(57)【要約】【課題】電子写真感光体の劣化加速試験方法において、劣化加速条件の大きさに関係なく通過電荷量と感光体に与えたトータルの露光量によって、劣化後の特性値が同じとなる劣化加速試験方法を提供する。【解決手段】感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の感光体の全通過電荷量に対し、全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して電子写真用感光体の劣化を予測する感光体劣化加速試験方法であって、帯電器１１により感光体を帯電する帯電工程と露光装置１０による露光工程とを同時に行い、かつ、感光体劣化加速試験の温度条件あるいは条件湿度条件の少なくとも１つの条件を変化させて行う感光体劣化加速試験方法。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する感光体劣化加速試験方法であって、
前記感光体を帯電する前記帯電工程と前記露光工程とを同時に行い、かつ、感光体劣化加速試験の温度条件又は条件湿度条件の少なくとも１つの条件を変化させて劣化加速試験を行うことを特徴とする感光体劣化加速試験方法。
【請求項２】
前記感光体劣化加速試験の条件を試験開始時よりも高い温度に変化させることを特徴とする請求項１記載の感光体劣化加速試験方法。
【請求項３】
前記感光体劣化加速試験の試験開始時よりも高い相対湿度の条件に変化させることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の感光体劣化加速試験方法。
【請求項４】
前記感光体劣化加速試験の開始時よりも高い絶対湿度の条件に変化させることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の感光体劣化加速試験方法。
【請求項５】
感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する感光体劣化加速試験方法において、
前記感光体劣化加速試験の温度条件又は湿度条件の少なくとも１つを前記感光体劣化加速試験の試験開始時と変えて前記感光体の残留電位を前記感光体劣化試験の加速なしの残留電位と略同一にすることを特徴とする感光体劣化加速試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は感光体劣化加速試験方法に関し、特に、一般の誘電体薄膜の非接触、非破壊の劣化試験等に応用可能である温湿度変化を劣化加速試験に加えた方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば特許文献１に記載された感光体の評価方法が知られている。同文献記載の請求項には、既知数の像形成サイクルのサイクル操作寿命を有する少なくとも１つの電子写真像形成部材を用意し、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに繰り返しかけてサイクル中の上記電子写真像形成部材中の光導電性層の暗減衰量が最高値に達するまで測定し、上記最高値により暗減衰最高値対像形成サイクルの参照データを確立し、新鮮な電子写真像形成部材を静電気帯電工程と光放電工程とを含む上記サイクルに、さらにサイクル操作にかけても実質的に一定のままである最高値に暗減衰量が達するまで繰り返しかけ、上記新鮮な電子写真像形成部材の暗減衰最高値を上記参照データと比較して上記新鮮な電子写真像形成部材の推定サイクル寿命を確認する各工程を含む電子写真像形成部材の推定像形成サイクル寿命の確認方法が開示されている。
【０００３】
しかしながら、上記の方法では、透明ガラスを圧着させてバイアス印加を行うとともに光を照射させており、コロナ帯電、ローラ帯電という実際の電子写真プロセスとは異なる方法での劣化加速試験法といえる。また、寿命に到ったサンプルの暗減衰特性があらかじめわかっていないといけないため、一度感光体を実機に搭載して通紙試験を行う必要があり、多大な手間がかかってしまうという問題があった。
【０００４】
また、通紙試験を行わないで寿命を確認する方法が知られている。この方法は、電子写真用感光体（以下、感光体と略す）を高速（1,000〜2,000r.p.m）で回転させた状態で感光体の周囲に配置された帯電器、露光装置で帯電、露光を繰り返してその寿命を予測する方法である。この方法はさらに２つの試験方法に分かれる。
【０００５】
