(57)【要約】光走査装置に用いる光記録担体であって、当該光記録担体は、入射面（5）、情報層（3）、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層（2）を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造（31a…31d、32a…32d；33）を有する。前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、当該記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有する。データ担体を製作する段階において、前記厚さ変化データを有する前記緩和構造は、前記透明層が形成される前に、スタンプ転写される。
2006510147.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光走査装置に用いる光記録担体であって、当該光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、当該記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする光記録担体。
【請求項２】
前記緩和構造に収容された前記データは、1組の厚さデータによって厚さプロファイルを表示するデータを有し、前記組の各項目は、前記入射面にわたる複数の位置のうちの各位置での厚さ偏差を示すことを特徴とする請求項1に記載の光記録担体。
【請求項３】
前記緩和構造に収容された前記データは、厚さの関数式の1組の変数からなる厚さプロファイルを表示するデータを有し、所定のアルゴリズムを組み合わせて利用することで、前記入射面にわたる厚さプロファイルを表す関数が提供されることを特徴とする請求項1に記載の光記録担体。
【請求項４】
前記緩和構造は、前記厚さ変化データを収容するピット／ランド構造を有することを特徴とする前記請求項のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項５】
前記緩和構造は、前記厚さ変化データを収容するウォブルパターンを有するグルーブ構造を有することを特徴とする請求項１乃至3のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項６】
当該記録担体は、ディスク状であり、前記厚さ変化データは、半径方向の厚さプロファイルを表示することを特徴とする前記請求項のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項７】
球面収差補正が可能な光学系を有する光走査装置内で光記録担体を走査する方法であって、前記光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、
前記情報層は、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、前記記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有し、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
当該方法は、前記光走査装置で、前記厚さ変化データを読み取るステップと、前記入射面を走査して前記光学系を調整するステップとを有し、前記厚さ変化データに基づいて、球面収差補正が行われ、
前記光走査装置によって前記緩和構造に収容されたデータを読み取ることで、前記厚さ変化データが得られることを特徴とする方法。
【請求項８】
前記入射面を走査して前記光学系を調整するステップは、
所定のアルゴリズムに従って、前記厚さ変化データが評価され、前記入射面にわたって選定された複数の位置のうちの少なくとも1箇所の厚さ表示が形成するステップと、
所定の変換式に基づいて、前記または各厚さ表示が球面収差補正値を表すデータに変換されるステップと、
前記球面収差補正値に基づいて前記光学系が作動され、これにより前記または各選定された位置での球面収差が補正されるステップと、
を有することを特徴とする請求項7に記載の光記録担体。
【請求項９】
光走査装置に用いる光記録担体を製作する方法であって、前記光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、
