(57)【要約】プリント基板の機能性をテストする方法は、プリント基板（１）の少なくとも片面に導体（３）と作用的に接続されている、当初は非導電性のフレキシブル層（２）が接触して直に置かれ、次に前記層（２）に電圧が印加され、その後、テストされるそれぞれの導通経路（５）を境界付ける接触箇所に部分的に電流が導通され、引き続いて導体（３）を経て導通経路（５）内の電流の流れが測定されるように構成されている。
2004506205.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板の機能性をテストする方法であって、プリント基板（１）の少なくとも片面に当初は非導電性の、導体（３）と作動的に接続されているフレキシブル層（２）が接触して直に置かれ、次に前記層（２）に電圧が印加され、その後、テストされるそれぞれの導体経路（５）を境界付ける接触箇所に部分的に電流が導通され、引き続いて導体（３）を経て導体経路（５）内の電流の流れが測定されることを特徴とする方法。
【請求項２】
電流の導通が層（２）を導体経路（５）の位置の領域で透過するレーザ・ビームによってなされることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
層（２）としてプラズマが被覆されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
層（２）としてポリマー・フォイルが被覆されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
ポリマー・フォイルが光導電性であることを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項６】
導体（３）が層（２）上に完全な平坦面として被覆されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項７】
層（２）内に部分的な電流の導通を生ずることができるレーザ・ビームをそれぞれ発生可能である送信器（４）を備えることを特徴とする請求項１に記載の方法を実施する装置。
【請求項８】
レーザ・ビームを偏光可能であるミラーを備えることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項９】
導体（３）が光透過性の区画されたフォイルからなり、フィールド（７）は碁盤目状に異なる極性を有することを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
導体（３）が層（２）と反対の側でプリント基板（１）に接触して被覆されるポリマー・フォイルからなることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項１１】
ポリマー・フォイルは光導電性であることを特徴とする請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
層（２）と導体（３）との間に、導体経路（５）を通る電流の導通を測定可能である測定装置（６）を備えることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項１３】
導体（３）は層（２）の少なくともテスト領域を覆う平坦な、光透過性の電極として形成されることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項１４】
電極として形成された導体（３）と層（２）とが一体に形成されることを特徴とする請求項１２に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント基板の機能性をテストする方法、およびこの方法を実施する装置に関する。
【０００１】
プリント基板の機能性のテスト、すなわちプリント基板の片面の導体経路内の、および片面から他面への電流の導通テストには、「ベアボード・テストシステム」の概念で、プリント基板の両面のスタンプ内に固定され、プリント基板の配列内に接点に対応して構成された、ばね性の接続ピンによって導体経路の導電性テストが行われる方法が知られている。
【０００２】
接続ピンが対応する接点に確実に接触することを保証するため、スタンプは特定の圧力でプリント基板に押圧され、その力は接触ピンのばねから生ずる力を超えなければならない。一般に使用される多くの接触ピンの場合、対応する機械的な構想を条件付ける著しい圧力が必要である。
【０００３】
その際に作動されなければならない機械上の経費によってこのような機械の製造コストが膨大になり、別の欠点としては、特に１０，０００個にも及ぶこともある接触ピンの使用個数が多数であることが原因で、故障し易いことを挙げる必要がある。
【０００４】
新規のテクノロジーと共に可能になった接触ピンの密度の増加によって接触ピンの使用に制限が加わるので、プリント基板を接触させるために達成できる分解能は最新の要求にはもはや対応しえない。
【０００５】
