(57)【要約】【課題】垂直磁気記録方式の熱減磁による回復不能なエラーを回避する。【解決手段】熱減磁モニタ専用セクタを設け、熱減磁の影響を受けやすいパターンを記録しておき、その信号品質をモニタすることにより、回復不能なエラーが発生する前に、上位装置に劣化を報告する。【選択図】  図１７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
垂直磁気記録層を備え、熱減磁による信号品質劣化が大きいパターンを記録した熱減磁モニタ専用セクタを有する磁気ディスクと、
前記磁気ディスクを回転駆動する媒体駆動部と、
前記磁気ディスクに対して記録・再生動作を行う磁気ヘッドと、
前記磁気ディスクに対して前記磁気ヘッドを位置決めするアクチュエータと、
前記熱減磁モニタ専用セクタの再生信号を処理して、前記熱減磁モニタ専用セクタでの誤りの発生し易さを評価し、信号品質劣化の度合いを判定する熱減磁判定処理部と、
を有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンが、ユーザーデータを記録するためのセクタで使用される記録符号語の中から選択された記録パターンであることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンが、ユーザーデータを記録するためのセクタで使用される記録符号語の中から選択され、且つ、最長ビット長、或いは、2番目、3番目に長いビット長を含む記録パターンであることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンが、ユーザーデータを記録するためのセクタで使用される記録符号語の中から選択され、且つ、平均のビット長が、最長ビット長の半分の長さ以上となるように選択された記録パターンであることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、等化された再生信号からバイナリデータを復調するビタビ検出器を有し、前記熱減磁判定処理部は、前記ビタビ検出器内でのビタビマージンの積算値を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項６】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、パリティ符号を用いて誤り訂正する機能を有し、等化された再生信号からバイナリデータを復調する復号器を有し、前記熱減磁判定処理部は、前記熱減磁モニタ専用セクタ内でのパリティ符号による訂正数を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記熱減磁判定処理部は、前記熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンの等化された再生信号から復調されたバイナリデータと、予め前記熱減磁モニタ専用セクタに記録したパターンのバイナリデータとを比較し、その誤り率を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項８】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記信号品質劣化の指標の経時変化を保持するメモリを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項９】
請求項８に記載の磁気ディスク装置において、前記熱減磁判定処理部は、前記信号品質劣化の指標の経時変化から現在の信号品質が予め定めた基準よりも劣化したと判定されたとき上位装置に報告することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の磁気ディスク装置において、前記磁気ディスクは、半径方向に複数のゾーンに分割して管理される記録トラックを有し、前記熱減磁モニタ専用セクタが各ゾーンに設けられていることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項１１】
熱減磁による垂直磁気記録媒体の信号品質劣化をモニタする方法であって、
熱減磁による信号品質劣化が大きいパターンが予め記録された熱減磁モニタ専用セクタを読み出す工程と、
