(57)【要約】【課題】半導体装置の規格が確定する前であっても、半導体装置を利用した機器等の設計、開発を進める上で規格の評価や確定作業が容易な半導体装置を提供する。【解決手段】電圧検出装置１０は、入力端子ＩＮ１及び入力端子ＩＮ１から入力される入力信号を処理して次段の比較器ＣＯＭＰ１に出力する分圧回路２０を備えた半導体装置において、入力端子ＩＮ１と比較器ＣＯＭＰ１とを接続する信号径路であって、入力信号を分圧回路２０による処理を介さず比較器ＣＯＭＰ１に供給する信号経路Ｌ１と、入力端子ＩＮ１と比較器ＣＯＭＰ１とを接続する信号経路であって、入力信号を分圧回路２０により処理した上で比較器ＣＯＭＰ１に供給する信号経路Ｌ２と、信号経路Ｌ１もしくはＬ２のいずれか一方の信号経路を選択するヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３とを有して構成されている。【選択図】図１
2007311459.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力端子及び前記入力端子から入力される入力信号を処理して次段回路に出力する信号処理部を備えた半導体装置において、
前記入力端子と前記次段回路とを接続する信号径路であって、前記入力信号を前記信号処理部による処理を介さず前記次段回路に供給する第１経路と、
前記入力端子と前記次段回路とを接続する信号経路であって、前記入力信号を前記信号処理部により処理した上で前記次段回路に供給する第２経路と、
前記第１経路もしくは前記第２経路のいずれか一方の信号経路を選択する経路選択部と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
前記信号処理部は、前記入力信号に対する処理値が調整可能なトリミング回路を備えることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置。
【請求項３】
前記信号処理部は分圧回路であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の半導体装置。
【請求項４】
前記経路選択部は、前記第１及び第２経路の各々の信号経路上に備えられ、前記第１及び第２経路のそれぞれの開閉状態を設定可能なスイッチ回路であることを特徴とする請求項１ないし請求項３の少なくともいずれか１項に記載の半導体装置。
【請求項５】
前記スイッチ回路は、
前記第１経路の信号経路上に備えられ、前記第１経路の開閉状態を設定する第１スイッチ素子と、
前記第２経路の信号経路上であって、前記入力端子と前記信号処理部との接続の開閉状態を設定する第２スイッチ素子と、前記信号処理部と前記次段回路との接続の開閉状態を設定する第３スイッチ素子とを備えることを特徴とする請求項４に記載の半導体装置。
【請求項６】
前記第１ないし第３スイッチ素子はヒューズ素子であることを特徴とする請求項５に記載の半導体装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は半導体装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、図６に図示するように、入力端子ＩＮに印加される電圧Ｖ５０を検出する半導体装置５０が知られている。半導体装置５０においては、比較器ＣＯＭＰ５１の非反転入力端子に、抵抗Ｒ５１及び抵抗Ｒ５２によって電圧Ｖ５０が分圧された電圧ＶＤＩＶが入力されると共に、比較器ＣＯＭＰ５１の反転入力端子に基準電圧ＶＲＥＦが入力される。半導体装置５０においては、比較器ＣＯＭＰ５１は、電圧ＶＤＩＶが基準電圧ＶＲＥＦよりも高いときに出力端子ＯＵＴからハイレベルの信号が出力され、電圧ＶＤＩＶが基準電圧ＶＲＥＦよりも低いときに出力端子ＯＵＴからローレベルの信号が出力される。基準電圧ＶＲＥＦに対する電圧ＶＤＩＶの電圧値の高低を検出することにより、入力端子ＩＮに入力される電圧Ｖ５０の電圧値が検出される。
【０００３】
この種の半導体装置においては、製造プロセスのばらつきによって生じる抵抗Ｒ５１、Ｒ５２の抵抗値のばらつきの影響を取り除くため、抵抗Ｒ５１、Ｒ５２の抵抗値を調整することが行われている（特許文献１参照。）。
【０００４】
