Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成31年4月12日(2019.4.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された第１の情報信号に応じて、第１の多値デジタル信号を出力する多値符号化回路と、
前記第１の多値デジタル信号を第１の電気信号に変換するＤＡ変換器と、
前記第１の電気信号に応じて、光強度が変調された光信号を出力する半導体レーザと、を有する光送信器と、
前記光信号を受光して第２の電気信号を出力する光検出回路と、
前記第２の電気信号を第２の多値デジタル信号に変換するＡＤ変換器と、
前記第２の多値デジタル信号を復号して、第２の情報信号を出力する多値復号回路と、を有する光受信器と、
を備える光送受信器であって、
前記光送信器に含まれ、入力された前記第１の多値デジタル信号を、前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた遅延量だけ遅延させる第１の遅延回路、及び前記光受信器に含まれ、入力された前記第２の多値デジタル信号を、前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた遅延量だけ遅延させる第２の遅延回路の少なくともいずれか一方をさらに備える、
光送受信器。
【請求項２】
請求項１に記載の光送受信器であって、
前記光受信器は、前記第２の遅延回路を有し、
前記多値復号回路は、前記第２の遅延回路により遅延された前記第２の多値デジタル信号を復号して、前記第２の情報信号を出力する、
光送受信器。
【請求項３】
請求項２に記載の光送受信器であって、
前記光受信器は、
前記多値復号回路から出力された前記第２の情報信号の誤り率を検出する誤り率検出部と、
前記誤り率に基づいて、前記第２の遅延回路の遅延量を修正する遅延量修正部と、をさらに有する、
光送受信器。
【請求項４】
請求項１に記載の光送受信器であって、
前記光送信器は、前記第１の遅延回路を有し、
前記ＤＡ変換器は、前記第１の遅延回路により遅延された前記第１の多値デジタル信号を第１の電気信号に変換する、
光送受信器。
【請求項５】
請求項４に記載の光送受信器であって、
前記光送信器は、
前記半導体レーザの変調条件を設定する変調条件設定部と、
前記変調条件に基づいて、前記第１の遅延回路の遅延量を修正する遅延量修正部と、をさらに有する、
光送受信器。
【請求項６】
請求項１に記載の光送受信器であって、
前記第１の遅延回路は、入力された前記第１の多値デジタル信号を、前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに線形に依存する遅延量だけ遅延させ、
前記第２の遅延回路は、入力された前記第２の多値デジタル信号を、前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに線形に依存する遅延量だけ遅延させる、
光送受信器。
【請求項７】
請求項１に記載の光送受信器であって、
前記第１の遅延回路は、入力された前記第１の多値デジタル信号を、前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに非線形に依存する遅延量だけ遅延させ、
前記第２の遅延回路は、入力された前記第２の多値デジタル信号を、前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに非線形に依存する遅延量だけ遅延させる、
光送受信器。
【請求項８】
請求項７に記載の光送受信器であって、
前記第１の遅延回路は、入力された前記第１の多値デジタル信号を、前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに応じて、前記半導体レーザの緩和振動周波数の逆数に比例する遅延量だけ遅延させ、
前記第２の遅延回路は、入力された前記第２の多値デジタル信号を、前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに応じて、前記半導体レーザの緩和振動周波数の逆数に比例する遅延量だけ遅延させる、
光送受信器。
【請求項９】
請求項１に記載の光送受信器であって、
前記第１の遅延回路は、
入力される前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた波形で応答波形を出力する第１の応答波形出力部と、
前記第１の応答波形出力部から連続して出力された複数の第１の応答波形を、逐次遅延加算する第１の遅延加算回路と、を有し、
前記第２の遅延回路は、
入力される前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた波形で応答波形を出力する第２の応答波形出力部と、
前記第２の応答波形出力部から連続して出力された複数の第２の応答波形を、逐次遅延加算する第２の遅延加算回路と、を有する、
光送受信器。
【請求項１０】
入力された第１の情報信号に応じて、第１の多値デジタル信号を出力する多値符号化回路と、
入力された前記第１の多値デジタル信号を、前記第１の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた遅延量だけ遅延させる第１の遅延回路と、
前記第１の遅延回路により遅延された前記第１の多値デジタル信号を第１の電気信号に変換し、前記第１の電気信号に応じて、光強度が変調された光信号を出力する半導体レーザに前記第１の電気信号を出力するＤＡ変換器と、
を有する光送信集積回路。
【請求項１１】
光信号を受光した光検出回路から第２の電気信号が入力され、第２の多値デジタル信号に変換するＡＤ変換器と、
入力された前記第２の多値デジタル信号を、前記第２の多値デジタル信号の振幅レベルに応じた遅延量だけ遅延させる第２の遅延回路と、
前記第２の遅延回路により遅延された前記第２の多値デジタル信号を復号して、第２の情報信号を出力する多値復号回路と、
を有する光受信集積回路。
【手続補正書】
【提出日】令和1年6月25日(2019.6.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録装置であって、
原稿の画像の読取動作を行う読取手段と、
記録ヘッドによる記録動作を行う記録手段と、
前記記録ヘッドに対する、複数の動作パターンからなる性能維持動作を制御する制御手段と、
前記性能維持動作を行った際に、前記複数の動作パターンのうちのいずれにて性能維持動作を行ったかを示す情報を保持する保持手段と、
前記記録手段による記録動作を行ってからの経過時間を計時する計時手段と、
を有し、
前記制御手段は、前記経過時間および前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作を行わせ、
前記制御手段は、前記読取手段による読取動作を行う際に、前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作を行わせる
ことを特徴とする記録装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記経過時間が第１の閾値を超えた場合、前記複数の動作パターンのうちの第１の動作パターンによる性能維持動作を行わせ、
前記経過時間が前記第１の閾値よりも長い第２の閾値を超えた場合、前記複数の動作パターンのうちの前記第１の動作パターンよりも性能維持動作の効果が高い第２の動作パターンによる性能維持動作を行わせる
ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記読取手段による読取動作を行う際に、
