(57)【要約】【課題】画像を複数の領域に分割して、それぞれの領域を別々の読み出し回路で読み出す場合の画質の劣化を抑制できるようにする。【解決手段】マトリクス状に画素が配列された撮像素子１１と、撮像素子により撮像された画像を、ｎを２以上の整数とした場合に、マトリクス状に配列された画素のｎ行間隔またはｎ列間隔に線分割して読み出すｎ個の読み出し回路２３，２４と、ｎ個の読み出し回路からの出力信号のうち、少なくとも第１の読み出し回路からの出力信号の積分値と、第２の読み出し回路からの出力信号の積分値とに基づいて、第１の読み出し回路からの出力信号と第２の読み出し回路からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正する補正回路２７，２８と、を具備する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリクス状に画素が配列された撮像素子と、
前記撮像素子により撮像された画像を、ｎを２以上の整数とした場合に、前記マトリクス状に配列された画素のｎ行間隔またはｎ列間隔に線分割して読み出すｎ個の読み出し手段と、
前記ｎ個の読み出し手段からの出力信号のうち、少なくとも第１の読み出し手段からの出力信号の積分値と、第２の読み出し手段からの出力信号の積分値とに基づいて、前記第１の読み出し手段からの出力信号と前記第２の読み出し手段からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記補正手段は、前記第１の読み出し手段からの出力信号の一部を切り出した領域の積分値と、前記第２の読み出し手段からの出力信号の一部を切り出した領域の積分値とに基づいて、前記第１の読み出し手段からの出力信号と前記第２の読み出し手段からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記補正手段は、前記第１の読み出し手段からの出力信号の内の相対的に明るい領域である第１の領域と相対的に暗い領域である第２の領域のそれぞれの積分値の差分である第１の差分値と、前記第２の読み出し手段からの出力信号の内の相対的に明るい領域である第３の領域と相対的に暗い領域である第４の領域のそれぞれの積分値の差分である第２の差分値とに基づいて、前記第１の読み出し手段からの出力信号と前記第２の読み出し手段からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
撮影時の温度を検出する温度検出手段と、前記撮像装置の製造時の温度を記憶する記憶手段とをさらに具備し、前記補正手段は、前記撮影時の温度と前記撮像装置の製造時の温度の差が予め定められた値より小さい場合は、前記補正手段による補正を行わないことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項５】
撮影時の温度を検出する温度検出手段と、前記ｎ個の読み出し手段からの出力信号のうち、少なくとも第１の読み出し手段からの出力信号の積分値と、第２の読み出し手段からの出力信号の積分値とに基づいて補正値を算出する補正値算出手段と、前記温度検出手段により検出された撮影時の温度と前記補正値算出手段により算出された補正値との関係を記憶する記憶手段とをさらに具備することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記記憶手段に記憶された前記撮影時の温度と前記補正値との関係に基づいて、前記第１の読み出し手段からの出力信号と前記第２の読み出し手段からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正することを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
マトリクス状に画素が配列された撮像素子を有する撮像装置を制御する方法であって、
前記撮像素子により撮像された画像を、ｎを２以上の整数とした場合に、前記マトリクス状に配列された画素のｎ行間隔またはｎ列間隔に線分割してｎ個の画像信号を読み出す読み出し工程と、
前記ｎ個の画像信号のうち、少なくとも第１の画像信号の積分値と、第２の画像信号の積分値とに基づいて、前記第１の画像信号と前記第２の画像信号の内のどちらか一方、または両方を補正する補正工程と、
