(57)【要約】【課題】母基板に形成された多数の有機電界発光表示装置に対するシート単位検査が可能な有機電界発光表示装置，その検査方法および有機電界発光表示装置の母基板を提供する。【解決手段】第１電源ＥＬＶＤＤ，第２電源ＥＬＶＳＳ，および走査信号を受けて発光する複数の画素を含む画素部２５０と，上記画素部２５０に上記走査信号を供給するための走査駆動部２２０と，上記画素部２５０の異常有無を検査するための検査部２３０と，第１方向に形成され，端部がフローティングされた第１配線群２６０，および第２方向に形成され，端部がフローティングされた第２配線群２７０と，を備える。上記構成により，本発明は，母基板上に形成された複数の有機電界発光表示装置に検査のための電源および信号を供給することにより，それぞれの有機電界発光表示装置をスクライビングしていない状態でシート単位の検査を行うことができる。【選択図】図２
2007065606.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１電源，第２電源，および走査信号を受けて発光する複数の画素を含む画素部と；
前記画素部に前記走査信号を供給するための走査駆動部と；
前記画素部の異常有無を検査するための検査部と；
第１方向に形成され，端部がフローティングされた第１配線群，および第２方向に形成され，端部がフローティングされた第２配線群と；
を備えることを特徴とする，有機電界発光表示装置。
【請求項２】
前記第１配線群および前記第２配線群は，前記画素部，前記走査駆動部，および前記検査部のそれぞれと電気的に隔離されることを特徴とする，請求項１に記載の有機電界発光表示装置。
【請求項３】
外部から供給されるデータに対応するデータ信号を前記画素部に供給するためのデータ駆動部をさらに備えることを特徴とする，請求項１に記載の有機電界発光表示装置。
【請求項４】
少なくとも二つの選択信号に応じて，前記データ駆動部から供給された前記データ信号を前記画素部に設けられた少なくとも二つの画素に供給するためのデータ分配部をさらに備えることを特徴とする，請求項３に記載の有機電界発光表示装置。
【請求項５】
前記第１配線群および前記第２配線群と前記データ分配部とは電気的に隔離されることを特徴とする，請求項４に記載の有機電界発光表示装置。
【請求項６】
母基板に形成された複数の有機電界発光表示装置のうち，第１方向に配列された有機電界発光表示装置に共通に接続された第１配線群，または第２方向に配列された有機電界発光表示装置に共通に接続された第２配線群に含まれる所定の配線のうち，少なくとも１本が接続された前記各有機電界発光表示装置に，前記一本の配線を通じて第１電源および第２電源を供給する段階と；
前記有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置に，前記第１配線群に含まれる所定の配線を通じて第１駆動信号を供給し，前記第２配線群に含まれる所定の配線を通じて第２駆動信号を供給する段階と；
前記第１電源，前記第２電源，前記第１駆動信号および前記第２駆動信号のうち少なくとも一つに対応して，前記有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置に対する検査を行う段階と；
を含み，前記第１配線群と第２配線群とを通じて前記母基板上で前記有機電界発光表示装置の異常有無を検査することを特徴とする，有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項７】
前記第１配線群および／または前記第２配線群は，前記各有機電界発光表示装置に形成された走査駆動部を駆動するための第３電源および第４電源を供給し，
前記第１駆動信号および／または前記第２駆動信号は，前記走査駆動部を制御するための走査制御信号および／または検査制御信号および検査信号を含むことを特徴とする，請求項６に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項８】
前記走査制御信号は，前記各有機電界発光表示装置に形成された走査駆動部のクロック信号，出力イネーブル信号，およびスタートパルスの少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする，請求項７に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項９】
前記検査信号は，点灯検査，エージング検査，および漏洩電流検査のうち少なくともいずれか一つを行うための信号であることを特徴とする，請求項７に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項１０】
前記少なくとも一つの有機電界発光表示装置に対する検査を行う段階は，
前記第３電源，前記第４電源，および前記走査制御信号に応じて走査信号を生成する段階と；
前記走査信号を前記少なくとも一つの有機電界発光表示装置に形成された画素部に供給する段階と；
前記検査制御信号に応じて，前記検査信号を前記画素部に供給する段階と；
前記走査信号および前記検査信号に応じて，前記画素部で所定の映像を表示する段階と；
を含むことを特徴とする，請求項７に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項１１】
前記第１駆動信号および／または前記第２駆動信号に含まれる複数の選択信号に応じて，前記検査信号を前記画素部に設けられた複数の画素に供給する段階をさらに含むことを特徴とする，請求項１０に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項１２】
前記第２駆動信号は，前記第１配線群から前記有機電界発光表示装置に供給される前記第１電源，前記第２電源，前記第３電源，前記第４電源，および前記第１駆動信号のうち少なくとも一つの供給有無を制御する制御信号をさらに含むことを特徴とする，請求項７に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項１３】
前記制御信号に応じて前記第１電源，前記第２電源，前記第３電源，前記第４電源，前記第１駆動信号，および前記第２駆動信号を受けた有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置で検査を行うことを特徴とする，請求項１２に記載の有機電界発光表示装置の検査方法。
【請求項１４】
第１電源，第２電源，走査信号，および検査信号を受けて発光する複数の画素を含む画素部，前記画素部に前記走査信号を供給するための走査駆動部と，前記画素部にデータ線を通じて前記検査信号を供給するための検査部，および前記検査部と前記データ線との間に接続され，前記検査部の各出力線に供給される前記検査信号を複数の前記データ線に供給するためのデータ分配部，を備える複数の有機電界発光表示装置と；
前記複数の有機電界発光表示装置のうちで，第１方向に配列された有機電界発光表示装置に接続された第１配線群と；
前記複数の有機電界発光表示装置のうちで，第２方向に配列された有機電界発光表示装置に接続された第２配線群と；を備え，
前記第１配線群および第２配線群のうち少なくとも一つが接続され，前記各有機電界発光表示装置に前記検査信号および所定の電源を供給することを特徴とする，有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項１５】
前記第１配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つと，前記第２配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つとは電気的に接続されることを特徴とする，請求項１４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項１６】
前記第１配線群は，
前記第１電源を受ける第１配線と；
前記第２電源を受ける第７配線と；
前記走査駆動部を駆動するための第３電源を受ける第４配線と；
前記走査駆動部を駆動するための第４電源を受ける第５配線と；
を含み，
前記第２配線群は，
前記第１電源を受ける第１１配線と；
前記第２電源を受ける第１７配線と；
前記走査駆動部を駆動するための第３電源を受ける第１４配線と；
前記走査駆動部を駆動するための第４電源を受ける第１５配線と；
を含むことを特徴とする，請求項１４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項１７】
前記第１配線と前記第１１配線，前記第７配線と前記第１７配線，前記第４配線と前記第１４配線，および前記第５配線と前記第１５配線とが互いに接続されることを特徴とする，請求項１６に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項１８】
前記走査駆動部は，前記第１４配線から前記第３電源を受け，前記第１５配線から前記第４電源を受けることを特徴とする，請求項１７に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項１９】
前記第１４配線および前記第１５配線と前記走査駆動部との電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項１８に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２０】
前記画素部は，前記第１１配線から前記第１電源を受け，前記第１７配線から前記第２電源を受けることを特徴とする，請求項１７に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２１】
前記第１１配線および前記第１７配線と前記画素部との電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項２０に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２２】
前記第１１配線と前記第１７配線とは，互いに異なる行に位置するように交互に配置されることを特徴とする，請求項１６に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２３】
前記画素部は，前記第１１配線から前記第１電源を受け，第１配線群に含まれる第７配線から前記第２電源を受けることを特徴とする，請求項２２に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２４】
前記第１１配線および前記第７配線と前記画素部との電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項２３に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２５】
前記第１４配線と前記第１５配線とは，互いに異なる行に位置するように交互に配置されることを特徴とする，請求項１６に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２６】
前記走査駆動部は，前記第１４配線から前記第３電源を受け，第１配線群に含まれる第５配線から前記第４電源を受けることを特徴とする，請求項２５に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２７】
前記第１４配線および前記第５配線と前記走査駆動部との電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項２６に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２８】
