(57)【要約】【課題】電線端末部に露出させた芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査できる電線端末部の芯線検査装置を提供する。【解決手段】本発明の芯線検査装置１００は、左右方向に延びつつ前後方向に移動する電線１の芯線２に向けて、上下方向、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれレーザー光を照射する第１の装置本体１０と、前後方向にレーザー光を照射する第２の装置本体３０とを備える。これにより、複数の方向から芯線を検査することができるから、芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線にレーザー光を照射することにより前記芯線を検査する装置であって、
左右方向に延びつつ前後方向に移動する前記芯線に向けて、上下方向、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれレーザー光を照射する第１のレーザー光照射手段と、
前記芯線に向けて前後方向にレーザー光を照射する第２のレーザー光照射手段と、
前記第１および第２のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光をそれぞれ受光するとともに受光した光量に応じた検出電圧を出力するレーザー光受光手段と、
前記レーザー光受光手段から得られた検出電圧に対応する受光量と判定基準とに基づいて前記芯線の良否を判定する判定手段と、
を備えることを特徴とする電線端末部の芯線検査装置。
【請求項２】
前記電線を前方に搬送しつつ、その搬送経路の途中で前記電線を上下方向に移動させることができる搬送手段をさらに備え、
前記搬送手段は、前記電線を前方に搬送する途中で前記第１のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光を前記芯線が遮るように、かつ前記電線が上下方向に移動する途中で前記第２のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光を前記芯線が遮るように前記電線を搬送することを特徴とする請求項１に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項３】
前記第１のレーザー光照射手段は、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光が、上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに等しい角度をなすように構成されていることを特徴とする請求項１または２に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項４】
前記第１のレーザー光照射手段は、
上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに、第１の角度をなして斜め方向にレーザー光を照射するように配設されたレーザー光照射部と、
上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに、前記第１の角度より大きい第２の角度をなして斜め方向にレーザー光を照射するように配設された第２のレーザー光照射部と、
を有していることを特徴とする請求項１または２に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項５】
前記芯線は、中心の１本の素線の周りに６本の素線を円周方向に等角度で配設したものであり、
前記第１のレーザー光照射手段は、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光が、上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときにそれぞれ３７．５度〜５２．５度の角度をなすように構成されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項６】
レーザー光を発生させる一つのレーザー光発生手段と、
このレーザー光発生手段から得られたレーザー光を等分して前記レーザー光照射手段に分配するレーザー光等分配手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項７】
前記レーザー光受光手段から得られた検出電圧に対応する受光量のレベルをそれぞれ補正する補正手段と、
前記補正手段の作動を個別に制御する補正制御手段と、
をさらに備え、
前記補正制御手段は、前記補正手段によって補正された後の受光量レベルが、前記レーザー光が前記芯線によって遮られていないときに互いに等しくなるように、前記補正手段をそれぞれ制御することを特徴とする請求項６に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項８】
良品の芯線を検査したときに前記レーザー光受光手段からそれぞれ得られた検出電圧に対応する受光量について、所定時間内における最大値および最小値をそれぞれ検出する最大値／最小値検出手段と、
前記最大値にその値のａ％を上乗せした最大許容値と前記最小値からその値のｂ％を減じた最小許容値とをそれぞれ算出して判定基準を設定する判定基準設定手段と、
検査対象の芯線を検査するときに前記レーザー光受光手段からそれぞれ得られた検出電圧に対応する受光量が前記最大許容値と最小許容値との間にあるときに前記芯線が良品であると判定する判定手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項９】
前記ａ％の値および前記ｂ％の値を前記判定基準設定手段にそれぞれ入力する判定レベル入力手段をさらに備えることを特徴とする請求項８に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【請求項１０】
前記最大値／最小値検出手段は、前記レーザー光受光手段から得られた検出電圧に対応する受光量が所定値を超えて低下したときに、前記最大値および前記最小値の検出を開始することを特徴とする請求項８または９に記載した電線端末部の芯線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線を検査する装置に関し、より詳しくは、複数の方向から芯線にレーザー光を照射することにより芯線を構成している素線に欠損が有るか無いかを検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電線端末部の絶縁被覆を除去して芯線を露出させるとともにこの芯線に端子を圧着する電線端末処理装置が広く用いられているが、この装置には、絶縁被覆を除去する作業が良好に行われたかどうかを検査する装置が並設されることがある（例えば、下記特許文献１，２を参照）。
【０００３】
下記特許文献１に記載されている「電線端部の皮剥加工検査装置」の構造について図１６を参照して概説すると、この装置は、電線１の端末部の絶縁被覆を皮剥して芯線２を露出させる作業が良好に行われたかどうかを検査するために、発光器３から受光器４に向かってレーザー光を照射する。
そして、図１６中の矢印方向に移動する電線１の芯線２がこのレーザー光の光路を横切ると、受光器４の受光面５に設けられているスリット６に入射するレーザー光の受光量が減少する。
【０００４】
