(57)【要約】負荷１０およびインタフェース８０に通電するコマンドモジュール５０に結合された電子制御装置３０によって命令されたスイッチ２０によって、通電された複数の負荷１０を呈する、冷蔵庫、冷凍庫などの家電機器用診断システム。システムは、電圧計６０と制御ユニット７０とを備える。電圧計６０は、スイッチ２０が開放されている負荷１０の入力の第１の電圧Ｖｏｆｆと、それぞれのスイッチ２０が閉鎖されている各負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐとを測定する。制御ユニット７０は、第１の電圧Ｖｏｆｆおよび各第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐの値を処理し、スイッチ２０および該スイッチのそれぞれの電子制御装置３０のコマンドモジュール５０における故障の存在をインタフェース８０に示し、任意の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐが第１の電圧Ｖｏｆｆの値以上の値を示す場合に、テストのシーケンスを中断する。
2006509176.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の負荷（１０）を呈するタイプの冷蔵庫、冷凍庫などの家電機器用診断システムであって、前記複数の負荷（１０）が、コマンドモジュール（５０）に動作可能に結合された各電子制御装置（３０）で命令されるスイッチ（２０）によって通電され、コマンドモジュール（５０）が、負荷（１０）およびコマンドモジュールに結合されているインタフェース（８０）を通電し、前記家電機器用診断システムが、電圧計（６０）および制御ユニット（７０）を備え、前記電圧計（６０）は、スイッチ（２０）が開放されている負荷（１０）の入力の第１の電圧（Ｖｏｆｆ）と、それぞれのスイッチ（２０）が閉鎖されている各負荷（１０）の入力の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）とを測定するために、各負荷（１０）の入力に動作可能に結合され、前記制御ユニット（７０）は、コマンドモジュール（５０）および電圧計（６０）に動作可能に結合され、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）および各第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）の値を電圧計（６０）から受け取り、かつ該電圧の値を処理するように、選択的に作動されるテストのシーケンスに従って操作されて、任意の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）の値以上の値を示す場合に、コマンドモジュール（５０）、スイッチ（２０）、および該スイッチのそれぞれの電子制御装置（３０）によって画定される要素の少なくとも１つにおける故障の存在をインタフェース（８０）に示すことを特徴とする、診断システム。
【請求項２】
制御ユニット（７０）が、それぞれのスイッチ（２０）が同時に閉鎖される、２個の負荷（１０）の各対の第２の電圧（Ｖｒｅｓ＿Ｖｌａｍｐ、Ｖｌａｍｐ＿Ｖｃｏｍｐ）の値を、順次さらに処理するために操作され、各負荷（１０）の任意の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）未満の制限電圧（Ｖｌｉｍ）以上の値を示す場合、およびスイッチ（２０）が同時に閉鎖されている２個の負荷（１０）の各対の第２の電圧（Ｖｒｅｓ＿Ｖｌａｍｐ、Ｖｌａｍｐ＿Ｖｃｏｍｐ）が、コマンドモジュール（５０）の作動手段がテスト中でない前記２個の負荷（１０）のうちの一方の第２の電圧未満の処理電圧（Ｖｐｒｏｃ１、Ｖｐｒｏｃ２）以上の値を示す場合、コマンドモジュール（５０）、スイッチ（２０）、および該スイッチのそれぞれの電子制御装置（３０）によって画定される要素の少なくとも１つにおける故障の存在をインタフェース（８０）に示し、テストのシーケンスを中断することを特徴とする、請求項１に記載の診断システム。
【請求項３】
制限電圧（Ｖｌｉｍ）が、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）の値の約８７．５％に相当する値を有していることを特徴とする、請求項２に記載の診断システム。
【請求項４】