図７に図示するように、前記抵抗Ｒ５１は、抵抗素子Ｒ５１Ａ、Ｒ５１Ｂ、Ｒ５１Ｃが直列に接続されていると共に、抵抗素子Ｒ５１Ｂ及び抵抗素子Ｒ５１Ｃにそれぞれヒューズ素子Ｆ５１及びヒューズ素子Ｆ５２が並列に接続されて構成されている。また、抵抗Ｒ５２は、図示するように、抵抗素子Ｒ５２Ａ、Ｒ５２Ｂ、Ｒ５２Ｃが直列に接続されていると共に、抵抗素子Ｒ５２Ａ及び抵抗素子Ｒ５２Ｂにそれぞれヒューズ素子Ｆ５３及びヒューズ素子Ｆ５４が並列に接続されて構成されている。そこで、図６に図示する半導体装置５０においては、ヒューズ素子を溶断して抵抗Ｒ５１、Ｒ５２の抵抗値を調整し、製造プロセスのばらつきによる抵抗Ｒ５１、Ｒ５２の抵抗値のばらつきの影響を取り除くことができる。
【特許文献１】特開２００３−３７１７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記の半導体装置においては、最適な抵抗値を有する抵抗等を内蔵させるために、あらかじめ抵抗値等を含めた半導体装置の規格を確定させなければならない。しかしながら半導体装置が組み込まれるシステム機器等によってはシステム機器全体の開発が進むまでは半導体装置の規格が確定できない場合がある。また、当初は規格が流動的であり実際に半導体装置を使用して評価を進めていく中で確定される場合も考えられる。こうした状況においては、規格が未確定な状態にも関わらず半導体装置を提供しなければならない場合がある。半導体装置が提供されなければ、半導体装置を組み込んだシステム機器等の開発が進められず、また規格の確定作業も進められないからである。
【０００６】
そこで、暫定的な規格に設定された半導体装置を提供することとなるが、この場合、機器での規格の調整や規格の修正等に対応するため、また規格の確定作業に資するために、互いに異なる規格を有する複数種類の半導体装置を提供しなければならない場合も考えられる。この場合には、複数種類の半導体装置を製造しなければならず、設計、製造、生産や納品の管理等が煩雑であり、コストの増大も懸念され、問題である。
【０００７】
この発明は、上記背景技術の状況に鑑み提案されたものであって、半導体装置の規格が確定する前であっても、半導体装置を利用した機器等の設計、開発を進める上で規格の評価や確定作業が容易な半導体装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１の発明に係る半導体装置は、入力端子及び前記入力端子から入力される入力信号を処理して次段回路に出力する信号処理部を備えた半導体装置において、前記入力端子と前記次段回路とを接続する信号径路であって、前記入力信号を前記信号処理部による処理を介さず前記次段回路に供給する第１経路と、前記入力端子と前記次段回路とを接続する信号経路であって、前記入力信号を前記信号処理部により処理した上で前記次段回路に供給する第２経路と、前記第１経路もしくは前記第２経路のいずれか一方の信号経路を選択する経路選択部と、を有することを特徴とする。
【０００９】
請求項１の発明に係る半導体装置によれば、入力端子から次段回路への信号経路として、第１経路と第２経路とを備え、更に第１経路もしくは第２経路のいずれかの経路を選択する経路選択部を備えるから、信号処理部の規格が確定される前には、経路選択部によって第１経路が選択され、前記信号処理部の規格が確定された後には、経路選択部によって第２経路が選択される。一種類の半導体装置によって、入力端子から次段回路に至る２つの信号経路のいずれかを選択することができる。本発明の半導体装置においては、信号処理部の規格が確定される前は、信号処理部の規格を確定させるために、信号処理部により処理された場合に得られる信号を入力信号として、入力端子から第１経路を介して次段回路に直接に与えることができる。規格が未確定な信号処理部を含んだ半導体装置に対して、外部より信号を供給して規格の確定を進めることができる。
【００１０】
さらに、請求項１の発明に係る半導体装置によれば、経路選択部によって、第１経路もしくは第２経路のいずれかに切り替えることができるから、同じ半導体装置を使用して、信号処理部の規格が未確定の場合には、第１経路を選択して、外部より信号処理部による処理が施された信号を入力信号として次段回路に与えて、半導体装置の動作を確認することができる。信号処理部の規格が確定した後は、第２経路を選択して、入力端子から入力される入力信号が信号処理部により処理されて次段回路に供給することができる。信号処理部の規格の確定前後で、信号処理部の規格が異なる半導体装置を別個に提供する必要がなく、互いに規格の異なる複数の半導体装置を提供する場合の、設計、製造、管理等の煩雑さを抑制することができる。