当該方法は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有するように、前記情報層の少なくとも一部をスタンプ転写するステップと、後続の、前記透明層を形成するステップとを有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも1の透明層の厚さ変化に起因した、前記記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする方法。
【請求項１０】
前記方法は、スピンコート法によって前記透明層を形成するステップを有することを特徴とする請求項9に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録担体に関し、より具体的には、これに限定されるものではないが、光ディスクに生じる厚さ変化を補正することの可能な光記録担体に関する。
【背景技術】
【０００２】
光記録担体は、再生専用型（読み出しはできるが書き込みはできない方式）、追記型（1回だけ書き込みができる方式）および書き換え可能型（書き込み、消去、再書き込みができる方式）を含む、いくつかのカテゴリーの一つに分類される。光記録担体が光ディスクの場合、上記の各方式の光記録担体には、予備成形製造プロセスを経て、少なくとも一つのトラックがディスク内に形成される。各方式のディスクにおいて、データはトラックに設置されるが、このデータの設置方法は、ディスクの種類によって変化する。
【０００３】
例えば、再生専用型ディスクは、スタンプ転写法として知られる従来の製造プロセスによって、マスターディスクから複製される。一つのまたは各データトラックは、ピット列を有し、このピット列は、相互に不規則に配置された複数のピットからなる。ピット列は、ディスク内のランドの間で、ディスクに異なる深さのピットを形成するため、ピット列によって、ディスクの情報層には緩和構造が構成される。
【０００４】
追記型記録担体の場合、一つのまたは各トラックは、有機色素からなる記録層で被覆される。データは、通常レーザーのような放射源を用いて、有機色素を物理的に昇華させることによって記録層に記録され、記録層にはマークが形成される。
【０００５】
書き換え可能型記録担体の場合、一つのまたは各トラックは、少なくとも1の記録層と、反射層と、通常1または2以上の誘電体層とを有する薄膜層からなるスタックで被覆される。記録層は、複数の材料からなる化合物を有し、この化合物は、照射される放射線量に依って、複数の異なる状態（結晶質またはアモルファス）で存在し得る。結晶質とアモルファスの領域は、異なる反射率を示し、アモルファスと結晶質状態の間は、各値のレーザー出力を印加することで可逆的に切り替えることができるため、データの記録および消去が行える。
【０００６】
また追記型および書き換え可能型ディスクは、再生専用データを収容する緩和構造を有するが、通常そのような領域は、導入領域にあり、制御情報を含んでいる。
【０００７】
従来の光磁気（MO）ディスクフォーマットのように、コンパクトディスク（CD）およびデジタル多用途ディスク（DVD）の光ディスクフォーマットでは、一般に透明層は、基板の射出成形によって形成され、ディスクは基板を介して読み出される。別の方式のディスクでは、例えばブルーレイディスク（登録商標）のように、透明再生層は、ポリカーボネートの薄膜によって基板同士を接合して、あるいは「スピンコート」処理によって形成される。後者の処理には、情報層の表面にラッカーを塗布してディスクを回転する方法が含まれる。ディスクの回転による遠心力によって、ラッカーは情報層の表面全体に分散し、透明層が形成される。
【０００８】
そのようなスピンコート法を利用する際の問題は、透明層の厚さに有意な差異が生じてしまうことであり、特にディスクの半径方向においてこの変化は顕著である。従来技術で明らかなように、光ディスクの再生に用いられる光走査装置の特性は、情報層に焦点化されるスポットの球面収差に影響を受けやすい。球面収差は、ディスクに厚さ変化がある場合にスポットに生じ、補正が難しい。従って、透明層に想定以上に厚いまたは薄い領域が生じ、透明層厚さが所定の限度から外れると、これに対応して情報層までの距離は、光走査装置の設計値よりも短く、あるいは長くなる。この結果、集束放射源の球面収差が増大し、データ信号の劣化や、光ディスク上にコード化された信号を検出する際に用いられる検出システムの誤動作が生じてしまう。
【０００９】
異なる厚さの透明層を通る放射によって生じる球面収差を補正するため、いくつかの経験的な方法が開発されている。これらの方法を以下に詳しく示す。
【００１０】
