(57)【要約】【課題】光ディスクへのデータ書込み中に行われる書込みパワー値の補正精度を向上させ、記録品位の向上を図ること。【解決手段】書込み位置が補正位置に達したら書込みを中断する（ステップＳＴ１００）。補正値前のブロックを再生し（ステップＳＴ１１１）、再生信号からβ値を演算する（ステップＳＴ１１２）。演算されたβ値とステップＳＴ１０４で演算された記録パワー値−β値特性とに基づいて初期記録パワー値を変更し（ステップＳＴ１１３）、記録を再開する（ステップＳＴ１１４）。【選択図】図２
2007102850.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの試し書き領域に対して、複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録するステップと、
前記光ディスクに記録されたテストデータを再生するステップと、
前記テストデータの再生信号に基づいて、テスト記録パワー値毎にアシンメトリ値を求めるステップと、
前記アシンメトリ値の記録パワー値特性を求めるステップと、
求められた記録パワー値特性に応じて、初期記録パワー値を決定するステップと、
求められた初期記録パワー値に基づいて前記光ディスクのプログラム領域に所定のデータを書き込むステップと、
前記データ書込みを中断するステップと、
前記中断される前に書き込まれた記録済みデータの一部を再生するステップと、
前記記録済みデータの一部の再生信号に基づいて、アシンメトリ値を求めるステップと、
求められたアシンメトリ値に応じて、前記初期記録パワー値を補正するステップと、
前記補正された初期記録パワー値に応じて前記中断された位置からデータの書込みを再開するステップと
を含むことを特徴とするデータ書込み方法。
【請求項２】
前記初期記録パワー値を補正するステップにおいて、前記記録済みデータの一部の再生信号から得られたアシンメトリ値と、記録パワー値特性とに基づいて、前記初期記録パワー値を補正することを特徴とする請求項１記載のデータ書込み方法。
【請求項３】
前記プログラム領域の書込み開始アドレスを取得するステップと、
取得された書込み開始アドレスに応じて、書込みを中断する補正アドレスを予め設定するステップとを更に含み、
前記書込みを中断するステップにおいて、書込みの中断を書込み位置が前記補正アドレスに達した場合に行うことを特徴とする請求項１記載のデータ書込み方法。
【請求項４】
前記書込みの中断は、書込み時の線速度の変化が所定の変化量を超えた場合に行うことを特徴とする請求項１記載のデータ書込み方法。
【請求項５】
光ディスクの試し書き領域に複数のテスト記録パワー値でテストデータを書き込むテストデータ書込み部と、
前記テストデータ書込み部で前記光ディスクの試し書き領域に書き込まれたテストデータを再生するテストデータ再生部と、
前記テストデータ再生部で再生された信号に応じて、テスト記録パワー値毎にアシンメトリ値を演算する第１のアシンメトリ値演算部と、
アシンメトリ値の記録パワー値特性を演算する特性演算部と、
この特性演算部で演算された記録パワー値特性に応じて初期書込みパワー値を決定する書込みパワー決定部と、
前記初期書込みパワー値に応じて前記光ディスクのプログラム領域に所定のデータを書き込むデータ書込み部と、
前記データ書込み部にデータ書込みの中断を指示する中断指示部と、
前記中断指示部が書込みの中断を指示した場合、中断される前に前記光ディスクに書き込まれた記録済みデータの一部を再生する再生部と、
前記再生部で得られた再生信号に応じてアシンメトリ値を演算する第２のアシンメトリ値演算部と、
前記第２のアシンメトリ値演算部で演算されたアシンメトリ値に応じて前記初期書込みパワー値を補正する補正部と、
