(57)【要約】  ヘッドが記録媒体にアクセスする際に出力するアクセス信号を外部装置に適切かつ容易に取り込ませる。磁気ヘッドが搭載される搭載部１３０と、搭載部１３０に搭載された磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部１５１１と、試験用アクセスの際に磁気ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することでその磁気ヘッドを試験する試験部１５１２と、試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部１５１３と、信号出力部１５１３が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部１５２１とを備えた。
2007116472.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象の測定あるいは試験を行う試験装置において、
前記試験対象から試験情報を入手する情報入手部と、
前記情報入手部から得られた試験情報が、測定の基準となる条件を満たしているか否かを判定する判定部と、
前記試験情報を、前記試験装置の外部に接続される外部装置に出力する出力部と、
前記出力部が出力した試験情報が前記外部装置で、前記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込まれるのに使用される基準信号を該外部装置に出力する基準出力部とを備えたことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
試験対象の測定あるいは試験を行う試験装置と、該試験装置によって得られた試験情報を取り込み、その取り込んだ試験情報に対して所定の解析処理を実行する外部装置とからなる試験解析システムにおいて、
前記試験装置が、
前記試験対象から試験情報を入手する情報入手部と、
前記情報入手部から得られた試験情報が、測定の基準となる条件を満たしているか否かを判定する判定部と、
前記試験情報を、前記試験装置の外部に出力する出力部と、
前記出力部が出力した試験情報がこの試験装置の外部で、前記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込まれるのに使用される基準信号を該外部装置に出力する基準出力部とを備えたものであり、
前記外部装置は、前記出力部が出力した試験情報を、前記基準出力部が出力した基準信号に基いて、前記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込むものであることを特徴とする試験解析システム。
【請求項３】
記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置において、
前記ヘッドが搭載される搭載部と、
前記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
前記試験用アクセスの際に前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで該ヘッドを試験する試験部と、
前記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で前記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたことを特徴とするヘッド試験装置。
【請求項４】
前記ヘッド操作部が、前記搭載部に搭載されたヘッドに、複数種類のアクセス条件それぞれの下で前記試験用アクセスを実行させるものであり、
前記試験部が、前記所定基準として複数種類のアクセス条件それぞれに対応した基準を有し、各アクセス条件の下で前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号が、そのアクセス条件に対応する基準を満たしているか否かを判定するものであり、
前記ヘッド操作部が前記ヘッドに実行させる試験用アクセスに対応したアクセス条件を、このヘッド試験装置の外部に通知する条件通知部を備えたことを特徴とする請求項３記載のヘッド試験装置。
【請求項５】
前記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の準備が実行された後に取り込まれるものであり、
このヘッド試験装置の外部において前記準備が完了したことの確認と、その外部において前記試験用アクセス結果の取込みが終了したことの確認とを行なう確認部を備え、
前記ヘッド操作部は、前記準備が完了したことが前記確認部で確認されてから前記取込みが終了したことが該確認部で確認されるまでの間、前記試験用アクセスを前記搭載部に搭載されたヘッドに実行させるものであることを特徴とする請求項３記載のヘッド試験装置。
【請求項６】
前記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の外部装置に取り込まれるものであり、
前記外部装置がこのヘッド試験装置に対して電気的に接続された接続状態にあることを検知する検知部を備え、
前記信号出力部は、前記検知部で前記接続状態が検知されている時に、前記アクセス信号を出力するものであり、
前記基準出力部は、前記検知部で前記接続状態が検知されている時に、前記基準信号を出力するものであることを特徴とする請求項３記載のヘッド試験装置。
【請求項７】
記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置と、前記ヘッドが出力するアクセス信号を取り込み、その取り込んだアクセス信号に対して所定の解析処理を実行する外部装置とからなるヘッド試験解析システムにおいて、
前記ヘッド試験装置が、
前記ヘッドが搭載される搭載部と、
前記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
前記試験用アクセスの際に前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで該ヘッドを試験する試験部と、
前記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で前記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたものであり、
前記外部装置は、前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号を、前記基準出力部が出力した基準信号に基いて、前記試験用アクセスに同期して取り込むものであることを特徴とするヘッド試験解析システム。
【請求項８】
前記ヘッド試験装置に、前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号に替えて、所定の標準信号を入力する標準信号入力部と、前記信号出力部がその入力された標準信号を入手して出力したときのその出力された標準信号を入手し、その入手した標準信号に基いて該ヘッド試験装置を評価する評価部とを有する評価装置を備えたことを特徴とする請求項７記載のヘッド試験解析システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象の試験を行う試験装置および試験解析システムに関する。本発明は特に、記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置と、そのような試験を行なうと共にアクセス信号に対して所定の解析処理を行なうヘッド試験解析システムに関する。【０００２】
以下、試験対象として磁気ディスク装置に用いられる磁気ヘッドの例について説明するが、試験対象は必ずしも磁気ヘッドに限定されるものではない。
【背景技術】
【０００３】
コンピュータの分野では、情報の記録媒体として、磁性材料の磁化状態で情報を記録する磁気ディスクが一般的に使われている。このような磁気ディスクに対するアクセスには、磁性材料の磁化状態を変更することで情報を記録したり、磁性材料の磁化状態を検知することで情報を読み出したりする磁気ヘッドが使われる。【０００４】
ここで、市場での需要に応じてコンピュータは大量に製造されるようになっており、そのような状況に呼応して磁気ヘッドも量産されるようになっている。また、近年では、磁気ディスクは、例えば音楽情報や映像情報等を記録する記録媒体としても広く使われるようになっている。そして、そのような磁気ディスクの活用分野の広がりも、磁気ヘッドの量産に拍車を掛けることとなっている。【０００５】
このような磁気ヘッドの量産に伴い、磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かを試験する量産用の磁気ヘッド試験装置が広く使われるようになっている。このような磁気ヘッド試験装置は、試験対象の磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させ、その試験用アクセスの際に磁気ヘッドが出力する試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで、磁気ヘッドについての試験を実行する。この場合、試験用アクセス信号の詳細な解析などは行われない。【０００６】
