(57)【要約】【課題】  ローラに付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出可能な異物検出装置及び異物検出方法を提供する。【解決手段】  異物検出装置（１０）は、ローラ（３）に光を照射する光源（７）と、ローラ（３）からの反射光を受光して当該ローラ（３）の画像を撮像する撮像手段（８）と、撮像手段（８）により撮像された撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する輝度データ抽出手段（１３）と、前記撮像画像の輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値外の場合にローラ（３）に付着した異物と判定する判定手段（１４）とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ローラに付着した異物を検出する異物検出装置であって、
前記ローラに光を照射する光源と、
前記ローラからの反射光を受光して当該ローラの画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する輝度データ抽出手段と、
前記撮像画像の輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値外の場合に前記ローラに付着した異物と判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする異物検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の異物検出装置において、
前記輝度データ抽出手段は、ハイパスフィルタにより撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出することを特徴とする異物検出装置。
【請求項３】
請求項１に記載の異物検出装置において、
前記輝度データ抽出手段は、撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する際、オートゲインコントロール処理を行うことを特徴とする異物検出装置。
【請求項４】
請求項１に記載の異物検出装置において、
前記光源と前記撮像手段との正反射角度を１０〜４０度の範囲としたことを特徴とする異物検出装置。
【請求項５】
ローラに付着した異物を検出する異物検出装置であって、
前記ローラの凹凸の変位を検出する変位検出手段と、
前記変位検出手段により検出された前記ローラの凹凸の変位を変位データとして抽出する変位データ抽出手段と、
前記変位データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合に前記ローラに付着した異物と判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする異物検出装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかに記載の異物検出装置において、
前記ローラは、ラミネータのニップローラであることを特徴とする異物検出装置。
【請求項７】
ローラに付着した異物を検出する異物検出方法であって、
前記ローラに光を照射してその反射光を受光して当該ローラの画像を撮像する撮像工程と、
前記撮像工程により撮像された撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する輝度データ抽出工程と、
前記撮像画像の輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合に前記ローラに付着した異物と判定する判定工程と、
を備えたことを特徴とする異物検出方法。
【請求項８】
ローラに付着した異物を検出する異物検出方法であって、
前記ローラの凹凸の変位を検出する変位検出工程と、
前記変位検出工程により検出された前記ローラの凹凸の変位を変位データとして抽出する変位データ抽出工程と、
前記変位データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合に前記ローラに付着した異物と判定する判定工程と、
を備えたことを特徴とする異物検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばシートを製造する装置におけるローラに付着する異物を検出するための異物検出装置及び異物検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、押し出しコーティング，エクストルージョンコーティング（ＥＣ），ウエットラミネーション，ドライラミネーション，ホットメルトラミネーション等によりシートを製造した場合、従来では、特許文献１に開示されているようにシート上の欠陥をＣＣＤカメラにより検査している。
【０００３】
すなわち、上記特許文献１に開示された発明は、ＣＣＤカメラや光源等を備えた画像検出部によってシートの表面を検出画像として検出し、特徴量抽出部によって検出画像の複数の特徴量を抽出し、判別処理部によって検出画像の特徴量が欠点種類定義領域におけるどの欠点種類に相当するかを判別するようにしている。