米国特許出願公開第2002／0054554号明細書には、光ディスクの試験領域を走査して、再生信号の振幅を測定する方法が示されている。この試験領域は、少なくとも第1および第2のピット列を有し、第1のピット列の周期は、第2のピット列の周期とは異なっている。周期の差異のため、第1のピット列に対応した再生信号の振幅は、第2のピット列に対応した再生信号の振幅とは異なる。透明層の厚さがディスクの半径方向にわたって等しい場合、振幅信号に焦点化される位置、すなわち最大振幅の位置は、2つのピット列で等しくなることが予想される。しかし、透明層の厚さがディスクの半径方向にわたって変化する場合、第1のピット列に対応する最大信号の生じる位置は、第2のピット列に対応する最大信号の生じる位置とは異なる。従って、各ピット列に対応した最大信号振幅が得られる位置の差異を利用することにより、厚さ変化を把握することができる。
【００１１】
この方法の問題は、走査装置に挿入する度に、各ディスクの試験領域を解析する必要があることであり、さらに試験領域以外の領域の厚さデータは、推定または内挿して求めなければならない。（例えばディスク全体の非線形な厚さ変化を把握するため、）複数の試験領域を解析する場合、このプロセスでは、時間がかかってしまう。また試験領域によって、データ容量として有効に利用できるはずの、ディスク空間が占有されてしまう。
【００１２】
米国特許第6,381,208号明細書には、ディスク製作後に、透明層の厚さおよび屈折率に関するデータを測定する方法が示されている。この厚さデータは、その後、光ディスクの情報層の記録可能部分に書き込まれる。そのようなディスクが光走査装置によって走査された際に、厚さデータが読み出されるが、このデータはレンズ位置の調整に利用され、厚さ変化に起因した球面収差の有効な補正が行われる。ディスク径に沿った各距離での平均厚さおよび不均一性に関するデータが保管され、光走査装置は、厚さの関数としてレンズ配置が示された参照テーブルにアクセスするように調整される。従って一度、走査装置がディスクに保管された厚さと屈折率の情報を読み出すと、参照テーブルからこの情報に対応するレンズ配置データを検索することができる。
【００１３】
この方法の問題は、単位ディスク基準毎に厚さプロファイルを測定して、各ディスクに書き込む必要があることであり、これは、追加の製作間接費を生じさせる。
【００１４】
日本特許出願第2001167443号公報には、製造段階において厚さを測定して、この情報をディスクに記録するシステムが示されているが、この方法では製造コストの増大につながる。
【特許文献１】米国特許出願公開第2002／0054554号明細書
【特許文献２】米国特許第6,381,208号明細書
【特許文献２】特開2001−167443号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
本発明の課題は、従来の配置調整の問題を軽減することである。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明の第1の態様では、
光走査装置に用いる光記録担体であって、当該光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、当該記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする光記録担体が提供される。
【００１７】
本発明の実施例は、透明層の形成に利用するため、製作過程中に形成された厚さプロファイルを複写して、表示することに基づく。発明者らによれば、これを可能にするため、第2のステップが採用され、ディスクの再生専用部分にこの情報が表記される。換言すれば、層の厚さプロファイルに関する情報は、層がディスクに形成される前の段階でディスクに保管される。
【００１８】
上述の全ての従来技術では、製作後に透明層の厚さが測定されるが、これは厚さ情報を製作後に記録することを意味し、従って情報はディスクの書き込み可能部分に記録される。そのような従来方法とは異なり、本発明の実施例では、厚さ情報は、スタンプ転写工程において形成され、再生専用データを収容する緩和構造部に保管される。従って追加の製作工程は必要なく、ディスクは記録可能部分を有する必要はない。
【００１９】
ディスク製作者が、例えば厚さプロファイルのようなディスクの透明層の製作工程情報を明確に示すことができれば、スピンコート処理を行う前に、そのプロファイルをディスクにスタンプ転写することができ、以下に詳細を示す本発明の実施例に従って、ディスクから情報を読み出すことが可能となる。これは、本発明の実施例が、再生専用部分を有するいかなる種類のディスクにも適用できることを意味し、製作者が、そのような位置の厚さ変化に関する情報をスタンプ転写できるという点で、明らかに有意である。
【００２０】
