(57)【要約】【課題】  一人の検査員が複数の発光素子が設けられた基板を大量に検査しなければならない場合であっても、良否判定率を低下させない発光確認方法を提供すること。【解決手段】  発光素子（ＬＥＤ１〜４）を基板１００に実装した際に、該基板１００と検査装置（２００）とを接続し、複数の発光素子（ＬＥＤ１〜４）が配設された基板１００における発光素子（ＬＥＤ１〜４）の発光確認をする発光確認方法であって、前記複数の発光素子（ＬＥＤ１〜４）を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子（ＬＥＤ１）の発光確認（Ｓ１０５）をした後から、次の発光素子（ＬＥＤ２）を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間（Ｓ１０６）を無作為に定めることを特徴とする。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子を基板に実装した際に、該基板と検査装置とを接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする発光確認方法であって、
前記複数の発光素子を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子の発光確認をした後から、次の発光素子を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間を無作為に定めることを特徴とする発光確認方法。
【請求項２】
請求項１において、前記発光待機時間は、確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、所定の範囲内で無作為に定められることを特徴とする発光確認方法。
【請求項３】
発光素子を基板に実装した際に、該基板と検査装置とを接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする発光確認方法であって、
前記複数の発光素子を発光させる際、前記発光素子が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為に発光素子を選定し、該選定された発光素子のみを発光させ、
前記複数の発光素子と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチを操作して発光確認をすることを特徴とする発光確認方法。
【請求項４】
請求項３において、次の確認対象の発光素子は、前の確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、未確認の発光素子から無作為に選定されることを特徴とする発光確認方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項において、複数の基板について順番に発光確認をする際、それぞれの基板毎のそれぞれの発光素子において、当該確認対象の基板がセットされてから発光するまでのタイミングが、基板毎に異なることを特徴とする発光確認方法。
【請求項６】
発光素子を基板に実装した際に、該基板と接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする検査装置であって、
制御部は、前記複数の発光素子を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子の発光確認をした後から、次の発光素子を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間を無作為に定めることを特徴とする検査装置。
【請求項７】
発光素子を基板に実装した際に、該基板と接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする検査装置であって、
制御部は、前記複数の発光素子を発光させる際、前記発光素子が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為に発光素子を選定し、該選定された発光素子のみを発光させ、
前記複数の発光素子と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチを操作して発光確認をすることを特徴とする検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光素子を基板に実装した際に、該基板と検査装置とを接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする発光確認方法および検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来技術では、発光素子を用いた表示装置において、個々の発光素子が正常に機能しているか否かを確認する検査をする際、表示部の全ての発光素子を点灯させながら目視により検査を行っていた。  
ところが、検査員の目視能力によって異常を見逃す等、異常表示であるにもかかわらず異常表示と認識されないという問題点があった。  
そこで、従来技術では、検査員による異常を見落とす率を低減するために、細かく検査することができる表示装置があった。具体的には、点灯する発光素子の場所と表示内容とを自由に変えることができる手段を設け、点灯する列および表示する数字を連続的に順次変えて検査を行っていた。また、検査員がキー操作によって点灯させる場所および表示内容を選択することができるように設け、細かく検査を行っていた（例えば、特許文献１）。そして、一台の表示装置を検査する場合は、上記の従来技術における検査確認方法によって、検査員による異常を見落とす率を低減することができる。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１９７１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、製造時の組み立て工程等において、発光素子を用いた表示板、基板等を大量に検査する場合、検査員が複数人であっても各検査員が、大量の検査を行う必要があるため、新たな問題が生じる。検査員は、順番に発光する発光素子を目視して正常・異常を判別し、次の検査対象を検査して判別し、さらに次の検査対象を検査して判別する。即ち、検査員は、同じ検査を何百回も繰り返さなければならない。従って、検査員に、所謂、マンネリズムである検査の習慣化が発生する。例えば、検査対象の正常率が高く、異常率が低い場合、検査員が惰性で異常を正常と判断してしまう、所謂、検査の習慣化における過失が生じる虞がある。係る場合、良否判定率が低下する虞がある。
【０００５】
本発明は、このような状況に鑑み成されたものであり、その課題は、一人の検査員が複数の発光素子が設けられた基板を大量に検査しなければならない場合であっても、良否判定率を低下させる虞がない発光確認方法および検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を達成するため、本発明の第１の態様は、発光素子を基板に実装した際に、該基板と検査装置とを接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする発光確認方法であって、前記複数の発光素子を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子の発光確認をした後から、次の発光素子を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間を無作為に定めることを特徴とする。
【０００７】
本発明の第１の態様によれば、発光確認方法は、前記複数の発光素子を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子の発光確認をした後から、次の発光素子を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間を無作為に定める。即ち、複数の発光素子を順番に発光させる際、確認対象の発光素子が発光するタイミングが、所謂、ランダムにそれぞれ異なる。従って、検査者は一層集中力を伴って検査することとなり、検査者が、発光していない発光素子に対して、検査の習慣化によって誤って発光確認した際の操作をする過失を防ぐことができる。その結果、一人の検査員が複数の発光素子が設けられた基板を大量に検査しなければならない場合であっても、良否判定率を低下させる虞がない。即ち、大量の基板を検査した場合であっても、一枚の基板を検査する場合と同等の精度で不良を発見することができる。
【０００８】
ここで、「検査の習慣化」とは、検査者が検査を繰り返すことによって、結果を予測することができることをいう。即ち、良否の比率から結果が、該比率が大きい方であると思い込みが先行し正確な判断を欠くことをいう。
【０００９】
