(57)【要約】再生特性が改善された高密度の再生専用光情報保存媒体及びデータ再生方法が開示されている。  この開示された情報保存媒体は、ユーザデータが記録されるデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体において、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に所定目的のためのパターンが形成されたことを特徴とする。また、開示された方法は、リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域の一部領域にデータ再生のために必要なパターンを形成する段階と、前記パターンを利用してデータ再生に必要なテストまたは適応化を行う段階と、前記テストまたは適応化後にデータを再生する段階とを含むことを特徴とする。前記構成によって、データ再生に必要なテストまたは適応化を行うことによって、さらに信頼性のあるデータの再生性能を確保できる。
2006502525.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ユーザデータが記録されるデータ領域と、
リードイン領域と、
リードアウト領域とを含む再生専用情報保存媒体において、
前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つの領域に所定目的のためのパターンが形成されたことを特徴とする再生専用情報保存媒体。
【請求項２】
前記パターンは、データ記録変調方式による変調度測定のためのテストパターンであることを特徴とする請求項１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３】
前記テストパターンは、
データ記録変調方式によって生成されたピットのうち少なくとも一つの最小ピットと最大ピットとを含み、前記ピットは、１周期内に記録されたことを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項４】
前記テストパターンは、
前記最小ピット及び最大ピットと異なる長さを有するピットを含んで構成されることを特徴とする請求項３に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項５】
前記テストパターンの周期は、
ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）ブロック、セクターまたはフレームであることを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項６】
前記テストパターンは、
データ記録変調方式によって生成されたピットのうち最小ピットと最大ピットとを含み、前記最小ピットと最大ピットとが各記録単位別に交互に反復されるパターンよりなることを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項７】
前記テストパターンは、
各記録単位別に交互に配列された第１及び第２パターンを含み、前記第１パターンは、データ記録変調方式によって生成されたピットのうち、最小ピットと異なる長さを有するピットと最小ピットとを含み、第２パターンは、前記データ記録変調方式によって生成されたピットのうち最大ピットと異なる長さを有するピットと最大ピットとを含むことを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項８】
前記記録単位は、ＥＣＣブロック、セクターまたはフレームであることを特徴とする請求項７に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項９】
前記テストパターンの再生において、ＤＰＤ法及びプッシュプル方式のうち何れか一つでトラッキングを行うことを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１０】
前記データ記録変調方式は、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式であることを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１１】
前記テストパターンは、１周期内に少なくとも（ｄ＋１）Ｔの長さを有するピットと（ｋ＋１）Ｔの長さを有するピットとを含んで構成されることを特徴とする請求項１０に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１２】
前記テストパターンは、１周期内に（ｄ＋１）Ｔの長さを有するピット、（ｋ＋１）Ｔの長さを有するピット及びこれら長さと異なる長さを有するピットを含んで構成されることを特徴とする請求項１０に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１３】
前記周期は、一つの記録単位及び二つの記録単位のうち何れか一つよりなることを特徴とする請求項１１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１４】
前記記録単位は、ＥＣＣブロック、セクターまたはフレームであることを特徴とする請求項１３に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１５】
前記テストパターンは、信号特性グラフのＤＣサムが約０になるように構成されることを特徴とする請求項２に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１６】
前記テストパターンは、（ｄ＋１）Ｔの反復パターンで構成された第１データパターンと（ｋ＋１）Ｔの反復パターンで構成された第２データパターンとを含むことを特徴とする請求項１０に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１７】
前記第１データパターンと第２データパターンとは、それぞれ（ｄ＋１）及び（ｋ＋１）の最小公倍数の２ｎ（ｎは、自然数）倍の長さを有することを特徴とする請求項１６に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１８】
前記パターンは、前記情報保存媒体の情報再生に必要な目的として使われることを特徴とする請求項１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項１９】
前記パターンは、非対称性を測定するためのパターンであることを特徴とする請求項１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２０】
前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域にテストゾーンが備えられ、このテストゾーンに前記所定目的のためのパターンが形成されることを特徴とする請求項１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２１】
ユーザデータが記録されるデータ領域と、
リードイン領域と、
リードアウト領域とを含む再生専用情報保存媒体において、
