(57)【要約】  適応等化回路（１０５）は、Ａ／Ｄ変換器（１０３）でＡ／Ｄ変換され、波形成形回路（１０４）で成形された再生信号をＰＲ等化する。理想波形生成回路（１１０）は、ビタビ復号回路（１０８）で２値化された再生信号に対応する理想波形を生成する。マーク長／スペース長算出回路（１１２）は、等化誤差演算回路（１１１）で演算された、理想波形が中央の基準レベルとなるときの等化誤差と、０クロス検出回路（１０９）で検出された２値化データの極性反転間隔とに基づいて、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長を算出する。システムコントローラ（１１４）は、算出されたマーク長／スペース長に基づいて、マークを形成する際の記録波形のエッジシフト量を調整する。
2008004478.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置であって、
前記情報記録媒体（１０１）から読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成手段（１０）と、
前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する換算手段（２０）と、
前記算出された形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整手段（３０）とを有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記再生波形情報生成手段（１０）は、所定のサンプリングクロックに基づいて前記再生信号をサンプリングする、請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記換算手段（２０）は、
前記再生波形情報が、該再生波形情報の振幅の中央値を示す中央レベルをまたいで変化する際の、変化の前後の時点の前記再生波形情報の値に基づいて、前記再生波形情報が前記中央レベルを通過する時点を算出する中央レベル通過点算出回路（１０９）と、
前記中央レベルを通過する時点に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するマーク長／スペース長算出回路（１１２）とを備える、請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記中央レベル通過点算出回路（１０９）は、所定期間における、前記再生波形情報が前記中央レベルをまたいで変化する際の変化の前後の時点の再生波形情報の値の平均値を算出し、該算出した平均値を用いて前記再生波形情報、又は、前記中央レベルを補正し、補正後の再生波形情報、又は、中央レベルに基づいて、前記中央レベルを通過する時点を算出する、請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
前記データの再生に、ＰＲＭＬ（Partial Response Most Likelihood）検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ずしも中央の基準レベルをとらないＰＲクラスを使用しており、
前記中央レベル通過点算出回路（１０９）は、ＰＲ等化後の再生波形情報を用いて、前記中央の基準レベルを通過する時点を算出する、請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、
前記換算手段（２０）が、
前記理想波形を生成する理想波形生成回路（１１０）と、
ＰＲ等化後の再生波形情報と、前記理想波形との間の等化誤差を演算する等化誤差演算回路（１１１）と、
前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するマーク長／スペース長算出回路（１１２）とを含む、請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
前記マーク長／スペース長算出回路（１１２）は、所定期間における、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差の平均値を算出し、該算出した平均値を用いて前記等化誤差、又は、中央の基準レベルを補正し、補正後の等化誤差、又は、中央の基準レベルに基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する、請求項６に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項８】
前記マーク長／スペース長算出回路（１１２）は、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差と、前記理想波形が前記中央の基準レベルとなる時点よりも１つ前の時点のレベルから前記中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、又は、前記中央の基準レベルから１つ後ろの時点のレベルに遷移する際の遷移量との比に基づいて、マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量を算出する、請求項６に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項９】
前記換算手段（２０）が算出したマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長を、マーク長／スペース長ごとに分類する分類手段（１１３）を更に備え、
前記調整手段（１１４，１１６）は、前記分類されたマーク長／スペース長ごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する、請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１０】
前記分類手段（１１３）は、前記算出されたマーク長／スペース長を、所定のマーク長／スペース長の組み合わせごとに分類し、
前記調整手段（１１４，１１６）は、前記分類されたマーク長／スペース長の組み合わせごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する、請求項９に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１１】
情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置における記録条件の調整方法であって、
前記情報記録媒体から再生信号を読み出し、該読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成ステップと、
前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する時間長算出ステップと、
前記算出した形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整ステップとを有することを特徴とする記録条件調整方法。
【請求項１２】
前記再生波形情報生成ステップでは、前記再生信号を、所定のサンプリングクロックに基づいてサンプリングして再生波形情報を生成する、請求項１１に記載の記録条件調整方法。
【請求項１３】
前記時間長算出ステップは、
前記再生波形情報が、該再生波形情報の振幅の中央値を示す中央レベルをまたいで変化する際の、変化の前後の時点の前記再生波形情報の値に基づいて、前期再生波形情報が前記中央レベルを通過する時点を算出するステップと、
前記中央レベルを通過する時点に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップとを有する、請求項１１に記載の記録条件調整方法。
【請求項１４】
前記中央のレベルを通過する時点を算出するステップでは、所定期間における、前記再生波形情報が中央レベルをまたいで変化する際の変化の前後の時点の再生波形情報の値の平均値を算出し、該算出した平均値を用いて前記再生波形情報、又は、前記中央レベルを補正し、補正後の再生波形情報、又は、中央レベルに基づいて、前記中央レベルを通過する時点を算出する、請求項１３に記載の記録条件調整方法。
