(57)【要約】【課題】記録／再生方式に限定されることなく、光ディスク上の位置又は領域によってその記録特性等にばらつきがある場合でも、当該記録後の記録情報の再生特性を向上させることが可能な記録用光ビームの強度設定装置を提供する。【解決手段】規格上、光ディスクＤＫの全範囲にわたって分散して形成されることとなる強度設定領域を用いて記録用光ビームＢの強度の最適化を行うに当たり、例えば光ディスクＤＫの記録領域を半径方向に等分して得られる夫々の部分記録領域内にある強度設定領域を夫々用いて、当該各部分記録領域毎に最適な記録用光ビームＢの強度を求める。【選択図】図２
2007115311.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報を光学的に記録媒体に記録する際に用いられる光ビームの強度を設定する強度設定装置において、
前記記録情報を前記記録媒体に記録する際に準拠すべき規格において予め前記記録媒体上に定められる特定領域の当該記録媒体上の位置を、前記記録情報の記録に用いられる前記記録媒体上の領域を分割して得られる分割領域毎に夫々検出する位置検出手段と、
各前記検出された位置にある前記特定領域の夫々において試記録を行う試記録手段と、
各前記特定領域における前記試記録の結果に基づき、当該試記録が行われた各前記特定領域に夫々対応する各前記分割領域毎に、当該分割領域内に前記記録情報を記録する際の前記強度を夫々設定する設定手段と、
を備えることを特徴とする強度設定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の強度設定装置において、
前記記録媒体は光ディスクであると共に、
前記分割領域は、前記記録情報の記録に用いられる前記光ディスク上の領域を、当該光ディスクにおける半径方向に複数に分割して得られる分割領域であることを特徴とする強度設定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の強度設定装置において、
前記位置検出手段は、
前記記録媒体の種類を検出する種類検出手段を備え、
前記記録情報の記録に用いられる前記記録媒体上の領域を前記検出された種類に基づいて分割して得られる前記分割領域毎に、各前記特定領域の当該記録媒体上の位置を夫々検出することを特徴とする強度設定装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか一項に記載の強度設定装置において、
前記試記録手段は、前記記録媒体が一回のみ前記記録情報の記録が可能な追記型の記録媒体であるとき、一度前記試記録に供された前記特定領域を除いた他の前記特定領域を用いて前記試記録を行うことを特徴とする強度設定装置。
【請求項５】
記録情報を光学的に記録媒体に記録する際に用いられる光ビームの強度を設定する強度設定装置であって、前記記録媒体上のいずれかの領域を用いて試記録を行う試記録手段を備える強度設定装置に含まれるコンピュータを、
前記記録情報を前記記録媒体に記録する際に準拠すべき規格において予め前記記録媒体上に定められる特定領域の当該記録媒体上の位置を、前記記録情報の記録に用いられる前記記録媒体上の領域を分割して得られる分割領域毎に夫々検出する位置検出手段、
各前記検出された位置にある前記特定領域の夫々において前記試記録を行うように前記試記録手段を制御する制御手段、及び、
各前記特定領域における前記試記録の結果に基づき、当該試記録が行われた各前記特定領域に夫々対応する各前記分割領域毎に、当該分割領域内に前記記録情報を記録する際の前記強度を夫々設定する設定手段、
として機能させることを特徴とする強度設定用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、強度設定装置及び強度設定用プログラム並びに情報記録装置の技術分野に属し、より詳細には、光学的な記録情報の記録に用いられる光ビームの強度を設定する強度設定装置及び当該強度設定に用いられる強度設定用プログラム並びに当該強度設定装置を含む情報記録装置の技術分野に属する。
【背景技術】
【０００２】
例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の光ディスクに対して光学的に記録情報を記録する際には、当該記録情報の記録後における再生特性を向上させるべく、当該光ディスクにおける記録層の材質等の記録特性に応じて、記録用の光ビームの強度が調整されることが行われる。
【０００３】
このとき、従来においては、当該強度の調整は、情報記録装置に記録用の光ディスクが装填された後において、当該光ディスク上で予め設定されている試記録領域を用いた試記録を行い、その試記録において最も再生特性が良好であった光ビームの強度をもって当該光ディスク全体に適用される光ビームの強度を設定していた。なお、従来における上記試記録領域として具体的には、例えば、当該光ディスクにおける最内周部に予め形成されているいわゆるＯＰＣ（Optical Power Calibration）領域がある。
