(57)【要約】【課題】高周波のノイズが含まれる入力信号の位相を精度よく検出すること。【解決手段】周期的に変位する入力信号の平均周期を検出する平均周期検出器と、所定レベルを閾値として入力信号を矩形波信号に変換する変換器と、矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するエッジ検出器と、エッジ検出器において順次検出したＮ個のタイミングの情報を記憶するエッジ履歴記憶部と、所定タイミングからＮ個の各タイミングまでの時間を順次、平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算する差分演算器と、Ｎ個の差分値の平均を演算する差分平均値演算器と、差分値の平均に基づいて、次の立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングを算出するエッジ位置算出器とを備えた。【選択図】図７
2007271394.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
周期的に変位する入力信号の平均周期を検出する平均周期検出器と、
所定レベルを閾値として前記入力信号を矩形波信号に変換する変換器と、
前記矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するエッジ検出器と、
前記エッジ検出器において順次検出したＮ個の前記タイミングの情報を記憶するエッジ履歴記憶部と、
所定タイミングから前記Ｎ個の各タイミングまでの時間を順次、前記平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算する差分演算器と、
前記Ｎ個の差分値の平均を演算する差分平均値演算器と、
前記差分値の平均に基づいて、次の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングを算出するエッジ位置算出器と、を備えた位相検出装置。
【請求項２】
前記所定タイミングは、前記エッジ検出器により検出した最新の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングであることを特徴とする請求項１に記載の位相検出装置。
【請求項３】
前記平均周期検出器は、
前記エッジ検出器において順次検出したＭ個（Ｍ＞Ｎ）の前記タイミングの情報に基づいて前記入力信号の平均周期を検出することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の位相検出装置。
【請求項４】
前記平均周期検出器は、
前記入力信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換して前記入力信号の平均周期を検出する高速フーリエ・コサイン・サイン変換器を有することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の位相検出装置。
【請求項５】
前記平均周期検出器により検出した前記入力信号の平均周期の変動率に応じて、前記Ｎ又は前記Ｍの個数を設定することを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の位相検出装置。
【請求項６】
前記Ｎ又は前記Ｍの個数を設定する母数入力手段を設けたことを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の位相検出装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一項に記載の位相検出装置と、
画像信号に応じた光束を生成する光束生成器と、
周期的に変位する反射面を有し、当該反射面の変位により前記光束を走査する光スキャナと、
前記反射面の変位を変位信号として出力する反射面変位検出器と、
変位信号の位相に応じたタイミングで前記光束生成器を制御する制御部と、を備え、
前記変位信号を入力信号として前記位相検出装置によって、前記変位信号の位相を検出することを特徴とする画像表示装置。
【請求項８】
前記光スキャナの温度又はその周囲温度を検出する温度センサを有し、
前記位相検出装置は、
前記温度センサによって検出された温度の変動率に応じて前記Ｎ，Ｍの個数を設定することを特徴とする請求項７に記載の画像表示装置。
【請求項９】
周期的に変位する入力信号の位相を検出する位相検出方法であって、
前記入力信号の平均周期を検出するステップと、
所定レベルを閾値として前記入力信号を矩形波信号に変換するステップと、
前記矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するステップと、
前記順次検出したＮ個の前記タイミングの情報を記憶するステップと、
所定タイミングから前記Ｎ個の各タイミングまでの時間を順次、前記平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算するステップと、
前記Ｎ個の差分値の平均を演算するステップと、
前記差分平均値に基づいて、次の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングを算出して前記入力信号の位相を検出するステップと、
を有する位相検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号の位相を検出する位相検出の技術に関し、さらに詳しくは、周期的に変位する入力信号の位相を検出する位相検出装置、位相検出方法及び画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、入力信号に含まれるノイズ成分を除去して信号成分のみを出力することができる種々のノイズ除去フィルタが存在し、様々な電子装置において広く用いられている。
【０００３】
この種のノイズ除去フィルタとしては、高次のバンドパスフィルタなどアナログフィルタに加え、近年デジタル回路で構成したデジタルフィルタが広く用いられるようになってきた（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、デジタルフィルタには、インパルス応答が有限である有限インパルス応答（Finite Impulse Responce）型や、インパルス応答が無限に続く無限インパルス応答(Infinite
Impulse Responce)型などがある。
【特許文献１】特公平７−９３５５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、入力信号に含まれるノイズ成分の周波数が高い場合には、従来のフィルタ回路では問題があった。
【０００６】
すなわち、アナログフィルタ回路によって、高周波ノイズを除去しようとすると回路規模が大きくなる。また、温度による特性変動も大きく、しかも経年変化を生じてしまう。
【０００７】
