(57)【要約】放出物を測定するための装置及び方法が提供される。励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）が設けられ、励起ビーム（１４）の経路に１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を発出するための手段（１８）が設けられる。１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）は、１つ又はそれ以上の物質（２８）に差し向けられる。物質（２８）としては、１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）と、１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）が含まれる。これらの物質（２８）は、実質的に同様なキャラクタリゼーションを有している。１つ又はそれ以上の物質（２８）に近接して１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を創出するための手段（４４）が位置づけされる。１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルの測定値が収集される。１つ又はそれ以上の物質（２８）からのスペクトルの測定値を比較するための手段が設けられる。【選択図】図１
2004502160.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放出物を実質的に同時に測定するための装置であって、
励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）と、
１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を発出するための、前記励起ビーム（１４）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム発出手段（１８）と、
該１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、実質的に同様のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の物質（２８）に差し向けるための、該１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を創出するための、前記１つ又はそれ以上の物質（２８）に近接して位置づけ自在の放出ビーム創出手段（４４）と、
前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在のスペクトル分析デバイス（６０）と、
前記スペクトルデータを比較するための比較手段（７２）を備えていることを特徴とする装置。
【請求項２】
複数の放射ビームからの１つ又はそれ以上の放出物を比較するための装置であって、
複数の娘ビーム（２０）を発出するための、励起ビーム（１４）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム発出手段（１８）と、
該複数の娘ビーム（２０）のうちの１つ又はそれ以上のビームを、実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）に差し向けるための、該複数の娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
該複数の娘ビーム（２０）のうちの１つ又はそれ以上のビームを、実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に差し向けるための、該複数の娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）から１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を創出するための、該１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に近接して位置づけ自在の放出ビーム創出手段（４４）と、
前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在の多チャンネル作像分光器（６４）と、
前記スペクトル測定値を比較するための、前記多チャンネル作像分光器（６４）と組み合わせ自在の比較手段（７２）を備えていることを特徴とする装置。
【請求項３】
前記励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）は、レーザー（１６）のような実質的に単色性であり、前記娘ビーム発出手段（１８）は、１つ又はそれ以上のビームスプリッター導波路（２２）を含むものであり、前記１つ又はそれ以上の物質（２８）は、既知の適格確認物質（３０）及び、又は既知の適格未確認物質（３２）を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項４】
前記放出ビーム創出手段（４４）は実質的に同一であり、前記スペクトル分析デバイス（６０）は、ラマンビーム、及び、又は、誘導放出物及び、又はレーリー散乱放射線、及び、又は蛍光のような前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を実質的に同時に受け取るための多チャンネル作像分光器（６４）を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項５】
スペクトルデータを比較するための前記比較手段（７２）は、コンピュータ、及び、又は前記スペクトル測定値を数学的に比較するための手段を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項６】
複数の放射ビームからの放出物を測定するための方法であって、
励起ビーム（１４）を放射する１つ又はそれ以上の励起ビーム源（１２）を選択する選択工程と、
１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を発出するための娘ビーム発出手段（１８）を前記励起ビーム（１４）の経路内に設置する設置工程と、
前記１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、実質的に同様のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）に差し向けるための娘ビーム指向手段（３４）を該１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）の経路内に設ける工程と、
前記１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、実質的に同様のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に差し向けるための娘ビーム指向手段（３４）を該１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）の経路内に設ける工程と、