１つ目は、帯電器の出力と露光装置の光量をあらかじめ決めて固定し、決められた時間だけ試験を行い、その後感光体の特性を測定し、劣化状態を判定する方法である。２つ目は、試験中の感光体の露光後、電位Ｖと感光体を通して流れる通過電流Ｉを計測し、この２つが常に決められたレベルにあるように帯電器の出力と露光装置の光量を調整しながら行う方法である。
【０００６】
この２つの方法で重要な点は、試験中に感光体に流れた通過電流を計測し、これを単位面積当りの電荷量Ｑに変換し、一方、Ａ４サイズ１枚を実機でプリントアウトするとき、感光体を流れる通過電流が感光体の単位面積当りの静電容量をＣ、帯電電位Ｖ、感光体のサイズはＡ４紙１枚が感光体上をダブリなく印字されるサイズとするとＣ・Ｖで求まることから、比Ｑ／（Ｃ・Ｖ）は、寿命試験時間を実機のプリント枚数に対応させることができる点である。もう１つ重要な点は、この試験が加速寿命試験になっていることである。
【０００７】
具体的に示すと、感光体に5μA/10cm2の試料通過電流を流し20Hr試験すると（１日10時間の試験とすると２日間）、（5／10）×10-6×20×60×60＝0.036（C/cm2）の電荷が感光体を通過したことになる（感光体を通過した電荷量を、以下通過電荷量と呼ぶ）。そして、Ａ４用紙を縦送りで印字する場合を想定すると、感光体の静電容量Ｑを100（pF/cm2）とし、帯電電位を-700（V）とし、除電後も含めた露光後電位を0(V)とすると、100×10-12×700＝7×10-8（C/cm2）がＡ４版の用紙１枚をプリントアウトするときの通過電荷量であるので、比Ｑ／（Ｃ・Ｖ）を求めると、0.036/(7×10-8)≒514,000枚のＡ４版用紙をプリントアウトしたことになり、大幅な加速試験を実施したのと同等になる。
【０００８】
このため、上記した２つ目の方法を用いて寿命試験が行われることが多いが、前述した具体的な計算でわかるように、試験中に感光体を通過する電流が一定であれば、プリントアウト何枚相当の試験を行ったのか、計算がしやすいことになる。そのため、試験は通過電流を一定にするようにして実施することが一般的に行われているが、その本質は通過電荷量を知る（検知あるいは算出する）ことにある。また、感光体によっては帯電電位がどのレベルにあるかによって寿命試験の結果が異なることがあり、帯電電位も一定にして試験を行うことが要求される。このように、帯電電位及び通過電流を一定にするために、帯電器の高圧電源出力調整及び露光装置の光量調整を行う装置あるいはシステムが必要であり、特許文献２において寿命試験装置が提案されている。
【０００９】
特許文献２で提案された劣化加速試験は、図８に示すような、感光体試料片の特性評価装置によって劣化を加速する方法である。この特性評価装置での劣化加速試験方法では、ターンテーブル１には感光体試料片を装着する開口部３が設けられており、開口部３の面積として、例えば19.36cm2（開口部：44×44mm）程度である。さらに、ターンテーブル１に付属して導電性金属板からなる試料片押さえ板２が設けられている。
【００１０】
この装置では、約1,100r.p.mの回転速度で感光体の周囲に配置された帯電器４と露光装置５により帯電・露光を繰り返し、また、高速回転させながら試料片をコロナ帯電器４に何度も通過させることが可能な構成となっている。さらに、コロナ帯電器４から試料片に与えられ試料片を充電するパルス電流は、所定の検出間隔で電流計６に送られ、その中の平滑化回路で平滑化された後、Ａ／Ｄ変換器８で変換されコントローラ９に送られ演算処理される。
【００１１】
また、試料片の表面電位は、コロナ帯電器４と別の位置に配置された表面電位計７のモニタ部である表面電位計電極５でモニタされ、モニタされた信号は所定の検出間隔で表面電位計７に送られ、その中の増幅器で増幅等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８で変換され、コントローラ９に送られ演算処理される。
【００１２】
しかしながら、このような従来のシステムでは、２つの測定量、表面電位Ｘと通過電流Ｙ、及び、２つの操作量、帯電器高圧電源の出力制御値Ａと除電露光ランプ光量の出力制御値Ｂとの関係は以下のようになっている。
【００１３】
すなわち、Ａを増加するとＸ、Ｙの両方が増加し、Ａを減少させるとＸ、Ｙの両方ともに減少し、また、Ｂを増加させるとＸは減少するのに対しＹは増加し、Ｂを減少させるとＸは増加するのに対しＹは減少するという関係があり、仮にＸが目標値から外れ、これを目標範囲に入れようとＡあるいはＢを操作すると、もう一方の測定量Ｙが変化してしまい、Ｙにとっては外乱が作用することになる。
