(57)【要約】本発明は、放射線ビームにより光記録媒体に情報を書き込み／消去するための書き込み／消去パワーパラメータ（Ptarget）の値を決定する装置及び方法に関する。当該方法は、一連のパラメータa‐ｂ‐ｃによる関数への曲線当てはめに基づいており、当該関数は、放射線ビームのパワーレベル（P）と記録された信号の変調率との積と、パワーレベル（P）との間の関係を定める。従って、当該一連のパラメータは、ガンマ曲線とパワーレベル（P）との間の関係を定める方程式を解くために使用され、当該方程式の解は、書き込み／消去パワーパラメータ（Ptarget）の最適値とみなされる。その結果、書き込み／消去パワーパラメータ（Ptarget）から最適パワーレベル（Popt）を導き出すことができる。使用：光記録媒体の書き込み／消去。
2006519457.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線ビームにより光記録媒体に情報を書き込み或いは消去する光学式記録装置で使用する書き込み／消去パワーパラメータの値を決定する方法であって：
前記記録媒体に一連のテストパターンを書き込む第１ステップであり、それぞれのテストパターンは前記放射線ビームのパワーレベルの異なる値で書き込まれ、前記パワーレベルは最小パワーレベルと最大パワーレベルとの間で変化する変動範囲を有するところの第１ステップ、
複数のリード信号部分を取得するために前記記録媒体にある前記テストパターンを読み込む第２ステップ、
それぞれのリード信号部分からリードパラメータの値を導き出す第３ステップであり、最小リードパラメータを有する一連のリードパラメータを定義するための第３ステップ、
前記リードパラメータ及び前記パワーレベルの結合と、該パワーレベルとの間の関係を定義する関数に曲線当てはめを行う第４ステップであり、該関数が一連のパラメータにより特徴付けられるところの第４ステップ、
前記一連のパラメータに依存する条件が前記最大パワーレベル、前記最小パワーレベル及び前記最小リードパラメータにより満たされることをチェックする第５ステップ、
前記条件が満たされない場合、前記パワーレベルの前記変動範囲を修正し、その後、前記第１ステップに戻す第６ステップ、及び、
前記条件が満たされる場合、前記パワーレベルを変数として有する方程式から前記書き込み／消去パワーパラメータの値を求める第７ステップ、
の再帰的ステップを有することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記リードパラメータが前記リード信号部分における振幅の変調であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記の曲線当てはめが行われた関数が、
【数１】
2006519457.tif 000017
の二次曲線の形であることを特徴とする請求項１又は２の何れか一項に記載の方法。
【請求項４】
前記最大パワーレベルにより満たされるべき条件が、
【数２】
2006519457.tif 000018
の関係で表され、
前記最小パワーレベルにより満たされるべき条件が、
【数３】
2006519457.tif 000019
の関係で表され、
前記最小リードパラメータにより満たされるべき条件が、
【数４】
2006519457.tif 000020
の関係で表され、
γｔａｒｇｅｔが前記記録媒体で読み込まれるパラメータであり、Ｍ０が前記リード信号部分の測定ノイズレベルから導かれるパラメータである、
ことを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記放射線ビームの最適書き込み／消去パワーレベルを導くために前記書き込み／消去パワーパラメータを増倍定数により乗算する追加ステップをさらに有することを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の方法。
【請求項６】
光記録媒体に情報を書き込み／消去するための放射線ビームの書き込み／消去パワーパラメータの値を決定する光学式記録装置であって：
