(57)【要約】【課題】撮像素子の出力を処理する画像処理部では、中間値領域を線形部、又は対数部と認識しているため、間違った信号処理をしてしまうことがある。また中間領域は線形動作と対数動作が両方動作する領域であり、動作が不安定になり、入射光量に対する決まった出力を特定することができない。【解決手段】線形出力の最大値と対数出力の最小値の２点の値から中間領域値を電気信号を用いずに演算にて推定し、ＬＵＴを作成することにより信号処理部に間違った信号を入力することを回避できる撮像装置を提供することを目的とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射光に基づいて電気信号を線形変換する線形変換モードと対数変換する対数変換モードを有する撮像素子と、前記電気信号に対して信号処理を行う信号処理部とを有する撮像装置において、
前記信号処理部は、ある輝度範囲において、あらかじめ測定した前記撮像素子の出力特性から演算する演算部と、
前記演算部の値から出力を推定する信号変換部を有し、
前記信号変換部の出力を用いて画像を処理することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記信号変換部が前記演算部の出力を用いて処理する画像信号の輝度範囲は、線形領域と対数領域の中間領域であることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記信号変換部は、中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値または対数領域値に、前記中間領域を変換することを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記演算部は、前記中間領域に入らない線形領域の最大値と、対数領域の最小値を用いることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記信号変換部は、前記演算部において前記線形領域の最大出力値と前記対数領域の最小出力値を用いて、前記線形領域と前記対数領域の中間領域の出力値の推定を行い、この推定値から中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値や対数領域値を推定し、出力することを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記信号変換部は、前記中間領域の推定値から、前記中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値と対数領域値を、ルックアップテーブルを用いて推定することを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記演算部は、前記中間領域の推定する場合、下式を用いて推定することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の撮像装置。
Ｙ＝α／β×（Ｘ−Ｘｐ）＋（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α）
ただし、上式のＸを入射光量、Ｙを中間値推定出力、Ｃ、Ｄを定数とし、
あらかじめ前記撮像素子の特性を測定し、
前記撮像素子の線形部の最大値が、入射光量ＸｐでＹｐ、
前記撮像素子の対数部の最小値が、入射光量ＸｑでＹｑであり、
線形部の入出力特性がＹ＝ＡＸ＋Ｂ、
対数部の入出力特性がＹ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄであった場合、
対数部の入出力特性からある値を減算し、その入出力特性が線形部の最大値と重なる
場合の減算値をαとし、
中間領域の入射光量の幅（Ｘｑ−Ｘｐ）をβとする。
【請求項８】
前記演算部において、前記中間領域の推定する場合、下式を用いて推定することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の撮像装置。
Ｙ＝ＡＸ＋Ｂ−｛（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α−Ｙｐ）×δ／γ｝
ただし、上式のＸを入射光量、Ｙを中間値推定出力、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを定数とし、