放出ビーム（４２）を創出するための放出ビーム創出手段（４４）を前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に近接した位置に設ける工程と、
各放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在のスペクトル分析デバイス（６０）を装備する工程と、
前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）からの放出ビーム（４２）から得られたスペクトル測定値を比較するための、前記スペクトル分析デバイス（６０）と組み合わせ自在の比較手段（７２）を用いる工程と、
から成る方法。
【請求項７】
前記選択工程は、レーザー（１６）を選択するサブ工程を含み、前記設置工程は、ビームスプリッター導波路（２２）を設置するサブ工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
娘ビーム指向手段を設ける前記工程は、１つ又はそれ以上のレンズ（３６）を設けるサブ工程、及び、又は１つ又はそれ以上のフィルター（３８）を設けるサブ工程、及び、又は１つ又はそれ以上のミラー（５０）を設けるサブ工程を含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
スペクトル分析デバイス（６０）を装備する前記工程は、１つ又はそれ以上の光チャンネルを装備するサブ工程、及び、又は、前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）からの１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）からスペクトル測定値を収集するための１つ又はそれ以上の光入力部材（７０）を装備するサブ工程を含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
比較手段を用いる前記工程は、前記スペクトル測定値を調節するサブ工程、及び、又は前記スペクトル測定値を比較するための数学的手段を用いるサブ工程を含むことを特徴とする請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
発明の属する技術分野
本発明は、一般に、分光分析に関し、特に、複数の放射ビームから１つ又はそれ以上の放出物を実質的に同時に収集し、次いで比較することを可能にする装置に関する。特に、本発明は、実質的に同様な特性を有する、１つ又はそれ以上の既知のクオリファイされた物質（品質等が基準を満たすもの、即ち適格として確認された物質、以下、単に「適格確認物質」とも称する）と、１つ又はそれ以上の未知の、しかしクオリファイされた物質（適格確認物質）からの散乱放出物のスペクトル（分光）測定値を比較するのに適する。
【０００２】
発明の背景
「分光法」は、一般に分光器と称される計器を用いて光又は放射線のビームの波長の関数としてエネルギー又は強度を測定することの一般的用語である。慣用の分光器、及び計器とも称される分光システムを構成する構成機器は、大抵の場合、放射線を通すことができるスリットと、放射の平行ビームを創生するためのコリメーターと、放射線をそれぞれの波長に基づいて異なる偏向角で分散させるための１つ又はそれ以上のプリズム又は格子と、分散された放射線を視検するための機器等の特徴及び機器を含む。分光法は、原子、分子又はイオンによる電磁放射の吸収、放出又は散乱を利用して物質の物理的特性及び変遷過程を定性的にかつ定量的に測定する。
【０００３】
分光システムの作動中１つ又はそれ以上の物質に向けて指向される光又は放射は、励起放射とも称される。又、励起放射源から放出される励起放射のビームは、励起ビームと称される。上述したように、分光計器は、励起ビームを指向し、再指向し（向け直し）、分散させ、改変するための幾つかの機器、例えば、ミラー、格子、導波路、フィルター、レンズ等の機器を備えている。励起ビームは、それらの機器の１つ又は幾つかに向けられ、それを通して送られた後、特定の選択された物質に向けて指向される。
【０００４】
ある物質と接触したことによる放射ビームの再指向（向きの変更）は、一般に、放射の散乱と称される。ある物質中の原子又は分子が、励起ビームの放射を反射せず、放射ビームの全部又は一部分を吸収するので、物質は、励起され、該物質のエネルギーレベルは、より高いエネルギーレベルにまで増大される。物質を透過した放射線は、いろいろな方向に散乱された光の小部分を創出する。散乱された後も該物質に接触した励起放射線と同じ波長を有し続けている放射線は、励起放射線が最初に有していたのと同じエネルギーを維持する。そのようは光は、レーリー散乱光、即ち弾性散乱光と称される。あるいは、分子内の振動状態の変化中に散乱される放射線は、異なるエネルギーを持って散乱されることがある。そのような散乱光は、ラマン散乱光と称される。
【０００５】
ラマン散乱光に関して説明すると、電磁放射に随伴する波は、（ｉ）波長、即ち、１つの完全な振動の物理的長さと、（ｉｉ）該波の周波数、即ち１点を通る振動の数／秒によって表すことができる。放射線をある物質に指向させた場合、その放射線の波長は、散乱放射線として実質的に不変のままである場合もあり、あるいは、放射線をある物質に指向させた場合、散乱放射線の波長が、１つ又はそれ以上の異なる波長を有する場合もある。元の放射線と、散乱放射線との間のエネルギー差は、ラマンシフトと称される。
【０００６】
ラマン現象は、物質の物理的特性及び変遷過程を定性的にかつ定量的に測定するために、例えば、物質の化学的特性、組成及び構造等の化学的キャラクタリゼーション（特徴）を同定するために分光法と連携して用いられる。従って、ラマン散乱光の現象は、物質の化学的特性、組成及び構造の同定を含む、物質の物理的特性及び変遷過程の特質及び量を測定するための分光アプリケーションに有用である。従って、ラマンシフト式分光分析法は、物質の定性的、及び定量的測定に適用される。ある物質から光を散乱させるために放射線を使用し、その散乱した放射線データを測定すれば、散乱放射線は、例えばその物質に随伴する周波数、並びに、シフトされた周波数の強度等を含む１つ又はそれ以上のスペクトルデータを提供することができる。それらの周波数は、例えば当該物質の化学的組成を同定するのに用いることができる。
【０００７】
しかしながら、物質の化学的特性、組成、構造及びその他のキャラクタリゼーションを単に同定するというのは、ラマン技法を使用することの１つの目的に過ぎない。ラマン現象を分光法と連携して用いることのもう１つの目的は、分子状物質の高品質のキャラクタリゼーションを迅速に確認することである。ラマン分光法は、特性を特定（同定又は確認）すべき物理的物質を破壊しないという利点を有するので、しばしば用いられる。更に、ラマン分光法は、サンプルの調製が簡単であり、検体（被分析試料）が物理的物質の複雑な混合物又は混交物中の少ないほうの成分であっても、該検体に関する情報を提供することができる。
【０００８】
