(57)【要約】【課題】発光素子から出射された光の一部であるパワーモニタ用の光の乱反射を抑えることができるようにする。【解決手段】光集積素子に設けられるパワーモニタ光検出用PD３３は、パワーモニタ光の照射範囲であるスポットの中心付近の、比較的強度の高い光を多く受光することができる受光面のサイズと位置を確保する形でPD-IC上に配置されるが、受光面のサイズを制限するアパーチャの一部がPD（追加PD８１と８２）で構成される。追加PD８１と８２においては、パワーモニタ光検出用PD３３では受光できないパワーモニタ光の部分が受光される。本発明は、発光素子から出射された光の一部を検出して発光素子の出力制御に用いるディスク駆動装置に適用することができる。【選択図】図８
2007149167.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、
前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、
前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材と
を備える光ピックアップ。
【請求項２】
前記制限部材は、フォトダイオードで構成される
請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項３】
前記制限部材は、前記受光素子が配設される素子の電源、またはグランドに接続される
請求項２に記載の光ピックアップ。
【請求項４】
発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材と有する光ピックアップと、
前記光ピックアップの前記受光素子から出力される前記モニタ信号に基づいて、前記発光素子の出力を制御する駆動回路と
を備えるディスク駆動装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ、ディスク駆動装置に関し、特に、発光素子から出射された光の一部であるパワーモニタ用の光の乱反射を抑えることができるようにした光ピックアップ、ディスク駆動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、光ピックアップ１の構成例を示す図である。
【０００３】
光ピックアップ１は、光集積素子１１、コリメータレンズ１２、および対物レンズ１３から構成される。
【０００４】
光集積素子１１のレーザダイオード（以下、LD）から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１２で発散光から平行光となり、対物レンズ１３により、微小光スポットとして光ディスク１４の記録面に集光される。
【０００５】
光ディスク１４の記録面に集光されたレーザ光は、記録信号の影響で強度変化あるいは偏光変化を受けて反射され、対物レンズ１３、コリメータレンズ１２を介して光集積素子１１へと戻り、光集積素子１１のフォトダイオード（以下、PD）において反射光の強さに応じた電気信号に変換される。変換して得られた電気信号は後段のアンプ等よりなる信号処理回路に供給される。
【０００６】
次に、図２乃至図５を参照して、図１の光集積素子１１の詳細について説明する。
【０００７】
図２は、光集積素子１１（図１において斜線を付して示すパッケージ部材とその開口部を覆う透明部材を除く内部の部分）の側面図であり、図３は、光集積素子１１の上面図である。図４は、光集積素子１１に配設されるPDの拡大図であり、図５は、PDに形成される領域と光ディスク１４のトラックの配置関係を示す図である。
【０００８】
図２に示されるように、光集積素子１１は、基本的に、LD２１、マイクロプリズム２２、およびPD-IC（フォトダイオードIC）２３の３素子で構成される。LD２１は、PD-IC２３に固定された部材２４の上に載置される。
【０００９】
光集積素子１１を構成する素子のうちのマイクロプリズム２２の斜面２２ＡにはLD２１から出射されたレーザ光を、その光軸方向に対してほぼ直角に反射するミラーが形成されている。このミラーは、反射性を有するとともに半透過性を有する膜により形成される。
【００１０】