一方で、例えば動作不良を起こした磁気ヘッドに対する不良原因の調査等の際には、磁気ヘッドが出力するアクセス信号が詳細に調べられる。そこで、磁気ヘッドが出力するアクセス信号に所定の解析処理を施す磁気ヘッド解析装置（例えば、特許文献１参照。）等が提案されている。【０００７】
ところで、近年は、磁気ヘッドについての新規開発が盛んであり、新しい磁気ヘッドが次々に開発されようになってきているが、そのような開発の過程で、磁気ヘッドの形状やアクセス原理等が従来品とは異なったものとなってしまうことが多い。このため、従来品に対する試験や解析に用いていた磁気ヘッド試験装置や磁気ヘッド解析装置に新規の磁気ヘッドを搭載して操作することができなくなり、新規の磁気ヘッドに合わせてこれらの装置や制御プログラムを改造しなければならない等といった事態が生じることがある。【０００８】
ここで、上記の磁気ヘッド試験装置は機能が限定されており、また生産台数が多いこと等から比較的に安価であるため、新規の磁気ヘッドの登場に合わせて制御プログラムも共に改造されることが多い。一方で、上記の磁気ヘッド解析装置は、構成部品が高価な上に生産台数も少なく一般的に高価であることから、磁気ヘッドが新規に開発される度に装置および制御プログラムを上記磁気ヘッド試験装置に合わせて改造する等といったことは現実的に困難である。【０００９】
このため、磁気ヘッドの試験や解析を行なう現場には安価な量産用の磁気ヘッド試験装置のみを将来的な改造を前提として設置し、磁気ヘッド解析装置については、その量産用の磁気ヘッド試験装置と、例えばオシロスコープ等といった、磁気ヘッドの新旧に依らず恒久的に使用できる外部装置とを組み合わせたもので代用することがある。【００１０】
例えばオシロスコープを使った構成では、磁気ヘッドは、磁気ヘッド試験装置に搭載され操作される。そして、その操作の際に磁気ヘッドが出力するアクセス信号がオシロスコープに取り込まれ、そのオシロスコープのモニタ画面に、アクセス信号の具体的な波形が表示される。ユーザは、例えば磁気ヘッドの動作不良に対する調査等といった目的に即した解析を、モニタ画面に表示された波形を見て行う。また、新規の磁気ヘッドが登場した際には、磁気ヘッド試験装置をその新規の磁気ヘッドに合わせて制御プログラムと共に改造することで、その新規の磁気ヘッドが出力するアクセス信号についての解析が可能となる。【００１１】
【特許文献１】特開２００３−６８２３号公報  しかしながら、上記の磁気ヘッド試験装置は、本来、磁気ヘッドを装置内部で試験することを目的として構成されているので、オシロスコープ等の外部装置に、磁気ヘッドが出力するアクセス信号を適切に取り込ませるには何らかの工夫が必要となる。そのような工夫については、個々のユーザが経験的に行なっているのが現状であり、上述したような高価な解析装置を使わずにアクセス信号を解析する際の大きな負担となっている。
【００１２】
また、ここまで、磁気ディスクにアクセスする磁気ヘッドを試験する磁気ヘッド試験装置について、外部装置にアクセス信号を適切に取り込ませることが困難であるという問題点を説明した。しかし、このような問題点は、例えば、光学的に情報が記録される光ディスクにアクセスする光学ヘッド等といった、磁気ヘッド以外のヘッドを試験するヘッド試験装置についても同様に生じる問題点である。さらに、このような問題は、これらヘッド試験装置に限らず、試験対象の測定あるいは試験を行う試験装置について一般的に生じる問題点である。【００１３】
本発明は、上記事情に鑑み、試験対象に対する測定あるいは試験で得られる試験情報を外部装置に適切かつ容易に取り込ませることができる試験装置、および、そのような試験情報に対する解析を容易に実行することができる試験解析システム、特に、ヘッドが記録媒体にアクセスする際に出力するアクセス信号を外部装置に適切かつ容易に取り込ませることができるヘッド試験装置、および、そのようなアクセス信号に対する解析を容易に実行することができるヘッド試験解析システムを提供することを目的とする。
【発明の開示】
【００１４】
上記目的を達成する本発明の試験装置は、試験対象の測定あるいは試験を行う試験装置において、
上記試験対象から試験情報を入手する情報入手部と、
上記情報入手部から得られた試験情報が、測定の基準となる条件を満たしているか否かを判定する判定部と、
上記試験情報を、上記試験装置の外部に接続される外部装置に出力する出力部と、
上記出力部が出力した試験情報が上記外部装置で、上記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込まれるのに使用される基準信号をその外部装置に出力する基準出力部とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
本発明の試験装置によれば、上記情報入手部によって試験対象の測定あるいは試験が実行されると共に、その測定あるいは試験で得られる試験情報が上記出力部によって外部に出力される。そして、上記基準出力部によって出力される基準信号を利用することで、例えばオシロスコープ等といった外部装置による、上記試験情報の入手に同期した適切な取込みを容易に実現することができる。また、このことから、例えば、本発明の試験装置を、新規の試験対象の登場に合わせて制御プログラムと共に改造することを前提とした試験装置として使用し、この試験装置と、ヘッドの新旧に依らず恒久的に使用できる外部装置とを組み合わせて、上記試験情報を解析するための解析装置の代用に当てる等といった運用を容易に実現することができる。
【００１６】
また、上記目的を達成する本発明の試験解析システムは、試験対象の測定あるいは試験を行う試験装置と、その試験装置によって得られた試験情報を取り込み、その取り込んだ試験情報に対して所定の解析処理を実行する外部装置とからなる試験解析システムにおいて、
上記試験装置が、
上記試験対象から試験情報を入手する情報入手部と、
上記情報入手部から得られた試験情報が、測定の基準となる条件を満たしているか否かを判定する判定部と、
上記試験情報を、上記試験装置の外部に出力する出力部と、
上記出力部が出力した試験情報がこの試験装置の外部で、上記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込まれるのに使用される基準信号をその外部装置に出力する基準出力部とを備えたものであり、
上記外部装置は、上記出力部が出力した試験情報を、上記基準出力部が出力した基準信号に基いて、上記情報入手部による試験情報の入手に同期して取り込むものであることを特徴とする。
【００１７】
本発明のヘッド試験解析システムによれば、上記ヘッド試験装置に搭載されたヘッドが出力するアクセス信号を、上記外部装置で、上記基準信号に基いて適切かつ容易に取り込んで解析することができる。
【００１８】
本発明の試験解析システムによれば、上記試験装置で得られる試験情報を、上記外部装置で、上記基準信号に基いて適切かつ容易に取り込んで解析することができる。また、この本発明の試験解析システムによれば、新規の試験対象が登場した際には、上記試験装置をその新規の磁気ヘッドに合わせて制御プログラムと共に改造することで、その新規のヘッドが出力するアクセス信号についての解析が可能となる。
【００１９】
また、上記目的を達成する本発明のヘッド試験装置は、記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置において、
上記ヘッドが搭載される搭載部と、
上記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
上記試験用アクセスの際に上記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することでそのヘッドを試験する試験部と、
上記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
上記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で上記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたことを特徴とする。
【００２０】
本発明のヘッド試験装置によれば、上記試験部によって試験対象のヘッドが試験されると共に、ヘッドが出力する試験用アクセス信号が上記信号出力部によって外部に出力される。そして、上記基準出力部によって出力される基準信号を利用することで、このヘッド試験装置の外部に置かれた例えばオシロスコープ等といった外部装置による、上記試験用アクセス信号の、上記試験用アクセスに同期した適切な取込みを容易に実現することができる。また、このことから、例えば、本発明のヘッド試験装置を、新規のヘッドの登場に合わせて制御プログラムと共に改造することを前提としたヘッド試験装置として使用し、このヘッド試験装置と、ヘッドの新旧に依らず恒久的に使用できる外部装置とを組み合わせて、上記試験用アクセス信号を解析するための解析装置の代用に当てる等といった運用を容易に実現することができる。
【００２１】