ラマン技法の定性分析能力は既に認められているが、定量分析能力を発揮し高めることは、今後解決すべき問題として残されている。ラマン技法の定量分析能力の欠落には幾つかの要因が関係している。例えば、ラマン技法を物質の分析に関連して実施する場合、一般に、単一の放射ビームが用いられる。在来のラマン実験法では、多くの場合、実質的に単色性の、好ましくは単一の周波数又は単一の波長を発生する入射放射源を用いる。励起ビーム源は実質的に単色性で、単一の周波数又は単一の波長を発生するものでなければならないという当業者の認識から、励起放射源としていろいろなレーザー光源が用いられてきた。しかしながら、励起ビームが周波数を変えると、ラマンシフト校正が乱されることがあり、励起ビームが強度を変えると、ラマン効果の大きさが変化することがある。ラマン技法に基づく定量分析も、複雑である。なぜなら、比較のための基準放射ビームがないと、計装（計器の装備、計測）の変動（計測誤差や、計器間の計測のばらつき）によりラマンスペクトル測定のスペクトル形状が影響されることがあるからである。計器の幾つかの構成部品が、個々に、かつ、集合的に、該計器によって測定されるスペクトルデータに影響する望ましくない計測変動を惹起する原因となる。従って、散乱光の波長又は強度又はその両方を測定するための散乱光の分光測定は、計器又は分光システム自体によって影響されることがある。
【０００９】
定量ラマン測定法に随伴するこれらの問題を補償するために従来からいろいろな努力が行われてきたが、計装変動とは無縁であり、１つ又はそれ以上の物質のスペクトルデータを同時に又は実質的に同時に収集して１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質を１つ又はそれ以上の既知のクオリファイされていない物質（以下、単に「適格未確認物質」と称する）と直接比較することができる装置を求める要望が依然としてある。
【００１０】
発明の概要
これらの、及びそれに関連する問題が解決されれば、ラマン技法の用途が拡大される。本発明の少くとも１つの利点は、複数の放射ビームから１つ又はそれ以上の放出物（放出スペクトル）を実質的に同時に収集するための装置を提供することである。本発明の他の利点は、１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質からだけでなく、１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質からの異なる放射ビームのスペクトルデータ及び測定値を比較し、同一の又は実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する物質間の類似性又は類似性の欠落を確認することができる装置及び方法を提供することである。当業者には明らかなように、本発明のそのような装置及びその装置を作動する本発明の方法は、物質を互いに比較する前にそれらの複数の物質のスペクトルデータ及び測定値を実質的に同時に収集することができるので既知の適格未確認物質と適格確認物質のラマンスペクトルの直接比較を可能にするという目的及び利点を達成することができる。同じ計器でビームとスペクトルデータを発生させることは、スペクトルデータに及ぼす計装変動の影響を軽減もしくは解消するという更なる利点をもたらす。実質的に同様の、又は実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の物質からスペクトルデータの測定値を実質的に同時に収集することができる本発明の能力は、品質保証あど品質管理を実施するための現行の計器に比べて重要な利点を有する。ある１つの物質からの１つの測定値が他の適格確認物質からの既知の測定値に類似していることを検証することが目的である場合、特に有利である。１つの放射ビームからの１つ又はそれ以上の放出物を実質的に同時に測定するための装置は、サンプル基準ライブラリを予め準備しておく必要性を排除するという更なる利点をも有する。
【００１１】
従って、本発明の他の少くとも１つの利点は、各物質に関連して収集されたスペクトルデータを修正する必要性をなくすことである。本発明の計器は、上述したように、大抵の場合、分光計又はそれに類似したものであるから、安定化させる必要がない。実際、本発明の作動にはラマン原理及びラマン現象が有用であるが、ラマンの特徴のいずれも、本発明の用途及び有用性を決定するものではない。ラマンの特徴は、有用ではあるが、本発明の目的は実質的に同様又は同一のキャラクタリゼーションを有する物質のスペクトルデータを比較することであるから、必ずしも必須ではない。スペクトルデータを真の、正しい、又は修正された、絶対的な基準に修正することを目的とする他のラマン式装置及び方法が幾つか存在するが、本発明は、スペクトルデータを修正することを目的とするのではなく、単にスペクトルデータを比較することを目的とするものである。
【００１２】
本発明は単に実質的に同様又は同一の物質のスペクトルデータを比較することを目的とするものであるから、１つの計器の多チャネルからのデータを比較又は比率分析するのに有用な、例えばコンピュータソフトウエアプログラム、電子ハードウエア又はその他のデバイスを含む、比較のための手段は、（ｉ）構成が非常に簡単であり、（ｉｉ）ユーザーがいろいろな異なる物質の範囲に適合するようにプログラムし直すのが容易であり（ｉｉｉ）、単なる「ゴー・ノーゴー」（継続か中止かの）プログラム又は「イエス−ノー」プログラム、又は計装構成部品の各チャンネルの異なる情報に対する比率決定法等を含む合否又は良否判定プログラムとして開発することができる。たたみ込み関数、及び、測定すべき物質の入り組んだスペクトルを解明するために、あるいは、物質の標準ラマンスペクトルを測定するために、ラマン技法と共に用いられる複雑な又は緻密なアルゴリズム又は積分変換は、必要とされない。従って、本発明は、既知の適格未確認物質を既知の適格確認物質と比較するための安価で、簡単な、そして費用効率の高い方法及び装置を提供する。ある種のラマン式装置及び方法は、計装変動を補償するための構成を有しているが、本発明は、その装置及び方法の利点を得るために計装変動の補償を行う必要がない。
【００１３】
現在入手しうるラマン式装置及び方法で、計器の作動中ある種の仕事を同時に実行することができるものも存在するが、本発明によって達成される操作の同時性は、従来の装置によって同時に達成される事項とは著しく異なる。例えば、現在入手しうる少くとも１つのラマン式計器は、計装変動を調整するためにラマンデータを同時に補償するが、本発明は、先に述べたように、計装変動には関係がない。更に、ある種の現行の計器は、放射線をサンプルと基準物質とに同時にインタフェースし、入り組んだスペクトルを創出し、次いで、標準ラマンスペクトルを創出する目的だけのためにサンプルの入り組んだスペクトルを調節することができる。これも、本発明の目的ではない。本発明は、標準ラマンスペクトルを決定することを目的とするものではなく、ラマン法を適用することによって得られるスペクトルデータを比較することを目的とする。本発明においては、既知であるが適格未確認物質が、既知の適格確認物質に類似しているか、又はそれと同一であるかを判定するのを助成するためにラマン放射線が用いられる。従って、本発明の最終目標は、レーザーモードのホップ（跳び）や、校正エラーや、熱の問題や、その他の計装変動に依存することも、それらによって影響されることもない。
