(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、記録パルスのエッジ補正により記録品質を向上させる技術を提供する。【解決手段】第１のパルスタイミングの記録ストラテジによるＯＰＣ処理で記録パルスの最適記録パワーを求め、該最適記録パワーの記録パルスで記録を行い、再生信号から記録マークの第１のエッジシフト量を測定して記録パルスのエッジ補正を行って記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成し、その後、記録パルスのパルス幅を変えて記録を行い再生信号から記録マークの第２のエッジシフト量を測定し、第１のエッジシフト量と第２のエッジシフト量とに基づき記録パルスの最適なエッジ位置を演算する。【選択図】図５
2007149239.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射して情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
上記レーザ光を発光するレーザダイオードと、
所定の記録ストラテジの記録パルスを出力し上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段と、
上記測定したβ値に基づき、目標のβ値を満たす最適な記録パワーを演算する最適記録パワー演算手段と、
上記求めた最適な記録パワーで光ディスクに記録された情報の再生信号から、記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段と、
記録ストラテジのパルスタイミング及び測定したエッジシフト量を記憶する記憶手段と、
記録ストラテジのパルスタイミングと上記測定したエッジシフト量とに基づき、記録パルスの最適なパルスエッジを演算するパルスエッジ演算手段と、
上記レーザ駆動回路、上記β測定手段、上記エッジシフト量測定手段、上記記憶手段及び上記パルスエッジ演算手段を制御するとともに、上記エッジシフト量の測定結果に基づく記録パルスのエッジ補正と、上記最適なパルスエッジの演算結果に基づく記録ストラテジのパルスタイミングの設定を行う制御手段と、
を備え、上記求めた最適な記録パワー及び最適なパルスエッジの記録パルスにより上記レーザダイオードを駆動して情報を記録する構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記制御手段は、上記レーザ駆動回路を制御して上記最適な記録パワーの記録パルス幅を少なくとも２通りに変えて記録を行わせ、上記エッジシフト量測定手段は、該２通りの記録パルス幅でそれぞれ記録される記録マークの２つのエッジシフト量を再生信号から測定し、上記パルスエッジ演算手段は、該測定された２つのエッジシフト量に基づいて最適なパルスエッジを演算する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記パルスエッジ演算手段は、上記エッジシフト量測定手段により測定された記録マークの２つのエッジシフト量を線形補間し、エッジシフト量がゼロとなるときのパルスエッジを上記最適なパルスエッジとする構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記パルスエッジ演算手段は、上記エッジシフト量測定手段が測定した記録マークのエッジシフト量が基準値を超える場合に、記録パルスの最適なパルスエッジを演算する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光を光ディスクに照射し情報を記録する情報記録方法であって、
第１のパルスタイミングの記録ストラテジで光ディスクに記録された情報の再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定し、該測定したβ値に基づき、記録パルスの最適な記録パワーを演算する第１のステップと、
上記求めた最適な記録パワーの記録パルスであって第１のパルス幅を有する記録パルスによるレーザ光で光ディスクに記録を行い、再生信号から、記録マークの第１のエッジシフト量を測定する第２のステップと、