処理電圧（Ｖｐｒｏｃ１、Ｖｐｒｏｃ２）が、２つの負荷（１０）から選択された前記負荷（１０）の第２の負荷の電圧値（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）の約８７．５％に相当する値を有し、前記２つの負荷（１０）は、スイッチ（２０）が同時に閉鎖されており、また該２つの負荷のコマンドモジュール（５０）の作動手段が、テスト中でないことを特徴とする、請求項２に記載の診断システム。
【請求項５】
制御ユニット（７０）が、コマンドモジュール（５０）、スイッチ（２０）、および電子制御装置（３０）によって画定された要素のいずれかの動作における故障の存在を、インタフェース（８０）に示した後に、冷却機器の通常動作にコマンドモジュール（５０）を戻すことを特徴とする、請求項１または２に記載の診断システム。
【請求項６】
制御ユニット（７０）が、電圧計（６０）で測定された第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）より低く、かつ第１の電圧が、基準電圧（Ｖｒｅｆ）より高い場合に、負荷（１０）における故障の不在をインタフェース（８０）に示し、前記基準電圧（Ｖｒｅｆ）は、その電圧値を越えると、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）が、負荷（１０）の正しいな動作状況に強制的に置かれる電圧値に相当することを特徴とする、請求項１または２に記載の診断システム。
【請求項７】
制御ユニット（７０）が、第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）を相互に比較し、第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が等しいかほぼ等しいことを検証した後にのみ、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）を基準電圧（Ｖｒｅｆ）と比較することを特徴とする、請求項６に記載の診断システム。
【請求項８】
制御ユニット（７０）は、それぞれの第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が、それぞれのスイッチ（２０）が閉鎖されている各負荷（１０）の入力の最低の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）より低い最小電圧（Ｖｍｉｎ）より高い場合に、負荷（１０）のいずれかにおける故障の存在をインタフェース（８０）に示すことを特徴とする、請求項６に記載の診断システム。
【請求項９】
最小電圧（Ｖｍｉｎ）が、最低の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）の値の約７５％に相当する値を有していることを特徴とする、請求項８に記載の診断システム。
【請求項１０】
制御ユニット（７０）が、前記第２の電圧を相互に比較し、前記第２の電圧が等しくないことを検証した後にのみ、各第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）を最小電圧（Ｖｍｉｎ）と比較することを特徴とする、請求項８に記載の診断システム。
【請求項１１】
電圧計（６０）が、信号調整回路（６１）を備え、前記信号調整回路（６１）が、それぞれのスイッチ（２０）の上流側で各負荷（１０）の入力に接続されて、各負荷（１０）の前記入力から制御ユニット（７０）に電圧信号を供給することを特徴とする、請求項１に記載の診断システム。
【請求項１２】
負荷（１０）の入力の電圧信号が、制御ユニット（７０）に接続されたＡＤコンバータ（６２）に送られることを特徴とする、請求項１１に記載の診断システム。
【請求項１３】
制御ユニット（７０）は、任意の第２の電圧（Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐ）が、第１の電圧（Ｖｏｆｆ）の値以上の値を示す場合に、テストのシーケンスを中断することを特徴とする、請求項１に記載の診断システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異なる負荷の動作が冷却機器に搭載されているコマンドモジュールによって画定されている、冷蔵庫、冷凍庫、およびエアコンなどの家電機器の動作における故障原因を識別するための診断システムに関する。本発明は、特に、家電機器に内蔵されており、かつコマンドモジュールと動作可能に結合される診断システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