前記第１配線群は，
前記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線と；
前記検査部に供給される検査制御信号および前記検査信号を受ける第３配線と；
前記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第６配線と；
をさらに含み，
および／または，前記第２配線群は，
前記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第１２配線と；
前記検査部に供給される前記検査信号を受ける第１３配線と；
前記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第１６配線と；
をさらに含むことを特徴とする，請求項１４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項２９】
前記第２配線のそれぞれは前記第１２配線のうちのいずれか一つと接続され，
前記第３配線のそれぞれは前記第１３配線のうちのいずれか一つと接続され，
前記第６配線のそれぞれは前記第１６配線のうちのいずれか一つと接続されることを特徴とする，請求項２８に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３０】
前記データ分配部は，前記第２配線および前記第１２配線のうちのいずれか一つと第１電気的接続点によって接続され，
前記検査部は，前記第３配線および前記第１３配線のうちのいずれか一つと第２電気的接続点によって接続され，
前記走査駆動部は，前記第６配線および前記第１６配線のうちのいずれか一つと第３電気的接続点によって接続されることを特徴とする，請求項２８に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３１】
前記第１電気的接続点，前記第２電気的接続点，および前記第３電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項３０に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３２】
前記各有機電界発光表示装置に，前記第１配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つと接続され，接続された配線から前記有機電界発光表示装置に供給される信号および電源のうち少なくともいずれか一つの供給を制御するためのトランスミッションゲートをさらに備えることを特徴とする，請求項２８に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３３】
前記第２配線群は，前記トランスミッションゲートのゲート端子に接続され，前記トランスミッションゲートのオン／オフを制御するための制御信号を供給する第１８配線および第１９配線をさらに含むことを特徴とする，請求項３２に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３４】
前記第１配線群は，前記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線，および前記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第６配線を含み，
前記第２配線群は，前記検査部に供給される前記検査信号を受ける第１３配線を含むことを特徴とする，請求項１４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３５】
前記データ分配部は前記第２配線と第１電気的接続点によって接続され，
前記走査駆動部は前記第６配線と第２電気的接続点によって接続され，
前記検査部は前記第１３配線と第３電気的接続点によって接続されることを特徴とする，請求項３４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３６】
前記第１電気的接続点，前記第２電気的接続点，および前記第３電気的接続点は，前記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，前記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置することを特徴とする，請求項３５に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【請求項３７】
前記検査信号は，点灯検査，エージング検査および漏洩電流検査のうち少なくともいずれか一つを行うための信号であることを特徴とする，請求項１４に記載の有機電界発光表示装置の母基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は有機電界発光表示装置，その検査方法および有機電界発光表示装置の母基板
に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に，有機電界発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ  Ｄｉｓｐｌａｙ）は，多数の有機電界発光表示装置が一つの母基板上に形成された後，スクライビング（ｓｃｒｉｂｉｎｇ）により，個々の有機電界発光表示装置に分離される。このような有機電界発光表示装置に対する検査は，スクライビングが完了した有機電界発光表示装置のそれぞれに対して独立して行われる。
【０００３】
図１はスクライビングが完了した従来の有機電界発光表示装置を示す図である。図１を参照すると，有機電界発光表示装置１１０は，走査駆動部１２０，データ駆動部１３０，データ分配部１４０，および画素部１５０を備えている。
【０００４】
走査駆動部１２０は走査信号を生成する。走査駆動部１２０で生成された走査信号は走査線Ｓ１〜Ｓｎに順次供給される。データ駆動部１３０はデータ信号を生成する。データ駆動部１３０で生成されたデータ信号は出力線Ｏ１〜Ｏｍに供給される。データ分配部１４０は，データ駆動部１３０の各出力線Ｏ１〜Ｏｍから供給されるデータ信号を少なくとも二つのデータ線Ｄに供給する。
【０００５】
画素部１５０は，有機発光ダイオード（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）を備えた複数の画素（図示せず）からなっている。このような画素部１５０は，走査駆動部１２０から供給された走査信号，およびデータ分配部１４０から供給されたデータ信号に応じて所定の映像を表示する（たとえば，特許文献１〜４参照）。
【０００６】
このような有機電界発光表示装置１１０に対する検査は，個々の有機電界発光表示装置を検査する検査装備により行われる。有機電界発光表示装置１１０を構成する回路配線または有機電界発光表示装置１１０の大きさが変更される場合，検査装備あるいは検査のために要求されるジグが変更されなければならない問題点が発生する。また，それぞれの有機電界発光表示装置１１０を別々に検査しなければならないため，検査時間が長くなり，費用が上昇するなど，検査の効率性も低下することになる。
【０００７】
【特許文献１】大韓民国公開特許第２００５−００２５５１３号明細書
【特許文献２】大韓民国特許第０５０４４７３号明細書
【特許文献３】米国公開特許第６，６３９，６４６号明細書
【特許文献４】特開２００５−４３２０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
そこで，本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので，本発明の目的は，母基板に形成された多数の有機電界発光表示装置に対するシート単位検査が可能な有機電界発光表示装置，その検査方法および有機電界発光表示装置の母基板を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために，本発明のある観点によれば，第１電源，第２電源，および走査信号を受けて発光する複数の画素を含む画素部と；上記画素部に上記走査信号を供給するための走査駆動部と；上記画素部の異常有無を検査するための検査部と；第１方向に形成され，端部がフローティングされた第１配線群，および第２方向に形成され，端部がフローティングされた第２配線群と；を備える有機電界発光表示装置が提供される。
【００１０】
上記第１配線群および上記第２配線群は，上記画素部，上記走査駆動部，および上記検査部のそれぞれと電気的に隔離されるとしてもよい。係る構成により，上記第１配線群および上記第２配線群に印加される静電気等のノイズが，上記画素部，上記走査駆動部，および上記検査部へ供給されることを防止する。
【００１１】
外部から供給されるデータに対応するデータ信号を上記画素部に供給するためのデータ駆動部をさらに備えるとしてもよい。
【００１２】
少なくとも二つの選択信号に応じて，上記データ駆動部から供給された上記データ信号を上記画素部に設けられた少なくとも二つの画素に供給するためのデータ分配部をさらに備えるとしてもよい。
【００１３】
上記第１配線群および上記第２配線群と上記データ分配部が電気的に隔離されるとしてもよい。係る構成により，上記第１配線群および上記第２配線群に印加される静電気等のノイズが，上記データ分配部へ供給されることを防止する。
【００１４】
また，上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，母基板に形成された複数の有機電界発光表示装置のうち，第１方向に配列された有機電界発光表示装置に共通に接続された第１配線群，または第２方向に配列された有機電界発光表示装置に共通に接続された第２配線群に含まれる所定の配線のうち，少なくとも１本が接続された上記各有機電界発光表示装置に，上記一本の配線を通じて第１電源および第２電源を供給する段階と；上記有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置に，上記第１配線群に含まれる所定の配線を通じて第１駆動信号を供給し，上記第２配線群に含まれる所定の配線を通じて第２駆動信号を供給する段階と；上記第１電源，上記第２電源，上記第１駆動信号および上記第２駆動信号のうち少なくとも一つに対応して，上記有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置に対する検査を行う段階と；をを含み，前記第１配線群と第２配線群とを通じて前記母基板上で前記有機電界発光表示装置の異常有無を検査する有機電界発光表示装置の検査方法が提供される。
【００１５】
上記第１配線群および上記第２配線群のうち少なくともいずれか一つは，上記各有機電界発光表示装置に形成された走査駆動部を駆動するための第３電源および第４電源を供給し，上記第１駆動信号および上記第２駆動信号のうち少なくともいずれか一つは，上記走査駆動部を制御するための走査制御信号および／または検査制御信号および検査信号を含むとしてもよい。
【００１６】
上記走査制御信号は，上記各有機電界発光表示装置に形成された走査駆動部のクロック信号，出力イネーブル信号，およびスタートパルスのうち少なくともいずれか一つを含むとしてもよい。
【００１７】
上記検査信号は，点灯検査，エージング検査，および漏洩電流検査のうち少なくともいずれか一つを行うための信号であるとしてもよい。
【００１８】
