(57)【要約】【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。【解決手段】一組のダミー画素に対して１つの検出センサーを有効表示領域の外側に配置する。この場合に、基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御する。そして、劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める。この後、実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する。【選択図】図１
2007163712.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効表示領域の外側に配置され、有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、
前記一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーと
を有することを特徴とする表示パネル。
【請求項２】
有効表示領域の外側に配置され、有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する複数組のダミー画素と、
前記複数組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーと
を有することを特徴とする表示パネル。
【請求項３】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項４】
請求項３に記載の自発光表示装置において、
前記実測劣化率算出部は、
階調値と劣化率との基本対応関係を定める基本テーブルを参照し、
前記平均階調値ｐに対応する劣化率αp
と、算出対象とする階調値ｑに対応する劣化率αq との対応比率αq ／αp を、平均階調値ｐに対応する実測劣化率Ｘp に乗算することより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項５】
請求項３に記載の自発光表示装置は、
前記実測劣化率算出部で算出された階調値と実測劣化率との対応関係に基づいて、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素の累積劣化情報との差分に基づいて、各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と、
算出された補正量に基づいて入力階調値を補正する映像信号変換部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項６】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項７】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する複数組のダミー画素と、当該複数組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項８】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項９】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする階調値／劣化率変換テーブル更新装置。
【請求項１０】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする階調値／劣化率変換テーブル更新装置。
【請求項１１】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
【請求項１２】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
【請求項１３】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測処理と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１４】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測処理と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出処理と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出処理と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１５】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定処理と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算処理と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【請求項１６】
有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む１つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定処理と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算処理と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測処理と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出処理と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、表示パネル、自発光表示装置、階調値／劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。
