(57)【要約】【課題】放射線画像を担持した放射線の照射を受けて電荷を発生し、その電荷を蓄積することにより放射線画像を記録するとともに、読取光の照射を受けて上記電荷の量に応じた画像信号を出力する放射線画像検出器と、放射線画像検出器に向けて読取光を発する面状光源と、放射線画像検出器と面状光源との間に設けられた結像光学系とを備えた放射線画像記録読取装置において、上記読取光の広がりによって発生する再生画像におけるボケを抑制する。【解決手段】面状光源２０から発せられた読取光Ｌを放射線画像検出器１０に正立等倍に結像する結像光学系３０を利用し、面状光源２０から発せられた読取光Ｌを放射線画像検出器１０における所望の画素の範囲に照射するようにする。【選択図】図１
2007093903.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線画像を担持した放射線の照射を受けて電荷を発生し、該電荷を蓄積することにより前記放射線画像を記録するとともに、読取光の照射を受けて電荷を発生し、該電荷の発生により前記蓄積された電荷を検出して該電荷の量に応じた画像信号を出力する放射線画像検出器と、
該放射線画像検出器に向けて前記読取光を発する面状光源と、
前記放射線画像検出器と前記面状光源との間に設けられた、前記面状光源から発せられた読取光を前記放射線画像検出器に結像する結像光学系とを備えた放射線画像記録読取装置において、
前記結像光学系が、前記面状光源から発せられた前記読取光を前記放射線画像検出器に正立に結像するものであることを特徴とする放射線画像記録読取装置。
【請求項２】
前記放射線画像検出器が、前記画像信号が出力される多数の線状電極を有するものであり、
前記面状光源が、前記線状光源の長さ方向に直交する方向に延びる、前記長さ方向に配列された多数の線状光源を有するものであることを特徴とする請求項１記載の放射線画像記録読取装置。
【請求項３】
前記結像光学系が、前記面状光源から発せられた前記読取光を前記放射線画像検出器に等倍に結像するものであることを特徴とする請求項１または２記載の放射線画像記録読取装置。
【請求項４】
前記結像光学系の光量むらに応じた補正画像信号が予め設定された補正画像信号設定部と、
前記補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて前記画像信号を補正する補正部とをさらに備えたことを特徴とする請求項１から３いずれか１項記載の放射線画像記録読取装置。
【請求項５】
前記結像光学系の環境温度を測定する環境温度測定部をさらに備え、
前記補正部が、前記環境温度測定部において測定された環境温度および前記補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて前記画像信号を補正するものであることを特徴とする請求項４記載の放射線画像記録読取装置。
【請求項６】
予め設定された前記結像光学系の環境温度において前記放射線画像検出器を用いて取得された、前記結像光学系の光量むらに応じた補正画像信号が予め設定された補正画像信号設定部と、
前記結像光学系の環境温度が前記予め設定された環境温度となるように制御する環境温度制御部と、
該環境温度制御部により制御された環境温度において前記放射線画像検出器を用いて取得された前記画像信号を、前記補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて補正する補正部とをさらに備えたことを特徴とする請求項１から３いずれか１項記載の放射線画像記録読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像を担持した放射線の照射を受けて電荷を発生して放射線画像を記録するとともに、読取光の照射を受けて上記電荷の量に応じた画像信号を出力する放射線画像検出器を備え、面状光源から発せられた読取光を結像光学系により放射線画像検出器に結像する放射線画像記録読取装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、医療分野などにおいて、被写体を透過した放射線の照射を受けて被写体に関する放射線画像を記録し、その記録された放射線画像に応じた画像信号を検出する放射線画像検出器が各種提案、実用化されている。
【０００３】
上記放射線画像検出器としては、たとえば、放射線の照射により電荷を発生する半導体材料を利用した放射線画像検出器があり、そのような放射線画像検出器として、たとえば、いわゆる光読取方式やＴＦＴ読取方式のものが提案されている。
【０００４】
上記光読取方式の放射線画像検出器としては、たとえば、放射線を透過する第１の電極層、放射線の照射を受けることにより電荷を発生する記録用光導電層、潜像電荷に対しては絶縁体として作用し、かつ潜像電荷と逆極性の輸送電荷に対しては導電体として作用する電荷輸送層、読取光の照射を受けることにより電荷を発生する読取用光導電層、および読取光を透過する線状電極が平行に配列された第２の電極層をこの順に積層してなる放射線画像検出器が提案されている。
【０００５】
そして、上記のような放射線画像検出器を用いて放射線画像の記録および読取りを行う放射線画像記録読取装置が提案されており、上記放射線画像記録読取装置においては、まず、第１の電極層と第２の電極層との間に電圧が印加された状態において、放射線源から被写体に向けて放射線が射出され、被写体を透過した放射線が、放射線画像検出器の第１の電極層側から照射され、第１の電極層を透過して記録用光導電層に照射される。そして、記録用光導電層において放射線の照射により電荷対が発生し、そのうち一方の極性の電荷は第１の電極層に帯電した電荷と結合して消滅し、他方の極性の電荷は潜像電荷として記録用光導電層と電荷輸送層との界面に形成される蓄電部に蓄積されて放射線画像が記録される。