ここで、本発明のヘッド試験装置において、「上記ヘッド操作部が、上記搭載部に搭載されたヘッドに、複数種類のアクセス条件それぞれの下で上記試験用アクセスを実行させるものであり、
上記試験部が、上記所定基準として複数種類のアクセス条件それぞれに対応した基準を有し、各アクセス条件の下で上記ヘッドが出力する試験用アクセス信号が、そのアクセス条件に対応する基準を満たしているか否かを判定するものであり、
上記ヘッド操作部が上記ヘッドに実行させる試験用アクセスに対応したアクセス条件を、このヘッド試験装置の外部に通知する条件通知部を備えた」という形態は好ましい形態である。
【００２２】
この好ましい形態のヘッド試験装置によれば、例えば、上記ヘッドについて複数種類のアクセス条件の下での様々なタイプの試験を実行することができると共に、それら複数種類のアクセス条件の下で得られる様々なタイプの試験用アクセス信号を、上記条件通知によって通知される各アクセス条件に応じて適切に取り込ませることができる。
【００２３】
また、本発明のヘッド試験装置において、「上記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の準備が実行された後に取り込まれるものであり、
このヘッド試験装置の外部において上記準備が完了したことの確認と、その外部において上記試験用アクセス結果の取込みが終了したことの確認とを行なう確認部を備え、
上記ヘッド操作部は、上記準備が完了したことが上記確認部で確認されてから上記取込みが終了したことがその確認部で確認されるまでの間、上記試験用アクセスを上記搭載部に搭載されたヘッドに実行させるものである」という形態も好ましい形態である。
【００２４】
この好ましい形態のヘッド試験装置によれば、上記外部における上記準備の完了の後に上記試験用アクセスが開始され、その上記試験用アクセスが上記取込みの終了まで続けられる。これにより、上記試験用アクセス信号の取込みを一層確実なものとすることができる。
【００２５】
また、本発明のヘッド試験装置において、「上記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の外部装置に取り込まれるものであり、
上記外部装置がこのヘッド試験装置に対して電気的に接続された接続状態にあることを検知する検知部を備え、
上記信号出力部は、上記検知部で上記接続状態が検知されている時に、上記アクセス信号を出力するものであり、
上記基準出力部は、上記検知部で上記接続状態が検知されている時に、上記基準信号を出力するものである」という形態も好ましい。
【００２６】
この好ましい形態のヘッド試験装置によれば、上記検知部で上記接続状態が検知されている時に上記アクセス信号と上記基準信号とが出力されるので効率的である。
【００２７】
また、上記目的を達成する本発明のヘッド試験解析システムは、記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置と、上記ヘッドが出力するアクセス信号を取り込み、その取り込んだアクセス信号に対して所定の解析処理を実行する外部装置とからなるヘッド試験解析システムにおいて、
上記ヘッド試験装置が、
上記ヘッドが搭載される搭載部と、
上記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
上記試験用アクセスの際に上記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで該ヘッドを試験する試験部と、
上記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
上記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で上記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたものであり、
上記外部装置は、上記信号出力部が出力した試験用アクセス信号を、上記基準出力部が出力した基準信号に基いて、上記試験用アクセスに同期して取り込むものであることを特徴とする。
【００２８】
本発明のヘッド試験解析システムによれば、上記ヘッド試験装置に搭載されたヘッドが出力するアクセス信号を、上記外部装置で、上記基準信号に基いて適切かつ容易に取り込んで解析することができる。また、この本発明のヘッド試験解析システムによれば、新規のヘッドが登場した際には、上記ヘッド試験装置をその新規の磁気ヘッドに合わせて制御プログラムと共に改造することで、その新規のヘッドが出力するアクセス信号についての解析が可能となる。
【００２９】
また、本発明のヘッド試験解析システムにおいて、「上記ヘッド試験装置に、上記ヘッドが出力する試験用アクセス信号に替えて、所定の標準信号を入力する標準信号入力部と、上記信号出力部がその入力された標準信号を入手して出力したときのその出力された標準信号を入手し、その入手した標準信号に基いてそのヘッド試験装置を評価する評価部とを有する評価装置を備えた」という形態は好ましい形態である。
【００３０】
この好ましい形態のヘッド試験解析システムによれば、上記信号出力部から出力された標準信号に基く評価によって、例えば、上記ヘッド試験装置の状態が、目標の状態からどの程度外れているか等といったことを把握することができる。
【００３１】
なお、本発明にいうヘッド試験解析システムについては、ここではその基本形態およびヘッド試験解析システムに特有の形態のみを示すのにとどめるが、これは単に重複を避けるためであり、本発明にいうヘッド試験解析システムには、上記の形態のみではなく、前述したヘッド試験装置の各形態に対応する各種の形態が含まれる。
【００３２】
以上、説明したように、本発明によれば、試験対象に対する測定あるいは試験で得られる試験情報を外部装置に適切かつ容易に取り込ませることができる試験装置、および、そのような試験情報に対する解析を容易に実行することができる試験解析システム、特に、ヘッドが記録媒体にアクセスする際に出力するアクセス信号を外部装置に適切かつ容易に取り込ませることができるヘッド試験装置、および、そのようなアクセス信号に対する解析を容易に実行することができるヘッド試験解析システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の第１実施形態である第１のヘッド試験解析システムを示す図である。
【図２】試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２とを示す機能ブロック図である。
【図３】第１のヘッド試験解析システム１におけるヘッド試験装置１０側の処理のメインルーチンを示すフローチャートである。
【図４】第１のヘッド試験解析システム１における機能拡張装置２０側の処理のメインルーチンを示すフローチャートである。
【図５】図３のフローチャートにおける３つのサブルーチンを代表的に示すフローチャートである。
【図６】図４のフローチャートにおけるサブルーチンを示すフローチャートである。
【図７】試験用アクセス信号の取込みを説明する説明図である。
【図８】本発明の第２実施形態である第２のヘッド試験解析システムを示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。【００３５】
まず、本発明の第１実施形態について説明する。【００３６】
図１は、本発明の第１実施形態である第１のヘッド試験解析システムを示す図である。【００３７】
図１に示す第１のヘッド試験解析システム１は、磁性材料の磁化状態で情報を記録する磁気ディスクにアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力する磁気ヘッドを試験すると共に、そのアクセス信号に所定の解析処理を施すものであり、磁気ヘッドを試験するヘッド試験装置１０と、アクセス信号に対する解析処理を実行する機能拡張装置２０とからなる。【００３８】
ここで、ヘッド試験装置１０は、試験対象の磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かを短時間で試験することを主目的とした量産用の装置である。また、このヘッド試験装置１０は、後述するように試験対象の磁気ヘッドを直接に操作するものであることから、新規の磁気ヘッドが登場した際には、その新規の磁気ヘッドに合わせて制御プログラムと共に改造することが前提となっている。一方で、機能拡張装置２０は、ヘッド試験装置１０で得られたアクセス信号を取り込んで解析処理を実行するものであり、試験対象の磁気ヘッドを直接に操作するものではないことから、磁気ヘッドの新旧に依らず恒久的に使用される。【００３９】
また、図１に示す第１のヘッド試験解析システム１は、基本的に次のように運用される。まず、作業現場にはヘッド試験装置１０が設置され、ヘッド試験装置１０によりヘッドの良否判定が行われる。そして、例えば動作不良を起こした磁気ヘッドについてその動作不良の原因を調査するためにアクセス信号に所定の解析処理を施す等といった、ヘッド試験装置１０のみでは対応しきれない作業が行なわれる際に、そのヘッド試験装置１０の傍まで機能拡張装置２０が運ばれて、機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に接続される。【００４０】
