(57)【要約】【課題】  ターンテーブルに装着されたディスクの傾きを検出し、ディスクの傾き補正を正確に行う。【解決手段】  光ディスク１００が装着されるディスク装着部１４を有するターンテーブル１２と、ターンテーブル１２を回転するスピンドルモータ１１と、ターンテーブル１２のディスク装着部１４に設けられ、光ディスク１００の傾きを調整するチルト調整部２４，２４，２４とを備える。チルト調整部２４，２４，２４は、光ディスク１００を支持するディスク支持部材３３と、ディスク支持部材３３の位置を移動させる駆動軸３４とを有し、ディスク支持部材３３は、ディスク装着部１４に２カ所以上設けられている。【選択図】  図２
2007052823.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクが装着されるディスク装着部を有するターンテーブルと、
上記ターンテーブルを回転する回転駆動部と、
上記ターンテーブルのディスク装着部に設けられ、上記ディスクの傾きを調整するチルト調整部とを備え、
上記チルト調整部は、上記ディスクを支持するディスク支持部と、上記ディスク支持部の位置を上記ディスク装着部に対して垂直方向に変位させる駆動部とを有し、
上記ディスク支持部は、上記ディスク装着部に２カ所以上設けられていることを特徴とするディスク駆動装置。
【請求項２】
上記チルト調整部は、更に、複数点の上記ディスクの信号記録面の位置情報を検出する検出部と、この検出部で検出された検出データに基づいて上記駆動部を駆動する制御部とを有し、
上記制御部は、上記ディスク装着部に装着されたディスクの信号記録面の法線軸を上記ターンテーブルの回転軸に一致させるように上記駆動部を制御することを特徴とする請求項１記載のディスク駆動装置。
【請求項３】
上記チルト調整部は、上記駆動部が形状記憶合金によって形成されていることを特徴とする請求項１記載のディスク駆動装置。
【請求項４】
上記チルト調整部は、上記駆動部が圧電素子によって形成されていることを特徴とする請求項１記載のディスク駆動装置。
【請求項５】
上記チルト調整部は、上記駆動部が磁歪素子によって形成されていることを特徴とする請求項１記載のディスク駆動装置。
【請求項６】
上記チルト調整部は、上記駆動部が小型モータによって形成されていることを特徴とする請求項１記載のディスク駆動装置。
【請求項７】
ディスクが装着されるディスク装着部を有するターンテーブルと、上記ターンテーブルを回転する回転駆動部と、上記ターンテーブルのディスク装着部に設けられるチルト調整部とを備え、上記チルト調整部が上記ディスクを支持するディスク支持部と、上記ディスク支持部の位置を上記ディスク装着部に対して垂直方向に変位させる駆動部とを有し、上記ディスク支持部が上記ディスク装着部に２カ所以上設けられているディスク駆動装置のディスクのチルト調整方法であり、
上記方法は、複数点の上記ディスクの信号記録面の位置情報を検出し、この検出部で検出された検出データに基づいて上記駆動部を駆動し、上記ディスク装着部に装着されたディスクの信号記録面の法線軸を上記ターンテーブルの回転軸に一致させるディスク駆動装置のディスクのチルト調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクのチルト調整機構を備えたディスク駆動装置及びこの装置のディスクのチルト調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１１に示すように、光ディスクを記録媒体に用いる記録及び／又は再生装置に設けられたディスク駆動装置１０１は、光ディスク１００が装着されるターンテーブル１０２が設けられており、このターンテーブル１０２は、駆動源となるスピンドルモータ１０３の駆動軸に一体的に取り付けられている。光ディスク１００が装着されるターンテーブル１０２は、光ディスク１００のセンタ孔１００ａに係合するセンタリング部１０２ａが中央部に設けられると共に、センタリング部１０２ａの周囲に、光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周囲の内周側非信号記録領域を支持するディスク装着部１０２ｂが設けられている。光ディスク１００は、センタ孔１００ａにセンタリング部１０２ａが係合され、ディスク装着部１０２ｂによって、センタ孔１００ａの周囲が支持され、更に、ターンテーブル１０２とクランプ部材によって挟持されることにより、ターンテーブル１０２と一体的に回転する。
【０００３】