前記情報が前記第１の動作パターンによる性能維持動作を行っていないことを示す場合、前記複数の動作パターンのうち前記第２の動作パターンよりも性能維持動作の効果が高い第３の動作パターンによる性能維持動作を行わせ、
前記情報が前記第１の動作パターンによる性能維持動作を行っており、かつ、前記第２の動作パターンによる性能維持動作を行っていないことを示す場合、前記第２の動作パターンによる性能維持動作を行わせ、
前記情報が前記第２の動作パターンによる性能維持動作を行っていることを示す場合、性能維持動作を行わせない
ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
【請求項４】
前記性能維持動作の前記複数の動作パターンは、ワイピング動作、予備吐出動作、空吸引動作、キャッピング動作のうちの１または複数の組み合わせからなることを特徴とする請求項２または３に記載の記録装置。
【請求項５】
前記記録ヘッドから吐出されたインクのドット数を計測する計測手段を更に有し、
前記制御手段は、前記計測手段により計測されたインクドット数に応じて、前記第１の動作パターンによる性能維持動作にて行う動作を決定することを特徴とする請求項２乃至４のいずれか一項に記載の記録装置。
【請求項６】
前記計測手段は、予備吐出動作にて吐出したドット数を計測し、
前記制御手段は、前記予備吐出動作にて吐出したドット数が第１の所定数を超えた場合に、空吸引動作を行わせることを特徴とする請求項５に記載の記録装置。
【請求項７】
前記計測手段は、予備吐出動作および記録動作にて吐出したドット数を計測し、
前記制御手段は、予備吐出動作および記録動作にて吐出したドット数が第２の所定数を超えた場合に、ワイピング動作および予備吐出動作を行わせることを特徴とする請求項５または６に記載の記録装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記読取手段および前記記録手段によるコピー動作を行う際に、
前記情報が前記第１の動作パターンによる性能維持動作を行っていることを示す場合、キャップオープン動作を行った上で、前記コピー動作を行わせることを特徴とする請求項２乃至７のいずれか一項に記載の記録装置。
【請求項９】
原稿の画像の読取動作を行う読取手段と、記録ヘッドによる記録動作を行う記録手段とを備える記録装置の制御方法であって、
前記記録ヘッドに対する、複数の動作パターンからなる性能維持動作を制御する制御工程と、
前記性能維持動作を行った際に、前記複数の動作パターンのうちのいずれにて性能維持動作を行ったかを示す情報を保持する保持工程と、
前記記録手段による記録動作を行ってからの経過時間を計時する計時工程と、
を有し、
前記制御工程において、前記経過時間および前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作が行われるように制御され、
前記制御工程において、前記読取手段による読取動作を行う際に、前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作が行われるように制御される
ことを特徴とする記録装置の制御方法。
【請求項１０】
原稿の画像の読取動作を行う読取手段と、記録ヘッドによる記録動作を行う記録手段と備えるコンピューターを、
前記記録ヘッドに対する、複数の動作パターンからなる性能維持動作を制御する制御手段、
前記性能維持動作を行った際に、前記複数の動作パターンのうちのいずれにて性能維持動作を行ったかを示す情報を保持する保持手段、
前記記録手段による記録動作を行ってからの経過時間を計時する計時手段、
として機能させ、
前記制御手段は、前記経過時間および前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作を行わせ、
前記制御手段は、前記読取手段による読取動作を行う際に、前記情報に応じて、前記複数の動作パターンのうちのいずれかにて前記性能維持動作を行わせる
ことを特徴とするプログラム。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月10日(2019.7.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体からなる表面上に、貴金属を含む触媒層であって、前記表面を少なくとも部分的に被覆し、不連続部を有している第１部分と、前記第１部分上に位置し、樹枝状晶を含んだ第２部分とを含む触媒層を形成することと、
その後、前記触媒層へエッチング剤を供給して、前記触媒層の触媒としての作用のもとで、前記表面をエッチングすることと
を含んだエッチング方法。
【請求項２】
前記貴金属は、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｔ及びＲｈからなる群より選ばれる１以上の金属である請求項１に記載のエッチング方法。
【請求項３】
前記半導体はＳｉを含む請求項１又は２に記載のエッチング方法。
【請求項４】
前記エッチング剤はＨ２Ｏ２を含む請求項１乃至３の何れか１項に記載のエッチング方法。
【請求項５】
前記表面に幅が０．１μｍ乃至１５μｍの範囲内である開口部を含むマスク層を形成することを更に含み、前記開口部の位置でエッチングする請求項１乃至４の何れか１項に記載のエッチング方法。
【請求項６】
前記第１部分は粒状層である請求項１乃至５の何れか１項に記載のエッチング方法。
【請求項７】
前記第１部分は、連続膜に複数の貫通孔を設けてなる多孔膜である請求項１乃至５の何れか１項に記載のエッチング方法。
【請求項８】
半導体ウエハを請求項１乃至７の何れか１項に記載のエッチング方法によりエッチングして半導体チップへと個片化することを含み、前記表面は前記半導体ウエハの表面である半導体チップの製造方法。
【請求項９】
請求項１乃至７の何れか１項に記載のエッチング方法により、前記表面をエッチングすることを含んだ物品の製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
第１側面によれば、半導体からなる表面上に、貴金属を含む触媒層であって、前記表面を少なくとも部分的に被覆し、不連続部を有している第１部分と、前記第１部分上に位置し、樹枝状晶を含んだ第２部分とを含む触媒層を形成することと、その後、前記触媒層へエッチング剤を供給して、前記触媒層の触媒としての作用のもとで、前記表面をエッチングすることとを含んだエッチング方法が提供される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具現化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
以下に、当初の特許請求の範囲に記載していた発明を付記する。
［１］
半導体からなる表面上に、
貴金属からなる触媒層であって、前記表面を少なくとも部分的に被覆している第１部分と、前記第１部分上に位置し、前記第１部分と比較して、見かけ上の密度がより小さく、より厚い第２部分とを含む触媒層を形成することと、
前記触媒層へエッチング剤を供給して、前記触媒層の触媒としての作用のもとで、前記表面をエッチングすることとを含んだエッチング方法。
［２］
前記貴金属は、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｔ及びＲｈからなる群より選ばれる１以上の金属である項１に記載のエッチング方法。
［３］
前記半導体はＳｉを含む項１又は２に記載のエッチング方法。
［４］
前記エッチング剤はＨ２Ｏ２を含む項１乃至３の何れか１項に記載のエッチング方法。
［５］
前記表面に幅が０．１μｍ乃至１５μｍの範囲内である開口部を含むマスク層を形成することを更に含み、前記開口部の位置でエッチングする項１乃至４の何れか１項に記載のエッチング方法。
