(57)【要約】【課題】光ビームの光量を調節する機能を有するとともに、設計自由度の高い光ピックアップ装置および当該光ピックアップ装置を備えた光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ１０は、対物レンズ５と偏光ビームスプリッタ６との間に配され、第１の偏光を第２の偏光に変換する１／４波長板４、および、偏光ビームスプリッタ６と１／４波長板４との間に配され、光ビームの偏光状態によりその光ビームの透過率が異なる偏光性透過率可変部２を備えている。【選択図】図１
2007272971.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の偏光なる光ビームを出射する光源と、
上記光源から出射された光ビームを光ディスク上に集光する対物レンズを含む集光光学系と、
上記光源と上記集光光学系との間に位置し、上記光ディスクで反射した光ビームを上記光源と上記光ディスクとを結ぶ光路から分岐する光分岐手段と、
上記光分岐手段によって分岐された光ビームを検出する検出手段とを備える光ピックアップ装置であって、
上記対物レンズと上記光分岐手段との間に配され、上記第１の偏光を第２の偏光に変換する偏光回転手段と、
上記光分岐手段と上記偏光回転手段との間に配され、光ビームの偏光状態により当該光ビームの透過率が異なる偏光性透過率可変手段とを備えることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
上記第１の偏光は、楕円偏光であり、
上記偏光回転手段は、第１の偏光としての楕円偏光を、当該楕円偏光の長軸に対して９０°回転した方向に長軸を有する、第２の偏光としての楕円偏光に変換することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
上記第１の偏光は、楕円偏光であり、
上記偏光回転手段は、第１の偏光としての楕円偏光を、当該楕円偏光の長軸に対して９０°回転した方向に偏光方向を有する、第２の偏光としての直線偏光に変換することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
上記第１の偏光は、直線偏光であり、
上記偏光回転手段は、第１の偏光としての直線偏光を、当該直線偏光の偏光方向に対し９０°回転した方向に長軸を有する、第２の偏光としての楕円偏光に変換することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
上記第１の偏光は、直線偏光であり、
上記偏光回転手段は、第１の偏光としての直線偏光を、当該直線偏光の偏光方向に体して９０°回転した方向に偏光方向を有する、第２の偏光としての直線偏光に変換することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
上記偏光性透過率可変手段は、上記第２の偏光なる光ビームの透過率よりも上記第１の偏光なる光ビームの透過率が低いものであることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
上記偏光性透過率可変手段は、偏光回折素子を含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
上記偏光回折素子が有する回折格子のピッチは、当該回折格子による±１次回折光が少なくとも上記対物レンズに入射しないように設定されていることを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ装置。
【請求項９】
上記偏光性透過率可変手段は、液晶偏光素子を含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】
上記偏光性透過率可変手段を、上記光源と上記光ディスクとを結ぶ光路を横切る方向に移動させる駆動手段をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１１】
上記駆動手段は、上記偏光性透過率可変手段の移動に連動するように、当該偏光性透過率可変手段の屈折率と等しい屈折率を有する光透過性素子を移動させることを特徴とする請求項１０に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１２】
上記偏光回転手段と上記偏光性透過率可変手段とは、一体形成されていることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１３】
上記偏光回転手段は、樹脂からなるものであることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１４】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置の制御装置であって、
光ビームの照射対象となる光ディスクが単層構造のものであるか多層構造のものであるかを判別する判別手段と、
上記判別手段の判別結果に基づいて上記偏光性透過率可変手段の位置を決定し、当該位置に偏光性透過率可変手段を配置するよう上記駆動手段に指示を出す位置決め手段とを備えることを特徴とする制御装置。
【請求項１５】
上記位置決め手段は、上記光ディスクが単層構造のものである場合に、上記偏光性透過率可変手段を上記光路上に配置する決定を行うことを特徴とする請求項１４に記載の制御装置。
【請求項１６】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置の制御装置であって、
光ディスクを再生する指示を受け取ると、上記偏光性透過率可変手段を上記光路上に配置するよう上記駆動手段に指示を出す位置決め手段を備えることを特徴とする制御装置。
【請求項１７】
請求項１に記載の光ピックアップ装置を備える光ディスク装置。
【請求項１８】
請求項１４〜１６のいずれか１項に記載の制御装置を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための制御プログラム。
【請求項１９】
請求項１８に記載の制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの光記録媒体に情報を記録または再生する場合に用いられる光ピックアップ装置および当該光ピックアップ装置を備えた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクに代表される光記録媒体としては、ピット等があらかじめ形成されおり、再生専用として用いられるもの、溝構造に沿った相変化を利用して、記録及び再生が可能なもの、等が提案されている。
【０００３】
光ディスクの記録再生用光源として、一般に半導体レーザが用いられる。半導体レーザは、再生専用の光ディスク装置やそれに搭載される光ピックアップに搭載される低出力レーザ（光出力最大定格が数ｍＷ〜１０数ｍＷ以下）と、記録／再生用の光ディスク装置に搭載される光ピックアップに搭載される高出力レーザ（光出力最大定格が数１０ｍＷ〜数１００数ｍＷ）に概ね２分される。光出力最大定格がこの間になるような半導体レーザは中途半端であるが故にメーカは製造しないのが通常である。
【０００４】
再生専用の光ディスク装置やそれに搭載される光ピックアップに低出力レーザが搭載される理由は、以下のようなものによる。
（１）半導体レーザは、一般的に、光出力最大定格に対し光出力が小さい場合（発振閾値付近）には、安定な発振が得られにくく、レーザノイズが大きくなってしまう特性がある。したがって、情報再生時のＣＮＲ(Carrier to Noise Ratio)を確保するためには、レーザの光出力をある程度以上の値に設定する必要がある。この値は、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）用の波長４０５ｎｍのレーザでは通常、２ｍＷ〜５ｍＷ程度である。
