(57)【要約】直線偏光を持つレーザビームを用いて記録可能な光ディスク（２０）を走査する光走査装置。四分の一波長板（１６）が、前記ディスクからの反射における前記ビームの偏光を変えるために利用される。部分偏光ビームスプリッタ（８）が、前記光ディスク方向に反射される入射ビームの強度の割合が、前記入射ビームを測定するための検出器の方向に通過させられる強度の割合よりも高くなるように利用され構成される。前記ビームスプリッタ（８）が比較的効率的な方法で製造されることを可能にしつつ、記録のために前記ディスク（２０）における比較的高い光信号パワーが達成されることができる。
2004520676.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録担体を走査する光走査装置であって、前記装置は、略直線偏光で所定の波長を有する入射放射ビームを放射する放射源と、前記放射源から前記光記録担体の位置までの前記入射放射ビームの経路に配置され、反射素子に入射する前記入射ビームの強度の第１の割合を前記光記録担体の方向へ通過させるように構成された前記反射素子と、前記反射素子から前記光記録担体の位置までの前記放射ビームの経路に配置された偏光変化素子と、前記光記録担体から反射され、前記偏光変化素子及び前記反射素子を含む経路に沿って通過する放射ビームを検出する検出器とを有し、前記反射素子は前記反射素子に入射する前記反射されたビームの強度の第２の割合を前記検出器に通過させるように構成され、前記偏光変化素子は、前記入射ビーム及び前記反射されたビームが、前記偏光変化素子を通過する前と後とでそれぞれ異なる偏光を持つように、前記入射ビームの直線偏光を略円偏光に変換する光走査装置であって、前記反射素子は、前記強度の第１の割合が前記強度の第２の割合よりも、割合として大きくなるように構成される部分偏光反射素子であることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記反射素子は、前記入射ビームを反射し前記反射されたビームを透過するように構成され、前記入射ビームの偏光に対する前記反射素子の反射率は、前記反射されたビームの偏光に対する前記反射素子の透過率より大きい、請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記反射素子は、前記入射ビームを透過し前記反射されたビームを反射するように構成され、前記入射ビームの偏光に対する前記反射素子の透過率は、前記反射されたビームの偏光に対する前記反射素子の反射率より大きい、請求項１に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記第１の割合は７５％よりも大きい、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記第１の割合は９７％よりも小さい、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項６】
前記第１の割合は８５％と９５％との間である、請求項４又は５に記載の光走査装置。
【請求項７】
前記放射源の出力特性を制御するために、前記入射ビームの略中心から放射を感知するセンサを更に有し、前記放射は、前記反射素子を通って透過又は前記反射素子によって反射され、前記光記録担体の方向には通過させられないものである、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項８】
前記第２の割合は１５％から７５％までの範囲内である、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項９】
前記第２の割合は２５％から６２％までの範囲内である、請求項１乃至８のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項１０】
異なる所定の波長を有する第２の放射ビームを放射する第２の放射源と、前記第２の放射ビームを前記光記録担体の方向へ反射又は透過させる第２の反射素子とを更に有する、請求項１乃至９のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項１１】
前記第１の反射素子は、前記第２の波長の放射には略非偏光効果を持つように構成される、請求項１０に記載の光走査装置。
【請求項１２】
前記第２の反射素子は、前記第１の及び／又は前記第２の波長の放射には略非偏光効果を持つように構成される、請求項１０又は１１に記載の光走査装置。
【請求項１３】
前記第２の反射素子は、前記第２の波長の放射に対して約５０％の透過率を持つように構成される、請求項１０乃至１２のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項１４】