【００１１】
請求項２の発明は、請求項１に記載の半導体装置において、前記信号処理部は、前記入力信号に対する処理値が調整可能なトリミング回路を備えることを特徴とする。
【００１２】
請求項２の発明によれば、信号処理部が備えるトリミング回路により、信号処理部の処理結果が調整可能に構成されているから、信号処理部の規格が確定された後は、トリミング回路によって信号処理部を確定された規格に調整した上で、第２経路を選択してやれば、規格に合致した信号処理部の処理結果を次段回路に供給することができる。
【００１３】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の半導体装置において、信号処理部は分圧回路であることを特徴とする。
【００１４】
請求項３の発明によれば、信号処理部は分圧回路であるから、信号処理部が備えるトリミング回路によって分圧比を調整し、分圧回路の出力電圧値を規格値に調整することができる。
【００１５】
請求項４の発明は、請求項１ないし請求項３の少なくともいずれか１項に記載の半導体装置において、経路選択部は、第１及び第２経路の各々の信号経路上に備えられ、第１及び第２経路のそれぞれの開閉状態を設定可能なスイッチ回路であることを特徴とする。
【００１６】
請求項４の発明によれば、経路選択部は、第１経路及び第２経路のそれぞれの開閉状態を設定可能なスイッチ回路である。第１及び第２経路のそれぞれを、遮断すなわち開状態もしくは導通すなわち閉状態に選択できるから、第１経路もしくは第２経路にそれぞれ接続されたスイッチ回路を開閉いずれかの状態に設定することにより、第１及び第２経路の遮断と導通とを選択することができ、第１もしくは第２経路のいずれかに切り替えることができる。
【００１７】
請求項５の発明は、請求項４に記載の半導体装置において、スイッチ回路は、第１経路の信号経路上に備えられ、第１経路の開閉状態を設定する第１スイッチ素子と、第２経路の信号経路上であって、入力端子と信号処理部との接続の開閉状態を設定する第２スイッチ素子と、信号処理部と次段回路との接続の開閉状態を設定する第３スイッチ素子とを備えることを特徴とする。
【００１８】
請求項５の発明によれば、スイッチ回路は、第１経路の開閉状態を設定する第１スイッチ素子と、第２経路の信号経路上であって、入力端子と信号処理部との間、及び信号処理部と次段回路との間に備えられ、第２経路の開閉状態を設定する第２及び第３スイッチ素子を備えるから、第１スイッチ素子の開閉により第１経路の開閉状態が設定でき、第２及び第３スイッチ素子の開閉により第２経路の開閉状態が設定できる。したがって、第１及び第２経路の選択を各々別個のスイッチ素子により行なうことができる。
【００１９】
また、第２経路については、第２及び第３スイッチ素子を備えているので、第２及び第３スイッチ素子を共に開状態とすることにより、信号処理部への入力経路及び出力経路を共に遮断することができ、入力端子から次段回路に至る第１経路から信号処理部を確実に切り離すことができる。
【００２０】
請求項６の発明は、請求項５に記載の半導体装置において、第１ないし第３スイッチ素子はヒューズ素子であることを特徴とする。
【００２１】
請求項６の発明によれば、第１ないし第３スイッチ素子はヒューズ素子であるから、ヒューズ素子を溶断させることにより、経路を遮断すると共に、ヒューズ素子を溶断しなければ経路を導通させることができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明に係る半導体装置によれば、入力端子と次段回路とを接続する信号経路として、第１経路及び第２経路を備え、更に入力信号が伝搬する経路を第１経路もしくは第２経路のいずれかに選択する経路選択部を備えるから、信号処理部の規格を確定させる前には経路選択部によって第１経路を選択し、信号処理部の規格を確定させた後には経路選択部によって第２経路を選択することができる。一種類の半導体装置において、入力端子から次段回路に至る信号経路を、入力信号を信号処理部で処理しないで次段回路に供給する第１経路と、入力信号を信号処理部により処理して次段回路に供給する第２経路とを、選択することができる。信号処理部の規格を確定させる前は第１経路を選択して、信号処理部による処理結果を入力信号として外部より供給することができる。