このディスク駆動装置１０１により回転される光ディスク１００は、光ピックアップ１０４より出射された光ビームが信号記録面に照射され、光ピックアップ１０４が光ディスク１００で反射された戻りの光ビームを検出することによって、情報信号が記録され、また、光ディスク１００に記録されている情報信号の読み出しが行われる。光ピックアップ１０４は、この記録再生動作の際、光ディスク１００で反射された戻りの光ビームを検出することによって、更に、光ピックアップ１０４に設けられている対物レンズ１０４ａのフォーカシングサーボ制御やトラッキングサーボ制御を行う。
【０００４】
光ピックアップ１０４から出射される光ビームは、フォーカシングサーボ制御やトラッキングサーボ制御により、所定トラックに合照した状態で照射されるが、ターンテーブル１０２の光ディスク１００の傾きが大きいときには、フォーカシングサーボ制御やトラッキングサーボ制御の追従可能な範囲を超えしまい、情報信号の記録や再生を行うことができなくなってしまう。そこで、図１２に示すように、光ディスク１００の信号記録面に対して光ビームを垂直に照射するためには、光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１とスピンドルモータ１０３の駆動軸の回転軸、すなわちターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２とを一致させ、光ディスク１００の傾き、すなわちチルト装着誤差の発生を防止し、光ディスク１００の回転時における面ぶれを防止する必要がある。なお、図１２中点線で示す光ディスク１００は、傾いた状態を示している。
【０００５】
この光ディスク１００の面ぶれには、下記のような原因がある。
【０００６】
第１に、ターンテーブル１０２が熱変形や組成変形したときには、併せて、ターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂの装着面も変形してしまい、光ディスク１００の面ぶれの発生の原因になる。また、ターンテーブル１０２の公差によっても面ぶれは発生する。
【０００７】
第２に、ターンテーブル１０２とターンテーブル１０２を回転するスピンドルモータとが小型化等のため一体化されているとき、ターンテーブル１０２とスピンドルモータ１０３の組立公差によって、光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１がターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対して傾き、面ぶれの発生の原因となる。
【０００８】
第３に、光ディスク１００の形状公差によっても面ぶれは発生する。
【０００９】
第４に、ターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂ上に付着した塵埃等の異物によって、光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１がターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対して傾き、面ぶれの発生の原因となる。
【００１０】
この中で、上記第１乃至第３の原因は、製造組立の精度を高めることによって、光ディスク１００の面ぶれを防止することができる。また、シミュレーションによって、予め、誤差を予測し、この予測を踏まえて設計製造組立を行うことによって、面ぶれの発生を未然に防止することができる。しかしながら、第４の原因、すなわちターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂに付着した異物を原因とする面ぶれは、製造組立の精度を高めることによっては防止することができない。塵埃等の異物の大きさや量は、記録及び／又は再生装置の使用環境により大きく異なり、また、リムーバルで光ディスク１００単体でユーザに取り扱われる光ディスク１００において、着脱時に光ディスク１００に異物が付着することを防止することは、極めて困難だからである。
【００１１】
一方で、高密度記録がなされる光ディスク１００にあっては、光ディスク１００の信号記録面と光ピックアップ１０４の対物レンズ１０４ａとが極めて近接し、僅かな面ぶれによっても、光ディスク１００の信号記録面と対物レンズ１０４ａとが接触してしまうおそれがある。更に、対物レンズ１０４ａのフォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御も極めて高精度に行う必要があり、これらのサーボが外れてしまわない範囲内に光ディスク１００の面ぶれを抑える必要がある。
【００１２】
