(57)【要約】【課題】補正ポイントを容易に設定可能としながら、出力信号の狙い値からのずれを縮小し、かつ電源ノイズ及び消費電力の増大を防止し得るセンサ用増幅回路を提供する。【解決手段】所定の温度間隔で設定された補正ポイント毎に、補正データに基づいて入力信号の温度依存特性を補正する温度特性補正方法で、補正ポイントの温度間隔が異なる複数の補正パターンpattern０〜patternｎを記憶装置２５に格納し、補正パターンpattern０〜patternｎの中から、入力信号の温度依存特性に対応する補正パターンを選択して入力信号を補正する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の温度間隔で設定された補正ポイント毎に、補正データに基づいて入力信号の温度依存特性を補正する温度特性補正方法であって、
前記補正ポイントの温度間隔が異なる複数の補正パターンを記憶装置に格納し、前記補正パターンの中から、入力信号の温度依存特性に対応する補正パターンを選択して入力信号を補正することを特徴とする温度特性補正方法。
【請求項２】
前記補正パターンは、前記入力信号の温度依存による傾きに応じて、温度特性を補正する補正ポイントの温度間隔を設定したことを特徴とする請求項１記載の温度特性補正方法。
【請求項３】
前記補正パターンには、各補正ポイント間の温度依存特性を補正する傾斜データを備えたことを特徴とする請求項１又は２記載の温度特性補正方法。
【請求項４】
前記傾斜データは、前記補正ポイントの温度間隔に応じて傾きを変化させることを特徴とする請求項３記載の温度特性補正方法。
【請求項５】
前記補正パターンの補正ポイントの温度間隔を調整して新たな補正パターンを生成することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の温度特性補正方法。
【請求項６】
前記補正パターンの各補正ポイントの温度を等温度間隔でスライドして新たな補正パターンを生成することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の温度特性補正方法。
【請求項７】
入力信号の温度依存特性に対応するように、補正ポイントの温度間隔が異なる複数の補正パターンを格納した記憶装置と、
前記各補正ポイントで、補正データに基づいて入力信号の温度依存特性を補正する補正回路と、
周囲温度を検出する温度センサと、
前記温度センサで検出した周囲温度に対応する補正データで前記補正回路を動作させる制御回路と
を備えたことを特徴とするセンサ用増幅回路。
【請求項８】
前記記憶装置には、前記補正パターンとして、温度依存による傾きに応じて、前記補正ポイントの温度間隔を設定した複数の第一の補正パターンマップを格納したことを特徴とする請求項７記載のセンサ用増幅回路。
【請求項９】
前記記憶装置には、前記補正パターンとして、前記各補正ポイント間の温度依存特性を補正する第二の補正パターンマップを格納したことを特徴とする請求項７又は８記載のセンサ用増幅回路。
【請求項１０】
前記第二の補正パターンマップは、前記補正ポイントの温度間隔に応じて傾きを変化させる傾斜データとしたことを特徴とする請求項９記載のセンサ用増幅回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、角速度センサや加速度センサの出力信号を検出して増幅する増幅回路に関するものである。
近年、センサの小型化により、その出力信号が微小化されているため、センサ出力を検出して増幅する増幅回路が必要となっている。また、センサ及び増幅回路の出力信号には温度依存があるため、増幅回路でその温度依存特性を補正する必要がある。そして、その補正処理を正確にかつ容易に行う必要がある。
【背景技術】
【０００２】
従来、センサ用増幅回路でセンサ出力の温度依存特性を補正する方法として、デジタル的補正方法と、アナログ的補正方法とが実用化されている。デジタル的補正方法とは、所定の温度ステップ毎の補正データをあらかじめ記憶手段に保持し、周囲温度の変化に基づいて当該温度に対応する補正データを読み出し、その補正データに基づいてセンサ用増幅回路の出力信号を補正するものである。
