(57)【要約】【課題】落下試験の精度の良好な落下試験装置を提供すること。【解決手段】本発明の落下試験装置は、治具５と床部２が突部９を介して衝突するため、治具５が床部２の面２ａに対して傾いた状態であっても、治具５の重心Ｇと衝突位置Ｓとの間のズレ量Ｚが小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られる。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物を保持する治具と、この治具を所定の高さで支持する支持部と、前記治具を前記支持部からリリースさせるリリース部と、前記治具が落下して衝突する面を有する床部とを備え、前記治具、又は前記床部の面の何れか一方には、突部を設け、前記治具の面の中央部が前記突部を介して前記床部に衝突するようにしたことを特徴とする落下試験装置。
【請求項２】
前記突部が半球状、又は丸みを持たせて形成されたことを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項３】
前記突部が前記床部の面に設けられたことを特徴とする請求項１、又は２記載の落下試験装置。
【請求項４】
前記被測定物を収納した前記治具は、前記突部に衝突する平面を有した６面体で形成されたことを特徴とする請求項４記載の落下試験装置。
【請求項５】
前記突部が前記被測定物を収納した前記治具に設けられ、前記治具は、中央部に前記突部が設けられた６面体で形成され、前記突部が前記床部の面に衝突するようにしたことを特徴とする請求項１、又は２記載の落下試験装置。
【請求項６】
前記突部が前記被測定物を収納した前記治具に設けられ、前記治具が卵状に形成されたことを特徴とする請求項１、又は２記載の落下試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、種々の電子回路ユニット等に使用して好適な落下試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の落下試験装置に係る図面を説明すると、図１４は従来の落下試験装置に係る斜視図、図１５は従来の落下試験装置に係る治具の平面図、図１６は従来の落下試験装置に係る治具の要部断面図、図１７は図１６の１７−１７線における断面図、図１８は従来の落下試験装置に係り、治具を落下させた状態を示す説明図である。
【０００３】
次に、従来の落下試験装置の構成を図１４に基づいて説明すると、ガイド部材５１は、床部５２の面５２ａに対して垂直状態に設置され、このガイド部材５１には、被測定物５３を保持し、且つ、被測定物５３をリリースするリリース部を有した支持部５４と、この支持部５４を所定の高さＰでロックするためのロック機構５５を有している。
【０００４】
そして、このような従来の落下試験装置は、支持部５４が被測定物５３を保持した状態で、所定の高さＰまで持ち上げられると、支持部５４がロック機構５５によってロックされる。
【０００５】
次に、ロック機構５５を解除すると、支持部５４が被測定物５３を保持したままで、支持部５４と被測定物５３は自重によって落下し、そして、所定の位置Ａになると、被測定物５３が支持部５４からリリースされて、被測定物５３が床部５２の面５２ａに衝突して、落下試験が行われるようになっている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
このような従来の落下試験装置は、例えば、電子回路ユニットにおける半導体部品の半田付強度を試験する場合に使用され、この半導体部品の半田付強度に使用される従来の落下試験装置は、図１５〜図１８に示すような治具５６が使用されている。
【０００７】
この治具５６は、全体がロ字状をなし、中央部に設けられた空間部５７と、互いに対向する３対面からなる６面体５８と、空間部５７内に突出した複数の腕部５９を有している。
【０００８】
また、被測定物６０は、プリント基板６１と、このプリント基板６１の中央部に半田付によって取り付けられた半導体部品６２を有しており、この被測定物６０は、半導体部品６２を空間部５７の中央部に位置した状態で、プリント基板６１が腕部５９に固定されている。
【０００９】
このような電子回路ユニットにおける落下試験は、治具５６の６面体の内の一面が床部５２の面５２ａに対して平行な状態で、治具５６が支持部５４に支持され、そして、ロック機構５５を解除すると、支持部５４が治具５６（被測定物６０を含む）を保持したままで、支持部５４と治具５６は自重によって落下し、そして、所定の位置Ａになると、治具５６が支持部５４からリリースされて、図１８に示すように、治具５６が床部５２の面５２ａに衝突して、落下試験が行われるようになっている。
【特許文献１】特開平９−３１８４８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、従来の落下試験装置は、支持部５４に対する治具５６の保持状態のバラツキや、治具５６がリリースされた後の空気抵抗によって、図１８に示すように、治具５６の面が床部５２の面５２ａに対して傾いた状態で床部５２に衝突することが度々生じて、治具５６の角部が床部５２に衝突し、このため、治具５６の重心Ｇと衝突位置Ｓ間のズレ量Ｚが大きくなって、落下試験の精度が悪くなるという問題がある。
【００１１】
本発明は、このような従来技術の実情に鑑みてなされたもので、その目的は、落下試験の精度の良好な落下試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するために、本発明は、被測定物を保持する治具と、この治具を所定の高さで支持する支持部と、治具を支持部からリリースさせるリリース部と、治具が落下して衝突する面を有する床部とを備え、治具、又は床部の面の何れか一方には、突部を設け、治具の面の中央部が突部を介して床部に衝突するようにしたことを特徴としている。
【００１３】
