(57)【要約】【課題】記録レーザーパワーを用いた時にＦＥサーボ系又はＴＥサーボ系を調整する。【解決手段】記録可能な光ディスク１のテスト領域上に記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥの少なくとも一方に一定周波数の外乱ｄを印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４と、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４の演算結果に基づいて、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号の振幅及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段４６とを備えた。【選択図】図４
2007115360.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録レーザーパワーと再生レーザーパワーとが選択的に印加されて、記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に出射するレーザー光源と、
前記レーザー光源からの前記レーザー光を記録再生可能な光ディスクの信号面に照射する対物レンズと、
前記光ディスクの信号面からの戻り光を複数の受光領域で受光して光電変換した検出信号を出力する多分割型フォトディテクタと、
前記多分割型フォトディテクタからの検出信号を演算してフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号とを少なくとも出力するＰＤ信号演算器と、
前記フォーカスエラー信号に基づいて前記対物レンズを前記光ディスクの信号面に対してフォーカス方向に制御するフォーカス制御手段と、
前記トラッキングエラー信号に基づいて前記対物レンズを前記光ディスクの信号面に対してトラッキング方向に制御するトラッキング制御手段と、
を少なくとも備えた光ディスク装置において、
前記光ディスクのテスト領域上に前記記録時のレーザー光と前記再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、前記フォーカスエラー信号及び前記トラッキングエラー信号の少なくとも一方に一定周波数の外乱を印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、前記再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する前記記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段と、
前記記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段の演算結果に基づいて、前記記録レーザーパワーを用いた時の前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記ＰＤ信号演算器からのアナログの前記フォーカスエラー信号の振幅及びアナログの前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を所定のゲイン調整ステップ幅で段階的に調整するアナログゲイン補正用手段と、前記アナログゲイン補正用手段より後段に設けたＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換したデジタルの前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を調整する内部ゲイン調整手段とを備え、
前記記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段の演算結果に基づいて、前記記録レーザーパワーを用いた時の前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定する際に、前記アナログゲイン補正用手段により前記振幅の値を前記所定のゲイン調整ステップ幅で調整可能な範囲に設定する一方、前記所定のゲイン調整ステップ幅で調整しきれない残留分を前記内部ゲイン調整手段で設定することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップの対物レンズから出射された光スポットを光ディスクの信号面に照射して、この光スポットを信号面中の記録トラックに対してフォーカス方向とトラッキング方向とに制御する際に、とくに、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号の振幅及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定できるように構成した光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、光ディスク装置を用いて記録再生される光ディスクは、映像情報とか音声情報やコンピュータデータなどの情報信号（メインデータ）を円盤状のディスク基板上で螺旋状（又は同心円状）に形成した記録トラックに高密度に記録し、且つ、記録済みの記録トラックを再生する際に所望の記録トラックを高速にアクセスできることから多用されている。
【０００３】
上記した光ディスク装置では、光ピックアップ内に設けた半導体レーザーから出射させたレーザー光をレンズホルダに取り付けた対物レンズで絞り、この対物レンズで絞って得た光スポットを光ディスクの信号面に照射する際に、対物レンズのフォーカス位置を光ディスクの信号面上に正確に一致させるフォーカス制御と、対物レンズから出射された光スポットを記録トラックに追従させるトラッキング制御とを用いることが必須である。
【０００４】
この際、光ディスク装置内でのフォーカス制御及びトラッキング制御は、光ディスクの信号面で反射された戻り光を光ピックアップ内に設けた複数の受光領域を有する多分割型フォトディテクタで受光して、この多分割型フォトディテクタで光電変換された検出信号を演算してフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を少なくとも生成し、これらのフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいてレンズホルダに一体的に取り付けたフォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータを駆動させることにより対物レンズをフォーカス方向及びトラッキング方向に制御している。
【０００５】