【００１４】
本発明のもう１つの有益な特徴は、装置を作動させ、その使用方法を適用する前のサンプル準備の手間を軽減ないし省除することである。本発明は、比較すべき物質が実質的に類似した、又は同一のキャラクタリゼーションを共有していることを前提とする。従って、サンプルの準備は、本発明にとって重要な事項ではない。
【００１５】
おそらく、本発明の利点を最も単純化して説明するには、物質の組成に適用した場合の本発明のアプリケーションを考察するのがよいであろう。「そのサンプルの組成は何か？」という問いに答えることができる装置としてはいろいろな装置が存在する。しかしながら、本発明は、物質の組成自体には関心がなく、本発明が企図するのは、「ある１つの物質が他の物質と同じですか？」という問いに答えることである。先に述べたように、本発明の能力の１つは、実質的に同様の又は実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質と１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質との間の類似性又は類似性の欠落を判定する能力である。本発明の新規性を別の面から説明すれば、本発明は、キャラクタリゼーションを比較すべき物質を適格物質と、適格未確認物質とに同定することができるということである。本発明でいう適格確認物質とは、その物質が試験され、１組の標準キャラクタリゼーションと一致していることを確認されたものであるということである。適格未確認物質とは、まだ試験されていないが、適格確認物質と実質的に同様の又は同一のキャラクタリゼーションを有すると推定されるものである。適格未確認物質は、例えば、ある１つの適格確認物質に類似した、又はそれと同一の１つ又はそれ以上の物質を生成するための手段を用いる生産又は製造工程中に製造することができるが、本発明を用いて適格確認物質と比較されるまでは適格確認物質と実質的に同様、又はそれと同一であることを立証することはできない。従って、本発明は、例えば、品質管理工程のみならず、医療診断プログラムを含む、特徴の比較を必要とする如何なる環境にも有用である。
【００１６】
本発明によって提供されるラマン式分析光学系及び装置（例えば多重空間チャンネル検出器を含む）を用いることによって、本発明による計器は、複ビーム又は多ビーム式計器と同様の能力を有する。その結果として、物質を光学的及び機械的比較によって比較するための安価な計器と、そのために計器を用いる安価な方法が得られる。本発明の計器を用いれば、ユーザーは、１つの物質、例えばサンプルが一般的に当該物質のために規定された使用の範囲内にあるかどうかを直接比較によって迅速に判定することができる。従って、本発明は、１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質を１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質及びその他の物質と比較することを目的とするＱＡ／ＱＣ（品質アセスメント／品質管理）アプリケーションに適している。ラマン技法の現行の適用における１つの制約問題は、順次に実施されるラマン測定の周波数軸線が不安定であることである。しかしながら、本発明は、類似又は同一の物質の測定を行い、それらの測定値を実質的に同時に収集し、同じ計器を用いてそれらの測定を実施することによってこの問題を解消する。換言すれば、比較すべき各物質は、実質的に同様の幾何学的配置及び形状寸法のサンプリング分析器によって測定されることを意味する。
【００１７】
各放出物を実質的に同時に測定するための本発明の装置及び方法の上記の利点及びその他の目的及び特徴は、添付図を参照して記述する以下の説明から当業者には明らかになるであろう。
【００１８】
発明の開示
本発明による放出物の同時測定装置及び方法は、励起ビーム源を含む。励起ビーム源は、例えば、レーザーを含むものとすることができる。本発明による放出物の同時測定装置は、又、１つ又はそれ以上の娘ビームを発出するために励起ビームの経路内に位置づけすることができる娘ビーム発出手段を含む。更に、本発明の装置は、１つの娘ビームを１つ又はそれ以上の物質に指向させるために１つ又はそれ以上の娘ビームの経路内に位置づけすることができる娘ビーム指向手段を含む。娘ビームを指向することができる物質は、物理的特性及び特徴が既知である物質、及び、物理的特性及び特徴が未知である物質であり、実質的に類似した、又は実質的に同一のキャラクタリゼーションを有するものである。
【００１９】
本発明の装置は、又、１つ又はそれ以上の放出ビームを創出するために上記１つ又はそれ以上の物質に近接して前記１つ又はそれ以上の娘ビームの経路内に位置づけすることができる放出ビーム創出手段を含む。物質からの放出ビームは、ラマンビームであってよく、レーリー散乱光や、蛍光であってもよい。本発明と連携してスペクトル（分光）分析デバイスも設けられる。このスペクトル分析デバイスも、上記１つ又はそれ以上の放出ビームから実質的に同時にスペクトル測定値を収集するために上記放出ビーム創出手段に接続することができる多チャネル作像分光器であってよい。このスペクトル分析デバイスは、上記放出ビーム創出手段に接続することができる。本発明は、１つ又はそれ以上の放出ビームから実質的に同時にスペクトル測定値を収集し、１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質を１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質と比較するための装置を提供することなどのいろいろな態様でラマン技術を進展させる。従って、本発明に用いられるスペクトル分析デバイスは、多チャネルを有する作像分光器であってよい。１つ又はそれ以上の放出ビームから実質的に同時に、かつ、同じ計測機器を用いてスペクトル測定値又はスペクトルデータを収集することによって、そして、実質的に同一の放出ビーム創出手段を用いることによって、ある種のラマン式計器を用いるある種の従来の定性及び定量分析の効率を低下させる幾つかの難点を克服することができる。即ち、本発明は、計装変動とは無縁であり、１つ又はそれ以上の物質のスペクトルデータを同時に又は実質的に同時に同じ計器で収集して１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質を１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質と直接比較することができる装置、及び該装置を作動する方法を提供することによって定性測定の問題を最小限にし、ないしは解消する。従って、本発明のスペクトル分析デバイスは、測定のための放出ビームを同時に受け取ることによって各放出ビームからのスペクトル測定値を実質的に同時に収集することができる。かくして、順次測定に随伴する問題が解消される。更に、放出ビームを創出するためのデバイスは、物理的構成部品、構造及び組立が実質的に同一である。本発明は、又、放出ビームからのスペクトル測定値を斯界において周知の手段を用いて比較するために上記スペクトル分析デバイスと組み合わせることができる手段を含む。
【００２０】