【特許文献１】特開２００４−１０９０６９公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述した特許文献１に開示された発明では、異物や汚れ等の欠陥は、良品部と比べコントラストの差が大きいため検出可能であるものの、しわや凹凸状の欠陥は、良品部とのコントラストの差が小さいため、このような発明の装置を用いてもラミネート不良を検出することが困難であった。
【０００５】
また、しわや凹凸状の欠陥は、貼り合せ時にローラに付着した異物により周期的に発生することが多い。そのため、重大な欠陥の場合には、原因を特定し、異物を除去する必要がある。
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、ローラに付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出可能な異物検出装置及び異物検出方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、請求項１に係る発明は、ローラ（３）に付着した異物を検出する異物検出装置であって、ローラ（３）に光を照射する光源（７）と、ローラ（３）からの反射光を受光して当該ローラ（３）の画像を撮像する撮像手段（８）と、撮像手段（８）により撮像された撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する輝度データ抽出手段（１３）と、前記撮像画像の輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値外の場合にローラ（３）に付着した異物と判定する判定手段（１４）とを備えたことを特徴とする異物検出装置（１０）を採用する。
【０００８】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載の異物検出装置において、輝度データ抽出手段（１３）は、ハイパスフィルタにより撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出することを特徴とする異物検出装置を採用する。
【０００９】
請求項３に係る発明は、請求項１に記載の異物検出装置において、輝度データ抽出手段（１３）は、撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する際、オートゲインコントロール処理を行うことを特徴とする異物検出装置を採用する。
【００１０】
請求項４に係る発明は、請求項１に記載の異物検出装置において、光源（７）と撮像手段（８）との正反射角度を１０〜４０度の範囲としたことを特徴とする異物検出装置を採用する。
【００１１】
請求項５に係る発明は、ローラ（３）に付着した異物を検出する異物検出装置であって、ローラ（３）の凹凸の変位を検出する変位検出手段（２０）と、変位検出手段（２０）により検出されたローラ（３）の凹凸の変位を変位データとして抽出する変位データ抽出手段（１３Ａ）と、前記変位データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合にローラ（３）に付着した異物と判定する判定手段（１４）とを備えたことを特徴とする異物検出装置を採用する。
【００１２】
請求項６に係る発明は、請求項１乃至５のいずれかに記載の異物検出装置において、前記ローラは、ラミネータ（１）のニップローラ（３）であることを特徴とする異物検出装置を採用する。
【００１３】
請求項７に係る発明は、ローラ（３）に付着した異物を検出する異物検出方法であって、ローラ（３）に光を照射してその反射光を受光して当該ローラ（３）の画像を撮像する撮像工程と、前記撮像工程により撮像された撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する輝度データ抽出工程と、前記撮像画像の輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合に前記ローラ（３）に付着した異物と判定する判定工程とを備えたことを特徴とする異物検出方法を採用する。
【００１４】
請求項８に係る発明は、ローラ（３）に付着した異物を検出する異物検出方法であって、ローラ（３）の凹凸の変位を検出する変位検出工程と、前記変位検出工程により検出されたローラ（３）の凹凸の変位を変位データとして抽出する変位データ抽出工程と、前記変位データが予め設定された閾値内か否かを判定し、その閾値を超えた場合にローラ（３）に付着した異物と判定する判定工程とを備えたことを特徴とする異物検出方法を採用する。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１に係る発明によれば、ローラ（３）の画像を撮像手段（８）により撮像し、この撮像画像の輝度の変化を輝度データ抽出手段（１３）により輝度データとして抽出し、この輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定手段（１４）によって判定し、その閾値外の場合にローラ（３）に付着した異物と判定することにより、ローラ（３）に付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。
