(57)【要約】複数のサブフィールドの状態でディスプレイパネル（７０２）に表示される画像の画素を処理するための画像処理装置（６０３）は動き補償を実行するためにデザインされている。動き補償は多くの段階に別けられる２つの部分において実行される。前の補償部分（８１６）において、画像の画素のために、即ち、どのサブフィールドの画素がオンにされ且つどのサブフィールドの画素がオフにされるべきかについて、最適なサブフィールドの組み合わせが決定される。このために動きベクトルが用いられる。前の補償部分は第２部分（８１８）にもともと備わっているエラーを補償するために重要であり、実際の変換（３０８）は画素位置（３２２）の離散的な数の範囲に等しくないが、画素位置（３２２）のその離散的な数を用いてサブフィールド画素をシフトさせる。【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のサブフィールドの状態でディスプレイパネルに表示される画像の画素を処理するための画像処理装置であって、前記サブフィールドの各々はこのサブフィールドにおいて生成されたそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、前記画像処理装置は特定のサブフィールドの第１時間と基準の時間との間の第１時間差と第１画素の第１動きベクトルとに基づく第２画素に前記第１画素の前記特定のサブフィールドの値を割り当てるためにデザインされた動き補償部を有し、前記画像処理装置は：
現サブフィールドの重み付けと前記第１動きベクトルとに基づいて前記第１画素に前記現サブフィールドの寄与を計算するための第１強度計算手段；並びに
前記現サブフィールドと目的の強度レベルとに基づいて前記現サブフィールドに前記第１画素が刺激を与えられるべきかどうかを決定するための決定手段；
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置であって：
前記第１画素の要求された強度レベルを記憶するための第１記憶手段；
もしあれば、前に処理されたサブフィールドに基づいて累積された強度レベルを計算するための第２強度計算手段；並びに
前記要求された強度レベルと前記累積された強度レベルとに基づいて、もしあれば、前記現サブフィールドおよび後のサブフィールドにおいて生成される前記目的の強度のレベルを計算するための第３強度計算手段；
をさらに有する、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１に記載の画像処理装置であって、前記サブフィールドの重み付けを減少させるために前記サブフィールドを処理するように配置される、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１に記載の画像処理装置であって、前記サブフィールドの一部のみを処理するために配置される、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１に記載の画像処理装置であって、前記第１強度計算手段は：
第１方向における距離と第１方向における丸め込み距離との間の第１オフセットであって、前記第１画素の第２動きベクトルおよび現サブフィールドの現時間と前記基準の時間との間の第２時間差に基づく第１方向における距離をもつ、第１オフセット；並びに
第２方向における距離と第２方向における丸め込み距離との間の第２オフセットであって、前記第１画素の前記第２動きベクトルおよび前記現サブフィールドの現時間と前記基準の時間との間の前記第２時間差に基づく第２方向における距離をもつ、第２オフセット；
に基づく前記第１画素の画素範囲を決定することにより前記第１画素に現サブフィールドの寄与を計算するために前記第１強度計算手段が配置され、前記第１方向は前記第２方向と交差する、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像処理装置であって、前記第１強度計算手段はルックアップテーブルを用いて前記第１画素の前記画素範囲を決定するために配置される、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１に記載の画像処理装置であって、決定手段は隣接画素のためになされる決定を考慮するために配置される、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項１に記載の画像処理装置であって、前記決定手段は、前記第１画素が前記現サブフィールドにおいて刺激されるべきかどうかを決定するために可能なサブフィールドの組み合わせのセットについてサブフィールド組み合わせを選ぶために配置される、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項１に記載の画像処理装置であって、前記画像処理装置は同じデータを用いてディスプレイパネルの隣接画素を同時にアドレシングすることに関する制限を考慮するためにデザインされる、ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
複数のサブフィールドにおいてディスプレイパネルに表示される画像の画素を処理する方法であって、前記サブフィールドの各々はこれらのサブフィールドにおいて生成されるそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、前記方法は前記第１画素の第１動きベクトルおよび特定のサブフィールドの第１時間と基準の時間との間の第１時間差に基づいて第２画素に第１画素の前記特定のサブフィールドの値を割り当てる段階を有し、前記方法は：
前記第１動きベクトルと現サブフィールドの重み付けとに基づいて前記第１画素に対する現サブフィールドの寄与を計算する第１強度計算段階；並びに
基準の強度レベルと前記現サブフィールドの前記寄与とに基づいて前記現サブフィールドにおいて前記第１画素が刺激を与えるべきかどうかを決定する決定段階；
をさらに有することを特徴とする方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の方法であって：
前記第１画素の所定の強度レベルを記憶する記憶段階；
もしあれば、前に処理されたサブフィールドに基づいて前記累積された強度レベルを計算する第２強度計算段階；並びに
前記要求された強度レベルと前記累積された強度レベルとに基づいて、もしあれば、後のサブフィールドと前記現サブフィールドとにおいて生成される目的の強度レベルを計算する第３強度計算段階；
をさらに有することを特徴とする方法。
【請求項１２】
請求項１０に記載の方法であって、前記サブフィールドは前記サブフィールドの重み付けを決定するために処理される、ことを特徴とする方法。
【請求項１３】
請求項１０に記載の方法であって、サブフィールドの一部のみが処理される、ことを特徴とする方法。
【請求項１４】
請求項１０に記載の方法であって、前記第１強度計算段階において前記第１画素に対する前記現サブフィールドの寄与は：
第１方向における距離と第１方向における丸め込み距離との間の第１オフセットであって、前記第１画素の第２動きベクトルおよび前記現サブフィールドの現時間と前記基準の時間との間の第２時間差に基づく第１方向における距離をもつ、第１オフセット；並びに
