(57)【要約】記録マークのエッジの始終端部分に相当し、尚且つ最尤復号法においてエラーの発生確率が高い部分の、最尤復号結果の信頼性値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの演算を、所定のマーク長と直前のスペース長の組み合わせと、マーク長と直後のスペース長の組み合わせごとに行い、その演算結果から記録パラメータを最適化し、最適化した記録パラメータを反映した記録を行う。【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生された第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部と
を備えた記録条件調整装置。
【請求項２】
前記調整部は、前記分散の度合いが小さくなるように前記記録信号のパワーを調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項３】
前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下となるように前記記録信号のパワーを調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項４】
前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項５】
前記調整部は、前記平均値の絶対値が小さくなるように前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項４に記載の記録条件調整装置。
【請求項６】
前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項４に記載の記録条件調整装置。
【請求項７】
前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整し、
前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下で、前記平均値の絶対値が所定値より大きい場合は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように、前記記録信号のパワーよりもエッジの位置を優先して調整し、
前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下で、前記分散の度合いが所定値より大きい場合は、前記分散の度合いが所定値以下となるように、前記記録信号のエッジの位置よりもパワーを優先して調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項８】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップと
を包含する記録条件調整方法。
【請求項９】
記録条件の調整処理を実行させるためのプログラムであって、
前記記録条件の調整処理は、
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップと
を包含するプログラム。
【請求項１０】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から第１デジタル信号を生成する再生部と、
記録条件調整装置と
を備えた情報記録装置であって、
前記記録条件調整装置は、
前記第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部と
を備え、
前記情報記録装置は、前記記録信号のパワーの調整結果に基づいて前記情報記録媒体に第２の情報を記録する記録部をさらに備えた、情報記録装置。
【請求項１１】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１２】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１３】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、および前記分散の度合いの２乗と前記平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１４】
所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、前記再生情報を評価することで前記記録条件を調整する方法であって、
前記評価に用いられる指標から得られる第一の要素に基づいて記録パワーを調整するパワー調整ステップと、
前記パワー調整工程の前または後に、前記評価に用いられた指標から得られる第二の要素に基づいて記録位置を調整する位置調整ステップと
を包含する記録条件調整方法。
【請求項１５】
前記評価に用いられる指標は統計的な指標であり、
前記第一の要素は、前記指標の分散の度合いに関する情報であり、
前記第二の要素は、前記指標の平均値に関する情報である、請求項１４に記載の記録条件調整方法。
【請求項１６】
前記第一の要素が第一の条件を満たし、前記第二の要素が第二の条件を満たさない場合は、前記記録位置を調整し、
前記第一の要素が前記第一の条件を満たさず、前記第二の要素が前記第二の条件を満たす場合は、前記記録パワーを調整する、請求項１４に記載の記録条件調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、最尤復号法を用いた記録再生装置、記録条件調整装置および記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】  可搬記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一形状の記録パルスを用いても、装置や記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きくことなる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、記録媒体の装着時などに校正動作を行っている。校正とはユーザデータの信頼性を確保するために、再生系の特性の設定、記録パルスの形状などの最適化を行う制御である。【０００３】  一般的な情報再生装置においては、再生信号に含まれるクロック情報を抽出し、抽出されたクロック情報をもとに原デジタル情報を弁別するＰＬＬ回路をもちいている。【０００４】  図３３に従来の光ディスクドライブを示す。光ディスク１７からの反射光は光学ヘッド１８により再生信号に変換される。再生信号は波形等化器１９により波形整形される。波形整形された再生信号はコンパレータ２０で２値化される。通常、コンパレータ２０のしきい値は、２値化信号出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器２１は２値化信号出力と再生クロックとの位相誤差を求める。位相誤差をＬＰＦ２２により平均処理し、処理結果がＶＣＯ２３の制御電圧となる。位相比較器２１から出力される位相誤差が常に０になるように、位相比較器２１はフィードバック制御される。熱記録される記録媒体においては、媒体上の熱干渉と前後の記録パターンとにもとづいて媒体上に形成されるマークの形状が異なってくる。したがって個々のパターンの記録に最適な記録パラメータ設定をしなければならない。【０００５】  記録パラメータを評価する指標が上記のような誤差検出出力である。誤差検出出力が最小となるように、記録パラメータの設定を行う。具体的には、初期設定された記録パラメータを用いてパターン発生回路２６から出力された記録パターンに基いて、記録補償回路２７は所定の波形のパルスを生成し、レーザ駆動回路２８は光ディスクに情報を記録する。所定のパターンが記録されたトラックから情報を再生しているとき、誤差検出回路２４は、コンパレータ２０の出力とＶＣＯ２３の出力との位相誤差の絶対値を積分することで、検出信号を得る。この検出信号は、再生クロックと２値化パルスエッジとの間のジッタと、相関をもつ。記録パラメータを変化させて、記録と再生とを繰り返す。検出値が最小となるときの記録パラメータを最適とする。【０００６】  誤差検出回路２４の具体的な動作の様子を図３４に示す。例えば６Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔの繰り返しパターンを有する記録パルスを用いた場合の、４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせパターンに対応するマーク終端エッジの最適化を図る場合をあげる。６Ｔスペースと８Ｔマークとの組み合わせパターンに対応するマーク始端エッジ、および８Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせパターンに対応する終端エッジは最適な記録パラメータで記録されているものとする。【０００７】  記録補償回路２７は、図３４（ａ）に示すような周期のＮＲＺＩ信号が与えられると、図３４（ｂ）のようなレーザ駆動波形パルスを生成する。Ｔｓｆｐはマーク始端位置を設定するパラメータで、Ｔｅｌｐはマーク終端位置を設定するパラメータである。レーザ駆動回路２８は、図３４（ｂ）のようなパターンに従って発光パワーを変調する。レーザ発光により図３４（ｃ）のようにトラック上に物理的にアモルファス領域が形成される。Ｔｅｌｐを、Ｔｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合、形成されるマークの形状は図３４（ｃ）のように変化する。このような記録状態のトラックからの情報再生を考える。【０００８】  ４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図３４（ｄ）に実線で示す再生信号が得られる。コンパレータ出力の積分値が０となるようしきい値が定められる。コンパレータ出力と再生クロックとの位相差を検出し、位相誤差の積分値が０となるように再生クロック（図３４（ｅ））が生成される。【０００９】  次に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より小さくし、Ｔｅｌｐ１とした場合を考える。このとき図３４（ｆ）に実線で示す再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値Ｔｖは、図３４（ｄ）と比べて、図３４（ｆ）の一点鎖線のように大きくなる。コンパレータ出力が変化したため、位相誤差の積分値が０となるよう、図３４（ｅ）と比べて再生クロックの位相が進み、図３４（ｇ）のような再生クロックが生成される。【００１０】  逆に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より大きくし、Ｔｅｌｐ３とした場合を考える。このとき図３４（ｈ）に実線で示す再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値Ｔｖは、図３４（ｄ）とくらべて図３４（ｈ）の一点鎖線ように小さくなる。コンパレータ出力が変化したため、位相誤差の積分値が０となるよう、図３４（ｅ）と比べて再生クロックは位相が遅れ、図３４（ｉ）のような再生クロックが生成される。【００１１】  マーク終端エッジ（再生信号の立ち上がり）と再生クロックとの時間差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、図３４の（ｊ）〜（ｌ）のような分布が得られる。ただし４Ｔマーク終端および８Ｔマーク終端エッジは、おなじ分散値の正規分布となるようなばらつきを持つことを仮定している。【００１２】  図３４（ｄ）、図３４（ｅ）のような再生信号と再生クロックの場合、立ち上がりエッジ（マーク終端エッジ）でのコンパレータ出力と再生クロックとの時間差の分布を求めると、図３４（ｋ）のようになる。４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端の分布のそれぞれの平均値が０となる。【００１３】  しかし４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値）のときは、図３４（ｊ）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布との平均値は０とはならず、０から同じ距離離れた分布となる。したがって立ち上がりエッジのトータルの分散は図３４（ｋ）の場合に比べて大きくなる。同様に４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値）のときは、図３４（ｌ）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布との平均値は０とはならず、０から同じ距離離れた分布となる。図３４（ｌ）と図３４（ｊ）とは４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端の分布が入れ替わっていることになる。この場合も、立ち上がりエッジのトータルの分散は図３４（ｋ）の場合に比べて大きくなる。【００１４】  位相誤差の絶対値を累積した結果を誤差検出出力とする場合、記録パラメータＴｅｌｐの変化に従って、図３４（ｍ）のように誤差検出値が変化する。したがって記録パラメータを変化させ、誤差検出回路２４の出力が最小となるパラメータを最適値とする。【００１５】  上記の例では４Ｔマーク終端のパラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、その他のパラメータについてもそれぞれに対応した特定パターンを用いてテスト記録を行い、誤差検出出力にもとづいて最適パラメータをもとめる。【００１６】  以上の手順に従ってすべての記録パラメータをもとめる際の動作をフローチャートで示すと、図３５のようになる。テスト記録を行う媒体の領域にアクセスし（Ｓ１６１）、マーク始端あるいはマーク終端の記録パラメータを所定領域（例えばセクタ）ごとに変化させながら、テスト記録を行う（Ｓ１６３）。テスト記録領域から情報の再生を行い、パラメータを変化させた領域ごとに誤差検出出力を得る（Ｓ１６４）。誤差検出出力が最小となるパラメータを求める（Ｓ１６５）。次のパラメータを求めるために以上の動作をすべてのパラメータが求まるまで繰り返す（Ｓ１６２）（特許文献１、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００１−１０９５９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】  ところが、上記のように記録パラメータをジッタが最小となるように設定する方法では、最尤復号法を採用したシステムにおいて、エラーの発生する確率が最小とはならない場合があった。最尤復号法は典型的には、再生信号波形から信号パターンを予め推定しておいて、再生信号波形と推定信号波形とを比較しながら、再生信号を最も確からしい信号パターンを有する信号に復号する方法である。最尤復号法では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さいほど、エラーの発生する確率も小さくなる。【００１８】  本発明は、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、情報の記録時に記録パラメータを最適化する記録条件調整装置、記録再生装置および記録制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】  本発明の記録条件調整装置は、情報記録媒体から再生された第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部とを備えることを特徴とする。【００２０】  ある実施形態において、前記調整部は、前記分散の度合いが小さくなるように前記記録信号のパワーを調整する。【００２１】  ある実施形態において、前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下となるように前記記録信号のパワーを調整する。【００２２】  ある実施形態において、前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整する。【００２３】  ある実施形態において、前記調整部は、前記平均値の絶対値が小さくなるように前記記録信号のエッジの位置を調整する。【００２４】  ある実施形態において、前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように前記記録信号のエッジの位置を調整する。【００２５】  ある実施形態において、前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整し、前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下で、前記平均値の絶対値が所定値より大きい場合は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように、前記記録信号のパワーよりもエッジの位置を優先して調整し、前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下で、前記分散の度合いが所定値より大きい場合は、前記分散の度合いが所定値以下となるように、前記記録信号のエッジの位置よりもパワーを優先して調整する。【００２６】  本発明の記録条件調整方法は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップとを包含することを特徴とする。【００２７】  本発明のプログラムは、記録条件の調整処理を実行させるためのプログラムであって、前記記録条件の調整処理は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップとを包含することを特徴とする。【００２８】  本発明の情報記録装置は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から第１デジタル信号を生成する再生部と、記録条件調整装置とを備えた情報記録装置であって、前記記録条件調整装置は、前記第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部とを備え、前記情報記録装置は、前記記録信号のパワーの調整結果に基づいて前記情報記録媒体に第２の情報を記録する記録部をさらに備えることを特徴とする。【００２９】  本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有することを特徴とする。【００３０】  本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有することを特徴とする。【００３１】  本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、および前記分散の度合いの２乗と前記平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを記録するための領域を有することを特徴とする。【００３２】  本発明の記録条件調整方法は、所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、前記再生情報を評価することで前記記録条件を調整する方法であって、前記評価に用いられた指標から得られる第一の要素に基づいて記録パワーに関する記録条件を調整するパワー調整ステップと、前記パワー調整工程の前または後に、前記評価に用いられた指標から得られる前記第一の要素とは独立した第二の要素に基づいて記録位置に関する記録条件を調整する位置調整ステップとを包含することを特徴とする。【００３３】  ある実施形態において、前記評価に用いられる指標は統計的な指標であり、前記第一の要素は、前記指標の分散の度合いに関する情報であり、前記第二の要素は、前記指標の平均値に関する情報である。【００３４】  ある実施形態において、前記第一の要素が第一の条件を満たし、前記第二の要素が第二の条件を満たさない場合は、前記記録位置を調整し、前記第一の要素が前記第一の条件を満たさず、前記第二の要素が前記第二の条件を満たす場合は、前記記録パワーを調整する。
【発明の効果】
【００３５】  本発明によれば、最尤復号において最も確からしいと判断された第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断された第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、第１の指標と第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する。そして、第３の指標の分散の度合いに基づいて、情報記録媒体に情報を記録するための記録信号のパワーを調整する。このことにより、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号のパワーおよび形状を調整することができるので、最尤復号を行うときのエラーの発生確率を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図である。
【図２】状態遷移図を時間軸に沿って展開することによって得ることができたトレリス図である。
【図３】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図４】本発明の実施形態による記録再生装置１００の構成を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による記録波形学習処理手順を示すフローチャートである。
【図６】書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適書き込みパワーＰｗｏを求めた例を示す図である。
【図７】テストパターンと、そのパターンを再生した場合の波形を示す図である。
【図８】消去パワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適消去パワーＰｅｏを求めた例を示す図である。
【図９】ボトムパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適ボトムパワーＰｂｏを求めた例を示す図である。
【図１０】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１１】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１２】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１３】書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有するマルチパルスを示す図である。
【図１４】パターン検出回路とエッジシフト検出回路とを示す図である。
【図１５】エッジシフト検出回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１６】学習用記録パターンの一例を示す図である。
【図１７】エッジシフト検出回路１２ａ（エッジシフト検出回路１２の改変例）を示す図である。
【図１８】８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のサンプル値を示す図である。
【図１９】Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す図である。
【図２０】Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す図である。
【図２１】最適化が必要とされる記録パラメータの一覧を示す図である。
【図２２】最適化が必要とされる記録パラメータを特定８パターンのうちの何れのパターンで検出するかを示す図である。
【図２３】Ｍ＿ＳＮおよびＭ＿ＳＨＩＦＴの感度を示す図である。
【図２４Ａ】記録パワーの調整を行った後に記録波形の調整を行う、記録パラメータの最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２４Ｂ】ユーザデータの記録中における記録パワーの最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２４Ｃ】ユーザデータの記録中における記録エッジ位置の最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２５】記録パワー学習時のテスト記録用に用いられる記録パワー設定を示す図である。
【図２６】図２５に示す記録パワー設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。
【図２７】図２５に示す記録パワー設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。
【図２８】記録波形学習時のテスト記録用に用いられる記録波形設定を示す図である。
【図２９】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３０】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３１】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３２】最適化された記録条件が記録される情報記録媒体の管理情報記録領域を示す図である。
【図３３】従来の光ディスクドライブの構成を示す図である。
【図３４】従来の誤差検出回路の動作を示す図である。
【図３５】従来の記録パラメータを求める動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３７】１  情報記録媒体
２  光ヘッド部
３  プリアンプ
４  ＡＧＣ
５  波形等化器
６  Ａ／Ｄ変換器
７  ＰＬＬ回路
８  整形部
９  最尤復号部
１０  信頼性計算部
１１  パターン検出回路
１２  エッジシフト検出回路
１３  情報記録媒体コントローラ
１４  パターン発生回路
１５  記録補償回路
１６  レーザ駆動部
１００  記録再生装置
１０１  再生部
１０２  記録条件調整装置
１０３  記録部
１０４  調整部
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】  以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。【００３９】  本発明では、最尤復号法を採用したシステムにおいて、再生信号エラーの発生する確率が最小となるように記録パラメータを最適化する。一般に、情報を記録したときの条件や再生条件の影響を受けて、再生信号は、情報を正確に表す理想的な波形からは乱れた波形になり得る。最尤復号法では、再生信号波形から理想的な波形パターンを推定し、再生信号波形と推定信号波形とを比較しながら、再生信号を最も確からしい波形パターンを有する信号に復号する。最尤復号法では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さいほど、再生エラーの発生する確率も小さくなる。本発明では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さくなるように記録パラメータを調整する。【００４０】  （１．指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍについて）
最尤復号法を用いて再生信号を評価するために用いる再生信号評価指標（指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍ）を説明する。例として、最小極性反転間隔が２の記録符号（例えば、１，７Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号）を用い、記録時および再生時の信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化となるように信号の波形が整形される場合における再生信号評価指標を説明する。【００４１】  試し記録後、記録されたトラックから再生されたデジタル信号（“１”または“０”の２値化信号）の系列において、現時刻の記録符号をｂｋとし、１時刻前の記録符号をｂｋ−１とし、２時刻前の記録符号をｂｋ−２とし、３時刻前の記録符号をｂｋ−３とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌｖは（式１）で表される。
（式１）
Ｌｅｖｅｌｖ＝ｂｋ−３＋２ｂｋ−２＋２ｂｋ−１＋ｂｋ【００４２】  ここで、ｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。【００４３】  時刻ｋにおける状態をＳ（ｂｋ−２，ｂｋ−１，ｂｋ）とすると、（表１）の状態遷移表が得られる。【００４４】
【表１】
2007010905.tif 000002
【００４５】  簡単のために、時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，０）ｋをＳ０ｋ、状態Ｓ（０，０，１）ｋをＳ１ｋ、状態Ｓ（０，１，１）ｋをＳ２ｋ、状態Ｓ（１，１，１）ｋをＳ３ｋ、状態Ｓ（１，１，０）ｋをＳ４ｋ、状態Ｓ（１，０，０）ｋをＳ５ｋとすると、図１に示す状態遷移図が得られる。【００４６】  図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図である。【００４７】  図２は、図１の状態遷移図を時間軸に沿って展開することによって得られるトレリス図である。【００４８】  以下、図１と図２とを参照して、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移を説明する。【００４９】  時刻ｋにおける状態Ｓ０ｋと時刻ｋ−４の状態Ｓ０ｋ−４に注目する。図２は、状態Ｓ０ｋと状態Ｓ０ｋ−４との間でとりうる２つの状態遷移列を示す。１つのとりうる状態遷移列をパスＡとすると、パスＡは状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ４ｋ−３、Ｓ５ｋ−２、Ｓ０ｋ−１、Ｓ０ｋを遷移する。もう１つの状態遷移列をパスＢとすると、パスＢは状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ３ｋ−３、Ｓ４ｋ−２、Ｓ５ｋ−１、Ｓ０ｋを遷移する。【００５０】  これらパスＡおよびＢは、再生信号波形から推定される理想的な波形の候補に相当する。最尤復号法では、推定されたパスＡおよびＢと再生信号波形とを比較し、より正確な波形を表していると判定した方のパスを選択し、選択したパスに合うように再生信号を復号する。【００５１】  時刻ｋ−６から時刻ｋまでの最尤復号結果を（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）とすると、（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）＝（０，１，１，ｘ，０，０，０）となる復号結果（ｘは０または１の値）が得られた場合には、パスＡまたはパスＢの状態遷移列が最も確からしいと推定されたこととなる。パスＡおよびパスＢの両方とも、時刻ｋ−４における状態が状態Ｓ２ｋ−４であることの確からしさは同じであるから、時刻ｋ−３から時刻ｋまでの、再生信号ｙｋ−３から再生信号ｙｋまでの値と、パスＡおよびパスＢそれぞれの期待値との差を２乗した値の累積値を求めることよって、パスＡとパスＢのどちらかの状態遷移列が確からしいことが分かる。【００５２】  時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙｋ−３からｙｋまでの値とパスＡの期待値との差を２乗した値の累積値をＰａとするとＰａは（式２）で表される。