【００１６】
請求項２に係る発明によれば、請求項１に記載の異物検出装置において、輝度データ抽出手段（１３）は、ハイパスフィルタにより撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出することにより、ローラ（３）に付着した異物以外の汚れを抽出することがなくなり、異物の検出精度を高めることができる。
【００１７】
請求項３に係る発明によれば、請求項１に記載の異物検出装置において、請求項１に記載の異物検出装置において、輝度データ抽出手段（１３）は、撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出する際、オートゲインコントロール処理を行うことにより、ローラ（３）の軸方向全体の輝度を一定にすることができる。その結果、異物の検出精度を高めることができる。
【００１８】
請求項４に係る発明によれば、請求項１に記載の異物検出装置において、光源（７）と撮像手段（８）との正反射角度を１０〜４０度の範囲としたことにより、撮像画像におけるローラ（３）の汚れの影響を低減させることができる。
【００１９】
請求項５に係る発明によれば、ローラ（３）の凹凸の変位を変位検出手段（２０）により検出し、この凹凸の変位を変位データ抽出手段（１３Ａ）により変位データとして抽出し、この変位データが予め設定された閾値内か否かを判定手段（１４）によって判定し、その閾値を超えた場合にローラ（３）に付着した異物と判定することにより、ローラ（３）に付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。また、光源が不要になるので、装置としての小型化及び簡素化を図ることが可能となる。
【００２０】
請求項６に係る発明によれば、請求項１乃至５のいずれかに記載の異物検出装置において、ローラは、ラミネータ（１）のニップローラ（３）であることにより、ラミネートした際のシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。
【００２１】
請求項７に係る発明によれば、ローラ（３）の画像を撮像工程により撮像し、この撮像画像の輝度の変化を輝度データ抽出工程により輝度データとして抽出し、この輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定工程によって判定し、その閾値外の場合にローラ（３）に付着した異物と判定することにより、ローラ（３）に付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。
【００２２】
請求項８に係る発明によれば、ローラ（３）の凹凸の変位を変位検出工程により検出し、この凹凸の変位を変位データ抽出工程により変位データとして抽出し、この変位データが予め設定された閾値内か否かを判定工程によって判定し、その閾値を超えた場合にローラ（３）に付着した異物と判定することにより、ローラ（３）に付着してシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。また、光源が不要になるので、装置としての小型化及び簡素化を図ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
（第１実施形態）
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態について説明する。
【００２４】
なお、以下の実施形態では、本発明に係る異物検出装置を、エクストルージョンコーティングを行うラミネータに適用した例について説明するが、本発明はエクストルージョンコーティング以外の他のラミネータにも適用可能であり、またラミネータに限定されるものではなく、各種印刷装置や描画装置等にも適用可能である。
【００２５】
さらに、以下の実施形態では、ラミネータを作動させ、回転駆動しているニップローラに付着した異物を検出する例について説明する。
【００２６】
＜ラミネータの概略構成＞
図１は第１実施形態を適用したラミネータを示す概略構成図である。
【００２７】
図１に示すように、ラミネータ１は、鉄等の金属製のクーリングローラ２と、このクーリングローラ２に圧接して配置されるゴム製のニップローラ３と、このニップローラ３を支持するバックアップローラ４と、図示しない押出機から押し出された溶融樹脂を薄膜状に押し出すダイヘッド５と、クーリングローラ２とニップローラ３によりラミネートされたシートを送り出すためのガイドを行うガイドローラ６とを備えて構成されている。
【００２８】
また、バックアップローラ４の近傍には、回転駆動しているニップローラ３の軸方向全体に光を照射するＬＥＤアレイ等の線状の光源７が配置され、その反射光を撮像手段としてのモノクロのラインカメラ８に入射させてニップローラ３の軸方向全体を連続的に撮影する。
【００２９】
