(57)【要約】初期合格基準および／または不合格基準を用い、前記初期合格基準および／または不合格基準は低い確率Ｄによってのみ誤りであると認められる、装置の最大許容（ビット）誤り率ＢＥＲlimitに対する（ビット）誤り率ＢＥＲの試験方法。前記装置の出力のｎｓビットを測定し、それによりこれらのｎｓビットのうちｎｅ個の誤りビットを検知する。ＰＤhighおよび／またはＰＤlowを求め、ＰＤhighは予想最悪尤度分布、ＰＤlowは予想最良尤度分布であり、これらはそれぞれ、測定されたｎｅ個の誤りビットを確率Ｄで含む。ＰＤhighおよびＰＤlowの誤りビットの平均数ＮＥhighおよびＮＥlowを求める。ＮＥhighおよびＮＥlowをＮＥlimit  ＝  ＢＥＲlimit  ｘ  ｎｓと比較する。ＮＥlimitがＮＥhighよりも大きい、あるいはＮＥlimitがＮＥlowよりも小さい場合、試験を停止する。
2004524783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
初期合格基準を用いた、装置の最大許容誤り率ＢＥＲlimitに対する誤り率ＢＥＲの試験方法であって、前記初期合格基準は低い確率Ｄ1によってのみ誤りであると認められ、
前記装置の出力のｎｓビットを測定し、それによりこれらのｎｓビットのうちｎｅ個の誤りビットを検知するステップ、
固定数のビットサンプル中の誤りビット数ｎｉの分布を与える尤度分布をＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）（ＮＥは誤りビットの平均数）とし、以下の式
【数１】
2004524783.tif 000017
（式中、ＰＤhighは、測定されたｎｅ個の誤りビットを確率Ｄ1で含む、予想最悪尤度分布）からＰＤhighを求めるステップ、
前記予想最悪尤度分布ＰＤhighの誤りビット平均数ＮＥhighを求めるステップ、
ＮＥhighをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較するステップ、
ＮＥlimitがＮＥhighよりも大きい場合、前記試験を停止し、前記装置が前記試験に初期合格したと判断するステップ、および
ＮＥlimitがＮＥhighよりも小さい場合、前記試験を継続し、ｎｓを増加させるステップを含む、装置の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項２】
前記尤度分布ＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）がポアッソン分布であることを特徴とする請求項１に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項３】
ｎｅ＝０に対する未定義状態を回避するため、人工的エラーｎｅ＝１で前記試験を開始し、第１のエラーが発生した時にｎｅを増加させないことを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項４】
初期不合格基準を用いた、装置の最大許容誤り率ＢＥＲlimitに対する誤り率ＢＥＲの試験方法であって、前記初期不合格基準は低い確率Ｄ2によってのみ誤りであると認められ、
前記装置の出力のｎｓビットを測定し、それによりこれらのｎｓビットのうちｎｅ個の誤りビットを検知するステップ、
固定数のビットサンプル中の誤りビット数ｎｉの分布を与える尤度分布をＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）（ＮＥは誤りビットの平均数）とし、以下の式
【数２】
2004524783.tif 000018
（式中、ＰＤlowは、測定されたｎｅ個の誤りビットを確率Ｄ2で含む、予想最良尤度分布）からＰＤlowを求めるステップ、
前記予想最良尤度分布ＰＤlowの誤りビット平均数ＮＥlowを求めるステップ、
ＮＥlowをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較するステップ、
ＮＥlimitがＮＥlowよりも小さい場合、前記試験を停止し、前記装置が前記試験に初期不合格したと判断するステップ、および
ＮＥlimitがＮＥlowよりも大きい場合、前記試験を継続し、ｎｓを増加させるステップを含む、装置の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項５】
