(57)【要約】【課題】未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。【解決手段】複数のモジュールからなるソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第１の試験項目ごとに、第１の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるトレース手段と、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報および不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を削除した、第３の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える、ソフトウェア試験項目選択装置を提供する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のモジュールからなるソフトウェアのうち、不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報および前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を記憶するための記憶手段と、
前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第１の試験項目ごとに、前記第１の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を前記記憶手段に与えるトレース手段と、
前記不具合モジュール情報および前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を削除した、第３の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える、ソフトウェア試験項目選択装置。
【請求項２】
前記有効試験項目選定手段は、
前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、前記記憶手段に与える未修正不具合モジュール抽出手段と、
前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた再試験項目を特定するための抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、前記記憶手段に与える試験項目抽出手段と、
前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記再試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた前記第２の試験項目を抽出する手段とを含む、請求項１記載のソフトウェア試験項目選択装置。
【請求項３】
複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第１の試験項目から、特定の前記モジュールについての試験項目を抽出する処理を、演算部および記憶部を有するコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記演算部が、前記ソフトウェアおよび複数の前記第１の試験項目を前記記憶部から読み込むステップと、
前記演算部が、複数の前記第１の試験項目ごとに、前記第１の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記記憶部から、不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報と前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、
前記演算部が、前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、前記記憶部に書き込むステップと、
前記演算部が、前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記第２の試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第３の試験項目を削除した、第４の試験項目を出力するステップとを備える、ソフトウェア試験項目選択プログラム。
【請求項４】
請求項３記載のソフトウェア試験項目選択プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項５】
複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、前記ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第１の試験項目から、特定の前記モジュールについての試験項目を抽出する方法であって、
前記ソフトウェアおよび複数の前記第１の試験項目を読み込むステップと、
複数の前記第１の試験項目ごとに、前記第１の試験項目を実施したときに実行された前記ソフトウェアの前記モジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるステップと、
