(57)【要約】【課題】【解決手段】本発明は、小さな粒を光学測定して、粒の品質を分析するための方法並びに装置に関する。サンプル供給キャリヤー（２）が、粒サンプルをサンプルホルダー（６）内に取り、粒サンプルを光学測定のための場所に運ぶように適合されている。ミラー支持手段（３）は、キャリヤー（２）の運動に従い、サンプルホルダー（６）と合ったミラー（７）を有する。装置は、光学測定のために位置された粒サンプルと、検出器とを照明する。検出器は、電磁放射線に反応し、照明された粒サンプルの光学測定の結果を記録する。ミラー（７）は、粒サンプルを反射し、かくして、測定が記録されているときに、粒サンプルの鏡像がミラー支持手段の運動の中心軸に映ることによって、ミラー像は実質的に静止して動かないように検出器から見える。
2004514132.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
穀物などの穀類の穀粒のような小さな粒（５）を光学的に測定し、この粒（５）の品質を分析するための装置であって、
各々に少なくとも１つの粒（５）を有している複数の粒サンプルを夫々サンプルホルダー（６）内に取り、これら粒サンプルを光学測定のための場所に移動させるように適合されたサンプル供給キャリヤー（２）と、
前記各サンプルホルダー（６）ごとにミラー（７）を有し、前記キャリヤー（２）の動きに従うミラー支持手段（３）と、
前記粒サンプルが光学的に測定するために位置されているときに、この粒サンプルを照明するための装置（１２）と、
照明された前記粒サンプルの光学測定の少なくとも１つの結果を記録するように、電磁放射線に反応する検出器（１３）と、
測定が記録されているときに、粒サンプルの鏡像がミラー支持手段（３）の運動の中心軸に映ることによって、前記粒サンプルの鏡像が検出器（１３）から見ると実質的に静止して動かないように粒サンプルを反射させる、前記ミラー支持手段（３）のミラー（７）とを具備する装置。
【請求項２】
前記サンプル供給キャリヤー（２）は、連続的に動きながら粒サンプルを順次供給するように適合されている請求項１の装置。
【請求項３】
前記検出器（１３）は、光学測定中に粒サンプルの像を記録する像記録手段である請求項１もしくは２の装置。
【請求項４】
記録された像の画像分析のための手段を更に具備し、複数の粒（５）を有する粒サンプルの像が、この画像分析のための手段を用いて、１つの粒（５）を各々に有する複数の像に分割可能である請求項３の装置。
【請求項５】
前記像記録手段は、ディジタルカメラである請求項３もしくは４の装置。
【請求項６】
前記サンプルホルダー（６）は、１つの粒（５）のみを取るように適合されている請求項１乃至５のいずれか１の装置。
【請求項７】
前記キャリヤー（２）は、円形で、粒サンプルを供給するように回転する請求項１乃至６のいずれか１の装置。
【請求項８】
前記ミラー支持手段（３）とキャリヤー（２）とは、中央シャフト（４）によって相互連結され、かくして、互いの運動に従う請求項７の装置。
【請求項９】
前記ミラー支持手段（３）のミラー（７）は複数であり、中心軸に対して４５°の角度で配置され、粒サンプルとこれに関連したミラー（７）との間の距離が、粒サンプルの鏡像が中心軸に映るように、ミラー（７）と中心軸との間の距離と同じである請求項１乃至８のいずれか１の装置。
【請求項１０】
前記キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、粒サンプルのためのスペースを提供する複数の凹部を有する請求項１乃至９のいずれか１の装置。
【請求項１１】
前記キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、キャリヤー（２）の複数の貫通孔と、これら孔を通って粒（５）が落ちるのを防ぐ下方の粒保持ディスク（１０）とを有し、かくして、孔と粒保持ディスクとは、粒サンプルのためのスペースを提供する請求項１乃至９の装置。
【請求項１２】
前記キャリヤー（２）の下側に大気中より低い圧力を発生させる手段を更に具備し、また、キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、粒サンプルが大気中より低い圧力によって付着される孔を有する請求項１乃至９のいずれか１の装置。
【請求項１３】
各々に検出器（１３）を有する複数の前記光学測定のための場所が、配置され、照明は、夫々異なる分析を行うために場所ごとに変えられ得る請求項１乃至１２のいずれか１の装置。