家電機器において、特に、解凍抵抗、ファン、ランプ、およびコンプレッサなどの様々な装置や負荷を備えている冷蔵庫および冷凍庫によって画定されている冷却機器において、その動作は、電子コマンドモジュールによって制御される。電子コマンドモジュールは、所望の動作状況に応じて、機器の様々な負荷を通電するスイッチ（通常リレー）を作動させまたは非作動にさせるようにプログラミングされている。これらの機器において、コマンドモジュールおよび様々な電子制御装置は、通常の直流電源によって通電され、これはまた、機器に通電する電源システムによって通電される。
【０００３】
ユーザの住居に既に設置されている上記機器の動作における、様々な故障の迅速かつ確実な識別は、常に製造業者の関心事であった。
【０００４】
機器の動作における故障がユーザに気付かれ、正規の技術アシスタンスに通知されると、問題を識別し、かつ損傷を受けた部品を修理または交換することによってその問題を解決することが、技術アシスタンスの責任である。操作者によって引き起こされても、または機器によって引き起こされても、故障の迅速かつ確実な識別がなされるべき診断段階時に通常生じる欠点は、コマンドモジュールの不適切な交換や、解凍抵抗、ファン、ランプ、およびコンプレッサなどの機器の回路の様々な負荷の不適切な交換に応じて、製造業者およびユーザに相当な損失をもたらす。
【０００５】
診断にかかる時間を削減し、かつ技術者によるエラーを削減するために現在使用されているあるシステムは、診断装置を備える。診断装置は、各機器モデルの負荷をシミュレーションするように開発されており、また機器のコマンドモジュールに診断装置を結びつける担当技術者によって持ち運ばれなければならない。そして診断装置は、関連する負荷の動作状況をシミュレーションし、コマンドモジュールを形成する手段の状況をチェックするような方法で、後続の手順の所定のシーケンスに従って技術者によって操作される。
【０００６】
この知られているタイプのシステムによって、診断する担当技術者は、診断装置に所定のシーケンスに従って各チェック工程を実行することを命令し、かつ診断装置に表示され、コマンドモジュールの部品（スイッチなど）の各々についてテストされた動作状況を示す通常光サインである表示を視覚的に観察し、前記部品のうちの１つに生じた故障と、それを交換する真の必要性を検証することが可能になる。
【０００７】
それにもかかわらず、このタイプの診断システムは、不要に多い割合の診断エラーを回避するために、確実な診断を提供するのに熟練した注意深い操作者を必要とする。
【０００８】
上記のシステムの別の欠点は、コマンドモジュールの動作状況を示すにすぎず、機器の電気回路の様々な負荷の動作条件をチェックするためには、他のテスト手順を必要とするという点によるものである。
【０００９】
診断装置を利用する解決策の更なる欠点は、担当技術者が、様々な機器モデルについて特定の診断装置を持ち運ぶ必要があるという点である。損傷を受けた機器のチェックが、適切な診断装置なしで不必要に高い頻度で実行されることによって、コマンドモジュールを交換するという不必要な命令を招くことになる。
【００１０】
また、一部の機器、装置、およびデバイスが備えているような、欠陥部品を正確に表示する自己診断の高性能の解決策が知られている。しかしながら、電圧値を直接検出するというこれらの解決策は、比較的高価であり、機器の最終コストを上げることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述したような知られている欠点ゆえに、本発明の包括的な目的は、コマンドモジュールだけではなくコマンドモジュールによって通電されている負荷においても、動作の故障の迅速、容易、かつ確実な識別を可能にするために、冷蔵庫、冷凍庫、またはエアコンなどの家電機器に内蔵される診断システムを提供し、担当技術者が、特殊な装置を持ち運ぶ必要がないようにすることであり、この特殊な装置は、コマンドモジュールに結合されなければならず、かつ観察および考慮される様々なテストパラメータの解釈の結論を出すための根拠にされる。
【００１２】
