(57)【要約】【課題】  トラックに対して１回か、数回のトラック１周分のライト・リードで磁気ヘッドの良否を検査することができ、磁気ヘッド１個当たりの検査時間を短縮することができる磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタを提供することにある。【解決手段】  この発明は、セクタ内を複数のブロックに分割し、ブロック内の読出アナログ信号のレベルの平均値を平均してそのセクタの平均値を算出することで、各ブロックの平均値を従来のセクタの平均値と同等なものとして扱い、これを、例えば、１０セクタ連続して各セクタの平均値を算出してセクタをスキップさせて同様な平均値を得る。これにより、１トラックの１回分の測定値に近似する平均値を得ることができる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクのトラック１周分の各セクタに書込まれたデータの読出アナログ信号をＤ／Ａ変換してデジタル値として得て、前記トラック１周分のうちの所定のセクタの領域を複数のブロックに分割してこの所定のセクタにおける各前記ブロックの前記読出アナログ信号のレベルの第１の平均値を算出し、さらに前記所定のセクタにおける各前記ブロックの前記第１の平均値の平均値を前記所定のセクタの平均値として第２の平均値を算出し、前記トラック１周分のうちの任意のセクタをスキップさせて前記所定のセクタを複数個トラック１周に亙って選択し、選択された複数の前記所定のセクタの前記第２の平均値の平均値を第３の平均値として算出し、この前記第３の平均値に基づき前記磁気ヘッドの良否を判定する磁気ヘッドの検査方法。
【請求項２】
前記トラック一周分のセクタの数は、１０２４個であり、１セクタにおける前記ブロックの分割数は、８乃至１６の範囲にあって、前記所定のセクタのトラック１周に亙る複数個の選択は連続して複数個の前記セクタが選択され、その後に複数個の前記セクタがスキップされて複数個の前記セクタが選択される繰り返しであり、前記磁気ヘッドの良否判定は、前記第３の平均値が所定の範囲内か否か判定するものであり、前記第３の平均値が所定の範囲内にないときには、トラック１周分の各前記セクタの平均値を算出してこの平均値のトラック１周分の平均値をトラック１周分のデータライト・リードｎ回においてそれぞれ算出して前記トラック１周分の平均値のｎ回の平均値に基づいてさらに前記磁気ヘッドの良否を判定する請求項１記載の磁気ヘッドの検査方法。
【請求項３】
スピンドルに装着された磁気ディスクとこの磁気ディスクの所定のトラックからデータを読出す検査対象となる磁気ヘッドとこの磁気ヘッドから読出信号を受けるデータ読出回路とデータ処理装置とを有し、前記磁気ヘッドの良否を検査する磁気ヘッド検査装置において、
前記磁気ディスクのトラック１周分のうちの所定のセクタに書込まれたデータについて前記データ読出回路において得られる読出アナログ信号のレベルをデジタル値として記憶するメモリと、
このメモリに記憶された前記デジタル値に基づいて前記トラック１周分のうちの所定のセクタの領域を複数のブロックに分割してこの所定のセクタについて各前記ブロックの前記読出アナログ信号のレベルの第１の平均値を算出する第１の平均値算出手段と、
前記所定のセクタにおける各前記ブロックの前記第１の平均値の平均値を前記所定のセクタの平均値として第２の平均値を算出する第２の平均値算出手段と、
前記トラック１周分のうちの任意のセクタをスキップさせて前記所定のセクタを複数個トラック１周に亙って選択し、選択された複数の前記所定のセクタの前記第２の平均値の平均値を第３の平均値として算出する第２の平均値算出手段とを備え、
前記第３の平均値に基づき前記磁気ヘッドの良否を判定する磁気ヘッドの検査装置。
【請求項４】