【請求項１４】
穀物など穀類の穀粒のような小さな粒（５）を光学測定し、これら粒（５）の品質を分析するための方法であって、
少なくとも１つの粒（５）を各々に有する複数の粒サンプルを、光学測定のための場所に供給する工程と、
光学測定のための場所で粒サンプルの鏡像がミラー（７）の運動の中心軸に映るように、ミラー（７）によって粒サンプルの運動に従う工程と、
粒サンプルが光学測定のために位置されると、これら粒サンプルを照明する工程と、
照明された粒サンプルの光学測定の少なくとも１つの結果を、電磁放射線に反応する検出器（１３）によって記録する工程とを具備し、前記粒サンプルの鏡像は、測定が記録されているとき、粒サンプルの鏡像が運動の中心軸に映ることから、検出器（１３）から見ると実質的に静止して動かない方法。
【請求項１５】
前記粒サンプルは、連続的な運動中に供給される請求項１４の方法。
【請求項１６】
前記検出器（１３）は、光学測定中に粒サンプルの像を記録する像記録手段である請求項１４もしくは１５の方法。
【請求項１７】
複数の粒（５）を有する粒サンプルの１つの像を、１つの粒（５）を各々に有する複数の像に分割する工程を更に具備する請求項１６の方法。
【請求項１８】
前記記録された像を、粒サンプルの品質を決定する画像分析によって分析する工程を更に具備する請求項１６もしくは１７の方法。
【請求項１９】
ディジタルカメラが、像記録手段として用いられる請求項１６乃至１８のいずれか１の方法。
【請求項２０】
前記粒サンプル内には、ただ１つの粒（５）が供給される請求項１４乃至１６のいずれか１の方法。
【請求項２１】
前記複数の粒サンプルは、円形のキャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）によって供給され、このサンプルホルダーは、複数の粒サンプルを供給するように回転される請求項１４乃至２０のいずれか１の方法。
【請求項２２】
ミラー（７）を支持し、粒サンプルに従うミラー支持手段（３）は、中央シャフト（４）を介してキャリヤー（２）に接続され、かくして、キャリヤー（２）と粒サンプルとの運動に従う請求項２１の方法。
【請求項２３】
前記ミラー支持手段（３）のミラー（７）は複数であり、中心軸に対して４５°の角度で配置され、粒サンプルとこれに関連したミラーとの間の距離は、粒サンプルの鏡像が中心軸上に映されるように、ミラー（７）と中心軸との間の距離と同じである請求項２２の方法。
【請求項２４】
前記キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、粒サンプルのためのスペースを提供する複数の凹部を有する請求項２１乃至２３のいずれかの１の方法。
【請求項２５】
前記キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、キャリヤー（２）の複数の貫通孔と、これら孔を通って粒（５）が落ちるのを防ぐ下方の粒保持ディスク（１０）とを有し、かくして、孔と粒保持ディスク（１０）とは、粒サンプルのためのスペースを提供する請求項２１乃至２３のいずれか１の方法。
【請求項２６】
大気中より低い圧力を発生させるための手段が、キャリヤー（２）の下側に配置され、キャリヤー（２）のサンプルホルダー（６）は、粒サンプルが大気中より低い圧力によって付着される孔を有する請求項２１乃至２３のいずれか１の方法。
【請求項２７】
測定中に各粒サンプルを様々に照明して複数の光学測定を記録する工程を更に具備し、これら記録は、複数の検出器（１３）によって様々の場所で行われる請求項１４乃至２６のいずれか１の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、穀物など穀類の穀粒のような小さな粒を光学的に測定し、これら粒の品質を分析するための方法並びに装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
今日、様々の穀類及び他の穀物の検査は、商業上の処理及び出荷の際に穀類の品質を決定するために全世界で成されている。検査は、広範な委託販売品から選択された標本サンプルを検査し、望ましくない穀粒と粒との存在を決定するために行われる。望ましくないとされた穀粒及び粒は、類別され、各クラスの品質が決定される。様々の穀粒の分類により、サンプル、かくして、委託販売品には、委託販売品の支払い額と出荷とに関連する非常に決定的な要因である等級が、与えられる。