本発明の利点は、ラマン技術に関連して現在用いられている計器とは異なる態様で計器構成部品を用いることによって得られる。本発明によれば、物質に関連して収集されたスペクトルデータを修正する必要はない。又、本発明の計器は、安定化させる必要がない。波長や周波数等のラマン特徴は、いずれも重要ではない。なぜなら、本発明では実質的に類似した物質のスペクトルデータが比較されるからである。本発明は、スペクトルデータを修正することを目的とするものではなく、単にそれらを比較することを目的とするものであり、計装変動の修正を必要としない。
【００２１】
本発明を用いて同時に得られるものは、他の従来のラマン式計器を用いて同時に得られるものとは著しく異なる。例えば、現在入手できるラマン式計器の１つとして、計装変動を補償することができるタイプのものがある。このタイプの計器では既知の物質と未知の物質との比較がなされ、計装変動を意図的に排除する。これに対して、本発明は、絶対ラマンスペクトルを得ることを企図しておらず、１つの未知の、しかし適格認定された物質が既知の適格認定物質に類似しているか、又は同一であるかどうかを判定するのを助成するためにラマン放射を用いる。従って、本発明の最終目標は、レーザーモードのホップや、校正エラーや、熱の問題や、その他の計装変動に依存することも、それらによって影響されることもない。本発明の有益な特徴は、装置を作動させ、その使用方法を適用する前のサンプル準備の手間を軽減ないし省除することである。本発明は、比較すべき物質が実質的に類似した、又は同一のキャラクタリゼーションを共有していることを前提とする。
【００２２】
以上、後述の本発明の詳細な説明の理解を容易にするとともに、本発明の当該技術に対する貢献度の理解を容易にするために、本発明の重要な特徴の概略を説明した。本発明の実施形態を詳細に説明する前に、本発明は、ここに例示した実施形態の構造及び形状、及び構成部品の配置に限定されるものではなく、いろいろな実施形態が可能であり、いろいろな変更及び改変を加えることができることを理解されたい。又、ここで用いられる表現や用語は、本発明を説明するためのものであり、本発明を制限するものではない。
【００２３】
当業者には明らかなように、本明細書の開示内容は、本発明の目的を達成するために、他の構造、構造の組み合わせ、方法及びシステムを設計するための基礎として用いることができる。従って、請求項の記載は、そのような等価構造をも包含するものである。又、本明細書の要約は、請求項によって規定された発明を定義するものでも、本発明の範囲を限定するものでもない。
【００２４】
本発明の上記目的及び利点及びその他の特徴は、添付図を参照して以下に記述する本発明の実施形態の説明から一層明らかになろう。各図において、類似の部品は、同じ参照番号で示されている。
【００２５】
好ましい実施形態の説明
図１を参照すると、本発明による放出物測定装置１０が示されている。図に示されるように、放出物（放出スペクトル）を測定するための放出物測定装置１０は、励起ビーム１４を発出する励起ビーム源１２を含む。励起ビーム源１２は、実質的に単色性の放射線又は光の形の励起放射線を放射する。従って、励起ビーム源１２は、レーザー１６であってよい。レーザー１６からの放射線は実質的に単色性であることばかりでなく、レーザー１６からの放射線は高強度であるため、本発明ではレーザーとしていろいろなタイプのレーザー光源を用いることができる。ヘリウム−ネオン、ヘリウム−カドミウム、アルゴン−イオン、クリプトン−イオン等のガスレーザー、Ｎｄ−ＹＡＧ、ダイオードレーザー等のソリッドステートレーザー、ソリッドステートチューナブルレーザー、液体色素レーザー、及びその他のレーザーを本発明のレーザー１６として使用することができる。励起ビーム源１２として用いられるレーザー１６は、例えばダイオードレーザーとすることができるが、ダイオードレーザーは、必ずしも周波数を安定化させる必要はない。レーザー１６は、又、多モード特性を有するものとすることもできる。本発明の別の実施形態として、励起ビーム源１２は、周波数が安定している単一モードレーザーとすることもでき、更に別の実施形態として、励起ビーム源１２をレーザー以外の他のビーム放射源とすることもできる。
【００２６】
図１に示されるように、本発明の放出物測定装置１０は、１つ又はそれ以上の娘ビーム２０を創出するために励起ビーム１４の経路内に位置づけすることができる娘ビーム創出手段１８を含む。励起ビーム１４の経路内に位置づけすることができる娘ビーム創出手段１８は、１つ又はそれ以上のビームスプリッター導波路２２を含むものとすることができる。当業者には周知のように、発出器から他の受取器又は目標へ放射ビーム、この例では娘ビーム２０を導くための導管又は導波路として、外側クラッディングと、クラッディングより高い屈折率の中心コアを有し、変調光信号を内部全反射によって伝送することができる超高純度ガラス繊維を用いることができる。従って、本発明の好ましい実施形態においては、１つ又はそれ以上の娘ビーム２０を放出物測定装置１０を通して伝送するために１つ又はそれ以上の光ファイバー導波管２４が設けられる。本発明の別の実施形態として、光信号を光ファイバー導波管２４のような中間デバイスを介さずに直接物質２８（図２）のような目標へ指向することができるように、１つ又はそれ以上の娘ビーム２０を直接結合手段によって物質２８内へ指向してもよい。
【００２７】
図１に示され、図２に詳細に示されるように、本発明の装置は、娘ビーム２０を１つ又はそれ以上の物質２８に差し向けるために１つ又はそれ以上の娘ビーム２０の経路内に配置された娘ビーム指向手段２６を含む。物質２８としては、例えば既知の適格確認物質３０と、本発明の装置によって特性及び特徴を判定すべき既知の適格未確認物質３２が含まれる。娘ビーム２０を１つ又はそれ以上の物質２８に差し向けるための娘ビーム指向手段２６は、１つ又はそれ以上の励起ビーム１４を指向し、再指向し、分散させ、改変するためのいろいろな部品、例えば、娘ビーム（励起ビーム）２０を１つ又はそれ以上の物質２８に差し向けるために組立体３４として組み立てられたミラー、格子、導波管、フィルタ、レンズ及びそれに類するその他の部品を備えたものとすることができる。図２に示されるように、娘ビーム２０は、それらの部品の１つ又は複数個に差し向けられ、それを通して伝送された後、１つ又はそれ以上の物質２８のような選択された所定の物理的物質に向けて指向される。本発明の好ましい実施形態では、１つ又はそれ以上の物質２８に娘ビーム２０を指向するための各組立体３４は、組成、配置、及び特性が実質的に同一であることが好ましい。娘ビーム指向組立体３４は、第１レンズ３６を備えたものであることが好ましい。第１レンズ３６は、光ファイバー導波管２４から発出した娘ビーム２０を平行にする能力を有する。従って、組立体３４は、娘ビーム２０からの放射ビーム（光）の光子を第１レンズ３６を通して再指向する（向け直す）ことによって該放射ビームを平行な、又はほぼ平行なビームとすることができる。本発明の好ましい実施形態では、娘ビーム２０は、第１レンズ３６を通った後、組立体３４のフィルター３８に向けられる。組立体３４のフィルター３８は、帯域フィルター４０とすることが好ましい。帯域フィルター４０は、規定された限度内の周波数を有する放射線を自由に通すことができる。本発明では、帯域フィルター４０は、娘ビーム２０からシリカラマンを除去するために用いることができる。本発明の別の実施形態として、娘ビーム２０を物質２８に直接結合すれば、帯域フィルター４０又はそれに類する中間デバイスを設ける必要がない。