前記熱減磁モニタ専用セクタから読み出された再生信号を処理して、前記熱減磁モニタ専用セクタでの誤りの発生し易さを評価し、信号品質劣化の度合いを判定する工程と、
を有することを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、
前記再生信号を等化する工程と、
前記等化された再生信号からバイナリデータをビタビ検出器で復号する工程とを有し、
前記ビタビ検出器内でのビタビマージンの積算値を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１３】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、
前記再生信号を等化する工程と、
前記等化された再生信号からパリティ符号を用いて誤り訂正しながらバイナリデータを復号する工程とを有し、
前記熱減磁モニタ専用セクタ内でのパリティ符号による訂正数を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１４】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、
前記再生信号を等化する工程と、
前記等化された再生信号から前記熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンからバイナリデータを復号した結果と、予め前記熱減磁モニタ専用セクタに記録したパターンのバイナリデータとを比較する工程とを有し、
前記比較による誤り率を前記信号品質劣化の指標として用いることを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１５】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、
前記信号品質劣化の指標の経時変化をメモリに記録する工程と、
前記記録された信号品質劣化の指標の経時変化から現在の信号品質が予め定めた基準よりも劣化しているか否か判定する工程と、
現在の信号品質が予め定めた基準よりも劣化していると判定されたとき上位装置に報告する工程と、
を有することを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１６】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、上位装置からのユーザーデータの記録或いは再生など命令の頻度が低く、ユーザーデータの記録或いは再生動作を行わない時間に前記各工程を実行することを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１７】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、電源投入時の起動チェック直後に、前記各工程を実行することを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【請求項１８】
請求項１１に記載の信号品質劣化モニタ方法において、上位装置からのユーザーデータの記録或いは再生など命令が無く、アイドル状態に移行する時に、前記各工程を実行することを特徴とする信号品質劣化モニタ方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、垂直磁気記録媒体を用いる磁気ディスク装置の信頼性向上に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置の高記録密度化を進める上では、記録媒体の高SNR（信号対雑音比）化が必須である。従来から、記録媒体の高SNR化のためには、記録媒体記録層の磁性粒子の微細化が進められてきた。しかし、磁性粒子の微細化は、磁性粒子の磁化の熱安定性を損なう方向であるため、熱安定性向上のために、磁気異方性の高い磁性材料への移行が必要となり、記録に必要な磁界強度が増大する方向となる。一方で、高密度化のためには、トラック密度を高める必要があり、これにより、記録ヘッド磁界強度は低下し、記録が困難となる方向にある。従って、高記録密度領域では、熱安定性と記録容易性の両立がますます問題となる。
【特許文献１】米国特許第６，７００，７２３号明細書