前記尤度分布ＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）がポアッソン分布であることを特徴とする請求項４に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項６】
ｎｅ＜ｋ（ｋは少ないエラー数）に対する未定義状態を回避するため、ｎｅがｋよりも小さい限り、試験を停止しないことを特徴とする請求項４または５に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項７】
ｋが５であることを特徴とする請求項６に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項８】
さらなる初期合格基準を用い、前記初期合格基準は低い確率Ｄ1によってのみ誤りであると認められ、
固定数のビットサンプル中の誤りビット数ｎｉの分布を与える尤度分布をＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）（ＮＥは誤りビットの平均数）とし、以下の式
【数３】
2004524783.tif 000019
（式中、ＰＤhighは、測定されたｎｅ個の誤りビットを確率Ｄ1で含む、予想最悪尤度分布）からＰＤhighを求めるステップ、
前記予想最悪尤度分布ＰＤhighの誤りビット平均数ＮＥhighを求めるステップ、
ＮＥhighをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較するステップ、
ＮＥlimitがＮＥhighよりも大きい場合、前記試験を停止し、前記装置が前記試験に初期合格したと判断するステップ、および
ＮＥlimitがＮＥhighよりも小さい場合、前記試験を継続し、ｎｓを増加させるステップをさらに含むことを特徴とする請求項４〜７のいずれかに記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項９】
ｎｅ＝０に対する未定義状態を回避するため、人工的エラーｎｅ＝１で前記試験を開始し、第１のエラーが発生した時にｎｅを増加させないことを特徴とする請求項８に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項１０】
前記誤った初期合格基準の前記確率Ｄ1と、前記誤った初期不合格基準の前記確率Ｄ2とが等しい（Ｄ1＝Ｄ2）ことを特徴とする請求項８または９に記載の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【請求項１１】
さらなる初期合格基準を用い、前記初期合格基準は低い確率Ｄ1によってのみ誤りであると認められ、
固定数のビットサンプル中の誤りビット数ｎｉの分布を与える尤度分布をＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）（ＮＥは誤りビットの平均数）とし、以下の式
【数４】
2004524783.tif 000020
（式中、ＰＤhighは、測定されたｎｅ個の誤りビットを確率Ｄ1で含む、予想最悪尤度分布）からＰＤhighを求めるステップ、
予想最悪尤度分布ＰＤhighの誤りビット平均数ＮＥhighを求めるステップ、
ＮＥhighをＮＥlimit, M＝ＢＥＲlimit・Ｍ・ｎｓ（Ｍ＞１）と比較するステップ、
ＮＥlimit, MがＮＥhighよりも大きい場合、前記試験を停止し、前記装置が前記試験に初期合格したと判断するステップ、および
ＮＥlimit, MがＮＥhighよりも小さい場合、前記試験を継続し、ｎｓを増加させるステップをさらに含むことを特徴とする請求項４〜７のいずれかに記載の装置の誤り率ＢＥＲの試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、携帯電話用デジタル受信機などの装置の（ビット）誤り率試験に関する。
【背景技術】
【０００２】
現状の技術水準に関し、米国特許第5,606,563号を参照する。同文献は、データチャネルのエラーレベルを測定する方法を開示しており、この方法は、前記チャネル上で搬送される一連のデータ内部でビット誤りが生じたこと（チャネルエラーイベント）を示すチャネルパリティーエラーデータを受信し、チャネルエラーイベントデータを連続的な累積時間に渡って連続的に積分し、積分されたチャネルエラーイベントデータを閾値と比較し、積分されたチャネルエラーイベントデータが閾値を超える場合に警告を示すことを含む。