また、アナログフィルタ回路でフィルタリングを行った後にデジタル回路に取り込むようにした場合、遅延時間や変換階調の制限が発生していた。
【０００８】
一方、デジタルフィルタ回路では、サンプリング周波数の限界や演算速度の限界があったため、ノイズ成分の周波数が高い場合には対応できないことがある。しかも、高周波成分を含むデジタル制御回路に取り込むと、高周波成分が制御回路の繰り返し精度を低減させるという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
そこで、かかる課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、周期的に変位する入力信号の平均周期を検出する平均周期検出器と、所定レベルを閾値として前記入力信号を矩形波信号に変換する変換器と、前記矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するエッジ検出器と、前記エッジ検出器において順次検出したＮ個の前記タイミングの情報を記憶するエッジ履歴記憶部と、所定タイミングから前記Ｎ個の各タイミングまでの時間を順次、前記平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算する差分演算器と、前記Ｎ個の差分値の平均を演算する差分平均値演算器と、前記差分値の平均に基づいて、次の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングを算出するエッジ位置算出器と備えたこととした。
【００１０】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記所定タイミングは、前記エッジ検出器により検出した最新の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングであることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記平均周期検出器は、前記エッジ検出器において順次検出したＭ個（Ｍ＞Ｎ）の前記タイミングの情報に基づいて前記入力信号の平均周期を検出することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記平均周期検出器は、前記入力信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換して前記入力信号の平均周期を検出する高速フーリエ・コサイン・サイン変換器を有することを特徴とする。
【００１３】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の発明において、前記平均周期検出器により検出した前記入力信号の平均周期の変動率に応じて、前記Ｎ，Ｍの個数を設定することを特徴とする。
【００１４】
また、請求項６に記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の発明において、前記Ｎ，Ｍの個数を設定する母数入力手段を設けたことを特徴とする。
【００１５】
また、請求項７に記載の発明は、請求項１〜６のいずれか一項に記載の位相検出装置と、画像信号に応じた光束を生成する光束生成器と、周期的に変位する反射面を有し、当該反射面の変位により前記光束を走査する光スキャナと、前記反射面の変位を変位信号として出力する反射面変位検出器と、変位信号の位相に応じたタイミングで前記光束生成器を制御する制御部とを備え、前記変位信号を入力信号して前記位相検出装置によって、前記変位信号の位相を検出することを特徴とする。
【００１６】
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載の発明において、前記光スキャナの温度又はその周囲温度を検出する温度センサを有し、前記位相検出装置は、前記温度センサによって検出された温度の変動率に応じて前記Ｎ，Ｍの個数を設定することを特徴とする。
【００１７】
また、請求項９に記載の発明は、周期的に変位する入力信号の位相を検出する位相検出方法であって、前記入力信号の平均周期を検出するステップと、所定レベルを閾値として前記入力信号を矩形波信号に変換するステップと、前記矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するステップと、前記順次検出したＮ個の前記タイミングの情報を記憶するステップと、所定タイミングから前記Ｎ個の各タイミングまでの時間を順次、前記平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算するステップと、前記Ｎ個の差分値の平均を演算するステップと、前記差分平均値に基づいて、次の前記立ち上りタイミング又は前記立ち下りタイミングを算出して前記入力信号の位相を検出するステップとを有することとした。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の発明によれば、周期的に変位する入力信号の平均周期を検出する平均周期検出器と、所定レベルを閾値として入力信号を矩形波信号に変換する変換器と、矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するエッジ検出器と、エッジ検出器において順次検出したＮ個のタイミングの情報を記憶するエッジ履歴記憶部と、所定タイミングからＮ個の各タイミングまでの時間を順次、平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算する差分演算器と、Ｎ個の差分値の平均を演算する差分平均値演算器と、差分値の平均に基づいて、次の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングを算出するエッジ位置算出器とを備えたので、高周波のノイズ成分を含む入力信号からノイズ成分を除去した信号成分の位相を精度よく算出することが可能となる。また、この位相検出装置はデジタル回路で構成することができるため、小型化が可能となる。
【００１９】
また、請求項２に記載の発明によれば、所定タイミングを、エッジ検出器により検出した最新の前記立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングとしたので、回路構成が複雑にならなくてすむ。
【００２０】
また、請求項３に記載の発明によれば、平均周期検出器は、エッジ検出器において順次検出したＭ個（Ｍ＞Ｎ）のタイミングの情報に基づいて入力信号の平均周期を検出するので、Ａ／Ｄコンバータ回路を別途設けることなく入力信号の平均周期を検出することが可能となる。
【００２１】
また、請求項４に記載の発明によれば、平均周期検出器は、入力信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換して入力信号の平均周期を検出する高速フーリエ・コサイン・サイン変換器を用いることとしたので、より精度よく入力信号の平均周期を求めることができる。