【００２８】
ラマン技法の分野では、物質２８と接触した後再指向された放射ビームは散乱光となることが知られている。例えば、放射ビームは、物質２８と接触した後再指向されて１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出する。既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２の原子又は分子は、娘ビーム２０の放射を反射せず、娘ビーム２０の全部又は一部分を吸収するので、既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２は、励起される。既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２が励起されると、該物質のエネルギーレベルは、より高いエネルギーレベルにまで増大される。既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２から反射されずに、それを透過した娘ビーム２０からの放射は、いろいろな方向に散乱された光の一部分、通常は光の小部分を創出する。散乱された後も既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２に接触した励起放射線（娘ビーム２０）と同じ波長を有し続けている放射線は、該励起放射線が最初に有していたのと同じエネルギーを保持する。そのようは光は、レーリー散乱光、即ち弾性散乱光と称される。あるいは、分子内の振動状態の変化中に散乱される放射線は、異なるエネルギーレベルを持って散乱されることがある。そのような散乱光は、ラマン散乱光と称される。元の放射線と、散乱放射線との間のエネルギー差は、ラマンシフトと称される。ラマン散乱光の分光測定はそのような散乱光の散乱の結果として生じる波長を測定することを企図したものであるから、ラマンシフトは重要な要素である。
【００２９】
従って、本発明の放出物測定装置１０は、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出するために１つ又はそれ以上の物質２８に近接したところに配置された放出ビーム創出手段４４を含む。図２に見られるように、本発明の好ましい実施形態では、「近接」とは、１つ又はそれ以上の物質２８に当接又は接触することに限定されるのではなく、１つ又はそれ以上の物質２８に近接して、又はその近傍に配置されることを意味する。放出ビーム創出手段４４は、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出し、指向し、再指向し、分散させ、改変するためのいろいろな部品、例えば、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出するためにデバイスとして組み立てられたミラー、格子、導波管、フィルタ、レンズ及びそれに類するその他の部品を備えたものとすることができる。本発明の好ましい実施形態では、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出するための各デバイス４６は、組成、配置、及び特性が実質的に同一であることが好ましい。放出ビーム創出デバイス４６は、第２レンズ４８を備えたものであることが好ましい。第２レンズ４８は、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を平行にする能力を有する。即ち、第２レンズ４８は、放出ビーム（光）の光子を通して光子を分配することによって該放出ビーム４２を平行な、又はほぼ平行な放射ビームとすることができる。第２レンズ４８は、又、娘ビーム２０を物質２８のような目標の上に焦点合わせする能力を有している。本発明の好ましい実施形態では、放出ビーム４２は図２に明示されているように二色性ミラー５０に向けてもよく、又、第２レンズ４８を通った後、第２フィルター５２に向けることもできる。デバイス４６のフィルター５２は、ロングパスフィルター５４とすることが好ましい。本発明においては、ロングパスフィルター５４は、放出ビーム４２を選択的に強化するために選定される。又、ロングパスフィルター５４を通過した後の放出ビーム４２を通す第３レンズ５６を設けることができる。第３レンズ５６は、放出ビーム４２を焦点合わせする能力を有する。本発明の別の実施形態においては、１つ又はそれ以上の娘ビーム２０を１つ又はそれ以上の物質２８に指向させるために１つ又はそれ以上の娘ビーム２０の経路内に位置づけすることができる娘ビーム指向手段２６、及び、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を創出するために１つ又はそれ以上の物質２８に近接して位置づけすることができる放出ビーム創出手段４６は、遠位部にフィルターを有する光ファイバープローブヘッド５８とすることができる。
【００３０】
図１に示されるように、本発明においては、スペクトル分析デバイス６０も設けられる。本発明の好ましい実施形態では、スペクトル分析デバイス６０は、放出ビーム４２を創出するための１つ又はそれ以上のデバイス２６に接続自在とする。分光分析法に関連してラマン現象を利用することの少くとも１つの目的は、既知の適格確認物質３０又は既知の適格未確認物質３２のような分子状物質の高品質の特性分析を迅速に実施することである。ラマン分光分析法を用いるのは、ラマン技法は特性分析すべき物理的物質を破壊しないという利点を有するためである。更に、本発明は、既知の適格確認物質３０の準備作業を最少限にすることができ、検体（被分析試料）が物理的物質の複雑な混合物又は混交物中の少ないほうの成分であっても、該検体に関する情報を提供することができる。本発明は、一つには、１つ又はそれ以上の物質からの１つ又はそれ以上の放出ビームから実質的に同時にスペクトル測定値を収集し、それらのスペクトル測定値を比較する放出物測定装置１０を提供することによってラマン技術を進展させる。従って、本発明に用いられるスペクトル分析デバイス６０は、分光器６２とすることが好ましい。分光器６２は、広範囲の周波数に亙って使用することができるように設計された分光法計器であり、スペクトルデータを電子的に記録するものであることが好ましい。本発明の好ましい実施形態では、分光器６２は、作像分光器６４である。作像分光器６４は、その入口スリット６６のそれぞれ異なる位置で１つ又はそれ以上の放出ビーム４２を収集することができる。本発明の好ましい実施形態では、作像分光器６４の入口スリット６６のそれぞれ異なる位置での１つ又はそれ以上の放出ビーム４２の収集は、光ファイバー受取器（図示せず）を選択的に配置することによって達成することができる。
【００３１】
