(57)【要約】【課題】【解決手段】製造中に電子装置のメモリを並行プログラミングするシステムおよび方法。１つの実施形態では、電子装置は、基板レベルテストに先立って、テストコードとシステムコードの一部分とで並行にプログラムされる。その後、電子装置の基板レベルテスト中にテストコードが使用される。基板レベルテストが完了すると、電子装置は、追加的なシステムコードでプログラムされて、既存のシステムコードを補完する。これによりシステムレベルテストが実行される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製造中の基板レベルテストに先立って、電子装置のメモリをテストコードとシステムコードとで並行プログラミングする方法において、
前記電子装置の基板レベルテスト中に使用するための前記テストコードを有する第１の指令と、前記電子装置のシステムレベルテスト用の部分システムコードを有する第２の指令とで、前記電子装置をプログラムし、
前記電子装置の基板レベルテスト中に前記第１の指令を実行して、前記第２の指令とは無関係に前記電子装置の状態を決定し、
前記第２の指令を補完するシステムコードを含む第３の指令で前記電子装置をプログラムし、
前記電子装置のシステムレベルテスト中に前記第２の指令および前記第３の指令を実行するステップを有する方法。
【請求項２】
前記メモリがＲＯＭメモリである請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記メモリがＲＡＭメモリである請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記メモリがフラッシュメモリである請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記電子装置を前記第３の指令でプログラムする前記ステップは、前記第１の指令を前記第２の指令で上書きすることを含む請求項１記載の方法。
【請求項６】
前記第３の指令はＵ／Ｉコードである請求項１記載の方法。
【請求項７】
個々のユーザ用にカスタマイズされたコードを含む第４の指令でプログラムするステップをさらに有する請求項１記載の方法。
【請求項８】
前記第３の指令は、シングルモードセルラ電話機に固有である請求項１記載の方法。
【請求項９】
前記第３の指令は、デュアルモードセルラ電話機に固有である請求項１記載の方法。
【請求項１０】
前記第３の指令は、トリモードセルラ電話機に固有である請求項１記載の方法。
【請求項１１】
製造中の基板レベルテストに先立って、テストコードとシステムコードとで電子装置のメモリを並行プログラミングするシステムにおいて、
前記電子装置の基板レベルテスト中に使用するための前記テストコードを有する第１の指令と、前記電子装置のシステムレベルテスト用の部分システムコードを有する第２の指令とで、前記電子装置をプログラムする手段と、
前記電子装置の基板レベルテスト中に前記第１の指令を実行して、前記第２の指令とは無関係に前記電子装置の状態を決定する手段と、
前記第２の指令を補完して前記システムコードを完成する第３の指令で前記電子装置をプログラムする手段と、
前記電子装置のシステムレベルテスト中に前記第２の指令および前記第３の指令を実行する手段とを有するシステム。
【請求項１２】
製造中の基板レベルテストに先立って、テストコードとシステムコードとで電子装置のメモリを並行プログラミングするシステムにおいて、
電子装置と、
前記電子装置内に配置されたプログラマブルメモリと、
前記電子装置と通信し、テストコードを有する第１の指令と部分システムコードを有する第２の指令とを前記プログラマブルメモリにプログラムする第１の入力装置と、
前記電子装置に記憶された前記第１の指令を実行する手段と、
前記電子装置と通信し、前記第２の指令を補完して前記システムコードを完成するための第３の指令を前記プログラマブルメモリにプログラムする第２の入力装置と、
前記電子装置のシステムレベルテスト中に、前記電子装置に記憶された前記第２の指令および前記第３の指令を実行する手段と有するシステム。
【請求項１３】
前記第１および第２の入力装置は同一の入力装置である請求項１２記載のシステム。
