(57)【要約】【課題】変調信号のコンスタレーションにおける各測定点の対応する理想点に対する位置関係を簡単に把握できる。【解決手段】入力された変調信号のコンスタレーション（３１）を算出し（１８）、このコンスタレーション変調信号の変調方式を判定し（２１）、変調方式及びＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルからコンスタレーションの各理想点（３３）を算出する（２２）。Ｉ―Ｑ座標上における各測定点（３０）と対応する各理想点（３３）とを接続するベクトル（３５）を算出する（２４）。この算出された各測定点におけるベクトル（３５）を、該当ベクトルの理想点側端がＩ―Ｑ座標上の原点に位置するように、平行移動するベクトル平行移動算出部（２７）と、この平行移動されたＩ―Ｑ座標上の各ベクトルを表示器（４２）に表示出力する表示制御部（４１）と備えている。【選択図】図１
2007053494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された変調信号（ａ）を解析して解析結果を表示器（４２）に表示する変調信号解析装置において、
前記入力された変調信号をシンボル単位のＩ、Ｑシンボルデータに直交復調する入力処理部（１０）と、
この入力処理部から順次出力される各シンボル位置におけるＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点（３０）として表したコンスタレーション（３１）を算出するコンスタレーション算出部（１８）と、
前記コンスタレーション算出部で算出された各シンボル位置におけるコンスタレーションから前記変調信号の変調方式を判定する変調方式判定部（２１）と、
この変調方式判定部で判定された変調方式及び前記Ｉ、Ｑシンボルデータの信号レベルから前記コンスタレーションの各理想点（３３）を算出する理想点算出部（２２）と、
前記Ｉ―Ｑ座標上における各測定点と対応する各理想点とを接続するベクトル（３５）を算出するＥＶＭ算出部（２４）と、
このＥＶＭ算出部で算出された各測定点におけるベクトルを、該当ベクトルの理想点側端が前記Ｉ―Ｑ座標上の原点に位置するように、平行移動するベクトル平行移動算出部（２７）と、
このベクトル平行移動算出部で平行移動された前記Ｉ―Ｑ座標上の各ベクトルを前記表示器に表示出力する表示制御部（４１）と
を備えたことを特徴とする変調信号解析装置。
【請求項２】
前記表示制御部は、前記表示器に表示されたＩ―Ｑ座標上に、原点を中心とし、半径方向を変調誤差率とする円形座標（４５）を重ね表示することを特徴とする請求項１記載の変調信号解析装置。
【請求項３】
入力された変調信号（ａ）を解析して解析結果を表示器（４２）に表示する変調信号解析装置において、
前記入力された変調信号をシンボル単位のＩ、Ｑシンボルデータに直交復調する入力処理部（１０）と、
この入力処理部から順次出力される各シンボル位置におけるＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点（３０）として表したコンスタレーション（３１）を算出するコンスタレーション算出部（１８）と、
前記コンスタレーション算出部で算出された各シンボル位置におけるコンスタレーションから前記変調信号の変調方式を判定する変調方式判定部（２１）と、
この変調方式判定部で判定された変調方式及び前記Ｉ、Ｑシンボルデータの信号レベルから前記コンスタレーションの各理想点（３３）を算出する理想点算出部（２２）と、
前記Ｉ―Ｑ座標上における各測定点と対応する各理想点とを接続するベクトル（３５）を算出するＥＶＭ算出部（２４）と、
このＥＶＭ算出部で算出された各測定点の対応する各理想点に対する位相誤差（φ）を算出する位相誤差算出部（２５）と、
前記算出された各測定点のベクトルを、該当ベクトルの理想点側端を前記Ｉ―Ｑ座標上の原点に位置させ、該当ベクトルの他端の方向を、前記Ｉ―Ｑ座標上で定められた基準方向に対して前記算出された位相誤差だけ離れた方向に回転移動するベクトル回転移動算出部（２８）と、
このベクトル回転移動算出部で回転移動された前記Ｉ―Ｑ座標上の各ベクトルを前記表示器に表示出力する表示制御部（４１）と
を備えたことを特徴とする変調信号解析装置。
【請求項４】
前記表示制御部は、前記平行移動又は回転移動されたＩ―Ｑ座標上の各測定点のベクトルを、各測定点相互間で発生時刻を識別可能に、前記表示器に表示出力することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の変調信号解析装置。
【請求項５】
前記理想点算出部で算出された各理想点における前記Ｉ―Ｑ座標上の原点までの距離である原点間距離を算出する原点間距離算出部（２６）を備え、
前記表示制御部は、前記平行移動又は回転移動されたＩ―Ｑ座標上の各測定点のベクトルを、各測定点に対応する理想点の原点間距離に応じて識別可能に、前記表示器に表示出力することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の変調信号解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力された変調信号を解析する変調信号解析装置に係わり、特に、この変調信号の変調品質を視覚的に評価できる特性であるコンスタレーシヨンを解析する変調信号解析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