前記補正された初期書込みパワー値に応じて前記書込みを中断した位置からのデータの書込みを再開するよう前記前記データ書込み部に指示する再開指示部と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記補正部は、前記第２のアシンメトリ部で得られたアシンメトリ値と、前記特性演算部で得られた記録パワー値特性とに基づいて、前記初期記録パワー値を補正することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記所定のデータが書き込まれる前記光ディスクのアドレスを検出するアドレス検出部と、
前記プログラム領域の書込み開始アドレスを取得し、取得した書込み開始アドレスに応じて、前記書込みを中断する補正アドレスを設定する補正アドレス設定部を更に具備し、
前記中断指示部は、前記アドレス検出部で検出したアドレスが前記補正アドレス設定部で設定された補正アドレスと一致した際に、書込みの中断を指示することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記中断指示部は、前記データ書込み部の書込み線速度が所定の変化量を超えた際に書込み中断の指示を行うことを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへのデータの書込時に記録パワー値を補正するデータ書込み方法、および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにデータを書き込む場合、レーザ光の照射強度は、書き込まれたデータの信頼性に大きく影響する。従って、書き込まれたデータの信頼性を向上させるために、レーザ光の照射強度（記録パワー値）を制御する必要がある。
【０００３】
記録パワー値を制御するために、光ディスクにデータを書き込む前に、ＯＰＣ（Optimum Power Calibration）を行う。このＯＰＣは、最適な記録パワー値を設定するための制御である。
【０００４】
ＯＰＣでは、光ディスクに設けられたＰＣＡ（Power Calibration Area）に複数の記録パワー値でテストデータを書き込む。書き込まれたテストデータの再生信号から記録パワー値毎にβ値を求める。
【０００５】
β値の記録パワー値特性を求め、この記録パワー値特性から目標β値となる記録パワー値を求めることにより、求められた記録パワー値を適正な記録パワー値とする。
【０００６】
ところが、データの書込み中、照射されるレーザ光によって光ディスクの温度が上がって、最適な書込みパワー値が変化する。そこで、データの書込み中に記録パワー値を補正する技術が特許文献１に開示されている。特許文献１では、データの書込み時に、光ディスクからの反射光に基づきＢｌｅｂｅｌといわれる値を求める。そして、Ｂｌｅｖｅｌとβ値との関係により記録パワー値の制御を行う。
【特許文献１】特開２００３−１６８２１４
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光ディスク装置においては使用者のニーズに応えて書込み速度の高速化を図る開発が行われている。しかしながら、高速化に伴って、上記背景技術の方法では、Ｂｌｅｖｅｌの変化量と記録Ｐｏｗｅｒの関係を適正に求めることが難しくなっており記録パワー値制御の精度にかけるという問題があった。また、光ディスクの多種・多様化により、記録品位の維持が更に難しくなっている。特にWrite-Once系の光ディスクの場合、温度により波長感度が変わる傾向があるため、記録パワーの制御が記録品位を決める重要なファクターになっている。
【０００８】
本発明の目的は、光ディスクへのデータ書込み中に行われる書込みパワー値の補正精度を向上させ、記録品位の向上を図り得るデータ書込み方法および光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一例に係わるデータ書込み方法は、光ディスクの試し書き領域に対して、複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録するステップと、前記光ディスクに記録されたテストデータを再生するステップと、前記テストデータの再生信号に基づいて、テスト記録パワー値毎にアシンメトリ値を求めるステップと、前記アシンメトリ値