(57)【要約】  信号を伝送する伝送回路の特性を測定する測定装置であって、伝送回路は、送信信号を送信する電気信号送信部と、送信信号を光信号に変換する電光変換部と、光信号を伝送する光信号伝送部と、光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、光電変換回路が出力する電気信号の強度と、予め定められる参照レベルとを比較することにより、電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と、電気信号受信部が電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部とを備え、測定装置は、電気信号受信部が取り込んだ電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較部と、参照レベル及びラッチタイミングを順次変化させる設定制御部と、比較部における比較結果を、参照レベル及びラッチタイミング毎に格納する結果格納部とを備える測定装置を提供する。
2007069631.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号を伝送する伝送回路の特性を測定する測定装置であって、
前記伝送回路は、
送信信号を送信する電気信号送信部と、
前記送信信号を光信号に変換する電光変換部と、
前記光信号を伝送する光信号伝送部と、
前記光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、
前記光電変換回路が出力する前記電気信号の強度と、予め定められる参照レベルとを比較することにより、前記電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、
前記電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と、
前記電気信号受信部が前記電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部と
を備え、
前記測定装置は、
前記電気信号受信部が取り込んだ前記電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較部と、
前記参照レベル及び前記ラッチタイミングを順次変化させる設定制御部と、
前記比較部における比較結果を、前記参照レベル及び前記ラッチタイミング毎に格納する結果格納部と
を備える測定装置。
【請求項２】
前記設定制御部は、前記参照レベルを変化させる毎に、前記ラッチタイミングを予め定められたタイミング変化範囲で順次変化させる
請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記設定制御部は、前記ラッチタイミングを変化させる毎に、前記参照レベルを予め定められたレベル変化範囲で順次変化させる
請求項１に記載の測定装置。
【請求項４】
前記参照レベル及び前記ラッチタイミング毎の前記比較結果に基づいて、前記伝送回路のタイミングマージンを測定する伝送系測定部を更に備える
請求項２又は３に記載の測定装置。
【請求項５】
前記伝送系測定部は、前記タイミングマージンに基づいて、前記伝送回路の実使用時に設定すべき前記ラッチタイミングを算出する
請求項４に記載の測定装置。
【請求項６】
前記電気信号送信部に、Ｈレベルを示す前記送信信号と、Ｌレベルを示す前記送信信号とを予め順次送信させる初期設定信号制御部と、
前記電気信号送信部がＨレベル及びＬレベルの前記送信信号を送信した場合に、前記参照レベルを順次変化させ、前記レベル測定部が測定する前記電気信号のデータ値が切り替わる前記参照レベルを、Ｈレベルの前記送信信号及びＬレベルの前記送信信号のそれぞれに対して予め検出する初期設定情報検出部と、
前記初期設定情報検出部が検出したそれぞれの前記参照レベルに基づいて、前記レベル変化範囲を予め算出する初期設定算出部と
を更に備える請求項３に記載の測定装置。
【請求項７】
信号を伝送する伝送回路であって、
送信信号を送信する電気信号送信部と、
前記送信信号を光信号に変換する電光変換部と、
前記光信号を伝送する光信号伝送部と、
前記光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、
前記電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と