【０００６】
そして、放射線画像の読取りの際には、読取光源から発せられた線状の読取光が第２の電極層側から照射され、その読取光が線状電極を透過して読取用光導電層に照射され、この読取光の照射により読取用光導電層において電荷対が発生し、この電荷対のうちの一方の極性の電荷は蓄電部における潜像電荷と結合し、他方の極性の電荷は第２の電極層の線状電極に帯電した電荷と結合する。そして、上記のように他方の極性の電荷が第２の電極層の線状電極に帯電した電荷と結合することにより線状電極に電流が流れ、この電流が各線状電極に接続された電流検出アンプにより検出されて画像信号が検出されて放射線画像の読取りが行われる。
【０００７】
そして、上記のような放射線画像記録読取装置において用いられる読取光源として、たとえば、有機ＥＬを利用した面状光源が提案されており、たとえば、特許文献１、特許文献２および特許文献３においては、上記放射線画像検出器と上記面状光源とが一体的に積層された放射線画像記録読取装置が提案されている。上記放射線画像記録読装置における面状光源は、平面電極と読取光を発する発光層と放射線画像検出器における線状電極の長さ方向に直交する方向に延設された、読取光を透過する多数の線状電極を有する線状電極層とが積層されたものであり、平面電極と線状電極層における各線状電極との間に電圧を印加することにより発光層から発せられた読取光が線状電極を透過して放射線画像検出器に照射され、各線状電極毎に順次電圧印加を切り替えることにより線状の読取光によって放射線画像検出器を走査することができる。
【０００８】
さらに、特許文献４においては、放射線画像検出器の基板の読取光が照射される側の面に多数の微小凹状構造を形成し、その微小凹状構造の表面に所定の屈折率を有する絶縁膜を製膜し、その微小凹状構造の光学中心と面状光源における線状電極の中心とが一致するように面状光源を放射線画像検出器に設けることによって、面状光源から発せられた線状の読取光を、放射線画像検出器に収束させて照射する放射線画像記録読取装置が提案されている。
【０００９】
【特許文献１】特開２０００−１６２７２６号公報
【特許文献２】特開２００１−２７６９７号公報
【特許文献３】特開２００１−２６４４９６号公報
【特許文献４】特開２００１−６６３６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、特許文献４に記載のように、基板に形成された微小凹状構造と絶縁膜により線状の読取光を収束させたとしても、やはり線状の読取光が広がりを持ってしまい、放射線画像検出器に照射される読取光の幅が、放射線画像検出器における所望の画素サイズよりも大きくなってしまう。また、読取対象画素だけでなく隣接画素も照射することになり、読み取られた画像信号に基づいて再生された画像にボケが生じてしまう。
【００１１】
また、たとえば、上記のような放射線画像検出器と面状光源との間に結像光学系を設けて放射線画像記録読取装置を構成する際、たとえば、結像光学系がガラスなどといった熱膨張率が比較的大きい材料から形成されている場合には、温度変化により結像光学系が伸縮してしまい、結像光学系において局所的に屈折率が変化し、放射線画像検出器に照射される読取光の光量にむらができてしまい、その光量むらが画像パターンとして再生画像にも現れてしまい、正確な再生画像を取得することができない。
【００１２】
本発明は、上記事情に鑑み、上記のような放射線画像検出器と面状光源とを備えた放射線画像記録読取装置において、上記のような再生画像におけるボケを抑制することができる放射線画像記録読取装置を提供することを目的とするものである。
【００１３】
また、上記のような結像光学系の温度変化によって生じる、読取光の照射光量むらにより再生画像に現れる画像パターンを除去することができる放射線画像記録読取装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の放射線画像記録読取装置は、放射線画像を担持した放射線の照射を受けて電荷を発生し、その電荷を蓄積することにより放射線画像を記録するとともに、読取光の照射を受けて電荷を発生し、その電荷の発生により上記蓄積された電荷を検出してその電荷の量に応じた画像信号を出力する放射線画像検出器と、放射線画像検出器に向けて読取光を発する面状光源と、放射線画像検出器と面状光源との間に設けられた、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器に結像する結像光学系とを備えた放射線画像記録読取装置において、結像光学系が、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器に正立に結像するものであることを特徴とする。
【００１５】
また、本放射線画像記録読取装置においては、放射線画像検出器を、画像信号が出力される多数の線状電極を有するものとし、面状光源を、線状光源の長さ方向に直交する方向に延びる、上記長さ方向に配列された多数の線状光源を有するものとすることができる。
【００１６】
また、結像光学系を、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器に等倍に結像するものとすることができる。
【００１７】
また、結像光学系の光量むらに応じた補正画像信号が予め設定された補正画像信号設定部と、補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて画像信号を補正する補正部とをさらに備えたものとすることができる。
【００１８】
また、結像光学系の環境温度を測定する環境温度測定部をさらに備えたものとし、補正部を、環境温度測定部において測定された環境温度および補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて画像信号を補正するものとすることができる。