上記少なくとも一つの有機電界発光表示装置に対する検査を行う段階は，上記第３電源，上記第４電源，および上記走査制御信号に応じて走査信号を生成する段階と；上記走査信号を上記少なくとも一つの有機電界発光表示装置に形成された画素部に供給する段階と；上記検査制御信号に応じて，上記検査信号を上記画素部に供給する段階と；上記走査信号および上記検査信号に応じて，上記画素部で所定の映像を表示する段階と；を含むとしてもよい。
【００１９】
上記第１駆動信号および上記第２駆動信号のうち少なくともいずれか一つに含まれる多数の選択信号に応じて，上記検査信号を上記画素部に設けられた多数の画素に供給する段階をさらに含むとしてもよい。
【００２０】
上記第２駆動信号は，上記第１配線群から上記有機電界発光表示装置に供給される上記第１電源，上記第２電源，上記第３電源，上記第４電源，および上記第１駆動信号のうち少なくとも一つの供給有無を制御する制御信号をさらに含むとしてもよい。
【００２１】
上記制御信号に応じて上記第１電源，上記第２電源，上記第３電源，上記第４電源，上記第１駆動信号，および上記第２駆動信号を受けた有機電界発光表示装置のうち少なくとも一つの有機電界発光表示装置で検査を行うとしてもよい。
【００２２】
また，上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，第１電源，第２電源，走査信号，および検査信号を受けて発光する複数の画素を含む画素部，上記画素部に上記走査信号を供給するための走査駆動部と，上記画素部にデータ線を通じて上記検査信号を供給するための検査部，および上記検査部と上記データ線との間に接続され，上記検査部の各出力線に供給される上記検査信号を複数の上記データ線に供給するためのデータ分配部を備える多数の有機電界発光表示装置と；上記多数の有機電界発光表示装置のなかで，第１方向に配列された有機電界発光表示装置に接続された第１配線群と；上記多数の有機電界発光表示装置のなかで，第２方向に配列された有機電界発光表示装置に接続された第２配線群と；を備え，上記第１および第２配線群のうち少なくとも一つは，自分と接続される上記各有機電界発光表示装置に上記検査信号および所定の電源を供給する，有機電解発光表示装置の母基板が提供される。
【００２３】
上記第１配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つと，上記第２配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つは電気的に接続されるとしてもよい。
【００２４】
上記第１配線群は，上記第１電源を受ける第１配線と；上記第２電源を受ける第７配線と；上記走査駆動部を駆動するための第３電源を受ける第４配線と；上記走査駆動部を駆動するための第４電源を受ける第５配線と；を含み，上記第２配線群は，上記第１電源を受ける第１１配線と；上記第２電源を受ける第１７配線と；上記走査駆動部を駆動するための第３電源を受ける第１４配線と；上記走査駆動部を駆動するための第４電源を受ける第１５配線と；を含むとしてもよい。
【００２５】
上記第１配線と上記第１１配線，上記第７配線と上記第１７配線，上記第４配線と上記第１４配線，および上記第５配線と上記第１５配線が互いに接続されることを特徴とする，有機電界発光表示装置の母基板としてもよい。係る構成により，有機電界発光表示装置をスクライビングが完了したそれぞれの有機電界発光表示装置単位でなく，シート（例えば母基板）単位で検査することが可能となる。
【００２６】
上記走査駆動部は，上記第１４配線から上記第３電源を受け，上記第１５配線から上記第４電源を受けるとしてもよい。
【００２７】
上記第１４配線および上記第１５配線と上記走査駆動部の電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。係る構成により，上記第１４配線および上記第１５配線に印加される静電気等のノイズが，上記走査駆動部へ供給されることを防止する。
【００２８】
上記画素部は，上記第１１配線から上記第１電源を受け，上記第１７配線から上記第２電源を受けるとしてもよい。
【００２９】
上記第１１配線および上記第１７配線と上記画素部の電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。係る構成により，上記第１１配線および上記第１７配線に印加される静電気等のノイズが，上記画素部へ供給されることを防止する。
【００３０】
上記第１１配線と上記第１７配線は互いに異なる行に位置するように交番に配置されるとしてもよい。係る構成により，上記第１１配線と上記第１７配線が配置される空間を効率的に活用することが可能となる。
【００３１】
上記画素部は，上記第１１配線から上記第１電源を受け，第１配線群に含まれる第７配線から上記第２電源を受けるとしてもよい。
【００３２】
上記第１１配線および上記第７配線と上記画素部の電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。係る構成により，上記第１１配線および上記第７配線に印加される静電気等のノイズが，上記画素部へ供給されることを防止する。
【００３３】
上記第１４配線と上記第１５配線は互いに異なる行に位置するように交番に配置されるとしてもよい。係る構成により，電源線が配置される空間を効率的に活用することが可能となる。
【００３４】
上記走査駆動部は，上記第１４配線から上記第３電源を受け，第１配線群に含まれる第５配線から上記第４電源を受けるとしてもよい。
【００３５】
上記第１４配線および上記第５配線と上記走査駆動部の電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。係る構成により，上記第１４配線および上記第５配線に印加される静電気等のノイズが，上記走査駆動部へ供給されることを防止する。
【００３６】
上記第１配線群は，上記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線と；上記検査部に供給される検査制御信号および上記検査信号を受ける第３配線と；上記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第６配線と；をさらに含むか，および／または，上記第２配線群は，上記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第１２配線と；上記検査部に供給される上記検査信号を受ける第１３配線と；上記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第１６配線と；をさらに含むとしてもよい。
【００３７】
上記各第２配線は上記第１２配線のなかでいずれか一つと接続され，上記各第３配線のは上記第１３配線のなかでいずれか一つと接続され，上記各第６配線は上記第１６配線のなかでいずれか一つと接続されるとしてもよい。
【００３８】
上記データ分配部は，上記第２配線および上記第１２配線のなかでいずれか一つと第１電気的接続点によって接続され，上記検査部は，上記第３配線および上記第１３配線のなかでいずれか一つと第２電気的接続点によって接続され，上記走査駆動部は，上記第６配線および上記第１６配線のなかでいずれか一つと第３電気的接続点によって接続されるとしてもよい。
【００３９】
上記第１電気的接続点，上記第２電気的接続点，および上記第３電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置のスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。
【００４０】
上記各有機電界発光表示装置に，上記第１配線群に含まれる配線のうち少なくともいずれか一つと接続され，接続された配線から上記有機電界発光表示装置に供給される信号および電源のうち少なくともいずれか一つの供給を制御するためのトランスミッションゲートをさらに備えるとしてもよい。係る構成により，上記母基板上で特定の有機電界発光表示装置に対する検査が可能となる。
【００４１】
上記第２配線群は，上記トランスミッションゲートのゲート端子に接続され，上記トランスミッションゲートのオン／オフを制御するための制御信号を供給する第１８配線および第１９配線をさらに含むとしてもよい。
【００４２】
上記第１配線群は，上記データ分配部に供給される少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線，および上記走査駆動部に供給される走査制御信号を受ける第６配線を含み，上記第２配線群は，上記検査部に供給される上記検査信号を受ける第１３配線を含むとしてもよい。
【００４３】
上記データ分配部は上記第２配線と第１電気的接続点によって接続され，上記走査駆動部は上記第６配線と第２電気的接続点によって接続され，上記検査部は上記第１３配線と第３電気的接続点によって接続されるとしてもよい。
【００４４】
上記第１電気的接続点，上記第２電気的接続点，および上記第３電気的接続点は，上記母基板がスクライビングされる時に電気的に隔離されるように，上記有機電界発光表示装置を囲むスクライビングラインの外側に位置するとしてもよい。
【００４５】
上記検査信号は，点灯検査，エージング検査および漏洩電流検査のうち少なくともいずれか一つを行うための信号であるとしてもよい。
【発明の効果】
【００４６】
上述したように，本発明による有機電界発光表示装置および有機電界発光表示装置の母基板およびその検査方法によれば，第１配線群と第２配線群を備えることにより，それぞれの有機電界発光表示装置をスクライビングしなかった状態でシート単位の検査を行うことができる。したがって，検査時間を減らし，費用を節減するなど，検査の効率性を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書および図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００４８】
図２は本発明の一実施形態による有機電界発光表示装置が形成された母基板を示す図である。図２を参照すると，本発明の一実施形態による有機電界発光表示装置の母基板２００は，多数の有機電界発光表示装置２１０を備えている。そして，それぞれの有機電界発光表示装置２１０は，走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，画素部２５０，第１配線群２６０，および第２配線群２７０を備えている。
【００４９】
第１配線群２６０は垂直方向（第１方向）すなわち母基板２００上の同一列に位置する有機電界発光表示装置２１０に沿って形成され，母基板２００上の同一列に位置する有機電界発光表示装置２１０に共通に接続される。そして，第２配線群２７０は水平方向（第２方向）すなわち母基板２００上の同一行に位置する有機電界発光表示装置２１０に沿って形成され，母基板２００上の同一行に位置する有機電界発光表示装置２１０に共通に接続される。上記第１および第２配線群２６０，２７０は，それぞれの有機電界発光表示装置２１０上に形成された走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０のうち少なくともいずれか一つにシート単位検査のための電源および信号を供給する。
【００５０】
走査駆動部２２０は，第１配線群２６０および／または第２配線群２７０から走査制御信号，第３電源ＶＤＤ，および第４電源ＶＳＳを受ける。上記走査駆動部２２０は，走査制御信号，第３電源ＶＤＤ，および第４電源ＶＳＳに対応して走査信号を生成する。走査駆動部２２０で生成された走査信号は画素部２５０に供給される。
