(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、温度変化時も良好な記録品質が得られる技術を提供する。【解決手段】記録中にレーザダイオードまたはその近傍の温度を監視し、該温度が基準値を超えて変化したとき、記録動作を一時停止させて、記録マークのβ値の測定と、該測定したβ値と目標のβ値とに基づく記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率の演算と、該演算した補正率による記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正とを行い、該補正した記録パワーで記録動作を再開する構成とする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
光ディスクを回転駆動するディスクモータと、
上記ディスクモータを駆動するモータ駆動回路と、
上記レーザ光を発光するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
上記レーザダイオードまたはその近傍の温度を検知する温度検知手段と、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段と、
予め設定されている目標のβ値と上記測定したβ値との差分を求め、該差分に応じて記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算し、該演算結果の信号を上記レーザ駆動回路側に出力する記録パワー補正率演算手段と、
上記モータ駆動回路、上記β測定手段及び上記記録パワー補正率演算手段を制御する制御手段と、
を備え、上記レーザダイオードまたはその近傍の温度が基準値を超えて変化したとき、上記温度検知手段の出力に基づき記録動作を一時停止させ、上記β測定手段により記録マークのβ値を測定し、該測定結果に基づき上記記録パワー補正率演算手段により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算し、該演算した補正率により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを補正する構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記記録パワー補正率演算手段は、上記測定されたβ値をβｅ、上記目標のβ値をβｔ、記録ストラテジの記録パワーとβ値との間の換算係数をｋ、上記記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーをＰｏとするとき、補正後の高パワーレベル側の記録パワーを、｛１＋ｋ（βｔ−βｅ）｝Ｐｏとして演算する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記記録パワー補正率演算手段は、上記換算係数ｋを約０．５として上記記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算する構成である請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記記録パワー補正率演算手段は、上記記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーは補正しない構成である請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項５】
レーザダイオードからのレーザ光を光ディスクに照射し情報を記録する情報記録方法であって、
レーザダイオードまたはその近傍の温度が基準値を超えて変化したとき、記録動作を一時停止させる第１のステップと、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定する第２のステップと、
上記測定したβ値と、予め設定されている目標のβ値との差分を求め、該差分に応じ、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算する第３のステップと、
上記演算結果により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを補正する第４のステップと、
上記補正した記録パワーの記録ストラテジにより情報の記録を再開する第５のステップと、
を経て、情報の記録を行うことを特徴とする情報記録方法。
【請求項６】
上記第３のステップでは、上記測定したβ値をβｅ、上記目標のβ値をβｔ、β値と上記記録ストラテジの記録パワーとの間の換算係数をｋ、上記記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーをＰｏとするとき、補正後の高パワーレベル側の記録パワーを、｛１＋ｋ（βｔ−βｅ）｝Ｐｏとして演算する請求項５に記載の情報記録方法。