［６］
前記第２部分は前記貴金属からなる樹枝状晶を含む項１乃至５の何れか１項に記載のエッチング方法。
［７］
半導体ウエハを項１乃至６の何れか１項に記載のエッチング方法によりエッチングして半導体チップへと個片化することを含み、前記表面は前記半導体ウエハの表面である半導体チップの製造方法。
［８］
項１乃至７の何れか１項に記載のエッチング方法により、前記表面をエッチングすることを含んだ物品の製造方法。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月26日(2019.7.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続して撮像された複数の画像を位置合わせして合成する撮像装置であって、
撮像部と、
前記撮像部で撮像された複数の画像間の位置ずれを検出する検出部と、
前記検出部により検出された位置ずれに基づいて、光学的に画像の像ブレを補正する振れ補正部を駆動する駆動部と、
前記検出部により検出された位置ずれに基づいて、前記像ブレが補正された複数の画像の位置合わせを行う座標変換部と、
前記座標変換部によって位置合わせを行った複数の画像を合成し合成画像を生成する画像合成部と、を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記検出部により検出された位置ずれに基づいて、次に取得される画像の位置ずれを予測する予測部を有し、
前記駆動部は、前記予測部により予測された位置ずれに基づいて、振れ補正部を駆動することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記検出部は、画像の特徴点を検出し、前記複数の画像間における該特徴点の座標情報に基づいて、位置ずれを検出する請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記予測部は、前記検出部により検出された位置ずれに基づいて、次に取得される画像の前記特徴点の座標情報を予測する請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記撮像部は、ＣＭＯＳイメージセンサであり、
前記駆動部は、前記検出部が検出した前記特徴点が、所定の領域にある場合には、前記検出部により検出された位置ずれに基づいて振れ補正部を駆動し、前記特徴点が前記所定の領域にない場合には、前記予測部により予測された位置ずれに基づいて、振れ補正部を駆動することを特徴とする請求項３または４に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記撮像部は、前記画像を撮像する間にコマ間画像を取得し、
前記検出部は、前記複数の画像及び前記コマ間画像の位置ずれを検出することを特徴とする請求項１乃至５のうちいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記予測部は、カルマンフィルタを有することを特徴とする請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記撮像装置は、さらに、前記画像合成部により合成された前記合成画像をトリミングし、記録画像を生成するトリミング部を備えることを特徴とする請求項１乃至７のうちいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記撮像装置は、さらに、光学的に画像の像ブレを補正する振れ補正部を有することを特徴とする請求項１乃至８のうちいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１０】
連続して撮像された複数の画像を位置合わせして合成する撮像装置の制御方法であって、
撮像工程と、
撮像された複数の画像間の位置ずれを検出する検出工程と、
前記検出工程において検出された位置ずれに基づいて、光学的に画像の像ブレを補正する振れ補正部を駆動する駆動工程と、
前記検出工程において検出された位置ずれに基づいて、前記像ブレが補正された複数の画像の位置合わせを行う座標変換工程と、
前記座標変換工程において位置合わせを行った複数の画像を合成し合成画像を生成する画像合成工程と、を有することを特徴とする制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１１】
2018022964.tif 000001
【手続補正書】
【提出日】平成31年2月7日(2019.2.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１又は複数のコンピュータプロセッサを備え、被融資者であるユーザの信用情報を管理するシステムであって、
前記１又は複数のコンピュータプロセッサは、読取可能な命令を実行することに応じて、
ユーザの信用情報を更新するステップと、
前記信用情報に少なくとも基づいて前記ユーザに対する報酬を設定するステップと、を実行し、
前記１又は複数のコンピュータプロセッサは、さらに、他のサービスへのアクセスを許可する設定を前記ユーザから受け付けるステップを実行し、
前記更新するステップは、前記ユーザによってアクセスが許可されている他のサービスから取得される情報に少なくとも基づいて前記信用情報を更新することを含む、
システム。
【請求項２】
前記設定するステップは、優遇金利の適用を前記報酬として設定する請求項１のシステム。
【請求項３】
前記設定するステップは、前記ユーザに対するキャッシュバックを前記報酬として設定する請求項１のシステム。
【請求項４】
前記設定するステップは、前記信用情報に少なくとも基づいて特定金利を特定し、前記特定金利に基づいて前記キャッシュバックを設定する請求項３のシステム。
【請求項５】
前記設定するステップは、実際に支払われた利息と、前記特定金利を適用した場合に支払うべき利息と、の差額に基づいて前記キャッシュバックを設定する請求項４のシステム。
【請求項６】
前記設定するステップは、設定したキャッシュバックを返済金に充当することを含む請求項３ないし５何れかのシステム。
【請求項７】
前記設定するステップは、返済の完了後、前記ユーザに対する報酬を設定する請求項１ないし６何れかのシステム。
【請求項８】
前記更新するステップは、前記ユーザの複数の所定の条件の充足状況に少なくとも基づいて前記信用情報を更新することを含み、
前記１又は複数のコンピュータプロセッサは、さらに、複数のユーザの前記複数の所定の条件の充足状況と、前記複数のユーザの返済状況との相関関係を求めるステップを実行する、
請求項１ないし７何れかのシステム。
【請求項９】
前記信用情報は、ポイントの保有数を含む請求項８のシステム。
【請求項１０】
前記設定するステップは、前記ポイントの保有数の一部又は全部であるポイントの使用数が大きいほど低くなるように特定金利を特定し、前記特定金利に基づくキャッシュバックを前記報酬として設定する請求項９のシステム。
【請求項１１】
前記設定するステップは、前記ユーザによって特定された前記ポイントの使用数に基づいて前記ユーザに対する前記報酬を設定する請求項９又は１０のシステム。
【請求項１２】
前記所定の条件は、所定のアクションを実行することに応じて充足する条件を含む請求項８ないし１１何れかのシステム。
【請求項１３】
請求項８ないし１２何れかのシステムであって、
前記１又は複数のコンピュータプロセッサは、さらに、前記複数の所定の条件のうち前記ユーザに適用する１又は複数のユーザ適用条件を特定するステップを実行し、
前記更新するステップは、前記複数の所定の条件のうち前記ユーザの前記１又は複数のユーザ適用条件の充足状況に少なくとも基づいて前記ユーザの信用情報を更新する、