（２）記録可能な光記録媒体では、この光記録媒体の記録面上に光束が集光されることによって発生する記録層の熱上昇による光記録媒体の情報記録層の反射率や屈折率の変化を用いて記録する方法が用いられている。この場合、「再生用の光パワーでは、記録状態を変化させない（劣化させない）」、「記録用の光パワーでは、安定な記録が行われる」という２つの条件を双方満たす必要があり、再生時の光パワーと記録時の光パワーとにおいて、所定以上の出力比とする必要がある。
【０００５】
通常、記録光の最大パワーは、再生光パワーの５倍〜２０倍程度である。さらに、標準速度よりも高速度で記録する場合（２倍速、４倍速、８倍速、・・・等）などでは、より大きな出力比が必要となる。また、光記録媒体の記録層が多層である場合、再生時の光パワーおよび記録時の光パワーともにより大きな出力が必要となる。
【０００６】
これら２つの理由によって、記録及び再生に対応するピックアップに用いられる光源や、複数の種類の光記録媒体に対して記録及び／又は再生を行う光ピックアップに用いられる光源の光出力最大定格は、通常、２０ｍＷ〜５０ｍＷ程度、標準速の２倍程度の高速で記録する光記録媒体では、１００ｍＷ程度にもなっている。さらに、記録面が２層の記録媒体では、１３０ｍＷ程度になる。
【０００７】
しかし、光出力最大定格が大きい光源は、その実現（開発や安定な製造）が非常に困難であるばかりでなく、光ディスク装置やそれに搭載する光ピックアップ装置に搭載する場合に光源の消費電力が大きくなってしまう等の問題点がある。これを考慮して、逆に記録時の光出力最大定格を予め小さめに設計して使用しようとすると、前述の理由から再生時のレーザノイズが大きくなってしまい、良好な再生特性が得られなくなる。
【０００８】
さらに、多層光記録媒体では、他面への透過（記録再生面が対物レンズ側の場合）や他面での反射（記録再生面が対物レンズより遠い側の場合）が生じるため、記録面が１層のみの光記録媒体に比べて、約１．５倍〜２倍以上の記録光パワー及び再生光パワーが必要となっている。そのため、仮に、記録面が１層及び多層である双方の光記録媒体に対応したシステムを考えた場合、多層光ディスクでの記録最大光パワーと単層光ディスクでの最低再生光パワー（１層）に対する比率（倍率）は、記録面が１層の光記録媒体のみを扱う場合の２倍程度となってしまう。
【０００９】
そこで、特許文献１に記載の光記録媒体駆動装置では、複数種類の光ディスクを制約することなく、自由に記録および／または再生できる構成を実現している。具体的には、最適な記録及び／又は再生光パワーの互いに異なる少なくとも２種以上の光記録媒体に対して、光記録媒体の種類に応じて、この光記録媒体に集光される光ビームの光量を光結合効率可変素子（液晶やフィルターなど）を用いて変化させている。
【特許文献１】特開２００３−１７３５３１号公報（２００３年６月２０日  公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところが、上記従来の構成では、光結合効率変換素子を用いて光量を変化させるため、光結合効率変換素子の配置位置が限られてしまうという問題が生ずる。この問題について具体的に説明する。
【００１１】
特許文献１に記載の光記録媒体駆動装置が備える光ヘッドは、光源、光結合効率可変素子、第１のビームスプリッタ、第２のビームスプリッタ、対物レンズ、フォトセンサーを備えている。光結合効率可変素子は、光源と第２のビームスプリッタとの間に配置されている。ここで、光学系については、説明を簡単化するため必要最低限のものを記載している。
【００１２】
次に、上記光ヘッドにおける光路を簡単に説明する。光源から出射された光束は、光結合効率変換素子に入射する。光結合効率変換素子は、具体的には、印加電圧に基づいて偏光状態が変化する液晶素子であり、液晶素子を透過した光束は、偏光の状態が変化された状態で、第１ビームスプリッタに入射する。第１のビームスプリッタは、Ｐ偏光を略々１００％透過させ、Ｓ偏光を略々１００％反射するようになされており、液晶素子によって与えられる位相差がちょうどＮ波長（Ｎは整数）であるとき（記録モード時）には、略々１００％の光束がビームスプリッタを透過する。
【００１３】
一方で、液晶素子による位相差がＮ波長から半波長だけずれた状態にあるとき（再生モード時）には、偏光方向が４５度回転し、略々５０％の光束がビームスプリッタを透過し、残り略５０％の光束は反射される。
【００１４】
このピームスブリッタを透過した光源からの光束は、対物レンズに入射される。対物レンズは、入射光を光ディスクの記録面のある一点に収束させて照射する。光ディスクの記録面からの反射光は変更方向が９０度回転し、再び対物レンズを介して、第２ビームスプリッタに入射される。第２ビームスプリッタでは、反射率に応じた光量の光束が反射分離される。このビームスプリッタによって分離された反射光は、フォトセンサー入射し、信号として利用される。
【００１５】
ここで、仮に光結合効率可変素子を第２のビームスプリッタと対物レンズの間に挿入した場合を考えると、ディスクからの反射光も光結合効率可変素子と第１のビームスプリッタの影響を受けてフォトセンサーに入射する光量が減ってしまい、信号品質が悪くなってしまう。つまり、上記光ヘッドにおける光結合効率変換素子は、光源とディスクからの反射光を検出素子に導くためのビームスプリッタとの間に挿入する必要がある。
【００１６】
ところが、光ピックアップの小型化や部品点数を減らすためにホログラムレーザや集積モジュール等を用いた場合、ディスクからの反射光を検出素子に導くためのビームスプリッタと光源との位置が近いため、光結合効率変換素子を挿入できないという問題が生じる。
【００１７】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、光ビームの光量を調節する機能を有するとともに、設計自由度の高い光ピックアップ装置および当該光ピックアップ装置を備えた光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解決するために、第１の偏光なる光ビームを出射する光源と、上記光源から出射された光ビームを光ディスク上に集光する対物レンズを含む集光光学系と、上記光源と上記集光光学系との間に位置し、上記光ディスクで反射した光ビームを上記光源と上記光ディスクとを結ぶ光路から分岐する光分岐手段と、上記光分岐手段によって分岐された光ビームを検出する検出手段とを備える光ピックアップ装置であって、上記対物レンズと上記光分岐手段との間に配され、上記第１の偏光を第２の偏光に変換する偏光回転手段と、上記光分岐手段と上記偏光回転手段との間に配され、光ビームの偏光状態により当該光ビームの透過率が異なる偏光性透過率可変手段とを備えることを特徴としている。
【００１９】
上記の構成によれば、光源から出射された第１の偏光なる光ビームは、光分岐手段、偏光性透過率可変手段および偏光回転手段を透過し、対物レンズを含む集光光学系に到達し、光ディスク上に集光される。光ディスクで反射した光ビームは、再度、集光光学系および偏光回転手段を透過し、光分岐手段によって光源と光ディスクとを結ぶ光路から分岐され、検出手段によって検出される。
【００２０】
このように、光源から出射された光ビームは、検出手段に至るまでに２度偏光回転手段を透過する。この偏光回転手段は、第１の偏光を第２の偏光に変換する。そのため、光ディスク上に集光される光ビーム（往路光、第１の偏光の光ビーム）の偏光状態と、検出手段に入る光ビーム（復路光、第２の偏光の光ビーム）の偏光状態とを異ならせることができる。
【００２１】
偏光性透過率可変手段は、光分岐手段と偏光回転手段との間に位置しており、光ビーム偏光状態により当該光ビームの透過率が異なるものである。第１の偏光の光ビームと第２の偏光の光ビームとは、偏光状態が互いに異なるため、偏光性透過率可変手段を透過するときの透過率は互いに異なる。それゆえ、第１の偏光の光ビームと第２の偏光の光ビームとの光量の低減率を変化させることができる。例えば、偏光性透過率可変手段によって、第１の偏光の光ビームの光量を顕著に低減し、第２の偏光の光ビームの光量はほとんど低減しないようにすることができる。
【００２２】