【００２２】
また、請求項５に記載の発明によれば、平均周期検出器により検出した入力信号の平均周期の変動率に応じて、Ｎの個数を設定するので、入力信号の信号成分の変動に対応することができ、より精度のよい位相検出が可能となる。また、入力信号の平均周期の変動率に応じて、Ｍの個数を設定するので、入力信号に含まれる高周波成分のノイズのばらつきに対応することが可能となり、より精度のよい位相検出が可能となる。
【００２３】
また、請求項６に記載の発明によれば、Ｎ又はＭの個数を設定する母数入力手段を設けたので、必要に応じてその調整が可能となり、たとえば、光スキャナや周辺回路によって変位信号の状態にばらつきがでるような場合であっても、製造工程において、母数入力手段によるＮ，Ｍの個数を設定することにより、適切なＮ，Ｍの値に設定することができる。
【００２４】
また、請求項７に記載の発明によれば、請求項１〜６のいずれか一項に記載の位相検出装置と、画像信号に応じた光束を生成する光束生成器と、周期的に変位する反射面を有し、当該反射面の変位により光束を走査する光スキャナと、反射面の変位を変位信号として出力する反射面変位検出器と、変位信号の位相に応じたタイミングで光束生成器を制御する制御部とを備え、変位信号を入力信号として位相検出装置によって変位信号の位相を検出するので、変位信号に高周波のノイズ成分を含むときであっても、当該変位信号からノイズ成分を精度よく除去することができるので、画像信号に応じた光束の生成をより正確に行うことができ、画像表示装置によって表示する画像の品質を向上させることが可能となる。
【００２５】
また、請求項８に記載の発明によれば、光スキャナの温度又はその周囲温度を検出する温度センサを有し、温度センサによって検出された温度の変動率に応じてＮ，Ｍの個数を設定するので、光スキャナの温度変動によって光スキャナから出力される変位信号の信号成分やノイズ成分に変動を生じた場合でも、温度変動に応じて適切なＮ，Ｍの値に設定することにより、より精度のよい位相検出が可能となる。
【００２６】
また、請求項９に記載の発明によれば、周期的に変位する入力信号の位相を検出する位相検出方法であって、入力信号の平均周期を検出するステップと、所定レベルを閾値として入力信号を矩形波信号に変換するステップと、矩形波信号の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングの情報を順次検出するステップと、順次検出したＮ個の前記タイミングの情報を記憶するステップと、所定タイミングからＮ個の各タイミングまでの時間を順次、平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算したＮ個の差分値を演算するステップと、Ｎ個の差分値の平均を演算するステップと、差分平均値に基づいて、次の立ち上りタイミング又は立ち下りタイミングを算出して入力信号の位相を検出するステップとを有するので、高周波のノイズ成分を含む入力信号からノイズ成分を除去した信号成分の位相を精度よく算出することが可能となる。また、この位相検出方法はデジタル回路で実現することができるため、小型化が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明の最良の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実施形態は、画像表示装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００２８】
本実施形態の画像表示装置は、光スキャナを有し、この光スキャナの反射面を変位させることによって画像信号に応じた光束を走査する画像表示装置であり、この光スキャナの反射面の変位位置を光スキャナから出力される変位信号に基づいて、走査する光束を出射するタイミングを決定する画像表示装置である。そして、高周波のノイズ成分が含まれる変位信号の位相を位相検出装置としての位相検出回路によって精度よく検出し、画像表示装置によって表示する画像の品質を向上させるものである。
【００２９】
以下、本発明の具体的な実施の形態のいくつかを図面に基づいて、１．画像表示装置全体の構成及び動作、２．光スキャナの構成及び動作、３．光スキャナの変位信号と光スキャナによって走査する光束との関係、４．光スキャナからの変位信号の位相を検出する位相検出回路の構成及び動作について順に具体的に説明する。
【００３０】
（第１実施形態）
［１  画像表示装置１全体の説明］
まず、画像表示装置１全体の構成及び動作について説明する。図１に、本発明の実施形態における画像表示装置１の全体構成を示す。この画像表示装置１は、その利用者である観察者の瞳孔12に光束を入射させて網膜14上に画像を投影することによって、観察者の眼10の瞳孔12の前方において虚像を視認させるための装置である。この装置は、網膜走査型ディスプレイともいわれる。
【００３１】
画像表示装置１は、外部から供給される映像信号Ｓに応じて強度変調された光束を生成する光束生成手段20を備え、さらに、その光束生成手段20と観察者の眼10との間には、光束生成手段20で生成され、光ファイバ100を介して出射されるレーザビームを平行光化するコリメート光学系61と、このコリメート光学系61で平行光化されたレーザビームを画像表示のために水平方向に走査する水平走査部70と、水平走査部70で水平方向に走査された光束を垂直方向に走査する垂直走査部80と、水平走査部70と垂直走査部80との間に設けられたリレー光学系75と、このように水平方向と垂直方向に走査された光束（以下、「走査光束」とする。）を瞳孔12へ出射するためのリレー光学系90を備えている。
【００３２】
図１に示すように、光束生成手段20には、外部から供給される映像信号Ｓが入力され、それに基づいて画像を合成するための要素となる各信号等を発生する信号処理回路21が設けられ、この信号処理回路21において、青（Ｂ）、緑（Ｇ）、赤（Ｒ）の各映像信号22a〜22cが生成され、出力される。また、信号処理回路21は、水平走査部70で使用される水平同期信号23と、垂直走査部80で使用される垂直同期信号24とをそれぞれ出力する。
【００３３】
さらに、光束生成手段20は、信号処理回路21から出力される３つの映像信号（Ｂ，Ｒ，Ｇ）22a〜22cをそれぞれ光束にする光源部30と、これらの３つの光束を１つの光束に結合して任意の光束を生成するための光合成部40を備えている。
【００３４】
光源部30は、青色の光束を発生させるＢレーザ34およびＢレーザ34を駆動するＢレーザドライバ31と、緑色の光束を発生させるＧレーザ35およびＧレーザ35を駆動するＧレーザドライバ32と、赤色の光束を発生させるＲレーザ36およびＲレーザ36を駆動するＲレーザドライバ33とを備えている。なお、各レーザ34,35,36は、例えば、半導体レーザや高調波発生機構付き固体レーザとして構成することが可能である。なお、半導体レーザを用いる場合は、駆動電流を直接変調して、光束の強度変調を行うことができるが、固体レーザを用いる場合は、各レーザそれぞれに外部変調器を備えて光束の強度変調を行う必要がある。