このように構成した本発明は、支持部に対する治具の保持状態のバラツキや、治具がリリースされた後の空気抵抗によって、治具が床部の面に対して傾いた状態であっても、突部が衝突するため、治具の重心と衝突位置との間のズレ量が小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られる。
【００１４】
また、本発明は、上記発明において、突部が半球状、又は丸みを持たせて形成されたことを特徴としている。このように構成した本発明は、突部に丸みを持たせることによって、衝突時の衝突力をほぼ均一にできて、落下試験の精度の良好なものが得られる。
【００１５】
また、本発明は、上記発明において、突部が床部の面に設けられたことを特徴としている。このように構成した本発明は、簡単な構成によって、試験装置が提供できる。
【００１６】
また、本発明は、上記発明において、被測定物を収納した治具は、突部に衝突する平面を有した６面体で形成されたことを特徴としている。このように構成した本発明は、治具の構成が簡単であると共に、６面での衝突試験が可能な試験装置が提供できる。
【００１７】
また、本発明は、上記発明において、突部が被測定物を収納した治具に設けられ、治具は、中央部に突部が設けられた６面体で形成され、突部が床部の面に衝突するようにしたことを特徴としている。このように構成した本発明は、突部が面の中央部に設けられることによって、治具の重心と衝突位置との間のズレ量を一層小さくできて、落下試験の精度が良好であると共に、６面での衝突試験が可能な試験装置が提供できる。
【００１８】
また、本発明は、上記発明において、突部が被測定物を収納した治具に設けられ、治具が卵状に形成されたことを特徴としている。このように構成した本発明は、治具の重心と衝突位置との間のズレ量を一層小さくできて、落下試験の精度が良好であると共に、６面での衝突試験が可能な試験装置が提供できる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明は、治具が床部の面に対して傾いた状態であっても、突部が衝突するため、治具の重心と衝突位置との間のズレ量が小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
発明の実施の形態について図面を参照して説明すると、図１は本発明の落下試験装置に係る斜視図、図２は本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の斜視図、図３は本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の要部断面図、図４は図３の４−４線における断面図、図５は本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の上蓋部を取り去った状態を示す平面図、図６は本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具を落下させた状態を示す説明図である。
【００２１】
また、図７は本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の斜視図、図８は本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の要部断面図、図９は図８の９−９線における断面図、図１０は本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の上蓋部を取り去った状態を示す平面図、図１１は本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具を落下させた状態を示す説明図、図１２は本発明の落下試験装置の他の実施例を示す斜視図、図１３は本発明の落下試験装置の他の実施例に係り、この実施例に使用される治具の斜視図である。
【００２２】
次に、本発明の落下試験装置に係る構成を図１〜図６に基づいて説明すると、ガイド部材１は、床部２の面２ａに対して垂直状態に設置され、このガイド部材１には、後述する治具５を保持し、且つ、治具５をリリースするリリース部（図示せず）を有した支持部３と、この支持部３を所定の高さＰでロックするためのロック機構４を有している。
【００２３】
そして、このような本発明の落下試験装置は、支持部３が後述する被測定物１３を収納した治具５を保持した状態で、所定の高さＰまで持ち上げられると、支持部３がロック機構４によってロックされる。
【００２４】
次に、ロック機構４を解除すると、支持部３が治具５を保持したままで、支持部３と治具５は自重によって落下し、そして、所定の位置Ａになると、治具５が支持部３からリリースされて、治具５が床部２の面２ａに衝突して、落下試験が行われるようになっている。
【００２５】
このような本発明の落下試験装置は、例えば、電子回路ユニットにおける半導体部品の半田付強度を試験する場合に使用され、次に、治具５の第１実施例に係る構成を図２〜図６に基づいて説明すると、金属材等から形成された治具５は、上蓋部６と、この上蓋部６に合わされる下蓋部７を有しており、この上、下蓋部６，７は、合わされて箱形をなし、互いに対向する３対面からなる６面体８が形成されている。
【００２６】
また、治具５は、６面体８のそれぞれの面の中央部に設けられた半球状、或いは丸みを持たせた突部９と、内部に設けられた空洞部１０と、この空洞部１０内に下蓋部７から突出した複数の取付部１１を有し、上、下蓋部６，７は、ネジ１２によって組み合わされている。
【００２７】
被測定物１３は、プリント基板１４と、このプリント基板１４の中央部に半田付によって取り付けられた半導体部品１５を有しており、この被測定物１３は、半導体部品１５を空洞部１０内の中央部に位置した状態で、プリント基板１４が取付部１１にネジ１６止めされて固定されている。
【００２８】
このような電子回路ユニットにおける落下試験は、治具５の６面体８の内の一面が床部２の面２ａに対して平行な状態で、治具５が図１に示す支持部３によって支持された状態で所定の高さＰまで持ち上げられると、支持部３がロック機構４によってロックされる。