上記測定した第１のエッジシフト量により、記録ストラテジの記録パルスのエッジを補正し、該記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成する第３のステップと、
上記測定した記録マークの第１のエッジシフト量及び上記記録ストラテジの上記第１、第２のパルスタイミングを記憶する第４のステップと、
上記最適な記録パワーの記録パルスであって第２のパルス幅を有する記録パルスによるレーザ光で光ディスクに記録を行い、再生信号から、記録マークの第２のエッジシフト量を測定する第５のステップと、
上記第１のエッジシフト量及び記録ストラテジの上記第１のパルスタイミングと、上記第２のエッジシフト量及び記録ストラテジの上記第２のパルスタイミングとの２点情報に基づき、記録パルスの最適なパルスエッジを演算する第６のステップと、
上記第１のステップにおいて求めた最適な記録パワーと上記第６のステップにおいて求めた最適なパルスエッジの記録パルスを出力する第７のステップと、
上記記録パルスでレーザダイオードを駆動する第８のステップと、
を経て、最適な記録パワー及び最適なパルスエッジの記録パルスによりレーザ光を発生させ、光ディスクに情報を記録することを特徴とする情報記録方法。
【請求項６】
上記第３のステップでは、上記測定した第１のエッジシフト量の判別の結果、第１のエッジシフト量が、予め設定された基準値を超える場合に、記録ストラテジの記録パルスのエッジを補正し、該記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成する請求項５に記載の情報記録方法。
【請求項７】
上記第６のステップでは、上記２点情報の線形補間により上記記録パルスの最適なパルスエッジを演算する請求項５に記載の情報記録方法。
【請求項８】
上記第２のステップでは、上記第１のエッジシフト量として、記録マークの前側におけるエッジのクロックの基準位置からの時間的ずれ量と、記録マークの後側におけるエッジのクロックの基準位置からの時間的ずれ量とを測定し、上記第５のステップでは、上記第２のエッジシフト量として、記録マークの前側におけるエッジのクロックの基準位置からの時間的ずれ量と、記録マークの後側におけるエッジのクロックの基準位置からの時間的ずれ量とを測定する請求項５に記載の情報記録方法。
【請求項９】
光ディスクにレーザ光を照射して情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
上記レーザ光を発光するレーザダイオードと、
所定の記録ストラテジの記録パルスを出力し上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段と、
を備え、最適な記録パワー及び最適なパルスエッジの記録パルスにより上記レーザダイオードを駆動して情報を記録する構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置における情報記録技術に係り、特に、所定の記録ストラテジにおける記録パルスのエッジを補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ディスク装置においては、記録動作に先立ってＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理を行い、所定の記録ストラテジにおける最適記録パワーの記録パルスを発生できるようにしているが、光ディスク装置自体の性能上のばらつきや、光ディスクのばらつきなどによって、該記録パルスの最適記録パルスエッジ位置がばらつくことが多い。記録パルスのパルスエッジ位置が適切でない場合には、光ディスク上に記録される記録マークのマーク長やエッジ位置などが適正範囲から外れ、再生時にジッタ特性など情報の再生品質を劣化させることになる。このため、従来から、記録パルスのパルスエッジ位置を補正する技術の検討が行われている。
【０００３】
