(57)【要約】  【課題】  光ディスクの記録された信号の品質は、光ディスクの感度や個体差、光源である半導体レーザーの温度変動などによる影響を受ける。そこで、テスト記録を行いこれらの影響をすべて考慮の上、記録条件を求める。しかし、テスト記録から記録までの時間が大きくなると、その間に温度が変化し最適な記録条件が変化する。また、従来の手法では、温度の測定に時間がかかり、リアルタイムで記録を行う場合には適応できない。  【解決手段】  本発明では試験的な記録を行う際の温度と、本記録を開始する際の温度とを測定し、両者から温度の変化量を求め、試験的な記録の結果を補正する。温度の変化量を測定する手段としては、光源である半導体レーザーの再生パワー出射状態における駆動電流を測定し、試験的な記録を行う際の温度と、本記録を開始する時点での温度との変化量をこの駆動電流の差から求める。  【選択図】    図１
2007115370.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力電流にてディスク再生及びディスク記録が可能なレーザー出力を得るレーザー部と、
温度情報を取得するための温度情報取得部と、
温度情報取得部の取得タイミングを制御する取得タイミング制御部と、
取得タイミング制御部によって制御されたタイミングで取得される複数の温度情報に基づいて記録制御情報を取得する記録制御情報取得部と、
記録制御情報取得部にて取得された記録制御情報に基づいてレーザー部に対して入力すべき記録に必要な電流値を計算する記録電流値計算部と、
を有するディスク装置。
【請求項２】
前記温度情報取得部は、レーザー部のテストレーザー出力によりディスク記録に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である記録適正電流値及び再生に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である再生適正電流値を、取得すべき複数の温度情報の中で最初の温度情報として取得する記録再生適正電流値取得手段を有する請求項１に記載のディスク装置。
【請求項３】
前記温度情報取得部は、レーザー部のテストレーザー出力によりディスク再生に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である再生適正電流値を、取得すべき複数の温度情報の中で最後に取得すべき温度情報として取得する再生適正電流値取得手段を有する請求項１または２に記載のディスク装置。
【請求項４】
前記取得タイミング制御部は、取得タイミングとして、記録開始命令の取得に先立ったタイミングと、記録開始命令の取得後記録直前のタイミングとを定める取得タイミング保持手段を有する請求項１から３のいずれか一に記載のディスク装置。
【請求項５】
前記温度情報取得部は、前記再生適正電流値取得手段に対して取得するテストレーザー出力をディスクの既に記録済みの領域に対して実行させるように命令をする記録済領域レーザー照射命令手段を有する請求項４に記載のディスク装置。
【請求項６】
記録済領域レーザー照射命令手段は、前記記録済みの領域として既にコンテンツが記録されている場合にはコンテンツ記録済み領域に対してテストレーザーの出力を命ずるコンテンツ領域命令器を有する請求項５に記載のディスク装置。
【請求項７】
異なるタイミングにて複数の温度情報を取得する温度情報取得ステップと、
温度情報取得ステップにて取得された複数の温度情報に基づいて一の記録制御情報を取得する記録制御情報取得ステップと、
記録制御情報取得ステップにて取得された記録制御情報に基づいてレーザー部に対して入力すべき記録に必要な電流値を計算する記録電流値計算ステップと、
を有するディスク装置の動作方法。
【請求項８】
前記温度情報取得ステップは、ディスク再生に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である再生適正電流値を温度情報として取得するための再生適正電流値取得ステップを有する請求項７に記載のディスク装置の動作方法。
【請求項９】
前記温度情報取得ステップは、
記録開始命令の取得に先立って温度情報を取得する第一温度情報取得ステップと、記録開始命令の取得後記録直前のタイミングにて温度情報を取得する第二温度情報取得ステップと、を含む請求項７又は８に記載のディスク装置の動作方法。
【請求項１０】
前記再生適正電流値取得ステップは、既に記録済みの領域に対して実行される請求項８又は請求項９に記載のディスク装置の動作方法のなかで請求項８に従属するディスク装置の動作方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録型ＤＶＤ装置などの、情報をディスクに記録する光ディスク装置の信号記録品質及び性能に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録型光ディスク装置では、情報の記録品質を高め、より確実な記録を行うために、実際のデータの記録（本記録）に先立って、試験的な記録（テスト記録）を行い、最適な記録条件を求めてから、本記録を行う。
【０００３】