【請求項１５】
前記データの再生に、ＰＲＭＬ（Partial Response Most Likelihood）検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ずしも中央の基準レベルをとらないＰＲクラスを使用しており、
前記中央の基準レベルを通過する時点を算出するステップでは、ＰＲ等化後の再生波形情報を用いて、前記中央の基準レベルを通過する時点を算出する、請求項１３に記載の記録条件調整方法。
【請求項１６】
前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、
前記時間長算出ステップが、
前記理想波形を生成するステップと、
前記理想波形が中央の基準レベルとなるとき、ＰＲ等化後の再生波形情報と前記理想波形との間の等化誤差を演算するステップと、
前記演算された等化誤差に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップとを有する、請求項１１に記載の記録条件調整方法。
【請求項１７】
前期時間長算出ステップが、所定期間における、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差の平均値を算出するステップを更に有し、
前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップでは、前記算出した平均値を用いて、前記算出した等化誤差、又は、中央の基準レベルを補正し、補正後の等化誤差、又は、中央の基準レベルに基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する、請求項１６に記載の記録条件調整方法。
【請求項１８】
前記形成位置ずれ量の算出では、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差と、前記理想波形が前記中央の基準レベルとなる時点よりも１つ前の時点のレベルから前記中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、又は、前記中央の基準レベルから１つ後ろの時点のレベルに遷移する際の遷移量との比に基づいて、マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量を算出する、請求項１６に記載の記録条件調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的情報記録再生装置及び記録条件調整方法に関し、更に詳しくは、光学的情報記録媒体に光学的に情報を記録し再生する光学的情報記録再生装置、及び、そのような装置における記録条件の調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学的情報記録媒体（光ディスク）に、光学的に情報を記録し再生する光学的情報記録再生装置（光ディスク装置）が広く用いられている。光ディスク装置では、光ディスクに対して情報を記録する際には、記録すべきデータを、各種方式でエンコードし、複数のマークとスペースとの２値状態に分類して記録を行う。再生時には、再生信号から光ディスクに形成されたマーク／スペースのマーク長／スペース長を検出して記録データを読み取り、各種方式でデコードしてデータを再生する。【０００３】
光ディスクに対する記録では、熱干渉等の影響により、形成すべきマーク長／スペース長と、実際に形成されたマーク長／スペース長とが異なった長さとなることが多い。光ディスクに形成されたマーク長／スペース長が、形成すべきマーク長／スペース長からずれると、再生時にジッタが発生し、データの再生特性に影響を与える。すなわち、ジッタが大きいほどエラー状態が多く発生し、再生データの再生品質が低下する。この状況については、例えば、再公表特許ＷＯ２００２／０８４６５３に詳細に記載されており、該特許文献では、この問題に対して、再生信号のジッタを測定することで、光ディスクに形成されたマークのエッジシフト量を測定し、エッジシフト量に基づいて、記録パラメータを調整している。【０００４】
上記特許文献では、ＰＲＭＬ（Partial Response Most Likelihood）を用いた例が示されており、中央の基準レベル（０レベル）をクロス(０クロス)するごとに、つまり、ＰＲ等化信号の極性反転ごとに、ＰＲ等化信号と０レベルとの等化誤差を検出する。その際、マークとスペースとの組み合わせについて、ｍＴマーク(ｍは１以上の整数、Ｔはチャネルクロック)と、ｎＴスペース(ｎは１以上の整数、Ｔはチャネルクロック)とに分類して、等化誤差を検出する。その後、マーク長／スペース長の組み合わせごとに、極性反転時の０レベルとの等化誤差を積算し、その累積値を発生数で除算することによりジッタ量を求める。その後、ｍＴマークとｎＴスペースとの組み合わせについて、記録マークの前端エッジ位置、及び、終端エッジ位置を調整し、再生時にジッタが少ない最適な記録条件になるエッジシフト量を求め、その記録条件で再度記録を行う。本発明者は、再生データの再生品質の劣化に関して、以下の検討を行った。【０００５】
前記特許文献では、ＰＲ等化信号が、０レベルをクロスする際の等化誤差を積算してジッタを求めている。この場合、ＰＲクラスとして、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移において、理想波形のクロックサンプリング点が中央の基準レベル(０レベル)と一致するのであれば、ＰＲ等化信号と０レベルとの差分の等化誤差の積算を行うことに意味はある。しかし、ＰＲクラスによっては、理想波形のクロックサンプリング点が必ずしも中央の基準レベル（０レベル）と一致しない場合にもあり、その場合には、前記特許文献に記載の技術では、ジッタを正しく測定することはできない。【０００６】
図１３は、ＰＲ１２２１における３Ｔ繰り返し波形のレベル変化の様子を示している。また、図１４は、ＰＲ１２１、又は、ＰＲ１２２２１での３Ｔ繰り返し波形のレベル変化の様子を示している。ＰＲ１２２１では、図１３に示すように、理想波形は、そのサンプリング時に、０レベルをとる。しかし、図１４に示すように、ＰＲ１２１又はＰＲ１２２２１では、理想波形は、そのサンプリング時に０レベルとならない。前記特許文献では、図１４に示すような、サンプリング時に０レベルをとらないＰＲクラスを用いた場合には、ジッタを正しく求めることができず、記録条件を適切に調整することができない。【０００７】
前記特許文献に記載の技術は、上記のように、理想波形が０レベルをとるＰＲクラスに対しては適用可能であるが、０レベルをとらないＰＲクラスには適用できない。ここで、再生信号から、時間軸方向への換算を行って、形成されたマーク／スペース位置や長さと、理想的なマーク／スペースの位置や長さとの差を求めることができれば、理想波形が０レベルをとるＰＲクラスと、とらないＰＲクラスとで、同様の考え方で、記録条件の調整を行うことができる。
【発明の概要】
【０００８】
本発明は、上記従来技術の問題点を解消し、再生信号からマーク／スペースの時間軸方向のズレを算出し、それに基づいて記録条件を調整する光学的情報記録再生装置、及び、記録条件の調整方法を提供することを目的とする。
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置であって、前記情報記録媒体から読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成手段と、前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する換算手段と、前記算出された形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提供する。
【００１０】
本発明は、情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置における記録条件の調整方法であって、前記情報記録媒体から再生信号を読み出し、該読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成ステップと、前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する時間長算出ステップと、前記算出した形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整ステップとを有することを特徴とする記録条件の調整方法を提供する。
