(57)【要約】【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側にダミー画素を配置し、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える。やがて両値が一致すると、輝度検出センサーの検出輝度に基づいて累積劣化量の実測値を測定し、当該実測値に現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する。更に、ターゲット画素について算出された累積劣化量差と実測値との差分として誤差量を算出し、累積劣化量差の見積もり値から誤差量の影響を除去して現在のターゲット画素に対する補正量を決定する。これにより、焼き付き現象の補正精度を改善する。【選択図】図７
2007206463.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効表示領域の外側にダミー画素を配置する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、前記ダミー画素の発光輝度を検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域を構成する各画素と基準画素との劣化量差を、各画素に対応する階調値に基づいて算出する個別画素用劣化量差算出部と、
ダミー画素と基準画素との劣化量差を、ダミー画素に対応する階調値に基づいて算出するダミー画素用劣化量差算出部と、
測定タイミング以外は、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える一方で、測定タイミングには測定用の階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差が一致した時点における前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて、累積劣化量の実測値を測定する実劣化量測定部と、
基準画素について算出された累積劣化量とダミー画素について実測された累積劣化量とに基づいて、現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する実劣化量差測定部と、
ターゲット画素について算出された累積劣化量差と対応する実測値との差分を誤差量として算出する誤差量算出部と、
算出された誤差量に基づいて、現在のターゲット画素に対する補正量を決定する補正量決定部と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記ダミー画素が複数の場合、前記ターゲット画素にはダミー画素と同数の一組の画素が重複しないように一度に選択される
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項３】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記ダミー画素データ決定部は、前記現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差との一致が確認される度、有効表示領域内における画素の選択が一巡するように新たなターゲット画素を選択的に設定する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項４】
ダミー画素と輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正する装置であって、
有効表示領域を構成する各画素と基準画素との劣化量差を、各画素に対応する階調値に基づいて算出する個別画素用劣化量差算出部と、
ダミー画素と基準画素との劣化量差を、ダミー画素に対応する階調値に基づいて算出するダミー画素用劣化量差算出部と、
測定タイミング以外は、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える一方で、測定タイミングには測定用の階調値を与えるダミー画素データ決定部と、
前記現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差が一致した時点における前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて、累積劣化量の実測値を測定する累積劣化量測定部と、
基準画素について算出された累積劣化量とダミー画素について実測された累積劣化量とに基づいて、現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する実劣化量差測定部と、
ターゲット画素について算出された累積劣化量差と対応する実測値との差分を誤差量として算出する誤差量算出部と、
算出された誤差量に基づいて、現在のターゲット画素に対する補正量を決定する補正量決定部と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。
【請求項５】
ダミー画素と輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに入力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域を構成する各画素と基準画素との劣化量差を、各画素に対応する階調値に基づいて算出する個別画素用劣化量差算出処理と、
ダミー画素と基準画素との劣化量差を、ダミー画素に対応する階調値に基づいて算出するダミー画素用劣化量差算出処理と、