本発明の第２の態様は、第１の態様において、前記発光待機時間は、確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、所定の範囲内で無作為に定められることを特徴とする。
【００１０】
本発明の第２の態様によれば、第１の態様と同様の作用効果に加え、前記発光待機時間は、確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、所定の範囲内で無作為に定められる。このとき、確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間は、検査者によってバラツキがあることに加え、同一の検査者が行ってもバラツキがある。即ち、次の確認対象の発光素子を発光させるタイミングは、前の発光確認の操作タイミングのバラツキを利用している。従って、同一の検査者が再度同一の基板の同一の発光素子に対して検査を行った場合であっても、発光するタイミングが異なる。その結果、検査者の過失を防ぐことができる。
【００１１】
ここで、「所定の範囲」とは、検査を無駄に遅延させない程度の時間の範囲をいう。
【００１２】
本発明の第３の態様は、発光素子を基板に実装した際に、該基板と検査装置とを接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする発光確認方法であって、前記複数の発光素子を発光させる際、前記発光素子が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為に発光素子を選定し、該選定された発光素子のみを発光させ、前記複数の発光素子と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチを操作して発光確認をすることを特徴とする。
【００１３】
本発明の第３の態様によれば、前記複数の発光素子を発光させる際、前記発光素子が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為に発光素子を選定し、該選定された発光素子のみを発光させ、前記複数の発光素子と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチを操作して発光確認をする。即ち、確認対象の発光素子がランダムに選定されるので、検査者は、次の確認対象を予測することができない。従って、検査者は一層集中力を伴って検査することとなり、検査者が、発光していない発光素子に対して、検査の習慣化によって誤って発光確認した際の操作をする過失を防ぐことができる。その結果、一人の検査員が複数の発光素子が設けられた基板を大量に検査しなければならない場合であっても、良否判定率を低下させる虞がない。即ち、大量の基板を検査した場合であっても、一枚の基板を検査する場合と同等の精度で不良を発見することができる。
【００１４】
本発明の第４の態様は、第３の態様において、次の確認対象の発光素子は、前の確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、未確認の発光素子から無作為に選定されることを特徴とする。
【００１５】
本発明の第４の態様によれば、第３の態様と同様の作用効果に加え、次の確認対象の発光素子は、前の確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間の変化により、未確認の発光素子から無作為に選定される。このとき、確認対象の発光素子が発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチが操作されるまでの時間は、検査者によってバラツキがあることに加え、同一の検査者が行ってもバラツキがある。即ち、次の確認対象の発光素子の選定は、前の発光確認の操作タイミングのバラツキを利用している。従って、同一の検査者が再度同一の基板に対して検査を行った場合であっても、発光する順番が異なる。その結果、検査者の過失を防ぐことができる。  
また、次の確認対象は、未確認の発光素子から選定される。従って、検査終了までに全ての発光素子が確認対象となり、所謂、未確認による確認漏れが生じる虞がない。
【００１６】
本発明の第５の態様は、第１から第４のいずれか一の態様において、複数の基板を発光確認する際、それぞれの基板毎のそれぞれの発光素子において、当該確認対象の基板がセットされてから発光するまでのタイミングが、基板毎に異なることを特徴とする。  
ここで、「セット」とは、基板と検査装置とが電気的に接続されることをいう。  
本発明の第５の態様によれば、第１から第４のいずれか一の態様と同様の作用効果に加え、複数の基板について順番に発光確認をする際、それぞれの基板毎のそれぞれの発光素子において、当該確認対象の基板がセットされてから発光するまでのタイミングが、基板毎に異なる。従って、検査の習慣化を防止することができる。例えば、大量の基板について順番に発光確認をする場合に非常に有効である。
【００１７】
本発明の第６の態様は、発光素子を基板に実装した際に、該基板と接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする検査装置であって、制御部は、前記複数の発光素子を所定の順番に発光させる際、前に発光させた発光素子の発光確認をした後から、次の発光素子を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間を無作為に定めることを特徴とする。  
本発明の第６の態様によれば、検査装置において、上記第１の態様と同様の作用効果を得ることができる。
【００１８】
本発明の第７の態様は、発光素子を基板に実装した際に、該基板と接続し、複数の発光素子が配設された基板における発光素子の発光確認をする検査装置であって、制御部は、前記複数の発光素子を発光させる際、前記発光素子が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為に発光素子を選定し、該選定された発光素子のみを発光させ、前記複数の発光素子と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチを操作して発光確認をすることを特徴とする。  
本発明の第７の態様によれば、検査装置において、上記第３の態様と同様の作用効果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。  
図１に示すのは、本発明に係る検査対象とデバッガとを接続した状態を示す概略ブロック図である。  
図１に示す如く、検査対象である基板１００には、発光素子としてのＬＥＤ（Light Emitting Diode）が４つ設けられている。ここで、ＬＥＤは複数であればよく、４つに限られるものではない。そして、ＬＥＤは、それぞれエンコーダとしてのＩＣ（以下、エンコーダとする）１０１と電気的に接続されている。  
一方、検査機器（治具）としての所謂、デバッガ２００は、検査対象と電気的に接続する接続部２０１と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２０２と、メモリ２０３と、ＯＫスイッチＳＷ１０と、ＮＧスイッチＳＷ２０と、液晶表示部２０４と、警告音等を発するブザー２０５とを備えている。
【００２０】
ここで、「エンコーダ」とは、データを一定の規則に基づいて符号化するソフトウェアをいい、ハードウェアとして提供されるものも含む。  
「デバッガ」とは、プログラムの不具合(バグ)の発見や修正を支援するソフトウェアをいう。  
「ＣＰＵ（Central
Processing Unit）」とは、コンピュータの中で、各装置の制御やデータの計算・加工を行なう中枢部分をいう。そして、ＣＰＵ２０２は、メモリ２０３に記憶されたプログラムを実行する装置で、入力装置や記憶装置からデータを受け取り、演算・加工した上で、出力装置や記憶装置に出力する。
【００２１】
製造時の組み立て工程等において、発光素子が正常に発光するか否かを検査する必要がある。そして、検査員が、それぞれ大量の基板１００を一枚ずつ、デバッガ２００と接続して検査していく。詳しい検査方法について、以下、実施形態１および実施形態２に説明する。
【００２２】
［実施形態１］
図２に示すのは、実施形態１に係るＬＥＤ検査回路図である。  
図２に示す如く、検査対象である４つのＬＥＤ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４）は、エンコーダ１０１と接続されており、エンコーダ１０１は、制御部としてのＣＰＵ２０２と接続されている。また、メモリ２０３もＣＰＵ２０２と接続されている。５Ｖ電源から電力がＣＰＵ２０２へ供給されるように構成されており、ＣＰＵ２０２がエンコーダ１０１を介してＬＥＤ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４）へ信号をおくりＬＥＤ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４）を発光させるように設けられている。そして、後述する第１のＬＥＤ発光確認方法にしたがって検査対象のＬＥＤ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４）の発光を視認して、検査員がＯＫスイッチＳＷ１０を操作する。一方、検査対象のＬＥＤ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４）の発光を視認することができない、あるいは、発光状態が異常である場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。