【００１１】
本発明の上記及び他の目的、特徴及び効果は、図面を参照する以下の説明により明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】光ディスク装置における記録条件調整の際の動作手順を示すフローチャート。
【図３】３Ｔ繰り返し波形に対応する適応等化データを示す波形図。
【図４】３Ｔ繰り返し波形を示す波形図。
【図５】記録２値データと記録波形の具体例を示すタイミングチャート。
【図６】本発明の第２実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図７】３Ｔ繰り返し波形を示す波形図。
【図８】本発明の第３実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図９】適応等化データの具体例を示す波形図。
【図１０】適応等化データの別の具体例を示す波形図。
【図１１】第１の変形例の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図１２】第２の変形例の光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図１３】Ｔ繰り返し波形のレベル変化の様子を示す波形図。
【図１４】３Ｔ繰り返し波形のレベル変化の様子を示す波形図。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照し、本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、本発明の理解を容易にするために、全図を通して同様な要素には同様な参照符号を付す。図１は、本発明の第１実施形態の光ディスク装置の構成を示している。光ディスク装置１００は、光ヘッド１０２、Ａ／Ｄ変換器１０３、波形成形回路１０４、適応等化回路１０５、位相比較器１０６、ＶＣＯ１０７、ビタビ復号回路１０８、０クロス検出回路１０９、理想波形生成回路１１０、等化誤差演算回路１１１、マーク長／スペース長算出回路１１２、マーク／スペース分類回路１１３、システムコントローラ１１４、記録パターン生成回路１１５、記録補償回路１１６、及び、レーザー駆動回路１１７を備える。Ａ／Ｄ変換器１０３、波形成形回路１０４、適応等化回路１０５、位相比較器１０６、及び、ＶＣＯ１０７は、再生波形情報生成手段１０を構成する。ビタビ復号回路１０８、０クロス検出回路１０９、理想波形生成回路１１０、等化誤差演算回路１１１、及び、マーク長／スペース長算出回路１１２は、換算手段２０を構成する。システムコントローラ１１４、記録パターン生成回路１１５、及び、記録補償回路１１６は、調整手段３０を構成する。【００１４】
光ヘッド１０２は、光ディスク１０１にレーザー光を照射し、その反射光から再生信号を得る。Ａ／Ｄ変換器１０３は、光ヘッド１０２で得られた再生信号を、所定のビット幅を持つデジタルデータに変換する。デジタル化された再生信号は、ハイパスフィルタ等の波形成形回路１０４を経て、適応等化回路１０５で所望のＰＲクラスに等化される。本実施形態では、ＰＲクラスとして、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移において、理想波形のクロックサンプリング点が中央の基準レベル(０レベル)と一致するものを考える。ＶＣＯ１０７は、Ａ／Ｄ変換器１０３を含む処理回路全体に、クロック信号（サンプリングクロック）を供給する。ＶＣＯ１０７が供給するクロック信号は、位相比較器１０６により、再生信号から得られる周期的な情報と、クロック信号との位相差が小さくなるように制御される。【００１５】
ビタビ復号回路１０８は、適応等化回路１０５の出力をビタビ復号し、最も確からしい２値化データを生成する。０クロス検出回路１０９は、ビタビ復号回路１０８で生成された２値化データの０クロスを検出し、２値化データの極性反転を検出する。理想波形生成回路１１０は、ビタビ復号された２値化データに基づいて、ＰＲ特性による理想波形を生成する。等化誤差演算回路１１１は、適応等化回路１０５が出力する適応等化波形（等化再生信号）と、理想波形生成回路１１０が生成する理想波形データとの差分から等化誤差を算出する。この等化誤差は、０になることが理想ではあるが、局所的にはそのような状態はあっても、通常は多少の等化誤差が生じている。一般には、全体的にこの等化誤差が大きければ記録状態は悪く、小さければ記録状態は良いと言える。【００１６】
等化誤差は大雑把に言うと、形成すべきマーク長／スペース長と、実際に記録されたマーク長／スペース長が一致するとほぼ「０」となる。また、等化誤差の値は、形成すべきマーク長／スペース長と、実際に記録されたマーク長／スペース長とのズレ量に比例すると考えられる。そこで、本実施形態では、等化誤差を、マーク長／スペース長に換算し、これを、マーク及びスペースの前縁及び後縁のエッジシフト量（記録条件のパラメータ）の調整に用いる。【００１７】
等化誤差演算回路１１１は、演算した等化誤差をＴ長（Ｔ長：チャネルクロックを単位とする長さ）へ換算して、マーク／スペースの前縁又は後縁について、マーク／スペースを形成すべき位置からのズレ量を算出する。また、マーク長／スペース長算出回路１１２は、算出したズレ量と、０クロス検出回路１０９が検出する極性反転の間隔（Ｔ長）とに基づいて、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長を算出する。マーク／スペース分類回路１１３は、マーク長／スペース長算出回路１１２が算出した前縁及び後縁でのズレ量を、マーク長／スペース長ごとに、或いは、所定のマーク長と所定のスペース長との組み合わせごとに分類する。【００１８】
システムコントローラ１１４は、マーク／スペース分類回路１１３での分類ごとに、前縁及び後縁でのズレ量や、マーク長／スペース長の平均や分散などを求め、記録パターン生成回路１１５が出力する記録パターンに対して、良好な記録ができる記録条件のパラメータを記録補償回路１１６に設定する。レーザー駆動回路１１７は、記録補償回路１１６が設定するライトストラテジによってレーザーを駆動し、光ヘッド１０２を経由して、光ディスク１０１に対する記録を行う。【００１９】
図２は、光ディスク装置における記録条件調整の際の動作手順を示している。光ヘッド１０２は、光ディスク１０１にレーザー光を照射し、その反射光を検出して、再生信号を得る（ステップＳ１）。この再生信号は、Ａ／Ｄ変換器１０３でデジタルデータに変換された後に、波形成形回路１０４を介して適応等化回路１０５に入力され、ＰＲ等化される（ステップＳ２）。ＰＲ等化された再生信号（適応等化波形）は、ビタビ復号回路１０８で２値データ化される（ステップＳ３）。理想波形生成回路１１０は、ビタビ復号回路１０８で２値化されたデータに基づいて理想波形を生成し、等化誤差演算回路１１１は、理想波形が中央の基準レベルとなるときの理想波形と適応等化波形との間の等化誤差を算出し（ステップＳ４）、これをマーク長／スペース長算出回路１１２に入力する。【００２０】
マーク長／スペース長算出回路１１２は、等化誤差演算回路１１１が算出した等化誤差を、マーク長／スペース長に換算し、マーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量を算出する（ステップＳ５）。このとき、マーク長／スペース長算出回路１１２は、０クロス検出回路１０９による０クロスの検出時間間隔を測定し、算出された等化誤差が、どの長さのマーク長／スペース長での前縁又は後縁に対応するかを認識する。マーク長／スペース長算出回路１１２は、等化誤差のマーク長／スペース長の換算では、等化誤差と、中央の基準レベルとなる時点よりも１クロック前、或いは、後の時点での理想波形の値、つまり中央の基準レベルへ、又は、中央の基準レベルから遷移する際の遷移量との比を、等化誤差に対する時間長さとする。この時間長さと、０クロス検出回路１０９による０クロスの検出時間間隔とにより、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長を求めることができる。【００２１】