を備え、
前記光電変換回路は、
前記電気信号の強度と、予め定められる参照レベルとを比較することにより、前記電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、
前記参照レベルを制御する測定制御部と
を有し、
前記電気信号受信部は、
前記電気信号のデータ値を検出する受信回路と、
前記受信回路が前記データ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部と
を有する伝送回路。
【請求項８】
前記測定制御部は、前記伝送回路に接続される装置から与えられるレベル設定信号に応じて前記参照レベルを制御し、
前記タイミング制御部は、前記伝送回路に接続される装置から与えられるタイミング設定信号に応じて前記ラッチタイミングを制御する
請求項７に記載の伝送回路。
【請求項９】
前記電気信号受信部は、前記受信回路が取り込んだ前記電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較部を更に有する
請求項７に記載の伝送回路。
【請求項１０】
前記比較部は、前記伝送回路に接続される装置に比較結果を出力する
請求項９に記載の伝送回路。
【請求項１１】
前記電気信号受信部は、前記送信信号と略同一のパターンを有する前記期待値を生成する期待値発生部を更に有する
請求項９に記載の伝送回路。
【請求項１２】
信号を伝送する伝送回路の特性を測定する測定方法であって、
前記伝送回路は、
送信信号を送信する電気信号送信部と、
前記送信信号を光信号に変換する電光変換部と、
前記光信号を伝送する光信号伝送部と、
前記光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、
前記光電変換回路が出力する前記電気信号の強度と、予め定められる参照レベルとを比較することにより、前記電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、
前記電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と、
前記電気信号受信部が前記電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部と
を備え、
前記測定方法は、
前記電気信号受信部が取り込んだ前記電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較段階と、
前記参照レベル及び前記ラッチタイミングを順次変化させる設定制御段階と、
前記比較段階における比較結果を、前記参照レベル及び前記ラッチタイミング毎に格納する結果格納段階と
を備える測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定装置、測定方法、及び伝送回路に関する。特に本発明は、光伝送系を含む伝送回路の特性を測定する測定装置及び測定方法、並びに特性を容易に測定できる伝送回路に関する。本出願は、下記の米国出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の一部とする。
出願番号１１／３００，６８４    出願日  ２００５年１２月１４日
【背景技術】
【０００２】
従来、送信側デバイスから受信側デバイスまでにおける信号の伝送系として、光伝送系を含む伝送回路が知られている。当該伝送回路は、例えば電気信号を伝送する系と、電気信号を光信号に変換する系と、光信号を伝送する系と、光信号を電気信号に変換する系とを備える。【０００３】
当該伝送回路が正しくデータ伝送できるか否かを診断するべく、従来の測定方法では、送信側デバイスから既知のパターンデータを送信させ、受信側デバイスが受け取るパターンデータと、既知のパターンデータとを比較することにより、当該伝送回路を診断している。【０００４】
また、当該伝送回路を伝送した信号が、どれだけのタイミングマージンを有して、受信側デバイスで正しく受信できるかも、伝送回路の特性として重要である。現在、関連する特許文献等は認識していないので、その記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、光伝送系を含む伝送回路においては、発光素子や受光素子等の素子特性のバラツキや、光射出面、光入射面等の汚染による伝送特性のバラツキが大きい。このため、光伝送系における受光特性等を含む詳細な測定を行うことが好ましいが、従来の方法では、詳細な測定を行うことが困難であった。【０００６】