【０００４】
一方、上記光ディスクに対する光学的な記録情報の記録においては、例えば光ディスク内における記録膜の感度変動や光ビームの光軸に対する光ディスク自体の傾き（いわゆるチルト）等が原因となって、光ビームの強度の最適値が光ディスク上の領域に応じて変動する場合がある。そして、このような場合に対して、上述した一度きりの試記録による強度設定で光ディスク全体に適用される強度を設定してしまう技術では対応できないと言う問題点があった。
【０００５】
そこで、近年においては、例えば下記特許文献１又は２に開示されているように、記録情報を実際に記録し始めた後に再度上記試記録を光ディスク上の領域（すなわち、記録情報記録用の領域）で行い、その都度光ビームの強度を最適化することが行われていた。より具体的には、例えば、記録開始前において、それ以前に光ディスクに形成されていたマーク部からの反射光強度及びスペース部からの反射光度夫々について最適値をサンプリングして求めておき、実際の記録情報の記録中において、光ディスクに実際に形成されるマーク部及びスペース部夫々からの反射光強度が上記最適値と同じになるように光ビームの強度をフィードバック制御する手法が採られていた。
【特許文献１】特開２０００−０２０９５７号公報（第２図乃至第５図等）
【特許文献２】特開２００４−２３４８１２号公報（第３図乃至第５図等）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、上述した従来技術の場合、いわゆる矩形波形（すなわち、マーク部とスペース部とが夫々ある程度の時間的長さを持っている波形）の駆動信号を用いて光ビームの出射元である半導体レーザが制御されている場合には適切な強度制御を行なうことができる。しかしながら、マーク部の形状調整を目的としていわゆるマルチパルスを用いて上記半導体レーザが制御されている場合には、上記マーク部及びスペース部の夫々が極端に短時間になってしまう場合があり、この場合は上記反射光強度のサンプリングに要する時間的余裕がないため、結果的に上記従来技術では正確に光ビームの強度を制御することができない場合があると言う問題点があった。
【０００７】
また、同一位置に対する複数回の記録が可能ないわゆる相変化型の書換可能光ディスクの場合は、その記録再生原理に起因して、情報記録中における反射光強度の変化に対してマーク部の形成が与える影響が少ない、換言すれば、相変化型の書換可能光ディスクの場合は、マーク部が形成されても反射光強度はほとんど変化せず、記録用光ビームの強度が変化しない限り反射光強度もほとんど変化しないと言う事情があるため、上述した従来の強度の最適化が採用し得ないと言う問題点もあった。
【０００８】
そこで、本願は上記の各問題点に鑑みて為されたもので、その課題は、記録／再生方式に限定されることなく、光ディスク上の位置又は領域によってその記録特性等にばらつきがある場合でも、当該記録後の記録情報の再生特性を向上させることが可能な記録用光ビームの強度設定装置及び当該強度設定用プログラム並びに当該強度設定装置を含む情報記録装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、記録情報を光学的に光ディスク等の記録媒体に記録する際に用いられる光ビームの強度を設定する強度設定装置において、前記記録情報を前記記録媒体に記録する際に準拠すべき規格において予め前記記録媒体上に定められる特定領域の当該記録媒体上の位置を、前記記録情報の記録に用いられる前記記録媒体上の領域を分割して得られる分割領域毎に夫々検出する強度設定領域検出部等の位置検出手段と、各前記検出された位置にある前記特定領域の夫々において試記録を行うＯＰＣ部等の試記録手段と、各前記特定領域における前記試記録の結果に基づき、当該試記録が行われた各前記特定領域に夫々対応する各前記分割領域毎に、当該分割領域内に前記記録情報を記録する際の前記強度を夫々設定するＤＳＰ等の設定手段と、を備える。
【００１０】
上記の課題を解決するために、請求項５に記載の発明は、記録情報を光学的に光ディスク等の記録媒体に記録する際に用いられる光ビームの強度を設定する強度設定装置であって、前記記録媒体上のいずれかの領域を用いて試記録を行うＯＰＣ部等の試記録手段を備える強度設定装置に含まれるコンピュータを、前記記録情報を前記記録媒体に記録する際に準拠すべき規格において予め前記記録媒体上に定められる特定領域の当該記録媒体上の位置を、前記記録情報の記録に用いられる前記記録媒体上の領域を分割して得られる分割領域毎に夫々検出する位置検出手段、各前記検出された位置にある前記特定領域の夫々において前記試記録を行うように前記試記録手段を制御する制御手段、及び、各前記特定領域における前記試記録の結果に基づき、当該試記録が行われた各前記特定領域に夫々対応する各前記分割領域毎に、当該分割領域内に前記記録情報を記録する際の前記強度を夫々設定する設定手段、として機能させる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
