(57)【要約】【課題】少ないサンプル量でも簡易な方法でエステル系樹脂の劣化度を評価することができるエステル系樹脂の劣化度評価方法を提供する。【解決手段】誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成し、その誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定することにより、少ないサンプル量でも簡易な方法でエステル系樹脂の劣化度を評価することができる。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
エステル系樹脂の劣化度を評価するためのエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成する工程と、
前記誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定する工程と、
を含み、前記測定した吸光度に基づいて前記エステル系樹脂の劣化度を評価することを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項２】
請求項１に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記誘導体は、前記エステル系樹脂の吸収が実質的にない波長範囲に吸収波長帯を有することを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記誘導体化剤が分子中に芳香族環を含むことを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項４】
請求項３に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記芳香族環がアントラセン環であることを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項５】
請求項３または４に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記誘導体化剤が分子中にさらにヒドロキシル基を含むことを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項６】
請求項５に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記誘導体化剤が９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物であることを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【請求項７】
請求項６に記載のエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、
前記９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物が、９−(ヒドロキシメチル）アントラセンであることを特徴とするエステル系樹脂の劣化度評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、エステル系樹脂の劣化度を評価するためのエステル系樹脂の劣化度評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）等のエステル系樹脂は、耐熱性、強度等に優れることから繊維、フィルム、容器、電子部品、自動車用部品などに広く使用されている。特に、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）は、機械的特性と電気的特性のバランスに優れ、かつ高温使用にも耐えられることなどから、小型軽量化が進む自動車用部品、例えばコネクターの材料として広く使用されている。
【０００３】
しかし、これらのエステル系樹脂は、高温環境や、屋外などの過酷な使用環境等においては、加水分解、熱分解、酸化分解等による材料劣化が進行する。従って、その劣化度を評価する方法が必要となる。
【０００４】
通常、エステル系樹脂の劣化度を評価する場合、物理的な方法である引張試験による方方が用いられている。
【０００５】
また、例えば、特許文献１には、ポリブチレンテレフタレートの劣化により発生する酸無水物を、水酸化テトラメチルアンモニウムの存在下に、熱分解ガスクロマトグラフィ／質量分析装置により定量することにより、ポリブチレンテレフタレートの劣化度を測定する方法が記載されている。
【０００６】
また、エステル系樹脂の加水分解により生じる末端カルボキシル基量の測定方法としては、古くはＰｏｈｌの滴定法があり、また最近の分析装置の発展に伴い、顕微ＦＴ−ＩＲ、ＳＥＣ（ｓｉｚｅ  ｅｘｃｌｕｓｉｏｎ  ｃｈｒｏｍａｔｏｇｒａｐｈｙ）が挙げられる。
