(57)【要約】【課題】光ピックアップの温度変化に影響されることなく対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を精度良く行う。【解決手段】光ディスク検査装置は、光ピックアップ２０におけるフォトディテクタ２８の４つの受光素子に対応するＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄと、同ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄにおける増幅率ＧＡ〜ＧＤを設定するゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄとを備える。ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄには、光ピックアップ２０の温度を検出する温度検出器３２が接続されているとともに、光ピックアップ２０の温度に対する増幅率ＧＡ〜ＧＤを規定した温度−増幅率テーブルが用意されている。そして、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄは、温度検出器３２によって検出された温度に応じてＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの増幅率ＧＡ〜ＧＤをそれぞれ制御する。【選択図】  図１
2007294046.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源から出射されるレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズ、複数の受光領域に分割された受光部により前記集光されたレーザ光による光ディスクからの反射光を受光して、同受光状態を表す受光信号を前記複数の受光領域ごとにそれぞれ出力するフォトディテクタ、および前記対物レンズを駆動するアクチュエータを有する光ピックアップと、
前記複数の受光領域ごとに出力される受光信号を用いて、前記対物レンズにより光ディスク上に集光されるレーザ光の目標位置に対するずれ量を補正するための信号を生成する信号生成回路と、
前記信号生成回路によって生成された前記ずれ量を補正するための信号を用いて前記アクチュエータを駆動して、光ディスク上における前記目標位置にレーザ光を集光するように前記対物レンズをサーボ制御するサーボ制御手段とを備えた光ディスク装置において、
前記光ピックアップの温度を検出する温度検出器と、
前記温度検出器によって検出される光ピックアップの温度に応じて、前記光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載した光ディスク装置において、
前記補正手段は、前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号における前記光ピックアップの温度変化に起因して生じる各受光信号間の出力レベルの差を解消する光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載した光ディスク装置において、
前記補正手段は、
前記光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を補正するための補正情報を前記受光信号ごとに記憶する補正情報記憶手段と、
前記温度検出器によって検出される温度と、前記補正情報記憶手段に記憶された補正情報とを用いて、前記複数の受光領域ごとに出力される受光信号をそれぞれ補正する受光信号補正手段とを備える光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３に記載した光ディスク装置において、
前記受光信号補正手段は、前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号を各受光信号ごとに増幅する増幅器を備え、
前記補正情報は、前記増幅器における増幅率である光ディスク装置。
【請求項５】
請求項３または請求項４に記載した光ディスク装置において、さらに、
前記光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を、前記受光信号ごとに検出する受光信号変化検出手段と、
前記受光信号変化検出手段によって検出された前記受光信号ごとの出力レベルの変化に基づいて、前記補正情報を生成する補正情報生成手段とを備えた光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のうちのいずれか１つに記載した光ディスク装置において、さらに、
前記フォトディテクタから出力される受光信号を評価するための評価値が最良となる位置に前記対物レンズを位置させるための補正量を表す補正信号で、前記対物レンズにより光ディスク上に集光されるレーザ光の目標位置に対するずれ量を補正するための信号を補正する信号補正手段を備えた光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクに信号を記録し、または光ディスクに記録された信号を再生する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクに信号を記録し、または光ディスクに記録された信号を再生する光ディスク装置においては、光ディスク上における目標位置にレーザ光を集光するとともに、同光ディスクからの反射光を受光して受光光量に応じた受光信号を出力する光ピックアップを備えている。光ピックアップは、レーザ光を出射するレーザ光源、同レーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズおよび光ディスクからの反射光を受光するフォトディテクタなどの各種光学部品によって構成されている。これらのうち、光ディスクからの反射光を受光するフォトディテクタは、それぞれ独立した複数の受光領域を備え、光ディスクからの反射光がこれら複数の受光領域が配置された中央部に集光するように調整されている。例えば、図７に示すフォトディテクタは、４つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを備えるとともに、同４つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが配置された中央部に光ディスクからの反射光が集光する（図示実線の円）ように調整される。
【０００３】
このような光ピックアップにおいては、光ディスクに対して信号の記録または再生を行う際、光ピックアップの環境温度の変化によって光ピックアップを構成する各種光学部品、具体的には光路分光素子（例えば、ハーフミラー）の取り付け位置または向きがずれ、フォトディテクタ上に集光される光ディスクからの反射光の位置がずれる（図示破線の円）ことがある。この場合、フォトディテクタにおける各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから出力される受光信号の出力レベルが変動し、対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御の精度が悪化する。このため、例えば、下記特許文献１に示される光ピックアップにおいては、光ピックアップを構成する光学部品のうち、光路分光素子を温度変化によって取り付け位置または向きがずれないように熱硬化性樹脂により光ピックアップのフレームに固定している。
【特許文献１】特開２００５−４４３９８号公報
【０００４】
しかしながら、上記したような光ピックアップにおいても光ディスクに対して信号の記録または再生を行う際、光ピックアップに備えられている各種光学部品を支持するフレームの捩じれや光路分光素子以外の光学部品の位置ずれなどにより、フォトディテクタ上に集光される光ディスクからの反射光の位置がずれることがある。このため、フォトディテクタにおける各受光領域Ａ〜Ｄから出力される受光信号に基づいて行われる対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御の精度が悪化して、光ディスクに対する信号の記録または再生精度が悪化するという問題がある。
【発明の開示】