前記トラック一周分のセクタの数は、１０２４個であり、１セクタにおける前記ブロックの分割数は、８乃至１６の範囲にあって、前記所定のセクタのトラック１周に亙る複数個の選択は連続して複数個の前記セクタが選択され、その後に複数個の前記セクタがスキップされて複数個の前記セクタが選択される繰り返しであり、前記磁気ヘッドの良否判定は、前記第３の平均値が所定の範囲内か否か判定するものであり、前記第３の平均値が所定の範囲内にないときには、トラック１周分の各前記セクタの平均値を算出してこの平均値のトラック１周分の平均値をトラック１周分のデータライト・リードｎ回においてそれぞれ算出して前記トラック１周分の平均値のｎ回の平均値に基づいてさらに前記磁気ヘッドの良否を判定する請求項１記載の磁気ヘッドの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタに関し、詳しくは、トラックに対して１回か、数回のトラック１周分のライト・リードで磁気ヘッドの良否を検査することができ、磁気ヘッド１個の検査時間を短縮することができる磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタに関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータシステムのデータ記憶に使用されるハード磁気ディスク駆動装置（以下単にＨＤＤ）に搭載されている磁気ディスク（以下単にディスク）には、磁気ヘッドの位置制御用などのためにサーボトラックライタによりサーボ情報（サーボ信号）が設定される。
その設定方式には、複数枚のディスクのうちの１枚のディスクの一面をサーボ情報専用にするサーボ面方式と、各ディスクのトラックにそれぞれ設定するデータ面方式（あるいはセクターサーボ方式）とがあるが、後者の方式のものが主流となってきている。
磁気ヘッドテスターでは、データ面方式（セクターサーボ方式）においてディスク上に設定されたサーボ情報に従って所定のデータがトラックに書き込まれ、そのデータを読出して磁気ヘッドの性能のテストが行われる。
ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、近年、その読出側にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド，ＴＭＲヘッドなど（以下ＭＲヘッドで代表する。）を組込み、書込側をインダクティブヘッドとした複合磁気ヘッドが用いられている。その記録密度は、数ギガ／インチと向上の一途を辿っている。しかも、トラック数は増加し、その幅は、狭くなる一方である。その上、ディスクの大きさは、３．３インチか、これ以下のものが主流となり、基板もガラスディスクが用いられ、ディスク１枚を搭載した単板型のＨＤＤが増加してきている。
【０００３】
この種の高密度記録のディスクを使用する磁気ヘッドテスタは、１トラックに対して１０２４分割したセクタに対してライト・リードをして平均化回路によりセクタ単位の平均値を算出して、その１０２４個の平均値についてさらに平均値を算出することでトラック１周分のセクタの平均値を得、さらに、このライト・リードをｎ回（あるいはｎ周分，ｎ＝＞１０）繰り返して前記のトラック１周分の平均値をｎ個得て、それを平均化した値を算出して、この値に応じてヘッドの良否の評価（検査）をしている。
ところで、磁気ヘッドは、書いた直後に特性が変わるので、ライトからリードに移るときに書いた直後のリードの情報を消すことなどが発生する。そのため、通常、１０回以上のライト・リードを繰り返し、平均値を算出している。
なお、この種の磁気ヘッドテスタとして磁気ディスク／磁気ヘッドテスタが公知である（特許文献１）。
【特許文献１】特開２００２−２６６３２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、ＨＤＤの家電産業や自動車などの製品への搭載が急速に進み、ＨＤＤの生産に合わせた磁気ヘッドの検査がそれに追いつかなくなってきている。そのため、検査装置の台数を増加させるとＨＤＤの製造原価が高くなる問題がある。
