(57)【要約】  光ディスク用信号処理装置は、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、光ディスクにおけるテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部を備える。フォーカス位置決定部は、光ディスクにおけるテスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備える。判定部によってテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、光ディスク用信号処理装置は、レーザーパワーを変更して再度テスト記録が行われるように光学ピックアップを制御する。
2008007644.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項２】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項３】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項４】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項５】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項６】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項７】
請求項１の光ディスク用信号処理装置において、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値未満であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項８】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部を備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項９】
請求項８の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する第３のステップと、
前記第３のステップにおいて前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、レーザーパワーを変更してテスト記録を再度行う第４のステップとを備えたことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【請求項１１】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１２】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置を含まないように上限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１３】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該上限位置を含まないように下限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１４】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置および上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置および上限位置を含まないように狭めて前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１５】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項１６】
請求項１５の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項１７】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記テスト記録において、フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が前記複数種類のフォーカス位置の中に存在したとき、前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して、テスト記録を再度行う第３のステップとを備えたことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置におけるフォーカシング技術に関し、特に、最適記録フォーカス位置を調整する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、多種多様な光ディスクの商品化が進んでおり、大容量のデータをより高速に記録及び再生できる光ディスク装置が要望されている。【０００３】
高速にデータを記録再生し、かつ高速記録の信頼性を高めるには、記録中の光ビームの焦点が光ディスクの記録面に合うように、フォーカス位置が最適に制御される必要がある。【０００４】
通常、記録時の最適フォーカス位置（最適記録フォーカス位置）は、再生時の最適フォーカス位置とは異なる。これは、レーザーパワーの変化により光学ピックアップ内部や電気回路上にオフセットや色収差が発生するからである。したがって、通常の光ディスク装置は、記録時と再生時とで別々の最適フォーカス位置を求めるようになっている。【０００５】
従来、最適記録フォーカス位置を求めるためにはフォーカス位置を順次変化させながら記録を行い、光ディスクにおける記録した領域の信号品質を後から測定し、信号品質と記録フォーカス位置との関係を求め、信号品質が最も良好であった場所のフォーカス位置を、記録時の最適フォーカス位置としていた。【０００６】
また、特許文献１〜４には、再生時の最適フォーカス位置を簡単に求めるために近似式を用いる技術について記載されている。
【特許文献１】特開平４−２３８１２０号公報
【特許文献２】特開平２−２４６０２４号公報
【特許文献３】特開平１１−０５３７４４号公報
【特許文献４】特開２００２−３４２９６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、フォーカス位置を順次変化させながら記録を行い、記録した領域の信号品質を後から測定し、信号品質が最も良好であったフォーカス位置を最適記録フォーカス位置とする前記従来の方法を用いた場合、最適記録フォーカス位置を精度良く求めるためには信号品質の測定回数が２０〜３０回程度必要となり、時間がかかる。したがって、工場等において出荷前の光ディスク装置の最適記録フォーカス位置がこの方法を用いて求められる場合、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等の１度しか書けない光ディスクを記録に用いると、光ディスクの消費量が多くなる。【０００８】
さらに、工場から出荷後の光ディスク装置が、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒといった１度しか書けない光ディスクに記録を行うことによって前記方法を用いて最適記録フォーカス位置を求めようとしても、光ディスクのＴＥＳＴ領域が足りず、調整ができない。【０００９】
そこで、信号品質とフォーカス位置との関係を示す近似式を求め、この近似式を表す曲線の極に対応するフォーカス位置を最適記録フォーカス位置として求める方法が考えられる。この方法を用いた場合、前記従来の方法よりも少ない測定回数で精度良く最適記録フォーカス位置を求めることができるので、最適記録フォーカス位置を求めるための時間を短縮し、ディスク消費量を減少させることが可能になる。【００１０】
