(57)【要約】【課題】本発明は自己診断テストを実施後、テスト結果とともに特定マークを表示する情報処理装置、自己診断方法およびプログラム。【解決手段】所定の複数のキー（ＡＣ、シフト、メニュー）の同時押しにより、自己診断テストモードへの移行を報知する画面が表示され、さらに、所定のキー信号（“１”、“２”、“３”、“・”）のいずれかの入力により自己診断テストモードに移行し、自己診断テストが実施される。テスト結果が画面中央に表示され、所定の文字列（ＡＢＣＤＥ）からなる特定マークが前記報知画面の表示中に入力されたキー信号に応じた位置とサイズで表示される。【選択図】      図１３
2007072579.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自己診断テスト機能を有する情報処理装置の自己診断方法において、
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を具備する自己診断方法。
【請求項２】
前記テストモード設定ステップは、
入力された少なくとも２つのキー信号に応答してテストモード移行報知画面が前記表示画面に表示された状態で、いずれかの第１キー信号に応答してテストモードに設定し、このテストモードに設定された際に、テスト選択画面を前記表示画面に表示する選択画面表示ステップを具備し、
前記テスト実施ステップは、
この選択画面表示ステップによる前記テスト選択画面の表示中に入力されたいずれかの第２キー信号に応じた項目の自己診断テストを実施するテスト項目実施ステップを具備する請求項１記載の自己診断方法。
【請求項３】
前記選択画面表示ステップはユーザに前記第１キー信号以外の第３キー信号の入力を促すメッセージを表示し、前記第３キー信号が入力されると、各計算機能を実行するための通常のモードが設定される請求項２記載の自己診断方法。
【請求項４】
前記結果表示ステップは特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項１記載の自己診断方法。
【請求項５】
前記テストモード設定ステップは、特定マークを非表示とする第４キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定する請求項１記載の自己診断方法。
【請求項６】
前記テスト実施ステップは通信機能のテストを行なう通信テスト実施ステップを具備し、
この通信テスト実施ステップによる通信テスト中に前記特定マークを前記表示画面に表示する通信中表示ステップを具備する請求項１記載の自己診断方法。
【請求項７】
前記通信中表示ステップは、前記通信テスト中に前記特定マークを構成する文字を１文字ずつスクロール表示する請求項６記載の自己診断方法。
【請求項８】
前記結果表示ステップは前記テスト実施ステップにより全ての自己診断テストが実施された際に、全ての結果が正常であるかどうかを表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する全結果表示ステップを具備する請求項２記載の自己診断方法。
【請求項９】
自己診断テスト機能を有する情報処理装置のコンピュータに
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を実行させるためのプログラム。
【請求項１０】
自己診断テスト機能を有する情報処理装置において、
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定手段と、
このテストモード設定手段によって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施手段と、
このテスト実施手段により実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示手段と、
を具備する情報処理装置。
【請求項１１】
前記テストモード設定手段は、
入力された少なくとも２つのキー信号に応答してテストモード移行報知画面が前記表示画面に表示された状態で、いずれかの第１キー信号に応答してテストモードに設定し、このテストモードに設定された際に、テスト選択画面を前記表示画面に表示する選択画面表示手段とを具備し、
前記テスト実施手段は、
この選択画面表示手段による前記テスト選択画面の表示中に入力されたいずれかの第２キー信号に応じた項目の自己診断テストを実施するテスト項目実施手段を具備する請求項１０記載の情報処理装置。
【請求項１２】
前記選択画面表示手段はユーザに前記第１キー信号以外の第３キー信号の入力を促すメッセージを表示し、
前記テストモード設定手段は前記第３キー信号が入力されると、各計算機能を実行するための通常のモードを設定する請求項１１記載の情報処理装置。
【請求項１３】
前記結果表示手段は特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項１０記載の情報処理装置。
【請求項１４】
前記第１キー信号に応じたサイズと表示位置を示すデータを記憶するメモリをさらに具備し、前記結果表示手段は前記メモリを参照して特定マークを前記第１キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項１３記載の情報処理装置。
