(57)【要約】本発明は、チェックカード、紙幣、ラベル等のオブジェクトの偽造防止マーキングに関する。当該偽造防止マーキングは第１および第２表面を有する透明プラスチック膜（１）を含み、これにより複数の膜が第２表面に塗布される。第１表面から見た場合、前記複数の膜の色は見る角度により変化し、前記複数の膜は第２表面に設けられた吸収層、その吸収層に重なるスペーサー層（３）、およびそのスペーサー層（３）に重なるミラー層（２）から形成される。装置によるマーキングの真贋の識別性を向上させるために、本発明は吸収層を金属クラスター（４）で構成する。
2004538586.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
チェックカード、紙幣、ラベル等のオブジェクトの偽造防止マーキングであって、
第１および第２表面を有する、プラスチックで作製された透明膜（１）と、
前記第２表面上に設けられた、見る角度により色が異なって見える一連の層と、
前記一連の層を形成する、吸収層（４）、当該吸収層（４）に重なるスペーサー層（３）、および当該スペーサー層（３）に重なるミラー層（２）とを含み、
前記吸収層は金属クラスター（４）を含むことを特徴とする偽造防止マーキング。
【請求項２】
前記クラスター（４）は少なくとも一空間方向に、１００ｎｍ以下の、好ましくは５〜３５ｎｍの不連続な島を形成することを特徴とする、請求項１に記載の偽造防止マーキング。
【請求項３】
好ましくは誘電性である前記スペーサー層（３）の厚さは、前記クラスター層（４）に入射する光の吸収が最大になるように選択されることを特徴とする、請求項１または２に記載の偽造防止マーキング。
【請求項４】
前記一連の層は、３００〜８００ｎｍの波長領域における視野角４５°で、最大値が少なくとも６０％、好ましくは８０％、特に好ましくは９０％の吸収を有することを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項５】
前記クラスター（４）は、金、銀、白金、パラジウム、スズ、アルミニウム、銅、インジウムから選択される１種の金属から形成されることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項６】
前記クラスター層（４）は堅固に、または取外し自在に前記スペーサー層（３）に接着されていることを特徴とする、請求項１〜５のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項７】
前記スペーサー層（３）は堅固に、または取外し自在に前記ミラー層（１）に接着されていることを特徴とする、請求項１〜６のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項８】
前記スペーサー層（３）の厚さは４０〜２０００ｎｍであることを特徴とする、請求項１〜７のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項９】
前記スペーサー層（３）は、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム、ポリマー、特に、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリウレタン（ＰＵ）、ポリイミド（ＰＩ）、ポリスチレン（ＰＳ）またはポリメタクリレート（ＰＭＡ）、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）、ポリアクリレート（ＰＡ）、ニトロセルロース（ＮＣ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）から選択される１種の材料から作製されることを特徴とする、請求項１〜８のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１０】
前記膜（１）の膜厚は５〜１００μｍであることを特徴とする、請求項１〜９のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１１】
前記膜はポリエチレンテレフタレートから作製されることを特徴とする、請求項１〜１０のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１２】
前記膜（１）の前記第１または第２表面は、ホログラフィー効果を生じさせる構造を有することを特徴とする、請求項１〜１１のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１３】
前記ホログラフィー効果を生じさせる構造は０.１〜１.０μｍの範囲にあることを特徴とする、請求項１〜１２のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１４】
