(57)【要約】【課題】  光源を構成する複数の発光ダイオードの光量を定期的に検査することのできる照射装置を提供する。【解決手段】  照射装置１００を、複数の発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎが配列された光源部１１０と、複数の光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎが配列された光量測定部１２０とを備えたものとし、光量測定時には、光源部１１０が光量測定部１２０に対向する位置に移動して、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎと光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎとが１対１に対向し、各発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量が各光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎによってそれぞれ測定され、ワーク照射時には、光源部１１０が光量測定部１２０に対向する位置から外れて、ワーク２００に対して照射を行うものとした。【選択図】  図１
2007021841.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の発光ダイオードが配列された光源部と、複数の光センサが配列された光量測定部とを備えた照射装置であって；光量測定時には、前記光源部と前記光量測定部とが対向する位置に移動され、前記発光ダイオードと前記光センサとが１対１に対向し、各発光ダイオードの光量が各光センサによってそれぞれ測定され、ワーク照射時には、前記光源部と前記光量測定部とが対向する位置から外れて、ワークに対して照射を行うことを特徴とする照射装置。
【請求項２】
前記複数の発光ダイオードの光量が全て所定範囲にあることが確認されないときは、ワークに対する照射が開始されない請求項１記載の照射装置。
【請求項３】
光量測定時に、前記発光ダイオードの光強度が所定の周期Ｔ１でサンプリングされる請求項１又は２記載の照射装置。
【請求項４】
前記発光ダイオードがパルス点灯され、前記サンプリングの周期Ｔ１が下記式（１）を満たす請求項３記載の照射装置。
【数１】
2007021841.tif 000004
ただし、Ｔ２は、前記発光ダイオードのオンパルス幅であり、Ｔ３は、前記発光ダイオードのオフパルス幅である。また、Ｍは、２以上の整数であり、Ｎは、１以上の整数である。
【請求項５】
前記発光ダイオードの駆動電圧を制御するための光源制御手段が設けられ、光センサによる測定データが前記光源制御手段へとフィードバックされ、前記測定データに応じて前記発光ダイオードの駆動電圧が制御される請求項１〜４いずれか記載の照射装置。
【請求項６】
前記複数の発光ダイオードが複数の発光ダイオード群にグルーピングされ、前記駆動電圧が前記発光ダイオード群ごとに集約されて制御される請求項５記載の照射装置。
【請求項７】
一の発光ダイオードから出射された光が該一の発光ダイオードに対向しない光センサに受光されるのを防止するためのアパーチャが備えられてなる請求項１〜６いずれか記載の照射装置。
【請求項８】
前記光センサがフォトダイオード又はフォトトランジスタである請求項１〜７いずれか記載の照射装置。
【請求項９】
請求項１〜８いずれか記載の照射装置を備えてなる樹脂硬化装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光硬化型のインクや樹脂を硬化させるためなどに用いることのできる照射装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被印刷物にインクを吹き付けて印刷を行うインクジェットプリンタは、製版を必要とせず、小ロットの印刷であっても低コストで手軽に行うことができるために、産業用や家庭用のプリンタとして広く普及している。その中には、紫外線などの光を照射すると硬化する光硬化型のインクを用いて印刷を行うものもある。この種のインクジェットプリンタには、通常、被印刷物に吹き付けられたインクを硬化させるための照射装置がプリンタヘッドなどに設けられており（例えば、特許文献１を参照。）、近年では、その光源に発光ダイオードを用いたものも提案されている（例えば、特許文献２を参照。）。この種のインクジェットプリンタは、樹脂や金属などのインクを吸収しにくい素材に対しても、インクを滲ませることなく綺麗に印刷することができるという特徴を有している。
【０００３】
しかし、光硬化型のインクを用いて印刷を行うインクジェットプリンタは、光を均一に照射しないと、被印刷物に吹き付けられたインクに硬化不良部分が発生するおそれがあった。このため、照射装置の光源を複数の発光ダイオードを配列して構成するような場合には、各発光ダイオードの光量を揃えておく必要があり、光量測定装置を用いて各発光ダイオードの光量を検査することも行われていた。これに用いられる光量測定装置は、種々のものが提案されており、各発光ダイオードに対向するように複数の光センサを配列したものもある（特許文献３を参照。）。これらの光量測定装置は、通常、照射装置の製造段階に用いられ、光量に異常が認められた発光ダイオードは照射装置の出荷前に交換されていた。
【０００４】