このため本発明の一つの側面においては、上述した課題を解決することのできる測定装置、測定方法、及び伝送回路を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、信号を伝送する伝送回路の特性を測定する測定装置であって、伝送回路は、電気信号を送信する電気信号送信部と、送信信号を光信号に変換する電光変換部と、光信号を伝送する光信号伝送部と、光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、光電変換回路が出力する電気信号の大きさと、予め定められる参照レベルとを比較することにより、電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と、電気信号受信部が電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部とを備え、測定装置は、電気信号受信部が取り込んだ電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較部と、参照レベル及びラッチタイミングを順次変化させる設定制御部と、比較部における比較結果を、参照レベル及びラッチタイミング毎に格納する結果格納部とを備える測定装置を提供する。【０００８】
設定制御部は、参照レベルを変化させる毎に、ラッチタイミングを予め定められたタイミング変化範囲で順次変化させてよい。設定制御部は、ラッチタイミングを変化させる毎に、参照レベルを予め定められたレベル変化範囲で順次変化させてよい。【０００９】
参照レベル及びラッチタイミング毎の比較結果に基づいて、伝送回路のタイミングマージンを測定する伝送系測定部を更に備えてよい。伝送系測定部は、タイミングマージンに基づいて、伝送回路の実使用時に設定すべきラッチタイミングを算出してよい。【００１０】
測定装置は、電気信号送信部に、Ｈレベルを示す送信信号と、Ｌレベルを示す送信信号とを予め順次送信させる初期設定信号制御部と、電気信号送信部がＨレベル及びＬレベルの送信信号を送信した場合に、参照レベルを順次変化させ、レベル測定部が測定する電気信号のデータ値が切り替わる参照レベルを、Ｈレベルの送信信号及びＬレベルの送信信号のそれぞれに対して予め検出する初期設定情報検出部と、初期設定情報検出部が検出したそれぞれの参照レベルに基づいて、レベル変化範囲を予め算出する初期設定算出部とを更に備えてよい。【００１１】
本発明の第２の形態においては、信号を伝送する伝送回路であって、電気信号を送信する電気信号送信部と、送信信号を光信号に変換する電光変換部と、光信号を伝送する光信号伝送部と、光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部とを備え、光電変換回路は、電気信号の大きさと、予め定められる参照レベルとを比較することにより、電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、参照レベルを制御する測定制御部とを有し、電気信号受信部は、電気信号のデータ値を検出する受信回路と、受信回路がデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部とを有する伝送回路を提供する。【００１２】
測定制御部は、伝送回路に接続される装置から与えられるレベル設定信号に応じて参照レベルを制御し、タイミング制御部は、伝送回路に接続される装置から与えられるタイミング設定信号に応じてラッチタイミングを制御してよい。【００１３】
電気信号受信部は、受信回路が取り込んだ電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較部を更に有してよい。比較部は、伝送回路に接続される装置に比較結果を出力してよい。電気信号受信部は、送信信号と略同一のパターンを有する期待値を生成する期待値発生部を更に有してよい。【００１４】