第１のヘッド試験解析システム１は本発明の試験解析システムと本発明のヘッド試験解析システムとを兼ねた一実施形態に相当し、ヘッド試験装置１０は本発明の試験装置と本発明のヘッド試験装置とを兼ねた一実施形態に相当し、機能拡張装置２０は本発明にいう外部装置の一例に相当する。【００４１】
まず、ヘッド試験装置１０について説明する。【００４２】
ヘッド試験装置１０には、試験対象の磁気ヘッドＨ１が搭載され、搭載された磁気ヘッドＨ１に対する試験を実行する試験実行部１００と、試験実行部１００の動作制御や試験結果の表示等を行なうコンピュータ１６０と、両者を互いに接続する第１の接続ケーブル１７０とからなる。【００４３】
試験実行部１００は、架台１１０、除震台１２０、搭載部１３０、微小移動機構用シェルフ１４０、および試験制御用シェルフ１５０を備えている。【００４４】
架台１１０は、微小移動機構用シェルフ１４０と試験制御用シェルフ１５０とを収納すると共に、除震台１２０が載置される台の役割を担う。【００４５】
除震台１２０は、搭載部１３０が載置される台の役割を担うと共に、搭載部１３０に振動が伝わることを防止する。【００４６】
搭載部１３０は、試験対象の磁気ヘッドＨ１が搭載されるものであり、本発明にいう搭載部の一例に相当する。【００４７】
搭載部１３０は、試験用磁気ディスク１３１、モータ１３２、ヘッド支持部１３３、およびインタフェース部１３４を備えている。試験用磁気ディスク１３１は、試験対象の磁気ヘッドＨ１が行なう試験用アクセスの対象となる磁気ディスクであり、モータ１３２は、試験用磁気ディスク１３１を矢印Ａ方向に回転駆動するものである。また、ヘッド支持部１３３は、試験対象の磁気ヘッドＨ１を支持すると共に、磁気ヘッドＨ１を試験用磁気ディスク１３１に対して相対移動させるものである。
インタフェース部１３４は、微小移動機構用シェルフ１４０や試験制御用シェルフ１５０からこの搭載部１３０への制御信号を仲立ちする。さらに、インタフェース部１３４は、試験対象の磁気ヘッドＨ１が試験用磁気ディスク１３１にアクセスする際に出力する試験用アクセス信号を、所定のゲインでの増幅等といった信号処理を施してから試験制御用シェルフ１５０に伝達する。【００４８】
ここで、本実施形態では、ヘッド支持部１３３で実行される磁気ヘッドＨ１の試験用磁気ディスク１３１に対する相対移動のうち、試験用磁気ディスク１３１の半径方向（矢印Ｂ方向）の相対移動は、微小移動機構によって精密に行なわれる。【００４９】
微小移動機構用シェルフ１４０は、ヘッド支持部１３３における微小移動機構の動作を、試験制御用シェルフ１５０からの指示に応じて制御する機構を収納するものであり、微小移動機構用の制御ボード群１４１と、制御ボードに電力を供給する電源１４２とを備えている。【００５０】
試験制御用シェルフ１５０は、試験対象の磁気ヘッドＨ１の試験用磁気ディスク１３１に対する相対移動と、試験用磁気ディスク１３１に対する情報の書込み動作や読出し動作といった、磁気ヘッドＨ１の試験用アクセス動作全般を制御するための機構を収納する。さらに、上記の搭載部１３０から送られてきた試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで、試験対象となる磁気ヘッドＨ１が必要な性能を有しているか否かを試験する。また、搭載部１３０から送られてきた試験用アクセス信号を機能拡張装置２０に向けて出力すると共に、試験用アクセス信号を機能拡張装置２０で適切に解析させるための後述の各種情報をこの機能拡張装置２０との間でやり取りする。【００５１】
試験制御用シェルフ１５０は、試験制御用ボード群１５１と、通信用ボード１５２と、インタフェースボード１５３と、電源１５４とを備えている。【００５２】
試験制御用ボード群１５１は、上記の微小移動機構用シェルフ１４０への指示を含む試験用アクセス全般の制御と上記の試験とを行なう。また、試験制御用ボード群１５１をなすボードのうちの１つには、試験用アクセス信号の出力口であるアクセス信号用コネクタ１５１ａが設けられている。試験制御用ボード群１５１は、搭載部１３０から送られてきた試験用アクセス信号を、アナログ信号の状態で、アクセス信号用コネクタ１５１ａに接続された第２の接続ケーブル３０１を介して機能拡張装置２０に出力する。【００５３】
通信用ボード１５２は、試験制御用ボード群１５１から出力された試験用アクセス信号が、機能拡張装置２０で適切に取り込まれ、解析されるための各種情報をこの機能拡張装置２０との間でやり取りするものである。通信用ボード１５２には、情報の出力口および入力口である情報用コネクタ１５２ａが設けられており、情報のやり取りは、情報用コネクタ１５２ａに接続された第３の接続ケーブル３０２を介して行なわれる。【００５４】
上記の試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２とについては、後に詳細に説明する。【００５５】
インタフェースボード１５３には、上記の第１の接続ケーブル１７０が接続されるコネクタが設けられている。インタフェースボード１５３は、コネクタに接続された第１の接続ケーブル１７０を介して、試験実行部１００に対する上記のコンピュータ１６０からの指示の受付けや、試験実行部１００で得られた試験結果のコンピュータ１６０への伝達を行なう。【００５６】
また、電源１５４は、以上に説明した試験制御用シェルフ１５０を構成する各ボードに必要な電力を供給する。【００５７】
コンピュータ１６０は、上述したように試験実行部１００の動作制御や試験結果の表示等を行なうものであり、ＣＰＵ、ＲＡＭメモリ、ハードディスク等を内蔵した本体部１６１、画像表示を行なうモニタ１６２、コンピュータ１６０にユーザの指示や文字情報を入力するためのキーボード１６３、モニタ１６２上の任意の位置を指定することによりその位置に応じた指示を入力するマウス１６４を備えている。コンピュータ１６０に設けられたハードディスクには、試験実行部１００の動作制御や、ヘッドの良否判定などの処理を行うためのプログラムが格納されている。【００５８】
ここで、上記の試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２とについての詳細な説明は後に回し、次に、機能拡張装置２０について説明する。【００５９】
機能拡張装置２０は、ヘッド試験装置１０で得られた試験用アクセス信号を取り込んで解析処理を実行するものであり、本体部２１０、解析結果等を表示するモニタ２２、機能拡張装置２０にユーザの指示や文字情報を入力するためのキーボード２３、モニタ２２上の任意の位置を指定することによりその位置に応じた指示を入力するマウス２４を備えている。機能拡張装置２０には、図示しないハードディスクなどからなる記憶部が設けられ、試験用アクセス信号を用いた解析処理を行うためのプログラムが記憶されている。【００６０】
本体部２１０は、通信用ボード２１１、Ａ／ＤＣ（アナログ／デジタル変換）ボード２１２、ＣＰＵボード２１３、トリガ伝達ケーブル２１４、および電源２１５を備えている。【００６１】
通信用ボード２１１は、第３の接続ケーブル３０２によってヘッド試験装置１０の通信用ボード１５２と電気的に接続される。そして、第３の接続ケーブル３０２を介してヘッド試験装置１０の通信用ボード１５２との間で後述するような情報のやり取りを行い、そのやり取りに基いて、試験用アクセス信号の取込み開始を示すトリガパルスを生成する。生成されたトリガパルスは、トリガ伝達ケーブル２１４を介してＡ／ＤＣボード２１２に送られる。【００６２】
Ａ／ＤＣボード２１２は、第２の接続ケーブル３０１によってヘッド試験装置１０の試験制御用ボード群１５１と電気的に接続される。そして、第２の接続ケーブル３０１を介して試験制御用ボード群１５１からアナログ信号の状態で送られてくる試験用アクセス信号に対して、アナログ／デジタル変換処理を施すことで、機能拡張装置２０に、その試験用アクセス信号をデジタル信号として取り込む。機能拡張装置２０による試験用アクセス信号の取込みは、上記のトリガパルスが送られてきたタイミングで開始される。【００６３】
ここで、トリガパルスの生成と試験用アクセス信号の取込みについては、上記の試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２とについての詳細な説明に併せて詳細に説明する。【００６４】
ＣＰＵボード２１３は、機能拡張装置２０全体の動作を制御すると共に、Ａ／ＤＣボード２１２が取り込んだ試験用アクセス信号に対して解析処理を施す。【００６５】
また、電源２１５は、機能拡張装置２０内の各部に必要な電力を供給する。【００６６】
次に、試験制御用シェルフ１５０が備えている試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２との詳細について説明する。【００６７】
図２は、試験制御用ボード群１５１と通信用ボード１５２とを示す機能ブロック図である。【００６８】
図２には、試験制御用シェルフ１５０が備えている試験制御用ボード群１５１および通信用ボード１５２の他に、ヘッド試験装置１０側に設けられる試験制御用シェルフ１５０が備えているインタフェースボード１５３、コンピュータ１６０、微小移動機構用シェルフ１４０、および搭載部１３０が模式的に示される。同様に、図２には機能拡張装置２０側に設けられる、通信用ボード２１１およびＡ／ＤＣボード２１２が示されている。【００６９】