（式２）
Ｐａ＝（ｙｋ−３−４）２＋（ｙｋ−２−３）２＋（ｙｋ−１−１）２＋（ｙｋ−０）２【００５３】  時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙｋ−３からｙｋまでの値とパスＢの期待値との差を２乗した値の累積値をＰｂとするとＰｂは（式３）で表される。
（式３）
Ｐｂ＝（ｙｋ−３−５）２＋（ｙｋ−２−５）２＋（ｙｋ−１−３）２＋（ｙｋ−１）２【００５４】  Ｐａは、パスＡと再生信号とが離れている度合いを表しており、Ｐａ＝０はパスＡと再生信号とが一致している状態を表しており、Ｐａの値が大きくなるほどパスＡと再生信号とが離れていることになる。同様に、Ｐｂは、パスＢと再生信号とが離れている度合いを表しており、Ｐｂ＝０はパスＢと再生信号とが一致している状態を表しており、Ｐｂの値が大きくなるほどパスＢと再生信号とが離れていることになる。【００５５】  以下、最尤復号結果の信頼性を示すＰａとＰｂとの差Ｐａ−Ｐｂの意味を説明する。最尤復号部は、Ｐａ＜＜ＰｂであればパスＡを自信を持って選択し、Ｐａ＞＞ＰｂであればパスＢを自信を持って選択したといえる。またＰａ＝ＰｂであればパスＡ、パスＢのいずれを選択してもおかしくなく、復号結果が正しいかどうかは５分５分であるといえる。このようにして所定の時間あるいは所定の回数、復号結果からＰａ−Ｐｂを求めるとＰａ−Ｐｂの分布が得られる。【００５６】  図３は、Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。【００５７】  図３（ａ）は再生信号にノイズが重畳された場合のＰａ−Ｐｂの分布を示す。分布は２つのピークを有し、１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０となるときに頻度が極大となる。【００５８】  復号を複数回行った結果、再生信号がパスＡと近似している場合は、Ｐａ＝０となるときに頻度が極大となる山形の分布が得られる。同様に、再生信号がパスＢと近似している場合は、Ｐｂ＝０となるときに頻度が極大となる山形の分布が得られる。【００５９】  Ｐａ＝０となるときのＰａ−Ｐｂの値を−Ｐｓｔｄ、Ｐｂ＝０となるときのＰａ−Ｐｂの値をＰｓｔｄと表すことにする。Ｐａ−Ｐｂの絶対値を計算し、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを求める。【００６０】  図３（ｂ）は｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。図３（ｂ）に示す分布の標準偏差σと平均値Ｐａｖｅを求める。図３（ｂ）に示す分布が正規分布であるとし、例えばσとＰａｖｅとに基づいて復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が−Ｐｓｔｄ以下となるときを誤りが発生した状態とすると、誤り確率Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）は（式４）のように表される。
（式４）
Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｐａｖｅ）／σ）【００６１】  Ｐａ−Ｐｂの分布から計算した平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとから最尤復号結果を示す２値化信号の誤り率を予想することができる。つまり平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとを再生信号品質の指標とすることができる。【００６２】  なお、上記の例では｜Ｐａ−Ｐｂ｜の分布が正規分布となることを仮定したが、分布が正規分布でない場合には、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの値が所定の基準値以下になる回数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。【００６３】  最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則の場合、状態が遷移するときに２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、時刻ｋ−４から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−５から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−６から時刻ｋの範囲では８パターン存在する。さらに検出する範囲を拡大すると、２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、信頼性Ｐａ−Ｐｂパターン存在する。【００６４】  多くのパターンの中で、記録パラメータ（書き込みパワー、消去パワー等）の変化に対して鈍感なパターンが多く存在する。例えば、長マークのスペース若しくはマーク部の変化に係るパスである。こうしたパターンを除外し、記録パラメータに対して敏感に反応するパターンのみを選択することによって、記録パラメータ変化（記録パワー変化）に対する再生波形の変化を精度良く検出することができる。（表２）にその記録パラメータに対して感度のいいパターンを示す。【００６５】
【表２】
2007010905.tif 000003
【００６６】  すなわち、（表２）のパターン群はマークからスペース若しくはスペースからマークの遷移波形に係るものであり、例えば、記録先頭パルスのパワー（書き込みパワー）、クーリングパルスのパワー（ボトムパワー）または書き込みパワー／消去パワー比の変動に対して、敏感に反応する部分を集めたものである。【００６７】  ここで重要なのは、信頼性Ｐａ−Ｐｂを再生信号品質の指標とすることにより、すべてのパターンを検出しなくても、誤る可能性（誤り率）が大のパターンのみを検出すれば、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が大のパターンとは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンであり、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０となる８パターンである。この８パターンとＰａ−Ｐｂとについてまとめると上記（表２）のようになる。【００６８】  さらにＸ＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを算出し、その分布から標準偏差σ（Ｘ）と平均値Ｅ（Ｘ）を求める（Ｅ＝Ｐａｖｅ）。図３（ｂ）を参照して説明したように正規分布であると仮定するとそれぞれ誤りを起こす確率Ｐは（式５）となる。
（式５）
Ｐ（σ（Ｘ），Ｅ（Ｘ））＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｅ（Ｘ））／σ（Ｘ））【００６９】  上記８パターンは、１ビットシフトエラーを起こすパターンであり、他のパターンは、２ビット以上のシフトエラーを起こすパターンである。ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）処理後のエラーパターンを分析すると、ほとんどが１ビットシフトエラーであるため、（式５）を求めることで再生信号の誤り率が推定できる。このように、標準偏差σ（Ｘ）および平均値Ｅ（Ｘ）を再生信号の品質を示す指標として用いることができる。【００７０】  本願発明者らは、光ディスクに記録された信号品質を検証する際に、標準偏差σ（Ｘ）が再生信号のＳＮ比もしくは記録マークのばらつきに大きく依存すること、また、平均値Ｅ（Ｘ）が再生信号におけるエッジシフト、すなわち記録マークの理想位置からの平均的なずれに大きく依存することを見出した。従って標準偏差σ（Ｘ）と平均値Ｅ（Ｘ）が小さくなるように記録条件を最適化することにより、ＰＲＭＬに適した記録を行うことができる。このとき、再生信号のＳＮ比を示す指標として例えば（式６）を定義しても良い。
（式６）
Ｍ＿ＳＮ＝σ（Ｘ）／（２・ｄｍｉｎ２）［％］【００７１】  ここで、ｄｍｉｎ２は、ユークリッド距離の最小値の２乗であり、最小極性反転間隔が２の変調符号とＰＲ（１，２，２，１）ＭＬ方式の組み合わせでは、１０となる。すなわち、ｄｍｉｎ２＝１０＝Ｐｓｔｄである。【００７２】  また、再生信号におけるエッジシフトの程度を示す指標として例えば（式７）を定義しても良い。
（式７）
Ｍ＿ＳＨＩＦＴ＝Ｅ（Ｘ）／（２・ｄｍｉｎ２）［％］【００７３】  さらに、再生信号におけるＳＮ比とエッジシフトの程度の両方を考慮したトータルの指標Ｍとして例えば（式８）を定義しても良い。
（式８）
Ｍ＝［｛σ（Ｘ）｝２＋｛Ｅ（Ｘ）｝２］１／２／（２・ｄｍｉｎ２）［％］
＝［｛Ｍ＿ＳＮ｝２＋｛Ｍ＿ＳＨＩＦＴ｝２］１／２    ［％］【００７４】  なお、Ｍは標準偏差σ（Ｘ）を用いずに（式９）のように表現することもできる。
（式９）
Ｍ＝［Ｅ（Ｘ２）］１／２／（２・ｄｍｉｎ２）    ［％］【００７５】  なお（式６）、（式７）、（式８）に示したこれらの指標は、標準偏差σ（Ｘ）、平均値Ｅ（Ｘ）で表されるのであればこれらに限らなくとも良い。【００７６】  指標Ｍ＿ＳＮを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭ＿ＳＮが得られるような記録条件を求めることで、ＳＮ比の確保できた記録を行うことができる。なおＳＮ比を確保するための記録条件としては、主としてレーザ光の照射パワーを高くすることが考えられるが、それ以外にも図１３に示すようなパルス発光波形における両端のパルスを除く中央のパルス列の幅を太くしても良い。特に１回だけ記録できるタイプの光ディスクでは、一般的に照射パワーを高くすることや、両端のパルスを除く中央付近のパルスの幅を太くすることにより、記録マークの半径方向の幅が太くなりＳＮ比が向上する。【００７７】  また指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭ＿ＳＨＩＦＴが得られるような記録条件を求めることで、エッジシフトの小さい記録を行うことができる。なおエッジシフトを小さくするための記録条件としては、主として図１３に示すようなパルス発光波形における両端のパルスの位置を変えることが考えられる。【００７８】  また指標Ｍを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭが得られるような記録条件を求めることで、最適な記録を行うことができる。指標Ｍだけを用いた場合には、最適な記録ができていないことは検知できても、ＳＮ比が悪いのか、マークのエッジ位置がずれているのかを区別することができない。しかしながら、本発明の指標Ｍ＿ＳＮと指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを用いることにより、最適な記録ができていない原因を特定することができる。例えば、Ｍ＿ＳＮが大きい場合にはレーザの照射パワーを調整し、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが大きい場合にはエッジ位置を調整することにより、レーザの照射パワーとエッジ位置の組み合わせを順不同に試す場合と比較して、短時間で効率的に最適な記録条件を求めることができる。【００７９】  （２．記録再生装置）
図４は、本発明の実施形態による記録再生装置１００を示す。記録再生装置１００は、再生部１０１と、記録条件調整装置１０２と、記録部１０３とを備える。記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生を行うための記録媒体であり、例えば光ディスク媒体である。【００８０】  再生部１０１は、光ヘッド部２と、プリアンプ３と、ＡＧＣ４と、波形等化器５と、Ａ／Ｄ変換器６と、ＰＬＬ回路７とを備える。再生部１０１は、情報記録媒体１から再生された情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する。【００８１】  記録条件調整装置１０２は、整形部８と、最尤復号部９と、信頼性計算部１０と、調整部１０４とを備える。調整部１０４は、パターン検出回路１１と、エッジシフト検出回路１２と、情報記録媒体コントローラ１３とを備える。記録条件調整装置１０２は例えば半導体チップとして製造される。【００８２】  整形部８は例えばデジタルフィルタであり、再生部１０１が生成したデジタル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の波形を整形する。【００８３】  最尤復号部９は例えばビタビ復号回路であり、整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する。【００８４】  信頼性計算部１０は、例えば差分メトリック検出回路であり、整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号部９から出力された２値化信号とに基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。【００８５】  調整部１０４は、信頼性計算部１０が計算した信頼性に基づいて、情報記録媒体１に情報を記録するための記録信号のパワーを調整すると共に、記録信号の所定部分の形状を調整する（例えば記録信号のエッジ位置を調整する）。調整部１０４は、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号のパワーおよび形状を調整する。情報記録媒体コントローラ１３は例えば光ディスクコントローラである。【００８６】  ここで、記録信号のパワーを説明する。書き換え可能な光ディスクとして、例えば、層変化型光ディスク（ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ等）が知られている。層変化型光ディスクのオーバーライト記録には、マルチパルスのレーザ光が使用されている。レーザ光のレーザパワーは、例えば、書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有する。【００８７】  図１３は、書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有するマルチパルスを示す。【００８８】  書き込みパワーＰｗは、記録膜の状態を結晶状態からアモルファス状態に変化し、マークを形成する。消去パワーＰｅは、記録膜の状態をアモルファス状態から結晶状態に変化し、古いマークを消去（オーバーライト）する。ボトムパワーＰｂは、マルチパルス記録においては、マルチパルスの底部のパワーに相当し、記録時にレーザ光照射による熱拡散を防止する。【００８９】  情報記録媒体コントローラ１３は、信頼性計算部１０が計算した信頼性に基づいて、情報記録媒体１に情報を記録するための記録パワーを調整する。例えば、調整される記録パワーは、書き込みパワー、��去パワー、ボトムパワーのうちの少なくとも１つを含む。情報記録媒体コントローラ１３は、例えば、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号の形状を調整する。【００９０】  記録部１０３は、パターン発生回路１４と、記録補償回路１５と、レーザ駆動回路１６と、光ヘッド部２とを備える。記録部１０３は、記録信号のパワーおよび／または形状の調整結果に基づいて情報記録媒体１に情報を記録する。本実施形態では、光ヘッド部２は、再生部１０１および記録部１０３に共有され、記録ヘッドおよび再生ヘッドの両方の機能を有する。なお記録ヘッドと再生ヘッドとが別々に設けられてもよい。【００９１】  以下、図４を参照して、本発明の実施形態による記録再生装置１００の動作を詳細に説明する。【００９２】  光学ヘッド部２は情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ４に入力される。ＡＧＣ４では後段の波形等化器５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ４から出力されたアナログ再生信号は波形等化器５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換器６に出力される。Ａ／Ｄ変換器６はＰＬＬ回路７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ回路７はＡ／Ｄ変換器６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。【００９３】  Ａ／Ｄ変換器６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号は整形部８に入力される。整形部８は、記録時および再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（本実施形態ではＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるように、デジタル再生信号の周波数特性を調整する（すなわちデジタル再生信号の波形を整形する）。【００９４】  最尤復号部９は、整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。２値化信号は、最尤復号の結果を示す。【００９５】  信頼性計算部１０は、整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、２値化信号とを受け取る。信頼性計算部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を示す指標を求める。より詳細には、信頼性計算部１０は、最尤復号部９が最も確からしいと判断した第１状態遷移列（例えばパスＡ）の確からしさを表す第１の指標（例えばＰａ）と、最尤復号部９が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列（例えばパスＢ）の確からしさを表す第２の指標（例えばＰｂ）とを計算する。信頼性計算部１０は、これら第１の指標と第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標（｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を計算する。また、信頼性計算部１０は、第３の指標から指標Ｍ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、Ｍを求める。【００９６】  情報記録媒体コントローラ１３は、記録パラメータ学習処理手順をコントロールする。試し記録する際の記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）の設定、記録動作のコントロール、再生動作のコントロールを行うと共に、記録パラメータごとに指標Ｍ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、Ｍを求め、対象とする指標が最適となる、もしくは所定値以下となる記録パラメータを決定する。なお、記録パラメータ学習処理手順の詳細は、後述される。【００９７】  記録補償回路１５は、情報記録媒体コントローラ１３からの記録パラメータと、パターン発生回路１４から出力される記録テストパターンとに基づいて、レーザ発光パターンを決定する。レーザ駆動回路１６は、レーザ発光パターンにしたがって、光学ヘッド部２を駆動する。【００９８】  記録再生装置１００を用いることによって、再生時にエラーが最小となる最適な記録パラメータを設定することが可能となる。【００９９】  次に、図１０〜図１２を参照して、記録信号のパワーおよび形状の調整手順をより詳細に説明する。この調整は調整部１０４が実行する。【０１００】  図１０（ａ）は、再生信号品質が悪い場合のＰａ−Ｐｂの分布を示している。図３（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布と比較して、図１０（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布は、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が低くなっている。図１０（ｂ）は、図１０（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図３（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布と比較して、図１０（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い（標準偏差σ（Ｘ））が大きくなっている。【０１０１】  このように、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が低く、標準偏差σが大きい状態では、正しく最尤復号が行われる可能性が低くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が大きくなる。【０１０２】  一方、図１１（ａ）は、再生信号品質が良い場合のＰａ−Ｐｂの分布を示している。図３（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布と比較して、図１１（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布は、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が高くなっている。図１１（ｂ）は、図１１（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図３（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布と比較して、図１１（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い（標準偏差σ（Ｘ））が小さくなっている。このように、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が高く、標準偏差σ（Ｘ）が小さい状態では、正しく最尤復号される可能性が高くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が小さくなる。これらのことから、標準偏差σ（Ｘ）が小さくなるように記録パラメータを調整することにより、再生信号品質を高め、エラーの発生確率を小さくすることができる。【０１０３】  本願発明者らは、標準偏差σ（Ｘ）が記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）のうちの記録信号のパワーに大きく依存しており、記録信号のパワーを適切な値に調整することにより標準偏差σ（Ｘ）を小さくできることを見出した。すなわち、標準偏差σ（Ｘ）が小さくなるように記録信号のパワーを調整することにより、最尤復号に適した記録パラメータを得ることができる。【０１０４】  次に図１２を参照して、記録信号パラメータの調整手順をさらに説明する。図１２（ａ）は、再生信号品質が悪い場合のＰａ−Ｐｂの分布の別���例を示している。図１２（ａ）に示す左側のＰａ−Ｐｂの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値の頻度が最も高くなる値が、Ｐａ＝０のときの｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値からずれている。図１２（ｂ）は、図１２（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図１２（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布では、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値が０から距離μだけずれている（｜平均値｜＝μ）。このように、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値が０から距離μだけずれている状態では、正しく最尤復号が行われる可能性が低くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が大きくなる。本願発明者らは、図１２（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布のずれは、記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）のうちの記録信号のエッジ位置に大きく依存しており、記録信号のエッジ位置を適切な値に調整することによりＰａ−Ｐｂの分布のずれを小さくでき、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値を小さくすることができることを見出した。すなわち、平均値の絶対値（＝μ）が小さくなるように記録信号のエッジ位置を調整することにより、最尤復号に適した記録パラメータを得ることができる。【０１０５】  調整部１０４は、標準偏差σ（Ｘ）（｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い）が小さくなるように（所定値以下となるように）記録信号のパワーを調整する。また、調整部１０４は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値（すなわち距離μ）が小さくなるように（所定値以下となるように）記録信号のエッジ位置を調整する。より好ましくは、調整部１０４は、標準偏差σ（Ｘ）および平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値が０に近づくように記録信号のパワーおよびエッジ位置を調整する。【０１０６】  （３．記録再生方法）
