(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、記録ストラテジを自動的に最適化する。【解決手段】システムコントローラ３２は、光ディスク１０のテストエリアを用いて種々の記録ストラテジでテストデータを試し書きし、テストデータの再生信号品質を評価することで最適な記録ストラテジを選択する。システムコントローラ３２は、各記録ストラテジ毎の、エラーレート最小値Ｅｂ、しきいエラーレートが得られる記録パワー範囲Ｗｅ、目標β値が得られる記録パワーＰｍｂと最小エラーレートが得られる記録パワーＰｅｂとの相違に応じ、Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ2＋Ｂ・Ｗｅ2＋Ｃ・（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）2  により評価値Ｈｓｔを算出し、最小のＨｓｔが得られる記録ストラテジを最適記録ストラテジとする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データの記録に先立ち、光ディスクのテスト領域において記録ストラテジ及び記録パワーを変化させてテストデータを試し書きする試し書き手段と、
前記テストデータを再生して得られる再生信号品質を評価することで最適な記録ストラテジを選択する最適化手段と、
最適化された記録ストラテジで前記光ディスクにデータを記録する記録手段と、
を有し、
前記再生信号品質はエラーレートまたはジッタを含み、
前記最適化手段は、前記記録ストラテジ及び記録パワーを変化させて得られる全エラーレートまたはジッタのうちの最小エラーレートまたは最小ジッタに応じて設定されるしきい値以下のエラーレートまたはジッタが得られるパワー範囲を各記録ストラテジ毎に検出し、前記パワー範囲の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択する
ことを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項２】
請求項１記載のシステムにおいて、
前記最適化手段は、各記録ストラテジ毎の前記パワー範囲の大きさ、及び各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値またはジッタ最小値の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択する
ことを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項３】
請求項１記載のシステムにおいて、
前記再生信号品質はβ値または変調度またはγ値を含み、
前記最適化手段は、各記録ストラテジ毎の前記パワー範囲の大きさ、及び各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーとエラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーの相違の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択する
ことを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項４】
請求項１記載のシステムにおいて、
前記再生信号品質はβ値または変調度またはγ値を含み、
前記最適化手段は、各記録ストラテジ毎の前記パワー範囲の大きさ、各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値またはジッタ最小値の大きさ、及び各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーとエラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーとの相違の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択する
ことを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項５】
請求項４記載のシステムにおいて、
前記最適化手段は、さらに各記録ストラテジ毎の前記パワー範囲の中間記録パワーとエラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーの相違の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択する
ことを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項６】
請求項４記載のシステムにおいて、