【０００３】
このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列した有機ＥＬディスプレイパネルである。有機ＥＬディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
【０００４】
ところで、有機ＥＬディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体（有機ＥＬ素子）の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
【０００５】
劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
【０００６】
従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００３−５０９７２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このうち特許文献１と特許文献２は、発光体の劣化状態を入力表示データ（階調値）の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。
【０００８】
その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ＥＬディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。
【０００９】
一方、特許文献３に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより１画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
また、特許文献３に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで、発明者らは、有効表示領域の外側に一組又は複数組のダミー画素を配置し、これらダミー画素の発光輝度を１つの輝度検出センサーを用いて実測する仕組みを提案する。
また、発明者らは、かかる仕組みを通じて実測された劣化情報に基づいて、各画素に対応する劣化情報や補正情報の予測精度を向上する以下の仕組みを提案する。
【００１１】
（仕組み１）
劣化情報の算出時に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｃ）を搭載するものを提案する。
（ａ）基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
（ｂ）劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部
（ｃ）実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部
【００１２】
（仕組み２）
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｆ）を搭載するものを提案する。
（ａ）基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
（ｂ）劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部
（ｃ）階調値／劣化率変換テーブルを参照し、一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部
（ｄ）累積劣化情報の実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部
（ｅ）階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部
（ｆ）基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部
【００１３】
（仕組み３）
劣化情報の算出字に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｄ）を搭載するものを提案する。
（ａ）  前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部
（ｂ）基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
（ｃ）輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部
（ｄ）算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部
【００１４】
（仕組み４）
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能（ａ）〜（ｈ）を搭載するものを提案する。
（ａ）  前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部
（ｂ）基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
（ｃ）輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部
（ｄ）階調値／劣化率変換テーブルを参照し、一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部