【００３５】
光合成部40は、光源部30から入射するレーザ光を平行光にコリメートするように設けられたコリメート光学系41,42,43と、このコリメートされたレーザ光を合成するためのダイクロイックミラー44,45,46と、合成された光を光ファイバ100に導く結合光学系47とを備えている。
【００３６】
各レーザ34,35,36から出射したレーザ光は、コリメート光学系41,42,43によってそれぞれ平行化された後に、ダイクロイックミラー44,45,46に入射される。その後、これらのダイクロイックミラー44,45,46により、各レーザ光が波長に関して選択的に反射・透過される。
【００３７】
具体的には、Ｂレーザ34から出射した青色レーザ光は、コリメート光学系41によって平行光化された後に、ダイクロイックミラー44に入射される。Ｇレーザ35から出射した緑色レーザ光は、コリメート光学系42を経てダイクロイックミラー45に入射される。Ｒレーザ36から出射した赤色レーザ光は、コリメート光学系43を経てダイクロイックミラー４６に入射される。
【００３８】
それら３つのダイクロイックミラー44,45,46にそれぞれ入射した３原色のレーザ光は、波長選択的に反射または透過して結合光学系47に達し、集光され光ファイバ100へ出力される。
【００３９】
水平走査部70及び垂直走査部80は、光ファイバ100から入射された光束を画像として投影可能な状態にするために、水平方向と垂直方向に走査して走査光束とするものである。
【００４０】
水平走査部70は、光束を水平方向に走査するための光スキャナ71と、この光スキャナ71を駆動させる水平走査駆動回路72と、光スキャナ71から出力される変位信号の位相を検出する位相検出装置である位相検出回路73と、光スキャナ71の温度を検出する温度センサ74とを有している。なお、この温度センサ74は、光スキャナ71の温度を検出するものであるが、光スキャナの周囲の温度を検出することで、光スキャナの温度を検出するようにしてもよい。
【００４１】
垂直走査部80は、光束を垂直方向に走査するためのガルバノミラー81と、このガルバノミラー81を駆動させる垂直走査駆動回路82とを備えている。
【００４２】
なお、水平走査駆動回路72と垂直走査駆動回路82は、信号処理回路21から出力される水平同期信号23と垂直同期信号24に基づいてそれぞれ駆動する。
【００４３】
また、水平走査部70と垂直走査部80との間での光束を中継するリレー光学系75を備えており、光スキャナ71によって水平方向に走査された光は、リレー光学系75を通って、ガルバノミラー81によって垂直方向に走査されて、走査光束として、リレー光学系90へ出射される。
【００４４】
リレー光学系90は、少なくとも１つ以上のレンズから構成され、正の屈折力をもったレンズ系91,94を有している。垂直走査部80から出射された表示用走査光束は、レンズ系91によって、それぞれの光束がその光束の中心線を相互に平行にされ、かつそれぞれ収束光束に変換される。そして、レンズ系94によってほぼ平行な光束となると共に、これらの光束の中心線が観察者瞳孔12に収束するように変換される。
【００４５】
［２  光スキャナ71の説明］
次に、上述のように光束を水平方向に走査するための光スキャナ71の構成について、以下、具体的に説明する。図２は光スキャナ71の外観を示す斜視図である。
【００４６】
光スキャナ71は共振タイプの共振型光スキャナであり、網膜14の上の光スポットを水平方向に走査するために、光ビームを反射させ光ビームの出射方向を変化させる反射ミラー120を配した振動体124を図２において横方向に延びる揺動軸線Ｌｒまわりに揺動させており、本実施形態においては振動体124を共振させている。このように振動体124を共振させることによって反射ミラー120の揺動をさせることができる。
【００４７】
振動体124には複数の構成要素が一体的に形成されており、これらの構成要素として、反射ミラー120と、その反射ミラー120の一側に連結される板状の弾性部材142、弾性部材144および弾性部材146から構成される第１の梁部140と、同じく反射ミラー120の他側に連結される板状の弾性部材143、弾性部材145および弾性部材147から構成される第２の梁部141とがある。
【００４８】
また、第１の梁部140に属する弾性部材144と弾性部材146とにはその片面にそれぞれ第１の圧電素子150と第２の圧電素子152がそれぞれ固着されている。この第１の圧電素子150と第２の圧電素子152には、それぞれその一端が固定端として固定枠部116に固着され、他端が固定枠部116に固着されない自由端となっている。
【００４９】
この第１の圧電素子150、第２の圧電素子152は、それぞれ同一の構造をしており、その固着面と直角な方向において上部電極と下部電極とによって挟まれている。第１の圧電素子150の上部電極と下部電極とは、それぞれ、リード線170、171より、固定枠部116に設置された入力端子160と入力端子161に接続され、第２の圧電素子152の上部電極と下部電極とは、それぞれリード線より、固定枠部116に設置された入力端子164と入力端子165に接続されている。
【００５０】
このように構成された光スキャナ71において、第１の圧電素子150の上部電極と下部電極との間と、第２の圧電素子152の上部電極と下部電極との間とに互いに逆位相の交流電圧を印加することにより、それぞれの自由端が互いに逆向き変位するように弾性変形して屈曲し、交流電圧の周波数で上下の曲げ振動を繰り返す。この曲げ振動は、第１の梁部140を介して、揺動軸線Ｌｒを中心軸とした回転運動に変換され、反射ミラー120は、図３に示すように、揺動軸線Ｌｒのまわりで回転する。
【００５１】
また、第２の梁部141は、上述のように反射ミラー120の他側に位置して、揺動軸線Ｌｒを中心として第１の梁部140と対称に形成されており、上述のように第１の梁部140によって発生した回転振動が反射ミラー120を介して伝わる。その結果、第２の梁部141と同様の変位が発生する。すなわち、揺動軸線Ｌｒを中心軸として、弾性部材143は、弾性部材142と略同様に弾性変形して回転振動し、弾性部材145は、弾性部材146と略同様に弾性変形して曲げ振動し、弾性部材147は、弾性部材144と略同様に弾性変形して曲げ振動する。
【００５２】
図３において、実線で示したものが第１の圧電素子150および第２の圧電素子152に電圧を与えない場合の第１の梁部140、第２の梁部141、反射ミラー120の位置である。また、破線で示したものが第１の圧電素子150および第２の圧電素子152に交流電圧を与えた場合のある電圧における第１の梁部140、第２の梁部141、反射ミラー120の位置である。