測定タイミング以外は、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える一方で、測定タイミングには測定用の階調値を与えるダミー画素データ決定処理と、
前記現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差が一致した時点における前記輝度検出センサーの検出輝度に基づいて、累積劣化量の実測値を測定する累積劣化量測定処理と、
基準画素について算出された累積劣化量とダミー画素について実測された累積劣化量とに基づいて、現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する実劣化量差測定処理と、
ターゲット画素について算出された累積劣化量差と対応する実測値との差分を誤差量として算出する誤差量算出処理と、
算出された誤差量に基づいて、現在のターゲット画素に対する補正量を決定する補正量決定処理と、
決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、有効表示領域内の各画素に対応する累積劣化量の見積もり値の誤差分を累積劣化量の実測値を用いて取り除き、焼き付き補正精度を向上する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、入力表示データ補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。
【０００３】
このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列した有機ＥＬディスプレイパネルである。有機ＥＬディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
【０００４】
ところで、有機ＥＬディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体（有機ＥＬ素子）の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
【０００５】
劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
【０００６】
従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００３−５０９７２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このうち特許文献１と特許文献２は、発光体の劣化状態を入力表示データ（階調値）の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。
【０００８】
その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ＥＬディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。
【０００９】
一方、特許文献３に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより１画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで、発明者らは、以下に示す処理機能を組み合わせた入力表示データの補正技術を提案する。なお、表示パネルには、有効表示領域の外側にダミー画素と輝度検出センサーとを配置する。
（ａ）有効表示領域を構成する各画素と基準画素との劣化量差を、各画素に対応する階調値に基づいて算出する個別画素用劣化量差算出処理
（ｂ）ダミー画素と基準画素との劣化量差を、ダミー画素に対応する階調値に基づいて算出するダミー画素用劣化量差算出処理
（ｃ）測定タイミング以外は、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える一方で、測定タイミングには測定用の階調値を与えるダミー画素データ決定処理
（ｄ）現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差が一致した時点における輝度検出センサーの検出輝度に基づいて、累積劣化量の実測値を測定する累積劣化量測定処理
（ｅ）基準画素について算出された累積劣化量とダミー画素について実測された累積劣化量とに基づいて、現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する実劣化量差測定処理
（ｆ）  ターゲット画素について算出された累積劣化量差と対応する実測値との差分を誤差量として算出する誤差量算出処理
（ｇ）算出された誤差量に基づいて、現在のターゲット画素に対する補正量を決定する補正量決定処理
（ｈ）決定された補正量に基づいて、有効表示領域に対応する入力階調値を補正する映像信号補正処理
【発明の効果】
【００１１】
発明者らの提案する発明では、有効表示領域内の画素をターゲット画素に選択して、その累積劣化量差の算出値（見積もり値）とダミー画素の累積劣化量差の算出値（見積もり値）が一致するようにダミー画素データを制御する。そして、両値が一致する測定タイミングでダミー画素の累積劣化量を測定し、ダミー画素と基準画素との間の累積劣化量差を測定する。この後、測定された累積劣化量を使用し、入力表示データ（すなわち、階調値）のみで見積もったターゲット画素の累積劣化量差に含まれる誤差量を求める。続いて、誤差量をターゲット画素について算出されている累積劣化量差の見積もり値から取り除いて補正値を決定する。
この結果、入力表示データの補正精度が向上し、焼き付き現象を確実に抑制又は改善することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【００１３】
