(57)【要約】【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。【解決手段】ダミー画素と、その発光輝度を検出する検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する。この場合に、基本的に基本発光色別に算出する平均階調値でダミー画素を継続的に発光制御する。一方で、劣化情報の実測タイミングには事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御する。この際、劣化情報の実測タイミング毎に検出センサーで実測される発光輝度の推移を求め、実測タイミング間の発光特性の劣化情報を求める。この後、実測タイミング期間に求めた平均階調値とこれに対応する劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を算出する。同時に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する。【選択図】図１
2007156044.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効表示領域を構成する基本発光色別のダミー画素と、当該ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
基本発光色別に算出したフレーム単位の平均階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、実測タイミング間の劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測タイミング間に表示された画像に関する基本発光色別の平均階調値とこれに対応する前記劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を基本発光色別に算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自発光表示装置において、
前記実測劣化率算出部は、
前記基本テーブル上の前記平均階調値ｐに対応する劣化率αp と、算出対象とする階調値ｑに対応する劣化率αq との対応比率αq ／αp を、平均階調値ｐに対応する実測劣化率Ｘp に乗算することより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。
【請求項３】
請求項１に記載の自発光表示装置は、
前記実測劣化率算出部で算出された階調値と実測劣化率との対応関係に基づいて、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素の累積劣化情報との差分が補正期間内に解消されるように画素別の補正量を決定する補正量決定部と、
算出された補正量に基づいて入力階調値を補正する映像信号変換部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項４】
請求項１に記載の自発光表示装置は、
前記実測劣化率算出部で算出された階調値と実測劣化率との対応関係に基づいて、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素の累積劣化情報との差分を通じて発生する輝度差を解消するように画素別の補正量を決定する補正量決定部と、
算出された補正量に基づいて入力階調値を補正する映像信号変換部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。
【請求項５】
有効表示領域を構成する基本発光色別のダミー画素と、当該ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルの更新装置であって、
基本発光色別に算出したフレーム単位の平均階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングには事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、実測タイミング間の劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測タイミング間に表示された画像に関する基本発光色別の平均階調値とこれに対応する前記劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を基本発光色別に算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする階調値／劣化率変換テーブル更新装置。
【請求項６】
有効表示領域を構成する基本発光色別のダミー画素と、当該ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
基本発光色別に算出したフレーム単位の平均階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングには事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、実測タイミング間の劣化情報を求める劣化情報実測処理と、
