(57)【要約】【課題】論理素子デバイスを搭載した状態での製品基板の耐給電ノイズの評価および誤動作発生時の問題所在個所の切り分けを行うことが可能な基板給電評価用論理回路および基板給電評価方法を得ること。【解決手段】製品基板に搭載した論理素子デバイスに組み込む基板給電評価用論理回路１は、前記論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の所定回路を用いて該論理素子デバイスの動作を任意の周波数で使用率変更可能に模擬する回路２と、回路２の動作の正常・異常を判定する回路３と、回路３の判定結果に基づき回路２の動作実行を制御して前記論理素子デバイスの使用率を変更制御し回路２に動作停止を指示したときの使用率を設定する回路４と、回路３の判定結果と回路４が設定した使用率とを外部に出力する回路５とを備える。【選択図】        図１
2007107905.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器のプリント基板に搭載され当該電子機器の機能を組み込むのに使用する書き換え可能な半導体集積回路装置である論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の所定回路を用いて前記論理素子デバイスの動作を任意の周波数で使用率変更可能に模擬する動作模擬回路と、
前記動作模擬回路の動作の正常・異常を判定する動作判定回路と、
前記動作判定回路の判定結果に基づき前記動作模擬回路の動作実行を制御して前記論理素子デバイスの使用率を変更制御し、前記動作模擬回路に動作停止を指示したときの使用率を設定する使用率制御回路と、
前記動作判定回路の判定結果と前記使用率制御回路が設定した使用率とを外部に出力する使用率出力回路と、
を備えたことを特徴とする基板給電評価用論理回路。
【請求項２】
前記所定回路は、順序回路または組み合わせ回路または順序回路と組み合わせ回路とをまとめた回路とのうち何れか一つの回路であり、
前記動作模擬回路は、全ての前記所定回路が所定の順序で動作の実行と停止とを行うように構成されている
ことを特徴とする請求項１に記載の基板給電評価用論理回路。
【請求項３】
前記所定回路は、順序回路または組み合わせ回路または順序回路と組み合わせ回路とをまとめた回路とのうち何れか一つの回路であり、
前記動作模擬回路は、全ての前記所定回路を、当該所定回路の複数個を直列に接続して１グループとするように複数に分割し、その分割したグループ毎に所定の順序で動作の実行と停止とを行うように構成されている
ことを特徴とする請求項１に記載の基板給電評価用論理回路。
【請求項４】
電子機器の機能を組み込むのに使用する書き換え可能な半導体集積回路装置である論理素子デバイスの論理規模を設定する工程と、
設定した前記論理規模に応じて、当該論理規模中の使用可能な全ての論理素子内の所定回路を用いて前記論理素子デバイスの動作を任意の周波数で使用率変更可能に模擬する動作模擬回路、前記動作模擬回路の動作の正常・異常を判定する動作判定回路、前記動作判定回路の判定結果に基づき前記動作模擬回路の動作実行を制御して前記論理素子デバイスの使用率を変更制御し前記動作模擬回路に動作停止を指示したときの使用率を設定する使用率制御回路、および前記動作判定回路の判定結果と前記使用率制御回路が設定した使用率とを外部に出力する使用率出力回路を備える基板給電評価用論理回路を生成し、それを前記電子機器のプリント基板に搭載されている論理素子デバイスに組み込む工程と、
組み込んだ前記論理素子デバイスにおいて前記基板給電評価用論理回路を動作させ、得られた異常動作の有無とそれに応じた使用率とから前記プリント基板における給電系を評価する工程と、
を含むことを特徴とする基板給電評価方法。
【請求項５】
前記所定回路は、順序回路または組み合わせ回路または順序回路と組み合わせ回路とをまとめた回路とのうち何れか一つの回路であり、
前記動作模擬回路は、全ての前記所定回路が所定の順序で動作の実行と停止とを行うように構成されている
ことを特徴とする請求項４に記載の基板給電評価方法。
【請求項６】
前記所定回路は、順序回路または組み合わせ回路または順序回路と組み合わせ回路とをまとめた回路とのうち何れか一つの回路であり、
前記動作模擬回路は、全ての前記所定回路を、当該所定回路の複数個を直列に接続して１グループとするように複数に分割し、その分割したグループ毎に所定の順序で動作の実行と停止とを行うように構成されている