さらに、本発明の半導体装置によれば、経路選択部によって、信号処理部による処理の有無を、第１経路もしくは第２経路の選択により切り替えることができるから、信号処理部の規格確定用として、信号処理部において個々に異なる規格を有する半導体装置を多数準備する必要はない。信号処理部の規格確定の前後のいずれにも一種類の半導体装置を提供すればよい。半導体装置の設計、製造、管理を簡略化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明の実施形態を、図１ないし図４を参照しつつ説明する。本実施形態では、本発明の半導体装置として電圧検出装置を構成する場合を例に挙げて説明する。図１は、電圧検出装置１０の回路構成図である。電圧検出装置１０は、入力端子ＩＮ１と出力端子ＯＵＴ１との間に、ヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３と、抵抗Ｒ１、Ｒ２と、比較器ＣＯＭＰ１と、基準電源Ｓ１とを備えて構成されている。
【００２４】
入力端子ＩＮ１には、ヒューズ素子Ｆ１の一端が接続されている。ヒューズ素子Ｆ１の他端は、比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に接続されている。入力端子ＩＮ１からヒューズ素子Ｆ１を介して比較器ＣＯＭＰ１に至る信号経路Ｌ１が構成されている。比較器ＣＯＭＰ１の反転入力端子は、基準電源Ｓ１に接続され、基準電圧Ｖ１が印加されている。比較器ＣＯＭＰ１の出力端子Ｎ１は、電圧検出装置１０の出力端子ＯＵＴ１に接続されている。
【００２５】
入力端子ＩＮ１には、更にヒューズ素子Ｆ２の一端が接続されている。ヒューズ素子Ｆ２の他端は、抵抗Ｒ１の一端に接続され、抵抗Ｒ１の他端は抵抗Ｒ２を介してグランドに接続されている。抵抗Ｒ１、Ｒ２で、抵抗Ｒ１の一端を入力、抵抗Ｒ１、Ｒ２の接続点を出力とする分圧回路２０が構成されている。
【００２６】
分圧回路２０の出力は、ヒューズ素子Ｆ３の一端に接続されている。ヒューズ素子Ｆ３の他端は、比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に接続されている。信号経路Ｌ１に加えて、入力端子ＩＮ１からヒューズ素子Ｆ２、分圧回路２０、ヒューズ素子Ｆ３を介して比較器ＣＯＭＰ１に至る信号経路Ｌ２が構成されている。
【００２７】
抵抗Ｒ１は、例えば図２に図示するように、抵抗素子Ｒ１Ａ、Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃが直列に接続されていると共に、抵抗素子Ｒ１Ｂ及び抵抗素子Ｒ１Ｃにそれぞれヒューズ素子Ｆ５及びヒューズ素子Ｆ６が並列に接続されて構成されている。同様に、抵抗Ｒ２は、抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂ、Ｒ２Ｃが直列に接続されていると共に、抵抗素子Ｒ２Ａ及び抵抗素子Ｒ２Ｂにそれぞれヒューズ素子Ｆ７及びヒューズ素子Ｆ８が並列に接続されて構成されている。本実施形態では、抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃに並列接続されているヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６、また抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂに並列接続されているヒューズ素子Ｆ７、Ｆ８が、それぞれトリミング回路を構成する。抵抗Ｒ１は、ヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６を必要に応じて溶断することにより、抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃのヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６による短絡状態を変更して抵抗値を調整することができる。抵抗Ｒ２は、抵抗Ｒ１と同様に、抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂのヒューズ素子Ｆ７、Ｆ８による短絡状態を変更して抵抗値を調整することができる。
