(57)【要約】本発明は、特に基部１と、２対２、３の入出力端子４−６と、２つの導電ピン１１、１２と、スルーホール３１−３４を有する２つの電気絶縁プレート２１、２２と、２つのプレート２１、２２を基部１に対して固定するための手段とを有し、導電ピンが少なくともプレート２２に対して摺動可能に取り付けられている多接点電気コネクタに関する。本発明のコネクタは基本的にさらに、２つのプレート２１、２２の間に配置された少なくとも２つの他のプレート２３、２４を有し、このプレートにはスルーホール４１−４４が形成され、このホール４１−４４内ではピンが摺動可能である。本発明のコネクタは基本的にさらに、各ピンにその静止位置の両側で２つの予備的湾曲６１−６４を与えるように、プレート２３、２４を互いにほぼ反対方向にそれぞれ移動させるための手段５０を有することを特徴とする。本発明は特に、テスト装置とチップ等の電子部品との間の電気的接続を成立させるためのコネクタに利用できる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気絶縁材料で作られた基部（１）と、少なくとも２対（２、３）の入出力端子（４−６）と、各対の入出力端子をそれぞれ相互接続する導電材料で作られた２つのピン（１１、１２）と、電気絶縁材料で作られた第１および第２プレート（２１、２２）と、第１および第２プレートを基部に対して固定するための手段とを有し、第１および第２プレートはスルーホール（３１−３４）を有し、これらのスルーホールには前記ピンが係合して前記第１および第２のプレートの両側からピン端部（３５−３７）が突出するようになっており、前記ピンの突出端部は前記２対の端子の入出力端子（４−６）を構成している、多接点電気コネクタにおいて、さらに、
少なくとも第３および第４プレート（２３、２４）と、
第３および第４プレート（２３、２４）を第１および第２プレート（２１、２２）の間に配置する手段とが設けられ、
前記第２、第３および第４プレートは、ピン（１１、１２）の断面にほぼ等しい最小値を有する断面を少なくとも有するスルーホール（３２、３４、４１−４４）を有し、それらスルーホールは、前記ピンが前記スルーホール内を摺動可能に取り付けられるように第２、第３および第４プレートに形成されており、
さらに、ピンの静止位置の両側にそれぞれ形成された２つの予備的湾曲（６１−６４）を各ピンに与えるように、第３および第４プレート（２３、２４）を互いにほぼ反対方向にそれぞれ移動させるための手段（５０）が設けられていることを特徴とするコネクタ。
【請求項２】
第１プレート（２１）に形成されたスルーホール（３１、３３）に係合する前記ピン（１１、１２）が前記第１プレート（２１）に固定されることを特徴とする請求項１に記載のコネクタ。
【請求項３】
第１、第２、第３および第４プレート（２１、２２、２３、２４）が相互に平行であることを特徴とする請求項１または２に記載のコネクタ。
【請求項４】
第２、第３および第４プレート（２２、２３、２４）のピンと接触する部分の厚さが前記ピン（１１、１２）の直径より小さいことを特徴とする請求項１−３のいずれか一項に記載のコネクタ。
【請求項５】
少なくとも第２、第３および第４プレートに形成されたスルーホールの形状が円錐台形であることを特徴とする上記請求項１−４のいずれか一項に記載のコネクタ。
【請求項６】
前記プレート（２１、２２、２３、２４）が、セラミック、プラスチック材料、シリコン、シリカのうちの１つで作られることを特徴とする上記請求項１−５のいずれか一項に記載のコネクタ。
【請求項７】
前記円錐台形のスルーホールが強エッチング法によって作られることを特徴とする請求項５または６に記載のコネクタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マイクロコンピュータチップ等の電子部品のテストに使用する装置の分野での利用で特に有利な多接点電気コネクタに関するものである。ここで、このような多接点電気コネクタは、上記のような電子部品との所定の位置での機械的に接触し、上記電子部品の入出力端子とテスト装置のそれに対応する入出力端子との間に持続的電気接続を実現するように機能する。
