(57)【要約】【課題】  精度の高い利得特性Ｇ（ｆ）の測定方法、および相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の測定方法等を提供する。【解決手段】上述した課題は、被測定光を受光電流に変換して、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を分析する相対強度雑音測定装置の利得特性を測定する方法であって、光源から光を供給するステップと、前記光源の光を、異なる光増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光を生成するステップと、前記複数の増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の強度の周波数分布とを、前記相対強度雑音測定装置で測定するステップと、測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、前記利得特性を求めるステップと、を含む相対強度雑音測定装置の利得特性の測定方法等により解決することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定光を受光電流に変換して、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を測定する相対強度雑音測定装置の利得特性を測定する方法であって、
光源から光を供給するステップと、
前記光源の光を、異なる光増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光を生成するステップと、
前記複数の増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した受光電流の強度の周波数分布とを、前記相対強度雑音測定装置で測定するステップと、
測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、前記利得特性を求めるステップと、
を含む相対強度雑音測定装置の利得特性の測定方法。
【請求項２】
被測定光を受光電流に変換して、前記受光電流の電流量と、前記受光電流の強度の周波数分布と、装置の利得特性とから、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を測定する相対強度雑音測定装置の製造方法であって、前記製造方法が前記利得特性を設定する設定工程を含み、前記設定工程が、
光源から光を供給するステップと、
前記光源の光を、異なる光増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光を生成するステップと、
前記複数の増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の強度の周波数分布とを、前記相対強度雑音測定装置で測定するステップと、
測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、前記利得特性を求めるステップと、
前記相対強度雑音測定装置に前記利得特性を設定するステップと、
を含む相対強度雑音測定装置の製造方法。
【請求項３】
被測定光を受光電流に変換して、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を測定する相対強度雑音測定方法であって、
前記被測定光を、異なる複数の光増幅減衰率で増幅または減衰した増幅減衰光を生成するステップと、
前記増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の強度の周波数分布とを測定するステップと、
測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、利得特性を求めるステップと、
前記電流量、前記周波数分布、および前記利得特性から、前記相対強度雑音を求めるステップと、
を含む相対強度雑音測定方法。
【請求項４】
光増幅減衰器と、
前記光増幅減衰器の出射光を受光電流に変換する光電変換器と、