前記第２の反射素子は、前記第１の波長の放射に対して略１００％の透過率又は反射率を持つように構成される、請求項１０乃至１３のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項１５】
前記光記録担体からのデータ読み出しのための信号検出器を更に有し、前記検出器の素子は前記第１及び前記第２の波長の放射の両方に利用される、請求項１０乃至１４のいずれか一項に記載の光走査装置。
【請求項１６】
前記第１の放射源は、光記録担体読み込みプロセスよりも前記光記録担体において高いパワーを必要とする光記録担体書き込みプロセスの間の利用のために構成される、請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、少なくとも１つの情報層を含む、光ディスクのような光記録担体を走査する光走査装置に関する。前記装置は、１以上の異なる波長の１以上の放射ビームを生成する１以上の放射源を含む。とりわけ、しかし限定するものではないが、本発明は、前記光記録担体に前記ビームがフォーカスされるスポットにおいて、光記録担体読み込みプロセスよりも高いビームパワーを必要とする光記録担体書き込みプロセスの間に放射源が利用される装置に関する。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】
ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）のようなディスクフォーマットの場合において、ディスクは比較的高い反射率を示す。これらの及び他のフォーマットに対して、ディスクへのデータ書き込みの速度を増加することは、記録のための光パワーレベルの増加を必要とする傾向がある。同時に、前記装置及びその構成要素を効率的に大量に製造することを可能にする低コストの方法を実現しようとする要求もある。構成要素を大量に製造する際、キーとなる要因は製造プロセスの安定性及び再現性である。プロセスが不安定又は再現することが困難である場合、最終的なコストに重大な影響を持つ。
【０００３】
【従来の技術】
欧州特許ＥＰ−Ａ−１００１４１４は、コンパクトディスクのフォーマットに情報を記録し又はコンパクトディスクのフォーマットから情報を再生し、同様にＤＶＤディスクのフォーマットから読み込むことが可能な光ピックアップを記載している。単一の主光路が異なる波長のビームの両方のために利用され、それぞれのビームスプリッタが放射ビームを前記主光路に結合させるために利用される。第１及び第２の光源から放射された光の出力を検出することが可能な測定装置が、前記ビームスプリッタの１つの後ろに、前記主光路の外側に配置される。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、光記録担体を走査する光走査装置であって、前記装置は、略直線偏光で所定の波長を有する入射放射ビームを放射する放射源と、前記放射源から前記光記録担体の位置までの前記入射放射ビームの経路に配置され、反射素子に入射する前記入射ビームの強度の第１の割合を前記光記録担体の方向へ通過させるように構成された前記反射素子と、前記反射素子から前記光記録担体の位置までの前記放射ビームの経路に配置された偏光変化素子と、前記光記録担体から反射され、前記偏光変化素子及び前記反射素子を含む経路に沿って通過する放射ビームを検出する検出器とを有し、前記反射素子は前記反射素子に入射する前記反射されたビームの強度の第２の割合を前記検出器に通過させるように構成され、前記偏光変化素子は、前記入射ビーム及び前記反射されたビームが、前記偏光変化素子を通過する前と後とでそれぞれ異なる偏光を持つように、前記入射ビームの直線偏光を略円偏光に変換する光走査装置であって、前記反射素子は、前記強度の第１の割合が前記強度の第２の割合よりも、割合として大きくなるように構成される部分偏光反射素子であることを特徴とする光走査装置が提供される。
【０００５】
入射光の偏光に対する通過される強度の割合が、前記記録担体によって反射されたビームの偏光に対する通過される強度の割合よりも大きい、部分偏光反射素子の利用により、前記反射素子が比較的効率的な方法で製造されることを可能にしつつ、前記光記録担体における比較的高い光信号パワーが記録のために達成されることができる。明確さのため、「割合（ｐｒｏｐｏｒｔｉｏｎ）」という語は、分数として理解されることを意図している。即ち「通過される強度の割合」は、前記構成要素を通過した後の前記ビームの強度を、前記構成要素に到達する前の前記ビームの強度で割ったものである。ここで各強度は前記ビームの中心でとられる。本発明を用いることにより、検出器の方向へ反射されるビームの比較的高いレベルの透過も達成可能であり、これにより望ましいデータ読み出し性能が達成される。前記反射素子によって示される規定の角度許容性（ａｎｇｕｌａｒ ｔｏｌｅｒａｎｃｅ）も同様の方法で達成される。更に本発明は、幾つかの既知の構成において著しく信号レベルを低下させ得る、前記ディスクの複屈折への減少された感応性を提供する。