ところで、一般的に、対物レンズをフォーカス方向及びトラッキング方向に制御するためのフォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータには、それぞれ個体差がある。つまり、フォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータへの各入力電流が一定であっても、個体差によりフォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータの各出力（加速度）が異なる場合がある。また、経年変化によってもフォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータの入出力間の各ゲインが異なってくる場合があり、このようなときには一巡伝達関数のゲインにもバラツキが生じる。
【０００６】
更に、光ディスク装置内に装着した光ディスクの信号面のばらつきもある。
【０００７】
そこで、品質を均一化するためにも、フォーカスアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータに対してフォーカスループゲイン及びトラッキングループゲインを調整をすることが必要となっている。
【０００８】
ここで、光ディスク装置のフォーカスループゲイン調整をする一般的な方法が下記の特許文献１に記載されている。
【特許文献１】特開平５−２５０７０２号公報（第２頁、図６）
【０００９】
図６は従来例において、光ディスク装置のフォーカスループゲイン調整をする方法を説明するためのフローチャート、
図７は従来例において、フォーカス制御系の時間応答を示した図である。
【００１０】
図６に示した従来例において、光ディスク装置のフォーカスループゲイン調整をする方法は、上記した特許文献１（特開平５−２５０７０２号公報）中で従来の技術に開示されているものであり、ここでは特許文献１を参照して簡略に説明する。
【００１１】
図６に示した従来例において、光ディスク装置のフォーカスループゲイン調整をする場合に、まず、ステップＳ１０１では、光ディスクの信号面上で、フォーカス制御とトラッキング制御とをそれぞれオン（ＯＮ）にする。
【００１２】
次に、ステップＳ１０２では、フォーカス制御系に発振器等から発振された一定周波数の正弦波外乱ｄを印加する。この時、フォーカス制御系では、図７（ａ）に示したフォーカスエラー信号ＦＥと、図７（ｂ）に示した一定周波数の正弦波外乱信号ｄと、図７（ｃ）に示したフォーカス制御系に与えられる合成信号（ＦＥ＋ｄ）とが得られる。
【００１３】
次に、ステップＳ１０３では、フォーカスエラー信号ＦＥの振幅と合成信号（ＦＥ＋ｄ）の振幅とを観測して記録する。
【００１４】
次に、ステップＳ１０４では、一定周波数における補償器のループゲインＧ｛＝ＦＥの振幅／（ＦＥ＋ｄ）の振幅｝を計算する。
【００１５】
次に、ステップＳ１０５では、ステップＳ１０４で計算したループゲインＧが理想のゲインＧ０を含む所定値内に入っているか否かを比較し、ＧがＧ０を含む所定値内に入っていない場合（ＮＯの場合）には、ステップＳ１０６で、不図示の補償器のループゲインＫＤをＫＤ＝（Ｇ０／Ｇ）×ＫＤ（ＮＯＷ）の計算式により計算してステップＳ１０２に戻る。この際、ＫＤ（ＮＯＷ）は現在の補償器のループゲインを示し、ＫＤは更新後の補償器のループゲインを示している。
【００１６】
一方、ステップＳ１０５でＧがＧ０を含む所定値内に入っている場合（ＹＥＳの場合）には、上記した外乱印加、一巡伝達関数の調整を終了することで、フォーカスループゲインの調整が終了する。
【００１７】
この際、上記したフォーカスループゲイン調整をする一般的な方法を応用すればトラッキングループゲインの調整も可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
ところで、光ディスクには、再生専用のＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）とか、一回だけ記録可能なＣＤ−Ｒ（Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）やＤＶＤ−Ｒ（Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）とか、複数回記録再生可能なＤＶＤ−ＲＷ（Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）やＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）とか近開発されたＢｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃとがあり、とくに、データの記録領域／非記録領域が混在する記録再生可能な光ディスクでは光スポットの反射率が記録領域／非記録領域とで異なり、言い換えると、光スポットの反射率が記録時と再生時で異なっており、更に、記録済み領域か、未記録領域かによっても異なっており、
フォーカスループゲイン及びトラッキングループゲインがその影響を受けることになるが、上記したフォーカスループゲイン調整をする一般的な方法では、光スポットの反射率が異なる記録時と再生時とにそれぞれ対応できるように対策が施されていない。
【００１９】
具体的に説明すると、光ディスク装置内に光ディスクを装着した時に、光ディスクのばらつきを吸収するために初期調整を行うが、この初期調整時にフォーカスループゲイン及びトラッキングループゲインの調整も行う。
【００２０】
この際、フォーカスエラー信号の振幅測定は、合焦点を通過するように対物レンズを上下させる方法が一般的である。一方、トラッキングエラー信号の振幅測定は、フォーカス制御のみかけて、トラッキング制御を外した状態で行うのが一般的である。
【００２１】
この際、再生レーザーパワーでのサーボ信号に対する振幅測定は可能だが、記録レーザーパワーでの振幅測定はできない（記録レーザーパワーでトラッキング制御、フォーカス制御を外すと光ディスクを破損する可能性が高い）ため、記録レーザーパワーでのフォーカスエラー信号の振幅やトラッキングエラー信号の振幅は従来推定するしかなかった。
【００２２】
また、記録時のレーザーパワーは再生時のレーザーパワーの数倍の光量があり、更に、多分割型フォトディテクタからの受光回路を切り替える必要がある等、再生時と比較して様々な振幅変動要因がある。このため再生から推定した記録時のフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は十分な振幅精度が得られていなかった。
【００２３】
更に、フォーカスループゲイン及びトラッキングループゲインを常に最適にするために
ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路の適用も考えられるものの、ＡＧＣ回路を追加することは回路構成が複雑になり、光ディスク装置に対してコストアップの要因となってしまう。
【００２４】
そこで、ＡＧＣなど回路を付加することなく既存の光ディスク装置を利用して、記録時のフォーカスサーボのループゲイン及びトラッキングサーボのループゲインの少なくとも一方を簡単に調整できる光ディスク装置が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【００２５】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、請求項１記載の発明は、記録レーザーパワーと再生レーザーパワーとが選択的に印加されて、記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に出射するレーザー光源と、