前記受光電流の強度の周波数分布を測定するスペクトラム・アナライザと、
前記受光電流の電流量を測定する電流計と、
前記増幅減衰器の増幅減衰率を変化させて、各々の増幅減衰率における、前記電流量と前記周波数分布とを測定し、前記測定の結果から前記相対強度雑音を求める制御装置と、
を備えた相対強度雑音測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光信号の相対強度雑音（ＲＩＮ）測定方法、装置および当該装置の利得特性測定方法に関し、特に被測定光の光強度を増幅または減衰した複数の増幅減衰光の測定結果から、被測定光のＲＩＮや装置の利得特性を求める測定方法等に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、データ通信の高速化・大容量化にともない、従来の電気通信に代わり光通信が利用されるようになってきた。光通信では、レーザなどの光源で発振された光を、情報信号で変調した後、ファイバなどの光導波路により伝送する。ところで、光源で発振された光は、ゆらぎなどの影響による強度雑音成分が存在する。この強度雑音の大きさが情報信号よりも大きいと、情報信号が雑音のなかに埋もれてしまって、正確な伝送ができない。このため、強度雑音は光源の品質を示す重要な特性のひとつとなっている。
【０００３】
強度雑音の大きさは、光強度に比例した大きさとなる。このため、強度雑音の周波数分布は、光強度で規格化した相対強度雑音（ＲＩＮ）で表すことが一般的である。ＲＩＮを測定する装置として、特許文献１に示すような相対強度雑音測定装置がある。図２に典型的な相対強度測定装置１０の概略構成図を示す。図２で、破線は光信号による情報伝達を、太線の実線はアナログの電気信号による情報伝達を、細線の実線はデジタルデータ信号による情報伝達や制御信号を示している。なお、以下の説明においては、ＲＩＮなどの周波数の関数で表される変数については、説明をわかりやすくするために、パラメータの後に関数である旨の表記（例えば、ＲＩＮ（ｆ））を適宜付加した。
【０００４】
相対強度測定装置１０は、被測定光源２１からの入射光の光強度を増幅または減衰する光強度増幅減衰器１１と、入射光を受光電流に変換する光電変換器１２と、入力された電気信号を終端抵抗で終端したときの強度の周波数分布を測定するスペクトラム・アナライザ１３と、入力された電気信号の電流量を測定する電流計１４と、測定装置１０の動作制御および数値処理を担う制御装置１５から構成されている。制御装置１５は、スペクトラム・アナライザ１３と電流計１４から受信した測定結果を数値処理してＲＩＮを算出する機能と、光強度増幅減衰器１１の増幅減衰率を制御する機能を有する。
【０００５】
相対強度雑音測定装置１０は、被測定光源２１からの入射光を光強度増幅減衰器１１で所定範囲の光強度に増幅または減衰した後、光電変換器１２で受光電流に変換する。変換された受光電流は、スペクトラム・アナライザ１３により情報信号の周波数領域で強度の周波数分布ＰＮ（ｆ）を、また電流計１４により電流量ＩＰが、それぞれ測定される。測定結果は制御装置１５に送信され、数値処理されてＲＩＮ（ｆ）が求められる。
【０００６】
ところで、光強度は電流量の二乗に比例するから、理想的な光電変換、周波数分布解析および電流量測定を行うことができれば、測定で得られ電流量ＩＰと周波数分布ＰＮ’（ｆ）との間には、式（１）のような関係が成り立つはずである。
【０００７】
【数１】
2007294659.tif 000003
（ただし、Ｒはスペクトラム・アナライザ１３の終端抵抗の抵抗値）
【０００８】
しかし、現実の測定系では様々なノイズが発生するため、式（１）のような関係は成立しない。例えば、熱雑音などの影響で入射光がなくとも流れる電流（暗電流）が存在する。暗電流の強度の周波数分布をＰＥ（ｆ）と表すと、暗電流によるノイズ成分を除いた強度の周波数分布は、ＰＮ（ｆ）−ＰＥ（ｆ）と表すことができる。
【０００９】
また、光電変換器では、降り注ぐ量子個数のゆらぎによりショットノイズが発生する。ショットノイズの強度Ｐｓは、電流量ＩＰに比例し、終端抵抗の抵抗値をＲ、単位電荷の電荷量をｑ（約１．６×１０−１９クーロン）と表すと、式（２）のように表すことができる。