不具合を含む前記モジュールを示す不具合モジュール情報と前記不具合を含む前記モジュールのうち前記不具合の修正された前記モジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、
前記不具合モジュール情報と前記修正モジュール情報とから、前記不具合が未修正の前記モジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出するステップと、
前記修正モジュール情報に基づき、前記試験項目別走行履歴情報の中から、前記不具合が修正された前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出するステップと、
前記未修正不具合モジュール情報と前記抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、前記第２の試験項目の中から、前記不具合が未修正の前記モジュールを含む前記走行履歴情報と関連付けられた第３の試験項目を削除した、第４の試験項目を出力するステップとを備える、ソフトウェア試験項目選択方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ソフトウェアの開発において、その動作試験に使用される技術に関する。特に、再生成されたプログラムの修正モジュールに対応する再試験項目を選択する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、さまざまな分野でコンピュータが日常的に使われている。このため、コンピュータを制御するためのソフトウェアに欠陥があったにもたらされる誤作動により、社会に与える影響は非常に大きなものとなる可能性がある。このような事態を防ぐために、ソフトウェア開発においては、ソフトウェアの信頼性を確保することが重要である。
【０００３】
ソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアの動作確認のための次のような手法がある。まず、試験項目を実行し、バグが発見されると、不具合のあるモジュールが修正される。そして、再度試験項目を実行し、動作確認を行なう。
【０００４】
しかしながら、市場の競争激化によってソフトウェアの開発期間の短縮化が要請されており、ソフトウェア開発において、ソフトウェアの動作試験に割くことができる時間は限られる。上記のような方法では、再試験時に全試験項目を実施するため多くの時間を要してしまう。
【０００５】
そこで、特許文献１において、ソフトウェアの動作試験のための試験項目を削減する方法が開示されている。この方法によれば、試験項目を実施する際にモジュールの走行履歴を蓄積し、走行履歴に記録されたモジュールの中に修正されたモジュールが含まれる試験項目のみを抽出する。これにより、すべての試験項目を実行する必要がなく、試験項目数を削減できる。
【特許文献１】特開平４−１５２４３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、実際のソフトウェア開発においては、不具合のあるモジュールの修正に多くの時間を要する場合がある。特許文献１で開示される方法は、そのように未だ不具合が修正されていないモジュールを考慮して試験項目を抽出していない。このため、未修正の不具合モジュールを走行履歴に含む試験項目も抽出される。この場合、走行履歴には不具合モジュールも含まれるため、修正したモジュールが正しく動作するかどうかの試験結果については信頼性が低くなってしまう。
【０００７】
このように、従来方法においては、すべての不具合モジュールの修正が終了してから再試験を行なう必要があり、試験工程が終了するのに長い期間が必要であった。
【０００８】
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであって、その目的は、未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、効率的に再試験すべき試験項目を選択する装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の１つの局面に従うと、ソフトウェア試験項目選択装置であって、複数のモジュールからなるソフトウェアのうち、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報および不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を記憶するための記憶手段と、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている、複数の第１の試験項目ごとに、第１の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を記憶手段に与えるトレース手段と、不具合モジュール情報および修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を削除した、第３の試験項目を出力する有効試験項目選定手段とを備える。
【００１０】