それゆえ、光ビームが２度偏光性透過率可変手段を透過しても、光ビームの光量が減少し過ぎないようにすることができる。そのため、偏光性透過率可変手段を、光ビームが２度透過することになる、光分岐手段と偏光回転手段との間に挿入することができる。換言すれば、従来のように、光ビームの光量を低減させるための手段を光分岐手段と光源との間に挿入する必要がない。
【００２３】
したがって、光ビームの光量を適切に調節する機能を維持しつつ、光ピックアップの設計自由度を高めることができる。また、ホログラムレーザや光集積モジュールを利用する場合でも光ビームの出力を下げる必要がないため、光出力の低下に伴うノイズの発生を防ぐことができ、信号品質を向上できる。
【００２４】
また、上記第１の偏光は、楕円偏光であり、上記偏光回転手段は、第１の偏光としての楕円偏光を、当該楕円偏光の長軸に対して９０°回転した方向に長軸を有する、第２の偏光としての楕円偏光に変換することが好ましい。
【００２５】
上記の構成により、光源が出射した楕円偏光の光ビームを偏光状態の異なる楕円偏光の光ビームに変換できる。
【００２６】
また、上記第１の偏光は、楕円偏光であり、上記偏光回転手段は、第１の偏光としての楕円偏光を、当該楕円偏光の長軸に対して９０°回転した方向に偏光方向を有する、第２の偏光としての直線偏光に変換することが好ましい。
【００２７】
上記の構成により、光源が出射した楕円偏光の光ビームを直線偏光の光ビームに変換できる。
【００２８】
また、上記第１の偏光は、直線偏光であり、上記偏光回転手段は、第１の偏光としての直線偏光を、当該直線偏光の偏光方向に対し９０°回転した方向に長軸を有する、第２の偏光としての楕円偏光に変換することが好ましい。
【００２９】
上記の構成により、光源が出射した直線偏光の光ビームを楕円偏光の光ビームに変換できる。
【００３０】
また、上記第１の偏光は、直線偏光であり、上記偏光回転手段は、第１の偏光としての直線偏光を、当該直線偏光の偏光方向に体して９０°回転した方向に偏光方向を有する、第２の偏光としての直線偏光に変換することが好ましい。
【００３１】
上記の構成により、光源が出射した直線偏光の光ビームを異なる偏光状態の直線偏光の光ビームに変換できる。
【００３２】
なお、上記楕円偏光には円偏光も含まれる。
【００３３】
また、上記偏光性透過率可変手段は、上記第２の偏光なる光ビームの透過率よりも上記第１の偏光なる光ビームの透過率が低いものであることが好ましい。
【００３４】
上記の構成によれば、偏光性透過率可変手段によって、第１の偏光なる光ビームの光量を顕著に低減し、第２の偏光なる光ビームの光量はほとんど低減しないようにすることができる。
【００３５】
また、上記偏光性透過率可変手段は、偏光回折素子を含むことが好ましい。
【００３６】
上記の構成により、光源から出射された光ビームを回折することにより、当該光ビームの光量を低減することができる。
【００３７】
また、上記偏光回折素子が有する回折格子のピッチは、当該回折格子による±１次回折光が少なくとも上記対物レンズに入射しないように設定されていることが好ましい。
【００３８】
上記の構成によれば、偏光回折素子の回折格子によって生じる±１次回折光が少なくとも対物レンズに入射しないため、当該±１次回折光によって検出光学系にノイズが生じる虞を低減することができる。
【００３９】
また、上記偏光性透過率可変手段は、液晶偏光素子を含むことが好ましい。
【００４０】
上記の構成によれば、液晶偏光素子に印加する電圧に応じて液晶偏光素子の偏光状態を変化させることができる。それゆえ、液晶偏光素子に印加する電圧を変えることにより、光ビームの透過率を変えることができる。
【００４１】
また、上記偏光性透過率可変手段は、上記光源と上記光ディスクとを結ぶ光路を横切る方向に移動させる駆動手段をさらに備えることが好ましい。
【００４２】
上記の構成によれば、偏光性透過率可変手段を光源と光ディスクとを結ぶ光路上に配置することにより、往路光の光量を低減させることができる一方で、偏光性透過率可変手段を上記光路から外すことにより、往路光の光量を低減させないようにすることができる。
【００４３】
また、上記駆動手段は、上記偏光性透過率可変手段の移動に連動するように、当該偏光性透過率可変手段の屈折率と等しい屈折率を有する光透過性素子を移動させるものであることが好ましい。
【００４４】
上記の構成では、往路光の光量を低減させる場合には、偏光性透過率可変手段を移動させることにより、当該往路光を偏光性透過率可変手段に通し、光量を低減させない場合には、当該往路光を光透過性素子に通すことができる。このとき、偏光性透過率可変手段の屈折率と光透過性素子の屈折率とが等しいため、偏光性透過率可変手段を通る光ビームと光透過性素子を通る光ビームとを同様に屈折させることができる。
【００４５】
それゆえ、偏光性透過率可変手段を移動させることにより光ビームが透過する素子が変わった場合でも、光ビームの光学的距離を一定に維持することができる。したがって、光学系の構成を単純なものにでき、光学系の製造が容易になる。
【００４６】
上記偏光回転手段と上記偏光性透過率可変手段とは、一体形成されていることが好ましい。
【００４７】
上記の構成によれば、偏光回転手段と偏光性透過率可変手段とを一体形成することにより、光ピックアップ装置の部品配置のためのスペースを節約することができる。
【００４８】
上記偏光回転手段は、樹脂からなるものであることが好ましい。
【００４９】
上記の構成によれば、偏光回転手段を樹脂製とすることにより、安価で、軽量で、薄型の偏光回転手段を実現できる。そのため、光ピックアップ装置の小型化、軽量化を図ることができる。
【００５０】
本発明に係る制御装置は、上記の課題を解決するために、光ピックアップ装置の制御装置であって、光ビームの照射対象となる光ディスクが単層構造のものであるか多層構造のものであるかを判別する判別手段と、上記判別手段の判別結果に基づいて上記判別手段の判別結果に基づいて上記偏光性透過率可変手段の位置を決定し、当該位置に偏光性透過率可変手段を配置するよう上記駆動手段に指示を出す位置決め手段とを備えることを特徴としている。
【００５１】
上記の構成によれば、光ピックアップ装置によって記録または再生される光ディスクが単層ディスクであるか多層ディスクであるかを判別手段が判別する。この判別手段の判別結果に基づいて、位置決め手段が、偏光性透過率可変手段の位置を決定する。この偏光性透過率可変手段の決定に従って、駆動手段は、偏光性透過率可変手段の位置を調節する。
【００５２】
それゆえ、光ディスクの構造に応じて偏光性透過率可変手段の位置を変化させることができる。それゆえ、光ディスクに到達する光ビームの光量を、当該光ディスクに適したものに調節することができる。
【００５３】
また、上記位置決め手段は、上記光ディスクが単層構造のものである場合に、上記偏光性透過率可変手段を上記光路上に配置する決定を行うことが好ましい。
【００５４】
上記の構成によれば、光ディスクが単層構造のものである場合に、偏光性透過率可変手段を光源と光ディスクとを結ぶ光路上に配置することにより、往路光の光量を低減させることができる。
【００５５】
本発明に係る制御装置は、上記の課題を解決するために、光ピックアップ装置の制御装置であって、光ディスクを再生する指示を受け取ると、上記偏光性透過率可変手段を上記光路上に配置するよう上記駆動手段に指示を出す位置決め手段を備えることを特徴としている。
【００５６】
上記の構成によれば、光ディスクを再生する場合に、偏光性透過率可変手段を光源と光ディスクとを結ぶ光路上に配置することにより、往路光の光量を低減させることができる。
【００５７】
なお、上記制御装置が備える各手段を、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記各手段として動作させることにより制御装置を実現する制御装置の制御プログラムおよびそれを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も本発明の技術的範囲に含まれる。