光ディスク装置１００は、ステップＳ１からＳ５までを所定期間継続して行い、各マーク長／スペース長での前縁及び後縁でのズレ量と、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長とを得る。マーク／スペース分類回路１１３は、マーク／スペースごと、又は、所定マーク長／所定スペース長の組み合わせごとに、前縁及び後縁でのズレ量、マーク長／スペース長を蓄積していく。蓄積された前縁及び後縁でのズレ量、マーク長／スペース長の総和を、サンプル数で割ることで、平均を算出することができる。【００２２】
システムコントローラ１１４は、マーク／スペース分類回路１１３で分類されたマーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量、又は、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長に基づいて、記録条件のパラメータを設定する（ステップＳ６）。ステップＳ６では、例えば、３Ｔマークを形成する際の記録条件を設定する際には、マーク／スペース分類回路１１３で、３Ｔマークの前縁及び後縁でのズレ量、又は、記録すべき３Ｔマークに対して実際に形成されたマーク長を利用して、記録パルスの照射位置を定めるパラメータなどの記録条件のパラメータを設定する。【００２３】
以下、具体例を用いて説明する。図３は、ＰＲ１２２１における３Ｔ繰り返し波形に対応する適応等化データを示している。同図における横軸は、時間軸を表している。Ａ点、Ｂ点、Ｃ点では、適応等化データの値は「０」であり、これは中央の基準レベルに一致しており、それら時点での等化誤差は「０」である。０クロス検出回路１０９は、Ａ点、Ｂ点、Ｃ点で０クロスを検出し、マーク長／スペース長算出回路１１２は、０クロス検出の時間間隔から、Ａ点からＢ点まで、及び、Ｂ点からＣ点までのマーク／スペースの長さが３Ｔであると認識する。マーク長／スペース長算出回路１１２は、Ａ点、Ｂ点、Ｃ点での等化誤差は「０」であるので、ズレ量は「０」であり、Ａ点からＢ点までのマーク長（又はスペース長）、及び、Ｂ点からＣ点までのスペース長（又はマーク長）が、それぞれちょうど３Ｔであると算出する。【００２４】
Ｃ点からＤ点までの時間間隔が３Ｔであり、Ｄ点での適応等化データが＋０．２であったとする。この状態は、本来、Ｄ点よりも１Ｔ前の時点から値が「−２」変化して中央の基準レベルとなるべきところ、実際には、Ｄ点よりも１Ｔ前の時点から「−１．８」しか変化せずに、「０．２」だけ残っている状態である。これは、Ｄ点では、マーク長が長くなる方向にマーク後縁の位置がずれており、Ｃ点からＤ点に対応するマーク長は３Ｔよりも長く、それに後続するスペースは、その分だけ短くなっていることを意味する。等化誤差「０．２」を長さに換算して、マーク長が長くなった分（マーク後縁でのズレ量）を求めると、本来の遷移量が「２」であるから、０．２／２＝０．１Ｔとなる。従って、Ｃ点からＤ点までの実際のマーク長は、０クロス検出回路１０９が検出した時間長「３Ｔ」よりも「０．１Ｔ」だけ長い、「３．１Ｔ」となる。【００２５】
次に、Ｄ点からＥ点までの時間間隔が３Ｔであり、Ｅ点での適応等化データが−０．１であったとする。この状態は、本来、Ｅ点よりも１Ｔ前の時点から値が「２」変化して中央の基準レベルとなるべきところ、実際にはＥ点よりも１Ｔ前の時点から「１．９」しか変化せず、「０．１」残っている状態である。これは、Ｅ点では、スペース長が長くなる方向にスペース後縁の位置がずれていることを意味する。Ｅ点での等化誤差「−０．１」を長さに換算して、スペース長が長くなった分（スペース後縁でのズレ量）を求めると、０．１／２＝０．０５Ｔとなる。ここで、Ｄ点の等化誤差は「＋０．２」であり、Ｄ点では、マーク後縁の位置が０．１Ｔだけずれてマーク長が長くなることにより、スペース前縁の位置は、０．１Ｔだけ短くなる方向にずれている。従って、Ｄ点からＥ点までの実際のスペース長は、３Ｔ−０．１Ｔ＋０．０５Ｔ＝２．９５Ｔとなる。【００２６】
等化誤差と、長くなる／短くなるマーク長又はスペース長との関係は、１Ｔ前の時点から中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、或いは、中央の基準レベルから１Ｔ後の時点に遷移する際の遷移量に応じて変化するため、ＰＲクラスに応じて変化することになる。図４は、ＰＲ１３３１における３Ｔ繰り返し波形を示している。ＰＲ１２２１の理想波形（図１３）では、レベル値０から±２へ遷移するが、ＰＲ１３３１では、レベル値０から±３へ遷移する。つまり、１Ｔの期間で変化すべき値は「３」となる。この場合には、マーク長／スペース長算出回路１１２は、上記換算式における分母を「３」として換算を行えばよい。例えば、等化誤差が「０．２」であれば、この等化誤差を、０．２／３＝０．６６７Ｔに換算する。このように、マーク長／スペース長算出回路１１２では、ＰＲクラスに依存して換算式は適宜変わることになるが、等化誤差を０クロス点からの１Ｔ期間における遷移量で除算するということには変わりない。【００２７】
マーク／スペース分類回路１１３は、マーク長／スペース長算出回路１１２が算出したマーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量を、マーク長／スペース長ごとに分類する。例えば、３Ｔマーク、３Ｔスペース、４Ｔマーク、４Ｔスペース、・・・、について、それぞれにおける前縁及び後縁でのズレ量を区分して記憶する。マーク／スペース分類回路１１３は、上記に代えて、又は加えて、マーク／スペースの前縁及び後縁のズレ量を元に算出したマーク長／スペース長を、マーク長／スペース長ごとに分類する。この場合には、マーク／スペース分類回路１１３は、算出されたマーク長／スペース長を、形成すべきマーク長／スペース長（３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・・）ごとに区分して記憶する。【００２８】
マーク長／スペース長の分類では、０クロス検出回路１０９で検出された極性反転間隔に基づいて、前縁及び後縁でのズレ量、実際のマーク長／スペース長を区分する。或いは、マーク長／スペース長算出回路１１２で算出された実際のマーク長／スペース長に最も近い整数値×Ｔを、形成すべきマーク長として区分してもよい。具体的には、算出されたマーク長が３．１Ｔであれば、３．１に最も近い３Ｔを、形成すべきマーク長として区分する。【００２９】
上記マーク／スペース分類回路１１３における分類では、マーク長とスペース長との組み合わせを用いて、分類を細分化させることもできる。例えば、形成すべきマーク長３Ｔについて、算出された３Ｔマークの実際のマーク長を記憶する際に、その３Ｔマークに後続するスペースが、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・・のときで区分して記憶する。スペースについても、同様に、各スペース長について、それに後続するマークのマーク長との組み合わせで分類して、前縁及び後縁でのズレ量、スペース長を記憶する。【００３０】
マーク長／スペース長算出回路１１２で算出されたマーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量、形成すべきマーク長／スペース長に対して実際に形成されたマーク長／スペース長は、マーク／スペースが良好であるか否かを表しており、これらに基づいて、記録が理想的に行われたか否かを判断できる。システムコントローラ１１４は、マーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量、実際のマーク長／スペース長に基づいて、記録条件のパラメータを設定（調整）する。その際、システムコントローラ１１４は、マーク／スペース分類回路１１３における分類に従って、各マーク長／スペース長でのズレ量、実際のマーク長／スペース長に対して統計処理を行い、平均値や分散を求めて記録条件の調整量を決定する。【００３１】
