(57)【要約】【課題】  撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程を無くすことによるメンテナンスの効率化及び輝度変換テーブルを自動的に生成することによる撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能な画質検査装置を実現する。【解決手段】  撮像素子、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画像検査装置において、検査対象物である撮像素子、表示装置、若しくは、投影装置の画像を撮像する撮像用カメラと、画像の輝度値を測定する輝度測定装置と、検査対象の交換時又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンス時に輝度測定装置から輝度値を取り込んで輝度変換テーブルを生成し、検査時に検査対象物へ検査パターンを出力し、撮像用カメラからの画像データを取り込み、検査対象物に欠陥があるか否かの判断をする画像演算装置とを備える。【選択図】                    図１
2007051958.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画像検査装置において、
検査対象物である撮像素子、表示装置、若しくは、投影装置の画像を撮像する撮像用カメラと、
前記画像の輝度値を測定する輝度測定装置と、
検査対象の交換時又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンス時に前記輝度測定装置から前記輝度値を取り込んで輝度変換テーブルを生成し、検査時に前記検査対象物へ検査パターンを出力し、前記撮像用カメラからの画像データを取り込み、前記検査対象物に欠陥があるか否かの判断をする画像演算装置とを備えたことを特徴とする画像検査装置。
【請求項２】
前記画像演算装置が、
前記撮像用カメラからの前記画像データを取り込む画像取得手段と、
前記輝度測定装置からの前記輝度値及び前記画像取得手段からの前記画像データをそれぞれ取り込み、前記輝度変換テーブルを生成する輝度変換テーブル生成手段と、
前記検査対象物へ検査パターンを出力するパターン発生手段と、
前記画像取得手段で取り込んだ前記画像データから欠陥候補を抽出し、欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断をする演算制御手段とから構成されることを特徴とする
請求項１記載の画像検査装置。
【請求項３】
前記演算制御手段が、
前記画像取得手段から入力された前記画像データから前記欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能と、
抽出された前記欠陥候補に基づき２次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて前記欠陥強度を求める特徴量計算機能と、
前記欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する良否判定機能とから構成されることを特徴とする
請求項２記載の画像検査装置。
【請求項４】
前記輝度変換テーブル生成手段が、
検査対象の交換時又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンス時に自動的に輝度変換テーブルの生成を行うことを特徴とする
請求項２若しくは請求項３記載の画像検査装置。
【請求項５】
前記輝度測定装置が
分光輝度計等でカラー画像のＲＧＢのそれぞれの色の輝度を測定することを特徴とする
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の画像検査装置。
【請求項６】
前記輝度変換テーブル生成手段が、
カラー画像のＲＧＢのそれぞれの色毎に輝度変換テーブルの生成を行うことを特徴とする
請求項５記載の画像検査装置。
【請求項７】
前記画像演算装置が
前記撮像用カメラから取得した前記画像データをＲＧＢのそれぞれの色毎に色分解し、その色毎に前記検査対象物に欠陥があるか否かの判断をすることを特徴とする
