(57)【要約】 【課題】  過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる製品開発支援装置を提供する。【解決手段】  不良集計機能１１は、取得した不良情報に基づいて、機種単位に、構成要素別におよび機能別に、不良現象毎の件数を集計して集計情報を生成する。不良実績算出機能１２は、取得した製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者が設計した機能の不良の件数を、不良集計機能１１が生成した集計情報に基づいて、設計者単位に、機能別に、不良現象毎に算出して算出情報を生成する。不良情報提供機能１３は、取得した新製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者毎に、不良実績算出機能１２が算出した算出情報が示す対応する設計者が設計した機能のうちで、不良現象の件数の多い機能に関連する不良の不良情報を、優先して出力する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得手段と、
取得手段が読み出した不良情報に基づいて、取得手段が読み出した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計手段と、
不良集計手段が生成した集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報を生成する不良実績算出手段と、
取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報を、取得手段によって読み出して出力する不良情報出力手段とを含むことを特徴とする製品開発支援装置。
【請求項２】
前記製品構成情報は、その製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報をさらに含み、
前記不良情報は、不良が発生した構成要素の構成要素情報をさらに含み、
前記不良集計手段は、前記取得手段が読み出した不良情報が示す不良について、前記取得手段が読み出した不良情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素毎に、不良の件数を集計し、さらに集計した構成要素毎の不良の件数に基づいて、前記取得手段が読み出した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、その機能を実現するための構成要素毎の不良の件数を集計して、集計情報を生成することを特徴とする請求項１に記載の製品開発支援装置。
【請求項３】
製品の機能を表す機能情報およびその機能情報が示す機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報を含む製品構成情報と、製品の不良が発生した構成要素の構成要素情報およびその不良に関連する情報を含む不良情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、製品構成情報、不良情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得手段と、
取得手段が読み出した不良情報が示す不良について、取得手段が読み出した不良情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計手段と、
不良集計手段が集計した構成要素毎の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を構成要素別に示す算出情報を生成する不良実績算出手段と、
取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の構成要素のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した構成要素に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い構成要素から順に、その構成要素に関連する不良の不良情報を、取得手段によって読み出して出力する不良情報出力手段とを含むことを特徴とする製品開発支援装置。
【請求項４】
前記不良情報出力手段は、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数に代えて、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数に対して、予め定める演算を行った数値を用いて、優先順位を付けることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の製品開発支援装置。
【請求項５】
前記予め定める演算は、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数を、注目する設計者が設計した製品の出荷台数とその設計者が設計した製品の種類の数との積によって、除算する演算であることを特徴とする請求項４に記載の製品開発支援装置。
【請求項６】
前記不良情報、前記製品構成情報、および前記第１の製品開発情報は、いずれも製品を識別するための製品識別情報を含み、
前記不良集計手段は、集計情報を集計する際、前記第１の製品識別情報に含まれる製品識別情報が示す製品毎に集計し、
前記不良情報出力手段は、不良情報を出力する際、前記第１の製品識別情報が示す製品毎に、出力することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載の製品開発支援装置。
【請求項７】
前記不良情報は、不良の現象を表す不良現象情報を含み、
前記不良集計手段は、集計情報を集計する際、不良現象情報が示す不良現象毎に集計し、
前記不良実績算出手段は、算出情報を算出する際、前記不良集計手段が生成した集計情報が示す不良現象毎の不良の件数に基づいて、不良現象毎に算出し、
前記不良情報出力手段は、優先順位を付ける際、機能別または構成要素別の不良の件数を、各機能または各構成要素の不良現象毎の件数を積算して求めて優先順位を付け、不良情報を出力する際、不良情報毎に出力することを特徴とする請求項１〜６のいずれか１つに記載の製品開発支援装置。
【請求項８】
前記不良情報は、製品開発において発生した不具合を表す不具合情報、および市場において発生した故障を表す故障情報のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項１〜７のいずれか１つに記載の製品開発支援装置。
【請求項９】
前記不良情報は、不具合または故障の現象を表す不良現象情報、不具合または故障の原因を表す不良原因情報、および不具合を解消するための解消方法を表す解消情報を含むことを特徴とする請求項１〜８のいずれか１つに記載の製品開発支援装置。
【請求項１０】
製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得工程と、
取得工程で読み出された不良情報に基づいて、取得工程で読み出された製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計工程と、
不良集計工程で生成された集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得工程で読み出された第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報を生成する不良実績算出工程と、
取得工程で読み出された第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出工程で生成された算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出工程で生成された算出情報に基づいて、不良の件数の多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報であって、取得工程で取得された不良情報を出力する不良情報出力工程とを含むことを特徴とする製品開発支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品の品質を向上するための製品開発支援装置および製品開発支援方法に関し、より詳細には、製品の企画および開発から生産に至る各段階ならびに市場における不具合および故障の情報に基づいて、製品の企画段階から開発段階における開発課題および設計課題を明確にすることによって、製品の品質を向上するための製品開発支援装置および製品開発支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