【０００３】
アナログ的補正方法とは、センサ出力の温度依存特性が所定の傾きを持つ場合、そのセンサ出力の傾きを相殺するように、増幅回路の温度特性に傾きを設定するものである。そして、センサ出力が温度変化に対し曲線状に変化する場合には、その温度に応じて増幅回路の温度特性の傾きを切り替えることにより、曲線を複数の直線で近似して補正する。
【０００４】
図１１は、センサ出力の温度依存特性をデジタル的に補正するデジタル補正回路を備えたセンサ用増幅回路の一例を示す。ブリッジ型のセンサ１にはＩＣチップ２内の電流源３から定電流が供給され、その出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２はＩＣチップ２内の増幅回路部４に出力される。
【０００５】
前記増幅回路部４は、センサ１の出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２が入力される入力段アンプ５ａ，５ｂと、入力段アンプ５ａ，５ｂの出力電圧の差を増幅するアンプ６と、アンプ６の出力信号を増幅するアンプ７と、アンプ７の出力電圧を増幅して出力する出力段アンプ８とを備える。
【０００６】
入力段アンプ５ａ，５ｂは、帰還抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂが可変抵抗で構成され、その抵抗値を調整することにより増幅回路部４の利得を調整可能となっている。アンプ６は、一方の入力端子とグランドＧＮＤとの間に電圧調整回路９を備え、その電圧調整回路９の調整により増幅回路部４のオフセット電圧を調整可能となっている。
【０００７】
アンプ７は、帰還抵抗Ｒ２が可変抵抗で構成され、その抵抗値を調整することにより増幅回路部４の利得を調整可能となっている。出力段アンプ８は、一方の入力端子とグランドＧＮＤとの間に電圧調整回路１０を備え、その電圧調整回路１０の調整により増幅回路部４のオフセット電圧を調整可能となっている。
【０００８】
前記抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２は、いずれも直列に接続された複数の抵抗にそれぞれスイッチが並列に接続され、各スイッチを開閉することにより抵抗値を段階的に調整するものである。また、電圧調整回路９，１０は、同様に直列に接続された複数の抵抗にそれぞれスイッチが並列に接続され、各スイッチを開閉することにより電圧値を段階的に調整可能としたものである。
【０００９】
このように構成された増幅回路部４は、制御回路１１の動作により、センサ１の温度特性をデジタル的に補正した出力信号Ｖoutを出力する機能を備える。すなわち、制御回路１１には周囲温度を検出する温度センサ１２と記憶装置１３ａが接続される。
【００１０】
記憶装置１３ａには、各温度に対応する各抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９，１０の抵抗値を調整するための補正データがあらかじめ格納されている。制御回路１１は温度センサ１２の検出信号に基づいて記憶装置１３ａから対応する補正データを読み出し、抵抗値を調整する制御データに変換してデータラッチ部１３ｂに格納する。そして、データラッチ部１３ｂに格納された制御データにより、各抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９，１０の抵抗値が調整される。
【００１１】
図１２は、上記のようなセンサ用増幅回路による温度依存特性の補正動作を示す。同図に示す特性Ｘ１は、補正動作を行わない場合の温度依存を有する増幅回路部４の出力信号を示す。同図に示すように、特性Ｘ１は温度の上昇にともなって出力レベルが上昇する曲線となる。そして、このような特性Ｘ１を、所定の狙い値（図１２において０のレベル）で温度依存のない平坦な温度特性とすることが望ましい。
【００１２】
図１２において、特性Ｘ２は上記制御回路１１の動作に基づいて増幅回路部４により温度依存特性を補正した場合を示す。すなわち、特性Ｘ２は１０℃間隔で増幅回路部４の各抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９，１０の抵抗値を調整した結果を示す。
