(57)【要約】      （修正有）【課題】治療レーザ光の出力の調整ずれに対応して安定したレーザ光出力を得ることができ、またレーザ光源から出射されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の調整を容易に行えるレーザ治療装置を提供する。【解決手段】レーザ光源８の出力ミラー１４から出射されたレーザ光出力の検出結果に基づいてレーザ光の出力が一定となるよう光源の駆動を制御し、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の高い方をレーザ光として使用し、半波長板及び偏光子との組み合わせにより出力調整して患部に導光するレーザ治療装置において、レーザ光源から出射されたレーザ光のＰ偏光成分又はＳ偏光成分の強度比の低い方の強度を検出する偏光検出手段４２，４４と、検出された偏光成分の強度が許容値となるように偏光可変手段４０を制御する制御手段とを備える。【選択図】      図２
2007029620.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源が持つ出力ミラーから出射されたレーザ光の出力を検出し、該検出結果に基づいてレーザ光の出力が所定値で一定となるようにレーザ光源の駆動を制御すると共に、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の高い方を治療レーザ光として使用し、半波長板及び偏光子との組み合わせにより出力調整して患部に導光するレーザ治療装置において、
前記レーザ光源の内部に配置され、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変えるための偏光可変手段と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光のＰ偏光成分又はＳ偏光成分の強度比の低い方の強度を検出する偏光検出手段と、該偏光検出手段により検出された偏光成分の強度が許容値となるように前記偏光可変手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とするレーザ治療装置。
【請求項２】
請求項１のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりP偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段を持つことを特徴とするレーザ治療装置。
【請求項３】
レーザ光源が持つ出力ミラーから出射されたレーザ光の出力を検出し、該検出結果に基づいてレーザ光の出力が所定値で一定となるようにレーザ光源の駆動を制御すると共に、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の高い方を治療レーザ光として使用し、半波長板及び偏光子との組み合わせにより出力調整して患部に導光するレーザ治療装置において、
前記レーザ光源の内部に配置され、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える偏光可変手段と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の低い方の偏光成分の出力を検出する偏光検出手段と、該偏光成分検出手段により検出された偏光成分の出力が許容値から外れているか否かを判定する判定手段とを備え、前記判定手段により許容値から外れていると判定されたときに、前記偏光可変手段によりＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を調整する構成としたことを特徴とするレーザ治療装置。
【請求項４】
請求項３のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段であり、レーザ治療装置は、前記判定手段により許容値から外れている判定されたときにその旨を警告する警告手段と、前記温度調節手段による前記出力ミラーの設定温度を変更するデータを入力する温度入力手段と、を備えることを特徴とするレーザ治療装置。
【請求項５】