前記レーザー光源からの前記レーザー光を記録再生可能な光ディスクの信号面に照射する対物レンズと、
前記光ディスクの信号面からの戻り光を複数の受光領域で受光して光電変換した検出信号を出力する多分割型フォトディテクタと、
前記多分割型フォトディテクタからの検出信号を演算してフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号とを少なくとも出力するＰＤ信号演算器と、
前記フォーカスエラー信号に基づいて前記対物レンズを前記光ディスクの信号面に対してフォーカス方向に制御するフォーカス制御手段と、
前記トラッキングエラー信号に基づいて前記対物レンズを前記光ディスクの信号面に対してトラッキング方向に制御するトラッキング制御手段と、
を少なくとも備えた光ディスク装置において、
前記光ディスクのテスト領域上に前記記録時のレーザー光と前記再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、前記フォーカスエラー信号及び前記トラッキングエラー信号の少なくとも一方に一定周波数の外乱を印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、前記再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する前記記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段と、
前記記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段の演算結果に基づいて、前記記録レーザーパワーを用いた時の前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置である。
【００２６】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の光ディスク装置において、
前記ＰＤ信号演算器からのアナログの前記フォーカスエラー信号の振幅及びアナログの前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を所定のゲイン調整ステップ幅で段階的に調整するアナログゲイン補正用手段と、前記アナログゲイン補正用手段より後段に設けたＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換したデジタルの前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を調整する内部ゲイン調整手段とを備え、
前記記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段の演算結果に基づいて、前記記録レーザーパワーを用いた時の前記フォーカスエラー信号の振幅及び前記トラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定する際に、前記アナログゲイン補正用手段により前記振幅の値を前記所定のゲイン調整ステップ幅で調整可能な範囲に設定する一方、前記所定のゲイン調整ステップ幅で調整しきれない残留分を前記内部ゲイン調整手段で設定することを特徴とする光ディスク装置である。
【発明の効果】
【００２７】
本発明に係る光ディスク装置によると、とくに、記録可能な光ディスクのテスト領域上に記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の少なくとも一方に一定周波数の外乱を印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段と、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段の演算結果に基づいて、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号の振幅及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段とを備えたため、通常の記録時に情報信号を光ディスクの信号面上に良好に記録することができると共に、再生も良好に行うことができる。
【００２８】
また、上記した記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段及びサーボ制御手段による各動作をソフト的に処理できるので、ＡＧＣ回路を設ける必要がなく、光ディスク装置の構成が簡単となり、この光ディスク装置を安価に提供することができる。
【００２９】
また、記録時及び再生時共に、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の少なくとも一方に対して一巡伝達関数を最適化できる。
【００３０】
更に、光ディスク上の未記録領域、重ね書き領域にかかわらず、アナログのフォーカスエラー信の振幅号及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を一定に設定できるので、この一定な振幅を他の機能回路に適用でき、例えば、アナログのトラッキングエラー信号の振幅を一定に設定した場合に、トラッキング制御外れなどを判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下に本発明に係る光ディスク装置の一実施例を図１〜図５を参照して詳細に説明する。
【実施例】
【００３２】
図１は本発明に係る光ディスク装置の全体構成を示した構成図、
図２は図１に示した多分割型フォトディテクタを拡大して示した図、
図３は図１に示した多分割型フォトディテクタからの検出信号をＰＤ信号演算器内で演算する際に、（ａ）はフォーカスエラー信号を、（ｂ）はトラッキングエラー信号を、（ｃ）はメインデータ再生信号をそれぞれ演算するための回路図である。
【００３３】
図１に示した如く、本発明に係る光ディスク装置１０では、記録再生可能な光ディスク１が図示しないスピンドルモータの軸に固着されたターンテーブル上に回転自在に装着されている。この際、記録再生可能な光ディスク１としては、前述したように複数回記録再生可能、言い換えると、重ね書き可能なＤＶＤ−ＲＷとかＤＶＤ−ＲＡＭや最近開発されたＢｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃと、一回だけ記録再生可能なＤＶＤ−Ｒなどが適用可能となっているが、光ディスク１の種類に応じて後述するように光ピックアップ１１内でレーザー光源１３から出射されるレーザー光の波長を設定すれば良い。
【００３４】
また、光ディスク１の下方には、光ピックアップ１１が光ディスク１の径方向に移動自在に設けられている。
【００３５】
