(57)【要約】【課題】本発明は、タイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体に関し、最終的に設計される集積回路の動作マージンを適切に設定し得、その分集積回路の設計の自由度を向上すると共に集積回路のコストも低減可能とすることを目的とする。【解決手段】設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析方法において、回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出し、相関係数ｒに基づいて任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出し、回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて回路の統計的タイミング解析を行うように構成する。【選択図】図３
2007233456.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析方法であって、
該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出ステップと、
該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出ステップと、
該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析ステップとを含むことを特徴とする、タイミング解析方法。
【請求項２】
該相関算出ステップは、該レイアウト情報に基づいて該相関情報を格納する相関情報ファイルから該任意の２つの接続されたマクロセルの配置に対する相関情報を読み出して、該相関情報から該相関係数ｒを算出することを特徴とする、請求項１記載のタイミング解析方法。
【請求項３】
該相関情報は、該任意の２つの接続されたマクロセルのうち一方が他方に対して接続されている回転角度の配置、該任意の２つの接続されたマクロセル間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々の配線占有率、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々と対応する他のマクロセルとの間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々に対して接続されている電源系、及びマクロセルを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向に対する該任意の２つの接続されたマクロセルの配置からなるマクロセルの配置に関する情報群のうち選択された少なくとも１つの配置に関する情報に応じて該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、請求項２記載のタイミング解析方法。
【請求項４】
該相関情報は、マクロセルの配置に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、請求項２又は３記載のタイミング解析方法。
【請求項５】
設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析装置であって、
該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出手段と、
該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出手段と、
該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析手段とを備えたことを特徴とする、タイミング解析装置。
【請求項６】
該相関算出手段は、該レイアウト情報に基づいて該相関情報を格納する相関情報ファイルから該任意の２つの接続されたマクロセルの配置に対する相関情報を読み出して、該相関情報から該相関係数ｒを算出することを特徴とする、請求項５記載のタイミング解析装置。
【請求項７】
該相関情報は、該任意の２つの接続されたマクロセルのうち一方が他方に対して接続されている回転角度の配置、該任意の２つの接続されたマクロセル間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々の配線占有率、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々と対応する他のマクロセルとの間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々に対して接続されている電源系、及びマクロセルを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向に対する該任意の２つの接続されたマクロセルの配置からなるマクロセルの配置に関する情報群のうち選択された少なくとも１つの配置に関する情報に応じて該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、請求項６記載のタイミング解析装置。
【請求項８】
該相関情報は、マクロセルの配置に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、請求項６又は７記載のタイミング解析装置。
【請求項９】
コンピュータに、設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析を行わせるプログラムであって、
該コンピュータに、該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出させる相関算出手順と、
該コンピュータに、該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出させる関数算出手順と、
該コンピュータに、該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行わせる解析手順とを含むことを特徴とする、プログラム。
【請求項１０】
請求項９記載のプログラムを格納したことを特徴とする、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体に係り、特にＬＳＩ等の集積回路の設計において集積回路の性能を評価するためのタイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＡＤ等において用いられる従来のタイミング解析方法では、設計する集積回路を構成する全てのゲートの遅延時間が最悪条件（Worst  Case  Condition）となる場合を考慮してタイミング解析が行われる。例えば、集積回路を構成するマクロセルＡとマクロセルＢとが接続されており、マクロセルＡの平均遅延時間がｔＡで遅延時間の標準偏差がσＡ、マクロセルＢの平均遅延時間がｔＢで遅延時間の標準偏差がσＢであるとすると、最悪最小条件がMin＝ｔＡ＋ｔＢ−３（σＡ＋σＢ）で表され、最悪最大条件がMax＝ｔＡ＋ｔＢ＋３（σＡ＋σＢ）で表される。