【０００５】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、光ディスクに対して信号の記録または再生を行う際、光ピックアップの温度変化に起因してフォトディテクタの各受光素子から出力される受光信号の出力レベルが変化する場合であっても、対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を精度良く行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明の特徴は、レーザ光源から出射されるレーザ光を光ディスク上に集光する対物レンズ、複数の受光領域に分割された受光部により前記集光されたレーザ光による光ディスクからの反射光を受光して、同受光状態を表す受光信号を前記複数の受光領域ごとにそれぞれ出力するフォトディテクタ、および対物レンズを駆動するアクチュエータを有する光ピックアップと、前記複数の受光領域ごとに出力される受光信号を用いて、対物レンズにより光ディスク上に集光されるレーザ光の目標位置に対するずれ量を補正するための信号を生成する信号生成回路と、信号生成回路によって生成された前記ずれ量を補正するための信号を用いてアクチュエータを駆動して、光ディスク上における前記目標位置にレーザ光を集光するように対物レンズをサーボ制御するサーボ制御手段とを備えた光ディスク装置において、光ピックアップの温度を検出する温度検出器と、温度検出器によって検出される光ピックアップの温度に応じて、光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を補正する補正手段とを備えたことにある。
【０００７】
この場合、前記補正手段は、光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を補正するための補正情報を受光信号ごとに記憶する補正情報記憶手段と、温度検出器によって検出される温度と、補正情報記憶手段に記憶された補正情報とを用いて、前記複数の受光領域ごとに出力される受光信号をそれぞれ補正する受光信号補正手段とを備えるようにするとよい。この場合、受光信号補正手段は、例えば、前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号を各受光信号ごとに増幅する増幅器を備え、前記補正情報は、増幅器における増幅率にするとよい。また、これらの場合、前記補正手段は、前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号における光ピックアップの温度変化に起因して生じる各受光信号間の出力レベルの差を解消するようにするとよい。
【０００８】
このように構成した本発明の特徴によれば、光ディスク装置は、光ピックアップの温度変化に起因して生じるフォトディテクタからそれぞれ出力される受光信号の各出力レベルの変化を補正する補正手段を備えている。したがって、光ディスクに対して信号の記録または再生時において、温度検出器によって光ピックアップの温度を検出し、同検出した温度に応じてフォトディテクタから出力される検出信号の各出力レベルの変化を補正することができる。これにより、光ディスクに対して信号の記録または再生を行う際、光ピックアップの温度変化によってフォトディテクタ上に集光される反射光の位置がずれ、フォトディテクタの各受光素子から出力される受光信号の各出力レベルが変化する場合であっても、対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を精度良く行うことができる。この結果、光ディスクに対する信号の記録または再生精度を光ピックアップの温度変化に影響されることなく良好に維持できる。
【０００９】
また、本発明の他の特徴は、上記補正情報記憶手段および受光信号補正手段を備えた光ディスク装置において、さらに、光ピックアップの温度変化に起因して生じる前記複数の受光領域からそれぞれ出力される受光信号の出力レベルの変化を、受光信号ごとに検出する受光信号変化検出手段と、受光信号変化検出手段によって検出された受光信号ごとの出力レベルの変化に基づいて、前記補正情報を生成する補正情報生成手段とを備えたことにある。これによれば、定期的に補正情報を生成し補正情報記憶手段に記憶されている補正情報を更新することにより、光ピックアップの経年変化に対応することができる。
【００１０】
また、本発明の他の特徴は、前記光ディスク装置において、さらに、フォトディテクタから出力される受光信号を評価するための評価値が最良となる位置に前記対物レンズを位置させるための補正量を表す補正信号で、対物レンズにより光ディスク上に集光されるレーザ光の目標位置に対するずれ量を補正するための信号を補正する信号補正手段を備えたことにある。これによれば、対物レンズの受光信号に基づくジャストフォーカス位置と、実際のジャストフォーカス位置とが異なる場合であっても、対物レンズを前記ジッタ量が最小となる位置に制御することにより実際のジャストフォーカス位置にすることができる。これにより、補正情報をより精度良く取得することができる。なお、本発明における前記ずれ量を補正するための信号とは、対物レンズをフォーカスサーボ制御またはトラッキングサーボ制御するための信号であり、具体的には、フォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号が相当する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る光ディスク装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の全体概略図である。この光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫを回転駆動する回転駆動装置１０と、光ディスクＤＫにレーザ光を照射するとともに同照射による光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ２０とを備えている。
【００１２】
回転駆動装置１０は、光ディスクＤＫを回転駆動するためのスピンドルモータ１１および光ディスクＤＫを径方向に移動させるフィードモータ１２を備えている。スピンドルモータ１１の回転軸１１ｂにはターンテーブル１３が固定されており、同ターンテーブル１３上に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。スピンドルモータ１１内には、スピンドルモータ１１の回転すなわちターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の回転を検出して、同回転を表す回転検出信号を出力するエンコーダ１１ａが組み込まれている。この回転検出信号はスピンドルモータ制御回路１４に出力され、同スピンドルモータ制御回路１４にてスピンドルモータ１１すなわち光ディスクＤＫの回転速度の検出に用いられる。スピンドルモータ制御回路１４は、後述するコントローラ６０によって制御されて、前記エンコーダ１１ａから供給される回転検出信号を用いて回転速度を算出し、この回転速度がコントローラ６０が指示する回転速度となるようにスピンドルモータ１１の回転を制御する。
【００１３】
フィードモータ１２は、スクリューロッド１５を介して、スピンドルモータ１１を固定支持する支持部材１６に連結されている。スクリューロッド１５は、その一端にてフィードモータ１２の回転軸に一体的回転するように連結され、その他端に支持部材１６に固着されたナット（図示しない）に螺合している。したがって、フィードモータ１２が回転すると、スピンドルモータ１１、ターンテーブル１３および支持部材１６はスクリューロッド１５およびナットからなるねじ送り機構により光ディスクＤＫの径方向に変位する。フィードモータ１２内にも、フィードモータ１２の回転を検出するエンコーダ１２ａが組み込まれている。このエンコーダ１２ａからの回転検出信号はフィードモータ制御回路１７に出力される。フィードモータ制御回路１７は、コントローラ６０に制御されて、フィードモータ１２のエンコーダ１２ａからの回転検出信号を用いて光ディスクＤＫの半径位置を算出するとともに、この半径位置がコントローラ６０が指示する位置になるように光ピックアップ２０の光ディスクＤＫに対する径方向相対位置を変更制御する。
【００１４】
光ピックアップ２０は、図２に示すように、レーザ光源２１、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４、対物レンズ２５、集光レンズ２６、シリンドリカルレンズ２７およびフォトディテクタ２８を備えている。この光ピックアップ２０においては、レーザ光源２１から出射されるレーザ光を、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４及び対物レンズ２５を介して光ディスクＤＫに集光させ、光ディスクＤＫ上に光スポットを形成する。また、この光ディスクＤＫに形成された光スポットからの反射光を、対物レンズ２５、１／４波長板２４、偏光ビームスプリッタ２３、集光レンズ２６及びシリンドリカルレンズ２７を介してフォトディテクタ２８に導く。フォトディテクタ２８は、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなる４分割受光素子によって構成されており、各受光素子は受光量に比例した検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ受光信号として出力する。このフォトディテクタ２８は、４つの受光素子が配置された中央部に光ディスクＤＫからの反射光が集光するように固定されている。なお、検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、右上から時計回りに配置された各受光素子の受光量を表している。