前記最適化手段は、前記パワー範囲の大きさをＷｅ、各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値またはジッタ最小値の大きさをＥｂ、各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーをＰｍｂ、エラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーをＰｅｂとした場合に、
Ｈ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n
但し、Ａ、Ｃは正の実数、Ｂは負の実数、ｎは１以上の実数
で与えられる評価値Ｈが最も小さい記録ストラテジを最適な記録ストラテジに選択することを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項７】
請求項５記載のシステムにおいて、
前記最適化手段は、前記パワー範囲の大きさをＷｅ、各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値あるいはジッタ最小値の大きさをＥｂ、各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーをＰｍｂ、エラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーをＰｅｂ、前記パワー範囲の中間記録パワーをＰｗｓとした場合に、
Ｈ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n ＋Ｄ・｜Ｐｅｂ−Ｐｗｓ｜n
但し、Ａ、Ｃ、Ｄは正の実数、Ｂは負の実数、ｎは１以上の実数
で与えられる評価値Ｈが最も小さい記録ストラテジを最適な記録ストラテジに選択することを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項８】
請求項６、７のいずれかに記載のシステムにおいて、
ｎは２であることを特徴とする記録ストラテジ調整システム。
【請求項９】
請求項１乃至請求項８のいずれかに記載の記録ストラテジ調整システムを備える光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に適用される記録ストラテジ調整システム、特に記録ストラテジの最適化に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の記録再生可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置では、光ディスク毎に記録ストラテジを最適化する必要があり、この最適化を自動化することが提案されている。
【０００３】
下記の特許文献１には、１１Ｔ及び３Ｔと１１Ｔ及び４Ｔの２種類のアシンメトリ値を調べ、その大小関係と絶対値に基づき記録ストラテジを調整することが開示されている。具体的には、記録パワーをディスク情報値を中心に±３０％の範囲で５水準に設定し、パルス幅Ｔｍｐ（中間パルス幅）をディスク情報値を中心に±０．１Ｔの範囲で３水準に振り、記録パワーとパルス幅Ｔｍｐの組み合わせ１５通りの中から９通りを設定し、１１Ｔと３Ｔ、１１Ｔと４Ｔの組み合わせそれぞれ１シンクフレーム単位でテスト記録を行う。そして、それぞれのテスト記録信号から各シンクフレームのβ値を測定し、アシンメトリ値β１及びアシンメトリ値β２を取得し、測定されたβ１、β２を用いて最適条件を探索することが開示されている。
【０００４】
また、下記の特許文献２には、全記録マークを含んだジッタ、あるいは最短記録マークのみのジッタが最小になる記録パワーと、最長記録マークの理論値からのズレが最小となる記録パワーとが略等しくなるように記録ストラテジを選択することが開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−１５７５３４号公報
【特許文献２】特開２０００−３０２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このように、アシンメトリ値やジッタに着目し、これらの値が所望の値となる記録ストラテジを最適な記録ストラテジとして選択することで自動的に記録ストラテジを最適化すること（記録ストラテジの自動チューニング）が可能であるが、各記録ストラテジを評価するパラメータは多岐にわたり、上記のジッタやアシンメトリの他にもエラーレートやβ値もあり得、各記録ストラテジ間の優劣判断が困難であって実用化に至っていないのが実情である。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、より簡易でかつ確実に各記録ストラテジ間の優劣判断ができ、最適な記録ストラテジを自動的に選択することができるシステム及び装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、データの記録に先立ち、前記光ディスクのテスト領域において記録ストラテジ及び記録パワーを変化させてテストデータを試し書きする試し書き手段と、前記テストデータを再生して得られる再生信号品質を評価することで最適な記録ストラテジを選択する最適化手段と、最適化された記録ストラテジで前記光ディスクにデータを記録する記録手段とを有し、前記再生信号品質はエラーレートまたはジッタを含み、前記最適化手段は、前記記録ストラテジ及び記録パワーを変化させて得られる全エラーレートまたはジッタのうちの最小エラーレートまたは最小ジッタに応じて設定されるしきい値以下のエラーレートまたはジッタが得られるパワー範囲を各記録ストラテジ毎に検出し、前記パワー範囲の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択することを特徴とする。