（ｅ）劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部
（ｆ）累積劣化情報の実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部
（ｇ）階調値／劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部
（ｈ）基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部
【発明の効果】
【００１５】
発明者らの提案する発明によれば、表示パネルを構成する全ての発光体の劣化状態を、ダミー画素についての実測値を通じて正確に予測することができる。すなわち、入力階調値の表示による劣化率（劣化速度）の変化を、ダミー画素についての実測値を通じて実時間で算出することができる。
また、一組のダミー画素に対して１つの輝度検出センサーを配置することにより、輝度検出センサーの数を削減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【００１７】
（Ａ）形態例１
（Ａ−１）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
図１に、階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図１に示す有機ＥＬディスプレイ装置１は、映像信号変換部３、劣化量算出部５、階調／劣化量変換テーブル７、累積劣化量差算出部９、累積劣化量差蓄積部１１、補正量決定部１３、自発光パネル１５、ダミー画素発光検出部１７、検出値平均化部１９、劣化特性実測部２１、ダミー画素累積劣化量算出部２３、平均階調値（ＡＰＬ：average picture level）算出部２５、見積もり精度改善部２７、ダミー画素発光制御部２９で構成する。
【００１８】
映像信号変換部３は、入力表示データ信号を補正表示データ信号に変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号変換部３は、入力表示データ信号に補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１３より与えられる。また、補正表示データ信号には、ダミー画素発光制御部２３から与えられるダミー画素用の表示データ信号が多重される。補正表示データ信号は、劣化量算出部５と、自発光パネル１５と、ＡＰＬ算出部２５に与えられる。
【００１９】
劣化量算出部５は、各画素に対応する階調値に基づいて画像の表示に伴う各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例では、階調／劣化量変換テーブル７を使用する。ここでの画素は、有効表示領域内の画素とダミー画素の両方を含む。従って、劣化量算出部５は、有効表示領域内の各画素についての見積もり劣化量とダミー画素についての見積もり劣化量を計算する。
【００２０】
図２に、階調／劣化量変換テーブル７の一例を示す。階調／劣化量変換テーブル７には、入力表示データ信号が採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。なお、劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。
【００２１】
累積劣化量差算出部９は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する劣化量差の累積値を算出する処理デバイスである。基準画素は、実在する画素でも良いし、仮想的に設定した画素でも良い。前者には、例えば画素単位の累積劣化量が最も小さい画素、画素単位の累積劣化量が最も大きい画素がある。後者には、１フレームの平均階調値で発光する仮想の画素がある。
有効表示領域内の各画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部５より与えられる
【００２２】
累積劣化量差蓄積部１１は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、ある画素の劣化の基準画素に対する進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部１３は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
なお、補正量決定部１３は、累積劣化量差蓄積部１１に蓄積されている累積劣化量差を見積もり誤差量αで修正し、修正後の累積劣化量差に基づいて各画素に対する補正量を決定する。
【００２３】
この形態例の場合、見積もり誤差量αは、見積もり精度改善部２７より、１００分率値として与えられる。従って、累積誤差量は、累積劣化量に見積もり誤差量αを乗算することで算出できる。補正原理は後述する。
以上の通り、補正量決定部１３は、累積劣化量から累積誤差量を取り除いた値に基づいて補正値を決定する。
自発光パネル１５は、発光体（自発光素子）を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機ＥＬ素子を使用する。
【００２４】
図３に、自発光パネル１５の平面構成例を示す。なお、図３は、主に画素配置の観点から表しており、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
図３に示すように、自発光パネル１５は、有効表示領域１５１の外側にダミー画素領域１５３を配置した構成でなる。有効表示領域１５１は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。一方、ダミー画素領域１５３は、劣化状態の測定に用いられる領域であり、その発光が外部から観察されないように遮光される。