一連のテストパターンを前記記録媒体に書き込む制御ユニットであり、それぞれのテストパターンは前記放射線ビームのパワーレベルの異なる値を有し、前記パワーレベルの前記値は最小パワーレベルと最大パワーレベルとの間で変化する変動範囲を有するところの制御ユニット、
複数のリード信号部分を取得するために前記記録媒体にある前記テストパターンを読み込むリードユニット、
それぞれのリード信号部分からリードパラメータの値を導き出す第１手段であり、最小リードパラメータを有する一連のリードパラメータを定義するための第１手段、
前記リードパラメータ及び前記パワーレベルの結合と、該パワーレベルとの間の関係を定義する関数に曲線当てはめを行う第２手段であり、該関数が一連のパラメータにより特徴付けられるところの第２手段、及び、
第３手段であり：
ａ）前記一連のパラメータに依存する条件が前記最大パワーレベル、前記最小パワーレベル及び前記最小リードパラメータにより満たされることをチェックし、
ｂ）前記条件が満たされない場合、前記パワーレベルの前記変動範囲を修正し、その後、処理を前記制御ユニットにより実行される処理に戻し、
ｃ）前記条件が満たされる場合、前記パワーレベルを変数として有する方程式から前記書き込み／消去パワーパラメータの値を求める、
ための第３手段、
の再帰的に適用される手段をさらに有することを特徴とする光学式記録装置。
【請求項７】
前記放射線ビームの最適書き込み／消去パワーレベルを導くために前記書き込み／消去パワーパラメータを増倍定数により乗算する手段をさらに有することを特徴とする請求項６に記載の光学式記録装置。
【請求項８】
請求項１乃至５の何れか一項に記載される方法の複数のステップを実行するコード命令を有するコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線ビームにより光記録媒体に情報を書き込み或いは消去する光学式記録装置で使用する書き込み／消去パワーパラメータの値を決定する方法に関する。
【０００２】
また、本発明は、光記録媒体に情報を書き込み或いは消去する放射線ビームの書き込み／消去パワーパラメータの値を決定する手段を有する光学式記録装置に関する。
【０００３】
本発明は、光学式記録の分野で使用され得る。
【背景技術】
【０００４】
欧州特許出願公開第０７３７９６２号明細書は、放射線ビームの最適な書き込みパワーレベルを設定する手段を有する光学式記録装置を開示する。この装置は、放射線ビームの最適な書き込みパワーレベルを設定する方法であって以下のステップを有する方法を使用する。最初に、当該装置は逓増的な書き込みパワーで一連のテストパターンを記録媒体に記録する。次に、当該パターンのそれぞれに対応するリード信号から各パターンの変調を導き出す。当該装置は、書き込みパワーの関数として当該変調の微分を計算し、該微分に書き込みパワーを乗算することにより、当該変調全体にわたって当該微分を正規化する。取得された曲線は、正規化ガンマ曲線或いはγ曲線として知られる。正規化ガンマ曲線と設定値γｔａｒｇｅｔとの交差点は、目標書き込みパワーパラメータを決定する。最後に、当該目標書き込みパワーパラメータは、その記録媒体の記録に適した最適書き込みパワーレベルを得るためにパラメータρで乗算される。パラメータρの値は、その記録媒体自身から読み込まれる。当該テストパターンは記録媒体に記録され、その記録媒体自身から同様に読み込まれる所与の値近くの一定の範囲の書き込みパワー値が適用される。
【０００５】
光学式記録装置では、正確なパワーのレーザービームで情報を光記録媒体に記録することが重要である。同様に、当該記録媒体にある情報を消去するためのレーザービームのパワーも正確でなければならない。媒体メーカーは、絶対的な方法（例えば、前もってディスクに記録するなどによる。）でもってこの正確なパワーを用意することができない。記録媒体と記録装置との組み合わせ毎における環境及び装置間の偏差のためである。最適な書き込みパワーレベルを設定する既知の方法は、記録媒体に書き込まれるテストパターンの変調を測定することにより該記録媒体の異なる特性を考慮に入れる。当該方法は、記録装置及び記録媒体の各組み合わせに対する書き込みパワーを設定するよう設計されている。
【０００６】