図５は、本発明の実施形態による記録パワー学習処理手順を示す。記録再生装置１００が記録パワー学習処理手順を実行することによって、記録パワーが調整される。記録パワー学習処理手順は、ステップ１〜ステップ３を包含する。【０１０７】  以下、図５を参照して、記録パワー学習処理手順をステップごとに説明する。【０１０８】  記録パワー学習が開始されると、まず、ステップ１では、最適書き込みパワーＰｗｏを求める動作が実行される。ステップ１は、ステップ１−１、ステップ１−２およびステップ１−３を包含する。【０１０９】  ステップ１−１：光ヘッド部２が情報記録媒体１上の所定の学習エリアに移動するように制御される。消去パワー／書き込みパワー比（Ｐｅ／Ｐｗ）、ボトムパワーを固定し、書き込みパワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作を行う。この時、消去パワー／書き込みパワー比、ボトムパワーは、規格等で規定されている記録媒体に予め記載されている推奨値を初期値として用いてもよい。書き込みパワーは、情報記録媒体１に予め記載されている推奨値のパワーを中心に前後パワーを変化させてもよい。【０１１０】  また記録を行う際の光波形、即ち各パルスの時間方向の位置については、情報記録媒体１に予め記載されている値に設定して良いし、装置が予めいくつかの初期値を記憶していても良い。【０１１１】  また、記録再生装置１００が、記録媒体ごとに保持している推奨値を初期値としてもよい。例えば、情報記録媒体１に予め記載されている推奨値が、Ｐｗ＝９．０［ｍＷ］、Ｐｅ／Ｐｗ＝０．４０、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］とすると、Ｐｅ＝０．４０×Ｐｗ［ｍＷ］、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］を固定にして、Ｐｗを８．０〜１０．０［ｍＷ］まで、０．２［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各書き込みパワーについて繰り返し記録する。【０１１２】  試し記録が終了すると、処理はステップ１−２に進む。【０１１３】  ステップ１−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮを算出する。【０１１４】  信頼性計算部１０が書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮを算出した後、処理はステップ１−３に進む。【０１１５】  ステップ１−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応する書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。【０１１６】  図６は、書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適書き込みパワーＰｗｏを求めた例を示す。【０１１７】  図７は、テストパターンと、そのパターンを再生したときの波形を示す。再生波形上の白丸は、Ａ／Ｄ変換器６でサンプリングしたときのサンプリングポイントを示す。本発明は、テスト用記録信号にも特徴がある。従来、記録パワー学習に用いるテストパターンとして、ある周期の単一パターンが用いられている。例えば、６Ｔ（Ｔは、チャネル周期）の繰り返しパターンである。単一パターンは、記録マーク長ごとの記録パルスの幅や位相ズレの影響を受けにくいが、記録パワー変化に対する波形の変化を検出する点では、精度が出ない場合がある。本発明では、記録変調則において、最小マーク長と最長マーク長とを組み合わせ、尚且つ、記録部（マーク）と未記録部（スペース）の発生確率が同じであるテストパターンを用いる。例えば、記録変調符号として、（１，７）Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号を用いた場合、最小マーク長は２Ｔで、最長マーク長８Ｔであるため、８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。Ｔｍはマーク側のチャネル周期長を意味し、Ｔｓはスペース側のチャネル周期長を意味する。【０１１８】  このように、ステップ１では、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。【０１１９】  続いて、ステップ２では、最適消去パワーＰｅｏを求める動作が実行される。ステップ２は、ステップ２−１、ステップ２−２およびステップ２−３を包含する。【０１２０】  ステップ２−１：情報記録媒体コントローラ１３は、書き込みパワーをステップ１を実行することによって決定した最適書き込みパワーＰｗｏに設定する。さらに、情報記録媒体コントローラ１３は、ボトムパワーを固定し、消去パワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作（試し記録）を行う。【０１２１】  例えば、Ｐｗｏ＝Ｐｗ＝９．４［ｍＷ］、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］を固定にして、Ｐｅ＝Ｐｗ×０．４＝３．７６［ｍＷ］を中心に、３．４〜４．１［ｍＷ］まで、０．１［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各消去パワーについて繰り返し記録する。この記録は、下地記録した状態のトラックにオーバーライトして記録して行うことができる。または、ステップ１で用いたトラックと同じトラックに記録することができる。【０１２２】  テスト用記録信号の書き込み（試し記録）が終了すると、処理はステップ２−２に進む。【０１２３】  ステップ２−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、消去パワーごとに記録状態判定指標値（指標Ｍ＿ＳＮ）を算出する。【０１２４】  記録状態判定指標としてステップ１と同様に指標Ｍ＿ＳＮを用い、テスト用記録信号に８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。【０１２５】  信頼性計算部１０が消去パワーごとに記録状態判定指標値を算出した後、処理はステップ２−３に進む。【０１２６】  ステップ２−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる消去パワーを最適消去パワーＰｅｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応する消去パワーを最適消去パワーＰｅｏとして決定する。【０１２７】  図８は、消去パワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適消去パワーＰｅｏを求めた例を示す。【０１２８】  続いて、ステップ３では、最適ボトムパワーＰｂｏを求める動作が実行される。ステップ３は、ステップ３−１、ステップ３−２およびステップ３−３を包含する。【０１２９】  ステップ３−１：情報記録媒体コントローラ１３は、書き込みパワーをステップ１を実行することによって決定した最適書き込みパワーＰｗｏに設定する。情報記録媒体コントローラ１３は、消去パワーをステップ２を実行することによって決定した最適消去パワーＰｅｏに設定する。さらに、情報記録媒体コントローラ１３は、ボトムパワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作（試し記録）を行う。【０１３０】  例えば、Ｐｗｏ＝Ｐｗ＝９．４［ｍＷ］、Ｐｅｏ＝Ｐｅ＝３．９［ｍＷ］を固定にして、Ｐｂを０．２〜０．４［ｍＷ］まで、０．０５［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各ボトムパワーについて繰り返し記録する。この記録は、下地記録した状態のトラックにオーバーライトして記録して行うことができる。または、ステップ１、ステップ２で用いたトラックと同じトラックに記録することができる。【０１３１】  テスト用記録信号の書き込み（試し記録）が終了すると、処理はステップ３−２に進む。【０１３２】  ステップ３−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、ボトムパワーごとに記録状態判定指標値（指標Ｍ＿ＳＮ）を算出する。記録状態判定指標として、ステップ１、ステップ２と同様に指標Ｍ＿ＳＮを用い、テスト用記録信号に８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。【０１３３】  信頼性計算部１０がボトムパワーごとに記録状態判定指標値を算出した後、処理はステップ３−３に進む。【０１３４】  ステップ３−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られるボトムパワーを最適ボトムパワーＰｂｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応するボトムパワーを最適ボトムパワーＰｂｏとして決定する。【０１３５】  図９は、ボトムパワーごとに指標Ｍをプロットし、最適ボトムパワーＰｂｏを求めた例を示す。【０１３６】  以上、ステップ１〜ステップ３を実行することによって、最適な書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーを設定するための学習は終了し、再生時にエラーが最小となる記録が可能となる。なお、ボトムパワーのパワー変化が、再生時のリーダビリティにほとんど影響しない場合は、ステップ３の学習を省略して、ボトムパワーに適切な固定値を設定してもよい。【０１３７】  以上のように、本発明の実施形態においては、ＰＲＭＬアルゴリズムにおける、数ある状態遷移パターンのうち、再生波形のエッジ付近に係わる状態遷移パターン（ユークリッド距離が最小のパターン）のみのメトリック期待値誤差（指標Ｍ＿ＳＮ）を用いて記録状態を検出することにより、記録先頭パルスのパワー（書き込みパワー）や、クーリングパルスのパワー（ボトムパワー）若しくは書き込みパワー／消去パワー比の変動に対して変化して記録された波形を、精度良く検出することができる。また、記録マーク長ごとの記録パルスの幅や位相ズレの影響を受けにくい点、記録パワー変化に対する波形の変化を感度良く検出する点等を考慮して、テストパターンとして８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いることで、さらに検出感度を高めることが容易に行える。【０１３８】  なお、テストパターンは本実施形態に限らず単一周期のパターンでも良い。最短間隔のマーク、スペースと最長間隔のマーク、スペースを組み合わせたパターンによる試し記録は、繰り返し記録を行う光ディスクにおいて、消去性能を包含してパワーを決定する際に特に有効であるが、書き込みパワーの最適化のみを行う場合や追記型の光ディスクの場合には最長間隔の周期のパターン、もしくは最長間隔の周期のパターンと同程度の再生振幅が得られる最長間隔よりも短い間隔の単一周期のパターンでも良い。【０１３９】  なお本実施形態では書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーと分けているがまとめて実施しても良い。【０１４０】  なお本実施形態では、図１３に示す様に消去パワーの直前のパワーもボトムパワーとしているが、消去パワーの直前のパワーはボトムパワーとは別の設定としても良い。周期的なパルスが続くマーク中間部と、直後に消去パワーになるマーク終端部とでは熱分布が異なるため、消去パワーの直前のパワーをボトムパワーと別の設定にすることにより、マーク終端部のばらつきをより低減することができる。【０１４１】  なお本実施形態では、Ｍ＿ＳＮが最小となるパワーを最適パワーとして選択しているが、所定のＭ＿ＳＮ以下を満足する最小パワー付近のパワーを最適パワーとして選択しても良い。特に繰り返し記録を行う光ディスクでは、書き込みパワーが小さい方が繰り返し記録時の熱ダメージの影響が小さくなり、繰り返し記録可能な回数がより大きくなる。【０１４２】  なお本実施形態では、Ｍ＿ＳＮが最小となるパワーを最適パワーとして選択しているが、所定のＭ＿ＳＮ以下を満足するパワー範囲の中央付近のパワーを最適パワーとして選択しても良い。これにより例えば光ディスクの面内の感度差により実効的な照射パワーが多少増加、あるいは減少しても所定のＳＮ比を確保することができる。なお実効的な照射パワーの増加、減少の見積もりがある程度明確になっている場合には、その見積もりに応じて所定のＭ＿ＳＮ以下を満足するパワー範囲を内分したパワーを選択しても良い。例えば光ディスクの内周付近での試し記録で設定したパワーにより外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下することから、予め高いパワーになるように内分比を決めておいても良い。【０１４３】  次に、記録信号の形状を決定する処理手順を説明する。【０１４４】  パターン検出回路１１は、２値化信号に基いて、表２に示した８パターン（図１８に示すＰａｔｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）を記録マークの始終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成してエッジシフト検出回路１２に出力する。【０１４５】  エッジシフト検出回路１２は、信頼性Ｐａｂｓをパターンごとに累積加算し、記録補償パラメータの最適値からのずれ（後述ではエッジシフトと言う）を求める。【０１４６】  情報記録媒体コントローラ１３は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された記録パラメータ（記録信号の波形）を変更する。【０１４７】  パターン発生回路１４は、記録補償学習用パターンを出力する。【０１４８】  記録補償回路１５は情報記録媒体コントローラ１３からの記録パラメータをもとに���記録補償学習用パターンに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。生成されたレーザ発光波形パターンにしたがって、レーザ駆動回路１６は光学ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。【０１４９】  図１４は、パターン検出回路１１とエッジシフト検出回路１２とを示す。【０１５０】  以下、図１４を参照して、エッジシフト検出回路１２の動作を詳細に説明する。【０１５１】  エッジシフト検出回路１２には、パターン検出回路１１でのパターン検出結果と、信頼性計算部１０で算出された信頼性Ｐａｂｓとが入力される。パターン検出回路１１での遅延を考慮して、入力される信頼性Ｐａｂｓデータをフィリップフロップ（ＦＦ）によって遅延させる。パターン検出出力および検出出力点に対応する信頼性Ｐａｂｓデータが加算器に入力され、同時にパターン検出結果がセレクタに入力される。セレクタは検出パターンにしたがってこれまでの累積加算結果を選択して加算器に入力する。加算器は累積加算結果と新しく入力された信頼性Ｐａｂｓデータを加算し出力する。検出パターンに対応した特定のレジスタは、イネーブル信号を受け取ると、加算結果を格納する。【０１５２】  図１５は、エッジシフト検出回路の動作を示すタイミングチャートである。例えばアドレス単位で情報が管理されている情報記録媒体に情報を記録する場合、加算区間ゲート信号（図１５（ｂ）参照）とレジスタイネーブル信号（図１５（ｃ）参照）の使用が想定される。図１５（ａ）はアドレスユニットを示している。【０１５３】  アドレス単位ごとに、ユーザ領域にテスト記録を行い、エッジシフト量を求める場合、加算区間を定める制御が必要となる。加算区間ゲート信号がエッジシフト検出回路１２に入力されると、加算区間ゲート信号は、２段のフリップフロップを通過し、フリップフロップＦＦ２９〜ＦＦ０に入力される（図１４参照）。加算区間ゲート信号のＬｏｗ区間でフリップフロップをリセットし、Ｈｉｇｈ区間で加算結果を格納する。また、レジスタイネーブル信号は、加算区間ゲート信号から生成され、レジスタイネーブル信号は、加算区間ゲート信号の終端で加算結果をレジスタＲＥＧ２９〜ＲＥＧ０に格納するためのイネーブル信号である。アドレス単位ごとにエッジシフト量を示すデータがレジスタＲＥＧ２９〜ＲＥＧ０に格納される。【０１５４】  エッジシフト検出回路１２は、このような回路構成を備えることで、１つの加算器をもちいて記録パラメータの最適化に必要なすべてのエッジシフト量をもとめることができる。【０１５５】  図１４を参照して説明した回路例では、テスト記録に用いられる記録パターン（例えばランダムパターン）のうちの、パラメータの最適化に必要な所定長のマークとスペースとの組み合わせ毎に発生頻度が異なってしまう。検出された３０のエッジシフト量（Ｒ２３Ｔ、Ｒ３３Ｔ、・・・、Ｒ４５Ｌ、Ｒ５５Ｌ）は各パターンの発生頻度に依存する。また、ＰＬＬ回路７（図４）では、ＤＣ成分（再生信号に含まれる低周波数成分）を用いてスライサーのしきい値を自動的に検出し、再生信号とクロック信号とを同期させている。従って、フィードバック制御がＰＬＬ回路７でのクロック生成に影響しないように、テスト記録パターンにはＤＣ成分が少な��ことが望まれる。また、最適化に要する時間と精度とを考えると、できるだけ少ない記録領域で高い精度の検出結果が望まれる。したがって記録パターン中にパラメータの最適化に必要なマークとスペースとの組み合わせが同一頻度で発生し、なおかつ符号に含まれるＤＣ成分（ＤＳＶ）が０となり、かつ最適化に必要な組み合わせの単位長あたりの発生頻度が高くなるような記録パターンが必要となる。【０１５６】  図１６は、学習用記録パターンの一例を示す。２Ｍは２Ｔマークを意味し、２Ｓは２Ｔスペースを意味する。２Ｔ〜５Ｔマークと２Ｔ〜５Ｔスペースとの組み合わせである３０とおりのパターンが、１０８ビットの記録パターンに１回づつ発生する。また１０８ビットの記録パターンを含むシンボル‘０’とシンボル‘１’の数は同数の５４であり、記録パターンのＤＳＶは０となっている。この記録パターンを図４のエッジシフト検出回路１２に適用すると、各パターンを同一回数検出することができ、より正確なシフト量検出結果が得られる。なお、本実施形態では、５Ｔ以上の幅のマークあるいはスペースについては、同一の記録パラメータで記録できることを想定している。【０１５７】  図１７は、エッジシフト検出回路１２ａ（エッジシフト検出回路１２の改変例）を示す。【０１５８】  エッジシフト検出回路１２ａは、テスト記録に用いられる記録パターンとして、ランダムパターン（最適化に必要な組み合わせパターンによって発生頻度が異なるパターン）を用いる。エッジシフト検出回路１２ａでは、パターン検出回路１１によって、特定パターン（３０パターン）のエッジを検出し、パターンそれぞれに対応するエッジシフト量とパターン検出回数とを個々に積算する。エッジシフト量の加算結果をパターン検出回数で割ることにより、特定パターン毎に平均エッジシフト量を算出する。これにより、特定パターン毎の発生確率が異なるテスト記録パターンを用いても、どのパターンに対応する記録マークの始終端位置を変更すべきか判断することができる。【０１５９】  上述のように、調整部１０４が備えるエッジシフト検出回路１２（図４）は、記録マーク長とスペース長との組み合わせ毎に、最尤復号結果の信頼性の積算値または平均値のうちの一方を計算し、それら計算した積算値または平均値に基づいて記録信号の形状を調整する。【０１６０】  上記実施形態では、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を用いて最尤復号部が最尤復号を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、最小極性反転間隔が３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。【０１６１】  本発明の実施形態では、８パターン（図１８）の検出を、後述する記録パターンごと（マーク長と直前のスペース長の組み合わせと、マーク��と直後のスペース長の組み合わせのパターンごと）に行い、記録信号の形状、特にエッジの始終端部分に着目し、記録信号のエッジの位置を最適化する記録パラメータを決定する。【０１６２】  全てのパターンの最尤復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜のうち、｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が最小となるパターンのみに着目するということは、記録マークのエッジ部分のみに着目することを意味する。上記でも述べたが、Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンは、エラーの発生確率が大きいパターンである。すなわち、最尤復号結果の信頼性が高くなるように、記録マークのエッジの位置を部分的に最適化すれば、全体の最適化につながることを意味する。その方法について以下説明する。【０１６３】  図１８は、８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のサンプル値を示す。横軸は時間（１目盛りは１チャネルクロック周期（Ｔｃｌｋ）を表す）、縦軸は信号レベル（０〜６）を示し、点線、実線はそれぞれパスＡ、パスＢを示す。各サンプル値は、（表１）で説明した最尤復号における入力の期待値Ｌｅｖｅｌｖの０〜６に相当する。【０１６４】  記録部分（アモルファス領域）は、反射光が減るため信号レベルとしてはコンパレータ閾値より下側の波形として再生される。一方、未記録部分（非アモルファス領域）は、コンパレータ閾値より上側の波形として再生される。また、図１８で示した８パターンは、すべて記録部（マーク）と未記録部（スペース）の境界部分（マークの始端エッジおよび終端エッジ）である再生波形に相当する。よって、８パターンのうち、Ｐａｔｔｅｒｎ−１（図１８（ａ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−２（図１８（ｂ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−３（図１８（ｃ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−４（図１８（ｄ）参照）は、マークの始端エッジ部分に相当し、Ｐａｔｔｅｒｎ−５（図１８（ｅ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−６（図１８（ｆ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−７（図１８（ｇ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−８（図１８（ｈ）参照）は、マークの終端エッジ部分に相当する。【０１６５】  Ｐａｔｔｅｒｎ−１に着目して、マークの始端エッジのシフトズレ検出方法を説明する。【０１６６】  図１９は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す。実線△印は入力信号であり、点線で示すパスＡが正解の状態遷移パスとする。入力信号は記録マークＢ１に基づいて生成されている。記録マークＡ１は理想的な始端エッジを有しているとする。【０１６７】  図１９（ａ）は、記録マークの始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して後ろにずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙｋ−３、ｙｋ−２、ｙｋ−１、ｙｋ）を（４．２、３．２、１．２、０．２）とし、（式２）および（式３）からパスＡと入力信号との距離Ｐａと、パスＢと入力信号との距離Ｐｂとは、（式１０）および（式１１）の様に求まる。
（式１０）
Ｐａ＝（４．２−４）２＋（３．２−３）２＋（１．２−１）２＋（０．２−０）２＝０．１６
（式１１）
Ｐｂ＝（４．２−５）２＋（３．２−５）２＋（１．２−３）２＋（０．２−１）２＝７．７６
始端エッジのズレ量とズレ方向は、上述した｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを算出することで求めることができる。
（式１２）
Ｅ１＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ＝｜０．１６−７．７６｜−１０＝−２．４【０１６８】  （式１２）から求まるＥ１の絶対値が、ズレ量であり、その符号がズレ方向である。すなわち、図１９（ａ）の場合、Ｅ１＝−２．４と検出できるため、２．４だけ始端エッジ位置が基準より後ろにずれていると判断できる。【０１６９】  なお上述した説明は簡単のために、１つのデータにより判断しているが、実際には所定の領域における同一パターンから平均値Ｅ（Ｘ）を算出することにより判断する。【０１７０】  同様に、図１９（ｂ）は、記録マークＢ１の始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して、前にずれている場合である。入力信号のサンプル値（ｙｋ−３、ｙｋ−２、ｙｋ−１、ｙｋ）を（３．８、２．８、０．８、−０．２）とし、Ｅ２（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ２＝２．４と算出することができる。よって、図１９（ｂ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より前にずれていると判断できる。【０１７１】  図２０は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す。図２０では、パスＢが正解の状態遷移パスとする。【０１７２】  図２０（ａ）は、記録マークの始端エッジが理想的な始端エッジと比較して後ろにずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙｋ−３、ｙｋ−２、ｙｋ−１、ｙｋ）を（５．２、５．２、３．２、１．２）とし、Ｅ３（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ３＝２．４と算出することができる。よって、図２０（ａ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より後ろにずれていると判断できる。【０１７３】  図２０（ｂ）は、記録マークの始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して、前にずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙｋ−３、ｙｋ−２、ｙｋ−１、ｙｋ）を（４．８、４．８、２．８、０．８）とし、Ｅ４（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ４＝−２．４と算出することができる。よって、図２０（ｂ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より前にずれていると判断できる。【０１７４】  パスＡが正解の場合（図１９参照）と、パスＢが正解の場合（図２０参照）では、記録マークの始端エッジのズレ方向を示す符号の表現が反対である。これは、正解パスおよびもう一つの候補パスそれぞれの期待値系列と、入力信号の系列との関係に依存する。図１９（ｂ）、図２０（ａ）を参照して説明したように、入力信号の系列が、正解ではないパスの期待値系列との誤差を大きく持つ場合は、（式１２）で算出される値は正の符号を持つ値となる。言い換えれば、入力信号の系列と、正解ではないパスの期待値系列との差が大となるほど、最尤復号では、エラーが発生しにくい状況であることを示す。この場合、（式１２）では正符号の値として算出される。この特徴を考慮して、記録マークの始端エッジ位置のズレ方向を検出すればよい。【０１７５】  Ｐａｔｔｅｒｎ−１において、パスＡが正解の場合は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１は、２Ｔスペースと４Ｔマーク以上の長さのマークとの組み合わせの始端エッジの検出時に用いられるパターンであり、パスＢが正解の場合は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１は、３Ｔスペースと３Ｔマーク以上の長さの��ークとの組み合わせの始端エッジの検出時に用いられるパターンである。【０１７６】  以上のような方法を用いて、各記録マークの始終端パターンごとの積算値または平均値を求め、エッジ位置のずれ量が０に近づくように記録パラメータを設定すれば、最尤復号方法に最適な記録制御が可能となる。【０１７７】  また、ここで重要なのは、ディスク上に形成されたマークの始端または終端位置が、基準位置よりも後ろにずれているのか、基準位置よりも手前にずれているのかを判断することである。その判断のために、どのパターンのエッジがずれているのか検出する必要があり、パターン毎にずれ量を検出する。【０１７８】  図１９、図２０を参照して説明したように、記録マークパターンの始端エッジのズレ方向を示す符号の表現が反対であるので、例えば、マークが基準より短い場合は、マイナス符号、マークが基準位置より長い場合は、プラス符号とするようにする。この法則に従って、各マーク長の始端及び終端ごとに、上記エラー値を解析すれば、対照マーク長の始端終端の長短が検出でき、修正方向がわかる。また、その検出された値の絶対値から修正量も予測できる。【０１７９】  また、図１９に示すようにパスＡが正解の場合は、再生信号（△印）が図１９（ａ）に示す経路よりも図１９（ｂ）に示す経路を通るような傾向でマーク始端位置が調整されてもよい。再生信号とパスＡとが一致するように調整されることが理想であるが、実際の動作時には再生信号とパスＡとの間には若干のずれが生じ得る。このように再生信号波形が乱れた場合でも、不正解のパスＢからより離れた経路を再生信号が通るように調整されていれば、誤ってパスＢを選択してしまう確率を低くすることができる。【０１８０】  同様に、図２０に示すようにパスＢが正解の場合は、再生信号が図２０（ｂ）に示す経路よりも図２０（ａ）に示す経路を通るような傾向でマーク始端位置が調整されてもよい。このように調整しておけば、再生信号波形が乱れた場合でも、不正解のパスＡからより離れた経路を再生信号が通るように調整されているので、誤ってパスＡを選択してしまう確率を低くすることができる。【０１８１】  ここで、記録パラメータの最適化について説明する。記録符号の最小極性反転間隔をｍ（本実施形態では、ｍ＝２）とする。記録媒体上に形成されるマークの始端位置は、そのマーク直前のスペースの幅とそのマーク自身の幅に依存する。例えば、直前のスペース幅がｍＴから（ｍ＋ｂ）Ｔである場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存する。直前のスペース幅が（ｍ＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存しない。自身のマーク幅がｍＴから（ｍ＋ａ）Ｔである場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（ｍ＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存しない。【０１８２】  また記録媒体上に形成されるマークの終端位置は、マーク自身の幅と直後のスペースの幅に依存する。例えば、自身のマーク幅がｍＴから（ｍ＋ａ）Ｔである場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（ｍ＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存しない。また、後続のスペース幅がｍＴから（ｍ＋ｂ）Ｔである場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存する。後続のスペース幅が（ｍ＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存しない。ただしａ、ｂは０以上の整数であり、記録符号の最大極性反転はｍ＋ａ、ｍ＋ｂよりも大きいとする。【０１８３】  上記のようなマークの始端位置および終端位置の依存性を考えると、始端パラメータＴｓｆｐの最適化は、幅が（ｍ＋ｂ）Ｔ以下のスペースが隣接しているマークについて行う必要がある。また、終端パラメータＴｅｌｐの最適化は、幅が（ｍ＋ａ）Ｔ以下のマークについて行う必要がある。【０１８４】  図２１は、最適化が必要とされる記録パラメータの一覧を示す。簡単のためにｍ＝３、ａ＝ｂ＝３とすると、３２とおりの記録パターンに対応するパラメータの最適化が必要となる。例えば２Ｔｓ２Ｔｍは、２Ｔマークの直前に２Ｔスペースが存在するパターンであることを意味する。【０１８５】  図２２は、最適化が必要とされる記録パラメータを特定８パターンのうちの何れのパターンで検出するかを示す。すなわち、各記録パターン（すなわちエッジパターン）を、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のうちどのパターンで検出を行うかが示される。【０１８６】  例えば、２Ｔｓ３Ｔｍ（図２１参照）は、Ｐ３Ａのパターンで、記録マークの始終端パターンに対応する信号のずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ３Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ−３で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。【０１８７】  また、３Ｔｓ３Ｔｍ（図２１参照）は、Ｐ１Ｂまたは、Ｐ４Ａのパターンでずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ１Ｂは、Ｐａｔｔｅｒｎ−１で、パスＢが正解の状態遷移パスであるパターンを意味し、Ｐ４Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ−４で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。