【００２８】
分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比を確定するために、電圧検出装置１０を、以下に説明するように調整する。
【００２９】
分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比が確定される前の段階では、電圧検出装置１０において、ヒューズ素子Ｆ１を除くヒューズ素子Ｆ２及びヒューズ素子Ｆ３を溶断する。これにより、図３から理解できるように、信号経路Ｌ２が遮断され、信号経路Ｌ１が導通する状態が選択される。入力端子ＩＮ１から比較器ＣＯＭＰ１に至る信号経路として信号経路Ｌ１が選択された電圧検出装置１０の入力端子ＩＮ１には、検出電圧Ｖ３を分圧する、直列接続された抵抗Ｒ３、Ｒ４の接続点が接続される。ここで、抵抗Ｒ４の一端はグランドに接続されており、抵抗Ｒ３の一端に検出電圧Ｖ３が入力される。抵抗Ｒ３、Ｒ４の他端同士が接続されて接続点を構成している。直列接続された抵抗Ｒ３、Ｒ４は、検出電圧Ｖ３を分圧して出力する分圧回路を構成している。抵抗Ｒ３、Ｒ４で構成される分圧回路は、電圧検出装置１０に外付けされるものであり、電圧検出装置１０に内蔵されている分圧回路２０を代替する分圧回路である。
【００３０】
すなわち、分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比が確定されていない段階においては、内蔵の分圧回路２０に代えて、抵抗Ｒ３、Ｒ４として外付けされる分圧回路を備えて、検出電圧Ｖ３を分圧した上で入力端子ＩＮ１に入力する。入力された分圧電圧Ｖ２は信号経路Ｌ１を介して比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に供給される。
【００３１】
比較器ＣＯＭＰ１の反転入力端子には、基準電源Ｓ１によって基準電圧Ｖ１が印加されている。比較器ＣＯＭＰ１では、分圧電圧Ｖ２と基準電圧Ｖ１との間で電圧値が比較され、基準電圧Ｖ１に対する分圧電圧Ｖ２の電圧レベルの高低が検出されることにより、検出電圧Ｖ３の電圧レベルが検出される。この段階では、検出電圧Ｖ３の分圧比は外付けの抵抗Ｒ３、Ｒ４により設定されるので、抵抗Ｒ３、Ｒ４の分圧比は自在に調整することができる。抵抗Ｒ３、Ｒ４の分圧比の調整により、比較器ＣＯＭＰ１の比較結果が反転する検出電圧Ｖ３の電圧値を調整することができる。電圧検出装置１０が検出電圧Ｖ３に対して所望の出力動作を行なうように調整することができる。
【００３２】
以上のように調整された抵抗Ｒ３、Ｒ４の分圧比が、電圧検出装置１０に内蔵されている分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２に設定すべき分圧比である。抵抗Ｒ１、Ｒ２は抵抗値を調整できるので、確定された分圧比を満足するように、抵抗Ｒ１、Ｒ２の抵抗値を調整することができる。これにより、分圧回路２０の分圧比を確定することができる。例えば、図２の構成において、ヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６のうち溶断するヒューズ素子を選択して抵抗Ｒ１の抵抗値を設定する。同様に、ヒューズ素子Ｆ７、Ｆ８のうち溶断するヒューズ素子を選択して抵抗Ｒ２の抵抗値を設定する。抵抗Ｒ１、Ｒ２の各々の抵抗値を適宜に選択することにより、抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比を、外付けの抵抗Ｒ３、Ｒ４により設定した分圧比に設定することができる。これにより、分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比が設定されるため、検出電圧Ｖ３に対して所望の出力動作を行なうことが可能な電圧検出装置１０を得ることができる。
【００３３】