ことを特徴とする請求項４に記載の基板給電評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＦＰＧＡ（フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ）等の書き換え可能な半導体集積回路装置（以降「論理素子デバイス」という）を搭載するプリント基板の給電系の評価を行う基板給電評価用論理回路および基板給電評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
通信機器や情報機器、制御機器等の電子機器で用いられるプリント基板（以降「製品基板」という）に搭載される論理素子デバイスは、順序回路および組み合わせ回路と配線領域・配線スイッチ等とで構成され、それらを組み合わせて繋ぎ合わせることで、それぞれの機器に応じた様々な機能を実現している。
【０００３】
ところで、近年、論理素子デバイスの大規模化（多ピン化）や低電圧化に伴って、その論理素子デバイスを搭載する製品基板では、電圧ドロップやリプル、高周波ノイズ等（以降、「給電系ノイズ」と記す）によって論理素子デバイスの動作リセットや出力信号異常等の誤動作が発生し、問題になっている。そのため、製品基板の電源供給系の設計では、搭載する論理素子デバイスの消費電力の計算や予測を行い、そのデータを基に電源回路やバイパス用容量素子の容量値や配置等を設計するようにしている。
【０００４】
この論理素子デバイスの消費電力の計算や予測を行う方法として、従来では、エミュレータや電源装置、測定器によって構成される専用の評価装置を用いて製品基板に組み込まれた論理回路をエミュレートし計算する方法が用いられている（例えば、特許文献１）。
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−２２２５６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記のように論理回路を詳細設計した後に論理シミュレーションによって論理素子デバイスの消費電力を見積もり、製品基板を設計したにも拘わらず、上記した誤動作が発生している。
【０００７】
この誤動作が発生する原因を特定するには、製品基板の給電設計に問題があるのか、タイミング等の基板回路設計に問題があるのかを切り分けることが必要であるが、容易ではない。また、評価基板を使用して論理素子デバイス単体を評価する方法は存在するが、製品基板に搭載した状態での論理素子デバイス、つまり適用する電子機器の機能を実現するようにプログラムした論理素子デバイスの動作時の給電系評価を行う方法は存在しない。
【０００８】
この発明は、上記に鑑みてなされたものであり、論理素子デバイスを搭載した状態での製品基板の耐給電ノイズの評価および誤動作発生時の問題所在個所の切り分けを行うことが可能な基板給電評価用論理回路および基板給電評価方法を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した目的を達成するために、この発明にかかる基板給電評価用論理回路は、電子機器のプリント基板に搭載され当該電子機器の機能を組み込むのに使用する書き換え可能な半導体集積回路装置である論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の所定回路を用いて前記論理素子デバイスの動作を任意の周波数で使用率変更可能に模擬する動作模擬回路と、前記動作模擬回路の動作の正常・異常を判定する動作判定回路と、前記動作判定回路の判定結果に基づき前記動作模擬回路の動作実行を制御して前記論理素子デバイスの使用率を変更制御し、前記動作模擬回路に動作停止を指示したときの使用率を設定する使用率制御回路と、前記動作判定回路の判定結果と前記使用率制御回路が設定した使用率とを外部に出力する使用率出力回路とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
この発明によれば、上記のように構成される基板給電評価用論理回路を電子機器のプリント基板（製品基板）に搭載されている論理素子デバイスに組み込んで動作させると、当該基板給電評価用論理回路では、前記論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の所定回路を用いて、使用率を０％から１００％に向かって増加させる動作模擬を任意の周波数で実行し、その過程で動作異常が発生するとその時点での使用率を当該論理素子デバイスに設けた出力ピンから出力することができる。つまり、論理素子デバイスに組み込んだ基板給電評価用論理回路は、動作異常の有無とそれに応じた使用率とを出力するので、この情報を使用して当該製品基板の給電系評価を行うことができる。具体的には、設計完了した論理回路を当該製品基板に組み込む前に、あるいは、その論理回路の設計完了前に、事前に前記した給電ノイズへの対策を採ることが可能になる。また、設計完了した論理回路を当該製品基板に組み込んで動作させた場合に発生する誤動作の原因究明および切り分けが迅速に行えるようになる。