【請求項１５】
前記テストモード設定手段は、特定マークを非表示とする第４キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定する請求項１０記載の情報処理装置。
【請求項１６】
前記テスト実施手段は通信機能のテストを行なう通信テスト実施ステップを具備し、
前記表示手段はこの通信テスト実施ステップによる通信テスト中に前記特定マークを前記表示画面に表示する通信中表示ステップを具備する請求項１０記載の情報処理装置。
【請求項１７】
前記通信中表示手段は、前記通信テスト中に前記特定マークを構成する文字を１文字ずつスクロール表示する請求項１６記載の情報処理装置。
【請求項１８】
前記結果表示手段は前記テスト実施手段により全ての自己診断テストが実施された際に、全ての結果が正常であるかどうかを表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する全結果表示手段を具備する請求項１１記載の情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は自己診断機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びそのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
小型の携帯可能な情報処理装置の一例として、各種数式を入力すると、入力された数式に基づいて演算を実行し、演算結果を表示する関数電卓（電子式卓上計算機）が知られている。関数電卓は複雑な演算をするために複雑な半導体回路を各種内蔵している。また、入力した数値、演算式、演算結果等を表示する表示装置を備えていることが一般的であった。
【０００３】
一方、半導体回路が正しく動作しているか否かを検査する装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。当該装置を関数電卓に備えることにより、例えば、電卓に内蔵されている半導体回路が正常であるか、異常があるかを検査する機能（以下、自己診断テスト機能と呼称する）を搭載することができる。
【０００４】
ここで、関数電卓等の製造工程において、検査者が製品の最終検査をすることが一般的である。例えば、電卓に内蔵された自己診断テストプログラムを実行させ、テスト結果を目視することにより、製品一つ一つの良否を判断する方法が採られている。
【０００５】
ここで、自己診断テストの結果を表示する画面は多くが単調な表示画面であった。工場等において極めて多くの製品をチェックする検査者にとっては単調な結果表示画面を見誤らないように一定の緊張感を持って検査をする必要があり、大きな負担を強いるものであった。
【特許文献１】特開平６−３４２０４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このように従来の自己診断テスト機能には、テスト結果の表示の視認性が低いという欠点がある。
【０００７】
本発明の目的はテスト結果の表示の視認性が高い自己診断テスト機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記した課題を解決し目的を達成するために、本発明は以下に示す手段を用いている。
【０００９】
（１）本発明による自己診断テスト機能を有する情報処理装置の自己診断方法は、
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を具備する自己診断方法である。
【００１０】
（２）本発明によるプログラムは、自己診断テスト機能を有する情報処理装置のコンピュータに
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を実行させるためのプログラムである。
【００１１】
（３）本発明による自己診断テスト機能を有する情報処理装置は、
入力されたいずれかの第１キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定手段と、
このテストモード設定手段によって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施手段と、
このテスト実施手段により実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で表示する結果表示手段と、
を具備する情報処理装置である。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように本発明によれば、自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、動作モードをテストモードに設定するための第１キー信号の中の入力されたいずれかの第１キー信号に応じた態様で特定マークを表示することにより、自己診断テストの結果表示の視認性が高い自己診断テスト機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びプログラムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照して本発明による情報処理装置、自己診断方法の実施の形態を説明する。
【００１４】