を具備することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＣＤやＣＭＯＳイメージセンサ等の撮像素子を用いた撮像装置に関し、特に画面をｎチャンネルに線分割して読み出す撮像装置においてその画質を向上させる技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラやビデオカメラ等の撮像装置においては、撮像素子としてＣＣＤやＣＭＯＳイメージセンサを使用するのが一般的である。
【０００３】
近年では、撮像素子の多画素化が進むとともに、画素信号の読み出し速度の高速化が求められている。そのため、複数の読み出し回路を有することで画素信号の読み出しを並列処理できるようにした撮像装置が提案されている。
【０００４】
上記のような撮像装置では複数の読み出し回路相互のオフセット差やゲイン差があると、その差分が画像の品質を著しく劣化させるという問題があった。
【０００５】
この問題を解決する方法として、特許文献１及び特許文献２に記載されているような方法が提案されている。
【特許文献１】特開平７−３８８１４号公報
【特許文献２】特開２０００−２５３３０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の特許文献１では、複数ある読み出し回路のすべてに同一の信号を入力し、その同一の入力信号に対する複数の読み出し回路の出力信号から、読み出し回路相互のオフセット差とゲイン差を検出することでその差分を補正するようにしている。
【０００７】
しかしながら、読み出し回路数が多い場合（例えばｍ個）、同一信号をｍ個の読み出し回路で読み出す必要があり、その分読み出し時間が増大するという問題があった。
【０００８】
また、特許文献２では、複数ある読み出し回路からの出力信号の相関関係に基づいて、読み出し回路からの出力信号を補正するようにしている。具体的には画面を複数の領域毎に分割し、その領域毎に個別の読み出し回路で信号を読み出し、隣接する領域との境界付近で隣接領域の信号と相関演算を行い、その結果に基づいて隣接領域との差がなくなるように補正を行う方法である。
【０００９】
この方法では、分割領域毎に隣接領域との相関を求める必要があり演算が非常に煩雑になるという問題があった。また、画面を面分割していることを前提に分割領域の所定範囲の平均を求めて相関演算を行うようにしているため、画面を列毎に線分割した場合（串歯状に分割）などに平均化の対応が難しいという問題があった。
【００１０】
上記２つの従来技術では、撮影毎に読み出された出力を演算することでリアルタイムに補正を行っているので、環境の変化（例えば周囲温度）によらず補正することが可能である。しかし、撮影毎に演算するのでは演算に要する時間だけ次の撮影動作に移行する時間が遅れるため、連続撮影における速写性を低下させることも問題であった。
【００１１】
したがって、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、画像を複数の領域に分割して、それぞれの領域を別々の読み出し回路で読み出す場合の画質の劣化を抑制できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、マトリクス状に画素が配列された撮像素子と、前記撮像素子により撮像された画像を、ｎを２以上の整数とした場合に、前記マトリクス状に配列された画素のｎ行間隔またはｎ列間隔に線分割して読み出すｎ個の読み出し手段と、前記ｎ個の読み出し手段からの出力信号のうち、少なくとも第１の読み出し手段からの出力信号の積分値と、第２の読み出し手段からの出力信号の積分値とに基づいて、前記第１の読み出し手段からの出力信号と前記第２の読み出し手段からの出力信号の内のどちらか一方、または両方を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、マトリクス状に画素が配列された撮像素子を有する撮像装置を制御する方法であって、前記撮像素子により撮像された画像を、ｎを２以上の整数とした場合に、前記マトリクス状に配列された画素のｎ行間隔またはｎ列間隔に線分割してｎ個の画像信号を読み出す読み出し工程と、前記ｎ個の画像信号のうち、少なくとも第１の画像信号の積分値と、第２の画像信号の積分値とに基づいて、前記第１の画像信号と前記第２の画像信号の内のどちらか一方、または両方を補正する補正工程と、を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、画像を複数の領域に分割して、それぞれの領域を別々の読み出し回路で読み出す場合の画質の劣化を抑制することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【００１６】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の撮像装置の第１の実施形態を説明する図であり、撮像素子であるＣＭＯＳセンサ及びその周辺回路の詳細を説明する図である。