(57)【要約】記録可能光ディスク（２）に情報を書き込むことができる光ディスクドライブ装置（１）において、光ピックアップ部（５）を制御する制御回路（１０）は、アナログデータ信号（RF）にDCオフセットをかける制御可能DCコントローラ（２２）と、DCシフトされたアナログデータ信号（RFS）を増幅する可変ゲインアンプ（２３）と、増幅されたアナログ信号（RFA）を受け取るADコンバータ（２４）と、ADコンバータ（２４）からのデジタル出力信号（RFD）１０を受け取り、書き込み動作のクオリティを示す少なくとも１つのパラメータ（β、ｍ）をデジタル的に計算するデジタル計算ブロックと、少なくとも１つのクオリティ表示パラメータ（β、ｍ）を受け取り、前記少なくとも１つのクオリティ表示パラメータ（β、ｍ）に基づき光ピックアップ（５）のレーザ源の好適なパワー設定を計算するプロセッサ（２６）と、を有する。
2006527453.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録可能光ディスクに情報を書き込むことができる光ディスクドライブ装置であって、
レーザビームを生成するように構成された光ピックアップ部と、
前記光ピックアップ部からのデータ読み出し信号を受信するデータ入力ポートと、前記光ピックアップ部にデータ書き込み信号を供給するデータ出力ポートと、前記光ピックアップ部を制御する制御出力とを有する制御回路と、を有し、
前記制御回路が、
前記光ピックアップ部からの前記アナログデータ読み出し信号を受け取り、アナログデータ信号を供給する読み出し信号処理回路と、
前記読み出し信号処理回路からの前記アナログデータ信号にDCオフセットをかける制御可能DCコントローラと、
前記DCコントローラから前記DCシフトされた信号を受け取り、この信号をゲインファクターで増幅する可変ゲインアンプと、
前記アンプから前記増幅されたアナログ信号を受け取り、デジタル出力信号を供給するADコンバータと、
前記ADコンバータからの前記デジタル出力信号を受け取り、書き込み動作のクオリティを示す少なくとも１つのパラメータをデジタル的に計算するデジタル計算ブロックと、
前記デジタル計算ブロックにより供給された少なくとも１つのクオリティ表示パラメータを受け取り、前記少なくとも１つのクオリティ表示パラメータに基づき前記光ピックアップのレーザ源の好適なパワー設定を計算するプロセッサと、を有することを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記プロセッサが前記制御可能DCコントローラ及び前記可変ゲインアンプの制御信号を生成することを特徴とする装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記デジタル計算ブロックが以下の式
【数１】
2006527453.tif 000005
に従って２つのクオリティ表示パラメータβとｍを計算し、
A1>0、A2<0、CALF>0であり、
CALFは前記アンプからの前記増幅されたアナログ信号のDCレベルを表し、
A1はマークが書き込まれていない場合の増幅されたアナログ信号の正の振幅を表し、
A2はマークが書き込まれている場合の増幅されたアナログ信号の負の振幅を表すことを特徴とする装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記制御回路が、初期化ステップにおいて、
異なるレーザパワー設定で一連のN個のテスト記録を行うテストパターン書き込みステップと、
前記VGAのゲインと前記DCコントローラのDCオフセットの適当な値を決定するスケーリングステップと、
前記光ピックアップの最適パワー設定を計算するパワー設定計算ステップと、を実行することを特徴とする装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記スケーリングステップが
前記DCオフセットへの電気的影響を無くすためのDCコントローラの設定を決定する電気的DCオフセット特性決定ステップを実行するステップと、
前記DCコントローラと前記VGAの初期設定で初期化読み出しステップを実行するステップと、
前記初期読み出しステップで取得したデータに基づき、前記VGAのゲインと前記DCコントローラのDCオフセット値の適当な設定を選択する設定選択ステップを実行するステップと、を有し、
前記パワー設定計算ステップが、
前記VGAのゲインと前記DCコントローラのDCオフセット値を前記設定選択ステップにおいて選択された前記適当な値に設定するステップと、
前記第２の読み出しステップで取得したデータに基づいて、前記光ピックアップのパワー設定を計算するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記電気的DCオフセット特性決定ステップは、
前記レーザビームのスイッチをオフするステップと、
