(57)【要約】【課題】製品の製造過程における不良の原因に対して、装置レベルで不良の原因を解析することを目的とする。【解決手段】製品製造に必要な各種材料データと、装置群としての製造工程データと、装置単体を単位とする製造装置履歴データと、製品及び途中製品の不良情報を不良の種類ごとに分類した不良区分データと、を集約的に記憶する品質管理データベースを有する製品製造不良解析システムであって、前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造された製品個別単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品個別不良情報取得手段と、前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造装置単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品装置別不良情報取得手段とを有し、前記製品個別不良データと、前記製品装置別不良データをモニター画面に表示する表示手段を有する製品製造不良解析システムを提供する。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品の製造に必要な各種材料データと、製品を製造する装置群としての製造工程データと、製品を製造した装置単体を単位とする製造装置履歴データと、製造された製品及び途中製品の不良情報を不良の種類ごとに分類した不良区分データと、を集約的に記憶する品質管理データベースを有する製品製造不良解析システムであって、
前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造された製品個別単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品個別不良情報取得手段と、
前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造装置単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品装置別不良情報取得手段とを有し、
前記製品個別不良情報取得手段により取得された製品個別不良データと、前記製品装置別不良情報取得手段により取得された製品装置別不良データをモニター画面に表示する表示手段を有することを特徴とする製品製造不良解析システム。
【請求項２】
前記モニター画面に表示する表示手段は、同一の製造工程を１つの画面単位とし、同一画面内に前記製品装置別不良データを装置別に表示し、かつ製造ロットの時系列データとしてモニター画面に表示させることを特徴とする請求項１記載の製品製造不良解析システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品の製造における不良データを解析するシステムに係るものであり、特に、製品の不良区分データを製造装置単位でモニタリングし、不良原因装置の早期発見に寄与することを目的とした製品製造不良解析システムに係る。
【背景技術】
【０００２】
従来の不良解析システムとしては、製品の材料情報、製造装置群としての工程情報、製品製造における各装置のパラメータ条件といった各種製造情報と、検査機より得られる製品の不良データ及び特性データとを、各種製造情報のバッジ情報単位で対応付けて集計、解析することによって、不良の要因特定の効率化を図る不良解析支援システムがある。ここでバッジとは、材料が同一、製造工程が同一、装置のパラメータが同一等の製造上の管理の単位である。（例えば、特許文献１を参照。）
【０００３】
しかし、上記の不良解析支援システムにおいては、あくまで１つの製造情報のバッジを単位とした不良データの集計解析であり、例えば、カラーフィルターの製造過程において、製造工程は同一でありながら、製造装置は異なっているような場合では、製造装置レベルで不良原因の解析を行うのが困難であるという問題があった。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−９５９８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、製品の製造過程における不良の原因に対して、装置レベルで不良の原因を解析することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであって、請求項１記載の発明は、製品の製造に必要な各種材料データと、製品を製造する装置群としての製造工程データと、製品を製造した装置単体を単位とする製造装置履歴データと、製造された製品及び途中製品の不良情報を不良の種類ごとに分類した不良区分データと、を集約的に記憶する品質管理データベースを有する製品製造不良解析システムであって、前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造された製品個別単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品個別不良情報取得手段と、前記品質管理データベースに記憶されたデータを、製造装置単位かつ不良区分毎に不良個数を集計する製品装置別不良情報取得手段とを有し、前記製品個別不良情報取得手段により取得された製品個別不良データと、前記製品装置別不良情報取得手段により取得された製品装置別不良データをモニター画面に表示する表示手段を有することを特徴とする製品製造不良解析システムである。
【０００７】
また請求項２記載の発明は、前記モニター画面に表示する表示手段は、同一の製造工程を１つの画面単位とし、同一画面内に前記製品装置別不良データを装置別に表示し、かつ製造ロットの時系列データとしてモニター画面に表示させることを特徴とする請求項１記載の製品製造不良解析システムである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、不良の種類ごとに分類された製品の不良情報をその製品が製造された装置単体と対応づけてモニター画面でリアルタイムに確認解析できるシステムを提供できるため、工程全体で見たときの不良原因となっている装置を早期に発見できるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
図１は、本発明による製品製造不良解析システムの全体構成の説明図である。以降、カラーフィルタを製品例として説明するが、本システムの構成を満たすものであれば、特に製品は限定しない。
【００１０】
図１に示すように、本システムはカラーフィルタの各種材料データ１０と、製造工程データ１１と、製造装置履歴データ１２と、不良区分データ１３とを集約的に記憶する品質管理データベース１４を有する。１０〜１３の各種データは製品１個毎、この例ではカラーフィルタの１シート毎に、割振られた２次元コードと紐付けられた上でデータベースに登録されている。また、製造装置履歴データ１２はカラーフィルタ製造時に各工程で使用された装置名及び、その装置の通過時間を含んでいる。不良区分データ１３は検査装置１３ｂによって、不良の種類ごとに分類され、座標情報等の付随データと共にデータベースに登録されている。
【００１１】
品質管理データベース１４に記憶されたデータは、製品個別不良情報取得手段１５によって、製造されたカラーフィルタ１シート単位かつ不良区分毎に全て対応付けされ、製品個別不良区分データ１６を得ることができる。製品個別不良区分データ１６は、カラーフィルタ１シートに対して、不良個数、製造された装置、工程、材料等の情報をすべて横並びに持った表形式のデータとなっており、表示要求があった時点で、必要なデータのみを取得して表示することが可能となっている。カラーフィルタと各種データとの対応付けにはカラーフィルタ１シート毎に割振られている２次元コードなどを利用する。
【００１２】
製品個別不良区分データ１６は、また、製品装置別不良情報取得手段１７によってカラーフィルタの製造装置単位かつ不良区分毎で対応付け及び集計され、製品装置別不良区分データ１８を得ることができる。製品装置別不良区分データは、製造装置単位の表形式で得られ、より不良の傾向を掴むためにロットごとに集計しており、表示要求があった時点で、必要なデータのみを取得して表示することが可能となっている。
【００１３】
製品装置別不良区分データ１８はグラフ、表等の形式でモニター画面１９に出力することができる。製品装置別不良区分データに関しては、図２に示すように、同一の工程を１つの画面単位とし、横軸を製造ロット、縦軸を不良個数として、装置毎に時系列でグラフ化することで、各装置における不良の発生状況が一目瞭然でわかり、不良発生原因となっている装置を早期に発見することができる。なお、横軸は必ずしも製造ロットである必要はなく、例えば品種などを横軸にすることもできる。上記、装置レベルでの解析を行い、不良発生原因装置を特定した後に、カラーフィルタ１シート毎のデータである製品個別不良区分データを画面で確認することでさらに詳細な解析を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明による製品製造不良解析システムの全体構成の説明図。
【図２】製品装置別不良分類データの表示画面の説明図。
【符号の説明】
【００１５】
１０・・・各種材料データ
１１・・・製造工程データ
１２・・・製造装置履歴データ
１３・・・不良区分データ
１３ｂ・・・検査装置
１４・・・品質管理データベース
１５・・・製品個別不良情報取得手段
１６・・・製品個別不良区分データ
１７・・・製品装置別不良情報取得手段
１８・・・製品装置別不良区分データ
１９・・・モニター画面
【図１】
2007206147.tif 000002
【図２】
2007206147.tif 000003