移動体通信システムにおいては、図１３に示すように、基地局１と各移動端末としての各携帯電話２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄとの間で信号の授受を行っている。基地局１から各携帯電話２ａ〜２ｄへ送信される信号は、例えば位相変調され、かつスペクトラム拡散（ＣＤＭＡ）された変調信号ａである。
【０００３】
図１４は、基地局１の概略構成図である。各携帯電話２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄへ送信される各チャネルＣＨ1、ＣＨ2、…、ＣＨnの送信データＤ1、Ｄ2、…、Ｄnは、それぞれ、変調部３で、局部発信信号ＬＯで例えばＱＰＳＫ等の変調方式で位相変調され、コード拡散部４で該当チャネルに割付られた各拡散コードＣ1、Ｃ2、…、Ｃnでスペクトラム拡散され、さらに、電力調整部５で基地局１から該当携帯電話２ａ〜２ｄ迄の距離ＬＤ1〜ＬＤnに対応したゲインＧ1、Ｇ2、…、Ｇnで増幅されたのち、加算器６へ入力される。
【０００４】
加算器６は各チャネルＣＨ1、ＣＨ2、…、ＣＨnの増幅後の変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnを加算して、加算後の変調信号を周波数変換部７へ送出する。周波数変換部７は加算後の変調信号の周波数をＧHz帯まで上昇して、前述した変調信号ａとしてアンテナ８から電波放出する。
【０００５】
各携帯電話２ａ〜２ｄは、基地局１のアンテナ８から電波放出された変調信号ａを受信して、この変調信号ａを自己に与えられた拡散コードＣで逆拡散して、自己の変調信号を抽出して、この自己の変調信号を復調して、自己宛の送信データＤを得る。
【０００６】
このような基地局１から出力される変調信号ａにおける信号品質のなかでデータが正しく位相変調されていることを変調信号解析装置で解析する場合において、変調状態を視覚的に評価できる特性であるコンスタレーシヨンを測定して、表示器に表示出力することが一般的に実施されている（特許文献１参照）。
【０００７】
このコンスタレーシヨンは、図４（ａ）に示すように、解析対象の変調信号ａをシンボル単位でＩ、Ｑシンボルデータに直交復調して、各シンボル位置のＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点３０として表したものである。そして、実験者は、このＩ―Ｑ座標上に表示された理想点３３と測定点３０との位置関係から変調品質を評価していた。
【特許文献１】特開２００４―３２８５０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、変調信号ａが、図１４に示すように、複数の変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnを加算したものである場合は、図１５、図１６に示すように、Ｉ―Ｑ座標上に多くの理想点が現れる。
【０００９】
図１５（ａ）、図１５（ｂ）は、電力調整部５に等しいゲインＧ1＝Ｇ2が印加された状態の２つの変調信号ｂ1、ｂ2におけるＩ―Ｑ座標上に表示された理想点を示す。変調方式はＱＰＳＫであるので、理想点はそれぞれ４個［（Ａ1、Ａ2、Ａ3、Ａ4）、（Ｂ1、Ｂ2、Ｂ3、Ｂ4）ずつとなる。図１５（ｃ）は、２つの変調信号ｂ1、ｂ2を加算した変調信号におけるＩ―Ｑ座標上に表示された理想点を示す。図示するように、理想点は９個となる。
【００１０】
また、図１６（ａ）、図１６（ｂ）は、電力調整部５に異なるゲイン（Ｇ2＝１．５Ｇ1）が印加された状態の２つの変調信号ｂ1、ｂ2におけるＩ―Ｑ座標上に表示された理想点を示す。変調方式はＱＰＳＫであるので、前述の例と同様に、理想点はそれぞれ４個ずつとなる。図１６（ｃ）は、２つの変調信号ｂ1、ｂ2を加算した変調信号におけるＩ―Ｑ座標上に表示された理想点を示す。図示するように、理想点は１６個となる。
【００１１】
このように、複数の変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnを加算した変調信号ａにおけるＩ―Ｑ座標上に表示された理想点の数、及び位置は、変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnの加算数、印可する各ゲインＧ1、Ｇ2、…、Ｇnの値に応じて変化する。各ゲインＧ1、Ｇ2、…、Ｇnの値は、前述したように、基地局１から該当携帯電話２ａ〜２ｄ迄の距離ＬＤ1〜ＬＤnに応じて変化するので、理想点の数、及び位置は常に変動している。
【００１２】
したがって、このような、変調信号ａのコンスタレーションを算出して、各シンボル位置のＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点として表した場合には、多数の測定点がＩ―Ｑ座標上に広範囲に分布することになり、各測定点がどの理想点に対応するのか、表示画面上で簡単に判断できなく、表示された理想点と測定点との位置関係から変調品質を簡単に評価できない問題がある。