【０１８８】  以上のことから、最尤復号に最適な記録パラメータを制御する方法とは、記録マークの始終端パターン（図２２参照）のそれぞれに対応する信号のずれ量が、すべて０に近づくように、記録パラメータを変化させることである。【０１８９】  ２Ｔｓ２Ｔｍ（２Ｔマーク立ち上がりで、直前に２Ｔスペースがあるパターン）と、２Ｔｍ２Ｔｓ（２Ｔマーク立ち下がりで、直後に２Ｔスペースがあるパターン）は、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）では、検出不可であるため、他の方法でエッジシフト量を最適化する必要がある（図２２参照）。しかし、２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓを含むパターンは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が比較的大きいパターンであるため、上記８パターンには含まれていない。言い換えれば、２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓのエッジ部分は厳密に最適化しなくても、最尤復号においては、エラーが発生する可能性が低いと言える。そのため、ディスクごとに最適化するのではなく、適切な初期値を用いてもよい。２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓを最適化する場合は、再生信号の位相誤差の積算値が最小となるように最適化してもよい。【０１９０】  なお上述の説明では、記録パワーの調整方法と記録波形の調整方法について順に説明したが、図２３に示す様に、記録パワ��の変化に対して指標Ｍ＿ＳＮの変化は大きく、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの変化がやや小さい。また記録波形、特に先頭と最後尾のパルス位置の変化に対して指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの変化は大きく、指標Ｍ＿ＳＮの変化は小さい。すなわち、記録パワーの調整に対する記録波形の影響は小さい。なおこの場合の記録波形とは特に先頭のパルスと最後尾のパルスの時間方向の形状を意味する。従って、記録波形の調整に先行して記録パワーの調整を行い、所定の指標Ｍ＿ＳＮを確保した状態で記録波形の調整を行うことが望ましい。【０１９１】  図２４Ａは、記録パワーの調整を行った後に記録波形の調整を行う、記録パラメータの最適化の手順を示すフローチャートである。図２４Ａを参照して、記録パワー調整のための記録パワー学習を行った後に、記録波形調整のための記録補償学習を行う（ステップＳ１０１およびＳ１０２）。記録パワー学習の詳細および記録補償学習の詳細は上述したとおりである。【０１９２】  次に、学習により設定された記録条件（記録パワーおよび記録波形）で記録を行う（ステップＳ１０３）。記録では、図１６に示す学習用記録パターンを用いてもよいし、ランダムな記録パターンを用いてもよい。【０１９３】  次に、記録した情報を再生し、再生信号から指標Ｍ＿ＳＮおよび指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する（ステップＳ１０４）。ステップＳ１０５で、計算した指標Ｍ＿ＳＮと所定値とを比較する。指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていないので、ステップＳ１０１の処理へ戻り、記録パワー学習を再度実行する。指標Ｍ＿ＳＮが所定値以下であることが判定されれば、記録パワーが適切に設定されているので、ステップＳ１０６へ進む。【０１９４】  ステップＳ１０６では、計算した指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと所定値とを比較する。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば、記録波形が適切に設定されていないので、ステップＳ１０２の処理へ戻り、記録補償学習を再度実行する。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値以下であることが判定されれば、記録波形が適切に設定されているので、これで記録パラメータ調整は完了する。【０１９５】  なお、ユーザデータの記録途中でも、動作環境の変化に応じて記録パラメータの再調整が行われてもよい。例えば、光ピックアップ装置に温度センサを取り付け、光ピックアップ装置内の温度変化に応じて記録パラメータの再調整を行ってもよい。また、記録動作中に定期的に指標を計算してモニタし、指標の値が悪化すればその都度リアルタイムで記録パラメータの再調整を行ってもよい。【０１９６】  ここで記録パラメータの再調整は、温度変化を検知して一旦記録動作を中断して、図３２に示すＯＰＣ領域２１２に移動した後に、図２４Ａに示したフローチャートに従って行ってもよいし、以下で説明する図２４Ｂや図２４Ｃに示すフローチャートに従って行ってもよい。【０１９７】  図２４Ｂはユーザデータの記録中における記録パワーの最適化の手順を示すフローチャートである。情報記録媒体コントローラ１３は温度変化や記録位置変化等を検知して記録動作を一時的に中断し（ステップＳ２０１）、光ヘッド部２が記録動作の中断前に記録していた領域に移動する（ステップＳ２０２）。次にその領域付近の記録済みのトラックを再生し（ステップＳ２０３）、再生信号から指標Ｍ＿ＳＮを計算する（ステップＳ２０４）。次に計算した指標Ｍ＿ＳＮと所定値とを比較し（ステップＳ２０５）、指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていないと判断し、記録パワーを変更して記録動作を再開し（ステップＳ２０６、Ｓ２０７）、所定の記録の後で再びステップＳ２０１に戻る。ステップＳ２０５で２回目に計算された指標Ｍ＿ＳＮが所定値より小さいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていると判断して終了する。ステップＳ２０５で２回目に計算された指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば再度記録パワーを変更して記録を再開する（ステップＳ２０６、Ｓ２０７）。【０１９８】  なお記録パワーの変更方法としては、例えば１回目の変更で記録パワーを高く設定し、１回目の変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＮと１回目の変更前に計算された指標Ｍ＿ＳＮの値とを比較し、１回目の変更後の値の方が大きいときには、１回目の変更前よりも記録パワーを低くする２回目の変更を行う。１回目の変更後の値の方が小さいときには、１回目の変更後よりも記録パワーを高くした２回目の変更を行う。２回目の変更後でも指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されたときには、例えば合計３回計算された指標Ｍ＿ＳＮのうちの値が最も小さかった条件の記録パワーに決定する。【０１９９】  図２４Ｃはユーザデータの記録中における記録エッジ位置の最適化の手順を示すフローチャートである。情報記録媒体コントローラ１３は温度変化や記録位置変化等を検知して記録動作を一時的に中断し（ステップＳ３０１）、光ヘッド部２が記録動作の中断前に記録していた領域に移動する（ステップＳ３０２）。次にその領域付近の記録済みのトラックを再生し（ステップＳ３０３）、再生信号から指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する（ステップＳ３０４）。次に計算した指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと所定値とを比較し（ステップＳ３０５）、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば、記録エッジ位置が適切に設定されていないと判断し、記録エッジ位置を変更して記録動作を再開し（ステップＳ３０６、Ｓ３０７）、所定の記録の後で再びステップＳ３０１に戻る。ステップＳ３０５で、変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より小さいことが判定されれば、記録エッジ位置が適切に設定されていると判断して終了する。ステップＳ３０５で、変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば再度記録エッジ位置を変更して記録を再開する（ステップＳ３０７）。【０２００】  なお記録エッジ位置の変更方法としては、例えば１回目の変更で記録エッジ位置を時間軸方向で遅れる側に設定し、１回目の変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと１回目の変更前に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値とを比較し、１回目の変更後の値の方が大きいときには、１回目の変更前よりも時間軸方向に進む側に設定する２回目の変更を行う。１回目の変更後の値の方が小さいときには、１回目の変更後よりも時間軸方向に遅れる側に設定する２回目の変更を行う。２回目の変更でも指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されたときには、例えば合計３回計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴのうちの値が最も小さかった条件の記録エッジ位置に決定する。【０２０１】  なお記録パワーの再調整とエッジ位置の再調整は続けて実施しても良いし、一方のみを実施しても良いし、温度変化や記録位置変化等が検知される毎に交互に行ってもよい。【０２０２】  なお指標Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴの計算は同時に行ってもよく、特に記録パワーの再調整とエッジ位置の再調整を続けて実施する場合には、記録パワーを決定した際のＭ＿ＳＨＩＦＴを１回目のＭ＿ＳＨＩＦＴの計算結果としてもよい。【０２０３】  本実施の形態ではＯＰＣ領域に戻らないことにより、記録中断の時間を短縮できるとともに、実際にユーザデータを記録する領域に近い領域で記録パワーやエッジ位置の再調整を行うことにより、ＯＰＣ領域で実施する場合よりもより最適な再調整を行うことができる。【０２０４】  また、従来技術では、記録パワーとエッジ位置は、それぞれ別の指標（ジッタ、エラーレート、シンメトリ、波形振幅等）を使って評価していた。このため、記録パワーの評価を行うための処理と、エッジ位置の評価を行うための処理とを別個に行う必要があった。これに対して本発明では、記録パワーとエッジ位置の評価を行うために、最尤復号法から得られる統計的な指標を用い、分散度合いσと平均値μ（図３）とを同時に算出することができる。本願発明者らは、記録パワーは分散度合いσに大きく依存し、エッジ位置は平均値μに大きく依存することを見出したので、そのような統計的な指標を算出する一回の処理で、記録パワーの評価とエッジ位置の評価とを同時に行うことができる。これにより、記録パワーおよびエッジ位置の評価を短時間で効率的に行うことができる。【０２０５】  また、分散度合いσ、平均値μ、記録パワー、エッジ位置の相関関係が分からない状態では、分散度合いσおよび平均値μを見ても記録パワーおよびエッジ位置のどちらが悪いのか分からないので、記録パワーおよびエッジ位置を漠然と調整することになり効率が悪い。これに対して、本願発明者らは、記録パワーは分散度合いσに大きく依存し、エッジ位置は平均値μに大きく依存することを見出したので、分散度合いσが悪いときは記録パワーを調整すればよく、平均値μが悪いときはエッジ位置を調整すればよいので、効率よく記録パラメータの調整を行うことができる。また、分散度合いσおよび平均値μの何れか一方のみが悪いときは、記録パワーおよびエッジ位置の両方を調整する必要がなく、対応する一方のみを調整すればよいので、効率よく記録パラメータの調整を行うことができる。【０２０６】  次に、図２５〜図２７を参照して、記録パワーの調整についてさらに説明する。図２５は、記録パワー学習時のテスト記録用に用いられる記録パワー設定ａ〜ｄを示している。記録パワー設定ａから設定ｄへ向かうにつれて記録パワーが大きくなっている。記録パワー設定ａ〜ｄそれぞれの条件で順に記録を行い、記録した情報を再生し、指標Ｍ＿ＳＮを計算する。【０２０７】  図２６および図２７は、記録パワー設定ａ〜ｄの条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。縦軸は指標Ｍ＿ＳＮの値を表し、横軸は記録パワーを表している。この例では、指標Ｍ＿ＳＮが所定値ｉ以下となるのは記録パワー設定ｃおよびｄであり、記録パワー設定ｃおよびｄの何れかが選択される。ここでは、記録パワー設定ｃよりも記録パワー設定ｄの方がパワーが大きい。繰り返し記録を行う光ディスクでは、記録パワーが小さい方が繰り返し記録時の熱ダメージの影響が小さくなり、繰り返し記録可能な回数がより大きくなる。このように、熱ダメージの影響の低減を重視する場合は、記録パワー設定ｃを選択することが望ましい（図２６の黒丸印）。一方、光ディスクの内周付近での試し記録で設定した記録パワーにより外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下する可能性がある。また、ディスク表面に傷が付いていたりゴミが付着している場合は、実効的な照射パワーが低下する可能性がある。このような実効的な照射パワーの低下に対してマージンを持たせることを重視する場合は、記録パワー設定ｄを選択することが望ましい（図２７の黒丸印）。【０２０８】  次に、図２８〜図３１を参照して、記録波形の調整についてさらに説明する。図２８は、記録波形学習時のテスト記録用に用いられる記録波形設定ａ〜ｄを示している。記録波形設定ａから設定ｄへ向かうにつれて始端エッジが後方から前方へシフトした記録波形になっている。記録波形設定ａ〜ｄそれぞれの条件で順に記録を行い、記録した情報を再生し、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する。【０２０９】  図２９〜図３１は、記録波形設定ａ〜ｄの条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。縦軸は指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を表し、横軸は始端エッジ位置パラメータＴｓｆｐを表している。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が最も小さくなる（０に近づく）ほど信頼性が高くなるので、記録波形設定ａ〜ｄの中から指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が最も小さい記録波形設定ｂを選択する（図２９の黒丸印）。なお、記録波形設定ａ〜ｄそれぞれの間のシフト量が最小分解能で無い場合は、図３０に示すように、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値０をまたぐ設定ｂとｃの平均値（図３０の黒丸印）を、記録波形設定として選択してもよい。これにより、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値をより０に近づけることができる。【０２１０】  なお、図３１に示すような指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が０に近い所定範囲ｊ内の値であれば、信頼性の高い記録を行うことができる。本発明の実施形態の説明において記載される指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値以下の条件とは、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値の０からのシフト量（すなわち指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの絶対値）が所定値以下であり、所定範囲ｊ内に納まる条件を指している。図３１に示す例では、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が所定範囲ｊ内になる記録波形設定ｂおよびｃのうち、記録マークがより長くなる記録波形設定ｃを選択する。光ディスクの内周付近での試し記録で設定した記録波形により外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下する可能性がある。また、ディスク表面に傷が付いていたりゴミが付着している場合は、実効的な照射パワーが低下する可能性がある。このような実効的な照射パワーの低下に対してマージンを持たせることを重視する場合は、記録波形設定ｃを選択することが望ましい。【０２１１】  なお、本発明の記録再生装置１００（図４）の各構成要素は、ハードウェアにより実現されてもよいし、ソフトウェアにより実現されてもよい。例えば、整形部８、最尤復号部９、信頼性計算部１０、調整部１０４のうちの少なくとも一つが実行する動作が、コンピュータにより実行可能なプログラム（記録条件調整プログラム）により実現されてもよい。【０２１２】  また、記録条件調整装置１０２は、例えば、半導体集積回路、記録条件調整プログラムが記録されたＲＯＭ、記録条件調整プログラムが（プレ）インストールされたＲＡＭ、ダウンロードされた記録条件調整プログラムがインストールされたＲＡＭ等、およびこれらの組み合わせにより実現され得る。【０２１３】  本発明の実施形態において、記録部１０３、記録部３０３は、複数の記録波形で１つのテスト情報を情報記録媒体１に記録する形態を説明したが、記録部１０３、記録部３０３は、複数の記録波形で複数のテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。さらに、記録部１０３、記録部３０３は、単一の記録波形で１つのテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。さらに、記録部１０３、記録部３０３は、単一の記録波形で複数のテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。【０２１４】  さらに、例えば、本発明の実施形態において、指標Ｍ＿ＳＮは、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散を求め、（式６）で定義されたが、これに限定されない。例えば、Ｐａ−Ｐｂ、または｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの所定回数の積算値を指標としてもよい。【０２１５】  なお、本発明の実施形態において、図２を参照して説明した記録パルスを前提としたが、これに限定されない。例えば、クーリングパルス（ボトムパワーレベル）を必要としない記録媒体への記録波形制御にも適用できる。その場合、書き込みパワーと、消去パワーのみを制御する。【０２１６】  さらに、本発明の実施形態において、テスト信号は、上記に限定されない。テストパターンとして、マークとスペースの発生確率が同じであり、比較的長いマーク／スペースと比較的短いマーク／スペースの組み合わせであってもよい。例えば、８Ｔｍ３Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ３Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターン、７Ｔｍ２Ｔｓ７Ｔｍ７Ｔｓ２Ｔｍ７Ｔｓの繰り返しパターンである。【０２１７】  さらに、本発明の実施形態において、記録変調則とＰＲＭＬ方式とは、上記に限定されない。各種記録変調則と、各種特性のＰＲＭＬ方式の組み合わせであってもよい。例えば、（１，７）Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号とＰＲ（１，２，１）ＭＬ方式または、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式等との組み合わせでもよい。ＣＤやＤＶＤで採用されている８−１６変調符号と上記ＰＲＭＬ方式の組み合わせでもよい。【０２１８】  さらに、本発明の実施形態において、Ｐｗｏ、Ｐｅｏ、Ｐｂｏを探索するパワー範囲は上記に限定されない。例えば、各パワー探索範囲は、推奨値を中心に±ｘ％（例えば、ｘ＝１０）とし、この範囲においても図１８に示されたように最適点が検出できない場合は、上限または下限値に設定してもよい。【０２１９】  さらに、例えば、本発明の実施形態において、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴは、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値を求め、（式７）で定義されたが、これに限定されない。例えば、Ｐａ−Ｐｂ、または｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの所定回数の積算値を指標としてもよい。【０２２０】  なおディスク装着後もしくはデータの記録直前に記録波形と記録波形の調整を行った後に、周囲環境の変化等の対策として、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴの二乗平均であるＭを指標としてパワーを変化させても良い。これにより、Ｍ＿ＳＮもしくはＭ＿ＳＨＩＦＴを改善することができる。【０２２１】  またディスク装着後もしくはデータの記録直前にこのような記録波形と記録波形の調整を行った後に、周囲環境の変化等の対策として、直前に記録したデータを再生し、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴを検出し、例えばＭ＿ＳＮが悪化していればパワーの調整を行い、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが悪化していれば記録波形の調整を行っても良い。【０２２２】  同様に、ディスク装着後もしくはデータの記録直前にこのような記録波形と記録波形の調整を行った際も、調整後にその条件で記録したデータを再生し、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴを検出し、例えばＭ＿ＳＮが悪化していればパワーの再調整を行い、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが悪化していれば記録波形の再調整を行っても良い。【０２２３】  なお本発明の実施形態では、データの記録を行う際の記録条件の調整について述べているが、記録条件の調整方法はＲＯＭディスクの原盤を作成する場合にも適用することができる。特に相変化記録膜を用いてマスタリングを行う場合には、本実施形態の記録条件の最適化手法を用いることにより、ＰＲＭＬ再生に適したカッティング条件をより簡単に決定することができる。【０２２４】  なお、Ｍ＿ＳＮは８％以下が望ましく、Ｍ＿ＳＨＩＦＴは約４％以下が望ましい。【０２２５】  また、Ｍ＿ＳＮもしくはＭ＿ＳＨＩＦＴもしくはＭが所定の値以下となるような記録条件が、情報記録媒体の再生専用領域に予め記載されていても良い。これにより、試し記録を行わない場合でも従来よりもＰＲＭＬ再生に適した記録を行うことができ、試し記録を行う場合でも、例えば記録したデータの再生を行ってＭ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴの確認だけを行うという様に、調整を簡単化することができる。【０２２６】  また、本発明の記録条件調整処理により得られた記録条件を、情報記録媒体の所定の領域（例えば管理情報記録領域）に記録しておいても良い。この領域には、記録条件として、分散の度合いおよび平均値が所定の値より小さくなるような記録条件や、分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、分散の度合いの２乗と平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを情報記録媒体に記録しておき、次の試し記録を行う機会にこれらの情報を参照することで、記録条件調整処理を簡単化することができる。【０２２７】  図３２は、最適化された記録条件が記録される情報記録媒体１を示す図である。情報記録媒体１は、リードイン領域２０１とユーザデータ領域２０２とリードアウト領域２０３とを備えている。ユーザデータの記録再生はユーザデータ領域２０２に対して行われる。テスト記録は、リードイン領域２０１が備えるＯＰＣ（Ｏｐｔ��ｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）領域２１２で行われる。リードイン領域２０１およびリードアウト領域２０３は、情報記録媒体１にアクセスするのに必要なパラメータが格納された管理情報記録領域２１１を備えている。管理情報記録領域２１１は、記録条件を記録しておくための記録条件記録領域２２１を備え、最適化された記録条件はこの記録条件記録領域２２１に記録される。【０２２８】  また、本発明の記録条件調整処理は、例えば、テスト記録→再生信号品質評価→記録条件調整→本記録の順に行われ得る。この場合は、第２の情報（ユーザデータ）を記録するのに先立って、第１の情報（ダミーデータ）がテスト記録される。この場合は、第１の情報と第２の情報とは異なる情報で有り得る。また、別の実施形態では、記録条件調整処理は、本記録→記録条件更新→再生信号品質評価→記録条件調整→本記録の順に行われ得る。この場合は、第１の情報（ユーザデータ）を記録している最中で、温度や湿度の変化により記録条件を更新し、更新された記録条件で第２の情報（ユーザデータ）を記録する。このとき、第１の情報をより最適な記録条件で記録し直す場合（第１の情報＝第２の情報）と、第１の情報に基づいて更新された後の記録条件で第２の情報を記録する場合（第１の情報≠第２の情報）とがある。このように、記録条件調整処理のために用いる情報（第１の情報）と、調整後に記録される情報（第２の情報）との関係は様々であり、本発明は第１の情報と第２の情報との関係について特に限定するものではない。【０２２９】  また、本発明では、所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、再生情報を評価することで記録条件を調整する。評価に用いられた指標から得られる第一の要素にもとづいて記録波形に関する記録条件を調整する。また、評価に用いられた指標から得られる第一の要素とは独立した第二の要素にもとづいて記録位置に関する記録条件を調整する。記録条件を評価できる指標の中には、たとえばＭ指標のように、独立関係にある複数の要素が潜在し、各要素にはそれぞれに向いた調整対象がある。本発明は、このような指標潜在要素の抽出と、それと相性のよい調整対象との関係を規定している。【０２３０】  以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０２３１】  本発明にかかる光ディスクの記録再生装置は、再生信号処理に最尤復号法を用いた処理系において、復号性能と相関のある再生信号評価指標を用いて、記録時の記録信号のパワーおよび形状の最適化を行うことで記録状態を最適化でき、再生時のエラーを最小とすることができる。また、本方式は従来の記録波形制御に用いてきたジッタ、アシンメトリ、ＢＥＲ等の再生信号品質指標と比較して、記録波形の変化に対する再生波形の変化を精度良く検出できるため、最適な記録パラメータの設定を精度良く行うことができる。このように、最適な記録パラメータを精度良く決定できることから、クロスパワーによる性能劣化を最小限に抑えることができ、同じ規格の光ディスクドライブ装置、光ディスク媒体の互換を安定にとるのに有用である。【０２３２】  従来、最適な記録パラメータを精度良く決定、設定する為に、従来のジッタ、アシンメトリ、ＢＥＲ等の再生信号評価指標では、適切なパラメータを精度良く求めることができなかった。【０２３３】  本発明において、最尤復号アルゴリズムの数ある状態遷移パターンのうち、再生波形のエッジ付近に係わる状態遷移パターン（ユークリッド距離が最小パターン）のみのメトリック期待値誤差（指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍ）を用いて記録状態を検出することにより、記録パラメータの制御を行い記録状態を最適化する。また、記録のパワー制御をさらに精度良く行うために、試し記録時に用いるテスト信号は、記録波形の変化に対する再生波形の変化を精度良く検出できる特殊パターンを用いる。
【図１】
2007010905.tif 000004
【図２】
2007010905.tif 000005
【図３】
2007010905.tif 000006
【図４】
2007010905.tif 000007
【図５】
2007010905.tif 000008
【図６】
2007010905.tif 000009
【図７】
2007010905.tif 000010
【図８】
2007010905.tif 000011
【図９】
2007010905.tif 000012
【図１０】
2007010905.tif 000013
【図１１】
2007010905.tif 000014
【図１２】
2007010905.tif 000015
【図１３】
2007010905.tif 000016
【図１４】
2007010905.tif 000017
【図１５】
2007010905.tif 000018
【図１６】
2007010905.tif 000019
【図１７】
2007010905.tif 000020
【図１８】
2007010905.tif 000021
【図１９】
2007010905.tif 000022
【図２０】
2007010905.tif 000023
【図２１】
2007010905.tif 000024
【図２２】
2007010905.tif 000025
【図２３】
2007010905.tif 000026
【図２４Ａ】
2007010905.tif 000027
【図２４Ｂ】
2007010905.tif 000028
【図２４Ｃ】
2007010905.tif 000029
【図２５】
2007010905.tif 000030
【図２６】
2007010905.tif 000031
【図２７】
2007010905.tif 000032
【図２８】
2007010905.tif 000033
【図２９】
2007010905.tif 000034
【図３０】
2007010905.tif 000035
【図３１】
2007010905.tif 000036
【図３２】