次に、本願を実施するための最良の形態について、図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実施形態は、記録媒体としての上記ＤＶＤ等の光ディスクに対して光学的に情報を記録する情報記録装置に含まれる強度設定装置に対して本願を適用した場合の実施の形態である。
【００１２】
（Ｉ）本願に係る記録フォーマット
本願に係る実施形態について具体的に説明する前に、本願の前提となる光ディスクにおける記録フォーマットについて、具体的に図１を用いて説明する。なお、当該記録フォーマットは、現在一般化している上記ＤＶＤよりも光ディスク一枚当たりの記録容量を更に高めるべく、所謂青紫色の半導体レーザを用いて光ディスクに光学的に情報を記録する際に準拠すべきとして最近規格化された、物理的な記録フォーマットである。
【００１３】
図１最上段に示すように、当該記録フォーマットにおいては、物理クラスタ情報ＰＣの前後をランイン領域ＲＩ及びランアウト領域ＲＯで挟んだ物理フォーマットにより当該記録フォーマットにおける最小単位である単位情報Ｕを構成することが規格化されている。そして、当該単位情報Ｕが複数含まれて、光ディスク上に記録されるべき情報が構成される。
【００１４】
このとき、当該情報自体は、上記物理クラスタ情報ＰＣとしてそれに対応する記録トラック上の領域内に記録される。これに対し、ランイン情報ＲＩが記録されるべき記録トラック上の領域は、当該ランイン情報ＲＩの記録後においては、図１中段に示すように、後述する記録用光ビームの強度制御のために用いられる強度制御領域ＡＰＣを先頭として、予め設定された繰り返しパターンを有する繰り返しパターン情報ＲＰが記録される領域と、後続する物理クラスタ情報ＰＣを再生する際に用いられる同期情報ＳＹが記録される領域と、に分割されている。また同様に、ランアウト情報ＲＯが記録されるべき記録トラック上の領域は、当該ランアウト情報ＲＯの記録後においては、図１最下段に示すように、上記同期情報ＳＹが記録された領域と、上記繰り返しパターン情報ＲＰが記録された領域と、に分割されている。
【００１５】
なお、図１においては、上記記録トラック上に記録される情報の物理フォーマットの態様と、当該記録トラックがその情報の記録後において実際に物理的に分割される領域と、を同列に記載しているので、注意を要する。
【００１６】
上述した記録フォーマットにおいて、上述したようにランイン情報ＲＩ、物理クラスタ情報ＰＣ及びランアウト情報ＲＯを含む単位情報Ｕが複数連続して光ディスク上の情報が構成されることから、上記強度制御領域ＡＰＣは、一枚の光ディスクにおける記録領域内全体に広く分布して形成されることとなる。
【００１７】
そこで、以下に説明する各実施形態においては、上記強度制御領域ＡＰＣを用いて光ディスク上の予め設定された複数の領域毎に情報記録時における上記記録用光ビームの強度制御を行う。
【００１８】
（II）実施形態
次に、上述した記録フォーマットを用いた本願に係る実施形態について、具体的に図２乃至図６を用いて説明する。
【００１９】
なお、図２は実施形態に係る強度制御装置を含む情報記録装置の概要構成を示すブロック図であり、図３は当該情報記録装置の動作の一部を示す図であり、図４は実施形態に係る強度制御領域ＡＰＣにおける強度設定方法を具体的に示す図であり、図５は実施形態に係る強度設定方法を説明するフローチャートであり、図６は実施形態に係る情報記録装置における情報記録動作を示すフローチャートである。
【００２０】
図１に示すように、実施形態に係る情報記録装置Ｒは、ピックアップ１と、フロントエンド２と、Ａ／Ｄ（Analog/Digital）コンバータ５及び６と、設定手段及び記録手段としてのＤＳＰ（Digital Signal Processor）７と、ＣＰＵ１０と、上記光ディスクＤＫが固定されるスピンドルモータ１１と、により構成されている。
【００２１】
また、ピックアップ１は、その内部に受光信号出力部１２を含み、フロントエンド２は、モジュレーション検出部３及びアシンメトリ検出部４を含んでいる。更に、ＤＳＰ７は、位置検出手段、種類検出手段及び特性検出手段としての強度制御領域検出部８及び試記録手段としてのＯＰＣ部９をその内部に含んでいる。
【００２２】