第２方向における距離と第２方向における丸め込み距離との間の第２オフセットであって、前記第１画素の前記第２動きベクトルおよび前記現サブフィールドの前記現時間と前記基準の時間との間の前記第２時間差に基づく第２方向における前記距離を伴う、第２オフセット；
に基づいて第１画素の画素範囲を決定することにより計算され、前記第１方向は前記第２方向と交差する、ことを特徴とする方法。
【請求項１５】
一連の画像を表示するための画像表示装置であって：
前記一連の画像を表す信号を受信するための受信手段；
複数のサブフィールドの状態でディスプレイパネルに表示される画像の画素を処理するための画像処理装置であって、前記サブフィールドの各々はこれらのサブフィールドにおいて生成されたそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、画像処理装置は特定のサブフィールドの第１時間と基準の時間との間の第１時間差および前記第１画素の第１動きベクトルに基づいて第２画素に第１画素の前記特定のサブフィールドの値を割り当てるためにデザインされた動き補償部を有する、画像処理装置；並びに
前記一連の画像を表示するための前記ディスプレイパネルであって、前記画像処理装置は、前記現サブフィールドの前記重み付けと前記第１動きベクトルとに基づいて前記第１画素に対する現サブフィールドの寄与を計算するための第１強度計算手段、および前記現サブフィールドの組み合わせと目的の強度レベルとに基づいて前記現サブフィールドにおいて前記第１画素を刺激するべきかどうかを決定するための決定手段をさらに有することを特徴とする、ディスプレイパネル；
であることを特徴とする画像表示装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の画像表示装置であって、前記画像処理装置は：
前記第１画素についての要求された強度レベルを記憶するための第１記憶手段；
もしあれば、前に処理されたサブフィールドに基づいて累積された強度レベルを計算するための第２強度計算手段；並びに
前記要求された強度レベルと前記累積された強度レベルとに基づいて、もしあれば、後のサブフィールドと前記現サブフィールドとにおいて生成される前記目的の強度レベルを計算するための第３強度計算手段；
をさらに有する、ことを特徴とする画像表示装置。
【請求項１７】
請求項１５に記載の画像表示装置であって、前記第１強度計算手段は：
第１方向における距離と第１方向における丸め込み距離との間の第１オフセットであって、前記第１画素の第２動きベクトルおよび前記現サブフィールドの現時間と前記基準の時間との間の第２時間差に基づく第１方向における距離をもつ、第１オフセット；並びに
第２方向における距離と第２方向における丸め込み距離との間の第２オフセットであって、前記第１画素の前記第２動きベクトルおよび前記現サブフィールドの前記現時間と前記基準の時間との間の前記第２時間差に基づく第２方向における距離をもつ、第２オフセット；
に基づいて前記第１画素の画素範囲を決定することにより前記第１画素に前記現サブフィールドの寄与を計算するために配置され、前記第１方向は前記第２方向と交差する、ことを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数のサブフィールドの状態にディスプレイパネル上に表示される画像の画素を処理するための画像処理装置であって、各々のサブフィールドはこのようなサブフィールドにおいて生成されるそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、画像処理装置は特定のサブフィールドの第１時間と基準時間との間の第１時間差および第１画素の第１動きベクトルに基づく第２画素に第１画素の特定のサブフィールドの値を割り当てるためにデザインされた動き補償部を有する、画像処理装置に関連する。
【０００２】
本発明は、複数のサブフィールドの状態でディスプレイパネル上に表示される画像の画素を処理する方法であって、各々のサブフィールドはこのようなサブフィールドにおいて生成されるそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、画像処理方法は、特定のサブフィールドの第１時間と基準時間との間の第１時間差および第１画素の第１動きベクトルに基づく第２画素に第１画素の特定のサブフィールドの値を割り当てる動き補償段階を有する、方法にさらに関連する。
【０００３】
本発明は、一連の画像を表示するための画像表示装置にさらに関連し：
一連の画像を表す信号を受信するための受信手段；
複数のサブフィールドの状態でディスプレイパネル上に表示される画像を処理するための画像処理装置であって、各々のサブフィールドはこのようなサブフィールドにおいて生成されるそれぞれの強度レベルに対応するそれぞれの重み付けを有し、画像処理装置は特定のサブフィールドの第１時間と基準時間との間の第１時間差および第１画素の第１動きベクトルに基づく第２画素に特定のサブフィールドの値を割り当てるようにデザインされた動き補償部を有する、画像処理装置；並びに
一連の画像を表示するためのディスプレイパネル；
を有する。
【背景技術】
【０００４】
冒頭に記した方法の一種の方法は、Ｒ．ｖａｎ  ＤｉｊｋとＴ．Ｈｏｌｔｓｌａｇによる論文“Ｍｏｔｉｏｎ  Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ  ｉｎ  Ｐｌａｓｍｅ  Ｄｉｓｐｌａｙｓ”，Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ  ｏｆ  Ｔｈｅ  Ｆｉｆｔｈ  Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ  Ｗｏｒｋｓｈｏｐ，ＩＤＷ  １９９８，ｐａｇｅｓ５４３−５４６に発表されている。この論文において、今日のプラズマディスプレイパネルにおいては、撹乱動きアーチファクトがサブフィールドの照明スケーリングによる擬似カラーアピアランスまたは動的偽カラーとして認識されている。この論文は、例えば、表示されたサブフィールドの順序の変更、主要なサブフィールドを分割するためのビットまたはサブフィールドスプリッティングの適用、およびサブフィールドの異なる組み合わせにより同じ照明レベルが生成される等しい照明レベルをもつ複数のサブフィールドによる偽カラーの散乱のようなアーチファクトを減少させるために提供される多くの解決方法を要約している。これらの方法の何れもがこの問題の基本原因を除去しない。それらの方法は、小さい区間輝度勾配をもつ領域における影響をマスキングすることを試みているだけである。この論文は、動きアーチファクトの問題の分析を提供している。動きアーチファクトそのものは、表示される種々のサブフィールドの間の時間差とオブザーバの眼とにより動きをトラッキングすることに起因している。動きのトラッキングにより、眼の１つの位置において認識されるべき種々のサブフィールドは異なる位置において認識され、且つ、近接画素の異なるサブフィールドは網膜の同じ位置に積み重ねられ、意図されたものの代わりに認識される照明レベルに影響を及ぼす。オブザーバが動いている対象に焦点を当てているとき、そのオブザーバは動きを追跡し始める。対象は網膜上の性格に一箇所に保たれる。この対象の速度、
【０００５】
（外１）
2004530943.tif 000002
により、ある時間、この対象を追跡している間に、ある距離の移動が生じる。このような同じ対象がプラズマディスプレイパネルにおいて観察されるとき、見られる位置は、観察されるサブフィールド、
