(57)【要約】【課題】温度により各ＩＣに発生するオフセットを保存する量、および測定回数を少なくする。【解決手段】温度により各ＩＣ１０１、１０７に発生した温度−オフセット量の関係から、式算出手段１２３によりそのＩＣの温度−オフセット量の特性式を求め、その式と、ＩＣの検出温度とから、オフセット算出手段１２４によりオフセットを算出することで、未測定の温度でもオフセット量を求めることを可能にする。これにより、オフセット量の測定のためのサーボ処理の中断の必要がなくなり、光ディスク装置のサーボ処理性能をあげることができ、サーボ追従性能の劣化を防止できる。【選択図】  図１
2007087514.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対して信号の記録、再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスクに対し記録すべき信号、あるいは光ディスクから再生された信号である入力信号から、光ピックアップを制御すべきサーボ制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部の温度を検出する２以上の温度検出手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記２以上の温度検出手段で検出した各部の温度と、前記オフセット検出手段により検出した各部のオフセットとの関係をテーブルとして保持するテーブル保持手段と、前記テーブル保持手段に保持している温度とオフセットの関係の値から、温度とオフセットの特性式を求める式算出手段と、前記式算出手段で求めた温度とオフセットの特性式を保存する式保存手段と、前記式保存手段に保存されている温度とオフセットの特性式と、前記温度検出手段で検出した温度とから、該温度での前記各部のオフセットを求めるオフセット算出手段と、を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記テーブル保持手段に格納している温度とオフセットの関係の二つのデータから、一次式による特性式を求めることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを求める温度範囲を定め、その温度範囲内での一次式による特性式を求めることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを求める２以上の温度範囲を定め、その各温度範囲内での相異なる一次式による特性式を求めることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、オフセットの温度ドリフト発生時のオフセット補正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置における温度補正手段としては、温度−オフセット量を補正テーブルに格納し、それを用いてオフセット補正を行うようにした手段の一例として、特開２００４−２４６９７３号公報に開示のものがある。
【０００３】
従来の方式について、図２の従来の光ディスク装置のブロック図を用いて説明する。
図２に示される従来の光ディスク装置において、ＨＡＩＣ２０１は、信号の増幅を行うためのものであり、このＨＡＩＣ２０１は、各チャネルに有するアンプｐｄＡ（Ｖａ）２０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）２０５を内蔵している。
【０００４】
また、このＨＡＩＣ２０１は、ＨＡＩＣ２０１内の温度検出を行うための温度センサー２０６を内蔵している。
２２３は、このＨＡＩＣ２０１を内蔵している光ピックアップである。
【０００５】
サーボ信号生成ＩＣ２０７は、上記ＨＡＩＣ２０１からの複数の信号を受けて、サーボ信号生成を行うための回路であり、上記ＨＡＩＣ２０１からの各入力信号を基準電圧に切替え可能な各スイッチ２０８〜２１１、該基準電圧（Ｖｒｅｆ）２１２、該各スイッチ２０８〜２１１により切り替えられた信号に対し処理を行う演算処理回路２１３、および該サーボ信号生成ＩＣ２０７内の温度検出を行うための温度センサー２１４を、内蔵する。
【０００６】