【発明の効果】
【００１１】
この発明によれば、論理素子デバイスを搭載した状態での製品基板の耐給電ノイズの評価および誤動作発生時の問題所在個所の切り分けを行うことが可能になるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に図面を参照して、この発明にかかる基板給電評価用論理回路および基板給電評価方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１３】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１による基板給電評価用論理回路の構成を示すブロック図である。図１に示す基板給電評価用論理回路１は、製品基板に搭載された論理素子デバイスに組み込まれる論理回路であり、動作模擬回路２と、動作判定回路３と、使用率制御回路４と、使用率出力回路５と、クロック発生回路６とを備えている。
【００１４】
クロック発生回路６は、動作模擬回路２にクロック信号を供給し、また必要に応じて動作判定回路３などにクロック信号を供給するが、例えば当該論理素子デバイスが備えるＰＬＬ（位相ロックループ制御回路）などで構成され、少なくとも動作模擬回路２には、任意周波数のクロック信号を変更して供給できるようになっている。
【００１５】
動作模擬回路２は、この実施の形態１では、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の順序回路（ＦＦ：フリップフロップ）を対象として、例えば、図２（第１の構成例）や図３（第２の構成例）に示すように構成され、各順序回路に所定の順序でクロック発生回路６からのクロック信号を与えて行う任意周波数での模擬動作を、使用率制御回路４から入力する動作許可および動作停止の制御信号に従って実行することで、当該論理素子デバイスの使用率を変えての動作模擬が行えるようになっている。
【００１６】
動作判定回路３は、例えば図４に示すように構成され、動作模擬回路２の出力結果から模擬動作の正常・異常を判定し、その判定結果を使用率制御回路４と使用率出力回路５とに通知する。
【００１７】
使用率制御回路４は、例えば図５に示すように構成され、動作判定回路３の判定結果を監視し、「動作正常」である間は、動作模擬回路２に動作許可の制御信号を継続して与えることで使用率を０％から１００％に向かって増加する制御を行い、動作異常が発生せず１００％に到達するとその時点で動作模擬回路２に動作停止の制御信号を与え１００％の使用率を保持出力する一方、途中で「動作異常」が発生した場合はその時点で動作模擬回路２に動作停止の制御信号を与えその時の１００％以下の使用率を保持出力することで、当該論理素子デバイスの使用率制御を実行する。
【００１８】
使用率出力回路５は、動作判定回路３の判定結果を監視し、最後まで動作異常が発生しなければ使用率制御回路４が保持出力する１００％の使用率を、途中で動作異常が発生した場合はその時点で使用率制御回路４が保持出力する１００％以下の使用率を、それぞれ識別可能に外部に出力する。
【００１９】
このとき、通常、製品基板に搭載する論理素子デバイスでは、この発明による基板給電評価用論理回路専用の出力ピンを確保することは困難である。そこで、この実施の形態では、使用率出力回路５は、その確保できる出力ピン数に合わせた出力形態に変換して出力するようになっている。例えば、使用率制御回路４が使用率をパラレルの形式で出力するが、確保できる出力ピン数が１つである場合は、シリアル変換して１つの信号にする。
【００２０】
次に、図２〜図５を参照して動作模擬回路２、動作判定回路３、および使用率制御回路４の具体的な構成例について説明する。
【００２１】
