(57)【要約】本発明は、ＦＥＤの性能を監視し、かつディスプレイの放出生成に関連した不利な影響を補償するシステムおよび方法である。本発明のＦＥＤ調整システムおよび方法は、回帰期間中に監視して実時間放出特性を提供することができる。１つの本放出補償方法では、活動表示領域に含まれないダミーのピクセルを一定レベルで駆動し、その結果（例えば、放出に関連した電流）を予想される特定の予め設定された量と比較する帰還型プロセスが使用される。電流が高すぎる場合には、電圧供給は駆動レベルに減らされ、または電流が低すぎる場合には、電圧は増やされる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を表示するために使用される活動表示ピクセルと、
ピクセル劣化を決定するために使用される試験用ピクセルとを備え、前記試験用ピクセルが情報の活動表示に影響を及ぼさず、さらに、前記試験用ピクセルからの監視された放出に基づいて、前記活動表示ピクセルと前記試験用ピクセルとの両方の供給電圧に調整が加えられるディスプレイ。
【請求項２】
前記試験用ピクセルが、活動表示領域の外に形成される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項３】
一定電圧が、前記試験用ピクセルに印加される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項４】
前記試験用ピクセルからの電流放出が監視される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項５】
前記試験用ピクセルからの照度放出が監視される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項６】
前記活動表示ピクセルおよび前記試験用ピクセルへの供給電圧が、前記試験用ピクセルからの監視された電流放出に基づいて変更される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項７】
前記活動表示ピクセルおよび前記試験用ピクセルへの供給電圧が、前記試験用ピクセルからの監視された照度放出に基づいて変更される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項８】
前記試験用ピクセルおよび前記活動ピクセルが、行に配列される、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項９】
前記試験用ピクセルおよび前記活動ピクセルが、複数の電界放出陰極によって形成され、請求項１に記載のディスプレイ。
【請求項１０】
電圧ドライバを供給するステップと、
活動表示時間中に活動ピクセルで画像を表示するステップと、
非活動表示時間中に試験用ピクセルで放出を生じさせるステップと、
試験領域の放出が正確であるかどうかを決定するステップと、
所望のレベルを実現するように前記ピクセルを調整するステップと
を含む放出補償方法。
【請求項１１】
前記電圧ドライバに、高電圧電源からの信号が供給される、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１２】
前記ピクセルが、電界放出陰極によって形成される、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１３】
回帰時間が、非活動掃引時間として利用される、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１４】
前記試験用ピクセルが、活動ディスプレイ領域には存在しない、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１５】
前記試験用ピクセルからの電流を測定するステップと、
測定された前記電流を予め設定されたレベルと比較するステップと
を更に含む、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１６】
前記試験用ピクセルからの照度を測定するステップと、
測定された前記照度を予め設定されたレベルと比較するステップと
を更に含む、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１７】