上記第１乃至第４の面ぶれ原因による全体のチルト角θ、すなわちターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きθは、図１１及び図１２を参照して一般化すると、下記数１のようになる。
【００１３】
【数１】
2007052823.tif 000003
【００１４】
ここで、θ１は、上記面ぶれ原因の第１に基づくターンテーブル１０２の加工公差に基づくターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きである。  
θ２は、上記面ぶれ原因の第２に基づく組立公差に基づくターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きである。  
θ３は、上記面ぶれ原因の第３に基づくディスク形状の公差に基づくターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きである。
【００１５】
θ４は、上記面ぶれ原因の第４に基づくターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂに付着した塵埃等の異物に基づくターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きである。
【００１６】
更に、図１１に示すように、発生した最大の面ぶれ量δは、下記数２に示すように、半径方向位置ｒが増加すると増加するようになる。
【００１７】
【数２】
2007052823.tif 000004
【００１８】
以上のように、数１で示したθ４、すなわちターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂに付着する異物によるターンテーブル１０２の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きは、予測不能であり、また、面ぶれ量δは、記録再生位置、すなわち光ビームを照射している半径方向位置ｒによって異なる。したがって、ディスク駆動装置１０１における光ディスク１００のチルト調整、すなわち光ディスク１００の回転軸Ｌ２に対する光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１の傾きの制御は、使用時毎に行う必要がある。
【００１９】
なお、本発明の先行文献としては、下記特許文献１乃至特許文献３がある。何れの特許文献にあっても、ターンテーブル１０２のディスク装着部１０２ｂに付着した異物を考慮したディスクの傾き制御を行うことはできない。
【００２０】
【特許文献１】特開平９−３０６００８号公報
【特許文献２】特開平１０−１４９５５５号公報
【特許文献３】特開平１０−１７７７６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ターンテーブルに装着されたディスクの傾きを検出し、ディスクの傾き補正を正確に行うことができるディスク駆動装置及びこの装置を用いたディスクのチルト調整方法を提供することにある。
【００２２】
また、本発明の目的は、ターンテーブルに付着した異物を考慮したディスクの傾き補正を行うことができるディスク駆動装置及びこの装置を用いたディスクのチルト調整方法を提供することにある。
【００２３】
更に、本発明の目的は、使用時毎に、ディスクの傾き調整を行うことができるディスク駆動装置及びこの装置を用いたディスクのチルト調整方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
本発明に係るディスク駆動装置は、ディスクが装着されるディスク装着部を有するターンテーブルと、上記ターンテーブルを回転する回転駆動部と、上記ターンテーブルのディスク装着部に設けられ、上記ディスクの傾きを調整するチルト調整部とを備える。上記チルト調整部は、上記ディスクを支持するディスク支持部と、上記ディスク支持部の位置を上記ディスク装着部に対して垂直方向に変位させる駆動部とを有する。上記ディスク支持部は、上記ディスク装着部に２カ所以上設けられている。
【００２５】
また、本発明に係るディスク駆動装置のディスクのチルト調整方法は、上記装置を用い、複数点の上記ディスクの信号記録面の位置情報を検出し、この検出部で検出された検出データに基づいて上記駆動部を駆動し、上記ディスク装着部に装着されたディスクの信号記録面の法線軸を上記ターンテーブルの回転軸に一致させる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、ディスク支持部はターンテーブルのディスク装着部に２カ所以上設けられ、ディスク支持部をディスク装着部に対して出没させることによって、ターンテーブルに装着されたディスクの傾きを調整することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明を適用した光ディスク装置を図面を参照して説明する。
