(57)【要約】動作の間、レーザ（１）がコイル（５）を通って誘導される光磁気装置において、前記コイルと前記レーザビームとの整合の関数として前記コイルの抵抗を測定することにより、前記コイル自体が前記コイルと前記レーザとの整合を測定するための測定装置として利用される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導される装置において、光ディスクレコーダが、前記コイルの抵抗を測定する手段と、前記コイルの抵抗に依存して前記コイルと前記レーザビームとの配置及び／又は前記レーザビームのフォーカスを変化させる手段とを有することを特徴とする光磁気装置。
【請求項２】
前記光ディスクレコーダは、前記レーザ及び前記コイルの位置を２つの相互に交差する方向に変化させる手段を有することを特徴とする、請求項１に記載の光磁気装置。
【請求項３】
コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置を製造する方法であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導され、製造のステップの間に前記レーザビームと前記コイルと整合させられる方法において、前記レーザビームが前記コイルの前記開口を通過している間に前記コイルの抵抗が測定され、前記コイルと前記レーザビームとの配置及び／又は前記レーザビームのフォーカスが、前記測定された前記コイルの抵抗に依存してチェックされ又は変化させられ、及び／又は前記コイルと前記レーザビームとの配置が変化させられるにつれて前記コイルの抵抗が測定されることを特徴とする方法。
【請求項４】
コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置をチェック又は調整する方法であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導される方法において、前記レーザビームが前記コイルの開口を通過している間に前記コイルの抵抗が測定され、前記コイルと前記レーザビームとの配置及び／又は前記レーザビームのフォーカスが、前記測定された前記コイルの抵抗に依存してチェックされ又は変化させられ、及び／又は前記コイルと前記レーザビームとの配置が変化させられるにつれて前記コイルの抵抗が測定されることを特徴とする方法。
【請求項５】
前記コイルと前記レーザビームとの相対的な位置が、２つの相互に交差する方向に変化させられることを特徴とする、請求項３又は４に記載の方法。
【請求項６】
前記配置、チェック又は調整の間の電流強度が、前記装置の動作電流と等しいか、又は好ましくは前記動作電流よりも低いことを特徴とする、請求項３乃至５のいずれか一項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導される装置に関する。
【０００２】
本発明はまた、コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置を製造する方法であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導され、製造のステップの間に前記レーザビームと前記コイルと整合させられる方法に関する。
【０００３】
本発明はまた、コイルを備えた光磁気読み取り及び／又は書き込みヘッドと、レーザビームを生成する手段とを有する光磁気装置をチェック又は調整する方法であって、動作の間前記レーザビームは前記コイルの開口を通って誘導される方法に関する。
【背景技術】
【０００４】
最初の段落において記載されたタイプの光磁気装置は、国際特許出願公開WO01/82299より知られている。かような装置においては、光記録手法が、動作中にディスクの記録層に接近させられる光磁気ヘッドと組み合わせられる。偏光レーザビームが、前記ディスクの読み取り及び書き込みのために利用される。レーザビームは、例えばスライダ又はアクチュエータに組み込まれたコイルの開口を通って誘導される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
前記ヘッド及びディスクレコーダの適切な機能のためには、前記レーザビームとコイルとの適切な整合が重要である。干渉装置及び測定によって前記レーザと前記コイルとを整合させることが知られている。しかしながら、前記手法のためには特別な構成及び素子が必要となる。