【発明の効果】
【００５８】
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、第１の偏光なる光ビームを出射する光源と、上記光源から出射された光ビームを光ディスク上に集光する対物レンズを含む集光光学系と、上記光源と上記集光光学系との間に位置し、上記光ディスクで反射した光ビームを上記光源と上記光ディスクとを結ぶ光路から分岐する光分岐手段と、上記光分岐手段によって分岐された光ビームを検出する検出手段とを備える光ピックアップ装置であって、上記対物レンズと上記光分岐手段との間に配され、上記第１の偏光を第２の偏光に変換する偏光回転手段と、上記光分岐手段と上記偏光回転手段との間に配され、光ビームの偏光状態により当該光ビームの透過率が異なる偏光性透過率可変手段とを備える構成である。
【００５９】
それゆえ、光ビームの光量を適切に調節する機能を維持しつつ、光ピックアップの設計自由度を高めることができ、ホログラムレーザや光集積モジュールを利用する場合でも信号品質を向上させることができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６０】
〔実施の形態１〕
本発明の実施の一形態について図１〜図６に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
【００６１】
（光ディスク装置８０の構成）
図２は、本実施形態の光ディスク装置８０の構成を示す概略図である。図２に示すように、光ディスク装置８０は、光ピックアップ１０（光ピックアップ装置）、駆動部４０（駆動手段）、制御部５０（制御装置）、入力部６０を備えている。なお、光ディスク装置を機能させるために必要な構成部材であっても、本発明の特徴点とは直接関係のないものについては省略してある。
【００６２】
（光ピックアップ１０の構成）
図１（ａ）および（ｂ）は、光ピックアップ１０の構成を示す概略図である。光ピックアップ１０は、光ディスク９にレーザ光を照射することにより、光ディスク９が有する記録面９ｃに対して情報の記録および再生を行うものである。なお、光ディスク９は、記録面９ｃに加え、基板９ａ、カバー層９ｂを有している。
【００６３】
図１（ａ）および（ｂ）に示すように、光ピックアップ１０は、半導体レーザ１（光源）、偏光性透過率可変部２（偏光性透過率可変手段）、コリメートレンズ３、１／４波長板４（偏光回転手段）、対物レンズ５（集光手段）、偏光ビームスプリッタ６（光分岐手段）、ＡＰＣ（オートパワーコントロール）用検出素子７、検出光学系８（検出手段）を備えている。
【００６４】
半導体レーザ１は、光ピックアップ１０の光源である。
【００６５】
図３は、半導体レーザ１が出射する光ビームの偏光状態を示すものであり、（ａ）は半導体レーザ１が直線偏光の光ビームを出射している状態を示す図であり、（ｂ）は半導体レーザ１が楕円偏光の光ビームを出射している状態を示す図である。
【００６６】
図３（ａ）に示すように、半導体レーザ１から出射される光ビームは、半導体レーザ１の半導体レーザチップの接合面に平行な方向（図３（ａ）においてＸ軸方向）に偏光方向（矢印７２）を有する直線偏光である場合が多い。
【００６７】
しかしながら、図３（ｂ）に示すように、半導体レーザの製造バラツキにより、接合面に平行な方向に対し垂直な方向（図３（ｂ）においてＹ軸方向）にも僅かに偏光成分を有する楕円偏光を出射する半導体レーザ１も多く存在する。このような半導体レーザ１から出射される光は楕円偏光であり、その長軸７３は半導体レーザチップの接合面に平行な方向である。なお、図３（ａ）および図３（ｂ）において、符号７１を付したものは、半導体レーザ１から出射された光の遠視野像（ファーフィールドパターン）である。
【００６８】
一方、波長６３５ｎｍの半導体レーザのように上記の偏光方向または長軸に対して９０°回転した方向に偏光方向または長軸を有する直線偏光、楕円偏光の光ビームを出射する半導体レーザ（不図示）も存在する。
【００６９】
以下では、説明を単純化するために、半導体レーザ１は、Ｐ偏光（直線偏光）の光ビームを放射するものとするが、半導体レーザ１はこれに限定されない。
【００７０】
図４に偏光性透過率可変部２の構成を示す。偏光性透過率可変部２は、同図に示すように、透明基板２ａの一部に偏光性回折素子２ｂを形成したものである。偏光性回折素子２ｂは、透明基板２ａの長軸方向における端部に偏った側に位置している。図４においては、偏光性回折素子２ｂは、透明基板２ａの左側に偏った位置に形成されている。
【００７１】
偏光性回折素子２ｂは、光ディスク９の記録面上に到達する光ビームの透過率を回折によって変化させるものである。具体的には、偏光性回折素子２ｂは、±１次回折光を生じさせることによって、０次回折光として記録面上に到達する光量を減少させている。
【００７２】
また、偏光性回折素子２ｂは、Ｓ偏光（第２の偏光、直線偏光）の光ビームの透過率よりもＰ偏光（第１の偏光、直線偏光）の光ビームの透過率が低い光透過性の素子である。具体的には、偏光性回折素子２ｂは、Ｓ偏光の光ビームに対しては、０次回折光:１次回折光＝１００：０の光量比で光ビームを透過し、Ｐ偏光の光ビームに対しては０次回折光:１次回折光＝５０：５０の光量比で光ビームを透過する。
【００７３】
この場合、Ｐ偏光の光ビームを、１００％から５０％に変化させることが可能になる。つまり、最大光出力と最低光出力との比率を２：１にすることができる。
【００７４】
なお、偏光性回折素子２ｂの透過率に関する特性は、半導体レーザ１が出射する第１の偏光の光ビームの偏光状態と後述する１／４波長板４における偏光状態の変換様式とに基づいて適宜設定されればよい。すなわち、偏光性回折素子２ｂは、第２の偏光の光ビームの透過率よりも第１の偏光の光ビームの透過率が低いものであればよい。
【００７５】
また、偏光性透過率可変部２は、半導体レーザ１と光ディスク９とを結ぶ光路を遮る方向（上記光路に対して垂直な方向（Ｘ軸方向））に移動可能である。図１（ａ）に示すように、偏光性回折素子２ｂが上記光路上に配置された場合に、Ｐ偏光の光ビームを回折させることにより、その光量を低減することができる。また、図１（ｂ）に示すように、偏光性回折素子２ｂを上記光路から外すことにより、光ビームに回折を生じさせずに全て透過させ、光ビームの光量を低減しないようにすることができる。
【００７６】
偏光性透過率可変部２の移動は、制御部５０の制御下において、駆動部４０によって行われる。
【００７７】
コリメートレンズ３は、偏光性透過率可変部２を透過した光ビームを平行光にするためのものである。
【００７８】
図５は、１／４波長板４が透過光の偏光状態を変換することを示すものであり、（ａ）は１／４波長板４が直線偏光の光ビームの偏光方向を回転させることを示す図であり、（ｂ）は１／４波長板４が楕円偏光の光ビームの長軸を回転させることを示す図である。
【００７９】
半導体レーザ１から出射された第１の偏光の光ビームは、１／４波長板（λ/４板）４を通過し、光ディスク９で反射した後、さらに１／４波長板４を通過することにより第２の偏光の光ビームとなる。
【００８０】
１／４波長板４は、半導体レーザ１から出射された第１の偏光の光ビームが、図３（ａ）に示すように、半導体レーザ１の半導体レーザチップの接合面に平行な方向に偏光方向を有する直線偏光であるとき、その偏光方向を、図５（ａ）に示すように、９０°回転させるように特性設計されていてもよい。
【００８１】
また、１／４波長板４は、半導体レーザ１から出射された第１の偏光の光ビームが、図３（ｂ）に示すように、半導体レーザ１の半導体レーザチップの接合面に平行な方向の長軸７３を有する楕円偏光であるとき、当該楕円偏光を、図５（ａ）に示すように、その長軸の方向を９０°回転させた方向（矢印７５の方向）の偏光方向を有する直線偏光に変換するように特性設計されていてもよい。
【００８２】
また、１／４波長板４は、半導体レーザ１から出射された第１の偏光の光ビームが、図３（ａ）に示すように、半導体レーザ１の半導体レーザチップの接合面に平行な方向に偏光方向を有する直線偏光であるとき、当該直線偏光を、図５（ｂ）に示すように、その偏光方向を９０°回転させた方向の長軸７６を有する楕円偏光に変換するように特性設計されていてもよい。