顧客要求の多様化および市場環境の変化が激しくなっており、適切な時期に製品を市場に投入することができなければ、製品の販売機会を逃すだけでなく、市場から退去させられる場合もある。したがって、新製品の開発においては、より短期間に新製品を開発することが従来以上に求められている。
【０００３】
さらに、短期間での新製品の開発が求められる状況の中で、顧客から求められる品質は、従来と同等以上のレベルが要求されている。市場において重大な品質不良が発生すれば、販売機会の損失だけでなく、ブランドイメージの失墜あるいは市場から排除されることもあり得る。新製品の開発においては、開発期間の短縮に取り組むための前提として、製品の品質を確実に確保するための取り組みが不可欠である。
【０００４】
製品の品質を確保するための従来技術として、品質管理で実行される評価活動を容易にするための品質管理支援システムがある。この品質管理支援システムは、まず、予め定められた複数の品質管理指標について、評価データを入力するための評価入力シートのセットを記憶しておき、業務に関連する評価入力シートのみを切り出して、その業務専用の評価入力シートを作成する。次に、作成したその業務専用の評価入力シートに従って評価データを入力すると、予め設定されている配点基準に従って点数化され、その業務を定量的に評価するものである。この品質管理支援システムを開発業務に用いれば、開発部署または設計者に合わせて評価入力シートをカスタマイズして、部署毎または設計者毎に評価することが可能となり、さらに評価作業を効率化することができる。
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−２８２９７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
製品の開発における品質の評価には、製品設計時における評価、量産試作時における評価、および先行生産時における評価がある。製品設計時の品質がその後の量産試作時、先行生産時、および量産時における品質、さらに市場における製品の品質に大きく影響することは容易に類推することができる。すなわち、製品設計時における品質の評価は、製品開発の上流段階での評価であり、特に重要である。
【０００７】
さらに製品の開発を担当する設計者のレベルは、一定のレベルでは無く、すべての設計者が製品の機能について、十分な知識および設計能力があるとは言えない。すなわち、設計者は、過去に設計した製品と同様の設計ミスを繰り返すことが少なくない。したがって、製品設計時における製品設計の品質を評価することが、製品そのものの品質を向上するために重要であり、製品設計の各段階において、製品の開発を担当する各設計者に適した評価の内容たとえば各設計者が過去に担当した製品の評価結果を、適時確認することによって、製品設計時における品質を向上することができる。
【０００８】
しかしながら上述した従来技術は、予め定められた複数の品質管理指標について、評価データを入力するための評価入力シートのセットの中から、設計者毎に評価入力シートを切り出して作成するものであり、新しく開発する製品の機能または構成要素を設計する各設計者に応じて評価する内容たとえば各設計者が過去に設計を担当した製品の評価結果を、設計者にフィードバックすることはできないという問題がある。
【０００９】
本発明の目的は、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することで設計者に適時フィードバックすることによって製品の品質を高めることができる製品開発支援装置および製品開発支援方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得手段と、
取得手段が読み出した不良情報に基づいて、取得手段が読み出した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計手段と、
不良集計手段が生成した集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報を生成する不良実績算出手段と、
取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報を、取得手段によって読み出して出力する不良情報出力手段とを含むことを特徴とする製品開発支援装置である。
【００１１】
本発明に従えば、まず、取得手段によって、製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報が読み出されて取得される。
【００１２】
次に、不良集計手段によって、取得手段が読み出した不良情報に基づいて、取得手段が読み出した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報が生成され、不良実績算出手段によって、不良集計手段が生成した集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報が生成される。
【００１３】
さらに、不良情報出力手段によって、取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位が付けられ、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報が、取得手段によって取得されて出力される。
【００１４】
このように、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者毎に、機能別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。
【００１５】
また本発明は、前記製品構成情報は、その製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報をさらに含み、
前記不良情報は、不良が発生した構成要素の構成要素情報をさらに含み、
前記不良集計手段は、前記取得手段が読み出した不良情報が示す不良について、前記取得手段が読み出した不良情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素毎に、不良の件数を集計し、さらに集計した構成要素毎の不良の件数に基づいて、前記取得手段が読み出した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、その機能を実現するための構成要素毎の不良の件数を集計して、集計情報を生成することを特徴とする。
【００１６】
本発明に従えば、不良が発生した構成要素を表す構成要素情報を含む不良情報に基づいて、構成要素をキーにして、機能別の不良の件数を集計するので、機能を実現するための構成要素がわかれば、機能別の不良の件数を集計することができる。
【００１７】
また本発明は、製品の機能を表す機能情報およびその機能情報が示す機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報を含む製品構成情報と、製品の不良が発生した構成要素の構成要素情報およびその不良に関連する情報を含む不良情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、製品構成情報、不良情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得手段と、
取得手段が読み出した不良情報が示す不良について、取得手段が読み出した不良情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計手段と、
不良集計手段が集計した構成要素毎の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を構成要素別に示す算出情報を生成する不良実績算出手段と、
