(57)【要約】  【課題】  光ディスク装置において、レーザーダイオードからのレーザー出射光量は、出力されているものの、それを検出する個所のどこかに、故障あるいは不備がある場合に、レーザーダイオードへの駆動電流を異常に上げてしまい、レーザー破壊、あるいは劣化を誘発する可能性が懸念される。  【解決手段】  電源投入後のレーザー特性取得処理前に、光量を正しく検出できていることを確認させ、検出系経路の異常により、光量が正しく検出されない場合は、その後のレーザー発光は行わないことにする。【選択図】  図２
2007200513.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザーダイオードと、該レーザーダイオードを駆動するレーザーダイオードドライバーと、前記レーザーダイオードから出射される光量を検出して電気信号に変換する光量検出手段と、再生系、記録系でそれぞれ異なる系を用いて入力される電気信号に対しサンプリング・ホールドを行うサンプリング・ホールド手段と、前記サンプリング・ホールドされた電気信号を用いて前記レーザーダイオードドライバーへの駆動値を算出する駆動値制御手段とを備えた光ディスク装置における、前記レーザーダイオードの発光特性を取得し、該取得した発光特性に基づきレーザー発光量を制御する際のレーザー特性取得処理において、
前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードから前記光量検出手段、及び前記サンプリング・ホールド手段を経て前記駆動値制御手段に至る検出系経路が正常に動作していることを確認し、
前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、その後のレーザー特性取得処理を行わない、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に、前記レーザーダイオードに瞬間的に電流を供給してレーザー発光させ、該駆動電流の瞬間的な供給に応答して前記検出系経路が検出信号を正しく出力しているかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記レーザー特性取得処理の前に、前記サンプリング・ホールド回路に第１のリファレンス電圧と該第１のリファレンス電圧と電圧の異なる第２のリファレンス電圧を順次供給し、前記サンプリング・ホールド手段が前記第１のリファレンス電圧と第２のリファレンス電圧の差を正しく検出するかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。  
【請求項４】
請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項５】
請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、市場出荷以前に行う工程調整時に取得したレーザー特性を用いて決定する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記検出系経路が正常に動作していることの確認を、前記サンプリング・ホールド手段の前記再生系、記録系のそれぞれの系について行う、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項７】
請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値に上限値を設けた、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項８】
請求項７に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記上限値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記検出系経路が正常に動作していることを確認した後に、前記レーザー特性取得処理を、前記レーザーダイオードをＤＣ発光ではなく、パルス発光させて行う、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【請求項１０】
請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、
前記光量検出手段が、前記レーザーダイオードの発光量を該レーザーダイオードの出射光から直接検出する第１の検出手段と、前記レーザーダイオードの発光量を光ディスクからの反射光から検出する第２の検出手段とを備え、
前記第１の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認し、該確認によって前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、さらに前記第２の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、
ことを特徴とする光ディスク装置のレーザー保護方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置のレーザー発光時に、光量を検出して電気信号に変換し、それをサンプリング・ホールド回路によりサンプリング・ホールドを行い、そのアナログ信号をＡＤコンバータによりデジタル値に変換して駆動値制御部に入力されるまでの検出系経路のうちどこかの個所で故障あるいは異常が存在する場合に、レーザーダイオードに駆動電流を過大に供給してしまうことによるレーザー破壊や劣化を防止する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、電源投入後にまずレーザー発光を行ってレーザーの特性取得処理を行い、取得したレーザー特性を再生・記録時に必要とする最適なレーザー発光量の算出に使用することが行われている。
【０００３】
以下、従来の光ディスク装置におけるレーザー特性取得処理の方法について説明する。
図５は、従来のレーザー特性取得処理に必要なレーザー発光に関する駆動系の経路とレーザー発光に関する検出系の経路の概略を示す図である。
図５において、６０１はレーザーダイオード（ＬＤ）であり、レーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）６０９から供給された電流量にしたがって光量を出力する。６０２は光量を検出するブロックであり、レーザーダイオード（ＬＤ）６０１から出射されるレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の光量を検出する。６０３はサンプリング・ホールド（ＳＨ）回路の入力電圧を変更するスイッチであり、光量検出６０２から出力される電気信号を記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０４または再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０５に入力するか、リファレンス電圧６１０を入力するかを選択できる。ここで、リファレンス電圧６１０は、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０４、及び再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０５のオフセット電圧を測定するのに用いられる。