従って、LD２１から出射されたレーザ光は、マイクロプリズム２２のミラーによって、その一部が光ディスク１４側（図２の上側）に反射されるとともに、他の一部のレーザ光と光ディスク１４の記録面で反射した戻り光（反射光）がマイクロプリズム２２内へと入射する。LD２１から出射されたレーザ光の一部であるマイクロプリズム２２内に直接入射する光は、プリズム・空気の屈折率差とプリズム面との入射角に応じた角度で屈折され、マイクロプリズム２２内に入射する。
【００１１】
図２に示されるように、マイクロプリズム２２内に入射する光のうち、LD２１から出射され、ミラーを透過してマイクロプリズム２２内に直接入射する光はLD２１から離れた位置のPD-IC２３の表面を照射し、一方、光ディスク１４の記録面で反射してマイクロプリズム２２内に入射する反射光はLD２１に近い位置のPD-IC２３の表面を照射する。
【００１２】
このため、PD-IC２３の表面に配設されるPDのうち、光ディスク１４の反射光を検出するPDはLD２１に近く、一方、LD２１からマイクロプリズム２２内に直接入射した光を検出するPDはLD２１から遠い位置に配設される。
【００１３】
図３はPDの配設位置の例を示す図である。図３に示されるPD３１乃至３３のうちのPD３１と３２は光ディスク１４の反射光を検出するPDであり、PD３３はLD２１からマイクロプリズム２２内に直接入射した光を検出するPDである。図３において、PD３１乃至３３に重ねて示す楕円はレーザ光の照射範囲（スポット）を表す。
【００１４】
以下、適宜、PD３１，３２をディスク信号検出用PD３１，３２といい、PD３３をパワーモニタ光検出用PD３３という。後述するように、パワーモニタ光検出用PD３３により光電変換されることによって得られた信号は、LD２１の出力（パワー）を制御するためのモニタ信号として用いられる。
【００１５】
PD３１乃至３３のうちのディスク信号検出用PD３１と３２は、図４に拡大して示されるように複数の領域に分割されている。図４の例においては、ディスク信号検出用PD３１の受光面は、受光領域Ａ乃至Ｄの４つの領域に横方向に分割されている。また、ディスク信号検出用PD３２の受光面も、受光領域Ｅ乃至Ｈの４つの領域に横方向に分割されている。
【００１６】
ディスク信号検出用PD３１の受光領域Ａは、受光領域Ａにかかるスポットの部分の反射光を受光し、受光量に応じた電気信号を後段のアンプなどに出力する。ディスク信号検出用PD３１の受光領域Ｂ乃至Ｄは、それぞれ、受光領域Ｂ乃至Ｄにかかるスポットの部分の反射光を受光し、受光量に応じた電気信号を後段のアンプなどに出力する。
【００１７】
同様に、ディスク信号検出用PD３２の受光領域Ｅは、受光領域Ｅにかかるスポットの部分の反射光を受光し、受光量に応じた電気信号を後段のアンプなどに出力する。ディスク信号検出用PD３２の受光領域Ｆ乃至Ｈは、それぞれ、受光領域Ｆ乃至Ｈにかかるスポットの部分の反射光を受光し、受光量に応じた電気信号を後段のアンプなどに出力する。
【００１８】
このようなディスク信号検出用PDの領域分割は、ディスク記録信号に対して焦点ずれやトラックずれを起こさないように制御するためのサーボ信号を検出するためになされているものである。それぞれの領域を形成するPDにおいて得られた電気信号に基づいて所定の信号演算が行われ、光ピックアップ１のアクチュエータ制御が行われる。
【００１９】
なお、図５に示されるように、光集積素子１１は、それに設けられるディスク信号検出用PDの領域の分割方向が光ディスク１４のトラック方向（トラックの接線方向）と平行になるように配置される。
【００２０】
以上のような光集積素子１１の構成については例えば特許文献１に開示されている。特許文献２には、パワーモニタ光検出用PDにアパーチャを配置する構成が開示されている。
【特許文献１】特開平９−２８８８３８号公報
【特許文献２】特開平１０−６９６６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
上述したようなパワーモニタ光検出用PD３３は、図６の矢印Ａ２の先に示されるように、スポットの中心付近の、比較的強度の高い光を多く受光することができる受光面のサイズと位置を確保する形でPD-IC２３に配設される。これは、モニタ光の受光ダイナミックレンジを確保し、不要な迷光の影響を受けないようにすることなどを理由とするものである。図６の矢印Ａ２の先に示されるスポットのうち、塗りつぶして示す部分は強度の高い部分を表し、点線で示す部分は、塗りつぶして示す部分より強度の低い部分を表す。