好ましくは、有効試験項目選定手段は、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、記憶手段に与える未修正不具合モジュール抽出手段と、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた再試験項目を特定するための抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、記憶手段に与える試験項目抽出手段と、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、再試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を抽出する手段とを含む。
【００１１】
本発明の他の局面に従うと、複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第１の試験項目から、特定のモジュールについての試験項目を抽出する処理を、演算部および記憶部を有するコンピュータに実行させるためのプログラムであって、演算部が、ソフトウェアおよび複数の第１の試験項目を記憶部から読み込むステップと、演算部が、複数の第１の試験項目ごとに、第１の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を記憶部に書き込むステップと、演算部が、記憶部から、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報と不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、演算部が、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出し、記憶部に書き込むステップと、演算部が、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出し、記憶部に書き込むステップと、演算部が、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、第２の試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第３の試験項目を削除した、第４の試験項目を出力するステップとを備える。
【００１２】
本発明のさらに他の局面に従うと、上記ソフトウェア試験項目選択プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を提供する。
【００１３】
本発明のさらに他の局面に従うと、複数のモジュールからなるソフトウェアの試験工程において、ソフトウェアが設計仕様中の各機能を満たすかを確認するために予め設定されている複数の第１の試験項目から、特定のモジュールについての試験項目を抽出する方法であって、ソフトウェアおよび複数の第１の試験項目を読み込むステップと、複数の第１の試験項目ごとに、第１の試験項目を実施したときに実行されたソフトウェアのモジュールを特定するための走行履歴情報が関連付けられた試験項目別走行履歴情報を与えるステップと、不具合を含むモジュールを示す不具合モジュール情報と不具合を含むモジュールのうち不具合の修正されたモジュールを示す修正モジュール情報を読み込むステップと、不具合モジュール情報と修正モジュール情報とから、不具合が未修正のモジュールを特定するための未修正不具合モジュール情報を抽出するステップと、修正モジュール情報に基づき、試験項目別走行履歴情報の中から、不具合が修正されたモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第２の試験項目を特定する抽出試験項目別走行履歴情報を抽出するステップと、未修正不具合モジュール情報と抽出試験項目別走行履歴情報とに基づき、第２の試験項目の中から、不具合が未修正のモジュールを含む走行履歴情報と関連付けられた第３の試験項目を削除した、第４の試験項目を出力するステップとを備える。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から効率的に再試験すべき試験項目を抽出することができる。これにより、試験工程の途中においても試験項目を実施することができる。したがって、試験工程の期間を短縮することができ、効率的にソフトウェア開発を行なうことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについては詳細な説明は繰り返さない。
【００１６】
本実施の形態の説明に先立って、ソフトウェアの一般的な試験工程について述べる。
一般的にソフトウェアの試験工程では、まず、内部仕様を確認するために、モジュール単位の試験（単体テスト）、次いで、モジュールの結びつきによる呼び出し試験（結合テスト）が実施される。その後、外部使用を確認するために、機能の試験（総合テスト）が実施される。
【００１７】
本発明に係る試験項目抽出装置は、単体テストおよび結合テストによって内部仕様が確認された後の総合テストにおいて、モジュールの修正後に再度実施すべき試験項目のうち有効な試験項目を抽出するものである。
【００１８】
図１は、試験項目選択装置１００の構成例を示すブロック図である。
図１を参照して、試験項目選択装置１００の構成について説明する。
【００１９】