図１７は、スリット６に入射した受光量の変化に伴う検出電圧の時間的な変化を示しており、領域１は芯線２がレーザー光の光路を横切る前の状態、領域２は芯線２がレーザー光の光路を横切り始めた状態、領域３は芯線２がレーザー光の光路を横切っている最中の状態にそれぞれ対応している。
そして、図１６に示した装置は、領域３における検出電圧ＶＤが第１基準値ＶＨと第２基準値ＶＬとの間にある状態が所定時間続いた場合に、皮剥加工が良好に行われたと判定する。
【０００５】
【特許文献１】特開平６−２２５４２３号公報
【特許文献２】特許第２６５１３０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、電線１の端末部から絶縁被覆を除去して芯線２を露出させるために、互いに接離する一対のストリップ刃を用いると、図１８に示したように様々な状態が発生することがある。
すなわち、図１８（ａ）は除去作業が良好に行われた状態を示しており、芯線２は露出していて欠損もない。
これに対して、図１８（ｂ）の状態では絶縁被覆１ａが残存しており、また図１８（ｃ）の状態では芯線２がストリップ刃によって完全に切断されている。
さらに、図１８（ｄ）の状態では芯線２を構成している複数の素線のうち上方の素線２ａは残っているものの下方の素線２ｂが欠損しており、図１８（ｅ）の状態では上下両方の素線２ａ，２ｂが欠損している。
したがって、絶縁被覆を除去する作業が良好に行われたかどうかを検査する装置には、絶縁被覆１ａが除去されたか否かを検出する機能に加えて、露出させた芯線２に素線の欠損が有るかないかを検出する機能も求められる。
【０００７】
また、検査対象である電線は、一般的に７本〜１９本の素線から構成され、１本の中心素線の周囲に残りの素線を螺旋状に巻き付けた構造となっている。
そのような電線の一例として図１９（ａ）に示した電線は、１本の中心素線の周囲に６本の素線を円周方向に６０度ずつ等間隔に配置した構造となっている。
このとき、図１６に示した従来の装置は、１本の光軸に沿って照射されるレーザー光を用いて検査する形式である。
これにより、図１９（ａ）に示したように照射されたレーザー光が芯線２によって遮られる部分の幅を「遮光幅」と呼ぶときに、図１９（ｂ）に示したように下方の素線２ｂ，２ｂ′，２ｄが欠損した場合や、図１９（ｃ）に示したように上方の素線２ａ，２ａ′，２ｃが欠損した場合においても遮光幅に変化はない。
同様に、図２０（ａ）に示したように芯線２の角度位置が変化したときに、図２０（ｂ）に示したように下方の素線２ｂ′，２ｄが欠損した場合や、図２０（ｃ）に示したように上方の素線２ａ，２ｃが欠損した場合においても遮光幅に変化はない。
したがって、図１６に示した従来の装置は、電線端末部の絶縁被覆１ａが除去されたどうかは検査できるが、芯線が欠損しているかどうかについては検査することができない。
【０００８】
さらに、図１６に示した従来の装置は、検出電圧ＶＤと第１基準値ＶＨおよび第２基準値ＶＬとの関係に基づいて電線端末部の絶縁被覆１ａが除去されたどうかを判定するものである。
そのため、判定基準となる第１基準値ＶＨおよび第２基準値ＶＬを設定する必要があるが、上述したように芯線の角度位置によって遮光幅は変化する。
したがって、芯線が欠損していない電線を多数検査して判定基準を設定しなければならず、設定作業が煩雑である。
【０００９】
さらに、図１６に示した従来の装置において、発光器３および受光器４のレンズやフィルタに埃等が付着すると、投光量および受光量が少なくなって検出電圧ＶＤが低下する。
このとき、図１６に示した従来の装置は１本の光軸に沿って照射されるレーザー光を用いる形式であるため、検出電圧ＶＤの低下の原因が、遮光幅の変化によるのか、埃等の付着によるのか、あるいはレーザー光の照射強度の低下によるのか、その判別が困難であり、発光器３や受光器４を保守点検する作業が煩雑となる。
【００１０】
そこで本発明の目的は、上述した従来技術が有する問題点を解消し、電線端末部に露出させた芯線を構成している素線に欠損があるかないかを確実に検査できるばかりでなく、判定基準の設定が容易であり、かつ保守点検作業の労力を低減できる電線端末部の芯線検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の課題を解決する請求項１に記載した手段は、
電線端末部の絶縁被覆を除去して露出させた芯線にレーザー光を照射することにより前記芯線を検査する装置であって、
左右方向に延びつつ前後方向に移動する前記芯線に向けて、上下方向、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれレーザー光を照射する第１のレーザー光照射手段と、
前記芯線に向けて前後方向にレーザー光を照射する第２のレーザー光照射手段と、
前記第１および第２のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光をそれぞれ受光するとともに受光した光量に応じた検出電圧をそれぞれ出力するレーザー光受光手段と、
これらのレーザー光受光手段からそれぞれ得られた検出電圧に対応する受光量と判定基準とに基づいて前記芯線の良否を判定する判定手段と、
を備えることを特徴とする。
【００１２】
なお、第１のレーザー光照射手段からそれぞれ照射されるレーザー光の光軸は、前後上下に延びる一つの平面上に配置することもできるし、左右方向に位置をずらして配置することもでき、さらには前後方向に位置をずらして配置することもできる。
また、レーザー光のいずれかを芯線の真上から下方に照射し、残りのレーザー光を芯線に対して斜め前上方および斜め後ろ上方からそれぞれ斜め下方に照射し、あるいは残りのレーザー光を芯線に対して斜め前下方および斜め後ろ下方からそれぞれ斜め上方に照射することもできる。
また、斜め前方向あるいは斜め後方向に、それぞれ複数のレーザー光を照射することもできる。
さらに、第２のレーザー光照射手段から照射されるレーザー光の光軸は、水平に延びる平面上に配置することもできるし、前方に向かって上昇しあるいは前方に向かって降下して延びる平面上に配置することもできる。
また、これらの平面上において、左右方向に傾斜して延びるように配置することもできる。
【００１３】
すなわち、請求項１に記載した電線端末部の芯線検査装置は、上下方向、斜め方向、および前後方向に延びる複数の光軸に沿ってそれぞれ照射されるレーザー光を用いて、複数の方向から芯線を検査するものである。
これにより、芯線を構成している複数の素線のいずれかが欠損している場合には、いずれかのレーザー光が芯線によって遮られる遮光幅の減少として検出することができるから、電線端末部に露出させた芯線に欠損があるかないかを確実に検査することができる。
【００１４】
また、請求項２に記載した手段は、請求項１に記載した芯線検査装置において、
前記電線を前方に搬送しつつ、その搬送経路の途中で前記電線を上下方向に移動させることができる搬送手段を追加したものである。
そして、この搬送手段は、前記電線を前方に搬送する途中で前記第１のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光を前記芯線が遮るように、かつ前記電線が上下方向に移動する途中で前記第２のレーザー光照射手段から照射されたレーザー光を前記芯線が遮るように前記電線を搬送することを特徴とする。
【００１５】
すなわち、請求項２に記載した芯線検査装置は、電線を前方に搬送する途中において電線を上下方向に移動させることにより、第１および第２のレーザー光照射手段からそれぞれ照射されたレーザー光を芯線が遮るようにしたものである。