【００２２】
一般に、このようにして受光面のサイズを制限するためのアパーチャは、通常のICプロセスで容易に対応可能なアルミ遮光膜２３Ａで構成されるが、アルミ遮光膜２３Ａの反射率が高いため、アパーチャを照射した光の多くがそこで反射されて、図６の最下段に点線矢印で示すようにマイクロプリズム２２内で乱反射をおこし、結果として、ディスク信号検出用PD３１，３２、パワーモニタ光検出用PD３３に入射して、不要な信号として検出されてしまうという問題があった。
【００２３】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、発光素子から出射された光の一部であるパワーモニタ用の光の乱反射を抑えることができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
本発明の一側面の光ピックアップは、発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材とを備える。
【００２５】
前記制限部材を、フォトダイオードで構成することができる。
【００２６】
前記制限部材を、前記受光素子が配設される素子の電源、またはグランドに接続させることができる。
【００２７】
本発明の他の側面のディスク駆動装置は、発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材と有する光ピックアップと、前記光ピックアップの前記受光素子から出力される前記モニタ信号に基づいて、前記発光素子の出力を制御する駆動回路とを備える。
【００２８】
本発明においては、発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、受光素子が配設される素子上に受光素子と隣接して配設される制限部材とが設けられる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、発光素子から出射された光の一部であるパワーモニタ用の光の乱反射を抑えることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、本発明の構成要件と、明細書又は図面に記載の実施の形態との対応関係を例示すると、次のようになる。この記載は、本発明をサポートする実施の形態が、明細書又は図面に記載されていることを確認するためのものである。従って、明細書又は図面中には記載されているが、本発明の構成要件に対応する実施の形態として、ここには記載されていない実施の形態があったとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件に対応するものではないことを意味するものではない。逆に、実施の形態が発明に対応するものとしてここに記載されていたとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件以外には対応しないものであることを意味するものでもない。
【００３１】
本発明の一側面の光ピックアップ（例えば、図７の光ピックアップ１）は、発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラー（例えば、図７の光集積素子１１のマイクロプリズム２２（図２）に設けられるミラー）と、前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子（例えば、図８右側のパワーモニタ光検出用PD３３）と、前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材（例えば、図８右側の追加PD８１，８２）とを備える。
【００３２】
本発明の他の側面のディスク駆動装置（例えば、図７のディスク駆動装置５１）は、発光素子から出射された光をディスクの記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させる半透過ミラーと、前記半透過ミラーを透過した光を検出し、検出した光の量に応じて、前記発光素子の出力の制御に用いられるモニタ信号を出力する受光素子と、前記受光素子を照射する光の量を制限する、アルミ膜より反射率の低い物質で構成される部材であって、前記受光素子が配設される素子上に前記受光素子と隣接して配設される制限部材と有する光ピックアップ（例えば、図７の光ピックアップ１）と、前記光ピックアップの前記受光素子から出力される前記モニタ信号に基づいて、前記発光素子の出力を制御する駆動回路（例えば、図７のレーザ駆動回路６８）とを備える。
