(57)【要約】【課題】  撮像した画像が撮像装置や撮像レンズの撮像性能の測定に適うものであるかどうか判定できるとともに、解像度の測定を自動化することができる撮像性能測定装置、撮像性能測定プログラム及び撮像性能測定用シートを提供する。【解決手段】  撮像性能測定装置１０は、この領域Ａ１の低解像度側の端部から＋Ｙ方向にスキャンする。そして、スキャン開始位置を＋Ｘ方向に所定の間隔（スキャン間隔）ずつずらしながら、＋Ｙ方向のスキャンを繰り返し、階層７２を検出する。そして、ブロック７４をスキャンして、４つのブロック７４のうちいずれか１つでも黒線７０を４本として検出できれば、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有すると判断し、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する。上記の処理を繰り返して、４本の黒線７０を分解して検出（解像）できた、最も高解像度側の階層７２の段数を特定する。【選択図】      図５
2007067733.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンが描画された撮像性能測定用シートと、
前記撮像装置を用いて撮像した前記撮像性能測定用シートのシート画像を入力する画像入力手段と、
前記入力されたシート画像から解像度測定パターンを検出するパターン検出手段と、
前記検出された解像度測定用パターンを前記階層ごとにスキャンするスキャン手段と、
前記スキャンされた階層が解像可能であるかどうかを判定する解像判定手段と、
前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を記憶する記憶手段と、
解像可能と判定された階層のうち最も高解像度の階層に対応する解像度の値を前記記憶手段から取得する解像度取得手段と、
前記取得した解像度の値を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする撮像性能測定装置。
【請求項２】
前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含んでおり、
前記解像判定手段は、前記ブロックのうち少なくとも１つが解像できた場合に、前記ブロックが含まれる階層を解像可能と判定することを特徴とする請求項１記載の撮像性能測定装置。
【請求項３】
前記記憶手段は、前記撮像装置の撮像レンズの種類ごとに、前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を格納したテーブルを記憶しており、
前記解像度測定手段は、前記撮像性能測定用シートの撮影に用いられた撮像レンズの種類に対応するテーブルから、前記解像度の値を取得することを特徴とする請求項１又は２記載の撮像性能測定装置。
【請求項４】
前記撮像性能測定用シートは、撮像時における前記撮像装置となす傾き角を測定するための傾き角測定用パターンを含み、
前記スキャン手段は、前記傾き角に基づいて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項５】
前記解像度測定用パターンの写る位置ごとに、前記撮像装置の撮像レンズのディストーションの値を記憶するディストーション値記憶手段を更に備え、
前記スキャン手段は、スキャンする解像度測定用パターンの位置に応じて前記ディストーションの値を取得し、前記ディストーションの値に応じて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項６】
前記撮像装置の撮像レンズのディストーションを測定するディストーション値測定手段を更に備え、
前記スキャン手段は、前記測定されたディストーションの値に応じて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項７】
前記出力手段は、前記解像可能と判定された階層と解像不能と判定された階層とを区別可能に出力することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項８】
前記出力手段は、前記解像可能と判定された階層と解像不能と判定された階層とを異なる色で表示することを特徴とする請求項７記載の撮像性能測定装置。
【請求項９】
撮像時における前記撮像装置のレンズ倍率を測定する倍率測定手段と、
前記測定されたレンズ倍率に基づいて前記取得された解像度の値を補正する解像度補正手段と、
を更に備えることを特徴とする請求項１から８のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項１０】
前記レンズ倍率のズレに基づく解像度の補正を行うかどうかを選択する補正選択手段を更に備えることを特徴とする請求項９記載の撮像性能測定装置。
【請求項１１】
前記撮像性能測定用シートは、前記シート画像のコントラストを測定するためのコントラスト測定用パターンを含み、
前記シート画像中のコントラスト測定用パターンを解析して、前記シート画像のコントラストを測定するコントラスト測定手段を更に備えることを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項１２】
前記撮像性能測定用シートは、前記シート画像の輝度を測定するための輝度測定用パターンを含み、
前記シート画像中の輝度測定用パターンを解析して、前記シート画像の輝度を測定する輝度測定手段を更に備えることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項１３】
前記撮像性能測定用シートの撮像時における撮像条件を取得する撮像条件取得手段と、
前記取得された撮像条件に基づいて、前記撮像装置の解像度の測定を行うかどうかを判断する判断手段と、
を更に備えることを特徴とする請求項１から１２のいずれか１項記載の撮像性能測定装置。
【請求項１４】
前記撮像条件は、前記撮像時における前記撮像装置と前記撮像性能測定用シートとのなす傾き角、レンズ倍率、にらみズレ、輝度又はコントラストのうち少なくとも１つであることを特徴とする請求項１３記載の撮像性能測定装置。
【請求項１５】
前記測定された解像度を表示する表示手段と、
前記取得された撮像条件を表示する測定条件表示画面及び前記シート画像の解像度測定用パターンを拡大して順次表示する画面を前記表示手段に順次表示する第１の動作モードと、前記測定条件表示画面及び前記解像度測定用パターンを表示する画面を順次表示する第２の動作モードと、前記撮像条件又は解像度の測定の際にエラーが発生した場合に撮像条件又は解像度測定エラーを表示する第３の動作モードと、前記撮像条件及び解像度の測定の際に表示を行わない第４の動作モードのうちから動作モードを選択する動作モード選択手段と、
を更に備えることを特徴とする請求項１３又は１４記載の撮像性能測定装置。
【請求項１６】
撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンを備えることを特徴とする撮像性能測定用シート。
【請求項１７】
前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含むことを特徴とする請求項１６記載の撮像性能測定用シート。
