(57)【要約】変成器をテストするためのテストプログラムを生成し、編集し、および／または実行するとんもおよび方法が提供される。システムは、ユーザがテスト命令のシーケンスを有するテストプログラムを生成または編集するために所望のテスト命令および既存のテスト命令のシーケンスを選択することを許容する入力を含んでいる。プロセッサは予め定められた順序で行われる命令を生成することによりプログラムを実行する。
2006500551.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
変成器のテストのためのシステムにおいて、
変成器テストシーケンスを実行するように構成されている変成器テストエンジンを含むプロセッサと、
前記プロセッサに結合されて制御命令を出力する制御装置と、
前記制御装置と変成器との間に結合されて前記制御命令に応答して制御装置に対する電力を切換える切換装置と、
前記変成器と前記プロセッサとの間に結合されて前記変成器から測定結果を受取り、前記プロセッサにその測定結果を供給する測定装置とを具備しているテストシステム。
【請求項２】
さらに、前記プロセッサに結合されて変成器の明細を記憶する記憶装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項３】
さらに、変成器のテストシーケンスを記憶する記憶装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項４】
プロセッサはさらに、変成器のテストシーケンスのカスタム化を可能にするテストシーケンス編集装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項５】
さらに、テストシーケンス編集装置中への命令を受信するた目の入力装置を具備している請求項４記載のシステム。
【請求項６】
変成器のテストシーケンスは複数のテスト命令および関連するパラメータを含んでいる請求項１記載のシステム。
【請求項７】
変成器テストエンジンを含むプロセッサに変成器を接続し、
前記プロセッサ中にカスタム化された変成器テストシーケンスをロードし、
変成器テストエンジンによりカスタム化された変成器テストシーケンスを実行するステップを含んでいる変成器のテスト方法。
【請求項８】
さらに、プロセッサに実行の結果を提供し、
プロセッサに変成器明細を提供し、
変成器が結果の応答および変成器明細を合格させるか否かを決定する請求項７記載の方法。
【請求項９】
さらに、決定ステップに応答する指示装置を付勢するステップを含んでいる請求項８記載の方法。
【請求項１０】
さらに、記憶装置中に結果を記憶するステップを含んでいる請求項８記載の方法。
【請求項１１】
さらに、ロードに先立ってカスタム化された変成器テストシーケンスを受取るステップを含んでいる請求項７記載の方法。
【請求項１２】
カスタム化された変成器テストシーケンスの実行は、シーケンスの１つの終端に到達するまでおよび失敗命令が受信されるまで関連したパラメータを有する複数のテスト命令を順次実行する請求項７記載の方法。
【請求項１３】
カスタム化された変成器テストプログラムを生成または編集する方法において、
複数の変成器テスト命令から少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスを選択し、
選択されたテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのそれぞれに対して少なくとも１つの関連するパラメータを提供し、
各テスト命令を実行する順序を決定するステップを含んでいる変成器テストプログラムの生成または編集方法。
【請求項１４】
さらに、各テスト命令を実行する順序を記憶するステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
さらに、順序にしたがってテスト命令を実行するステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１６】
さらに、入力命令を受信し、前記選択するステップは入力命令に応答して実行されるステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１７】
さらに、順序に基づいた変成器テストシーケンスを生成するステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１８】
複数の変成器テスト命令から少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスを選択し、
選択されたテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのそれぞれに対して少なくとも１つの関連するパラメータを提供し、
各テスト命令を実行する順序を決定するステップを実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有しているコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項１９】
さらに、各テスト命令を実行する順序を記憶するためのコンピュータの実行可能な命令を含んでいる請求項１８記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２０】
さらに、順序にしたがってテスト命令を実行するためのコンピュータの実行可能な命令を含んでいる請求項１８記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２１】
さらに、入力命令を受信するためのコンピュータの実行可能な命令を有しており、前記選択するステップは入力命令に応答して実行される請求項１８記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２２】
さらに、順序に基づいて変成器テストシーケンスを生成するためのコンピュータの実行可能な命令を有している請求項１８記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２３】
コンピュータの実行可能なコンポーネントを有するコンピュータ読取り可能な記憶媒体を有するコンピュータで構成された装置において、
コンピュータの実行可能なコンポーネントは、変成器のテストエンジンにより変成器で実行される複数の変成器テストを含む変成器テストシーケンスを記憶するデータ記憶装置と、
変成器テストシーケンスを読取り、変成器テストシーケンスにしたがって動作するために変成器テストエンジンに命令するプロセッサとを具備しているテストシステム。
【請求項２４】
データ記憶装置はさらに、変成器の明細を記憶する請求項２３記載のシステム。
【請求項２５】