【００３３】
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。
【００３４】
図７は、本発明の一実施形態に係るディスク駆動装置５１の構成例（サーボ制御、レーザパワー制御を行う部分の例）を示すブロック図である。図７において、上述した構成と同じ構成には同じ符号を付してある。重複する説明については適宜省略する。
【００３５】
図７に示されるように、光ディスク駆動装置５１は、光ピックアップ１、信号増幅アンプ６１，６２、サーボ信号演算アンプ６３、RF信号演算アンプ６４、DSP(Digital Signal Processor)６５、アクチュエータ駆動回路６６、パワー誤差検出回路６７、レーザ駆動回路６８、マイクロコンピュータ６９からなり、装着された光ディスク１４を駆動する。光ディスク１４は、CD(Compact Disc)やDVD(Digital Versatile Disc)などの記録媒体であり、スピンドルモータ（図示せず）により回転駆動される。
【００３６】
光ピックアップ１は図１に示される構成と同様の構成を有している。すなわち、光ピックアップ１は、光集積素子１１、コリメータレンズ１２、対物レンズ１３から構成され、光集積素子１１のLDから出射されたレーザ光をコリメータレンズ１２によって発散光から平行光とし、対物レンズ１３により、微小光スポットとして光ディスク１４の記録面に集光させる。
【００３７】
また、光ピックアップ１は、光ディスク１４の記録面において反射され、対物レンズ１３、コリメータレンズ１２を介して光集積素子１１へと戻ってきた反射光を光集積素子１１のPDにおいて検出し、検出した反射光の強さ（光量）に応じた電気信号を信号増幅アンプ６１，６２に出力する。
【００３８】
光集積素子１１は、LDから出射された光のうちのパワーモニタ用の光を検出するPDを照射する光の量を制限するアパーチャの構成が異なる点を除いて、図２に示される構成と同様の構成を有している。
【００３９】
すなわち、光集積素子１１は、基本的に、LD２１、マイクロプリズム２２、PD-IC２３の３素子で構成される。マイクロプリズム２２の斜面２２ＡにはLD２１から出射されたレーザ光を光ディスク１４の記録面に向けて反射するとともに、その一部を透過させるミラーが形成されており、そのミラーを透過して、光ディスク１４の記録面で反射した戻り光（反射光）と、LD２１から出射されたレーザ光の一部がマイクロプリズム２２内に入射する。
【００４０】
上述したように、マイクロプリズム２２内に入射する光のうち、LD２１から出射され、ミラーを透過してマイクロプリズム２２内に直接入射する光はLD２１から遠い位置のPD-IC２３の表面を照射し、一方、光ディスク１４の記録面で反射してマイクロプリズム２２内に入射する反射光はLD２１に近い位置のPD-IC２３の表面を照射するため、この照射位置に応じて、ディスク信号検出用PD３１と３２はPD-IC２３上のLD２１に近い位置に配設され、パワーモニタ光検出用PD３３はPD-IC２３上のLD２１から遠い位置に配設される。
【００４１】
ディスク信号検出用PD３１と３２は、図４を参照して説明したように複数の領域（受光領域Ａ乃至Ｄと受光領域Ｅ乃至Ｈ）に分割され、それぞれの領域において、それぞれの領域を照射する光ディスク１４の反射光の光電変換が行われる。また、パワーモニタ光検出用PD３３においては、パワーモニタ光の光電変換が行われる。
【００４２】
光ピックアップ１（光集積素子１１）は以上のような構成を有しているため、光集積素子１１から信号増幅アンプ６１に対しては、ディスク信号検出用PD３１，３２において光電変換が行われることによって得られた信号（それぞれの領域で得られた信号Ａ乃至Ｈ）が供給され、信号増幅アンプ６２に対しては、パワーモニタ光検出用PD３３において光電変換されることによって得られた信号（パワーモニタ信号Ｍ）が供給される。
【００４３】
信号増幅アンプ６１は、光集積素子１１から供給された信号を増幅させ、増幅させた信号をサーボ信号演算アンプ６３とRF信号演算アンプ６４に出力する。