【００５３】
ここで、第２の梁部141の弾性部材147には、第４の圧電素子153が固着されており、弾性部材147に上述のような曲げ振動が発生すると、その曲げ振動が第４の圧電素子153により電圧に変換され、弾性部材147のねじれ量に応じた電圧信号（以下、「変位信号Swsig(+)」とする。)が出力端子166、167から出力される。また、同様に、第２の梁部141の弾性部材145には、第３の圧電素子151が固着されており、弾性部材145に上述のような曲げ振動が発生すると、その曲げ振動が第３の圧電素子151により電圧に変換され、弾性部材145のねじれ量に応じた電圧信号（以下、「変位信号Swsig(-)」とする。)が出力端子162、163から出力される。
【００５４】
このように第３の圧電素子151や第４の圧電素子153を用いることにより、第２の梁部141のねじれ量に応じた変位信号を発生させることができるため、反射ミラー120の変位を検出するビームディテクタが不要となり、装置の小型化が可能になる。すなわち、光スキャナの反射ミラー120の揺動変位を示す変位信号を第３の圧電素子151や第４の圧電素子153から取り出すのである。
【００５５】
[３  光スキャナの変位信号と光スキャナによって走査する光束との関係について]
本実施形態における画像表示装置１は、上述のように光スキャナ71から出力される変位信号を用いて光スキャナ71の反射ミラー120の変位を検出する。そして、反射ミラー120の変位に応じて光束を光源部30から出射するものである。以下、図４を参照して簡単にこの動作を説明する。
【００５６】
図４（ａ）には、光スキャナ71の反射ミラー120が、ａ〜−ａの角度範囲内で周期的に変位している状態が示されている。なお、光スキャナ71が光束を走査する角度範囲はｂ〜−ｂに示される範囲とする。
【００５７】
図４（ｂ）には、光スキャナ71から出力される変位信号Swsig(+,-)の状態を示しており、光スキャナ71の変位と同期して変位していることを示している。このように、変位信号Swsig(+,-)は、光スキャナ71の反射ミラー120の変位と同位相の信号となっている。ここで、変位信号Swsig(+,-)は、変位信号Swsig(+)または変位信号Swsig(-)の電圧信号である。
【００５８】
図４（ｃ）には、変位信号Swsig(+,-)の立ち下りタイミングでLow電位となる基準信号が示されている。この基準信号は、後述の位相検出回路73により生成されるものである。図４（ｄ）に示すように、この基準信号の立ち下りタイミングから所定期間経過後（Ｔdf経過後及びＴdb経過後）にそれぞれ光源部30から映像信号に応じた光束が順次出力される。
【００５９】
このように、基準信号は、光源部30が出力する光束の出力開始タイミングとなるものであり、この基準信号がばらつくと光源部30が出力する光束の出力開始タイミングがばらついてしまい、網膜14上に投影する画像の品質が劣化してしまう。
【００６０】
たとえは、光スキャナ71の変位信号をコンパレータのみを用いて基準信号を生成した場合、変位信号に高周波のノイズが含まれていると、生成する基準信号の精度が悪くなる。
【００６１】
図５は図４における変位信号と基準信号とを拡大した様子を示す図であり、コンパレータだけで基準信号を生成すると、この図に示すように、変位信号の信号成分に高周波ノイズが含まれている場合と含まれていない場合とで基準信号の立ち下りタイミングが変わってしまう。変位信号に含まれる高周波ノイズが大きい場合には、特にこのタイミングのばらつきが大きくなる。
【００６２】
光スキャナ71から出力される変位信号は、低周波の信号成分と高周波のノイズ成分との合成波となるため、コンパレータのみではタイミングのばらつきが大きくなる。
【００６３】
そこで、本実施形態においては、位相検出回路73によって精度よく変位信号の位相を検出して基準信号を生成することとしており、以下にその構成及び動作について具体的に説明する。
【００６４】
[４  位相検出回路73について]
次に、位相検出回路73の概略構成及びその動作概略を図面を参照して説明する。図６は第１実施形態における位相検出回路73の概略ブロック図であり、図７は第１実施形態における位相検出回路73の概略構成を示す図である。
【００６５】
まず、位相検出回路の構成について、図６を参照してその概略を説明する。
【００６６】
この図６に示すように、位相検出回路73は、増幅器200、変換器210、エッジ検出器220、第１記憶部230、第２記憶部240、平均周期検出器250、差分演算器260、差分平均値演算器270、エッジ位置算出器280、主記憶部291などから構成され、さらに位相検出回路73全体を制御する制御部290を有している。
【００６７】
まず、光スキャナ71からの入力信号である変位信号Swsig(+,-)が増幅器200によって増幅される。このように増幅された増幅信号Sig1は、所定レベルを閾値として変換器210により矩形波信号Sig２に変換される。
【００６８】
その後、エッジ検出器220において、変換器210によって生成された矩形波信号Sig２の立ち下りタイミングの情報が順次検出される。
【００６９】
このように検出された立ち下りタイミングの情報は、順次エッジ履歴記憶部としての第１記憶部230に記憶される。この第１記憶部230には、エッジ検出器220において順次検出したＮ（＝２n：２のｎ乗）個のタイミングの情報が記憶される。
【００７０】
また、この立ち下りタイミングの情報は、順次第２記憶部240にも記憶される。この第２記憶部240には、エッジ検出器220において順次検出したＭ（＝２m：２のｍ乗）個のタイミングの情報が記憶される。なお、精度よく位相を検出するために平均周期を生成するサンプル数はできるだけ多いことが望ましい。そのため、ここでは、Ｍ＞Ｎとしている。
【００７１】
第２記憶部240にＭ個のタイミングの情報が記憶されると、平均周期検出器250は、これらのタイミング情報により変位信号Swsig(+,-)の平均周期を検出する。
【００７２】
次に、差分演算器260は、所定タイミングからＮ個の各タイミングまでの時間を順次、平均周期の等倍からＮ倍までの整数倍順の時間で減算することによって、Ｎ個の差分値を生成する。その後、このように生成されたＮ個の差分値の平均が差分平均値演算器270によって演算される。
【００７３】
そして、エッジ位置算出器280は、差分平均値演算器270から演算された差分値の平均に基づいて、次の立ち下りタイミングを算出し、基準信号Sig3を生成する。
【００７４】
このように、位相検出回路73は、変位信号Swsig(+,-)の位相に応じた基準信号Sig3を生成することとしている。すなわち、エッジ検出器220によって検出した変位信号Swsig(+、-)の立ち下りタイミングを、変位信号Swsig(+、-)の平均周期と変位信号Swsig(+、-)の立ち下りタイミング履歴とに基づいて補正することによって、基準信号Sig3の精度を向上させるようにしている。
