(57)【要約】少なくとも1の光線（2）を受光する受光部（11）を有する受光面（10）を備える光素子であって、受光面（10）には少なくとも1の光検出素子（3）が設けられ、該光検出素子は前記光線の少なくとも一部が光検出素子に放射されたかどうかを検出するように配置されることを特徴とする光素子である。また本発明は光素子を製作する方法に関し、光素子基板には、少なくとも1の薄膜成膜技術を用いて、少なくとも1の光検出素子が設けられる。
2006500579.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも1の光線を受光する受光部を有する受光面を備える光素子であって、前記受光面には少なくとも1の光検出素子が設けられ、該光検出素子は前記光線の少なくとも一部が前記光検出素子に放射されたかどうかを検出するように配置されることを特徴とする光素子。
【請求項２】
前記少なくとも1の光検出素子は前記受光部に隣接して配置されることを特徴とする請求項1に記載の光素子。
【請求項３】
前記少なくとも1の光検出素子は、前記光線が前記光検出素子に放射された際に電気抵抗の変化する材料を有し、前記光検出素子は電気測定装置に接続するように配置されることを特徴とする請求項1または2に記載の光素子。
【請求項４】
前記少なくとも1の光検出素子は、前記受光面の前記受光部の少なくとも一部を実質上取り囲むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の光素子。
【請求項５】
前記少なくとも1の光検出素子は実質上リング状であることを特徴とする請求項4に記載の光素子。
【請求項６】
前記光検出素子によって少なくとも部分的に囲まれる前記受光部は、前記受光面から見た前記光線の断面よりわずかに大きいことを特徴とする請求項4または5に記載の光素子。
【請求項７】
前記少なくとも1の光検出素子は前記受光部に対して対称に配置されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の光素子。
【請求項８】
前記受光面には少なくとも2の分離して設置された光検出素子が設けられていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の光素子。
【請求項９】
前記少なくとも2の光検出素子間の距離は、前記受光面で観測される前記光線の径よりわずかに大きいことを特徴とする請求項8に記載の光素子。
【請求項１０】
前記距離と前記光線の径の差は約1mm以下であることを特徴とする請求項9に記載の光素子。
【請求項１１】
前記距離と前記光線の径の差は約1μm以下であることを特徴とする請求項9に記載の光素子。
【請求項１２】
当該光素子には、例えばCVD、PE-CVD、MBE、スパッタリングおよび／または蒸着のような少なくとも1の薄膜成膜技術を用いて、前記少なくとも1の光検出素子が設けられることを特徴とする請求項1乃至11に記載の光素子。
【請求項１３】
前記少なくとも1の光検出素子の前記受光面（x、y）に垂直な厚さは、約100μm以下であることを特徴とする請求項1乃至12に記載の光素子。
【請求項１４】
前記厚さは約1μm以下であることを特徴とする請求項13に記載の光素子。
【請求項１５】
前記厚さは約100nm以下であることを特徴とする請求項14に記載の光素子。
【請求項１６】
前記受光面で観測される各光検出器の幅（W）は、約1mm以下であることを特徴とする請求項1乃至15に記載の光素子。
【請求項１７】
前記幅（W）は約100μm以下であることを特徴とする請求項16に記載の光素子。
【請求項１８】
前記幅（W）は約1μm以下であることを特徴とする請求項16に記載の光素子。
【請求項１９】
各光検出素子は約10,000μm3以下の体積であることを特徴とする請求項1乃至18のいずれかに記載の光素子。
【請求項２０】
少なくとも1の光検出素子は、例えば金属のような少なくとも1の導電性材料を有することを特徴とする請求項1乃至19のいずれかに記載の光素子。
【請求項２１】
前記少なくとも1の光検出素子は少なくとも1の熱電対を有することを特徴とする請求項1乃至20のいずれかに記載の光素子。
【請求項２２】