しかしながら、既知の方法では、目標書き込みパワーパラメータ、ひいては最適書き込みパワーレベルの正確かつ一義的な値を決定することが常にできるわけではないので、自ずと限界がある。これは、パターンそれぞれの変調のための値を測定する間に入ってしまう測定ノイズのためであり、微分演算も当該ノイズの影響を増幅してしまう。この測定ノイズは、当該テストパターンの書き込みパワーを低下させるにつれ増大する。測定ノイズを低減させるために、測定した変調値を平均化してもなお、時々、γ曲線におけるある種の平坦域が発生して目標書き込みパワーパラメータの一義的な値の決定を妨げるようである。
【特許文献１】欧州特許出願公開第０７３７９６２号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、書き込み／消去パワーパラメータの正確かつ一義的な値を決定する方法を提案することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この目的は、以下の再帰的ステップにより実現される。
●当該記録媒体に一連のテストパターンを書き込む第１ステップ４０１であり、それぞれのテストパターンは当該放射線ビームのパワーレベルＰの異なる値で書き込まれ、当該パワーレベルＰは最小パワーレベルＰｍｉｎと最大パワーレベルＰｍａｘとの間で変化する変動範囲を有するところの第１ステップ４０１、
●複数のリード信号部分を取得するために当該記録媒体にある当該テストパターンを読み込む第２ステップ４０２、
●それぞれのリード信号部分からリードパラメータＭの値を導き出す第３ステップ４０３であり、最小リードパラメータＭｍｉｎを有する一連のリードパラメータを定義するための第３ステップ、
●当該リードパラメータＭ及び当該パワーレベルＰの結合と、該パワーレベルＰとの間の関係を定義する関数（ｆ）に曲線当てはめを行う第４ステップ４０４であり、該関数が一連のパラメータａ‐ｂ‐ｃにより特徴付けられるところの第４ステップ４０４、
●当該一連のパラメータａ‐ｂ‐ｃに依存する条件が当該最大パワーレベルＰｍａｘ、当該最小パワーレベルＰｍｉｎ及び当該最小リードパラメータＭｍｉｎにより満たされることをチェックする第５ステップ４０５、
●当該条件が満たされない場合、当該パワーレベルＰの当該変動範囲を修正し、その後、当該第１ステップ４０１に戻す第６ステップ４０６、及び、
●当該条件が満たされる場合、当該パワーレベルＰを変数として有する方程式から当該書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔの値を求める第７ステップ４０７。
【発明の効果】
【０００９】
γ曲線を決定する既知の方法で行われるように、変調パラメータの直接微分を取得する代わりに、本発明では、γ曲線は一連のパラメータにより特徴付けられる一般方程式によりモデル化される。従って、ノイズの存在が計算において緩和され、当該書き込み／消去パワーパラメータの決定における正確性が向上する。当該書き込み／消去パワーパラメータは、一連のパラメータにより表される当該モデル化γ曲線に対応する方程式から求められる。
【００１０】
好適には、この方法は、当該放射線ビームの最適書き込み／消去パワーレベルを導くために当該書き込み／消去パワーパラメータを増倍定数により乗算する追加ステップを有する。
【００１１】
当該増倍定数は、当該記録媒体に情報を記録できる記録プロセスを示す制御情報を格納する該記録媒体の一定のエリアから読み込まれる。従って、当該放射線ビームのパワーを正確に設定でき、結果として最適な書き込み及び消去作業をもたらす。
【００１２】
好適には、当該リードパラメータは当該リード信号部分における振幅の変調である。
【００１３】
当該変調の計算は、当該リード信号部分の振幅を表すには実に費用効率がよい。
【００１４】
好適には、曲線の当てはめが行われる関数は、Ｐ＊Ｍ＝ｆ（Ｐ）＝ｃ＋ｂ・Ｐ＋a・P２の二次曲線の形を取る。
【００１５】
二次曲線の使用は、複雑なモデル化と、理論曲線及び実際の曲線間の残差との間の一応の妥協点である。さらに、当該パラメータa‐ｂ‐ｃは、例えば、実行が容易な最小二乗法アルゴリズムを介して決定できる。
【００１６】