【００１０】
【数２】
2007294659.tif 000004
【００１１】
さらに、現実の測定装置で利用される光電変換器の変換効率は、周波数に依存する。また、一般に光電変換された受光電流は微弱な信号であるため、信号強度を増幅してから測定を行う。このとき増幅回路の利得も、周波数に依存する。このような周波数に依存する変換効率や利得などの装置１０の利得特性をＧ（ｆ）と表すと、電流量ＩＰと周波数分布ＰＮ（ｆ）との間には、式（３）のような関係が成り立つ。
【００１２】
【数３】
2007294659.tif 000005
【００１３】
よって、現実の測定装置で求めた電流量ＩＰと周波数分布ＰＮ（ｆ）から、相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）を求めるためには、式（４）のような数値処理を行えばよい。
【００１４】
【数４】
2007294659.tif 000006
【００１５】
式（４）のパラメータのうち、暗電流の強度の周波数分布ＰＥ（ｆ）は、入射光をシャットアウトした状態で、スペクトラム・アナライザ１３に入力される電気信号を測定することにより求めることができる。他方、利得特性Ｇ（ｆ）は、光電変換器１２の周波数特性と測定系の増幅減衰率の積をとれば求めることができる。このうち、光電変換器１２の周波数特性は、既知の周波数（波長）の光を既知の光強度で光電変換器に照射して、受光電流の電流量を測定して求めることが一般的であった。
【００１６】
【特許文献１】特開平２−１８９４７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかし、光電変換器によって変換された受光電流にはオフセット成分が含まれる。このオフセット成分は光電変換器の印加電圧や温度などの使用環境により大きく変化する。このため、光電変換器は絶対的な量を求める測定には適さない。よって、単に入射光の光強度と光電変換器から出力された受光電流との関係から求められた利得特性Ｇ（ｆ）は精度が低いという問題があった。利得特性Ｇ（ｆ）の精度が低いと、電流量ＩＰと周波数分布ＰＮ（ｆ）を高精度で測定しても、高精度の相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）を求めることはできない。
このため、精度の高い利得特性Ｇ（ｆ）の測定方法、および相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の測定方法が求められていた。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上述した課題は、被測定光を受光電流に変換して、前記被測定光に含まれる相対強度雑音を測定する相対強度雑音測定装置の利得特性を測定する方法であって、光源から光を供給するステップと、前記光源の光を、異なる光増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光を生成するステップと、前記複数の増幅減衰光の各々について、前記増幅減衰光を変換した受光電流の電流量と、前記増幅減衰光を変換した前記受光電流の強度の周波数分布とを、前記相対強度雑音測定装置で測定するステップと、測定した複数の、前記電流量と前記周波数分布との組み合わせから、前記利得特性を求めるステップと、を含む相対強度雑音測定装置の利得特性の測定方法等により解決することができる。
【００１９】
すなわち、光源からの光の強度を複数段階の増幅減衰率で強度変換して得られた増幅減衰光を、利得特性Ｇ（ｆ）を測定する測定系でそれぞれ測定しする。得られた複数の測定結果の相対的な関係から装置自身の利得特性Ｇ（ｆ）や光源のＲＩＮ（ｆ）を求める。このため、光電変換器のオフセット成分などに起因する測定誤差を排除することができる。さらに、実際に利得特性Ｇ（ｆ）を測定する測定装置で得られた測定結果を利用してＧ（ｆ）やＲＩＮ（ｆ）を求めることから、装置固体間の特性の違い（機差）が測定値に及ぼす影響も低減することができ、精度の高い測定が可能となる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明により、精度の高い利得特性Ｇ（ｆ）の測定方法、および相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の測定方法等を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