システム。
【請求項１４】
前記特定するステップは、ユーザの返済計画、返済状況、及び、ポイントの保有数の少なくとも１つに基づいて前記ユーザ適用条件を特定することを含む請求項１３のシステム。
【請求項１５】
請求項１ないし１４何れかのシステムであって、
前記１又は複数のコンピュータプロセッサは、さらに、
前記ユーザの預金口座情報を取得するステップと、
前記預金口座情報に少なくとも基づいて前記ユーザに警告情報を提示するステップと、を実行する、
システム。
【請求項１６】
１又は複数のコンピュータによって実行され、被融資者であるユーザの信用情報を管理する方法であって、
ユーザの信用情報を更新するステップと、
前記信用情報に少なくとも基づいて前記ユーザに対する報酬を設定するステップと、を備え、
前記方法は、さらに、他のサービスへのアクセスを許可する設定を前記ユーザから受け付けるステップを備え、
前記更新するステップは、前記ユーザによってアクセスが許可されている他のサービスから取得される情報に少なくとも基づいて前記信用情報を更新することを含む、
方法。
【請求項１７】
被融資者であるユーザの信用情報を管理するプログラムであって、
１又は複数のコンピュータ上で実行されることに応じて、前記１又は複数のコンピュータに、
ユーザの信用情報を更新するステップと、
前記信用情報に少なくとも基づいて前記ユーザに対する報酬を設定するステップと、を実行させ、
前記１又は複数のコンピュータに、さらに、他のサービスへのアクセスを許可する設定を前記ユーザから受け付けるステップを実行させ、
前記更新するステップは、前記ユーザによってアクセスが許可されている他のサービスから取得される情報に少なくとも基づいて前記信用情報を更新することを含む、
プログラム。
【手続補正書】
【提出日】平成30年12月17日(2018.12.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
荷電粒子源と、
試料を載置するステージと、
前記荷電粒子源で発生した荷電粒子線を前記試料に照射するための荷電粒子光学系と、
前記荷電粒子光学系に挿入され、前記荷電粒子線の進行方向を前記荷電粒子光学系の光軸
外に偏向させ、或いは前記荷電粒子光学系の光軸内に偏向させるセパレータと、
前記荷電粒子光学系の光軸外に偏向された前記荷電粒子線を吸収、或いは前記セパレータ
の方向へ反射する荷電粒子線照射切替器と、
前記荷電粒子線照射切替器を制御する制御装置と、
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項２】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器は荷電粒子線反射制御電極を有し、
前記制御装置は、前記荷電粒子線反射制御電極の方向に進行してくる前記荷電粒子線の速
度エネルギーがゼロとなるような電圧を｜Ｖ０｜とした場合、前記電圧｜Ｖ０｜よりも高
い電圧｜Ｖｏｎ｜、或いは前記電圧｜Ｖ０｜よりも低い電圧｜Ｖｏｆｆ｜を前記荷電粒子
線反射制御電極に印加することにより、前記荷電粒子線照射切替器での前記荷電粒子線の
反射或いは吸収を制御することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項３】
請求項２記載の荷電粒子線装置において、
前記高い電圧｜Ｖｏｎ｜と前記低い電圧｜Ｖｏｆｆ｜との差ΔＶは、ΔＶ≦５００Ｖであ
ることを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項４】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器は、
前記荷電粒子線照射切替器により吸収される前記荷電粒子線が通過する開口を有する荷電
粒子線反射制御電極と、
前記開口を通過した前記荷電粒子線を検出する検出器と、
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項５】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器は、ファラデーカップ構造を有する荷電粒子線反射制御電極を
有することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項６】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器は、二次荷電粒子或いは反射荷電粒子を抑制するような表面構
造を備えた荷電粒子線反射制御電極を有することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項７】
請求項６記載の荷電粒子線装置において、
前記表面構造は、鋸歯状の表面構造であることを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項８】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記制御装置は、前記荷電粒子線が前記試料へ照射することに起因する帯電を抑制するた
めに前記荷電粒子線照射切替器における反射の時間長ｔｏｆｆ及び吸収の時間長ｔｏｎを
制御することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項９】
請求項８記載の荷電粒子線装置において、
前記制御装置は、前記荷電粒子線照射切替器における前記荷電粒子線の前記反射の時間長
ｔｏｆｆ及び吸収の時間長ｔｏｎを含む期間を一周期として繰り返すように前記荷電粒子
線照射切替器を制御することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項１０】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器における前記反射と前記吸収の何れか一つを切替えるタイミングは、前記荷電粒子光学系の光学条件或いは前記試料を構成する材料の種類のいずれかによって決定され、
前記光学条件は、前記荷電粒子線に対する加速電圧、プローブ電流、走査速度、前記試料
の直上の電界強度、及び観察倍率の少なくとも一つを含むことを特徴とする荷電粒子線装
置。
【請求項１１】
請求項８記載の荷電粒子線装置において、
前記制御装置は、前記荷電粒子線照射切替器における前記荷電粒子線の第１反射の時間長
ｔｏｆｆ1及び第１吸収の時間長ｔｏｎ1と第２反射の時間長ｔｏｆｆ2及び第２吸収の時
間長ｔｏｎ2とを含む期間を一周期として繰り返すように前記荷電粒子線照射切替器を制
御することを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項１２】
請求項１１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器における第１反射と第１吸収、第２反射と第２吸収の何れか一
つを切替えるタイミングは、前記荷電粒子光学系の光学条件或いは前記試料を構成する材
料の種類のいずれかによって決定され、
前記光学条件は、前記荷電粒子線に対する加速電圧、プローブ電流、走査速度、前記試料
の直上の電界強度、及び観察倍率の少なくとも一つを含むことを特徴とする荷電粒子線装
置。
【請求項１３】
請求項１記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線照射切替器は荷電粒子線反射制御電極を有し、
前記荷電粒子線が形成するクロスオーバーの一つが、前記荷電粒子線反射制御電極の近傍
に形成されることを特徴とする荷電粒子線装置。
【請求項１４】
荷電粒子源と、