【０００２】
【従来の技術】
電子部品の寸法はますます小さくなっており、これらの電気的接点の寸法は５０ミクロン未満になり、隣接する２つの接点の間隔は６５ミクロン程度になっている。現在、「電子チップ」型の電子部品では、ますます小さくなる領域の表面に分布した上記のような接点の数が、数百を超えることもある。
上記のような電子部品の入出力端子をこれらのテストに使用する装置の入出力端子に接続できるようにするためには、特別な多接点電気コネクタを用意する必要がある。
【０００３】
【特許文献１】フランス国特許第ＦＲ−Ａ−２ ７４８ ８１３号
本発明者の一人によって出願された上記文献には上記の多接点電気コネクタの例が記載されており、特に上記特許文献に添付の図１に示されている。
この文献の多接点電気コネクタは、電気絶縁材料で作られた３つのプレート、すなわち上部プレート、中間プレート、下部プレートが互いに対してほぼ平行に収容された空胴部を規定する本体を有する。
【０００４】
これらプレートは、コンタクトピンを通すのに適するように配置された複数のスルーホールを有し、これらコンタクトピンは、導電材料で作られ、上部プレートと下部プレートとの間の距離より大きい長さを有し、これらの２つのプレートの両側からコンタクトピンが突出するようになっている。各コンタクトピンの一端、例えば上部プレートから突出するコンタクトピンの端部はワイヤによってテスト装置の入出力端子に接続され、コネクタ本体は、下部プレートから突出するコンタクトピンの反対側端部が、テストされる電子部品の入出力端子と機械的に接触するように移動する。
【０００５】
しかし、下部プレートから突出するコンタクトピンの上記端部が、テストされる電子部品の入出力端子と同時に確実に接触するように、ピンの長さを絶対的な精度で決定することは不可能であることは明らかである。
この目的のために、コネクタは、コンタクトピンを一方向に予備的に湾曲させるために中間プレートを少なくとも一方向に移動させるための手段をさらに有する。このようにして、コネクタ本体に応力を加えることによって、入出力端子の高さが異なることおよびコンタクトピンの長さが異なることが、コンタクトピンが多少変形することによって補償され、下部プレートから突出するピン端部を全て、テストされる電子部品の入出力端子と接触させることができる。この変形は、従来の上記特許文献に添付の図５を特に参照して詳しく説明されているように、中間プレートの移動で生じるピンの予備的湾曲によって容易に実現される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献に記載の電気コネクタは満足のいくものであるが、その構造が必ずしも益々小型化する電子部品、およびますます小さくなる空間内に製造する必要のある益々増える電気的接点を容易に収容できるとは限らない。
本発明の目的は、上記の型の多接点電気コネクタを改良することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、電気絶縁材料で作られた基部と、少なくとも２対の入出力端子と、各対の入出力端子をそれぞれ相互接続する導電材料で作られた２つのピンと、電気絶縁材料で作られた第１および第２プレートと、第１および第２プレートを基部に対して固定するための手段とを有し、第１および第２プレートはスルーホールを有し、これらのホールには前記ピンが係合して前記第１および第２のプレートの両側からピン端部が突出するようになっており、前記ピンの突出端部は前記２対の入出力端子を構成している、多接点電気コネクタにおいて、さらに、
少なくとも第３および第４プレートと、
第３および第４プレートを第１および第２プレートの間に配置する手段とを有し、
前記第２、第３および第４プレートは、前記ピンの断面にほぼ等しい最小値を有する断面を少なくとも有するスルーホールを有し、前記スルーホールは、前記ピンが前記スルーホール内を摺動可能に取り付けられるように第２、第３および第４プレートに形成され、さらに、