当該光素子は、少なくとも1の光検出素子に接続された電気接続点を有し、前記光検出素子は測定装置に接続されることを特徴とする請求項1乃至21のいずれかに記載の光素子。
【請求項２３】
各光検出素子の異なる部分は、電気測定装置に接続するように配置されることを特徴とする請求項3に記載の光素子。
【請求項２４】
前記少なくとも1の光検出素子は、前記受光部内の少なくとも一部に伸びていることを特徴とする請求項1に記載の光素子。
【請求項２５】
前記少なくとも1の光検出素子は、光格子を提供するように配置されることを特徴とする請求項24に記載の光素子。
【請求項２６】
当該光素子はレンズを有することを特徴とする請求項1乃至25のいずれかに記載の光素子。
【請求項２７】
当該光素子は光学フィルタを有することを特徴とする請求項1乃至26のいずれかに記載の光素子。
【請求項２８】
当該光素子は光格子を有することを特徴とする請求項1乃至27のいずれかに記載の光素子。
【請求項２９】
当該光素子はミラーを有することを特徴とする請求項1乃至28のいずれかに記載の光素子。
【請求項３０】
光素子を製作する方法であって、光素子基板には少なくとも1の薄膜成膜技術を用いて少なくとも1の光検出素子が設けられることを特徴とする方法。
【請求項３１】
少なくとも1の光線と請求項1乃至29のいずれかに記載の光素子の位置を揃える方法であって、前記光線は、前記光素子の前記受光面で前記光線が受光されるように前記光素子上に放射され、前記少なくとも1の光検出素子を用いて、前記光素子が前記受光面の前記受光部で前記光線を実質上受光するように、前記光素子および前記光線の位置が揃えられることを特徴とする方法。
【請求項３２】
前記光線および前記光素子は、前記少なくとも1の光検出素子によって前記光線が検出される第1の相対位置から、前記光検出素子によって前記光線が実質上検出されなくなる第2の相対位置まで、移動することを特徴とする請求項31に記載の方法。
【請求項３３】
前記光線および前記光素子はさらに、前記少なくとも1の光検出素子によっておよび／または別の光検出素子によって、前記光線が再度検出される第3の相対位置に移動し、前記第1、第2および第3の相対位置において得られた前記検出結果を用いて、前記光線および前記光素子の最終相対位置が定められることを特徴とする請求項32に記載の方法。
【請求項３４】
前記少なくとも1の光線および前記光素子は光軸上で位置が合わされることを特徴とする請求項31乃至33のいずれかに記載の方法。
【請求項３５】
前記少なくとも1の光検出素子を用いるステップは、前記光検出素子の抵抗を測定して前記光線の少なくとも一部が前記光検出素子に放射されたかどうかを検出するステップを有することを特徴とする請求項3および31に記載の方法。
【請求項３６】
前記少なくとも1の光検出素子においてある温度上昇が検知された場合、前記光線および前記光素子は、前記光検出素子の前記温度が低下するように相互に移動することを特徴とする請求項35に記載の方法。
【請求項３７】
回転式光ディスクの情報層に情報を記録し、および／または回転式光ディスクの情報層から情報を再生する光学装置であって、請求項1乃至29のいずれかに記載の光素子を有する光学装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光素子に関する。
【背景技術】
【０００２】
そのような光素子は実際に知られている。光素子は例えばレンズ、光格子、スリット、ダイアフラム、光学フィルタ、光ファイバーケーブルのような光導体、ミラー又は同様の素子を有する。使用期間中、光素子は、例えば光学システムのような1または2以上の光線の経路に設置される。結果として前記光線は、光素子の受光面、例えば光素子の外面を含む平面で受光される。
【０００３】
光素子が完全な光学的ミラーである場合、前記受光面はそのような素子の光反射面となる。
【０００４】
一方、光素子が入射光線経路の少なくとも一部に配置されたとき、例えば光素子がレンズ、光格子、スリット、ダイアグラム、光学フィルタ等である場合、光線は光素子の多くの受光面で受光され、前記受光面は例えば全面、背面および／または光素子内部に伸展する。
【０００５】