本発明のさらなる目的は、比較的安価な簡単な構成を呈する、上記のような機器に内蔵される診断システムを提案することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本診断システムは、コンプレッサ、解凍抵抗、ランプなどの負荷を備える冷蔵庫、冷凍庫、およびエアコンなどの冷却機器に向けられ、負荷は、コマンドモジュールに動作可能に結合されるそれぞれの電子制御装置によって命令されるスイッチによって通電され、コマンドモジュールは、スイッチおよびコマンドモジュールに結合されているインタフェースに通電する。
【００１４】
本発明の第１の態様によると、診断システムは、電圧計および制御ユニットを備え、電圧計は、スイッチが開放されている負荷の入力の第１の電圧と、それぞれのスイッチが閉鎖されている各負荷の入力の第２の電圧とを測定するために、負荷の各１つの入力に動作可能に結合され、制御ユニットは、コマンドモジュールおよび電圧計に動作可能に結合され、第１の電圧および各第２の電圧の値を電圧計から受け取り、これら電圧の値を処理するために選択的に作動されるテストのシーケンスに従って動作され、任意の第２の電圧が第１の電圧の値以上の値を示す場合に、コマンドモジュール、スイッチ、およびスイッチのそれぞれの電子制御装置によって画定された要素のうちの少なくとも１つにおける故障の存在を、インタフェースに示す。この場合、制御ユニットは、テストのシーケンスを任意に中断可能である。
【００１５】
本発明は、本発明を実行可能な方法に向けられる添付の図面を参照して以下に説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図面に示されており、かつ上記の通り、本診断システムは、様々な負荷１０を呈する冷凍庫などの家電機器に適用される。負荷１０は、例えばコンプレッサ、ランプ、解凍電気抵抗などの形態を採ることができ、また交流電源システムによって通電されるその作動が、冷却機器の動作要件に応じて、スイッチ２０に動作可能に結合されたそれぞれの電子制御装置３０によって操作されるそれぞれのスイッチ２０によって実行される。
【００１７】
電子制御装置は、並列に配置され、かつ前記交流電源システムに接続されている電源４０によって、通常は直流を通電される。
【００１８】
電子制御装置３０は、コマンドモジュール５０に動作可能に結合され、かつ通常コマンドモジュール５０に物理的に搭載される。コマンドモジュール５０は、電源４０によって通電され、またそれぞれのスイッチ２０の電子制御装置３０に通電することによって、様々な負荷１０の作動を命令するように構成されている。コマンドモジュール５０は、ユーザによって選択されかつ企画時に画定された動作パラメータに応じて、機器の様々な負荷１０の自動作動を命令するために通常利用される、任意の知られている構成を呈することができる。
【００１９】
後述する図示された実施形態において、負荷１０は、コンプレッサ、解凍抵抗、および冷却機器のキャビネットの内部ライト（ランプ）によって画定されている。もし強制換気（霜なし）タイプの冷却機器にあるならば、ファンは、本明細書で考慮されている同一の手順によっても診断される動作状況を有することが可能であり、前記ファンは、その正しい動作が、本診断システムによってチェックされることが望まれる負荷の画定に操作上含まれてもよい。
【００２０】
本発明の第１の態様によると、本診断システムは、電圧計６０を備え、電圧計６０は、電源４０によって通電され、かつ上記のようにテストの所定の動作シーケンスに従って、制御ユニット７０によって自動的に判断される電子スイッチ２０の様々な動作状況における様々な負荷に供給される電圧を測定するために、負荷１０の各々の入力に動作可能に接続される。
【００２１】
制御ユニット７０は、コマンドモジュール５０および電圧計６０の両方と動作可能に関連付けられ、診断手順におけるスイッチ２０の開閉の動作シーケンスを画定し、スイッチ２０の様々な動作状況において電圧計によって通知される電圧値を記録および処理する。
【００２２】
図２に示されているように、電圧計６０は、信号調整回路６１を備え、信号調整回路６１は、各スイッチ２０の上流側で各負荷１０の入力に接続され、負荷１０の前記入力から制御ユニット７０に接続されているＡＤコンバータ６２に電圧信号を供給する。
【００２３】
信号調整回路６１は、図示されている例においては、ＡＤコンバータ６２に必要なレベルに、入力交流電圧を調整するために、診断する負荷の量に対応する「ｎ」個の入力（この場合は３個の入力）を有する抵抗分割器によって、また信号整流ダイオードおよび信号フィルタリングコンデンサによって形成される。
【００２４】
信号調整回路は、さらに抵抗器６３のアセンブリを備え、抵抗器６３のアセンブリは、負荷１０をその開放時に給電する回路に、所定の電圧を適切に維持するために負荷１０とそれぞれ並列に接続される。
