(57)【要約】本発明は、データを作成及び使用する構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）を有し、上記データの少なくとも１つ（ｘｉ）は、上記構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）の少なくとも１つの機能の欠陥の発生の結果として、所定の特定の値（ｘｉｐ）をとることができる、電子システム集合の機能の欠陥診断方法に関し、この方法は：ｉ）上記システム集合のアーキテクチャの構想フェーズの間に、関連する欠陥のタイプに従って上記特定の値を分類し（ａ）、上記分類を、例えば検索表の形で、コンピュータのメモリの中に記録することを特徴とする。
2006515089.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを作成及び使用する構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）を有し、上記データの少なくとも１つ（ｘｉ）は、上記構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）の少なくとも１つの機能の欠陥の発生の結果として、例えばコンピュータのメモリの中にストックされた欠陥の表示のような、所定の特定の値（ｘｉｐ）をとることができる、電子システム集合の機能の欠陥診断方法において、
ｉ）上記システム集合のアーキテクチャの構想フェーズの間に、関連する欠陥のタイプに従って上記特定の値を分類し（ａ）、上記分類を、例えば検索表の形で、コンピュータのメモリの中に記録し、
ｉｉ）診断フェーズの際に、上記電子システム集合に診断ツールを接続し、上記診断ツールは上記分類へのアクセスを有し、
ｉｉｉ）上記分類において、特に信頼度が高いと予め決定された構成要素の欠陥のタイプに該当する特定の値を除外し（ｂ）、
ｉｖ）特定の値（ｘｉｐ）をとるデータ（ｘｉ）を選択し（ｃ）、
ｖ）過程（ｉｖ）において選択された各データ（ｘｉ）について、上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を自動的に計算し（ｄ）、
ｖｉ）上記データの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に含まれるデータのリスト（Ｘ∞）を自動的に確定し（ｅ）、
ｖｉｉ）上記特定の値とその伝播を上記電子システム集合の診断のために設けられたツールのためのメモリ手段へ記録する、
ことを特徴とする、電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項２】
上記データのリスト（Ｘ∞）から、結果が観察されない欠陥を除外する（ｇ）ことを特徴とする、請求項１に記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項３】
過程（ｖｉ）において、欠陥が存続しないなら、以前に除外された分類を再考慮して（ｊ）、過程（ｉｉ）へ戻ることを特徴とする、請求項１または２に記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項４】
過程（ｖｉ）において、欠陥が存続したら、フェーズ（ｇ）において特定された欠陥の１つが確かに上記診断フェーズの開始をもたらした問題の原因であることを確認し、そうでなければ、過程ｈ）を再開することを特徴とする、請求項３に記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項５】
上記データのリスト（Ｘ∞）を分析して、機能の欠陥が上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する１または複数の構成要素を特定することを特徴とする、請求項１〜４のいずれか１つに記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項６】
欠陥のタイプは、下記に列挙されたカテゴリ： 
−機能によって発生されたデータの使用不能の結果として作られた特定の値、
−センサまたはアクチュエータの欠陥の検出の結果として作られた特定の値、
−コネクタまたは配線のレベルにおける接続の欠陥の結果として作られた特定の値、
−コンピュータの欠陥の結果として作られた特定の値、
−マイクロコンピュータ上におけるプログラムの実行の欠陥の結果として作られた特定の値、