【０００６】
本発明の一実施例においては、前記装置は更に、光記録担体書き込みプロセスの間前記反射素子を通って通過された入射ビームから放射を感知し、前記放射源によって放射された前記入射ビームの中心における又は中心の近くにおける強度が測定されることを可能とするセンサを有する。代わりに、前記入射ビームの強度は、例えば前記反射素子への入射に先立ち前記ビームの端において測定されても良い。しかしながら、このことは信号レベルの著しく大きな広がりのため好ましくない。
【０００７】
前記装置は更に、異なる所定の波長を有する第２の放射ビームを放射する第２の放射源、及び前記光記録担体の位置に向けて前記第２の放射ビームを反射する第２の反射素子を有しても良い。
【０００８】
この構成は更に、本発明が二波長光路装置において実施化されることを可能にする。かような装置においては、２つの異なる波長において動作する完全な（実際には完全に近い）二重偏光コーティングを利用することにより、改善された性能が達成されることができる。しかしながら、かような二重偏光コーティングは、平行ビームを用いた専用の利用でない限りは非常に製造が困難である。このような場合は光ピックアップがより複雑で、かさばり、高価となる。本発明の利用により、かような問題は軽減され得る。かくして、前記第１及び／又は第２の波長のビームは好ましくは前記反射素子を通過する際には非平行である。
【０００９】
本発明の更なる特徴及び利点は、以下の本発明の好適な実施例の説明より明らかになるであろう。
【００１０】
部分偏光反射特性を持つビームスプリッタは、光磁気走査装置の分野においては知られていることに留意されたい。かような装置は、米国特許第５，４６７，３３６号に記載されている。しかしながら、かような構成は異なる目的のための用途のものであり、前記記録担体からの反射に際して入射光の偏光が変化させられる、本発明の実施例において利用される四分の一波長板のような偏光変化素子を含まない。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例はここで、以下の図を参照しながら例としてのみ説明される。
【００１２】
本発明の実施例によれば、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ − Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）又はＣＤ−ＲＷ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ − Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）のような記録可能な光ディスクが、光走査装置を用いて書き込み及び読み出しされ得るデータを保存するために利用される。前記ディスクは少なくとも１つの情報層を被覆する外側の透過層を含む。多層光ディスクの場合には、２以上の情報層がディスク内の異なる深度において被服層の後方に配置される。前記透過層と反対側に面する前記情報層の側、又は多層ディスクの場合は前記被覆層と逆の層の側は、保護層によって周囲の影響から保護される。前記装置に面する前記透過層の側はディスク入射面である。
【００１３】
情報は、略平行な、同心円の又は螺旋のトラックに配置された光学的に検出可能なマークの形で前記光ディスクの情報層に保存される。前記マークは、例えばピット又は反射係数が周囲と異なる領域の形でのような、いずれの光学的に読み取り可能な形であっても良い。前記情報層は例えば、データ読み出しのために必要とされるものに比べると比較的高いパワーを前記ディスクを再書込みするために必要とする、ＣＤ−Ｒフォーマットにおいて利用されるような放射感応型の色素のような、光学的に読み取り可能な物質で形成される。
【００１４】
前記光走査装置は、例えばＣＤ波長λ＝７９０ｎｍといった所定の波長及び直線偏光で動作する半導体レーザのような偏光放射源２を含む。源２は発散する放射ビームを放射する。光路は、前記ビームが立方体ビームスプリッタ８に到達する前にプレコリメータレンズ４と回折格子素子６とを含む。立方体ビームスプリッタ８は光ディスク２０と検出器２４との間の光路に存在する。ビームスプリッタ８は、以下により詳細に説明される部分偏光ビームスプリッタである。前記ビームは前記ビームスプリッタの反射面に当たる際には発散しているままであるため、前記ビームスプリッタは好ましくは軸からの角変化に対する良い許容性を持つ。本実施例においては立方体のビームスプリッタ８が利用されるが、代わりにプレート型のビームスプリッタが利用されても良い。
【００１５】