取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の構成要素のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した構成要素に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い構成要素から順に、その構成要素に関連する不良の不良情報を、取得手段によって読み出して出力する不良情報出力手段とを含むことを特徴とする製品開発支援装置である。
【００１８】
本発明に従えば、まず、取得手段によって、製品の機能を表す機能情報およびその機能情報が示す機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報を含む製品構成情報と、製品の不良が発生した構成要素の構成要素情報およびその不良に関連する情報を含む不良情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、製品構成情報、不良情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報が読み出されて取得される。
【００１９】
次に、不良集計手段によって、取得手段が読み出した不良情報が示す不良について、取得手段が読み出した不良情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素別に、不良の件数を集計した集計情報が生成され、不良実績算出手段によって、不良集計手段が集計した構成要素毎の不良の件数に基づいて、取得手段が読み出した第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を構成要素別に示す算出情報が生成される。
【００２０】
さらに、不良情報出力手段によって、取得手段が読み出した第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出手段が生成した算出情報が示す第１の設計者毎の構成要素のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した構成要素に対して、不良実績算出手段が生成した算出情報に基づいて、不良の件数が多い順序で優先順位が付けられ、優先順位の高い構成要素から順に、その構成要素に関連する不良の不良情報が、取得手段によって取得されて出力される。
【００２１】
このように、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者毎に、機能を実現するための構成要素別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い構成要素に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良現象に関する情報のうち重要な構成要素に関連する不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。
【００２２】
また本発明は、前記不良情報出力手段は、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数に代えて、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数に対して、予め定める演算を行った数値を用いて、優先順位を付けることを特徴とする。
【００２３】
本発明に従えば、注目する設計者の不良の件数に対して、予め定める演算を行った数値を用いて、出力する優先順位を決めるので、相対比較可能な数値に変換して、優先順位を決めることができる。
【００２４】
また本発明は、前記予め定める演算は、前記不良実績算出手段が生成した算出情報が示す不良の件数を、注目する設計者が設計した製品の出荷台数とその設計者が設計した製品の種類の数との積によって、除算する演算であることを特徴とする。
【００２５】
本発明に従えば、不良の件数を、注目する設計者が設計した製品の販売台数とその設計者が設計した製品の種類の数との積によって、除算した数値を用いて比較するので、販売台数および製品の種類の数の影響を無くした比較を行うことができる。
【００２６】
また本発明は、前記不良情報、前記製品構成情報、および前記第１の製品開発情報は、いずれも製品を識別するための製品識別情報を含み、
前記不良集計手段は、集計情報を集計する際、前記第１の製品識別情報に含まれる製品識別情報が示す製品毎に集計し、
前記不良情報出力手段は、不良情報を出力する際、前記第１の製品識別情報が示す製品毎に、出力することを特徴とする。
【００２７】
本発明に従えば、製品毎に、集計情報を集計し、さらに不良情報を出力する際に、製品毎に出力するので、不良がどの製品で発生した不良であるかを認識することができる。
【００２８】
また本発明は、前記不良情報は、不良の現象を表す不良現象情報を含み、
前記不良集計手段は、集計情報を集計する際、不良現象情報が示す不良現象毎に集計し、
前記不良実績算出手段は、算出情報を算出する際、前記不良集計手段が生成した集計情報が示す不良現象毎の不良の件数に基づいて、不良現象毎に算出し、
前記不良情報出力手段は、優先順位を付ける際、機能別または構成要素別の不良の件数を、各機能または各構成要素の不良現象毎の件数を積算して求めて優先順位を付け、不良情報を出力する際、不良情報毎に出力することを特徴とする。
【００２９】
本発明に従えば、不良の件数を、不良現象毎に集計および算出し、出力する際も不良現象毎に、不良情報を出力するので、不良現象毎の重要度を認識することができる。
【００３０】
また本発明は、前記不良情報は、製品開発において発生した不具合を表す不具合情報、および市場において発生した故障を表す故障情報のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする。
【００３１】
本発明に従えば、不良情報は、不具合情報および故障情報を含むので、製品開発において発生した不具合と、市場において発生した故障とを、新しく開発する製品を検討するための不良情報として用いることができる。
【００３２】
また本発明は、前記不良情報は、不具合または故障の現象を表す不良現象情報、不具合または故障の原因を表す不良原因情報、および不具合を解消するための解消方法を表す解消情報を含むことを特徴とする。
【００３３】
本発明に従えば、不良情報は、不具合または故障の現象を表す不良現象情報、不具合または故障の原因を表す不良原因情報、および不具合を解消するための解消情報を含むので、不良情報を出力するときに、不良現象情報、不良原因情報、および解消情報のうち少なくとも１つを出力することができる。
【００３４】
また本発明は、製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する取得工程と、
取得工程で読み出された不良情報に基づいて、取得工程で読み出された製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報を生成する不良集計工程と、
不良集計工程で生成された集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得工程で読み出された第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報を生成する不良実績算出工程と、
取得工程で読み出された第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出工程で生成された算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出工程で生成された算出情報に基づいて、不良の件数の多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報であって、取得工程で取得された不良情報を出力する不良情報出力工程とを含むことを特徴とする製品開発支援方法である。
【００３５】
