(57)【要約】【課題】非接触ＩＣカードのバーンイン試験をより実際の使用条件に近い状態で行うことにより初期不良品検出の精度を高める。【解決手段】非接触ＩＣカード１が載置された試料台２と試料台２に対向して配置されたコイル状アンテナ４を備え、コイル状アンテナ４へ通電することによって非接触ＩＣカード１を駆動した状態で非接触ＩＣカード１のバーンイン試験を実施する試験装置において、試料台２はコイル状アンテナ４のコイル面に対し回転可能に支持される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
非接触ＩＣカードが載置された試料台と該試料台に対向して配置されたコイル状アンテナを備え、該コイル状アンテナへ通電することによって該試料台に載置された非接触ＩＣカードを駆動した状態で該非接触ＩＣカードのバーンイン試験を実施する非接触ＩＣカード用試験装置において、
該試料台は該コイル状アンテナのコイル面に対し回転可能に支持されていることを特徴とする非接触ＩＣカード用試験装置。
【請求項２】
試料台が挿入される複数のスロットと、挿入された各試料台に対向するように配置された複数のコイル状アンテナを有するカートリッジを複数個備えたことを特徴とする請求項１記載の非接触ＩＣカード用試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は非接触ＩＣカード用試験装置に係り、特に非接触ＩＣカードのバーンイン試験を行う試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
非接触ＩＣカードは磁気カードや接触型ＩＣカードに比べてカード読取装置に直接接続することなく外部信号の入出力が可能でありその取り扱いが容易なことから，近年、ＪＲのSuicaカードを始めとして自治体向け各種カード、商品管理用タグ等に採用される例が増えており、今後もその用途は広がっていくものと考えられる。そして、用途の拡大に伴って非接触ＩＣカードが使用される環境条件はますます広く且つ苛酷になることが予想され、これらの環境に耐えて確実に動作させるためにはより高い信頼性が要求される。そこで、非接触ＩＣカードに対しては高信頼が要求される他の半導体デバイスと同様、製造工程完了後出荷前にバーンイン試験を実施して初期不良品を確実に排除することが必要となる。
【０００３】
バーンイン試験は製品が通常使用される環境条件より苛酷な条件、たとえば高温環境下で試験対象となる製品を駆動して劣化を加速させ短時間で不良品の選別を行うものである。半導体デバイスのバーンイン試験に用いられる通常の試験装置は温度、湿度等の環境条件を自由に設定することのできる機能を持ち、また、試験対象となる半導体デバイスを外部回路と接続するための多数の接続端子を備えており、試験中これらの接続端子を通して外部から半導体デバイスを電気的に駆動するための電流が供給される。
【０００４】
一方、非接触ＩＣカードはＩＣチップと誘導コイルを塩化ビニール等の絶縁性基板に埋め込んだものから成っており、ＩＣチップは誘導コイルによって外部との間で信号の入出力を行うようにしており外部回路との接続のための電極は設けられていない。そのため、バーンイン試験を行う従来の試験装置では、試験対象となる非接触ＩＣカードを電気的に駆動した状態でバーンイン試験を行うことができず、代わりに絶縁性基板に埋め込む前のＩＣチップを試験装置にセットしバーンイン試験を行っており、これによってＩＣチップの初期不良品を排除していた。しかしこの方式では、ＩＣチップの埋め込み工程等の後工程によって発生する不良品の見逃しが生じることになり非接触ＩＣカードの信頼性が低下するという問題があった。
【０００５】
そこで、試験装置内に非接触ＩＣカードの誘導コイルに電流を誘起するためのコイル状アンテナ(導電性コイル)を設けることが提案されている(例えば特許文献１参照)。試験装置内には、たとえば図５に示すように、エポキシ樹脂等からなる絶縁性基板１０が配置されており、この絶縁性基板１０上で一定間隔をおいて多数のコイル状アンテナ１１を搭載し絶縁性基板１０の中央に設けた配線１２により直列に接続する。そして、各コイル状アンテナ１１の上方に試験対象となる非接触ＩＣカードをそれぞれ対向して配置し、この状態で試験装置内を所定の温度及び湿度に保持し配線１２を介してコイル状アンテナ１１に電流を流す。これにより各非接触ＩＣカードの誘導コイルに電流が誘起され埋め込まれているＩＣチップが駆動されることになる。この方法によれば、非接触ＩＣカードのバーンイン試験を完成品の状態で行うことが可能となりＩＣチップ単体でバーンイン試験を行う方式に比べて初期不良品検出の精度を高めることができる。