【００１４】
これを目標範囲に維持しようとＡあるいはＢを操作すると今度はＸが変化するという状態になってしまい、複雑な制御を繰り返しても目的範囲に変化させることが困難であった。また、劣化加速試験中に感光体表面電位、通過電流の瞬間的なバラツキがあった場合でも、それらが瞬間的な誤差として通過電荷量算出に反映されないような測定システムとなっており、正確な劣化加速試験を行う上でさらなる改善の必要性があった。
【００１５】
これらの問題点を解決するために、感光体の電位を一定条件に保つように制御し、試験中計測された通過電流から通過電荷量を算出できるシステムあるいは装置を、単純に操作でき、しかも精度の良い結果が得られるようにさらなる発明が期待されている。しかし、最近の感光体は従来品とは群を抜いて高寿命化されてきており、このような劣化加速試験装置においても、寿命を知るまで試験を行うには、多大な時間を必要する。
【００１６】
そこで、さらに劣化速度を加速した、短時間で寿命を判断可能な劣化加速試験方法が要望されている。そのため、特許文献３では、高電圧が印加される複数のワイヤを有し、このワイヤが１方向のみに張架され、かつ、ワイヤを囲むケーシングの形状は感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置によって、単位面積当りの感光体面への電流量を増加させ、単位面積当りの通過電荷量を増大させて試験する方法が採用されている。
【００１７】
しかし、前記したような感光体の劣化加速試験では、劣化加速の大きさに関係なくトータルの通過電荷量と感光体に与えた露光量によって、劣化後の特性値が異なる場合があり、この劣化後の特性値が同じとなるような劣化加速試験方法が要望されていた。
【特許文献１】特開平５−１９７３号公報
【特許文献２】特開２００２−１４９００５号公報
【特許文献３】特開２００５−９９１１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
本発明は、上述した実情を考慮してなされたもので、劣化加速の大きさに関係なくトータルの通過電荷量と感光体に与えた露光量によって、劣化後の特性値が同じとなる劣化加速試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本願発明者は、上記課題に鑑み鋭意検討した結果、劣化加速試験での温湿度の環境を変化させれば、劣化後の特性値が変化することがわかった。そこで、劣化加速試験中の温度あるいは湿度（相対湿度あるいは絶対湿度）を変化させ、加速条件に関係なく通過電荷量によって劣化後の特性値が同じとなる劣化加速試験方法を完成するに至った。
【００２０】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する感光体劣化加速試験方法であって、前記感光体を帯電する前記帯電工程と前記露光工程とを同時に行い、かつ、感光体劣化加速試験の温度条件又は条件湿度条件の少なくとも１つの条件を変化させて劣化加速試験を行うことを特徴とする。
【００２１】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の感光体劣化加速試験方法において、前記感光体劣化加速試験の条件を試験開始時よりも高い温度に変化させることを特徴とする。
【００２２】
また、請求項３記載の発明は、請求項１又は請求項２記載の感光体劣化加速試験方法において、前記感光体劣化加速試験の試験開始時よりも高い相対湿度の条件に変化させることを特徴とする。
【００２３】
また、請求項４記載の発明は、請求項１又は請求項２記載の感光体劣化加速試験方法において、前記感光体劣化加速試験の開始時よりも高い絶対湿度の条件に変化させることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項５記載の発明は、感光体を帯電する帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させ、画像形成装置の前記感光体の全通過電荷量に対し、前記全通過電荷量値の通過電流値を変えて流して前記電子写真用感光体の劣化を予測する感光体劣化加速試験方法において、前記感光体劣化加速試験の温度条件又は湿度条件の少なくとも１つを前記感光体劣化加速試験の試験開始時と変えて前記感光体の残留電位を前記感光体劣化試験の加速なしの残留電位と略同一にすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、劣化加速条件に関係なくトータルの通過電荷量と感光体に与えたトータルの露光量によって、劣化後の特性値が同じとなる劣化加速試験方法が実現される。このため、適切な予測を劣化加速試験により、より客観性を有する予測ができ、試験のための時間の短縮化、トータルコストの低下等が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態における感光体劣化加速試験方法をより詳細に説明する。