なお、図１においては、実施形態に係る情報記録装置Ｒの構成部材のうち、当該実施形態に係る記録用光ビームＢの強度設定に関与する構成部材のみを図示しているが、当該情報記録装置Ｒとしては、図１に示す構成部材の他に、記録用光ビームＢの集光位置を制御する図示しないトラッキングサーボ制御部、図示しないフォーカスサーボ制御部及び図示しないキャリッジサーボ制御部、上記スピンドルモータ１１の回転数を制御するスピンドルサーボ制御部、外部から入力されてくる情報を図１に示す記録フォーマットに準拠して符号化し記録情報Ｓrとして上記フロントエンド２を介して上記ＤＳＰ７に出力する図示しない符号化部、情報記録装置Ｒにおける動作状態を表示する図示しない表示部並びに当該動作を指示するための操作入力が為される図示しない操作部等を備えている。
【００２３】
次に、全体動作について説明する。
【００２４】
先ず、スピンドルモータ１１には、記録情報Ｓrが光学的に記録される光ディスクＤＫが固定され、当該光ディスクＤＫが、上記スピンドルサーボ制御部の制御の下、予め設定された回転速度で回転される。
【００２５】
このとき、実施形態に係る記録用光ビームＢの強度設定時においては、後述するパターンで強度が変化される当該記録用光ビームＢがピックアップ１から光ディスクＤＫに射出され、その反射光がピックアップ１内の図示しない受光部により受光され、更にその受光強度に対応する受光信号Ｓpが、受光信号出力部１２において生成されてモジュレーション検出部３、アシンメトリ検出部４及びＤＳＰ７に出力される。
【００２６】
ここで、上記モジュレーション検出部３は、光ディスクＤＫが複数回の書き換えが可能な記録用光ディスク（以下、当該記録用光ディスクを単に「書換可能光ディスク」と称する）である場合における記録用光ビームＢの強度の評価に供するべく、受光信号Ｓpにおける変調度を検出し、当該検出された変調度を示すモジュレーション信号Ｓmを生成してＡ／Ｄコンバータ５に出力する。
【００２７】
より具体的には、当該変調度は、図３（ａ）及び図３（ｃ）に示すように、受光信号Ｓpとしての所謂Ｉパターンにおいて、長さ８Ｔ（「Ｔ」は上記記録フォーマットにおいて情報記録時の基準となる基準記録クロックにおける一周期に相当する長さ）の記録ピット（又は記録マーク。以下、単に記録ピット等と称する）につき、その振幅の最大値からその最小値を減算した値を当該最大値で除した値として得られるものである。
【００２８】
そして、当該算出された変調度が予め設定された最適値となるときの記録用光ビームＢの強度を、その時の最適記録強度（記録パワー）として設定するのである（図３（ｃ）参照）。
【００２９】
一方、上記アシンメトリ検出部４は、光ディスクＤＫが一回のみ情報の記録が可能な記録用光ディスク（以下、当該記録用光ディスクを単に「追記可能光ディスク」と称する）である場合において記録用光ビームＢの強度の評価に供するべく、受光信号Ｓpにおける対象性を検出し、当該検出された対象性を示すアシンメトリ信号Ｓaを生成してＡ／Ｄコンバータ６に出力する。
【００３０】
より具体的には、当該対象性は、図３（ａ）及び図３（ｂ）に示すように、受光信号Ｓpとしての上記Ｉパターンにおいて、長さ８Ｔの記録ピット等及び長さ２Ｔの記録ピット等につき、夫々の振幅の最大値（図３（ａ）において夫々「Ｉ８ｈ」及び「Ｉ２ｈ」と示す）及び最小値（図３（ａ）において夫々「Ｉ８Ｌ」及び「Ｉ２Ｌ」と示す）を用いた図３（ａ）に示す計算式により得られるものである。
【００３１】
そして、当該算出された対象性が予め設定された最適値となるときの記録用光ビームＢの強度を、その時の最適記録強度（記録パワー）として設定するのである（図３（ｂ）参照）。
【００３２】
次に、上記モジュレーション信号Ｓm及びアシンメトリ信号Ｓaは、夫々Ａ／Ｄコンバータ５及び６によりデジタル化された後、モジュレーション信号Ｓmd及びアシンメトリ信号Ｓadとして夫々ＤＳＰ７に出力される。
【００３３】
他方、ＤＳＰ７に出力された受光信号Ｓpは、強度制御領域検出部８に出力される。ここで、光ディスクＤＫが記録可能な光ディスクＤＫである場合、検出される受光信号Ｓpには、記録用光ビームＢが照射されている光ディスクＤＫに形成された記録トラックの位置に対応するアドレス情報（すなわち、光ディスクＤＫ上の情報の記録位置を示すアドレス情報）が重畳されている。そして、強度制御領域検出部８は、当該アドレス情報に基づき、図１に示す強度制御領域ＡＰＣの光ディスクＤＫ上における位置を検出する。
【００３４】
これにより、ＤＳＰ７内のＯＰＣ部９は、当該検出された強度制御領域ＡＰＣ内において、記録用光ビームＢの強度を設定すべく当該強度の最適値を求めるための試記録処理を行う。このため、ＯＰＣ部９は、当該試記録処理を制御するための試記録制御信号Ｓlを生成し、ＣＰＵ１０に出力する。
【００３５】
そして、ＣＰＵ１０は、当該試記録制御信号Ｓlに基づき、実際に当該試記録処理を行うように記録用光ビームＢの強度を変化させるべく、制御信号Ｓcを生成してピックアップ１に出力する。
【００３６】