【００１３】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、たとえコンスタレーションの理想点が多くかつその位置も一定しない変調信号であったとしても、この解析対象の変調信号に対するコンスタレーション算出で得られたＩ―Ｑ座標上における各測定点の対応する理想点に対する位置関係が一瞥して把握でき、簡単に解析対象の変調信号の変調品質を把握でき、操作性及び使い勝手を大幅に向上できる変調信号解析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題を解決するために、本発明は、入力された変調信号を解析して解析結果を表示器に表示する変調信号解析装置において、入力された変調信号をシンボル単位のＩ、Ｑシンボルデータに直交復調する入力処理部と、この入力処理部から順次出力される各シンボル位置におけるＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点として表したコンスタレーションを算出するコンスタレーション算出部と、コンスタレーション算出部で算出された各シンボル位置におけるコンスタレーションから変調信号の変調方式を判定する変調方式判定部と、この変調方式判定部で判定された変調方式及びＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルからコンスタレーションの各理想点を算出する理想点算出部と、Ｉ―Ｑ座標上における各測定点と対応する各理想点とを接続するベクトルを算出するＥＶＭ（エラー・ベクトル・マグニチュード：誤差ベクトル大きさ）算出部と、このＥＶＭ算出部で算出された各測定点におけるベクトルを、該当ベクトルの理想点側端がＩ―Ｑ座標上の原点に位置するように、平行移動するベクトル平行移動算出部と、このベクトル平行移動算出部で平行移動されたＩ―Ｑ座標上の各ベクトルを表示器に表示出力する表示制御部とを備えている。
【００１５】
このように構成された変調信号解析装置においては、入力された変調信号のコンスタレーションが算出され、このコンスタレーションから変調方式が判定され、変調方式及びＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルからコンスタレーションの各理想点が算出され、各測定点と対応する各理想点とを接続するベクトルが算出される。そして、各測定点におけるベクトルが、該当ベクトルの理想点側端がＩ―Ｑ座標上の原点に位置するように平行移動される。
【００１６】
したがって、結果的にコンスタレーションの全ての理想点がＩ―Ｑ座標上の原点に移動されたことになり、原点に平行移動された各ベクトルを観察することにより、コンスタレーションの各測定点の対応する理想点に対する位置関係を即座に把握できる。
【００１７】
よって、たとえコンスタレーションの理想点が多くかつその位置も一定しない変調信号であったとしても、実験者は、簡単に解析対象の変調信号の変調品質を把握できる。
【００１８】
また、別の発明は、上述した発明の変調信号解析装置における表示制御部は、表示器に表示されたＩ―Ｑ座標上に、原点を中心とし、半径方向を変調誤差率とする円形座標を重ね表示する。
【００１９】
このように構成された変調信号解析装置においては、原点を中心とし、半径方向を変調誤差率とする円形座標が表示されるので、各測定点の理想点からの誤差の大きさを示すベクトルの大きさを一瞥して把握できる。
【００２０】
また、別の発明の変調信号解析装置は、入力された変調信号をシンボル単位のＩ、Ｑシンボルデータに直交復調する入力処理部と、この入力処理部から順次出力される各シンボル位置におけるＩ、ＱシンボルデータをＩ―Ｑ座標上で測定点として表したコンスタレーションを算出するコンスタレーション算出部と、コンスタレーション算出部で算出された各シンボル位置におけるコンスタレーションから変調信号の変調方式を判定する変調方式判定部と、変調方式判定部で判定された変調方式及びＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルからコンスタレーションの各理想点を算出する理想点算出部と、Ｉ―Ｑ座標上における各測定点と対応する各理想点とを接続するベクトルを算出するＥＶＭ算出部と、このＥＶＭ算出部で算出された各測定点の対応する各理想点に対する位相誤差を算出する位相誤差算出部と、算出された各測定点のベクトルを、該当ベクトルの理想点側端をＩ―Ｑ座標上の原点に位置させ、該当ベクトルの他端の方向を、Ｉ―Ｑ座標上で定められた基準方向に対して算出された位相誤差だけ離れた方向に設定するベクトル回転移動算出部と、このベクトル回転移動算出部で回転移動されたＩ―Ｑ座標上の各ベクトルを表示器に表示出力する表示制御部とを備えている。
【００２１】
このように構成された変調信号解析装置においては、ＥＶＭ算出部で算出された各測定点のベクトルは、該当ベクトルの理想点側端がＩ―Ｑ座標上の原点に位置し、さらに、該当ベクトルの他端の方向が、Ｉ―Ｑ座標上で定められた基準方向に対して算出された位相誤差だけ離れた方向に設定されている。したがって、実験者は、表示器の表示画面を一瞥して、各測定点の理想点からの（大きさ；誤差の大きさ）、各測定点の理想点からの位相誤差の大きさ及び誤差方向を一瞥して把握できる。
【００２２】