図２は、動作模擬回路２の第１の構成例（基本的な構成例）を示す回路図である。図２に示す動作模擬回路２ａは、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の順序回路がＮ個である場合に、そのＮ個の順序回路ＦＦ−１〜ＦＦ−Ｎを直列に接続し、第１番目の順序回路ＦＦ−１のデータ入力端には自順序回路ＦＦ−１の出力ビットを反転して与え、それぞれのクロック入力端を並列に共通のクロックラインに接続した構成であり、例えば、使用率制御回路４からの制御信号Ｅｎａｂｌｅが動作許可を示すときに、そのクロックラインにクロック発生回路６からのクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを供給できるようになっている。
【００２２】
この動作模擬回路２ａでは、使用率制御回路４からの制御信号Ｅｎａｂｌｅが動作許可を示すときは、Ｎ個の順序回路ＦＦ−１〜ＦＦ−Ｎがクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫに従ってビット“１”とビット“０”とを交互に順番に伝送するので、クロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫ（周波数：Ｆ）の２倍の周期（周波数：Ｆ／２）に同期して動作する。何れかの順序回路で動作異常が発生した場合は、ビット“１”またはビット“０”を連続して出力する。これによって、この動作模擬回路２ａでは、当該論理素子デバイスの動作を模擬することができる。
【００２３】
この図２に示すように当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の全順序回路を直列に接続した構成において使用率を変更できるようにするには、基本的には、全ての順序回路の個々に個別にクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを供給すればよい。ここでは、使用率を変更できるより実用的な構成例を図３に示す。
【００２４】
図３は、動作模擬回路２の第１の構成例（分割・グループ化構成例）を示す図である。図３に示す動作模擬回路２ｂは、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の順序回路を、動作模擬回路２ａのように直列に接続できる複数個を１グループとするように複数（図示例Ｎ個）に分割し、動作模擬回路２ａのような接続関係を有するグループ２ａ１〜２ａＮ毎に、クロック発生回路６からのクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを与え、使用率制御回路４から入力する動作許可および動作停止の制御信号に従って動作制御を行うようにした構成である。この構成によれば、当該論理素子デバイスの使用率を可変しての模擬動作を効果的に実施することができる。
【００２５】
次に、図４は、動作判定回路３の構成例を示す図である。図４に示す動作判定回路３は直列に接続した順序回路（ＦＦ＿Ａ）３ａ，順序回路（ＦＦ＿Ｂ）３ｂと、排他的論理和回路３ｃとで構成されている。直列に接続した順序回路（ＦＦ＿Ａ）３ａ，順序回路（ＦＦ＿Ｂ）３ｂの各クロック入力端には、クロック発生回路６からのクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫが共通に供給される。順序回路（ＦＦ＿Ａ）３ａのデータ入力端には、動作模擬回路２の出力信号が印加される。順序回路（ＦＦ＿Ａ）３ａの出力データビットは、順序回路（ＦＦ＿Ｂ）３ｂの入力データとなるとともに、排他的論理和回路３ｃの一方の入力となる。排他的論理和回路３ｃの他方の入力は、順序回路（ＦＦ＿Ｂ）３ｂの出力データビットである。
【００２６】
この構成によれば、動作模擬回路２が正常に動作しているときは、排他的論理和回路３ｃの２入力は、一方がビット“１”であり、他方がビット“０”であるので、排他的論理和回路３ｃは、ビット“０”レベルを連続して出力する。また、動作模擬回路２が異常動作を行うと、排他的論理和回路３ｃの２入力は、共に、ビット“１”またはビット“０”になるので、排他的論理和回路３ｃは、その異常動作が発生した時点でビット“１”レベルを連続して出力する。これによって、動作判定回路３では、動作模擬回路２が正常に動作しているか、異常動作が発生したかを判定することができる。
【００２７】
なお、図４では、図２に示す動作模擬回路２ａに対応した構成を示しているが、図３に示す動作模擬回路２ｂに対しては、Ｎグループ２ａ１〜２ａＮが順々に動作するので、例えば、グループ２ａ１〜２ａＮの各出力が入力する論理和回路を追加すれば対応することができる。
【００２８】