図１に、本発明を利用して相対強度雑音測定装置１０の利得特性Ｇ（ｆ）を測定する測定系の概略構成図を示す。図１で、破線は光信号による情報伝達を、太線の実線はアナログの電気信号による情報伝達を、細線の実線はデジタルデータ信号による情報伝達や制御信号を示している。
【００２２】
装置１０は、入射光の光強度を減衰する光強度増幅減衰器１１と、光信号を受光電流に変換する光電変換器１２と、受光電流を終端抵抗で終端して、受光電流の強度の周波数分布を測定するスペクトラム・アナライザ１３と、受光電流の電流量を測定する電流計１４と、ＲＩＮ測定の動作制御、光強度増幅減衰器１１の増幅減衰率の制御、およびＲＩＮを求めるための数値処理を担う制御装置１５から構成されている。
【００２３】
装置１０では、光強度増幅減衰器１１としてシャッタを用いている。ただし、光強度増幅減衰器１１は、強度雑音測定周波数帯でフラットな周波数特性をもち、増幅または減衰（あるいはその両方）を行う機能を有するものであれば、シャッタに限られず、例えば、光学フィルタや光アンプなどのようなものであってもよい。また、本実施例では、光電変換器１２としてフォトダイオードを利用しているが、他の光電変換素子でもよい。光電変換器１２は、素子単体でもよいし、素子の出力信号を増幅する回路を備えたモジュールであってもよい。さらに、本実施例のスペクトラム・アナライザ１３では、終端抵抗の抵抗値Ｒは５０オームであるが、これに限られるものではなく、７５オームなど他の抵抗値に変更しても本発明の実施することが可能である。
【００２４】
制御装置１５は、スペクトラム・アナライザ１３と電流計１４から受信した測定結果と、予め設定された利得特性Ｇ（ｆ）から式（４）の数値処理してＲＩＮを算出する機能を有する。このため、装置１０の製造工程では、数値処理に必要な利得特性Ｇ（ｆ）を設定する工程が必要となる。かかる設定工程では、装置１０の外部に特性測定装置３０を接続して装置１０の利得特性Ｇ（ｆ）を測定する。特性測定装置３０は、光強度増幅減衰器１１と、スペクトラム・アナライザ１３と、電流計１４と、制御装置１５とに接続され、これらを制御するとともに、スペクトラム・アナライザ１３や電流計１４で得られた結果をもとに、装置１０の利得特性Ｇ（ｆ）を測定して、制御装置１５の設定する機能を有する。
【００２５】
次に、図３を参照しながら、利得特性Ｇ（ｆ）を測定および設定動作について、詳細に述べる。
はじめに、暗電流の強度の周波数分布ＰＥ（ｆ）を測定する（ステップ５０）。さらに具体的には、シャッタ１１を完全に閉じた状態（減衰率１００％）で、スペクトラム・アナライザ１３で入力信号の強度の周波数分布を求める。測定する周波数の範囲は、相対強度雑音測定装置１０の測定周波数領域と同じ１〜７ＧＨｚの６ＧＨｚの帯域とし、この帯域を１００ＭＨｚ毎に６１点の測定点で測定を行う。
【００２６】
次に、入射光となる測定用の光源２０から光を照射する（ステップ５１）。測定用光源２０は、強度雑音の大きさが、ショットノイズの大きさと同等のレベルとなるような、低ノイズの光源を利用している。
【００２７】
次に、シャッタ１１の増幅減衰率を設定する（ステップ５２）。本実施例では、−３ｄＢ、−５ｄＢ、−８ｄＢの３段階の減衰率で測定を行って、測定結果から利得特性Ｇ（ｆ）を求める。そこで、まず最初に減衰率を−３ｄＢに設定する。シャッタ１１からの出射光（増幅減衰光）は、フォトダイオード１２で受光電流に変換される。この受光電流の電流量ＩＰ３を電流計１４で、強度を周波数分布ＰＮ３（ｆ）をスペクトラム・アナライザ１３で、それぞれ測定する（ステップ５３）。周波数分布ＰＮ３（ｆ）の測定周波数範囲は、相対強度雑音測定装置１０の測定周波数領域と同じ１〜７ＧＨｚの６ＧＨｚの帯域とし、この帯域を１００ＭＨｚ毎に６１点の測定点で測定を行う。
【００２８】