したがって、ラミネータ１は、クーリングローラ２側にフィルム、アルミニウム箔等の原反９ａを送り込む一方、ニップローラ３側に紙、フィルム等の原反９ｂを送り込み、これらの原反９ａ，９ｂを、クーリングローラ２とニップローラ３との間においてダイヘッド５から薄膜状に押し出された樹脂９ｃをバインダーとして貼り合わせ、ガイドローラ６を経て案内して図示しない巻取りローラにより巻取るようにしている。
【００３０】
＜ニップローラに付着する異物の説明＞
ところで、作動するラミネータ１において、図２に示すように回転駆動しているニップローラ３に異物Ｘが付着すると、ラミネート不良が発生する。そこで、本実施形態では、このようなラミネート不良の発生源となるニップローラ３に対して光源７から光を照射し、その反射光をラインカメラ８に入射させてニップローラ３の軸方向全体を連続的に撮影する。なお、ニップローラ３は、上述したように材質がゴムであるので、反射率が低い。
【００３１】
ニップローラ３に付着した異物の撮像画像及びその画像の輝度データを図３に示す。なお、付着する異物は、主に熱可塑性樹脂等の樹脂、その樹脂の炭化物や髪の毛等の黒色異物である。また、ニップローラ３は、印刷物等により筋状に汚れることがあるが、これらの汚れは製品不良を招来するものではない。
【００３２】
図３に示すように、ニップローラ３に付着した樹脂や接着剤等の反射率の高い異物は、画像上では白く撮像される。そして、異物が樹脂であって、その樹脂を検出する場合には、正反射を利用して異物を光らせることにより検出する。また、ニップローラ３に付着した黒色異物は、黒い画像として撮像される。なお、樹脂や接着剤等の反射率の高い異物を撮影する場合には、ラインカメラ８と光源７との正反射角度を可及的に小さくすることにより、ニップローラ３の汚れの影響を低減させることができる。実際には、各ローラの配置上の観点から１０〜４０°の角度に設定され、本実施形態では３０°に設定されている。
【００３３】
＜第１実施形態の制御系の構成＞
図４は第１実施形態の異物検出装置の制御系を示すブロック図である。
【００３４】
図４に示すように、異物検出装置１０は、画像入力部１１と、制御装置１２と、表示部１５と、外部出力部１６とを備えて構成されている。
【００３５】
画像入力部１１は、図１に示すように上記光源７及びラインカメラ８から構成され、回転駆動しているニップローラ３の軸方向に対して所定間隔をおいて線状に配列された光源７から光を照射し、その反射光を線状のラインカメラ８に入射させてニップローラ３の軸方向全体における撮像画像を連続的に取り込む。
【００３６】
制御装置１２は、輝度データ抽出手段としての画像前処理部１３及び判定手段としての判定処理部１４から構成され、画像前処理部１３は、画像入力部１１で取り込まれた撮像画像に対して前処理を行う。具体的には、画像前処理部１３は、画像入力部１１で連続的に取り込まれた撮像画像からハイパスフィルタにより輝度が急激に変化する部分を輝度データとして抽出する。
【００３７】
判定処理部１４は、画像前処理部１３により抽出した輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定する。その閾値は、撮像画像の明暗部分が所定値以上に急激に変化する値に設定され、明部分の輝度データの閾値を図３に示す第１の２値化レベルとし、暗部分の輝度データの閾値を図３に示す第２の２値化レベルとしている。具体的に、上記閾値は、ニップローラ３の汚れに対する輝度データに基づいて設定されるものではなく、ニップローラ３に付着してラミネートした際のシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物に対する輝度データに基づいて設定される。
【００３８】
また、判定処理部１４は、明部分の輝度データが第１の２値化レベルを超えた場合、反射率の高い異物が付着していると判定するとともに、暗部分の輝度データが第２の２値化レベルを超えた場合、黒色異物が付着していると判定する。
【００３９】
表示部１５は、判定処理部１４の判定結果をモニター表示し、異物と判定された場合、その異物画像を表示する。
【００４０】
外部出力部１６は、判定処理部１４により異物と判定された場合、ブザー等により警報音を放音するとともに、赤色、青色、黄色のランプにおける赤色のランプを点灯させる。
【００４１】
＜第１実施形態の異物検出動作＞
図５は第１実施形態の異物検出動作を示すフローチャートである。
【００４２】
図５に示すように、まずステップＳ１では、回転駆動しているニップローラ３の軸方向に対して線状に配列された光源７から光を照射し、その反射光を線状のラインカメラ８に入射させてニップローラ３の軸方向全体における撮像画像の連続的な取り込みを行う。
【００４３】
次いで、ステップＳ２では、画像前処理部１３において、画像入力部１１で取り込まれた撮像画像からハイパスフィルタによりニップローラ３の輝度が急激に変化する部分を輝度データとして抽出する。
【００４４】
さらに、ステップＳ３ａでは、判定処理部１４が予め輝度データの閾値を設定する。すなわち、ステップＳ３ａでは、撮像画像の明部分が所定値以上に急激に変化する値を第１の２値化レベルとする閾値に設定する。また、ステップＳ３ｂでは、判定処理部１４は、撮像画像の暗部分が所定値以上に急激に変化する値を第２の２値化レベルとする閾値に設定する。
