(57)【要約】【課題】画質を優先すると補正時間が長くなり、場合によっては焼き付き補正自体が不可能になる。【解決手段】焼き付き補正速度調整装置に、（ａ）表示パネル全域の温度を可変する温度調整デバイスと、（ｂ）焼き付き補正動作と連動して表示パネル全域の温度を調整し、自発光表示素子の劣化率を焼き付き補正による劣化率以上に増減するパネル温度制御部とを搭載する。この機能の搭載により、同じ階調値による焼き付き補正動作でも、実質的な補正効果である補正速度を調整することができる。【選択図】図１３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネル全域の温度を可変する温度調整デバイスと、
焼き付き補正動作と連動して表示パネル全域の温度を調整し、自発光表示素子の劣化率を焼き付き補正による劣化率以上に増減するパネル温度制御部と
を有することを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記温度調整デバイスが空調ファンである場合、
前記パネル温度制御部は、前記空調ファンの回転速度を制御して表示パネル全域の温度を調整する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記温度調整デバイスが通風口の開閉機構である場合、
前記パネル温度制御部は、前記開閉機構により通風口を開閉制御して表示パネル全域の温度を調整する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記温度調整デバイスが通風口の口径調整機構である場合、
前記パネル温度制御部は、前記口径調整機構により通風口の口径を制御して表示パネル全域の温度を調整する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記温度調整デバイスが加熱器である場合、
前記パネル温度制御部は、前記加熱器の発熱量を制御して表示パネル全域の温度を調整する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項６】
請求項５に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記加熱器は、表示パネルの裏面全面を覆うように配置する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項７】
請求項５に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記加熱器は、使用態様での表示パネルの下端側に配置する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項８】
請求項５に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記加熱器は、表示パネルの外縁に沿って配置する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項９】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、温度検出部を通じて表示パネル全域の温度変化を監視し、表示パネル全域の温度が目標温度に遷移するように制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、累積劣化量差の最大値が閾値以上に拡大したとき、表示パネル全域の温度を上げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、累積劣化量差の最大値が閾値以下に縮小したとき、表示パネル全域の温度を下げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１２】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画面全体の画素数が一定の個数又は比率を超えたとき、表示パネル全域の温度を上げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１３】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画面全体の画素数が一定の個数又は比率を割り込んだとき、表示パネル全域の温度を下げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１４】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画素が特定の領域に集中して検出されるとき、表示パネル全域の温度を上げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１５】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画素が画面全体に分散して検出されるとき、表示パネル全域の温度を下げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１６】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、焼き付き補正動作の実行時には、表示パネル全域の温度を上げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１７】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、焼き付き補正動作の非実行時には、表示パネル全域の温度を下げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１８】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、自発光素子の劣化速度を加速する場合には、表示パネル全域の温度を上げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項１９】
請求項１に記載の焼き付き補正速度調整装置において、
前記パネル温度制御部は、自発光素子の劣化速度を減速する場合には、表示パネル全域の温度を下げるように前記温度調整デバイスを制御する
ことを特徴とする焼き付き補正速度調整装置。
【請求項２０】
自発光素子がマトリクス状に配置された表示デバイスと、
各画素とターゲット画素との間に発生する劣化量差を解消するように各画素に対応する階調値を補正する焼き付き補正部と、
表示パネル全域の温度を可変する温度調整デバイスと、
焼き付き補正動作と連動して表示パネル全域の温度を調整し、自発光表示素子の劣化率を焼き付き補正による劣化率以上に増減するパネル温度制御部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項２１】
