(57)【要約】【課題】  非透明部材であるＴＣＰとＰＣＢとの間に生じている位置ずれを検出する。【解決手段】  ＴＣＰ２０には貫通穴２０Ｈが形成され、貫通穴２０ＨからはＰＣＢ３０に形成されているＰＣＢマーク３０Ｍが認識される。画像認識手段はＸＹ座標軸を設定し、ＰＣＢマーク３０Ｍから放射状に延出する仮想的な複数の直線Ｌ１乃至Ｌ１６を設定する。直線Ｌ１乃至Ｌ１６において、光量が最も変化している光量変化点Ｐ１乃至Ｐ１６を検出し、夫々偶数組と奇数組とにグループ分けした上で、最小二乗法により２つの近似円Ｒ１、Ｒ２を作成する。Ｒ１とＲ２との差分が許容誤差範囲内であれば、その中点を貫通穴２０Ｈの中心座標ＲＭとみなす。そして、中心座標ＲＭとＰＣＢマーク３０Ｍとの間に生じている位置ずれを検出し、当該位置ずれをＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との間に生じている位置ずれとする。【選択図】  図１
2007065073.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶パネルに、円形の貫通穴が形成されたＴＣＰを搭載し、前記貫通穴よりも形状の小さい円形の位置合わせを行なうためのマークが形成され、前記液晶パネルの駆動制御を行うＰＣＢと前記ＴＣＰとを圧着して液晶モジュールを構成した後に、前記ＰＣＢと前記ＴＣＰとの間の位置ずれを検出する液晶モジュールの位置ずれ検出方法であって、
前記マークを、前記貫通穴を介して画像認識手段により画像認識を行い、前記画像認識手段におけるＸＹ座標系における前記マークの座標を算出し、
所定の位置を中心として、放射状に延出する複数の直線であって、隣接する各直線間のなす角度が全て等しい複数の放射状の直線を仮想的に設定し、
前記放射状に延出する複数の直線上の夫々において、最も光量が変化している光量変化点の座標を検出し、
前記光量変化点と前記貫通穴の半径とに基づいて、最小二乗法により近似円を作成して、前記貫通穴の中心座標を算出し、
算出された前記貫通穴の中心座標と前記マークの座標とのずれ量を算出して、前記ＰＣＢと前記ＴＣＰとの間の位置ずれを検出することを特徴とする液晶モジュールの位置ずれ検出方法。
【請求項２】
前記複数の放射状の直線は、前記マークの位置を中心として仮想的に設定されることを特徴とする請求項１記載の液晶モジュールの位置ずれ検出方法。
【請求項３】
前記複数の放射状の直線は、１つおきの前記直線ごとに偶数番目の組と奇数番目の組とにグループ分けされ、
前記偶数番目の組及び前記奇数番目の組の夫々の組において、前記光量変化点と前記貫通穴の半径とに基づいて、最小二乗法により２つの近似円を作成して、
前記２つの近似円の中心座標の誤差が許容誤差範囲内であるときには、前記２つの近似円の中心座標の中点の座標を算出し、
算出された前記中点の座標と前記マークの座標とのずれ量を算出して、前記ＰＣＢと前記ＴＣＰとの間の位置ずれを検出することを特徴とする請求項１記載の液晶モジュールの位置ずれ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶モジュールを構成するＴＣＰとＰＣＢとの間に位置ずれが生じているか否かを検出する液晶モジュールの位置ずれ検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶モジュールを構成する基本的な構成部品としては、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）アレイ基板とカラーフィルタ基板との２枚のガラス基板の間に液晶を封入した液晶パネルと、その周囲に液晶パネルを駆動するために取り付けられる駆動回路（ＰＣＢ：Print Circuit Board）と、液晶パネルの裏側に光源として配置されるバックライトと、を有して概略構成される。従って、液晶パネルの周囲（少なくとも液晶パネルの周囲のうち１つの長辺部及び１つの短辺部）にはＰＣＢが取り付けられることになるが、液晶パネルとＰＣＢとの電気的な接続はドライバＩＣを搭載したＴＣＰ（Tape Carrier Package）を介して行われる。
【０００３】
このため、液晶パネルに予めＴＣＰを搭載してパネルアセンブリとした後に、パネルアセンブリのＴＣＰとＰＣＢとを取り付ける。このとき、ＴＣＰとＰＣＢとを電気的な接続を行なうため、ＴＣＰとＰＣＢとはＡＣＦ（異方性導電膜：Anisotropic Conductive Film）を介して圧着が行われる。ＡＣＦは熱硬化性、熱可塑性を有する樹脂フィルム中に導電粒子を混入させたテープ状の接着剤であり、ＡＣＦを介在させた状態で、ＴＣＰとＰＣＢとを熱圧着を行なう。このとき、ＴＣＰとＰＣＢとは夫々極めて微小ピッチ間隔でリードが設けられていることから、正確に位置決めされた状態で取り付けられる必要がある。また、パネルアセンブリを構成するときに、液晶パネルとＴＣＰとの搭載もＡＣＦを熱圧着することにより行なわれるため、同様に正確に位置決めされた状態で搭載される必要がある。