前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域にＰＲＭＬ適応化のためのパターンが形成されたことを特徴とする再生専用情報保存媒体。
【請求項２２】
前記パターンは、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に備えられたテストゾーンに形成されたことを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２３】
前記パターンは、ＰＲＭＬのターゲットチャンネルとＲＬＬ（ｄ,ｋ）のｄとによって変わることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２４】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、２Ｔ、３Ｔ、及び５Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも一つを含むパターンよりなることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２５】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、少なくとも２Ｔ、３Ｔ、５Ｔを含むパターンであることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２６】
前記適応化のためのパターンは、２Ｔ／２Ｔ／３Ｔ／３Ｔ／５Ｔ／５Ｔの反復パターンであることを特徴とする請求項２５に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２７】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとがデータ再生のために使われる時、３Ｔ、５Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも一つを含むパターンよりなることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２８】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、３Ｔ／３Ｔ／５Ｔ／５Ｔの反復パターンであることを特徴とする請求項２７に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項２９】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、２Ｔ、４Ｔ以上ｋＴ以下のパターンの組合わせよりなることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３０】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、２Ｔ、２Ｔ、４Ｔ、４Ｔの反復パターンであることを特徴とする請求項２９に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３１】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、３Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下のパターンの組合わせよりなることを特徴とする請求項２１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３２】
前記パターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）システムとｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、３Ｔの反復パターンよりなることを特徴とする請求項３１に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３３】
前記パターンは、前記ＰＲＭＬのターゲットチャンネルとＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとのために、２Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも一つの組合わせによるパターンよりなることを特徴とする請求項２３に記載の再生専用情報保存媒体。
【請求項３４】
ユーザデータが記録されるデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体でデータを再生する方法において、
前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域の一部領域に、データ再生のために必要なテスト及び適応化のうち何れか一つを達成するためのパターンを形成する段階と、
前記パターンを利用してテスト及び適応化のうち何れか一つを行う段階と、
前記データを再生する段階とを含み、
前記パターンは、テストパターンと適応化パターンのうち何れか一つであり、前記実行段階がテスト動作を行う段階である時、前記パターンはテストパターンであり、前記実行段階が適応化動作である時、前記パターンは適応化パターンであることを特徴とする方法。
【請求項３５】
前記テスト段階で、
前記テストのためのパターンに対してトラッキングを行う段階と、
前記テストパターンに対する信号特性グラフを利用して変調度を測定する段階とを含むことを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項３６】
前記テストパターンは、
データ変調方式に含まれたピットのうち１周期内に少なくとも最小ピットと最大ピットとを含んで構成されることを特徴とする請求項３５に記載の方法。
【請求項３７】
前記テストパターンは、
最小ピット、最大ピット及びこの最小ピットと最大ピットと異なる長さを有するピットを含んで構成されることを特徴とする請求項３５に記載の方法。
【請求項３８】
前記周期は、
ＥＣＣブロック、セクターまたはフレームであることを特徴とする請求項３６に記載の方法。
【請求項３９】
前記テストパターンは、
データ記録変調方式に含まれたピットのうち最小ピットの反復配列と最大ピットの反復配列とが記録単位別に交互に反復されるパターンよりなることを特徴とする請求項３５に記載の方法。
【請求項４０】
前記テストパターンは、
データ記録変調方式に含まれたピットのうち最小ピット及びこの最小ピットと異なる長さを有するピットを含む第１パターンと、最大ピット及びこの最大ピットと異なる長さを有するピットを含む第２パターンとが記録単位別に交互に反復されて配列されたことを特徴とする請求項３５に記載の方法。
【請求項４１】
前記テストパターンに対してトラッキングを行う段階で、ＤＰＤ法またはプッシュプル方式でトラッキングを行うことを特徴とする請求項３５に記載の方法。
【請求項４２】
前記データ記録変調方式は、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式であることを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項４３】