図２に示すように、試験制御用ボード群１５１は、ヘッド操作部１５１１、試験部１５１２、および信号出力部１５１３を有しており、通信用ボード１５２は、基準出力部１５２１、検知部１５２２、確認部１５２３、および条件通知部１５２４を有している。ここで、ヘッド操作部１５１１、試験部１５１２、および信号出力部１５１３が、それぞれ本発明にいうヘッド操作部、試験部、および信号出力部の各一例に相当し、基準出力部１５２１、検知部１５２２、確認部１５２３、および条件通知部１５２４が、それぞれ本発明にいう基準出力部、検知部、確認部、および条件通知部の各一例に相当する。また、試験部１５１２は、本発明にいう情報入手部および判定部の一例を兼ねており、信号出力部１５１３は、本発明にいう出力部の一例を兼ねている。【００７０】
ヘッド操作部１５１１は、微小移動機構用シェルフ１４０への指示を含む試験用アクセス全般の制御を行なう。ヘッド操作部１５１１による制御によって、搭載部１３０に搭載された試験対象の磁気ヘッドは、試験用磁気ディスク１３１（図１参照）近傍の所定の試験位置まで動かされ、その試験位置で、所定の試験用の情報を磁気ディスク１３１に書込み、そして、書き込んだ情報を読みだすという一連の試験用アクセスを行なう。ここで、本実施形態では、ヘッド操作部１５１１は、磁気ヘッドが情報の書込みや読出しを行なう際の試験位置や試験用の情報、さらに、試験用磁気ディスク１３１の回転速度等が互いに異なる複数種類のアクセス条件それぞれの下で、試験対象の磁気ヘッドに複数パターンの試験用アクセスを実行させる機能を有している。そして、試験対象の磁気ヘッドにどの種類のアクセス条件の下で試験用アクセスを実行させるかの指示が、ヘッド操作部１５１１に対して、インタフェースボード１５３を介してコンピュータ１６０から出される。また、ヘッド操作部１５１１は、コンピュータ１６０からの指示を、試験部１５１２と、試験制御用シェルフ１５０内の通信用ボード１５２が有する条件通知部１５２４とに伝える。【００７１】
試験部１５１２は、上記の試験用アクセスにおいて試験対象の磁気ヘッドが情報を読出す際に、その磁気ヘッドが出力し搭載部１３０において増幅処理等を施された試験用アクセス信号を入手する。そして、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定する。ここで、試験部１５１２は、上記の複数のアクセス条件それぞれに対応した判定を行なう。本実施形態では、上記のヘッド操作部１５１１は、例えば、磁気ヘッドに「１」と「０」とが交互に並んだ情報の書込みと読出しとを実行させるというアクセス条件の下での試験用アクセスを実行させる機能を有している。このような試験用アクセスにおいて磁気ヘッドが出力する試験用アクセス信号は、上記の「１」と「０」との並びに応じた周期的なパルス信号となる。試験部１５１２は、このような試験用アクセス信号において、個々のパルスにおける幅とピーク値とが、それぞれ許容範囲内に収まっているか否かを判定する。また、上記のヘッド操作部１５１１は、例えば、書込みと読出しとに誤りが生じやすい複雑な内容の情報を用いるというアクセス条件の下での試験用アクセスを実行させる機能を有している。そして、試験部１５１２は、このようなアクセス条件の下で得られた試験用アクセス信号が示す情報の内容と、本来の情報の内容との一致精度が許容範囲内に収まっているか否かを判定する。本実施形態では、このような複数パターンの試験用アクセスそれぞれについて試験部１５１２が判定を行なうことでその磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かが試験される。試験結果は、インタフェースボード１５３を介してコンピュータ１６０に伝えられ、そのコンピュータ１６０のモニタ１６２（図１参照）に表示される。【００７２】
ここで、図１に示すヘッド試験装置１０は、上述したように、試験対象の磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かを短時間で試験することを主目的とした量産用の装置である。この量産用の装置としての機能は、ここまでに説明したヘッド操作部１５１１と試験部１５１２とによって担われている。そして、試験制御用ボード群１５１の信号出力部１５１３や、通信用ボード１５２の各要素は、磁気ヘッドの動作不良の原因調査等の際に機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に接続されたときに機能することとなる。【００７３】
機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に接続されたときに上記の各要素で実行される処理の詳細については別図を用いて説明することとし、以下では、信号出力部１５１３や、通信用ボード１５２の各要素についての概要を説明する。【００７４】
通信用ボード１５２の基準出力部１５２１は、試験制御用ボード群から入力されたインデックスパルスやライトゲート信号等を、機能拡張装置２０の通信用ボード２１１に出力する。【００７５】
通信用ボード１５２は、機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に対して電気的に接続されていることを、機能拡張装置２０の通信用ボード２１１からの信号によって検知し、コンピュータ１６０に伝達する。【００７６】
試験制御用ボード群１５１の信号出力部１５１３は、上記の試験用アクセスで得られる試験用アクセス信号を、アナログ信号の状態で、アクセス信号用コネクタ１５１ａに接続された第２の接続ケーブル３０１を介して機能拡張装置２０のＡ／ＤＣボード２１２に出力する。【００７７】
ところで、本実施形態では、機能拡張装置２０は、試験用アクセス信号を取り込んで、その取り込んだ試験用アクセス信号を解析するという一連の処理と、試験用アクセス信号解析処理とは別の処理との２種類の処理を行なう機能を有している。本実施形態では、機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に接続されている場合には、ヘッド試験装置１０から、前者の処理の実行を指示する起動要求が適宜に出力される。そして、機能拡張装置２０は、その起動要求を受けて、前者の試験用アクセス信号解析処理を実行する。また、機能拡張装置２０は、試験用アクセス信号解析処理を実行するに当たっては、まず、上記の試験用アクセス信号を取り込む前に所定の準備を実行し、準備が終了した後に試験用アクセス信号の取込みを実行する。【００７８】
通信用ボード１５２の確認部１５２３は、機能拡張装置２０に対する上記の起動要求の出力、機能拡張装置２０が試験用アクセス信号の取込みのための準備を完了したか否かの確認、および、機能拡張装置２０が試験用アクセス信号の取込みを終了したか否かの確認を行なう。また、通信用ボード１５２の確認部１５２３は、上記の準備の完了の確認の一環として、機能拡張装置２０がこのアクセス条件を受け取ることが可能な状態にあるか否かの確認も行なう。確認部１５２３は、これらの確認の結果を、ヘッド操作部１５１１および条件通知部１５２４に適宜に伝達する。【００７９】
通信用ボード１５２の条件通知部１５２４は、試験対象の磁気ヘッドに実行させる試験用アクセスに対応するアクセス条件を機能拡張装置２０の通信用ボード２１１に通知する。【００８０】
第１のヘッド試験解析システム１は、以上、概要を説明したように構成されている。【００８１】
次に、第１のヘッド試験解析システム１の詳細について、機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に接続された時に第１のヘッド試験解析システム１で実行される処理の流れに注目して説明する。尚、以下の説明では、図１および図２に示す要素については特に図番を断らずに参照する。【００８２】
図３は、第１のヘッド試験解析システム１におけるヘッド試験装置１０側の処理のメインルーチンを示すフローチャートである。以下にフローチャートで示される各種の処理は、コンピュータ１６０あるいは機能拡張装置２０に記憶されているプログラムにより実行されるものとする。【００８３】
図３のフローチャートが示す処理は、ヘッド試験装置１０を構成するコンピュータ１６０において、モニタ１６２上に表示される操作画面をユーザが操作して、試験対象の磁気ヘッドに対する試験の開始を指示するとスタートする。【００８４】
ここで、上述したように、ヘッド操作部１５１１は、試験対象の磁気ヘッドに、複数種類のアクセス条件それぞれの下で試験用アクセスを実行させる機能を有し、試験部１５１２は、各アクセス条件に応じた判定を行なう機能を有している。つまり、第１のヘッド試験解析システム１のヘッド試験装置１０は、試験対象の磁気ヘッドに対して複数種類のアクセス条件それぞれに応じた複数種類の試験を施す機能を有している。このとき、本実施形態では、ユーザは、これら複数種類の試験のうちどの種類の試験を試験対象の磁気ヘッドに対して施すかを、ヘッド試験装置１０のコンピュータ１６０におけるモニタ１６２上に表示される不図示の操作画面に対する操作によって選択することができる。図３の例は、ユーザが３種類の試験を選択したときに、ヘッド試験装置１０で実行される処理の流れを示すものである。ここで、図３では、ユーザが選択した３種類の試験は、Ａ試験、Ｂ試験、およびＣ試験という抽象的な名称で記載されている。【００８５】