【０００７】
【特許文献１】特開２００１−３５６１１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、従来の引張試験による方法では、試験を実施するために多くの工数を必要とし、また、引張試験用の樹脂ダンベルを作製するために、所定の大きさの樹脂平板が必要となる。例えば、自動車用部品の劣化度を測定するために、引張試験用の樹脂ダンベルを作製する必要があるが、実車から回収できるサンプルが限られること、自動車用部品の多くは曲面状であることから、所定の大きさの樹脂平板を得ることは困難である。また、引張試験による方法では、劣化している部分、例えば部品の表面部分のみの評価を行うことは困難である。さらに、物理的な方法である引張試験で樹脂の化学的な劣化を間接的に評価するため、劣化のメカニズムを判断することができず、劣化の解析に限界がある。
【０００９】
また、特許文献１の方法では、樹脂の劣化物の官能基量や分子量の情報が不明であり、劣化のメカニズム解析を十分に行うことができない。
【００１０】
また、上記Ｐｏｈｌの滴定法、顕微ＦＴ−ＩＲ、ＳＥＣ等の測定方法も、試料の量や形状などに制限されるので実用的でない。
【００１１】
本発明は、少ないサンプル量でも簡易な方法でエステル系樹脂の劣化度を評価することができるエステル系樹脂の劣化度評価方法である。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、エステル系樹脂の劣化度を評価するためのエステル系樹脂の劣化度評価方法であって、誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成する工程と、前記誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定する工程と、を含み、前記測定した吸光度に基づいて前記エステル系樹脂の劣化度を評価する。
【００１３】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記誘導体は、前記エステル系樹脂の吸収が実質的にない波長範囲に吸収波長帯を有することが好ましい。
【００１４】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記誘導体化剤が分子中に芳香族環を含むことが好ましい。
【００１５】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記芳香族環がアントラセン環であることが好ましい。
【００１６】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記誘導体化剤が分子中にさらにヒドロキシル基を含むことが好ましい。
【００１７】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記誘導体化剤が９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物であることが好ましい。
【００１８】
また、前記エステル系樹脂の劣化度評価方法において、前記９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物が、９−(ヒドロキシメチル）アントラセンであることが好ましい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明では、誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成し、その誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定することにより、少ないサンプル量でも簡易な方法でエステル系樹脂の劣化度を評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明の実施の形態について以下説明する。
【００２１】
本発明の実施形態に係るエステル系樹脂の劣化度評価方法は、
（ａ）誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成する工程、
（ｂ）析出用溶媒を用いて誘導体を析出させる工程、
（ｃ）析出した誘導体を乾燥させる工程、
（ｄ）乾燥させた誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定する工程と、
を含み、測定した吸光度に基づいてエステル系樹脂の劣化度を評価する。以下、各工程について説明する。
【００２２】
＜（ａ）誘導体形成工程＞