分圧回路２０の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比が確定された段階では、電圧検出装置１０において、ヒューズ素子Ｆ２、Ｆ３を除くヒューズ素子Ｆ１を溶断する。これにより、図４から理解できるように、信号経路Ｌ１が遮断され、信号経路Ｌ２が導通する状態が選択される。
【００３４】
検出電圧Ｖ３を入力端子ＩＮ１に印加すると、検出電圧Ｖ３は、信号経路Ｌ２を介して分圧回路２０で分圧され、分圧電圧Ｖ４が比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に印加される。ここで、抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比は外付けの抵抗Ｒ３、Ｒ４の分圧比と同じ比に設定されているので、分圧回路２０から出力される分圧電圧Ｖ４は、抵抗Ｒ１、Ｒ２により分圧された分圧電圧Ｖ２（図３）と同じ電圧値である。これにより、内蔵の抵抗Ｒ１、Ｒ２の分圧比が確定され分圧回路２０が確定される。入力端子ＩＮ１に検出電圧Ｖ３を入力すれば、出力端子ＯＵＴ１に所望の検出結果が出力される。
【００３５】
ここで、検出信号Ｖ３を抵抗Ｒ３、Ｒ４で分圧した分圧電圧Ｖ２が、信号経路Ｌ１が選択されている場合の本発明の入力信号に相当し、検出電圧Ｖ３が、信号径路Ｌ２が選択されている場合の本発明の入力信号に相当する。
【００３６】
また、比較器ＣＯＭＰ１は、本発明の次段回路に相当する。抵抗Ｒ１及び抵抗Ｒ２で構成される分圧回路２０は、本発明の信号処理部に相当し、本発明の分圧回路に相当する。また、分圧回路２０において、抵抗Ｒ１に備えられる抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃに並列接続されているヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６、及び抵抗Ｒ２に備えられる抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂに並列接続されているヒューズ素子Ｆ７、Ｆ８は、それぞれトリミング回路に相当する。
【００３７】
また、信号経路Ｌ１は、本発明の第１経路に相当し、信号経路Ｌ２は、本発明の第２経路に相当する。
【００３８】
また、ヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３は、本発明の経路選択部に相当し、本発明のスイッチ回路に相当する。更に、ヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３は、各々、本発明の第１〜第３スイッチ素子に相当する。
【００３９】
以上、詳細に説明したように、本実施形態の電圧検出装置１０によれば、分圧回路２０での分圧比を確定する前の段階では、ヒューズ素子Ｆ１を残してヒューズ素子Ｆ２、Ｆ３を溶断することにより、入力端子ＩＮ１と比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子とを直結する信号経路Ｌ１を選択することができる。外部に分圧回路を備えて分圧電圧Ｖ２を入力端子ＩＮ１に供給して電圧検出装置１０を動作させることができる。外付けの分圧回路の分圧比を調整して分圧回路２０に設定すべき分圧比を確定することができる。
【００４０】
分圧回路２０の分圧比が確定された段階では、抵抗Ｒ１、Ｒ２のヒューズ素子Ｆ５〜Ｆ８を備えたトリミング回路により分圧回路２０の分圧比を、所望の分圧比に調整することができる。その上で、ヒューズ素子Ｆ２、Ｆ３を残してヒューズ素子Ｆ１を溶断した電圧検出装置１０を提供すれば、入力端子ＩＮ１から分圧回路２０を介して比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に至る信号経路Ｌ２が選択され、分圧回路２０において所望の分圧比で分圧された分圧電圧Ｖ４が、比較器ＣＯＭＰ１に供給される。
【００４１】
一種類の電圧検出装置１０によって、入力端子ＩＮ１から比較器ＣＯＭＰ１に至る２つの信号経路Ｌ１、Ｌ２のいずれか一方の信号経路を選択することができる。分圧回路２０の分圧比が未確定の場合にも、入力端子ＩＮ１と比較器ＣＯＭＰ１とを接続する信号経路Ｌ１を選択して、外付けの分圧回路による分圧電圧Ｖ２を直接比較器ＣＯＭＰ１に供給することができる。分圧比が未確定な場合でも電圧検出装置１０を機器等に組み込んで分圧比の調整を進めることができる。
