(57)【要約】フレーム（１１）と、その上の基板係合プラットフォーム（２９）と、該係合プラットフォームから隔てられた基板保持部材（３９）とを含む、プリント回路基板の振動試験用回路基板サポート・ラック（１０）。ラックは、たとえば保持部材に差し込まれるショルダーネジ（６１）を収容する垂直に隔てられた開孔（４９、５１、５３、５５）の列である、第１の調整機構（４７）を有する。この調整機構は、フレームおよび保持部材と協働し、それにより係合プラットフォームと基板保持部材との間の間隔の選択を可能ならしめる。ラックは、たとえば各々がノッチを含む位置決めピン（６７）を有し保持部材に差し込まれる、ネジ（６５）である、第２の調整機構（６３）を有する。第２の調整機構は、係合プラットフォームに対する位置決めピンの移動のために備えられている。第１の調整機構は、ほぼ基板の垂直の高さに合わせてラックを構成できるようにし、第２の調整機構は、試験のために装着されながら、各々の基板が各々の基板のエッジで確実に固定できるようにする。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
フレームと、
前記フレームに対し固定された基板係合プラットフォームと、
前記係合プラットフォームからある距離を隔てられた基板保持部材と、
前記フレームおよび前記保持部材と協働し、前記距離の選択を可能ならしめる第１の調整機構と、
前記保持部材上の第２の調整機構であって、前記距離を実質的に一定に保ったまま、前記係合プラットフォームに接近離間する運動のために備えられた第２の調整機構とを備える回路基板サポート・ラック。
【請求項２】
前記フレームは、前記ラックを振動台に取り付けるための複数の開口を含み、かつ、
前記第１の調整機構は互いに隔てられた開孔を含み、それにより前記距離が予め定められた増分で選択されることを可能ならしめる、請求項１に記載のラック。
【請求項３】
前記距離は第１の軸に沿った直線距離であり、かつ、
前記開孔は前記第１の軸に実質的に平行な第２の軸に沿って延在する、請求項２に記載のラック。
【請求項４】
前記基板係合プラットフォームは第３の軸に沿って延在する直線の係合溝を含み、
前記第３の軸は実質的に前記第１の軸に垂直である、請求項３に記載のラック。
【請求項５】
第１および第２のエッジを有するプリント回路基板と、
前記基板を支持するラックの組合せ構造において、前記ラックが、
フレームと、
前記フレームに対して装着され、前記第１のエッジと係合するプラットフォームと、
前記係合プラットフォームからある距離を隔てられた基板保持部材と、
前記フレームおよび前記保持部材と協働し、前記距離を維持する第１の調整機構と、
前記保持部材上の第２の調整機構であって、前記第２のエッジと係合する第２の調整機構とを備え、
前記プラットフォームと前記第２の調整機構が前記基板に圧縮力を印加する組合せ構造。
【請求項６】
前記第２の調整機構が、前記保持部材に差し込まれたクランプネジと、
前記ネジに対する相対的運動のために前記クランプネジに備えられた位置決めピンであって、前記プリント回路基板の前記第２のエッジと係合するノッチを有する位置決めピンとを含む、請求項５に記載の組合せ構造。
【請求項７】
前記保持部材は複数の第２の調整機構を含み、
各々の第２調整機構はそれぞれのクランプネジを有し、
各々のクランプネジは前記保持部材に差し込まれ、
各々のクランプネジはそれに装着されたそれぞれの位置決めピンを有する、請求項５に記載の組合せ構造。
【請求項８】
前記クランプネジは、第１、第２、第３のクランプネジであり、
前記位置決めピンは、それぞれ前記第１、第２、第３のクランプネジに装着された位置決めピンであり、
各々の位置決めピンは、それが装着されたクランプネジに対し、回転移動が可能である、請求項７に記載の組合せ構造。
【請求項９】
前記基板は実質的に平坦な面を有し、
前記圧縮力は前記平坦面に実質的に平行に印加されることを特徴とする、請求項５に記載の組合せ構造。
【請求項１０】
前記基板は実質的に平坦な面を有し、
前記圧縮力は前記平坦面に実質的に一致して印加される、請求項５に記載の組合せ構造。
【請求項１１】
複数のプリント回路基板と、前記基板を支持するラックと、および前記ラックと前記基板を支持する振動台との組合せ構造において、
前記ラックが、プラットフォームと前記基板に圧縮力を印加する保持部材とを含み、
前記振動台が、その表面に複数の孔を形成された装着面を含み、