また、別の発明は、上述した発明の変調信号解析装置における表示制御部は、平行移動又は回転移動されたＩ―Ｑ座標上の各測定点のベクトルを、各測定点相互間で発生時刻を識別可能に、表示器に表示出力する。
【００２３】
このように構成された変調信号解析装置においては、各シンボル位置における各測定点のベクトルは、Ｉ―Ｑ座標上の原点に平行移動又は回転移動されるとともに、各測定点の発生時刻順序が識別可能に表示することによって、変調誤差の原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【００２４】
また、別の発明は、上述した発明の変調信号解析装置において、理想点算出部で算出された各理想点におけるＩ―Ｑ座標上の原点までの距離である原点間距離を算出する原点間距離算出部を備え、さらに、表示制御部は、平行移動又は回転移動されたＩ―Ｑ座標上の各測定点のベクトルを、各測定点に対応する理想点の原点間距離に応じて識別可能に、表示器に表示出力する。
【００２５】
このように構成された変調信号解析装置においては、コンスタレーション算出部で算出された各シンボル位置における各測定点のベクトルは、Ｉ―Ｑ座標上の原点に平行移動又は回転移動されるとともに、各測定点に対応する理想点の原点までの距離を示す原点間距離に応じて識別可能に、コンスタレーションとして表示器に表示出力される。
【００２６】
このように、理想点の原点間距離に応じて、原点に平行移動又は回転移動された各測定点のベクトルを識別可能に表示することにより、上述した発明と同様に、変調誤差における原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明においては、コンスタレーション算出で得られたＩ―Ｑ座標上における各測定点と理想点を接続する変調誤差の大きさを示すベクトルの表示位置をＩ―Ｑ座標上の原点に移動させている。
【００２８】
したがって、たとえコンスタレーションの理想点が多くかつその位置も一定しない変調信号であったとしても、この解析対象の変調信号に対するコンスタレーション算出で得られたＩ―Ｑ座標上における各測定点の対応する理想点に対する位置関係が一瞥して把握でき、簡単に解析対象の変調信号の変調品質を把握でき、操作性及び使い勝手を大幅に向上できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。
【００３０】
図１、図２は本発明の一実施形態に係わる変調信号解析装置の概略構成を示すブロック図である。図１３、図１４と同一部分には、同一符号を付して、重複する部分の詳細説明を省略する。
【００３１】
この実施形態の変調信号解析装置においては、解析対象の変調信号として、図１３、図１４で説明した基地局１から各携帯電話２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄへ送信される、複数の変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnを加算した変調信号ａである。
【００３２】
入力端子９から入力された高周波の変調信号ａは入力処理部１０の周波数変換部１１で局部発振器（ＬＯＯＳＣ）１２からの周波数信号に基づいて、中間周波数に周波数変換された後、Ａ／Ｄ変換器１３でデジタルの変調信号ａに変換されて、直交復調部１４へ入力される。直交復調部１４は入力されたデジタルの変調信号ａをシンボル単位の、Ｉ（同相成分）シンボルデータとＱ（直交成分）シンボルデータとに復調して、逆拡散部１５へ送出する。
【００３３】
逆拡散部１５は、図１４における各コード拡散部４で用いた各拡散コードＣ1、Ｃ2、…、Ｃnで、Ｉ、Ｑシンボルデータを、図１４で説明した各チャネルＣＨ1、ＣＨ2、…、ＣＨn毎のＩ、Ｑシンボルデータに戻して、シンボルデータメモリ１６に書込む。したがって、このシンボルデータメモリ１６内には、変調信号ａにおける各シンボル位置（変調信号ａにおける各時刻位置）のＩ、Ｑシンボルデータが時系列的に書込まれている。
【００３４】
シンボルデータ読出部１７は、入力処理部１０のシンボルデータメモリ１６に書込まれたＩ、Ｑシンボルデータを順次読出して、コンスタレーション算出部１８、信号レベル測定部１９、周波数誤差算出部２０へ送出する。
【００３５】
周波数誤差算出部２０は、シンボルデータ読出部１７から順次入力される各シンボル位置におけるＩ、Ｑシンボルデータの周期から変調信号ａの周波数（搬送周波数）を測定して、規格で定められた規定周波数からの周波数誤差を算出して、測定した周波数とともに測定データメモリ２３へ書込む。
【００３６】
コンスタレーション算出部１８は、シンボルデータ読出部１７から順次入力される各シンボル位置におけるＩ、Ｑシンボルデータを図４（ａ）に示すように、Ｉ−Ｑ座標上で、シンボル点を測定点３０として表したコンスタレーション３１を算出して、測定データメモリ２３へ書込む。
【００３７】
さらに、コンスタレーション算出部１８は、算出した各シンボル位置におけるコンスタレーション３１を変調方式判定部２１へ送出する。変調方式判定部２１は、各シンボル位置におけるコンスタレーション３１の各測定点３０の配置関係から変調信号ａの変調方式を判定する。具体的には、変調信号ａに対して採用可能な予め指定された数個の変調方式（ＱＰＳＫ、１６ＱＡＭ、等）のなかから選択する。変調方式判定部２１は、判定した変調方式を測定データメモリ２３へ書込むとともに、理想点算出部２２へ送出する。