ところが、各発光ダイオードの光量は、製造段階で揃っていたとしても、その実装場所の違いなどに起因して消耗具合に大きな差が生じてしまい、度重なる使用を経た後では大きなバラツキが生じるおそれがあった。例えば、基板の中心部に実装された発光ダイオードは、基板の縁部に実装された発光ダイオードよりも温度が高くなりやすく、熱による消耗が激しくなると考えられる。このため、各発光ダイオードの光量は、照射装置の製造段階だけでなく、使用段階においても定期的に検査することが好ましいが、各発光ダイオードの光量を定期的かつ容易に検査することのできる照射装置は未だ提案されていなかった。
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−３１０４５４号公報
【特許文献２】特開２００４−１８１９４１号公報（［０１１７］、図９）
【特許文献３】特開２００４−２５７８０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、光源を構成する複数の発光ダイオードの光量を定期的に検査することのできる照射装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題は、複数の発光ダイオードが配列された光源部と、複数の光センサが配列された光量測定部とを備えた照射装置であって；光量測定時には、前記光源部と前記光量測定部とが対向する位置に移動され、前記発光ダイオードと前記光センサとが１対１に対向し、各発光ダイオードの光量が各光センサによってそれぞれ測定され、ワーク照射時には、前記光源部と前記光量測定部とが対向する位置から外れて、ワークに対して照射を行うことを特徴とする照射装置を提供することによって解決される。これにより、発光ダイオードの光量を照射装置の始動時などに定期的に測定することが可能になる。前記光源部と前記光量測定部は、いずれか一方のみが移動するものであってもよいし、双方が移動するものであってもよいものとする。
【０００８】
前記発光ダイオードの光量測定は、ワーク照射時の合間に行ってもよいが、通常、照射装置の始動時や停止時に行われる。このとき、前記複数の発光ダイオードの光量が全て所定範囲にあることが確認されないときは、ワークに対する照射が開始されないように設定されていると好ましい。これにより、各発光ダイオードの光量に大きなバラツキが生じたままワーク照射が開始されるのを防止して、ワークの無駄を少なくすることが可能になる。
【０００９】
前記光量測定部は、前記発光ダイオードの光強度（単位時間当たりの光量）を時間的に連続して計測するものであってもよいが、前記発光ダイオードの光強度を所定の周期Ｔ１でサンプリングするものであることが好ましい。これにより、前記発光ダイオードの光量を容易に算出することができるようになる。この場合には、サンプリングされた光強度の和をサンプリング回数で除した値にサンプリング時間を掛けることによって、前記発光ダイオードの光量を求めることができる。光量測定部のサンプリング周期は、発光ダイオードの発光パターンや、前記発光ダイオードの光量の演算を行う演算手段（例えば、後述するプログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２）の能力などに応じて適宜設定される。
【００１０】
前記発光ダイオードは、連続点灯されてもよいが、パルス点灯されると好ましい。これにより、前記発光ダイオードの冷却時間を確保することが可能になり、前記発光ダイオードが熱により故障するのを防止することができる。また、前記発光ダイオードを連続点灯させる場合と比較して、前記発光ダイオードに高い電圧を印加することが可能になり、前記発光ダイオードの光量の最大値を高く設定することもできる。
【００１１】
前記発光ダイオードをパルス点灯させる場合には、図７に示すように、複数周期に亘ってサンプリングを行い、サンプリングする区間を各周期でずらすと好ましい。これにより、一周期でサンプリングを終える場合と比較してサンプリングの周期を長くすることが可能になり、前記発光ダイオードの光量の演算に要する時間よりも前記発光ダイオードの点灯周期が短いような場合であっても、前記発光ダイオードの光量を滞らせることなく演算することが可能になる。
【００１２】
このようなサンプリングは、前記光量測定部のサンプリング周期Ｔ１を、下記式（１）を満たす値に設定することで、実現することができる。
【数２】
2007021841.tif 000003
【００１３】
ただし、Ｔ２は、前記発光ダイオードのオンパルス幅（１周期当たりの点灯時間）であり、図７の例では１０ｍｓとなっている。また、Ｔ３は、前記発光ダイオードのオフパルス幅（１周期あたりの消灯時間）であり、図７の例では９０ｍｓとなっている。さらに、Ｍは、光量測定のサンプリング回数を示す２以上の整数であり、図７の例では１０となっている。Ｍの値は、オンパルスのサンプリング分割数に等しい。Ｍの値は、大きければ大きいほど、求める光量の精度を高めることができるが、大きくしすぎると、光量の演算に要する時間が長くなるために、必要な精度や光量を演算する演算手段の演算能力などを考慮して適宜調整される。さらにまた、Ｎは、一のサンプリングを行って次のサンプリングを行うまでの間に経過するオフパルスの数を示す１以上の整数であり、図７の例では１となっている。図７の例では、周期Ｔ１は１０１ｍｓとなる。
【００１４】
前記発光ダイオードの駆動電圧を制御するための光源制御手段が設けられ、光センサによる測定データが前記光源制御手段へとフィードバックされ、前記測定データに応じて前記発光ダイオードの駆動電圧が制御されることも好ましい。これにより、各発光ダイオードの光量にバラツキが認められた場合に、各発光ダイオードの光量が等しくなるようにその駆動電圧を自動的に補正するといったことも可能になる。