自発光素子がマトリクス状に配置された表示デバイス全域の温度制御を実現するコンピュータプログラムであって、
焼き付き補正動作と連動して表示パネル全域の温度を調整し、自発光表示素子の劣化率を焼き付き補正による劣化率以上に増減する処理
をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、自発光表示装置における焼き付き補正の速度を調整する技術に関する。
発明者らが提案する発明は、焼き付き補正速度調整装置、自発光表示装置及びコンピュータプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイを構成する発光素子の発光輝度は、発光量と時間に比例して低下する特性がある。この発光輝度の低下は、発光特性の劣化が原因である。発光特性の劣化が進行すると、同じ駆動条件下でも輝度低下が次第に進行し、初期輝度を維持できなくなる。
このような発光特性の劣化は、自発光素子では避け得ない特性として知られている。すなわち、自発光素子における発光特性の劣化は進行するのみであり、発光特性の回復は未だ確認されていない。
【０００３】
ところで、実際の使用態様では、表示内容が一様でないこと等を原因として発光素子の劣化が部分的に進行し、周辺画素との劣化量差がある値以上に広がった領域で焼き付きと呼ばれる現象が確認される問題がある。
そこで、発生した焼き付きを目立たなくする仕組みが従来より提案されている。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に示す手法のように、焼き付き現象の解消を目的とする補正量の決定方法は、入力画像の画質を低下させる可能性がある。実際、補正量が大きい場合、比較的短時間で焼き付き現象を補正することができる。しかし、その場合は、入力画像の改変度合いも大きくなり、画質が低下する問題がある。
【０００５】
そこで、小さい補正量で焼き付き補正動作を実行することが考えられる。確かに、補正量が小さいと、入力画像の改変度合いも小さくなる。このため、画質の低下は知覚され難くなる。しかし、補正量が小さいと、補正時間が長くなるだけでなく、新たに発生する劣化量差を解消することさえできなくなる可能性がある。すなわち、焼き付き補正自体が不可能になる問題もある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
そこで、発明者らは、焼き付き補正時の画質と補正効果とを最適化できる仕組みとして、（ａ）表示パネル全域の温度を可変する温度調整デバイスと、（ｂ）焼き付き補正動作と連動して表示パネル全域の温度を調整し、自発光表示素子の劣化率を焼き付き補正による劣化率以上に増減するパネル温度制御部とを有する焼き付き補正速度調整装置を提案する。
【０００７】
この発明は、自発光表示素子の劣化速度が温度に応じて変化する特性に着目する。すなわち、使用時の温度が高い場合には、自発光表示素子の劣化速度が速くなり、使用時の温度が低い場合には、自発光表示素子の劣化速度が遅くなる特性に着目する。
この特性を利用すれば、焼き付き補正による補正効果以上に自発光表示素子の劣化速度を加速させたり、減速させることが可能になる。
【発明の効果】
【０００８】
発明者らの提案する焼き付き補正速度調整装置の採用により、同じ階調値で焼き付き補正動作を実行する場合にも、実質的な補正効果である補正速度を調整することができる。
この特性の利用により、画質の低下を最小限に留めながら累積劣化量差を短時間で解消させることができる。また、この特性の利用により、実際の劣化量差の拡大を抑制することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、発明に係る補正速度調整技術を採用する自発光装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【００１０】
（Ａ）形態例１
（Ａ−１）システム構成
図１に、有機ＥＬディスプレイ装置１の機能構成例を示す。
図１に示す有機ＥＬディスプレイ装置１は、有機ＥＬパネルモジュール３、焼き付き補正部５、温度センサー７、パネル温度把握部９、パネル温度制御部１１及び温度調整デバイス１３で構成される。
【００１１】
有機ＥＬパネルモジュール３は、３種類の基本原色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）で構成される表示上の１画素がマトリクス状に配置された表示デバイスである。個々の基本原色は、有機ＥＬ発光素子が発生する。有機ＥＬパネルモジュール３には、データ線駆動回路が搭載される他、画像処理回路その他の周辺回路が搭載される。この周辺回路の一つが焼き付き補正部５、パネル温度把握部９及びパネル温度制御部１１である。
【００１２】
焼き付き補正部５は、焼き付き現象の原因である画素間の累積劣化量差を解消するように入力階調値を補正する処理デバイスである。
この形態例の場合、焼き付き補正部５は、劣化量差算出部５０１、階調値／劣化率変換テーブル部５０３、累積劣化量差算出部５０５、累積劣化量差蓄積部５０７、補正量決定部５０９及び劣化量差補正部５１１で構成する。
【００１３】
劣化量差算出部５０１は、各画素とターゲット画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。劣化量の算出方法には、既知の手法も含めて様々な手法が存在する。例えば、入力階調値の積算値を劣化量として用いる方法がある。この方法は、階調値と劣化率（単位時間当たりの劣化量）との間に線形関係が常に成立する場合に有効である。
【００１４】
ただし、有機ＥＬ発光素子の劣化率は、階調値と劣化率との間に非線形の関係が成り立つことが知られている。加えて、この対応関係は、有機ＥＬ発光素子を駆動する際の温度によって変化することが知られている。
図２に、有機ＥＬ発光素子が有する劣化率の温度依存特性を模式的に示す。図２に示すように、有機ＥＬ発光素子は、温度が高いほど輝度劣化が速く進行する特性がある。  
【００１５】
図３に、劣化率の違いが長期的な発光輝度に与える影響を模式的に示す。図３は、有機ＥＬ発光素子を３０℃で継続的に発光する場合と４５℃で継続的に発光する場合における輝度特性の変化を表している。なお、有機ＥＬ発光素子は、１００％階調値で発光制御する場合を想定する。
【００１６】
図３に示すように、有機ＥＬ発光素子を３０℃で継続的に発光する場合と４５℃で継続的に発光する場合とを比べると、４５℃で継続的に発光させる方が輝度低下が早く進行する。
ところで、劣化速度は、材料や構造に依存することが知られている。従って、使用する有機ＥＬパネルモジュール３の構造により劣化率の温度依存性は異なるものとなる。
【００１７】