前記ラックが、その表面に複数の開孔を形成されたフレームを含み、前記ラックはさらに、
前記孔の開孔を通して延在し、それにより前記ラックと前記基板を前記振動台に固着する固定具を含む組合せ構造。
【請求項１２】
前記フレームが、縦方向に隔てられた一対の垂直端板であって、それらの間に横方向に隔てられた一対のレールを有する端板を含み、
前記プラットフォームと基板保持部材は、前記端板の間に互いに隔てられて支持され、前記プリント回路基板はそれらの間に固定されており、
前記開孔は前記レールに形成されている、請求項１１に記載の組合せ構造。
【請求項１３】
前記基板保持部材は、それに差し込まれた第１および第２の複数のクランプネジを有し、
前記第１の複数のクランプネジの各々は、それらと組み合わせられた相対的に移動可能な位置決めピンを有する、請求項１２に記載の組合せ構造。
【請求項１４】
前記基板保持部材は、それらに差し込まれた第１および第２の複数のクランプネジを有し、
前記第１の複数のクランプネジおよび前記第２の複数のクランプネジの各々は、それらと連結された位置決めピンを有し、
前記基板は、第１および第２の基板を有し、
前記第１の基板は、前記プラットフォームと前記第１の複数のクランプネジとの間に固定され、
前記第２の基板は、前記プラットフォームと前記第２の複数のクランプネジとの間に固定されることを特徴とする、請求項１２に記載の組合せ構造。
【請求項１５】
前記端板は、それぞれが垂直に隔てられた第１と第２の開孔の列を有する、第１と第２の端板であり、
第１と第２のネジが、それぞれ前記第１と第２の列の開孔を通って延在し、前記基板保持部材と係合している、請求項１２に記載の組合せ構造。
【請求項１６】
前記プラットフォームと前記基板保持部材は、第１の距離で隔てられており、
前記プラットフォームと前記第１の複数のクランプネジの位置決めピンは、第２の距離で隔てられており、
前記第１と第２の開孔の列および前記第１と第２のネジは、第１の調整機構を構成し、それにより前記第１の距離が所定の増分に選択され、
前記第１の複数のクランプネジは、第２の調整機構を構成し、それにより前記第２の距離が連続的に選択される、請求項１６に記載の組合せ構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的にサポート・ラックの分野に関係し、より詳しくはプリント回路基板を支持するために用いられるラックに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
製造者が、ある形式の試験を行うことなく製品を販売することは、ほとんどない。そのような試験は、いずれかの部品が適切に固定されているかを手で確かめるといった単純なものである場合もあり、または「耐久試験」のように複雑なものである場合もある。耐久試験（またはしばしば呼称されるような「耐久性スクリーニング」）においては、「初期不良」を有する製品は、試験中に完全に故障する。またはそのような試験の結果として、ある製品が動作環境における早期故障の可能性を示すこともある。また耐久試験のある態様では、ある種の動作パラメータおよび／または故障までの経過時間を測定しながら、破壊させることが含まれる。
【０００３】
耐久試験は、過酷な用途で用いられ、かつ例外的に高い信頼性が要求される製品について最も頻繁に行われる。そのようなものの例は、地上を移動する軍用機器に用いられる製品や、本質的にすべての種類の航空機で用いられる製品（たとえば、電子製品および電気機械製品）を含んでいる。
【０００４】
耐久試験は、いくつかの異なった方法で実施される。ある種類の試験方法では、製品に対し急速かつ急激な温度変化を課せられる。たとえば、製品の温度を１分当たりたとえば１０℃（約１８°Ｆ）の割合で変化させるために、テスト・チャンバが用いられる。そのような試験方法に用いられる環境テスト・チャンバの例が、米国特許第５，０７２，１７７号（Ｌｉｋｅｎ他）および第５，１９１，２８２号（Ｌｉｋｅｎ他）に開示されている。
【０００５】
他の種類の耐久試験では、製品が実際の使用状態で遭遇する種類の振動を製品に印加することにより、製品が試験される。重力の１０倍（１０Ｇ）のオーダーの振動の負荷は珍しくない。振動試験は、試験される製品をある種のプラットフォームや作業台に固定し、偏心した回転や直線の振動器を用いて作業台を振動させることにより、実施される。そのような耐久試験に用いられる振動器が駆動する作業台の例が、米国特許第５，８０４，７３２号（Ｗｅｔｚｅｌ他）に開示されている。