実測タイミング間に表示された画像に関する基本発光色別の平均階調値とこれに対応する前記劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を基本発光色別に算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書で説明する発明は、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値／劣化率変換テーブルを更新する技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、階調値／劣化率変換テーブル更新装置及びプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機その他の電子機器に広く用いられている。現在のところ、フラットパネルディスプレイには、主に液晶ディスプレイパネルが用いられている。しかし、液晶ディスプレイパネルは、依然として、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘されている。
【０００３】
このため、液晶ディスプレイパネルに代わるフラットパネルディスプレイの登場が期待されている。
その最有力候補が、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列した有機ＥＬディスプレイパネルである。有機ＥＬディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
【０００４】
ところで、有機ＥＬディスプレイパネルを構成する自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることが一般的にも知られている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体（有機ＥＬ素子）の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
【０００５】
劣化の進行した発光体の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は「焼きつき」と呼ばれる。以下、部分的な発光体の劣化を「焼きつき」と表記する。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
【０００６】
従って、劣化状態を検出せずに行う焼きつきの改善策は全て、焼きつきの発生を単に抑制しているのにすぎない。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００３−５０９７２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このうち特許文献１と特許文献２は、発光体の劣化状態を入力表示データ（階調値）の積算値によって予測し、その予測結果に基づいて入力表示データを補正する技術を開示する。すなわち、これらの特許文献は、劣化特性の予測値に基づいて焼きつきを補正する手法を開示する。このため、予測結果に基づく補正後も、焼きつきが解消されない可能性がある。
【０００８】
その大きな要因は、発光体の劣化特性は、入力階調値だけでは一様に決定できないためである。例えば、周囲の環境、駆動方法、輝度条件、発熱条件、劣化の程度など様々な条件が複雑に影響する。しかも、有機ＥＬディスプレイパネル間の個体誤差をも考慮する必要がある。このように、全ての条件を正確に関連付けて発光体の劣化状態を予測することは、事実上ほぼ不可能に近い。
【０００９】
一方、特許文献３に示す手法では、画素回路内に配置した光検出素子により発光体の劣化特性を精度良く検出することができる。しかし、画素毎に光検出素子を利用した補正回路を配置することにより１画素当たりのトランジスタ数が増加し、生産歩留まりの低下や高解像化に不利になる問題がある。
また、特許文献３に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで、発明者らは、発光体の劣化状態の測定時（各画素の劣化量又は画素間の劣化量差の算出時）に参照する階調値／劣化率変換テーブルを、以下に示す処理機能を通じて更新する手法を提案する。ここでの表示パネルには、有効表示領域を構成する基本発光色別のダミー画素と、当該ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとを有効表示領域の外側に配置するものを使用する。
【００１１】
（ａ）基本発光色別に算出したフレーム単位の平均階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
（ｂ）劣化情報の実測タイミング毎に検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、実測タイミング間の劣化情報を求める劣化情報実測部
（ｃ）実測タイミング間に表示された画像に関する基本発光色別の平均階調値とこれに対応する劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を基本発光色別に算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部
【発明の効果】
【００１２】
発明者らの提案する発明によれば、表示パネルを構成する全ての発光体の劣化状態を、ダミー画素についての実測値を通じて正確に予測することができる。すなわち、入力階調値の表示による劣化率（劣化速度）の変化を、ダミー画素についての実測値を通じて実時間で算出することができる。
この結果、事前の実験を大幅に減らせるだけでなく、実劣化状態の予測精度を一段と向上することができる。また、発明者らの提案する発明は、劣化状態の測定に必要なダミー画素や検出センサーの配置は、製造上の制約もなく実製品への応用に有利である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明に係る自発光表示装置の形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
【００１４】