【０００６】
本発明の目的は、単純な代替の手法が利用される、光磁気ディスクレコーダ及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本目的を達成するため、前記光磁気装置は、前記コイルの抵抗を測定する手段と、前記コイルの抵抗に依存して前記コイルと前記レーザビームとの配置及び／又は前記レーザビームのフォーカスを変化させる手段とを有する。また本発明による方法は、前記レーザビームが前記コイルの前記開口を通過している間に前記コイルの抵抗が測定され、前記コイルと前記レーザビームとの配置及び／又は前記レーザビームのフォーカスが、前記測定された前記コイルの抵抗に依存してチェックされ又は変化させられ、及び／又は前記コイルと前記レーザビームとの配置が変化させられるにつれて前記コイルの抵抗が測定されることを特徴とする。
【０００８】
レーザが前記コイルに対して適切に整合させられていない場合、及び／又は適切にフォーカスされていない場合、前記コイルの一部が前記レーザビームによって照射され加熱される。当該部分の抵抗は変化し、具体的には上昇する。前記レーザビームを位置合わせ及び／又はフォーカスを変化させている間に前記コイルの抵抗を測定し、前記測定された抵抗に依存して前記ビームの配置及び／又はフォーカスを変化させることは、特別な構成を必要とすることなく、単純な方法で適切な配置及び／又はフォーカスを見出すことを可能とする。
【０００９】
好ましくは、前記光ディスクレコーダは、前記レーザ及び前記コイルの位置を２つの交差する方向に変化させる手段を有する。本方法の好適な実施例においては、前記コイルと前記レーザビームとの相対的な位置が、２つの交差する方向に変化させられる。
【００１０】
本方法の好適な実施例においては、配置の間の電流は、前記装置の動作電流と等しいか又は好ましくは該動作電流よりも低い。これにより、位置合わせの間に前記コイルを破損するリスクが軽減される。同様の理由から、好ましくは、位置合わせの間のレーザ強度は、動作レーザ強度と等しいか、又は好ましくは該動作レーザ強度よりも低い。
【００１１】
前記コイルとレーザとの整合を単純な方法で改善するため、特徴となる方法ステップは製品の販売及び使用に先立ちディスクレコーダの製造の間に実行されても良い。又は代替として、前記方法ステップは、既に製造された製品を調整若しくは再整合するために利用されても良いし、又は単に装置をチェックして拒絶するか若しくはチェックを通過させるために利用されても良い。後者の場合においては、測定された抵抗が所定の範囲外である場合には前記ディスクレコーダは拒絶され、そうでなければ許容される。拒絶は次いで破棄されても良いし、又は再整合されても良い。
【００１２】
本発明のこれらの及び他の態様は、以下に説明される実施例を参照しながら説明され明らかとなるであろう。
【００１３】
図は一定の縮尺で描かれてはいない。一般に、図において同一の構成要素は同一の参照番号によって示される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明は、読み取り及び／又は書き込みヘッドと、動作の間にコイルを通って照射するレーザとを持つ、それぞれの及びいずれのタイプの光磁気装置にも適用可能である。前記光磁気装置が所謂近接場（Near Field）タイプのものか遠距離場（Far Field）タイプのものか、及びスライダ又はアクチュエータの利用がされているか否かは重要ではない。
【００１５】
図１Ａは及び１Ｂは、２つのタイプの構成を示す。両方の構成において、レーザ源１からのビームは、動作の間、ホルダ３における対物レンズ２を通って及び第２のレンズ４を通って誘導され、それによりディスク７にフォーカスされる。ディスク７は被覆層８を備える。レーザビーム１はコイル５を通って誘導される。図１Ａは、所謂スライダタイプの読み取り及び／又は書き込みヘッドのタイプを示し、ここでは第２のレンズ４及びコイル５はスライダ６上に備えられる。図１Ｂは所謂アクチュエータタイプのヘッドを示し、レンズ４及びコイル５はガラスウェハ９上及び／又はガラスウェハ９中に備えられる。
【００１６】
図２は、図１Ａに示されたタイプのヘッドをより詳細に示す。前記スライダの懸架装置１０が本図に示されている。図３は、図１Ｂに示されたタイプのヘッドを幾分かより詳細に示す。
【００１７】