【０００６】
また別の種類の耐久試験が、高度加速耐久試験（ＨＡＳＴ）として知られており、たとえばプリント回路基板（ＰＣＢ）のような製品に、５０Ｇ程度の振動負荷力を印加することを伴って行われる。そのような負荷力は、（業界で言われる）運動の６軸に沿ってかつそれにおいて、すなわちＸ、Ｙ、Ｚ軸の各軸に沿って、かつそのような直線軸の周りの軸回転において、製品にランダムに印加される。そのような振動試験は単独に、またはＰＣＢが１分当たり６０℃（約１１０°Ｆ）の割合の温度変化を伴う急激な温度負荷に曝された状態で、実施される。後者の例では、ＰＣＢをその上に支持している振動台は、チャンバ内部に配置される。そのようなチャンバは、振動試験と同時にチャンバ内部の温度を急激かつ急速に変化させられる、加熱および冷却能力を備えて構成されている。環境および振動試験装置のトップメーカーは、ミシガン州ホランド市のＴｈｅｒｍｏｔｒｏｎ  Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅｓである。
【０００７】
そのような試験用のＰＣＢサポート・ラックを構成する場合には、多くの設計条件がある。中でも、ＰＣＢ周りの空気の循環（基板温度の前記急速な変化を可能にするための）と、ＰＣＢへの振動負荷の伝達がある。
【０００８】
従来技術のＰＣＢサポート・ラック（たとえば、米国特許第５，２６８，６３７号（Ｌｉｋｅｎ他）に開示されている架台のような）は概ねそれらが意図している目的は満たしているにもかかわらず、振動試験、特に上記のＨＡＳＴ法には十分でない。その理由は、振動台からＰＣＢへの振動負荷の伝達に関係している。上記のＬｉｋｅｎ他の‘６３７号特許に示されている架台は、スライドインとプラグインの基板装着を想定している。そのような装着方法は、振動負荷を十分に伝達しない。
【０００９】
プリント回路基板の振動および温度試験用の改良されたサポート・ラックは、業界において判然と進歩しているであろう。
【特許文献１】
米国特許第５，０７２，１７７号
【特許文献２】
米国特許第５，１９１，２８２号
【特許文献３】
米国特許第５，８０４，７３２号
【特許文献４】
米国特許第５，２６８，６３７号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、従来のラックの問題と欠点のいくつかを解決する回路基板のラックを提供することである。
【００１１】
本発明の他の目的は、高度加速耐久試験用に用いられる、回路基板のサポート・ラックを提供することである。
【００１２】
本発明のさらに別の目的は、振動台から試験途上の基板への振動のエネルギーの伝達をもたらすように選択された、剛性と基板固定能力を有する回路基板のサポート・ラックを提供することである。
【００１３】
本発明のまた別の目的は、幅広いサイズのプリント回路基板を収納する、回路基板のサポート・ラックを提供することである。
【００１４】
本発明のさらに別の目的は、温度耐久試験のための基板周りおよび基板を横断する充分な空気流を可能にするように構成された、回路基板のサポート・ラックを提供することである。これらおよび他の目的が如何に達成されるかは、以下の記述および図面により明らかにされる。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、回路基板を破壊するまで試験することをしばしば伴う、振動（およびオプションとして温度）試験中のプリント回路基板を支持するラックに関する。そのような試験の目的は、どのくらい頑丈に基板が設計製作されているか、および故障までにそれらがどのような過酷な使用に耐えるか、を確認することである。
【００１６】
本発明の回路基板サポート・ラックは、構成において概ね直交しているフレームからなり、一対の垂直で縦方向に隔てられた端板パネルを含んでおり、それらの間には一対の横方向に隔てられた下レールが延在している。基板係合プラットフォームはこのフレームに固定されており、端板とレールとによる「枠体構成（ｆｒａｍｅｄ）」をなしている。このプラットフォームは、レールの間を横に延在する複数のエッジ係合部材を含んでいる。各々の係合部材は、それぞれのプリント回路基板の下エッジを収容して固定する、直線の係合溝を有している。
【００１７】
