(57)【要約】【課題】測定精度を確保しながら、異方性導電ゴムの使用量が少なくて済む電子部品測定装置を提供すること。【解決手段】測定手段３２は、電子部品２０との電気的接続を行うための異方性導電ゴム２４を備え、電子部品２０及び異方性導電ゴム２４の合成特性値Ｕ１を測定する。記憶手段３３は、異方性導電ゴム２４の特性値Ｕ２を記憶する。処理手段３４は、電子部品２０及び異方性導電ゴム２４の合成特性値Ｕ１と、異方性導電ゴム２４の特性値Ｕ２とを比較することにより、電子部品２０の特性測定値Ｕ３を求め、得られた電子部品２０の特性測定値Ｕ３を解析することにより、異方性導電ゴム２４の劣化状態を判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定手段と、記憶手段と、処理手段とを含む電子部品測定装置であって、
前記測定手段は、電子部品との電気的接続を行うための異方性導電ゴムを備え、電子部品及び前記異方性導電ゴムの合成特性値を測定し、
前記記憶手段は、前記異方性導電ゴムの特性値を記憶し、
前記処理手段は、前記測定手段から得られた電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値と、前記記憶手段から得られた異方性導電ゴムの特性値とを比較することにより、電子部品の特性測定値を求め、得られた電子部品の特性測定値を解析することにより、前記異方性導電ゴムの劣化状態を判定する、
電子部品測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載された電子部品測定装置であって、更に、供給手段を含んでおり、
前記供給手段は、帯状に形成された前記異方性導電ゴムを前記測定手段に供給する、
電子部品測定装置。
【請求項３】
請求項２に記載された電子部品測定装置であって、
前記供給手段は、帯状に形成された前記異方性導電ゴムを前記測定手段に供給する供給リールと、前記測定手段を通った前記異方性導電ゴムを巻き取る巻き取りリールとを備える、
電子部品測定装置。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載された電子部品測定装置であって、
前記処理手段は、異方性導電ゴムの劣化状態を判定した結果に基づき、前記供給手段による異方性導電ゴムの送り動作を制御する、
電子部品測定装置。
【請求項５】
電子部品の測定方法であって、
電子部品との電気的接続を行うための異方性導電ゴムを用意し、
電子部品及び前記異方性導電ゴムの合成特性値を測定し、
測定された電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値と、前記異方性導電ゴムの特性値とを比較することにより、電子部品の特性測定値を求め、
前記電子部品の特性測定値を解析することにより、前記異方性導電ゴムの劣化状態を判定する
電子部品測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子部品測定装置では、一般に、プリント基板上に異方性導電ゴムを介して電子部品を配置し、電子部品を導通させた状態で測定を行う。異方性導電ゴムは、電子部品をプリント基板に導通させるための接触子（プローブ）として機能する。
【０００３】
このような電子部品測定装置で電子部品の測定を繰り返すと、異方性導電ゴムに汚れや損傷などの劣化が生じることがある。電子部品の測定精度は、異方性導電ゴムの状態によって左右され、異方性導電ゴムの劣化は、電子部品の測定精度の低下を招く。
【０００４】
特許文献１は、帯状の異方性導電ゴムを採用し、電子部品のリード（入出力端子）との関係でみて異方性導電ゴムに送りを加え、これにより、電子部品のリードに対する異方性導電ゴムの接触面を常に新しいものに変える技術を開示している。
【０００５】
しかし、特許文献１の開示技術では、異方性導電ゴムが電子部品のリードに接触、或いは接触後、離脱する度に、異方性導電ゴムに送りを加える。すなわち、異方性導電ゴムの該当部分が劣化しているか否かに拘わらずに異方性導電ゴムの送りを行なうから、異方性導電ゴムが大量に消費される恐れがある。異方性導電ゴムは、非常に高価であり、経済的な観点からみて大量消費は好ましくない。