本発明に従えば、まず、取得工程で、製品の不良に関連する情報を含む不良情報と、製品の機能を表す機能情報を含む製品構成情報と、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む第１の製品開発情報と、新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する第２の設計者の設計者特定情報を含む第２の製品開発情報とを記憶する記憶部から、不良情報、製品構成情報、第１の製品開発情報、および第２の製品開発情報を読み出して取得する。
【００３６】
次に、不良集計工程で、取得工程で読み出された不良情報に基づいて、取得工程で読み出された製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計した集計情報を生成し、不良実績算出工程で、不良集計工程で生成された集計情報が示す機能別の不良の件数に基づいて、取得工程で読み出された第１の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第１の設計者毎に、各第１の設計者が設計した製品の不良の件数を機能別に示す算出情報を生成する。
【００３７】
さらに、不良情報出力工程で、取得工程で読み出された第２の製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す第２の設計者毎に、不良実績算出工程で生成された算出情報が示す第１の設計者毎の機能のうちで、第２の設計者と一致する第１の設計者が設計した機能に対して、不良実績算出工程で生成された算出情報に基づいて、不良の件数の多い順序で優先順位を付け、優先順位の高い機能から順に、その機能に関連する不良の不良情報であって、取得工程で取得された不良情報を出力する。
【００３８】
このように、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者毎に、機能別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。
【発明の効果】
【００３９】
本発明によれば、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力するので、新製品の開発の初期の段階から、過去に開発した製品で発生した不良に対する対策を盛り込むことができ、さらに設計者に適時フィードバックすることによって各設計者に問題点を早期に発見させることが可能となり、製品の品質を向上することができる。したがって、製品の開発の後の段階あるいは生産の段階で発生する不具合および市場で発生する故障への対応に要する工数およびコストを削減することができ、開発期間の短縮を図ることができる。
【００４０】
また本発明によれば、機能を実現するための構成要素がわかれば、機能別の不良の件数を集計することができる。
【００４１】
また本発明によれば、過去に発生した不良に関する不良情報のうち重要な構成要素に関連する不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力するので、設計者は、新製品の開発の初期の段階から、不良に対する対策を検討することができる。
【００４２】
また本発明によれば、相対比較可能な数値に変換して、優先順位を決めるので、設計者を共通の基準で比較することができ、機能に対する各設計者のノウハウのレベルを相対的に評価することができる。
【００４３】
また本発明によれば、販売台数および製品の種類の数の影響を無くした比較を行うので、機種間での相対的な評価を行うことができる。
【００４４】
また本発明によれば、不良がどの製品で発生した不良であるかを認識することができるので、不良の発生が製品に依存する要因を有しているとき、その要因を考慮することができる。
【００４５】
また本発明によれば、不良現象毎の重要度を認識することができるので、設計者は、不良に対する検討を、重要度の高い不良現象を優先して検討することができる。
【００４６】
また本発明によれば、製品開発において発生した不具合と、市場において発生した故障とを、新しく開発する製品を検討するための不良情報として用いることができるので、過去に発生したすべての不良を、新たに開発する製品を検討するための対象とすることができる。
【００４７】
また本発明によれば、不良情報を出力するときに、不良現象情報、不良原因情報、および解消情報のうち少なくとも１つを出力するので、設計者は、新たに製品を開発する際に、過去に発生した不良の不良現象、不良原因、あるいは解消方法について検討することができる。
【００４８】
また本発明によれば、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力するので、新製品の開発の初期の段階から、過去に開発した製品で発生した不良に対する対策を盛り込むことができ、さらに設計者に適時フィードバックすることによって各設計者に問題点を早期に発見させることが可能となり、製品の品質を向上することができる。したがって、製品の開発の後の段階あるいは生産の段階で発生する不具合および市場で発生する故障への対応に要する工数およびコストを削減することができ、開発期間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
図１は、本発明の実施の一形態である製品開発支援装置１０の機能の概略の構成を示す図である。製品開発支援装置１０は、不良集計機能１１、不良実績算出機能１２、不良情報提供機能１３、および図示しない取得機能を含む。
【００５０】
製品開発支援装置１０には、製品開発において発生した不具合を表す不具合情報を記憶する不具合情報データベース２１、製品の市場において発生した故障を表す故障情報を記憶する故障情報データベース２２、ならびに製品の機能を表す機能情報およびその機能を実現するための構成要素を表す構成要素情報を含む製品構成情報を記憶する製品構成情報データベース２３がネットワーク３０ａを介して接続され、過去に開発した製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計した設計者、すなわち第１の設計者を特定するための設計者特定情報を含む製品開発情報、すなわち第１の製品開発情報を記憶する製品開発情報データベース２４がネットワーク３０ｂを介して接続され、さらに新たに開発する製品の機能情報およびその機能情報が示す機能を設計する設計者、すなわち第２の設計者の設計者特定情報を含む新機種製品開発情報、すなわち第２の製品開発情報を記憶するディスク装置などの記憶装置２５がネットワーク３０ｃを介して接続される。以下、新機種製品開発情報のことを、新製品開発情報ともいう。
【００５１】
不具合情報、故障情報、製品構成情報、および製品開発情報は、たとえばディスク装置などの記憶装置である記憶部に記憶されていればよく、必ずしもデータベースである必要はない。新製品開発情報は、たとえばネットワーク３０ｃに接続されたあるいは製品開発支援装置１０に搭載されたキーボードなどの入力装置から入力されてもよく、あるいは製品開発情報データベース２４に含めて記憶させてもよく、必ずしも記憶装置２５に記憶されている必要はない。ネットワーク３０ａ、ネットワーク３０ｂ、およびネットワーク３０ｃは、たとえばＬＡＮ（Local Area Network）、イントラネット、あるいはインターネットなどで構成されるネットワークであり、１つのネットワークであってもよく、以下これらを総称して、ネットワーク３０という。以下、不具合および故障をまとめて不良といい、不具合情報および故障情報をまとめて不良情報という。
【００５２】
製品開発支援装置１０は、たとえば図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＣＰＵに実行させるプログラムおよびＣＰＵが処理する情報を記憶する半導体メモリなどで構成される図示しないメモリ部と、ネットワーク３０を介してデータベースなどの記憶装置と情報を送受信し、送受信する情報をＣＰＵに転送あるいはＣＰＵから転送される図示しない通信部と、利用者が製品開発支援装置１０に情報を入力するためのキーボードなどの図示しない入力部と、ＣＰＵからの情報を出力するプリンタあるいは液晶ディスプレイなどで構成される図示しない出力部とを含む。不良集計機能１１、不良実績算出機能１２、不良情報提供機能１３、および取得機能は、メモリ部に記憶されたプログラムをＣＰＵに実行させることによって実現される機能である。
【００５３】