【０００４】
６０４は記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、記録信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）から出射される記録時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。６０５は再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、再生信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）から出射される再生時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。６０６はＡＤコンバータであり、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０４あるいは再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路６０５から出力されたアナログ的な電気信号をデジタル値に変換して駆動値制御部６０７に伝送するものである。
【０００５】
６０７は駆動値制御部であり、ＡＤコンバータ６０６からデジタル値を入力し、ＤＡコンバータ６０８へ駆動値をデジタル値のまま伝送するものである。６０８はＤＡコンバータであり、駆動値制御部６０７から入力されたデジタル値である駆動値をアナログ的な電気信号に変換してレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）６０９へ伝送するものである。６０９はレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）であり、ＤＡコンバータ６０８から入力された電気信号に従って、レーザーダイオード（ＬＤ）６０１に駆動電流を供給する。図５において、レーザーダイオード６０１の出力の矢印からＡＤコンバータ６０６の出力の矢印までが検出系の経路であり、駆動値制御部６０７自身からレーザーダイオード６０１自身までが駆動系の経路である。
【０００６】
以上のように構成されたレーザー特性取得処理について、以下その動作について説明する。
図６は、レーザー特性取得処理の動作を説明するための図であり、図６（ａ）は、駆動電流とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸２０１はレーザーダイオードドライバー１０９から出力される駆動電流であり、縦軸２０２はレーザーダイオード１０１から出射されるレーザー発光量である。２０３はレーザー特性取得に必要な１点目の目標発光量であり、２０４は２点目の目標発光量である。また、図６（ｂ）は、レーザー特性取得処理における時間とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸２０５はレーザー特性取得処理の時間方向軸であり、縦軸２０６は縦軸２０２と同様レーザー発光量を表す。２０７は１点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部６０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間であり、２０８は２点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部６０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間である。
【０００７】
従来のレーザー特性取得処理では、図６に示す２０３と２０４のレーザー発光量を目標発光量として、駆動電流２０１をＤＣ発光方式で供給量を増やしていき、まず、２０３の発光量に到達した時点の駆動値を駆動値制御部６０７が期間２０７において記憶する。そしてさらに駆動電流２０１をＤＣ発光方式で供給量を増やしていき、２０４の発光量に到達した時点の駆動値を駆動値制御部６０７が期間２０８において記憶し、２点間の駆動値対レーザー発光量の関係からレーザー特性を求め、これを駆動値制御部６０７が記憶する。駆動電流の供給開始から２点目の目標発光量に到達した時点の駆動値の記憶完了までに要する時間は、例えば約１０ｍｓである。このレーザー特性取得処理を、再生系、及び記録系の両方について行ない、取得したレーザー特性を再生・記録時に必要とする最適なレーザー発光量の算出に使用する。
【０００８】
ところで、上記レーザー特性取得処理では、図５におけるレーザーダイオード６０１の出力の矢印からＡＤコンバータ６０６の出力の矢印までの検出系経路のどこかで故障あるいは不備があり、駆動値制御部６０７自身からレーザーダイオード６０１自身までの駆動系経路には故障や異常がない場合に、レーザーダイオードドライバー６０９から供給される駆動電流に相応したレーザーダイオード６０１のレーザー発光量を検出できず、駆動値制御部６０７自身からレーザーダイオード６０１自身までの駆動系経路は、目標発光量まで到達していないと誤認識してしまうために、駆動電流をさらに供給しようとして駆動値を増加させて、レーザーダイオード６０１はさらに大きく発光することとなり、その結果、駆動値制御部６０７が駆動値の記憶をすることができないまま、レーザーダイオード６０１が２０３や２０４の目標発光量を超えて発光してしまい、レーザー破壊や劣化を誘発してしまうという問題がある。
【０００９】
一方、従来の光ディスク装置におけるレーザー保護方法の例として、特許文献１、および特許文献２に開示されたものがあるが、これらの文献に開示されたレーザー保護方法は、正常に動作する検出系経路を用いてレーザーダイオードの異常動作を検出するものであり、検出系経路のどこかで故障あるいは不備がある場合には、レーザーダイオードの異常動作を検出できない。
【特許文献１】特開２００４−１５２３７５号公報
【特許文献２】特開平９−９２９２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上述のように従来のレーザー特性取得処理では、検出系経路のどこかで故障あるいは不備があり、駆動系経路には故障や異常がない場合に、駆動系経路は、目標発光量まで到達していないと誤認識してしまうために、駆動電流をさらに供給しようとして駆動値を増加させて、レーザーダイオードはさらに大きく発光することとなり、レーザーダイオードが目標発光量を超えて発光してしまい、レーザー破壊や劣化を誘発してしまうという問題があった。
【００１１】