−通信ネットワークのレベルにおける欠陥の結果として作られた特定の値、
の少なくとも１つに属することを特徴とする、請求項１〜５のいずれか１つに記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項７】
属するカテゴリに応じて、特定の値をとるデータごとに、発生の確率を自動的に決定し、過程（ｊ）を第１に考慮に入れて過程（ｂ）を変更することを特徴とする、請求項１〜６のいずれか１つに記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項８】
上記電子システム集合は、車両に装備するためのシステム集合を含むことを特徴とする、請求項１〜７のいずれか１つに記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項９】
上記の電子システム集合の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方の解析過程と、上記の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方を表示する出力の設定過程とを含むことを特徴とする、請求項１〜８のいずれか１つに記載の電子システム集合の機能の欠陥診断方法。
【請求項１０】
コンピュータによって読み取り可能なメモリと、電子システム集合の機能の欠陥診断のために、上記メモリに記録され、コンピュータによって実行可能なプログラムとを含んでなる市販の製品において、上記プログラムは：
ｉ）上記システム集合の構想フェーズの間に、関連する欠陥のタイプに従って上記特定の値を分類し（ａ）、上記分類を、例えば検索表の形で、コンピュータのメモリの中に記録し、
ｉｉ）診断フェーズの際に、上記電子システム集合に診断ツールを接続し、上記診断ツールは上記分類へのアクセスを有し、
ｉｉｉ）上記分類において、特に信頼度が高いと予め決定された構成要素の欠陥のタイプに該当する特定の値を除外し（ｂ）、
ｉｖ）特定の値（ｘｉｐ）をとるデータ（ｘｉ）を選択し（ｃ）、
ｖ）過程（ｉｖ）において選択された各データ（ｘｉ）について、上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を自動的に計算し（ｄ）、
ｖｉ）上記データの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に含まれるデータのリスト（Ｘ∞）を自動的に確定し（ｅ）、
ｖｉｉ）上記特定の値とその伝播を上記電子システム集合の診断のために設けられたツールのためのメモリ手段へ記録する、
ためのコーディングを含むことを特徴とする市販の製品。
【請求項１１】
請求項１〜９のいずれか１つに記載の方法の過程を使用して電子システム集合の診断のためにプログラムされた、あるいは、請求項１０に記載の市販の製品を使用してプログラムされた、情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データを作成及び使用する構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）を有し、上記データの少なくとも１つ（ｘｉ）は、上記構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）の少なくとも１つの機能の欠陥の発生の結果として、所定の特定の値（ｘｉｐ）をとることができる、電子システム集合の診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特に自動車に装備するために構想された、上記「技術分野」に記載されたような電子システム集合が知られている。このような自動車は、一般に、それぞれが、自動車の推進の制御、車室の空調の管理、自動車と路面との関係（例えば、制動、サスペンション等）の管理、電話通信の管理等の便益提供（プレスターション；ｐｒｅｓｔａｔｉｏｎ）を可能にする、複数のシステムを有している。  
図１に、例えば自動車用の、システム集合のハードウエアの構成要素の略図を示す。これらの構成要素は、主として、電子制御ユニットすなわち「コンピュータ」ＵＣＥｍを含む。各計算機は、場合によっては、センサＣｎｉとアクチュエータＡｍｊに接続されている。全てのコンピュータは、バスＢに接続された他のコンピュータから、または他のコンピュータへの、例えば多重化された情報を発信または受信するために、バスＢに接続されている。  
