(57)【要約】【解決手段】オーステナイト物質における、溶接継目の超音波検査用の、自動化された２重要素変換器の配列は、溶接継目の表示図を用いることで形成されている。前記溶接点は領域ごとに分割され、分割変換器は各々の領域を検査するために選択されている。クリープ波変換器は、最上部領域を検査するために使用され、Ｌ波変換器は低部範囲を検査するために使用される。Ｌ波変換器は「２つの義務」を担うためにコンピューターに接続されている。１セットのゲート及びゲインセッティングの設定は、放出された音の直接反射を計算するために使われ、もう１セットのゲート及びゲインセティングの設定は、モード転換された音の間接反射を計算するために使われる。ゲートセッティングは、図から音路距離を計測することで決定される。テストプレートは、感度を決定するため、及び各々の変換器にとって適切なフィールド幅を確証するために使われる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
溶接金属が１対のプレートと接する１対の溶解線を有しており、オーステナイト物質から形成された、溶接継目のかたまりにある傷を表示するための、超音波テスト装置における変換器配列形成方法であって、以下のステップを含むもの。
（ａ） 溶解線、プレートの被熱影響領域の境界線、溶接金属の表面輪郭、及びプレートの上部及び下部表面の表示を有し、溶接の中心線方向に垂直で溶接を通る断面図を作成するステップ
（ｂ） 図に変換器の位置及び少なくとも１つのポテンシャル変換器音路をレイアウトするステップ
（ｃ） 溶接図を少なくとも２つの検査領域に分割するステップ
（ｄ） 各々の検査領域にたいし、変換器のサイズと音路角度を選択するステップ
（ｅ） それぞれの検査領域に対して、各々の変換器位置から検査限界までの最長音路距離と最短音路距離を測定するステップ
（ｆ） 最長音路距離及び最短音路距離で適切な感度を供給する各々の変換器に対する焦点距離を選択するステップ
（ｇ） 各々の変換器に対するスタンドオフ距離を決定するステップ
（ｈ） 各々の変換器に対するゲートセッティングを決定するステップ
（ｉ） 表示された溶接継目の物質と同様な物質から作られ、表示された形状と同様な形状を有し、溶接継目に機械加工された参考反射物を有するテストプレートを供給するステップ
（ｊ） 各々の変換器に対して、ゲインセッティングを決定するために、テストプレートを使用するステップ
（ｋ） 各々の変換器に対して、適切なフィールド幅を確認するためにテストプレートを使用するステップ
（ｌ） 溶接継目の長さ方向に動くごとができるように、台車上のスタンドオフ距離に変換器を設置するステップ
（ｍ） 表示された溶接継目の物質と同様な物質から作られ、表示された形状と同様な形状を有し、人工的な傷を有するテスト溶接継目を供給するステップ
（ｎ） テスト溶接継目を検査するために台車を使用するステップ
【請求項２】
上記検査領域が同幅である請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項３】
上記テストプレートが少なくとも厚さ約１６ｍｍであり、中間検査領域が溶接点の図にレイアウトされている請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項４】
上記変換器の１つで、上記ゲートセッティングが直接反射音を受信し、追加ゲートセッティングが間接反射音を受信するように決められている請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項５】
上記変換器の１つで、上記変換器のゲインセッティングが直接反射音を受信し、追加ゲインセッティングが間接反射音を受信するように決められている請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項６】
上部検査領域を検査するために使われる変換器が、クリープ波変換器である請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項７】
少なくとも１つの変換器が２乃至４ＭＨｚの周波数を有する縦波変換器である請求項１記載の変換器配列形成方法。
