(57)【要約】【課題】電圧によって記録層を選択する光ディスクにおいて、各記録層に異なるアドレスピットを形成する。【解決手段】基板に形成した凹凸形状に倣うようにして複数の記録層を形成し、複数の記録層が積層後も凹凸形状を維持するようにする。各記録層に、互いに異なるアドレスマークをアドレス情報の一部として書き加えることにより、各層でアドレスやトラック情報を確認できるようにする。【選択図】図２
2007102989.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピットパターン又は溝ウォブルパターンが形成された基板と、
前記基板上に積層された複数の記録層とを有し、
前記複数の記録層は、記録層毎に異なるアドレス情報を有し、
前記アドレス情報は、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの少なくとも一部を用いて表現されていることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項２】
請求項１記載の情報記録媒体において、前記アドレス情報は、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの少なくとも一部と、それに書き加えられたマークとを用いて表現されていることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項３】
請求項２記載の情報記録媒体において、前記マークは、屈折率の違いによって表現されたマークであることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項４】
請求項１記載の情報記録媒体において、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、前記基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの一部が消去されていることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項５】
請求項４記載の情報記録媒体において、前記ピットパターン又は溝ウォブルパターンの消去は、逆位相あるいはピットの位相差との位相の和が光の往復で２πとなる追加書き込みマークの形成、又は部分的に凹部を埋めて平坦化することによって行われていることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項６】
請求項１記載の情報記録媒体において、前記記録層の一部に記録マークが形成されることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項７】
請求項１記載の情報記録媒体において、前記ピットパターンは、サンプルサーボ用のピットを含むことを特徴とする情報記録媒体。
【請求項８】
ピットパターン又は溝ウォブルパターンが形成された基板上に、前記ピットパターン又はウォブルパターンが記録層に保存されるようにして複数の記録層を積層する工程と、
各記録層が有するピットパターン又は溝ウォブルパターンの一部を消去することによって及び／又は前記ピットパターン又は溝ウォブルパターンにマークを書き加えることによって、記録層毎に異なるアドレス情報を形成する工程と
を有することを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項９】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記記録層に２光子吸収又は記録再生とは別波長の光吸収を起こさせ、屈折率を変化させることによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１０】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記消去は、逆位相あるいはピットの位相差との位相差の和が光の往復で２πとなる追加書き込みマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１１】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記消去は、部分的に凹部を埋めて平坦化することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１２】
請求項２記載の情報記録媒体において、前記マークは、前記記録層毎の形状の違いによって表現されたマークであることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項１３】
請求項２記載の情報記録媒体において、前記マークは、前記記録層毎の屈折率の違いによって表現されたマークであることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項１４】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記複数の記録層に一度にエネルギー照射することによって、前記各記録層にそれぞれ形状の異なるマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１５】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記複数の記録層に其々の電圧印加した状態で、一度にエネルギー照射することによって、前記各記録層にそれぞれ形状の異なるマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１６】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記複数の記録層に一度にエネルギー照射することによって、前記各記録層にそれぞれ屈折率の異なるマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１７】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記複数の記録層に其々の電圧印加した状態で、一度にエネルギー照射することによって、前記各記録層にそれぞれ屈折率の異なるマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【請求項１８】