これにより、ピックアップ１は、当該制御信号Ｓcに基づき、上記強度制御領域ＡＰＣ内に照射される記録用光ビームＢの強度を段階的に変化させつつ当該記録用光ビームＢを照射して試記録処理を行う。
【００３７】
以上の動作により、ＯＰＣ部９は、上記試記録処理を実行中に出力されて来るモジュレーション信号Ｓmd又はアシンメトリ信号Ｓadのいずれか一方に基づき、従来と同様の処理により記録用光ビームＢの強度を最適値に設定する。より具体的には、情報記録装置Ｒに装填されている光ディスクＤＫが書換可能光ディスクである場合はモジュレーション信号Ｓmdに基づき記録用光ビームＢの強度を最適値に設定し、一方情報記録装置Ｒに装填されている光ディスクＤＫが追記可能光ディスクである場合はアシンメトリ信号Ｓadに基づき記録用光ビームＢの強度を最適値に設定する。なお、当該設定された最適値はＣＰＵ１０に出力され、記録情報Ｓrの記録時におけるＣＰＵ１０によるピックアップ１の制御に供される。
【００３８】
その後、ＤＳＰ７は、上記図示しない符号化部において符号化された記録情報Ｓrが当該符号化部から入力されると、当該記録情報Ｓrをピックアップ１に出力する。
【００３９】
そして、ピックアップ１は、ＣＰＵ１０からの制御の下、上記最適値に設定された強度を有する記録用光ビームＢを用いて記録情報Ｓrを光ディスクＤＫに記録する。
【００４０】
次に、上記ＯＰＣ部９が主として行う上記試記録処理について、具体的に図４乃至図６を用いて説明する。
【００４１】
先ず、当該試記録処理において、一つの強度制御領域ＡＰＣを用いて実行される部分について図４を用いて説明する。
【００４２】
図４に示すように、情報の記録後において強度制御領域ＡＰＣとなる領域を用いて記録用光ビームＢの強度の最適値を求める上記試記録処理においては、先ず図４最上段に示すように、情報の記録後に強度制御領域ＡＰＣとなる領域が光ディスクＤＫ上の記録トラックＴＲにおいて検出されると、当該強度制御領域ＡＰＣ上に記録用光ビームＢの集光位置が到達するタイミングにおいて、光ディスクＤＫからの情報の読み取りと当該光ディスクＤＫに対する情報の記録とを情報記録装置Ｒにおいて切り換える際に用いられるゲート信号ＷＲgateを「Ｒｅａｄ」から「Ｗｒｉｔｅ」に切り換え、これに対応して、当該強度制御領域ＡＰＣ内において記録用光ビームＢの強度を段階的に切り換えるタイミングを示すタイミング信号OPCTMGを、当該切り換えるタイミング毎に「ＨＩＧＨ」とするように生成し、当該タイミング信号OPCTMGを上記試記録制御信号Ｓlの一部としてＯＰＣ部９からＣＰＵ１０に出力する。
【００４３】
そして、ＣＰＵ１０は、記録用光ビームＢの強度を、当該試記録制御信号Ｓl中のタイミング信号OPCTMGが「ＨＩＧＨ」となる度に、図４最下段に示すように予め設定されている初期値から段階的に低減していき、一段階の強度となる毎に強度制御領域ＡＰＣ内の対応する位置に記録ピット等を形成するようにピックアップ１内の光源としての上記半導体レーザの動作を制御する。
【００４４】
次に、当該強度を変えつつ各強度毎に試記録された記録ピット等の夫々に対して、再度記録用光ビームＢ（その強度は、図４最下段に示す「リードパワー」に相当する強度とされている）を照射し、その反射光に基づいて生成された上記受光信号Ｓpから上記アシンメトリ信号Ｓad又はモジュレーション信号Ｓｍdを生成し、その値に基づいてＯＰＣ部９において記録用光ビームＢの最適値を設定する。
【００４５】
このとき、より具体的には、例えばアシンメトリ信号Ｓadを用いる場合、強度制御領域ＡＰＣ内においては、試記録処理時の記録用光ビームＢの強度が図４（ａ）最下段に示すように初期値から暫時低減されていくので、それに対応してアシンメトリ信号Ｓadにより示される対象性を示す値も暫時低減していく。そこで、当該低減していく値のうち予め設定されている最適対象性（最適アシンメトリ）に相当する値に対応する強度が、その強度制御領域ＡＰＣを用いて行われた試記録処理における強度の最適値となる。
【００４６】
次に、実施形態に係る試記録処理を含む記録処理の全体について、図５を用いて説明する。
【００４７】
当該記録処理としては、図５（ａ）に示すように、先ず情報記録装置Ｒに装填された光ディスクＤＫが、既に何らかの情報が記録されている光ディスクＤＫであるか、或いは既存の情報が全くない新品の光ディスクＤＫであるかを、周知の方法を用いて確認する（ステップＳ１）。
【００４８】
そして、装填された光ディスクＤＫが新品の光ディスクＤＫである場合は（ステップＳ１；ＹＥＳ）、当該装填された光ディスクＤＫに記録すべき情報が実際に記録される当該光ディスクＤＫ上の記録領域（すなわち、当該新品の光ディスクＤＫにおける記録可能領域の全体のうち、当該記録すべき情報を記録するために用いられるべき記録領域）をそのアドレス情報等を用いて確認し（ステップＳ２）、その確認された記録領域内における内周部分内、中周部分内及び外周部分内夫々に存在することとなる強度制御領域ＡＰＣを各々用いて、図４を用いて説明した試記録処理を夫々実行し、当該内周部分、中周部分及び外周部分夫々における記録用光ビームＢの強度の最適値を設定する（ステップＳ３）。
