(57)【要約】【課題】経路を通過するメダルの検出に際して、簡易な光学機器配置構成とした上で異物検出の信頼性を高める。【解決手段】メダル検出部２１０は、ボディ２１２に発光部２１６と受光部２２０とを備え、発光部２１６から射出された光（射出光）を、発光部２１６の前方の反射面２１８で反射させ、その反射光を、主経路２０３を通過するメダルＭに対して、メダル表面と斜めに交差する方向から当てる。受光部２２０は、メダルＭを挟んで反射面２１８と反対側に位置し、この受光部２２０は、主経路２０３を通過するメダルＭに対して斜めに交差する方向から光（反射光）を受光して、その受光光量に応じた所定の受光信号を出力する。【選択図】図５
2007296026.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メダルを用いて遊技する遊技機であって、
投入を受けたメダルを導くメダル経路と、
該メダル経路を通過する検出対象物に対して、該検出対象物の一方の側から検出対象物表面と斜めに交差する方向から光を射出する発光部と、
前記メダル経路を通過する前記検出対象物の他方の側に位置し、前記発光部からの光を、前記通過する前記検出対象物に対して斜めに交差する方向から受光して、該受光した光量に応じた所定の受光信号を出力する受光部と、
前記受光信号の出力状況に基づいて、前記検出対象物が真正のメダルであるかを検出する検出部と、
該検出部の検出結果に応じて、前記遊技機の遊技の継続許可と遊技停止を決定する遊技継続決定部とを備える
遊技機。
【請求項２】
請求項１に記載の遊技機であって、
前記発光部は、前記メダル経路における前記検出対象物に光を射出するに当たり、
前記検出対象物が透光性を有する透光性特異検出対象物であるときの該特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際に、前記特異検出対象物における受光部側表面部材において光の全反射を起こすよう、光を射出する
遊技機。
【請求項３】
請求項２に記載の遊技機であって、
前記発光部は、
前記特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際の前記受光部側表面部材における入射角が前記受光部側表面部材が有する臨界角以上の角度となるよう、前記検出対象物に光を射出する
遊技機。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３いずれかに記載の遊技機であって、
前記特異検出対象物は液晶パネルであり、前記臨界角は液晶パネルの表面に設けられた透光性表面基板が有する臨界角である
遊技機。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４いずれかに記載の遊技機であって、
前記発光部から前記受光部に入射する光は、ｓ偏光光またはｐ偏光光の一方の偏光光とされている
遊技機。
【請求項６】
請求項１ないし請求項４いずれかに記載の遊技機であって、
前記発光部と前記受光部とを一対の光学系とし、該光学系を二対有し、
前記二対の光学系において、一対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｓ偏光光とし、他方の対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｐ偏光光とする
遊技機。
【請求項７】
請求項５または請求項６に記載の遊技機であって、
前記発光部の射出光を偏光板にて偏光する
遊技機。
【請求項８】
メダルの通過を検出するメダル検出装置であって、
メダルが通過するメダル経路と、
該メダル経路を通過する検出対象物に対して、該検出対象物の一方の側から検出対象物表面と斜めに交差する方向から光を射出する発光部と、
前記メダル経路を通過する前記検出対象物の他方の側に位置し、前記発光部からの光を、前記通過する前記検出対象物に対して斜めに交差する方向から受光して、該受光した光量に応じた所定の受光信号を出力する受光部とを備える
を備え、
前記発光部は、前記メダル経路における前記検出対象物に光を射出するに当たり、
前記検出対象物が透光性を有する透光性特異検出対象物であるときの該特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際の前記特異検出対象物における受光部側表面部材での入射角が該受光部側表面部材が有する臨界角以上の角度となり、前記受光部側表面部材において光の全反射を起こすよう、光を射出する
メダル検出装置。
【請求項９】
請求項８に記載のメダル検出装置であって、
前記特異検出対象物は液晶パネルであり、前記臨界角は液晶パネルの表面に設けられた透光性表面基板が有する臨界角である
メダル検出装置。
【請求項１０】
請求項８または請求項９に記載のメダル検出装置であって、
前記発光部の射出光をｓ偏光光またはｐ偏光光に偏光する偏光板を有する
メダル検出装置。
【請求項１１】
請求項８ないし請求項１０いずれかに記載のメダル検出装置であって、
前記発光部と前記受光部とを一対の光学系とし、該光学系を二対有有し、
前記二対の光学系において、一対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｓ偏光光とし、他方の対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｐ偏光光とする
メダル検出装置。
【請求項１２】
メダルの通過を検出するメダル検出方法であって、
メダル経路を通過する検出対象物に対して、発光部から前記検出対象物の一方の側から検出対象物表面と斜めに交差する方向で光を射出し、
前記メダル経路を通過する前記検出対象物の他方の側に位置し、前記発光部からの光を、前記通過する前記検出対象物に対して斜めに交差する方向から受光部にて受光して、該受光した光量に応じた受光信号を出力し、
前記発光部から前記メダル経路における前記検出対象物に対して光を射出するに際しては、
前記検出対象物が透光性を有する透光性特異検出対象物であるときの該特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際の前記特異検出対象物における受光部側表面部材での入射角が該受光部側表面部材が有する臨界角以上の角度となり、前記受光部側表面部材において光の全反射を起こすよう、前記発光部から光を射出する
メダル検出方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載のメダル検出方法であって、
前記特異検出対象物は液晶パネルであり、前記臨界角は液晶パネルの表面に設けられた透光性表面基板が有する臨界角である
メダル検出方法。
【請求項１４】
請求項１２または請求項１３に記載のメダル検出方法であって、
前記発光部から前記受光部に入射する光は、ｓ偏光光またはｐ偏光光の一方の偏光光とされている
メダル検出方法。
【請求項１５】
メダルを用いて遊技する遊技機であって、
投入を受けたメダルを導くメダル経路と、
光を射出する発光部と受光した光量に応じた所定の受光信号を出力する受光部とを備え、前記メダル経路を通過する検出対象物に光を射出して該検出対象物を検出する光透過型の検出部と、