ＤＳＰ２１５は、前記サーボ信号生成ＩＣ２０７からのエラー信号２０７ａを入力とし、光ピックアップ２２３のサーボ制御を行うよう信号処理をするデジタルシグナルプロセッサーであり、これは、前記サーボ信号生成ＩＣ２０７からのエラー信号２０７ａをＡ／Ｄ変換して取り込むＡ／Ｄ変換器２１６、前記サーボ信号生成ＩＣ２０７内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＡ／Ｄ変換器２１７、およびＨＡＩＣ２０１内の温度検出信号をＡ／Ｄ変換して取り込むＡ／Ｄ変換器２１８を内蔵するとともに、前記Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度、及びオフセット値を保持するためのメモリ２１９、前記Ａ／Ｄ変換器２１６の出力に対し、前記メモリ２１９内のデータを参照しながら、オフセット検出およびオフセット補正を行うオフセット検出・補正部２２１、および該オフセット検出・補正部２２１によるオフセット補正後の信号を用いてサーボ処理を行うサーボ制御部２２２を、有するものであり、該メモリ２１９、オフセット検出・補正部２２１、およびサーボ制御部２２２により、サーボ制御を行うためのサーボコア２２０を構成している。
【０００７】
次に、動作について説明する。
前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７では、前記基準電圧２１２に基づいて出力を後段へ伝送するが、各ＩＣの回路で発生するオフセットにより前記光ピックアップ２２３の制御目標がずれ、前記サーボ制御部２２２での制御が不安定となる。この問題を解決するために、動作の初期において、前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７の電気的なオフセットを検出して、オフセット補正を行うとともに、前記オフセット検出時の各ＩＣの温度を、前記ＤＳＰ２１５の前記メモリ２１９に保持しておく。
【０００８】
また、半導体デバイスである前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７には、電力損失と熱抵抗とがあるため、動作時には多量の熱を発生する。このように、各ＩＣで発生する熱のために、前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７では、各ＩＣで発生したオフセットが各ＩＣ自体から発生する熱により変動する。
【０００９】
前記ＤＳＰ２１５により、前記光ピックアップ２２３を制御目標に対して安定に制御するには、前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７で発生したオフセットの温度変動分（以下、温度ドリフトと称す）を補正する必要がある。
【００１０】
前記光ピックアップ２２３により情報担体からの反射光より検出した信号は、前記ＨＡＩＣ２０１のアンプｐｂＡ（Ｖａ）２０２、ｐｂＢ（Ｖｂ）２０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）２０４、ｐｂＤ（Ｖｄ）２０５のいずれかを経由して、前記サーボ信号生成ＩＣ２０７内の前記演算処理回路２１３で演算処理した後、該信号を、前記ＤＳＰ２１５に内蔵の前記Ａ／Ｄ変換器２１６によりＡ／Ｄ変換して取り込む。
【００１１】
ここで、前記ＨＡＩＣ２０１に内蔵の前記各アンプの出力信号、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７に内蔵の前記演算処理回路２１３の出力信号にそれぞれ含まれるオフセットは、温度ドリフトにより変動することから、各ＩＣの前記温度センサー２１４より得た各ＩＣの温度検出信号を、前記ＤＳＰ２１５に内蔵の前記Ａ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換して取り込み、初期にオフセット検出した時の温度との相違を演算して、温度変化が生じた場合は、再びオフセット検出を行うとともに、オフセット補正を行う。
【００１２】
このようなオフセット補正は、前記ＤＳＰ２１５によって前記サーボ信号生成ＩＣ２０７のオフセット調整回路に対して行っているが、各ＩＣの温度が変化した場合は、その都度、再生または記録制御中にオフセット検出を行う。
【００１３】
次に、前記ＨＡＩＣ２０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ２０７の各温度で変動する既知のオフセットの代表値を、前記メモリ２１９に、デジタル値として扱えるように、温度−オフセット量のテーブルとして保持している。
【００１４】