この多重化は、特に、例えばバスＣＡＮとして周知のように、数値信号のトラム（ｔｒａｍｅ）によって具体化されたメッセージの中へ関連する情報を導入することによって得られる。  
例として、「エンジン制御」システムＳ２は、コンピュータＵＣＥ２と、例えば内燃エンジンであるエンジンの回転数、エンジンの吸気マニフォールドの圧力、外気の気圧、エンジン冷却水の温度、空気の温度、バッテリの充電状態等を感知可能な複数のセンサＣ２ｉと、複数のアクチュエータＡ２ｊを有する。コンピュータＵＣＥ２は、アイドル回転数の調整、空気・燃料混合気のリッチネスの調整、混合気の点火進度の調整、排気ガス再循環等の、エンジンの複数の制御機能を実行するように、適切にプログラミングされる。このため、コンピュータＵＣＥ２は、上記のセンサＣ２ｉから来る情報を利用して、「アイドル回転数の調整」機能のための補助空気制御バルブおよび点火プラグの点火コイル、「リッチネスの調整」機能のための燃料噴射機、「点火進度の調整」機能のための上記の点火コイル、及び「排気ガス再循環」機能のためのバルブ、から構成されるアクチュエータＡ２ｊの制御信号を作成する。  
上記に言及した、「車室の空調の管理」、「自動車と路面との関係の管理」等のその他の「便益提供」は、上記にエンジンの制御に関して示したものと類似のアーキテクチャのシステムによって実行される。  
これらの全てのシステムは、多重化ネットワークを構成する、同じバスＢを介して交信する。従って、異なるシステムに属する複数の機能に、同じセンサから発生される情報が使用され、このことが、例えばシステム集合の構成における冗長性のためのコストを回避することを可能にすることが理解される。また、多重化ネットワークの使用は、集合の様々な構成要素を相互に接続する電気配線の長さを大きく減少させることを可能にする。このような多重化された集合は、従来にはなかった、場合によっては複雑な機能を、複数のシステムに時には介入して、設けることも可能にする。複数のシステムに介入することから、この機能は、「横断的」と呼ばれる。非限定的な例として、自動車が衝撃を受けたことを意味する「エア  バッグ起動」の情報は、車載の移動電話装置から救助信号の発生を指令するように処理することができる。
【０００３】
フランス国特許出願ＦＲ  ０１１５８１９には、電子システム集合の機能の欠陥診断方法における、特定の値の概念とその利用が記載されている。  
しかしながら、この方法は、診断のために故障のタイプを選択することはできず、例えば、コネクタから発生する故障のみを探求することはできず、あるいは発生の確率が最も高い故障を第１に探求することはできない。この故障発生の確率は、利用される設計技術の知識に基礎を置くものである。
【０００４】
【特許文献１】フランス国特許出願ＦＲ  ０１１５８１９
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は上記の問題を解消することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このため、本発明は、データを作成及び使用する構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）を有し、上記データの少なくとも１つ（ｘｉ）は、上記構成要素（Ａｎｉ；Ｃｎｉ；ＵＣＥｎ；Ｂ）の少なくとも１つの機能の欠陥の発生の結果として、例えばコンピュータのメモリの中にストックされた欠陥の表示のような、所定の特定の値（ｘｉｐ）をとることができる、電子システム集合の機能の欠陥診断方法において、
ｉ）上記システム集合のアーキテクチャの構想フェーズの間に、関連する欠陥のタイプに従って上記特定の値を分類し（ａ）、上記分類を、例えば検索表の形で、コンピュータのメモリの中に記録し、
ｉｉ）診断フェーズの際に、上記電子システム集合に診断ツールを接続し、上記診断ツールは上記分類へのアクセスを有し、
ｉｉｉ）上記分類において、特に信頼度が高いと予め決定された構成要素の欠陥のタイプに該当する特定の値を除外し（ｂ）、
ｉｖ）特定の値（ｘｉｐ）をとるデータ（ｘｉ）を選択し（ｃ）、
ｖ）過程（ｉｖ）において選択された各データ（ｘｉ）について、上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を自動的に計算し（ｄ）、
ｖｉ）上記データの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に含まれるデータのリスト（Ｘ∞）を自動的に確定し（ｅ）、
