣化率（量）と見積もり輝度率（量）が一致していれば、見積もり誤差率αは１００％の値になる。
【００５８】
そこで、見積もり誤差率算出部１３３５は、実測劣化率に対するダミー画素について算出された累積劣化量を実測劣化量ΔＲで除算し、見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）を算出する。
見積もり誤差率αは補正量決定部１２１に出力され、補正量決定の前提となる累積劣化量差に乗算される。
【００５９】
図１９に、見積もり誤差率αの乗算により累積劣化量差に含まれる誤差の補正原理を説明する。見積もり誤差率αは、全ての劣化率Ｘ0 〜Ｘ255 に対して同じ関係が認められるものとする。
この場合、実際の累積劣化量差（率）β２は、見積もり演算された累積劣化量差（率）β１に見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）として算出される。すなわち、β２＝（ｂ／ａ）×β１として算出れる。
このように、誤差分の影響を除去した状態で補正量が決定されるため、補正精度が格段に改善されることになる。
【００６０】
（ｃ）効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域１２３１の外側にダミー画素１２３３を１つ配置し、各基本発光色に対応する入力表示データ信号の平均階調値で発光制御する。
これにより、ダミー画素１２３３の劣化特性を有効表示領域内の劣化特性と一致させることができる。
【００６１】
ところで、ダミー画素１２３３と光検出素子１２３１の周囲は、硬化性濃色接着剤１２３３３で完全に被覆される。従って、光検出素子１２３１には、検出対象とするダミー画素の光だけが確実に入射される。
このように測定値の信頼性の高められた累積劣化量の実測値に基づいて、現在時点での階調値と劣化率（劣化量）との関係を更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
【００６２】
この際、全ての階調値に対応する劣化率（劣化速度）は、１つの対応関係を実測するだけで更新できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、画面サイズが大型化しても全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する１個のダミー画素１２３３も通常パネルプロセスの延長線上で（パネルプロセスをほとんど変更することなく）作成することができる。
【００６３】
すなわち、表示パネル自体の生産難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。このように、製造技術上も効果的である。
また、検出対象とするダミー画素以外の光の影響を除去する目的で塗布する硬化性濃色接着剤は、硬化するまでは形状を自在に可変できる。このため、発光素子部分の遮光構造構築に細心の注意を必要とせず、筐体についても従来の仕様のものをそのまま用いることができる。この点でも、表示パネルの製造コストの低減に効果的である。
【００６４】
（Ｃ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、ダミー画素１２３３を有効表示領域の外側に１つだけ配置する場合について説明した。この場合、硬化性濃色接着剤は、主にガラス基板と筐体との隙間から入り込む外光の影響を除去する目的で使用される。
しかし、２つ以上のダミー画素を並べて配置する場合にも適用できる。図２０に、２つのダミー画素１２３３を並べて配置する場合について示す。この場合、硬化性濃色接着剤は、隣接するダミー画素からの伝搬光を遮光する追加の効果を発揮する。
【００６５】
なお、複数個のダミー画素を配置する場合には、これら複数個のダミー画素で検出された輝度値の平均値を求め、この値で累積劣化量差の見積もり精度や変換テーブルの更新処理を実行すれば、ダミー画素の個体誤差の影響を無くして修正精度をより高めることができる。
また言うまでもなく、ダミー画素の配置位置は任意である。
【００６６】
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。
（ｃ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
【００６７】
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００６８】
（ｅ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１１について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
【００６９】
（ｆ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１１について説明した。
しかし、これらの機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
【００７０】
（ｇ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル１１５の更新機能や累積劣化量差の見積もり誤差を修正する機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】劣化率の経時的な変動を説明する図である。
【図２】誤検出の原因となる光の伝搬を説明する断面図である。
【図３】有機ＥＬディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。
【図４】階調値／劣化量変換テーブルの構成例を示す図である。
【図５】補正量決定部の内部構成例を示す図である。
【図６】表示パネルの平面構成例を示す図である。
【図７】ダミー画素の拡大図である。
【図８】ダミー画素を配置する領域部分の断面構造を説明する図である。
【図９】表示パネルの製造工程を示す図である。
【図１０】見積もり精度改善部の内部構成例を示す図である。
【図１１】ダミー画素用の表示データ信号例を示す図である。
【図１２】ダミー画素についての劣化特性の推移例を示す図である。
【図１３】劣化率の実測原理を説明する図である。
【図１４】実劣化率の算出時に参照する基本対応関係例を示す図である。
【図１５】基本対応関係を参照した実劣化率の算出原理を示す図である。
【図１６】基本テーブル上での劣化率間の関係を説明する図である。
【図１７】階調／劣化量変換テーブルの更新動作を説明する図である。
【図１８】見積もり劣化率を説明する図である。
【図１９】見積もり誤差率による累積劣化量差の補正処理を説明する図である。
【図２０】表示パネルの他の平面構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００７２】
１２１      補正量決定部
１２５      ダミー画素発光検出部
１２７      劣化特性実測部
１２９      ダミー画素累積劣化量算出部
１３３      見積もり精度改善部
１２１１    見積もり誤差量補正部
１２１３    補正量算出部
１２３３３  硬化性濃色接着剤
１３３１    実測劣化率算出部
１３３３    テーブル更新部
１３３５    見積もり誤差率算出部
１３５      ダミー画素データ決定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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