【請求項８】
溶接金属が１対のプレートと接続している被熱影響領域を有するオーステナイト溶接継目にある傷を検知する、超音波テスト装置における変換器配列形成方法であって、以下のステップを含むもの。
（ａ） 溶接金属及び被熱影響領域の上部位置を検査するためにクリープ波変換器を選択するステップ
（ｂ） 溶接金属及び被熱影響領域の低部位置を検査するために第２変換器を選択するステップ
（ｃ） 同一変換器からの間接反射音に１セット、直接反射音にもう１セット、第２変換器に前記２セットのゲートセッティングを選択するステップ
（ｄ） １つのゲインセッティングは間接反射音に、もう１つのゲインセッティングは直接反射音に、第２変換器に前記２つの変換器ゲインセッティングを選択するステップ
（ｅ） 溶接継目の長さ方向に動くことができる台車に変換器を設置するステップ　（ｆ） 第２変換器からくる信号を、まるで２つの変換器からくる信号であるかの如く解析するために、プロセッサーをプログラムするステップ
【請求項９】
直接反射音のゲインセッティングが、間接反射音のゲインセッティングより少なくとも２倍の感度がある請求項８記載の変換器配列形成方法。
【請求項１０】
少なくとも１つの変換器が、２乃至４ＭＨｚの周波数を有する縦波変換器である請求項８記載の変換器配列形成方法。
【請求項１１】
溶接金属が１対のプレートと接続している被熱影響領域を有するオーステナイト溶接継目にある傷検知装置であって、
（ａ） 溶接継目の長さ方向に沿って移動することができる台車と、
（ｂ） 溶接金属及び被熱影響領域の上部に第１音を送るように構成されている台車上のクリープ波変換器と、
（ｃ） 溶接金属及び被熱影響領域の下部に第２音を送るように構成されている台車上の第２変換器と、
（ｄ） 第２音の直接反射を獲得、及び解析するための第１セットのゲイン及びゲートセッティングと、第２音の間接反射を獲得、及び解析するための第２セットのゲイン及びゲートセッティングで、プログラムされているプロセッサー
から構成されている傷検知装置。
【請求項１２】
少なくとも一つの変換器が、２乃至４ＭＨｚの周波数を有する縦波変換器である請求項１１記載の傷検知装置。
【請求項１３】
さらに位置エンコーダーを有する請求項１１記載の傷検知装置。
【請求項１４】
各々の変換器が対応した変換器を有し、台車上に向き合って設置された請求項１１記載の傷検知装置。
【請求項１５】
前記請求項１１記載のような装置を用いた、オーステナイト溶接継目にある傷の表示方法。
【請求項１６】
溶接金属が１対のプレートと接続している被熱影響領域を有するオーステナイト溶接継目にある傷検知方法であって、以下のステップを含むもの。
（ａ） クリープ波変換器と、第２変換器を有する台車を供給するステップ
（ｂ） 第２変換器に対する第１ゲイン及びゲートセッティング、及び第２ゲイン及びゲートセッティングを有するプロセッサーに台車を接続するステップ
（ｃ） クリープ波変換器からの第１音を、溶接金属及び被熱影響領域の上部位置に送信すると共に、第２変換器からの第２音を、溶接金属及び被熱影響領域の低部位置に送信するステップ
（ｄ） 第１音の直接反射を獲得及び解析するために、第１セットのゲイン及びゲートセッティングを用いると共に、第２音の間接反射を獲得及び解析するために、第２セットのゲイン及びゲートセッティングを用いるステップ
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
溶接継目の検査、及び、更に特定すると構造物内にある溶接継目の超音波検査に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
構造物において、溶接継目によって構造上のプレートが接合されるのは一般的である。溶接は通常のフェライト鉄を含んだものだけでなく、ニッケルを多く含んだ金属によっても作ることが出来る。通常のフェライト鉄は、相対的に類似の構造物において、物質を溶接して固める。しかしながら、ニッケルを多く含んだ溶接金属は、典型的に長く延びた粒子構造（樹枝状結晶）を有する面心立方（オーステナイト）結晶構造体で固まる。
【０００３】