【００４４】
信号増幅アンプ６２は、光集積素子１１から供給されたパワーモニタ信号を増幅させ、増幅させたパワーモニタ信号をパワー誤差検出回路６７に出力する。
【００４５】
サーボ信号演算アンプ６３は、信号増幅アンプ６１から供給された信号に基づいて、例えば、トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号を生成し、生成したそれらの信号をDSP６５（サーボ位相・オフセット補正回路７１）に出力する。
【００４６】
RF信号演算アンプ６４は、信号増幅アンプ６１から供給された信号に基づいて、光ディスク１４に記録されているデータを再生するためのRF(Radio Frequency)信号を生成し、生成したRF信号をDSP６５（復号処理回路７２）に出力する。
【００４７】
DSP６５はサーボ位相・オフセット補正回路７１、復号処理回路７２、および調整値レジスタ７３により構成される。
【００４８】
サーボ位相・オフセット補正回路７１は、調整値レジスタ７３に設定されている調整値を参照し、サーボ信号演算アンプ６３から供給されたトラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号に対して位相補償処理、ゲイン補正処理などを施し、それらの処理を施すことによって得られたトラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号をアクチュエータ駆動回路６６に出力する。ここで、調整値は、例えば、光ディスク１４や光ピックアップ１によってPDの検出感度にばらつきが生じるため、このばらつきを抑えるためにそれぞれの条件に合わせて設定される値である。
【００４９】
復号処理回路７２は、RF信号演算アンプ６４から供給されたRF信号を光ディスク１４の記録方式にしたがって復号し、復号することによって得られた記録データを出力する。記録データを復号する際、適宜、調整値レジスタ７３に設定されている調整値も参照される。
【００５０】
アクチュエータ駆動回路６６は、サーボ位相・オフセット補正回路７１から供給されたトラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号に基づいて２軸のアクチュエータを駆動させる。これにより、光集積素子１１のLD２１から出射されたレーザ光が光ディスク１４のトラックに追従するとともに、記録面に集光するように光ピックアップ１が駆動される。
【００５１】
パワー誤差検出回路６７は、信号増幅アンプ６２から供給された、LD２１のレーザ光のモニタレベルを表すモニタ信号と、マイクロコンピュータ６９から供給された、リファレンスレベル（制御基準値）を表すリファレンス信号の差分を演算し、その差分を表す信号をパワー誤差信号としてレーザ駆動回路６８に出力する。
【００５２】
レーザ駆動回路６８は、パワー誤差検出回路６７から供給されたパワー誤差信号に基づいて、レーザ光の出力レベルが一定になるように、光集積素子１１に設けられるLD２１を制御する。例えば、レーザ駆動回路６８においては、パワーモニタ信号がリファレンス信号より大きいときLD２１の駆動電流が小さくなり、逆に、パワーモニタ信号がリファレンス信号より小さいときLD２１の駆動電流が大きくなるようにLD２１に対する制御が行われる。
【００５３】
マイクロコンピュータ６９は、例えば、組込型の汎用または専用のMPU(Micro Processing Unit)であり、内蔵するメモリに記憶されているプログラムを実行して、光ディスク駆動装置５１全体の動作を制御する。例えば、マイクロコンピュータ６９は、DSP６５の調整値レジスタ７３に所定の調整値を設定したり、パワー誤差検出回路６７に対してリファレンス信号を出力したりする。
【００５４】
ここで、図７の光集積素子１１を構成するPD-IC２３上に配設されるパワーモニタ光検出用PD３３について説明する。
【００５５】
図８はパワーモニタ光検出用PD３３の構成例を示す図であり、左側のパワーモニタ光検出用PD３３は図６に示されるものと同じ従来のパワーモニタ光検出用のPDである。
【００５６】
上述したように、図６のパワーモニタ光検出用PD３３は、パワーモニタ光の照射範囲であるスポットの中心付近の、比較的強度の高い光を多く受光することができる受光面のサイズと位置を確保する形でPD-IC２３に配設される。