通常、光学システムの各光線および各光素子は所望の目的により相互に位置を揃えて配置される。例えば光学システムのある光軸上にまたは光軸に対し、光素子およびレーザー光線を正確に揃えることが要求される場合がある。所望の位置合わせ精度は例えば、ミクロンレベルである。従来の第1の方法では、光線および光素子の位置合わせは、目視検査によって行われる。必要であれば光線および光素子の各位置は手動で調整される。
【０００６】
従来の第2の方法では、各光線および光素子は、光素子を通過する前記光線の一部の特性を利用して位置が揃えられる。光素子が例えば回折素子である場合、光素子および光線が特定の位置に調整された際に光線に固有の回折の生じることが予想される。結果的に前記光素子により得られる光線の回折を観測することで、そのような光素子および光線の位置を揃えることができる。
【０００７】
前記位置合わせ方法はいずれも複雑で時間がかかり、これは光学システムが少なくとも1の光線に対して相互に位置を揃える必要のあるいくつかの光素子を有する場合、特に顕著である。さらにこれらの方法では所望の高精度の位置合わせを行うことはできない。
【０００８】
国際特許出願WO02/31569号（Ohnsteinら）には、レーザーダイオードのような光学装置に対する光素子の位置を精密に定める高精度位置決めシステムが示されている。装置は、基板に対してX方向に選択的に可変な担体を有する。前記担体には光素子が結合され、光素子は前記基板に対してY方向に動くことができる。オーンスティン（Ohnstein）によると、光素子は、光線が光素子の選択領域を交差するように動く。光素子は、異なる光特性を有する異なる領域を有することが好ましい。これにより光線が前記異なる領域間を移動した際、光素子は異なる光特性を得ることができる。オーンスティンによると、この効果は光学的位置あわせ等に利用することができる。
【０００９】
日本特許出願第JP08005507号には、光軸位置を合わせる方法および装置が示されており、レーザー光線を用いて光ファイバの位置が揃えられる。ファイバは、レーザー光線の透過強度が最大となるようにして揃えられる。
【００１０】
米国特許第4,871,250号（コセキ）はレーザー光線モニタに関するものであり、このモニタは高出力レーザー装置により生じるレーザー光線の出力とモードパターンを検出する。前記モニタは光線強度検出プレートを有し、このプレートは、レーザー光線がプレートに放射された際のレーザー光線の局部的強度を検出するように配置される。検出されたレーザー光線のモードパターンは、CRTディスプレイに映し出される。操作員はこのディスプレイを参照して、前記レーザー装置の前方ミラーおよび後方ミラーの位置を調整することができ、必要であればレーザー光線のモードパターンを補正したり変更したりすることができる。結果的にコセキは、光線および光素子の位置合わせに前記第2の方法を利用しており、これらの素子はレーザー装置の前記前方および後方ミラーである。
【特許文献１】国際特許出願WO02/31569号パンフレット
【特許文献２】特開平08-005507号公報
【特許文献３】米国特許第4,871,250号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の課題は上記の問題を解決することであり、特に各光素子および各光線の相互の位置を比較的迅速に比較的高い精度で揃えることができる。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は少なくとも1の光線を受光する受光部を有する受光面を備える光素子に関し、前記受光面には少なくとも1の光検出素子が設けられ、該光検出素子は前記光線の少なくとも一部が前記光検出素子に放射されたかどうかを検出するように配置される。
【００１３】
この光素子および前記光線は相互に比較的容易に位置を揃えることができる。少なくとも1の光検出素子が、光素子の受光面を照射する光線の位置に関する正確な情報を提供するからである。さらに各検出素子の性質に応じて、光素子の使用中に比較的迅速かつ連続的に前記情報を得ることができる。
【００１４】
光素子および前記光線の位置が適正に揃えられると、光素子は前記受光面の受光部で光線を受光する。少なくとも1の検出素子は、少なくとも一部の光線がその検出素子に放射されたか否かを検出する。前記検出素子による検出はアクティブまたはパッシブな方式で行うことができる。ここでアクティブ検出方式には、例えば熱電対を有する素子の場合のように、検出素子が光線を検出した際、信号を発する検出素子が含まれる。パッシブ検出方式とは、素子に光線が放射されることにより、ある測定可能な検出素子の特性が変化する場合を指し、例えば前記光線の光が素子に放射された際、電気抵抗の変化する材料を有する素子が挙げられる。