【００８３】
また、１／４波長板４は、半導体レーザ１から出射された第１の偏光の光ビームが、図３（ｂ）に示すように、半導体レーザ１の半導体レーザチップの接合面に平行な方向の長軸７３を有する楕円偏光であるとき、その長軸を、図５（ｂ）に示すように、９０°回転させるように特性設計されていてもよい。
【００８４】
第２の偏光の光ビームは、図５（ａ）に示すように、完全な直線偏光であることが好ましいが、僅かに直交成分を有する楕円偏光であっても、図１、図７に示された偏光ビームスプリッタ６の偏光ビームスプリッタ面６ａの反射特性には影響はほとんどない。
【００８５】
上述した１／４波長板４の特性は、偏光特性精度やコストを考慮して設計されればよい。
【００８６】
以下では、１／４波長板４は、コリメートレンズ３を透過したＰ偏光の光ビームを円偏光に変換するとともに、光ディスク９に反射した円偏光の光ビームをＳ偏光に変換するものとするが、１／４波長板４の特性はこれに限定されない。
【００８７】
なお、図５において、符号７４が付されているものは、対物レンズ５を通過した光ビームによって形成される円形のビーム形状である。
【００８８】
偏光ビームスプリッタ６は、光ディスク９に反射した光ビームを半導体レーザ１と光ディスク９とを結ぶ光路から分岐するものである。
【００８９】
ＡＰＣ用検出素子７は、光ディスク９に向かう光ビームの光量をモニタするものである。
【００９０】
検出光学系８は、光ディスク９に反射した光ビームを受光し、電気信号を生成するものである。具体的には、検出光学系８は、自動焦点やトラック追従といった光点制御信号の再生および光ディスク９に記録された情報信号の再生を行う。
【００９１】
（駆動部４０の構成）
図６は、偏光性透過率可変部２を移動させる駆動部４０の構成を示す斜視図である。同図に示すように、駆動部４０は、固定筐体４１、スライド板４２、モータ４３を備えている。
【００９２】
スライド板４２の開口部には、偏光性回折素子２ｂと透明基板２ａとが並列に配置されている。スライド板４２は、移動可能に固定筐体４１に装着されているとともに、モータ４３と間接的に接続されている。すなわち、駆動部４０は、偏光性回折素子２ｂの移動に連動するように、透明基板２ａを移動させる。
【００９３】
モータ４３の回転力は、回転運動を直進運動に変換する機構（不図示）によりスライド板４２に伝達され、スライド板４２が移動する。この移動に伴い、偏光性透過率可変部２の偏光性回折素子２ｂおよび透明基板２ａは、光路に対して垂直な方向へ移動する。図６では、偏光性回折素子２ｂが光路上に配置されている状態が示されている。
【００９４】
（制御部５０の構成）
制御部５０は、偏光性透過率可変部２の位置を制御するためのものである。図２に示すように、制御部５０は、ディスク判別部５１（判別手段）、モータ制御部５２（位置決め手段）、レーザ制御部５３を備えている。
【００９５】
ディスク判別部５１は、検出光学系８から出力された信号（例えば、フォーカスサーボ信号）を受け取り、その信号の強度が所定の閾値以下であるか否かを判定することにより、光ディスク９が単層ディスクであるか、多層ディスクであるかを判断するものである。ディスク判別部５１は、その判断結果をモータ制御部５２へ出力する。
【００９６】
モータ制御部５２は、ディスク判別部５１または入力部６０から出力された信号に基づいてモータ４３を制御することにより、偏光性透過率可変部２の位置を制御するものである。このモータ制御部５２における処理の詳細については、後述する。
【００９７】
レーザ制御部５３は、ＡＰＣ用検出素子７からの出力が所定の値となるように、半導体レーザ１の発光出力を制御するものである。このオートパワーコントロールにより、光ディスク９の記録面９ｃ上における照射光束の出力が一定となる。
【００９８】
（光ピックアップ１０における光ビームの進路）
次に、光ピックアップ１０における光ビームの進路について説明する。
【００９９】
図１（ａ）に示すように、半導体レーザ１からＰ偏光の直線偏光として放射された光ビームは、偏光ビームスプリッタ６の偏光ビームスプリッタ面６ａを透過して、偏光性透過率可変部２に入射する。
【０１００】
ここで、一部の光ビームは偏光ビームスプリッタ面６ａに反射し、ＡＰＣ用検出素子７に入射する。このＡＰＣ用検出素子７の出力は、レーザ制御部５３に送られ、オートパワーコントロールが実行される。
【０１０１】
なお、光ディスク９の記録面上において所定の値として必要な照射光束の出力値は、後述するように、記録モードと再生モードとでは異なる値であり、さらに光ディスク９の種類や再生または記録の対象となる記録層によっても異なる。
【０１０２】
偏光ビームスプリッタ６から出射したＰ偏光の光ビームは、偏光性透過率可変部２に入射する。Ｐ偏光の光ビームは、偏光性透過率可変部２によって、その光量が低減される。
【０１０３】
偏光性透過率可変部２によって光量が低減された光ビームは、コリメートレンズ３を通過し、１／４波長板４によってＰ偏光の直線偏光から円偏光に変換され、対物レンズ５によって光ディスク９の記録面９ｃに集光される。
【０１０４】
光ディスク９に反射した光ビーム（戻り光）は、再び対物レンズ５を通過した後に、１／４波長板４を通過することにより、円偏光からＳ偏光に変換されて、偏光性透過率可変部２に入射する。
【０１０５】
ここで、前述したように偏光性透過率可変部２は、Ｓ偏光の光ビームをほとんど回折しない。そのため、戻り光は、その光量を変化させずに偏光性透過率可変部２を通過する。
【０１０６】
偏光性透過率可変部２を通過した戻り光は、Ｓ偏光として偏光ビームスプリッタ６に入射し、検出光学系８に導かれる。
【０１０７】
上記のように、戻り光は、往路の光ビームとは異なり、偏光性透過率可変部２によって実質的に透過率が減少されない。そのため、検出光学系８の受光面に十分な光量の光ビームが入射する。
【０１０８】
（光ディスクに応じた偏光性透過率可変部２の制御方法）
次に、偏光性透過率可変部２の制御方法について説明する。まず、光ディスク９が単層ディスクであるか多層ディスクであるかに基づいて偏光性透過率可変部２の位置を制御する場合について説明する。
【０１０９】
多層ディスクは、単層ディスクに比べ記録面上の反射率が低いため、単層ディスクに比べ大きな出力の光を集光する必要がある。このため、多層ディスクに情報を記録する場合には、光源の光出力をほぼ最大にすることが多い。可能な限り大きな光出力とすることで、安定した情報の記録を、より高速に行えるからである。
【０１１０】
他方、単層ディスクは、多層ディスクよりも反射率が高いため、単層ディスクを再生する場合は、多層ディスクを再生する場合よりも低い光出力とすることが多い。しかしながら、高出力半導体レーザを低出力で用いると、半導体レーザ特有のノイズ（戻り光ノイズ等）により信号品質が劣化するという問題がある。
【０１１１】
それゆえ、半導体レーザからはノイズの影響がない程度の高い出力の光ビームを出射し、その光ビームの光量は、記録面上に到達するときには、単層ディスクに相応しいレベルにまで低減されていることが好ましい。
【０１１２】
そこで、光ディスク装置８０では、単層ディスクに光ビームを照射する場合には、偏光性透過率可変部２を光路上に配置することにより出射光の透過率を下げ、多層ディスクに光ビームを照射する場合には、偏光性透過率可変部２を光路上から外すことにより出射光の出力を維持する構成とする。
【０１１３】
ここで、光ビームの照射対象となるディスクが単層構造か多層構造かを判別する処理の一例について説明する。
【０１１４】
光ディスク９が光ディスク装置８０に挿入されると、偏光性透過率可変部２が光路上に配置されていない状態で、半導体レーザ１を低出力で点灯させる。このとき、光ディスクが単層ディスクであれば、反射率が高いため、信号が大きくなり、多層ディスクであれば、反射率が低いため、信号が小さくなる。
【０１１５】