作像分光器６４は、又、図１に示されるように、多チャンネル検出器６８を含むものとすることが好ましい。多チャンネル検出器６８は、１つの次元（ディメンション）において１つ又はそれ以上の放出ビーム４２に関連する分散スペクトルを受け取り、第２の次元において各放出ビーム４２ごとにチャンネルを分離する。通常、多チャンネル検出器６８に記録されたとき、スペクトルの次元は、水平方向となり、１つ又はそれ以上の空間チャンネルは、垂直方向となる。該１つ又はそれ以上の空間チャンネルにそれぞれ対応する多チャンネル検出器６８上のピクセルトラックは、垂直方向に積重し、各チャンネルのためのスペクトルデータとしてディスプレーすることができる。電荷結合検出器は、多チャンネル機能を有することができ、スペクトルを実質的に同時に、又は、実質的に同じ時点で受け取ることができる。従って、本発明の好ましい実施形態では、電荷結合検出器７０が用いられる。
【００３２】
各娘ビーム２０は実質的に同じエネルギーレベルを有することが好ましいが、同一の物質のためのスペクトル信号をゼロにすることによって残留差を補償することができる。この同じ電荷結合検出器７０は、又、１つ又はそれ以上の放出ビーム４２のスペクトルデータを１バンドのピクセルから成るチャンネル上にディスプレーすることができる。多チャンネル検出器６８は、例えば、フォトダイオードアレーから成る検出器６８’とすることができる。電荷結合検出器７０上のチャンネル（例えば１つ又はそれ以上のバンドのピクセルであるチャンネル）は、スペクトル分析デバイス６０によって収集された空間スペクトルデータを記録する。スペクトルデータは、斯界にいおて周知のいろいろなタイプのディスプレーデバイスのうちの任意の１つ、例えばスペクトルデータを比較するための比較手段７２と共にコンピュータ（図示せず）が設けられている場合は、そのコンピュータのスクリーンにディスプレーすることができる。本発明の好ましい実施形態では、スペクトルデータをディスプレーせず、チャンネルの読み取り値（表示値）が同じであることを表示するための単純な表示器（インジケーター）を用いてもよい。
【００３３】
同じ計器内で１つ又はそれ以上の放出ビーム４２から実質的に同時に収集し、実質的に同一の放出ビーム創出手段４６を用いることによって、ラマン技法を用いる分析、特に定量分析に影響を及ぼす幾つかの難点を克服することができる。当業者には明らかなように、計装変動は、１つ又は複数組のスペクトルデータの適合性に影響する。しかしながら、本発明は、計装変動とは無縁であり、既知の適格未確認物質３２が既知の適格確認物質３０の仕様内にあるかどうかを確認するためにスペクトルデータを迅速に数学的に処理し、比較することができる。ある種の現行のラマン式デバイスは、実質的に同時にではなく、順次に収集されるラマン測定によって誘起される周波数軸線の不安定性の故に、スペクトルデータを直接比較もしくは識別することができない。本発明は、スペクトルデータを実質的に同時に収集することにより、周波数軸線の不安定の問題を軽減ないし解消する。実質的に同時に収集されたスペクトルデータから直接スペクトルデータの分析が行われるので、データ分析が簡略化される。本発明においては、又、通常、斯界において周知の数学方程式を用いて放出ビームからのスペクトル測定値を比較するためにスペクトル分析デバイス６０と組み合わせることができる比較手段７２を設けることができる。従って、本発明は、収集されたスペクトルデータのシフト又は変動に合わせて調整することができる。
【００３４】
ここに図示された放出物測定装置１０及び放出物測定方法は、本発明の一実施形態であり、本発明を限定するものではない。本明細書に示され、説明された、複数の放射ビームからの１つ又はそれ以上の放出スペクトルの同時測定装置は、上述した目的を完全に達成し、上述した利点を提供することができるが、この明細書での説明は、本発明の好ましい実施形態を例示するためのものであり、本発明の構造、構成の細部を限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【図１】
図１は、放出物を測定するための本発明の装置の概略図である。
【図２】
図２は、放出ビームを創出するための図１に示されたデバイスの詳細図である。
【符号の説明】
１０　放出物測定装置
１２　励起ビーム源
１４　励起ビーム
１６　レーザー
１８　娘ビーム創出手段
２０　娘ビーム
２２　ビームスプリッター導波路
２４　光ファイバー導波管
２６　娘ビーム指向手段、デバイス
２８　物質
３０　適格確認物質
３２　適格未確認物質
３４　娘ビーム指向組立体
３６　レンズ
３８　フィルター
４０　帯域フィルター
４２　放出ビーム
４４　放出ビーム創出手段
４６　放出ビーム創出デバイス、放出ビーム創出手段
４８　レンズ
５２　フィルター
５４　ロングパスフィルター
５６　レンズ
５８　光ファイバープローブヘッド
６０　スペクトル分析デバイス
６２　分光器
６４　作像分光器
６６　入口スリット
６８　多チャンネル検出器、検出器
７０　電荷結合検出器
７２　比較手段
【国際公開パンフレット】
2004502160.tif 000003
2004502160.tif 000004
2004502160.tif 000005
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2004502160.tif 000028
2004502160.tif 000029
2004502160.tif 000030
【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
2004502160.tif 000031
2004502160.tif 000032
【手続補正書】
【提出日】平成13年10月25日(2001.10.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放出物を実質的に同時に測定するための装置であって、
励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）と、
少くとも２つの娘ビーム（２０）を発出するための、前記励起ビーム（１４）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム発出手段（１８）と、
前記１つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、実質的に同様のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の物質（２８）に差し向けるための、前記少くとも２つの娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
少くとも２つの放出ビーム（４２）を創出するための、前記１つ又はそれ以上の物質（２８）に近接して位置づけ自在の放出ビーム創出手段（４４）と、
前記少くとも２つの放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在のスペクトル分析デバイス（６０）と、
前記少くとも２つの放出ビーム（４２）のスペクトルデータを互いに比較するための比較手段（７２）を備えていることを特徴とする装置。
【請求項２】
複数の放射ビームからの１つ又はそれ以上の放出物を比較するための装置であって、
励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）と、