前記テストパターンは、１周期内に少なくとも（ｄ＋１）Ｔの長さを有するピットと（ｋ＋１）Ｔの長さを有するピットとを含んで構成されることを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項４４】
前記テストパターンは、１周期内に（ｄ＋１）Ｔの長さを有するピット、（ｋ＋１）Ｔの長さを有するピット及びこれら長さと異なる長さを有するピットを含んで構成されることを特徴とする請求項４２に記載の方法。
【請求項４５】
前記周期は、一つの記録単位または二つの記録単位よりなることを特徴とする請求項４３に記載の方法。
【請求項４６】
前記テストパターンは、信号特性グラフのＤＣサムが０となるように構成されることを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項４７】
前記テストパターンは、（ｄ＋１）Ｔの反復パターンで構成された第１データパターンと（ｋ＋１）Ｔの反復パターンで構成された第２データパターンとを含むことを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項４８】
前記第１データパターンと第２データパターンとは、それぞれ（ｄ＋１）及び（ｋ＋１）の最小公倍数の２ｎ（ｎは、自然数）倍の長さを有することを特徴とする請求項４７に記載の方法。
【請求項４９】
前記パターンは、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に形成されることを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項５０】
前記パターンは、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に備えられたテストゾーンに形成されたことを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項５１】
前記パターンは、ＰＲＭＬのターゲットチャンネルとＲＬＬ（ｄ,ｋ）のｄとによって変わることを特徴とする請求項４９に記載の方法。
【請求項５２】
前記パターンは、非対称性測定のためのパターンであることを特徴とする請求項３４に記載の方法。
【請求項５３】
データを保存するためのデータ領域、リードイン領域、リードアウト領域及び前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つに形成されたデータ再生のために必要な目的を達成するためのパターンを含む再生専用情報保存媒体からデータを再生する方法において、
前記パターンを使用してテスト動作及び最適化動作のうち何れか一つを行う段階と、
データを再生する段階とを含み、
前記パターンは、テストパターン及び最適化パターンのうち何れか一つのパターンであり、前記実行段階がテスト動作を行う時、前記パターンはテストパターンであり、前記実行段階が最適化動作である時、前記パターンは最適化パターンであることを特徴とする方法。
【請求項５４】
データ記録及び／または再生の実行を表す変調度を測定する方法であって、
除去可能なＤＣ要素を有するパターンを再生し、それに反応してデータ信号を再生する段階と、
前記パターンのＤＣ要素を除去する段階と、
信号特性グラフを利用してデータ信号の変調度を測定する段階とを含み、
前記パターンは、再生専用情報保存媒体のリードイン領域とリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に形成されることを特徴とする方法。
【請求項５５】
データ再生特性を最適化する方法であって、
データを保存するデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体に形成されたパターンを再生する段階を含み、前記パターンは、前記リードイン領域とリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に形成され、
前記パターンは、変調度測定、ＰＲＭＬ適応化パターン及び非対称性測定のためのパターンのうち少なくとも一つであることを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ再生に必要なパターンがリードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つに形成されて再生特性を向上させた高密度再生専用光情報保存媒体及びデータ再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、光情報保存媒体、例えば、光ディスクは、非接触式に情報を記録／再生する光ピックアップ装置の情報保存媒体として広く採用され、情報記録容量によってコンパクトディスク（ＣＤ）、デジタル多機能ディスク（ＤＶＤ）に区分される。そして、情報の記録、消去及び再生が可能な光ディスクとして、６５０ＭＢ  ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、４.７ＧＢ  ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷがあり、再生専用ディスクとして６５０ＭＢ  ＣＤ、４.７ＧＢ  ＤＶＤ−ＲＯＭがある。さらに、記録容量が２０ＧＢ以上である高密度光ディスク（ＨＤ−ＤＶＤ）も開発されている。
【０００３】
しかし、前記のように光情報保存媒体の容量が増加するにつれて、再生専用情報保存媒体に記録されるピットの長さ及び幅が減少する。このように、ピットの長さ及び幅が減少するにつれて、最小マークの信号が非常に小さくなるため、変調度測定が次第に難くなるという問題点がある。変調度測定は、データ信号の記録及び／または再生性能を測定するために必要なものであって、例えば、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式の変調度は、Ｉ（ｄ＋１）／Ｉ（ｋ＋１）と測定される。ここで、Ｉは、データ信号特性グラフであるＩパターンでの信号の大きさを表す。
【０００４】
ＲＬＬ変調方式は、１ビットと１ビットとの間に０ビットが何個入るかによる変調方式を表すことであって、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）は、１ビットと１ビットとの間に０ビットの数が最小（ｄ）個であり、最大（ｋ）個であることを意味する。例えば、ＲＬＬ（１,７）は、１ビットと１ビットとの間に０ビットの数が最小１個、最大７個で、１〜７個の０ビットを有する方式を表す。ＲＬＬ（１,７）変調方式によれば、ｄ＝１である時（１０１０１０１）のデータが記録されて１ビットと１ビットとの間に２Ｔの長さを有する。また、Ｋ＝７である時（１０００００００１０００００００１）のデータが記録されて１ビットと１ビットとの間に８Ｔの長さを有する。ここで、Ｔは、最小マーク、すなわち、最小ピットの長さを表す。したがって、ＲＬＬ（１,７）変調方式では、データが（２Ｔ−８Ｔ）範囲の長さを有するピットとスペースとで記録される。
【０００５】
さらに他の例として、ＲＬＬ（２,１０）変調方式によれば、データが（３Ｔ−１１Ｔ）範囲の長さを有するピットとスペースとで記録される。
【０００６】
一方、ＲＬＬ（１,７）変調方式で、変調度はＩ２／Ｉ８と測定され、ＲＬＬ（２,１０）変調方式では、Ｉ３／Ｉ１１と測定される。
【０００７】