2007010905.tif 000037
【図３３】
2007010905.tif 000038
【図３４】
2007010905.tif 000039
【図３５】
2007010905.tif 000040
【手続補正書】
【提出日】平成19年4月17日(2007.4.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生された第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部と
を備えた記録条件調整装置。
【請求項２】
前記調整部は、前記分散の度合いが小さくなるように前記記録信号のパワーを調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項３】
前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下となるように前記記録信号のパワーを調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項４】
前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項５】
前記調整部は、前記平均値の絶対値が小さくなるように前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項４に記載の記録条件調整装置。
【請求項６】
前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように前記記録信号のエッジの位置を調整する、請求項４に記載の記録条件調整装置。
【請求項７】
前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整し、
前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下で、前記平均値の絶対値が所定値より大きい場合は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように、前記記録信号のパワーよりもエッジの位置を優先して調整し、
前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下で、前記分散の度合いが所定値より大きい場合は、前記分散の度合いが所定値以下となるように、前記記録信号のエッジの位置よりもパワーを優先して調整する、請求項１に記載の記録条件調整装置。
【請求項８】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップと
を包含する記録条件調整方法。
【請求項９】
記録条件の調整処理を実行させるためのプログラムであって、
前記記録条件の調整処理は、
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップと
を包含するプログラム。
【請求項１０】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から第１デジタル信号を生成する再生部と、
記録条件調整装置と
を備えた情報記録装置であって、
前記記録条件調整装置は、
前記第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、
前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、
前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、
前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部と
を備え、
前記情報記録装置は、前記記録信号のパワーの調整結果に基づいて前記情報記録媒体に第２の情報を記録する記録部をさらに備えた、情報記録装置。
【請求項１１】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１２】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１３】
情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、
前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、および前記分散の度合いの２乗と前記平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを記録するための領域を有する情報記録媒体。
【請求項１４】
所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、前記再生情報を評価することで前記記録条件を調整する方法であって、
前記評価に用いられる指標から得られる第一の要素に基づいて記録パワーを調整するパワー調整ステップと、
前記パワー調整工程の前または後に、前記評価に用いられた指標から得られる第二の要素に基づいて記録位置を調整する位置調整ステップと
を包含する記録条件調整方法。
【請求項１５】
前記評価に用いられる指標は統計的な指標であり、
前記第一の要素は、前記指標の分散の度合いに関する情報であり、
前記第二の要素は、前記指標の平均値に関する情報である、請求項１４に記載の記録条件調整方法。
【請求項１６】
前記第一の要素が第一の条件を満たし、前記第二の要素が第二の条件を満たさない場合は、前記記録位置を調整し、
前記第一の要素が前記第一の条件を満たさず、前記第二の要素が前記第二の条件を満たす場合は、前記記録パワーを調整する、請求項１４に記載の記録条件調整方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号法を用いた記録再生装置、記録条件調整装置および記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
可搬記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一形状の記録パルスを用いても、装置や記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きくことなる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、記録媒体の装着時などに校正動作を行っている。校正とはユーザデータの信頼性を確保するために、再生系の特性の設定、記録パルスの形状などの最適化を行う制御である。
【０００３】
一般的な情報再生装置においては、再生信号に含まれるクロック情報を抽出し、抽出されたクロック情報をもとに原デジタル情報を弁別するＰＬＬ回路をもちいている。
【０００４】
図３３に従来の光ディスクドライブを示す。光ディスク１７からの反射光は光学ヘッド１８により再生信号に変換される。再生信号は波形等化器１９により波形整形される。波形整形された再生信号はコンパレータ２０で２値化される。通常、コンパレータ２０のしきい値は、２値化信号出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器２１は２値化信号出力と再生クロックとの位相誤差を求める。位相誤差をＬＰＦ２２により平均処理し、処理結果がＶＣＯ２３の制御電圧となる。位相比較器２１から出力される位相誤差が常に０になるように、位相比較器２１はフィードバック制御される。熱記録される記録媒体においては、媒体上の熱干渉と前後の記録パターンとにもとづいて媒体上に形成されるマークの形状が異なってくる。したがって個々のパターンの記録に最適な記録パラメータ設定をしなければならない。
【０００５】
記録パラメータを評価する指標が上記のような誤差検出出力である。誤差検出出力が最小となるように、記録パラメータの設定を行う。具体的には、初期設定された記録パラメータを用いてパターン発生回路２６から出力された記録パターンに基いて、記録補償回路２７は所定の波形のパルスを生成し、レーザ駆動回路２８は光ディスクに情報を記録する。所定のパターンが記録されたトラックから情報を再生しているとき、誤差検出回路２４は、コンパレータ２０の出力とＶＣＯ２３の出力との位相誤差の絶対値を積分することで、検出信号を得る。この検出信号は、再生クロックと２値化パルスエッジとの間のジッタと、相関をもつ。記録パラメータを変化させて、記録と再生とを繰り返す。検出値が最小となるときの記録パラメータを最適とする。
【０００６】
誤差検出回路２４の具体的な動作の様子を図３４に示す。例えば６Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔの繰り返しパターンを有する記録パルスを用いた場合の、４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせパターンに対応するマーク終端エッジの最適化を図る場合をあげる。６Ｔスペースと８Ｔマークとの組み合わせパターンに対応するマーク始端エッジ、および８Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせパターンに対応する終端エッジは最適な記録パラメータで記録されているものとする。
【０００７】
記録補償回路２７は、図３４（ａ）に示すような周期のＮＲＺＩ信号が与えられると、図３４（ｂ）のようなレーザ駆動波形パルスを生成する。Ｔｓｆｐはマーク始端位置を設定するパラメータで、Ｔｅｌｐはマーク終端位置を設定するパラメータである。レーザ駆動回路２８は、図３４（ｂ）のようなパターンに従って発光パワーを変調する。レーザ発光により図３４（ｃ）のようにトラック上に物理的にアモルファス領域が形成される。Ｔｅｌｐを、Ｔｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合、形成されるマークの形状は図３４（ｃ）のように変化する。このような記録状態のトラックからの情報再生を考える。
【０００８】
４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図３４（ｄ）に実線で示す再生信号が得られる。コンパレータ出力の積分値が０となるようしきい値が定められる。コンパレータ出力と再生クロックとの位相差を検出し、位相誤差の積分値が０となるように再生クロック（図３４（ｅ））が生成される。
【０００９】
次に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より小さくし、Ｔｅｌｐ１とした場合を考える。このとき図３４（ｆ）に実線で示す再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値Ｔｖは、図３４（ｄ）と比べて、図３４（ｆ）の一点鎖線のように大きくなる。コンパレータ出力が変化したため、位相誤差の積分値が０となるよう、図３４（ｅ）と比べて再生クロックの位相が進み、図３４（ｇ）のような再生クロックが生成される。
【００１０】
逆に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より大きくし、Ｔｅｌｐ３とした場合を考える。このとき図３４（ｈ）に実線で示す再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値Ｔｖは、図３４（ｄ）とくらべて図３４（ｈ）の一点鎖線ように小さくなる。コンパレータ出力が変化したため、位相誤差の積分値が０となるよう、図３４（ｅ）と比べて再生クロックは位相が遅れ、図３４（ｉ）のような再生クロックが生成される。
【００１１】
マーク終端エッジ（再生信号の立ち上がり）と再生クロックとの時間差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、図３４の（ｊ）〜（ｌ）のような分布が得られる。ただし４Ｔマーク終端および８Ｔマーク終端エッジは、おなじ分散値の正規分布となるようなばらつきを持つことを仮定している。
【００１２】
図３４（ｄ）、図３４（ｅ）のような再生信号と再生クロックの場合、立ち上がりエッジ（マーク終端エッジ）でのコンパレータ出力と再生クロックとの時間差の分布を求めると、図３４（ｋ）のようになる。４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端の分布のそれぞれの平均値が０となる。
【００１３】
しかし４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値）のときは、図３４（ｊ）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布との平均値は０とはならず、０から同じ距離離れた分布となる。したがって立ち上がりエッジのトータルの分散は図３４（ｋ）の場合に比べて大きくなる。同様に４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値）のときは、図３４（ｌ）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布との平均値は０とはならず、０から同じ距離離れた分布となる。図３４（ｌ）と図３４（ｊ）とは４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端の分布が入れ替わっていることになる。この場合も、立ち上がりエッジのトータルの分散は図３４（ｋ）の場合に比べて大きくなる。
【００１４】
位相誤差の絶対値を累積した結果を誤差検出出力とする場合、記録パラメータＴｅｌｐの変化に従って、図３４（ｍ）のように誤差検出値が変化する。したがって記録パラメータを変化させ、誤差検出回路２４の出力が最小となるパラメータを最適値とする。
【００１５】
上記の例では４Ｔマーク終端のパラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、その他のパラメータについてもそれぞれに対応した特定パターンを用いてテスト記録を行い、誤差検出出力にもとづいて最適パラメータをもとめる。
【００１６】
以上の手順に従ってすべての記録パラメータをもとめる際の動作をフローチャートで示すと、図３５のようになる。テスト記録を行う媒体の領域にアクセスし（Ｓ１６１）、マーク始端あるいはマーク終端の記録パラメータを所定領域（例えばセクタ）ごとに変化させながら、テスト記録を行う（Ｓ１６３）。テスト記録領域から情報の再生を行い、パラメータを変化させた領域ごとに誤差検出出力を得る（Ｓ１６４）。誤差検出出力が最小となるパラメータを求める（Ｓ１６５）。次のパラメータを求めるために以上の動作をすべてのパラメータが求まるまで繰り返す（Ｓ１６２）（特許文献１、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００１−１０９５９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
ところが、上記のように記録パラメータをジッタが最小となるように設定する方法では、最尤復号法を採用したシステムにおいて、エラーの発生する確率が最小とはならない場合があった。最尤復号法は典型的には、再生信号波形から信号パターンを予め推定しておいて、再生信号波形と推定信号波形とを比較しながら、再生信号を最も確からしい信号パターンを有する信号に復号する方法である。最尤復号法では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さいほど、エラーの発生する確率も小さくなる。
【００１８】
本発明は、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、情報の記録時に記録パラメータを最適化する記録条件調整装置、記録再生装置および記録制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の記録条件調整装置は、情報記録媒体から再生された第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部とを備えることを特徴とする。
【００２０】
ある実施形態において、前記調整部は、前記分散の度合いが小さくなるように前記記録信号のパワーを調整する。
【００２１】
ある実施形態において、前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下となるように前記記録信号のパワーを調整する。
【００２２】
ある実施形態において、前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整する。
【００２３】
ある実施形態において、前記調整部は、前記平均値の絶対値が小さくなるように前記記録信号のエッジの位置を調整する。
【００２４】
ある実施形態において、前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように前記記録信号のエッジの位置を調整する。
【００２５】
ある実施形態において、前記調整部は、前記第３の指標の平均値に基づいて前記記録信号のエッジの位置を調整し、前記調整部は、前記分散の度合いが所定値以下で、前記平均値の絶対値が所定値より大きい場合は、前記平均値の絶対値が所定値以下となるように、前記記録信号のパワーよりもエッジの位置を優先して調整し、前記調整部は、前記平均値の絶対値が所定値以下で、前記分散の度合いが所定値より大きい場合は、前記分散の度合いが所定値以下となるように、前記記録信号のエッジの位置よりもパワーを優先して調整する。
【００２６】
本発明の記録条件調整方法は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップとを包含することを特徴とする。
【００２７】
本発明のプログラムは、記録条件の調整処理を実行させるためのプログラムであって、前記記録条件の調整処理は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成するステップと、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成するステップと、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算するステップと、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整するステップとを包含することを特徴とする。
【００２８】
本発明の情報記録装置は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から第１デジタル信号を生成する再生部と、記録条件調整装置とを備えた情報記録装置であって、前記記録条件調整装置は、前記第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成する整形部と、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する最尤復号部と、前記最尤復号部が最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、前記最尤復号部が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する計算部と、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する調整部とを備え、前記情報記録装置は、前記記録信号のパワーの調整結果に基づいて前記情報記録媒体に第２の情報を記録する記録部をさらに備えることを特徴とする。
【００２９】
本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有することを特徴とする。
【００３０】
本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件を記録するための領域を有することを特徴とする。
【００３１】
本発明の情報記録媒体は、情報記録媒体から再生した第１の情報を示すアナログ信号から生成された第１デジタル信号を受け取って、前記第１デジタル信号の波形を整形して第２デジタル信号を生成し、前記第２デジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成し、最も確からしいと判断した第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、前記第１の指標と前記第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算し、前記第３の指標の分散の度合いに基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のパワーを調整し、前記第３の指標の平均値に基づいて、前記情報記録媒体に第２の情報を記録するための記録信号のエッジ位置を調整する記録条件調整方法に用いられる情報記録媒体であって、前記分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、前記平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、および前記分散の度合いの２乗と前記平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを記録するための領域を有することを特徴とする。
【００３２】
本発明の記録条件調整方法は、所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、前記再生情報を評価することで前記記録条件を調整する方法であって、前記評価に用いられた指標から得られる第一の要素に基づいて記録パワーに関する記録条件を調整するパワー調整ステップと、前記パワー調整工程の前または後に、前記評価に用いられた指標から得られる前記第一の要素とは独立した第二の要素に基づいて記録位置に関する記録条件を調整する位置調整ステップとを包含することを特徴とする。
【００３３】
ある実施形態において、前記評価に用いられる指標は統計的な指標であり、前記第一の要素は、前記指標の分散の度合いに関する情報であり、前記第二の要素は、前記指標の平均値に関する情報である。
【００３４】
ある実施形態において、前記第一の要素が第一の条件を満たし、前記第二の要素が第二の条件を満たさない場合は、前記記録位置を調整し、前記第一の要素が前記第一の条件を満たさず、前記第二の要素が前記第二の条件を満たす場合は、前記記録パワーを調整する。
【発明の効果】
【００３５】
本発明によれば、最尤復号において最も確からしいと判断された第１状態遷移列の確からしさを表す第１の指標と、２番目に確からしいと判断された第２状態遷移列の確からしさを表す第２の指標とを計算するとともに、第１の指標と第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標を計算する。そして、第３の指標の分散の度合いに基づいて、情報記録媒体に情報を記録するための記録信号のパワーを調整する。このことにより、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号のパワーおよび形状を調整することができるので、最尤復号を行うときのエラーの発生確率を小さくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００３７】
本発明では、最尤復号法を採用したシステムにおいて、再生信号エラーの発生する確率が最小となるように記録パラメータを最適化する。一般に、情報を記録したときの条件や再生条件の影響を受けて、再生信号は、情報を正確に表す理想的な波形からは乱れた波形になり得る。最尤復号法では、再生信号波形から理想的な波形パターンを推定し、再生信号波形と推定信号波形とを比較しながら、再生信号を最も確からしい波形パターンを有する信号に復号する。最尤復号法では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さいほど、再生エラーの発生する確率も小さくなる。本発明では、再生信号波形と推定信号波形の差異が小さくなるように記録パラメータを調整する。
【００３８】
（１．指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍについて）
最尤復号法を用いて再生信号を評価するために用いる再生信号評価指標（指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍ）を説明する。例として、最小極性反転間隔が２の記録符号（例えば、１，７Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号）を用い、記録時および再生時の信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化となるように信号の波形が整形される場合における再生信号評価指標を説明する。
【００３９】
試し記録後、記録されたトラックから再生されたデジタル信号（“１”または“０”の２値化信号）の系列において、現時刻の記録符号をｂkとし、１時刻前の記録符号をｂk-1とし、２時刻前の記録符号をｂk-2とし、３時刻前の記録符号をｂk-3とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌvは（式１）で表される。
（式１）
Ｌｅｖｅｌv＝ｂk-3＋２ｂk-2＋２ｂk-1＋ｂk
ここで、ｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。
【００４０】
時刻ｋにおける状態をＳ（ｂk-2，ｂk-1，ｂk）とすると、（表１）の状態遷移表が得られる。
【００４１】
【表１】
2007010905.tif 000041
【００４２】
簡単のために、時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，０）kをＳ０k、状態Ｓ（０，０，１）kをＳ１k、状態Ｓ（０，１，１）kをＳ２k、状態Ｓ（１，１，１）kをＳ３k、状態Ｓ（１，１，０）kをＳ４k、状態Ｓ（１，０，０）kをＳ５kとすると、図１に示す状態遷移図が得られる。
【００４３】
図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図である。
【００４４】
図２は、図１の状態遷移図を時間軸に沿って展開することによって得られるトレリス図である。
【００４５】
以下、図１と図２とを参照して、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移を説明する。
【００４６】
時刻ｋにおける状態Ｓ０kと時刻ｋ−４の状態Ｓ０k-4に注目する。図２は、状態Ｓ０kと状態Ｓ０k-4との間でとりうる２つの状態遷移列を示す。１つのとりうる状態遷移列をパスＡとすると、パスＡは状態Ｓ２k-4、Ｓ４k-3、Ｓ５k-2、Ｓ０k-1、Ｓ０kを遷移する。もう１つの状態遷移列をパスＢとすると、パスＢは状態Ｓ２k-4、Ｓ３k-3、Ｓ４k-2、Ｓ５k-1、Ｓ０kを遷移する。
【００４７】
これらパスＡおよびＢは、再生信号波形から推定される理想的な波形の候補に相当する。最尤復号法では、推定されたパスＡおよびＢと再生信号波形とを比較し、より正確な波形を表していると判定した方のパスを選択し、選択したパスに合うように再生信号を復号する。
【００４８】
時刻ｋ−６から時刻ｋまでの最尤復号結果を（Ｃk-6，  Ｃk-5，  Ｃk-4，  Ｃk-3，  Ｃk-2，  Ｃk-1，  Ｃk）とすると、（Ｃk-6，  Ｃk-5，  Ｃk-4，  Ｃk-3，  Ｃk-2，  Ｃk-1，  Ｃk）＝（０，１，１，ｘ，０，０，０）となる復号結果（ｘは０または１の値）が得られた場合には、パスＡまたはパスＢの状態遷移列が最も確からしいと推定されたこととなる。パスＡおよびパスＢの両方とも、時刻ｋ−４における状態が状態Ｓ２k-4であることの確からしさは同じであるから、時刻ｋ−３から時刻ｋまでの、再生信号ｙk-3から再生信号ｙkまでの値と、パスＡおよびパスＢそれぞれの期待値との差を２乗した値の累積値を求めることよって、パスＡとパスＢのどちらかの状態遷移列が確からしいことが分かる。
【００４９】
時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙk-3からｙkまでの値とパスＡの期待値との差を２乗した値の累積値をＰａとするとＰａは（式２）で表される。
（式２）
Ｐａ＝（ｙk-3−４）2＋（ｙk-2−３）2＋（ｙk-1−１）2＋（ｙk−０）2
【００５０】
時刻ｋ−３から時刻ｋまでの再生信号ｙk-3からｙkまでの値とパスＢの期待値との差を２乗した値の累積値をＰｂとするとＰｂは（式３）で表される。
（式３）
Ｐｂ＝（ｙk-3−５）2＋（ｙk-2−５）2＋（ｙk-1−３）2＋（ｙk−１）2
【００５１】
Ｐａは、パスＡと再生信号とが離れている度合いを表しており、Ｐａ＝０はパスＡと再生信号とが一致している状態を表しており、Ｐａの値が大きくなるほどパスＡと再生信号とが離れていることになる。同様に、Ｐｂは、パスＢと再生信号とが離れている度合いを表しており、Ｐｂ＝０はパスＢと再生信号とが一致している状態を表しており、Ｐｂの値が大きくなるほどパスＢと再生信号とが離れていることになる。
【００５２】
以下、最尤復号結果の信頼性を示すＰａとＰｂとの差Ｐａ−Ｐｂの意味を説明する。最尤復号部は、Ｐａ＜＜ＰｂであればパスＡを自信を持って選択し、Ｐａ＞＞ＰｂであればパスＢを自信を持って選択したといえる。またＰａ＝ＰｂであればパスＡ、パスＢのいずれを選択してもおかしくなく、復号結果が正しいかどうかは５分５分であるといえる。このようにして所定の時間あるいは所定の回数、復号結果からＰａ−Ｐｂを求めるとＰａ−Ｐｂの分布が得られる。
【００５３】
図３は、Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。
【００５４】
図３（ａ）は再生信号にノイズが重畳された場合のＰａ−Ｐｂの分布を示す。分布は２つのピークを有し、１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０となるときに頻度が極大となる。
【００５５】
復号を複数回行った結果、再生信号がパスＡと近似している場合は、Ｐａ＝０となるときに頻度が極大となる山形の分布が得られる。同様に、再生信号がパスＢと近似している場合は、Ｐｂ＝０となるときに頻度が極大となる山形の分布が得られる。
【００５６】
Ｐａ＝０となるときのＰａ−Ｐｂの値を−Ｐｓｔｄ、Ｐｂ＝０となるときのＰａ−Ｐｂの値をＰｓｔｄと表すことにする。Ｐａ−Ｐｂの絶対値を計算し、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを求める。
【００５７】