印加電圧の切替えによって前記荷電粒子源からの荷電粒子線を吸収および反転させ、試料
への前記荷電粒子線の照射を切替える荷電粒子線反射制御電極と、
を有することを特徴とする荷電粒子線装置。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月25日(2019.7.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
時系列に沿って撮影された細胞の複数の画像を取得する取得部と、
前記取得された複数の画像に対して、所定の１以上の評価項目の各々に関して、時系列に沿った評価値を付与する付与部と、
前記付与された時系列に沿った評価値の時間変化に基づいて、前記細胞を評価する評価部と
を具備する情報処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の情報処理装置であって、
前記評価部は、第１の機械学習アルゴリズムに従って、前記細胞を評価する
情報処理装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、前記取得された複数の画像の各々に、前記評価値を付与する
情報処理装置。
【請求項４】
請求項１から３のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、前記時系列に沿って連続して撮影された複数の画像を含む画像群に対して、前記評価値を付与する
情報処理装置。
【請求項５】
請求項１から４のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、前記評価値の予測値である予測評価値を算出する予測部を有し、
前記評価部は、前記予測評価値に基づいて前記細胞を評価する
情報処理装置。
【請求項６】
請求項１から５のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、さらに、
前記予測評価値の表示を含む前記評価値を入力するためのＧＵＩ（Graphical User Interface）を出力する出力部を具備する
情報処理装置。
【請求項７】
請求項６に記載の情報処理装置であって、
前記評価部は、第１の機械学習アルゴリズムに従って、前記細胞を評価し、
前記予測部は、第２の機械学習アルゴリズムに従って、前記予測評価値を算出する
情報処理装置。
【請求項８】
請求項６又は７に記載の情報処理装置であって、
前記ＧＵＩは、前記表示された予測評価値を前記評価値として入力する操作、及び前記表示された予測評価値を修正して前記評価値として入力する操作の少なくとも一方を実行可能に構成される
情報処理装置。
【請求項９】
請求項６から８のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記ＧＵＩは、前記時系列に沿って連続して前記評価値を入力する操作を実行可能に構成される
情報処理装置。
【請求項１０】
請求項６から９のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記予測部は、前記評価値が付与済みの画像の中から参照画像を選択し、
前記ＧＵＩは、前記選択された参照画像の表示、及び前記選択された参照画像に付与されている参照評価値の表示を含む
情報処理装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の情報処理装置であって、
前記ＧＵＩは、前記表示された参照評価値を前記評価値として入力する操作、及び前記表示された参照評価値を修正して前記評価値として入力する操作の少なくとも一方を実行可能に構成される
情報処理装置。
【請求項１２】
請求項１０又は１１に記載の情報処理装置であって、
前記ＧＵＩは、前記選択された参照画像に付与されている参照評価値の時間変化の表示を含む
情報処理装置。
【請求項１３】
請求項１０から１２のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記予測部は、前記評価値の予測対象となる画像に類似する類似画像を、前記参照画像として選択する
情報処理装置。
【請求項１４】
請求項１から１３のうちいずれか１項に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、互いに類似する複数の画像を、前記評価値の予測対象となる画像群として選択する
情報処理装置。
【請求項１５】
請求項７に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、前記予測評価値が付与済みの画像を基準として選択された特徴的な画像を、前記評価値の予測対象となる画像として選択し、
前記予測部は、前記選択された特徴的な画像に付与された評価値を、前記第２の機械学習アルゴリズムにおける教師データとする
情報処理装置。
【請求項１６】
請求項７に記載の情報処理装置であって、
前記付与部は、前記予測評価値の確信度が低い画像を、前記評価値の予測対象となる画像として選択し、
前記予測部は、前記選択された確信度が低い画像に付与された評価値を、前記第２の機械学習アルゴリズムにおける教師データとする
情報処理装置。
【請求項１７】
時系列に沿って撮影された細胞の複数の画像を取得し、
前記取得された複数の画像に対して、所定の１以上の評価項目の各々に関して、時系列に沿った評価値を付与し、
前記付与された時系列に沿った評価値の時間変化に基づいて、前記細胞を評価する
ことをコンピュータシステムが実行する情報処理方法。
【請求項１８】
時系列に沿って撮影された細胞の複数の画像を取得するステップと、
前記取得された複数の画像に対して、所定の１以上の評価項目の各々に関して、時系列に沿った評価値を付与するステップと、
前記付与された時系列に沿った評価値の時間変化に基づいて、前記細胞を評価するステップと
をコンピュータシステムに実行させるプログラム。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月24日(2019.7.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像画像から手指領域を抽出する抽出手段と、
前記手指領域から手指モデルを生成する生成手段と、
前記手指モデルと前記撮像画像に重畳されるＣＧモデルとの衝突判定を行う判定手段と、
前記衝突判定の結果に基づいて前記手指モデルの表示形態を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記衝突判定の結果に基づいて前記手指モデルの表示位置および形状の少なくとも一方を制御することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記撮像画像の前記手指領域を除去して、当該除去された領域をインペインティングする処理を行う処理手段をさらに備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記処理手段は、前記除去された領域を、前フレームの画像で補完する処理を行うことを特徴とする請求項３に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記処理手段は、前記除去された領域を、前記手指領域の周辺画素のテクスチャで補完する処理を行うことを特徴とする請求項３に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記撮像画像における前記ＣＧモデルの表面に手指の操作状態を表示する処理を行う処理手段をさらに備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記処理手段は、前記制御手段による前記表示形態の制御の前後の前記手指モデルに挟まれる前記ＣＧモデルの面を取得し、当該面上の手指モデルを識別表示することにより、前記操作状態を表示する処理を行うことを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記処理手段は、前記操作状態を表示する処理と共に、前記手指領域を半透明表示する処理を行うことを特徴とする請求項６又は７に記載の情報処理装置。