【０００４】
そこで、一般的には、カメラ等の画像認識手段を用いて接着される液晶パネルとＴＣＰとの相対位置関係を検出して、両者のずれを補正した後に、圧着手段等の適宜の手段により両者を圧着する。そして、圧着を行なった後に、再度両者の間に位置ずれが生じているか否かを検出して、位置ずれが生じていないか又は生じていても許容誤差範囲内であれば良品と判別し、許容誤差範囲を超えているときには不良品と判別する。従って、良品と不良品との検証を行うことができる。かかる制御手段を備えた電子部品のボンディング装置が特許文献１に開示されている。
【特許文献１】特開平９−１７８２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した特許文献１の発明では、液晶パネルとＴＣＰとの間の相対位置関係にずれが生じているか否かを検出するために、液晶パネルを構成する下板にサークル状のマークを２箇所に形成し、ＴＣＰ側にも対応する箇所にスポット状のマークを２箇所に形成する。そして、液晶パネルとＴＣＰとの相対位置関係を検出するために、液晶パネルを構成する下板の下部に画像認識手段であるカメラを２箇所に設置し、液晶パネルの下板に形成されているサークル状のマークとＴＣＰに形成されているスポット状のマークとを認識する。液晶パネルの下板は透明なガラス板により形成されているため、カメラからはガラス板である液晶パネルの下板を介して、その上部に存するＴＣＰに形成されているスポット状のマークが認識される。そして、カメラが認識したサークル状のマークの中心位置座標とスポット状のマークの位置座標との差分に基づいて、液晶パネルとＴＣＰとの間の位置ずれを算出している。
【０００６】
従って、画像認識手段であるカメラによって、液晶パネルに形成されているサークル状のマークとＴＣＰに形成されているスポット状のマークとの両者を同時に認識するために、必然的にサークル状のマークが形成されている部材は透明部材であることが要求される。ここで、液晶パネルとＴＣＰとの搭載した後の位置ずれを検出するときには、液晶パネルは透明部材であるため、上記要件は充足するが、ＴＣＰとＰＣＢとは透明部材ではないため、位置ずれを検出するときには上記要件を充足しない。
【０００７】
すなわち、ＴＣＰとＰＣＢとは両者共に非透明部材であるため、一方に形成されたマークを他方の部材から透かして認識することができない。このため、ＴＣＰとＰＣＢとの両者にアライメント行なうためのマークが形成されていたとしても、マークそのものを認識できず、両者の相対位置関係を把握することができない。従って、両者の間に生じているずれを検出できない。勿論、ＴＣＰとＰＣＢとに形成されたマークを認識するために、カメラを上部及び下部に設ければ、両者が非透明部材であっても相対位置関係を把握することは可能である。しかし、必要となるカメラの台数が増加し、またアライメントの精度という観点からも問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は、非透明部材であるＴＣＰとＰＣＢとの位置ずれを検出することができる液晶モジュールの位置ずれ検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の液晶モジュールの位置ずれ検出方法は、液晶パネルに、円形の貫通穴が形成されたＴＣＰを搭載し、前記貫通穴よりも形状の小さい円形の位置合わせを行なうためのマークが形成され、前記液晶パネルの駆動制御を行うＰＣＢと前記ＴＣＰとを圧着して液晶モジュールを構成した後に、前記ＰＣＢと前記ＴＣＰとの間の位置ずれを検出する液晶モジュールの位置ずれ検出方法であって、前記マークを、前記貫通穴を介して画像認識手段により画像認識を行い、前記画像認識手段におけるＸＹ座標系における前記マークの座標を算出し、所定の位置を中心として、放射状に延出する複数の直線であって、隣接する各直線間のなす角度が全て等しい複数の放射状の直線を仮想的に設定し、前記放射状に延出する複数の直線上の夫々において、最も光量が変化している光量変化点の座標を検出し、前記光量変化点と前記貫通穴の半径とに基づいて、最小二乗法により近似円を作成して、前記貫通穴の中心座標を算出し、算出された前記貫通穴の中心座標と前記マークの