【００２５】
図３では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３画素を集積した表示上の１画素を１つの四角で示す。このように、この形態例では、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色を基本発光色とする。
この形態例の場合、ダミー画素領域１５３は、表示上の１画素に対応する４つのダミー画素１５３１で構成されるものとする。
図４に、ダミー画素領域１５３の拡大図を示す。図４に示すように、個々のダミー画素１５３１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３画素を集積して構成される。なお、この明細書では、ダミー画素１５３１を構成する各画素（Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素）もダミー画素という。
【００２６】
ダミー画素領域１５３内の各ダミー画素１５３１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各発光色別に全画素同時に又は指定された画素単位で個別に発光制御する。図５に、基本発光色別に全ダミー画素を同時に発光制御する例を示す。図６に、４つのダミー画素を上段と下段の２つの領域に区分し、基本発光色別に発光制御する例を示す。個別のダミー画素単位で発光制御できるため、様々な劣化条件を試行することができる。
【００２７】
なお、この形態例の場合、ダミー画素１５３１は、入力表示データ信号のブランキング期間を利用して発光制御される。
図３の場合、ダミー画素１５３１の駆動用として、データ駆動線の１本とゲート駆動線の２本を新たに配置する。データ駆動線の１本は、有効表示領域１５１の画素と共用する。
以上のように、ダミー画素１５３１は有効表示領域１５１内の各画素と同じ構造で実現でき、専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
【００２８】
また、ダミー画素１５３１の構造は、有効表示領域１５１の各画素に対応する画素回路と同構造とする。すなわち、選択トランジスタと駆動トランジスタとで構成する。従って、表示パネル自体の生産上の難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。
【００２９】
ダミー画素発光検出部１７は、ダミー画素１５３１から出力される可視光を検出して電気信号に変換する光検出素子であり、ダミー画素１５３１の発光面と対面する位置に配置される。光検出素子には任意の検出センサーを適用する。光検出素子は、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーのようなものが望ましく、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、検出信号として出力される。
【００３０】
この形態例の場合、ダミー画素発光検出部１７は、４つのダミー画素１５３１（すなわち、ダミー画素領域１５３）に対して１つ配置する。この構成により、ダミー画素発光検出部１７の数が削減され、回路規模の削減と生産難易度の低減とを実現できる。因みに、基本発光色別に配置する場合には、１２個（３×４画素）ものダミー画素発光検出部１７が必要となる。
【００３１】
検出値平均化部１９は、基本発光色に対応するダミー画素群が一斉に点灯制御された場合（例えば図５、図６）の発光輝度を平均化する処理デバイスである。検出値平均化部１９により、複数のダミー画素を構成する個々の発光体の個体差が平均化され、より正確な劣化情報の取得が可能になる。
【００３２】
劣化特性実測部２１は、ダミー画素１５３１の劣化状態を検出するタイミング（実測タイミング）と、検出タイミング時にダミー画素１５３１に印加する表示データ信号（階調値）とをダミー画素発光制御部２５に与える処理デバイスである。この形態例の場合は、劣化状態の検出は、一定周期（一定のフレーム数毎）で実行する。また、劣化状態の検出は、常に同じ階調値を使用して実行する。同じ階調値でダミー画素１５３１を光らせることで、発光体の劣化を発光輝度の推移として検出することが可能になる。
【００３３】
なお、劣化特性実測部２１がダミー画素発光制御部２９に与える階調値は、ＲＧＢ別に設定しても良いし、ＲＧＢのいずれにも同じ値を用いても良い。例えば、１００％階調値（階調が８ビットの場合は「２５５」）を使用する。因みに、同じ発光色に対応するダミー画素には同じ階調値を与える。
また、劣化特性実測部２１は、初期状態に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔＲを、実測期間内（実測期間の初回検出タイミングから今回の検出タイミングの間）に生じた劣化情報として見積もり精度改善部２７に与える処理デバイスとしても機能する。
【００３４】
なお、劣化特性実測部２１は、ダミー画素１５３１の劣化に要した時間（この例の場合は固定値）と平均階調値も見積もり精度改善部２７に与える。
もっとも、劣化特性実測部２１において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが見積もり精度改善部２７に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔＲを実測期間のフレーム数で割ることで求めることができる。
【００３５】