図１は、従来の再生専用情報保存媒体のリードイン領域の構造を示す図である。このリードイン領域は、ディスク関連情報及びコピー防止情報が記録されるコントロールデータゾーン１００ａ、バッファゾーン１００ｂ、及びドライブまたはディスク状態関連情報が記録される情報ゾーン１００ｄを含む。そして、現在には、記録される内容が決まっていないが、未来に新たに追加されるデータのために余裕領域として残す保留ゾーン１００ｃがさらに備えられうる。
【０００８】
図１に示されたように、従来の再生専用情報保存媒体には、変調度測定のための領域が別途に備えられておらず、ユーザデータ領域に記録されたデータのＩパターンを通じて測定者が直接変調度を測定する。
【０００９】
図２は、ＲＬＬ（１,７）変調方式によるデータ記録時、ランダム信号に対するＩパターンを示す図である。ここで、横軸は時間を、縦軸は信号の大きさＩを表す。関連技術分野では、このＩパターンを利用して変調度を測定するために測定者がオシロスコープのカーソルを動かして最小ピットの２Ｔに対応する信号パターンの山の波に位置させることによってＩ２を測定し、最大ピットである８Ｔに対応する信号パターンの山の波にカーソルを位置させることによってＩ８を測定して、変調度Ｉ２／Ｉ８を測定した。
【００１０】
しかし、記録容量が増加しつつ最小長さを有するピットの長さと幅とが次第に小さくなるにつれて、最小ピットに対するＩパターンが次第に小さくなり、明確に測定することがさらに難しくなるため、従来のように変調度を測定する方法は、測定者によって誤差が大きくなるしかない。すなわち、Ｉパターンの振幅が小さくなりつつ測定者によって最小ピットの長さに対応する信号パターンの山の波部分に位置させるカーソルの位置が変わる確率が高いため、変調度の正確度が低下する。そして、このような問題は、情報保存媒体の容量が増加するほどさらに深刻に提起される。また、ピット間のスペース間隔が狭くなるにつれてクロストークが激しく発生して正確な変調度測定が不可能である。
【００１１】
以上、説明した変調度測定は、再生専用の情報保存媒体のデータ再生時に必要な要件のうち何れか一つであり、これ以外にもシステム適応化過程が要求されるが、このようなデータ再生に必要な要件を満足してはじめてデータの再生が円滑になされる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は、前記問題点を解決するために案出されたものであって、リードイン領域及びリードアウト領域の少なくとも何れか一つの領域にデータの再生時に必要な所定目的のためのパターンが形成され、このような所定パターンを利用して、再生特性を向上させた再生専用情報保存媒体及びデータ再生方法を提供するのにその目的がある。
【００１３】
本発明の付加的な目的及び／または利点は、以後の詳細な説明に部分的に記述され、詳細な説明から明確化され、または本発明の実施によって習得されうる。
【００１４】
本発明によれば、ユーザデータが記録されるデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体がある。前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つの領域に所定目的のためのパターンが形成されている。
【００１５】
前記パターンは、データ記録変調方式による変調度測定のためのテストパターンでありうる。
【００１６】
前記テストパターンは、データ変調方式に含まれたピットのうち１周期内に少なくとも最小ピットと最大ピットとを含んで構成されうる。前記テストパターンは、前記最小ピット及び最大ピットと異なる長さを有するピットを含んで構成されうる。前記テストパターンは、記録単位別にデータ記録変調方式に含まれたピットのうち最小ピットと最大ピットとが交互に反復されるパターンで構成されうる。前記テストパターンは、データ記録変調方式に含まれたピットのうち最小ピット及びこの最小ピットと異なる長さを有するピットを含む第１パターンと、最大ピット及びこの最大ピットと異なる長さを有するピットを含む第２パターンとが記録単位別に交互に反復されて構成されうる。
【００１７】
前記テストパターンを再生するにおいて、位相差検出法（ＤＰＤ：Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）またはプッシュプル方式でトラッキングを行える。
【００１８】
前記データ記録変調方式は、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式でありうる。
【００１９】
前記テストパターンは、信号特性グラフのＤＣサムが０となるように構成されうる。前記テストパターンは、（ｄ＋１）Ｔの反復パターンより構成された第１データパターンと（ｋ＋１）Ｔの反復パターンより構成された第２データパターンとを含みうる。
【００２０】
前記第１データパターンと第２データパターンとは、それぞれ（ｄ＋１）と（ｋ＋１）との最小公倍数の２ｎ（ｎは自然数）倍の長さを有しうる。
【００２１】
前記パターンは、前記情報保存媒体の情報再生に必要な目的として使われることが望ましい。前記パターンは、非対称性を測定するためのパターンでありうる。
【００２２】
前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つの領域にテストゾーンが備えられ、このテストゾーンに前記所定目的のためのパターンが形成されうる。
【００２３】
本発明によれば、ユーザデータが記録されるデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体が提供される。前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つの領域にＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）適応化のためのパターンが形成されうる。
【００２４】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬのターゲットチャンネル及びＲＬＬ（ｄ,ｋ）のｄによって変わりうる。
【００２５】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）システム及びｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのために、２Ｔ、３Ｔ、及び５Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも何れか一つを含むパターンよりなりうる。
【００２６】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）システム及びｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのために、３Ｔ、５Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも何れか一つを含むパターンでありうる。
【００２７】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）システム及びｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのために、２Ｔ、２Ｔ、４Ｔ、４Ｔの反復パターンでありうる。