あらかじめ前記撮像素子の特性を測定し、
前記撮像素子の線形部の最大値が、入射光量ＸｐでＹｐ、
前記撮像素子の対数部の最小値が、入射光量ＸｑでＹｑであり、
線形部の入出力特性がＹ＝ＡＸ＋Ｂ、
対数部の入出力特性がＹ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄであった場合、
対数部の入出力特性からある値を減算し、その入出力特性が線形部の最大値と重なる
場合の減算値をαとし、
中間領域の入射光量の幅（Ｘｑ−Ｘｐ）をβ、
（ＡＸｑ＋Ｂ）−（ＣＬｎ（Ｘｑ）＋Ｄ）をδ、
（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α）−Ｙｐをγとする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は撮像装置に係り、特に線形変換モードと対数変換モードの中間領域の特性出力値を演算推定によって算出する信号処理部を有する撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラ等の撮像装置において、入射光を電気信号に変換する撮像素子が設けられている。この撮像素子で入射光量に基づいて電気信号への変換を線形変換するモードと対数変換するモードに切り換えられるものがある（例えば特許文献１）。これを用いることにより、広ダイナミックレンジな画像が得られると共に、低輝度部でのコントラストの維持を実現できる。
【特許文献１】特開２００４−８８３１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
この撮像素子は低輝度部で線形変換、高輝度部で対数変換を行うものであるが、線形変換モードと対数変換モードがその変曲点で厳密に切り替わることはなく、中間値領域が出現してしまう（図４参照）。撮像素子の出力を処理する画像処理部では、中間値領域を線形部、又は対数部と認識しているため、間違った信号処理をしてしまう。例えば対数部を線形信号に変換して画像処理を行おうとした場合、中間値領域を図４に示す１点鎖線で示すように誤った線形化を行ってしまい、中間部の画像が暗くなってしまう。また中間領域は線形動作と対数動作が両方動作する領域であり、動作が不安定になり、入射光量に対する決まった出力を特定することができない。
【０００４】
このような問題を鑑みて本発明は、線形出力の最大値と対数出力の最小値の２点の値から中間領域値を推定し、信号処理部に間違った信号を入力することを回避できる撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的は、下記構成により達成できる。
１．入射光に基づいて電気信号を線形変換する線形変換モードと対数変換する対数変換モードを有する撮像素子と、前記電気信号に対して信号処理を行う信号処理部とを有する撮像装置において、
前記信号処理部は、ある輝度範囲において、あらかじめ測定した前記撮像素子の出力特性から演算する演算部と、
前記演算部の値から出力を推定する信号変換部を有し、
前記信号変換部の出力を用いて画像を処理することを特徴とする撮像装置。
２．前記信号変換部が前記演算部の出力を用いて処理する画像信号の輝度範囲は、線形領域と対数領域の中間領域であることを特徴とする１に記載の撮像装置。
３．前記信号変換部は、中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値または対数領域値に、前記中間領域を変換することを特徴とする１または２に記載の撮像装置。
４．前記演算部は、前記中間領域に入らない線形領域の最大値と、対数領域の最小値を用いることを特徴とする１乃至３の何れかに記載の撮像装置。
５．前記信号変換部は、前記演算部において前記線形領域の最大出力値と前記対数領域の最小出力値を用いて、前記線形領域と前記対数領域の中間領域の出力値の推定を行い、この推定値から中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値や対数領域値を推定し、出力することを特徴とする１乃至４の何れかに記載の撮像装置。
６．前記信号変換部は、前記中間領域の推定値から、前記中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値と対数領域値を、ルックアップテーブルを用いて推定することを特徴とする１乃至４の何れかに記載の撮像装置。
