(57)【要約】【課題】  高精度に試験が行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。本装置は、被試験対象に電流を出力する第１の電流印加部と、この第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、被試験対象に出力する第２の電流印加部とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
被試験対象に電流を出力する第１の電流印加部と、
この第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、前記被試験対象に出力する第２の電流印加部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
一端が接地される抵抗と、
第１、第２の電流印加部の出力を、被試験対象の入力端と前記抵抗の他端とを切り替える切替部と、
前記抵抗の他端に接続し、電圧測定を行う電圧測定部と
を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
被試験対象の出力を測定する電流測定部を有することを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【請求項４】
被試験対象は、有機ＥＬドライバであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象、例えば、有機ＥＬドライバを試験するＩＣテスタに関し、高精度に試験が行えるＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、有機ＥＬ（Electro Luminescence）を発光素子として用いたディスプレイが提案されている。この有機ＥＬは、ダイオード機能を有し、電流を与えられることで発光する。また、有機ＥＬは、素子に流す電流の値によって発光する輝度が変化する。そのため、有機ＥＬを用いたディスプレイには、画像の階調に対する駆動電流を供給するドライバ（有機ＥＬドライバ）が用いられている。このような有機ＥＬドライバを試験するＩＣテスタは例えば下記特許文献１等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２９４０９３号公報
【０００４】
このような装置を図２に示し説明する。図２において、被試験対象（以下ＤＵＴ）は、例えば有機ＥＬドライバで、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する。電流印加部２はＤＵＴ１に電流を出力する。電流測定部３はＤＵＴ１の出力電流を測定する。
【０００５】
このような装置の動作を以下に説明する。電流印加部２は、基準電流をＤＵＴ１に出力し、ＤＵＴ１は基準電流に基づいて、出力ピンから駆動電流を出力する。この駆動電流を、マルチプレクサ等を用いて出力ピンを選択して、電流測定部３により測定し、図示しない制御部により、所望の電流範囲に入っているか判定し、ＤＵＴ１の良否判定を行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
有機ＥＬドライバの基準電流は例えば１００μＡで、駆動電流は基準電流の１／１０以下、つまり、１０μＡ以下である。一方、電流印加部２、電流測定部３のレンジは、例えば、３μＡ、３０μＡ、３００μＡ等で、レンジの２倍の幅で印加、測定が行える。そして、精度が高い順は、３μＡ、３０μＡ、３００μＡである。
【０００７】
つまり、電流印加部２は、３μＡ、３０μＡレンジでは、ＤＵＴ１に１００μＡを出力することができないので、３００μＡレンジで印加することになる。一方、電流測定部３では、ＤＵＴ１が出力する電流が１０μＡ以下なので、３０μＡレンジで測定ができる。
【０００８】
しかし、電流印加部２と電流測定部３との精度が異なるため、高精度の試験を行うことができないという問題点があった。
【０００９】
本発明の目的は、高精度に試験が行えるＩＣテスタを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
被試験対象に電流を出力する第１の電流印加部と、
この第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、前記被試験対象に出力する第２の電流印加部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
一端が接地される抵抗と、
第１、第２の電流印加部の出力を、被試験対象の入力端と前記抵抗の他端とを切り替える切替部と、
前記抵抗の他端に接続し、電圧測定を行う電圧測定部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
被試験対象の出力を測定する電流測定部を有することを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明であって、
被試験対象は、有機ＥＬドライバであることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば以下のような効果がある。
第２の電流印加部が、第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、被試験対象に出力するので、高精度の大電流を与えることができ、高精度に試験を行うことができる。
【００１２】
また、抵抗と電圧測定部とにより、被試験対象に印加する電流を測定し、第２の電流印加部の調整を行ったので、大電流の測定を精度よく行うことができ、精度が高い出力を被試験対象に与えることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１４】
図１において、第１の電流印加部４は、ＤＵＴ１に電流を出力する。第２の電流印加部５は、第１の電流印加部４より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部４の出力電流に加算して、ＤＵＴ１に出力する。抵抗Ｒは、一端が接地される。スイッチＳＷは切替部で、電流印加部４，５の出力を、ＤＵＴ１の入力端と抵抗Ｒの他端とを切り替える。電圧測定部７は、抵抗Ｒの他端に接続し、電圧測定を行う。
【００１５】
このような装置の動作を以下に説明する。ＤＵＴ１に１００μＡを印加する場合について説明する。まず、図示しない制御部が、スイッチＳＷを抵抗Ｒに切り替える。そして、制御部が、電流印加部４に３００μＡレンジで、９９μＡを出力させ、電流印加部５に３μＡレンジで、１μＡを出力させる。そして、電圧測定部７が、抵抗Ｒの電圧を測定し、制御部が、抵抗Ｒの抵抗値と電圧値とにより電流値を演算し、１００μＡが出力されているかどうか判定する。制御部は、１００μＡに近づくように、電流印加部５を微調整する。
【００１６】
調整終了後、制御部がスイッチＳＷをＤＵＴ１側に切り替える。そして、制御部は、電流印加部４，５に対して、合計で１００μＡの基準電流をＤＵＴ１に出力させる。ＤＵＴ１は、基準電流に基づいて、出力ピンから駆動電流を出力し、この電流を電流測定部３が測定を行う。制御部により、電流測定部３の測定結果が所望の範囲内ならＤＵＴ１は良品と判定され、範囲外なら不良品と判定される。
【００１７】
このように、電流印加部４，５が大電流レンジ、大電流と微小電流レンジ、微小電流とで電流を出力させ、加算して、ＤＵＴ１に出力したので、高精度の大電流を与えることができ、高精度に試験を行うことができる。
【００１８】
また、抵抗Ｒと電圧測定部７とにより、ＤＵＴ１に印加する電流を測定し、電流印加部５の調整を行ったので、大電流の測定を精度よく行うことができ、精度が高い出力をＤＵＴ１に与えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】従来のＩＣテスタの構成を示した図である。
【符号の説明】
【００２０】
１  被試験対象
３  電流測定部
４，５  電流印加部
７  電圧測定部
Ｒ  抵抗
ＳＷ  スイッチ
【図１】
2007093522.tif 000003
【図２】
2007093522.tif 000004