【００４２】
電圧検出装置１０では、ヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３によって、信号経路Ｌ１もしくは信号経路Ｌ２のいずれかの経路を選択することができるから、溶断するヒューズ素子を選択して、使用する信号経路を、信号経路Ｌ１もしくは信号経路Ｌ２のいずれかに切り替えることができる。これにより、分圧比を確定するための評価用として分圧比の異なる複数の電圧検出装置を提供する必要はなく、一種類の電圧検出装置１０で対応することができる。電圧検出装置の設計、製造、管理等の煩雑さを低減することができる。
【００４３】
尚、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において構成の一部を適宜変更して実施することができる。
【００４４】
例えば、実施形態の電圧検出装置１０は、ヒューズ素子Ｆ１〜Ｆ３に代えて、ツェナーダイオードを用いるものであってもよい。ツェナーダイオードを用いた電圧検出装置によれば、ツェナーダイオードに逆バイアス電圧が印加され短絡されたときは、短絡されたツェナーダイオードに接続された信号経路を導通させることができる。ツェナーダイオードに逆バイアス電圧が印加されないときは、ツェナーダイオードが開放状態に維持され信号経路を遮断することができる。
【００４５】
また、電圧検出装置１０においては、信号経路Ｌ２の開閉状態を設定するために２つのヒューズ素子Ｆ１、Ｆ２を備える場合を例に説明したが、ヒューズ素子Ｆ２もしくはＦ３のいずれか一方を備えていれば、信号経路Ｌ２の開閉状態の設定は可能である。ヒューズ素子Ｆ１、Ｆ２を備えていれば、ヒューズ素子Ｆ１が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ２が溶断されないことにより、信号経路Ｌ１が遮断され信号経路Ｌ２が選択される。ヒューズ素子Ｆ２が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ１が溶断されないことにより、信号経路Ｌ２が遮断され信号経路Ｌ１が選択される。また、ヒューズ素子Ｆ１、Ｆ３を備えていれば、ヒューズ素子Ｆ１が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ３が溶断されないことにより、信号経路Ｌ１が遮断され信号経路Ｌ２が選択される。ヒューズ素子Ｆ３が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ１が溶断されないことにより、信号経路Ｌ２が遮断され信号経路Ｌ１が選択される。
【００４６】
また、図５に図示する電圧検出装置１０Ａの構成を備えるものであってもよい。すなわち、ヒューズ素子Ｆ１を介して入力端子ＩＮ１と比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子との間を接続する信号経路Ｌ１を設定すると共に、ヒューズ素子Ｆ４を、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との接続点と抵抗Ｒ２の一端との間に接続して分圧回路２０Ａを構成する。
【００４７】
ヒューズ素子Ｆ１が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ４が溶断されないことにより、信号経路Ｌ１が遮断され信号経路Ｌ２が選択される。
【００４８】
ヒューズ素子Ｆ４が溶断されると共にヒューズ素子Ｆ１が溶断されないことにより、信号経路Ｌ１が選択される。この場合、入力端子ＩＮ１から分圧回路２０Ａの抵抗Ｒ１を介して比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に至る信号経路Ｌ２は設定された状態に維持されるものの、ヒューズ素子Ｆ４が溶断されることにより、分圧回路２０Ａは開状態とされる。更に、信号経路Ｌ１により抵抗Ｒ１の両端が短絡され入力端子ＩＮ１に接続される。これにより、信号経路Ｌ１、Ｌ２のいずれの経路を介しても、比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子には、入力端子ＩＮ１から供給される入力信号が供給される。