【００１３】
同図に示すように、特性Ｘ２は１０℃間隔の各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０では、狙い値に収束するが、各補正ポイント間では特性Ｘ１の温度依存に沿って狙い値からずれる。従って、補正後の特性Ｘ２は温度によって鋸刃状に変化する温度依存が残り、平坦な温度特性は得られていない。
【００１４】
図１３は、センサ出力の温度依存特性をアナログ的に補正するアナログ補正回路を備えたセンサ用増幅回路の一例を示す。出力段アンプ１４の一方の入力端子には前記センサ１の出力電圧と同様なセンサ出力Ｖｓが入力され、他方の入力端子にはアナログ補正用アンプ１５の出力電圧Ｖａが入力される。
【００１５】
アナログ補正用アンプ１５の一対の入力端子には、図１４（ｂ）に示すように、温度依存特性を備えた温度依存電圧Ｖｔと、同図（ｃ）に示すように、温度に関わらず一定電圧となる基準電圧Ｖrefが切替回路１６を介して入力される。温度依存電圧Ｖｔは、トランジスタあるいはダイオードのＰＮ接合部の順方向電圧にて生成され、温度変化に対し例えば−２ｍＶ／℃で直線的に変化する温度依存を備える。基準電圧Ｖrefは、バンドギャップリファレンス電圧にて生成される。
【００１６】
切替回路１６は、温度依存電圧Ｖｔと基準電圧Ｖrefとをアナログ補正用アンプ１５のいずれの入力端子に入力するかを切り替えるものであり、一方の入力端子に温度依存電圧Ｖｔが入力され、他方の入力端子に基準電圧Ｖrefが入力される場合と、一方の入力端子に基準電圧Ｖrefが入力され、他方の入力端子に温度依存電圧Ｖｔが入力される場合とを選択可能である。
【００１７】
アナログ補正用アンプ１５の出力端子と一方の入力端子との間に接続される帰還抵抗Ｒ３は可変抵抗で構成される。また、アナログ補正用アンプ１５の他方の入力端子とグランドＧＮＤとの間には、可変抵抗Ｒ４と電圧調整回路１７が接続される。
【００１８】
これらの抵抗Ｒ３，Ｒ４及び電圧調整回路１７は、図１１に示す前記抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９，１０と同様に、直列に接続された複数の抵抗にそれぞれスイッチが並列に接続され、各スイッチを開閉することにより抵抗値あるいは電圧値を段階的に調整可能となっている。
【００１９】
このように構成されたアナログ補正用アンプでは、図１４（ｅ）に示すように、周囲温度の変化に基づいて直線的に変化する出力電圧Ｖａを出力する。そして、周囲温度の上昇にともなって出力電圧Ｖａが上昇するかあるいは下降するかを切替回路１６で選択可能である。そして、出力電圧Ｖａの傾きは、抵抗Ｒ３，Ｒ４の抵抗値を調整することにより、適宜変更可能である。また、電圧調整回路１７の調整により、出力段アンプ１４の出力信号Ｖoutのオフセット電圧を調整可能である。
【００２０】
従って、図１４（ａ）に示すように、センサ出力Ｖｓが周囲温度に対し直線的に変化するとすれば、そのセンサ出力Ｖｓの傾きを相殺するように、アナログ補正用アンプ１５の出力電圧Ｖａの傾きを設定することにより、図１４（ｄ）に示すように、出力段アンプ１４から温度依存のない出力信号Ｖoutを出力することが可能となる。
【００２１】
図１５は、上記のようなアナログ補正用アンプ１５を備えたセンサ用増幅回路による実際の温度依存特性の補正動作を示す。同図に示す特性Ｘ１は、補正動作を行わない場合の温度依存を有する出力段アンプ１４の出力信号を示す。同図に示すように、特性Ｘ１を所定の狙い値で温度依存のない平坦な温度特性とするために、特性Ｘ１を二つの直線Ｌ１，Ｌ２で近似し、この直線Ｌ１，Ｌ２の傾き及びオフセット値を相殺するように抵抗Ｒ３，Ｒ４及び電圧調整回路１７の抵抗値を選択し、例えば１０℃で直線Ｌ１，Ｌ２を切り替えるために抵抗Ｒ３，Ｒ４の抵抗値を切り替える。
【００２２】
図１５において、特性Ｘ３は上記アナログ的補正処理後の温度依存特性を示す。同図に示すように、特性Ｘ３は狙い値の近傍でほぼ平坦化されるが、近似直線Ｌ１，Ｌ２を切り替える１０℃付近で狙い値からずれてしまい、平坦な温度特性は得られていない。
