(57)【要約】【課題】安定して正確に表示装置の表示不良を検査することができる表示不良検査装置及びそれを用いた表示不良検査方法を提供する。【解決手段】表示不良検査装置１０は、検査対象の表示面２１の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知するＣＣＤカメラ３０（画素データ検知部）と、ＣＣＤカメラ３０で検知した所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算するＣＰＵ５１（差分演算部）と、ＣＰＵ５１で演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定するＣＰＵ５１（差分判定部）と、を備える。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象の表示面の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知する画素データ検知部と、
上記画素データ検知部で検知した所定の画素の画素データと、該所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算する差分演算部と、
上記差分演算部で演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定する差分判定部と、
を備えた表示不良検査装置。
【請求項２】
上記差分演算部で演算された画素データの差分を記憶する差分記憶部をさらに備えた請求項１に記載の表示不良検査装置。
【請求項３】
検査対象の表示面の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知する画素データ検知ステップと、
上記検知した所定の画素の画素データと、該所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算する差分演算ステップと、
上記演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定する差分判定ステップと、
を備えた表示不良検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示不良検査装置及びそれを用いた表示不良検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、表示装置の表示部、例えば液晶表示装置の液晶表示パネル等に発生する、周囲との輝度が微妙に異なる表示ムラ等の表示不良を検出するために、人間による目視検査や表示不良検査装置による検査が実施されている。また、表示不良検査装置による検査においては、二値化処理に代表される単純な画像処理により検査を行うものが一般的である。
【０００３】
ここで、このような表示不良検査装置として、特許文献１には、液晶印加電圧に基づいて画素の光透過性が制御される液晶表示パネルに光を照射する光源と、光源から照射されて液晶表示パネルの画素を透過した光を検出する光検出手段と、液晶表示パネルの正常画素の透過率が最高のときの透過光の光量を基準輝度として記憶する基準輝度記憶手段と、光源から照射されて液晶表示パネルの被検査画素を透過し光検出手段で検出された光の光量を被検査画素輝度として出力又は記憶する被検査画素輝度出力手段と、基準輝度に対する被検査画素輝度の比を算出する被検査画素輝度比算出手段とを具備することを特徴とするものが開示されている。そして、これによれば、被検査画素の輝度レベルの評価のばらつきを抑え、きめ細かな輝度のレベル分けを実現し、作業効率の向上を実現することができる、と記載されている。
【０００４】
また、特許文献２には、電子ディスプレイと、撮像素子との相対位置を画素ピッチの１／ｎずつ微小量変化させ、ｎ枚の画像を画素毎に並べて、撮像時に生じる撮像モアレを低減させる様に、画像データの値の移動平均をとることにより合成し、その合成画像により、その電子ディスプレイの画素欠陥を検出するものが開示されている。そして、これによれば、発生するモアレを低減して、画素欠陥の発見を容易にして検査精度を向上させ、かつ、その画素欠陥を定量的に評価することができる、と記載されている。
【特許文献１】特開平06-167682号公報
【特許文献２】特開2000-338000号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、表示画面に現れる欠陥には、点欠陥、線欠陥、面欠陥（あるいはシミ・ムラ欠陥とも呼ばれる）等がある。これらのシミやムラといったコントラストが低い欠陥や点欠陥のような微少な欠陥、又は、画素の走査方向に連なる線欠陥等は、従来の単純な二値化処理で検出することができない。