（Ａ）発光特性の変動を劣化量の見積もり時に正確に反映する技術
（Ａ−１）基本的な考え方
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機ＥＬ素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
【００１４】
そこで、発明者らは、有機ＥＬ素子の発光特性の経時的な変動を実測し、実測結果を劣化量の見積もりに反映する仕組みを提案する。
図１に、発光時点の違いによる劣化速度（率）の変動を示す。図１は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線ＤAPL は、ある画素（例えば、劣化特性測定用のダミー画素）を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
【００１５】
図１に示す矢印Ｄ100 は、画素に１００％信号レベルの階調値を与えた場合の輝度劣化の進行速度（劣化率）を示す。時点ｔ１を基点とする矢印Ｄ100の傾きと時点ｔ２を基点とする矢印Ｄ100の傾きとを比べて分かるように、同じ階調値によりある画素の発光を制御する場合でも、発光開始時の輝度劣化が異なると劣化速度は同じにならない。
【００１６】
劣化速度が異なれば、発光時間長は同じでも該当期間内に発生する劣化量は異なる値になる。すなわち、階調値と劣化量との対応関係は時間の経過と共に変化する。
そこで、発明者らは、固定的な対応関係に基づいて算出されたターゲット画素の累積劣化量差の見積もり値を、ターゲット画素について実測した累積劣化量に基づいて逐次修正する手法を採用する。より具体的には、ターゲット画素について算出した累積劣化量差の見積もり値に含まれる誤差量を求め、当該誤差量を累積劣化量差の見積もり値から除去する手法を採用する。
【００１７】
（Ａ−２）表示パネルの構成例
図２に、有機ＥＬパネルモジュールの構成例を示す。図２は、主に画素配置の観点から表した図であり、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
有機ＥＬパネルモジュール１は、有効表示領域３とダミー画素領域５で構成する。
有効表示領域３は、発光が外部から観察できる領域である。一方、ダミー画素領域５は、発光が外部から観察されないように遮光された領域であり、有効表示領域３の外側に配置される。
【００１８】
なお、図２の場合、１行目からｎ行目までが有効表示領域３であり、ｎ＋１行目がダミー画素領域５である。この例の場合、各ダミー画素は、ブランキング期間に発光制御する。図２に示すように、発明者らの提案する表示パネルは、一般的な表示パネルに選択線（ゲート駆動線）を１本追加するだけで実現できる。すなわち、ダミー画素領域５は、有効表示領域３内の各画素と同じ構造で良く、既存の駆動回路を流用することができる。すなわち、ダミー画素の駆動に、専用の駆動回路又は大規模な駆動回路を必要としない。
【００１９】
図３に、ダミー画素領域５を構成するダミー画素の構造例を示す。ダミー画素は、有効表示領域内の表示画素と同一の構造を有し、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）のそれぞれに対応する単位ダミー画素で構成される。
これら各単位ダミー画素の発光輝度は、輝度検出センサー７により検出される。図３の場合、１つの輝度検出センサー７を表示画素の全体を覆うように配置されている。もっとも、３つの輝度検出センサー７を構成する各単位ダミー画素と対面するように配置することも可能であるし、各単位ダミー画素内に配置することもできる。
【００２０】
この形態例の場合、輝度検出センサー７を構成する光検出素子には、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーを使用するものとする。輝度検出センサー７は、電流値として検出した光量情報を増幅して電圧値に変換し、光検出信号として出力する。
【００２１】
（Ｂ）好適な形態例
以下、前述した累積劣化情報の修正技術を採用する有機ＥＬディスプレイ装置の形態例を説明する。
（ａ）システム構成
図４に、この形態例で説明する有機ＥＬディスプレイ装置１１のシステム構成例を示す。
有機ＥＬディスプレイ装置１１は、有機ＥＬパネルモジュール１１１、劣化量算出部１１３、階調値／劣化量変換テーブル１１５、劣化量差算出部１１７、全画素用累積劣化量差蓄積部１１９、ダミー画素用累積劣化量差蓄積部１２１、基準画素累積劣化量蓄積部１２３、ダミー画素データ決定部１２５、実劣化量測定部１２７、実劣化量差測定部１２９、誤差量算出部１３１、補正量決定部１３３、映像信号補正部１３５で構成する。
【００２２】
有機ＥＬパネルモジュール１１１には、図２に示す構成の表示パネルを採用する。すなわち、有効表示領域の外側にダミー画素を１つ配置する構成を採用する。
劣化量算出部１１３は、有機ＥＬモジュールパネル１１１を構成する各画素（ダミー画素を含む。）に対する劣化量を算出する処理デバイスである。劣化量算出部１１３は、階調値／劣化量変換テーブル１１５を参照して、各画素に対応する表示データ（階調値）を劣化量に変換する処理を実行する。
【００２３】
なお、劣化量算出部１１３は、基準画素に対応する階調値を劣化量に変換する処理も実行する。この形態例の場合、基準画素には、有効表示領域を構成する全画素のフレーム単位の平均階調値が与えられる画素を想定する。基準画素は、基本発光色別に定める。もっとも、基準画素は、どのように設定しても良い。例えば、有効表示領域内で最も劣化が進んだ画素や劣化の遅れた画素を選択することもできる。因みに、有効表示領域内の全画素の平均階調値は、劣化量算出部１１３内で算出しても良いし、外部で算出しても良い。