前記ミラー層（２）に接着層が塗布されていることを特徴とする、請求項１〜１３のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１５】
前記ミラー層（２）はキャリア膜（６）に塗布されていることを特徴とする、請求項１〜１４のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１６】
前記キャリア膜（６）に接着層が塗布されていることを特徴とする、請求項１〜１５のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１７】
前記接着層は感圧接着剤またはホットメルト接着剤のいずれかから作製されることを特徴とする、請求項１〜１６のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１８】
前記接着剤は剥離可能な保護膜で覆われていることを特徴とする、請求項１〜１７のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項１９】
前記第２表面に塗布された前記一連の層は、透明なマトリックスに収容された薄片の積層体であることを特徴とする、請求項１〜１８のいずれかに記載の偽造防止マーキング。
【請求項２０】
装置による、請求項１〜１９のいずれかに記載の偽造防止マーキングの識別方法であって、
ａ）所定の視野角で前記偽造防止マーキングに反射した光のスペクトルを記録するステップと、
ｂ）所定のスペクトル範囲内における、前記マーキングに特徴的な一つ以上の吸収ピークの（ｉ）位置および／または（ｉｉ）形状および／または（ｉｉｉ）強度を決定するための値を測定するステップと、
ｃ）ステップｂで測定された前記値（ｉ）〜（ｉｉｉ）を所定の対応する値と比較するステップと、
ｄ）前記比較結果により前記マーキングを識別するステップとを含む方法。
【請求項２１】
前記スペクトルは視野角５°〜５０°、好ましくは１５°〜４０°で記録されることを特徴とする、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記吸収ピークの対称性は、前記クラスター（４）により生じる吸収スペクトルの存在を検出するための特徴として使用されることを特徴とする、請求項２０または２１に記載の方法。
【請求項２３】
前記吸収ピークの絶対強度が測定されることを特徴とする、請求項２０〜２２のいずれかに記載の方法。
【請求項２４】
前記マーキングは、前記測定値（ｉ）〜（ｉｉｉ）が前記対応する値付近の所定値の範囲内に存在する場合のみ識別されることを特徴とする、請求項２０〜２３のいずれかに記載の方法。
【請求項２５】
前記マーキングに照らされた前記光は、白熱灯、レーザー、蛍光灯、発光ダイオード、またはキセノンランプによって発生することを特徴とする、請求項２０〜２４のいずれかに記載の方法。
【請求項２６】
前記マーキングは、様々な視野角での前記反射スペクトルを記録することにより識別されることを特徴とする、請求項２０〜２５のいずれかに記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、請求項１の前文に係る偽造防止マーキングに関するものである。また、本発明は装置によるそのマーキングの識別方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に、同様のマーキングが開示されている。このマーキングは基本的に、ホログラフィー的な構造を有する膜と見る角度により色が異なって見える一連の層との組み合わせで構成されている。前記一連の層は吸収層、誘電層、および反射層から成る。前記一連の層の層厚はそれぞれナノメータ領域である。提案された偽造防止マーキングは特に紙幣、チェックカード等を識別するために使用されるものである。このような用途において、装置はマーキングの真贋を確実かつ高信頼性で確認しなければならない。上記のマーキングはこの必要条件を満たしていない。
【特許文献１】
国際公開第０１/５３１１３Ａ１号パンフレット
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明の目的は、従来技術の欠点を解消する、偽造防止マーキングおよびそのマーキングの識別方法を提供することである。本発明は特に、装置によりその真贋の確認を確実かつ高信頼性で行うことが可能な偽造防止マーキングを提供するものである。本発明のさらなる目的は、そのような偽造防止マーキングの識別方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的は、請求項１および請求項２０の特徴により達成される。好ましい形態は請求項２〜１９および請求項２１〜２６の特徴に示されている。
【０００５】