【００２３】
図３に示すのは、実施形態１に係る第１のＬＥＤ発光確認方法のフローチャート図である。また、図４に示すのは、図３のＯＫスイッチ待ちループ１の詳細を示すフローチャート図である。以下、ステップ毎に説明する。  
ステップ１０１（以下、Ｓ１０１）では、検査員が、基板１００を入れ替え、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作してＯＮにする。具体的には、新しい検査対象の基板１００をデバッガ２００と電気的に接続し検査準備を整える。その後、検査スタートの合図としてＯＫスイッチＳＷ１０を操作して検査を開始する。そして、次のステップへ進む。
【００２４】
Ｓ１０２では、ＯＫスイッチ待ちループ１を実行して待機時間１を決定する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、最初の検査対象であるＬＥＤ１が検査開始から点灯するまでの時間を決定する。より具体的には、図４に示すステップを実行する。Ｓ１０３へ進む前に図４に示すループ１であるＳ１２１からＳ１３１について説明する。  
Ｓ１２１では、Ｓ１０１のＯＫスイッチＳＷ１０操作がトリガとなり、先ず、ＣＰＵ内のタイマのカウントを０にする。そして、Ｓ１２２へ進む。  
Ｓ１２２では、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。このとき、検査員にＯＫスイッチＳＷ１０を再度操作させるために、液晶表示部２０４に「Ｒｅａｄｙ？」と表示する。そして、Ｓ１２３へ進む。  
Ｓ１２３では、ＣＰＵ２０２が、検査員が再度ＯＫスイッチＳＷ１０を操作したか否かを判断する。ＯＫスイッチＳＷ１０を操作したと判断した場合は、タイマのカウントを止めてＳ１２４へ進む。一方、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作していないと判断した場合は、Ｓ１２２へ戻る。即ち、検査員がＯＫスイッチＳＷ１０を操作するまで、Ｓ１２２とＳ１２３とを繰り返す。
【００２５】
Ｓ１２４では、止めたタイマのカウント値を４で割ってその余りを求める。そして、Ｓ１２５へ進む。  
Ｓ１２５では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝０か否かを判断する。具体的には、Ｓ１２４で求めた余りの値（ｔ）が０か否かを判断する。そして、ｔ＝０である場合は、Ｓ１２８へ進む。一方、ｔが０以外の場合は、Ｓ１２６へ進む。
【００２６】
Ｓ１２６では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝１か否かを判断する。具体的には、Ｓ１２４で求めた余りの値（ｔ）が１か否かを判断する。そして、ｔ＝１である場合は、Ｓ１２９へ進む。一方、ｔが１以外の場合は、Ｓ１２７へ進む。  
Ｓ１２７では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝２か否かを判断する。具体的には、Ｓ１２４で求めた余りの値（ｔ）が２か否かを判断する。そして、ｔ＝２である場合は、Ｓ１３０へ進む。一方、ｔが２以外、即ち、ｔ＝３の場合は、Ｓ１３１へ進む。
【００２７】
Ｓ１２８では、ＣＰＵ２０２が、待機時間１を０（ｓｅｃ）と設定する。具体的には、ＣＰＵ２０２によって、検査員が「Ｒｅａｄｙ？」が表示された後にＯＫスイッチＳＷ１０を操作した時から最初の検査対象であるＬＥＤ１が点灯するまでの時間が０（ｓｅｃ）に設定される。そして、Ｓ１０３へ進む。  
Ｓ１２９では、ＣＰＵ２０２が、待機時間１を１（ｓｅｃ）と設定する。上記Ｓ１２８と同様にＬＥＤ１が点灯するまでの時間が１（ｓｅｃ）に設定される。そして、Ｓ１０３へ進む。  
Ｓ１３０では、ＣＰＵ２０２が、待機時間１を２（ｓｅｃ）と設定する。上記Ｓ１２８と同様にＬＥＤ１が点灯するまでの時間が２（ｓｅｃ）に設定される。そして、Ｓ１０３へ進む。  
Ｓ１３１では、ＣＰＵ２０２が、待機時間１を３（ｓｅｃ）と設定する。上記Ｓ１２８と同様にＬＥＤ１が点灯するまでの時間が３（ｓｅｃ）に設定される。そして、Ｓ１０３へ進む。
【００２８】
Ｓ１０３では、ＬＥＤ１が、点灯するのを待機時間１だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤ１が点灯するのを、Ｓ１０２内のＳ１２１からＳ１３１までのループ１のステップによって決定された待機時間１（０、１、２、３ｓｅｃのいずれか）だけ待機させる。そして、Ｓ１０４へ進む。  
Ｓ１０４では、ＬＥＤ１が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ１２３のＯＫスイッチＳＷ１０操作に対して待機時間１だけ遅らせたタイミングでＬＥＤ１を発光させる。そして、Ｓ１０５へ進む。
【００２９】
Ｓ１０５では、検査員が、ＬＥＤ１の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループ２を実行してＬＥＤ２の待機時間２を決定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤ１の点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤ１点灯状態を正常と判断した場合、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作する。そして、ＯＫスイッチＳＷ１０の操作によって、ＬＥＤ１は消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチＳＷ１０を操作した場合、次の検査対象であるＬＥＤ２を点灯させるため、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤ１の正常確認に対してＯＫスイッチＳＷ１０を操作した時からＬＥＤ２が点灯するまでの時間を決定する。
【００３０】
具体的には、待機時間１を決定したときと同様にして決定する。従って、ループ１とループ２との異なることのみ説明し、その他は同じであるのでその説明は省略する。  
先ず、待機時間２を決定する際のトリガは、Ｓ１０１のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ１が点灯した瞬間である。その後、ＣＰＵ２０２が、タイマのカウンタを０にし、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ１２３のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ１の正常確認に対するＯＫスイッチＳＷ１０によってタイマのカウンタが停止する。従って、Ｓ１２４からＳ１３１で待機時間１を決定したときと同様に待機時間２を決定する。そして、Ｓ１０６へ進む。一方、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作した場合は、Ｓ１１６へ進む。
【００３１】
Ｓ１０６では、ＬＥＤ２が、点灯するのを待機時間２だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤ２が点灯するのを、Ｓ１０５内のループ２のステップによって決定された待機時間２（０、１、２、３ｓｅｃのいずれか）だけ待機させる。そして、Ｓ１０７へ進む。  
Ｓ１０７では、ＬＥＤ２が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ１０５のＯＫスイッチＳＷ１０操作に対して待機時間２だけ遅らせたタイミングでＬＥＤ２を発光させる。そして、Ｓ１０８へ進む。
【００３２】
Ｓ１０８では、検査員が、ＬＥＤ２の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループ３を実行してＬＥＤ３の待機時間３を決定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤ２の点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤ２点灯状態を正常と判断した場合、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作する。そして、ＯＫスイッチＳＷ１０の操作によって、ＬＥＤ２は消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチＳＷ１０を操作した場合、次の検査対象であるＬＥＤ３を点灯させるため、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤ２の正常確認に対してＯＫスイッチＳＷ１０を操作した時からＬＥＤ３が点灯するまでの時間を決定する。