【００２７】
図１は、本発明の実施形態の感光体劣化加速試験装置の概略図である。図１を参照しながら劣化加速試験を説明する。
【００２８】
まず、試験試料１４である感光体試料片の感光体表面が上になるように試験試料台１５に載せる。試験試料台１５の表面には、アースに接続された導電性の部材が取り付けられており、また上面と側面にはそれぞれ図２及び図３に示すように、エアー吸引口２１が設けてあり（試料台上面図を図２に、側面図を図３にそれぞれ示す）、さらに試料台１５には、エアーチューブ１７が取り付けられている。そして、吸引バルブ１８でエアーの吸引を行い、レギュレータ１９で吸引バルブのエアー圧を調整可能となっている。また、排気口には、オゾンフィルタ２０が取り付けられ、排気の際にエアー内のオゾンを除去している。
【００２９】
また、試験試料１４が試験試料台１５に密着するように試験試料押さえ１２で押さえる。この試験試料を試料台１５上に設置したときの試料台上面図を図４に示す。試験試料押さえ１２は、試験時の劣化領域を設定し、また帯電時に感光体端部へ放電が集中するのを防止する機能を持つ。
【００３０】
この試料台１５の面上で所定の光量になるように設定された露光装置１０によって感光体面１４に露光し、高圧電源１３に接続された帯電器１１でコロナ放電と露光を同時に行うことにより、帯電同時露光による劣化加速試験が可能となる。この帯電器１１は、図６及び図７に示すように、複数のワイヤ２３を有し、ワイヤ２３は同一方向のみに張架されており、帯電器１１の背面（上面）は図５に示すようにケーシングされていない帯電器であり、かつ、ワイヤ支持部材は絶縁性である。ワイヤ２３のテンション（張力）は、ワイヤ張架治具２２によって調整可能となっている。
【００３１】
また、試験試料台１５はステージ１６によって、劣化加速試験中に帯電器１１のワイヤ２３が張架されている方向に対して垂直方向に往復移動が可能であり、これにより帯電ムラの抑制が可能である。劣化加速試験中の試験試料１４に流れる電流値を変化させることにより、単位時間当りの通過電荷量を変化させることが可能となり、劣化の加速度合いについてこの通過電荷量を変化させることにより調整が可能である。劣化加速試験終了後、帯電性能、電荷保持性能、感光層中の蓄積電荷（残留電位）等の特性値を測定して評価することができる。あるいは感光体の表面観察によって、感光体の劣化度合いも直接視認により、あるいは顕微鏡等の光学的装置、電気的検知等により、種々の表面の観察をする。
【００３２】
また、感光体の評価方法として、画像形成装置の画像形成プロセスにおいて感光体に流れる通紙枚数に対応した通過電荷量分を、本実施形態の劣化加速試験装置を用いて（例えば短時間に）流すことによって、画像形成装置における通紙後の感光体の静電特性を予測することができる。例えば、１４と１６とに流れる電荷量を測定する電荷量測定器を付してある電荷量を流し、その流れた電荷量を（積算電荷量）をこの電荷量測定器により測定することができる。
【００３３】
本実施形態で使用される劣化加速試験装置の試料台１５の上面と側面のエアー吸引口から吸引するエアーは、１つの吸引バルブから吸引するのが望ましい。２つの吸引バルブで吸引した場合、装置が複雑化する。
【００３４】
劣化加速試験装置で使用する試験試料押さえ１２は、絶縁性部材が望ましい。導電性部材では、帯電時に試験試料押さえ１２に放電されやすくなって試料側への放電が少なくなり、また、感光体の電荷が試験試料押さえ１２に移動したりする等のため、試験試料１４への通過電流量を増加することが困難となる。
【００３５】