そこで、検出光学系８から出力された信号（例えば、フォーカスサーボ信号）を受け取ると、ディスク判別部５１は、フォーカスサーボ信号のレベルが、或る閾値以下であれば、当該光ディスクは多層ディスクであり、或る閾値より高ければ単層ディスクであると判断する。ディスク判別部５１は、この判断結果をモータ制御部５２へ出力する。
【０１１６】
モータ制御部５２は、挿入された光ディスクが単層ディスクであるという判断結果を受け取ると、偏光性透過率可変部２を光路上に配置するようにモータ４３を制御する。
【０１１７】
一方、モータ制御部５２は、挿入された光ディスクが多層ディスクであるという判断結果を受け取ると、偏光性透過率可変部２を光路上から外すようにモータ４３を制御する。
【０１１８】
なお、光ディスクの判別方法は、単層ディスクか多層ディスクかを判別できる方法であればよく、上記の判別方法以外の方法を用いても構わない
上記の制御により、単層ディスクに光ビームを照射する場合には、偏光性透過率可変部２により、記録面上に到達する光を概ね０次回折光のみとすることで、単層ディスクに相応しい光量を照射することが可能になる。したがって、単層ディスクにおいて安定した再生を行うことができる。
【０１１９】
なお、実際の偏光性透過率可変部２は、作製の精度などによりＳ偏光の光ビームに対しても回折光を発生させてしまうが、最終的に光検出系に十分な光量の光ビームを入射することができる量の光ビームを半導体レーザ１から出射すれば特に問題は生じない。
【０１２０】
（再生・記録処理に応じた偏光性透過率可変部２の制御方法）
次に、光ディスクに対して情報の記録を行う場合と、情報の再生を行う場合とで、偏光性透過率可変部２の位置を変更する制御方法について説明する。
【０１２１】
一般に、光ディスクに対して情報の記録を行う場合には、情報の再生を行う場合よりも高い出力の光ビームを照射することが好ましい。換言すれば、情報の再生を行う場合には、光ディスクに到達する光ビームの光量を、記録時よりも低減することが好ましい。
【０１２２】
そこで、光ピックアップ１０では、光ディスク９に対して情報の記録を行う場合には、偏光性透過率可変部２を光路上から外すことにより出射光の出力を高いレベルに維持し、情報の再生を行う場合には、偏光性透過率可変部２を光路上に配置することにより出射光の透過率を下げ、光ディスクに到達する光ビームの光量を低減することが好ましい。
【０１２３】
具体的には、光ディスク９に対して再生処理を行うか、記録処理を行うかの指示が入力部６０を介して、モータ制御部５２へ入力される。再生処理を行う指示を受け取ると、モータ制御部５２は、偏光性透過率可変部２を光路上に配置するようモータ４３を制御する。一方、記録処理を行う指示を受け取ると、モータ制御部５２は、偏光性透過率可変部２を光路上から外すようモータ４３を制御する。
【０１２４】
（変更例）
偏光ビームスプリッタ６から出射したＰ偏光の光ビームが、偏光性透過率可変部２に入射する時、±１次回折光がコリメートレンズ３に入射しない構成とすることが好ましい。または、コリメートレンズ３に±１次回折光が入射する場合でも、対物レンズ５には入射しない構成とすることが好ましい。
【０１２５】
具体的には、偏光性透過率可変部２における偏光性回折素子２ｂの、例えば格子ピッチを、±１次回折光が対物レンズ５に入射しない角度に回折するように形成することが好ましい。
【０１２６】
±１次回折光が対物レンズ５に入射し、記録面上で集光した場合、検出光学系にノイズが生じ、Ｓ／Ｎ比（シグナル/ノイズ比）を悪化させる可能性がある。上記の構成により、この可能性を低減することができる。
【０１２７】
また、偏光性透過率可変部２においてＰ偏光の光ビームを回折する割合は、５０％に限定されず、最大光出力と最低光出力との比が十分に大きくなるように設定されていればよい。
【０１２８】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施形態について図７〜図９に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、上述の実施形態と同様の部材に関しては、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１２９】
図７は、本実施形態の光ディスク装置９０の構成を示す概略図である。図７に示すように、光ディスク装置９０は、光ピックアップ２０を備えている。
【０１３０】
（光ピックアップ２０の構成）
図８は、本実施形態の光ピックアップ２０の構成を示す概略図である。光ピックアップ１０は、半導体レーザ１、偏光ビームスプリッタ６、ＡＰＣ用検出素子７、検出光学系８をそれぞれ別体として備える構成であったが、光ピックアップ２０は、光集積ユニット１１を備える構成である。
【０１３１】
図９は、光集積ユニット１１の構成を示す概略図である。図９（ａ）に示すように、光集積ユニット１１は、半導体レーザ１、偏光ビームスプリッタ６、ＡＰＣ用検出素子７、受光素子１２（検出手段）、偏光回折素子１３、パッケージ１５ａ・１５ｂ・１５ｃを備えている。
【０１３２】
図９（ｂ）は、光集積ユニット１１を光ディスク側（図９（ａ）のＺ軸方向）から見た平面図である。なお、図９（ｂ）では図の煩雑化を避けるため、偏光ビームスプリッタ６と、偏光回折素子１３とは省略している。
【０１３３】
受光素子１２は、検出光学系８と同様の機能を有するものである。
【０１３４】
偏光回折素子１３は、図９（ａ）に示すように、Ｐ偏光を回折させてＳ偏光を透過させる第１の偏光回折素子１３ａと、Ｓ偏光を回折させてＰ偏光を透過させる第２の偏光回折素子１３ｂとを備えている。
【０１３５】
第１の偏光回折素子１３ａには、ＴＥＳを検出するための３ビーム（メインビーム、２つのサブビーム）生成用の回折パターンが形成されている。３ビームを用いたＴＥＳ検出方法としては、３ビーム法、ＤＰＰ法および位相シフトＤＰＰ法等を採用できる。
【０１３６】
図１０は、第２の偏光回折素子１３ｂの構成を示す概略図である。第２の偏光回折素子１３ｂは、図１０に示すように、その領域が２分割されており、これらの分割領域により、光ディスク９からの戻り光を０次回折光と、±１次回折光とに分割する。このうち±１次回折光を受光する、受光素子１２の２つの受光部１２ｐ・１２ｑを、０次回折光の光路１２ａに対して互いに反対側に配置している。
【０１３７】
上記の構成により、＋１次回折光と−１次回折光との両方を用いて、第２の偏光回折素子１３ｂを光路１２ａを中心に回転調整することによって、ダブルナイフエッジ法を用いたＦＥＳ信号のフォーカスオフセット調整を確実に行うことができる。
【０１３８】
（光ピックアップ２０における光ビームの進路）
次に、光ピックアップ２０における光ビームの進路について説明する。
【０１３９】
図８（ａ）および図９（ａ）に示すように、半導体レーザ１からＰ偏光の直線偏光として放射された、光路１６ａの光ビームは、偏光ビームスプリッタ６の偏光ビームスプリッタ面６ａを透過して、偏光回折素子１３に入射する。
【０１４０】
ここで、一部の光ビームは偏光ビームスプリッタ面６ａを反射し、ＡＰＣ用検出素子７に入射する。このＡＰＣ用検出素子１４の出力は、レーザ制御部５３に送られ、オートパワーコントロールの動作が実行される。
【０１４１】
偏光回折素子１３に入射したＰ偏光の光ビームは、第１の偏光回折素子１３ａで回折され、第２の偏光回折素子１３ｂを透過し、光集積ユニット１１から出射される。
【０１４２】
光集積ユニット１１から出射したＰ偏光の光ビームは、偏光性透過率可変部２に入射する。Ｐ偏光の光ビームは、偏光性透過率可変部２によって、その光量が低減される。
【０１４３】
偏光性透過率可変部２によって光量が低減された光ビームは、コリメートレンズ３を通過し、１／４波長板４でＰ偏光の直線偏光から円偏光に変換され、対物レンズ５により光ディスク９の記録面９ｃに集光される。
【０１４４】
光ディスク９に反射した光ビーム（戻り光）は、再び対物レンズ５、１／４波長板４を通過し、円偏光からＳ偏光に変換されて、偏光性透過率可変部２に入射する。
【０１４５】