次に、図５は、使用率制御回路４の構成例を示す図である。図５に示す使用率制御回路４は、動作模擬回路２の使用率を与えるカウンター４ａと、制御信号Ｅｎａｂｌｅを出力するデコーダー４ｂとで構成されている。ここでは、動作模擬回路２が図３に示す動作模擬回路２ｂである場合について説明する。
【００２９】
カウンター４ａは、動作判定回路３の出力がビット“０”レベルである間は、動作模擬回路２ｂの使用率を０％から１００％に向かって順に増加させるカウントアップ動作を行う。その結果、動作模擬回路２ｂの使用率が１００％になると、その時点でカウントアップ動作を停止し、そのカウント値を保持出力する。また、カウントアップ動作の過程で、動作判定回路３の出力がビット“１”レベルになると、その時点でカウントアップ動作を停止し、そのカウント値を保持出力する。
【００３０】
デコーダー４ｂは、カウンター４ａが上記したカウントアップ動作の過程で出力するカウント値と保持出力するカウント値とから、グループ２ａ１〜２ａＮの対応するグループへの動作許可および動作停止を示す制御信号Ｅｎａｂｌｅを生成して出力する。これによって、動作模擬回路２ｂでは、グループ２ａ１〜２ａＮの「動作実行」と「その停止」とが個別に順に制御されるので、使用率を変えた模擬動作が行えるようになる。使用率出力回路５に関しては前述した。
【００３１】
以下、図６を参照して、以上のように構成される基板給電評価用論理回路１を使用して製品基板の給電系評価（耐給電ノイズ評価）を行う方法について説明する。図６は、基板給電評価用論理回路１を使用して製品基板の給電系評価を行う手順を説明するフローチャートである。なお、図６では、動作模擬回路２が図３に示す動作模擬回路２ｂである場合を取り上げている。
【００３２】
図６において、まず、評価対象である製品基板に搭載される論理素子デバイス（以降「ターゲットデバイス」と記す）を選択し、その選択したターゲットデバイス内の総論理素子数である論理規模を設定する（ステップＳＴ１）。ここでは、選択・設定したターゲットデバイスの論理規模は、例えば「１００００」であるとする。
【００３３】
そして、設定した論理規模に応じて動作模擬回路２ｂを作成して分割数を設定し、また動作周波数を設定する（ステップＳＴ２）。ここで、ステップＳＴ１にて選択・設定したターゲットデバイスの論理規模「１００００」のうち、動作模擬回路２ｂ以外の制御回路等に使用される論理素子数が「１０００」であり、動作模擬回路２ｂとして使用可能な論理素子数が「９０００」であれば、分割数を「１０」と設定する。この場合の動作模擬回路２ｂでの各グループの構成素子数は「９００」となる。つまり、ここでは、使用可能な論理素子は全て順序回路であるとしている。
【００３４】
次に、図１に示すように、動作模擬回路、動作判定回路、使用率制御回路、使用率出力回路およびクロック発生回路とで構成される基板給電評価用論理回路１をターゲットデバイスの論理規模および分割数に合わせて生成し（ステップＳＴ３）、その生成した基板給電評価用論理回路１を製品基板のターゲットデバイスにダウンロードする、つまりターゲットデバイスに組み込む（ステップＳＴ４）。
【００３５】
製品基板のターゲットデバイスにダウンロードした基板給電評価用論理回路１では、リセット処理によって使用率が設定され（ステップＳＴ５）、設定された使用率に合わせて動作模擬回路２ｂは動作を開始する（ステップＳＴ６）。今の例では、最初は、１０分割されグループ化された全体の１０％に当たる９００の論理素子が動作する設定となり、１つのグループ（例えば第１のグループ２ａ１）が動作を開始する。この場合には、第１のグループ２ａ１に動作許可の制御信号Ｅｎａｂｌｅが与えられ、残りの全グループには動作停止の制御信号Ｅｎａｂｌｅが与えられる。
【００３６】
動作模擬回路２ｂにて分割されグループ化された論理素子数「９００」に合わせた遅延時間だけ待機した後、動作判定回路３にて動作模擬回路２ｂの出力信号を検出し、動作の正常・異常の判定が行われる（ステップＳＴ７）。
【００３７】
動作模擬回路２ｂの動作が異常と判定された場合は（ステップＳＴ７：Ｎｏ）、使用率制御回路４から動作模擬回路２ｂの異常動作を行ったグループに動作停止の制御信号Ｅｎａｂｌｅが与えられることで動作模擬回路２ｂの全グループが動作停止状態になる（ステップＳＴ１０）。使用率制御回路４は現在の使用率（異常発生時点での使用率）を保持するので、使用率出力回路５がその異常発生時点での１００％以下の使用率を外部に出力する（ステップＳＴ１１）。
【００３８】
