【手続補正書】
【提出日】平成31年2月21日(2019.2.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得する取得手段と、
前記第１出力値と前記第２出力値から前記画素の評価値を算出し、当該評価値を閾値と比較することにより欠陥画素検出を行う検出手段を備え、
前記検出手段は、前記第１出力値および前記第２出力値から導出される第１評価値と前記第２出力値とを用いて第２評価値を算出し、該第２評価値が前記閾値より大きい場合、前記画素を欠陥画素として検出することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記検出手段は、欠陥画素検出の基準出力値を含む関数で前記第１評価値を補正して前記第２評価値を算出することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記第２出力値は対象画素に近接した画素の出力値から決定されるメディアン値または平均値であることを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記検出手段は、前記第１出力値、前記画素のカラーフィルタ、受光する光束が通過する瞳領域、および画素加算数のうち、１つ以上を同じ条件として前記第２出力値を決定することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記画素は、複数のマイクロレンズと、各マイクロレンズに対応する複数の光電変換部を有する撮像素子の画素であることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第１評価値は、前記第１出力値と前記第２出力値との差分を前記第２出力値で除算して算出され、前記第２評価値は、前記基準出力値に対して前記第２出力値が大きくなるにつれて増加する項を前記第１評価値に乗算して算出されることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記第１評価値を画素位置ｉ，ｊおよび撮影時ｔの関数であるＥ（ｉ，ｊ，ｔ）とし、
前記基準出力値をＳｓｔｄとし、
前記第２出力値を画素位置ｉ，ｊの関数であるＳｔｙｐ（ｉ，ｊ）とし、
前記閾値をＥｅｒｒｏｒ０とし、
許容画素ばらつき値をα０とするとき、
前記検出手段は、前記画素が下記式を満たす場合に欠陥画素として検出することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【数１】
2017158018.tif 000001
【請求項８】
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号を補正する画素補正手段を備えることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記画素補正手段により補正された画素信号を用いてシェーディング補正を行うシェーディング補正手段を備えることを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記シェーディング補正手段は視差画像のシェーディング補正を行うことを特徴とする請求項９に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記第１評価値は、輝度で正規化された輝度評価値であることを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得する取得手段と、
前記第１出力値と前記第２出力値から輝度で正規化された前記画素の輝度評価値を算出し、前記輝度評価値が閾値より大きい場合、前記画素を欠陥画素として検出する検出手段を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得する取得手段と、
前記第１出力値と前記第２出力値から前記画素の第１評価値を算出し、前記第１評価値と前記第２出力値から算出した第２評価値と閾値を比較することにより欠陥画素検出を行う検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号を補正する画素補正手段と、
前記画素補正手段により補正された画素信号を用いてシェーディング補正を行うシェーディング補正手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１４】
前記シェーディング補正手段は、像高に対応する補正値、または絞り値もしくはレンズ部の射出瞳距離値に対応する補正値を記憶手段から取得して、画像再生時にシェーディング補正を行うことを特徴とする請求項１３に記載の画像処理装置。
【請求項１５】
前記第１評価値は、輝度で正規化された輝度評価値であることを特徴とする請求項１３または１４に記載の画像処理装置。
【請求項１６】
請求項１から１５のいずれか１項に記載の画像処理装置を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項１７】
複数のマイクロレンズおよび各マイクロレンズに対応する複数の光電変換部を有する撮像素子と、
前記複数の光電変換部からそれぞれ取得される信号により視差を有する複数の画像信号を生成する画像処理手段を備えることを特徴とする請求項１６に記載の撮像装置。
【請求項１８】
前記画像処理手段は、前記複数の光電変換部のうち、第１の光電変換部から取得される信号により第１の視差画像を生成し、第２の光電変換部から取得される信号により第２の視差画像を生成することを特徴とする請求項１７に記載の撮像装置。
【請求項１９】
前記画像処理手段は、前記複数の光電変換部のうち、第１および第２の光電変換部から取得される信号により撮像画像を生成し、第１または第２の光電変換部から取得される信号により視差画像を生成することを特徴とする請求項１７に記載の撮像装置。
【請求項２０】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置にて実行される制御方法であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得するステップと、
検出手段が前記第１出力値と前記第２出力値から前記画素の評価値を算出し、当該評価値を閾値と比較することにより欠陥画素検出を行う検出ステップを有し、
前記検出ステップでは、前記検出手段が前記第１出力値および前記第２出力値から導出される第１評価値と前記第２出力値とを用いて第２評価値を算出し、該第２評価値が前記閾値より大きい場合、前記画素を欠陥画素として検出することを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【請求項２１】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置にて実行される制御方法であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得するステップと、
検出手段が前記第１出力値と前記第２出力値から輝度で正規化された前記画素の輝度評価値を算出し、前記輝度評価値が閾値より大きい場合、前記画素を欠陥画素として検出するステップを有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【請求項２２】
複数の画素の出力値を取得して画像信号を処理する画像処理装置にて実行される制御方法であって、
前記画素から第１出力値を取得し、当該画素に近接する画素から決定される第２出力値を取得する取得ステップと、
検出手段が前記第１出力値と前記第２出力値から前記画素の第１評価値を算出し、前記第１評価値と前記第２出力値から算出した第２評価値と閾値を比較することにより欠陥画素検出を行うステップと、
検出された欠陥画素の画素信号を画素補正手段が補正するステップと、
シェーディング補正手段が前記画素補正手段により補正された画素信号を用いてシェーディング補正を行うステップと、を有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。