前記VGAを第１のゲイン値に設定するステップと、
前記電気的オフセットが補償されるように、前記DCコントローラのDCオフセット補償制御信号を決定するステップと、
前記ゲイン値を変えて前記ステップを繰り返し、一連のゲイン値と対応するDCオフセット値とを取得するステップを有することを特徴とする装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記初期化読み出しステップは、
前記VGAのゲインを第１の初期設定に設定するステップと、
前記DCコントローラの前記DCオフセット値の対応する設定を導出するステップと、
前記N個のテスト記録のシーケンスを読み出すステップと、
前記N個のテスト記録のそれぞれに対して信号レベルA1(ini)、A2(ini)、CALF(ini)を測定するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項８】
請求項７に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記設定選択ステップが、
すべてのCALF(i)値の平均が前記ADCの測定範囲の略中央となるようにDCオフセットを計算するステップと、
前記電気的DCオフセット特性決定ステップで取得したオフセットに対応するゲイン設定を選択するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項９】
請求項７に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記設定選択ステップが、
A2(i)の最小値とA1(i)の最大値の中央が前記ADCの測定範囲の略中央となるようにDCオフセットを計算するステップと、
前記電気的DCオフセット特性決定ステップで取得したオフセットに対応するゲイン設定を選択するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項１０】
請求項７に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記設定選択ステップが、
すべてのCALF(i)値の平均が前記ADCの測定範囲の略中央となるようにDCオフセットを計算するステップと、
A2(i)の最小値が前記ADCの測定範囲の下限と略一致し、A1(i)の最大値が前記ADCの測定範囲の上限と略一致するように、前記ゲイン設定を選択するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項１１】
請求項７に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記設定選択ステップが、
A2(i)の最小値とA1(i)の最大値の中央が前記ADCの測定範囲の略中央となるようにDCオフセットを計算するステップと、
A2(i)の最小値が前記ADCの測定範囲の下限と略一致し、A1(i)の最大値が前記ADCの測定範囲の上限と略一致するように、前記ゲイン設定を選択するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項１２】
請求項５に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記第２の読み出しステップが、
前記VGAのゲインと前記DCコントローラのDCオフセット値を、前記設定選択ステップで選択された前記適当な値に設定するステップと、
前記N個のテスト記録のシーケンスを再度読み出すステップと、
前記N個のテスト記録のそれぞれに対して信号レベルA1、A2、CALFを測定し、一連のN個の組み合わせA1(i)、A2(i)、CALF(i)（i=1,2,3,…,N）を取得するステップと、
各組み合わせについて対応するパラメータ値β(i)とｍ(i)を計算するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項１３】
請求項５に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記設定選択ステップと前記第２の読み出しステップが少なくとももう一度繰り返されることを特徴とする装置。
【請求項１４】
請求項１２に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記パワー設定計算ステップが、
前記第２の読み出しステップで取得した前記N個のパラメータ値β(i)とｍ(i)から最適なパラメータβ(i)とｍ(i)の組を選択するステップと、
前記選択するステップで選択された前記最適なパラメータβ(i)とｍ(i)の組に基づき、前記光ピックアップの最適パワー設定を計算するステップと、を有することを特徴とする装置。
【請求項１５】