座標とのずれ量を算出して、前記ＰＣＢと前記ＴＣＰとの間の位置ずれを検出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の液晶モジュールの位置ずれ検出方法は、非透明性の部材であるＴＣＰとＰＣＢとの間の位置ずれを検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図１のフローチャートに基づいて、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図２に示されるように、一般的な液晶モジュールは、ＴＦＴアレイ基板とカラーフィルタの２枚のガラス基板の間に液晶を封入して貼り合わせた液晶パネル１０の周囲に、液晶パネルの駆動を行なう駆動回路であるＰＣＢ３０を設けて構成する。ＰＣＢ３０は、液晶パネル１０の周囲のうち、２辺乃至３辺に沿うように設けられるものであり、ＰＣＢ３０と液晶パネル１０との電気的な接続はＴＣＰ２０により行なわれる。ＰＣＢ３０は液晶パネル１０の一辺の長さに類する長さを有するが、ＴＣＰ２０は形状の小さいドライバＩＣであるため、図２に示されるように、液晶パネル１０の周辺部には複数のＴＣＰ２０が搭載されている。液晶パネル１０とＴＣＰ２０とはＡＣＦにより接着を行い、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とも同様にＡＣＦを熱圧着して接着を行なう。一般には、先に液晶パネル１０とＴＣＰ２０とを正確に位置合わせした状態で、液晶パネル１０にＴＣＰ２０を搭載してパネルアセンブリ４０とした後に、パネルアセンブリ４０を構成するＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とを正確に位置合わせして、ＡＣＦを熱圧着してＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とを組付ける。
【００１２】
以下、パネルアセンブリ４０のＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とがＡＣＦにより圧着された後に、両者に位置ずれが生じているか否かを検出する方法について説明するが、本検出方法は、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との熱圧着前のアライメントを行なうときに、位置ずれが生じているか否かを検査するものにも適用することができる。また、液晶パネル１０とＴＣＰ２０との圧着前のアライメントを行なうとき、及び熱圧着後に位置ずれが生じている否かを検査するものにも適用することができる。
【００１３】
図３は、図２のＴＣＰ２０の角隅部近傍を拡大した図である。図３に示されるように、ＴＣＰ２０の角隅部の２箇所に貫通穴２０Ｈが形成されている。また、ＰＣＢ３０には貫通穴２０Ｈに対応するような位置にＰＣＢマーク３０Ｍが形成されている。かかる貫通穴２０Ｈ及びＰＣＢマーク３０Ｍは通常は目視検査用に利用されるものである。つまり、貫通穴２０Ｈを介してＰＣＢマーク３０Ｍを目視して、貫通穴２０Ｈの中心位置にＰＣＢマーク３０Ｍがあるか否かによって、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との間に位置ずれが生じているか否かを検出することができる。
【００１４】
ここで、かかる目視検査の代わりに画像認識により位置ずれを検出するときには、ＰＣＢ３０に形成されているＰＣＢマーク３０Ｍを認識することはできる。特に、ＰＣＢマーク３０Ｍに光の反射率の高い金属性の部材を使用すれば、鮮明にＰＣＢマーク３０Ｍを画像認識することができる。しかし、貫通穴２０Ｈは単純にＴＣＰ２０を打ち抜いたものであるため、貫通穴２０Ｈには特別なマークは形成されていない。従って、貫通穴２０Ｈの境界にはアライメントを行なうためのマークが形成されていないため、鮮明に画像認識することができない。このため、貫通穴２０Ｈの中心位置とＰＣＢマーク３０Ｍの位置との間の相対位置関係を正確に把握することができず、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との間に位置ずれが生じているか否かを認識することができない。そこで、貫通穴２０Ｈの近似円を作成し、その中心位置を近似的に算出する。以下、詳細な演算について具体的に説明する。
【００１５】