前記テーブルは、各ＩＣの温度とオフセット値を、マトリックス状にメモリに保持しており、各ＩＣの温度検出結果から、前記テーブルのオフセット値を用いて、前記ＤＳＰ２１５にてオフセット補正を行う。
【００１５】
ところで、上記のように、各ＩＣにはオフセットの温度ドリフトが存在する。
そこで、前記ＤＳＰ２１５では、温度センサー２１４で常時温度検出を行い、温度検出値に対して各オフセット値の前記テーブルの値を用いて、前記ＤＳＰ２１５内で一括してオフセット補正をする構成としている。
【００１６】
前記検出した各ＩＣの温度と、初期にオフセット検出した時の各ＩＣの温度が異なる場合、前記メモリ２１９の前記各オフセット値のテーブルから、各ＩＣの温度に応じた各オフセット値を読み出して演算する。
【００１７】
上記従来装置の構成によれば、ある温度において一度オフセット量を測定すれば、再度オフセット検出をすることなく、各ＩＣの温度検出を行うだけで、前記テーブルからのオフセット値を用いて前記オフセット補正部２２１でオフセット補正を行うことができる。
【特許文献１】特開２００４−２４６９７３号公報（第１頁  請求項１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
前記従来装置においては、温度変化によるオフセット変動を補正するためには、あるＩＣの温度に対するオフセット量を必ず一度測定し、温度とオフセット量の関係をオフセット補正テーブルに格納しなければならず、保存するためのテーブルを格納するメモリに大きな空間が必要となった。
【００１９】
また、前記ＩＣ温度が未測定の温度に変化したときには、必ず一度オフセット量を測定する必要があった。
【００２０】
また、オフセット測定中は、サーボ信号生成処理、およびサーボ追従処理を中断する必要があるため、サーボ追従性能が低下することとなった。よって、補正テーブルの空きが多いときは、オフセット量測定が頻繁に発生することになり、サーボ処理の中断が頻繁に起こるため、サーボ処理性能に影響を与えることとなった。
【００２１】
この発明は、上記のような従来の問題点に鑑みてなされたもので、温度が変動したときにおいてもオフセット量の測定を行うことなく実際の温度−オフセット量の関係に近いオフセット量を求めることができ、したがってオフセット量を保存しておく必要がなく、テーブルを格納するメモリの空間を小さくでき、かつオフセット量の測定回数を減らすことができる光ディスク装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明の請求項１にかかる光ディスク装置は、光ディスクに対して信号の記録、再生を行う光ディスク装置において、前記光ディスクに対し記録すべき信号、あるいは光ディスクから再生された信号である入力信号から、光ピックアップを制御すべきサーボ制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部の温度を検出する２以上の温度検出手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記２以上の温度検出手段で検出した各部の温度と、前記オフセット検出手段により検出した各部のオフセットとの関係をテーブルとして保持するテーブル保持手段と、前記テーブル保持手段に保持している温度とオフセットの関係の値から、温度とオフセットの特性式を求める式算出手段と、前記式算出手段で求めた温度とオフセットの特性式を保存する式保存手段と、前記式保存手段に保存されている温度とオフセットの特性式と、前記温度検出手段で検出した温度とから、該温度での前記各部のオフセットを求めるオフセット算出手段と、を備えたものである。
【００２３】
本発明の請求項２にかかる光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記テーブル保持手段に格納している温度とオフセットの関係の二つのデータから、一次式による特性式を求めるものである。
【００２４】
本発明の請求項３にかかる光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを求める温度範囲を定め、その温度範囲内での一次式による特性式を求めるものである。
【００２５】
本発明の請求項４にかかる光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置において、前記式算出手段は、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを求める２以上の温度範囲を定め、その各温度範囲内での相異なる一次式による特性式を求める、ものである。