実際の撮像素子は、数百万画素といったもっと多数の画素を有しているが、図１では、説明を簡略化するために、撮像素子は垂直方向にｍ行、水平方向に８列の画素が配置されて構成されているものとする。また、そのｍ行８列の画素信号を１列おき（２列間隔）に２つに線分割して２つの読み出し回路で読み出すものと仮定する。
【００１７】
図１において、１１は画素部、１２は垂直方向に画素信号を送り出すための垂直走査回路、２１ａ〜２１ｄ，２２ａ〜２２ｄは画素信号のうちの水平方向のラインを選択する選択スイッチ、２３，２４は水平方向のラインを順次選択する水平走査回路である。この構成では、選択スイッチ２１ａ〜２１ｄ，２２ａ〜２２ｄ、水平走査回路２３，２４により画面を１列おき（２列間隔）に線分割して画面上方向（以下ＣＨ１）と下方向（以下ＣＨ２）に画素信号を読み出すようにしている。
【００１８】
２５はＣＨ１から読み出された画素信号を増幅する増幅アンプ、２６はＣＨ２から読み出された画素信号を増幅する増幅アンプ、２７，２８は増幅アンプ２５，２６のゲイン特性差を補正するための可変ゲインアンプ（以下ＰＧＡ）である。また、２９，３０はＰＧＡ２７，２８からの出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器で、後段のデジタル信号処理回路（以下ＤＳＰ、図７参照）に接続されている。
【００１９】
ここで、垂直走査回路１２、水平走査回路２３，２４、ＰＧＡ２７，２８、Ａ／Ｄ変換器２９，３０は、不図示のタイミング発生回路（以下ＴＧ）によって駆動される。
【００２０】
図２（ａ）、（ｂ）は図１で説明した撮像装置におけるＡ／Ｄ変換器２９，３０の出力と露光量の関係を示した図である。
【００２１】
図２（ａ）はＰＧＡ２７，２８及びＡ／Ｄ変換器２９，３０の設定をデフォルト設定（例えばゲイン１倍、オフセット補正０）とした場合を示している。図２（ａ）を見ると、ＣＨ１とＣＨ２の間でゲインとオフセットがずれていることがわかる。このほとんどの原因は、増幅アンプ２５と２６のゲインとオフセットが製造誤差により異なっていることにある。
【００２２】
撮像装置の製造工程においては、このようなＣＨ１とＣＨ２のゲインとオフセットのずれを補正するために、ＰＧＡ２７，２８のゲイン設定やＡ／Ｄ変換器２９，３０のオフセット補正設定を調整している。そのため、実際には図２（ｂ）のようにゲインとオフセットが補正された状態となっている。
【００２３】
ところで、一般的に増幅アンプのゲインやオフセット誤差は周囲温度状態によって変化することに加え、その変化量に個体差がある。つまり、製造時の周囲温度と同じ温度下であれば増幅アンプのゲインやオフセット誤差は十分に補正されているが、異なる温度環境下では増幅アンプのゲインやオフセット誤差は十分に補正されないことになる。
【００２４】
図３（ａ）、（ｂ）は、撮像装置の画像出力状態を用いてこの現象を説明した図である。図中（２）はＣＨ１だけを抜き出した画像を示し、（３）はＣＨ２だけを抜き出した画像を示し、（１）はＣＨ１とＣＨ２を合成したときの画像を示している。ここでは、グレーの階段チャートを撮影した例について説明する。
【００２５】
図３（ａ）は、製造時の周囲温度と同じ温度である常温時の画像であって、製造時に増幅アンプのゲインやオフセット誤差が補正されている。そのため、ＣＨ１だけを抜き出した画像（２）とＣＨ２だけを抜き出した画像（３）はｎ列分（ここでは２列分）だけ水平方向にずれてはいるものの、どの輝度レベルにおいても一致した画像となっている。このためＣＨ１とＣＨ２を合成した最終画像（１）もグレーの階段チャートの様子が正確に再現されている。
【００２６】
一方、図３（ｂ）は、周囲温度が０℃の時の画像であって、常温時に比べて増幅アンプのゲインやオフセット誤差が十分補正されていない。そのため、ＣＨ１だけを抜き出した画像（２）とＣＨ２だけを抜き出した画像（３）はｎ列分（ここでは２列分）だけ水平方向にずれており、且つ、どの輝度レベルにも差がある画像となっている。このためＣＨ１とＣＨ２を合成した最終画像（１）もグレーの階段チャートを正確に再現できず、ＣＨ１とＣＨ２の差分が縦の線状のコントラストとなって現れてしまい、大きく劣化した画像になってしまう。