本発明において、吸収層は金属クラスターを含む。これにより、装置がマーキングの真贋を確認できるという状況が効果的に得られる。金属クラスターで形成された前記吸収層は、予想外の屈折率の変化および波長に対する吸光度の変化により、非常に特徴的な吸収スペクトルを生じさせる。例えば、前記金属クラスターにより生じる特定のピーク、および／またはピークの移動、および／またはピークの形状を測定することができる。更に、前記金属クラスターは自身の極端な吸光度係数により、従来の非構造化吸収層に比べ、前記吸収スペクトルにおいて特に高いピーク強度を生じさせる。従来の非構造化吸収層において、吸収は、周知のように広い角度領域での角度にわずかに依存するだけである。本発明に係る金属クラスターを含む構造化吸収層を使用した場合、実質的に更に強い角度依存性の吸収を本質的に示すことが判明する。その結果、本発明に係る偽造防止マーキングの吸収スペクトルは予想外の様式で変化し、また異なる角度で測定したときに装置で確認することができる。前述の偽造防止マーキングの特性により、装置による確実で信頼性の高い真贋の確認が可能になる。
【０００６】
前記クラスターは少なくとも一空間方向に、１００ｎｍ以下の、好ましくは５〜３５ｎｍの不連続な島を形成することが有用であることが判明する。好ましくは誘電性である前記スペーサー層の厚さは、前記クラスター層に入射する可視光の吸収が最大になるように適切に選択される。
【０００７】
さらなる構成の特徴として、前記一連の層は、３００〜８００ｎｍの波長領域における視野角４５°で、最大値が少なくとも６０％、好ましくは８０％、特に好ましくは９０％の吸収を有すると有用であることが判明する。これにより、装置は確実かつ高信頼性で偽造防止マーキングを識別することができる。
【０００８】
前記クラスターは、好ましくは金、銀、白金、パラジウム、スズ、アルミニウム、銅、インジウムから選択される１種の金属から形成される。
【０００９】
さらに好ましい実施形態によれば、前記クラスター層はスペーサー層に堅固に接着され得るだけでなく、さらに取外し自在に前記スペーサー層に接着され得る。また、前記スペーサー層もミラー層に堅固に接着され得るだけでなく、さらに取外し自在に前記ミラー層に接着され得る。これらの提案された構成により、前記一連の層の可逆的分離が可能になる。一方、逆の場合、前記一連の層を前記提案された分離表面で可逆的に接着することも可能である。これにより、偽造防止マーキングは読み取る場合にのみ目視できるようになる。
【００１０】
前記スペーサー層に関して、その厚さは４０〜２０００ｎｍであると有用であることが判明する。前記スペーサー層は、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム、ポリマー、特に、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリウレタン（ＰＵ）、ポリイミド（ＰＩ）、ポリスチレン（ＰＳ）、ポリメタクリレート（ＰＭＡ）、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ）、ポリアクリレート（ＰＡ）、ニトロセルロース（ＮＣ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）から選択される１種の材料から作製してもよい。
【００１１】
さらに好ましい実施形態によれば、前記膜は、５〜１００μｍの厚さを有する。前記膜はポリエチレンテレフタレートから作製してもよい。特に好ましい形態として、前記膜の前記第１または第２表面は、ホログラフィー効果を生じさせる構造である。前記ホログラフィー効果を生じさせる構造は０.１〜１.０μｍの領域であり得る。この好適な実施形態により、偽造防止カラーマーキング付きのホログラフィー的な構造の膜が得られる。このマーキングの真贋は装置により識別することができる。
【００１２】
さらなる構成の特徴によれば、前記ミラー層をキャリア膜に塗布してもよい。更には、例えば積層法により前記キャリア膜に接着層を塗布することが可能である。これにより、マーキングするオブジェクト上に上記のように形成された偽造防止マーキングを貼り付けることができる。
【００１３】
前記接着層は、感圧接着剤またはホットメルト接着剤のいずれかから好都合に作製される。前記接着層は剥離可能な保護膜で効果的に覆われている。これにより、マーキングするオブジェクトへの偽造防止マーキングの固定が容易に行えるようになる。
【００１４】
さらなる好ましい実施形態によれば、前記第２表面に塗布された前記一連の層は、透明マトリックスに収容された薄片の積層体であってもよい。前記薄片の積層体は、例えば、透明なプラスチックのマトリックス中で、規則的な配列で浮動し得る。前記薄片の積層体は、透明なプラスチックのワニス中に分散された前記膜に塗布してもよい。
【００１５】