図１は本発明の第１の実施の形態に係る携帯可能な情報処理装置としての関数電卓の構成を示すブロック図である。この関数電卓は、通常の動作モード以外に、種々の機能が正常に動作するか否かをテストする自己診断テストモードを有する。
【００１５】
システムバス１２にＣＰＵ１４、ＲＯＭ１６、ＲＡＭ１８、キー入力部２０、表示部２２が接続される。キー入力部２０は、数字キーや演算キー等の数式の入力や機能選択等に必要なキー群を備えた入力装置であり、押下されたキーの信号をＣＰＵ１４に出力する。このキー入力部２０におけるキー入力により、数式の入力、関数の選択、演算実行の指示等の入力手段が実現される。キー入力部２０は、電源オンのためのＡＣキー２０ａ、“０”〜“９”、“・”、“＝”キーを含むテンキー２０ｂ、関数演算のための演算キー２０ｃ、シフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅ、終了（ＥＸＩＴ）キー２０ｆとからなる。
【００１６】
テンキー２０ｂは、関数電卓に対し数値を入力する為のキーであり、演算キー２０ｃは、四則演算、関数演算を実行する場合の演算子を入力するためのキーである。
【００１７】
関数演算の入力は演算キー２０ｃ（単独の場合及びシフトキー２０ｄとの組み合わせ）の入力のみならず、メニュー画面からの指定によっても可能である。これにより多数の種類の関数演算が可能である。
【００１８】
メニューキー２０ｅは、関数電卓において各計算機能を実行する為のメニューを呼出すキーであり、シフトキー２０ｄは他のキーと組み合わせて押下する際に利用するキーである。例えば、ＡＣキー２０ａが押下されると、関数電卓の電源がＯＮ状態となり、シフトキー２０ｄとＡＣキー２０ａとを組み合わせて押下することにより、関数電卓の電源がＯＦＦ状態となる。
【００１９】
表示部２２は各種キーの押下に応じた数式や文字等、関数電卓を使用するために必要な各種データ、数式、演算結果が表示される部分であり、ドットマトリクス方式の液晶表示装置（ＬＣＤ）からなる。しかし、セグメント方式の液晶表示装置等であってもよい。
【００２０】
ＲＯＭ１６は図２の（ａ）に示すように、制御プログラム、計算プログラム、テストモードプログラム、テストモードＲＯＭデータからなる。テストモードプログラムはテストモードで実行されるテストプログラムである。テストモードＲＯＭデータは自己診断テスト時に使われる種々のデータを記憶するものであり、特定マークデータ、マークサイズ・位置データ、チェックデータ、チェック・サム等からなる。特定マークは自己診断テスト終了後にテスト結果の視認性を良くするために診断結果と共に表示されるものであり、ここでは、例えばＡＢＣＤＥが特定マークとして登録されている。マークサイズ・位置データは特定マークのサイズ、表示位置を指定するものであり、３種類の組み合わせがプリセットされている。この種類は自己診断テストモードへの移行を指示するキー入力（ここでは、“１”、“２”、“３”のいずれか）により指定される。チェックデータはＲＯＭのテスト（チェック・サムテスト）のためのチェック・サム計算のためのデータである。チェック・サムはチェック・サムテストの照合のための正しいチェック・サムである。
【００２１】
表示位置とは、表示部２２における特定マークを表示する位置を示す。実際には表示部の座標を利用して位置を特定するが（例えば、横方向で５ドット目、縦方向で３ドット目）、本実施形態においては、説明の簡明化の為、表示部５０の左上、右下、上中央等と相対的な位置として表すことにする。
【００２２】
サイズとは特定マークの大きさを表すものであり、ここでは関数電卓が数値や数式を表示する場合の標準的なサイズの何倍の大きさであるかを相対的に示している。なお、他にも大きさを指定する方法として、例えば、文字のポイントを指定する方法であったりしても良い。
【００２３】
ＲＡＭ１８はＣＰＵ１４が実行する各種プログラムや、これらのプログラムの実行にかかるデータ等を一時的に保持する随時書き込み可能なメモリであり、図２の（ｂ）に示すように、システムエリアとユーザエリアとからなり、システムエリアはテストモードＲＡＭデータと、その他のデータからなる。テストモードＲＡＭデータはテスト移行キー、テスト項目フラグ１〜テスト項目フラグ５からなる。テスト移行キーは自己診断テストモードへの移行を指示するキー（上記マークサイズ・位置を指定するキー）を記憶するものである。テスト項目フラグは各項目のテスト結果を示すもので、初期値は０がセットされ、テスト終了時に、結果が正常（ＯＫ）であれば１が、異常（ＮＧ）であれば２がセットされる。
【００２４】
図３、図４は自己診断テストモード処理のフローチャートである。本実施形態は通常モードに加えて自己診断テストモードを備えている。通常モードはＡＣキー２０ａにより電源オンされると開始されるが、自己診断テストモードは電源オフ中にＡＣキー２０ａを含む少なくとも２つの特定キー、ここではシフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されることにより開始される。なお、自己診断モードは工場で出荷前に使われるもので、一般ユーザには無関係のものである。そのため、自己診断テストモード開始のためのキーはユーザには知らせない。
【００２５】