【００２３】
特許文献１には、アナログ制御で温度補償を行う回路と、デジタル制御で温度補償を行う回路とを備え、温度領域によりアナログ制御とデジタル制御とを切り替える電圧発生回路が開示されている。
【００２４】
特許文献２には、粗補償する補償抵抗体と、微補償済デジタル荷重電圧を生成する補償手段を備えたブリッジ回路が開示されている。
特許文献３には、センサの駆動回路において、その温度補償をデジタル補償手段を用いて行う構成が開示されている。
【００２５】
特許文献４には、図１３に示すアナログ補正用アンプに類似する構成が開示されている。
【特許文献１】特開２００３−８４７２８号公報
【特許文献２】特開平１１−６４１２３号公報
【特許文献３】特開平１１−１９４０６１号公報
【特許文献４】特開２００１−１４３１８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２６】
図１１及び図１２に示すようなデジタル的補正を行うセンサ用増幅回路では、補正後の特性Ｘ２は１０℃間隔の各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０では、狙い値に収束するが、各補正ポイント間ではセンサ１の出力特性Ｘ１の温度依存によって狙い値からずれる。従って、補正後の特性Ｘ２は温度によって鋸刃状に変化し、平坦な温度特性は得られない。
【００２７】
補正ポイントを増やせば、狙い値からの鋸刃状のずれを小さくすることはできる。しかし、補正ポイントを増やすと、記憶装置１３ａに格納するデータ量が増えてしまい、記憶装置１３ａから対応する補正データを読み出す回数が増大し、センサ用増幅回路で抵抗値を変更する回数が増大するため、電源ノイズ及び消費電力を増大させるという問題点がある。
【００２８】
図１３及び図１５に示すアナログ的補正を行うセンサ用増幅回路では、補正後の特性Ｘ３は曲線の出力特性Ｘ１と近似直線Ｌ１，Ｌ２とがずれる温度で、狙い値からずれる。近似直線の数を増やせば、狙い値からのずれは小さくできるが、近似直線の傾きを変更するために抵抗Ｒ３，Ｒ４の抵抗値を変更する回数が増大するため、やはり電源ノイズ及び消費電力を増大させるという問題点がある。
【００２９】
特許文献１〜４には、デジタル的補正及びアナログ的補正を併用して、出力信号の狙い値からのずれを縮小し、かつ電源ノイズ及び消費電力の増大を防止する構成は開示されていない。
【００３０】
この発明の目的は、補正ポイントを容易に設定可能としながら、出力信号の狙い値からのずれを縮小し、かつ電源ノイズ及び消費電力の増大を防止し得るセンサ用増幅回路を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３１】
上記目的は、所定の温度間隔で設定された補正ポイント毎に、補正データに基づいて入力信号の温度依存特性を補正する温度特性補正方法で、前記補正ポイントの温度間隔が異なる複数の補正パターンを記憶装置に格納し、前記補正パターンの中から、入力信号の温度依存特性に対応する補正パターンを選択して入力信号を補正する温度特性補正方法により達成される。
【００３２】
また、上記目的は、入力信号の温度依存特性に対応するように、補正ポイントの温度間隔が異なる複数の補正パターンを格納した記憶装置と、前記各補正ポイントで、補正データに基づいて入力信号の温度依存特性を補正する補正回路と、周囲温度を検出する温度センサと、前記温度センサで検出した周囲温度に対応する補正データで前記補正回路を動作させる制御回路とを備えたセンサ用増幅回路により達成される。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、補正ポイントを容易に設定可能としながら、出力信号の狙い値からのずれを縮小し、かつ電源ノイズ及び消費電力の増大を防止し得るセンサ用増幅回路を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、この発明を具体化した一実施の形態を図面に従って説明する。図１は、センサ出力の温度依存特性をデジタル的に補正するデジタル補正回路１８と、アナログ的に補正するアナログ補正回路１９とを備えたセンサ用増幅回路の一例を示す。前記従来例と同一構成部分は、同一符号を付して説明する。