【００１５】
また、この光ピックアップ２０は、フォーカスアクチュエータ３１および温度検出器３２も備えている。フォーカスアクチュエータ３１は、対物レンズ２５をレーザ光の光軸方向（光ディスクＤＫの盤面と垂直方向）に駆動して光スポットを光軸方向に微動させる。温度検出器３２は、光ピックアップ２０内に設けられて光ピックアップ２０内の温度を検出して同温度に対応する検出信号（電圧信号）をＡ／Ｄ変換器４１に出力する。Ａ／Ｄ変換器４１は、温度検出器３２から出力される検出信号を所定の周期でＡ／Ｄ変換して、後述するゲイン制御回路５４Ａ，５４Ｂ，５４Ｃ，５４Ｄおよびコントローラ６０にそれぞれ出力する。なお、この光ピックアップ２０は、対物レンズ２５を光ディスクＤＫの径方向に駆動して光スポットを光ディスクＤＫの径方向に微動させる図示しないトラッキングアクチュエータも備えている。
【００１６】
光ピックアップ２０のレーザ光源２１には、レーザ駆動回路４２が接続されている。レーザ駆動回路４２は、コントローラ６０によって制御され、レーザ光源２１から再生用のレーザ光を出射させる。また、光ピックアップ２０のフォトディテクタ２８には、４つの受光素子に対応する４つのＨＦ信号増幅回路４３Ａ，４３Ｂ，４３Ｃ，４３Ｄが接続されている。ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄは、フォトディテクタ２８の各受光素子からそれぞれ出力される各検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅してフォーカスエラー信号生成回路４４、再生信号生成回路４７およびＨＦ信号選択回路５１にそれぞれ出力する。この場合、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄは、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄによってそれぞれ設定される増幅率に従って検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅する。
【００１７】
フォーカスエラー信号生成回路４４は、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを介したフォトディテクタ２８からの検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（非点収差法の場合は(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)の演算）により、フォーカスエラー信号を生成して、フォーカスサーボ回路４５に出力する。この場合、フォーカスエラー信号(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)は、光スポットの光ディスクＤＫにおける記録面からのずれ量を表している。フォーカスサーボ回路４５は、コントローラ６０によって制御され、フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスサーボ信号を生成してドライブ回路４６に出力する。ドライブ回路４６は、フォーカスサーボ信号に応じてフォーカスアクチュエータ３１を駆動制御することにより対物レンズ２５を光軸方向に変位させることでフォーカスサーボ制御を行う。なお、この光ディスク検査装置には、光ディスクＤＫ上に形成される光スポットが光ディスクＤＫのトラックを追従するように対物レンズ２５をトラッキングサーボ制御するための図示しないトラッキングエラー信号生成回路、トラッキングサーボ回路、ドライブ回路およびトラッキングアクチュエータをそれぞれ備え、光ディスクＤＫ上に形成される光スポットがトラックを追従して光ディスクＤＫの半径方向に変位するに従い、対物レンズ２５が中立位置付近でトラッキングサーボ制御されるよう、フィードモータ１２を駆動する図示しないスレッドサーボ回路を備えている。
【００１８】
再生信号生成回路４７は、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄから出力される検出信号Ａ〜Ｄに基づいて再生信号（フォトディテクタ２８からの検出信号Ａ〜Ｄの合算信号Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋ＤからなるＳＵＭ信号）を生成する。この再生信号生成回路４７は、波形等化回路、２値化回路および復号回路を備えており、生成した再生信号の振幅を周波数に応じて補正するとともに、同補正した再生信号を２値化、すなわちパルス列信号に変換した後、復号回路にてパルス列信号からなる再生信号を復号してコントローラ６０に出力する。コントローラ６０は、この復号された再生信号を評価して光ディスクＤＫの検査を行う。
【００１９】
ＨＦ信号選択回路５１は、コントローラ６０によって制御され、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄから出力される検出信号Ａ〜Ｄのうち、コントローラ６０によって指定されたＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄから出力される検出信号を選択的にＡ／Ｄ変換器５２に出力する。Ａ／Ｄ変換器５２は、ＨＦ信号選択回路５１を介して入力される検出信号Ａ〜Ｄを所定周期でＡ／Ｄ変換して平均値計算回路５３に出力する。平均値計算回路５３は、コントローラ６０によって制御され、Ａ／Ｄ変換器５２によってＡ／Ｄ変換された検出信号Ａ〜Ｄの瞬時値を所定数だけ記憶した後、同記憶した瞬時値の平均値を計算して同平均値を表す信号をコントローラ６０に出力する。
【００２０】
ゲイン制御回路５４Ａ，５４Ｂ，５４Ｃ，５４Ｄは、温度検出器３２によって検出される光ピックアップ２０内の温度に応じて、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの増幅率をそれぞれ設定する。ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄ内には、書き換え可能なメモリ５４Ａａ，５４Ｂａ，５４Ｃａ，５４Ｄａが設けられている。これらのメモリ５４Ａａ，５４Ｂａ，５４Ｃａ，５４Ｄａには、温度−増幅率テーブルがそれぞれ用意されている。温度−増幅率テーブルは、光ピックアップ２０内の温度に対するＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの各増幅率ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ，ＧＤのデータであり、コントローラ６０によって生成され、メモリ５４Ａａ、５４Ｂａ，５４Ｃａ，５４Ｄａに格納される。
【００２１】
ここで、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの各増幅率ＧＡ〜ＧＤは、図３に示すように、光ピックアップ２０内の温度変化に従って略線形的に変化するものである。そして、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄは、温度−増幅率テーブルを用いて温度検出器３２によって検出される光ピックアップ２０内の温度に応じてＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの増幅率ＧＡ〜ＧＤをそれぞれ計算して、同計算した増幅率をＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄにそれぞれ出力する。なお、前記増幅率ＧＡ〜ＧＤがコントローラ６０によって設定されるまでは、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄは予め決められた所定の増幅率ＧをＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄにそれぞれ出力する。
【００２２】
コントローラ６０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置６１からの指示に従って図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を行うとともに、同検査の実行過程および実行結果を、ＣＲＴ（または液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる出力装置６２に適宜表示させる。この場合、コントローラ６０は、光ディスクＤＫの検査に先立って、図４に示すプログラムを実行することにより温度−増幅率テーブル用のデータを生成してゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄにそれぞれ設定する。