本発明に関連し、光ディスクに情報を記録するための記録パルスのエッジ補正の従来技術としては、例えば、特許第２９１５０９８号明細書（特許文献１）や特開２００５−１４９６１０号公報（特許文献２）に記載されたものがある。特許第２９１５０９８号明細書には、記録再生を行おうとする記録媒体と記録装置との組合せにおいて、様々な記録パターンを必要に応じたタイミングで記録媒体上の複数の領域に記録し、該記録データを再生して記録特性を測定し、その測定結果から記録パルス間隔調整量に関するデータ表を作成し、該データ表に基づき、各記録パルス間隔毎に、それまでの変換で得られている直前の複数個の記録照射光パルス間隔を使用して、パルスの前エッジ及び後エッジの調整量を順次求め、割り当てて記録照射光パルス間隔とすることで、所望の記録マーク長及び再生信号のパルス間隔を得るとした技術が記載され、特開２００５−１４９６１０号公報には、パルス数とデータ長との関連が異なるデータ長群において、各々のパルス幅やパルスエッジ位置の最適値を求め、精度の良い記録を行えるようにするために、第１の試し書き処理によりテストパターンの最適記録パワーを算出し、該最適記録パワーを用いた第２の試し書き処理により各々のデータ長群毎に最適パルス幅あるいは最適パルスエッジ位置を算出し、これらの試し書き処理で算出された最適記録パワーや最適記録波形に基づいて記録動作を行わせるとした技術が記載されている。
【０００４】
【特許文献１】特許第２９１５０９８号明細書
【特許文献２】特開２００５−１４９６１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許第２９１５０９８号明細書記載の技術は、様々な記録パターンの必要に応じたタイミングでの記録、その再生による記録特性の測定、測定結果に基づく記録パルス間隔調整量に関するデータ表の作成、該データ表に基づく各記録パルス間隔毎のパルスの前エッジ及び後エッジの調整量の算出を一連の補正動作として行うものであり、今後ますます高速化される記録技術に対応して行くには、処理時間の点で改善の余地を残していると考えられる。また、特開２００５−１４９６１０号公報記載の技術は、第１の試し書き処理によりテストパターンの最適記録パワーを算出した後、該最適記録パワーを用いた第２の試し書き処理によりアシンメトリβを基準に最適パルス幅あるいは最適パルスエッジ位置を算出するため、やはり、処理時間が長くなり易いと考えられる。
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、記録パルスのエッジ補正を短時間で行えるようにし、今後一層高速化される記録技術にも十分対応できるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク装置において、良好な記録品質が得られかつ使い勝手性の良い情報記録技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置として、第１のパルスタイミングの記録ストラテジによるＯＰＣ処理により記録パルスの最適記録パワー（最適な範囲内にある記録パワーを意味するものとする）を求め、該最適記録パワーの記録パルスで記録を行い、再生信号から記録マークの第１のエッジシフト量を測定し、該測定結果に基づき記録パルスのエッジ補正を行って記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成し、その後、パルス幅を変えた記録パルスで記録を行い、その再生信号から記録マークの第２のエッジシフト量を測定し、上記第１のエッジシフト量及び記録ストラテジの第１のパルスタイミングと、該第２のエッジシフト量及び記録ストラテジの第２のパルスタイミングとの２点から、線形補間などによって記録パルスの最適なエッジ位置（最適な範囲内にあるエッジ位置を意味するものとする）を求める構成とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光ディスク装置において、最適記録パワーを有する記録パルスのエッジ位置の補正を短時間に行うことができる。このため、記録動作を迅速に行うことができ、装置の使い勝手性を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、本発明の実施形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図６は、本発明の実施形態の説明図である。図１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理の説明図、図３は、図１の光ディスク装置における記録マークのエッジシフト量を測定可能な組合わせの説明図、図４は、図１の光ディスク装置における記録マークのエッジシフトの説明図、図５は、図１の光ディスク装置において、エッジシフト量の測定結果に基づき記録パルスの最適なパルスエッジ位置を求める説明図、図６は、図１の光ディスク装置における記録パルスのエッジ補正の動作説明図である。
