(57)【要約】【課題】欠陥画素の位置情報を予め保持する必要がなく、より正確に欠陥画素の判別が可能な画素欠陥補正装置を提供する。【解決手段】画像データはメモリ部１４１に入力され、注目画素を中心とする縦横３×３画素分の画素値が保持される。この９画素の画素値が比較部１４２に出力され、注目画素と周囲８画素の間の画素値の差が所定値よりも大きいか否かが判定される。比較部１４２の結果に基づいて、パターン判定部１４３において、注目画素を中心とする９画素が欠陥画素、正常画素の基本パターンに対応するかが判定される。注目画素が欠陥画素でないと、欠陥補正部１４４はメモリ部１４１から入力された注目画素の画素値をそのまま出力する。注目画素が欠陥画素のとき、中間値（２値）算出部１４５において周囲８画素の画素値から求められた２個の中間値から中央値を算出し、欠陥補正部１４４は、注目画素の画素値をこの中央値を用いて補正する。【選択図】図４
2007201530.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定手段と、
前記欠陥画素判定手段において前記注目画素が欠陥画素であると判定されたときに前記注目画素の画素値を補正する画素値補正手段とを備え、
前記欠陥画素判定手段が、欠陥画素の基本的なパターンまたは正常画素の基本的なパターンの少なくとも一方に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かの判定を行なう
ことを特徴とする画素欠陥補正装置。
【請求項２】
前記欠陥画素判定手段が、前記注目画素とその周囲の画素との間における画素値の比較に基づいて前記注目画素が前記基本的なパターンに対応するか否かを判定することを特徴とする請求項１に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項３】
前記欠陥画素判定手段が、前記欠陥画素の基本的なパターンと前記正常画素の基本的なパターンの両方に基づいて前記注目画素の判定を行なうことを特徴とする請求項１に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項４】
欠陥画素と判定された注目画素の画素値として用いられる補正画素値が、前記注目画素の周囲の画素の画素値に基づいて算出されることを特徴とする請求項１に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項５】
前記補正画素値が、前記周囲の画素の画素値の中央値であることを特徴とする請求項４に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項６】
前記周囲の画素が、前記注目画素の周囲の８画素であることを特徴とする請求項５に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項７】
前記欠陥画素判定手段と前記画素値補正手段が、撮像素子から出力されている画素データに対して順次に実行され、欠陥画素の補正が前記撮像素子による撮像動作と同時に行なわれることを特徴とする請求項１に記載の画素欠陥補正装置。
【請求項８】
請求項１〜請求項７の何れか一項に記載の画素欠陥補正装置を搭載したことを特徴とするデジタルカメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素に対応する画素データを補正する装置に関する。特に撮像素子から出力される画素データをリアルタイムで補正する画素欠陥補正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体撮像素子には、一般に欠陥画素が存在する。このような傾向は特に小型・高密度の撮像素子において顕著となる。欠陥画素に対しては、画素欠陥補正処理により画素データが補正され、画素欠陥補正処理は、欠陥画素周囲の正常な画素の画素データを用いて行なわれる。
【０００３】
画素欠陥補正処理では、処理中の画素データが欠陥画素のものであるかがまず判定される。画素データが欠陥画素に対応する場合には、例えば周囲の画素データの平均値を用いて補正（補間）処理が施される。画素が欠陥画素であるか否かの判定は、固体撮像素子が搭載されるカメラなどの撮像装置に設けられたメモリに予め保持されたパターンを参照して行われる。また、メモリに保持される欠陥画素判定に関わるパターン情報は、固体撮像素子製造時に各撮像素子固有に発生する欠陥画素の検査を行なって求められる（特許文献１）。
【０００４】