ドライバ信号の電圧レベルを上下に変化させて、放出電流を増加または減少させるステップを更に含む、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１８】
ドライバ信号の電圧レベルを上下に変化させて、照度を増加または減少させるステップを更に含む、請求項１０に記載の放出補償方法。
【請求項１９】
画像を生成する多層フェースプレート構造体と、
前記多層フェースプレート構造体に電子を放出するバックプレート構造体とを備え、前記バックプレート構造体が、前記電子を放出するエミッタを含み、前記エミッタが複数の行と列とに配列され、ピクセルの複数の行のうちの１つは、電圧が印加されるダミーの行であり、そして、結果として生じる放出電流が測定され、その放出が予め設定された値ではない場合には、前記電圧に調整が加えられる放出調整ディスプレイ装置。
【請求項２０】
ピクセルの前記ダミーの行が、活動表示領域中に存在しない、請求項１９に記載の放出調整ディスプレイ装置。
【請求項２１】
活動表示領域の回帰期間中に、ピクセルの前記ダミーの行に電圧が供給される、請求項１９に記載の放出調整ディスプレイ装置。
【請求項２２】
予め設定された数の回帰期間に一度、電圧が供給される、請求項２１に記載の放出調整ディスプレイ装置。
【請求項２３】
定量化されたレベルの段階で調整が加えられる、請求項２１に記載の放出調整ディスプレイ装置。
【請求項２４】
測定情報が、後の調整または伝送のために格納される、請求項２１に記載の放出調整ディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この明細書は情報ディスプレイの分野に関する。より詳細には、本明細書は、ディスプレイ装置を調整するためのシステムおよび方法に関する。本明細書は、部分的に、電界放出ディスプレイの照度を調整するシステム、デバイスおよび方法を開示する。
【背景技術】
【０００２】
電子システムおよび回路は、現代社会の発展に向けて重大な貢献をし、いくつかの用途で使用されて効果的な結果を達成している。デジタルコンピュータ、計算機、オーディオデバイス、ビデオ装置、および電話システムのような多数の電子技術は、ビジネス、科学、教育および娯楽の大部分の分野で、データの解析および通信の生産性向上およびコスト低減を促進した。しばしば、これらの電子技術は、情報を伝えるために使用される。目に見える表示で情報をディスプレイすることは、通常、情報を伝える便利で有効な方法である。しかし、劣悪な品質または歪んだディスプレイは、一般に、情報の表示および使用者の理解を妨げる。ディスプレイ部品の性能に悪影響を及ぼし、かつ情報の表示を妨げる条件がいくつかある。
【０００３】
多数の電子システムおよびデバイスが、情報を伝えるために使用される。例えば、コンピュータシステムは、一般に、情報をディスプレイするためのディスプレイモニタを含む。陰極線管（ＣＲＴ）デバイスおよび電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ）デバイスのようなディスプレイデバイスは、通常、蛍光体画面の画素（ピクセル）に高エネルギー電子を衝突させて光を発生し、蛍光体が電子エネルギーを可視光に変換する。放出された光は、画像を見る人に伝えるために使用され、放出光の特性は表示の認知性に大きな影響を及ぼす。一般に、光放出が大きければ大きいほど、表示の鮮明性が優れている。
【０００４】
陰極線管（ＣＲＴ）および電界放出デバイス（ＦＥＤ）のような異なる型のディスプレイは、通常、高エネルギー電子をピクセルに衝突させるやり方が違っている。従来のＣＲＴディスプレイでは、一般に、ただ１つの電子ビームが、またはいくつかの場合には３つの電子ビームが、蛍光体画面をラスタパターンで走査するように使用される。ＦＥＤでは、通常、各ピクセルの色要素ごとに静止電子ビームが使用され、電子源から画面までの距離は、従来のＣＲＴの走査電子ビームで必要な距離に比べて、非常に小さくすることができる。その上、ＦＥＤの真空管は、通常、従来のＣＲＴよりも遥かに薄いガラスで作られ、それで、より少ない電力を消費する。
【０００５】