【００３３】
具体的には、待機時間１を決定したときと同様にして決定する。従って、ループ１とループ３との異なることのみ説明し、その他は同じであるのでその説明は省略する。  
先ず、待機時間３を決定する際のトリガは、Ｓ１０１のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ２が点灯した瞬間である。その後、ＣＰＵ２０２が、タイマのカウンタを０にし、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ１２３のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ２の正常確認に対するＯＫスイッチＳＷ１０によってタイマのカウンタが停止する。従って、Ｓ１２４からＳ１３１で待機時間１を決定したときと同様に待機時間３を決定する。そして、Ｓ１０９へ進む。一方、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作した場合は、Ｓ１１６へ進む。
【００３４】
Ｓ１０９では、ＬＥＤ３が、点灯するのを待機時間３だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤ３が点灯するのを、Ｓ１０８内のループ３のステップによって決定された待機時間３（０、１、２、３ｓｅｃのいずれか）だけ待機させる。そして、Ｓ１１０へ進む。  
Ｓ１１０では、ＬＥＤ３が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ１０８のＯＫスイッチＳＷ１０操作に対して待機時間３だけ遅らせたタイミングでＬＥＤ３を発光させる。そして、Ｓ１１１へ進む。
【００３５】
Ｓ１１１では、検査員が、ＬＥＤ３の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループ４を実行してＬＥＤ４の待機時間４を決定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤ３の点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤ３点灯状態を正常と判断した場合、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作する。そして、ＯＫスイッチＳＷ１０の操作によって、ＬＥＤ３は消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチＳＷ１０を操作した場合、次の検査対象であるＬＥＤ４を点灯させるため、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤ３の正常確認に対してＯＫスイッチＳＷ１０を操作した時からＬＥＤ４が点灯するまでの時間を決定する。
【００３６】
具体的には、待機時間１を決定したときと同様にして決定する。従って、ループ１とループ４との異なることのみ説明し、その他は同じであるのでその説明は省略する。  
先ず、待機時間４を決定する際のトリガは、Ｓ１０１のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ３が点灯した瞬間である。その後、ＣＰＵ２０２が、タイマのカウンタを０にし、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ１２３のＯＫスイッチＳＷ１０操作に換えて、ＬＥＤ３の正常確認に対するＯＫスイッチＳＷ１０によってタイマのカウンタが停止する。従って、Ｓ１２４からＳ１３１で待機時間１を決定したときと同様に待機時間４を決定する。そして、Ｓ１１２へ進む。一方、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作した場合は、Ｓ１１６へ進む。
【００３７】
Ｓ１１２では、ＬＥＤ４が、点灯するのを待機時間４だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤ４が点灯するのを、Ｓ１１１内のループ４のステップによって決定された待機時間４（０、１、２、３ｓｅｃのいずれか）だけ待機させる。そして、Ｓ１１３へ進む。  
Ｓ１１３では、ＬＥＤ４が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ１１１のＯＫスイッチＳＷ１０操作に対して待機時間４だけ遅らせたタイミングでＬＥＤ４を発光させる。そして、Ｓ１１４へ進む。
【００３８】
Ｓ１１４では、検査員が、ＬＥＤ４の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループ５を実行する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤ４の点灯状態の判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ループ１のＳ１２１からＳ１２３と同じステップを実行する。ＬＥＤ４点灯状態を正常と判断した場合、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作する。そして、ＯＫスイッチＳＷ１０の操作によって、ＬＥＤ４は消灯すると共にＳ１１５へ進む。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。係る場合、Ｓ１１６へ進む。  
Ｓ１１５では、一枚の基板１００において、検査対象のＬＥＤの発光確認が全て終了した旨を液晶表示部２０４に表示し、良品判定を下す。  
Ｓ１１６では、一枚の基板１００において、検査対象のＬＥＤのうち一つでも異常と検査員にみなされたものは、液晶表示部２０４にその旨を表示およびブザー２０５によって警告音を発し、不良判定が下る。
【００３９】
尚、ＬＥＤの個数は予め設定されているため、検査漏れはないものとする。  
また、ループ５でカウンタが作動するが、検査は終了するので、作動しないように設けてもよいのは勿論である。  
またさらに、Ｓ１０５、Ｓ１０８、Ｓ１１１、Ｓ１１４において、ＯＫスイッチＳＷ１０を操作することで、検査対象のＬＥＤが消灯するように設けたが、点灯し続けるように設けてもよいのは勿論である。係る場合、液晶表示部２０４に点灯し続けているＬＥＤが「確認済み」の旨の表示をしてもよい。  
また、実施形態１では、ＬＥＤが点灯するタイミングを０、１、２、３（ｓｅｃ）としたが、これに限らず、検査を遅延させない程度にタイミングを変更することができるのは勿論である。  
また、ＬＥＤの個数は、４つに限られないのは勿論であり、いくつ設けられてもよい。
【００４０】
以上より、ＬＥＤが点灯するタイミングが常に異なる、言い換えると、基板内において、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光するタイミングが異なることに加え、基板間においても異なるので、検査員の検査の習慣化における過失を防ぐことができる。その結果、検査員が一人で、大量の基板１００を検査した場合であっても、良否判定率を低下させる虞がない。即ち、大量の基板１００を検査した場合であっても、一枚の基板１００を検査する場合と同等の精度で不良を発見することができる。
【００４１】
本実施形態１の発光確認方法である第１のＬＥＤ発光確認方法は、発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を基板１００に実装した際に、基板１００と検査装置としてのデバッガ２００とを接続し、複数の発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された基板１００におけるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光確認をする第１のＬＥＤ発光確認方法であって、複数のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を所定の順番に発光させる際、前に発光させたＬＥＤ（例えばＬＥＤ１）の発光確認（Ｓ１０５）をした後から、次のＬＥＤ（例えばＬＥＤ２）を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間（例えばＳ１０６）を無作為に定めることを特徴とする。  
また、前記発光待機時間（Ｓ１０３、Ｓ１０６、Ｓ１０９、Ｓ１１２）は、確認対象のＬＥＤが発光してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチ（ＳＷ１０）が操作されるまでの時間の変化（Ｓ１２１〜Ｓ１２３）により、所定の範囲内で無作為に定められる（Ｓ１２４〜Ｓ１３１）ことを特徴とする。