【００１５】
検出素子は、入射光線および光素子の相対的な位置に関する正確な情報を得るため、いくつかの方法により配置される。第1の実施例では、少なくとも1の光検出素子が前記受光部に隣接して配置される。この場合、光線および光素子の位置が適切に揃えられている限り、検出素子は光線を検出しない。一方、光線および光素子の位置が適切に揃えられていない場合は、光線は少なくとも1の光検出素子に放射され、この素子は受光面での光線位置を検出する。この場合、光線および光素子は新しい各位置に移動させることができ、これにより少なくとも1の検出素子に光線は放射されなくなる。前記移動は手動および／または自動で、例えば少なくとも1の検出素子からのデータを受信するコンピュータにより行われる。この移動は、例えば光素子および／または光線の再位置合わせおよび／または再誘導を伴う。これは例えば、従来技術の1または2以上の位置決めシステムによって行われる。
【００１６】
各光検出素子が前記受光部に隣接して配置される場合、少なくとも1の光検出素子は実質上受光面の前記受光部の少なくとも一部を取り囲むという利点がある。その結果、少なくとも1の光検出素子は、実質上受光部の全ての側で光線および光素子が適切に揃っているかどうかを検出することができる。前記検出素子で囲まれる前記受光部は、前記受光面から見た前記光線の断面よりもわずかに大きくなっており、前記位置合わせを極めて正確に行うことができる。
【００１７】
別の実施例では、少なくとも1の光検出素子は前記受光部内の少なくとも一部に伸びている。その場合、光線のある部分は、光素子および前記光線の位置が適切に揃えられているときには、少なくとも1の検出素子上に放射される。位置のずれは、各検出素子が異なる光線を検出することにつながる。そのような位置のずれが好ましくない場合は、光線および光素子を適切な相対位置に戻すことができる。
【００１８】
本発明の実施例の別の利点は、従属項に示されている。
【００１９】
本発明はさらに本発明による光素子を製作する方法、並びに少なくとも1の光線および本発明による光素子を揃える方法に関する。
【００２０】
さらに本発明は、CD又はDVDのような回転式光ディスクの情報層に情報を記録し、および／または回転式光ディスクの情報層から情報を再生する光学装置に関する。本発明による装置の特徴は、本発明による少なくとも1の光素子が存在することである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明を添付図面に示す実施例に基づいて詳細に説明する。
【００２２】
図1には光学素子1の一部を示す。光学素子1は光線2を受光する受光面10を備える。前記受光面10は例えば外表面および／または光素子1との交差面を有する。受光面10は、少なくとも1の光線2を受光する円状受光部11を有する。図1において光線2は図面に垂直に伸びる。従って前記光線2は断面で示されている。
【００２３】
図に示すように、受光面10には比較的単純な光検出素子3が設けられており、光検出素子3は一部で断続した環状である。この検出素子3は前記受光面10内において受光部11を実質上取り囲んでいる。
【００２４】
図1の実施例では前記検出素子3は前記受光部11に隣接して配置される。検出素子3は、前記光線2の少なくとも一部が検出素子に放射されたかどうかを検出するように配置される。この目的のため、前記検出素子3は、前記光線2が検出素子に放射された際に電気抵抗の変化する材料を有する。そのような材料は、例えば銅のような金属、合金および／または別の適当な材料であっても良い。
【００２５】