【００４９】
その後、当該設定された各記録領域毎の強度の最適値を用いて、当該各記録領域毎にその最適値を切り換えつつ、記録情報Ｓrの光ディスクＤＫへの実際の記録処理を行って（ステップＳ６）、実施形態に係る記録処理を終了する。なお、当該ステップＳ６の処理については、後ほど詳述する。
【００５０】
一方、上記ステップＳ１の判定において、装填された光ディスクＤＫにおいて何らかの情報が先行して記録済である場合は（ステップＳ１；ＮＯ）、当該装填された光ディスクＤＫに記録すべき情報が実際に記録される当該光ディスクＤＫ上の記録領域（すなわち、当該光ディスクＤＫにおいて情報が未記録である記録可能領域のうち、当該記録すべき情報を記録するために用いられるべき記録領域）をそのアドレス情報等を用いて確認し（ステップＳ４）、その確認された記録領域内における内周部分内、中周部分内及び外周部分内夫々に存在することとなる強度制御領域ＡＰＣを各々用いて、図４を用いて説明した試記録処理を夫々実行し、当該内周部分、中周部分及び外周部分夫々における記録用光ビームＢの強度の最適値を設定し（ステップＳ５）、上記ステップＳ６の処理に移行して実施形態に係る記録処理を終了する。
【００５１】
ここで、上記ステップＳ３又はＳ５の処理において、夫々の記録領域内における内周部分、中周部分及び外周部分の範囲決定方法としては、例えば、当該記録領域を、アドレス情報等を手掛かりとして光ディスクＤＫの半径方向に単純に三等分し、当該三等分された範囲の最内周部分を内周部分とし、次を中周部分とし、最外周部分を外周部分とすることができる。この場合、光ディスクＤＫの記録領域における単位面積当たりの記録容量が一定のときには、内周部分、中周部分、外周部分の順に記録可能な情報の量が増えていることになる。
【００５２】
これに対し、他の方法としては、例えば、当該記録領域内に記録される情報の情報量を三等分して三つの部分情報とし、各部分情報のうち最も内側に記録されるべき部分情報が実際に記録される光ディスクＤＫ上の記録領域を内周部分とし、各部分情報のうち二つ目の部分情報が実際に記録される光ディスクＤＫ上の記録領域を中周部分とし、更に各部分情報のうち最も外側に記録されるべき部分情報が実際に記録される光ディスクＤＫ上の記録領域を外周部分とすることができる。この場合は、内周部分が半径方向として最も長く、中周部分、外周部分の順に半径方向として短くなっていくことになる。
【００５３】
次に、上記ステップＳ３又はＳ５において実行される、各部分毎の試記録処理について、より具体的に図５（ｂ）を用いて説明する。
【００５４】
上記ステップＳ３又はＳ５の処理においては、先ず、光ディスクＤＫの最内周部（いわゆるリードインエリア）において従来と同様の手法により試記録処理を行い（ステップＳ１０）、更に上述した方法により設定した内周部分内に記録用光ビームＢの照射位置を移動させ（ステップＳ１１）、当該移動後の内周部分内に存在するいずれか一つ以上の強度制御領域ＡＰＣを用いて図４で示した試記録処理を実行し、当該内周部分に対応する記録用光ビームＢの強度の最適値を設定してＯＰＣ部９内の図示しないメモリに記憶し（ステップＳ１２）、上記ステップＳ６の処理に移行する。
【００５５】
次に、上述した方法により設定した中周部分内に記録用光ビームＢの照射位置を移動させ（ステップＳ１３）、当該移動後の中周部分内に存在するいずれか一つ以上の強度制御領域ＡＰＣを用いて図４で示した試記録処理を実行し、当該中周部分に対応する記録用光ビームＢの強度の最適値を設定してＯＰＣ部９内の上記メモリに記憶し（ステップＳ１４）、上記ステップＳ６の処理に移行する。
【００５６】
更に、上述した方法により設定した外周部分内に記録用光ビームＢの照射位置を移動させ（ステップＳ１５）、当該移動後の外周部分内に存在するいずれか一つ以上の強度制御領域ＡＰＣを用いて図４で示した試記録処理を実行し、当該外周部分に対応する記録用光ビームＢの強度の最適値を設定してＯＰＣ部９内の上記メモリに記憶し（ステップＳ１６）、上記ステップＳ６の処理に移行する。
【００５７】
次に、上記ステップＳ６における記録処理の詳細について、具体的に図６を用いて説明する。
【００５８】
上記ステップＳ６の記録処理においては、記録用光ビームＢの照射位置が光ディスクＤＫにおける最内周部であるか否かを先ず確認し（ステップＳ２０）、当該最内部に照射位置があるときは（ステップＳ２０；ＹＥＳ）、上記ステップＳ１０における試記録処理において設定された強度の最適値を用いて実際の記録情報Ｓrの光ディスクＤＫへの記録を行い（ステップＳ２１）、その後、後述するステップＳ２６の処理に移行する。