【００２９】
次に、ロック機構４を解除すると、支持部３が治具５（被測定物１３を含む）を保持したままで、支持部３と治具５は自重によって落下し、そして、所定の位置Ａになると、治具５が支持部３からリリース部によってリリースされて、図６に示すように、治具５の突部９が床２の面２ａに衝突して、落下試験が行われるようになっている。
【００３０】
この時、支持部３に対する治具５の保持状態のバラツキや、治具５がリリースされた後の空気抵抗によって、治具５が床部２の面２ａに対して傾いた状態であっても、突部９が衝突するため、治具５の重心Ｇと衝突位置Ｓとの間のズレ量Ｚが小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られる。
【００３１】
また、この落下試験は、６面体８の全ての面での試験が可能となっており、６面体のそれぞれの面には、突部９が設けられているため、全ての面で、治具５の重心Ｇと衝突位置Ｓとの間のズレ量Ｚが小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られる。
【００３２】
図７〜図１１は、本発明の第２実施例の治具５を示し、この第２実施例における治具５は、６面体８を有する卵状で形成され、６面体８のそれぞれの面の中央部には丸みを持たせた突部９が設けられており、その他の構成は、上記第１実施例と同様の構成を有し、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
【００３３】
そして、この第２実施例においても、図１１に示すように、支持部３に対する治具５の保持状態のバラツキや、治具５がリリースされた後の空気抵抗によって、治具５が床部２の面２ａに対して傾いた状態であっても、突部９が衝突するため、治具５の重心Ｇと衝突位置Ｓとの間のズレ量Ｚが小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られるようにしたものである。
【００３４】
図１２は本発明の落下試験装置の他の実施例を示し、この実施例は、突部９が床部２ａの面２ａに設けられたもので、その他の構成は、上記図１に示す実施例と同様の構成を有し、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
【００３５】
また、図１３は図１２に示す他の実施例の落下試験装置に使用される治具５を示し、この治具５は、上記図２〜図６に示す第１実施例における治具５の突部９を無くして、平面状の６面体８としたもので、その他の構成は、上記第１実施例と同様の構成を有し、同一部品に同一番号を付し、ここではその説明を省略する。
【００３６】
そして、治具５が落下した際、６面体８のそれぞれの面の中央部が床部２に設けられた突部９に衝突するようにして、支持部３に対する治具５の保持状態のバラツキや、治具５がリリースされた後の空気抵抗によって、治具５が床部２の面２ａに対して傾いた状態であっても、治具５の平面が突部９に衝突するため、治具５の重心Ｇと衝突位置Ｓとの間のズレ量Ｚが小さくなって、落下試験の精度の良好なものが得られるようにしたものである。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の落下試験装置に係る斜視図である。
【図２】本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の斜視図である。
【図３】本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の要部断面図である。
【図４】図３の４−４線における断面図である。
【図５】本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具の上蓋部を取り去った状態を示す平面図である。
【図６】本発明の落下試験装置に係り、第１実施例の治具を落下させた状態を示す説明図である。
【図７】本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の斜視図である。
【図８】本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の要部断面図である。
【図９】図８の９−９線における断面図である。
【図１０】本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具の上蓋部を取り去った状態を示す平面図である。
【図１１】本発明の落下試験装置に係り、第２実施例の治具を落下させた状態を示す説明図である。
【図１２】本発明の落下試験装置の他の実施例を示す斜視図である。
【図１３】本発明の落下試験装置の他の実施例に係り、この実施例に使用される治具の斜視図である。
【図１４】従来の落下試験装置に係る斜視図である。
【図１５】従来の落下試験装置に係る治具の平面図である。
【図１６】従来の落下試験装置に係る治具の要部断面図である。
【図１７】図１６の１７−１７線における断面図である。
【図１８】従来の落下試験装置に係り、治具を落下させた状態を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３８】
１  ガイド部材
２  床部
２ａ  面
３  支持部
４  ロック機構
５  治具
６  上蓋部
７  下蓋部
８  ６面体
９  突部
１０  空洞部
１１  取付部
１２  ネジ
１３  被測定物
１４  プリント基板
１５  半導体部品
１６  ネジ
Ｐ  所定の高さ
Ａ  所定の位置
Ｇ  重心
Ｓ  衝突位置
Ｚ  ズレ量
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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