(57)【要約】【課題】基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供する。【解決手段】物質Ｓの重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、物質Ｓを物質保持領域Ａｓ内に保持するフィルタ３３と、物質Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源Ｆと、物質Ｓで回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器２０と、フィルタ３３におけるＸ線照射面の反対側に設けられ物質保持領域Ａｓよりも小さい基底板３１と、Ｘ線源Ｆから見てフィルタ３３の背面側であって基底板３１の外周側面の周りに設けられた非晶質部材３０とを有するＸ線回折定量装置である。非晶質部材３０からは強いピーク波形を持った回折線が出ないので、基底板３１からの回折線に誤差変動が生じることがなくなる。【選択図】図２
2007093563.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物質の重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、
前記物質を物質保持領域内に保持する物質保持体と、
前記物質に照射するＸ線を発生するＸ線源と、
前記物質で回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、
前記物質保持体におけるＸ線照射面の反対側に設けられ前記物質保持領域よりも小さい基底板と、
前記Ｘ線源から見て前記物質保持体の背面側であって前記基底板の外周側面の周りに設けられた非晶質部材と
を有することを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項２】
請求項１記載のＸ線回折定量装置において、前記非晶質部材のＸ線受光面は前記基底板のＸ線受光面よりも前記Ｘ線源から離れていることを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２記載のＸ線回折定量装置において、
前記基底板はＺｎによって形成され、前記非晶質部材はガラスによって形成されることを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項４】
物質の重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、
前記物質を物質保持領域内に保持する物質保持体と、
前記物質に照射するＸ線を発生するＸ線源と、
前記物質で回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、
前記物質保持体におけるＸ線照射面の反対側に設けられ前記物質保持領域よりも小さい基底板と、
前記Ｘ線源から見て前記物質保持体の背面側の領域であり且つ前記基底板の外周側面の周りの領域に設けられた空間領域と
を有することを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項５】
請求項４記載のＸ線回折定量装置において、
前記基底板はＺｎによって形成されることを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１つに記載のＸ線回折定量装置において、前記基底板及び前記物質保持体の両方を支持する試料板をさらに有し、該試料板は前記基底板と異なる角度でＸ線を回折することを特徴とするＸ線回折定量装置。
【請求項７】
請求項６記載のＸ線回折定量装置において、前記試料板はＡｌによって形成されることを特徴とするＸ線回折定量装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物質の重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、基底基準吸収回折法に基づいた物質の定量法が知られている。この定量法は、例えば、空気中に含まれる特定物質の重量、すなわち空気に含まれる特定物質の含有量を測定する際に用いられる。さらに具体的には、この定量法は、例えば、空気中に含まれる微小物質の含有量を測定する際に用いられる。
【０００３】
この基底基準吸収回折法に基づいた定量法は、例えば、次のようにして実施される。すなわち、例えば円板状でフィルム状のフィルタの所定面積内に被定量物である物質を空気吸引等によって捕獲し、その物質に固有の回折角度に対応した入射角度でその物質にＸ線を照射し、その物質で回折した回折線をＸ線検出器によって検出してその回折線の強度を測定し、測定されたその回折線強度を予め求めておいた検量線と比較することによりその物質の重量を決定する。
【０００４】
上記の検量線は、理想的には図７に符号Ｌ１で示すように直線状であるが、実際には符号Ｌ２で示すように被定量物の重量が大きくなるに従って傾斜が緩やかになって直線から外れる傾向にある。これは、被定量物の重量が大きくなるとその被定量物によるＸ線の吸収が大きくなるからであると考えられる。このように検量線の傾斜が重量の大きい側で緩やかになると、この検量線を使って検量を行ったとき、すなわち被定量物質の重量を決めたとき、その決められた重量が被定量物の実際の重量よりも大きくなり、このため、正確な定量ができなくなるおそれがある。
【０００５】
このような定量の誤差を解消するため、基底基準吸収回折法では従来から、例えばＺｎ（亜鉛）から成る基底板を用いて検量線を補正する処理を行っている。具体的には、被定量物を捕獲する前のフィルタの下に基底板を配置して、被定量物が無いときの基底板からの回折線強度を測定し、次に、被定量物を捕獲した後のフィルタの下に同じ基底板を配置して、被定量物を透過した後に基底板で回折した回折線の強度を測定し、それらの測定結果に基づいて被定量物によるＸ線の吸収量を測定し、そして、そのＸ線吸収量に基づいて検量線を補正している。補正された検量線は、図７に符号Ｌ１で示すように直線状になる。
【０００６】