別の方法は「フライング・プローブテスタ」の概念で知られている。この場合は、プリント基板の両面のそれぞれ２個から８個の試験針が適宜の移動ユニットによって導電性を検査しようとするプリント基板の接点の上方に配置される。試験針とプリント基板上の選択された接点との接触は試験針をこのポイントまで降下させることによって行われる。第１の試験針から流れる電流はプリント基板の接点へと導通され、導体経路の他端で同様のこの試験針によって受電され、測定される。したがってこれは基本的に接触テストであり、前述の接触ピンに対応して導体経路の各々の接触箇所に試験針が割当てられるのではなく、試験針はコンピュータ制御でそれぞれ適宜に移動される。その際に反復的な接触によって接点が損傷する恐れがあり、その結果、プリント基板の実装時に問題を生ずることがある。
【０００６】
このような損傷を避けるために、試験針を導電性のプラズマで補うことによって接点に接触させることが既に試みられている。
【０００７】
しかし、その場合の欠点は、プリント基板を完全にテストできる速度が比較的遅いことである。その理由は特に、試験針を一対ずつポジショニングし、降下させ、測定し、かつ次の位置へと移動させるという作業ステップにある。このテスト・システムはまた、試験針の大きさによって、また移動ユニットの可能な精度が限られているため、すぐさま分解能の限界、すなわち機能の限界に突き当たる。
【０００８】
最後に米国特許明細書第５　１７７　４３７号には、ガラス板上に光源によって光電式に起動可能なマトリクスを置くプリント基板のテストが記載されている。マトリクスとプリント基板との間には導電性のマットが備えられる。勿論、この方法を実行するための構造上の組立ては比較的高度である。その上、中間に挿入されたマットとプリント基板に対して固定したマトリクスにより、プリント基板の表面の製造条件による不均一さと不正確さは補償されず、もしくは見込んでおくことができないので、絶対的に正確なテスト結果は保証されない。
【０００９】
更に機能上、安定光源から放射された光ビームが必要に応じてそれを通してフェードイン、フェードアウトされるいわゆる「光弁」が備えられる。これの構造上の経費は著しく高価であり、高い製造コストの他に、最適な動作を妨げる故障し易さをもたらす。
【００１０】
したがって本発明の目的は、小さい機械構造と、速い速度で実行可能であり、より高いテスト精度が達成され、かつプリント基板の極小の接点をテストできるように同種類の方法を構成することにある。
【００１１】
上記の目的は特許請求の範囲第１項の特徴を備えた方法によって達成される。
【００１２】
本発明に基づく方法によって、作業速度に関して最も効率よく、同時にプリント基板が破壊されることがないテストが可能になる。
【００１３】
プリント基板の少なくとも片面にフレキシブルな層を直に被覆することによって、すなわち直接接触によって、一方では構造上の経費が公知の方法よりも大幅に低減すると共に、他方では製造条件によるプリント基板の不均一さをも見込むことが保証される。当初は非導電性である層がプリント基板の各々のポイントに、また、そのフレキシブルな特性により直接被覆されるので、実際的にテストの不正確さは生じない。したがってテスト結果の質は大幅に向上する。このようなプリント基板は大量の個数が使用され、したがって最適なテストも含まれる最大限の品質管理が重要であるので、このことは特に注目に値する。
【００１４】
静止光源から放射されるレーザ・ビームによって電流を導通させることができる。ビームは超小型で極めて軽量のミラーによって偏光されるので、導体経路のテストされる接点の領域にビームをポジショニングする際に、僅かしか動かさなくてもよく、そのため前述したように、この方法は前記の先行技術の方法よりも大幅に迅速に実行できる。
【００１５】
プリント基板の両面に被覆できる層として、片面がプリント基板によって境界付けされ、その他の面はこのプラズマが流出できなくなるように密封されたスペースを満たすプラズマからなる層を被覆できる。
【００１６】
その際、プラズマには、これがレーザ・ビームによって発生した領域だけがイオン化され、かつ導電性になるという利点がある。
【００１７】
プリント基板の片面にある導体経路の導電性を検査するため、区画された層を被覆することができ、この層は導体であり、プラズマ層の下にある導体経路が完全に機能している場合はこの導体経路と連絡して、接続された測定装置によって確認できる電気回路を生ずるように、区画内に交互に構成されるものである。
【００１８】
本発明の他の考案によれば、プリント基板の片面にフォイルが被覆され、これは前記のプラズマ層と等価であり、これと同様に区画された層上に被覆される。この層は光導電性であり、例えば有機半導体（特殊ポリマー）からなることができる。
【００１９】
プリント基板の両側にフォイルを被覆することによって、プリント基板を通過し、その接触箇所が両面にある、導体経路の導電性をテストすることができる。この場合、フォイルが一緒に測定装置を適切な位置に設置した電流回路を構成するので、フォイルを区画しなくてもよい。この構成で片面に導体経路列を備えた導体経路をテストできるようにするには、区画されたフォイルを使用することが好適である。
【００２０】
フォイルにはレーザ・ビームが放射される領域で導電性になり、勿論、この領域でレーザ・ビームが遮断された直後には再び非導電性になるいわゆるポリマー・フォイルが特に適している。
【００２１】
それによって、レーザ・ビームを極めて短い時間経過で異なる位置にポジショニングし、それによって、プリント基板の個々の接触箇所を問題なく電流が流れることが可能になる。この接触箇所が故障しており、したがって電流が流れない場合は、そのことが電流回路内に組込まれた測定技術によって表示される。
【００２２】