誘導体形成工程では、誘導体化剤を用いてエステル系樹脂に含まれる末端カルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成する。一般に、エステル系樹脂の加水分解により、エステル系樹脂の主鎖のエステル結合が切断され、カルボキシル基とヒドロキシル基とが生成される。したがって、加水分解の程度、すなわち劣化度に応じて、末端カルボキシル基が増加する。本実施形態では、誘導体化剤を用いて、この加水分解で生成した末端カルボキシル基を誘導体化し、当該誘導体を定量することによりエステル系樹脂の劣化度を評価する。
【００２３】
具体的には、誘導体形成工程では、評価対象のエステル系樹脂を溶媒に溶解させた後、誘導体化剤を添加、撹拌して、誘導体を形成する。このとき、誘導体化を促進するため等の目的で誘導体化剤以外に縮合剤等の誘導体化促進剤を添加してもよい。また、必要に応じて加熱してもよい。
【００２４】
本実施形態で劣化度の評価対象となるエステル系樹脂としては、主鎖にエステル結合を含む樹脂であればよく、特に制限はない。具体的には、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリトリメチレンテレフタレート（ＰＴＴ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンナフタレート（ＰＢＮ）、不飽和ポリエステル樹脂等が挙げられる。
【００２５】
誘導体化剤としては、エステル系樹脂に含まれる末端カルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成するものであればよく、特に制限はない。このとき、形成される誘導体は、評価対象のエステル系樹脂の吸収が実質的にない波長範囲に吸収波長帯を有することが必要であり、当該波長範囲に最大吸収波長を有することが好ましい。すなわち、形成される誘導体が、評価対象のエステル系樹脂の吸収が実質的にない波長範囲に吸収波長帯を有するような誘導体化剤を選択すればよい。また、誘導体化剤の構造を変えることにより、例えば、２００ｎｍ〜９００ｎｍ程度の範囲で、好ましくは３４０ｎｍ〜７００ｎｍの範囲で測定波長を選択することができる。ここで、本明細書において「吸収が実質的にない」とは、濃度０．０１ｇ／１０ｍＬで溶媒１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロイソプロパノール（ＨＦＩＰ）に溶解させて測定した紫外可視吸収スペクトルにおいて吸光度が０．０２以下であることをいう。
【００２６】
この点から、形成される誘導体が、評価対象のエステル系樹脂の吸収スペクトルよりも長波長成分を有するように、誘導体化剤が分子中に芳香族環を含むことが好ましい。芳香族環としては、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、ピレン（Ｐｙｒｅｎｅ）環等の芳香族炭化水素環、チオフェン環、ピロール環、フラン環、ピリジン環、アクリジン（Ａｃｒｉｄｉｎｅ）環、フェナントロリン（Ｐｈｅｎａｎｔｈｒｏｌｉｎｅ）環等の芳香族複素環等が挙げられ、ＵＶ吸収帯等の点から、縮合多環炭化水素が好ましく、ナフタレン環、アントラセン環がより好ましく、アントラセン環がさらに好ましい。
【００２７】
また、エステル系樹脂に含まれる末端カルボキシル基と反応させるために、誘導体化剤は、分子中にヒドロキシル基、チオール基、アミノ基、ヒドラジン基等のカルボキシル基との反応性を有する置換基を含むことが好ましく、光延反応などの反応が縮合剤等を用いることにより温和な条件で容易に進行する等の点から、分子中にヒドロキシル基を含むことが好ましい。
【００２８】
このような誘導体化剤としては、例えば、９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物が挙げられる。９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物は、例えば、下記式（１）で示される化合物である。
【００２９】
【化１】
2007263571.tif 000002
【００３０】
（式（１）中、Ｘ１はアルキレン基、アリーレン基等を示し、Ｘ２，Ｘ３はそれぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基、ニトロ基、アリール基、環系へテロ骨格置換基等を示す。）
【００３１】
ここで、上記アルキレン基としては、炭素数１〜３０のアルキレン基であることが好ましく、メチレン基、エチレン基、プロピレン基等が挙げられる。
【００３２】
上記アリーレン基としては、炭素数１〜３０のアリーレン基であることが好ましく、フェニレン基等が挙げられる。
【００３３】
また、上記アルキル基としては、炭素数１〜３０のアルキル基であることが好ましく、メチル基、エチル基、直鎖、分岐または環状のプロピル基、直鎖、分岐または環状のブチル基等が挙げられる。
【００３４】
上記アルコキシル基としては、炭素数１〜３０のアルコキシル基であることが好ましく、メトキシ基、エトキシ基、直鎖、分岐または環状のプロポキシ基、直鎖、分岐または環状のブトキシ基等が挙げられる。