【特許文献２】特開１０−２５５２０２号公報
【特許文献３】特開２００１−２７３７２４号公報
【特許文献４】特開２００１−２１６６０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
原理的に熱安定性を高められる垂直磁気記録方式といえども、更なる高記録密度化のためには熱安定性の問題への対応は不可避である。必要最低限の熱安定性は全ての製品で確保する必要があるが、部品特性のバラツキ・使用環境などによって、熱減磁による性能劣化には個体差が生じると考えられる。全てのバラツキ・環境を考慮し、保証することは、現実的には非常に困難であり、コストの増大を招く事となる。
【０００４】
装置側で、熱減磁による信号品質劣化を検出し、何らかの対応をすることは、有効な手段である。従来の面内磁気記録方式では高密度パターンが熱的に不安定であったのに対して、垂直磁気記録方式では低密度パターンの方が熱減磁が大きいという特徴があることは、明らかである。しかし、垂直磁気記録方式において、エラーレート性能の劣化につながる信号品質の劣化を効率良く、高精度に検出する方法は確立されていない。
【０００５】
また、記録したセクタ全てについて、エラーレートなどを用いて、その品質を頻繁に検出することは、HDDの通常動作の妨げとなり、アクセス速度の低下、パフォーマンスの低下を招く。
【０００６】
本発明の目的は、垂直磁気記録方式を用いた磁気ディスク装置において、装置パフォーマンスの低下を最低限に抑えた上で、熱減磁によるデータの消失を防ぎ、信頼性を向上させることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するため、本発明では、熱減磁による信号品質劣化をモニタするための専用セクタを設ける。専用セクタには、熱減磁によるエラー性能低下の大きいパターンからなる記録パターンを記録し、その信号品質を評価し、その経時変化から熱減磁による信頼性の低下を検出する機能を有する。
【０００８】
すなわち、本発明による磁気ディスク装置は、垂直磁気記録層を備え、熱減磁による信号品質劣化が大きいパターンを記録した熱減磁モニタ専用セクタを有する磁気ディスクと、磁気ディスクを回転駆動する媒体駆動部と、磁気ディスクに対して記録・再生動作を行う磁気ヘッドと、磁気ディスクに対して磁気ヘッドを位置決めするアクチュエータと、熱減磁モニタ専用セクタの再生信号を処理して、熱減磁モニタ専用セクタでの誤りの発生し易さを評価し、信号品質劣化の度合いを判定する熱減磁判定処理部とを有する。
【０００９】
熱減磁モニタ専用セクタに記録されているパターンは、ユーザーデータを記録するためのセクタで使用される記録符号語の中から選択された記録パターンであり、例えば、最長ビット長、或いは、2番目、3番目に長いビット長を含む記録パターン、もしくは、平均のビット長が、最長ビット長の半分の長さ以上となるように選択された記録パターンとすることができる。
【００１０】
また、本発明の熱減磁による垂直磁気記録媒体の信号品質劣化をモニタする方法は、熱減磁による信号品質劣化が大きいパターンが予め記録された熱減磁モニタ専用セクタを読み出す工程と、熱減磁モニタ専用セクタから読み出された再生信号を処理して、熱減磁モニタ専用セクタでの誤りの発生し易さを評価し、信号品質劣化の度合いを判定する工程と、を有する。信号品質劣化の指標としては、ビタビ検出器内でのビタビマージンの積算値、パリティ符号による訂正数、読み出されたデータの誤り率などを用いることができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によると、垂直磁気記録方式を用いた磁気ディスク装置の熱減磁による致命的なデータ消失を、パフォーマンスの低下を抑えた上で、高精度で回避することが可能となり、信頼性の高い磁気ディスク装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
［実施例１］
本発明による磁気ディスク装置は、図１に示すように、円板状の記録媒体である磁気ディスク１１と、ロータリー型アクチュエータ１２によって駆動される磁気ヘッド１３、磁気ヘッド１３からの再生信号を増幅あるいは、磁気ヘッドに記録電流を送るためのヘッドアンプ１４などからなる。磁気ディスク１１は、モータにより回転駆動される。また、図には示していないが、データを実際に記録するパターンに変換したり、ヘッドアンプで増幅された信号を処理してデータを復調する信号処理チャネル、及び、復調データのエラー訂正、ドライブ全体の制御などを行うHDC（Hard Disk Controller）などを、基板上に備えている。
