(57)【要約】【課題】再生品質を向上することができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスクの情報記録面を同心円状の複数の領域（ゾーン）に分け、ＣＡＶ再生前に予めユーザ操作に従い各ゾーンごとの再生パワーをメモリ５に格納する。ＣＡＶ再生中にゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワー切り替え部７がその切り替わったゾーンの再生パワーをメモリ５から読み出し、再生パワーを切り替える。このように各ゾーンごとに再生パワーに切り替えてＣＡＶ再生を行う。【選択図】図１
2007134003.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転速度一定で、複数のゾーンに分けて再生する光ディスク装置であって、
各ゾーンごとの再生パワーを記憶する再生パワー記憶手段と、
ゾーンの切り替わりを判定するゾーン確認手段と、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーの情報を基に再生パワーを切り替える再生パワー切り替え手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
再生前に各ゾーンのジッタ値を測定して、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理を行いその判定結果を記憶するゾーン判定手段を具備し、
前記再生パワー切り替え手段は、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーの切り替えを実行する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、
前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理をスキップさせる実行判断手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
再生前に再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項４もしくは５のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、
前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、再生パワーを学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶し、
前記実行判断手段は、再生パワーを学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、
前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶し、
前記実行判断手段は、再生パワーを学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項１または２または４または５または７または８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して線形補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する線形補間手段を具備し、
前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項３または６または９または１０のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して線形補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する線形補間手段を具備し、
前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行い、
前記実行判断手段は、線形補間処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
請求項１または２または４または５または７または８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する最小二乗法補間手段を具備し、
前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行う、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
請求項３または６または９または１０のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する最小二乗法補間手段を具備し、
前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行い、
前記実行判断手段は、最小二乗法による補間処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
請求項１５もしくは１６のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、
前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、高周波信号の振幅値を学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１８】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、を具備し、
前記実行判断手段は、高周波信号の振幅値を学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２１】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、を具備し、
前記実行判断手段は、高周波信号の振幅値を学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２２】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２３】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２４】
請求項２２もしくは２３のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、
前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、高周波信号の周波数を学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２５】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２６】
請求項２記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２７】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、を具備し、
前記実行判断手段は、高周波信号の周波数を学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２８】
請求項３記載の光ディスク装置であって、
レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、
再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、を具備し、
前記実行判断手段は、高周波信号の周波数を学習する処理もスキップさせる、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）等に代表される光ディスクをＣＡＶ再生する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
今日、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクが、映像情報や音声情報その他の様々な形式の情報を保存する記録媒体として主流となっている。その理由として、光ディスクは高密度な記録が可能であり、また所望のデータへ高速にアクセスできることなどが挙げられる。
【０００３】
再生専用の光ディスクには、ピットと呼ばれる凹凸が、光ディスク基板上に形成される螺旋状または同心円状のトラック上に形成されており、光ディスク装置は、そのトラックに沿ってレーザダイオードから発光されるレーザ光を追従させ、ピットからの反射光をフォトダイオードにて検出し、その反射光の強度に応じて光ディスクに記録されている情報を読み取っている。
【０００４】
また、記録型の光ディスクは反射層と記録層により構成されており、光ディスク装置は、高いレーザパワーのレーザ光を照射して記録層のレーザ吸収率もしくは屈折率を変化させることで情報の書き込みを行っている。つまり、記録層のレーザ吸収率が増加すると、再生時に光ディスクの反射率が低くなり、また、記録層の屈折率が変化すると、再生時に記録層を通過するレーザ光の波長（位相）が変化するので、見かけ上、反射層の反射率（つまり反射光の強度）が変化し、反射層に凹凸（ピット）ができたものと同等になる。なお、再生時のレーザ光は、記録時と全く同じレーザパワーでは読み出しのたびに記録内容が損なわれる可能性があるため、記録時よりも低いレーザパワーにする。