ビームスプリッタ８の後方には、一般に放射源２からビームスプリッタ８に投射される前記ビームの中心に配置されて、前方感知ダイオード１０がある。該ダイオードは前記ビームスプリッタを透過した前記ビームの中心の高い強度領域から光を検出するように配置される。前記ダイオード１０は、比較的高いパワーレベルが前記放射源に利用される場合に、ディスク２０からのデータ読み出しの間とディスク２０へのデータの書き込みのプロセスの間との両方において、放射源２のパワーを測定し制御するために利用される。
【００１６】
ビームスプリッタ８によって反射される放射は更に、反射ミラー１２によってディスク２０の方向へ反射される。前記ディスクに到達する前に前記ビームは発散するビームを概ね平行なビームに変換するコリメータレンズ１４、直線偏光を円偏光に変換する四分の一波長板１６、及び前記ビームをディスク２０における情報層上のスポットにフォーカスする対物レンズ１８を通過する。前記ディスクからの反射の際、円偏光の左右は反転され、四分の一波長板１６の通過の際、前記ビームの偏光は前記ビームの元の直線偏光に直交する直線偏光に変化させられる。反射の後、前記ビームは少なくとも一部が、ビームスプリッタ８を通って、サーボフォーカスレンズ２２を介して、当分野では知られた、光信号をデータ読み出しのための電気信号とフォーカス制御及びトラッキングエラー制御のための信号とに変換する光検出器２４へと透過させられる。代替実施例においては、プレコリメータ４は省略され、より高い開口数を持つコリメータレンズ１４が利用される。コリメータレンズ１８及び／又は四分の一波長板１６は代わりに反射ミラー１２の前に配置されても良い。
【００１７】
本発明の本実施例においては、ビームスプリッタ８は部分偏光ビームスプリッタである。ここで反射率（Ｒ）及び透過率（Ｔ）という語は、反射素子によって反射される及び透過される放射強度の百分率をそれぞれ記述するために利用される。「部分偏光」という語は、ある直線偏光（例えば、この例では前記源と前記四分の一波長板との間における入射放射ビームの偏光である「Ｓ」偏光）に対する前記素子の反射率が、直交する偏光（例えば、この例では前記四分の一波長板と前記検出器との間における反射された放射ビームの偏光である「Ｐ」偏光）に対する前記素子の反射率と、例えば少なくとも１０％異なるほどかなり等しくなく、一方で完全な偏光の場合（ある偏光に対しては１００％又は実質的に１００％の反射率であり、かつ一方の偏光に対しては１００％又は実質的に１００％の透過率）が達成されないということを意味する。
【００１８】
本実施例においては、入射放射ビーム（Ｒｓ）に対する前記ビームスプリッタの反射率は７５％と１００％との間に選択される。前記反射率が７５％より大きいことを保証することにより、前記入射放射ビームの書き込みパワーが高いレベルにおいて維持される。しかしながら７９％を超えると前方感知信号が低くなり、コーティング製造の許容誤差範囲を含め信号レベルにおける広がりが大きくなりすぎる。より好ましくは、範囲は８５％と９５％との間に選択され、かくして前方感知ダイオード１０として利用される比較的低コストのダイオードが、書き込み処理の間に正確で高いバンド幅のパワー訂正信号を供給することを可能とする。反対に、センサが前記ビームスプリッタの前に前記入射ビームの周辺部に配置されるビーム端検出が利用される場合（より高いＲｓ、例えばＲｓ＞９５％を可能とする）、前方感知信号への許容誤差範囲は非常に大きくなる。一方、本実施例においては、反射された放射ビーム（Ｔｐ）に対する前記ビームスプリッタの透過率は、上述の反射率よりもかなり小さくなるように、即ち１５％と７５％の間、より好ましくは２５％と６２％との間となるように選択される。この比較的低い透過率は、より高いＴｐを示すビームスプリッタに比べて前記検出器におけるパワーを減少させるが、前記検出器におけるパワーはデータ読み出しの間はそれほど重大なものではなく、それによって前記ビームスプリッタの生産可能性はかなり改善されることができる。更に、かような値をＴｐに選択することにより、前記ビームスプリッタの角度許容性はより容易に良いレベルにおいて維持されることができる。書き込みの間検出器２４の動作範囲内に保つために、書き込みプロセスの間に利用されるパワーの制限も回避されることができる。
【００１９】
ＣＤ波長（λ１＝７９０ｎｍ）において動作する装置を用いたこの第１の実施例による多層薄膜コーティングの部分偏光特性の一例は以下のとおりである。
【００２０】
【表１】
2004520676.tif 000003
【００２１】
与えられたものと合致する又は近い特性を持つ、上述の例によるビームプリッタ反射インタフェースは、適切な薄層の構成の選択によって、当業者によって容易に実装可能である。
【００２２】
