(57)【要約】【課題】関心領域に対するエネルギー依存撮影のための方法を提供する。【解決手段】検査時間内にＸ線検出器をＸ線光子に曝露させる。そのＸ線光子を、選択したエネルギーしきい値を超えるエネルギーを有するＸ線光子と、該しい値以下のエネルギーを有するＸ線光子とに区分する。しきい値を超えるＸ線光子は第１のエネルギー光子計数を提供するように計数され、一方、しきい値以下のＸ線光子は第２のエネルギー光子計数を提供するように計数される。第１及び第２のエネルギー光子計数を検査データとしてメモリ内に記憶し、この検査データに画像処理技法を適用して画像を作成する。【選択図】図１
2004508124.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線光子エネルギーのヒストグラムを作成するための方法であって、
検査前にＸ線光子エネルギー弁別器の可変エネルギーしきい値を第１のエネルギーしきい値に設定するステップ（３０２）と、
Ｘ線光子エネルギー弁別器により、検出器上に入射する第１のエネルギーしきい値を超える第１の光子数を計数するステップ（３０４）と、
Ｘ線光子エネルギー弁別器により、検出器上に入射する第１のエネルギーしきい値未満の第２の光子数を計数するステップ（３０６）と、
複数の検出器画素位置で計数した第１の光子数と第２の光子数を記憶するステップ（３０８）と、
を含む方法。
【請求項２】
検査前に第２のエネルギーしきい値を設定するステップと、Ｘ線光子エネルギー弁別器により第１のエネルギーしきい値未満でありかつ第２のエネルギーしきい値を超える追加の光子数を計数するステップと、前記追加の光子数を記憶するステップと、さらに含むと共に、第２の光子数を計数する前記ステップが第２のエネルギーしきい値未満の第２の光子数を計数することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記記憶のステップが、第１の光子数と第２の光子数をＸ線光子エネルギー弁別器と結合したメモリ内に記憶させることを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
Ｘ線撮影システムにおいて、関心領域をＸ線光子エネルギー依存撮影する方法であって、
検査時間前にＸ線エネルギー光子弁別器に第１のエネルギーしきい値を設定するステップ（２０２）と、
検査時間内に、Ｘ線エネルギー光子弁別器と結合したＸ線検出器をＸ線光子に曝露させるステップ（２０４）と、
Ｘ線検出器から、第１のエネルギーしきい値を超える光子の第１のエネルギー光子計数（４００）を読み出すステップ（２０６）と、
Ｘ線検出器から、第１のエネルギーしきい値未満の光子の第２のエネルギー光子計数（４０２）を読み出すステップ（２０８）と、
第１のエネルギー光子計数（４００）と第２のエネルギー光子計数（４０２）を検査データとしてメモリ内に記憶するステップ（２１０）と、
前記検査データを使用して画像を作成するステップ（２１２）と、
を含む方法。
【請求項５】
前記曝露のステップが、検査時間内に直接変換型Ｘ線検出器をＸ線光子に曝露させることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記検査データからヒストグラムを作成するステップをさらに含む請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記作成のステップがエネルギー依存アルゴリズムを使用して画像を作成することを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記作成のステップがデュアル・エネルギーのエネルギー依存アルゴリズムを使用して画像を作成することを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項９】
Ｘ線エネルギー光子弁別器に第２のエネルギーしきい値を設定するステップと、
Ｘ線光子エネルギー弁別器により、第１のエネルギーしきい値未満でありかつ第２のエネルギーしきい値を超える光子の追加のエネルギー光子計数（４０４）を読み出すステップであって、第２の光子数を読み出すことが第２のエネルギーしきい値未満の第２の光子数を読み出すことを含むような読み出しステップと、をさらに含むと共に、
前記記憶のステップは、第１のエネルギー光子計数（４００）と、第２のエネルギー光子計数（４０２）と、追加の各エネルギー光子計数とを検査データとしてメモリ内に記憶させることをさらに含んでいる、請求項４に記載の方法。