【発明の効果】
【００２６】
以上のような本発明の光ディスク装置によれば、温度が変動したときにおいても、オフセット量の測定を行うことなく、実際の温度−オフセット量に近いオフセット量を求めることができるため、オフセット量を保存しておく必要がなくなり、テーブルを収納すべきメモリの空間を小さくすることができ、かつオフセット量の測定回数を減らすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下本発明の実施の形態を図１、図３〜５を用いて説明する。
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１による光ディスク装置を、図１、および、図３〜図５を参照しながら、説明する。
図１に示される本実施の形態１による光ディスク装置において、ＨＡＩＣ１０１は、信号の増幅を行うためのものであり、このＨＡＩＣ１０１は、各チャネルに有するアンプｐｄＡ（Ｖａ）１０２、ｐｄＢ（Ｖｂ）１０３、ｐｄＣ（Ｖｃ）１０４、ｐｄＤ（Ｖｄ）０５を内蔵している。また、このＨＡＩＣ１０１は、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサー１０６を内蔵している。光ピックアップ１２５は、このＨＡＩＣ１０１を内蔵しているものである。
【００２８】
サーボ信号生成ＩＣ１０７は、上記ＨＡＩＣ１０１からの複数の信号を受けて、サーボ信号生成を行うための回路であり、上記ＨＡＩＣ１０１からの各入力信号を、基準電圧に切替え可能な各スイッチ１０８〜１１１、および、（Ｖｒｅｆ）１１２、該各スイッチ１０８〜１１１により切り替えられた信号に対し処理を行う演算処理回路１１３、および、該サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサー１１４を、内蔵している。
【００２９】
このように、各温度センサー１０６，１１４は、本光ディスク装置における、サーボ制御信号を生成するための制御信号生成手段の各部における温度を検出する温度センサーとなっている。
【００３０】
ＤＳＰ１１５は、前記サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号１０７ａを入力とし、光ピックアップ１２５のサーボ制御を行うよう信号処理をするデジタルシグナルプロセッサーであり、これは、以下のものを有する。
【００３１】
すなわち、Ａ／Ｄ変換器１１６は、前記サーボ信号生成ＩＣ１０７からのエラー信号１０７ａを、Ａ／Ｄ変換して取り込むものである。
【００３２】
Ａ／Ｄ変換器１１７は、前記サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出信号を、Ａ／Ｄ変換して取り込むものである。
【００３３】
Ａ／Ｄ変換器１１８は、前記ＨＡＩＣ１０１内の温度検出信号を、Ａ／Ｄ変換して取り込むものである。
【００３４】
メモリ１１９は、前記Ａ／Ｄ変換した各ＩＣの検出温度と、オフセット値との関係を、テーブルとして保持するテーブル保持手段として機能するものであり、これはさらに、前記温度とオフセットの特性の式をも、保持するものである。
【００３５】
オフセット検出・補正部１２１は、前記Ａ／Ｄ変換器１１６の出力に対し、前記メモリ１１９内のデータを参照しながら、オフセット検出、およびオフセット補正を行うものである。
【００３６】
サーボ制御部１２２は、前記オフセット検出・補正部１２１によってオフセット補正した信号を用いて、サーボ処理を行うものである。
【００３７】
式算出手段１２３は、前記メモリ１１９に保持している各ＩＣごとの前記検出温度、およびオフセット値から、各ＩＣの温度−オフセット値の特性式を求めるものであり、この求めた特性式は、前記したように、メモリ１１９に格納する。
【００３８】
オフセット算出手段１２４は、ＨＡＩＣ１０１内の温度検出を行うための温度センサー１０６、あるいは、サーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度検出を行うための温度センサー１１４、の各ＩＣの温度と、前記メモリ１１９に格納している前記特性式とから、該ＨＡＩＣ１０１内での、あるいは、サーボ信号生成ＩＣ１０７内でのオフセット量を算出するものである。
【００３９】
そして、前記メモリ１１９、オフセット検出・補正部１２１、サーボ制御部１２２、式算出手段１２３、および、オフセット算出手段１２４により、サーボ制御を行うためのサーボコア１２０を、構成している。