【００３５】
上記アリール基としては、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、ピレン環等が挙げられる。
【００３６】
上記環系へテロ骨格置換基としては、炭素数１〜３０の置換基であることが好ましく、下記式で表されるキノリル（Ｑｕｉｎｏｌｙｌ）基等が挙げられる。
【００３７】
【化２】
2007263571.tif 000003
【００３８】
上記式（１）の化合物の中でも、ＵＶ吸収帯、入手性、価格等の点から下記式（２）で示される９−(ヒドロキシメチル）アントラセンが好ましい。
【００３９】
【化３】
2007263571.tif 000004
【００４０】
また、その他の誘導体化剤としては、下記構造式で示される９−(ヒドロキシメチル）アントラセン系化合物、下記構造式で示される（Ｒ）−（−）−４−ニトロ−７−（３−アミノピロリジン−１−イル）−２，１，３−ベンズオキサジアゾール（（Ｒ）−（−）−４−Ｎｉｔｒｏ−７−（３−ａｍｉｎｏｐｙｒｒｏｌｉｄｉｎ−１−ｙｌ）−２，１，３−ｂｅｎｚｏｘａｄｉａｚｏｌｅ）等のアミン系化合物等が挙げられる。
【００４１】
【化４】
2007263571.tif 000005
【００４２】
以上のような、誘導体化剤を使用することにより、形成される誘導体が、評価対象のエステル系樹脂の吸収が実質的にない波長範囲に吸収波長帯を有するため、紫外可視分光法による吸光度の測定を容易に行うことができる。例えば、測定対象のエステル系樹脂がポリブチレンテレフタレートである場合、ポリブチレンテレフタレートは３４０ｎｍ以下に強い吸収を有するが、上記式（１），（２）のような誘導体化剤を使用することにより、３４０ｎｍを超える波長範囲に誘導体の吸収を持たせることができる。
【００４３】
誘導体形成工程における、エステル系樹脂を溶解させる溶媒としては、誘導体化反応時の反応温度においてエステル系樹脂を溶解させるものであればよく特に制限はないが、例えば、ヘキサフルオロイソプロパノール（ＨＦＩＰ）、アサヒクリンＡＫ−２２５ＳＥＣグレード２（旭硝子株式会社製）等のフッ素系アルコール等が挙げられ、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）等を評価対象とするときには、ＰＢＴの溶解性が高いヘキサフルオロイソプロパノールを用いることが好ましい。
【００４４】
誘導体化剤以外に添加する縮合剤等の誘導体化促進剤としては、誘導体化の反応の種類、反応溶媒への溶解性等に応じて選択すればよく特に制限はないが、例えば、エステル系樹脂に含まれるカルボキシル基と誘導体化剤に含まれるヒドロキシル基との脱水縮合反応によりエステル化する場合には、縮合剤としてアゾジカルボン酸エステルあるいはアゾジカルボン酸アミド等と、トリフェニルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン等のホスフィン系化合物とを用いることが温和な条件で反応が進行するため好ましい。アゾジカルボン酸エステルとしては、例えば、アゾジカルボン酸ジメチルエステル、アゾジカルボン酸ジエチルエステル、アゾジカルボン酸ジイソプロピルエステル、アゾジカルボン酸ジベンジルエステル等が挙げられ、アゾジカルボン酸アミドとしては、１，１’−アゾビス（Ｎ，Ｎ−ジメチルホルムアミド）、１，１’−（アゾジカルボニル）ジピペリジン等が挙げられる。
【００４５】
なお、上記アミン系の誘導体化剤を用いる場合は、縮合剤として、下記構造式で示される２，２’−ジピリジルジスルフィド（２，２’−Ｄｉｐｙｒｉｄｙｌ  Ｄｉｓｕｌｆｉｄｅ）とトリフェニルホスフィンとの組み合わせ等を用いることができる。
【００４６】
【化５】
2007263571.tif 000006
【００４７】
アゾジカルボン酸エステル及びトリフェニルホスフィン等の誘導体化促進剤は、誘導体形成反応のときに系中に共存させればよく、反応途中で添加してもよい。
【００４８】
＜（ｂ）誘導体析出工程＞
誘導体析出工程では、誘導体形成反応の終了後、析出用溶媒を用いて誘導体を析出させる。例えば、誘導体形成工程で得られた反応溶液を析出用溶媒に添加して誘導体を析出させる。また、誘導体形成工程で得られた反応溶液に析出用溶媒を添加して誘導体を析出させてもよい。
【００４９】
析出用溶媒としては、形成した誘導体及びエステル系樹脂の溶解性が低い溶媒、いわゆる貧溶媒を用いればよく、特に制限はない。例えば、水、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール等のアルコール系溶媒、ベンゼン、トルエン等の芳香族系溶媒、ｎ−ヘキサン、ｎ−ヘプタン等の直鎖飽和炭化水素系溶媒、シクロヘキサン等の環状飽和炭化水素系溶媒、アセトニトリル等を用いることができ、形成した誘導体及びエステル系樹脂の溶解性に応じて選択すればよい。
【００５０】