光ディスクの記録された信号の品質及び性能は、光ディスクそのものの感度の個体差、光源である半導体レーザーの出力パワー特性の温度変動などによる影響を受けるが、テスト記録を行い、これらの影響をすべて考慮の上、最適な本記録のための記録条件を求める。
【０００４】
理想的には、本記録を行う直前にテスト記録を行うことが望ましいが、リアルタイムでの記録が要求される、ビデオレコーダなどにおいては、本記録されるべきデータが、続々と到来している中で、テスト記録を行うことは、時間的に厳しく、本記録すべきデータの損失の恐れもある。
【０００５】
これを防ぐ方法としては、テスト記録する時間分、本記録すべきデータを保存、蓄積するバッファメモリを搭載するか、あるいは本記録が行われる以前、例えば電源投入時など時間的余裕がある時点でテスト記録を行うなどが考えられる。前者の場合、バッファメモリがテスト記録にかかる時間分必要なため、大量のバッファメモリが必要となり、コスト面で不利である。また、最適な条件を一度のテスト記録で見出せず、繰り返しテスト記録を行った場合などは、対処が困難である。電源投入時など時間的余裕がある時点でテスト記録を行う場合は、時間的な余裕があるため、大量のバッファメモリを必要としないが、本記録までの時間が空いた場合は、光ディスクへの最適な記録条件が変化する恐れがあり、テスト記録の意味そのものがなくなってしまう可能性がある。
【０００６】
このような問題点の解決には特許文献１に記載されたような、書換え型光ディスクの消去パワー近傍でレーザーを発光させ、そのパワーを変化させた時の受光素子の出力を測定する事で半導体レーザーの電流−発光光量特性を算出し、希望するパワーを出力するための駆動電流値を、試験的な記録（ＯＰＣ）で設定した後に、上記電流―発光光量特性に基づいてこの設定値を補正しようとするものが提案されている。
【特許文献１】特開2001-93148
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、この特許文献１に記載された方法では、次のような問題点が存在する。まず、再生に使われるパワーに比べ、かなり高い消去パワー付近でレーザーを発光させるため、書換え不能の追記型ディスク（例えばＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ）には対応できない。また書換え型ディスクであっても、記録済みのデータを破壊しないためには、この消去パワーでの発光は、特別な専用領域や未記録の領域に移動して行うか、ディスク上にレーザー光が焦点を結ばないように、フォーカスサーボを一旦ＯＦＦにする必要がある。そのため、移動や復帰のためにサーボの引き込み直しに時間がかかり、その間は本記録の対象となるデータをディスクに記録することができない。さらに、専用領域に移動して消去パワーでレーザーを発光する場合、フォーカスサーボを一旦ＯＦＦにする必要が無くなるので、処理に必要な時間はいくらか短縮されるが、そのための専用領域も未記録領域も無いディスクにおいては、その時間短縮は不可能である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この課題を解決するため、本発明では試験的な記録を行う際の温度と、本記録を開始する際の温度とを測定し、両者から温度の変化量を求め、その変化量に基づいて、試験的な記録の結果を補正する。温度の変化量を測定する手段としては、光源である半導体レーザーの再生パワー出射状態における駆動電流を測定し、試験的な記録を行う際の温度と、本記録を開始する時点での温度との変化量をこの駆動電流の差から求める。
【発明の効果】
【０００９】
これにより、本記録直前に温度測定が可能となり、最適な記録電流値を短時間で計算できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下に本発明を実施するための最良の形態を説明する。なお、本発明はこれらの実施形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。
【００１１】
実施形態１は、請求項１について説明する。また実施形態２は、請求項２および実施形態３について説明する。また実施形態３は、請求項４について説明する。また実施形態４は、請求項５および請求項６について説明する。
<実施形態１>
<実施形態１：概要>
【００１２】
本実施形態では、試験記録時や本記録直前など、複数のタイミングの温度情報を比較し、記録に最適なレーザー出力を決定することを特徴とするディスク装置である。
<実施形態１：構成>
【００１３】
本実施形態での装置のブロック図の一例を図１に示した。図１に示す本実施形態の「ディスク装置」は、「レーザー部」（０１０１）と「温度情報取得部」（０１０２）と「取得タイミング制御部」（０１０３）と「記録制御情報取得部」（０１０４）と「記録電流値計算部」（０１０５）とからなる。
【００１４】
「レーザー部」には、光源となる半導体レーザーと、その出射光量を観測する光量検出器、ディスク（０１０６）に出射したレーザーの反射光量に基づいて、フォーカスやトラッキングのサーボ制御信号の元となる信号を生成するサーボ受光素子やディスクに記録されている情報を読み取るRF受光素子が搭載されている。レーザー部では、所定の入力電流に基づいて、ディスクの再生、記録のためのレーザーをディスクに照射する。また、照射したレーザーの反射光を受光し、ディスク装置全体の制御を行うシステムコントローラに信号を送信する。
