(57)【要約】【課題】相変化型光情報記録媒体に対し、長期間保管したのち記録を行う際に、最適な記録条件を設定できる記録方法を提供して、長期保管後の記録信頼性を向上させること。【解決手段】時間的長さｎ×Ｔｗ（ｎは自然数、Ｔｗはチャンネルビット長）のマークを記録する際に、ｍ個（ｍは自然数）のパワーＰｗの加熱パルスと、ｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを照射し（Ｐｗ＞Ｐｃ）、ｎが奇数の場合はｎ＝２ｍ＋１、ｎが偶数の場合はｎ＝２ｍとし、ｉ番目（ｉはｍ以下の自然数）の加熱パルスの長さをＴＨｉ、ｉ番目の冷却パルスの長さをＴＣｉとして、最適記録パワーを設定する際に、試験記録時と情報記録時とで、任意のｎの場合におけるｍ番目の加熱パルスＴＨｍ及び／又はｍ番目の冷却パルスＴＣｍの設定値を変更することを特徴とする相変化型光情報記録媒体への記録方法。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
時間的長さｎ×Ｔｗ（ｎは自然数、Ｔｗはチャンネルビット長）のマークを記録する際に、ｍ個（ｍは自然数）のパワーＰｗの加熱パルスと、ｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを照射し（Ｐｗ＞Ｐｃ）、ｎが奇数の場合はｎ＝２ｍ＋１、ｎが偶数の場合はｎ＝２ｍとし、ｉ番目（ｉはｍ以下の自然数）の加熱パルスの長さをＴＨｉ、ｉ番目の冷却パルスの長さをＴＣｉとして、最適記録パワーを設定する際に、試験記録時と情報記録時とで、任意のｎの場合におけるｍ番目の加熱パルスＴＨｍ及び／又はｍ番目の冷却パルスＴＣｍの設定値を変更することを特徴とする相変化型光情報記録媒体への記録方法。
【請求項２】
ｎが３以上の奇数の場合にのみ、試験記録時と情報記録時とで、ＴＨｍ及び／又はＴＣｍの設定値を変更することを特徴とする請求項１記載の記録方法。
【請求項３】
試験記録時のＴＨｍの設定値を情報記録時よりも大きくするか、又は、試験記録時のＴＣｍの設定値を情報記録時よりも小さくすることを特徴とする請求項２記載の記録方法。
【請求項４】
最適記録パワーの設定を、試験記録された再生信号のアシンメトリを評価することにより行うことを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の記録方法。
【請求項５】
加熱パルスと冷却パルスの照射領域以外の領域を消去パワーＰｅ（Ｐｃ＜Ｐｅ＜Ｐｗ）で照射し、試験記録時と情報記録時で、ＰｅとＰｗの比（Ｐｅ／Ｐｗ）＝εの設定値を変更することを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の記録方法。
【請求項６】
試験記録時のＰｅとＰｗの比をε１、情報記録時のＰｅとＰｗの比をε２として、ε１＜ε２とすることを特徴とする請求項５記載の記録方法。
【請求項７】
０．８４≦ε１／ε２≦０．９５とすることを特徴とする請求項６記載の記録方法。
【請求項８】
最適記録パワーを設定する際の試験記録領域を有し、最適記録パワーを設定する際の試験記録に使用するＴＨｍ及び／又はＴＣｍの設定値がその製造段階で記録されていることを特徴とする請求項１〜７の何れかに記載の方法で情報を記録することが可能な相変化型光情報記録媒体。
【請求項９】
最適なアシンメトリ値がその製造段階で記録されていることを特徴とする請求項８記載の相変化型光情報記録媒体。
【請求項１０】
最適記録パワーを設定する際の試験記録領域を有し、最適記録パワーを設定する際の試験記録に使用するε１、ε２の設定値がその製造段階で記録されていることを特徴とする請求項６又は７記載の方法で情報を記録することが可能な相変化型光情報記録媒体。
【請求項１１】
請求項１〜７の何れかに記載の記録方法を用いることができるように設定されている相変化型光情報記録媒体への記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＣＤ−ＲＷに代表されるような、記録材料に相変化材料を用い、照射する光の強度変調で記録・再生・消去・書換えが可能な相変化型光情報記録媒体とその記録方法及び記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連する従来技術文献としては、次のようなものがある。
非特許文献１は、ＵＳ  ＣＤ−ＲＷの標準規格書であり、高速記録に対応できる２Ｔストラテジについて規定されている。また、最適記録パワーを設定するγ法について記述されている。しかし、本発明で用いる最短マーク直後の最短スペースを考慮したアシンメトリについては言及されていない。