【００２５】
負荷１０の入力から得られた電圧信号は、調整回路によって調整され、ＡＤコンバータ６２に、次いで制御ユニット７０に送られる。
【００２６】
電子制御ユニット７０およびコマンドモジュール５０は、インタフェース８０と動作可能に結合され、インタフェース８０は、信号の取得または転送用のコネクタ、視覚または聴覚アラーム、または目に見える場所の冷却機器のキャビネットの構成にも搭載されているディスプレイなどの様々な形態を採ることができ、またキー、ボタンなど（図示せず）の作動手段をさらに備えることができ、これによってユーザは、機器と相互作用して、一部の動作パラメータを変更することができる。
【００２７】
電圧計６０によって検出された電圧値は、診断を実行する担当技術者によって作動された自動動作シーケンスに従って、制御ユニット７０によって処理される。
【００２８】
診断手順を開始するために、技術者は、後に続く一般的に１分未満の短期間に、技術アシスタンスによって独占的に使用される所定のパスワードによって電子制御ユニット７０を作動させ、電圧計６０およびコマンドモジュール５０の両方を用いて、制御ユニット７０によって自動的に実行されるテストの動作シーケンスを開始するために、冷却機器の電源を切り、次にそれを再接続する。
【００２９】
電子制御ユニット７０は、電圧計６０によって電圧値を取得する動作段階を開始する。電圧値を取得するこの段階は、所定のシーケンスに従って、それぞれのスイッチ２０を開放することによって通電しない（ｏｆｆ）状態で全負荷１０を給電する電圧値Ｖｏｆｆと、それぞれのスイッチ２０を閉鎖することによって通電される（ｏｎ）状態での負荷１０の各々を給電する電圧値Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍとを、電圧計６０によって測定し、制御ユニット７０に記録するためのものである。また電圧値を取得するこの段階において、図５に示されているように、それぞれのスイッチ２０を閉鎖することによって同時に通電可能な、２個または３個の負荷１０の供給電圧を共に、電圧計６０を介してさらに任意に取得し、かつ制御ユニット７０に記録することが可能である。
【００３０】
図４に示されているテストの例示的動作シーケンスにおいて、電圧値の取得は、以下の工程に従う。
・  全スイッチ２０を開放すること、
・  一定の最小時間の経過、例えば約５秒待機し、スイッチ２０が開放されている全負荷１０の入力の電圧値に対応する第１の電圧Ｖｏｆｆを測定および記録すること、
・  解凍抵抗のスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間の経過を待機し、解凍抵抗の入力の電圧値Ｖｒｅｓを測定および記録すること、
・  解凍抵抗のスイッチ２０を開放すること、
・  ランプのスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ２０が閉鎖されているランプの入力の電圧値Ｖｌａｍｐを測定および記録すること、
・  ランプのスイッチ２０を開放すること、
・  コンプレッサのスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ２０が閉鎖されているコンプレッサの入力の第２の電圧値Ｖｃｏｍｐを測定および記録すること、および、
・  コンプレッサのスイッチを閉鎖したままにすること。
【００３１】
それぞれのスイッチ２０が同時に閉鎖される、２個または３個の負荷１０の入力の電圧値をともに得ることを所望する場合、それぞれの負荷１０の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐの取得後にスイッチ２０を開放する前に、別のスイッチ２０を閉鎖し、スイッチが同時に閉鎖されていると判明した２個または３個の負荷１０の入力の電圧値を測定および記録しさえすればよい。電圧の合同測定のために関連付けられる負荷１０は、家電機器において同時に通電可能なものである点に注目すべきである。
【００３２】
図５に示されているテストの例示的動作シーケンスにおいて、電圧値の取得は以下の工程に従う。
・  全スイッチ２０を開放すること、
・  一定の最小時間の経過、例えば約５秒待機し、スイッチ２０が開放されている全負荷１０の入力の電圧値に対応する第１の電圧Ｖｏｆｆを測定および記録すること、