【請求項７】
光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
上記レーザ光を発光するレーザダイオードと、
上記レーザダイオード付近の温度を検知する温度検知手段と、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段と、
予め設定されている目標のβ値と上記測定したβ値との差分を求め、該差分に応じて記録パワーを補正する記録パワー補正手段と、
上記β測定手段及び上記記録パワー補正手段を制御する制御手段と、
を備え、上記レーザダイオード付近の温度が所定以上変化したとき、上記制御手段は、記録動作を一時停止させ、上記記録パワー補正手段により記録パワーを補正する構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置における情報記録技術に係り、特に、装置内の温度が変化したときに記録ストラテジを補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連し、光ディスクなど記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを制御するための従来技術としては、特開２００５−９２９５０号公報（特許文献１）や特開２００５−２２８４１０号公報（特許文献２）に記載されたものがある。特開２００５−９２９５０号公報には、光ディスクにそりがあるなどの場合にも、適正なピットの形成や読み取りエラーの抑制を可能にするために、光ディスクの回転速度を内周側から外周側に向かって段階的に大きくして情報の記録を行うとき、光ディスクの回転速度を切り替える際に、記録動作を一旦停止し、この時点のβ値を測定し、測定したβ値と目標β値とを比較してβ値を補正し、該β値の補正に対応してレーザ光の記録パワーを調整するとした技術が記載され、また、特開２００５−２２８４１０号公報には、情報記録媒体に記録されるデータの再生品質を向上させるために、記録用の駆動パルスとしてのトップパルスＰｏとミドルパルスＰｍのパルス比Ｐｏ／Ｐｍを変化させて試しデータ記録を行い、該試しデータ記録の結果の再生品質と該パルス比Ｐｏ／Ｐｍとの相関関係情報に基づいてパルス比Ｐｏ／Ｐｍの最適比を検出するとした技術が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−９２９５０号公報
【特許文献２】特開２００５−２２８４１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、光ディスク装置は、高速記録や高密度記録などのために、記録電流の増大化の他、青色レーザ発光用のレーザダイオードの導入などが進められている。記録電流を増大した場合や、青色レーザ発光用のレーザダイオードを使用した場合には、レーザダイオードの温度が上昇する結果、該レーザダイオードの発光特性（Ｉ−Ｌ特性）が変化し、出射されるレーザ光の記録パワーが低下する。記録パワーの低下は、情報の記録品質やその再生品質を低下させる。このため、レーザダイオードの温度変化に対応して記録ストラテジを補正して記録パワーを補正する技術が必要となる。
【０００５】
上記公報記載技術のうち、特開２００５−９２９５０号公報記載の技術は、光ディスクにそりなどの欠陥がある場合にも、適正なピット形成や読み取りエラーを抑制ができるようにするための技術であって、記録パワーの調整は、測定したβ値と目標β値とからβ値を補正することによって行うため、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーとともに低パワーレベル側の記録パワーも変化する。このため、レーザダイオードの発光特性の変化に対応して、例えば高パワーレベル側の記録パワーだけを補正する技術としては課題が残る。また、該公報記載技術は、記録パワーの調整は、光ディスクの回転速度を切り替える際に行うとしており、光ディスクの回転速度が一定の記録動作中に記録パワーの補正を行うための技術ではない。また、特開２００５−２２８４１０号公報記載技術は、トップパルスＰｏとミドルパルスＰｍのパルス比Ｐｏ／Ｐｍを変化させて試しデータ記録を行い、該試しデータ記録から得られる再生品質を評価して該パルス比Ｐｏ／Ｐｍとの相関関係を求め、該相関関係に基づき最適なパルス比Ｐｏ／Ｐｍを決めるものであるため、該最適なパルス比Ｐｏ／Ｐｍを求めるまでに長い時間を要する。このため、温度変化等に対応して記録動作中に短時間で記録パワーを補正する技術としては課題が残る。
【０００６】