【００２８】
図１に示すように、本発明を適用した光ディスク装置１は、情報信号が記録される光ディスク１００を回転するディスク駆動装置１０と、ディスク駆動装置１０によって回転される光ディスク１００に対して光ビームを照射すると共に光ディスク１００で反射された戻りの光ビームを検出する光ピックアップ２０とを備える。
【００２９】
光ディスク１００を回転するディスク駆動装置１０は、図１に示すように、駆動源となるスピンドルモータ１１のスピンドルに光ディスク１００が装着されるターンテーブル１２が取り付けられてなる。ターンテーブル１２は、中心部に光ディスク１００のセンタ孔１００ａに係合されるセンタリング部１３が形成され、センタリング部１３の周囲に、光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周囲を支持するディスク装着部１４が形成されている。ディスク装着部１４に構成されたディスク装着面は、光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周囲の内周側非信号記録領域を支持するものであり、装着基準面となる。光ディスク１００は、センタ孔１００ａにセンタリング部１３が係合され、センタ孔１００ａの周囲がディスク装着部１４に支持され、更に、クランプ部材１５によってターンテーブル１２との間に挟まれることによって、ターンテーブル１２と一体的に回転する。光ディスク１００は、このディスク駆動装置１０によって、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）、ＺＣＬＶ（Zone Constant Linear Velocity）、ＺＣＡＶ（Zone Constant Angular Velocity）等の方式で回転される。
【００３０】
また、光ピックアップ２０は、光源となる半導体レーザから出射された光ビームを対物レンズ２１で集光し光ディスク１００で反射された戻りの光ビームを光検出器で検出する光学ブロックを有する。ここで、例えば、光ディスク１００に対する高密度記録を実現するため、光ビームは、波長が４００ｎｍ程度であり、対物レンズ２１は、固体液浸レンズ（ＳＩＬ：Solid Immersion Lens）が用いられている。このように、光ピックアップ２０では、対物レンズ２１に固体液浸レンズを用い、短波長の光ビームを用いることから、対物レンズ２１と光ディスク１００のディスク面との距離であるワーキングディスタンスが数十ｎｍ程度と極めて近接することになる。そこで、この光ディスク装置１では、ターンテーブル１２に、後述する、光ディスク１００の傾きを調整するチルト調整部が設けられている。
【００３１】
光ピックアップ２０には、対物レンズ２１を光軸方向となるフォーカシング方向に変位させると共に光ディスク１００のトラックに対して直交する方向に駆動変位させる対物レンズ駆動装置であるニ軸アクチュエータが設けられている。ニ軸アクチュエータは、フォーカス駆動部として、フォーカシングコイルとマグネットとを有すると共に、トラッキング駆動部として、トラッキングコイルとマグネットとを有している。各コイルは、可動部となる対物レンズ２１ａ側に設けられ、各マグネットは、固定部に設けられている。ニ軸アクチュエータは、フォーカシングエラー信号が０となるように駆動電流をフォーカシングコイルに供給し、マグネット等が取り付けられた固定部に対して可動部となっている対物レンズ２１を光軸方向に変位させる。また、ニ軸アクチュエータは、トラッキングエラー信号が０となるように駆動電流をトラッキングコイルに供給し、マグネット等が取り付けられた固定部に対して可動部となっている対物レンズ２１を光ディスク１００の記録トラックに対して直交する方向に変位させる。
【００３２】
また、この光ピックアップ２０には、光ディスク１００の傾きを検出するチルトセンサ２２が設けられている。このチルトセンサ２２は、例えば光ディスク１００にレーザ光を照射し、反射した反射光の位置をモニタすることで軸のずれ、傾き等の微小角度の測定を行い、傾きや位置データを生成する。
【００３３】