７．前記演算部は、前記中間領域の推定する場合、下式を用いて推定することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の撮像装置。
【０００６】
Ｙ＝α／β×（Ｘ−Ｘｐ）＋（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α）
ただし、上式のＸを入射光量、Ｙを中間値推定出力、Ｃ、Ｄを定数とし、
あらかじめ前記撮像素子の特性を測定し、
前記撮像素子の線形部の最大値が、入射光量ＸｐでＹｐ、
前記撮像素子の対数部の最小値が、入射光量ＸｑでＹｑであり、
線形部の入出力特性がＹ＝ＡＸ＋Ｂ、
対数部の入出力特性がＹ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄであった場合、
対数部の入出力特性からある値を減算し、その入出力特性が線形部の最大値と重なる
場合の減算値をαとし、
中間領域の入射光量の幅（Ｘｑ−Ｘｐ）をβとする。
８．前記演算部において、前記中間領域の推定する場合、下式を用いて推定することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の撮像装置。
【０００７】
Ｙ＝ＡＸ＋Ｂ−｛（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α−Ｙｐ）×δ／γ｝
ただし、上式のＸを入射光量、Ｙを中間値推定出力、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを定数とし、
あらかじめ前記撮像素子の特性を測定し、
前記撮像素子の線形部の最大値が、入射光量ＸｐでＹｐ、
前記撮像素子の対数部の最小値が、入射光量ＸｑでＹｑであり、
線形部の入出力特性がＹ＝ＡＸ＋Ｂ、
対数部の入出力特性がＹ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄであった場合、
対数部の入出力特性からある値を減算し、その入出力特性が線形部の最大値と重なる
場合の減算値をαとし、
中間領域の入射光量の幅（Ｘｑ−Ｘｐ）をβ、
（ＡＸｑ＋Ｂ）−（ＣＬｎ（Ｘｑ）＋Ｄ）をδ、
（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α）−Ｙｐをγとする。
【発明の効果】
【０００８】
入射光に基づいて電気信号を線形変換する線形変換モードと対数変換する対数変換モードを有する撮像素子と、電気信号に対して信号処理を行う信号処理部とを有する撮像装置において、信号処理部は、ある輝度範囲において、あらかじめ測定した撮像素子の出力特性から電気信号を用いずに演算し、出力を推定して処理することにより信号処理に間違った信号を入力することが回避できる。
【０００９】
さらに信号変換部が処理する画像信号の輝度範囲は、線形領域と対数領域の中間領域であり、演算する領域は、中間領域に入らない線形領域の最大値と、対数領域の最小値を用いる。
【００１０】
また出力推定は、線形領域の最大出力値と対数領域の最小出力値を用いて、線形領域と対数領域の中間領域の出力値の推定を行い、この推定値から中間領域が存在しないと想定した場合に出力される線形領域値や対数領域値を推定し出力する。または線形領域値と対数領域値を、ルックアップテーブル（ＬＵＴという）を用いて推定するので、安定した画像信号を撮像装置に送ることがでる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面に基づき本発明の実施の形態を説明する。
【００１２】
図１に示すように撮像装置１はシステム制御部２を備えている。システム制御部２は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、書換可能な半導体で構成されるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）及び不揮発性の半導体メモリで構成されるＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）から構成されている。また、システム制御部２には撮像装置１の各構成部分が接続されており、システム制御部２は、ＲＯＭに記録された処理プログラムをＲＡＭに添加してＣＰＵによりこの処理プログラムを実行することにより、これらの各構成部分を駆動制御するようになっている。
【００１３】