例えばクラスター層から始まる前記一連の層は、好ましくは、コーティング工程により直接前記膜の表面に塗布される。このコーティング工程において、コーティング装置を用いて前記膜を巻き取り、連続的あるいは半連続的に誘導するようにすると効果的であることが判明する。一方、不連続コーティングの場合、例えば製品上への直接的なコーティングの場合、単位価格の上昇が予測され、真空コーティング法などのコーティング法が前記連続モードで比較的経済的に用いられる。この場合、反射膜が特に適している。なぜなら、反射膜が使用された場合、特徴的な色彩効果を生じさせるために必要なミラー動作が、マーキングされる表面によって少なくともいくらか達成され得るからである。
【００１６】
前記膜と前記クラスター層との間の距離が２μｍ未満の場合、マーキングを形成する彩色が目視できるようになる。従って、前記スペーサー層の厚さは、好ましくは２０〜２０００ｎｍである。上記の三種類の方法において、構造化された形態で好都合に適用される。この構造化は、文字列、パターン（例えば、バーコード）、または図（例えば、ロゴ）の様式で表面内に存在する構造であり得る。しかしながら、浮き彫り状の構造でもよい。この場合、マーキングは異なる色で現れる。非真空ベースの方法を用いて、薄くて、好ましくはポリマーの層を塗布することにより、上記の浮き彫り状の構造のスペーサー層を簡単に作製することができる。
【００１７】
更なる構成上の特徴によれば、電磁波に対して透明な不活性保護層を前記クラスター層に塗布してもよい。この保護層は機械的損傷および汚染から保護するために使用される。しかしながら、この保護層は特徴的な色のスペクトルに対し特定の様式で影響を及ぼす。その結果、層構造の複雑さが増すため、マーキングの偽造に対するセキュリティが増す。
【００１８】
前記保護層は、電磁波に対して透過性である以下の材料のうちの１つから作製され得る：ポリマー、金属酸化物、金属亜硝酸塩、金属オキシナイトライト、金属炭化物、金属フッ化物、特に、シリコン酸化物、シリコン炭化物、亜硝酸シリコン、酸化スズ、亜硝酸スズ、酸化アルミニウム、亜硝酸アルミニウム。これらの材料は実質的に化学的に不活性で、水分に反応しない。
【００１９】
更なる構成上の特徴によれば、作製される一連の層は、少なくともある程度まで薄層技術により作製される。この場合、特にＰＶＤ、ＣＶＤ法等が適している。また、湿式化学法により、溶液を用いて一連の層を蒸着してもよい。ここまでに関しては、ＷＯ９８／４８２７５が参照され、この公報の開示内容は本明細書中に援用される。
【００２０】
さらなる好ましい実施形態によれば、一連の層で被覆された膜を加工して、接着ラベルまたはラミネートラベルを形成する。この目的で、膜は接着層または両面接着膜あるいはラミネート層の２面のうちの一方の面に設けられる。例示的な適用に従えば、このように作られた層システムは、次いで、接着層を一番下にしてシリコン処理された基板に塗布される。その後、シリコン処理された基板の安定性に影響を及ぼすことなく、層システムに所望の形状の穴を開けたり、または所望の形状を切り取ったりすることができる。次いで、余分な部分はストリッピングで除去され得、その結果、粘着性または積層可能な形態の層システムは、小出し口（dispensing edges）から自動化形態で各種製品に塗布することができる。
【００２１】
前記偽造防止マーキングは、特に、チェックカード、紙幣、例えば貴重品またはそれらの包装などのためのラベル等を加工するための膜に使用され得る。この場合、所定の膜厚のスペーサー層を、膜に接着されたミラー層に塗布する。更に、金属クラスター層をスペーサー層に塗布する。このようなマーキングは永久的に目視できるため、偽造防止性が高い。
【００２２】
偽造防止マーキングはまた、膜に接着しているクラスター層上に、それに塗布された所定の膜厚のスペーサー層およびその上に設けられたミラー層を有してもよい。このようなマーキングは膜を介して永久的に目視できるため、これもまた偽造防止性が高い。
【００２３】
前記偽造防止マーキングはまた、前記膜に接着されたミラー層および所定の膜厚のスペーサー層を有してもよい。このようなマーキングは最初は目視できない。クラスター層は、基体として、照合の目的で、あるいはマーキングを目視できるようにするために、さらなる膜に塗布され得る。それは、第１の層から所定の距離に配置され得る。
【００２４】
マーキングされるべき膜は、例えば、プラスチック（例えば、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアクリラート、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリエポキシド、ポリエチレンテレフタラートなど）または金属（例えば、アルミニウム、金、銀、銅、鉄、ステンレス鋼など）から作製される。
【００２５】
マーキングされる膜がすでに電磁波を反射する材料から作製されている場合（例えば、金属）、あるいはそのような材料で被覆されている場合、ミラー層はその膜自身で形成され得る。
【００２６】