【００３５】
ブリッジ型のセンサ１にはＩＣチップ２１内の電流源３から定電流が供給され、その出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２はＩＣチップ２１内の増幅回路部２２に出力される。
前記増幅回路部２２は、センサ１の出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２が入力される入力段アンプ５ａ，５ｂと、入力段アンプ５ａ，５ｂの出力電圧の差を増幅するアンプ６と、アンプ６の出力信号を増幅するアンプ７と、アンプ７の出力電圧を増幅して出力する出力段アンプ８とを備える。
【００３６】
入力段アンプ５ａ，５ｂは、帰還抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂが可変抵抗で構成され、その抵抗値を調整することにより増幅回路部２２の利得を調整可能となっている。アンプ６は、一方の入力端子とグランドＧＮＤとの間に電圧調整回路９を備え、その電圧調整回路９の調整により増幅回路部２２のオフセット電圧を調整可能となっている。
【００３７】
アンプ７は、帰還抵抗Ｒ２が可変抵抗で構成され、その抵抗値を調整することにより増幅回路部２２の利得を調整可能となっている。
出力段アンプ８には、前記アンプ７の出力信号と、アナログ補正用アンプ１５の出力電圧Ｖａが入力され、出力段アンプ８は両入力信号に基づいて出力信号Ｖoutを出力する。
【００３８】
前記帰還抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９は、図２に示すように、直列に接続された複数の抵抗ｒにそれぞれスイッチｓｗが並列に接続され、各スイッチｓｗを開閉することにより抵抗値を段階的に調整可能となっている。
【００３９】
アナログ補正用アンプ１５の一対の入力端子には、温度依存特性を備えた温度依存電圧Ｖｔと、温度に関わらず一定電圧となる基準電圧Ｖrefが切替回路１６を介して入力される。温度依存電圧Ｖｔは、トランジスタあるいはダイオードのＰＮ接合部の順方向電圧にて生成され、温度変化に対し例えば−２ｍＶ／℃で直線的に変化する温度依存を備える。基準電圧Ｖrefは、基準電圧発生回路２３により例えばバンドギャップリファレンス電圧にて生成される。
【００４０】
切替回路１６は、温度依存電圧Ｖｔと基準電圧Ｖrefとをアナログ補正用アンプ１５のいずれの入力端子に入力するかを切り替えるものであり、一方の入力端子に温度依存電圧Ｖｔが入力され、他方の入力端子に基準電圧Ｖrefが入力される場合と、一方の入力端子に基準電圧Ｖrefが入力され、他方の入力端子に温度依存電圧Ｖｔが入力される場合とを選択可能である。
【００４１】
アナログ補正用アンプ１５の出力端子と一方の入力端子との間に接続される帰還抵抗Ｒ３は可変抵抗で構成される。また、アナログ補正用アンプ１５の他方の入力端子とグランドＧＮＤとの間には、可変抵抗Ｒ４と電圧調整回路１７が接続される。
【００４２】
これらの抵抗Ｒ３，Ｒ４及び電圧調整回路１７は、図２に示すように、直列に接続された複数の抵抗ｒにそれぞれスイッチｓｗが並列に接続され、各スイッチｓｗを開閉することにより抵抗値を段階的に調整可能となっている。
【００４３】
このように構成された増幅回路部２２は、制御回路２４の動作により、センサ１の温度特性をデジタル的及びアナログ的に補正した出力信号Ｖoutを出力する機能を備える。
すなわち、制御回路２４には周囲温度を検出する温度センサ１２と記憶装置２５が接続される。記憶装置２５には、図２に示すように、各抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９の抵抗値を補正するための多数の補正パターンpattern０〜patternｎがあらかじめ格納されている。
【００４４】