【００４２】
本実施形態１の検査装置であるデバッガ２００は、発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を基板１００に実装した際に、基板１００と接続し、複数の発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された基板１００におけるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光確認をする検査装置であるデバッガ２００であって、制御部としてのＣＰＵ２０２は、複数の発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を所定の順番に発光させる際、前に発光させたＬＥＤ（例えばＬＥＤ１）の発光確認（Ｓ１０５）をした後から、次のＬＥＤ（例えばＬＥＤ２）を発光させるまでの時間間隔である発光待機時間（例えばＳ１０６）を無作為に定めることを特徴とする。
【００４３】
［実施形態２］
図５に示すのは、実施形態２に係るＬＥＤ検査回路図である。  
図５に示す如く、検査対象である４つのＬＥＤは、エンコーダ１０１と接続されており、エンコーダ１０１は、ＣＰＵ２０２と接続されている。また、メモリ２０３もＣＰＵ２０２と接続されている。５Ｖ電源から電力がＣＰＵ２０２へ供給されるように構成されており、ＣＰＵ２０２がエンコーダ１０１を介してＬＥＤへ信号をおくりＬＥＤを発光させるように設けられている。そして、後述する第２のＬＥＤ発光確認方法にしたがって検査対象のＬＥＤａ〜ＬＥＤｄ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）の発光を視認して、検査員がＬＥＤと同数設けられ、それぞれ対応するＯＫスイッチａ〜ＯＫスイッチｄ（ＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４のいずれか）を操作する。具体的には、ＬＥＤ１に対してＯＫスイッチ１ＳＷ１、ＬＥＤ２に対してＯＫスイッチ２ＳＷ２、……、というそれぞれ対応した関係に設けられている。一方、検査対象のＬＥＤの発光を視認することができない、あるいは、発光状態が異常である場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、図５のＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４は、図１および図２のＯＫスイッチＳＷ１０に換えて設けることとし、その他の部材は、同じであるのでその説明は省略する。
【００４４】
図６に示すのは、実施形態２に係る第２のＬＥＤ発光確認方法のフローチャート図である。また、図７に示すのは、図６のＯＫスイッチ待ちループＡの詳細を示すフローチャート図である。同様に、図８は図６のＯＫスイッチ待ちループＢ、図９は図６のＯＫスイッチ待ちループＣ、図１０は図６のＯＫスイッチ待ちループＤの詳細を示すフローチャート図である。以下、ステップ毎に説明する。  
ステップ２０１（以下、Ｓ２０１）では、検査員が、基板１００を入れ替え、ＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作してＯＮにする。具体的には、新しい検査対象の基板１００をデバッガ２００と接続し検査準備を整える。その後、検査スタートの合図としてＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作して検査を開始する。そして、次のステップへ進む。
【００４５】
Ｓ２０２では、ＯＫスイッチ待ちループＡを実行して発光させるＬＥＤａを決定する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、最初の検査対象であるＬＥＤａをＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の中から選定する。より具体的には、図７に示すステップを実行する。Ｓ２０３へ進む前に図７に示すループＡであるＳ２２１からＳ２３１について説明する。  
Ｓ２２１では、Ｓ２０１のＯＫスイッチ１ＳＷ１の操作がトリガとなり、先ず、ＣＰＵ内のタイマのカウントを０にする。そして、Ｓ２２２へ進む。  
Ｓ２２２では、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。このとき、検査員にＯＫスイッチ１ＳＷ１を再度操作させるために、液晶表示部２０４に「Ｒｅａｄｙ？」と表示する。そして、Ｓ２２３へ進む。  
Ｓ２２３では、ＣＰＵ２０２が、検査員が再度ＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作したか否かを判断する。ＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作したと判断した場合は、タイマのカウントを止めてＳ２２４へ進む。一方、ＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作していないと判断した場合は、Ｓ２２２へ戻る。即ち、検査員がＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作するまで、Ｓ２２２とＳ２２３とを繰り返す。
【００４６】
Ｓ２２４では、止めたタイマのカウント値をＬＥＤの個数である４で割ってその余りを求める。そして、Ｓ２２５へ進む。  
Ｓ２２５では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝０か否かを判断する。具体的には、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）が０か否かを判断する。そして、ｔ＝０である場合は、Ｓ２２８へ進む。一方、ｔが０以外の場合は、Ｓ２２６へ進む。
【００４７】
Ｓ２２６では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝１か否かを判断する。具体的には、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）が１か否かを判断する。そして、ｔ＝１である場合は、Ｓ２２９へ進む。一方、ｔが１以外の場合は、Ｓ２２７へ進む。  
Ｓ２２７では、ＣＰＵ２０２が、ｔ＝２か否かを判断する。具体的には、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）が２か否かを判断する。そして、ｔ＝２である場合は、Ｓ２３０へ進む。一方、ｔが２以外、即ち、ｔ＝３の場合は、Ｓ２３１へ進む。
【００４８】
Ｓ２２８では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａ＝ＬＥＤ１、ＯＫスイッチａ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１と設定する。具体的には、ＣＰＵ２０２によって、検査員が「Ｒｅａｄｙ？」が表示された後にＯＫスイッチ１ＳＷ１を操作して所定時間経過後、最初に発光させるＬＥＤａとしてＬＥＤ１が選定される。ここで、ＬＥＤ１とＯＫスイッチ１ＳＷ１とは当初から対応しているので、ＬＥＤａ＝ＬＥＤ１と選定されれば、ＯＫスイッチａ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１は必然と決まる。そして、Ｓ２０３へ進む。  
Ｓ２２９では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａ＝ＬＥＤ２、ＯＫスイッチａ＝ＯＫスイッチ２ＳＷ２と設定する。上記Ｓ２２８と同様にＬＥＤ２が最初に発光させるＬＥＤａとして選定される。そして、Ｓ２０３へ進む。  
Ｓ２３０では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａ＝ＬＥＤ３、ＯＫスイッチａ＝ＯＫスイッチ３ＳＷ３と設定する。上記Ｓ２２８と同様にＬＥＤ３が最初に発光させるＬＥＤａとして選定される。そして、Ｓ２０３へ進む。  
Ｓ２３１では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａ＝ＬＥＤ４、ＯＫスイッチａ＝ＯＫスイッチ４ＳＷ４と設定する。上記Ｓ２２８と同様にＬＥＤ４が最初に発光させるＬＥＤａとして選定される。そして、Ｓ２０３へ進む。
【００４９】
Ｓ２０３では、ＬＥＤａ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が、点灯するのを所定の待機時間だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａが点灯するのを、所定の待機時間だけ待機させる。実施形態２では、所定の待機時間を１（ｓｅｃ）とする。尚、１（ｓｅｃ）に限定されないのは勿論である。そして、Ｓ２０４へ進む。  