このように、基底基準吸収回折法では、フィルタに捕獲された被定量物の回折線強度はもとより、被定量物が無いときに基底板で回折した回折線の強度、及び被定量物を透過した後に基底板で回折した回折線の強度の両方の強度が正確に測定されることが重要である。このことに鑑み、本件出願人は、特許文献１において、基底板をフィルタよりも小さく設定したＸ線回折定量装置、特に基底板をフィルタにおける被定量物捕獲領域よりも小さく設定したＸ線回折定量装置を提案した。
【０００７】
このＸ線回折定量装置によれば、被定量物をフィルタ内に捕獲してそのフィルタを基底板の上に載せると、基底板はその全体が常に被定量物によって覆われて、被定量物の外側に基底板がはみ出すことがなくなるので、基底板で回折したＸ線は必ず被定量物を透過した後のＸ線に限られることになり、それ故、被定量物を透過した後に基底板で回折した回折線の強度を正確に測定できること、そのために被定量物によるＸ線の吸収量を正確に測定できること、そのために検量線を正確に補正できること、ひいては、被定量物質の検量を正確に行うことが可能になった。
【０００８】
【特許文献１】特許第３６７３９８１号（第３頁、図３，６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１に開示された定量法には次のような不十分な点もあった。それは、基底板が被定量物よりも小さく設定されるため、被定量物を透過した後に基底板で回折した回折線の強度を測定する際に、被定量物を透過した後に基底板の外側周辺に到達するＸ線が発生し、そのＸ線が基底板を支持する試料板、例えばＡｌ（アルミニウム）から成る試料板で回折し、その回折線が基底板からの回折線に混ざってＸ線検出器によって検出されてしまうことである。この現象のため、従来の基底基準吸収回折法では、必ずしも基底板のみの正確な回折線強度情報を得ることができず、そのため、正確な検量結果が得られないおそれがあった。
【００１０】
本発明は、上記の問題点に鑑みて成されたものであって、基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る第１のＸ線回折定量装置は、物質の重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、前記物質を物質保持領域内に保持する物質保持体と、前記物質に照射するＸ線を発生するＸ線源と、前記物質で回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、前記物質保持体におけるＸ線照射面の反対側に設けられ前記物質保持領域よりも小さい基底板と、前記Ｘ線源から見て前記物質保持体の背面側であって前記基底板の外周側面の周りに設けられた非晶質部材とを有することを特徴とする。非晶質物質としては、例えば、ガラス、非晶質高分子材料等が考えられる。
【００１２】
このＸ線回折定量装置を用いて被定量物質を定量する際には、被定量物質にＸ線（例えば、ＣｕＫα線を含むＸ線）を照射し、その被定量物質で回折した回折線の強度を測定し、測定された回折線強度に基づいて検量線から被定量物質の重量を求める。例えば、被定量物質の回折線が図８において回折角度２θ＝αにピークを持つ波形Ｐs として得られるものであるならば、そのピーク波形Ｐs の強度Ｉ＝ｉをＸ線回折装置によって測定し、測定されたその回折線強度ｉに基づいて図７の検量線Ｌ１から重量ｍが読み取られ、この重量ｍが被定量物質の重量であると特定される。
【００１３】
図７の検量線Ｌ１は、基本的には、重量が既知である数個の物質に対して回折線強度を実測によって求め、得られた（Ｍ，Ｉ）のデータ（但し、Ｍは物質の重量、Ｉはその物質からの回折線強度）を図７の検量線座標上にプロットすることによって求められる。しかしながら、単なる実測結果に基づいた検量線は符合Ｌ２で示すように、重量が大きい領域で傾斜が緩やかになって理想的な検量線Ｌ１から外れる傾向にある。これは、物質の重量が大きくなると、物質によるＸ線の吸収が大きくなって、測定される回折線強度がそのＸ線吸収の分だけ小さくなるからである。
【００１４】
このような実測の検量線Ｌ２を用いて検量を行うと信頼性の高い正確な検量結果を得ることができないので、基底基準吸収回折法に基づいた一般的な検量処理においては、従来から、誤差を含む検量線Ｌ２を補正して正確な検量線Ｌ１を求めることにしている。具体的には、Ｘ線の照射領域内に回折角度が既知である材料（例えば、Ｚｎ）から成る基底板を配置し、被定量物質を透過することなく基底板で回折した回折線の強度と、被定量物質を透過した後に基底板で回折した回折線の強度の両方を実測し、それらの強度に基づいて被定量物質によるＸ線吸収量、又は被定量物質のＸ線吸収率を求め、この求められたＸ線吸収率等に基づいて図７の実測検量線Ｌ２を補正して正確な検量線Ｌ１を求めている。
【００１５】
しかしながら、基底板を用いた従来の検量線補正方法においては、多くの場合、（１）基底板がＺｎによって形成され、（２）その基底板を支持する試料板がＡｌによって形成され、さらに、（３）Ｚｎの回折ピークとＡｌの回折ピークは図８の回折線図形上で非常に近いところに発生するという、（１）〜（３）の各条件が成立するので、次のような問題が生じていた。すなわち、基底板（Ｚｎ）の回折線を測定する際、基底板に入射するＸ線の照射野の広さが基底板の面積に正確に一致しているか、あるいは照射野が基底板よりも狭く設定されれば問題はないのであるが、通常は、Ｘ線強度を大きく取りたいがためにＸ線照射野をできるだけ広く取ることが行われており、その結果、Ｘ線照射野は基底板を越えて基底板を支持する試料板（Ａｌ）にまで達してしまい、本来であれば基底板（Ｚｎ）からだけの回折線情報を得たいのに、試料板（Ａｌ）からの回折線情報をも取り込んでしまい、基底板（Ｚｎ）の回折線情報を正確に得ていなかったという問題が生じていたのである。
【００１６】
具体的にいえば、図８の回折線図形において、基底板（Ｚｎ）からは回折角度２θ＝３９°程度のところにピークを持つ回折線Ｐ０が得られ、一方、試料板（Ａｌ）からは回折角度２θ＝３８．４°程度のところにピークを持つ回折線Ｐ１が得られるので、Ｚｎの回折線Ｐ０がＡｌの回折線Ｐ１に影響されて変動し、正確なピーク強度を示さないという問題を生じていたのである。
【００１７】