請求項３のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段であり、レーザ治療装置は、前記判定手段により許容値から外れている判定されたときに前記偏光検出手段の検出結果に基づいて許容値となるように温度調節手段を制御する制御手段を備えることを特徴とするレーザ治療装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、患部にレーザ光を照射することにより治療を行うレーザ治療装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
治療レーザ光の出力の調整方法としては、レーザ光源からのレーザ光を一定の出力で出射させ、レーザ光のＰ偏光成分又はＳ偏光成分の出力の高い方を使用して、半波長板の回転と偏光素子との組み合わせにより出力を調整する方法が知られている（特許文献１、２参照）。この方法は、レーザ光源への印加電圧（電流）とレーザ光源から出射するレーザ出力とが１対1の関係で比例しない場合に有効である。
【特許文献１】特開２００５−６９７３号公報
【特許文献２】特開２００５−１８５４１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記特許文献１、２の装置においては、Ｐ偏光成分を治療レーザ光として使用している。レーザ治療装置の製造段階では、Ｐ偏光成分に対してＳ偏光成分が十分に小さな許容値となるように調整されている。しかし、レーザ治療装置を使用していると、レーザ光源から出射されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比に無視できない変動が生じるものがあり、比較的少ないＳ偏光成分の割合が増えると、半波長板の回転等によって行う治療レーザ光の出力調整が所期するものからずれる問題が分かった。Ｓ偏光成分が大きくなると、治療レーザ光の出力を小さく設定したときに基準値内とすることが困難となる。また、従来装置においては、Ｐ偏光成分に対してＳ偏光成分が十分に小さな許容値となるように調整する作業に手間が掛かっていた。
【０００４】
本発明は、上記従来技術に鑑み、治療レーザ光の出力の調整ずれに適切に対応して安定した治療レーザ光の出力を得ることができ、また、レーザ光源から出射されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の調整作業を容易に行うことができるレーザ治療装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００６】
（１）  レーザ光源が持つ出力ミラーから出射されたレーザ光の出力を検出し、該検出結果に基づいてレーザ光の出力が所定値で一定となるようにレーザ光源の駆動を制御すると共に、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の高い方を治療レーザ光として使用し、半波長板及び偏光子との組み合わせにより出力調整して患部に導光するレーザ治療装置において、前記レーザ光源の内部に配置され、P偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変えるための偏光可変手段と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光のＰ偏光成分又はＳ偏光成分の強度比の低い方の強度を検出する偏光検出手段と、該偏光検出手段により検出された偏光成分の強度が許容値となるように前記偏光可変手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
（２）  （１）のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりP偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段を持つことを特徴とする。