さらに検出素子3の別の部分は電気測定装置に接続されるように配置される。この目的のため、光素子1は5の電気接続点を有し、電気接続点の各々は前記受光面11において伸展する接触シート5である。各接触シートは導電性材料からなり、例えば金属のような材料である。接触シート5は検出リング3の外端に電気的に接続される。これらの2の接触シート5a、5eは、それぞれ検出素子3の反対の両端部に接続され、前記反対の両端部はリング状検出素子3の断続部で途切れている。第3の接触シート5cは、前記リング断続部とは反対側の位置で検出リング3に接続される。残りの2の接触シート5b、5dは、検出素子3を介して反対側に、他の3の接触シート5a、5c、5eの位置の間の部分に結合される。従って反時計回りに、検出素子3の第1のリング部3aの端部が、第1および第2の接触シート5a、5bそれぞれに接続され、検出素子3の第2のリング部3bの端部が、第2および第3の接触シート5b、5cそれぞれに接続され、第3のリング部3cの端部が、第3および第4の接触シート5c、5dそれぞれに接続され、第4のリング部3dの端部が、第4および第5の接触シート5d、5eそれぞれに接続される。前記4のリング部3a乃至3dは、受光面10に相互に対称に配置される。
【００２６】
図1に示す光素子1は異なる方法で製作しても良い。本発明では、少なくとも1の薄膜成膜技術を用いて光素子1に光検出リング3が設けられるという利点があり、この技術としては例えば化学気相成膜（CVD）、プラズマ加速CVD（PE-CVD）、分子線エピタキシャル成長（MBE）、スパッタリングおよび／または蒸着のような技術がある。そのような技術を用いることにより、検出素子3を高精度に形成することができる。適用する技術に応じて、ナノメートルスケールの精度で検出素子3の径、前記受光面10において観測されるこの検出素子3の幅W、および前記受光面に対して垂直に測定されるこの検出素子3の厚さを得ることができる。従って各リング部3a乃至3eの体積を、その製作中に高精度で制御することが可能となり、結果的に検出素子3について所望の電気的特性が得られる。前記電気接触シート5は検出素子3と一体化して製作することができる。さらに前記技術の利用により、以下に示すようなある利点を備える比較的微細な検出素子3を製作することが可能となる。また薄膜成膜技術は、多くの異なる種類の光素子上に検出素子を製作することに利用できる。さらに光素子1および検出素子は、1または2以上のそのような技術を組み合わせて製作しても良い。これは例えば、光素子が比較的微細な寸法である場合に利点がある。そのような微細な光素子は例えば、小型形状化の追求される高データ密度光記憶システムに利用できる。
【００２７】
第1の実施例の光線2および光素子1の位置が適切に揃えられた場合、全光線2は光素子1の受光面10の円状受光部11で交差する。この場合、検出素子3のリング部3a乃至3dの電気抵抗は、前記光線2に実質上影響を受けない。光線2および光素子1の位置がある程度分ずれた場合、光線の一部は図2に示す状態で検出素子3に放射される。従って光線の入射した各リング部の温度は上昇し、結果的に前記リング部の抵抗が変化する。例えば、検出素子3が銅のような金属からなる場合、光線2が照射したリング部の抵抗は増大する。
【００２８】
このように、検出素子3を用いて光線2および光素子1の位置を相互に揃えることができる。光素子1は受光面10の受光部11において実質上光線2を受光する結果、図1に示す状態が得られる。本実施例では、検出素子3のそのような利用には、抵抗を測定するステップが含まれ、光線の少なくとも一部が検出素子3に放射されたかどうかが検出される。この目的のため、図示されていない電流源によって、第1および第5の接触シート5a、5eを用いて電流Iが検出素子3に供給され、前記電流Iはリング部3a乃至3dの全てを通って流れる。さらに図示されていない測定装置によって各接触シート5a乃至5eの電位Vが測定される。全段落で示したように、光線2および光素子1の位置が正確に揃っている場合、検出素子3のリング部3a乃至3dにおいて実質上抵抗は等しくなり、結果的に接触シート5a乃至5eにおける電位は実質上等しくなる。一方、光線2および光素子1の位置が図2に示すようにx方向にずれた場合、光線の一部は第3のリング部3cを照射するため、この第3のリング部3cの抵抗が変化し、第3および第4の接触シート5c、5dの隣接部間には電位差が生じることになる。この電位差は前記測定装置によって測定される。次に光線2および光素子1は、例えば手動および／または自動で、観測される電位変化が小さくなるように再調整されるため、検出器3にはそれ以上光線2が放射されなくなる。例えば検出素子3においてある温度上昇が検出された場合、光線2および光素子1は、前記検出素子3の温度が低下するように動かされる。