算出された劣化量は、劣化量差算出部１１７と基準画素累積劣化量蓄積部１２３に出力される。
【００２４】
階調値／劣化量変換テーブル１１５は、表示データ（階調値）と劣化量とを関連付けて保存する記憶デバイスである。階調値／劣化量変換テーブル１１５を用いるのは、有機ＥＬ素子の劣化量が階調値に対して線形にならないためである。図５に、階調値／劣化量変換テーブル１１５の一例を示す。階調値／劣化量変換テーブル１１５には、入力表示データが採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。因みに、劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。
【００２５】
劣化量差算出部１１７は、有機ＥＬパネルモジュール１１１を構成する各画素と基準画素との劣化量差を、各画素に対応する階調値に基づいて算出する処理デバイスである。
ここでの画素には、有効表示領域内の画素だけでなく、劣化状態検出用のダミー画素も含む。従って、累積劣化量差算出部１１７は、特許請求の範囲における個別画素用劣化量差算出部とダミー画素用劣化量差算出部としての機能を実現する。
【００２６】
全画素用累積劣化量差蓄積部１１９は、有効表示領域内の各画素について算出された劣化量差の累積値を画素毎に蓄積する記憶デバイスである。
ダミー画素用累積劣化量差蓄積部１２１は、ダミー画素について算出された劣化量差の累積値を蓄積する記憶デバイスである。
基準画素累積劣化量蓄積部１２３は、劣化量算出部１１３で算出された基準画素に対応する劣化量の累積値を蓄積する記憶デバイスである。
なお、これらの記憶デバイスは、物理的には同じ記憶デバイスの異なる記憶領域として実現しても良い。
【００２７】
ダミー画素データ決定部１２５は、ダミー画素に与える表示データ、すなわちダミー画素データを生成する処理デバイスである。ダミー画素データの生成は、測定タイミングとそれ以外の期間とで異なる手順で実行される。測定タイミング以外では、ダミー画素データ決定部１２５は、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を決定する。
【００２８】
すなわち、ダミー画素データ決定部１２５は、全画素用累積劣化量差蓄積部１１９からターゲット画素に対応する画素の累積劣化量差を読み出し、この累積劣化量差にダミー画素用累積劣化量差蓄積部１２１に蓄積されている累積劣化量差が一致するように階調値を決定する処理を実行する。
ここでの、階調値の決定動作は、有効表示領域内の各画素に対する補正動作とは異なり、最短時間での一致を基本的に優先する。
【００２９】
ダミー画素データ決定部１２５は、ターゲット画素の累積劣化量差とダミー画素の累積劣化量差が一致すると測定タイミングが到来したと判定し、測定タイミング用の階調値（例えば、１００％階調値）をダミー画素データに決定する。これは、ターゲット画素に選択した画素の実際の劣化状態を測定するためである。
なお、累積劣化量差が一致するとは、完全に一致することを意味するのではなく、事前に設定した一定の範囲内に両値が近づいたことで実用上は十分である。
測定タイミング用の階調値を出力した後は、ターゲット画素として新たに選択した画素について、前述した処理動作を実行する。
【００３０】
なお、ターゲット画素の与え方は任意である。例えば、一行毎に順番に１つの画素を選択する方法、画面全体の中からランダムに１つの画素を選択する方法などを使用する。
ただし、同じ画素が選択されるのは、有効表示領域内の全ての画素がターゲット画素として選択された後に限るものとする。この条件を満たせば、どのような規則でターゲット画素を選択しても良い。
この条件を課すのは、一律に全ての画素について適切な補正値の算出処理が実行されるようにするためである。
【００３１】
図６に、ダミー画素データ決定部１２５によるダミー画素データの出力イメージを示す。図６はイメージ図であるが、ターゲット画素に選択した画素の累積劣化量差とダミー画素の累積劣化量差との関係に応じ、次の測定タイミングが到来するまでの期間が逐次変動する様子が分かる。
実劣化量測定部１２７は、測定タイミングに輝度検出センサーが検出した輝度値に基づいて、累積劣化量の実測値α％を測定する処理デバイスである。なお、測定タイミングの到来は、ダミー画素データ決定部１２５より与えられる。
【００３２】
実劣化量差測定部１２９は、基準画素について算出された累積劣化量β％とダミー画素について実測された累積劣化量α％とに基づいて、現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値α−β％を測定する処理デバイスである。
図７に算出イメージを示す。図７は、あるターゲット画素についての見積もり累積劣化量（１００％階調値を与えた場合の発光輝度値）、ダミー画素についての実累積劣化量、基準画素についての見積もり累積劣化量それぞれの遷移を表している。
【００３３】
実劣化量差測定部１２９で算出される累積劣化量差の実測値α−β％は、基準画素の累積劣化量（見積もり値）を基準とした相対的な値である。
誤差量算出部１３１は、ターゲット画素について算出された累積劣化量差の見積もり値ａ％と実測値α−β％との差分を誤差量Δとして算出する処理デバイスである。
累積劣化量差の見積もり値ａ％も誤差量Δも基準値に対する相対値として与えられる。すなわち、基準値よりも劣化が進んでいれば正値、遅れていれば負値で与えられる。
【００３４】