（Ａ）有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成
図１に、階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する有機ＥＬディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図１に示す有機ＥＬディスプレイ装置１は、映像信号変換部３、劣化量算出部５、階調／劣化量変換テーブル７、累積劣化量差算出部９、累積劣化量差蓄積部１１、補正量決定部１３、自発光パネル１５、ダミー画素発光検出部１７、劣化量実測部１９、平均階調値（ＡＰＬ：average picture level）算出部２１、変換テーブル更新部２３、ダミー画素発光制御部２５で構成する。
【００１５】
映像信号変換部３は、入力表示データ信号を補正表示データ信号に変換する処理デバイスである。この形態例の場合、映像信号変換部３は、入力表示データ信号に補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部１３より与えられる。また、補正表示データ信号には、ダミー画素発光制御部２３から与えられるダミー画素用の表示データ信号が多重される。補正表示データ信号は、劣化量算出部５と、自発光パネル１５と、ＡＰＬ算出部２１に与えられる。
【００１６】
劣化量算出部５は、各画素に対応する階調値に基づいて画像の表示に伴う各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例では、階調／劣化量変換テーブル７を使用する。図２に、階調／劣化量変換テーブル７の一例を示す。階調／劣化量変換テーブル７には、入力表示データ信号が採り得る全ての階調値と、これらに対応する劣化量とが対応付けられて記憶されている。なお、劣化量Ｒは、各階調値に対応する劣化速度（劣化率）と発光期間ｔとの積として与えられる。発光期間ｔは、固定でも可変でも良い。
【００１７】
累積劣化量差算出部９は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する劣化量差の累積値を算出する処理デバイスである。基準画素は、実在する画素でも良いし、仮想的に設定した画素でも良い。前者には、例えば画素単位の累積劣化量が最も小さい画素、画素単位の累積劣化量が最も大きい画素がある。後者には、１フレームの平均階調値で発光する仮想の画素がある。
累積劣化量差算出部９は、基準画素の劣化量と各画素の劣化量との差分をフレーム毎に算出し、前期間までに算出された画素別の累積劣化量差に加算する処理を実行する。
【００１８】
累積劣化量差蓄積部１１は、基準画素に対する各画素の累積劣化量差を保存する記憶領域又は記憶装置である。累積劣化量差は、ある画素の劣化が基準画素に対する進行度（進んでいるか遅れているか）及び進行度の度合いを表す。
補正量決定部１３は、映像信号変換部３に与える補正値を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部１３における補正量の決定手法には、劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
【００１９】
自発光パネル１５は、発光体（自発光素子）を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機ＥＬ素子を使用する。
図３に、自発光パネル１５の平面構成例を示す。なお、図３は、主に画素配置の観点から表しており、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
図３に示すように、自発光パネル１５は、有効表示領域１５１の外側にダミー画素１５３を配置した構成でなる。有効表示領域１５１は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。この形態例の場合、有効表示領域１５１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色を基本発光色とする。
【００２０】
一方、ダミー画素１５３は、外部に光源光が出力されないように遮光されている。この例の場合、ダミー画素１５３は、有効表示領域１５１を構成する基本発光色のそれぞれに対応して１個ずつ配置される。すなわち、ＲＧＢ用の３個が配置される。
ダミー画素１５３は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）のそれぞれに対応するダミー画素用の表示データ信号で発光制御される。
図３の場合、ダミー画素１５３の駆動用に新たに配置する駆動信号線は、ゲート駆動ラインの１本のみである。データ駆動ラインは、有効表示領域１５１と共用する。
【００２１】
この形態例の場合、表示タイミングのブランキング期間を利用してダミー画素１５３を発光駆動する。このように、ダミー画素１５３には専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
また、ダミー画素１５３の構造は、有効表示領域１５１の各画素に対応する画素回路と同構造とする。すなわち、選択トランジスタと駆動トランジスタとで構成する。従って、表示パネル自体の生産上の難易度が上がることやコストの増加はほとんど発生しない。
【００２２】
ダミー画素発光検出部１７は、ダミー画素１５３から出力される可視光を検出して電気信号に変換する光検出素子であり、ダミー画素１５３の発光面と対面する位置に配置されている。この形態例の場合、基本発光色毎に１つずつ、すなわち計３個配置される。