【特許文献１】特開平５−１２９３８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の課題は、測定精度を確保しながら、異方性導電ゴムの使用量が少なくて済む電子部品測定装置及び電子部品測定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
＜電子部品測定装置＞
上述した課題を解決するため、本発明に係る電子部品測定装置は、測定手段と、記憶手段と、処理手段とを含む。
【０００８】
前記測定手段は、電子部品との電気的接続を行うための異方性導電ゴムを備え、電子部品及び前記異方性導電ゴムの合成特性値を測定する。
【０００９】
前記記憶手段は、前記異方性導電ゴムの特性値を記憶する。前記処理手段は、前記測定手段から得られた電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値と、前記記憶手段から得られた異方性導電ゴムの特性値とを比較することにより、電子部品の特性測定値を求め、得られた電子部品の特性測定値を解析することにより、前記異方性導電ゴムの劣化状態を判定する。
【００１０】
上述したように、本発明に係る電子部品測定装置において、測定手段は、電子部品との電気的接続を行うための異方性導電ゴムを備え、電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値を測定する。
【００１１】
記憶手段は、異方性導電ゴムの特性値を記憶する。処理手段は、測定手段から得られた電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値と、記憶手段から得られた異方性導電ゴムの特性値とを比較することにより、電子部品の特性測定値を求める。例えば、劣化していない状態での異方性導電ゴムの特性値を予め測定し、記憶しておく。更に、電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値から、この異方性導電ゴム特性値を差分として引くことにより電子部品の特性測定値を求めることができる。
【００１２】
更に、処理手段は、得られた電子部品の特性測定値を解析することにより、異方性導電ゴムの劣化状態を判定する。本出願人が検討したところ、異方性導電ゴムが劣化すると、測定精度が悪化し、ロットでみて、電子部品の特性測定値にばらつき（分散量）の増大が見られる。特性測定値のばらつき増大が電子部品そのものに起因しているか、異方性導電ゴムの劣化に起因しているかは、ロット全体の歩留まりを考慮すれば明確に判断することができ、これにより、異方性導電ゴムの劣化状態を判定することができる。
【００１３】
このような劣化状態判定結果に従い、測定手段への異方性導電ゴムの供給を制御すればよい。例えば、異方性導電ゴムに劣化なしと判定している間は、異方性導電ゴムの更新を停止させておき、異方性導電ゴムに劣化ありと判定したとき初めて、異方性導電ゴムの更新を行う。よって、合理的な判断に基づいて異方性導電ゴムの供給を行うことができ、測定精度を確保しながら、異方性導電ゴムの使用量を少なく済ますことが可能となる。
【００１４】
一つの実施形態において、電子部品測定装置は、更に供給手段を含む。供給手段は、帯状に形成された異方性導電ゴムを測定手段に供給する。かかる構成の場合、異方性導電ゴムに送りを加えることにより、異方性導電ゴムを更新することができる。好適には、供給手段は、帯状に形成された異方性導電ゴムを測定手段に供給する供給リールと、測定手段を通った異方性導電ゴムを巻き取る巻き取りリールとを備える。
【００１５】
処理手段は、異方性導電ゴムの劣化状態を判定した結果に基づき、供給手段による異方性導電ゴムの送り動作を制御することが好ましい。かかる構成によれば、合理的な判断に基づいた異方性導電ゴムの供給システムが達成される。
【００１６】
＜電子部品測定方法＞
本発明に係る電子部品の測定方法では、電子部品との電気的接続を行うための異方性導電ゴムを用意する。更に、電子部品及び前記異方性導電ゴムの合成特性値を測定する。
【００１７】