確立された製作プロセスの場合、例えば特定のディスク回転速度で所与のラッカーを用いて透明層を形成するスピンコート処理の場合、大まかな透明層の厚さ変化は、予め把握することができ、この変化はディスク間で変動しない。従って透明層の品質（すなわち厚さ変化の程度）は、問題とはならない。この場合、スピンコート処理の精度の緩和さらには低コスト化が可能となり、製作コストの点で明らかに有意である。
【００２１】
本発明の他の態様は、添付の特許請求の範囲に記載されている。本発明の特徴および利点は、以下の本発明の好適実施例の記載から明らかとなろう。ただし、これは単なる例示に過ぎない。本発明の好適実施例は、添付図面を参照して説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
図1には、光走査装置の概略図を示す。本装置は、本発明の実施例による光ディスクが作動するように調整されている。光走査装置は、例えば半導体レーザーのような放射源6を有し、この放射源は発散放射線7を放射する。ビームスプリッタ8は、例えば半透明板であって、レンズ系に向かって発散放射線7を透過させるように調整される。レンズ系は、光軸13に沿って設置されたコリメータレンズ9と、対物レンズ10とを有する。
【００２３】
コリメータレンズ9は、放射源6から放射される発散放射線7を実質的に平行な光線15に変換するように配置される。対物レンズ10は、入射平行放射線15を集束光線14に変換するように配置され、集束光線は、光ディスク1の層（以降に詳細を示すように、特に情報層3）にスポット18を集束させるような選択開口数（NA）を有する。検出システム16および第2のコリメータレンズ19は、ビームスプリッタ8とともに、主情報信号と、集束-トラッキングエラー信号とを検出するために設けられる。なおこれらの信号は、対物レンズ10の軸および半径位置を機械的に調整するために利用される。
【００２４】
光学系は球面収差補正器20を有し、この補正器は、補正信号発生器22によって作動される。補正器20は、いかなる形態のものでも良く、例えば可変集光液晶レンズであっても良い。別の実施例では、補正器は、複合体物レンズ10の２つのレンズ間の距離、あるいはコリメータレンズ9と放射源6の間の距離を調整するように配置される。
【００２５】
光ディスク1は透明層2を有し、透明層の片側には少なくとも1の情報層3が配置され、透明層の他の側にはディスクの入射面5が配置される。情報層3は、反射層（図示されていない）を有する。情報層の透明層から遠ざかる面側は、保護層4によって外界の影響から保護されている。透明層2は、光ディスクの基板として機能し、情報反射層または情報層と反射層を機械的に保持する。あるいは透明層2は、情報層3を保護する機能のみを有しても良い。多層化光ディスクの場合、この情報層3は、最上部の情報層となり、機械的な保持は、情報層3の他の側にある層、例えば保護層4によってまたは最上部の情報層に接続された別の情報層および透明層によって、提供される。多層化光ディスクの場合、2または3以上の情報層が、第1の透明層の下側に設置され、情報層は、別の透明層によって別の情報層から分離される。各情報層は、ディスク内の入射面5から異なる深さ位置に設置される。
【００２６】
透明層2は、実質的に、集束光線14が透過する屈折媒体を提供する。上述のように、透明層2の形成に用いるスピンコート処理法の問題は、層2の顕著な厚さ変化であって、情報層3と入射面5の間の距離は、ディスクにわたって変化する。層2の厚さが半径方向で不均一な場合、スポット18の球面収差の程度は、径に沿った各位置で変化する。その結果として、データ信号および制御信号の両方が、ある半径位置では不十分になることが予想される。
【００２７】
図2には、光ディスク1Aの第1の実施例の導入領域にあるデータトラック部分の断面を示す。導入領域は、ディスク1が走査装置に挿入された際に装置を初期化する制御データを有し、導入領域は、ディスク1の読み出し部分の最も内側の周に位置する。ディスク1Aは、各長さおよび間隔の一連のピット31a、31b、31c、31d状の緩和構造を有し、これらのピットは、データトラックに沿って一連のランド部32a、32b、32c…32dの間に交互に設置される。緩和構造は、再生専用データを収容する。データトラック自体は、螺旋状または円状であっても良い。データを収容する緩和構造は、スタンプ転写射出成形処理法によって、転写面に対応するパターンを有するマスターから形成される。
【００２８】