プロセッサはさらに、変成器のテストシーケンスを生成して編集する命令を受信する請求項２３記載のシステム。
【請求項２６】
変成器のテストシーケンスは複数のテスト命令および関連するパラメータを含んでいる請求項２３記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変成器テストに関し、特に、変成器テストのための自動化されたテスト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
変成器は製造業者および電力利用者によってテストされる。そのテストには極性、位相関係、コア損失、および変成器レシオが含まれる。しかしながら、全てのテスト者により行われる一般的に共通するテスト手順は存在しない。異なった基準方式にしたがい、時には変成器製造業者が自分のカスタムのテストシーケンスを行う。多くの場合に顧客はあるテストシーケンスにしたがうことを製造業者に要求し、多くの異なる顧客は注文の後で製造業者の変成器テスト設備では容易ではない変更を行う。さらに、異なったシステムは典型的に異なったテストを行うことを必要とされる。
【０００３】
自動化された試験装置は予め定められたテスト命令のシーケンスを有するテストプログラムにしたがって変成器を試験する。換言すればテストプログラムは編集されることができない、或いは編集が非常に困難であるテスト命令の固定されたシーケンスを実行する。例えば、テストプログラムが巻線抵抗テストを最初に動作するようにプログラムされた変成器テストを選択し、その後、あるパラメータセットにおける電圧レシオ（電圧比）テストを選択し、その後、各時間に変成器テストが選択されるならば、巻線抵抗テストが最初に実行され、第２に電圧レシオテストが行われる。したがって、テスト命令シーケンスは、巻線抵抗テストを特定するテスト命令のシーケンスが電圧レシオテストを特定するテスト命令シーケンスの前にリストに配置されなければならない。テスト命令の固定されたシーケンスを有するテストプログラムを有する場合の欠点は、ユーザが変成器テストプログラムを最適にするために特定のシーケンスを編集または生成する柔軟性を有しないことである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
それ故、種々のテストおよびテストシーケンスを実行することのできるテストエンジンと共にカスタム化されたテストプログラムを編集または生成するシーケンス編集装置を有する自動化されたテスト試験装置が要望されている。さらに、別々の制御装置またはシステムを必要とせずに多重テストを行うことのできる１つのテストシステムを得ることも望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、任意のテストパラメータを有する標準的またはカスタム化された、任意のテストシーケンスを試験装置が実行することを可能にする変成器テストのための変成器テストシーケンス編集装置に関する。変成器テストシーケンスエンジンはまた、試験装置がテストシーケンス編集装置を使用して生成されたテストを実行し、テスト結果を監視することを可能にする。自動化されたテストシーケンス編集装置およびエンジンは変成器試験装置が任意の順序でテストシーケンスを編集することを可能にする。試験装置はまた任意のまたは全てのテストパラメータを変更することを可能にする。
【０００６】
本発明の実施形態によれば、変成器をテストするためのシステムは、変成器テストシーケンスを実行するように構成されている変成器テストエンジンを含むプロセッサと、このプロセッサに結合されて制御命令を出力する制御装置と、制御装置と変成器との間に結合されて前記制御命令に応答して制御装置に対する電力を切換える切換装置と、変成器と前記プロセッサとの間に結合されて前記変成器から測定結果を受取り、前記プロセッサにその測定結果を供給する測定装置とを具備している。
【０００７】
本発明の１特徴によれば、変成器の明細を記憶するための記憶装置がプロセッサに結合されている。変成器のテストシーケンスを記憶するために記憶装置が設けられている。
【０００８】
本発明の別の特徴によれば、テストシーケンス編集装置によって変成器のテストシーケンスのカスタム化が可能にされる。
【０００９】
本発明の別の実施形態によれば、変成器のテスト方法は、変成器テストエンジンを含むプロセッサに変成器を接続し、そのプロセッサ中にカスタム化された変成器テストシーケンスをロードし、変成器テストエンジンによりカスタム化された変成器テストシーケンスを実行する。
【００１０】
本発明の１特徴によれば、実行の結果は変成器明細と共にプロセッサに与えられる。それは変成器がテスト結果に対する応答および変成器明細を合格（パス）させるか否かを決定する。
【００１１】
本発明の別の実施形態によれば、カスタム化された変成器テストプログラムを生成または編集する方法は、複数の変成器テスト命令から少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスを選択し、選択されたテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのそれぞれに対して少なくとも１つの関連するパラメータを提供して各テスト命令を実行する順序を決定する。
【００１２】
本発明の１特徴によれば、各テスト命令を実行する順序は記憶され、その順序にしたがってテスト命令が実行される。  変成器テストシーケンスはその順序に基づいて生成される。
【００１３】
上述の、およびその他の本発明の特徴は、添付図面を参照にした以下の詳細な説明により明らかにされるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明は、試験装置が任意のテストパラメータを有する標準的またはカスタム化された、任意のテストシーケンスを実行することを可能にする変成器テストのための変成器テストシーケンス編集装置に関する。変成器テストシーケンスエンジンはまた、試験装置がテストシーケンス編集装置を使用して生成されたテストを実行し、テスト結果を監視することを可能にする。自動化されたテストシーケンス編集装置およびエンジンは変成器試験装置が任意の順序でテストシーケンスを編集することを可能にする。試験装置はまた任意のまたは全てのテストパラメータを変更することを可能にする。例えばグラフィックユーザインターフェースを使用してテストシーケンスを生成した後に、試験装置はそのシーケンスを保存することができる。
【００１５】