また、撮影中にリアルタイムで注目画素（現に画素欠陥補正処理の対象となっている画素）とその周囲の画素とを比較して、その画素だけ極端に周囲の画素値レベルと異なる場合に欠陥画素とみなし、周囲の画素の平均地を用いて補正を行なう方法が提案されている（特許文献２）。
【特許文献１】特開平１０−３２２６０３号公報
【特許文献２】特開２００２−３２０１４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１の方法では、欠陥画素の数に応じた容量のメモリが必要になるとともに、製造時の欠陥画素の検査は、製造コストの上昇を招く。また、この方法では、経年変化や温度変化により新たに欠陥画素となった画素の補正を行なうことができない。
【０００６】
また、特許文献２の方法では、新たに欠陥画素となった画素にもある程度対応することができるが、縦、横、斜め方向の何れかに欠陥画素が２画素以上連続すると、その画素を欠陥画素と判別することができず、補正が行われないこととなる。
【０００７】
また更に、従来の方法では、周囲の画素データの平均値を用いて欠陥画素データの補間が行なわれているが、補間に用いられる周囲の画素に欠陥画素が含まれると補間された画素データに影響し、画像の劣化が起こる。
【０００８】
本発明は、欠陥画素の位置情報を予め保持する必要がなく、より正確に欠陥画素の判別が可能な画素欠陥補正装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の画素欠陥補正装置は、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定手段と、欠陥画素判定手段において注目画素が欠陥画素であると判定されたときに注目画素の画素値を補正する画素値補正手段とを備え、欠陥画素判定手段が、欠陥画素の基本的なパターンまたは正常画素の基本的なパターンの少なくとも一方に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かの判定を行なうことを特徴としている。
【００１０】
欠陥画素判定手段は、注目画素とその周囲の画素との間における画素値の比較に基づいて注目画素が基本的なパターンに対応するか否かを判定する。また欠陥画素判定手段は、欠陥画素の基本的なパターンと正常画素の基本的なパターンの両方に基づいて注目画素の判定を行なう。
【００１１】
欠陥画素と判定された注目画素の画素値として用いられる補正画素値は、例えば注目画素の周囲の画素の画素値に基づいて算出される。例えば補正画素値は、周囲の画素の画素値の中央値であり、例えば周囲の画素は、注目画素の周囲の８画素である。
【００１２】
例えば欠陥画素判定手段と画素値補正手段は、撮像素子から出力されている画素データに対して順次に実行され、欠陥画素の補正が撮像素子による撮像動作と同時に行なわれる。
【００１３】
また、本発明のデジタルカメラは、上記画素欠陥補正装置を搭載したことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１４】
以上により、本発明によれば、欠陥画素の位置情報を予め保持する必要がなく、より正確に欠陥画素の判別が可能な画素欠陥補正装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。
図１は、本発明の一実施形態である画素欠陥補正処理システムを備えた画像処理システム全体の構成を模式的に示すブロック図である。画像処理システムは画素欠陥補正処理を行なうものであれば如何なるものであってもよいが、以下においてはデジタルカメラ１０を一例として撮影と同時に画素欠陥補正を行なう場合（動的な画素欠陥補正）について説明を行なう。
【００１６】
デジタルカメラ１０では、レンズ１１を介して被写体像が撮像素子（例えばＣＣＤ）１２に結像され、その画像信号は画像処理部１３に入力される。本実施形態において、画像処理部１３は、画素欠陥補正処理システムとしての動的欠陥補正装置１４と、デジタルカメラ１０において従来周知のその他の各種処理を行なう回路部１５とに大別される。撮像素子１２により得られた画像信号は、動的欠陥補正装置１４において画素欠陥補正処理を施されるとともに、回路部１５においてその他周知の画像処理を施される。その後、画像信号はユーザインターフェース１６に出力され、例えばディスプレイ装置等（図示せず）に静止画像あるいは動画（スルー画像）として表示される。なお、図１では、撮像素子１２の駆動に関わる構成など画素欠陥補正処理に直接関わらない構成は省略されている。