請求項５に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記電気的オフセット特性決定ステップが前記テストパターン書き込みステップの前に実行されることを特徴とする装置。
【請求項１６】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置であって、前記ADコンバータが６ビットコンバータであることを特徴とする装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクデバイス等のデータ記憶装置の技術に関する。特に、光ディスクとの間で情報を読み書きするディスクドライブ装置に関する。以下、このようなディスクドライブ装置を「光ディスクドライブ」とも呼ぶ。光ディスクの例としては、CDディスク、DVDディスクなどがある。
【０００２】
よく知られているように、光記憶ディスクは少なくとも１つのトラックを有する。そのトラックは、データパターンとして情報が格納される記憶スペースが連続的ならせん状になっているか、または複数の同心円状になっている。光ディスクは読み出し専用タイプであってもよく、その場合、情報は製造段階で記録されており、ユーザによりその後読み出される。光記憶ディスクは書き込み可能タイプでもよく、その場合、ユーザが情報を格納することができる。本発明は、具体的には、書き込み可能タイプの光ディスク（例えば、CD-R/RW、DVD-R/RW、DVD+R/RW、DVD-RAM、BD-RE、及びBD-R）に情報を書き込むことができるディスクドライブに関する。
【０００３】
光ディスクの記憶スペースに情報を書き込むため、光ディスクドライブは、光ビーム（典型的にはレーザービーム）を生成し、その光ビームで記憶トラックをスキャンする光手段を有する。一般的な光ディスク技術、光ディスクに情報を記録する方法、及び光ディスクから光データを読み出す方法は周知であるから、これらの技術についてここで詳細に説明する必要はない。
【０００４】
光ディスクの記録層にデータパターンを正しく書き込むため、レーザ源はパワーが書き込まれる光ディスクの特性に対して好適な値になっていなければならない。それゆえ、知られているように、実際の書き込み動作前にキャリブレーションを実行する。このキャリブレーション（最適パワーキャリブレーションとして知られている）の間、レーザパワーを初期テスト設定に設定し、キャリブレーション用に特に予約された記憶スペースの部分にテストパターンを書き込んで、レーザ源の光パワーをキャリブレーションする。この記憶スペースの部分はキャリブレーションテスト領域とも呼ばれる。テストパターンを書き込んだ後、そのディスクから書き込んだデータシーケンスを読み出し、書き込み性能が適当であるかどうかをチェックする。この読み出し中に取得した光信号から最適パワー設定を計算する。このキャリブレーションは必要に応じて繰り返され、レーザ源を計算した最適パワー設定に設定し、新しい最適パワー設定を再度計算する。この２回目のキャリブレーションにより最適パワー設定を微調整する。通常、３回目のキャリブレーションを実行しても大きな改善は見込めない。
【０００５】
最適パワーは、読み出し中に取得した信号から導かれる２つのパラメータから計算する。これらのパラメータは、一般に、β（ベータ）及びｍ（モジュレーション）とされている。これらのパラメータは従来技術において知られており、これら２つのパラメータから最適パワーPOPTを計算する式がいくつかある。しかし、レーザパワーのキャリブレーションは、パラメータβとｍを使うものに限られず、読み出し信号の他のパラメータを使用することもある。記録中にレーザパワーの設定を変えてテストパターンを記録し、読み出し信号を取得する。
【０００６】
光検出器からの読み出し中に取得される電気的出力信号は一般的にアナログ信号であるが、最適パワーPOPTの計算はデジタル領域で行った方が便利である。それゆえ、最適パワーキャリブレーションを実行する光ディスクドライブの制御回路は、一般的に、アナログ・デジタル変換手段を有する必要がある。従来技術において、前記２つのパラメータβとｍはアナログ領域のRF光信号から導かれ、その後、RF信号、β、及びｍがデジタル領域に変換され、デジタルコントローラによりさらに処理される。その後の記録がすべて正確に行えるかどうかは、最初に行われるレーザパワーのキャリブレーションにかかっているので、RF信号パラメータを正しく決定することは、光ドライブを正しく動作させることにとって重要な条件である。これには、アナログデジタル変換の精度が適当であり、システムのいろいろな外乱（例えば、DCオフセットなど）を正しく処理することが要求される。また、レーザパワーをリアルタイムで再修正してもよく、その場合、ADコンバータの精度が同様に重要となる。場合によっては、量子化レベル数（例えば、６ビットと８ビットのAD変換）とADコンバータの動作速度の間でトレードオフが必要となることもある。しかし、別の場合には、量子化ビット数を減らすことが望ましいが、それはシリコン表面積を小さくでき、集積回路のコストを下げることができるからである。