【０００６】
（外２）
2004530943.tif 000003
の時間差、Δｔｎとこの対象の初めの位置、
【０００７】
（外３）
2004530943.tif 000004
により決定される。この動きがオブザーバに追跡されるとき、この位置において観察される輝度、
【０００８】
（外４）
2004530943.tif 000005
はスクリーン上の観察される位置により決定される。これは、位置
【０００９】
（外５）
2004530943.tif 000006
におけるサブフィールド
【００１０】
（外６）
2004530943.tif 000007
がオン状態であるか否か、および、サブフィールドｎと基準時間ｔ０との間の差、Δｔｎ＝ｔｎ−ｔ０およびフィールド周期当たりの画素に置いて表される速度
【００１１】
（外７）
2004530943.tif 000008
をもつこのサブフィールド
【００１２】
【数１】
2004530943.tif 000009
の輝度レベル、に依存する。
【００１３】
論文“Ｍｏｔｉｏｎ  Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ  ｉｎ  Ｐｌａｓｍｅ  Ｄｉｓｐｌａｙｓ”はまた、動きアーチファクトの問題に対する解決方法を提供している。動き補償は、シャープネスの減少または細部の損失を伴うことなく、動的擬似輪郭化と擬似カラーアピアランスを減少させることができる。動き補償は、見られる位置とサブフィールドの時間において観察されるディスプレイパネル上の位置において正確に追跡されている１つの画素、即ち画像の一部の値をサブフィールドに位置付けることを試みる。正確な位置にこれらのサブフィールドを設定することができるように、
【００１４】
（外８）
2004530943.tif 000010
の空間オフセットが各々のサブフィールド
【００１５】
（外９）
2004530943.tif 000011
に与えられる必要があり、その結果として輝度
【００１６】
【数２】
2004530943.tif 000012
が得られることが式１から推論される。アーチファクトを回避するために、丸め誤差、
【００１７】
（外１０）
2004530943.tif 000013
と、整数値に丸められる水平方向と垂直方向における変位、
【００１８】
（外１１）
2004530943.tif 000014
を伴う
【００１９】
【数３】
2004530943.tif 000015
となるように、
【００２０】
（外１２）
2004530943.tif 000016
が選択される。サブフィールドは、セルの一部は何れもスイッチをオンにすることもオフにすることもできないため、画素の整数、即ちディスプレイパネルのセルにおいて移動されなければならない。特定の画素について、セルはスイッチをオンまたはオフにされる。補正された位置はこのような特定の画素に十分に一致することはないという事実が原因となり、フラクションについてセルのスイッチをオンにすることは可能ではない。結果として、動きが完全に補償されず、残留エラーが残ることは不利点である。このように、動的偽カラーまたは擬似カラーアピアランスのような上記の幾つかの動きアーチファクトは尚も認識されている。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【００２１】
本発明の第１の目的は、動きアーチファクトの減少の改善を伴う、冒頭部分で記述したような画像処理装置を提供することである。
【００２２】
本発明の第２の目的は、減少された動きアーチファクトを伴う、冒頭部分で記述したような画像処理装置を提供することである。
【００２３】
本発明の第３の目的は、動きアーチファクトの減少の改善を伴う、冒頭部分で記述したような画像表示装置を提供することである。
【００２４】
本発明の第１目的は、画像処理装置が、現サブフィールドの第１動きベクトルと重み付けに基づいて第１画素に対する現サブフィールドの寄与を計算するための第１強度計算手段、並びに、現サブフィールドの目的の強度のレベルと寄与に基づいて現サブフィールドにおいて第１画素が刺激されるべきかどうかを決定するための決定手段、をさらに有することにより、達成される。
【００２５】
前に処理されたサブフィールドにおける第１画素のためにおよびサブフィールドが尚も処理されなければならないことについての知識を伴って、すでに認識された強度レベルを決定することにより、本発明にしたがった画像処理装置は、第１画素が現サブフィールドにおいて刺激されなければならないか否かに関して、信頼性高く且つ確固とした決定を下す。前のサブフィールドにおける丸め込みエラーは、特定のサブフィールドが実際に刺激されたサブフィールド調べ直すことおよび確立することにより、考慮される。とりわけ、本発明は、全てのサブフィールドが要求された強度レベルにできる限り近づけられるように処理されるべきサブフィールドの可能な組み合わせを選択するための新しい機会を提供するという洞察に基づいている。
【００２６】
Ｍ．Ａ．ＫｌｏｍｐｅｎｈｏｕｗｅｒとＧ．ｄｅ  Ｈａａｎによる論文“Ｏｐｔｉｍａｌｌｙ  Ｒｅｄｕｃｉｎｇ  Ｍｏｔｉｏｎ  Ａｒｔｉｆａｃｔｓ  ｉｎ  Ｐｌａｓｍａ  Ｄｉｓｐｌａｙ”，ＳＩＤ  ２０００，ｐａｇｅｓ  ３８８−３９１において、丸め込みエラーを本質的に回避する動き補償のための他の方法が開示されている。この論文においては、サブフィールドにおける各々の画素について、輝度が計算され、即ち、前に処理された全てのサブフィールドのための動きベクトルに沿って計算された現サブフィールドのために“理解される”ことが説明されている。サブフィールドの画素は、サブフィールドにおける画素の位置に対応する一時的な空間的対象である。これらのサブフィールドの補間と動きベクトルにおいてなされる必要がある輝度補間に基づいて、現サブフィールドがスイッチをオンにされるべきか否かが決定される。これは、各々の連続的なサブフィールドについての表示における全ての画素に対してなされる。計算の順序は、左から右および上部から下部であり、最も大きい輝度レベルから開始される。特定のサブフィールドについて必要とされるサブフィールドの補間数は、すでに構築されたサブフィールドの量に依存する。この方法の不利点は、処理オペレーション、例えば、１つの画像のサブフィールドを補償された動きを計算することが必要とされる補間およびメモリアクセスである。先行技術にしたがった画像処理装置においては、特定のサブフィールドについて必要とされるサブフィールドの補間数は、すでに構築されたサブフィールドの量には依存しない。
【００２７】
本発明にしたがった画像処理装置の実施形態は：
第１画素の要求された輝度レベルを記憶するための第１記憶手段；
前に処理されたサブフィールドに基づいて累積された強度レベルを計算するための第２強度計算手段；並びに
累積された強度レベルと要求された強度レベルに基づいて、もしあれば、現サブフィールドおよび前のサブフィールドにおいて生成される目的の強度のレベルを計算するための第３強度計算手段；
をさらに有する。
【００２８】
第１記憶手段および第３強度計算手段は、目的の強度のレベルを記憶する１つのカウントダウン手段に結合されることが可能である。これは本発明の本質に影響を与えるものではない。
【００２９】