【００２３】
このコントローラ６０には、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、Ａ／Ｄ変換器４１、レーザ駆動回路４２、フォーカスサーボ回路４５、ＨＦ信号選択回路５１、Ａ／Ｄ変換器５２、平均値計算回路５３およびゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄが、それぞれの作動制御のために接続されている。また、コントローラ６０には、前記温度−増幅率テーブル用のデータを生成するために、平均値計算回路５３から出力される平均値を記憶するための記憶領域であるメモリ６０ａが用意されている。
【００２４】
上記のように構成した本実施形態の作動について説明する。作業者は、図示しない電源スイッチの投入により、コントローラ６０を含む光ディスク検査装置の各種回路の作動を開始させる。そして、未記録領域またはミラー領域を有する光ディスクＤＫをターンテーブル１３上に載置して固定する。次に、作業者は、入力装置６１を操作して温度−増幅率テーブルの設定をコントローラ６０に指示する。この指示に応答してコントローラ６０は、図４に示す温度−増幅率テーブル設定プログラムの実行をステップＳ１００にて開始する。
【００２５】
コントローラ６０は、ステップＳ１０２にて、ｚ個の増幅率計算温度ＴＧ（１），ＴＧ（２）・・・ＴＧ（ｚ）の入力を待つ。但し、ｚは２以上の整数である。これらの増幅率計算温度ＴＧ（１），ＴＧ（２）・・・ＴＧ（ｚ）は、温度−増幅率テーブル内にゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの増幅率ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ，ＧＤにそれぞれ対応して記憶されるものであって、光ピックアップ２０の温度変化の範囲に亘って離散的に抽出される光ピックアップ２０内の温度である（図３参照）。そして、これらの増幅率計算温度ＴＧ（１），ＴＧ（２）・・・ＴＧ（ｚ）は、詳しくは後述するように、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの各増幅率を計算する際に用いられる。作業者が増幅率計算温度ＴＧ（１），ＴＧ（２）・・・ＴＧ（ｚ）を入力すると、コントローラ６０は入力された増幅率計算温度ＴＧ（１），ＴＧ（２）・・・ＴＧ（ｚ）を記憶する。次に、コントローラ６０は、ステップＳ１０４にて、光ピックアップ２０を光ディスクＤＫの径方向における所定の位置に位置決めさせる。この所定の径方向位置は、光ディスクＤＫの未記録領域またはミラー領域内であれば任意の位置でよい。コントローラ６０は、光ピックアップ２０を位置決めする前記所定の径方向位置を表す信号をフィードモータ制御回路１７に出力することにより、光ピックアップ２０を位置決めさせる。
【００２６】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１０６にて、温度−増幅率テーブルを計算するための各種回路の作動を開始させる。具体的には、スピンドルモータ制御回路１４、Ａ／Ｄ変換器４１、レーザ駆動回路４２、フォーカスサーボ回路４５およびゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの作動をそれぞれ開始させる。これにより、光ディスクＤＫが光ピックアップ２０の径方向位置に応じた速度で回転するとともに、レーザ光源２１から再生用のレーザ光が光ディスクＤＫに向けて出射される。この場合、レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４および対物レンズ２５を介して光ディスクＤＫ上に集光されて光スポットを形成するとともに、同光ディスクＤＫからの反射光が対物レンズ２５、１／４波長板２４、偏光ビームスプリッタ２３、集光レンズ２６およびシリンドリカルレンズ２７を介してフォトディテクタ２８上に集光される。
【００２７】
フォトディテクタ２８上に集光された光ディスクＤＫからの反射光は、各受光素子によって受光され、受光光量に応じた検出信号Ａ〜ＤがＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを介してフォーカスエラー信号生成回路４４、再生信号生成回路４７およびＨＦ信号選択回路５１にそれぞれ出力される。この場合、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄには、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄから前記所定の増幅率Ｇが供給されており、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄはこの増幅率Ｇに従って検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅して出力する。
【００２８】
フォーカスエラー信号生成回路４４に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、フォーカスエラー信号生成回路４４、フォーカスサーボ回路４５およびドライブ回路４６による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御に用いられる。また、再生信号生成回路４７に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、再生信号生成回路４７による再生信号の生成に用いられる。なお、コントローラ６０は、再生信号生成回路４７によって生成された再生信号の入力を無視する。また、この場合、コントローラ６０はトラッキングサーボ回路の作動を禁止して対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御を行わないようにする。
【００２９】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１０８にて、前記ステップＳ１０２にて入力された増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）を指定するための指標値ｎに「１」をセットした後、ステップＳ１１０にて、フォトディテクタ２８の４つの受光素子に対応する４つの増幅率を指定するための指標値ｍに「１」をセットする。そして、コントローラ６０は、ステップＳ１１２にて、光ピックアップ２０内の温度が指標値ｎによって指定された温度、すなわち増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に達したか否かを判定する。具体的には、コントローラ６０は、この判定処理において温度検出器３２によって検出される温度が増幅率計算温度ＴＧに達する（所定の判別値内の温度を含む）まで「Ｎｏ」と判定し続けて、光ピックアップ２０内の温度が増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に達するのを待つ。一方、コントローラ６０は、温度検出器３２によって検出される温度が増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に達した場合には、同判定にて「Ｙｅｓ」と判定してステップＳ１１４に進む。
【００３０】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１１４にて、フォトディテクタ２８を構成する４つの受光素子に対応する４つのＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄのうち、増幅率を計算するＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを選択する。ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの選択は、前記指標値ｍの値をＨＦ信号選択回路５１に出力することにより行われる。すなわち、指標値ｍの値、具体的にはｍ＝１〜４がＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄに対応しており、コントローラ６０は、ＨＦ信号選択回路５１に同指標値ｍを出力することにより増幅率を計算するＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを特定する。