これにより、第１および第２のレーザー光照射手段を分離して配置することができるから、第１および第２のレーザー光照射手段と芯線および搬送手段との干渉を防止しつつ、芯線に対して確実にレーザー光を照射して、芯線に欠損があるかないかを確実に検査することができる。
【００１６】
また、請求項３に記載した手段は、請求項１または２に記載した芯線検査装置において、
斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光が、上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに等しい角度をなすように、前記レーザー光照射手段がそれぞれ配設されることを特徴とする。
【００１７】
すなわち、請求項３に記載した芯線検査装置においては、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光の光軸が、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して、前後方向に対称である。
これにより、検査対象の芯線を構成している素線が前後対称に配設されている場合には、その断面形状に合わせた最適な角度位置にレーザー光照射手段を配置して、この芯線を構成している素線の欠損を確実に検出することができる。
【００１８】
また、請求項４に記載した手段は、請求項１または２に記載した芯線検査装置において、前記レーザー光照射手段が、
上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに、第１の角度をなして斜め方向にレーザー光を照射するように配設された第１のレーザー光照射手段と、
上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときに、前記第１の角度より大きい第２の角度をなして斜め方向にレーザー光を照射するように配設された第２のレーザー光照射手段と、を有していることを特徴とする。
【００１９】
なお、第１および第２のレーザー光照射手段において、所定の方向にレーザー光を照射するレーザー光照射部の数はそれぞれ一つには限定されない。
例えば、第１のレーザー光照射手段においては、互いに異なる第１〜第４の角度でそれぞれレーザー光を照射する第１〜第４のレーザー光照射部を配置することができる。
また、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して前後対称に配設した２つの第１のレーザー光照射部と、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して前後対称に配設した２つの第２のレーザー光照射部とを組み合わせることができる。
また、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して前後対称に配設した２つの第１のレーザー光照射部と、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して前側あるいは後側に配設した１つの第２のレーザー光照射部とを組み合わせることもできる。
さらに、第２のレーザー光照射手段においては、水平面に対して互いに異なる角度で前後方向にレーザー光を照射する２つのレーザー光照射部を配置することができる。
【００２０】
すなわち、請求項４に記載した芯線検査装置は、上下方向に照射されるレーザー光の光軸に対して異なる角度でそれぞれ斜め方向に照射される複数のレーザー光を用いて芯線を検査するものである。
これにより、芯線を構成している複数の素線のいずれかが欠損している場合に、いずれかのレーザー光が芯線によって遮られる遮光幅の減少として検出できる確率をさらに高めることができるから、電線端末部に露出させた芯線に欠損があるかないかをより一層確実に検査することができる。
【００２１】
また、請求項５に記載した手段は、請求項１乃至４のいずれかに記載した芯線検査装置において、
前記芯線が、中心の１本の素線の周りに６本の素線を円周方向に等角度で配設したものであり、
かつ前記レーザー光照射手段は、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光が、上下方向に照射されるレーザー光に対し、左右方向から見たときにそれぞれ３７．５度〜５２．５度の角度をなすように配設されることを特徴とする。
【００２２】
すなわち、１本の中心素線の周囲に６本の素線が円周方向に等角度で配設されている電線を検査する場合に、上下方向に照射されるレーザー光と斜め方向に照射されるレーザー光とが互いに３７．５度〜５２．５度、好ましくは４５度の角度をなすように配置すると、この芯線を構成している素線が各レーザー光の光軸方向に重なり合う状態を最小限に抑えることができる。
これにより、電線端末部に露出させた芯線に欠損があるかないかを確実に検査することができる。
【００２３】
また、請求項６に記載した手段は、請求項１乃至５のいずれかに記載した芯線検査装置に、
レーザー光を発生させる一つのレーザー光発生手段と、
このレーザー光発生手段から得られたレーザー光を等分して前記レーザー光照射手段に分配するレーザー光等分配手段と、
、をさらに追加したものである。
【００２４】
すなわち、請求項６に記載した芯線検査装置においては、各レーザー光照射部から芯線に向かってそれぞれ照射されるレーザー光の強度を等しくすることができる。
これにより、各レーザー光受光手段から得られた検出信号の信号レベルに異常が生じた場合に、調整手段は、各レーザー光受光手段のいずれに異常があるのかを容易に判別することができる。
したがって、各レーザー光受光手段から得られる検出信号の信号レベルが等しくなるように調整する作業をより一層正確に行い、芯線の検査精度を向上させることができる。
【００２５】
また、請求項７に記載した手段は、請求項６に記載した芯線検査装置に、
前記レーザー光受光手段から得られた検出電圧に対応する受光量のレベルをそれぞれ補正する補正手段と、
前記補正手段の作動を個別に制御する補正制御手段と、をさらに追加したものである。
そして、前記補正制御手段は、前記補正手段によって補正された後の前記検出電圧に対応する受光量のレベルが、前記レーザー光が前記芯線によって遮られていないときに互いに等しくなるように前記補正手段をそれぞれ制御することを特徴とする。
なお、検出電圧に対応する受光量のレベルを等しくする補正は、予め定めた受光量レベルに合わせることもできるし、受光量レベルが同一な検出信号を基準として受光量レベルにずれが生じた他の検出信号の受光量レベルを補正することもできる。
また、検出電圧に対応する受光量レベルを補正する動作は、芯線を検査する合間に自動的にかつ継続して実施することができる。
【００２６】
すなわち、請求項７に記載した芯線検査装置においては、例えば１つのレーザー光受光手段に埃が付着して、そのレーザー光受光手段から出力される検出電圧に対応する受光量レベルが低下した場合に、その受光量レベルを補正して、他のレーザー光受光手段から出力された検出電圧に対応する受光量レベルに合わせることができるから、芯線の検査精度を高い状態に維持することができる。
また、レーザー光照射手段やレーザー光受光手段のレンズやフィルタに付着した埃を除去する保守点検作業を不要としあるいはその労力を低減することもできる。
【００２７】
また、請求項８に記載した手段は、請求項１乃至７のいずれかに記載した芯線検査装置に、
良品の芯線を検査したときに前記レーザー光受光手段からそれぞれ得られた検出電圧に対応する受光量のうち、所定時間内における最大値および最小値をそれぞれ検出する最大値／最小値検出手段と、
前記最大値にその値のａ％を上乗せした最大許容値と前記最小値からその値のｂ％を減じた最小許容値とをそれぞれ算出して判定基準を設定する判定基準設定手段と、