【請求項９】
現実空間の三次元再構成データを取得する再構成手段と、
前記撮像画像の前記手指領域を除去して、当該手指領域を、前記三次元再構成データを用いて補完する処理を行う処理手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、
前記手指モデルが前記ＣＧモデルにめり込んだことを前記衝突判定が示す場合、前記手指モデルが前記ＣＧモデルにめり込まないような前記手指モデルの移動量を算出し、
前記手指モデルが前記ＣＧモデルにめり込まないような前記手指モデルの前記算出された移動量に基づいて、前記手指モデルの表示形態を制御する
ことを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記制御手段は、
前記手指モデル及び前記ＣＧモデルの間の干渉に対応する干渉深度ベクトルに基づいて前記手指モデルの前記移動量を算出し、
前記干渉深度ベクトルに基づいて前記手指モデルを前記ＣＧモデルの表面へ変形又は移動することによって前記手指モデルの前記表示形態を制御することを特徴とする請求項１０に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
情報処理装置の制御方法であって、
撮像画像から手指領域を抽出する抽出工程と、
前記手指領域から手指モデルを生成する生成工程と、
前記手指モデルと前記撮像画像に重畳されるＣＧモデルとの衝突判定を行う判定工程と、
前記衝突判定の結果に基づいて前記手指モデルの表示形態を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする情報処理装置の制御方法。
【請求項１３】
コンピュータを、請求項１乃至１１の何れか１項に記載の情報処理装置として機能させるためのプログラム。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月8日(2019.7.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データの複数の領域のそれぞれに光沢があるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって光沢があると判定された光沢領域に含まれる所定の輝度よりも輝度の高い高輝度の画素を含む高輝度領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された高輝度領域を拡張する拡張手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記抽出手段によって抽出されなかった高輝度領域を拡張しないことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記拡張手段は、前記高輝度領域の面積に応じた拡張量に従って前記高輝度領域を拡張することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記判定手段は、前記複数の領域のそれぞれのヒストグラムの歪度が閾値以上であるか否かに基づいて、前記画像データの複数の領域のそれぞれに光沢があるか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記抽出手段は、前記判定手段によって光沢があると判定された光沢領域に含まれる画素のＲＧＢの値のそれぞれの最大値、２番目の値、及び最小値が、それぞれ異なる所定の閾値以上であることに基づいて、前記高輝度領域を抽出することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記抽出手段は、前記判定手段によって光沢があると判定された光沢領域に含まれる画素の輝度の最大値の所定の割合以上の輝度を有する画素を含む領域を前記高輝度領域として抽出することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記拡張手段は、前記高輝度領域を拡張する処理を、複数回行うことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記拡張手段は、前記高輝度領域を拡張する処理の最後で拡張した領域の画素値を、拡張する前の画素値と、前記高輝度領域の画素値との平均値にすることを特徴とする請求項７に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記拡張手段は、前記高輝度領域の面積が大きいほど、前記高輝度領域を拡張する量を大きくすることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記拡張手段は更に、前記高輝度領域の解像度に応じて前記高輝度領域を拡張する量を変更することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記高輝度領域は、画像データに含まれる反射部であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
画像処理装置を制御する制御方法であって、
画像データの複数の領域のそれぞれに光沢があるか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程で光沢があると判定された光沢領域に含まれる所定の輝度よりも輝度の高い高輝度の画素を含む高輝度領域を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程で抽出された高輝度領域を拡張する拡張工程と、
を有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【請求項１３】
コンピュータを、請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明の目的は、光沢があると判定された光沢領域を選択し、選択された光沢領域に含まれる所定の輝度よりも輝度の高い高輝度の画素を含む高輝度領域を拡張する技術を提供することにある。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明の一態様に係る画像処理装置は以下のような構成を備える。即ち、
画像データの複数の領域のそれぞれに光沢があるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって光沢があると判定された光沢領域に含まれる所定の輝度よりも輝度の高い高輝度の画素を含む高輝度領域を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された高輝度領域を拡張する拡張手段と、を有することを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明によれば、光沢があると判定された光沢領域を選択し、選択された光沢領域に含まれる所定の輝度よりも輝度の高い高輝度の画素を含む高輝度領域を拡張することができるという効果がある。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月24日(2019.7.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