ダミー画素累積劣化量算出部２３は、ダミー画素について算出された見積もり劣化量の累積値を基本発光色別（ＲＧＢ別）に算出する処理デバイスである。各ダミー画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部５で算出される。
ＡＰＬ算出部２５は、補正表示データ信号についてフレーム毎に平均階調値をＲＧＢ画素別に算出する処理と、過去に算出されたＲＧＢ画素別の平均階調値の平均値（以下「平均ＡＰＬ値」という。）を算出する処理とを実行する処理デバイスである。
【００３６】
なお、フレーム毎に算出されるＲＧＢ画素別の平均階調値は、ダミー画素発光制御部２９に与えられる。また、平均ＡＰＬ値は、見積もり精度改善部２７に与えられる。
見積もり精度改善部２７は、劣化量の算出に使用する階調／劣化量変換テーブル７の精度を改善する処理機能と、補正量の算出に使用する累積劣化量差の精度を改善する処理機能とを提供する処理デバイスである。
【００３７】
図７に、見積もり精度改善部２７の内部構成例を示す。見積もり精度改善部２７は、実測劣化率算出部２７１と見積もり誤差率算出部２７３とで構成される。
実測劣化率算出部２７１は、ダミー画素１５３１についてＲＧＢ別に実測された劣化率とその実測期間内の平均ＡＰＬ値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する。
【００３８】
見積もり誤差率算出部２７３は、ダミー画素１５３１についてＲＧＢ別に実測された劣化量ΔＲと、ダミー画素累積劣化量算出部２３で算出された累積劣化量とを比較し、実測劣化量ΔＲに対する見積もり誤差量αを１００分率で算出する。算出された見積もり誤差量αは、補正量決定部１３に与えられる。
【００３９】
ダミー画素発光制御部２９は、ダミー画素１５３１の発光を制御する処理デバイスである。例えば、ダミー画素１５３１の劣化状態を実測するタイミング以外の期間において、ダミー画素発光制御部２９は有効表示領域に対応する各フレームの平均階調値をＲＧＢ別に出力する。この平均階調値は、ＡＰＬ算出部２５より与えられる。また、ダミー画素１５３１の劣化状態を実測するタイミングにおいて、ダミー画素発光制御部２９は、劣化特性実測部２１から与えられる劣化状態検出用の固定階調値をＲＧＢ別に出力する。
【００４０】
（Ａ−２）処理動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域１５１に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部３で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル１５に与えられる。
【００４１】
ダミー画素発光制御部２９は、ダミー画素１５３１の劣化状態の検出期間でない限り、各フレームについて算出される平均階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部３に与える。この結果、Ｒ画素用のダミー画素１５３１は、直前フレームを構成する全Ｒ画素の平均階調値で発光制御される。また、Ｇ画素用のダミー画素１５３１は、直前フレームを構成する全Ｇ画素の平均階調値で発光制御される。同様に、Ｂ画素用のダミー画素１５３１は、直前フレームを構成する全Ｂ画素の平均階調値で発光制御される。
【００４２】
図８に、ダミー画素発光制御部２９が映像信号変換部３に出力するダミー画素１５３１用の表示データ信号例を示す。この結果、各ダミー画素１５３１は、有効表示領域１５１内の各ＲＧＢ画素と全く同じ状態で発光することになる。すなわち、画素間の個体誤差を無視すれば、有効表示領域と全く同様に劣化が進行する。
やがて、ダミー画素１５３１の劣化状態を検出タイミングになると、ダミー画素発光制御部２９は、劣化特性実測部２１から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部３に与える。図８は、検出タイミングに１００％の階調値が与えられる様子を表している。
【００４３】
劣化特性実測部２１は、この検出タイミングにダミー画素発光検出部１７で検出された発光輝度の平均値を検出値平均化部１９を通じて入力する。
図９に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ１００％階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図９は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。
【００４４】
劣化特性実測部２１は、ダミー画素の発光輝度が新たに検出される度に、実測期間の初回の検出値との差分ΔＲを算出する。
図９は、発光時間ｔ０とｔ６の間について差分ΔＲを求める様子を表している。
差分ΔＲが求まると、見積もり精度改善部２７は、実測期間内に生じた劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出することができる。
図１０に、劣化率の算出原理を示す。図１０は、実測期間の初回の検出タイミングｔ（ｎ）での検出輝度が１００％であり、今回の検出タイミングｔ（ｍ）での検出輝度が８５％の場合を示す。
【００４５】
従って、差分ΔＲは１５％である。また、検出タイミングｔ（ｎ）とｔ（ｍ）との間のフレーム数がＦであるとすると、見積もり精度改善部２７は、ＲＧＢ画素に対応する劣化率をそれぞれΔＲ／Ｆとして算出する。
この後、見積もり精度改善部２７は、実測期間に対応するＲＧＢ画素別の平均ＡＰＬ値をＡＰＬ算出部２５から取得する。図１０の場合、平均階調値は、階調値換算で１００（階調値が８ビットの場合）である。
【００４６】