【０００３】
このように最悪条件となる場合を考慮してタイミング解析を行うことで、集積回路の動作を保証することができる。
【０００４】
特許文献１には、集積回路の配線又は素子間の性能の相関関係を考慮して集積回路の遅延分布を計算する回路評価方法が提案されている。
【特許文献１】特開２００２−２７９０１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、常にゲートの遅延時間が最悪条件となる場合を考慮してタイミング解析を行うと、ゲートの動作マージンを非常に大きく設定する必要が生じ、最終的に設計される集積回路の動作マージンが必要以上に大きなものとなり、その分集積回路の設計の自由度が低くなると共に、集積回路のコストも高くなるという問題があった。
【０００６】
そこで、本発明は、最終的に設計される集積回路の動作マージンを適切に設定し得、その分集積回路の設計の自由度を向上すると共に集積回路のコストも低減可能なタイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題は、設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析方法であって、該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出ステップと、該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出ステップと、該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析ステップとを含むことを特徴とするタイミング解析方法によって達成できる。
【０００８】
上記の課題は、設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析装置であって、該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出手段と、該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出手段と、該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析手段とを備えたことを特徴とするタイミング解析方法によっても達成できる。
【０００９】
上記の課題は、コンピュータに、設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析を行わせるプログラムであって、該コンピュータに、該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出させる相関算出手順と、該コンピュータに、該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出させる関数算出手順と、該コンピュータに、該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行わせる解析手順とを含むことを特徴とするプログラムによっても達成できる。
【００１０】
上記の課題は、上記の如きプログラムを格納したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記憶媒体によっても達成できる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、最終的に設計される集積回路の動作マージンを適切に設定し得、その分集積回路の設計の自由度を向上すると共に集積回路のコストも低減可能なタイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に、本発明になるタイミング解析方法及び装置、プログラム及び記憶媒体の各実施例を、図面と共に説明する。
【実施例】
【００１３】
本発明になるタイミング解析装置の一実施例は、本発明になるタイミング解析方法の一実施例、本発明になるプログラムの一実施例及び本発明になる記憶媒体の一実施例を用いる。本実施例では、本発明がコンピュータシステムに適用されている。図１は、本実施例において本発明が適用されるコンピュータシステムを示す斜視図である。
【００１４】
図１に示すコンピュータシステム１００は、ＣＰＵやディスクドライブ等を内蔵した本体部１０１、本体部１０１からの指示により表示画面１０２ａ上に画像を表示するディスプレイ１０２、コンピュータシステム１００に種々の情報を入力するためのキーボード１０３、ディスプレイ１０２の表示画面１０２ａ上の任意の位置を指定するマウス１０４及び外部のデータベース等にアクセスして他のコンピュータシステムに記憶されているプログラム等をダウンロードするモデム１０５を有する。
【００１５】
ディスク１１０等の可搬型記録媒体に格納されるか、モデム１０５等の通信装置を使って他のコンピュータシステムの記録媒体１０６からダウンロードされる、コンピュータシステム１００にＣＡＤ機能或いはＣＡＤ機能の少なくともタイミング解析機能を持たせるプログラム（ＣＡＤソフトウェア或いはタイミング解析ソフトウェア）の本実施例は、コンピュータシステム１００に入力されてコンパイルされる。プログラムの本実施例は、コンピュータシステム１００（即ち、後述するＣＰＵ２０１）をＣＡＤ機能を有するＣＡＤ装置の本実施例として動作させる。記憶媒体の本実施例は、プログラムの本実施例を格納した、例えばディスク１１０等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体からなる。記録媒体の本実施例は、ディスク１１０、ＩＣカードメモリ、フロッピー（登録商標）ディスク等の磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体に限定されるものではなく、モデム１０５やＬＡＮ等の通信装置や通信手段を介して接続されるコンピュータシステムでアクセス可能な各種記録媒体を含む。
【００１６】
図２は、コンピュータシステム１００の本体部１０１内の要部の構成を説明するブロック図である。同図中、本体部１０１は、バス２００により接続されたＣＰＵ２０１、ＲＡＭやＲＯＭ等からなるメモリ部２０２、ディスク１１０用のディスクドライブ２０３及びハードディスクドライブ（ＨＤＤ）２０４からなる。本実施例では、ディスプレイ１０２、キーボード１０３及びマウス１０４も、バス２００を介してＣＰＵ２０１に接続されているが、これらは直接ＣＰＵ２０１に接続されていても良い。又、ディスプレイ１０２は、入出力画像データの処理を行う周知のグラフィックインタフェース（図示せず）を介してＣＰＵ２０１に接続されていても良い。
【００１７】