請求項５若しくは請求項６記載の画像検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＣＤ（Charge-Coupled Devices）やＣＭＯＳ（Complementary Metal-Oxide Semiconductor）等の撮像素子、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）及び有機ＥＬ（Electroluminescence Display）等の表示装置及びプロジェクタ等の投影装置の欠陥を検出する画質検査装置に関し、特にメンテナンスの効率化及び撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化へ対応することが可能な画質検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の撮像素子、表示装置及び投影装置の出力する画像を処理して点欠陥等の欠陥を検出する画質検査装置に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１７２７５９号公報
【特許文献２】特開平５−３３３３１４号公報
【特許文献３】特開平６−１１４５５号公報
【特許文献４】特開２０００−１１１７５号公報
【０００４】
図５はこのような従来の画質検査装置の一例を示す構成ブロック図である。図５において１は画像データ、２はＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）及び有機ＥＬ（Electroluminescence Display）等の表示装置、３は撮像用カメラ、４はＲＡＭ（Random Access Memory）やハードディスク等の記憶手段を有するＣＰＵ（Central Processing Unit）等の演算制御手段、５は画像取得手段、６はパターン発生手段、７は検査結果を表示させるためのＣＲＴ（Cathode Ray Tube）等の表示手段、８は設定パラメータ、９は画質検査結果、１０は輝度変換テーブルである。
【０００５】
また、演算制御手段４、画像取得手段５、パターン発生手段６及び表示手段７は画像演算装置１００を構成している。
【０００６】
演算制御手段４は画像取得手段５、パターン発生手段６及び表示手段７に接続される。また、表示装置２はパターン発生手段６に接続され、撮像用カメラ３は画像取得手段５に接続される。
【０００７】
ここで、図５に示す従来例の動作を図６及び図７を用いて説明する。図６は演算制御手段４の詳細を説明する構成ブロック図、図７は演算制御手段４の動作を説明するフロー図である。
【０００８】
図６において、４，８及び１０は図５と同一符号を付してあり、１１は画像取得手段５から出力される画像データ、１２は画像データ１１から欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能、１３は欠陥候補抽出機能１２から抽出された欠陥候補に基づき２次元に拡張された振幅伝達関数特性（Modulation Transfer Function：以下、ＭＴＦ特性と呼ぶ。）を用いて欠陥強度を求める欠陥候補特徴量計算機能、１４は欠陥候補特徴量計算機能１３で計算された欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する良否判定機能である。
【０００９】
また、欠陥候補抽出機能１２、欠陥候補特徴量計算機能１３及び良否判定機能１４は演算制御手段４を構成している。
【００１０】
画像取得手段５（図６に図示せず。）の出力は欠陥候補抽出機能１２に接続され、欠陥候補抽出機能１２の出力は欠陥候補特徴量計算機能１３に接続される。また、欠陥候補特徴量計算機能１３の出力は良否判定機能１４に接続され、良否判定機能１４の出力は表示手段７（図６に図示せず。）に接続される。
【００１１】
画像演算装置１００のパターン発生手段６より検査パターンが出力され、表示装置２に画像が表示される。この表示された画像を撮像用カメラ３で撮像し、画像データ１として画像取得手段５に出力する。
【００１２】
そして、画像取得手段５は画像データ１を取得し、演算制御手段４へ画像データ１１を出力する。
【００１３】
図７中”Ｓ１０１”において演算制御手段４の欠陥候補抽出機能１２は、前処理として画像取得手段５から入力された画像データ１１に対して、輝度変換テーブル１０に基づき欠陥候補特徴量計算機能１３で使用できるように変換を行う。
【００１４】
さらに、光学特性の補正、欠陥サイズへの対応及び高周波ノイズ除去等のため、シェーディング補正、縮小処理及び平滑化処理等を行うと共に、ラプラシアン型、ソーベル型、射影等の強調フィルタにより欠陥候補の輝度差を強調する。
【００１５】
そして、図７中”Ｓ１０２”において欠陥候補抽出機能１２は、輝度差が強調された画像を設定パラメータ８により予め設定されている閾値で２値化し、当該閾値を超過した部分を欠陥候補として抽出して出力する。
【００１６】
図７中”Ｓ１０３”において演算制御手段４の欠陥候補特徴量計算機能１３は、欠陥候補抽出機能１２で抽出された欠陥候補内部の最大輝度と欠陥候補周辺の輝度から正規化された欠陥形状を生成する。