マーキングされる膜は、被覆される前に印刷することが可能なため、マーキング層システムの光学的効果が、予測し得ない様式で印刷インキとの相互作用により影響を受ける可能性がある。本発明によれば、層が電磁波を反射し、またクラスター層が、少なくとも一部の可視スペクトルにわたって５０％未満の反射を示す場合、有利な形態であることが判明する。
【００２７】
一般的に、印刷法を使用することにより、マーキング表面上に付加的な情報を記録することができる。その結果、独自のマーキングを得ることも可能である。このようなマーキングの独自化はまた、マーキングされた表面を、より広く一般に使用されている印刷方法（レーザープリンタ、インクジェットプリンタ等）で引き続いて印刷することにより、達成することが可能である。
【００２８】
マーキングされる膜はまた、ホログラムを備えていてもよい。マーキングは、全てのマーキング層が共に、入射光の９０％未満を吸収し、そうして下側に設けられたホログラム構造が依然として容易に検出され得るように形成すると効果的であり得る。更に、上記のマーキングはまた、エンボス加工されたホログラムの表面上に直接、またはその近傍に設けてもよい。その結果、ホログラムは偽造防止性を有し、また装置により読み取り可能になる。
【００２９】
更に本発明は、装置による偽造防止マーキングの識別方法を提供する。当該方法は、ａ）所定の視野角で偽造防止マーキングに反射した光のスペクトルを記録するステップと、ｂ）所定のスペクトル範囲内におけるマーキングに特徴的な一つ以上の吸収ピークの（ｉ）位置および／または（ｉｉ）形状および／または（ｉｉｉ）強度を決定するための値を測定するステップと、ｃ）ステップｂで測定された（ｉ）〜（ｉｉｉ）の値を所定の対応する値と比較するステップと、ｄ）上記比較結果を用いて上記マーキングを識別するステップとを含む。
【００３０】
特徴的な吸収ピークを決定するための値の測定は、ステップｂに基づいて、所定のスペクトル範囲内で行われる。ここで、マーキングに特徴的な吸収ピークが予想されるスペクトル領域は、適切に選択される。この所定のスペクトル範囲内で吸収ピークが生じない場合、識別のためのさらなるステップを省略してもよい。ステップｃおよびｂにより、高い識別のセキュリティが付与される。
【００３１】
スペクトルを視野角５°〜５０°で（表面に対する垂線に基づいて）、好ましくは１５°〜４０°で記録すると有用であることが判明している。とりわけ顕著な吸収ピークが、この範囲で観測される。更に、吸収ピークの対称性を、前記クラスター層により生じる吸収ピークの存在を検出する機能として使用すると有用である。クラスター層により生じる吸収スペクトルは、部分的に明確に非対称的に形成される。
【００３２】
他の識別機能として、吸収ピークの絶対強度が測定される。これは、従来技術に基づいて作製された一連の層の吸収ピークに比べ、著しく高い。
【００３３】
マーキングに照らされた光は、白熱灯、レーザー、蛍光灯、発光ダイオード、またはキセノンランプによって生成し得る。この場合、反射光は、吸収スペクトルを測定するのに特に適している。識別のセキュリティを強化するために、様々な視野角での反射スペクトルを記録して、マーキングを識別してもよい。
【００３４】
更にマーキングの真贋を確実にするために、測定値（ｉ）〜（ｉｉｉ）が、対応する値付近の所定値の範囲内に存在する場合のみ、マーキングを識別してもよい。
【００３５】
本発明の方法のさらなる構成上の特徴については、偽造防止マーキングに関する前述の説明が参照される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下に、図面を用いて本発明の模範的な実施例について詳しく説明する。
【００３７】
図１〜図５に示すマーキングにおいて、電磁波を反射するミラー層は、参照符号２で示されている。例えば、この層はアルミニウムの薄膜であり得る。しかしながら、ミラー層２はまた、金属クラスターで形成された層でもよく、膜１に塗布される。膜１はマーキングされる膜であり得る。不活性スペーサー層は３で示されている。クラスター層は参照符号４で示されている。
【００３８】
図２および図５において、マーキングを可視化する第２膜には参照符号５が付されている。
【００３９】
図３〜図５において、偽造防止のためにマーキングされた膜を更に処理するために設けられた接着層またはラミネート層を、６で示している。入射光と比較して、特徴的な色のスペクトルを生じさせる反射光の変化を、矢印内におけるグレーの段階的な変化で、図３および図４に示している。
【００４０】
図１および図３に示すマーキングでは、クラスター層４は、スペーサー層３に塗布されている。この場合、スペーサー層３はミラー層２に塗布される。また、図１および図３において、前記ミラー層は膜１に塗布されている。
【００４１】
図４において、膜１に対してまずクラスター層４が塗布され、その後、スペーサー層３、次いで、ミラー層２、最後に接着層またはラミネート層６が塗布されている。