【請求項１８】
撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンが描画された撮像性能測定用シートのシート画像を入力する画像入力機能と、
前記入力されたシート画像から解像度測定パターンを検出するパターン検出機能と、
前記検出された解像度測定用パターンを前記階層ごとにスキャンするスキャン機能と、
前記スキャンされた階層が解像可能であるかどうかを判定する解像判定機能と、
前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を記憶する記憶機能と、
解像可能と判定された階層のうち最も高解像度の階層に対応する解像度の値を前記記憶手段から取得する解像度取得機能と、
をコンピュータに実現させることを特徴とする撮像性能測定プログラム。
【請求項１９】
前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含んでおり、
前記ブロックのうち少なくとも１つが解像できた場合に、前記ブロックが含まれる階層を解像可能と判定する解像判定機能と、
をコンピュータに実現させることを特徴とする請求項１８記載の撮像性能測定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は撮像性能測定装置、撮像性能測定プログラム及び撮像性能測定用シートに係り、特に撮像装置の解像度等の撮像性能を測定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、撮像装置の撮像レンズや撮像素子の撮像性能を測定するための技術が開発されている。例えば、特許文献１及び２には、撮像されたくさびチャートの画像から解像度を自動的に測定することができる解像度測定装置について開示されている。
【特許文献１】特開２００３−９１９０号公報
【特許文献２】特開２００３−２５９４００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、上記の特許文献１及び２に開示された撮像性能測定装置は、くさびチャート以外の解像度測定用パターンを用いた解像度測定には適用できず、従来目視によるほかなかった。また、上記のようなチャートを撮像した画像が解像度等の撮像性能の測定に適う画像であるかどうかを判定することはできなかった。
【０００４】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、撮像した画像が撮像装置や撮像レンズの撮像性能の測定に適うものであるかどうか判定できるとともに、解像度の測定を自動化することができる撮像性能測定装置、撮像性能測定プログラム及び撮像性能測定用シートを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために本発明に係る撮像性能測定装置は、撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンが描画された撮像性能測定用シートと、前記撮像装置を用いて撮像した前記撮像性能測定用シートのシート画像を入力する画像入力手段と、前記入力されたシート画像から解像度測定パターンを検出するパターン検出手段と、前記検出された解像度測定用パターンを前記階層ごとにスキャンするスキャン手段と、前記スキャンされた階層が解像可能であるかどうかを判定する解像判定手段と、前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を記憶する記憶手段と、解像可能と判定された階層のうち最も高解像度の階層に対応する解像度の値を前記記憶手段から取得する解像度取得手段と、前記取得した解像度の値を出力する出力手段とを備えることを特徴とする。
【０００６】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンを用いて自動的に解像度を測定することができる。
【０００７】
上記撮像性能測定装置において、前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含んでおり、前記解像判定手段は、前記ブロックのうち少なくとも１つが解像できた場合に、前記ブロックが含まれる階層を解像可能と判定するようにするようにしてもよい。
【０００８】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、エリアジングによるパターンの階層の測定不良を避けることができる。
【０００９】
上記撮像性能測定装置において、前記記憶手段は、前記撮像装置の撮像レンズの種類ごとに、前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を格納したテーブルを記憶しており、前記解像度測定手段は、前記撮像性能測定用シートの撮影に用いられた撮像レンズの種類に対応するテーブルから、前記解像度の値を取得するようにするようにしてもよい。
【００１０】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、撮像レンズの解像度に応じてあらかじめ上記テーブルを用意しておくことにより、あらゆる解像度の撮像レンズについて本発明の撮像性能測定装置を用いて解像度の測定を行うことができる。
【００１１】
上記撮像性能測定装置において、前記撮像性能測定用シートは、撮像時における前記撮像装置となす傾き角を測定するための傾き角測定用パターンを含み、前記スキャン手段は、前記傾き角に基づいて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整するようにしてもよい。
【００１２】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、解像度測定用パターンの検出精度を向上させることができ、解像度測定パターンのサイズを少なくとも長さ方向に小さくして、１枚の撮像性能測定用シート上により多くの階層を描画することができる。
【００１３】
上記撮像性能測定装置は、前記解像度測定用パターンの写る位置ごとに、前記撮像装置の撮像レンズのディストーションの値を記憶するディストーション値記憶手段を更に備え、前記スキャン手段は、スキャンする解像度測定用パターンの位置に応じて前記ディストーションの値を取得し、前記ディストーションの値に応じて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整するようにしてもよい。
【００１４】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、解像度測定用パターンの検出精度を向上させることができ、解像度測定パターンのサイズを少なくとも長さ方向に小さくして、１枚の撮像性能測定用シート上により多くの階層を描画することができる。
【００１５】
上記撮像性能測定装置は、前記撮像装置の撮像レンズのディストーションを測定するディストーション値測定手段を更に備え、前記スキャン手段は、前記測定されたディストーションの値に応じて前記解像度測定用パターンをスキャンする際の角度を調整するようにしてもよい。