請求項８記載の情報記録媒体の製造方法において、前記マークの書き加えは、前記複数の記録層に、前記情報記録媒体のトラック方向と角度をなす方向に長辺が配置されたシートビームを照射し、前記記録層毎に形状の異なるマークを形成することによって行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光を用いて情報を記録・再生する情報記録媒体、及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクでは、記録媒体（ディスク）を記録再生装置から外せることと、記録媒体が安価であることが大きな特徴になっている。従って光ディスク装置では、この特徴を失わずに高速・高密度化するのが望ましい。光ディスクの実効的記録密度（実効的面密度）を高めるには、光の遠達性、透過性という特徴を生かした多層化が望ましい。しかし、３層以上では各層の透過率と記録感度とがトレードオフの関係にあり、再生信号品質か記録感度か、どちらかが犠牲にならざるを得なかった。
【０００３】
そこで、このトレードオフを解消する技術が開発されてきており、例えば、本発明者らによる特開２００３−３４６３７８号公報の実施例２には、エレクトロクロミック材料を用いた記録層を多層にし、所望の記録層を挟む一対の電極に電圧を印加し、記録層自身の吸収スペクトルを選択的に変化させて着色させ、その層に情報を記録することが記載されている。また、Fung-Hsu Wu, Tom D. Milster, and Han-Ping D. Shieh, Write-Once Multilayer Optical Disk using Transparent Recordable Material with an Optical Switching Layer, Technical Digest of International Symposium on Optical Memory(ISOM)2003, Fr-J-06 (2003) p274 に示されているスイッチング層を有する多層光ディスクも知られている。このスイッチング層は、照射光の強度が増すと急激に光吸収と反射が増加する非線形な性質を持った材料の層である。フォーカス位置を所定の層に決めると、スイッチング層によってその層の光吸収が急激に増加して発熱し、ユーザデータの記録・再生が可能になる。
【特許文献１】特開２００３−３４６３７８号公報
【非特許文献１】Technical Digest of International Symposium on Optical Memory(ISOM)2003, Fr-J-06 (2003) p274
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
多層化を達成する技術としては、透過率が高い酸化物や硫化物や有機物の記録層を複数層積層し、レーザ光の焦点位置を記録すべき層に合わせて、発熱などにより屈折率や消衰係数を変化させる従来方式と、エレクトロクロミック材料層と固体電解質層より成る記録層を透明電極で挟んだものを繰り返し多層積層し、選択した記録層への電圧印加によって透明にしたり着色させたりし、着色させた層だけ記録・再生ができるようにする上記特許文献１に記載の方式、及び上記非特許文献１の方式などの新方式がある。従来方式では、各層の記録マークは常に見える状態なので、信号を読み出す層以外はデフォーカス状態にして層間のクロストークを生じないようにする必要がある。このため、層間隔は２０μm以上必要である。
【０００５】
後者の新方式のうち、特に電圧による層選択方式多層光ディスクは、図１に示したように、選択されていない層では記録マークもそれ以外の部分も透明で信号が見えないため、従来方式の多層光ディスクのように層間隔を広くする必要が無い。従って、多数層のディスクでもトータル膜厚が厚くなることによる反りやクラックなどの問題を生じにくい、層ごとにグルーブやピットのレプリカ層を形成する必要が無く、どんどん積層すればよいという長所が有る。また、手前の層の光吸収で光が減衰する問題も無くなる。しかし一方、層間隔が狭いためフォーカス誤差信号が重なり、どの層にフォーカスされているかが分からないという問題点が有る。また、別の問題として、記録層を多層に積み上げていくと、先に形成する下の方の記録層は基板の凹凸形状に沿った形状となるが、後に形成する上の方の記録層は基板の凹凸形状を保存せずに次第に凹部の幅が狭くなり、ついには平坦になってしまうことが分かった。そうすると、仮に所定の層にオートフォーカスがかかったとしても、通常の光ディスクと同様に上側の記録層のトラッキング用の溝（グルーブ）でトラッキングしようとすると、トラッキングエラーが生じやすくなってしまう。２ビームヘッドを使う場合、記録・再生層は平坦化し、サーボビームを基板表面の反射層（サーボ層）のピット再生信号が最大になる位置にフォーカスし、もう１つのビームのフォーカス位置をサーボ層と所定の記録層の位置の差分だけずらす方法も有るが、平坦化するのに塗布工程が入るという問題点が有る。
【０００６】
凹部の幅が狭くなる問題点に対処する方法として、製膜時にバイアススパッタリングを行う方法が有る。これにより基板表面と全く同じ凹凸ではないが、膜の積層により少し凹凸が歪んだあとは、多数層積層してトータル膜厚が厚くなっても凹凸形状は変化せずに保たれる。これにより各層の溝ウォブルパターンやピットパターンは、基板表面の対応するパターンと同等のものとなる。この場合、アドレスを表す凹凸を読むことはできるが、凹凸はどの層も同じであるから層の確認を行うことができない。この場合、２ビームヘッドを用い、１つのビームはグルーブやピットが形成された基板のすぐ上の反射層（サーボ層）に焦点を合わせ、このビームとフォーカス位置関係がほぼ固定された他のビームの焦点位置が記録又は再生する層上に来るようにすれば、グルーブ位置の確認・補正により、バイアススパッタリングしない場合より正確なスポット位置決めが可能であるが、光ヘッド大型化の原因になる。２つのビームの位置関係が温度変化などで動くおそれも有る。
【０００７】
本発明の目的は、これらの問題点や課題を解決し、従来の光ディスクとの高い互換性と装置の小型化可能性を保って、安定な大容量高速記録を達成することのできる情報記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の情報記録媒体は、ピットパターン又は溝ウォブルパターンが形成された基板と、基板上に積層された複数の記録層とを有し、複数の記録層は、記録層毎に異なるアドレス情報を有する。各記録層のアドレス情報は、基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの少なくとも一部を用いて表現するようにした。具体的には、アドレス情報は、基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの少なくとも一部と、それに書き加えられたマークとを用いて表現した。マークは、屈折率の違いによって表現されたマークとすることができる。