一般に、光検出素子には任意の検出センサーを適用する。もっとも、アモルファスシリコン半導体を用いた可視光センサーのようなものが望ましく、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、検出信号として出力される。
【００２３】
劣化量実測部１９は、ダミー画素１５３の劣化状態を検出するタイミング（実測タイミング）と、検出タイミング時にダミー画素１５３に印加する表示データ信号（階調値）とをダミー画素発光制御部２５に与える処理デバイスである。この形態例の場合は、劣化状態の検出は、一定周期（一定のフレーム数毎）で実行する。また、劣化状態の検出は、常に同じ階調値を使用する。同じ階調値でダミー画素１５３を光らせることで、発光体の劣化を発光輝度の推移として検出することが可能になる。
なお、劣化量実測部１９がダミー画素発光制御部２５に与える階調値は、ＲＧＢ別に設定しても良いし、ＲＧＢのいずれにも同じ値を用いても良い。例えば、１００％階調値（階調が８ビットの場合は「２５５」）を使用する。
【００２４】
また、劣化量実測部１９は、直前回に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔＲを、前回の検出タイミングから今回の検出タイミングの間に生じた劣化情報として実測劣化率算出部２３１に与える処理デバイスとしても機能する。
なお、劣化量実測部１９は、ダミー画素１５３の劣化に要した時間（この例の場合は固定値）も実測劣化率算出部２３１に与える。
もっとも、劣化量実測部１９において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが実測劣化率算出部２３１に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔＲを検出タイミング間のフレーム数で割ることで求めることができる。
【００２５】
ＡＰＬ算出部２１は、補正表示データ信号についてフレーム毎に平均階調値をＲＧＢ画素別に算出する処理と、過去に算出されたＲＧＢ画素別の平均階調値の平均値（以下「平均ＡＰＬ値」という。）を算出する処理とを実行する処理デバイスである。
なお、フレーム毎に算出されるＲＧＢ画素別の平均階調値は、ダミー画素発光制御部２５に与えられる。また、平均ＡＰＬ値は、変換テーブル更新部２３に与えられる。
【００２６】
変換テーブル更新部２３は、ＲＧＢ画素別に実測された劣化率とその検出期間の補正表示データ信号の平均ＡＰＬ値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する処理デバイスである。
この明細書では、前者の処理機能を実測劣化率算出部２３１と呼ぶ。
【００２７】
ダミー画素発光制御部２５は、ダミー画素１５３の発光を制御する処理デバイスである。ダミー画素発光制御部２５は、ダミー画素１５３の劣化状態を実測するタイミング以外の期間において、ＡＰＬ算出部２１で算出された各フレームの平均階調値をＲＧＢ別に出力する。また、ダミー画素発光制御部２５は、ダミー画素１５３の劣化状態を実測するタイミングでは、劣化量実測部１９で算出された劣化状態検出用の固定階調値をＲＧＢ別に出力する。
【００２８】
（Ｂ）劣化特性の補正動作と階調／劣化率変換テーブルの更新動作
続いて、有機ＥＬディスプレイ装置１で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域１５１に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部３で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル１５に与えられる。
この際、ＡＰＬ算出部２１は、各フレームの平均階調値をＲＧＢ別に算出し、ダミー画素発光制御部２５に与える。
【００２９】
ダミー画素発光制御部２５は、ダミー画素１５３の劣化状態の検出期間でない限り、ＡＰＬ算出部２１から与えられた平均階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部３に与える。この結果、Ｒ画素用のダミー画素１５３は、直前フレームを構成する全Ｒ画素の平均階調値で発光制御される。また、Ｇ画素用のダミー画素１５３は、直前フレームを構成する全Ｇ画素の平均階調値で発光制御される。同様に、Ｂ画素用のダミー画素１５３は、直前フレームを構成する全Ｂ画素の平均階調値で発光制御される。
【００３０】
図４に、ダミー画素発光制御部２５が映像信号変換部３に出力するダミー画素５３用の表示データ信号例を示す。この結果、各ダミー画素１５３は、有効表示領域１５１内の各ＲＧＢ画素と全く同じ状態で発光することになる。すなわち、画素間の個体誤差を無視すれば、有効表示領域と全く同様に劣化が進行する。
やがて、ダミー画素の劣化状態を検出タイミングになると、ダミー画素発光制御部２５は、劣化量実測部１９から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部３に与える。図４は、検出タイミングに１００％の階調値が与えられる様子を表している。
【００３１】
劣化量実測部１９は、この検出タイミングに検出された発光輝度の情報をダミー画素発光検出部１７を通じて入力する。
図５に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ１００％階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図５は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。
【００３２】
劣化量実測部１９は、ダミー画素の発光輝度が新たに検出される度に、直前回の検出値との差分ΔＲを算出する。
図５は、発光時間ｔ５とｔ６について差分ΔＲを求める様子を表している。