【００２８】
前記適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）システム及びｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのために、３Ｔの反復パターンよりなることを特徴とする。前記適応化のためのパターンは、前記ＰＲＭＬのターゲットチャンネル及びＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのために、２Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも何れか一つの組合わせによるパターンでありうる。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
前記目的を達成するために、本発明は、ユーザデータが記録されるデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体でデータを再生する方法を提供する。前記方法は、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域の一部領域にデータ再生のために必要なパターンを形成する段階と、前記パターンを利用してデータ再生に必要なテストまたは適応化を行う段階と、データを再生する段階とを含む。前記パターンは、テストパターン及び適応化パターンのうち何れか一つであり、前記実行段階は、テスト動作を行う時、前記パターンはテストパターンであり、最適化動作を行う時、前記パターンは最適化パターンである。
【００３０】
前記テスト段階で、前記テストのためのパターンに対してトラッキングを行う段階と、前記テストパターンに対する信号特性グラフを利用して変調度を測定する段階とを含みうる。
【００３１】
本発明の他の面によれば、データを保存するためのデータ領域、リードイン領域、リードアウト領域及び前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つに形成されたデータ再生のために必要な目的を達成するためのパターンを含む再生専用情報保存媒体からデータを再生する方法を提供する。前記方法は、前記パターンを使用して、テスト動作及び最適化動作のうち何れか一つを行う段階と、データを再生する段階と、を含む。前記パターンは、テストパターン及び最適化パターンのうち何れか一つのパターンであり、前記実行段階がテスト動作を行う時、前記パターンはテストパターンであり、前記実行段階が最適化動作である時、前記パターンは最適化パターンである。
【００３２】
本発明のさらに他の面によれば、データ記録及び／または再生の実行を表す変調度を測定する方法を提供する。前記方法は、除去可能なＤＣ要素を有するパターンを再生し、それに反応してデータ信号を再生する段階と、前記パターンのＤＣ要素を除去する段階と、信号特性グラフを利用してデータ信号の変調度を測定する段階と、を含む。前記パターンは、再生専用情報保存媒体のリードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つに形成される。
【００３３】
本発明の他の面によれば、データ再生特性を最適化する方法を提供する。前記方法は、データを保存するデータ領域、リードイン領域及びリードアウト領域を含む再生専用情報保存媒体に形成されたパターンを再生する段階を含み、前記パターンが前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つに形成される。前記パターンが変調度測定、ＰＲＭＬ適応化パターン及び非対称性測定のためのパターンのうち少なくとも何れか一つである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
本発明の実施例について、添付された図面に示された例で参照符号が詳細に構成され、類似した要素については、類似した参照符号が参考される。実施例は、図面を参照して本発明を説明するために順次に記述される。
【００３５】
本発明による再生専用情報保存媒体は、図３を参照するに、ユーザデータが記録されるデータ領域２０と、ユーザデータ領域の内周側に設けられてディスク関連情報が記録されるリードイン領域１０と、前記ユーザデータ領域の外周側に設けられたリードアウト領域（図示せず）とを含んで構成される。
【００３６】
本発明による再生専用情報保存媒体は、リードイン領域１０及びリードアウト領域のうち少なくとも何れか一つの領域に所定目的のためのパターンが形成されたことを特徴とする。
【００３７】
前記所定目的は、特に情報保存媒体の再生のための目的であることが望ましい。例えば、前記パターンは、変調度測定、非対称性の測定及びＰＲＭＬ適応化のうち少なくとも何れか一つのためのパターンでありうる。このような所定目的のためのパターンは、前記リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域の一部領域に形成され、望ましくは、前記リードイン領域１０に備えられたテストゾーン１０ｄに形成されうる。このテストゾーンは、リードイン領域だけでなく、リードアウト領域にも備えられ、所定目的のためのパターンの信頼性を高めるために、リードイン領域とリードアウト領域とに反復的に形成されうる。
【００３８】
また、リードイン領域１０には、ディスク関連情報とコピー防止情報とが記録されるコントロールデータゾーン１０ａ、バッファゾーン１０ｂ、保留ゾーン１０ｃ及びドライブまたはディスク状態関連情報が記録される情報ゾーン１０ｅが備えられうる。ディスク関連情報としては、例えば、記録可能型ディスク、追記型ディスク、再生専用ディスクのような保存媒体の種類についての情報、記録層数についての情報、記録速度情報、ディスク大きさ情報のようなものがある。
【００３９】
前記テストゾーン１０ｄには、例えば、変調度測定のための所定パターンのピットが形成されうる。ここでは、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式によってデータが記録された場合に変調度を測定する方法について説明する。
【００４０】
ＲＬＬ（ｄ,ｋ）の変調方式は、前述したように、１ビットと１ビットとの間に０ビットの数が最小（ｄ）個であり、最大（ｋ）個である変調方式である。このとき、前記テストゾーン２０ｃには、所定周期（Ｐ）内に少なくとも最小ピットと最大ピットとを含むパターンが形成される。例えば、ＲＬＬ（１,７）変調方式では、データが２Ｔ−８Ｔ範囲の長さを有するピットとスペースとで記録されるので、前記テストゾーン２０ｃに１周期（Ｐ）内に少なくとも２Ｔと８Ｔとを含むパターンが記録されうる。ここで、Ｔは、最小マークの長さを表す。
【００４１】
具体的に、図４Ａに示されたように、前記テストゾーン１０ｄに１周期（Ｐ）内に２Ｔと８Ｔとが含まれたパターンが形成されるが、ここで、周期（Ｐ）は、ＥＣＣブロック、セクター、フレームのような記録単位になりうる。各記録単位の先頭には、アドレスが記録される。
【００４２】