図２は、本発明の第２の実施例、二波長光走査装置を示す。繰り返しを避けるため、図２においては、図１の構成の要素に関連して説明されたものと同一の機能を持つ構成の要素は、１００だけ加算された同一の参照番号を持つ。本構成は更に、例えばＤＶＤ波長（λ２＝６５５ｎｍ）のような所定の波長において、及び第１の放射源１０２の偏光と比較して直交して配置される直線偏光（本例においては「Ｐ」偏光を仮定する）を持ち動作する半導体レーザのような第２の偏光放射源１２６を含む。プレートの形をとる第２のビームスプリッタ１２８は、光ディスク１２０の位置と検出器１２４の位置との間において第２の放射源１２６からの入射放射を主光路に結合させるために利用される。この場合、異なる波長で動作する光ディスクのフォーマットは選択的にスキャンされても良く、例えば前記光ディスクはＣＤ（ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷを含む）とＤＶＤフォーマットとのいずれであっても良い。ＣＤ及びＤＶＤ読み出しの異なる特性のため、前記主光路中の構成要素はＤＶＤ読み出しのために修正される。
【００２３】
本例においては、第１の放射源１０２によって生成されたビームを用いて、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷの書き込みのための比較的高いパワーの書き込み性能が達成される。一方で、放射源１２６はデータ読み出し専用に利用される。
【００２４】
本例においては、四分の一波長板１１６は、放射源１０２のものである第１の波長においてのみ動作する。前記第２の波長における前記四分の一波長板の効果は、前記ディスクと前記検出器との間の経路においてＴｓとＴｐが略等しくなるように前記走査装置が好適に構成される場合には重要ではない。製造の容易さのため、前記四分の一波長板は前記第２の波長においては四分の一波長機能を持たなくても良い。更に前記第１の放射ビームは、その反射した状態においてのみ前記第２のビームスプリッタを通過するため、第２のビームスプリッタ１８が偏光のものである必要はなく、それ故製造の容易さのため好ましくは無偏光のものである。
【００２５】
前記第２の放射ビームに対しては、前記第２のビームスプリッタは、一方で前記主光路にビームを結合させるために前記入射ビームをできるだけ反射するように、他方で前記反射されたビームをできるだけ透過するように最適化される。Ｔｐ＋Ｒｐ＝１００％（吸収はないと仮定する）であるため、前記検出器において最適化されたパワーは、Ｔｐ及びＲｐが、前記第２の波長に対して、凡そ５０％であるように選択される場合に達成される。更に、前記ビームスプリッタの反射特性は波長に依存して変化するため、第１のビームスプリッタ１０８の透過性の理想的な設定は１００％である。それ故、１００％に近い（例えば９０％以上）の実際的な値が、前記第２の波長において動作する場合に前記第１のビームスプリッタについて準備される。
【００２６】
前記第１の放射ビームに対しては、製造の容易さを含む上述の利点を伴う、前記第１のビームスプリッタに関連して第１の実施例に関する上述した特性がここでも当てはまり、そうでなければ前記ビームスプリッタは２つの異なる波長において選択された特性で動作する必要があるため、前記利点は減少される。前記第１の放射ビームに対しては、第２のビームスプリッタ１２０の透過性に対する理想的な設定は１００％であり、それ故、１００％に近い（例えば９０％以上）の実際的な値が、前記第１の波長において動作する場合に前記第２のビームスプリッタについて準備される。
【００２７】
本実施例においては、両方の放射ビームとも、同一の光路に沿った同一の光検出器１２４によって検出され、前記光走査装置における光検出構成と電気信号処理回路との両方において複雑さを減少する。更に、２つの前記ビームスプリッタの反射特性は、前記２つの波長のビームのいずれかを用いた走査の場合において前記検出器における光パワーが、少なくとも前記検出器のダイナミックレンジ内であるほぼ同じ範囲になるように選択される。該範囲は一般に、最小値から該最小値の３倍の最大値、又は特定の検出器のタイプの場合にはそれ以上までの範囲に渡る。好ましくは、前記反射特性は、前記ディスクと前記検出器との間の前記光学系の透過率が両方の場合においても略等しくなるように選択される。
【００２８】
本第２の実施例による、前記第１及び第２のビームスプリッタの夫々に対する、多層薄膜コーティングの（理想的な）部分偏光特性の一例は、以下の表２ａ及び２ｂに与えられる。
【００２９】
【表２ａ】
2004520676.tif 000004
【００３０】
【表２ｂ】
2004520676.tif 000005
【００３１】
本実施例においては、前方感知ダイオードセンサ１１０の利用を可能にするため、前記第１の波長においてビームスプリッタ１についてＲｓ＝９０％である。しかしながら、ビーム端検出が代替として利用され、この場合はこのＲｓの値が、最大の記録パワーを可能にするために１００％に向かって増加させられることを可能にする。
【００３２】
上述の例においては、前記２つのビームスプリッタの反射特性は、前記ディスクと前記検出器との間の光学系の透過率が両方の場合においても等しいようなものであることに留意されたい。即ち、前記第１の波長に対しては、前記透過率はＴｐ（λ１，ビームスプリッタ１）×Ｔｐ（λ１，ビームスプリッタ２）＝５０％×１００％＝５０％であり、前記第２の波長に対しては、前記透過率はＴｐ（λ２，ビームスプリッタ１）×Ｔｐ（λ２，ビームスプリッタ２）＝１００％×５０％＝５０％である。