【００１５】
このとき、前記複数の発光ダイオードが複数の発光ダイオード群にグルーピングされ、前記駆動電圧が前記発光ダイオード群ごとに集約されて制御されるようになっていると好ましい。これにより、各発光ダイオードに電力を供給する電気回路や、各発光ダイオードの駆動電圧を制御する制御回路の構造を簡素にすることが可能になる。この場合、各発光ダイオード群は、通常、製造ロットや実装場所を基準に構成される。製造ロットの等しい発光ダイオードや実装場所の近い発光ダイオードなどは、その消耗具合に大きな差がないと考えられるためである。
【００１６】
一の発光ダイオードから出射された光が該一の発光ダイオードに対向しない光センサに受光されるのを防止するためのアパーチャが備えられてなることも好ましい。これにより、各発光ダイオードの光量にバラツキがある場合に、どの発光ダイオードに異常があるのかを容易に判断することが可能になる。
【発明の効果】
【００１７】
以上のように、本発明よって、光源を構成する複数の発光ダイオードの光量を使用段階においても定期的に検査することのできる照射装置を提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明の照射装置を、図面を用いてより具体的に説明する。以下においては、本発明の照射装置をインクジェットプリンタのインク硬化装置として用いる場合について説明する。図１は、本発明の照射装置を示した斜視図である。図２は、図１の光源部をｚ軸負方向から見た状態を示した図である。図３は、図１の光量測定部をｚ軸正方向から見た状態を示した図である。図４は、本発明の照射装置を示したブロック図である。図５は、ＬＥＤ点灯信号の生成原理を説明するタイミングチャート図である。図６は、発光ダイオードの光強度の時間変化を表したタイミングチャート図である。図７は、測定データのサンプリングを説明するタイミングチャート図である。
【００１９】
本発明の照射装置１００は、図１に示すように、光源部１１０と光量測定部１２０とを備えたものとなっている。本実施態様において、光源部１１０は、ワーク２００に対してインクを吐出するプリンタヘッド３００に取り付けられており、図１におけるｘ軸方向へプリンタヘッド３００と一体的に移動するようになっている。光源部１１０は、光量測定時には、光量測定部１２０と対向する位置（プリンタヘッド３００の待機位置）に移動し、ワーク照射時には、光量測定部１２０と対向する位置から外れてワーク２００に吹き付けられたインクに光を照射するようになっている。
【００２０】
［光源部］
光源部１１０は、図２に示すように、複数の発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎをｍ行ｎ列（ｍは１以上の整数、ｎは２以上の整数）に配列したものとなっている。本実施態様においては、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎを正方格子の格子点位置に配列しているが、これに限定されるものではなく、例えば、千鳥格子の格子点位置に配列してもよい。
【００２１】
また、本実施態様において、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎは、行単位でその製造ロットが揃えられており、発光ダイオード群Ｇ１〜Ｇｍにグルーピングされている。発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎに駆動電圧を印加する電気回路（図示省略）は、各発光ダイオード群Ｇ１〜Ｇｍごとに集約されており、同一の発光ダイオード群に属する発光ダイオードは、共通の駆動電圧が印加されるようになっている。
【００２２】
［アパーチャ］
発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの配置ピッチが狭いなど、光量測定時において一の発光ダイオードから出射された光が該一の発光ダイオードに対向しない光センサに受光されるおそれがある場合には、光源部１１０と光量測定部１２０との間（通常、光源部１１０の近傍）にアパーチャ（図示省略）を備えると好ましい。アパーチャとしては、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎのそれぞれに対応する位置にスリットやホールなどの透光部を設けた板状体などが例示される。
【００２３】
［光源制御回路Ｃ１（光源制御手段）］
本実施態様において、光源部１１０の発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎは、図４に示すように、スイッチＳＷ１〜ＳＷｍを介して光源制御回路Ｃ１（光源制御手段）に接続されている。光源制御回路Ｃ１は、光源部１１０に所定の動作を行わせることができるものであれば特に限定されないが、本実施態様においては、マイクロプロセッサＭＰＵ１とプログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１とで構成している。
【００２４】
［マイクロプロセッサＭＰＵ１］
マイクロプロセッサＭＰＵ１は、そのベースクロック信号をプログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１へ出力すると同時に、該ベースクロック信号に同期するシンク信号を光量測定部１２０のマイクロプロセッサＭＰＵ２へと出力するものとなっている。