ステップＳ１２で電源オフか否か判定される。なお、電源オフ時でもキースキャンは行われている。オフの場合は、ステップＳ１４でＡＣキー２０ａ、シフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されたか否か判定される。同時押しが検出されない場合は、ステップＳ１２に戻る。電源がオンされると、通常モード処理が行われる。
【００２６】
３つの特定キーの同時押しが検出された場合は、ステップＳ１６で自己診断モードへの移行を報知する画面を表示する。これは、電源オフ中に間違ってＡＣキー２０ａ、シフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅを同時に押してしまった一般ユーザのためであり、「自己診断テストモードは工場で使用するためのものです。終了キーを押して（通常モードに戻って）下さい。」を表示する。この後、ステップＳ１８で終了キーが押された否か判定され、押されたことが検出されると、通常モード処理が行われる。
【００２７】
工場では実際に自己診断テストモードに移行する必要があり、自己診断テストモード移行報知画面の表示中に終了キーではない所定のテスト移行キーを押す必要がある。前述したように、テスト移行キーは特定マークの表示の態様（サイズ、位置）を指定する機能も兼ねており、移行キーは“１”、“２”、“３”、“・”が予め決められている。なお、移行キー “・”は、自己診断テストモードに移行するが、自己診断テスト終了後に特定マークの表示を省略したい場合に押される。ステップＳ２０でこれらのテスト移行キーのいずれかが押されたか否か判定される。これらのテスト移行キーのいずれも押されない場合は、通常モード処理が行われる。
【００２８】
これらのテスト移行キーのいずれかが押された場合、自己診断テストモード処理が実際に開始する。ステップＳ２２でこのテスト移行キー信号がＲＡＭ１８のテスト移行キーメモリに格納される。ステップＳ２４でＲＡＭ１８のテスト項目フラグ１〜５がリセット（“０”をセット）される。ステップＳ２６でテスト項目一覧が表示される。テスト項目は５つ：ＬＣＤテスト、ＲＯＭテスト、ＲＡＭテスト、通信テスト、リセットあり、それぞれに数字の１〜５が割り振られ、数字を入力することによりテスト項目が選択できる。
【００２９】
ステップＳ２８でテスト項目を選択するキーが押されたか否か判定される。キー入力が検出されるまでステップＳ２８が繰り返され、キー入力が検出されると、ステップＳ３０でキーが判別される。“１”キーが押された場合はステップＳ３２でＬＣＤテストが、“２”キーが押された場合はステップＳ３４でＲＯＭテストが、“３”キーが押された場合はステップＳ３６でＲＡＭテストが、“４”キーが押された場合はステップＳ３８で通信テストが、“５”キーが押された場合はステップＳ４０でリセット処理が実行される。各テスト（リセット処理もテストに含む）の詳細は後述する。
【００３０】
ステップＳ４２で全てのテストが実行されたか否か判定される。テスト項目フラグ１〜５は初期値が“０”であるので、テスト項目フラグ１〜５の全てが“０”以外であれば、全てのテストが実行されたと判定できる。“０”であるテスト項目フラグが１つでもあれば、ステップＳ２６に戻り、テスト項目の選択が繰り返される。ステップＳ４４で全てのテスト結果が正常か否か判定される。後述するが、テストが終了すると、テスト結果に応じた値がテスト項目フラグにセットされるので、このフラグの値に応じてテスト結果を判定できる。
【００３１】
全てのテスト結果が正常である場合は、ステップＳ４６で、画面中央に「全てのテストＯＫ」と表示される。１つでもテスト結果が異常である場合は、ステップＳ４８で、画面中央に「テストＮＧ」と表示される。この後、ステップＳ５０で特定マークも表示される。この詳細も後述する。
【００３２】
ステップＳ５２でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、通常モード処理に移行する。
【００３３】
図５は図４のステップＳ５０で実行されるマーク表示処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ６２でＲＡＭ１８のテスト移行キーメモリを参照してテスト移行キーが“・”であったか否か判定される。テスト移行キーが“・”であった場合は、マーク表示処理を実行せずに終了する。
【００３４】
テスト移行キーが“・”ではない場合は、ステップＳ６４でテスト移行キー“１”、“２”、“３”に応じたマークサイズデータがＲＯＭ１６のテストモードＲＯＭデータエリアから読み出され、ステップＳ６６でそのサイズデータに応じて特定マークが拡大される。例えば、テスト移行キーが“１”の場合は拡大処理無し、“２”の場合は３倍、“３”の場合は２倍に拡大される。
【００３５】
ステップＳ６８でテスト移行キー“１”、“２”、“３”に応じたマーク位置データがＲＯＭ１６のテストモードＲＯＭデータエリアから読み出され、ステップＳ７０でその表示位置に拡大処理後の特定マークが表示される。例えば、テスト移行キーが“１”の場合は左上に、“２”の場合は上中央、“３”の場合は右下に特定マークが表示される。
【００３６】