当該書き込み／消去パワーパラメータは、パラメータa‐ｂ‐ｃにより表される当該モデル化γ曲線に対応する二次方程式により求められる。当該条件は再帰的プロセスにより満たされ、条件が満たされると、負の値及び／又は複雑な値を取り除いた状態で、書き込み／消去パワーパラメータの信頼性のある単一の値を得ることができる。
【００１７】
また、本発明は、光記録媒体に情報を書き込み或いは消去する放射線ビームの書き込み／消去パワーパラメータの値を決定する手段を有する光学式記録装置に関する。この光学式記録装置は、本発明に従った方法の様々なステップを実行する処理手段を有する。
【００１８】
レーザービームの書き込み／消去パワーは、完璧に光媒体の特性に適合し、直接的にジッターの極小化をもたらす。
【００１９】
また、本発明は、本発明に従った方法のステップを実行するコード命令を有するコンピュータプログラムに関する。
【００２０】
本発明の詳細な説明及び他の態様を以下に説明する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明の特別な態様をこれより、後述されかつ添付図面に関連して検討される実施例を参照して説明する。なお、図において、同一の部分又はサブステップは同じように指定される。
【００２２】
正規化されたガンマ曲線は、以下の２項の乗算により表されることができる。
●ＭのＰによる微分に対応する第1項
●ＭとＰとの間の比率に対応する第２項
ここで、Ｐは書き込み／消去用レーザービームのパワーであり、Ｍは光記録媒体上に書き込まれる信号の振幅を示すリードパラメータである。
【００２３】
従ってガンマ曲線を以下のように表すことができる。
【００２４】
【数５】
2006519457.tif 000003
リードパラメータＭは好適には当該光記録媒体から読み込まれる情報の変調率として定義される。
【００２５】
本発明に従った方法は、変数Ｐ＊ＭとＰとの間の関係のモデル化に基づいている。実際には、Ｐ＊ＭとＰとの間の関係は有利には、以下の一連のパラメータａ−ｂ−ｃにより特徴付けられる二次曲線によりモデル化されてもよい。
【００２６】
【数６】
2006519457.tif 000004
従って、以下が導かれる。
【００２７】
【数７】
2006519457.tif 000005
【００２８】
【数８】
2006519457.tif 000006
【００２９】
【数９】
2006519457.tif 000007
方程式（１）を（４）及び（５）に置き換えると、ガンマ曲線の式は以下のように表される。
【００３０】
【数１０】
2006519457.tif 000008
ここで係数ａ、ｂ及びｃは、当業者に知られる最適化電力制御ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）処理中の測定データにより決定されるべきものである。
【００３１】
書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔは、方程式（６）を証明するＰの特定の値であり、γ＝γｔａｒｇｅｔと仮定すると、以下のようになる。
【００３２】
【数１１】
2006519457.tif 000009
従って、レーザービームの最適書き込み／消去パワーパラメータレベルＰｏｐｔは、以下のように計算される。
【００３３】
【数１２】
2006519457.tif 000010
ここでρ及びγｔａｒｇｅｔは、ディスクのＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  ＩｎＰｒｅ−ｇｒｏｏｖｅ  ｆｏｒ  ＣＤＲ／ＣＤＲＷ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ  ｍｅｄｉｕｍ）情報又はＡＤＩＰ（ＡＤｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅ−ｇｒｏｏｖｅ  ｆｏｒ  ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷ）情報から読み込める既知のパラメータである。
【００３４】