図3には、光ディスク1Bの別の実施例に用いられる、異なる導入領域のフォーマットを示す。この図は半径方向の断面を示している。このフォーマットの場合、導入領域は、ランド／グルーブ構造状の緩和構造を有する。一つの、または各グルーブは、螺旋状または円状のトラックを形成する。この実施例では、データは、高周波数変調ウォブルパターンの形状のランド／グルーブ構造に収容され、ウォブルパターンに収容された再生専用データに従うように、グルーブは、その全経路から各側に交互にわずかに蛇行している。この場合も、データを収容する緩和構造は、転写面に対応するパターンを有するマスターによって形成される。
【００２９】
以下の実施例では、（図2または図3に示す形状の導入部分を有する）ディスク1は、再生専用型であると仮定するが、本発明の実施例は、例えば導入領域に少なくとも1の再生専用部分を有する追記型ディスクにも利用できることは明らかであろう。
【００３０】
ここに示す全ての実施例では、厚さプロファイル、すなわち少なくとも大まかな、半径位置での透明層2の厚さの変化は、透明層の製作前に表記される。この情報は、製作段階において光ディスク1の導入領域にスタンプ転写される。従って情報層3は、ディスクのスタンプ転写段階（さらに情報層形成段階）では、未だ形成されていない層に関するデータを有する。その後、層を形成するプロセスが実行されて複写が可能となり、層には、ある一般的な特性が付記される。ディスク製作者は、厚さプロファイルのような、スピンコート処理法に関する情報を付記することができ、スピンコート処理が行われる前に、ディスク上にプロファイルを特定するデータがスタンプ転写され、その後の再生または記録時にディスクが走査された際には、以下に詳細を示す本発明の実施例に従って、ディスクからデータが読み出される。これは、再生専用部分に厚さプロファイルデータをスタンプ転写することにより、本発明の実施例は、再生専用部分を有するいかなる種類のディスクにも適用できることを意味しており、有意である。
【００３１】
厚さプロファイルデータを異なるフォーマットとすることもできる。ある実施例では、データは、光ディスク1に沿って選択された半径位置での厚さ偏差を示す値を有する。位置の数、およびこれに対応する他の想定される厚さ偏差の数は、少なくとも3であることが好ましく、少なくとも5であることがより好ましく、10以上であることがさらに好ましい。
【００３２】
プロファイルデータは、光ディスク1に沿った半径位置での層の厚さを示す絶対値または相対値を有する。データが絶対値である場合、これらの値は相対値に変換される。この方法は、照合位置として1の半径位置を選択するステップと、照合位置での厚さから他の位置での厚さを計算するステップとを有する。
【００３３】
ある実施例では、プロファイルデータは、表1に示すような1組の値を有し、選択された径での厚さ変化量から任意単位の偏差が特定される。
【００３４】
【表１】
2006510147.tif 000003
別の実施例では、プロファイルデータは、照合位置からの距離に対する偏差の変化を表す関数として特定される。例えば、光ディスクのプロファイルデータは、所定の多項式関数の定数および係数を表示しても良い。例えば関数が、図4に示すように多項式y=-8E(-0.5)x4+0.0124x3-0.7227x2+18.359x-171.55の場合、多項式の次数（ここでは4）および必要であれば定数（ここでは171.55）とともに、係数-8.5E(-0.5)、0.0124、-0.7227、18.359が保管される。
【００３５】
球面収差補正サブシステムの態様を以下に詳細に示す。図1に示すように、サブシステムは、制御ユニット51を有し、この制御ユニットは、導入領域に保管された厚さプロファイルデータを読み取るために設置される。また制御ユニット51は、読み出したデータを処理するために設置され、対応する制御データを補正信号発生器22に出力する。信号発生器22は、出力データを用いて信号を発する。この信号により補正器20は、その時点で走査されている半径位置での透明層2の厚さに対応した光線に、球面収差の量を加えて補正を行う。制御ユニット51は、検出システム16の処理回路と協働するコンピュータプログラム、または一連のコンピュータプログラムの一部を作動させることが好ましい。
【００３６】
厚さ変化の表示に必要な補正信号を評価する処理ステップを図4、5および6を参照して以下に説明する。
【００３７】
まず図5に示すように、制御ユニット51は、ステップ501において情報層3上の厚さデータの位置を同定する。本実施例では、データは導入領域に保管されるため、ステップ501では、制御ユニット51が走査装置に指令を与え、導入領域に保管されたデータが読み出される。ステップ503において、検出システム16は、特定の領域からデータを読み出し、このデータを制御ユニット51に伝達する。制御ユニット51は、このデータをデータファイルとして保管する。
【００３８】