図３のフローチャートが示す処理がスタートすると、ヘッド試験装置１０では、Ａ試験を示すサブルーチン（ステップＳ１０）、Ｂ試験を示すサブルーチン（ステップＳ２０）、Ｃ試験を示すサブルーチン（ステップＳ３０）という順番で処理が行なわれ、３つのサブルーチンの処理全てが終了するとこのフローチャートが示す処理が終了する。ここで、ヘッド試験装置１０に機能拡張装置２０が接続されている場合には、機能拡張装置２０に対する上記の起動要求の出力が、後述するように各サブルーチンにおいて実行される。【００８６】
図４は、第１のヘッド試験解析システム１における機能拡張装置２０側の処理のメインルーチンを示すフローチャートである。【００８７】
図４のフローチャートが示す処理は、ユーザによって機能拡張装置２０に電源が投入され、制御プログラムが起動されて測定準備状態が指示されるとスタートする。【００８８】
図４に図示された処理がスタートすると、まず、ヘッド試験装置１０から起動要求が出されているか否かが判定される（ステップＳ４００）。起動要求が出されている場合（ステップＳ４００におけるＹｅｓ判定）には、機能拡張装置２０では、アナログ／デジタル変換による信号の取込みとその取り込んだ信号に対する解析という一連の処理を示すサブルーチン（ステップＳ５００）が実行される。ここで、ステップＳ５００では、後述するように、ヘッド試験装置１０において起動要求が出された時の試験の種類に対応した取込みと解析処理とが実行される。ステップＳ５００のサブルーチンが終了すると、ユーザから測定準備状態解除の指示が出されているか否かが判定され（ステップＳ６００）、測定準備状態解除の指示が出されている場合（ステップＳ６００におけるＹｅｓ判定）には、図４のフローチャートが示す処理が終了する。一方、まだ、測定準備状態解除の指示が出されていない場合（ステップＳ６００におけるＮｏ判定）には、ステップＳ４００に戻る。また、ステップＳ４００において、起動要求が出されていない場合（ステップＳ４００におけるＮｏ判定）には、ステップＳ５００の処理が飛ばされて、ステップＳ６００以降の処理が実行される。【００８９】
図４のフローチャートが示すように機能拡張装置２０では、制御プログラムが起動され、測定準備状態となった後は、基本的にはアイドル状態で、ヘッド試験装置１０から起動要求が出されると、起動要求に対応した信号の取込みおよび解析が実行される。【００９０】
次に、図３および図４それぞれのフローチャートにおけるサブルーチンを参照しながら、ヘッド試験装置１０と機能拡張装置２０とのそれぞれで実行される処理の詳細について説明する。【００９１】
図５は、図３のフローチャートにおける３つのサブルーチンを代表的に示すフローチャートであり、図６は、図４のフローチャートにおけるサブルーチンを示すフローチャートである。【００９２】
ここで、図５のフローチャートが示すサブルーチンは、ヘッド試験装置１０で実行され、図６のフローチャートが示すサブルーチンは、機能拡張装置２０で実行される。そして、各サブルーチンは、互いに連携しながら実行される。そこで、以下の説明は、図５および図６それぞれのフローチャートを共に参照しながら行なう。【００９３】
まず、ヘッド試験装置１０において、図５のサブルーチンがスタートすると、ヘッド試験装置１０のコンピュータ１６０が、ヘッド操作部１５１１に対して、複数種類のアクセス条件のうちどの種類のアクセス条件の下で試験対象の磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させるかを指示する（ステップＳ１０１）。ヘッド操作部１５１１は、コンピュータ１６０からの指示内容を、不図示のメモリに一時的に記憶する。【００９４】
次に、ヘッド試験装置１０において、機能拡張装置２０がヘッド試験装置１０に電気的に接続されているか否かが判定される（ステップＳ１０２）。ステップＳ１０２の判定は、ヘッド試験装置１０の検知部１５２２で実行される。機能拡張装置２０が接続されていると判定されると（ステップＳ１０２におけるＹｅｓ判定）、機能拡張装置２０に対して、試験用アクセス信号を取り込んで、取り込んだ試験用アクセス信号を解析するという一連の処理の実行を指示する起動要求が出される（ステップＳ１０３）。上述したように、この起動要求は、ヘッド試験装置１０の確認部１５２３によって出力される。次に、ヘッド試験装置１０では、ステップＳ１０１においてコンピュータ１６０からヘッド操作部１５１１に指示されたアクセス条件が機能拡張装置２０に通知されるのであるが、まずは、機能拡張装置２０側が、そのアクセス条件を受信可能な状態になるまで待機状態となる（ステップＳ１０４）。【００９５】
機能拡張装置２０では、ヘッド試験装置１０において起動要求が出されると、図６のサブルーチンがスタートする。そして、サブルーチンのスタート後に、機能拡張装置２０が上記のアクセス条件を受信可能な状態になったことが、ヘッド試験装置１０に向けて通知される（ステップＳ５０１）。この通知は、ヘッド試験装置１０の確認部１５２３に対してなされる。【００９６】
ヘッド試験装置１０では、図５のフローチャートにおいて、機能拡張装置２０が上記のアクセス条件を受信可能な状態になった旨の通知を確認部１５２３が機能拡張装置２０から受け取ると（ステップＳ１０４におけるＹｅｓ状態）、条件通知部１５２４が上記のアクセス条件を機能拡張装置２０へ向けて送信する（ステップＳ１０５）。また、この時には、アクセス条件を送信中であることを表わす送信フラグが立てられる。そして、アクセス条件の送信が完了すると、条件通知部１５２４は、その旨を機能拡張装置２０に通知する（ステップＳ１０６）。【００９７】
ここで、アクセス条件は符号化信号として送信され、送信中は、機能拡張装置２０の通信用ボード２１１内の不図示のバッファメモリに格納される。そして、機能拡張装置２０では、ヘッド試験装置１０からの送信が完了した後、バッファメモリ内の符号化信号が複合化されることでアクセス条件が取り込まれる。【００９８】
機能拡張装置２０は、図６のフローチャートにおいて、ステップＳ５０１の処理が終了した後は、ヘッド試験装置１０でアクセス条件の送信が完了するまで待機状態となる（ステップＳ５０２）。そして、上記の条件通知部１５２４から送信が完了した旨の通知を受けると（ステップＳ５０２におけるＹｅｓ判定）、アクセス条件の取込みの開始を条件通知部１５２４に通知し（ステップＳ５０３）、その取込みを実行する（ステップＳ５０４）。【００９９】
ヘッド試験装置１０は、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１０６の処理が終了した後は、機能拡張装置２０でアクセス条件の取込みが開始されるまで待機状態となる（ステップＳ１０７）。そして、条件通知部１５２４が機能拡張装置２０から取込みの開始を通知されると（ステップＳ１０７におけるＹｅｓ判定）、ステップＳ１０５において立てられた送信フラグがクリアされ、その旨が条件通知部１５２４によって機能拡張装置２０に通知される（ステップＳ１０８）。そして、その後は、機能拡張装置２０においてアクセス条件の取込みが終了するまで待機状態となる（ステップＳ１０９）。【０１００】
機能拡張装置２０は、図６のフローチャートにおいて、ステップＳ５０４の処理が終了した後は、ヘッド試験装置１０側で上記の送信フラグがクリアされるまで待機状態となる（ステップＳ５０５）。そして、送信フラグのクリアが条件通知部１５２４から通知されれると（ステップＳ５０５におけるＹｅｓ判定）、アクセス条件の取込みの終了が、条件通知部１５２４に通知される（ステップＳ５０６）。続いて、取り込んだアクセス条件が解析され（ステップＳ５０７）、その解析結果に基いて、試験用アクセス信号の取込み開始を示すトリガパルスを生成するためのトリガ条件が設定される（ステップＳ５０８）。さらに、上記の解析結果に基いて、例えばＡ／ＤＣボード２１２でのアナログ／デジタル変換におけるサンプリング周期等といった、アナログ／デジタル変換のための条件（Ａ／ＤＣ条件）が設定され（ステップＳ５０９）、その設定されたＡ／ＤＣ条件に従ってＡ／ＤＣボード２１２が起動される（ステップＳ５１０）。そして、ここまでの処理が終了すると、アクセス信号の取込みのための準備が完了した旨が、ヘッド試験装置１０の確認部１５２３に通知される（ステップＳ５１１）。【０１０１】