次に、所定の増幅減衰率で測定が完了したか判定する（ステップ５４）。現段階では、まだ−３ｄＢの増幅減衰率の測定しか完了していない。そこで、ステップ５２に戻り、次の増幅減衰率として−５ｄＢに設定して（ステップ５２）、電流量ＩＰ５と周波数分布ＰＮ５（ｆ）の測定を行う（ステップ５３）。同様にして、増幅減衰率−８ｄＢのときの、電流量ＩＰ８と周波数分布ＰＮ８（ｆ）の測定を行う。
【００２９】
全ての増幅減衰率での測定が終了すると（ステップ５４）、測定した電流量ＩＰ３、ＩＰ５、ＩＰ８、および周波数分布ＰＮ３（ｆ）、ＰＮ５（ｆ）、ＰＮ８（ｆ）から、装置１０の利得特性Ｇ（ｆ）を求める（ステップ５５）。最後に、求めた利得特性Ｇ（ｆ）を制御装置１５に設定する（ステップ５６）。このようにして製造された装置１０は、精度の高い利得特性Ｇ（ｆ）が設定されているため、精度の高いＲＩＮ測定が可能となる。
【００３０】
次に、ステップ５６のＧ（ｆ）の算出方法について、さらに詳細に述べる。
電流量ＩＰ３と周波数分布ＰＮ３（ｆ）の組み合わせ、電流量ＩＰ５と周波数分布ＰＮ５（ｆ）の組み合わせ、および、電流量ＩＰ８と周波数分布ＰＮ８（ｆ）の組み合わせは、それぞれ同一光源を同一の測定系で測定した結果であるから、利得特性Ｇ（ｆ）と相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の値は同一となるはずである。すなわち、式（５−１）〜（５−３）が成り立つはずである。
【００３１】
【数５】
2007294659.tif 000007
【００３２】
ここで、未知の変数は相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）と利得特性Ｇ（ｆ）のみであるから、式（５−１）〜（５−３）のうち任意の２つの式からこれらの変数を特定することができる。例えば、式（５−１）と式（５−２）から、式（６）を計算することにより利得特性を求めることができる。このようにして求められた利得特性をＧ３５（ｆ）と表記する。受光電流の強度の周波数分布ＰＮ３（ｆ）、ＰＮ５（ｆ）と暗電流の周波数分布ＰＥ（ｆ）は、ともに１〜７ＧＨｚまでの６ＧＨｚ帯域について６１点の測定データからなる関数であるから、式（６）で得られる利得特性Ｇ３５（ｆ）も同様な帯域とデータ数もつ周波数の関数となる。
【００３３】
【数６】
2007294659.tif 000008
【００３４】
同様にして、式（５−２）と式（５−３）から利得特性Ｇ５８（ｆ）を、式（５−１）と式（５−３）利得特性をＧ３８（ｆ）を求める。前述したように、Ｇ３５（ｆ）、Ｇ５８（ｆ）、Ｇ３８（ｆ）は、同一光源を同一測定系で測定した測定結果から求めた値であるから、理想的には一致するはずである。ただし、現実には測定誤差の影響により完全には一致しない。そこで、Ｇ３５（ｆ）、Ｇ５８（ｆ）、Ｇ３８（ｆ）の平均をとって利得特性Ｇ（ｆ）を求める。
【００３５】
以上が、相対強度雑音測定装置１０の製造工程における利得特性Ｇ（ｆ）の設定工程の動作である。
【００３６】
ところで、式（６）から、利得特性Ｇ（ｆ）のみならず、利得特性Ｇ（ｆ）と相対雑音強度ＲＩＮ（ｆ）の積も求めることができることがわかる。この積を利得特性Ｇ（ｆ）で割ってやることにより、相対雑音強度ＲＩＮ（ｆ）を求めることができる。つまり、相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）は、従来のように装置内部に予め利得特性Ｇ（ｆ）を設定しておかずとも、被測定光源を異なる増幅減衰率で増幅または減衰した複数の増幅減衰光の測定結果から求められることができることを示している。
【００３７】
このとき、Ｇ（ｆ）とＲＩＮ（ｆ）・Ｇ（ｆ）はともに、１〜７ＧＨｚまでの６ＧＨｚ帯域について６１点の測定データからなる関数であるから、相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）も同様な帯域範囲とデータ数もつ周波数の関数となる。
【００３８】
図４に予め装置内部に利得特性Ｇ（ｆ）を設定せずにＲＩＮを測定する測定方法のフローチャートを示す。なお、装置の構成は、基本的には、図２と同じ構成であるが、制御装置１５の内部に格納されている制御手順が異なるため、以下この制御手順について詳細に述べる。