前記受光信号の出力状況に基づいて、前記検出対象物が真正のメダルであるかを検出する検出部と、
該検出部の検出結果に応じて、前記遊技機の遊技の継続許可と遊技停止を決定する遊技継続決定部とを備え、
該検出部は、
前記発光部から射出されて前記受光部に受光される光の光軸を、前記検出対象物に対して傾斜させている
遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メダル投入を受けて遊技を開始する遊技機、特に遊技機におけるメダル検出に関する。
【背景技術】
【０００２】
メダルを用いた遊技機は、例えばスロットマシンが良く知られており、当該マシンでは、メダル投入を受けて遊技が開始される。遊技開始に際しては、実際にメダルが投入された事の検出のほか、投入されたメダルの真偽判定も要請されている。そして、こうした要請に応えるべく、種々の提案がなされている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−２６１７７８号公報
【０００４】
この特許文献では、発光部が発した光を検出対象物で反射させ、その反射光を受光部で受光する光学機器配置構成（以下、反射配置構成という）や、発光部から受光部への光軸が検出対象物と直交するよう検出対象物を挟んで発光部と受光部を配置する光学機器配置構成（以下、直交配置構成という）が提案されている。そして、こうした構成を取った上で、以下に説明するようにしてメダル検出や真偽判定を行っている。
【０００５】
反射光を受光する上記の反射配置構成は、メダル以外の異物の表面で光が反射した際の反射光の減衰を利用している。そして、メダルとそれ以外の異物とでは、こうした反射光減衰の結果として、メダルがない場合と透明な異物がある場合での受光部での受光レベルに差が出るので、この受光レベル差に基づいてメダル検出や真偽判定（異物判定）を行っている。
【０００６】
一方、検出対象物を挟んで発光部と受光部を配置した上記の直交配置構成は、異物が透明で透光性を有していたとしても光透過の際には透過光の減衰が起きることを利用している。そして、メダルとそれ以外の異物とでは、こうした減衰の結果として、メダルがない場合と透明な異物がある場合での受光部の受光レベルに差が出るので、この受光レベル差に基づいてメダル検出や真偽判定（異物判定）を行っている。
【０００７】
ところが、上記した構成では、異物における光透過や反射の状況によっては、上記した受光レベルの差が小さくなることが有りえる。こうなると異物判定の信頼性が低下するので、発光部からの光の照射に際して、光の発振に変調を起こすと云った制御上の煩雑な対処が必要であった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、メダルを用いた遊技機におけるメダル検出に際しての上記問題点を解決するためになされ、簡易な光学機器配置構成とした上で異物検出の信頼性を高めることをその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
かかる課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の遊技機では、通過するメダルを検出するに当たり、メダル経路を通過するメダルに対して、発光部からメダルの一方の側からメダル表面と斜めに交差する方向で光を射出する。この発光部から照射された光は、メダルの他方の側に位置する受光部にて、前記通過するメダルに対して斜めに交差する方向から受光され、受光部は、該受光した光量に応じた所定の受光信号を出力する。つまり、この発光部と受光部は、前記メダル経路を通過する検出対象物に光を射出して該検出対象物を検出する光透過型の検出部を構成し、この検出部は、前記発光部から射出されて前記受光部に受光される光の光軸を、前記検出対象物に対して傾斜させていることになる。
【００１０】
本発明の遊技機は、上記構成を有するため発光部と受光部の配置構成を、発光部から受光部への光軸が検出対象物たるメダルと斜めに交差するよう検出対象物を挟んで発光部と受光部を配置させた透過型の光学機器配置構成とする。以下、この配置構成を斜交配置構成と称し、既述した従来の配置構成と区別する。
【００１１】
斜交配置構成の本発明の遊技機においてメダルがメダル経路を通過する場合、メダルが発光部と受光部を結ぶ光軸に掛かると、メダルは通常金属製であるために発光部からの光を遮る。これにより、受光部では、それまで受光可能であった光を受光しなくなるので、受光なしに対応する受光信号を出力する。メダルが光軸から脱すると、受光部は、発光部からの光を直接受光し、その受光光量に応じた所定の受光信号を出力する。
【００１２】
今、メダルがないことを装うことを意図した異物（以下、メダル無し擬制異物）が発光部と受光部を結ぶ光軸に掛かったと仮定する。斜交配置構成の本発明の遊技機では、既述したようにメダルが光軸に掛かっていないと受光部は発光部からの光を受光することから、メダル無し擬制異物は透光性を有する透光性異物となる。こうした透光性異物は、通常、空気より大きな屈折率を有しており空気の屈折率と相違することから、発光部から受光部に到るまでの光の挙動は次のようになる。
【００１３】
この透光性異物における発光部側の表面では、異物が透光性を有するとしても光の反射は起き、透光性異物の内部に入り込む光（屈折光）の光量は低減する。そして、この屈折光が透光性異物を透過して受光部側に達する際には、透光性異物における受光部の表面、即ち受光部側の透光性異物内部界面でも光の反射が起きるので、当該界面での反射により、透光性異物を透過して受光部側に達する光の光量低減を来す。従って、斜交配置構成の本発明の遊技機において透光性異物が発光部と受光部を結ぶ光軸に掛かっている場合には、透光性異物の両面での反射に起因させた２度の光量低減により、受光部の受光光量を小さくできる。このため、メダルが光軸に掛かっていない場合と、メダルが光軸に掛かっていないことを装うことを意図した透光性異物（メダル無し擬制異物）が光軸に掛かっている場合とでは、受光部での受光レベルの差をより顕著とできるので、受光信号の出力状況に基づいた真正メダル検出と異物検出（透光性異物検出／メダル無し擬制異物検出）の信頼性を高めることができる。ところが、光軸を検出対象物（透光性異物／メダル無し擬制異物）と直交させた従来の直交配置構成では、発光部からの光は透光性異物の両面で反射することなく受光部に達することから、斜交配置構成の本発明の遊技機で発現できる受光部での受光光量低下は望めない。
【００１４】
光が透光性異物を透過する現象においても、斜交配置構成の本発明の遊技機では、光軸が透光性異物に対して傾斜しているので、光軸が透光性異物と直交する従来の直交配置構成に比して、透光性異物中の光路が長くなる。よって、光が透光性異物を透過する際の光の減衰程度も斜交配置構成の本発明の遊技機では大きくなることから、受光部での受光光量低下が進むことになる。
【００１５】
この結果、上記構成を有する本発明の遊技機によれば、発光部と受光部の配置構成を既述した斜交配置構成とするという簡単な構成で異物検出の信頼性を高めることができる。そして、このように高い信頼性で異物検出ができることから、その検出結果に応じて遊技機の遊技の継続許可と遊技停止との決定についても信頼性が高まる。
【００１６】