【００１５】
「温度情報取得部」は、レーザー部に入力される再生時の駆動電流を温度情報として取得する。再生時、レーザー部が照射するレーザー出力は常に一定である。しかし、温度変化により、一定のレーザー出力を得るために必要な駆動電流は変化する。そこで、駆動電流を測定すれば温度の変化を知ることができる。温度情報取得部では、温度によって変化する駆動電流を温度情報として取得し、記録制御情報取得部へ記録制御情報として送る。なお、実施形態１においては温度情報取得部は、このような駆動電流に関する情報に限定されない。例えばディスク表面のサーモグラフ情報や、ディスクテーブルに設けられた温度センサーからの情報、その他各種のもの、ないしはこれらの組合せであってよい。なお、場合によっては記録に必要なパワーを取得する。
【００１６】
「取得タイミング制御部」は、温度情報取得部にて取得する温度情報を、いつのタイミングで取得するかを制御する。温度情報の取得は、複数のタイミングで行い、温度情報取得部にて取得された温度情報は、取得タイミング制御部からの指示により、記録制御情報として、記録制御情報取得部へ送られる。複数のタイミングで温度情報を取得させるように構成することで、例えば本記録直前に短時間で温度情報を取得することを可能としている。温度情報の取得の仕方は多種多様であるが、温度情報の取得を複数の機会に分散し、それぞれの機会単独では温度情報取得のために消費される時間を短時間とする構成とした。したがって、温度情報の取得を比較的余裕がある時間帯にスケジュールすることが可能となり、また、時間的に余裕がないタイミングにて温度情報取得をせざるを得ない場合でも、短時間にその作業を終えることが可能となった。例えば後の実施形態で説明するように、一部を本記録直前の機会に実行し、他の一部を比較的時間の余裕がある機会に実行する構成とすることができる。どのようなタイミングで温度情報を取得すればよいかに関しては予め設計しておく方法と、ディスク装置からダイナミックに得られる各種処理情報、例えばディスク再生情報、ディスクへの録画情報、録画や再生の予約情報、複数種類の記録媒体のなかでどの記録媒体を利用しているかに関する情報、コピー、移動、削除、分割、マーキングなどに関する情報、ディスクのロード、アンロードに関する情報、時刻情報、入力機器に関する情報、出力機器に関する情報などに基づいて適宜タイミングを図る方法との２種類の考え方がある。いずれを採用してもよい。
【００１７】
「記録制御情報取得部」は、取得タイミング制御部の指示により取得した複数の温度情報に基づき、記録、消去パワーの決定に必要な情報である記録制御情報を取得する。記録制御情報は、データの記録に先立って行われる試験記録時に得られるディスク固有の情報と温度情報から、データ記録時の最適な条件を特定するために必要な情報である。後の記録電流値計算部で所定の計算式に基づいてデジタル処理するための値を示すデジタル信号などが該当する。ただし、このような定数に限定されず、例えば電流値を制御するための抵抗値、電流値を制御するためのインダクタンス値、電流値を制御するための時間情報、電流値を制御するためのキャパシタ値、電流値を制御するための電流値など各種の情報の一又は二以上の組合せを示す信号であってもよい。これらは後の記録電流値計算部に送られて記録に必要な電流量を計算するために用いられる。
【００１８】
「記録電流値計算部」は、記録制御情報に基づき、記録に必要な電流量を計算し、レーザー部に対して記録電流を出力する。
<実施形態１：具体例>
【００１９】
本実施形態の具体例のブロック図を図２に示す。本実施形態は、光ディスク（０２０１）、情報の記録や再生を行うレーザー部（０２０２）、システムコントローラ（０２０４）からなる。システムコントローラには、温度情報取得部（０２０５）、取得タイミング制御部（０２０６）、記録制御情報取得部（０２０７）、記録電流値計算部（０２０８）などが搭載されており、光ピックアップ制御手段に対してレーザー部から光ディスクに照射されるレーザービーム（０２０９）の出力やタイミングの制御に関する設定や指示、あるいはそれらの信号観測・処理を行う。
【００２０】
レーザー部には光源である半導体レーザー（０２１０）とその出射光量を観測する光量検出器（０２１１）が搭載されていて、その出力である光量信号Vpは光ピックアップ制御手段（０２０３）へと与えられる。またレーザドライバ（０２１２）は、与えられた電流入力I1、I2、I3をそれぞれ定数倍した電流をスイッチング信号I1on、I2on、I3onに応じてON/OFFすると共に、そのスイッチングした電流の合計Idriveを半導体レーザーに供給する。従ってI1、I2、I3そのものが半導体レーザーに供給される訳では無いが、定数倍された電流が供給されることを鑑みれば、このI1、I2、I3が半導体レーザーの駆動電流であると考えても良い。無論レーザー部にレーザドライバが搭載されておらず、与えられた電流がそのまま半導体レーザーに加わる構成であっても構わない。その様な場合には当然I1、I2、I3がそのまま直接、駆動電流となる。
【００２１】