全てのタイプにおいて、前記ヘッドはコイル５を有する。図４はコイル５をより詳細に示す。前記コイルは２つの導線５ａ及び５ｂ、並びに開口１２を有する。動作中は、開口１２を通って前記レーザビームが誘導される。前記コイルは、スライダ６若しくはウェハ９の一部か、スライダ６若しくはウェハ９上に装着されるか、又はスライダ６若しくはウェハ９に埋め込まれる。
【００１８】
図５は、レンズ４を通って照射するビーム１、並びにホルダ６、９上の又はホルダ６、９中の２つのコイル層５Ｃ及び５Ｄを持つコイル５の断面図を模式的に示す。前記コイルは開口１２を有し、前記ビームは開口１２を通過する。模式的に、前記ホルダの隣にある矢印は、前記ホルダと前記ビームとの相対位置、従ってコイル５中の開口１２に対するビーム１の相対位置が変化し得ることを示している。かような変化は、前記ホルダの位置を変化させることにより、前記ビームの光路を変化させることにより、又はこれら双方の組み合わせにより実行され得る。この目的のため、例えば可動ミラー（例えば圧電手段によって移動可能なもの）又は可動ホルダ（例えば同様に圧電手段によって移動可能なもの）が、前記装置に備えられても良い。製造の間、例えば可動ミラーの位置及び／又は向きによって前記ホルダの実際の位置（ｘ−ｙ方向、及びことによるとｚ方向における）が制御されても良く、光路が制御されても良い。後に説明されるように、前記ホルダ又は前記光路の位置が変化させられるにつれて、抵抗が測定される。満足できる状況が得られた場合、前記位置及び／又は光路が固定される。代替として又は加えて、例えば可動の又はより一般には制御可能なレンズ手段によってフォーカスが変化させられても良い。前記ホルダは、中央開口を有する磁気層１３を有する。層１３の中央開口は、前記コイルの中央開口よりもわずかに大きい。前記レーザは、任意に被覆層８を持ち得るディスク７に照射される。
【００１９】
図６Ａ乃至６Ｃは、種々の状況を示す。図６Ａにおいては、ビーム１は完全に整合させられ、コイル５にオーバラップしていない。前記コイルは前記読み取り及び書き込みヘッドの一部であり、しばしばガラス、酸化物又はプラスチックの基板に埋め込まれている。このことは限定として考えられるべきではない。なぜなら前記基板の物質は、前記レーザビームが通過することができる透明部分即ちウィンドウがある限り、いずれの適切な物質であっても良いからである。前記コイル中の中央開口における前記レーザビームの直径は、前記基板の厚さ、前記ヘッドの自由作動距離、屈折率、前記レンズの開口数（ＮＡ）、及びディスクの組成といった種々のパラメータに依存する。前記コイルは内径Ｒｉｎを持つ。前記ビームは直径Ｄｌａｓｅｒを持つ。前記ビームは、一定の公差Ｔを伴って前記コイルの開口を通過する。従って、Ｒｉｎ≧Ｄｌａｓｅｒ＋Ｔである。
【００２０】
前記コイルが１より多い層を有する場合、又は磁気層が利用される場合、半径は種々のｚ位置において決定される必要があり、従ってＲｉｎ（ｚ）≧Ｄｌａｓｅｒ＋Ｔである。Ｒｉｎが小さいほど、前記コイルによって供給されることができる磁場は大きくなり、従って理想的にはＲｉｎは可能な限りＤｍａｘに近い。前記レーザビームが前記コイルに対して適切に整合されていない場合（図６Ｂ）、又は適切にフォーカスされていない場合（図６Ｃ）、前記コイルの一部が前記レーザビームによって照射される。従って、前記ビームの一部は前記ディスクに当たらず、前記装置の効率は損なわれる。
【００２１】
当該整合は干渉計によって為されても良いが、このことは特別な機構を必要とする。
【００２２】
本発明の基本的な着想は、前記コイル自体を光学的な整合手段として利用することである。前記コイルは、金属（例えばＣｕ）又は他の電導物質でできている。前記コイルの物質の抵抗は温度依存であり、Ｃｕのような金属については温度と共に増大する。前記照射された部分は加熱され、当該部分の抵抗は変化する。金属の場合は抵抗は一般に増大する。整合の際に前記コイルの抵抗を測定することにより、前記抵抗の増大が測定される。このことは、前記ビームと前記コイルとを互いに対して整合させるために利用される。以下の表は幾つかのパラメータを与える。
【００２３】
【表１】
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【００２４】