図６は図４のステップＳ３２で実行されるＬＣＤテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ７４でＬＣＤの全画素が点灯される。ＬＣＤテストは人が目視して正しく点灯しているか否かを判定するもので、正しく点灯している場合は“＝”キーを押し、正しくない場合はそれ以外のキーを押すことにしている。ステップＳ７６で“＝”キーが押されたか否かが判定される。“＝”キー以外のキーが押された場合は、ステップＳ９４でテスト項目フラグ１に“２”がセットされ、ステップＳ９６で画面中央に「ＬＣＤテストＮＧ」が表示される。
【００３７】
ステップＳ７６で“＝”キーが押されたと判定された場合は、ステップＳ７８でＬＣＤの全画素が消灯される。ステップＳ８０で“＝”キーが押されたか否かが判定される。“＝”キー以外のキーが押された場合は、ステップＳ９４でテスト項目フラグ１に“２”がセットされ、ステップＳ９６で画面中央に「ＬＣＤテストＮＧ」が表示される。
【００３８】
ステップＳ８０で“＝”キーが押されたと判定された場合は、ステップＳ８２でＬＣＤの画素が一つおきに千鳥状に点灯される。ステップＳ８４で“＝”キーが押されたか否かが判定される。“＝”キー以外のキーが押された場合は、ステップＳ９４でテスト項目フラグ１に“２”がセットされ、ステップＳ９６で画面中央に「ＬＣＤテストＮＧ」が表示される。
【００３９】
ステップＳ８４で“＝”キーが押されたと判定された場合は、ステップＳ８６で周辺画素のみが枠状に点灯される。ステップＳ８８で“＝”キーが押されたか否かが判定される。“＝”キー以外のキーが押された場合は、ステップＳ９４でテスト項目フラグ１に“２”がセットされ、ステップＳ９６で画面中央に「ＬＣＤテストＮＧ」が表示される。周辺画素とは表示部２２を構成する表示ドットのうち、端から所定の幅（例えば、３ドット分）を点灯状態とし、残りの部分（中央部分）を消灯状態とする表示である。
【００４０】
ステップＳ８８で“＝”キーが押されたと判定された場合は、ステップＳ９０でテスト項目フラグ１に“１”がセットされ、ステップＳ９２で画面中央に「ＬＣＤテストＯＫ」が表示される。
【００４１】
ステップＳ９８で図５に示すマーク表示処理が実行され、“１”、“２”、“３”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ＡＢＣＤＥ”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
【００４２】
ステップＳ１００でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、ＬＣＤテストを終了する。
【００４３】
図７は図４のステップＳ３４で実行されるＲＯＭテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ１０２でＲＯＭ１６のテストモードＲＯＭデータエリアからチェックデータを読み出し、チェック・サムを計算する。ステップＳ１０４で、この計算結果とＲＯＭ１６のテストモードＲＯＭデータエリアに格納されているチェック・サムとが照合される。
【００４４】
両者が一致する場合は、ステップＳ１０６でテスト項目フラグ２に“１”がセットされ、ステップＳ１０８で画面中央に「ＲＯＭテストＯＫ」が表示される。両者が一致しない場合は、ステップＳ１１０でテスト項目フラグ２に“２”がセットされ、ステップＳ１１２で画面中央に「ＲＯＭテストＮＧ」が表示される。
【００４５】
ステップＳ１１４で図５に示すマーク表示処理が実行され、“１”、“２”、“３”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ＡＢＣＤＥ”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
【００４６】
ステップＳ１１６でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、ＲＯＭテストを終了する。
【００４７】
図８は図４のステップＳ３６で実行されるＲＡＭテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ１２０でＲＡＭ１８のリード・ライトチェックを行う。ステップＳ１２２で、このリード・ライトチェックの結果が正常か否か判定される。
【００４８】
チェック結果が正常の場合は、ステップＳ１２４でテスト項目フラグ３に“１”がセットされ、ステップＳ１２６で画面中央に「ＲＡＭテストＯＫ」が表示される。チェック結果が正常ではない場合は、ステップＳ１２８でテスト項目フラグ３に“２”がセットされ、ステップＳ１３０で画面中央に「ＲＡＭテストＮＧ」が表示される。
【００４９】
ステップＳ１３２で図５に示すマーク表示処理が実行され、“１”、“２”、“３”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ＡＢＣＤＥ”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
【００５０】
ステップＳ１３４でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、ＲＡＭテストを終了する。
【００５１】
図９は図４のステップＳ３８で実行される通信テスト処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ１３８でデータの送信チェックが開始される。ステップＳ１４０で通信表示処理（詳細は後述する）が実行される。ステップＳ１４２でデータの受信チェックが開始される。ステップＳ１４４で通信表示処理が実行される。