【０００５】
また、記録型光ディスクには一度だけ記録可能なものと書き換え可能なものとがある。一度だけ記録可能な光ディスクでは、記録層にアゾ・シアニン系の有機色素が使われる。この色素に赤色の可視光であるレーザ光を照射すると、色素がこのレーザ光をよく吸収するため、見かけ上、反射層の反射率が変化し、情報が書き込まれたことになる。なお、この色素系の材料は化学的に変化して色が変化し、元の状態に戻すことができないため、一度だけの記録が可能となる。
【０００６】
一方、書き換え可能な光ディスクには、相変化記録という技術が使われている。これは、アンチモンとテルルの合金の、光がある程度透過する薄い膜に、短時間で強いレーザパワーのレーザ光を当てて、合金が融ける温度まで熱して急冷すると、アモルファス状態になり、これを弱いレーザパワーで加熱すると元の結晶状態に戻るという性質を利用したもので、この合金にゲルマニウムを混ぜることで、アモルファス状態と結晶状態とでレーザ光の吸収率に差を生じさせ、また、銀とインジウムを混ぜることで屈折率に差を生じさせる。なお、このような変化は何回でも繰り返すことが可能であるので、この記録層を有した記録型光ディスクは書き換え可能な光ディスクとなる。
【０００７】
以上のような光ディスクから情報を正確に読み出すには、最適な再生パワーでレーザ光を照射する必要がある。また、今日の取り扱う量の肥大化および再生速度の高倍速化に伴って、再生方式がＣＬＶ（Ｃｏｎｔｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式からＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式へと移行している。ＣＬＶ方式は、線速度一定で光ディスクを回転させて再生を行う方式であり、ＣＡＶ方式は、回転速度一定で光ディスクを回転させて再生を行う方式である。
【０００８】
以下、ＣＡＶ再生を行う従来の光ディスク装置について説明する。
図２０は、従来の光ディスク装置の概略構成図である。
図２０において、光ディスク１は、ＣＤやＤＶＤ等である。また、光信号処理回路２は、光ピックアップ等であり、レーザ光を発光するレーザダイオードや、光ディスク１からの戻り光（反射光）を検出するフォトディテクタ等を有し、光ディスク１へレーザ光を照射する。
【０００９】
ＲＦ信号検出部３は、光信号処理回路２のフォトディテクタにより生成される信号からＲＦ信号成分を検出する。イコライザ処理部４は、ＲＦ信号検出部３の出力信号からノイズを取り除く。
【００１０】
メモリ２８には再生パワーが格納される。再生パワー設定部２９は、メモリ２８より再生パワーを読み出して設定する。レーザ駆動装置８は、再生パワー設定部２９により設定された再生パワーに相当するレーザ駆動電流をレーザダイオードへ出力する。
【００１１】
フォーカス・トラッキングサーボ部９は、光信号処理回路２のフォトディテクタにより生成される信号からフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成する図示しない演算部の出力信号（フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号）を基に光信号処理回路２を制御して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行する。
【００１２】
位置移動部１０は、光信号処理回路２を移動させる。高周波重畳モジュール１１は、光ディスク１からの戻り光や温度変動によるノイズを低減するために、レーザ駆動電流に数百ＭＨｚの高周波電流を重畳する。
【００１３】
続いて、従来の光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図２１に示すフローチャート図を用いて説明する。当該光ディスク装置は、まず、ＣＡＶ再生前に、ユーザ操作によりメモリ２８に再生パワーを格納し（ステップＳ２１０１）、光ディスク１を起動する（ステップＳ２１０２）。次に、再生パワー設定部２９がメモリ２８より再生パワーを読み出して設定した後（ステップＳ２１０３）、ＣＡＶ再生を開始する。
【００１４】
以上のように、従来の光ディスク装置では、再生速度（倍速）や再生する領域によらず再生パワーは固定であった（例えば、特許文献１参照。）。しかしながら、ＣＡＶ再生では、回転速度が一定のため単位時間に通過する距離（つまり線速度）がディスクの内外周で異なり、外周ほど線速度が速くなるので、ディスクの内外周でジッタ値が異なる等の特性ばらつきが発生し、固定の再生パワーでは、再生位置によって再生品質が悪化し、ＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ  ｏｆ  ｉｎｎｅｒ−ｃｏｄｅ）エラーレートの悪化によるアドレスの誤取得などの問題が発生する。従来は、このような問題に対し、再生エラーが発生する度に再生速度を低くして再生を繰り返す方法で対応していた。しかし、この方法では再生を繰り返す時間が必要になり、再生時間が延びるため、例えば映画等を記録したＤＶＤの再生中に画像が停止するなどの問題が発生する。また、光ディスクの面内感度（反射率）が低かったり、面内膜厚にばらつきがあったり、面内歪みが大きかったりすると、再生品質はさらに悪化する。
【特許文献１】特開２０００−１８２３３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
本発明は、上記問題点に鑑み、光ディスクの情報記録面を同心円状の複数の領域（ゾーン）に分け、各ゾーンごとに最適な再生パワーに切り替えてＣＡＶ再生を行うことにより、再生品質を向上することができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明の請求項１記載の光ディスク装置は、光ディスクを回転速度一定で、複数のゾーンに分けて再生する光ディスク装置であって、各ゾーンごとの再生パワーを記憶する再生パワー記憶手段と、ゾーンの切り替わりを判定するゾーン確認手段と、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーの情報を基に再生パワーを切り替える再生パワー切り替え手段と、を具備することを特徴とする。
【００１７】
また、本発明の請求項２記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、再生前に各ゾーンのジッタ値を測定して、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理を行いその判定結果を記憶するゾーン判定手段を具備し、前記再生パワー切り替え手段は、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーの切り替えを実行する、ことを特徴とする。
【００１８】
また、本発明の請求項３記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理をスキップさせる実行判断手段と、を具備することを特徴とする。
【００１９】
また、本発明の請求項４記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、ことを特徴とする。
【００２０】
また、本発明の請求項５記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、再生前に再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、ことを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の請求項６記載の光ディスク装置は、請求項４もしくは５のいずれかに記載の光ディスク装置であって、装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、再生パワーを学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、を具備することを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の請求項７記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、ことを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の請求項８記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶する、ことを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の請求項９記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生中再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶し、前記実行判断手段は、再生パワーを学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の請求項１０記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備