(57)【要約】【課題】近似関数の誤差の影響が及ぼされることなくキャリブレーションの回数を減らしつつも高速にＡＬＣを行う自動レベル制御装置及び方法並びに自動レベル制御装置を有する基地局を提供する。【解決手段】計測した温度及び所望のＡＬＣレベルがキャリブレーションレベルとして格納されていない場合、キャリブレーションで取得した２温度同一レベルの検出レベルａ，ｄから、温度変化分に基づいた推定検出レベルｆを取得し、検出レベルが推定検出レベルｆとなるまで可変利得回路の利得を調整する。検出レベルが推定検出レベルｆに到達すると、可変利得回路の利得を固定したまま所望のレベルｈになるまで入力レベル調整部を調整して、所望のレベルを取得する。検出レベルｆ，ｈはメモリに格納される。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
高周波信号が入力される入力手段と、
前記高周波信号のレベルを調整するレベル調整手段と、
前記レベル調整手段によってレベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するレベル検出及び出力手段と、
前記レベル検出手段の周辺温度を測定する温度測定手段と、
前記レベル検出手段によって検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベル調整手段を制御する制御手段とを具える自動レベル制御装置において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納する格納手段を更に具え、
前記温度測定手段が第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測し、
前記レベル検出及び出力手段によって検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記レベル調整手段が前記高周波信号のレベルを調整し、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得し、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整する他のレベル調整手段を更に具え、
前記格納手段が、前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納することを特徴とする自動レベル制御装置。
【請求項２】
前記他のレベル調整手段が、ビット操作にて入力レベルを可変にするＤ／Ａコンバータを有することを特徴とする請求項１記載の自動レベル制御装置。
【請求項３】
前記他のレベル調整手段が、入力レベルを可変にする可変利得回路と、前記可変利得回路を制御するＤ／Ａコンバータとを有することを特徴とする請求項１記載の自動レベル制御装置。
【請求項４】
高周波信号が入力されるステップと、
前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
レベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するステップと、
周辺温度を測定するステップと、
検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベルの調整を制御するステップとを具える自動レベル制御方法において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び前記第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納するステップと、
第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測するステップと、
検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得するステップと、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納するステップとを更に具えることを特徴とする自動レベル制御方法。
【請求項５】
自動レベル制御装置を有する基地局であって、前記自動レベル制御装置が、
高周波信号が入力される入力手段と、
前記高周波信号のレベルを調整するレベル調整手段と、
前記レベル調整手段によってレベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するレベル検出及び出力手段と、
前記レベル検出手段の周辺温度を測定する温度測定手段と、
前記レベル検出手段によって検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベル調整手段を制御する制御手段とを具える、基地局において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納する格納手段を更に具え、
前記温度測定手段が第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測し、
前記レベル検出及び出力手段によって検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記レベル調整手段が前記高周波信号のレベルを調整し、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得し、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整する他のレベル調整手段を更に具え、