（３）  レーザ光源が持つ出力ミラーから出射されたレーザ光の出力を検出し、該検出結果に基づいてレーザ光の出力が所定値で一定となるようにレーザ光源の駆動を制御すると共に、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の高い方を治療レーザ光として使用し、半波長板及び偏光子との組み合わせにより出力調整して患部に導光するレーザ治療装置において、前記レーザ光源の内部に配置され、P偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える偏光可変手段と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の低い方の偏光成分の出力を検出する偏光検出手段と、該偏光成分検出手段により検出された偏光成分の出力が許容値から外れているか否かを判定する判定手段とを備え、前記判定手段により許容値から外れていると判定されたときに、前記偏光可変手段によりＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を調整する構成としたことを特徴とする。
（４）  （３）のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりP偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段であり、レーザ治療装置は、前記判定手段により許容値から外れている判定されたときにその旨を警告する警告手段と、前記温度調節手段による前記出力ミラーの設定温度を変更するデータを入力する温度入力手段と、を備えることを特徴とする。
（５）  （３）のレーザ治療装置において、前記偏光可変手段は前記レーザ光源が持つ出力ミラーの設定温度を調節することによりP偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える温度調節手段であり、レーザ治療装置は、前記判定手段により許容値から外れている判定されたときに前記偏光検出手段の検出結果に基づいて許容値となるように温度調節手段を制御する制御手段を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、治療レーザ光の出力の調整ずれに適切に対応して安定した治療レーザ光の出力を得ることができる。また、レーザ光源から出射されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比の調整作業を容易に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は眼科用のレーザ治療装置であるレーザ光凝固装置の外観概略構成図である。１は装置本体であり、レーザ光源やレーザ光を光ファイバ２に入射させる光学系が収納されている。３は治療レーザ光の出力や照射時間、波長の切替え等の光凝固条件の設定及び表示、装置の状態等の表示を行うためのコントロールボックスである。４は患者眼を観察しながらレーザ光を患者眼の患部に照射するスリットランプデリバリであり、光ファイバ２に導光されたレーザ光を照射するレーザ照射部５、患者眼を照明する照明部６、患者眼を観察する双眼の顕微鏡部４aを備える。７はレーザ照射のトリガ信号を送出するフットスイッチである。
【０００９】
図２は装置本体１の光学系を説明する図である。８はレーザ光源であり、その内部には図３に示すようにNｄ：ＹＡＧ結晶のロッド１０、励起光源である半導体レーザ１１（以下、ＬＤ１１）、波長変換器である非線形結晶１２ａ，１２ｂ，１２ｃ（以下、ＮＬＣ１２ａ〜１２ｃ）、全反射ミラー１３ａ〜１３ｆ（以下、ＨＲ１３ａ〜１３ｆ）、出力ミラー１４、温度調節機構１５、熱複屈折を補償するための１／４波長板１６、が備えられている。温度調節機構１５は出力ミラー１４の温度を一定に維持するために使用され、例えば、ペルチェ素子により構成できる。１／４波長板１６はＨＲ１３aとロッド１０との間に配置されている。
【００１０】
Nｄ：ＹＡＧ結晶のロッド１０は、ＬＤ１１からの励起光により、近赤外域の複数の発振線（ピーク波長）を持つ光を放出する。複数の発振線の内で出力が高い、約１０６４ｎｍ、約１１２３ｎｍ、約１３１９ｎｍの３つの発振線における第二高調波を、非線形結晶を利用して発生させることにより、約５３２ｎｍ（緑）、約５６１ｎｍ（黄）、および約６５９ｎｍ（赤）の３色のレーザ光を出射させる。
【００１１】