【請求項１４】
前記プログラマブルメモリはフラッシュＲＡＭである請求項１２記載のシステム。
【請求項１５】
前記第３の指令はＵ／Ｉコードである請求項１２記載のシステム。
【請求項１６】
前記電子装置はセルラ電話機である請求項１２記載のシステム。
【請求項１７】
前記電子装置は、パーソナルデータアシスタントである請求項１２記載のシステム。
【請求項１８】
前記プログラマブルメモリはＲＯＭメモリである請求項１２記載のシステム。
【請求項１９】
前記プログラマブルメモリはＲＡＭメモリである請求項１２記載のシステム。
【請求項２０】
前記プログラマブルメモリはフラッシュメモリである請求項１２記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、一般的に、電子装置の製造に関する。特に、本発明は、製造中の電子装置のカスタムプログラミングに関するコストを低減するシステムおよび方法を提供する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、電子装置は汎用形式で製造されてきた。すべてのコンシューマーは、その装置が彼らの要求を的確に満たすか否かに関わらず、同一の電子装置を受け取る。例えば、初期のテレビ受像機は、コンシューマーに、彼らが見たい各チャネルをマニュアルでプログラムさせていた。無線放送の周波数が地理的に変化するので、製造業者は、テレビ受像機の使用を特定の地理的範囲に限定することなく、テレビ受像機セットを予めプログラムすることができなかった。コンシューマーは、テレビ受像機を予めプログラムしてもらいたいと思っていたかも知れないが、これは製造業者にとって負担であり商品のコストもかさむ。テレビ受像機に視聴可能なチャネル用の帯域幅全体を走査する機能を備えることで、コンシューマーおよび製造業者に対するこの課題がついに解決された。しかしながら、技術が進歩するにつれて、コンシューマーと技術は、製造業者から彼らの製品においてさらなるカスタマイゼーションを求めるようになってきた。
【０００３】
近年、ユビキタスなビデオカセットレコーダー（“ＶＣＲ”）がコンシューマーの小売市場に参入し、既存のテレビ受像機を補完している。この新しい装置は、コンシューマーの居間のどこからでもＶＣＲの遠隔操作をするための遠隔制御を常に有している。すぐさま、コンシューマーは、テレビ受像機とＶＣＲの両方用に単一または統合された遠隔制御を使いたいと要求するようになった。製造業者はこれを受けて、ＶＣＲを補完するコンシューマープログラマブル遠隔制御を提供した。この利便性はコンシューマーにとっては相当な代償となった。なぜなら、この機能を可能にするためには、コンシューマーが、たいていは３ディジットコードによって、彼らの特定の機種のテレビ受像機をＶＣＲにプログラムすることが必要だったからである。しかしながら、今日の技術はＶＣＲをはるかに凌ぎ、その革新によって、コンシューマーの要求に対して製品をプログラムするための機能は、コンシューマーにとって不可能同然なほどに難しくなった。
【０００４】
今日、要求されるカスタムソフトウェアの量がＶＣＲのシンプルな３ディジットコードを侵してきたため、コンシューマーはますます、最新のコンシューマー製品をプログラムする専門知識を持つ製造業者に依存しなければならない。例えば、ＶＣＲと同じくらい一般的になってきているセルラ電話機は、各エンドユーザのためのカスタマイゼーションを必要とする。このカスタマイゼーションには、エンドユーザを識別する情報だけでなく、例えば、アナログおよび／またはデジタルのような、エンドユーザが選んだ遠隔通信技術のモードも含まれる。何百本ものコードが、特定のユーザ用にセルラ電話機をプログラムするために必要とされるかもしれない。
【０００５】