本発明の遊技機は、次のような態様とすることもできる。例えば、前記発光部から前記メダル経路における検出対象物に光を射出するに当たり、前記検出対象物が透光性を有する透光性特異検出対象物であるときの該特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際に、前記特異検出対象物における受光部側表面部材において光の全反射を起こすよう、光を射出するようにできる。換言すれば、前記発光部は、前記特異検出対象物から前記受光部に向けて光が進む際の前記受光部側表面部材における入射角が前記受光部側表面部材が有する臨界角以上の角度となるよう、前記検出対象物に光を射出する。こうすれば、次の利点がある。この場合、前記特異検出対象物は、既述した透光性異物の一例である液晶パネルを例示できる。また、光の全反射は屈折率の大きな媒質から屈折率の小さな媒質への光の入射の際に見られる現象であり、液晶パネルの表面に設けられた透光性表面基板の屈折率は空気より大きいことから、透光性表面基板から受光部に光が進む際には光の反射現象は起きえ、その際の臨界角は透光性表面基板が有する臨界角である。以下の説明では、説明の便宜上、特異検出対象物が液晶パネルであるとして説明する。
【００１７】
液晶パネルが光を透過する状態であれば、その液晶パネルは上記した透光性異物に相当する。液晶パネルは、その表裏に液晶を封じ込めるための透光性表面基板を備え、当該基板は、ガラスやプラスチック等の透明基板であり、これら基板は、通常、空気より大きな屈折率を有する。よって、発光部からの射出光の入射角が透光性表面基板の臨界角に対して上記した関係にあることから、発光部から受光部に到るまでの光の挙動は次のようになる。
【００１８】
光透過の状態の液晶パネルにおける発光部側の透光性表面基板への光の入射は、屈折率の小さい空気の側から空気より屈折率が大きい透光性表面基板へのものであることから、発光部側の透光性表面基板の表面で光の反射は起き、液晶パネル内には光量が低減した状態で屈折光が入り込む。そして、この屈折光が液晶パネルの受光部側の透光性表面基板から受光部に向けて光（屈折光）が進む場合は、空気より屈折率が大きい透光性表面基板から屈折率の小さい空気の側への光の進行になり、この際の透光性表面基板界面での光の挙動は、入射角が透光性表面基板の臨界角に対して上記した関係にあることから、全反射を起こすことになる。よって、液晶パネルを透過して受光部に光が達することはない、若しくは極端に少ない光量の光しか受光部には達しない。このため、光透過の状態の液晶パネルが発光部と受光部を結ぶ光軸に掛かっている場合における上記した光量低減は著しくなるので、メダルが光軸に掛かっていない場合と、メダルが光軸に掛かっていないことを装うことを意図した液晶パネル（光透過の状態）が光軸に掛かっている場合とでの受光レベル差はより一層顕著となり、その分、異物検出の信頼性を高めることができる。
【００１９】
また、上記の本発明の遊技機では、前記発光部から前記受光部に入射する光を、例えばｓ偏光板によりｓ偏光光とすることもできる。こうすれば、次の利点がある。液晶パネルは、対向する基板間に捩れた配向の性質（Twisted Nematic）の液晶を封入すると共に基板両側に偏光板を有し、通常この偏光板は、偏光方向が直交する関係、具体的には一方をｐ偏光板とし他方をｓ偏光板とされている。つまり、光の入射側の偏光板、例えばｐ偏光板で液晶パネルに入り込む光をｐ偏光光とし、出射側のｓ偏光板からはｓ偏光光を出射するようにし、液晶配向を捩れた配向状態とすることで、液晶パネルに入射したｐ偏光光を捩れた液晶配向によりｓ偏光光に変えて、出射側のｓ偏光板からｓ偏光光を出射する。この状態の時、液晶パネルは光透過の状態となる。その一方、液晶配向を捩れのない整列配向とすることでｐ偏光光をｐ偏光光のままｓ偏光板に達するようにして、出射側のｓ偏光板からは光を透過させないようにするので、液晶パネルは非透過の状態となる。
【００２０】
よって、ｓ偏光光を発光部から受光部に入射するようにした態様では、発光部から液晶パネルにはｓ偏光光しか達しないため、このｓ偏光光は液晶パネルが光の入射側に有するｐ偏光板で反射してしまい、液晶パネルは光透過の状態でありながらこの液晶パネルにおけるｓ偏光光の透過は阻害される。このため、液晶パネルを透過して受光部に達する光の光量はより一層確実に低減することから、異物検出の信頼性をより高めることができる。ｐ偏光光を発光部から受光部に入射するようにし、液晶パネルが光の入射側にｓ偏光板を有し出射側にｐ偏光板を有する場合も同様である。つまりは、液晶パネルにおける光の入射側の偏光板の性質により、受光部に入射する偏光光を定めればよい。
【００２１】
また、受光部の手前で偏光をかけ受光部にｓ偏光光しか達しないようにしても、液晶パネルを透過したｐ偏光光については、これを受光部の手前で遮蔽して光量を低減できるので、異物検出の信頼性は高まる。なお、液晶配向に捻れをもたらさずに液晶配向の水平・垂直の切替により透過・非透過を切り替えるタイプの液晶（いわゆるＶＡ（Vertical Alignment）液晶）もあるが、こうした液晶であっても光の入射側・出射側の一方にｐ偏光板とｓ偏光板のいずれかの偏光板を有することから、ＶＡ液晶パネルにおける偏光板の性質により、受光部に入射する偏光光を定めれば既述したように受光部の光量低減は起きる。また、偏光板の性質によっては、透過させる偏光光以外の偏光光、例えば、ｐ偏光板であればｓ偏光光を偏光板で吸収してしまうこともあるが、この場合であっても、上記した反射と同様、入射側にｐ偏光板を有する液晶パネルは光透過の状態でありながらこの液晶パネルにおけるｓ偏光光の透過は阻害される。このように偏光光の吸収を行う偏光板は、光の吸収に伴う発熱を起こすことから、透過させる偏光光以外の偏光光を反射するタイプの偏光板が液晶パネルには多用されている。
【００２２】
また、前記発光部と前記受光部とを一対の光学系として、該光学系を二対有するようにし、その上で、前記二対の光学系において、一対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｓ偏光光とし、他方の対の光学系では該光学系での前記受光部に入射する光をｐ偏光光とすることもできる。こうすれば、光軸にメダルがない場合では、二対の光学系における一方の光学系の受光部でｓ偏光光が受光され、他方の光学系ではｐ偏光光が受光されるので、両光学系において共に偏光光の光量に応じた所定の受光信号が得られる。これに対し、既述した光透過状態の液晶パネルといったメダル無し擬制異物が光軸に掛かっている場合は、次のようになる。
【００２３】
既述したように、液晶パネルは、ｓ偏光板とｐ偏光板を一方を入射側に他方を出射側に有する。そして、この液晶パネルは、いずれの光学系においても、入射側の偏光板を発光部側とし、出射側の偏光板を受光部側に配置する。今、液晶パネルが入射側にｐ偏光板を有し、出射側にｓ偏光板を有するとして、光の透過状態の液晶パネルにおける様子を説明する。二対の光学系のうち、ｓ偏光光を射出する一方の光学系では、この射出したｓ偏光光は、液晶パネルの入射側のｐ偏光板により既述したようにその透過が阻害されるので、射出されたｓ偏光光の光量に応じた所定の受光信号は得られない。その一方、ｐ偏光光を射出する他方の光学系では、ｐ偏光光は、液晶パネルの入射側のｐ偏光板を透過し、捩れた配向状態の液晶によりｓ偏光光とされて、出射側のｓ偏光板を透過するので、射出されたｐ偏光光の光量に応じた受光信号が得られる。