ロッド１０が配置される光軸Ｌ３の光路の一端にはＨＲ１３aが設けられ、他端には出力ミラー１４が所定角度だけ傾けて設けられている。ＨＲ１３aは１０６４ｎｍ〜１３１９ｎｍの波長に対して全反射の特性を持つものである。出力ミラー１４は１０６４ｎｍ〜１３１９ｎｍの波長を全反射するとともに、５３２ｎｍ〜６５９ｎｍを透過する特性を持つ。ＨＲ１３ｄ〜出力ミラー１４間の光軸Ｌ４上には、ＮＬＣ１２aとＨＲ１３dが固定されて設けられている。ＮＬＣ１２aは１３１９ｎｍの波長に対して、その第二高調波である６５９ｎｍの波長を発生させるように配置されている。ＨＲ１３dは１３１９ｎｍ及び６５９ｎｍに対して全反射の特性を持つ。このような光学配置により、ロッド１０を挟んで光軸Ｌ３のＨＲ１３aと光軸Ｌ４上のＨＲ１３dが対向する一対の共振器構造を持つ第１の共振光学系が構成され、ＮＬＣ１２aによって発生される第二高調波の６５９ｎｍを出射する。
【００１２】
出力ミラー１４とＮＬＣ１２aとの間には、ＨＲ１３eが挿脱可能に配置される。ＨＲ１３eは１０６４ｎｍ及び５３２ｎｍに対して全反射の特性を持つ。ＨＲ１３eの光軸Ｌ５上には、ＮＬＣ１２bとＨＲ１３bが固定的に設けられている。ＮＬＣ１２bは１０６４ｎｍの波長に対して、その第二高調波である５３２ｎｍの波長を発生させるように配置されている。ＨＲ１３bは１３eと同じく１０６４ｎｍ及び５３２ｎｍに対して全反射の特性を持つ。このような光学配置により、ＨＲ１３eが光軸Ｌ４上に挿入された時には、第１の共振光学系のＨＲ１３a、ロッド１０、出力ミラー１４を共用し、ＨＲ１３aとＨＲ１３bとがロッド１０を挟んで一対の共振器となる第２の共振光学系が構成され、ＮＬＣ１２bによって発生される第二高調波の５３２ｎｍを出射する。
【００１３】
光軸Ｌ４上でＨＲ１３eが挿脱される位置とＮＬＣ１２aとの間には、ＨＲ１３fが挿脱可能に配置される。ＨＲ１３fは１１２３ｎｍ及び５６１ｎｍに対して全反射の特性を持つ。ＨＲ１３ｆ〜ＨＲ１３ｃ間の光軸Ｌ６上には、ＮＬＣ１２cとＨＲ１３cが固定的に設けられている。ＮＬＣ１２cは１１２３ｎｍの波長に対して、その第二高調波である５６１ｎｍを発生するように配置されている。ＨＲ１３cはＨＲ１３fと同じく１１２３ｎｍ及び５６１ｎｍに対して全反射の特性を持つ。このような光学配置により、ＨＲ１３fが光軸Ｌ４上に挿入された時には、第１の共振光学系のＨＲ１３a、ロッド１０、出力ミラー１４を共用し、ＨＲ１３aとＨＲ１３cとがロッド１０を挟んで一対の共振器となる第３の共振光学系が構成され、ＮＬＣ１２cによって発生される第二高調波の５６１ｎｍを出射する。
【００１４】
図２において、レーザ光源８から出射されるレーザ光の光軸Ｌ１上には、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分をそれぞれ個別に検出するための偏光検出光学系４５が配置されている。なお、本装置では、図２の光学系配置上でレーザ光源８から出射されたレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の内で強度比の高いＰ偏光成分を治療レーザ光に使用する。４０はウェッジ板であり、レーザ光源８に相対する斜面を４０a、斜面４０aに対向する斜面を４０bとする。斜面４０aと斜面４０bは互いに非平行となっている。最初の入射面である斜面４０aは、レーザ光源８からのレーザ光の入射角がブリュースタ角（５６．８°）となるように配置されている。この斜面４０aにてレーザ光のＰ偏光成分のほぼ全てとＳ偏光成分の内の約８割が透過し、残りのＳ偏光成分の約２割が反射される。斜面４０ａにて反射されたＳ偏光成分は、Ｓ偏光のみを通過させるように配置された偏光板４３を経て、Ｓ偏光センサ４４にて検出される。一方、ウェッジ付ミラー４０の内部を透過したレーザ光のＰ偏光成分及びＳ偏光成分は、斜面４０bにてその一部（Ｐ偏光成分：0.2％、Ｓ偏光成分：12.7％）が反射される。斜面４０bにて反射されたＰ偏光成分は、Ｐ偏光のみを通過させるように配置された偏光板４１を経て、Ｐ偏光センサ４２にて検出される。なお、ウェッジ板４０を通過するレーザ光はウェッジ板４０の形状に準じた角度で偏角されるが、図２では光路図を略している。
【００１５】