このように、実測期間内の実測劣化率と実測期間の平均ＡＰＬ値との関係が確定する。この対応関係は実測値であるので、表示画像の内容や使用環境等の全てを反映する。すなわち、平均ＡＰＬ値と劣化率（劣化量）との対応関係を正確に反映する。
ただし、実測された対応関係は、２５６通り（階調が８ビットで与えられる場合）の対応関係の１つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率（劣化量）を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率（実測劣化率）を算出する必要がある。
【００４７】
そこで、見積もり精度改善部２７（実測劣化率算出部２７１）は、この対応関係を図１１に示す階調値と劣化率との基本対応関係を用いて算出する。基本対応関係を参照するのは、階調値に対応する劣化率の実測値が変化しても、実測された対応関係と他の対応関係とは基本的に図１１に示す関係を維持すると考えられるからである。図１１に示す基本対応関係は、基本テーブル情報として実測劣化率算出部２７１に格納される。
図１２に、実測劣化率算出部２７１による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。
【００４８】
図１２は、実測された対応関係が階調値の１００（階調が８ビットで表される場合）であり、その際の実測劣化率をＸ100 として表している。このとき、任意の階調値ａに対応する実測劣化率Ｘa は、図１３に示す基本テーブル曲線を通じて特定される劣化率間の比率αa ／α100 を実測劣化率Ｘ100 に乗算することにより算出できる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
【００４９】
見積もり精度改善部２７は、全ての階調値に対応する実測劣化率Ｘa が算出されると、これらの値で階調／劣化量変換テーブル７を更新する。なお、劣化量は、実測劣化率Ｘa と発光期間ｔとの積として算出する。図１４に、階調／劣化量変換テーブル７を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、検出期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
【００５０】
また、この階調／劣化量変換テーブル７の更新処理と並行して、見積もり誤差率算出部２７３は、見積もり誤差率αを算出する。見積もり誤差とは、劣化量の予測時に発生した誤差が累積することにより生じる劣化量差をいう。また、見積もり誤差率とは、実輝度劣化率に対する見積もり劣化率との間の誤差の１００分率をいう。
図１５に対応関係を示す。図中、太線は実輝度劣化率ｂの変移に対応し、細線は見積もり輝度劣化率ａの変移に対応する。見積もり輝度劣化率は、劣化量算出部５で算出される劣化量である。
【００５１】
図１５は、輝度劣化率を初期値に対する１００分率で表している。この場合、見積もり誤差率αは、ｂ／ａ％で表される。従って、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも進んでいれば、見積もり誤差率αは１００％超の値になる。一方、実輝度劣化率（量）の方が見積もり輝度率（量）よりも遅れていれば、見積もり誤差率αは１００％未満の値になる。なお、実輝度劣化率（量）と見積もり輝度率（量）が一致していれば、見積もり誤差率αは１００％の値になる。
【００５２】
そこで、見積もり誤差率算出部２７３は、実測劣化率に対するダミー画素について算出された累積劣化量を実測劣化量ΔＲで除算し、見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）を算出する。
見積もり誤差率αは補正量決定部１３に出力され、補正量決定の前提となる累積劣化量差に乗算される。
【００５３】
図１６に、見積もり誤差率αの乗算により累積劣化量差に含まれる誤差の補正原理を説明する。見積もり誤差率αは、全ての劣化率Ｘ0 〜Ｘ255 に対して同じ関係が認められるものとする。
この場合、実際の累積劣化量差（率）β２は、見積もり演算された累積劣化量差（率）β１に見積もり誤差率α（＝ｂ／ａ）として算出される。すなわち、β２＝（ｂ／ａ）×β１として算出れる。
このように、誤差分の影響を除去した状態で補正量が決定されるため、補正精度が格段に改善されることになる。
【００５４】
（Ａ−３）効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域１５１の外側に基本発光色に対応するダミー画素１５３１を１つ又は複数配置し、各基本発光色に対応する入力表示データ信号の平均階調値で発光制御する。これにより、ダミー画素１５３１の劣化特性を有効表示領域内の劣化特性と一致させる。その上で、定期的に検出されるダミー画素の劣化情報に基づいて、現在時点での階調値と劣化率（劣化量）との関係を更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
【００５５】
この際、全ての階調値に対応する劣化率（劣化速度）は、１つの対応関係を実測するだけで更新できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、画面サイズが大型化しても全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する４個のダミー画素１５３１も通常パネルプロセスの延長線上で（パネルプロセスをほとんど変更することなく）作成することができる。
【００５６】
また、ダミー画素発光検出部１７は、４つのダミー画素１５３１に対して１つだけ配置する。このため、個々の基本発光色に対応するダミー画素別にダミー画素発光検出部１７を配置する場合に比して、回路規模の削減と生産難易度の低減とを実現できる。