【００５１】
検査部２３０は，第１配線群２６０および／または第２配線群２７０から検査制御信号および検査信号を受ける。ここで，検査信号は有機電界発光表示装置２１０の不良有無を判断するための信号であって，たとえば画素部２５０に含まれた画素の点灯検査信号，エージング検査信号および漏洩電流検査信号などがある。上記検査部２３０は，検査制御信号に応じて検査信号をデータ分配部２４０に供給する。
【００５２】
データ分配部２４０は，第１配線群２６０および／または第２配線群２７０から少なくとも二つの選択信号を受ける。選択信号を受けたデータ分配部２４０は，検査部２３０の各出力線から供給される検査信号を少なくとも２本のデータ線に供給する。そして，データ分配部２４０は，データ駆動部（図示せず）が挿入された時，外部から供給される少なくとも二つの選択信号に応じて，データ駆動部の各出力線に供給されるデータ信号を少なくとも２本のデータ線に供給する。以下，説明の便宜上，データ分配部２４０は１本の出力線に供給される検査信号を３本のデータ線に供給すると仮定することにする。
【００５３】
画素部２５０は，有機発光ダイオードを備えた複数の画素（図示せず）からなっている。ここで，一つの画素は赤色，緑色および青色の副画素を含み，白色の副画素をさらに含むこともできる。上記画素部２５０は，第１配線群２６０および／または第２配線群２７０から供給される第１電源ＥＬＶＤＤおよび第２電源ＥＬＶＳＳ，走査駆動部２２０から供給される走査信号，およびデータ分配部２４０から供給される検査信号を受けて所定の映像を表示する。
【００５４】
一方，有機電界発光表示装置２１０はデータ駆動部をさらに備えることもできる。ここで，データ駆動部は，それぞれの有機電界発光表示装置２１０が母基板２００からスクライビングされた後，外部から供給されるデータに対応してデータ信号を生成する。データ駆動部で生成されたデータ信号はデータ分配部２４０に供給される。一例として，データ駆動部は検査部２３０と重畳するように実装されるとしてもよい。
【００５５】
上記有機電界発光表示装置の母基板２００は，第１配線群２６０と第２配線群２７０を備えることにより，基板２００上に形成された複数の有機電界発光表示装置２１０に，検査のための電源および信号を供給することができる。これにより，それぞれの有機電界発光表示装置２１０をスクライビングしていない状態で，シート単位の検査を行うことができる。したがって，検査時間を減らし，費用を節減するなど，検査の効率性を高めることができる。また，有機電界発光表示装置２１０を構成する回路配線が変更されるか有機電界発光表示装置２１０の大きさが変更されても，第１配線群２６０と第２配線群２７０の回路配線および母基板２００の大きさが変更されなければ，検査装備やジグを変更しないで検査を行うことができる。
【００５６】
一方，シート単位の検査が完了すれば，母基板２００上に形成されたそれぞれの有機電界発光表示装置２１０はスクライビングされる。ここで，スクライビングライン２８０は，第１配線群２６０および第２配線群２７０が走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０および画素部２５０とスクライビング以後に電気的に隔離されるように位置する。すなわち，第１配線群２６０および第２配線群２７０と走査駆動部２２０，検査部２３０，データ駆動部２４０および画素部２５０との電気的接続点は，有機電界発光表示装置２１０のスクライビングラインの外側に位置する。これにより，外部から第１配線群２６０および第２配線群２７０に印加される静電気等のノイズは走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０および画素部２５０に供給されない。
【００５７】
図３は図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第１実施形態を示す図である。ここで，図２と同一部分は同一符号を付けることにし，これについての説明は省略する。図３を参照すると，第１実施形態による有機電界発光表示装置２１０は，複数の配線を含む第１配線群２６０および第２配線群２７０を備えている。
【００５８】
第１配線群２６０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１配線２６１，少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線２６２，検査制御信号および検査信号を受ける第３配線２６３，第３電源ＶＤＤを受ける第４配線２６４，第４電源ＶＳＳを受ける第５配線２６５，走査制御信号を受ける第６配線２６６，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第７配線２６７を備えている。
【００５９】
第１配線２６１は，シート単位検査の際に供給される第１電源ＥＬＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。画素部２５０に供給された第１電源ＥＬＶＤＤは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００６０】
第２配線２６２は，検査部２３０の出力線Ｏ１〜Ｏｍのそれぞれに供給される検査信号が少なくとも２本のデータ線Ｄに供給されるように，少なくとも二つの選択信号をデータ分配部２４０に供給する。ここで，第一実施形態による有機電界発光表示装置のデータ分配部２４０は，１本の出力線Ｏに供給される検査信号を３本のデータ線Ｄに供給するため，三つの選択信号を受ける。このため，第２配線２６２は３本の配線からなる。
【００６１】
第３配線２６３は，外部から検査制御信号および検査信号を受けて，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された検査部２３０に供給する。このため，第３配線２６３は２本の配線からなる。
【００６２】
第４配線２６４は，シート単位検査の際に供給される第３電源ＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。
【００６３】
第５配線２６５は，シート単位検査の際に供給される第４電源ＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。
【００６４】
第６配線２６６は，外部から走査制御信号を受けてそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。ここで，走査制御信号には，走査駆動部２２０のクロック信号，出力イネーブル信号およびスタートパルスなどを含むことができる。実際に，走査駆動部２２０に供給される走査制御信号の数は走査駆動部２２０の回路構成によって多様に設定される。したがって，第６配線２６６に含まれる配線の数は走査駆動部２２０の回路構成によって決定される。以下，本発明では，説明の便宜上，第６配線２６６に３本の配線が含まれると仮定することにする。
【００６５】
第７配線２６７は，シート単位検査の際に供給される第２電源ＥＬＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。画素部２５０に供給された第２電源ＥＬＶＳＳは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００６６】
第２配線群２７０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１１配線２７１，少なくとも二つの選択信号を受ける第１２配線２７２，検査制御信号および検査信号を受ける第１３配線２７３，第３電源ＶＤＤを受ける第１４配線２７４，第４電源ＶＳＳを受ける第１５配線２７５，走査制御信号を受ける第１６配線２７６，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第１７配線２７７を備えている。
【００６７】
第１１配線２７１は，シート単位検査の際に供給される第１電源ＥＬＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１１配線２７１は第１配線２６１と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第１電源ＥＬＶＤＤは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００６８】
第１２配線２７２は，検査部２３０の出力線Ｏ１〜Ｏｍのそれぞれに供給される検査信号が３本のデータ線Ｄに供給されるように，三つの選択信号をデータ分配部２４０に供給する。このため，第１２配線２７２は第２配線２６２と電気的に接続される。すなわち，第１２配線２７２は，第２配線２６２の数と同様に，３本の配線からなり，第１２配線２７２のそれぞれは第２配線２６２のいずれか１本と電気的に接続される。
【００６９】
第１３配線２７３は，外部から検査制御信号および検査信号を受けて，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された検査部２３０に供給する。このため，第１３配線２７３は第３配線２６３と電気的に接続される。すなわち，第１３配線２７３は第３配線２６３の数と同様に，２本の配線からなり，第１３配線２７３のそれぞれは第３配線２６３のいずれか１本と電気的に接続される。
【００７０】
第１４配線２７４は，シート単位検査の際に供給される第３電源ＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１４配線２７４は第４配線２６４と電気的に接続される。
【００７１】
第１５配線２７５はシート単位検査の際に供給される第４電源ＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１５配線２７５は第５配線２６５と電気的に接続される。
【００７２】
第１６配線２７６は，外部から走査制御信号を受けて，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１６配線２７６は第６配線２６６と電気的に接続される。すなわち，第１６配線２７６は第６配線２６６の数と同様に，３本の配線からなり，第１６配線２７６のそれぞれは第６配線２６６のいずれか１本と電気的に接続される。
【００７３】
第１７配線２７７は，シート単位検査の際に供給される第２電源ＥＬＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１７配線２７７は第７配線２６７と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第２電源ＥＬＶＳＳは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００７４】
ここで，第２配線２６２，第３配線２６３，第６配線２６６，第１２配線２７２，第１３配線２７３，および第１６配線２７６に含まれる配線の数は本発明の実施形態に限定されない。言い換えれば，検査の種類，分配されるデータ線の数，および走査駆動部２２０の回路構成に対応して，配線の数は多様に設定されるとしてもよい。
【００７５】