画像検出装置であって、
検索対象の特定画像を登録する登録手段と、
クエリー画像を受け付ける受付手段と、
前記クエリー画像の局所特徴点と局所特徴量を算出する第１算出手段と、
前記特定画像の局所特徴点と局所特徴量と当該特定画像の基準点への位置関係ベクトルと、前記第１算出手段により算出された前記クエリー画像の局所特徴点と局所特徴量とを基に、前記クエリー画像の局所特徴量ごとに、類似する前記特定画像の局所特徴量を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記特定画像の局所特徴量に対応した位置関係ベクトルを、対応する前記クエリー画像の局所特徴量の座標系へ変換する変換手段と、
前記変換手段により変換された前記位置関係ベクトルを前記クエリー画像の局所特徴点へ投票する投票手段と、
前記投票手段により投票された前記クエリー画像の局所特徴点への投票数に基づいて、前記クエリー画像が前記特定画像を含むかどうか判定する判定手段と、
を有することを特徴とする画像検出装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
上記目的を達成するために本発明の一態様に係る画像検出装置は以下のような構成を備える。即ち、
画像検出装置であって、
検索対象の特定画像を登録する登録手段と、
クエリー画像を受け付ける受付手段と、
前記クエリー画像の局所特徴点と局所特徴量を算出する第１算出手段と、
前記特定画像の局所特徴点と局所特徴量と当該特定画像の基準点への位置関係ベクトルと、前記第１算出手段により算出された前記クエリー画像の局所特徴点と局所特徴量とを基に、前記クエリー画像の局所特徴量ごとに、類似する前記特定画像の局所特徴量を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記特定画像の局所特徴量に対応した位置関係ベクトルを、対応する前記クエリー画像の局所特徴量の座標系へ変換する変換手段と、
前記変換手段により変換された前記位置関係ベクトルを前記クエリー画像の局所特徴点へ投票する投票手段と、
前記投票手段により投票された前記クエリー画像の局所特徴点への投票数に基づいて、前記クエリー画像が前記特定画像を含むかどうか判定する判定手段と、を有することを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月24日(2019.7.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入出力ポートを備え、当該入出力ポートに接続される外部回路を検査可能なマイクロプロセッサであって、
特定レベルの電圧を出力中である前記入出力ポートの電圧出力をオフにした後、前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視する監視手段と、
前記監視手段で監視された電圧が所定の閾値を超えたか否かを検査する検査手段を有し、
前記検査手段による検査結果に基づいて、前記入出力ポートに所定の外部回路が接続されているか否かが判定される
ことを特徴とするマイクロプロセッサ。
【請求項２】
前記入出力ポートに前記外部回路が接続されていない場合に得られる検査結果を校正値として用いて、前記入出力ポートに前記外部回路が接続されている場合に得られる前記検査結果を校正する校正手段を更に有し、
前記校正手段によって校正された前記検査結果に基づいて前記入出力ポートに前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項１に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項３】
前記検査手段は、前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視して得られる電圧値が前記所定の閾値以下になるまでの経過時間を前記検査結果として取得し、
前記検査結果である経過時間に基づいて、前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項１または２に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項４】
前記検査手段は、
前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視して得られる電圧値のそれぞれについて、前記所定の閾値を超えているか否かを判定し、前記電圧値が前記所定の閾値を越えている場合には１を、前記所定の閾値以下である場合には０を、前記検査結果としてデータ列の最下位ビットから順に格納し、
前記データ列の値に基づき、前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項１または２に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項５】
前記検査手段は、
前記データ列において、ＬＳＢから連続して格納されている１の数が予め定められた判定値の範囲内である場合に、前記入出力ポートに前記所定の外部回路が接続されていると判断する
請求項４に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項６】
前記校正手段によって校正されたデータ列における１と０との分布状況に基づき、前記外部回路の電気的特性に加えて、少なくとも前記入出力ポートのＧＮＤショート、オープン、及び前記外部回路の接続の有無が判定される
請求項２に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項７】
前記外部回路が、ＣＲフィルタ回路であり、
前記外部回路の電気的特性が判定され、
前記電気的特性には、少なくとも時定数が含まれる
請求項１から６のうちのいずれか１項に記載のマイクロプロセッサ。
【請求項８】
入出力ポートを備えるマイクロプロセッサにおける、当該入出力ポートに接続される外部回路を検査する検査方法であって、
特定レベルの電圧を出力中である前記入出力ポートの電圧出力をオフにした後、前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視するステップと、
前記監視された電圧が所定の閾値を超えたか否かを検査する検査ステップと
前記検査の検査結果に基づいて、前記入出力ポートに所定の外部回路が接続されているか否かを判定する判定ステップと、を含む
ことを特徴とする検査方法。
【請求項９】
前記入出力ポートに前記外部回路が接続されていない場合に得られる検査結果を校正値として用いて、前記入出力ポートに前記外部回路が接続されている場合に得られる前記検査結果を校正する校正ステップを更に有し、
前記校正ステップにおいて校正された前記検査結果に基づいて前記入出力ポートに前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項８に記載の検査方法。
【請求項１０】
前記検査ステップにおいて、前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視して得られる電圧値が前記所定の閾値以下になるまでの経過時間を前記検査結果として取得し、
前記検査結果である経過時間に基づいて、前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項８または９に記載の検査方法。
【請求項１１】
前記検査ステップにおいて、