【００１３】
また、図２に示すように、磁気ヘッド１３は、再生ヘッドとして一対の再生シールド２１，２２に挟まれた磁気抵抗効果素子を備え、また、記録ヘッドとして主磁極２３、補助磁極２４、及び主磁極と補助磁極から形成される磁気回路に鎖交するコイル２５を有する単磁極型記録ヘッドを備える。また、同図に示すように、磁気ディスク１１は、基板２６上に軟磁性裏打ち層２７、垂直磁気記録層２８、保護層２９を有する垂直磁気記録媒体である。
【００１４】
磁気ディスク装置では、図３及び図４に示すように、同心円状の記録トラック４１が設けられ、記録トラックは、半径位置によっていくつかのゾーンに分けられる。各ゾーン内では、データの転送レート（記録周波数）、及び、フィルタなどの係数は固定となる。
【００１５】
また、媒体全半径に渡ってサーボ領域３１が設けられ、サーボ領域の間に、ユーザーデータエリア３２が設けられる。図５に示すように、ユーザーデータは、セクタ単位で管理（記録／再生）され、セクタ内は、図６に示すように、タイミング検出のためのプリアンブル部６１、ユーザーデータの始まりを示すsync部６２、ユーザーデータ部６３、ＥＣＣ部６４、ポストアンブル部６５、などに分けられる。ユーザーデータ部６３は、図７に示すように、記録すべきデータ列を記録に適した系列に変換したユーザーデータブロック７１にパリティチェック符号７２を付加したブロックから成る。
【００１６】
図８に再生系のブロック図を示す。ヘッド・媒体系から読み出された再生信号は、プリンアンプICで増幅され、チャネルICに入力される。チャネルIC内では、信号振幅の増幅、アナログフィルタによる波形等化、A/D（Analog to Digital）変換、デジタルフィルタによる波形等化を経て、ビタビ検出器で復号が行われる。更に、パリティ符号を用いたパリティチェックなどを行うポストプロセッサで誤りを訂正し、HDC（Hard Disk Controller）では、必要に応じてECCを用いた誤り訂正が行われ、ユーザーデータとして復号される。
【００１７】
ビタビ検出器は、再生波形が記録パターンに応じた振幅値を持つことを利用して検出を行う。以下に、ビタビ検出器の動作について概略を説明する。
【００１８】
図９は、PR４方式でのビタビ検出器入力での再生波形振幅を説明する模式図である。この方式では、入力“１”に対して、ビタビ検出器入力では、（１，０，−１）の振幅値を持つ波形となる。入力が“１１１”の場合には、（１，０，−１）を1ビットずつずらして加算した（１，１，０，−１，−１）となり、時刻ｔでの振幅値は理想的には“０”となる。入力が“１１０”の場合には、（１，１，−１，−１，０）となり、時刻ｔの振幅値は“−１”となる。
【００１９】
入力“１”に対する応答が（１，０，−１）であることから、入力ビットの影響は3ビット後まで及ぶこととなる。図１０は、過去2ビットの入力パターンを状態として扱った場合の状態遷移図である。時刻ｔ−１において、状態が“００”であった場合には、次の入力が“０”であった場合、振幅値は“０”となり、状態は“００”に遷移し、入力が“１”の場合、振幅値は“１”となり、状態は“０１”に遷移する。状態から状態に移る経路をパスと呼ぶ。各状態について、入力と振幅値との関係を定めることができ、各時刻において、それぞれの状態への２つのパスに対応する振幅値と、実際の振幅値との差を比較することにより、それぞれの状態へのパスの内、可能性の高いパスを選択する。この理想振幅値と実際の振幅値との差異をメトリックと呼ぶ。図１１に示すように、このような判定を繰り返すことにより、ビタビ検出器では、最も確からしいパターンを復号結果として出力する。
【００２０】
また、このメトリックの値は、エラーが発生しなくても、理想波形との差異を表す値であり、エラーし易さの指標（ビタビマージン）として用いることが出来る。
【００２１】
本実施例では、図１２に示すように、半径位置で分割される各ゾーンに熱減磁モニタ専用セクタ１２１を設けている。このセクタ数は、出荷前に任意に設定するが可能であるが、本実施例では、各ゾーンに10セクタずつ設定している。また、この熱減磁モニタ専用セクタは、出荷前に記録された後は、通常のユーザーの操作では書き直されることは無い。