そこで、この形態例では、使用する有機ＥＬパネルモジュール３に固有の劣化特性を、事前の実験により把握し、階調値／劣化率変換テーブル部５０３に格納する。
ただし、あらゆる温度について階調値と劣化率との対応関係を格納したのでは記憶容量が非常に大きくなる。
【００１８】
そこで、この形態例では、ある基準温度で有機ＥＬパネルモジュール３を発光制御する場合に測定した階調値と劣化率との対応関係のみを格納し、使用温度に応じて温度係数αを乗算することにより対応関係を修正する手法を採用する。
図４（Ａ）に、階調値／劣化率変換テーブル部５０３に格納する基本の対応関係を示す。
【００１９】
図４（Ｂ）は、温度係数αによる調整後の対応関係である。温度係数αも事前の実験により確定する。因みに、使用温度が基準温度より高い場合、温度係数αには１以上の値を乗算する。一方、使用温度が基準温度より低い場合、温度係数αには１以下の値を乗算する。温度係数αは、階調値／劣化率変換テーブル部５０３内の記憶領域に格納されている。
【００２０】
対応関係の調整に必要なパネル温度は、パネル温度把握部９より階調値／劣化率変換テーブル部５０３に与えられる。
前述した温度に応じた対応関係の調整動作は、階調値／劣化率変換テーブル部５０３が実行する。
【００２１】
劣化量差算出部５０１は、調整後の対応関係に基づいて各画素とターゲット画素の階調値をそれぞれ劣化率に変換し、その劣化量差を算出する。
この形態例の場合、ターゲット画素は、全画素に対応する階調値のフレーム平均値で発光する仮想の画素を想定する。
【００２２】
累積劣化量差算出部５０５は、画素毎に算出されたターゲット画素に対する劣化量差を積算し、累積劣化量差を算出する処理デバイスである。累積劣化量差が正値であることは、該当画素の劣化がターゲット画素よりも進んでいることを示す。一方、累積劣化量差が負値であることは、該当画素の劣化がターゲット画素よりも遅れていることを示す。
【００２３】
累積劣化量差蓄積部５０７は、算出された最新の累積劣化量差を画素毎に蓄積する記憶領域又は記憶デバイスである。この累積劣化量差は、補正量決定部５０９に与えられる他、パネル温度制御部１１にも与えられる。
補正量決定部５０９は、各画素に対応する累積劣化量差に応じた補正量を決定する処理デバイスである。
【００２４】
補正量決定部５０９は、例えば将来期間に発生する各画素の劣化量とターゲット画素の劣化量とを予測し、ある時点における累積劣化量差を当該将来期間に解消するのに必要な補正値を算出する処理を実行する。
【００２５】
この補正量の算出手法についても既知の手法を利用できる。なお、算出される補正値は、ターゲット画素と各画素との間に発生した劣化量差の縮小を最優先とする。
劣化量差補正部５１１は、入力画像の階調値を、画素毎に算出された補正量で補正する処理デバイスである。
【００２６】
例えばターゲット画素に対して劣化が進んでいる場合、劣化量差補正部５１１は、対応画素の階調を下げるように（暗くするように）補正する。一方、ターゲット画素に対して劣化が遅れている場合、劣化量差補正部５１１は、対応画素の階調を上げるように（明るくするように）補正する。
【００２７】
温度センサー７は、有機ＥＬパネルモジュー全域の平均発熱温度を検出するセンサーデバイスである。温度センサー７は、例えばサーミスタセンサーを使用する。
なお、温度センサー７の取り付け位置は、監視対象とする温度を検出できる限り任意の位置に配置できる。もっとも、温度センサー７の配置位置は、パネルサイズの大きさの影響を受ける場合がある。
【００２８】
図５は、パネルサイズが小さい場合に好適な配置位置を斜線表示により示す。なお、実線又は破線で囲まれた中央部分の領域が発光領域に対応する。パネルサイズが小さい場合は、図５（Ａ）に示すように有機ＥＬパネルモジュール３の額部でも、図５（Ｂ）に示すように有機ＥＬパネルモジュール３の背部全域のいずれでも良い。
【００２９】
図６は、パネルサイズが大きい場合に好適な配置位置を斜線表示により示す。パネルサイズが大きい場合は、面内に温度差が発生し易い。なお、パネルサイズが大きい場合、表示面は一般に設置面に対して立ち上がった状態で使用される。
このため、熱は対流により表示面の上方に溜まり易くなる。結果的に、表示面の下端温度が最も低くなる。また、有機ＥＬパネルモジュール３の温度は、表示面の下端から上方に沿って上昇し、一定距離以上になるとほぼ一定温度になる。
【００３０】
従って、パネルサイズが大きい場合には、図６（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、表示面の大部分を占めると共に高温状態で安定するパネル上面部分に配置する。
もっとも、図７（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、表示面の上部と下部の２箇所に配置し、その平均値を有機ＥＬパネルモジュール全体の平均温度として検出することも可能である。
【００３１】
パネル温度把握部９は、温度センサー７の検出結果（電圧情報等）を通じて有機ＥＬパネルモジュール全体の平均温度を把握する処理デバイスである。把握された温度情報は、階調値／劣化率変換テーブル部５０３とパネル温度制御部１１に与えられる。
パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている累積劣化量差と検出された温度情報とに基づいて温度調整デバイス１３を制御する処理デバイスである。
【００３２】
この形態例の場合、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差の最大値が閾値Ａ以上に拡大した場合には、表示パネル全域の温度を上げるように温度調整デバイス１３を制御し、累積劣化量差の最大値が閾値Ｂ（閾値Ａより小さい）以下に縮小した場合には、表示パネル全域の温度を下げるように温度調整デバイス１３を制御する。
なお、制御時の判定基準に用いる２つの閾値は、温度変化による補正速度の調整効果に応じて最適な値を決定する。
【００３３】
この形態例の場合、パネル温度制御部１１は、有機ＥＬパネルモジュール３の設定温度を３０℃から４５℃の範囲で制御するものとする。
図８（Ａ）に、有機ＥＬパネルモジュール３の設定温度が３０℃の場合を示し、図８（Ｂ）に、有機ＥＬパネルモジュール３の設定温度が４５℃の場合を示す。
図８（Ｂ）に示すように設定温度が上がると、同じ階調値でも輝度劣化の進行度合いの幅が拡大する。
【００３４】
なお、パネル温度制御部１１による温度調整デバイス１３の制御内容は、温度調整デバイス１３に応じて最適な手法を採用する。
この形態例の場合、温度調整デバイス１３には、過熱ヒーターを搭載する。
図９に、パネルサイズが小さい場合に好適な過熱ヒーターの配置位置を斜線表示により示す。この場合も、実線又は破線で囲まれた中央部分の領域が発光領域に対応する。パネルサイズが小さい場合は、図９（Ａ）に示すように有機ＥＬパネルモジュール３の額部や図９（Ｂ）に示すように有機ＥＬパネルモジュール３の背部全域に配置する。