【００５２】
ステップＳ１４６で送信／受信チェックの結果が正常か否か判定される。
【００５３】
チェック結果が正常の場合は、ステップＳ１４８でテスト項目フラグ４に“１”がセットされ、ステップＳ１５０で画面中央に「通信テストＯＫ」が表示される。チェック結果が正常ではない場合は、ステップＳ１５２でテスト項目フラグ４に“２”がセットされ、ステップＳ１５４で画面中央に「通信テストＮＧ」が表示される。
【００５４】
ステップＳ１５６で図５に示すマーク表示処理が実行され、“１”、“２”、“３”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ＡＢＣＤＥ”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
【００５５】
ステップＳ１５８でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、通信テストを終了する。
【００５６】
図１０は図９のステップＳ１４０で実行される通信（送信）表示処理の詳細を示すフローチャートである。ステップＳ１４４で実行される通信（受信）表示処理は図１０の送信を受信に変えるだけで他は同じであるので、説明は省略する。
【００５７】
ステップＳ１６２で通信が行われるか否か判定される。本実施形態は関数電卓間をコードで接続することにより通信が行われるので、ステップＳ１６２では他の関数電卓と接続されているか否かに基づいて判定される。通信すると判定された場合は、ステップＳ１６４で所定の通信時間を特定マークの文字数である５で除算する。これは、特定マークを１文字ずつ送信しながら、スクロール表示するので、１文字の通信・表示時間を求めるものである。
【００５８】
ステップＳ１６６で“Ａ”の送信中であることを通信時間の１／５だけ表示する。ステップＳ１６８で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップＳ１８４で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
【００５９】
終了キーが押されていない場合は、ステップＳ１７０で“Ｂ”の送信中であることを通信時間の１／５だけ表示する。ステップＳ１７２で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップＳ１８４で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
【００６０】
終了キーが押されていない場合は、ステップＳ１７４で“Ｃ”の送信中であることを通信時間の１／５だけ表示する。ステップＳ１７６で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップＳ１８４で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
【００６１】
終了キーが押されていない場合は、ステップＳ１７８で“Ｄ”の送信中であることを通信時間の１／５だけ表示する。ステップＳ１８０で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップＳ１８４で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
【００６２】
終了キーが押されていない場合は、ステップＳ１８２で“Ｅ”の送信中であることを通信時間の１／５だけ表示する。
【００６３】
その後、ステップＳ１８４で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
【００６４】
図１１は図４のステップＳ４０で実行されるリセット処理の詳細なフローチャートである。ステップＳ１８６でＲＡＭのユーザエリアのデータをリセットする。
【００６５】
ステップＳ１８８でリセットが正常に行われたか否か判定される。
【００６６】
リセットが正常に行われた場合は、ステップＳ１９０でテスト項目フラグ５に“１”がセットされ、ステップＳ１９２で画面中央に「リセットＯＫ」が表示される。リセットが正常に行われなかった場合は、ステップＳ１９４でテスト項目フラグ５に“２”がセットされ、ステップＳ１９６で画面中央に「リセットＮＧ」が表示される。
【００６７】
ステップＳ１９８で図５に示すマーク表示処理が実行され、“１”、“２”、“３”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断テストモードに移行した場合は、特定マークである“ＡＢＣＤＥ”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
【００６８】
ステップＳ２００でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、リセット処理を終了する。
【００６９】
以上の各フローチャートの動作に基づく全体の動作を画面の状態遷移を参照して説明する。
【００７０】