【００１９】
また、予め設定された結像光学系の環境温度において放射線画像検出器を用いて取得された、結像光学系の光量むらに応じた補正画像信号が予め設定された補正画像信号設定部と、結像光学系の環境温度が予め設定された環境温度となるように制御する環境温度制御部と、環境温度制御部により制御された環境温度において放射線画像検出器を用いて取得された上記画像信号を、補正画像信号設定部に予め設定された補正画像信号に基づいて補正する補正部とをさらに備えるようにすることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の放射線画像記録読取装置によれば、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器に結像する結像光学系を、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器に正立に結像するものとしたので、面状光源から発せられた読取光を放射線画像検出器の所望の画素の範囲に結像させることができ、上記のような再生画像におけるボケを抑制することができる。
【００２１】
また、上記放射線画像記録読取装置において、予め設定された結像光学系の環境温度において放射線画像検出器を用いて取得された、結像光学系の光量むらに応じた補正画像信号に基づいて、被写体の画像信号を補正するようにした場合には、結像光学系の温度変化によって生じる読取光の光量むらに応じた画像パターンを、再生画像から除去することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、図面を参照して本発明の放射線画像記録読取装置の一実施形態について説明する。図１は本放射線画像記録読取装置の概略構成を示す斜視図である。
【００２３】
本放射線画像記録読装置は、図１に示すように、放射線画像を担持した放射線の照射を受けて電荷を発生し、その電荷を蓄積することにより放射線画像を記録するとともに、読取光の照射を受けて電荷を発生し、その電荷の発生により上記蓄積された電荷を検出してその電荷の量に応じた画像信号を出力する放射線画像検出器１０と、放射線画像検出器１０に向けて読取光Ｌを発する面状光源２０と、放射線画像検出器１０と面状光源２０との間に設けられた、面状光源２０から発せられた読取光Ｌを放射線画像検出器１０に結像する結像光学系３０を備えている。
【００２４】
放射線画像検出器１０は、詳細には、図１に示すように、放射線画像を担持した放射線を透過する第１の電極層１１、第１の電極層１１を透過した放射線の照射を受けることにより電荷を発生する記録用光導電層１２、記録用光導電層１２において発生した電荷に対しては絶縁体として作用し、且つその電荷と逆極性の輸送電荷に対しては導電体として作用する電荷輸送層１３、読取光Ｌの照射を受けることにより電荷を発生する読取用光導電層１４、および読取光を透過する線状に延びる多数の線状電極１５ａが平行に配列された第２の電極層１５が、ガラス基板１６上に積層されたものである。そして、記録用光導電層１２と電荷輸送層１３との界面には放射線の照射量に応じて発生した電荷が蓄積される蓄電部１７が形成されている。
【００２５】
第１の電極層１１は、平面形状の電極であり、たとえば、Ａｕなどの材料から形成されるが、放射線を透過する材料であれば如何なる材料で形成してもよい。
【００２６】
記録用光導電層１２は、放射線の照射を受けることにより電荷を発生するものであればよく、放射線に対して比較的量子効率が高く、また暗抵抗が高いなどの点で優れているａ−Ｓｅを主成分とするものを使用する。厚さは１０μｍ程度が適切である。
【００２７】
電荷輸送層１３としては、たとえば、第１の電極層１１に帯電する電荷の移動度と、その逆極性となる電荷の移動度の差が大きい程良く（例えば１０２以上、望ましくは１０３以上）ＰＶＫ（Poly(N-vinylcarbazole)）、ＴＰＤ（N,N’-diphenyl-n,n’-bis(3-methylphenyl)-1,1’-biphenyl-4,4’-diamine）やディスコティック液晶等の有機系化合物、或いはＴＰＤのポリマー（ポリカーボネート、ポリスチレン、ＰＶＫ）分散物，Ｃｌを１０〜２００ｐｐｍドープしたａ−Ｓｅ等の半導体物質が適当である。
【００２８】
読取用光導電層１４としては、読取光Ｌの照射を受けることにより導電性を呈するものであればよく、例えば、ａ−Ｓｅ、Ｓｅ−Ｔｅ、Ｓｅ−Ａｓ−Ｔｅ、無金属フタロシアニン、金属フタロシアニン、ＭｇＰｃ（Magnesium phtalocyanine），ＶｏＰｃ（phaseII of Vanadyl phthalocyanine）、ＣｕＰｃ（Cupper phtalocyanine）などのうち少なくとも１つを主成分とする光導電性物質が好適である。厚さは０．１〜１μｍ程度が適切である。
【００２９】
第２の電極層１５は、上記のように多数の線状電極１５ａからなるものであるが、その材料としては面状光源２０から発せられた読取光を透過するものであれば如何なるものでもよく、たとえば、ＩＴＯやＩＺＯを用いることができる。その厚さは０．２μｍ程度が適切である。また、ＡｌやＡｕなどを読取光Ｌを透過する程度の厚さとして用いることもできる。
【００３０】
なお、本実施形態の放射線画像記録読取装置においては、いわゆる直接変換型の放射線画像検出器１０を用いるようにしたが、放射線の照射により蛍光を発し、その蛍光を光電変換する、いわゆる間接変換型の放射線画像検出器を用いるようにしてもよい。
【００３１】
面状光源２０は、陰極層２１、発光ユニット層２２および陽極層２３が、ガラス基板２４上に積層されたものである。