【００３５】
図１０（Ａ）及び（Ｂ）に、パネルサイズが大きい場合に好適な加熱ヒーターの配置位置を斜線表示により示す。温度センサー７で説明したように、パネルサイズが大きい場合、表示面は設置面に対して立ち上がった状態で使用される。
このため、図１０に示すように、表示面の下部に過熱ヒーターを配置することで効率的に画面全体を暖めることが可能になる。
【００３６】
（Ａ−２）焼き付き補正動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１における表示動作とこれに伴う焼き付き補正動作を説明する。
情報処理装置やチューナー等より入力される入力画像データ（階調値）は、劣化量差補正部５１１に入力される。劣化量差補正部５１１は、補正量決定部５０９より与えられる補正量に基づいて各画素の階調値を増減し、有機ＥＬパネルモジュール３に出力する。この結果、有機ＥＬパネルモジュール３は、補正後の画像データに対応する画像を画面上に表示する。
【００３７】
この際における有機ＥＬパネルモジュール３のパネル温度は、パネル温度把握部９で把握され、階調値／劣化率変換テーブル部５０３とパネル温度制御部１１に与えられる。
有機ＥＬ発光素子の劣化特性は温度依存性を有する。このため、階調値／劣化率変換テーブル部５０３は、検出温度について予め格納されている温度係数αを用い、基準温度についての階調値と劣化率との対応関係テーブルを修正する。
【００３８】
この結果、劣化量差算出部５０１でフレーム毎に算出される劣化量差は、有機ＥＬ発光素子の実際の劣化状態を反映した値になる。
この劣化量差が累積劣化量差蓄積部５０７に積算される。累積劣化量差は、各画素のターゲット画素に対する劣化状態を正確に表している。
補正量決定部５０９は、この累積劣化量差に基づいて補正の実行の有無及び各フレームで使用する補正量の決定処理を実行する。
【００３９】
この焼き付き補正動作と連携して、パネル温度制御部１１は、現在のパネル温度と画素間の劣化状態に関する情報とに基づいてパネル温度を決定する制御動作を実行する。
図１１に、パネル温度制御部１１が補正速度を加速する場合の動作手順を示す。
まず、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７との通信により、累積劣化量差の最大値を検出する（Ｓ１）。
【００４０】
次に、パネル温度制御部１１は、この最大値が閾値Ａより大きいか否かを判定する（Ｓ２）。ここでの閾値Ａは、焼き付き現象の視認性を考慮して決定する。
最大値が閾値Ａより大きい場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ３）。この形態例の場合、温度調整デバイス１３は加熱ヒーターであるので、パネル温度制御部１１は加熱ヒーターへの通電を許可する動作を実行する。通電量は固定でも良いし、温度等に応じて可変制御しても良い。
【００４１】
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ４）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように加熱ヒーターへの通電を許可する動作を実行する。
【００４２】
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の上昇を停止する。
なお、処理Ｓ２で最大値が閾値Ａより小さいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
【００４３】
図１２に、パネル温度制御部１１が劣化量差の発生を抑制する場合の動作手順を示す。
この場合も、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７との通信により、累積劣化量差の最大値を検出する（Ｓ１１）。
【００４４】
次に、パネル温度制御部１１は、この最大値が閾値Ｂより大きいか否かを判定する（Ｓ１２）。この形態例の場合、閾値Ｂは、閾値Ａより小さい値に設定する。２種類の閾値を使用する理由は、累積劣化量差が小さい間はできるだけ劣化量差が発生しないようにパネル温度を管理した方がパネル寿命を延ばす上でも有利だからである。もっとも、閾値ＡとＢは同じでも良い。
【００４５】
処理Ｓ１２で最大値が閾値Ｂより小さいと判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ１３）。この形態例の場合、温度調整デバイス１３は加熱ヒーターであるので、加熱ヒーターに対する通電を停止する動作を実行する。また、積極的な制御として、温度調整デバイス１３の一つである空冷ファンの回転数を上げる等して積極的に廃熱し、表示パネルの温度を低下させる動作を実行する。
【００４６】
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ１４）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
【００４７】
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、現在の制御動作を終了する。
なお、処理Ｓ１２で最大値が閾値Ｂより大きいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
【００４８】
図１３及び図１４に、この温度調整機能の実行による発光輝度特性の推移を説明する。図１３は、ターゲット画素に対して補正対象画素の劣化が進んでいる場合の推移例である。一方、図１４は、ターゲット画素に対して補正対象画素の劣化が遅れている場合の推移例である。
【００４９】
図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）に示すように、パネル温度を調整しない場合には、焼き付き補正による画質の低下が大きくなりすぎないように補正量を小さくする必要があり、長い補正時間が必要になる。
一方、温度制御が可能なこの形態例では、図１３（Ｂ）に示すように、補正対象画素の劣化がターゲット画素より進んでいる場合には、パネル温度を上げた状態で補正対象画素の劣化率をターゲット画素の劣化率より低くなるように階調値を補正する。
【００５０】
この結果、補正対象画素の劣化速度に比してターゲット画素の劣化速度が加速的に進行し、パネル温度を制御しない場合に比して補正時間を大幅に短縮できる。
また、図１４（Ｂ）に示すように、補正対象画素の劣化がターゲット画素より遅れている場合には、パネル温度を上げた状態で補正対象画素の劣化率をターゲット画素の劣化率より大きくなるように階調値を補正する。
【００５１】
この結果、ターゲット画素の劣化速度に比して補正対象画素の劣化速度が加速的に進行し、パネル温度を制御しない場合に比して補正時間を大幅に短縮できる。