本発明の第３の形態においては、信号を伝送する伝送回路の特性を測定する測定方法であって、伝送回路は、電気信号を送信する電気信号送信部と、送信信号を光信号に変換する電光変換部と、光信号を伝送する光信号伝送部と、光信号を電気信号に変換する光電変換回路と、光電変換回路が出力する電気信号の大きさと、予め定められる参照レベルとを比較することにより、電気信号のデータ値を検出するレベル測定部と、電気信号のデータ値を検出する電気信号受信部と、電気信号受信部が電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御するタイミング制御部とを備え、測定方法は、電気信号受信部が取り込んだ電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する比較段階と、参照レベル及びラッチタイミングを順次変化させる設定制御段階と、比較段階における比較結果を、参照レベル及びラッチタイミング毎に格納する結果格納段階とを備える測定方法を提供する。【００１５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施形態に係る伝送回路１００の構成の一例を示す図である。
【図２】伝送回路１００の特性を測定する測定装置２００の構成の一例を示す図である。
【図３】図２に示した測定装置２００の動作の一例を示す図である。
【図４】結果格納部１２０が格納した比較結果の一例を示す図である。
【図５】測定装置２００の構成の他の例を示す図である。
【図６】図５に示した測定装置２００の動作の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００１７】
１０・・・電気信号送信部、１２・・・パターン発生部、１４・・・ドライバ、２２・・・電光変換部、２４・・・光信号伝送部、３０・・・光電変換回路、３２・・・光電変換部、３４・・・レベル測定部、３６・・・測定制御部、３８・・・増幅部、４０・・・電気信号受信部、４２・・・受信回路、４４・・・タイミング制御部、４６・・・期待値発生部、４８・・・比較部、１００・・・伝送回路、１１０・・・伝送系測定部、１２０・・・結果格納部、１３０・・・設定制御部、１４０・・・初期設定算出部、１５０・・・初期設定情報検出部、１６０・・・初期設定信号制御部、２００・・・測定装置
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。【００１９】
図１は、本発明の実施形態に係る伝送回路１００の構成の一例を示す図である。伝送回路１００は、電気信号送信部１０、電光変換部２２、光信号伝送部２４、光電変換回路３０、及び電気信号受信部４０を備える。伝送回路１００は、送信デバイス及び受信デバイスとの間において信号を伝送する回路であってよい。また、伝送回路１００は、送信デバイス及び受信デバイスの一部を含む系であってもよい。例えば、電気信号送信部１０は、送信デバイスに設けられるものであってよく、光電変換回路３０及び電気信号受信部４０は、受信デバイスに設けられるものであってもよい。【００２０】
本例において、電気信号送信部１０は、パターン発生部１２及びドライバ１４を有する。パターン発生部１２は、伝送すべき電気信号の信号パターンを生成する。パターン発生部１２は、例えば予め与えられるプログラムに基づいて当該信号パターンを生成するアルゴリズムパターン発生装置であってよく、信号パターンとして、擬似ランダムパターンを生成する擬似ランダムパターン発生装置であってもよい。【００２１】
ドライバ１４は、パターン発生部１２から与えられる信号パターンに基づいて、電気信号を生成し、送信信号として電光変換部２２に出力する。光信号伝送部２４は、光信号伝送媒体であり、例えば、光ファイバ、光導波路であってよい。電光変換部２２は、電気信号送信部１０が出力する送信信号を光信号に変換する。電光変換部２２は、例えば送信信号に応じて発光するレーザダイオードである。また、光信号伝送部２４は、電光変換部２２が出力する光信号を、光電変換回路３０に伝送する。【００２２】
光電変換回路３０は、光電変換部３２、レベル測定部３４、測定制御部３６、及び増幅部３８を有する。光電変換部３２は、光信号伝送部２４が伝送する光信号を受け取り、電気信号に変換する。例えば、光電変換部３２は、受光する光信号に応じた電流を生成するフォトダイオードである。【００２３】
レベル測定部３４は、光電変換部３２が出力する電気信号の大きさと、予め定められる参照レベルとを比較することにより、電気信号のデータ値を検出する。例えばレベル測定部３４は、電気信号の大きさが参照レベルより大きい場合に、当該電気信号のデータ値としてＨレベルを出力し、電気信号の強度が参照レベル以下である場合に、当該電気信号のデータ値としてＬレベルを出力する。【００２４】
