【手続補正書】
【提出日】平成31年3月19日(2019.3.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
前記試料の温度を検出する１以上の温度センサと、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第１目標温度及び前記第１目標温度よりも低温の第２目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第１目標温度、前記第２目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させることで、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、
前記本試験パターン生成部は、
前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第１検出温度を前記第１目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第２検出温度を前記第２目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成する、試験パターン生成装置。
【請求項２】
前記本試験パターン生成部は、更に、
前記高温さらし期間において前記第１検出温度を前記第１目標温度に到達させるために、前記温度調整器の設定温度を調整し、前記第１検出温度が前記第１目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンの前記高温さらし期間での第１設定温度として決定し、
前記低温さらし期間において前記第２検出温度を前記第２目標温度に到達させるために、前記設定温度を調整し、前記第２検出温度が前記第２目標温度に到達したときの設定温度を、前記本試験パターンでの前記低温さらし期間の第２設定温度として決定することで前記本試験パターンを生成する、請求項１記載の試験パターン生成装置。
【請求項３】
前記取得部は、更に、時間調整モード、温度調整モード、時間温度調整モード、及び温度時間調整モードのいずれかの調整モードを選択するかのユーザからの指示を取得し、
前記時間調整モードは、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のみを調整する調整モードであり、
前記温度調整モードは、前記設定温度のみを調整する調整モードであり、
前記時間温度調整モードは、まず、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間を調整し、所定の終了条件が満たされると、前記設定温度を調整する調整モードであり、
前記温度時間調整モードは、まず、前記設定温度を調整し、所定の終了条件が満たされると、前記高温さらし期間及び低温さらし期間を調整する調整モードであり、
前記本試験パターン生成部は、前記ユーザが指示した調整モードに応じた本試験パターンの生成処理を実行する、請求項２記載の試験パターン生成装置。
【請求項４】
前記１以上の温度センサは、複数の温度センサで構成され、
前記取得部は、更に、ユーザによって指定された、前記複数の温度センサのうち特定の温度センサを指定する指示と、前記第１目標温度の第１許容範囲を指定する指示と、前記第２目標温度の第２許容範囲を指定する指示とを取得し、
前記本試験パターン生成部は、前記特定の温度センサが検出した前記第１検出温度が前記第１許容範囲内に入り、且つ、前記特定の温度センサが検出した前記第２検出温度が前記第２許容範囲内に入った場合、前記本試験パターンを生成する処理を終了する、請求項１〜３のいずれかに記載の試験パターン生成装置。
【請求項５】
前記本試験パターン生成部により前記本試験パターンが生成された場合、前記本試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させ、前記温度サイクル試験を行う本試験実行部を更に備える、請求項１〜４のいずれかに記載の試験パターン生成装置。
【請求項６】
前記本試験パターン生成部は、１サイクル単位で、前記高温さらし期間、前記低温さらし期間、前記高温さらし期間の設定温度、及び前記低温さらし期間の設定温度を調整する、
請求項２に記載の試験パターン生成装置。
【請求項７】
試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、
前記環境試験装置は、試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第１目標温度及び第２目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、
前記ユーザが指定した前記第１目標温度、前記第２目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、
前記仮試験パターンにしたがって記試験槽内の温度を調整する温度調整器を稼働させ、
前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する温度センサが検出した第１検出温度を前記第１目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第２検出温度を前記第２目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整する、試験パターン生成方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明の一態様に係る試験パターン生成装置は、試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温よりも低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に温度を付与する試験であり、
前記環境試験装置は、前記試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
前記試料の温度を検出する１以上の温度センサと、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第１目標温度及び前記第１目標温度よりも低温の第２目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記第１目標温度、前記第２目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成する仮試験パターン生成部と、
前記仮試験パターンにしたがって前記温度調整器を稼働させることで、前記温度サイクル試験の本試験パターンを生成する本試験パターン生成部とを備え、
前記本試験パターン生成部は、
前記高温さらし期間において前記温度センサが検出した第１検出温度を前記第１目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第２検出温度を前記第２目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整することで前記本試験パターンを生成する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、本発明の別の一態様に係る試験パターン生成方法は、試験槽に収納された試料に対して温度サイクル試験を行う環境試験装置の試験パターンを生成する試験パターン生成方法であって、
前記温度サイクル試験は、前記試料を高温にさらす高温さらし期間と、前記試料を前記高温より低い温度にさらす低温さらし期間とをサイクリックに切り替えて前記試料に付与する試験であり、
前記環境試験装置は、試験槽内の温度を調整する温度調整器を備え、
ユーザによって指定された、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間のそれぞれの目標温度である第１目標温度及び第２目標温度と、前記高温さらし期間及び前記低温さらし期間とを取得し、
前記ユーザが指定した前記第１目標温度、前記第２目標温度、前記高温さらし期間、及び前記低温さらし期間を用いて前記温度サイクル試験の仮試験パターンを生成し、
前記仮試験パターンにしたがって記試験槽内の温度を調整する温度調整器を稼働させ、
前記高温さらし期間において前記試料の温度を検出する温度センサが検出した第１検出温度を前記第１目標温度に到達させるために前記高温さらし期間を調整し、
前記低温さらし期間において前記温度センサが検出した第２検出温度を前記第２目標温度に到達させるために前記低温さらし期間を調整する。