【００２７】
図４は、図３（ｂ）と同様、周囲温度が０℃の時の画像であるが、画像内で比較的明るい部分である「領域ｋ」と比較的暗い部分である「領域ｊ」を示している。
【００２８】
また、領域ｋ内のＣＨ１，ＣＨ２の各出力の積分値を夫々ＣＨ１ｋ，ＣＨ２ｋ、領域ｊ内のＣＨ１，ＣＨ２の各出力の積分値を夫々ＣＨ１ｊ，ＣＨ２ｊとして、その関係を示したものが図５の破線である。図５において、ＣＨ１＝ＣＨ２の理想的な直線（実線で表示）に対して破線で示される直線がずれているのがわかる。このときのＣＨ１とＣＨ２の関係を式で表すと、以下のようになる。
【００２９】
ＣＨ１×{（ＣＨ２ｋ−ＣＨ２ｊ）／（ＣＨ１ｋ−ＣＨ１ｊ）}＋ｐ＝ＣＨ２
…（式１）
（式１）から、（ＣＨ２ｋ−ＣＨ２ｊ）／（ＣＨ１ｋ−ＣＨ１ｊ）をＣＨ１の出力値に掛ければ、ＣＨ１のゲインをＣＨ２に揃えることができることがわかる。
【００３０】
図６は、周囲温度が０℃の時のＡ／Ｄ変換器２９，３０の出力と露光量の関係を示した図である。ここで、露光量が０の時のＡ／Ｄ変換器２９，３０の出力値がオフセットずれ分である。露光量０の時の出力は、撮像素子内のオプティカルブラック（以下ＯＢ）の出力がこれにあたるので、オフセットずれ分は以下のようになる。
【００３１】
ＣＨ１オフセットずれ＝ＣＨ１ＯＢ−ＣＨ１ＯＢ（常温）    …（式２）
ＣＨ２オフセットずれ＝ＣＨ２ＯＢ−ＣＨ２ＯＢ（常温）    …（式３）
ここで、ＣＨ１ＯＢ（常温）、ＣＨ２ＯＢ（常温）は、撮像装置の製造時のＯＢ領域の積分値である。また、ＣＨ１ＯＢ、ＣＨ２ＯＢは、撮影時のＯＢ領域の積分値である。なお、撮像装置の製造時の温度（常温）と、ＣＨ１ＯＢ（常温）、ＣＨ２ＯＢ（常温）は、ともに撮像装置の製造時に、図７に示すＲＯＭ１０６などに記憶しておく。
【００３２】
つまり、ＣＨ１とＣＨ２の増幅アンプのゲインやオフセット誤差を補正するためには、ＣＨ１の出力を、次式によって補正すればよい。
【００３３】
ＣＨ１×｛（ＣＨ２ｋ−ＣＨ２ｊ）／（ＣＨ１ｋ−ＣＨ１ｊ）｝＋ＣＨ１オフセットずれ                                                  …（式４）
また、ＣＨ２の出力を、次式によって補正すればよい。
【００３４】
ＣＨ２＋ＣＨ２オフセットずれ                      …（式５）
ここでは、ＣＨ１とＣＨ２の出力差によって縦の線状のコントラストが発生し画像を大きく劣化させてしまうことを防ぐために、絶対ゲインの変化については無視し、ＣＨ１とＣＨ２の相対ゲイン差を補正するようにしている。また、ＣＨ１のゲインをＣＨ２に合わせるように補正しているが、ＣＨ２のゲインをＣＨ１に合わせるようにしても良いし、またＣＨ１とＣＨ２の双方を互いに一致するように補正してもよい。。
【００３５】
ここで、ここまでに説明した方法でＣＨ１とＣＨ２の増幅アンプのゲインやオフセット誤差を補正できるのは、次のような理由による。即ち、ｎ列間隔で線分割して読み出すようにしているため、図３（ａ）、（ｂ）で説明した通り、ＣＨ１のみを抜き出した画像とＣＨ２のみを抜き出した画像がｎ列分のずれを除きほぼ同一の画像を出力しているためである。
【００３６】
次に、撮影動作毎に上記のような補正演算をするのでは、連続撮影における速写性を低下させることになるため、本実施形態では周囲温度に対するゲイン及びオフセット補正値を撮像装置内でテーブル化する。このことを、図７乃至図１０を用いて説明する。
【００３７】
図７は、デジタルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置の構成を示す図で、１０１は撮像素子でありＣＣＤまたはＣＭＯＳセンサが使用される。ここで、図１の１１〜２８で示した部分をまとめて撮像素子１０１として示している。
【００３８】
１０２は撮像素子からの出力信号をアナログ／デジタル変換するＡ／Ｄ変換器である。Ａ／Ｄ変換器１０２には、図１に示したＡ／Ｄ変換器２９，３０が含まれている。１０３はＤＳＰ（Digital Signal Proseccer）であり、Ａ／Ｄ変換器１０２からのデータに対して各種補正処理及び現像処理を行なう。またＤＳＰ１０３は、ＲＯＭ１０６、ＲＡＭ１０７等各種メモリの制御、記録媒体１０８への画像データの書き込み制御を行なう。
【００３９】
１０４は、撮像素子１０１、Ａ／Ｄ変換器１０２、ＤＳＰ１０３にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であるＴＧ（Timing Generator）であり、ＣＰＵ１０５により制御される。