【００５７】
また、パワーモニタ光検出用PD３３の周りには、迷光などの影響を排除するために、受光面のサイズを制限する（受光面を照射する光の量を制限する）アパーチャが設けられており、このアパーチャはアルミ遮光膜２３Ａで構成される。図８の左側に示されるパワーモニタ光検出用PD３３において受光できないパワーモニタ光は、そのアルミ遮光膜２３Ａを照射する。
【００５８】
これに対し、図７の光集積素子１１に設けられるパワーモニタ光検出用PD３３は、図８右側に示されるように、その配設位置は左側のパワーモニタ光検出用PD３３と同様に、パワーモニタ光の照射範囲であるスポットの中心付近の、比較的強度の高い光を多く受光することができる受光面のサイズと位置を確保する形でPD-IC２３に配設されるが、受光面のサイズを制限するアパーチャの一部がPDで構成される。
【００５９】
すなわち、図８右側の例においては、パワーモニタ光が照射する部分にあたる、パワーモニタ光検出用PD３３の左右（図８において左右）にはそれぞれ追加PD８１と８２がパワーモニタ光検出用PD３３と隣接してPD-IC２３上に配設されており、パワーモニタ光検出用PD３３の受光面の横方向の幅が、この追加PD８１と８２により制限されている。パワーモニタ光検出用PD３３において受光できないパワーモニタ光の部分は、追加PD８１と８２において受光される。
【００６０】
上述したようにパワーモニタ光検出用PD３３は信号増幅アンプ６２（図７）に接続され、パワーモニタ光検出用PD３３において光電変換が行われることによって得られたパワーモニタ信号は信号増幅アンプ６２に出力されて各種の処理が行われるのに対し、追加PD８１，８２はPD-IC２３の駆動電源Vccやグランドに接続され、追加PD８１，８２において光電変換が行われることによって得られた信号に基づいて処理は行われない。追加PD８１，８２は、いわば、パワーモニタ光検出用PD３３において受光することができない光を吸収するためだけのPDということができる。
【００６１】
なお、図８右側の例においては、パワーモニタ光検出用PD３３、追加PD８１，８２からなるPDのまとまりの周りはアルミ遮光膜２３Ａで覆われている。
【００６２】
このように、受光面のサイズを制限するアパーチャの一部をPDで構成することによって、パワーモニタ光検出用PD３３において受光できないパワーモニタ光の部分がPD-IC２３の表面で反射し、迷光となってディスク信号検出用PD３１，３２やパワーモニタ光検出用PD３３に入射することを抑えることができる。一般に、光学ガラス相当の屈折率をもつ部材が装荷された状態でのアルミ膜の反射率は９０％程度であり、同様の状態のシリコンPDの反射率は２０％程度であるから、PDを照射する光の多くはそこで吸収され、アルミ膜を照射するときと較べて光の反射を抑えることができる。
【００６３】
また、追加PD８１，８２で生じた信号がPD-IC２３の駆動電源Vccやグランド以外の部分に流れた場合、他の信号に影響を与えるおそれがあるため、追加PD８１，８２がPD-IC２３の駆動電源Vccやグランドに接続されることによって、そのようなことが防止される。
【００６４】
以上においては、図８右側に示されるパワーモニタ光検出用PD３３がPD-IC２３上のマイクロプリズム２２の中（マイクロプリズム２２の下）に設けられるものとしたが（図３）、マイクロプリズム２２の外側のPD-IC２３上にパワーモニタ光検出用PD３３が設けられるようにしてもよい。
【００６５】
図９は、光集積素子１１の他の側面図である。図９において、図２の構成と同じ構成には同じ符号を付してある。
【００６６】
図９の光集積素子１１を構成するマイクロプリズム２２は、その横方向（レーザ光の光軸方向）の長さが図２に示されるプリズムのものと較べて短く、LD２１から出射されたレーザ光のうちの斜面２２Ａに形成されるミラーを透過し、マイクロプリズム２２内に直接入射したパワーモニタ光は、マイクロプリズム２２の内部を直進し、PD-IC２３の面に対してほぼ垂直な面となるマイクロプリズム２２の面２２Ｃを透過して、マイクロプリズム２２の外でPD-IC２３の表面を照射する。図９の下に示されるように、マイクロプリズム２２内部から出たパワーモニタ光が照射するPD-IC２３の表面の位置にはパワーモニタ光検出用PD３３が配設されており、そこでパワーモニタ光が受光される。
【００６７】