【００３８】
信号レベル測定部１９は、シンボルデータ読出部１７から順次入力される各シンボル位置における各チャネルＣＨ1、ＣＨ2、…、ＣＨn毎のＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルを算出する。具体的には、［（Ｉシンボルデータ）2＋（Ｑシンボルデータ）2］1/2で信号レベルを求める。すなわち、変調信号ａを構成する各変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnの各ゲインＧ1、Ｇ2、…、Ｇnの値に対応する信号レベルが求まる。算出された各信号レベルは測定データメモリ２３へ書込まれるとともに、理想点算出部２２へ送出される。
【００３９】
理想点算出部２２は、変調方式判定部２１で判定された変調方式及び変調信号ａを構成する各変調信号ｂ1、ｂ2、…、ｂnのＩ、Ｑシンボルデータの信号レベルから、図４（ａ）に示すコンスタレーション３１の各理想点３３を算出する。理想点算出部２２は、算出した各理想点３３を測定データメモリ２３へ書込むとともに、判定された変調方式を添えて、ＥＶＭ算出部２４、位相誤差算出部２５、原点オフセット算出部２６、ベクトル回転移動算出部２８、原点間距離算出部２９へ送出する。
【００４０】
ＥＶＭ（誤差ベクトル大きさ）算出部２４は、図４（ｂ）に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置における、算出されたコンスタレーション３１における測定点３０と、理想点３３とを接続するベクトル（ＥＶＭ）３５を求める。また、図４（ｃ）に示すように、全てのシンボル位置におけるベクトル（ＥＶＭ）の平均のＥＶＭ（ＲＭＳ  ＥＶＭ）を求める。ＥＶＭ（誤差ベクトル大きさ）算出部２４は、算出した各シンボル位置におけるベクトル（ＥＶＭ）３５を測定データメモリ２３へ書込むとともに、ベクトル平行移動算出部２７及びベクトル回転移動算出部２８へ送出する。さらに、ＥＶＭ（誤差ベクトル大きさ）算出部２４は、算出した平均のＥＶＭ（ＲＭＳ  ＥＶＭ）を測定データメモリ２３へ書込む。
【００４１】
位相誤差算出部２５は、図４（ｂ）に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置における、Ｉ−Ｑ座標上の算出されたコンスタレーション３１における測定点３０と、理想点３３との間の位相誤差φを算出する。なお、測定点３０が理想点３３に対して半時計回り方向に位置するとき位相誤差φは（＋）符号とし、時計回り方向に位置するとき位相誤差φは（―）符号とする。位相誤差算出部２５は算出した各測定点３０の位相誤差φを測定データメモリ２３へ書込むとともに、ベクトル回転移動算出部２８へ送出する。
【００４２】
原点オフセット算出部２６は、図４（ｄ）に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置における、Ｉ−Ｑ座標上の算出されたコンスタレーション３１における各測定点３０と、各理想点３３との座標関係から、測定されたコンスタレーション３１のＩ―Ｑ座標の原点Ｏ’と、論理（理想）的なコンスタレーションのＩ―Ｑ座標の原点Ｏとの間の距離を示す原点オフセットを算出して測定データメモリ２３へ書込む。
【００４３】
ベクトル平行移動算出部２７は、図５（ａ）〜（ｃ）に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置における、ＥＶＭ算出部２４で算出されたコンスタレーション３１の各測定点３０（Ｍ、座標（Ｉm、Ｑm））と対応する理想点３３（Ｒ1、座標（Ｉ1、Ｑ1））とを接続するベクトル３５を、該当ベクトル３５の理想点側端がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに位置するように平行移動して、平行移動した後のベクトル３６を算出して、測定データメモリ２３へ書込む。具体的には、平行移動した後のベクトル３６の原点Ｏ側端の座標（０，０）と、反対側端の座標（Ｉm―Ｉ1、Ｑm―Ｑ1）を求める。
【００４４】
ベクトル回転移動算出部２８は、図７（ａ）、（ｂ）に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置における、ＥＶＭ算出部２４で算出されたコンスタレーション３１の各測定点３０（Ｍ1、Ｍ2）と対応する各理想点３３（Ｒ1、Ｒ2）とを接続するベクトル３５を、該当ベクトル３５の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2）側端がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに位置するとともに、該当ベクトル３５の他端の方向を、前記Ｉ―Ｑ座標上で定められた基準方向としてのＩ軸に対して前記算出された位相誤差（φR1M1、φR2M2）だけ離れた方向に向くように回転移動して、回転移動した後のベクトル３７を算出して、測定データメモリ２３へ書込む。具体的には、回転移動した後のベクトル３７の原点Ｏ側端の座標（０，０）と、反対側端の座標を求める。
【００４５】