【０００３】
デジタル受信機の検査は２つの部分から構成される。受信機に信号が与えられ、通常、これはあるストレス条件を伴う。受信機は、この信号を復調およびデコードしなければならない。ストレス条件により、この結果の一部は誤りである可能性がある。正しく復調されたビットに対する誤って復調されたビットの割合は、誤り率試験において測定される。ビット誤り率ＢＥＲ試験、または、例えばビット誤り試験をそれぞれ含むフレーム誤り率ＦＥＲ、ブロック誤り率ＢＬＥＲなどのより一般的な誤り率試験が、本願の対象となっている。
【０００４】
ＢＥＲ試験には時間を要する。これについて、以下の例を用いて説明する。一般的に用いられるＢＥＲ限界は、０．００１である。この検査に多用されるビット速度は、約１０ｋｂｉｔ／秒である。統計的に妥当であるためには、１０００ビットにおいて１つのエラーを観察するだけでは十分ではない。通常は、２０００００ビットにおいて約２００のエラーを観察する。このような１回のＢＥＲ試験は２０秒続く。１回のＢＥＲ試験を数回含む、受信機遮断試験などの複合試験もある。この試験において、１回のＢＥＲ試験は、異なるストレス条件を用いて１２７５０回繰り返される。この場合の合計試験時間は、７０時間を超える。２０００００ビットが付加される前に２００エラーの固定エラー数が観察された場合のみ、ＤＵＴ（被試験装置）を初期に不合格とすることが現状の技術水準において知られている（回数は上記の例のものである）。
【特許文献１】
米国特許第5,606,563号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本願の目的は、統計的妥当性を維持しつつ、試験時間が削減された装置のビット誤り率試験方法を提案することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この目的は、請求項１または請求項４に記載の特徴により解決される。
本発明によると、請求項１および４に記載の式により、予想最悪尤度分布ＰＤhighおよび／または予想最良尤度分布ＰＤlowをそれぞれ求める。これらの尤度分布から、平均数ＮＥhighまたはＮＥlowを求め、それぞれ、限界ＮＥlimitと比較する。限界ＮＥlimitが平均数ＮＥhighよりも大きい場合、または、平均数ＮＥlowよりも小さい場合、試験を停止し、それぞれ装置が初期合格あるいは初期不合格であると判断される。
従属請求項は、本発明のさらなる展開を含む。
本発明に好ましく用いられるポアッソン分布は、上記のＢＥＲに関する問題に最も良く適合している。ビット誤りが発生する仕組みは、理論的には二項分布によって説明される。しかし、この分布は、小さな数のビットおよびエラーのみにしか用いることができない。大きなビット数および低いビット誤り率については、二項分布をポアッソン分布により近似する。この前提条件（大きなビット数、低いＢＥＲ）は、ＤＵＴが完全に故障していない限り（ＢＥＲ  ０.５）、通常のビット誤り率試験（ＢＥＲ限界  ０.００１）については理論的には満たされる。本願は、ポアッソン分布の離散性に関する問題を克服することを提案する。同様の方法により、初期合格条件および初期不合格条件が導き出される。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、理論的に優良なＤＵＴの測定時間を可能な限り短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の実施の形態について説明する。
以下、数学的方法により、初期不合格条件および初期合格条件を導き出す。
この試験の性質上、すなわち、ディスクリート・エラー・イベントにより、分数のエラー＜１を用いて初期停止限界を計算する場合、初期停止条件は、有効ではないとされる。本願は、このような未定義領域において試験を行う方法についての提案を含む。これらの提案は、確実なものである（リスクを伴うものではない）。限界上にあるＤＵＴは、いかなる初期停止条件も達成しない。本願は、特定の数Ｋ（例えば２００ビット）のエラーにおいて試験を無条件に停止することを提案する。この提案は擬似パラドクス(pseudo paradox)を含むため、この擬似パラドクスを解決するための更なる提案を追加する。
【０００９】