検査対象の芯線を検査するときに前記レーザー光受光手段からそれぞれ得られた検出電圧に対応する受光量が前記最大許容値と最小許容値との間にあるときに前記芯線が良品であると判定する判定手段と、をさらに追加したものである。
なお、ａ％，ｂ％の値は異なる値とすることもできるし等しい値とすることもできる。
【００２８】
すなわち、請求項８に記載した芯線検査装置は、その素線に欠損がない良品の芯線の最大径および最小径を検出するとともに、最大径についてはａ％、最小径についてはｂ％の許容範囲を設けて判定基準を設定する。
これにより、電線の曲がり矯正に伴う芯線の扁平化によって、その芯線の最大径がより大きくなり、かつその芯線の最小径がより小さくなった場合にも対応することができる。
【００２９】
また、請求項９に記載した手段は、請求項８に記載した芯線検査装置に、前記ａの値および前記ｂの値を前記判定基準設定手段にそれぞれ入力する判定レベル入力手段を追加したものである。
なお、ａ％およびｂ％の値はそれぞれ個別に増減させることもできるし、ａ％およびｂ％を等しく保ちながら増減させることもできる。
【００３０】
すなわち、請求項９に記載した芯線検査装置によれば、検査する芯線の寸法や形状、あるいは曲がり矯正のレベルに合わせて許容範囲を調整し、最適な判定基準を設定することができる。
【００３１】
また、請求項１０に記載した手段は、請求項８または９に記載した芯線検査装置において、前記最大値／最小値検出手段が、前記レーザー光受光手段から得られた検出電圧に対応する受光量が所定値を超えて低下したときに、前記受光量の最大値および最小値の検出を開始することを特徴とする。
【００３２】
すなわち、請求項１０に記載した芯線検査装置によれば、芯線がレーザー光を遮ったときに発生する検出電圧に対応する受光量の急激な降下を検出し、一定レベル以上の降下があった場合に受光量の最大値／最小値の検出を開始できるため、芯線の移送を検出するセンサや測定開始を指令する指令手段等の機器を別途設ける必要がなく、芯線検査装置の機構を簡素なものとすることができる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、電線端末部に露出させた芯線に欠損があるかないかを確実に検査できるばかりでなく、判定基準の設定が容易であり、かつ保守点検作業の労力を低減できる電線端末部の芯線検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、図１〜図１５を参照し、本発明に係る電線端末部の芯線検査装置の一実施形態について詳細に説明する。
なお、以下の説明においては、検査する電線が延びる方向を左右方向、検査する電線が移動する方向を前後方向、鉛直方向を上下方向と言う。
【００３５】
まず最初に図１〜図３を参照し、本実施形態の芯線検査装置の全体構造およびその動作について説明する。
【００３６】
図１および図２に示した本実施形態の芯線検査装置１００は、第１のレーザー光照射手段、第１のレーザー光受光手段および制御部を内蔵した第１の装置本体１０と、第２のレーザー光照射手段および第２のレーザー光受光手段を内蔵した第２の装置本体３０と、電線１を搬送するための搬送手段４０とを備えている。
【００３７】
第１の装置本体１０は、基部１１ａ，上腕部１１ｂ、および下腕部１１ｃを有し、図２に示したように前後方向から見たときの全体形状が略コ字型となっている。
そして、左右方向（図２において図示左右方向）に水平に延びる電線１の芯線２が、各腕部１１ｂ，１１ｃの間の隙間１２の内部を、前後方向（図１において図示左右方向）に移動するようになっている。
【００３８】
第２の装置本体３０は、図１および図２に示したように、第１の装置本体１０に対して左右方向に位置をずらして配置されるとともに、電線１を搬送する方向の上流側に配置されたレーザー光照射側３１および下流側に配置されたレーザー光受光側３２とを有しており、第１の装置本体１０と光学的および電気的に接続されている。
【００３９】
搬送手段４０は、前後方向に往復動するベース部４１と、このベース部４１上において左右方向にスライド自在な左右方向スライド部４２と、この左右方向スライド部４２上に立設された支持部４３に支持されて上下方向にスライドする上下方向スライド部４４とを有している。
これにより、上下方向スライド部４４に保持された状態で前方に搬送される電線１は、図１および図２に模式的に示したように、第１の装置本体１０を通過するまで水平に移動した後、レーザー光受光側３２の手前で下方にかつ左右方向で第１の装置本体１０から離間する側に移動するようになっている。
【００４０】
第１の装置本体１０の基部１１ａには、図３中に示したレーザー光発生手段１３と、このレーザー光発生手段１３が発生させたレーザー光を４等分して次述するレーザー光受光部に分配するレーザー光等分配手段１４（スプリッタ、ミラー等）とが内蔵されている。
また上腕部１１ｂには第１のレーザー光照射手段（レンズ、フィルタ等）を構成する３つのレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃがそれぞれ内蔵されている。
さらに、第２の装置本体３０のレーザ光照射側３１には、第２のレーザー光照射手段（レンズ、フィルタ等）を構成するレーザー光照射部１５ｄが内蔵されている。
これにより、４つのレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄから芯線２に向かってそれぞれ照射されるレーザー光の強度は互いに等しいものとなってる。
【００４１】
第１の装置本体１０側にある３つのレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃから照射されたレーザー光は、図１および図２に示したように、それぞれ第１〜第３の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃに沿って進み、下腕部１１ｃに内蔵されていて第１のレーザー光受光手段を構成する３つのレーザー光受光部（フォトダイオード等）１７ａ，１７ｂ，１７ｃに達する。
また、第２の装置本体３０側にある一つのレーザー光照射部１５ｄから照射されたレーザー光は、図１に示したように、第４の光軸１６ｄに沿って進み、レーザー光受光側３２に内蔵されていて第２のレーザー光受光手段を構成する１つのレーザー光受光部（フォトダイオード等）１７ｄに達する。
なお、各レーザー光は、その前後方向の幅が検査対象である芯線の径より十分に大きい約５ミリメートル程度となっており、かつその左右方向の厚みは約０．３ミリメートル程度となっていて、薄い断面形状として照射される。
【００４２】
図１および図２に示したように、第１〜第３の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃは前後上下に延びる１つの平面上にあって、第１の光軸１６ａは上方から下方へと鉛直方向に延び、第２の光軸１６ｂは斜め後ろ上方から斜め前下方へと延び、第３の光軸１６ｃは斜め前上方から斜め後ろ下方へと延びている。
そして、第２の光軸１６ｂおよび第３の光軸１６ｃは、左右方向から見たときに、第１の光軸１６ａに対して前後方向に対称でそれぞれ４５度の角度をなして交差している。
さらに、第４の光軸１６ｄは、第１の装置本体１０に対して左右方向および上下方向にずれた位置において前後方向に水平に延びている。
【００４３】
４つのレーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄは、受光したレーザー光の受光量に応じた検出電圧をそれぞれ出力する。