従来の磁気ヘッドの検査では、平均化回路を使用してトラック１周分のライト・リードをｎ回（あるいはｎ周分，ｎ＝＞１０）繰り返してトラック１周分の平均値をｎ回算出しなければならない。そのため、磁気ヘッド１個当たりの測定時間が大きく、多数の磁気ヘッドを高速に検査しなければならない。このような現状から磁気ヘッド検査装置のスループットが向上が期待され、そのような要請が高い。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、トラックに対して１回か、数回のトラック１周分のライト・リードで磁気ヘッドの良否を検査することができ、磁気ヘッド１個当たりの検査時間を短縮することができる磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
このような目的を達成するこの発明の磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタの特徴は、磁気ディスクのトラック１周分の各セクタに書込まれたデータの読出アナログ信号をＤ／Ａ変換してデジタル値として得て、トラック１周分のうちの所定のセクタの領域を複数のブロックに分割してこの所定のセクタにおける各ブロックの読出アナログ信号のレベルの第１の平均値を算出し、さらに所定のセクタにおける各ブロックの第１の平均値の平均値を所定のセクタの平均値として第２の平均値を算出し、トラック１周分のうちの任意のセクタをスキップさせて所定のセクタを複数個トラック１周に亙って選択し、選択された複数の所定のセクタの第２の平均値の平均値を第３の平均値として算出し、この第３の平均値に基づき磁気ヘッドの良否を判定するするものである。
【発明の効果】
【０００６】
このように、この発明では、セクタ内を複数のブロックに分割し、ブロック内の読出アナログ信号のレベルの平均値を平均してそのセクタの平均値を算出する。このことで、各ブロックの平均値を従来のセクタの平均値と同等なものとして扱い、これを、例えば、１０セクタ連続して各セクタの平均値を算出してセクタをスキップさせて同様な平均値を得るようにすれば、それは、１トラックの１回分の測定値に近似する平均値を得ることができる。
その理由は、多数のセクタのデータを読出すことなく、スキップ処理をすることで条件の異なるセクタの平均値を得ることができ、スキップ処理した各セクタの平均値の平均値を算出することで、ｎ回測定したときの平均値に近似する値を得ることができるからである。
なお、１回の測定で各セクタの平均値についての平均値が十分でないときには、再度、トラック１周分のライト・リードをして同様な処理をすればよい。それにより、１０回以上のｎ回のトラック１周分のライト・リード測定をしなくても済む。
その結果、トラックに対して１回か、数回のトラック１周分のライト・リードで磁気ヘッドの良否を検査することができ、磁気ヘッド１個の検査時間を短縮することができる。これにより磁気ヘッドの検査のスループットを向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図１は、この発明を適用した磁気ヘッドテスタのブロック図、図２は、この発明における磁気ヘッド検査処理のフローチャート、図３は、そのセクタ内ブロックの平均化方法の説明図である。
図１において、１０は、磁気ヘッドテスタであり、１は、磁気ディスクであって、スピンドル２に着脱可能に挿着されている。スピンドル２に隣接してヘッドキャリッジとしてＸＹステージ３が設けられ、このＸＹステージ３は、Ｘステージ３ａとＹステージ３ｂからなる。ここで、Ｘステージ３ａは、検査対象となる磁気ヘッド９（以下検査ヘッド９）を含めてピエゾステージ４をディスク１の半径方向に移動させる半径方向の移動ステージになっている。