１回の測定に基づき、この測定の信頼範囲ＣＲを導き出す。これは、高い確率で、この範囲において最終結果が見出されるという性質を持つ。
【００１０】
信頼範囲ＣＲを、特定のＢＥＲ限界と比較する。この結果から、初期不合格条件および初期合格条件を含む図が導き出される。
【００１１】
測定されたビットの有限数のサンプルｎｓを用いて最終ビット誤り率ＢＥＲを正確に測定することはできない。有限数のサンプルｎｓを適用し、エラー数ｎｅを測定する。ｎｅ／ｎｓ＝ｂｅｒは、仮のビット誤り率である。
【００１２】
１回の試験において、測定された有限数のビットｎｓを適用し、エラー数ｎｅを測定する。ｎｅを、ポアッソン分布におけるある差分確率と関連付ける。上記分布における確率および位置は、１回の試験では不明である。
【００１３】
この試験を、同一のｎｓを繰り返し適用して無限回数繰り返すことにより、完全なポアッソン分布を求める。エラーの平均数（中間値）はＮＥである。ＮＥ／ｎｓは最終ＢＥＲである。ポアッソン分布は、変数ｎｅを有し、平均値または中間値であるパラメータＮＥを特徴とする。２つの限界間においてｎｅを見出す実確率を、このような限界間を積分することにより計算する。ポアッソン分布幅は、ＳＱＲ（ＮＥ）に比例して増加する、すなわち、絶対的に増加するが、相対的に減少する。
【００１４】
１回の試験において、ｎｓ個のサンプルを適用し、ｎｅ個のエラーを測定する。結果は、それぞれ別のパラメータＮＥで特徴付けられる、異なるポアッソン分布の要素である可能性がある。これらのうち２つを以下に示す。
【００１５】
測定されたｎｅを確率Ｄ1で含む、予想最悪分布ＮＥhighは、以下の式によって示される。
【００１６】
【数５】
2004524783.tif 000003
【００１７】
この例において、Ｄ1は０.００２＝０.２％であり、ＰＤhighは変数ｎｉを有する所望のポアッソン分布である。ｎｅは測定されたエラー数である。
【００１８】
測定されたｎｅを確率Ｄ2で含む、予想最良分布ＮＥlowは、以下の式によって示される。
【００１９】
【数６】
2004524783.tif 000004
【００２０】
この例において、Ｄ2はＤ1に等しく、Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2＝０.００２＝０.２％である。
【００２１】
ＮＥlowとＮＥhighの間の範囲の意味を説明するために、図１を参照する。図１は、尤度密度ＰＤを、測定されたエラー数ｎｅの関数として示している。この例において、測定されたｎｓビットのサンプル中で実際に検知されたエラー数ｎｅは１０である。これらのエラーの尤度分布は不明である。全予想尤度分布における予想最悪尤度分布ＰＤhighおよび全予想尤度分布における予想最良尤度分布ＰＤlowが示されている。予想最悪尤度分布ＰＤhighは、０からｎｅ＝１０までの積分により、合計確率がＤ1＝０．００２になることを特徴としている。予想最良尤度分布ＰＤlowは、ｎｅ＝１０から∞までの積分により、合計確率がＤ2＝０．００２になることを特徴としている。好ましい実施の形態において、Ｄ1はＤ2に等しい、すなわち、Ｄ1＝Ｄ2＝０.００２＝０.２％である。式（１）および（２）から尤度分布ＰＤhighおよびＰＤlowを求めた後、尤度分布ＰＤhighの平均値または中間値ＮＥhighおよび尤度分布ＰＤlowの平均値または中間値ＮＥlowが得られる。中間値ＮＥlowおよびＮＥhighの間の範囲は、図１に示される信頼範囲ＣＲである。
【００２２】
測定値ｎｅが、あまり典型的でない結果である（この例においては、確率が０.２％にすぎない）場合においても、最終結果ＮＥは、信頼範囲ＣＲと呼ばれるこの範囲において見出され得る。
【００２３】
式（１）および（２）における確率Ｄ1およびＤ2は、独立していてもよいが、従属していて、かつ等しい（Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2）ことが好ましい。
【００２４】
ポアッソン分布において、ＮＥlowおよびＮＥhighが得られる。式（３）および（４）のそれぞれでは、入力はこの試験において測定されたエラー数ｎｅ、ならびに確率ＤおよびＣ＝１−Ｄである。出力は、ポアッソン分布の平均を示すパラメータＮＥである。
【００２５】
以下の例を、図１に示す（Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2）。
【００２６】
【数７】
2004524783.tif 000005