非特許文献２には、本発明で用いる“２Ｔストラテジ”について詳細に規定されている。本発明の記録方法を適用する光情報記録媒体は、この標準規格書に準拠したものを想定している。ＯＰＣ法についてはγ法が記載されている。
非特許文献３には、ＯＰＣの手段として、アシンメトリに類似したベータ（β）を用いる手法について記載されている。しかし、データ部とＯＰＣ部とで異なるストラテジを用いることに関する記載はない。
【０００３】
また、特許文献１（本出願人の先願に係る）には、互いに異なる２種類のパターンで、記録ストラテジのパラメータを変更させながらテスト記録を行い、テスト記録後の再生信号を評価することにより、最適な記録パラメータを設定する情報記録方法及び装置が開示されている。
本発明も同様の方法を採用しているが、先願では２ｍＴ（ｍは自然数）のみのパターンと（２ｍ−１）Ｔのパターンを用いて比較することを念頭においているため、本発明とは手法が異なる。
上記の他に、本出願人の先願に係る特願２００４−２１５４０８には、特殊なデータ配列のパターンでＯＰＣを実施することにより、記録パワー設定の精度を向上する技術が開示されているが、データの配列のみが異なるパターンを記録するため、記録波形そのものはデータ部と同一のものを用いる点で本発明と異なる。
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−０４８００公報
【非特許文献１】Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ  Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ  Ｓｙｓｔｅｍｓ  ｐａｒｔ  III，  ｖｏｌｕｍｅ３，  ｖｅｒｓｉｏｎ  １．１（通称“Ｏｒａｎｇｅ  Ｂｏｏｋ”）
【非特許文献２】ＤＶＤ＋ＲＷ  ４．７Ｇｂｙｔｅｓ  Ｂａｓｉｃ  Ｆｏｒｍａｔ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ  ｐａｒｔ  １，  ｖｏｌｕｍｅ  ２，  ｖｅｒｓｉｏｎ  １．０（８ｘ記録・書換に対応したＤＶＤ＋ＲＷの標準規格書）
【非特許文献３】ＥＣＭＡ−３４９〔Ｄａｔａ  Ｉｎｔｅｒｃｈａｎｇｅ  ｏｎ  １２０ｍｍ、ａｎｄ、８０ｍｍ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄｉｓｋ  ｕｓｉｎｇ  ＋ＲＦｏｒｍａｔ−Ｃａｐａｃｉｔｙ：４，７ａｎｄ１，４６Ｇｂｙｔｅｓ  ｐｅｒ  Ｓｉｄｅ（Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ  ｓｐｅｅｄ  ｕｐ  ｔｏ  ８Ｘ）〕（ＤＶＤ＋Ｒの標準規格書）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年のデジタル情報の大容量化に対応するために、記録型光ディスクへの書き込み速度向上の要求が高まっている。特に既に普及しているＤＶＤ媒体の高速化要求が高くなっている。追記型のＤＶＤ−Ｒ／＋Ｒ媒体は既に１６倍速対応（走査速度５５．８ｍ／ｓ、チャンネルビットレート４１９Ｍｂｐｓ）まで製品化されているが、書き換え型は高速化が遅れており、ＤＶＤ−ＲＷでは６倍速（走査速度２０．９４ｍ／ｓ、チャンネルビットレート１５７Ｍｂｐｓ）までであり、ＤＶＤ＋ＲＷでは８倍速（走査速度２７．９ｍ／ｓ、チャンネルビットレート２０９Ｍｂｐｓ）までとなっている。その最大の理由は高速化と信頼性の両立にある。
通常、書き換え型の光ディスクは相変化材料を用いた記録層の可逆変化に拠るものが多い。書き換え型の相変化光ディスクの例としては、ＣＤ−ＲＷ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ  ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（何れもＤｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ（Ｈｉｇｈ  Ｄｅｎｓｉｔｙ  ＤＶＤ  ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＢＤ−ＲＥ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）などが例として挙げられる。
【０００６】