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、記録動作中にも、装置温度の変化によるレーザダイオードの発光特性の変化に対応して、主として記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを短時間で補正することができるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク装置において、温度変化時も良好な記録品質が得られるようにし、装置の信頼性及び使い勝手性を向上させ得る技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置として、記録中にレーザダイオードまたはその近傍の温度を監視し、該温度が基準値を超えて変化したとき、記録動作を一時停止させて、記録マークのβ値の測定と、該測定したβ値と目標のβ値とに基づく記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率の演算と、該演算した補正率による記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正とを行い、該補正後に記録動作を再開する構成とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光ディスク装置において、記録中に装置温度が変化した場合も良好な記録品質が得られ、信頼性及び使い勝手性の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図６は、本発明の実施形態の説明図である。図１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置における記録動作前のＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）とその後の記録中におけるβ値の変化状態の説明図、図３は、図１の光ディスク装置における装置温度変化時のレーザダイオードの発光特性（以下、Ｉ−Ｌ特性という）の変化と、それに対応した記録ストラテジ（ライトストラテジ）の記録パワーの変化の説明図、図４は、図１の光ディスク装置における記録ストラテジ（ライトストラテジ）の記録パワーの補正状態の説明図、図５は、図４に示す記録パワーの補正状態の特徴点を説明するための図、図６は、図１の光ディスク装置の動作説明図である。
【００１０】
図１において、１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置、２は、ＤＶＤ、青色レーザ用ディスクなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するディスクモータ、４は、光ピックアップ、５は対物レンズ、６は、記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、対物レンズ５を介し光ディスク２の記録面（以下、これも光ディスク面という）からの反射レーザ光を受光して電気信号に変換し出力する受光部、９は、受光部８からの信号を増幅するなどアナログ処理するアナログフロントエンド、１０は、光ピックアップ４内におけるレーザダイオード６またはその近傍の温度を検知する温度検知手段としての温度センサ、１１は、直線状のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１２は、移動・案内機構部１１内にあってリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライドモータ、１５は、ディスクモータ３やスライドモータ１２を駆動するモータ駆動回路、３０はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、３１は、ＤＳＰ３０内にあってモータ駆動回路１５を制御するモータ制御部、３２は、記録信号を生成する記録信号生成部、３３は、ＤＳＰ３０内にあって受光部８からの再生信号を、ＲＦ信号や、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号として処理する再生信号処理部、３４は、ＤＳＰ３０内にあって再生信号から、該光ディスクに記録されている記録マークのβ値を測定するβ測定手段としてのβ測定部、３５は、上記レーザ駆動回路７に予め設定されている目標のβ値と、上記β測定部３４で測定したβ値との差分を求め、該差分に応じて記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算し、該演算結果の信号をレーザ駆動回路７側に出力する記録パワー補正率演算手段としての記録パワー補正率演算部、３６はＤＳＰ３０内のメモリ、４０は、ＤＳＰ３０を制御する制御手段としてのマイコンである。
【００１１】