【００２９】
上述のように、少なくとも1の光検出素子3によって光線2が検出される第1の相対位置から、光検出素子によって光線2が実質上検出されなくなる第2の相対位置まで、光線2および光素子1を移動させることで、光線2および光素子1の位置が揃えられ、および／または再調整される。図2には考えられる第1の位置を示すが、ｘ方向にずれが生じている。一方図1にはｘ方向に再調整された後の、考えられる第2の位置を示す。調整の精度は、その後光線2および光素子1を、少なくとも1の光検出素子3によって光線2が再度検出される第3の相対位置まで走査または移動させることにより、改善することができる。第3の位置は例えば、他のｘ方向の相対的移動および／またはｙ方向の相対的移動によって定めても良い。次に第1、第2および第3の相対位置に対して得られた検出結果を用いて、例えば光検出素子3によって検出された直後の光線2の相対位置を平均化することで、光線2および光素子1の最終相対位置が定められる。
【００３０】
光検出素子3は比較的体積が小さく、光線2が照射されるとこの素子3は比較的迅速に昇温されるという利点があり、所望の調整過程を比較的迅速に特定の精度で行うことができる。例えば前記体積は100,000μm3以下であっても良い。さらに得られる位置合わせ精度を向上させるため、前記検出素子3によって少なくとも部分的に取り囲まれる前記受光部を、前記受光面10から見た前記光線2の断面よりわずかに大きくすることが好ましい。さらに前記光検出素子3は、前記受光面（x、y）に対して垂直に測ったときの厚さが比較的薄くても良く、例えば約100μm若しくはそれ以下の厚さであり、特に約1μm以下または約100nm以下である。検出素子3の幅Wも比較的小さくすることができ、約1mm若しくはそれ以下の幅であり、特に100μm以下の幅Wまたは約1μm以下の幅Wである。
【００３１】
図3には本発明の別の実施例を示すが、この実施例は多数の検出素子3'を有する光素子1’を有し、検出素子3’は受光面10’の受光部11’内で少なくとも部分的に伸展する。これらの検出素子は平行に離して配置された金属ストリップ3’を有し、このストリップの各々の両端部には2の接触シート5’が設けられている。使用中、前記接触シート5’を用いて前記検出ストリップ3’で電流電圧測定が行われ、光線2が前記ストリップ3に放射されたかどうかが検出される。光線2によって所望の放射がされていない場合には、光線2および光素子1の位置を再調整することができる。この実施例においては検出ストリップ3’は、それらが光格子となるように寸法が定められ、光線2にはある回折が生じる。
【００３２】
本発明の実施例を添付図面を参照して詳細に示したが、本発明はこれらの実施例に限定されないことが理解されよう。当業者には特許請求の範囲に記載の本発明の態様および本質から逸脱しないで、多くの変更または修正が可能である。
【００３３】
例えば光素子には、分離配置された少なくとも2の光検出素子3が設けられても良い。少なくとも2の検出素子の間の距離を、例えば前記受光面において測定される前記光線の径よりわずかに広くすることにより、光線および光素子の相互位置について比較的正確な調整を行うことができる。前記距離および前記光線の径は例えば、約1mm以下とし、特に約1μm以下としても良い。
【００３４】
さらに少なくとも1の光素子および少なくとも1の光線の位置合わせは、ある対象、軸、面等を参照して行うことも可能である。別の実施例では各光線および各光素子は、例えば光学システムの光軸のような光軸上で位置が合わされる。
【００３５】
さらに各光検出素子3は数種類の材料を有しても良く、例えば金属、合金、光導電性材料、他の種類の材料または前記材料の組み合わせ等がある。検出素子は少なくとも1の熱電対を有しても良く、この熱電対は測定温度に対応した電気信号を発生する。検出素子に前記光線の少なくとも一部が放射された際、検出素子の温度が上昇するような配置とすることに有意性がある。熱の変化は比較的安価で簡単に実現できる手段で検出できるからである。さらにこの材料は、レーザー光線のような高出力光線に耐え得ることが好ましい。
【００３６】