動作模擬回路２ｂの動作が正常と判定された場合は（ステップＳＴ７：Ｙｅｓ）、使用率制御回路にて現在の使用率設定値（現在のカウント値）を調べる（ステップＳＴ８）。その結果、使用率が１００％未満である場合は（ステップＳＴ８：Ｎｏ）、設定した分割数に合わせた使用率を増加させ（ステップＳＴ９）、ステップＳＴ５に戻り、動作模擬回路２ｂの使用率を設定する。つまり、次に動作させる１グループを定めて動作許可の制御信号Ｅｎａｂｌｅを与え、残りの全グループには動作停止の制御信号Ｅｎａｂｌｅが与える。
【００３９】
また、ステップＳＴ８において使用率が１００％である場合は（ステップＳＴ８：Ｙｅｓ）、使用率制御回路４から動作模擬回路２ｂの最終第Ｎ番目のグループ２ａＮに動作停止の制御信号Ｅｎａｂｌｅが与えられることで動作模擬回路２ｂの全グループが動作停止状態になる（ステップＳＴ１０）。使用率制御回路４は現在の使用率（正常動作終了時点での使用率）を保持するので、使用率出力回路５からその正常に終了した時点での１００％使用率を外部に出力する（ステップＳＴ１１）。
【００４０】
このように、この実施の形態１によれば、給電ノイズは論理素子デバイスに組み込まれる対象電子機器の機能に関係がなく、使用する論理素子数や内部論理の動作周波数にのみ依存する点に着目し、対象電子機器に使用される製品基板に搭載される論理素子デバイスに、内部論理素子の使用率や動作周波数を任意に変更して動作を模擬し、異常動作の有無とそれに応じた使用率とを把握することができる基板給電評価用論理回路を組み込むようにしたので、組み込んだ基板給電評価用論理回路が出力する異常動作の有無とそれに応じた使用率とを用いてその論理素子デバイスが搭載された製品基板の給電系評価を行うことができる。
【００４１】
具体的には、この基板給電評価用論理回路を組み込んだ論理素子デバイスを搭載した製品基板に使用する論理回路（以降「製品版論理回路」と記す）を組み込んで動作させ、出力信号異常等の問題が発生した場合、製品版論理回路の仕様から動作周波数を設定した基板給電評価用論理回路に、異常動作が発生すれば製品基板の給電設計の問題であり、異常動作が発生しなければタイミング等の論理回路設計の問題であるというように、製品版論理回路誤動作時の問題の所在個所を迅速に切り分けることができる。
【００４２】
また、製品基板に使用する製品版論理回路の詳細設計前に、あるいは、詳細設計を完了した製品版論理回路を製品基板に組み込む前に、その製品基板にこの基板給電評価用論理回路を組み込んだ論理素子デバイスを搭載して基板給電評価用論理回路を動作させ耐給電ノイズ評価を行うことで、事前に給電ノイズ対策を採ることができるようになる。
【００４３】
実施の形態２．
図７は、この発明の実施の形態２による基板給電評価用論理回路の構成を示すブロック図である。なお、図７では、図１（実施の形態１）に示した構成要素と同一ないしは同等である構成要素には同一の符号が付されている。ここでは、この実施の形態２に関わる部分を中心に説明する。
【００４４】
図７に示すように、実施の形態２による基板給電評価用論理回路８は、図１（実施の形態１）に示した構成において、動作模擬回路２に代えて、動作模擬回路９が設けられている。動作模擬回路９は、この実施の形態２では、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の組み合わせ回路（ＩＮＶ：インバータ回路）を対象として、例えば、図８（第１の構成例）や図９（第２の構成例）に示すように構成され、各組み合わせ回路に所定の順序でクロック発生回路６からのクロック信号を与えて行う模擬動作を、使用率制御回路４から入力する動作許可および動作停止の制御信号に従って実行することで、当該論理素子デバイスの使用率を変えての動作模擬が行えるようになっている。
【００４５】
図８は、動作模擬回路９の第１の構成例（基本的な構成例）を示す図である。図８に示す動作模擬回路９ａは、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の組み合わせ回路がＮ個である場合に、そのＮ個の組み合わせ回路ＩＮＶ−１〜ＩＮＶ−Ｎを直列に接続し、第１番目の組み合わせ回路ＩＮＶ−１の入力端に、クロック発生回路６からのクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを使用率制御回路４からの制御信号Ｅｎａｂｌｅが動作許可を示すときに供給できるようにした構成である。
【００４６】