【特許文献１】特開平１１−１７６８９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述した従来構成において、非接触ＩＣカードに誘起される電流はコイル状アンテナに電流を流したときに発生する磁場が非接触ＩＣカードに埋め込まれている誘導コイルのコイル面をつらぬく面積によって決まり、この面積はコイル状アンテナのコイル面に対する誘導コイルのコイル面の傾き角によって定まる。
【０００７】
ところが，非接触ＩＣカードが実際に使用される場面では、非接触ＩＣカードと非接触ＩＣカードを外部から駆動するコイル状アンテナとの間の配置位置は様々に変化し、それに応じてＩＣチップを駆動する電流の強さも変化することになる。しかし、従来の試験装置では、非接触ＩＣカードとコイル状アンテナ間の向きは固定されており変えることができず、その結果、バーンイン試験は非接触ＩＣカードがコイル状アンテナに対して特定の向きに設定された条件下で行われることになり実際の使用環境とは異なるため初期不良品検出の精度が上がらないという問題があった。
【０００８】
そこで、本発明は非接触ＩＣカードのバーンイン試験をより実際の使用条件に近い状態で行うことを可能とし、これにより非接触ＩＣカードのより一層の信頼性向上を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的は、非接触ＩＣカードが載置された試料台と該試料台に対向して配置されたコイル状アンテナを備え、該コイル状アンテナへ通電することによって該試料台に載置された非接触ＩＣカードを駆動した状態で該非接触ＩＣカードのバーンイン試験を実施する試験装置において、該試料台は該コイル状アンテナのコイル面に対し回転可能に支持されていることを特徴とする試験装置、
あるいは、試料台が挿入される複数のスロットと、挿入された各試料台に対向するように配置された複数のコイル状アンテナを有するカートリッジを複数個備えたことを特徴とする上記試験装置により達成される。
【発明の効果】
【００１０】
図１は本発明に係る試験装置の作用を説明する斜視図である。同図に見られるように、試験装置内において非接触ＩＣカード１は試料台２の上面に載置され、その上方にコイル状アンテナ４が対向して配置されている。試料台２の側面中央には回転軸３が固定されており、この回転軸３を図中に示す矢印方向に回転させることにより回転軸３に固定されて試料台２の上面の向きをコイル状アンテナ４のコイル面に対し任意の角度で傾けることができる。そして、コイル状アンテナ４に電流を流したとき、その周囲に発生する磁場が試料台２に固定されている非接触ＩＣカード１に誘導電流を誘起し内部に埋め込まれているＩＣチップを駆動することになる。この誘導電流の大きさはコイル状アンテナ４のコイル面の非接触ＩＣカード１への投影面積によって決まり、この投影面積は試料台２を回転させることにより任意の値に設定することができる。
【００１１】
非接触ＩＣカードを実際に使用する場合にも非接触ＩＣカードを外部から駆動するコイル状アンテナとの位置関係は様々に変化する。従って、上記構成において、コイル状アンテナ４のコイル面に対する試料台２の面の向きを様々に設定することにより非接触ＩＣカードの実際の使用状況に近い状態の元でバーンイン試験を行うことができ、初期不良品検出の精度を従来に比べて高くすることができるという利点がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
非接触ＩＣカードのバーンイン試験をより実際の使用条件に近い状態で行うという目的を簡単な構成で実現した。
【実施例１】
【００１３】