上記した光ピックアップ１１は、光ピックアップ筐体１２内に、消去レーザーパワーと記録レーザーパワーと再生レーザーパワーとが選択的に印加されて、消去時のレーザー光と記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に出射するレーザー光源（以下、半導体レーザー１３と記す）と、この半導体レーザー１３からの発散したレーザー光を平行光に変換するコリメータレンズ１４と、この平行光のレーザービームをメインビームと２つのサブビームとによる３ビームに分離する回折素子１５と、半透過反射膜１６ａを有して半導体レーザー１３からのレーザー光と光ディスク１からの戻り光とを分離するビームスプリッタ１６と、平行光のレーザー光を円偏光に変換するλ／４板１７と、レンズホルダ１８内に取り付けられてメインビームと２つのサブビームとによる３ビームを光ディスク１に集光する対物レンズ１９と、レンズホルダ１８の外周に取り付けられて対物レンズ１９をフォーカス方向及びトラッキング方向に揺動させるフォーカスコイル２０及びトラッキングコイル２１と、光ディスク１の信号面１ｂで反射されたメインビームと２つのサブビームとによる３ビームの戻り光を検出レンズ２２，シリンドリカルレンズ２３を介して検出する多分割型フォトディテクタ２４とで構成されている。
【００３６】
この光ピックアップ１１では、光ディスク１としてＤＶＤ規格に基づくＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒの場合には波長が６５０ｎｍ程度の半導体レーザー１３を用い、最近開発されたＢｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃの場合には波長が４００ｎｍ程度の半導体レーザー１３を用いている。また、一回だけ記録可能な光ディスク１を用いた場合には、半導体レーザー１３に消去レーザーパワーを印加する必要はない。
【００３７】
また、光ピックアップ１１内の半導体レーザー１３にはレーザー駆動回路２５が接続されており、このレーザー駆動回路２５を駆動して、重ね書き可能な光ディスク１としてＢｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃを適用した場合には、消去レーザーパワーを例えば０．３５ｍＷ、
記録レーザーパワーを例えば４．５ｍＷ、再生レーザーパワーを例えば１．９ｍＷに設定した上で、各モードに応じたレーザーパワーを半導体レーザー１３に選択的に印加することにより、半導体レーザー１３から消去時のレーザー光と記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とが選択的に出射されている。
【００３８】
尚、消去時，記録時，再生時の各レーザーパワーの値は、光ディスク１の種類と光ディスク１の回転数などにより適宜設定されるものである。
【００３９】
そして、レーザー駆動回路２５を駆動して半導体レーザー１３からレーザー光を出射させると、このレーザー光はコリメータレンズ１４，回折素子１５，ビームスプリッタ１６，λ／４板１７を経由して対物レンズ１９に入射され、この対物レンズ１９で絞り込んだメインビームと２つのサブビームとによる３ビームが光ディスク１の入射面１ａから入射して信号面１ｂに到達し、メインビームは信号面１ｂ中の一つの記録トラックに照射されると共に、２つのサブビームは一つの記録トラックを中心とした両側に照射されている。
【００４０】
この後、信号面１ｂに膜付けした金属反射層（図示せず）で反射されたメインビームの戻り光と２つのサブビームの戻り光とが、対物レンズ１９，λ／４板１７を通過してビームスプリッタ１６の半透過反射膜１６ａで反射されて検出レンズ２２，シリンドリカルレンズ２３を介して多分割型フォトディテクタ２４上にそれぞれスポット状に集光される。
【００４１】
ここで、多分割型フォトディテクタ２４は、図２に拡大して示したように、メインビームの戻り光を検出する４分割型フォトディテクタ２４Ｍと、２つのサブビームを検出する２つの２分割型フォトディテクタ２４Ｓ１，２４Ｓ２とが一つの半導体基板（図示せず）上にそれぞれ所定の位置に配置して構成されており、この図２はわかり易く説明するためにメインビームを一つの記録トラックに照射し、且つ、２つのサブビームを一つの記録トラックの両側に照射した状態と対応させて図示している。
【００４２】
そして、４分割型フォトディテクタ２４Ｍは、正方形状の受光領域を互いに直交する光ディスク１のトラック方向と、光ディスク１の半径方向とに対してＡ〜Ｄ受光領域に４分割されており、即ち、トラック中心に対して左側の上下にＡ，Ｄ受光領域が配置され、且つ、右側の上下にＢ，Ｃ受光領域が配置されて、これらのＡ〜Ｄ受光領域内に光ディスク１の信号面１ｂからのメインビームの戻り光が受光されている。
【００４３】
一方、２つの２分割型フォトディテクタ２４Ｓ１，２４Ｓ２は、４分割型フォトディテクタ２４Ｍを中心とした対角線上の左右に配置されており、光ディスク１の半径方向に対して受光領域Ｅ，Ｆと受光領域Ｇ，Ｈとにそれぞれ２分割されて、受光領域Ｅ，Ｆと受光領域Ｇ，Ｈとに光ディスク１の信号面１ｂからの２つのサブビームの戻り光がそれぞれ受光されている。
【００４４】
図１に戻り、光ピックアップ１１内の多分割型フォトディテクタ２４より後段には、大別するとアナログ信号補正部３０と、デジタルサーボプロセッサ４０とが設けられており、多分割型フォトディテクタ２４で受光した光を光電変換した検出信号２４ａがアナログ信号補正部３０内のＰＤ信号演算器３１に出力されている。
【００４５】
まず、アナログ信号補正部３０について説明すると、このアナログ信号補正部３０は、ＰＤ（Ｐｈｏｔｏ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）信号演算器３１と、アナログゲイン補正用手段となるゲイン補正用ＦＥＰ（Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３２と、フォーカスエラーＡ／Ｄ変換器３３と、トラッキングエラーＡ／Ｄ変換器３４と、ＢＰＦ（Ｂａｎｄ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）３５と、ヒステリシスコンパレータ３６とで構成されている。
【００４６】
ここで、上記したＰＤ信号演算器３１では、多分割型フォトディテクタ２４からの検出信号２４ａを用いてフォーカスエラー信号ＦＥと、トラッキングエラー信号ＴＥと、メインデータ再生信号ＲＦとをそれぞれ演算している。
【００４７】
より具体的に説明すると、フォーカスエラー信号ＦＥは、図３（ａ）に示した如く、４分割型フォトディテクタ２４Ｍ(図２)内に形成した４箇所のＡ〜Ｄ受光領域に対して２つの加算器３１ａ，３１ｂと１つの減算器３１ｃとを用いて、周知の非点収差法により下記の式１に基づいて演算している。
【００４８】
［数１］
ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）    ………式１
【００４９】