【００１７】
そして、図７中”Ｓ１０４” において演算制御手段４の欠陥候補特徴量計算機能１３は、正規化された欠陥形状に対して２次元フーリエ変換等の処理を行い、周波数成分”Power(u(h,v))”を抽出する。ここで、”u(h,v)”は空間周波数である。
【００１８】
一方、図７中”Ｓ１０５” において演算制御手段４の欠陥候補特徴量計算機能１３は、空間周波数”u(h,v)”、背景輝度”ＬＢＧ”、欠陥の大きさ”（Ｘ，Ｙ）”及び角度方向”φ”等をそれぞれパラメータとして、２次元に拡張されたＭＴＦ特性”ＳＭＴＦ（u(h,v)，ＬＢＧ，Ｘ，Ｙ，φ）”を計算する。
【００１９】
また、図７中”Ｓ１０６” において演算制御手段４の欠陥候補特徴量計算機能１３は、次式により感知限界コントラスト”ＣＪＮＤ”を計算する。
【００２０】
【数１】
2007051958.tif 000003
【００２１】
さらに、具体的には、各周波数”u(h,v)”に対する感度（ＭＴＦ特性）”ＳＭＴＦ（u(h,v)，ＬＢＧ，Ｘ，Ｙ，φ）”と周波数成分”Power(u(h,v))”を乗算することにより、各周波数における感度（ＭＴＦ特性）を重み付けし、その欠陥形状における各周波数”u(h,v)”の補正感度を求め、２次元形状やピーク形状に対応するために、この補正感度を係数”ａ”により累乗したものを高周波成分”（Ｎｈ，Ｎｖ）”まで加算し、係数”ｂ”により累乗根を取ることで感度を計算している。
【００２２】
ここで、式（１）で使用される係数”ａ”及び係数”ｂ”は設定パラメータ８により予め設定された数値を用いる。
【００２３】
最後に、図７中”Ｓ１０７” において演算制御手段４の欠陥候補特徴量計算機能１３は、下記の式により定量化された欠陥強度を計算し、演算制御手段４の良否判定機能１４は、当該欠陥強度に基づき欠陥であるか否かの判断を行う。
欠陥強度＝Ｃ／ＣＪＮＤ    （２）
但し、”Ｃ”は欠陥のコントラストである。
【００２４】
ここで、演算制御手段４の良否判定機能１４において欠陥強度の良否判定に使用される閾値は設定パラメータ８により予め設定された数値を用いる。
【００２５】
この結果、２次元に拡張されたＭＦＴ特性を用いて感知限界コントラスト”ＣＪＮＤ”を求めることにより、実験による感知限界コントラストから大きく外れることがなくなりパラメータの調整工数を低減し、欠陥のコントラストを感知限界コントラスト”ＣＪＮＤ”で除算して定量化された欠陥強度を求めることにより客観的な数値出力が可能になる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２６】
しかし、図５に示す従来例では、撮像用カメラ３で撮像された画像データ１を物理量に変換するための輝度変換テーブル１０が必要となるが、この輝度変換テーブル１０を生成するためには撮像用カメラ３を検査装置から取り外さなければならず、その工程として撮像用カメラ３の取り外し→階調変換特性の測定→検査装置への再度取り付けという作業には非常に時間がかかるという問題点があった。
【００２７】
また、時間的な問題から測定毎に撮像用カメラ３を取り外すことはできないため、撮像環境や撮像用カメラ３の階調変換特性の経時変化を輝度変換テーブル１０に反映することができないという問題点があった。
【００２８】
従って本発明が解決しようとする課題は、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程を無くすことによるメンテナンスの効率化及び輝度変換テーブルを自動的に生成することによる撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能な画質検査装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
撮像素子、表示装置及び投影装置の欠陥を検出する画像検査装置において、
検査対象物である撮像素子、表示装置、若しくは、投影装置の画像を撮像する撮像用カメラと、前記画像の輝度値を測定する輝度測定装置と、検査対象の交換時又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンス時に前記輝度測定装置から前記輝度値を取り込んで輝度変換テーブルを生成し、検査時に前記検査対象物へ検査パターンを出力し、前記撮像用カメラからの画像データを取り込み、前記検査対象物に欠陥があるか否かの判断をする画像演算装置とを備えたことにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３０】
請求項２記載の発明は、
請求項１記載の発明である画質検査装置において、
前記画像演算装置が、