電界放出ディスプレイの部品の性能は、通常、様々な条件の影響を受ける。ＦＥＤデバイスは、照度を御すために使用される電流とピクセルの放出特性との間の予め設定された関係に依拠している。ＦＥＤデバイスは、通常、特定のディスプレイ強度をもたらす特定の電流を結果として生じるように設計された所定の電圧で駆動される。しかし、様々な条件（例えば、温度変化）が、時間の経つにつれて、例えば駆動電流と照度との関係を変える放出特性の変化のような悪影響を、ＦＥＤデバイスに及ぼすことがある。例えば、ＦＥＤは、ある時、特定の電圧量で駆動されて特定の電流を生じさせるかもしれないが、もっと後のある時、正確に同じ駆動レベルの電圧で駆動されたとき、電流は、放出特性の変化のためにいくらか異なっている。電流の量が最終的にディスプレイの表示の輝度を決定するので、ディスプレイは、時間の経つにつれて、（陰極でのような）部品に起こる変化の性質に依存して、より明るくなるか、またはより暗くなる。この有害な環境条件の効果は、電界放出ディスプレイでの情報および画像の表示に悪影響を及ぼすことが多い。
【０００６】
陰極温度の測定のような不利な環境条件を補償しようとする従来の試みは、困難に遭遇することが多い。例えば、実時間での測定を可能にしない熱的な遅れの補償が、問題の原因になることが多い。従来方式の別の問題は、範囲が制限されることである。例えば、試みを温度測定に限定すると、一般に、汚染で生じる放出劣化のような他の不利な条件が対処されない。温度以外のある他のメカニズムが問題の原因になっている場合、変化全体を通して温度が安定していると問題を検出するのが非常に困難である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
必要とされることは、ＦＥＤの性能を監視しかつディスプレイの放出生成に不利な影響を補償するシステムおよび方法である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ）の性能を監視し、かつディスプレイの放出生成に関連した不利な影響を補償するシステムおよび方法である。本発明のＦＥＤ調整システムおよび方法は、回帰期間中の実時間放出特性監視を実現することができる。１つの本放出補償方法では、活動表示領域に含まれない試験用ピクセルを一定電圧レベルで駆動し、その結果（例えば、放出に関連した電流または照度）を予測される予め設定された結果（例えば、電流または照度の量）と比較する帰還型プロセスが使用される。例えば、試験用ピクセルに関連した測定されたパラメータ（例えば、照度、電流、その他）が高すぎる場合、そのとき電圧供給の駆動レベルが下げられ、または、測定されたパラメータが低すぎる場合、電圧は高められる。本発明の一実施形態では、電圧ドライバが供給され、活動表示時間中に活動ピクセルで画像が表示される。非活動表示時間中に試験用ピクセルで放出が生じ、試験領域のこの放出が正確であるかどうか決定される。放出が正確でない場合、所望のレベルを実現するようにピクセルに調整が加えられる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
ここで本発明の好ましい実施形態を詳細に参照する。この好ましい実施形態の例を添付の図面に示す。本発明はこの好ましい実施形態に関連して説明するが、これらは本発明をこれらの実施形態に制限する意図でないことは理解されるであろう。それどころか、本発明は、添付の特許請求の範囲で定義されるような本発明の精神および範囲に含まれるかもしれない代替え物、修正物および同等物を含む意図である。さらに、本発明の以下の詳細な説明において、多数の特定の細部は、本発明の完全な理解を可能にするために示される。しかし、当業者には明らかになることであろうが、本発明はこの特定の細部なしに実施することができる。他の例では、よく知られている方法、手順、部品、および回路は、本発明の態様を不必要に不明瞭にしないように、詳細に説明しなかった。
【００１０】
図１は、フラットパネル電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ）の一実施形態の一部の断面図である多層構造体７５を示す。多層構造体７５は、ベースプレート構造体とも呼ばれる電界放出バックプレート構造体４５、および電子を受け取るフェースプレート構造体７０を含む。画像はフェースプレート構造体７０に生成される。バックプレート構造体４５は、一般に、電気絶縁バックプレート６５、エミッタ電極６０、電気絶縁層５５、パターン形成されたゲート電極５０、および絶縁層５５を貫通する開口中に位置する電子放出要素４０を備える。