なお、いずれの場合も、画素間の累積劣化量差が縮小した時点でパネル温度を下げる動作が実行され、劣化速度の加速による新たな焼き付きの発生や寿命の短縮を回避する。
【００５２】
（Ａ−３）効果
以上説明したように、この形態例で説明したシステム構成の採用により、焼き付き補正動作を実行しない又は累積劣化量差が十分小さい場合には、表示パネルの温度を通常使用温度と同じかそれ以下になるように制御することで、画素間で発生する有機ＥＬ発光素子間の劣化量差を抑制することができる。
【００５３】
その一方で、累積劣化量差が大きくなった場合には、表示パネルの温度を通常使用温度よりも上げるように制御することで、補正量は小さくても補正効果を最大化して短時間のうちに累積劣化量差を縮小することができる。
結果的に、焼き付き現象が発生したとしても短時間のうちに焼き付きが見えないように制御できる。
【００５４】
勿論、焼き付き補正に必要な補正量自体を小さくしても、補正量が大きい場合と同じ補正効果を得ることができるため、画質の低下を最小化できる。また、仮に画質の低下が発生する場合にも補正時間が短く済む。このため、ユーザーが画質の低下を認識する時間を短縮することができる。
また、このパネル温度調整機能を用いれば、ユーザーが視聴していない空き時間を積極的に利用して焼き付きを解消することもできる。
【００５５】
また、空冷ファンによる表示パネルの温度低下機能を積極的に利用すれば、累積劣化量差が未だ小さい時点等では、表示内容に比して画素間の累積劣化量差の拡大を効果的に抑制することができる。
勿論、輝度低下の速度も遅くなるので、有機ＥＬディスプレイ装置１の発光寿命を延ばす効果も期待できる。
【００５６】
また、この形態例においては、パネル温度を検出して階調値／劣化率変換テーブルの対応関係を調整することができる。これにより、画素間の累積劣化量差の見積もり精度を向上させることができる。
また、累積劣化量差の見積もり精度の向上は、焼き付き補正の精度を向上させる効果も期待できる。
【００５７】
（Ｂ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、累積劣化量差の最大値と閾値Ａ又は閾値Ｂとの大小関係に基づいてパネル温度を調整する場合について説明した。
しかし、パネル温度制御部１１は、他の判定基準を用いてパネル温度を制御しても良い。
例えば、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画面全体の画素数に基づいてパネル温度を制御しても良い。
【００５８】
図１５及び図１６に、この判定基準に対応した動作手順例を示す。
まず、図１５に基づいて、パネル温度を上げる場合の動作手順を説明する。
この場合、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている各画素の累積劣化量差と閾値Ｃとを比較し、閾値Ｃを超える画素数をカウントする（Ｓ２１）。
【００５９】
この閾値Ｃは、前述した形態例で用いた閾値Ａと同じ値を用いても良い。基本的には、焼き付き補正の実行を必要とする画素を発見することを目的とするため、比較的大きな値を使用する。
次に、パネル温度制御部１１は、カウント値が閾値Ｄより大きいか否かを判定する（Ｓ２２）。
【００６０】
ここでの閾値Ｄは、焼き付き現象の視認性を考慮して決定する。ここでは、累積劣化量差の大きい画素数が多いと焼き付きが目立ちやすいとの想定の下に、閾値Ｄを最適な値を設定する。
処理Ｓ２２でカウント値が閾値Ｄより大きいと判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ２３）。
【００６１】
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ２４）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように動作する。
【００６２】
一方、目標温度に達したと判定された場合、パネル温度制御部１１は、温度の上昇動作を停止する。
なお、処理Ｓ２２でカウント値が閾値Ｃより小さいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
【００６３】
図１６に、パネル温度を下げる場合の動作手順を説明する。
この場合も、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている各画素の累積劣化量差と閾値Ｃとを比較し、閾値を超える画素数をカウントする（Ｓ３１）。
【００６４】
次に、パネル温度制御部１１は、カウント値が閾値Ｅより大きいか否かを判定する（Ｓ３２）。この形態例の場合、閾値Ｅは、閾値Ｄより小さい値に設定する。閾値Ｅを閾値Ｄより小さくするのは、累積劣化量差が拡大した画素数が少ない場合に限ってパネル温度を低下させるためである。もっとも、閾値ＤとＥは同じでも良い。
【００６５】
処理Ｓ３２でカウント値が閾値Ｅより小さいと判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ３３）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ３４）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
【００６６】
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の低下動作を停止する。
なお、処理Ｓ３３でカウント値が閾値Ｅより大きいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
このような制御手法を採用する場合にも、前述した形態例と同様の補正効果を実現できる。
【００６７】
（ｂ）前述の形態例では、累積劣化量差の最大値と閾値Ａ又は閾値Ｂとの大小関係に基づいてパネル温度を調整する場合について説明した。
しかし、パネル温度制御部１１は、他の判定基準を用いてパネル温度を制御しても良い。
例えば、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画素の比率に基づいてパネル温度を制御しても良い。
【００６８】
図１７及び図１８に、この判定基準に対応した動作手順例を示す。
まず、図１７に基づいて、パネル温度を上げる場合の動作手順を説明する。
この場合、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている各画素の累積劣化量差と閾値Ｃとを比較し、閾値Ｃを超える画素が全画素に占める比率を計測する（Ｓ４１）。
【００６９】
次に、パネル温度制御部１１は、得られた比率が閾値Ｆより大きいか否かを判定する（Ｓ４２）。