【０００３】
今日、殆どの穀粒の検査が手操作で行われている。当業者の検査官は、大抵は長年に渡る総合的な教育を修了している。それにも係らず、分析／類別には、特に評価の個人差と様々の照明の状態とが原因で、検査官によって偏りが見られる。この偏りは又、例えば疲労の程度などによって、個々の検査官についても見られる。
【０００４】
かくして、こうした偏りを減じて、比較的透明な等級プロセスによって更に安定した状況を作るために、分析方法が自動化されることが望ましい。サンプルに精密な等級付けをするために、穀粒は、互いに分離され、個々の穀粒が類別されるのを可能にしなくてはならない。これは、物理的な分離かディジタル画像処理の利用のいずれかによって成される。
【０００５】
かくして、現在は、穀粒の品質を分析するための所定の光学的な測定方法が利用されている。こうした測定方法は、照明される穀粒に基づいており、穀粒の品質を分析するために、穀粒から放射される光の検出のようなものが成される。照明は、例えば穀粒を照明する方向や用いられる波長などに関してかなり様々でよい。検出は、例えば反射光、透過光もしくは散光が検出されるかどうかに関して様々でよい。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
１つ以上のこうした光学測定方法を利用した器具は、穀粒の何らかの物理的な分類を行い、かくして、一度にただ１つの穀粒が測定される。しかしながら、穀粒が測定されるたびに穀粒の供給を中断しなくてはならないのは望ましくない。よって、動く穀粒を光学的に測定可能であるとよい。このため、光学的な検出は、粒の動きが測定の邪魔をしないように成される必要が大いにある。極めて動作の速い検出器を使用して、非常にコストがかかるか、サンプルの供給が、比較的安価で動きの遅い検出器でも処理し得るように非常にゆっくりとなされて、２つの穀粒の測定の間に長い待機時間を生じることになる。
【０００７】
動作の速い検出器はまた、相当のスペースを取る周辺機器を必要とする。また、露光時間が非常に短くなくてはならないことから、検出器では、大量の光が利用可能でなくてはならず、これを満たすのが難しい。
【０００８】
運動のぼやけが生じるのを防ぐために、検出器の測定時間中、穀粒は、最低限の動き以外は動くことができない。かくして、検出器の測定時間と、穀粒が測定中に動く距離とが、サンプルが供給され得る速度を決定する。このため、普通の検出器の場合には、非常に遅い速度と、実現不可能な分析時間が必要になる。
【０００９】
測定を行っていないときに穀粒が供給され、測定中には速度が落とされるというように、供給速度を変化させるための妥協がなされ得る。しかしながら、この場合は、加速と減速とが常に行われることから、サンプルを供給する機械部品の磨耗が生じる。また、この場合には、測定中及び間にも正確な速度を維持するために制御機器が必要になる。
【００１０】
本発明の目的は、粒を光学的に測定して分析するための迅速かつ自動的な方法を提供することである。更なる目的は、上記の問題を解決し、一般的な比較的安価な検出器を用いての、高速で供給される粒の光学的な測定を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は、請求項１に係る装置並びに請求項１４に係る方法によって果たされる。本発明の更なる効果は、請求項２−１３、１５−２７により明らかである。
【００１２】
かくして、本発明は、穀物などの穀類の穀粒のような小さな粒を光学的に測定し、この粒の品質を分析するための装置であって、各々に少なくとも１つの粒を有している複数の粒サンプルを夫々サンプルホルダー内に取り、これら粒サンプルを光学測定のための場所に移動させるように適合されたサンプル供給キャリヤーと、前記各サンプルホルダーごとにミラーを有し、前記キャリヤーの動きに従うミラー支持手段と、前記粒サンプルが光学的に測定するために位置されているときに、この粒サンプルを照明するための装置と、照明された前記粒サンプルの光学測定の少なくとも１つの結果を記録するように、電磁放射線に反応する検出器と、測定が記録されているときに、粒サンプルの鏡像がミラー支持手段の運動の中心軸に映ることによって、前記粒サンプルの鏡像が検出器から見ると実質的に静止して動かないように粒サンプルを反射させる、前記ミラー支持手段のミラーとを具備する装置を提供する。