図１２はＬＣＤテストの動作を示す。図３のステップＳ１４で電源オフ時にＡＣキー２０ａ、シフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されたことが検出されると、ステップＳ１６で「自己診断テストモード（工場検査で使用）。終了キーを押して下さい。」というガイダンスが表示される。ガイダンス通り終了キーが押されると、通常モード処理が行われ、所定のテスト移行キーが押されると、テストモードに移行する。
【００７１】
ここでは、“１”キー（サイズ：１、表示位置：左上）によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップＳ２６でテスト項目一覧が表示される。ここで、“１”キーが押され、ＬＣＤテストが開始される。
【００７２】
図６のステップＳ７４でＬＣＤの全画素が点灯される。作業者の目視の結果、正常であると判定されると、“＝”キーが押され、ステップＳ７８でＬＣＤの全画素が消灯される。正常であると判定されると、“＝”キーが押され、ステップＳ８２でＬＣＤの画素が一つおきに千鳥状に点灯される。正常であると判定されると、“＝”キーが押され、ステップＳ８６で周辺画素のみが枠状に点灯される。正常であると判定されると、“＝”キーが押され、ステップＳ９２で画面中央に「ＬＣＤテストＯＫ」が表示され、ステップＳ９８で画面左上に等倍で特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。各判定で異常と判断され、“＝”キー以外のキーが押された場合は、ステップＳ９２で画面中央に「ＬＣＤテストＮＧ」が表示され、ステップＳ９８で画面左上に等倍で特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。
【００７３】
図１３はＲＯＭテストの動作を示す。図３のステップＳ１４で電源オフ時にＡＣキー２０ａ、シフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されたことが検出されると、ステップＳ１６で「自己診断テストモード（工場検査で使用）。終了キーを押して下さい。」というガイダンスが表示される。ガイダンス通り終了キーが押されると、通常モード処理が行われ、所定のテスト移行キーが押されると、テストモードに移行する。
【００７４】
ここでは、“２”キー（サイズ：３、表示位置：上中央）によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップＳ２６でテスト項目一覧が表示される。ここで、“２”キーが押され、ＲＯＭテストが開始される。
【００７５】
ＲＯＭテストの結果はテストプログラムが判断し、チェック・サムが正しければ、ステップＳ１０８で画面中央に「ＲＯＭテストＯＫ」が表示され、ステップＳ１１４で画面上中央に３倍に拡大された特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。異常と判断された場合は、ステップＳ１１２で画面中央に「ＲＯＭテストＮＧ」が表示され、ステップＳ１１４で画面上中央に３倍に拡大された特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。
【００７６】
ＲＡＭテスト、リセットの表示画面の遷移はＲＯＭテスト同様であるので、説明は省略する。
【００７７】
図１４は通信テストの動作を示す。自己診断テストモード移行報知画面で“３”キー（サイズ：２、表示位置：右下）によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップＳ２６でテスト項目一覧が表示される。ここで、“４”キーが押され、通信テストが開始される。
【００７８】
図１０のステップＳ１６６で“Ａ”の送信中であること通信時間の１／５だけが表示される。以下、同様にステップＳ１７０、Ｓ１７４、Ｓ１７８、Ｓ１８２で“Ｂ”、“Ｃ”、“Ｄ”、“Ｅ”の送信中であることが表示される。ステップＳ１８４で送信完了した旨が表示される。
【００７９】
その後、図９の送信／受信チェックが行われ、正常な場合は、ステップＳ１５０で画面中央に「通信テストＯＫ」が表示され、ステップＳ１５６で画面右下に２倍に拡大された特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。異常と判断された場合は、ステップＳ１５４で画面中央に「通信テストＮＧ」が表示され、ステップＳ１５６で画面右下に２倍に拡大された特定マーク“ＡＢＣＤＥ”が表示される。
【００８０】
以上説明したように、第１の実施の形態によれば、第１キー信号に応じて動作モードをテストモードに設定し、自己診断テストを実施し、テスト結果を所定の位置に表示するとともに、特定マークを第１キー信号に応じた態様で表示する。
【００８１】
これにより、自己診断テストの結果が所定のマークと共に表示されるので、テスト結果の視認性が向上する。
【００８２】
テストモード設定は、少なくとも２つのキー信号に応じてテストモード移行報知画面を表示し、テストモード移行報知画面の表示中に入力された第１キー信号に応じてテストモードに移行し、テスト項目選択画面を表示する。テストの実施は、テスト項目選択画面の表示中に入力された第２キー信号に応じた項目の自己診断テストが実施される。
【００８３】
これにより、複数の自己診断テストを選択的に実行することができる。