上記本発明の第１実施形態において，走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０などは，第２配線群２７０に含まれた配線から電源および信号を受ける。上記走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０と第２配線群２７０との電気的接続点は，スクライビング以後に互いに電気的に隔離されるように，有機電界発光表示装置２１０のスクライビングラインの外側に位置する。したがって，スクライビング以後に外部から印加されるノイズなどは走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０および画素部２５０に伝達されない。
【００７６】
上述したように，上記第１実施形態の第１〜第７配線２６１〜２６７と第１１〜第１７配線２７１〜２７７はメッシュタイプに配置されることにより，同じ電源または信号を受ける配線が電気的に接続される。これにより，上記第１実施形態による有機電界発光表示装置の母基板２００によれば，シート単位の検査を行うことができることになる。また，電源線および信号線を，第１配線群２６０および第２配線群２７０に含まれるように，ともにメッシュタイプに形成することにより，電圧降下（ＩＲｄｒｏｐ）および信号遅延（ＲＣｄｅｌａｙ）などを最小化することができる。
【００７７】
図４は図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第２実施形態を示す図である。ここで，図２と同一部分は同一符号を付けることにし，これについての説明は省略する。図４を参照すると，第２実施形態による有機電界発光表示装置２１０は，複数の配線を含む第１配線群２６０および第２配線群２７０を備えている。
【００７８】
第１配線群２６０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１配線２６１，少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線２６２，検査制御信号および検査信号を受ける第３配線２６３，第３電源ＶＤＤを受ける第４配線２６４，第４電源ＶＳＳを受ける第５配線２６５，走査制御信号を受ける第６配線２６６，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第７配線２６７を備えている。上記第１配線群２６０に供給される信号または電源は図３と同一であるので，これについての詳細な説明は省略することにする。
【００７９】
第２配線群２７０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１１配線２７１，第３電源ＶＤＤを受ける第１４配線２７４，第４電源ＶＳＳを受ける第１５配線２７５，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第１７配線２７７を備えている。
【００８０】
第１１配線２７１は，シート単位検査の際に供給される第１電源ＥＬＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１１配線２７１は第１配線２６１と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第１電源ＥＬＶＤＤは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００８１】
第１４配線２７４は，シート単位検査の際に供給される第３電源ＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１４配線２７４は第４配線２６４と電気的に接続される。
【００８２】
第１５配線２７５は，シート単位検査の際に供給される第４電源ＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１５配線２７５は第５配線２６５と電気的に接続される。
【００８３】
第１７配線２７７は，シート単位検査の際に供給される第２電源ＥＬＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１７配線２７７は第７配線２６７と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第２電源ＥＬＶＳＳは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【００８４】
ここで，より容易に電源線を配置し，電源線が配置される空間を効率的に活用するために，第１１配線２７１および第１４配線２７４と，第１５配線２７５および第１７配線２７７とは互いに異なる行に交互に位置する。たとえば，第１１配線２７１および第１４配線２７４は奇数行に配置され，第１５配線２７５および第１７配線２７７は偶数行に配置されてもよい。また，第１１配線２７１，第１４配線２７４が偶数行に配置され，第１５配線２７５および第１７配線２７７が奇数行に配置されるとしてもよい。
【００８５】
上記第２実施形態において，走査駆動部２２０は，第１配線群２６０のなかで，第５配線２６５および第６配線２６６から第４電源ＶＳＳおよび走査制御信号を受ける。そして，走査駆動部２２０は第２配線群２７０のなかで第１４配線２７４から第３電源ＶＤＤを受ける。
【００８６】
検査部２３０は，第１配線群２６０のなかで第３配線２６３から検査制御信号および検査信号を受ける。
【００８７】
データ分配部２４０は，第１配線群２６０のなかで第２配線２６２から選択信号を受ける。
【００８８】
画素部２５０は，第１配線群２６０のなかで第７配線２６７から第２電源ＥＬＶＳＳを受け，第２配線群２７０のなかで第１１配線２７１から第１電源ＥＬＶＤＤを受ける。
【００８９】
上記走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０のそれぞれと第１配線群２６０および／または第２配線群２７０との電気的接続点は，スクライビング以後に互いに電気的に隔離されるように，有機電界発光表示装置２１０のスクライビングラインの外側に位置する。
【００９０】
上述したように，上記第２実施形態信号線（すなわち，第２配線２６２，第３配線２６３，および第６配線２６６）は第１配線群２６０のみに含まれる。そして，電源線（すなわち，第１配線２６１，第４配線２６４，第５配線２６５，第７配線２６７，第１１配線２７１，第１４配線２７４，第１５配線２７５，および第１７配線２７７）は第１配線群２６０と第２配線群２７０の両方に含まれるように，メッシュタイプに形成される。
【００９１】
実際に，信号は電圧降下（ＩＲｄｒｏｐ）などが発生しても，一定レベルの電圧のみを維持すれば，走査駆動部２２０，検査部２３０，およびデータ分配部２４０などを正常に駆動させることができる。したがって，上記実施形態において，信号線は第１配線群２６０のみに含ませる。これにより，図３に示す第１実施形態に比べ，第２配線群２７０に含まれる配線の数が減少するので，製造費用およびデッドスペースが減少するとともに設計の効率性を確保することができる。また，信号線が一方向（すなわち，第１方向）にのみ形成されるため，有機電界発光表示装置２１０を列単位に検査することができる。すなわち，特定列に位置する信号線にのみ信号を供給することにより，特定列に位置する有機電界発光表示装置２１０でのみ所定の検査過程を行うことができる。
【００９２】
一方，第１配線群２６０および第２配線群２７０の両方に供給される電源で電圧降下（ＩＲｄｒｏｐ）が発生すると，所望映像を表示することができない問題点が発生する。したがって，上記実施形態において，電源線は第１方向と第２方向にともにメッシュタイプに配置することにより，所望パターンの映像を表示することができる。この際，第１１配線２７１および第１４配線２７４と第１５配線２７５および第１７配線２７７は互いに異なる行に交番に位置させることにより，より容易に電源線を配置し，電源線が配置される空間を効率的に活用することができる。
【００９３】
図５は図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第３実施形態を示す図である。図５を説明するにおいて，図４と同一部分についての詳細な説明は省略することにする。
【００９４】
図５を参照すると，本発明の第３実施形態による有機電界発光表示装置２１０は，第１配線群２６０に含まれる配線のうち少なくとも一つと接続されるトランスミッションゲート（Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ  Ｇａｔｅ）２７５と，上記トランスミッションゲート２７５を駆動するために，第２配線群２７０に含まれた第１８配線２７８および第１９配線２７９を備えている。
【００９５】
上記第３実施形態において，トランスミッションゲート２７５は，第１配線群２６０に含まれる配線のなかでいずれか１本と接続され，接続された配線から有機電界発光表示装置２１０に供給される信号または電源の供給有無を制御する。たとえば，トランスミッションゲート２７５は，走査制御信号を供給するための第６配線２６６のうちいずれか１本と接続されるとしてもよい。このように，トランスミッションゲート２７５が第６配線２６６のうちいずれか一本と接続されて，走査制御信号の供給有無を制御することになると，母基板２００で特定の有機電界発光表示装置に対する検査が可能になる。
【００９６】
言い換えれば，走査制御信号を受けることができない走査駆動部２２０では走査信号を生成することができないため，トランスミッションゲート２７５のターンオン／ターン−オフを制御して，行単位で有機電界発光表示装置２１０を選択することができる。ここで，図示の便宜上，トランスミッションゲート２７５を第１配線群２６０に含まれる配線のなかでいずれか１本にだけ接続されるように設置したが，実際にトランスミッションゲート２７５は第１配線群２６０に含まれる配線の一部または全部に接続されるように設置されるとしてもよい。
【００９７】
第１８配線２７８および第１９配線２７９は第２配線群２７０に含まれ，トランスミッションゲート２７５のゲート端子に接続されて，トランスミッションゲート２７５のターンオン／ターン−オフを制御するための制御信号ＣＰ，／ＣＰを供給する。
【００９８】
特定の有機電界発光表示装置に対する検査過程を詳しく説明すれば，まず母基板２００に電源を供給する。そして，特定行に位置する第１８配線２７８および第１９配線２７９に制御信号ＣＰ，／ＣＰを供給すると同時に，特定列に位置する信号線（すなわち，第２配線２６２，第３配線２６３および第６配線２６６）にだけ信号を供給する。すると，特定行および特定列が交差する部分に位置する有機電界発光表示装置２１０でのみ所定の検査が進行されることになる。すなわち，本発明の第３実施形態においては，第１配線群２６０に含まれる配線のうち少なくともいずれか１本と接続されるように，少なくとも一つのトランスミッションゲート２７５を設置することにより，母基板２００上で特定の有機電界発光表示装置に対する検査を行うことができる。
【００９９】
上記第３実施形態において，走査駆動部２２０は，第１配線群２６０のなかで，第５配線２６５および第６配線２６６から第４電源ＶＳＳおよび走査制御信号を受ける。そして，走査駆動部２２０は，第２配線群２７０のなかで第１４配線２７４から第３電源ＶＤＤを受ける。
【０１００】
検査部２３０は，第１配線群２６０のなかで第３配線２６３から検査制御信号および検査信号を受ける。
【０１０１】
データ分配部２４０は，第１配線群２６０のなかで第２配線２６２から選択信号を受ける。
【０１０２】
画素部２５０は，第１配線群２６０のなかで第７配線２６７から第２電源ＥＬＶＳＳを受け，第２配線群２７０のなかで第１１配線２７１から第１電源ＥＬＶＤＤを受ける。
【０１０３】
そして，走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０のうち少なくともいずれか一つはトランスミッションゲート２７５によって信号（または電源）の供給有無が制御される。