【０００７】
本発明の目的の１つは、ディスクドライブ装置の制御回路を改善することである。この目的は、請求項１に記載した光ディスクドライブ装置を提供する本発明により達成できる。
【０００８】
本発明の一態様によると、光ディスクドライブ装置の制御回路は、DCオフセット手段と、RF光信号を好適にスケーリングする制御可能ゲイン手段とを有し、そのRF光信号はAD変換手段によりデジタル領域に変換される。前記制御回路は、前記デジタル光信号からパラメータβとｍ等の記録パラメータを計算するデジタルパラメータ計算手段をさらに有する。RF読み出し信号のスケーリングのため、６ビットの分解能を有するADコンバータでRFパラメータの測定精度を十分確保することができる。６ビットの分解能のADコンバータは、８ビットADコンバータより非常に速く動作する。さらにまた、チップ表面積を節約することができる。
【０００９】
本発明の上記その他の態様、特徴、利点を、図面を参照して、本発明の以下の実施形態によりさらに説明する。図面では、同一または類似している部分には同一の参照番号を付した。
【００１０】
図１は、記録可能ディスク２に情報を書き込むことができる光ディスクドライブ装置１の一部を示す概略図である。例えば、ディスク２は、CD、DVD等の光ディスク（光磁気ディスクを含む）である。ディスクドライブ１は、ディスク２を回転するモータ４と、情報層にレーザビーム６の焦点を合わせ、このレーザビームでディスク２のトラック（図示せず）をスキャンする光ピックアップ部５とを有する。光ピックアップ部５は、レーザ源と、レンズやプリズムとの光学コンポーネントとを有するが、このことは周知であり、説明を簡単にするために示していない。
【００１１】
ディスクドライブ１は制御回路１０をさらに有し、その制御回路１０はモータ４を制御する第１の出力１１と光ピックアップ部５を制御する第２の出力１２とを有する。制御回路１０は、データ入力ポート１３とデータ出力ポート１４とをさらに有する。読み出しモードのとき、データ読み出し信号SRが光ピックアップ部５からデータ入力ポート１３に送られる。書き込みモードのとき、制御回路１０はデータ書き込み信号SWをデータ出力ポート１４から出力する。
【００１２】
図２は、制御回路１０の一部をより詳細に示したブロック図である。制御回路１０は読み出し信号処理回路２１を有する。その読み出し信号処理回路２１は、光ピックアップ部５の光検出器（図示せず）から制御回路入力１３に受け取るように、光読み出し信号SRを受信し、光読み出し信号SRのデータコンテントを表す出力信号RFを出力する。
【００１３】
この信号は、制御可能DCコントローラ２２に入力される。この制御可能DCコントローラ２２は、信号RFのDCレベルを好適な値にシフトすることにより、DCオフセットを実行する。DCシフトされた信号RFSは、可変制御可能ゲインを有するアンプ２３に入力される。そのアンプ２３は、そのDCシフトされた信号RFSを好適に増幅し、増幅信号RFAを出力する。その増幅信号RFAはADコンバータ２４に入力される。ADコンバータ２４の出力信号RFDは、シフトされ増幅された光信号RFのデジタル表示である。このように、これ以降の信号処理はデジタル領域でなされる。
【００１４】
図３Ａないし３Ｃは、ディスクからのRF信号読み出しの形を示すグラフである。これらのグラフでは、垂直軸は信号の振幅を表し、水平軸は時間を表す。読み出し信号は平均レベル、すなわち低周波数成分CALFと、この平均信号レベルCALFに対する正の振幅A1及び負の振幅A2とにより特徴付けられる。光記憶の慣例により、正の振幅A1はマークが書き込まれていない（ディスクの高反射率領域）ことに対応し、負の振幅A2はマークが書き込まれている（ディスクの低反射率領域）ことに対応する。
【００１５】
パラメータβは次の式（１ａ）により定義される。
【００１６】
【数２】
2006527453.tif 000003
ここでA1>0、A2<0である。
【００１７】
パラメータｍは次の式（１ｂ）により定義される。
【００１８】
【数３】
2006527453.tif 000004
ここでA1>0、A2<0、CALF>0である。
【００１９】
図３Ａは通常状態の光信号RFの形を示す。図３Ｂは、低すぎるレーザパワーでデータが記録された場合の光信号RFの形を示す。図３Ｃは、高すぎるレーザパワーでデータが記録された場合の光信号RFの形を示す。これらの場合は前記パラメータβとｍで区別でき、制御回路１０はこれらのパラメータに基づき最適レーザパワーを計算することができる。
【００２０】