本発明にしたがった画像処理装置の実施形態は、サブフィールドの重み付けを減少させるためにサブフィールドを処理するように設定される。サブフィールドの重み付けを減少させるように処理することにより、要求された強度レベルは、後に処理されるサブフィールドにおいて補正されることができない特定のサブフィールドにおけるオーバーシュートの危険を冒すことなく、容易に達することができる。
【００３０】
本発明にしたがった画像処理装置の実施形態は、サブフィールドの一部のみを処理するように設定される。画像処理装置は、それが全てのサブシステムを処理する必要はないが、最も重要なサブシステムのみを処理するため、柔軟性がある。それは、最も重要なサブシステムのみについて決定を下すプロセスを適用することができる。最も重要なサブフィールドが処理される場合、残留する目的の強度は、０と未だに処理されないサブフィールドの重み付けの合計との間の値に留めることができ、残留するより低いサブフィールドに留められた目的の強度を割り当てるためにルックアップテーブルを用いる。これは、必要とされる処理容量を減少させるが、動いている画像の品質を、特に明るい領域について尚も改善する。要求された強度レベルに恐らく必要とされるサブフィールドのためにその決定プロセスを適用することがまた可能である。そのことは、例えば、低い要求された強度レベルのために、最も大きい重み付けをもつサブフィールドはスキップされることができることを意味する。そして、より小さい重み付けをもつサブフィールドのために、寄与が計算されなければならない。
【００３１】
本発明の画像処理装置の実施形態において、第１強度計算手段は：
第１方向と第１方向における丸め込み距離との間の第１オフセットであって、第１画素の第２動きベクトル、および現サブフィールドの現時間と基準時間との間の第２時間差に基づく第１方向における距離をもつ、第１オフセット；並びに
第２方向における距離と第２方向における丸め込み距離との間の第２オフセットであって、第１画素の第２動きベクトル、および現サブフィールドの現時間と基準時間との間の第２時間差に基づく第２方向における距離をもち、第１方向は第２方向と交わる、第２オフセット；
に基づいて、第１画素の画素被覆率を決定することにより第１画素に対する現サブフィールドの寄与を計算するために設定される。第１方向は略水平とすることが可能であり、第２方向は略垂直とすることが可能であり、または、その逆も可能である。サブフィールドの画素は、その基準画素に寄与するばかりでなく、隣接する画素の基準画素にもまた寄与する。基準画素は、動きベクトルの原点、即ち特定の画素に一致させることが可能である。残留エラーを補正するために、基準画素に対するサブフィールドの画素の寄与は計算される必要がある。寄与は範囲とサブフィールドの重み付けとに基づいている。寄与に基づいて、特定のサブフィールドの画素をオンにするかオフにするかが決定される。
【００３２】
本発明にしたがった画像処理装置の一実施形態においては、第１強度計算手段が、ルックアップテーブル（ＬＵＴ）により第１画素の画素範囲を決定するために配置される。この画素範囲は、水平オフセットと垂直オフセットの２つの値に基づいている。これらの値は既知のドメインにある。正確さを著しく失うことなく、これらの値は、ＬＵＴのエントリを形成する限定された値のセットに切り捨てられることが可能である。ＬＵＴの利点は、必要とされる処理能力の縮小化である。特別なエントリとしてサブフィールドの種々の重み付けを組み込んだＬＵＴを定義することが可能である。そのようなＬＵＴを用いて、寄与を直接計算することが可能である。
【００３３】
本発明にしたがった画像処理装置の一実施形態においては、決定手段が、隣接画素のためになされる決定を考慮するために配置される。ディスプレイパネルの１つのセルが要求されるより小さい光を発光する場合、隣接セルにより大きすぎる光の発光の一部をこの実施形態により補償することが可能である。しかしながら、この補償は制限される。画像処理装置は、画素オン−画素オフの組み合わせを回避するために配置される。換言すれば、隣接するセルは、画像における同質の領域においては略互いに等しい光量を発光することが好ましい。
【００３４】
本発明にしたがった画像処理装置の一実施形態は、画像処理装置は、同じデータを持つディスプレイパネルの隣接画素を同時にアドレスすることに関する制限について考慮するようにデザインされていることを特徴とする。
【００３５】
Ｊ．Ｈｏｐｐｅｎｂｒｏｕｗｅｒｓ等によるＳＩＤ  ２０００における論文“Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｔｉｍｅ  ｒｅｄｕｃｔｉｏｎｉｎ  ＰＤＰｓ  ｂｙ  ｍｅａｎｓ  ｏｆ  Ｐａｒｔｉａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｄｏｕｂｌｉｎｇ”において、Ｐａｒｔｉａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｄｏｕｂｌｉｎｇ（ＰＬＤ）の技術が開示されている。この技術は、プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）をアドレッシングするために必要とされる総時間を減少させることが可能であり、それ故、総持続時間、即ちＰＤＰのピーク輝度を増加させることが可能である。このアイデアは、同じデータを用いて、２つの隣接するラインを同時にアドレスすることである（“ラインダブリング”）が、最も重要でないサブフィールド（したがって、“部分的”）について行うものである。したがって、隣接する画素についてのサブフィールドに関連する制限がある。特定の画素が特定のサブフィールドについてオンにされる場合、隣接画素はまたその特定なサブフィールドについてオンにされる必要がある。一般に、第１画素が現サブフィールドにおいオンにされるべきかどうかの決定は、第１画素のために計算される現サブフィールドの寄与ばかりでなく目的の強度のレベルにも基づいている。その決定はまた、同時にアドレスされる隣接画素のために計算される同じような値に依存する。どれが同時にアドレスされるかと、サブフィールドが考慮される限り、その決定は後者の値に依存しない。本発明に従った画像処理装置の幾つかの実施形態は、これらの制限を考慮することが可能である。種々の強度計算手段、記憶手段および決定手段は、複数の画素のためにそれらのタスクを実行するために適合されることが可能であり、または、上記のタイプのものへの追加の手段が含まれることが可能である。しかしながら、現サブフィールドの寄与に基づく決定の原則は同じまま維持される。付加的な特徴は、特定の画素のための決定は隣接画素について直接的な重要性をもつことである。Ｒ．ｖａｎ  Ｗｏｕｄｅｎｂｅｒｇ            等による論文“Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  ｏｆ  Ｐａｒｔｉａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｄｏｕｂｌｉｎｇ  ｆｏｒ  Ｄｕｐｌｉｃａｔｅｄ  Ｓｕｂｆｉｅｌｄ  Ｓｃｈｅｍｅｓ”，ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ  ＩＤＷ  ２００１において、種々のタイプの部分ラインダブリングが可能であることが開示されている。隣接画素は接続されるが、任意に、２つの隣接画素間に位置される他の画素がある。それに加えて、独立のおよび／また非独立のサブフィールドの複数のグループを定義することができ、例えば、非独立のサブフィールドの第１グループは最も重要なサブグループから構成され、非独立のサブグループの第２グループは最も重要でないサブグループから構成され、そして独立のサブフィールドの第３グループは残りのサブグループを有する。