【００２４】
つまり、二対の光学系における一方の光学系ではｓ偏光光を用い、他方の光学系ではｐ偏光光を用いるようにすれば、液晶パネルが表裏に有するｓ偏光板とｐ偏光板によって、一方の光学系では偏光光の光量に応じた所定の受光信号が得られるのに、他方の光学系では偏光光の光量に応じた所定の受光信号を得ることができないという特異な現象が現れる。このように光学系ごとに受光信号の状態が相違することは、光軸にメダルが無い場合では起き得ない。液晶パネルが入射側にｓ偏光板を有し、出射側にｐ偏光板を有する場合も同様である。よって、二対の光学系において一方の光学系での光をｓ偏光光とし他方ではｐ偏光光とした形態とすれば、メダルを擬制する液晶パネルが光の入射側にｐ偏光板・ｓ偏光板のいずれを有するとしても、それぞれの光学系での受光状態は、光軸にメダルがない場合と大きく相違するようにできるので、この態様によれば、より一層、異物検出の信頼性を高めることができる。なお、二対の光学系としたが、二対以上の光学系を備え、ｓ偏光光を用いる光学系とｐ偏光光を用いる光学系とを混在させるようにすることもできる。
【００２５】
本発明は、既述した遊技機の他、メダル検出装置やメダル経路を通過するメダル検出方法として適用できる。そして、本発明のメダル検出装置と検出方法によっても、簡単な構成で異物検出の信頼性を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき説明する。本実施例では、メダル検出が不可欠な遊技機の一例であるスロットマシン１００について説明する。図１はスロットマシン１００の概略構成を表す斜視図、図２はスロットマシン１００の内部構造の概略を表す斜視図である。
【００２７】
図示するように、スロットマシン１００は、中空の箱状をなす本体１０２に対して前面扉１０３を開閉自在に備え、正面視略矩形状とされている。本体１０２は、スロットマシン１００の骨格をなす部材であり、スロット遊技に必要な種々の機器を収納するが、本発明の要旨とは直接関係しないので、概略的な詳細に止めることとする。
【００２８】
図２に示すように、本体１０２は、その内部上段に、各種の図柄等が表示され三つの回胴１１１を回転可能に備え、内部下段には、ホッパ装置１１２や電源ボックス１１３を備える。ホッパ装置１１２は、メダルを貯留する補助タンク１１２ａ内のメダルを前面扉１０３の側のメダル払出口１１４へ払い出す。電源ボックス１１３は、スロットマシン１００の遊技を制御する制御装置１２０を始めとする種々の機器に電源を供給する。
【００２９】
前面扉１０３は、その前面に、それぞれの回胴１１１を臨ませる窓１０３ａを備える他、遊技者に操作されるボタン群やライン表示灯、メダル投入口１０４、メダル払出口１１４からのメダルを受け取るメダル受皿１１５等を有する。また、前面扉１０３は、その背面側に、既述した制御装置１２０の他、扉ロック用のキーシリンダ１１８や、メダル識別機構２００、メダル補給経路１１６、メダル排出経路１１７等を有する。メダル識別機構２００は、メダル投入口１０４から投入されたメダルをメダル補給経路１１６とメダル排出経路１１７に振り分ける機能も果たす。つまり、メダル識別機構２００は、使用できるメダルと否であるメダルとをメダル直径に応じて選別する周知の振分機構を有し、メダル投入口１０４から投入されたメダルがスロットマシン１００に不適合のメダルであった場合には、このメダル識別機構２００にて選別され、その下方に位置するメダル排出経路１１７へ排出される。
【００３０】
一方、メダル投入口１０４から投入されたメダルがスロットマシン１００に適合するメダルであった場合には、このメダル識別機構２００にて選別されたメダルは、メダル補給経路１１６へと排出される。このメダル補給経路１１６は、前面扉１０３から奥方（本体１０２の背面側）にむかって延出されており、前面扉１０３が閉状態となると、補助タンク１１２ａの上方にその先端部が位置するように構成されている。これにより、本スロットマシン１００に適合するメダルは、メダル識別機構２００とメダル補給経路１１６とにより導かれて、補助タンク１１２ａに補給され当該タンクにて貯留される。
【００３１】
また、メダル識別機構２００は、メダル投入口１０４から投入されたメダルの真偽判別や計数に必要なセンサ信号を取得し、当該信号を制御装置１２０に送信する。制御装置１２０は、メダル識別機構２００からのセンサ信号に基づいてメダルの真偽判別や計数を行う。こうしたセンサ信号収得については、メダル識別機構２００の構成と共に後述する。
【００３２】
ここで、スロットマシン１００による遊技の様子について簡単に説明する。遊技者が前面扉１０３のメダル投入口１０４にメダルを投入すると、当該メダルは、メダル投入口１０４からメダル識別機構２００にメダルを導く後述のメダル経路を通過し、メダル識別機構２００に達する。メダル識別機構２００は、メダル経路を通過するメダルが既述した適正のものであれば、メダルをホッパ装置１１２に振り分けて送り込み、適正でなければ、メダルをメダル排出経路１１７を経て外部に排出する。この振り分けと共に、メダル識別機構２００は、後述するようなセンサ信号を制御装置１２０に出力するので、制御装置１２０にてメダル真偽が判定され、真正のメダルであれば、遊技が開始できる状態となる。真正なメダルでなければ、制御装置１２０は、その旨を前面扉１０３の表示灯等で報知する。
【００３３】
遊技開始ができる状態となれば、遊技者は、前面扉１０３のスタートレバー１０５を操作する。そうすると、制御装置１２０は、回胴１１１をそれぞれ回転させるので、遊技者は、回胴１１１に対応したストップボタン１０６を押圧する。その押圧を受けて、制御装置１２０は回胴１１１をそれぞれ停止させる。そして、停止した三つの回胴１１１の縦横斜めの図柄の一致状況に基づいて景品メダルをメダル受皿１１５に排出する。
【００３４】
次に、メダル識別機構２００について説明する。図３はメダル識別機構２００の概略構成を示す説明図である。図示するように、メダル識別機構２００は、投入を受けたメダルＭを導くメダル経路２０２を有する。このメダル経路２０２は、メダルが１列で通過するよう形成されており、前面扉１０３のメダル投入口１０４からメダル補給経路１１６（図２参照）を経てメダルＭを受け取り、下流に通過させる。メダル経路２０２は、装置上方から図において装置右方に湾曲した軌道を有する主経路２０３と、装置上方から真っ直ぐ下方に延びる軌道の排出経路２０４とを分岐して備える。主経路２０３は、上記の湾曲軌道に沿ってメダルＭを通過させ、当該メダルを既述した図２のメダル補給経路１１６に送り出す。排出経路２０４は、主経路２０３の経路分岐箇所に設置された通路切替片２０５の駆動による経路切替により、メダルＭをメダル排出経路１１７に送り出す。通路切替片２０５は、図示しないソレノイドによりメダル経路２０２の経路内に突出し、これにより経路を切り替える。なお、ソレノイド駆動を伴うこうした経路切替は、直径に基づく既述したメダル振り分けの結果に応じて行われる他、メダル詰まり時の遊技者による返却スイッチ操作によっても行われる。また、上記した各メダル経路は、メダル設置箇所が凸条とされており、メダルＭは凸条の頂上に接しつつ転がるように搬送される。