デジタル信号RFDが計算ブロック２５に入力される。その計算ブロック２５は、前記パラメータβとｍを計算するよう構成されている。これらのパラメータはアナログ領域で計算してもよいが、本発明の特徴は、これらのパラメータをデジタル的に計算することにある。デジタル計算ブロック２５で計算されたパラメータβとｍはプロセッサ２６に入力される。そのプロセッサ２６は、光ピックアップ５のレーザ源の好適なパワー制御信号SPCを計算するように設計されている。パラメータβとｍに基づくレーザ源の好適なパワー制御信号SPCの計算そのものは知られているので、その計算をここでこれ以上詳細に説明する必要はない。DC制御ブロック２２と可変ゲインアンプ２３が動作する可変パラメータはプロセッサ２６の制御下で設定される。
【００２１】
ここで重要な要因は、ADC２４により提供されたデジタル信号RFDサンプルからパラメータβとｍを速く正確に計算しなければならないことである。より具体的には、βの測定には、振幅A1とA2を正確に測定する必要があり、ｍの測定には、振幅A1とA2だけでなくDCレベルCALFを正確に測定する必要がある。通常、８ビットのA/Dコンバータであればこの精度を得られるが、比較的に動作が遅く、より大きいシリコン表面積を要するので、比較的に高価である。しかし、現在の光ディスクでは、RF信号を非常に高速でサンプリングする必要があり、そのため、量子化精度を犠牲にしてもより速いA/Dコンバータを使用しなければならない。それゆえ、ADC２４として６ビットのA/Dコンバータを使用できるようにするため、ADC２４の測定範囲が最小信号レベルCALF+A2（A2<0）及び最大信号レベルCALF+A1（A1>0）にほぼ対応することが望ましい。言い換えると、最大出力値111111は最大信号レベルCALF+A1にほぼ対応し、最小出力値000000は最小信号レベルCALF+A2にほぼ対応するべきである。それゆえ、DCコントローラ２２及び可変ゲインアンプ２３の最適設定が必要である。
【００２２】
これに関する問題は、ディスクドライブの初期化ステップ中に、テスト記録を異なるレーザパワー設定で行い、後で読み出し、これらのテスト記録全部に対してパラメータβとｍを計算することである。その後、パラメータβとｍの最適値、すなわち最適レーザパワー設定にどのテスト記録が対応するかを決定する。異なるレーザパワー設定におけるテストランにおいては、CALF+A1とCALF+A2の値が変化する。それゆえ、上記のテストラン２に適応できるDCコントローラ２２と可変ゲインアンプ２３の設定が必要である。本発明はこの問題を解決するキャリブレーションアルゴリズムを提案するものである。
【００２３】
次に、図４を参照して、本発明による初期化ステップ１０００を説明する。テストパターン書き込みステップ１００において、N個（Nは１より大きい整数）のテストパターンのシーケンスをディスクに書き込む。スケーリングステップ２００において、VGA２３のゲインG及びDCコントローラ２２のDCオフセットDCOFFの設定を適当に決める。その後、パワー設定計算ステップ３００において、ゲインG及びDCオフセットDCOFFの上記の適当な設定を用いて、N個のテストパターンのシーケンスに基づいて、光ピックアップ５の最適パワー設定POPTを計算する。
【００２４】
テストパターン書き込みステップ１００において、レーザビームのスイッチをオンし（ステップ１１０）、レーザパワーを第１のパワー設定に設定し（ステップ１１１）、テストパターンを書き込む（ステップ１１２）。このステップは、数通りのレーザパワー設定（通常はレーザパワーを徐々に上げる）に対して繰り返す（ステップ１１３）。
【００２５】
スケーリングステップ２００において、最初に、電気的DCオフセット特性決定ステップ２１０を実行し、DCオフセットへの影響を決定する。レーザビームのスイッチをオフし（ステップ２１１）、VGA２３を第１のゲイン値に設定する（ステップ２１２）。ここで、信号RFの信号レベルはほぼゼロである。ADC２４のゼロでない出力値は電気的オフセットによるものである。電気的オフセットを補償するように、DCコントローラ２２のDCオフセット補償制御信号DCOFFを決定する（ステップ２１３）。
【００２６】
アナログ回路の場合には残念ながら電気的オフセットはVGA２３のゲインGに依存する。それゆえ、ゲイン値の設定を変えて上記ステップを繰り返し、DCコントローラ２２の対応する補正制御信号を決定する（ステップ２１４）。結果として、一連のゲイン値Gと、それと対応するDCオフセット値DCOFFとが得られる。この一連のゲイン値Gと、それと対応するDCオフセット値DCOFFは、制御回路１０の電気的DCオフセット特性を構成する。この特性を例えばテーブルに格納する（ステップ２１５）。留意すべきことは、この電気的DCオフセット特性決定ステップ２１０は事前に、すなわちテストパターン書き込みステップ１００の前に実行してもよいことである。
【００２７】