また、マーク／スペース分類回路１１３で、例えば、形成すべき６Ｔマークに対して、実際に形成された６Ｔマークのマーク長が分類されているときには、実際の６Ｔマークのマーク長が、形成すべきマーク長６Ｔよりも長いか、短いかを判断し、記録マークが６Ｔとなるように、６Ｔマークの記録条件を決定する。その際、マーク前縁に対応する時点での等化誤差と、マーク後縁に対応する時点での等化誤差とを比較して、等化誤差が大きい方の調整量を大きくしてもよい。【００３２】
図５は、記録２値データと記録波形の具体例を示している。この例では、６Ｔマークを、複数のパルスを照射することで形成している。記録条件のパラメータとしては、照射する複数のパルスのうちの先頭のパルスの開始位置（Ａ）、及び、最終パルスの終了位置（Ｂ）を考える。マーク／スペース分類回路１１３で、６Ｔマークの前縁及び後縁のズレ量が分類されている場合には、それらの値を参照して、記録マークの前縁及び後縁の位置が所望の位置となるように、先頭パルスの開始位置、及び、最終パルスの終了位置を調整する。また、記録した６Ｔマークの実際のマーク長が６．２Ｔであったときには、記録マーク長が６Ｔとなるように、先頭パルスの開始位置及び最終パルスの終了位置を調整する。【００３３】
６Ｔ以外の記録マークの前縁及び後縁についても、上記と同様に、記録条件のパラメータを決定する。マークとスペースとの組み合わせによって、記録条件のパラメータを変える場合には、マーク／スペース分類回路１１３で分類されたマーク長／スペース長の組み合わせに対する前縁及び後縁でのズレ量、実際のマーク長／スペース長を用いて、記録条件のパラメータを決定すればよい。このように決定された記録条件のパラメータは、記録補償回路１１６に設定され、次回の記録の際のライトストラテジに反映される。【００３４】
本実施形態では、等化誤差演算回路１１１で、理想波形が中央の基準レベルとなる際の等化誤差を計算し、マーク長／スペース長算出回路１１２で、その等化誤差を長さ方向に換算する。この換算された長さは、形成すべきマーク／スペースに対する位置ずれの量を示しており、システムコントローラ１１４は、この換算された長さに基づいて、記録条件のパラメータを調整する。本実施形態では、このようにすることで、記録条件を適切に設定することができ、記録の際に、所望のマーク長／スペース長のマーク及びスペースを形成することで、再生時の記録データの再生品質を向上させることができる。【００３５】
図６は、本発明の第２実施形態の光ディスク装置の構成を示している。本実施形態では、ＰＲクラスとして、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移において、理想波形のクロックサンプリング点が必ずしも中央の基準レベル(０レベル)と一致しないものを考える。本実施形態の光ディスク装置１００ａは、換算回路２０Ａが、図１の０クロス検出回路１０９、理想波形生成回路１１０及び等価誤差演算回路１１１に代えて、０クロス点算出回路１１８を備える点で、図１に示す光ディスク装置１００と相違する。なお、本実施形態では、図１に示す０クロス検出回路１０９、理想波形生成回路１１０、及び、等化誤差演算回路１１１は不要である。【００３６】
０クロス点算出回路１１８は、適応等化回路１０５が出力する適応等化データの値に基づいて、適応等化データが０レベルを横切ると推定される時点を算出する。この算出では、０クロス点算出回路１１８は、まず、適応等化データから、値が振幅の中心、すなわち中央の基準レベルをまたいで変化する際の、その前後の値を取得する。次いで、取得した値から、０レベルをまたぐ前後（１Ｔ期間）での適応等化データの変化量、すなわち、前後の値を結ぶ直線の傾きを計算する。その後、変化前又は後の値と、傾きとに基づいて、変化前又は後の時点と、０レベルを横切る時点との差分を計算する。【００３７】
図７は、ＰＲ１２１又はＰＲ１２２２１における３Ｔ繰り返し波形を示している。ＰＲ１２１又はＰＲ１２２２１（以下、ＰＲ１２１として説明する）では、３Ｔ繰り返し波形は、理想的には、−１、１、２、１、−１、−２、１と変化し、中央のレベル（０レベル）をとらない。０クロス点算出回路１１８は、このように変化する適応等化データの正負が反転する前後の値に基づいて、レベル０を横切る時点、つまりは、値が「０」となると想定される時点を算出（推定）する。Ｆ点及びＧ点での適応等化データの値をそれぞれ「−１」、「＋１」とすると、この２点を結ぶ直線の傾きは、１−（−１）／１＝２と計算される。よって、Ｆ点とＧ点との間で、２点間を結ぶ直線が０レベルを横切る時点は、Ｆ点に対応する時点から、−（−１）／２＝０．５Ｔと計算される。また、Ｈ点、Ｉ点がそれぞれ「＋１」、「−１」であれば、２点間を結ぶ直線の傾きは−１−（１）／１＝−２となり、０レベルを横切る時点は、Ｈ点に対応する時点から、−１／（−２）＝０．５Ｔと計算される。【００３８】
Ｊ点での適応等化データの値が「−０．９」で、Ｋ点での適応等化データの値が「＋１．１」であったとすると、この２点間を結ぶ直線の傾きは、＋１．１−（−０．９）／１＝２となる。よって、Ｊ点とＫ点とを結ぶ直線が「０」を横切る時点は、Ｊ点に対応する時点から、−（−０．９）／２＝０．４５Ｔの時点となる。また、Ｌ点での値が「＋１．０」で、Ｍ点での値が「−１．１」であるとすると、この２点間を結ぶ直線の傾きは「−２．１」となり、Ｌ点とＭ点とを結ぶ直線が「０」を横切る時点は、Ｌ点に対応する時点から、−（１．０）／（−２．１）＝０．４７６２Ｔの時点となる。【００３９】
ここで、理想状態での波形（理想波形）が０レベルを横切る時点について考える。ＰＲ１２１では、−１から＋１へと変化する際に、０レベルを横切り、＋１から−１へと変化する際に、０レベルを横切る。０レベルを横切る時点は、０レベルをまたいで変化する際の前後のレベルに応じて変化する。ＰＲ１２１では、０レベルをまたいで変化する際の前後のレベルの絶対値が共に「１」であるから、理想波形が０レベルを横切る時点は、−１に対応する時点と＋１に対応する時点との中間の時点、つまり−１に対応する時点から０．５Ｔの時点となる。同様に、理想波形が＋１から−１へと変化する際の０レベルを横切る時点は、＋１に対応する時点から０．５Ｔの時点となる。【００４０】
上記理想波形が０レベルを横切る時点と、算出した適応等化データが０レベルを横切る時点との差は、マーク／スペースのズレ量を表している。例えば、図７では、Ｆ点とＧ点との間、及び、Ｈ点とＩ点との間で、０レベルを横切る時点は、Ｆ点及びＨ点に対応する時点からそれぞれ０．５Ｔの時点であり、これは、理想波形における０レベルを横切る時点と一致している。このため、マーク／スペースのズレは発生していない。これに対して、Ｊ点とＫ点との間、及び、Ｌ点とＭ点との間では、０レベルを横切る時点が、Ｊ点及びＬ点に対応する時点からそれぞれ０．４５Ｔ、０．４７６２Ｔの時点であり、本来の位置（０．５Ｔ）の位置から位置ずれが発生している。この場合には、本来の位置からのズレ量に基づいて、記録条件のパラメータを調整することで、マーク／スペースの位置ずれを減少させて、所望のマーク長／スペース長のマーク／スペースを形成できる。【００４１】
マーク長／スペース長については、Ｆ点とＧ点との間に対応する時点から、Ｈ点とＩ点との間に対応する時点のマーク長は、０レベルを横切る時点がＦ点及びＨ点からそれぞれ０．５Ｔ経過した時点であるから、０．５Ｔ＋２Ｔ＋０．５Ｔ＝３Ｔと算出できる。また、Ｈ点とＩ点との間に対応する時点からＪ点とＫ点との間に対応する時点までのスペース長については、スペース後縁に対応するＪ点とＫ点との間で０レベルを横切る時点がＪ点に対応する時点から０．４５Ｔの時点であるので、０．５Ｔ＋２Ｔ＋０．４５Ｔ＝２．９５Ｔと算出できる。Ｊ点とＫ点との間に対応する時点からＬ点とＭ点との間に対応する時点までのマーク長は、マーク前縁に対応するＪ点とＫ点との間で０レベルを横切る時点がＫ点に対応する時点から１−０．４５＝０．５５Ｔの時点であり、Ｌ点とＭ点との間で０レベルを横切る時点がＬ点から０．４５７６Ｔの時点であるので、０．５５Ｔ＋２Ｔ＋０．４７６２Ｔ＝３．０２６２Ｔと算出できる。【００４２】