ｖｉｉ）上記特定の値とその伝播を上記電子システム集合の診断のために設けられたツールのためのメモリ手段へ記録する、
ことを特徴とする、電子システム集合の機能の欠陥診断方法を提供する。
【０００７】
この方法によって、現実または潜在的な故障を、それらのタイプに応じて探求することができ、このことは、より発生の可能性が高い故障のみを取り上げることによって、故障の探求時間を短縮することを可能にする。なお、用語、電子システムは、データを作成及び使用するあらゆる電子及び電気システムを包含すると理解されるべきである。
【０００８】
上記データのリスト（Ｘ∞）から、結果が観察されない欠陥を除外する（ｇ）ことができる。  
このことは、故障の探求時間を短縮することを可能にする。
【０００９】
過程（ｖｉ）において、欠陥が存続しないなら、以前に除外された分類を再考慮して（ｊ）、過程（ｉｉ）へ戻ることができる。
【００１０】
過程（ｖｉ）において、欠陥が存続したら、フェーズ（ｇ）において特定された欠陥の１つが確かに上記診断フェーズの開始をもたらした問題の原因であることを確認し、そうでなければ、過程（ｈ）を再開することができる。
【００１１】
上記データのリスト（Ｘ∞）を分析して、機能の欠陥が上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する１または複数の構成要素を特定することができる。
【００１２】
欠陥のタイプは、下記に列挙されたカテゴリ： 
−機能によって発生されたデータの使用不能の結果として作られた特定の値、
−センサまたはアクチュエータの欠陥の検出の結果として作られた特定の値、
−コネクタまたは配線のレベルにおける接続の欠陥の結果として作られた特定の値、
−コンピュータの欠陥の結果として作られた特定の値、
−マイクロコンピュータ上におけるプログラムの実行の欠陥の結果として作られた特定の値、
−通信ネットワークのレベルにおける欠陥の結果として作られた特定の値、
の少なくとも１つに属することができる。
【００１３】
属するカテゴリに応じて、特定の値をとるデータごとに、発生の確率を自動的に決定し、過程（ｊ）を第１に考慮に入れて過程（ｂ）を変更することができる。  
この措置によって、発生する確率が高い故障を第１に考慮にいれて、故障探求を方向付けすることができる。
【００１４】
上記電子システム集合は、車両に装備するためのシステム集合を含むことができる。
【００１５】
上記の電子システム集合の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方の解析過程と、上記の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方を表示する出力の設定過程とを含むことができる。
【００１６】
また本発明は、コンピュータによって読み取り可能なメモリと、電子システム集合の機能の欠陥診断のために、上記メモリに記録され、コンピュータによって実行可能なプログラムとを含んでなる市販の製品において、上記プログラムは：
ｉ）上記システム集合の構想フェーズの間に、関連する欠陥のタイプに従って上記特定の値を分類し（ａ）、上記分類を、例えば検索表の形で、コンピュータのメモリの中に記録し、
ｉｉ）診断フェーズの際に、上記電子システム集合に診断ツールを接続し、上記診断ツールは上記分類へのアクセスを有し、
ｉｉｉ）上記分類において、特に信頼度が高いと予め決定された構成要素の欠陥のタイプに該当する特定の値を除外し（ｂ）、
ｉｖ）特定の値（ｘｉｐ）をとるデータ（ｘｉ）を選択し（ｃ）、
ｖ）過程（ｉｖ）において選択された各データ（ｘｉ）について、上記データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を自動的に計算し（ｄ）、
ｖｉ）上記データの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に含まれるデータのリスト（Ｘ∞）を自動的に確定し（ｅ）、
ｖｉｉ）上記特定の値とその伝播を上記電子システム集合の診断のために設けられたツールのためのメモリ手段へ記録する、
ためのコーディングを含むことを特徴とする市販の製品を提供する。
【００１７】
また本発明は、本発明の過程を使用して電子システム集合の診断のためにプログラムされた、あるいは、本発明の市販の製品を使用してプログラムされた、情報処理装置を提供する。
【００１８】