以上のように構成された光ピックアップ２０は、図１に示すように、スレッド機構２５によって、ターンテーブル１２に装着された光ディスク１００の径方向に送り操作される。具体的に、スレッド機構２５は、光ピックアップ２０をガイド軸２６で直線移動可能に支持し、駆動源となるスレッドモータ２７によって光ピックアップ２０をガイド軸２６に沿って移動させる。
【００３４】
上述したディスク駆動装置１０を構成するターンテーブル１２には、図２に示すように、装着された光ディスク１００の傾きを調整するチルト調整機構２３が設けられている。このチルト調整機構２３は、具体的に、光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周囲を支持するチルト調整部２４，２４，２４を有する。チルト調整部２４，２４，２４は、ターンテーブル１２のディスク装着部１４の周回り方向に３カ所等間隔に設けられ、光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周辺部を３点で支持する。各チルト調整部２４，２４，２４は、上記図１２に示すように、スピンドルモータ１１の駆動軸の回転軸、すなわちターンテーブル１２の回転軸Ｌ２の方向、すなわちディスク装着部１４の装着面に対して垂直な方向に可動し、各光ディスク１００の支持点をターンテーブル１２の回転軸Ｌ２の方向に独立に移動させることによって、ターンテーブル１２で支持する光ディスク１００の傾きを調整するようにしている。
【００３５】
なお、ここでは、光ディスク１００を支持するため、チルト調整部２４を３カ所に設けたが、その数は、３つ以上であれば限定されるものではない。また、ターンテーブル１２の回転軸Ｌ２の方向に可動するチルト調整部２４は、少なくとも２カ所とし、一は基準部となる固定支持部としても良い。また、チルト調整部２４，２４，２４をまとめて単にチルト調整部２４ともいう。
【００３６】
各チルト調整部２４の具体的構成について説明すると、図３及び図４に示すように、ターンテーブル１２は、本体部３１と、この本体部３１上に設けられるテーブル部３２とを備えている。そして、テーブル部３２には、上述したセンタリング部１３とセンタリング部１３の周囲にディスク装着部１４が形成されている。そして、この本体部３１とテーブル部３２に、チルト調整部２４が設けられている。このチルト調整部２４は、ディスク装着部１４に装着された光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周辺部を支持するディスク支持部材３３と、このディスク支持部材３３を移動させる駆動部となる駆動軸３４とを有している。
【００３７】
ディスク支持部材３３は、図４に示すように、テーブル部３２のディスク装着部１４に形成された貫通孔３５より外部に臨むディスク支持部３６と、このディスク支持部３６に対して張り出し形成されたストッパ部３７とから構成されている。ディスク支持部材３３は、テーブル部３２の裏側に設けられたガイド凹部３８に貫通孔３５からディスク支持部３６を外部に臨ませ、ストッパ部３７がガイド凹部３８内を直線的に移動し得るように配設される。また、また、ディスク支持部材３３には、ディスク支持部３６の反対側に、駆動軸３４が取り付けられる取付部３９が設けられている。この取付部３９は、例えば、駆動軸３４が挿入される凹部でなり、駆動軸３４の先端部がこの凹部に挿入された状態に接着剤等によって固定される。
【００３８】
駆動軸３４は、本体部３１内に、テーブル部３２のガイド凹部３８と連続するように設けられた収納凹部４１に配設される。駆動軸３４は、形状記憶合金でなり、電圧が印加されることによって駆動軸３４に電流が流れ、駆動軸３４の電気抵抗による発熱により、軸線方向に伸縮する。すなわち、この駆動軸３４は、軸線方向に伸縮することによって、先端部に取り付けられているディスク支持部材３３を直線移動させ、ディスク支持部３６をテーブル部３２のディスク装着部１４から出没させる。この駆動軸３４は、形状記憶合金でなることから、低電圧でチルト調整部２４を駆動させることができる。
【００３９】
収納凹部４１内において、駆動軸３４の周囲には、コイルバネ等でなる弾性体４２が配設される。この弾性体４２は、収納凹部４１とディスク支持部材３３との間に配設されて、ディスク支持部材３３を、ディスク支持部３６がテーブル部３２のディスク装着部１４より突出する図４中矢印Ａ方向に付勢する。
【００４０】