図１は変成器をテストするために使用される本発明による例示的なシステムのブロック図である。本発明はまた他の形式の電子装置のテストに使用されてもよいことを認識すべきである。変成器テストシステム100 は、プロセッサ110 、記憶装置115, 120、制御装置130 、スイッチ装置140 、測定システム150 を備えている。テストされる変成器200 はスイッチ装置140 と測定システム150 との間に配置されている。スイッチ装置140 は電源145 に結合され、テスト期間中変成器に電力を供給する。記憶装置115, 120、制御装置130 および測定システム150 はバス190 によりプロセッサ110 に結合されている。１実施形態では、プロセッサ110 はインテル社により製造されたPentium プロセッサを有するＩＢＭ相当パーソナルコンピュータであり、バスは汎用インターフェースバスである。
【００１６】
図２に示されるように、プロセッサ110 は入力／出力装置112 と、記憶装置113 と、ディスプレイ装置114 とにデータバス117 によって結合されたＣＰＵ111 を備えている。入力／出力装置112 はキーボードまたはマウスのような文字数字指向の入力／出力装置およびアナログデジタル変換器およびデジタルアナログ変換器のような実時間データ指向入力／出力装置を含んでいる。記憶装置113 はランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読取り専用メモリ（ＲＯＭ）、およびディスク駆動装置のような大容量メモリ装置を含んでいる。ディスプレイ装置114 は例えばコンピュータ端末またはモニタでよい。データバス117 はＣＰＵ、記憶装置または周辺装置との間の通信のために使用される。
【００１７】
本発明によれパ、プロセッサ110 はテストシーケンス編集装置を具備し、それは入力命令のエントリによりテスト命令のシーケンスを有する変成器テストプログラムをユーザがカスタム化することを可能にする。
【００１８】
記憶装置115, 120はＲＡＭ、ＲＯＭ、またはディスク駆動装置のような大容量メモリ装置でよく、別々でもよく、或いは同じ記憶装置内に配置されてもよい。記憶装置115 は変成器明細を含んでおり、記憶装置120 は変成器テストの結果を受信して記憶し、それは将来の研究および解析のために使用されることが好ましい。
【００１９】
スイッチ装置140 は制御装置130 によって制御されて電源145 からテストされる変成器200 へ電力を供給する。測定システム150 は変成器200 から測定値を受取り、その測定値をプロセッサ110 に供給する。プロセッサ110 はその測定値を処理してその結果を記憶装置120 その他の場所に記憶する。
【００２０】
変成器テストプログラムは、個々のテスト命令からの新しいテスト命令のシーケンス、或いはその他のテスト命令の既存のシーケンスをプロセッサ110 中にあるテストシーケンス編集装置により生成または編集することによってカスタム化されることができる。テスト命令のシーケンスは予め定められた順序で実行されるテスト命令を含んでいる。ユーザは変成器をテストするために独立したテストシーケンスとして、或いは大きいテストシーケンスの一部としてシーケンスを生成し、将来の使用のためにこれらのシーケンスを記憶する。それ故、個々のテスト命令ならびに既存のテスト命令シーケンスはビルディングブロックとして使用されて変成器テストプログラムを生成または編集することができる。換言すれば、テスト命令の新しいシーケンスはそれ自身のプログラムとして動作することができ、或いは別のテストプログラムに対するビルディングブロックとして使用されることができる。したがって、シーケンス編集装置は既存のテスト命令および既存のテスト命令のシーケンスとの組合わせからテスト命令の新しいシーケンスを生成する柔軟性を与える。テスト命令はテストシステムのハードウエアのある特徴の制御またはデータの処理のいずれかのためにプロセッサにより実行される命令を含んでいることに注意する必要がある。
【００２１】
ユーザが入力／出力装置112 を介して関連するパラメータと共に所望のテスト命令或いは既存のテスト命令のシーケンスを選択することによってテストプログラムを生成、または編集した後、テストプログラムは記憶装置113 またはその他の記憶装置にファイルとして保存される。
【００２２】
テストシーケンスの構築に使用された命令には、巻線抵抗テスト、電圧レシオテスト、磁化電流テスト、負荷テスト、誘起した過電圧テスト等が含まれるが、それらに限定されない。付加的なテストについては以下説明する。これらのテストに作用するために設定されるパラメータには、以下説明するようにテスト電圧、テスト期間、ラムププロフィール、温度範囲等が含まれるが、それらに限定されない。
【００２３】
図３は本発明によるカスタム化された変成器テストプログラムの生成または編集方法のフローチャートである。命令はステップ300 でテストプログラムの生成または編集のためにプロセッサ中に入力される。特に、ユーザは例えばユーザインターフェースを介してプロセッサ110 中にエントリ命令を入力することによりテスト命令またはテスト命令の予め存在するシーケンスを選択する。この時点で、ユーザは例えばグラフィックユーザインターフェースを介して命令またはオブジェクトを入力することにより行われるテストを入力または選択する。ユーザは新しいテストを処理し、または前に選択され、入力され、および／または記憶されたテストを使用する。
【００２４】
次のステップ310 で、ユーザはテストの実行中に使用されるテストパラメータ（テスト電圧、テスト期間、ラムププロフィール、温度範囲等）を入力する。プログラム可能なテスト装置はコンピュータの制御下で任意の特定のテスト状態に対する所望のパラメータおよび条件を設定し、所望の測定値を設定するために使用される。この時点で、テストはテストプログラム中に入力された順序で行われる。この順序は例えばステップ330 で以下説明するように変更されることができる。
【００２５】
ステップ320 で、ユーザがテストシーケンスに含まれるべき付加的なテストを選択することを望んでいるか否かの決定が行われる。イエスであれば、プロセスはユーザが全ての所望のテストおよびパラメータを入力するまでステップ300 に戻る。ユーザは他のテスト命令および／または変成器テストプログラムに含ませることを希望している既存のシーケンスの実行の順序の選択および決定を続ける。
【００２６】
ユーザが所望のテストおよびパラメータの入力を完了した後、随意のステップ330 でユーザはテストプログラム中の選択されたテストの実行の順序（すなわち選択されたテストが実行されるシーケンスの再順序）を再決定することができる。換言すれば、ユーザは選択されたテストまたはテスト命令の既存のシーケンスがテストプログラム中の他のテストまたはテスト命令の既存のシーケンスに関係して実行されなければならないときを特定する。このようにしてシーケンス編集装置は最も可能性のあるテスト命令またはテスト命令の既存のシーケンスを特定することを可能にして、故障を生じる可能性のないテスト命令またはテスト命令の既存のシーケンスの前に最も故障を生じる可能性のあるテスト命令またはテスト命令の既存のシーケンスを特定することができる。