【００４９】
また、電圧検出装置１０Ａにおけるヒューズ素子Ｆ４を抵抗Ｒ２とグランドとの間に接続して構成されるものであってもよい。さらに、電圧検出装置１０Ａにおけるヒューズ素子Ｆ４を備えずヒューズ素子Ｆ１のみを備えて構成されるものであってもよい。ヒューズ素子Ｆ１が溶断されることにより、抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成される分圧回路を介する信号経路Ｌ２が選択され、ヒューズ素子Ｆ１が溶断されないことより、信号経路Ｌ１が選択される。この場合、分圧回路が入力端子ＩＮ１に接続された状態に維持されるが、信号経路Ｌ１により、分圧回路の入出力端すなわち抵抗Ｒ１の両端が短絡されるので、抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成される分圧回路では分圧動作は行なわれない。比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子は、信号経路Ｌ１により入力端子ＩＮ１に接続されて、入力信号が供給される。さらに、電圧検出装置１０Ａにおけるヒューズ素子Ｆ１を備えず、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との接続点と抵抗Ｒ１との間にヒューズ素子Ｆ４のみを備えて構成されるものであってもよい。ヒューズ素子Ｆ４が溶断されないときは、抵抗Ｒ１及び抵抗Ｒ２を用いて分圧された電圧が供給されると共に、ヒューズ素子Ｆ４が溶断されるときは、入力端子ＩＮ１に入力される入力信号を、比較器ＣＯＭＰ１の非反転入力端子に供給することができる。
【００５０】
また、図２においては、分圧回路２０を構成する抵抗Ｒ１、Ｒ２のそれぞれに、抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ１Ｂ、Ｒ１Ｃに並列接続されているヒューズ素子Ｆ５、Ｆ６、抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂ及びそれぞれの抵抗素子Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂに並列接続されているヒューズ素子Ｆ７、Ｆ８を備えて、抵抗値が調整可能である構成を示したが、本願はこれに限定されるものではない。抵抗Ｒ１、Ｒ２の何れか一方が、抵抗値の調整が可能とされる構成であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の実施形態に係る電圧検出装置の回路構成図である。
【図２】同電圧検出装置が備える抵抗の概略構成図である。
【図３】同電圧検出装置の分圧比を確定させる前の使用例を示す回路構成図である。
【図４】同電圧検出装置の分圧比を確定させた後の使用例を示す回路構成図である。
【図５】他の実施形態に係る電圧検出装置の回路構成図である。
【図６】従来の電圧検出回路の回路構成図である。
【図７】従来の電圧検出回路が備える抵抗の概略構成図である。
【符号の説明】
【００５２】
１０、１０Ａ                    電圧検出装置
２０、２０Ａ                    分圧回路
ＣＯＭＰ１                      比較器
Ｆ１〜Ｆ８                      ヒューズ素子
ＩＮ１                          入力端子
Ｌ１、Ｌ２                      信号経路
ＯＵＴ１                    出力端子
Ｒ１、Ｒ２                      抵抗
Ｒ１Ａ〜Ｒ１Ｃ、Ｒ２Ａ〜Ｒ２Ｃ  抵抗素子
Ｖ１                        基準電圧
Ｖ２、Ｖ４                  分圧電圧
Ｖ３                        検出電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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