【手続補正書】
【提出日】平成31年1月15日(2019.1.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気導体の特性を測定するように構成された試験装置であって、
少なくとも１つの柔軟性部分を有する基板と、
上記基板上に配置され、上記電気導体の特性を示す信号を発生するように構成された少なくとも１つの検知器と、
上記試験装置を上記電気導体の外側部分に保持するように構成された保持機構と、
上記電気導体の近傍に配置されるように構成されて、上記電気導体を上記少なくとも１つの検知器に対する位置に保持する保持機構と併せて使用されるスペーサを備えた試験装置であって、
上記保持機構の一部は、電気導体の周囲に配置され、上記電気導体の近傍のスペーサを保持するように構成される試験装置。
【請求項２】
上記電気導体の上記外側部分は、１つ以上の電気シールド又は絶縁である請求項１の試験装置。
【請求項３】
上記基板の全体が柔軟性である請求項１の試験装置。
【請求項４】
少なくとも１つの検知器が上記少なくとも１つの柔軟性部分上に配置された請求項１の試験装置。
【請求項５】
上記基板は、少なくとも１つの固い部分を備え、
上記少なくとも１つの検知器が上記少なくとも１つの固い部分に配置される請求項１の試験装置。
【請求項６】
上記基板は、複数の固い部分と、該複数の固い部分の間に延在する上記少なくとも１つの柔軟性部分を備える請求項１の試験装置。
【請求項７】
上記複数の固い部分の少なくとも１つは、固いプリント回路基板であり、上記少なくとも１つの検知器が上記固いプリント回路基板上に配置される請求項６の試験装置。
【請求項８】
計算装置に結合されるように構成された電気接続を更に備え、
上記計算装置は、上記電気接続を介して、上記少なくとも１つの検知器が発生した上記電気導体の特性を示す信号を受信するように構成された請求項１の試験装置。
【請求項９】
無線信号を計算装置に送信するように構成された無線送信機を更に備え、
上記無線信号は、上記少なくとも１つの検知器が発生した上記電気導体の特性を示す信号に基づく請求項１の試験装置。
【請求項１０】
上記少なくとも１つの検知器が発生した上記電気導体の特性を示す信号を処理するように構成されたマイクロプロセッサを更に備え、上記無線信号は、上記電気導体の特性を示す上記処理済み信号である請求項９の試験装置。
【請求項１１】
上記マイクロプロセッサは、上記基板上に配置される請求項１０の試験装置。
【請求項１２】
上記基板上に配置された電源を更に備え、上記電源は、上記無線送信機及び上記マイクロプロセッサの１つ以上に電力を供給するように構成された請求項１０の試験装置。
【請求項１３】
上記保持機構は、上記電気導体の周囲に巻かれるように構成された請求項１の試験装置。
【請求項１４】
上記保持機構は、上記電気導体の方向に上記電気導体の一部をバイアスするように構成されたスプリング・クリップの形状のスプリング機構を備える請求項１の試験装置。
【請求項１５】
上記保持機構が、スプリング・クリップを形成する曲面部分を有し、上記電気導体を保持する請求項１４の試験装置。
【請求項１６】
電磁気シールドを更に備え、上記保持機構が上記電気導体の外側部分に上記試験装置を保持するとき、上記少なくとも１つの検知器が上記電気導体及び電磁気シールドの間に配置される請求項１の試験装置。
【請求項１７】
上記電磁気シールドは、上記電気導体ではない電気部品が発生した電磁界が少なくとも１つの検知器に達する前に、該電磁界を減衰するように構成された請求項１６の試験装置。
【請求項１８】
上記スペーサは、上記少なくとも１つの検知器が行う測定に干渉しないコンプライアント材料で満たされる請求項１の試験装置。
【請求項１９】
上記コンプライアント材料が、ゲル、液体、ガス、又は軟質フォームである請求項１８の試験装置。
【請求項２０】
電気導体の特性を測定するように構成された試験装置であって、
少なくとも１つの柔軟性部分を有する基板と、
上記基板上に配置され、上記電気導体の特性を示す信号を発生するように構成された少なくとも１つの検知器と、
上記試験装置を上記電気導体の外側部分に保持するように構成された保持機構と、
上記基盤又は上記保持機構の一方に配置される少なくとも１つの重なりマーカと、
上記基板又は上記保持機構が上記電気導体の周囲に配置されたときに、上記少なくとも１つの重なりマーカの位置に基づいて上記試験装置の重なり量を決定し、決定された上記重なり量に基づいて上記電気導体の見積りの大きさを決定するように構成されたマイクロプロセッサ
を備えた試験装置。
【請求項２１】
上記少なくとも１つの検知器が、複数の検知器を備える請求項１の試験装置。
【請求項２２】
上記複数の検知器の内の上記検知器が上記電気導体に対する特定の軸位置に保持されるように上記保持機構が構成された請求項２１の試験装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
図４Ｄは、フレキシブル基板４０８、検知器４１０及び保持機構４０２を含む試験装置４００の側面図を示す。フレキシブル基板４０８は、保持機構４０２の内側表面に対向して配置される。一実施例において、フレキシブル基板４０８は、保持機構４０２の内側表面に添付される（例えば、接着される）。検知器４１０は、保持機構４０２のスプリング・クリップの内側のフレキシブル基板４０８上に配置される。導電コア４１１を有する電気導体４１２も、保持機構４０２のスプリング・クリップの内側に配置される。保持機構４０２は、試験装置４００を電気導体４１２の外側部分に保持するので、検知器４１０は、電気導体４１２に対する位置に保持される。例えば、検知器４１０の各々は、電気導体４１２に対する特定の軸位置に保持される。図４Ｄに示す特定実施例において、検知器４１０は、電気導体４１２に対して互いのほぼ反対の軸位置に保持される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
図５Ｃは、保持機構５２０の実施例を示す。保持機構５２０は、電気導体５２４を掴むことができる２つのストラップを含む。フレキシブル基板５２６は、保持機構５２０のストラップ５２２の間に配置される。１つ以上の検知器５２８は、フレキシブル基板上に配置され、電気導体５２４の特性を示す信号を発生できる。保持機構５２０は、電気導体５２４をバイアスするように構成されたスプリング機構５３０を含むので、ストラップ５２２の間の電気導体５２４の部分５３２がピンと張った状態になる。一実施例において、スプリング機構５３０の動作により、検知器５２８に対する特定位置にて電気導体５２４の部分５３２を保持する。図５Ｃに示す特定実施例において、保持機構５２０は、計算装置に結合できる電気導体５３４を含む。
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４Ｄ
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図４Ｄ】
2016130737.tif 000001
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５Ｃ
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図５Ｃ】
2016130737.tif 000002
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図６Ｂ
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図６Ｂ】
2016130737.tif 000003