【０１０４】
上記走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０のそれぞれと第１配線群２６０および／または第２配線群２７０との電気的接続点は，スクライビング以後に互いに電気的に隔離されるように，有機電界発光表示装置２１０のスクライビングラインの外側に位置する。
【０１０５】
上述したように，上記第３実施形態においては，第１配線群２６０に含まれる配線のうち少なくともいずれか１本と接続される少なくとも一つのトランスミッションゲート２７５を備えることにより，母基板２００上で特定の有機電界発光表示装置２１０に対する検査を行うことができる。
【０１０６】
図６は図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第４実施形態を示す図である。図６を参照すると，第４実施形態による有機電界発光表示装置２１０は，複数の配線を含む第１配線群２６０および第２配線群２７０を備えている。
【０１０７】
第１配線群２６０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１配線２６１，少なくとも二つの選択信号を受ける第２配線２６２，第３電源ＶＤＤを受ける第４配線２６４，第４電源ＶＳＳを受ける第５配線２６５，走査制御信号を受ける第６配線２６６，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第７配線２６７を備えている。
【０１０８】
第１配線２６１は，シート単位検査の際に供給される第１電源ＥＬＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。画素部２５０に供給された第１電源ＥＬＶＤＤは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【０１０９】
第２配線２６２は，検査部２３０の出力線Ｏ１〜Ｏｍのそれぞれに供給される検査信号が少なくとも２本のデータ線Ｄに供給されるように，少なくとも二つの選択信号をデータ分配部２４０に供給する。ここで，第４実施形態による有機電界発光表示装置のデータ分配部２４０は，１本の出力線Ｏに供給される検査信号を３本のデータ線Ｄに供給するため，三つの選択信号を受ける。このため，第２配線２６２は３本の配線からなる。
【０１１０】
第４配線２６４は，シート単位検査の際に供給される第３電源ＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。
【０１１１】
第５配線２６５は，シート単位検査の際に供給される第４電源ＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。
【０１１２】
第６配線２６６は，外部から走査制御信号を受けて，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。ここで，走査制御信号には，走査駆動部２２０のクロック信号，出力イネーブル信号，およびスタートパルスなどが含まれてもよい。実際に，走査駆動部２２０に供給される走査制御信号の数は走査駆動部２２０の回路構成によって多様に設定される。したがって，第６配線２６６に含まれる配線の数は走査駆動部２２０の回路構成によって決定される。説明の便宜上，上記実施形態においては，第６配線２６６に３本の配線が含まれると仮定することにする。
【０１１３】
第７配線２６７は，シート単位検査の際に供給される第２電源ＥＬＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。画素部２５０に供給された第２電源ＥＬＶＳＳは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【０１１４】
第２配線群２７０は，第１電源ＥＬＶＤＤを受ける第１１配線２７１，検査制御信号および検査信号を受ける第１３配線２７３，第３電源ＶＤＤを受ける第１４配線２７４，第４電源ＶＳＳを受ける第１５配線２７５，および第２電源ＥＬＶＳＳを受ける第１７配線２７７を備えている。
【０１１５】
第１１配線２７１は，シート単位検査の際に供給される第１電源ＥＬＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１１配線２７１は第１配線２６１と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第１電源ＥＬＶＤＤは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【０１１６】
第１３配線２７３は，外部から検査制御信号および検査信号を受けて，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された検査部２３０に供給する。このため，第１３配線２７３は２本の配線からなる。
【０１１７】
第１４配線２７４は，シート単位検査の際に供給される第３電源ＶＤＤをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１４配線２７４は第４配線２６４と電気的に接続される。
【０１１８】
第１５配線２７５は，シート単位検査の際に供給される第４電源ＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された走査駆動部２２０に供給する。このため，第１５配線２７５は第５配線２６５と電気的に接続される。
【０１１９】
第１７配線２７７は，シート単位検査の際に供給される第２電源ＥＬＶＳＳをそれぞれの有機電界発光表示装置２１０に形成された画素部２５０に供給する。このため，第１７配線２７７は第７配線２６７と電気的に接続される。画素部２５０に供給された第２電源ＥＬＶＳＳは画素部２５０に形成された画素に供給される。
【０１２０】
ここで，より容易に電源線を配置し，電源線が配置される空間を効率的に活用するために，第１１配線２７１および第１４配線２７４と，第１５配線２７５および第１７配線２７７とは互いに異なる行に交番に位置する。たとえば，第１１配線２７１および第１４配線２７４は奇数行に配置され，第１５配線２７５および第１７配線２７７は偶数行に配置されてもよい。また，第１１配線２７１および第１４配線２７４が偶数行に配置され，第１５配線２７５および第１７配線２７７が奇数行に配置されるとしてもよい。
【０１２１】
上記第４実施形態において，走査駆動部２２０は，第１配線群２６０のなかで第５配線２６５および第６配線２６６から第４電源ＶＳＳおよび走査制御信号を受ける。そして，走査駆動部２２０は，第２配線群２７０のなかで第１４配線２７４から第３電源ＶＤＤを受ける。
【０１２２】
検査部２３０は，第２配線群２７０のなかで第１３配線２７３から検査制御信号および検査信号を受ける。
【０１２３】
データ分配部２４０は，第１配線群２６０のなかで第２配線２６２から選択信号を受ける。
【０１２４】
画素部２５０は，第１配線群２６０のなかで第７配線２６７から第２電源ＥＬＶＳＳを受け，第２配線群２７０のなかで第１１配線２７１から第１電源ＥＬＶＤＤを受ける。
【０１２５】
ここで，走査駆動部２２０，検査部２３０，データ分配部２４０，および画素部２５０のそれぞれと第１配線群２６０および／または第２配線群２７０との電気的接続点は，スクライビング以後に互いに電気的に隔離されるように，有機電界発光表示装置２１０のスクライビングラインの外側に位置する。
【０１２６】
上述したように，第４実施形態においては，第１配線群２６０に属する電源線のそれぞれが第２配線群２７０に属する電源線のなかでいずれか１本と電気的に接続される。すなわち，電源線は第１方向と第２方向にともにメッシュタイプに形成される。これにより，所望パターンの映像を表示することができる。
【０１２７】
一方，上記第４実施形態においては，第２配線群２７０のなかで信号線である第１３配線２７３が第１配線群２６０に含まれた配線と接続されない。これにより，配線を追加しなくても母基板２００上で特定の有機電界発光表示装置２１０に対する検査を行うことができる。
【０１２８】
特定の有機電界発光表示装置２１０に対する検査過程を詳しく説明すると，まず母基板２００に電源を供給する。そして，特定行に位置する第１３配線２７３に検査制御信号および検査信号を供給すると同時に，特定列に位置する信号線（すなわち，第２配線２６２および第６配線２６６）にだけ信号を供給する。すると，特定行および特定列が交差する部分に位置する有機電界発光表示装置２１０でのみ所定の検査が進行されることになる。
【０１２９】
図７は図２〜図６に示す検査部の一例を示す回路図である。図７を参照すると，検査部２３０は複数のトランジスタＭ１〜Ｍｍを備えている。図７では，複数のトランジスタＭ１〜ＭｍがＰＭＯＳの場合を示したが，本発明にこれに限定されるものではない。
【０１３０】
複数のトランジスタＭ１〜Ｍｍのゲート電極は，第３配線２６３（または，第１３配線２７３）に属する検査制御信号線２６３ａと接続される。そして，複数のトランジスタＭ１〜Ｍｍの第１電極は第３配線２６３（または，第１３配線２７３）に属する検査信号線２６３ｂと接続され，第２電極は出力線Ｏ１〜Ｏｍと接続される。
【０１３１】
検査の実効過程を詳しく説明すると，まず第４配線２６４または第１４配線２７４から第３電源ＶＤＤが，第５配線２６５または第１５配線２７５から第４電源ＶＳＳが，そして第６配線２６６または第１６配線２７６から走査制御信号が走査駆動部２２０に供給される。すると，走査駆動部２２０は走査信号を生成して画素部２５０に供給する。
【０１３２】
そして，検査制御信号線２６３ａから検査制御信号ＴＥＳＴ＿ＧＡＴＥ（ローレベル）がトランジスタＭ１〜Ｍｍに供給されることで，トランジスタＭ１〜Ｍｍがターン−オンされる。
【０１３３】
トランジスタＭ１〜Ｍｍがターン−オンされると検査信号線２６３ｂに供給される検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡが出力線Ｏ１〜Ｏｍに供給される。
【０１３４】
その後，出力線Ｏ１〜Ｏｍに供給された検査信号ＴＥＳＴ＿ＧＡＴＥが，三つの選択信号に応じて，データ分配部２４０を通じてデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍに供給される。
【０１３５】
すると，それぞれの有機電界発光表示装置２１０に含まれて走査信号および検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡを受けた画素が，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡに対応して，所定形態に発光することになる。たとえば，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとして点灯検査信号を印加した場合，画素は点灯検査信号に応じて発光することになる。ここで，画素のなかで一部画素が所望形態に発光しないこともある。これにより，不良画素の有無を判別することができる。また，画素に同一の点灯検査信号が供給されるため，画素のホワイトバランスを測定することができ，進行性不良も感知することができる。
【０１３６】