【００３１】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１１６にて、Ａ／Ｄ変換器５２および平均値計算回路５３の作動を開始させる。これにより、Ａ／Ｄ変換器５２は、前記ステップＳ１１４にて選択されたＨＦ信号増幅回路４３Ａ（または４３Ｂ，４３Ｃ，４３Ｄ）から出力される検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）を所定の周期でＡ／Ｄ変換して平均値計算回路５３に出力する。平均値計算回路５３は、前記所定の周期よりも長い所定時間に亘ってＡ／Ｄ変換された検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）を入力し、すなわち、複数個のＡ／Ｄ変換値を入力し、それらの平均値Ｖを計算する。したがって、増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）における選択されたＨＦ信号増幅回路４３Ａ（または４３Ｂ，４３Ｃ，４３Ｄ）に対応する検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）の出力レベルが検出される。平均値計算回路５３は、計算した検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）の平均値Ｖをコントローラ６０に出力する。そして、コントローラ６０は、ステップＳ１１８にて、前記出力された検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）の平均値Ｖを増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に対応させてメモリ６０ａに記憶した後、ステップＳ１２０にて、Ａ／Ｄ変換器５２および平均値計算回路５３の作動を停止させる。
【００３２】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１２２にて、指標値ｍが４以上であるか否か、すなわち、全てのＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄについて平均値Ｖを計算したか否かを判定する。この判定処理において、コントローラ６０は、すべてのＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄについて平均値Ｖを計算するまで「Ｎｏ」と判定し続けてステップＳ１２４を介してステップＳ１１４に戻る。コントローラ６０は、ステップＳ１２４にて、指標値ｍをインクリメントする。すなわち、次のＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを特定する準備をした後、ステップＳ１１４に戻る。一方、コントローラ６０は、すべてのＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄについて平均値Ｖを計算した場合には、同判定処理にて「Ｙｅｓ」と判定してステップＳ１２６に進む。これにより、コントローラ６０のメモリ６０ａには、増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に対応した各検出信号Ａ〜Ｄの平均値ＶがＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄごとにそれぞれ記憶される。
【００３３】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１２６にて、増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）におけるＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの各増幅率ＧＡ〜ＧＤをそれぞれ計算する。各増幅率ＧＡ〜ＧＤは、メモリ６０ａに記憶されている平均値Ｖ（ｍ）（ｍ＝１〜４）を下記式１に代入することによりそれぞれ計算される。下記式１において、Ｇはゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄに予め記憶されている前記所定の増幅率である。
【数１】
2007294046.tif 000003
【００３４】
増幅率ＧＡ（またはＧＢ，ＧＣ，ＧＤ）は、フォトディテクタ２８の各受光素子に均等に光スポットが形成された場合における各受光素子から出力される検出信号Ａ〜Ｄの値（検出信号Ａ〜Ｄの合算値をフォトディテクタ２８の受光素子の数で除した値）に対する検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）の比の逆数を、前記予め決められた増幅率Ｇに乗算した値である。このことは、検出信号Ａ（またはＢ，Ｃ，Ｄ）の値が他の検出信号に比べて小さくなるに従って、増幅率ＧＡ（またはＧＢ，ＧＣ，ＧＤ）が大きくなることを意味する。これにより、増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）において各検出信号Ａ〜Ｄ間に生じる出力レベルの差、より具体的には、光ピックアップ２０の温度変化に起因してフォトディテクタ２８上に形成される光スポットの位置が変化することにより各検出信号Ａ〜Ｄ間に生じる出力レベルの差を補正するための増幅率が計算される。
【００３５】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ１２８にて、前記計算した増幅率ＧＡ〜ＧＤを増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に対応してゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄのメモリ５４Ａａ，５４Ｂａ，５４Ｃａ，５４Ｄａ内に用意された温度−増幅率テーブルに書き込む。この場合、増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に代えて、温度検出器３２により光ピックアップ２０内の温度ＴＰを改めて検出し、同検出した温度ＴＰに対応させて増幅率ＧＡ〜ＧＤを記憶するようにしてもよい。次に、コントローラ６０は、ステップＳ１３０にて、指標値ｎがｚ以上であるか否か、すなわち、前記ステップＳ１０２にて入力した全ての増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）について増幅率ＧＡ〜ＧＤを計算したか否かを判定する。この判定処理において、コントローラ６０は、全ての増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）について増幅率ＧＡ〜ＧＤを計算するまで「Ｎｏ」と判定し続けてステップＳ１３２を介してステップＳ１１０に戻る。コントローラ６０は、ステップＳ１３２にて、指標値ｎをインクリメント、すなわち、次の増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）を特定する準備をした後、ステップＳ１１０に戻る。
【００３６】
一方、コントローラ６０は、全ての増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）について増幅率ＧＡ〜ＧＤを計算した場合には、同判定処理にて「Ｙｅｓ」と判定してステップＳ１３４に進む。これにより、全ての増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）について増幅率ＧＡ〜ＧＤがゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄごとに計算されるとともに、同増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）（ｎ＝１〜ｚ）ごとの増幅率ＧＡ〜ＧＤがゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄのメモリ５４Ａａ，５４Ｂａ，５４Ｃａ，５４Ｄａ内に用意された温度−増幅率テーブル内のデータとしてそれぞれ設定される。なお、この温度−増幅率テーブル内のデータが、本発明に係る補正情報に相当する。また、図３に示す増幅率計算温度ＴＧと増幅率ＧＡ〜ＧＤとの関係は、前記指標値ｎが３の場合を表している。そして、コントローラ６０は、ステップＳ１３４にて、作動している各種回路、具体的にはスピンドルモータ制御回路１４、Ａ／Ｄ変換器４１、レーザ駆動回路４２、フォーカスサーボ回路４５、Ａ／Ｄ変換器４１およびゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの作動をそれぞれ停止させた後、ステップＳ１３６にて、この温度−増幅率テーブル設定プログラムの実行を終了する。
【００３７】
次に、作業者は、ターンテーブル１３上の光ディスクＤＫを取り外すとともに、同ターンテーブル１３上に検査対象となる光ディスクＤＫを固定する。そして、作業者は、入力装置６１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ６０に指示する。この光ディスクＤＫの検査は、光ディスクＤＫの記録面の一部に記録されている検査用信号を再生するとともに、同再生した検査用信号を評価することにより光ディスクＤＫの良否判定を行うものである。この指示に応答してコントローラ６０は、図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を開始する。