【００４２】
図２および図５に示すマーキングでは、光学的に透明なスペーサー層３のみがミラー層２に塗布され、後者は膜１に塗布されている。このマーキングは最初は目視できない。マーキングは、その表面に金属クラスターで形成されたクラスター層４が塗布されている第２の膜５と接触したときのみ目視可能である。次いで、透明膜５を介して観測できる色彩効果が生じる。膜５は透明材料（例えば、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアクリラート、ポリ塩化ビニル、ポリエポキシド、ポリテレフタラートなどのプラスチック）から効果的に作製される。
【００４３】
マーキングの機能は以下のとおりである。
【００４４】
白熱灯、レーザー、蛍光灯、キセノンランプなどの光源からの光が、図１、３および４に示すいずれかのマーキングに照らされると、この光はミラー層２で反射される。反射光と、金属クラスターで形成されたクラスター層４との間の相互作用により、一部の入射光が吸収される。この反射光は、パラメータ（例えば、層構造の光学定数またはクラスターの形状等）の数に依存する特徴的なスペクトルを有している。このマーキングは色付きで現れる。彩色は、マーキングの真贋の偽造防止の確認としての役割を果たす。このように得られた色の印象は、角度に依存し、裸眼で大まかにでも、反射モードで動作する読み取り機（好ましくは、分光計）でも、認識することができる。このような読み取り機は、例えば、二つの異なる角度からのマーキングの彩色を記録することができる。この記録は、適切に傾斜させた、適切に接続された二つの光源による検出器を用いて、あるいは二つの異なる角度から照射されたサンプルをその二つの対応する角度から測定する二つの読み取り機を用いて行われる。
【００４５】
相互作用を起こすために維持するパラメータに関しては、ＵＳ５，６１１，９９８およびＷＯ９９／４７７０２が参照され、これらの公報の開示内容は本明細書に援用される。
【００４６】
図６Ａは、連続的に被覆された偽造防止マークが付された膜を示している。この膜は部分的にロールに巻き上げられている。
【００４７】
図６Ｂは、偽造防止マーキングを用いた、図６Ａの膜から作製された粘着ラベルの製造方法を示している。
【００４８】
図７に示す図１の偽造防止マーキングのスペクトルは、Ｐｅｒｋｉｎ  Ｅｌｍｅｒ社のラムダＵＶ／ＶＩＳ分光計を用いて、反射不活性（reflection insert）を用いて測定された。図７は、より長い波長のピークは、視野角が大きくなるにつれ短波長の方へ移動することを示す。また、使用されている銀のクラスターの特徴である静止ピークも観測され得る。視野角が４５°未満の場合、このマーキングのピークの強度は約１ＯＤであり、これは９０％の吸光度に相当する。
【００４９】
図８は、図７のスペクトルの定量的評価を示しており、各々の場合において、二つの異なる波長で評価している。考察される波長において、変化した吸光度は視野角の関数として観測される。吸収パターンはマーキングの真贋に特徴的である。
【００５０】
図９および図１０は、金属層で形成された従来の吸収層と比較した場合の、本発明に係るクラスター層の違いを示している。図９に示されているスペクトルは、ポリエチレンテレフタレートから作製された膜厚７５μｍの膜を有する偽造防止マーキングについて測定したものである。この膜に膜厚１００ｎｍの金層がミラー層として塗布されている。ミラー層はＭｇＦ2から作製された膜厚２７０ｎｍのスペーサー層で覆われている。そして、スペーサー層は、金属金クラスターで作製された膜厚０〜１２ｎｍの層で覆われている。上記各層は真空コーティング法により膜に塗布された。いずれの場合も、視野角１８°で測定された。
【００５１】
比較として図１０に上記パラメータを用いて計算された、金で作製された吸収層の吸収スペクトルを示す。
【００５２】
図９および図１０を比較すると、この場合、特に膜厚２．５〜５ｎｍの範囲のクラスター層が高波長へ移動するという特徴的な吸収ピークを示すということが分かる。この吸収ピークは大幅に広くなり、膜厚５ｎｍのクラスター層の場合、非対称形になる。クラスターの厚さが８ｎｍの場合、吸収ピークは計算されたスペクトルにおける波長と同じであるが、まだかなり高めである。さらに大きい膜厚のクラスター層では、吸収ピークは計算されたスペクトルの吸収ピークと同様である。これは、膜厚約１２ｎｍで始まる図に示す例において、クラスターのコーティング密度が非常に高いため、形成されたクラスター層が少なくとも光学的に連続した金属層のように作用しているという事実を示している。
【００５３】