前記制御回路２４は、多数の補正パターンpattern０〜patternｎの中からあらかじめ選択された一つの補正パターンと温度センサ１２の検出信号とに基づいて、増幅回路部２２の抵抗値を調整する制御データをデータラッチ部２６に格納する。そして、データラッチ部２６に格納された制御データにより、抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４及び電圧調整回路９，１７の抵抗値が調整される。
【００４５】
図３は、記憶装置２５に格納されている補正パターンマップ（第一の補正パターンマップ）Ｍ１の一例を示す。pattern０は、図５に示す特性Ｘ１１に対応する補正パターンである。特性Ｘ１１は、温度が上昇するにつれて温度依存による傾きが急峻になるため、pattern０は温度の上昇にともなって補正ポイントＰ１〜Ｐ１０の温度間隔を狭くした補正パターンであり、−３０℃〜６０℃の温度範囲を１〜９の温度領域に区画し、各領域の境界で補正ポイントＰ１〜Ｐ１０を設定している。
【００４６】
そして、記憶装置２５には各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０で出力信号Ｖoutを狙い値に補正する補正データと、各温度領域で特性Ｘ１１の傾きを相殺するような傾斜データとがあらかじめ格納されている。
【００４７】
図４は、記憶装置２５に格納されている傾斜データ選択マップ（第二の補正パターンマップ）Ｍ２を示す。pattern０の補正パターンに対し、各温度領域１〜９における傾斜データがＡ・Ｂ・Ｃ・・・として設定されている。その傾斜データは、温度間隔が狭い温度領域ほどで傾きが大きくなるように設定されている。
【００４８】
図３に示すpattern１は、図６に示す特性Ｘ１２に対応する補正パターンである。特性Ｘ１２は、−３０℃〜６０℃の温度範囲で低温部と高温部で温度依存による傾きが急峻になり、その傾きが逆方向となる場合であり、−３０℃〜６０℃の温度範囲を１〜１３の温度領域に区画し、各領域の境界で補正ポイントＰ１〜Ｐ１４を設定している。
【００４９】
そして、pattern１は低温部と高温部で補正ポイントＰ１〜Ｐ１４の温度間隔を狭くした補正パターンであり、補正パターンマップＭ２にはpattern１の補正パターンに対し、各温度領域１〜１３における傾斜データがＣ・Ｂ・・・として設定されている。
【００５０】
図３に示すpattern２は、図７に示す特性Ｘ１３に対応する補正パターンである。特性Ｘ１３は、−３０℃〜６０℃の温度範囲で温度依存による傾きが一定である。そして、pattern２は温度範囲の両端で補正ポイントＰ１，Ｐ２が設定され、補正パターンマップＭ２にはpattern２の補正パターンに対し、全温度領域で一定の傾斜データが設定されている。
【００５１】
次に、上記のような補正パターンマップＭ１，Ｍ２を備えたセンサ用増幅回路の動作を説明する。
図８は、センサ１の出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２の特性が特性Ｘ１１である場合の補正動作を示す。この場合には、制御回路２４でpattern０の補正パターンを選択するように設定する。すると、制御回路２４は記憶装置２５内の補正パターンマップＭ１からpattern０の１〜９の温度領域を読み出して設定する。また、各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０の補正データを読み出してデジタル補正回路１８の抵抗Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ２及び電圧調整回路９の抵抗値を調整するための制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
【００５２】
また、制御回路２４は補正パターンマップＭ２から各温度領域の傾斜データを読み出してアナログ補正回路１９の抵抗Ｒ３，Ｒ４及び電圧調整回路１７の抵抗値を調整するための制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
【００５３】
この状態でセンサ１から特性Ｘ１１となる出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２が入力されると、各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０では、デジタル補正回路１８の動作により特性Ｘ１１が所定の狙い値（図８において０のレベル）に補正される。