差分ΔＲが算出されると、劣化量実測部１９は、この検出タイミング間の劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出する。
図６に、劣化率の算出原理を示す。図６は、直前回の検出タイミングｔ（ｎ）での検出輝度が９０％であり、今回の検出タイミングｔ（ｎ＋１）での検出輝度が８５％の場合を示す。
【００３３】
従って、差分ΔＲは５％である。また、検出タイミングｔ（ｎ）とｔ（ｎ＋１）との間のフレーム数がＦであるとすると、劣化量実測部１９は、ＲＧＢ画素に対応する劣化率をそれぞれΔＲ／Ｆとして算出する。
この劣化率は、劣化量実測部１９より変換テーブル更新部２３に与えられる。
このとき、変換テーブル更新部２３は、ＡＰＬ算出部２１より、この検出タイミング間におけるＲＧＢ画素別の平均ＡＰＬ値も与えられる。図６の場合、平均ＡＰＬは、階調値換算で１００（階調値が８ビットの場合）である。
【００３４】
このように、劣化率と直前検出期間の平均ＡＰＬ値とが求まると、自発光パネル１５における現在の階調値と劣化率との実測関係が確定する。この対応関係は、実測値であるので、表示画像の内容や使用環境等を反映した対応関係となる。この対応関係は、平均ＡＰＬ値と劣化率（劣化量）との現在の状況を正確に表している。
ただし、この実測されたのは、２５６通り（階調が８ビットで与えられる場合）の対応関係の１つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率（劣化量）を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率（実測劣化率）を算出する必要がある。
【００３５】
実測劣化率算出部２３１は、この対応関係を図７に示す階調値と劣化率との基本対応関係を用いて算出する。基本対応関係を参照するのは、階調値に対応する劣化率の実測値が変化しても、実測された対応関係と他の対応関係とは基本的に図７に示す関係を維持すると考えられるからである。図７に示す基本対応関係は、基本テーブル情報として実測劣化率算出部２３１に格納される。
図８に、実測劣化率算出部２３１による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。
【００３６】
図８は、実測された対応関係が階調値の１００（階調が８ビットで表される場合）であり、その際の実測劣化率をＸ100 として表している。このとき、任意の階調値ａに対応する実測劣化率Ｘa は、図９に示す基本テーブル曲線を通じて特定される劣化率間の比率αa ／α100 を実測劣化率Ｘ100 に乗算することにより算出できる。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率（劣化速度）だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
【００３７】
変換テーブル更新部２３は、全ての階調値に対応する実測劣化率Ｘa が算出されると、これらの値で階調／劣化量変換テーブル７を更新する。なお、劣化量は、実測劣化率Ｘa と発光期間ｔとの積として算出する。図１０に、階調／劣化量変換テーブル７を構成する全ての階調値について劣化率が更新される様子を示す。
因みに、検出期間（周期）は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
【００３８】
（Ｃ）効果
以上説明したように、有効表示領域１５１の外側にＲＧＢのそれぞれに対応するダミー画素１５３が配置されている場合に、各ダミー画素をそれぞれ対応する発光色の平均階調値で発光制御してダミー画素を有効表示領域内の劣化と同じ進行度合いに調整する。その上で、定期的に検出されるダミー画素の劣化情報に基づいて、現在時点での階調値と劣化率（劣化量）との関係を算出して更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
【００３９】
すなわち、画面サイズがどのように大型化する場合にも、全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する３個のダミー画素１５３も通常パネルプロセスの延長線上で（パネルプロセスをほとんど変更することなく）作成することができる。
また、ダミー画素発光検出部１７も、ダミー画素１５３の部分にだけ配置するだけで済む。従って、様々な特性バラつきや製造バラつき等を考慮しても、歩留まりや製造コストに影響をほとんど与えることがない。すなわち、自発光パネルに対する構造上の負荷が小さく、商品化に適した構造を実現できる。
【００４０】
また、階調値と劣化率（劣化速度）との相対的な基本関係だけが分かれば、階調／劣化率変換テーブルの対応関係を１つの実測値に基づいて更新できる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。
【００４１】
図１１及び図１２に、前述した処理動作により改善される問題を模式的に示す。
図１１は、補正期間内に各画素の劣化量が基準画素の劣化量と一致するように補正動作を実行する場合の動作結果について示す。図中の実線と破線は、特許文献１等に示す手法を採用した場合の補正結果である。実線は、実際の劣化特性を示し、破線は、予測精度の悪い状態で把握された劣化特性である。
【００４２】
補正対象画素の劣化（破線）が一致させるべき基準画素の劣化（破線）に対して５％進んでいると判定された場合、特許文献１等に開示された手法では、予測された補正期間について補正対象画素の発光を停止させるような制御動作が実行される。破線で示すように、補正期間の終了時点では補正対象画素の劣化特性は、基準画素の劣化特性と一致しているはずである。
【００４３】