【００１６】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、階層又はブロックのスキャンの都度、ディストーションを測定するため、解像度測定用パターンの検出精度をより向上させることができ、解像度測定パターンのサイズを少なくとも長さ方向に小さくして、１枚の撮像性能測定用シート上により多くの階層を描画することができる。
【００１７】
上記撮像性能測定装置において、前記出力手段は、前記解像可能と判定された階層と解像不能と判定された階層とを区別可能に出力するようにしてもよい。
【００１８】
上記撮像性能測定装置において、前記出力手段は、前記解像可能と判定された階層と解像不能と判定された階層とを異なる色で表示するようにしてもよい。
【００１９】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、解像度の測定結果を視覚的に確認することができ、目視による解像度の測定結果と容易に比較することができる。
【００２０】
上記撮像性能測定装置は、撮像時における前記撮像装置のレンズ倍率を測定する倍率測定手段と、前記測定されたレンズ倍率に基づいて前記取得された解像度の値を補正する解像度補正手段とを更に備えていてもよい。
【００２１】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、撮像時のレンズ倍率のズレによる解像度の誤差を補正することができ、解像度測定をより正確に行うことができる。
【００２２】
上記撮像性能測定装置は、前記レンズ倍率のズレに基づく解像度の補正を行うかどうかを選択する補正選択手段を更に備えていてもよい。
【００２３】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、レンズ倍率のズレによる解像度の補正を行うかどうかを選択することができる。
【００２４】
上記撮像性能測定装置において、前記撮像性能測定用シートは、前記シート画像のコントラストを測定するためのコントラスト測定用パターンを含み、前記シート画像中のコントラスト測定用パターンを解析して、前記シート画像のコントラストを測定するコントラスト測定手段を更に備えていてもよい。
【００２５】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、シート画像のコントラストを測定することができる。また、測定されたコントラストに基づいて撮像装置のパラメータ（フォーカス、露出等）を制御することにより、撮像性能の向上を図ることができる。
【００２６】
上記撮像性能測定装置において、前記撮像性能測定用シートは、前記シート画像の輝度を測定するための輝度測定用パターンを含み、前記シート画像中の輝度測定用パターンを解析して、前記シート画像の輝度を測定する輝度測定手段を更に備えていてもよい。
【００２７】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、シート画像の輝度を測定することができる。
【００２８】
上記撮像性能測定装置は、前記撮像性能測定用シートの撮像時における撮像条件を取得する撮像条件取得手段と、前記取得された撮像条件に基づいて、前記撮像装置の解像度の測定を行うかどうかを判断する判断手段とを更に備えていてもよい。
【００２９】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、撮像時の撮像条件に基づいて、シート画像が解像度の測定に適したものであるかどうか判断することができる。
【００３０】
上記撮像性能測定装置において、前記撮像条件は、前記撮像時における前記撮像装置と前記撮像性能測定用シートとのなす傾き角、レンズ倍率、にらみズレ、輝度又はコントラストのうち少なくとも１つである。これは上記の撮像条件を限定したものである。
【００３１】
上記撮像性能測定装置は、前記測定された解像度を表示する表示手段と、前記取得された撮像条件を表示する測定条件表示画面及び前記シート画像の解像度測定用パターンを拡大して順次表示する画面を前記表示手段に順次表示する第１の動作モードと、前記測定条件表示画面及び前記解像度測定用パターンを表示する画面を順次表示する第２の動作モードと、前記撮像条件又は解像度の測定の際にエラーが発生した場合に撮像条件又は解像度測定エラーを表示する第３の動作モードと、前記撮像条件及び解像度の測定の際に表示を行わない第４の動作モードのうちから動作モードを選択する動作モード選択手段とを更に備えていてもよい。
【００３２】
本発明に係る撮像性能測定装置によれば、撮像条件や解像度の測定時における表示を選択することができる。
【００３３】
本発明に係る撮像性能測定用シートは、撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンを備えることを特徴とする。
【００３４】
また、上記撮像性能測定用シートにおいて、前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含んでいてもよい。
【００３５】
本発明に係る撮像性能測定プログラムは、撮像性能を測定する対象である撮像装置の解像度に対応するパターンの階層を含む解像度測定用パターンが描画された撮像性能測定用シートのシート画像を入力する画像入力機能と、前記入力されたシート画像から解像度測定パターンを検出するパターン検出機能と、前記検出された解像度測定用パターンを前記階層ごとにスキャンするスキャン機能と、前記スキャンされた階層が解像可能であるかどうかを判定する解像判定機能と、前記階層と前記撮像装置の解像度との対応関係を記憶する記憶機能と、解像可能と判定された階層のうち最も高解像度の階層に対応する解像度の値を前記記憶手段から取得する解像度取得機能とをコンピュータに実現させることを特徴とする。
【００３６】
上記撮像性能測定プログラムにおいて、前記階層は、前記撮像装置の解像度に対応するパターンに対応する複数のブロックを含んでおり、前記ブロックのうち少なくとも１つが解像できた場合に、前記ブロックが含まれる階層を解像可能と判定する解像判定機能とをコンピュータに実現させることを特徴とする。
【００３７】
本発明に係る撮像性能測定プログラムを、パーソナルコンピュータや電子カメラ等の情報処理装置に適用することにより、上記本発明の撮像性能測定装置を実現することができる。
【発明の効果】
【００３８】
本発明によれば、ブロックチャートを用いた解像度の測定を自動化することができる。また、撮像したシート画像が撮像装置や撮像レンズの撮像性能の測定に適うものであるかどうか、撮像条件に基づいて判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３９】
以下、添付図面に従って本発明に係る撮像性能測定装置、撮像性能測定プログラム及び撮像性能測定用シートの好ましい実施の形態について説明する。
【００４０】