図３にI1、I2、I3によるレーザーパワーの供給パターンの一例を示した。電流制御手段（０２１５）はこれら各パワーに相当する基準信号と、それぞれのパワーが出射されているタイミングにおける光ピックアップの光量検出器からの光量信号Vpとを比較して、再生パワーPrを出射させるための電流I1、消去パワーPeのための電流I2、並びに記録パワーPwのための電流I3を決定しレーザドライバに対して供給する。
【００２２】
併せてどの様なタイミングでI1on、I2on、I3onをON/OFFするべきかの設定も、光ピックアップ制御手段に対してシステムコントローラが行なっておく。図３では下方に記しているが、レーザドライバはこれらI1on、I2on、I3onのON/OFFに従い、I1、I2、I3を所定の定数倍した電流Ix1、Ix2、Ix3を半導体レーザーに供給する。
【００２３】
レーザー部にはまた、光ディスクに照射したレーザービームの反射光量に基づいて、フォーカスあるいはトラッキングのサーボ制御信号の元となる信号を生成するサーボ受光素子（０２１３）や、記録されている情報を読み取った信号であるRFを生成するためのRF受光素子（０２１４）が搭載されていて、それらの出力は光ピックアップ制御手段へと供与される。
【００２４】
光ピックアップ制御手段には、レーザー部内のレーザドライバに向けての駆動電流信号I1、I2、I3を供給する電流制御手段（０２１５）がある。ここではI1は再生用のパワーを出力させるための電流であり、I2とI3は記録あるいは消去に要するハイパワーを出力させるためのものと想定している。電流制御手段にはまた、レーザー部に搭載された光量検出器からの光量信号Vpが与えられており、この光量信号Vpがそれぞれ再生や記録・消去時に所定の値となる様に、I1、I2、I3の大きさを制御する様になっている。
【００２５】
ここで電流制御手段からレーザー部に対して供給される、再生用、記録用、消去用のパワーを出力させるための電流I1、I2、I3の経路には、電流検出器（０２１６）が挿入されており、それにより検出された電流値信号Isenseはシステムコントローラへと接続される。
【００２６】
またスイッチング信号生成手段（０２１７）は、先に述べた電流I1、I2、I3それぞれをON/OFFするためのスイッチング信号I1on、I2on、I3onを生成し、レーザー部のレーザドライバへと供給している。
【００２７】
一方レーザー部のRF受光素子からの信号RFと、サーボ受光素子からのサーボ元信号Sservoも光ピックアップ制御手段に入力される。信号RFは光ディスクに記録したデータの再生信号であり、RF・サーボ信号処理手段では信号RFに関して各処理を行い、その振幅あるいは２値化した情報がシステムコントローラに与えられる。またサーボ元信号Sservoからは信号演算によりサーボ信号が生成され、レーザービームを光ディスクの記録面所定位置に位置決め制御するために用いられる。RF・サーボ信号処理手段は、電流制御手段へ信号をフィードバックし、記録が適正に行われたかどうかを電流制御手段が判断する。それに基づき、電流制御手段は、I1、I2、I3を制御する。
【００２８】
システムコントローラは、電流検出器よりI1、I2、I3などの温度情報を取得し、適正な記録電流値を計算し電流制御手段に指示する。システムコントローラの温度情報取得部は、取得タイミング制御部の指示するタイミングで電流検出器から温度情報を取得する。記録制御情報取得部は、適正な記録電流値を計算するのに必要な記録制御情報を温度情報取得部より取得する。記録電流値計算部では、記録制御情報取得部が取得した記録制御情報に基づき、適正な記録電流値を計算し、電流制御手段へ指示する。またシステムコントローラの取得タイミング制御部は、温度情報を取得するためにレーザーのＯＮ・ＯＦＦをスイッチング信号生成手段に対して送信し、記録処理のためのレーザー照射、再生処理のためのレーザー照射を所定のタイミングで実行するように構成されている。
<実施形態２>
<実施形態２：概要>
【００２９】
本実施形態は、ディスク装置において、テストレーザー出力時に記録のためにレーザー部へ入力される最適な入力電流値と、再生のためにレーザー部に入力される最適な入力電流値とを、温度情報として取得することを特徴とするディスク装置である。また、テストレーザーの出力は複数回行い、最初に出力されたレーザーに対する温度情報は、記録適正電流値、再生適正電流値として取得する。
<実施形態２：構成>
本実施形態は、温度情報取得部に記録適正電流値および再生適正電流値を、取得すべき複数の温度情報の中で最初の温度情報として取得する記録再生適正電流値取得手段を有する。
【００３０】
本実施形態のブロック図の一例を図４に示した。本実施形態の構成は、基本的に実施形態１とほぼ共通であるが、温度情報取得部（０４０６）において、テストレーザー出力時に最初に取得される温度情報を記録適正電流値および再生適正電流値として取得する記録再生適正電流値取得手段（０４０７）を有する光ディスク装置である。
【００３１】
記録再生適正電流値取得手段は、レーザー部のテストレーザー出力によりディスク記録に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である記録適正電流値及び再生に適正なレーザー出力を得るために必要な入力電流値である再生適正電流値を、取得すべき複数の温度情報の中で最初の温度情報として取得する。
【００３２】