【０００６】
また、特許文献１に示した技術では、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきに検査精度が影響される。例えば、所定の位置の画素値をＰ、注目位置の画措置をＰｘｙとし、Ｐ−Ｐｘｙが一定値以上になると表示不良を検出できるとする。このとき、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきにより装置全体が明るくなってしまうと、画素欠陥等の表示不良を検出し難くなる。このため、必ずしも適切に検査が実施できるとは限らず、これらのばらつきによって検査漏れや過剰な判定による歩留まり低下が発生するおそれがあるという問題がある。
【０００７】
さらに、特許文献２に示した技術では、隣接する画素との画素値の違いに基づいて表示不良の判定をしているだけであるため、広い範囲の表示不良や緩やかに変化している表示不良、例えばシミやムラに類する表示不良は正確に検出できないという問題がある。
【０００８】
本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、安定して正確に表示装置の表示不良を検査することができる表示不良検査装置及びそれを用いた表示不良検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る表示不良検査装置は、検査対象の表示面の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知する画素データ検知部と、画素データ検知部で検知した所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算する差分演算部と、差分演算部で演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定する差分判定部と、を備える。
【００１０】
このような構成では、従来技術のように、隣接する画素との画素データの違いによって表示不良を検査するものではなく、所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データとの違いによって検査している。従って、輝点、黒点その他の点欠陥、縦線及び横線に係る線欠陥、さらには、広い範囲の表示不良や緩やかに変化している表示不良、例えばシミやムラのような表示不良も検出することができる。
【００１１】
また、従来技術のように、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきによる検査精度の不安定さが生じず、検査精度が安定して良好なものとなる。
【００１２】
さらに、製造工程での検査と製品納入先での検査で本実施形態に係る表示不良検査装置を用いると、同様の検査基準を採用することができるため、製造工程では良品と判定されても納入先で不良品と判定されるようなトラブルが生じない。
【００１３】
また、検査員の検査に因らずに検査を行うため、検査効率が良くコストダウンを図ることができる。さらに、表示不良を検査員の主観に頼ることなく検査するため、検査員間の検査レベルの相違がなく、表示不良があるのにそのまま出荷してしまうという問題が生じないし、逆に過剰に判定して歩留まりを不要に低下させることも無い。
【００１４】
また、本発明に係る表示不良検査装置は、差分演算部で演算された画素データの差分を記憶する差分記憶部をさらに備えていてもよい。
【００１５】
このような構成によれば、差分演算部で演算された画素データの差分を差分記憶部に記憶させておき、新たに別の画素との画素データの差分を演算して、それを記憶させておいた差分に加えることを繰り返すことができる。このため、次第に局所的な画素値のばらつきは打ち消しあい、逆に表示不良がある画素の画素値はより大きくなる。従って、その差が鮮明になることで表示不良の検査精度が良好となる。
【００１６】
本発明に係る表示不良検査方法は、検査対象の表示面の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知する画素データ検知ステップと、検知した所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算する差分演算ステップと、演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定する差分判定ステップと、を備える。
【００１７】