そして、４つのレーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄから出力されたアナログ信号である検出電圧は、図３中に示した４つのＡ／Ｄコンバータにおいて、その検出電圧に対応する受光量レベルを表すデジタル信号にそれぞれ変換される。
また、Ａ／Ｄコンバータからそれぞれ出力されたデジタル信号が表す受光量レベルは、図４に示したように変化し、領域１は芯線２がレーザー光の光路を横切る前の状態、領域２は芯線２がレーザー光の光路を横切り始めた状態、領域３は芯線２がレーザー光の光路を横切っている最中の状態、領域４は芯線２がレーザー光の光路から出て行く状態にそれぞれ対応している。
なお、図４には、第１の装置本体１０から得られる３つのデジタル信号と、第２の装置本体２０から得られる１つのデジタル信号とが、時間を揃えて表されている。
【００４４】
第１の装置本体１０の基部１１ａには図３中に示した制御部２０が内蔵されている。
Ａ／Ｄコンバータから出力されたデジタル信号は、制御部２０の４つの補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄにそれぞれ入力し、そこにおいて対応する受光量レベルが補正される。
具体的に説明すると、レーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄが出力した検出電圧は、レーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄが受光したレーザー光の受光量に対応した値である。
また、Ａ／Ｄコンバータが出力するデジタル信号は、レーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄが出力した検出電圧、したがって受光量レベルに対応した値となっている。
このとき、補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄは、Ａ／Ｄコンバータから入力したデジタル信号と受光量レベルとの対応関係を、例えば補正量に応じた数値を一律に加算しあるいは減算することにより補正する。
【００４５】
補正制御手段２２は、４つの補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄにおいてそれぞれ補正された後のデジタル信号が表す受光量のレベルが、各レーザー光が芯線２によって遮られていないときに所定の値に一致するように、各補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄを個別に制御する。
これにより、図４のグラフの領域１、すなわち芯線２がレーザー光の光路を横切っていないときに、４つのデジタル信号がそれぞれ表す受光量のレベルは等しくなる。
【００４６】
４つの補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄにおいてそれぞれ受光量レベルが補正されたデジタル信号は、最大値／最小値検出手段２３に入力する。
このとき、芯線２が搬送方向に移動して各レーザー光の光路を遮ると、最大値／最小値検出手段２３に入力するデジタル信号が表す受光量レベルが急激に低下する（図４のグラフの領域２）。
そして、４つのデジタル信号のうちの少なくとも１つのデジタル信号が表す受光量レベルが、領域１における受光量レベルに対して所定の値ｃ％を超えて低下すると、最大値／最小値検出手段２３に含まれているトリガ検出手段（図示せず）がこの低下を検出し、サンプリング機能を起動させる。
すると、最大値／最小値検出手段２３は、芯線２がレーザー光の光路を完全に遮っている間（図４のグラフの領域３）に、入力した４つのデジタル信号を所定時間において所定回数だけそれぞれサンプリングし、受光量に関する情報をバファリングする。
そして、バファリングしたデータに基づいて受光量レベルの最大値および最小値を検出し、判定基準設定手段２４および判定手段２５にそれぞれ出力する。
【００４７】
判定基準設定手段２４は、その素線に欠損がない良品の芯線２を検査して得られた受光量レベルの最大値および最小値に基づいて、図４に示したような許容範囲を設定する。
すなわち、良品の芯線２を検査して得られた受光量の最大値に対してそのａ％の値を上乗せして上限の受光量を算出するとともに、良品の芯線２を検査して得られた受光量の最小値からそのｂ％の値を減じて下限の受光量を算出する
これにより、上限の受光量レベルと下限の受光量レベルとの間が許容範囲（判定基準）となる。
【００４８】
判定レベル入力手段２６は、上限および下限の受光量を算出するために用いるａ％およびｂ％の値を判定基準設定手段２４にそれぞれ入力する。
これにより、例えば電線１の寸法や種類を変更する場合、あるいは電線１の曲がり矯正レベルを変更する場合に、判定基準を適切に設定することができる。
【００４９】
判定手段２５は、検査対象の製品である電線１の芯線２を検査することに伴って最大値／最小値検出手段２３から出力された最大値／最小値の両方が共に許容範囲内にあるときに合格の判定信号を出力し、いずれか一方あるいは両方が許容範囲内にないときに不合格の判定信号を出力する。
【００５０】
次に図５〜図９を参照し、本実施形態の芯線検査装置１００を用いた製品検査について説明する。
なお、この製品検査においては、まず最初に装置の点検が行われ、次いで良品の電線を用いて判定基準（許容範囲）を設定し、その後に製品の検査を行う。
【００５１】
本実施形態の芯線検査装置１００においては、１つのレーザー光発生手段１３が発生させたレーザー光をレーザー光等分配手段１４において４等分し、４つのレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄに分配している。
これにより、４つのレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄから４つの光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄに沿って芯線２にそれぞれ照射されるレーザー光の強度は互いに等しいから、芯線２が各レーザー光を遮っていない状態、すなわち図４における領域１の状態においては、最大値／最小値検出手段２３にそれぞれ入力するデジタル信号が表す受光量レベルは等しいはずである。
【００５２】
しかしながら、これらのデジタル信号が表す受光量レベルにずれがある場合には、図５に示したフローチャートのステップ（以下Ｓで表す）１〜Ｓ４に示したように、補正制御手段２２が４つの補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄの作動をそれぞれ制御し、芯線２が各レーザー光を遮っていない状態において各補正手段２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄから最大値／最小値検出手段２３にそれぞれ入力するデジタル信号が表す受光量レベルを等しくなるようにする。
【００５３】
なお、このような点検は、芯線２の検査が行われていない間に自動的にかつ絶え間なく実施されるため、芯線２の検査を開始する前に作業者が調整する必要はない。
また、検査中にレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄあるいはレーザー光受光部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄのいずれかに埃等が付着して、そこから出力されるデジタル信号が表す受光量レベルが低下した場合には、そのデジタル信号が入力する補正手段によって受光量レベルを補正することができるから、芯線の検査精度を常に高い状態に維持することができる。