【００３２】
陰極層２１は、平行に配列された多数の線状電極２１ａから構成されており、線状電極２１ａは、たとえば、アルミニウムなどの導電体により形成される。
【００３３】
陽極層２３は、たとえば、ＩＴＯ膜等の光透過性の導電層から構成されており、ガラス基板２４上に平面状に形成されている。
【００３４】
発光ユニット層２２は、図２に示すように、読取光Ｌを発する発光層２５と等電位面を形成する層２５ａ（以下、「ＣＧＬ」（Ｃｈａｒｇｅ ｇｅｎｅｒｅａｔｉｏｎ ｌａｙｅｒ）という）とが交互に積層されたものである。
【００３５】
面状光源２０は、上記のようにいわゆるマルチフォトンエミッション素子から構成されるものである。なお、面状光源２０は、上記のような層構成に限らず、たとえば、陽極層とホール輸送層と発光層と陰極層との積層構造、陽極層とホール輸送層と発光層と電子輸送層と陰極層との積層構造、陽極層とホール輸送層層と発光層と電子輸送層と電子注入層と陰極層との積層構造等などによって構成するようにしてもよい。
【００３６】
また、面状光源２０における各層の厚さは、図３に示すような厚さで構成することが望ましい。図３に示す厚さで構成することによって、各層から発せられる波長λの読取光Ｌを強め合うようにすることができる。面状光源２０から発せられる読取光Ｌは、各層の膜厚を均一化し、各層の段数を増加することで狭帯域化することができる。
【００３７】
そして、陽極層２３と陰極層２１の各線状電極２１ａとは、駆動電源部４０に電気的に接続されており、この駆動電源部４０は、陽極層２３および各線状電極２１ａに、発光ユニット層２２から読取光を発光させるための駆動電圧を印加するものである。また、駆動電源部４０と各線状電極２１ａとは、スイッチ素子３１を介して接続されており、この各線状電極２１ａに接続されたスイッチ素子３１が順次オンされることによって各線状電極２１ａに順次駆動電圧は印加され、これにより線状の読取光Ｌが順次発光される。
【００３８】
なお、放射線画像検出器１０と面状光源２０とは、図１に示すように、放射線画像検出器１０における線状電極１５ａと面状光源２０の線状電極２１ａとが直交するように配置されており、上記のようにスイッチ素子３１を順次オンすることによって線状の読取光Ｌが、放射線画像検出器１０の線状電極１５ａの長さ方向に向かって走査されることになる。
【００３９】
結像光学系３０は、面状光源２０から発せられた読取光Ｌを放射線画像検出器１０に正立等倍に結像するものである。具体的には、たとえば、図４に示すような、セルフォックレンズ３０ａが２次元状に多数配列されたＳＬＰ（セルフォックレンズプレート：日本板硝子（株）製）や、ＵＭＰＬ（ｕｎｉｔ  ｍｉｃｒｏ  ｐｌａｎａｒ  ｌｅｎｓ：日本板硝子（株）製）や、二次元ロッドスコープ（三菱レーヨン（株）製）などを利用することができる。なお、必ずしも等倍に結像するものを利用する必要はなく、正立に結像するもの利用するのであれば如何なる光学系を利用してもよい。ただし、正立等倍に結像するものを用いた方がより望ましい。また、図４においては、面状光源２０を図示省略してある。
【００４０】
次に、本放射線画像記録読取装置における放射線画像の記録および読取りの作用について、図５を参照しながら説明する。なお、図５においては放射線画像検出器１０におけるガラス基板１６は図示省略してある。
【００４１】
まず、放射線画像検出器１０の第１の電極層１１が負に帯電し、第２の電極層１５の線状電極１５ａが正に帯電するように第１の電極層１１と第２の電極層１５との間に電圧印加される。そして、上記のように電圧印加された状態において、図示省略した放射線源から被写体５０に向けて放射線Ｒが照射される。放射線源から射出された放射線Ｒは、図５（Ａ）に示すように、被写体５０全体に照射され、被写体５０の放射線を透過する部分５０ａを透過した放射線が、放射線画像検出器１０の第１の電極層１１側から照射される。なお、被写体５０において放射線を透過しない部分５０ｂに照射された放射線は放射線画像検出器１０には照射されない。
【００４２】
そして、放射線画像検出器１０に照射された放射線Ｒは、第１の電極層１１を透過し、記録用光導電層１２に照射される。そして、記録用光導電層１２において放射線の照射により電荷対が発生し、そのうち正の電荷は第１の電極層１１に帯電した負の電荷と結合して消滅し、負の電荷は潜像電荷として記録用光導電層１２と電荷輸送層１３との界面に形成される蓄電部１７に蓄積され、放射線画像が記録される。
【００４３】
そして、上記のようにして放射線画像が記録された後、放射線画像の読取りが行われる。放射線画像の読取りの際には、まず、放射線画像検出器１０の第１の電極層１１が接地され、面状光源２０におけるスイッチ素子３１が順次切り替えられ、図２に示す駆動電源部４０により各線状電極２１ａに順次駆動電圧が印加される。そして、上記のような各線状電極２１ａへの駆動電圧の印加により発光ユニット層２２から線状の読取光Ｌが発せられ、その線状の読取光Ｌは結像光学系３０により正立等倍に結像されて放射線画像検出器１０に照射される。
【００４４】
そして、上記のようにして第２の電極層１５側から照射された線状の読取光Ｌは線状電極１５ａを透過して読取用光導電層１４に照射され、この読取光Ｌの照射により読取用光導電層１４において電荷対が発生し、この電荷対のうちの正の電荷は蓄電部１６における潜像電荷と結合し、負の電荷は第２の電極層１５の線状電極１５ａに帯電した正の電荷と結合する。
【００４５】
そして、上記のように負の電荷が第２の電極層１５の線状電極１５ａに帯電した正の電荷と結合することにより線状電極１５ａに電流が流れ、この電流が各線状電極１５ａに接続された電流検出アンプ６０により検出されて画像信号が検出される。
【００４６】