【００３５】
メダル識別機構２００は、主経路２０３の経路途中に、メダル検出部２１０を有する。図４はメダル検出部２１０の外観を概略的に示す説明図、図５はメダル検出部２１０を破断して示す説明図である。これら図面に示すように、メダル検出部２１０はボディ２１２を備え、メダル識別機構２００の筐体にネジ止め固定される。メダル検出部２１０は、主経路２０３を通過するメダルＭの手前側（図３の紙面での手前側）にボディ２１２から突出した光路形成体２１４を備え、当該形成体基部に、発光ダイオードからなる発光部２１６を２個有する。
【００３６】
発光部２１６から射出された光（射出光）は、発光部２１６の前方側の小径の貫通孔２１７を光路として進み、光路形成体２１４先端の反射面２１８にて反射する。反射面２１８は、図示するように傾斜して形成されていることから、反射面２１８での反射光は、図中に符号Ａで示す軌跡を光軸として斜めにボディ２１２の側に進む。よって、メダル検出部２１０は、主経路２０３を通過するメダルＭに対して、メダル表面と斜めに交差する方向から光を射出することになり、本実施例では、発光部２１６と反射面２１８とで本願に云う発光部を構成する。
【００３７】
メダル検出部２１０は、ボディ２１２にフォトセンサからなる受光部２２０を備える。反射面２１８が光路形成体２１４の先端側に位置し、受光部２２０がボディ２１２の側に位置し、メダルＭは光路形成体２１４と受光部２２０との間に位置するという位置関係から、受光部２２０は、本願に云う発光部と主経路２０３を挟んで反対側に位置することになる。そして、メダル検出部２１０は、主経路２０３を通過するメダルＭに対して斜めに交差する方向から受光部２２０にて光を受光して、その受光光量に応じた所定の受光信号を出力する。発光部２１６と受光部２２０のこうした位置関係から、この発光部２１６と受光部２２０は、主経路２０３を通過するメダルＭに光を射出して検出する光透過型の検出部を構成し、この検出部は、発光部２１６から射出されて受光部２２０に受光される光の光軸を、メダルＭに対して傾斜させていることになる。
【００３８】
メダル検出部２１０は、上記したメダル検出部２１０と反射面２１８および受光部２２０を対として一対の光学系を構成し、この光学系をボディ２１２に二対組み込んで備える。図６は発光部・受光部を有する二対の光学系の様子を模式的に示した説明図である。なお、以下の説明に際しては、二対の上記の光学系を区別するため、それぞれの光学系の発光部と受光部とを添え字ａ、ｂを付して区別し、第１発光部２１６ａ、第２発光部２１６ｂ、第１受光部２２０ａ、第２受光部２２０ｂと呼ぶ。
【００３９】
図６に模式的に示されているように、第１発光部２１６ａと第１受光部２２０ａを有する光学系（第１光学系）と第２発光部２１６ｂと第２受光部２２０ｂとを有する光学系（第２光学系）とは、所定の間隔、上記の発光部・受光部のメダル検出部２１０への組み込み間隔だけ隔たっている。メダルＭが主経路２０３を通過すると、まず、メダル通過が第１光学系により第１受光部２２０ａの受光光量の推移から検出され、次いで、第２光学系により第２受光部２２０ｂの受光光量の推移から検出される。そして、主経路２０３を通過するメダルＭの経路に沿った両光学系の間隔が所定のものであり、主経路２０３におけるメダルＭの通過速度も予め判明していることから、両光学系での受光タイミングのズレ（メダル通過時間差）により、主経路２０３におけるメダル通過の有無検出、即ちメダル検出が行われる。こうしたメダル検出処理については、本発明の要旨と直接関係しないものの、その概要については後述する。
【００４０】
ここで、本実施例のスロットマシン１００の電気的な構成について、本発明に関連する構成を中心に説明する。図７はスロットマシン１００の電気的な構成の概略を示すブロック図である。
【００４１】
制御装置１２０は、本装置全般の制御を司る制御部１２１を備える。この制御部１２１は、論理演算を実行するＣＰＵを中心に構成され、遊技プログラム等を記憶したＲＯＭ、データの一時的な記憶を行うＲＡＭ等と協働して、メダル検出、メダル真偽判定、メダル計数、表示機器制御、回胴１１１の回動制御等を行う。制御部１２１は、ＣＰＵの他、メダル数カウンタ等も備え、リセットスイッチ１２２、スタートレバー１０５、第１発光部２１６ａ、第２発光部２１６ｂ、第１受光部２２０ａ、第２受光部２２０ｂや、各種センサ・スイッチ群１２３、表示機器や回胴、その他の制御対象機器群１２４と接続されている。本発明に関与する構成としては、第１発光部２１６ａ、第２発光部２１６ｂ、第１受光部２２０ａ、第２受光部２２０ｂが上げられ、制御装置１２０は、第１、第２の発光部を所定規則に従ってパルス状に発光制御し、この発光部の発光周期に合わせた第１、第２の受光部からの受光信号（センサ出力）に応じて、メダル検出、投入メダルの真偽判定を行う。ここで、メダル検出の様子について簡単に説明する。
【００４２】
既述したように、御装置１２０は、第１発光部２１６ａ、第２発光部２１６ｂを所定周期に従ってパルス状に発光制御するので、各光学系の受光部は、メダル通過がない場合には、発光部のパルスに応じてパルス状の受光信号（ＯＮ信号）を周期的に出力する。その一方、メダルＭが投入されると、メダル通過に伴って第１光学系の第１発光部２１６ａの光が遮られ、次いで第２光学系の第２発光部２１６ｂの光が遮られる。第１光学系と第２光学系との隔たりがメダル径より大きければ、第１光学系の第１受光部２２０ａで第１発光部２１６ａの各パルス状発光の光を受光しない期間が続いた後に、第１発光部２１６ａでは受光（パルス状のＯＮ信号出力）して第２光学系の第２受光部２２０ｂでは第２発光部２１６ｂの各パルス状発光の光を受光しない期間が続き、最後に第２発光部２１６ｂで受光（パルス状のＯＮ信号出力）することになる。この受光タイミングにより、メダルＭの検出がなされる。
【００４３】
その一方、経路の短縮等のために第１光学系と第２光学系との隔たりをメダル径より小さくすることが多々ある。こうした場合には、メダルＭの通過に伴って第１光学系、第２光学系の順で発光部からのパルス状の光が遮られるものの、両光学系で同時に光が遮られた後、第１光学系、第２光学系の順に再度、発光部からの光が受光部で受光される。よって、各光学系での受光部でのパルス状の受光信号の出力は、メダル通過に伴ってまず最初に第１光学系での第１受光部２２０ａでの未受光（ＯＦＦ信号）の期間があり、次いで、両光学系での未受光（ＯＦＦ信号）の期間、第１光学系での第１受光部２２０ａでは受光（パルス状のＯＮ信号出力）で第２光学系での第２受光部２２０ｂでは未受光（ＯＦＦ信号）の期間、両光学系で受光（パルス状のＯＮ信号出力）の期間が連続することになる。こうしたパルス状の信号の入力の推移の様子から、メダルＭの検出がなされる。この場合、メダルＭの通過方向も検出（判断）可能となる。
【００４４】
次に、本実施例における真性のメダル検出、メダルを擬した異物検出の様子について説明する。図８はメダルの有無とメダルを擬した異物の検出の様子を対比して示す説明図、図９はメダルの有無とメダルを擬した異物の検出結果の概要を対比して示す説明図である。この図８においては、上段がメダルＭについてであり左方がメダル有りの場合を右方がメダル無しの場合の様子を示し、下段が異物についてであり左方がメダル有りの異物の場合を右方がメダル無しを擬制した異物の場合の様子を表している。