今日の技術がかかるレベルのプログラミングを要求するので、製造業者は、彼らの製造工程にこのステップを組み込み、電子装置に存するメモリ装置に追加のスペースを割り当てるよう求められる。このように、コンシューマーにこれらの選択肢を提供するために、製造業者は、そのような製品をコンシューマー向けにプログラムすることに非常に多くの時間とリソースを費やす。各製品を各ユーザ向けにカスタマイズするためのこの追加的なステップは製造時間を増大させ、結果的に製品のコストとしてコンシューマーに転嫁される。追加のカスタマイゼーションに対するこの要求は、このようなプログラミングに割り当てられるメモリの大きさを増すことによって対処できるかも知れないが、このやり方は結果的にコストを増し、電子装置の携帯性を低減させてしまう。これらの結果のどれも、コンシューマーによって好ましいものではない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このように、コンシューマー製品をプログラムする際の処理時間を減らす一方で、我々の高度技術環境において、今日のコンシューマーが求めるカスタマイゼーションのレベルを維持あるいは向上させるシステムおよび方法に対する必要性が存する。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明のシステムおよび方法は異なる特徴を有する。それらの１つとして、単にその望ましい属性のみを担うものではない。後述の特許請求の範囲によって示される本発明の範囲を限定することなく、本発明のより顕著な特徴をここで簡潔に述べる。この記載を検討すれば、特に、「発明の詳細な説明」と題されたセクションを読めば、本発明の特徴が、電子装置の従来的なプログラミングより優れたいくつかの利点をどのように提供しているかを理解できるだろう。
【０００８】
本発明の１つの観点は、製造中の基板レベルテストに先立って、電子装置のメモリをテストコードとシステムコードとで並行プログラミングする方法である。この方法は、電子装置を第１の指令と第２の指令とでプログラムすることを有し、ここで、第１の指令は、基板レベルテスト中に使用するためのテストコードを有し、第２の指令はシステムレベルテストのための部分システムコードを有する。この方法は、基板レベルテスト中に第１の指令を実行して、第２の指令とは無関係に電子装置の状態を決定することをさらに有する。その後、第３の指令が電子装置にプログラムされ、ここで、第３の指令は第２の指令を補完するシステムコードを含む。最後に、電子装置のシステムレベルテスト中に、第２の指令および第３の指令が実行される。
【０００９】
本発明の別の観点は、製造中の基板レベルテストに先立って、テストコードとシステムコードとで電子装置のメモリを並行プログラミングするシステムである。このシステムは、電子装置と、電子装置内に配置されたプログラマブルメモリと、電子装置と通信する第１の入力装置とを有する。第１の指令および第２の指令は入力装置によって前記プログラマブルメモリにプログラムされており、第１の指令はテストコードを有し、第２の指令は部分システムコードを有している。このシステムは、電子装置に記憶された第１の指令を実行する手段をさらに有する。このシステムは、電子装置と通信する第２の入力装置もさらに有し、ここで第３の指令がプログラマブルメモリにプログラムされて、第２の指令を補完してシステムコードを完成する。このシステムは、電子装置のシステムレベルテスト中に、電子装置に記憶された第２の指令および第３の指令を実行する手段もさらに具備する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下の詳細な説明は、本発明のある特定の実施形態に向けられている。しかしながら、本発明は、特許請求の範囲によって定義されカバーされる多くの異なる方法によって具体化することができる。この詳細な説明では図面が参照されており、全体を通じて同様の部分が同様の参照符号で示されている。
【００１１】
本発明は、コンシューマーの要求に最もよく適合させるために装置の最終構成のレベルおよび複雑さを制限することなく、電子装置の製造工程において複数のプログラミングステップを使用することに関する欠点を最小にする。一般的に、製造業者は、コンシューマーに利用させることのできる複雑さやカスタマイゼーションのレベルが制限されている。これは、このようなカスタマイゼーションに関連して増加する製造時間のせいである。電子装置に含まれるソフトウェアの大部分を更新するのに、この時間がいたずらに費やされることが多い。そこで、製造工程のより初期の段階で電子装置のソフトウェアコードを予めプログラミングして、任意のその後のプログラミングを最小にすることによって、製造効率が増大するだけでなく、顧客に対して制限のないカスタマイゼーションを可能にする一方で電子装置のコストを増やさないようにすることができる。