このような方法では、従来技術のように、隣接する画素との画素データの違いによって表示不良を検査するものではなく、所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データとの違いによって検査している。従って、輝点、黒点その他の点欠陥、縦線及び横線に係る線欠陥、さらには、広い範囲の表示不良や緩やかに変化している表示不良、例えばシミやムラのような表示不良も検出することができる。
【００１８】
また、従来技術のように、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきによる検査精度の不安定さが生じず、検査精度が安定して良好なものとなる。
【００１９】
さらに、製造工程での検査と製品納入先での検査で本実施形態に係る表示不良検査装置を用いると、同様の検査基準を採用することができるため、製造工程では良品と判定されても納入先で不良品と判定されるようなトラブルが生じない。
【００２０】
また、検査員の検査に因らずに検査を行うため、検査効率が良くコストダウンを図ることができる。さらに、表示不良を検査員の主観に頼ることなく検査するため、検査員間の検査レベルの相違がなく、表示不良があるのにそのまま出荷してしまうという問題が生じないし、逆に過剰に判定して歩留まりを不要に低下させることも無い。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の表示不良検査装置及びそれを用いた表示不良検査方法によれば、安定して正確に表示装置の表示不良を検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施形態について、図を用いて詳細に説明する。また、検査対象の表示装置として、液晶表示装置を例にして説明する。
【００２３】
（表示不良検査装置１０の構成）
図１に、表示不良検査装置１０の全体構成を示す概略図を示す。表示不良検査装置１０は、検査対象の液晶表示装置２０の表示面２１の所定エリアの画像を撮影することにより、二次元の画像データを得るＣＣＤカメラ３０（画素データ検知部）、液晶表示装置２０を支持してＣＣＤカメラ３０に対して液晶表示装置２０を相対的に移動させる支持部４０、及び、ＣＣＤカメラ３０及び支持部４０に接続されたコンピュータ５０で構成されている。
【００２４】
ＣＣＤカメラ３０は、液晶表示装置２０からの光が入射する光学系３１、光学系３１により結像された表示面２１の画像をマトリクス状の多数の画素に分割して電気信号に変換する撮像素子３２、及び、光源ユニット３３で構成されている。尚、液晶表示装置２０のバックライトから発せられる光のみを受光する場合は、光源ユニット３３は無くても良い。
【００２５】
撮像素子３２には、検査対象の液晶表示装置２０よりも解像度の良いもの、即ち、撮影画像の画素数よりも画像撮影部の画素数が多いものを用いるのが好ましい。画像データが多くなり、検査精度が良好となるためである。
【００２６】
支持部４０は、液晶表示装置２０を支持するステージ４１、及び、ステージ４１を水平面内で移動させるステージ駆動部４２で構成される。ステージ駆動部４２は水平面内で液晶表示装置２０を回転させる機能を有していてもよい。
【００２７】
コンピュータ５０は、図２に示すように、各種演算処理を行うＣＰＵ５１（差分演算部及び差分判定部）、基本プログラムや表示不良判定基準を記憶するＲＯＭ５２及び各種情報を記憶するＲＡＭ５３、第１〜３画像メモリ５４，５５，５６をそれぞれバスライン５７に接続して構成されている。
【００２８】
バスライン５７は、光磁気ディスク等のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体から情報の読み取りを行う読み取り装置６１、各種情報の表示を行うディスプレイ６２、情報の記憶を行う固定ディスク６３、入力手段であるキーボード６４及びマウス６５、並びに、撮像素子３２、光源ユニット３３及びステージ駆動部４２と通信を行う通信部６６が、適宜、インターフェイス（Ｉ／Ｆ）６７を介してさらに接続されている。
【００２９】
コンピュータ５０には、事前に読み取り装置６１を介してＲＯＭ５２からプログラムが読み出され、固定ディスク６３に記憶される。そして、プログラムがＲＡＭ５３にコピーされるとともにＣＰＵ５１がＲＡＭ５３内のプログラムに従って演算処理を実行することにより、コンピュータ５０が各種構成を制御して検査を実行する。
【００３０】
図２は、ＣＰＵ５１がプログラムに従って動作することにより、ＣＰＵ５１、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ５３等が実現する機能構成図である。尚、これらの機能は専用の電気的回路により実現されてもよく、部分的に電気的回路が用いられてもよい。
【００３１】