補正量決定部１３３は、算出された誤差量を用いて各画素に対応する累積劣化量差を修正し、修正後の累積劣化量差に基づいて補正値を決定する処理デバイスである。この形態例の場合、補正量の決定方法には、基準画素の累積劣化量との差が無くなるように補正値を決定する方法又は入力階調値が同じ場合に、各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度に揃うように補正値を決定する方法を適用する。
映像信号補正部１３５は、入力表示データを補正表示データに変換する処理を実行する処理デバイスとして機能する。
【００３５】
この形態例の場合、映像信号補正部１３５は、有効表示領域内の各画素に対応する入力表示データに、各画素に対応する補正値を加減算することにより入力表示データを補正表示データに変換する処理と、入力表示データにダミー画素用のダミー画素データを多重する処理とを実行する。
なお、補正値は、補正量決定部１３３より与えられる。変換後の補正表示データは、劣化量算出部１１３及びダミー画素データ多重部１７３に与えられる。
【００３６】
（ｂ）累積劣化量差の見積もり値の修正動作
以下、この形態例で採用する累積劣化量差の修正動作を簡単に説明する。
有機ＥＬパネルモジュールの使用開始と同時に、ダミー画素データ決定部１２５は、有効表示領域の全画素からターゲット画素に選択された画素の累積劣化量差を参照し、ダミー画素についての累積劣化量差が一致するように決定した階調値をダミー画素データとして出力する。このダミー画素データは、映像信号補正部１３５で入力表示データに多重され、有効表示領域の外側に配置されたダミー画素に供給される。
この後、ダミー画素の累積劣化量差とターゲット画素の累積劣化量差とは同じになる。
【００３７】
劣化量差測定部１２９は、この時点での累積劣化量差α−βを次のフレーム期間に実測し、その差分に応じて誤差量Δを算出する。階調値／劣化量変換テーブル１１５に記憶されている対応関係は固定値であるので、使用時点での劣化関係を正確に表していない可能性がある。この誤差量Δが誤差量算出部１３１で計算され、補正量決定部１３３による補正量が決定される。
以後、少なくとも有効表示領域内の全ての画素が一巡的に選択されるまでは、少なくとも以前とは異なる画素からターゲット画素を選択する。
【００３８】
以下、図８を用いて説明する。図８は、２行２列目に位置する画素がターゲット画素に選択された場合を示す。この場合、基準画素に対するターゲット画素の累積劣化量差ａ22とダミー画素の基準画素に対する累積劣化量差ｘとが一致するように、ダミー画素データ（階調値）が決定される。
そして、両値が一致した時点での累積劣化量差α−βを次フレームで実測し、その差分から累積劣化量差ａ22を減算することにより誤差量Δを算出する。
このような手順で有効表示領域内の全ての画素についての誤差量の算出と補正量の決定処理が逐次実行される。
【００３９】
なお、ターゲット画素は、有効表示領域内でランダムに選択される。このため、これら累積劣化量差の実測値には、表示画面内に偏在する温度ムラや経時変化等の影響が逐次反映される。
この結果、使用環境等の不確定要素の影響を反映した高い修正精度が実現される。また、以上説明したように、事前に用意するのは階調値と劣化量との基本的な関係を記憶したテーブル（すなわち、階調値／劣化量変換テーブル１１５）だけである。このため、システムの構築に要する手間や作業量を大幅に削減することができる。
【００４０】
参考までに、図９及び図１０に、前述した修正動作により補正精度がどのように改善されるかを模式的に示す。
図９は、補正量決定部１３３が、各画素の劣化量が基準画素の劣化量と一致するように補正動作を実行する場合の動作例に対応する。図中の実線は実際の劣化特性を示し、破線は見積もり値を修正しない場合の劣化特性である。
【００４１】
ターゲット画素の劣化（破線）が一致させるべき基準画素の劣化（破線）に対して５％進んでいると判定された場合、従来手法では、予定する補正期間についてターゲット画素の発光を停止させるような制御動作が実行される。破線で示すように、補正期間の終了時点ではターゲット画素の劣化特性は、基準画素の劣化特性と一致しているはずである。
【００４２】
しかし、劣化特性の見積もり精度が悪く、図９に実線で示すように補正開始時点におけるターゲット画素と基準画素との劣化量の差が実際は３％の場合、ターゲット画素の発光を停止することで補正期間終了時点には、補正開始時点とは反対に基準画素の劣化が進んでしまう。このように、累積劣化量差の見積もり精度に問題があると、補正動作が本来の効果（焼き付きの改善）を発揮することができない。
ところが、発明者らの提案する手法を採用すれば、累積劣化量が実際の累積劣化量に一致するように逐次修正されるため、ターゲット画素の劣化量は基準画素の劣化量に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
【００４３】
図１０は、補正量決定部１３３が、入力階調値が同じ場合に、各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度に揃うように補正動作を実行する場合の動作例を表している
図１０の場合も、ターゲット画素の劣化（破線）が一致させるべき基準画素の劣化（破線）に対して５％進んでいると判定された場合について表している。この場合、従来手法では、ターゲット画素の発光輝度を５％上昇させるような制御動作が実行される。破線で示すように、この補正動作の実行によりターゲット画素の発光輝度は、基準画素の発光輝度と一致するはずである。
【００４４】