原点間距離算出部２９は、図１１に示すように、例えば、Ｉ―Ｑ座標上におけるコンスタレーション３１の１６個の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4、…、Ｒ15、Ｒ16）とＩ―Ｑ座標の原点Ｏとの間の距離を示す１６個の原点間距離３４（Ｌ1、Ｌ2、Ｌ3、Ｌ4、…、Ｌ15、Ｌ16）を算出して測定データメモリ２３へ書込む。
【００４６】
測定データメモリ２３内には、図３に示すように、変調信号ａにおける各シンボル位置を示すシンボルＮｏ（番号）１〜ｎ毎に、コンスタレーション算出部１８で算出されたコンスタレーション３１、ＥＶＭ算出部２４で算出されたベクトル（ＥＶＭ）３５、ベクトル平行移動算出部２７で算出された平行移動後のベクトル３６、ベクトル回転移動算出部２８で算出された回転移動後のベクトル３７、位相誤差算出部２５で算出された位相誤差φ、信号レベル測定部１９で測定された信号レベル、周波数誤差算出部２０で算出された周波数（誤差）、原点オフセット算出部２６で算出された原点オフセットが書込まれる。
【００４７】
変調信号ａにおける全部のシンボルＮｏ（番号）１〜ｎに対する各測定値の書込が終了すると、全部のシンボルＮｏ（番号）１〜ｎに亘る測定値の平均値が算出されて、平均領域へ書込まれる。
【００４８】
さらに、この測定データメモリ２３内には、変調方式判定部２１で判定された変調信号ａの変調方式３２、理想点算出部２２で算出されたコンスタレーション３１における理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、…、Ｒn）、原点間距離算出部２９で算出された各理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、…、Ｒn）の原点間距離３４が書込まれる。
【００４９】
図２において、測定データメモリ２３に書込まれた変調信号ａにおける各シンボル位置における上述した各測定データ（計算結果）は、編集部３８に読出されて、操作者（実験者）の操作部４０を介した編集指示に基づいて、色分編集処理３９、円形座標４５を含む各種の編集処理が実施される。表示制御部４１は、編集後の各測定データを表示器４２に表示出力する。
【００５０】
なお、円形座標４５とは、図５（ｄ）に示すように、表示器４２に表示されたＩ―Ｑ座標上に重ね表示される、原点Ｏを中心とし、半径方向を例えばベクトル３５、３６、３７の大きさ（長さ）を示すＥＶＭで示される変調誤差（％）とする円形の座標である。
【００５１】
以下、操作者（実験者）の操作部４０を介した編集指示及び編集結果の表示器４２に対する表示例を図面を用いて説明する。
【００５２】
図６においては、表示器４２に、測定データメモリ２３から読出した、２つのシンボル位置（シンボルＮｏ．１５、１６）のコンスタレーション３１と、編集コンスタレーション４３と、測定一覧表４４とが表示されている。
【００５３】
コンスタレーション３１には、Ｉ―Ｑ座標上に、ＱＰＳＫの変調方式の４個の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4）と、４個の測定点３０（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）が表示されている。編集コンスタレーション４３においては、Ｉ―Ｑ座標上に円形座標４５が重ね表示されている。そして、この円形座標４５に、コンスタレーション３１に各測定点３０（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の各ベクトル３５を原点Ｏ位置へ平行移動させた各ベクトル３６が表示されている。
【００５４】
測定一覧表４４には、いずれか一方のシンボル位置における、変調方式、信号レベル、変調誤差（％）、位相誤差、原点オフセット、周波数誤差、表示シンボルＮｏが表示されている。
【００５５】
このような編集コンスタレーション４３においては、コンスタレーション３１の各測定点３０におけるベクトル３５が、該当ベクトル３０の理想点３３側端がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに位置するように平行移動されて新たなベクトル３６となる。
【００５６】
したがって、結果的にコンスタレーション３１の全ての理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4）がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに移動されたことになり、試験の実施者は原点Ｏに平行移動された各ベクトル３６を観察することにより、コンスタレーション３１の各測定点３０（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の対応する理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4）に対する位置関係を即座に把握できる。よって、たとえコンスタレーション３０の理想点３３が多くかつその位置も一定しない変調信号ａであったとしても、実験者は、簡単に解析対象の変調信号ａの変調品質を把握できる。
【００５７】
また、Ｉ−Ｑ座標上に、原点０を中心とし、半径方向を変調誤差とする円形座標４５が表示されるので、各測定点３０の理想点３３からの誤差の大きさを示すベクトル３５、３６の大きさを一瞥して把握できる。