取得機能は、通信部によって、ネットワーク３０に接続された不具合情報データベース２１、故障情報データベース２２、製品構成情報データベース２３、製品開発情報データベース２４、および記憶装置２５に記憶されている情報を取得することができる。
【００５４】
不良集計機能１１は、取得機能に、不具合情報、故障情報、および製品構成情報を取得するように指示すると、取得機能は、不具合情報データベース２１から不具合情報を取得し、故障情報データベース２２から故障情報を取得し、さらに製品構成情報データベース２３から製品構成情報を取得し、取得した不具合情報、故障情報、および製品構成情報を、不良集計機能１１に転送する。不良集計機能１１は、取得機能から転送された不良情報に基づいて、つまり転送された不具合情報および転送された故障情報に基づいて、取得機能から転送された製品構成情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素別に、たとえば部品別あるいは部品などで構成されるユニット別に、および取得機能から転送された製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、不良の件数を集計し、集計結果を表す集計情報を生成する。構成要素別に集計された集計情報を、製品構成別集計情報、機能別に集計された集計情報を製品機能別集計情報という。不良集計機能１１は、生成した製品構成別集計情報および製品機能別集計情報を、メモリ部に書き込んで記憶する。
【００５５】
不良実績算出機能１２は、取得機能に、製品開発情報を取得するように指示すると、取得機能は、製品開発情報データベース２４から製品開発情報を取得し、取得した製品開発情報を不良実績算出機能１２に転送する。不良実績算出機能１２は、取得機能から転送された製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者が設計した機能の不良の件数を、不良集計機能１１がメモリ部に記憶させた集計情報に基づいて、製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者単位、つまり設計者毎に、各設計者が設計した機能別に算出して、算出結果を表す算出情報を生成し、生成した算出情報をメモリ部に書き込んで記憶する。
【００５６】
不良情報提供機能１３は、取得機能に、新製品開発情報を取得するように指示すると、取得機能は、記憶装置２５から新製品開発情報を取得して、取得した新製品開発情報を不良情報提供機能１３に転送する。不良情報提供機能１３は、取得機能から転送された新製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者単位に、取得機能から転送された不良情報に基づいて、不良実績算出機能１２がメモリ部に記憶させた算出情報が示す対応する設計者の機能のうちで、不良の件数の多い機能に関連する不良の不良情報である設計者別不良実績表示情報を、優先して出力部によって出力する。出力部は、不良情報提供機能１３に含まれる。以下、設計者別不良実績表示情報を設計者別不良実績情報ともいう。
【００５７】
このように、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者単位、つまり設計者毎に、機能別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良に関する不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。したがって、新製品の開発の初期の段階から、過去に開発した製品で発生した不良に対する対策を盛り込むことができ、さらに設計者に適時フィードバックすることによって各設計者に問題点を早期に発見させることが可能となり、製品の品質を向上することができる。そして、製品の開発の後の段階あるいは生産の段階で発生する不具合および市場で発生する故障への対応に要する工数およびコストを削減することができ、開発期間の短縮を図ることができる。
【００５８】
上述した実施の形態では、不良実績算出機能１２は、不良の件数を、機能別に算出し、不良情報提供機能１３は、不良の件数の多い機能に関連する不良の不良情報を、優先して出力したが、不良実績算出機能１２は、不良の件数を、構成要素別に算出し、不良情報提供機能１３は、不良の件数が多い構成要素に関連する不良の不良情報を、優先して出力してもよい。
【００５９】
このように、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者単位に、つまり設計者毎に、機能を実現するための構成要素別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い構成要素に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良現象に関する情報のうち重要な構成要素に関連する不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。したがって、設計者は、新製品の開発の初期の段階から、不良に対する対策を検討することができる。
【００６０】
さらに、上述した実施の形態では、不良集計機能１１は、不良の件数を、構成要素別におよび機能別に集計し、不良実績算出機能１２は、不良の件数を、設計者単位に、機能別にまたは構成要素別に算出したが、不良集計機能１１は、不良の件数を、構成要素別におよび機能別に、かつ不良現象毎に集計し、不良実績算出機能１２は、不良の件数を、設計者単位に、機能別にまたは構成要素別に、かつ不良現象毎に算出し、不良情報提供機能１３は、不良情報を出力する際、不良現象毎の不良の件数を積算した件数が多い機能または構成要素に関連する不良の不良情報を優先して、不良現象毎に出力してもよい。
【００６１】
このように、不良の件数を、不良現象毎に集計および算出し、出力する際も不良現象毎に、不良情報を出力するので、不良現象毎の重要度を認識することができる。したがって、設計者は、不良に対する検討を、重要度の高い不良現象を優先して検討することができる。
【００６２】
さらにまた、上述した実施の形態では、不良実績算出機能１２は、不良の件数を、構成要素別におよび機能別に集計したが、不良の件数を、製品毎に、つまり機種単位に、かつ構成要素別におよび機能別に集計し、不良情報提供機能１３は、不良情報を出力する際、不良の件数が多い機能もしくは構成要素に関連する不良の不良情報を優先して、製品単位、つまり製品毎に出力してもよい。
【００６３】
このように、製品単位に、つまり製品毎に、集計情報を集計し、さらに不良情報を出力する際に、製品毎に出力するので、不良がどの製品で発生した不良であるかを認識することができる。したがって、不良の発生が製品に依存する要因を有しているとき、その要因を考慮することができる。
【００６４】
図２は、図１に示した不良集計機能１１が処理する処理手順を示すフローチャートである。新製品開発情報が記憶装置２５に記憶された後、製品開発支援装置１０の入力部から、処理の開始を指示する情報が入力されたとき、あるいはネットワーク３０ｃに接続された入力装置から新製品開発情報が入力されたとき、ステップＳ１に移る。
【００６５】
ステップＳ１では、取得機能によって、不具合情報データベース２１から不具合情報を、および故障情報データベース２２から故障情報を取得する。不具合情報は、少なくとも機種名、現象コード、現象名、部品、および部品コードを表す情報を含み、故障情報は、少なくとも機種名、現象コード、現象名、部品、および部品コードを表す情報を含む。
【００６６】
図５は、図１に示した不具合情報データベース２１に記憶されている不具合情報の詳細を示す図である。図５は、「項目」欄に示される項目番号と項目に対応させて、「内容の例」欄に示される内容の例を示す。以下、各項目を、項目番号の順序に説明する。
【００６７】
「１）ＩＤ」は、不具合を一意に識別するために付けられた管理者用の不良識別情報、「２）機種名」は、製品の種類を表す名称、「３）発生年月日」は、製品の不具合が発生した年月日、「４）現象コード」は、製品の不具合の特徴を表したコード、「５）現象名」は、製品の不具合の特徴を表した言葉であり、現象コードに一対一で対応する。「６）現象詳細」は、製品の不具合内容の詳細、「７）発生箇所」は、不具合が発生した基板あるいはユニットなどの構成要素、「８）部品」は、構成要素、つまり部品あるいはユニットに付けられた製品単位での管理者用の部品識別情報、「９）部品コード」は、構成要素に対して付けられた固有の社内管理用のコード、「１０）原因コード」は、原因の特徴を表したコード、「１１）原因」は、原因の特徴を表した言葉であり、原因コードに一対一で対応する。「１２）原因詳細」は、原因の内容の詳細、「１３）解消方法」は、発生した不具合の現象を解消するための方法、「１４）完了年月日」は、不具合が解消した年月日である。