最初に、画像認識手段が貫通穴２０Ｈを認識できる位置にまで、画像認識手段とＴＣＰ２０との位置合わせを行なう（ステップＳ１）。図３では、画像認識手段の有効観察領域である領域ＡＲの内部に貫通穴２０Ｈが入っている。貫通穴２０ＨからはＰＣＢマーク３０Ｍを認識することができる。この時点で、貫通穴２０ＨからＰＣＢマーク３０Ｍを全く認識することができない場合は（ステップＳ２）、明らかに位置ずれを生じていると認識できるため、不良品であると判定することができる（ステップＳ１３）。
【００１６】
図３のように、貫通穴２０ＨからＰＣＢマーク３０Ｍを認識できたとしても、貫通穴２０Ｈの中心位置とＰＣＢマーク３０Ｍの位置とが一致しているか否かが問題である。そこで、画像認識手段に座標軸（Ｘ軸、Ｙ軸）を設け、当該座標軸におけるＰＣＢマーク３０Ｍの位置座標を検出する（ステップＳ３）。ここで、ＰＣＢマークの位置座標をＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）とし、貫通穴２０Ｈの半径をＲとする。中心座標（ＭＸ、ＭＹ）と半径Ｒとは初期的に判別された定数的な値である。そして、これら定数値から変数値である貫通穴２０Ｈの中心座標を求める。なお、ＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）を検出したときに、画像認識手段又はＰＣＢ３０の何れかの位置を調整して、ＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）を画像認識手段の座標軸の原点と一致させると、後の演算が単純化される。
【００１７】
次に、図４に示されるように、ＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）から放射状に延出する複数の直線（図４では１６本の直線Ｌ１乃至Ｌ１６）を仮想的に設定する（ステップＳ４）。なお、直線Ｌ１乃至Ｌ１６は、ＰＣＢマーク３０Ｍの中心から放射状に延出されることが最も好ましいが、当該中心でなくても、所定の位置から放射状に延出されてもよい。ただし、ここでいう所定の位置はＰＣＢマーク３０Ｍの範囲内にあるものとする。ここで、各直線Ｌ１乃至Ｌ１６は隣接する直線とのなす角度がすべて等しくなるように、各直線が設定される。図４のように直線が１６本の場合は、隣接する各直線の間のなす角度は「３６０／１６＝２２．５度」となる。かかる直線はあくまでも仮想的に設定されているものであるため、実際に画像認識手段には映し出されていることを要しない。
【００１８】
ところで、上記の放射状に延出された直線Ｌ１乃至Ｌ１６は、ＰＣＢマーク３０Ｍを起点として、貫通穴２０Ｈを介して認識できるＰＣＢマーク３０Ｍが形成されていないＰＣＢ３０の領域、そして貫通穴２０Ｈが形成されていないＴＣＰ２０の領域を通過する形で設定されることになる。ここで、ＴＣＰ２０はＩＣドライバを搭載したフィルムであり、ＰＣＢ３０はプリント基板である。従って、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とは異なる素材から構成され、夫々の色も異なることになる。このため、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０とでは、反射光量が異なることになる。従って、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との境界をある程度は認識することができるが、その境界は不明瞭になる。
【００１９】
しかし、反射光量が最も変化する点は、その素材が変化するＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との境界である。ここで、ＰＣＢマーク３０Ｍは上述したとおり、反射率の高い素材であるため、ＰＣＢマーク３０ＭとＰＣＢ３０との境界において反射光量が最も変化するが、かかる境界部分は除外するものとする。つまり、本実施例では、ＰＣＢマーク３０Ｍがある程度の大きさを有しているものについて説明しているため、ＰＣＢマーク３０Ｍの領域の中心座標を基準としている。しかし、ＰＣＢマーク３０Ｍが極めて小さい場合は、ＰＣＢマーク３０Ｍを１つの点とみなして演算を行なう。そのときは、反射光量が最も変化する点は、ＴＣＰ２０とＰＣＢ３０との境界ということになる。
【００２０】
そして、各直線Ｌ１乃至Ｌ１６において、反射光量が最も変化する点（反射光量変化点）を検出する（ステップＳ５）。反射光量変化点の検出は、各直線Ｌ１乃至Ｌ１６において、反射光量の微分値が最大となる点を検出することにより行なわれる。このとき、本来なら、反射光量変化点は全て貫通穴２０Ｈの境界上にあり、従って全ての反射光量変化点を結ぶと貫通穴２０Ｈと同じ円が形成されるはずである。しかし、光の加減や不純物が存在する場合等は、反射光量変化点が貫通穴２０Ｈの境界上に位置しない場合もある。例えば、ＰＣＢ３０に反りが生じている場合、ＰＣＢ３０からの反射光は所定方向に反射せず、不定方向に反射することがある。かかる場合は、反射光量点が貫通穴２０Ｈの境界上に位置しなくなる。