【００４５】
図８の上段左側に示すように、メダルＭが図示しない主経路２０３を通過する場合、メダルＭは、発光部２１６からの射出光が反射面２１８で反射して受光部２２０に到る光軸に掛かる。メダルＭは通常金属製であるために発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）を遮る。これにより、受光部２２０では、それまで受光可能であった光を受光しなくなるので、受光なしに対応する受光信号（最低レベル信号＝ゼロレベル信号）を制御装置１２０に出力する。メダルＭが主経路２０３を更に通過し光軸から脱すると、上段右側に示すように、受光部２２０は、発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）を直接受光し、その受光光量に応じた受光信号（最大レベル信号）を制御装置１２０に出力する。つまり、図９に示すように、受光信号は、主経路２０３におけるメダルＭの通過により、受光信号が最低レベルから最大レベルに推移する。なお、こうした受光信号レベルの推移は、発光がパルス状であることから、その各パルスの光を受光したパルス状の受光信号のそれぞれで発現する。
【００４６】
制御装置１２０は、こうした受光光量の推移に基づく受光信号（センサ出力）を、図６で示したように、第１光学系の第１受光部２２０ａと第２光学系の第２受光部２２０ｂとから、メダル検出で説明したようなタイミングで入力する。そして、制御装置１２０は、こうした信号入力を受けることで、メダルＭの通過を検知してメダル計数を行うと共に、図９で示したような最低レベルと最大レベルの受光信号レベル差（センサ出力差）に基づいて投入メダル（通過メダル）の真偽判定を行う。ここでメダルＭが真正なメダルであると判定されると、制御装置１２０は、その後のスロットマシン１００の遊技の継続を許可するので、遊技者はスタートレバー１０５やストップボタン１０６の操作を伴う遊技を行うことができる。その一方、制御装置１２０は、上記したような信号入力がないと検出した対象物は真正のメダルＭではないとして、遊技を停止するよう、各種機器を制御する。例えば、スタートレバー１０５やストップボタン１０６の操作を無効として遊技できないようにしたり、種々の表示装置やスピーカー等にて、真正ではないメダルＭが検出されたと報知する。つまり、制御装置１２０は、ＲＯＭに記憶した真偽判定プログラムやＣＰＵ等と協働して、本願に云う検出部と遊技継続決定部を構成する。なお、上記したような信号入力がない場合については、後述の液晶パネル異物の検出の際に説明する。
【００４７】
次に、メダルが有る状態とメダルが無い状態の擬制が可能な異物、例えば、液晶パネル異物がメダルＭに代わって投入された場合について説明する。この液晶パネル異物は、両側の透光性表面基板間に液晶を封入し、電圧印加制御を経た液晶配列変更を介して所定形状の非透光性部位を形成し、この非透光性部位をメダルＭに擬制させる。そして、液晶パネル異物は、この非透光性部位の位置を電圧印加対象となる部位を変えることで移動させ、非透光性部位の移動によりメダルＭの通過を擬制する。今、この液晶パネル異物が非透光性部位をメダルＭに代わって光軸に掛けているとする。この状態は、図８の下段左側に示されており、液晶パネル異物は光軸に非透光性部位を掛けているため、発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）は遮られる。よって、この場合は、メダルＭが光軸にある場合と同程度の受光信号が受光部２２０から得られる。
【００４８】
静止するメダルＭが有ることを検出するだけであれば、液晶パネル異物の非透光性部位は静止するメダルＭが有ることを擬制できるものの、本実施例のスロットマシン１００ではメダルＭは主経路２０３を通過することを前提としている。よって、主経路２０３でのメダル通過に伴って、受光信号は最低レベルを脱して既述したように最大レベルに推移するので、液晶パネル異物においてそれまで非透光性部位であった箇所を透光性に切り替えることは不可欠となる。換言すれば、この非透光性部位は、メダルＭが経路を通過していくようにして移動する必要がある。そして、非透光性部位がその移動に伴い非透光性から透光性に切り替えられた場合の受光部２２０での受光の様子は次のようになる。
【００４９】
図８の下段右側は、液晶パネル異物においてそれまで非透光性部位であった箇所が透光性とされて光軸に掛かっている様子を示している。この場合における発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）の挙動は次のようになる。液晶パネル異物は、非透光性・透光性に限らず、その表面に位置する透光性表面基板は、ガラスやプラスチック等の透明基板であり、これら基板は、通常、空気と異なる屈折率、詳しくは空気より大きな屈折率を有する。そして、本実施例では、上記した光学系の配置により、こうした液晶パネル異物に対しては、発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）を液晶パネル異物に対して斜めに照射する。図１０は液晶パネル異物における光の挙動を示す説明図である。
【００５０】
よって、発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）を受ける側の液晶パネル異物における透光性表面基板の表面では、この透光性表面基板が透光性を有するとしても光の反射は起き、図１０に示す射出光ＤＬが透光性とされた液晶パネル異物の内部に入り込む光（屈折光ＫＬ）の光量は反射光ＲＬ１の光量に応じて低減する。そして、この屈折光ＫＬが液晶パネル異物を透過して受光部２２０の側に達する際には、液晶パネル異物における受光部２２０の側の透光性表面基板の表面、即ち受光部側の透光性表面基板の内部界面でも光の反射が起きるので、当該界面での反射（図における反射光ＲＬ２）により、透光状態の液晶パネル異物を透過して受光部２２０の側に達する光の光量はより低減する。従って、本実施例のスロットマシン１００では、透光状態の液晶パネル異物が発光部２１６からの射出光（反射面２１８での反射光）が受光部２２０に到る光軸に掛かっている場合には、透光状態の液晶パネル異物の両面での上記反射（反射光ＲＬ１、ＲＬ２）に起因する２度の光量低減により、受光部２２０の受光光量を小さくできる。
【００５１】
このため、メダルＭが光軸に掛かっていない場合と、メダルＭが光軸に掛かっていないことを装うことを意図した透光状態の液晶パネル異物が光軸に掛かっている場合とでは、前者の場合での受光部２２０での受光レベルと後者の場合での受光部２２０での受光レベルに差をもたらすと共に、その受光レベルの差をより顕著とできる。具体的には、メダルＭが光軸に掛かっていないことを装うことを意図した透光状態の液晶パネル異物が光軸に掛かっている場合の受光レベルは、メダルＭが光軸に掛かっていない場合の受光レベルより顕著に小さなくなり、図９に示すように、信号推移はメダルＭの場合と大きく異なる。この結果、本実施例のスロットマシン１００によれば、こうした受光レベル差により、或いは受光レベルの推移の様子により、液晶パネル異物の有無、引いてはメダルの真偽判定を高い信頼性で検出することができる。