【００４５】
そして、ステップＳ４ａでは、第１の２値化レベルを超えたか否かを判断し、第１の２値化レベルを超えた場合（ステップＳ４ａ；Ｙｅｓ）、図６（Ａ）に示すようなニップローラ３に反射率の高い異物が付着していると判定し、第１の２値化レベルを超えない場合（ステップＳ４ａ；Ｎｏ）には、ステップＳ１の撮像画像の取り込み処理に戻る。また、ステップＳ４ｂでは、第２の２値化レベル以下であるか否かを判断し、第２の２値化レベル以下の場合（ステップＳ４ｂ；Ｙｅｓ）、図６（Ｂ）に示すようなニップローラ３に黒色異物が付着していると判定し、第２の２値化レベルを超える場合（ステップＳ４ｂ；Ｎｏ）には、ステップＳ１の撮像画像の取り込み処理に戻る。
【００４６】
次いで、ステップＳ５では、判定処理部１４がニップローラ３に付着した反射率の高い異物又は黒色異物を検出する。
【００４７】
さらに、ステップＳ６では、制御装置１２が反射率の高い異物及び黒色異物を１つのブロックの異物とみなすラベリング処理を行う。
【００４８】
そして、ステップＳ７では、制御装置１２は、ラベリング処理された１つのブロックとしてみなされた異物の画素数を算出する。ここで、算出した画素数が多い場合には、ニップローラ３に付着した異物が大きいと判断し、また算出した画素数が少ない場合には、ニップローラ３に付着した異物が小さいと判断される。
【００４９】
次に、ステップＳ８では、制御装置１２は、異物の検査処理が終了するか否か判断し、検査処理が終了する場合（ステップＳ８；Ｙｅｓ）には、全体の処理を終了させる。また、検査処理が終了しない場合（ステップＳ８；Ｎｏ）には、ステップＳ１の撮像画像の取り込み処理に戻り、再び検査処理を実行する。
【００５０】
このように本実施形態によれば、ニップローラ３の画像をラインカメラ８により撮像し、この撮像画像の輝度の変化を画像前処理部１３により輝度データとして抽出し、この輝度データが予め設定された閾値内か否かを判定処理部１４によって判定し、その閾値外の場合にニップローラ３に付着した異物と判定することにより、ニップローラ３に付着してラミネートした際のシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。
【００５１】
また、本実施形態によれば、画像前処理部１３は、ハイパスフィルタにより撮像画像の輝度の変化を輝度データとして抽出するようにしたので、ニップローラ３に付着した異物以外の汚れを抽出することがなくなり、異物の検出精度を高めることができる。
【００５２】
さらに、本実施形態によれば、光源７とラインカメラ８との正反射角度を１０〜４０度の範囲としたことにより、撮像画像におけるニップローラ３の汚れの影響を低減させることができる。
【００５３】
（第１実施形態の変形例）
図７は第１実施形態の変形例の異物検出動作を示すフローチャートである。なお、図７において前記第１実施形態と同一の処理には、同一のステップ番号を付して説明する。
【００５４】
本変形例では、制御装置１２の輝度データ抽出手段としての画像前処理部１３は、画像入力部１１で取り込まれた撮像画像から輝度が急激に変化する部分を輝度データとして抽出する際、オートゲインコントロール（ＡＧＣ）処理を行うようにしている。
【００５５】
このＡＧＣ処理は、予め画像補正係数を生成しておき、画像入力部１１で取り込まれたニップローラ３の軸方向全体の撮像画像に上記画像補正係数を掛けて所定の輝度に増幅する処理である。
【００５６】
すなわち、図７に示すようにステップＳ１では、回転駆動しているニップローラ３の軸方向に対して線状に配列された光源７から光を照射し、その反射光を線状のラインカメラ８に入射させてニップローラ３の軸方向全体における撮像画像の連続的な取り込みを行う。
【００５７】
次いで、ステップＳ２Ａでは、画像前処理部１３において、画像入力部１１で取り込まれた撮像画像にＡＧＣ処理を行った後、輝度が急激に変化する部分を輝度データとして抽出する。なお、以降の処理は、図５に示す前記第１実施形態と同様であるので、その説明を省略する。
【００５８】
ところで、ニップローラ３は、回転方向に筋状に汚れることが多い。そのため、本変形例のように上記ＡＧＣ処理を用いることにより、ニップローラ３の軸方向全体の輝度を一定にすることができる。その結果、異物の検出精度を高めることができる。
【００５９】
（第２実施形態）
図８は第２実施形態を適用したラミネータを示す概略構成図である。なお、図８において前記第１実施形態と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明する。
【００６０】
＜第２実施形態の制御系の構成＞
図８に示すように、ニップローラ３の近傍には、変位検出手段としてのレーザ変位センサ２０が配置され、このレーザ変位センサ２０は、ニップローラ３の表面までの距離をニップローラ３の凹凸変位として検出する。
【００６１】
制御装置１２は、変位データ抽出手段としての画像前処理部１３Ａ及び判定手段としての判定処理部１４から構成され、画像前処理部１３Ａは、レーザ変位センサ２０で読み取られた変位データの前処理を行う。具体的には、画像前処理部１３Ａは、レーザ変位センサ２０で読み取られた変位データから変位が急激に変化する部分を変位データとして抽出する。