ＣＰＵ５１は、撮像素子３２からの画像信号を受け取って固定ディスク６３に取得画像データとして記憶したり、光源ユニット３３やステージ駆動部４２の動作を制御する。ＣＰＵ５１は、撮像素子３２により取得された画素データから後述する差分を求め（差分演算部）、表示面２１上に表示不良が存在するか否かを判定する（差分判定部）。
【００３２】
（表示不良検査装置１０を用いた表示不良検査方法）
次に、表示不良検査装置１０を用いた表示不良検査方法を図３に従って説明する。
【００３３】
図３は、表示不良検査装置１０を用いた表示不良検査方法の処理フロー図である。
【００３４】
まず、検査対象となる液晶表示装置２０が支持部４０のステージ４１上にロードされる。液晶表示装置２０は、製造ラインから自動的にロードされてもよく、作業者が適宜、ステージ４１上に載置してもよい。
【００３５】
次に、ＣＰＵ５１がプログラムを固定ディスク６３から読み出してＲＡＭ５３に記憶させる。
【００３６】
次いで、ＣＰＵ５１は最初の検査箇所がＣＣＤカメラ３０の真下に位置するようにステージ４１を移動させる。
【００３７】
次に、検査対象となる液晶表示装置２０の表示面２１を直接ＣＣＤカメラ３０で撮影する。ここで、表示面２１を直接撮影しなくてもよく、一度スクリーンに映した映像をＣＣＤカメラ３０で撮影してもよい。
【００３８】
ＣＣＤカメラ３０は、検査対象エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割する。そして、表示面２１の光の明るさ（画面の輝度）を複数の点で受光し、各点の明るさを、０×０〜５１２×５１２までの値に変換して画素データをそれぞれ検知する。これら画素データを集めて画像データとし、第１画像メモリ５４に保存する。尚、ここでいう画素とは、ＣＣＤカメラ３０の画素のことであり、検査対象の液晶表示装置２０の画素ではない。
【００３９】
次に、ＣＰＵ５１（差分演算部）が第１画像メモリ５４に保存された画像の１画素目の画素Ｉ０（０，０）に対して、当該画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の中から任意の一画素Ｉ０（ｐ，ｑ）を抽出する。画素Ｉ０（ｐ，ｑ）は、例えば乱数によってｐ及びｑを求めることで得ても良いし、一定の決定方法に従って予め決定しておいてもよい。
【００４０】
次いで、ＣＰＵ５１（差分演算部）は、式（I）に示すように、１画素目の画素Ｉ０（０，０）から、任意に選択した画素Ｉ０（ｐ，ｑ）を減じることにより差分Ｉ１（０，０）を導き出し、これを第２画像メモリ５５（差分記憶部）に記録する。
【００４１】
Ｉ１（０，０）＝Ｉ０（０，０）−Ｉ０（ｐ，ｑ）…（I）
続いて、第１画像メモリ５４に保存されている画素Ｉ０（０，０）の次の画素Ｉ０（１，０）に対して同様に任意の一画素Ｉ０（ｐ’，ｑ’）を選択する。そして、式（I'）に示すように、先ほど第２画像メモリ５５に記録した差分Ｉ１（０，０）から選択したＩ０（ｐ’，ｑ’）を減じることにより、新たな差分Ｉ１（１，０）を導き出し、これを第２画像メモリ５５に記録する。
【００４２】
Ｉ１（１，０）＝Ｉ１（０，０）−Ｉ０（ｐ’，ｑ’）…（I'）
このようにして、第１画像メモリ５４に保存された画像の最後の画素Ｉ０（５１１，５１１）まで演算及び記録を繰り返す。
【００４３】
最後の画素Ｉ０（５１１，５１１）までこのような演算と記録を繰り返した後、ＣＰＵ５１（差分演算部）は、再度１画素目の画素Ｉ０（０，０）に対して、当該画素の隣接しない位置或いはその近傍にない位置にある画素から任意の一画素Ｉ０（ｒ，ｓ）を選択する。
【００４４】
次に、ＣＰＵ５１（差分演算部）は、式（II）に示すように、第１画像メモリ５４に保存された画素Ｉ０（０，０）から選択した任意の画素Ｉ０（ｒ，ｓ）を減じ、これに第２画像メモリ５５に記録された前回の差分Ｉ１（０，０）を加えてＩ２（０，０）を導き出し、これを第２画像メモリ５５に記録する。
【００４５】
Ｉ２（０，０）＝Ｉ１（０，０）＋Ｉ０（０，０）−Ｉ０（ｒ，ｓ）…（II）
続いて、第１画像メモリ５４に保存されている画素Ｉ０（０，０）の次の画素Ｉ０（１，０）に対して同様に任意の一画素Ｉ０（ｒ’，ｓ’）を選択し、式（II'）に示すように演算してＩ２（１，０）を導き出し、これを第２画像メモリ５５に記録する。
【００４６】
Ｉ２（１，０）＝Ｉ１（１，０）＋Ｉ０（１，０）−Ｉ０（ｒ’，ｓ’）…（II）
このようにして、第１画像メモリ５４に保存された画像の最後の画素Ｉ０（５１１，５１１）まで演算及び記録を繰り返す。
【００４７】
以上の操作を数回繰り返すことによって、第２画像メモリ５５に記録されている画像には局所的な画素値のばらつきは互いに打ち消し合って画素値が０となる。逆に、表示不良の可能性のある領域は、０以外の画素値を有することとなる。このようにして、表示不良の可能性のある領域のみを選択することができる。