複数の娘ビーム（２０）を発出するための、励起ビーム（１４）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム発出手段（１８）と、
該複数の娘ビーム（２０）のうちの１つ又はそれ以上のビームを、実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）に差し向けるための、該複数の娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
該複数の娘ビーム（２０）のうちの１つ又はそれ以上のビームを、実質的に同一のキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に差し向けるための、該複数の娘ビーム（２０）の経路内に位置づけ自在の娘ビーム指向手段（３４）と、
前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）から１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を創出するための、該１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に近接して位置づけ自在の放出ビーム創出手段（４４）と、
前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在の多チャンネル作像分光器（６４）と、
前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）からの前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を前記１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）からの前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）と比較するための、前記多チャンネル作像分光器（６４）と組み合わせ自在の比較手段（７２）を備えていることを特徴とする装置。
【請求項３】
前記励起ビーム（１４）を放射する励起ビーム源（１２）は、レーザー（１６）のような実質的に単色性であり、前記娘ビーム発出手段（１８）は、１つ又はそれ以上のビームスプリッター導波路（２２）を含むものであり、前記１つ又はそれ以上の物質（２８）は、既知の適格確認物質（３０）及び、又は既知の適格未確認物質（３２）を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項４】
前記放出ビーム創出手段（４４）は実質的に同一であり、前記スペクトル分析デバイス（６０）は、ラマンビーム、及び、又は、誘導放出物及び、又はレーリー散乱放射線、及び、又は蛍光のような前記１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）を実質的に同時に受け取るための多チャンネル作像分光器（６４）を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項５】
スペクトルデータを比較するための前記比較手段（７２）は、コンピュータ、及び、又は前記スペクトル測定値を数学的に比較するための手段を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の装置。
【請求項６】
複数の放射ビームからの放出物を測定するための方法であって、
励起ビーム（１４）を放射する１つ又はそれ以上の励起ビーム源（１２）を選択する選択工程と、
２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を発出するための娘ビーム発出手段（１８）を前記励起ビーム（１４）の経路内に設置する設置工程と、
前記２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、該２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）に実質的に類似したキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）に差し向けるための娘ビーム指向手段（３４）を該２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）の経路内に設ける工程と、
前記２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）を、該２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）に実質的に類似したキャラクタリゼーションを有する１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に差し向けるための娘ビーム指向手段（３４）を該２つ又はそれ以上の娘ビーム（２０）の経路内に設ける工程と、
少くとも１つの放出ビーム（４２）を創出するための放出ビーム創出手段（４４）を前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）に近接した位置に設ける工程と、
前記少くとも１つの放出ビーム（４２）の各々から実質的に同時にスペクトルデータを収集するための、前記放出ビーム創出手段（４４）に接続自在のスペクトル分析デバイス（６０）を装備する工程と、
前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）からの放出ビーム（４２）から得られたスペクトルデータを比較するための、前記スペクトル分析デバイス（６０）と組み合わせ自在の比較手段（７２）を用いる工程と、
から成る方法。
【請求項７】
前記選択工程は、レーザー（１６）を選択するサブ工程を含み、前記設置工程は、ビームスプリッター導波路（２２）を設置するサブ工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
娘ビーム指向手段を設ける前記工程は、１つ又はそれ以上のレンズ（３６）を設けるサブ工程、及び、又は１つ又はそれ以上のフィルター（３８）を設けるサブ工程、及び、又は１つ又はそれ以上のミラー（５０）を設けるサブ工程を含むことを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
スペクトル分析デバイス（６０）を装備する前記工程は、１つ又はそれ以上の光チャンネルを装備するサブ工程、及び、又は、前記１つ又はそれ以上の既知の適格確認物質（３０）及び１つ又はそれ以上の既知の適格未確認物質（３２）からの１つ又はそれ以上の放出ビーム（４２）からスペクトル測定値を収集するための１つ又はそれ以上の光入力部材（７０）を装備するサブ工程を含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
比較手段を用いる前記工程は、前記スペクトル測定値を調節するサブ工程、及び、又は前記スペクトル測定値を比較するための数学的手段を用いるサブ工程を含むことを特徴とする請求項９に記載の方法。
【国際調査報告】
2004502160.tif 000033