図２は本発明の実施に用いるカートリッジを示す斜視図である。カートリッジ５には試料台２を挿入するためのスロット６が多数設けられている。試料台２はエポキシ樹脂等の絶縁性基板からなり、その側面中央には回転軸３が固定されている。前述の図１で説明したように、この回転軸３を回転させることにより試料台２の面を任意の角度で傾けることができる。
【００１４】
試料台２の上面には非接触ＩＣカード１が載置され図示しない固定冶具により固定される。非接触ＩＣカード１はＩＣチップと誘導コイルを塩化ビニール等の絶縁性基板に埋め込んだものから成っており、ＩＣチップにはＣＰＵやメモリ等の内部回路が形成されている。また、誘導コイルは外部に設けられたコイル状アンテナから発せられた信号を受信してＩＣチップを電気的に駆動するものであり、絶縁性基板の周囲に沿って埋め込まれた銅線等の導電線で構成されている。
【００１５】
バーンイン試験に際しては、まず、非接触ＩＣカード１を載置した試料台２をスロット６を通してカートリッジ５に挿入する。カートリッジ５の内部には各スロット６ごとに図示しないコイル状アンテナが固定されている。コイル状アンテナは銅線等の導電線の巻線で構成されており、試料台２がカートリッジ５に挿入されたときにそのコイル面が試料台２の上面と対向するように配置されている。
【００１６】
以上のように非接触ＩＣカード１を載置した試料台２をカートリッジ５に挿入した後、回転軸３を回転させることによりコイル状アンテナのコイル面に対して試料台２に載置された非接触ＩＣカード１の面を所定角度だけ傾ける。このとき、同一カートリッジ内に挿入された複数の非接触ＩＣカードをコイル状アンテナのコイル面に対しそれぞれ異なる角度で傾けることもでき、これにより同一カートリッジ内の非接触ＩＣカードを異なる駆動条件の元でバーンイン試験することができる。通常は以下のような方法を用いて非接触ＩＣカードを同一角度で傾ける。
【００１７】
図３はカートリッジ５の正面図を示したものであり、カートリッジ５に設けられている全てのスロット６に試料台２が挿入されており、各試料台２は回転軸３によって水平面から傾いた状態で示されている。同図に見られるように、試料台２の側面において回転軸３の固定位置から端部へ偏った位置に支持軸７が取り付けられており、カートリッジ５に挿入された複数の試料台２の支持軸７は制御棒８で連結される。この制御棒８を図中矢印で示した上下方向に動かすことにより試料台２の傾きを制御することができ、これによりカートリッジ５に挿入された全ての試料台２をコイル状アンテナのコイル面に対し同一角度で傾けることが可能となる。
【００１８】
図４は本発明に係る試験装置の外観を示す斜視図である。同図に見られるように、温湿度の制御された試験装置９の内部空間に多数のカートリッジ５を収納している。そして、各カートリッジ５には前述したように多数の非接触ＩＣカード１が挿入されている。以上のようにカートリッジを用いることにより多数の非接触ＩＣカードを効率良く試験装置に配置してバーンイン試験を行うことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００１９】
試験対象となる非接触ＩＣカードに対するコイル状アンテナのコイル面の向きを任意の角度に設定することができるので、非接触ＩＣカードに対してより実際の使用条件に近い状態でバーンイン試験を行うことが可能となり、初期不良品検出の精度を上げより一層信頼性の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の作用を説明する斜視図
【図２】本発明の実施例に係るカートリッジの外観を示す斜視図
【図３】本発明の実施例に係るカートリッジを示す平面図
【図４】本発明の実施例に係る試験装置の外観を示す斜視図
【図５】従来の試験装置を示す平面図
【符号の説明】
【００２１】
１    非接触ＩＣカード
２    試料台
３    回転軸
４    コイル状アンテナ
５    カートリッジ
６    スロット
７    支持軸
８    制御棒
９    試験装置
【図１】
2007156509.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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