測定制御部３６は、レベル測定部３４における参照レベルを制御する。例えば、測定制御部３６は、ＤＡ変換器であって、与えられるレベル設定信号に応じた参照レベルをレベル測定部３４に供給する。増幅部３８は、レベル測定部３４が出力する信号レベルを、所定の信号レベルに増幅する。【００２５】
電気信号受信部４０は、光電変換部３２が出力する電気信号を受信する。本例において電気信号受信部４０は、受信回路４２、タイミング制御部４４、期待値発生部４６、及び比較部４８を有する。受信回路４２は、増幅部３８が出力する信号を受け取る。本例において受信回路４２は、増幅部３８が出力する電気信号のデータ値を、与えられるラッチタイミングで検出する。【００２６】
タイミング制御部４４は、受信回路４２が電気信号のデータ値を検出するラッチタイミングを制御する。例えばタイミング制御部４４は、所定の周期のクロック信号を、与えられるタイミング設定信号に応じて遅延させて受信回路４２に供給する。受信回路４２は、タイミング制御部４４から与えられる信号のエッジに応じて、電気信号のデータ値を順次検出する。【００２７】
比較部４８は、受信回路４２が検出した電気信号のデータ値を、予め定められた期待値と比較する。期待値発生部４６は、当該期待値を生成し、比較部４８に供給する。期待値発生部４６は、パターン発生部１２が出力する信号パターンと同一のパターンを有する期待値を生成してよい。本例において比較部４８及び期待値発生部４６は、伝送回路１００に設けられているが、他の例においては、外部の測定装置が比較部４８及び期待値発生部４６を有してよい。【００２８】
図２は、伝送回路１００の特性を測定する測定装置２００の構成の一例を示す図である。測定装置２００は、伝送系測定部１１０、結果格納部１２０、及び設定制御部１３０を有する。本例において測定装置２００は、光伝送系を含む伝送回路１００に対し、レベル測定部３４に与える参照レベル、及び受信回路４２に与えるラッチタイミングを、予め定められるレベル変化範囲及びタイミング変化範囲内で順次変化させ、参照レベル及びラッチタイミングのそれぞれの組み合わせ毎に、比較部４８における比較結果を取り込む。測定装置２００は、当該比較結果に基づいて、伝送回路１００の特性を測定する。【００２９】
図３は、図２に示した測定装置２００の動作の一例を示す図である。まず、初期設定段階Ｓ３００において、設定制御部１３０は、伝送回路１００の初期設定を行う。例えば、設定制御部１３０は、測定制御部３６及びタイミング制御部４４が出力する参照レベル及びラッチタイミングを初期値に設定するレベル設定信号及びタイミング設定信号を出力する。【００３０】
次に、パターン発生段階Ｓ３０２において、設定制御部１３０は、パターン発生部１２に所定のパターン信号を生成させる。上述したように、当該パターン信号は、擬似ランダムパターン信号であってよい。また、上述した例においては、伝送回路１００がパターン発生部１２及びドライバ１４を有しているが、他の例においては、測定装置２００がパターン発生部１２及びドライバ１４を有してもよい。この場合、測定装置２００が、送信信号を生成し、伝送回路１００に入力する。【００３１】
次に、比較結果格納段階Ｓ３０４において、結果格納部１２０は、比較部４８における比較結果を格納する。比較結果格納段階Ｓ３０４において、比較部４８は、予め定められた試験周期毎に、比較結果を出力してよい。例えば、当該試験周期は、電気信号送信部１０が出力する送信信号の所定のサイクル数を含む周期であってよい。この場合、比較部４８は、当該所定のサイクル数の間において、受信回路４２が検出した電気信号のデータ値のそれぞれと、期待値発生部４６が出力する期待値パターンのデータ値のそれぞれとが全て一致した場合に、当該試験周期における比較結果として、パスを出力する。また、いずれかのデータが一致しない場合に、当該試験周期における比較結果として、フェイルを出力する。【００３２】
次に、第１判定段階Ｓ３０６において、設定制御部１３０は、現在設定されている参照レベルに対し、設定すべきラッチタイミングを全て設定したか否かを判定する。例えば、設定制御部１３０が、タイミング変化範囲の全体に渡って、ラッチタイミングを所定の分解能で変化させたか否かを判定する。第１判定段階Ｓ３０６において、まだ設定していないラッチタイミングが存在する場合、設定制御部１３０は、次のラッチタイミングを設定する（タイミング変更段階Ｓ３０８）。そして、全てのラッチタイミングに対して比較結果を格納するまで、Ｓ３０４からＳ３０６の処理を繰り返す。このとき、パターン発生部１２は、それぞれのラッチタイミングに対して、同一のパターン信号を生成してよい。【００３３】