２Ｔと８Ｔとを含むパターンは、例えば、一つの記録単位内に、前の部分は２Ｔの連続パターンが、後の部分は８Ｔの連続パターンが形成されて構成されうる。または、２Ｔと８Ｔとが交互に配列されたパターンであるか、または２Ｔ／２Ｔ／８Ｔ／２Ｔ／２Ｔ／８Ｔのパターンで記録されるなど、２Ｔと８Ｔの多様な組合わせでパターンが構成されうる。これと違って、１周期が二つの記録単位になりうる。すなわち、二つの記録単位のうち、一つの記録単位には最小ピットである２Ｔが、他の記録単位には最大ピットである８Ｔが記録されうる。言い換えれば、記録単位別に最小ピットよりなるパターンと最大ピットよりなるパターンとが交互に記録されうる。
【００４３】
一方、１周期（Ｐ）内に最小ピット及び最大ピット、そして、最小ピット及び最大ピットと異なる長さを有するピットが含まれるパターンが構成されうる。ここで、最小ピット及び最大ピットと異なる長さを有するピットは、最小ピットと最大ピットとの中間長さを有することが望ましい。例えば、図４Ａに示されたように、１周期（Ｐ）内に２Ｔ、５Ｔ、８Ｔより構成されるパターンが形成されうる。ここで、前記周期（Ｐ）は、ＥＣＣブロック、セクター、フレームのような記録単位でありうる。
【００４４】
または、図４Ｄに示されたように、変調度測定のためのパターンが、最小ピット及びこの最小ピットと異なる長さを有するピットを含む第１パターンと、最大ピット及びこの最大ピットと異なる長さを有するピットを含む第２パターンとが記録単位別に交互に記録されて構成されうる。このとき、周期（Ｐ）は、二つの記録単位よりなり、記録単位は、ＥＣＣブロック、セクターまたはフレームになりうる。
【００４５】
例えば、２Ｔ及び５Ｔを含んで構成される第１パターンと８Ｔ及び５Ｔを含んで構成される第２パターンとが交互に記録されるが、第ｎＥＣＣブロックに第１パターンが記録され、第（ｎ＋１）ＥＣＣブロックに第２パターンが記録されうる。
【００４６】
一方、前記テストゾーンに記録されるテストパターンは、ＤＣサムが０となるように構成されて信号再生の信頼性を高めることが望ましい。
【００４７】
前記のように、前記テストゾーン１０ｄに少なくとも最小ピットと最大ピットとを含むテストパターンを周期的に形成し、このパターンについての信号を利用して容易に変調度を測定できる。前記テストパターンが形成されたテストゾーンは、情報保存媒体の内周領域及び外周領域の再生性能をいずれも測定するために、リードイン領域だけでなく、リードアウト領域にも備えうる。リードアウト領域は、前記リードイン領域とその構造が類似しているので、ここでは、その詳細な説明を省略する。
【００４８】
次いで、ＰＲＭＬの適応化のためのパターンが前記テストゾーン１０ｄに形成されうる。ＰＲＭＬ方式は、入力信号をプリコーディングして、現在データと以前データとの間に互いに制御されたシンボル間干渉を有するようにした後、目標応答に変形してビタビデコーダでデータを検出する方式である。ＰＲＭＬ方式によれば、等化を通じてチャンネル特性を補償（歪曲補償）し、ビットビタビデコーダを通じてジッタによるエラー訂正を行う。
【００４９】
例えば、前記ＰＲＭＬにＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードを利用する場合に、ＰＲＭＬ適応化のためのパターンは、ＰＲＭＬシステムのターゲットチャンネル及びＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードのｄ値によって変わりうる。例えば、ＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）システムで（
）内の値がターゲットチャンネルを表す。望ましくは、ＰＲＭＬシステムのターゲットチャンネルによる期待値をいずれも表すことができ、（ｄ＋１）Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも何れか一つを選択して適応化のためのパターンを形成する。さらに望ましくは、ＰＲＭＬシステムのターゲットチャンネルによる期待値をいずれも表すことができ、（ｄ＋１）Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち、可能な限り最小の長さを有する信号を選択して、適応化のためのパターンを形成する。
【００５０】
図５Ａは、ｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）システムとを使用する場合に表れる期待値を求めるための等化器を示す図である。この期待値を表で整理すると、次の通りである。
【００５１】
【表１】
2006502525.tif 000003
このように、ｄ＝１であるコードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ｂ,ａ）タイプのＰＲＭＬシステムとを使用する場合に表れることができる期待値は、総１０種である。ここで、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）タイプを使用する場合、＋８、＋６、＋４、＋２、０、−２、−４、−６、−８と９種の期待値を有する。これら９種の期待値をいずれも表すことができるパターンは、２Ｔ、３Ｔ及び５Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の信号のうち少なくとも何れか一つを選択してなされた反復パターンである。望ましくは、前記適応化のためのパターンが少なくとも２Ｔ、３Ｔ及び５Ｔを含むパターンで形成されることが望ましい。例えば、３Ｔ／２Ｔ／２Ｔ／３Ｔ／５Ｔ／５Ｔまたは２Ｔ／２Ｔ／３Ｔ／３Ｔ／５Ｔ／５Ｔの反復パターンで記録すれば、再生時、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）システムのための適応化のための目的として使用できる。前記パターンによれば、ＰＲＭＬ（１,２,２,２,１）システムが期待値をいずれも表すことができる。
【００５２】
次いで、図５Ｂは、ｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）システムとを使用する場合に出力されうる期待値を求めるための等化器を示す図である。この場合の期待値を表で整理すると、次の通りである。
【００５３】
【表２】
2006502525.tif 000004
このように、ｄ＝１であるコードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）タイプのＰＲＭＬシステムとを使用する場合に表れることができる期待値は、総７種である。例えば、ＰＲＭＬ（１,２,２,１）タイプを使用する場合、＋６、＋４、＋２、０、−２、−４、−６と７種の期待値を有する。これら７種の期待値を表すことができるパターンは、２Ｔ及び４Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の信号のうち少なくとも一つを選択して形成されたパターンでありうる。例えば、２Ｔ  ２Ｔ  ４Ｔ  ４Ｔの反復パターンで記録すれば、ＰＲＭＬ（１,２,２,１）システムとＲＬＬ（１,ｋ）コードとを使用する場合の期待値をいずれも表すことができるので、再生時にＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ｂ,ａ）システムとのための適応化のための目的として使用可能である。言い換えれば、２Ｔ及び４Ｔが含まれたパターンを利用して＋６、＋４、＋２、０、−２、−４、−６の期待値をいずれも表すことができる。
【００５４】