【００７５】
図７には、図６に示す位相検出回路73を更に具体的に表したものであり、以下、位相検出回路73につき、更に具体的に説明する。
【００７６】
増幅器200は、光スキャナ71から出力される変位信号Swsig(+,-)の位相を位相検出回路73によって検出するために必要なレベルに増幅するために設けられているものであり、光スキャナ71からの電圧信号を増幅して増幅信号Sig1として出力する。変位信号Swsig(+,-)は、上述のように低周波の信号成分と高周波のノイズ成分との合成波であり、この増幅器200での増幅後の信号Sig１の例を図８（ａ）に示す。
【００７７】
なお、この増幅器200は、光スキャナ71から出力される電圧信号の立ち上りタイミング及び立ち下りタイミングを変換器210によって検出できる電圧信号が光スキャナ71から出力される場合は不要となる。
【００７８】
変換器210は、比較器であるコンパレータ211と基準電圧生成器212とを有しており、コンパレータ211は、基準電圧生成器212によって生成される所定レベルの基準信号を閾値として、増幅器200から出力される増幅信号Sig１から矩形波信号Sig２を生成する。この変換器210によって生成される矩形波信号Sig２の例を図８（ｂ）に示す。
【００７９】
エッジ検出器220は、矩形波信号Sig２の立ち下りタイミングを検出するエッジ検出回路221と、立ち下りタイミング間の時間を検出するカウンタ生成回路222と、サンプルクロックを生成するクロック生成回路223とを有している。
【００８０】
エッジ検出回路221は、矩形波信号Sig２の立ち下りタイミングでカウンタ生成回路222を起動させる起動信号を出力するように構成されている。エッジ検出回路221から出力される起動信号によってカウンタ生成回路222が起動し、クロック生成回路223から出力されるサンプルクロックをカウントアップする。
【００８１】
その後、エッジ検出回路221から次の起動信号が出力されると、カウンタ生成回路222は、サンプルクロックをカウントアップしたカウント値をデータＸ(i)として出力する。また、カウンタ生成回路222は、データＸ(i)を出力した後、カウンタを初期化してカウント値を０に戻し、再びサンプルクロックのカウントアップを開始する。
【００８２】
このように、エッジ検出回路221は、変換器210から出力される矩形波信号Sig２の立ち下りタイミング間（図８（ｂ）参照）をサンプルクロックでカウントアップしてカウント値のデータＸ(i)を出力する。このデータＸ(i)が矩形波信号Sig２の立ち下りタイミングの情報となる。
【００８３】
なお、エッジ検出器220において、立ち下りタイミング間をカウントするのに代えて、立ち上りタイミング間をカウントするようにしてデータＸ(i)とするようにしてもよい。すなわち、回路構成により使いやすいものを採用すればよい。
【００８４】
第１記憶部230は、エッジ検出器220において順次検出したＮ個のタイミングの情報を記憶するものであり、エッジ検出器220からデータＸ(i)が入力される毎に、最古のデータＸ（i＋Ｎ）を最新のデータＸ(i)に置き換える。すなわち、第１記憶部230は常にデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｎ−１)を記憶する。
【００８５】
第２記憶部240は、エッジ検出器220において順次検出したＭ個のタイミングの情報を記憶するものであり、エッジ検出器220からデータＸ(i)が入力される毎に、最古のデータＸ（i＋Ｍ）を最新のデータＸ(i)に置き換える。すなわち、第１記憶部230は常にデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｍ−１)を記憶する。
【００８６】
平均周期検出器250は、以下の式（１）の演算を行う。
【００８７】
【数１】
2007271394.tif 000003
【００８８】
すなわち、平均周期検出器250は、移動平均回路として、加算回路251とｍビットシフトレジスタ252とを有しており、エッジ検出器220から出力されるデータＸ(i)と第２記憶部240から出力される過去のデータＸ(i＋1)〜Ｘ(i＋Ｍ−1)とを入力し、これらＭ個のデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｍ−1)を加算回路251によって加算する。加算回路251によって加算されたＭ個のデータＸは、ｍビットシフトレジスタ252に入力される。ｍビットシフトレジスタ252では、加算されたＭ個のデータＸをｍビットシフトすることによって、データＸの移動平均値である平均周期Ｙ（avr）を演算する。この移動平均値が増幅信号Sig.1の平均周期の情報となる。このように平均周期検出器250は、周期的に変位する入力信号である変位信号の周期を検出して平均周期を算出する。
【００８９】
差分演算器260は、第１加算回路261と、第２加算回路262と、減算回路263とを備えており、以下の式（２）の演算を行う。
【００９０】
【数２】
2007271394.tif 000004
【００９１】
すなわち、差分演算器260は、所定タイミングＸ(std)時において、このＸ(std)から第１記憶部230に記憶したＮ個の各データＸまでの時間に対応するカウンタ数Ｘｓ(1)〜Ｘｓ(Ｎ)を第１加算回路261によって順次演算する。また、平均周期検出器250から順次出力される移動平均値Ｙ（avr）をＮ倍（Ｎは整数）までの整数倍Ｙｓ(1)〜Ｙs(Ｎ)を第２加算回路262によって演算する。
【００９２】
そして、これらの差分値Ｄ(j)＝Ｙｓ−Ｘｓを減算回路263によって演算する。図９（ａ）に、差分値Ｄ(1)、Ｄ(2)における、Ｘ(1)，Ｘ(2)及びＹ(avr)との関係を示す。図９（ｂ）は、図９（ａ）におけるＤ(1)，Ｘ(1)，Ｙ(avr)の関係を示す拡大図である。
【００９３】
差分平均値演算器270は、加算回路271とｎビットシフトレジスタ272とを有しており、以下の式（３）の演算を行う。
【００９４】
【数３】
2007271394.tif 000005
【００９５】
すなわち、差分平均値演算器270は、差分演算器260から出力されるＮ個の差分値Ｄ(1)〜（Ｎ）を加算回路271によって加算し、加算したＮ個の差分値Ｄ(1)〜（Ｎ）からその移動平均値である差分平均値Ｄ（avr）をｎビットシフトレジスタ272によりｎビットシフトすることによって演算する。
【００９６】
エッジ位置算出器280は、減算回路281を有しており、所定のタイミングであるＸ(std)から差分値の差分平均値Ｄ(avr)を減算して、位相情報Ｘ(nuc)を出力する。図１０にはこのように出力されるＸ(nuc)について、Ｘ(std)及びＤ(avr)との関係を示されている。
【００９７】
なお、本実施形態においては、この所定タイミングＸ(std)を、エッジ検出器により検出した立ち下りタイミングＸ(i)であるとするが、これに限られない。
【００９８】