【００２２】
また、信号品質の劣化を検出する方法としては、信号振幅そのものでは無く、エラーレート性能に直結するビタビマージンを用いる。図１３に示すように、ビタビ検出器は、ビタビマージン値を出力する機能を有し、この値をHDC内の熱減磁判定処理部で使用し、熱減磁による劣化が許容範囲を超えたかどうかを判定する。ここでは、セクタ内でのビタビマージン値を積算した値を判定に用いる。
【００２３】
垂直磁気記録では、ビット長と熱減磁の大きさとの関係は、媒体記録層の膜厚や裏打ち層との距離などにも依存するが、ビット長の長いパターン（低密度パターン）ほど反磁界が大きいために熱減磁が大きいという特徴がある。これは、ビット長の短いパターンで熱減磁の大きい傾向のある従来の面内記録方式と大きく異なる点である。図１４は、垂直磁気記録における各記録密度での繰り返し信号出力の経時変化の例である。同図からも低密度パターンほど出力低下が大きいことが分かる。
【００２４】
HDD内では、図１５に示すように、ゾーン毎に異なるクロックを基準とし、その整数倍のビット長の組み合わせからなる記録パターンが記録されている。クロック間隔（T）と同じ長さが最短ビット長となり、この部分が熱的に最も安定である。熱減磁による性能劣化は、熱減磁の大きいパターンで検出する方が、より早い段階で検出することが可能である。一方で、信号処理チャネルLSIでは、再生波形からのクロック抽出精度、ビタビ検出器の構成などにより、最長磁化反転間隔が制限される。本実施例では、信号処理チャネルが対応する記録符号中に存在する最長磁化反転間隔のパターンの繰り返しを用いることとする。
【００２５】
図１６に、熱減磁モニタ専用セクタ１２１の信号品質チェックのタイミングを説明するための図を示す。まず、出荷前には、初期状態を調べるためのチェックを行う。出荷後は、（１）起動時、（２）HDDへの上位装置からのアクセスが無く、アイドル状態に移行する前、（３）PCなどをシャットダウンし、終了状態に移行する前に熱減磁チェックを行う。このようなHDDの動作が頻繁でないタイミングで熱減磁チェック処理を行うことにより、HDDのアクセス性能を劣化させずにチェックを行うことが可能である。また、各ゾーンに数十セクタ程度の熱減磁モニタ専用セクタを代表値として測定するということもチェック時間短縮に効果的である。
【００２６】
図１７を用いて、HDDへの上位装置からのアクセスが無く、アイドル状態に移行する前に行う熱減磁チェックの処理を説明する。この熱減磁チェック処理は、HDC中の熱減磁判定処理部で行われる。熱減磁チェック処理に入ると、熱減磁モニタ専用セクタ１２１をリードし、信号品質の評価を行う。本実施例では各ゾーンに熱減磁モニタ専用セクタ１２１を設けており、全てのゾーンについて、信号品質評価を行い、その結果を信号品質履歴メモリに保存する。性能劣化判定部では、信号品質履歴メモリに保存された履歴を利用して信号劣化度を判定し、熱減磁による性能劣化が許容範囲を超えたと判断した場合には、異常発生を上位装置に報告した後、次の動作、モードに移行する。許容範囲内と判断した場合には、そのまま、次の動作、モードに移行する。
【００２７】
性能劣化判定部での処理を、図１８、１９を用いて説明する。信号品質履歴メモリには、ゾーン番号、現在までの評価回数を示す評価番号、信号品質値が保存されている。本実施例の場合には、信号品質値としてビタビマージンの積算値が保存されている。性能劣化判定部では、ゾーン毎に信号品質値の履歴を用いて、図１９に示すような信号品質値と評価番号との回帰直線を算出する。回帰直線の現評価番号での値が、異常報告閾値を超えている場合には、異常と判定し、上位装置への報告を行う。回帰直線を用いることにより、信号品質測定のバラツキの影響を軽減できる。また、異常報告閾値は、実際に回復不能エラーが発生する閾値に対してマージンを持って設定することで、異常報告を受けた上位装置、或いはユーザーが対処する余裕を持つことが可能となる。
【００２８】
異常発生の報告を受けた上位装置は、自動的にバックアップ動作を行い、或いは、ユーザーに対してその旨を表示するなどして警告を発し、ユーザーにデータのバックアップを促すこととなる。