【００５４】
各補正ポイントＰ１〜Ｐ１０間の各温度領域では、傾斜データに基づくアナログ補正回路１９の動作により特性Ｘ１１の補正が行われる。図８に点線で示す傾きは、傾斜データに基づいて調整されたアナログ補正用アンプ１５の出力電圧Ｖａの傾きを示す。このような動作により、特性Ｘ１１は温度依存が除去され、かつ狙い値にほぼ近似した平坦な特性Ｘ１４に補正されて出力信号Ｖoutとして出力される。
【００５５】
センサ１の出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２の特性が図６に示す特性Ｘ１２である場合には、制御回路２４でpattern１の補正パターンを選択するように設定する。すると、制御回路２４は記憶装置２５内の補正パターンマップＭ１からpattern１の１〜１３の温度領域を読み出して設定する。また、各補正ポイントＰ１〜Ｐ１４の補正データを読み出して制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
【００５６】
また、制御回路２４は補正パターンマップＭ２からpattern１の各温度領域の傾斜データを読み出して制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
この状態でセンサ１から出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２が入力されると、各補正ポイントＰ１〜Ｐ１３では、特性Ｘ１２はデジタル補正回路１８の動作により所定の狙い値に補正される。また、各補正ポイントＰ１〜Ｐ１４間の各温度領域では、傾斜データに基づくアナログ補正回路１９の動作により特性Ｘ１２の補正が行われる。
【００５７】
このような動作により、特性Ｘ１２は温度依存が除去され、かつ狙い値にほぼ近似した平坦な温度特性に補正されて、出力信号Ｖoutとして出力される。
センサ１の出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２の特性が図７に示す特性Ｘ１３である場合には、制御回路２４でpattern２の補正パターンを選択するように設定する。すると、制御回路２４は記憶装置２５内の補正パターンマップＭ１からpattern２の温度領域を読み出して設定する。また、各補正ポイントＰ１，Ｐ２の補正データを読み出して制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
【００５８】
また、制御回路２４は補正パターンマップＭ２からpattern２の傾斜データを読み出して制御データを算出し、データラッチ部２６に格納する。
この状態でセンサ１から出力電圧Ｖｓ１，Ｖｓ２が入力されると、特性Ｘ１３はデジタル補正回路１８及びアナログ補正回路１９の動作により補正されて出力信号Ｖoutとして出力される。
【００５９】
上記のようなセンサ用増幅回路では、次に示す作用効果を得ることができる。
（１）センサ出力の温度特性の傾きが急峻になるほど、補正ポイントの温度間隔を狭くして補正することができるので、センサ出力の温度依存の補正精度を向上させることができる。
（２）センサ出力の異なる温度依存特性に対応する補正パターンを、記憶装置２５にあらかじめ格納し、補正する特性に対応する補正パターンを読み出して補正処理を行うため、温度依存特性が異なるセンサ出力に対し、容易に対応することができる。従って、モジュールに組み込まれたセンサ１の温度依存特性を個別に検出することなく、あらかじめ設定された補正パターンの中から温度依存特性に対応する補正パターンを選択して補正することができる。
（３）補正パターンで設定された各温度領域では、各補正パターン毎にあらかじめ設定された傾斜データに基づいてアナログ的補正を行うことができる。従って、傾斜データを容易に取得して、各温度領域の補正精度を向上させることができる。
（４）各温度領域の傾斜データは、温度間隔の狭い温度領域ほどその傾きが急峻となるように設定したので、各温度領域の補正精度を向上させることができる。