偏光性透過率可変部２を通過した戻り光は、Ｓ偏光として光集積ユニット１１に入射し、第２の偏光回折素子１３ｂで回折されて、第１の偏光回折素子１３ａをそのまま透過する。
【０１４６】
この戻り光は、偏光ビームスプリッタ６の偏光ビームスプリッタ面６ａと反射ミラー面６ｂとに反射し、光路１６ｂの０次回折光と光路１６ｃの１次回折光とに分離されて受光素子１２に入射する。
【０１４７】
（偏光性透過率可変部の変更例）
偏光性透過率可変部の変更例について説明する。上述の実施形態において利用することができる偏光性透過率可変部は、上述の偏光性透過率可変部２に限定されず、以下に説明する、偏光性透過率可変部２２、偏光性透過率可変部３２であってもよい。
【０１４８】
図１１は、偏光性透過率可変部２２の構成を示す概略図である。図１１に示すように、偏光性透過率可変部２２は、そのほぼ全領域に偏光性回折素子２２ｂが形成されているものである。
【０１４９】
図１２は、光ピックアップ３０の構成を示す概略図である。図１２（ａ）および（ｂ）に示すように、偏光性透過率可変部２２を備えた光ピックアップ３０を実現する場合には、偏光性透過率可変部２２を光路から完全に外すことにより（図１２（ｂ）に示す状態）半導体レーザ１からの出射された光ビームの光量を低減しないようにすればよい。
【０１５０】
図１３は、偏光性透過率可変部３２の構成を示す概略図である。図１３に示すように、偏光性透過率可変部３２は、偏光性回折素子３２ａとガラス板３２ｂ（光透過性部材）とがホルダー３２ｃによって保持されているものである。
【０１５１】
ガラス板３２ｂは、偏光性回折素子３２ａを形成する光学材料（硝材、樹脂など）の屈折率と同じ屈折率の光学材料で形成されている。
【０１５２】
偏光性透過率可変部３２を利用する場合には、半導体レーザ１からの出射された光ビームの光量を低減する時には、当該光ビームが偏光性回折素子３２ａを透過するように偏光性透過率可変部３２を配置し、上記光量を低減しない場合には、当該光ビームがガラス板３２ｂを透過するように偏光性透過率可変部３２を配置すればよい。
【０１５３】
偏光性透過率可変部３２を用いることにより、半導体レーザ１からコリメートレンズ３までの光学的距離が、偏光性回折素子３２ａおよびガラス板３２ｂの変位に関わらず変化しない。それゆえ、光学系の構成が単純なものとなり、光学系の製造が容易になる。
【０１５４】
しかし、コリメートレンズ３の焦点距離が十分に長く、光学的距離の変動が信号品質等に対し無視できる場合は、ガラス板３２ｂの代わりに開口部を形成しても構わない。この場合には、偏光性透過率可変部３２を簡略的に構成でき、製造コストを削減できる。
【０１５５】
また、また、ガラス板３２ｂや開口部の代わりに、回折効率の異なる偏光性回折素子を並列に配置しても構わない。
【０１５６】
また、偏光性透過率可変部２は、上述した偏光性回折素子の代わりに、液晶を用いた偏光素子を備えるものであってもよい。
【０１５７】
（その他の変更例）
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１５８】
例えば、上述した実施形態では、半導体レーザ１は、Ｐ偏光の光ビームを出射するものであるとしたが、半導体レーザ１は、Ｓ偏光の光ビームを出射するものであってもよい。その場合には、偏光性透過率可変部２は、Ｓ偏光の光ビームの光量を低減するものとし、１／４波長板４は、往路のＳ偏光の光ビームを円偏光に変換し、光ディスク９に反射した円偏光の光ビームをＰ偏光に変換するものとする。この構成では、Ｓ偏光の光ビームが第１直線偏光の光ビームであり、Ｐ偏光の光ビームが第２直線偏光の光ビームである。
【０１５９】
また、１／４波長板４は、コリメートレンズ３と対物レンズ５との間に配される必要性は必ずしもなく、図１４に示すように、１／４波長板４は、コリメートレンズ３と偏光性透過率可変部２との間に配されてもよい。
【０１６０】
また、図１５に示すように、偏光性透過率可変部２と１／４波長板４とを一体形成してもよい。より具体的には、１／４波長板４が偏光性透過率可変部２の光ディスク９側の表面に接合していてもよい。この構成により、光ピックアップ装置の部品配置のためのスペースを節約することができる。この一体形成は、偏光性透過率可変部２と１／４波長板４とを接着剤等により貼り付けることによってなされてもよいし、その他の部材により両者を挟むことによってなされてもよい。
【０１６１】
また、１／４波長板４は、ガラス製であってもよいが、アートン（商品名）等の樹脂製であることが好ましい。１／４波長板４を樹脂製とすることにより、安価で、軽量で、薄型の偏光回転手段を実現できる。そのため、光ピックアップ装置の小型化、軽量化を図ることができる。
【０１６２】
また、１／４波長板４を薄い樹脂により形成した場合には、偏光性透過率可変部２等の、ガラスや硬質樹脂等で形成されている他の部材に当該１／４波長板４を貼り付けることが好ましい。この構成により、１／４波長板４が温度や湿度の変化等、環境の変化に対して変形することを防止でき、光ピックアップ装置の信頼性を高めることができる。
【０１６３】
また、偏光性透過率可変部２を液晶偏光素子によって実現してもよい。図１６は、液晶偏光素子６２の構成を示す断面図である。図１６に示すように、液晶偏光素子６２は、液晶複合部６４が透明電極６３を介してガラス基板６１に挟持されているものである。液晶複合部６４は、ポリマー繊維の網目構造のすき間に、高速応答が可能な強誘電性液晶を充填した構造である。
【０１６４】
透明電極６３に印加する電圧を変えることにより液晶偏光素子６２の偏光状態を変化させることができ、液晶偏光素子６２を透過する光ビームの透過率を変えることができる。そのため、上記電圧を変化させることにより、液晶偏光素子６２は、第２の偏光の光ビームの透過率よりも第１の偏光の光ビームの透過率を低くすることができる。
【０１６５】
なお、上記の変更例は、光集積ユニット１１の構成にも適用できる。
【０１６６】
また、上記光ディスク装置の各手段は、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにＣＰＵを用いてソフトウェアによって構成してもよい。
【０１６７】
すなわち、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するＣＰＵ（central processing unit）、上記プログラムを格納したＲＯＭ（read only memory）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（random access memory）、上記プログラムおよび各種情報を格納するメモリ等の記録媒体などを備えている。
【０１６８】
そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである上記光ディスク装置の制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記光ディスク装置に供給し、そのコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。
【０１６９】
上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー（登録商標）ディスク／ハードディスク等の磁気ディスクやＣＤ−ＲＯＭ／ＭＯ／ＭＤ／ＤＶＤ／ＣＤ−Ｒ等の光ディスクを含むディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）／光カード等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ／ＥＰＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭ／フラッシュメモリ等の半導体メモリ系などを用いることができる。
【０１７０】
また、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、ＬＡＮ、ＩＳＤＮ、ＶＡＮ、ＣＡＴＶ通信網、仮想専用網（virtual private network）、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。