このように、マイクロプリズム２２の外側のPD-IC２３上に設けられるパワーモニタ光検出用PD３３が、図８右側に示される構成と同じ構成を有するようにすることも可能である。
【００６８】
また、図８右側に示される構成を有するパワーモニタ光検出用PD３３は、いわゆるディスクリート型の光ピックアップに適用することも可能である。
【００６９】
図１０は、ディスクリート型の光ピックアップ１０１の構成例を示す図である。
【００７０】
LD１１１から出射され、グレーティング１１２において複数の光に分割されたレーザ光は、ビームスプリッタ１１３によって、その一部が光ディスク１１７側（図１０の上側）に屈折されるとともに、他の一部のレーザ光はビームスプリッタ１１３を透過してパワーモニタ光検出用PD１１４に入射する。パワーモニタ光検出用PD１１４においては光電変換が行われ、受光された光の量に応じたパワーモニタ信号が図示せぬアンプ（例えば、図７の光ピックアップ１に替えて光ピックアップ１０１が設けられている場合、図７の信号増幅アンプ６２）に出力され、LD１１１の出力の制御に用いられる。
【００７１】
ビームスプリッタ１１３において光ディスク１１７側に屈折されたレーザ光は、コリメータレンズ１１５で発散光から平行光となり、対物レンズ１１６により、微小光スポットとして光ディスク１１７の記録面に集光される。光ディスク１１７の記録面で反射した反射光は、ビームスプリッタ１１３を透過し、マルチレンズ１１８を介して光検出器１１９において検出される。光検出器１１９からは、受光された光の量に応じた信号が図示せぬアンプ（例えば、図７の信号増幅アンプ６１）に出力され、光ピックアップ１０１の制御や記録データの復号に用いられる。
【００７２】
このように、ディスクリート型の光ピックアップ１０１に設けられるパワーモニタ光検出用PD１１４が、図８右側に示される構成と同じ構成を有するようにすることも可能である。
【００７３】
また、以上においては、パワーモニタ光検出用PD３３の左右の位置（レーザ光の光軸方向を基準としてパワーモニタ光検出用PD３３を挟む位置）に追加PD８１と８２がそれぞれ設けられ、それによりアパーチャの一部が構成されるものとしたが、図１１に示されるように、パワーモニタ光検出用PD３３の上下の位置に追加PD８１と８２がそれぞれ設けられ、それによりアパーチャの一部が構成されるようにしてもよい。このとき、追加PD８１，８２の長手方向は、ディスクのトラック方向（トラックの接線方向）と平行なものになる。
【００７４】
さらに、以上においては、パワーモニタ光検出用PD３３に隣接して設けられるアパーチャの構成部材としてPDが用いられるものとしたが、アルミ遮光膜より反射率の低い部材であればどのような部材が用いられるようにしてもよい。アルミ遮光膜より反射率の低い部材によってアパーチャが構成されることにより、アルミ遮光膜によってアパーチャが構成される場合に較べてパワーモニタ光の反射を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】光ピックアップの構成例を示す図である。
【図２】図１の光集積素子の側面図である。
【図３】図１の光集積素子の上面図である。
【図４】光集積素子に配設されるPDの拡大図である。
【図５】PDに形成される領域と光ディスクのトラックの配置関係を示す図である。
【図６】従来技術の問題について説明する図である。
【図７】本発明の一実施形態に係るディスク駆動装置の構成例を示すブロック図である。
【図８】図７の光集積素子に配設されるパワーモニタ光検出用PDの構成例を示す図であり
【図９】光集積素子の他の側面図である。
【図１０】ディスクリート型の光ピックアップの構成例を示す図である。
【図１１】アパーチャを構成する追加PDの配置の例を示す図である。
【符号の説明】
【００７６】
１  光ピックアップ，  １１  光集積素子，  ２１  LD，  ２２  マイクロプリズム，  ２３  PD-IC，  ３１，３２  ディスク信号検出用PD，  ３３  パワーモニタ光検出用PD，  ５１  ディスク駆動装置，  ８１，８２  追加PD
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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