駆動軸３４は、電圧が印加されることによって伸縮するものである。そこで、本体部３１の外周面には、駆動軸３４に電圧を印加するための電極が複数設けられている。具体的に、図３及び図４に示すように、駆動軸３４の他端は、駆動軸３４の固定部材４３に固定されている。この固定部材４３は、駆動軸３４に対して電流を供給できるように導電材料により形成され、絶縁材料で形成されている本体部３１に形成された収納凹部４１の底面部に配設される。また、本体部３１の外周面には、電極となる環状のスリップリング４４が互いに平行となるように絶縁体４６を介して一又は複数設けられている。スリップリング４４は、電気接続部４５によって駆動軸３４の固定部材４３に電気的に接続されている。スリップリング４４は、本体部３１が外周部に配設された電源供給端子と接触しており、回転時にあっても、電源供給をできるようにしている。
【００４１】
また、駆動軸３４の先端部に取り付けられたディスク支持部材３３は、光ディスク１００と接触する部分を除いて導電性を有しており、更に、ディスク支持部材３３を収納するガイド凹部３８が形成されたテーブル部３２も導電性を有するように形成されている。テーブル部３２は、例えば外周部に、アースに接続された電気端子が摺接される。かくして、回転するターンテーブル１２に設けられた駆動軸３４は、電力が供給されることになり、伸縮することができる。
【００４２】
このように電圧が印加される駆動軸３４の動作原理を更に、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）を参照して説明する。図５（Ａ）に示すように、駆動軸３４は、電源が供給されていないとき、冷却され、伸長状態にある。そして、図５（Ｂ）に示すように、駆動軸３４は、通電状態になると、内部抵抗により発熱加熱されることにより収縮する。
【００４３】
以上のようなチルト調整部２４を２以上備えたチルト調整機構２３の駆動回路について、図６を参照して説明する。この駆動回路は、図６に示すように、各チルト調整部２４の駆動部となる駆動軸３４やスレッドモータ２７の駆動信号を生成する制御部４７を有する。この制御部４７には、ターンテーブル１２に装着されている光ディスク１００の径方向の異なる４点の位置データを検出するための位置参照信号が入力される。なお、以下の例では、４点の位置データを用いる場合を説明するが、測定点は、３点や５点以上であっても良い。また、制御部４７には、光ディスク１００の傾きの無いとき、すなわち光ディスク１００の信号記録面の法線Ｌ１と光ディスク１００の回転軸、すなわちスピンドルモータ１０３の駆動軸の回転軸Ｌ２とが一致した状態のデータが、目標値として入力される。
【００４４】
具体的に制御部４７は、図７Ａ及び図７Ｂに示すフローチャートに従って処理を行う。
【００４５】
ここで、図１２に示すように、スピンドルモータ１１の駆動軸の回転軸、すなわちターンテーブル１２の回転軸Ｌ２をｚ軸としたとき、下記数３のようなベクトルで示すことができる。
【００４６】
【数３】
2007052823.tif 000005
【００４７】
そして、光ディスク１００に傾きがある場合の信号記録面の法線ベクトル及び面の方程式は下記数４及び数５となる。
【００４８】
【数４】
2007052823.tif 000006
【００４９】
【数５】
2007052823.tif 000007
【００５０】
この際、図１２の光ディスク１００のチルト角θは下記数６となる。
【００５１】
【数６】
2007052823.tif 000008
【００５２】
そこで、制御部４７は、ステップＳ１において、光ディスク１００の径方向の４点の位置データを算出するため、スレッドモータ２７を駆動し、光ピックアップ２０を光ディスク１００の径方向に移動させ、４つの所定位置における位置データ（下記数７）をチルトセンサ２２を用いて測定する。
【００５３】
【数７】
2007052823.tif 000009
【００５４】
そして、制御部４７は、数７の座標データＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４を下記数８のように直交座標系に変換する。
【００５５】
【数８】
2007052823.tif 000010
【００５６】
制御部４７は、ステップＳ２において、上記数７の値を用いて上記数４の係数ａ，ｂ，ｃを計算する。この際、適正なｏｆｆｓｅｔを調整して上記数４のｄを調整する。
【００５７】
ここで、３つのチルト調整部２４の光ディスク１００の支持点は下記数９のようになる。
【００５８】
【数９】
2007052823.tif 000011
【００５９】
数９における各チルト調整部２４のｘ点、ｙ点は、既知であり定数となる。そして、制御部４７は、数９を、上記数４に代入して下記数１０に示すように各係数ａ，ｂ，ｃ，ｄを算出する。
【００６０】
【数１０】
2007052823.tif 000012
【００６１】
そして、制御部４７は、ステップＳ３において、上記数５、数６によって、光ディスク１００の信号記録面の法線ベクトルとチルト角θを算出する。