Ｙステージ３ｂは、このＸステージ３ａ上に搭載され、検査ヘッド９に対してスキュー調整のための移動を行うものである。このＹステージ３ｂ上には、Ｘ方向の位置を微調整するピエゾステージ４が搭載されていて、このピエゾステージ４の先端側にヘッドキャリッジのカートリッジ取付ベース５が結合されている。これにより、ピエゾステージ４が駆動されることでカートリッジ取付ベース５がＸ方向に移動してＸ方向のヘッド位置の微調整がヘッドカートリッジ６を介して行われる。なお、Ｘ方向は、ディスク１の中心を通る半径Ｒ方向に一致している。
【０００８】
ヘッドカートリッジ６は、カートリッジ取付ベース５にピエゾアクチュエータ７を介して搭載され、ヘッドカートリッジ６には、サスペンションスプリング８が固定されている。サスペンションスプリング８の先端側には検査ヘッド９が搭載され、これに支持されている。検査ヘッド９は、ヘッドカートリッジ６へサスペンションスプリング８を介して着脱可能に取付られる。検査ヘッド９の取付け、取外しは、ヘッドカートリッジ６をカートリッジ取付ベース５から外して行われる。
検査ヘッド９は、ディスク１のＸ軸方向に対応する半径Ｒ方向に移動してディスク１のトラックをシークしてそのトラックに位置決めされ、データをそのトラックから読出し、あるいはそのトラックにデータを書込む、いわゆるアクセス動作をする。
ここで、ピエゾアクチュエータ７は、検査ヘッド９があるトラックあるいはあるトラックの特定領域をアクセスする際に、図１に示すＯＮトラックサーボ回路１１により制御され、そのトラック上のサーボ信号（サーボ情報）を読出して、読出したサーボ信号に応じてヘッド位置を微調整してダイナミックにヘッドをトラック上に載せる、ＯＮトラックのサーボ位置決めをする。
【０００９】
ヘッドカートリッジ６は、検査ヘッド９をヘッドキャリッジに装着するものであって、検査ヘッド９を着脱可能に搭載し、内部には読出アンプと書込アンプ等が設けられている。読出アンプは、検査ヘッド９のＭＲヘッドからの信号を受けてそれを増幅してデータ読出回路１５とＯＮトラックサーボ回路１１とに送出する。
ＯＮトラックサーボ回路１１は、検査ヘッド９の位置をデータトラックＴＲの中心線Ｃに戻す所定のレベルの駆動信号（電圧信号）をピエゾアクチュエータ７に出力する。これにより検査ヘッド９の位置が補正されてヘッドがＯＮトラック状態になり、所定のトラックＴＲの中心線に検査ヘッド９の位置が保持される。
データ読出回路１５は、読出アンプからの読出データの波形信号をアナログ信号として受けて、その読出アナログ信号をＡ／Ｄ変換してデータ処理・制御装置２０に送出する。
１６は、ヘッドアクセス制御回路であって、データ処理・制御装置２０からの制御信号を受けてＸＹステージ３とピエゾステージ４とを駆動して検査ヘッド９を目標となる所定のトラックＴＲに位置決めする。１７はデータ書込回路、１８はテストデータ生成回路であって、テストデータ生成回路１８は、データ処理・制御装置２０により制御されて所定のテストデータを作成してそれをデータ書込回路１７に送出する。データ書込回路１７は、受けたテストデータに従って書込信号を生成して、ヘッドカートリッジ６の書込アンプを駆動し、検査ヘッド９のインダクディブヘッドを介して所定のトラックＴＲにデータを書込む。
【００１０】
２０は、データ処理・制御装置であって、データ処理・制御装置２０は、ＭＰＵ２１とメモリ２２、インタフェース２３、ＣＲＴディスプレイ２４、波形データメモリ２５、そしてキーボード等により構成され、これらがバス２６により相互に接続されている。
メモリ２２には、ヘッドアクセスプログラム２２ａ、１周分ライト・スキップリードプログラム２２ｂ、セクタ内ブロック分割化・平均値算出プログラム２２ｃ、１周分ライト・リードプログラム２２ｄ、磁気ヘッド良否判定プログラム２２ｅ等が記憶されている。