図３（ｂ）は｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。図３（ｂ）に示す分布の標準偏差σと平均値Ｐａｖｅを求める。図３（ｂ）に示す分布が正規分布であるとし、例えばσとＰａｖｅとに基づいて復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が−Ｐｓｔｄ以下となるときを誤りが発生した状態とすると、誤り確率Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）は（式４）のように表される。
（式４）
Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｐａｖｅ）／σ）
【００５８】
Ｐａ−Ｐｂの分布から計算した平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとから最尤復号結果を示す２値化信号の誤り率を予想することができる。つまり平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとを再生信号品質の指標とすることができる。
【００５９】
なお、上記の例では｜Ｐａ−Ｐｂ｜の分布が正規分布となることを仮定したが、分布が正規分布でない場合には、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの値が所定の基準値以下になる回数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。
【００６０】
最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則の場合、状態が遷移するときに２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、時刻ｋ−４から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−５から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−６から時刻ｋの範囲では８パターン存在する。さらに検出する範囲を拡大すると、２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、信頼性Ｐａ−Ｐｂパターン存在する。
【００６１】
多くのパターンの中で、記録パラメータ（書き込みパワー、消去パワー等）の変化に対して鈍感なパターンが多く存在する。例えば、長マークのスペース若しくはマーク部の変化に係るパスである。こうしたパターンを除外し、記録パラメータに対して敏感に反応するパターンのみを選択することによって、記録パラメータ変化（記録パワー変化）に対する再生波形の変化を精度良く検出することができる。（表２）にその記録パラメータに対して感度のいいパターンを示す。
【００６２】
【表２】
2007010905.tif 000042
【００６３】
すなわち、（表２）のパターン群はマークからスペース若しくはスペースからマークの遷移波形に係るものであり、例えば、記録先頭パルスのパワー（書き込みパワー）、クーリングパルスのパワー（ボトムパワー）または書き込みパワー／消去パワー比の変動に対して、敏感に反応する部分を集めたものである。
【００６４】
ここで重要なのは、信頼性Ｐａ−Ｐｂを再生信号品質の指標とすることにより、すべてのパターンを検出しなくても、誤る可能性（誤り率）が大のパターンのみを検出すれば、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が大のパターンとは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンであり、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０となる８パターンである。この８パターンとＰａ−Ｐｂとについてまとめると上記（表２）のようになる。
【００６５】
さらにＸ＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを算出し、その分布から標準偏差σ（Ｘ）と平均値Ｅ（Ｘ）を求める（Ｅ＝Ｐａｖｅ）。図３（ｂ）を参照して説明したように正規分布であると仮定するとそれぞれ誤りを起こす確率Ｐは（式５）となる。
（式５）
Ｐ（σ（Ｘ），Ｅ（Ｘ））＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｅ（Ｘ））／σ（Ｘ））
【００６６】
上記８パターンは、１ビットシフトエラーを起こすパターンであり、他のパターンは、２ビット以上のシフトエラーを起こすパターンである。ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）処理後のエラーパターンを分析すると、ほとんどが１ビットシフトエラーであるため、（式５）を求めることで再生信号の誤り率が推定できる。このように、標準偏差σ（Ｘ）および平均値Ｅ（Ｘ）を再生信号の品質を示す指標として用いることができる。
【００６７】
本願発明者らは、光ディスクに記録された信号品質を検証する際に、標準偏差σ（Ｘ）が再生信号のＳＮ比もしくは記録マークのばらつきに大きく依存すること、また、平均値Ｅ（Ｘ）が再生信号におけるエッジシフト、すなわち記録マークの理想位置からの平均的なずれに大きく依存することを見出した。従って標準偏差σ（Ｘ）と平均値Ｅ（Ｘ）が小さくなるように記録条件を最適化することにより、ＰＲＭＬに適した記録を行うことができる。このとき、再生信号のＳＮ比を示す指標として例えば（式６）を定義しても良い。
（式６）
Ｍ＿ＳＮ＝σ（Ｘ）／（２・ｄmin2）［％］
【００６８】
ここで、ｄmin2は、ユークリッド距離の最小値の２乗であり、最小極性反転間隔が２の変調符号とＰＲ（１，２，２，１）ＭＬ方式の組み合わせでは、１０となる。すなわち、ｄmin2＝１０＝Ｐｓｔｄである。
【００６９】
また、再生信号におけるエッジシフトの程度を示す指標として例えば（式７）を定義しても良い。
（式７）
Ｍ＿ＳＨＩＦＴ＝Ｅ（Ｘ）／（２・ｄmin2）［％］
【００７０】
さらに、再生信号におけるＳＮ比とエッジシフトの程度の両方を考慮したトータルの指標Ｍとして例えば（式８）を定義しても良い。
（式８）
Ｍ＝［｛σ（Ｘ）｝2＋｛Ｅ（Ｘ）｝2］ 1/2／（２・ｄmin2）［％］
＝［｛Ｍ＿ＳＮ｝2＋｛Ｍ＿ＳＨＩＦＴ｝2］ 1/2      ［％］
【００７１】
なお、Ｍは標準偏差σ（Ｘ）を用いずに（式９）のように表現することもできる。
（式９）
Ｍ＝［Ｅ（Ｘ2）］ 1/2／（２・ｄmin2）      ［％］
【００７２】
なお（式６）、（式７）、（式８）に示したこれらの指標は、標準偏差σ（Ｘ）、平均値Ｅ（Ｘ）で表されるのであればこれらに限らなくとも良い。
【００７３】
指標Ｍ＿ＳＮを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭ＿ＳＮが得られるような記録条件を求めることで、ＳＮ比の確保できた記録を行うことができる。なおＳＮ比を確保するための記録条件としては、主としてレーザ光の照射パワーを高くすることが考えられるが、それ以外にも図１３に示すようなパルス発光波形における両端のパルスを除く中央のパルス列の幅を太くしても良い。特に１回だけ記録できるタイプの光ディスクでは、一般的に照射パワーを高くすることや、両端のパルスを除く中央付近のパルスの幅を太くすることにより、記録マークの半径方向の幅が太くなりＳＮ比が向上する。
【００７４】
また指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭ＿ＳＨＩＦＴが得られるような記録条件を求めることで、エッジシフトの小さい記録を行うことができる。なおエッジシフトを小さくするための記録条件としては、主として図１３に示すようなパルス発光波形における両端のパルスの位置を変えることが考えられる。
【００７５】
また指標Ｍを用い、例えば試し記録を行いながら所定値以下のＭが得られるような記録条件を求めることで、最適な記録を行うことができる。指標Ｍだけを用いた場合には、最適な記録ができていないことは検知できても、ＳＮ比が悪いのか、マークのエッジ位置がずれているのかを区別することができない。しかしながら、本発明の指標Ｍ＿ＳＮと指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを用いることにより、最適な記録ができていない原因を特定することができる。例えば、Ｍ＿ＳＮが大きい場合にはレーザの照射パワーを調整し、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが大きい場合にはエッジ位置を調整することにより、レーザの照射パワーとエッジ位置の組み合わせを順不同に試す場合と比較して、短時間で効率的に最適な記録条件を求めることができる。
【００７６】
（２．記録再生装置）
図４は、本発明の実施形態による記録再生装置１００を示す。記録再生装置１００は、再生部１０１と、記録条件調整装置１０２と、記録部１０３とを備える。記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生を行うための記録媒体であり、例えば光ディスク媒体である。
【００７７】
再生部１０１は、光ヘッド部２と、プリアンプ３と、ＡＧＣ４と、波形等化器５と、Ａ／Ｄ変換器６と、ＰＬＬ回路７とを備える。再生部１０１は、情報記録媒体１から再生された情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する。
【００７８】
記録条件調整装置１０２は、整形部８と、最尤復号部９と、信頼性計算部１０と、調整部１０４とを備える。調整部１０４は、パターン検出回路１１と、エッジシフト検出回路１２と、情報記録媒体コントローラ１３とを備える。記録条件調整装置１０２は例えば半導体チップとして製造される。
【００７９】
整形部８は例えばデジタルフィルタであり、再生部１０１が生成したデジタル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の波形を整形する。
【００８０】
最尤復号部９は例えばビタビ復号回路であり、整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最も確からしい２値化信号を生成する。
【００８１】
信頼性計算部１０は、例えば差分メトリック検出回路であり、整形部８から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号部９から出力された２値化信号とに基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。
【００８２】
調整部１０４は、信頼性計算部１０が計算した信頼性に基づいて、情報記録媒体１に情報を記録するための記録信号のパワーを調整すると共に、記録信号の所定部分の形状を調整する（例えば記録信号のエッジ位置を調整する）。調整部１０４は、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号のパワーおよび形状を調整する。情報記録媒体コントローラ１３は例えば光ディスクコントローラである。
【００８３】
ここで、記録信号のパワーを説明する。書き換え可能な光ディスクとして、例えば、層変化型光ディスク（ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ等）が知られている。層変化型光ディスクのオーバーライト記録には、マルチパルスのレーザ光が使用されている。レーザ光のレーザパワーは、例えば、書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有する。
【００８４】
図１３は、書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有するマルチパルスを示す。
【００８５】
書き込みパワーＰｗは、記録膜の状態を結晶状態からアモルファス状態に変化し、マークを形成する。消去パワーＰｅは、記録膜の状態をアモルファス状態から結晶状態に変化し、古いマークを消去（オーバーライト）する。ボトムパワーＰｂは、マルチパルス記録においては、マルチパルスの底部のパワーに相当し、記録時にレーザ光照射による熱拡散を防止する。
【００８６】
情報記録媒体コントローラ１３は、信頼性計算部１０が計算した信頼性に基づいて、情報記録媒体１に情報を記録するための記録パワーを調整する。例えば、調整される記録パワーは、書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーのうちの少なくとも１つを含む。情報記録媒体コントローラ１３は、例えば、最尤復号の結果の信頼性が高くなるように記録信号の形状を調整する。
【００８７】
記録部１０３は、パターン発生回路１４と、記録補償回路１５と、レーザ駆動回路１６と、光ヘッド部２とを備える。記録部１０３は、記録信号のパワーおよび／または形状の調整結果に基づいて情報記録媒体１に情報を記録する。本実施形態では、光ヘッド部２は、再生部１０１および記録部１０３に共有され、記録ヘッドおよび再生ヘッドの両方の機能を有する。なお記録ヘッドと再生ヘッドとが別々に設けられてもよい。
【００８８】
以下、図４を参照して、本発明の実施形態による記録再生装置１００の動作を詳細に説明する。
【００８９】
光学ヘッド部２は情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ４に入力される。ＡＧＣ４では後段の波形等化器５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ４から出力されたアナログ再生信号は波形等化器５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換器６に出力される。Ａ／Ｄ変換器６はＰＬＬ回路７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ回路７はＡ／Ｄ変換器６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。
【００９０】
Ａ／Ｄ変換器６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号は整形部８に入力される。整形部８は、記録時および再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（本実施形態ではＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるように、デジタル再生信号の周波数特性を調整する（すなわちデジタル再生信号の波形を整形する）。
【００９１】
最尤復号部９は、整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。２値化信号は、最尤復号の結果を示す。
【００９２】
信頼性計算部１０は、整形部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、２値化信号とを受け取る。信頼性計算部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を示す指標を求める。より詳細には、信頼性計算部１０は、最尤復号部９が最も確からしいと判断した第１状態遷移列（例えばパスＡ）の確からしさを表す第１の指標（例えばＰａ）と、最尤復号部９が２番目に確からしいと判断した第２状態遷移列（例えばパスＢ）の確からしさを表す第２の指標（例えばＰｂ）とを計算する。信頼性計算部１０は、これら第１の指標と第２の指標との差に基づいて得られる第３の指標（｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を計算する。また、信頼性計算部１０は、第３の指標から指標Ｍ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、Ｍを求める。
【００９３】
情報記録媒体コントローラ１３は、記録パラメータ学習処理手順をコントロールする。試し記録する際の記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）の設定、記録動作のコントロール、再生動作のコントロールを行うと共に、記録パラメータごとに指標Ｍ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、Ｍを求め、対象とする指標が最適となる、もしくは所定値以下となる記録パラメータを決定する。なお、記録パラメータ学習処理手順の詳細は、後述される。
【００９４】
記録補償回路１５は、情報記録媒体コントローラ１３からの記録パラメータと、パターン発生回路１４から出力される記録テストパターンとに基づいて、レーザ発光パターンを決定する。レーザ駆動回路１６は、レーザ発光パターンにしたがって、光学ヘッド部２を駆動する。
【００９５】
記録再生装置１００を用いることによって、再生時にエラーが最小となる最適な記録パラメータを設定することが可能となる。
【００９６】
次に、図１０〜図１２を参照して、記録信号のパワーおよび形状の調整手順をより詳細に説明する。この調整は調整部１０４が実行する。
【００９７】
図１０（ａ）は、再生信号品質が悪い場合のＰａ−Ｐｂの分布を示している。図３（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布と比較して、図１０（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布は、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が低くなっている。図１０（ｂ）は、図１０（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図３（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布と比較して、図１０（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い（標準偏差σ（Ｘ））が大きくなっている。
【００９８】
このように、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が低く、標準偏差σが大きい状態では、正しく最尤復号が行われる可能性が低くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が大きくなる。
【００９９】
一方、図１１（ａ）は、再生信号品質が良い場合のＰａ−Ｐｂの分布を示している。図３（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布と比較して、図１１（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布は、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が高くなっている。図１１（ｂ）は、図１１（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図３（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布と比較して、図１１（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い（標準偏差σ（Ｘ））が小さくなっている。このように、Ｐａ＝０となる頻度およびＰｂ＝０となる頻度が高く、標準偏差σ（Ｘ）が小さい状態では、正しく最尤復号される可能性が高くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が小さくなる。これらのことから、標準偏差σ（Ｘ）が小さくなるように記録パラメータを調整することにより、再生信号品質を高め、エラーの発生確率を小さくすることができる。
【０１００】
本願発明者らは、標準偏差σ（Ｘ）が記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）のうちの記録信号のパワーに大きく依存しており、記録信号のパワーを適切な値に調整することにより標準偏差σ（Ｘ）を小さくできることを見出した。すなわち、標準偏差σ（Ｘ）が小さくなるように記録信号のパワーを調整することにより、最尤復号に適した記録パラメータを得ることができる。
【０１０１】
次に図１２を参照して、記録信号パラメータの調整手順をさらに説明する。図１２（ａ）は、再生信号品質が悪い場合のＰａ−Ｐｂの分布の別の例を示している。図１２（ａ）に示す左側のＰａ−Ｐｂの分布は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値の頻度が最も高くなる値が、Ｐａ＝０のときの｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値からずれている。図１２（ｂ）は、図１２（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布に対応する｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示している。図１２（ｂ）に示す｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布では、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値が０から距離μだけずれている（｜平均値｜＝μ）。このように、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値が０から距離μだけずれている状態では、正しく最尤復号が行われる可能性が低くなり、最尤復号を行うときのエラーの発生確率が大きくなる。本願発明者らは、図１２（ａ）に示すＰａ−Ｐｂの分布のずれは、記録パラメータ（記録信号のパワーおよび形状等）のうちの記録信号のエッジ位置に大きく依存しており、記録信号のエッジ位置を適切な値に調整することによりＰａ−Ｐｂの分布のずれを小さくでき、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値を小さくすることができることを見出した。すなわち、平均値の絶対値（＝μ）が小さくなるように記録信号のエッジ位置を調整することにより、最尤復号に適した記録パラメータを得ることができる。
【０１０２】
調整部１０４は、標準偏差σ（Ｘ）（｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散の度合い）が小さくなるように（所定値以下となるように）記録信号のパワーを調整する。また、調整部１０４は、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値（すなわち距離μ）が小さくなるように（所定値以下となるように）記録信号のエッジ位置を調整する。より好ましくは、調整部１０４は、標準偏差σ（Ｘ）および平均値Ｅ（Ｘ）の絶対値が０に近づくように記録信号のパワーおよびエッジ位置を調整する。
【０１０３】
（３．記録再生方法）
図５は、本発明の実施形態による記録パワー学習処理手順を示す。記録再生装置１００が記録パワー学習処理手順を実行することによって、記録パワーが調整される。記録パワー学習処理手順は、ステップ１〜ステップ３を包含する。
【０１０４】
以下、図５を参照して、記録パワー学習処理手順をステップごとに説明する。
【０１０５】
記録パワー学習が開始されると、まず、ステップ１では、最適書き込みパワーＰｗｏを求める動作が実行される。ステップ１は、ステップ１−１、ステップ１−２およびステップ１−３を包含する。
【０１０６】
ステップ１−１：光ヘッド部２が情報記録媒体１上の所定の学習エリアに移動するように制御される。消去パワー／書き込みパワー比（Ｐｅ／Ｐｗ）、ボトムパワーを固定し、書き込みパワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作を行う。この時、消去パワー／書き込みパワー比、ボトムパワーは、規格等で規定されている記録媒体に予め記載されている推奨値を初期値として用いてもよい。書き込みパワーは、情報記録媒体１に予め記載されている推奨値のパワーを中心に前後パワーを変化させてもよい。
【０１０７】
また記録を行う際の光波形、即ち各パルスの時間方向の位置については、情報記録媒体１に予め記載されている値に設定して良いし、装置が予めいくつかの初期値を記憶していても良い。
【０１０８】
また、記録再生装置１００が、記録媒体ごとに保持している推奨値を初期値としてもよい。例えば、情報記録媒体１に予め記載されている推奨値が、Ｐｗ＝９．０［ｍＷ］、Ｐｅ／Ｐｗ＝０．４０、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］とすると、Ｐｅ＝０．４０×Ｐｗ［ｍＷ］、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］を固定にして、Ｐｗを８．０〜１０．０［ｍＷ］まで、０．２［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各書き込みパワーについて繰り返し記録する。
【０１０９】
試し記録が終了すると、処理はステップ１−２に進む。
【０１１０】
ステップ１−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮを算出する。
【０１１１】
信頼性計算部１０が書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮを算出した後、処理はステップ１−３に進む。
【０１１２】
ステップ１−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応する書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。
【０１１３】
図６は、書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適書き込みパワーＰｗｏを求めた例を示す。
【０１１４】
図７は、テストパターンと、そのパターンを再生したときの波形を示す。再生波形上の白丸は、Ａ／Ｄ変換器６でサンプリングしたときのサンプリングポイントを示す。本発明は、テスト用記録信号にも特徴がある。従来、記録パワー学習に用いるテストパターンとして、ある周期の単一パターンが用いられている。例えば、６Ｔ（Ｔは、チャネル周期）の繰り返しパターンである。単一パターンは、記録マーク長ごとの記録パルスの幅や位相ズレの影響を受けにくいが、記録パワー変化に対する波形の変化を検出する点では、精度が出ない場合がある。本発明では、記録変調則において、最小マーク長と最長マーク長とを組み合わせ、尚且つ、記録部（マーク）と未記録部（スペース）の発生確率が同じであるテストパターンを用いる。例えば、記録変調符号として、（１，７）Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号を用いた場合、最小マーク長は２Ｔで、最長マーク長８Ｔであるため、８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。Ｔｍはマーク側のチャネル周期長を意味し、Ｔｓはスペース側のチャネル周期長を意味する。
【０１１５】
このように、ステップ１では、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる書き込みパワーを最適書き込みパワーＰｗｏとして決定する。
【０１１６】
続いて、ステップ２では、最適消去パワーＰｅｏを求める動作が実行される。ステップ２は、ステップ２−１、ステップ２−２およびステップ２−３を包含する。
【０１１７】
ステップ２−１：情報記録媒体コントローラ１３は、書き込みパワーをステップ１を実行することによって決定した最適書き込みパワーＰｗｏに設定する。さらに、情報記録媒体コントローラ１３は、ボトムパワーを固定し、消去パワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作（試し記録）を行う。
【０１１８】
例えば、Ｐｗｏ＝Ｐｗ＝９．４［ｍＷ］、Ｐｂ＝０．３［ｍＷ］を固定にして、Ｐｅ＝Ｐｗ×０．４＝３．７６［ｍＷ］を中心に、３．４〜４．１［ｍＷ］まで、０．１［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各消去パワーについて繰り返し記録する。この記録は、下地記録した状態のトラックにオーバーライトして記録して行うことができる。または、ステップ１で用いたトラックと同じトラックに記録することができる。
【０１１９】
テスト用記録信号の書き込み（試し記録）が終了すると、処理はステップ２−２に進む。
【０１２０】
ステップ２−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、消去パワーごとに記録状態判定指標値（指標Ｍ＿ＳＮ）を算出する。
【０１２１】
記録状態判定指標としてステップ１と同様に指標Ｍ＿ＳＮを用い、テスト用記録信号に８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。
【０１２２】
信頼性計算部１０が消去パワーごとに記録状態判定指標値を算出した後、処理はステップ２−３に進む。
【０１２３】
ステップ２−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られる消去パワーを最適消去パワーＰｅｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応する消去パワーを最適消去パワーＰｅｏとして決定する。
【０１２４】
図８は、消去パワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適消去パワーＰｅｏを求めた例を示す。
【０１２５】
続いて、ステップ３では、最適ボトムパワーＰｂｏを求める動作が実行される。ステップ３は、ステップ３−１、ステップ３−２およびステップ３−３を包含する。
【０１２６】
ステップ３−１：情報記録媒体コントローラ１３は、書き込みパワーをステップ１を実行することによって決定した最適書き込みパワーＰｗｏに設定する。情報記録媒体コントローラ１３は、消去パワーをステップ２を実行することによって決定した最適消去パワーＰｅｏに設定する。さらに、情報記録媒体コントローラ１３は、ボトムパワーを順次変化させてテスト用記録信号を書き込む動作（試し記録）を行う。
【０１２７】