マイコン４０は、ＤＳＰ３０内の、少なくともモータ制御部３１、β測定部３４及び記録パワー補正率演算部３３を制御する。マイコン４０は、光ディスク装置１が記録動作を開始する前の状態で光ディスク装置１に通常のＯＰＣ処理を行わせ、目標のβ値の設定と、それに対応して光ディスク２の記録面へ投入するレーザ光の最適な記録パワー（最適な範囲の記録パワーであって本発明を有効に構成するに足る範囲の記録パワーをいうものとする）の設定を行う。マイコン４０は、また、その後の記録動作中に、装置温度の変化に対応したＯＰＣ処理を光ディスク装置１に行わせる。該記録中のＯＰＣ処理では、装置温度の変化によるレーザダイオード６のＩ−Ｌ特性の変化に対応して、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーに対応した該レーザダイオード６の発光パワーを制御する。すなわち、レーザダイオード６またはその近傍の温度が基準値を超えて変化したとき、マイコン４０は、温度センサ１０の出力に基づきモータ制御部３１を制御し、モータ駆動回路１５によりスライドモータ１２の回転を一時停止させて光ディスク装置１の記録動作を一時停止させ、β測定部３４に記録マークのβ値の測定をさせ、該測定結果に基づき上記記録パワー補正率演算部３５に記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算させかつ該演算した補正率により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを補正させる。記録パワー補正率演算部３５では、記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーは補正しない。上記記録パワー補正率演算部３５が記録パワーを補正した後、マイコン４０は、モータ制御部３１を制御してディスクモータ３及びスライドモータ１２に回転を再開させて、上記補正した記録パワーで光ディスク装置１に記録動作を再開させる。
以下、説明中で用いる図１の光ディスク装置１の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
【００１２】
図２は、図１の光ディスク装置１において、記録動作前に行うＯＰＣと記録中におけるβ値の変化状態の説明図である。（ａ）は、記録動作前に行うＯＰＣの説明図、（ｂ）は、記録中のＯＰＣにおける、装置温度の変化に対応したβ値の変化と記録ストラテジ補正によるβ値の変化の状態を示す図である。
図２（ａ）において、横軸は、光ディスク装置１の記録動作前のＯＰＣで光ディスク２の記録面へ投入される投入パワー（以下、記録パワーという）、縦軸は、光ディスク２の記録面の記録マークのβ値である。光ディスク装置１の記録動作前のＯＰＣでは、記録パワーを変化させたレーザ光を光ディスク２の記録面に照射し、それぞれの記録パワーに対応した記録マークのβ値を、反射レーザ光による再生信号から測定し、特性曲線Ｑを求める。その後、目標のβ値であるβｔを設定し、特性曲線Ｑに基づき、該目標のβ値に対応したレーザ光の最適な記録パワー（最適記録パワー）Ｐｏの設定を行う。該最適な記録パワー（最適記録パワー）Ｐｏは、最適な範囲の記録パワーであって本発明を有効に構成するに足る範囲の記録パワーをいうものとする。
【００１３】
また、図２（ｂ）において、横軸は、光ディスク２のディスク半径位置、縦軸は、光ディスク２の記録面の記録マークのβ値である。ｒ１は、光ディスク装置１が記録動作を開始するディスク半径位置、ｒ２は、レーザダイオード６またはその近傍の温度の変化が基準値を超えるディスク半径位置、βｅは、ディスク半径位置ｒ２のときにβ測定部３４が測定するβ値である。ディスク半径位置ｒ１において、光ディスク装置１の記録動作前のＯＰＣが行われ、目標のβ値であるβｔと、レーザ光の最適記録パワーＰｏとが設定される。その後、記録動作が開始され、スライドモータ１２で駆動された移動・案内機構部１１が、光ピックアップ４をディスク半径位置ｒ２の方向に移動させながら記録が行われる。このとき、レーザダイオード６の発光動作により該レーザダイオード６またはその近傍の温度は時間の経過とともに上昇する。また、レーザダイオード６またはその近傍の温度は、装置内及び装置外の温度上昇によっても上昇する。レーザダイオード６の該温度上昇により、該レーザダイオード６自体のＩ−Ｌ特性が変化し、該レーザダイオード６から出射されるレーザ光のパワー（記録パワー）が低下する。該記録パワーの低下に伴って光ディスク２の記録面における記録マークのβ値も低減する。光ピックアップ４の対物レンズ５がディスク半径位置ｒ２に達したときにレーザダイオード６またはその近傍の温度の変化が基準値を超えると、マイコン４０は、モータ制御部３１及びモータ駆動回路１５を介してスライドモータ１２の回転を一時停止させ、光ディスク装置１の記録動作を一時停止させた状態で、β測定部３４に、そのときのβ値としてのβｅを測定させ、該βｅと上記βｔとを用いたＯＰＣ処理を光ディスク装置１に行わせる。ディスク半径位置ｒ２は、記録動作が一時停止された記録部終端を成す。ディスク半径位置ｒ２における該ＯＰＣ処理では、記録パワー補正率演算部３５が、βｔとβｅとの差分に基づき記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算し、かつ該演算した補正率により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを補正する。上記β値と記録ストラテジの記録パワーとの間の換算係数をｋ、高パワーレベル側の記録パワーをＰｏとするとき、記録パワー補正率演算部３５は、上記記録ストラテジの補正後の高パワーレベル側の記録パワーを、｛１＋ｋ（βｔ−βｅ）｝Ｐｏとして演算する。該換算係数ｋは例えば約０．５とされる。該記録パワーの補正により、β値はβｅのレベルからβｔのレベルに復帰する。マイコン４０は、スライドモータ１２を再び起動させ、光ディスク装置１に該補正された記録パワーでの記録動作を再開させる。