一方，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとしてエージング検査信号を印加することができる。エージング検査信号はデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍに高いバイアス電圧またはバイアス電流を供給するための信号であって，有機発光ダイオードが有する進行性不良を検出するためのものである。また，基板２００を低温状態または高温状態に設定した後，点灯検査信号を供給することにより，温度に対応する有機発光ダイオードの正常動作可否を判別することもできる。
【０１３７】
そして，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとして漏洩電流検査信号を印加することもできる。漏洩電流検査は，画素に第１電源ＥＬＶＤＤおよび第２電源ＥＬＶＳＳが印加された状態で，第１配線２６１（または第１１配線２７１）および第７配線２６７（または第１７配線２７７）に流れる電流を測定することで行われる。すなわち，第１電源ＥＬＶＤＤおよび第２電源ＥＬＶＳＳが印加された状態で，検査部２３０は全体的にオフさせた後，第１配線２６１（または第１１配線２７１）および第７配線２６７（または第１７配線２７７）に流れる電流を測定することで漏洩電流を測定することができる。
【０１３８】
図８は図２〜図６に示す検査部およびデータ分配部の一例を示す回路図である。図８を参照すると，データ分配部２４０は，検査部２３０のそれぞれの出力線Ｏ１〜Ｏｍに接続されるトランジスタ群Ｇ１〜Ｇｍを備えている。
【０１３９】
それぞれのトランジスタ群Ｇ１〜Ｇｍは三つのトランジスタを備え，上記トランジスタのそれぞれは赤色，緑色および青色画素のなかでいずれか一つと接続される。すなわち，三つのトランジスタと接続される３本のデータ線のそれぞれは赤色，緑色および青色画素のいずれかと接続される。
【０１４０】
それぞれのトランジスタ群Ｇ１〜Ｇｍは，第２配線２６２に含まれる赤色選択信号線２６２ａと接続される第１トランジスタＭ１１，Ｍ２１，・・・，Ｍｍ１，第２配線２６２に含まれる緑色選択信号線２６２ｂと接続される第２トランジスタＭ１２，Ｍ２２，・・・，Ｍｍ２，および第２配線２６２に含まれる青色選択信号線２６２ｃと接続される第３トランジスタＭ１３，Ｍ２３，・・・，Ｍｍ３を備えている。
【０１４１】
第１トランジスタＭ１１，Ｍ２１，・・・，Ｍｍ１のそれぞれは，赤色選択信号線２６２ａから赤色選択信号ＳＬＲが供給される時にターン−オンされて，検査部の出力線Ｏ１〜Ｏｍから供給される検査信号をデータ線Ｄ３，Ｄ６，・・・，Ｄ３ｍと接続された赤色画素に供給する。
【０１４２】
第２トランジスタＭ１２，Ｍ２２，・・・，Ｍｍ２のそれぞれは，緑色選択信号線２６２ｂから緑色選択信号ＳＬＧが供給される時にターン−オンされて，検査部の出力線Ｏ１〜Ｏｍから供給される検査信号をデータ線Ｄ２，Ｄ５，・・・，Ｄ３ｍ−１と接続された緑色画素に供給する。
【０１４３】
第３トランジスタＭ１３，Ｍ２３，・・・，Ｍｍ３のそれぞれは，青色選択信号線２６２ｃから青色選択信号ＳＬＢが供給される時にターン−オンされて，検査部の出力線Ｏ１〜Ｏｍから供給される検査信号をデータ線Ｄ１，Ｄ４，・・・，Ｄ３ｍ−２と接続された青色画素に供給する。
【０１４４】
ここで，赤色選択信号ＳＬＲ，緑色選択信号ＳＬＧおよび青色選択信号ＳＬＢは互いに異なる時間に供給される。このように赤色選択信号ＳＬＲ，緑色選択信号ＳＬＧおよび青色選択信号ＳＬＢが互いに異なる時間に供給されると，出力線Ｏのそれぞれに供給される検査信号を３本のデータ線Ｄに分割して供給することができる。
【０１４５】
図９は点灯検査を説明するための画素の一例を示す回路図である。便宜上，図９においては，第ｎ走査線，第ｎ発光制御線および第ｍデータ線に接続された画素を示す。図９を参照すると，画素は，有機発光ダイオードＯＬＥＤと，第ｎ−１走査線Ｓｎ−１，第ｎ走査線Ｓｎ，第ｎ発光制御線Ｅｍｎ，第ｍデータ線Ｄｍ，第１電源ＥＬＶＤＤ，初期化電源Ｖｉｎｉｔ，および有機発光ダイオードＯＬＥＤに接続された画素回路９１０とを備えている。
【０１４６】
有機発光ダイオードＯＬＥＤの第１電極は画素回路９１０に接続され，第２電極は第２電源ＥＬＶＳＳに接続される。上記有機発光ダイオードＯＬＥＤは，画素回路９１０から供給される電流に対応して所定の光を生成する。
【０１４７】
画素回路９１０は，第１〜第６トランジスタＴ１〜Ｔ６および第１キャパシタＣ１を備えている。
【０１４８】
第１トランジスタＴ１のゲート電極は第１ノードＮ１に接続される。そして，第１トランジスタＴ１の第１電極は第２ノードＮ２に接続され，第２電極は第３ノードＮ３に接続される。上記第１トランジスタＴ１は，自分のゲート電極に供給される電圧に対応して，第２ノードＮ２から第３ノードＮ３に流れる電流を制御する。
【０１４９】
第２トランジスタＴ２のゲート電極は第ｎ走査線Ｓｎに接続される。そして，第２トランジスタＴ２の第１電極は第ｍデータ線Ｄｍに接続され，第２電極は第２ノードＮ２に接続される。上記第２トランジスタＴ２は第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される時にターン−オンされて，第ｍデータ線Ｄｍに供給されるデータ信号を第２ノードＮ２に供給する。
【０１５０】
第３トランジスタＴ３のゲート電極は第ｎ走査線Ｓｎに接続される。そして，第３トランジスタＴ３の第１電極は第３ノードＮ３に接続され，第２電極は第１ノードＮ１に接続される。上記第３トランジスタＴ３は第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される時にターン−オンされて，第１トランジスタＴ１をダイオード形態に接続させる。
【０１５１】
第４トランジスタＴ４のゲート電極は第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に接続される。そして，第４トランジスタＴ４の第１電極は初期化電源Ｖｉｎｉｔに接続され，第２電極は第１ノードＮ１に接続される。上記第４トランジスタＴ４は第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号が供給される時にターン−オンされて，初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧を第１ノードＮ１に供給する。
【０１５２】
第５トランジスタＴ５のゲート電極は第ｎ発光制御線Ｅｍｎに接続される。そして，第５トランジスタＴ５の第１電極は第４ノードＮ４に接続され，第２電極は第２ノードＮ２に接続される。上記第５トランジスタＴ５は第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号が供給されない時（すなわち，第ｎ発光制御線Ｅｍｎにローレベルの信号が入力される時）にターン−オンされて，第１電源ＥＬＶＤＤの電圧を第２ノードＮ２に供給する。
【０１５３】
第６トランジスタＴ６のゲート電極は第ｎ発光制御線Ｅｍｎに接続される。そして，第６トランジスタＴ６の第１電極は第３ノードＮ３に接続され，第２電極は有機発光ダイオードのアノード電極に接続される。上記第６トランジスタＴ６は第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号が供給されない時にターン−オンされて，第３ノードＮ３と有機発光ダイオードＯＬＥＤを電気的に接続させる。
【０１５４】
第１キャパシタＣ１の一端子は第４ノードＮ４に接続され，ほかの端子は第１ノードＮ１に接続される。上記第１キャパシタＣ１は，第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される時，データ信号と第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧Ｖｔｈに対応する電圧を充電し，充電された電圧を１フレームの間維持する。
【０１５５】
図１０ａは，図９に示す画素が正常に動作する時，画素回路を制御するための制御信号を示す波形図である。そして，図１０ｂは，点灯検査の時，図９に示す画素回路を制御するための制御信号を示す波形図である。以下では，図９および図１０ａ〜図１０ｂを全て参照して，図９に示す画素の動作過程を詳しく説明する。
【０１５６】
図１０ａを参照すると，まずＴ１期間に第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給され，第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩが供給される。第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩが供給されると，第５および第６トランジスタＴ５，Ｔ６がターン−オフされる。そして，第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給されると，第４トランジスタＴ４がターン−オンされる。第４トランジスタＴ４がターン−オンされると，第１ノードＮ１の電圧が初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧に変更される。ここで，初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧値はデータ信号の電圧値より低く設定される。
【０１５７】
以後，Ｔ２期間に第ｎ走査線Ｓｎに走査信号ＳＳが供給される。第ｎ走査線Ｓｎに走査信号ＳＳが供給されると，第２および第３トランジスタＴ２，Ｔ３がターン−オンされる。
【０１５８】
第３トランジスタＴ３がターン−オンされると，第１トランジスタＴ１がダイオード形態に接続される。
【０１５９】
第２トランジスタＴ２がターン−オンされると，第ｍデータ線Ｄｍに供給されるデータ信号が第２ノードＮ２に供給される。ここで，第１ノードＮ１の電圧値が初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧値に変更されたので（すなわち，第１ノードＮ１の電圧が第２ノードＮ２の電圧より低く設定されるので）第１トランジスタＴ１がターン−オンされる。第１トランジスタＴ１がターン−オンされると，第２ノードＮ２に供給されたデータ信号が第１トランジスタＴ１および第３トランジスタＴ３を通じて第１ノードＮ１に供給される。この際，第１キャパシタＣ１は第１ノードＮ１と第４ノードＮ４（すなわち，第１電源ＥＬＶＤＤ）の差値に対応する電圧を充電する。
【０１６０】
一方，データ信号は第１トランジスタＴ１および第３トランジスタＴ３を通じて第１ノードＮ１に供給されるため，第１ノードＮ１の電圧値はデータ信号から第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧を差し引いた値に設定される。したがって，第１キャパシタＣ１には，データ信号および第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧に対応する電圧が充電される。
【０１６１】
以後，第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩが供給されなければ，第５および第６トランジスタＴ５，Ｔ６がターン−オンされる。第５トランジスタＴ５がターン−オンされると，第１電源ＥＬＶＤＤの電圧が第５トランジスタＴ５を通じて第２ノードＮ２に供給される。そして，第６トランジスタＴ６がターン−オンされると，第１キャパシタＣ１に充電された電圧に対応して，第１トランジスタＴ１から供給される電流が有機発光ダイオードＯＬＥＤに供給される。これにより，有機発光ダイオードＯＬＥＤでは，第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧にかかわらず，データ信号に対応する光が生成される。