前記格納手段が、前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納することを特徴とする基地局。
【請求項６】
前記他のレベル調整手段が、ビット操作にて入力レベルを可変にするＤ／Ａコンバータを有することを特徴とする請求項５記載の基地局。
【請求項７】
前記他のレベル調整手段が、入力レベルを可変にする可変利得回路と、前記可変利得回路を制御するＤ／Ａコンバータとを有することを特徴とする請求項５記載の基地局。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話機、パーソナル・ハンディホン・システム（ＰＨＳ）等の基地局のような無線通信装置や、測定機の信号発生部において、出力レベルの変動を抑制するために自動レベル制御（ＡＬＣ）を行う自動レベル制御装置及び方法並びに自動レベル制御装置を有する基地局に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の自動レベル測定装置は、図１に示すように、入力部１と、可変利得回路２と、方向性結合器３と、出力部４と、検出部５と、積分器６と、リファレンス７と、比較器８とを具える。
【０００３】
図１に示す自動レベル測定装置では、入力部１から入力された高周波信号のレベルが可変利得回路２によって調整され、可変利得回路２によってレベル調整された高周波信号の一部が、方向性結合器３によってモニタされ、方向性結合器３を通過した大部分の高周波信号が出力部４から出力される。
【０００４】
方向性結合器３で取り出された高周波信号のレベルは、検出部５によって検出され、検出部５で得られた検出信号は、積分器６によって平滑にされる。リファレンス７は、ＡＬＣ(Automatic Level Control)動作の基準レベルを決定し、比較器８は、検出信号とリファレンス７とを比較して誤差信号を出力する。このような誤差信号を可変利得回路２の制御信号に用いることによって、ＡＬＣ動作が実現される。
【０００５】
通常、可変利得回路２を含む主信号伝送系の特性変動は、検出部５の特性変動よりも大きく、装置ごとに特性が異なるため、携帯電話機、パーソナル・ハンディホン・システム（ＰＨＳ）等の基地局のような無線通信装置や、測定機の信号発生部のような出力レベルの変動をできるだけ抑制したい、すなわち、出力レベルを一定に保持したい装置では、ＡＬＣが有用となる。
【０００６】
自動レベル制御装置の出力レベルの誤差が大きくなる最大の原因は、検出部５の温度変動である。このために、従来の他の自動レベル測定装置としては、図２に示すように、リファレンス７の代わりに、メモリ１１、温度計１２、処理部（ＣＰＵ）１３及びＤ／Ａコンバータ１４を用いたものが提案されている（例えば、特許文献１）。
【０００７】
図２に示す自動レベル制御装置では、検出部５の温度変動を補正するための補正データテーブルをメモリ１１に格納し、検出部５の周辺温度を測定するために、温度計１２が検出部５の近傍に配置される。
【０００８】
処理部１３では、メモリ１１の補正データテーブルを参照しながら、温度計１２で計測された温度から補正信号を生成し、補正信号をＤ／Ａコンバータ１４でＤ／Ａ変換し、ＡＬＣ動作の基準レベルを出力する。
【０００９】
比較部８は、基準レベルと検出信号とを比較して誤差信号を出力し、可変利得回路２を誤差信号で制御することによって、検出部５の検出レベル誤差を補正し、温度変動による誤差要因を除去する。
【特許文献１】特開平５−３７４６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
図２に示す自動レベル制御装置のように補正データテーブルをメモリ１１に格納する場合、正確なＡＬＣを実現するために、温度及び出力レベルごとに補正データテーブルのデータを取得するためのキャリブレーションが必要となり、これによって非常に多くの時間及び労力が必要となる。
【００１１】
キャリブレーションに要する時間及び労力を減少するために、少なくとも２温度で２段階の出力レベルをキャリブレーションし、近似関数を割り出して補正データテーブルを作成することも従来提案されているが、固定の近似関数を用いる場合、金時間数がキャリブレーションしたときの温度又は出力レベルからかけ離れるに従って、近似関数の誤差が大きくなる。
【００１２】
本発明の目的は、近似関数の誤差の影響が及ぼされることなくキャリブレーションの回数を減らしつつも高速にＡＬＣを行って、ＡＬＣ収束のための作業負荷を軽減することができる自動レベル制御装置及び方法並びに自動レベル制御装置を有する基地局を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明による自動レベル制御装置は、
高周波信号が入力される入力手段と、
前記高周波信号のレベルを調整するレベル調整手段と、
前記レベル調整手段によってレベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するレベル検出及び出力手段と、
前記レベル検出手段の周辺温度を測定する温度測定手段と、