Ｓ２０４では、ＬＥＤａ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ２２３のＯＫスイッチ１ＳＷ１の操作に対して所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ遅らせたタイミングでＬＥＤａを発光させる。そして、Ｓ２０５へ進む。
【００５０】
Ｓ２０５では、検査員が、ＬＥＤａ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループＢを実行してＬＥＤｂを選定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤａの点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤａ点灯状態を正常と判断した場合、ＬＥＤａに対応するＯＫスイッチａ（ＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４のいずれか）を操作する。そして、ＯＫスイッチａの操作によって、ＬＥＤａは消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチａを操作した場合、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤａが点灯した時から検査員がＬＥＤａの正常確認に対してＯＫスイッチａを操作した時までのバラツキのある時間を利用して、次の検査対象であるＬＥＤｂを選定する。以下、ＬＥＤｂの選定方法であるＳ２０５内のＯＫスイッチ待ちループＢについて説明する。
【００５１】
Ｓ２４１では、Ｓ２０４のＬＥＤａの点灯信号がトリガとなり、先ず、ＣＰＵ内のタイマのカウントを０にする。そして、Ｓ２４２へ進む。  
Ｓ２４２では、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ２４３へ進む。  
Ｓ２４３では、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤａの正常確認に対するＯＫスイッチａを操作したか否かを判断する。ＯＫスイッチａを操作したと判断した場合は、タイマのカウントを止めてＳ２４４へ進む。一方、ＯＫスイッチａを操作していないと判断した場合は、Ｓ２４２へ戻る。即ち、検査員がＯＫスイッチａを操作するまで、Ｓ２４２とＳ２４３とを繰り返す。
【００５２】
Ｓ２４４では、止めたタイマのカウント値をＬＥＤの個数である４で割ってその余りを求める。そして、Ｓ２４５へ進む。  
Ｓ２４５では、ＣＰＵ２０２が、ｋ＝ｔか否かを判断する。具体的には、Ｓ２４４で求めた余りの値（ｋ）が、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）と同じが否かを判断する。そして、ｋ＝ｔである場合は、Ｓ２４９へ進む。一方、ｋがｔ以外の場合は、Ｓ２４６へ進む。  
Ｓ２４６では、ＣＰＵ２０２が、ｋ＝０か否かを判断する。具体的には、Ｓ２４４で求めた余りの値（ｋ）が０か否かを判断する。そして、ｋ＝０である場合は、Ｓ２５０へ進む。一方、ｋが０以外の場合は、Ｓ２４７へ進む。
【００５３】
Ｓ２４７では、ＣＰＵ２０２が、ｋ＝１か否かを判断する。具体的には、Ｓ２４４で求めた余りの値（ｋ）が１か否かを判断する。そして、ｋ＝１である場合は、Ｓ２５１へ進む。一方、ｋが１以外の場合は、Ｓ２４８へ進む。  
Ｓ２４８では、ＣＰＵ２０２が、ｋ＝２か否かを判断する。具体的には、Ｓ２４４で求めた余りの値（ｋ）が２か否かを判断する。そして、ｋ＝２である場合は、Ｓ２５２へ進む。一方、ｋが２以外、即ち、ｋ＝３の場合は、Ｓ２５３へ進む。  
Ｓ２４９では、ＣＰＵ２０２が、ｋの値を、ｔの値と異なるように計算を実行する。具体的には、ｔの値に１を加えたものを４で割った余りをｋの値とする。従って、ｋの値と、ｔの値とが異なる。そして、Ｓ２４５へ戻る。
【００５４】
Ｓ２５０では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂ＝ＬＥＤ１、ＯＫスイッチｂ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１と設定する。具体的には、ＣＰＵ２０２によって、検査員がＬＥＤａの正常確認に対してＯＫスイッチａを操作して所定時間である１（ｓｅｃ）経過後、２番目に発光させるＬＥＤｂとしてＬＥＤ１が選定される。ここで、ＬＥＤ１とＯＫスイッチ１ＳＷ１とは当初から対応しているので、ＬＥＤｂ＝ＬＥＤ１と選定されれば、ＯＫスイッチｂ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１は必然と決まる。そして、Ｓ２０６へ進む。  
Ｓ２５１では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂ＝ＬＥＤ２、ＯＫスイッチｂ＝ＯＫスイッチ２ＳＷ２と設定する。上記Ｓ２５０と同様にＬＥＤ２が２番目に発光させるＬＥＤｂとして選定される。そして、Ｓ２０６へ進む。  
Ｓ２５２では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂ＝ＬＥＤ３、ＯＫスイッチｂ＝ＯＫスイッチ３ＳＷ３と設定する。上記Ｓ２５０と同様にＬＥＤ３が２番目に発光させるＬＥＤｂとして選定される。そして、Ｓ２０６へ進む。  
Ｓ２５３では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂ＝ＬＥＤ４、ＯＫスイッチｂ＝ＯＫスイッチ４ＳＷ４と設定する。上記Ｓ２５０と同様にＬＥＤ４が２番目に発光させるＬＥＤｂとして選定される。そして、Ｓ２０６へ進む。
【００５５】
Ｓ２０６では、ＬＥＤｂ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が、点灯するのを所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂが点灯するのを、１（ｓｅｃ）だけ待機させる。そして、Ｓ２０７へ進む。  
Ｓ２０７では、ＬＥＤｂ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ２４３のＯＫスイッチａの操作に対して所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ遅らせたタイミングでＬＥＤｂを発光させる。そして、Ｓ２０８へ進む。
【００５６】
Ｓ２０８では、検査員が、ＬＥＤｂ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループＣを実行してＬＥＤｃを選定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤｂの点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤｂ点灯状態を正常と判断した場合、ＬＥＤｂに対応するＯＫスイッチｂ（ＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４のいずれか）を操作する。そして、ＯＫスイッチｂの操作によって、ＬＥＤｂは消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチｂを操作した場合、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｂが点灯した時から検査員がＬＥＤｂの正常確認に対してＯＫスイッチｂを操作した時までのバラツキのある時間を利用して、次の検査対象であるＬＥＤｃを選定する。以下、ＬＥＤｃの選定方法であるＳ２０８内のＯＫスイッチ待ちループＣについて説明する。
【００５７】
Ｓ２６１では、Ｓ２０７のＬＥＤｂの点灯信号がトリガとなり、先ず、ＣＰＵ内のタイマのカウントを０にする。そして、Ｓ２６２へ進む。  
Ｓ２６２では、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ２６３へ進む。  
Ｓ２６３では、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤｂの正常確認に対するＯＫスイッチｂを操作したか否かを判断する。ＯＫスイッチｂを操作したと判断した場合は、タイマのカウントを止めてＳ２６４へ進む。一方、ＯＫスイッチｂを操作していないと判断した場合は、Ｓ２６２へ戻る。即ち、検査員がＯＫスイッチｂを操作するまで、Ｓ２６２とＳ２６３とを繰り返す。
【００５８】
Ｓ２６４では、止めたタイマのカウント値をＬＥＤの個数である４で割ってその余りを求める。そして、Ｓ２６５へ進む。  
Ｓ２６５では、ＣＰＵ２０２が、ｌ＝（ｔ OR ｋ）か否かを判断する。具体的には、Ｓ２６４で求めた余りの値（ｌ）が、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）およびＳ２４４で求めた余りの値（ｋ）と同じが否かを判断する。そして、ｌ＝（ｔ