次に、初期読み出しステップ２２０を実行する。VGA２３のゲインGは、第１の初期設定G(ini)に設定される（ステップ２２１）。この第１の初期設定G(ini)は、適宜選択され、通常は最適設定ではない。最適設定かどうかはまだ分からないからである。上記の特性から、DCコントローラ２２のDCオフセット値DCOFF(ini)の対応する設定が得られる（ステップ２２２）。これらの初期設定を用いて、N個のテスト記録のシーケンスを読み出す（ステップ２２３）。この読み出しにおいて、信号レベルA1(ini)、A2(ini)、及びCALF(ini)をそのN個のテスト記録のそれぞれに対して測定する（ステップ２２４）。このように、N個のA1(ini)(i)>0、A2(ini)(i)<0、CALF(ini)(i)>0の一連の組み合わせを得る。ここで、i=1,2,3,…Nである。この一連の組み合わせは例えばテーブルに格納される（ステップ２２５）。
【００２８】
次に、初期読み出しステップ２２０で取得したN個のデータの一連の組み合わせに基づき、VGA２３のゲインG及びDCコントローラ２２のDCオフセット値DCOFFの適当な設定を選択する設定選択ステップ２３０を実行する。ここで、いくつかの可能性が考えられる。第１の可能性として、すべてのCAFL(i)の平均がADC２４の測定範囲のほぼ中央になるようにDCオフセットを計算する。VGA２３のゲインGの設定は、その特性テーブル中のこのオフセットに対応するゲイン設定である。第２の可能性として、A2(i)の最小値（MIN(A2)と示す）及びA1(i)の最大値（MAX(A1)と示す）の中心がADC２４の測定範囲のほぼ中央になるように、言い換えると｛MIN(A2)+MAX(A1)｝/2がADC２４の測定範囲のほぼ中央になるように、DCオフセットを計算する。VGA２３のゲインGの設定は、その特性テーブル中のこのオフセットに対応するゲイン設定である。第３の可能性として、これは第１の可能性の変形例であるが、MIN(A2)がADC２４の測定範囲の下限にほぼ一致し、MAX(A1)がADC２４の測定範囲の上限にほぼ一致するように、VGA２３のゲインGを設定する。第４の可能性として、これは第２の可能性の変形例であるが、MIN(A2)がADC２４の測定範囲の下限にほぼ一致し、MAX(A1)がADC２４の測定範囲の上限とほぼ一致するように、VGA２３のゲインGを設定する。
【００２９】
次に、第２の読み出しステップ３１０を実行する。VGA２３のゲインG及びDCコントローラ２２のDCオフセット値DCOFFは、設定選択ステップ２３０で選択された適当な値に設定される（ステップ３１１）。これらの第２の設定を用いて、N個のテスト記録のシーケンスを再度読み出す（ステップ３１２）。この読み出しにおいて、信号レベルA1、A2、及びCALFを上記N個のテスト記録のそれぞれについて再度測定する（ステップ３１３）。このように、第２のN個の組み合わせA1(i)>0、A2(i)<0、及びCALF(i)>0（i=1,2,3,…N）が得られる。それぞれの組み合わせについて、パラメータβ(i)とｍ(i)の対応する値を計算する（ステップ３１４）。これらの値は例えばテーブルに格納される（ステップ３１５）。
【００３０】
最後にパワー設定計算ステップ３２０を実行する。第２の読み出しステップ３１０で得られたN組のパラメータβ(i)とｍ(i)から、その最適な組を選択する（ステップ３２１）。そして、対応するレーザパワーを最適パワー設定として選択し、その後の記録動作で使用する（ステップ３２２）。
【００３１】
あるいは、さらに微調整が必要な場合、設定選択ステップ２３０と第２の読み出しステップ３１０を繰り返す。
【００３２】
当業者には言うまでもなく、本発明は以上説明した実施形態に限定されるものではなく、添付したクレームに記載した本発明の保護範囲内で変形や修正が可能である。上記説明では、ブロック図を参照して本発明を説明した。そのブロック図は本発明による装置の機能ブロックを例示している。言うまでもなく、ハードウェアでこれらの機能ブロックを実施し、機能ブロックの機能を個々のハードウェアコンポーネントで実行してもよい。しかし、これらの機能ブロックをソフトウェアで実行し、コンピュータプログラムまたはマイクロプロセッサやマイクロコントローラ等のプログラマブルデバイスによりその機能ブロックの機能を実行することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】ディスクドライブ装置の一部を示す図である。
【図２】制御回路の一部をより詳細に示す図である。
【図３】図３Ａないし３Ｃは、光信号の形を示すグラフである。
【図４】本発明による初期化ステップを示すフローチャートである。
【図１】
2006527453.tif 000006
【図２】
2006527453.tif 000007
【図３】
2006527453.tif 000008
【図４】
2006527453.tif 000009
【国際調査報告】
2006527453.tif 000010
2006527453.tif 000011
2006527453.tif 000012