図１は、本発明に従った光学記録装置及び光学記録媒体１０１を図示する。記録媒体１０１は透明基板１０２及びその上に配置される記録層１０３を有する。記録層１０３は放射線ビーム１０５を用いて情報を記録するのに適した材料で構成される。記録材料は例えば光磁気タイプ、相変化タイプ、染料タイプ又は他の任意の適切な材料であってもよい。情報は、マークとも呼ばれる記録層１０３上の光学的に検出可能なリージョンの形態で記録される。装置は、例えば半導体レーザなどの放射線ビーム１０５を発する放射線源１０４を有する。放射線ビーム１０５は、ビームスプリッタ１０６、対物レンズ１０７及び基板１０２を介して記録層１０３に集光される。記録媒体は代わりに、放射線ビームが基板を通過することなく直接記録層１０３に入射するエアインシデントであってもよい。媒体１０１から反射される放射線は対物レンズ１０７により集光され、ビームスプリッタ１０６を通過後に検出システム１０８に向かって行き、検出システム１０８は入射した放射線を電気的検出器信号に変換する。当該検出器信号は回路１０９への入力である。この回路１０９は、記録媒体１０１から読み出される情報を表すリード信号ＳＲなどのいくつかの信号を当該検出器信号から導き出す。放射線源１０４、ビームスプリッタ１０６、対物レンズ１０７、検出システム１０８及び回路１０９は共にリードユニット１９０を形成する。
【００３５】
回路１０９で生成されたリード信号は、リードパラメータを表す信号を導き出すために第１プロセッサ１１０で処理される。生成された信号は第２プロセッサ１１４に供給され、続いて第３プロセッサ１０２に供給される。これらプロセッサは、リードパラメータの一連の値を処理し、それらに基づいて、レーザーパワーレベルを制御するのに必要な書き込みパワー制御信号の値を導き出す。
【００３６】
書き込み／消去パワー制御信号は、制御ユニット１１２に接続される。記録媒体１０１に記録すべき情報を表す情報信号１１１もまた、制御ユニット１１２に供給される。制御ユニット１１２の出力は、放射線源１０４に接続される。記録層１０３のマークは、プロセッサ１０２により決定される最適書き込み／消去パワーレベルＰｏｐｔによりパワーが決定される単一放射パルスで書き込まれ或いは消去される場合がある。別の方法では、マークはまた、均一の或いは異なる長さで、かつ、書き込みパワー信号により決定される１又は２以上のパワーレベルの一連の放射パルスにより記録されてもよい。
【００３７】
当然のことながらプロセッサは、例えばマイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、配線アナログ回路又はフィールドプログラマブル回路など、計算を実行するのに適した如何なる手段であってもよい。さらに、第１プロセッサ１１０、第２プロセッサ１１４及び第３プロセッサ１０２は、別々のデバイスであってもよく、或いは、３つの処理のすべてを実行する単一のデバイスに統合されていてもよい。プロセッサ１１０、１１４及び１０２は、コンピュータプログラムの形をとるコード命令を記憶するメモリ１１３に接続される。このメモリは例えばフラッシュロムタイプのメモリである。
【００３８】
情報を媒体１０１上に書き込み又は消去する前に、装置は自身の書き込みパワーＰを本発明に従った方法を実行することにより最適パワーレベルＰｏｐｔに設定する。
【００３９】
図４は、本発明に従った方法の様々なステップを図示するフローチャートである。
【００４０】
第１ステップ４０１において、装置は一連のテストパターンを媒体１０１上に書き込む。当該テストパターンは所望のリード信号部分を与えるように選択されるべきである。リード信号部分から導出すべき当該リードパラメータが当該リード信号部分の変調Ｍであるならば、当該テストパターンは、当該リード信号部分の最大変調を実現するのに十分長いマークを包含すべきである。しかし、変調パラメータを決定できるように当該テストパターンがいくらかの時間的変化を提示しなければならないという事実は別として、係るテスト信号の形状に関しては特別な制限はない。従って、時間的変化を有するランダムなテストパターンが使用されてもよい。
【００４１】