露光装置１０としては、蛍光灯、タングステンランプ、ハロゲンランプ、水銀灯、ナトリウム灯、発光ダイオード（ＬＥＤ）、半導体レーザ（ＬＤ）、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）等の発光物の中から選択される１種あるいは２種以上を組み合わせて用いることができる。そして、所望の波長域の光のみを照射するために、シャープカットフィルタ、バンドパスフィルタ、近赤外カットフィルタ、ダイクロイックフィルタ、干渉フィルタ、色温度変換フィルタ等の各種フィルタを用いることもでき、光量を所定条件にするために低下させるためのニュートラルデンシティフルタを用いることもできる。
【００３６】
被試験試料１４の表面を帯電処理するため、帯電装置用電源回路の制御手段あるいは被試験試料１４を光照射するための光源用電源回路の制御手段は、図示していないが、これらは、従来公知のものを用いることができる。
【００３７】
試験装置は、光を透過しない暗箱あるいは暗幕等で覆うように構成する。暗箱あるいは暗幕で覆われていないと、試験時に外部環境（風、雨、光、塵等）の影響を受け、正確な劣化加速試験が困難となる。
【００３８】
本実施形態の劣化試験に用いる感光体は、導電性支持体の上に電荷発生層、電荷輸送層が形成されたもの、さらに電荷輸送層の上に保護層が形成されたもの等の層構成の感光体が使用される。導電性支持体及び電荷発生層、電荷輸送層としては、公知のものならばいかなるものでも使用することができる。本発明の方法では、感光体の構成には、制限されない。
【００３９】
次に、前述の図１に示す劣化加速試験装置を用い、劣化加速試験時の試験条件（試験電流と照度）を変化させて劣化試験を行い、劣化後の特性値を確認した試験の概要を以下に示す。
【００４０】
＜設定試験１〜４＞
試験装置で使用する帯電装置１１は、対向する感光体の上面に対して平行なケーシングはなく60×60(mm)の開口枠を有し、その枠内に10mm間隔で１方向のみワイヤ２３（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：60μm）を張り、帯電装置１１の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフルオロエチレン（テフロン（登録商標）））を用いた帯電装置を使用した。露光装置１０には、ハロゲンランプを使用し、さらに、この試験装置での感光体面とワイヤ２３との距離は5mmとし、サンプル台（サイズ：75mm×75mm×50（高さ）mm）の上に感光体試料片１４を置いた。サンプル台１２には、図２及び図３に示すように、上面と側面にエアー吸引口２１があり、エアー排気口２０にはオゾンフィルタを設置した。
【００４１】
図２に示すように、エアー吸引口はφ2mmの穴が16個（４行４列に略等間隔に）あいており、また図３に示すように、側面の４面全てにφ2mmの穴が各面に4つ、12mm間隔で均等にあいている。また、試験試料押さえ１２には、絶縁性部材（材質は前記同様にテフロン（登録商標））を使用した。感光体試料片は、リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００の感光体と同じ材料の構成のものを使用し、劣化試験中はワイヤが張架している方向に対して垂直方向に10mm連続往復移動させ劣化加速試験を実施した。
【００４２】
トータルの通過電荷量と、与えたトータルの露光量が同じになるようにした試験条件下に劣化加速試験を実施した。
【００４３】
条件１（設定試験１）では、劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA/cm2（感光体の劣化面積（矩形状：縦×横：以下同様）：50mm×40mm）とし、照度を130luxに設定して劣化加速試験を30分実施した。
【００４４】
条件２（設定試験２）では、劣化加速試験中の感光体試料片の通過電流を1.44μA/cm2（感光体の劣化面積50mm×40mm）とし、照度を32.5luxに設定し、劣化加速試験を120分実施した。
【００４５】
条件３（設定試験３）では、劣化加速試験中の感光体試料片の通過電流を0.72μA/cm2（感光体の劣化面積50mm×40mm）とし、照度を16.2luxに設定し、劣化加速試験を240分実施した。
【００４６】
条件４（設定試験４）では、劣化加速試験中の感光体試料片の通過電流を0.36μA/cm2（感光体の劣化面積50mm×40mm）とし、照度を8.13luxに設定し、劣化加速試験を480分実施した。
【００４７】
条件１〜条件４で実施した劣化試験の後の残留電位（所定の電位から十分露光させた後の電位を（株）川口電気製作所製ＥＰＡ８２００で測定）測定結果を表１に示す。