ここでの閾値Ｆは、焼き付き現象の視認性を考慮して決定する。ここでは、累積劣化量差の大きい画素が全画素に占める比率が一定以上になると焼き付きが目立ちやすいとの想定の下に、閾値Ｆを最適な値を設定する。
【００７０】
処理Ｓ４２で比率が閾値Ｆより大きいと判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ４３）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ４４）。
【００７１】
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように動作する。
一方、目標温度に達したと判定された場合、パネル温度制御部１１は、温度の上昇動作を停止する。
【００７２】
なお、処理Ｓ４２でカウント値が閾値Ｆより小さいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
図１８に、パネル温度を下げる場合の動作手順を説明する。
【００７３】
この場合も、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている各画素の累積劣化量差と閾値Ｃとを比較し、閾値Ｃを超える画素が全画素に占める比率を計測する（Ｓ５１）。
【００７４】
次に、パネル温度制御部１１は、得られた比率が閾値Ｇより大きいか否かを判定する（Ｓ５２）。この形態例の場合、閾値Ｇは、閾値Ｆより小さい値に設定する。閾値Ｇを閾値Ｆより小さくするのは、累積劣化量差が拡大した画素の比率が少ない場合に限ってパネル温度を低下させるためである。もっとも、閾値ＧとＦは同じでも良い。
【００７５】
処理Ｓ５２で比率が閾値Ｇより小さいと判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ５３）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ５４）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
【００７６】
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の低下動作を停止する。
なお、処理Ｓ５３で比率が閾値Ｇより大きいと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、格別な温度制御は実行せず、現時点の制御を維持する。
このような制御手法を採用する場合にも、前述した形態例と同様の補正効果を実現できる。
【００７７】
（ｃ）前述の形態例では、累積劣化量差の最大値と閾値Ａ又は閾値Ｂとの大小関係に基づいてパネル温度を調整する場合について説明した。
しかし、パネル温度制御部１１は、他の判定基準を用いてパネル温度を制御しても良い。
例えば、閾値以上に累積劣化量差が拡大した画素が特定の領域に集中しているか否か基づいてパネル温度を制御しても良い。
【００７８】
図１９に、この判定基準に対応した動作手順例を示す。
この場合、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７に蓄積されている各画素の累積劣化量差と閾値Ｃとを比較し、閾値Ｃを超える画素の分布を検出する（Ｓ６１）。例えば画素単位のアドレスや画面上に仮想的に想定したブロック領域として分布状況を検出する。
【００７９】
次に、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差の大きい画素の分布が特定の領域に集中しているか否かを判定する（Ｓ６２）。この判定処理には、該当画素間の距離と数を基準に実行する方法や仮想的に想定したブロック領域内の該当画素数で実行する方法がある。
なお、この判定基準を採用する理由は、周囲との累積劣化量差の大きい画素が特定の領域に集中する場合に焼き付きが目立ちやすいと想定されるためである。
【００８０】
処理Ｓ６２で特定の領域に集中していると判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ６３）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ６４）。
【００８１】
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように動作する。
一方、目標温度に達したと判定された場合、パネル温度制御部１１は、温度の上昇動作を停止する。
【００８２】
なお、処理Ｓ６２で累積劣化量差の大きい画素が特定の領域に集中していないと判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、劣化量差の発生を抑制すべき段階であると判定し、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ６５）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ６６）。
【００８３】
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の低下動作を停止する。
このような制御手法を採用する場合にも、前述した形態例と同様の補正効果を実現できる。
【００８４】
（ｄ）前述の形態例では、累積劣化量差の大きさに基づいてパネル温度を調整する場合について説明した。
しかし、パネル温度制御部１１は、他の判定基準を用いてパネル温度を制御しても良い。
例えば、補正決定部５０９の補正動作情報に基づいてパネル温度を制御しても良い。
【００８５】
図２０に、この判定基準に対応する有機ＥＬディスプレイ装置１０１の機能構成例を示す。図２０は、図１との対応部分に同一符号を付して示す。図２０と図１との違いは、パネル温度制御部１１が補正決定部５０９から温度制御に必要な情報を入手する点である。
図２１に、この判定基準に対応した動作手順例を示す。
【００８６】
この場合、パネル温度制御部１１は、補正決定部５０９との通信を通じて現在の補正動作状態を検出する（Ｓ７１）。すなわち、補正動作中か補正無し期間中であるかを検出する。
次に、パネル温度制御部１１は、現在の動作状態が補正動作中か否かを判定する（Ｓ７２）。
【００８７】
処理Ｓ７２で補正動作中と判定された場合（肯定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ７３）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ７４）。
【００８８】
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように動作する。
一方、目標温度に達したと判定された場合、パネル温度制御部１１は、温度の上昇動作を停止する。
【００８９】