【０１７１】
また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、ＩＥＥＥ１３９４、ＵＳＢ、電力線搬送、ケーブルＴＶ回線、電話線、ＡＤＳＬ回線等の有線でも、ＩｒＤＡやリモコンのような赤外線、Bluetooth（登録商標）、８０２．１１無線、ＨＤＲ、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。
【０１７２】
なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。
【０１７３】
このように本明細書において、手段とは必ずしも物理的手段を意味するものではなく、各手段の機能がソフトウェアによって実現される場合も包含する。さらに、一つの手段の機能が二つ以上の物理的手段により実現されても、もしくは、二つ以上の手段の機能が一つの物理的手段により実現されてもよい。
【０１７４】
また、本発明は以下のようにも表現できる。
【０１７５】
すなわち、本発明の光ピックアップ装置は、光源と、前記光源から出射された光ビームを光ディスクの記録面上に集光する光集光手段と、前記光ディスクからの反射した光ビームを前記光源からの出射された光ビームの光軸から分岐する光軸分岐手段と、前記光ディスクからの反射した光ビームを受光する光検出手段とを少なくとも備えた光ピックアップにおいて、前記光軸分岐手段と前記集光手段の間に偏光方向によって透過率が変わる偏光性透過率可変手段が配置されている。
【０１７６】
上記偏光性透過率可変手段は、偏光回折素子であることがことが好ましい。
【０１７７】
上記偏光性透過率可変手段は、液晶偏光素子であることが好ましい。
【０１７８】
前記記録面と前記偏光性透過率可変手段の間に、光ビームの偏光方向を回転する偏光回転手段が配置されている。
【０１７９】
前記偏光回転手段は、１／４波長板であることが好ましい。
【０１８０】
前記偏光性透過率可変手段は、さらに光軸を横切る方向に移動可能に構成されていることが好ましい。
【０１８１】
前記偏光性透過率可変手段は、さらに第１の偏光性透過率可変素子と第２の偏光性透過率可変素子が配列されて構成され、光軸を横切る方向に移動可能に構成されていることが好ましい。
【０１８２】
前記偏光性透過率可変手段は、さらに第１の偏光性透過率可変素子と第１の偏光性透過率可変素子を形成する光学基板の屈折率と同等な屈折率の光学材料で構成され、光軸を横切る方向に移動可能に構成されていることが好ましい。
【０１８３】
前記偏光性透過率可変手段は、さらに第１の偏光性透過率可変素子と空気ギャップが光軸を横切る方向に移動可能に構成されていることが好ましい。
【０１８４】
上記光ピックアップ装置は、記録再生される光ディスクの内の特定の種類により、前記第１の偏光性透過率可変素子を前記光軸内に配置することが好ましい。
【０１８５】
上記光ピックアップ装置は、記録再生される光ディスクが単層構造の光ディスクの場合に、第１の偏光性透過率可変素子を前記光軸内に配置することが好ましい。
【０１８６】
記録再生される光ディスクが単層構造の光ディスクの場合に、前記偏光性透過率可変手段の透過率は、記録再生される光ディスクが多層構造の光ディスクの場合より低く構成されることが好ましい。
【０１８７】
上記光ピックアップ装置は、記録再生される光ディスクが多層構造の光ディスクであって、一の層の記録再生時に第１の偏光性透過率可変素子を前記光軸内に配置することが好ましい。
【０１８８】
上記光ピックアップ装置は、光ディスクの再生時に、前記第１の偏光性透過率可変素子を前記光軸内に配置することが好ましい。
【０１８９】
光ディスクの再生時に、前記偏光性透過率可変手段の透過率は、光ディスクの記録時より低く構成されることが好ましい。
【０１９０】
前記偏光性回折素子が設けられており、光源からの光が上記集光手段に入射しないように回折格子のピッチが設けられていることが好ましい。
【産業上の利用可能性】
【０１９１】
光源から放射された光ビームの光量を調節できるとともに、設計自由度の高い光ピックアップ装置であるため、ホログラムレーザや集積モジュール等を用いた小型の光ディスク装置にも好適に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１９２】
【図１】一実施形態の光ディスク装置が備える光ピックアップの構成を示すものであり、（ａ）は偏光性回折素子が光路上に配置された状態を示す概略図であり、（ｂ）は偏光性回折素子が光路上から外された状態を示す概略図である。
【図２】一実施形態の光ディスク装置の構成を示す概略図である。
【図３】半導体レーザが出射する光ビームの偏光状態を示すものであり、（ａ）は半導体レーザが直線偏光の光ビームを出射している状態を示す図であり、（ｂ）は半導体レーザが楕円偏光の光ビームを出射している状態を示す図である。
【図４】一実施形態の光ディスク装置が備える偏光性透過率可変部の構成を示す概略図である。
【図５】１／４波長板が透過光の偏光状態を変換することを示すものであり、（ａ）は１／４波長板が直線偏光の光ビームの偏光方向を回転させることを示す図であり、（ｂ）は１／４波長板が楕円偏光の光ビームの長軸を回転させることを示す図である。
【図６】一実施形態の光ディスク装置が備える駆動部の構成を示す斜視図である。
【図７】別の実施形態の光ディスク装置の構成を示す概略図である。
【図８】別の実施形態の光ディスク装置が備える光ピックアップの構成を示すものであり、（ａ）は偏光性回折素子が光路上に配置された状態を示す概略図であり、（ｂ）は偏光性回折素子が光路上から外された状態を示す概略図である。
【図９】別の実施形態の光ディスク装置が備える光集積ユニットの構成を示すものであり、（ａ）は光集積ユニットの側面図であり、（ｂ）は光集積ユニットの平面図である。
【図１０】光集積ユニットが備える第２の偏光回折素子の構成を示す概略図である。
【図１１】偏光性透過率可変部の変更例を示す概略図である。
【図１２】光ピックアップの変更例を示すものであり、（ａ）は偏光性回折素子が光路上に配置された状態を示す概略図であり、（ｂ）は偏光性回折素子が光路上から外された状態を示す概略図である。
【図１３】偏光性透過率可変部の構成を示す概略図である。
【図１４】一実施形態の光ディスク装置の変更例を示す概略図である。
【図１５】一実施形態の光ディスク装置の別の変更例を示す概略図である。
【図１６】液晶偏光素子の構成を示す断面図である。
【符号の説明】
【０１９３】
１    半導体レーザ（光源）
２    偏光性透過率可変部（偏光性透過率可変手段）
２ｂ  偏光性回折素子
３    コリメートレンズ
４    １／４波長板（偏光回転手段）
５    対物レンズ（集光光学系）
６    偏光ビームスプリッタ（光分岐手段）
８    検出光学系（検出手段）
９    光ディスク
１０    光ピックアップ（光ピックアップ装置）
１２    受光素子（検出手段）
１２ｐ  受光部（検出手段）
１２ｑ  受光部（検出手段）
２０    光ピックアップ（光ピックアップ装置）
２２    偏光性透過率可変素子（偏光性透過率可変手段）
２２ｂ  偏光性回折素子
３０    光ピックアップ（光ピックアップ装置）
３２    偏光性透過率可変部（偏光性透過率可変手段）
３２ａ  偏光性回折素子
３２ｂ  ガラス板（光透過性素子）
４０    駆動部（駆動手段）
５０    制御部（制御装置）
５１    ディスク判別部（判別手段）
５２    モータ制御部（位置決め手段）
６２    液晶偏光素子
７３    長軸
７６    長軸
８０    光ディスク装置
９０    光ディスク装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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