【０００９】
本発明の１つの実施形態では、前記最適化手段は、前記パワー範囲の大きさをＷｅ、各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値またはジッタ最小値の大きさをＥｂ、各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーをＰｍｂ、エラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーをＰｅｂとした場合に、
Ｈ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n
但し、Ａ、Ｃは正の実数、Ｂは負の実数、ｎは１以上の実数
で与えられる評価値Ｈが最も小さい記録ストラテジを最適な記録ストラテジに選択する。
【００１０】
また、本発明の他の実施形態では、前記最適化手段は、前記パワー範囲の大きさをＷｅ、各記録ストラテジ毎のエラーレート最小値あるいはジッタ最小値の大きさをＥｂ、各記録ストラテジ毎の目標β値または目標変調度または目標γ値が得られる記録パワーをＰｍｂ、エラーレート最小値またはジッタ最小値が得られる記録パワーをＰｅｂ、前記パワー範囲の中間記録パワーをＰｗｓとした場合に、
Ｈ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n ＋Ｄ・｜Ｐｅｂ−Ｐｗｓ｜n
但し、Ａ、Ｃ、Ｄは正の実数、Ｂは負の実数、ｎは１以上の実数
で与えられる評価値Ｈが最も小さい記録ストラテジを最適な記録ストラテジに選択する。ｎは例えば２に設定することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、記録ストラテジ及び記録パワーを変化させて得られる全エラーレートまたはジッタのうちの最小エラーレートまたは最小ジッタに応じて設定されるしきい値以下のエラーレートまたはジッタが得られるパワー範囲を各記録ストラテジ毎に検出し、パワー範囲の大きさに応じて最適な記録ストラテジを選択することで、高精度に最適な記録ストラテジを自動的に選択できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１３】
図１に、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、次世代光ディスク（ブルーレイあるいはＨＤ−ＤＶＤ）等の記録可能な光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１４】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりＬＤの発光量を制御する。図ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、後述するようにドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。
【００１５】
光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。
【００１６】
アドレス信号の１つの例はウォブル信号であり、光ディスク１０の絶対アドレスを示す時間情報の変調信号で光ディスク１０のトラックをウォブルさせ、このウォブル信号を再生信号から抽出しデコードすることでアドレスデータ（ＡＴＩＰ）を得ることができる。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００１７】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは記録品質に影響することから、データ記録に先立って最適化が行われる。すなわち、光ディスク１０の所定のテストエリアにおいて記録ストラテジを種々変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してその信号品質を評価する。そして、評価結果に基づいて最適な記録ストラテジが選択される。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に記憶されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。
【００１８】
システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、特に記録に先立つＯＰＣ（OPtimum Power Control：記録パワーの最適化）と、記録ストラテジの最適化を実行する。ＯＰＣでは、光ディスク１０のテストエリアに記録パワーを階段状に変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してそのβ値やγ値、変調度、エラーレート等を測定する。そして、エラーレート等の再生信号品質が所望の値となる記録パワーを選択して最適記録パワーＰｏとする。システムコントローラ３２は、選択した記録パワーＰｏとなるようにドライバ２２を制御する。記録ストラテジの最適化では、光ディスク１０の種類毎に記録ストラテジを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータを再生してエラーレート等を測定し、特定の評価基準に従って各記録ストラテジを評価する。
【００１９】
図２に、光ディスク１０がＣＤ−Ｒである場合の記録ストラテジを示す。図２（ａ）は記録データであり、データ長として３Ｔ〜１１Ｔまで存在する。図２（ｂ）は記録データに対応する記録ストラテジであり、パワーレベルに関してはピークパワーＰｋ及びパワードパワーＰｐがパラメータとして存在し、パルス幅に関してはＳＰＴ、ＳＰＴＷ、ＥＰＭ、ＴＷＴがパラメータとして存在する。ＳＰＴはパルスの開始タイミング、ＳＰＴＷはパワードパルスのパルス幅、ＥＰＭはパルス終了タイミング、ＴＷＴはパルス幅である。記録ストラテジはこれらのパラメータから構成され、これらのパラメータを変化させることで記録ストラテジを変化させることができる。本実施形態では、パルス幅ＴＷＴ及びパワードパルスのパルス幅ＳＰＴＷを変化させることで記録ストラテジを変化させる。
【００２０】
表１にＴＷＴの変化方法を示し、表２にＳＰＴＷの変化方法を示す。
【００２１】
【表１】
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【００２２】
【表２】
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【００２３】
表１において、「４Ｘ」は回転速度が４倍速であることを示す。回転速度毎及びデータ長毎に最適な記録ストラテジは変化し得るから、回転速度毎及びデータ長毎にＴＷＴを所定範囲で変化させる。表では、基準パルス幅（光ディスク１０毎の推奨パルス幅であって光ディスク１０に予め記録されている）に対する増減分を示す。例えば、４倍速の場合には、３Ｔのデータ長においてはＴＷＴを基準パルス幅に対して−１．２Ｔから−０．２Ｔまで０．１Ｔの幅で変化させる。つまり、１２段階変化させる。また、４Ｔのデータ長においてはＴＷＴを３Ｔの場合のパルス幅に対して０Ｔから０．１Ｔまで変化させる。表２についても同様である。最適化は、各データ長毎に実行する。最適化の手順としては、まずデータ長３Ｔに関し、ＳＰＴＷをある値に固定してＴＷＴを変化させて評価し、最適なＴＷＴを選択する。次に、最適なＴＷＴに固定しＳＰＴＷを変化させることで最適な（ＴＷＴ，ＳＰＴＷ）の組からなる記録ストラテジを選択する。もちろん、可能な（ＴＷＴ，ＳＰＴＷ）の組からなる全ての記録ストラテジについて評価し、最適な（ＴＷＴ，ＳＰＴＷ）の組を選択してもよい。データ長３Ｔについて最適な記録ストラテジを選択した後、データ長４Ｔに関してデータ長３Ｔの最適記録ストラテジを中心値としてＴＷＴ及びＳＰＴＷを増減して記録ストラテジを変化させ、最適な記録ストラテジを選択する。５Ｔ以上のデータ長についても同様である。
【００２４】
図３に、光ディスク１０がＤＶＤ±Ｒである場合の記録ストラテジを示す。マルチパルス型の記録ストラテジである。図３（ａ）は記録データであり、データ長として３Ｔ〜１４Ｔまで存在する。図３（ｂ）、（ｃ）は記録データに対応する記録ストラテジであり、図３（ｂ）はパルス幅、図３（ｃ）はパルスの開始あるいは終了タイミングを示す。本実施形態では、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐと中間パルスのパルス幅Ｔｍｐを変化させることで記録ストラテジを変化させる。なお、最終パルスのパルス幅である０．５Ｔ＋ＴｓｌｐはＴｍｐと同一値に設定する。また、クーリングパルスＴｃｌは０とする。Ｔｔｏｐを１．５Ｔから１．７Ｔまで０．０２５Ｔの幅で変化させ、Ｔｍｐを０．６Ｔから０．７２５Ｔまで０．０２５Ｔの幅で変化させる。
【００２５】
図４に、光ディスク１０がＤＶＤ±Ｒである場合の他の記録ストラテジを示す。キャッスル型の記録ストラテジである。図４（ａ）は記録データであり、３Ｔ〜１４Ｔまで存在する。図４（ｂ）、（ｃ）は記録データに対応する記録ストラテジであり、図４（ｂ）はパルス幅、図４（ｃ）はパルスの開始あるいは終了タイミングを示す。なお、３Ｔのデータは単パルスからなる別の記録ストラテジで記録される。３Ｔのパルス幅を１．５Ｔから２．１Ｔまで変化させて記録ストラテジを変化させる。図において、ピークパワーレベルＰ１及びパワードパワーＰ２の比率は固定でＰ１：Ｐ２＝６：４である。先頭パルスのパルス幅ｎＴｔｏｐと終端パルスのパルス幅Ｔｌｐは同長で、データ長が４Ｔの場合には先頭パワードパルスの終了タイミングＴｔｒ及び終端パワードパルスの開始タイミングＬｌｄを調整して０．１Ｔ、０．２Ｔ程度短くする。データ長が５Ｔ以上の場合にはｎＴｏｐを０．６Ｔから１．２Ｔまで変化させることで記録ストラテジを変化させる。