【００３８】
コントローラ６０は、フィードモータ制御回路１７を作動させて光ディスクＤＫにおける検査用信号が記録されている径方向位置に光ピックアップ２０を位置決めさせるとともに、スピンドルモータ制御回路１４を作動させて光ディスクＤＫを光ピックアップ２０の径方向位置に応じた線速度で回転させる。そして、コントローラ６０は、Ａ／Ｄ変換器４１、レーザ駆動回路４２、フォーカスサーボ回路４５およびゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの作動をそれぞれ開始させるとともに、ＨＦ信号選択回路５１、Ａ／Ｄ変換器５２および平均値計算回路５３の各作動を禁止する。また、図示しないトラッキングサーボ回路およびスレッドサーボ回路も同時に作動を開始させる。
【００３９】
レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、前記と同様にして、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４および対物レンズ２５を介して光ディスクＤＫ上に集光されて光スポットを形成するとともに、同光ディスクＤＫからの反射光が対物レンズ２５、１／４波長板２４、偏光ビームスプリッタ２３、集光レンズ２６およびシリンドリカルレンズ２７を介してフォトディテクタ２８上に集光される。フォトディテクタ２８上の集光された光ディスクＤＫからの反射光は、各受光素子によって受光され、受光光量に応じた検出信号Ａ〜ＤがＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを介してフォーカスエラー信号生成回路４４、再生信号生成回路４７およびＨＦ信号選択回路５１にそれぞれ出力される。
【００４０】
この場合、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄには、Ａ／Ｄ変換器４１から光ピックアップ２０内の温度を表す信号が入力されている。そして、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄは、入力した光ピックアップ２０内の温度に対応する増幅率ＧＡ〜ＧＤを前記コントローラ６０によって設定された温度−増幅率テーブルを用いて補間法により計算して、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄに出力する。このゲイン制御回路５４Ａ〜５４ＤによるＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄに対する増幅率ＧＡ〜ＧＤの制御は、Ａ／Ｄ変換器４１から前記所定の周期ごとに出力される光ピックアップ２０内の温度ごとに行われる。
【００４１】
そして、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄは、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄから出力された増幅率ＧＡ〜ＧＤに従って検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅する。これにより、光ディスクＤＫに対する検査用信号の再生時において、光ピックアップ２０内の温度が変化することによりフォトディテクタ２８上に集光される反射光の位置が変化した場合であっても、光ピックアップ２０内の温度の変化に起因する検出信号Ａ〜Ｄの出力レベルの変化を抑えることができる。
【００４２】
フォーカスエラー信号生成回路４４に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、フォーカスサーボ回路４５による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御に用いられる。この場合、対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御は、前記した光ピックアップ２０内の温度の変化の影響を受けない検出信号Ａ〜Ｄによって行われるため精度良く行われる。なお、対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御もフォーカスサーボ制御と同様に精度良く行われる。また、再生信号生成回路４７に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、再生信号生成回路４７による再生信号の生成に用いられる。この再生信号生成回路４７によって生成された再生信号は、コントローラ６０に出力される。なお、ＨＦ信号選択回路５１は、コントローラ６０によって作動が禁止されているため、検出信号Ａ〜Ｄの入力を無視する。
【００４３】
コントローラ６０は、再生信号生成回路４７から出力される再生信号のエラー率などを測定することにより光ディスクＤＫを評価する。そして、コントローラ６０は、光ディスクＤＫに記録されたすべての検査用信号を再生することにより光ディスクＤＫの良否判定を行うとともに同判定結果を出力装置６２に表示して、作動している各種回路、具体的にはスピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、Ａ／Ｄ変換器４１、レーザ駆動回路４２、フォーカスサーボ回路４５およびゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの作動をそれぞれ停止させる。これにより、光ディスクＤＫの検査が終了する。
【００４４】
また、他の光ディスクＤＫの検査を実行する場合には、ターンテーブル１３上に他の光ディスクＤＫを載置固定して、同様に検査を行う。すなわち、光ピックアップ２０に対応する温度−増幅率テーブルをゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄに設定しておけば、検査対象となる光ディスクＤＫを交換するのみで、繰り返し他の光ディスクＤＫの検査を行うことができる。なお、温度−増幅率テーブルは、光ピックアップ２０の経年変化により現状の光ピックアップ２０に対応しなくなる場合があるため、定期的に温度−増幅率テーブルの更新を行うようにしてもよい。
【００４５】
上記説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、光ピックアップ２０の温度変化に応じた増幅率によってフォトディテクタ２８から出力された検出信号Ａ〜Ｄの各出力レベルを増幅するゲイン制御回路５４Ａ〜５４ＤおよびＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄを備えている。そして、光ディスクＤＫに対する信号の再生時において、温度検出器３２によって光ピックアップ２０の温度を検出し、同検出した温度に応じてフォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄの各出力レベルの変化を補正している。これにより、光ディスクＤＫに対して信号の再生を行う際、光ピックアップ２０の温度変化によってフォトディテクタ２８上に集光される反射光の位置がずれ、フォトディテクタ２８の各受光素子から出力される受光信号Ａ〜Ｄの各出力レベルが変化する場合であっても、対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を精度良く行うことができる。この結果、光ディスクＤＫに記録された信号の再生精度を光ピックアップ２０の温度変化に影響されることなく良好に維持できる。
【００４６】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００４７】
上記実施形態においては、温度−増幅率テーブルを計算する際、フォトディテクタ２８から出力された検出信号から作成したフォーカスエラー信号が０となる対物レンズ２５の位置、すなわちフォーカスエラー信号に基づくジャストフォーカス位置において温度−増幅率テーブルを計算するようにした。しかし、フォトディテクタ上に集光される光ディスクＤＫからの反射光の位置がずれれば、対物レンズ２５のフォーカスエラー信号に基づくジャストフォーカス位置は実際のジャストフォーカス位置からずれるため、図５に示すように、対物レンズ２５のフォーカスエラー信号に基づくジャストフォーカス位置（図示「０」の位置）と、実際のジャストフォーカス位置である再生信号のジッタ量が最小となる対物レンズ２５の位置とが異なる。よって、再生信号のジッタ量が最小となる位置で対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御を行った状態で温度−増幅率テーブル内のデータを計算した方がより高精度に温度−増幅率テーブルのデータを得ることができる。