図１は、本発明の一実施形態に係る撮像性能測定装置を模式的に示すブロック図である。同図に示す撮像性能測定装置１０は、撮像装置１２によって撮像された撮像性能測定用シート１４の画像を解析して、撮像装置１２の撮像レンズや撮像素子の解像度等の撮像性能を測定するための装置であり、例えば、撮像性能を測定するためのアプリケーション（撮像性能測定プログラム１６）がインストールされたパーソナルコンピュータ（ＰＣ）である。なお、撮像性能測定用シート１４を撮像する際には、撮像装置１２の撮像素子の結像面（図示せず）と撮像性能測定用シート１４とが略平行になるように、図示せぬ設置台やアーム、三脚等によりそれぞれ固定される。
【００４１】
図２は、撮像性能測定装置１０の主要構成を示すブロック図である。同図においてＣＰＵ２０は、バス２２を介して撮像性能測定装置１０の各ブロックに接続されており、キーボード２４やマウス２６、その他の図示せぬ操作スイッチからの操作入力に基づいて各ブロックを統括制御する。キーボード２４及びマウス２６は、入力デバイスコントローラ２８を介してバス２２に接続される。入力デバイスコントローラ２８は、キーボード２４及びマウス２６からの操作入力に応じてＣＰＵ２０に信号を入力する。メモリ３０は、ＣＰＵ２０が処理するプログラム及び制御に必要な各種データ等が格納されるＲＯＭ（Read Only Memory）や、撮像装置１２から入力された画像が格納される記憶領域、ＣＰＵ２０が各種の演算処理等を行う作業用領域となるＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）等を備える。また、ハードディスク装置（ＨＤＤ）３２は、ＣＰＵ２０が処理するプログラム及び制御に必要な各種データ等を格納するとともに、撮像装置１２から入力された画像を格納するための記憶装置であり、上記した撮像性能測定プログラム１６や各種の設定ファイル（ｉｎｉファイル）を格納する。ディスプレイ３４は、撮像装置１２から入力された画像や各種の操作メニュー等を表示するための装置であり、ディスプレイコントローラ３６により制御される。通信インターフェース（Ｉ／Ｆ）部３８は、撮像装置１２等の外部機器とデータの送受信を行うための装置である。
【００４２】
図３は、ＣＰＵ２０の機能ブロックを示す図である。図３に示すように、ＣＰＵ２０は、撮像装置１２により撮像された撮像性能測定用シート１４の画像（シート画像１４′）を解析して、撮像装置１２の解像度を測定する解像度測定部２０Ａ、シート画像１４′を解析して撮像装置１２に対する撮像性能測定用シート１４の傾きを測定する画像傾き測定部２０Ｂ、シート画像１４′を解析してレンズ倍率を測定するレンズ倍率測定部２０Ｃ、撮像性能測定用シート１４とシート画像１４′の中心位置のズレを検出するにらみズレ測定部２０Ｄ、シート画像１４′の輝度を測定する輝度測定部２０Ｅ、シート画像１４′のコントラストを測定するコントラスト測定部２０Ｆを備える。
【００４３】
図４は、撮像性能測定用シート１４を示す平面図である。図４に示す撮像性能測定用シート１４は、例えば、白色のシートであり、解像度測定用パターン５０、撮像誤差測定用パターン５２、コントラスト測定用パターン５６及び輝度測定用パターン５８を含む撮像性能測定用パターンが描画されている。また、解像度測定用パターン５０の近傍には、解像度測定用パターン５０の位置の検出に用いられるパターン位置特定用マーカ６０が描画されている。なお、図４に示す縞模様６２は、撮像装置１２のオートフォーカス制御を容易にするために描画されたものである。
【００４４】
図４に示すように、解像度測定用パターン５０は、撮像性能測定用シート１４の中央及び四隅に合計５つ描画されている。撮像性能測定用シート１４の四隅に配置された解像度測定用パターン５０は、図４の縦方向又は横方向に沿う直線に対して互いに線対称になっている。解像度測定用パターン５０は、水平方向の解像度を測定するための水平方向解像度測定用パターン５０Ｈ及び垂直方向の解像度を測定するための垂直方向解像度測定用パターン５０Ｖから構成される。なお、解像度測定用パターン５０Ｈ及び５０Ｖを用いて解像度を測定する手順は同様である。
【００４５】
図５は、解像度測定用パターン５０の一部を拡大して示す図である。図５に示すように、解像度測定用パターン５０は、Ｘ方向に伸びる黒線７０がＹ方向に複数配置されたパターンを含む複数の階層７２から構成されるブロックチャートである。黒線７０の太さは階層７２ごとに異なっており、図５に示す例では＋Ｘ方向の階層７２ほど細くなっている。以下の説明では、黒線７０が太い−Ｘ側を低解像度側、細い＋Ｘ側を高解像度側と記載する。
【００４６】
各階層７２は、複数の（図５では４つ）ブロック７４を含んでいる。ブロック７４は４本の黒線７０から構成され、各階層７２において４つのブロック７４は所定の間隔で配置される。また、各ブロック７４において４本の黒線７０は、等間隔（黒線７０の太さと同じ間隔）で配置される。
【００４７】
解像度測定用パターン５０を用いて解像度を測定する場合には、まず、撮像装置１２により撮像性能測定用シート１４を撮像し、撮像したシート画像１４′を撮像性能測定装置１０に入力する。そして、撮像性能測定装置１０は、入力された画像から解像度測定用パターン５０が描画された領域Ａ１を抽出する。
【００４８】
次に、図５の矢印に示すように、撮像性能測定装置１０は、この領域Ａ１の低解像度側の端部から＋Ｙ方向にスキャンする。そして、スキャン開始位置を＋Ｘ方向に所定の間隔（スキャン間隔）ずつずらしながら、＋Ｙ方向のスキャンを繰り返す。なお、スキャン開始位置をずらす間隔（スキャンピッチ）は、例えば、１から数画素である。
【００４９】
次に、スキャンを繰り返して、最初の黒線７０Ｂに到達すると、撮像性能測定装置１０は、＋Ｙ方向のスキャンの途中において輝度差が所定値Ｅ１以上となることを検出する。そして、スキャンを繰り返して、Ｙ方向の同じ位置で輝度差が所定値Ｅ１以上となることを確認すると、階層７２を検出したと判断する。続いて、スキャンを繰り返して、＋Ｙ方向のスキャンの途中において輝度差が所定値Ｅ１以上にならないことを検出すると、撮像性能測定装置１０は、１つの階層７２のスキャンが終了したと判断する。撮像性能測定装置１０は、この階層７２の検出からスキャン終了までのスキャンの繰り返し回数とスキャンピッチに基づいて、階層７２のシート画像１４′中における高さ（Ｘ方向の長さ）Ｈを算出する。
【００５０】
次に、撮像性能測定装置１０は、上記において算出した階層７２の高さ方向のほぼ中心の位置ＸＣ（最初に黒線７０Ｂを検出した位置から＋Ｘ方向に約Ｈ／２の位置）をＹ方向にスキャンして、輝度差がＥ１以上になる位置（階層７２の両端の黒線７０Ｂ）を検出する。撮像性能測定装置１０は、検出された両端の位置から階層７２の幅（Ｙ方向の長さ）Ｗ１を特定する。そして、撮像性能測定装置１０は、階層７２をＹ方向に幅Ｗ１／４の領域に分割して、４つのブロック７４を特定する。
【００５１】
次に、撮像性能測定装置１０は、ブロック７４を＋Ｙ方向に複数回（例えば、３回）スキャンして、輝度差の絶対値が所定値Ｅ２以上となる回数をカウントする。ここで、スキャン位置は、例えば、黒線７０のほぼ中心の位置ＸＣ及びその上下に１から数画素離れた位置とする。撮像性能測定装置１０は、複数回のスキャンのすべてにおいて、カウント回数が８回の場合、すなわち、本の黒線のＹ方向の端部を検出でき１つのブロック７４の黒線７０を４本として検出した場合、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有すると判断し、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する。すなわち、上記の階層７２のスキャン終了位置からスキャン開始位置を＋Ｘ方向に所定の間隔（スキャン間隔）ずつずらしながら＋Ｙ方向のスキャンを繰り返し、次の階層７２について上記と同様の処理を行う。