前記レベル検出手段によって検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベル調整手段を制御する制御手段とを具える自動レベル制御装置において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納する格納手段を更に具え、
前記温度測定手段が第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測し、
前記レベル検出及び出力手段によって検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記レベル調整手段が前記高周波信号のレベルを調整し、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得し、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整する他のレベル調整手段を更に具え、
前記格納手段が、前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納することを特徴とする自動レベル制御方法。
【００１４】
本発明による自動レベル制御方法は、
高周波信号が入力されるステップと、
前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
レベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するステップと、
周辺温度を測定するステップと、
検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベルの調整を制御するステップとを具える自動レベル制御方法において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び前記第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納するステップと、
第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測するステップと、
検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得するステップと、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整するステップと、
前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納するステップとを更に具えることを特徴とする。
【００１５】
本発明による基地局は、
自動レベル制御装置を有する基地局であって、前記自動レベル制御装置が、
高周波信号が入力される入力手段と、
前記高周波信号のレベルを調整するレベル調整手段と、
前記レベル調整手段によってレベル調整された高周波信号のレベルを検出し及び出力するレベル検出及び出力手段と、
前記レベル検出手段の周辺温度を測定する温度測定手段と、
前記レベル検出手段によって検出されたレベル及び前記周辺温度に応じて、前記レベル調整手段を制御する制御手段とを具える、基地局において、
第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、前記第１の周辺温度及び第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから前記第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに前記第１の近似曲線を前記第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納する格納手段を更に具え、
前記温度測定手段が第３の周辺温度を測定した場合、前記第３の周辺温度及び前記第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、前記第１又は第２の周辺温度と前記第３温度との差に基づいて予測し、
前記レベル検出及び出力手段によって検出されたレベルが前記第４のレベルとなるように、前記レベル調整手段が前記高周波信号のレベルを調整し、
前記第１又は第２の近似曲線を前記第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得し、
前記第３の周辺温度及び第３の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように前記高周波信号のレベルを調整する他のレベル調整手段を更に具え、
前記格納手段が、前記第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報を格納することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、先ず、第１の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第１の検出レベル、第１の周辺温度及び第２の出力レベルにおける第２の検出レベル、これら第１及び第２の検出レベルから第１の周辺温度で推定した第１の近似曲線、第２の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第３の検出レベル、並びに第１の近似曲線を第２の温度で推定した第２の近似曲線の情報を格納する。