【００６２】
ステップＳ４において、制御部４７は、光ディスク１００のｚ座標のｚｉデータを、既知のチルト調整部２４の設計座標（ｘｉ，ｙｉ）を用いて数１１によって算出する。
【００６３】
【数１１】
2007052823.tif 000013
【００６４】
かくして、ターンテーブル１２に装着された光ディスク１００の傾き状態を知ることができ、これにより、制御部４７は、目標値ｚｍを設定して、光ディスク１００の傾きが無くなるように各チルト調整部２４の駆動軸３４を制御する。具体的に、制御部４７は、ステップＳ５において、下記数１２に基づいてｚ１，ｚ２，ｚ３の平均値を算出し、これを目標値ｚｍに設定する。
【００６５】
【数１２】
2007052823.tif 000014
【００６６】
そして、制御部４７は、ステップＳ６において、下記数１３従って、各駆動軸３４の変位量ε１，ε２，ε３を、｛ｚａ１，ｚａ２，ｚａ３｝が｛ｚｍ，ｚｍ，ｚｍ｝となるように算出する。すなわち、制御部４７は、ｚｍ＝Δｚａ１＝Δｚａ２＝Δｚａ３となるように駆動軸３４を変位させる。
【００６７】
【数１３】
2007052823.tif 000015
【００６８】
そして、制御部４７は、ステップＳ７において、チルト補正後における光ディスク１００の径方向の４点の位置データを算出するため、スレッドモータ２７を駆動し、光ピックアップ２０を光ディスク１００の径方向に移動させ、４つの所定位置における位置データ（上記式７）をチルトセンサ２２を用いて測定する。すなわち、ステップＳ１と同様な処理を行う。そして、制御部４７は、ステップＳ７において、ステップＳ２と同様な処理、すなわち位置データＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４を用いて上記数４の係数ａ，ｂ，ｃを計算する。そして、制御部４７は、ステップＳ８において、ステップＳ３と同様な処理、すなわち上記数５、数６によって、光ディスク１００の信号記録面の法線ベクトルとチルト角θを算出する。
【００６９】
ステップＳ９において、制御部４７は、チルト角が０になったか、すなわち光ディスク１００の傾きが無くなったかを判断し、無くなったとき、この制御を終了し、無くなっていないとき、ステップＳ４に戻る。この判断は、例えば下記数１４に従って行われる。
【００７０】
【数１４】
2007052823.tif 000016
【００７１】
数１４において、制御部４７は、全ての式を用いても、何れか一の式を用いてこの判断を行うようにしても良い。
【００７２】
また、図６のステップＳ９に記載したように、制御部４７は、数８で測定された記録面の上の位置データを利用して上記数４の各係数を計算した後、係数ａ，ｂが閾値以下になるまで制御を続け、または、数４で計算された係数から数６を利用してチルト誤差成分を計算する作業を繰り返して、チルト誤差が閾値以下になるまで制御を続けるようにしても良い。
【００７３】
以上のように構成されてなる光ディスク装置１では、チルト調整機構２３のチルト調整部２４がターンテーブル１２のディスク装着部１４に設けられていることから、ディスク装着部１４に付着した異物や光ディスク１００のセンタ孔１００ａの周辺部に付着した異物を原因とした光ディスク１００の傾きが発生するときにも、チルト調整部２４によって光ディスク１００の傾きが制御されることから、ターンテーブル１２の公差、ターンテーブル１２とスピンドルモータ１１との組立公差、光ディスク１００の形状公差に加え、更に、ターンテーブル１２のディスク装着部１４や光ディスク１００に付着した異物を考慮した光ディスク１００の傾き制御を行うことができる。そして、この光ディスク装置１００では、このチルト制御を、光ディスク１００がターンテーブル１２に装着される度に、または、リアルタイムに行うことができる。したがって、この光ディスク装置１では、常に、光ピックアップ２０の対物レンズ２１のフォーカシングサーボ制御、トラッキングサーボ制御が可能な状態となり、光ディスク１００に対する情報信号の書込や光ディスク１００に記録されている情報信号の読み出しを正確且つ確実に行うことができる。
【００７４】
次に、チルト調整部２４の駆動部の変形例を図８を参照して説明する。すなわち、上述の例では、駆動部に、形状記憶合金でなる駆動軸３４を用いたが、ここでは、駆動軸にピエゾ素子５１を用いる。なお、その他の構成は図４と同様であるため、同一符号を付して詳細は省略する。このピエゾ素子５１は、上述の形状記憶合金の場合と比べ、駆動電圧が高くなるが、その一方で、ディスク支持部材３３の変位量を大きくすることができると共に、応答性を良くすることができる。