次にステップ505において、制御ユニット51は、第1の照合位置を同定する。第1の照合位置は、走査装置に保管された、または導入領域に保管された厚さプロファイルデータから読み出された、所定の位置であっても良く、あるいは、厚さプロファイルデータの解析後に選定されても良い。厚さプロファイルデータの解析後に選定される場合、第１の照合位置は、厚さ値に近い半径位置、または厚さ範囲の上限もしくは下限のいずれかの端値を有する半径位置に選定されることが好ましい。同様に、以下に詳細を示すように、第2の照合位置は、予め定められ、または厚さデータの解析後に選定される。厚さプロファイルデータの解析後に選定される場合、第2の照合位置は、厚さ値に近い位置、または厚さ範囲の第1の照合位置とは別の端値を有する位置であることが好ましい。いずれの場合も、第1および第2の位置は、異なる厚さ値を有する必要があり、対応する補正信号に対する厚さ偏差（任意単位）の倍率は、走査装置内の光ディスクの試験後に算定される。
【００３９】
次のステップ507では、走査装置によって、ディスク上の第1の照合位置で試験手順が実行され、最適な球面収差（SA）補正信号が求められる。再生専用ディスクの場合、ある実施例ではこのステップは、各種異なる球面収差補正設定値を有する、選定された半径位置のデータを読み出すことにより行われ、主情報信号のジッター値が検出されて、ジッター値が最小となる最適な設定が行われる。記録可能型ディスクの場合、データは、標準的な球面収差補正設定を用いてディスクの照合位置に記録され、その後、データを読み返す間に、球面収差補正設置の最適化が行われる。一度読み出し用の最適な設定が得られると、読み出し時に得られた最適設定を用いてデータを再記録することができる。新しい記録データを用いて、再度最適化手順を実行しても良い。最初に標準的な設定を用いて記録されたデータは、それ自体が最適化されておらず、最適化過程でエラーが生じる可能性があるためである。
【００４０】
SA補正信号の最適化は、別の方法により行うこともできる。例えばプッシュプルトラッキングエラー信号を用いる方法である。この場合、トラッキングエラー信号が、再生時に最大振幅となるような設定で、最適化が行われる。トラッキングエラー信号を用いる場合、ディスクの空の部分において最適SA補正信号を検出することができるため、試験処理中に記録可能型ディスクにデータを書き込む必要はない。
【００４１】
最適化SA補正設定は、信号発生器22によって、信号に設定されることに留意する必要がある。ステップ509では、光走査装置は、光学ヘッドを第2の照合位置に移動させ、ステップ511では同様の方法で、最適な球面収差信号が検出され、保管される。
【００４２】
次に制御ユニットは、以下の式から倍率を算出する：
【００４３】
【数１】
2006510147.tif 000004
ここでSFはディスクの倍率であり、Rref1は第1の照合位置の径であり、Rref2は第2の照合位置の径であり、Iは径Riに印加される電流であり、Dは径Riでの偏差である。
【００４４】
この倍率は保管され、球面収差補正サブシステムによって、いかなる半径位置で光ディスクが走査される際にも、厚さ偏差データと組み合わせて利用される。
【００４５】
図6には、球面収差補正処理ステップを示す。厚さプロファイルデータは、厚さプロファイル式の変数の形で収容され、まずステップ601では、制御ユニット51は、光学ヘッドが新しい走査位置に移動しているかどうかを検知する。光学ヘッドが新しい走査位置に移動している場合は、ステップ603において、制御ユニット51は厚さプロファイルデータを検索し、ステップ605において、厚さプロファイルデータに対応する関数を利用して、現径での厚さ偏差を算出する。次にステップ607において制御ユニット51は、前述の算出倍率を利用して偏差値を補正信号値に変換し、ステップ609において、制御ユニット51から信号発生器22への指令により、補正器20に適切な補正信号が提供される。
【００４６】
図7には対応する補正手順を示す。厚さプロファイルデータは、複数の選定された径位置の各々についての値の組として保管される。
【００４７】
図7に示すように、ステップ701において、走査動作中、すなわち再生専用ディスクの場合は再生動作中、追記型または書き換え可能型ディスクの場合は再生動作または記録動作中、制御ユニット51は、光学ヘッドが新しい走査位置に移動したかどうかを検知する。ヘッドが新しい走査位置に移動している場合は、ステップ703において、制御ユニット51は、厚さプロファイルデータを検索し、ステップ704では現径が、データファイルの利用が可能な厚さ偏差データ位置に相当するかどうかが判断される。相当する場合、ステップ707において、現厚さ偏差がデータファイルから読み出される。現径が、データファイルの利用できる位置のいずれとも合致しない場合、ステップ705において、データファイルの2の隣接する位置間で偏差の内挿が行われ、現径での予想される厚さ偏差が算出される。ステップ709では、制御ユニットは、読み出しまたは算出された偏差を用いて、偏差値を補正信号値に変換する。ステップ711では、この信号が信号発生器22に供給され、補正器20に適切な補正信号が提供される。