【００１７】
第３の周辺温度、すなわち、これまで格納されていない周辺温度を測定した場合、第３の周辺温度及び第１の出力レベルにおける第４の検出レベルを、第１又は第２の周辺温度と第３温度との差に基づいて予測し、検出されたレベルが第４のレベルとなるように、高周波信号のレベルを調整する。その後、第１又は第２の近似曲線を第３の温度で推定した第３の近似曲線を取得し、第３の周辺温度及び第３の出力レベルすなわち所望の出力レベルにおける第５の検出レベルとなるように高周波信号のレベルを調整する。第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報は格納される。
【００１８】
したがって、第１及び第２の近似曲線から外れた第３の温度が測定された場合でも、所望の出力レベルを取得するために、第３の周辺温度に関連したパラメータを使用して高周波信号のレベルを調整しているので、近似関数の誤差の影響が及ぼされることなくなる。また、第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線の情報が格納されるので、これら第４及び第５の検出レベル並びに第３の近似曲線を、次回に同一パラメータでＡＬＣを実行するために使用することができ、その結果、キャリブレーションの回数を減らしつつも高速にＡＬＣが行われ、ＡＬＣ収束のための作業負荷を軽減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明による自動レベル制御装置及び方法並びに自動レベル制御装置を有する基地局の実施の形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。
図３は、本発明による自動レベル制御装置を示す図である。図３に示す自動レベル制御装置は、ＰＨＳの基地局に配置され、入力部１、可変利得回路２、方向性結合器３、出力部４、検出部５、積分器６、比較器８、メモリ１１、温度計１２、処理部（ＣＰＵ）１３及びＤ／Ａコンバータ１４の他に、入力レベル調整部２１及びＡ／Ｄコンバータ２２を具える。
【００２０】
入力レベル調整部２１は、処理部１３からの補正信号に基づいて、入力部１から入力された高周波信号のレベルを調整する。Ａ／Ｄコンバータ２２は、検出部５の検出レベルをモニタする。
【００２１】
図４は、本発明による自動レベル制御装置で実行されるキャリブレーション過程のフローチャートである。このキャリブレーションは、ＡＬＣの前に実行されるものであり、図３の自動レベル制御装置を規定温度の雰囲気に設置する（ステップＳ１）と、温度計１２で温度を測定し（ステップＳ２）、測定温度をメモリ１１に記憶する（ステップＳ３）。
【００２２】
高周波信号を入力部１から規定レベルで入力する（ステップＳ４）と、出力部４の出力レベルを、図示しないパワーメータで観測し（ステップＳ５）、観測した出力レベルが所望のレベル以上であるか否か判断する（ステップＳ６）。
【００２３】
所望のレベル未満である場合、入力レベル調整部２１を調整するとともに可変利得回路２の利得を調整し（ステップＳ７）、ステップＳ４に戻る。それに対して、所望のレベル以上である場合、検出部５の検出レベルをＡ／Ｄコンバータ２２で読み取り（ステップＳ８）、Ａ／Ｄコンバータ２２の読み取りレベルをメモリ１１に記憶し（ステップＳ９）、レベル校正が所要分終了したか否か判断する（ステップＳ１０）。
【００２４】
レベル校正が所要分終了しない場合、規定レベルを変更し（ステップＳ１１）、ステップＳ４に戻る。それに対して、レベル校正が所定分終了した場合、温度校正が所要分終了したか否か判断する（ステップＳ１２）。
【００２５】
温度校正が所要分終了しない場合、試験温度を変更し（ステップＳ１３）、ステップＳ４に戻る。それに対して、温度校正が所要分終了した場合、キャリブレーションを終了する。
【００２６】
図５は、本発明による自動レベル制御装置で実行されるＡＬＣ過程のフローチャートであり、図６は、本発明による自動レベル制御装置のキャリブレーション及びＡＬＣを説明するための図である。図６において、第１の雰囲気温度及び規定レベルにおける検出部５の検出レベルａと、第１の雰囲気温度において規定レベルを下げたときの検出部５の検出レベルｂと、検出レベルａ及びｂから近似関数を算出し、第１の雰囲気温度で推定した近似曲線ｃと、第２の雰囲気温度において検出レベルａと同一の出力レベルとしたときの検出部５の検出レベルｄと、近似曲線ｃを第２の雰囲気温度に適用したときの近似曲線ｅと、ＡＬＣ実行時の雰囲気温度で検出レベルａと同一の出力レベルとしたときの検出部５の検出レベルｆと、近似曲線ｃをＡＬＣ実行時の温度に適用したときの近似曲線ｇと、ＡＬＣ実行時の温度における所望のレベル出力時の検出部５の検出レベルｈとを示す。
【００２７】
図５のフローチャートを実施する前に同一レベルで少なくとも２温度のキャリブレーション及び同一温度での少なくとも２レベルのキャリブレーションを実行し、各パラメータを取得する。ここでは、図４のキャリブレーションを実行し、検出レベルａ，ｂ，ｄ及び近似曲線ｃ，ｅを取得する。
【００２８】
ＡＬＣ動作では、先ず、温度計１２で雰囲気温度を計測する（ステップＳ１１）。この際、計測した温度及び所望のＡＬＣレベルがキャリブレーションデータとしてメモリ１１に格納されているか否か確認する（ステップＳ１２）。格納されている場合、入力レベル調整部２１及び可変利得制御回路２の制御量をメモリ１１から読み出し（ステップＳ１３）、入力レベル調整部２１及び可変利得制御部２の制御量を設定し（ステップＳ１４）、高周波信号を入力部１から入力し（ステップＳ１５）、ＡＬＣを終了する。