前記撮像用カメラからの前記画像データを取り込む画像取得手段と、前記輝度測定装置からの前記輝度値及び前記画像取得手段からの前記画像データをそれぞれ取り込み、輝度変換テーブルを生成する輝度変換テーブル生成手段と、前記検査対象物へ検査パターンを出力するパターン発生手段と、前記画像取得手段で取り込んだ前記画像データから欠陥候補を抽出し、欠陥強度の計算及び欠陥であるか否かの判断をする演算制御手段とから構成されることにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３１】
請求項３記載の発明は、
請求項２記載の発明である画質検査装置において、
前記演算制御手段が、
前記画像取得手段から入力された前記画像データから前記欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能と、抽出された前記欠陥候補に基づき２次元に拡張された振幅伝達関数特性を用いて前記欠陥強度を求める特徴量計算機能と、前記欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する良否判定機能とから構成されることにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３２】
請求項４記載の発明は、
請求項２若しくは請求項３記載の発明である画質検査装置において、
前記輝度変換テーブル生成手段が、
検査対象の交換時又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンス時に自動的に輝度変換テーブルの生成を行うことにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３３】
請求項５記載の発明は、
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の発明である画質検査装置において、
前記輝度測定装置が
分光輝度計等でカラー画像のＲＧＢのそれぞれの色の輝度を測定することにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３４】
請求項６記載の発明は、
請求項５記載の発明である画質検査装置において、
前記輝度変換テーブル生成手段が、
カラー画像のＲＧＢのそれぞれの色毎に輝度変換テーブルの生成を行うことにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３５】
請求項７記載の発明は、
請求項５若しくは請求項６記載の発明である画質検査装置において、
前記画像演算装置が
前記撮像用カメラから取得した前記画像データをＲＧＢのそれぞれの色毎に色分解し、その色毎に前記検査対象物に欠陥があるか否かの判断をすることにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなりメンテナンスが効率化され、輝度変換テーブルを自動的に生成することにより撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【発明の効果】
【００３６】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１，２，３及び請求項４の発明によれば、輝度測定装置を取り付け、輝度変換テーブルを自動的に作成することにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなり、メンテナンスの効率化及び撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００３７】
請求項５，６及び請求項７の発明によれば、分光輝度計等の輝度測定装置を取り付け、輝度変換テーブルを自動的に作成することにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなり、メンテナンスの効率化、撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応及びＲＧＢに分解された色毎の精度の高い欠陥強度を計算することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る画質検査装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【００３９】
図１において１５は画像データ、１６はＬＣＤ、ＰＤＰ及び有機ＥＬ等の表示装置、１７は撮像用カメラ、１８は輝度測定装置、１９は輝度変換テーブル生成手段、２０は画像取得手段、２１はパターン発生手段、２２は検査結果を表示させるためのＣＲＴ等の表示手段、２３はＲＡＭやハードディスク等の記憶手段を有するＣＰＵ等の演算制御手段、２４は輝度変換テーブル、２５は設定パラメータ、２６は画質検査結果である。