加熱による電圧の変化は数マイクロボルトであることが見出されている。これは測定されるために十分に大きい。なぜなら、ノイズは典型的に２、３マイクロボルトであるからである。必要とされる電流は好ましくは、前記コイルの動作電流と等しいか又は該動作電流より小さく（表１の例におけるように）選択され、従って位置合わせの間の前記コイルの損傷のリスクがないか、小さなリスクしかない。
【００２５】
出力信号ΔＶは電気信号であり、前記整合を制御するために利用されることができ、ビームスポットが前記コイルの中心に整合されることを可能とする。前記コイルを２つの直交する方向（ｘ及びｙ方向）に掃引することにより、前記コイルの中心が決定され、このことが為されると前記コイルの位置が固定される。前記ビームのフォーカスも変化させられても良い。大きすぎるフォーカスは、前記ビームの他方の端に前記コイルを加熱させる。前記コイルの抵抗を、ビームとコイルとのオーバラップを測定するための手段として利用するという原理は、実施例において前記ビームのフォーカスを（微）調整するために利用される。当該原理は、前記コイルに対する磁気層の位置をチェックするために利用されても良い。前記磁気層が前記コイルに対して移動させられる場合、２つの方向における前記レーザビームの掃引がこの事実を確認可能とする。前記コイルが前記磁気層に「隠れている」場合には加熱の効果が観測されず、前記コイルが前記磁気層の開口に延在する場合には予想より大きな加熱の効果が観測される。かくして、前記レーザビームを前記開口に渡って掃引することにより、前記コイル及び前記磁気層の相対位置が決定される。
【００２６】
図７は、とり得る電気的な構成を示す。検出電流Ｉ１は、導線５ａ及び５ｂを介してコイル５を通って送られる。前記コイルの直列抵抗は模式的にＲ１により示される。電圧Ｖ１は、所定の検出電流Ｉ１において、検出手段ＤＭＮＳによって測定される。コイルホルダは、ｘ−ｙ位置を変化させるための手段７３を備える。検出手段ＤＭＮＳは、制御ユニット７２に信号Ｖ１を送る。制御ユニット７２は、手段７３からの位置信号用の入力部も持つ。前記制御ユニットは、例えば前記位置信号の関数として信号Ｖ１を測定しｘ及びｙ位置の関数として極値（最大値又は最小値）を決定するためのプログラムを有し得る手段を有する。当該極値は、前記ホルダの最適位置を示す。前記ホルダは前記最適位置に運ばれ、前記位置において固定される。このようにして、前記コイルと前記ビームとは整合させられる。好ましくは、この光装置は、２つの相互に交差する方向に前記レーザ及び前記コイルの位置を移動させるための手段を有する。本方法の好適な実施例においては、前記コイル及び前記レーザビームの相対位置は、２つの相互に交差する方向に変化させられる。このようにしてコイル５の開口１２の中心は容易に見出される。
【００２７】
本発明の実施例においては、前記装置には手段ＤＭＮＳが備えられ、前記装置が製造されるとき及び／又は前記装置の寿命の間に、整合のチェックが為され、必要ならコイルとレーザビームとの配置が調節される。
【００２８】
本発明の方法の実施例においては、前記コイルと前記レーザビームとの配置を変化させ、同時に前記抵抗の変化を記録する方法ステップが実行される。このことは例えば、一時的に前記配置を変化させ、その後に前記コイル及びレーザの光学系の位置を固定することにより為されても良い。このことは例えば、前記装置の製造の間に行われても良い。かような実施例においては、製造された装置自体は、手段ＤＭＮＳ及び／又は手段７３を備える必要がない。この場合、かような手段は製造の間一時的に備えられる。上述の例においては、前記配置が変化させられる。しかしながら、前記レーザビームのフォーカスを変化させることも可能である。前記ビームのフォーカスが変化するにつれて、前記レーザビームの形状が変化し、より多くの又はより少ない光が前記コイルに当たるようになる。このことは、検出され得る前記コイルの抵抗の変化を引き起こす。磁気層１３が備えられる実施例においては、前記開口に渡る前記レーザビームの掃引は、磁気同１３及びコイル５の相互の位置についての情報を明らかにし得る。
【００２９】
要約すると、本発明は以下のように説明される：
動作の間、レーザビームがコイルを通って誘導される光磁気装置において、前記コイルと前記レーザビームとの整合の関数として前記コイルの抵抗を測定することにより、前記コイル自体が前記コイルと前記レーザとの整合を測定するための測定装置として利用される。
【００３０】