【００１２】
図１は、本発明にしたがった製造システム１０を示す代表的な図である。例えば、セルラ電話機やパーソナルデータアシスタント（ＰＤＡ）等の電子装置１２は、初期製造工程を経て内部メモリ位置１４のプログラミングが必要とされるポイントへ進む。製造工程のこのポイントに達するまでに、電子装置１２は十分構成され、その部品ハードウェアのすべてが組み込まれる。このハードウェアは電子装置１２に一般的であることが好ましく、そうすれば電子装置１２の完成に先立つ製造工程において、ソフトウェアに関連した変更のみが必要とされる。別の実施形態では、ハードウェアの一部のみが製造工程のこのポイントで組み込まれ、その後のインストールが行われる。
【００１３】
メモリ位置１４には、設計条件にしたがって、読み出し専用メモリ（“ＲＯＭ”）および／またはランダムアクセスメモリ（“ＲＡＭ”）装置１６が配置される。多くの電子装置１２において、システムレベルのソフトウェアをＲＯＭフォーマットで記憶させることが望ましい。なぜなら、これらの型のプログラムはめったに変更されないからである。多くの型のＲＯＭが技術的に知られており、プログラマブル読み出し専用メモリ（“ＰＲＯＭ”）、消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（“ＥＰＲＯＭ”）、電子読み出し専用メモリ（“ＥＥＰＲＯＭ”）およびフラッシュＥＥＰＲＯＭが含まれる。最も一般的な型のＲＯＭはマスク読み出し専用メモリであり、一般的にこれは、製造業者によってプログラムされる。この型のメモリは、メモリ位置１４のその後の再プログラミングを可能にしないため好ましくない。ＰＲＯＭは、一般的に製造業者ではなくコンシューマーがそのプログラミングを行うという点以外においてＲＯＭに類似している。本発明の実施形態では、ＲＯＭとＲＡＭは共同で利用されるが、製造ソフトウェアとオペレーショナルソフトウェア全体の同時記憶が望まれる場合には、メモリ位置１４全体の大きさを増やさなければならない。ＥＰＲＯＭはメモリ装置１６の複数のプログラミングを可能にするが、製造業者は消去処理にかなりの処理時間を要する。なぜなら、紫外線（“ＵＶ”）光イレーザの適用がメモリ装置１６の内部に達するよう求めるからである。ＥＥＰＲＯＭは、電気を利用してその消去を可能にすることでＥＰＲＯＭに改良を加え、ＵＶ光源は必要とされない。最近の型のＲＯＭはフラッシュＲＯＭと呼ばれる。このフラッシュＲＯＭは個々の位置の部分消去を可能にするＥＥＰＲＯＭの回路を欠くため、このメモリ装置１６を完全に消去する消去時間をさらに短縮する。フラッシュＲＯＭは、メモリが完全に消去された後、他の位置がすでに書き込まれている時であっても、情報を消去位置に書き込ませることができる。したがって、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、またはフラッシュＲＯＭは、メモリ位置１４の大きさを最小にできるという利点を持って装置１６で使用できる型のメモリである。なぜなら、製造ソフトウェアとオペレーショナルソフトウェアとがメモリ位置１４内に直列に常駐することができるからである。
【００１４】
ＲＡＭもまた、電子装置１２においてメモリ位置１４として使用されてもよい。ＲＡＭは、メモリ装置１６の書き込みおよび読み出しを可能にし、メモリ位置１４への電力が遮断されるまでその内容を保持する。しばしば、バッテリが電子装置１２におけるスタティックランダムアクセスメモリ（“ＳＲＡＭ”）の使用を補完し、電子装置１２がオフモードであっても、ＳＲＡＭが確実にその内容を維持するようにする。これにより、メモリの性質たる揮発性が克服される。ダイナミックランダムアクセスメモリ（“ＤＲＡＭ”）は、ＳＲＡＭと異なり電子装置１２においてより小さい物理メモリ位置１４しか必要とせず、したがってＳＲＡＭよりも増加した容量を提供する。しかしながら、ＤＲＡＭは、数ミリ秒ごとにその内容がリフレッシュされなければならない。任意のこれらの型のＲＡＭメモリ装置１６は、製造業者の設計条件にしたがって本発明の別の実施形態で使用することができる。上記の説明は、本発明で使用可能な技術的に知られたメモリ装置１６の型を制限することを意図していない。