【００１３】
この設計により、粒の鏡像が静止して動かないことから、検出器における露光時間が著しく延長され得る。そして、露光時間が延長されることによって、運動によるぼやけの問題が起こらず、従来の検出器が使用され得る。かくして、粒は高速で供給され、この結果、高速の測定が可能にされる。鏡像が実質的に静止して動かないことによって、並進運動を生じず、検出器の前のミラーの運動による鏡像の回転を僅かに生じるのみである。しかしながら、この回転は、非常に小さく、僅かなもしくは全く運動のぼやけを生じさせない。
【００１４】
好ましい実施形態に係れば、サンプル供給キャリヤーは、連続的に動きながら粒サンプルを順次供給するように適合されている。
【００１５】
粒が、検出器において運動のぼやけを生じさせることなく高速で供給され得ることから、測定と測定との間の、比較的高速の供給が必要でなくなる。また、連続的な運動により、装置内の機械部品の磨耗が僅かになる。
【００１６】
検出器は、好ましくは、光学測定中に粒サンプルの像を記録する像記録手段である。像は、１回の測定に基づいて幾つかの特性に関して分析され得るような量の粒サンプルについての情報を有する。
【００１７】
本装置は、効果的には、記録された像の画像分析のための手段を更に具備し、複数の粒を有する粒サンプルの像が、この画像分析のための手段を用いて、１つの粒を各々に有する複数の像に分割可能である。この結果、幾つかの粒が、１つの像に基づいて分析され得る。新規の装置は、１つのみの粒が光学測定のために同時に供給される必要がない。
【００１８】
像記録手段は、ディジタルカメラであると都合がよい。このため、全体の粒の像が記録され、画像分析は、粒の部分を分析するために使用され得る。粒からの光の平均化が起こらず、欠点を隠すか、欠点の発見を困難にする。ディジタルカメラは、画像分析のために必要なディジタル形式の像を形成する。
【００１９】
好ましい実施形態に係れば、サンプルホルダーは、１つの粒のみを取るように適合されている。このため、粒の物理的分離が得られる。同じ粒を夫々異なる照明技術を用いる複数の分析にかける場合、物理的な分離が好ましい。
【００２０】
キャリヤーは、好ましくは、円形で、粒サンプルを供給するように回転する。このため、サンプルの容易な供給が確実にされ、供給の頻度は、容易に一定にされ得る。
【００２１】
更なる好ましい実施形態に係れば、ミラー支持手段とキャリヤーとは、中央シャフトによって相互連結され、かくして、互いの運動に従う。このため、粒サンプルの運動に正確に従うことが容易にできる。正確に従うことは、鏡像が運動の中心軸に静止して動かないようにするために重要である。
【００２２】
ミラー支持手段のミラーは複数であり、好ましくは、中心軸に対して４５°の角度で配置され、粒サンプルとこれに関連したミラーとの間の距離が、粒サンプルの鏡像が中心軸に映るように、ミラーと中心軸との間の距離と同じである。この結果、検出器は、この検出器が中心軸上でサンプルの鏡像を読み取り得るように、中心軸に直交するような向きにされる。これは、検出器をよい位置に付ける。そして、検出器は、角度の点から正確な調節が容易で、また、キャリヤーとミラー支持手段と同じスタンドを使用することができる。
【００２３】
キャリヤーのサンプルホルダーは、都合良くは、粒サンプルのためのスペースを提供する複数の凹部を有する。かくして、粒子は、粒の下に位置付けられると凹部中に入る。この結果、粒をサンプルホルダー内に取ることが容易になる。
【００２４】
好ましい実施形態に係れば、キャリヤーのサンプルホルダーは、キャリヤーの複数の貫通孔と、これら孔を通って粒が落ちるのを防ぐ下方の粒保持ディスクとを有し、かくして、孔と粒保持ディスクとは、粒サンプルのためのスペースを提供する。また、この実施形態により、粒サンプルをサンプルホルダー内に取ることが簡単になる。更に、サンプルホルダーは、空の孔を粒保持ディスクに内に配置することによって容易に空にされ得る。十分なサンプルホルダーが空の孔のところに到達すると、粒サンプルは、サンプルホルダー内の底部がなくなったことによって、サンプルホルダーから出る。
【００２５】
他の実施形態に係れば、キャリヤーの下側に大気中より低い圧力を発生させる手段を更に具備し、また、キャリヤーのサンプルホルダーは、粒サンプルが大気中より低い圧力によって付着される孔を有する。このため、孔は同時に複数の孔を取り得ないので、一度にただ１つの粒の供給が確実にされる。