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、検出系経路のどこかに故障あるいは不備がある場合においても、レーザー破壊あるいは劣化を防止することのできる、光ディスク装置のレーザー保護方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明（請求項１）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、レーザーダイオードと、該レーザーダイオードを駆動するレーザーダイオードドライバーと、前記レーザーダイオードから出射される光量を検出して電気信号に変換する光量検出手段と、再生系、記録系でそれぞれ異なる系を用いて入力される電気信号に対しサンプリング・ホールドを行うサンプリング・ホールド手段と、前記サンプリング・ホールドされた電気信号を用いて前記レーザーダイオードドライバーへの駆動値を算出する駆動値制御手段とを備えた光ディスク装置における、前記レーザーダイオードの発光特性を取得し、該取得した発光特性に基づきレーザー発光量を制御する際のレーザー特性取得処理において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードから前記光量検出手段、及び前記サンプリング・ホールド手段を経て前記駆動値制御手段に至る検出系経路が正常に動作していることを確認し、前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、その後のレーザー特性取得処理を行わない、ことを特徴とするものである。
【００１３】
また、本発明（請求項２）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に、前記レーザーダイオードに瞬間的に電流を供給してレーザー発光させ、該駆動電流の瞬間的な供給に応答して前記検出系経路が検出信号を正しく出力しているかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、ことを特徴とするものである。
【００１４】
また、本発明（請求項３）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記サンプリング・ホールド回路に第１のリファレンス電圧と該第１のリファレンス電圧と電圧の異なる第２のリファレンス電圧を順次供給し、前記サンプリング・ホールド手段が前記第１のリファレンス電圧と第２のリファレンス電圧の差を正しく検出するかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、ことを特徴とするものである。
【００１５】
また、本発明（請求項４）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定する、ことを特徴とするものである。
【００１６】
また、本発明（請求項５）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、市場出荷以前に行う工程調整時に取得したレーザー特性を用いて決定する、ことを特徴とするものである。
【００１７】
また、本発明（請求項６）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記検出系経路が正常に動作していることの確認を、前記サンプリング・ホールド手段の前記再生系、記録系のそれぞれの系について行う、ことを特徴とするものである。
【００１８】
また、本発明（請求項７）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値に上限値を設けた、ことを特徴とするものである。
【００１９】
また、本発明（請求項８）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項７に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記上限値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定する、ことを特徴とするものである。
【００２０】
また、本発明（請求項９）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記検出系経路が正常に動作していることを確認した後に、前記レーザー特性取得処理を、前記レーザーダイオードをＤＣ発光ではなく、パルス発光させて行う、ことを特徴とするものである。
【００２１】
また、本発明（請求項１０）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記光量検出手段が、前記レーザーダイオードの発光量を該レーザーダイオードの出射光から直接検出する第１の検出手段と、前記レーザーダイオードの発光量を光ディスクからの反射光から検出する第２の検出手段とを備え、前記第１の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認し、該確認によって前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、さらに前記第２の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認する、ことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２２】
本発明（請求項１）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、レーザーダイオードと、該レーザーダイオードを駆動するレーザーダイオードドライバーと、前記レーザーダイオードから出射される光量を検出して電気信号に変換する光量検出手段と、再生系、記録系でそれぞれ異なる系を用いて入力される電気信号に対しサンプリング・ホールドを行うサンプリング・ホールド手段と、前記サンプリング・ホールドされた電気信号を用いて前記レーザーダイオードドライバーへの駆動値を算出する駆動値制御手段とを備えた光ディスク装置における、前記レーザーダイオードの発光特性を取得し、該取得した発光特性に基づきレーザー発光量を制御する際のレーザー特性取得処理において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードから前記光量検出手段、及び前記サンプリング・ホールド手段を経て前記駆動値制御手段に至る検出系経路が正常に動作していることを確認し、前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、その後のレーザー特性取得処理を行わない、ものとしたから、前記レーザー特性取得処理に必要なレーザー発光を行う前に、前記検出系経路のどこかの故障あるいは不備を確認することができ、その後のレーザー発光を行わないことで、レーザーダイオードの破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる効果がある。
【００２３】
また、本発明（請求項２）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に、前記レーザーダイオードに瞬間的に電流を供給してレーザー発光させ、該駆動電流の瞬間的な供給に応答して前記検出系経路が検出信号を正しく出力しているかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認するようにしたから、レーザーダイオードの破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる効果がある。