【００２７】
この時点において、ユーザは実行可能なカスタム化された変成器テストプログラムを生成する。その後、テストプログラムはテストエンジンによりステップ400 で実行され、カスタム化されたテストプログラムに変成器が合格するか失敗するかが決定される。
【００２８】
テスト命令は任意のコンピュータ言語で構成されることができる。本発明の１実施形態では、テスト命令はナショナルインスツルメント社によるソフトウエアLabVIEW を使用して実行される。
【００２９】
図４は本発明による例示的な変成器テストプログラムによる例示的な変成器テストシーケンス編集装置のスクリーンの表示である。テストシーケンス405 は特に実行の順序でパラメータによる種々のテストを含んでいる。示されたパラメータには例えばＴＶ（電圧テスト）、Ｔｒ（基準温度）、ＴＭ（最大温度）、Ｔｍ（最小温度）、Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３（測定１，２，３）、Ｔｐ（タップ）、ＴＣ（電流テスト）、ＴＤ（期間テスト）、ＡＴ（自動）、Ｒ１，Ｒ２（ラムプアップ）Ｃｒ（補正）が含まれている。
【００３０】
命令410 に含まれている“新しいシーケンス”はユーザがテストのために新しいシーケンスを入力することを可能にしており、“オープンシーケンス”はユーザが前に保存されたシーケンスおよびリストを開くことを可能にしており、“保存シーケンス”はユーザがテストのフォーマットを保存することを可能にしている。“保存シーケンス”が選択された後、ユーザは“オープンシーケンス”命令によりそれを選択することにより他の変成器または他のテストシーケンスについての同じテストを付勢することができる。
【００３１】
テスト形態420 はユーザに選択アクセスを与えるために設けられている。テストネームを選択することによりテストは編集および実行のためにシーケンス中に含まれる。
【００３２】
図４によれば、行われる第１のテストはタップ１による４０度Ｃの最大温度パラメータおよび１０度Ｃの最小温度パラメータによるレシオテストである。順序中のレシオテストに続いて行われる付加的なテスト（およびパラメータ）もまた示されている。種々のテストの実行後、システムは変成器がテストに合格するか失敗するか、または性能の特定のグレードまたはレベルに分類されるかを決定することができる。
【００３３】
例示的に適用されたテスト設定スクリーンの表示が図５に示されている。適用されたテストは磁界の絶縁をテストするものである。高いＡＣ電圧がブッシングとアースとの間に供給される。高電圧または低電圧のいずれかが供給される。どちらが使用されるかの選択はシーケンス編集装置スクリーンで得られる。スクリーンではユーザは高電圧を供給するか、低電圧を供給するかを選択することができる。
【００３４】
図５を参照すると、公称のＢＩＬはブッシングの基本絶縁レベルである。テスト電圧はユーザの提供した係数を基本絶縁レベルと乗算することにより得られ、そのユーザの提供した係数はキーボード或いはテスト設定スクリーン上の選択のような入力装置によって入力される。
【００３５】
テスト期間に関して、ユーザはテストが終わるまでの時間量を入力することができる。テスト期間は１００％の振幅において水平線515 によりラムププロファイル500 上に表される。
【００３６】
ラムププロファイル500 は曲線の形態で表される。振幅の０％から約９０％の範囲の第１の実質上直線の線505 はラムプアップ１の速度である。この曲線の傾斜は急峻であり、したがって比較的短時間で立上がり、したがって高速度で上昇する。曲線が約９０％の振幅に到達したとき、速度は減少する。この第２の曲線510 は傾斜は急峻ではなく、比較的長い時間で上昇する。曲線が約１００％に到達したときラムプアップ速度はゼロになり、その時テストが行われる。水平線515 はテスト期間を表している。テストが終了すると、ラムプダウンが負の傾斜の520 で表される曲線で示されるように最大速度で開始する。曲線は最終的に０％に到達し、特定のテストは終了する。
【００３７】
ラムプアップ１は速度％／秒のテストの性質の方向への振幅の立上りである。この範囲は０％／秒乃至２５％／秒の範囲であることが好ましく、ユーザにより選択可能である。この速度は曲線が必要な振幅の約９０％に到達するまで続けられる。
【００３８】
ラムプアップ２はテストに到達するまでの９０％乃至１００％の範囲の速度であり、振幅が１００％に到達するとテストが開始される。ラムプアップ２の範囲はテストに向けての接近速度を遅くするようにラムプアップ１よりも小さいことが好ましい。
【００３９】
温度最大はテストが行われる最大温度であり、温度最小はテストが行われる最小温度である。ユーザはグラフィックユーザインターフェースを介して、または値のタイプいるにより所望の温度範囲を設定することができる。
【００４０】
例示的な誘起テスト設定スクリーンの表示が図６に示されている。誘起テストは変成器の絶縁のテストである。ここではユーザは電圧を２倍にし、同時に周波数も２倍にする。周波数を２倍にしなければ磁界は過大になり、変成器は破壊され、したがって、電圧を２倍にするときには低い磁界を維持するために周波数は２倍以上にすることが好ましい。
【００４１】
テスト電圧はユーザの選択した定数を定格電圧と乗算したものである。この定数は所望のテスト電圧を得るために変成器の定格電圧と乗算される。
【００４２】
テスト期間はサイクルで測定され、約５２００乃至９２００サイクルの範囲であることが好ましい。ユーザが選択し、エントリは例えばノブ、スクロールバー、またはノブの下のボックス中でそれをタイプすることによって行われる。
【００４３】
ラムプアップ１は適用テストのラムプアップ１に類似している。電圧はユーザにより指定された速度で増加される。ラムプアップ１は電圧が必要な電圧の約９０％まで増加する速度である。ラムプアップ２は電圧が約９０％から所望のテスト電圧に到達まで増加する速度である。ラムプアップ２の速度はラムプアップ１の速度よりも遅いことが好ましく、それにより高い電圧にゆっくりと正確に接近することを確実にする。これもまたユーザによって設定される。
【００４４】
テスト動作のための最大および最小温度はユーザによって設定されることが好ましい。温度が最小温度より低いか、最大温度より高い場合には、テストは行われない。
【００４５】
図７は例示的な負荷テスト設定スクリーンの表示を示している。負荷テスト設定では電流により生成される負荷損失を測定する。低電圧側は短絡され、電圧は高電圧側で上昇して定格電流に達する。その後、電力が測定され、それは負荷損失量を構成している。
【００４６】
ユーザは定格電流ではなく、公称電流の所望の割合の電流においてテストを行うことを選択できる。ユーザは公称電流の所望の割合が何％であるかを選択することができる。