撮像装置１には、被写体からの反射光（被写体光像）を撮像装置１に導く光学系が備えられている。光学系は、被写体光像を撮像系の撮像面に結合する複数のレンズ３、レンズ３により集光される光の量を調整する絞り部４及びこの絞り部４の駆動を制御する絞り制御部５から構成されている。絞り制御部５は、システム制御部２から入力される制御値に基づき、撮像素子１６２の撮像動作開始直前に絞り部４を開口させてから所定の露光時間の経過後に絞り部４を閉塞させ、また、非撮像時は撮像素子１６２への入射光を遮断することにより入射光量を制御するようになっている。
【００１４】
次に、本発明における、線形特性領域と対数特性領域とからなる光電変換特性を有する撮像素子１６２の１例について、図２〜図４を用いて説明する。
【００１５】
図２は、撮像素子１６２の内部構成を示すブロック図である。図中、図１と同じ部分には同じ番号を付与した。撮像素子１６２上には、画素１６２ａが２次元的に配列されている。垂直走査回路１６２ｂによって選択された水平行の画素１６２ａの光電変換出力ＶＰは、垂直信号線１６２ｇに出力され、サンプルホールド回路１６２ｃに１行分同時にホールドされ、水平走査回路１６２ｅの走査により、出力回路１６２ｄから画像出力３０７として順次出力され、アンプ１６３に入力される。撮像素子１６２の各動作は、撮像制御部１６１からの撮像制御信号１６１ａに従って、タイミングジェネレータ（ＴＧ）１６２ｆにより制御される。
【００１６】
図３は、撮像素子１６２を構成する、線形特性領域と対数特性領域とからなる光電変換特性を有する画素１６２ａの回路の１例を示す回路図である。
【００１７】
画素１６２ａは、フォトダイオードＰＤ、ＭＯＳＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｆｉｅｌｄ  Ｅｆｆｅｃｔ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）としてのトランジスタＴ１〜Ｔ６、及び積分用のコンデンサとしてのキャパシタＣから構成されている。トランジスタＴ１〜Ｔ６は、本例ではＰチャンネルＭＯＳＦＥＴが採用されている。φＶＤ、φＶ、φＶＰＳ、φＲＳＴ、φＳ及びＲＳＢは、各トランジスタやキャパシタＣに対する信号（電圧）を示し、ＧＮＤは接地を示している。
【００１８】
フォトダイオードＰＤは光電変換部であり、被写体からの入射光量に応じた光電流ＩＰＤを出力する。
【００１９】
トランジスタＴ１は、トランジスタＴ２の製造バラツキに起因して発生する画素間の誤差成分を示す画素バラツキ信号を取り出す際に用いるスイッチであり、通常はオン状態とされており、トランジスタＴ２とフォトダイオードＰＤ間に光電流ＩＰＤが流れるようになっている。画素バラツキ信号を取り出す際には、トランジスタＴ１がオフ状態となりフォトダイオードＰＤの光電流ＩＰＤが遮断され、前記の画素バラツキ信号だけが取り出される。
【００２０】
トランジスタＴ２は、ゲートとドレインが接続されており、ＭＯＳＦＥＴにおけるサブスレッショルド特性（ゲート電圧が閾値以下の時に、サブスレッショルド電流と呼ばれる微小電流が流れる特性）を利用して、同トランジスタのゲートに、光電流ＩＰＤに対して線形変換又は対数変換した電圧を発生させる働きをする。
【００２１】
具体的には、撮像される被写体が暗い場合、すなわち、フォトダイオードＰＤに入射される入射光量が少ない場合には、トランジスタＴ２のゲート電位が同トランジスタのソース電位より高くなっているために、トランジスタＴ２が所謂カットオフ状態であり、トランジスタＴ２にサブスレッショルド電流が流れず、フォトダイオードＰＤで発生する光電流ＩＰＤがフォトダイオードＰＤの寄生容量ＣＰＤに流れて光電流ＩＰＤが積分され、積分電荷量に応じた電圧が発生する。
【００２２】
このときＴ１はオンされているので、寄生容量ＣＰＤに積分された光電流ＩＰＤに応じた電圧が、電圧ＶＧとしてトランジスタＴ２、Ｔ３のゲートに発生する。この電圧ＶＧにより、トランジスタＴ３に電流が流れ、この電圧ＶＧに比例した量の電荷がキャパシタＣに蓄積される（トランジスタＴ３とキャパシタＣとで積分回路を構成している）。そして、トランジスタＴ３とキャパシタＣとの接続ノードａ、すなわち出力ＶＯＵＴには、光電流ＩＰＤの積分値に対して線形的に比例した電圧が現れる。これが線形特性領域における動作である。
【００２３】