例えば、Ｐｗｏ＝Ｐｗ＝９．４［ｍＷ］、Ｐｅｏ＝Ｐｅ＝３．９［ｍＷ］を固定にして、Ｐｂを０．２〜０．４［ｍＷ］まで、０．０５［ｍＷ］ずつ変化させて、同じテスト用記録信号を各ボトムパワーについて繰り返し記録する。この記録は、下地記録した状態のトラックにオーバーライトして記録して行うことができる。または、ステップ１、ステップ２で用いたトラックと同じトラックに記録することができる。
【０１２８】
テスト用記録信号の書き込み（試し記録）が終了すると、処理はステップ３−２に進む。
【０１２９】
ステップ３−２：光ヘッド部２は、記録したテスト用記録信号を再生し、信頼性計算部１０は、ボトムパワーごとに記録状態判定指標値（指標Ｍ＿ＳＮ）を算出する。  記録状態判定指標として、ステップ１、ステップ２と同様に指標Ｍ＿ＳＮを用い、テスト用記録信号に８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いる。
【０１３０】
信頼性計算部１０がボトムパワーごとに記録状態判定指標値を算出した後、処理はステップ３−３に進む。
【０１３１】
ステップ３−３：信頼性計算部１０は、標準偏差を小さくすることができて最適とされる指標Ｍ＿ＳＮが得られるボトムパワーを最適ボトムパワーＰｂｏとして決定する。信頼性計算部１０は、最適とされる指標Ｍ＿ＳＮとして、例えば、最小値を選択し、選択された指標Ｍ＿ＳＮに対応するボトムパワーを最適ボトムパワーＰｂｏとして決定する。
【０１３２】
図９は、ボトムパワーごとに指標Ｍをプロットし、最適ボトムパワーＰｂｏを求めた例を示す。
【０１３３】
以上、ステップ１〜ステップ３を実行することによって、最適な書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーを設定するための学習は終了し、再生時にエラーが最小となる記録が可能となる。なお、ボトムパワーのパワー変化が、再生時のリーダビリティにほとんど影響しない場合は、ステップ３の学習を省略して、ボトムパワーに適切な固定値を設定してもよい。
【０１３４】
以上のように、本発明の実施形態においては、ＰＲＭＬアルゴリズムにおける、数ある状態遷移パターンのうち、再生波形のエッジ付近に係わる状態遷移パターン（ユークリッド距離が最小のパターン）のみのメトリック期待値誤差（指標Ｍ＿ＳＮ）を用いて記録状態を検出することにより、記録先頭パルスのパワー（書き込みパワー）や、クーリングパルスのパワー（ボトムパワー）若しくは書き込みパワー／消去パワー比の変動に対して変化して記録された波形を、精度良く検出することができる。また、記録マーク長ごとの記録パルスの幅や位相ズレの影響を受けにくい点、記録パワー変化に対する波形の変化を感度良く検出する点等を考慮して、テストパターンとして８Ｔｍ２Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ２Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターンを用いることで、さらに検出感度を高めることが容易に行える。
【０１３５】
なお、テストパターンは本実施形態に限らず単一周期のパターンでも良い。最短間隔のマーク、スペースと最長間隔のマーク、スペースを組み合わせたパターンによる試し記録は、繰り返し記録を行う光ディスクにおいて、消去性能を包含してパワーを決定する際に特に有効であるが、書き込みパワーの最適化のみを行う場合や追記型の光ディスクの場合には最長間隔の周期のパターン、もしくは最長間隔の周期のパターンと同程度の再生振幅が得られる最長間隔よりも短い間隔の単一周期のパターンでも良い。
【０１３６】
なお本実施形態では書き込みパワー、消去パワー、ボトムパワーと分けているがまとめて実施しても良い。
【０１３７】
なお本実施形態では、図１３に示す様に消去パワーの直前のパワーもボトムパワーとしているが、消去パワーの直前のパワーはボトムパワーとは別の設定としても良い。周期的なパルスが続くマーク中間部と、直後に消去パワーになるマーク終端部とでは熱分布が異なるため、消去パワーの直前のパワーをボトムパワーと別の設定にすることにより、マーク終端部のばらつきをより低減することができる。
【０１３８】
なお本実施形態では、Ｍ＿ＳＮが最小となるパワーを最適パワーとして選択しているが、所定のＭ＿ＳＮ以下を満足する最小パワー付近のパワーを最適パワーとして選択しても良い。特に繰り返し記録を行う光ディスクでは、書き込みパワーが小さい方が繰り返し記録時の熱ダメージの影響が小さくなり、繰り返し記録可能な回数がより大きくなる。
【０１３９】
なお本実施形態では、Ｍ＿ＳＮが最小となるパワーを最適パワーとして選択しているが、所定のＭ＿ＳＮ以下を満足するパワー範囲の中央付近のパワーを最適パワーとして選択しても良い。これにより例えば光ディスクの面内の感度差により実効的な照射パワーが多少増加、あるいは減少しても所定のＳＮ比を確保することができる。なお実効的な照射パワーの増加、減少の見積もりがある程度明確になっている場合には、その見積もりに応じて所定のＭ＿ＳＮ以下を満足するパワー範囲を内分したパワーを選択しても良い。例えば光ディスクの内周付近での試し記録で設定したパワーにより外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下することから、予め高いパワーになるように内分比を決めておいても良い。
【０１４０】
次に、記録信号の形状を決定する処理手順を説明する。
【０１４１】
パターン検出回路１１は、２値化信号に基いて、表２に示した８パターン（図１８に示すＰａｔｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）を記録マークの始終端エッジのパターンごとに割り当てるためのパルス信号を生成してエッジシフト検出回路１２に出力する。
【０１４２】
エッジシフト検出回路１２は、信頼性Ｐａｂｓをパターンごとに累積加算し、記録補償パラメータの最適値からのずれ（後述ではエッジシフトと言う）を求める。
【０１４３】
情報記録媒体コントローラ１３は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された記録パラメータ（記録信号の波形）を変更する。
【０１４４】
パターン発生回路１４は、記録補償学習用パターンを出力する。
【０１４５】
記録補償回路１５は情報記録媒体コントローラ１３からの記録パラメータをもとに、記録補償学習用パターンに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。生成されたレーザ発光波形パターンにしたがって、レーザ駆動回路１６は光学ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。
【０１４６】
図１４は、パターン検出回路１１とエッジシフト検出回路１２とを示す。
【０１４７】
以下、図１４を参照して、エッジシフト検出回路１２の動作を詳細に説明する。
【０１４８】
エッジシフト検出回路１２には、パターン検出回路１１でのパターン検出結果と、信頼性計算部１０で算出された信頼性Ｐａｂｓとが入力される。パターン検出回路１１での遅延を考慮して、入力される信頼性Ｐａｂｓデータをフィリップフロップ（ＦＦ）によって遅延させる。パターン検出出力および検出出力点に対応する信頼性Ｐａｂｓデータが加算器に入力され、同時にパターン検出結果がセレクタに入力される。セレクタは検出パターンにしたがってこれまでの累積加算結果を選択して加算器に入力する。加算器は累積加算結果と新しく入力された信頼性Ｐａｂｓデータを加算し出力する。検出パターンに対応した特定のレジスタは、イネーブル信号を受け取ると、加算結果を格納する。
【０１４９】
図１５は、エッジシフト検出回路の動作を示すタイミングチャートである。例えばアドレス単位で情報が管理されている情報記録媒体に情報を記録する場合、加算区間ゲート信号（図１５（ｂ）参照）とレジスタイネーブル信号（図１５（ｃ）参照）の使用が想定される。図１５（ａ）はアドレスユニットを示している。
【０１５０】
アドレス単位ごとに、ユーザ領域にテスト記録を行い、エッジシフト量を求める場合、加算区間を定める制御が必要となる。加算区間ゲート信号がエッジシフト検出回路１２に入力されると、加算区間ゲート信号は、２段のフリップフロップを通過し、フリップフロップＦＦ２９〜ＦＦ０に入力される（図１４参照）。加算区間ゲート信号のＬｏｗ区間でフリップフロップをリセットし、Ｈｉｇｈ区間で加算結果を格納する。また、レジスタイネーブル信号は、加算区間ゲート信号から生成され、レジスタイネーブル信号は、加算区間ゲート信号の終端で加算結果をレジスタＲＥＧ２９〜ＲＥＧ０に格納するためのイネーブル信号である。アドレス単位ごとにエッジシフト量を示すデータがレジスタＲＥＧ２９〜ＲＥＧ０に格納される。
【０１５１】
エッジシフト検出回路１２は、このような回路構成を備えることで、１つの加算器をもちいて記録パラメータの最適化に必要なすべてのエッジシフト量をもとめることができる。
【０１５２】
図１４を参照して説明した回路例では、テスト記録に用いられる記録パターン（例えばランダムパターン）のうちの、パラメータの最適化に必要な所定長のマークとスペースとの組み合わせ毎に発生頻度が異なってしまう。検出された３０のエッジシフト量（Ｒ２３Ｔ、Ｒ３３Ｔ、・・・、Ｒ４５Ｌ、Ｒ５５Ｌ）は各パターンの発生頻度に依存する。また、ＰＬＬ回路７（図４）では、ＤＣ成分（再生信号に含まれる低周波数成分）を用いてスライサーのしきい値を自動的に検出し、再生信号とクロック信号とを同期させている。従って、フィードバック制御がＰＬＬ回路７でのクロック生成に影響しないように、テスト記録パターンにはＤＣ成分が少ないことが望まれる。また、最適化に要する時間と精度とを考えると、できるだけ少ない記録領域で高い精度の検出結果が望まれる。したがって記録パターン中にパラメータの最適化に必要なマークとスペースとの組み合わせが同一頻度で発生し、なおかつ符号に含まれるＤＣ成分（ＤＳＶ）が０となり、かつ最適化に必要な組み合わせの単位長あたりの発生頻度が高くなるような記録パターンが必要となる。
【０１５３】
図１６は、学習用記録パターンの一例を示す。２Ｍは２Ｔマークを意味し、２Ｓは２Ｔスペースを意味する。２Ｔ〜５Ｔマークと２Ｔ〜５Ｔスペースとの組み合わせである３０とおりのパターンが、１０８ビットの記録パターンに１回づつ発生する。また１０８ビットの記録パターンを含むシンボル‘０’とシンボル‘１’の数は同数の５４であり、記録パターンのＤＳＶは０となっている。この記録パターンを図４のエッジシフト検出回路１２に適用すると、各パターンを同一回数検出することができ、より正確なシフト量検出結果が得られる。なお、本実施形態では、５Ｔ以上の幅のマークあるいはスペースについては、同一の記録パラメータで記録できることを想定している。
【０１５４】
図１７は、エッジシフト検出回路１２ａ（エッジシフト検出回路１２の改変例）を示す。
【０１５５】
エッジシフト検出回路１２ａは、テスト記録に用いられる記録パターンとして、ランダムパターン（最適化に必要な組み合わせパターンによって発生頻度が異なるパターン）を用いる。エッジシフト検出回路１２ａでは、パターン検出回路１１によって、特定パターン（３０パターン）のエッジを検出し、パターンそれぞれに対応するエッジシフト量とパターン検出回数とを個々に積算する。エッジシフト量の加算結果をパターン検出回数で割ることにより、特定パターン毎に平均エッジシフト量を算出する。これにより、特定パターン毎の発生確率が異なるテスト記録パターンを用いても、どのパターンに対応する記録マークの始終端位置を変更すべきか判断することができる。
【０１５６】
上述のように、調整部１０４が備えるエッジシフト検出回路１２（図４）は、記録マーク長とスペース長との組み合わせ毎に、最尤復号結果の信頼性の積算値または平均値のうちの一方を計算し、それら計算した積算値または平均値に基づいて記録信号の形状を調整する。
【０１５７】
上記実施形態では、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を用いて最尤復号部が最尤復号を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、最小極性反転間隔が３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０１５８】
本発明の実施形態では、８パターン（図１８）の検出を、後述する記録パターンごと（マーク長と直前のスペース長の組み合わせと、マーク長と直後のスペース長の組み合わせのパターンごと）に行い、記録信号の形状、特にエッジの始終端部分に着目し、記録信号のエッジの位置を最適化する記録パラメータを決定する。
【０１５９】
全てのパターンの最尤復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜のうち、｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が最小となるパターンのみに着目するということは、記録マークのエッジ部分のみに着目することを意味する。上記でも述べたが、Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンは、エラーの発生確率が大きいパターンである。すなわち、最尤復号結果の信頼性が高くなるように、記録マークのエッジの位置を部分的に最適化すれば、全体の最適化につながることを意味する。その方法について以下説明する。
【０１６０】
図１８は、８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のサンプル値を示す。横軸は時間（１目盛りは１チャネルクロック周期（Ｔｃｌｋ）を表す）、縦軸は信号レベル（０〜６）を示し、点線、実線はそれぞれパスＡ、パスＢを示す。各サンプル値は、（表１）で説明した最尤復号における入力の期待値Ｌｅｖｅｌvの０〜６に相当する。
【０１６１】
記録部分（アモルファス領域）は、反射光が減るため信号レベルとしてはコンパレータ閾値より下側の波形として再生される。一方、未記録部分（非アモルファス領域）は、コンパレータ閾値より上側の波形として再生される。また、図１８で示した８パターンは、すべて記録部（マーク）と未記録部（スペース）の境界部分（マークの始端エッジおよび終端エッジ）である再生波形に相当する。よって、８パターンのうち、Ｐａｔｔｅｒｎ−１（図１８（ａ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−２（図１８（ｂ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−３（図１８（ｃ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−４（図１８（ｄ）参照）は、マークの始端エッジ部分に相当し、Ｐａｔｔｅｒｎ−５（図１８（ｅ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−６（図１８（ｆ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−７（図１８（ｇ）参照）、Ｐａｔｔｅｒｎ−８（図１８（ｈ）参照）は、マークの終端エッジ部分に相当する。
【０１６２】
Ｐａｔｔｅｒｎ−１に着目して、マークの始端エッジのシフトズレ検出方法を説明する。
【０１６３】
図１９は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す。実線△印は入力信号であり、点線で示すパスＡが正解の状態遷移パスとする。入力信号は記録マークＢ１に基づいて生成されている。記録マークＡ１は理想的な始端エッジを有しているとする。
【０１６４】
図１９（ａ）は、記録マークの始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して後ろにずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙk-3、ｙk-2、ｙk-1、ｙk）を（４．２  、３．２  、１．２  、０．２）とし、（式２）および（式３）からパスＡと入力信号との距離Ｐａと、パスＢと入力信号との距離Ｐｂとは、（式１０）および（式１１）の様に求まる。
（式１０）
Ｐａ＝（４．２−４）2＋（３．２−３）2＋（１．２−１）2＋（０．２−０）2＝０．１６
（式１１）
Ｐｂ＝（４．２−５）2＋（３．２−５）2＋（１．２−３）2＋（０．２−１）2＝７．７６
【０１６５】
始端エッジのズレ量とズレ方向は、上述した｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを算出することで求めることができる。
（式１２）
Ｅ１＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ＝｜０．１６−７．７６｜−１０＝−２．４
【０１６６】
（式１２）から求まるＥ１の絶対値が、ズレ量であり、その符号がズレ方向である。すなわち、図１９（ａ）の場合、Ｅ１＝−２．４と検出できるため、２．４だけ始端エッジ位置が基準より後ろにずれていると判断できる。
【０１６７】
なお上述した説明は簡単のために、１つのデータにより判断しているが、実際には所定の領域における同一パターンから平均値Ｅ（Ｘ）を算出することにより判断する。
【０１６８】
同様に、図１９（ｂ）は、記録マークＢ１の始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して、前にずれている場合である。入力信号のサンプル値（ｙk-3  、ｙk-2  、ｙk-1  、ｙk）を（３．８  、２．８  、０．８  、−０．２）とし、Ｅ２（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ２＝２．４と算出することができる。よって、図１９（ｂ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より前にずれていると判断できる。
【０１６９】
図２０は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す。図２０では、パスＢが正解の状態遷移パスとする。
【０１７０】
図２０（ａ）は、記録マークの始端エッジが理想的な始端エッジと比較して後ろにずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙk-3  、ｙk-2  、ｙk-1  、ｙk）を（５．２  、５．２  、３．２  、１．２）とし、Ｅ３（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ３＝２．４と算出することができる。よって、図２０（ａ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より後ろにずれていると判断できる。
【０１７１】
図２０（ｂ）は、記録マークの始端エッジ位置が理想的な始端エッジ位置と比較して、前にずれている場合を示す。入力信号のサンプル値（ｙk-3  、ｙk-2  、ｙk-1  、ｙk）を（４．８  、４．８  、２．８  、０．８）とし、Ｅ４（＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）を算出すると、Ｅ４＝−２．４と算出することができる。よって、図２０（ｂ）の場合、２．４だけ始端エッジ位置が基準より前にずれていると判断できる。
【０１７２】
パスＡが正解の場合（図１９参照）と、パスＢが正解の場合（図２０参照）では、記録マークの始端エッジのズレ方向を示す符号の表現が反対である。これは、正解パスおよびもう一つの候補パスそれぞれの期待値系列と、入力信号の系列との関係に依存する。図１９（ｂ）、図２０（ａ）を参照して説明したように、入力信号の系列が、正解ではないパスの期待値系列との誤差を大きく持つ場合は、（式１２）で算出される値は正の符号を持つ値となる。言い換えれば、入力信号の系列と、正解ではないパスの期待値系列との差が大となるほど、最尤復号では、エラーが発生しにくい状況であることを示す。この場合、（式１２）では正符号の値として算出される。この特徴を考慮して、記録マークの始端エッジ位置のズレ方向を検出すればよい。
【０１７３】
Ｐａｔｔｅｒｎ−１において、パスＡが正解の場合は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１は、２Ｔスペースと４Ｔマーク以上の長さのマークとの組み合わせの始端エッジの検出時に用いられるパターンであり、パスＢが正解の場合は、Ｐａｔｔｅｒｎ−１は、３Ｔスペースと３Ｔマーク以上の長さのマークとの組み合わせの始端エッジの検出時に用いられるパターンである。
【０１７４】
以上のような方法を用いて、各記録マークの始終端パターンごとの積算値または平均値を求め、エッジ位置のずれ量が０に近づくように記録パラメータを設定すれば、最尤復号方法に最適な記録制御が可能となる。
【０１７５】
また、ここで重要なのは、ディスク上に形成されたマークの始端または終端位置が、基準位置よりも後ろにずれているのか、基準位置よりも手前にずれているのかを判断することである。その判断のために、どのパターンのエッジがずれているのか検出する必要があり、パターン毎にずれ量を検出する。
【０１７６】
図１９、図２０を参照して説明したように、記録マークパターンの始端エッジのズレ方向を示す符号の表現が反対であるので、例えば、マークが基準より短い場合は、マイナス符号、マークが基準位置より長い場合は、プラス符号とするようにする。この法則に従って、各マーク長の始端及び終端ごとに、上記エラー値を解析すれば、対照マーク長の始端終端の長短が検出でき、修正方向がわかる。また、その検出された値の絶対値から修正量も予測できる。
【０１７７】
また、図１９に示すようにパスＡが正解の場合は、再生信号（△印）が図１９（ａ）に示す経路よりも図１９（ｂ）に示す経路を通るような傾向でマーク始端位置が調整されてもよい。再生信号とパスＡとが一致するように調整されることが理想であるが、実際の動作時には再生信号とパスＡとの間には若干のずれが生じ得る。このように再生信号波形が乱れた場合でも、不正解のパスＢからより離れた経路を再生信号が通るように調整されていれば、誤ってパスＢを選択してしまう確率を低くすることができる。
【０１７８】
同様に、図２０に示すようにパスＢが正解の場合は、再生信号が図２０（ｂ）に示す経路よりも図２０（ａ）に示す経路を通るような傾向でマーク始端位置が調整されてもよい。このように調整しておけば、再生信号波形が乱れた場合でも、不正解のパスＡからより離れた経路を再生信号が通るように調整されているので、誤ってパスＡを選択してしまう確率を低くすることができる。
【０１７９】
ここで、記録パラメータの最適化について説明する。記録符号の最小極性反転間隔をｍ（本実施形態では、ｍ＝２）とする。記録媒体上に形成されるマークの始端位置は、そのマーク直前のスペースの幅とそのマーク自身の幅に依存する。例えば、直前のスペース幅がｍＴから（ｍ＋ｂ）Ｔである場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存する。直前のスペース幅が（ｍ＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は直前のスペース幅に依存しない。自身のマーク幅がｍＴから（ｍ＋ａ）Ｔである場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（ｍ＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの始端位置は自身のマーク幅に依存しない。
【０１８０】
また記録媒体上に形成されるマークの終端位置は、マーク自身の幅と直後のスペースの幅に依存する。例えば、自身のマーク幅がｍＴから（ｍ＋ａ）Ｔである場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存する。自身のマーク幅が（ｍ＋ａ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は自身のマーク幅に依存しない。また、後続のスペース幅がｍＴから（ｍ＋ｂ）Ｔである場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存する。後続のスペース幅が（ｍ＋ｂ）Ｔより大きい場合は、マークの終端位置は後続のスペース幅に依存しない。ただしａ、ｂは０以上の整数であり、記録符号の最大極性反転はｍ＋ａ、ｍ＋ｂよりも大きいとする。
【０１８１】
上記のようなマークの始端位置および終端位置の依存性を考えると、始端パラメータＴｓｆｐの最適化は、幅が（ｍ＋ｂ）Ｔ以下のスペースが隣接しているマークについて行う必要がある。また、終端パラメータＴｅｌｐの最適化は、幅が（ｍ＋ａ）Ｔ以下のマークについて行う必要がある。
【０１８２】
図２１は、最適化が必要とされる記録パラメータの一覧を示す。簡単のためにｍ＝３、ａ＝ｂ＝３とすると、３２とおりの記録パターンに対応するパラメータの最適化が必要となる。例えば２Ｔｓ２Ｔｍは、２Ｔマークの直前に２Ｔスペースが存在するパターンであることを意味する。
【０１８３】
図２２は、最適化が必要とされる記録パラメータを特定８パターンのうちの何れのパターンで検出するかを示す。すなわち、各記録パターン（すなわちエッジパターン）を、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のうちどのパターンで検出を行うかが示される。
【０１８４】
例えば、２Ｔｓ３Ｔｍ（図２１参照）は、Ｐ３Ａのパターンで、記録マークの始終端パターンに対応する信号のずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ３Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ−３で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。
【０１８５】
また、３Ｔｓ３Ｔｍ（図２１参照）は、Ｐ１Ｂまたは、Ｐ４Ａのパターンでずれ量の検出を行うことを意味する。Ｐ１Ｂは、Ｐａｔｔｅｒｎ−１で、パスＢが正解の状態遷移パスであるパターンを意味し、Ｐ４Ａは、Ｐａｔｔｅｒｎ−４で、パスＡが正解の状態遷移パスであるパターンを意味する。
【０１８６】
以上のことから、最尤復号に最適な記録パラメータを制御する方法とは、記録マークの始終端パターン（図２２参照）のそれぞれに対応する信号のずれ量が、すべて０に近づくように、記録パラメータを変化させることである。
【０１８７】
２Ｔｓ２Ｔｍ（２Ｔマーク立ち上がりで、直前に２Ｔスペースがあるパターン）と、２Ｔｍ２Ｔｓ（２Ｔマーク立ち下がりで、直後に２Ｔスペースがあるパターン）は、上記８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）では、検出不可であるため、他の方法でエッジシフト量を最適化する必要がある（図２２参照）。しかし、２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓを含むパターンは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が比較的大きいパターンであるため、上記８パターンには含まれていない。言い換えれば、２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓのエッジ部分は厳密に最適化しなくても、最尤復号においては、エラーが発生する可能性が低いと言える。そのため、ディスクごとに最適化するのではなく、適切な初期値を用いてもよい。２Ｔｓ２Ｔｍと２Ｔｍ２Ｔｓを最適化する場合は、再生信号の位相誤差の積算値が最小となるように最適化してもよい。
【０１８８】
なお上述の説明では、記録パワーの調整方法と記録波形の調整方法について順に説明したが、図２３に示す様に、記録パワーの変化に対して指標Ｍ＿ＳＮの変化は大きく、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの変化がやや小さい。また記録波形、特に先頭と最後尾のパルス位置の変化に対して指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの変化は大きく、指標Ｍ＿ＳＮの変化は小さい。すなわち、記録パワーの調整に対する記録波形の影響は小さい。なおこの場合の記録波形とは特に先頭のパルスと最後尾のパルスの時間方向の形状を意味する。従って、記録波形の調整に先行して記録パワーの調整を行い、所定の指標Ｍ＿ＳＮを確保した状態で記録波形の調整を行うことが望ましい。
【０１８９】
図２４Ａは、記録パワーの調整を行った後に記録波形の調整を行う、記録パラメータの最適化の手順を示すフローチャートである。図２４Ａを参照して、記録パワー調整のための記録パワー学習を行った後に、記録波形調整のための記録補償学習を行う（ステップＳ１０１およびＳ１０２）。記録パワー学習の詳細および記録補償学習の詳細は上述したとおりである。
【０１９０】
次に、学習により設定された記録条件（記録パワーおよび記録波形）で記録を行う（ステップＳ１０３）。記録では、図１６に示す学習用記録パターンを用いてもよいし、ランダムな記録パターンを用いてもよい。
【０１９１】
次に、記録した情報を再生し、再生信号から指標Ｍ＿ＳＮおよび指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する（ステップＳ１０４）。ステップＳ１０５で、計算した指標Ｍ＿ＳＮと所定値とを比較する。指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていないので、ステップＳ１０１の処理へ戻り、記録パワー学習を再度実行する。指標Ｍ＿ＳＮが所定値以下であることが判定されれば、記録パワーが適切に設定されているので、ステップＳ１０６へ進む。
【０１９２】
ステップＳ１０６では、計算した指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと所定値とを比較する。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば、記録波形が適切に設定されていないので、ステップＳ１０２の処理へ戻り、記録補償学習を再度実行する。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値以下であることが判定されれば、記録波形が適切に設定されているので、これで記録パラメータ調整は完了する。
【０１９３】
なお、ユーザデータの記録途中でも、動作環境の変化に応じて記録パラメータの再調整が行われてもよい。例えば、光ピックアップ装置に温度センサを取り付け、光ピックアップ装置内の温度変化に応じて記録パラメータの再調整を行ってもよい。また、記録動作中に定期的に指標を計算してモニタし、指標の値が悪化すればその都度リアルタイムで記録パラメータの再調整を行ってもよい。
【０１９４】