（５）センサ出力の温度特性の傾きが小さい温度領域では、補正ポイントの温度間隔が広くなるので、記憶装置２５から補正データあるいは傾斜データを読み出す回数及びデジタル補正回路１８及びアナログ補正回路１９で抵抗値を調整する回数を削減することができる。従って、電源ノイズの発生を抑制し、消費電力を低減することができる。
（６）センサ出力の温度特性の傾きが小さい温度領域では、補正ポイントの温度間隔を広く設定し、温度特性の傾きが大きい温度領域では、補正ポイントの温度間隔を狭く設定したので、補正ポイントの総数を増大させることなく、補正精度を向上させることができる。
（第二の実施の形態）
図９は、第二の実施の形態を示す。この実施の形態は、あらかじめ設定されている補正パターンの温度領域を微調整して、補正精度をさらに向上させるようにしたものである。
【００６０】
すなわち、特性Ｘ１５に対応する補正パターンの温度領域に微調整を加えて、補正ポイントＰ４〜Ｐ１０の温度を補正ポイントＰ４ａ〜Ｐ１０ａに移動させると、特性Ｘ１６に対応する補正パターンを生成することができる。
【００６１】
従って、あらかじめ設定されている補正パターンとは異なる温度依存特性を備えたセンサ出力に対する補正精度を向上させることができる。
（第三の実施の形態）
図１０は、第三の実施の形態を示す。この実施の形態は、あらかじめ設定されている補正パターンによる補正ポイントＰ１〜Ｐ１０を、例えば低温側に同一温度範囲でスライドさせて補正精度をさらに向上させるようにしたものである。
【００６２】
すなわち、特性Ｘ１７に対応する補正パターンの補正ポイントＰ１〜Ｐ１０の温度を低温側に１０℃ずつスライドさせて、補正ポイントＰ２ｂ〜Ｐ１０ｂに移動させると、特性Ｘ１８に対応する補正パターンを生成することができる。
【００６３】
従って、あらかじめ設定されている補正パターンとは異なる温度依存特性を備えたセンサ出力に対する補正精度を向上させることができる。
上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・選択された補正パターンの各補正ポイントでデジタル補正回路１８によりデジタル的補正のみを行い、各補正ポイント間ではアナログ的補正処理を行わないようにしてもよい。温度依存特性の傾きが大きい温度領域で補正ポイントの温度範囲を狭くしているので、従来のデジタル的補正に比して、補正精度を向上させることができる。
・選択された補正パターンの各温度領域で、傾斜データによるアナログ的補正だけを行っても、温度依存特性を補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】第一の実施の形態を示す回路図である。
【図２】第一の実施の形態の制御部の動作を示す説明図である。
【図３】補正パターンマップを示す説明図である。
【図４】補正パターンマップを示す説明図である。
【図５】第一の実施の形態の補正パターンを示す特性図である。
【図６】第一の実施の形態の補正パターンを示す特性図である。
【図７】第一の実施の形態の補正パターンを示す特性図である。
【図８】第一の実施の形態の補正動作を示す特性図である。
【図９】第二の実施の形態の補正パターン示す特性図である。
【図１０】第三の実施の形態の補正パターン示す特性図である。
【図１１】従来例を示す回路図である。
【図１２】従来例の補正動作を示す特性図である。
【図１３】従来例を示す回路図である。
【図１４】（ａ）〜（ｅ）は従来例の動作を示す特性図である。
【図１５】従来例の補正動作を示す特性図である。
【符号の説明】
【００６５】
１      センサ
１８      補正回路（デジタル補正回路）
１９      補正回路（アナログ補正回路）
２４      制御回路
２５      記憶装置
Ｐ１〜Ｐ１４      補正ポイント
Ｘ１１〜Ｘ１３      温度依存特性
pattern０〜patternｎ      補正パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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