【００２４】
また、本発明（請求項３）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザー特性取得処理の前に、前記サンプリング・ホールド手段に第１のリファレンス電圧と該第１のリファレンス電圧と電圧の異なる第２のリファレンス電圧を順次供給し、前記サンプリング・ホールド手段が前記第１のリファレンス電圧と第２のリファレンス電圧の差を正しく検出するかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認するようにしたから、レーザーダイオードの破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる効果がある。
【００２５】
また、本発明（請求項４）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定するものとしたから、レーザーダイオードの温度変化によって目標発光量に到達するために必要な駆動電流が変化することにより、レーザーダイオードドライバーから供給した駆動電流に対するレーザーダイオードの発光量が正しく検出されていることの判断を誤らないようにすることができる効果がある。
【００２６】
また、本発明（請求項５）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値を、市場出荷以前に行う工程調整時に取得したレーザー特性を用いて決定するものとしたから、レーザーダイオードドライバーから供給した駆動電流に対するレーザーダイオードの発光量が正しく検出されていることの判断を精度よく行うことができる効果がある。
【００２７】
また、本発明（請求項６）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記検出系経路が正常に動作していることの確認を、前記サンプリング・ホールド手段の前記再生系、記録系のそれぞれの系について行うようにしたから、記録・再生で系が異なる部分が存在する場合であっても、故障あるいは不備の存在の有無を、確認することができる効果がある。
【００２８】
また、本発明（請求項７）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記レーザーダイオードに瞬間的に供給する駆動電流の電流値に上限値を設けたから、過大な駆動電流をレーザーダイオードへ供給してしまうことで、レーザー破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる効果がある。
【００２９】
また、本発明（請求項８）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項７に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記上限値を、前記レーザーダイオードの温度に応じて決定するようにしたから、レーザーダイオードドライバーから供給した駆動電流に対するレーザーダイオードの発光量が正しく検出されていることの判断を誤らないようにすることができる効果がある。
【００３０】
また、本発明（請求項９）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、請求項１に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記検出系経路が正常に動作していることを確認した後に、前記レーザー特性取得処理を、前記レーザーダイオードをＤＣ発光ではなく、パルス発光させて行うようにしたから、レーザー特性取得処理における、レーザーの破壊、あるいは劣化の可能性を低下させることができる効果がある。
【００３１】
また、本発明（請求項１０）にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法は、請求項２に記載の光ディスク装置のレーザー保護方法において、前記光量検出手段が、前記レーザーダイオードの発光量を該レーザーダイオードの出射光から直接検出する第１の検出手段と、前記レーザーダイオードの発光量を光ディスクからの反射光から検出する第２の検出手段とを備え、前記第１の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認し、該確認によって前記検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、さらに前記第２の検出手段を用いて前記検出系経路が正常に動作していることを確認するようにしたから、それぞれの確認結果を利用して故障、あるいは不備が存在する個所をある程度特定することができる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法について説明する。
図１は本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置の構成の概略を示す図である。
図１において、１０１はレーザーダイオード（ＬＤ）であり、レーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）１０９から供給された駆動電流にしたがって光量を出力する。１０２は光量を検出するブロックであり、レーザーダイオード（ＬＤ）１０１から出射されるレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の光量を検出する。１０３はサンプリング・ホールド（ＳＨ）回路の入力電圧を変更するスイッチであり、光量検出１０２から出力される電気信号を後述する記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４あるいは再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５に入力するか、リファレンス電圧１１０を入力するかを選択できる。ここで、リファレンス電圧１１０は、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４、及び再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５のオフセット電圧を測定するのに用いられる。
【００３３】
１０４は記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、記録信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）１０１から出射される記録時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。１０５は再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、再生信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）１０１から出射される再生時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。１０６はＡＤコンバータであり、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４あるいは再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５から出力されたアナログ的な電気信号をデジタル値に変換して駆動値制御部１０７に伝送するものである。