【００４８】
次に、第２画像メモリ５５に記録した画像データに対して、差分判定部が２値化処理を行い、処理後の画像データを第３画像メモリ５６に記録する。２値化処理は、例えば画面部分を白（又はこれに近い色）とし、それ以外の部分を黒（又はこれに近い色）とする。そして、例えば白と判断した画素を“１”とし、黒と判断した画素を“０”として画像データを処理することにより行う。
【００４９】
続いて、ＣＰＵ５１（差分判定部）は、第３画像メモリ５６に記録した画像データに対してクロージング処理を施す。
【００５０】
次に、クロージング処理を行った後の画像データに対して絶対最大長と対角幅をそれぞれ測定する。そして、得られた絶対最大長が、液晶表示装置２０の表示面２１の幅や高さとほぼ同一であれば、表示不良モードはライン欠陥であると決定する。また、絶対最大長が所定値より小さければ表示不良モードは点欠陥であると決定し、さらに、対角幅が所定値より大きければ表示不良モードはシミやムラであると決定する。
【００５１】
表示不良モードが決定されると、差分判定部は、第２画像メモリ５５から対象とする領域内の特徴値、例えば、平均画素値を演算する。
【００５２】
ＣＰＵ５１（差分判定部）は、表示不良モードに従って、予め決定しておいた判定基準をＲＯＭ５２（基準格納部）から読み出して、これらを基に良品や不良品の判定を行う。
【００５３】
例えば、ライン欠陥部の平均画素値がＶ２０で判定基準がＶ００とすると、Ｖ２０＞Ｖ００の場合は不良と判定する。尚、この場合の判定基準は、パネル透過率、バックライトの輝度やユーザーによってそれぞれ異なっていても良い。
【００５４】
また、不良モードがシミやムラの場合は、第２画像メモリ５５中の該当する領域の最小画素値Ｖ２１を求める。そして、予め決定しておいた判定基準Ｖ０１をＲＯＭ５２（基準格納部）から読み出して、これらをもとに表示不良か否かの判定を行う。
【００５５】
例えば、シミやムラの場合は、判定基準がＶ０１とすると、Ｖ２１＜Ｖ０１の場合は、表示不良と判定する。また、この場合の判定基準についても、パネル透過率、バックライトの輝度やユーザーによってそれぞれ異なっていて良い。
【００５６】
全ての検査箇所の検査が完了すると、検査結果に対応する差分画像データがディスプレイ６２に表示される。これにより、操作者が表示不良の様子を２次元的な分布として的確に把握することができる。
【００５７】
操作者により検査結果が把握されると検査対象の液晶表示装置２０がステージ４１からアンロードされる。
【００５８】
以上により、液晶表示装置２０の表示不良検査が終了する。
【００５９】
尚、液晶表示装置２０処理ラインから検査対象の液晶表示装置２０を自動的にロードおよびアンロード可能とすることにより、表示不良検査装置１０をインライン化することができる。
【００６０】
また、本実施形態では、表示装置として、液晶表示装置２０を例に挙げたが、これに限定されず、ＰＤＰ（plasma display panel；プラズマディスプレイパネル）、有機ＥＬ（organic electroluminescence ）、又は、ＳＥＤ（surface-conduction electron-emitter display；表面電界ディスプレイ）等のその他の表示装置についても用いることができる。
【００６１】
（作用効果）
本実施形態に係る表示不良検査装置１０は、検査対象の表示面２１の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知するＣＣＤカメラ３０と、ＣＣＤカメラ３０で検知した所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算するＣＰＵ５１（差分演算部）と、ＣＰＵ５１（差分演算部）で演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定するＣＰＵ５１（差分判定部）と、を備える。
【００６２】
このような構成では、従来技術のように、隣接する画素との画素データの違いによって表示不良を検査するものではなく、所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データとの違いによって検査している。従って、輝点、黒点その他の点欠陥、縦線及び横線に係る線欠陥、さらには、広い範囲の表示不良や緩やかに変化している表示不良、例えばシミやムラのような表示不良も検出することができる。
【００６３】