１つの型の電子放出要素４０は、１９９７年３月４日にＴｗｉｃｈｅｌｌ他に発行された米国特許第５，６０８，２８３号に記載されており、また他の型が、１９９７年３月４日にＳｐｉｎｄｔ他に発行された米国特許第５，６０７，３３５号に記載されている。これらの特許は、参照として本明細書に組み込む。電子放出要素４０の先端部は、ゲート電極５０の対応する開口を通して露出されている。フェースプレート構造体７０は、電気絶縁フェースプレート１５、陽極２０、および蛍光体の被膜２５で形成される。要素４０から放出された電子は、蛍光体部分３０で受け取られる。一実施形態では、電子放出要素４０は、円錐形のモリブデン先端部を含む。本発明の他の実施形態では、陽極２０は蛍光体２５の上に位置付けすることができ、またエミッタ４０は、フィラメント、炭素繊維またはナノチューブのような他の幾何学的形状を含むことができる。
【００１１】
電子放出要素４０からの電子の放出は、適切な電圧（ＶＧ）をゲート電極５０に加えて制御される。他の電圧（ＶＥ）が、エミッタ電極６０を経由して電子放出要素４０に直接に加えられる。ゲート−エミッタ間電圧（例えば、ＶＧ−ＶＥ）が増すにつれて、電子放出は増す。電子を蛍光体２５に向けることは、陽極２０に高電圧Ｖｃを加えることで行われる。適切なゲート−エミッタ間電圧（ＶＧＥ）が加えられたとき、電子は、垂線からの偏りの放出角シータ４２の様々な値で、電子放出要素４０から放出される。放出された電子は、図１に線３５で示す非直線（例えば、放物線）の軌跡をたどり、蛍光体２５の目標部分３０に衝突する。このように、ＶＧおよびＶＥが放出電流（ＩＣ）の大きさを決定するが、一方で、陽極電圧（ＶＣ）が、与えられた角度で放出された、与えられた電子の電子軌跡の方向を制御する。
【００１２】
図２は、例示のＦＥＤ画面１００の一部を示す。ＦＥＤ画面１００は、ピクセルの水平方向に整列された行と垂直方向に整列された列とのアレイに細分される。それぞれのピクセル１２５の境界は、破線で示す。３つの別個の行ライン１３０が示され、各行ライン１３０は、アレイのピクセルの行のための１つの行電極である。一実施形態では、各行ライン１３０は、この電極に関連した特定の行の各エミッタのエミッタ陰極に結合されている。代替として、各行ラインは、前述の電極に関連した特定の行の各エミッタのゲート電極に結合することができる。一ピクセル行の一部を図２に示し、これは、１対の隣り合うスペーサ壁１３５の間に位置している。別の実施形態では、スペーサ壁１３５は存在しないかもしれない。ピクセル行は、一行ライン１３０に沿ったピクセルのすべてを含む。一般に、２以上のピクセル行（例えば、２４〜１００ピクセル行）が、各対の隣り合うスペーサ壁１３５の間にある。
【００１３】
カラーディスプレイでは、ピクセルの各列に３色の列ライン１２０がある。（１）１つは赤のライン、（２）第２は緑のライン、そして（３）第３は青のラインである。同様に、各ピクセル列は、合計３ストライプの各蛍光体ストライプ（赤、緑、青）のうちの１つを含む。モノクロディスプレイでは、各列はただ１つのストライプだけを含む。本実施形態では、列ライン１２０の各々は、関連した列の各エミッタ構造体のゲート電極に結合されている。代替として、列ラインの各々は、関連した列の各エミッタ構造体のエミッタ陰極に結合されるかもしれない。さらに、本実施形態では、列ライン１２０は、列ドライバの回路（図示しない）に結合され、行ライン１３０は行ドライバ回路（図示しない）に結合される。
【００１４】
動作時に、赤、緑および青の蛍光体ストライプは、エミッタ−陰極６０／４０の電圧に対して高い正電圧に保たれる。電子−放出要素の組のうちの１つが、対応する行ライン１３０および列ライン１２０の電圧を調整して、適切に励起されるとき、その組の要素４０は電子を放出し、この電子は、対応する色の蛍光体の目標部分３０に向かって加速される。そして、励起された蛍光体が光を放出する。（一実施形態ではほぼ６０ＨＺの割合で行われる）画面フレームの再生サイクル中に、ただ１つの行だけが一度に活動状態になり、オンタイム期間の間にその１つの行のピクセルを照らすように列ラインが通電される。これは、行ごとに時間的に連続して行われ、遂には、すべてのピクセル行が照らされてフレームをディスプレイする。上述のＦＥＤ構成は、以下の米国特許により詳細に説明されている。すなわち、１９９６年７月３０日にＤｕｂｏｃ，Ｊｒ．他に発行された米国特許第５，５４１，４７３号、１９９６年９月２４日にＳｐｉｎｄｔ他に発行された米国特許第５，５５９，３８９号、１９９６年１０月１５日にＳｐｉｎｄｔ他に発行された米国特許第５，５６４，９５９号、１９９６年１１月２６日にＨａｖｅｎ他に発行された米国特許第５，５７８，８９９号。これらの特許は、参照として本明細書に組み込む。