情報がいわゆるＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ−ｔｏ−ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）変調に従って符号化される場合には、テストパターンは好適には当該変調方式の長いＩ１１マークを包含する。情報がＥＦＭ＋（Ｅｉｇｈｔ−ｔｏ−ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｐｌｕｓ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）変調に従って符号化される場合には、テストパターンはこの変調方式の長いＩ１４マークを包含すべきである。
【００４２】
テストパターンのそれぞれは、値の異なるパワーレベルＰの放射線ビームにより書き込まれ、パワーレベルＰの値は、最小パワーレベルＰｍｉｎと最大パワーレベルＰｍａｘとの間で、増分ステップサイズをΔＰとして変化する。
【００４３】
テストパターンは好適には記録媒体上の特別に与えられたテストエリアに書き込まれる。特に、第１テストエリアは７つのＡＤＩＰ／ＡＴＩＰフレームの３セットから構成される。その場合、テストエリアはディスクの一回転をカバーし、２１個の異なるパワーレベルＰの値のセットを定義することができる。その結果、ランク（ｉ）のテストパターンに関連するパワーレベルＰｉは、ｉが０乃至２０の間でＰｉ＝Ｐｍｉｎ＋ｉ＊ΔＰにより表される。
【００４４】
第２ステップ４０２において、記録されたテストパターンはリードユニット１９０によりリード信号部分ＳＲを形成するために読み出される。図３は、テストパターンから取得されるリード信号部分を図示する。
【００４５】
第３ステップ４０３において、プロセッサ１１０はリード信号部分ＳＲのそれぞれに対しリードパラメータＭの値を導き出す。図３に従って、好適なリードパラメータは以下の２項の比率として定義される変調Ｍとなる。
●リード信号部分の最大頂点間振幅値（Ｂｉ−Ａｉ）に対応する第１項
●リード信号部分の最大振幅Ｂｉに対応する第２項
その結果、ランク（ｉ）のテストパターンに関連する変調率Ｍｉは、Ｍｉ＝（Ｂｉ−Ａｉ）／Ｂｉで表される。一連のリードパラメータＭｉ間の最小リードパラメータは、Ｍｍｉｎとして参照される。
【００４６】
第４ステップ４０４において、プロセッサ１１４は、あるパターンの変調Ｍに書き込みパワーＰを乗算したものと、書き込みパワーＰとのペアから成る一連の一組の値（Ｐ＊Ｍ、Ｐ）を形成する。なお、書き込みパワーＰは、そのパターンが書き込まれたときのパワーである。この一連の一組の値は、曲線当てはめステップによりモデル化されるようＰ＊Ｍ＝ｆ（Ｐ）の関係を証明する関数（ｆ）を定義する。当該関数は、式（２）で表される一連のパラメータａ−ｂ−ｃにより特徴付けられる。図２は、テストパターンから取得される既に処理されたリード信号の結果の非制限的な例を概略的に示す。関数（ｆ）を定義するデータポイントのそれぞれは、変調Ｍに書き込みパワーＰを乗算したものと、書き込みパワーＰとから成る一組の値を表す。プロセッサ１１４は、式（２）の関係の分析、すなわち、パラメータａ−ｂ−ｃの値を決めるために二次曲線を当てはめる。当てはめられた曲線は、図２の実線で示される。当該当てはめは、周知の最小二乗法による当てはめアルゴリズムにより行われる。
【００４７】
第５ステップ４０５において、プロセッサ１０２は、最大パワーレベルＰｍａｘ、最小パワーレベルＰｍｉｎ及び最小リードパラメータＭｍｉｎにより満たされるべき条件をチェックする。これらの条件は、方程式（７）の解決において、書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔの不正確な解のうち、特に、負の解、複素数の解又は二重実数解を取り除くことを狙いとする。満たされるべき条件は、結果として正の実数であるＰｔａｒｇｅｔの単一値を導く。満たされるべき条件は以下のように表される。
●最大パワーレベルＰｍａｘにより満たされるべき条件は以下の関係で表される。
【００４８】
【数１３】
2006519457.tif 000011
●最小パワーレベルＰｍｉｎにより満たされるべき条件は以下の関係で表される。
【００４９】
【数１４】
2006519457.tif 000012
●最小リードパラメータＭｍｉｎにより満たされるべき条件は以下の関係で表される。
【００５０】
【数１５】
2006519457.tif 000013