【００２６】
図４においては、データ長３Ｔの場合にマルチパルス、４Ｔ以上でキャッスル型（これを３Ｔモノキャッスル型と称する）としているが、ディスクの種類に応じてデータ長３Ｔ及び４Ｔでマルチパルス、５Ｔ以上でキャッスル型（これを３Ｔ４Ｔモノキャッスル型と称する）としてもよい。また、図３あるいは図４のいずれの記録ストラテジパターンを用いるかは、回転速度に応じて決定してもよい。例えば、標準速（１Ｘ）、倍速（２Ｘ）ではマルチパルス型、４倍速（４Ｘ）では３Ｔモノキャッスル型、それ以上では３Ｔ４Ｔモノキャッスル型を選択する等である。
【００２７】
以上のように、光ディスク１０の種類毎に異なる記録ストラテジを用い、かつ、各記録ストラテジにおけるパルス幅をデータ長及び回転速度に応じて種々変化させることで記録ストラテジを変化させてテストデータを試し書きする。
【００２８】
図５に、本実施形態の処理フローチャートを示す。装着された光ディスク１０に予め記録された情報を読み取り、光ディスク１０のテストエリアにおいて記録ストラテジを最適化する必要がある場合には、まず全ストラテジを試行したか否かを判定する（Ｓ１０１）。未だ全ストラテジを試行していない場合、装着した光ディスク１０の種類に応じた記録ストラテジの１つを選択する（Ｓ１０２）。例えば、光ディスク１０がＣＤ−Ｒである場合には基本の記録ストラテジは図２に示すストラテジであり、ＴＷＴ及びＳＰＴＷを種々変化させることで生成される記録ストラテジ群から１つの記録ストラテジを選択する。ＴＷＴ及びＳＰＴＷを種々変化させることで生成される記録ストラテジ群を構成する各記録ストラテジに、１、２、３、・・・とナンバリングし、番号の小さい順から選択する。選択した記録ストラテジは、例えば回転速度が４倍速、データ長が３Ｔの場合に、ＴＷＴ＝基準長−１．２Ｔ、ＳＰＴＷ＝基準長＋１．３Ｔとなるストラテジである。記録ストラテジ群は光ディスク１０の種類毎（ＣＤ−ＲかＤＶＤ−ＲかＤＶＤ＋Ｒか等）及び回転速度毎に生成されるが、以下の説明では光ディスク１０としてＣＤ−Ｒ、回転速度として４倍速を用いて説明する。
【００２９】
Ｓ１０２で記録ストラテジを選択した後、当該記録ストラテジにおいて記録パワーを変化させてテストデータを試し書きする（Ｓ１０３）。例えば、記録パワーを７段階（Ｐ１〜Ｐ７とする）に変化させてテストデータを試し書きする。テストデータを試し書きした後、テストデータを再生してその信号品質を測定する。信号品質は、β値及びエラーレートである（Ｓ１０４）。テストデータを再生してそのβ値及びエラーレートを測定した後、記録パワーＰとβ値との関係式を算出し、この関係式から目標β値が得られる記録パワーＰｍｂを算出する。また、記録パワーＰとエラーレートとの関係式を算出し、この関係式からエラーレートが最小となる記録パワーＰｅｂ及びエラーレートの最小値Ｅｂを算出する（Ｓ１０５）。関係式を算出することなく、Ｐ１〜Ｐ７のうちで目標β値に最も近いパワーを選択する、あるいはＰ１〜Ｐ７のうちでエラーレートが最小となるパワー及びそのときのエラーレートを選択してもよい。関係式は近似式であるが、２次近似でもよくさらに高次の近似を用いてもよい。後述するように熱干渉の影響も考慮する場合には高次の近似が望ましく、熱干渉を無視できる程度であれば２次近似を用いてもよい。以上の処理を、記録ストラテジ群に属する全ての記録ストラテジについて実行して各記録ストラテジ毎にＰｍｂ、Ｐｅｂ、Ｅｂを検出する。
【００３０】
ＣＤ−Ｒを４倍速で駆動する場合にＴＷＴ、ＳＰＴＷを変化させて得られる全ての記録ストラテジに対してＰｍｂ、Ｐｅｂ、Ｅｂを検出した後、全記録ストラテジの中での最小のエラーレートＥｂｍｉｎを検出するとともに、各記録ストラテジ毎に、検出した最小のエラーレートＥｂｍｉｎに対して所定量αだけ増加させたしきい値（Ｅｂｍｉｎ＋α）以下となる記録パワーの範囲Ｗｅを検出する（Ｓ１０６）。
【００３１】
図６に、ある記録ストラテジにおける記録パワーＰとβ値との関係を示す。記録パワーＰとβ値との関係を１次近似（直線近似）し、目標β値（光ディスク１０に予め記憶された値）が得られる記録パワーＰｍｂを検出する。
【００３２】
図７に、ある記録ストラテジにおける記録パワーＰとエラーレートとの関係を示す。記録パワーＰとエラーレートＥとの関係を２次近似し、最小エラーレートＥｂ、最小エラーレートＥｂが得られる記録パワーＰｅｂ、及び全記録ストラテジの中で最小のエラーレートＥｂｍｉｎから設定されるしきい値（Ｅｂｍｉｎ＋α）以下のエラーレートが得られる記録パワー範囲Ｗｅを検出する。
【００３３】