【０１６２】
図１０ｂを参照すると，まずＴ１期間に第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給され，第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩが供給される。第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩが供給されれば，第５および第６トランジスタＴ５，Ｔ６がターン−オフされる。そして，第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給されると，第４トランジスタＴ４がターン−オンされる。第４トランジスタＴ４がターン−オンされると，第１ノードＮ１の電圧が初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧に変更される。ここで，初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧値はデータ信号の電圧値より低く設定される。
【０１６３】
以後，Ｔ２期間に第ｎ走査線Ｓｎに走査信号ＳＳが供給される。第ｎ走査線Ｓｎに走査信号ＳＳが供給されると，第２および第３トランジスタＴ２，Ｔ３がターン−オンされる。
【０１６４】
第３トランジスタＴ３がターン−オンされると，第１トランジスタＴ１がダイオード形態に接続される。
【０１６５】
第２トランジスタＴ２がターン−オンされると，第ｍデータ線Ｄｍに供給されるデータ信号が第２ノードＮ２に供給される。ここで，第１ノードＮ１の電圧値が初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧値に変更されたので（すなわち，第１ノードＮ１の電圧が第２ノードＮ２の電圧より低く設定されるので）第１トランジスタＴ１がターン−オンされる。第１トランジスタＴ１がターン−オンされると，第２ノードＮ２に供給されたデータ信号が第１トランジスタＴ１および第３トランジスタＴ３を通じて第１ノードＮ１に供給される。この際，第１キャパシタＣ１は第１ノードＮ１と第４ノードＮ４（すなわち，第１電源ＥＬＶＤＤ）との差値に対応する電圧を充電する。
【０１６６】
一方，データ信号は第１トランジスタＴ１および第３トランジスタＴ３を通じて第１ノードＮ１に供給されるため，第１ノードＮ１の電圧値はデータ信号から第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧を差し引いた値に設定される。したがって，第１キャパシタＣ１にはデータ信号および第１トランジスタＴ１のスレショルド電圧に対応する電圧が充電される。
【０１６７】
そして，点灯検査のために，第ｎ発光制御線Ｅｍｎに発光制御信号ＥＭＩを続いて供給する。すると，Ｔ２期間に第１キャパシタＣ１にはデータ信号に対応する電圧が保存されるが，第６トランジスタＴ６がターン−オフされるため，有機発光ダイオードＯＬＥＤは発光しない。この場合，それぞれの有機電界発光表示装置２１０の画素部２５０に含まれた全ての画素がオフ状態を維持しなければならない。したがって，画素部２５０に含まれた画素のオン／オフを検査することにより，有機電界発光表示装置２１０の点灯検査を行うことができる。
【０１６８】
図１１は有機電界発光表示装置の母基板上でシート単位の検査を行う実施形態を示す図である。便宜上，図１１に示す母基板の有機電界発光表示装置が図６に示す第４実施形態による有機電界発光表示装置である場合について説明する。
【０１６９】
図１１を参照すると，まず母基板２００上に形成された特定の有機電界発光表示装置３００と接続された第１配線２６１および／または第１１配線２７１および第７配線２６７に第１電源ＥＬＶＤＤおよび第２電源ＥＬＶＳＳが供給される。そして，特定の有機電界発光表示装置３００と接続された第２配線２６２，第４配線２６４および／または第１４配線２７４，第５配線２６５，第６配線２６６，および第１３配線２７３に電源および信号が供給される。すると，特定の有機電界発光表示装置３００でばかり検査が行われ，特定の有機電界発光表示装置３００を除いた残りの有機電界発光表示装置２１０では検査が行われない。
【０１７０】
上記検査過程を詳しく説明すれば，まず，特定の有機電界発光表示装置３００と接続された第１配線２６１および／または第１１配線２７１および第７配線２６７に第１電源および第２電源が供給される。そして，特定の有機電界発光表示装置３００と接続された第４配線２６４および／または第１４配線２７４，第５配線２６５，および第６配線２６６から第３電源ＶＤＤ，第４電源ＶＳＳおよび走査制御信号が供給される。すると，特定の有機電界発光表示装置３００に設けられた走査駆動部２２０は走査信号および／または発光制御信号を生成する。そして，特定の有機電界発光表示装置３００に設けられた検査部２３０は第１３配線２７３から検査制御信号ＴＥＳＴ＿ＧＡＴＥおよび検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡを受ける。
【０１７１】
すると，検査部２３０は，検査制御信号ＴＥＳＴ＿ＧＡＴＥに対応して，データ分配部２４０に検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡを供給する。データ分配部２４０は，第２配線２６２から供給される赤色選択信号ＳＬＲ，緑色選択信号ＳＬＧ，および青色選択信号ＳＬＢに対応して，検査部２３０から受けた検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡをデータ線Ｄ１〜Ｄｍを通じて画素部２５０に供給する。ここで，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとしてエージング検査信号，漏洩電流検査信号，点灯検査信号などを供給すれば，特定の有機電界発光表示装置３００でエージング検査，漏洩電流検査，および点灯検査を順次行うことができる。そのほかにも，選択された有機電界発光表示装置３００に対する多様な検査を行うことができ，また検査順序を変更することもできる。
【０１７２】
また，本発明においては，母基板２００上に形成された有機電界発光表示装置２１０のうち少なくとも二つの有機電界発光表示装置２１０で検査を行うことができる。この場合，少なくとも二つの有機電界発光表示装置２１０と接続された第１配線および／または第１１配線２７１，第２配線２６２，第４配線２６４および／または第１４配線２７４，第５配線２６５，第６配線２６６，第７配線２６７，および第１３配線２７３に電源および信号が供給される。
【０１７３】
図１２は有機電界発光表示装置の母基板上でシート単位の検査を行うほかの実施形態を示す図である。便宜上，図１２に示す母基板の有機電界発光表示装置も図６に示す第４実施形態による有機電界発光表示装置である場合について説明する。
【０１７４】
図１２を参照すると，母基板２００上の第１行１列に配置された有機電界発光表示装置，第２行２列に配置された有機電界発光表示装置，および第３行３列に配置された有機電界発光表示装置と接続された複数の第１配線および／または第１１配線２７１，第２配線２６２，第４配線２６４および／または第１４配線２７４，第５配線２６５，第６配線２６６，第７配線２６７，および第１３配線２７３に電源および信号が供給される。
【０１７５】
そして，第１行１列に配置された有機電界発光表示装置には，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとして点灯検査のための信号が供給される。すると，第１行１列に配置された有機電界発光表示装置では点灯検査が行われる。
【０１７６】
第２行２列に配置された有機電界発光表示装置には，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとして漏洩電流検査のための信号が供給される。すると，第２行２列に配置された有機電界発光表示装置では漏洩電流検査が行われる。
【０１７７】
第３行３列に配置された有機電界発光表示装置には，検査信号ＴＥＳＴ＿ＤＡＴＡとしてエージング検査のための信号が供給される。すると，第３行３列に配置された有機電界発光表示装置ではエージング検査が行われる。
【０１７８】
上記点灯検査，漏洩電流検査，およびエージング検査は同時に行われることもでき，順次行われることもできる。そして，選択された有機電界発光表示装置に対する検査が完了すれば，図１２に示す検査が１列ずつまたは１行ずつ移動して行われる。上記検査は，母基板２００上に形成された全ての有機電界発光表示装置に対する検査が完了するまで進行される。
【０１７９】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【０１８０】
本発明は，母基板に形成された多数の有機電界発光表示装置に対するシート単位検査が可能な有機電界発光表示装置およびその検査方法に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１８１】
【図１】スクライビングが完了した従来の有機電界発光表示装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態による有機電界発光表示装置が形成された母基板を示す図である。
【図３】図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第１実施形態を示す図である。
【図４】図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第２実施形態を示す図である。
【図５】図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第３実施形態を示す図である。
【図６】図２に示す有機電界発光表示装置および配線群の第４実施形態を示す図である。
【図７】図２〜図６に示す検査部の一例を示す回路図である。
【図８】図２〜図６に示す検査部およびデータ分配部の一例を示す回路図である。
【図９】点灯検査を説明するための画素の一例を示す回路図である。
【図１０ａ】図９に示す画素が正常に動作する時，画素回路を制御するための制御信号を示す波形図である。
【図１０ｂ】点灯検査の時，図９に示す画素回路を制御するための制御信号を示す波形図である。
【図１１】有機電界発光表示装置の母基板上でシート単位の検査を行う実施形態を示す図である。
【図１２】有機電界発光表示装置の母基板上でシート単位の検査を行うほかの実施形態を示す図である。
【符号の説明】
【０１８２】
２００    母基板
２１０    有機電界発光表示装置
２２０    走査駆動部
２３０    検査部
２４０    データ分配部
２５０    画素部
２６０    第１配線群
２７０    第２配線群
２８０    スクライビングライン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０ａ】
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【図１０ｂ】
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【図１１】
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【図１２】
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