【００４７】
安定範囲はテスト電流のある割合（％）である。電流は行われるテストに対して安定であることが好ましい。ユーザはテストが安定に維持されるためにテスト電流の所望の％を選択する能力を与えられる。
【００４８】
公称タップは、電圧がテスト電圧自体であるタップである。ユーザはタップを選択することができ、その場合に各タップはテスト電圧のある割合であり、したがってユーザは所望の電圧にしたがってタップを選択できる。例えば、タップが２．５％に設定されるならば、電圧はテスト電圧の２．５％になる。全部の巻線がテストされるのであれば、最高のタップを選択するのが有効である。
【００４９】
Ｔref は負荷損失における温度が比較されるユーザの選択可能な基準温度である。最大および最小温度はテストが行われる範囲の終端点である。これらの温度はユーザが選択可能である。
【００５０】
例示的な磁化電流テスト設定が図８に示されている。高い電圧が減磁のために変成器の高電圧側に供給される。低電圧側は短絡されない。磁化電流テストは変成器の高電圧側に高電圧を供給することによりコアを減磁する。
【００５１】
ユーザは、例えばノブを動かし、或いはスクロールバーをスクロールし、または必要な値をタイプ入力することによって電圧を選択することにより変成器の高電圧側に供給される電圧を選択することができる。３８０Ｖはこの環境において高電圧側に供給される典型的な電圧であるが、ある範囲が与えられる。安定範囲はテスト電圧のある割合であり、ユーザが選択可能である。
【００５２】
例示的なメガーテスト設定スクリーンの表示が図９に示されている。メガーテストは比較的低い供給ＤＣ電圧による絶縁試験である。ユーザは抵抗値としてその試験結果を得る。テスト電圧はユーザにより選択可能であり、比較的低いＤＣ電圧がブッシングと接地点との間に供給される。ユーザは、例えばノブを動かし、或いはスクロールバーをスクロールし、または必要な値をタイプ入力することによって所望の電圧を選択することができる。テスト期間に関しては、ユーザはテストの長さに対して０乃至３００秒の範囲を選択することが好ましい。
【００５３】
抵抗の測定は、ユーザが所望する任意のときに任意の点で行われる。極性指数は例えば１５秒における抵抗値により例えば６０秒で抵抗値を割算して得られた数値である。ユーザは随意であるが抵抗値が測定される時間値、極性指数がユーザ入力により決定される時間値を選択することができる。
【００５４】
抵抗値が測定される時間はスクロールバーその他の入力装置により設定できる。ユーザは所望により多くの回数を付加することができる。テストが行われる最大および最小温度はユーザによって設定される。
【００５５】
例示的な無負荷テスト設定スクリーンの表示が図１０に示されている。無負荷損失は鉄損と呼ばれる磁界中の電力である。電力は低電圧側に供給され、磁界は正常の動作下であり、電力がその後測定される。
【００５６】
この場合、テスト電圧は公称電圧のある割合である。ユーザは供給される所望の公称電圧の割合を選択することができる。割合の範囲は約７０％乃至１１０％の間である。
【００５７】
安定範囲はユーザが選択可能であり、約１．０から５．０の範囲のテスト電圧の％である。図１０の“ckrrect ”で示されたボックスがチェックされた場合には、ユーザは自分で温度基準を設定する能力を与えられる。他方、このボックスがチェックされない場合には、Ｔref がグレーになり、基準温度が自動的に設定され、ユーザは自分で温度基準を設定する能力を有しない。Ｔref はテストを通じて固定された変数を維持するためにユーザにより行われる基準温度である。
【００５８】
動作されるテストに対する最大および最小温度はユーザが選択可能であることが好ましい。テストは最大および最小温度間にテストを通して維持される限り行われる。
【００５９】
例示的なレシオテスト設定スクリーンの表示が図１１に示されている。レシオテストはタップにしたがって固定されるレシオ（比率）を試験する。例えば、タップ１が５％に設定され、ユーザがタップ１を選択した場合には、レシオは５％増加する。テストされたタップはユーザにより入力されたタップを示し、これらのタップがテストを受ける。
【００６０】
消去ボタンはすでに付加されている任意の不所望のタップを消去する。これは例えば不所望のタップをハイライトで示し、消去ボタンをクリックすることにより行われる。もしも“all ”ボックスがチェックされるならば、全てのタップが選択され、ユーザは付加または消去にアクセスしない。
【００６１】
最大および最小温度はテスト温度の範囲を限定している。テスト温度が最大温度を越えるか、または最小温度よりも低くなった場合にはテストは行われない。ユーザは所望の最大および最小温度を設定することができる。
【００６２】
例示的な抵抗テスト設定スクリーンの表示が図１２に示されている。抵抗テストは変成器の３つの接続された巻線を測定して同じ抵抗値を有するか否かを決定する。定格電流の割合が設定できる。ユーザは定格電流の値の約１乃至１０％の範囲でテスト電流を選択することができる。
【００６３】
Ｔref は固定された変数を維持するために温度が比較される基準温度である。それは抵抗が比較される温度である。ユーザはこの温度を所望に応じて設定できる。
【００６４】
テストを受けるタップは表示される。ＩＥＣ標準規格は任意のタップに適用できる。ユーザがＩＥＣボックスをチェックしたならばテストはＩＥＣ標準規格にしたがって行われる。
【００６５】
変成器テストシーケンスを生成した後で、ユーザまたは試験者はテストシーケンステストエンジンを使用してテストシーケンスを開き、それを動作させることができる。テストシーケンステストエンジンはそのテストシーケンスで試験を行い、エラーメッセージおよびテスト状態のような試験結果およびシステムメッセージの指示を行う。図１３は本発明による例示的なテストエンジンスクリーンの表示を示している。
【００６６】
テストエンジンはテストシーケンスの全てのテストを入力された順番に、シーケンス中のテストパラメータにより実行する。エンジンは電源および測定装置のようなテスト装置と通信する。それはまた変成器明細および合格（パス）および落第（失敗）基準をデータベース（例えば図１の記憶装置115 ）からロードする。エンジンは各テストごとに合格／落第基準を決定し、全体のテストシーケンスに対するテスト結果を決定することが好ましい。
【００６７】
テストシーケンスエンジンは２倍または３倍電圧変成器で動作することができる。６個程度の高電圧または低電圧の組合わせに適合されることができる。テストシーケンスエンジンは、試験装置が詳細のサブスクリーンによってテストシーケンスの進行およびテストの結果を監視することを可能にする。それはまた、試験装置がハードウエアの状態およびハードウエア関連のエラーを監視することを可能にする。テストシーケンスエンジンはさらに、オペレータがあるテストをオフに切換えることを可能にする。これはテストシーケンス編集装置を使用しているテストシーケンスを変更することなくテストシーケンス中のあるテストをスキップすることを決定する場合に有効である。