本実施形態は、最適記録条件を計測するために、まず、本記録に先立って試験記録を行い、記録時に必要な入力電流値である記録適正電流値を測定する。また、試験記録の前後いずれかに再生時のレーザー出力を行い再生適正電流値を取得する。
【００３３】
試験記録では、ディスク装置はディスク（０４０１）からレーザーの反射光を光量検出器（０４０２）にて検出し、電流制御手段（０４０３）に送る。電流制御手段では、光量検出器から送られた反射光の信号より、レーザー発光量が適正となるような記録に必要なレーザーパワー決定し、電流制御手段とレーザー部の間に設けられた電流検出器（０４０５）から、記録再生適正電流地取得手段（０４０７）が記録電流値を取得する。試験記録の前後いずれかに行われる再生時のレーザーパワー出力時には、電流検出器から得られる再生電流値を温度情報取得部の記録再生的正電流値取得手段にて、取得タイミング制御部（０４０８）の指示したタイミングで再生適正電流値を取得する。
<実施形態２：具体例>
<電流検出器の構造>
【００３４】
本実施形態の要部の具体例を図５Aと図5Bに示した。図５Aでは、電流検出器（０５０１A）の構成例を示しているが、この例では検出対象である電流制御手段（０５０２A）から出力される電流Ixの経路に抵抗R（０５０３A）を挿入し、その両端の電圧を差動アンプ（０５０４A）で検出して、電流値信号Isenseとして温度情報取得部（０５０５A）の記録再生適正電流値取得手段（０５０６A）に出力する形になっている。
【００３５】
図５Bの様に、検出対象電流の行き先であるレーザー部（０５０７A）のレーザドライバ（０５０８A）の接地電位までの内部抵抗R0が判っているのであれば、電流により{Ix×（R0＋R）}だけの電圧が発生するので、電流検出器（０５０１B）としては抵抗R（０５０３B）だけで良く、その一端を電流値信号Isenseとしても良い。更にレーザドライバの内部抵抗R0が十分に大きく、（Ix×R0）で求まる電圧が測定・観測するのに十分な大きさであればRは省略しても良く、その場合電流検出器はレーザドライバにIxを供給する端子の電圧をそのまま引き出して来るだけのものとなる。
<測定される電流値の例>
【００３６】
図６に本実施形態の温度情報取得部の記録再生適正電流値取得手段が取得する電流値の一例を示した。本記録における記録適正電流値（図６中P1,P2,P3）は、試験記録時における記録適正電流値（P0）を、温度変化量の影響を考慮して変化させた値となる。再生時のレーザーパワーは、常に一定であることから、再生時にレーザーを発光させるための駆動電流の変化量は、温度の変化量に比例する。つまり、駆動電流の変化は温度の変化を表すものとなる。温度の変化率は、本実施形態で取得される再生適正電流値（Ir0）と、本記録の直前に取得される再生適正電流値（Ir1,Ir2,Ir3）の変化率（ΔIr）で計算される。よって本実施形態の試験記録時における記録適正電流値（P0）と再生適正電流値の変化率が測定できれば、本記録における記録適正電流値（P1,P2,P3のいずれか）を算出することが可能となる。
【００３７】
例えば、記録１における記録適正電流値を算出する場合には、記録０におけるP0とIr0と記録１の直前の再生適正電流値であるIr1を用いて算出することが可能である。同様に、記録２、記録３についても記録０におけるP0とIr0と、それぞれの記録の直前に取得される再生適正電流値（Ir2,Ir3）を用いて算出される。また、記録３におけるP3を算出する場合、記録０におけるP0とIr0と、記録１や記録２、記録３の再生適正電流値（Ir1,Ir2,Ir3）を全て考慮して算出してもよい。
<実施形態３>
<実施形態３：概要>
【００３８】
本実施形態は、温度情報取得部において、複数回行われるテストレーザー出力時に再生のためにレーザー部に入力される最適な入力電流値の中で、最後に取得すべき温度情報として取得する再生適正電流値取得手段を有することを特徴とするディスク装置である。
<実施形態３：構成>
【００３９】
本実施形態は、温度情報取得部に再生適正電流値を、取得すべき複数の温度情報の中で最後の温度情報として取得する再生適正電流値取得手段を有する。
【００４０】
本実施形態のブロック図の一例を図７に示した。本実施形態の構成は、基本的に実施形態１および２とほぼ共通であるが、温度情報取得部（０７０６）において、テストレーザー出力時に最後に取得される温度情報を再生適正電流値として取得する再生適正電流値取得手段（０７０７）を有する光ディスク装置である。
【００４１】
再生適正電流値取得手段は、
【００４２】
本実施形態は、本記録開始直前に、テストレーザーとして出力される再生時のレーザーパワーの駆動電流を温度情報として取得する。
【００４３】
本記録開始直前の、テストレーザーの出力は、実施形態２の再生時のレーザー出力と同様に行われる。電流制御手段（０７０３）とレーザー部（０７０５）の間に設けられた電流検出器（０７０４）から、再生適正電流値取得手段にて、取得タイミング制御部（０７０８）の指示したタイミングで再生適正電流値を取得する。
<実施形態３：具体例>
【００４４】