ここで、γｔａｒｇｅｔは記録媒体で読み込まれるガンマ曲線の目標パラメータであり、Ｍ０はリード信号部分の雑音レベル測定から導き出される固定パラメータである。例えば、Ｍ０は１５／１００に設定される。
【００５１】
上述の条件が満たされなければ、当該方法は、テストパターンの書き込みのためのパワーレベルＰの変動範囲を修正する第６ステップ４０６を経由して第１ステップ４０１に戻る。例えば、変動範囲は、最小パワーレベルＰｍｉｎの値を増減することにより修正されてもよい。変動範囲の修正は、メモリ１１３から新しい値をロードすることで行われてもよい。その結果、当該方法は、引き続きテストパターン書き込みステップ、テストパターン読み込みステップ、パラメータＭ導出ステップ及び曲線当てはめステップを条件が満たされるまで繰り返す。条件が満たされると、当該方法は第７ステップ４０７に進む。
【００５２】
第７ステップ４０７において、プロセッサ１０２は、パワーレベルＰを変数として有する方程式の解である書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔを求める。この方程式は、パラメータａ−ｂ−ｃが曲線当てはめにより導き出される値で置き換えられた方程式（７）により与えられる。
【００５３】
方程式（７）の解決は、二次方程式を解く典型的なアルゴリズムにより実行されてもよい。
【００５４】
別の方法として、方程式（７）の解決は、費用効率が高く高速である再帰アルゴリズムを介して実行されてもよい。その場合、２つの中間媒介変数Ｑ１及びＱ２が導入される。
【００５５】
【数１６】
2006519457.tif 000014
【００５６】
【数１７】
2006519457.tif 000015
これら２つの中間媒介変数を使用することにより、書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔは、ランク（ｉ）を有するテストパターンの書き込み中に使用するパワーレベルＰｉの値となり、当該値はＱ１とＱ２との間の距離を最小にし、例えば関数｜Ｑ１−Ｑ２｜を最小化する。
【００５７】
別の方法として、書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔは以下の方程式から導出される。
【００５８】
【数１８】
2006519457.tif 000016
ここで、ｉ０は、γｉ−１＞γｔａｒｇｅｔ≧γｉの関係を証明するセット（０．．．２０）から選ばれたインデックスｉの特定の値であり、γｉはＰ＝Ｐｉと仮定した場合の方程式（６）から計算される。
【００５９】
追加のステップ４０８において、方程式（８）に従って、書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔは、放射線ビーム１０５の最適書き込み／消去パワーレベルＰｏｐｔを導き出すために定数ρで乗算される。
【００６０】
好適には、テストパターンを書き込みかつ読み込む上述のプロセスは、それぞれが７つのＡＤＩＰ／ＡＴＩＰフレームの３セットで構成される３つの追加テストエリアで連続して行われる。これらのテストエリアは、接線方向に非同次となる効果を極小化するためにお互いに対して１２０°回転させられる。それぞれのエリアにおいて、テストパターンは、異なる範囲で変化するホワイトパワーレベルＰで書き込まれており、そのような範囲の極値はまた、（９）、（１０）及び（１１）の関係で表される条件を満足させる。その結果、Ｐｔａｒｇｅｔの３つの異なる中間値が取得され、従って、当該異なる中間値は、後述の最適書き込み／消去パワーレベルＰｏｐｔを導き出すために使用されるよう、書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔの最終的な値を得るために平均される。
【００６１】
この方法は、好適には光学記録装置がパワーレベルＰを持つ放射線ビーム１０５により光学記録媒体１０１に情報を書き込み／消去する際に使用されてもよく、放射線ビーム１０５のパワーＰの最適書き込み／消去パワーレベルＰｏｐｔは、最初に書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔの値を本発明に従った方法により決定することにより設定される。従って、当該装置は再帰的に適用される以下の手段から構成される。