【００３３】
以上において理想的な値が与えられた。実際には、前記理想的な値の近くにある値が好適に利用される。利用される薄層の構成に依存して変化する実際のビームスプリッタ特性を用いた、前記レーザ波長における実際的な許容範囲を含む、実際に達成可能な値の例は、以下の表３ａ及び３ｂに与えられる。
【００３４】
【表３ａ】
2004520676.tif 000006
【００３５】
【表３ｂ】
2004520676.tif 000007
【００３６】
与えられたものと合致する又は近い特性を持つ、以上の例によるビームスプリッタ反射インタフェースは、適切な薄層の構成の選択により、当業者によって容易に実装可能である。
【００３７】
図３は本発明の第３の実施例を示す。再び、不要な繰り返しを避けるため、本実施例中に存在する、第２の実施例に関連して記載されたものに対応する構成要素は、１００だけ増加された同一の参照番号を持つ。この代替実施例においては、第１の波長の放射源２０２からの放射を主光路に結合させるために利用されるビームスプリッタ２２８が、第２の波長の放射源２２６からの放射を前記主光路に結合させるために利用されるビームスプリッタ２０８よりも、光記録担体２２０から離れて配置される。
【００３８】
上述した第２及び第３の実施例においては、プレート型のビームスプリッタが前記立方体のビームスプリッタに取って代わっても良い。この代替においては、前記ビームスプリッタの前に配置された更なるコリメータレンズによって、前記第２の波長の放射ビームの光路が前記ビームスプリッタを通る間は平行にされる。前記第１の波長の光のためのコリメータはこのときそれぞれのビームスプリッタの前に配置される。
【００３９】
上述の実施例においては前記入射ビームは前記第１のビームスプリッタを反射によって通過させられ、前記反射ビームは前記第１のビームスプリッタを透過によって通過させられるが、代替の実施例においては前記ビームは前記第１のビームスプリッタを前記ディスクの方向に透過によって通過させられ、反射して検出器の方向に通過させられても良い。２つの波長を利用する第２及び第３の実施例においては、前記第２の波長の入射ビームもまた前記第１のビームスプリッタによって反射して通過させられる。
【００４０】
上述の第２及び第３の実施例に類似した更なる代替の実施例においては、前記構成は二重書き込み走査装置において利用される。即ち、前記第１の波長がある光ディスク（例えばＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷ）の書き込みのために利用され、一方で前記第２の波長が他の光ディスク（例えばＤＶＤ＋Ｒ及びＤＶＤ＋ＲＷ並びにＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ及びＤＶＤ−ＲＡＭのような他の記録可能なディスクフォーマット）の書き込みのために利用される。この実施例においては、第２の前方感知ダイオードが前記第２の波長の放射を放射する源と反対の位置に利用される。更に、本実施例においては四分の一波長板が、前記第１及び第２の波長の両方において四分の一波長機能を提供するように好適に構成される。
【００４１】
上述の実施例は本発明の説明的な例として理解されるべきである。本発明の更なる実施例が予見できる。ある実施例に関連して説明されたいずれの特徴も、他の実施例においても利用されても良いことは理解されるべきである。更に、上述していない同等物及び変形もまた、添付する請求項において規定される本発明の範囲から逸脱することなく利用されても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例による光走査装置の模式的な説明図である。
【図２】本発明の第２の実施例による光走査装置の模式的な説明図である。
【図３】本発明の第３の実施例による光走査装置の模式的な説明図である。
【国際公開パンフレット】
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2004520676.tif 000009
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2004520676.tif 000018
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2004520676.tif 000023
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【国際調査報告】
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