次いで、図５Ｃは、ｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）タイプのＰＴＭＬシステムとを使用する場合に表れることができる期待値を求めるための等化器を表す図である。この場合の期待値を表で整理すると、次の通りである。
【００５５】
【表３】
2006502525.tif 000005
このように、ｄ＝１であるＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）システムとを使用する場合に表れることができる期待値は、総４種である。これら４種の期待値をいずれも表すことができるパターンは、３Ｔ以上（ｋ＋１）Ｔ以下の長さを有する信号のうち少なくとも一つを選択して形成されたパターンであり、このパターンを利用して、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードとＰＲＭＬ（ａ,ｂ,ａ）システムとのための適応化を具現しうる。例えば、ＲＬＬ（１,ｋ）コードとＰＲＭＬ（１,２,１）システムとを使用する場合、＋４、＋２、−２、−４と４つの期待値を有する。この場合、例えば、３Ｔの反復パターンを利用して、前記期待値をいずれも表すことができる。
【００５６】
前述したＰＲＭＬ適応化のためのパターンが前記リードイン領域１０及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に形成され、さらに望ましくは、リードイン領域１０のテストゾーン１０ｄに形成される。
【００５７】
一方、本発明による所定目的のためのパターンが非対称性の測定のためのパターンでありうる。非対称性の測定のためのパターンは、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）コードで少なくとも（ｄ＋１）Ｔ及び（ｋ＋１）Ｔを含むパターンであることが望ましい。
【００５８】
前述したように、本発明による再生専用情報保存媒体は、前記テストゾーン１０ｄに所定目的のためのパターン、例えば、変調度測定のためのパターン、ＰＲＭＬ適応化のためのパターン及び対称性測定のためのパターンのうち少なくとも一つのパターンが形成されて情報保存媒体の再生特性を向上させる。
【００５９】
次いで、本発明による再生専用情報保存媒体のデータ再生方法について説明する。
【００６０】
前述したように、リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域にテストゾーンを設け、このテストゾーンに所定目的のためのパターンを形成する。このパターンは、データ再生に必要なものであって、例えば、変調度測定のためのパターン、ＰＲＭＬ適応化のためのパターン及び非対称性測定のためのパターンのうち少なくとも一つを含むものである。
【００６１】
変調度測定のためのパターンは、図４Ａないし図４Ｄを参照して説明した内容がそのままに適用されうる。データ変調方式によるピットのうち少なくとも最小ピットと最大ピットとを含んで構成されるテストパターンを利用して変調度を測定するためにトラッキングを行う。
【００６２】
トラッキング実行において、位相差検出（ＤＰＤ：Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）法またはプッシュプル法によってトラッキングが具現されうる。ＤＰＤ法は、例えば、４分割光検出器に結ばれる光スポットの位相差によってトラッキングサーボを具現する方法であり、プッシュプル法は、光検出器に結ばれる光スポットの左右信号差によってサーボを具現する方法であって、既に公知のものであるので、ここでは、その詳細な説明を省略する。
【００６３】
しかし、単一パターンに対するトラッキング具現時、ＤＰＤによれば、トラッキング制御が難しい限界がある。図６Ａは、２Ｔの長さを有するピットとスペースとよりなる単一パターンに対するＤＰＤ信号とプッシュプル信号を示す図である。図６Ａで、下側部分にあるグラフは、ＤＰＤ信号とプッシュプル信号の一部信号を拡大して表すものである。図６Ｂは、信号が良好に出た場合のプッシュプル信号とこのプッシュプル信号によってトラッキングして得たＲＦ信号とを共に表す図である。図６Ａと図６Ｂとを比較する時、単一パターンに対するプッシュプル信号は、良好に出ることが分かる。したがって、単一パターンに対するトラッキング時には、プッシュプル法を利用することが有利である。
【００６４】
一方、図６Ｃは、良好に出力されたＤＰＤ信号の一例を示す図である。このＤＰＤ信号と図６ＡのＤＰＤ信号とを比較する時、単一パターンに対するＤＰＤ信号は、三角波形が歪曲されて現れるため、正常的な信号検出が不可能であることが分かる。逆に、ＤＰＤ信号は、ランダムパターンに対するトラッキング時に有利である。
【００６５】
したがって、前記テストゾーン１０ｄに形成された変調度測定のためのパターンに対するトラッキング時、ＤＰＤ検出法とプッシュプル法のうちトラッキングに有利な検出法を選択してトラッキングを具現しうる。
【００６６】
前記のように、テストパターンに対するトラッキングを具現して信号特性グラフ、例えば、Ｉパターンが得られる。この信号特性グラフを利用して、変調度を測定する。前述したＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式のうち、ＲＬＬ（１,７）方式によれば、変調度測定のためのパターンが最小ピットである２Ｔと最大ピットである８Ｔとを含んで構成される。ここで、２Ｔに対応する信号によってＩ２Ｔを測定し、８Ｔに対応する信号によってＩ８Ｔを測定する。このとき、テストパターンに対する信号のみが検出されるので、他の信号による影響が少ないため、最小ピット及び最大ピットに対する信号検出が容易になる。
【００６７】
特に、記録容量が増加するにつれて最小ピットに対する検出が難しくなるが、本発明では、変調度測定のためのパターンを最小ピット及び最大ピットを含む単純なパターンで構成するため、変調度測定が容易であるという利点がある。一方、最小ピットのサイズが縮小するにつれて、最小ピット間でクロストークが発生する恐れがある。しかし、変調度測定のためのパターンには、最小ピットが規則的に配列されていて、クロストークが均一に発生するため、クロストークによる影響を勘案して変調度を測定できる。もし、ランダムパターンであれば、隣接するピット間のクロストークが不均一に発生するため、クロストークによる影響を考慮して変調度を測定することが不可能である。
【００６８】
一方、本発明による再生専用情報保存媒体の変調度を測定するためのテストパターンを構成するのにおいて、データ変調方式に使われるピットのうち、少なくとも最小ピットと最大ピットとを含むと同時に、テストパターンに対する信号特性グラフのＤＣサムが０となるように構成することが望ましい。
【００６９】