【００４０】
また、輝度変換テーブル生成手段１９、画像取得手段２０、パターン発生手段２１、表示手段２２及び演算制御手段２３は画像演算装置１０１を構成している。
【００４１】
演算制御手段２３は輝度変換テーブル生成手段１９、画像取得手段２０、パターン発生手段２１及び表示手段２２に接続される。また、表示装置１６はパターン発生手段２１に接続され、撮像用カメラ１７は画像取得手段２０に接続される。また、輝度変換テーブル生成手段１９は輝度測定装置１８及び画像取得手段２０に接続される。
【００４２】
ここで、図１に示す実施例の動作を図２、図３及び図４を用いて説明する。図２は輝度変換テーブル生成時の動作を示すフロー図、図３は演算制御手段２３の詳細を説明する構成ブロック図、図４は演算制御手段２３の動作を説明するフロー図である。
【００４３】
図２中”Ｓ２０１”においてパターン発生手段２１は、検査パターンを表示装置１６に出力し、図２中”Ｓ２０２”において撮像用カメラ１７は、表示装置１６に表示された検査パターンの画像を撮像する。
【００４４】
そして、図２中”Ｓ２０３”において画像取得手段２０は、撮像用カメラ１７で撮像した検査パターンの画像データ１５を取得する。
【００４５】
一方、図２中”Ｓ２０４”において輝度測定装置１８は、検査パターンが表示される表示装置１６の輝度を測定する。
【００４６】
図２中”Ｓ２０５”において輝度変換テーブル生成手段１９は、画像取得手段２０から画像データ及び輝度測定装置１８から輝度値をそれぞれ取得する。
【００４７】
そして、図２中”Ｓ２０６”において演算制御手段２３は、全ての階調を測定したか否かを判断し、もし、全ての階調を測定した場合には、図２中”Ｓ２０７”において演算制御手段２３は、輝度変換テーブル生成手段１９により輝度値と画素値の対応表である輝度変換テーブル２４を作成する。
【００４８】
輝度変換テーブル２４の生成は検査対象を交換する度又は一定期間ごとの検査装置のメンテナンスの度に自動的に行う。
【００４９】
図３において、２３，２４及び２５は図１と同一符号を付してあり、２７は画像取得手段２０から出力される画像データ、２８は画像データ２７から欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出機能、２９は欠陥候補抽出機能２８から抽出された欠陥候補に基づき２次元に拡張されたＭＴＦ特性を用いて欠陥強度を求める欠陥候補特徴量計算機能、３０は欠陥候補特徴量計算機能２９で計算された欠陥強度に基づき欠陥であるか否かを判断する良否判定機能である。
【００５０】
また、欠陥候補抽出機能２８、欠陥候補特徴量計算機能２９及び良否判定機能３０は演算制御手段２３を構成している。
【００５１】
画像取得手段２０（図３に図示せず。）の出力は欠陥候補抽出機能２８に接続され、欠陥候補抽出機能２８の出力は欠陥候補特徴量計算機能２９に接続される。また、欠陥候補特徴量計算機能２９の出力は良否判定機能３０に接続され、良否判定機能３０の出力は表示手段２２（図３に図示せず。）に接続される。
【００５２】
画像演算装置１０１のパターン発生手段２１より検査パターンが出力され、表示装置１６に画像が表示される。この表示された画像を撮像用カメラ１７で撮像し、画像データ１５として画像取得手段２０に出力する。
【００５３】
そして、画像取得手段２０は画像データ１５を取得し、演算制御手段２３へ画像データ２７を出力する。
【００５４】
図４中”Ｓ３０１”において演算制御手段２３の欠陥候補抽出機能２８は、前処理として画像取得手段２０から入力された画像データ２７に対して、輝度変換テーブル２４に基づき欠陥候補特徴量計算機能２９で使用できるように変換を行う。
【００５５】
さらに、光学特性の補正、欠陥サイズへの対応及び高周波ノイズ除去等のため、シェーディング補正、縮小処理及び平滑化処理等を行うと共に、ラプラシアン型、ソーベル型、射影等の強調フィルタにより欠陥候補の輝度差を強調する。
【００５６】
そして、図４中”Ｓ３０２”において欠陥候補抽出機能２８は、輝度差が強調された画像を設定パラメータ２５により予め設定されている閾値で２値化し、当該閾値を超過した部分を欠陥候補として抽出して出力する。
【００５７】
図４中”Ｓ３０３”において演算制御手段２３の欠陥候補特徴量計算機能２９は、欠陥候補抽出機能２８で抽出された欠陥候補内部の最大輝度と欠陥候補周辺の輝度から正規化された欠陥形状を生成する。
【００５８】
そして、図４中”Ｓ３０４” において演算制御手段２３の欠陥候補特徴量計算機能２９は、正規化された欠陥形状に対して２次元フーリエ変換等の処理を行い、周波数成分”Power(u(h,v))”を抽出する。ここで、”u(h,v)”は空間周波数である。