また、ダミー画素発光検出部１７は１つだけで良いため、自発光パネル１５を構成する基本発光色の数の影響を受けずに済む。このため、回路規模と生産上の難易度を効果的に低減できる。
【００５７】
なお、発光輝度の検出に使用するダミー画素発光検出部１７は１つであるので、劣化状態の検出時には、ダミー画素１５３１を基本発光色別に順番に点灯制御する。これにより、基本発光色別の輝度劣化量を順番に測定することが可能になる。
また、新たに発生する劣化量の見積もり精度を高めるだけでなく、既存の累積劣化量に含まれる誤差分を除去して補正量の決定精度も向上することができる。
【００５８】
（Ｂ）形態例２
（Ｂ−１）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
前述したように、基本発光色に対応するダミー画素１５３１を有効表示領域１５１の外側に配置し、その実測結果に基づいて劣化量の見積もり精度や補正値の決定精度を向上することにより、焼きつき現象を確実に修正することができる。
【００５９】
ただし、ダミー画素の発光に不良現象が生じる可能性がある。例えば、画素自体が発光しない「滅点」と呼ばれる現象が発生する場合、ある発光状態で輝度コントロールがまったく効かない「輝点」と呼ばれる現象が発生する場合、意図した輝度値にコントロールできない「輝度コントロール不良」と呼ばれる現象が発生する場合がある。
これらは全てパネル製造プロセス中に発生し、これらの現象がダミー画素に発生した場合、当然ながら正常な輝度検出ができなくなってしまう。
【００６０】
このような場合、劣化量見積もりと実輝度劣化との誤差が補正できなくなるばかりでなく、逆に補正誤差が増加する可能性がある。
また、これらの現象は、当然ながら量産品ではほとんど発生しないレベルまで品質を上げることが想定される。
しかし、特に滅点については、液晶表示装置でもそうであるように、量産レベルでも完全に無くすことが難しい。滅点は、主に、パネル製造プロセス上のわずかなゴミ等が原因となる。
【００６１】
そこで、この形態例では、ダミー画素領域に不良画素が含まれる場合でも、正確な劣化情報の測定を可能とする仕組みについて説明する。
図１７に、階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。図１７は、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
図１８に示す有機ＥＬディスプレイ装置１０１は、映像信号変換部３、劣化量算出部５、階調／劣化量変換テーブル７、累積劣化量差算出部９、累積劣化量差蓄積部１１、補正量決定部１３、自発光パネル１５、ダミー画素発光検出部１７、検出値平均化部１９、劣化特性実測部２１、ダミー画素累積劣化量算出部２３、ＡＰＬ算出部２５、見積もり精度改善部２７、ダミー画素発光制御部２９、正常ダミー画素劣化情報換算部３１で構成する。
【００６２】
従って、この形態例に新規の構成は、正常ダミー画素劣化情報換算部３１である。正常ダミー画素劣化情報換算部３１は、劣化特性実測部２１で実測された各ダミー画素の劣化情報より正常画素と不良画素を判定する処理機能と、判定結果に従って全画素の実測結果を正常画素の実測結果に換算する処理機能とを提供する処理デバイスである。
図１８に、正常ダミー画素劣化情報換算部３１の内部構成例を示す。正常ダミー画素劣化情報換算部３１は、正常不良判定部３１１と劣化情報換算部３３３とで構成される。
【００６３】
正常不良判定部３１１は、各ダミー画素の輝度特性の変化を基本発光色別に比較し、輝度特性の異同により正常ダミー画素か不良ダミー画素を判定する。一方、劣化情報換算部３１３は、各ダミー画素の実測劣化情報から不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する処理を実行する。具体的には、複数のダミー画素について検出された実劣化情報から不良ダミー画素の実劣化情報成分を除去し、これを正常ダミー画素数で割って正常ダミー画素１個当たりの実測劣化情報に換算する又はこれらに全画素数を乗算して全画素数分の実測劣化情報に換算する。
【００６４】
（Ｂ−２）処理動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１０１で実行される処理動作を説明する。前述したように、基本的な処理動作は形態例１と同じである。従って、正常ダミー画素劣化情報換算部２７の処理動作について説明する。なお、以下の説明では、４つのダミー画素１５３１（ＲＧＢに対応するダミー画素で構成される。）を、その配列位置に応じてダミー画素１、２、３及び４と呼ぶ。図１９に、ダミー画素１〜４の位置関係を示す。
【００６５】
図２０に、ダミー画素の正常不良を判定する処理動作例を示す。
まず画素位置パラメータｉが１に設定される（Ｓ１）。これに伴い、ダミー画素１のみが発光制御され、それ以外のダミー画素２〜４を消灯制御する（Ｓ２）。なお、ダミー画素の発光とその輝度特性の測定は、基本発光色別に順次実行される。
この後、階調値が全ての階調幅（すなわち０〜１００％）について変化され、その際の輝度特性を測定して保存する（Ｓ３）。
【００６６】
その後、画素位置パラメータｉに１を加算し（Ｓ４）、加算後の画素位置パラメータｉが５と一致するか否かを判定する（Ｓ５）。ここで、否定結果が得られた場合には次のダミー画素２についての発光制御に移行する。なお、画素位置パラメータｉを５と比較するのは、ダミー画素数が４だからである。以後、順番にダミー画素２、３及び４について輝度特性が測定される。
やがて、処理Ｓ５で肯定結果が得られ、全てのダミー画素についての輝度特性の測定が完了すると、測定された輝度特性同士を比較する（Ｓ６）。この際、他の多数のダミー画素とは輝度特性が明らかに異なるダミー画素があれば、該当するダミー画素を不良ダミー画素と判定する。