この問題点に対し、本発明に係る第１のＸ線回折定量装置は、例えばＺｎから成る基底板の周囲に例えばＡｌから成る試料板を連続的に配置するのではなく、基底板の周囲に非晶質部材を設けている。非晶質物質は、これにＸ線が照射されたときに図８に符号Ｐ２で示すように、特定の回折角度位置にピークを発生することなく、広い回折角度範囲にわたって強度が低くて他のピーク波形に影響を及ぼすことのない弱いＸ線を発生するという特性を有する物質である。この非晶質物質から成る部材を基底板の周囲に設けておけば、仮に基底板に入射するＸ線の照射野が広く設定されていて入射Ｘ線が基底板の外側へ外れるという事態が生じた場合でも、基底板の周囲には非晶質物質が設けられているので、その周囲領域から強度の強い回折線が発生することは無く、それ故、回折線Ｐ０は正確に基底板からだけの回折線情報を示すことになる。従って、この回折線Ｐ０に基づいて図７の実測検量線Ｌ２を補正して検量線Ｌ１を求めれば、その検量線Ｌ１は基底板（Ｚｎ）だけからの回折線情報に基づいて補正された非常に正確なものとなる。そして、この正確な検量線Ｌ１を用いて行われた検量によって求められた被定量物質の重量は非常に正確で信頼性の高いものとなる。
【００１８】
また、後述する第２発明に係るＸ線回折定量装置のように、基底板の周囲に非晶質物質を設けることに代えて空間領域を設けることによっても、その基底板から正確な回折線情報を得ることができるのであるが、その第２発明のＸ線回折定量装置では、被定量物質を捕獲している保持体であって基底板の上に載せられた保持体がその空間領域の所で撓んだり、変形したりすることにより、被定量物質のＸ線に対する位置にバラツキが生じるという不都合が生じるかもしれない。これに対し、上記の第１のＸ線回折定量装置では、空間領域に代えて基底板の周囲に非晶質物質を設けることにしたので、基底板上に載せられた被定量物質保持体が基底板の周囲領域で撓んだり、変形したりすることが無くなり、そのため、被定量物質の位置のバラツキによって検量結果に誤差が生じるという心配がない。
【００１９】
次に、上記第１のＸ線回折定量装置において、前記非晶質部材のＸ線受光面は前記基底板のＸ線受光面よりも低いこと、換言すれば、Ｘ線源に対して遠くなることが望ましい。この構成によれば、非晶質物質からの回折線が基底板からの回折線に悪影響を及ぼすことを、より一層確実に回避できる。
【００２０】
次に、上記第１のＸ線回折定量装置において、前記基底板はＺｎによって形成され、前記非晶質部材はガラスによって形成されることが望ましい。Ｚｎ、ガラス等といった材料は産業界で容易に入手できるので便利であり、しかも、本発明に従って検量線を補正する際のデータ処理を簡単に行うことができる。
【００２１】
次に、本発明に係る第２のＸ線回折定量装置は、物質の重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、前記物質を物質保持領域内に保持する物質保持体と、前記物質に照射するＸ線を発生するＸ線源と、前記物質で回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、前記物質保持体におけるＸ線照射面の反対側に設けられ前記物質保持領域よりも小さい基底板と、前記Ｘ線源から見て前記物質保持体の背面側の領域であり且つ前記基底板の外周側面の周りの領域に設けられた空間領域とを有することを特徴とする。
【００２２】
上記第１のＸ線回折定量装置が基底板の外周周辺領域に非晶質部材を設けることを特徴とするのに対し、本第２のＸ線回折定量装置は、基底板の外周側面の周りに空間領域を設けることを特徴とする。この構成により、仮に基底板に入射するＸ線の照射野が広く設定されていて、基底板の外側へ外れるＸ線が試料板（例えば、Ａｌによって形成される）に入射するという事態が生じた場合でも、試料板（Ａｌ）へのＸ線の入射位置は空間領域を設けたことの結果として基底板（Ｚｎ）へのＸ線の入射位置よりも位置的に退避、すなわち位置的に遠くなるので、図８の回折線図形における試料板（Ａｌ）の回折線Ｐ１は回折角度２θの低角度側へ移動して、例えば符号Ｐ１’で示す位置まで移動する。
【００２３】
このように試料板の回折線が符号Ｐ１’で示す位置まで移動すれば、その回折線Ｐ１’は基底板の回折線Ｐ０に影響を及ぼすことがなくなり、それ故、回折線Ｐ０は正確に基底板からだけの回折線情報を示すことになる。従って、この回折線Ｐ０に基づいて図７の実測検量線Ｌ２を補正して検量線Ｌ１を求めれば、その検量線Ｌ１は基底板（Ｚｎ）だけからの回折線情報に基づいて補正された非常に正確なものとなる。そして、この正確な検量線Ｌ１を用いて行われた検量によって求められた被定量物質の重量は非常に正確で信頼性の高いものとなる。
【００２４】
次に、上記の第１及び第２のＸ線回折定量装置は、前記基底板及び前記物質保持体の両方を支持する試料板をさらに有することができる。そしてその場合、該試料板は前記基底板と異なる角度でＸ線を回折する材料によって形成されることが望ましい。基底板の回折角度と試料板の回折角度が同じであると、基底板だけからの回折線情報を得難いが、両者の回折角度を異ならせれば、基底板だけからの回折線情報を正確に得ることができる。
【００２５】
次に、上記第１及び第２のＸ線回折定量装置において、前記試料板はＡｌによって形成されることが望ましい。Ａｌは産業界において入手し易い材料であり、加工し易い材料であり、そして、基底板として用いる可能性が高いＺｎに対して異なる回折角度を有する等といった特性、すなわち本発明の構成要素である試料板に要求される特性を数多く備えている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
（第１実施形態）
以下、本発明に係るＸ線回折定量装置を実施形態に基づいて説明する。なお、本発明がこの実施形態に限定されないことはもちろんである。また、これ以降の説明では図面を参照するが、その図面では特徴的な部分を分かり易く示すために実際のものとは異なった比率で各構成要素を示す場合がある。
【００２７】
図４は本発明に係るＸ線回折定量装置の一実施形態を示している。ここに示すＸ線回折定量装置１は、Ｘ線測定装置２と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３と、ＲＡＭ（Random Access Memory）４と、ＲＯＭ（Read Only Memory）５と、記憶媒体であるメモリ６とを有する。これらの要素はバス７によってつなげられている。また、バス７には画像表示装置８及びプリンタ９がつなげられている。画像表示装置８は、例えば、ＣＲＴディスプレイ、フラットパネルディスプレイ等によって構成される。また、プリンタ９は、例えば、静電転写方式のプリンタ、インクドット方式のプリンタ、その他任意の構造のプリンタによって構成される。