【請求項１０】
前記検査データからヒストグラムを作成するステップをさらに含む請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記作成のステップがエネルギー依存アルゴリズムを使用して画像を作成することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記作成のステップが骨部相殺した画像と組織相殺した画像のうちの少なくとも一方を作成することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
関心領域をＸ線光子エネルギー依存撮影するように適応させたＸ線撮影システムであって、
検査時間内にＸ線光子に応答するようなピクセル式Ｘ線検出器（１０２）と、
前記Ｘ線検出器と結合した、少なくとも１つのエネルギーしきい値を有するＸ線光子エネルギー弁別器（１０６）と、
処理装置（１１０）と結合したメモリ（１０８）であって、検査時間前にエネルギーしきい値を第１のエネルギーしきい値に設定すること、第１のエネルギーしきい値を超える光子の第１のエネルギー光子計数（４００）を読み出すこと、第１のエネルギーしきい値未満の光子の第２のエネルギー光子計数（４０２）を読み出すこと、第１のエネルギー光子計数及び第２のエネルギー光子計数を検査データとしてメモリ内に記憶させること、並びに前記検査データを用いて画像を作成すること、を処理装置により実行させる命令を記憶しているメモリ（１０８）と、
を備えるＸ線撮影システム。
【請求項１４】
前記Ｘ線検出器（１０２）が直接変換型Ｘ線検出器である、請求項１３に記載のＸ線撮影システム。
【請求項１５】
前記Ｘ線検出器（１０２）がテルル化カドミウム亜鉛Ｘ線検出器である、請求項１４に記載のＸ線撮影システム。
【請求項１６】
画像を作成するための前記命令が前記検査データにデュアル・エネルギー画像処理アルゴリズムを適用している、請求項１３に記載のＸ線撮影システム。
【請求項１７】
画像を作成するための前記命令が前記検査データにエネルギー依存のアルゴリズムを適用している、請求項１３に記載のＸ線撮影システム。
【請求項１８】
前記命令がさらに、
Ｘ線エネルギー光子弁別器に第２のエネルギーしきい値を設定すること、第１のエネルギーしきい値未満でありかつ第２のエネルギーしきい値を超える光子の追加のエネルギー光子計数（４０４）を読み出すこと、を行うための命令を含んでおり、前記第２の光子数が第２のエネルギーしきい値未満の光子数の計数を含んでいる、請求項１３に記載のＸ線撮影システム。
【請求項１９】
前記画像が骨部相殺した画像である、請求項１７に記載のＸ線撮影システム。
【請求項２０】
前記画像が軟部組織相殺した画像である、請求項１９に記載のＸ線撮影システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、医学診断用Ｘ線撮影に関する。本発明は、詳細には、選択した特定タイプの組織やその他の構造を画像化するための光子計数及びエネルギー識別に関する。
【０００２】
【発明の背景】
今日、医師や技師は極めて高度な医学診断用Ｘ線撮影装置を扱うことが一般的である。Ｘ線撮影装置の動作中では、典型的には、Ｘ線源が十分に制御された状況でＸ線光子を放出している。Ｘ線光子は、検査を受けている患者の関心領域（ＲＯＩ）を透過して伝搬して検出器に当たる。従来のＸ線撮影装置では初歩的なフィルムベースの検出体が利用されていた。しかし、最近の発達によって、Ｘ線光子の照射に個々に応答するようなグリッド状の離散的検出器素子から構成される半導体検出器に至っている。しかし、使用される検出器によらず、その目的は同じのまま、すなわち、ＲＯＩ範囲内で事前に選択した関心対象構造（例えば、特定の種類の組織）に関する明瞭な出力画像を作成することにある。
【０００３】
しかし、明瞭な出力画像の作成に関連して本来的な困難が存在する。詳細には、Ｘ線光子は患者全体を透過して伝搬するため、検出器上に形成される像は、事前に選択した関心対象構造を含めそのＸ線光子が通過した解剖学的構造のすべてが重なり合ったものとなる。この解剖学的構造の重なり合いのことを、「解剖学的ノイズ（ａｎａｔｏｍｉｃ　ｎｏｉｓｅ）」とも云う。解剖学的ノイズの出力画像への影響は、クラッタ（ｃｌｕｔｔｅｒ）、陰影妨害（ｓｈａｄｏｗｉｎｇ）、並びに理想的な明瞭出力画像と比べてその出力画像をより識別しにくくするようなその他の掩蔽効果を生じさせることにある。
【０００４】
