(57)【要約】【課題】本発明は磁気ヘッドの温度磁界印加方法及び装置に関し、装置を小型化することができる温度磁界印加方法及び装置を提供することを目的としている。【解決手段】交流磁界を発生する電磁石２と、その上に磁気ヘッド１が載置される磁性体のプレート５と、前記磁気ヘッド１の温度を検出する温度センサ１１と、該温度センサ１１の出力を受けて、該温度が所定の温度になるように、前記電磁石２を駆動制御する制御手段１３とにより構成される。本発明によれば、渦電流により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置する構成としたので、場所をとることもなく、装置を小型化することができる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁石により交流磁界を発生させて磁性体のプレートに渦電流を発生させ、
該渦電流の発生により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置し、
磁気ヘッドを所定の温度に維持する
ようにしたことを特徴とする磁気ヘッドの温度磁界印加方法。
【請求項２】
交流磁界を発生する電磁石と、
その上に磁気ヘッドが載置される磁性体のプレートと、
前記磁気ヘッドの温度を検出する温度センサと、
該温度センサの出力を受けて、該温度が所定の温度になるように、前記電磁石を駆動制御する制御手段と、
により構成されることを特徴とする磁気ヘッドの温度磁界印加装置。
【請求項３】
前記磁気ヘッドが所定の温度になったら、前記制御手段は交流磁界から直流磁界に切り替えて磁気ヘッドの特性を測定するようにしたことを特徴とする請求項２記載の温度磁界印加装置。
【請求項４】
前記磁性体のプレートに交流磁界と直流磁界の合成磁界を加え、両者をそれぞれ独立に制御できるようにしたことを特徴とする請求項２記載の温度磁界印加装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は磁気ヘッドの温度磁界印加方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気ディスク装置の小型化並びに記録媒体の高回転化に伴う装置内部の温度上昇によって装置内に装備された磁気ヘッドに不具合が生じてしまうという問題があった。例えば、反強磁性膜を有する薄膜磁気ヘッドにあっては、高温化によって反強磁性膜がスピン配列を失い、これにより好適な磁気ヘッドの動作を得ることができなくなってしまうという不具合があった。
【０００３】
このため、従来、磁気ヘッドの製造段階における検査工程において、薄膜磁気ヘッドを磁気ディスク装置の装置駆動温度に応じた若しくはそれ以上の温度に加熱して磁気ヘッドの良否判定を行なう必要があった。
【０００４】
このような磁気ヘッドの評価法として、外部磁界と温度特性を測定する方法がある。温度の制御方法については、従来は検査装置毎に恒温槽に入れる、レーザ光を照射する、又は磁気ヘッドにセラミックヒータを接触させるといった方法をとっていた（例えば特許文献１、特許文献２参照）。
【０００５】
図５は従来の温度磁界印加方法を示す図である。１は磁気ヘッドで、例えばＴＭＲヘッドやＧＭＲヘッドが用いられる。２は外部磁界発生用の電磁石、３はセラミック等でできたヒータであり、パワーを供給するための電源ライン４が外部電源へ接続されている。磁気ヘッド１はヒータ３と接触している。
【特許文献１】特開２００２−９２８３１号公報（段落００３２〜００３３、図１〜図４）
【特許文献２】特開２００２−３１２９１２号公報（段落００１２〜００１４、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
磁気ヘッドの温度磁界印加を行なう場合、恒温槽を用いる方法は、検査装置毎に、或いは最低でも記憶媒体とスピンドル機構の部分を収めるだけの大きさの恒温槽が必要になる。また、セラミックヒータを用いる方法の場合、磁気ヘッドと記憶媒体を避けて電磁石とヒータ、及びその制御部品を配置する必要があり、最近の磁気ヘッドや記憶媒体のサイズの小型化・高密度化を考慮すると、それらの検査用部品も小型化することが望ましい。
【０００７】
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって、装置を小型化することができる温度磁界印加方法及び装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）請求項１記載の発明は、電磁石により交流磁界を発生させて磁性体のプレートに渦電流を発生させ、該渦電流の発生により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置し、磁気ヘッドを所定の温度に維持するようにしたことを特徴とする。
（２）請求項２記載の発明は、交流磁界を発生する電磁石と、その上に磁気ヘッドが載置される磁性体のプレートと、前記磁気ヘッドの温度を検出する温度センサと、該温度センサの出力を受けて、該温度が所定の温度になるように、前記電磁石を駆動制御する制御手段と、により構成されることを特徴とする。
（３）請求項３記載の発明は、前記磁気ヘッドが所定の温度になったら、前記制御手段は交流磁界から直流磁界に切り替えて磁気ヘッドの特性を測定するようにしたことを特徴とする。
（４）請求項４記載の発明は、前記磁性体のプレートに交流磁界と直流磁界の合成磁界を加え、両者をそれぞれ独立に制御できるようにしたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