本実施形態では、適応等化データが０レベルをまたいで変化する前後の値から、適応等化データ波形が０レベルを横切る時点を推定し、値が変化する１Ｔの期間のうちのどの時点で０レベルを横切るかを算出する。このように算出した０レベルを横切る時点と、ＰＲクラスに応じて定まる本来の０レベルを横切るべき時点との間の時間差から、マーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量を求め、これに基づいて、記録条件のパラメータを調整する。或いは、算出した０レベルを横切る時点から、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長を算出し、これに基づいて、記録条件のパラメータを調整する。本実施形態では、ＰＲクラスが、０レベルをとらないが、このような場合でも、適応等化データの値を時間方向に換算して、マーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量、実際のマーク／スペース長を求めることで、その後は、第１実施形態と同様な手順で、記録条件の調整を行うことができ、再生時の記録データの再生品質を向上させることができる。【００４３】
図８は、本発明の第３実施形態の光ディスク装置の構成を示している。本実施形態の光ディスク装置１００ｂの構成は、図６光ディスク装置１００ａから、再生波形情報生成手段１０の適応等化回路１０５と、換算回路２０Ａのビタビ復号回路１０８とを省いたことにおいて、図６に示す第２実施形態と異なる。本実施形態では、０クロス点算出回路１１８は、ＰＲ等化されていない、波形成形回路１０４が出力する再生信号波形から、再生信号波形がその振幅中央の基準レベル（０レベル）を横切る時点を推定する。その他の点は、第２実施形態と同様である。【００４４】
本実施形態では、０クロス点算出回路１１８により、ＰＲ等化されていない再生信号波形が０レベルを横切る時点を推定し、マーク／スペースの前縁及び後縁でのズレ量を求める。または、形成すべきマーク長／スペース長に対する実際のマーク長／スペース長を算出する。ＰＲ等化では、再生信号波形をＰＲクラスの波形に合わせようとすることで、ＰＲ等化後の再生信号波形（適応等化データ波形）は、元の再生信号波形からずれる傾向にある。本実施形態では、ＰＲ等化されていない再生信号波形を用いて０レベルを横切る時点を推定し、それを用いてマーク長／スペース長を算出することで、マーク長／スペース長を、正確に算出できる。その他の効果は、第２実施形態と同様である。【００４５】
なお、光ディスクへの記録に際しては、ＤＳＶ（Digital Sum Value）処理により、マークとスペースの出現頻度が一定となるように記録パターンを生成している。これにより、再生データは、理想波形の中央の基準レベル、又は、再生波形の振幅中央の基準レベルを中心として、マーク及びスペースの出現頻度は、基本的には均等になる。しかし、それは、長期間で見れば理想的にはそうなるというだけであり、局所的には、再生波形がうねったり、或いは、アシンメトリによってＤＣ成分を持った状態が発生したりすることがある。このため、理想波形の中央の基準レベル、又は、再生波形の振幅中央の基準レベルを基準にしてマーク長／スペース長を算出すると、算出されたマーク長／スペース長が、実際の長さからずれることがある。【００４６】
第１実施形態では、上記問題を回避するためには、上述の基準レベルのずれを計測し、そのずれを考慮して、マーク長／スペース長を算出すればよい。例えば、第１実施形態では、理想波形が中央の基準レベルと一致するときの適応等化波形（等化誤差）を所定期間分だけ積算し、その積算値を出現サンプルで除算することで、中央の基準レベルに対応する等化誤差の平均を求め、求めた平均値で等化誤差を補正し、マーク長／スペース長を算出する。この等化誤差の平均値の算出は、マーク長／スペース長の算出に先立って実施する必要があるが、平均値は、所定の期間が経過するまでは求められないため、直前の所定期間で求めた平均値から、中央の基準レベルに対応する等化誤差の平均値を想定し、これをスペース長／マーク長の算出に用いる構成としてもよい。或いは、所定の期間の等化誤差平均を算出した後、その結果を用いて、再度同じ所定の期間におけるスペース長／マーク長の算出に用いる構成としてもよい。【００４７】
具体例を、図９を用いて説明する。理想波形が中央の基準レベルとなるときの等化誤差の平均が＋０．１であったとする。これは、図９に示す適応等化波形が、理想状態よりも＋０．１だけ値が大きい波形となっていることを意味する。この場合、適応等化波形が「＋０．１」となる点が「０」となるように、適応等化波形を補正すればよい。例えば、Ａ点、Ｂ点、Ｃ点の値が「０」、Ｄ点の値が「＋０．２」、Ｅ点の値が「−０．１」であれば、各時点での適応等化波形から０．１引いて、Ａ点、Ｂ点、Ｃ点の値を「−０．１」、Ｄ点の値を「＋０．１」、Ｅ点の値を「−０．２」に補正する。このようにして補正した適応等化波形を用いてマーク長／スペース長を算出することで、マーク長／スペース長を正しく算出することができる。【００４８】
第２実施形態では、適応等化波形の０レベルをまたぐ前後の値を用いて本来の０レベルを推定し、適応等化波形を補正して、マーク長／スペース長を算出すればよい。本来の０レベルの推定値は、適応等化波形が、０レベルをまたいで遷移する際の遷移の前後の値を積算し、その積算値をサンプル数で除算して求める。この中心レベルについても、所定の期間が経過するまでは求められないため、前の期間における０レベルの推定値から、現在の時点における０レベルの値を想定し、これをマーク長／スペース長の算出に用いる構成としてもよい。或いは、所定の期間の０レベルを推定した後、その結果を用いて、再度同じ所定の期間におけるスペース長／マーク長の算出に用いる構成としてもよい。第３実施形態では、第２実施形態における０レベルの推定と同様な手順で０レベルを推定し、これを用いてマーク長／スペース長を計算すればよい。【００４９】
具体例を、図１０を用いて説明する。本来の０レベルの推定では、図１０に示す適応等化波形のＦ点、Ｇ点、Ｈ点、Ｉ点、Ｊ点、Ｋ点、Ｌ点、Ｍ点、・・・の値を積算し、その積算値を、サンプル数で割って、平均値を求める。この平均値が、＋０．１であったとする。これは、適応等化波形が、理想状態よりも＋０．１だけ値が大きい波形となっていることを意味する。この場合も、上記と同様に、適応等化波形が「＋０．１」となる点が「０」となるように、適応等化波形を補正すればよい。【００５０】
例えば、Ｆ点、Ｉ点の値が「−１」、Ｇ点、Ｈ点の値が「＋１」、Ｊ点の値が「−０．９」、Ｋ点の値が「１．１」、Ｌ点の値が「＋１」、Ｍ点の値が「−１．１」であれば、各時点での適応等化波形の値から０．１引いて、Ｆ点、Ｉ点の値を「−１．１」、Ｇ点、Ｈ点の値を「＋０．９」、Ｊ点の値を「−１」、Ｋ点の値を「＋１」、Ｌ点の値を「＋０．９」、Ｍ点の値を「−１．２」に補正する。このようにして補正した適応等化波形を用いてマーク長／スペース長を算出することで、その計測期間におけるより確からしいマーク長／スペース長を算出することができる。【００５１】
上記各実施形態では、位相比較器１０６及びＶＣＯ１０７にてＰＬＬを構成し、再生データから得られる周期的な情報とサンプリングクロックとの位相差が小さくなるように制御したクロック信号を、Ａ／Ｄ変換器１０３を含む処理回路全体に供給する例について示したが、これには限定されない。図１１は、第１の変形例の光ディスク装置１００ｃの構成を示している。例えば、同図に示すように、再生波形情報生成手段１０ＢがＶＣＯ１０７及び位相比較回路１０６に代えて、記録クロック生成回路１１９を有する。記録クロック生成回路１１９は、ディスクから得られる同期情報にクロックを追従させることによりディスクに同期して記録することができる記録クロックを生成し、その記録クロックを、Ａ／Ｄ変換器１０３を含む処理回路全体に供給する構成とすることもできる。【００５２】
図１２は、第２の変形例の光ディスク装置１００ｄの構成を示している。再生波形情報生成手段１０Ｃのクロック生成回路１２０は、再生データレートよりも高い周波数のクロック信号を生成する。クロックイネーブル生成回路１２１は、位相比較器１０６の位相比較結果に従って、クロック生成回路１２０が生成したクロック信号を間引き、再生データレートと一致させて、Ａ／Ｄ変換器１０３に入力する。クロック信号を、このような構成で生成することもできる。第１及び第２の変形例は、第１実施形態だけでなく、第２及び第３実施形態との組み合わせで用いることもできる。【００５３】