なお、処理Ｓ７２で補正無し期間と判定された場合（否定結果の場合）、パネル温度制御部１１は、劣化量差の発生を抑制すべき段階であると判定し、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ７５）。
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ７６）。
【００９０】
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の低下動作を停止する。
このような制御手法を採用する場合、補正動作との連携を高めることができる。勿論、前述した形態例と同様の補正効果を実現できる。
【００９１】
（ｅ）前述の形態例では、累積劣化量差の大きさや補正動作の実行状況に基づいて、パネル温度を個別に調整する場合について説明した。
しかし、パネル温度制御部１１は、他の判定基準を用いてパネル温度を制御しても良い。
例えば、累積劣化量差の大きさと補正決定部５０９の補正動作情報の両方に基づいて劣化速度を加速すべき状況であるか否かを判断してパネル温度を制御しても良い。
【００９２】
図２２に、この判定基準に対応する有機ＥＬディスプレイ装置２０１の機能構成例を示す。図２２は、図１との対応部分に同一符号を付して示す。図２０と図１との違いは、パネル温度制御部１１が累積劣化量差蓄積部５０７と補正決定部５０９の両方から温度制御に必要な情報を入手する点である。
【００９３】
図２３に、この判定基準に対応した動作手順例を示す。
この場合、パネル温度制御部１１は、補正決定部５０９との通信を通じて現在の補正動作状態を検出する（Ｓ８１）。すなわち、補正動作中か補正無し期間であるかを検出する。
また、パネル温度制御部１１は、累積劣化量差蓄積部５０７との通信を通じて各画素の累積劣化量差を取得する（Ｓ８２）。
【００９４】
これらの情報に基づいて、パネル温度制御部１１は、劣化速度の加速が必要か否かを判定する（Ｓ８３）。例えば補正動作中であって累積劣化量差が大きい画素が多い場合、パネル温度制御部１１は、劣化速度の加速が必要であると判定する。
この場合、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を上げる制御を実行する（Ｓ８４）。
【００９５】
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ８５）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を上げるように動作する。
一方、目標温度に達したと判定された場合、パネル温度制御部１１は、温度の上昇動作を停止する。
【００９６】
なお、処理Ｓ８３において否定結果が得られた場合、例えば補正動作中であって累積劣化量差が全体的に小さい多い場合、パネル温度制御部１１は、劣化速度を減速すべきであると判定する。
この場合、パネル温度制御部１１は、温度調整デバイス１３を通じてパネル温度を下げる制御を実行する（Ｓ８６）。
【００９７】
この後、パネル温度制御部１１は、パネル温度把握部９で把握されたパネル温度が目標温度に達したか否かを判定する（Ｓ８７）。
このとき、目標温度に達していないと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、引き続き温度を下げるように、引き続き空冷ファンの回転数を高い状態に維持する。
一方、目標温度に達したと判定された場合には、パネル温度制御部１１は、温度の低下動作を停止する。
このような制御手法を採用する場合、補正動作との連携度合いを高め、焼き付き補正動作の精度を向上させることができる。
【００９８】
（ｆ）前述の形態例では、階調値／劣化率変換テーブル部５０３に格納した１種類の対応テーブルをパネル温度に応じた温度係数αで修正する場合について説明した。
しかし、階調値／劣化率変換テーブル部５０３には、各パネル温度に対応する複数種類の対応テーブルを用意しても良い。
また例えば、パネル温度把握部９による温度管理の最大値と最初値に対応する２種類の対応テーブルを良いし、中間温度の対応関係は補間演算により求める手法を採用しても良い。図２４（Ａ）に低温用の対応関係テーブルを示し、図２４（Ｂ）に高温用の対応関係テーブルを示す。
【００９９】
（ｇ）前述の形態例では、パネル温度を上げる場合に過熱ヒーターに通電し、パネル温度を下げる場合には冷却ファンの回転数を上げる場合について説明した。
しかし、これ以外の方法でパネル温度を調整しても良い。
例えば加熱ヒーターの通電制御だけでパネル温度を調整しても良い。この場合、パネル温度の低下は自然な放熱を利用する。
【０１００】
また例えば冷却ファンの回転数を制御するだけでパネル温度を調整しても良い。この場合、パネル温度の上昇は、冷却ファンの回転数の低下又は停止により実行する。
また例えば、放熱用に設けられている通風口の開閉や口径の制御を通じてパネル温度を調整しても良い。
【０１０１】
この場合、通風口の近辺に開閉板、シャッターその他の開閉機構やスライダーその他の口径調整機構を配置する。なお、これらの機構は排気側の通風口に設けるのが効果的である。
またこの場合、パネル温度を上げる場合には、通風量を下げるような制御を実行する。一方、パネル温度を下げる場合には、通風量を上げるような制御を実行する。
【０１０２】
（ｈ）前述の形態例では、パネル温度を３０℃〜４５℃の範囲で可変する場合について説明した。
しかし、パネル温度は、有機ＥＬディスプレイ装置を配置する環境温度により上下する。なお、室温以下には温度を下げることはできないので、パネル温度の調整範囲は室温を基準に設定する。例えば２０℃〜５０℃の範囲で使用する。また例えば、２０℃〜４０℃の範囲で使用する。
（ｉ）前述の形態例では、基本原色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本原色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。
（ｊ）前述の形態例では、基本原色の発色形態について説明しなかったが、基本原色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ発光素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本原色を生成しても良い。
【０１０３】
（ｋ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、自発光表示素子の輝度劣化がパネル温度に依存する限り他の自発光表示装置にも適用できる。例えば無機ＥＬディスプレイパネルやＬＥＤパネルにも適用できる。
【０１０４】
（ｌ）前述の形態例では、焼き付き補正動作に連携してパネル温度を調整する機能を有機ＥＬディスプレイに搭載する場合について説明した。