再び図５に戻り、全記録ストラテジのエラーレート最小値Ｅｂｍｉｎ及び各記録ストラテジ毎のパワー範囲Ｗｅを検出した後、これらのパラメータＰｍｂ、Ｐｅｂ、Ｅｂ、Ｗｅを用いて各記録ストラテジ毎にテストデータの再生信号品質を評価する。評価値Ｈｓｔは、以下の評価関数で与えられる。
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n
ここに、Ａ、Ｃは正の実数、Ｂは負の実数、ｎは１以上の実数である。エラーレート最小値Ｅｂは小さい程品質が良く、記録パワー範囲Ｗｅは広い程良く、ＰｅｂとＰｍｂの相違は小さい程良い。上記の評価値Ｈｓｔは、Ｅｂが小さく、Ｗｅが大きく、ＰｅｂとＰｍｂの相違が小さい程小さくなる。したがって、Ｈｓｔの値が小さい記録ストラテジ程、再生品質に優れた記録ストラテジということになる。Ａ、Ｂ、Ｃは定数であり、システムコントローラ３２のメモリに予め記憶しておく。ｎも同様に予めシステムコントローラ３２に記憶しておくが、例えばｎ＝２とするのが好適である。この場合、評価値は、
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ2＋Ｂ・Ｗｅ2＋Ｃ・（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）2
となる。本実施形態では、Ａ＝１０００、Ｂ＝−１００、Ｃ＝１０、ｎ＝２として各記録ストラテジ毎に評価値Ｈｓｔを算出する（Ｓ１０７）。上記の式から分かるように、単にエラーレートが小さい記録ストラテジを選択するのではなく、記録パワー範囲Ｗｅを考慮して最適記録ストラテジを選択している点に留意されたい。なお、より簡易的に
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ2＋Ｂ・Ｗｅ2
あるいは
Ｈｓｔ＝Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n
により評価値Ｈｓｔを算出することも可能である。
【００３４】
各記録ストラテジ毎に評価値Ｈｓｔを算出した後、システムコントローラ３２は最もＨｓｔの小さい記録ストラテジを最適記録ストラテジに選択し（Ｓ１０８）、記録ストラテジの最適化処理を終了する。最適な記録ストラテジを選択した後、光ディスク１０のデータ領域に最適記録ストラテジでデータを記録する（Ｓ１０９）。
【００３５】
図８に、各記録ストラテジ毎に算出された評価値Ｈｓｔの一例を示す。図において、横軸はナンバリングされた各記録ストラテジの番号を示し、縦軸は評価値Ｈｓｔを示す。評価値Ｈｓｔは、
Ｈｓｔ＝１０００Ｅｂ2−１００Ｗｅ2＋１０（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）2
により算出したものである。
【００３６】
各記録ストラテジは、データ長３ＴのＳＰＴＷを１．５９３７５Ｔ、データ長４Ｔ以上のＳＰＴＷを１．６２５Ｔに固定し、以下のようにＴＷＴを変化させた。
【００３７】
【表３】
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【００３８】
表において、「３Ｔｔｗｔ」はデータ長３ＴのＴＷＴを示す。記録ストラテジはストラテジ１からストラテジ２８まで存在し、図８にこれら２８個の記録ストラテジの評価値Ｈｓｔを示す。評価値Ｈｓｔが最も小さいのはストラテジ１である。
【００３９】
図９に、図８で得られたＴＷＴ＝−１．１８７５Ｔを固定し、以下のようにＳＰＴＷを変化させた場合の各記録ストラテジの評価値Ｈｓｔを示す。
【００４０】
【表４】
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【００４１】
表において、「３Ｔｓｐｔｗ」はデータ長３ＴのＳＰＴＷを示す。記録ストラテジはストラテジ１からストラテジ２４まで存在し、図９から分かるように評価値Ｈｓｔが最も小さいのはストラテジ１１である。したがって、評価値Ｈｓｔが最も小さいストラテジ１１が回転速度４倍速における最適ストラテジに選択される。
【００４２】
この例では、まずＴＷＴを最適化し、次にＳＰＴＷを最適化するというアルゴリズムを用いているが、既述したようにまずデータ長３Ｔに関して可能な（ＴＷＴ，ＳＰＴＷ）の組み合わせから構成される記録ストラテジ群の各記録ストラテジ毎に評価値Ｈｓｔを算出して最小のＨｓｔが得られる記録ストラテジを選択し、次にデータ長４Ｔ以上についても同様の処理を繰り返し実行してもよい。データ長３Ｔの最適記録ストラテジ（３Ｔ）、データ長４Ｔの最適記録ストラテジ（４Ｔ）、・・・が選択された後、これら各Ｔ毎の最適記録ストラテジを組み合わせて光ディスク１０の特定倍速における最適記録ストラテジが構成される。
【００４３】
このように、本実施形態では、所定のエラーレートが得られるパワー範囲を考慮し、エラーレートや目標β値が得られる記録パワーとエラーレート最小が得られる記録パワーとの相違も考慮して総合的に再生信号品質に優れた記録ストラテジを自動的に選択することができる。
【００４４】
なお、本実施形態では記録パワーＰとエラーレートＥとの関係を２次近似したが、熱干渉が無視できない場合には既述したようにより高次の近似を用いることが好適である。また、熱干渉が無視できないような場合、