【００３４】
１０７は駆動値制御部であり、ＡＤコンバータ１０６から入力されたデジタル値を入力し、ＤＡコンバータ１０８へ駆動値をデジタル値のまま伝送するものである。１０８はＤＡコンバータであり、駆動値制御部１０７から入力されたデジタル値をアナログ的な電気信号に変換してレーザーダイオードドライバー１０９へ伝送するものである。１０９はレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）であり、ＤＡコンバータ１０８から入力された電気信号に従って、レーザーダイオード（ＬＤ）１０１に駆動電流を供給する。
【００３５】
図７は光量検出ブロック１０２の構成を示す図である。光量検出ブロック１０２は、レーザーダイオード１０１が出力する出力光量を検出する第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１と、光ディスクからの反射光量を検出する第２のフォトダイオード（ＰＤ２）１０２２と、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１の出力と第２のフォトダイオード（ＰＤ２）１０２２の出力のいずれかを選択して出力するスイッチ１０２５とを備えている。
【００３６】
以上のように構成された光ディスク装置におけるレーザー保護方法について、以下その動作を説明する。
図２は本発明の実施の形態１による、光ディスク装置のレーザー保護方法の動作を説明するための図である。
図２（ａ）は、駆動電流とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸３０１はレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）１０９から出力される駆動電流であり、縦軸３０２はレーザーダイオード（ＬＤ）１０１から出射されるレーザー発光量である。３０３はレーザー特性取得に必要な１点目の目標発光量であり、３０４は２点目の目標発光量である。また、図２（ｂ）は時間とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸３０５はレーザー特性取得処理の時間方向軸であり、縦軸３０６は縦軸３０２と同様レーザー発光量を表す。また、３０７は１点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部１０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間であり、３０８は２点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部１０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間である。
【００３７】
図２に示す本実施の形態１の動作において、図６に示す従来例の動作と異なる点は、瞬間的なレーザー発光３０９が設けられている点、及びその瞬間的なレーザー発光時に、図１におけるレーザーダイオード（ＬＤ）１０１の出力の矢印からＡＤコンバータ１０６の出力の矢印までの検出系経路のどこかに故障あるいは不備が有るか否かを確認する点である。
【００３８】
本実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法では、レーザー特性取得処理前に、レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に瞬間的に駆動電流３０９を供給する処理によって、レーザーダイオードから出射されたレーザー発光量を光量検出ブロック１０２が検出して電気信号に変換し、サンプリング・ホールド回路によりサンプリング・ホールドを行い、そのアナログ信号をＡＤコンバータによりデジタル値に変換して駆動値制御部に入力された値が所定の期待値より低い場合に検出系経路のうちどこかの個所で故障あるいは異常が存在すると判断する。また、駆動値制御部に入力された値が期待の値以上の値である場合には検出系経路を正常と判断する。その確認結果で、図１におけるレーザーダイオード（ＬＤ）１０１の出力の矢印からＡＤコンバータ１０６の出力の矢印までの検出系経路のどこかで故障あるいは不備が確認された場合は、その後のレーザー特性取得処理を行わない。これにより、レーザー発光量が目標発光量まで到達していないと誤認識してさらに駆動電流量を供給してしまい、レーザーダイオード（ＬＤ）１０１を破壊あるいは劣化させてしまう、ということを防止することができる。また、図１におけるレーザーダイオード（ＬＤ）１０１の出力の矢印からＡＤコンバータ１０６の出力の矢印までの検出系経路のどこかで故障あるいは不備が確認されなかった場合は、従来通りレーザー特性取得処理を行うことを許可する。
【００３９】
ここで、レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に瞬間的に駆動電流３０９を供給する処理において、瞬間的に流す駆動電流３０９の電流量を、レーザーダイオードの温度に応じて決定することにより、レーザーダイオードの温度が高い場合などのように温度が低い場合に対して、同じレーザー発光量を確認するためには駆動電流が多く必要な場合にも、図１におけるレーザーダイオード（ＬＤ）１０１の出力の矢印からＡＤコンバータ１０６の出力の矢印までの検出系経路のどこかで故障あるいは不備がないにもかかわらず、故障あるいは不備があると誤って判断してしまうことを防止することができる。
【００４０】
また、駆動値制御部１０７がＤＡコンバータ１０８へ出力する駆動値に上限値を設定することにより、瞬間的に流す駆動電流３０９によってレーザーダイオードを破壊あるいは劣化させてしまうことを防止することができる。また、駆動値制御部１０７が設定するＤＡコンバータ１０９へ出力する駆動値の上限値を、レーザーダイオードの温度に応じて決定することにより、検出系経路のどこかで故障あるいは不備がないにもかかわらず、故障あるいは不備があると誤って判断してしまうことを防止することができる。
【００４１】
また、レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に瞬間的に駆動電流３０９を流す処理において、駆動値制御部１０７が、ＤＡコンバータ１０８へ出力する駆動値を決定する際に、出荷前の工程調整時に取得したレーザー特性を用いて最適な駆動値を算出するようにすれば、検出系経路のどこかの故障あるいは不備の有無の判断を精度よく行うことができる。
【００４２】