以上のように構成された位相検出回路73について、その動作の概略を図１１のフローチャートを参照して具体的に説明する。
【００９９】
位相検出回路73がその動作を開始すると、まず、変換器210から出力される矩形波信号Sig２について、エッジ検出器220による検出結果が切り替わったか否かが制御部290によって判定される（ステップＳ100）。すなわち、矩形波信号Sig２の立ち下りタイミングが検出されたか否かである。
【０１００】
エッジ検出器220による検出結果が切り替わると（ステップS100：YES）、制御部290は、立ち下りタイミング間の経過時間を第１記憶部230に記憶する。すなわち、エッジ検出器220から出力されるデータＸ(i)を取り込んでエッジ履歴記憶部である第１記憶部230に記憶する。（ステップS101）。また、制御部290は、立ち下りタイミング間の経過時間を第２記憶部240に記憶する。すなわち、エッジ検出器220から出力されるデータＸ(i)を取り込んで第２記憶部240に記憶する。（ステップS102）。
【０１０１】
その後、エッジ検出器220をリセットする。すなわち、エッジ検出器220のカウンタ生成回路222を初期状態に戻し、０からカウントを開始させる（ステップS103）。
【０１０２】
次に、制御部290は、Ｍ個のデータＸ(i)が第２記憶部240に記憶されたか否かを判定する（ステップS104）。Ｍ個のデータＸ(i)が第２記憶部240に記憶されていないと判定すると（ステップS104：NO）、制御部290は、ステップS100〜S104の処理を繰り返す。
【０１０３】
一方、Ｍ個のデータＸ(i)が第２記憶部240に記憶されたと判定すると（ステップS104：YES）、制御部290は、第２記憶部240からＭ−１個のデータＸ(i＋１)〜Ｘ(i＋Ｍ−１)のデータを取り出す（ステップS105）。
【０１０４】
S105にて取り出されたＭ−１個のデータＸ(i＋１)〜Ｘ(i＋Ｍ−１)のデータは、制御部290によって、平均周期検出器250に入力される。また、エッジ検出器220からデータＸ(i)が平均周期検出器250に入力される。そして、平均周期検出器250は、これらＭ個のデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｍ−１)のデータに基づいて、平均周期Ｙ(avr)を算出する（ステップS106）。
【０１０５】
その後、制御部290は、Ｎ個のデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｎ−１)が第１記憶部230に記憶されたか否かを判定する（ステップS107）。Ｎ個のデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｎ−１)が第１記憶部230に記憶されていないと判定すると（ステップS107：NO）、制御部290は、ステップＳ100の処理に移行する。
【０１０６】
一方、Ｎ個のデータＸ(i)〜Ｘ(i＋Ｎ−１)が第１記憶部230に記憶されたと判定すると（ステップS107：YES）、制御部290は、ループ回数用変数のｊを初期値である０に初期化する（ステップS108）。また、制御部290は、位相変化量積算値Ｄsを初期値である０に初期化する（ステップS109）。さらに、制御部290は、使用する変数Ｘs，Ｙsを初期値である０に初期化する（ステップS110）。
【０１０７】
次に、Ｓ111〜S116までの処理を、Ｎ回（＝２n（２のｎ乗）回）繰り返す。
【０１０８】
まず、制御部290は、第１記憶部230内のデータＸ(ｉ＋ｊ)を主記憶部291にコピー（記憶）する（ステップS111）。
【０１０９】
次に、制御部290は、主記憶部291に記憶したデータＸ(ｉ＋ｊ)を取り出し、差分演算器260の第１加算回路261に入力する。第１加算回路261は入力されたＸ(i＋ｊ)をＸｓに加算する（ステップS112）。
【０１１０】
さらに、制御部290は、平均周期検出器250から平均周期Ｙ(avr)を取り出して、差分演算器260の第２加算回路262に入力する。第２加算回路262は入力された平均周期Ｙ(avr)をＹｓに加算する（ステップS113）。
【０１１１】
第１加算回路261によって加算されたＸsと、第２加算回路262によって加算されたＹsとは、差分演算器260の減算回路263に入力される。減算回路263は、入力されたＹsからＸsを減算して、差分値Ｄ（ｊ＋１）を生成する（ステップS114）。このように生成された差分値Ｄ（ｊ＋１）は、差分平均値演算器270に入力され、差分平均値演算器270の加算回路271において、位相変化量積算値Ｄsに加算される（ステップS115）。その後、制御部290は、ループ回数用変数のｊを１だけインクリメントする（ステップＳ116)。
【０１１２】
Ｓ111〜S116までの処理が２n回繰り返された後、差分平均値演算器270の加算回路271で加算された位相変化量積算値Ｄsを２n（２のｎ乗）で割り、位相変化量の平均値Ｄ(avr)が算出される。すなわち、加算回路271から出力される位相変化量積算値Ｄsをｎビットシフトレジスタ172によってｎビットシフトして、位相変化量の平均値Ｄ(avr)が算出する（ステップS117）。
【０１１３】
次に、差分平均値演算器270によって算出された位相変化量の平均値Ｄ(avr)は、エッジ位置算出器280に入力される。エッジ位置算出器280は、データＸ(i)から位相変化量の平均値Ｄ(avr)を減算することによって補正して、データＸ(nuc)を算出する(ステップS118)。
【０１１４】
以上のようにして、位相検出回路73は、変位信号Swsig(+,-)に基づいてエッジ検出器220によって検出したデータＸ(i)を補正して、データＸ(nuc)を生成するようにしており、より精度のよい位相を出力することが可能となる。
【０１１５】
したがって、精度のよい画像書き出しのタイミングを生成することが可能となる。また、位相検出回路73は、デジタル回路により構成することができることから、小型化が可能となり、したがって装置全体の小型化に寄与できる。さらに、パラメータの変更やバージョンアップも容易となる。しかも、高速なアナログＩＣに比べ、設計の自由度が増し、コスト的にも有利になる。
【０１１６】
次に、温度の変動率によって上記Ｎ，Ｍの個数を設定する動作について、その動作の概略を図１２のフローチャートを参照して具体的に説明する。
【０１１７】
まず、制御部290は、所定周期時間が経過したか否かを判定する（ステップS200）。所定周期時間が経過したと判定すると（ステップS200：YES）、制御部290は、所定周期時間をカウントするためのカウンタ回路をリセットし、再カウントを開始する(ステップS201)。
【０１１８】
次に制御部290は。温度センサ74から温度データを取得（ステップS202）し、主記憶部291の温度データ記憶領域に取得した温度データを保存する（ステップS203）。
【０１１９】