【００５９】
一方、図４中”Ｓ３０５” において演算制御手段２３の欠陥候補特徴量計算機能２９は、空間周波数”u(h,v)”、背景輝度”ＬＢＧ”、欠陥の大きさ”（Ｘ，Ｙ）”及び角度方向”φ”等をそれぞれパラメータとして、２次元に拡張されたＭＴＦ特性”ＳＭＴＦ（u(h,v)，ＬＢＧ，Ｘ，Ｙ，φ）”を計算する。
【００６０】
また、図４中”Ｓ３０６” において演算制御手段２３の欠陥候補特徴量計算機能２９は、式（１）により感知限界コントラスト”ＣＪＮＤ”を計算する。
【００６１】
さらに、具体的には、各周波数”u(h,v)”に対する感度（ＭＴＦ特性）”ＳＭＴＦ（u(h,v)，ＬＢＧ，Ｘ，Ｙ，φ）”と周波数成分”Power(u(h,v))”を乗算することにより、各周波数における感度（ＭＴＦ特性）を重み付けし、その欠陥形状における各周波数”u(h,v)”の補正感度を求め、２次元形状やピーク形状に対応するために、この補正感度を係数”ａ”により累乗したものを高周波成分”（Ｎｈ，Ｎｖ）”まで加算し、係数”ｂ”により累乗根を取ることで感度を計算している。
【００６２】
ここで、式（１）で使用される係数”ａ”及び係数”ｂ”は設定パラメータ２５により予め設定された数値を用いる。
【００６３】
最後に、図４中”Ｓ３０７” において演算制御手段２３の欠陥候補特徴量計算機能２９は、下記の式により定量化された欠陥強度を計算し、演算制御手段２３の良否判定機能３０は、当該欠陥強度に基づき欠陥であるか否かの判断を行う。
欠陥強度＝Ｃ／ＣＪＮＤ    （２）
但し、”Ｃ”は欠陥のコントラストである。
【００６４】
ここで、演算制御手段２３の良否判定機能３０において欠陥強度の良否判定に使用される閾値は設定パラメータ２５により予め設定された数値を用いる。
【００６５】
この結果、輝度測定装置を取り付け、輝度変換テーブルを自動的に作成することにより、撮像用カメラの取り外し及び取り付けの工程が無くなり、メンテナンスの効率化及び撮像環境や撮像用カメラの階調変換特性の経時変化への対応が可能になる。
【００６６】
なお、輝度変換テーブル２４に基づき画像データ１１を変換するタイミングは演算制御手段２３の欠陥候補抽出機能２８で欠陥候補を抽出する前としているが、欠陥候補抽出機能２８で欠陥候補を抽出した後に各欠陥候補に対して変換を行っても構わない。
【００６７】
また、良否判定機能３０において輝度変換テーブル２４を用いて欠陥強度の補正を行っても構わない。
【００６８】
また、図１等に示す実施例では画像データをそのまま用いて処理しているが、ＲＧＢ（Red（赤）／Green（緑）／Blue（青）の３原色をもとに画像を表示する出力画像信号方式。）に色分解して個々の色の画像データに対して、それぞれの色に対するＭＴＦ特性を用いて欠陥強度を求めても構わない。
【００６９】
この場合、輝度測定装置１８に分光輝度計等を用いてそれぞれの色に対する輝度変換テーブルを生成し、それぞれの色の画像データに対して変換を行う。この結果、分解された色毎の精度の高い欠陥強度を計算することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明に係る画質検査装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【図２】輝度変換テーブル生成時の動作を示すフロー図である。
【図３】演算制御手段の詳細を説明する構成ブロック図である。
【図４】演算制御手段の動作を説明するフロー図である。
【図５】従来の画質検査装置の一例を示す構成ブロック図である。
【図６】演算制御手段の詳細を説明する構成ブロック図である。
【図７】演算制御手段の動作を説明するフロー図である。
【符号の説明】
【００７１】
１，１１，１５，２７  画像データ
２，１６  表示装置
３，１７  撮像用カメラ
４，２３  演算制御手段
５，２０  画像取得手段
６，２１  パターン発生手段
７，２２  表示手段
８，２５  設定パラメータ
９，２６  画質検査結果
１０  輝度変換テーブル
１２，２８  欠陥候補抽出機能
１３，２９  欠陥候補特徴量計算機能
１４，３０  良否判定機能
１８  輝度測定装置
１９  輝度変換テーブル生成手段
２４  輝度変換テーブル
１００  画像演算装置
【図１】
2007051958.tif 000004
【図２】
2007051958.tif 000005
【図３】
2007051958.tif 000006
【図４】
2007051958.tif 000007
【図５】
2007051958.tif 000008
【図６】
2007051958.tif 000009
【図７】
2007051958.tif 000010