【００１５】
本発明の一実施形態では、ＦＥＤ中の１つまたは複数のピクセルが試験用ピクセルである。試験用ピクセルのエミッタは、（例えば、陰極の）その他のピクセルエミッタと同じ方法で製造されるので、試験用ピクセルは、機械的、機能的、および動作的に、画像を表示するために使用されるピクセルに実質的にそっくりである。
【００１６】
試験用ピクセルの性能を監視する様々な実装がある。一実施形態では、基本的な帰還アルゴリズムを使用することができる。本発明の一実施形態では、試験用ピクセルのエミッタに供給される電流が、特定の駆動電圧（例えば、「オン」電圧、最大電圧、その他）で測定される。測定された電流は、特定の駆動レベルに対して予め設定された予測電流測定値と比較される。電流レベルが一致する場合、駆動レベルに調整が加えられない。しかし、測定電流と予測電流とが一致しない場合、適切な調整が駆動レベルに加えられる。例えば、測定電流が予測電流よりも少ない場合には、予測電流に合うように測定電流を上げるために、駆動レベルの調整が行われる。実際に電流を測定する様々なメカニズムがある（例えば、標準的な電流測定技術が備えられるが、本発明を不明確にしないために詳細に議論しない）。
【００１７】
他の実施形態では、試験用ピクセルのエミッタの照度が特定の駆動電圧（例えば、「オン」電圧、最大電圧、その他）で測定される。測定された照度は、特定の駆動レベルに対して予め設定された予測照度測定値と比較される。照度レベルが一致する場合、駆動レベルに調整が加えられない。しかし、測定照度と予測照度とが一致しない場合、適切な調整が駆動レベルに加えられる。例えば、測定照度が予測照度よりも少ない場合、予測照度に合うように測定照度を上げるために、駆動レベルの調整が行われる。
【００１８】
本発明は、連続的な調整に適応することができる。他の実施形態には、定量化されたレベルの段階がある。いったん測定電流が境界を越えると、境界は特定の値に進み、測定電流が再びその境界を越えるまで、そこで動かない。１つの例示の実施形態では、解析の誤差帯に対しての備えがある。例えば、電流が所望値の予め設定されたパーセント値の範囲内にある限り、供給が変化しない。
【００１９】
図３は、本発明のＦＥＤ３００の一実施形態の配線略図である。ＦＥＤ３００は、行３２１から３２６まで、および列３１１から３１６までに並べられたピクセル（例えば、３７１および３５１）を含む。行３２２から３２５および列３１２から３１５のピクセルは、活動表示領域３２０に含まれる。行３２１および３２６のピクセルは、活動表示領域になく、したがって感知される表示に影響を及ぼさないので、「ダミーのピクセル」と考えられる。本発明の一実施形態では、試験用ピクセルはダミーの行に含まれる。
【００２０】
他の実施形態では、試験用ピクセルは活動領域に含まれる。本発明の１つの例示の実施形態では、活動領域の中の行（例えば、活動表示領域の境界の縁に近い行）が、試験用の行として使用される。たとえ試験用の行が活動領域にあっても、境界の行であり、それで表示の影響は最小である。
【００２１】
本発明の一実施形態では、ＦＥＤの試験用ピクセルと他のピクセルとの間に相関関係が存在する。例えば、試験用ピクセルは、他のピクセルと（例えば、同じ列の）同じ駆動源に含めることができ、そして、同じドライバ（例えば、同じ陰極）の試験用ピクセルおよび活動領域ピクセルに放出特性の同様な変化が起こる。したがって、試験用ピクセルのエミッタについての予想電流と測定電流との間の変化を補償するように、同じドライバ（例えば、同じ陰極）のピクセルの駆動が調整される。本発明の一実施形態では、ＦＥＤは、試験用ピクセルに高電圧電位を供給する高電圧電源を含み、電源が供給している電流が監視される。
【００２２】
本発明の１つの例示の実施形態では、試験動作を通常の画像表示と区別することができる。例えば、ダミー行の試験用ピクセルは特定のレベルで駆動することができ、放出電流および／または照度は活動領域のピクセルと無関係に監視することができる（例えば、ダミーピクセルは、活動領域の外にある）。本発明の一実施形態では、試験用エミッタと活動表示エミッタとからの放出は、時間に関して区別される。１つの例示の実装では、第１の継続時間では、画像の活動表示に含まれるエミッタ（例えば、活動領域のエミッタ）からの放出が可能であり、そして第２の継続時間では、試験動作に含まれるエミッタ（例えば、ダミー行のエミッタ）からの放出が可能である。