【００１７】
図２に、撮像素子１２の画素配列の一部を模式的に示す。図２の例では、撮像素子１２は、ＲＧＢのオンチップカラーフィルタが設けられた撮像素子である。図示されるように、画素の配列パターンは、縦横２画素からなる４画素（２×２画素）をパターンの単位として繰り返される。本実施形態において、これら４画素は、Ｂ色フィルタに対応する１画素と、Ｒ色フィルタに対応する１画素と、Ｇ色フィルタに対応する２画素からなり、ＢとＲが一方の対角線上に、２つのＧが他方の対角線上に配置される。なお、このフィルタ配列は一例であってこれに限定されるものではない。例えば、撮像素子１２は補色系のカラーフィルタを用いるものでもよく、また、単色のフィルタを搭載した撮像素子、あるいは色フィルタを搭載しない撮像素子であってもよい。
【００１８】
図２は、撮像素子１２の任意の領域を抜粋したもので、以後の説明においては、この領域の各画素に、図示される座標値を割り当てて説明を行なう。すなわち、図示された領域において、横方向には左から右の画素（垂直ライン）に１、２、３、・・・と数字が割り当てられ、縦方向には下から上の画素（水平ライン）にａ、ｂ、ｃ、・・・とアルファベットが割り当てられる。
【００１９】
図３は、図２の配列の中からＢの画素のみを抜き出したものである。以下の説明においては、Ｂの画素に対して実行される画素欠陥補正処理を例に、本実施形態の画素欠陥補正処理について説明するが、他の色についても同様である。
【００２０】
本実施形態では、欠陥画素が発生するときの一般的なパターンの特徴に基づいて、欠陥画素であるか否かの判定を行なう。すなわち、欠陥画素が一般に取り得るパターンを予め欠陥検出パターンとして決定しておき、注目画素（現在欠陥画素の判定の対象となっている画素）およびその周囲画素の値を欠陥検出パターンと比較することにより欠陥画素の判定を行なう。
【００２１】
複数の欠陥画素が隣接している場合、欠陥画素同士は縦（垂直ライン方向）または横（水平ライン方向）に並ぶことが一般に多い。これらのことから、本実施形態では、第１の欠陥検出パターンとして、上記特徴に対応するパターンを採用し、注目画素の画素値と注目画素と同色の周りの画素の画素値との比較において、これが第１の欠陥検出パターンに対応するときに、注目画素を欠陥画素として、あるいは欠陥画素の候補として抽出する。
【００２２】
以下図２、図３のＢの画素５ｃが注目画素であるときを例に、本実施形態の画素欠陥補正処理の具体的な動作について図４〜図１０を参照して説明する。本実施形態では、注目画素５ｃと、その周囲を取り囲む８つの同色の画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅに対してパターンの判定を行なう（すなわち図２において注目画素を中心とする３×３画素）。
【００２３】
図４は、動的欠陥補正装置１４の構成を概略示すブロック図である。動的欠陥補正装置１４は、主にメモリ部１４１、比較部１４２、パターン判定部１４３、欠陥補正部１４４、中間値（２値）算出部（補正値算出部）１４５を備える。
【００２４】
メモリ部１４１は、例えば注目画素５ｃを中心に５水平ライン（ａ〜ｅ）分の画素値を保持するメモリ（不図示）を備え、例えば回路部１５を介して撮像素子１２から入力される画像データが入力順に格納される。また、メモリ部１４１には、例えば複数のフリップフロップ（不図示）が備えられ、これらを利用して水平ライン方向の画素値の比較を同時に行なえるような構成とされる。すなわち、メモリ部１４１に注目画素を中心とする同色の３行×３列分の画素データが保持される（図１０ステップＳ１０１）。
【００２５】
メモリ部１４１からは、注目画素５ｃの画素データと、その周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅの画素データが比較部１４２へと出力される。また、注目画素５ｃの画素データは、欠陥補正部１４４へも出力され、注目画素５ｃの周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅの画素データは、中間値算出部１４５へも出力される。
【００２６】
比較部１４２では、注目画素５ｃの画素値と、周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅの画素値とが比較され、その結果がパターン判定部１４３へと出力される。パターン判定部１４３では、比較部１４２からの結果に基づいて注目画素５ｃが欠陥画素であるか否かが判定され、その結果が欠陥補正部１４４へと出力される（図１０ステップＳ１０２〜Ｓ１０５）。