【００５８】
なお、図６の表示器４２に表示された編集コンスタレーション４３のＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに平行移動された各ベクトル３６を、各測定点３０相互間で発生時刻を識別可能に識別表示することも可能である。具体的には、各ベクトル３６が発生時刻順に色分け表示される。なお、この場合、測定データメモリ２３に記憶されている多数のシンボル位置における各測定点３０を用いて色分け表示された各ベクトル３６からなる編集コンスタレーション４３となる。
【００５９】
このように、原点に平行移動された各ベクトル３６を発生時刻順に色分け表示することにより、各ベクトル３６の時間的変化の形態から、変調誤差の原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【００６０】
さらに、図６の表示器４２に表示された編集コンスタレーション４３のＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに平行移動された各ベクトル３６を、各測定点３０に対応する理想点３３の原点間距離３４を識別可能に識別表示することも可能である。具体的には、各ベクトル３６が原点間距離３４順に色分け表示される。なお、この場合、測定データメモリ２３に記憶されている多数のシンボル位置における測定点３０を用いて色分け表示された各ベクトル３６からなる編集コンスタレーション４３となる。
【００６１】
このように、原点に平行移動された各ベクトル３６を原点間距離３４順に色分け表示することにより、例えば、各ベクトル３６の大きさ（長さ）で示される変調誤差の大きい原因が、該当ベクトル３６の理想点３３がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏから遠いからであるとの１つの判断材料を得ることができる。
【００６２】
図８においては、表示器４２に、測定データメモリ２３から読出した、２つのシンボル位置（シンボルＮｏ．１５、１６）のコンスタレーション３１と、編集コンスタレーション４３ａと、測定一覧表４４とが表示されている。
【００６３】
コンスタレーション３１には、Ｉ―Ｑ座標上に、ＱＰＳＫの変調方式の４個の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4）と、４個の測定点３０（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）が表示されている。編集コンスタレーション４３ａにおいては、Ｉ−Ｑ座標上に、コンスタレーション３１に各測定点３０の各ベクトル３５を原点Ｏ位置へ回転移動させた各ベクトル３７が表示されている。
【００６４】
測定一覧表４４には、いずれか一方のシンボル位置における、変調方式、信号レベル、変調誤差（％）、位相誤差、原点オフセット、周波数誤差、表示シンボルＮｏが表示されている。
【００６５】
このような編集コンスタレーション４３ａにおいては、コンスタレーション３１の各測定点３０におけるベクトル３５が、該当ベクトル３６の理想点３３側端がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに位置するとともに、回転移動後の該当ベクトル３７の他端の方向が、Ｉ軸方向に対して位相誤差φだけ離れた方向に設定されている。
【００６６】
したがって、実験者は、表示器４２の表示画面を一瞥して、各測定点３０（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4）からの大きさ（誤差の大きさ）、各測定点３０の理想点３３からの位相誤差の大きさ、位相誤差方向を一瞥して把握できる。
【００６７】
なお、図８の表示器４２に表示された編集コンスタレーション４３ａのＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに回転移動された各ベクトル３７を、各測定点３０相互間で発生時刻を識別可能に識別表示することも可能である。具体的には、各ベクトル３７が発生時刻順に色分け表示される。なお、この場合、測定データメモリ２３に記憶されている多数のシンボル位置における各測定点３０を用いて色分け表示された各ベクトル３７からなる編集コンスタレーション４３ａとなる。
【００６８】
このように、原点に回転移動された各ベクトル３７を発生時刻順に色分け表示することにより、各ベクトル３７の時間的変化の形態から、変調誤差の原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【００６９】
さらに、図８の表示器４２に表示された編集コンスタレーション４３ａのＩ―Ｑ座標上の原点Ｏに回転移動された各ベクトル３７を、各測定点３０に対応する理想点３３の原点間距離３４を識別可能に識別表示することも可能である。具体的には、各ベクトル３７が原点間距離３４順に色分け表示される。なお、この場合、測定データメモリ２３に記憶されている多数のシンボル位置における測定点３０を用いて色分け表示された各ベクトル３７からなる編集コンスタレーション４３ａとなる。
【００７０】