【００３６】
本発明にしたがった画像処理装置の一実施形態において、決定手段は、第１画素が現サブフィールドにおいて刺激されるべきかどうかを決定するために、可能なサブフィールドのセットについてのサブフィールドの組み合わせを選ぶように配置される。幾つかのサブフィールドの組み合わせを用いて所定の強度レベルを生成することが可能である。可能なサブフィールドの組み合わせを有するためには幾つかの理由があり、例えば、
大きい領域のフリッカを減少させること、または、動きベクトルフィールドにおけるエラーについての感度を低下させることである。可能な組み合わせのセットの好適なサブフィールドの組み合わせを選ぶことを可能であることにより、これらのタイプのエラーは減少される。
【００３７】
本発明の第２の目的は：
第１動きベクトルと現サブフィールドの重み付けとに基づいて第１画素への減サブフィールドの寄与を計算する第１強度計算段階；並びに
目的の強度のレベルと現サブフィールドの寄与とに基づいて現サブフィールドにおいて第１画素を刺激するべきかどうかを決定する決定段階；
から画像処理方法がさらに構成されることにより達成される。
【００３８】
本発明の第３の目的は：
第１動きベクトルと現サブフィールドの重み付けとに基づいて第１画素に現サブフィールドの寄与を計算するための第１強度計算手段；並びに
目的の強度のレベルと現サブフィールドの寄与とに基づいて現サブフィールドにおいて第１画素を刺激するべきかどうかを決定する決定手段；
から画像処理装置がさらに構成されることにより達成される。
【００３９】
本発明にしたがった画像処理装置、画像表示装置および画像処理方法についての  これらのおよび他の特徴は、以下の、参照図面を参照しながら説明する実施形態により明らかになることであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
図１は、８つのサブフィールドをもつフィールド周期を模式的に示す図である。フィールド周期１０２は、単一画像がディスプレイパネルに表示される周期である。この例において、フィールド周期１０２は８つのサブフィールド１０４乃至１１８から成る。例えばサブフィールド１０８において、ディスプレイパネルのセルは、光量を生成するためにスイッチをオンにされる。各々のサブフィールド１０４乃至１１８は、すべてのセルのメモリが同時に消去される消去位相、例えば１２０を伴って開始する。サブフィールドの次の位相は、発光光についてスイッチをオンにされるべきセルが寄与されるアドレッシング位相、例えば１２２である。このとき、持続位相と呼ばれるサブフィールドの第３位相において、持続位相はセルに適用される。これにより、アドレスされたセルは、この第３位相の間に光を発光する。これらの位相の構成を、時間が左から右に経過する図１に示す。また、種々のサブフィールドについての時間ｔ０乃至ｔ７の瞬間を示している。このようにして、この例において、サブフィールド０は第１サブフィールドであり、サブフィールド２、４、６、７，５、３それぞれがそれに続いている。一部のディスプレイパネルにおいては、サブフィールドは、消去位相を伴って開始するのではなく、消去位相を伴って終了する。消去移送はまた、一部のサブフィールドスキームについては存在しない。しかしながら、このことは、本発明においては重要ではなく、何れの場合も適用可能である。
【００４１】
図２は、サブフィールド画素の４つのマトリクス２０２乃至２０８を示している。サブフィールド画素は、サブフィールドにおける画素の位置に対応する一時的な空間対象である。そのようなマトリクス２０２乃至２０８の各々の要素は、サブフィールド画素２１０乃至２１６に対応する。サブフィールド画素は、オンまたはオフの２つの値のうち１つを有することが可能である。観察される輝度はサブフィールド画素２１０乃至２１６の値により決定される。これは、対応するセルがサブフィールド周期においてそれぞれオンおよびオフであることを意味する。図２Ａは、サブフィールド画素２１０乃至２１６が、０に等しい即ち動きがない動きベクトル２０１において位置付けられていることを模式的に示している。これらサブフィールド画素２１０乃至２１６の座標は互いに等しい。
【００４２】
図２Ｂは、０に等しくない動きベクトル２０１に位置付けられたサブフィールド画素２１０、２１８、２２０および２２４を模式的に示している。動きベクトル２０１は、これらのサブフィールド画素の中心を貫いてサブフィールド画素２１０、２１８、２２０および２２４を横切っている。ある位置において観察される輝度は、動きがオブザーバにより追跡されるとき、スクリーン上の観察される位置、サブフィールド画素２１０，２１８，２２０および２２４により決定される。この場合、動きは、整数シフトを適用することにより十分補償されることができる。これは、第１がその動きベクトル２１０、および例えば２０４の特定のサブフィールドと例えば２０２の基準のサブフィールドとの間の第１時間差に依存して、第２画素に第１画素の特定のサブ画素の値を割り当てることを意味する。また、シフトに基づく動き補償の説明のための図３を参照されたい。この割り当ての効果は、第１画素の特定のサブフィールドの値が第２画素に対応するディスプレイパネルにセルが特定のサブフィールドにおいて光を発光するか否かを決定することである。
【００４３】
図２Ｃは，動きベクトル２０１に位置付けられるサブフィールド画素２１０、２１８、２２６および２２８を模式的に示している。動きベクトル２０１は、これらのサブフィールド画素を貫いてサブフィールド画素２１０、２１８、２２６および２２８を横切らない。この場合、動きは、整数シフトを適用することにより部分的にのみ補償されることが可能である。残留エラーが残っている。このことは、サブフィールド画素２１０，２１８，２２６および２２８はそれらの基準画素ばかりでなく、基準画素の隣接画素にも寄与する事実によりもたらされる。基準画素は動きベクトルの原点に一致する。残留エラーを補正するために、基準画素に対する種々のサブフィールド画素の寄与が計算される必要がある。その寄与に基づいて、測定のサブフィールド画素がオンにされるべきかオフにされるべきか決定される。
【００４４】
図３は、サブフィールド画素３２２乃至３３０の値をシフトすることに基づいた動き補償の概念を模式的に示している。これは先行技術にしたがっている。ｘ軸３０２において、パラメータの時間が示されている。種々のサブフィールドについての時間ＳＦ０乃至ＳＦ７の瞬間がｘ軸上に示されている。ｙ軸３０４はサブフィールド画素の位置３１２乃至３２０を示す。動きベクトル３０６は、特定の画素の動き、即ち時間の関数としての画像の位置を示している。位置３１２は基準位置に一致する。動きがない場合、特定の画素の全てのサブフィールド画素はその位置に位置付けられる。動き補償を適用するために、種々のサブフィールド画素がシフトされ、サボフィールド画素の値はたのサブフィールド画素に割り当てられる。例えば、サブフィールド画素３２４の値は、位置３１４に１画素シフトされ、サブフィールド画素３２６に割り当てられる。サブフィールド画素３２６と他のサブフィールド画素はまた、シフトされる。サブフィールド画素３２８は位置３１８に３画素シフトされる。しかしながら、このように適用されるシフト３２２は、動きベクトル３０６およびＳＦ５とＳＦ０との間の時間差３１０から導かれるように、実際のシフト３０８より大きい。不正確なシフトの影響は、基準画素の一方側における影響はより大きい光の方向に影響が生じ、他の方向には大きい光の方向に影響が生じる。恐らく、サブフィールド画素がスイッチをオンにされない場合に、よりよくなる。