ウェッジ板４０を経たレーザ光の光路Ｌ１には、光分割部材としての透明ガラス板５２が配置されている。透明ガラス板２１は、レーザ光の入射角（５６．８°）をブリュースタ角から僅かにずらした角度５２°にて配置されている。入射角をブリュースタ角から角度θ＝４．８°ずらすことによって、ガラス板２１ではＰ偏光成分の一部が０．１〜０．５％程度反射される。残りのＰ偏光成分はガラス板２１を透過する。Ｓ偏光成分は約８割が透過し、約２割が反射する。
【００１６】
ガラス板２１を透過したレーザ光（Ｐ偏光成分の大部分と残りのＳ偏光成分）の光軸Ｌ１上には波長約５３２ｎｍ（緑）、波長約５６１ｎｍ（黄）および波長約６５９ｎｍ（赤）の３波長に対応した１／２波長板３６が設けられており、１／２波長板３６によりＰ偏光がＳ偏光成分に、Ｓ偏光がＰ偏光成分に変えられる。また、光軸Ｌ１上にはＰ偏光成分を透過し、Ｓ偏光成分を反射する偏光子３７が設けられ、偏光子３７を透過したＰ偏光成分はディフューザ３８に入射する。１／２波長板３６は駆動部３６aにより回転され、１／２波長板３６の回転角度と偏光子３７とにより偏光子３７で反射されるＳ偏光成分の光量が変えられ、治療用として使用されるレーザ光の光量（出力）が調整される。
【００１７】
偏光子３７の反射光路には、出力モニタ用にレーザ光の一部を反射させるビームスプリッタ２９と、Ｓ偏光を反射させると共にＰ偏光を透過する光学偏光合成部材としての偏光子２５が配置されている。ビームスプリッタ２９はＳ偏光成分の一部（0.9％）を反射させて、残りの大部分を透過する。ビームスプリッタ２９の反射光路上には、Ｓ偏光成分のみを通過させる偏光板３０、ハーフミラー３１が設けられ、このハーフミラー３１を透過したレーザ光を検出する出力センサ３３が配置されている。また、ハーフミラー３１を反射した光路上には出力センサ３５が配置されている。これら２つのセンサ３３および３５により、治療レーザ光の出力が二重にモニタされる。
【００１８】
また、ビームスプリッタ２９を透過した光路上には、治療光用シャッタ２８が配置され、治療用レーザ光が必要でないときは、駆動装置２８aの駆動により治療光用シャッタ２８が光路に挿入されて治療用レーザ光を遮断する。この治療光用シャッタ２８の開閉は駆動装置２８aの駆動により行われ、シャッタセンサ２８bによって検知される。
【００１９】
一方、エイミング光に利用されるレーザ光はガラス板２１で反射される。ガラス板２１で反射されたＳ偏光成分は、Ｐ偏光成分のみを通過するように配置された偏光板２２でカットされる。２３は、偏光板駆動部２３aによって回転駆動される偏光板である。偏光板２３の回転角度により偏光板２３を通過するＰ偏光成分の光量が変わり、エイミング光の光量（出力）が調整される。
【００２０】
偏光板２３を通過したＰ偏光成分のエイミング光は、ほとんどが偏光子２５を通過して光軸Ｌ１側の治療用レーザ光と合成されるが、一割程度は偏光子２５で反射され、エイミング光用出力センサ２６に入射する。
【００２１】
２７は安全シャッタであり、駆動装置２７aの駆動により光路から離脱してレーザ光の通過を可能にし、また、異常発生時等の所定の場合に光路に挿入されてレーザ光を遮断する。この安全シャッタ２７の開閉はシャッタセンサ２７bによって検知される。３９は集光レンズであり、レーザ光を光ファイバ２の入射端面に集光して入射させる。光ファイバ２によってスリットランプデリバリ４に導光されたレーザ光は、レーザ照射部５を経て患者眼の患部に照射される。
【００２２】
図４において、５０は制御部であり、レーザ光源８の内部に配置された半導体レーザ１１及び温度調節機構１５、フットスイッチ７、コントロールボックス３、各センサ、各駆動装置等が接続されている。コントロールボックス３にはレーザ出力、治療レーザ光の波長などを選択する各種スイッチが設けられている。治療光用シャッタ２８はフットスイッチ７が押されたときに、設定されたレーザ照射時間だけ開けられる。
【００２３】