【００５４】
次いで、図６のフローチャートに示したように、良品の電線１を供給して判定基準（許容範囲）の設定を行う。
具体的に説明すると、図６のフローチャートのＳ１１に示したように良品の電線１を供給し、その芯線２が各レーザー光の光路を遮ると、最大値／最小値検出手段２３に入力する４つのデジタル信号が表す受光量レベルが急激に降下するはずである（図４のグラフの領域２）。
しかしながら、Ｓ１２の判別ステップにおいて、受光量レベルの降下が所定値（ｃ％）より小さいと判別された場合には、芯線検査装置１００に異常が発生しているおそれがあるため、Ｓ１３において判定基準の設定作業を中止し、Ｓ１４に進んで芯線検査装置１００の点検を行う。
そして、芯線検査装置１００の点検が終了した段階で良品の電線１の供給を再開する。
【００５５】
これに対して、Ｓ１２の判別ステップにおいて受光量レベルの降下が所定値（ｃ％）より大きいと判別されると、最大値／最小値検出手段２３に含まれているトリガ検出手段がこの低下を検出し、サンプリング機能を起動させる（Ｓ１５）。
すると、最大値／最小値検出手段２３は、入力する４つのデジタル信号を上述した領域３における所定の時間範囲内において所定回数だけそれぞれサンプリングし、受光量レベルに関するデータをバファリングする（Ｓ１６）。
その後、最大値／最小値検出手段２３は、バファリングしたデータに基づいて受光量の最大値および最小値を検出し、判定基準設定手段２４に出力する（Ｓ１７）。
次いで、検査作業を行う作業員が、検査する電線１の寸法や種類あるいは曲がり矯正レベルに合わせて、許容値であるａ％およびｂ％の値を入力すると（Ｓ１８）、判定基準設定手段２４は図４に示したような判定基準（許容範囲）を設定する（Ｓ１９）。
これにより、判定基準（許容範囲）の設定が完了し、検査対象である製品の電線を順次供給して製品検査を開始できる状態となる。
【００５６】
製品を検査する際には、図７のフローチャートのＳ２１に示したように、検査対象の電線１を供給する。
そして、その芯線２が第１の装置本体１０における３つのレーザー光の光路を遮ると、最大値／最小値検出手段２３に入力する３つのデジタル信号が表す受光量レベルが急激に降下するはずである（図８のグラフの領域２）。
しかしながら、Ｓ２２の判別ステップにおいて、受光量レベルの降下が所定値（ｃ％）より小さいと判別された場合には、芯線検査装置１００に異常が発生しているおそれがあるため、Ｓ２３において判定基準の設定作業を中止し、Ｓ２４に進んで芯線検査装置１００の点検を行う。
また、芯線２が第２の装置本体３０における１つのレーザー光の光路を遮った場合も全く同様である。
芯線検査装置１００の点検が終了した段階で検査対象の電線１の供給を再開する。
【００５７】
これに対して、Ｓ２２の判別ステップにおいて受光量レベルの降下が所定値（ｃ％）より大きいと判別されると（図８）、最大値／最小値検出手段２３に含まれているトリガ検出手段がこの低下を検出し、サンプリング機能を起動させる（Ｓ２５）。
すると、最大値／最小値検出手段２３は、第１の装置本体１０側から入力する３つのデジタル信号を上述した領域３における所定の時間範囲内において所定回数だけそれぞれサンプリングし、受光量レベルに関するデータをバファリングする（Ｓ２６）。
全く同様に、最大値／最小値検出手段２３は、第２の装置本体３０側から入力する１つのデジタル信号を上述した領域３における所定の時間範囲内において所定回数だけそれぞれサンプリングし、受光量レベルに関するデータをバファリングする（図９／Ｓ２６）。
【００５８】
そして、最大値／最小値検出手段２３は、バファリングしたデータに基づいて受光量の最大値および最小値を検出し（Ｓ２７）、判定手段２５に出力する。
すると、判定手段２５は、最大値／最小値検出手段２３から入力した受光量の最大値および最小値を判別し（Ｓ２８）、判定基準（許容範囲）に入っている場合には合格判定信号を出力し（Ｓ２９）、判定基準（許容範囲）に入っていない場合には不合格判定信号を出力する（Ｓ３０）。
【００５９】
ところで、図１０〜図１５に示したように、電線１が１本の中心素線の周囲に６本の素線を円周方向に等角度で配設したものである場合、第１の装置本体１０における３つのレーザー光の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃが互いになす角度によっては、芯線２を構成している素線の欠損を検出することができないことがある。
【００６０】
具体的に説明すると、図１０に示したように各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を３０度に設定した場合、芯線２が図１０（ａ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより、素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる。
ところが、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄは、光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃの方向において他の素線と重なり合うため、その欠損は検出することはできない。
【００６１】
また、芯線２が図１０（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ａに沿ったレーザー光の遮光幅１を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することはできる。
ところが、素線２ａ，２ｃ，２ｄ，２ｂ′は光軸１６ｂ，１６ｃの方向において他の素線と重なり合うため、その欠損を検出することはできない。
【００６２】
一方、光軸１６ｄに沿って水平に照射されるレーザー光の遮光幅４を検出することにより、芯線２が図１０（ａ）に示した角度位置にあるときには、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することができる。
しかしながら、芯線２が図１０（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｄに沿って照射されるレーザー光の遮光幅４を検出しても、素線２ａ，２ｃ，２ｄ，２ｂ′の欠損を検出することはできない（×印を付してある）。
すなわち、光軸１６ａに対して光軸１６ｂ，１６ｃがなす角度が３０度の場合には、前後方向に水平に延びる光軸１６ｄに沿って照射されるレーザー光を用いても、その欠損を検出できない素線が存在する。
【００６３】
これに対して、図１１に示したように光軸１６ａに対して光軸１６ｂ，１６ｃがなす角度を３７．５度に設定した場合、芯線２が図１１（ａ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる（○を付してある）。
ところが、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄは、光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃのいずれの方向においても他の素線と重なり合うため、その欠損は検出することができない。