しかし、このパネル温度調整機能は、自発光表示装置を搭載又は制御する様々な電子機器に搭載できる。
【０１０５】
例えば、コンピュータ、印刷装置、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゲーム機器、携帯情報端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型ゲーム機、電子書籍等）、時計、画像再生装置（例えば、光ディスク装置、ホームサーバー）に搭載できる。
【０１０６】
なお、いずれの電子機器の場合にも、筐体と、信号処理部（ＭＰＵ）と、外部インターフェースとを共通構成とし、商品形態に応じた周辺装置が組み合わされて構成される。
例えば、携帯電話機その他の通信機能を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、送受信回路やアンテナを有する。
【０１０７】
図２５（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器１００１は、信号処理部１００３、操作部１００５、通信部１００７、表示パネル１００９で構成する。
【０１０８】
また例えば、ゲーム機や電子書籍その他の記憶媒体を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、記憶媒体の駆動回路等を有する。図２５（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器１１０１は、信号処理部１１０３、操作部１１０５、媒体駆動部１１０７、表示パネル１１０９で構成する。
【０１０９】
また例えば、印刷装置であれば、前述の構成に加え、印刷ユニットを搭載する。印刷ユニットは、印刷方式に応じて最適なものを搭載する。印刷方式には、例えばレーザー方式、インクジェット方式その他がある。図２６（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。
【０１１０】
この例の場合、電子機器１２０１は、信号処理部１２０３、操作部１２０５、印刷ユニット１２０７、表示パネル１２０９で構成する。
また例えば、ビデオカメラやデジタルカメラであれば、前述の構成に加え、カメラユニットや撮像された映像データを記憶媒体に保存するための書き込み回路を搭載する。
【０１１１】
図２６（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。
この例の場合、電子機器１３０１は、信号処理部１３０３、操作部１３０５、撮像部１３０７、表示パネル１３０９で構成する。
【０１１２】
（ｍ）前述の形態例では、パネル温度の調整機能を機能的な側面から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
【０１１３】
（ｎ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【０１１４】
【図１】有機ＥＬディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。
【図２】有機ＥＬ発光素子における劣化率の温度依存特性を説明する図である。
【図３】有機ＥＬ発光素子における輝度低下の温度依存特性を説明する図である。
【図４】パネル温度に応じた階調値／劣化率対応テーブルの生成原理を説明する図である。
【図５】パネルサイズが小さい場合に適した温度センサーの搭載位置を示す図である。
【図６】パネルサイズが大きい場合に適した温度センサーの搭載位置を示す図である。
【図７】パネルサイズが大きい場合に適した温度センサーの搭載位置を示す図である。
【図８】パネル温度の上昇による輝度低下の加速を説明する図である。
【図９】パネルサイズが小さい場合に適した過熱ヒーターの配置位置を示す図である。
【図１０】パネルサイズが大きい場合に適した過熱ヒーターの配置位置を示す図である。。
【図１１】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１２】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１３】パネル温度を上げることによる補正期間の短縮を説明する図である。
【図１４】パネル温度を上げることによる補正期間の短縮を説明する図である。
【図１５】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１６】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１７】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１８】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図１９】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図２０】有機ＥＬディスプレイ装置の他の機能構成例を示す図である。
【図２１】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図２２】有機ＥＬディスプレイ装置の他の機能構成例を示す図である。
【図２３】パネル温度の制御動作例を示す図である。
【図２４】階調値／劣化率対応テーブルの搭載例を説明する図である。
【図２５】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【図２６】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【符号の説明】
【０１１５】
３          有機ＥＬパネルモジュール３
５          焼き付き補正部
７          温度センサー
９          パネル温度把握部
１１        パネル温度制御部
１３        温度調整デバイス
５０１      劣化量差算出部
５０３      階調値／劣化率変換テーブル部
５０５      累積劣化量差算出部
５０７      累積劣化量差蓄積部
５０９      補正量決定部
５１１      劣化量差補正部
【図１】
2007287971.tif 000003
【図２】
2007287971.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2007287971.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
2007287971.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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