【００２７】
【数８】
2004524783.tif 000006
【００２８】
例：
エラー数：  ｎｅ＝１０
確率：  Ｄ＝０.００２    Ｃ＝０.９９８
結果：
ＮＥlow   ＝  ３.２６
ＮＥhigh  ＝  ２２.９８
分析：
１回の試験でｎｅ＝１０のエラーを測定すると、低い確率Ｄ＝０．００２では、この試験における平均エラー数ＮＥは、３.２６〜２２.９８の範囲に含まれず、または、高い確率Ｃ＝０.９９８では、この３.２６〜２２.９８の範囲に含まれる。
【００２９】
ポアッソン分布幅と同様、信頼範囲ＣＲは、ＳＱＲ（ｎｅ）に比例して増加する、すなわち、絶対的に増加するが、相対的に減少する。
【００３０】
１つの結果ｎｅから算出された信頼範囲ＣＲ全体が、特定の限界ＮＥlimitの優れた側（ＮＥlimit＞ＮＥhigh）に見出される場合、次のことが言える。高い確率Ｃでは、最終結果ＮＥは、限界ＮＥlimitよりも優れている。よって、ＮＥlimitは、以下の式により得られる。
【００３１】
【数９】
2004524783.tif 000007
【００３２】
そして、ＢＥＲlimitは装置に許容されるビット誤り率であり、無限大の数のビットサンプルｎｓを用いた理論的に長時間の試験によって得られる。
【００３３】
１つの結果ｎｅから算出された信頼範囲ＣＲ全体が、特定の限界ＮＥlimitの劣った側（ＮＥlimit＜ＮＥlow）に見出される場合、次のことが言える。高い確率Ｃでは、最終結果ＮＥは、上記限界よりも劣っている。
【００３４】
新たなサンプルおよび／またはエラーのそれぞれについて、以前の結果を全て再び利用して新たな試験を考察する。新たな試験では、ｎｓ、ｎｅおよびｂｅｒの仮のデータを全て更新する。新たな試験に関し、信頼範囲ＣＲを計算し、試験限界ＮＥlimitと照合する。
【００３５】
信頼範囲ＣＲ全体が、特定の限界の優れた側（ＮＥlimit＞ＮＥhigh）に見出されると、初期合格が認められる。信頼範囲ＣＲ全体が、特定の限界の劣った側（ＮＥlimit＜ＮＥlow）に見出されると、初期不合格が認められる。信頼範囲ＣＲが、特定の限界の両方の側（ＮＥlow＜ＮＥlimit＜ＮＥhigh）に見出される場合、ＤＵＴを初期合格にも初期不合格にもしないことは明らかである。
【００３６】
図１は、上記の条件を示している。もちろん、ＮＥlimitは固定値であり、試験中に変わらないが、ＮＥlow、ＮＥhighおよび信頼範囲ＣＲは、試験中に変わる。しかし、説明のため、図１の同じ例について、一定の限界ＮＥlimitに対する信頼範囲ＣＲの予想位置に関する３つの可能性を示す。
【００３７】
上記は、以下の式により説明することができる。
仮のビット誤り率ｂｅｒおよび仮のエラー数ｎｅから、サンプルｎｓの現在の数を計算する。
【００３８】
【数１０】
2004524783.tif 000008
【００３９】
完全な試験の後、最終ビット誤り率は、以下の式で示され、
【００４０】
【数１１】
2004524783.tif 000009
【００４１】
これは、次式における省略形である。
【００４２】
【数１２】
2004524783.tif 000010
【００４３】
初期合格は以下を規定する。
【００４４】
【数１３】
2004524783.tif 000011
【００４５】
初期不合格は以下を規定する。
【００４６】
【数１４】
2004524783.tif 000012
【００４７】
初期合格限界の式は以下の通りである。
【００４８】
【数１５】
2004524783.tif 000013
【００４９】
これは、ｂｅｒnormをｎｅの関数として示す図２の下部の曲線（ｂｅｒｎｏｒｍpass（ｎｅ，Ｃ））である。
【００５０】
初期不合格限界の式は以下の通りである。
【００５１】
【数１６】
2004524783.tif 000014
【００５２】
これは、図２の上部の曲線（ｂｅｒｎｏｒｍfail（ｎｅ，Ｄ））である。
初期合格限界は、ｎｅ＝０に対して定義されていないため（優良なＤＵＴの試験のごく初期においては通常そうである）、最初のサンプルに伴う人工的なエラーイベントを導入してもよい。最初のエラーイベントが実際に発生すると、人工的なエラーはこの実際のエラーで置き換えられる。これにより、理論的に優良なＤＵＴの測定時間を可能な限り短縮することができる。例えば、ＢＥＲlimit＝０.００１および確率Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2＝０．２％に対し、ｎｓ＝５０００である。