尚、コンピュータシステム１００の構成は図１及び図２に示す構成に限定されるものではなく、代わりに各種周知の構成を使用しても良い。
【００１８】
図３は、本実施例の動作を説明するフローチャートである。ステップＳ１〜Ｓ３の処理は、プログラムの手順に対応し、例えば設計対象となる回路（以下、対象回路と言う）についてＣＰＵ２０１により、即ち、コンピュータシステム１００の対応する手段により実行される。説明の便宜上、設計対象となる集積回路（以下、対象回路と言う）のレイアウト情報及び接続されているマクロセル間の相関を示す相関情報がコンピュータシステム１００内のメモリ部２０２等の記憶手段、或いは、外部のデータベース等に格納されているものとする。レイアウト情報は、対象回路を構成するマクロセルの配置を含む。相関情報は、マクロセル対の各種配置毎に格納されている。尚、レイアウト情報からなるレイアウト情報ファイル又はレイアウト情報ライブラリ、及び相関情報からなる相関情報ファイル又は相関情報ライブラリは、同じ記憶手段に格納されていても、異なる記憶手段に格納されていて良いことは言うまでもない。
【００１９】
図３において、ステップＳ１は、対象回路中のマクロセルのレイアウト情報を例えばコンピュータシステム１００内のメモリ部２０２から読み出し、レイアウト情報に基づいて対応するマクロセル間の相関情報を例えばコンピュータシステム１００内のＨＤＤ２０４から読み出すと共に、相関情報に基づいて対象回路中の任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する。ステップＳ２は、相関係数ｒに基づいて上記任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する。ステップＳ３は、対象回路の全てのマクロセル対について相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σの算出が完了したか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、処理はステップＳ１へ戻る。他方、ステップＳ３の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ４は、対象回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて対象回路の統計的タイミング解析（ＳＴＡ：Statistical  Timing  Analysis）を行い、処理は終了する。
【００２０】
対象回路を構成するマクロセルＡとマクロセルＢとが接続されており、マクロセルＡの平均遅延時間がｔＡで遅延時間の標準偏差がσＡ、マクロセルＢの平均遅延時間がｔＢで遅延時間の標準偏差がσＢであるとすると、上記ＳＴＡはマクロセルＡ，Ｂの遅延時間を正規分布等の分布関数σＡＢを用いて統計的に扱う。例えば、図４に示すマクロセルＡ，Ｂの遅延時間は図５に示す分布関数σＡＢ＝（σＡ２+σＢ２+２ｒＡＢσＡσＢ）１／２で表され、マクロセルＡ，Ｂ間の相関係数ｒＡＢは、マクロセルＡ，Ｂのレイアウト等で決まる関数ｒＡＢ＝ｆ（ｘ１，ｘ２，...，ｘｎ）で表される。従って、同じマクロセルＢをマクロセルＡに接続した場合であっても、図４とは異なる配置でマクロセルＢが配置されている場合には、この異なる配置のマクロセルＢをＢ´で表すと、マクロセルＡ，Ｂ´の遅延時間は図５に示す分布関数σＡＢ´＝（σＡ２+σＢ´２+２ｒＡＢ´σＡσＢ´）１／２で表され、マクロセルＡ，Ｂ´間の相関係数ｒＡＢ´はマクロセルＡ，Ｂ間の相関係数ｒＡＢとは等しくならない（ｒＡＢ≠ｒＡＢ´）となる。
【００２１】
次に、マクロセルの配置に応じて設定されて相関情報ファイルに格納される相関情報について、図６〜図１１と共に説明する。図６〜図１１は、マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【００２２】
図６は、同じマクロセルＡが２つ接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡが同じ回転角度の配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡが９０度異なる回転角度の配置で接続されている場合を示す。同図（ａ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、配線層等の各種層の太り方向、細り方向、位置ずれ方向等が２つのマクロセルＡについて略同じとなるため、２つのマクロセルＡの相関性が強いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。他方、同図（ｂ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、配線層等の各種層の太り方向、細り方向、位置ずれ方向等が２つのマクロセルＡについて異なるため、２つのマクロセルＡの相関性が弱いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。
【００２３】
図７は、同じマクロセルＡが２つ接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡが比較的近い配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡが比較的遠い配置で接続されている場合を示す。同図（ａ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、２つのマクロセル間の距離が比較的短いため２つのマクロセルＡについて略同じとなるため、２つのマクロセルＡの相関性が強いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。他方、同図（ｂ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、２つのマクロセル間の距離が比較的長いため２つのマクロセルＡについて異なるため、２つのマクロセルＡの相関性が弱いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。例えば、２つのマクロセルＡ間の距離をＤ、定数をａで表すと、相関情報ファイルにｅｘｐ（−Ｄ）を相関情報として格納しておくことで、ステップＳ１では例えばｒ＝ａ・ｅｘｐ（−Ｄ）なる式に基づいて相関係数ｒを算出することができる。
【００２４】