・  解凍抵抗のスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間待機し、解凍抵抗の入力の電圧値を測定および記録すること、
・  ランプのスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間待機し、解凍抵抗およびランプの入力の電圧値Ｖｒｅｓ＿Ｖｌａｍｐを測定および記録すること、
・  解凍抵抗のスイッチ２０を開放すること、
・  一定の最小時間待機し、ランプの入力の第２の電圧値Ｖｌａｍｐを測定および記録すること、
・  コンプレッサのスイッチ２０を閉鎖すること、
・  一定の最小時間待機し、ランプおよびコンプレッサの入力の電圧値Ｖｒｅｓ＿Ｖｃｏｍｐを測定および記録すること、
・  ランプのスイッチ２０を開放すること、
・  一定の最小時間待機し、コンプレッサの入力の電圧値Ｖｃｏｍｐを測定および記録すること、
・  コンプレッサのスイッチ２０を閉鎖したままにすること。
【００３３】
負荷１０の入力の電圧値が、それぞれのスイッチ２０が開放、閉鎖、および異なるグループにおいては任意に閉鎖されるという状況で一旦記録されると、制御ユニット７０は、図６に概略的に示されており、またスイッチ２０、電子制御装置３０、ひいては電子制御装置３０およびスイッチ２０も担持するコマンドモジュール５０のプレートの動作状況をチェックするための、第２の処理段階を開始する。
【００３４】
図６によると、コマンドモジュール５０のプレートをチェックする段階は、開放状態のそれぞれのスイッチ２０を呈する各負荷１０の入力の第１の電圧Ｖｏｆｆと、閉鎖状態のそれぞれのスイッチ２０を示す前記負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐとを順次比較し、第１の電圧Ｖｏｆｆが、スイッチが閉鎖されているそれぞれの負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐよりも高いか否かをインタフェース８０に示す工程を備えている。この状況が全負荷１０に生じる場合、処理システムは、スイッチ２０またはその関連する電子制御装置３０に故障が検出されなかったため、コマンドモジュール５０の全てのそれぞれのスイッチ２０および電子制御装置３０は、良好な状態であると結論付ける。
【００３５】
第１の電圧Ｖｏｆｆを、負荷１０の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐとを比較する工程のうちのいずれかにおいて、異なる状況が、期待値に関して検出される場合、すなわち任意の第２の電圧が、第１の電圧の値以上の値を有する場合、制御ユニット７０は、その異常をインタフェース８０に示し、コマンドモジュール５０のプレートの部品の１つにおける故障の存在を通知し、前記部品の交換に至る。この場合、診断手順は、欠陥のあるコマンドモジュール５０によって負荷１０のテストを継続することは安全ではないために、終了される。第１の電圧Ｖｏｆｆが、第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐよりも低いという仮定において、制御ユニット７０は、コマンドモジュール５０にも、スイッチ２０およびそれぞれの電子制御装置３０によって画定されている部品にも問題がないことを、インタフェース８０に示すことになる。
【００３６】
添付の図面の図７において、コマンドモジュール５０をチェックする動作シーケンスに対する別の構成が示されている。この構成において、コマンドモジュール５０のプレートのチェックは、第１の電圧Ｖｏｆｆより低い制限電圧Ｖｌｉｍを安全値として画定する第１の工程を備えている。本発明を実行可能な方法において、制限値Ｖｌｉｍは、値Ｖｏｆｆの８７．５％にほぼ等しい。
【００３７】
制限電圧値Ｖｌｉｍが一旦画定されると、チェックは、閉鎖状態のそれぞれのスイッチ２０を有する負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐを、前記制限電圧Ｖｌｉｍと順次比較し、第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐのいずれかが、制限電圧Ｖｌｉｍより大きいか否かをインタフェース８０に示す工程を含んでいる。
【００３８】
この状態が負荷１０のうちのいずれかに生じると、処理システムは、負荷１０に動作可能に結合し、かつその第２の電圧は、制限電圧Ｖｌｉｍよりも大きいコマンドモジュール５０の部品に故障があると結論付ける。この場合、図６に示されている動作シーケンスに関して説明されている手順とは異なり、診断手順はまだ中断されていない。