【００２６】
各々に検出器を有する複数の前記光学測定のための場所が、配置され、照明は、夫々異なる分析を行うために場所ごとに変えられ得る。このため、粒は、同じ粒からの同じ選別において幾つかの異なる特性について分析される。高速の供給の代りに長時間の露光を有するこの装置の利点は、像の全記録で用いられ得る。
【００２７】
また、本発明の目的は、穀物など穀類の穀粒のような小さな粒を光学測定し、これら粒の品質を分析するための方法であって、少なくとも１つの粒を各々に有する複数の粒サンプルを、光学測定のための場所に供給する工程と、光学測定のための場所で粒サンプルの鏡像がミラーの運動の中心軸に映るように、ミラーによって粒サンプルの運動に従う工程と、粒サンプルが光学測定のために位置されると、これら粒サンプルを照明する工程と、照明された粒サンプルの光学測定の少なくとも１つの結果を、電磁放射線に反応する検出器によって記録する工程とを具備し、前記粒サンプルの鏡像は、測定が記録されているとき、粒サンプルの鏡像が運動の中心軸に映ることから、検出器から見ると実質的に静止して動かない方法によって果たされる。この方法は、迅速でかつ従来の検出器を使用できる自動的な記録技術を提供する。この結果、粒の分析のための光学測定が可能である。粒は、従来の装置が検出器内での最小の露光時間に関して要件を満たすことを困難にすることなく、高速で供給され得る。
【００２８】
この方法は、記録された像を、粒サンプルの品質を決定する画像分析によって分析する工程を更に具備する。このため、分析は、像の記録において直接的に成され、サンプルの結果は、装置によって、迅速にかつその場で得られる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
本発明の好ましい実施形態を、添付図面を参照しながら例示する。
【００３０】
図１は、サンプル供給ユニット１を示す。このユニットは、ディスク形状のサンプル供給キャリヤー２と、ミラー支持手段３とを有する。これらは、中央シャフト４によって相互に接続されて、動きが同期される。キャリヤー２は、分析される粒５を、これら粒５の画像が記録される場所に供給するように適合されている。
【００３１】
キャリヤー２の外エッジに沿って、孔の形状の複数のサンプルホルダー６が配置され、分析される粒５を取る（ｔａｋｅ ｕｐ）ように適合されている。各孔６ごとに、ミラー支持手段３上に位置された適合ミラー７が提供されており、孔６内の粒５の鏡像は、ミラー支持手段３の中心軸上に投影される。ミラー７は、平らで、中心軸に対して４５°の角度で配置されており、かくして、粒５の鏡像は９０°まで回転される。
【００３２】
キャリヤー２は、他のキャリヤー２と交換される場合には中央シャフト４から取り外し可能である。このため、キャリヤー２を交換することによって、様々な種類の穀物に適合可能である。そして、各キャリヤー２のサンプルホルダー６は、所定の種類の穀物に適合可能である。
【００３３】
キャリヤー２とミラー支持手段３とは、円形で、動作中にはサンプルを供給するために両方に共通のシャフト４を中心に回転する。サンプル供給ユニット１は、図２に示されたスタンド８に回転可能なように設けられる。回転は、スタンド８に設けられたモーター９によって駆動される。
【００３４】
キャリヤー２の孔６内に入った粒５は、粒保持ディスク１０に当接し、よって、孔６から落ちないようにされる。粒保持ディスク１０は、キャリヤー２のすぐ下に配置され、孔６の底部となる。孔６は、粒５のように形作られ、かくして、孔６内の粒５の方向付けを制御する。これは、所定の測定のために穀粒、例えば米の細長い形を正確に方向付けることが望ましいような場合に適用可能である。また、この場合、像記録手段が、穀粒が全表面を露光されるように容易に設定され得ることから、像の記録が容易である。
【００３５】
連続的に回転するサンプル供給ユニット１によって供給される粒５は、全体的な供給作業中に粒保持ディスク１０上を滑動する。粒５は、光学的な測定のために供給され、続いて、粒保持ディスク１０の空の孔１１に供給される。粒５は空の孔１１を通って収集容器中に落ちる。
【００３６】
キャリヤー２は、傾斜面を形成し、これによって、キャリヤー２のサンプルホルダー６内に取られなかった粒５が、傾斜面の底部の粒保持ポケットへと落ちる。この粒保持ポケットは、キャリヤー２の外周の部分に沿って壁を形成し、粒５がキャリヤー２から滑り落ちるのを防ぐ。粒保持ポケットの壁に当接した粒５は、キャリヤー２の中心からサンプルホルダー６と同じ間隔で位置される。かくして、サンプル内の全粒は、これらが粒保持ポケットまで回転された際にサンプルホルダー６によって取られる。