【００５２】
また、射出光ＤＬ（詳しくは屈折光ＫＬ）が透光状態の液晶パネル異物を透過する現象においても、射出光ＤＬの光軸が透光状態の液晶パネル異物に対して傾斜しているので、光軸が透光状態の液晶パネル異物と直交する場合に比して、透光状態の液晶パネル異物中の光路が長くなる。よって、射出光ＤＬ（詳しくは屈折光ＫＬ）が透光状態の液晶パネル異物を透過する際の光の減衰程度も大きくなることから、受光部２２０での受光光量低下が進むことになる。
【００５３】
この結果、上記構成を有する本実施例のスロットマシン１００によれば、発光部２１６からの射出光ＤＬ（反射面２１８での反射光）をメダルＭに対して斜めに照射し、メダル表面における照射側とは反対側の受光部２２０でメダルＭに対して傾斜した方向から受光するという簡単な構成で、異物検出の信頼性を高めることができる。
【００５４】
ところで、先に述べた特許文献では、本実施例における受光部２２０をメダルＭの反射光を受光するようにした点で相違するが、上記した本実施例での異物検出の信頼性向上は望めない。つまり、メダル真偽の判定に用いる受光部２２０での光量低減は、発光部２１６からの射出光ＤＬがメダルＭ或いは液晶パネル異物の表面（受光部側表面）での反射によるものだけであるのに対して、上記した本実施例では液晶パネル異物両面での反射に起因する２度の光量低減を起こすからである。
【００５５】
本実施例では、光の射出源である発光部２１６を受光部２２０と同じ側、詳しくはメダル検出部２１０のボディ２１２に上下に組み込み、反射面２１８での反射光がメダルＭに斜めに照射されるようにした。よって、発光部２１６と受光部２２０とを対向配置して、メダルＭに光が斜めに照射されるようにした場合に比して、コンパクト化を図ることができる。
【００５６】
更に、本実施例では、発光部２１６と受光部２２０とを有する光学系を二対備え、両光学系を一つのメダル検出部２１０に組み込んで、いわゆるワンパッケージ化を図った。よって、二対の光学系の設置や保守等に要する作業性を高めることができる。
【００５７】
次に、変形例について説明する。図１１は第１変形例の光の挙動を示す説明図である。この第１変形例は、発光部２１６からの射出光ＤＬ（詳しくは反射面２１８での反射光）の入射角θ１を調整することで、液晶パネル異物の内部に入り込んだ光（屈折光ＫＬ）の全反射を受光部２２０の側の透光性表面基板の表面（受光部２２０の側の透光性表面基板の内部界面）で起こさせた点に特徴がある。この点を、図１１を持って説明する。
【００５８】
透光状態の液晶パネル異物に対しての発光部２１６からの射出光ＤＬ（詳しくは反射面２１８での反射光）の入射は、屈折率の小さい空気の側から空気より屈折率が大きい透光性表面基板へのものであることから、透光性表面基板ＬＣＫ１の表面で光の反射は起き、液晶パネル異物内には光量が低減した状態で屈折光ＫＬが入り込む。そして、この屈折光ＫＬが液晶パネル異物の受光部２２０側の透光性表面基板ＬＣＫ２から受光部２２０に向けて光（屈折光ＫＬ）が進む場合は、空気より屈折率が大きい透光性表面基板ＬＣＫ２から屈折率の小さい空気の側への光の進行になり、この際の透光性表面基板界面での光（屈折光ＫＬ）の挙動は、図示する入射角θ２が透光性表面基板ＬＣＫ２の臨界角以上の角度であれば、全反射を起こすことになる。
【００５９】
よって、液晶パネル異物を透過して受光部２２０に光が達することはない、若しくは極端に少ない光量の光しか受光部２２０には達しない。このため、透光状態の液晶パネル異物が受光部２２０に到る光の光軸に掛かっている場合における上記した光量低減は著しくなるので、メダルＭが光軸に掛かっていない場合と、メダルＭが光軸に掛かっていないことを装うことを意図した透光状態の液晶パネル異物が光軸に掛かっている場合とでの受光レベル差はより一層顕著となり、その分、異物検出の信頼性を高めることができる。つまり、この第１変形例では、発光部２１６からの射出光ＤＬ（詳しくは反射面２１８での反射光）を液晶パネル異物に照射するに当たり、この液晶パネル異物から受光部２２０に向けて屈折光ＫＬが進む際に、液晶パネル異物における受光部２２０側の透光性表面基板ＬＣＫ２において光の全反射を起こすよう、光を射出する。つまり、液晶パネル異物から受光部２２０に向けて屈折光ＫＬが進む際の受光部２２０側の透光性表面基板における入射角θ２がこの透光性表面基板が有する臨界角以上の角度となるよう、発光部２１６からの射出光ＤＬ（詳しくは反射面２１８での反射光）の入射角θ１を調整する。本実施例では、射出光ＤＬを反射面２１８で反射させているので、反射面２１８の角度を調整することになる。
【００６０】
上記の臨界角（入射角θ２）は、液晶パネル異物が透光性表面基板として採用する材料の屈折率に依存して定まり、当該基板を屈折率１．５のガラスとした場合には、臨界角（入射角θ２）は約４８度となる。従って、図１１に示すように、屈折光ＫＬが受光部２２０側の透光性表面基板ＬＣＫ２に入射する入射角θ２がこの臨界角約４８度となるよう、発光部２１６からの射出光ＤＬの入射角θ１を調整することになる。液晶パネル異物が透光性表面基板として透光性の樹脂を採用する場合には、その樹脂の屈折率に依存して定まる臨界角となるよう、発光部２１６からの射出光ＤＬの入射角θ１を調整することになる。上記した説明は、ガラス等の透光性表面基板が最外部にあるとして説明したが、液晶パネル異物はその表裏に有する偏光板を最外部に有する場合には、上記の臨界角は偏光板の臨界角となる。
【００６１】
次に、第２変形例について説明する。図１２は第２変形例におけるメダルの有無とメダルを擬した異物の検出の様子を対比して示す説明図、図１３は第２変形例におけるメダルの有無とメダルを擬した異物の検出結果の概要を対比して示す説明図である。この第２変形例は、受光部２２０に入射する光をｓ偏光光とする点に特徴がある。つまり、第２変形例では、図１２に示すように、発光部２１６と反射面２１８との間にｓ偏光板２１９ｓを設置して、検出対象であるメダルＭや液晶パネル異物の表面にｓ偏光光しか達しないようにする。この第２変形例における光の挙動は次のようになる。
【００６２】
図１２の上段左右と下段左側の場合には、発光部２１６からの射出光ＤＬ（詳しくは反射面２１８での反射光）が受光部２２０に達する様子は既述した通りであるが、射出光ＤＬはｓ偏光光となったので光量は低下し、メダル無しの場合の受光部２２０の受光信号の最大レベルは下がる。ところが、図の下段右側の透光状態の液晶パネル異物では、次のようになる。液晶パネル異物は、発光部２１６からの光が入射する側にｐ偏光板を備え、出射側にｓ偏光板を備え、基板間に封入した液晶を捩れた配向（Twisted Nematic）としておくことで透光状態となる。つまり、光の入射側のｐ偏光板を透過したｐ偏光光を液晶の捩れた配向によりｓ偏光光に変えて、このｓ偏光光を出射側のｓ偏光板から透過させるので、光透過状態となる。従って、図１２の下段右側に示す透光状態の液晶パネル異物では、入射光がｓ偏光光であることから、この入射光たるｓ偏光光はｐ偏光板で反射してしまうので、液晶パネル異物は、透光状態でありながらｓ偏光光を受光部２２０の側に透過させないようになる。よって、この第２変形例では、図１３に示すように、透光状態の液晶パネル異物を透過して受光部２２０に達する光の光量をより一層、確実に低減させて、異物検出の信頼性をより高めることができる。