解剖学的ノイズの影響を軽減させるための従来の試みとしては、例えば、「デュアル・エネルギー（ｄｕａｌ−ｅｎｅｒｇｙ）」撮影がある。デュアル・エネルギー撮影を使用する際に、医師や技師はそれぞれに異なる平均Ｘ線光子エネルギーをもつ２枚の画像を収集していた。様々な内部構造は様々なＸ線光子エネルギーを様々な割合で吸収するため、解剖学的ノイズを抑制させるように得られた２枚の出力画像を合成することができる。従来のデュアル・エネルギー技法は、典型的には次の２つの方式のうちの１つで実施されている。
【０００５】
第１の方式は、２重に重ねた検出器を使用したものである。これに単一の曝射を行い第１の検出器に第１の画像を生成させている。Ｘ線光子の一部はそのまま第１の検出器を通過して第２の検出器に当たる。第１及び第２の検出器は異なる平均エネルギーを検知するように設計され、これによりＲＯＩに対して２つの平均Ｘ線光子エネルギーに対応する２枚の画像を作成している。しかし、２重に重ねた検出器を使用するためにコストや複雑性が増えること以外にも、２つの検出器間で得られるＸ線光子エネルギーのレスポンス分離を大きくすることは困難であることが多い。このため、解剖学的ノイズを軽減させるように設計したアルゴリズムを用いて２枚の画像を合成させることにより作成した画像ではコントラスト対ノイズ比が低下する。
【０００６】
第２の方式は、単一の検出器と、それぞれ異なる平均Ｘ線光子エネルギーをもつ２回の曝射とを用いたものである。この方式では重ね合わせ検出器に関連する問題は回避されるが、この方式独自の問題が生じる。例えば、曝射の間に患者が動くことが多く、これにより２回の曝射間で幾らか異なる内部構造の画像が作成されることになる。またさらに、そのＸ線源には、発生させる特定のＸ線光子エネルギーの選択に対応した追加の回路を含む必要があった。
【０００７】
上述した問題や従来から経験されている問題に対処した撮影方法の必要性が当産業分野に存在するようになって久しい。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の好ましい実施の一形態は、Ｘ線撮影システムで関心領域をエネルギー依存撮影するための方法を提供する。本方法は、検査時間内にＸ線検出器をＸ線光子に曝露させるステップと、選択したエネルギーしきい値を超える（又はしきい値以上）エネルギーを有するＸ線光子と、選択したエネルギーしきい値未満（またはしきい値以下）のエネルギーを有するＸ線光子との２グループにそのＸ線光子を区分するステップと、を含む。
【０００９】
しきい値を超えるエネルギーを有するＸ線光子は第１のエネルギー光子計数を提供するように計数され、一方、しきい値未満のエネルギーを有するＸ線光子は第２のエネルギー光子計数を提供するように計数される。本方法は、第１のエネルギー光子計数及び第２のエネルギー光子計数を検査データとしてメモリ内に記憶し、この検査データに画像処理技法を適用して画像を作成する。
【００１０】
本発明の別の好ましい実施形態は、関心領域のエネルギー依存撮影に適応したＸ線撮影システムを提供する。本撮影システムは、検査時間内にＸ線光子に応答するＸ線検出器と、このＸ線検出器と結合したＸ線エネルギー光子弁別器（可変エネルギーしきい値制御入力を備える）と、処理装置と結合したメモリと、を含んでいる。
【００１１】
このメモリは、選択したエネルギーしきい値を超えるＸ線光子の第１のエネルギー光子計数を読み取ること、並びに選択したエネルギーしきい値未満のＸ線光子の第２のエネルギー光子計数を読み取ること、を処理装置によって実行させるための命令を記憶している。このメモリはさらに、処理装置に対して、第１のエネルギー光子計数及び第２のエネルギー光子計数を検査データとしてメモリ内に記憶すること、並びに、この検査データに画像処理技法を適用して画像を作成すること、を指令する命令を含んでいる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
ここで図１を見ると、図１はＸ線撮影システム１００のブロック図を表している。Ｘ線撮影システム１００は、Ｘ線検出器１０２（多数の画素１１４から構成される）と、読み出し用電子回路１０４と、Ｘ線光子エネルギー弁別器１０６と、を含んでいる。またさらに、メモリ１０８、処理装置１１０及びモニタ１１２を含んでいる。
【００１３】