【００２８】
メモリ６は、例えば、ハードディスク等といった機械式メモリや、半導体メモリ等によって構成される。メモリ６の内部には、Ｘ線測定装置２によって行われるＸ線測定の制御を司るＸ線測定プログラムが所定領域に記憶され、Ｘ線測定によって求められた被定量物質の回折線強度に基づいてその被定量物質の重量を演算によって求める処理を実行するための検量プログラムが所定領域に記憶され、被定量物質の重量を測定する際に用いられる検量線を作成するための検量線作成プログラムが所定領域に記憶され、Ｘ線測定によって求められたデータを記憶する領域が設けられ、さらに、検量線作成プログラムの実行によって求められた検量線を記憶するための領域が設けられている。
【００２９】
Ｘ線測定装置２は、例えば、図１に示すように、図示しない装置本体の適所に装着された試料支持装置としてのサンプルチェンジャ１１と、入射側Ｘ線光学系１２と、受光側Ｘ線光学系１３と、入射側Ｘ線光学系１２を駆動する入射側駆動装置１４と、受光側Ｘ線光学系１３を駆動する受光側駆動装置１５とを有する。サンプルチェンジャ１１は、円軌跡上に並べられた複数（本実施形態では６個）の試料ホルダ１６Ａを１つずつ交互に測定位置Ｐへ搬送する。個々の試料ホルダ１６Ａは測定の対象である被定量物質Ｓを支持している。符号Ｘ０で示す仮想線は、被定量物質Ｓの表面を通って延びる水平軸線である試料軸線を示している。
【００３０】
入射側光学系１２は、Ｘ線を放射するＸ線源Ｆと、Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線の発散を規制する発散規制スリット１８とを有する。入射側光学系１２は、必要に応じて、他の任意のＸ線光学要素を含むこともできる。そのようなＸ線光学要素としては、例えば、Ｘ線を単色化するモノクロメータ、発散Ｘ線ビームを平行Ｘ線ビームに成形するコリメータ、同じく発散Ｘ線ビームを平行Ｘ線ビームに成形するソーラスリット、Ｘ線の強度を調節するＸ線フィルタ等が考えられる。
【００３１】
受光側光学系１３は、Ｘ線の集光点に配置された受光スリット１９と、Ｘ線を検出するＸ線検出器２０とを有する。受光側光学系１３は、必要に応じて、他の任意のＸ線光学要素を含むこともできる。そのような他のＸ線光学要素としては、入射側光学系１２の場合と同様に、例えば、Ｘ線を単色化するモノクロメータ、発散Ｘ線ビームを平行Ｘ線ビームに成形するコリメータ、同じく発散Ｘ線ビームを平行Ｘ線ビームに成形するソーラスリット、Ｘ線の強度を調節するＸ線フィルタ等が考えられる。Ｘ線検出器２０は、例えば、Ｘ線を面状や線状でなく点状の範囲で取り込む構造の、いわゆる０次元Ｘ線カウンタを用いて構成できる。このような０次元Ｘ線カウンタとしては、例えば、ＰＣ（Proportional Counter）や、ＳＣ（Scintillation Counter）等を用いることができる。
【００３２】
入射側駆動装置１４は、入射側Ｘ線光学系１２を試料軸線Ｘ０を中心として矢印Ａで示すように連続的又は間欠的に回転移動させる。この回転は、被定量物質Ｓに対するＸ線の入射角度θを変化させるために行われるものである。この入射側駆動装置１４は任意の構造の駆動装置によって構成できるが、例えば、電動モータの回転出力をウオームとウオームホイールとを有する動力伝達装置を介して入射側Ｘ線光学系１２へ伝達する構成を採用できる。この場合、電動モータは、回転角度を制御可能なモータ、例えば、サーボモータ、パルスモータ等を用いることが望ましい。
【００３３】
受光側駆動装置１５は、受光側Ｘ線光学系１３を試料軸線Ｘ０を中心として矢印Ｂで示すように連続的又は間欠的に回転移動させる。この回転は、被定量物質Ｓへ入射するＸ線に対するＸ線検出器２０のＸ線取込み角度２θを変化させるために行われるものである。Ｘ線検出器２０のＸ線取込み角度２θは、とりもなおさず、被定量物質Ｓから回折角度２θで回折したＸ線を検出できる角度である。この受光側駆動装置１５は任意の構造の駆動装置によって構成できるが、例えば、電動モータの回転出力をウオームとウオームホイールとを有する動力伝達装置を介して受光側Ｘ線光学系１３へ伝達する構成を採用できる。この場合、電動モータは、回転角度を制御可能なモータ、例えば、サーボモータ、パルスモータ等を用いることが望ましい。
【００３４】
サンプルチェンジャ１１は、Ｘ線回折定量装置の本体への装着部２３と、その装着部２３に固定された固定テーブル２４と、その固定テーブル２４に回転可能に設けられたターンテーブル２５と、ターンテーブル２５を回転させるための駆動力を発生する動力源としての電動モータ２６とを有する。固定テーブル２４の内部にはギヤ列等といった動力伝達装置が設けられており、電動モータ２６の回転出力がその動力伝達装置によってターンテーブル２５へ伝えられて、そのターンテーブル２５が中心軸線Ｘ１を中心として回転する。このターンテーブル２５の回転により、複数の試料ホルダ１６Ａを順々に測定位置へ搬送する。
【００３５】
試料ホルダ１６Ａは、図３に示すように、リング形状の試料板２９Ａと、その試料板２９Ａの内部に設けられるリング形状の非晶質部材３０と、その非晶質部材３０の内部に設けられる円板形状の基底板３１と、試料板２９Ａの内部であって非晶質部材３０及び基底板３１の底面側領域に設けられる補助板３２とを有する。また、試料ホルダ１６Ａは、測定対象である被定量物質Ｓを保持する物質保持体としてのフィルタ３３と、そのフィルタ３３を押えるリング形状の押え板３４とを有する。試料板２９Ａの内部には９０°の角度間隔で４個の貫通穴が設けられ、それらの貫通穴の中に磁石３７が埋設されている。これらの磁石３７は試料板２９Ａの上面及び下面の両方に磁力を作用させる。
【００３６】
本実施形態では、被定量物質Ｓとして粉塵の一種であるアスベスト（代表例として、クリソタイル）を考える。すなわち、本実施形態のＸ線回折定量装置は、空気中に含まれるアスベストの重量を測定するものとする。アスベストＳは定量されるにあたってフィルタ３３に捕獲されるのであるが、この捕獲処理は、例えば、図５に示すように、直径がＤ０（例えば、１６ｍｍ）である貫通穴３５を有する基台３６上にフィルタ３３を載せ、フィルタ３３の反対側から矢印Ｃで示すように空気を吸気して吸引を行う。すると、空気中に含まれるアスベストがフィルタ３３の内部及び表面に吸引されて保持される。フィルタ３３のうち上記のようにしてアスベストＳが捕獲される直径Ｄ０の円形状の領域が物質保持領域Ａｓである。