【００１５】
電子装置１２は第１の入力装置１８と電気通信する。この入力装置１８は、テストコード２０およびシステムコード２２を、バイト単位で、メモリ装置１６の複数のアドレスおよびデータ位置２４にアップロードする。メモリ位置１４はテストコード２０および結合したシステムコード２２の両方に適応するよう大きさが決められる。というのも、双方のコードは、それらの指令を実行するよう求められるまでメモリ位置１４内に置かれるからである。メモリ位置１４は、テストコード２０およびシステムコード２２に同時に適応するよう区切られていてもよい。第１の入力装置１８は、電子装置１２の基板レベルテストのためにメモリ位置１４をプログラムして、部品ハードウェアが適切に接続され、かつその性能が定格であるようにする。代替実施形態では、ＥＥＲＯＭ、フラッシュＥＥＲＯＭ、および／またはＳＲＡＭのような複数の、類似性のあるもしくは類似性のないメモリ装置を使用して、並行記憶を可能にしてもよい。代替実施形態では、システムコード２２の一部分だけがテストコード２０と並行に記憶される。これによりメモリ位置１４の大きさを縮小させることができる。テストコード２０と並行にアップロードされないシステムコード２２の部分は、多くの要因、とりわけより大きなメモリ位置１４のコストやシステムコード２２の一部分の後続のアップロードのための処理時間を評価することによって決定されてもよい。他に、電子装置１２の製造工程において製造業者の望むフレキシビリティも要因となるだろう。例えば、電子装置１２の製造中にシステムコード２２の一部分が連続して修正される場合には、この部分を後続のアップロードステップに割り当てられ、システムコード２２の核の部分へのそのプログラミングの影響を最小にすることができる。
【００１６】
代替実施形態では、電子装置１２の特定のオペレーショナルモード２６に適するシステムコード２２の一部分は、最初のテストコード２０が実行された後、第２の入力装置２８によりアップロードされる。例えば、電子装置１２がセルラ電話機であったなら、デュアル、シングル、またはトリモードのようなセルラ電話機のオペレーショナルモード２６に関連するシステムコード２２は、製造工程の後の方でアップロードされてもよく、これによりコンシューマーの要求を満たす際の製造業者のフレキシビリティが増す。代替実施形態では、製造業者は、最初のテストコード２０が実行される前にオペレーショナルモードコード２６をアップロードすることができる。これにより、コンシューマー３０が電子装置１２を注文した後のセルラ電話機のプログラミングを最小にすることができる。別の代替実施形態では、システムコード２２の第２のアップロードのために、第２の入力装置２８の代わりに第１の入力装置１８が利用される。
【００１７】
１つの実施形態では、第２の入力装置２８は、電子装置１２を購入するコンシューマー３０に固有の好み情報３２をメモリ位置１４にアップロードする。電子装置１２がセルラ電話機の場合、この情報には、電話番号のような識別情報、短縮番号、呼び出し音量、および電話機システムの機能が含まれていてもよい。これにより、コンシューマー３０は、大変なプログラミングを行わなくても新しいセルラ電話機を操作することができる。コンシューマー３０が機能に関する好み情報３２を持たない場合にはデフォルトパラメータをアップロードすることもできる。
【００１８】
第１および第２の入力装置１８、２８は、デスクトップ、サーバ、携帯型、ハンドヘルド、セットトップ、コンピュータネットワーク、または他の任意の望ましい型の構成であってよい。第１の入力装置１８はさまざまなオペレーティングシステムとともに使用でき、これには、ＵＮＩＸ、ＬＩＮＵＸ、ディスクオペレーティングシステム（ＤＯＳ）、ＯＳ／２、ウィンドウズ３．Ｘ、ウィンドウズ９５、ウィンドウズ９８、ウィンドウズＮＴ、およびウィンドウズ２０００等がある。入力装置１８で使用するためのプログラムは、Ｃ、Ｃ＋＋、ＢＡＳＩＣ、Ｐａｓｃａｌ、Ｊａｖａ、およびＦＯＲＴＲＡＮ等の任意のプログラム言語で書かれていてよく、よく知られたオペレーティングシステムの下で実行される。Ｃ、Ｃ＋＋、ＢＡＳＩＣ、Ｐａｓｃａｌ、Ｊａｖａ、およびＦＯＲＴＲＡＮは工業標準規格プログラム言語であり、これらに対して多くの商業的なコンパイラを用いて実行可能なコードを作成することができる。