Ｘ線検出器１０２は、Ｘ線光子に直接反応する（すなわち、中間にＸ線光子を光学光子に変換するシンチレータを必要としない）テルル化カドミウム亜鉛（ＣＺＴ）などの材料により形成することができる光子計数検出器である。こうした検出器は、例えば、Ｒａｄｉａｔｉｏｎ　Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ　Ｄｅｖｉｃｅｓ（Ｗａｔｅｒｔｏｗｎ，ＭＡ　０２４７２）やｅＶ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ（Ｓａｘｓｏｎｂｕｒｇ，ＰＡ　１６０５６）から入手可能である。別法として、この検出器は光感受性検出器と結合したシンチレータにより構成させることができる。Ｘ線検出器１０２は、横列ｉと縦列ｊにより整列させた各画素（例えば、画素１１４）位置（ｉ，ｊ）においてＸ線光子感受性材料を提供するピクセル構成の（ｐｉｘｉｌａｔｅｄ）デバイスであることが好ましい。画素上での電荷のレベルは、その画素上に入射するＸ線光子エネルギーに従って変化する。あるしきい値を超える電荷レベルはＸ線光子弁別器１０６を用いて計測することができる。
【００１４】
読み出し用電子回路１０４はＸ線検出器１０２と結合しており、横列及び縦列の起動を制御している。したがって、読み出し用電子回路１０４は、各画素を続いてＸ線光子弁別器１０６に結合させている。Ｘ線光子弁別器１０６は、Ｘ線検出器１０２上に入射する選択したエネルギーしきい値を超える光子と選択したエネルギーしきい値未満の光子とを以下に説明するようにして計数している。適当なＸ線光子弁別器は、例えば、Ｃａｒｄｉａｃ　Ｍａｒｉｎｅｒｓ（Ｌｏｓ　Ｇａｔｏｓ，ＣＡ　９５０３０）により実証されている。
【００１５】
検査時間（すなわち、そのＲＯＩをＸ線光子に曝露させている時間期間）の前に、処理装置１１０は、図１に示すしきい値制御入力を使用してＸ線光子弁別器１０６に対して事前選択のエネルギーしきい値を設定している。検査時間内に、Ｘ線光子弁別器１０６は読み出し用電子回路１０４と協同して（例えば、Ｘ線光子と画素内に蓄えられた電荷との相互作用を検出することなどにより）現在のエネルギーしきい値を超えるＸ線光子を計数し、かつ現在のエネルギーしきい値未満のＸ線光子を計数するように各画素をモニタリングしている。この結果、処理装置１１０は第１のエネルギー光子計数と第２のエネルギー光子計数を取得している。目下のところ利用可能なＸ線光子弁別器は、例えば、２００ｋＨｚ〜５ＭＨｚの計数率を使用する（すなわち、毎秒５百万個の光子を計数する）ことがあるが、これを上回る計数率も適当である。
【００１６】
複数のエネルギーしきい値を設定することができることに留意されたい。換言すると一例として、処理装置１１０は第１及び第２のエネルギーしきい値を設定することがある。第１のエネルギーしきい値未満の光子数の計数により第１のエネルギー光子計数が形成され、第１のエネルギーしきい値を超えかつ第２のエネルギーしきい値未満の光子数により第２のエネルギー光子計数が形成され、また第２のエネルギーしきい値を超える光子数により第３のエネルギー光子計数が形成される。エネルギー光子の各計数は検査データとしてメモリ内に記憶すると共に、このデータを使用して以下に記載するようにして画像を作成している。
【００１７】
処理装置１１０はさらに、検査時間の間または検査時間後に、各エネルギー・レベルに対しかつ各画素に対する光子計数をＸ線光子弁別器１０６からメモリ１０８に読み出すことができる。換言すると、メモリ１０８は光子計数のヒストグラムｎ（ｉ，ｊ，Ｅ）を検査データとして記憶している（ここで（ｉ，ｊ）はＸ線検出器１０２上の１つの画素を表し、またＥは処理装置１１０により検査時間内に選択される個々のエネルギーしきい値を表している）。
【００１８】
検査データをメモリ１０８内に存在させた後、処理装置は所望の任意の画像処理技法を検査データに適用してディスプレイ１１２向けの画像を作成することができる。しかし、処理装置１１０は、検査データのエネルギー依存性に基づいて動作して関心対象外の構造を除去させた合成画像を生成させるようなエネルギー依存のアルゴリズムを適用することが好ましい。この合成画像は、例えば、骨部相殺画像（骨構造を除去した場合）や軟部組織相殺画像（軟部組織構造を除去した場合）と呼ぶことがある。関心対象の素材に重なる不要なものを除去することにより、その画像の診断上の有用性が高まる。
【００１９】
本明細書では、例えばデュアル・エネルギー方式を含むエネルギー依存アルゴリズムの例を記載している。デュアル・エネルギー撮影では、関心対象外のものを除去しながら関心対象のコントラスト対ノイズ比を高くすることが望ましい。一例として、軟部組織のコントラストが骨構造の干渉を受けることなく観察できるように骨を画像から除去するのに使用される骨部相殺撮影を考えてみる。使用した処理手順では、先ず、既知の厚さの基本材料（例えば、アクリル樹脂やアルミニウム）を含む較正用ファントームの低エネルギー画像と高エネルギー画像を取得する。この較正画像を用いて高エネルギー画像及び低エネルギー画像の信号対数値と基本材料の厚さとの関係が計算される。