本発明の実施形態に係る光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法では、情報記録媒体から得られた、時系列データである再生波形情報に基づいて、マーク／スペースの前縁及び後縁での形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出し、算出した形成位置ずれ量、又は、マーク長／スペース長に基づいて、マーク／スペースを記録する際の前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する。形成位置ずれ量、又は、マーク長／スペース長は、理想的な状態での再生波形情報が中央のレベルをとるのであれば、再生波形情報が中央のレベルとなるべき時点における中央のレベルと再生波形情報の値との誤差に基づいて算出することができる。また、再生波形情報が、理想的な状態での再生波形情報が中央のレベルをとらないときには、再生波形情報が、中央のレベルをまたいで変化する際の変化の前後の値に基づいて、中央のレベルを横切る時点を推定することで算出できる。本発明では、再生波形情報を、時間軸方向の形成位置ずれ量、又は、マーク長／スペース長に換算して、エッジシフト量を調整しており、形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の算出後の調整は、再生波形情報が中央のレベルをとる場合ととらない場合とで同じである。このように、本発明では、再生波形情報が中央のレベルをとる場合ととらない場合とで、同様の考え方で記録条件の調整を行うことができる。【００５４】
以上、説明したように、本発明は以下の形態を採用することが出来る。
本発明の光学的情報記録再生装置では、前記再生波形情報生成手段は、所定のサンプリングクロックに基づいて前記再生信号をサンプリングする構成を採用できる。また、本発明の記録条件調整方法は、前記再生波形情報生成ステップでは、前記再生信号を、所定のサンプリングクロックに基づいてサンプリングして再生波形情報を生成する構成を採用できる。この場合、サンプリングされた再生信号の時系列データが、再生波形情報となる。【００５５】
本発明の光学的情報記録再生装置では、前記換算手段は、前記再生波形情報が、該再生波形情報の振幅の中央値を示す中央レベルをまたいで変化する際の、変化の前後の時点の前記再生波形情報の値に基づいて、前記再生波形情報が前記中央レベルを通過する時点を算出する中央レベル通過点算出回路と、前記中央レベルを通過する時点に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するマーク長／スペース長算出回路とを備える構成を採用できる。また、本発明の記録条件の調整方法では、前記時間長算出ステップは、前記再生波形情報が、該再生波形情報の振幅の中央値を示す中央レベルをまたいで変化する際の、変化の前後の時点の前記再生波形情報の値に基づいて、前期再生波形情報が前記中央レベルを通過する時点を算出するステップと、前記中央レベルを通過する時点に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップとを有する構成を採用できる。再生波形情報が、中央のレベルをとらない場合には、中央のレベルをまたいで変化する際の変化の前後の値から中央のレベルを横切る時点を算出して、時系列の再生波形情報を、時間軸方向の長さに関する情報に換算する。このようにすることで、マーク／スペースの形成位置ずれ量や、形成すべきマークに対する実際のマーク長／スペース長を算出することができ、この情報を用いることで、マーク／スペースの前縁及び後縁でのエッジシフト量を適切に調整することができる。【００５６】
本発明の光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法では、所定期間における、前記再生波形情報が中央レベルをまたいで変化する際の変化の前後の時点の再生波形情報の値の平均値を算出し、該算出した平均値を用いて前記再生波形情報、又は、前記中央レベルを補正し、補正後の再生波形情報、又は、中央レベルに基づいて、前記中央レベルを通過する時点を算出する構成を採用できる。再生波形情報は、長期的に見れば、中央のレベルを中心として、マーク／スペースの出現頻度が均等となることが期待される。しかし、局所的には、再生波形のうねりや、アシンメトリによって、ＤＣ成分を持った状態が発生することがある。このような場合には、再生波形情報の中央のレベルをまたいで変化する際の前後の値の平均値からＤＣ成分の大きさを求め、そのＤＣ成分のレベルを中央レベルとみなすことで、再生波形情報が中央のレベルを横切る時点を正しく求めることができる。【００５７】
本発明の光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法では、前記データの再生に、ＰＲＭＬ（Partial Response Most Likelihood）検出を用い、前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ずしも中央の基準レベルをとらないＰＲクラスを使用しており、前記中央レベルを通過する時点の算出では、ＰＲ等化後の再生波形情報を用いて、前記中央の基準レベルを通過する時点を算出する構成を採用できる。本発明では、ＰＲ等化後の再生波形情報に基づいて、中央のレベルを横切る時点を算出する構成を採用できる。または、これに代えて、ＰＲ等化していない再生波形情報に基づいて、中央レベルを横切る時点を算出する構成を採用することもできる。【００５８】
本発明の光学的情報記録再生装置では、前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、前記換算手段が、前記理想波形を生成する理想波形生成回路と、ＰＲ等化後の再生波形情報と、前記理想波形との間の等化誤差を演算する等化誤差演算回路と、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するマーク長／スペース長算出回路とを含む構成を採用できる。また、本発明の記録条件の調整方法では、前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、前記時間長算出ステップが、前記理想波形を生成するステップと、前記理想波形が中央の基準レベルとなるとき、ＰＲ等化後の再生波形情報と前記理想波形との間の等化誤差を演算するステップと、前記演算された等化誤差に基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップとを有する構成を採用できる。理想波形が中央の基準レベルとなる時点は、マーク／スペースの前縁及び後縁に対応しており、その時点での等化誤差は、マーク／スペースの前縁及び後縁での形成位置ずれの量に対応していると考えられる。本発明では、理想波形が基準レベルとなるときの等化誤差を、時間軸方向の長さに換算して、マーク／スペースの前縁及び後縁での形成位置ずれ量、又は、形成すべきマーク長に対する実際のマーク長／スペース長を算出する。その後、この情報を用いて記録条件を調整することで、マーク／スペースの前縁及び後縁でのエッジシフト量を適切に調整することができる。【００５９】
本発明の光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法では、所定期間における、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差の平均値を算出し、該算出した平均値を用いて、前記算出した等化誤差、又は、中央の基準レベルを補正し、補正後の等化誤差、又は、中央の基準レベルに基づいて、前記形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する構成を採用できる。再生波形情報は、長期的に見れば、中央のレベルを中心として、マーク／スペースの出現頻度が均等となることが期待される。しかし、局所的には、再生波形のうねりや、アシンメトリによって、ＤＣ成分を持った状態が発生することがある。このような場合には、理想波形が中央の基準レベルとなるときの等化誤差の平均値を求め、再生情報波形をその平均値を用いて補正することで、再生波形情報のＤＣ成分による影響を排除して、等化誤差を正しく求めることができる。【００６０】