し、前記再生パワー記憶手段は前記再生前再生パワー学習手段により学習された再生パワーを記憶し、前記実行判断手段は、再生パワーを学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の請求項１１記載の光ディスク装置は、請求項１または２または４または５または７または８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して線形補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する線形補間手段を具備し、前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行う、ことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の請求項１２記載の光ディスク装置は、請求項３または６または９または１０のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して線形補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する線形補間手段を具備し、前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行い、前記実行判断手段は、線形補間処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の請求項１３記載の光ディスク装置は、請求項１または２または４または５または７または８のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する最小二乗法補間手段を具備し、前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行う、ことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項１４記載の光ディスク装置は、請求項３または６または９または１０のいずれかに記載の光ディスク装置であって、前記再生パワー記憶手段に記憶された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する最小二乗法補間手段を具備し、前記再生パワー切り替え手段は、前記再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行い、前記実行判断手段は、最小二乗法による補間処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項１５記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３１】
また、本発明の請求項１６記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３２】
また、本発明の請求項１７記載の光ディスク装置は、請求項１５もしくは１６のいずれかに記載の光ディスク装置であって、装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、高周波信号の振幅値を学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、を具備することを特徴とする。
【００３３】
また、本発明の請求項１８記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３４】
また、本発明の請求項１９記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３５】
また、本発明の請求項２０記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段と、を具備し、前記実行判断手段は、高周波信号の振幅値を学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００３６】
また、本発明の請求項２１記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生前振幅学習手段と、を具備し、前記実行判断手段は、高周波信号の振幅値を学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００３７】
また、本発明の請求項２２記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３８】
また、本発明の請求項２３記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００３９】
また、本発明の請求項２４記載の光ディスク装置は、請求項２２もしくは２３のいずれかに記載の光ディスク装置であって、装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、前記特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、高周波信号の周波数を学習する処理をスキップさせる実行判断手段と、を具備することを特徴とする。
【００４０】
また、本発明の請求項２５記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００４１】
また、本発明の請求項２６記載の光ディスク装置は、請求項２記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、を具備することを特徴とする。
【００４２】
また、本発明の請求項２７記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生時に前記ゾーン確認手段がゾーンの切り替わりを判定すると、前記ゾーン判定手段による判定結果に応じて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段と、を具備し、前記実行判断手段は、高周波信号の周波数を学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【００４３】
また、本発明の請求項２８記載の光ディスク装置は、請求項３記載の光ディスク装置であって、レーザ光を発光させるレーザ駆動信号に高周波信号を重畳する高周波重畳モジュールと、再生前に、前記ゾーン判定手段の判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波信号の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生前周波数学習手段と、を具備し、前記実行判断手段は、高周波信号の周波数を学習する処理もスキップさせる、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００４４】
本発明によれば、線速度変化による光ディスクからの反射光の変化が発生するＣＡＶ再生において、各ゾーンごとに最適な再生パワーを設定でき、再生品質を向上させることができる。また、面内感度が低かったり、面内膜厚にばらつきがあったり、面内歪みが大きかったりする光ディスクを再生する場合であっても、品質の良いＣＡＶ高倍速再生を実現できる。
【００４５】
さらに、再生中に再生パワーを学習したり、高周波信号の振幅値や周波数を学習することにより、より良質な再生を実現できる。また、再生前に再生パワーを学習したり、高周波信号の振幅値や周波数を学習することにより、再生中に学習する場合と比べて再生時間を短縮することができる。
【００４６】
また、記憶している再生パワーに対して線形補間処理を実施して、再生パワー近似式を求めることにより、再生品質をより向上させることができる。また、最小二乗法による補間処理を実施すれば、線形補間処理に比べて演算量が減少するので、ファームウェア処理の負荷を軽減することができる。
【００４７】
また、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定し、ジッタ値が否のゾーンについてのみ再生パワーを切り替えたり、再生パワーを学習したり、高周波信号の振幅値や周波数を学習したりすることにより、再生時間を短縮できる。
【００４８】
また、一度再生した光ディスクについては、その後、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理や、再生パワーを学習する処理、線形補間処理、最小二乗法による補間処理、高周波信号の振幅を学習する処理、高周波信号の周波数を学習する処理をスキップすることにより、再生時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１における光ディスク装置について説明する。
図１は本実施の形態１における光ディスク装置の概略構成図である。
【００５０】
図１において、光ディスク１は、ＣＤやＤＶＤ等である。また、光信号処理回路２は、光ピックアップ等であり、レーザ光を発光するレーザダイオードや、光ディスク１からの戻り光（反射光）を検出するフォトディテクタ等を有し、光ディスク１へレーザ光を照射する。
【００５１】
ＲＦ信号検出部３は、光信号処理回路２のフォトディテクタにより生成される信号からＲＦ信号成分を検出する。イコライザ処理部４は、ＲＦ信号検出部３の出力信号からノイズを取り除く。