上記のような構成において、レーザ光源８から出力されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比について、レーザ光源８の共振光学系を構成する出力ミラー１４の温度を変えることにより調整できることを実験により確認した。実験は、図５に示すように、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分を分離した光路のそれぞれにパワー計を配置して行った。すなわち、レーザ光源８から出射されるレーザ光の光路に偏光ビームスプリッタ１００を配置し、その透過方向にＰ偏光検出用の第１パワー計１０５を配置し、偏光ビームスプリッタ１００の反射方向にはさらに偏光ビームスプリッタ１０１を配置し、その反射方向にＳ偏光成分検出用の第２パワー計１０６を配置した。また、レーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比は波長の選択による違いは無かったので、レーザ光源８から出射させるレーザ光を波長約５３２ｎｍ（緑）とした。この波長のレーザ光をレーザ光源８から出射させ、第１パワー計１０５で検出されるＰ偏光成分の強度が３．２Ｗで安定するようにレーザ光源８を駆動すると共に、出力ミラー１４の設定温度を温度調節機構１５により２７℃〜３９℃の間で１℃毎に変えた。このときのＳ偏光成分の強度を第２パワー計１０６で検出した。図６は、その実験結果である。
【００２４】
図６の実験結果では、出力ミラー１４を一定に維持する温度を３３℃としたときにＳ偏光成分の強度が最小値の約２０ｍＷとなり、Ｐ偏光成分に対するＳ偏光成分の強度比は１／１００以下となった。別のレーザ光源８を同様に実験したところ、第２パワー計１０６で検出されるＳ偏光成分の強度は多少異なるものの、やはり設定温度３３℃の付近でＳ偏光成分が最小値となり、再現性があることが確認された。このことから、Ｐ偏光成分をほぼ一定となるようにレーザ光源８を駆動した場合であっても、出力ミラー１４の温度を変えることにより、Ｓ偏光成分の出力強度を変更できることが分かった。なお、レーザ光源８から出射されるレーザ光のＰ偏光成分とＳ偏光成分の強度比を変える手段としては、共振光学系内に配置した１／４波長板１６の角度を変えたり、他の変更手段を設けることが考えられる。
【００２５】
次に、レーザ光源８から出射されるレーザ光のＰ偏光成分に対するＳ偏光成分の強度比を所定の許容値以下とする調整作業について説明する。スイッチ５１を押してメンテナンスモードを実行すると、制御部５０はレーザ光源８のＬＤ１１を駆動してレーザ光をテスト出射させる。レーザ光の波長はコントロールボックス３のスイッチ３ｃで選択しておく。例えば、緑色レーザ光が選択されたものとする。なお、メンテナンスモードではシャッタ２７，２８は閉じられた状態である。ＬＤ１１の駆動によりレーザ光源８からレーザ光が出射され、偏光検出光学系４５のセンサ４２，４４によりそれぞれＰ偏光成分及びＳ偏光成分のレーザ光が検出される。
【００２６】
制御部５０は、センサ４２で検出されるＰ偏光成分が所定の一定出力（例えば、３．２Ｗ）となるようにＬＤ１１の駆動をフィードバック制御する。また、センサ４４で検出されるＳ偏光成分の出力が所定の許容値以下（Ｐ偏光成分に対するＳ偏光成分の割合が１／１００以下）で最も低くなるように、温度調節機構１５により出力ミラー１４の設定温度を順次変更していく。例えば、３６℃から１℃毎に設定温度を下げていき、Ｓ偏光成分の出力が最も低い値となる温度が見つかったら、その温度設定を制御部５０が持つメモリ５０ａに記憶し、その温度設定を維持するように温度調節機構１５を制御する。３６℃から温度を下げてもＳ偏光成分の出力が下がっていない場合は、逆に温度を上げ、最低値となる温度を見つける。なお、出力ミラー１４の温度設定で最低値が見つからない場合でも、Ｓ偏光成分の出力が前述の許容値以下（Ｐ偏光成分に対するＳ偏光成分の割合が１／１００以下）となれば、治療レーザ光として使用するＰ偏光成分への影響は少ないので、その許容値以下となる温度で温度調節機構１５を制御しても良い。温度２７℃から３９℃の間でこの許容条件に入らない場合は、自動調整不能の旨のエラーメッセージがコントロールボックス３の表示器３ｅに表示される。
【００２７】