【００５２】
一方、カウント回数が８回未満の場合、すなわち、１つのブロック７４の黒線７０を４本として検出できなかった場合、撮像性能測定装置１０は、次のブロック７４を同様にスキャンする。そして、４つのブロック７４のうちいずれか１つでも黒線７０を４本として検出できれば、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有すると判断し、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する。
【００５３】
また、４つのブロック７４のすべてについて黒線７０を４本として検出できなかった場合には、撮像性能測定装置１０は、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有しないと判断する。そして、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する。
【００５４】
次に、上記の処理を繰り返して、４本の黒線７０を分解して検出（解像）できた、最も高解像度側の階層７２の段数を特定する。本実施形態では、この階層７２の段数と解像度との関係を示す解像度テーブルＴ１が撮像性能測定プログラム１６の設定ファイル（ｉｎｉファイル）に格納されており（図６参照）、撮像性能測定装置１０はこの解像度測定テーブルＴ１を参照して解像度を取得する。例えば、階層７２の４段目まで黒線７０を解像でき、５段目では分解できなかった場合、図６から解像度は１１００本となる。なお、本実施形態では、解像度測定テーブルＴ１は、撮像装置１２の撮像レンズの種類に応じて複数用意されている。これにより、あらゆる解像度の撮像レンズに対して、本実施形態の撮像性能測定装置１０及び撮像性能測定用シート１４を用いた解像度測定が適用できる。
【００５５】
そして、中央及び四隅の解像度測定用パターン５０において同様の処理を行うことにより水平方向及び垂直方向の解像度が測定され、こうして測定された解像度の値は、レンズ倍率に応じて補正され（詳細後述）、Ｌｏｇファイルに出力されるとともに、図７に示す解像度測定結果表示画面に表示される。図７に示す解像度測定結果表示画面では、左側にシート画像１４′が表示されており、右側に解像度測定用パターン５０の位置に対応して水平方向及び垂直方向の解像度の値が表示されている。
【００５６】
上記解像度測定結果表示画面では、解像できた階層と解像できなかった階層とを区別可能に表示されるようにしてもよい。図８は、図７のシート画像１４′の解像度測定パターン５０を一部拡大して示す平面図である。図８では、解像された階層７２が緑（ｇｒｅｅｎ）、解像されなかった階層７２が赤（ｒｅｄ）で表示されている。これにより、ユーザは、解像度の測定結果を視覚的に確認することが容易になる。なお、解像度測定結果表示画面における表示の態様は、色分けに限定されるものではなく、例えば、区切り線や枠組み等により、解像できた階層と解像できなかった階層とを区別するようにしてもよい。
【００５７】
なお、本実施形態において、ブロック７４を複数設けたのは、エリアジングを防止するためである。ここで、エリアジングとは、例えば、シート画像１４′における黒線７０の太さと撮像装置１２の画素のピッチがほぼ同じ場合、撮像装置１２の撮像素子（例えば、ＣＣＤ）の画素と黒線７０との位置関係によっては、黒線７０と白色の隙間とが明確に分解されないことをいう。例えば、図９（ａ）に示すように、黒線７０と画素のサイズがほぼ同じで位置が重なる場合には、ブロック７４内の黒線７０が４本に解像される。一方、図９（ｂ）に示すように、黒線７０が２つの画素にまたがっている場合には、各画素の輝度がほぼ同じになり、ブロック７４内の黒線７０を４本に分解できない。本実施形態では、階層７２内にブロック７４を複数設けて、どれか１つのブロック７４で４本の黒線７０を解像できれば、その階層７２の解像度を有すると判断している。隣り合うブロック７４の間隔Ｉは次の式：
（ブロック７４の間隔Ｉ）＝（黒線７０の太さ）×（整数）＋１／（階層７２に含まれるブロック７４の数）…（１）
により表される。ブロック７４の間隔を式（１）により算出される値とすることにより、階層７２内の複数のブロック７４の少なくとも１つにおいて黒線７０と画素との位置が適切になるように調整できる。
【００５８】
次に、解像度測定用パターン５０を用いて撮像装置１２の解像度を測定する処理について、図１０及び図１１を参照して説明する。図１０は、パターン位置検出用マーカ６０により解像度測定用パターン５０を検出する処理の流れを示すフローチャートである。
【００５９】
まず、撮像装置１２が撮像性能測定装置１０に接続され、撮像装置１２により撮像された撮像性能測定用シート１４の画像（シート画像１４′）が撮像性能測定装置１０に入力される（ステップＳ１０）。なお、撮像装置１２がフイルムカメラ等の場合には、シート画像１４のネガフイルムをデジタル化して入力することにより、解像度の測定を行うこともできる。
【００６０】
次に、撮像性能測定装置１０は、シート画像１４′を複数の分割エリア（例えば、シート画像１４′を縦３×横３のマス目状の９つの分割エリア）に分割する（ステップＳ１２）。そして、シート画像１４′を上記分割エリアごとに解析し、パターン位置特定用マーカ６０を検出する（ステップＳ１４）。なお、シート画像１４′の分割方法は９分割に限定されるものではなく、解像度測定用パターン５０等の配置に応じて選択される。また、ステップＳ１４におけるパターン位置検出用マーカ６０の検出方法としては、例えば、大津方式を用いることができる。ここで、大津方式とは、画像全体の輝度の平均値を算出し、この平均値に基づいて閾値を設定して画像の画素の２値化を行うものである。
【００６１】
その次に、上記ステップＳ１４において検出されたパターン位置特定用マーカ６０の位置に基づいて解像度測定用パターン５０の画像を検出する（ステップＳ１６）。そして、この解像度測定用パターン５０の画像が解析されて、撮像装置１２の解像度が測定される（ステップＳ１８）。
【００６２】
次に、上記図１０に示した処理により検出された解像度測定用パターン５０を用いて解像度を測定する処理について、図１１を参照して説明する。図１１は、本発明の第１の実施形態に係る解像度測定処理の流れを示すフローチャートである。
【００６３】
まず、上記検出された解像度測定用パターン５０を低解像度側の階層７２からスキャン開始位置を＋Ｘ方向に所定の間隔（スキャン間隔）ずつずらしながら＋Ｙ方向のスキャンを繰り返す（ステップＳ３０）。スキャンを繰り返して、最初の黒線７０Ｂに到達し、＋Ｙ方向のスキャンの途中において輝度差が所定値Ｅ１以上になることを検出すると（ステップＳ３２）、撮像性能測定装置１０は、階層７２を検出したと判断し、１ラインごとのスキャンを継続する（ステップＳ３４）。また、スキャンの繰り返しごとに、スキャン間隔を加算して（ステップＳ３８）、階層７２の高さＨを算出する。次に、＋Ｙ方向のスキャンにおいて輝度差が常に所定値Ｅ１未満であることを検出すると（ステップＳ３６のＹｅｓ）、撮像性能測定装置１０は、１つの階層７２のスキャンが終了したと判断するとともに、階層７２の高さＨを確定する。