【００３７】
図２に示すように、非晶質部材３０の外周側面はその全域又はその一部分が接着剤Ｈ１によって試料板２９Ａの内周面に接着されて固定される。また、基底板３１の外周側面はその全域又はその一部分が接着剤Ｈ２によって非晶質部材３０の内周面に接着されて固定される。非晶質部材３０の上面と基底板３１の上面は同一平面となるように、すなわち同じ高さとなるように設定される。さらに、補助板３２の上面はその全域又はその一部分が接着剤Ｈ３によって基底板３１の底面及び非晶質部材３０の底面に接着されて固定される。
【００３８】
補助板３２を設けるのは次の理由による。すなわち、非晶質部材３０の試料板２９Ａへの接着部分、及び基底板３１の非晶質部材３０への接着部分を外部から観察すると、接着剤が視認されて見栄えが悪くなるのであるが、基底板３１及び非晶質部材３０の両者の底面にわたって補助板３２を設けると見栄えが改善されるからである。
【００３９】
図５のようにして被定量物質Ｓを保持するに至ったフィルタ３３は、図２において、試料板２９Ａの内部であって基底板３１及び非晶質部材３０の両者の上面に載置される。基底板３１及び非晶質部材３０は、予めそれらの上面が試料板２９Ａの上面に対してフィルタ３３の厚さ“ｔ”だけ低くなるように試料板２９Ａの内周面に接着されており、それ故、フィルタ３３を基底板３１及び非晶質部材３０の上に載せたとき、フィルタ３３の上面は試料板２９Ａの上面と一致する。さらに、押え板３４を試料板２９Ａの上面に載せると、その押え板３４は磁石３７に吸着し、これにより、フィルタ３３がその押え板３４によって上から押えられて容易には位置移動しないように保持される。
【００４０】
各要素の材質、形状、寸法等は、例えば、次の通りである。
１．試料板２９Ａ
材質＝アルミニウム、外周径＝約３３ｍｍ、厚さ＝約３．２ｍｍ、形状＝リング形状
２．非晶質部材３０
材質＝ソーダガラス、外周径＝約２５ｍｍ，厚さ＝約１ｍｍ、形状＝リング形状
３．基底板３１
材質＝Ｚｎ、外径＝約１５ｍｍ、厚さ＝約１ｍｍ、形状＝円板形状
４．補助板３２
材質＝Ａｌ、外径＝約２５ｍｍ，厚さ＝約０．５ｍｍ、形状＝円板形状
５．押え板３４
材質＝ステンレス鋼、外周径＝約３２ｍｍ、厚さ＝約０．２ｍｍ、形状＝リング形状
６．フィルタ３３
材質＝フッ素樹脂バインダグラスファイバーフィルタ、外径＝約２５ｍｍ、物質保持領域（すなわち、有効ろ過面積）Ａｓ＝直径１６ｍｍ。
【００４１】
各要素の寸法を以上のように設定した結果、図２に示すように、基底板３１の平面形状はフィルタ３３の平面形状よりも小さく、特に物質保持領域Ａｓの平面形状よりも小さくなっている。そして、フィルタ３３を試料板２９Ａへ組み込んだ状態で基底板３１の全域が物質保持領域Ａｓの下に隠れる状態となっている。
【００４２】
以下、上記構成より成るＸ線回折定量装置の動作を説明する。本実施形態のＸ線回折定量装置は、図７の検量線Ｌ１を作成する処理、及び図１のＸ線測定装置２を用いて行われる検量処理の２つの処理を行うことができる。以下、これらの処理を説明する。
【００４３】
（検量線の作成）
図４において、ＣＰＵ３がメモリ６内の検量線作成プログラムを読み出して、そのプログラムを起動すると、図７の検量線Ｌ１を作成するための処理を実行可能な状態になる。その処理を開始する前に、まず、重量が既知であるアスベストを複数個用意する。これらのアスベストの重量は互いに異なっている。それらのアスベストを、それぞれ、図５に示すようにフィルタ３３の物質保持領域Ａｓ内に捕獲して保持する。個々のフィルタ３３を図２に示すように試料板２９Ａの中に組み込むことにより個々の重量のアスベストに関して試料ホルダ１６Ａを作製する。
【００４４】
以上のようにして作製した重量の異なるアスベストを保持する複数の試料ホルダ１６Ａを図１のサンプルチェンジャ１１のターンテーブル２５上の所定位置にセットする。試料ホルダ１６Ａは磁石３７（図２参照）の働きによってターンテーブル２５上の固定される。その固定のため、ターンテーブル２５の表面には必要に応じて位置決め手段、例えば位置決めピンが設けられる。そして、Ｘ線入射角度θがアスベストの回折角度２θｍ＝１２．１８°に対応したθｍ＝２θｍ／２＝６．０９°の回折ピークを測定する。
【００４５】
具体的には、Ｘ線回折ゴニオメータの角度２θ＝１１．２°（θ＝５．６°）から２θ＝１３．２°（θ＝６．６°）までを測定して、その範囲での最強Ｘ線回折強度を回折強度（Ｉｍ）として記録する。そして、図６（ａ）に示すように、複数のフィルタ３３内の物質保持領域Ａｓに順次にＸ線を照射して、個々の重量のアスベストの回折線強度Ｉｍ１，Ｉｍ２、Ｉｍ３，……を測定する。この測定により、アスベスト重量ｍに対する回折線強度Ｉｍのデータ（ｍ，Ｉｍ）が複数得られる。なお、（Ｉｍ）は、最強強度値でなく、回折ピークの積分値を計算して用いても良い。
【００４６】
そして、これらのデータを図７の検量線グラフ上にプロットすると、実測検量線Ｌ２が求められる。この実測検量線Ｌ２は、重量が大きくなる領域で傾斜が緩くなるという誤差成分を含んでいるので、正確な検量を行う上では好ましいものではない。そこで、この実測検量線Ｌ２を補正して正確な検量線Ｌ１を次のようにして作成する。
【００４７】
まず、図６（ｂ）に示すように、Ｘ線入射角θを基底板３１の材質であるＺｎの回折角度２θｚｎ＝３９°に対応するθｚｎ＝２θｚｎ／２＝１９．５°の回折ピークを使って、重量が異なる被定量物質Ｓが捕獲されている複数のフィルタ３３の物質保持領域Ａｓを通して基底板３１へＸ線を照射して基底板３１からの回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……を順次に測定する。具体的には、Ｘ線回折ゴニオメータの角度２θ＝３８°（θ＝１９°）から２θ＝４０°（θ＝２０°）までを測定して、その範囲での最高Ｘ線強度値をＩｚｎ１，Ｉｚｎ２，……を順次に用いる。
【００４８】