データ読出回路１６から出力された読出データの波形信号（アナログ信号）は、読出アナログ信号のレベルがデジタル値に変換されて波形データメモリ２６に記憶される。そのデジタル値は、バス２６を介してＭＰＵ２１により読出される。
【００１１】
図２は、この発明における磁気ヘッド検査処理のフローチャートである。
ＭＰＵ２１は、所定のトラックへの磁気ヘッドの位置決め処理（ステップ１０１）として、ヘッドアクセスプログラム２２ａを実行してインタフェース２３を介してトラック横断信号（あるいはトラック位置信号）をＯＮトラックサーボ回路１１から受けてこれに応じて、ヘッドアクセス制御回路１６に制御信号を送出してＸＹステージ３のＸステージ３ａとＹステージ３ｂとを制御し、目標トラックＴＲに検査ヘッド９を位置決めして、さらにＸ方向の位置をピエゾステージ４を駆動してその位置を微調整して目標となる所定のトラックＴＲに検査ヘッド９を位置決めする制御をする。
なお、ヘッドの半径Ｒ方向の位置決めをトラック位置信号によるときには、ディスク１のトラックにあらかじめトラック位置に応じてトラック位置を示す位置決め情報を記憶しておくことになる。トラック位置を示す位置決め情報は、サーボ情報の位置に配置してこの中に含めることができる。
【００１２】
目標となる所定のトラックＴＲに検査ヘッド９が位置決めされると、ＭＰＵ２１は、次に、１周分ライト・スキップリードプログラム２２ｂをコールして実行して次の処理をする。
まず、テストデータが所定のトラックＴＲに書込まれ、そのデータが読出されトラック１周分の読出データが波形データメモリ２５に記憶される（ステップ１０２）。次にセクタ内ブロック分割化・平均値算出プログラム２２ｃがコールされてＭＰＵ２１に実行され、ＭＰＵ２１は、波形データメモリ２５から読出アナログ信号のレベルの平均値を算出するセクタについてのデータをメモリ２２の作業領域に読込み、そのセクタ内のデータを８ブロックに分割して各ブロック内での読出アナログ信号のレベルの平均値を算出する（ステップ１０３）、さらに各ブロック内平均値についてその平均値を算出してそれをそのセクタの平均値として得てメモリ２２の作業領域に記憶する（ステップ１０４）。
次に、読出セクタ数ｍになったか否かを判定して（ステップ１０５）、ＮＯである場合には、セクタを更新して次のセクタに移り（ステップ１０５ａ）、ステップ１０３へと戻り、連続してブロック分割されたセクタにおけるセクタの平均値の算出をｍ個連続して繰り返す。
ステップ１０５でＹＥＳとなると、セクタをＬ個スキップさせて（ステップ１０６）、１周分のセクタが終了か否かの判定をして（ステップ１０７）、ＮＯのときには、ステップ１０３へと戻る。そして、また、所定のセクタ数分ｍだけ連続してブロック分割されたセクタにおけるセクタの平均値の算出を繰り返す。
【００１３】
図３は、そのセクタ内ブロックの平均化方法の説明図である。
図３（ａ）は、トラック１周分に対応して発生するインデックス信号であり、図３（ｂ）は、その各セクタであり、例えば、セクタ数が１０２４個とすれば、ｎ＝１０２３であり、Ａ0〜Ａ1023までのセクタが存在する。
図３（ｃ）は、ブロック分割の一例としてＡ0を８ブロックに分割した例である。
ここで、図２のステップ１０５とステップ１０７の判定におけるｍ，Ｌを、ｍ＝１０，Ｌ＝１０とし、図３において、平均値を算出セクタをセクタＡ0として以下説明する。
セクタＡ0のセクタ内ブロックをＳ00〜Ｓ07の８ブロックに分割して波形データメモリ２５から得られたデータ（読出アナログ信号のレベルを示すデータ）をそれぞれ得て、それぞれの８ブロックについて読出アナログ信号のレベルの平均値としてＡS0〜ＡS7を算出する（ステップ１０３）。