【０００９】
基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと重なる位置に形成された、基板のピットパターン又は溝ウォブルパターンと同等のピットパターン又は溝ウォブルパターンの一部を消去することによって、記録層毎に異なるアドレス情報を持たせることもできる。ピットパターン又は溝ウォブルパターンの消去は、逆位相あるいはピットの位相差との位相の和が光の往復で２πとなる追加書き込みマークの形成、又は部分的に凹部を埋めて平坦化することによって可能である。
【００１０】
本発明による情報記録媒体の製造方法は、ピットパターン又は溝ウォブルパターンが形成された基板上に、基板のピットパターン又はウォブルパターンが記録層に保存されるようにして複数の記録層を積層する工程と、各記録層が有するピットパターン又は溝ウォブルパターンの一部を消去することによって及び／又はピットパターン又は溝ウォブルパターンにマークを書き加えることによって、記録層毎に異なるアドレス情報を形成する工程とを有する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の情報記録媒体は、多層化しても各層のアドレスの確認が確実にでき、従来のディスクとの互換性が高く、大容量で高速記録・再生が可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明では、記録媒体にはＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディスク基板と類似の形状の基板を用いる。繰り返し凹凸形状を有する基板又は基板表面の紫外線硬化樹脂層を有し、この凹凸を基板面に垂直な面でディスク半径方向に切った断面の表面形状は段差部に傾斜がついており、ほぼ台形（ただし長い方の底辺がない）とほぼ逆台形（ただし長い方の底辺がない）の組の繰り返しになっている。そして、多層積層により層の位置が基板又は紫外線硬化樹脂層の表面から離れると、円弧形状の繰り返し、又は底辺の無いほぼ３角形と底辺の無いほぼ逆３角形の組の繰り返しになっている。製膜時に、ＤＣバイアス電圧を強めにかけると膜表面を部分的にＡｒイオンが強くたたいてエッチングし、底辺の無い３角形に近い形と底辺の無い逆３角形に近い形の組の繰り返しに近くなる。これを利用してある程度積層した後は凹凸形状がほぼ変わらずに積層される。これにより各層の溝ウォブルパターンやピットパターンは、基板表面の対応するパターンと同等のものとなる。ＤＣバイアスを弱めにかけると凹凸の頂部が尖らず、円弧の一部に近い形状の繰り返しになる。
【００１３】
このような多層積層ディスクを形成した場合、１ビームヘッドでフォーカス・トラッキングしようとすると、次にアドレスマークがどうであるかが問題となる。この点に関し、本発明は、次のような特徴を有する。
（１）複数の記録層が、互いに異なるピット又は溝ウォブルパターンを有する。
（２）記録層の各層の一部には記録マークが形成される。
（３）基板から離れた記録層のピット又は溝ウォブルパターンは、少なくともその一部が書き加えられたものである。
（４）上記の書き加えは、多層ディスクの積層膜の一部に２光子吸収又は記録再生とは別波長の光吸収を起こさせ、屈折率を変化させることによって行う。
（５）基板から離れた記録層のピット又は溝ウォブルパターンは、基板のピットパターンの一部を消去したものである。
（６）上記の部分的にピット又は溝ウォブルパターンを消すのは、同じ位置に、逆位相、あるいはピットの位相差との位相の和が光の往復で２πとなる追加書き込みマークを形成するか、又はインクジェットなどにより部分的に凹部を埋めて平坦化することによって行う。
（７）ピットパターンは、サンプルサーボ用のピットを含むようにしても良い。
【００１４】
記録は、高いパワーのパルスレーザ光を照射された部分だけ着色電圧をかけても着色しない、又は着色が遅い状態に変化させることによって行う。この方式では光学系は従来の光ディスクの光学系が使えるのが長所である。
以下、図面を参照して具体的に説明する。
【実施例１】
【００１５】
図２は、本発明の一実施例の多層ディスク記録媒体の一部の記録トラック方向（円周方向）の断面構造を示す図である。図２にアドレスピット部分の一部を示したように、アドレスやクロック信号・同期信号を表すピットとトラッキング用の溝とを有する基板１上に、各層を形成する。この基板のフォーマットは、ＤＶＤ−ＲＡＭのフォーマットと同様のものである。ＤＶＤ−ＲＡＭのフォーマットの模式図を図８に示した。各記録層はエレクトロクロミック材料層と固体電解質層の上にもう一層加えた３層構成である。３層構成の場合、例えば還元発色型第１発色層であるＷＯ３層１００ｎｍ、固体電解質層であるＴａ２Ｏ５層１００ｎｍ、酸化発色型第２発色層であるＩｒＯｘ又はＮｉＯｘ（ｘは１未満の正の数）、あるいはこれらに他の金属あるいは半金属元素を加えた層３０ｎｍの３層とする。
【００１６】
すなわち図２に示したように、ポリカーボネート基板１上に、Ａｇ９４Ｐｄ４Ｃｕ２半透明反射層２を膜厚２０ｎｍ、ダミー層３，４，５をＳｉＯ２，ＧｅＯ２，ＳｉＯ２の３層合計で４００ｎｍ，ＩＴＯ透明電極６を１００ｎｍ、還元型エレクトロクロミック材料層（ＷＯ３）７を１００ｎｍ、固体電解質層（Ｔａ２Ｏ５）８を１００ｎｍ、酸化型エレクトロクロミック材料層（Ｉｒ−Ｓｎ−Ｏ）９を３０ｎｍ、ＩＴＯ透明電極１０を１００ｎｍ積層し、あとは同様に繰り返して還元型エレクトロクロミック材料層、固体電解質層、酸化型固体電解質層、ＩＴＯ透明電極、還元型エレクトロクロミック材料層、固体電解質層、酸化型エレクトロクロミック材料層、ＩＴＯ透明電極の順に、ＩＴＯ透明電極で両側を挟まれた記録層を５層積層した。金属の半透明反射層は省略しても良い。
【００１７】
固体電解質層とは、水素、リチウム、ナトリウム、マグネシウムなどのプラスイオンを内部に安定に保持し、移動させられる層のことである。Ｔａ２Ｏ５の固体電解質層は、内部に水分を含むように製膜した。ＷＯ３層とＩｒ−Ｓｎ−Ｏ層はＡｒ−Ｏ２ガスによる反応性スパッタリングによって形成した。Ｉｒ−Ｓｎ−Ｏの場合は、Ｉｒ−Ｓｎターゲットを用いた。無機物のエレクトロクロミック材料としては他に、鉄のシアン化物であるプルシャンブルー（ＫｘＦｅIIｙＦｅIIIｚ（ＣＮ）６），ＭｏＯ３，Ｎｂ２Ｏ５，Ｖ２Ｏ５，ＴｉＯ２，ＮｉＯＯＨ，ＣｏＯＯＨ，Ｒｈ２Ｏ３，ＩｒＯｘ（ｘは１未満の正の数）、ＺｒＮＣｌ，ＩｎＮ，ＳｎＮｘ（ｘは１未満の正の数），ＭｎＯｘ（ｘは２未満の正の数），ＷＯ３−ＭｏＯ３複合（混合）薄膜なども使用可能である。ＷＯ３−ＭｏＯ３は、波長４００ｎｍ付近での光吸収を大きくできるという長所が有る。