本発明は特に以上に示され説明されたものによって限定されないことは、当業者には理解されるであろう。本発明は、それぞれの及び全ての新規な特徴、並びにそれぞれの及び全ての特徴の組み合わせに存する。請求項中の参照番号は、該請求項の保護される範囲を限定するものではない。動詞「有する（comprise）」及びその活用の使用は、請求項において言及されたもの以外の要素の存在を除外するものではない。要素に先行する冠詞「１つの（a又はan）」は、複数のかような要素の存在を除外するものではない。
【００３１】
本発明は種々の装置において利用されることができ、その幾つかは図８、９及び１０に示されているが、これらは本発明の範囲についての制限を形成するものとして解釈されるべきではない。
【００３２】
図８は、ヘッドスタックアセンブリ８２と、共通の軸８４のまわりに回転可能な離隔された磁気データ記憶ディスク又は媒体８３のスタックとを有する、ディスクドライブ８１を示す。ヘッドスタックアセンブリ８２は、矢印Ｃの方向にアクチュエータ軸８５のまわりに回転可能である。ヘッドスタックアセンブリ８２は、ディスク８３の間の間隔まで延在する幾つかのアクチュエータアームを含み、これらアクチュエータアームのうち３つのみが示されている。読み取り及び／又は書き込みヘッド８７は、前記アクチュエータアームの端に配置される。
【００３３】
ヘッドスタックアセンブリ８２は更に、Ｅ型ブロックと、前記アクチュエータアームと正反対の位置に前記ブロックに装着された磁気ロータ８２０とを有する。前記ロータは、アクチュエータ軸８５のまわりの弧において回転するためにステータ（図示されていない）と協働する。前記ロータのコイルに、ある極性で又は逆の極性で直流電流を通電することは、前記アクチュエータアームを含むヘッドスタックアセンブリ８２に、ディスク８３の略径方向にアクチュエータ軸６のまわりを回転させる。
【００３４】
ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）８８は、前記アクチュエータアームのそれぞれに固定される。図９を参照すると、ＨＧＡ８８は懸架装置８９及び読み取り／書き込みヘッド８７から成る。懸架装置８９は、弾力性のロードビーム（load beam）と、ヘッド８７が固定される屈曲部とを有する。
【００３５】
一般に、ヘッド８７は前記屈曲部によって前記ロードビームの自由端に固定されたスライダボディ（又はスライダ）を有しても良く、ヘッド８７はコイル板又はコイルホルダ２０（図３）を有する。前記コイル板は、所望の書き込み磁場を生成するためのコイル又はコイルアセンブリ８２１を有する。コイル８２１は、前記コイル板の第２の側（即ち底面）上に（又は該板内に）形成される。レーザビーム８２２の光路が模式的に示されている。前記レーザビームはコイル８２１を通って誘導される。前記レーザビームは光導波路を通って誘導されても良く、レーザビーム８２２を導くためにミラーが備えられても良い。導線８２３が模式的に示されている。これらの導線は、コイル８２１に電流を供給する。図１０はヘッド８７を幾分より詳細に模式的に示している。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１（Ａ）】光磁気装置のための設計を模式的に示す。
【図１（Ｂ）】光磁気装置のための設計を模式的に示す。
【図２】図１の設計の１つをより詳細に模式的に示す。
【図３】図１の設計の１つをより詳細に模式的に示す。
【図４】動作の間にレーザビームが通って誘導される開口を示すコイルの平面図を示す。
【図５】レーザビームのコイルを通る光路を断面図で模式的に示す。
【図６（Ａ）】レーザビームが適切に位置合わせされフォーカスされた状況を示す。
【図６（Ｂ）】レーザビームが適切に位置合わせされていない状況を示す。
【図６（Ｃ）】レーザビームが適切にフォーカスされていない状況を示す
【図７】本発明による装置のための、又は本発明による方法において有用な、利用可能な電気機器を模式的に示す。
【図８】光ディスクレコーダの一部を模式的に示す。
【図９】読み取り及び／又は書き込みヘッドを有する光ディスクレコーダのアームを模式的に示す。
【図１０】光ディスクレコーダ用の読み取り及び／又は書き込みヘッドを模式的に示す。
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
2006505085.tif 000014
2006505085.tif 000015
2006505085.tif 000016