図８は、同じマクロセルＡが２つ接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡの周囲の配線占有率が同じ配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡの周囲の配線占有率が異なる配置で接続されている場合を示す。同図（ａ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、例えばエロージョンによる配線容量が２つのマクロセルＡについて略同じとなるため、２つのマクロセルＡの相関性が強いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。尚、エロージョンは、例えばＣｕ等からなる配線層を形成後に化学的機械研磨（ＣＭＰ：Chemical  Mechanical  Polishing）等を行って基板表面を平坦化して埋め込み配線等を形成する際に、配線層と絶縁相の研磨速度の違いにより配線孤立部に比べて配線密集部において絶縁層が余計に削られてしまうこと等により発生する。他方、同図（ｂ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、例えばエロージョンによる配線容量が２つのマクロセルＡについて異なるため、２つのマクロセルＡの相関性が弱いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。
【００２５】
図９は、同じマクロセルＡが２つマクロセルＢに隣接して接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡがいずれも対応するマクロセルＢから同じ距離の配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡが互いに対応するマクロセルＢから異なる距離の配置で接続されている場合を示す。同図（ａ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、マクロセルＡの寄生容量が２つのマクロセルＡについて略同じとなるため、２つのマクロセルＡの相関性が強いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。他方、同図（ｂ）の場合、マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、マクロセルＡの寄生容量が２つのマクロセルＡについて異なるため、２つのマクロセルＡの相関性が弱いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。
【００２６】
図１０は、同じマクロセルＡが２つ接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡが同じ電源系（Ｖｃｃ）に接続された配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡが異なる電源系（Ｖｃｃ，Ｖｃｃ´）に接続された配置で接続されている場合を示す。同図（ａ）の場合、電源電圧に変動があっても２つのマクロセルＡに対する電源電圧の変動は略同じとなるため、２つのマクロセルＡの相関性が強いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。他方、同図（ｂ）の場合、電源電圧に変動があると２つのマクロセルＡに対する電源電圧の変動が異なるため、２つのマクロセルＡの相関性が弱いことを示す相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。
【００２７】
図１１は、同じマクロセルＡが２つ接続されている場合のマクロセル間の相関を説明する図である。同図（ａ）は、２つのマクロセルＡがマクロセルＡを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向が垂直方向となる配置で接続されている場合を示し、同図（ｂ）は、２つのマクロセルＡがマクロセルＡを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向が水平方向となる配置で接続されている場合を示す。マクロセルＡを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキは、図６の場合と同様の理由で、図１１（ａ）の場合と図１１（ｂ）の場合とでは異なるので、これらの場合については互いに異なる相関情報を相関情報ファイル又はライブラリに格納しておけば良い。
【００２８】
尚、図６〜図１１と共に説明したマクロセルの配置に応じた相関情報の設定方法のうち、２以上の設定方法を組み合わせて用いても良いことは言うまでもない。例えば、図６、図７及び図９と共に説明した相関情報の設定方法を組み合わせて用いることができる。
【００２９】
又、図６〜図８、図１１と共に説明したように、マクロセルを実際に形成する製造プロセスに起因する特性のバラツキもあるため、相関情報を設定する際には、マクロセルの配置（レイアウト）に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して相関情報を設定して相関情報ファイル又はライブラリに格納するようにしても良い。
【００３０】
尚、本発明は、以下に付記する発明をも包含するものである。
（付記１）  設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析方法であって、
該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出ステップと、
該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出ステップと、
該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析ステップとを含むことを特徴とする、タイミング解析方法。
（付記２）  該相関算出ステップは、該レイアウト情報に基づいて該相関情報を格納する相関情報ファイルから該任意の２つの接続されたマクロセルの配置に対する相関情報を読み出して、該相関情報から該相関係数ｒを算出することを特徴とする、付記１記載のタイミング解析方法。
（付記３）  該相関情報は、該任意の２つの接続されたマクロセルのうち一方が他方に対して接続されている回転角度の配置、該任意の２つの接続されたマクロセル間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々の配線占有率、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々と対応する他のマクロセルとの間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々に対して接続されている電源系、及びマクロセルを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向に対する該任意の２つの接続されたマクロセルの配置からなるマクロセルの配置に関する情報群のうち選択された少なくとも１つの配置に関する情報に応じて該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記２記載のタイミング解析方法。