図８に本実施形態の温度情報取得部の記録再生適正電流値取得手段が取得する電流値の一例を示した。本記録における記録適正電流値は、本記録に先立って取得される記録適正電流値に、温度変化量を考慮した値となる。再生時のレーザーパワーは、常に一定であるように構成されていることから、レーザーを発光させるための駆動電流の変化は、温度の変化に比例する。つまり、再生時の駆動電流の変化率は温度の変化率を表すものとなる。温度の変化率は、本記録に先立って取得される再生適正電流値と本実施形態の最後に取得される再生適正電流値と、の変化率（ΔIr）で計算される。よって本記録に先立って取得される記録適正電流値と、再生適正電流値の変化率が測定できれば、本記録における記録適正電流値を算出することが可能となる。
【００４５】
例えば、記録１における記録適正電流値を算出する場合には、本記録である記録１の直前の再生適正電流値（Ir1）と、記録１に先立って取得された記録１における記録適正電流値P0と再生適正電流値Ir0を用いて算出することが可能である。記録３については、本記録である記録３の直前の再生適正電流値（I3）と、記録３に先立って取得された記録０、記録１、記録２のいずれかまたは全ての記録適正電流値と再生適正電流値を用いて算出することが可能である。
【００４６】
図９に本記録の記録適正電流値（P１）の算出方法を説明するための図を示した。縦軸は記録適正電流値、横軸は再生適正電流値と温度を示した。本記録の記録適正電流値（P1）を算出す方法としては、いくつかの方法が考えられるが、本記録に先立って取得された再生適正電流値と記録適正電流値および本記録直前に取得される再生適正電流値に比例した算出方法を例示する。
【００４７】
図１０にレーザー部に流す電流Iと出力光量Pとの関係をしめした。レーザー部に流す電流Iと出力光量Pは、ある閾値電流Ithを境として光量Pが急増する特性となる。ところが同一の半導体レーザー素子であってもI-P特性は温度に従い変動する。温度の上昇に伴いIthの値も高まると共に、I-P特性の傾きは緩やかになり、同じパワーを得るのにも多くの電流を供給する必要がある。記録パワーや消去パワーも再生パワーと同様に、温度により変化するものである。そこで、同一の再生パワー（図中Pr）を出射するのに必要な駆動電流、すなわち再生適正電流値が温度により比例的に変化するように回路が構成されていることを利用し、本記録の際の記録適正電流値を補正する。
【００４８】
本記録の際の記録適正電流値（P1）は、本記録に先立って取得される記録適正電流値（P0）に温度の変化率が加算された値となる。ここで、温度の変化率（ΔT）は再生適正電流値の変化率（ΔIr）と比例しているので、数式１の式のように表せる。
【００４９】
【数１】
2007115370.tif 000003
【００５０】
本記録の際の記録適正電流値（P1）は、以下のように表せる。
【００５１】
【数２】
2007115370.tif 000004
ΔTはΔIと置き換えられるので、
【００５２】
【数３】
2007115370.tif 000005
となり、これを展開すると、
【００５３】
【数４】
2007115370.tif 000006
【００５４】
【数５】
2007115370.tif 000007
となる。
これに、さらにディスク固有の調整が必要になる場合には、定数ｋをかけ
【００５５】
【数６】
2007115370.tif 000008
となる。
なお、消去に必要な消去適正電流値も同様に計算することが可能である。
<実施形態４>
<実施形態４：概要>
【００５６】
本実施形態は、温度情報取得部にて取得する温度情報を取得するタイミングを、取得タイミング制御部にて、記録開始命令に先立ったタイミングと記録開始命令の直前のタイミングとする、取得保持手段を有することを特徴とするディスク装置である。
<実施形態４：構成>
【００５７】
本実施形態を説明するため図１１にディスクへのデータ記録の流れ（１１０１）と、本実施形態のブロック図（１１０２）を示した。本実施形態の構成は、基本的に実施形態１と実施形態２と共通であるが、取得タイミング制御部において、取得タイミング保持手段を有するディスク装置である。
【００５８】
「取得タイミング保持手段」は、温度情報取得手段に対して、温度情報を取得すべきタイミングを定める情報を保持する。タイミングを定める情報は、記録開始命令の取得に先立ったタイミングと、記録開始命令の取得後記録直前のタイミングと、である。
【００５９】
「記録開始命令の取得に先立ったタイミング」とは、記録開始命令が発せられる前のタイミングであり、ディスクがドライブにローディングされた後のタイミングである。記録開始命令は、ディスクのローディング１回に対して複数回なされる場合がある。この場合にはそれぞれの記録開始命令が本実施形態に言う記録開始命令である。したがって、温度情報を取得する必要がある記録開始命令の前に既に記録が行なわれている場合があり、その場合の記録開始命令の前、とは、前回なされた記録に関する記録開始命令の後である場合もある。したがってこのように記録が複数回なされる場合には記録開始命令に先立ったタイミングでの温度情報の取得とは、前回の記録開始命令に基づく記録のためのレーザー発光に基づく温度情報の取得や、前回記録開始命令を受けた後前回記録直前の再生のためのレーザー発光に基づく温度情報取得であってもよい。また、記録開始命令の取得に先立ったタイミングは、比較的時間の余裕があるタイミングでの温度情報の取得をも可能とするためのタイミングという意義を有する場合もある。この場合の具体例としてはディスクローディング直後のタイミングや、電源投入直後のタイミング、再生終了直後のタイミング、記録終了直後のタイミング、など各種の場合がある。