【００５２】
再生パワー記憶手段であるメモリ５は、各ゾーンごとの再生パワー（再生時のレーザパワー）を記憶する。また、メモリ５は、各ゾーンの先頭アドレスなども記憶する。なお、ゾーンのアドレスは光ディスクの種別ごとに予め決まっており、メモリ５には予め光ディスクの種別ごとの各ゾーンの先頭アドレスが格納されている。
【００５３】
ゾーン確認手段であるゾーン監視部６は、メモリ５から各ゾーンの先頭アドレスを読み出し、再生位置の情報からゾーンの切り替わりを判定する。再生位置の情報には、光信号処理回路２の現在位置の情報やＲＦ信号検出部３の出力信号から抽出されるアドレス情報などを用いる。
【００５４】
再生パワー切り替え手段である再生パワー切り替え部７は、再生時にゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、その切り替わったゾーンの再生パワーをメモリ５から読み出して、再生パワーを切り替える。
【００５５】
レーザ光を発光させるためのレーザ駆動電流（レーザ駆動信号）を生成するレーザ駆動装置８は、再生パワー切り替え部７により再生パワーが切り替えられると、その再生パワーに相当するレーザ駆動電流を光信号処理回路２内のレーザダイオードへ出力し、該再生パワーのレーザ光が光ディスク１へ照射されるように光信号処理回路２を制御する。
【００５６】
フォーカス・トラッキングサーボ部９は、光信号処理回路２のフォトディテクタにより生成される信号からフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成する図示しない演算部の出力信号（フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号）を基に光信号処理回路２を制御して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行する。
【００５７】
位置移動部１０は、光信号処理回路２を移動させる。高周波重畳モジュール１１は、光ディスク１からの戻り光や温度変動によるノイズを低減するための高周波電流（高周波信号）をレーザ駆動電流に重畳する。
【００５８】
以上のように構成された当該光ディスク装置は、光ディスクを回転速度一定で、複数のゾーンに分けて再生（ＣＡＶ再生）する。続いて、本実施の形態１における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図２に示すフローチャート図を用いて説明する。当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、ユーザ操作に従い、予め各ゾーンにおける再生パワーをメモリ５に格納する（ステップＳ２０１）。
【００５９】
設定する再生パワーは任意に決めてよいが、線速度に応じた再生パワーとすることが望ましい。具体的には、外周に行くほど（線速度が速くなるほど）ディスクからの反射光が小さくなるため、外周のゾーンほど再生パワーを大きくすることによりジッタが改善される。
【００６０】
再生パワーがメモリ５に格納されると（ステップＳ２０１）、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。なお、再生する最初のゾーンもゾーンの切り替わりと判定する。
【００６１】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワー切り替え部７がその切り替わったゾーンの再生パワーをメモリ５から読み出し、再生パワーを切り替える（ステップＳ２０５）。
【００６２】
また、ゾーン監視部６が、切り替わったゾーンが最終ゾーン（最外周を含むゾーン）であるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、最終ゾーンである場合には、再生パワー切り替え処理を終了する。一方、最終ゾーンでない場合は、再度、ステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【００６３】
本実施の形態１によれば、光ディスクのＣＡＶ再生時に、再生パワーをゾーンごとに切り替えることにより、線速度に応じて再生パワーを切り替えることができ、品質の良いＣＡＶ再生を実現することができるので、面内感度が低かったり、面内膜厚にばらつきがあったり、面内歪みが大きかったりする光ディスクを再生する場合であっても、品質の良いＣＡＶ高倍速再生を実現できる。
【００６４】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２における光ディスク装置について説明する。
図３は本実施の形態２における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００６５】
当該光ディスク装置は、ＣＡＶ再生前に各ゾーンのジッタ値を測定して、各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理を行いその判定結果を記憶するゾーン判定手段を具備する点が実施の形態１と異なる。
【００６６】
図３において、ジッタ値を測定するゾーンへ光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させるジッタ値測定ゾーン決定部１２は、メモリ５から各ゾーンの先頭アドレスを読み出し、位置移動部１０を制御して各ゾーンの先頭（予め固定されたポイント）に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させる。
【００６７】
ジッタ値演算部１３は、ＲＦ信号検出部３の出力信号から、再生品質の判断基準となるジッタ値を演算する。また、再生用ゾーン決定部１４は、ジッタ値演算部１３により測定されたジッタ値（ジッタ測定値）を予め設定された閾値と比較してジッタ値の良否を判定する処理を行い、その判定結果をメモリ５に格納する。このジッタ値の良否判定により、ジッタ値が測定されたゾーンで再生パワーを変更すべきかどうかが判定される。これにより、例えば図５に示すように、ゾーン（１）〜（５）に分かれる光ディスクを再生用ゾーン（１）〜（３）に分かれる光ディスクとみなすことができる。
【００６８】
また、再生パワー切り替え部７は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、その切り替わったゾーンが、再生用ゾーン決定部１４により再生パワーの変更が必要であると判定されたゾーン（つまり、ジッタ値が否と判定されたゾーン）である場合にのみ、そのゾーンの再生パワーをメモリ５から読み出し、再生パワーを切り替える。
【００６９】
以上のように、ここでは、ゾーン判定手段は、ジッタ値測定ゾーン決定部１２とジッタ値演算部１３と再生用ゾーン決定部１４とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態２における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図４に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【００７０】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、ステップＳ４０１からステップＳ４０５において再生用ゾーン決定処理（各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理）を行う。
【００７１】
すなわち、ジッタ値測定ゾーン決定部１２がメモリ５から各ゾーンの先頭アドレスを読み出し、ジッタ値の測定を行うゾーンとしてまず先頭のゾーン（１）を決定し、位置移動部１０を制御して光信号処理回路２を移動させ、光スポットを該当ゾーン（１）の先頭に位置させる（ステップＳ４０１）。光ディスク装置は任意の再生パワーでゾーン（１）の所定箇所を再生し、ジッタ値演算部１３がジッタ値を測定する（ステップＳ４０２）。
【００７２】
次に、再生用ゾーン決定部１４がジッタ値演算部１３のジッタ測定値からゾーン（１）で再生パワーを変更すべきか否かを判定し（ステップＳ４０３）、ジッタ測定値が閾値を越える場合には変更の必要があると判断して、ゾーン（１）を識別するための情報をメモリ５に格納する（ステップＳ４０４）。
【００７３】
次に、ジッタ値測定ゾーン決定部１２がジッタ値の測定を行うゾーンとして次のゾーン（２）を決定し、その次のゾーン（２）が光ディスク１に存在するか否かを判定することで再生用ゾーン決定処理の終了を判断する（ステップＳ４０５）。つまり、次のゾーン（２）が存在する場合には、再度ステップＳ４０１へ戻り、ステップＳ４０５までの処理を繰り返す。そして、全ゾーンについてステップＳ４０１からステップＳ４０５までの処理を繰り返して、再生用ゾーン決定処理を終了する。
【００７４】
次に、実施の形態１と同様に、当該光ディスク装置は、ユーザ操作に従い、予め各ゾーンにおける再生パワーをメモリ５に格納する（ステップＳ２０１）。なお、再生パワーの切り替えが必要であると判定されたゾーン（最初に再生するゾーンを含む）の再生パワーのみを格納するようにしてもよい。
【００７５】