例えば、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式では、データが（ｄ＋１）Ｔ−（ｋ＋１）Ｔ範囲の長さを有するピット及びスペースで記録される。ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式で、ｄを最小ランレングスといい、ｋを最大ランレングスと言う。このようなデータ信号を生成するのにおいて、ＤＣ成分をなくすために、変調されたコードの最小ランレングスｄと最大ランレングスｋとの範囲内にある２つの特定ランレングスを選択する。すなわち、ｄ≦ｉ、ｊ≦ｋを満足する特定ランレングスｉ、ｊを選択する。そして、図７に示されたように、変調された信号の生成において、ランダムビット値生成器２５によってランダムビット値を生成し、このビット値を利用してデータパターン生成器２７によって第１データパターンと第２データパターンとを生成する。そして、前記第１及び第２データパターンをＮＲＺＩエンコーディング３０することによってビットストリームを構成する。ここで、図面符号３２は、タイミングコントローラを表す。
【００７０】
前記第１データパターンと第２データパターンとは、ｄ≦ｉ、ｊ≦ｋ範囲内にあるｉ、ｊに対してそれぞれ（ｉ＋１）Ｔの反復パターンと（ｊ＋１）Ｔの反復パターンとより構成されることが望ましい。そして、第１及び第２データパターンの全体長さを（ｉ＋１）及び（ｊ＋１）の最小公倍数の２ｎ（ここで、ｎは自然数）倍にすることによってＤＣ成分を除去しうる。
【００７１】
具体的に、ｉ＝１であり、ｊ＝７である時、第１データパターンを２Ｔの反復パターンで構成し、第２データパターンを８Ｔの反復パターンで構成しうる。そして、第１データパターン及び第２データパターンの全体長さは、２及び８の最小公倍数である８の２ｎ倍である長さを有させる。ｎ＝１である時、第１及び第２データパターンの全体長さを１６Ｔにするために、第１データパターンは、２Ｔが８回反復され、第２データパターンは、８Ｔが２回反復されて構成される。また、ｎ＝２である時、パターンの長さを３２Ｔにするために、第１データパターンは、２Ｔが１６回反復され、第２データパターンは、８Ｔが４回反復されて構成される。このように、第１データパターンと第２データパターンとを所定のｉ及びｊに対する反復ピットで構成し、全体長さをこれらの最小公倍数の偶数倍にすることによってＤＣサムを０にしうる。
【００７２】
特に、第１データパターン及び第２データパターンの構成において、最小ピットと最大ピットとを含むようにすることが望ましい。言い換えれば、ＲＬＬ（ｄ,ｋ）変調方式で第１データパターンを（ｄ＋１）Ｔの反復パターンで構成し、第２データパターンを（ｋ＋１）Ｔの反復パターンで構成する。そして、その全体的な長さは、（ｄ＋１）及び（ｋ＋１）の最小公倍数の２ｎ（ｎは、自然数）倍であることが望ましい。（ｄ＋１）及び（ｋ＋１）の最小公倍数をＩとする時、（ｄ＋１）の反復回数は２ｎｐ回であり、（ｋ＋１）の反復回数は２ｎｑ回である。ここで、ｐ＝Ｉ／（ｄ＋１）であり、ｑ＝Ｉ／（ｋ＋１）である。
【００７３】
前記内容を整理すると、次の通りである。
【００７４】
【表４】
2006502525.tif 000006
表１によるパターンでテストパターンを構成することによって、変調度測定のための信号の生成において、ＤＣサムを０にできて、変調度測定を正確に行える。
【００７５】
次いで、ＰＲＭＬ適応化のためのパターンは、図５Ａ、図５Ｂ及び図５Ｃを参照して説明したパターンで形成される。このようなパターンを利用して、ＰＲＭＬ適応化を具現することによって再生専用情報保存媒体のデータを円滑に再生できる。
【００７６】
前記のように、リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域に変調度測定のためのパターン、ＰＲＭＬ適応化のためのパターン及び非対称性測定のためのパターンのうち少なくとも一つを形成し、これらパターンを利用してデータ再生特性を最適化できる。
【００７７】
前記実施例は、例示的なものに過ぎず、本発明は、開示された実施例に限定されず、当業者ならば、本発明の原則及び思想から逸脱せず、特許請求の範囲及び均等な範囲で他の実施例が可能であるということが分かる。
【産業上の利用可能性】
【００７８】
前述したように、本発明による再生専用情報保存媒体及びデータ再生方法によれば、リードイン領域及びリードアウト領域のうち少なくとも一つの領域にデータ再生に必要なパターンが形成されたテストゾーンを別途に備えることによって、データの再生性能を向上させうる。
【００７９】
さらに、記録容量の増加によるピット長さの減少によって、最小ピットに対する信号測定が難しくなることを防止する。このように、変調度を正確に測定することによってさらに信頼性のあるデータの再生性能が確保できる。
【００８０】
また、本発明のデータ再生方法によれば、テストゾーンに変調度測定を容易にできるテストパターンを形成し、このパターンに対する信号特性グラフを利用して、信頼性のある変調度を測定できる。さらに、テストパターンをＤＣ成分を除去できるように構成することによって、さらに正確な変調度測定を可能にする。
【００８１】
また、ＰＲＭＬ適応化のための最適化されたパターンを形成して容易にＰＲＭＬ適応化を通じて再生性能を向上させうる。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】従来の再生専用情報保存媒体のリードイン構造を示す図である。
【図２】ＲＬＬ（１,７）変調方式によって記録されたデータを再生した信号のＩパターンを示す図である。
【図３】本発明の実施例による再生専用情報保存媒体のデータ構造を概略的に示す図である。
【図４Ａ】図３の再生専用情報保存媒体に備えられたテストゾーンに記録された変調度測定のためのパターンの例を示す図である。
【図４Ｂ】図３の再生専用情報保存媒体に備えられたテストゾーンに記録された変調度測定のためのパターンの例を示す図である。
【図４Ｃ】図３の再生専用情報保存媒体に備えられたテストゾーンに記録された変調度測定のためのパターンの例を示す図である。
【図４Ｄ】図３の再生専用情報保存媒体に備えられたテストゾーンに記録された変調度測定のためのパターンの例を示す図である。
【図５Ａ】図３の再生専用情報保存媒体に使われるＰＲＭＬシステムの期待値を求めるための等化器を示す図である。
【図５Ｂ】図３の再生専用情報保存媒体に使われるＰＲＭＬシステムの期待値を求めるための等化器を示す図である。
【図５Ｃ】図３の再生専用情報保存媒体に使われるＰＲＭＬシステムの期待値を求めるための等化器を示す図である。
【図６Ａ】単一パターンに対するＤＰＤ信号とプッシュプル信号を示す図である。
【図６Ｂ】信号特性が良好に出たプッシュプル信号とＲＦ信号とを示す図である。
【図６Ｃ】信号特性が良好に出たＤＰＤ信号を示す図である。
【図７】変調度測定用信号発生過程を示すブロック図である。
【図１】
2006502525.tif 000007
【図３】
2006502525.tif 000008
【図４Ａ】
2006502525.tif 000009
【図４Ｂ】
2006502525.tif 000010
【図４Ｃ】
2006502525.tif 000011
【図４Ｄ】
2006502525.tif 000012
【図５Ａ】
2006502525.tif 000013
【図５Ｂ】
2006502525.tif 000014
【図５Ｃ】
2006502525.tif 000015
【図６Ａ】
2006502525.tif 000016
【図６Ｂ】
2006502525.tif 000017
【図６Ｃ】
2006502525.tif 000018
【図７】
2006502525.tif 000019
【図２】
2006502525.tif 000020
【国際調査報告】
2006502525.tif 000021
2006502525.tif 000022