【０００９】
図１において、１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置、２は、ＣＤ、ＤＶＤ、青色レーザ用ディスクなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するディスクモータ、４は、光ピックアップ、５は対物レンズ、６は、記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、対物レンズ５を介し光ディスク２の記録面（以下、これも光ディスク面という）からの反射レーザ光を受光して電気信号に変換し出力する受光部、９は、受光部８からの信号を増幅するなどアナログ処理するアナログフロントエンド、１０は、直線状のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）や該リードスクリュー部材を回転駆動するスライドモータ（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１１は、ディスクモータ３やスライドモータ１２を駆動するモータ駆動回路、２０はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、２１は、ＤＳＰ３０内にあってモータ駆動回路１１を制御するモータ制御部、２２は、ＤＳＰ２０内にあって受光部８からの再生信号を、ＲＦ信号や、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号として処理する再生信号処理部、２３は、ＤＳＰ２０内にあって再生信号から、光ディスク２に記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段、２５は、ＤＳＰ２０内にあってβ測定手段２３で測定したβ値に基づき、目標のβ値を満たす最適な記録パワーを演算する最適記録パワー演算手段、２４は、ＤＳＰ２０内にあって最適記録パワー演算手段２５により求めた最適な記録パワーで光ディスクに記録された情報の再生信号から、記録マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト量測定手段、２６は、ＤＳＰ２０内にあって記録ストラテジのパルスタイミングと上記測定したエッジシフト量とに基づき、記録パルスの最適なパルスエッジを演算するパルスエッジ演算手段、２７は、ＤＳＰ２０内に配され、記録ストラテジのパルスタイミングや上記測定されたエッジシフト量を記憶する記憶手段としてのメモリ、３０は、ＤＳＰ２０を制御する制御手段としてのマイコンである。
【００１０】
光ディスク装置１が記録動作を行うとき、該記録動作に先立ってマイコン３０は、ＤＳＰ２０内の、少なくともモータ制御部２１、β測定手段２３、最適記録パワー演算手段２５、エッジシフト量測定手段２４及びパルスエッジ演算手段２６を制御し、ＯＰＣ処理による記録パルスの最適記録パワーの演算と、記録パルスの最適なパルスエッジの演算とを行わせ、レーザ駆動回路７からレーザダイオード６に、パルスエッジが最適な状態に補正されかつ最適記録パワーを有する記録パルスが出力されるようにする。すなわち、光ディスク装置１が記録を行うとき、該記録動作に先立ってマイコン３０は、光ディスク２に応じた記録ストラテジ（第１のパルスタイミングの記録ストラテジという）の読み込みを行い、該読み込んだ記録ストラテジすなわち第１のパルスタイミングの記録ストラテジによるＯＰＣ処理を光ディスク装置１に行わせる。該ＯＰＣ処理においては、上記第１のパルスタイミングの記録ストラテジの記録パルスをレーザ駆動回路７から出力させてレーザダイオード６を駆動させ光ディスク２上に情報記録を行わせ、その後、該情報の再生信号から、該光ディスク２に記録されている記録マークのβ値をβ測定手段２３に測定させ、該測定したβ値に基づき、最適記録パワー演算手段２５に記録パルスの最適な記録パワーを演算させる。