【００６０】
「記録開始命令の取得後記録直前のタイミング」とは、記録開始命令が発せられた後、実際の記録用レーザー発光が行なわれる前のタイミングをいう。記録開始命令が１回のディスクローディングに対して複数回ある場合には最後の記録開始命令がこのタイミングを定義する記録開始命令に該当する。また記録直前のタイミングは、温度情報を取得するためにレーザーパワーとして記録用のパワーを用いる場合には、この試験記録を記録直前のタイミングという言葉でいう「記録」には含めない。
【００６１】
「記録開始命令」とは、例えばユーザーが録画ボタンを押下することにより発生する一連の処理命令のいずれかであり、また録画予約ボタンを押下することにより発生する一連の処理命令のいずれかであってもよい。したがって録画ボタンの押下から０．５秒後に記録のためのレーザー発光が行なわれる場合には、その０．５秒間に温度情報の取得が行なわれ、１時間後開始の録画予約ボタンの押下により記録開始命令が取得された場合にはその１時間の間に温度情報の取得が行なわれる。
【００６２】
取得タイミング保持手段には、様々な条件に合わせたタイミングが保持されていると好ましい。例えば装置の発熱量を測定して、測定された発熱量に応じて最適なタイミングを定めてもよいし、室温を測定して室温に応じて最適なタイミングを定めてもよい。また装置に電源を投入してからの経過時間に応じてタイミングを定めてもよいし、装置の電源が連続的にＯＦＦとなっていた時間に応じてタイミングを定めてもよい。その他各種のタイミングが考えられる。
【００６３】
本実施形態では、まず、記録対象であるディスクがマウント（Ｓ１１０１）される。ディスクがマウントされると、取得タイミング制御部（１１０７）の取得タイミング保持手段（１１０８）は、試験記録（Ｓ１１０３）の実施を指示する。試験記録は、情報の記録品質を高め、より確実な記録を行うためディスク固有の感度などを測定するために、実際のデータの記録に先立って行われ、最適な記録条件を求める。この試験記録の際照射されるレーザー出力は、書込みもしくは消去の際のレーザー出力で行われる。
【００６４】
この試験記録の直前（Ｓ１１０２）または直後（Ｓ１１０４）と、本来のデータ記録（Ｓ１１０５）の直前に、取得タイミング保持手段から温度情報の取得を命令し、温度情報取得部（１１０６）、記録制御情報取得部（１１０５）、記録電流値計算部（１１０４）を経由して、レーザー部（１１０３）より、ディスクに再生用のレーザーを照射し、この際のレーザー出力から温度情報を取得し記録する。温度情報の取得は、データ記録までに少なくとも２回以上行われる。この温度情報取得の際、ディスクに照射されるレーザーは再生用のレーザー出力である。
【００６５】
試験記録の直後に本来のデータ記録が開始されれば、試験記録の際の記録条件が最適な条件となるが、本来のデータ記録まで、時間が経過した場合には、温度などの条件が変化し最適な条件が変化する。そのため、本実施形態では、本来のデータ記録の直前に再度、取得タイミング保持手段からの命令で、ディスクに再生用のレーザーを出力し、温度情報を取得する。取得した温度情報は、記録制御情報として、記録制御情報取得部を経由して、記録電流値計算部に送信される。記録電流値計算部では、試験記録直後の温度情報と、本来のデータ記録直前の温度情報を比較し、最適な記録用電流値である記録電流値を算出し、レーザー部へ出力する。レーザー部では、記録電流値に基づきデータ記録を開始する。なお、データの記録は断続的に何回も繰返し行われても良い。
<実施形態４：具体例>
【００６６】
本実施形態の具体例を説明する図１２に示した。データの記録は断続的に何回も繰返し行われる可能性があるので、取得タイミング制御部の取得タイミング保持手段が保持する取得タイミングのパターンは複数考えられる。
【００６７】
パターン１は、本記録に先立ったタイミングで最初に記録適正電流値と再生適正電流値を取得し、次いで本記録直前の再生適正電流値を毎回の本記録に先立って取得するパターンである。
【００６８】
パターン２は、本記録の際の記録適正電流値及び本記録記終了直後の再生適正電流値を取得し、さらに次回の本記録直前の再生適正電流値を取得するパターンである。もちろんパターン１とパターン２とをミックスしてもよい。
<実施形態５>
<実施形態５：概要>
【００６９】
本実施形態では、試験記録の直後及びデータ記録の直前に行う、温度情報取得のためのレーザー照射であるテストレーザー出力は、既に記録済みの領域にて行う。またさらに、記録済みの領域に既にコンテンツが記録されている場合には、コンテンツ記録済み領域に対してこのテストレーザー出力を行うように構成することも可能である。
<実施形態５：構成>
【００７０】
本実施形態の構成を示すブロック図を図１３に示した。本実施形態の構成は、基本的に実施形態１から実施形態３と共通であるが、温度情報取得部（１３０１）において、記録済領域レーザー照射命令手段（１３０２）を有する。また記録済領域レーザー照射手段には、コンテンツ領域命令器（１３０３）を有してもよい。（図１３は、これを有する構成を示すが、これを有さない構成であってもよいことはもちろんである。）