【００１８】
スパッタリング時に外部から与えるＤＣバイアスは、マイナス１００ボルトとした。これにより、ＡＣ電圧成分が基板側マイナスとなった時、基板がアルゴンイオンによりスパッタエッチングされる。積層数が少ない場合はダミー層だけバイアススパッタを行い、エレクトロクロミック材料層や透明電極などは通常のスパッタリングとしてもよい。
【００１９】
上記のようなスパッタリングによる積層の場合、基板に斜め方向から入射する材料原子又は分子によってグルーブやピットの段差部にも膜が付くので、通常の方法で多数層積層するとグルーブやピットの幅が順次狭くなり、グルーブ間のランド部の幅が順次広くなって行き、トラッキングやアドレス信号、クロック信号などの読み取りが難しくなる。フォトニック結晶形成に利用されている方法を応用するとこれを避けることができる。これは1998年第59回応用物理学会予稿集第３分冊の1025頁15p-T-11に記載されている方法で、基板上に形成された膜がアルゴンイオンによってスパッタされやすいように、ＤＣバイアス電圧をかけてスパッタリングを行った。部分的にスパッタエッチングしながら膜を堆積させることになり、膜厚分布は通常とは異なったものとなる。上記予稿集のフォトニック結晶の場合は２次元の周期的凹凸であり、本実施例は１次元の溝状及びピット状の周期的凹凸であるが、ＤＣバイアス条件の効果に多少の違いが有るものの、ほぼ同様な断面形状で多層膜の積層が可能であった。このような条件でスパッタすると、グルーブは積層が進むに従い図３に示したように屋根型に変形するが、凹部と凸部の比率は変化しないので、トラッキングやアドレスなどの読み出しは問題なく行える。すなわち、各層の溝ウォブルパターンやピットパターンは、基板表面の対応するパターンと同等のものとなる。ここで、バイアス電圧は、−５０Ｖ〜−５００Ｖの範囲が望ましい。ディスクのユーザデータ記録領域の半径方向断面は図３に示したとおりで、バイアススパッタリングを行うことにより、ダミー層積層後は多数層積層してもグルーブ３１の凹凸形状が変化せずに保たれることが分かる。
【００２０】
図から分かるように、最初の３００ｎｍ程度の積層までは凹凸の形状が変化し、凹凸の高さ（深さ）も変化するので、基板表面の溝深さは最適の凹凸の高さより深くしておき、積層の最初から２００ｎｍから５００ｎｍまでの範囲は透明な層より成るダミー層３〜５とし、形状が安定化してからを実際の多層記録層に用いるのが望ましい。ダミー層３〜５は透明電極、エレクトロクロミック材料層、固体電解質層という構成ではなく、全く異なる透明材料の層、例えばＳｉＯ２層、あるいはＳｉＯ２とＧｅＯ２との積層膜を形成する。
【００２１】
基板表面の溝深さは最適溝深さの１．１倍から２倍の範囲に有れば、凹凸高さが安定化した部分の層におけるトラッキングが安定に行えた。より好ましい範囲は１．３倍から１．８倍の範囲である。
【００２２】
本発明の多層ディスクの張りあわせ後の断面図である図４に示したように、上記のように積層した基板３８上に、記録領域上を含む内径約４１ｍｍ、外径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート保護基板３４を貼り付けた。内周部には内径（直径）１５ｍｍ、外径４１ｍｍの、両面に同心円電極３５，３７がプリントされ、表から裏へ電極３６が貫通して表と裏の同じ直径の同心円電極同士が電気的に接続されたガラス−エポキシ基板３９を貼り付けた。ディスク内周部には各層の透明電極から延長した電極の端部が同心円状又は放射状に内側に引き出されており、同心円電極３７は導電性接着剤３３によって対応する透明電極３２と電気的に接続した。図４では同心円電極のうち３つだけを描いて、他を省略している。光は、この張り合せ基板側から（図では下方から）入射させた。この内周部の同心円電極を持つ基板と外周部の基板は一体化して一枚のプラスチック基板としてもよい。
【００２３】
ディスクを作製後、アドレスマークの書き加えを行った。このマークは、データの記録マークが位相差を持たないか小さいのに対して、基板表面の凹凸ピットと同様に位相差を持ち、凹凸ピットのように見えるものとするのが好ましい。従って本実施例では、２光子吸収記録に用いるフェムト秒のパルスレーザ（ピコ秒半導体レーザでもよい）を用いて短時間高パワー密度の照射によっていずれかの膜が変質した位相差型のマークを形成し、もともと基板表面に有るピットとともに読んでアドレスやクロックや同期信号を表すか、それだけでアドレスやクロックや同期信号を表すようにした。図２の符号１２が、書き加えられたアドレスマークに相当する。
【００２４】
例えばチタンサファイアレーザの場合、波長は６９０ｎｍから１１００ｎｍまで可変で、２光子吸収ではこの半分の波長の光を吸収したのと同じである。従って一般的には２光子吸収記録によるアドレスマークの一部の書き加えは、ユーザデータの記録に用いる６６０ｎｍや４０５ｎｍとは異なる波長での書き加えになる。例えば２光子吸収の結果が４０５ｎｍと同じ波長になる８１０ｎｍのレーザ光を用いるとしても、短時間に極めてパワーの高い光を照射するので、記録媒体に瞬時に微細な気泡が生じるなど、４０５ｎｍの通常の青紫色レーザ光の照射とは様相が異なる。６９０ｎｍの波長の場合は、２光子吸収では３４５ｎｍの紫外光照射と同じになって、透明部分に発熱させることもできる。２光子吸収を利用する以外でも、ユーザデータの記録に用いるレーザ光とは異なる波長の高パワーレーザ（例えばクリプトンガスレーザ）のレーザ光を用いると、記録媒体に強い変化を生じさせてアドレスマークの書き加えを行うことができる。
【００２５】
図５に追加のマークの例の模式図を平面図で示した。図の白いマークがもともと基板表面に有るピットで、黒いマークが追加したものである。図５のようにもともと基板表面に有るピットに由来するピットとともに読んだ時、アドレスやクロックや同期信号を表すように、ところどころに追記するのが好ましい。フェムト秒やピコ秒のパルスレーザは繰り返し周波数に制約が有り、ｋＨｚオーダーのものが多いため、例えばＤＶＤ−ＲＡＭの場合のような連続サーボ方式のヘッダー部のアドレスマークの場合、アドレスマークをすべて書くには非常に長い時間がかかって実用的でないからである。従って、他の層と異なる部分だけを飛び飛びに書き加えるようにした。