【００２１】
図４において、ＰＣＢ３０の右部分において反りが生じ、その結果直線Ｌ１乃至Ｌ９において、光量変化点が貫通穴２０Ｈと重ならないものについて例示している。また、図４の例では、直線Ｌ１２及びＬ１３上に不純物が存在するために、不純物の存在点を光量変化点として検出している。従って、図４の光量変化点全てを結んだとしても、貫通穴２０Ｈと同じ円は形成されない。
【００２２】
そこで、上述の光量変化点（Ｌ１乃至Ｌ１６に対応する光量変化点Ｐ１乃至Ｐ１６）と、定数値である貫通穴２０Ｈの半径Ｒとから貫通穴２０Ｈに近い近似円を作成して、貫通穴２０Ｈの中心座標を求める。かかる手段として、最小二乗法を用いる。
【００２３】
最小二乗法は、サンプリングされた複数の点から、最も確からしい関数を求める方法である。そこで、サンプリングされた１６個の光量変化点Ｐ１乃至Ｐ１６の座標と貫通穴２０Ｈの半径Ｒとに基づいて、近似円を作成する。ただし、１６個の光量変化点全てから１つの近似円を作成するのではなく、半分の８個ずつの光量変化点を用いて各々１つずつ、計２つの近似円を作成し、作成された２つの近似円から目的とする貫通穴２０Ｈを推測し、その中心座標を求める。そのため、光量変化点Ｐ１乃至Ｐ１６を、Ｐ１、Ｐ３、Ｐ５、Ｐ７、Ｐ９、Ｐ１１、Ｐ１３、Ｐ１５の奇数組とＰ２、Ｐ４、Ｐ６、Ｐ８、Ｐ１０、Ｐ１２、Ｐ１４、Ｐ１６の偶数組との２つのグループに組分けを行なう（ステップＳ６）。そして、奇数組と偶数組との夫々において最小二乗法により、２つの近似円を作成する（ステップＳ７）
【００２４】
最小二乗法により近似円を作成する方法は次の通りである。まず、最終的に求める近似円の中心座標を（ｍ、ｎ）とする。半径はＲであるため、その式は、数式（１）で表される。変数Ｘ及びＹのサンプリング値は、Ｐ１乃至Ｐ１６により得られているため、Ｐ１乃至Ｐ１６のＸ座標及びＹ座標を代入する（以降、Ｐｉ（Ｘｉ、Ｙｉ）は、ｉ＝１〜１６までの光量変化点の座標を示すものとする）。ただし、上述したとおり、偶数組と奇数組とに分けて２つの近似円を作成するため、ｉ＝２ｎ―１の組とｉ＝２ｎの組（ｎは１以上の整数）とに分けて夫々最小二乗法を適用して近似円を作成する。
【数１】
2007065073.tif 000003
【００２５】
上述の数式（１）の誤差の二乗和を最小にするための（ｍ、ｎ）の最適解を求めるために、次の数式（２）を作成する。数式（２）は、サンプリング値であるＰｉを代入したときの数式（１）に生じる誤差を二乗して、さらに全てのＰｉを代入したときの誤差の二乗を総計しているものである（但し、偶数組と奇数組とは個別に誤差の二乗が総計されている）。数式（２）のうち、求める変数はａ、ｂ、ｃである。従って、数式（２）のεに対して、誤差の二乗和が最小となるａ、ｂ、ｃを求めるため、偏微分を行なう。かかる偏微分を行なった式を数式（３）乃至（５）に示す。
【数２】
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【数３】
2007065073.tif 000005
【数４】
2007065073.tif 000006
【数５】
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【００２６】
誤差の二乗和が最小となるような最適解を求めるために、微分値が全て「０」となるようにする。σε／σａ＝０、σε／σｂ＝０、σε／σｃ＝０としたときの数式（３）乃至（５）を整理した式が、数式（６）乃至（８）となる。数式（６）乃至（８）の連立方程式の解を求めるために、数式（９）のように行列式に変換する。数式（９）から逆行列を左辺と右辺に乗じた式が数式（１０）であり、かかる数式（１０）からａ、ｂ、ｃの最適解を求める。そして、ａ、ｂ、ｃの解から貫通穴の中心座標（ｍ、ｎ）を導き出すことができる。
【数６】
2007065073.tif 000008
【数７】
2007065073.tif 000009
【数８】
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【数９】
2007065073.tif 000011
【数１０】
2007065073.tif 000012
【００２７】