再生パワーがメモリ５に格納されると（ステップＳ２０１）、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【００７６】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワー切り替え部７が、メモリ５に格納されている再生パワーを変更すべきゾーンについての情報から、その切り替わったゾーンで再生パワーの変更が必要か否かを判定し（ステップＳ４０６）、再生パワーの変更が必要なゾーンであれば、その切り替わったゾーンの再生パワーをメモリ５から読み出し、再生パワーの切り替えを行う（ステップＳ２０５）。一方、再生パワーの変更が必要ないゾーンであれば、切り替わる前のゾーンに対して用いた再生パワーのままＣＡＶ再生を続行する。なお、再生する最初のゾーンについては再生パワーの変更が必要であると判定する。また、ゾーン監視部６が、切り替わったゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【００７７】
図５に示すように、光ディスク内のジッタ値は中周ではほぼ変わらず、再生パワーは同等でよいので、本実施の形態２によれば、光ディスクのＣＡＶ再生時に再生パワーの切り替え回数を減少させることができ、再生時間の短縮を実現することができる。
【００７８】
（実施の形態３）
以下、本発明の実施の形態３における光ディスク装置について説明する。
図６は本実施の形態３における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１、２において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００７９】
当該光ディスク装置は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生用ゾーン決定部１４による判定結果に応じて再生パワーを学習する処理を実施する再生中再生パワー学習手段を具備する点が実施の形態２と異なる。
【００８０】
図６において、再生中最適再生パワー学習位置決定部１５は、位置移動部１０を制御して、最適再生パワー学習処理（再生パワーを学習する処理）を実施したゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させる。また、最適再生パワー決定部１６は、ジッタ値演算部１３による演算結果（ジッタ測定値）を基に最適な再生パワーを決定して、メモリ５に格納する。
【００８１】
以上のように、ここでは、再生中再生パワー学習手段は、ジッタ値演算部１３と最適再生パワー決定部１６とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態３における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図７に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１、２において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【００８２】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態２と同様の再生用ゾーン決定処理を行う（ステップＳ７０１）。また、再生中最適再生パワー学習位置決定部１５がメモリ５より各ゾーンの先頭アドレスを読み出す（図示せず。）。
【００８３】
その後、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【００８４】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワー切り替え部７が、その切り替わったゾーンで再生パワーの変更が必要か否かを判定し（ステップＳ４０６）、再生パワーの変更が必要なゾーンであれば、当該光ディスク装置は、最適再生パワー学習処理を実施する（ステップＳ７０２）。すなわち、当該光ディスク装置は、再生パワーを階段状に変化させながらその切り替わったゾーンの所定箇所を再生し（ステップＳ７１０）、ジッタ値演算部１３がジッタ値を測定し（ステップＳ７１１）、最適再生パワー決定部１６がジッタ値演算部１３による演算結果を基に、上記階段状に変化させた再生パワーのうちから最適な再生パワーを決定し、メモリ５に格納して（ステップＳ７１２）、最適再生パワー学習処理を終了する。
【００８５】
メモリ５に再生パワーが格納されると、再生中最適再生パワー学習位置決定部１５が位置移動部１０を制御してその切り替わったゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させ、再生パワー切り替え部７がメモリ５から最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワーを読み出し、再生パワーの切り替えを行う（ステップＳ２０５）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【００８６】
本実施の形態３によれば、各ゾーンの再生前に最適な再生パワーを学習して、品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。また、上述したように光ディスク内のジッタは中周ではほぼ変わらず、再生パワーは同等でよいので、再生パワーの学習回数を減少させることができ、再生パワーの学習時間を短縮することができる。なお、無論、全ゾーンにおいて最適再生パワー学習処理を行ってもよく、また、全ゾーンごとに再生パワーの切り替えを行ってもよい。
【００８７】
（実施の形態４）
以下、本発明の実施の形態４における光ディスク装置について説明する。
図８は本実施の形態４における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし３において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００８８】
当該光ディスク装置は、再生前に、再生用ゾーン決定部１４による判定結果を基に再生パワーの切り替えが必要であると判定されたゾーン（ジッタ値が否と判定されたゾーン）において再生パワーを学習する処理を実施する再生前再生パワー学習手段を具備する点が実施の形態３と異なる。
【００８９】
図８において、再生前最適再生パワー学習位置決定部１７は、メモリ５から再生パワーの切り替えが必要であると判断されたゾーンの先頭アドレスを読み出し、位置移動手段１０を制御して、それらのゾーンの先頭（予め固定されたポイント）に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させる。
【００９０】
ここでは、再生前再生パワー学習手段は、再生前最適再生パワー学習位置決定部１７とジッタ値演算部１３と最適再生パワー決定部１６とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態４における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図９に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし３において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【００９１】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態２と同様の再生用ゾーン決定処理を行う（ステップＳ７０１）。
【００９２】
また、再生前最適再生パワー学習位置決定部１７がメモリ５から再生パワーの切り替えが必要であると判断されたゾーン（先頭のゾーン（１）を含む。）の先頭アドレスを読み出し、位置移動手段１０を制御して、それらのゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させることにより、当該光ディスク装置は、それらのゾーンごとに実施の形態３と同様の最適再生パワー学習処理を実施する（ステップＳ９０１）。
【００９３】
その後、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【００９４】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生パワー切り替え部７が、その切り替わったゾーンで再生パワーの変更が必要か否かを判定し（ステップＳ４０６）、再生パワーの変更が必要なゾーンであれば、その切り替わったゾーンの再生パワー（最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワー）をメモリ５から読み出し、再生パワーの切り替えを行う（ステップＳ２０５）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【００９５】
本実施の形態４によれば、光ディスクのＣＡＶ再生に先立ち、最適な再生パワーを学習して、品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。また、ＣＡＶ再生中に再生パワーの学習を行う必要がないので、再生時間を短縮することができる。なお、無論、全ゾーンにおいて最適再生パワー学習処理を行ってもよく、また、全ゾーンごとに再生パワーの切り替えを行ってもよい。
【００９６】
（実施の形態５）
以下、本発明の実施の形態５における光ディスク装置について説明する。
図１０は本実施の形態５における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし４において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００９７】