一方、撮像される被写体が明るく、フォトダイオードＰＤに入射される入射光量が多い場合には、トランジスタＴ２のゲート電位が同トランジスタのソース電位以下となり、トランジスタＴ２がサブスレッショルド領域で動作するためにサブスレッショルド電流が流れ、光電流ＩＰＤを自然対数的に変換した値の電圧ＶＧがトランジスタＴ２、Ｔ３のゲートに発生する。そして、この電圧ＶＧにより、トランジスタＴ３に電流が流れ、キャパシタＣに、光電流ＩＰＤの積分値を自然対数的に変換した値と同等の電荷が蓄積される。これにより、キャパシタＣとトランジスタＴ３との接続ノードａ（出力ＶＯＵＴ）には、光電流ＩＰＤの積分値を自然対数的に変換した値に比例した電圧が生じる。これが当該撮像素子１６２の、対数特性領域における動作である。
【００２４】
上述したように、画素１６２ａの動作が線形特性となるか対数特性となるかは、トランジスタＴ２のゲート電位ＶＧとソース電位φＶＰＳの高低の関係によって決まる。ゲート電位ＶＧは上述のように光電流ＩＰＤによって決まるので、ソース電位φＶＰＳを制御することで線形特性と対数特性の切り替わる点（変曲点）を制御することができる。
【００２５】
以上のように、被写体の明るさ、すなわち入射光量に応じて、各画素毎に、光電流ＩＰＤの積分値に線形的又は自然対数的に比例した電圧が発生される。
【００２６】
トランジスタＴ４は、キャパシタＣをリセットするためのトランジスタであり、該トランジスタＴ４のゲートに印加される電圧φＲＳＴに応じてオン、オフされるスイッチとして動作する。トランジスタＴ４がオンされると、キャパシタＣにリセット電圧ＲＳＢが印加され、蓄積されていた電荷が積分開始前の状態に戻される。
【００２７】
トランジスタＴ５は、ソースフォロワ増幅回路を構成するものであり、前述した出力ＶＯＵＴに対する電流増幅を行うことで、出力インピーダンスを下げる働きをする。
【００２８】
トランジスタＴ６は、信号読み出し用のトランジスタであり、ゲートに印加される電圧φＶに応じてオン、オフされるスイッチとして動作する。トランジスタＴ６のソースは、垂直信号線１６２ｇに接続されており、トランジスタＴ６がオンされると、トランジスタＴ５で電流増幅されて低インピーダンス化された光電変換出力ＶＰを、垂直信号線１６２ｇへ導出する。
【００２９】
図４は、図３に示した画素１６２ａの回路の光電変換特性を示すグラフである。横軸には被写体輝度を、縦軸には光電変換出力を線形軸でとってある。上述したように、図４のトランジスタＴ２のソース電圧φＶＰＳの制御によって、図４に示すような線形特性から、対数特性までを切り換えることが可能である。被写体輝度が低輝度の場合は線形特性、被写体輝度が高輝度の場合は対数特性を示す線形／対数特性（リニア／ログ特性とも言う）であり、線形特性と対数特性の切り替わり点（変曲点）を変曲点Ｒとする。変曲点Ｒは、上述のトランジスタＴ２のソース電位φＶＰＳの制御によって任意に設定可能である。
【００３０】
図１に戻り、アンプ１７は撮像素子１６２から出力された画像信号を所定の規定レベルに増幅するようになっている。
【００３１】
Ａ／Ｄ変換部（ＡＤＣ）１８は、アンプ１７において増幅された画像信号をアナログ信号からデジタル信号に変換するようになっている。
【００３２】
タイミング生成部１９は、撮像素子６及びＡ／Ｄ変換部１８の駆動を制御するクロックパルスを生成するようになっている。撮像素子１６２は所定の電荷が蓄積されるとコンデンサに電荷の移し替えを行い、このタイミングを擬似的にシャッター制御する電子シャッタ機能として用い、タイミング生成部１９はこの電子シャッタ機能を制御するようになっている。
【００３３】
黒基準補正部２０は、最低輝度値となる黒レベルを、基準値に補正するようになっている。すなわち、撮像素子１６２のダイナミックレンジにより黒レベルが異なるため、Ａ／Ｄ変換回路から出力されるＲＧＢ各信号の信号レベルに対して、黒レベルとなる信号レベルが減算されることで黒基準補正が行われるようになっている。
【００３４】
演算部２１はある輝度範囲において、あらかじめ測定した撮像素子１６２の出力値に基づいて下記式（式１−１）〜（式１−５）を用いて演算する演算機能を有している。
【００３５】
信号変換部２２は、線形出力の最大値と、対数出力の最小値の範囲内にある中間領域を、ＬＵＴを用いて中間領域が無いと仮定した場合に出力されるであろう理想的な線形化と、理想的な対数値の推定を行う中間領域推定ＬＵＴと、線形データはそのままで、対数データをＡＬＬ線形化ＬＵＴに入力させ線形データに変形させるＡＬＬ線形化ＬＵＴを有している。
【００３６】