【００７１】
ディスク（１３０４）に記録されているデータは、ユーザが記録したデータであるコンテンツの他に、インデックス情報やダミー情報、コントロール情報など様々な情報が記録されている。
【００７２】
「記録済領域レーザー照射命令手段」は、前記再生適正電流値取得手段に対して取得するテストレーザー出力をディスクの既に記録済みの領域に対して実行させるように命令をする。この手段は温度情報取得部に設けられている。ディスクの既に記録済みの領域を知るために、ディスクの管理情報を利用する例えば「ＴＯＣ」（テーブル・オブ・コンテンツ）の情報を利用してディスクのどの部分が既に記録済みの領域であるかに関する情報を取得することができる。またディスクの規格によって工場出荷段階から何らかの管理情報を書込むような場合には予め定められているその領域を記録済みの領域として利用してもよい。さらに、ディスクの記録済み領域があちこちにあるような場合にはレーザー発光レンズがもっとも近接している領域を割り出し、その記録済み領域を利用することで、レーザー発光レンズの移動時間を短縮することもできる。記録済み領域レーザー照射命令手段は、照射命令にその記録済み領域を示すアドレス情報を付加して所定の処理回路に信号を送信する。
【００７３】
「コンテンツ領域命令器」は、前記記録済みの領域として既にコンテンツが記録されている場合にはコンテンツ記録済み領域に対してテストレーザーの出力を命ずる。コンテンツの記録は、例えば市販の映画のディスクのような場合にはＴＯＣ情報を利用するまでもなく所定の領域が必ず記録済み領域となるので、その領域を利用することができる。例えばＴＯＣそのものが書込まれている領域などである。
【００７４】
レーザーの出力は一般的に、再生出力<消去出力<書込み出力の順に大きくなる。そのため、書き換え型ディスクの場合、テストレーザー（１３０５）出力を書込み出力や消去出力で照射すると既に記録済みのデータが消去されたり、書換えられてしまう。そこで、本実施形態では、照射出力を再生出力とし、既に記録済みのデータが消去または書換えされないようにしている。再生出力によって温度情報の取得を行うため、ディスク上の既に記録済みの領域やコンテンツ記録済みの領域にテストレーザーを出力しても問題なく、図１３の破線で示したようにテストレーザーの出力のために未記録の領域に移動（１３０６）するなどする必要もなく、短時間で温度情報の取得が可能である。
【００７５】
本実施形態でのテストレーザーは、ディスクの記録対象領域に既に記録済みの領域（１３０７）であった場合、記録領域レーザー照射命令手段から既に記録済みの領域に対して出力される。さらに、記録済み領域に既にコンテンツ（１３０８）が記録されていた場合には、記録領域レーザー照射命令手段のコンテンツ領域命令器から、コンテンツ記録済み領域に対してテストレーザーを出力する。
<実施形態５：効果>
【００７６】
本実施形態は、温度情報取得のためのレーザー照射であるテストレーザー出力を既に記録済みの領域、さらにコンテンツが記録されている領域に行う。温度情報取得に必要なテストレーザー出力は、消去や記録の際のレーザー出力ではなく、再生の際のレーザー出力を利用する。このため、本実施形態では、温度情報取得のためにわざわざ記録領域を作り出す必要がなく、短時間で温度情報の取得が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】実施形態１を説明するための機能ブロック図
【図２】実施形態１の具体例を説明するための図
【図３】実施形態１の具体例を説明するための図
【図４】実施形態２を説明するための機能ブロック図
【図５】実施形態２の具体例を説明するための図
【図６】実施形態２の具体例を説明するための図
【図７】実施形態３を説明するための機能ブロック図
【図８】実施形態３の具体例を説明するための図
【図９】実施形態３の具体例を説明するための図
【図１０】実施形態３の具体例を説明するための図
【図１１】実施形態４の処理の流れと機能を説明するための図
【図１２】実施形態４の具体例を説明するための図
【図１３】実施形態５を説明するための機能ブロック図
【符号の説明】
【００７８】
0101      レーザー部
0102      温度情報取得部
0103      取得タイミング制御部
0104      記録制御情報取得部
0105      記録電流値計算部
0106      光ディスク
【図１】
2007115370.tif 000009
【図２】
2007115370.tif 000010
【図３】
2007115370.tif 000011
【図４】
2007115370.tif 000012
【図５】
2007115370.tif 000013
【図６】
2007115370.tif 000014
【図７】
2007115370.tif 000015
【図８】
2007115370.tif 000016
【図９】
2007115370.tif 000017
【図１０】
2007115370.tif 000018
【図１１】
2007115370.tif 000019
【図１２】
2007115370.tif 000020
【図１３】
2007115370.tif 000021