そして、測定された電子部品及び異方性導電ゴムの合成特性値と、前記異方性導電ゴムの特性値とを比較することにより、電子部品の特性測定値を求める。更に、前記電子部品の特性測定値を解析することにより、前記異方性導電ゴムの劣化状態を判定する。
【００１８】
本発明に係る電子部品測定方法によれば、上述した電子部品測定装置と同様な作用及び効果を得ることができる。よって、重複説明は省略する。
【発明の効果】
【００１９】
以上述べたように、本発明によれば、測定精度を確保しながら、異方性導電ゴムの使用量が少なくて済む電子部品測定装置及び電子部品測定方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
図１は、本発明に係る電子部品測定装置を概念的に示すブロック図である。本発明に係る電子部品測定装置は、測定手段３２と、記憶手段３３と、処理手段３４とを含む。図示の電子部品測定装置は、更に、送出手段３１を含む。送出手段３１は、ロット単位で製造される電子部品２０を、１つずつ測定手段３２に送り出す。
【００２１】
測定手段３２は、電子部品２０との電気的接続を行うための異方性導電ゴム２４を備え、送出手段３１から送り出された電子部品２０と、異方性導電ゴム２４との合成特性値Ｕ１を測定する。更に、測定手段３２は、電子部品２０及び異方性導電ゴム２４の合成特性値Ｕ１を、処理手段３４に送る。
【００２２】
記憶手段３３には、異方性導電ゴム２４の、劣化していない状態における特性値Ｕ２が予め記憶されている。この異方性導電ゴム２４の特性値Ｕ２としては、予め測定した値を用いることができる。
【００２３】
処理手段３４は、測定手段３２から送られた電子部品２０及び異方性導電ゴム２４の合成特性値Ｕ１と、記憶手段３３から提供された異方性導電ゴム２４の特性値Ｕ２とを比較し、この比較結果により、電子部品２０の特性測定値Ｕ３を求める。処理手段３４は、電子部品２０の特性測定値Ｕ３を出力する。
【００２４】
更に、処理手段３４は、得られた電子部品２０の特性測定値Ｕ３を解析し、この解析結果によって、異方性導電ゴム２４の、測定手段３２に与えられている該当部分の劣化状態を判定する。具体的な判定例としては、異方性導電ゴムの劣化状態を二段階でみる判定、すなわち、異方性導電ゴムに劣化なし、または劣化ありとする判定を行う。また、異方性導電ゴムの劣化状態を多段階でみる判定を行ってもよい。処理手段３４は、異方性導電ゴムの劣化状態に関する判定結果Ｓ１を出力する。
【００２５】
図示の電子部品測定装置は、更に、供給手段３５を含む。供給手段３５は、帯状に形成された異方性導電ゴム２４を、測定手段３２に供給する。より具体的には、供給手段３５は、帯状の異方性導電ゴム２４を測定手段３２に供給する供給リール２３と、測定手段３２を通った異方性導電ゴム２４を巻き取る巻き取りリール２５とを備えている。
【００２６】
処理手段３４は、異方性導電ゴムの劣化状態を判定した結果に基づき、供給手段３５による異方性導電ゴム２４の送り動作を制御する（制御Ｓ２）。具体的な制御例としては、異方性導電ゴムに劣化なしと判定している間、供給手段３５に、異方性導電ゴム２４の送りを停止するような制御を与える。そして、異方性導電ゴムに劣化ありと判定したとき、供給手段３５に、異方性導電ゴム２４に送りを加えるような制御を与える。
【００２７】
異方性導電ゴムに劣化なしと判定している間、必ずしも、異方性導電ゴム２４の送りを停止するとは限らない。例えば、別の制御例では、異方性導電ゴムに劣化なしと判定している間、異方性導電ゴム２４の送り量を、ゼロでない小さい値に制御する。そして、異方性導電ゴムに劣化ありと判定したとき、異方性導電ゴム２４の送り量を、大きい値に制御する。
【００２８】
図２は、本発明に係る電子部品測定装置の具体的な構成の一例を示す図である。図示の電子部品測定装置５１は、パーツボール１と、リニアフィーダー２と、インデックステーブル３と、測定部４と、測定装置５と、情報処理装置６とを含んでおり、電子部品包装装置５２と組み合わせて使用されている。
【００２９】
パーツボール１、リニアフィーダー２及びインデックステーブル３は、図１に示された送出手段３１として機能する。具体的に説明すると、パーツボール１は、ロット単位で製造される多数の電子部品を含んでいる。電子部品としては、セラミックコンデンサや集積回路チップなど、何れの電子部品でもよいが、ここでは、高周波用電子部品、特にバンドパスフィルタを例に挙げる。