その後、制御部290は、主記憶部291の温度データ記憶領域に記憶した所定周期期間毎の温度データから温度変動率を算出する（ステップS204）。
【０１２０】
主記憶部291には、温度変動率と上記Ｍ及びＮの個数（以下、「母数」とする。）とが関連付けられた母数変換テーブルが記憶されており、制御部290は、ステップＳ204において算出した温度変動率に応じた母数を母数変換テーブルに基づいて取得する（ステップS205）。
【０１２１】
その後、制御部290は、S205において取得した母数が、位相検出回路73によって設定している母数と異なるか否かを判定する（ステップS206）。S205において取得した母数が、設定された母数と異なる場合（ステップS206：YES）、位相検出回路73において設定する母数を変更する（ステップS207）。一方、S205において取得した母数が、設定された母数と同一である場合（ステップS206：NO）、ステップS201からの処理を繰り返す。
【０１２２】
このように本実施形態における位相検出回路73は、光スキャナ71の温度又はその周囲温度を検出してＮ，Ｍの値を変更するように構成しており、変位信号の平均周期の変動率や変位信号に含まれる高周波成分のノイズのばらつきに対応することが可能となり、より精度のよい位相検出が可能となる。
【０１２３】
なお、位相検出回路73は、ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）などを用いることによっても実現することができる。
【０１２４】
ところで、この位相検出回路73の制御部290は、平均周期検出器250から出力される平均周期Ｙ(avr)を監視する平均周期監視機能を有しており、平均周期検出器250から出力される平均周期Ｙ(avr)の変動率に応じたＮ，Ｍの個数を設定することが可能となっている。すなわち、平均周期Ｙ(avr)の変動率に応じて、第１記憶部230や第２記憶部240の記憶容量の変更、平均周期検出器250、差分演算器260、差分平均値演算器270による処理を変更するのである。
【０１２５】
このように平均周期Ｙ(avr)の変動率に応じたＮ，Ｍの個数を設定することにより、変位信号の変化に適切に対応し、変位信号の位相を精度よく検出することが可能となる。
【０１２６】
また、Ｎ，Ｍの個数を設定は、図示しない母数入力手段から行うこともできる。母数入力手段から設定されたＮ，Ｍの個数は、制御部290で取得される。制御部290はこのように設定されたＮ，Ｍの個数で位相検出回路73を動作させる。したがって、たとえば、画像表示装置１における製造工程での試験で光スキャナや周辺回路によって変位信号の状態にばらつきがでるような場合であっても、母数入力手段によるＮ，Ｍの個数の設定によって適切なＮ，Ｍの値に設定することができる。
【０１２７】
（第２実施形態）
第２実施形態における画像表示装置１'は、第１実施形態における位相検出回路73の平均周期検出器250を高速フーリエ・コサイン・サイン変換器を用いて検出するようにしたものである。すなわち、変位信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換して変位信号の平均周期を検出するのである。
【０１２８】
本第２実施形態においては、第１実施形態と異なる部分のみ説明し、その他の説明は省略するものとする。なお、第１実施形態と同一機能のものについては、同一符号を付し、その説明を省略する。
【０１２９】
図１３に、第２実施形態における位相検出回路73'を示す。この図に示すように、光スキャナ71から出力される変位信号Swsig(+、-)は、増幅器200によって増幅される。その後、増幅された変位信号は、Ａ／Ｄコンバータ回路205に入力されデジタル信号に変換される。
【０１３０】
デジタル化された変位信号は、高速フーリエ・コサイン・サイン変換器（ＦＦＴ）250'に入力される。ＦＦＴ250'では、デジタル化された変位信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換する。ＦＦＴ250'から出力される信号を平均化することによって平均周期Ｙ(avr)が検出される。
【０１３１】
なお、変換器210'は、デジタル化された変位信号をデジタル矩形波信号Sig２として出力し、エッジ検出器220'によって、デジタル矩形波信号Sig２は立ち下りタイミングの情報を順次検出される。この変換器210'及びエッジ検出器220'は処理対象がアナログ信号かデジタル信号かの違いのみであり、共通する部分の説明は省略する。
【０１３２】
以上のように本第２実施形態における位相検出回路73’においては、変位信号を所定時間高速フーリエ・コサイン・サイン変換して変位信号の平均周期を検出する高速フーリエ・コサイン・サイン変換器を用いることとしたので、より精度よく入力信号の平均周期を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１３３】
【図１】第１実施形態における画像表示装置の全体構成を示す図である。
【図２】図１の光スキャナの組立て状態を示す斜視図である。
【図３】振動体の回転振動を説明するための図である。
【図４】光スキャナの変位と画像出力との関係を示す図である。
【図５】コンパレータで生成される基準信号を示す図である。
【図６】図１の位相検出回路の概略ブロック図である。
【図７】図１の位相検出回路の概略構成を示す図である。
【図８】図１の位相検出回路における各部の信号状態を示す図である。
【図９】図１の位相検出回路における各部の信号状態を示す図である。
【図１０】図１の位相検出回路における各部の信号状態を示す図である。
【図１１】図１の位相検出回路の動作フローチャートである。
【図１２】図１の位相検出回路の動作フローチャートである。
【図１３】第２実施形態における位相検出回路の説明図である。
【符号の説明】
【０１３４】
１  画像表示装置
２１  信号処理回路
７１  光スキャナ
７３  位相検出回路
７４  温度センサ
２１０  変換器
２２０  エッジ検出器
２３０  第１記憶部
２４０  第２記憶部
２５０  平均周期検出器
２６０  差分演算器
２７０  差分平均演算器
２８０  エッジ位置算出器
２９０  制御部
【図１】
2007271394.tif 000006
【図２】
2007271394.tif 000007
【図３】
2007271394.tif 000008
【図４】
2007271394.tif 000009
【図５】
2007271394.tif 000010
【図６】
2007271394.tif 000011
【図７】
2007271394.tif 000012
【図８】
2007271394.tif 000013
【図９】
2007271394.tif 000014
【図１０】
2007271394.tif 000015
【図１１】
2007271394.tif 000016
【図１２】
2007271394.tif 000017
【図１３】
2007271394.tif 000018