また、従来技術のように、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきによる検査精度の不安定さが生じず、検査精度が安定して良好なものとなる。
【００６４】
さらに、製造工程での検査と製品納入先での検査で本実施形態に係る表示不良検査装置１０を用いると、同様の検査基準を採用することができるため、製造工程では良品と判定されても納入先で不良品と判定されるようなトラブルが生じない。
【００６５】
また、検査員の検査に因らずに検査を行うため、検査効率が良くコストダウンを図ることができる。さらに、表示不良を検査員の主観に頼ることなく検査するため、検査員間の検査レベルの相違がなく、表示不良があるのにそのまま出荷してしまうという問題が生じないし、逆に過剰に判定して歩留まりを不要に低下させることも無い。
【００６６】
さらに、本実施形態に係る表示不良検査装置１０は、差分演算部で演算された画素データの差分を記憶する第２画像メモリ５５（差分記憶部）をさらに備えていてもよい。
【００６７】
このような構成によれば、差分演算部で演算された画素データの差分を第２画像メモリ５５（差分記憶部）に記憶させておき、新たに別の画素との画素データの差分を演算して、それを記憶させておいた差分に加えることを繰り返すことができる。このため、次第に局所的な画素値のばらつきは打ち消しあい、逆に表示不良がある画素の画素値はより大きくなる。従って、その差が鮮明になることで表示不良の検査精度が良好となる。
【００６８】
本発明に係る表示不良検査方法は、検査対象の表示面２１の所定エリアの画像をマトリクス状の多数の画素に分割してそれぞれの画素データを検知する画素データ検知ステップと、検知した所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データと、の差分を演算する差分演算ステップと、演算された画素データの差分が所定条件を満たすか否かを判定する差分判定ステップと、を備える。
【００６９】
このような方法では、従来技術のように、隣接する画素との画素データの違いによって表示不良を検査するものではなく、所定の画素の画素データと、所定の画素から少なくとも一つの画素を隔てて設けられた画素の画素データとの違いによって検査している。従って、輝点、黒点その他の点欠陥、縦線及び横線に係る線欠陥、さらには、広い範囲の表示不良や緩やかに変化している表示不良、例えばシミやムラのような表示不良も検出することができる。
【００７０】
また、従来技術のように、表示パネルの透過率やバックライトの輝度のばらつきによる検査精度の不安定さが生じず、検査精度が安定して良好なものとなる。
【００７１】
さらに、製造工程での検査と製品納入先での検査で本実施形態に係る表示不良検査装置１０を用いると、同様の検査基準を採用することができるため、製造工程では良品と判定されても納入先で不良品と判定されるようなトラブルが生じない。
【００７２】
また、検査員の検査に因らずに検査を行うため、検査効率が良くコストダウンを図ることができる。さらに、表示不良を検査員の主観に頼ることなく検査するため、検査員間の検査レベルの相違がなく、表示不良があるのにそのまま出荷してしまうという問題が生じないし、逆に過剰に判定して歩留まりを不要に低下させることも無い。
【産業上の利用可能性】
【００７３】
以上説明したように、本発明は、表示不良検査装置及びそれを用いた表示不良検査方法について有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】本発明の実施形態に係る表示不良検査装置１０の全体構成を示す概略図である。
【図２】本発明の実施形態に係るＣＰＵ５１がプログラムに従って動作することにより、ＣＰＵ５１、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ５３等が実現する機能構成図である。
【図３】本発明の実施形態に係る表示不良検査装置１０を用いた表示不良検査方法の処理フロー図である。
【符号の説明】
【００７５】
１０  表示不良検査装置
２０  液晶表示装置
２１  表示面
３０  ＣＣＤカメラ
３１  光学系
３２  撮像素子
３３  光源ユニット
４０  支持部
４１  ステージ
４２  ステージ駆動部
５０  コンピュータ
５１  ＣＰＵ
５２  ＲＯＭ
５３  ＲＡＭ
５４  第１画像メモリ
５５  第２画像メモリ
５６  第３画像メモリ
５７  バスライン
６１  読み取り装置
６２  ディスプレイ
６３  固定ディスク
６４  キーボード
６５  マウス
６６  通信部
【図１】
2007147294.tif 000003
【図２】
2007147294.tif 000004
【図３】
2007147294.tif 000005