【００２６】
フェムト秒レーザやピコ秒レーザで低パワー連続発振によるサーボが難しい場合は、２ビームヘッドとし、上記フェムト秒レーザやピコ秒レーザとディスク上の光スポットの相対位置を固定した、通常の半導体レーザ、あるいはガスレーザでフォーカス・トラッキングしながら書き加えて行く。このようにアドレス形成には２ビームヘッドが必要でも、記録・再生装置では１ビームヘッドで記録・再生することができる。
【００２７】
アドレス部分のフォーマットはＤＶＤ−ＲＡＭに類似であるが、層のアドレスに３バイトをあてる。層のアドレスは、上記の書き加えが高速で行えるように、１トラック（ディスク１周）にほぼ等間隔で５ヶ所の書き加え用ヘッダー部に設けた。これら５ヶ所にはディスク１回転で１個ずつの書き加えマークを形成することができる。セクターのフォーマットを図９に、そのうちヘッダー部のデータ配置を図１０に示した。書き込み・読み出しの信頼性によって、５ヶ所でなく、もっと少ない所に追加記録するだけでも良い。ビームの位置付け時は、３個以上を読んで多数決で確認する。層のアドレスは、１から連続の数字でなく、飛び飛びの３バイト２４個の数字を割り当て、変調符号変換（ここでは８−１６変調の変換テーブルに従う）したものが、最短マーク３個の書き加えによって２４個の異なる数字に対応させられるように、アドレス数字を選択した。例えば、８−１６変調後の１６ビットのディジタルデータの配列として、１バイト目に下記(a)の４通り、２バイト目に下記(b)の３通り、３バイト目に下記(c)の２通りを用いると、これらの組み合わせは４×３×２＝２４通りとなる。
(a) 0010010000010000  0001001000010000  0000100100010000  0000010010010000
(b) 0001001001000010  0001000100100010  0001000010010010
(c) 0000010000001001  0000010000010010 
【００２８】
１バイト目、２バイト目、３バイト目に１つずつ存在する、位置が変わる 1001 の部分が追加書き込み最短マークの部分である。そのほか、１バイト目から２バイト目につながる部分、２バイト目から３バイト目につながる部分の１から１までが長い基板表面ピットとして予め形成されている。すなわち、ヘッダー部の、８−１６逆変換した時３バイトのディジタルデータとなる上記領域は、２つの基板表面ピットと、位置が変わる３つの追加書き込みマークによって、２４種類の層アドレスを表すことができる。
【００２９】
層のアドレス情報を追加するトラックは、最小限、その層のどれか１トラックでよいが、内・外の２トラック、あるいは内・中・外の３トラック、あるいはそれより多くのトラックに追記するのが好ましい。追記の際、２光子吸収で発熱させる場合は、その層は着色していても、着色していなくても良い。利用可能なのはフェムト秒レーザなどによる２光子吸収記録だけでなく、通常の半導体レーザで、層を着色させた状態で強めのパワーで位相差を持つ追加記録マークを形成しても良い。フェムト秒レーザなどによる２光子吸収記録などで正規の長さの最短記録マークを形成するのが難しい場合は、ヘッダー部全体、又は層アドレス部分だけの最短マーク長を、例えば２倍にするなど、特別な基本長さでの記録・再生を行っても良い。この場合、当該部分の凹凸ピットの基本長さも変えておくのが好ましい。
【００３０】
１トラックだけにアドレス情報を追加する場合、上記の層アドレスの３バイトの１バイトずつにディスクの１回転ずつで各１つのマークを追加書き込みするとしても、３×ヘッダー内のＩＤ部の数×層数回転で１秒以下でディスク一枚のアドレスを書き終わることになる。ただし、層ごとにフォーカス位置を確認する場合はその時間も必要になる。追加書き込みマークは位相差を生じる位相マークであるから、層間のクロストークが生じる。従って上記の５ヶ所のヘッダー部の選択を近接する層では異なる５ヶ所を選び、層数が多い場合は、さらに層アドレスを追記するトラックを数トラックずつズラしてクロストークによる誤りが生じないようにした。１つのヘッダー部のＩＤ部の数をさらに増して３つ以上にすれば、さらに信頼性が高まる。目標の層のアドレスがどのトラックのどのヘッダー部に書かれているかが予め分かっているので、層アドレスの確認が可能である。すべての層の層アドレス追記ヘッダー部を異ならせる場合は、必ずしも上記の８−１６変調の３バイトへの追加書き込みでなくても、当該ヘッダー部への１個以上のマークの追加記録によって、そこで、もともと基板にある凹凸が表すマークと異なるマークが検出できることにより、アドレス確認を行う方式とすることもできる。
【００３１】
本実施例では、電圧による着色層の選択で記録・再生する層が既に選択されており、一層だけが着色した状態では層のアドレスの確認は必ずしも必要でないが、実際には層の消色と着色には１秒近くの時間がかかるため、層から層に移る際は、少なくとも２層が着色した状態にある。従って新しい層に正しくフォーカス・トラッキングしたことを確認するため、上記の層アドレスを書き込んだトラックのアドレス情報を読み出すことが必要になる。
【００３２】
他の例として、離れた２つの基板表面ピットの間に書き加える位相マークのピットとの相対位置によってアドレスを表現するようにしてもよい。また、トラック上に間歇的に配置したピットペアを検出することによってピットペアの中央にトラッキングを行うサンプルサーボ方式では、ペアのうちの一方を書き加えていけば、比較的低い繰り返し周波数でトラッキングガイドとアドレスを表すマークを書くことができる。図１１に示したように、ペアとなるピットと、書き加える位相マークの間隔によってアドレスを表現した。この場合も、層アドレスを書き加えるトラックは、一層につき１トラックから数トラックとした。
【００３３】
これらの場合、読み出し時にアドレスのエラーコレクションができるように符号を決めた。
【００３４】
記録層を挟む電極間に電圧を印加すると、着色して記録及び読み出し用レーザ光の吸収率及び反射率が増大する。任意の層だけ光吸収し、他の層はほとんど光吸収が無いようにできる。これにより、他の層の干渉が無いので一層当たりの膜厚を従来の１／１００程度に薄くでき、複数の層を絞込みレンズの焦点深度内に配置することもできて、従来の複数層ディスクより多層・大容量化できる。もちろん、一層あるいは２層以外は焦点深度内に入らないようにし、焦点位置を動かして記録・再生してもよい。
【００３５】
記録はレーザ光、及び／又は電流の作用によって、膜のエレクトロクロミック作用を失わせ、電圧を印加しても発色しないか発色が遅い、あるいは記録前と異なる吸収スペクトルを持つようにして行う。