なお、この調整作業はフィードバック制御による自動調整とすることが好ましいが、手動で行うことも可能である。手動調整する場合は、スイッチ５２で手動メンテナンスモードにしたときに、表示器３ｅに現在の出力ミラー１４の設定温度とセンサ４２で検出されるＳ偏光成分の強度値が表示される。出力ミラー１４の設定温度を変えるときは、エイミング光のＵＰ／ＤＯＷＮのスイッチ３ｂを兼用し、このスイッチ３ｂで設定温度を変える信号を制御部５０に入力する。制御部５０の制御により駆動される温度調節機構１５によって、出力ミラー１４の温度が設定温度に変えられる。そして、Ｓ偏光成分が許容値以下になったと判定されると、その旨が表示器３ｅに表示される。Ｓ偏光成分の最低値を見つけるために、さらに設定温度の変更を続けても良い。スイッチ５２を再び押すことにより、手動メンテナンスモードが終了し、メモリ５０ａに記憶された設定温度が変更された設定温度に書き換えられる。
【００２８】
以上のようになＳ偏光成分の検出結果による自動制御又は手動調整により、Ｓ偏光成分の強度を許容値以下とする調整作業を容易に行える。この調整作業は、レーザ光凝固装置の製造現場及び眼科医院等での使用現場の両者で行える。
【００２９】
なお、レーザ光源８から出射されるレーザ光の出力を一定とするためには、上記のようにＰ偏光成分のみを検出するセンサ４２を使用することが好ましいが、Ｐ偏光成分に対するＳ偏光成分の割合は小さいので、Ｐ偏光成分及ぶＳ偏光成分を含んだ状態のレーザ光の出力を検出した結果を用いても実用上の影響は少ない。また、Ｓ偏光成分の許容値についても、Ｐ偏光成分及ぶＳ偏光成分を含んだレーザ光全体に対するＳ偏光成分の強度比として計算しても良い。
【００３０】
次に、レーザ光凝固装置の使用時の動作を説明する。手術に際して、術者はコントロールボックスの各スイッチを操作し、レーザ光の波長選択、レーザ出力、凝固時間等の凝固条件を設定しておく。スイッチ３ｂによりエイミング光がＯＮされると、制御部５０はＬＤ１１を駆動してレーザ光源８からレーザ光を出射させる共にシャッタ２７を光路から外す。ガラス板２１で反射される一部のＰ偏光成分は、偏光板２２と偏光板２３の回転により出力が調整され、以後の光学系を介して患者眼に照射される。
【００３１】
レーザ光源８からレーザ光が出射されると、偏光検出光学系４５のセンサ４２，４４によりそれぞれＰ偏光成分及びＳ偏光成分のレーザ光が検出され、その検出信号が制御部５０に入力される。制御部５０は、Ｐ偏光成分（又はＰ，Ｓ偏光成分を含んだレーザ光全体）に対するＳ偏光成分の強度比が前述の許容値から外れているか否かを判定する。Ｓ偏光成分の強度比が前述の許容値から外れている判定した場合、レーザ光源８の駆動を停止すると共に、その旨のエラーメッセージを表示器３ｅに表示してメンテナンスの必要性を警告する。メンテンスは前述のように、自動調整又は手動調整が可能である。また、スイッチ５１，５２でメンテナンスモードしなくても、制御部５０がＳ偏光成分の強度比が前述の許容値から外れている判定し場合、前述の自動調整を実行するようにしても良い。すなわち、制御部５０は温度調節機構１５を制御して出力ミラー１４の設定温度を順次変更していき、センサ４２で検出されるＳ偏光成分の出力が許容値となるように設定温度を決定する。さらに、Ｓ偏光成分の出力の最低値が見つかるまで出力ミラー１４の設定温度を変更しても良い。
【００３２】
Ｓ偏光成分の出力を許容値とすることができれば、表示器３ｅのエラーメッセージが消され、通常の動作モードにてレーザ治療を再開できる。術者は、エイミング光の観察により患部の照準合わせを行う。本装置におけるエイミング光は治療レーザ光と同色とされるので、治療レーザ光の透過特性がエイミング光で観察できるので都合が良い。エイミング光の観察により患部の照準合わせができれば、術者はスイッチ３ｄにより装置の動作モードをスタンバイ状態からレディ状態に切換える。レディ状態への切換え後は、フットスイッチ７によるトリガ信号の入力によりシャッタ２８が光路から外され、偏光子２５で反射されるレーザ光（Ｓ偏光）がファイバ２等の導光系を介して眼底に照射される。
【００３３】
ここで、制御部５０は、スタンバイ状態とレディ状態の切換えに応じて、レーザ光源８から出射されるレーザ光の出力を少なくとも２段階で切換える。例えば、緑色レーザが選択されている場合、エミングスイッチ３ｂがＯＮされたときのスタンバイ状態では、レーザ光源８から出射されるレーザ光の出力が１．５ＷとなるようにＰ偏光センサ４２の検出結果を基にＬＤ１１の駆動を制御し、レディ状態に切換えられたときには上限出力の３．２Ｗで安定するようにＰ偏光センサ４２の検出結果を基にＬＤ１１の駆動を制御する。
【００３４】