超音波検査（ＵＴ）は、普通のフェライト鉄溶接に欠陥があるか検査するのに使われる。既に知られていることであるが、単要素変換器の配列は、フェライト鉄溶接（一般的にパイプラインの帯溶接）を移動するローリングカートに設置されている。変換器は即座に継目の検査が出来るようにコンピュータデータ集積システムに結びつけられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、不幸にも、オーステナイト溶接の樹枝状結晶体はそれらに超音波検査による検査をより一層困難にしている。典型的に長く延びた粒子構造は超音波信号を屈折させる傾向があり、収集したデーターに高レベルのノイズを作り出す。従って、オーステナイト溶接のＵＴ検査における使用は限られている。
【０００５】
２重要素である縦波変換器は、オーステナイト溶接に有益な検査を提供することに使えることが知られている。しかしながら、単要素である剪断波変換器と違い、２重要素変換器は、一定の距離に焦点を結ぶので、単要素変換器によって覆われるのと同様な広い範囲に関する情報を提供できない。従って、直線的なオーステナイト溶接のスキャンニングは、作業者が関心のある溶接金属とベース金属間の溶解線のような特定の溶接部だけという条件に限定される。
【０００６】
作業者が溶接の全体を検査するのに関心がある場合、「ラスタリング（ｒａｓｔｅｒｉｎｇ）」工程が慣例として使用される。このような工程では、手動で変換器を溶接部に行ったり来たり滑らせて溶接の薄い部分に通すことで作業者は欠陥を探る。溶接部に関して変換器を横方向に移動することは、溶接部の異なった他の部分を通る変換器からの音の方向を変えるために必要である。ラスタリングは遅くて扱いにくい工程である。２重要素変換器を自動ＵＴ検査のために台車上に設置する試みは、すでに行われているようである。しかしながら、確実な結果を提供するような変換器配置を決定するにはまだ困難である。
【０００７】
従って、オーステナイト溶接の全体を検査しなければならない場所では、一般的に当業者は、超音波検査の問題を先行すること、及びレントゲン写真検査の代りに依存することをすでに決めている。例えば、液化天然ガスのような低温液体の保管をするためのタンクは、溶接欠陥の検査を１００％必要とするオーステナイトバット溶接によってつながれているプレートによって現地組付される。このような溶接は、慣例として、放射能危険レベルにおいて写真感光フィルムで検査されている。このようなレントゲン写真検査は、潜在的な安全性の欠陥であると共に、このようなタンク建設スケジュールをしばしば管理するというような時間浪費過程となる。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
オーステナイト溶接継目の超音波自動検査のための２重要素変換器において、有益な配列を簡単に構成できる新しい方法が開発されている。上記新しい配列はオーステナイトの超音波検査を、レントゲン写真検査に対して魅力ある選択肢として促進する。
【０００９】
変換器の有益な配列は、表示される溶接の断面図を用いることにより、容易に構成することができることはすでに知られている。変換器の場所及び音路は図に示され、すくなくとも２つの検査領域に分けられる。変換器のハウジングサイズ及び音路は、各々の検査領域によって選ばれ、変換器位置から熱影響を受ける境界までの最長及び最短の音路距離が計測される。最短音路距離及び最長音路距離に十分な感度を提供する焦点距離が選ばれる。変換器のスタンドオフ距離（ｓｔａｎｄｏｆｆ ｄｉｓｔａｎｃｅｓ）とゲート（ｇａｔｅ）セッティングは図によって確定される。そして、テストプレートは変換器のゲイン（ｇａｉｎ）セッティングを決定すると共に、十分なフィールド幅（ｗｉｄｔｈ−ｏｆ−ｆｉｅｌｄ）を確認するために使用される。そして、変換器は台車に取り付けられ、溶接継目テスト検査に使用される。溶接金属及び被熱影響領域の上部を検査するために、クリープ波変換器を選択すること、及び他の変換器にとって２セットのゲイン及びゲートセッティングを選択することは特に有益である。セッティングの１セットは、変換器からの音の直接反射を獲得及び解析するため、セッティングの他方のセットは、その音の間接反射を獲得及び解析するためである。このようにするために、あたかもそれらが２台の別個の変換器からの信号かのように、変換器からの信号を解析するようにプロセッサーはプログラムされている。