【００３６】
エレクトロクロミック層又は固体電解質層が結晶−非晶質間、あるいは結晶−結晶間で相変化するようにして記録すると、書き換え可能性が期待できる。相によって着色又は消色速度が１桁以上違うようにできれば、電圧印加後どちらかの相にある領域だけ着色した状態で読み出すようにすれば、読み出し可能である。ＷＯ３などの無機材料の場合、非晶質状態の方がプラスイオンが動きやすく、速度が速い。
【００３７】
図６は、本発明で用いる多層ディスク記録再生装置の１例を示す構造図である。ディスクの下方に有る、記録再生装置の静止部からモータ４１の回転軸４２への電線５８、スリップリング式電圧伝達機構４７，５９から出て、回転軸を回転軸先端に向かう導線４５、ディスク受け（ディスク載置部）４４、バネ内蔵ピン電極５３、ディスク受け内部をバネ内蔵ピン電極に向かう導線５２などより成る。上記ディスク内周部の同心円状電極３５とディスク受けのピン電極５３が接触するように、バネ内蔵のディスク押え５６で押えられている。ピン電極はピン（細い円柱又は円筒）状でなくてもよく、例えば円弧を成す帯状の電極であっても良い。電流は、電極３５，３６，３７を介して、基板３８上の透明電極３２に供給される。図６においては、ディスク受け付近の電極を多数描くと分かりにくくなるので３個だけを描いてある。上記の装置側の複数の電極はそれぞれ幅が狭く長く、全体が一枚の長いベルト状になっていて、回転する電極との接触部分が摩耗したら接触位置を変えられるようになっている。ディスクの構造は図４と同じである。
【００３８】
記録・再生光を張り合わせ基板側から入射させる場合、張り合わせ基板を０．１ｍｍ程度に薄くして、絞込みレンズのＮＡを０．８５と大きくしても良い。そうすればトラックピッチは約３／４程度にできる。
【００３９】
ドライブ装置の静止部分から回転部分への電気的接続はスリップリングのような接触機構以外に、発光ダイオード又はレーザと受光素子との組み合わせ、コイルの組み合わせ、あるいは磁石とコイルの組み合わせでも良い。磁石とコイルの組合わせの場合は、距離を変えることにより電極を選択する。ただし、電流が十分に供給できない場合は、複数組を配置する必要があり、ドライブ装置内で一定の体積を占める。コイルの場合、交流電圧が生じるので整流するのがよい。
【００４０】
装置の構成ブロック図を図７に示した。以下に、本情報記録再生の動作を説明する。まず、記録再生を行う際のモータ制御方法としては、記録再生を行うゾーン毎にディスクの回転数を変化させるＺＣＬＶ（Zoned Constant Linear Ve1ocity）方式を採用したものについて述べる。記録は、元のディジタル信号を８−１６変調し、さらに１つの記録マークを長いマークほど多くのパルスより成るマルチパルス記録波形にして記録した。図示していないが、もちろんこの他に層を選択して電圧を印加する電源及びスイッチング回路とコントローラが存在する。
【００４１】
本発明の記録媒体を用いることにより、どの層にもオートフォーカスとトラッキング・アドレス確認が可能になるため、１つのレーザを用いた光ヘッドで多層の記録と再生が可能である。記録は、目標の層だけ十分に着色した状態で行う。まず再生レーザパワーでアドレスを読んで確認する。記録は高パワーレーザ照射した場所だけ熱によって着色機能が失われる、又は着色が遅くなることによって行う。再生時は、再生すべき層を記録時と同様に着色させ、アドレスを確認し、パワーを低くしたレーザビームを照射し、マークとマーク以外の部分からの反射光を検出することにより、再生信号を得る。再生信号の振幅をプリアンプ回路により増大し、８−１６復調器では１６ビット毎に８ビットの情報に変換する。以上の動作により、記録されたマークの再生が完了する。本実施例では、層のアドレスを確認して確実に記録・再生できた。
【実施例２】
【００４２】
Technical Digest of International Symposium on Optical Memory(ISOM)2003, Fr-J-06 (2003) p274 に示されているスイッチング層を有する多層光ディスクにも、本発明を適用した。このスイッチング層は、照射される光の強度が増すと急激に光吸収と反射が増加する非線形な性質を持った材料の層である。この場合、フォーカス位置にある層で特にレーザ光のパワー密度が高いように、実施例１の記録媒体よりは層間隔を広げ、０．５μｍ以上の層間隔にするのが好ましいが、従来の２層光ディスクよりは狭い層間隔が可能であり、実施例１の記録媒体と同様に、連続的なスパッタリングで製膜することができる。フォーカス位置を所定の層に決めると、スイッチング層によってその層の光吸収が急激に増加し、ユーザデータの記録・再生が可能になる。スイッチング層の光吸収増加のためには常にある程度の光吸収が必要であるから、実施例１の記録媒体のように手前の層での光吸収による光の減衰や層間クロストークを完全に無くすことができるわけではない。しかし、従来の方式よりは多層化のポテンシャルがある。基板としては実施例１と同じものを用い、記録媒体の構成は論文に書かれているのをそのまま追試した。
【００４３】
製膜方法としては、実施例１と同様なバイアススパッタリング方式を採用した。アドレスの追加書き込み方法、装置の構成、記録・再生方法は実施例１と同様にした。本実施例では電圧などによる層の選択は行われないので、層アドレスの読み出し精度が高いことが要求される。従って、１トラックの複数のヘッダー部だけでなく、同一層内の複数のトラックで層アドレスを確認するのが望ましい。
【実施例３】
【００４４】
ＤＶＤ＋ＲＷのようにグルーブのウォブルでアドレスが表現されている場合、書き加えは図１２に示したように、グルーブに沿って、グルーブの片側または両側のグルーブに落ち込む傾斜部の位置に単独で、または交互に長い追加位相マークを形成することによって行った。これによってウォブルが有るように見え、層アドレスを表現するようにした。図において、両側に隣接するグルーブは省略してある。本実施例では、両側のトラックでは層のアドレスに対応するウォブルは入っておらず、書き加えも行わない。層アドレスの符号化の方法は、実施例１と同様でよい。ただし、グルーブウォブルで表現する場合は１ビットに対応する長さが大幅に長くなる。また、アドレス符号がインターリーブされる場合は、それに対応した書き加えを行う。
記録媒体の作製方法、装置の構成、記録・再生方法は実施例１と同様にした。
【実施例４】
【００４５】