上記電子システム集合は、自動車に装備するためのシステム集合を含むことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の目的、特徴及び利点は、例として記載された以下の説明を読み、添付図面を検討することによって、明らかとなるであろう。これらの図において：
−図１は、本発明による機能の欠陥診断手段を付与することを意図する、電子システム集合の略図であって、この電子システム集合は、本明細書の「背景技術」において説明したものであり、
−図２は、電子システムの故障診断方法における、本発明の適用を説明する概要図である。
【００２０】
システム集合の構成要素によって作られるデータの特定の値は、特に構想段階の間に、表現される欠陥のタイプに応じて分類することができる。  
センサと、アクチュエータと、機能に関連する、機能の特定の値と、コンピュータと、データバスと、有線接続及びコネクタによる機能の特定の実施の形態に由来する、オペレーションの特定の値とに区別することができる。
【００２１】
機能の特定の値の間で、機能の入力データの流れに関し、特定の値の異なるカテゴリを、特に、データの無効な値を決める特定の値のカテゴリと、設計者によって決められたデータの定義範囲外の値を決める特定の値のカテゴリとに区別する。
【００２２】
また、機能の特定の値の間で、センサまたはアクチュエータの欠陥に関して、引き続いて発生される特有の値を区別する。欠陥の検出は、センサまたはアクチュエータを操作する機能によってなされる。
【００２３】
オペレーションの特定の値の間、すなわち、コンピュータと、コンピュータ間の通信バスと、配線による機能の特定の実施の形態に由来するオペレーションの特定の値の間で、以下のもの：
−有線接続に関する欠陥、特にアースへの短絡と開回路を診断する特定の値；
−特にデータの不在による、多重化バス上の通信の欠陥の検出に関する特定の値；
−ネットワーク上におけるコンピュータの不在に関する特定の値であって、孤立したコンピュータの中で作られる特定の値と、孤立したコンピュータを観察するコンピュータによって作られる特定の値を区別することができる。このカテゴリの特定の値は、例えば上記のネットワークのデータのトラムが不在、すなわちデータが待ち受けられていて受け取られないときに作られる；
−コンピュータ上の実行の欠陥に関する特定の値であって、例えばメモリの破損、すなわち、そのコンピュータにローディングされたプログラムによる異常の検出に引き続く、ＣＲＣ（Ｃｙｃｌｉｃ  Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ  Ｃｈｅｃｋ）すなわちそのコンピュータの再初期化の周期的な冗長度テストによって検出され、この場合、メモリの少なくとも１つの偶発的な反転が問題になる；
−給電の欠陥に関する特定の値；及び
−複数の欠陥の組み合わせに特有な、特定の値；
を区別する。
【００２４】
本出願人によって出願され、ここに参考として取り入れるフランス国特許出願ＦＲ  ０１１５８１９には、データを作成及び使用する電子システム集合の機能の欠陥の診断方法であって、上記データの少なくとも１つ（ｘｉ）は、上記集合の少なくとも１つの構成要素の機能の欠陥の発生の結果として、所定の特定の値（ｘｉｐ）をとることができる、電子システム集合の機能の欠陥の診断方法が開示されている。この診断方法は、以下の過程：
ａ）診断過程の開始時に、特定の値（ｘｉｐ）を示すデータ（ｘｉ）を選択し、
ｂ）選択された各データ（ｘｉ）について、データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を求め、
ｃ）上記のデータの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に属するデータのリスト（Ｘ∞）を確定し、
ｄ）上記のデータのリスト（Ｘ∞）を解析して、機能の欠陥が、データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する、集合の１または複数の構成要素を特定する、
ことからなる。
【００２５】
本発明を実行するに当たって、本発明の特定の値のカテゴリを考慮に入れるために、上記に要約した方法を補完する。補完された方法の特有の実施の形態を、図２を参照して詳細に説明する。
【００２６】
補完された本発明の電子システム集合の機能の欠陥診断方法は、以下の過程からなる：
−既知のタイプの初期化過程２１０。  
−特定の値（ｘｉｐ）を示すデータ（ｘｉ）を選択する診断フェーズの開始の過程ａ)２１５。  