前記第３および第４プレートを互いにほぼ反対方向にそれぞれ移動させて、前記ピンの静止位置の両側にそれぞれ湾曲する２つの予備湾曲を各ピンに与えるための手段を有することを特徴とするコネクタを提供する。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明の上記以外の特徴および利点は添付図面を参照した以下の説明から明らかになる。しかし、以下の説明は例示に過ぎず、本発明を限定するものではない。
本発明の対象が本発明の定義の中で所定の機能を果たす「少なくとも１つの」要素を含むと述べられるとき、当該実施例はこのような要素を複数有することができることを明記しておく。
【０００９】
同様に、本発明の図示した実施例が同一機能の複数の要素を有しかつ定義の中で本発明の対象がこのような要素をある特定の数だけ必ず持たなければならないと述べられていない場合は、本発明の対象が「少なくとも１つ」の前記要素を有するとして定義することができる。
さらに、本発明の多接点電気コネクタは、上記のフランス国特許第２，７４８，８１３号に記載および図示されたコネクタの改良であることを明記しておく。従って、本発明の電気コネクタの実施例の説明は、本発明の本質的特徴を構成する手段の説明に限定する。コネクタの構造の形成に寄与する部分は、上記の従来特許によって知られているので詳細には説明しない。
【００１０】
それによれば、多接点電気コネクタは、参照番号１で概略的に示す電気絶縁材料で作られた基部と、少なくとも２対２、３の入出力端子４−５、６−７と、各対２、３の２つの入出力端子４−５、６−７をそれぞれ相互接続する導電材料で作られた２つのピン１１、１２と、電気絶縁材料で作られた第１および第２プレート２１、２２とを有する。
第１および第２プレート２１、２２はスルーホール３１−３４を有し、上記プレート２１、２２の各対のスルーホール３１−３３および３２−３４にはそれぞれピン１１、１２が通り、２つのプレートの両側からピン端部３５、３６、３７、３８が突出するようになっている。この突出した端部３５−３８が、２対の端子２、３の入出力端子４−７を構成している。
【００１１】
２つのピン１１および１２は、各スルーホール３１、３３内で第１プレート２１に固定されるように取り付けるのが有利であるが必須ではなく、一方、第２プレート２２に対して摺動するように取り付けるのは有利かつ必須であり、第２プレートに形成された各スルーホール３２、３４の断面は、ピン１１、１２の断面にほぼ等しい最小値を少なくとも有する。
【００１２】
コネクタはさらに、第１および第２プレート２１、２２を基部１に対して固定するための手段を有する。これらの固定手段は、２つのピン１１、１２が一直線に延びる静止位置にあるときすなわち湾曲変形が全くないときに２つのピン１１、１２が延びる方向（この方向は軸線７１、７２で示される）に対して、第１および第２プレート２１、２２が直角になるように、第１および第２プレート２１、２２を基部１に対して固定することが好ましい。
【００１３】
本発明の本質的な特徴によれば、コネクタはさらに、少なくとも第３および第４プレート２３、２４と、これらのプレートを第１および第２プレート２１、２２の間に、好ましくは４つのプレートが全て相互に平行になるように配置する手段とを有する。第３および第４プレートはさらに、スルーホール４１−４４を有し、各スルーホールは、ピン１１、１２ができるだけ隙間のない状態でスルーホール内を摺動できるように、ピン１１、１２の断面にほぼ等しい最小値を有する断面を少なくとも有する。
【００１４】
電気絶縁材料で作られた全てのプレートは、例えば下記の材料：セラミック、プラスチック、シリコン、シリカのうちの１つで作ることができる。
特に第２、第３および第４プレート２２、２３、２４を貫通するように形成されたスルーホールの中でのピン１１、１２の摺動を容易にするために、これらのプレートの厚さ、特にピンと接触する部分の厚さを、ピンの直径より小さくするのが有利である。
【００１５】
しかし、プレートに剛性を持たせるためには、プレートの厚さを相対的に厚くするのが有利である。ピンと接触するプレート部分の相対厚さは極めて薄くするのが有利なので、例えばスルーホールの形状を添付図面において参照符号Ｔｃで示すように円錐台形にして、円錐台形の小径部分がピンとほぼ同じ断面を有するが有利である。