【００１０】
非破壊検査関連の中で使用される基準を適用することで、これらの方法および装置は、機械加工による傷及びオーステナイト溶接における故意の溶接不良によって生じる欠陥の両方を確実に検知することができるようになる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１及び図２は、自動、オーステナイト溶接継目の超音波検査に効果的に使われる台車１０の実施例を示す。図に示されている台車は、フレーム１２、磁気車輪１４、クリープ波（ｃｒｅｅｐ ｗａｖｅ）変換器２０、中間域変換器３０、低域変換器４０によって構成されている。
【００１２】
使い方として、図２に示されているように、台車は溶接継目を跨ぐようにする。溶接継目は幅１６ｍｍ以上で、一対のプレート５２を繋ぐ溶接金属５０を有している。各プレートはプレートの範囲内で、溶接金属とプレート間の溶解線５１から境界線５６まで延びた被熱影響域５４を有している。
【００１３】
図３に示すように、クリープ波変換器２０は、溶接金属５０及び被熱影響域５４の上部２４に、音路２２に沿って音を発生するように構成されている。図に示されている本発明の実施例にあるクリープ波変換器は、４０×４０ｍｍハウジング、３３ｍｍ溶接検査地点の中心線からのスタンドオフ距離２６、及び２から４ＭＨｚの周波数を有する。また他の変換器も、溶接金属及び被熱影響域の上部を検査できるが、クリープ波変換器の使用の方が好まれている。
【００１４】
中間域変換器３０は、溶接金属５０及び被熱影響域５４の中間部３４に、音路３２に沿って音を発生するように構成されている。図に示されている本発明の実施例にある中間域変換器は、２重要素、７０°縦波（Ｌ波）変換器であり、４０×４０ｍｍハウジング、４４ｍｍ溶接検査地点の中心線からのスタンドオフ距離３６、及び２から４ＭＨｚの周波数を有する。また他の変換器も、溶接金属及び被熱影響域の中間部を検査できる。
【００１５】
低域変換器４０は、溶接金属５０及び被熱影響域５４の低部４４に、音路４２に沿って音を発生するように構成されている。図に示されている本発明の実施例にある低域変換器は、２重要素、６０°Ｌ波変換器であり、４０×４０ｍｍハウジング、４０ｍｍ溶接検査地点の中心線からのスタンドオフ距離４６、及び２から４ＭＨｚの周波数を有する。また他の変換器も、溶接金属及び被熱影響域の低部を検査できる。
【００１６】
図１に示すように、また、台車は溶接継目の長さ方向を移動するときの位置を表示する位置エンコーダー６０を有する。変換器２０、３０、及び４０はコンピューター６８に繋がれており、変換器によって送られる音の直接反射を獲得及び解析するために、ゲイン（感度）とゲートセッティングの１セットをプログラムされている。また、中間部音路３２を通る中間域変換器３０によって送られる音の任意の間接反射を獲得及び解析するために、ゲインとゲートセッティングの第２セットをプログラムされている（このような間接反射によってもたらされる音路は後で記載する）。図に示されている本発明の実施例にある中間域変換器は、中間域変換器からの音の直接反射を獲得及び解析するために３５ｍｍから始まる長さ２５ｍｍのゲートセッティングを有し、その音の間接反射を獲得及び解析するために５６ｍｍから始まる長さ２０ｍｍのゲートセッティングを有する。
【００１７】
図１から図３に示すような台車は、比較的に単純で、革新的な手段で構成されている。
【００１８】
第１に、検査された溶接継目の厚み及び溶接継目の接合部詳細を評価する。そして、溶接部を通る断面図を用意する。このような図面の例えは、図４に示される。示された断面は、溶接部の中心線方向の垂直面である。図面は溶接金属５０とプレート５２の間に溶解線５１、プレート内被熱影響域５４の境界線５６、溶解金属５０の表面輪郭５８、及びプレート５２の上部と下部表面６１、６２の表示を有している。表示には溶接金属及びプレート内の検査によって見つけられた実際の特徴の概要だけが必要であるが、概要は比較的に正確な方が望ましい。