【００４０】
このように、本実施の形態１においては、前記ＨＡＩＣ１０１、及び前記サーボ信号生成ＩＣ１０７の各温度で変動するオフセットの値を、前記ＤＳＰ１１５内の前記メモリ１１９内に、デジタル値として扱えるようにオフセット値として格納するテーブルを保持している。
【００４１】
そして、前記テーブルは、各ＩＣの温度と、オフセット値を、マトリックス状に、該メモリ１１９内に保持しているものであり、各ＩＣの温度検出結果から、前記テーブルのオフセット値を用いて、前記ＤＳＰ１１５にて、オフセット補正を、以下のように行う。
【００４２】
すなわち、図３は、ＨＡＩＣ１０１、およびサーボ信号生成ＩＣ１０７の、各ＩＣのオフセットの温度ドリフト特性のグラフを示しており、３０２は、ＨＡＩＣ１０１のオフセットを示し、３０３は、サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセットを示す。
【００４３】
本実施の形態１においては、上記図３に示されるような、ＨＡＩＣ１０１、およびサーボ信号生成ＩＣ１０７の、各ＩＣのオフセットを検出するために、ＤＳＰ１１５において、ＨＡＩＣ１０１内の温度センサー１０６、およびサーボ信号生成ＩＣ１０７内の温度センサー１１４による温度検出を、常時行い、該各センサーの検出温度を、各Ａ／Ｄ変換器１１８，１１７を介して入力し、該各温度検出値に対して、メモリ１１９内の各オフセット値の前記テーブルの値を用いて、該ＤＳＰ１１５内で、一括してオフセット補正を行うものである。
【００４４】
ここで、前記検出したＨＡＩＣ１０１、サーボ信号生成ＩＣ１０７の各ＩＣの温度と、該ＨＡＩＣ１０１、サーボ信号生成ＩＣ１０７の各ＩＣについて初期にオフセット検出した時の各ＩＣの温度が異なる場合、各ＩＣについて、前記メモリ１１９内のテーブルに保存している２つの温度−オフセット値から、式算出手段１２３により、温度−オフセット値の関係を表す特性式を求め、前記各温度センサー１０６，１１４で得た温度を、該特性式に入力することで、各ＩＣの該各温度でのオフセット量を求めることができる。
【００４５】
以下、前記ＨＡＩＣ１０１の温度−オフセットの値の測定結果の二点から、特性式を求め、オフセット量を求める方法について、図４を参照しながら説明を行う。
【００４６】
前記メモリ１１９内のテーブルにすでに測定されている前記ＨＡＩＣ１０１の温度二点と、それぞれのオフセット値を、一つ目の温度４０２をｔ１，オフセット量４０５をｏｆｆ１、二つ目の温度４０３をｔ２，オフセット量４０６をｏｆｆ２とする。
【００４７】
前記式算出手段１２３は、下記の（式１）にて、温度（ＴＥＭＰ）−オフセット量（ＯＦＦ）の特性式４０１を求め、前記メモリ１１９に、前記特性式４０１を保存する。
【００４８】
【数１】
2007087514.tif 000003
【００４９】
未測定の温度に対するオフセット量を求めるときは、前記オフセット算出手段１２４が、前記メモリ１１９より前記特性式４０１を読み出し、前記Ａ／Ｄ変換器１１８で取り込んだ前記ＨＡＩＣ１０１の温度を、前記特性式４０１に入力する。
【００５０】
前記特性式４０１は、該入力された、前記Ａ／Ｄ変換器１１８で取り込んだ前記ＨＡＩＣ１０１の温度、に対するオフセット量１を出力する。
【００５１】
前記サーボ信号生成ＩＣ１０７のオフセット量の求め方も、同様にして、Ａ／Ｄ変換器１１７で取り込んだ前記サーボ信号ＩＣ１０７の温度、に対するオフセット量として求められ、ここで求められたオフセット量を、オフセット量２とする。
【００５２】
前記オフセット算出手段１２４で、前記オフセット量１と、前記オフセット量２を加算し、オフセット量３を求める。
【００５３】
前記サーボ信号生成ＩＣ１０７から前記ＤＳＰ１１５に入力された信号は、前記ＨＡＩＣ１０１で発生したオフセット量と、前記サーボ信号生成ＩＣ１０７で発生したオフセット量とが加算された信号であるので、前記ＤＳＰ１１５に入力された信号から、前記オフセット量３を引くことで、入力信号のオフセットを補正することができる。
【００５４】
このようにして、各ＩＣ別に求めた前記特性式４０１に、前記各温度測定手段で測定したＩＣの温度を入力することにより、各ＩＣのその温度のときの各オフセット量を求めることができる。これにより、従来方式では、前記テーブルの要素数（温度−オフセット値の対の数）として、保存したい温度の数だけの要素数が必要であったのに対し、本発明の実施の形態１では、測定した、温度−オフセット値の対の要素の数が少なくとも二つあれば、特性式を求めることができる。