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ2＋Ｂ・Ｗｅ2＋Ｃ・（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）2
により評価値を算出するのではなく、さらに熱干渉の影響を考慮するための項を付加することが好適である。
【００４５】
図１０に、熱干渉が生じている場合の記録パワーとエラーレートとの関係を示す。エラーレートは記録パワーに対して左右対称ではなく、高記録パワーにおいて急激にエラーレートが悪化（増大）して左右非対称となる。このような場合、図１１に示すように、しきい値（Ｅｂｍｉｎ＋α）以下となる記録パワー範囲Ｗｅに加え、記録パワー範囲の中間パワーＰｗｓを検出し、この中間パワーＰｗｓとＰｅｂとの相違を考慮する。具体的には、評価値Ｈｓｔを、
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂn＋Ｂ・Ｗｅn＋Ｃ・｜Ｐｅｂ−Ｐｍｂ｜n
＋Ｄ・｜Ｐｗｓ−Ｐｅｂ｜n
とする。Ｄは正の実数である。右辺の第４項が新たに付加された、熱干渉に対応する項である。ｎ＝２とすると、
Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ2＋Ｂ・Ｗｅ2＋Ｃ・（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）2
＋Ｄ・（Ｐｗｓ−Ｐｅｂ）2
である。
【００４６】
また、本実施形態ではテストデータの再生信号品質としてエラーレートを用いているが、エラーレートの代わりにジッタを用いても良い。この場合、Ｐｅｂをジッタ最小となる記録パワーとし、Ｅｂをジッタ最小値とし、Ｅｂｍｉｎを全記録ストラテジ中の最小ジッタ値として、Ｗｅをしきい値以下のジッタが得られる記録パワー範囲とすればよい。しきい値は、Ｅｂｍｉｎ＋δ（δは所定値）で与えられる。
【００４７】
また、β値の代わりに変調度やγ値を用いてもよい。変調度を用いる場合、Ｐｍｂは目標変調度が得られる記録パワーとする。因みに、β値はＲＣ結合された再生ＲＦ信号のピークレベルをＡ、ボトムレベルをＢとすると、β＝（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）で定義される。ジッタは、再生ＲＦ信号の２値化信号と同期クロック信号との位相差である。変調度ｍは、再生ＲＦ信号のあるデータ長（例えば１１Ｔ）のピークレベルをＣ、ボトムレベルをＤとすると、ｍ＝Ｃ−Ｄ／（Ｃ＋Ｄ）で定義される。γ値は変調度ｍの変化率である。
【００４８】
また、本実施形態では、特にＣＤ−Ｒを例にとり記録ストラテジ変化方法を説明したが、記録ストラテジは任意に変化させることが可能である。例えば、本実施形態では、図４に示すキャッスル型の記録ストラテジにおいて、ｎＴｏｐとＴｌｐを変化させることで記録ストラテジを変化させており、クーリングパルスＴｃｌ、先頭パワードパルス開始タイミングＴｌｄ等の他のパラメータは光ディスク１０に予め記憶されている基準値（あるいは推奨値）を用いているが、任意のパラメータを変化させることができる。変化させるパラメータを指定可能としてもよい。ＤＶＤ−Ｒではデータ長が３Ｔ、４Ｔの場合には単パルス、５Ｔ以上で図４に示すキャッスル型の記録ストラテジとし、全てのデータ長を対象として記録ストラテジを変化させる一方、ＤＶＤ＋Ｒではデータ長が３Ｔのみ単パルス、４Ｔ以上で図４に示すキャッスル型の記録ストラテジとし、３Ｔに関しては光ディスク推奨の記録ストラテジをそのまま用い、４Ｔ以上を対象として記録ストラテジを変化させてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】光ディスク装置の構成ブロック図である。
【図２】ＣＤ−Ｒの場合の記録ストラテジ説明図である。
【図３】ＤＶＤ−Ｒの場合の記録ストラテジ（マルチパルス型）説明図である。
【図４】ＤＶＤ−Ｒの場合の記録ストラテジ（キャッスル型）説明図である。
【図５】実施形態の処理フローチャートである。
【図６】ある記録ストラテジにおける記録パワーとβ値との関係を示すグラフ図である。
【図７】ある記録ストラテジにおける記録パワーとエラーレートとの関係を示すグラフ図である。
【図８】ストラテジと評価値との関係を示すグラフ図である。
【図９】ストラテジと評価値との関係を示すグラフ図である。
【図１０】熱干渉がある場合の記録パワーとエラーレートとの関係を示すグラフ図である。
【図１１】熱干渉がある場合の評価値算出用のＰｗｓ説明図である。
【符号の説明】
【００５０】
１０  光ディスク、３２  システムコントローラ、４２  ライトストラテジ回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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