また光素子はレンズ、光学フィルタ光格子、光ファイバのような光導電体、および／または別の光素子を有しても良い。
【００３７】
少なくとも1の検出素子の製作に薄膜成膜技術を利用する場合、マスク形成、フォトレジスト塗布、露光、エッチング、レジスト除去、層成膜、および／または他のステップのような従来技術のいくつかのステップが用いられ、各成膜技術に適した順序で実行される。
【００３８】
また電圧電流測定器を用いて検出素子の温度を検出する場合、直流および／または交流を利用することができる。
【００３９】
さらに光素子1は、異なる形態の1または2以上の受光面を有しても良く、例えば平面、曲面、および／または他の形状が挙げられる。光素子が、少なくとも1の検出素子を有するいくつかの受光面を有する場合、これらの受光面は例えば、相互に平行および／または異なる方向に、相互に隣接しておよび／または分離されて伸展する。
【００４０】
光素子1が少なくとも2の受光面を有し、各受光面が少なくとも1の検出素子を有する場合、光線方向および光素子の向きを相互に揃えることができる。またそのような位置合わせは、いくつかの受光面を有する光素子を提供することにより行うことができ、この場合、少なくとも1の光検出素子はこれらの受光面の全てを通るように伸展し、例えば少なくとも1の光線の所望の経路に対して平行に伸びる。
【００４１】
また各受光面は、周囲領域および／または光素子の内部からの少なくとも1の光線を受光しても良い。
【００４２】
さらに各受光面は、少なくとも1の光線を受光する1以上の受光領域を有しても良い。また1の受光領域を用いて、1以上の光線を受光しても良い。
【００４３】
また各光素子3は多くの異なる方法で形成、成形、および／または定型化しても良い。
【００４４】
本発明の光素子は多くの異なる種類の光学システム、例えば光ファイバの位置を相互に揃えるときの位置調整システム等に利用することができる。他の利用例としては例えば光スイッチおよび光走査式装置、光記憶装置等がある。
【００４５】
図4に示す本発明による装置の実施例は光記憶装置、特にディスクプレーヤーに関するものである。装置はフレーム100を有し、このフレームは光学式ピックアップユニット102と、モニタ104と、主ネジ106と、ガイドシャフト108と、ターンテーブル110を有する。
【００４６】
光学式ピックアップヘッド102は双方向矢印Aで示された方向に可変である。装置に設置された例えばCDまたはDVDのようなディスクに対して、最近接する位置から最遠方となる位置間のこの矢印Aの方向を今後、横断方向と呼ぶ。ガイドシャフト108は横断方向に伸びる。光学式ピックアップヘッド102にはガイドシャフト108と嵌合する部分がある。光学式ピックアップヘッド102は、ガイドシャフト108によって誘導され横断方向を移動する。
【００４７】
光学式ピックアップヘッド102は嵌合部分102aを有し、この部分は主ネジ106の通るネジ穴を有する。
【００４８】
嵌合部分102aは主ネジ106とかみ合わされる。主ネジ106は、歯車列を介してトラバースモータ104のアウトプットシャフトに連結され、主ネジ106はモータ104によって回転させることが可能である。主ネジ106が回転すると、光学式ピックアップヘッド102は横断方向に移動する。
【００４９】
作動中ディスクはターンテーブル110上の位置に固定され、ターンテーブルは図示されていない電気モータによって駆動される。
【００５０】
光学式ピックアップヘッド102には、本発明による光素子の実施例である対物レンズ112が設けられる。光線は114で示されている。装置にはさらに、通常の光学式手段および電子手段が設けられる。これらの1または2以上の光学式手段は、本発明の光素子であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】光線および光素子の位置が揃えられた本発明の第1の実施例の上面図である。
【図２】光線および光素子位置がずれた場合の図1と同様の上面図である。
【図３】本発明の第2の実施例の上面図である。
【図４】本発明による光学装置の実施例を概略的に示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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