そして、ＰＤ信号演算器３１内で得られたフォーカスエラー信号ＦＥをゲイン補正用ＦＥＰ３２に入力している。
【００５０】
また、トラッキングエラー信号ＴＥは、図３（ｂ）に示した如く、４分割型フォトディテクタ２４Ｍ（図２）内に形成した４箇所のＡ〜Ｄ受光領域と、２つの２分割型フォトディテクタ２４Ｓ１，２４Ｓ２（図２）内にそれぞれ形成したＥ，Ｆ受光領域とＧ，Ｈ受光領域４とに対して４つの加算器３１ｄ〜３１ｇと３つの減算器３１ｈ〜３１ｊとを用いて、周知のＤＰＰ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｕｓｈ  Ｐｕｌｌ）法により下記の式２に基づいて演算している。
【００５１】
［数２］
ＴＥ＝｛（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）｝−｛（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）｝    ………式２
【００５２】
そして、ＰＤ信号演算器３１内で得られたトラッキングエラー信号ＴＥをゲイン補正用ＦＥＰ３２に入力している。
【００５３】
また、メインデータ再生信号ＲＦは、光ディスクの信号面１ｂに記録された映像情報とか音声情報などであり、図３（ｃ）に示した如く、４分割型フォトディテクタ２４Ｍ（図２）内に形成した４箇所のＡ〜Ｄ受光領域に対して３つの加算器３１ｋ〜３１ｍを用いて、下記の式３に基づいて演算している。
【００５４】
［数３］
ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）＋（Ｃ＋Ｄ）    ………式３
【００５５】
そして、ＰＤ信号演算器３１内で得られたメインデータ再生信号ＲＦをＲＦ信号処理回路５０に入力して、このＲＦ信号処理回路５０により所定のフォーマットに基づいてメインデータを得ている。
【００５６】
また、上記したゲイン補正用ＦＥＰ３２では、ここに入力したフォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥの少なくとも一方に対して後述するデジタルサーボプロセッサ４０内にサーボ制御手段として設けたサーボコントローラ４６からの指令によりアナログ的に一定の振幅値が得られるように所定のゲイン調整ステップ幅Ｍ（ｄＢ）を持って段階的に調整している。
【００５７】
この実施例では、フォーカスエラー信号ＦＥの振幅及びトラッキングエラー信号ＴＥの振幅の両方を調整しているが、フォーカスエラー信号ＦＥの振幅及びトラッキングエラー信号ＴＥの振幅の少なくとも一方だけの調整でも良く、ここでの振幅値の調整については後で詳述する。
【００５８】
尚、ゲイン補正用ＦＥＰ３２では不図示のオフセット調整手段によりフォーカスエラー信号ＦＥのオフセット及びトラッキングエラー信号ＴＥのオフセットが調整されているものとする。
【００５９】
この後、ゲイン補正用ＦＥＰ３２で一定の振幅値に制御されたアナログのフォーカスエラー信号ＦＥは、フォーカスＡ／Ｄ変換器３３に入力されて、アナログからデジタルに変換され、後述するデジタルサーボプロセッサ４０内のフォーカス内部ゲインアンプ４１に入力されている。
【００６０】
また、ゲイン補正用ＦＥＰ３２で一定の振幅値に制御されたアナログのトラッキングエラー信号ＴＥは、トラッキングＡ／Ｄ変換器３４に入力されて、アナログからデジタルに変換され、後述するデジタルサーボプロセッサ４０内のトラッキング内部ゲインアンプ４３に入力されている。
【００６１】
更に、ゲイン補正用ＦＥＰ３２で一定の振幅値に制御されたアナログのトラッキングエラー信号ＴＥは、ＢＰＦ３５にも入力され、このＢＰＦ３５で光ディスク１の偏芯により発生するディスク周期に一致したオフセット変動やノイズを除去した後、耐ノイズ性を高めたヒステリシスコンパレータ３６に入力されている。そして、ヒステリシスコンパレータ３６では、所定のスレッショルド（閾値）に一定の幅を持たせることで、この一定の幅を有する閾値を超えた信号が、トラックを検出した信号（トラック数）とみなされて、後述するデジタルサーボプロセッサ４０内のトラッキング制御外れ判定器４５に入力されている。
【００６２】
次に、デジタルサーボプロセッサ４０について説明すると、このデジタルサーボプロセッサ４０は、フォーカス内部ゲインアンプ４１と、フォーカス制御回路４２と、トラッキング内部ゲインアンプ４３と、トラッキング制御回路４４と、トラッキング制御外れ判定器４５と、サーボ制御手段（以下、サーボコントローラと記す）４６とで構成されている。
【００６３】
ここで、上記したフォーカス内部ゲインアンプ４１は、フォーカスエラーＡ／Ｄ変換器３３でＡ／Ｄ変換された後のデジタルのフォーカスエラー信号に対してサーボコントローラ４６からの指令によりデジタル的に一定の振幅値が得られるように調整しており、ここでの振幅値の調整については後で詳述するものの、この後、フオーカス制御回路４２に入力されている。
【００６４】
そして、フオーカス制御回路４２では、フォーカスループゲンインの調整時にデジタルのフォーカスエラー信号に対して後述するようソフト的にフォーカスループゲンインの測定を行って、この結果をサーボコントローラ４６に知らせると共に、フオーカス制御信号を生成して、このフオーカス制御信号を後述するフォーカスアクチュエータＤ／Ａ変換器５１に出力している。尚、光ディスク１に対して通常の記録再生動作を行う時には、フォーカスループゲンインの測定を行うことなく、フオーカス制御信号をフォーカスアクチュエータＤ／Ａ変換器５１に出力している。
【００６５】
また、上記したトラッキング内部ゲインアンプ４３は、トラッキングエラーＡ／Ｄ変換器３４でＡ／Ｄ変換された後のデジタルのトラッキングエラー信号に対してサーボコントローラ４６からの指令によりデジタル的に一定の振幅値が得られるように調整しており、ここでの振幅値の調整については後で詳述するものの、この後、トラッキング制御回路４４に入力されている。
【００６６】
そして、トラッキング制御回路４４では、トラッキングループゲンインの調整時にデジタルのトラッキングエラー信号に対して後述するようソフト的にトラッキングループゲンインの測定を行って、この結果をサーボコントローラ４６に知らせると共に、トラッキング制御信号を生成して、このトラッキング制御信号を後述するトラッキングアクチュエータＤ／Ａ変換器５３に出力している。尚、光ディスク１に対して通常の記録再生動作を行う時には、トラッキングループゲンインの測定を行うことなく、トラッキング制御信号をトラッキングアクチュエータＤ／Ａ変換器５３に出力している。
【００６７】
また、サーボコントローラ４６は、フォーカスループゲンインの測定結果及びトラッキングループゲンインの測定結果に基づいて前述したゲイン補正用ＦＥＰ３２及びフォーカス内部ゲインアンプ４１並びトラッキング内部ゲインアンプ４３を制御している。
【００６８】
また、上記したトラッキング制御外れ判定器４５では、前述したヒステリシスコンパレータ３６の出力からエッジの数をカウントし、図示されない基準区間内のカウント数が一定以上になったら、トラッキング制御外れを検出して、検出結果をサーボコントローラ４６に知らせている。このように、ゲイン補正用ＦＥＰ３２で一定の振幅値に調整されたアナログのトラッキングエラー信号ＴＥを利用することで、トラッキング制御外れの検出が可能となる。