【００８４】
テストモード移行報知画面表示手段はユーザに第１キー信号以外の第３キー信号の入力を促すメッセージを表示し、第３キー信号が入力されると、通常のモードが設定される。
【００８５】
これにより、誤って自己診断テストモードの開始を指示した場合、その指示をキャンセルすることができる。
【００８６】
特定マークは第１キー信号に応じた位置とサイズで表示される。
【００８７】
表示する特定マークのサイズを選択することができるので、テスト結果の視認性を状況に応じて変えることができる。
【００８８】
第１キー信号に応じたサイズと表示位置を示すデータを記憶するメモリをさらに具備し、特定マークはメモリを参照して第１キー信号に応じた位置に第１キー信号に応じたサイズで表示される。
【００８９】
表示する特定マークのサイズ、表示位置を選択することができるので、テスト結果の視認性を状況に応じて変えることができる。
【００９０】
特定マークを非表示とする第４キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定することができる。
【００９１】
これにより、テスト結果のみの表示も選択することができ、利便性の向上が図れる。
【００９２】
テスト項目には通信機能のテストも含まれ、特定マークは通信テスト中にも表示される。特定マークは複数の文字からなり、複数の文字が１文字ずつスクロール表示される。
【００９３】
テスト中にも特定マークがテストの進捗に従った態様で表示されるので、自己診断テストの実行が確認できる。
【００９４】
テスト項目が複数ある場合、全ての項目のテスト結果が正常であるか否かが表示される。
【００９５】
これにより、自己診断テストの結果が一目で確認できる。
【００９６】
変形例
この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。例えば、自己診断テストモードは電源オフ中にＡＣキー２０ａを含む少なくとも２つの所定のキー、ここではシフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されることにより開始されるとしたが、電源オン中に少なくとも２つの所定のキー、ここではシフトキー２０ｄ、メニューキー２０ｅが同時に押されることにより開始されるとしてもよいし、複数のキーを同時に押すのではなく、順番に押されても開始するようにしてもよい。また、通信テストに限り、テスト中に特定マークを表示することとしたが、他のテストにおいてもテスト中に特定マークを表示するようにしてもよい。さらに、所定のマークとして複数の文字を用いて説明したが、文字をモチーフにしたロゴであったり、所定のキャラクター絵柄であったり、さらには、静止画に限らず、アニメーション表示であってもよい。
【００９７】
また、上述した説明は、情報処理装置しては関数電卓を例に挙げて説明したが、関数電卓に限らず、四則演算を中心に扱う電卓や、金融計算機能を内蔵する金融計算電卓等に適用しても良いことは勿論である。さらに、電卓に限らず、携帯電話機、パーソナルコンピュータ、電子時計、ＰＤＡ（Personal Digital Assistance）などの電子機器全般に本発明を適用して良いことは勿論である。具体的には、図２に示したＲＯＭ１６の各種データ・プログラムを記憶し、実行できる環境にある電子機器であれば、何れの電子機器にも適用可能である。
【００９８】
また、本発明は、コンピュータに所定の手段を実行させるための、あるいはコンピュータを所定の手段として機能させるための、あるいはコンピュータに所定の機能を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体としても実施することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００９９】
【図１】本発明の携帯可能な情報処理装置の実施の形態としての関数電卓の構成を示すブロック図。
【図２】図１のＲＯＭ、ＲＡＭに記憶されるデータの構造を構成を示す図。
【図３】関数電卓の自己診断テストモード処理を示すフローチャート。
【図４】図３に続く自己診断テストモード処理を示すフローチャート。
【図５】自己診断テストモード処理内のマーク表示処理を示すフローチャート。
【図６】自己診断テストモード処理内のＬＣＤテスト処理を示すフローチャート。
【図７】自己診断テストモード処理内のＲＯＭテスト処理を示すフローチャート。
【図８】自己診断テストモード処理内のＲＡＭテスト処理を示すフローチャート。
【図９】自己診断テストモード処理内の通信テスト処理を示すフローチャート。
【図１０】通信テスト処理内の通信表示処理を示すフローチャート。
【図１１】自己診断テストモード処理内のリセット処理を示すフローチャート。
【図１２】ＬＣＤテスト時の表示部の画面遷移を示す図。
【図１３】ＲＯＭテスト時の表示部の画面遷移を示す図。
【図１４】通信テスト時の表示部の画面遷移を示す図。
【符号の説明】
【０１００】
１４…ＣＰＵ、１６…ＲＯＭ、１８…ＲＡＭ、２０…キー入力部、２２…表示部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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