試験項目選択装置１００は、コンピュータ本体１０２と、コンピュータ本体１０２とバス１２６を介して接続される、フレキシブルディスク（Flexible Disk、以下ＦＤ）１１６に情報を読み書きするためのＦＤドライブ１０６と、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read-Only Memory）１１８等の光ディスク上の情報を読み込むための光ディスクドライブ１０８と、外部とデータの授受を行なうための通信インターフェイス１２８と、表示装置としてのモニタ１０４と、入力装置としてのキーボード１１０およびマウス１１２とを備える。また、通信インターフェイス１２８を経由して、外部より、試験項目１４０、試験対象ソフトウェア１４１、修正モジュール情報１４２および不具合モジュール情報１４４が与えられる。コンピュータ本体１０２は、バス１２６に接続されたＣＰＵ（Central Processing Unit）１２０と、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）を含むメモリ１２２と、直接アクセスメモリ装置、たとえば、ハードディスク１２４を含む。
【００２０】
ハードディスク１２４内には、試験項目別走行履歴情報１３０と、抽出走行履歴情報１３２と、未修正モジュール情報１３４と、有効試験項目１３６とが含まれる。これらについて詳しくは後述する。
【００２１】
光ディスクドライブ１０８にはＣＤ−ＲＯＭ１１８などの光ディスクが装着される。ＦＤドライブ１０６にはＦＤ１１６が装着される。なお、ＣＤ−ＲＯＭ１１８は、コンピュータ本体に対してインストールされるプログラム等の情報を記録可能な媒体であれば、他の媒体、たとえば、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disc）やメモリーカードなどでもよく、その場合は、コンピュータ本体１０２には、これらの媒体を読み取ることが可能なドライブ装置が設けられる。
【００２２】
試験項目を抽出するプログラム（以下、単に試験項目抽出プログラムと呼ぶ）は、ＦＤ１１６またはＣＤ−ＲＯＭ１１８等の記憶媒体によって供給される。試験項目抽出プログラムがコンピュータ本体１０２によって実行されることにより、上述のような試験項目の抽出が行なわれる。また、試験項目抽出プログラムは他のコンピュータより通信インターフェイス１２８を経由し、コンピュータ本体１０２に供給されてもよい。
【００２３】
また、本実施の形態では、試験項目１４０、試験対象ソフトウェア１４１、修正モジュール情報１４２および不具合モジュール情報１４４は、通信インターフェイス１２８を介してコンピュータ本体１０２に与えられるが、記憶媒体によって供給されてもよいし、キーボード１１０を介してユーザが入力してもよい。なお、これらの情報は一旦ハードディスク１２４に格納されることにより、これらの情報に対して、ユーザがキーボード１１０を介して、追加、修正、削除等の編集を行なうことが可能である。
【００２４】
ＣＰＵ１２０は、メモリ１２２をワーキングメモリとして、上述した試験項目抽出プログラムに対応した処理を実行する。
【００２５】
試験項目抽出プログラムは、上述の通り、ＣＰＵ１２０により実行されるソフトウェアである。一般的に、こうしたソフトウェアは、ＣＤ−ＲＯＭ１１８、ＦＤ１１６等の記憶媒体に格納されて流通し、光ディスクドライブ１０８またはＦＤドライブ１０６等により記憶媒体から読み取られてハードディスク１２４に一旦格納される。または、コンピュータ１０２がネットワークに接続されている場合には、ネットワーク上のサーバから一旦ハードディスク１２４にコピーされる。そうしてさらにハードディスク１２４からメモリ１２２中のＲＡＭに読み出されてＣＰＵ１２０により実行される。なお、ネットワーク接続されている場合には、ハードディスク１２４に格納することなくＲＡＭに直接ロードして実行するようにしてもよい。
【００２６】
図１に示したコンピュータのハードウェア自体およびその動作原理は一般的なものである。したがって、本発明の機能を実現するに当り本質的な部分は、ＦＤ１１６、ＣＤ−ＲＯＭ１１８、ハードディスク１２４等の記録媒体に記憶されたソフトウェアである。
【００２７】
図２は、ＣＰＵ１２０の機能的構成を示すブロック図である。
図２を参照して、ＣＰＵ１２０の機能的構成を説明する。
【００２８】
ＣＰＵ１２０は、試験項目１４０および試験対象ソフトウェア１４１から試験項目別走行履歴情報１３０を与えるトレース部２０２と、試験項目別走行履歴情報１３０と修正モジュール情報１４２とから抽出走行履歴情報１３２を与える試験項目抽出部２０４と、修正モジュール情報１４２と不具合修正モジュール情報１４４とから未修正不具合モジュール情報１３４を与える未修正不具合情報モジュール抽出部２０６と、抽出走行履歴情報１３２と未修正不具合モジュール情報１３４とから有効試験項目１３６を与える有効試験項目抽出部２０８とを含む。
【００２９】
記憶部２２０は、ハードディスク１２４と通信インターフェイス１２８を介して接続される外部の記憶装置等を総称したものである。
【００３０】
記憶部２２０は、試験項目別走行履歴情報１３０と、抽出走行履歴情報１３２と、未修正モジュール情報１３４と、有効試験項目１３６と、試験項目１４０と、試験対象ソフトウェア１４１と、修正モジュール情報１４２と、不具合モジュール情報１４４とを保存する。
【００３１】
試験対象ソフトウェア１４１は、複数のモジュールからなるソフトウェアである。各モジュールは設計仕様に従った処理を行なう。
【００３２】