例えば、１セクタを５１２バイトとすれば、８ブロックの分割により１ブロックには６４バイト分の読出信号があることになる。その読出信号のレベルの平均値がブロックごとに得る。なお、ブロック分割数としては、８〜１６程度が最適である。ブロック数を多くすると、その分平均値計算が増加し、少なくすると、算出される平均値のばらつきが多くなる。
【００１４】
次に、８個のブロックＡS0〜ＡS7の平均値の平均値Ｍ00をセクタＡ0の平均値としてメモリ２２の作業領域に記憶する（ステップ１０４）。そして、ｍ個のセクタの読出処理をしたか否かによりセクタ数の判定をして（ステップ１０５）、ＮＯのときには、次のセクタのデータを波形データメモリ２５からメモリ２２に読込み（ステップ１０６）、ステップ１０３へと戻り、次のセクタについて同様な処理をする。
このようにして、例えば、ｍ＝１０とすれば、Ａ0〜Ａ9までの１０セクタについて平均値Ｍ00〜Ｍ09として算出してメモリ２２の作業領域に記憶する。
ステップ１０５でＹＥＳとなると、Ｌ個のセクタを処理をせずにスキップする（ステップ１０７）。例えば、Ｌ＝１０とすれば、次のＡ10〜Ａ19の１０セクタはデータの波形データメモリ２５からの読出を止めてスキップし、トラック１周分のセクタが終了したか、否かの判定をして（ステップ１０８）、ここでＮＯのときにはステップ１０３へと戻り、次のセクタＡ20〜Ａ29について同様にＡS20〜ＡS29の各セクタの８ブロックの平均値を算出して（ステップ１０３）、さらにこれらの平均値Ｍ20をＡ20のセクタの平均値として算出し、このような平均値Ｍ20〜Ｍ29をセクタＡ20〜Ａ29まで算出して、作業領域に記憶する（ステップ１０４）。
そして、ステップ１０５の判定で読出セクタ数がｍとなると、ステップ１０７へと移り、１０セクタをスキップさせて、トラック１周分のセクタのデータ読出終了か否かの判定をし（ステップ１０８）、ＮＯのときには、ステップ１０３へと戻り、各セクタについて１０セクタおきに各セクタの平均値を算出してメモリ２２の作業領域に順次記憶していく。
このようにしてトラック１周分のセクタについてスキップさせた状態で各セクタのブロック分割された平均値の平均値を算出していく。
【００１５】
ステップ１０８の判定でＹＥＳとなると、ＭＰＵ２１は、磁気ヘッド良否判定プログラム２２ｅをコールして実行し、１０セクタおきにスキップさせて記憶された作業領域の各セクタの平均値について平均値Ｐを算出する（ステップ１０９）。例えば、各セクタの平均値の合計値を算出して、その合計値をセクタ数１０２４の半分の５１２で割って得た平均値Ｐを検査ヘッド９の検査結果を算出する。次に、平均値Ｐが所定の基準範囲にあるか否かにより検査対象となった検査ヘッド９の合否を判定する（ステップ１１０）。ここで、ＹＥＳとなった場合には、ステップ１１８の検査結果に応じた仕分け処理へと移行する。
ここで、ＮＯとなったときには、１周分ライト・リードプログラム２２ｄがＭＰＵ２１に実行されて、測定回数を最初だけ、初期値ｋ＝０に設定してトラック１周分のライト・リードをする（ステップ１１１）。そいて、従来と同様に１トラックに対して１０２４分割したセクタに対してライト・リードをしてセクタ単位で１０２４個のセクタのそれぞれについて読出アナログ信号のレベルの平均値を算出して（ステップ１１２）、各セクタの平均値についてトラック１周分平均値を算出してメモリ２２の作業領域に記憶する（ステップ１１３）。
【００１６】
次にｋ＝ｋ＋１として測定回数ｋを更新して（ステップ１１４）、ｋ＝＞ｎにより検査が終了したか否かを判定し（ステップ１１５）、このステップでＮＯの場合には（ステップ１１１）に戻る。ただし、このときの初期値ｋは更新値に入れ換える。これにより、トラック１周分のライト・リードをｎ回繰り返して１周分の各セクタの平均値を算出していく。
ステップ１１５でＹＥＳとなった場合には、磁気ヘッド良否判定プログラム２２ｅをコールしてＭＰＵ２１が実行し、メモリ２２の作業領域に記憶されたｎ回分のトラック１周分の平均値の合計をｎで割ってトラック１周分平均値Ｑを算出して（ステップ１１６）、平均値Ｑが所定の基準範囲にあるか否かにより検査対象となった検査ヘッド９の合否を判定する（ステップ１１７）。