【００６８】
図５に示した各項目に対応する内容の例は、ＩＤは、「１０１１２２３３４４」、機種名は、「ＡＡ」、発生年月日は、「２００４１２２２」、現象コードは、「１００１」、現象名は、「電源が入らない」、現象詳細は、「電源ボタンを押しても…」、発生箇所は、「電源ユニット」、部品は、「ＩＣ１０１」、部品コードは、「ＩＣ−ＰＱ１０１１ＷＪＺＺ」、原因コードは、「Ｚ０３」、原因は、「半田不良」、原因詳細は、「半田の…」、解消方法は、「実装…」、および完了年月日は、「２００４１２２７」である。
【００６９】
不具合情報は、少なくとも、２）機種名、４）現象コードもしくは５）現象名、８）部品もしくは９）部品コード、１０）原因コードもしくは１１）原因、および１３）解消方法を表す情報を含む。製品を識別するための製品識別情報は、たとえば２）機種名に対応する内容の例が表す情報であり、不具合または故障の現象を表す不良現象情報は、たとえば４）現象コードまたは５）現象名に対応する内容の例が表す情報であり、不具合または故障の原因を表す不良原因情報は、たとえば１０）原因コードまたは１１）原因に対応する内容の例が表す情報であり、不具合を解消するための解消方法を表す解消情報は、たとえば１３）解消方法に対応する内容の例が表す情報である。
【００７０】
図６は、図１に示した故障情報データベース２２に記憶されている故障情報の詳細を示す図である。図６は、「項目」欄に示される項目番号と項目に対応させて、「内容の例」欄に示される内容の例を示す。以下、各項目を、項目番号の順序に説明する。
【００７１】
「１）ＩＤ」は、故障を一意に識別するために付けられた管理者用の不良識別情報、「２）受付Ｎｏ．」は、修理担当者が管理するための番号、「３）受付年月日」は、修理を受け付けた年月日、「４）機種名」は、製品の種類を表す名称、「５）発生年月日」は、故障が発生した年月日、「６）ユーザ申告内容」は、お客様が製品の故障について説明された内容の詳細、「７）現象コード」は、製品の故障の特徴を表したコード、「８）現象名」は、製品の故障の特徴を表した言葉であり、現象コードに一対一で対応する。「９）現象詳細」は、修理担当者が確認した故障の内容の詳細、「１０）発生箇所」は、故障が発生した基板あるいはユニットなどの構成要素、「１１）部品」は、修理・交換した構成要素、つまり部品あるいはユニットに付けられた製品単位での管理用の部品識別情報、「１２）部品コード」は、修理・交換した構成要素に対して付けられた固有の社内管理用のコード、「１３）原因コード」は、修理担当者が推定した原因の特徴を表したコード、「１４）原因」は、修理担当者が推定した原因の特徴を表した言葉であり、原因コードに一対一で対応する。「１５）原因詳細」は、修理担当者が推定した原因の内容の詳細、「１６）修理内容」は、修理担当者が行った修理の内容の詳細、「１７）修理完了年月日」は、修理が完了した年月日である。
【００７２】
図６に示した各項目に対応する内容の例は、ＩＤは、「ＡＡ１１２２３３４４５５」、受付Ｎｏ．は、「Ｘ１２３４５６」、受付年月日は、「２００５０１１０」、機種名は、「ＡＡ」、発生年月日は、「２００５０１０８」、ユーザ申告内容は、「突然画面が映らなくなった。」、現象コードは、「１００１」、現象名は、「電源が入らない」、現象詳細は、「電源ボタンを押しても…」、発生箇所は、「電源ユニット」である。さらに部品は、「ＩＣ１０１」、部品コードは、「ＩＣ−ＰＱ１０１１ＷＪＺＺ」、原因コードは、「Ｚ０３」、原因は、「半田不良」、原因詳細は、「半田の…」、修理内容は、「電源基板交換」、修理完了年月日は、「２００５０１１２」である。
【００７３】
故障情報は、少なくとも、４）機種名、７）現象コードもしくは８）現象名、１１）部品もしくは１２）部品コード、および１３）原因コードもしくは１４）原因を表す情報を含む。製品識別情報は、たとえば４）機種名に対応する内容の例が表す情報であり、不具合または故障の現象を表す不良現象情報は、たとえば７）現象コードまたは８）現象名に対応する内容の例が表す情報であり、不具合または故障の原因を表す不良原因情報は、たとえば１３）原因コードまたは１４）原因に対応する内容の例が表す情報である。
【００７４】
図７は、図１に示した製品構成情報データベース２３に記憶されている製品構成情報の詳細を示す図である。図７は、「１）機種」欄に、製品の種類を示す名称、「２）機能」欄に、製品の要求仕様を実現するために必要となる働きあるいは役割、「３）構成ユニット」欄に、メイン基板等の製品の構成単位、つまり構成毎に「４）部品」欄に、構成要素毎、つまり部品またはユニット毎に付けられた製品単位での管理用の部品識別情報、および「５）部品コード」欄に、構成要素に対して付けられた固有の社内管理用のコードを示す。
【００７５】
図７には、機種「ＡＡ」に対して、機能「電源」および機能「アナログ」が示され、機能「電源」に対して、構成ユニット「ＡＣアダプタ」および構成ユニット「インバータ基板」が示され、機能「アナログ」に対して、構成ユニット「サウンド」示されている。さらに、構成ユニット「ＡＣアダプタ」に対して、部品「ＡＣアダプタ」が示され、構成ユニット「インバータ基板」に対して、部品「ＩＣ１０１」および部品「ＩＣ１０２」が示され、部品「ＡＣアダプタ」に対して、部品コード「ＵＡＤＰ−Ａ１１１１ＷＪＰ」が示され、部品「ＩＣ１０１」に対して、部品コード「ＩＣ−ＰＱ１０１１ＷＪＺＺ」が示されている。
【００７６】
製品構成情報は、少なくとも、１）機種、２）機能、３）構成ユニット、４）部品、および５）部品コードを表す情報を含む。製品識別情報は、たとえば１）機種欄に示された情報であり、機能情報は、たとえば２）機能欄に示された情報であり、構成要素情報は、たとえば４）部品欄もしくは５）部品コード欄に示された情報である。
【００７７】
図２を参照して、ステップＳ２では、不具合情報および故障情報に含まれる製品識別情報が示す製品単位に、たとえば図５および図６に示した機種名が示す機種単位に、不具合情報および故障情報に含まれる構成要素情報が示す構成要素毎に、たとえば図５および図６に示した部品別に、不具合情報および故障情報に含まれる不良の種類毎の件数、たとえば図５および図６に示した現象コードまたは現象名が示す不良現象毎の件数を集計して、製品構成別集計情報を生成する。
【００７８】
ステップＳ３では、取得機能によって、製品構成情報データベース２３から製品構成情報を取得する。製品構成情報は、機種、機能、部品、および部品コードを表す情報を含む。ステップＳ４では、製品構成別集計情報の不良現象毎の件数に基づいて、取得機能によって取得した製品構成情報に含まれる製品識別情報が示す製品単位、たとえば図７に示した機種欄に示された機種単位に、かつ取得機能によって取得した製品構成情報に含まれる機能情報が示す機能別に、たとえば図７に示した機能欄に示された機能別に、機種と部品とをキーにして、不具合情報および故障情報に含まれる不良の不良現象毎の件数を集計して、製品機能別集計情報を生成する。すなわち、製品構成情報に含まれる製品識別情報が示す製品つまり機種および構成要素情報が示す構成要素つまり部品と、製品構成別集計情報の機種および部品とを対応させることによって、機能別の不良現象毎の件数を集計する。
【００７９】
図８は、図１に示した不良集計機能１１が生成する製品機能別集計情報を示す図である。図８は、「１）機種」欄に、製品の種類を示す名称、「２）機能」欄に、製品の要求仕様を実現するために必要となる働きあるいは役割、「３）現象名」欄に、製品の不具合または故障の特徴、および「４）件数」欄に、不良現象毎の件数を示す。不良現象は、たとえば現象名が示す不良現象である。現象名に対応する現象コードがあれば、現象名の代わりに現象コードを用いてもよいし、現象名と現象コードを併用してもよい。図８には、機種「ＡＡ」に対して、機能「電源」が示され、機能「電源」に対して、現象名「電源入らず」および件数「１０件」、ならびに現象名「電源が切れる」および件数「２件」が示されている。