【００５３】
フラクショナル・エラーにおける判断の問題により、初期不合格限界は、小さなｎｅ＜ｋ（下記の例では、ｋ＝５）に対してＮＥlow＜１を用いているので、ｎｅ＝ｋにおける初期不合格限界を、垂直線を用いて上方に延長する。これにより、故障したＤＵＴは、少数の、この例においては約１０のサンプル以降は、いかなる場合でも初期不合格限界に達することが確実となる。換言すると、ｎｅがｋよりも小さい限り、試験は停止されない。
【００５４】
新たなサンプルおよび／またはエラーのそれぞれについて、以前の結果を全て再び利用して新たな試験を考察する。新たな試験では、ｎｓ、ｎｅ、ｂｅｒおよびｂｅｒnormの仮のデータを更新し、ｂｅｒnorm図にｂｅｒnorm／ｎｅ座標を挿入する。図３にこれを示す。軌線が初期不合格限界（ｂｅｒnorm（ｎｅ，Ｄ））または、初期合格限界（ｂｅｒnorm（ｎｅ，Ｃ））を横切ると、試験を停止し、この時点に基づいて初期不合格または初期合格の結論を導き出してもよい。
【００５５】
図３は、初期不合格曲線および初期合格曲線を示している。ｂｅｒnormは、エラー数ｎｅの関数として示されている。図３に示される単純例では、ＢＥＲlimit＝０.２＝１／５であり、最終ビット誤り率ＢＥＲ＝０.２５（１／４）である。試験は、第１のビットサンプルで始まり、このサンプルからエラーは検出されなかった。第２のサンプルでは第１のエラーが検出され、仮のビット誤り率ｂｅｒ＝ｎｅ／ｎｓ＝１／２であり、ｂｅｒnorm＝ｂｅｒ／ＢＥＲlimitは、１／２：１／５＝２／５となる。第２のサンプル以降のｂｅｒnormは、図３において、×印ａで示されている。第３、第４および第５のサンプルでは、さらなるエラーは発生せず、その後ｂｅｒnormは、それぞれ、５／３、５／４および５／５となり、これらは図３において、それぞれ×印ｂ、ｃおよびｄで示されている。第６のサンプルでは、新たなエラーが発生し、ｎｅは２となる。その結果、ｂｅｒ＝ｎｅ／ｎｓは２／６となり、ｂｅｒnormは１０／６となる。この状態は、図３において×印ｅで示されている。第７、第８および第９のサンプルでは、さらなるエラーは発生せず、第７、第８および第９のサンプル以降の状態は、図３において、それぞれ、×印ｆ、ｇおよびｈで示されている。第１０のサンプルでは、第３のエラーが発生している。その結果、ｂｅｒは３／１０となり、ｂｅｒnormは１５／１０となる。この状態は、図３において×印ｉで示されている。図３から分かるように、軌線は、試験の初めは初期不合格曲線と初期合格曲線との間にあるが、約４０のエラー発生後、初期不合格曲線を横切る線Ｚに収束する。したがって、４０のエラー発生後、試験を行ったＤＵＴが試験に初期不合格であると判断することができる。
【００５６】
初期停止が発生しない場合、以下の条件が有効になったとき、ＢＥＲ試験を停止してもよい。
【００５７】
【数１７】
2004524783.tif 000015
【００５８】
そして、ｎｓが十分に大きい場合は、ＤＵＴを合格とする。Ｋはエラーの最大数である。例えば、Ｋは、２００としてもよい。
【００５９】
Ｋ（例えば２００）のエラーが発生した後に、軌線が初期不合格曲線も初期合格曲線も横切らない場合、ＤＵＴを最終的に合格とすることができる。しかし、ＤＵＴがかなり良好、あるいはかなり不良である場合、Ｋ＝２００のエラーが発生するずっと前に、試験をより早く停止することができる。これにより、合計試験時間が大幅に短縮される。
【００６０】
上記実施の形態において、初期不合格とは、ＤＵＴが不合格とされ、限界よりも実際に良好である０.２％の確率が承認されることを意味する。さらに、初期合格とは、ＤＵＴが合格とされ、限界よりも実際に劣る０.２％の確率が承認されることを意味する。２００のエラーの時点で試験が停止される場合、ＤＵＴは、初期不合格条件または初期合格条件なしに任意に合格とされる。これは、図２の垂直な２００エラー線を異なる高さにおいて横切ることができ、それぞれの高さはある統計的分析に関連付けられる。限界よりも優れた（劣る）ＤＵＴを得る確率は、図５に示されている。図５の垂直線は、試験の最後での図２における位置を示している。図５の水平線はそれぞれの確率を示している。
【００６１】