【００３０】
リニアフィーダー２は、パーツボール１から供給される電子部品を、１つずつインデックステーブル３に渡す。インデックステーブル３は、矢印ａの向きに回転駆動され、リニアフィーダー２から受け取った電子部品を、測定部４まで運ぶ。
【００３１】
図３は、図２に示した電子部品測定装置において測定部４付近の構成を詳しく示す図である。但し、図３は、インデックステーブル３の主面に垂直な断面で見ている。測定部４付近には、測定治具２２と、押し付けユニット２１と、異方性導電ゴム２４とが備えられる。
【００３２】
測定治具２２、押し付けユニット２１、異方性導電ゴム２４及び測定装置５（図２参照）は、図１に示された測定手段３２として機能する。具体的に説明すると、測定治具２２は、押し付けユニット２１に向き合う面に、複数の測定端子２９を備えている。これらの測定端子２９は、測定装置５（図２参照）に接続されている。測定装置５については、後述する。
【００３３】
押し付けユニット２１は、インデックステーブル３に配置された電子部品２０を、測定治具２２に押し付ける機能を有する。異方性導電ゴム２４は、押し付けユニット２１と、測定治具２２との間に配置される。
【００３４】
測定部４付近には、更に、供給リール２３と、巻き取りリール２５とが備えられる。供給リール２３及び巻き取りリール２５は、図１に示された供給手段３５として機能する。まず、供給リール２３は、帯状の異方性導電ゴム２４を、測定治具２２に供給する。具体的には、供給リール２３が矢印ｃの向きに回転するのに伴い、異方性導電ゴム２４が電子部品２０と測定治具２２との間に送り込まれる。
【００３５】
次に、巻き取りリール２５は、測定治具２２からの異方性導電ゴム２４を巻き取る。具体的には、巻き取りリール２５が矢印ｄの向きに回転駆動されると、電子部品２０と測定治具２２との間を通った異方性導電ゴム２４が巻き取られる。
【００３６】
図４は、図２及び図３に示した電子部品測定装置の動作を説明するフローチャートである。図４を参照し、図２及び図３に示した電子部品測定装置の動作について説明する。
【００３７】
測定にあたっては、まず、インデックステーブル３を矢印ａの向きに回転させ、電子部品を、測定部４の所定位置に運ぶ（図２参照）。
【００３８】
次に、押し付けユニット２１を、矢印ｂの向きに降下させ、これにより、電子部品２０を、異方性導電ゴム２４を挟んで測定治具２２に押し付ける（図３参照）。従って、電子部品２０の端子２７と、測定治具２２の測定端子２９とが、異方性導電ゴム２４を介して接続される。電気回路的にみると、電子部品２０の端子２７と、測定治具２２の測定端子２９との間に、異方性導電ゴム２４が挿入された回路となっている。
【００３９】
この状態で、測定処理を行う。従って、測定装置５（図２参照）は、電子部品２０と異方性導電ゴム２４との合成特性を測定することになる。図示実施形態の場合、電子部品２０は高周波用のバンドパスフィルタとなっており、測定装置５は、高周波でみたバンドパスフィルタ及び異方性導電ゴムの合成抵抗値を測定することになる。
【００４０】
情報処理装置６は、図１に示された記憶手段３３及び処理手段３４として機能する。具体的に説明すると、情報処理装置６は、異方性導電ゴム２４の、劣化していない状態における正常抵抗値を、ハードディスクやメモリ等に記憶している。そして、情報処理装置６は、測定装置５から送られた電子部品２０及び異方性導電ゴム２４の合成抵抗値から、異方性導電ゴム２４の正常抵抗値を差分として引き、この演算結果から、電子部品２０の挿入損失測定値（特性測定値）を求める。
【００４１】
次に、異方性導電ゴム２４の劣化状態を判定する処理を行う。すなわち、情報処理装置６は、電子部品２０の挿入損失測定値を解析し、この解析結果によって、異方性導電ゴム２４の、測定治具２２に与えられている該当部分が劣化しているか否かを判定する。本出願人が検討したところ、異方性導電ゴム２４が劣化すると、測定精度が悪化し、ロットでみて、電子部品２０の挿入損失測定値にばらつき（分散量）の増大が見られる。挿入損失測定値のばらつき増大が電子部品２０そのものに起因しているか、異方性導電ゴム２４の劣化に起因しているかは、ロット全体の歩留まりを考慮すれば明確に判断することができ、これにより、異方性導電ゴム２４の劣化状態を判定することができる。