【００１４】
図３は、図１の光ディスク装置１における温度変化時のレーザダイオード６のＩ−Ｌ特性の変化と、それに対応した記録ストラテジの記録パワーの変化の説明図である。（ａ）は、装置温度が変化する前の初期状態におけるＩ−Ｌ特性（（イ））と記録ストラテジの記録パワー（（ロ））を示し、（ｂ）は、装置温度が変化したときのＩ−Ｌ特性（（イ））と記録ストラテジの記録パワー（（ロ））を示す。
【００１５】
図３（ａ）において、Ａは、初期状態におけるレーザダイオード６のＩ−Ｌ特性曲線、Ｉｍは、記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーＰｍに対応するレーザダイオード６の通電電流（以下、低パワー対応電流という）、Ｉｏは、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワー（最適記録パワー）Ｐｏに対応するレーザダイオード６の通電電流（以下、高パワー対応電流という）である。また、図３（ｂ）において、Ｂは、装置温度が変化したときのＩ−Ｌ特性曲線、Ｐｏ１は、装置温度が変化したときの高パワー対応電流Ｉｏに対応した記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーである。
【００１６】
図３（ａ）、（ｂ）から明らかなように、装置温度の変化により、レーザダイオード６のＩ−Ｌ特性曲線がＡからＢに変化したとき、低パワー対応電流Ｉｍの位置では、記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーＰｍはほとんど変化しないが、高パワー対応電流Ｉｏの位置では、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーは、最適記録パワーＰｏから記録パワーＰｏ１に低下する。このため、該記録パワーＰｏ１を補正して最適記録パワーＰｏに復帰させる必要がある。
【００１７】
図４は、図１の光ディスク装置１において装置温度が変化したときの記録ストラテジの記録パワーの補正状態の説明図である。（ａ）は、レーザダイオード６のＩ−Ｌ特性における記録パワーの補正状態を示し、（ｂ）は、記録ストラテジの記録パワーの補正状態を示す。
図４（ａ）において、Ｉｏ１は、装置温度が変化したときのＩ−Ｌ特性曲線Ｂ上において、記録ストラテジの高パワーレベル側の最適記録パワーＰｏを得るために必要なレーザダイオード６の通電電流、△Ｉｏは、該通電電流Ｉｏ１と、装置温度が変化する前のＩ−Ｌ特性曲線Ａ上において記録ストラテジの高パワーレベル側の最適記録パワーＰｏが得られたときのレーザダイオード６の通電電流Ｉｏとの差である。他の符号は、図３の場合と同様である。
図４（ａ）、（ｂ）から明らかなように、装置温度が変化した場合には、レーザダイオード６の通電電流Ｉｏを△Ｉｏだけ増大させて通電電流Ｉｏ１とすることで、記録パワーＰｏ１を補正して最適記録パワーＰｏに復帰させることが可能となる。該通電電流Ｉの増大は、光ディスク装置１においては、記録パワー補正率演算部３５がβｔとβｅとの差分に基づいて演算した記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率に基づき、レーザ駆動回路７がレーザダイオード６を駆動することで行われる。
【００１８】
図５は、図４に示す記録パワーの補正状態の特徴点を説明するための図である。（ａ）は、装置温度が変化したときのレーザダイオード６のＩ−Ｌ特性曲線Ｂ上で、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーと低パワーレベル側の記録パワーとの双方につき、通電電流増大による補正を行った場合の状態を示し、（ｂ）は、そのときの記録ストラテジにおける記録パワーの補正状態を示す。
図５（ａ）において、Ｉｍ１は、装置温度が変化したときのＩ−Ｌ特性曲線Ｂ上において、記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正、すなわち最適記録パワーＰｏを得るために、レーザダイオード６の通電電流Ｉｏを増大させてＩｏ１とする補正に付随して増大させた、低パワーレベル側の記録パワーに対応する通電電流、△Ｉｍは、該通電電流Ｉｍ１と、装置温度が変化する前のＩ−Ｌ特性曲線Ａ上において記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーＰｍが得られたときのレーザダイオード６の通電電流Ｉｍとの差、Ｐｍ１は、Ｉ−Ｌ特性曲線Ｂ上において通電電流Ｉｍ１に対応する記録パワーである。他の符号は、図３及び図４の場合と同様である。