【００５５】
しかも、それ以降に測定した温度−オフセット値の対を格納する必要はなくなるものであり、前記テーブルの要素数としては、各ＩＣ毎に少なくとも二つ、そして、各ＩＣ別の特性式は一つずつ、にすることができる。
【００５６】
このように、前記メモリに格納すべきテーブルの要素が減ったことにより、従来方式に比べ、回路面積の削減、もしくは、ソフトウエアのリソースの削減を、大幅に行うことができる。
【００５７】
また、前記テーブルの未測定の温度−オフセット量が多いときは、従来方式では、測定のために、サーボ処理の中断を行わなければならず、サーボ制御性能に影響したが、上記した本発明の実施の形態では、未測定の温度でも、オフセット量を算出することができるため、サーボ処理の中断が発生することがなく、サーボ制御性能に影響を与えることもない。
【００５８】
また、上記のとおりに、一次式を使ったオフセット補正を行ったとき、温度−オフセットの関係が、必ず線形になっているとは限らない。これに関して、図５を参照しながら、説明を行う。
【００５９】
先に説明したように、前記メモリ１１９に保持している二点の、温度−オフセット量の結果（一つ目の温度５０３を、ｔ１，オフセット量５０６を、ｏｆｆ１、二つ目の温度５０５を、ｔ３，オフセット量５０８を、ｏｆｆ３）から求めた特性式５０９と、前記温度ドリフトによるオフセット５０２を比べると、前記温度ドリフトによるオフセット５０２が非線形であるため、一次式である前記特性式５０９と、実際の温度−オフセット量の関係とでは、大きな違いがあることがわかる。
【００６０】
そこで、求める特性式は、一次式のままで、実際の特性に近い特性をあらわすための方法について、説明していく。
【００６１】
前記メモリ１１９に、温度−オフセット量の関係が、すでに三点測定されており、三つの温度−オフセット量の関係を、それぞれ（ｔ１，ｏｆｆ１）、（ｔ２，ｏｆｆ２）、（ｔ３，ｏｆｆ３）とし、温度の範囲を、二つ目の温度５０６以下の範囲５１２と、それより大きい範囲５１３との二つに分ける。
【００６２】
前記範囲５１２では、（ｔ１，ｏｆｆ１）、（ｔ２，ｏｆｆ２）を使って、前記式算出手段１２３によって、前記範囲５１２での特性式５１０を求め、前記範囲５１２とともに、前記メモリ１１９に保存する。
【００６３】
同じように、前記範囲５１３では、（ｔ２，ｏｆｆ２）、（ｔ３，ｏｆｆ３）を使って、前記式算出手段１２３によって、前記範囲５１３での特性式５１１を求め、前記範囲５１３とともに、前記メモリ１１９に保存する。
【００６４】
前記オフセット算出手段１２４は、前記メモリ１１９に保存している温度の範囲から測定したＩＣの温度がどちらの範囲に入っているかを調べ、範囲に入っているほうの特性式を、前記メモリ１１９から取り出して、オフセット量を求める。
【００６５】
このように検出された複数の温度から、特性式を求めたい温度範囲と、その温度範囲内での特性式とを求めることで、前記温度ドリフトによるオフセット５０２に近い特性が得られる。また、温度の範囲を細かくすると、前記温度ドリフトによるオフセットの特性に、より近づけることができる。
【００６６】
以上のような本実施の形態１による光ディスク装置によれば、光ディスクに対して信号の記録、再生を行う光ディスク装置において、光ディスクに対し記録すべき信号、あるいは光ディスクから再生された信号である入力信号から光ピックアップを制御すべきサーボ制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部の温度を検出する２つ以上の温度検出手段と、前記制御信号生成手段の２以上の各部で発生するオフセットを検出するオフセット検出手段と、前記温度検出手段で検出した各部の温度と、前記オフセット検出手段により検出した各部のオフセットとの関係を保持するテーブル保持手段と、前記テーブル保持手段に保持している値から、温度とオフセットの特性の式を求める式算出手段と、前記式算出手段で求めた特性式を保存する式保存手段と、前記式保存手段に保存されている特性式と、前記温度検出手段で検出した温度とから、オフセットを求めるオフセット算出手段とを備えたので、温度が変動した場合にも、オフセット量を測定することなく、実際の温度−オフセット量に近いオフセット量を求めることができる。このため、オフセット量を保存しておく必要がなくなり、テーブルを格納するメモリの空間を小さくすることができ、かつオフセット量の測定回数を減らすことができる効果が得られる。