【００６４】
次に、撮像性能測定装置１０は、階層７２の高さ方向のほぼ中心の位置ＸＣをＹ方向にスキャンして、輝度差がＥ１以上になる位置を２か所（すなわち、階層７２の両端の黒線７０Ｂを）検出して（ステップＳ４０）、検出された両端の位置から階層７２の幅Ｗ１を特定する（ステップＳ４２）。なお、階層７２の両端が検出できなかった場合には（ステップＳ４２のＮｏ）、解像度測定エラーとなり解像度の測定を終了する（ステップＳ４４）。
【００６５】
次に、撮像性能測定装置１０は、階層７２をＹ方向に幅Ｗ１／４の領域に分割して、４つのブロック７４を特定する（ステップＳ４６）。そして、撮像性能測定装置１０は、ブロック７４を＋Ｙ方向に複数回（例えば、３回）スキャンして、輝度差の絶対値が所定値Ｅ２以上となる回数をカウントする（ステップＳ４８）。撮像性能測定装置１０は、カウント回数が８回の場合、すなわち、１つのブロック７４の黒線７０を４本として検出した場合、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有すると判断し（ステップＳ５０のＹｅｓ）、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する（ステップＳ５６）。一方、カウント回数が８回未満の場合、すなわち、１つのブロック７４の黒線７０を４本として検出できなかった場合（ステップＳ５０のＹｅｓ）、撮像性能測定装置１０は、次のブロック７４を同様にスキャンする（ステップＳ５４）。そして、４つのブロック７４のうちいずれか１つでも黒線７０を４本として検出できれば、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有すると判断し（ステップＳ５０のＹｅｓ）、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する（ステップＳ５６）。
【００６６】
一方、４つのブロック７４のすべてについて黒線７０を４本として検出できなかった場合には（ステップＳ５２のＹｅｓ）、撮像性能測定装置１０は、撮像装置１２がこの階層７２の解像度を有しないと判断して、次に高解像度側の階層７２のスキャンに移行する（ステップＳ５６）。そして、全ての階層７２のスキャンが終了すると、撮像性能測定装置１０は、４本の黒線７０を解像できた最も高解像度側の階層７２の段数に基づいて解像度の値を取得して、Ｌｏｇファイルに出力され、また、図７に示した解像度測定結果表示画面に表示される。
【００６７】
本実施形態によれば、ブロックチャートを用いて撮像装置１２の解像度を自動的に測定することができる。また、ブロックチャートの階層７２を複数のブロック７４に分け、いずれか１つのブロック７４を解像できれば、その階層７２を解像できたと判断するようにしたことにより、エリアジングによる解像度の測定不良を防止することができる。
【００６８】
また、解像できた階層７２の段数と解像度との関係を示す解像度テーブルを、撮像装置１２の撮像レンズの種類に応じて変えることにより、あらゆる解像度の撮像レンズに対して、本実施形態の撮像性能測定装置１０及び撮像性能測定用シート１４を適用することができる。
【００６９】
次に、本発明に係る解像度測定処理の第２の実施形態について説明する。本実施形態に係る撮像性能測定装置１０は、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角及び撮像装置１２の撮像レンズのディストーションの値を取得し、解像度測定用パターン５０をスキャンする際のスキャン角度を補正して解像度を測定する。
【００７０】
まず、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角を測定する処理について、図１２を参照して説明する。図１２は、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角を測定する処理を説明するための図である。図１２に示すように、撮像性能測定用シート１４には、撮像誤差測定用パターン５２が左右一対描画されている。撮像誤差測定用パターン５２は、撮像性能測定用シート１４の縦方向（Ｖ方向）に沿う直線に対して線対称に配置されており、パターン５２を結ぶ線分Ｌ１の中点はシート１４の対角線の交点（中心）に一致する。
【００７１】
撮像性能測定装置１０は、上記一対の撮像誤差測定用パターン５２を検出し、同パターン５２を結ぶ線分Ｌ１と、シート画像１４′の横方向（Ｈ方向）に沿う直線Ｌ２とのなす角αを測定する。これにより、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角を測定することができる。なお、傾き角αは、線分Ｌ１の右側が上がっている場合には正（＋）、右側が下がっている場合には負（−）とする。
【００７２】
また、シート画像１４′におけるシート１４の中心と線分Ｌ１の中点のズレ（にらみズレ）を測定することができる。このにらみズレは、線分Ｌ１の中点がシート１４の中心に対して＋Ｈ側にある場合には正（＋）、−Ｈ側にある場合には負（−）、＋Ｖ側にある場合には負（−）、−Ｖ側にある場合には正（＋）とし、その値はシート画像１４′の対角線に対する比（百分率）で表す。
【００７３】
次に、撮像レンズのディストーションを取得する。本実施形態の撮像性能測定装置１０は、撮像装置１２の撮像レンズのディストーションの値が格納されたディストーションテーブルＴ２が撮像性能測定プログラム１６の設定ファイル（ｉｎｉファイル）に格納されている。図１３は、ディストーションテーブルＴ２を示す図である。図１３に示すように、ディストーションテーブルＴ２には、シート画像１４′における階層７２のおおよその位置ごとに撮像レンズのディストーションの値が格納されている。撮像性能測定装置１０は、スキャンする階層７２ごとにディストーションの値を取得して＋Ｙ方向のスキャン角度に反映する。
【００７４】
なお、上記ディストーションテーブルＴ２は、撮像レンズのズーム位置ごとに（例えば、テレ端及びワイド端）ごとに用意する。また、図１３では、ディストーションの値は、階層７２ごとに１つであるが、例えば、「＝１．３，１．２，２．０，１．０」のように４つのブロック７４ごとに設定されるようにしてもよい。また、ディストーションの値は、撮像レンズの設計値、もしくは、実際に撮影した代表的な画像からの測定値である。
【００７５】
次に、本実施形態における解像度の測定処理について、図１４を参照して説明する。図１４は、本発明の第２の実施形態に係る解像度測定処理の流れを示すフローチャートである。まず、撮像装置１２と撮像性能測定シート１４との傾き角を測定する。また、撮像レンズの低解像度側の最初の階層７２の位置におけるディストーションの値を取得し、上記測定した傾き角とディストーションの値に基づいてスキャン角度を算出する（ステップＳ６０）。なお、ステップＳ６２からＳ８８の処理は、上記図１１のステップＳ３０からＳ５６と同様であるため説明を省略する。そして、次の階層７２をスキャンする際には、次の階層７２に対応するディストーションの値と既に測定した傾き角に基づいてスキャン角度を調整する。