【００１９】
第１および第２の入力装置１８，２８は、１つ以上のマイクロプロセッサを使用してもよい。このプロセッサには、ペンティアム（登録商標）プロセッサ、ペンティアム（登録商標）ＩＩプロセッサ、ペンティアム（登録商標）プロプロセッサ、ｘｘ８６プロセッサ、８０５１プロセッサ、ＭＰＳ（登録商標）プロセッサ、パワーＰＣ（登録商標）プロセッサ、あるいはＡＬＰＨＡ（登録商標）プロセッサ等がある。さらに、マイクロプロセッサは、デジタル信号プロセッサ、またはグラフィックスプロセッサのような、任意の従来的な特定用途マイクロプロセッサであってもよい。
【００２０】
基板レベルテストが完了すると、システムコード２２の一部分の後続のアップロードのために第２の入力装置２８が使用される。この一部分は、最初にテストコード２０と並行して読み込まれなかったものである。第２の入力装置２８は、第１の入力装置１８と同じ方法で電子装置１２に接続されてもよい。本発明の１つの実施形態では、第２の入力装置２８を使用する代わりに、システムコード２２の第２の部分をアップロードするためにも第１の入力装置１８が利用される。
【００２１】
本発明の１つの実施形態にしたがった製造システム１０の動作を、図２を参照して以下で説明する。説明の便宜のため、以下の文章では、セルラ電話機のプログラミング条件を参照して製造工程を説明する。しかしながら、製造業者がコンシューマーの装置にソフトウェアをインストールするよう求められるいかなる場合でもこの製造工程を用いることができる。
【００２２】
具体的に、フローはスタートブロック４０から始まる。フローはブロック４２へ進み、ここでテストコード２０およびシステムコード２２が、電子装置のメモリ位置１４にアップロードされる。この第１のアップロードは、共通するシステムコード２２のみを含んでいてもよいが、選択的に、その後の基板レベルテストをサポートするために電子装置１２のテストコード２０のすべてを含んでいてもよい。さらに、セルラ電話機の場合は、この最初のアップロードには、共通するシステムコード２２ばかりでなく、ブロック４４に示すように指定されたオペレーショナルモードコード２６が含まれていてもよい。コンシューマー３０がセルラ電話機を注文するのに先立ってオペレーショナルモードコード２６をロードすることは製造業者のフレキシビリティを制限するものの、製品がコンシューマー３０によって注文された後のプログラミング時間が減る点でこの欠点は補われるだろう。フローはブロック４６へと続き、ここで、テストコード２０が実行され、電子装置１２の個々の部品の機能が決定される。電子装置１２が決定状態４８における基板レベルテストをパスしない場合、製造システム１０はブロック４２に戻り、上述の処理を行う。電子装置１２が決定状態４８における基板レベルテストをパスする場合には、製造システム１０はブロック５０に進む。
【００２３】
次に、ブロック５０で、システムレベルテストの準備のために、追加的なシステムコード２２がメモリ位置１４にアップロードされる。上述のようにブロック４２でシステムコード２２のいくつかはすでにアップロードされているので、ブロック５０でのアップロード処理時間は低減される。ブロック５０でアップロードされるシステムコード２２の量はメモリ位置１４の大きさに左右される。なぜなら、システムコード２２全体だけでなくテストコード２０も同時に収容するために、より大きなサイズが要求されるからである。他に、ある量のシステムコード２２が、上述のようにブロック４２において既にメモリ位置１４にインストールされていることも原因である。さらに、メモリ装置１６の選択はブロック４２で最初にロードされるシステムコード２２の量にも影響を与える。メモリ位置１４の大きさを最小にするために、ブロック５０でロードされるシステムコード２２の一部分で、メモリ位置１４に既に記憶されているテストコード２０を上書きしてもよい。このシステムコード２２は、上述のブロック４２でアップロードされた共通のコードとは違って、電子装置１２に固有のコードで構成されている。したがってこのアップロードは、選択的に、ブロック４２でアップロードされなかった残りのシステムコード２２で構成されている。