また、本実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法では、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１を用いて検出系経路の動作確認を行った結果、検出系経路のどこかで故障あるいは不備が確認された場合に、光ディスクからの反射光量を検出する第２のフォトダイオード（ＰＤ２）１０２２を用いて検出系経路の動作確認を行うことにより、両者それぞれの手段における確認結果を使用して検出系経路のどこの故障であるか、あるいはどこに不備があるかをある程度特定することができる。
【００４３】
以下、本実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法により検出系経路のどこの故障であるか、あるいはどこに不備があるかを特定する具体的な検出系経路の動作確認処理の動作の一例を図９のフローチャートに沿って説明する。
【００４４】
ＳＴＡＲＴで動作確認処理を開始し、まず、図７に示すスイッチ１０２５により第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１の出力を選択し（ステップＳ９０１）、この状態で瞬間的な駆動電流３０９を供給し、再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５から出力されるアナログ的な電気信号をＡＤコンバータ１０６によりデジタル値に変換して駆動値制御部１０７で計測する（ステップＳ９０２）。この測定結果が所定の期待値をクリアしている（ステップＳ９０３においてＹｅｓ）ときも、所定の期待値をクリアしていない（ステップＳ９０３においてＮｏ）ときも、次に、同じくスイッチ１０２５により第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１の出力を選択した状態で瞬間的な駆動電流３０９を供給し、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４から出力されるアナログ的な電気信号をＡＤコンバータ１０６によりデジタル値に変換して駆動値制御部１０７で計測する（ステップＳ９０４、及びステップＳ９０５）。
【００４５】
そして、上記２つの計測結果がいずれも所定の期待値をクリアしている（ステップＳ９０６においてＹｅｓ）ときは、検出系経路を正常と判断し、レーザー特性取得処理に移行し（ステップＳ９０７）、動作確認処理を終了する。
【００４６】
再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５の出力の計測結果は所定の期待値をクリアしているが、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４の出力の計測結果は所定の期待値をクリアしていない（ステップＳ９０６においてＮｏ）ときは、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４が不良であると判断し、図示しない表示手段に不良と判断された箇所がどこであるかを示す表示をし、レーザー特性取得処理は行なわず（ステップＳ９０８）、動作確認処理を終了する。表示手段に不良と判断された箇所がどこであるかを示す表示をすることにより、その後の修理作業の容易化を図ることができる。
【００４７】
また、再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５の出力の計測結果は所定の期待値をクリアしていないが、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０４の出力の計測結果は所定の期待値をクリアしている（ステップＳ９０９においてＹｅｓ）ときは、再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５が不良であると判断し、表示手段に不良と判断された箇所がどこであるかを示す表示をし、レーザー特性取得処理は行なわず（ステップＳ９１０）、動作確認処理を終了する。
【００４８】
一方、上記２つの計測結果がいずれも所定の期待値をクリアしていない（ステップＳ９０９においてＮｏ）ときは、次に図７に示すスイッチ１０２５により第２のフォトダイオード（ＰＤ２）１０２２の出力を選択し（ステップＳ９１１）、この状態で瞬間的な駆動電流３０９を供給し、再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路１０５から出力されるアナログ的な電気信号をＡＤコンバータ１０６によりデジタル値に変換して駆動値制御部１０７で計測する（ステップＳ９１２）。そして、この測定結果が所定の期待値をクリアしている（ステップＳ９１３においてＹｅｓ）ときは、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１が不良であると判断し、表示手段に不良と判断された箇所がどこであるかを示す表示をし、レーザー特性取得処理は行なわず（ステップＳ９１４）、動作確認処理を終了する。
【００４９】
また、測定結果が所定の期待値をクリアしていない（ステップＳ９１３においてＮｏ）ときは、レーザーダイオード（ＬＤ）自体の不良の可能性を含む不特定の動作異常と判断し、表示手段に不良箇所は特定されない動作異常あることを示す表示をし、レーザー特性取得処理は行なわず（ステップＳ９１５）、動作確認処理を終了する。
【００５０】
このように、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）１０２１を用いて検出系経路の動作確認を行った結果、検出系経路のどこかで故障あるいは不備が確認された場合に、光ディスクからの反射光量を検出する第２のフォトダイオード（ＰＤ２）１０２２を用いて検出系経路の動作確認を行うことにより、検出系経路のどこの故障であるか、あるいはどこに不備があるかをある程度特定することができる。
【００５１】
以上のように、本実施の形態１にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、レーザー特性取得処理の前に、前記レーザーダイオードが破壊されずかつ劣化しない程度に、前記レーザーダイオードに瞬間的に電流３０９を供給してレーザー発光させ、該駆動電流の瞬間的な供給に応答して検出系経路が検出信号を正しく出力しているかを確認することにより、前記検出系経路が正常に動作していることを確認し、検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、その後のレーザー特性取得処理を行わないものとしたから、レーザーダイオードの破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる。
【００５２】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２による光ディスク装置のレーザー保護方法について説明する。
図３は、本発明の実施の形態２による、光ディスク装置のレーザー保護方法の構成の概略を示す図である。