【００７６】
本実施形態によれば、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定シート１４との傾きや、撮像レンズのディストーションを考慮してスキャンを行うため、解像度測定用パターン５０を確実に検出することができる。また、解像度測定パターン５０の検出精度の向上により、解像度測定パターン５０のサイズを黒線７０の長さ方向に小さくして、１枚の撮像性能測定用シート１４上により多くの階層７２を描画することができる。
【００７７】
なお、撮像レンズのディストーションについては、各階層７２又はブロック７４のスキャンの都度（例えば、図１４のステップＳ７４又はＳ７８の後に）測定するようにしてもよい。
【００７８】
次に、上記のようにして測定された解像度の値を撮像レンズのレンズ倍率のズレに応じて補正する処理について、図１５及び図１６を参照して説明する。図１５は、解像度の測定値をレンズ倍率のズレに応じて補正する手順を説明するための図である。まず、上記一対の撮像誤差測定用パターン５２の位置を検出し、シート画像１４′における同パターン５２間の距離Ｄを測定する。次に、レンズ倍率を１倍として撮像した場合の撮像誤差補正用パターン５２間の距離と画像幅との比の値Ｒ（百分率）を図１６に示す設定ファイル（ｉｎｉファイル）から取得する。また、シート画像１４′の横幅（画像幅）Ｗを取得する。そして、上記パターン５２間の距離Ｄ、画像幅Ｗ、レンズ倍率が１倍のときのＤとＷの比Ｒに基づいてレンズ倍率を算出し、算出されたレンズ倍率に基づいて解像度の測定値を補正する。レンズ倍率及び補正された解像度の値は、次の式：
（レンズ倍率）＝Ｄ÷（Ｗ×Ｒ／１００）×１００…（２）
（補正された解像度の値）＝（解像度の測定値）÷（レンズ倍率）…（３）
により表される。いま、パターン５２間の距離Ｄ＝１９７９（ｄｏｔ）、画像幅Ｗ＝２５９２（ｄｏｔ）、比Ｒ＝７６．０４（％）とすると、レンズ倍率は、式（２）により、
（レンズ倍率）＝１９７９÷（２５９２×０．７６０４）×１００≒１００．４（％）
である。解像度の測定値を１１００本とすると、補正された解像度の値は、式（３）により、
（補正された解像度の値）＝１１００÷１．００４≒１０９６（本）
となる。これにより、撮像時のレンズ倍率による解像度の誤差を補正することができる。なお、本実施形態では、レンズ倍率による解像度の補正を行いたくない場合には、解像度の補正を行うかどうかについて設定ファイル（ｉｎｉファイル）によりあらかじめ設定しておくことができる。
【００７９】
次に、本発明の撮像性能測定の処理全体について、図１７から図２１を参照して説明する。図１７は、撮像誤差の測定処理の流れを示すフローチャートである。まず、シート画像１４′から撮像誤差測定用パターン５２を検出し（ステップＳ１００）、その座標を取得する（ステップＳ１０２）。次に、撮像誤差測定用パターン５２を結ぶ線分Ｌ１とシート画像１４′に沿う直線Ｌ２のなす角（傾き角）αを測定する（ステップＳ１０４）。また、上記撮像誤差測定用パターン５２間の距離Ｄ、画像幅Ｗ、レンズ倍率が１倍のときのＤとＷの比Ｒに基づいてレンズ倍率のズレを算出し、上記式（２）によりレンズ倍率を算出する（ステップＳ１０６）。さらに、シート画像１４′の中心と前記線分Ｌ１とのズレ（にらみズレ）を算出する（ステップＳ１０８）。これにより、撮像性能測定用シート１４の撮像時における撮像装置１２とシート１４との相対的な位置ずれやレンズ倍率による撮像誤差を測定することができる。
【００８０】
図１８は、シート画像１４′の輝度の測定処理の流れを示すフローチャートである。まず、シート画像１４′から輝度を測定するための輝度測定用パターン５８を検出する（ステップＳ１１０）。図４に示すように、輝度測定用パターン５８は、撮像性能測定用シート１４の中央及び四隅に配置されたグレーで矩形状のパターンであり、シート画像１４′の中央及び四隅における平均輝度を算出する（ステップＳ１１２）。次に、逆γ補正を行って、撮像装置１２においてγ補正を施す前の輝度を取得する（ステップＳ１１４）。また、中央及び四隅のうち２箇所の平均輝度の差を計算し、この差の絶対値の最大値（最大輝度差）を算出する（ステップＳ１１６）。これにより、シート画像１４′の各部の輝度を測定することができる。こうして測定された輝度は、後述する撮像条件測定画面（図２１参照）において、輝度測定用パターン５８の位置ごとに表示される。
【００８１】
図１９は、コントラスト測定用パターン５６を拡大して示す平面図である。図１９に示すように、コントラスト測定用パターン５６は、撮像性能測定用シート１４上に複数配置されており、白パッチ８０Ｗ、黒パッチ８０Ｂ、撮像性能測定用シート１４の縦方向及び横方向に対して傾いた黒線がその太さの間隔を空けて配置された高周波域パターン８２及び低周波域パターン８４を含んでいる。高周波域パターン８２の方が低周波域パターン８４より細くなっている。なお、図中の符号８６は、コントラスト測定用パターン５６の位置を特定するためのマーカである。
【００８２】
図２０は、シート画像１４′のコントラストの測定処理の流れを示すフローチャートである。まず、シート画像１４′からコントラスト測定用パターン５６を検出する（ステップＳ１２０）。コントラスト測定用パターン５６は、位置特定用マーカ８６を用いて図１０と同様の処理により検出できる。次に、白パッチ８０Ｗの輝度Ｌ（８０Ｗ）及び黒パッチ８０Ｂの輝度Ｌ（８０Ｂ）を測定し（ステップＳ１２２）、この輝度Ｌ（８０Ｗ）及び（８０Ｂ）に逆γ補正を行い、リニアな系の値とする（ステップＳ１２３）。ステップＳ１２２及びＳ１２３において測定された白パッチ８０Ｗと黒パッチ８０Ｂの輝度のそれぞれの値に逆γ補正を行いリニアな系とした輝度の差Ｌ（８０Ｗ）−Ｌ（８０Ｂ）がコントラスト測定用パターン５６における輝度差の最大値である。
【００８３】
次に、高周波域パターン８２の黒線８２Ｂの輝度Ｌ（８２Ｂ）及び黒線８２Ｂの間の白い領域８２Ｗの輝度Ｌ（８２Ｗ）を測定してそれぞれの値に逆γ補正を行い、リニアな系の値とする。そして、上記逆γ補正が施された高周波域パターン８２の輝度差の上記輝度差の最大値に対する比：｛Ｌ（８２Ｗ）−Ｌ（８２Ｂ）｝／｛Ｌ（８０Ｗ）−Ｌ（８０Ｂ）｝を算出する（ステップＳ１２４）。また、低周波域パターン８４の黒線８４Ｂの輝度Ｌ（８４Ｂ）及び黒線８４Ｂの間の白い領域８４Ｗの輝度Ｌ（８４Ｗ）を測定してそれぞれの値に逆γ補正を行い、リニアな系の値とする。そして、上記逆γ補正が施された低周波域パターン８４の輝度差の上記輝度差の最大値に対する比：｛Ｌ（８４Ｗ）−Ｌ（８４Ｂ）｝／｛Ｌ（８０Ｗ）−Ｌ（８０Ｂ）｝を算出する（ステップＳ１２６）。これにより、撮像装置１２のコントラストの精度を測定することができる。
【００８４】
上記のようにして測定した、撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角、にらみズレ、レンズ倍率、輝度、コントラスト等の撮像条件は、解像度の測定処理に先立って、図２１に示す撮像条件表示画面に表示される。本発明に係る撮像性能測定装置１０は、上記撮像条件に基づいてシート画像１４′が解像度の測定に適したものであるかどうかを判定することができる。これにより、解像度の測定精度を向上させることができる。