ここで記録パラメータの再調整は、温度変化を検知して一旦記録動作を中断して、図３２に示すＯＰＣ領域２１２に移動した後に、図２４Ａに示したフローチャートに従って行ってもよいし、以下で説明する図２４Ｂや図２４Ｃに示すフローチャートに従って行ってもよい。
【０１９５】
図２４Ｂはユーザデータの記録中における記録パワーの最適化の手順を示すフローチャートである。情報記録媒体コントローラ１３は温度変化や記録位置変化等を検知して記録動作を一時的に中断し（ステップＳ２０１）、光ヘッド部２が記録動作の中断前に記録していた領域に移動する（ステップＳ２０２）。次にその領域付近の記録済みのトラックを再生し（ステップＳ２０３）、再生信号から指標Ｍ＿ＳＮを計算する（ステップＳ２０４）。次に計算した指標Ｍ＿ＳＮと所定値とを比較し（ステップＳ２０５）、指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていないと判断し、記録パワーを変更して記録動作を再開し（ステップＳ２０６、Ｓ２０７）、所定の記録の後で再びステップＳ２０１に戻る。ステップＳ２０５で２回目に計算された指標Ｍ＿ＳＮが所定値より小さいことが判定されれば、記録パワーが適切に設定されていると判断して終了する。ステップＳ２０５で２回目に計算された指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されれば再度記録パワーを変更して記録を再開する（ステップＳ２０６、Ｓ２０７）。
【０１９６】
なお記録パワーの変更方法としては、例えば１回目の変更で記録パワーを高く設定し、１回目の変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＮと１回目の変更前に計算された指標Ｍ＿ＳＮの値とを比較し、１回目の変更後の値の方が大きいときには、１回目の変更前よりも記録パワーを低くする２回目の変更を行う。１回目の変更後の値の方が小さいときには、１回目の変更後よりも記録パワーを高くした２回目の変更を行う。２回目の変更後でも指標Ｍ＿ＳＮが所定値より大きいことが判定されたときには、例えば合計３回計算された指標Ｍ＿ＳＮのうちの値が最も小さかった条件の記録パワーに決定する。
【０１９７】
図２４Ｃはユーザデータの記録中における記録エッジ位置の最適化の手順を示すフローチャートである。情報記録媒体コントローラ１３は温度変化や記録位置変化等を検知して記録動作を一時的に中断し（ステップＳ３０１）、光ヘッド部２が記録動作の中断前に記録していた領域に移動する（ステップＳ３０２）。次にその領域付近の記録済みのトラックを再生し（ステップＳ３０３）、再生信号から指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する（ステップＳ３０４）。次に計算した指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと所定値とを比較し（ステップＳ３０５）、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば、記録エッジ位置が適切に設定されていないと判断し、記録エッジ位置を変更して記録動作を再開し（ステップＳ３０６、Ｓ３０７）、所定の記録の後で再びステップＳ３０１に戻る。ステップＳ３０５で、変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より小さいことが判定されれば、記録エッジ位置が適切に設定されていると判断して終了する。ステップＳ３０５で、変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されれば再度記録エッジ位置を変更して記録を再開する（ステップＳ３０７）。
【０１９８】
なお記録エッジ位置の変更方法としては、例えば１回目の変更で記録エッジ位置を時間軸方向で遅れる側に設定し、１回目の変更後に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴと１回目の変更前に計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値とを比較し、１回目の変更後の値の方が大きいときには、１回目の変更前よりも時間軸方向に進む側に設定する２回目の変更を行う。１回目の変更後の値の方が小さいときには、１回目の変更後よりも時間軸方向に遅れる側に設定する２回目の変更を行う。２回目の変更でも指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値より大きいことが判定されたときには、例えば合計３回計算された指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴのうちの値が最も小さかった条件の記録エッジ位置に決定する。
【０１９９】
なお記録パワーの再調整とエッジ位置の再調整は続けて実施しても良いし、一方のみを実施しても良いし、温度変化や記録位置変化等が検知される毎に交互に行ってもよい。
【０２００】
なお指標Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴの計算は同時に行ってもよく、特に記録パワーの再調整とエッジ位置の再調整を続けて実施する場合には、記録パワーを決定した際のＭ＿ＳＨＩＦＴを１回目のＭ＿ＳＨＩＦＴの計算結果としてもよい。
【０２０１】
本実施の形態ではＯＰＣ領域に戻らないことにより、記録中断の時間を短縮できるとともに、実際にユーザデータを記録する領域に近い領域で記録パワーやエッジ位置の再調整を行うことにより、ＯＰＣ領域で実施する場合よりもより最適な再調整を行うことができる。
【０２０２】
また、従来技術では、記録パワーとエッジ位置は、それぞれ別の指標（ジッタ、エラーレート、シンメトリ、波形振幅等）を使って評価していた。このため、記録パワーの評価を行うための処理と、エッジ位置の評価を行うための処理とを別個に行う必要があった。これに対して本発明では、記録パワーとエッジ位置の評価を行うために、最尤復号法から得られる統計的な指標を用い、分散度合いσと平均値μ（図３）とを同時に算出することができる。本願発明者らは、記録パワーは分散度合いσに大きく依存し、エッジ位置は平均値μに大きく依存することを見出したので、そのような統計的な指標を算出する一回の処理で、記録パワーの評価とエッジ位置の評価とを同時に行うことができる。これにより、記録パワーおよびエッジ位置の評価を短時間で効率的に行うことができる。
【０２０３】
また、分散度合いσ、平均値μ、記録パワー、エッジ位置の相関関係が分からない状態では、分散度合いσおよび平均値μを見ても記録パワーおよびエッジ位置のどちらが悪いのか分からないので、記録パワーおよびエッジ位置を漠然と調整することになり効率が悪い。これに対して、本願発明者らは、記録パワーは分散度合いσに大きく依存し、エッジ位置は平均値μに大きく依存することを見出したので、分散度合いσが悪いときは記録パワーを調整すればよく、平均値μが悪いときはエッジ位置を調整すればよいので、効率よく記録パラメータの調整を行うことができる。また、分散度合いσおよび平均値μの何れか一方のみが悪いときは、記録パワーおよびエッジ位置の両方を調整する必要がなく、対応する一方のみを調整すればよいので、効率よく記録パラメータの調整を行うことができる。
【０２０４】
次に、図２５〜図２７を参照して、記録パワーの調整についてさらに説明する。図２５は、記録パワー学習時のテスト記録用に用いられる記録パワー設定ａ〜ｄを示している。記録パワー設定ａから設定ｄへ向かうにつれて記録パワーが大きくなっている。記録パワー設定ａ〜ｄそれぞれの条件で順に記録を行い、記録した情報を再生し、指標Ｍ＿ＳＮを計算する。
【０２０５】
図２６および図２７は、記録パワー設定ａ〜ｄの条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。縦軸は指標Ｍ＿ＳＮの値を表し、横軸は記録パワーを表している。この例では、指標Ｍ＿ＳＮが所定値ｉ以下となるのは記録パワー設定ｃおよびｄであり、記録パワー設定ｃおよびｄの何れかが選択される。ここでは、記録パワー設定ｃよりも記録パワー設定ｄの方がパワーが大きい。繰り返し記録を行う光ディスクでは、記録パワーが小さい方が繰り返し記録時の熱ダメージの影響が小さくなり、繰り返し記録可能な回数がより大きくなる。このように、熱ダメージの影響の低減を重視する場合は、記録パワー設定ｃを選択することが望ましい（図２６の黒丸印）。一方、光ディスクの内周付近での試し記録で設定した記録パワーにより外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下する可能性がある。また、ディスク表面に傷が付いていたりゴミが付着している場合は、実効的な照射パワーが低下する可能性がある。このような実効的な照射パワーの低下に対してマージンを持たせることを重視する場合は、記録パワー設定ｄを選択することが望ましい（図２７の黒丸印）。
【０２０６】
次に、図２８〜図３１を参照して、記録波形の調整についてさらに説明する。図２８は、記録波形学習時のテスト記録用に用いられる記録波形設定ａ〜ｄを示している。記録波形設定ａから設定ｄへ向かうにつれて始端エッジが後方から前方へシフトした記録波形になっている。記録波形設定ａ〜ｄそれぞれの条件で順に記録を行い、記録した情報を再生し、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴを計算する。
【０２０７】
図２９〜図３１は、記録波形設定ａ〜ｄの条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。縦軸は指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を表し、横軸は始端エッジ位置パラメータＴｓｆｐを表している。指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が最も小さくなる（０に近づく）ほど信頼性が高くなるので、記録波形設定ａ〜ｄの中から指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が最も小さい記録波形設定ｂを選択する（図２９の黒丸印）。なお、記録波形設定ａ〜ｄそれぞれの間のシフト量が最小分解能で無い場合は、図３０に示すように、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値０をまたぐ設定ｂとｃの平均値（図３０の黒丸印）を、記録波形設定として選択してもよい。これにより、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値をより０に近づけることができる。
【０２０８】
なお、図３１に示すような指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が０に近い所定範囲ｊ内の値であれば、信頼性の高い記録を行うことができる。本発明の実施形態の説明において記載される指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴが所定値以下の条件とは、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値の０からのシフト量（すなわち指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの絶対値）が所定値以下であり、所定範囲ｊ内に納まる条件を指している。図３１に示す例では、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値が所定範囲ｊ内になる記録波形設定ｂおよびｃのうち、記録マークがより長くなる記録波形設定ｃを選択する。光ディスクの内周付近での試し記録で設定した記録波形により外周付近に記録を行う場合には光ディスクの反りにより実効的な照射パワーが低下する可能性がある。また、ディスク表面に傷が付いていたりゴミが付着している場合は、実効的な照射パワーが低下する可能性がある。このような実効的な照射パワーの低下に対してマージンを持たせることを重視する場合は、記録波形設定ｃを選択することが望ましい。
【０２０９】
なお、本発明の記録再生装置１００（図４）の各構成要素は、ハードウェアにより実現されてもよいし、ソフトウェアにより実現されてもよい。例えば、整形部８、最尤復号部９、信頼性計算部１０、調整部１０４のうちの少なくとも一つが実行する動作が、コンピュータにより実行可能なプログラム（記録条件調整プログラム）により実現されてもよい。
【０２１０】
また、記録条件調整装置１０２は、例えば、半導体集積回路、記録条件調整プログラムが記録されたＲＯＭ、記録条件調整プログラムが（プレ）インストールされたＲＡＭ、ダウンロードされた記録条件調整プログラムがインストールされたＲＡＭ等、およびこれらの組み合わせにより実現され得る。
【０２１１】
本発明の実施形態において、記録部１０３、記録部３０３は、複数の記録波形で１つのテスト情報を情報記録媒体１に記録する形態を説明したが、記録部１０３、記録部３０３は、複数の記録波形で複数のテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。さらに、記録部１０３、記録部３０３は、単一の記録波形で１つのテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。さらに、記録部１０３、記録部３０３は、単一の記録波形で複数のテスト情報を情報記録媒体１に記録しえる。
【０２１２】
さらに、例えば、本発明の実施形態において、指標Ｍ＿ＳＮは、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分散を求め、（式６）で定義されたが、これに限定されない。例えば、Ｐａ−Ｐｂ、または｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの所定回数の積算値を指標としてもよい。
【０２１３】
なお、本発明の実施形態において、図２を参照して説明した記録パルスを前提としたが、これに限定されない。例えば、クーリングパルス（ボトムパワーレベル）を必要としない記録媒体への記録波形制御にも適用できる。その場合、書き込みパワーと、消去パワーのみを制御する。
【０２１４】
さらに、本発明の実施形態において、テスト信号は、上記に限定されない。テストパターンとして、マークとスペースの発生確率が同じであり、比較的長いマーク／スペースと比較的短いマーク／スペースの組み合わせであってもよい。例えば、８Ｔｍ３Ｔｓ８Ｔｍ８Ｔｓ３Ｔｍ８Ｔｓの繰り返しパターン、７Ｔｍ２Ｔｓ７Ｔｍ７Ｔｓ２Ｔｍ７Ｔｓの繰り返しパターンである。
【０２１５】
さらに、本発明の実施形態において、記録変調則とＰＲＭＬ方式とは、上記に限定されない。各種記録変調則と、各種特性のＰＲＭＬ方式の組み合わせであってもよい。例えば、（１，７）Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ符号とＰＲ（１，２，１）ＭＬ方式または、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式等との組み合わせでもよい。ＣＤやＤＶＤで採用されている８−１６変調符号と上記ＰＲＭＬ方式の組み合わせでもよい。
【０２１６】
さらに、本発明の実施形態において、Ｐｗｏ、Ｐｅｏ、Ｐｂｏを探索するパワー範囲は上記に限定されない。例えば、各パワー探索範囲は、推奨値を中心に±ｘ％（例えば、ｘ＝１０）とし、この範囲においても図１８に示されたように最適点が検出できない場合は、上限または下限値に設定してもよい。
【０２１７】
さらに、例えば、本発明の実施形態において、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴは、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値を求め、（式７）で定義されたが、これに限定されない。例えば、Ｐａ−Ｐｂ、または｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの所定回数の積算値を指標としてもよい。
【０２１８】
なおディスク装着後もしくはデータの記録直前に記録波形と記録波形の調整を行った後に、周囲環境の変化等の対策として、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴの二乗平均であるＭを指標としてパワーを変化させても良い。これにより、Ｍ＿ＳＮもしくはＭ＿ＳＨＩＦＴを改善することができる。
【０２１９】
またディスク装着後もしくはデータの記録直前にこのような記録波形と記録波形の調整を行った後に、周囲環境の変化等の対策として、直前に記録したデータを再生し、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴを検出し、例えばＭ＿ＳＮが悪化していればパワーの調整を行い、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが悪化していれば記録波形の調整を行っても良い。
【０２２０】
同様に、ディスク装着後もしくはデータの記録直前にこのような記録波形と記録波形の調整を行った際も、調整後にその条件で記録したデータを再生し、Ｍ＿ＳＮとＭ＿ＳＨＩＦＴを検出し、例えばＭ＿ＳＮが悪化していればパワーの再調整を行い、Ｍ＿ＳＨＩＦＴが悪化していれば記録波形の再調整を行っても良い。
【０２２１】
なお本発明の実施形態では、データの記録を行う際の記録条件の調整について述べているが、記録条件の調整方法はＲＯＭディスクの原盤を作成する場合にも適用することができる。特に相変化記録膜を用いてマスタリングを行う場合には、本実施形態の記録条件の最適化手法を用いることにより、ＰＲＭＬ再生に適したカッティング条件をより簡単に決定することができる。
【０２２２】
なお、Ｍ＿ＳＮは８％以下が望ましく、Ｍ＿ＳＨＩＦＴは約４％以下が望ましい。
【０２２３】
また、Ｍ＿ＳＮもしくはＭ＿ＳＨＩＦＴもしくはＭが所定の値以下となるような記録条件が、情報記録媒体の再生専用領域に予め記載されていても良い。これにより、試し記録を行わない場合でも従来よりもＰＲＭＬ再生に適した記録を行うことができ、試し記録を行う場合でも、例えば記録したデータの再生を行ってＭ＿ＳＮ、Ｍ＿ＳＨＩＦＴの確認だけを行うという様に、調整を簡単化することができる。
【０２２４】
また、本発明の記録条件調整処理により得られた記録条件を、情報記録媒体の所定の領域（例えば管理情報記録領域）に記録しておいても良い。この領域には、記録条件として、分散の度合いおよび平均値が所定の値より小さくなるような記録条件や、分散の度合いが所定の値より小さくなるような記録条件、平均値が所定の値より小さくなるような記録条件、分散の度合いの２乗と平均値の２乗との和の平方根の値が所定の値より小さくなるような記録条件のうちの少なくとも１つを情報記録媒体に記録しておき、次の試し記録を行う機会にこれらの情報を参照することで、記録条件調整処理を簡単化することができる。
【０２２５】
図３２は、最適化された記録条件が記録される情報記録媒体１を示す図である。情報記録媒体１は、リードイン領域２０１とユーザデータ領域２０２とリードアウト領域２０３とを備えている。ユーザデータの記録再生はユーザデータ領域２０２に対して行われる。テスト記録は、リードイン領域２０１が備えるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）領域２１２で行われる。リードイン領域２０１およびリードアウト領域２０３は、情報記録媒体１にアクセスするのに必要なパラメータが格納された管理情報記録領域２１１を備えている。管理情報記録領域２１１は、記録条件を記録しておくための記録条件記録領域２２１を備え、最適化された記録条件はこの記録条件記録領域２２１に記録される。
【０２２６】
また、本発明の記録条件調整処理は、例えば、テスト記録→再生信号品質評価→記録条件調整→本記録の順に行われ得る。この場合は、第２の情報（ユーザデータ）を記録するのに先立って、第１の情報（ダミーデータ）がテスト記録される。この場合は、第１の情報と第２の情報とは異なる情報で有り得る。また、別の実施形態では、記録条件調整処理は、本記録→記録条件更新→再生信号品質評価→記録条件調整→本記録の順に行われ得る。この場合は、第１の情報（ユーザデータ）を記録している最中で、温度や湿度の変化により記録条件を更新し、更新された記録条件で第２の情報（ユーザデータ）を記録する。このとき、第１の情報をより最適な記録条件で記録し直す場合（第１の情報＝第２の情報）と、第１の情報に基づいて更新された後の記録条件で第２の情報を記録する場合（第１の情報≠第２の情報）とがある。このように、記録条件調整処理のために用いる情報（第１の情報）と、調整後に記録される情報（第２の情報）との関係は様々であり、本発明は第１の情報と第２の情報との関係について特に限定するものではない。
【０２２７】
また、本発明では、所定の記録条件にて記録された情報を再生して得られる再生情報を取得し、再生情報を評価することで記録条件を調整する。評価に用いられた指標から得られる第一の要素にもとづいて記録波形に関する記録条件を調整する。また、評価に用いられた指標から得られる第一の要素とは独立した第二の要素にもとづいて記録位置に関する記録条件を調整する。記録条件を評価できる指標の中には、たとえばＭ指標のように、独立関係にある複数の要素が潜在し、各要素にはそれぞれに向いた調整対象がある。本発明は、このような指標潜在要素の抽出と、それと相性のよい調整対象との関係を規定している。
【０２２８】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０２２９】
本発明にかかる光ディスクの記録再生装置は、再生信号処理に最尤復号法を用いた処理系において、復号性能と相関のある再生信号評価指標を用いて、記録時の記録信号のパワーおよび形状の最適化を行うことで記録状態を最適化でき、再生時のエラーを最小とすることができる。また、本方式は従来の記録波形制御に用いてきたジッタ、アシンメトリ、ＢＥＲ等の再生信号品質指標と比較して、記録波形の変化に対する再生波形の変化を精度良く検出できるため、最適な記録パラメータの設定を精度良く行うことができる。このように、最適な記録パラメータを精度良く決定できることから、クロスパワーによる性能劣化を最小限に抑えることができ、同じ規格の光ディスクドライブ装置、光ディスク媒体の互換を安定にとるのに有用である。
【０２３０】
従来、最適な記録パラメータを精度良く決定、設定する為に、従来のジッタ、アシンメトリ、ＢＥＲ等の再生信号評価指標では、適切なパラメータを精度良く求めることができなかった。
【０２３１】
本発明において、最尤復号アルゴリズムの数ある状態遷移パターンのうち、再生波形のエッジ付近に係わる状態遷移パターン（ユークリッド距離が最小パターン）のみのメトリック期待値誤差（指標Ｍ＿ＳＮ、指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴ、指標Ｍ）を用いて記録状態を検出することにより、記録パラメータの制御を行い記録状態を最適化する。また、記録のパワー制御をさらに精度良く行うために、試し記録時に用いるテスト信号は、記録波形の変化に対する再生波形の変化を精度良く検出できる特殊パターンを用いる。
【図面の簡単な説明】
【０２３２】
【図１】最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図である。
【図２】状態遷移図を時間軸に沿って展開することによって得ることができたトレリス図である。
【図３】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図４】本発明の実施形態による記録再生装置１００の構成を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による記録波形学習処理手順を示すフローチャートである。
【図６】書き込みパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適書き込みパワーＰｗｏを求めた例を示す図である。
【図７】テストパターンと、そのパターンを再生した場合の波形を示す図である。
【図８】消去パワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適消去パワーＰｅｏを求めた例を示す図である。
【図９】ボトムパワーごとに指標Ｍ＿ＳＮをプロットし、最適ボトムパワーＰｂｏを求めた例を示す図である。
【図１０】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１１】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１２】Ｐａ−Ｐｂおよび｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す図である。
【図１３】書き込みパワーＰｗ、消去パワーＰｅおよびボトムパワーＰｂを有するマルチパルスを示す図である。
【図１４】パターン検出回路とエッジシフト検出回路とを示す図である。
【図１５】エッジシフト検出回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１６】学習用記録パターンの一例を示す図である。
【図１７】エッジシフト検出回路１２ａ（エッジシフト検出回路１２の改変例）を示す図である。
【図１８】８パターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）のサンプル値を示す図である。
【図１９】Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す図である。
【図２０】Ｐａｔｔｅｒｎ−１における再生波形と記録マークのズレとの相関を示す図である。
【図２１】最適化が必要とされる記録パラメータの一覧を示す図である。
【図２２】最適化が必要とされる記録パラメータを特定８パターンのうちの何れのパターンで検出するかを示す図である。
【図２３】Ｍ＿ＳＮおよびＭ＿ＳＨＩＦＴの感度を示す図である。
【図２４Ａ】記録パワーの調整を行った後に記録波形の調整を行う、記録パラメータの最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２４Ｂ】ユーザデータの記録中における記録パワーの最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２４Ｃ】ユーザデータの記録中における記録エッジ位置の最適化の手順を示すフローチャートである。
【図２５】記録パワー学習時のテスト記録用に用いられる記録パワー設定を示す図である。
【図２６】図２５に示す記録パワー設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。
【図２７】図２５に示す記録パワー設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＮの値を示す図である。
【図２８】記録波形学習時のテスト記録用に用いられる記録波形設定を示す図である。
【図２９】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３０】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３１】図２８に示す記録波形設定の条件下で得られた指標Ｍ＿ＳＨＩＦＴの値を示す図である。
【図３２】最適化された記録条件が記録される情報記録媒体の管理情報記録領域を示す図である。
【図３３】従来の光ディスクドライブの構成を示す図である。
【図３４】従来の誤差検出回路の動作を示す図である。
【図３５】従来の記録パラメータを求める動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０２３３】
１  情報記録媒体
２  光ヘッド部
３  プリアンプ
４  ＡＧＣ
５  波形等化器
６  Ａ／Ｄ変換器
７  ＰＬＬ回路
８  整形部
９  最尤復号部
１０  信頼性計算部
１１  パターン検出回路
１２  エッジシフト検出回路
１３  情報記録媒体コントローラ
１４  パターン発生回路
１５  記録補償回路
１６  レーザ駆動部
１００  記録再生装置
１０１  再生部
１０２  記録条件調整装置
１０３  記録部
１０４  調整部
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2007010905.tif 000043
【図２】
2007010905.tif 000044
【図３】
2007010905.tif 000045
【図４】
2007010905.tif 000046
【図５】
2007010905.tif 000047
【図６】
2007010905.tif 000048
【図７】
2007010905.tif 000049
【図８】
2007010905.tif 000050
【図９】
2007010905.tif 000051
【図１０】
2007010905.tif 000052
【図１１】
2007010905.tif 000053
【図１２】
2007010905.tif 000054
【図１３】
2007010905.tif 000055
【図１４】
2007010905.tif 000056
【図１５】
2007010905.tif 000057
【図１６】
2007010905.tif 000058
【図１７】
2007010905.tif 000059
【図１８】
2007010905.tif 000060
【図１９】
2007010905.tif 000061
【図２０】
2007010905.tif 000062
【図２１】
2007010905.tif 000063
【図２２】
2007010905.tif 000064
【図２３】
2007010905.tif 000065
【図２４Ａ】
2007010905.tif 000066
【図２４Ｂ】
2007010905.tif 000067
【図２４Ｃ】
2007010905.tif 000068
【図２５】
2007010905.tif 000069
【図２６】
2007010905.tif 000070
【図２７】
2007010905.tif 000071
【図２８】
2007010905.tif 000072
【図２９】
2007010905.tif 000073
【図３０】
2007010905.tif 000074
【図３１】
2007010905.tif 000075
【図３２】
2007010905.tif 000076
【図３３】
2007010905.tif 000077
【図３４】
2007010905.tif 000078
【図３５】
2007010905.tif 000079
【国際調査報告】
2007010905.tif 000080
2007010905.tif 000081