図３において、４０１はレーザーダイオード（ＬＤ）であり、レーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）４０９から供給された駆動電流にしたがって光量を出力する。４０２は光量を検出するブロックであり、レーザーダイオード（ＬＤ）４０１から出射されるレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の光量を検出する。４０３はサンプリング・ホールド（ＳＨ）回路の入力電圧を変更するスイッチであり、光量検出４０２から出力される電気信号を記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０４あるいは再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０５に入力するか、第１のリファレンス電圧４１０を入力するかを選択できる。
【００５３】
４０４は記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、記録信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）から出射される記録時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。４０５は再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路であり、再生信号で駆動されたレーザーダイオード（ＬＤ）から出射される再生時のレーザー出射光にて取得したレーザー出射波形の信号をサンプリング・ホールドする。４０６はＡＤコンバータであり、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０４あるいは再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０５から出力されたアナログ的な電気信号をデジタル値に変換して駆動値制御部４０７に伝送するものである。
【００５４】
４０７は駆動値制御部であり、ＡＤコンバータ４０６から入力されたデジタル値を入力し、ＤＡコンバータ４０８へ駆動値をデジタル値のまま伝送するものである。４０８はＤＡコンバータであり、駆動値制御部４０７から入力されたデジタル値をアナログ的な電気信号に変換してレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）４０９へ伝送するものである。４０９はレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）であり、ＤＡコンバータ４０８から入力された電気信号に従って、レーザーダイオード（ＬＤ）４０１に駆動電流を供給する。
【００５５】
図８は光量検出ブロック４０２の構成を示す図である。光量検出ブロック４０２は、レーザーダイオード４０１が出力する出力光を検出する第１のフォトダイオード（ＰＤ１）４０２１と、光ディスクからの反射光を検出する第２のフォトダイオード（ＰＤ２）４０２２と、リファレンス電圧４１１と、第１のフォトダイオード（ＰＤ１）４０２１の出力と第２のフォトダイオード（ＰＤ２）４０２２の出力とリファレンス電圧４１１のうちのいずれかを選択して出力するスイッチ４０２５とを備えている。
【００５６】
本実施の形態図３にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置は、光量検出ブロック４０２が、リファレンス電圧４１０とは異なる電圧を設定可能なリファレンス電圧４１１を備えており、スイッチ４０３及びスイッチ４０２５を切り替えて、サンプリング・ホールド回路へ、リファレンス電圧４１０とリファレンス電圧４１１を順次供給することができるものである。
【００５７】
以上のように構成された本実施の形態２の光ディスク装置のレーザー保護方法について、以下その動作を説明する。
本実施の形態２による光ディスク装置のレーザー保護方法では、レーザー特性取得処理前に、スイッチ４０３及びスイッチ４０２５を切り替えて、サンプリング・ホールド回路へ、リファレンス電圧４１０とリファレンス電圧４１１を順次供給し、サンプリング・ホールド手段が前記第１のリファレンス電圧と第２のリファレンス電圧の差を正しく検出するかを確認する。この動作確認は、記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０４と再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路４０５のそれぞれの系について行う。サンプリング・ホールド回路が順次入力されるリファレンス電圧４１０、４１１の電圧差を正しく検出しないときには、サンプリング・ホールド回路以降の検出系経路のどこかで故障あるいは不備があるものとして、その後のレーザー特性取得処理を行わない。このことにより、目標発光量まで到達していないと誤認識することで、さらに駆動電流を供給してしまい、レーザーダイオードを破壊あるいは劣化させてしまうことを防止することができる。また、サンプリング・ホールド手段が順次入力されるリファレンス電圧４１０、４１１の電圧差を正しく検出した場合は、検出系経路に故障あるいは不備はないものとして、従来通りレーザー特性取得処理を行うことを許可するものとする。
【００５８】
以上のように、本実施の形態２にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、前記レーザー特性取得処理の前に、前記サンプリング・ホールド回路に第１のリファレンス電圧４１０と該第１のリファレンス電圧４１０と電圧の異なる第２のリファレンス電圧４１１を順次供給し、サンプリング・ホールド回路が前記第１のリファレンス電圧４１０と第２のリファレンス電圧４１１の差を正しく検出するかを確認することにより、検出系経路が正常に動作していることを確認し、検出系経路が正常に動作しないことを検出したとき、その後のレーザー特性取得処理を行わないものとしたから、レーザーダイオードの破壊、あるいは劣化を誘発することを防止することができる。
【００５９】
（実施の形態３）
次に、本発明の実施の形態３による光ディスク装置のレーザー保護方法について説明する。
本実施の形態３による光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置は、図１に示す本発明の実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置と同一の構成を有する。
【００６０】
本実施の形態３の光ディスク装置のレーザー保護方法について、以下その動作を説明する。
図４は、本発明の実施の形態３による、光ディスク装置のレーザー保護方法の動作を説明するための図である。