【００４０】
１０５はＤＳＰ１０３、ＴＧ１０４の制御、及び測光・測距など不図示の各部を使ったカメラ機能の制御を行なうＣＰＵである。また、１０９〜１１１の各スイッチが接続され、それぞれの状態に応じた処理を実行する。
【００４１】
１０６はカメラの制御プログラムや後述の補正テーブルなどを記憶するＲＯＭで、ＣＰＵ１０５によって書き換えが可能である。１０７はＤＳＰ１０３で処理される画像データや補正データを一時的に記憶するＲＡＭである。ＲＡＭ１０７はＲＯＭ１０６より高速のアクセスが可能である。
【００４２】
１０８は撮影された画像を保存するコンパクトフラッシュ（登録商標）カード（以下ＣＦ）等の記録媒体であり、不図示のコネクタを介してカメラと接続される。
【００４３】
１０９はカメラを起動させるための電源スイッチ、１１０は測光処理、測距処理等の撮影準備動作開始を指示するシャッタースイッチＳＷ１である。１１１は不図示のミラー及びシャッターを駆動し、撮像素子１０１から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１０２、ＤＳＰ１０３を介して記録媒体１０８に書き込む一連の撮像動作の開始を指示するシャッタースイッチＳＷ２である。１１２は、撮影時のカメラまたは撮像素子の温度を検出する温度センサである。
【００４４】
図８は、図７に示すカメラの制御を示したフローチャートであり、この図を用いてカメラの動作について説明する。
【００４５】
まずステップＳ４０１で電源スイッチ１０９がＯＮか否かを判定する。ここでＯＦＦであればステップＳ４０１を繰り返し、ＯＮであればステップＳ４０２で撮影準備動作開始スイッチであるＳＷ１がＯＮかどうかを判定する。ここでＯＦＦであればステップＳ４０２を繰り返すが、ＯＮであればステップＳ４０３で、温度センサ１１２によって撮影時のカメラまたは撮像素子の温度を測定する。続いてステップＳ４０４で周知の測光処理、測距処理を行い、ステップＳ４０５に進む。
【００４６】
ステップＳ４０５では撮像動作の開始スイッチであるＳＷ２がＯＮか否かを判定し、ＯＦＦであればステップＳ４０２に戻り、ステップＳ４０２〜Ｓ４０４を繰り返す。ここで、ＳＷ２がＯＮの場合はステップＳ４０６で不図示のシャッタを駆動するなどして撮像素子１０１に露光し、ステップＳ４０７で撮像素子１０１からの信号を読み出し、ＲＡＭ１０７に一時的に記憶する。
【００４７】
次にステップＳ４０８で、ステップＳ４０３で測定した撮影時温度とカメラ製造時の温度（通常カメラは常温２５℃付近で製造されるため、例えば２５℃とする）を比較する。カメラ製造時の温度は、既に説明したように予めＲＯＭ１０６に記憶されている。ここで撮影時温度とカメラ製造時の温度差が所定の温度差（例えば±１０℃）以下であれば、その後の補正処理などを行わずステップＳ４１４に進みＲＡＭ１０７内の画像を、ＣＦなどの記憶媒体１０８に記録する。
【００４８】
ステップＳ４０８で撮影時温度とカメラ製造時の温度差が所定の温度差を越えていると判断された場合、ステップＳ４０９に進み後述する撮影時温度と補正値の関係を示すテーブルが完成しているかどうかを判定する。ここでまだテーブルが完成していない場合はステップＳ４１０に進み前述したように画像信号から（式１）乃至（式３）を用いて補正値を算出し、ステップＳ４１１に進む。
【００４９】
ステップＳ４１１ではステップＳ４０３で求めた撮影時の温度と、ステップＳ４１０で求めた補正値の関係を、図９の例の如くまとめる。図９を説明すると、撮影時の温度範囲を１０℃刻みで分割し、各温度範囲毎に１０回分の補正値を記憶していく。すべての温度範囲で補正値が１０回分得られたら各温度範囲毎に補正値の平均値を算出した後、図１０に示すように、撮影時温度と補正値の関係を一次式または曲線近似させてテーブル化する。ここでテーブル化したデータをＲＯＭ１０６に記憶することで、テーブルとして使用可能となるため、以降の補正ではわざわざ画像から補正値を算出することなく最適の補正を行うことができるようになる。ここでは、図９、１０においてゲイン補正値のみを説明しているが、オフセット補正値も同様にテーブル化できる。
【００５０】
ステップＳ４１１で撮影時の温度と補正値の関係をまとめた後、ステップＳ４１３に進む。ステップＳ４１３ではステップＳ４１０で求めた補正値を基に、ＲＡＭ１０７内の画像を（式４）、（式５）を用いて補正し、再度ＲＡＭ１０７内に記憶した後ステップＳ４１４に進む。そして、ＲＡＭ１０７内の画像をＣＦなどの記憶媒体１０８に記録する。