【００４８】
本発明の別の実施例では、多層化層の光ディスクが提供され、この光ディスクは、少なくとも第1および第2の情報層と、対応する第1および第2の透明層とを有する。従って少なくとも2の透明層が存在し、各々の透明層は、スピンコート処理によって各情報層に設置される。透明層は、処理に対応する厚さ変化を有する。本実施例では、ジュアル層光ディスクの1または2以上の再生専用部が、2組の厚さプロファイルデータを有する。一方は、第1の透明層に関し、他方は第2の透明層に関するものである。各透明層の厚さ変化が特定され、制御ユニット51は、上述のように、各層の対応する現倍率を算出する。2の情報層のいずれかが走査されるとき、各情報層に対しディスク径に沿った必要な調整量が算出される。
【００４９】
上記の実施例では、試験手順を用いて、所与の異なる厚さ組に対応する適切な最適球面収差補正設定が定められる。代わりにそのような設定を、光走査装置に保管された参照テーブルによって定めても良い。
【００５０】
上記の記載および添付の特許請求の範囲において、「緩和構造」という用語は、高さ変化を有する表面、またはそのような表面に続く構造を表現するために使用される。また、そのような高さ変化は、技術的にエンボス化とも呼ばれ、スタンプ転写工程で使用されるマスターの高さ変化によって生じる。そのような緩和構造は、ピット／ランド列、グルーブ内のウォブルパターン、そのような構造の組み合わせ、および／または表面への高さの異なるスタンプ転写によって提供される他の構造を有しても良い。本発明に基づく緩和構造は、厚さ変化データを含むデータを収容する。好適実施例では、厚さ変化データは、層の厚さ変化と比例関係にある変化を表示し、あるいは層には厚さプロファイルが表示される。ただし、本発明の範囲は、球面収差補正が必要となるような、厚さの変数と屈折率変化のような別の変数を含む少なくとも2変数による変形例にも及ぶ。従って、球面収差補正に必要となる他の変数を把握することができれば、厚さ変化データは、所与の厚さ変化を直接表示する必要はない。ただし、そのような他の変数であっても、対象の層が形成される前に、情報を付記しておく必要がある。通常他の変数では、予め情報を付記することは難しく、および／または球面収差の問題は、あまり顕著にはならない。厚さ変化データは、厚さ変化の表示のみに限定しても良い。
【００５１】
いずれかの実施例に関して示されたいかなる特徴も、単独で、あるいは示された他の特徴と組み合わせて用いることができる。これは、他のいかなる実施例の１または2以上の特徴と組み合わせて用いても良く、あるいは他の実施例といかなる組み合わせで用いても良い。さらに、記載されていない等価な例あるいは変形例は、本発明の範囲から逸脱しないで利用することができ、本発明は添付の特許請求の範囲で定められる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の実施例による記録担体に対応した光走査装置の概略図である。
【図２】本発明の実施例に対応した光ディスクの導入領域のデータトラックに沿った概略断面図である。
【図３】本発明の別の実施例に対応した光ディスクの導入領域の半径方向の概略断面図である。
【図４】透明層の半径方向の厚さプロファイルのグラフを概略的に示す図である。
【図５】本発明の実施例による光走査装置によって実行されるステップを示すフロー図である。
【図６】本発明の別の実施例による光走査装置によって実行されるステップを示すフロー図である。
【図７】本発明の別の実施例による光走査装置によって実行されるステップを示すフロー図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【手続補正書】
【提出日】平成17年6月30日(2005.6.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光走査装置に用いる光記録担体であって、当該光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、前記入射面にわたる当該記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする光記録担体。