【００３７】
粒５が空の孔１１を通って落ちると、サンプルホルダー６が空になる。キャリヤー２が回転されると、続いて、サンプルホルダー６が、新しい粒５を保有する粒保持ポケットに到達する。２つの粒５が同じく１つの孔６中に入らなくてはならないときは、これらの一方は、孔６からはみ出す。サンプルホルダー６は、はみ出た粒５を孔６から掃うブラシを通る。粒５は、砕かれると、２つの粒５が同じ１つの孔６内に保有され得るように小さくなる。この問題は、光学測定の記録において解決されるもので、以下に、更に説明する。
【００３８】
粒５を照明する光源を構成する、照明手段１２の形の照明装置は、様々の方法で設けられ得る。これは、表面に設けられた発光ダイオードの形でキャリヤー２の各サンプルホルダー６の隣に、もしくは、スタンド８のどこかに設けられ得る。光源は、例えばキャリヤー２の下に設けられ、この場合は、透過光が測定される。または、光源は、検出器の隣に配置されてもよく、この場合は、反射光が測定される。照明手段１２は、言うまでもなく、ある種のレーザもしくはガス放電ランプのような、何らかの光源でよい。
【００３９】
検出器１３は、この検出器１３が光を取り込む（ｔａｋｅ ｉｎ ｌｉｇｈｔ）方向とミラー支持手段３のミラー７の平面との間の角度が、ミラー７の平面と中心軸との間の角度と同じになるように、スタンド８に設けられる。このような装置によって、検出器１３は、中心軸上に投影された粒５の鏡像を見るようにされている。ミラー７が中心軸に対して４５°の角度で傾斜されていることから、検出器１３は、ミラー支持手段３の平面に配置され、動きに直交するように、即ちミラー７に対して４５°の角度で測定像を記録し得るような向きにされている。
【００４０】
検出器１３は、適当には、像記録手段である。この像記録手段１３は、この実施形態では、一般的なＣＣＤカメラである。記録された像は、続いて、電子形式で得られ、カメラ内で容易にディジタル形式に変換され得る。変換は、連続的な画像分析のために必要である。更に、カメラによって記録された画像は、複数の像に分けられ得る。これは、画像が幾つかの粒を有する場合に必要である。この像が複数の像に分けられた結果、各像は、１つの粒のみを有するようになる。続いて、連続した画像の分析が、各粒ごとに果たされ得る。
【００４１】
また、キャリヤー２の上で前進され得る基準ディスク（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｄｉｓｋ）１４が提供されている。この基準ディスク１４は、検出器１３によって記録される基準ディスク１４上のテストプレートを前進させるステッピングモーターによって動かされる。これは、公知の特性を有するテストプレートが、検出器１３を較正するために使用され得ることを意味する。
【００４２】
図３は、粒５の像の記録を概略的に説明している。粒５は、これら粒が像記録手段１３を通るように移動される間、キャリヤー２内の固定位置に固定されている。各粒の位置の上方に、平面ミラー７が４５°の角度で固定されており、キャリヤー２と共に回転する。粒５の中心とミラー７との間の距離（ｄ１）は、中心軸上に投影される粒５の鏡像のために、ミラー７とキャリヤー２の中心軸との間の距離（ｄ２）と同じであるのがよい。像記録手段１３までの距離は、所望の特性を得るために用いられる光学によって決定される。
【００４３】
このように、固定的に配置された像記録手段１３は、ミラー７が像記録手段１３の前にある間、キャリヤー２の中心軸上に投影された鏡像を見る。この結果、キャリヤー２とミラー７との回転速度及びサイズに応じた所定の時間中、静止鏡像となる。しかしながら、鏡像は、完全には静止しない。粒５は、これの中心の周りを回転されるが、この回転の角度は、ミラー７が像記録手段１３の前にある間にキャリヤー２が回転される角度と同じである。これは、粒５の回転が、像記録手段によって記録される像の運動のぼやけを生じさせないような小さな角度である。
【００４４】
測定データを集めるために利用可能な時間が著しく延びている。これによって、照明のための構成物とシステム内の他の構成物とは徹底的に単純にされる。時間が延びることによって、検出器１３は、粒５が検出器の前にある間に、粒５の複数の光学測定を行うことができる。