OR ｋ）である場合は、Ｓ２６９へ進む。一方、ｌがｔおよびｋ以外の場合は、Ｓ２６６へ進む。  
Ｓ２６６では、ＣＰＵ２０２が、ｌ＝０か否かを判断する。具体的には、Ｓ２６４で求めた余りの値（ｌ）が０か否かを判断する。そして、ｌ＝０である場合は、Ｓ２７０へ進む。一方、ｌが０以外の場合は、Ｓ２６７へ進む。
【００５９】
Ｓ２６７では、ＣＰＵ２０２が、ｌ＝１か否かを判断する。具体的には、Ｓ２６４で求めた余りの値（ｌ）が１か否かを判断する。そして、ｌ＝１である場合は、Ｓ２７１へ進む。一方、ｌが１以外の場合は、Ｓ２６８へ進む。  
Ｓ２６８では、ＣＰＵ２０２が、ｌ＝２か否かを判断する。具体的には、Ｓ２６４で求めた余りの値（ｌ）が２か否かを判断する。そして、ｌ＝２である場合は、Ｓ２７２へ進む。一方、ｌが２以外、即ち、ｌ＝３の場合は、Ｓ２７３へ進む。  
Ｓ２６９では、ＣＰＵ２０２が、ｌの値を、ｔおよびｋの値と異なるように計算を実行する。具体的には、ｔまたはｋの値に１を加えたものを４で割った余りをｌの値とする。従って、ｌの値は、ｔの値またはｋの値と異なる。そして、Ｓ２６５へ戻る。即ち、ｌの値が、Ｓ２２４で求めたｔの値およびＳ２４４で求めたｋの値と異なるまで、Ｓ２６５とＳ２６９とを繰り返す。
【００６０】
Ｓ２７０では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃ＝ＬＥＤ１、ＯＫスイッチｃ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１と設定する。具体的には、ＣＰＵ２０２によって、検査員がＬＥＤｂの正常確認に対してＯＫスイッチｂを操作して所定時間である１（ｓｅｃ）経過後、３番目に発光させるＬＥＤｃとしてＬＥＤ１が選定される。ここで、ＬＥＤ１とＯＫスイッチ１ＳＷ１とは当初から対応しているので、ＬＥＤｃ＝ＬＥＤ１と選定されれば、ＯＫスイッチｃ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１は必然と決まる。そして、Ｓ２０９へ進む。  
Ｓ２７１では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃ＝ＬＥＤ２、ＯＫスイッチｃ＝ＯＫスイッチ２ＳＷ２と設定する。上記Ｓ２７０と同様にＬＥＤ２が３番目に発光させるＬＥＤｃとして選定される。そして、Ｓ２０９へ進む。  
Ｓ２７２では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃ＝ＬＥＤ３、ＯＫスイッチｃ＝ＯＫスイッチ３ＳＷ３と設定する。上記Ｓ２７０と同様にＬＥＤ３が３番目に発光させるＬＥＤｃとして選定される。そして、Ｓ２０９へ進む。  
Ｓ２７３では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃ＝ＬＥＤ４、ＯＫスイッチｃ＝ＯＫスイッチ４ＳＷ４と設定する。上記Ｓ２７０と同様にＬＥＤ４が３番目に発光させるＬＥＤｃとして選定される。そして、Ｓ２０９へ進む。
【００６１】
Ｓ２０９では、ＬＥＤｃ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が、点灯するのを所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃが点灯するのを、１（ｓｅｃ）だけ待機させる。そして、Ｓ２１０へ進む。  
Ｓ２１０では、ＬＥＤｃ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ２６３のＯＫスイッチｂの操作に対して所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ遅らせたタイミングでＬＥＤｃを発光させる。そして、Ｓ２１１へ進む。
【００６２】
Ｓ２１１では、検査員が、ＬＥＤｃ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）の点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループＤを実行してＬＥＤｄを選定する。具体的には、先ず、検査員がＬＥＤｃの点灯状態の判定を行う。そして、ＬＥＤｃ点灯状態を正常と判断した場合、ＬＥＤｃに対応するＯＫスイッチｃ（ＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４のいずれか）を操作する。そして、ＯＫスイッチｃの操作によって、ＬＥＤｃは消灯する。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。  
ここで、検査員がＯＫスイッチｃを操作した場合、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｃが点灯した時から検査員がＬＥＤｃの正常確認に対してＯＫスイッチｃを操作した時までのバラツキのある時間を利用して、次の検査対象であるＬＥＤｄを選定する。以下、ＬＥＤｄの選定方法であるＳ２１１内のＯＫスイッチ待ちループＤについて説明する。
【００６３】
Ｓ２８１では、Ｓ２１０のＬＥＤｃの点灯信号がトリガとなり、先ず、ＣＰＵ内のタイマのカウントを０にする。そして、Ｓ２８２へ進む。  
Ｓ２８２では、タイマのカウントをスタートさせて、１（ｓｅｃ）ずつ値を増加させていく。そして、Ｓ２８３へ進む。  
Ｓ２８３では、ＣＰＵ２０２が、検査員がＬＥＤｃの正常確認に対するＯＫスイッチｃを操作したか否かを判断する。ＯＫスイッチｃを操作したと判断した場合は、タイマのカウントを止めてＳ２８４へ進む。一方、ＯＫスイッチｃを操作していないと判断した場合は、Ｓ２８２へ戻る。即ち、検査員がＯＫスイッチｃを操作するまで、Ｓ２８２とＳ２８３とを繰り返す。
【００６４】
Ｓ２８４では、止めたタイマのカウント値をＬＥＤの個数である４で割ってその余りを求める。そして、Ｓ２８５へ進む。  
Ｓ２８５では、ＣＰＵ２０２が、ｍ＝（ｔ OR ｋ OR ｌ）か否かを判断する。具体的には、Ｓ２８４で求めた余りの値（ｍ）が、Ｓ２２４で求めた余りの値（ｔ）、Ｓ２４４で求めた余りの値（ｋ）およびＳ２６４で求めた余りの値（ｌ）と同じが否かを判断する。そして、ｍ＝（ｔ
OR ｋ OR ｌ）である場合は、Ｓ２８９へ進む。一方、ｍが、ｔ、ｋおよびｌ以外の場合は、Ｓ２８６へ進む。  
Ｓ２８６では、ＣＰＵ２０２が、ｍ＝０か否かを判断する。具体的には、Ｓ２８４で求めた余りの値（ｍ）が０か否かを判断する。そして、ｍ＝０である場合は、Ｓ２９０へ進む。一方、ｍが０以外の場合は、Ｓ２８７へ進む。
【００６５】
Ｓ２８７では、ＣＰＵ２０２が、ｍ＝１か否かを判断する。具体的には、Ｓ２８４で求めた余りの値（ｍ）が１か否かを判断する。そして、ｍ＝１である場合は、Ｓ２９１へ進む。一方、ｍが１以外の場合は、Ｓ２８８へ進む。  
Ｓ２８８では、ＣＰＵ２０２が、ｍ＝２か否かを判断する。具体的には、Ｓ２８４で求めた余りの値（ｍ）が２か否かを判断する。そして、ｍ＝２である場合は、Ｓ２９２へ進む。一方、ｍが２以外、即ち、ｍ＝３の場合は、Ｓ２９３へ進む。  
Ｓ２８９では、ＣＰＵ２０２が、ｍの値を、ｔ、ｋおよびｌの値と異なるように計算を実行する。具体的には、ｔ、ｋまたはｌの値に１を加えたものを４で割った余りをｍの値とする。従って、ｍの値は、ｔの値、ｋの値またはｌの値と異なる。そして、Ｓ２８５へ戻る。即ち、ｍの値が、Ｓ２２４で求めたｔの値、Ｓ２４４で求めたｋの値およびＳ２６４で求めたｌの値と異なるまで、Ｓ２８５とＳ２８９とを繰り返す。
【００６６】
Ｓ２９０では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｄ＝ＬＥＤ１、ＯＫスイッチｄ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１と設定する。具体的には、ＣＰＵ２０２によって、検査員がＬＥＤｃの正常確認に対してＯＫスイッチｃを操作して所定時間である１（ｓｅｃ）経過後、４番目に発光させるＬＥＤｄとしてＬＥＤ１が選定される。ここで、ＬＥＤ１とＯＫスイッチ１ＳＷ１とは当初から対応しているので、ＬＥＤｄ＝ＬＥＤ１と選定されれば、ＯＫスイッチｄ＝ＯＫスイッチ１ＳＷ１は必然と決まる。そして、Ｓ２１２へ進む。  
Ｓ２９１では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｄ＝ＬＥＤ２、ＯＫスイッチｄ＝ＯＫスイッチ２ＳＷ２と設定する。上記Ｓ２９０と同様にＬＥＤ２が４番目に発光させるＬＥＤｄとして選定される。そして、Ｓ２１２へ進む。  
Ｓ２９２では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｄ＝ＬＥＤ３、ＯＫスイッチｄ＝ＯＫスイッチ３ＳＷ３と設定する。上記Ｓ２９０と同様にＬＥＤ３が４番目に発光させるＬＥＤｄとして選定される。そして、Ｓ２１２へ進む。  