【００６７】
なお、不良ダミー画素は、一般に「滅点」などのようにほとんど輝度コントロールが効かない場合がほとんどである。従って、検出された輝度特性はほぼ変化しないものと考えられる。このため、ほぼ確実に不良ダミー画素を特定することができる。
以上の処理によって正常ダミー画素と不良ダミー画素とが特定されると、劣化情報の実測値を正常ダミー画素の実測値に換算する処理が実行される。
【００６８】
図２１に、換算処理で実行される処理内容を示す。まず、全てのダミー画素を決められたある階調値で発光し、ダミー画素全体の初期輝度に対する輝度劣化率γを検出する（Ｓ１１）。次に、正常ダミー画素のみの表示階調をゼロに、又は全てのダミー画素の表示階調をゼロに設定し、不良ダミー画素のみについての初期輝度に対する輝度劣化率ζを検出する。
この後、検出された２つのパラメータγ及びζと、全ダミー画素数及び不良ダミー画素数を次式に代入し、４つの正常ダミー画素に対応する輝度劣化率を算出する。
【００６９】
換算輝度劣化率＝｛γ−ζ×（不良ダミー画素数／全ダミー画素数）｝×（全体ダミー画素数／正常ダミー画素数）｝
なお、前式は、ダミー画素全体の輝度劣化率は、発光面積に比例する形で分配される原理に基づいている。
正常ダミー画素劣化情報換算部３１は、このように換算演算した輝度劣化率を見積もり精度改善部２７に出力する。この換算演算により、実測劣化量の信頼性を高めることができる。
【００７０】
（Ｂ−３）効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置を用いれば、自発光パネル１５に不良ダミー画素が含まれる場合にも、実測結果に含まれる不良ダミー画素の影響を排除することができる。これにより、ダミー画素から得られる実測劣化情報の信頼性を向上でき、劣化量の予測精度と補正精度を高めることができる。
【００７１】
（Ｃ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素１５３１等は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
【００７２】
（ｃ）前述の形態例では、表示上の１画素に対応するダミー画素（一組のダミー画素）を自発光パネル上に４つ配置する場合について説明した。また、図３の場合、ダミー画素の駆動用に新たに１本のデータ駆動線と２本のゲート駆動線を追加する場合について説明した。しかし、データ駆動線とゲート駆動線の本数は、ダミー画素の数や配置等に応じて最適な数を選択すれば良い。
【００７３】
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００７４】
（ｅ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１及び１０１について説明した。
しかし、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
【００７５】
（ｆ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１及び１０１について説明した。
しかし、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
【００７６】
（ｇ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する自発光装置の機能構成例を示す図である。
【図２】階調／劣化量変換テーブルの構成例を示す図である。
【図３】表示パネルの平面構成例を示す図である。
【図４】ダミー画素領域の拡大図である。
【図５】ダミー画素の発光制御例を示す図である。
【図６】ダミー画素の発光制御例を示す図である。
【図７】見積もり精度階全部の内部構成例を示す図である。
【図８】ダミー画素用の表示データ信号例を示す図である。
【図９】ダミー画素についての劣化特性の推移例を示す図である。
【図１０】劣化率の実測原理を説明する図である。
【図１１】実劣化率の算出時に参照する基本対応関係例を示す図である。
【図１２】基本対応関係を参照した実劣化率の算出原理を示す図である。
【図１３】基本テーブル上での劣化率間の関係を説明する図である。
【図１４】階調／劣化量変換テーブルの更新動作を説明する図である。
【図１５】見積もり劣化率を説明する図である。
【図１６】見積もり誤差率による累積劣化量差の補正処理を説明する図である。
【図１７】階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する自発光装置の機能構成例を示す図である。
【図１８】正常ダミー画素劣化情報換算部の内部構成例を示す図である。
【図１９】ダミー画素の位置関係を示す図である。
【図２０】正常不良の判定処理手順例を示す図である。
【図２１】換算処理手順例を示す図である。
【符号の説明】
【００７８】
１３      補正量決定部
１５３    ダミー画素領域
１５３１  ダミー画素
１７      ダミー画素発光検出部
２１      劣化特性実測部
２３      ダミー画素累積劣化量算出部
２７      見積もり精度改善部
２７１    実測劣化率算出部
２７３    見積もり誤差率算出部
２９      ダミー画素発光制御部
３１      正常ダミー画素劣化情報換算部
３１１    正常不良判定部
３１３    劣化情報換算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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