また、第１判定段階Ｓ３０６において、すべてのラッチタイミングを設定し終えたと判定した場合、設定制御部１３０は、タイミング制御部４４を初期化するタイミング設定信号を供給する（タイミング設定初期化段階Ｓ３１０）。【００３４】
次に、第２判定段階Ｓ３１２において、設定制御部１３０は、設定すべき全ての参照レベルを設定したか否かを制御する。例えば、設定制御部１３０が、レベル変化範囲の全体に渡って、参照レベルを所定の分解能で変化させたか否かを判定する。【００３５】
第２判定段階Ｓ３１２において、全ての参照レベルを設定したと判定した場合、測定装置は、比較結果の格納を終了する。また、第２判定段階Ｓ３１２において、設定していない参照レベルが存在すると判定した場合、設定制御部１３０は、次の参照レベルを設定する（レベル変更段階Ｓ３１４）。そして、測定装置２００は、Ｓ３０６からの処理を繰り返す。【００３６】
このような処理により、設定すべき参照レベル及びラッチタイミングの全ての組み合わせに対して、比較結果を格納することができる。結果格納部１２０は、それぞれの比較結果を、参照レベル及びラッチタイミングの組み合わせに対応付けて格納する。【００３７】
また、本例において設定制御部１３０は、参照レベルを変化させる毎に、ラッチタイミングを予め定められたタイミング変化範囲で順次変化させたが、他の例において設定制御部１３０は、ラッチタイミングを変化させる毎に、参照レベルを予め定められたレベル変化範囲で変化させてもよい。【００３８】
図４は、結果格納部１２０が格納した比較結果の一例を示す図である。上述したように、結果格納部１２０は、比較部４８における比較結果を、参照レベル及びラッチタイミング毎に格納する。図４は、横軸をラッチタイミングとし、縦軸に参照レベルとした場合の比較結果の分布の一例を示す。【００３９】
図４に示すように、ラッチタイミング（タイミング設定）を順次変化させると、受信回路４２に入力される信号のエッジ位置に応じて、比較結果がパスとなる領域、及び比較結果がフェイルとなる領域とが交互に出現する。また、参照レベルが極端に大きく、又は小さくなった場合、レベル測定部３４が出力するデータ値は、光電変換回路３０に入力される送信信号のパターンに関わらず一定値となる。このため、比較部４８に入力される信号のパターンと、期待値のパターンとは一致せず、全てのタイミング設定においてフェイルが検出される。【００４０】
伝送系測定部１１０は、当該比較結果に基づいて、伝送回路１００の特性を算出する。例えば、伝送系測定部１１０は、当該比較結果に基づいて、伝送回路１００のタイミングマージンを算出してよい。この場合、伝送系測定部１１０は、比較結果がパスとなるタイミング設定の幅が最も大きいレベル設定（例えば、図４における参照レベルｃ）における、タイミング設定の幅に基づいてタイミングマージンを算出する。例えば、伝送系測定部１１０は、当該タイミング設定の幅の略半値を、伝送回路１００のタイミングマージンとして算出してよい。【００４１】
また、測定装置２００は、当該レベル設定を、伝送回路１００の実使用時に用いるべきレベル設定として、測定制御部３６又はレベル測定部３４に設定してよい。また、測定装置２００は、算出したタイミングマージンに基づいて、伝送回路１００の実使用時に設定すべきラッチタイミングを算出してもよい。例えば、測定装置２００は、当該タイミング設定の幅の略中央のタイミング設定を、伝送回路１００の実使用時に用いるべきタイミング設定として、タイミング制御部４４又は受信回路４２に設定してよい。【００４２】
このような設定を行うことにより、タイミングマージンを最大とする設定を、伝送回路１００の実使用時に行うことができる。また、伝送系測定部１１０は、結果格納部１２０が格納する比較結果に基づいて、伝送回路１００のジッタを算出してもよい。例えば、伝送回路１００における確定ジッタ成分を考慮すると、ある参照レベルを設定したときに、それぞれのタイミング設定に対する試験周期を変化させたとき、即ち、比較部４８が期待値発生部４６から受け取る期待値信号と受信回路４２から受け取る信号とを比較する時間長が変化した場合であっても、比較部４８がそれぞれのタイミング設定に対して出力する比較結果には変化がない。【００４３】