【００２０】
次に、患者のＸ線検査で高エネルギー画像及び低エネルギー画像を取得する。画像の対数値を取ると共に先に決定した信号対数値と基本材料厚との関係を用いることにより、これらの画像を合成させて２つの基本材料の等価厚の画像を形成させている。最後に、この基本画像を線形合成させて骨を相殺させた画像が形成される。
【００２１】
最終画像でのコントラスト対ノイズは、高エネルギーと低エネルギーの平均画像を形成させるのに使用したエネルギーに関する感度に依存する。従来の方法では、これら２枚の画像を形成させるのに用いるエネルギーを最適化させることができなかった。重ね合わせ検出器の技法では、２つのエネルギー・スペクトルは、たまたま前面側と後面側の各検出器で吸収されることになったエネルギーから構成されることになる。スペクトル間で大きな差を得るための唯一の方法はこの両検出器間に大きな濾過量を置くことしかないため、この２つのスペクトル間には大幅な重なりが存在するのが普通である。しかし、こうした濾過があると後面側検出器の信号は小さくなる。２回曝射技法では、２つのスペクトル間のエネルギーの差を大きくすることができるが、２回曝射により上述した問題が関連してくることになる。
【００２２】
本技法では、単一の曝射を使用して２つ以上の光子エネルギー計数を提供できる。次いで、エネルギーの所望で任意の組み合わせを用いて低エネルギー画像と高エネルギー画像を形成させることができる。次いで、各画像のエネルギー成分を最適化しスペクトルが最大に分離できるようにしている。
【００２３】
本技法を記述している一組の方程式を次に示す。
【００２４】
Ｏ＝α＊Ａ＋β＊Ｂ
上式において、
【００２５】
【数１】
2004508124.tif 000003
【００２６】
並びに、
Ｌ＝−ｌｏｇ（Ｉｌｏｗ）
Ｈ＝−ｌｏｇ（Ｉｈｉｇｈ）
上式において、ｉ及びｊは画素の座標、Ｌは正規化した低エネルギー画像Ｉｌｏｗの対数値の負値、Ｈは正規化した高エネルギー画像Ｉｈｉｇｈの対数値の負値、α及びβは所望のタイプの出力画像を生成させる（例えば、骨部を相殺させる、軟部組織を相殺させるなど）ように調整される係数、Ｉｌｏｗ及びＩｈｉｇｈは素材が存在しない状態で計測した信号により正規化した低エネルギー画像と高エネルギー画像、ａｉｊ及びｂｉｊは較正手順で取得した合成係数、Ａ及びＢは基本材料の等価厚、またＯは出力画像である。上述したように、ＩｌｏｗとＩｈｉｇｈは単一のエネルギーしきい値を超える光子と単一のエネルギーしきい値未満の光子により取得される画像である。複数のしきい値を用いる際には、異なるエネルギー区間（すなわち、光子エネルギー計数）からの信号を合成することによりＩｌｏｗとＩｈｉｇｈを形成させている。
【００２７】
ここで図２を見ると、図２は、Ｘ線撮影システム１００で実行される処理のハイレベル流れ図を表している。ステップ２０２で開始され、Ｘ線撮影システム１００は少なくとも１つのエネルギーしきい値を設定し（ステップ２０２）、続いてＸ線撮影システム１００はＸ線検出器１０２をＸ線に曝露させる（ステップ２０４）。続いて、処理装置１１０は、Ｘ線光子弁別器１０６に対して、エネルギーしきい値を超える光子数の少なくとも第１のエネルギー光子計数（ステップ２０６において読み出す）と、エネルギーしきい値未満の光子数の第２のエネルギー光子計数（ステップ２０８において読み出す）とを生成させている。
【００２８】
続いて、ステップ２１０において、Ｘ線撮影システム１００は第１及び第２のエネルギー光子計数を検査データとしてメモリ１０８内に記憶する。検査データが得られると、次いで処理装置１１０は、ステップ２１２においてこの検査データから画像を作成することができる。上述したように、処理装置１１０はデュアル・エネルギー画像処理アルゴリズムなどエネルギー依存のアルゴリズムを利用することが好ましい。次いで、Ｘ線撮影システム１００はこの画像をモニタ１１２に表示させる。
【００２９】
次に図３を見ると、図３は、Ｘ線光子エネルギーのヒストグラムを作成するための方法３００を表している。先ず、Ｘ線撮影システム１００は少なくとも１つのエネルギーしきい値を設定する（ステップ３０２）。続いて、Ｘ線光子エネルギー弁別器１０６は第１のエネルギーしきい値を超える第１の光子数を計数し（ステップ３０４）、さらに第１のエネルギーしきい値未満の第２の光子数を計数する（ステップ３０６）。ステップ３０８において、第１及び第２のエネルギー光子計数は検査データとしてメモリ内に記憶される。