【００５１】
ステップＳ４０９ですでに撮影時温度と補正値の関係を示すテーブルが完成していると判定された場合は、ステップＳ４１２に進み、図１０のようなテーブルを基に補正値を算出する。その後ステップＳ４１３ではステップＳ４１２で求めた補正値を基に、ＲＡＭ１０７内の画像を（式４）、（式５）を用いて補正し、再度ＲＡＭ１０７内に記憶した後ステップＳ４１４に進む。そして、ＲＡＭ１０７内の画像をＣＦなどの記憶媒体１０８に記録する。
【００５２】
以上の説明からわかるように、最初のうちは撮影動作毎に撮影画像から補正値を算出するが、テーブルが完成した以降は、撮影時の温度を測定するだけで補正値をテーブルから求めることができるようになる。そのため、連続撮影における速写性を低下させることのない撮像装置を提供することが可能になる。
【００５３】
（第２の実施形態）
図１１は、本発明の撮像装置の第２の実施形態を説明する図で、撮像素子であるＣＭＯＳセンサ及びその周辺回路の詳細を説明する図である。実際の撮像素子は、数百万画素といったもっと多数の画素を有しているが、図１１では、説明を簡略化するために、撮像素子は垂直方向にｍ行、水平方向に８列の画素が配置されて構成されているものとする。また、４列間隔に４つに線分割して画素信号を４つの読み出し回路で読み出す構成となっている。図１１の詳細についての説明は省略するが、図１との違いは、水平方向の線分割数である。図１１のような構成であっても、図２〜図９のような第１の実施形態と同様の動作を容易に適用することが可能である。
【００５４】
（第３の実施形態）
図１及び図１１は、水平方向に線分割した例を説明しているが、垂直方向に同様に線分割した場合でも、本発明を適用することが可能である。
【００５５】
以上説明したように、上記の第１乃至第３の実施形態による補正を行うことで、画面をｎチャンネルに線分割して読み出される撮像装置においても、複数の読み出し回路相互のオフセット差やゲイン差を補正することができるため良質な画像の提供が可能となる。
【００５６】
また、リアルタイムに補正することが可能なため環境の変化（例えば周囲温度）によらず補正することが可能である。
【００５７】
更に結果を温度毎に学習することで演算時間の短縮ができるため、学習後は連続撮影における速写性を低下させることのない撮像装置の提供が可能になる。
【産業上の利用可能性】
【００５８】
本発明は、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラにおける画質向上に関するもので、特に撮像素子の画素信号を複数の読み出し回路で読み出す構成の装置において、環境変化による画質劣化を防止するものである。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の撮像装置の第１の実施形態を説明する図であり、撮像素子であるＣＭＯＳセンサ及びその周辺回路の詳細を説明する図である。
【図２】図１で説明した撮像装置におけるＡ／Ｄ変換器の出力と露光量の関係を示した図である。
【図３】周囲温度状態が変化したときの画像を説明する図である。
【図４】周囲温度状態が変化したときの画像を説明する図である。
【図５】周囲温度が変化したときの出力補正を説明する図である。
【図６】周囲温度が変化したときの出力補正を説明する図である。
【図７】本発明の第１の実施形態における撮像装置の構成を示す図である。
【図８】撮像装置の動作を説明するフローチャートである。
【図９】温度と補正値のテーブルを説明する図である。
【図１０】温度と補正値のテーブルを説明する図である。
【図１１】本発明の撮像装置の第２の実施形態を説明する図である。
【符号の説明】
【００６０】
１１  画素部
１２  垂直走査回路
２１ａ〜ｄ，２２ａ〜ｄ  水平方向ライン選択スイッチ
２３，２４  水平走査回路
２５，２６  増幅アンプ
２７，２８  可変ゲインアンプ（ＰＧＡ）
２９，３０  Ａ／Ｄ変換器
１０１  撮像素子
１０２  Ａ／Ｄ変換器
１０３  ＤＳＰ
１０４  タイミング発生回路
１０５  ＣＰＵ
１０６  ＲＯＭ
１０７  ＲＡＭ
１０８  記録媒体
１０９，１１０，１１１  スイッチ
１１２  温度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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