次に、図６（ｃ）に示すように、Ｘ線入射角θを基底板３１の材質であるＺｎの回折角度２θｚｎ＝３９°に対応するθｚｎ＝２θｚｎ／２＝１９．５°の回折ピークを使って、被定量物質Ｓが捕獲されていないフィルタ３３を通して基底板３１へＸ線を照射して基底板３１からの回折線強度Ｉｚｎ０を測定する。具体的には、Ｘ線回折ゴニオメータの角度２θ＝３８°（θ＝１９°）から２θ＝４０°（θ＝２０°）までを測定して、その範囲での最高Ｘ線強度Ｉｚｎｏを用いる。
【００４９】
被定量物質Ｓを透過したＸ線の回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……と、被定量物質Ｓを透過していないＸ線の回折線強度Ｉｚｎ０とを比較すれば、被定量物質ＳのＸ線吸収量及びＸ線吸収率を演算によって求めることができる。図４の検量線作成プログラムは、そのようなＸ線吸収量又はＸ線吸収率に基づいて図７の実測検量線Ｌ２を補正して検量線Ｌ１を作成する。この検量線Ｌ１は図４のメモリ６内の検量線データの記憶領域内に、例えば、データテーブルの形、又は数式の形で記憶される。以上により、補正済みの正確な検量線Ｌ１が作成される。
【００５０】
さて、本実施形態では、図２に示したように、基底板３１の全体が物質保持領域Ａｓの下に隠れるように設定されている。従って、図６（ｂ）において物質保持領域Ａｓ内に捕獲されたアスベストＳを透過したＸ線によって基底板３１からの回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……を測定する際、アスベストＳから外れたＸ線は基底板３１に入射することがなくなり、その結果、Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……は正確に基底板３１で回折した回折線の強度を表すことになる。
【００５１】
この場合、Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……として基底板３１からの回折線強度だけを取ることを目的として、基底板３１に対するＸ線照射野を小さく絞ることにより、Ｘ線照射野が基底板３１の外側に外れることを回避すれば良いのではないか、という考えが想起される。こうすれば、基底板３１をわざわざ小さく形成してその全体が物質保持領域Ａｓに隠れるようにするというような構成を採用するまでもないと考えられる。しかしながら、実際の測定においてＸ線照射野を小さく絞るということは測定に供するＸ線の強度を弱めてしまうということであり、この状態では正確な回折線情報が得られなくなるおそれがあることを意味している。このため、従来からのＸ線回折定量測定においては、強度の強いＸ線を得るために、基底板３１に対するＸ線照射野を絞るということは行わずに、可能な限り基底板３１の全体を含むＸ線照射野を形成して測定を行うことにしている。
【００５２】
ところで、従来のＸ線回折定量装置では、基底板３１として大きな面積のものが使用されることが多く、基底板３１が物質保持領域Ａｓの外側に張り出して設けられたり、あるいは、基底板３１がフィルタ３３の外側に張り出して設けられたりすることがあった。このような場合には、本来であればアスベストＳを透過した後に基底板３１で回折したＸ線の強度を知りたいのに、測定された回折線強度の中にアスベストＳを透過せずに基底板３１で回折したＸ線の強度が混ざってしまい、その結果、アスベストＳのＸ線吸収率を正確に知ることができないという事態が生じていた。
【００５３】
これに対し、基底板３１の全体が物質保持領域Ａｓの下に隠れるように設定されている本実施形態によれば、図６（ｂ）において測定される回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……には、アスベストＳを透過しない回折線の情報が混入することはなく、回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……は、必ず、アスベストＳを透過した後に基底板３１で回折したＸ線だけの強度を示すものとなる。その結果、アスベストＳのＸ線吸収率を正確に測定することが可能となった。
【００５４】
さらに本実施形態では、図２において、基底板３１の外周側面の周囲にソーダガラス製の非晶質部材３０を設けた。これに対し、特許第３６７３９８１号に開示された従来技術では、基底板の周囲には非晶質部材を介在させることなくＡｌ製の試料板が直ぐに設けられていた。また、上述したように、基底板からの回折線強度を求める際には一般に、強度の強いＸ線を取り出すために、基底板に対するＸ線照射野はできるだけ基底板の全体を含むことができるように広く設定され、その結果、Ｘ線は基底板を外れてその外側領域にも照射されることが多い。
【００５５】
以上のように、基底板を照射するＸ線は基底板の外側領域をも照射することがあり、しかも、従来技術では基底板の外側に直ぐにＡｌ製の試料板が設けられていたので、従来技術では、図８において基底板からの回折線Ｐ０を測定するときに、基底板の周りに存在するＡｌ製の試料板の回折線Ｐ１をも取り込んでしまい、その結果、基底板からの回折線強度を正確に測定できないという事態が生じていた。
【００５６】
これに対し、本実施形態では、基底板３１の周囲に直ぐに試料板２９Ａを設けるのではなく、基底板３１と試料板２９Ａとの間に非晶質部材３０を介在させている。このため、基底板３１からの回折線を測定するために、基底板３１よりも少し広い照射野のＸ線をその基底板３１に照射した場合、基底板３１の外側でＸ線を受けた非晶質部材３０からは図８に符号Ｐ２で示すような強度の弱いバックグラウンド成分のＸ線が検出されるものの、ピーク波形は発生しない。そのため、基底板３１からの回折線Ｐ０は正確に基底板３１からの回折線強度だけを反映するものとなり、その結果、アスベストＳのＸ線吸収率を極めて正確に測定することが可能となった。
【００５７】
以上のように、本実施形態のＸ線回折定量装置では、図６（ｂ）において基底板３１からの回折線強度Ｉｚｎ１，Ｉｚｎ２，……を極めて正確に測定できるようになったので、図４の検量線作成プログラムによって図７の実測検量線Ｌ２を正確に補正でき、それ故、極めて正確な検量線Ｌ１を得られることになった。
【００５８】
（被定量物質に対するＸ線回折測定及び検量処理）