ＡＬＬ線形化ＬＵＴは画像データをすべて線形データに変換することを行うことにより線形データと対数データが混在した時よりもデータ処理が単純にすることができる。また対数データはそのままにして、線形データを対数化ＬＵＴに入力し対数データに変形することもできる。
【００３７】
画像処理部２４は信号変換部２２で得られた信号出力から、ホワイトバランス（ＷＢ）処理、Ｒ色、Ｇ色、Ｂ色の色整合（色補正）を行い、さらに諧調性などの画像処理を行う。
【００３８】
次に本発明に係る演算部２１と信号変換部２２について説明を加える。
【００３９】
図４に示す変曲点Ｒは、前述したように動作が不安定な領域である。そこで信号変換部２２では、線形領域の最大値Ｐ（Ｘｐ、Ｙｐ）と、対数領域の最小値Ｑ（Ｘｑ、Ｙｑ）間の中間領域の出力値を推定する作業を行う。
【００４０】
ここで中間領域の推定は、演算部２１の演算機能を使用して下記式に基づいて行われる。
【００４１】
図５に第１の実施例を示す。画像処理部では予め中間領域の端点の情報を記憶しておく。即ち
線形部の端点Ｐ（Ｘｐ，Ｙｐ）
対数部の端点Ｑ（Ｘｑ，Ｙｑ）
また線形領域の式は
Ｙ＝ＡＸ＋Ｂ・・（式１−１）
対数領域の式は
Ｙ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ・・（式１−２）
対数部の式が線形部の端点Ｐを通過するときの式は
Ｙ＝ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α・・（式１−３）となる。
【００４２】
端点間のｘ軸上の距離をβとすると
β＝Ｘｑ−Ｘｐ
よって中間領域を推定すると
Ｙ＝α／β×（Ｘ−Ｘｐ）＋（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α）・・（式１−４）
線形部の端点から変曲点（線形領域と対数領域が交わる点）までは、（式１−１）と（式１−４）の同じ入射光量でのＹ値の対応をＬＵＴに格納する。変曲点から対数部は（式１−２）と（式１−４）の同じ入射光量でのＹ値の対応をＬＵＴに格納する。
【００４３】
〈実施例２〉
図６に第２の実施例を示す。（式１−３）迄は実施例１と同じであるが、対数部の接点での入力Ｘｑに対して、（式１−１）上の点を点Ｕ（Ｘｑ、ＡＹｑ＋Ｂ）とし、点Ｑ、点Ｕ間のＹ軸上の距離をδとする。
【００４４】
対数部の端点での入力Ｘｑに対して（式１−３）上の点を点Ｓ（Ｘｑ、ＣＬｎ（Ｘｑ）＋Ｄ−α）とし、点Ｐと点Ｓの間のＹ軸上の距離をγとする。
【００４５】
ここで中間領域を（式１−５）で推定すると、
Ｙ＝ＡＸ＋Ｂ−｛（ＣＬｎ（Ｘ）＋Ｄ−α−Ｙｐ）×δ／γ｝・・（式１−５）
で表せる。
【００４６】
線形部の端点から変曲点Ｒ（線形領域と対数領域が交わる点）までは、（式１−１）と（式１−５）の同じ入射光量でのＹ値の対応をＬＵＴに格納する。変曲点Ｒから対数部は（式１−２）と（式１−５）の同じ入射光量でのＹ値の対応をＬＵＴに格納する。
【００４７】
このように中間領域の推定値をＬＵＴに格納することにより、画像処理部２４に間違った信号を入力することを回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の撮像装置に関する構成を表したブロック図である。
【図２】撮像素子の内部構成を示すブロック図である。
【図３】撮像素子を構成する、線形特性領域と対数特性領域とからなる光電変換特性を有する画素の回路の１例を示す回路図である。
【図４】画素の回路の光電変換特性を示すグラフである。
【図５】実施例１の光電変換特性を示すグラフである。
【図６】実施例２の光電変換特性を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４９】
１  撮像装置
２  システム制御部
３  レンズ
１７  アンプ
２０  黒基準補正部
２１  演算部
２２  信号変換部
２４  画像処理部
１６２  撮像素子
【図１】
2007134778.tif 000003
【図２】
2007134778.tif 000004
【図３】
2007134778.tif 000005
【図４】
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【図５】
2007134778.tif 000007
【図６】
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