基板保持部材が、プラットフォームから上方にある大きさの距離を隔てられ、それに対し概ね平行に配置されている。係合部材が係合プラットフォームから隔てられている距離は、第１の調整機構により選択できる。ある実施の形態では、各々の端板は２つの垂直な開孔の列を有する。それらの列は互いに横に隔てられ、列を定義する開孔は望ましくは互いに垂直に隔てられている。
【００１８】
基板保持部材が、係合プラットフォームの上方にほぼ所望の距離で配置された時には（たとえば支持されるべき基板のエッジからエッジまでを測定した観点で望ましい）、それぞれのショルダーネジが４つの開孔の列の各々の対応する開孔に挿入されて、係合部材にぴったりと差し込まれる。開孔とショルダーネジはフレームおよび保持部材と協働して、第１の調整機構を構成する。このような調整機構は、プラットフォームと保持部材の間の距離を、所定の微小増分で調整することを可能にする。端板パネル、レール、係合プラットフォームおよび保持部材が互いに堅くかつ確実に固定されていると仮定すると、ラックは振動台からの振動を試験中の回路基板に伝達する。
【００１９】
ラックはまた、保持部材上に少なくとも１つの第２の調整機構（および望ましくは複数の）を含んでいる。プラットフォームと保持部材の距離が実質的に一定に保たれる一方で、各々の第２の調整機構は係合プラットフォームから離間接近する方向の運動のために備えられている。特に好ましいある特別な実施の形態では、ラックは少なくとも第１と第２の複数の第２の調整機構を有する。最も好ましくは、各々の複数の調整機構が３つの横方向に隔てられた調整機構を含んでいる。
【００２０】
単なる例として、第１の複数の第２の調整機構は、第１、第２、第３の調整機構を含んでいる。さらに後者の調整機構の各々は、各々がそれ自身の位置決めピン（すなわち第１、第２、第３の位置決めピン）を有する、それぞれのクランプネジ（すなわち第１、第２、第３のクランプネジ）からなる。プリント回路基板の第１または下方の、および第２または上方のエッジがそれぞれ、特定のエッジ係合部材とその直ぐ上の第２の調整機構（または複数の第２の調整機構）の間に挿入された時には、それらに形成されたノッチがプリント回路基板の上エッジと係合するように、個々の機構の位置決めピンが方向付けられる。第２の調整機構は、振動試験用の基板を確実に保持するように締め付けられる。そのような機構が締め付けられた時には、係合プラットフォームと保持部材により圧縮力が基板に印加される。そのような力は、プリント回路基板の平坦な面に、実質的に平行にまたは実質的に一致するように印加されると考えられてよい。
【００２１】
以上の記載から、および特に図面と引き続く以下の記載から、特定の好ましい実施の形態のある寸法上の関係が、明らかになるであろう。第１の距離、すなわち係合プラットフォームとたとえば基板保持部材の下側との間の距離は、第１の調整機構の開孔の間の間隔により予め定められた増分で、選択できる。この構成は幾分「粗い（ｃｏａｒｓｅ）」調整を可能にする、といってよい。
【００２２】
位置決めピンが保持部材の下側に突出していることが、理解されたい。こうして位置決めピン（または少なくとも例示のピン）は、第１の距離より幾分小さいある第２の距離で係合プラットフォームから隔てられる。第２の調整機構の上述の構成は、第２の距離が不連続な増分ではなくむしろ連続的に選択されることを可能にする。このような構成は、「微細な（ｆｉｎｅ）」調整を可能にすると言うべきである。
【００２３】
振動試験を効果的にするためには、フレーム（およびより特別にはフレームの各々のレール）は、それに沿って複数の開口を含んでいる。それらの開口の間の間隔は、好ましくは振動台の開口の間隔と一致するように選択される。ラック、基板および振動台を互いに固定するために、ボルトがそのような開口を通して延在し、振動台の開口に貫通している。
【００２４】
本発明のさらなる詳細は、以下の詳細な説明および図面に記載されている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
図１、２、３を参照すると、本発明のサポート・ラック１０は、概ね長方形である枠１１を含み、互いに平行で縦方向に隔てられた、直立した概ね平坦な第１および第２の端板１３、１５をそれぞれ含んでいる。各々の端板１３、１５は、それに形成された空気循環窓１７を有する。第１および第２のレール１９、２１が、端板１３、１５の間に延在し、かつ概ねそれに垂直にそれぞれに延長されている。
【００２６】