次に、重量が未知であるアスベストに関して回折線強度を測定し、さらにその測定結果に基づいてアスベストの重量を求める処理について説明する。まず、重量を測定したいアスベストを含む環境下において、図５に示す空気吸引法によってフィルタ３３の物質保持領域Ａｓ内にアスベストＳを捕獲する。必要に応じて、アスベストＳは複数のフィルタ３３に捕獲する。
【００５９】
次に、１つ又は複数のフィルタ３３に関して図２の試料ホルダ１６Ａを作製し、それらの試料ホルダ１６Ａを図１のサンプルチェンジャ１１のターンテーブル２５上の所定位置に磁力によって装着する。そして、図４のメモリ６内のＸ線測定プログラムを起動してＸ線回折測定を実行する。具体的には、Ｘ線回折ゴニオメータの角度２θ＝１１．２°（θ＝５．６°）から２θ＝１３．２°（θ＝６．６°）まで測定して、その範囲での最強強度を記録する。この動作を複数の試料ホルダ１６Ａ内のアスベストに順々に行う。なお、最強ピーク強度の記録に代えて、回折ピークの積分値を計算して用いても良い。
【００６０】
こうして被定量物質である複数のアスベストに順々にＸ線が照射されたとき、それらのアスベストからの回折線（例えば、図８のピーク波形Ｐｓを示す回折線）の強度Ｉを測定する。そして、図４の検量プログラムを起動して、上記の測定された回折線強度Ｉに基づいて図７の検量線Ｌ１から重量ｍを演算によって求める。この求められた重量ｍが被定量物質であるアスベストの重量である。こうして求められた重量に関する測定データは、図４のメモリ６内の測定データファイル内に記憶される。測定データファイル内には、測定された重量データと共に回折線強度Ｉ等といった付随するデータも記憶される。
【００６１】
本実施形態のＸ線回折定量装置において求められた図７の検量線Ｌ１は、上述の通り、図２の基底板３１からだけの回折線強度に基づいて決められた極めて正確な検量線であるので、この検量線Ｌ１に基づいて求められたアスベストに関する重量データは非常に信頼性の高いデータである。
【００６２】
（第２実施形態）
図９は、本発明に係るＸ線回折定量装置の他の実施形態の要部である試料ホルダを示している。この試料ホルダ１６Ｂは第１実施形態で使用した図２に示した試料ホルダ１６Ａに代えて用いられる。本第２実施形態において試料ホルダ１６Ｂ以外の構成要素は、図１及び図４に示した第１実施形態の場合と同じものを使用することができるので、それらの説明は省略することにする。
【００６３】
図９に示す試料ホルダ１６Ｂが図２に示した試料ホルダ１６Ａと異なる点は、非晶質部材３０のＸ線受光面３０ａを基底板３１のＸ線受光面３１ａよりも低く設定していることである。つまり、本実施形態では、非晶質部材３０のＸ線受光面３０ａが基底板３１のＸ線受光面３１ａに比べて距離ｄだけＸ線源Ｆから遠くなっている。この構成により、基底板３１からの回折線強度が非晶質部材３０からの回折線強度に影響されて変動することを、両者のＸ線受光面３０ａ，３１ａを同じに設定した場合に比べて、より一層確実に防止できる。
【００６４】
（第３実施形態）
図１０及び図１１は、本発明に係るＸ線回折定量装置のさらに他の実施形態の要部である試料ホルダを示している。図１０はその試料ホルダの側面断面構造を示し、図１１はその試料ホルダを分解した状態を示している。この試料ホルダ１６Ｃは第１実施形態で使用した図２に示した試料ホルダ１６Ａに代えて用いられる。本第３実施形態において試料ホルダ１６Ｃ以外の構成要素は、図１及び図４に示した第１実施形態の場合と同じものを使用することができるので、それらの説明は省略することにする。
【００６５】
図１１において、試料ホルダ１６Ｃは、リング状ではなくて有底の試料板２９Ｃと、その試料板２９Ｃの内部に設けられる円板形状の基底板３１と、測定対象である被定量物質Ｓを保持する物質保持体としてのフィルタ３３と、そのフィルタ３３を押えるリング形状の押え板３４とを有する。試料板２９Ｃの内部には９０°の角度間隔で４個の貫通穴が設けられ、それらの貫通穴の中に磁石３７が埋設されている。これらの磁石３７は試料板２９Ｃの上面及び下面の両方に磁力を作用させる。
【００６６】
図１０において、試料板２９Ｃの底壁の中央には表面が平坦である突出部４０が設けられ、その突出部４０の周囲には矢印Ｄ方向から見てリング状の溝４１が設けられている。基底板３１は突出部４０の表面に例えば接着剤によって接着されて固定されている。基底板３１の外周側面の周りには溝４１によって空間領域が設けられることになる。物質保持領域Ａｓ内に被定量物質Ｓを保持したフィルタ３３は、試料板２９Ｃの内部であって基底板３１の上面に載置される。フィルタ３３を基底板３１の上に載せたとき、フィルタ３３の上面は試料板２９Ｃの上面と一致する。さらに、押え板３４を試料板２９Ｃの上面に載せると、その押え板３４は磁石３７に吸着し、これにより、フィルタ３３がその押え板３４によって上から押えられて容易には位置移動しないように保持される。
【００６７】
各要素の材質、形状、寸法等は、例えば、次の通りである。
１．試料板２９Ｃ
材質＝アルミニウム、外周径＝約３３ｍｍ、厚さ＝約３．２ｍｍ、形状＝リング形状
２．基底板３１
材質＝Ｚｎ、外径＝約１５ｍｍ、厚さ＝約１ｍｍ、形状＝円板形状
３．押え板３４
材質：ステンレス鋼、外周径＝約３２ｍｍ、厚さ＝約０．２ｍｍ、形状＝リング形状
４．フィルタ３３
材質：フッ素樹脂バインダグラスファイバーフィルタ、外径＝約２５ｍｍ、物質保持領域（すなわち、有効ろ過面積）Ａｓ＝直径１６ｍｍ。
【００６８】
各要素の寸法を以上のように設定した結果、基底板３１の平面形状はフィルタ３３の平面形状よりも小さく、特に物質保持領域Ａｓの平面形状よりも小さくなっている。そして、フィルタ３３を試料板２９Ｃへ組み込んだ状態で基底板３１の全域が物質保持領域Ａｓの下に隠れる状態となっている。また、本実施形態では、溝４１を設けたことにより、基底板３１の外周側面の周りの領域に空間領域が設けられている。
【００６９】
仮に基底板３１に入射するＸ線の照射野が広く設定されていて、入射Ｘ線が基底板３１の外側へ外れる場合があると、そのＸ線はＡｌ製の試料板２９Ｃに入射する。このため、図８において、基底板３１からの回折線Ｐ０の近傍にＡｌの回折線Ｐ１が発生して、基底板３１からの回折線Ｐ０が乱れるおそれがある。しかしながら、本実施形態では、試料板２９Ｃ（Ａｌ）へのＸ線の入射位置は基底板３１（Ｚｎ）へのＸ線の入射位置よりもＸ線源Ｆから見て位置的に退避、すなわち位置的に遠くなっている。従って、図８の回折線図形における試料板（Ａｌ）の回折線Ｐ１は回折角度２θの低角度側へ移動して、例えば符号Ｐ１’で示す位置まで移動する。