例えばレジスタによって、プリント基板がどの接触位置で故障しているかをいつでも確認できる。
【００２３】
本発明の別の有利な実施形態の特徴は従属クレームに記載されている。
【００２４】
次に、本発明による方法、およびこれを実施する装置を添付図面を参照して説明する。
【００２５】
図中、図１はこの方法を実施するための装置の実施例の概略側面図である。図２は前記装置の別の実施例の、これも概略側面図である。図３は図２の装置の概略平面図である。
【００２６】
図１にはプリント基板１の機能性のテストを実施できる装置が示されている。
【００２７】
この場合、プリント基板１を横切って貫通しているので、プリント基板１の両側に導体経路５を境界付けする接触箇所が存在する、導体経路５を通る電流の導通が検査される。
【００２８】
プリント基板１の対向する面にはそれぞれ、ポリマー・フォイルの形式の、当初は非導電性のフレキシブル層２が接触して被覆され、それらの各々は電圧源の２つの電極のうちの１つに接続されている。
【００２９】
透明な層２と、プリント基板１上のテストされる接触箇所との間には印加電圧によって電界が形成される。
【００３０】
両側には送信器４が配置され、これによってそれぞれ関連する層２をビーム直径の領域で透過するレーザ・ビームが発生され、好適には偏光される。
【００３１】
そこで、この領域では層２が導電性になるので、導体経路５が故障していない場合には電流回路は閉路になる。
【００３２】
一方では電位差を印加すると共に、他方では電流が導体経路５を流れるか否かを確認するために測定源装置６が両方の層の間にそれらの層を接続して配置されている。
【００３３】
図２および図３には、プリント基板１の片面だけに備えられている導体経路５の導電性をテストするための装置が示されている。
【００３４】
この場合は、層２上の少なくともテスト領域に、層の形状の導体３が、好適には平坦な、光透過性の電極として被覆され、これは点線で示されたレーザ・ビームが妨害なく透過できるようにし、また光導電層２と一体に形成可能である。この場合、導体３、すなわち電極は層２の担体層を形成する。
【００３５】
特に図３が極めて明確に示すように、導体３は碁盤状に配列され、異なる極性のフィールド７内に区画されて区分され、導体経路５を境界付ける各々の接触箇所には異なる極性を有するフィールド７が割当てられている。
【００３６】
それによって、導体経路５の導通性を検査することができる測定源装置６が接続される電流回路が形成される。
【図面の簡単な説明】
【図１】この方法を実施するための装置の実施例の概略側面図
【図２】前記装置の別の実施例の概略側面図
【図３】図２の装置の概略平面図
【国際公開パンフレット】
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【手続補正書】
【提出日】平成14年11月4日(2002.11.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板の機能性をテストする方法であって、プリント基板（１）の少なくとも片面に、光導電性のポリマー・フォイルからなり、導体（３）と作動的に接続されている、当初は非導電性のフレキシブル層（２）が接触して直に置かれ、次に前記層（２）に電圧が印加され、その後、テストされるそれぞれの導体経路（５）を境界付ける接触箇所に部分的に電流が導通され、引き続いて導体（３）を経て導体経路（５）内の電流の流れが測定され、電流の導通は層（２）を導体経路（５）の位置の領域で透過するレーザ・ビームによってなされることを特徴とする方法。
【請求項２】
導体（３）が、層（２）上に完全な平坦面として被覆されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
光導電性のポリマー・フォイルからなる層（２）内に部分的な電流の導通を生ずることができるレーザ・ビームをそれぞれ発生可能である送信器（４）を備えることを特徴とする請求項１に記載の方法を実施する装置。
【請求項４】
導体（３）が光透過性の区画されたフォイルからなり、フィールド（７）は碁盤目状に異なる極性を有することを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項５】
導体（３）が層（２）と反対の側でプリント基板（１）に接触して被覆されるポリマー・フォイルからなることを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項６】
ポリマー・フォイルは光導電性であることを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項７】
層（２）と導体（３）との間に、導体経路（５）を通る電流の導通を測定可能である測定装置（６）を備えることを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項８】
導体（３）は層（２）の少なくともテスト領域を覆う平坦な、光透過性の電極として形成されることを特徴とする請求項３に記載の装置。
【請求項９】
電極として形成された導体（３）と層（２）とが一体に形成されることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【国際調査報告】
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