具体的には、記録層材料の熱履歴により結晶相中にアモルファス相のマークを形成することと、アモルファス相のマークを結晶相にすることで情報の記録・消去・書換えを可能としている。この手法の最大の利点は、熱履歴だけで結晶−アモルファス間の相変化を可逆的に行うことができることと、特殊な光学系を必要としないため再生専用機との互換性を取り易いことである。
この手法では熱履歴、即ち急冷と徐冷を制御することが必要なため、最高記録速度は記録層材料の結晶化速度に大きく依存する。即ち、高速記録に対応するため、結晶化速度の速い記録層材料を用いることにより、従来では「急冷」となる熱履歴でも「徐冷」とすることが可能となる。しかし、結晶化速度が速い記録層材料は一般的に経時安定性が低くなる傾向にある。低いエネルギーで高速の相変化が起る材料では、室温〜ドライブ動作温度（６０℃程度）の範囲での経時安定性にも影響が出てくる。
特に未記録又は記録後に長期間保管した後で記録又はオーバーライトした場合に特性が悪化することが一般的に知られている。未記録のディスクを保管した後に記録試験を行う方法を「シェルフ」と呼び、記録後のディスクを保管した後にオーバーライトすることを「アーカイバルシェルフ」と呼ぶのが一般的である。
これらの事情から、ＤＶＤ＋ＲＷ  ８ｘディスクでは、標準規格に、経時安定性を保証する「Ｏｖｅｒｗｒｉｔｅ  Ｓｔａｂｉｌｉｔｙ」という、アーカイバルシェルフに関係する規格が追加されている。
【０００７】
これらのアーカイバルオーバーライトは前述のように記録層材料に依存するところが大きいが、記録方法によって改善することが可能である。具体的には記録ストラテジ（記録時にディスクに照射する光の強度変調）や記録パワー（記録時にディスクに照射する光の強度）を最適に設定することで改善可能である。
記録パワーは通常ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）即ち、最適記録パワー制御によって決定される。これは、ディスク上に設けられた試験記録領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ、Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔ  Ａｒｅａと呼ばれる）にドライブが試験記録を行い最適記録パワーを算出する手法である。
しかし、長期間の保管又はシェルフ試験後のディスクにＯＰＣを行った場合、ＰＣＡの特性も変わってしまっているため、算出される記録パワーを、多数回のオーバーライトを含めて最適条件とすることは困難である。また、記録後に時間が経過した個所と未記録で時間が経過した個所とでも算出されるパワーが異なる場合がある。
したがって、本発明の課題は、相変化型光情報記録媒体に対し、長期間保管したのち記録を行う際に、最適な記録条件を設定できる記録方法を提供して、長期保管後の記録信頼性を向上させることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題は、次の１）〜１１）の発明（以下、本発明１〜１１という）によって解決される。
１）  時間的長さｎ×Ｔｗ（ｎは自然数、Ｔｗはチャンネルビット長）のマークを記録する際に、ｍ個（ｍは自然数）のパワーＰｗの加熱パルスと、ｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを照射し（Ｐｗ＞Ｐｃ）、ｎが奇数の場合はｎ＝２ｍ＋１、ｎが偶数の場合はｎ＝２ｍとし、ｉ番目（ｉはｍ以下の自然数）の加熱パルスの長さをＴＨｉ、ｉ番目の冷却パルスの長さをＴＣｉとして、最適記録パワーを設定する際に、試験記録時と情報記録時とで、任意のｎの場合におけるｍ番目の加熱パルスＴＨｍ及び／又はｍ番目の冷却パルスＴＣｍの設定値を変更することを特徴とする相変化型光情報記録媒体への記録方法。
２）  ｎが３以上の奇数の場合にのみ、試験記録時と情報記録時とで、ＴＨｍ及び／又はＴＣｍの設定値を変更することを特徴とする１）記載の記録方法。
３）  試験記録時のＴＨｍの設定値を情報記録時よりも大きくするか、又は、試験記録時のＴＣｍの設定値を情報記録時よりも小さくすることを特徴とする２）記載の記録方法。
４）  最適記録パワーの設定を、試験記録された再生信号のアシンメトリを評価することにより行うことを特徴とする１）〜３）の何れかに記載の記録方法。
５）  加熱パルスと冷却パルスの照射領域以外の領域を消去パワーＰｅ（Ｐｃ＜Ｐｅ＜Ｐｗ）で照射し、試験記録時と情報記録時で、ＰｅとＰｗの比（Ｐｅ／Ｐｗ）＝εの設定値を変更することを特徴とする１）〜４）の何れかに記載の記録方法。
６）  試験記録時のＰｅとＰｗの比をε１、情報記録時のＰｅとＰｗの比をε２として、ε１≦ε２とすることを特徴とする５）記載の記録方法。