本発明で提案された偽造防止マーキングは、装置により高い信頼性で識別することができる。この目的のために、マーキングは、例えば、白熱灯で照射される。マーキングから反射された光の吸収スペクトルは、例えば視野角１８°で測定される。この目的のために、５００〜７００ｎｍの間のスペクトル域が有利に観測される。そこで生じる可能性のある吸収ピークの絶対強度が決定される。更に、最大のスペクトル位置が決定される。さらに、吸収ピークの対称性は、所定の基準点を用いて決定される。決定された値は、マーキングを識別するために、標準を用いて決定された所定の値の範囲と比較される。
【００５４】
識別の確実性を高めるために、上記測定を異なる視野角で行ってもよい。
【００５５】
図１１Ａは、装置評価の分析を実証するための５本の縞のサンプル（アルミニウムのミラー上に形成された酸化アルミニウムのスペーサー層の上に金クラスターが形成されている）を示している。約４５°で、５本全ての縞は青みがかった色を示す。縞間の違いは、グレーステップモード（ｇｒａｙ−ｓｔｅｐ  ｍｏｄｅ）では、縞が殆どあるいは全く目視できないかどうかである。
【００５６】
図１１Ｂは、図１１Ａの５本の縞を測定したスペクトルを示しており、これらのスペクトルは手動操作の２チャンネル分光計を用いて測定された。縞３のデータがオリジナルとして保存されている場合、縞１、２、４、および５は、前記２チャンネル分光計からのデータのソフトウェア補助による評価において、偽造物として検出される。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】連続的に見える第１マーキングの概略断面図
【図２】連続的に見えない第１マーキング、および確認するために適した、あるいは視認性を与える第２膜の概略断面図
【図３】積層可能な、あるいは接着可能な連続的に見える第１マーキングの概略断面図
【図４】積層可能な、あるいは接着可能な連続的に見える他の第２マーキングの概略断面図
【図５】連続的に見えない、積層可能な、あるいは接着可能な第１マーキング、および確認するために適した、あるいは、視認性を与える第２膜の概略断面図
【図６Ａ】クラスターマーキングのストリップコーティングを示す図
【図６Ｂ】図６Ａのストリップから作製した接着ラベルを示す図
【図７】様々な視野角での偽造防止マーキングの吸収スペクトルを示す図
【図８】様々な波長での図７に示すスペクトルの定量的評価を示す図
【図９】異なる膜厚の金属クラスター層を用いた偽造防止マーキングの吸収スペクトルを測定したものを示す図
【図１０】異なる膜厚の金属層を用いたマーキングの吸収スペクトルを計算したものを示す図
【図１１Ａ】目ではっきりと識別することができない、アルミニウム基板に塗布された５本の偽造防止マーキングを示す図
【図１１Ｂ】図１１Ａに示す５本の偽造防止マーキングの吸収スペクトルを測定したものを示す図
【符号の説明】
【００５８】
１  膜
２  ミラー層
３  スペーサー層
４  クラスター層
５  第２膜
６  接着層
【図７】
2004538586.tif 000003
【図８】
2004538586.tif 000004
【図９】
2004538586.tif 000005
【図１０】
2004538586.tif 000006
【図１１Ｂ】
2004538586.tif 000007
【国際公開パンフレット】
2004538586.tif 000008
2004538586.tif 000009
2004538586.tif 000010
2004538586.tif 000011
2004538586.tif 000012
2004538586.tif 000013
2004538586.tif 000014
2004538586.tif 000015
2004538586.tif 000016
2004538586.tif 000017
2004538586.tif 000018
2004538586.tif 000019
2004538586.tif 000020
2004538586.tif 000021
2004538586.tif 000022
2004538586.tif 000023
2004538586.tif 000024
2004538586.tif 000025
2004538586.tif 000026
2004538586.tif 000027
2004538586.tif 000028
2004538586.tif 000029
2004538586.tif 000030
2004538586.tif 000031
2004538586.tif 000032
2004538586.tif 000033
2004538586.tif 000034
2004538586.tif 000035
2004538586.tif 000036
2004538586.tif 000037
2004538586.tif 000038
2004538586.tif 000039
【国際調査報告】
2004538586.tif 000040
2004538586.tif 000041
2004538586.tif 000042
2004538586.tif 000043