の記録パワー値特性を求めるステップと、求められた記録パワー値特性に応じて、初期記録パワー値を決定するステップと、求められた初期記録パワー値に基づいて前記光ディスクのプログラム領域に所定のデータを書き込むステップと、前記データ書込みを中断するステップと、前記中断される前に書き込まれた記録済みデータの一部を再生するステップと、前記記録済みデータの一部の再生信号に基づいて、アシンメトリ値を求めるステップと、求められたアシンメトリ値に応じて、前記初期記録パワー値を補正するステップと、前記補正された初期記録パワー値に応じて前記中断された位置からデータの書込みを再開するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光りディスクへのデータ書込み中に行われる書込みパワー値の補正精度が向上し、記録品位の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。
【００１２】
図１は、本発明の一実施形態に係わる光ディスク装置ＯＤＤの概略を示すブロック図である。
【００１３】
光ディスク装置ＯＤＤは、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ（ＳＰＭ）１０１、ピックアップヘッド１０２、ＲＦアンプ１０３、信号検出回路１１１、ＣＰＵ１１２、記録制御回路１１３、エンコーダ１１４，ＬＤ駆動回路１１５，サーボ回路１１６、インターフェース（Ｉ／Ｆ）部１１７、バッファメモリ１１８、β値演算部１１９、特性演算部１２０、メモリ１２１、ピーク検出部１３１、ボトム検出部１３２，及びＡＤ変換器１４１〜１４３を具備する。なお、ピックアップヘッド１０２は、レーザダイオード、対物レンズ等の光学系、フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ、フォトディテクタ、及びレンズポジションセンサ等で構成される。
【００１４】
メモリ１２１には、各種プログラムや各種データを記憶する。
【００１５】
回転する光ディスク１００の記録面にはピックアップヘッド（ＰＵＨ）１０１のレーザダイオードから出射したレーザビームが照射され、データの記録／再生が行われる。光ディスク１００から反射された反射光はピックアップヘッド１０２のフォトディテクタで検出され、電気信号に変換される。
【００１６】
ピックアップヘッド１０２の出力信号は、ＲＦアンプ１０３で増幅される。ＲＦアンプ１０３で増幅された信号は、信号検出回路１１１、ピーク検出部１３１、およびボトム検出部１３２に入力される。
【００１７】
信号検出回路１１１では、入力された信号からウォブル成分を抽出する。信号検出回路１１１は、抽出されたウォブル成分に基づいて、レーザビームの照射されている光ディスク１００のトラックアドレスを検出し、検出されたアドレスをＣＰＵ１１２に出力する。ＣＰＵ１１２は、入力されたアドレスから光ディスク１００の径方向の記録位置を認識し、記録位置に対応する制御信号を記録制御回路１１３に出力する。
【００１８】
また、ホストコンピュータＰＣから順次与えられるデータＤ１がインターフェース部１１７を介して内部に取り込まれ、バッファメモリ１１８に順次格納される。エンコーダ１１４は、バッファメモリ１１８に格納されたデータを光ディスクのフォーマットに従って、例えばＣＤであればＥＦＭ変調（Eight Fourteen Modulation）方式に基づき、変調し、変調された信号を記録制御回路１１３に出力する。
【００１９】
記録制御回路１１３は、エンコーダ１１４からの変調信号及びＣＰＵ１１２からの制御信号に基づいて、レーザ駆動回路１１５、及びサーボ回路１１６に駆動制御信号を出力する。サーボ回路１１６は、スピンドルモータ１０１の回転を制御すると共に、ピックアップヘッド１０２の位置を適正な位置に設定する。レーザ駆動回路１１５は、駆動制御信号に基づいてピックアップヘッド１０２のレーザダイオードに通電し、レーザダイオードから光ディスク１００に対してレーザビームを照射する。
【００２０】