７）  ０．８４≦ε１／ε２≦０．９５とすることを特徴とする６）記載の記録方法。
８）  最適記録パワーを設定する際の試験記録領域を有し、最適記録パワーを設定する際の試験記録に使用するＴＨｍ及び／又はＴＣｍの設定値がその製造段階で記録されていることを特徴とする１）〜７）の何れかに記載の方法で情報を記録することが可能な相変化型光情報記録媒体。
９）  最適なアシンメトリ値がその製造段階で記録されていることを特徴とする８）記載の相変化型光情報記録媒体。
１０）  最適記録パワーを設定する際の試験記録領域を有し、最適記録パワーを設定する際の試験記録に使用するε１、ε２の設定値がその製造段階で記録されていることを特徴とする６）又は７）記載の方法で情報を記録することが可能な相変化型光情報記録媒体。
１１）  １）〜７）の何れかに記載の記録方法を用いることができるように設定されている相変化型光情報記録媒体への記録装置。
【０００９】
以下、上記本発明について詳しく説明する。
本発明の記録方法が対象とするのは、書き換え型の光ディスクに代表される相変化材料を用いた光情報記録媒体である。
＜記録ストラテジ＞
情報の記録は、チャンネルクロックＴに対して、ｎＴの長さ（ｎは自然数）のマーク・マーク間（スペース）を、光を照射及び走査して形成することにより行なう。このような情報の記録方式はＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ  Ｗｉｄｔｈ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の一種であり、光ディスクに一般的に使われる情報記録の変調方式である。例えば、ＣＤで採用されるＥＦＭ〔Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ＝８−１６変調、ＲＬＬ（２，１０）〕や、ＤＶＤで採用されるＥＦＭ＋〔８−１６変調の一種、ＲＬＬ（２，１０）〕が挙げられる。
これらのマークとは結晶相の記録層中に形成されるアモルファス相の微小領域である。結晶とアモルファスとで記録再生波長での光学定数変化のある材料を用いることにより、光学的なコントラストを形成することができる。また、相変化材料の結晶相とアモルファス相間の相変化は可逆的変化であるため、書換えが可能となっている。
【００１０】
アモルファス相と結晶相間で相変化させるには、強度変調したレーザー光を照射及び走査する。この照射する光の強度変調のパターンを「記録ストラテジ」と呼ぶ。記録ストラテジは図２に示すようなマルチパルスストラテジを用いる。マルチパルスストラテジは、照射パワーＰｗの加熱パルスと照射パワーＰｃの冷却パルスを繰り返し照射することにより記録層を溶融・急冷し、記録層をアモルファス化してマークを形成する。また、消去パワーＰｅをＣＷ照射（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ  Ｗａｖｅ：強度変調のない光）することにより徐冷又は結晶化温度以上に一定時間保持して、アモルファスマークを結晶化させ消去することができる。それぞれの照射パワーの関係はＰｗ＞Ｐｅ＞Ｐｃである必要がある。
【００１１】
また加熱パルス、冷却パルスの数ｍ（ｍは自然数）は記録するマークの長さｎＴによって選択される。ＣＤ−ＲＷ（１〜４ｘ、４〜１０ｘ）やＤＶＤ＋ＲＷ（１〜４ｘ）などの比較的低速記録のディスクでは、ｍ＝（ｎ−１）の関係となる。つまり、１Ｔ分長いマークを形成するために加熱パルスと冷却パルスをそれぞれ１パルスずつ増やしていくことで異なるマーク長を正確に記録することができる。そして、パルスの発光周期は記録時のチャンネルビット長Ｔｗにほぼ一致することが分かる。従って、８倍速で記録する場合はＴｗ＝Ｔ／８となるが、記録速度が速いため、レーザーの応答時間が追従できなくなってくる。
そこで、高速ディスクでは、ｎ＝偶数の場合はｍ＝ｎ／２とし、ｎ＝奇数の場合はｍ＝（ｎ−１）／２とするストラテジを用いることが必要である。このような設定とすれば、パルスの発光周期は略２Ｔｗとなるので、高速でも追従可能となる。
このストラテジは「２Ｔストラテジ」と呼ばれ、２４倍速以上のＣＤ−ＲＷや８倍速のＤＶＤ＋ＲＷなどの高速記録ディスクで採用されている。
【００１２】
本発明の記録方法もこの２Ｔストラテジを用いる。実際の２Ｔストラテジのパターンを図１に示した。これは、ＤＶＤ＋ＲＷ  ８ｘで採用される２Ｔストラテジである。