●一連のテストパターンを当該記録媒体に書き込む制御ユニット１１２であり、それぞれのテストパターンは、放射線ビームのパワーレベルＰの異なる値を有し、当該パワーレベルＰの当該値は、最小パワーレベルＰｍｉｎと最大パワーレベルＰｍａｘとの間で変化する変動範囲を有するところの制御ユニット１１２。
●複数のリード信号部分を取得するために当該記録媒体にある当該テストパターンを読み込むリードユニット１９０。
●それぞれのリード信号部分からリードパラメータＭの値を導き出す第１手段１１０であり、最小リードパラメータＭｍｉｎを有する一連のリードパラメータを定義するための第１手段１１０。
●当該リードパラメータＭ及び当該パワーレベルＰの結合と、該パワーレベルＰとの間の関係を定義する関数（ｆ）に曲線当てはめを行う第２手段１１４であり、該関数が一連のパラメータａ−ｂ−ｃにより特徴付けられるところの第２手段１１４。
●第３手段であり、
ａ）当該一連のパラメータａ−ｂ−ｃに依存する条件が最大パワーレベルＰｍａｘ、最小パワーレベルＰｍｉｎ及び最小リードパラメータＭｍｉｎにより満たされることをチェックし、
ｂ）当該条件が満たされない場合、当該パワーレベルＰの当該変動範囲を修正し、その後、処理を当該制御ユニット１１２により実行される処理に戻し、
ｃ）当該条件が満たされる場合、当該パワーレベルＰを変数として有する方程式から当該書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔの値を求めるところの第３手段。
【００６２】
この装置はさらに、放射線ビーム１０５の最適書き込み／消去パワーレベルＰｏｐｔを導出するために書き込み／消去パワーパラメータＰｔａｒｇｅｔを増倍定数ρで乗算する手段１０２を有する。
【００６３】
この増倍定数ρは、リードユニット１９０により記録媒体の一定のエリアから読み込まれ、方程式（８）で表される。当該記録媒体は、該記録媒体に情報を記録できる記録プロセスを示す制御情報を格納する。
【００６４】
当該方法のステップは、ハードウェア要素（配線された電子回路、メモリ、信号プロセッサなど）、或いは、メモリデバイス（ＲＯＭメモリなど）に格納されたコード命令を有するコンピュータプログラムなどのソフトウェア要素により実行されてもよい。なお、当該コード命令は１又は複数の信号プロセッサにより実行される。係るコンピュータプログラムが図１のメモリ１１３に格納されてもよい。
【００６５】
これまでの説明は、リード信号変調Ｍのリードパラメータとしての使用に基づいて行われたが、信号振幅を表す他のリードパラメータが本発明で使用できることは当業者にとって明らかである。
【００６６】
“有する”の用語は請求項に記載されたもの以外の要素の存在を排除するものではない。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明に従った光学式記録装置の実施例を示す図である。
【図２】測定された変調と書き込みパワーとの積を書き込みパワーに応じて示し、さらに対応する曲線当てはめ関数を示すグラフの一例である。
【図３】テストパターンから導き出されるリード信号部分を示す図である。
【図４】本発明に従った方法の様々なステップを示すフローチャートである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【手続補正書】
【提出日】平成17年9月6日(2005.9.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
【数５】
2006519457.tif 000025
リードパラメータＭは好適には当該光記録媒体から読み込まれる情報の変調率として定義される。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
【数９】
2006519457.tif 000026
方程式（１）を（４）及び（５）に置き換えると、ガンマ曲線の式は以下のように表される。
【国際調査報告】
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