そして、上記のような線状の読取光Ｌの１ラインの照射毎に電流検出アンプ６０により画像信号が検出され、放射線画像を構成する画素毎の画像信号が取得される。そして、放射線画像検出器１０の全面を線状の読取光Ｌで走査することにより放射線画像全体の画素毎の画像信号が取得される。
【００４７】
本放射線画像記録読取装置によれば、面状光源２０から発せられた読取光Ｌを放射線画像検出器１０に結像する結像光学系３０を、面状光源２０から発せられた読取光を放射線画像検出器１０に正立等倍に結像するものとしたので、面状光源２０から発せられた読取光を放射線画像検出器１０における所望の画素の範囲に対応させて結像させることができ、再生画像におけるボケを抑制することができる。
【００４８】
ここで、上記放射線画像記録読取装置において、たとえば、結像光学系３０として、ＳＬＰなどといった多数のレンズが２次元状に配列されたものを使用した場合、レンズが作る像の重なり度の違いによって結像光学系３０全体において光量むらが生じる場合があり、この光量むらに応じたパターンデータが上記のようにして取得した画像信号に含まれてしまい、被写体５０の性状を正確に表わした放射線画像が得られない場合がある。そして、ＳＬＰのような結像光学系３０は温度によって膨張するため、上記のようなパターンデータは結像光学系３０の温度変化によって変動する。したがって、上記のような結像光学系３０の温度変化を考慮して、上記のようなパターンデータを取り除くようにしてもよい。
【００４９】
具体的には、たとえば、図６に示すように、上記のようなパターンデータに対応した補正画像信号が予め設定された補正画像信号設定部６１と、結像光学系３０の環境温度を測定する環境温度測定部６２と、環境温度測定部６２により測定された環境温度と補正画像信号設定部６１において設定された補正画像信号に基づいて画像信号を補正して補正済画像信号を出力する補正部６３とを設けるようにしてもよい。
【００５０】
温度測定部６２は、温度センサーであり、その取り付け位置は結像光学系３０の近傍であることが望ましいが、結像光学系３０の環境温度を実質的に測定できるのであれば如何なる位置に取り付けてもよい。また、結像光学系３０の温度そのものを測定するものであってもよい。
【００５１】
補正画像信号設定部６１には上記のように予め補正画像信号が設定されているが、その補正画像信号の取得方法について以下に説明する。
【００５２】
まず、放射線画像記録読取装置の設置時または起動時において、温度測定部６２により結像光学系３０の環境温度Ｔｒｅｆを測定する。そして、その環境温度Ｔｒｅｆにおいて、上記と同様にして放射線画像の記録および読取りを行って画像信号を取得する。なお、この放射線画像の記録の際、被写体５０は設置しないものとする。そして、上記のようにして取得された画像信号を参照画像信号Ｇｒｅｆとする。
【００５３】
次に、上記のようにして参照画像信号Ｇｒｅｆの読み取られた後の放射線画像検出器１０に対し、所定の消去条件にて消去処理を行って残留電荷を消去した後、再び、上記と同様に読取光を照射して放射線画像検出器１０の空読みを行い、このとき放射線画像検出器１０から出力された画像信号をオフセット画像信号Ｇｏｆｆｓｅｔとして取得する。
【００５４】
そして、上記のような参照画像信号Ｇｒｅｆの取得とオフセット画像信号Ｇｏｆｆｓｅｔの取得を繰り返して行って、複数の参照画像信号Ｇｒｅｆと複数のオフセット画像信号Ｇｏｆｆｓｅｔとを取得する。そして、それぞれの平均画像信号を算出し、平均参照画像信号Ｇｒｅｆ．ａｖｅと平均オフセット画像信号Ｇｏｆ．ａｖｅとを取得する。なお、平均画像信号とは、複数の画像信号について、それぞれ画素毎に平均値を算出し、その平均画素信号からなる画像信号のことを意味する。
【００５５】
そして、平均参照画像信号Ｇｒｅｆ．ａｖｅから平均オフセット画像信号Ｇｏｆ．ａｖｅを減算し、平均補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉ．ａｖｅを取得する。そして、さらに、この平均補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉ．ａｖｅに放射線画像検出器１０の感度補正を施す。具体的には、放射線画像検出器１０の線状電極１５ａの長さ方向に対応する方向に一列に配列された画素信号の平均値をそれぞれの列について求め、これらの平均値が同じ値となるような補正係数ｋｉを求める（なお、ｉは、上記列毎に付された番号）。そして、平均補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉ．ａｖｅの各列の各画素に、上記のようにして求めた補正係数ｋｉを乗じて、補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉを求める。具体的には、１列目の各画素にｋ１を掛け、２列目の各画素にｋ２を掛け、ｉ列目の各画素にはｋｉを掛ける。そして、上記のようにして求めた補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉと測定温度Ｔｒｅｆとを補正画像信号設定部６１に設定する。
【００５６】
次に、補正部６３における補正について説明する。
【００５７】
まず、上記のような被写体５０の放射線画像の記録の直前に温度測定部６２により結像光学系３０の環境温度Ｔを測定する。そして、その環境温度Ｔにおいて、上記と同様にして被写体５０の放射線画像の記録および読取りを行って被写体の画像信号を取得する。そして、上記のようにして取得された画像信号を本画像信号Ｇｈｏｎとする。
【００５８】