なお、誘導体形成工程で析出用溶媒を用いなくとも、例えば、誘導体の生成に従って誘導体が析出する場合は本工程は必ずしも必要ない。また、反応溶液の温度を下げることにより誘導体を析出させてもよいし、蒸留等の操作により溶媒を除去してもよいし、抽出等の操作により誘導体を反応溶液から分離してもよい。また、誘導体を単離せずに反応溶液のまま直接、以下の工程（ｄ）で吸光度を測定してもよいが、測定精度の点から通常は誘導体を単離することが好ましい。
【００５１】
＜（ｃ）誘導体乾燥工程＞
誘導体乾燥工程では、誘導体析出工程で析出させた誘導体をろ過、遠心分離等により固液分離し、必要に応じて溶媒で洗浄した後、乾燥機等で乾燥させる。
【００５２】
＜（ｄ）吸光度測定工程＞
吸光度測定工程では、乾燥させた誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定する。具体的には、誘導体を形成した誘導体及びエステル系樹脂の溶解性が高い良溶媒であり、かつ、測定波長範囲で透明性の高い溶媒に誘導体を溶解させ、紫外可視分光光度計を用いて吸光度を測定する。紫外可視分光法を使用することにより、評価対象のエステル系樹脂に含まれる微量のカルボキシル基を定量することができる。
【００５３】
測定用溶媒としては、上記析出用溶媒と同様のものが挙げられ、誘導体及びエステル系樹脂の溶解性に応じて選択すればよい。また、吸光度の測定は複数回行い、その平均値を求めることが好ましい。吸光度の測定波長は、形成した誘導体の吸光度が高い波長、好ましくは最大吸収波長であり、かつ評価対象のエステル系樹脂の吸収が低い波長、好ましくは実質的に吸収がない波長を選択すればよい。
【００５４】
以上のような、本発明の実施形態に係るエステル系樹脂の劣化度評価方法は例えば以下のようにして行われる。（ａ）評価対象のエステル系樹脂１重量部を、５〜５００重量部のヘキサフルオロイソプロパノールに溶解させた後、０．０１〜５０重量部の９−(ヒドロキシメチル）アントラセン（ＨＭＡ）と、ＨＭＡに対して０．１〜５０倍モル量の縮合剤アゾジカルボン酸ジエチルエステルと、ＨＭＡに対して０．１〜５０倍モル量のトリフェニルホスフィンとを添加し、０℃〜４０℃で５分〜７２時間反応させて誘導体化する。（ｂ）反応後、反応溶液を５〜５０００重量部のアセトンに添加し、誘導体を析出させる。（ｃ）析出した誘導体をろ過、アセトンで洗浄後、０℃〜４０℃で乾燥させる。（ｄ）乾燥させた誘導体をＨＦＩＰ中に濃度０．００２〜０．２ｇ／１０ｍＬで溶解させ、誘導体の吸光度を紫外可視分光光度計により測定する。測定した吸光度に基づいてエステル系樹脂の劣化度を評価する。
【００５５】
このようにして求めた誘導体の吸光度は、エステル系樹脂に含まれる末端カルボキシル基に起因する。すなわち、吸光度はエステル系樹脂の加水分解により生じた末端カルボキシル基の量が高くなると増加する。したがって、誘導体量、すなわち末端カルボキシル基量を定量することにより、エステル系樹脂の劣化の程度を評価することができる。また、以下の実施例で述べるように、この生成した誘導体の吸光度は従来の試験方法である引張試験の結果と相関がある。
【００５６】
一般に、エステル系樹脂の加水分解によりエステル系樹脂の主鎖のエステル結合が切断されカルボキシル基が生成されるが、自動車部品としてＰＢＴ等が使用される程度の環境においては、熱分解や酸化分解による劣化ではカルボキシル基の生成はほとんど見られない。したがって、末端カルボキシル基の量を定量することにより、加水分解の程度がわかる。加水分解の程度により、劣化が加水分解により起こっているのか、あるいは加水分解以外のメカニズムにより起こっているのかが判断できるため、劣化のメカニズムを推定することができる。特に自動車用部品において、加水分解と熱劣化のどちらが劣化の主要因かが判断でき、劣化の解析に役立てることができる。
【００５７】
本実施形態に係るエステル系樹脂の劣化度評価方法により、簡易な方法で高感度でエステル系樹脂に含まれる微量のカルボキシル基を定量することができ、エステル系樹脂の劣化度を評価することができる。サンプル量は微量（例えば、０．０１０ｇ程度）でも測定可能であり、従来の引張試験のように大量のサンプルを必要としない。また、サンプルの形状を問わず、自動車用部品等のあらゆる形状のエステル系樹脂部品の劣化度を評価することができ、劣化している部分、例えば部品の表面部分のみの評価を行うこともできる。また、本方法は化学的な方法であるため、樹脂の劣化メカニズムを推定することができる。さらに、市場から回収したエステル系樹脂の劣化度を本方法により評価することにより、劣化程度に応じたリサイクルを行うことができ、資源の再利用に役立てることができる。
【００５８】
本実施形態に係るエステル系樹脂の劣化度評価方法は、自動車用部品の他にも、繊維、フィルム、容器、電子部品等、各種用途に用いられるエステル系樹脂の劣化度を評価することができる。
【実施例１】
【００５９】