これに対し、伝送回路１００におけるランダムジッタ成分を考慮すると、それぞれのタイミング設定に対する試験周期を大きくした場合、出現確率は小さいが中央値から大きく乖離したジッタまでが検出される。このため、試験周期を大きくするにつれ、図４に示した、パスの比較結果を示すタイミング設定の幅は小さくなる。【００４４】
即ち、測定装置２００は、それぞれのタイミング設定に対して、異なる複数の試験周期で比較結果を検出することにより、伝送回路１００の確定ジッタ成分及びランダムジッタ成分を算出してよい。それぞれの試験周期における、パスの比較結果を示すタイミング設定の幅の変化量に基づいて、伝送回路１００におけるランダムジッタ成分を産出することができる。【００４５】
また以上の例において、設定制御部１３０は、測定制御部３６に対して設定可能な範囲で、参照レベルを変化させている。例えば、測定制御部３６がＤＡコンバータである場合、測定制御部３６が出力可能なレベル範囲の全体に渡って、レベル設定を変化させている。しかし上述したように、所定の参照レベル範囲（例えば、図４におけるレベル設定ａ〜ｂ）以外では、比較結果は全てフェイルとなる。このため、当該参照レベル範囲以外についても、全てのタイミング設定に対して測定を行うことは、過大な測定時間を必要とする。【００４６】
図５は、測定装置２００の構成の他の例を示す図である。本例における測定装置２００は、図２に示した測定装置の構成に加え、初期設定算出部１４０、初期設定情報検出部１５０、及び初期設定信号制御部１６０を更に備える。他の構成要素は、図２において同一の符号を付した構成要素と同様の機能を有する。【００４７】
図６は、図５に示した測定装置２００の動作の一例を示す図である。初期設定信号制御部１６０は、図４に関連して説明した比較結果を測定する処理を行う前に、Ｈレベル示す送信信号と、Ｌレベルを示す送信信号とを、パターン発生部１２に予め順次送信させる。このとき、光電変換部３２が出力する信号波形も、同様にＨレベルとＬレベルとを順次示す。【００４８】
次に、初期設定情報検出部１５０は、パターン発生部１２がＨレベル及びＬレベルの送信信号を送信した場合に、レベル測定部３４に供給する参照レベルを順次変化させる。例えば、送信信号がＨレベルを示す間、初期設定情報検出部１５０は、測定制御部３６に設定可能な上限のレベル設定値から、所定の値ずつ漸減する設定値を順次設定してよい。また、送信信号がＬレベルを示す間、初期設定情報検出部１５０は、測定制御部３６に設定可能な下限のレベル設定値から、所定の値ずつ漸増する設定値を順次設定してよい。【００４９】
そして、初期設定情報検出部１５０は、それぞれの参照レベル毎に、比較部４８における比較結果を受け取る。このとき、比較部４８には、パターン発生部１２が出力する送信信号と同一パターンの期待値が与えられる。【００５０】
初期設定情報検出部１５０は、当該比較結果に基づいて、レベル測定部３４が出力する電気信号のデータ値が切り替わる参照レベルを検出する。つまり、レベル測定部３４に入力される電気信号が論理値Ｈを示すときの当該電気信号の信号レベル、及び当該電気信号が論理値Ｌを示すときの当該電気信号の信号レベルと一致する参照レベルを、論理値Ｈ及び論理値Ｌのそれぞれに対して検出する。【００５１】
そして、初期設定算出部１４０は、初期設定情報検出部１５０が検出したそれぞれの参照レベルに基づいて、上述した参照レベルのレベル変化範囲を算出する。例えば、初期設定算出部１４０は、論理値Ｌに対して検出した参照レベルを下限とし、論理値Ｈに対して検出した参照レベルを上限とするレベル変化範囲を算出してよい。【００５２】
設定制御部１３０は、初期設定算出部１４０が算出したレベル変化範囲において、図３に関連して説明した処理を行ってよい。つまり、それぞれのタイミング設定に対し、当該レベル変化範囲において、参照レベルを順次変化させ、図４に示した比較結果を得てよい。このように、レベル変化範囲を予め設定することにより、図４に示した比較結果を得る処理にかかる時間を短縮することができる。【００５３】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。【００５４】
以上から明らかなように、本発明の実施形態によれば、光伝送系を含む伝送回路の詳細な特性を測定することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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