ヘッド試験装置１０は、図５のフローチャートにおいて、アクセス条件の取込みの終了が通知されると（ステップＳ１０９におけるＹｅｓ判定）、今度は、機能拡張装置２０においてアクセス信号の取込みのための準備が完了するまで待機状態となる（ステップＳ１１０）。そして、その準備の完了が通知されると（ステップＳ１１０におけるＹｅｓ判定）、試験対象の磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させる操作をヘッド操作部１５１１が開始する旨を、確認部１５２３が機能拡張装置２０に通知し（ステップＳ１１１）、ヘッド操作部１５１１が、その操作を開始する（ステップＳ１１２）。また、ステップＳ１１２では、この操作によって実行される試験用アクセスで得られる試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かの判定が、ヘッド試験装置１０の試験制御用ボード群１５１の試験部１５１２で実行される。ここで、ステップＳ１１２において実行される試験用アクセスおよび判定処理は、ステップＳ１０１においてコンピュータ１６０からヘッド操作部１５１１に指示され不図示のメモリに一時的に記憶されたアクセス条件に対応した試験用アクセスおよび判定処理である。また、試験制御用ボード群１５１の信号出力部１５１３からは、試験用アクセスで得られる試験用アクセス信号がアナログ信号の状態で機能拡張装置２０のＡ／ＤＣボード２１２に送られる。【０１０２】
機能拡張装置２０は、図６のフローチャートにおいて、ステップＳ５１１の処理が終了した後は、ヘッド操作部１５１１が試験対象の磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させる操作を開始するまで待機状態となる（ステップＳ５１２）。そして、磁気ヘッドの操作の開始が通知されると、Ａ／ＤＣボード２１２で試験用アクセス信号が取り込まれる（ステップＳ５１３）。【０１０３】
ここで、試験用アクセス信号の取込みについて別図を用いて詳細に説明する。【０１０４】
図７は、試験用アクセス信号の取込みを説明する説明図である。ここではインデックスパルスに同期したトリガパルスを生成する場合について説明する。【０１０５】
ヘッド試験装置１０の通信用ボード１５２には、上述したように、インデックスパルスＩＰが試験制御用ボード群１５１から入力されている。図７のパート（Ａ）には、そのインデックスパルスＩＰが模式的に示されている。インデックスパルスＩＰは、ヘッド試験装置１０の通信用ボード１５２の基準出力部１５２１から機能拡張装置２０の通信用ボード２１１に向けて出力される。【０１０６】
機能拡張装置２０の通信用ボード２１１は、上記のステップＳ５１２において磁気ヘッドの操作の開始が通知されると、通知の直後に送られてきたインデックスパルスＩＰからある遅れ時間Ｔ１が経過したタイミングに、Ａ／ＤＣボード２１２でのアナログ／デジタル変換の開始を告げるトリガパルスＴＰを発生させる。図７のパート（Ｂ）には、トリガパルスＴＰが模式的に示されている。ここで、遅れ時間Ｔ１は、上記のステップＳ５０７において実行されたアクセス条件の解析に基いて、上記のステップＳ５０８におけるトリガ条件の設定において最適な値に決められる。【０１０７】
トリガパルスＴＰが発生すると、機能拡張装置２０のＡ／ＤＣボード２１２は、トリガパルスＴＰの発生の後、ある変換時間Ｔ２に亘ってアナログ／デジタル変換を実行し、その間に送られてきた試験用アクセス信号をデジタル信号に変換する。変換済みの試験用アクセス信号は、機能拡張装置２０内の不図示のメモリに格納される。図７のパート（Ｃ）には、アナログ／デジタル変換のタイミングが模式的に示されている。ここで、変換時間Ｔ２は、上記のステップＳ５０７において実行されたアクセス条件の解析に基いて、上記のステップＳ５０９におけるＡ／ＤＣ条件の設定において最適な値に決められる。【０１０８】
以上、この図７を参照して説明したように、上記のインデックスパルスＩＰを使って作られたトリガパルスＴＰを受けて試験用アクセス信号の取込みを開始することにより、機能拡張装置２０は、ヘッド試験装置１０で実行される試験用アクセスに確実に同期して試験用アクセス信号の取り込むことができる。【０１０９】
再び、図５および図６を参照して、ヘッド試験装置１０および機能拡張装置２０それぞれにおける残りの処理について説明する。【０１１０】
機能拡張装置２０では、図６のフローチャートにおいて、ステップＳ５１３による試験用アクセス信号の取込みが終了すると、次に、その取り込んだ試験用アクセス信号に対して、機能拡張装置２０のＣＰＵボード２１３が周波数解析等といった解析処理を実行する（ステップＳ５１４）。そして、解析処理が終了すると、機能拡張装置２０の通信用ボード２１１が、ヘッド試験装置１０の通信用ボード１５２の確認部１５２３に、試験用アクセス信号に対する取込みと解析処理が終了した旨を通知する（ステップＳ５１５）。そして、ステップＳ５１５の処理が終了すると、機能拡張装置２０における処理は、図４のフローチャートが示すメインルーチンに戻る。【０１１１】
ヘッド試験装置１０では、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ１１２で磁気ヘッドの操作が開始された後、機能拡張装置２０における試験用アクセス信号に対する取込みと解析処理が終了するまで、磁気ヘッドの操作が続けられる（ステップＳ１１３）。そして、これらの処理の終了が機能拡張装置２０から通知されると（ステップＳ１１３におけるＹｅｓ判定）、ヘッド試験装置１０の試験制御用ボード群１５１のヘッド操作部１５１１が、磁気ヘッドに対する操作を停止する（ステップＳ１１４）。【０１１２】
ここで、ヘッド試験装置１０では、図５のフローチャートのステップＳ１０２において、そもそも機能拡張装置２０が接続されていないと判定された場合には（ステップＳ１０２におけるＮｏ判定）、ここまでに説明したステップＳ１０３からステップＳ１１３に至る処理に替えて、ヘッド操作部１５１１の操作による試験用アクセスと、試験部１５１２による試験用アクセス信号に対する判定処理がその判定処理に要する所定時間に亘って実行され（ステップＳ１１５）、ステップＳ１１４において磁気ヘッドに対する操作が停止される。ここで、本実施形態では、ステップＳ１１２において実行される試験用アクセスおよび判定処理と、ステップＳ１１５において実行される試験用アクセスおよび判定処理とは互いに同種である。ただし、ステップＳ１１５の処理では、試験用アクセスは判定処理が終了すると直ちに停止されるのに対し、ステップＳ１１２からステップＳ１１３に至る処理では、機能拡張装置２０における試験用アクセス信号の取込みと解析処理とが終了するまで試験用アクセスが継続される。【０１１３】
ステップＳ１１４において磁気ヘッドに対する操作が停止されると、ヘッド試験装置１０における処理が、図３のフローチャートが示すメインルーチンに戻る。【０１１４】
以上、図３から図７を参照して説明した処理によれば、上記の第１のヘッド試験解析システム１において、ヘッド試験装置１０単独では、試験対象の磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かが短時間で試験され、そのヘッド試験装置１０に機能拡張装置２０が接続されることで、ヘッド試験装置１０で得られる試験用アクセス信号に対して、周波数解析等といった詳細な解析処理が実行される。また、機能拡張装置２０が接続されているときには、機能拡張装置２０が試験用アクセス信号を試験用アクセスに同期して適切に取り込めるように、ヘッド試験装置１０から出力された上記のインデックスパルスを使って生成されたトリガパルスに基いて試験用アクセス信号の取込みが開始される。このような処理によって、機能拡張装置２０は、試験用アクセス信号を適切かつ容易に取り込んで解析することができる。【０１１５】
次に、本発明の第２実施形態について説明する。【０１１６】
図８は、本発明の第２実施形態である第２のヘッド試験解析システムを示す図である。【０１１７】
図８に示す第２のヘッド試験解析システム２は、試験対象の磁気ヘッドが必要な性能を有しているか否かを試験するヘッド試験装置５０を複数台と、各ヘッド試験装置５０で得られるアクセス信号に対する解析処理を実行する１台の機能拡張装置６０とを備えている。ここで、各ヘッド試験装置５０および機能拡張装置６０それぞれは、本発明の第１実施形態である図１の第１のヘッド試験解析システム１におけるヘッド試験装置１０および機能拡張装置２０とほぼ同等な装置であるので、以下では、これらの装置についての重複説明を省略して、第１実施形態との相違点に注目した説明を行なう。【０１１８】
まず、図８に示すヘッド試験解析システム２では、機能拡張装置６０は、複数台のヘッド試験装置５０のうちその機能拡張装置６０が接続されているヘッド試験装置５０に対して、試験用アクセス信号の解析処理を実行する。ここで、接続されているヘッド試験装置５０が複数台ある場合には、機能拡張装置６０は、上述したような試験用アクセス信号の取込みと解析処理とを相手の装置を順次に切り換えて実行する。そこで、本実施形態では、この機能拡張装置６０の通信用ボード６１１およびＡ／ＤＣボード６１２が、そのような切換えを行なう切換え機能を有している。【０１１９】
ここで、ヘッド試験解析システム２が備えている複数台のヘッド試験装置５０は互いに同じ装置であるが、製造誤差、使用時の使用環境、および使用頻度等により装置特性に若干のバラつきが存在している。このとき、装置特性が標準的な特性から余りにも離れているようなヘッド試験装置５０については、試験結果の信憑性が低い等の問題があるため、標準的な装置特性を有する別のヘッド試験装置と交換するか、あるいは試験時に得られる試験用アクセス信号に何らかの補正処理を施す等といった対処が必要となる。【０１２０】