【００２９】
尚、図２０に示すように、本実施例では、予めビタビマージンの積算値とエラーレートとの大まかな関係を求めておき、エラー訂正能力などから判断したエラーレートにおける回復不能エラー発生閾値を想定し、更に、そこから2桁のマージンを設定し、異常報告閾値を設定し、ビタビマージンの積算値における同閾値を決定した。本実施例では、同図に示すように、エラーレートが１０−５に相当するビタビマージンの積算値を異常報告閾値に設定した。
【００３０】
本実施例では、性能劣化判定部での信号品質履歴において、評価番号を経時変化の時間指標として用いたが、時刻そのものを時間指標として用いることも可能である。
【００３１】
［実施例２］
本実施例は、熱減磁モニタ専用セクタの記録パターン以外は、実施例１と同様である。
HDD内では、図２１に示すように、ユーザーデータは、HDCにおいてECCの付加、チャネルICにおいて記録符号化、パリティ付加を行い、プリアンプICで記録電流に変換されて記録が行われる。記録符号は、チャネルICの信号処理方式の性能を向上させるために設計されており、通常いくつかの符号化方式が搭載されているが、各符号化方式においては、符号語は決まっており、実際に記録される記録データを任意に設定することは出来ず、符号語内から選択することとなる。
【００３２】
実施例１では、熱減磁モニタ専用セクタの記録パターンには、信号処理チャネルが対応する記録符号中に存在する最長磁化反転間隔のパターンの繰り返しを用いたが、本実施例では、信号処理チャネルが対応する記録符号中に含まれる最長磁化反転間隔を多用したパターンを用いる。上記のように、符号語には制限があり、最長磁化反転間隔のパターンの繰り返しが存在しない場合もある。その場合には、符号語内から最長磁化反転間隔のパターンが多く含まれるパターンを選択する。図２２にパターンの例の一部を示す。本実施例で用いた記録符号では、各ゾーンでの最短磁化反転間隔に相当するビット長（１T）に対して、7倍の反転間隔となる７Tが最長時間反転間隔である。本実施例では、最長磁化反転間隔（７T）、2番目（６T）、3番目（５T）に長い磁化反転間隔のパターンの組み合わせからなる符号語を選択し、記録パターンとして用いる。
【００３３】
また、記録符号の構成によっては、長い磁化反転間隔のパターンのみから記録パターンを構成することが困難な場合には、磁化反転間隔の平均が最長磁化反転間隔の2分の１以上となるような任意の記録符号からなるパターンを用いることによっても、通常のユーザーデータが記録されるパターンよりも熱減磁に対しては劣化の大きいセクタとなり、同様の効果を得ることが可能である。図２３は、その例である。図２３の記録パターンには磁化反転間隔の短いパターンが含まれるが、磁化反転間隔の長いパターンの比率が高く、平均的な磁化反転間隔は、
（６＋５＋３＋４＋２＋１＋７＋５＋４＋４＋２）T／１１≒３．９T
となり、最長磁化反転間隔の１／２すなわち３．５Tよりも長く、熱減磁に対して劣化の大きいセクタとなり、熱減磁モニタ専用セクタとしての条件を満たしている。
【００３４】
［実施例３］
本実施例は、熱減磁モニタ専用セクタの配置が異なる以外は、実施例１と同様である。
実施例１では、全てのゾーンに熱減磁モニタ専用セクタを設けている。これは、記録媒体の半径位置による磁気特性の差異などにより、熱減磁の劣化に半径位置による差異がある場合にも精度良く評価するためである。従って、記録媒体の均一性が高く、装置構成上、熱減磁劣化に半径位置による差異が小さい場合には、熱減磁モニタ専用セクタを減らすことが可能となる。
【００３５】
本実施例では、熱減磁モニタ専用セクタ２４１を、図２４に示すように奇数番号のゾーンにのみ配置する。これにより、フォーマット効率の向上、チェック時間の短縮が可能であるが、検出の精度は、実施例1に比較してやや劣化することなる。更に、精度は劣化するが、図２５にように、熱減磁モニタ専用セクタ２５１を１つのゾーンのみに設けることも可能である。
【００３６】
検出精度、チェック時間との兼ね合いで、出荷前に、熱減磁モニタ専用セクタの配置を設定することが可能である。
【００３７】
［実施例４］
本実施例は、信号品質劣化に用いる指標が異なる以外は、実施例１と同様である。
本実施例では、パリティエラーを評価指標に用いる。図２６に構成図を示す。同図に示すように、ポストプロセッサ内部でパリティチェックを行い、訂正した数を信号品質の指標として用いる。