しかし、劣化特性の予測精度が悪く、図１１に実線で示すように補正開始時点における補正対象画素と基準画素との劣化量の差が実際は３％の場合、補正対象画素の発光を停止することで補正期間終了時点には、補正開始時点とは反対に基準画素の劣化が進んでしまう。このように、劣化量の予測精度に問題があると、補正動作が本来の効果（焼き付きの改善）を発揮することができない。
ところが、発明者らの提案する手法を採用すれば、劣化量の予測精度が大幅に向上されるため、補正対象画素の劣化量は基準画素の劣化量に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
【００４４】
一方、図１２は、視認される各画素の発光輝度が基準画素の発光輝度と一致するように補正動作を実行する場合の動作結果について示す。図中の実線と破線も、特許文献１等に示す手法を採用した場合の補正結果である。実線は、実際の劣化特性を示し、破線は、予測精度の悪い状態で把握された劣化特性である。
【００４５】
図１２も、補正対象画素の劣化（破線）が一致させるべき基準画素の劣化（破線）に対して５％進んでいると判定された場合について表している。この場合、特許文献１等に開示された手法では、補正対象画素の発光輝度を５％上昇させるような制御動作が実行される。破線で示すように、この補正動作の実行により補正対象画素の発光輝度は、基準画素の発光輝度と一致するはずである。
【００４６】
しかし、劣化特性の予測精度が悪く、図１２に実線で示すように補正開始時点における補正対象画素と基準画素との劣化量の差が実際は３％の場合、補正対象画素の発光輝度を５％上昇させると、基準画素の発光輝度よりも２％も大きくなってしまう。このように、劣化量の予測精度に問題があると、補正動作が本来の効果（焼き付きの改善）を発揮することができない。
そしてこの場合も、発明者らの提案する手法を採用すれば、劣化量の予測精度が大幅に向上するため、補正対象画素の発光輝度は基準画素の発光輝度に対して精度良く合わせ込むことができ、補正終了時点には焼き付きを改善することが可能になる。
【００４７】
（Ｄ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、基本発光色がＲＧＢの３色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素１５３等は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
【００４８】
（ｃ）前述の形態例では、表示上の１画素に対応する３つのダミー画素（一組のダミー画素）を自発光パネル上に配置する場合について説明した。また、図３の場合、ダミー画素の駆動用に新たに１本のゲート駆動線を追加する場合について説明した。
しかし、ダミー画素の数や配置等に応じて、データ駆動線やゲート駆動線は、最適な本数を追加すれば良い。
（ｄ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００４９】
（ｅ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１について説明した。
しかし、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
【００５０】
（ｆ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を実装する有機ＥＬディスプレイ装置１について説明した。
しかし、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
【００５１】
（ｇ）前述の形態例では、階調／劣化率変換テーブル７の更新機能を機能構成の観点から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】階調／劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する自発光装置の機能構成例を示す図である。
【図２】階調／劣化量変換テーブルの構成例を示す図である。
【図３】表示パネルの平面構成例を示す図である。
【図４】ダミー画素の発光制御例を示す図である。
【図５】ダミー画素についての劣化特性の推移例を示す図である。
【図６】劣化率の実測原理を説明する図である。
【図７】実劣化率の算出時に参照する基本対応関係例を示す図である。
【図８】基本対応関係を参照した実劣化率の算出原理を示す図である。
【図９】基本テーブル上での劣化率間の関係を説明する図である。
【図１０】階調／劣化量変換テーブルの更新動作を説明する図である。
【図１１】従来手法で発生する逆焼き付き現象を説明する図である。
【図１２】従来手法で発生する逆焼き付き現象を説明する図である。
【符号の説明】
【００５３】
３        映像信号変換部
５        劣化量算出部
７        階調／劣化量変換テーブル
９        累積劣化量差算出部
１１      累積劣化量差蓄積部
１３      補正量決定部
１５      自発光パネル
１５１    有効表示領域
１５３    ダミー画素
１７      ダミー画素発光検出部
１９      劣化量実測部
２１      ＡＰＬ算出部
２３      変換テーブル更新部
２３１    実測劣化率算出部
２５      ダミー画素発光制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１２】
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【図１１】
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