【００１９】
そして、変換器位置及び変換器位置のためのポテンシャル変換器（ｐｏｔｅｎｔｉａｌ ｔｒａｎｓｄｕｃｅｒ）音路は、図面にレイアウトされている。図５において、３枚の分割コピーは、一般的に入手可能な異なった基本的変換器７０，７１、及び７２の変換器位置及び音路を示すのに使われる。各々の変換器は、４５°音路７５、６０°音路７６　、７０°音路７７、及びクリープ波音路７８について示されている。
【００２０】
次に、図面の溶接金属５０及ぶ被熱影響域５４は、少なくとも２つの検査領域に分割されている。図６において、図の溶接金属及び被熱影響域を同じ幅の３領域に分割するために、図５の図に水平分割線８０が追加されている。上部検査領域８２、中間部検査領域８３、及び低部検査領域８４である。好まれていることであるが、分割線は完全な水平線、又は直線である必要はなく、また領域が同じ幅である必要はない。現在一般的に使われる変換器では、各々の領域において実際の溶接金属及び被熱影響領域の厚みが約８−１０ｍｍの最大値を表示することが望ましい。そして、プレートが約１６ｍｍ未満の厚みをもつとき、溶接金属及び被熱影響域の図は２つの検査領域に分割される必要がある、またプレートが約３２ｍｍより厚いとき、図は少なくとも４つの検査領域に分割される。
【００２１】
そして、図をもとにして、各々の検査領域を検査するために変換器を選択する。変換器を選択する場合、ハウジングサイズと音路角度は各々規定されている。例えば、図６より上部検査領域８２には、４０×４０ｍｍクリープ波変換器、中間部検査領域８３には、４０×４０ｍｍ７０°Ｌ波変換器、及び低部検査領域８４には、４０×４０ｍｍ６０°Ｌ波変換器を選択する。一般的に上部検査領域にはクリープ波変換器を使うことが望ましい。図７のように、各々の検査領域を通過するように音路２２、３２、及び４２が、変換器の音路角度α、β、及びγに描かれている。音路がプレートの最上表面６１と交差する点が、変換器６３、６４、及び６５の位置を決める。必ずしもそうでないが、各々の領域で描かれている音路は、その検査領域内にある各々の被熱影響領域５４の境界線５６を横切ることが望ましい。低部検査領域８４の音路４２は、低部検査領域内にある被熱影響領域５４の境界線５６を横切っていない。しかしながら、描かれている線は、音路の中心線を示しているにすぎない。変換器からの音は、実際より広い範囲を覆っているので、描かれている線はかなり近傍にあり十分である。むしろ、溶接点が検査される溶接金属５０に変換器が接触しないように変換器ハウジングサイズが選択されることが望ましい。このようなハウジングサイズ及びスタンドオフ距離２６、３６、４６を設定することで、検査前に溶接継目を滑らかにしなくてもすむようになる。
【００２２】
次に、焦点距離は各々の変換器によって決められる。始めに、音路がプレートの最上表面と交差する変換器位置６３、６４、及び６５から、各々の変換器の検査領域にある検査限界９０までの最短及び最長の音路距離が計測される。図に示しているように、音路上で変換器位置が被熱影響領域５４の境界線と交差するところに、検査限界は設定される。あるいは、検査限界は、音路が進入する検査領域又はある中間又は同じ位置に設定してもよい。ここに示されている本発明の実施形態において、最短及び最長音路距離は、クリープ波変換器２０、中間域変換器３０、及び低域変換器４０で、各々１６ｍｍと４７ｍｍ、３５ｍｍと６０ｍｍ、３６ｍｍと６０ｍｍである。
【００２３】
そして、各々の変換器において焦点距離は、最長音路と最短音路の両方において適切な感度を提供できるように選択される。少なくとも最長音路距離の１／２倍、及び最短音路距離の２倍以下である焦点距離選択することで、十分に確かな感度を得られることが望ましい。ここに示されている本発明の実施形態において焦点距離は、クリープ波変換器２０、中間域変換器３０、及び低域変換器４０で、各々２４ｍｍと３２ｍｍ、３０ｍｍと７０ｍｍ、３０ｍｍと７２ｍｍの間である。
【００２４】