図１に示した光ディスク装置ＯＤＤで、光ディスク１００にデータを記録するときの動作手順を、図２のフローチャートを参照して説明する。
【００２１】
先ず、ＣＰＵ１１２は、ホストコンピュータＰＣから送られた記録コマンドの指定する値に従って記録速度を記録制御回路１１３に通知する。次いで、ＣＰＵ１１２は、データを記録する光ディスク１００に記録されているＩＤナンバを取得し、ＩＤナンバから光ディスク１００の種類を認識する。
【００２２】
次に、ＣＰＵ１１２は、メモリ１２１に記憶されているテーブルから記録速度に応じたスタート記録パワー値とステップ値を選択する。
【００２３】
ＣＰＵ１１２は、選択されたスタート記録パワー値からステップ値単位で記録パワー値を１５段階変化させて、光ディスク１００のＰＣＡ（Power Calibration Area）（試し書き領域）にテストデータを記録する（ステップＳＴ１０１）。
【００２４】
次に、光ディスク１００のＰＣＡに記録されたテストデータを再生する（ステップＳＴ１０２）。再生時、ピックアップヘッド１０２で受光した光ディスク１００からの反射光に対応したＲＦ信号がＲＦアンプ１０３に入力される。ＲＦアンプ１０３は入力されたＲＦ信号を増幅する。増幅されたＲＦ信号は、ピーク検出部１３１、およびボトム検出部１３２に入力される。
【００２５】
記録パワー値毎にβ値（アシンメトリ値）を演算する。以下にβ値の算出について説明する。上記のように光ピックアップで受光した光ディスク１００からの反射光に対応したＲＦ信号がＲＦアンプ１０３に入力され、ＲＦアンプ１０３で増幅されたＲＦ信号は、ピーク検出部１３１およびボトム検出部１３２に供給される。ピーク検出部１３１は、ＲＦ信号のピーク値を検出してＡＤ変換器１４１に供給する。ＡＤ変換器１４１は供給されたピーク値（Ａ）をデジタル信号に変換してβ値演算部１１９に供給する。同様に、ボトム検出部１３２は、ＲＦ信号のボトム値（Ｂ）を検出してＡＤ変換器１４１に供給し、ＡＤ変換器１４１は供給されたピーク値をデジタル信号に変換してβ値演算部１１９に供給する。
【００２６】
β値演算部１１９は、入力されたピーク値（Ａ）、ボトム値（Ｂ）に応じて記録パワー値毎にβ値を演算し、結果を特性演算部１２０に供給する。β値は、次式を用いて計算される。
【００２７】
β＝（Ａ＋Ｂ）／（Ａ−Ｂ）
次に、特性演算部１２０は、記録パワー値毎に求められたβ値から、β値の記録パワー値特性を演算する（ステップＳＴ１０４）。特性演算部１２０は、特性として、記録パワー値とβ値との関係を示す近似式を演算し、近似式をＣＰＵ１１２に供給する。
【００２８】
ＣＰＵ１１２は、メモリ１２１に記録されている記録速度に応じた目標β値を読み出し、供給された近似式を用いて最適な初期記録パワー値を決定する（ステップＳＴ１０５）。決定されたな初期記録パワー値はメモリ１２１に格納されると共に、記録制御回路１１３に供給される。
【００２９】
ＣＰＵ１１２は、光ディスク１００の書込み開始アドレスを認識する（ステップＳＴ１０６）。そして、ＣＰＵ１１２は、書込み開始アドレスから所定ブロックごとに補正ポイントを設定する（ステップＳＴ１０７）。
【００３０】
ＣＰＵ１１２は、供給された最適記録パワー値を用いて光ディスク１００のプログラム領域の書込み開始アドレスからデータの書込みを開始するよう記録制御回路１１３に指示する（ステップＳＴ１０８）。
【００３１】
記録中、記録制御回路１１３には、ＣＰＵ１１２から記録位置に対応する制御信号が供給されている。記録制御回路１１３は、記録位置がステップＳＴ１０７で設定された補正位置であるか判定する（ステップＳＴ１０９）。記録位置が補正位置の場合、記録を中断する（ステップＳＴ１１０）。
【００３２】
ＣＰＵ１１２は、記録を中断した位置の所定数のブロック前の位置から記録を中断した位置迄を再生させる（ステップＳＴ１１１）。なお、ここで再生するブロック数は、β値を演算するのに十分な信号が得られだけのブロック数であればよい。
【００３３】