【００４８】
具体的には、図１の破線で示すように、ジッタ測定器５５およびフォーカスオフセット信号発生回路５６および加算器５７をそれぞれ追加する。ジッタ測定器５５は、コントローラ６０によって制御され、再生信号生成回路４７から出力される再生信号のジッタ量を測定してコントローラ６０に出力する。フォーカスオフセット信号発生回路５６は、コントローラ６０によって制御され、フォーカスオフセット信号を加算器５７を介してドライブ回路４６に出力する。フォーカスオフセット信号は、対物レンズ２５の光軸方向における変位可能範囲内において、対物レンズ２５をプラス方向（光ディスクＤＫに近づく方向）またはマイナス方向（光ディスクＤＫから遠ざかる方向）に一定量だけ変位させるための信号である。このフォーカスオフセット信号によって表される一定量は、コントローラ６０によって計算されるフォーカスオフセット量ＦΔである。加算器５７は、フォーカスサーボ回路４５から出力されるフォーカスサーボ信号に前記フォーカスオフセット信号を重畳してドライブ回路４６に出力する。
【００４９】
このように構成された光ディスク検査装置において、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄの温度−増幅率テーブル内にデータを設定する際には、作業者は、上記実施形態と同様に、図示しない電源スイッチの投入により、コントローラ６０を含む光ディスク検査装置の各種回路の作動を開始させるとともに、未記録領域またはミラー領域を有する光ディスクＤＫをターンテーブル１３上に載置して固定する。そして、作業者は、入力装置６１を操作して温度−増幅率テーブルの設定をコントローラ６０に指示する。この指示に応答してコントローラ６０は、図６Ａ，６Ｂに示す温度−増幅率テーブル設定プログラムの実行をステップＳ２００にて開始する。この図６Ａ，６Ｂに示す温度−増幅率テーブル設定プログラムは、上記実施形態で用いた図４に示す温度−増幅率テーブル設定プログラムにフォーカスオフセット信号を出力するためのステップを付加したものである。したがって、上記実施形態と同一の処理については説明を省略する。
【００５０】
図６Ａに示す温度−増幅率テーブル設定プログラムにおいて、ステップＳ２０２〜ステップＳ２１２の各処理は、上記実施形態におけるステップＳ１０２〜ステップＳ１１２の各処理と同様であるので説明を省略する。すなわち、コントローラ６０は、ステップＳ２０２〜ステップＳ２１２の各処理を実行することにより温度検出器３２によって検出される光ピックアップ２０内の温度が増幅率計算温度ＴＧ（ｎ）に達した後、ステップＳ２１３にてフィードモータ１２の駆動により光ディスクＤＫ上に形成されている光スポットを光ディスクＤＫにおける記録領域へ移動し、トラッキングサーボおよびスレッドサーボを開始して、光スポットがトラックを追従するようにする。そして、ステップＳ２１４を実行する。コントローラ６０は、ステップＳ２１４にて、フォーカスオフセット量ＦΔの計算および測定したジッタ量Ｊを記憶する際に用いる変数ｐを「０」にリセットする。
【００５１】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２１６にて、フォーカスオフセット量ＦΔをフォーカスオフセット信号発生回路５６に出力する。このフォーカスオフセット量ＦΔは、下記式２によって計算される。下記式２において、ＦＭＩＮは、フォーカスサーボ制御されている対物レンズ２５を、対物レンズ２５のフォーカスエラー信号におけるジャストフォーカス位置からの変位範囲内における下限位置に変位させるための差分値を表すフォーカスオフセット量であり、コントローラ６０に予め設定されている。また、下記式２において、Ｋは、フォーカスオフセット量ＦΔの値を増加させる増加量を表す。
【数２】
2007294046.tif 000004
【００５２】
フォーカスオフセット信号発生回路５６は、コントローラ６０から出力されたフォーカスオフセット量ＦΔを表すフォーカスオフセット信号を生成して加算器５７に出力する。加算器５７は、フォーカスサーボ回路４５から出力されるフォーカスサーボ信号に前記フォーカスオフセット信号を重畳してドライブ回路４６に出力する。これにより、対物レンズ２５は、フォーカスサーボ信号によって表される変位量に対してフォーカスオフセット信号が表すフォーカスオフセット量ＦΔが加味された変位量によって位置決めされる。具体的には、対物レンズ２５のフォーカスエラー信号におけるジャストフォーカス位置からの変位範囲内の最下限の位置である。
【００５３】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２１８にて、ジッタ測定器５５の作動を開始させる。これにより、ジッタ測定器５５は、再生信号生成回路５１から出力される再生信号（検出信号Ａ〜ＤによるＳＵＭ信号）を入力して同再生信号のジッタ量Ｊを測定するとともに、同測定したジッタ量Ｊを表す信号をコントローラ６０に出力する。そして、コントローラ６０は、ステップＳ２２０にて、ジッタ測定器５５によって測定された再生信号のジッタ量Ｊをフォーカスオフセット量ＦΔに対応させてメモリ６０ａに記憶した後、ステップＳ２２２にて、ジッタ測定器５５の作動を停止させる。
【００５４】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２２４にて、対物レンズ２５の光軸方向における位置がフォーカスエラー信号におけるジャストフォーカス位置からの変位範囲の上限に達したか否かを判定する。この場合、コントローラ６０には、フォーカスサーボ制御されている対物レンズ２５を、対物レンズ２５のフォーカスエラー信号におけるジャストフォーカス位置からの変位範囲内における上限位置に変位させるための差分値を表すフォーカスオフセット量ＦＭＡＸが予め設定されている。したがって、コントローラ６０は、前記ステップＳ２１６にて計算したフォーカスオフセット量ＦΔがフォーカスオフセット量ＦＭＡＸに達するまでこの判定処理において「Ｎｏ」と判定し続けステップＳ２２６を介してステップＳ２１６に戻る。ステップＳ２２６においてコントローラ６０は、変数ｐをインクリメントしてステップＳ１１０に戻る。すなわち、変数ｐがインクリメントされるごとにフォーカスオフセット量ＦΔが増加量Ｋずつ増加する。
【００５５】
一方、コントローラ６０は、フォーカスオフセット量ＦΔがフォーカスオフセット量ＦＭＡＸに達した場合には、同判定処理において「Ｙｅｓ」と判定してステップＳ２２８に進む。すなわち、ステップＳ２１６〜ステップＳ２２６のルーチン処理によって、対物レンズ２５を変位可能範囲における下限位置から上限位置までフォーカスオフセット量ＦΔの増加量Ｋごとに変位させて、各位置ごとに再生信号のジッタ量を測定している。これにより、図５に示すように、対物レンズ２５の光軸方向の位置（フォーカスオフセット量ＦΔ）に応じたジッタ量がコントローラ６０のメモリ６０ａに記憶される。
【００５６】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２２８にて、最適フォーカスオフセット量ＦΔＶを計算する。コントローラ６０は、前記メモリ６０ａに記憶したジッタ量のうち、最小のジッタ量に対応するフォーカスオフセットＦΔを最適フォーカスオフセットＦΔＶとして計算する。そして、コントローラ６０は、ステップＳ２３０にて、最適フォーカスオフセット量ＦΔＶを表す信号をフォーカスオフセット信号発生回路５６に出力する。フォーカスオフセット信号発生回路５６は、前記と同様にコントローラ６０から出力された最適フォーカスオフセット量ＦΔＶを表す信号からフォーカスオフセット信号を生成して加算器５７に出力する。加算器５７は、フォーカスサーボ回路４５から出力されるフォーカスサーボ信号に前記フォーカスオフセット信号を重畳してドライブ回路４６に出力する。これにより、対物レンズ２５は、フォーカスサーボ信号によって表される変位量に対してフォーカスオフセット信号が表す最適フォーカスオフセット量ＦΔＶが加味された変位量によって位置決めされる。すなわち、対物レンズ２５は、再生信号のジッタ量が最小となる位置にフォーカスサーボ制御される。
【００５７】
次に、コントローラ６０は、ステップＳ２３１にてトラッキングサーボおよびスレッドサーボを停止して、フィードモータ１２の駆動により光ディスクＤＫ上に形成されている光スポットを光ディスクＤＫにおける未記録領域またはミラー領域へ移動させる。そして、再生信号のジッタ量が最小となる位置に対物レンズ２５をフォーカスサーボ制御した状態で、ステップＳ２３２以降の各処理、具体的には、ステップＳ２３２〜ステップＳ２５２の各処理を実行する。これらのステップＳ２３２〜ステップＳ２５２の各処理は、上記実施形態におけるステップＳ１１４〜ステップＳ１３４の各処理と同様であるので説明を省略する。これにより、再生信号のジッタ量が最小となる位置に対物レンズ２５をフォーカスサーボ制御した状態で温度−増幅率テーブル内のデータが生成される。そして、コントローラ６０は、ステップＳ２５４にて、この増幅率計算プログラムの実行を終了する。