この動作模擬回路９ａでは、使用率制御回路４からの制御信号Ｅｎａｂｌｅが動作許可を示すときは、Ｎ個の組み合わせ回路ＩＮＶ−１〜ＩＮＶ−Ｎがクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫに従ってビット“１”とそれを反転したビット“０”とを交互に伝送するので、クロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫ（周波数：Ｆ）の２倍の周期（周波数：Ｆ／２）に同期して動作する。何れかの組み合わせ回路で動作異常が発生した場合は、ビット“１”またはビット“０”を連続して出力する。これによって、この動作模擬回路２ａでは、当該論理素子デバイスの動作を模擬することができる。
【００４７】
この図８に示すように、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の全組み合わせ回路を直列に接続した構成において使用率を変更できるようにするには、基本的には、全ての組み合わせ回路の個々に個別にクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを供給すればよい。ここでは、使用率を変更できるより実用的な構成例を図９に示す。
【００４８】
図９は、動作模擬回路９の第２の構成例（分割・グループ化構成例）を示す図である。図９に示す動作模擬回路９ｂは、当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子内の組み合わせ回路を、動作模擬回路９ａのように直列に接続できる複数個を１グループとするように複数（図示例Ｎ個）に分割し、動作模擬回路９ａのような接続関係を有するグループ９ａ１〜９ａＮ毎に、クロック発生回路６からのクロック信号ＤＡＴＡ＿ＣＬＫを与え、使用率制御回路４から入力する動作許可および動作停止の制御信号に従って動作制御を行うようにした構成である。この構成によれば、当該論理素子デバイスの使用率を可変しての模擬動作を効果的に実施することができる。
【００４９】
この実施の形態２においても、図６に示した手順で製品基板の給電系評価（耐給電ノイズ評価）を行うことができる。なお、動作模擬を行う当該論理素子デバイスの使用可能な全ての論理素子において、実施の形態１では、順序回路を取り上げて説明し、実施の形態２では組み合わせ回路を取り上げて説明したが、順序回路と組み合わせ回路との双方を対象にした動作模擬回路も同様の考えで構成することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５０】
以上のように、この発明にかかる基板給電評価用論理回路および基板給電評価方法は、論理素子デバイスを搭載した状態での製品基板の耐給電ノイズの評価および誤動作発生時の問題所在個所の切り分けを迅速行うのに有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】この発明の実施の形態１による基板給電評価用論理回路の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す動作模擬回路の第１の構成例（基本的な構成例）を示す図である。
【図３】図１に示す動作模擬回路の第２の構成例（分割・グループ化構成例）を示す図である。
【図４】図１に示す動作判定回路の構成例を示す図である。
【図５】図１に示す使用率制御回路の構成例を示す図である。
【図６】図１に示す基板給電評価用論理回路を使用して製品基板の給電系評価を行う手順を説明するフローチャートである。
【図７】この発明の実施の形態２による基板給電評価用論理回路の構成を示すブロック図である。
【図８】図７に示す動作模擬回路の第１の構成例（基本的な構成例）を示す図である。
【図９】図７に示す動作模擬回路の第２の構成例（分割・グループ化構成例）を示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１，８  基板給電評価用論理回路
２ａ，９ａ  動作模擬回路（第１の構成例：基本的な構成例）
２ａ，９ｂ  動作模擬回路（第２の構成例：分割・グループ化構成例）
３  動作判定回路
３ａ，３ｂ，ＦＦ＿１〜ＦＦ＿Ｎ  順序回路
３ｃ  排他的論理和回路
４  使用率制御回路
５  使用率出力回路
６  クロック発生回路
ＩＮＶ＿１〜ＩＮＶ＿Ｎ  組み合わせ回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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