【００６２】
判定処理部１４は、画像前処理部１３Ａにより抽出した変位データが予め設定された閾値内か否かを判定する。その閾値は、変位データが所定値以上に急激に変化する値に設定され、その閾値を図９に示す２値化レベルとしている。具体的に、上記閾値は、ニップローラ３の汚れに対する変位データに基づいて設定されるものではなく、ニップローラ３に付着してラミネートした際のシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物に対する変位データに基づいて設定される。
【００６３】
また、判定処理部１４は、変位データが２値化レベルを超えた場合、ニップローラ３に異物が付着していると判定する。
【００６４】
＜第２実施形態の異物検出動作＞
図１０は第２実施形態の異物検出動作を示すフローチャートである。
【００６５】
図１０に示すように、まずステップＳ１１では、レーザ変位センサ２０から回転駆動しているニップローラ３に対してレーザ光を照射し、その反射光を受光してレーザ変位センサ２０からニップローラ３の表面までの距離をニップローラ３の凹凸変位として連続的に検出する。
【００６６】
次いで、ステップＳ１２では、画像前処理部１３Ａにおいて、レーザ変位センサ２０で読み取られた変位データから変位が急激に変化する部分を変位データとして抽出する。
【００６７】
さらに、ステップＳ１３では、判定処理部１４は、画像前処理部１３Ａにより抽出された変位データの閾値を設定する。すなわち、ステップＳ１３では、変位データが所定値以上に急激に変化する値を２値化レベルとする閾値に設定する。
【００６８】
そして、ステップＳ１４では、２値化レベルを超えたか否かを判断し、２値化レベルを超えた場合（ステップＳ１４；Ｙｅｓ）、検出異物が付着していると判定し、２値化レベルを超えない場合（ステップＳ１４；Ｎｏ）には、ステップＳ１１のニップローラ３の凹凸変位を検出する処理に戻る。
【００６９】
次いで、ステップＳ１５では、判定処理部１４が異物を検出する。
【００７０】
そして、ステップＳ１６では、制御装置１２は、異物の検査処理が終了するか否か判断し、検査処理が終了する場合（ステップＳ１６；Ｙｅｓ）には、全体の処理を終了させる。また、検査処理が終了しない場合（ステップＳ１６；Ｎｏ）には、ステップＳ１１のニップローラ３の凹凸変位を検出する処理に戻り、再び検査処理を実行する。
【００７１】
このように本実施形態によれば、ニップローラ３の凹凸の変位をレーザ変位センサ２０により検出し、この凹凸の変位を画像前処理部１３により変位データとして抽出し、この変位データが予め設定された閾値内か否かを判定処理部１４によって判定し、その閾値を超えた場合にニップローラ３に付着した異物と判定することにより、ニップローラ３に付着してラミネートした際のシート上にしわや凹凸状の欠陥を発生させる異物を確実かつ容易に検出することができる。また、前記第１実施形態と比較して光源７が不要になるので、装置としての小型化及び簡素化を図ることが可能となる。
【００７２】
なお、上記第２実施形態では、ニップローラ３の凹凸の変位をレーザ変位センサ２０により検出するようにしたが、これに限定されることなく超音波センサにより検出するようにしてもよい。
【００７３】
また、上記各実施形態では、ラミネータを作動させ、回転駆動しているニップローラに付着した異物を検出する例について説明したが、本発明はこれに限定されることなく、静止しているニップローラ等の各種ローラに付着した異物を検出する場合にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】第１実施形態を適用したラミネータを示す概略構成図である。
【図２】第１実施形態においてニップローラに異物が付着する状態を示す説明図である。
【図３】第１実施形態においてニップローラに付着した異物の撮像画像及びその画像の輝度データを示す説明図である。
【図４】第１実施形態の異物検出装置の制御系を示すブロック図である。
【図５】第１実施形態の異物検出動作を示すフローチャートである。
【図６】（Ａ）は第１の２値化レベルでの判定結果を示す説明図、（Ｂ）第２の２値化レベルでの判定結果を示す説明図である。
【図７】第１実施形態の変形例の異物検出動作を示すフローチャートである。
【図８】第２実施形態を適用したラミネータを示す概略構成図である。
【図９】２値化レベルでの判定結果を示す説明図である。
【図１０】第２実施形態の異物検出動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７５】
１…ラミネータ
２…クーリングローラ
３…ニップローラ
４…バックアップローラ
５…ダイヘッド
７…光源
８…ラインカメラ（撮像手段）
１０…異物検出装置
１２…制御装置
１３…画像前処理部（輝度データ抽出手段）
１３Ａ…画像前処理部（変位データ抽出手段）
１４…判定処理部（判定手段）
２０…レーザ変位センサ（変位検出手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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