（付記４）  該相関情報は、マクロセルの配置に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記２又は３記載のタイミング解析方法。
（付記５）  設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析装置であって、
該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出する相関算出手段と、
該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出する関数算出手段と、
該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行う解析手段とを備えたことを特徴とする、タイミング解析装置。
（付記６）  該相関算出手段は、該レイアウト情報に基づいて該相関情報を格納する相関情報ファイルから該任意の２つの接続されたマクロセルの配置に対する相関情報を読み出して、該相関情報から該相関係数ｒを算出することを特徴とする、付記５記載のタイミング解析装置。
（付記７）  該相関情報は、該任意の２つの接続されたマクロセルのうち一方が他方に対して接続されている回転角度の配置、該任意の２つの接続されたマクロセル間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々の配線占有率、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々と対応する他のマクロセルとの間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々に対して接続されている電源系、及びマクロセルを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向に対する該任意の２つの接続されたマクロセルの配置からなるマクロセルの配置に関する情報群のうち選択された少なくとも１つの配置に関する情報に応じて該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記６記載のタイミング解析装置。
（付記８）  該相関情報は、マクロセルの配置に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記６又は７記載のタイミング解析装置。
（付記９）  コンピュータに、設計対象となる回路の性能を評価するためのタイミング解析を行わせるプログラムであって、
該コンピュータに、該回路を構成するマクロセルの配置を含むレイアウト情報と、接続されている２つのマクロセル間の相関をマクロセル対の配置毎に示す相関情報とに基づいて、該回路を構成する任意の２つの接続されたマクロセル間の相関係数ｒを算出させる相関算出手順と、
該コンピュータに、該相関係数ｒに基づいて該任意の２つの接続されたマクロセルの遅延時間の標準偏差の分布関数σを算出させる関数算出手順と、
該コンピュータに、該回路を構成する各マクロセル対に対する相関係数ｒ及び標準偏差の分布関数σに基づいて該回路の統計的タイミング解析を行わせる解析手順とを含むことを特徴とする、プログラム。
（付記１０）  該相関算出手順は、該コンピュータに、該レイアウト情報に基づいて該相関情報を格納する相関情報ファイルから該任意の２つの接続されたマクロセルの配置に対する相関情報を読み出させて、該相関情報から該相関係数ｒを算出させることを特徴とする、付記９記載のプログラム。
（付記１１）  該相関情報は、該任意の２つの接続されたマクロセルのうち一方が他方に対して接続されている回転角度の配置、該任意の２つの接続されたマクロセル間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々の配線占有率、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々と対応する他のマクロセルとの間の距離、該任意の２つの接続されたマクロセルの各々に対して接続されている電源系、及びマクロセルを実際に形成する製造プロセスで用いる露光マスクの走査方向に対する該任意の２つの接続されたマクロセルの配置からなるマクロセルの配置に関する情報群のうち選択された少なくとも１つの配置に関する情報に応じて該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記１０記載のプログラム。
（付記１２）  該相関情報は、マクロセルの配置に関する情報に加え、マクロセルの製造プロセスに関する情報も考慮して該相関情報ファイルに格納されていることを特徴とする、付記１０又は１１記載のプログラム。
（付記１３）  付記９〜１２のいずれか１項記載のプログラムを格納したことを特徴とする、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【００３１】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明が適用されるコンピュータシステムを示す斜視図である。
【図２】コンピュータシステムの本体部内の要部の構成を説明するブロック図である。
【図３】本発明の一実施例の動作を説明するフローチャートである。
【図４】接続されたマクロセルを示す図である。
【図５】図４に示すマクロセルの遅延時間を表す分布関数を説明する図である。
【図６】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【図７】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【図８】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【図９】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【図１０】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【図１１】マクロセルの配置と相関情報の関係を説明する図である。
【符号の説明】
【００３３】
１００      コンピュータシステム
１０１      本体部
１０２      ディスプレイ
１０２ａ      表示画面
１０３      キーボード
１０４      マウス
１０５      モデム
１０６      記録媒体
１１０      ディスク
２００      バス
２０１      ＣＰＵ
２０２      メモリ部
２０３      ディスクドライブ
２０４      ハードディスクドライブ
Ａ，Ｂ      マクロセル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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