【００２７】
一方、中間値算出部では、注目画素５ｃの周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅの画素値の中央値を求めるための２つの中間値が求められる。すなわち本実施形態では、画素データは偶数個なので、中央値を算出するための２つの画素値が選択され、欠陥補正部１４４へと出力されて、後述するようにその平均値が中央値として求められる（図１０ステップＳ１０７）。
【００２８】
欠陥補正部１４４では、パターン判定部１４３からの判定結果に基づいて、注目画素５ｃが欠陥画素ではないと判定された場合には、入力された注目画素５ｃの画素データをそのまま出力し、欠陥画素であると判定された場合には、画素データを中間値算出部１４５から入力された２つの画素値の平均値に置き換えて出力する。以上により、欠陥画素の画素値は補正され、補正済みの画像データがディスプレイ等のユーザインターフェースに出力される。
【００２９】
なお、本実施形態の欠陥画素の検出では、第１の欠陥検出パターンと第２の欠陥検出パターンが用いられる。第１の欠陥検出パターンは、画素値の分布が欠陥画素と推定されるパターンに対応し、第２の欠陥検出パターンは画素値の分布が正常画素と推定されるパターンに対応する。
【００３０】
図５に、本実施形態の第１の欠陥検出パターンを示す。本実施形態では、欠陥画素と推定されるパターンが予め８パターン用意される。図５左上に示されるパターンは、注目画素５ｃと、この左隣（図３、５において）の画素３ｃとの間の画素値の差（絶対値）が所定の閾値以下（または未満）であり、かつ注目画素５ｃと画素３ｃを除く周囲の他の画素３ａ、５ａ、７ａ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅとの間の画素値の差（絶対値）が上記閾値よりも大きい（または以上）場合に対応する。すなわち、これは欠陥画素が３ｃ、５ｃのみで、水平ライン方向に２画素分連続すると予想される場合に相当する。なお閾値は、例えば周囲８画素の画素データの平均値などに基づいて決定される（例えば平均値の５０％など）。
【００３１】
同様に、図５の上段左から２〜４番目のパターンは、それぞれ、欠陥画素が５ｃ、５ｅのみ、５ｃ、７ｃのみ、５ａ、５ｃのみの縦または横に２画素分連続すると予想される場合に相当する。すなわち、注目画素５ｃの画素値との差が閾値以下の画素が、それぞれ５ｅのみ、７ｃのみ、５ａのみの場合に相当する。
【００３２】
一方、図５の下段左側の２つのパターンは、それぞれ水平ライン上の連続する３つの画素３ｃ、５ｃ、７ｃのみが欠陥画素と予想される場合、垂直ライン上の連続する３つの画素５ａ、５ｃ、５ｅのみが欠陥画素と予想される場合に対応する。すなわち、注目画素５ｃの画素値との差が閾値以下の画素が、それぞれ３ｃ、７ｃのみの場合と、５ａ、５ｅのみの場合に相当する。
【００３３】
また、図５の下段の左から３番目のパターンは、注目画素５ｃを中心に縦横十字形に欠陥画素が存在すると予想される場合に相当し、注目画素５ｃの画素値との差が閾値以下の画素が、３ｃ、７ｃ、５ａ、５ｅのみの場合に相当する。また、図５の右下のパターンは、注目画素５ｃのみが欠陥画素であると予想される場合に対応する。すなわち、注目画素５ｃの画素値との差が閾値以下の画素が、注目画素５ｃの周囲８画素に存在しない場合である。
【００３４】
次に第２の欠陥検出パターンの一例を図６に示す。第２の欠陥検出パターンは、注目画素５ｃを含めた同色の２×２画素（４画素）が所定の閾値以内の塊として存在する場合に対応する。図６では、注目画素５ｃを４画素の左上の画素として、３画素７ｃ、７ａ、５ａの画素値と注目画素５ｃの画素値との差の絶対値が閾値以内の場合を例示するが、この他にも注目画素５ｃを右上画素とする場合、右下画素とする場合、左下画素とするパターンがあり得る（合計で４パターン）。
【００３５】
撮影画像において、線や点などは殆んどの場合縦横４（２×２）画素を最小単位として現れる。したがって、注目画素がこのような４（２×２）画素の１つである場合には、正常画素である可能性が高い。一方、注目画素がこのような４画素の１つでない場合は、その注目画素は欠陥画素である可能性が高い。したがって、本実施形態では、注目画素５ｃが第２の欠陥検出パターンの何れにも対応しない場合には欠陥画素と看做す。
【００３６】