【００４８】
【表１】
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【００４９】
表１に示した備考欄には、条件１と比較した加速倍率を記載した。加速倍率は、条件１と比較して、通過電荷量とトータルの露光量は同じであるが、劣化時間をどれだけ短縮したかの指標を加速倍率として記載した。
【００５０】
表１の結果から、条件１よりも４倍劣化加速した条件３までは劣化後の残留電位に違いは確認されないが、16倍劣化加速した条件４の場合には、劣化後の残留電位が条件１と比較し低くなっている。このことから、劣化加速倍率が大きい条件のときに、トータルの通過電荷量と感光体に与えたトータルの露光量が同じであっても劣化後の残留電位に違いが生じることがわかる。
【００５１】
＜環境変化試験（１）〜（４）＞
次に、前記した設定試験１〜４と同様の図１に示す感光体の劣化加速試験装置を用い、劣化加速試験を、温湿度環境を変化させて行い、劣化後の特性値を確認し、比較した。この試験の概要を以下に示す。
【００５２】
感光体試料片として、リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料の構成のものを使用し、劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA/cm2（感光体の劣化面積（縦×横）：50ｍｍ×40mm）とし、照度を130lux（１３０ルクス）に設定し、劣化試験中はワイヤが張架している方向に対して垂直方向に10mm連続往復移動させ60分間、以下の（１）〜（４）の４水準の温湿度環境下で行った。
（１）23℃  40%
（２）23℃  55%（通常の常温常湿環境）
（３）40℃  40%
（４）40℃  70%
【００５３】
この４水準の温湿度環境下での劣化後の残留電位（所定の電位から十分露光させた後の電位）を（株）川口電気製作所製ＥＰＡ８２００で測定した結果を表２に示す。
【００５４】
【表２】
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【００５５】
表２の結果から、温度を変える（環境変化試験（１）と環境変化試験（３）との比較）と残留電位が変化し、また湿度（環境変化試験（１）と環境変化試験（２）との比較、あるいは環境変化試験（３）と環境変化試験（４）との比較）によっても残留電位が変化することがわかる。
【００５６】
次に、以下実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により、何ら限定されるものではない。上述した設定試験１〜４あるいは環境変化試験（１）〜（４）と同様の感光体劣化加速試験装置及び感光体試料片を用いて、下記各実施例及び比較例における劣化加速試験を実施した。なお環境条件等は、各実施例等に示すように設定した。
【実施例１】
【００５７】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA/cm2（感光体の劣化面積（矩形）：50×40mm）、照度を130luxに設定し30分間劣化加速試験を行った。環境は、開始からの20分間は23℃、55%（RH：相対湿度）の環境で実施し、10分間を40℃、55%（RH）の環境で実施した（40℃、55%環境は、恒温槽に劣化加速試験装置を用い、測定を実施した）。
【実施例２】
【００５８】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA/cm2（感光体の劣化面積：50×40mm）、照度を130luxに設定し、30分間劣化加速試験を行った。環境は、実験開始からの5分間は23℃、55%（RH）環境で実施し、25分間を23℃、90%（RH）の環境で実施した（23℃、90%環境での実験は、恒温槽中で劣化加速試験装置を用いて実施した）。
【実施例３】
【００５９】
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA/cm2（感光体の劣化面積：50×40mm）、照度を130luxに設定し30分間劣化加速試験を行った。実験環境は、実験開始からの5分間は23℃、55%RH（絶対湿度0.011314kg/m2）環境で実施し、25分間を30℃、70%RH（絶対湿度0.021247 kg/m2）環境で実施した（30℃、70%環境での実験は、恒温槽中で劣化加速試験装置を用いて実施した）。
【００６０】
［比較例１］