各々の変換器のスタンドオフ距離は、図より直接計測されてもよい。図７では、スタンドオフ距離２６、３６、及び４６は、溶接金属５０の中心線から変換器位置６３、６４、及び６５までを計測されている。他の参考距離も使われてもよい。図に示されているスタンドオフ距離は、クリープ波変換器２０、中間域変換器３０、及び低域変換器４０で、各々３３ｍｍ、４４ｍｍ、４０ｍｍである。
【００２５】
そして、各々の変換器において、ゲートセッティングが選択される。直接反射信号では、各々の変換器で初期ゲートセッティングとして計測された最短音路距離を使うことが望ましい、また計測された最短音路と最長音路との差と同じゲートセッティング長さを選択されることが望ましい。ここに示されている本発明の実施形態において、この結果より直接反射信号の初期ゲートセッティングとゲートセッティング長さは、クリープ波変換器２０、中間域変換器３０、及び低域変換器４０で、各々１６ｍｍと３１ｍｍ、３５ｍｍと２５ｍｍ、３６ｍｍと２４ｍｍである。
【００２６】
また、ゲートセッティングは１つまたはそれ以上の変換器からの間接反射信号により設定されてもよい。図８では、「往復」音路距離が３区間の距離を用いて決定される。第１区間９１は音路３２に沿って変換器位置６４から溶接金属５０の中心線上の第１反射位置９２まで、第２区間９３は第１反射位置からプレート５２の１つの低部表面にあるモード転換位置９４まで、第３区間９５はモード転換位置から変換器に戻るまでの距離である。図で、第３区間は約３２°の角度で描かれている、なぜなら図で示されている７０°Ｌ波変換器は、その角度で到達する剪断波に特に感度がよいからである。他の変換器は、他の角度のせん断波にさらに感度がよい、そして、異なる変換器では異なる角度で区間を描くのが望ましい。同様に、第１反射位置は第１区間沿いの他の位置に設定することができる。しかしながら、好ましくは、溶接金属又は少なくとも１つの被熱影響領域の範囲内に位置することである。往復音路距離を計測するとき、モード転換された剪断波区間９５の通過の異なった速度を計算するために、第３区間の長さに適切な乗数を掛けるべきである。図８では、区間９１、９３、及ぶ９５は各々４０ｍｍ、２６ｍｍ、及び３６ｍｍである。第３区間の長さに１．８を掛けることで、１３１ｍｍの全往復有効距離が提供される。往復有効距離は、間接反射信号に６６ｍｍの有効直接距離を提供するために半減される。
【００２７】
図に示す実施例に関する重要な範囲に有効に当てはめるために、この約１０ｍｍ（または溶接金属と被熱影響領域の約半分の幅）の往復有効距離を縮小することにより、このような間接反射信号を得ようと初期ゲートセッティングを設定することは望ましいことである。図に示す実施例において、この結果は変換器からの間接反射音として５６ｍｍの初期ゲートセッティングになる。間接反射信号としてのゲートセッティング長さは、好ましくは上記１０ｍｍ距離の倍でえられる。従って、図８のように、変換器からの間接反射信号としてのゲートセッティング長さは２０ｍｍとなる。
【００２８】
各々の変換器の適切なゲインセッティングは、図９で示されるようなテストプレートを使うことで決定することができる。図９で示されるテストプレート５２’は、表示された溶接継目にあるような物質から作れられており、表示された溶接継目の形状（つまり、テストプレートは、表示された溶接点におけるプレートの厚み及び物質と同様であり、同様なテスト溶接金属５０’を有し、表示された溶接点にある溶解線及び境界線において、輪郭が同様である溶解線５１’及び被熱影響流域５４’の境界線５６’を有している）と同様な形状を有している。またテストプレートは、テスト溶接内に機械加工された参考反射物を含むことが望ましい。図９では、反射物に側部穴１０２、１０３及び１０４を有している。各々の選択された変換器のサンプルは、音路がそれぞれの検査領域にある側部穴に直接向けられるように、テスト溶接金属からの適切な距離に設置されている。図９では、低域変換器４０は、音路４２が低部検査領域４４’にある側部穴１０４に直接向けられるように位置決めされている。適切なゲインセッティングにより、この変換器は低部検査領域にある側部穴１０４を検出するだけでなく、中間部検査領域３４’にある側部穴１０３も検出する。好ましくは、低部領域にある側部穴からの信号と中間部領域にある側部穴からの信号間に６ｄＢ未満落ちの反応があることである。この落ち込み基準は、多くのアプリケーションにおいて適切なフィールド幅を提供することがわかる。好ましくは、コンピューター６８より得られる信号が、全ての変換器通路における全表示高さの８０％に届くように、各々の変換器のゲインセッティングが設定されていることである。同じゲインセッティングでマイナス６ｄＢは、一般的に間接反射信号のゲインセッティングに使うことができる。