【００３８】
即ち図１８における信号品質値として、パリティエラーの数を用いることとなる。パリティエラーの数が十分に少ない場合には、パリティチェック、及び、ECCでエラーの訂正が十分可能であるが、パリティエラーの数が非常に多い場合には、誤訂正、訂正不能の可能性が高くなるため、これを信号品質指標として用いることが可能である。性能劣化判定部では、ゾーン毎に信号品質値の履歴を用いて、図１９に示すような信号品質値と評価番号との回帰直線を算出する。回帰直線の現評価番号での値が、異常報告閾値を超えている場合には、異常と判定し、上位装置への報告を行う。
【００３９】
［実施例５］
本実施例では、図２７に示すように、ビタビ検出器出力でのエラー発生数を信号品質指標として用いる。
【００４０】
熱減磁モニタ専用セクタに記録する記録パターンを予め決めておくことにより、熱減磁モニタ専用セクタをリードし、その復号結果を記録パターンと比較し、チャネル内部でハードウェアによりエラー数をカウントすることが可能である。或いは、HDC内でもエラー数をカウントすることも可能である。
この場合には、図１８において信号品質値として、このエラー数を用いることとなる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】磁気ディスク装置の構造例を説明する図。
【図２】磁気ヘッドのヘッド素子、及び記録媒体の構造例を説明する図。
【図３】HDDのデータ・サーボなどの配置を説明する図。
【図４】HDDのサーボ領域とデータ領域の配置を説明する図。
【図５】HDDのデータ領域の構成を説明する図。
【図６】HDDのデータ領域のセクタ内の構成を説明する図。
【図７】HDDのセクタ内のユーザーデータ部の構成を説明する図。
【図８】HDD内の再生系の信号経路例を説明する図。
【図９】パーシャルレスポンス方式での記録パターンと再生信号振幅の関係の例を説明する図。
【図１０】ビタビ検出器での状態遷移図を説明する図。
【図１１】ビタビ検出器での状態遷移の例を説明する図。
【図１２】本発明の実施例１における熱減磁モニタ専用セクタの配置を説明する図。
【図１３】本発明の実施例１における再生信号の経路を説明する図。
【図１４】垂直磁気記録方式における熱減磁と記録密度との関係を説明する図。
【図１５】記録データパターンとクロックとの関係を説明する図。
【図１６】本発明における熱減磁チェックのタイミングを説明する図。
【図１７】本発明における熱減磁チェックの動作を説明する図。
【図１８】本発明における性能劣化判定部の動作を説明する図。
【図１９】本発明における性能劣化判定部における性能劣化判定部の動作を説明する図。
【図２０】本発明の実施例１における信号品質値とエラーレートとの関係、及び閾値の設定方法を説明する図。
【図２１】本発明の実施例２における記録データの流れを説明する図。
【図２２】本発明の実施例２における熱減磁モニタ専用セクタの記録パターンを説明する図。
【図２３】本発明の実施例２における熱減磁モニタ専用セクタの記録パターン、及び平均磁化反転間隔を説明する図。
【図２４】本発明の実施例３における熱減磁モニタ専用セクタの配置を説明する図。
【図２５】本発明の実施例３における熱減磁モニタ専用セクタの配置の別案を説明する図。
【図２６】本発明の実施例４における再生信号の経路を説明する図。
【図２７】本発明の実施例５における再生信号の経路を説明する図。
【符号の説明】
【００４２】
１１：磁気ディスク、１２：ロータリー型アクチュエータ、１３：磁気ヘッド、１４：ヘッドアンプ、２１，２２：再生シールド、２３：主磁極、２４：補助磁極、２５：コイル、２６：基板、２７：軟磁性裏打ち層、２８：記録層、２９：保護層、３１：サーボ領域、３２：ユーザーデータエリア、４１：記録トラック、６１：プリアンブル部、６２：sync部、６３：ユーザーデータ部、６４：ＥＣＣ部、６５：ポストアンブル部、７１：ユーザーデータブロック、７２：パリティチェック符号、１２１，２４１，２５１：熱減磁モニタ専用セクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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