【００４５】
また、サンプルの迅速な供給と組み合わせるのがよい他の光学測定方法も、上述された解決法を利用可能である。
【００４６】
粒５を光学測定して分析する方法を更に詳しく説明する。分析される予定のサンプルが、分析器具の漏斗（ｆｕｎｎｅｌ）内に位置される。殆どの場合、サンプルは、約１２００ほどの穀粒もしくは粒（約３０ｇ）から成っているが、１５０ｇまで可能である。サンプルは、続いて、漏斗の開口部に設けられた粒保持ポケットに移される。サンプル機構が始動され、粒５は、キャリヤー２で個々に類別され、カメラ１３に供給される。ここで粒５が照明され、カメラ１３は照明された粒５の像を記録する。キャリヤー２は、連続的な動きで回転されるが、上述されたようなミラー維持手段３の配置によって、うごきのぼやけを生じることなく、比較的長時間の露光をカメラ１３内で利用することができる。続いて、粒５は、粒５を様々の照明で記録する更なるカメラ１３にこれがある場合には、供給される。粒５の必要な像全てが記録された後、サンプル供給ユニット１は、粒の供給を続け、続いて、これら粒は、収集容器中に放出される。記録された像は、粒５の欠陥、例えば、変色、損傷などを発見するために分析される。サンプルの分析が完了すると、約１分後に、この結果がディスプレイに示され、操作者は収集容器を空にする。この結果は、夫々異なるタイプの損傷を有する粒の量と、良いとされた粒の量との統計量（ｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ）を示す。
【００４７】
上述の実施形態の多数の変形例が、請求項によって規定された本発明の範囲内で実施可能であることが、理解されるだろう。例えば、キャリヤーのサンプルホルダーは、他の方法で設計されてもよい。光波、粒が通って落ちない位に小さくてもよい。この場合、粒保持ディスクは、大気中より低い圧力をキャリヤーの下面に発生させるファンに置き換えられてもよい。粒は、続いて、大気中より低い圧力により孔中に吸引されて固定される。粒は、孔が小さいことによってこれを通って落ちることがない。また、２つの粒は１つの孔に保有されない。これは、孔が粒よりも小さく、大気中より低い圧力によって、粒は、この中心が孔全体に保有されるためである。粒が光学測定を終えると、キャリヤーは、キャリヤーの下の大気中の低い圧力がないところを通る。そして、粒は、傾斜されたキャリヤーから収集容器の中へと落ちる。
【００４８】
また、キャリヤーのサンプルホルダーはキャリヤー内の凹部として形成されてもよい。粒は、こうした凹部に入り、このように光学測定に進められる。続いて、サンプルホルダーは、粒が掃出されるかブラシで外に出されることによって、空にされる。
【００４９】
代わって、幾つかの粒の像に分割可能なことから、数個の粒を有する粒サンプルがキャリヤーに供給されてもよい。そして、数個の粒は、同時に測定されるが、像は、１つの粒を各々に有する複数の像に分割されなくてはならない。
【００５０】
更なる代わりの実施形態に係れば、ミラー支持手段のミラーは、中心軸に対して様々の角度で配置され得る。像記録手段は、従って、粒の鏡像が像記録手段から見ると静止して動かないように、移動されなくてはならない。
【００５１】
光学測定は、何らかの感光性測定でもよい。検出器は、像を記録する必要はなく、光強度もしくは、幾つかの特性のうち何らかの平均を、例えば拡散反射光と比較された直接反射光などを所定のポイントで記録してもよい。像記録手段は、例えば、他のタイプのディジタルカメラ、例えばＣＭＯＳカメラでもよい。
【００５２】
更に、サンプル供給ユニットは、連続的な運動中に回転する必要がなく、これは、殆どの場合、機械部品に微々たる磨耗を起こすのみであることから、効果的である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るサンプル供給キャリヤーとミラー支持手段との概略図である。
【図２】図１のキャリヤーと手段とが設けられ得るスタンドの概略図である。
【図３】粒の鏡像の記録を説明した概略図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際公開パンフレット】
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【国際調査報告】
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