【００２９】
ゲインセッティングが全ての変換器に確立された後、図１に示される台車を組み立てることが出来る。図１のように、台車には選択された変換器２０、３０、及び４０が、各々のスタンドオフ距離２６、３６及び４６に設置されている。またその図で示しているように、各々の変換器と対になる変換器２０’、３０’、及び４０’を有する方が望ましい。対になる変換器は、表示結果の信頼性を向上させるために、台車の対称位置に設置することが望ましい。検査溶接点として変換器から受取ったデータを収集、解析、表示するために適切なソフトウェアーがセットアップされる。ソフトウェアーをセットアップするときは、１つ又はそれ以上の変換器を複数のチャンネルに接続することは有益であり、１つのチャンネルは、変換器からの直接反射音の取得及び解析をするためにゲイン及びゲートセッティングを行い、もう１つのチャンネルは、変換器からの間接反射音の取得及び解析をするためにゲイン及びゲートセッティングを行う。
【００３０】
台車の信頼性及びソフトウェアーのセットアップを確認するために、追加テスト溶接継目（図１０に示すように）上で台車をテストすることも有益なことである。さらに、テスト溶接継目は、表示された溶接継目にある物質と同じ物質から作らなければならないし、表示された溶接継目の形状と同じ形状を持たなければならない。また、側部穴１０５、ＥＤＭ切り目１０７、溶接作業傷１０９のような人工傷を持たなければならない。
【００３１】
フィールドでは、初期値レベルを超過する信号はすべて、確立している受理基準に対して評価されるか、あるいはさらに、手動選別により評価されるべきである。好ましくは、前記初期値はディスプレイの全表示高さの６０％に設定することである。
【００３２】
本発明は、添付図面を参照することにより一層理解できること思われる。
【図面の簡単な説明】
【図１】
本発明に従って形成された台車の平面図である。
【図２】
溶接継目検査に使われる図１の台車の断面図である。
【図３】
図２の拡大図である。
【図４】
本発明の方法で結合部に使われる、実施例の図である。
【図５】
本発明の方法で結合部に使われる、実施例の図である。
【図６】
本発明の方法で結合部に使われる、実施例の図である。
【図７】
本発明の方法で結合部に使われる、実施例の図である。
【図８】
本発明の方法で結合部に使われる、実施例の図である。
【図９】
本発明の接合部で使われる、テストプレートの断面図である。
【図１０】
本発明の接合部で使われる、テストプレートの断面図である。
【符号の説明】
１０…台車
２０…クリープ波変換器
２２、３２、４２…音路
２６、３６、４６…スタンドオフ距離
３０…中間域変換器
４０…低域変換器
５０…溶接金属
５１…溶解線
５２…プレート
５２’…テンプレート
５４…被熱影響領域
５６…境界線
５８…表面輪郭
６０…位置エンコーダー
６８…コンピューター
８２…上部検査領域
８３…中間部検査領域
８４…低部検査領域
１０２、１０３、１０４…側部穴
α、β、γ…音路角度
【国際公開パンフレット】
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2004511774.tif 000004
2004511774.tif 000005
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【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
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【国際調査報告】
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