【００２３】
本発明は様々な実装に容易に適応することができる。例えば、既存のビデオ標準には垂直ブランキング期間があり、本発明は様々なビデオ標準に適合することができる。大抵のビデオディスプレイは回帰時間を有し、一般に時間情報の総量の２％から１５％までのどこかが表示される。歴史的には、回帰時間はＣＲＴの標準回帰時間が元になっているので、一般にディスプレイがオンである時間の８０から９０％で、ディスプレイは活動領域から放出し、使用者は映像を見ている。時間の残り公称１０パーセントかそのくらいが回帰時間であり、活動領域は放出していない。本発明の一実施形態では、回帰時間は、試験エミッタまたは監視エミッタ（例えば、ダミー行のエミッタ）から放出を行うように選ばれる。１つの例示の実装では、その回帰時間中に、試験エミッタに供給される電流が測定され、かつ標準の予め設定された値と比較される。測定値が高いかまたは低い場合には、画像の表示中に駆動レベルに対応する調整が加えられる。
【００２４】
本発明の一実施形態では、試験用ピクセルは回帰期間ごとには活動化されず、電力の節約を可能にする。試験用ピクセルは、電流が消費または消散されない通常の垂直ブランキング期間に動作する。このことは電力に敏感な状況で特に有益であり、この状況では、妥協がクリティカルであるかもしれない。電力消費がクリティカルである一実施形態では、試験は、連続的ではなくて要求に基づいて行われる（例えば、５フレーム〜１００フレームごとに一度）。
【００２５】
実際的な見地から、放出の変化を補償する連続した調整が、すべての用途で必要というわけではない。いくつかの用途では、陰極は、（例えば、ミリ秒程度の）短い時間で変化しない。むしろ、放出の変化は、日のようなずっと長い期間で測定されるので、すべてのフレームで調整を加える必要は必ずしもない。補償情報に関して行うことができる様々なことがある。例えば、補償情報は実時間でランさせることができ、および／または永久的なまたは不揮発性の記録を作ることができる。例えば、ＦＥＤがオフになったとき、ＦＥＤがオンになる次回まで電子が補償をしないようにしても、情報は格納される。
【００２６】
図４は、本発明が実施されるコンピュータシステム４００の一実施形態のブロック図である。コンピュータシステム４００は、アドレス／データバス４１０、中央処理装置ユニット４０１、主メモリ４０２（例えば、ランダムアクセスメモリ）、スタティックメモリ４０３（例えば、読出し専用メモリ）、取外し可能なデータ記憶デバイス４０４、ネットワークインターフェースカード（ＮＩＣ）４０５、入力デバイス４０６、カーソルデバイス４０７、ディスプレイモニタ４０９、および信号通信ポート４０８を含む。アドレス／データバス４１０は、中央処理装置ユニット４０１Ａ、４０１Ｂ、４０１Ｃ、主メモリ４０２、スタティックメモリ４０３、取外し可能なデータ記憶デバイス４０４、ネットワークインターフェースカード４０５、入力デバイス４０６、カーソルデバイス４０７、ディスプレイモニタ４０９、および信号通信ポート４０８に結合されている。
【００２７】
コンピュータシステム４００の部品は、様々な機能を実現するように協働して機能し、この機能には、不利な放出変化を自動調整してディスプレイモニタ４０９に情報を表示することがある。アドレス／データバス４１０は情報を通信し、中央処理装置４０１は情報および命令を処理し、主メモリ４０２は中央処理装置４０１のための情報および命令を格納し、そして、スタティックメモリ４０３は静的な情報および命令を格納する。また、取外し可能なデータ記憶デバイス４０４は、情報および命令を格納する（例えば、大情報蓄積装置として機能する）。ＮＩＣ４０５は、信号通信ポート４０８を介したコンピュータシステム４００とのやりとりの情報の通信を調整する。ディスプレイデバイス４０９は、不利な放出特性を自動調整して情報を表示する。カーソルデバイス４０７は、ディスプレイデバイスの情報を指示するかまたは強調するメカニズムを与える。入力デバイス４０６は、情報を入力するメカニズムを与える。
【００２８】
図５は、本発明の放出補償方法５００の一実施形態の流れ図である。
【００２９】
ステップ５１０で、電圧ドライバが供給される。本発明の一実施形態では、電圧ドライバは高電圧電源からの信号である。