基本的には、２Ｔｗ周期で発光する長さＴｍｐのマルチパルスから構成される。但し、ｎ＝奇数の場合は、最終パルスの発光周期のみを略３Ｔとすると同時に、立上りの時間をｄＴｌｐ，Ｏだけシフトさせることと、冷却パルス長（＝１Ｔｗ−ｄＴｌｐ，Ｏ−ｄＴｅｒａ，Ｏ）をｎ＝偶数にシフトさせることにより、マーク長を調整している。このような手法を用いているため、記録パワーのずれや媒体のばらつきなどにより、最適記録条件がずれた場合は奇数マークに歪みが生じジッタが悪化し易い。
また、ｍ＝ｎ−１のストラテジと比較すると、設定するパラメータが多いため最適化が難しいストラテジとなっているが、高速での記録が可能となる。特に、最後の加熱パルスと冷却パルス（つまりｍ番目の加熱パルスと冷却パルス）の長さＴＨｍとＴＣｍの調整が非常に重要であり、これらのパラメータが最適でない場合は、保存安定性・オーバーライト可能回数の低下の原因となる。
【００１３】
＜ＯＰＣ＞
媒体への安定した記録を行うために、最適な記録条件を設定する必要がある。ＯＰＣでは、媒体に予め予約されているＯＰＣ領域であるＰＣＡに記録パワーＰｗを逐次変化させつつ記録を行い、その試験記録部分を再生しその指標となる信号Ｓ（Ｐｗ）を記録パワーの関数として測定し、任意の演算方法を用いて最適な記録パワーを設定する方法である。ＯＰＣの方法は既存のものを使用でき、例としてはＣＤ−ＲＷやＤＶＤ＋ＲＷで採用されるγ法、ＣＤ−ＲやＤＶＤ＋Ｒで採用されるβ法、ＢＤ−ＲＥで採用されるリニアフィット法等がある。これらの何れを使用してもよく、また組み合わせて使用しても良い。特に、アシンメトリを評価することと類似しているβ法は、ジッタと相関のある指標であるため好ましい。
【００１４】
本願発明の記録方法は、ＯＰＣの試験記録用のストラテジと、情報記録用のストラテジを変えることを特徴とする。
通常はＯＰＣ用のストラテジとデータ記録用のストラテジは同一のパターンを用いる。ＯＰＣ用ストラテジとデータ記録用ストラテジに差を持たせる従来例としては、試験記録領域（ＰＣＡ）がディスク状媒体の内周部に位置している場合が挙げられる。
通常、直径１２０ｍｍのディスクでは、回転数は約１００００ｒｐｍ以下に限定される。これは、ドライブで採用されるスピンドルモータの性能とディスクの共振によるディスク破損等に起因する。現在、ＤＶＤ±Ｒディスクでは、最高１６倍速（走査速度５５．８ｍ／ｓ）まで実用化されているが、上記の回転数制限によりディスク内周部である半径２４ｍｍでは、６倍速程度に限定される。従って、ディスク内周部（半径２３ｍｍなど）にＰＣＡが配置されている場合はＯＰＣの試験記録は６倍速で行わざるを得ない。このような場合には、６倍速に適したストラテジと１６倍速に適したストラテジとが異なるため、結果的に情報記録のストラテジと異なるストラテジを用いることになる。しかし、情報領域に６倍速で記録する場合は同一のストラテジが採用されることになる。これに対して本発明では、同一の記録速度であっても異なるストラテジを適用することを特徴とする。
【００１５】
本発明では、情報記録用ストラテジとＯＰＣ用ストラテジに２Ｔストラテジを用いる。即ち長さｎ×Ｔｗ（ｎは自然数，Ｔｗは記録時のチャンネルビット長）を記録する際に、ｎ＝２ｍ又はｎ＝２ｍ＋１の関係を満足するｍ個の加熱パルスと冷却パルスを用いる（図１、図２参照）。その際のｉ番目（ｉはｍ以下の自然数）の加熱パルスの長さ（照射時間）をＴＨｉ、ｉ番目（ｉはｍ以下の自然数）の冷却パルスの長さ（照射時間）をＴＣｉとして、ある特定のｎの場合のｍ番目（即ち最後）の加熱パルスの長さ（照射時間）ＴＨｍと冷却パルスの長さ（照射時間）ＴＣｍの一方又は両方を、ＯＰＣ時と情報記録時とで変更する必要がある。
【００１６】
ストラテジを変更するｎの組み合わせは任意のものを採用することができるが、次の例が好ましい。
＜例１＞
ｎ＝３：ストラテジ変更あり
ｎ≠３：ストラテジ変更なし
＜例２＞
ｎ＝奇数：ストラテジ変更あり
ｎ＝偶数：ストラテジ変更なし
＜例３＞
ｎ＝３以外の奇数：ストラテジ変更なし
ｎ＝３、及び偶数：ストラテジ変更あり
【００１７】
これらの例は何れもＤＶＤの変調方式であるＥＦＭ＋を想定している。つまり、ＲＬＬ（２，１０）であることから、最短マーク長はｎ＝３である。図１からも分かるとおり、ｎ＝３（３Ｔマーク）の場合だけは、一組の加熱パルスと冷却パルスで記録しているので特殊なパターンとなっている。また、マーク長やマーク幅を一組のパルスの長さのみで調整するため設定の自由度が最も少ない。従って、媒体の記録層の状態（製造直後／高温保管後、未記録／記録後）の影響を最も受け易くなっている。またジッタが下がるストラテジ（マーク長が安定する）とＯＰＣが安定する（反射率差即ち信号振幅が安定する）ストラテジが最も異なるのも最短マークである。これは、再生ビーム径に対してマークが十分大きい場合は、マークの形状の影響を受けづらくなるためである。