【００２４】
本発明の１つの実施形態では、ブロック４４における第２のアップロードの一部分として指定されたオペレーショナルモードコード２６がロードされる。例えば、オペレーショナルモードコード２６は、セルラ電話機が、シングル、デュアル、またはトリモードのどれで動作するかを特定する。別の実施形態では、ブロック５０でアップロードされたシステムコードにはＵ／Ｉコードが含まれる。続いてブロック５２に進んで、システムコード２２が実行されて電子装置１２の機能が決定される。決定ブロック５４において、電子装置１２がシステムレベルテストをパスしない場合、製造システム１０はブロック４２に戻り、上述の処理を行う。テストコード２０だけをロードするのではなく、ブロック４２で何らかのシステムコード２２などと並行してテストコード２０をロードすることにより、システムコード２２の残りの部分だけがテスト後にアップロードされる。さらに、ブロック５０で実行済みのテストコード２０をシステムコード２２で上書きすることにより、メモリ位置１４の大きさを最小にしてコストを減らすことができる。その上、その後のシステムコード２２のアップロード処理時間も減る。この利点は、電子装置１２がテストをパスせずブロック４２に戻る場合にさらに強調される。というのも、電子装置１２が製造工程全体を１回より多く通るからである。そうではなく、電子装置１２がシステムレベルテストをパスする場合は、製造システム１０はブロック５６へ続く。
【００２５】
ブロック５６へ移ると、製造システム１０はコンシューマー３０から電子装置１２の注文を受け取る。この注文には、コンシューマー３０からの好みが、短縮番号、電話番号、およびセキュリティ設定の形で含まれていてもよい。製造業者はブロック５８でこれらの好み３２をメモリ位置１４にアップロードすることができる。１つの実施形態では、これらの好み３２は、メモリ位置１４にある必要のないテストコード２０のいくつかを上書きする。最後に、ブロック６０で電子装置はコンシューマー３０に提供される。
【００２６】
上述の詳細な説明は、本発明の新規な特徴がさまざまな実施形態に適応されるように示し、説明し、指摘したが、本発明の精神から逸脱することなく、当業者によって、ここで示された装置またはプロセスの形式および内容に、さまざまな省略、置き換え、および変更がなされてもよいことが理解されるだろう。本発明の範囲は、上述の説明によってではなく、添付の特許請求の範囲によって示される。特許請求の範囲に等しい意味および範囲に適合するすべての変更がその範囲内に含まれてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、電子装置のプログラムのための製造システムを示すブロック図である。
【図２】図２は、図１に示す製造装置によって実行されるプログラミング処理の１つの実施形態を示すフローチャートである。
【図１】
2004516567.tif 000003
【図２】
2004516567.tif 000004
【国際公開パンフレット】
2004516567.tif 000005
2004516567.tif 000006
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2004516567.tif 000013
2004516567.tif 000014
2004516567.tif 000015
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2004516567.tif 000018
2004516567.tif 000019
2004516567.tif 000020
2004516567.tif 000021
【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
2004516567.tif 000022
2004516567.tif 000023
【国際調査報告】
2004516567.tif 000024
2004516567.tif 000025
2004516567.tif 000026