【００２５】
［プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１］
プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１は、マイクロプロセッサＭＰＵ１から受け取ったベースクロック信号から発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎを点灯させるＬＥＤ点灯信号を生成し、該ＬＥＤ点灯信号に基づいてスイッチＳＷ１〜ＳＷｍの開閉を行い、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの点灯状態を発光ダイオード群Ｇ１〜Ｇｍごとに制御するものとなっている。
【００２６】
［スイッチＳＷ１〜ＳＷｍ］
スイッチＳＷ１〜ＳＷｍは、電磁リレーなどの有接点スイッチを用いることもできるが、通常、長寿命で小型化も容易なバイポーラトランジスタや電界効果トランジスタなどの半導体素子（無接点スイッチ）が用いられる。
【００２７】
［ＬＥＤ点灯信号の生成原理］
ＬＥＤ点灯信号の生成原理は、特に限定されないが、本実施態様においては、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１に下記ステップ０〜４に示す処理を行わせることでＬＥＤ点灯信号を生成し、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎをパルス点灯させている。
【００２８】
ただし、下記ステップ０〜４においては、説明の便宜上、マイクロプロセッサＭＰＵ１のベースクロック信号の周期Ｔ０を１ｍｓとし、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎのパルス点灯のオンパルス幅Ｔ２を１０ｍｓとし、オフパルス幅Ｔ３を９０ｍｓとしている。また、ＣＬＫｉは、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１がマイクロプロセッサＭＰＵ１から受け取ったベースクロック信号の各パルスのうち、ｉ番目に立ち上がるパルス（オンパルス）を指している。さらに、ＯＮｊは、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ１が生成したＬＥＤ点灯信号のうち、ｊ番目に立ち上がるパルスを指している。
【００２９】
［ステップ０］
ｉの初期値に任意の自然数（例えば１）を設定し、ｊの初期値に１を設定する。
［ステップ１］
ＣＬＫｉの立ち上がりと同時にＯＮｊを立ち上げる（図５のＰ１点）。
［ステップ２］
ＣＬＫｉ＋１０の立ち上がりと同時にＯＮｊを立ち下げる（図５のＰ２点）。
［ステップ３］
ＣＬＫｉ＋１００の立ち上がりと同時にＯＮｊ＋１を立ち上げる（図５のＰ３点）。
［ステップ４］
iに１００を加え、ｊに１を加えてステップ２に戻る。
【００３０】
上記ステップ０〜４によって得られたＬＥＤ点灯信号に基づいてスイッチＳＷ１〜ＳＷｍの開閉を行うと、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎは、オンパルス幅Ｔ２が１０ｍｓでオフパルス幅Ｔ３が９０ｍｓのパルス点灯を行い、その光強度は、図６の下段に示すように、周期的に変化する。図６の例では、前記ＬＥＤ点灯信号が立ち上がった瞬間の光強度に、過電流によるオーバーシュートが生じている。
【００３１】
［光量測定部］
光量測定部１２０は、図３に示すように、複数の光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎをｍ行ｎ列に配列したものとなっている。光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの配列形態は、通常、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎに揃えられ、本実施態様においては、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎを正方格子の格子点位置に配列している。このため、光量測定時には、発光ダイオードＬＥＤ１，１が光センサＬＳ１，１に、発光ダイオードＬＥＤ１，２が光センサＬＳ１，２に、・・・、発光ダイオードＬＥＤｍ，ｎが光センサＬＳｍ，ｎにそれぞれ対向するようになっている。光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎは、光量を測定できるものであれば特に限定されないが、通常、フォトダイオードやフォトトランジスタなどの受光素子が用いられる。
【００３２】
光量測定部１２０の光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎは、図４に示すように、バッファアンプＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎと、セレクタＳＬと、アナログ−デジタルコンバータＡＤＣとを介して光量測定回路Ｃ２に接続されている。
【００３３】
［バッファアンプＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎ］
バッファアンプＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎは、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データにノイズが入るのを防止するためものとなっている。バッファアンプＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎは、それぞれ光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎに接続されており、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データを後述するセレクタＳＬへと出力するようになっている。
【００３４】
［セレクタＳＬ］
セレクタＳＬは、バッファアンプＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎから取得した光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データを順次切り替えながらアナログ−デジタルコンバータＡＤＣへと出力するものとなっている。セレクタＳＬは、後述する光量測定回路Ｃ２からセレクタ切替信号を受け取るたびに、アナログ−デジタルコンバータＡＤＣへと出力する測定データを択一的に切り替えるように設定されている。
【００３５】
［アナログ−デジタルコンバータＡＤＣ］
アナログ−デジタルコンバータＡＤＣは、セレクタＳＬから取得した光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データをアナログ信号からデジタル信号に変換して、後述する光量測定回路Ｃ２に出力するものとなっている。
【００３６】
［光量測定回路Ｃ２］
本実施態様において、光量測定回路Ｃ２は、アナログ−デジタルコンバータＡＤＣから取得した光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データを用いて、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量を演算するものとなっている。本実施態様においては、光量測定回路Ｃ２をマイクロプロセッサＭＰＵ２とプログラマブルロジックデバイスＰＬＤ2とで構成している。
【００３７】
［マイクロプロセッサＭＰＵ２］
マイクロプロセッサＭＰＵ２は、光源部１１０のマイクロプロセッサＭＰＵ１から受け取ったシンク信号（マイクロプロセッサＭＰＵ１のベースクロック信号）をプログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２へ出力するためのものとなっている。
【００３８】
［プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２］
プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２は、アナログ−デジタルコンバータＡＤＣから光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データを順次取得して、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量を順次演算していくものとなっている。本実施態様において、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２は、下記ステップ０〜７に示される処理を行うように設定されている。
【００３９】
ただし、下記ステップ０〜７においては、説明の便宜上、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２がマイクロプロセッサＭＰＵ２から受け取るシンク信号（マイクロプロセッサＭＰＵ１のベースクロック信号）の周期を１ｍｓとし、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎのパルス点灯のオンパルス幅Ｔ２を１０ｍｓとし、オフパルス幅Ｔ３を９０ｍｓとしている。また、ＳＹＮＣｉは、前記シンク信号の各パルスのうち、ｉ番目に立ち上がるパルス（オンパルス）を指している。ＳＹＮＣｉのｉは、ＬＥＤ点灯信号の生成原理を説明する際に用いたＣＬＫｉのｉに共通な変数である（ＣＬＫｉが立ち上がると同時にＳＹＮＣｉも立ち上がる。）。さらに、ｍは、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎを配列した行数であり、ｎは、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎを配列した列数である。下記ステップ５におけるｍ×ｎは、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの個数を意味している。
【００４０】
［ステップ０］
ｉの初期値に任意の自然数（例えば１）を設定し、ｐの初期値に１を設定し、ｑの初期値に１を設定する。
［ステップ１］
取得した測定データの中からＳＹＮＣｉが立ち上がったときの光強度Ｉｐを抽出し、ステップ２に移行する。
［ステップ２］
ｐが１０に満たない場合にはステップ３に移行し、ｐが１０に達した場合にはステップ４に移行する。
［ステップ３］
ｉに１０１を加え、ｐに１を加えてステップ１に戻る。
［ステップ４］
プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２が測定データを取得している光センサが受光した光量Ｑｑを光強度Ｉ１〜Ｉ１０を用いて算出し、ステップ５に移行する。
［ステップ５］
ｑの値がｍ×ｎに満たない場合にはステップ６に移行し、ｑの値がｍ×ｎに達した場合にはステップ７に移行する。
［ステップ６］
ｐを初期値の１に戻し、ｑに１を加え、セレクタ切替信号を生成して該セレクタ切替信号をセレクタＳＬに出力し、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２が取得する測定データを他の光センサからのものに切り替えた後、ステップ１に戻る。
［ステップ７］
測定データのサンプリングを終了する。
【００４１】
上記ステップ０〜７に示される処理を行わせることで、プログラマブルロジックデバイスＰＬＤ２は、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データをアナログ−デジタルコンバータＡＤＣから順次取得して、ｍ×ｎ個の発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎのそれぞれの光量を順次演算することができる。また、アナログ−デジタルコンバータＡＤＣから取得した測定データを、図７に示すように、サンプリングする区間をずらしながら複数周期に亘ってサンプリングすることもできる。測定データのサンプリングは、マイクロプロセッサＭＰＵ２から受け取ったシンク信号（マイクロプロセッサＭＰＵ１のベースクロック信号）に基づいて行われるようになっており、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの点灯パターンに則した適切なタイミングで行われるようになっている。
【００４２】
本実施態様において、光センサＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎの測定データ（発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量データ）は、光源部１１０の光源制御回路Ｃ１（光源制御手段）へとフィードバックされるようになっている。光源制御回路Ｃ１にフィードバックされた測定データは、発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの駆動電圧を制御するために用いられる。例えば、発光ダイオード群Ｇ１に属する発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤ１，ｎの光量が、他の発光ダイオード群Ｇ２〜Ｇｍに属する発光ダイオードＬＥＤ２，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量よりも少なかった場合には、発光ダイオード群Ｇ１に属する発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤ１，ｎに印加する駆動電圧が、他の発光ダイオード群Ｇ２〜Ｇｍに属する発光ダイオードＬＥＤ２，１〜ＬＥＤｍ，ｎに印加する駆動電圧よりも高く設定され、発光ダイオード群Ｇ１〜Ｇｍに属する発光ダイオードＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎの光量が全て等しくなるように自動的に制御されるようになっている。
【００４３】
［用途］
本発明の照射装置は、幅広い用途に用いることができる。中でも、光硬化型インクを硬化させるためや光ディスクの保護層を硬化させるためなどに用いられる樹脂硬化装置として用いると好適である。これらの装置には、ワークに光を均一に照射することが要求されており、本発明の照射装置を用いる意義も深まるためである。特に、壁紙、ポスター、看板など、寸法の大きなワークに対して印刷を行う産業用のインクジェットプリンタへの応用が期待される。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の照射装置を示した斜視図である。
【図２】図１の光源部をｚ軸負方向から見た状態を示した図である。
【図３】図１の光量測定部をｚ軸正方向から見た状態を示した図である。
【図４】本発明の照射装置を示したブロック図である。
【図５】ＬＥＤ点灯信号の生成原理を説明するタイミングチャート図である。
【図６】発光ダイオードの光強度の時間変化を表したタイミングチャート図である。
【図７】測定データのサンプリングを説明するタイミングチャート図である。
【符号の説明】
【００４５】
１００  照射装置
１１０  光源部
１２０  光量測定部
２００  ワーク
３００  プリンタヘッド
ＬＥＤ１，１〜ＬＥＤｍ，ｎ  発光ダイオード
Ｇ１〜Ｇｍ  発光ダイオード群
ＳＷ１〜ＳＷｍ  スイッチ
Ｃ１  光源制御回路（光源制御手段）
ＭＰＵ１  マイクロプロセッサ
ＰＬＤ１  プログラマブルロジックデバイス
ＬＳ１，１〜ＬＳｍ，ｎ  光センサ
ＢＡ１，１〜ＢＡｍ，ｎ  バッファアンプ
ＳＬ  セレクタ
ＡＤＣ  アナログ−デジタルコンバータ
Ｃ２  光量測定回路
ＭＰＵ２  マイクロプロセッサ
ＰＬＤ２  プログラマブルロジックデバイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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