【００６８】
選択されたテスト命令またはテスト命令の予め存在するシーケンスは、ＣＰＵ111 内に位置する記憶装置ｍ115 または113 のような記憶装置から検索される。ＣＰＵ111 はまた記憶装置115 から変成器明細を検索する。ＣＰＵ111 はテストプログラム中の各テスト命令をシーケンスの最初のテスト命令から順次に実行し、シーケンスの最後のテスト命令により終了することによって行われる。テスト命令のシーケンスはデータ流またはテスト命令のリストにより表されることができる。テストプログラムの実行中に、ＣＰＵ111 はテスト結果を生成し、それは典型的に変成器がテストプログラムに合格したか否かを示す。合格／落第はデータベースパラメータまたは標準方式に基づいてテストされている変成器に対して決定される。テスト結果はディスプレイ装置114 上に表示される。
【００６９】
あるテストがテストシーケンス中に失敗した場合には、テストシーケンスはそのテストを監視しているオペレータにより手作業で、或いはテスト基準がそのような場合には実を結ばないようにプログラムされている場合にはシステムにより自動的に失敗させることができる。テストエンジンは前にテストされた装置の追跡を維持する。前のテスト結果は記憶装置120 からアクセス可能であり、或いは結果が記憶されてもよい。
【００７０】
オペレータは、テストシーケンスの一部であってもテストを取消すことが可能である。これは変成器が再テストされ、幾つかのテストは必要のない場合に望ましい。
【００７１】
幾つかの変成器は３個までの高電圧側と２個までの低電圧側とを有している。テストエンジンは全ての組合わせを考慮して６つの別々の装置としてこれらの装置を取扱うことが好ましい。システムはそれらのそれぞれの合格／落第状態の追跡を維持することが好ましい。組合わせは他の組合わせのテストシーケンスとは異なったテストシーケンスを割当てられることができる。
【００７２】
ユーザは所望されたテスト命令および／または既存のテストの命令シーケンスを選択することによりテストプログラムをカスタム化し、その後ユーザインターフェースを介してエントリ命令をプロセッサ中に入力することにより選択された各テスト命令を実行する順序を決定することができる。本発明の１実施形態では、ユーザはマイクロソフト社のウインドウズ2000グラフィックユーザインターフェースによりプロセッサと対話することができる。しかしながら、本発明はまたウインドウズＮＴおよびＭａｃＯ／Ｓのような他のオペレーティングシステムを使用して実行することもできる。したがって、キーボードまたはマウスのように入力／出力装置の使用により、ユーザは所望するテスト命令またはテスト命令のシーケンスを選択することができる。ユーザはまたリストにより表されるシーケンスまたはテスト命令のストリーム中の正確な位置に各選択されたテスト命令を位置させることにより実行の順序を規定することができる。したがって、プロセッサはリストまたはストリーム中の第１のテスト命令によりスタートしてリストまたはストリーム中の最後のテスト命令により終わる各命令を順次実行する。
【００７３】
ユーザがユーザインターフェースを介してテストプログラムをカスタム化することを可能にすることにより、ユーザは彼の特別の要求に対して各テストプログラムを最適にする柔軟性を有する。例えば、ユーザが変成器に対するテスト時間を減少させることに利点を認めた場合には、彼は、最初に故障を生じる可能性の最も高いテスト命令またはテスト命令のシーケンスを実行するようにテストプログラムをカスタム化することができる。
【００７４】
ユーザに利用可能なテストはハードウエアのある特徴の制御またはデータの処理のいずれかである。例えばメガーテストサブシーケンスがテストプログラム中のユーザにより特定された場合には、プロセッサ110 は一連の命令を制御装置130 に送って変成器についてメガーテストを動作させる。各シーケンスが実行されるとき，各テスト命令はハードウエアにある機能を行わせ、またはテストの実行中データを処理させる。
【００７５】
図１３に示されるエンジンに関して、“ＣＴ”は現在の変成器のタップのことであり、“ＰＴ”は現在の電位タップのことであり、それら両者はユーザが選択可能である。設定タップは現在の変成器の現在位置である。出力モードもまた与えられる。
【００７６】
１実施形態において、スイッチングネットワーク中に３つのデッキがあり、５つのタップがある。そのような実施形態において、各デッキにはスイッチングネットワークが５つの位置の１つにあり、その位置はデッキ番号の下の区域に示されている。
【００７７】
メガースイッチはオンであるか、オフであるか、エラーであるかユーザに示す。可視遮断指示器は電源が付勢されているかを示している。短絡スイッチがオンに切替えられた場合には変成器の低圧側が短絡される。
【００７８】
抵抗Ｈスイッチは抵抗スイッチの高圧側の抵抗であり、抵抗Ｈスイッチが付勢されていないかを示す。抵抗Ｌスイッチは抵抗スイッチの低圧側の抵抗であり、抵抗Ｌスイッチが消勢されているか否かを示す。
【００７９】
指示器はまた電源の出力が付勢されているか否かを示すために設けられている。また、緊急回路が付勢されているかを示す指示器が設けられている。
【００８０】
エラーが発生すると、指示器が付勢されることが好ましく、説明はテキストボックス中に与えられていることが好ましい。例えば、もしも電力計が応答しない場合には赤のランプが点灯し、テキストボックス中の説明がユーザにエラーの情報を明らかにする。
【００８１】
この例では変成器の６つの組合わせが存在し、それは３つまでの高電圧側および２つまでの低電圧側を有する。各組合わせはシーケンスを通じて動作する。シーケンスにしたがって、図１３では組合わせは最初にレシオテストについて試験され、その後、抵抗テスト、等が行われ、最後にメガーテストが行われる。テストシーケンスが変化するとき組合わせのテストの順序も変化できる。
【００８２】
テスト結果もまた与えられる（例えば別のスクリーン上に［図示せず］）。適用テストに対して、テストがいずれの側か、すなわち高電圧か低電圧かが与えられる。テスト電圧であるＶt およびテスト状態、すなわち合格か、落第か、或いはエラーを有しているかが与えられる。各組合わせに対する適用テストでは、テストされている変成器の側（側）、テスト電圧（Ｖtest、例えばｋＶ）、電流（Ｉ、例えばｍＡ）、および合格か、落第か、或いはエラーを有しているかを示す状態を与える。
【００８３】
磁化電流テストでは、テスト電圧はＶｔの下に示されており、電流は“Ｉ”の下に示されており、状態はテストが合格か、落第か、或いはエラーが生じているか否かを示している。
【００８４】