【００５９】
一方、ステップＳ２０の判定において、記録用光ビームＢの照射位置が上記最内周部でない場合（ステップＳ２０；ＮＯ）、次に、当該照射位置が上記内周部分（図５（ｂ）ステップＳ１１参照）内であるか否かを確認し（ステップＳ２７）、当該内周部分に照射位置があるときは（ステップＳ２７；ＹＥＳ）、上記ステップＳ１２における試記録処理において設定された強度の最適値を用いて実際の記録情報Ｓrの光ディスクＤＫへの記録を行い（ステップＳ２８）、その後、後述するステップＳ２６の処理に移行する。
【００６０】
更に、ステップＳ２７の判定において、記録用光ビームＢの照射位置が上記内周部分でない場合（ステップＳ２７；ＮＯ）、次に、当該照射位置が上記中周部分（図５（ｂ）ステップＳ１３参照）内であるか否かを確認し（ステップＳ２２）、当該中周部分に照射位置があるときは（ステップＳ２２；ＹＥＳ）、上記ステップＳ１４における試記録処理において設定された強度の最適値を用いて実際の記録情報Ｓrの光ディスクＤＫへの記録を行い（ステップＳ２３）、その後、後述するステップＳ２６の処理に移行する。
【００６１】
最後に、ステップＳ２２の判定において、記録用光ビームＢの照射位置が上記中周部分でもない場合（ステップＳ２２；ＮＯ）、次に、当該照射位置が上記外周部分（図５（ｂ）ステップＳ１５参照）内であるか否かを確認し（ステップＳ２４）、当該外周部分に照射位置があるときは（ステップＳ２４；ＹＥＳ）、上記ステップＳ１６における試記録処理において設定された強度の最適値を用いて実際の記録情報Ｓrの光ディスクＤＫへの記録を行う（ステップＳ２５）。
【００６２】
そして、全ての記録情報Ｓrを記録し終わったか否かを確認し（ステップＳ２６）、未だ未記録の記録情報Ｓrがある場合は上記ステップＳ２０に戻って上述したステップＳ２０乃至Ｓ２８の処理を繰り返し、他方、全ての記録情報Ｓrについての記録処理が完了したときは（ステップＳ２６；ＹＥＳ）、そのまま実施形態に係る記録処理を終了する。
【００６３】
なお、上記ステップＳ２４の判定において、この段階で照射位置が外周部分内出もないと判定された場合（ステップＳ２４；ＮＯ）、通常このような状態はあり得ないはずであるので、必要なエラー処理（図示しない表示部におけるエラー表示等）を行って、実施形態に係る記録処理を終了する。
【００６４】
以上説明したように、実施形態の情報記録装置Ｒの動作によれば、装填されている光ディスクＤＫ上の各領域（又は位置）毎に別個に最適な記録用光ビームＢの強度を設定するので、当該領域（又は位置）によってその記録特性等にばらつきがある場合でも、当該領域（又は位置）に対応した適切な強度の記録用光ビームＢで記録することができ、当該記録後の記録情報Ｓrの再生特性を向上させることができる。
【００６５】
また、必要な記録領域内を光ディスクＤＫの半径方向に三等分した夫々に対応する最適な強度を求める場合には、三等分された記録領域の夫々につき、強度制御領域ＡＰＣを用いた試記録処理により記録用光ビームＢの最適な強度が設定されるので、光ディスクＤＫ全体として各記録領域における記録特性のばらつき等を補償して適切に記録情報Ｓrを記録することができる。
【００６６】
なお、この場合に、記録領域を三等分するだけでなく、記録情報Ｓrの特性や光ディスクＤＫの記録特性に応じ、当該記録領域を二以上の領域に分割し、夫々の領域毎に当該領域内に形成される強度制御領域ＡＰＣを用いて記録用光ビームＢの最適な強度を求め、記録情報Ｓrを記録することができる。
【００６７】
更に、記録すべき記録情報Ｓrの情報量を三等分した夫々の記録情報Ｓrに対応した記録領域毎に最適な強度を求める場合には、各分割された記録情報Ｓｒが夫々記録される記録領域の夫々につき、強度制御領域ＡＰＣ域を用いた試記録処理により記録用光ビームＢの最適な強度が設定されるので、記録情報Ｓr全般に渡って均等に、対応する光ディスクＤＫにおける記録特性のばらつき等を補償して適切に記録情報Ｓrを記録することができる。
【００６８】
なお、この場合に、記録情報Ｓrをその情報量に基づいて三等分するだけでなく、記録情報Ｓrの特性や光ディスクＤＫの記録特性に応じ、当該記録情報Ｓrを二以上に分割し、夫々の分割された記録情報Ｓrが記録される記録領域毎に当該記録領域内に形成される強度制御領域ＡＰＣを用いて記録用光ビームＢの最適な強度を求め、当該記録情報Ｓrを記録することができる。
【００６９】
また、ＯＰＣ部９において従来の方法を用いて光ディスクＤＫの種類を予め検出し、その検出された種類に応じて記録領域の分割態様を変えてもよい。当該分割態様としてより具体的には、例えば光ディスクＤＫが書換可能光ディスクであるときは、上述した実施形態の如く、内周部分、中周部分及び外周部分の三等分にすることで上述した作用効果を発揮することができる。これは、一般に上記書換可能光ディスクにおいては、記録用光ビームの強度（以下、当該強度を単にビームパワーと称する）の変動に対する許容範囲が広いため、多少ビームパワーが変動していても情報の記録特性に悪影響を与えることはないので、上記三等分以上に細かく記録領域を分割する必要がないことによる。