−当業者によってより安全であると判断されるカテゴリの部分を構成するデータをリストから除外（例えば、最初は、コネクタの欠陥に関する特定の値のみを残し、調査の結果コネクタの欠陥が故障の発生原因に該当しないことが判明したら、後で、先に除外したカテゴリの特定の値を加える）する過程ｂ）２２０。  
−特定の値（ｘｉｐ）を示す各データ（ｘｉ）を選択する過程ｃ)２２５。  
−過程ａ)において選択されたデータ（Ｘｉ）を与えられて、データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する可能性があるデータの群（Ｘ∞ｉ）を求める過程ｄ）２３０。  
−上記のデータの群（Ｘ∞ｉ）の論理積に属するデータのリスト（Ｘ∞）を確定する過程ｅ)２３５。  
−上記のデータのリスト（Ｘ∞）を解析して、機能の欠陥が、データ（ｘｉ）によってとられた特定の値（ｘｉｐ）の発生源に属する、集合の１または複数の構成要素を特定する過程ｆ）２４０。  
−過程ｆ）２４０において予想された欠陥を与えられ、正確な吟味の後で当業者によって、あるいは、幾つかの構成要素の機能の観察によって、システム上で観察されなかった欠陥に該当する全ての特定の値を除外する過程ｇ）２４５。例えば、ランプを点灯及び消灯することができたら、ランプの給電配線の短絡はありえない。従って、このような短絡を特徴付ける特定の値が見られたら、この特定の値は除外することができる。  
−過程ｇ）２４５の後で、検討するべき特定の値が残らなかったら、このことは、解析の始めに可能性を除外し過ぎたことを意味すると言うことができ、それまでの解析で除外した特定の値のカテゴリを再度取り上げて、過程ｃ)２２５から、手順を繰り返す過程ｊ）２５５。  
−過程ｇ）２４５の結果を検討し、検討後に、考察された複数の欠陥から１つの欠陥を特定することができなかったら、過程ｊ）２５５において特定の値の新しいカテゴリへ探求の範囲を拡張して、過程ｃ)２２５の手順を繰り返す過程ｈ）２５０。
【００２７】
各カテゴリに対して、例えば経験に基づく判断から導かれた発生確率を考慮するなら、発生確率を様々な特定の値に適用することができる。ある特定の値が、場合によっては異なるカテゴリに由来する、複数の欠陥をカバーする場合には、各欠陥の発生確率の和を使用する。
【００２８】
そこで、特定の値の様々なカテゴリの発生確率と関連して、上述の方法を手直しする。例えば、最初に、より発生しやすい要素をリストに加え、次いで、もし過程ｂ）が再実行されるなら、発生する可能性がより少ない要素をリストに加え、過程ｈ）の終わりに、少なくとも１つの特定の値が残るか、診断が動機付けられた欠陥の原因が検出されかの、少なくとも一方になるまで、以下同様にこの手順を繰り返す。
【００２９】
電子システム集合は、自動車に搭載するためのシステム集合を含むことができる。本発明の方法は、上記の電子システム集合の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方の解析過程と、上記の実現可能性と過誤発生の可能性との少なくとも一方を表示する出力の設定過程とを含むことができる。このことは、例えば自動車のために提案されるシステムの採用または不採用の判断の助けになる。
【００３０】
本発明は、例えばＣＤ、ＤＶＤまたは同等のもの、あるいはコンピュータのハードディスク上で、コンピュータによって読み取られることが可能なメモリを有する、市販の製品上にプログラムすることができる。本方法のためのこのようなプログラムは、コンピュータによって実行可能であり、上記のコンピュータによって実行されるために、上記のメモリに記録される。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明による機能の欠陥診断手段を付与することを意図する、電子システム集合の略図である。
【図２】電子システムの故障診断方法における、本発明の適用を説明する概要図である。
【図１】
2006515089.tif 000003
【図２】
2006515089.tif 000004
【国際調査報告】
2006515089.tif 000005
2006515089.tif 000006
2006515089.tif 000007
2006515089.tif 000008
2006515089.tif 000009
2006515089.tif 000010
2006515089.tif 000011
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