図７に注目画素５ｃの画素値と周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅの画素値との間の比較処理を行なう比較部１４２の構成を模式的に示す。図７に示されるように、比較部１４２には、パターン判定に用いられる９個の画素５ａ、５ｃ、５ｅ、７ａ、７ｃ、７ｅ、３ａ、３ｃ、３ｅの画素値と所定の閾値とが入力される。
【００３７】
比較部１４２内には、複数の比較器が設けられており、注目画素５ｃと周囲８画素３ａ、５ａ、７ａ、３ｃ、７ｃ、３ｅ、５ｅ、７ｅとの間の画素値の差が算出され、その絶対値が閾値よりも大きいか否かがそれぞれ判定される。それぞれの判定結果は、画素値判定信号５ｅ＿ｓｉｇ、５ａ＿ｓｉｇ、７ｃ＿ｓｉｇ、３ｃ＿ｓｉｇ、７ｅ＿ｓｉｇ、７ａ＿ｓｉｇ、３ｅ＿ｓｉｇ、３ａ＿ｓｉｇとしてパターン判定部１４３に出力される。画素値判定信号は論理値信号であり、例えば画素値の差の絶対値が閾値よりも大きいときに「１」であり、閾値以下のときに「０」である。
【００３８】
図８は、比較部１４２からの画素値判定信号が入力されるパターン判定部１４３の構成を模式的に示すブロック図である。図示されるように、パターン判定部１４３には、第１の欠陥検出パターンを判定する第１パターン検出部１４３Ａと、第２の欠陥検出パターンを判定する第２パターン検出部１４３Ｂが設けられる。
【００３９】
図８において、チルダ記号（〜）はＮＯＴ演算であり、チルダ記号が付された信号は反転された信号を表わしている。例えば、図８において第１パターン検出部１４３Ａの一番上に示された論理式は、画素値判定信号５ｅ＿ｓｉｇ、５ａ＿ｓｉｇ、７ｃ＿ｓｉｇ、〜３ｃ＿ｓｉｇ、７ｅ＿ｓｉｇ、７ａ＿ｓｉｇ、３ｅ＿ｓｉｇ、３ａ＿ｓｉｇの間でＡＮＤの演算を行なったものであり、注目画素５ｃの周りの８画素のうち、画素３ｃの画素値のみが注目画素５ｃの画素値との関係において閾値以内にある場合にのみ「１」となりその他の場合には「０」となる。すなわち、図５の左上のパターンに対応するか否かが判定される。
【００４０】
同様に、上から２番目〜８番目までの論理式は、それぞれ図５の上段左から２番目〜４番目、下段左から１番目〜４番目のパターンに対応するか否かを判定するものである。各論理式の演算結果はＯＲ回路に入力され、８つの論理式の何れか１つでも「１」であれば、欠陥信号１として「１」がセレクタ１４３Ｃに出力され、その他の場合は「０」が出力される（図１０ステップＳ１０２）。
【００４１】
一方、第２パターン検出部１４３Ｂに示された４つの論理式は、それぞれ注目画素５ｃを含む４（２×２）画素において、注目画素５ｃ以外の３画素と注目画素５ｃの間における画素値の差の絶対値が閾値以下のときのみに「１」となるもので、上から順番に、注目画素５ｃが４画素の右下の場合、左下の場合、左上の場合、右上の場合にそれぞれ対応する。各論理式の演算結果はＯＲ回路に入力され、ＯＲ回路からはインバータを介して欠陥信号２がセレクタ１４３Ｃに出力される。すなわち、注目画素５ｃが上記４パターンの何れにも含まれないときにのみ欠陥信号２として「１」がセレクタ１４３Ｃに出力され、その他の場合は「０」が出力される（図１０ステップＳ１０３）。
【００４２】
また、セレクタ１４３Ｃは、欠陥信号１または欠陥信号２の一方を順次選択し、欠陥信号１または欠陥信号２の何れか一方が少なくとも「１」のときに欠陥検出信号として「１」を欠陥補正部１４４に出力する（図１０ステップＳ１０４、Ｓ１０６）。一方、欠陥信号１および欠陥信号２の何れも「０」のときには、欠陥検出信号は「０」として欠陥補正部１４４に出力される（図１０ステップＳ１０５）。
【００４３】
図９は、欠陥補正部１４４の構成を模式的に示すブロック図である。欠陥補正部１４４は、セレクタ１４４Ａと、中間値（２値）算出部１４５から出力された２つの画素値の平均（中央値）を算出する算術部１４４Ｂとを備える。上述したように、算術部１４４Ｂには、周囲８画素の画素データにおける中間値（２値）が入力され、その平均（中央値）が求められ、その結果はセレクタ１４４Ａに入力される（図１０ステップＳ１０７）。
【００４４】
また、セレクタ１４４Ａには、図４を参照して説明したように、注目画素の画素データもメモリ部１４１から直接入力される。セレクタ１４４Ａは、入力されたメモリ部１４１からの注目画素の画素データと算術部１４４Ｂからの中央値データの何れか一方を選択的に出力することが可能であり、その選択は、パターン判定部１４３からの欠陥検出信号に基づいて制御される。
【００４５】