実施例１と同様であるが、追加記録するマークを位相差が大きいものとして、基板表面に存在する凹凸マークの一部と同じ位置に形成し、凹凸マークの位相差が打ち消されて、あるいは位相差が往復で２πになって、マークが存在しないように見えるようにした。層ごとに異なるヘッダー部、異なるトラックに追加記録マークを形成する方式とし、凹凸で形成してあるアドレス表示位置マークを、追加マークで打ち消すようにした。サブミクロンの微細なインクジェット装置があれば、ピットをインク又は有機高分子材料で埋めて平坦化することも可能になる。
記録媒体の作製方法、装置の構成、記録・再生方法は実施例１と同様にした。
【００４６】
本発明は実施例１、実施例２のように狭い層間隔で多層記録層を形成できる記録媒体に特に有効であるが、従来の多層記録媒体のように、層間クロストークを層間隔を広くすることによって防止するタイプの多層記録媒体でも、ピットパターンを転写するスタンパーを層毎に変えて作るのがコスト的に不利になるような、例えば少量多品種生産などの場合には効果が期待できる。
【実施例５】
【００４７】
実施例５では、複数の記録層へ追加マークを一度に記録することにより、製造時間を短くする方法を述べる。図１３に本方式でマークを追記した媒体の断面構造を記載した。図中６１は、記録層ごとに形状の異なる追加マークである。これらの追加マークは、図１４に示した方法で形成された。
【００４８】
図１４（ａ）には、記録層を３層持つ多層媒体へ追加マークを記録する方法を示した。まず、各記録層に電圧を印加し、記録再生を行うことが出来る反射率とした。このためには、複数層に一度に電圧をかけられる電圧印加手段６２を用いた。この電圧印加手段を用い、各記録層に３Ｖを印加した。各記録層に電圧を同時にかけるために、各電極層での電位を、電極層６９は基準電位（０Ｖ）、電極層７０は３Ｖ、電極層７１は６Ｖ、電極層７２は９Ｖとした。つまり、各電極間の電位を適当な印加電位（ここでは３Ｖ）に保ち、記録層数が増えるに従い、基準電位に電圧を加えた電位に保った。
【００４９】
こうして、各記録層に電圧を印加し、記録再生用の反射率にした。具体的には、各記録層単独の反射率を５％、吸収率を１５％とした。多層のため、光入射側からみる光学特性は、光入射側の最初の記録層では、反射率５％、吸収率１５％であった。光入射側からみて２番目の記録層では、最初の記録層の透過率が７０％となっているため、反射率３．５％、吸収率が１０．５％と減衰した。光入射側からみて３番目の記録層では、最初と２番目の記録層により透過率が４９％となっているため、反射率２．５％、吸収率が７．４％とさらに減衰した。このため、一度にレーザ光を照射しても、各記録層での吸収率が異なるため、記録層の到達温度が異なる。つまり、記録層において、形状変化を起こす温度に達する領域の大きさが異なるため、マークの形状が異なる。マークの形状が異なる場合、再生時の信号は、図１５に示すように信号のマークの長さ及びマーク間の長さが異なる。形状変化が相対的に大きい図１５（ａ）では、マーク部の信号レベルＩａになる時間、ｔ１からｔ２、ｔ３からｔ４の間が長く、マーク間の信号レベルになる時間ｔ２からｔ３が短い。
【００５０】
形状変化が小さくなるにつれ、図１５（ｂ）のように、マーク部の信号レベルになる時間ｔ５からｔ６、ｔ７からｔ８は短くなり、さらにマーク間の信号レベルになる時間はｔ６からｔ７に示されるように長くなる。形状変化がさらに小さくなると、図１５（ｃ）のように、マーク部の信号レベルになる時間はｔ９からｔ１０、ｔ１１からｔ１２とさらに短く、マーク間の信号レベルになる時間はｔ１０からｔ１１と長くなる。各信号における平均信号レベルＩaved、Ｉavee、Iavef  も同様に変化し、高くなっていく。このようなマーク部の信号の長さの違い、マーク間の信号長さの違い、平均信号レベルの違い、のいずれかを用いて層のアドレス情報を検出することが可能である。これらを組合せれば、さらに精度が向上する。マーク部の信号レベルがマーク間に比べて高くなる場合でも、時間の関係、つまり形状変化が小さくなるとマーク部の信号レベルになる時間が短くなる点は同様である。本実施例では、説明を簡単にするため追加マークが２個の場合について記載したが、追加マークが１個だけでも、さらに多い場合でも、長さが異なる追加マークとの組合せなども同様に層のアドレス情報を検出出来る。
【００５１】
また、本方式は形状変化ではなく、屈折率変化を生じさせてマークを追記するタイプの媒体にも利用出来る。図１４（ｂ）に説明図を示した。屈折率の変化量は、投入されたエネルギーによって異なることから、上記のように複数の記録層に同時に電圧を印加し、レーザ照射を行うことで、光入射側の記録層の吸収率が高く、記録層の到達温度が高くなる。一方、光入射側から遠い記録層の吸収率は相対的に低く、記録層の到達温度は低くなる。このため、各記録層におけるマークは、屈折率変化が大きなマーク６９、次に屈折率変化が大きなマーク７０、屈折率変化が小さなマーク７１というように、光入射側から遠ざかるにつれて、屈折率変化が小さくなった。
【００５２】
マークの屈折率が異なる場合、再生時の信号は、図１６に示すように信号のレベルが異なる。屈折率変化が相対的に大きい図１６（ａ）では、マーク部の信号レベルＩａが低く、マーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩｃの差が大きくなる。屈折率変化が小さくなるにつれ、図１６（ｂ）のように、マーク部の信号レベルＩｚはＩａに比べて高く、さらにマーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩｚとの差は小さくなる。屈折率変化がさらに小さくなると、図１６（ｃ）のように、マーク部の信号レベルＩｙはＩａに比べて高く、さらにマーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩｙとの差は小さくなる。各信号における平均信号レベルＩavea、Ｉaveb、Iavecも同様に小さくなっていく。このようなマーク部の信号レベルの違い、マーク部の信号レベルとマーク間の信号レベルの差の違い、平均信号レベルの違い、のいずれかを用いて層のアドレス情報を検出することが可能である。これらを組合せれば、さらに精度が向上する。マーク部の信号レベルがマーク間の信号レベルに比べて高くなる場合でも、レベル差の関係は同様である。信号レベルと信号レベル差の両方が変化する追加マークの場合はこれらの方法を組み合わせるとよい。
【００５３】