【請求項２】
前記緩和構造に収容された前記データは、1組の厚さデータによって厚さプロファイルを表示するデータを有し、前記組の各項目は、前記入射面にわたる複数の位置のうちの各位置での厚さ偏差を示すことを特徴とする請求項1に記載の光記録担体。
【請求項３】
前記緩和構造に収容された前記データは、厚さの関数式の1組の変数からなる厚さプロファイルを表示するデータを有し、所定のアルゴリズムを組み合わせて利用することで、前記入射面にわたる厚さプロファイルを表す関数が提供されることを特徴とする請求項1に記載の光記録担体。
【請求項４】
前記緩和構造は、前記厚さ変化データを収容するピット／ランド構造を有することを特徴とする前記請求項のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項５】
前記緩和構造は、前記厚さ変化データを収容するウォブルパターンを有するグルーブ構造を有することを特徴とする請求項１乃至3のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項６】
当該記録担体は、ディスク状であり、前記厚さ変化データは、半径方向の厚さプロファイルを表示することを特徴とする前記請求項のいずれか一つに記載の光記録担体。
【請求項７】
球面収差補正が可能な光学系を有する光走査装置内で光記録担体を走査する方法であって、前記光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、
前記情報層は、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、前記入射面にわたる前記記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有し、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
当該方法は、前記光走査装置で、前記厚さ変化データを読み取るステップと、前記入射面を走査して前記光学系を調整するステップとを有し、前記厚さ変化データに基づいて、球面収差補正が行われ、
前記光走査装置によって前記緩和構造に収容されたデータを読み取ることで、前記厚さ変化データが得られることを特徴とする方法。
【請求項８】
前記入射面を走査して前記光学系を調整するステップは、
所定のアルゴリズムに従って、前記厚さ変化データが評価され、前記入射面にわたって選定された複数の位置のうちの少なくとも1箇所の厚さ表示が形成するステップと、
所定の変換式に基づいて、前記または各厚さ表示が球面収差補正値を表すデータに変換されるステップと、
前記球面収差補正値に基づいて前記光学系が作動され、これにより前記または各選定された位置での球面収差が補正されるステップと、
を有することを特徴とする請求項7に記載の光記録担体。
【請求項９】
光走査装置に用いる光記録担体を製作する方法であって、前記光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、
当該方法は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有するように、前記情報層の少なくとも一部をスタンプ転写するステップと、後続の、前記透明層を形成するステップとを有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも1の透明層の厚さ変化に起因した、前記記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする方法。
【請求項１０】
前記方法は、スピンコート法によって前記透明層を形成するステップを有することを特徴とする請求項9に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
本発明の第1の態様では、
光走査装置に用いる光記録担体であって、当該光記録担体は、入射面、情報層、および前記入射面と前記情報層の間に設置された少なくとも1の透明層を有し、該透明層を介してデータが前記情報層から読み出され、前記情報層は、再生専用方式でデータを収容する緩和構造を有し、
前記緩和構造に収容された前記データは、前記入射面と前記情報層との間に、前記少なくとも１の透明層の厚さ変化に起因した、前記入射面にわたる当該記録担体の厚さ変化を表記した厚さ変化データを有することを特徴とする光記録担体が提供される。
【国際調査報告】
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