【００３９】
任意の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐが、制限電圧Ｖｌｉｍ以下であるという仮定において、制御ユニット７０は、コマンドモジュール５０にも、スイッチ２０およびそれぞれの電子制御装置によって画定されているその部品にも問題がないことを、インタフェース８０に示すことができる。
【００４０】
図７の例において、図の下半分に示されているように、コマンドモジュール５０をチェックするための追加シーケンスが提供されている。前記動作シーケンスによると、第１の処理工程が提供され、第１の処理工程において、本例においてはランプの入力の第２の電圧Ｖｌａｍｐによって示される、第１の負荷１０の第２の電圧より低い第１の処理電圧Ｖｐｒｏｃ１が画定される。本発明を実行する方法において、第１の処理電圧Ｖｐｒｏｃ１は、第１の負荷、すなわちランプの入力の第２の電圧Ｖｌａｍｐの値の約８７．５％に相当している。続いて、以下の工程が、制御ユニット７０によって処理される。
・  第２の負荷１０、例えばコンプレッサの第２の電圧Ｖｃｏｍｐが、第１の電圧Ｖｏｆｆより低いか否か、ランプによって画定されている第１の負荷１０のスイッチ２０が、動作しているか否か、および、コンプレッサで示される第２の負荷１０およびランプで示される第１の負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｌａｍｐ＿Ｖｃｏｍｐが、第１の処理電圧Ｖｐｒｏｃ１より低いか否かをチェックすること、
・  上記３つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット７０によってインタフェース８０に示し、最後の仮定は、コンプレッサで示される第２の負荷１０のスイッチ２０に問題があるという表示をもたらすこと、
・  解凍抵抗で示される第３の負荷１０の第２の電圧Ｖｒｅｓが、第１の電圧Ｖｏｆｆより低いか否か、ランプで示される第１の負荷１０のスイッチ２０が、動作しているか否か、および、解凍抵抗およびランプで示される第３および第１の負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｒｅｓ＿Ｖｌａｍｐが、第１の処理電圧Ｖｐｒｏｃ１より低いか否かをチェックすること、
・  上記の３つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット７０によってインタフェース８０に示し、最後の仮定が、解凍抵抗で示される第３の負荷１０のスイッチ２０に問題があるという表示をもたらすこと、
・  コンプレッサで示される第２の負荷１０の第２の電圧Ｖｃｏｍｐより約１２．５％低い第２の処理電圧Ｖｐｒｏｃ２を、制御ユニット７０に記録すること、
・  ランプで示される第１の負荷１０の第２の電圧Ｖｌａｍｐが、第１の電圧Ｖｏｆｆより低いか否か、コンプレッサで示される第２の負荷１０のスイッチ２０が、動作しているか否か、および、それぞれコンプレッサおよびランプで示される第２および第１の負荷１０の入力の第２の電圧Ｖｌａｍｐ＿Ｖｃｏｍｐが、第２の処理電圧Ｖｐｒｏｃ２より低いか否かをチェックすること、
・  上記の３つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット７０によってインタフェース８０に示し、最後の仮定が、ランプで示される第１の負荷１０のスイッチ２０に問題があるという表示をもたらすこと。
【００４１】
図７に示されているこの別の処理によって、コマンドモジュール５０の動作をより安全にチェックでき、さらに電源システムによって供給された電圧の実質的変化を考慮することができる。
【００４２】
いかなる故障をも見つけることなく、スイッチ２０および電子制御装置３０と共にコマンドモジュール５０の動作のチェックを完了すると、制御ユニット７０は、２つの別個の動作シーケンスのうちの一方に従って、異なる負荷１０のテストのシーケンスの処理を開始する。別個の動作シーケンスは、スイッチ２０が閉鎖状態にある負荷１０に関する第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐを比較する工程の結果に応じて、自動的に画定される。
【００４３】