【００４５】
図４は、４つの基準画素に対するサブフィールド画素４１２の寄与を模式的に示している。その寄与の概念は本発明の中心的な特徴である。寄与は、水平オフセット４２４、垂直オフセット４２２およびサブフィールドの重み付けに基づいている。水平オフセット４２４と垂直オフセット４２２は基準画素４０２に関するサブフィールド画素４１２の範囲を決定する。したがって、隣接基準画素４０４乃至４０８について、範囲４１４、４１６、４１８それぞれが計算される。
【００４６】
図５は、特定の基準画素５０２に対する３つのサブ画素５１０乃至５１４の寄与を模式的に示している。図５において、水平オフセットおよび垂直オフセットはサブセット毎に異なっている。その結果、異なるサブフィールドについての範囲はまた異なっている。
【００４７】
図６Ａは、本発明にしたがった画像処理装置６００であって：
画素の要求された強度レベルを記憶するための第１記憶手段６０２であって、画像処理装置６００の入力コネクタ６１８に供給される入力信号を受信するためにまた配置された、第１記憶手段６０２；
画素のために動きベクトルを計算するために配置された動き評価器６０４；
第１動きベクトルと現サブフィールドの重み付けとに基づいて第１画素に対して現サブフィールドの寄与を計算するための第１強度計算手段６０８；
先に処理されたサブフィールドに基づいて累積強度レベルを計算するための第２強度計算手段６１２；
累積強度レベルと要求された強度レベルとに基づいて、あるとすれば、現サブフィールドおよび後のサブフィールドにおいて生成されるべき目的の強度のレベルを計算するための第３計算手段６１６；
目的の強度のレベルと現サブフィールドの寄与とに基づいて第１画素が現サブフィールドかどうかを決定するための決定手段６１４であって、隣接画素のためになされる決定を考慮するために付加的に配置される、決定手段６１４；並びに
他のサブフィールド画素にサブフィールド画素の値を割り当てるための動き補償部６１７；
を有する。図３においては、この割り当て部６１７の原則が開示されている。
【００４８】
画像処理装置６００の動作は、表１および表２を用いて示される２つの例を用いて下で説明する。サブフィールドはサブフィールドの重み付けを低減するために処理される。表１および表２は、特定の画素のための時間の関数として種々の強度レベルを示している。両方の表において、サブフィールドは、時間０、１、２、．．．、６の順に次々と処理される。表１および表２の第２列乃至第５列の２番目は、種々の強度レベル、即ち、要求された強度レベル、現サブフィールドの寄与、累積強度レベル、および次の周期の目的強度レベルをそれぞれ示している。表１および表２の最後の列、第６列は、サブフィールドについての情報を提供している。これらの後の６列の第２行はサブフィールド、ＳＦ１乃至ＳＦ６の識別を提供している。これらの後の６列の第３行は、サブフィールドの重み付け１，２、．．．、６を提供している。これらの後の６列の第４行は、範囲の値を提供している。表１においては、これらの値は全て１に等しい。このことは、動き、即ち“整数”動きがないことを意味しており、図２Ａ、２Ｂをそれぞれ参照されたい。表２においては、これらの値は全て１より小さく、図２Ｃを参照されたい。両方の場合、特定の画素の要求された強度レベルは１２に等しい。
【００４９】
第１に、表１の例について説明する。初期状態に対応する時間０においては、処理されたサブフィールドはない。時間＝１においては、サブフィールドＳＦ６が処理された。サブフィールドＳＦ６は、それが大きいサブフィールド重み付けを有するため、第１サブフィールドである。サブフィールドＳＦ６の寄与は６であり、即ちその範囲により累積されたＳＦ６のサブフィールド重み付けは６に等しい。時間＝２においては、サブフィールドＳＦ５が処理された。サブフィールドＳＦ５ｍｐ寄与は５であり、即ちその範囲により累積されたＳＦ５のサブフィールド重み付けは５に等しい。時間＝３においては、サブフィールドＳＦ４が処理された。サブフィールドＳＦ４の寄与は４である。この寄与は大き過ぎる。そして、決定部は、サブフィールドＳＦ４は、特定のサブフィールド画素のためにスイッチをオフにされる必要があることを決定する。この決定は、それが尚も目的の強度のレベルに達する可能性がある場合に限ってなされる。これは、尚も処理されるべきであるサブフィールドに依存する。累積値は１１のまま維持され、目的の強度まで後１である。その処理は次に続くサブフィールドのために継続する。また、サブフィールドＳＦ３とＳＦ２は、特定のサブフィールド画素のためにスイッチをオフにされる。時間＝６において、サブフィールドＳＦ１が処理された。サブフィールドＳＦ１の寄与は１である。累積値は１２となり、目的の強度は０に等しい。特定の画素の結果的に得られるサブフィールドの組み合わせ、“１１０００１”を、表１の最後の行において求めることができる。このワードは動き補償部６１７のための入力である。このサブフィールドの組み合わせを用いて、要求された光量を生成することができる。
【００５０】
【表１】
2004530943.tif 000017
第２に、表２の例について説明する。時間＝０においては、サブフィールドは何れも処理されていない。時間＝１においては、サブフィールドＳＦ６が処理された。サブフィールドＳＦ６の寄与は５．４であり、即ち、その範囲により累積されたＳＦ６のサブフィールド重み付けは５．４に等しい。累積値は５．４になったが、向かうべき値は尚も６．６あり、即ち目的の強度は６．６に等しい。時間＝２においては、サブフィールドＳＦ５が処理された。サブフィールドＳＦ５の寄与は３．５である。累積値は８．９になったが、目的の強度は３．１に等しい。時間＝３においては、サブフィールドＳＦ４が処理された。サブフィールドＳＦ４の寄与は２である。累積値は１０．９になり、向かうべき値は尚も１．１ある。時間＝４においては、サブフィールドＳＦ＝３は処理された。サブフィールドＳＦ３の寄与は２．４である。この寄与は大き過ぎる。そして、決定部は、サブフィールドＳＦ３が特定のサブフィールド画素のためにスイッチをオフにされる必要があることを決定する。累積値は１０．９のまま維持され、向かうべき値は尚も１．１ある。このプロセスは次のサブフィールドのために継続する。また、サブフィールドＳＦ１は特定のサブフィールド画素のためにスイッチをオフにされる。時間＝６においては、サブフィールドは処理された。累積値は１２．１になり、目的の強度は−０．１に等しくなる。このことは、少し大き過ぎる光が特定の画素のために発光される。特定の画素の結果的に得られるサブフィールドの組み合わせ、“１１１０１０”を、表１の最後の行において求めることができる。このワードは動き補償部６１７のための入力である。このサブフィールドの組み合わせを用いて、要求された光量を実質的に生成することができる。
【００５１】
【表２】
2004530943.tif 000018