（１）請求項１記載の発明によれば、渦電流により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置する構成としたので、場所をとることもなく、装置を小型化することができる。
（２）請求項２記載の発明によれば、渦電流により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置する構成としたので、場所をとることもなく、装置を小型化することができる。
（３）請求項３記載の発明によれば、磁気ヘッドが所定温度になったら、直流磁界を用いて磁気ヘッドの特性を測定することができる。
（４）請求項４記載の発明によれば、磁性体プレートに交流磁界と直流磁界の合成磁界を加え、かつそれぞれの磁界を独立に制御できるようにしているので、磁気ヘッドのそれぞれの磁界における特性を試験することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。
図１は本発明による温度磁界印加方法を示す図である。図５と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、１は磁気ヘッド、２は電磁石、５は電磁石２のヨークの間に配置された渦電流発生プレート（以下プレートと略す）である。該プレート５は磁性材料でできている必要がある。磁気ヘッド１は、プレート５の上に載置されている。
【００１１】
このように構成すると、外部磁界印加用の電磁石２に交流電流を流すことにより、交流磁界を発生させることができる。その結果、プレート５には渦電流が流れる。図２は渦電流発生の様子を示す図である。プレート５には、図に示すような渦電流が発生し、プレート５は急速に発熱する。この結果、該プレート５に接触している磁気ヘッド１の温度も急速に上昇する。
【００１２】
このように、本発明によれば、渦電流により加熱されたプレートの上に磁気ヘッドを載置する構成としたので、場所をとることもなく、装置を小型化することができる。
図３は本発明装置の構成例を示す図である。図１と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、１は磁気ヘッド、５は該磁気ヘッド１がその上に載置されるプレートである。１０は磁気ヘッド１から取り出される信号線である。該信号線１０を介して磁気ヘッド１に信号を印可したり、磁気ヘッド１のインピーダンスを測定したりすることができる。
【００１３】
２は磁界を与える電磁石、１２は該電磁石２を駆動する電磁石駆動部、１１はプレート５の温度を検出する温度センサである。該温度センサ１１としては、例えば熱電対やサーミスタ等が用いられる。１３は温度センサ１１の出力を受けて、プレート５の温度が一定となるように電磁石２を駆動する制御部、１４は該制御部１３と接続され、各種のコマンドを入力する操作部である。制御部１３としては例えばマイクロコンピュータが用いられ、操作部１４としては、例えばキーボードやマウス等が用いられる。このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の通りである。
【００１４】
先ず、操作部１４から所定の温度を設定する。制御部１３は、この設定温度を受けると、プレート５の温度が設定温度となるような制御信号を電磁石駆動部１２に与える。電磁石駆動部１２は、図４に示すような構成をしており、可変交流電源２０と可変直流電源２１の直列回路から構成されている。電磁石駆動部１２は、初期状態では、可変直流電源２１の出力は０であり、可変交流電源２０が制御部１３からの制御信号により制御される。
【００１５】
例えば、プレート５の設定温度を８０℃に設定した場合、制御部１３はプレート５の温度が８０℃になるように、電磁石駆動部１２を制御する。交流電源２０の出力は、制御部１３からの制御信号に応じてその値が変化する。このようにして、プレート５の温度は８０℃に設定されることになる。この結果、プレート５に載置されている磁気ヘッド１も８０℃になる。
【００１６】
このようにして、磁気ヘッド１の温度が設定温度になったら、オペレータは操作部１４から制御部１３に制御信号を送る。この結果、交流電源２０の出力は０になり、直流電源２１の出力が所定の値になる。磁界は直流磁界になる。この状態で、信号線１０を用いて、磁気ヘッド１のインピーダンスの測定等を行なう。このようにして、磁気ヘッドが所定温度になったら、直流磁界を用いて磁気ヘッドの特性を測定することができる。
【００１７】
なお、本発明によれば、電磁石駆動部１２の交流電源２０と直流電源２１による合成磁界を加え、かつそれぞれの磁界を独立に制御できるようにすることができる。このようにすれば、磁気ヘッド１のそれぞれの磁界における特性を試験することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明による温度磁界印可方法を示す図である。
【図２】渦電流発生の様子を示す図である。
【図３】本発明装置の構成例を示す図である。
【図４】電磁石駆動部の構成例を示す図である。
【図５】従来の温度磁界印可方法を示す図である。
【符号の説明】
【００１９】
１    磁気ヘッド
２    電磁石
５    プレート
１０  信号線
１１  温度センサ
１２  電磁石駆動部
１３  制御部
１４  操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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