当該光ディスク装置は、メモリ５に記憶された再生パワーに対して線形補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する線形補間手段を具備し、再生パワー切り替え部７が、再生パワー近似式により算出される再生パワーへの切り替えを行う点が実施の形態４と異なる。
【００９８】
図１０において、線形補間部１８は、最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワーに対して線形補間処理を施し、アドレス（線速度）に応じて連続的に変化する再生パワー近似式をゾーンごとに算出して、メモリ５へ格納する。なお、再生パワーの切り替えが必要ないと判断されたゾーンについては、その前のゾーンの近似式を格納する。また、線形補間部１８は、メモリ５から再生パワー近似式を読み出し、該近似式と現在位置の情報を基に再生パワーを算出して再生パワー切り替え部７に設定する。また、再生パワー切り替え部７は、線形補間部１８による設定に応じて、再生パワーを切り替えていく。
【００９９】
ここでは、線形補間手段は、線形補間部１８とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態５における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図１１に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし４において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１００】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態４と同様に、再生用ゾーン決定処理と最適再生パワー学習処理を行う（ステップＳ７０１、Ｓ９０１）。
【０１０１】
次に、線形補間部１８が、最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワーに対して線形補間処理を施し、再生パワー近似式をゾーンごとに算出してメモリ５へ格納する（ステップＳ１１０１）。
【０１０２】
次に、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１０３】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、線形補間部１８がメモリ５からそのゾーンの再生パワー近似式を読み出す（ステップＳ１１０２）。なお、再生パワーの変更が必要なゾーンへの切り替わり時にのみ、再生パワー近似式を読み出すようにしてもよい。線形補間部１８は該近似式と再生位置情報（アドレス情報）を用いて再生パワーを算出していき、再生パワー切り替え部７はその算出された再生パワーへと切り替えていく（ステップＳ２０５）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【０１０４】
本実施の形態５によれば、光ディスクのＣＡＶ再生に先立ち、最適な再生パワーを学習し、さらにその学習値を線形補間することにより、より品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。なお、本実施の形態５では、実施の形態４の光ディスク装置を例に説明したが、無論、実施の形態１ないし３の光ディスク装置に適用することもできる。
【０１０５】
（実施の形態６）
以下、本発明の実施の形態６における光ディスク装置について説明する。
図１２は本実施の形態６における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし５において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１０６】
当該光ディスク装置は、メモリ５に記憶された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し再生パワー近似式を求めて記憶する最小二乗法補間手段を具備する点が実施の形態４と異なる。
【０１０７】
図１２において、最小二乗法補間部１９は、最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し、アドレス（線速度）に応じて連続的に変化する再生パワー近似式をゾーンごとに算出して、メモリ５へ格納する。なお、再生パワーの切り替えが必要ないと判断されたゾーンについては、その前のゾーンの近似式を格納する。また、最小二乗法補間部１９は、メモリ５から再生パワー近似式を読み出し、該近似式と現在位置の情報を基に再生パワーを算出して再生パワー切り替え部７に設定する。また、再生パワー切り替え部７は、最小二乗法補間部１９による設定に応じて、再生パワーを切り替えていく。
【０１０８】
ここでは、最小二乗法補間手段は、最小二乗法補間部１９とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態６における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、再生パワー切り替え処理を中心に、図１３に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし５において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１０９】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態５と同様に、再生用ゾーン決定処理と最適再生パワー学習処理を行う（ステップＳ７０１、Ｓ９０１）。
【０１１０】
次に、最小二乗法補間部１９が、最適再生パワー決定部１６により決定された再生パワーに対して最小二乗法による補間処理を施し、再生パワー近似式Ｐ（ｘ）＝Ａｘ＋Ｂをゾーンごとに算出してメモリ５へ格納する（ステップＳ１３０１）。
【０１１１】
次に、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１１２】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、最小二乗法補間部１９がメモリ５からそのゾーンの再生パワー近似式Ｐ（ｘ）を読み出す（ステップＳ１３０２）。なお、再生パワーの変更が必要なゾーンへの切り替わり時にのみ、再生パワー近似式を読み出すようにしてもよい。最小二乗法補間部１９は該近似式Ｐ（ｘ）と再生位置情報（アドレス情報）を用いて再生パワーを算出していき、再生パワー切り替え部７はその算出された再生パワーへと切り替えていく（ステップＳ２０５）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【０１１３】
本実施の形態６によれば、光ディスクのＣＡＶ再生に先立ち、最適な再生パワーを学習し、さらにその学習値から最小二乗法による補間を行うことにより、より品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。また、線形補間処理を行う場合より簡単な演算でよいので、ファームウェア処理の負荷を軽減することができる。なお、本実施の形態６では、実施の形態４の光ディスク装置を例に説明したが、無論、実施の形態１ないし３の光ディスク装置に適用することもできる。
【０１１４】
（実施の形態７）
以下、本発明の実施の形態７における光ディスク装置について説明する。
図１４は本実施の形態７における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし６において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１１５】
当該光ディスク装置は、装着された光ディスクの特徴を判断して記憶する特徴判断手段と、その特徴判断手段により既に記憶された特徴のうちに、現在装着されている光ディスクの特徴と一致するものがある場合、再生用ゾーン決定処理（各ゾーンごとのジッタ値の良否を判定する処理）、最適再生パワー学習処理、最小二乗法による補間処理をスキップさせる実行判断手段と、を具備する点が実施の形態６と異なる。
【０１１６】
図１４において、特徴判断部２０は、装着された光ディスク１の特徴を判断してメモリ５へ格納する。また実行判断手段である学習実行判断部２１は、メモリ５に既に格納された特徴を検索して、現在装着されている光ディスク１の特徴と一致するものがある場合、再生用ゾーン決定処理、最適再生パワー学習処理、最小二乗法による補間処理をスキップさせる。
【０１１７】
ここでは、特徴判断手段は、特徴判断部２０とメモリ５により構成される。続いて、本実施の形態７における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、特徴判断処理を中心に、図１５に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし６において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１１８】