表１および表２は、特定の画素のために時間の関数として強度レベルを示している。各々のサブフィールド画素について、それはスイッチをオンにするかまたはオフにするかを決定することを示している。この決定は、中間的結果として計算される種々の強度レベルに基づいている。図４および図５において、サブフィールド画素は１つ以上の基準画素に寄与することが可能であることが示されている。サブフィールド画素が寄与する基準画素の実際の数は水平オフセットおよび垂直オフセットにより決定される。次の表３を参照されたい。
【００５２】
【表３】
2004530943.tif 000019
これは、特定のサブフィールド画素がスイッチをオンにされることを決定されるときはまた、特定のサブフィールド画素の寄与を受ける隣接画素の種々の強度レベルは更新される必要がある。しかし、その決定そのものが、隣接画素の種々の強度レベルにより影響される。決定を行うために、次のようなパラメータを用いてエラー関数を最小化することが必要である。即ち、パラメータは：
基準画素の目的強度；
現サブフィールドの寄与；
処理されるために尚も必要である後のサブフィールドのサブフィールド重み付け；並びに
すでに処理されたサブフィールド画素の決定；
である。
【００５３】
図６Ｂは、範囲を決定するための、ＵＬＴ６１０を有する画像処理装置６０１、即ちルックアップテーブルを模式的に示している。第１強度計算手段６０８は、画素範囲を決定するためにルックアップテーブルを有する。ルックアップテーブルの例は、水平オフセットと垂直オフセットの２つのエントリを有する。表４において、そのようなＬＵＴの一部を示している。水平オフセットと垂直オフセットが表の第１列、第２列それぞれにリストアップされている。第３行には、出力である範囲をリストアップされている。この表は１／４の画素の丸め込みエラーの補正精度に対応する。１／８の画素の丸め込みエラーの補正精度またはそれ以上に高い精度が好ましい。
【００５４】
【表４】
2004530943.tif 000020
図６Ｃは、可能なサブフィールドの組み合わせのセットのサブフィールドの組み合わせを選ぶために配置された画像処理装置６０３を模式的に示している。決定手段６１４は、特定画素が現サブフィールドにおいて刺激されるべきかどうかを決定するために好ましいサブフィールドの組み合わせの知識を含むように配置される。この知識はルックアップテーブル６０６に記憶される。このルックアップテーブルにおいて、どのサブフィールドが所定の強度レベルを達成することが可能であるかを求めることができる。好ましい組み合わせが示される。例えば、一部のサブフィールドがすでに処理された場合、付加的な制限が存在する可能性がある。そのようなルックアップテーブル６０６により提供されるデータを示す例が表５に与えられている。第１列においては、必要とされる強度レベルが挙げられている。このコンテキストにおいて、“必要とされる”は“要求された”か“目的の”のどちらかを意味する。第２列は、それぞれ“１”および“０”を用いて、組み合わせが好ましいかまたはそうでないかを示している。他の列は、それぞれ“１”および“０”を用いて、対応するサブフィールドがオンまたはオフのどちらかにするべきかを示している。
【００５５】
【表５】
2004530943.tif 000021
図６Ｄは、同じデータを用いて、ディスプレイパネルの隣接画素を同時にアドレスすることに関する制限を考慮するために配置された画像処理装置６０５を模式的に示している。図６Ａと関連させて説明される画像処理装置６００と比較される主な違いは、この画像処理装置６０５が、複数の目的強度レベルと現サブフィールドの組み合わせとに基づいて現サブフィールドにおいて複数の画素が刺激されるべきであるかどうかを決定するための決定手段６１４を有することである。換言すれば、決定手段６１４は、隣接画素について結果を考慮するために配置される。他の違いは、強度計算手段６０８、６１２および６１６が、４つ以上の画素であって、少なくとも６つの画素またはちょうど８つの画素、のために種々の寄与およびレベルを計算するためにデザインされていることである。
【００５６】
画像処理装置６０５の動作については、表６Ａおよび表６Ｂに示される例を用いて説明することとする。この例は、表１に示された例に類似しているようにみえる。主な違いは、この場合、一部のサブフィールド画素について、それらがスイッチをオンにされなければならないかまたはオフにされなければならないかの決定が同時になされることである。この実施形態においては、３つの最も重要でないサブフィールドは従属的であることである。したがって、第２画素のスイッチをオンにすることなく、サブフィールド１、２または３の間に第１画素のスイッチをオンにすることは可能ではなく、その逆もまた同様である。しかしながら、３つの最も重要なサブフィールドについては、決定は独立してなされる。エラーを最小化するために、これら最も重要なサブフィールドの独立性は十分に適用される必要がある。簡単化のために、全てのサブフィールド画素について、範囲は１に等しい。第１画素についての要求された強度は１４に等しく、第２画素については１２に等しい。
【００５７】
初期状態に対応する時間＝０においては、処理されたサブフィールドはない。時間＝１においては、サブフィールドＳＦ６が処理された。サブフィールドＳＦ６は、最も大きいサブフィールドの重み付けを有しているため、第１サブフィールドである。サブフィールドＳＦ６の寄与は６であり、即ち、サブフィールドＳＦ６の重み付けに範囲を掛けた値は６に等しい。第１画素はサブフィールドＳＦ６のためにスイッチをオンにされる。第１画素のための累積値は６となり、目的の強度までは尚も８ある。しかしながら、第１画素はサブフィールドＳＦ６のためにスイッチオンにされない。第２の目的の強度は１２のまま保たれる。時間＝２においては、サブフィールドＳＦ５は処理された。第１画素および第２画素の両方はサブフィールドＳＦ５のためにスイッチをオンにされなければならないことが決定された。第１の目的の強度は３となり、第２の目的の強度は７となった。時間＝３において、サブフィールドＳＦ４は処理された。第２画素のみがスイッチをオンにされた結果、目的の強度である３が得られる。サブフィールドＳＦ４の寄与は、第１画素のためには大き過ぎる。そして、決定部は第１画素のために、サブフィールドＳＦ４のためにスイッチをオンにされることを決定した。この決定は、目的の強度のレベルに達することが尚も可能である限り、なされることとなる。これは、尚も処理されるべきサブフィールドに依存する。第１累積値は１１のまま保たれる。処理は次のサブフィールドのために継続する。また、サブフィールドＳＦ３の間に、両方の画素はスイッチがオフにされる。時間＝５において、サブフィールドＳＦ２は処理された。サブフィールドＳＦ２の寄与は２である。両方の画素はスイッチがオンにされる。同様なことがサブフィールドＳＦ１にも適用される。それらの画素のために得られるサブフィールドの寄与は、表６Ａの最後の行には“１１００１１”と求められ、表６Ｂの最終行には“０１００１１”と求められる。これらのワードは動き補償部６１７のための入力である。これらのサブフィールドの組み合わせを用いて、適切な光量がそれら２つの画素により生成されることができる。この例は、両方の画素のための最も重要なサブフィールドについて異なるサブフィールド値を選択することにより、正確な光量が発光されることを示している。
【００５８】
【表６】
2004530943.tif 000022