【００２９】
計測した温度及び所望のＡＬＣレベルがキャリブレーションレベルとして格納されていない場合、先ず、キャリブレーションで取得した２温度同一レベルのパラメータ（この場合、検出レベルａ，ｄ）から、温度変化分に基づいた推定検出レベルｆを取得する（ステップＳ１６）。その後、高周波信号を入力部１から入力し（ステップＳ１７）、検出部５の検出レベルが推定検出レベルｆとなるまで可変利得回路２の利得を調整する（ステップＳ１８）。
【００３０】
検出部５の検出レベルが推定検出レベルｆに到達すると、可変利得回路２の利得を固定したまま所望のレベルｈになるまで入力レベル調整部２１を調整して、所望のレベルを取得する（ステップＳ１９）。その後、検出部５の現在の検出レベルをモニタして（ステップＳ２０）、検出部５で取得した検出レベルをＡ／Ｄコンバータ２２で取得し、計測温度並びに入力レベル調整部２１及び可変利得回路２の制御量とともにメモリ１１に格納し（ステップＳ２１）、ＡＬＣを終了する。
【００３１】
これによって、ＡＬＣの度にキャリブレーション補間データを取得し、次回のＡＬＣのときにキャリブレーション補間データを読み出すようにして、誤差が大きくならずにキャリブレーション回数を減少しつつ高速にＡＬＣを動作させることができ、ＡＬＣ収束のための作業負荷が軽減する。
【００３２】
ＴＤＭＡ方式が用いられているＰＨＳの基地局では、所定の条件（例えば、特定の温度）で送信出力を制御している。したがって、計測した温度及び所望のＡＬＣごとに補正データテーブルを順次作成し、次回に同一パラメータでＡＬＣを行うときに以前に作成した補正データテーブルを用いることができる本発明は、ＰＨＳの基地局に好適である。
【００３３】
図７は、図３の入力レベル調整部の一例を示す図である。この場合、入力レベル調整部２１は、処理部１３によるビット操作にて入力レベルを可変にするＤ／Ａコンバータ３１を有する。ＰＨＳの基地局を外部に配置する場合、自動レベル制御装置をできるだけ小型化するのが好ましい。本例によれば、回路規模を大きくすることなく、すなわち、回路を簡単にしながら高速に同期がとりやすくなる。
【００３４】
図８は、図３の入力レベル調整部の他の例を示す図である。この場合、入力レベル調整部は、入力レベルを可変にする可変利得回路４２と、処理部１３からの信号に応じて可変利得回路４１を制御するＤ／Ａコンバータ４１とを有する。可変利得回路４２としては、制御電圧対利得特性が既知のものを使用する。したがって、ステップＳ１９において入力レベル調整部２１（可変利得回路４１）を調整するに際し、推定検出レベルｆ（図６）から所望のレベル分だけ差し引いた利得を設定し、所望のレベルを得る。本例によれば、外部信号を使用して制御を行うため、制御の精度が向上する。
【００３５】
本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、幾多の変更及び変形が可能である。
例えば、上記実施の形態において、本発明による自動レベル制御装置及び方法をＰＨＳの基地局に適用した場合について説明したが、本発明による自動レベル制御装置及び方法を、ＰＨＳ以外（例えば、携帯電話機）の基地局のような無線通信装置や、測定機の信号発生部のような他の用途にも適用することができる。
【００３６】
また、キャリブレーションを、図４に示したフローチャート以外によって行うこともできる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】従来の自動レベル制御装置を示す図である。
【図２】従来の他の自動レベル制御装置を示す図である。
【図３】本発明による自動レベル制御装置を示す図である。
【図４】本発明による自動レベル制御装置で実行されるキャリブレーション過程のフローチャートである。
【図５】本発明による自動レベル制御装置で実行されるＡＬＣ過程のフローチャートである。
【図６】本発明による自動レベル制御装置のキャリブレーション及びＡＬＣを説明するための図である。
【図７】図３の入力レベル調整部の一例を示す図である。
【図８】図３の入力レベル調整部の他の例を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１  入力部
２，４２  可変利得回路
３  方向性結合器
４  出力部
５  検出部
６  積分器
７  リファレンス
８  比較器
１１  メモリ
１２  温度計
１３  処理部（ＣＰＵ）
１４，３１，４１  Ｄ／Ａコンバータ
２１  入力レベル調整部
２２  Ａ／Ｄコンバータ
【図１】
2007295438.tif 000003
【図２】
2007295438.tif 000004
【図３】
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【図４】
2007295438.tif 000006
【図５】
2007295438.tif 000007
【図６】
2007295438.tif 000008
【図７】
2007295438.tif 000009
【図８】
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