各々のレール１９、２１は、それに沿って複数の開口２３を有している。そのような開口２３は、振動台２７の天板の開口２５のサイズと間隔を考慮して、大きさを決定して間隔を開けることが好ましい。この開口により、ラック１０は振動台２７に簡単にボルト締めされることができる。基板係合プラットフォーム２９は、端板１３、１５間およびレール１９、２１間に強固に固定されており、それに形成された直線の係合溝３３を各々が有する、少なくとも１つの（または好ましくは複数の）係合部材３１を有する。以下により詳細に記述されるように、試験される回路基板３５はそれぞれの溝３３に収容される、下または第１のエッジ３７を有する。
【００２７】
ラック１０はまた、概ねプラットフォームに平行で、かつそのようなプラットフォームから距離Ｄ１隔てられた、基板保持部材３９を含んでいる。保持部材３９は、それぞれ細長の横方向に隔てられた第１および第２の支持棒４１、４３を有する。保持部材３９はまた、棒４５ａ、４５ｂのような複数の固定棒４５を含んでいる。固定棒４５は、サポートバー４１、４３の間に細長く横方向に延在され、それらに強固に固定されている。
【００２８】
特に図１および２を参照すると、ラック１０はそれにより距離Ｄ１の大きさが所定の増加量で選択されうる、第１の調整機構４７を含んでいる。第１の調整機構４７は、それぞれ第１および第２の列の開孔４９、５１を第１の端板１３に、また第３および第４の列の開孔５３、５５を第２の端板１５に含んでいる。各々の開孔の列４９、５１、５３、５５が１つの列の開孔列要素５７を有するのでもよいが、一要素の特定の開孔、たとえば５７ａが隣り合う成分５７ｂの対応する開孔からわずかに縦に「千鳥状にずれた」状態で、複数の上記要素５７が横に並んだ組を、各々の列４９、５１、５３、５５が含む場合には、より小さい調整の増分が容易に得られるようになる。複数の列または列要素のどちらが使用されているかには無関係に、ある列要素５７の開孔５９は望ましくは互いに実質的に垂直に配置される。
【００２９】
第１の調整機構４７は、この好ましい実施の形態では４つである、複数のショルダーネジ６１を含んでいる。各々のショルダーネジ６１は、４つの列４９、５１、５３、５５の１つの開孔５９のそれぞれを通って延在し、保持部材３９の内部に差し込まれている。ラック１０が使用のために組み立てられた時に、保持部材３９の任意の垂直位置でそのような保持部材３９が係合するプラットフォーム２９に平行になるように、開孔５９は好ましくは配置されて選択される。
【００３０】
図４および５を参照すると、保持部材３９の各々のクランプバー４５上で、互いに他と横に隔てられた少なくとも１つの第２の調整機構６３（好ましくは第１、第２、第３の機構６３ａ、６３ｂ、６３ｃのそれぞれ）を、ラック１０はまた含んでいる。プラットフォームと保持部材の距離Ｄ１の大きさが実質的に一定に維持される一方で、各々のそのような第２の調整機構６３のある部分は、係合するプラットフォーム２９と近接離間する運動のために設けられている。
【００３１】
第２の調整機構６３の各々は、それ自身のための位置決めピン６７を有するクランプネジ６５を含んでいる。そのようなピン６７の各々は、その内部に形成されたノッチ６９を有する。プリント回路基板３５の第１または下エッジ３７および第２または上エッジ７１が、エッジ係合部材３１とその直ぐ上の第２の調整機構６３の間に挿入されたとき、ピンのノッチ６９が回路基板の上エッジ７１と係合するように、個々の機構６３の位置決めピン６７は、方向付けされている。第２の調整機構６３は、振動試験のため基板３５を確実に保持するように、きつく締め付けられる。第２の調整機構６３が締め付けられると、係合プラットフォーム２９と保持部材３９により基板３５に圧縮力が印加される。矢印７３、７５により表されているように、そのような力はプリント回路基板３５の平坦面と実質的に平行または実質的に一致して印加されると考えられる。（図４は、各々の調整機構６３がクランプネジ６５、デッキ・ナット７７、一対の耐震ワッシャ７９および位置決めピン６７に圧ばめされるネジの足８１からなることを示す。点線の輪郭８３は、機構６３の部品に対するクランプバー４５の位置を示す。）
【００３２】
図２および３を考えると、Ｄ１の大きさは第１の軸８５と第１の軸８５と実質的に平行な第２の軸８７に沿って延在する各々の開孔の列（すなわち列５５）に沿って測られる。各々の直線係合溝は、第１の軸８５に実質的に垂直な第３の軸８９に沿って延在している。（Ｄ１の大きさが、係合部材３１に沿ってかつパネル１３、１５の間のどこででも測りうることを理解されたい。）
【００３３】