まず、光ディスク１の再生前に、当該光ディスク装置は装着された光ディスク１のリードイン領域からディスク情報（シリアル番号などの情報）を読み出し、特徴判断部２０が該ディスク情報から光ディスク１の特徴としてシリアル番号をメモリ５へ格納する（ステップＳ１５０１）。なお、ここでは光ディスクの特徴としてシリアル番号を用いるが、ＷＯＢＢＬＥやＡＤＩＰなどの物理的な溝に記録された情報などを用いてもよい。
【０１１９】
次に学習実行判断部２１が、メモリ５に既に格納されているシリアル番号を検索して、現在装着されている光ディスク１のシリアル番号と一致するものがあるか否かを判定する（ステップＳ１５０２）。その結果、一致するものがある場合には、学習実行判断部２１が再生用ゾーン決定処理（ステップＳ７０１）、最適再生パワー学習処理（ステップＳ９０１）、最小二乗法による補間処理（ステップＳ１３０１）をスキップさせることにより、当該光ディスク装置は、メモリ５に既に格納されている再生パワー近似式Ｐ（ｘ）を用いてＣＡＶ再生を実施する。
【０１２０】
本実施の形態７によれば、一度再生した光ディスクについては最適再生パワー学習処理等を行わずに済むので、光ディスクの再生時間を短縮させることができる。なお、本実施の形態７では実施の形態６の光ディスク装置を例に説明を行ったが、無論、他の実施の形態２〜６の光ディスク装置においても同様に実施できる。つまり、実施の形態２の光ディスク装置に適用する場合は再生用ゾーン決定処理をスキップさせ、実施の形態３、４の光ディスクに適用する場合は再生用ゾーン決定処理と最適再生パワー学習処理をスキップさせ、実施の形態５の光ディスクに適用する場合は再生用ゾーン決定処理と最適再生パワー学習処理と線形補間処理をスキップさせるようにする。
【０１２１】
（実施の形態８）
以下、本発明の実施の形態８における光ディスク装置について説明する。
図１６は本実施の形態８における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし３において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１２２】
当該光ディスク装置は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生用ゾーン決定部１４による判定結果に応じて、高周波重畳モジュール１１が出力する高周波電流（高周波信号）の振幅値を学習する処理を実施して記憶する再生中振幅学習手段を具備する点が他の実施の形態と異なる。
【０１２３】
図１６において、再生中最適高周波電流振幅学習位置決定部２２は、位置移動部１０を制御して、最適高周波電流振幅学習処理（高周波信号の振幅値を学習する処理）を実施したゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させる。また、最適高周波電流振幅決定部２３は、ジッタ値演算部１３による演算結果（ジッタ測定値）を基に最適な高周波電流の振幅値を決定して、メモリ５に格納する。
【０１２４】
高周波電流振幅切り替え部２４は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、その切り替わったゾーンが、再生用ゾーン決定部１４により再生パワーの変更が必要であると判定されたゾーン（つまり、ジッタ値が否と判定されたゾーン）である場合にのみ、そのゾーンにおける高周波電流の振幅値をメモリ５から読み出し、高周波電流の振幅値を切り替える。高周波重畳モジュール１１は、高周波電流振幅切り替え部２４により高周波電流の振幅値が切り替えられると、その振幅値の高周波電流をレーザ駆動電流に重畳する。
【０１２５】
以上のように、ここでは、再生前振幅学習手段は、ジッタ値演算部１３と最適高周波電流振幅決定部２３とメモリ５により構成されている。続いて、本実施の形態８における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、高周波電流振幅切り替え処理を中心に、図１７に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし３において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１２６】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態２と同様の再生用ゾーン決定処理を行う（ステップＳ７０１）。また、再生中最適高周波電流振幅学習位置決定部２２がメモリ５より各ゾーンの先頭アドレスを読み出す（図示せず。）。
【０１２７】
その後、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１２８】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波電流振幅切り替え部２４が、メモリ５に格納されている再生パワーを変更すべきゾーンについての情報（つまり、ジッタ値が否と判定されたゾーンの情報）から、その切り替わったゾーンで再生パワーの変更が必要か否かを判定することで、高周波電流の振幅値の変更が必要であるか否かを判定する（ステップＳ１７０１）。再生パワーの変更が必要なゾーンであれば（つまり、ジッタ値が否であれば）、高周波電流の振幅値の変更が必要であると判断し、当該光ディスク装置は、最適高周波電流振幅学習処理を実施する（ステップＳ１７０２）。すなわち、当該光ディスク装置は、高周波電流の振幅値を階段状に変化させながらその切り替わったゾーンの所定箇所を再生し（ステップＳ１７１０）、ジッタ値演算部１３がジッタ値を測定し（ステップＳ１７１１）、最適高周波電流振幅決定部２３がジッタ値演算部１３による演算結果を基に、上記階段状に変化させた振幅値のうちから最適な振幅値を決定し、メモリ５に格納して（ステップＳ１７１２）、最適高周波電流振幅学習処理を終了する。
【０１２９】
メモリ５に高周波電流の振幅値が格納されると、再生中最適高周波電流振幅学習位置決定部２２が位置移動部１０を制御してその切り替わったゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させ、高周波電流振幅切り替え部２４がメモリ５から最適高周波電流振幅決定部２３により決定された振幅値を読み出し、振幅値の切り替えを行う（ステップＳ１７０３）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【０１３０】
本実施の形態８によれば、各ゾーンの再生前に最適な高周波電流の振幅値を学習して、品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。また、上述したように光ディスク内のジッタは中周ではほぼ変わらず、高周波電流の振幅値は同等でよいので、高周波電流の振幅値の学習回数を減少させることができ、高周波電流の振幅値の学習時間を短縮することができる。なお、無論、全ゾーンにおいて最適高周波電流振幅学習処理を行ってもよく、また、全ゾーンごとに振幅値の切り替えを行ってもよい。
【０１３１】
（実施の形態９）
以下、本発明の実施の形態９における光ディスク装置について説明する。
図１８は本実施の形態９における光ディスク装置の概略構成図である。但し、前述した実施の形態１ないし３および８において説明した部材に対応する部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１３２】
当該光ディスク装置は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、再生用ゾーン決定部１４による判定結果に応じて、高周波重畳モジュール１１が出力する高周波電流（高周波信号）の周波数を学習する処理を実施して記憶する再生中周波数学習手段を具備する点が実施の形態８と異なる。
【０１３３】
図１８において、再生中最適高周波電流周波数学習位置決定部２５は、位置移動部１０を制御して、最適高周波電流周波数学習処理（高周波信号の周波数を学習する処理）を実施したゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させる。また、最適高周波電流周波数決定部２６は、ジッタ値演算部１３による演算結果（ジッタ測定値）を基に最適な高周波電流の周波数を決定して、メモリ５に格納する。
【０１３４】
高周波電流周波数切り替え部２７は、ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、その切り替わったゾーンが、再生用ゾーン決定部１４により再生パワーの変更が必要であると判断されたゾーン（つまり、ジッタ値が否と判定されたゾーン）である場合にのみ、そのゾーンにおける高周波電流の周波数をメモリ５から読み出し、高周波電流の周波数を切り替える。高周波重畳モジュール１１は、高周波電流周波数切り替え部２７により高周波電流の周波数が切り替えられると、その周波数の高周波電流をレーザ駆動電流に重畳する。
【０１３５】
以上のように、ここでは、再生前周波数学習手段は、ジッタ値演算部１３と最適高周波電流周波数決定部２６とメモリ５により構成されている。続いて、本実施の形態９における光ディスク装置のＣＡＶ再生動作について、高周波電流周波数切り替え処理を中心に、図１９に示すフローチャート図を用いて説明する。但し、前述した実施の形態１ないし３および８において説明した処理（ステップ）に対応する処理には同一符号を付して、説明を省略する。
【０１３６】