【００１１】
上記ＯＰＣ処理後、レーザ駆動回路７から該最適記録パワーの記録パルスを出力させて、レーザダイオード６の発光により光ディスク２に記録を行い、記録された記録マークのエッジシフト量（第１のエッジシフト量）をエッジシフト量測定手段２４に測定させる。さらに、該測定した記録マークの第１のエッジシフト量に基づき、上記第１のパルスタイミングの記録ストラテジの記録パルスのエッジ補正をレーザ駆動回路７に行わせて記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成、すなわち記録パルスを、第２のパルスタイミングを有する記録ストラテジの記録パルスとし、その後、レーザ駆動回路７からパルス幅を変えた記録パルスを出力させて光ディスク２上に記録を行わせ、その再生信号から記録マークの第２のエッジシフト量をエッジシフト量測定手段２４に測定させる。さらに、その後、マイコン３０は、パルスエッジ演算手段２６に、記録ストラテジの第１のパルスタイミングでの上記第１のエッジシフト量と、記録ストラテジの第２のパルスタイミングでの上記第２のエッジシフト量との２点から、線形補間によって、エッジシフト量がゼロになる記録パルスの最適なパルスエッジ位置を演算させる。その後、上記求めた最適な記録パワー及び最適なパルスエッジの記録パルスをレーザ駆動回路７から出力させ、これによってレーザダイオード６にレーザ光を発光させて光ディスク２上に照射させ、情報を記録させる。エッジシフト量測定手段２４が測定した第１、第２のエッジシフト量や記録ストラテジの第１、第２のパルスタイミングは、マイコン３０がメモリ２７に記憶させる。
【００１２】
なお、最適な記録パワーとは、最適な範囲の記録パワーであって本発明を有効に構成するに足る範囲の記録パワーを意味し、同様に、記録パルスの最適なパルスエッジ位置は、記録パルスの最適な範囲のパルスエッジ位置であって本発明を有効に構成するに足る範囲の記録パルスのパルスエッジ位置を意味するものとする。
また、以下の説明中で用いる図１の光ディスク装置１の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いるとする。
【００１３】
図２は、図１の光ディスク装置１におけるＯＰＣ処理の説明図である。
図２において、横軸は、ＯＰＣ処理において記録マークのβ値の測定のために光ディスク２の記録面へ投入される投入パワー（以下、記録パワーという）、縦軸は、光ディスク２の記録面の記録マークのβ値である。ＯＰＣ処理においては、記録パワーを変化させたレーザ光をレーザダイオード６から光ディスク２の記録面に照射し、それぞれの記録パワーに対応した記録マークのβ値を、反射レーザ光による再生信号からβ測定手段によって測定し、図２の特性曲線Ｑを求める。その後、目標のβ値を設定し、特性曲線Ｑに基づき、該目標のβ値に対応したレーザ光の最適な記録パワー（最適記録パワー）Ｐｏｐｔの設定を行う。
【００１４】
図３は、図１の光ディスク装置１における記録マークのエッジシフト量を測定可能な組合わせの説明図である。（ａ）は記録ストラテジ、（ｂ）は、光ディスク２上に記録される記録マーク、（ｃ）は、記録マークのエッジシフト量（記録マークのエッジがクロックの基準位置からずれる量）を測定可能な組合わせを示す表である。（ａ）の記録ストラテジにおいて、横軸はパルスタイミング、縦軸は記録パワーレベルを示す。該記録ストラテジの形状は記録パルスに対応する。例えばＤＶＤ系の光ディスクでは、記録マーク長とスペース長（記録マーク間の時間長）は、クロックの周期をＴとしたとき、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔとされている。図３は、該ＤＶＤ系の光ディスクの場合の例を示す。
【００１５】