【００６７】
さらには、オフセット測定中には、サーボ信号生成処理、およびサーボ追従処理を中断する必要がある、ということがなくなり、サーボ処理性能に影響を与えることがなくなり、サーボ追従性能の低下を生じることもない、という効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
以上のように、本発明にかかる光ディスク装置は、温度が変動したときにおいても、各ＩＣごとの特性式を求めることで、従来各ＩＣごとに用意していた補正テーブルを使うことなく、各ＩＣごとの温度変化によるオフセット量を求めることができるため、補正テーブル分の回路の削減もしくはソフトウエアのリソースを減らすことができる。また、従来方式では未測定の温度のときはオフセット量の測定のために、サーボ処理を中断する必要があったが、本発明では未測定の温度でもオフセット量を求めることができるため、測定のためのサーボ処理の中断をすることがなくなり、従来装置に比べ光ディスク装置のサーボ処理性能をあげることができ、サーボ追従性能の劣化を防止できる。さらにＩＣの特性が線形でないものに対しては、温度の範囲をいくつかに分割し、それぞれの特性式を求めることで、特性式をＩＣの特性に近づけることができ、このように、本発明は、光ディスク装置に適用して有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明の実施の形態１による光ディスク装置のブロック図
【図２】従来の光ディスク装置のブロック図
【図３】オフセットの温度ドリフト特性を示す図
【図４】上記実施の形態１における特性式の温度−オフセットの関係を示す図
【図５】上記実施の形態１における範囲別特性式の温度−オフセットの関係を示す図
【符号の説明】
【００７０】
１０１：ＨＡＩＣ
１０２：アンプｐｄＡ（Ｖａ）
１０３：アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
１０４：アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
１０５：アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
１０６：温度センサー
１０７：サーボ信号生成ＩＣ
１０８：基準電圧切替えスイッチ
１０９：基準電圧切替えスイッチ
１１０：基準電圧切替えスイッチ
１１１：基準電圧切替えスイッチ
１１２：基準電圧（Ｖｒｅｆ）
１１３：演算処理回路
１１４：温度センサー
１１５：光ピックアップのサーボ制御を行うＤＳＰ
１１６：Ａ／Ｄ変換器
１１７：Ａ／Ｄ変換器
１１８：Ａ／Ｄ変換器
１１９：検出温度及びオフセット値のメモリ
１２０：サーボコア
１２１：オフセット検出及び補正部
１２２：サーボ制御部
１２３：式算出手段
１２４：オフセット算出手段
１２５：光ピックアップ
２０１：ＨＡＩＣ
２０２：アンプｐｄＡ（Ｖａ）
２０３：アンプｐｄＢ（Ｖｂ）
２０４：アンプｐｄＣ（Ｖｃ）
２０５：アンプｐｄＤ（Ｖｄ）
２０６：温度センサー
２０７：サーボ信号生成ＩＣ
２０８：基準電圧切替えスイッチ
２０９：基準電圧切替えスイッチ
２１０：基準電圧切替えスイッチ
２１１：基準電圧切替えスイッチ
２１２：基準電圧（Ｖｒｅｆ）
２１３：演算処理回路
２１４：温度センサー
２１５：光ピックアップのサーボ制御を行うＤＳＰ
２１６：Ａ／Ｄ変換器
２１７：Ａ／Ｄ変換器
２１８：Ａ／Ｄ変換器
２１９：検出温度及びオフセット値のメモリ
２２０：サーボコア
２２１：オフセット検出及び補正部
２２２：サーボ制御部
２２３：光ピックアップ
３０２：ＨＡＩＣのオフセット
３０３：サーボ信号生成ＩＣのオフセット
４０１：特性式
４０２：ＩＣの温度１
４０３：ＩＣの温度２
４０４：ＩＣの温度３
４０５：オフセット量１
４０６：オフセット量２
４０７：オフセット量３
５０２：ＩＣの温度ドリフト特性
５０３：ＩＣの温度１
５０４：ＩＣの温度２
５０５：ＩＣの温度３
５０６：オフセット量１
５０７：オフセット量２
５０８：オフセット量３
５０９：二点の特性式
５１０：範囲１の特性式
５１１：範囲２の特性式
５１２：範囲１
５１３：範囲２
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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