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を5.8μA／cm2（感光体の劣化面積：50×40mm）、照度を130luxに設定し30分間劣化加速試験を行った。実験環境は、30分間23℃、55%RH環境で実施した。
【００６１】
［比較例２］
劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を0.36μA/cm2（感光体の劣化面積：50×40mm）、照度を8.13luxに設定し480分間劣化加速試験を行った。実験環境は、480分間23℃、55%RH環境で実施した。
【００６２】
通過電荷量10.44（mC/cm2）到達までの時間と、到達時の残留電位（（株）川口電気製作所製ＥＰＡ８２００で測定した）の結果を表３に示す。
【００６３】
【表３】
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【００６４】
表３の結果から、劣化加速試験中に実験環境を変化させたときの残留電位の状況を分析する。
【００６５】
まず、比較例１と比較例２とでは、劣化が計算上では（5.8×10-6/0.36×10-6）≒16倍劣化加速したこととなるが、トータルの通過電荷量と感光体に与えたトータルの露光量が同じであっても、劣化後の残留電位が-27（比較例１）と-36（比較例２）と、違うことがわかる。次に、実施例１と比較例１を比較し、劣化試験中に温度の高い環境に変化させて劣化試験を行ったことによる影響を確認すると、劣化中に温度の高い環境で劣化することで、劣化加速倍率を16倍（比較例２と比較し）と大きくした場合でも、劣化後の残留電位を同じにすることが可能となるのが分かる。また、実施例２と比較例１を比較し、劣化中に相対湿度の高い環境で劣化させたことによる影響を確認すると、劣化中に相対湿度の高い環境で劣化することで、（比較例２に比較して）劣化加速倍率を16倍（とした比較例１）と大きくした場合でも、劣化後の残留電位を同じにすることが可能となるのがわかる。
【００６６】
さらに、実施例３と比較例１を比較し、劣化中に絶対湿度の高い環境で劣化させたことによる影響を確認すると、劣化中に絶対湿度の高い環境で劣化することで、劣化加速倍率を16倍（比較例２と比較し）と大きくした場合でも、劣化後の残留電位を比較例２と略同じにすることが可能となるのがわかる。
【００６７】
なお、上述する実施形態は、本発明の好適な実施形態であり、上記実施形態のみに本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更を施した形態での実施が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の実施形態に係る劣化加速試験方法を実施するための劣化加速試験装置の概略構成図である。
【図２】本発明の実施形態における劣化加速試験装置の試験試料台の上面図である。
【図３】本発明の実施形態における劣化加速試験装置の試験試料台の正面図である。
【図４】本発明の実施形態における劣化加速試験装置に試験試料をセットした時の試験試料台の上面図である。
【図５】本発明の実施形態における劣化加速試験装置の帯電器の上面図である。
【図６】本発明の実施形態における劣化加速試験装置の帯電器の正面図である。
【図７】本発明の実施形態における劣化加速試験装置の帯電器の下面図である。
【図８】従来の感光体試料片の特性評価及び劣化試験装置の概略構成図である。
【符号の説明】
【００６９】
１    ターンテーブル
２    試料片押さえ板
３    開口部
４    コロナ帯電器
５    表面電位計電極部・露光装置
６    電流計測・平滑化回路、他
７    表面電位計：アンプ回路、他
８    インターフェース（Ａ／Ｄ変換）
９    コントローラ
１０    露光装置
１１    帯電器
１２    試験試料押さえ
１３    高圧電源
１４    試験試料
１５    試験試料台
１６    ステージ
１７    エアーチューブ
１８    吸引バルブ
１９    レギュレータ
２０    オゾンフィルタ
２１    エアー吸引口
２２    ワイヤ張架治具
２３    ワイヤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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