誘起テストでは、テスト電圧［Ｖt ］が示され、電流［Ｉ］が与えられ、状態はテストが合格か、落第か、或いはエラーかが状態ボックス中に表示されている。この実施形態の誘起テストの概要はテスト電圧［Ｖtest］、電流［Ｉ］、状態を示しており、状態はテストが合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを決定する。
【００８５】
メガーテストに対しては、ユーザはテスト電圧［Ｖt ］と対応する側、すなわち接地に対して高電圧か、接地に対して低電圧か、低電圧に対して高圧かを観察する。これらの各状態は合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを示している。メガーテスト中に、ユーザは期間を観察し、高と低に接続された接地［ＨＧ］か、または高と接地に接続された低［ＨＬ］かである。テスト電圧［Ｖt ］といずれかの側の状態は合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを示している。
【００８６】
損失テストは図１３に無負荷損失および負荷損失の下に示されている。組合わせがこのテストに達したとき、それはシーケンス中の最初に示されたものを通って行われる。この場合には、それは負荷損失であり、一方テストは行われ、ユーザはテスト電圧［Ｖt ］、変成器インピーダンス［Ｉｍｐ］、および状態を観察し、その状態は合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを示している。無負荷損失テストは組合わせがそこでテストされたときテスト電圧および状態を示している。負荷損失テストはユーザに以下の情報を与え一方テストは行われる。基準温度、電圧、３つの相の電流、補正された電力、電力の状態、補正されたインピーダンス、およびインピーダンスに対する状態である。無負荷テストは、ユーザが無負荷損失テストにおいて観察しようとしている測定された電力、補正された電力、電力の状態を観察し、それは合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを示している。それはまたユーザに電流相１，２，３および％での電流相の平均、電流の状態を与え、テスト状態が合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを示している。
【００８７】
レシオテストは組合わせで行われるが、ユーザはどのタップがテストされ、るか、および対応する状態を観察する。状態はテストが合格か、落第か、或いはエラーが発生しているかを知らせる。レシオテストは、タップ、電流の３つの相、相１，相２，相３を示す。レシオの相もまた与えられる。テストはこれらの２つを同時に受けることはなく、むしろ一時に１ステップで一方から他方へシフトする。位相角度がユーザに与えられ、どの程度位相が相互にシフトされたかを示し、それ故、それらは３相角度である。
【００８８】
抵抗テストに対して、ユーザはテストが行われているタップおよび対応する状態を観察する。状態はテストが合格か、落第か、或いはエラーが特定のタップで発生しているかを知らせる。
【００８９】
テストが行われる温度もまた与えられる。ユーザはこの場合にもシーケンス中のテストの最大および最小温度を設定できる。温度は最大温度と最小温度の間になければならず、それは個々の特定のテストに対して設定される。温度が最大温度より高いか、または最小温度よりも低い場合にはテストは行われない。
【００９０】
システムメッセージもまた与えられ、それはユーザに発生しているエラーおよび回数を表すテスト状態についてのメッセージである。メッセージはテスト状態をユーザに告げるために表示され、例えばテストが開始されているとき、それが成功して終わるか、エラーが発生したかを表示する。時間もまた表示され、それによりユーザは何時エラーが発生したか、或いはテストが何時開始して何時終わったか、またはエラーが何回発生したかを知ることができる。システムメッセージは、例えば別のスクリーン（図示せず）に与えられてもよい。
【００９１】
ユーザはまたシーケンス中のテストをディスエーブルにするかエネーブルにするかを選択することができる。もしも全てのテストがオフに切換えられるならば、テストシーケンス中に存在するものであってもテストは行われない。それ故、ユーザは、テストシーケンス中に存在する場合であってもユーザは任意のテストをオフに切換えることができ、そのテストは動作されることができず、したがってテストは行われない。もしも全てのテストがオンに切換えられるならば、テストシーケンス中に存在するものだけが動作される。
【００９２】
本発明は適切なコンピュータソフトウエアの形態または適切なハードウエアの形態、或いはハードウエアとソフトウエアの組合わせで、本発明の技術的範囲を逸脱することなく実施されることができる。さらに、そのようなハードウエアおよび／またはソフトウエアに関する詳細は一般的に公開されている。したがって、そのようなハードウエアおよび／またはソフトウエアに関する詳細な説明は必要はないと考えられる。
【００９３】
以上、ある特定の実施形態を参照にして例示され、説明されたが、本発明は示された詳細な技術に限定されるものではない。むしろ、種々の変形変更は特許請求の範囲に記載された技術と等価なものであり、本発明の技術的範囲を逸脱することなく行われることができる。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】変成器をテストするために使用される本発明による例示的なシステムのブロック図。
【図２】本発明による例示的なプロセッサのブロック図。
【図３】本発明によるカスタム化された変成器テストプログラムを生成または編集する例示的な方法のフロー図。
【図４】本発明による例示的な変成器テストプログラムを有する例示的な変成器テストシーケンス編集装置のスクリーンの表示図。
【図５】本発明による例示的な適用テスト設定スクリーンの表示図。
【図６】本発明による例示的な誘起された過電圧テスト設定スクリーンの表示図。
【図７】本発明による例示的な負荷テスト設定スクリーンの表示図。
【図８】本発明による例示的な磁化電流テスト設定スクリーンの表示図。
【図９】本発明による例示的なメガーテスト設定スクリーンの表示図。
【図１０】本発明による無負荷テスト設定スクリーンの表示図。
【図１１】本発明による例示的なレシオテスト設定スクリーンの表示図。
【図１２】本発明による例示的な抵抗テスト設定スクリーンの表示図。
【図１３】本発明による例示的なテストエンジンスクリーンの表示図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【手続補正書】
【提出日】平成16年7月22日(2004.7.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