前記入出力ポートの電圧を一定の間隔で監視して得られる電圧値のそれぞれについて、前記所定の閾値を超えているか否かを判定し、前記電圧値が前記所定の閾値を越えている場合には１を、前記所定の閾値以下である場合には０を、前記検査結果としてデータ列の最下位ビットから順に格納し、
前記データ列の値に基づき、前記所定の外部回路が接続されているか否かが判定されることを特徴とする
請求項８または９に記載の検査方法。
【請求項１２】
前記検査ステップにおいて、
前記データ列において、ＬＳＢから連続して格納されている１の数が予め定められた判定値の範囲内である場合に、前記入出力ポートに前記所定の外部回路が接続されていると判断する
請求項１１に記載の検査方法。
【請求項１３】
前記校正ステップによって校正されたデータ列における１と０との分布状況に基づき、前記外部回路の電気的特性に加えて、少なくとも前記入出力ポートのＧＮＤショート、オープン、及び前記外部回路の接続の有無が判定される
請求項９に記載の検査方法。
【請求項１４】
前記外部回路が、ＣＲフィルタ回路であり、
前記外部回路の電気的特性が判定され、
前記電気的特性には、少なくとも時定数が含まれる
請求項９から１３のうちのいずれか１項に記載の検査方法。
【請求項１５】
コンピュータを請求項１から７のうちのいずれか１項に記載のマイクロプロセッサとして機能させるためのプログラム。
【手続補正書】
【提出日】令和1年7月30日(2019.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも第１処理ユニットと第２処理ユニットを有する情報処理装置であって、
前記第１処理ユニットが、
情報を含むデータを送信する送信手段と、
前記送信手段が送信した前記データであって、少なくとも前記第２処理ユニットを経由した前記データと、前記第２処理ユニットが送信した他の情報を含む他のデータを受信することのできる受信手段と、
前記受信手段は受信した前記データに含まれる前記情報または前記他のデータに含まれる前記他の情報に基づいて、前記データの転送路の故障箇所を特定する特定手段と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記特定手段は、前記送信手段が前記データを送信してから所定時間経過するまでに前記受信手段が受信したデータに基づいて、前記転送路の故障箇所を特定することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記所定時間は、前記情報処理装置が起動されてから計測される時間である、ことを特徴とする請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記他のデータは、エラーを識別する情報を含むデータであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記第２処理ユニットが、
前記第１処理ユニットが送信した前記データを受信する他の受信手段と、
前記他の受信手段により受信された前記データを送信する他の送信手段と、を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記第２処理ユニットは、
前記他の受信手段が受信したデータが前記第２処理ユニットを宛先とするデータであることを判定する判定手段と、
前記判定手段により前記第２処理ユニットを宛先とすると判定された当該データを処理する処理手段と、を有し、
前記他の送信手段は、前記判定手段により前記第２処理ユニットと異なる処理ユニットを宛先とする当該データを、そのまま他の処理ユニットに送信することを特徴とする請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記特定手段は、前記受信手段が受信した前記情報を含む前記データに基づき、前記データの転送路に故障はなかったことを特定することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記第２処理ユニットは、前記第２処理ユニットに所定の信号を入力する入力手段をさらに有し、
前記第２処理ユニットの前記他の送信手段は、
前記所定の信号が入力されてから前記第１処理ユニットが送信した前記データを所定の期間以内に受信しなかったことに基づき、前記第２処理ユニットの識別情報を含む前記他のデータを送信することを特徴とする請求項７に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記情報処理装置は、
前記特定手段により特定された前記故障の箇所を表示する表示手段をさらに有することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記処理ユニットの情報は、前記処理ユニットのＩＤであることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
第３処理ユニットをさらに有し、
前記送信手段が送信した前記データは、前記第２処理ユニットを介して、前記第３処理ユニットに送信され、
前記第１処理ユニットは、前記第２処理ユニットと前記第３処理ユニットを介して前記データを受信することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
原稿の画像を読み取る読取部をさらに備え、
前記第３処理ユニットは、前記読取部から出力された画像データに対して画像処理を行い、前記第１処理ユニットに出力する読取画像処理部をさらに有する、ことを特徴とする請求項１１に記載の情報処理装置。
【請求項１３】
印刷部をさらに備え、
前記第２処理ユニットは、前記第１処理ユニットから出力された画像データに対して画像処理を行い、前記印刷部に出力する印刷画像処理部をさらに有する、ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１４】
前記第１処理ユニットは一つのチップであり、前記第２処理ユニットは前記第１処理ユニットと異なる一つのチップであることを特徴とする請求項１乃至１３のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１５】
前記他のデータに含まれる前記他の情報は、前記他のデータが通過した処理ユニットの数であることを特徴とする請求項１乃至１３のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１６】
少なくとも第１処理ユニットと第２処理ユニットを有する情報処理装置の制御方法であって、
前記第１処理ユニットが情報を含むデータを送信する送信ステップと、
前記送信ステップにおいて送信された前記データであって、少なくとも前記第２処理ユニットを経由した前記データを受信する第１の受信ステップと、
前記第１処理ユニットが他の情報を含む他のデータを受信する第２の受信ステップと、
前記第１処理ユニットが受信した前記データに含まれる前記情報、または、前記他のデータに含まれる前記他の情報に基づいて、前記データの転送路の故障箇所を特定する特定ステップと、を有することを特徴とする情報処理装置の制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明は、少なくとも第１処理ユニットと第２処理ユニットを有する情報処理装置であって、前記第１処理ユニットが、情報を含むデータを送信する送信手段と、前記送信手段が送信した前記データであって、少なくとも前記第２処理ユニットを経由した前記データと、前記第２処理ユニットが送信した他の情報を含む他のデータを受信することのできる受信手段と、前記受信手段は受信した前記データに含まれる前記情報または前記他のデータに含まれる前記他の情報に基づいて、前記データの転送路の故障箇所を特定する特定手段と、を有することを特徴とする。