ところで、図４に示されるように、直線Ｌ１２及びＬ１３には夫々不純物が存在するため、光量変化点Ｐ１２及びＰ１３が貫通穴２０Ｈから大きく外れている。従って、かかるＰ１２及びＰ１３を含めて上記の演算を行なうと、算出される近似円の精度を大きく低下させる要因となる。よって、Ｐ１２及びＰ１３は、予め演算の対象から除外しておく。
【００２８】
図５には、上述の最小二乗法により算出された２つの近似円Ｒ１及びＲ２が示されている。Ｒ１は偶数組の光量変化点から作成された近似円であり、Ｒ２は奇数組の光量変化点から作成された近似円である。近似円Ｒ１の中心座標をＲ１Ｃ（Ｒ１Ｘ、Ｒ１Ｙ）、近似円Ｒ２の中心座標をＲ２Ｃ（Ｒ２Ｘ、Ｒ２Ｙ）としたときの、両中心座標の差分を算出する（ステップＳ８）。そして、中心座標の差分が許容誤差範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ９）。つまり、両中心座標が大きく離れている場合には、作成された近似円の精度の信頼性が低いため、これを採用することができない。従って、２つの中心座標が大きく離れている場合は、不良品と判別して処理を終了する（ステップＳ１３）。
【００２９】
一方、許容誤差範囲内であれば、図６に示されるように、奇数組の近似円の中心座標と偶数組の近似円の中心座標との中点の座標ＲＭ（ＲＭＸ、ＲＭＹ）を求める（ステップＳ１０）。中点の座標ＲＭ（ＲＭＸ、ＲＭＹ）は、（ＲＭＸ、ＲＭＹ）＝（（Ｒ１Ｘ＋Ｒ２Ｘ）／２、（Ｒ１Ｙ＋Ｒ２Ｙ）／２）である。かかる中点の座標を貫通穴２０Ｈの中心座標とみなす。つまり、奇数組の近似円と偶数組の近似円との２つの近似円を作成し、当該２つの近似円をさらに平均化することにより、求める近似円の精度をより向上させることができる。勿論、奇数組と偶数組とに分けなくても近似円を求めることができるが、上記のように２つの近似円を作成することにより、高い精度をもった近似円を作成することができる。また、３つ以上の近似円を作成することも可能であり、作成する近似円の数が多ければ精度も向上するが、多くのサンプリング値が必要となる点、計算処理に非常に時間を要するといった観点から２つの近似円を作成することが好ましい。但し、近似円はいくつ作成しても本発明の作用効果を奏することは可能である。
【００３０】
そして、上記の中点の座標ＲＭ（ＲＭＸ、ＲＭＹ）とＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）との差分を算出する（ステップＳ１１）。その結果、近似円の中点の座標（ＲＭＸ、ＲＭＹ）とＰＣＢマーク３０Ｍの中心座標（ＭＸ、ＭＹ）との差分が許容誤差範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ１２）。その結果、差分が許容誤差範囲内でなければ、不良品と判別し（ステップＳ１３）、許容誤差範囲内であれば、良品と判別する（ステップＳ１４）。不良品と判定されれば、例えばその旨の警告を発する等の処理を行うことができる。
【００３１】
以上説明したように、本発明は、ＴＣＰとＰＣＢとが非透明性の部材であっても、ＴＣＰに形成された貫通穴の半径とＰＣＢに形成されたマークとに基づいて、貫通穴の中心座標の位置を予測することができ、予測された貫通穴の中心座標とＰＣＢに形成されたマークの座標とのずれに基づいてＴＣＰとＰＣＢとの間の位置ずれを検出することができる。その結果、位置ずれが許容誤差範囲内であるか否かに基づいて、良品であるか不良品であるかを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明の最小二乗法の処理を示すフローチャートである。
【図２】液晶パネルとＴＣＰとＰＣＢとが取り付けられたものの概略構成図である。
【図３】ＴＣＰの角隅部の拡大図である。
【図４】ＰＣＢマークから延出される放射状の直線及び光量変化点を示した説明図である。
【図５】２つの近似円が作成されたときの説明図である。
【図６】図５の拡大図である。
【符号の説明】
【００３３】
１０        液晶パネル            ２０        ＴＣＰ
３０        ＰＣＢ                ２０Ｈ        貫通穴
３０Ｍ        マーク                ４０        パネルアセンブリ
Ｌ１〜Ｌ１６    直線                
【図１】
2007065073.tif 000013
【図２】
2007065073.tif 000014
【図３】
2007065073.tif 000015
【図４】
2007065073.tif 000016
【図５】
2007065073.tif 000017
【図６】
2007065073.tif 000018