しかしながら、水平に延びる光軸１６ｄに沿ったレーザー光の遮光幅４を検出することにより、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することができる（○を付してある）。
【００６４】
また、芯線２が図１１（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ａに沿ったレーザー光の遮光幅１を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる。
同様に、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより、素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる。
さらに、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ｃ，２ｄの欠損を検出することができる。
【００６５】
すなわち、各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を３７．５度に設定した場合には、水平な光軸１６ｄに沿ったレーザー光を併用することにより、芯線２を構成している全ての素線の欠損を検出することができることになる。
【００６６】
さらに、図１２に示したように各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を４５度に設定した場合、芯線２が図１２（ａ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる（○を付してある）。
ところが、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄは、光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃのいずれの方向においても他の素線と重なり合うため、その欠損は検出することはできない。
しかしながら、水平に延びる光軸１６ｄに沿ったレーザー光の遮光幅４を検出することにより、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することができる（○を付してある）。
【００６７】
また、芯線２が図１２（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ａに沿ったレーザー光の遮光幅１を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより、素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる（○を付してある）。
さらに、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ｃ，２ｄの欠損を検出することもできる（○を付してある）。
【００６８】
すなわち、各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を４５度に設定した場合には、水平な光軸１６ｄに沿ったレーザー光を併用することにより、芯線２を構成している全ての素線の欠損を検出することができることになる。
【００６９】
さらに、図１３に示したように各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を５２．５度に設定した場合、芯線２が図１３（ａ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することはできる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することもできる。
ところが、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄは、光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃのいずれの方向においても他の素線と重なり合うため、その欠損は検出することができない。
しかしながら、水平に延びる光軸１６ｄに沿ったレーザー光の遮光幅４を検出することにより、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することができる（○を付してある）。
【００７０】
また、芯線２が図１３（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６に沿ったレーザー光の遮光幅１を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができる（○を付してある）。
同様に、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより、素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができる（○を付してある）。
さらに、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ｃ，２ｄの欠損を検出することができる。
【００７１】
すなわち、各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を５２．５度に設定した場合には、水平な光軸１６ｄに沿ったレーザー光を併用することにより、芯線２を構成している全ての素線の欠損を検出することができることになる。
【００７２】
さらにまた、図１４に示したように各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を６０度に設定した場合、芯線２が図１４（ａ）に示した角度位置にあるときには、全ての光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃの方向において素線２ａ，２ａ′，２ｂ，２ｂ′，２ｃ，２ｄが互いに重なり合うため、それらの欠損を検出することができない（×を付してある）。
もっとも、水平に延びる光軸１６ｄに沿ったレーザー光の遮光幅４を検出することにより、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することはできる（○を付してある）。
【００７３】
また、芯線２が図１４（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ａに沿ったレーザー光の遮光幅１を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができ、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができ、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ｃ，２ｄの欠損を検出することができる（○印を付してある）。
【００７４】
すなわち、光軸１６ａに対して光軸１６ｂ，１６ｃがなす角度が６０度の場合には、前後方向に水平に延びる光軸１６ｄに沿って照射されるレーザー光を併用しても、その欠損を検出できない素線が存在する。
【００７５】
加えて、図１５に示したように各光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃがなす角度を６７．５度に設定した場合、芯線２が図１５（ａ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ｂおよび光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅２および遮光幅３を検出することにより、図１５（ａ）における最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損を検出することができる。