図４（ａ）は、駆動電流とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸５０１はレーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）１０９から出力される駆動電流であり、縦軸５０２はレーザーダイオード（ＬＤ）１０１から出射されるレーザー発光量である。５０３はレーザー特性取得に必要な１点目の目標発光量であり、５０４は２点目の目標発光量である。また、図４（ｂ）は時間とレーザー発光量の関係を表したものである。横軸５０５はレーザー特性取得処理の時間方向軸であり、縦軸５０６は縦軸５０２と同様レーザー発光量を表す。また、５０７は１点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部１０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間であり、５０８は２点目の目標発光量に到達して、駆動値制御部１０７がその際の駆動値とレーザー発光量を記憶することに要する期間である。５０９はレーザーダイオードが破壊あるいは劣化しない程度に瞬間的に供給される駆動電流である。
【００６１】
本発明の実施の形態３による光ディスク装置のレーザー保護方法では、レーザー特性取得処理の前に実施の形態１と同様の動作により、検出系経路が正常に動作していることの確認を行う。実施の形態３による光ディスク装置のレーザー保護方法が実施の形態１と異なるのは、検出系経路が正常に動作していることが確認された後のレーザー特性取得処理において、目標発光量に到達するまでにレーザーダイオードに供給する駆動電流を、レーザーダイオードがＤＣ的に発光するように供給するのではなく、パルス発光状に短時間で発光させ、一定時間レーザー消灯させて、駆動電流を目標発光点に到達するまで一定量ずつ増加させながら再びパルス発光状に短時間で発光させることを繰り返す点である。
【００６２】
レーザー特性取得処理においては、図１における１０１のレーザーダイオードの出力の矢印から、１０６のＡＤコンバータの出力の矢印までの検出系経路の、どこかで故障、あるいは不備がない場合でも、発光目標量の設定によっては、ＤＣ発光するように駆動電流を供給することは、レーザーダイオードの劣化が懸念される。
【００６３】
本実施の形態３による光ディスク装置のレーザー保護方法においては、図４に示すように、パルス状に短時間で発光させ、一定時間レーザー消灯させて、駆動電流を目標発光点に到達するまで一定量ずつ増加させながら、パルス状に短時間で発光させることを繰り返して、目標発光量５０３、５０４に到達させるようにすることで、レーザーダイオードの劣化を防止することができる。
【００６４】
以上のように、本実施の形態３にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、検出系経路動作の確認の後に行うレーザー特性取得処理を、前記レーザーダイオードをＤＣ発光ではなく、パルス発光させて行うようにしたから、レーザー特性取得処理における、レーザーの破壊、あるいは劣化の可能性を低下させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法によれば、レーザー特性取得処理において、レーザー出射光量の検出系経路の故障、あるいは不備が原因で生じる、レーザー破壊、あるいは劣化を防止することができ、市場出荷後のレーザーの長寿命化にもつながり、有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置の構成の概略を示す図。
【図２】本発明の実施の形態１による、光ディスク装置のレーザー保護方法の動作を説明するための図。
【図３】本発明の実施の形態２にかかる光ディスク装置のレーザー保護方法を用いた光ディスク装置の構成の概略を示す図。
【図４】本発明の実施の形態３による、光ディスク装置のレーザー保護方法の動作を説明するための図。
【図５】従来のレーザー特性取得処理に必要なレーザー発光に関する駆動系の経路とレーザー発光に関する検出系の経路の概略を示す図。
【図６】レーザー特性取得処理の動作を説明するための図。
【図７】光量検出ブロック１０２の構成を示す図。
【図８】光量検出ブロック４０２の構成を示す図。
【図９】本実施の形態１による光ディスク装置のレーザー保護方法の具体的な動作の一例を示すフローチャート図。
【符号の説明】
【００６７】
１０１  レーザーダイオード（ＬＤ）
１０２  光量検出ブロック
１０３  スイッチ
１０４  記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路
１０５  再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路
１０６  アナログ／デジタル（ＡＤ）コンバータ
１０７  駆動値制御部
１０８  デジタル／アナログ（ＤＡ）コンバータ
１０９  レーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）
１１０  リファレンス電圧
２０１  駆動電流
２０２  レーザー発光量
２０３  １点目の目標発光量
２０４  ２点目の目標発光量
２０５  時間方向軸
２０６  レーザー発光量
２０７  １点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
２０８  ２点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
３０１  駆動電流
３０２  レーザー発光量
３０３  １点目の目標発光量
３０４  ２点目の目標発光量
３０５  時間方向軸
３０６  レーザー発光量
３０７  １点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
３０８  ２点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
３０９  瞬間的にレーザー発光させて、その間の検出系の動作を駆動値制御部が判断するための区間
４０１  レーザーダイオード（ＬＤ）
４０２  光量検出ブロック
４０３  スイッチ
４０４  記録系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路
４０５  再生系サンプリング・ホールド（ＳＨ）回路
４０６  アナログ／デジタル（ＡＤ）コンバータ
４０７  駆動値制御部
４０８  デジタル／アナログ（ＤＡ）コンバータ
４０９  レーザーダイオードドライバー（ＬＤＤ）
４１０  リファレンス電圧
５０１  駆動電流
５０２  レーザー発光量
５０３  １点目の目標発光量
５０４  ２点目の目標発光量
５０５  時間方向軸
５０６  レーザー発光量
５０７  １点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
５０８  ２点目の目標発光量に到達し、その際の駆動値を駆動値制御部が記憶している区間
５０９  瞬間的にレーザー発光させて、その間の検出系の動作を駆動値制御部が判断するための区間
【図１】
2007200513.tif 000003
【図２】
2007200513.tif 000004
【図３】
2007200513.tif 000005
【図４】
2007200513.tif 000006
【図５】
2007200513.tif 000007
【図６】
2007200513.tif 000008
【図７】
2007200513.tif 000009
【図８】
2007200513.tif 000010
【図９】
2007200513.tif 000011