【００７５】
更に、図９を参照して、チルト調整部２４の駆動部に、磁歪素子５２を用いた例を説明する。この磁歪素子５２を用いる場合には、駆動軸となる磁歪素子５２の配設された空間に磁場を発生させるコイル５３が巻回されている。コイル５３に電流が供給されると、内側に磁場が形成され、この磁場の強弱によって、磁歪素子５２が伸縮する。
【００７６】
更に、図１０を参照してチルト調整部２４の駆動部に、小型モータ５４を用いた例を説明する。この例では、駆動源となり、電極が設けられた固定部材４３に電気的に接続されて取り付けられるモータ部５５と、このモータ部５５のロータに取り付けられるカップリング部５６と、このカップリング部５６に取り付けられるスクリューねじ５７とを備える。スクリューねじ５７の先端部は、ディスク支持部３６として機能する。この例では、モータ部５５のロータに取り付けられたカップリング部５７が回転すると、ねじ作用によってスクリューねじ５８が回転し、これによりスクリューねじ５７が上下し、これに併せてディスク支持部３６も上下し、これにより、光ディスク１００の傾きを調整することができる。この例では、モータ部５５を駆動するための電極を、固定部材４３に集中させることができることから、形状記憶合金、ピエゾ素子５１、磁歪素子５２の場合と異なってテーブル部３２を絶縁材料で形成することができる。
【００７７】
なお、記録媒体としては、再生専用型、追記型、書換型の何れの光ディスク１００であっても良く、また、円形でない異形の光ディスク１００であっても良い。また、この記録媒体としては、上述したブルーレイディスクといった高密度記録される光ディスクより更に高密度記録される光ディスク他、既存のＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc）といった光ディスクや光磁気ディスク、磁気ディスクであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明を適用した光ディスク装置の斜視図である。
【図２】上記光ディスク装置に用いられるターンテーブルの斜視図である。
【図３】ターンテーブルの斜視図である。
【図４】ターンテーブルの側断面図である。
【図５】形状記憶合金でなる駆動軸の動作を示す図であり、（Ａ）は、冷却時、（Ｂ）は、加熱時を示す。
【図６】チルト調整機構の駆動回路のブロック図である。
【図７Ａ】チルト調整処理を示すフローチャートである。
【図７Ｂ】上記図７Ａの続きのフローチャートである。
【図８】チルト調整機構の駆動部にピエゾ素子を用いた例を示すターンテーブルの側断面図である。
【図９】チルト調整機構の駆動部に磁歪素子を用いた例を示すターンテーブルの側断面図である。
【図１０】チルト調整機構の駆動部に小型モータを用いた例を示すターンテーブルの側断面図である。
【図１１】従来の光ディスク装置の側面図である。
【図１２】光ディスクの傾きを説明する斜視図である。
【符号の説明】
【００７９】
１００  光ディスク、１  光ディスク装置、１０  ディスク駆動装置、１１  スピンドルモータ、１２  ターンテーブル、２０  光ピックアップ、２１  対物レンズ、２２  チルトセンサ、２３  チルト調整機構、２４  チルト調整部、２５  スレッド機構、２６  ガイド軸、２７  スレッドモータ、３１  本体部、３２  テーブル部、３３  で支持部材、３４  駆動軸、３５  貫通孔、３６  ディスク支持部、３７  ストッパ部、３８  ガイド凹部、３９  取付部、４１  収納凹部、４２  弾性体、４３  固定部材、４４  スリップリング、４５  電気接続部、４６  絶縁体、５１  ピエゾ素子、５２  磁歪素子、５３  コイル、５４  小型モータ、５５  モータ部、５６  カップリング部、５７  スクリューねじ
【図１】
2007052823.tif 000017
【図２】
2007052823.tif 000018
【図３】
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【図４】
2007052823.tif 000020
【図５】
2007052823.tif 000021
【図６】
2007052823.tif 000022
【図７Ａ】
2007052823.tif 000023
【図７Ｂ】
2007052823.tif 000024
【図８】
2007052823.tif 000025
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
2007052823.tif 000029