【００８５】
次に、撮像性能測定装置１０の動作モードについて、図２２から図２４を参照して説明する。本発明に係る撮像性能測定装置１０は、４つの動作モードを有しており、動作モードごとに撮像性能の測定処理時におけるディスプレイ３４の表示が異なる。ユーザは、マウス２６等の操作手段を用いた操作入力や設定ファイル（ｉｎｉファイル）により、所望の動作モードを選択することができる。
【００８６】
図２２は、第１の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図である。第１の動作モード時には、まず、撮像条件の測定が行われ、撮像条件表示画面（図２１参照）が表示される（ステップＳ１３０）。次に、中央、左上、左下、右上及び右下の解像度測定用パターン５０が順次拡大表示され（ステップＳ１３２からＳ１４０）、最後に解像度測定結果表示画面（図７参照）が表示される（ステップＳ１４２）。上記の画面の遷移は、ユーザによる所定の操作入力（例えば、Ｒｅｔｕｒｎキー）により実行され、ステップＳ１４２の解像度測定結果表示画面において所定の操作入力が行われると、撮像条件及び解像度の測定結果がＬｏｇファイルに出力される。第１の動作モードによれば、ユーザは、中央及び四隅の解像度測定用パターン５０を目視で確認しながら、解像度の測定を行うことができる。
【００８７】
図２３は、第２の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図である。第２の動作モード時には、まず、撮像条件の測定が行われ、撮像条件表示画面（図２１参照）が表示される（ステップＳ１５０）。次に、所定の操作入力（例えば、Ｒｅｔｕｒｎキー）により解像度測定結果表示画面（図７参照）に遷移する（ステップＳ１５２）。そして、ステップＳ１５２の解像度測定結果表示画面において所定の操作入力が行われると、撮像条件及び解像度の測定結果がＬｏｇファイルに出力される。第２の動作モードによれば、ユーザは、解像度の測定前後に撮影条件を確認することができる。
【００８８】
図２４は、第３の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図である。第３の動作モード時には、まず、撮像条件の測定が行われ、撮像条件の測定時にエラー（撮像条件測定エラー）が発生すると（ステップＳ１６０のＹｅｓ）、エラー画面が表示される（ステップＳ１６２）。ステップＳ１６２では、所定の操作入力（例えば、Ｒｅｔｕｒｎキー）を行うことにより、撮像条件測定エラーを無視して解像度の測定に移行することができる。一方、撮像条件測定エラーが発生しなかった場合（ステップＳ１６０のＮｏ）、撮像条件の測定が続行され（ステップＳ１６４）、解像度の測定に移行する。そして、解像度の測定時にエラー（解像度測定エラー）が発生すると（ステップＳ１６６のＹｅｓ）、エラー画面が表示される（ステップＳ１６８）。ステップＳ１６８では、所定の操作入力（例えば、Ｒｅｔｕｒｎキー）を行うことにより、解像度の測定を終了させることができる。一方、解像度測定エラーが発生しなかった場合（ステップＳ１６６のＮｏ）、解像度の測定が続行され（ステップＳ１７０）、測定結果がＬｏｇファイルに出力される。なお、撮像条件測定エラーとは、例えば、装置１０の演算上のエラーや輝度測定用パターン５８、コントラスト検出用パターン５６等の検出不能等であり、解像度測定エラーとは、例えば、装置１０の演算上のエラーや解像度測定用パターン５０や階層７２、ブロック７４等の検出不能等である。第３の動作モードによれば、ユーザは、撮像条件測定エラーや解像度測定エラーの発生時にのみディスプレイ３４をチェックすればよい。
【００８９】
第４の動作モードは、撮像条件及び解像度の測定時にディスプレイ３４に測定結果等を表示しないモードである。この場合、ディスプレイ３４をチェックしなくてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】本発明の一実施形態に係る撮像性能測定装置を模式的に示すブロック図
【図２】撮像性能測定装置１０の主要構成を示すブロック図
【図３】ＣＰＵ２０の機能ブロックを示す図
【図４】撮像性能測定用シート１４を示す平面図
【図５】解像度測定用パターン５０の一部を拡大して示す図
【図６】解像度テーブルＴ１を示す図
【図７】解像度測定結果表示画面を示す図
【図８】図７のシート画像１４′の解像度測定パターン５０を一部拡大して示す平面図
【図９】エリアジングを説明するための図
【図１０】パターン位置検出用マーカ６０により解像度測定用パターン５０を検出する処理の流れを示すフローチャート
【図１１】本発明の第１の実施形態に係る解像度測定処理の流れを示すフローチャート
【図１２】撮像時における撮像装置１２と撮像性能測定用シート１４との傾き角を測定する処理を説明するための図
【図１３】ディストーションテーブルＴ２を示す図
【図１４】本発明の第２の実施形態に係る解像度測定処理の流れを示すフローチャート
【図１５】解像度の測定値をレンズ倍率に応じて補正する手順を説明するための図
【図１６】レンズ倍率を１倍として撮像した場合の撮像誤差補正用パターン５２間の距離と画像幅との比の値Ｒ（百分率）を格納する設定ファイルを示す図
【図１７】撮像誤差の測定処理の流れを示すフローチャート
【図１８】シート画像１４′の輝度の測定処理の流れを示すフローチャート
【図１９】コントラスト測定用パターン５６を拡大して示す平面図
【図２０】シート画像１４′のコントラストの測定処理の流れを示すフローチャート
【図２１】撮像条件表示画面を示す図
【図２２】第１の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図
【図２３】第２の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図
【図２４】第３の動作モード時における表示の遷移を模式的に示す図
【符号の説明】
【００９１】
１０…撮像性能測定装置、１２…撮像装置、１４…撮像性能測定用シート、１６…撮像性能測定プログラム、２０…ＣＰＵ、２２…バス、２４…キーボード、２６…マウス、２８…入力デバイスコントローラ、３０…メモリ、３２…ハードディスク装置（ＨＤＤ）、３４…ディスプレイ、３６…ディスプレイコントローラ、３８…通信インターフェース（Ｉ／Ｆ）部、２０Ａ…解像度測定部、２０Ｂ…画像傾き測定部、２０Ｃ…レンズ倍率測定部、２０Ｄ…にらみズレ測定部、２０Ｅ…輝度測定部、２０Ｆ…コントラスト測定部、５０…解像度測定用パターン、５２…撮像誤差測定用パターン、５６…コントラスト測定用パターン、５８…輝度測定用パターン、６０…パターン位置特定用マーカ、６２…オートフォーカス用の縞模様、７０…黒線、７２…階層、７４…ブロック、８０Ｗ…白パッチ、８０Ｂ…黒パッチ、８２…高周波域パターン、８４…低周波域パターン、８６…コントラスト測定用パターン５６の位置を特定するためのマーカ
【図１】
2007067733.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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