このとき、レーザ光源８から出射されるレーザ光のＰ偏光成分に対するＳ偏光成分の割合が低く抑えられていることにより、１／２波長板３６の回転制御による治療レーザ光の出力調整が安定して行える。すなわち、治療レーザ光の出力は１／２波長板３６を０〜４５°の間で回転させることで、Ｐ偏光成分からＳ偏光成分に変換される割合が０〜１００％で変えられる。しかし、１／２波長板３６に入射するＳ偏光成分の割合が多いと、治療レーザ光の低出力調整が行いにくくなり、場合によっては許容範囲から外れることがある。例えば、治療レーザ光の設定を１００ｍＷとしたとき、これに対応する１／２波長板３６の回転角の設定は僅かな回転角とされるが、この回転角では１／２波長板３６に入射するＳ偏光成分がほとんど残ったまま偏光子３７で反射されてしまい、結局、治療レーザ光に多くが混入する。１／２波長板３６の回転で５０ｍＷのＳ偏光成分が残っているとすると、１００ｍＷ＋５０ｍＷ＝１５０ｍＷとなり、設定値の１００ｍＷから大きく外れてしまう。これに対して、１／２波長板３６に入射するＰ偏光成分に対してＳ偏光成分の割合が所定値以下で小さくされていれば、設定値の１００ｍＷから大きく外れることを防止して、設定値の基準値以内とすることができる。なお、Ｐ偏光成分に対してＳ偏光成分の割合が分かっていれば、そのＳ偏光成分の混入の割合を予め計算して、治療レーザ光の出力設定に対する１／２波長板３６の回転角を決めることも可能である。
【００３５】
本発明は上記の実施形態に限らない。図２では、ウェッジ板４０の表裏面の反射を利用して少ない素子により省スペースのＰおよびＳ偏光成分の検出を可能にしたが、次のような形態とすることも可能である。図７は、偏光検出光学系４５の他の実施形態を説明する概略構成図である。なお、図７において、透明ガラス板２１より右側の構成は、先の図２の構成と同様であるので、省略している。
【００３６】
この偏光検出光学系６０においては、レーザ光源８から出射されたレーザ光の一部（１〜３％）を、ビームスプリッタ６１を用いて反射させる。ビームスプリッタ６１により反射されたレーザ光は、ハーフミラー６２を経る。ハーフミラー６２を透過したレーザ光は、Ｓ偏光成分のみを通過させる偏光板６３を経て、Ｓ偏光センサ６４により検出される。一方、ハーフミラー６２を反射したレーザ光は、Ｐ偏光成分のみを通過させる偏光板６５を経て、Ｐ偏光センサ６６により検出される。Ｓ偏光センサ６４及びＰ偏光センサ６６の検出結果は、前述と同じフィードバック制御に使用される。なお、レーザ光源８から出射されたレーザ光のうち、ビームスプリッタ６０を透過した光については、図２の場合と相違ないため、説明を省略する。
【００３７】
また、別の形態として、図２のウェッジ板４０の代わりに、２枚の薄板を所定の距離離して配置し、それぞれの薄板からの反射光に対してそれぞれＰ偏光およびＳ偏光のみが透過するフィルタを介して、センサ４２とセンサ４４に入射させる構成としても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】レーザ治療装置の外観を示す図である。
【図２】装置内部の光学系を示す図である。
【図３】レーザ光源の内部を示す図である。
【図４】制御系を示すブロック図である。
【図５】Ｐ偏光成分及びＳ偏光成分をそれぞれ分離して計測する構成図である。
【図６】レーザ光出力ミラーの温度とＳ偏光成分強度の関係を示す図である。
【図７】偏光検出光学系の他の実施形態を説明する概略構成図である。
【符号の説明】
【００３９】
１  装置本体
３  コントロールボックス
８  レーザ光源
１１  半導体レーザ
１４  出力ミラー
１５  温度調節機構
２１  ガラス板
２２  偏光板
２３  偏光板
２３a  偏光板駆動部
２５  偏光子
３６  １／２波長板
３６a  １／２波長板駆動部
３７  偏光子
４０  ウェッジ板
４２  Ｐ偏光センサ
４４  Ｓ偏光センサ
４５  偏光検出光学系
５０  制御部
６０  偏光検出光学系
６１  ビームスプリッタ
６４  Ｓ偏光センサ
６６  Ｐ偏光センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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