【００７０】
これに対し、光ディスクＤＫが追記可能光ディスクであるときは、その記録領域を、例えば最内周部分、内周部分、中周部分、外周部分及び最外周部分と言ったように五等分以上に分割することが望ましい。これは、一般に上記追記可能光ディスクにおいては上記許容範囲が狭いため、ビームパワーの変動が記録特性の悪化に与える影響が大きいので、より細かく記録領域を分割する必要があることによる。
【００７１】
このようにすれば、情報記録装置Ｒに装填された光ディスクＤＫの種類に応じて記録領域の分割態様を変えて当該分割を行った上で、各分割された記録領域の夫々につき、強度設定領域ＡＰＣを用いた試記録処理により記録用光ビームＢの最適な強度が設定されるので、各分割された記録領域における記録特性のばらつき等を補償して適切に情報を記録することができる。
【００７２】
なお、記録領域の分割数を増やせば増やすほど、それだけ最適なビームパワーを求めるために時間が別途必要となるため、できるだけ少なく且つ光ディスクＤＫ全体で安定した記録特性が得られる領域分割数を予め求める必要がある。
【００７３】
（III）変形形態
次に、本願に係る変形形態について、図７及び図８を用いて説明する。
【００７４】
先ず、第１の変形形態として、図７に示すように、間を置いて連続する二つの強度設定領域ＡＰＣ１及びＡＰＣ２を用いて一回分の試記録処理を行うように構成することもできる。この変形形態は、一つの強度設定領域ＡＰＣの光ディスクＤＫの周方向の長さが十分ではなく、当該一つの強度設定領域ＡＰＣを用いるだけでは全ての強度に渡る試記録処理ができない場合に好適である。
【００７５】
また、第２の変形形態として、特に光ディスクＤＫが追記可能光ディスクである場合、同一の強度設定領域ＡＰＣを用いて再度試記録処理を実行したり、或いは試記録処理に用いた強度設定領域ＡＰＣ内に別の情報を記録したりすると、当該強度設定領域ＡＰＣに対応する記録膜（記録層）自体を破壊することになり兼ねない。そこで、二回目以降に実施形態に係る試記録処理を実行する場合には、それまでに試記録処理に供された強度設定領域ＡＰＣ（例えば図８に示す強度設定領域ＡＰＣ１及びＡＰＣ３）に対応するタイミングを検出し、そのタイミングにおいて上記ゲート信号ＷＲgateを「Ｒｅａｄ」のままとして当該強度設定領域ＡＰＣ１及びＡＰＣ３を用いた試記録処理を実行しないようにし、未記録の強度設定領域ＡＰＣ（例えば図８に示す強度設定領域ＡＰＣ２）に対応するタイミングにおいてのみ上記ゲート信号ＷＲgateを「Ｗｒｉｔｅ」として試記録処理を実行するように構成することもできる。
【００７６】
更に、図５及び図６に示すフローチャートに対応するプログラムを、フレキシブルディスク又はハードディスク等の情報記録媒体に記録しておき、又はインターネット等を介して取得して記録しておき、これらを汎用のコンピュータで読み出して実行することにより、当該コンピュータを各実施形態に係るＣＰＵ１０及びＤＳＰ７として活用することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本願に係る記録フォーマットを例示する図である。
【図２】実施形態の情報記録装置の概要構成を示すブロック図である。
【図３】実施形態に係る対象性及び変調度を説明する図であり、（ａ）は当該対象性及び変調度の定義を示す図であり、（ｂ）は当該対象性を用いた最適な強度の設定を示す図であり、（ｃ）は当該変調度を用いた最適な強度の設定を示す図である。
【図４】実施形態に係る強度設定領域を用いた最低な強度の設定を説明する図であり、（ａ）は当該設定処理を示すタイミングチャートであり、（ｂ）は当該設定を具体的に例示する図である。
【図５】実施形態に係る試記録処理を示すフローチャートであり、（ａ）はその全体処理を示すフローチャートであり、（ｂ）はその細部を示すフローチャートである。
【図６】実施形態に係る記録処理を示すフローチャートである。
【図７】第１の変形形態を示すタイミングチャートである。
【図８】第２の変形形態を示す図である。
【符号の説明】
【００７８】
１    ピックアップ
３    モジュレーション検出部
４    アシンメトリ検出部
７    ＤＳＰ
８    強度制御領域検出部
９    ＯＰＣ部
１０  ＣＰＵ
ＡＰＣ、ＡＰＣ１、ＡＰＣ２、ＡＰＣ３    強度設定領域
ＤＫ    光ディスク
Ｒ    情報記録装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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