以上より、図１３、図１４のように形状の異なる追加マークを一度のレーザ照射で記録することが出来、実施例１等に記載した方法に比べて、製造時間が短縮できた。さらにこれらの追加マークを利用して層のアドレス情報を検出することが可能となった。本方式では一度に複数層の追加マークを記録するため、記録層内における追加マークの記録位置の精度が高いという効果もある。この効果を利用し、追加マークの信号を検出し、比較することにより、各層ごとの偏心などの位置ずれを補正したり、記録や再生のタイミングを補正することも可能である。
【００５４】
本実施例に記載していない、記録媒体の作製方法、装置の構成、記録・再生方法等は実施例１〜４と同様にした。
【実施例６】
【００５５】
実施例６では、複数の記録層及び複数のトラックへ追加マークを一度に記録することにより、製造時間をさらに短くする方法を述べる。
【００５６】
複数の記録層及び複数のトラックへ追加マークを一度に記録するには、レーザビームとして、レーザ進行方向（トラック方向）と角度をなす方向に長い長円形のシートビームを用いる。こうすることで、さらに製造時間が短縮できる。図１７にピットと追加マークのレイアウトの一例を示した。図１７（ａ）は、光入射側の記録層にピット７６と追加マーク７７が形成された様子を示す図である。図１７（ｂ）は、光入射側から遠い記録層にピット７６と追加マーク７８が形成された様子である。追加マーク７８は、記録層の吸収率が相対的に小さいために、形成されるマークの進行方向の幅が小さくなった。即ち、追加マークの形状が、記録層毎に異なるように形成した。この例は、レーザ進行方向にほぼ直角に追加マークを形成しているが、斜めに形成しても製造時間は、数％程度しか余分にかからなかった。シートビームを用いる方法は一度に複数層、複数トラックに追加マークを記録するため、記録層内、トラックにおける追加マークの記録位置の精度が高いという効果もある。この効果を利用し、追加マークの信号を検出し、比較することにより、各層ごとの偏心などの位置ずれを補正したり、記録や再生のタイミングを補正したり、トラック間のタイミング補正することも可能である。
【００５７】
本実施例に記載していない、記録媒体の作製方法、装置の構成、記録・再生方法等は実施例１〜５と同様にした。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の一実施例の多層ディスク記録再生装置の層間クロストークが無いことを示す原理図。
【図２】本発明の一実施例の多層ディスク記録媒体の一部の記録トラック方向（円周方向）の断面構造を示す図。
【図３】本発明の一実施例の多層ディスク記録媒体の一部の記録トラックに直角方向（半径方向）の断面構造を示す図。
【図４】本発明の多層ディスクの張りあわせ後の断面摸式図。
【図５】基板表面の凹凸ピット及び書き加えた位相マークの配置例を示す図。
【図６】本発明の一実施例の記録再生装置の構造を示す断面図。
【図７】本発明の一実施例の記録再生装置の構成を示すブロック図。
【図８】ＤＶＤ−ＲＡＭのフォーマットの模式図。
【図９】セクターのフォーマットを示す図。
【図１０】ヘッダー部のデータ配置を示す図。
【図１１】トラック上に間歇的に配置したピットペアを用いるサンプルサーボ方式への適用例を示す図。
【図１２】本発明をグルーブのウォブルに適用した例を示す図。
【図１３】本発明による多層ディスク記録媒体の一部の記録トラック方向（円周方向）の断面構造を示す図。
【図１４】本発明の追加マーク記録方法を説明する図。
【図１５】追加マークから得られる信号の長さが異なる場合の信号検出を説明する図。
【図１６】追加マークから得られる信号のレベルが異なる場合の信号検出を説明する図。
【図１７】本発明の追加マークの配置例を示す図。
【符号の説明】
【００５９】
１：基板
２：反射層
３〜５：ダミー層
６：透明電極
７：エレクトロクロミック材料層
８：固体電解質層
９：第２エレクトロクロミック材料層
１０：透明電極
１１：基板表面のピット
１２：追加書き込みされたアドレスマーク
３１：グルーブ
３２：透明電極
３３：導電性接着剤
３４：張り合わせ基板
３５：外側同心円電極
３６：貫通導電路
３７：内側同心円電極
３８：基板
３９：ガラスエポキシ基板
４１：モータ
４２：回転軸
４５：回転軸表面の導線
４７：リング群
５２：ディスク受け内部の導線
５３：バネ入りピン電極
５８：静止部からの導線
５６：ディスク押え
５９：ブラシ群
【図１】
2007102989.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2007102989.tif 000009
【図８】
2007102989.tif 000010
【図９】
2007102989.tif 000011
【図１０】
2007102989.tif 000012
【図１１】
2007102989.tif 000013
【図１２】
2007102989.tif 000014
【図１３】
2007102989.tif 000015
【図１４】
2007102989.tif 000016
【図１５】
2007102989.tif 000017
【図１６】
2007102989.tif 000018
【図１７】
2007102989.tif 000019
【手続補正書】
【提出日】平成18年8月9日(2006.8.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５２】
マークの屈折率が異なる場合、再生時の信号は、図１６に示すように信号のレベルが異なる。屈折率変化が相対的に大きい図１６（ａ）では、マーク部の信号レベルＩａが低く、マーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩａの差が大きくなる。屈折率変化が小さくなるにつれ、図１６（ｂ）のように、マーク部の信号レベルＩｚはＩａに比べて高く、さらにマーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩｚとの差は小さくなる。屈折率変化がさらに小さくなると、図１６（ｃ）のように、マーク部の信号レベルＩｙはＩａに比べて高く、さらにマーク間の信号レベルＩｃとマーク部の信号レベルＩｙとの差は小さくなる。各信号における平均信号レベルＩavea、Ｉaveb、Iavecも同様に小さくなっていく。このようなマーク部の信号レベルの違い、マーク部の信号レベルとマーク間の信号レベルの差の違い、平均信号レベルの違い、のいずれかを用いて層のアドレス情報を検出することが可能である。これらを組合せれば、さらに精度が向上する。マーク部の信号レベルがマーク間の信号レベルに比べて高くなる場合でも、レベル差の関係は同様である。信号レベルと信号レベル差の両方が変化する追加マークの場合はこれらの方法を組み合わせるとよい。