次に、上記のようにして本画像信号Ｇｈｏｎの読み取られた後の放射線画像検出器１０に対し、所定の消去条件にて消去処理を行って残留電荷を消去した後、再び、上記と同様に読取光を照射して放射線画像検出器１０の空読みを行い、このとき放射線画像検出器１０から出力された画像信号を本オフセット画像信号Ｇｈｏｎ．ｏｆｆｓｅｔとして取得する。そして、本画像信号Ｇｈｏｎから本オフセット画像信号Ｇｈｏｎ．ｏｆｆｓｅｔを減算して補正前本画像信号Ｇｂｅｆｏｒｅを取得する。そして、この補正前本画像信号Ｇｂｅｆｏｒｅを用いて、上記と同様にして補正係数ｋｉを求め、このｋｉをＧｂｅｆｏｒｅに掛け合わせることにより、上記と同様に放射線画像検出器１０の感度補正を施して補正後画像信号Ｇａｆｔｅｒ．ａを取得する。
【００５９】
そして、次に、補正画像信号設定部６２に設定された測定温度Ｔｒｅｆを取得し、上記のように計測された環境温度Ｔに基づいて、下式（１）から拡大／縮小係数βを求める。
【００６０】
β＝１＋α×（Ｔ−Ｔｒｅｆ）  ・・・  （１）
そして、補正画像信号設定部６２に設定された補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉを取得し、この補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉに対して、上記のようにして求められた拡大／縮小係数βに基づいて拡大処理または縮小処理を施す。
【００６１】
そして、上記のようにして拡大処理または縮小処理の施された補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉによって補正後画像信号Ｇａｆｔｅｒ．ａを除算して補正済画像信号Ｇａｆｔｅｒを取得する。なお、上記除算は、結像光学素子３０における所定の固定点を基準として２つの画像信号を一致させて行うようにすればよい。
【００６２】
そして、上記のようにして取得された補正済画像信号Ｇａｆｔｅｒを用いて再生画像を表示等するようにすればよい。
【００６３】
また、上記説明においては、補正画像信号取得時における温度Ｔｒｅｆと被写体５０の画像信号取得時における温度Ｔとの差に基づいて、温度変化による結像光学系３０の膨張を補正するようにしたが、上記のように被写体５０の画像信号取得時における温度Ｔを測定して補正するのではなく、たとえば、図７に示すように、環境温度制御部６４を設け、この環境温度制御部６４により結像光学系３０の環境温度がＴｒｅｆに維持されるようにし、上記のように拡大／縮小係数βを算出することなく、補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉによって補正後画像信号Ｇａｆｔｅｒ．ａを除算して補正済画像信号Ｇａｆｔｅｒを取得するようにしてもよい。そして、上記のようにして取得された補正済画像信号Ｇａｆｔｅｒを用いて再生画像を表示等するようにすればよい。
【００６４】
また、上記説明においては結像光学系３０の環境温度のみを考慮するようにしたが、湿度も考慮するようにしてもよい。その場合には、たとえば、拡大／縮小係数βを算出する際に、温度だけでなく湿度もパラメータとして含めて算出するようにしたり、また、環境温度制御部６４だけでなく環境湿度制御部も設け、この環境湿度制御部６４により結像光学系３０の環境湿度が、補正画像信号取得時における湿度に維持されるようにし、上記と同様にして補正済画像信号を取得するようにしたりすればよい。
【００６５】
また、上記説明においては結像光学系３０の環境温度を考慮して補正を行うようにしたが、必ずしも環境温度を考慮しなくてもよく、たとえば、図８に示すように構成し、補正画像信号設定部６１に設定された補正画像信号Ｇｈｏｓｅｉを用いて補正するようにしてもよい。
【００６６】
また、図１においては、放射線画像検出器１０と結像光学系３０と面状光源２０とがそれぞれ離れて設置された構成を示したが、たとえば、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と、放射線画像検出器１０のガラス基板１６および面状光源２０のガラス基板２４の光学長とが実質的に同じ大きさである場合には、図９に示すように、これらを貼り合わせるようにしてもよい。また、図９のように貼り合わせる場合には、放射線画像検出器１０のガラス基板１６と結像光学系３０との界面にガラス基板１６と同じ屈折率の液体を充填するようにしてもよい。また、面状光源２０のガラス基板２４と結像光学系３０との界面にガラス基板２４と実質的に同じ大きさの屈折率の液体を充填するようにしてもよい。
【００６７】
また、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と面状光源２０のガラス基板２４の光学長とが実質的に同じ大きさであるが、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と放射線画像検出器１０のガラス基板１６の光学長とが異なる長さである場合には、図１０に示すように、たとえばガラスや樹脂などからなる支持板３１を放射線画像検出器１０と結像光学系３０との間に設け、放射線画像検出器１０のガラス基板１６の光学長と支持板３１の光学長との加算値が結像光学系３０の焦点距離と実質的に同じ大きさとなるようにしてもよい。または、上記支持板３１の代わりに、支持板３１と実質的に同じ大きさの屈折率をもつ液体を充填するようにしてもよい。
【００６８】
また、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と放射線画像検出器１０のガラス基板１６の光学長とが実質的に同じ大きさであるが、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と面状光源２０のガラス基板２４の光学長とが異なる長さである場合には、図１１に示すように、たとえばガラスや樹脂などからなる支持板３２を面状光源２０と結像光学系３０との間に設け、面状光源２０のガラス基板２４の光学長と支持板３２の光学長との加算値が結像光学系３０の焦点距離と実質的に同じ大きさとなるようにしてもよい。または、上記支持板３２の代わりに、支持板３２と実質的に同じ大きさの屈折率をもつ液体を充填するようにしてもよい。