【００６３】
このようにｓ偏光光とする場合、メダル検出部２１０における二つの光学系の両者においてｓ偏光板２１９ｓを設置できるほか、一方の光学系にｓ偏光板２１９ｓを設置することができる。
【００６４】
上記の変形例では、発光部２１６の側にｓ偏光板２１９ｓを設置したが、偏光板の設置位置は受光部２２０の手前側とするようにもできる。発光部２１６の側に偏光板がなければ、液晶パネル異物の光の入射側では、ｐ偏光板によりｐ偏光光が液晶パネル異物に入り込み、当該異物からはｓ偏光板によりｓ偏光光が出射する。よって、この場合には、受光部２２０にはｓ偏光光しか達しないので、受光部２２０の手前にｐ偏光板を設置して受光部２２０への光の到達を起きないようにできる。つまり、受光部２２０の手前に偏光板を設けても、透過状態の液晶パネル異物を透過した光（偏光光）を受光部２２０の手前の偏光板により受光部２２０の手前で遮蔽して光量を低減できるので、異物検出の信頼性は、発光部２１６の側に偏光板を設けた場合と同様に高まる。また、受光部２２０の手前はメダルＭの通過領域であるため、機器構成上、遮蔽物のない状態となるので、受光部手前への偏光板設置が簡便となる。
【００６５】
次に、第３変形例について説明する。図１４は第３変形例の構成を概略的に示す説明図である。この第３変形例は、メダル検出部２１０に組み込んだ二つの光学系のうち第１光学系における第１受光部２２０ａに入射する光をｓ偏光光とし、第２光学系における第２受光部２２０ｂに入射する光をｐ偏光光とする点に特徴がある。つまり、第３変形例では、図１４に示すように、第１発光部２１６ａと反射面２１８との間にｓ偏光板２１９ｓを設置し、第２発光部２１６ｂと反射面２１８との間にｐ偏光板２１９ｐを設置して、検出対象であるメダルＭや液晶パネル異物の表面に、第１光学系ではｓ偏光光しか達しないようにし、第２光学系ではｐ偏光光しか達しないようにする。この第３変形例における光の挙動は次のようになる。なお、第１光学系ではｐ偏光光しか達しないようにし、第２光学系ではｓ偏光光しか達しないようにすることもできる。
【００６６】
図１４に示す第３変形例では、光軸にメダルＭがない場合では、二対の光学系における第１光学系の第１受光部２２０ａでｓ偏光光が受光され、第２光学系の第２受光部２２０ｂではｐ偏光光が受光される。この場合、二対の光学系のそれぞれのでは、偏光光の光量に応じた受光信号がそれぞれ得られる。これに対し、メダルＭが光軸に掛かっていないことを擬制した透光状態の液晶パネル異物が光軸に掛かっている場合は、ｓ偏光板２１９ｓによりｓ偏光光を発する第１光学系では、既述したように液晶パネル異物が光の入射側に有するｐ偏光板によりｓ偏光光の透過が阻害されるので、このｓ偏光光の光量に応じた受光信号は得られない。しかも、ｐ偏光板２１９ｐによりｐ偏光光を発する第２光学系では、ｐ偏光光は入射側のｐ偏光板を透過し、液晶の配向に倣った捩れによりｓ偏光光となって出射側のｓ偏光板を透過して第２受光部２２０ｂで受光され、第２受光部２２０ｂはｐ偏光光の光量に応じた受光信号を発する。つまり、両光学系での受光状態は、一方の光学系では偏光光の光量に応じた所定の受光信号が得られるのに、他方の光学系では偏光光の光量に応じた所定の受光信号を得ることができないという特異な現象が現れることから、光軸にメダルＭが無い場合の両光学系での受光状態と大きく相違する。液晶パネル異物が入射側にｓ偏光板２１９ｓを備え出射側にｐ偏光板２１９ｐを備える場合も同様である。よって、ｓ偏光光を受光する第１受光部２２０ａとｐ偏光光を受光する第２受光部２２０ｂとで起きる上記した特異な現象に基づいて、より一層、異物検出の信頼性を高めることができる。
【００６７】
以上、本発明の実施例について説明したが、本発明は、上記した実施の形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様にて実施することが可能である。例えば、上記の実施例と変形例では、発光部２１６の射出光ＤＬを反射面２１８にて反射させ、その反射光を射出光ＤＬとしてメダルＭや液晶パネル異物と言った検出対象物に照射したが、発光部２１６自体を反射面２１８の設置箇所に配設し、発光部２１６の射出光ＤＬを直接検出対象物に照射するようにすることもできる。
【００６８】
また、メダルＭを用いて遊技するスロットマシンを例に挙げ説明したが、本発明は、スロットマシン以外の遊技機であってメダルＭを用いる他の遊技機に加え、メダル検出装置やメダル経路を通過するメダル検出方法としても適用できる。
【００６９】
また、
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】スロットマシン１００の概略構成を表す斜視図である。
【図２】スロットマシン１００の内部構造の概略を表す斜視図である。
【図３】メダル識別機構２００の概略構成を示す説明図である。
【図４】メダル検出部２１０の外観を概略的に示す説明図である。
【図５】メダル検出部２１０を破断して示す説明図である。
【図６】発光部・受光部を有する二対の光学系の様子を模式的に示した説明図である。
【図７】スロットマシン１００の電気的な構成の概略を示すブロック図である。
【図８】メダルの有無とメダルを擬した異物の検出の様子を対比して示す説明図である。
【図９】メダルの有無とメダルを擬した異物の検出結果の概要を対比して示す説明図である。
【図１０】液晶パネル異物における光の挙動を示す説明図である。
【図１１】第１変形例の光の挙動を示す説明図である。
【図１２】第２変形例におけるメダルの有無とメダルを擬した異物の検出の様子を対比して示す説明図である。
【図１３】第２変形例におけるメダルの有無とメダルを擬した異物の検出結果の概要を対比して示す説明図である。
【図１４】第３変形例の構成を概略的に示す説明図である。
【符号の説明】
【００７１】
１００…スロットマシン
１０２…本体
１０３…前面扉
１０３ａ…窓
１０４…メダル投入口
１０５…スタートレバー
１０６…ストップボタン
１１１…回胴
１１２…ホッパ装置
１１２ａ…補助タンク
１１３…電源ボックス
１１４…メダル払出口
１１５…メダル受皿
１１６…メダル補給経路
１１７…メダル排出経路
１１８…キーシリンダ
１２０…制御装置
１２１…制御部
１２２…リセットスイッチ
１２３…各種センサ・スイッチ群
１２４…制御対象機器群
２００…メダル識別機構
２０２…メダル経路
２０３…主経路
２０４…排出経路
２０５…通路切替片
２１０…メダル検出部
２１２…ボディ
２１４…光路形成体
２１６…発光部
２１６ａ…第１発光部
２１６ｂ…第２発光部
２１７…貫通孔
２１８…反射面
２１９ｓ…ｓ偏光板
２１９ｐ…ｐ偏光板
２２０…受光部
２２０ａ…第１受光部
２２０ｂ…第２受光部
Ｍ…メダル
ＬＣＫ１…透光性表面基板
ＬＣＫ２…透光性表面基板
ＤＬ…射出光
ＫＬ…屈折光
ＲＬ１…反射光
ＲＬ２…反射光
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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