【００５８】
次に、作業者は、上記実施形態と同様にして、ターンテーブル１３上の光ディスクＤＫを取り外すとともに、同ターンテーブル１３上に検査対象となる光ディスクＤＫを固定する。そして、作業者は、入力装置６１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ６０に指示する。この指示に応答して、コントローラ６０は、上記実施形態と同様に、図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を開始する。この場合、コントローラ６０は、光ピックアップ２０の温度変化に起因して生じる検出信号Ａ〜Ｄの出力レベルの変化を補正しながら光ディスクＤＫの検査を行う。
【００５９】
これによれば、光ピックアップ２０の温度変化によってフォトディテクタ上に集光される反射光の位置がずれても、対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御をさらに精度良く行うことができる。この結果、光ディスクＤＫから検査用信号を精度よく再生することができ、光ディスクＤＫの検査精度も向上させることができる。
【００６０】
また、上記実施形態においては、４つの受光素子からなるフォトディテクタ２８を用いた。しかし、光ピックアップ２０の温度変化に起因してフォトディテクタ上に形成される光スポットの位置が変位することにより、検出される検出信号の出力レベルが変化するフォトディテクタ、すなわち、２つ以上の複数の受光領域で構成されるフォトディテクタであれば、受光領域の数は限定されるものではない。例えば、２つの受光素子からなるフォトディテクタを用いるようにしてもよいし、５つ以上の受光素子からなるフォトディテクタを用いるようにしてもよい。これによっても、上記実施形態と同様の効果が期待できる。
【００６１】
また、上記実施形態においては、フォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを用いて、対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御を行うように構成した。しかし、対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御に用いる検出信号と、同対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御に用いる検出信号とを別のフォトディテクタからそれぞれ出力される検出信号を用いて行うように構成してもよい。この場合、各フォトディテクタから出力される各検出信号ごとに、各検出信号の出力レベルを補正するための温度−増幅率テーブルを設定するようにすればよい。
【００６２】
また、上記実施形態においては、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄのメモリ５４Ａａ〜５４Ｄａに用意された温度−増幅率テーブル内にデータを設定するために、光ディスク検査装置にＨＦ信号選択回路５１、Ａ／Ｄ変換器５２および平均値計算回路５３を備えるとともに、コントローラ６０に温度−増幅率テーブル設定プログラムを実行するように構成した。しかし、光ディスク検査装置に接続した外部装置により温度−増幅率テーブル内に設定されるデータの計算および同温度−増幅率テーブル内への設定できるようにすれば、同データを計算および設定するための構成、具体的には、ＨＦ信号選択回路５１、Ａ／Ｄ変換器５２および平均値計算回路５３を有さないとともに、温度−増幅率テーブル設定プログラムをコントローラ６０に実行させない構成の光ディスク検査装置にも本発明を適用することができる。すなわち、この光ディスク検査装置に前記外部装置を接続し、この外部装置によって温度−増幅率テーブル内に設定されるデータを計算するとともに、同計算したデータを温度−増幅率テーブルに設定するようにすればよい。
【００６３】
これによれば、光ディスクの生産ラインのように、多数の光ディスク検査装置が配置される場合、それぞれの光ディスク検査装置ごとに外部装置を接続して温度−増幅率テーブルに設定されるデータを計算させるとともに、同計算したデータを温度−増幅率テーブルに設定するようにすれば、光ディスク検査装置の構成を簡単にできるとともにコストを抑えることができる。
【００６４】
また、上記実施形態においては、光ピックアップ２０内に温度検出器３２を設けたが、光ピックアップ２０の温度、より具体的には、光ピックアップ２０を構成する各種光学部品や同光学部品を支持する支持部品、またはこれらの部品の雰囲気温度が検出できれば、これに限定されるものではない。例えば、光ピックアップ２０を構成する部品（例えば、偏光ビームスプリッタ２３）の温度を検出するようにしてもよいし、光ピックアップ２０の筐体または同筐体の外側の温度を検出するように構成してもよい。これによっても、上記実施形態と同様の効果が期待できる。
【００６５】
また、上記実施形態においては、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄのメモリ５４Ａａ〜５４Ｄａに温度−増幅率テーブルを用意するとともに、同用意した温度−増幅率テーブルを用いてＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの増幅率ＧＡ〜ＧＤを制御するように構成した。しかし、光ピックアップ２０の温度に応じてＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄの増幅率ＧＡ〜ＧＤが制御できれば、これに限定されるものではない。例えば、温度−増幅率テーブル設定プログラムの実行によって検出された光ピックアップ２０内の温度に対する増幅率ＧＡ〜ＧＤの関係、すなわち図３に示す関係から光ピックアップ２０内の温度に対応する増幅率ＧＡ〜ＧＤを計算するための関数を計算し、ゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄに記憶させておく。そして、光ディスクＤＫの検査時においてゲイン制御回路５４Ａ〜５４Ｄは、温度検出器３２によって検出される光ピックアップ２０内の温度と前記記憶した関数とを用いて、増幅率ＧＡ〜ＧＤを計算してＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄに出力する。これによっても、上記実施形態と同様の効果が期待できる。
【００６６】
また、これに代えて、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄにおける各増幅率を一定の大きさの増幅率としておき、ＨＦ信号増幅回路４３Ａ〜４３Ｄから出力される各検出信号Ａ〜Ｄに対して光ピックアップ２０内の温度変化に応じたオフセット量を、それぞれ加算するように構成してもよい。これによっても、上記実施形態と同様の効果が期待できる。
【００６７】
さらに、上記実施形態においては、光ディスクＤＫを検査するための光ディスク装置に本発明を適用するようにしたが、本発明は光ディスクＤＫを検査する以外の目的で光ディスクＤＫに信号を記録し、または光ディスクＤＫに記録されている信号を再生する光ディスク装置の場合にも広く適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１の光ディスク検査装置に用いられる光ピックアップの概略図である。
【図３】増幅率計算温度に対する増幅率の関係を示すグラフである。
【図４】図１の光ディスク検査装置におけるコントローラによって実行される温度−増幅率テーブル設定プログラムのフローチャートである。
【図５】対物レンズの光軸方向の位置に対する再生信号のジッタ量の関係を示すグラフである。
【図６Ａ】図１の光ディスク検査装置におけるコントローラによって実行される温度−増幅率テーブル設定プログラムのフローチャートの一部である。
【図６Ｂ】図１の光ディスク検査装置におけるコントローラによって実行される温度−増幅率テーブル設定プログラムのフローチャートの一部である。
【図７】フォトディテクタ上に集光される光ディスクからの反射光の状態を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６９】
ＤＫ…光ディスク、１０…回転駆動装置、１１…スピンドルモータ、１２…フィードモータ、２０…光ピックアップ装置、２１…レーザ光源、２５…対物レンズ、２８…フォトディテクタ、３２…温度検出器、４１，５２…Ａ／Ｄ変換器、４３Ａ〜４３Ｄ…ＨＦ信号増幅回路、５１…ＨＦ信号選択回路、５３…平均値計算回路、５４Ａ〜５４Ｄ…ゲイン制御回路、５４Ａａ〜５４Ｄａ…メモリ、６０…コントローラ，６０ａ…メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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