【００３０】
図４は、２つのエネルギーしきい値Ｔ１及びＴ２に対する代表的なヒストグラム４００を表している。Ｘ線検出器１０２を構成している多数の画素のうちから４つを（０，０）、（０，１）、（０，２）及び（０，３）の位置に示している。ヒストグラム４００は、各画素位置において、エネルギーしきい値Ｔ１を超える光子数に対する光子計数（例えば、光子計数４００）、エネルギーしきい値Ｔ２未満の光子数に対する光子計数（例えば、光子計数４０２）、並びにしきい値Ｔ１とＴ２の間にある光子数に対する光子計数（例えば、光子計数４０４）を含んでいる。
【００３１】
したがって、本Ｘ線撮影システム及び方法は、単一の検査の途中で、少なくとも１つのエネルギーしきい値を超える光子と、該エネルギーしきい値未満の光子とを計数している。従来のデュアル・エネルギー撮影システムと比較した場合、本システム及び方法では、検出器の重ね合わせ配置によりコストや複雑性が追加されることがない。さらに、本システム及び方法は、２回の曝射の間で患者が動くことに影響を受けることもない。それどころか、本システム及び方法では、患者に繰り返しＸ線被曝をさせることなくエネルギー依存の画像処理で必要な検査データを取り込むことができる。
【００３２】
本発明に関し好ましい実施形態を参照しながら記載してきたが、本発明の範囲を逸脱することなく様々な変更が可能であると共に、等価物による代用が可能であることは当業者であれば理解するであろう。さらに、多くの修正形態により、本発明の範囲を逸脱することなく具体的な状況や材料を本発明の教示に適応させることができる。例えば、素材を特定するための支援として、そのエネルギーしきい値を、予測される素材のｋエッジの上と下に設定することができる。さらに、所望であれば、間隔が接近した２つのしきい値間のエネルギー・レベルに対する光子計数のみを使用することにより、その検査データを処理して概ね単一エネルギーの画像を形成させることができる。したがって、開示した特定の実施形態に本発明を限定しようという意図ではなく、本発明は本特許請求の範囲の域内に入るすべての実施形態を包含するという意図である。
【図面の簡単な説明】
【図１】
Ｘ線撮影システムのブロック図である。
【図２】
Ｘ線撮影システム処理装置によりソフトウェア内で実行されるステップを含め、画像を作成するためにＸ線撮影システムにより実行される各ステップを表しているハイレベル流れ図である。
【図３】
Ｘ線光子エネルギーのヒストグラムを作成するための方法を表した図である。
【図４】
２つのエネルギーしきい値Ｔ１及びＴ２に対する代表的なヒストグラムである。
【符号の説明】
１００　Ｘ線撮影システム
１０２　Ｘ線検出器
１０４　読み出し用電子回路
１０６　Ｘ線光子エネルギー弁別器
１０８　メモリ
１１０　処理装置
１１２　モニタ
１１４　画素
４００　ヒストグラム
【図１】
2004508124.tif 000004
【図２】
2004508124.tif 000005
【図３】
2004508124.tif 000006
【図４】
2004508124.tif 000007
【国際公開パンフレット】
2004508124.tif 000008
2004508124.tif 000009
2004508124.tif 000010
2004508124.tif 000011
2004508124.tif 000012
2004508124.tif 000013
2004508124.tif 000014
2004508124.tif 000015
2004508124.tif 000016
2004508124.tif 000017
2004508124.tif 000018
2004508124.tif 000019
2004508124.tif 000020
2004508124.tif 000021
2004508124.tif 000022
2004508124.tif 000023
2004508124.tif 000024
2004508124.tif 000025
【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
2004508124.tif 000026
2004508124.tif 000027
【国際調査報告】
2004508124.tif 000028
2004508124.tif 000029