【００３９】
はじめに、暗電流の強度の周波数分布ＰＥ（ｆ）を測定する（ステップ６０）。さらに具体的には、シャッタ１１を完全に閉じた状態（減衰率１００％）で、スペクトラム・アナライザ１３で入力信号の強度の周波数分布を求める。測定する周波数の範囲、測定データ数、および測定点は、相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）の測定周波数範囲等と一致させることが望ましい。
【００４０】
次に、被測定光源２１から光を照射し（ステップ６１）、シャッタ１１の増幅減衰率を設定する（ステップ６２）。本実施例では、−３ｄＢ、−５ｄＢ、−８ｄＢの３段階の減衰率で測定を行って、測定結果から相対強度雑音ＲＩＮ（ｆ）を求める。そこで、まず最初に増幅減衰率を−３ｄＢに設定する。シャッタ１１からの出射光（増幅減衰光）は、フォトダイオード１２で受光電流に変換される。受光電流の電流量ＩＰ３を電流計１４で、周波数分布ＰＮ３（ｆ）をスペクトラム・アナライザ１３で、それぞれ測定する（ステップ６３）。
【００４１】
次に、所定の増幅減衰率で測定が完了したか判定する（ステップ６４）。現段階では、まだ−３ｄＢの増幅減衰率の測定しか完了していない。そこで、ステップ６２に戻り、次の増幅減衰率−５ｄＢに設定して（ステップ６２）、電流量ＩＰ５と周波数分布ＰＮ５（ｆ）の測定を行う（ステップ６３）。同様にして、増幅減衰率−８ｄＢのときの、電流量ＩＰ８と周波数分布ＰＮ８（ｆ）の測定を行う。
【００４２】
全ての増幅減衰率での測定が終了すると（ステップ６４）、電流量ＩＰ３、ＩＰ５および周波数分布ＰＮ３（ｆ）、ＰＮ５（ｆ）を式（６）に代入して、利得特性Ｇ３５（ｆ）および利得特性と相対強度雑音との積ＲＩＮ３５（ｆ）・Ｇ３５（ｆ）を求める。同様に、ＩＰ５、ＩＰ８、ＰＮ５（ｆ）、ＰＮ８（ｆ）からＧ５８（ｆ）とＲＩＮ５８（ｆ）・Ｇ５８（ｆ）を、ＩＰ３、ＩＰ８、ＰＮ３（ｆ）、ＰＮ８（ｆ）からＧ３８（ｆ）とＲＩＮ３８（ｆ）・Ｇ３８（ｆ）を、それぞれ求める（ステップ６５）。
【００４３】
次に、相対強度雑音と利得特性との積ＲＩＮ３５（ｆ）・Ｇ３５（ｆ）を利得特性Ｇ３５（ｆ）で割って、相対強度雑音ＲＩＮ３５（ｆ）を求める。同様にして、相対強度雑音ＲＩＮ５８（ｆ）とＲＩＮ３８（ｆ）を求める。ＲＩＮ３５（ｆ）、ＲＩＮ５８（ｆ）、およびＲＩＮ３８（ｆ）は、同一光源を同一測定系で測定した測定結果から求めた値であるから、理想的には一致するはずである。ただし、現実には測定誤差の影響により完全には一致しない。そこで、ＲＩＮ３５（ｆ）、ＲＩＮ５８（ｆ）、ＲＩＮ３８（ｆ）の平均をとって、測定結果ＲＩＮ（ｆ）とする（ステップ６６）。
【００４４】
以上、本発明に係る技術的思想を特定の実施例を参照しつつ詳細にわたり説明したが、本発明の属する分野における当業者には、請求項の趣旨及び範囲から離れることなく様々な変更及び改変を加えることが出来ることは明らかである。例えば、本実施例では、３段階の増幅減衰率の測定結果から利得特性や相対強度雑音を求めているが、さらに多くの段階の測定を行うことにより、より高い精度の利得特性測定や相対強度雑音測定が可能となる。さらに、本実施例では、複数の電流量と強度の周波数分布の測定結果の組み合わせから得られた利得特性や相対強度雑音を平均して、最終的な利得特性や相対強度雑音を求めているが、数値処理の方法はこれに限られない。例えば、中央値をとる、最小自乗法を利用するといった他の数値処理を適宜利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】利得特性測定系の概略構成図である。
【図２】ＲＩＮ測定系の概略構成図である。
【図３】利得特性の測定フローチャートである。
【図４】ＲＩＮ測定のフローチャートである。
【符号の説明】
【００４６】
１０  相対強度雑音測定装置
１１  光強度増幅減衰器
１２  光電変換器
１３  スペクトラム・アナライザ
１４  電流計
１５  制御装置
【図１】
2007294659.tif 000009
【図２】
2007294659.tif 000010
【図３】
2007294659.tif 000011
【図４】
2007294659.tif 000012