ところが、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄは、光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃのいずれの方向においても他の素線と重なり合うため、その欠損は検出することができない（×を付してある）。
もっとも、水平に延びる光軸１６ｄに沿ったレーザー光の遮光幅４を検出することにより、最も上方の素線２ｃおよび最も下方の素線２ｄの欠損は検出することはできる（○を付してある）。
【００７６】
また、芯線２が図１５（ｂ）に示した角度位置にあるときには、光軸１６ａに沿ったレーザー光の遮光幅を検出することにより素線２ａ′，２ｂの欠損を検出することができ、光軸１６ｂに沿ったレーザー光の遮光幅２を検出することにより素線２ａ，２ｂ′の欠損を検出することができ、光軸１６ｃに沿ったレーザー光の遮光幅３を検出することにより、素線２ｃ，２ｄの欠損を検出することはできる。
【００７７】
すなわち、光軸１６ａに対して光軸１６ｂ，１６ｃがなす角度が６７．５度の場合には、前後方向に水平に延びる光軸１６ｄに沿って照射されるレーザー光を併用しても、その欠損を検出できない素線が存在する。
【００７８】
このとき、前述した本実施形態の芯線検査装置１００は、１本の中心素線の周囲に６本の素線が円周方向に等角度で配設されている芯線２を検査するものであって、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれ照射されるレーザー光の光軸１６ｂ，１６ｃが、上下方向に照射されるレーザー光の光軸１６ａに対し、左右方向から見たときに４５度をなすようにレーザー光照射部１５ａ，１５ｂ，１５ｃがそれぞれ配設されている。
これにより、芯線２を構成している素線が各レーザー光の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃの方向に重なり合う状態を最小限に抑えることができる。
【００７９】
なお、本実施形態の芯線検査装置１００においては、レーザー光の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃが互いになす角度を４５度に設定しているが、図１１に示したようにレーザー光の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃが互いになす角度を３７．５度とし、あるいは図１３に示したようにレーザー光の光軸１６ａ，１６ｂ，１６ｃが互いになす角度を５２．５度としても、全く同様な作用効果を得ることができる。
【００８０】
以上、本発明に係る電線端末処理部の検査装置の一実施形態について詳しく説明したが、本発明は上述した実施形態によって限定されるものではなく、種々の変更が可能であることは言うまでもない。
例えば、上述した実施形態においては、前後方向に水平に延びる光軸１６ｄが、左右方向から見たときに第１の装置本体１０と重なり合うように配置されているが、上下方向および前後方向にそれぞれ位置をずらして配置することもできる。
また、上述した実施形態においては、電線を水平方向に搬送しているが、上下方向に搬送する場合にも本発明を変形して適用できることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】一実施形態の芯線検査装置を示す正面図。
【図２】一実施形態の芯線検査装置を示す側面図。
【図３】図１および図２に示した芯線検査装置の構成を示すブロック図。
【図４】良品を検査したときに得られる４つの信号が表す光量の変化を時間を揃えて表すグラフ。
【図５】受光量のレベルを補正する手順を示すフローチャート。
【図６】許容範囲を設定する手順を示すフローチャート。
【図７】製品検査の手順を示すフローチャート。
【図８】製品検査の際に第１の装置本体によって得られる受光量の変化を示すグラフ図。
【図９】製品検査の際に第２の装置本体によって得られる受光量の変化を示すグラフ図。
【図１０】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１１】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１２】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１３】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１４】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１５】レーザー光の照射角度と芯線との角度位置の関係を示す図。
【図１６】特開平６−２２５４２３号公報に開示されている検査装置を示す図。
【図１７】図１６の検査装置において得られる電圧信号の変化を示すグラフ図。
【図１８】電線端末処理の各種の欠陥を示す図。
【図１９】図１６の検査装置における問題点を示す図。
【図２０】図１６の検査装置における問題点を示す図。
【符号の説明】
【００８２】
１  電線
２  芯線
３  発光器
４  受光器
５  受光面
６  スリット
１３  レーザー光発生手段
１４  レーザー光等分配手段
１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄ  レーザー光照射部
１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ  光軸
１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ  レーザー光受光部
２０  制御部
２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２１ｄ  補正手段
２２  補正制御手段
２３  最大値／最小値検出手段
２４  判定基準設定手段
２５  判定手段
２６  判定レベル入力手段
１００  一実施形態の電線端末部の芯線検査装置
【図１】
2007170855.tif 000003
【図２】
2007170855.tif 000004
【図３】
2007170855.tif 000005
【図４】
2007170855.tif 000006
【図５】
2007170855.tif 000007
【図６】
2007170855.tif 000008
【図７】
2007170855.tif 000009
【図８】
2007170855.tif 000010
【図９】
2007170855.tif 000011
【図１０】
2007170855.tif 000012
【図１１】
2007170855.tif 000013
【図１２】
2007170855.tif 000014
【図１３】
2007170855.tif 000015
【図１４】
2007170855.tif 000016
【図１５】
2007170855.tif 000017
【図１６】
2007170855.tif 000018
【図１７】
2007170855.tif 000019
【図１８】
2007170855.tif 000020
【図１９】
2007170855.tif 000021
【図２０】
2007170855.tif 000022