当該光ディスク装置は、まず、光ディスク１の再生前に、装着された光ディスクの種別を判別する（図示せず。）。さらに、当該光ディスク装置は、実施の形態２と同様の再生用ゾーン決定処理を行う（ステップＳ７０１）。また、再生中最適高周波電流周波数学習位置決定部２５がメモリ５より各ゾーンの先頭アドレスを読み出す（図示せず。）。
【０１３７】
その後、当該光ディスク装置は光ディスク１を起動して（ステップＳ２０２）、ＣＡＶ再生を開始する（図示せず。）。ＣＡＶ再生中は、ゾーン監視部６が再生位置を確認し（ステップＳ２０３）、ゾーンの切り替わりを判定する（ステップＳ２０４）。
【０１３８】
ゾーン監視部６がゾーンの切り替わりを判定すると、高周波電流周波数切り替え部２７が、メモリ５に格納されている再生パワーを変更すべきゾーンについての情報（つまり、ジッタ値が否と判定されたゾーンの情報）から、その切り替わったゾーンで再生パワーの変更が必要か否かを判定することで、高周波電流の周波数の変更が必要であるか否かを判定する（ステップＳ１９０１）。再生パワーの変更が必要なゾーンであれば（つまり、ジッタ値が否であれば）、高周波電流の周波数の変更が必要であると判断し、当該光ディスク装置は、最適高周波電流周波数学習処理を実施する（ステップＳ１９０２）。すなわち、当該光ディスク装置は、高周波電流の周波数を階段状に変化させながらその切り替わったゾーンの所定箇所を再生し（ステップＳ１９１０）、ジッタ値演算部１３がジッタ値を測定し（ステップＳ１９１１）、最適高周波電流周波数決定部２６がジッタ値演算部１３による演算結果を基に、上記階段状に変化させた周波数のうちから最適な周波数を決定し、メモリ５に格納して（ステップＳ１９１２）、最適高周波電流周波数学習処理を終了する。
【０１３９】
メモリ５に高周波電流の周波数が格納されると、再生中最適高周波電流周波数学習位置決定部２５が位置移動部１０を制御してその切り替わったゾーンの先頭に光スポットが位置するように光信号処理回路２を移動させ、高周波電流周波数切り替え部２７がメモリ５から最適高周波電流周波数決定部２６により決定された周波数を読み出し、周波数の切り替えを行う（ステップＳ１９０３）。また、ゾーン監視部６が、そのゾーンが最終ゾーンであるか否かを判定し（ステップＳ２０６）、全ゾーンについてステップＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【０１４０】
本実施の形態９によれば、各ゾーンの再生前に最適な高周波電流の周波数を学習して、品質の良いＣＡＶ再生を実現することができる。また、上述したように光ディスク内のジッタは中周ではほぼ変わらず、高周波電流の周波数は同等でよいので、高周波電流の周波数の学習回数を減少させることができ、高周波電流の周波数の学習時間を短縮することができる。なお、無論、全ゾーンにおいて最適高周波電流周波数学習処理を行ってもよく、また、全ゾーンごとに周波数の切り替えを行ってもよい。
【０１４１】
以上のように実施の形態８、９では、実施の形態３と同様に再生中に高周波電流の振幅値と周波数の学習を行う場合について説明したが、無論、実施の形態４と同様に再生前に学習を行ってもよい。つまり、再生前に、再生用ゾーン決定部１４による判定結果を基にジッタ値が否と判定されたゾーンにおいて高周波電流の振幅値あるいは周波数を学習する処理を実施してメモリ５へ格納する再生前振幅学習手段あるいは再生前周波数学習手段を具備させてもよい。無論、再生前に、全ゾーンにおいて最適高周波電流振幅学習処理や最適高周波電流周波数学習処理を行ってもよく、また、全ゾーンごとに振幅値や周波数の切り替えを行ってもよい。
【０１４２】
また、実施の形態５、６と同様に、メモリ５に格納された振幅値や周波数に対して線形補間処理や最小二乗法による補間処理を施してもよい。また、実施の形態７と同様に、一度再生した光ディスクに対して、最適高周波電流振幅学習処理や最適高周波電流周波数学習処理をスキップさせるようにしてもよい。
【０１４３】
また、実施の形態１、２と同様にユーザ操作により高周波電流の振幅値と周波数の設定を行ってもよい。また、他の実施の形態１ないし７と組み合わせて、再生パワーの切り替えとともに高周波電流の振幅値と周波数を切り替えるようにしても、無論、よい。
【産業上の利用可能性】
【０１４４】
本発明にかかる光ディスク装置は、面内感度が低かったり、面内膜厚にばらつきがあったり、面内歪みが大きかったりする光ディスクを再生する場合であっても、品質の良いＣＡＶ高倍速再生を実現でき、高倍速対応の光ディスクドライブにおいて有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１４５】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の概略構成図
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図３】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の概略構成図
【図４】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図５】本発明の実施の形態２における再生用ゾーン決定処理を説明するための図
【図６】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の概略構成図
【図７】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図８】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の概略構成図
【図９】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図１０】本発明の実施の形態５における光ディスク装置の概略構成図
【図１１】本発明の実施の形態５における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図１２】本発明の実施の形態６における光ディスク装置の概略構成図
【図１３】本発明の実施の形態６における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図１４】本発明の実施の形態７における光ディスク装置の概略構成図
【図１５】本発明の実施の形態７における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図１６】本発明の実施の形態８における光ディスク装置の概略構成図
【図１７】本発明の実施の形態８における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図１８】本発明の実施の形態９における光ディスク装置の概略構成図
【図１９】本発明の実施の形態９における光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【図２０】従来の光ディスク装置の概略構成図
【図２１】従来の光ディスク装置の再生動作を説明するためのフローチャート図
【符号の説明】
【０１４６】
１      光ディスク
２      光信号処理回路
３      ＲＦ信号検出部
４      イコライザ処理部
５      メモリ
６      ゾーン監視部
７      再生パワー切り替え部
８      レーザ駆動装置
９      フォーカス・トラッキングサーボ部
１０      位置移動部
１１      高周波重畳モジュール
１２      ジッタ値測定ゾーン決定部
１３      ジッタ値演算部
１４      再生用ゾーン決定部
１５      再生中最適再生パワー学習位置決定部
１６      最適再生パワー決定部
１７      再生前最適再生パワー学習位置決定部
１８      線形補間部
１９      最小二乗法補間部
２０      特徴判断部
２１      学習実行判断部
２２      再生中最適高周波電流振幅学習位置決定部
２３      最適高周波電流振幅決定部
２４      高周波電流振幅切り替え部
２５      再生中最適高周波電流周波数学習位置決定部
２６      最適高周波電流周波数決定部
２７      高周波電流周波数切り替え部
【図１】
2007134003.tif 000003
【図２】
2007134003.tif 000004
【図３】
2007134003.tif 000005
【図４】
2007134003.tif 000006
【図５】
2007134003.tif 000007
【図６】
2007134003.tif 000008
【図７】
2007134003.tif 000009
【図８】
2007134003.tif 000010
【図９】
2007134003.tif 000011
【図１０】
2007134003.tif 000012
【図１１】
2007134003.tif 000013
【図１２】
2007134003.tif 000014
【図１３】
2007134003.tif 000015
【図１４】
2007134003.tif 000016
【図１５】
2007134003.tif 000017
【図１６】
2007134003.tif 000018
【図１７】
2007134003.tif 000019
【図１８】
2007134003.tif 000020
【図１９】
2007134003.tif 000021
【図２０】
2007134003.tif 000022
【図２１】
2007134003.tif 000023