【００６９】
次に、フォーカスアクチュエータＤ／Ａ変換器５１では、フオーカス制御回路４２から出力されたデジタルのフォーカス制御信号をアナログに変換して、フォーカスアクチュエータドライブ回路５２を介して光ピックアップ１１内のフォーカスコイル２０に印加することで、このフォーカスコイル２０と不図示のマグネットとによる磁気力でレンズホルダ１８と一体に対物レンズ１９を光ディスク１の信号面１ｂに対してフォーカス方向に制御している。
【００７０】
また、トラッキングアクチュエータＤ／Ａ変換器５３では、トラッキング制御回路４４から出力されたデジタルのトラッキング制御信号をアナログに変換して、トラッキングアクチュエータドライブ回路５４を介して光ピックアップ１１内のトラッキングコイル２１に印加することで、このトラッキングコイル２１と不図示のマグネットとによる磁気力でレンズホルダ１８と一体に対物レンズ１９を光ディスク１の信号面１ｂに対してトラッキング方向に制御している。
【００７１】
ここで、光ディスク１を不図示のターンテーブル上に装着した状態で光ディスク１を記録再生する前の調整時に、本発明の要部となるデジタルサーボプロセッサ４０内に設けたフオーカス制御回路４２とトラッキング制御回路４４とサーボコントローラ４６とにより、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボのループゲイン及びトラッキングサーボのループゲインの少なくとも一方をソフト的に処理して測定し、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラーの振幅及びトラッキングエラーの振幅の少なくとも一方が再生時と同じ状態になるように制御する技術的思想について図４及び図５を用いて説明する。
【００７２】
図４はフォーカス制御回路（又はトラッキング制御回路）内で記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボ（又はトラッキングサーボ）のループゲインをソフト的に処理して測定する状態を仮に回路図に置換して摸式的に示した図、
図５は記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボ（又はトラッキングサーボ）のループゲインを再生時と同じ状態に設定する動作を示したフロー図である。
【００７３】
図４は、フォーカス制御回路４１（又はトラッキング制御回路４３）内でソフト処理をわかり易く説明するために、このソフト処理を仮に回路図に置換して等価的に示したものであり、加算器６１と、ループゲイン演算器６２と、メモリ６３と、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算器６４と、位相補償回路６５とで図示の如く結線されている。
【００７４】
そして、フォーカス内部ゲインアンプ４１からのデジタルのフォーカスエラー信号ＦＥ（又はトラッキング内部ゲインアンプ４３からのデジタルのトラッキングエラー信号ＴＥ）が、加算器６１とループゲイン演算器６２と位相補償回路６５とに入力されている。
【００７５】
また、加算器６１には不図示の発振器等から発振された一定周波数の正弦波外乱ｄも入力され、この加算器６１内でフォーカスエラー信号ＦＥ（又はトラッキングエラー信号ＴＥ）と正弦波外乱ｄとが加算されて、合成信号ＦＥ＋ｄ（又はＴＥ＋ｄ）がループゲイン演算器６２に入力される。この際、上記した一定周波数の正弦波外乱ｄは、光ディスク１の種類によって異なる周波数を用い、また、フォーカスエラー信号ＦＥとトラッキングエラー信号ＴＥとでも異なる周波数を用いており、一例として、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃの場合にはフォーカスエラー信号ＦＥに対して例えば３．２ＫＨｚの外乱、トラッキングエラー信号ＴＥに対して例えば３．６ＫＨｚの外乱を加算している。
【００７６】
また、ループゲイン演算器６２では、合成信号ＦＥ＋ｄ（又はＴＥ＋ｄ）の振幅に対するフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキング信号ＴＥの振幅）の比Ｇ｛＝ＦＥ／（ＦＥ＋ｄ）又はＴＥ／（ＴＥ＋ｄ）｝を演算して、一定周波数における補償器のループゲインＧをメモリ６３内に記憶させている。より具体的には、後述するように、再生レーパワーを用いた時のループゲインＧｐと、記録レーザーパワーを用いた時の未記録領域へのループゲインＧｒ１と、記録レーザーパワーを用いた時の重ね書き領域へのループゲインＧｒ２とをそれぞれ演算して、各演算結果Ｇｐ，Ｇｒ１，Ｇｒ２をメモリ６３内に記憶させている。
【００７７】
また、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算器６４では、メモリ６３に記憶させた各演算結果Ｇｐ，Ｇｒ１，Ｇｒ２を用いて、後述するように記録ループゲイン／再生ループゲインの比Ｋ｛＝（Ｇｒ１＋Ｇｒ２）／２Ｇｐ｝を演算することで、記録ループゲインを再生ループゲインと略同じ状態に設定して、この演算結果となる記録ループゲイン／再生ループゲインの比Ｋをサーボコントローラ４６に知らせている。
【００７８】
また、位相補償回路６５では、ここに入力されたフォーカスエラー信号ＦＥ（又はトラッキングエラー信号ＴＥ）に対して位相補償を行ってフォーカス制御信号（又はトラッキング制御信号）を生成し、このフォーカス制御信号（又はトラッキング制御信号）を先に説明したフォーカスアクチュエータＤ／Ａ変換器５１（又はトラッキングアクチュエータＤ／Ａ変換器５３）に入力している。
【００７９】
ここで、図１及び図４並びに図５を併用して、フォーカス制御回路４１及びトラッキング制御回路４３内でのソフト処理について順を追って説明する。
【００８０】
まず、図５に示した如く、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号ＦＥ（又はトラッキングッキングエラー信号ＴＥ）のゲイン調整において、ステップＳ１では、不図示のターンテーブル上に装着した重ね書き可能な光ディスク１を回転させながらフォーカス制御をＯＮ状態にすると共に、トラッキング制御をＯＮ状態にする。
【００８１】
次に、ステップＳ２では、光ピックアップ１１を重ね書き可能な光ディスク１上で内周側に書き込み用のテスト領域として設けたＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域に移動させる。
【００８２】
次に、ステップＳ３では、光ピックアップ１１内のレーザー駆動回路２５を消去モードに切り換えて、消去レーザーパワーにより上記したＯＰＣ領域全体をイレーズする。
【００８３】