図７は、本発明にしたがった画像表示装置７００の要素を示している。画像表示装置７００は、表示される画像を表示する信号を受信するための受信手段７０２を有している。その信号は、アンテナまたはケーブル経由で受信される放送信号とすることが可能であるが、また、ＶＣＲ（ビデオカセットレコーダ）またはＤＶＤ（Ｄｅｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）のような記憶部からの信号とすることが可能である。画像表示装置７００は、処理された画像を表示するためのディスプレイパネル７０６および画像を処理するために画像処理装置６００、６０１、６０３をさらに有している。ディスプレイパネル７０６は、サブフィールドの状態で駆動されるタイプのものである。画像処理装置６００、６０１、６０３は、図６Ａ、６Ｂまたは６Ｃと関連して上記されたようにして実施される。
【００５９】
図８は、図６Ａ、６Ｂまたは６Ｃに示したように、画像処理装置６００、６０１、６０３により実行される、動き補償の２つの部分８１６、８１８を模式的に示している。
【００６０】
“前補正部分”８１６においては、サブフィールド画素の値は画像８０２のために決定される。換言すれば、各々の画素について適切なサブフィールドの組み合わせが決定される。“前補正部分”は図６Ａ、６Ｂまたは６Ｃと関連して上記された段階を有する。この“前補正部分”の結果は、種々のサブフィールドのサブフィールド画素の値を記憶する二次元配列８０４乃至８０８となる。
【００６１】
“シフト部分”８１８においては、種々のサブフィールド画素が他のサブフィールド画素に割り当てられる。例えば、サブフィールド画素８２２の値は１つの画素位置をシフトさせ、サブフィールド画素８２０に割り当てられる。“シフト部分”については図３に示している。
【００６２】
幾つかの処理シーケンスが可能である。これは、中間の結果を記憶するための利用可能メモリに関連する。例えば、次のようなことが可能である。
【００６３】
即ち、全体的な画像８０２を前処理することおよび画像８０２のすべての“前補正された”サブフィールド８０４乃至８０８のすべてのサブフィールド画素の値を記憶することである。このとき、第２部分においては、全てのシフトが、画像の全ての“前補正された”サブフィールド８０４乃至８０８の全てのサブフィールド画素のために適用される。その後、種々の“シフトされた”サブフィールド８１０乃至８１４のための発光が生じる。
【００６４】
また、画像８０２の１つの特定の“前補正”サブフィールド、例えば８０４の全てのサブフィールド画素の値を部分的に前補正し、記憶することである。このとき、第２部分においては、特定の“前補正された”サブフィールド８０４の全てのサブフィールド画素に全てのシフトが適用される。その後、特定の“シフトされた”サブフィールドのために発光が生じる。
【００６５】
また、画像８０２の位置のみを前補正することおよび画像８０２の位置の１つの特定の“前補正された”サブフィールド８０４の幾つかのサブフィールド画素の値を記憶することである。このとき、第２部分においては、サブフィールド８０４のいくつかのサブフィールドの画素についてシフトが適用される。完全なサブフィールド、例えば、８１０を処理した後、サブフィールド８１０のための発光が生じる。
【００６６】
上記の実施形態は本発明の制限を示したのではなく、請求項の範囲から逸脱することなく、当業者が他の実施形態をデザインすることができるようにしたものであることに留意する必要がある。用語“を有する”は、請求項に挙げられたそのような表現以外の要素または段階の存在を排除するものではない。要素の単数表現は、そのような要素の複数の存在を排除するものではない。本発明は、幾つかの区別可能な要素からなるハードウェア手段および適切にプログラムされたコンピュータにより実施されることが可能である。幾つかの手段を列挙した装置請求項においては、これら手段の幾つかが１つのハードウェアおよび同じアイテムのハードウェアにより実施されることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】８つのサブフィールドをもつフィールド周期を模式的に示す図である。
【図２Ａ】互いに同じ座標系をもつ動きベクトルにおいて位置付けられるサブフィールド画素を模式的に示す図である。
【図２Ｂ】サブフィールド画素の中央を貫通する動きベクトルをもつ動きベクトルにおいて位置付けられるサブフィールド画素を模式的に示す図である。
【図２Ｃ】サブフィールド画素の中央を貫通しない動きベクトルをもつ動きベクトルにおいて位置付けられるサブフィールド画素を模式的に示す図である。
【図３】先行技術にしたがって、サブフィールドの値に基づく動き補償の概念を模式的に示す図である。
【図４】本発明にしたがって、４つの基準画素に対するサブフィールド画素の寄与を模式的に示す図である。
【図５】特定の基準画素に対する３つのサブフィールド画素の寄与を模式的に示す図である。
【図６Ａ】画像処理装置を模式的に示す図である。
【図６Ｂ】範囲の決定するためのＬＵＴを有する画像処理装置を模式的に示す図である。
【図６Ｃ】可能なサブフィールドの組み合わせのセットのサブフィールド組み合わせを選ぶために配置された画像処理装置を模式的に示す図である。
【図６Ｄ】同じデータをもつディスプレイパネルの隣接画素を同時にアドレッシングすることに関する制限を考慮するために配置された画像処理装置を模式的に示す図である。
【図７】画像表示装置の要素を示す図である。
【図８】２つの動き補償部分を模式的に示す図である。
【図１】
2004530943.tif 000023
【国際公開パンフレット】
2004530943.tif 000024
2004530943.tif 000025
2004530943.tif 000026
2004530943.tif 000027
2004530943.tif 000028
2004530943.tif 000029
2004530943.tif 000030
2004530943.tif 000031
2004530943.tif 000032
2004530943.tif 000033
2004530943.tif 000034
2004530943.tif 000035
2004530943.tif 000036
2004530943.tif 000037
2004530943.tif 000038
2004530943.tif 000039
2004530943.tif 000040
2004530943.tif 000041
2004530943.tif 000042
2004530943.tif 000043
2004530943.tif 000044
2004530943.tif 000045
2004530943.tif 000046
2004530943.tif 000047
2004530943.tif 000048
2004530943.tif 000049
2004530943.tif 000050
2004530943.tif 000051
2004530943.tif 000052
2004530943.tif 000053
2004530943.tif 000054
2004530943.tif 000055
2004530943.tif 000056
2004530943.tif 000057
【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
2004530943.tif 000058
【国際調査報告】
2004530943.tif 000059
2004530943.tif 000060