【００６９】
また、結像光学系３０の各レンズの焦点距離と、放射線画像検出器１０のガラス基板１６の光学長および面状光源２０のガラス基板２４の光学長の両方とが異なる長さである場合には、図１２に示すように、たとえばガラスや樹脂などからなる支持板３３を放射線画像検出器１０と結像光学系３０との間に設けるとともに、たとえばガラスや樹脂などからなる支持板３４を面状光源２０と結像光学系３０との間に設け、放射線画像検出器１０のガラス基板１６の光学長と支持板３３の光学長との加算値および面状光源２０のガラス基板２４の光学長と支持板３４の光学長との加算値が、結像光学系３０の焦点距離と実質的に同じ大きさとなるようにしてもよい。または、上記支持板３３，３４の代わりに、支持板３３，３４と実質的に同じ大きさの屈折率をもつ液体を充填するようにしてもよい。
【００７０】
なお、上記放射線画像検出器１０におけるガラス基板１６、面状光源２０におけるガラス基板２４、支持板３１，３２，３３，３４としては、読取光に対し透明でかつ散乱がないものを用いることが望ましい。なお、放射線画像検出器におけるガラス基板１６および／または面状光源２０におけるガラス基板２４をガラスでなく樹脂により構成するようにしてもよい。
【００７１】
また、上記放射線画像検出器１０におけるガラス基板１６、面状光源２０におけるガラス基板２４、支持板３１，３２，３３，３４としては、読取光Ｌにおける特定の波長領域以外の波長領域を吸収するものを利用することが望ましい。たとえば、干渉フィルタやシャープカットフィルタなど利用することができ、また、着色されたガラスや樹脂などを利用するようにしてもよい。上記のようにすることにより結像光学系３０の波長分散による結像特性の劣化を防ぐことができる。
【００７２】
また、上記放射線画像検出器１０におけるガラス基板１６、面状光源２０におけるガラス基板２４、支持板３１，３２，３３，３４を、結像光学系３０の色収差の影響が発生しない透過波長帯域を有する材料から構成するようにすれば、面状光源２０から発光された読取光の発光波長むらの影響を小さくすることができる。
【００７３】
また、上記放射線画像記録読取装置における放射線画像検出器１０は、そのサイズが大きくなると自重によって湾曲する場合がある。特に、マンモ用の放射線画像記録読取装置においては、放射線画像検出器１０の撮影面が水平方向や垂直方向だけでなく、水平方向や垂直方向に対して傾いた方向に向くことがあるので、上記のような湾曲が生じやすい。また、放射線画像検出器１０の各層の熱膨張係数の違いにより湾曲する場合もある。そして、上記のように放射線画像検出器１０が湾曲すると放射線画像検出器１０と面状光源２０との間の光学長が放射線画像検出器１０の場所によって異なることになり、これによって放射線画像検出器１０に結像される線状の読取光の半値幅や光強度が場所によって異なってしまい、放射線画像検出器１０から出力される画像信号の大きさにローカリティをもち、また放射線画像の鮮鋭度も低下することになる。
【００７４】
したがって、上記のような問題を防止するため、たとえば、図１３に示すように、放射線画像検出器１０、結像光学系３０および面状光源２０を、５ｍｍ〜１０ｍｍの厚さのアルミ板などからなるベース板７０上に設置し、これらを固定枠７１でベース板７０に固定するようにしてもよい。なお、ベース板７０は、放射線画像検出器１０が湾曲しない厚さおよび材料ものであれば如何なるものを利用してもよい。
【００７５】
または、図１４に示すように、放射線画像検出器１０が湾曲したとしても、結像光学系３０および面状光源２０もそれぞれ同じ方向に湾曲するように、放射線画像検出器１０、結像光学系３０および面状光源２０を固定枠８０で固定するようにしてもよい。
【００７６】
または、図１５に示すように、放射線画像検出器１０が湾曲したとしても、面状光源２０も放射線画像検出器１０の湾曲方向とは反対側の方向に湾曲するように、放射線画像検出器１０、結像光学系３０および面状光源２０を固定枠９０で固定するようにしてもよい。
【００７７】
または、図１６に示すように、放射線画像検出器１０、結像光学系３０および面状光源２０をそれぞれ接着剤で貼り付けることにより、放射線画像検出器１０が湾曲したとしても、結像光学系３０および面状光源２０もそれぞれ同じ方向に湾曲するように構成するようにしてもよい。また、接着剤としては光硬化型のものを利用することが望ましい。そして、光硬化型の接着剤を用いる場合には、放射線画像検出器１０と結像光学系３０とを接着剤を介して合わせた後、結像光学系３０側から、その光軸に沿った方向から光を照射することにより接着剤を硬化させることができる。そして、面状光源２０と結像光学系３０とを貼り合わせる際には、たとえば、面状光源２０が少なくとも一部が透明である場合には、面状光源２０側から光を照射することによって接着剤を硬化させるようにすればよい。また、面状光源２０が不透明な場合には、面状光源２０を発光させ、その発光光によって接着剤を硬化させるようにすればよい。また、面状光源２０として無機ＥＬを用いた場合も同様である。また、たとえば、放射線画像検出器１０、結像光学系３０および面状光源２０のいずれかを交換したいような場合には、剥離することが必要になるため低粘着性の接着剤を用いることが望ましい。
【００７８】
また、上記のように放射線画像検出器１０と、結像光学系３０と、面状光源２０とを隙間なく貼り合わせるようにすれば、光学長は温度変化に鈍感な放射線画像検出器１０の基板の厚さと屈折率により決まってくるので、温度変化によるピントはずれを抑制することができる。