そして、検査ヘッド９に対して合否に応じた分類仕分処理をして（ステップ１１１８）、次のヘッドの検査に移る（ステップ１１９）。
【００１７】
このように、各セクタをブロック分割し、ブロック内の読出アナログ信号のレベルの平均値を平均してそのセクタの平均値を算出することで、各ブロックの平均値を従来のセクタの平均値と同等なものとして扱うことができる。例えば、１０セクタ連続して各セクタの平均値を算出すれば、１トラックの１回分の測定値に近似する平均値を得ることができる。
その理由は、スキップ処理をすることで条件の異なるセクタの平均値を得ることができからであり、スキップ処理した各セクタの平均値の平均値ｎ個以上の多数個得ることで、ｎ回測定したときの平均値に近似する値を得ることができる。  これにより１個の検査ヘッドをｎ回測定をしなくても済む。
なお、この場合、トラック１周分のデータにおいてスキップ処理をして平均値を得ているが、１周分ライト・スキップリードを２乃至３回程度の数回繰り返して、トラック数周分のデータにおいて検査結果となる平均値を得てもよい。数回であっても、１トラック部がスキップ処理されて平均値算出のデータ処理がなされることにより、従来の１０回以上に繰り返し検査に比べれば、ヘッド１個の検査に対するスループットは向上する。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
以上説明してきたが、実施例では、各セクタにおいて８ブロックに分割した各平均値についてさらに平均値を各セクタの平均値として算出しているが、この発明は、１セクタのブロック分割数は、複数個であればよく、８個に限定されるものではない。
また、実施例では、１０セクタ置きに、各セクタの平均値を算出しているが、これは、１０セクタに限定されるものではなく、連続して半分程度の各セクタの平均値を算出して、多数のセクタをスキップさせて残りの多数のセクタについてそれぞれ平均値を算出するようにしてもよい。この発明は、１トラックにおいて、セクタをスキップさせれて読取らないようにすばよく、特に、スキップの仕方については限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、この発明を適用した磁気ヘッドテスタのブロック図である。
【図２】図２は、この発明における磁気ヘッド検査処理のフローチャートである。
【図３】図３は、そのセクタ内ブロックの平均化方法の説明図である。
【符号の説明】
【００２０】
１…ディスク、２…スピンドル、
３…ＸＹステージ、３ａ…Ｘステージ、３ｂ…Ｙステージ、
４…ピエゾステージ、５…カートリッジ取付ベース、
６…ヘッドカートリッジ、
７…ピエゾアクチュエータ、
８…ジンバルスプリング、９…磁気ヘッド、
１０…磁気ヘッドテスタ、１１…ＯＮトラックサーボ回路、
１４…位置制御回路、１５…データ読出回路、
１６…ヘッドアクセス制御回路、１７…データ書込回路、
１８…テストデータ生成回路、
２０…データ処理・制御装置、２１…ＭＰＵ、
２２…メモリ、２２ａ…ヘッドアクセスプログラム、
２２ｂ…１周分ライト・スキップリードプログラム、
２２ｃ…セクタ内ブロック分割化・平均値算出プログラム、
２２ｄ…１周分ライト・リードプログラム、
２２ｅ…磁気ヘッド良否判定プログラム、
２３…インタフェース、２４…ＣＲＴディスプレイ、
２５…波形データメモリ。
【図１】
2007220226.tif 000003
【図２】
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【図３】
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