【００８０】
図２を参照して、ステップＳ５では、集計した集計結果である製品構成別集計情報および製品機能別集計情報をメモリ部に書き込んで終了する。
【００８１】
このように、不良が発生した構成要素を表す構成要素情報を含む不良情報に基づいて、構成要素たとえば部品をキーにして、機能別の不良の件数を集計するので、機能を実現するための構成要素がわかれば、機能別の不良の件数を集計することができる。したがって、機能を構成する構成要素が確定した時点で、過去の実績を知ることで重点的に評価を行う機能および構成要素を特定することができる。
【００８２】
さらに、不良情報は、不具合情報および故障情報を含むので、製品開発において発生した不具合と、市場において発生した故障とを、新しく開発する製品を検討するための不良情報として用いることができる。したがって、過去に発生したすべての不良を、新たに開発する製品を検討するための対象とすることができる。
【００８３】
さらにまた、不良情報は、不具合または故障の現象を表す不良現象情報、不具合または故障の原因を表す不良原因情報、および不具合を解消するための解消情報を含むので、不良情報を出力するときに、不良現象情報、不良原因情報、および解消情報のうち少なくとも１つを出力することができる。したがって、設計者は、新たに製品を開発する際に、過去に発生した不良の不良現象、不良原因、あるいは解消方法について検討することができる。
【００８４】
図３は、図１に示した不良実績算出機能１２が処理する処理手順を示すフローチャートである。図２に示したフローチャートの処理が終了した後、ステップＴ１に移る。ステップＴ１では、取得機能によって、製品開発情報データベース２４から製品開発情報を取得する。
【００８５】
図９は、図１に示した製品開発情報データベース２４に記憶されている製品開発情報の詳細を示す図である。図９は、「１）機種」欄に、製品の種類を表す名称、「２）機能」欄に、製品の要求仕様を実現するために必要となる働きあるいは役割、および「３）設計者」欄に、２）機能欄に示された機能を設計した設計担当者、つまり設計者を示す。図９には、機種「ＡＡ」に対して、機能「電源」および設計者「鈴木」、機能「アナログ」および設計者「佐藤」、ならびに機能「デジタルチューナ」および設計者「田中」が示されている。製品識別情報は、たとえば１）機種欄に示された情報であり、機能情報は、たとえば２）機能欄に示された情報であり、設計者特定情報は、たとえば３）設計者欄に示された情報である。
【００８６】
図３を参照して、ステップＴ１では、製品開発情報は、少なくとも、機種、機能、および設計者を表す情報を含む。ステップＴ２では、不良集計機能１１が生成した製品機能別集計情報をメモリ部から読み出す。ステップＴ３では、メモリ部から読み出した製品機能別集計情報が示す機種単位かつ機能別の不良現象毎の件数に基づいて、機種と機能とをキーにして、製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者別に、たとえば図９に示した設計者欄の設計者別に、機種単位かつ機能別の不良現象毎の件数を算出する。すなわち各設計者が設計した機種および機能、つまり製品開発情報に含まれる製品識別情報が示す製品つまり機種および機能情報が示す機能と、製品機能別集計情報の機種および機能とを対応させることによって、機種単位に、機能別かつ設計者別に、不良現象毎の件数を算出する。
【００８７】
ステップＴ４では、ステップＴ３で求めた不良現象毎の件数を元に、設計者単位に、機能別に、不良現象毎の件数を算出して、算出結果を示す算出情報を生成する。すなわち、ステップＴ３で求めた機種単位の機能別かつ設計者別の不良現象毎の件数を、設計者単位で機能別に積算して、設計者単位の機能別の不良現象毎の不良の件数を算出する。
【００８８】
図１０は、図１に示した不良実績算出機能１２が生成する算出情報の詳細を示す図である。図１０は、「１）設計者」欄に、２）機能欄に示された機能を設計した設計担当者、「２）機能」欄に、製品の要求仕様を実現するために必要となる働きあるいは役割、「３）現象名」欄に、製品の不具合または故障の特徴を表した言葉、および「４）件数」欄に、現象コードの件数を示す。現象コードは、図５および図６に示した現象コードであり、３）現象名欄の現象名と一対一で対応し、現象名の代わりに、現象コードを用いてもよい。
【００８９】
図１０には、設計者「鈴木」に対して、機能「電源」および機能「アナログ」が示され、設計者「佐藤」に対して、機能「電源」が示され、設計者「田中」に対して、機能「電源」および機能「アナログ」が示されている。設計者「鈴木」の機能「電源」に対して、現象名「電源入らず」および件数「２１件」、ならびに現象名「電源が切れる」および件数「２件」が示され、設計者「鈴木」の機能「アナログ」に対して、現象名「音声が途切れる」および件数「２件」が示され、設計者「佐藤」の機能「電源」に対して、現象名「電源入らず」および件数「１７件」が示され、設計者「田中」の機能「電源」に対して、現象名「電源が切れる」および件数「４件」が示され、設計者「田中」の機能「アナログ」に対して、現象名「雑音が入る」および件数「８件」が示されている。
【００９０】
図３を参照して、ステップＴ５では、算出した算出結果である算出情報をメモリ部に書き込んで終了する。
【００９１】
図４は、図１に示した不良情報提供機能１３が処理する処理手順を示すフローチャートである。図３に示したフローチャートの処理が終了した後、ステップＵ１に移る。ステップＵ１では、取得機能によって、記憶装置２５に記憶されている新製品開発情報を取得する。
【００９２】
図１１は、図１に示した記憶装置２５に記憶されている新製品開発情報および不良情報提供機能１３が出力する設計者別不良実績情報の詳細を示す図である。新製品の開発の着手時には、製品企画構想によって要求仕様が定められ、要求仕様を実現するための機能が定義される。新製品の開発に際しては、開発のリーダが、定義された機能を表す機能情報と、その機能を開発する設計者を表す設計者特定情報とを含む新製品開発情報を作成する。
【００９３】
図１１に示した新製品開発情報は、「１）機種」欄に、製品の種類を表す名称、「２）機能」欄に、製品の要求仕様を実現するために必要となる働きあるいは役割、「３）設計者」欄に、２）機能欄に示された機能を設計する設計担当者を示す。設計者別不良実績情報は、新製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者毎、たとえば図１１に示した設計者欄の設計者毎の不良の実績を示す情報であり、図１１に示した設計者別不良実績情報は、「４）機種」欄に、製品の種類を表す名称、「５）現象名」欄に、製品の不具合または故障の特徴を表した言葉、「６）件数」欄に、５）現象名欄に示される現象名が示す不良現象の件数、「７）原因」欄に、不具合の原因の特徴を表した言葉または修理担当者が推定した故障の原因の特徴を表した言葉、「８）解消方法」欄に、発生した不具合の現象を解消するための方法を示す。現象コードは、製品の不具合または故障の特徴を表したコードであり、現象名と一対一で対応し、原因コードは、原因の特徴を表したコードであり、原因と一対一で対応する。現象名の代わりに、現象コード、原因の代わりに、原因コードを用いてもよい。
【００９４】
図１１に示した新製品開発情報には、機種「Ｍｏｄｅｌ−Ｘ」に対して、機能「電源」および設計者「鈴木」、機能「アナログ」および設計者「佐藤」、ならびに機能「デジタルチューナ」および設計者「田中」が示されている。図１１に示した設計者別不良実績情報は、図１１に示した新製品開発情報の設計者「鈴木」の設計者別不良実績情報であり、設計者「鈴木」の設計者別不良実績情報には、機種「ＡＡ」に対して、現象名「電源が入らず」および現象名「電源が切れる」、機種「ＢＢ」に対して、現象名「電源入らず」が示されている。機種「ＡＡ」の現象名「電源入らず」に対して、件数「１０件」、原因「半田付け不良」、および解消方法「解消法は…」が示され、機種「ＡＡ」の現象名「電源が切れる」に対して、件数「２件」および原因「半田付け不良」が示され、機種「ＢＢ」の現象名「電源入らず」に対して、件数「５件」および原因「接触不良」が示されている。図１１に示した設計者別不良実績情報は、不良現象が関係する構成要素に関する情報を含んでいないが、不良現象が関係する構成要素たとえば部品に関する情報を含めてもよい。