Ｓ２９３では、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｄ＝ＬＥＤ４、ＯＫスイッチｄ＝ＯＫスイッチ４ＳＷ４と設定する。上記Ｓ２９０と同様にＬＥＤ４が４番目に発光させるＬＥＤｄとして選定される。そして、Ｓ２１２へ進む。
【００６７】
Ｓ２１２では、ＬＥＤｄ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が、点灯するのを所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ待機する。言い換えると、ＣＰＵ２０２が、ＬＥＤｄが点灯するのを、１（ｓｅｃ）だけ待機させる。そして、Ｓ２１３へ進む。  
Ｓ２１３では、ＬＥＤｄ（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれか）が点灯する。具体的には、ＣＰＵ２０２が、Ｓ２８３のＯＫスイッチｃの操作に対して所定の待機時間である１（ｓｅｃ）だけ遅らせたタイミングでＬＥＤｄを発光させる。そして、Ｓ２１４へ進む。
【００６８】
Ｓ２１４では、検査員が、ＬＥＤｄの点灯判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ＯＫスイッチ待ちループＥを実行する。具体的には、検査員がＬＥＤｄの点灯状態の判定を行う。そして、ＣＰＵ２０２が、ループＡのＳ２２１からＳ２２３と同じステップを実行する。ＬＥＤｄ点灯状態を正常と判断した場合、ＯＫスイッチｄを操作する。そして、ＯＫスイッチｄの操作によって、ＬＥＤｄは消灯すると共にＳ２１５へ進む。一方、異常と判断した場合は、ＮＧスイッチＳＷ２０を操作する。係る場合、Ｓ２１６へ進む。
【００６９】
Ｓ２１５では、一枚の基板１００において、検査対象のＬＥＤの発光確認が全て終了した旨を液晶表示部２０４に表示し、良品判定を下す。  
Ｓ２１６では、一枚の基板１００において、検査対象のＬＥＤのうち一つでも異常と検査員にみなされたものは、液晶表示部２０４にその旨を表示およびブザー２０５によって警告音を発し、不良判定が下る。  
尚、ＬＥＤの個数は予め設定されているため、検査漏れはないものとする。  
また、ループＥでカウンタが作動するが、検査は終了するので、作動しないように設けてもよいのは勿論である。  
以上より、ＬＥＤが点灯する順番が常に異なる、言い換えると、基板内において、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光する順番が異なることに加え、基板間においても異なるので、検査員の検査の習慣化における過失を防ぐことができる。その結果、検査員が一人で、大量の基板１００を検査した場合であっても、良否判定率を低下させる虞がない。即ち、大量の基板１００を検査した場合であっても、一枚の基板１００を検査する場合と同等の精度で不良を発見することができる。
【００７０】
本実施形態２の発光確認方法である第２のＬＥＤ発光確認方法は、発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を基板１００に実装した際に、基板１００と検査装置としてのデバッガ２００とを接続し、複数の発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された基板１００におけるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光確認をする第２のＬＥＤ発光確認方法であって、複数のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を発光させる際、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為にＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれかを選定し（Ｓ２０２、Ｓ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１）、選定されたＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれかのみを発光させ（Ｓ２０４、Ｓ２０７、Ｓ２１０、Ｓ２１３）、複数のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチであるＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４を操作して発光確認（Ｓ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１、Ｓ２１４）をすることを特徴とする。  
また、次の確認対象のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれかは、前の確認対象のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のいずれかが発光（Ｓ２０４、Ｓ２０７、Ｓ２１０、Ｓ２１３）してから、発光を確認した際に操作する確認スイッチであるＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４のいずれかが操作される（Ｓ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１、Ｓ２１４）までの時間の変化により、未確認の発光素子（ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のうち未確認のもの）から無作為に選定（Ｓ２２４〜Ｓ２３１、Ｓ２４４〜Ｓ２５３、Ｓ２６４〜Ｓ２７３、Ｓ２８４〜Ｓ２９３）されることを特徴とする。  
さらに、複数の基板１００について順番に発光確認をする際、それぞれの基板毎のそれぞれのＬＥＤ１〜ＬＥＤ４において、当該確認対象の基板１００がセットされてから発光するまでのタイミングが、基板毎に異なることを特徴とする。
【００７１】
本実施形態２の検査装置であるデバッガ２００は、発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を基板１００に実装した際に、基板１００と接続し、複数の発光素子であるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された基板１００におけるＬＥＤ１〜ＬＥＤ４の発光確認をする検査装置であるデバッガ２００であって、制御部としてのＣＰＵ２０２は、複数のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を発光させる際、ＬＥＤ１〜ＬＥＤ４が配設された位置に関わらず、確認対象として無作為にＬＥＤ１〜ＬＥＤ４を選定し（Ｓ２０２、Ｓ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１）、選定されたＬＥＤ１〜ＬＥＤ４のみを発光させ（Ｓ２０４、Ｓ２０７、Ｓ２１０、Ｓ２１３）、複数のＬＥＤ１〜ＬＥＤ４と同数設けられ、それぞれ対応する確認スイッチであるＯＫスイッチ１ＳＷ１〜ＯＫスイッチ４ＳＷ４を操作して発光確認（Ｓ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１、Ｓ２１４）をすることを特徴とする。
【００７２】
尚、上記実施形態では、製造時の組み立て工程における検査を例にしたが、補修時の確認工程における検査であってもよいのは勿論である。  
また、本発明は上記実施例に限定されることなく、特許請求の範囲に記載した発明の範囲内で、種々の変形が可能であり、それらも本発明の範囲内に含まれるものであることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明に係る検査対象とデバッガとを接続した状態を示す概略ブロック図。
【図２】実施形態１に係るＬＥＤ検査回路図。
【図３】実施形態１に係る第１のＬＥＤ発光確認方法のフローチャート図。
【図４】図３のＯＫスイッチ待ちループ１の詳細を示すフローチャート図。
【図５】実施形態２に係るＬＲＤ検査回路図。
【図６】実施形態２に係る第２のＬＥＤ発光確認方法のフローチャート図。
【図７】図６のＯＫスイッチ待ちループＡの詳細を示すフローチャート図。
【図８】図６のＯＫスイッチ待ちループＢの詳細を示すフローチャート図。
【図９】図６のＯＫスイッチ待ちループＣの詳細を示すフローチャート図。
【図１０】図６のＯＫスイッチ待ちループＤの詳細を示すフローチャート図。
【符号の説明】
【００７４】
１００  基板、１０１  エンコーダ、２００  デバッガ、２０１  接続部、
２０２  ＣＰＵ、２０３  メモリ、２０４  液晶表示部、２０５  ブザー、
ＳＷ１  ＯＫスイッチ１、ＳＷ２  ＯＫスイッチ２、ＳＷ３  ＯＫスイッチ３、
ＳＷ４  ＯＫスイッチ４、ＳＷ１０  ＯＫスイッチ、ＳＷ２０  ＮＧスイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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