ＣＰＵ１１２は、ステップＳＴ１０３と同様に、β値演算部１１９によって再生信号からβ値を演算させる（ステップＳＴ１１２）。ステップＳＴ１１２で演算されたβ値と、ステップＳＴ１０４で演算されたβ値の記録パワー値特性より最適な記録パワー値を求め、メモリ１２１に記憶された初期記録パワー値を変更する（ステップＳＴ１１３）。
【００３４】
ここで、最適な記録パワー値を求め直す方法について説明する。図４は一例としてβ値（％）と記録パワー値POWER（ｍＷ）の関係を示すグラフである。
【００３５】
ステップＳＴ１０４において、ＣＰＡを用いて記録パワー値特性を演算する場合、図４に示すβ値と記録パワー値の関係から、β値の目標値（例えばβ＝０％）における前後数点のβ値データを線形補間することにより、β値の変化量の傾きを求めることができ、この傾き（σ）が記録パワー値特性を示すものになる。
【００３６】
ステップＳＴ１１３における最適な記録パワー値の算出、つまり初期記録パワー値の補正は、プログラム領域において書込みを中断して得られたβ値と、ＣＰＡにおいて得られた上記記録パワー値特性（σ）を用いて、次の演算式によって成される。
【００３７】
Ｐ'0＝Ｐ0＋σ*β*ａ
Ｐ'0は補正後の記録パワー値であり、Ｐ0は初期記録パワー値である。ａは、記録パワー値の補正によって、記録パワー値が急激に変化するのを避ける場合に、変化量を緩やかにする定数であり、適宜設定して構わない。
【００３８】
尚、このように記録パワー値を補正する際に、書込みを中断して得られたβ値と、テスト記録時に得られた記録パワー値特性を用いて補正することが好ましいが、簡易にするためにテスト記録時に得られた記録パワー値特性の代わりに所定の係数を用いることも可能である。また、テスト記録時のように記録パワー値をステップ単位で変化させて検出することに煩雑さを伴うが、書込みを中断して得られたβ値から改めて記録パワー値特性を算出して、これをテスト記録時に得られた記録パワー値特性の代わりに使用することも可能である。
【００３９】
次に、ＣＰＵ１１２は、記録制御回路１１３に対してバッファメモリ１１８に蓄えられているデータを用いて記録を中断した位置から記録を再開するように指示する（ステップＳＴ１１４）。記録を中断して記録を再開する部分は、従来のバッファアンダーラン（Buffer Under Run）を回避するために、記録の中断／再開を行う技術と同様である。
【００４０】
記録の再開（ステップＳＴ１１５）後、若しくはステップＳＴ１０９で補正位置で無いと判定された場合、記録位置が終了位置であるか判定する（ステップＳＴ１１５）。書込み位置が終了位置でなければ、そのまま記録を続けて、ステップＳＴ１０９〜Ｓ１１５を繰り返す。終了位置であれば、セッションを閉じる等の記録終了処理を行って（ステップＳＴ１１６）、記録が終了する（ステップＳＴ１１７）。
【００４１】
本実施形態の記録方法によれば、データの記録中に記録動作を止め、直前まで書いていたデータを再生しβ値を求め記録パワー値を補正することにより、補正精度が向上し、記録品位が向上する。
【００４２】
上述した記録方法によって、最適な記録パワー値を変えた様子を図３に示す。図３（ａ）は線速度を一定にして記録を行うＣＬＶ（Constant Linear Velocity）記録方式の場合のアドレスに対する記録パワー値、図３（ｂ）は回転速度を一定にして記録を行うＣＡＶ（Constant Linear Velocity）記録方式の場合のアドレスに対する記録パワー値を示す図である。図３（ａ），図３（ｂ）において、実線がデータの記録に用いた記録パワー値である。
【００４３】
ＣＬＶ記録方式の場合、線速度が一定であるので、補正を行わなければ記録パワー値は記録位置にかかわらず一定である。しかし、ＣＡＶ記録方式の場合、線速度が変化するので記録位置に応じて記録パワー値が変化する。即ち、初期記録パワー値に記録位置に応じた速度係数αを乗じる。ＣＡＶ記録方式において、補正時に中断時の記録パワー値を補正すると、速度係数αも補正する必要がある。しかし、本実施形態の場合、メモリ１２１に登録された初期記録パワー値の設定を変えているので、速度係数αを変更することなく、線速度の変化に伴う速度係数のずれを吸収して記録パワー値を補正することができる。