試験項目１４０は、予め試験担当者によって作成されており、ソフトウェアの設計仕様中の各機能を満たすかを確認するための試験の手順が示されている。なお、各試験項目には、試験項目に対してソフトウェアが正しく動作したときの試験の結果が、予め準備されている。
【００３３】
たとえば、携帯電話の動作を制御するためのソフトウェアに対する試験項目として、「Ｆキーを押した後に、０キーを押して自局番号を表示する。」が与えられている場合を考える。この場合、「自局番号が正しい位置に表示される。」ということが、ソフトウェアが正しく動作したときの試験の結果として予め準備されている。
【００３４】
トレース部２０２は、試験対象ソフトウェア１４１に対して試験項目１４０を実施したときに、試験項目ごとにモジュールの走行履歴を示した試験項目別走行履歴情報１３０を記憶部２２０に与える。なお、トレース部２０２は、特許文献１で開示された方法と同様の方法によりトレースする。特許文献１と同等の方法によれば、トレース部２０２は、まず、試験項目を実施する前に、各モジュールの先頭に予めトレース命令を挿入する。そして、各試験項目の実施に応じて各モジュールの先頭に挿入されたトレース命令が実行される度に、走行履歴を示す情報としてモジュール情報を記憶しておき、試験項目別走行履歴情報１３０として記憶部２２０に与える。
【００３５】
不具合モジュール情報１４４は、不具合を含むモジュールを示す情報である。不具合モジュール情報は、次のようにして与えられる。
【００３６】
一般的には、ソフトウェアの試験工程において、上記のような試験項目を実施した場合、予め準備されている結果と試験項目を実施した結果とが違うことがある。このような結果は、不具合現象として発見される。たとえば、上記の携帯電話の例では、正しい位置に表示されない場合、不具合現象として発見される。
【００３７】
そして、不具合現象が発見されると、その原因を究明するため、試験項目別走行履歴情報をもとに、実行される各モジュールが内部仕様通り動作しているか順に確認し、内部仕様通りに動作していないモジュールを特定する。このような作業により特定されたモジュールが不具合モジュール情報として外部より与えられる。
【００３８】
修正モジュール情報１４２は、不具合モジュール情報１４４に含まれるモジュールのうち、不具合の修正が完了したモジュールを示す情報として外部より与えられる。
【００３９】
試験項目抽出部２０４は、試験項目別走行履歴情報１３０の中から、修正モジュール情報１４２に含まれるモジュールを走行履歴に含むような試験項目の走行履歴情報を抽出走行履歴情報１３２として抽出し、記憶部２２０に与える。
【００４０】
未修正不具合モジュール抽出部２０６は、不具合モジュール情報１４４の中から、修正モジュール情報１４２に含まれる修正が完了したモジュールを削除した、未修正の不具合モジュールを示す未修正不具合モジュール情報１３４として抽出し、記憶部２２０に与える。
【００４１】
有効試験項目抽出部２０８は、抽出走行履歴情報１３２の中から、未修正不具合モジュール情報に含まれるモジュールを走行履歴に含むような試験項目を有効試験項目１３６として抽出し、記憶部２２０に与える。
【００４２】
以上のような構成の試験項目選択装置１００は、与えられた試験項目の中から修正が完了したモジュールについての試験項目を抽出する。以下に、試験項目選択装置１００が実行する処理について説明する。
【００４３】
図３は、再試験項目を抽出する処理の流れを示したフローチャートである。
図３を参照して、試験項目選択装置１００がテスト可能な試験項目を抽出する処理について説明する。
【００４４】
ステップＳ３００では、ＣＰＵ１２０は、通信インターフェイス１２８を介して与えられる試験項目１４０および試験対象ソフトウェア１４１を読み込み、ハードディスク１２４に一旦格納する。
【００４５】
次いで、ステップＳ３０２では、ＣＰＵ１２０は、試験対象ソフトウェア１４１に対して試験項目１４０を実施し、試験項目別走行履歴情報１３０をハードディスク１２４に格納する。ここでは、上述したようなトレース方法を用いる。
【００４６】
図４は、試験項目別走行履歴情報１３０の一例を示した図である。
図４を参照して、試験項目別走行履歴情報について説明する。
【００４７】
試験項目別走行履歴情報は、試験項目番号と走行履歴モジュール名とから構成される。各試験項目（ＴＣ＃１、ＴＣ＃２、ＴＣ＃３）は、ソフトウェアの設計仕様中の各機能を確認するための試験に対応している。走行履歴モジュール名は、各試験項目を実施したときに実行されたモジュール名である。
【００４８】
たとえば、試験項目ＴＣ＃１が実施されたときに実行されたモジュールは、モジュールＡおよびモジュールＤである。
【００４９】
図３に戻って、ステップＳ３０４では、ＣＰＵ１２０は、通信インターフェイス１２８を介して与えられる修正モジュール情報１４２を読み込み、ハードディスク１２４に一旦格納する。
【００５０】
図５は、修正モジュール情報１４２の一例を示した図である。
図５を参照して、修正モジュール情報について説明する。
【００５１】
修正モジュール情報１４２は、不具合の修正が完了したモジュールを示したものである。図５では、モジュールＡおよびモジュールＣが不具合の修正が完了したモジュールであることを示している。
【００５２】
図３に戻って、ステップＳ３０６では、ＣＰＵ１２０は、ステップＳ３０４で読み込んだ修正モジュール情報１４２に基づき、試験項目別走行履歴情報１３０から抽出した抽出走行履歴情報１３２をハードディスク１２４に格納する。