【００３０】
画像は、ステップ５２０中に、およびステップ５２０の活動表示時間中に、活動ピクセルで表示される。本発明の一実施形態では、ピクセルは電界放出陰極で作られる。
【００３１】
ステップ５３０の非活動表示時間中に、試験用ピクセルで放出が生じる。本発明の一実施形態では、回帰時間が非活動掃引時間として使用される。本発明の一実施形態では、試験用ピクセルは活動ディスプレイ領域にない。
【００３２】
ステップ５４０で、試験領域での放出が正確かどうかの決定が行われる。本発明の一実施形態では、試験用ピクセルまたはダミーのピクセルからの電流が測定される。本発明の一実施形態では、試験用ピクセルまたはダミーのピクセルからの照度が測定される。本発明の１つの例示の実装では、測定された電流および／または照度が、予め決定されたレベルと比較される。
【００３３】
ステップ５５０で、所望のレベルを実現するようにピクセルに調整が加えられる。本発明の一実施形態では、放出電流および／または照度を増すように、または減らすように、それぞれドライバ信号の電圧レベルを変化させて上げるかまたは下げる。
【００３４】
以上のことをまとめると、この明細書では、ＦＥＤ性能を監視し、かつディスプレイの放出生成に関連した不利な影響を補償するシステムおよび方法が開示される。本発明のＦＥＤ調整システムおよび方法は、回帰期間中に実時間放出特性監視を実現することができる。１つの本放出補償方法では、活動表示領域に含まれないダミーのピクセルを一定レベルで駆動し、その結果（例えば、放出に関連した電流）を予想される特定の予め設定された量と比較する帰還型プロセスが使用される。電流が高すぎる場合には、電圧供給が駆動レベルに減らされ、または、電流が低すぎる場合には、電圧が高くされる。ドライバ電圧が供給され、活動表示時間中に活動ピクセル領域で画像が表示される。非活動表示中に試験用ピクセルで放出が生成され、試験領域での放出が正確であるかどうかの決定が行われる。放出が正確でない場合、所望のレベルを実現するように、ピクセルに調整が加えられる。
【００３５】
このように、本発明は、ディスプレイの放出特性の不利な変化を補償するように供給電圧を調整して、ディスプレイによって情報の理解可能な鮮明な表示を容易にするシステムおよび方法である。例えば、本発明に従って、電流がいくらかを（または、電流がいくらかのアナログを）実際に測定して、どんな環境条件が変化を引き起こしているかを決定することに関連した問題が起こらなくする。本発明は、変化がどうかの正確な測定を実現し、そして、電流を予め設定されたまたは「正常な」条件に戻すように、駆動の増加かまたは減少かのどちらかを助長する。
【００３６】
本発明の特定の実施形態についての上記の説明は、例示と説明の目的のために示した。上記の説明は、網羅的である意図でなく、または本発明を開示されたそのもの形に制限する意図でない。そして、明らかに、多くの修正物および変形物が上の教示を考慮して可能である。本発明の原理およびそれの実際の応用を最もよく説明し、それによって当業者が、考えられた特定の使用に適しているような様々な修正に関して、本発明および様々な実施形態を最適に使用することができるようにするために、実施形態を選び、また説明した。本発明の範囲は、本明細書に添付された特許請求の範囲および同等物によって定義される意図である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の一実施形態のＦＥＤフラットパネルディスプレイの実装の一部の断面図である多層構造体を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態で使用される例示のＦＥＤ画面の一部を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態である調整ＦＥＤを示す図である。
【図４】本発明のＦＥＤを使用するコンピュータシステムの一実施形態を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施形態である放出補償方法を示す流れ図である。
【図１】
2006507532.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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