次に、ステップＳ４では、光ピックアップ１１をＯＰＣ領域の先頭に移動させ、且つ、光ピックアップ１１内のレーザー駆動回路２５を再生モードに切り換えて、再生レーザーパワーによりイレーズ済みのＯＰＣ領域を再生し、再生レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｐを測定する。
【００８４】
次に、ステップＳ５では、光ピックアップ１１を再びイレーズ済みのＯＰＣ領域の先頭に移動させ、且つ、光ピックアップ１１内のレーザー駆動回路２５を記録モードに切り換えて、記録レーザーパワーによりイレーズ済みのＯＰＣ領域（未記録領域）を記録し、記録レーザーパワーを用いた時の未記録領域へのフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｒ１を測定する。
【００８５】
次に、ステップＳ６では、光ピックアップ１１を記録済みのＯＰＣ領域の先頭に移動させ、且つ、光ピックアップ１１内のレーザー駆動回路２５を記録モードのままにして、記録レーザーパワーにより記録済みのＯＰＣ領域（重ね書き領域）を記録し、記録レーザーパワーを用いた時の重ね書き領域へのフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｒ２を測定する。
【００８６】
ここで、重ね書き可能な光ディスク１に対して記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｒを測定する場合に、ステップＳ５及びステップＳ６にて未記録領域へのループゲインＧｒ１と重ね書き領域へのループゲインＧｒ２とに分けて２回測定した理由は、記録時のループゲインＧｒは記録されるのだから下地の影響が無いのではないかと考えるかもしれないが、実際には下地が未記録領域の場合のループゲインＧｒ１と比較して、下地が記録済みの重ね書き領域のループゲインＧｒ２の方が高めの値になる。
【００８７】
そこで、光ディスク１に情報信号を実際に記録する場合には、下地が未記録領域であるか、それとも記録済みの重ね書き領域であるかの判定はできないために、後述するように未記録領域へのループゲインＧｒ１と重ね書き領域へのループゲインＧｒ２との平均値を取って、これを記録時のループゲインＧｒとしている。
【００８８】
尚、１回だけ記録可能な光ディスク１の場合には、記録レーザーパワーによりフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｒを１回だけ測定すれば良いものである。
【００８９】
次に、ステップＳ７では、再生レーザーパワーによるフォーカスサーボのループゲイン（又はトラッキングサーボのループゲイン）Ｇｐに対して、未記録領域の場合のループゲインＧｒ１と重ね書き領域のループゲインＧｒ２との平均値（Ｇｒ１＋Ｇｒ２）／２の比Ｋを演算して、記録ループゲイン／再生ループゲインの比Ｋ｛＝（Ｇｒ１＋Ｇｒ２）／２Ｇｐ｝を得て、この記録ループゲイン／再生ループゲインの比Ｋをサーボプロセッサ４６に知らせている。
【００９０】
次に、ステップＳ８では、サーボプロセッサ４６により、ステップＳ７で演算した記録ループゲイン／再生ループゲインの比Ｋの演算結果に基づいて、ゲイン補正用ＦＥＰのゲインとフォーカス内部ゲインアンプ４１（又はトラッキング内部ゲインアンプ４３のゲイン）とに振り分けて、後述するように記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅）を再生時と略同じ状態に設定している。
【００９１】
ここで、ステップＳ８で記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅）を再生時と略同じ状態に設定する場合に、アナログ信号補正部３０内のゲイン補正用ＦＥＰ３２では所定のゲイン調整ステップ幅Ｍ（ｄＢ）として２ｄＢ幅で段階的に調整できるようになっているので、アナログのフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅）を所定のゲイン調整ステップ幅Ｍ（ｄＢ）の調整可能な範囲内で最も近い値を選んで調整し、且つ、この所定のゲイン調整ステップ幅Ｍ（ｄＢ）で調整しきれない残留分としてデジタルのフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅）をデジタルサーボプロセッサ４０内のフオーカス内部ゲインアンプ４１（又はトラッキング内部ゲインアンプ４３）で調整している。
【００９２】
即ち、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号ＦＥの振幅（又はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅）を再生時と略同じ状態に設定する場合に、アナログ値をメインとして調整し、且つ、デジタル値をサブとして分けて調整することで、例えば、アナログレベルが一定となったトラッキングエラー信号ＴＥを利用して前述したようなトラッキング制御外れを判定することが可能になっている。
【００９３】
上記した動作を説明する際に、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボのループゲインの測定と、トラッキングサーボのループゲインの測定は全く同じであるので、以下ではトラッキングサーボのループゲインについて説明する。
【００９４】
ここで、
Ｑ０（ｍＶ）：再生ＴＥ振幅調整目標値、
Ｑ（ｍＶ）：再生ＴＥ振幅調整後のＴＥ振幅値、
△ＴＧＲ（ｄＢ）＝２０×ＬＯＧ１０（Ｑ／Ｑ０）：目標値のＴＥ振幅に対する調整後                    のＴＥ振幅の比、
Ｍ（ｄＢ）：ゲイン補正用ＦＥＰ３２のＴＥゲイン調整ステップ幅、
Ｇｐ：再生レーザーパワーを用いた時のトラッキングサーボのループゲイン、
Ｇｒ１：記録レーザーパワーを用いた時の未記録領域へのトラッキングサーボのループ
ゲイン、
Ｇｒ２：記録レーザーパワーを用いた時の重ね書き領域へのトラッキングサーボのルー
プゲイン、
△ＬｐＴＧ（ｄＢ）＝２０×ＬＯＧ１０｛（Ｇｒ１＋Ｇｒ２）／２Ｇｐ｝：再生ループ                      ゲインに対する記録ループゲインの比、とすると、
記録レーザーパワーによるトラッキングサーボ時における記録ＴＥゲイン目標（ｄＢ）は、下記の式４になる。
【００９５】
［数４］
記録TEゲイン目標(dB)＝再生TEゲイン(dB)―ΔTGR(dB) ＋ΔLpTG(dB)    ………式４
【００９６】
この際、ゲイン補正用ＦＥＰ３２のＴＥゲイン調整ステップ幅はＭ（ｄＢ）であるので、記録ＴＥゲイン目標に最も近いゲインが選ばれる。つまり、記録ＴＥゲインはＭ×ｎ（ｎ＝０，１，２，……）の中で最も近い値に設定される。これにより、ゲイン補正用ＦＥＰ３２内では、Ｑ０＋Ｍ／２＞ＦＥＰ３２から出力したＴＥ振幅値＞Ｑ０−Ｍ／２
となる。
【００９７】
また、ゲイン補正用ＦＥＰ３２で調整しきれなかった残留分の記録ＴＥ内部ゲインを下記の式５及び式６より求めている。
【００９８】
［数５］
△ＴＧＷ（ｄＢ）＝記録ＴＥゲイン目標−記録ＴＥゲイン    ………式５
［数６］
記録TE内部ゲイン（ｄＢ）＝再生時TE内部ゲイン＋ΔTGR＋ΔTGW    ………式６