装置温度が変化した場合、図５（ａ）、（ｂ）から明らかなように、レーザダイオード６の通電電流Ｉｏを△Ｉｏ増大させて通電電流Ｉｏ１とするときに同時に、通電電流Ｉｍを△Ｉｍ増大させて通電電流Ｉｍ１としてしまうと、記録ストラテジの高パワーレベル側では、記録パワーＰｏ１を補正して最適記録パワーＰｏに復帰させるが、低パワーレベル側では、高パワーレベル側の最適記録パワーＰｏに適合した記録パワーＰｍを、最適記録パワーＰｏに近い値のＰｍ１に変化させてしまうことになる。記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーがＰｍからＰｍ１に変化することは記録品質の低下につながる。
【００１９】
図６は、図１の光ディスク装置１の記録動作中におけるＯＰＣ処理動作の説明図である。
図６において、
（１）光ディスク装置１の記録動作中に、温度センサ１０で検知されるレーザダイオード６またはその近傍の温度が基準値を超えて変化したとき、これを契機にマイコン４０は、記録ストラテジの記録パワーの補正動作を開始する（ステップＳ６０１）。
（２）マイコン４０は、温度センサ１０の出力に基づきモータ制御部３１を制御し、モータ駆動回路１５によりスライドモータ１２の回転を一時停止させて、光ディスク装置１の記録動作を一時停止させる（ステップＳ６０２）。
（３）その後、β測定部３４が記録マークのβ値の測定を行う（ステップＳ６０３）。
（４）さらに、該β値の測定結果に基づき記録パワー補正率演算部３５が記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーの補正率を演算する（ステップＳ６０４）。
（５）記録パワー補正率演算部３５は、上記ステップＳ６０４で求めた補正率により記録ストラテジの高パワーレベル側の記録パワーを補正する（ステップＳ６０５）。記録ストラテジの低パワーレベル側の記録パワーは補正しない。
（６）光ディスク装置１は、記録パワー補正率演算部３５が記録パワーを補正した後、スライドモータ１２に回転を再開させ、上記補正した記録パワーで記録動作を再開し（ステップＳ６０６）、記録パワーの補正を終了する（ステップＳ６０７）。
上記ステップＳ６０１〜ステップＳ６０７の一連の手順は、メモリ３６など光ディスク装置１内の記憶手段に記憶されたプログラムに従って、マイコン４０が自動的に実行する。
【００２０】
上記実施形態の光ディスク装置１によれば、記録中に装置温度が変化した場合にも、記録ストラテジの記録パワーの補正が可能となる。また、該記録パワーの補正は、レーザダイオード６のＩ−Ｌ特性の変化に対応した補正であるため、補正精度の向上と補正処理時間の短縮化が可能となる。この結果、記録中の装置温度の変化に対しても良好な記録品質が得られ、装置の信頼性及び使い勝手性を向上させることができる。
【００２１】
なお、上記実施形態においては、温度変化を契機として高パワーレベル側の記録パワーを補正する場合につき説明したが、本発明の技術は、この他、例えば、複数のゾーンを有する記録方式において、ゾーン切り換え時に、該ゾーン切り換えを契機としてゾーン終端のβ値を測定し、該測定結果に基づき、次のゾーンの高パワーレベル側の記録パワーを補正することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図である。
【図２】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣとβ値変化の説明図である。
【図３】図１の光ディスク装置における温度変化時の発光特性の変化と、記録パワーの変化の説明図である。
【図４】図１の光ディスク装置における記録パワーの補正状態の説明図である。
【図５】図４に示す記録パワーの補正の特徴点を説明するための図である。
【図６】図１の光ディスク装置の動作説明図である。
【符号の説明】
【００２３】
１…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…ディスクモータ、
４…光ピックアップ、
５…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…受光部、
９…アナログフロントエンド、
１０…温度センサ、
１１…移動・案内機構部、
１２…スライドモータ、
１５…モータ駆動回路、
３０…ＤＳＰ、
３１…モータ制御部、
３２…記録信号生成部、
３３…再生信号処理部、
３４…β測定部、
３５…記録パワー補正率演算部、
３６…メモリ、
４０…マイコン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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