変成器のテストのためのシステムにおいて、
複数のユーザにより選択されたテストおよびユーザにより規定された実行順序における命令を含んでいるユーザにより変更可能な変成器テストシーケンスを実行するように構成されている変成器テストエンジンを含むプロセッサと、
前記プロセッサに結合されて制御命令を出力する制御装置と、
前記制御装置と変成器との間に結合されて前記制御命令に応答して制御装置に対する電力を切換える切換装置と、
前記変成器と前記プロセッサとの間に結合されて前記変成器から測定結果を受取り、前記プロセッサにその測定結果を供給する測定装置とを具備しているテストシステム。
【請求項２】
さらに、前記プロセッサに結合されて変成器の明細を記憶する記憶装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項３】
さらに、変成器のテストシーケンスを記憶する記憶装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項４】
プロセッサはさらに、変成器のテストシーケンスのカスタム化を可能にするテストシーケンス編集装置を具備している請求項１記載のシステム。
【請求項５】
さらに、テストシーケンス編集装置中への命令を受信するための入力装置を具備している請求項４記載のシステム。
【請求項６】
変成器のテストシーケンスは複数のテスト命令および関連するパラメータを含んでいる請求項１記載のシステム。
【請求項７】
変成器テストエンジンを含むプロセッサに変成器を接続し、
複数のユーザにより選択されたテストおよびユーザにより規定された実行順序における命令を含んでいるユーザにより変更可能なカスタム化された変成器テストシーケンスを前記プロセッサ中にロードし、
変成器テストエンジンによりカスタム化された変成器テストシーケンスを実行するステップを含んでいる変成器のテスト方法。
【請求項８】
さらに、プロセッサに実行の結果を提供し、
プロセッサに変成器明細を提供し、
変成器が結果の応答および変成器明細を合格させるか否かを決定する請求項７記載の方法。
【請求項９】
さらに、決定ステップに応答する指示装置を付勢するステップを含んでいる請求項８記載の方法。
【請求項１０】
さらに、記憶装置中に結果を記憶するステップを含んでいる請求項８記載の方法。
【請求項１１】
さらに、ロードに先立ってカスタム化された変成器テストシーケンスを受取るステップを含んでいる請求項７記載の方法。
【請求項１２】
カスタム化された変成器テストシーケンスの実行は、シーケンスの１つの終端に到達するまでおよび失敗命令が受信されるまで関連したパラメータを有する複数のテスト命令を順次実行する請求項７記載の方法。
【請求項１３】
カスタム化された変成器テストプログラムを生成または編集する方法において、
複数の変成器テスト命令から少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのユーザの選択を受信し、
選択されたテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのそれぞれに対して少なくとも１つの関連するパラメータを提供し、
ユーザにより規定された各テスト命令の実行の順序を受信し、
ユーザにより規定された実行の順序でユーザにより選択された少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスを含むユーザにより変更可能な変成器テストシーケンスを生成するカスタム化された変成器テストプログラムの生成または編集方法。
【請求項１４】
さらに、各テスト命令を実行する順序を記憶するステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
さらに、順序にしたがってテスト命令を実行するステップを含んでいる請求項１３記載の方法。
【請求項１６】
さらに、入力命令を受信するステップを含み、前記ユーザの選択を受信するステップは入力命令に応答して実行される請求項１３記載の方法。
【請求項１７】
コンピュータ実行可能な命令を有しているコンピュータ読取り可能な媒体において、
複数の変成器テスト命令から少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのユーザによる選択を受信し、
選択されたテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスのそれぞれに対して少なくとも１つの関連するパラメータを提供し、
各テスト命令を実行するユーザにより規定された順序を受信し、
ユーザにより規定された実行順序でユーザにより選択された少なくとも１つのテスト命令または予め存在するテスト命令のシーケンスを含むユーザにより変更可能な変成器テストシーケンスを生成するステップを実行するためのコンピュータ実行可能な命令を有しているコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項１８】
さらに、各テスト命令を実行する順序を記憶するためのコンピュータの実行可能な命令を含んでいる請求項１７記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項１９】
さらに、順序にしたがってテスト命令を実行するためのコンピュータの実行可能な命令を含んでいる請求項１７記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２０】
さらに、入力命令を受信するためのコンピュータの実行可能な命令を有しており、前記ユーザの選択を受信するステップは入力命令に応答して実行される請求項１７記載のコンピュータ読取り可能な媒体。
【請求項２１】
コンピュータの実行可能なコンポーネントを有するコンピュータ読取り可能な記憶媒体を有するコンピュータで構成された装置において、
コンピュータの実行可能なコンポーネントは、変成器テストエンジンにより変成器に対してユーザにより規定された実行順序で行われるユーザにより選択された複数の変成器テストおよび命令を含むユーザにより変更可能な変成器テストシーケンスを記憶するデータ記憶装置と、
変成器テストシーケンスを読取り、その変成器テストシーケンスにしたがって動作するように変成器テストエンジンに命令するプロセッサとを具備している装置。
【請求項２２】
データ記憶装置はさらに、変成器の明細を記憶する請求項２１記載の装置。
【請求項２３】
プロセッサはさらに、変成器のテストシーケンスを生成して編集する命令を受信する請求項２１記載の装置。
【請求項２４】
変成器のテストシーケンスは複数のテスト命令および関連するパラメータを含んでいる請求項２１記載の装置。
【国際調査報告】
2006500551.tif 000016