図３において、３Ｍ、４Ｍ、５Ｍ、６Ｍ以上はそれぞれ、マーク長が３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上の記録マークを示し、３Ｓ、４Ｓ、５Ｓ、６Ｓ以上はそれぞれ、スペース長が３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上のスペースを示す。記録マーク３Ｍ、４Ｍ、５Ｍ、６Ｍ以上のそれぞれの前側のエッジと後側のエッジでは、エッジシフト量測定手段２４により、スペース３Ｓ、４Ｓ、５Ｓ、６Ｓ以上のそれぞれとの間でのエッジシフト量の測定が可能である。例えば、記録マーク３Ｍの前側のエッジにおいては、該記録マーク３Ｍの前方にある４種類のスペース３Ｓ、４Ｓ、５Ｓ、６Ｓ以上との間でエッジシフト量の測定が可能、該記録マーク３Ｍの後側のエッジにおいても、該記録マーク３Ｍの後方にある４種類のスペース３Ｓ、４Ｓ、５Ｓ、６Ｓ以上との間でエッジシフト量の測定が可能である。（ｃ）の表中、３Ｓ３Ｍは、記録マーク３Ｍ前方のスペース３Ｓと該記録マーク３Ｍの前側のエッジとの間の組合わせ、４Ｓ３Ｍは、記録マーク３Ｍ前方のスペース４Ｓと該記録マーク３Ｍの前側のエッジとの間の組合わせ、５Ｓ３Ｍは、記録マーク３Ｍ前方のスペース５Ｓと該記録マーク３Ｍの前側のエッジとの間の組合わせ、６Ｓ３Ｍは、記録マーク３Ｍ前方のスペース６Ｓ以上と該記録マーク３Ｍの前側のエッジとの間の組合わせ、３Ｍ３Ｓは、記録マーク３Ｍの後側のエッジと該記録マーク３Ｍ後方のスペース３Ｓとの間の組合わせ、３Ｍ４Ｓは、記録マーク３Ｍの後側のエッジと該記録マーク３Ｍ後方のスペース４Ｓとの間の組合わせ、３Ｍ５Ｓは、記録マーク３Ｍの後側のエッジと該記録マーク３Ｍ後方のスペース５Ｓとの間の組合わせ、３Ｍ６Ｓは、記録マーク３Ｍの後側のエッジと該記録マーク３Ｍ後方のスペース６Ｓ以上との間の組合わせをそれぞれ示す。記録マーク４Ｍ、５Ｍ、６Ｍ以上についても同様である。すなわち、図１の光ディスク装置１では、ＤＶＤ系の光ディスクに対し情報を記録する場合は、（ｃ）の表中の合計３２通りの組合わせにつき、記録マークのエッジシフト量の測定をエッジシフト量測定手段２４によって行う。
【００１６】
図４は、図１の光ディスク装置における記録マークのエッジシフトの説明図である。図４において、（ａ）は、記録ストラテジに対応するデータパターン、（ｂ）は記録ストラテジ、（ｃ）は記録マーク、（ｄ）はクロックである。
図４において、記録マーク５Ｍは、その後側のエッジと該記録マーク５Ｍの後方のスペース３Ｓとの間の組合わせ５Ｍ３Ｓにおいて、クロックの基準位置から時間△Ｔ１だけずれているすなわち時間△Ｔ１のエッジシフトを生じている。また、記録マーク３Ｍは、その前側のエッジと該記録マーク３Ｍの前方のスペース３Ｓとの間の組合わせ３Ｓ３Ｍにおいて、クロックの基準位置から時間△Ｔ２だけずれているすなわち時間△Ｔ２のエッジシフトを生じている。さらに、該記録マーク３Ｍは、その後側のエッジと該記録マーク３Ｍの後方のスペース５Ｓとの間の組合わせ３Ｍ５Ｓにおいて、クロックの基準位置から時間△Ｔ３だけずれているすなわち時間△Ｔ３のエッジシフトを生じている。これらのエッジシフト量は、図１の光ディスク装置１においてエッジシフト量測定手段２４が測定する。エッジシフト量測定手段２４は、上記ＯＰＣ処理により最適記録パワーＰｏｐｔが演算された後初めて測定する記録マークのエッジシフト量すなわち第１のエッジシフト量に対応した信号を測定結果信号として出力する。該測定結果信号として、基準値例えばクロックの約±５％を超えるエッジシフト量に対応した信号が出力されると、マイコン３０は、該第１のエッジシフト量に基づき、第１のパルスタイミングの記録ストラテジの記録パルスのエッジ補正をレーザ駆動回路７に行わせ、これによって、記録ストラテジの第２のパルスタイミングを形成すなわち、記録パルスを、第２のパルスタイミングを有する記録ストラテジの記録パルスとし、レーザ駆動回路７からパルス幅を変えた記録パルスを出力させて光ディスク２上に記録を行わせる。エッジシフト量測定手段２４は、その再生信号から記録マークの第２のエッジシフト量を測定する。パルスエッジ演算手段２６は、記録ストラテジの第１のパルスタイミングでの上記第１のエッジシフト量と、記録ストラテジの第２のパルスタイミングでの上記第２のエッジシフト量との２点から、線形補間によって、エッジシフト量がゼロになる記録パルスの最適なパルスエッジ位置を演算する。一方、記録マークの第１のエッジシフト量が少なくて上記基準値を超えない場合は、エッジシフト量測定手段２４から上記測定結果信号は出力されるものの、パルスエッジ演算手段２６における記録パルスの最適なパルスエッジ位置の演算はされない。