異なる負荷１０の第２の電圧が、等しいか、またはほぼ等しいという仮定において、制御ユニット７０は、図３に示され、かつ図７により良く示されている第１の動作シーケンスによって負荷１０のテストを開始する。この第１の動作シーケンスにおいて、制御ユニット７０は、第１の電圧Ｖｏｆｆ（スイッチが開放されている）が、一定の基準電圧値Ｖｒｅｆ、例では１．３Ｖより高いか否かを検証する。これが生じると、負荷１０が適切な動作状態である場合に、基準電圧Ｖｒｅｆは、それを越えると第１の電圧Ｖｏｆｆが一定の安全性余裕をもって強制的に検出される電圧値を示すため、全負荷は良好な状態にあると考えられる。
【００４４】
従って、第１の電圧Ｖｏｆｆ（スイッチが開放されている）が、基準電圧Ｖｒｅｆより高いことが検出される場合、全負荷が実際に正しく閉鎖されている、すなわち適切な動作状態にあると結論付けられることが可能である。
【００４５】
他方、制御ユニット７０が、前記基準値以下の第１の電圧Ｖｏｆｆを検出すると、インタフェース８０は、全負荷１０が開放されていることを示すように命令される。ここで、本診断システムが、負荷１０の短絡回路を検出しないことに注目すべきである。第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐが、値の差を示すという仮定において、制御ユニット７０は、いずれの負荷が開放されているかを識別するために、図９に概略的に示されているような負荷テストの第２の動作シーケンスを開始し、その結果、欠陥を示す。
【００４６】
負荷テストのこの第２の動作シーケンスは、複数の工程を備え、各工程が、各負荷１０（スイッチ２０が閉鎖されている）の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐを、例えば電圧取得段階で記録された最低の第２電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐの値の約７５％に相当することができる一定の最低電圧Ｖｍｉｎと基本的に比較する。
【００４７】
従って、負荷１０の入力で測定された任意の第２の電圧Ｖｒｅｓ、Ｖｌａｍｐ、Ｖｃｏｍｐが、最低値Ｖｍｉｎの電圧以下の値を示す場合、制御ユニットは、インタフェース８０に、前記負荷の開放状態（故障）を識別する命令を送る。負荷１０の動作状況をチェックする工程が、負荷の受容について結論付ける場合、制御ユニット７０は、負荷が受容可能な状態であるか否かをインタフェース８０に示す必要なく、別の負荷の状況をチェックする次の工程に進む。負荷１０の各々の状況をチェックする工程の完了時に、制御ユニット７０は、コマンドモジュール５０に冷却機器を通常操作するように命令する。
【００４８】
新たな診断手順を実行するために、技術担当者は、機器のキーを押し、または電源システムから機器を分離し、コンプレッサが起動されるまで一定時間待機し、次いで機器を再接続して、制御ユニット７０の命令によって診断段階を開始させるための特定のパスワードを、所定の時間、コマンドモジュール５０に導入する。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】コマンドモジュールと、冷蔵庫または冷凍庫の負荷と、制御ユニットを備える本診断システムとの間の動作の関連の簡略図である。
【図２】制御ユニットおよび冷却機器の負荷と動作可能に関連付けられた電圧計の簡略図である。
【図３】診断の実行時に電圧値を取得しかつ処理するための、制御ユニットによって画定された動作シーケンスのブロック図である。
【図４】電圧値を取得する工程において、制御ユニットによって画定された動作シーケンスのブロック図である。
【図５】図４のブロック図に類似するが、電圧値を取得する工程における動作シーケンスの可能な変形を示しているブロック図である。
【図６】コマンドモジュールの動作状況をチェックする工程における制御ユニットの処理動作シーケンスのブロック図である。
【図７】図６のブロック図に類似するが、コマンドモジュールの状況をチェックする工程における動作シーケンスの可能な変形を示しているブロック図である。
【図８】診断に供される冷却機器の負荷の動作状況をチェックする工程における、制御ユニットの可能な処理動作シーケンスのブロック図である。
【図９】診断に供される冷却機器の負荷の動作状況をチェックする工程における、制御ユニットの可能な処理動作シーケンスのブロック図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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