プレートを貫通するように形成されたスルーホールに与えられたこの円錐台形の形状はさらに、ピンをスルーホールに係合させながらピンを案内するのに役立つ。
【００１６】
プレートがシリコン等の材料で作られるとき、これらのホールは、方法自体は公知である所謂「強エッチング」法によって作られる。
第１および第２プレートの間に第３および第４プレートを配置する手段は、例えば、コネクタ本体に対して中間プレートを取り付けるための上記の従来特許に記載の手段のようなものにすることができる。このような手段は簡単に言えばスライダのようなものである。
【００１７】
電気コネクタはさらに、第３および第４プレート２３、２４の移動を調節するための２つの矢印５１および５２で概略的に示された手段５０を有する。第３および第４プレート２３、２４のこのプレートの移動は、上記定義の軸線７１、７２で示すような真っ直ぐに延びる静止位置のピンの両側に形成された２つのほぼ反対方向の予備的湾曲６１−６２、６３−６４を各ピン１１、１２が有するように、互いに反対方向において調節されるのが好ましい。これらの手段５０は、任意の型にしてもよいが、特に「中間」プレートを移動するための上記従来特許に記載の型にすることができる。
【００１８】
上記のような多接点電気コネクタは下記のように動作および使用される。
最初に、コネクタは一方の要素Ａの端子Ａ１、Ａ２を他方の要素Ｂの２つの端子Ｂ１およびＢ２に電気的に接続するためのものであると仮定する。これらの２つの要素ＡおよびＢのいずれか一方は、例えばテスト装置によって構成され、他方は、例えばテストされる電子部品によって構成される。
【００１９】
コネクタはこれら２つの要素ＡおよびＢの間に配置され、この際、例えば要素Ａは、基準となる所定のフレーム内で静止していると仮定する。基部１によって、コネクタは、出力端子４、６が２つの端子Ａ１、Ａ２と接触するか、あるいは導電ワイヤ等の任意の適切な手段によってそれらの端子に接続されるように、要素Ａに対して保持される。このような情況では、テスト装置は常に同じものであるので、チップ等の電子部品をテストするのに、一般にワイヤによる解決策が用いられる。
【００２０】
次に、第３および第４プレート２３、２４が互いに反対方向に移動し、２つのピン１１、１２に上記定義の２つの予備的湾曲を与える。
次に、要素Ｂの端子Ｂ１およびＢ２がピン１１、１２の各端部３６、３８に対向して配置されるように要素Ｂが移動する。第２プレート２２から突出するピン１１、１２の端部３６、３８が全て同じ平面に位置するのは物理的に不可能である（同じことが要素Ｂの端子Ｂ１およびＢ２にも当てはまる）ので、端子Ｂ１およびＢ２全てがピン端部３６、３８との実際に機械的に接触することを確実にするように要素Ｂに圧力が加えられる。ピン１１、１２の突出端部の高さの差および／または要素Ｂの端子Ｂ１およびＢ２の高さの差が存在するときは、少なくとも１つのピンが添付図面において破線７３、７４で示されるようにさらに湾曲する。
【００２１】
各ピンの追加的湾曲は、ピンの２つの反対方向の予備的湾曲の間で分配される。その結果、湾曲しているピンが占める横方向空間全体が、従来特許に記載の装置の場合よりも減少し、それによって多数のピンが互いにより近くに配置された電気コネクタを提供することができ、従って、入出力端子の数がますます多くなりかつますます小さくなる空間で互いにますます近くに配置された最新の世代の電子部品をテストすることができる。
【００２２】
添付図面を参照して説明した上記実施例では、図面および図面を参照した説明を単純にするために、コネクタはピンを２つしか持たないが、実際には多数のピンを有することは理解できよう。
同様に、場合によっては第１プレート２１と第２プレート２２との間に２つより多い数のプレートを設けることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の多接点電気コネクタの一実施例の根拠となる原理を示す概略図。
【国際公開パンフレット】
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【国際調査報告】
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