以下、実施例および比較例を挙げ、本発明をより具体的に詳細に説明するが、本発明は、以下の実施例に限定されるものではない。
【００６０】
本実施例及び比較例において、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）樹脂の新品をサンプルＡ、同じポリブチレンテレフタレート樹脂５ｇを５ｍＬの純水とともにテフロン（登録商標）製容器中で密封して１５０℃で２４時間加熱したものをサンプルＢ、同じく１５０℃で４８時間加熱したものをサンプルＣとした。
【００６１】
（実施例１）
＜（ａ）誘導体形成工程＞
サンプルＡ  ０．０２ｇをヘキサフルオロイソプロパノール（ＨＦＩＰ）２ｍＬ中に添加し、室温（２０℃）で一晩放置して、サンプルＡを溶解させた。その後、その溶液中に、上記式（２）で示される９−(ヒドロキシメチル）アントラセン（ＨＭＡ）０．０２ｇと、縮合剤としてアゾジカルボン酸ジエチルエステル（ＡＤＣＥＥ）０．００２５ｇ（ＨＭＡの１．５倍モル量）と、トリフェニルホスフィン（ＴＰＰ）０．００２５ｇ（ＨＭＡの１倍モル量）とを添加し、室温（２０℃）で２０時間撹拌し、誘導体を形成した。
【００６２】
＜（ｂ）誘導体析出工程＞
反応後、反応溶液をアセトン５０ｍＬ中に添加し、室温（２０℃）で６０分間放置し、誘導体を析出させた。
【００６３】
＜（ｃ）誘導体乾燥工程＞
析出した誘導体をミリポアフィルタＦＨでろ過し、２０ｍＬのアセトンで２回洗浄した後、真空乾燥機中で室温（２０℃）で１２時間乾燥した。
【００６４】
＜（ｄ）吸光度測定工程＞
乾燥した誘導体を濃度０．０２５ｇ／１０ｍＬで溶媒ＨＦＩＰに溶解させ、石英セル（セル長１ｃｍ）に入れ、紫外可視分光光度計（島津製作所製）を用いて、以下の条件で吸光度を測定した。得られた吸収スペクトルを図１に示す。
【００６５】
〔測定条件〕
測定波長範囲：３２０ｎｍ〜８００ｎｍ
光源：重水素（Ｄ２）ランプ（３２０〜３７０ｎｍ）、タングステン（Ｗ）ランプ（３７０ｎｍ〜８００ｎｍ）
【００６６】
図１からわかるように、本方法により生成した誘導体は、ポリブチレンテレフタレート樹脂の吸収が実質的にない（すなわち、ポリブチレンテレフタレート樹脂の吸光度が０．０２以下である）波長範囲（３４０ｎｍ以上）に吸収波長帯を有する。
【００６７】
（実施例２）
サンプルＢを使用した以外は、実施例１と同様にして、誘導体の形成、吸光度の測定を行った。得られた吸収スペクトルを図２に示す。
【００６８】
（実施例３）
サンプルＣを使用した以外は、実施例１と同様にして、誘導体の形成、吸光度の測定を行った。得られた吸収スペクトルを図３に示す。
【００６９】
（比較例１）
サンプルＡと同一ロットの材料を用いて、ＡＳＴＭ−Ｄ６３９に準拠して、試験片厚さ３．２ｍｍ、ダンベル平行部長さ５０ｍｍの試験片を作製した。この試験片を用いて、試験速度１０ｍｍ／ｍｉｎ、チャック間距離１１４ｍｍ、試験温度２３℃の条件で、引張試験を行った。０．５％歪み時の引張強度（ＭＰａ）を記録した。測定はサンプルＡについて５回行い、その平均値を取った。
【００７０】
（比較例２）
サンプルＢを使用した以外は、比較例１と同様にして、引張試験を行った。
【００７１】
（比較例３）
サンプルＣを使用した以外は、比較例１と同様にして、引張試験を行った。
【００７２】
実施例１〜３で測定した吸収スペクトルから、最大吸収波長３４４ｎｍにおける吸光度を求め、劣化時間と吸光度との関係を図４に示した。一方、比較例１〜３で求めた０．５％歪み時の引張強度（ＭＰａ）から、劣化時間と引張応力との関係を同じく図４に示した。図４からわかるように、本発明の方法で得た吸光度と、従来の方法である引張試験の結果とは良い相関関係がある。
【００７３】
このように、誘導体化剤として９−(ヒドロキシメチル）アントラセンを用いてポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）樹脂に含まれるカルボキシル基を誘導体化して誘導体を形成し、その誘導体の吸光度を紫外可視分光法により測定することにより、簡易な方法でポリブチレンテレフタレート樹脂の劣化度を評価することができた。また、比較例に比べてはるかに少ないサンプル量でポリブチレンテレフタレート樹脂の劣化度を評価することができた。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】本発明の実施例１における誘導体の吸収スペクトルを示す図である。
【図２】本発明の実施例２における誘導体の吸収スペクトルを示す図である。
【図３】本発明の実施例３における誘導体の吸収スペクトルを示す図である。
【図４】本発明の実施例における誘導体の吸光度（３４４ｎｍ）と、引張試験の引張応力との関係を示す図である。
【図１】
2007263571.tif 000007
【図２】
2007263571.tif 000008
【図３】
2007263571.tif 000009
【図４】
2007263571.tif 000010