このように、原点に回転移動された各ベクトル３７を原点間距離３４順に色分け表示することにより、例えば、各ベクトル３７の大きさ（長さ）で示される変調誤差の大きい原因が、該当ベクトルの理想点３３がＩ―Ｑ座標上の原点Ｏから遠いからであるとの１つの判断材料を得ることができる。
【００７１】
図１０においては、表示器４２に、測定データメモリ２３から読出した、多数のシンボル位置（シンボルＮｏ．１５、１６、１７、１８）の編集コンスタレーション４３ｂと、測定一覧表４４とが表示されている。
【００７２】
編集コンスタレーション４３ｂにおいては、Ｉ−Ｑ座標上に、４つの理想点３３と、各理想点３３毎に、該当理想点３３に対応する複数の測定点３０が、それぞれ発生時刻順序（シンボルＮｏ）を識別可能とするために、編集部３８の色分編集処理部９が起動して、色分け表示される。
【００７３】
このように、複数の測定点３０を、発生時刻順序を示す色分表示することの技術的意味を図９（ａ）、（ｂ）を用いて説明する。例えば、図９（ａ）に示すように、各測定点３０が発生時刻順（１，２、３、４、５）のように矢印で示す周方向に並んだ場合は、この変調信号ａの搬送波周波数が規定周波数に対して一定量だけずれている可能性が高いことを示す。
【００７４】
また、図９（ｂ）に示すように、各測定点３０が周方向に発生時刻順に並んでいなくて（２、５、１，３，４）、ランダムの場合は、この変調信号ａに、雑音が混入していると判断できる。
【００７５】
このように、各シンボル位置における各測定点３０を、発生時刻順序が識別可能に表示することによって、変調誤差の原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【００７６】
図１２においては、表示器４２に、測定データメモリ２３から読出した、この変調信号ａの全てのシンボル位置（シンボルＮｏ．１〜ｎ）の編集コンスタレーション４３ｃと、測定一覧表４４とが表示されている。
【００７７】
編集コンスタレーション４３ｃにおいては、Ｉ−Ｑ座標上に、１６種類の各測定点３０（Ｍ1、Ｍ2、Ｍ3、Ｍ4、…、Ｍ15、Ｍ16）が、それぞれ自己が対応する図１１に示す１６個の理想点３３（Ｒ1、Ｒ2、Ｒ3、Ｒ4、…、Ｒ15、Ｒ16）の原点間距離３４（Ｌ1、Ｌ2、Ｌ3、Ｌ4、…、Ｌ15、Ｌ16）毎に色分表示される。
【００７８】
一般的に、図１１、図１６に示すように、Ｉ―Ｑ座標上で多くの理想点３３が存在する場合、原点０から遠い理想点３３に対応する測定点３０の誤差の大きさは、原点Ｏから近い理想点３３に対応する測定点３０の誤差の大きさに比較して、大きくなる傾向がある。したがって、図１２に示すように、理想点３３の原点間距離３４に応じて、各測定点３０を識別可能に表示することにより、変調誤差における原因究明の１つの判断材料を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の本発明の一実施形態に係わる変調信号解析装置の概略構成を示すブロック図
【図２】同実施形態に係わる変調信号解析装置の一部の構成を示すブロック図
【図３】同実施形態に係わる変調信号解析装置に設けられた測定データメモリの記憶内容を示す図
【図４】同実施形態に係わる変調信号解析装置の変調解析動作原理を説明するための図
【図５】同実施形態に係わる変調信号解析装置のベクトル平行移動を示す図
【図６】同実施形態に係わる変調信号解析装置の表示器に表示された変調信号の解析結果を示す図
【図７】同実施形態に係わる変調信号解析装置のベクトル回転移動を示す図
【図８】同実施形態に係わる変調信号解析装置の表示器に表示された変調信号の解析結果を示す図
【図９】同実施形態に係わる変調信号解析装置の測定点の発生時刻順序の識別表示の特徴を説明するための図
【図１０】同実施形態に係わる変調信号解析装置の表示器に表示された変調信号の解析結果を示す図
【図１１】同実施形態に係わる変調信号解析装置の原点間距離の算出法を示す図
【図１２】同実施形態に係わる変調信号解析装置の表示器に表示された変調信号の解析結果を示す図
【図１３】基地局と携帯電話との関係を示す図
【図１４】基地局の概略構成図
【図１５】変調信号におけるコンスタレーションに含まれる理想点の数を説明するための図
【図１６】同じく変調信号におけるコンスタレーションに含まれる理想点の数を説明するための図
【符号の説明】
【００８０】
１…基地局、２ａ〜２ｄ…携帯電話、３…変調部、４…コード拡散部、５…電力調整部、６…加算器、１０…入力処理部、１１…周波数変換部、１３…Ａ／Ｄ変換器、１４…直交復調部、１５…逆変換部、１６…シンボルデータメモリ、１７…シンボルデータ読出部、１８…コンスタレーション算出部、１９…信号レベル測定部、２０…周波数誤差算出部、２１…変調方式判定部、２２…理想点算出部、２３…測定データメモリ、２４…ＥＶＭ算出部、２５…位相誤差算出部、２６…原点オフセット算出部、２７…ベクトル平行移動算出部、２８…ベクトル回転移動算出部、３０…測定点、３１…コンスタレーション、３２…変調方式、３３…理想点、３４…原点間距離、３５，３６，３７…ベクトル、３８…編集部、４０…操作部、４１…表示制御部、４２…表示器、４３，４３ａ，４３ｂ，４３ｃ…編集コンスタレーション、４４…測定一覧、４５…円形座標
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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