【００９９】
上記した各式に対して具体的な数字をあてはめてわかり易く説明すると、
再生ＴＥ振幅調整目標値Ｑ０＝２２．７ｄＢ
実際に再生時に設定されたＴＥゲインＱ＝２２ｄＢ
ＦＥＰ３２内のＴＥゲイン調整ステップ幅Ｍ＝２ｄＢ
△ＴＧＲ＝２２−２２．７＝−０．７ｄＢ
再生レーザーパワーを用いた時のＴＥループゲイン＝０．５ｄＢ
記録レーザーパワーを用いた時の未記録領域へのＴＥループゲイン＝１．９ｄＢ
記録レーザーパワーを用いた時の重ね書き領域へのＴＥループゲイン＝２．７ｄＢ
△ＬｐＴＧ＝｛（２．７＋１．９）／２｝−０．５＝１．８ｄＢ
記録ＴＥゲイン目標＝２２―（−０．７）＋１．８＝２４．５ｄＢ
となる。
【０１００】
そして、記録ＴＥゲイン目標が２４．５ｄＢであるうちの２４ｄＢ分をゲイン補正用ＦＥＰ３２内で調整する一方、０．５ｄＢ分はゲイン補正用ＦＥＰ３２内で２ｄＢ幅のＴＥゲイン調整ステップ幅Ｍで調整しきれない値であるので、よって実際にゲイン補正用ＦＥＰ３２内でアナログ的に設定される記録ＴＥゲインは２４ｄＢとなる。
【０１０１】
この状態において、トラッキング内部ゲインアンプ４３内で調整される記録ＴＥ内部ゲインは以下のように計算される。
【０１０２】
再生ＴＥ内部ゲイン＝０．４ｄＢ
△ＴＧＷ＝２４．５−２４＝０．５ｄＢ
記録ＴＥ内部ゲイン＝０．４−０．７＋０．５＝０．２ｄＢ
となり、トラッキング内部ゲインアンプ４３内でデジタル的に設定される記録ＴＥ内部ゲインは０．２ｄＢとなる。
【０１０３】
上記の演算による最終結果を以下の表１に示す
【表１】
2007115360.tif 000003
【０１０４】
上記のように構成した本発明に係る光ディスク装置１０によると、とくに、記録可能な光ディスク１のテスト領域（ＯＰＣ領域）上に記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥの少なくとも一方に一定周波数の外乱ｄを印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４と、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４の演算結果に基づいて、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号の振幅及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段４６とを備えたため、通常の記録時に情報信号を光ディスク１の信号面１ｂ上に良好に記録することができると共に、再生も良好に行うことができる。
【０１０５】
また、上記した記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４及びサーボ制御手段４６による各動作をソフト的に処理できるので、ＡＧＣ回路を設ける必要がなく、光ディスク装置１０の構成が簡単となり、この光ディスク装置１０を安価に提供することができる。
【０１０６】
また、記録時及び再生時共に、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の少なくとも一方に対して一巡伝達関数を最適化できる。
【０１０７】
更に、光ディスク１上の未記録領域、重ね書き領域にかかわらず、アナログのフォーカスエラー信ＦＥの振幅号及びトラッキングエラー信号ＴＥの振幅の少なくとも一方を一定に設定できるので、この一定な振幅を他の機能回路に適用でき、例えば、アナログのトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を一定に設定した場合に、トラッキング制御外れなどを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の全体構成を示した構成図である。
【図２】図１に示した多分割型フォトディテクタを拡大して示した図である。
【図３】図１に示した多分割型フォトディテクタからの検出信号をＰＤ信号演算器内で演算する際に、（ａ）はフォーカスエラー信号を、（ｂ）はトラッキングエラー信号を、（ｃ）はメインデータ再生信号をそれぞれ演算するための回路図である。
【図４】フォーカス制御回路（又はトラッキング制御回路）内で記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボ（又はトラッキングサーボ）のループゲインをソフト的に処理して測定する状態を仮に回路図に置換して摸式的に示した図である。
【図５】記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスサーボ（又はトラッキングサーボ）のループゲインを再生時と同じ状態に設定する動作を示したフロー図である。
【図６】従来例において、光ディスク装置のフォーカスループゲイン調整をする方法を説明するためのフローチャートである。
【図７】従来例において、フォーカス制御系の時間応答を示した図である。
【符号の説明】
【０１０９】
１…光ディスク、１ａ…入射面、１ｂ…信号面、
１０…光ディスク装置、
１１…光ピックアップ、１２…光ピックアップ筐体、
１３…レーザー光源（半導体レーザー）、
１４…コリメータレンズ、１５…回折素子、１６…ビームスプリッタ、１７…λ／４板、
１８…レンズホルダ、１９…対物レンズ、
２０…フォーカスコイル、２１…トラッキングコイル、
２２…検出レンズ、２３…シリンドリカルレンズ、
２４…多分割型フォトディテクタ、
２４Ｍ…４分割型フォトディテクタ、２４Ｓ１，２４Ｓ２…２分割型フォトディテクタ、
２５…レーザー駆動回路、
３０…アナログ信号補正部、３１…ＰＤ信号演算器、
３２…アナログゲイン補正手段（ゲイン補正用ＦＥＰ）、
３３…フォーカスエラーＡ／Ｄ変換器、３４…トラッキングエラーＡ／Ｄ変換器、
３５…ＢＰＦ、３６…ヒステリシスコンパレータ、
４０…デジタルサーボプロセッサ、
４１…フォーカス内部ゲインアンプ、４２…フォーカス制御回路、
４３…トラッキング内部ゲインアンプ、４４…トラッキング制御回路、
４５…トラッキング制御外れ判定器、４６…サーボ制御手段（サーボコントローラ）、
５０…ＲＦ信号処理回路、
５１…フォーカスアクチュエータＤ／Ａ変換器、
５２…フォーカスアクチュエータドライブ回路、
５３…トラッキングアクチュエータＤ／Ａ変換器、
５４…トラッキングアクチュエータドライブ回路、
６１…加算器、６２…ループゲイン演算器、６３…メモリ、
６４…記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算器、６５…位相補償回路、
ｄ…正弦波外乱、ＦＥ…フォーカスエラー信号、ＴＥ…トラッキングエラー信号。
【図１】
2007115360.tif 000004
【図２】
2007115360.tif 000005
【図３】
2007115360.tif 000006
【図４】
2007115360.tif 000007
【図５】
2007115360.tif 000008
【図６】
2007115360.tif 000009
【図７】
2007115360.tif 000010