【００７９】
また、上記放射線画像記録読取装置においては、面状光源として、有機ＥＬ光源を用いるようにしたが、これに限らず、無機ＥＬ光源、液晶パネル、ＦＥＤ（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ：電界放出ディスプレイ）などを利用してもよい。
【００８０】
また、上記放射線画像記録読取装置においては、面状光源２０における各線状電極２１ａに順次駆動電圧を印加することにより、発光ユニット層２２から線状の読取光Ｌを順次発光させ、読取光Ｌによって放射線画像検出器１０をプログレッシブ走査させるようにしたが、たとえば、高解像度な放射線画像や、静止画像を取得したい際に上記のようなプログレッシブ走査を行い、セミ動画や動画を取得したい際には、たとえば、複数の線状電極２１毎に電圧印加し、複数本の線状の読取光Ｌをまとめて発光させ、その複数本分の線状の読取光Ｌにより放射線画像検出器１０を走査するビニング走査をしたり、１本の線状の読取光Ｌにより放射線画像検出器１０をインターレース走査したり、または、これらを組み合わせ、複数本分の線状の読取光Ｌにより放射線画像検出器１０をインターレース走査したりするようにしてもよい。
【００８１】
また、上記放射線画像記録読取装置のように、放射線画像検出器１０と面状光源２０との間に結像光学系２０を設けるのではなく、面状光源２０上に放射線画像検出器１０を形成して放射線画像記録読取装置を構成することも可能であるが、上記のようにして放射線画像記録読取装置を構成すると、その歩留まりは放射線画像検出器１０の歩留まりと面状光源２０の歩留まりとの積になってしまうので歩留まりが悪化する懸念がある。そこで、上記放射線画像記録読取装置のように、放射線画像検出器１０と面状光源２０との間に結像光学系２０を設けるようにし、放射線画像検出器１０と面状光源２０とを別々に製造した後に結像光学系３０を介して接合するようにすれば、それぞれの構成要素の歩留まりのみの影響だけで済むので、歩留まりをアップさせることができ、コストダウンを図ることができる。
【００８２】
また、上記放射線画像記録読取装置のように、結像光学系３０として正立の光学系を採用するようにすれば、面状光源２０から放射線画像記録読取装置１０までの光学長を１０ｍｍ以下にすることができるので、装置全体としての厚さを薄くすることができる。また、結像光学系３０と面状光源２０とのアライメントが不要になり、組み立て調整を容易にすることができるので、製造コストの削減を図ることができる。また、温度変動によるアライメントずれを生じにくくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】本発明の放射線画像記録読取装置の一実施形態における放射線画像検出器、結像光学系および面状光源の斜視図
【図２】図１に示す面状光源の概略構成を示す断面図
【図３】面状光源の望ましい形態を示す図
【図４】図１に示す結像光学系の概略構成図
【図５】図１に示す放射線画像記録読取装置による放射線画像の記録および読取りの作用を説明するための図
【図６】結像光学系の温度補償を行う場合における実施形態の構成を示すブロック図
【図７】結像光学系の温度補償を行う場合における実施形態の構成を示すブロック図
【図８】結像光学系の光量むら補正を行う場合における実施形態の構成を示すブロック図
【図９】放射線画像検出器と結像光学系と面状光源とを一体的に構成する場合の実施形態を示す図
【図１０】放射線画像検出器と結像光学系と面状光源とを一体的に構成する場合のその他の実施形態を示す図
【図１１】放射線画像検出器と結像光学系と面状光源とを一体的に構成する場合のその他の実施形態を示す図
【図１２】放射線画像検出器と結像光学系と面状光源とを一体的に構成する場合のその他の実施形態を示す図
【図１３】放射線画像検出器の湾曲による画像信号への影響を抑制するための構成の実施形態を示す図
【図１４】放射線画像検出器の湾曲による画像信号への影響を抑制するための構成のその他の実施形態を示す図
【図１５】放射線画像検出器の湾曲による画像信号への影響を抑制するための構成のその他の実施形態を示す図
【図１６】放射線画像検出器の湾曲による画像信号への影響を抑制するための構成のその他の実施形態を示す図
【符号の説明】
【００８４】
１０  放射線画像検出器
１１  第１の電極層
１２  記録光導電層
１３  電荷輸送層
１４  読取用光導電層
１５  第２の電極層
１６  ガラス基板
２０  面状光源
２１  陰極層
２２  発光ユニット層
２３  陽極層
２４  ガラス基板
３０  結像光学系
３０ａ  セルフォックレンズ
３２，３３，３４  支持板
５０  被写体
６０  電流検出アンプ
７０  ベース板
７１，８０，９０  固定枠
【図１】
2007093903.tif 000003
【図２】
2007093903.tif 000004
【図３】
2007093903.tif 000005
【図４】
2007093903.tif 000006
【図５】
2007093903.tif 000007
【図６】
2007093903.tif 000008
【図７】
2007093903.tif 000009
【図８】
2007093903.tif 000010
【図９】
2007093903.tif 000011
【図１０】
2007093903.tif 000012
【図１１】
2007093903.tif 000013
【図１２】
2007093903.tif 000014
【図１３】
2007093903.tif 000015
【図１４】
2007093903.tif 000016
【図１５】
2007093903.tif 000017
【図１６】
2007093903.tif 000018