本発明の光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法では、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差と、前記理想波形が前記中央の基準レベルとなる時点よりも１つ前の時点のレベルから前記中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、又は、前記中央の基準レベルから１つ後ろの時点のレベルに遷移する際の遷移量との比に基づいて、マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量を算出する構成を採用できる。理想波形が中央のレベルとなるとき、その中央のレベルに遷移する際の遷移量（値の変化量）は、ＰＲクラスに応じて異なる値となる。形成位置ずれ量の算出では、理想波形が中央のレベルとなるときの等化誤差と、中央の基準レベルに遷移する際の遷移量との比に基づいて形成位置ずれ量を算出することで、各ＰＲクラスに対応した形成位置ずれ量を算出することができる。【００６１】
本発明の光学的情報記録再生装置は、前記換算手段が算出したマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長を、マーク長／スペース長ごとに分類する分類手段を更に備え、前記調整手段は、前記分類されたマーク長／スペース長ごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する構成を採用できる。この場合、例えば、算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量を、マーク長／スペース長ごとに分類することで、マーク／スペースに対する前縁及び後縁でのエッジシフト量を、マーク長／スペース長ごとに求めることができ、各マーク長／スペース長を形成する際の記録条件を適切に調整することができる。【００６２】
本発明の光学的情報記録再生装置では、前記分類手段は、前記算出されたマーク長／スペース長を、所定のマーク長／スペース長の組み合わせごとに分類し、前記調整手段は、前記分類されたマーク長／スペース長の組み合わせごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する構成を採用できる。この場合、記録条件を、より細かく調整することができる。【００６３】
以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて説明したが、本発明の光学的情報記録再生装置及び記録条件の調整方法は、上記実施形態にのみ限定されるものではなく、上記実施形態の構成から種々の修正及び変更を施したものも、本発明の範囲に含まれる。【００６４】
本出願は、２００６年７月３日出願に係る日本特許出願２００６−１８３３７９号を基礎とし且つその優先権を主張するものであり、引用によってその開示の内容の全てを本出願の明細書中に加入する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【手続補正書】
【提出日】平成20年5月7日(2008.5.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置であって、
前記情報記録媒体から読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成手段と、
前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する換算手段とを有し、
前記換算手段は、
前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、
前記理想波形を生成する理想波形生成回路と、
ＰＲ等化後の再生波形情報と、前記理想波形との間の等化誤差を演算する等化誤差演算回路と、
前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差に基づいて、前記マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する算出回路とを含み、
前記算出回路は、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差と、前記理想波形が前記中央の基準レベルとなる時点よりも１つ前の時点のレベルから前記中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、又は、前記中央の基準レベルから１つ後ろの時点のレベルに遷移する際の遷移量の比に基づいて、前記マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出し、その結果に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整手段とを有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
（削除）
【請求項３】
（削除）
【請求項４】
（削除）
【請求項５】
（削除）
【請求項６】
（削除）
【請求項７】
（削除）
【請求項８】
（削除）
【請求項９】
前記換算手段が算出したマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長を、マーク長／スペース長ごとに分類する分類手段を更に備え、
前記調整手段は、前記分類されたマーク長／スペース長ごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する、請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１０】
前記分類手段は、前記算出されたマーク長／スペース長を、所定のマーク長／スペース長の組み合わせごとに分類し、
前記調整手段は、前記分類されたマーク長／スペース長の組み合わせごとに、前記算出されたマーク／スペースの形成位置ずれ量又はマーク長／スペース長の平均値を計算し、該計算した平均値を用いて、前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する、請求項９に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１１】
情報記録媒体にマーク及びスペースの組み合わせによってデータを記録し、前記情報記録媒体から前記データを再生する光学的情報記録再生装置における記録条件の調整方法であって、
前記情報記録媒体から再生信号を読み出し、該読み出した再生信号に基づいて再生波形情報を生成する再生波形情報生成ステップと、
前記再生波形情報に基づいて、前記情報記録媒体に形成されたマーク／スペースの前縁及び後縁の形成位置ずれ量、及び、マーク長／スペース長の少なくとも一方を算出する時間長算出ステップを有し、
前記データの再生に、ＰＲＭＬ検出を用い、
前記再生波形情報を２値化した２値化データに基づいて、使用するＰＲクラスから想定される理想的な再生波形情報である理想波形を生成した場合に、該理想波形が、マークからスペースへの遷移、或いは、スペースからマークへの遷移に際して、必ず中央の基準レベルをとるＰＲクラスを使用しており、
前記時間長算出ステップが、
前記理想波形を生成するステップと、
前記理想波形が中央の基準レベルとなるとき、ＰＲ等化後の再生波形情報と前記理想波形との間の等化誤差を演算するステップと、
前記演算された等化誤差に基づいて、前記マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出するステップとを含み、
前記形成位置ずれ量の算出では、前記理想波形が中央の基準レベルとなるときの前記等化誤差と、前記理想波形が前記中央の基準レベルとなる時点よりも１つ前の時点のレベルから前記中央の基準レベルに遷移する際の遷移量、又は、前記中央の基準レベルから１つ後ろの時点のレベルに遷移する際の遷移量に基づいて、前記マーク／スペースの前縁又は後縁における形成位置ずれ量及びマーク長／スペース長の少なくとも一方を算出し、その結果に基づいて、記録時の前記マーク／スペースの前記前縁及び後縁のエッジシフト量を調整する調整ステップとを有することを特徴とする記録条件調整方法。
【国際調査報告】
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