【００１７】
図５は、図１の光ディスク装置１において、記録パルスの最適なパルスエッジ位置を求める場合の説明図である。
【００１８】
図５において、横軸は、レーザ駆動回路７に設定される記録ストラテジのパルスタイミングに対応した記録パルスのエッジ位置、縦軸は、光ディスク２に記録された記録マークのエッジシフト量である。また、Ａは、記録ストラテジの第１のパルスタイミング（記録パルスのエッジ位置ａｐ）での記録マークの第１のエッジシフト量△Ｔａ（ＯＰＣ処理により最適記録パワーＰｏｐｔが演算された後初めて、エッジシフト量測定手段２４が測定する記録マークのエッジシフト量）を示す点（図５中では１回目の記録によるエッジシフト量の点と記す）、Ｂは、記録ストラテジの第２のパルスタイミング（記録パルスのエッジ位置ｂｐ）での記録マークの第２のエッジシフト量△Ｔｂ（パルス幅を変えた記録パルスで記録したときの記録マークのエッジシフト量）を示す点（図５中では２回目の記録によるエッジシフト量の点と記す）、Ｃは、Ａ、Ｂ間を線形補間したときのエッジシフト量ゼロの点（記録パルスのエッジ位置ｃｐ：最適なパルスエッジ位置）（図５中では最適なパルスエッジの点と記す）である。パルスエッジ演算手段２６は、上記記録ストラテジの第１のパルスタイミング、上記第１のエッジシフト量、上記記録ストラテジの第２のパルスタイミング、上記第２のエッジシフト量を基に、線形補間の演算を行い、記録パルスの最適なパルスエッジ位置ｃｐを求める。レーザ駆動回路７は、記録パルスのエッジ位置を該最適なパルスエッジ位置に補正し、最適な記録パワーかつ最適なパルスエッジの記録パルスを出力し、これによってレーザダイオード６を発光させる。
【００１９】
図６は、図１の光ディスク装置１における記録パルスのエッジ補正の動作説明図である。
図６において、
（１）光ディスク装置１が記録を行うとき、該記録動作に先立って、マイコン３０は、ＯＰＣ処理の指示を出す（ステップＳ６０１）。
（２）マイコン３０は、光ディスク２に応じた記録ストラテジ（第１のパルスタイミングの記録ストラテジ）（以下、記録ストラテジデータ１という）の読み込みを行う（ステップＳ６０２）。読み込んだ該記録ストラテジデータ１はメモリ２７に記憶させる。
（３）次に、マイコン３０は、記録ストラテジデータ１に基づくＯＰＣ処理を実行する（ステップＳ６０３）。すなわち、マイコン３０は、記録ストラテジデータ１の記録パルスをレーザ駆動回路７から出力させてレーザダイオード６を駆動させ光ディスク２上に情報記録し、その再生信号から、該光ディスク２に記録された記録マークのβ値をβ測定手段２３に測定させ、該測定したβ値に基づき、最適記録パワー演算手段２５に記録パルスの最適な記録パワーＰｏｐｔを演算させる。
（４）上記ＯＰＣ処理後、マイコン３０は、レーザ駆動回路７から該最適記録パワーＰｏｐｔの記録パルスを出力させてレーザダイオード６の発光により光ディスク２上に１ブロック分の記録を行う（ステップＳ６０４）。
（５）マイコン３０は、上記ステップＳ６０４において記録された記録マークのエッジシフト量（第１のエッジシフト量）を、３２通りの組合わせ（図３）につきエッジシフト量測定手段２４に測定させ、その測定結果をエッジシフトデータ１としてメモリ２７に記憶させる（ステップＳ６０５）。
【００２０】
（６）マイコン３０は、上記エッジシフトデータ１に基づき記録ストラテジの補正を行い、記録ストラテジデータ２を形成する（ステップＳ６０６）。すなわち、上記ステップＳ６０５において測定した記録マークの第１のエッジシフト量が基準値例えばクロックの約±５％を超える場合に、該第１のエッジシフト量に基づき、上記記録ストラテジデータ１における記録パルスのエッジ補正をレーザ駆動回路７に行わせて記録ストラテジデータ２を形成し、記録パルスを、第２のパルスタイミングを有する記録ストラテジ（＝記録ストラテジデータ２）の記録パルスとする。マイコン３０は、上記形成した記録ストラテジデータ２をメモリ２７に記憶させる。