【００５３】
図６は、抽出走行履歴情報１３２の一例を示した図である。
図６を参照して、抽出走行履歴情報について説明する。
【００５４】
図６に示す抽出走行履歴情報は、図４に示す試験項目別走行履歴情報から、図５に示す修正モジュール情報に基づき抽出したものである。図５に示すような不具合を修正したモジュールとして与えられるモジュールＡまたはモジュールＣの少なくとも一つを走行履歴モジュールに含む試験項目が、試験項目別走行履歴情報から抽出される。図４において、修正したモジュールを走行履歴として含む試験項目はＴＣ＃１とＴＣ＃３である。その結果、図６に示すような抽出走行履歴情報が得られる。
【００５５】
図３に戻って、ステップＳ３０８では、ＣＰＵ１２０は、通信インターフェイス１２８を介して与えられる不具合モジュール情報１４４を読み込み、ハードディスク１２４に一旦格納する。
【００５６】
図７は、不具合モジュール情報１４４の一例を示した図である。
図７を参照して、不具合モジュール情報について説明する。
【００５７】
不具合モジュール情報は、不具合を含むモジュールを示したものである。図７では、モジュールＡ、モジュールＣおよびモジュールＤが不具合を含むモジュールであることを示している。
【００５８】
図３に戻って、ステップＳ３１０では、ＣＰＵ１２０は、ステップＳ３０８で読み込んだ不具合モジュール情報１４４から、ステップＳ３０４で読み込んだ修正モジュール情報１４２に基づき、未修正不具合モジュール情報１３４を抽出し、ハードディスク１２４に格納する。
【００５９】
図８は、未修正不具合モジュール情報１３４の一例を示した図である。
図８を参照して未修正不具合モジュール情報について説明する。
【００６０】
図８に示す未修正不具合モジュール情報は、図７に示す不具合モジュール情報から、図５に示す修正モジュール情報に基づき抽出したものである。図５に示す修正モジュール情報から、修正したモジュールはモジュールＡおよびモジュールＣである。したがって、図７に示す不具合モジュール情報から図５に示す修正モジュール情報を削除した結果、図８に示すような未修正不具合モジュール情報が得られる。
【００６１】
図３に戻って、ステップＳ３１２では、ＣＰＵ１２０は、抽出走行履歴情報１３２から、未修正不具合モジュール情報１３４に基づき、有効試験項目１３６を抽出し、ハードディスク１２４に格納する。この際、ＣＰＵ１２０は、ハードディスク１２４から有効試験項目１３６を読み込み、モニタ１０４に表示するようにしてもよい。
【００６２】
図９は、有効試験項目１３６の一例を示した図である。
図９を参照して、有効試験項目について説明する。
【００６３】
図９に示す有効試験項目は、図６に示す抽出走行履歴情報から、図８に示す未修正不具合モジュール情報に基づき抽出したものである。図８に示すような未修正の不具合モジュールＤを走行履歴モジュールに含む試験項目はＴＣ＃１である。したがって、抽出走行履歴情報の試験項目からＴＣ＃１を除いた結果、図９に示すような有効試験項目が得られる。
【００６４】
以上のような処理にしたがえば、本発明に係る試験項目抽出装置は、試験項目を実施した後に、未修正不具合モジュール情報を考慮して、再度実施すべき試験項目を抽出することができる。これにより、不具合を含むモジュールすべての修正が完了していない段階においても、修正が完了しているモジュールだけに対する試験項目を実行することができる。したがって、試験工程に要する時間を短縮することができる。
【００６５】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】試験項目選択装置１００の構成例を示すブロック図である。
【図２】ＣＰＵ１２０の機能的構成を示すブロック図である。
【図３】再試験項目を抽出する処理の流れを示したフローチャートである。
【図４】試験項目別走行履歴情報１３０の一例を示した図である。
【図５】修正モジュール情報１４２の一例を示した図である。
【図６】抽出走行履歴情報１３２の一例を示した図である。
【図７】不具合モジュール情報１４４の一例を示した図である。
【図８】未修正不具合モジュール情報１３４の一例を示した図である。
【図９】有効試験項目１３６の一例を示した図である。
【符号の説明】
【００６７】
１００  試験項目選択装置、１０２  コンピュータ本体、１０４  モニタ、１０６  ＦＤドライブ、１０８  光ディスクドライブ、１１０  キーボード、１１２  マウス、１１６  ＦＤ、１１８  ＣＤ−ＲＯＭ、１２０  ＣＰＵ、１２２  メモリ、１２４  ハードディスク、１２８  通信インターフェイス、１３０  試験項目別走行履歴情報、１３２  抽出走行履歴情報、１３４  未修正不具合モジュール情報、１３６  有効試験項目、１４０  試験項目、１４１  試験対象ソフトウェア、１４２  修正モジュール情報、１４４  不具合モジュール情報、２０２  トレース部、２０４  試験項目抽出部、２０６  未修正不具合モジュール抽出部、２０８  有効試験項目抽出部、２２０  記憶部。
【図１】
2007328447.tif 000003
【図２】
2007328447.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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