しかし、劣化特性の見積もり精度が悪く、図１０に実線で示すように補正開始時点におけるターゲット画素と基準画素との劣化量の差が実際は３％の場合、ターゲット画素の発光輝度を５％上昇させると、基準画素の発光輝度よりも２％も大きくなってしまう。このように、劣化量の予測精度に問題があると、補正動作が本来の効果（焼き付きの改善）を発揮することができない。
そしてこの場合も、発明者らの提案する手法を採用すれば、累積劣化量が実際の累積劣化量に一致するように逐次修正されるため、ターゲット画素の発光輝度は基準画素の発光輝度に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
【００４５】
（ｃ）形態例の効果
以上説明したように、この形態例に係る有機ＥＬディスプレイ装置では、有効表示領域の外側にダミー画素を１つ配置し、その劣化状態を実際に測定して階調値から算出される累積劣化量差の見積もり値を修正する。この仕組みの採用により、補正量決定部１３３で決定される補正量についての信頼性の向上が長期間にわたって保証することができる。
【００４６】
かくして、長時間の使用にも焼き付き現象の発生し難い、又は焼き付き現象の改善が可能な有機ＥＬディスプレイ装置を実現することが可能になる。また、この発明は、実測値に応じて累積劣化量差が修正されるため、表示パネル間の個体誤差についても有効である。
勿論、これらの効果は、実測結果を使用した簡単な信号処理だけで実現できるため、従来技術のような、経時変化等の全ての事象を考慮した事前の膨大な実験を不要にできる。このため、製造コストの大幅な削減を実現できる。
【００４７】
また、形態例で説明した処理手法は、制御内容が単純であるので画面サイズが大型化しても低コストで実現できる。
また、ダミー画素は有効表示領域とまったく同じ画素構成で製造でき、ダミー画素専用の複雑な回路構成や特殊な制御動作を必要としない。この点でも、回路規模の削減と生産難易度の低減との点で有利である。
【００４８】
（Ｃ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、ダミー画素を１つだけ配置する場合について説明した。
しかし、複数個のダミー画素を配置し、それぞれに異なるダミー画素に設定すれば、有効表示領域を構成する全ての画素について補正値が決定されるまでの期間又は更新されるまでの期間を短縮することができる。
【００４９】
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
（ｃ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
【００５０】
（ｄ）前述の形態例では、表示画素に対応するダミー画素を自発光パネル上に１つ配置する場合について説明した。また、そのダミー画素の駆動用に新たに１本のゲート駆動線を追加する場合について説明した。しかし、配置するダミー画素の数及び位置は任意であり、配置するダミー画素の数や位置に応じてデータ駆動線とゲート駆動線の本数は最適な数を用意すれば良い。
【００５１】
（ｅ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００５２】
（ｆ）前述の形態例では、階調値のみに基づいて算出された累積劣化情報の見積もり値に含まれる誤差量を実測値に基づいて検出し、その影響を除去して補正値を決定する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置について説明した。
しかし、この誤差量の検出除去機能の全部又は一部は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。すなわち、誤差量の検出除去機能の一部は、例えばビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
【００５３】
（ｇ）前述の形態例では、階調値のみに基づいて算出された累積劣化情報の見積もり値に含まれる誤差量を実測値に基づいて検出し、その影響を除去して補正値を決定する機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置について説明した。
しかし、この誤差量の検出除去機能の全部又は一部は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
【００５４】
（ｈ）前述の形態例では、誤差量の検出除去機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｉ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】劣化率の経時的な変動を説明する図である。
【図２】表示パネルの平面構成例を示す図である。
【図３】ダミー画素と輝度検出センサーの配置例を示す図である。
【図４】有機ＥＬディスプレイ装置のシステム構成例を示す図である。
【図５】階調値／劣化率変換テーブルの例を示す図である。
【図６】ダミー画素データの出力イメージを説明する図である。
【図７】累積劣化量差の実測イメージを説明する図である。
【図８】ダミー画素データの決定イメージを説明する図である。
【図９】補正動作例を示す図である。
【図１０】補正動作例を示す図である。
【符号の説明】
【００５６】
１１      有機ＥＬディスプレイ装置
１２３    基準画素累積劣化量蓄積部
１２５    ダミー画素データ決定部
１２７    実劣化量測定部
１２９    実劣化量差測定部
１３１    誤差量算出部
１３３    補正量決定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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