位置決めピン６７が、保持部材３９の下面の下側に突き出ていることを、理解すべきである。このように、位置決めピン６７（または少なくとも例示したピン６７ａ）は、第１の距離Ｄ１より幾分小さい第２の距離Ｄ２だけ係合プラットフォーム２９から隔たっている。第２の調整機構６３の上述した構成は、第２の距離Ｄ２の大きさが不連続な増分値ではなくむしろ連続的に選択されることができるようにする。
【００３４】
使用に際して、この試験装置のオペレータはラック１０を用いて回路基板３５を「オフ・ライン」で、すなわち図１に示されているようにラック１０が振動台２７にボルト締めされた状態でではなく、取り付けることができる。基板の装着は、基板３５を垂直に持ち、対応する調整機構６３のノッチ６９を基板３５の上エッジ７１に揃えて、基板３５の下エッジ３７をプラットフォーム２９の溝３３の１つに沿ってその中へ滑らせて挿入して、機構６３を締め付けることにより、行われる。ラック１０が単一の基板３５を保持するように構成されることができる一方で、ラック１０がたとえば１２程度の複数の基板３５を保持すれば、より迅速な試験が可能になる。
【００３５】
他のラック１０がオフ・ラインで装着されている間に、基板３５を含むラック１０に試験が行われると想定すると、試験完了の際にボルト（図示せず）を開口２３、２５から取り外すことで、試験ラック１０は取り外される。新しく基板３５を装着されたラック１０は、最初のラック１０の代わりに試験台２７にボルト締めされる。通常、試験にかけられた引例基板３５は、そのような試験期間中に操作（または少なくとも電気的にモニタ）される。そのような基板３５への電気的接続は、たとえばエッジ・コネクタであってよい。
【００３６】
ラックの製作に選択される材料は、試験中の基板３５への試験台の振動を効果的に伝達できるように、充分硬くかつ剛性がなければならない。マグネシウムやアルミニウムは適しているが、鉛やプラスチックは不適当である。
【００３７】
同様に図６を参照すると本発明のラック１０は、業界で運動の６軸（３つの直線方向および３つの回転方向）として知られている方向で、プリント回路基板３５を試験することに適している。そのような軸は、３つのそれぞれの直線軸９１、９３、９５と、３つのそれぞれの回転軸を含んでいる。
【００３８】
図７は、基板３５を収容するラック１０がその内部に装着された、環境試験チャンバ１０３の代表例を示す。振動台２７（そのための駆動機構も同様に）はチャンバ１０３内にあり、ラック１０は上述したように振動台２７にボルト締めされている。振動試験中に基板３５を通り抜ける熱気と冷気を導くために、ダクト１０５が用いられる。
【００３９】
本明細書では、上方、下方、垂直、横に並べて等の用語が本発明の理解を容易にするために用いられているが、それらには本発明の範囲を限定する意図はない。さらに、本発明の原理が望ましい実施の形態を用いて示され記述されているが、そのような実施の形態は単なる例であって限定するものではないことが、理解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】振動台に結合して示された、新しいサポート・ラックの斜視図である。
【図２】視軸ＶＡ２から見た、図１のラックの一端板の立面図である。
【図３】視軸ＶＡ３から見た、図１のラックの側立面図であり、振動台は示されず、ラックに装着した２つの回路基板が含まれている。
【図４】例示的な第２の調整機構の分解図である。基板保持部材の部分が、破線で示されている。
【図５】例示的な取付バーに固定された、３つの第２の調整機構の立面図である。
【図６】ラック内に装着された回路基板に印加される、運動の６軸（３つの直線および３つの回転）の説明である。
【図７】ラックが用いられる、環境試験チャンバの斜視図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際公開パンフレット】
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2004531060.tif 000011
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2004531060.tif 000029
【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
2004531060.tif 000030
2004531060.tif 000031
【国際調査報告】
2004531060.tif 000032