【００４２】
このような劣化状態判定結果に従い、情報処理装置６は、測定治具２２への異方性導電ゴム２４の供給を制御する。よって、合理的な判断に基づいた異方性導電ゴムの供給が可能となり、測定精度を確保しながら、異方性導電ゴムの使用量を少なく済ますことが可能となる。図４を参照し、具体的に説明すると、次の通りである。
【００４３】
まず、「劣化なし」の判定結果のとき、情報処理装置６は、異方性導電ゴム２４に送りを加えることなく、測定終了へと向かう。そして、情報処理装置６は、異方性導電ゴムの劣化状態の判定結果を出力する。次に、押し付けユニット２１を、矢印ｂの向きとは逆向きに上昇させ、測定治具２２への電子部品２０の押し付けを解除する（図３参照）。その後、インデックステーブル３を矢印ａの向きに回転させ、測定済みの電子部品を、不良排出部７またはテーピング部８に運ぶ（図２参照）。電子部品を、不良排出部７またはテーピング部８の何れに運ぶかは、当該電子部品が、挿入損失測定値により、不良品と判定されたか、または良品と判定されたかに依る。
【００４４】
次に、「劣化あり」の判定結果のとき、情報処理装置６は、測定を一時的に停止する処理を行う。次に、情報処理装置６は、供給リール２３及び巻き取りリール２５に、異方性導電ゴム２４に１ピッチの送りを加える制御を与える（図３参照）。この１ピッチ送り量は、電子部品２０の端子２７や、測定治具２２の測定端子２９に接触する異方性導電ゴム２４の面を更新するために必要な一定長さとして設定することができる。この後の動作については、「劣化なし」の判定結果のときと同様であり、重複説明を省略する。
【００４５】
また、「劣化あり」の異方性導電ゴムで測定された電子部品については、異方性導電ゴムに送りを加えた後、測定をやり直してもよいし、測定をやり直さずにそのまま不良排出部７で排出してもよい。
【００４６】
尚、電子部品測定装置５１は、電子部品包装装置５２と組み合わせて使用されることも考えられるため、図２を参照し、電子部品包装装置５２について説明する。
【００４７】
図示の電子部品包装装置５２は、キャリアテープ用リール９と、テーピング部８と、カバーテープ用リール１１と、カバーテープ接着装置１３とを含む。
【００４８】
キャリアテープ用リール９は、帯状のキャリアテープ１０を、テーピング部８に供給する。テーピング部８では、インデックステーブル３からの電子部品がキャリアテープ１０の表面に載置され、付着される。電子部品を載せたキャリアテープ１０は、カバーテープ接着装置１３に運ばれる。
【００４９】
カバーテープ用リール１１は、帯状のカバーテープ１２を、カバーテープ接着装置１３に供給する。カバーテープ接着装置１３は、カバーテープ１２を、電子部品を載せたキャリアテープ１０に合わせ、電子部品を挟んでカバーテープ１２及びキャリアテープ１０を接着する。これにより、電子部品をキャリアテープ１０及びカバーテープ１２で包装した製品テープが得られる。得られた製品テープは、製品テープ巻き取り用リール１４に巻き取られる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明に係る電子部品測定装置を概念的に示すブロック図である。
【図２】本発明に係る電子部品測定装置の具体的な構成の一例を示す図である。
【図３】図２に示した電子部品測定装置において測定部付近の構成を詳しく示す図である。
【図４】図２及び図３に示した電子部品測定装置の動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００５１】
３２            測定手段
２４            異方性導電ゴム
３３            記憶手段
３４            処理手段
【図１】
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【図２】
2007093228.tif 000004
【図３】
2007093228.tif 000005
【図４】
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