本実施の形態は、試験の統計的性質および限られた試験時間に起因する擬似パラドクスを含んでおり、これを以下の例を用いて説明する。初期停止限界を拡大することにより誤った判断が行われる確率を減少させれば、初期不合格とされるＤＵＴは合格となるであろうし、またはこれとは逆に、試験を２００のエラーの時点で停止するならば、このＤＵＴは任意に不合格とされる。誤った判断が行われる確率を減少させれば、初期合格とされるＤＵＴは不合格となるであろう。
【００６２】
以下の実施の形態は、この擬似パラドクスを解決し、試験をさらに加速する。これは、初期不合格限界を維持しつつ初期合格限界を大幅に再定義することにより行われる。初期合格は今度は、ＤＵＴが合格とされ、特定の限界（Ｍ＞１）よりも実際にＭ倍劣る０.２％の確率が承認されることを意味する。これは、より劣ったＤＵＴ限界である。これにより、図４に示されるように、初期合格限界は図２において上方に移動する。図２のＢｅｒｎｏｒｍpass（ｎｅ，Ｃ）は、図４のＢｅｒｎｏｒｍｂａｄpass（ｎｅ，Ｃ）となる。Ｂｅｒｎｏｒｍfail（ｎｅ，Ｄ）は、変化しない。すると、
【００６３】
【数１８】
2004524783.tif 000016
【００６４】
であり、ＮＥlimit・Ｍ＝ＮＥlimit,M＞ＮＥhighの場合、初期合格が認められる。
【００６５】
この試験には、３つの高度なパラメータが存在する。
−誤った判断が行われる確率（提案：Ｃ＝０.２％）
−最終停止（提案：Ｋ＝２００エラー）
−不良ＤＵＴの定義（ＢＥＲlimit・Ｍ）
これらのパラメータは、互いに依存している。これらのうち２つを入力し、第３のものを計算することが可能である。試験をわかりやすくするために、誤った判断を下す確率Ｃおよび最終停止条件Ｋを入力し、不良ＤＵＴの因数Ｍを導き出すことを提案する。これは、以下のように行われる。因数Ｍにより、初期合格限界を上方に移動させ、図４に示すように、上記の例において初期不合格限界と初期合格限界が２００エラーにおいて交差するようにする。図４は、初期不合格曲線と初期合格曲線が交差する点から得られた試験限界も示しており、これはＭtestに相当する。
【００６６】
上記パラドクスを解決するための可能性は無限にある。
上記の例において、限界間の開端を最初は合格とし、初期合格限界にＭ（Ｍ＞１）を乗じ、これを初期不合格曲線と初期合格曲線が２００エラー（２００：上記の例）で交差するよう上方に移動させることにより時間を短縮した。よって、高い確率を有する不良なＤＵＴのみが不合格とされる（顧客のリスク）。
【００６７】
相補的な方法は以下の通りである。限界間の開端を不合格とし、初期不合格限界にｍ（０＜ｍ＜１）を乗じ、これを初期不合格曲線と初期合格曲線が２００エラー（２００：上記の例）で交差するよう下方に移動させることにより時間を短縮する。よって、高い確率を有する優良なＤＵＴのみが合格とされる（製造者のリスク）。
【００６８】
妥協的な方法は以下の通りである。限界間の開端を任意の比率で分割し、上部を不合格、下部を合格とする。初期不合格限界にｍ（０＜ｍ＜１）を乗じてこれを下方に移動させ、初期合格限界にＭ（Ｍ＞１）を乗じてこれを上方に移動させることにより時間を短縮する。よって、初期不合格曲線と初期合格曲線は２００エラー（２００：上記の例）で交差する。
【００６９】
任意のＤ1およびＤ2を用いることにより、図３、および図２または図４の初期不合格曲線と初期合格曲線を、試験開始前に計算することができる。試験中は、ｂｅｒnorm＝ｎｅ／ＮＥlimitのみを計算し、図３および図４について説明したように、初期合格限界および初期不合格限界と比較すればよい。したがって、試験中に集中的に計算を行う必要はない。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の方法を説明するための図
【図２】参照されたビット誤り率ｂｅｒnormを、測定されたエラーｎｅの関数として示す図
【図３】本発明の方法の第１の実施の形態を用いた測定を説明するための図
【図４】本発明の方法の第２の実施の形態を用いた測定を説明するための図
【図５】本発明の第１の実施の形態を用いた試験の最後における位置を確率の関数として表す図
【００７１】
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際公開パンフレット】
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【国際調査報告】
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