【００１８】
＜例２＞と＜例３＞では、偶数と奇数で場合分けを行っている。
図１から分かるとおり、ｎが偶数の場合、加熱パルスの発光周期は略２Ｔｗに限定されている。これに対し、ｎが奇数の場合は、最終加熱パルスの発光周期のみ略３Ｔｗとなっている。つまり最終パルス部の周期が偶数と奇数とで異なっている。このような状態であると、最適記録パワー近傍では最適な振幅となるが、ＯＰＣの試験記録時に記録パワーを変えていった場合には、記録パワーに対する振幅の変化量がｎ＝奇数とｎ＝偶数とで異なってしまう。
そこで、この問題を解決するため、ｎ＝奇数の最終パルスの長さをＯＰＣ時と記録時とで変えることが好ましい。
更に、ｎ＝奇数のときの設定を次式のようにすることが好ましい。
ＴＨｍ（ＯＰＣ時）＞ＴＨｍ（情報記録時）
ＴＣｍ（ＯＰＣ時）＜ＴＣｍ（情報記録時）
これにより、記録パワーが最適値から外れた領域での、振幅のパワー依存性のｎ＝偶数と奇数との差異を低減できる。従ってＯＰＣの精度を向上させることができる。
変動させる範囲は記録速度やディスクの特性によって最適化されるが、大きく変更しすぎることは好ましくなく、好ましい範囲は１〜２０％程度であり、更に好ましくは１０％以下である。
【００１９】
ＯＰＣの試験記録時には、Ｐｗ、Ｐｅの設定方法（段階的設定方法）は任意に選択することができるが、Ｐｅ、Ｐｗの比（Ｐｅ／Ｐｗ）＝εを固定する方法をとることが好ましい。εを一定とすることにより、記録装置のレーザーダイオードが劣化した場合に発光強度の低下を正しく制御することが可能となる。更に、試験記録時と情報記録時とでεの設定を変更しても良い。εを低く設定することによりＰｗに対するアシンメトリの変動量を大きくとることが可能となるため、ＯＰＣの信頼性を向上することが可能となる。試験記録時の設定をε１とし情報記録時の設定をε２とするとき、ε１＜ε２とすることが好ましい。更に好ましくは、０．８４≦ε１／ε２≦０．９５の範囲である。０．８４未満では、アシンメトリが高くなりすぎ測定精度が低くなってしまう。また、０．９５を超えると効果が現れない。なお、当然ながら、Ｐｃ＜Ｐｅ＜Ｐｗとする必要がある。
【００２０】
前述のＯＰＣ時と記録時のＴＨｍ及び／又はＴＣｍに関係する情報を媒体の製造段階で記録しておいても良い。これらの値を直接記録しておいても、演算により一意的に算出できる値を記録しておいても良い。記録装置は、これらの情報をＯＰＣ時及び記録動作前に読み取ることによって、最適なＯＰＣ用の記録条件と情報記録用の記録条件を設定することが可能となるので、記録の信頼性を向上させることができる。この製造段階で媒体に情報を記録しておく方法は既存の技術を利用することができるが、グルーブ又はプレピットに情報を持たせることで、基板成形時にこれらの情報が基板に転写されるため、製造時のコストを低減できる。このような手法では、ＤＶＤ−ＲＷのランドプレピットやＤＶＤ＋ＲＷのＡＤＩＰ（アドレス・イン・プレグルーブ）等を用いる方法が知られており、特にＤＶＤ＋ＲＷで採用されるＡＤＩＰのＰｈｙｓｉｃａｌ  ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ（フィジカル・インフォメーション）が例として挙げられる。
【００２１】
ＯＰＣ動作時は、狙いとなる最適記録パワーを算出するための特性値を設定する必要がある。例としては、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷでは、記録パワーＰの関数としての変調度をｍ（Ｐ）として、次式によりγ（Ｐ）を算出し、ディスクごとに設定されてる定数γｔａｒｇｅｔ（ターゲット）と比較する。
γ（Ｐ）＝ｄｍ（Ｐ）／ｄＰ×（Ｐ／ｍ）
そして、γ（Ｐｏ）＝γｔａｒｇｅｔとなるＰｏを最適記録パワーとして求める手法である。この手法を一般的にγＯＰＣ法と呼ぶ。
また、ＣＤ−ＲやＤＶＤ＋Ｒ採用されるβ法も、特性値がβ（アシンメトリと類似するパラメータ）となる点を除き、ほぼ同様の手法である。
これらの既存の手法を用いても最適記録パワーを求めることは可能であるが、本発明においては、アシンメトリを用いることが好ましい。
アシンメトリの定義は、ＤＶＤ＋ＲＷの場合、次式のとおりとなる。
定義：〔（Ｉ１４Ｈ＋Ｉ１４Ｌ−Ｉ３Ｈ−Ｉ３Ｌ）／２〕／（Ｉ１４Ｈ−Ｉ１４Ｌ）
この式中の各変数の定義（内容）は次のとおりである。
Ｉ１４Ｈ：  １４Ｔスペースの信号レベル
Ｉ１４Ｌ：  １４Ｔマークの信号レベル
Ｉ３Ｈ  ：  ３Ｔスペースの信号レベル
Ｉ３Ｌ  ：  ３Ｔマークの信号レベル
【００２２】