【００７０】
このように試料板の回折線が符号Ｐ１’で示す位置まで移動すれば、その回折線Ｐ１’は基底板の回折線Ｐ０に影響を及ぼすことがなくなり、それ故、回折線Ｐ０は正確に基底板からだけの回折線情報を示すことになる。従って、この回折線Ｐ０に基づいて図７の実測検量線Ｌ２を補正して検量線Ｌ１を求めれば、その検量線Ｌ１は基底板（Ｚｎ）だけからの回折線情報に基づいて補正された非常に正確なものとなる。そして、この正確な検量線Ｌ１を用いて行われた検量によって求められた被定量物質の重量は非常に正確で信頼性の高いものとなる。
【００７１】
（第４実施形態）
以上に説明した実施形態において基底板３１の材料としてＺｎを用いることは既述した。しかし、基底板３１のＸ線が照射される表面の状態については特に触れなかった。基底板３１のＸ線が照射される表面の状態は、特定の状態に限定されるものではなく、任意の表面状態を採用できる。例えば、鋼材供給会社から市場に供給される通常の表面状態の鋼材を用いて基底板３１を形成することができる。
【００７２】
しかしながら、基底板３１のＸ線が照射される表面にサンドブラスト処理を施したり、あるいは、砂、紙やすり等によって基底板３１のＸ線が当たる表面を荒すことにすれば、安定した再現性の高い測定データが得られることが分かった。ここで、サンドブラスト処理とは、一般的には、対象物の表面に粗い面を造るため、または、対象物の表面から汚れ、さび、スケール等を除去するために、鋼の粒、砂、その他の砥粒材を対象物の表面に流体の流れと共に吹き付ける表面処理のことである。鋼の粒を流体としての空気の流れによって対象物へ吹き付ける処理は、ショットピーニングと呼ばれている。
【００７３】
本実施形態において、基底板３１のＸ線が照射される表面にサンドブラスト処理や、砂等による粗面化処理を行えば、基底板３１の適宜の厚さの表面層内において、結晶を細くでき、結晶が配向することを低減でき、さらに結晶の微細化を促進できる。そして、この結果、測定の結果として得られる回折線図形においてＸ線強度のバラツキを小さく抑えることが可能となり、それ故、正確な判定を行うことができる。
【００７４】
なお、サンドブラスト処理や、砂等による粗面化処理は基底板３１の適宜の厚さの表面層内の結晶の配向等を調整することが目的であり、基底板３１の表面それ自体を調整することが目的ではない。従って、サンドブラスト処理等を行って基底板３１の表面層内に所定の配向状態等が得られた後には、基底板３１の表面それ自体に対してエッチング加工、その他の外観調整処理を行うことができる。
【００７５】
（その他の実施形態）
以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものでなく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変できる。
例えば、以上の実施形態では試料板としてリング形状や有底円板形状のように平面視で円形状の試料板を用いたが、特許第３６７３９８１号に示されているように長方形状の試料板を用いたＸ線回折定量装置に本発明を適用することもできる。例えば、図２及び図３に示した構成を長方形状の試料板に関して適用する場合には、図１２に示すように、リング形状の試料板２９Ａに代えて長方形状で板状の試料板２９Ｄに、非晶質部材３０、基底板３１、補助板３２、フィルタ３３、及び押え板３４を組み付ける。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明に係るＸ線回折定量装置の一実施形態の要部を示す斜視図である。
【図２】図１の装置で用いる試料ホルダの一例を示す断面図である。
【図３】図２の試料ホルダの分解斜視図である。
【図４】本発明に係るＸ線回折定量装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図５】被定量物質の捕獲方法の一例を示す図である。
【図６】基底基準吸収回折法に基づいた物質の定量法を説明するための図である。
【図７】検量線の一例を示すグラフである。
【図８】基底基準吸収回折法に基づいた物質の定量法の基礎となる回折線図形を示す図である。
【図９】本発明に係るＸ線回折定量装置の他の実施形態の要部である試料ホルダを示す断面図で断面図である。
【図１０】本発明に係るＸ線回折定量装置のさらに他の実施形態の要部である試料ホルダを示す断面図である。
【図１１】図１０の試料ホルダの分解斜視図である。
【図１２】本発明に係るＸ線回折定量装置のさらに他の実施形態の要部を示す分解斜視図である。
【符号の説明】
【００７７】
１．Ｘ線回折定量装置、  ２．Ｘ線測定装置、  １１．サンプルチェンジャ、
１２．入射側Ｘ線光学系、  １３．受光側Ｘ線光学系、
１６Ａ，１６Ｂ，１６Ｃ．試料ホルダ、  １８．発散規制スリット、
１９．受光スリット、  ２０．Ｘ線検出器、  ２３．装着部、  ２４．固定テーブル、
２５．ターンテーブル、  ２６．電動モータ、  ２９Ａ，２９Ｃ，２９Ｄ．試料板、
３０．非晶質部材、  ３０ａ．Ｘ線受光面、  ３１．基底板、  ３１ａ．Ｘ線受光面、
３２．補助板、  ３３．フィルタ（物質保持体）、  ３４．押え板、  ３５．貫通穴、
３６．基台、  ３７．磁石、  ４０．突出部、  ４１．溝、  Ａｓ．物質保持領域、
Ｄ０．直径、  Ｆ．Ｘ線源、  Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３．接着剤、  Ｌ１．検量線、
Ｐ．測定位置、  Ｓ．被定量物質、  Ｘ０．試料軸線、  Ｘ１．中心軸線
【図１】
2007093563.tif 000003
【図２】
2007093563.tif 000004
【図３】
2007093563.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2007093563.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2007093563.tif 000012
【図１１】
2007093563.tif 000013
【図１２】
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