【００４４】
図３（ｂ）において、補正前の初期記録パワー値をＰ0、アドレスＬにおける補正前の記録パワー値をPower[L]（＝Ｐ0×α）、アドレスＬにおける補正後の初期記録パワー値をＰ'0、記録パワー値をPower'[L]（＝Ｐ'0×α）とする。本実施形態の場合、初期記録パワー値の設定を変更し、速度係数αを変更していないので、Power'[L]=Power[L]×(Ｐ'0/Ｐ0)の関係にある。
【００４５】
また本実施形態において、記録パワーの補正を行う位置、つまり書込みを中断するための補正アドレスの設定にあたっては、記録方式がＣＬＶ方式の場合、記録線速度が変化しないため、光ディスクの温度上昇等を考慮して、一定のアドレス間隔で（一定の記録データ量毎に）、例えば光ディスクのプログラム領域の最内周から最外周まで記録する間に２０回程度中断して、記録パワーの補正を行うのがよい。つまり、短いデータを短時間で記録する場合は、光ディスクの温度がさほど上昇しないため、最適記録パワー値の変化は少ないが、長いデータの場合に長時間連続書込みを行うと、光ディスクの温度変化が大きくなり、これに伴って最適記録パワー値の変化も大きくなる。そのため、上記実施形態のように、所定間隔をもって書込みを中断し、都度記録パワー値を補正することにより、記録品位の維持・向上を図れるようになる。
【００４６】
このように書込みを一定のアドレス間隔で中断するため、記録開始位置のアドレスから中断位置のアドレスを予め算出し、ステップＳＴ１０７の補正位置設定を行うことができる。
【００４７】
なお、書込みの中断を多くすればするほど記録パワー値補正の精度は向上するが、記録時間に比べれば非常に僅かではあるものの、書込みの中断は記録時間をロスするため、記録能力を落とさないためにも、光ディスクのプログラム領域の最内周から最外周まで記録する間に１０回乃至１００回程度の中断で止めておくのがよい。
【００４８】
また、記録方式がＣＡＶ方式の場合には、記録線速度が変化するため、線速度が所定量変化する毎に、記録パワーの補正を行うのがよい。例えば、1.0倍速から1.5倍速に変化した時点で書込みを中断し、記録パワー値の補正を行う。更に、記録線速度が0.5倍変化する都度、書込みを中断し、記録パワー値の補正を行う。このように記録速度の0.5倍の変化毎に書込みを中断した場合、上記ＣＬＶ記録方式の場合と同様にプログラム領域の最内周から最外周までの間に２０回程度の中断になる。
【００４９】
更に、ＣＡＶ方式の場合に、中断用に設定した線速度の前後において、例えば1.5倍速に到達する前と、到達した後の両方で記録パワー値の補正を行ことにより（つまり中断回数は上記の倍になる）、1.5倍速に到達する前に補正した記録パワー値が上述した速度係数のずれを吸収しているか確認することができ、1.5倍速に到達した後の補正によって速度係数のずれに対応する記録パワー値の補正が可能である。
【００５０】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の一実施形態に係わる光ディスク装置の構成を示す図。
【図２】図１に示した光ディスク装置を用いたデータの書込処理の手順を示す図。
【図３】アドレスに対する記録パワー値を示す図。
【図４】β値と記録パワー値の関係を示すグラフ。
【符号の説明】
【００５２】
１００…光ディスク，１０１…スピンドルモータ，１０３…ＲＦアンプ，１１１…信号検出回路，１１２…ＣＰＵ，１１３…記録制御回路，１１４…エンコーダ，１１５…レーザ駆動回路，１１６…サーボ回路，１１７…インターフェース部，１１８…バッファメモリ，１１９…β値演算部，１２０…特性演算部，１２１…メモリ，１３１…ピーク検出部，１３２…ボトム検出部，１４１…ＡＤ変換器
【図１】
2007102850.tif 000003
【図２】
2007102850.tif 000004
【図３】
2007102850.tif 000005
【図４】
2007102850.tif 000006