本発明の記録方法ではＴＨｍ及び／又はＴＣｍを変更して記録するが、その効果を最も顕著に示すのがアシンメトリである。即ち、最短マークの長さが変わることにより、最も影響する特性がアシンメトリとなるからである。
また、最適なアシンメトリ値を、前述のＴＨｍ及び／又はＴＣｍの場合と同様に媒体の製造時点で記録しておくことも可能である。これにより、媒体の最適記録パワー設定の信頼性を向上することが可能となる。
記録装置では、媒体へのＯＰＣ時及び記録前に、これらの情報を読み出すことにより、最適な記録条件を設定することが可能となる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明１〜７によれば、試験記録時には信号振幅の安定しているストラテジを用い、情報記録時にはジッタが良好な記録ストラテジを用いていることにより、記録情報の信頼性とＯＰＣの精度を両立することが可能な相変化型光情報記録媒体への記録方法を提供できる。
本発明８〜１０によれば、記録パワーの設定に必要な最適情報が媒体に予め記録されているので、安定した記録が可能な相変化型光情報記録媒体を提供できる。
本発明１１によれば、信頼性の高い記録が可能な相変化型光情報記録媒体への記録装置を提供できる。
【実施例】
【００２４】
以下、実施例及び比較例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明は、これらの実施例により限定されるものではない。
【００２５】
実施例１
ＤＶＤ＋ＲＷ  ８ｘ対応ディスクを用いて記録試験を行った。記録装置はＤＶＤ＋ＲＷ用評価装置システムであるパルステック工業株式会社製ＯＤＵ１０００を使用した。
光ピックアップの仕様は以下の通りとした。
・波長：６５９ｎｍ
・ＮＡ：０．６５
・最大射出パワー：５５ｍＷ
この装置を用いると、ディスクの任意の位置に任意のストラテジ・パワー設定で記録が可能であると同時に、記録信号の評価も可能である。
記録ストラテジは、ＤＶＤ＋ＲＷ  ８ｘの標準規格書に準拠したもの（図１参照）を使用した。その際に２種類の記録ストラテジＷＳ１とＷＳ２を使用した（表１参照）。ＷＳ１とＷＳ２はｎ＝奇数のマークの最終冷却パルス（ｍ番目）の長さを変更したものである。表１に最終冷却パルス長ＴＣｍの値も併せて記載した。
【００２６】
このストラテジを用いて、ＤＶＤの６倍速相当である次の条件で記録を行った。
・走査速度：２０．９ｍ／ｓ
・チャンネルクロック：６．３７ｎｍ
・記録パワーＰｗ：２０〜４０ｍＷ
・消去パワーと記録パワーの比：Ｐｅ／Ｐｗ＝０．１９
・冷却パワーＰｃ：０．１ｍＷ
・オーバーライト回数：１０回（ＤＯＷ１０）
各記録パワーで記録したのち測定（保存前）を行い、その後、以下の環境の恒温槽に投入した。
・温度：８０℃
・相対湿度：８５％
・保管時間：１００時間
保存後に、保存前に記録した条件と同一条件でオーバーライトを１回（ＤＯＷ１）行なった。保存試験前後の各ストラテジでのアシンメトリとジッタの測定結果をそれぞれ図３と図４に示す。
【００２７】
ＷＳ１で記録した場合は、保存試験前後のジッタが良好であり、標準規格値である９％を２６〜３６ｍＷの広範囲で満足している。これに対してＷＳ２で記録した場合は、ジッタの絶対値がＷＳ１よりも高くなっていると共に、保存試験後のＤＯＷ１において規格値の９％以下を満足することができない。
一方、図３に示した保存試験前後のアシンメトリでは、保存試験前後においてＷＳ１でのアシンメトリの変動がより大きくなっているのが分かる。
ここで、最適パワーを決定するためのＯＰＣを、アシンメトリを指標として行うと仮定する。その場合、アシンメトリの最適値が２％であるとすると、ＷＳ１では、保存試験前の最適記録パワーは３２ｍＷである。しかし、保存試験後に再度ＯＰＣを行いアシンメトリ２％で最適記録パワーを設定すると、４０ｍＷとなりジッタ値が大きく悪化してしまうことが分かる。
これに対して、ＷＳ２では保存試験前後でのアシンメトリの変動は小さくなっている。その結果、アシンメトリを指標としたＯＰＣを行った場合、アシンメトリの最適値が２％であるとすると、保存試験前の最適記録パワーが３２ｍＷ、保存試験後の最適記録パワーが３４ｍＷであり、１０％以下の変動となっている。
従って、ＯＰＣの試験記録はＷＳ２を使用して行なって最適パワーを算出し、情報記録はＷＳ１を使用して行うことにより、ＯＰＣの精度向上と記録特性の向上を両立できることが分かる。
【００２８】
比較例１
実施例１で用いたストラテジでオーバーライト試験を行った結果を図５に示す。
図から、ＷＳ２ではオーバーライト回数の増加に従い、ジッタ値が急激に上昇していくことが分かる。従って、ＯＰＣ精度の高いＷＳ２で情報記録を行った場合、多数回の記録でエラーが発生する可能性があることを示唆している。