このため、ヘッド試験解析システム２が備えている機能拡張装置６０には、ヘッド試験解析システム２を構成する複数台のヘッド試験装置５０における装置特性を評価する評価機能が備えられている。評価機能は、機能拡張装置６０が有しているＣＰＵボード６１３および標準信号入力部６５０とで担われている。これらＣＰＵボード６１３と標準信号入力部６５０とを合わせたものは、本発明にいう評価装置の一例に相当し、ＣＰＵボード６１３と標準信号入力部６５０とは、それぞれ本発明にいう評価部と標準信号入力部との各一例に相当する。【０１２１】
標準信号入力部６５０は、ヘッド試験装置５０において磁気ヘッドが出力する試験用アクセス信号に替わる標準信号を出力するものである。本実施形態では、各ヘッド試験装置５０の搭載部５３０のインタフェース部５３４に、標準信号入力部６５０からの標準信号が入力されるための入力コネクタ５３４ａが設けられている。標準信号は、この入力コネクタ５３４ａに接続された第４の接続ケーブル３０３を介して標準信号入力部６５０からヘッド試験装置５０のインタフェース部５３４に入力される。【０１２２】
ヘッド試験装置５０のインタフェース部５３４は、入力された標準信号を試験用アクセス信号として扱い標準信号に所定のゲインでの増幅等といった信号処理を施す。そして、処理済の標準信号が、ヘッド試験装置５０の試験制御用シェルフ５５０から機能拡張装置６０に出力され、機能拡張装置６０のＡ／ＤＣボード６１２によって取り込まれる。【０１２３】
ここで、本実施形態では、機能拡張装置６０に、評価対象の複数台のヘッド試験装置５０が接続された状態で、各ヘッド試験装置５０への標準信号の入力と、各ヘッド試験装置５０からの上記の処理済の標準信号の取込みとが実行される。【０１２４】
標準信号入力部６５０は、入力先のヘッド試験装置５０を順次に切換えながら標準信号を入力し、Ａ／ＤＣボード６１２は、標準信号が入力されたヘッド試験装置５０からの処理済の標準信号を取り込む。これら一連の処理は、機能拡張装置６０のＣＰＵボード６１３によって制御される。【０１２５】
また、本実施形態では、標準信号入力部６５０とＡ／ＤＣボード６１２とは、標準信号用ケーブル６１５によって接続されており、標準信号がＡ／ＤＣボード６１２にも入力されている。そして、Ａ／ＤＣボード６１２を経た標準信号に基いて、ＣＰＵボード６１３は、標準的な装置特性のヘッド試験装置から出力されるであろう処理済の標準信号を算出する。【０１２６】
機能拡張装置６０のＣＰＵボード６１３は、各ヘッド試験装置５０から得た上記の処理済の標準信号と、上記の算出によって得た処理済の標準信号とを相互に比較することで、各ヘッド試験装置５０における装置特性を評価する。【０１２７】
以上、説明した図８に示す第２のヘッド試験解析システムによれば、例えば、システムを構成するヘッド試験装置５０の装置特性を定期的に評価する等といった運用により、各ヘッド試験装置５０における試験結果の信憑性を常に把握することができる。【０１２８】
尚、上記では、本発明のヘッド試験解析システムの一実施形態として、磁気ヘッドを試験および解析の対象としたヘッド試験解析システムを例示したが、本発明はこれに限るものではない。本発明のヘッド試験解析システムは、例えば、光学的に情報が記録される光ディスクにアクセスする光学ヘッド等といった、磁気ヘッド以外のヘッドを試験および解析の対象としたヘッド試験解析システム等であっても良い。【０１２９】
また、上記では、ヘッド試験装置の通信用ボードと機能拡張装置の通信用ボードとの間における、アクセス条件の通知等といった各種情報のやり取りが接続ケーブルを介して実行されるという形態を例示したが、本発明はこれに限るものではなく、２つの通信用ボード間での各種情報のやり取りは、例えば無線によって実行されても良く、また、例えばインターネット等を介して実行されても良い。【０１３０】
また、上記では、本発明にいう評価装置の一例として、ヘッド試験装置の装置特性に対する評価のみを行なう評価装置を例示したが、本発明はこれに限るものではなく、本発明にいう評価装置は、例えば、その評価結果に基いて、ヘッド試験装置の装置特性を標準的な装置特性に補正する補正機能を有するもの等であっても良い。
【図１】
2007116472.tif 000003
【図２】
2007116472.tif 000004
【図３】
2007116472.tif 000005
【図４】
2007116472.tif 000006
【図５】
2007116472.tif 000007
【図６】
2007116472.tif 000008
【図７】
2007116472.tif 000009
【図８】
2007116472.tif 000010
【手続補正書】
【提出日】平成20年9月22日(2008.9.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置において、
前記ヘッドが搭載される搭載部と、
前記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
前記試験用アクセスの際に前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで該ヘッドを試験する試験部と、
前記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で前記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたことを特徴とするヘッド試験装置。
【請求項２】
前記ヘッド操作部が、前記搭載部に搭載されたヘッドに、複数種類のアクセス条件それぞれの下で前記試験用アクセスを実行させるものであり、
前記試験部が、前記所定基準として複数種類のアクセス条件それぞれに対応した基準を有し、各アクセス条件の下で前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号が、そのアクセス条件に対応する基準を満たしているか否かを判定するものであり、
前記ヘッド操作部が前記ヘッドに実行させる試験用アクセスに対応したアクセス条件を、このヘッド試験装置の外部に通知する条件通知部を備えたことを特徴とする請求項１記載のヘッド試験装置。
【請求項３】
前記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の準備が実行された後に取り込まれるものであり、
このヘッド試験装置の外部において前記準備が完了したことの確認と、その外部において前記試験用アクセス結果の取込みが終了したことの確認とを行なう確認部を備え、
前記ヘッド操作部は、前記準備が完了したことが前記確認部で確認されてから前記取込みが終了したことが該確認部で確認されるまでの間、前記試験用アクセスを前記搭載部に搭載されたヘッドに実行させるものであることを特徴とする請求項１記載のヘッド試験装置。
【請求項４】
前記試験用アクセス信号は、このヘッド試験装置の外部において、所定の外部装置に取り込まれるものであり、
前記外部装置がこのヘッド試験装置に対して電気的に接続された接続状態にあることを検知する検知部を備え、
前記信号出力部は、前記検知部で前記接続状態が検知されている時に、前記アクセス信号を出力するものであり、
前記基準出力部は、前記検知部で前記接続状態が検知されている時に、前記基準信号を出力するものであることを特徴とする請求項１記載のヘッド試験装置。
【請求項５】
記録媒体にアクセスし、そのアクセスで得られるアクセス信号を出力するヘッドを試験するヘッド試験装置と、前記ヘッドが出力するアクセス信号を取り込み、その取り込んだアクセス信号に対して所定の解析処理を実行する外部装置とからなるヘッド試験解析システムにおいて、
前記ヘッド試験装置が、
前記ヘッドが搭載される搭載部と、
前記搭載部に搭載されたヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部と、
前記試験用アクセスの際に前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することで該ヘッドを試験する試験部と、
前記試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部と、
前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で前記試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部とを備えたものであり、
前記外部装置は、前記信号出力部が出力した試験用アクセス信号を、前記基準出力部が出力した基準信号に基いて、前記試験用アクセスに同期して取り込むものであることを特徴とするヘッド試験解析システム。
【請求項６】
前記ヘッド試験装置に、前記ヘッドが出力する試験用アクセス信号に替えて、所定の標準信号を入力する標準信号入力部と、前記信号出力部がその入力された標準信号を入手して出力したときのその出力された標準信号を入手し、その入手した標準信号に基いて該ヘッド試験装置を評価する評価部とを有する評価装置を備えたことを特徴とする請求項５記載のヘッド試験解析システム。
【国際調査報告】
2007116472.tif 000011
2007116472.tif 000012
2007116472.tif 000013
2007116472.tif 000014