すなわち、パターン判定部１４３において注目画素が欠陥画素であると判定された場合（欠陥検出信号が例えば「１」のとき）、中央値データが選択され、注目画素の周囲８画素から求められた中央値が注目画素の補正画素データとして出力される（図１０ステップＳ１０８）。一方、注目画素が正常画素であると判定された場合（欠陥検出信号が例えば「０」のとき）、メモリ部１４１から入力された注目画素の画素データが選択され、セレクタ１４４Ａからは注目画素の画素データがそのまま出力される（図１０ステップＳ１０９）。
【００４６】
以上により、１つの注目画素に対する本実施形態の画素欠陥補正処理動作は終了し、同様の処理は順次新たに入力される注目画素について繰り返される。これにより撮影画像の全ての画素データに対して動的な画素欠陥補正処理が行なわれる。
【００４７】
以上のように、本実施形態によれば、製造時に欠陥の有無の検査を行ない、予め欠陥画素の位置をメモリに保持する必要がなく、欠陥画素の補正を行なうことができる。また、画素欠陥補正処理が動的に行われるので、経年変化や温度変化により新たに欠陥となったが素に対しても補正を行なうことができる。
【００４８】
また、本実施形態では、欠陥画素や正常画素の局所的な分布パターンに基づいて欠陥画素の判定が行なわれるので、縦方向や横方向などに欠陥画素が連続する場合にも、欠陥画素を検出することが可能となり、より正確に欠陥画素の判定を行なうことが可能である。また更に、本実施形態では、補正画素データとして中央値を利用しているため、注目画素の周囲に白欠陥や黒欠陥が存在する場合にも、これら欠陥画素の影響を補正画素データに与える可能性を低減することができる。
【００４９】
また、欠陥画素の判定に用いられるパターンは、本実施形態で例示したものに限定されるものではなく、右斜めや左斜めに閾値以内の画素が存在する場合には欠陥画素としないパターンや、閾値以内の画素が右斜めや左斜め方向にのみ存在する場合には欠陥画素とするパターンなどを採用することも可能である。これらのパターンは適宜組み合わせることも単独で用いることも可能である。
【００５０】
また、本実施形態では、注目画素を中心とする３×３画素を動的画素欠陥補正処理の対象としたが、ラインメモリやフリップフロップの増設により、より広い領域を対象として欠陥画素の判定を行なうことも可能である。
【００５１】
本実施形態では、動的な画素欠陥補正処理を例に説明を行なったが、例えば撮影された画像を一旦画像メモリに保存し、その後必要に応じて、デジタルカメラ上、あるいはパーソナルコンピュータ上において本実施形態の画素欠陥補正処理を適用して画像データを補正することも可能である。このような場合には、欠陥画素の判定に用いられる領域を任意に設定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の一実施形態であるデジタルカメラの構成を示すブロック図である。
【図２】撮像素子の画素配列の一部を模式的に示す図である。
【図３】図２の配列の中からＢの画素のみを抜き出して示す図である。
【図４】動的欠陥補正装置の構成を概略示すブロック図である。
【図５】本実施形態の第１の欠陥検出パターンを示す図である。
【図６】本実施形態の第２の欠陥検出パターンを示す図である。
【図７】注目画素の画素値と周囲８画素の画素値との間の比較処理を行なう比較部の構成を模式的に示すブロック図である。
【図８】比較部からの画素値判定信号が入力されるパターン判定部の構成を模式的に示すブロック図である。
【図９】欠陥補正部の構成を模式的に示すブロック図である。
【図１０】画素欠陥補正処理の流れを説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００５３】
１２  撮像素子
１３  画像処理部
１４  動的欠陥補正装置
１４１  メモリ部
１４２  比較部
１４３  パターン判定部
１４４  欠陥補正部
１４５  中間値（２値）算出部
１４３Ａ  第１パターン検出部
１４３Ｂ  第２パターン検出部
【図１】
2007201530.tif 000003
【図２】
2007201530.tif 000004
【図３】
2007201530.tif 000005
【図４】
2007201530.tif 000006
【図５】
2007201530.tif 000007
【図６】
2007201530.tif 000008
【図７】
2007201530.tif 000009
【図８】
2007201530.tif 000010
【図９】
2007201530.tif 000011
【図１０】
2007201530.tif 000012