（７）その後、マイコン３０は、レーザ駆動回路７からパルス幅を変えた記録パルスを出力させて光ディスク２上に１ブロック分の記録を行わせる（ステップＳ６０７）。
（８）マイコン３０は、上記ステップＳ６０７において記録された記録マークのエッジシフト量（第２のエッジシフト量）を、３２通りの組合わせ（図３）につきエッジシフト量測定手段２４に測定させ、その測定結果をエッジシフトデータ２としてメモリ２７に記憶させる（ステップＳ６０８）。
（９）マイコン３０は、パルスエッジ演算手段２６に、記録ストラテジの第１のパルスタイミングでの第１のエッジシフト量すなわち記録ストラテジデータ１及びエッジシフトデータ１で規定される点Ａ（図５）と、記録ストラテジの第２のパルスタイミングでの第２のエッジシフト量すなわち記録ストラテジデータ２及びエッジシフトデータ２で規定される点Ｂ（図５）との２点の線形補間によって、エッジシフト量がゼロになる記録パルスの最適なパルスエッジ位置を演算させ、該最適なパルスエッジ位置を有しかつ最適な記録パワーＰｏｐｔの記録パルスをレーザ駆動回路７から出力させる記録ストラテジを記録ストラテジデータ３として演算させる（ステップＳ６０９）。
（１０）マイコン３０は、上記求めた記録ストラテジデータ３を情報記録用として設定する（ステップＳ６１０）。
（１１）上記ステップＳ６０１〜ステップＳ６１０により、記録パルスのエッジ補正処理を終了し、マイコン３０は、光ディスク装置１に、記録ストラテジデータ３に基づくレーザ発光による光ディスク２への情報記録を開始させる（ステップＳ６１１）。
上記ステップＳ６０１〜ステップＳ６１１の一連の手順は、メモリ２７など光ディスク装置１内の記憶手段に記憶されたプログラムに従ってマイコン３０が自動的に実行する。
【００２１】
上記実施形態の光ディスク装置１によれば、最適記録パワーＰｏｐｔを有する記録パルスのエッジ位置の補正を短時間内で行うことができる。このため、記録動作を迅速に行うことができ、装置の使い勝手性を向上させることができる。
【００２２】
なお、上記実施形態では、記録パルスの最適なエッジ位置を線形補間によって求めるとしたが、本発明はこれに限定されず、該線形補間と同等以上の作用・効果が得られる技術であれば、それにより記録パルスの最適なエッジ位置を求めてもよい。また、上記実施形態では、制御手段としてのマイコン３０をＤＳＰ２０とは別個に設ける構成としたが、本発明はこれにも限定されず、マイコンはＤＳＰ内に一体的に含まれる構成であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図である。
【図２】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の説明図である。
【図３】図１の光ディスク装置における記録マークのエッジシフト量を測定可能な組合わせの説明図である。
【図４】図１の光ディスク装置における記録マークのエッジシフトの説明図である。
【図５】図１の光ディスク装置において記録パルスの最適なパルスエッジ位置を求める手法の説明図である。
【図６】図１の光ディスク装置における記録パルスのエッジ補正の動作説明図である。
【符号の説明】
【００２４】
１…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…ディスクモータ、
４…光ピックアップ、
５…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…受光部、
９…アナログフロントエンド、
１０…移動・案内機構部、
１１…モータ駆動回路、
２０…ＤＳＰ、
２１…モータ制御部、
２２…再生信号処理部、
２３…β測定手段、
２４…エッジシフト量測定手段、
２５…最適記録パワー演算手段、
２６…パルスエッジ演算手段、
２７…メモリ、
３０…マイコン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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