【００９５】
図４を参照して、ステップＵ２では、不良実績算出機能１２によって算出された算出情報が示す算出結果を、メモリ部から読み出す。ステップＵ３では、読み出した算出情報が示す設計者単位の機能別の不良現象毎の件数に基づいて、設計者および機能をキーにして、記憶装置２５から取得した新製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者単位に、つまり新たに開発する製品の設計者単位に、機能別の不良現象毎の不良の件数を取り出す。すなわち記憶装置２５から取得した新製品開発情報に含まれる設計者識別情報が示す設計者および機能情報が示す機能と、算出情報に含まれる設計者および機能、たとえば図１０に示した設計者および機能とを対応させることによって、新たに開発する製品の設計者単位に、機能別の不良現象毎の不良の件数を取り出す。
【００９６】
ステップＵ４では、新たに開発する製品の設計者単位に、機能別に取り出した不良現象毎の不良の件数を機能毎に合計した件数が多い機能から、表示のための優先順位を決定する。すなわち不良現象毎の件数を機能別に集計した件数の多い機能の優先順位を高くして、設計者別に優先順位を付ける。
【００９７】
ステップＵ５では、機能別に取り出した不良現象に関連する不良情報、たとえば機種、不良現象、不良現象の原因、部品、および解消方法などの情報を、記憶装置２５から取得した新製品開発情報に含まれる設計者特定情報が示す設計者単位に、優先順位の高い機能の順に出力して終了する。不良情報、たとえば機種、不良現象の原因、部品、および解消方法などの情報は、取得機能によって、不良現象たとえば現象コードをキーにして、不具合情報データベース２１および故障情報データベース２２から取得する。
【００９８】
製品開発支援装置１０が、電子メール配信機能を有していれば、ステップＵ５で出力した情報、つまり設計者別不良実績情報のうち、各設計者の設計者別不良実績情報を、それぞれの設計者に電子メールで配信してもよい。あるいは、設計者別不良実績情報を、各設計者がアクセスすることができる共通のサーバなどに記憶しておき、各設計者がそれぞれの設計者別不良実績情報にアクセスすることができるようにしてもよい。
【００９９】
上述した実施の形態では、図２に示したフローチャートの処理を、新製品開発情報が記憶装置２５に記憶された後、製品開発支援装置１０の入力部から処理の開始を指示する情報が入力されたとき、あるいはネットワーク３０ｃに接続された入力装置から新製品開発情報が入力されたときに開始したが、不具合情報データベース２１もしくは故障情報データベース２２が、定期的に、たとえば１日に１回更新された後、あるいは不具合情報データベース２１もしくは故障情報データベース２２が更新される度に、図２に示したフローチャートの処理を、開始してもよい。
【０１００】
さらに上述した実施の形態では、不良の件数を、たとえば現象コードが示す不良現象毎に集計したが、原因コードが示す不良原因毎に集計してもよい。
【０１０１】
さらにまた、上述した実施の形態では、不良情報提供機能１３は、不良の件数の多い機能に関連する不良の不良情報を優先的に出力したが、他の設計者との相対比較が可能な実績値Ｔの値によって、優先的に出力してもよい。不良の件数は、故障率が一定であれば、販売台数に比例して増えるので、設計者毎の不良の件数のみを比較したのでは、販売台数の多い製品を設計した設計者の不良の件数が多くなり、設計者間の相対的な評価を行うことができない。たとえば実績値Ｔは、Ｎを、不良現象毎の不良の件数、Ｈを、注目する設計者が設計した製品の販売台数、Ｋを、注目する設計者が設計した製品、つまり機種の数としたとき、Ｔ＝Ｎ／（Ｈ＊Ｋ）によって求めることができる。
【０１０２】
このように、注目する設計者の不良の件数に対して、予め定める演算を行った数値を用いて、出力する優先順位を決めるので、相対比較可能な数値に変換して、優先順位を決めることができる。したがって、設計者を共通の基準で比較することができ、機能に対する各設計者のノウハウのレベルを相対的に評価することができる。
【０１０３】
さらに、不良の件数を、注目する設計者が設計した製品の販売台数とその設計者が設計した製品の種類の数との積によって、除算した数値を用いて比較するので、販売台数および製品の種類の数の影響を無くした比較を行うことができる。したがって、機種間での相対的な評価を行うことができる。
【０１０４】
さらに上述した実施の形態では、設計者単位に、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を出力したが、設計者が属する部署単位、たとえば開発グループ単位、あるいは開発部門単位に、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を出力してもよい。具体的には、製品開発情報データベース２３に記憶されている製品開発情報および記憶装置２５に記憶されている新製品開発情報に、設計者が属する部署名を表す部署情報を付加する。不良実績算出機能１２および不良情報提供機能１３が、設計者単位に算出あるいは出力するとき、設計者単位に代えて、設計者が属する部署単位に算出あるいは出力することによって実現することができる。
【０１０５】
図２〜図４に示したフローチャートは、本発明の実施の他の形態である製品開発支援方法の処理工程を示すフローチャートでもある。これらのフローチャートの処理工程は、図１に示した製品開発支援装置１０に含まれるＣＰＵによって処理される。この処理工程をＣＰＵに実行させるためのプログラムは、製品開発支援装置１０に含まれるメモリ部に記憶される。
【０１０６】
このように、製品開発支援方法は、不良情報、製品構成情報、および過去の製品開発情報に基づいて、設計者単位に、つまり設計者毎に、機能別の不良の件数を算出しておいて、不良の件数が多い機能に関連する不良の不良情報を優先的に、新たに開発する製品の設計者毎に出力するので、過去に発生した不良情報のうち多く発生した不良情報を優先して、新たな製品開発時に設計者毎に出力することができる。したがって、新製品の開発の初期の段階から、過去に開発した製品で発生した不良に対する対策を盛り込むことができ、さらに設計者に適時フィードバックすることによって各設計者に問題点を早期に発見させることが可能となり、製品の品質を向上することができる。そして、製品の開発の後の段階あるいは生産の段階で発生する不具合および市場で発生する故障への対応に要する工数およびコストを削減することができ、開発期間の短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本発明の実施の一形態である製品開発支援装置１０の機能の概略の構成を示す図である。
【図２】図１に示した不良集計機能１１が処理する処理手順を示すフローチャートである。
【図３】図１に示した不良実績算出機能１２が処理する処理手順を示すフローチャートである。
【図４】図１に示した不良情報提供機能１３が処理する処理手順を示すフローチャートである。
【図５】図１に示した不具合情報データベース２１に記憶されている不具合情報の詳細を示す図である。
【図６】図１に示した故障情報データベース２２に記憶されている故障情報の詳細を示す図である。
【図７】図１に示した製品構成情報データベース２３に記憶されている製品構成情報の詳細を示す図である。
【図８】図１に示した不良集計機能１１が生成する製品機能別集計情報を示す図である。
【図９】図１に示した製品開発情報データベース２４に記憶されている製品開発情報の詳細を示す図である。
【図１０】図１に示した不良実績算出機能１２が生成する算出情報の詳細を示す図である。
【図１１】図１に示した記憶装置２５に記憶されている新製品開発情報および不良情報提供機能１３が出力する設計者別不良実績情報の詳細を示す図である。
【符号の説明】
【０１０８】
１０  製品開発支援装置
１１  不良集計機能
１２  不良実績算出機能
１３  不良情報提供機能
２１  故障情報データベース
２２  不具合情報データベース
２３  製品構成情報データベース
２４  製品開発情報データベース
２５  記憶装置
３０  ネットワーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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