【００２９】
実施例２
実施例１と同様の手法で実験を行った。但し、ストラテジのパラメータを表２に示すとおりとした。即ち、情報記録用のストラテジを実施例１と同一にし、ＯＰＣ用ストラテジをＷＳ３とした。ＷＳ３については、ｎ＝奇数の最終加熱パルス幅を０．０６３Ｔｗ長く設定した。その結果、実施例１とほぼ同一の効果が確認できた。
【００３０】
実施例３
実施例１と同様の手法でＯＰＣの実験を行った。即ち、情報記録用のストラテジとしてＷＳ２を用い、アシンメトリを用いてＯＰＣを行った。但し、試験記録時のＰｅ／Ｐｗの設定値を、０．１４〜０．１９の範囲とした。Ｐｅ／Ｐｗの設定値に対して狙いのアシンメトリ値を表３に従って変更した。各Ｐｅ／Ｐｗの設定でＯＰＣを１０回ずつ行い、算出される最適記録パワーのばらつきを標準偏差として測定した。その測定結果を表３に記載した。
表３から分るように、ε１／ε２を０．８４〜０．９５の範囲とすることにより、最適記録パワーのばらつきを標準偏差で０．５ｍＷ以下とすることができる。
ε１／ε２を０．９５以下とすることにより、試験記録信号のアシンメトリの絶対値が高くなると同時に、Ｐｗに対する傾きも大きくなる傾向にある（狙いのアシンメトリも高めに設定することになる）。その結果、アシンメトリの測定誤差に対するパワーの誤差を低くすることが可能となる（ＯＰＣの感度を高めることができる）ため、標準偏差を０．５ｍＷ以下にできたと考えられる。
一方、ε１／ε２を０．８４未満とすると、上記の傾向とは別に、符号間干渉の影響が発生しアシンメトリの測定精度が悪くなる。即ち、長い（例えば１１Ｔ）スペースに挟まれた短いマーク（例えば３Ｔ）の信号水準（反射率に相当）と短いマークに挟まれた短いマークの信号水準（反射率に相当）が、隣接されるスペースの長さによって変調されてしまうため差異が出てきてしまう。その結果、異なる水準の３Ｔが混在することになりアシンメトリの測定精度が著しく低下してしまう。表３中の狙いのアシンメトリが１０％以上となる条件では、アシンメトリの測定精度の悪化で、ＯＰＣ結果の標準偏差値が上昇していると考えられる。
【００３１】
【表１】
2007095250.tif 000003
【表２】
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【表３】
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【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】実際の２Ｔストラテジのパターンを示す図。
【図２】マルチパルスストラテジを示す図。
【図３】実施例１における保存試験前後の各ストラテジでのアシンメトリの測定結果を示す図。
【図４】実施例１における保存試験前後の各ストラテジでのジッタの測定結果を示す図。
【図５】実施例１で用いたストラテジでオーバーライト試験を行った結果を示す図。
【符号の説明】
【００３３】
Ｔｗ  チャンネルビット長
ＰＷ（＝Ｐｗ）  記録パワー
ＰＥ（＝Ｐｅ）  消去パワー
ＰＣ（＝Ｐｃ）  冷却パワー
Ｔ３（＝Ｔ３）  長さＴ３のパルス
Ｔｍｐ（＝Ｔｍｐ）  長さＴｍｐのパルス
Ｔｔｏｐ（＝Ｔｔｏｐ）  第１パルスの長さ
ｄＴｔｏｐ（＝ｄＴｔｏｐ）  ６Ｔ以上のマークを記録する際の第１パルスの立上り
時間のシフト量
ｄＴｔｏｐ，３（＝ｄＴｔｏｐ，３）  ３Ｔマークを記録する際の第１パルスの立上り
時間のシフト量
ｄＴｔｏｐ，４（＝ｄＴｔｏｐ，４）  ４Ｔマークを記録する際の第１パルスの立上り
時間のシフト量
ｄＴｔｏｐ，５（＝ｄＴｔｏｐ，５）  ５Ｔマークを記録する際の第１パルスの立上り
時間のシフト量
ｄＴｅｒａ，３（＝ｄＴｅｒａ，３）  ３Ｔマークを記録する際の冷却パルスの立上り
時間のシフト量
ｄＴｅｒａ，Ｅ（＝ｄＴｅｒａ，Ｅ）  偶数Ｔマークを記録する際の冷却パルスの立上
り時間のシフト量
ｄＴｅｒａ，Ｏ（＝ｄＴｅｒａ，Ｏ）  奇数Ｔマークを記録する際の冷却パルスの立上
り時間のシフト量
ｄＴｌｐ，Ｏ（＝ｄＴｌｐ，Ｏ）      奇数Ｔマークを記録する際の最終パルスの立上
り時間のシフト量
ＴＨ１  記録パワーパルス
ＴＨ２  記録パワーパルス
ＴＨ３  記録パワーパルス
ＴＣ１  冷却パワーパルス
ＴＣ２  冷却パワーパルス
ＴＣ３  冷却パワーパルス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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