しかし、本願発明者は、近似式を用いた前記方法に関して、以下のような問題点を発見した。【００１１】
まず、光ディスクの記録面に照射されるレーザービームのパワーは装置によってばらつきがある。これは、光学ピックアップの光の伝達効率や光学ピックアップに用いられるレーザー素子の性質にばらつきがあるからである。したがって、個々の装置において、記録時のレーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりすることがある。記録時のレーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりすると、記録フォーカス位置の変化に対して信号品質はあまり変化せず、信号品質とフォーカス位置との関係を示す近似曲線がフラットな形状となる。このような場合、近似曲線の極に対応するフォーカス位置を示す値は最適フォーカス位置を示す値とはかけ離れたものとなってしまう。レーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりした場合に近似曲線がフラットになる傾向は、二層式のディスクを用いた場合に特に顕著である。【００１２】
さらに、少ない測定ポイントによってフラットではない二次曲線を近似により求めるには、フォーカス位置の変化幅を広くする必要がある。しかし、光学ピックアップ等のデフォーカスマージンは個々の装置によってばらつくので、個々の装置において、記録時に光ディスクの記録面上に光ビームの焦点が合ったフォーカス位置からデフォーカスさせすぎることによって、記録エラーが発生する場合がある。【００１３】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、最適記録フォーカス位置が正しく求められるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記の課題を解決するため、本発明の第１の実施態様は、光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、前記フォーカス位置決定部は、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする。【００１５】
これにより、光ディスク用信号処理装置は、テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していない場合には、レーザーパワーを変更してテスト記録が再度行われるように光学ピックアップを制御する。したがって、再度テスト記録が行われ、このテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していた場合には、このテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置が正しく求められる。【００１６】
また、本発明の第２の実施態様は、光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、フォーカス位置を複数種類に変化させてテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする。【００１７】
これにより、あるフォーカス位置について記録動作が正常に完了しなかったと判定されたとき、このフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して再度テスト記録が行われ、このテスト記録が行われた光ディスク上の領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置が求められる。したがって、最適記録フォーカス位置を求めるために光ディスク上における記録が正常に行われなかった領域の記録品質が用いられる可能性が低くなり、最適記録フォーカス位置が正しく求められる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によると、テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適してない場合には、レーザーパワーを変更してテスト記録が再度行われる。再度テスト記録が行われ、このテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していた場合には、このテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、本発明の実施形態１の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、同、再生信号処理部１０３によって出力されたＲＦ信号の波形を示すグラフである。
【図３】図３は、同、記録状態測定部１０７の構成を示すブロック図である。
【図４】図４は、同、記録フォーカス位置と変調度との関係を説明する説明図である。
【図５】図５は、同、記録フォーカス位置と変調度との関係を説明する説明図である。
【図６】図６は、同、レーザパワーと、各記録フォーカス位置に対応する変調度と、近似式の極との対応関係を示す表である。
【図７】図７は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】図８は、本発明の実施形態２の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、本発明の実施形態３の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】図１１は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態４の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、同、最適記録フォーカス位置がプラス方向にずれている場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１４】図１４は、同、プラス方向にずらされた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１５】図１５は、同、最適記録フォーカス位置がマイナス方向にずれている場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１６】図１６は、同、マイナス方向にずらされた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１７】図１７は、同、記録を正常に行える記録フォーカス位置のマージンが狭い場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１８】図１８は、同、狭められた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【符号の説明】
【００２０】
１００      光ディスク用信号処理装置
１０１      光ディスク
１０２      光学ピックアップ
１０３      再生信号処理部
１０４      レーザ制御部
１０５      駆動部
１０６      フォーカス制御部
１０７      記録状態測定部
１０８      測定結果記憶部
１０９      近似式演算部
１１０      最適記録フォーカス位置演算部
１１１      測定結果判定部
１１２      ドライブコントロール部
１１３      ピークホールド部
１１４      ボトムホールド部
１１５      Ａ／Ｄコンバ−ター
１１６      Ａ／Ｄコンバ−ター
１１７      変調度演算部
１１８      フォーカス位置決定部
２００      光ディスク用信号処理装置
２０１      測定結果判定部
２０２      フォーカス位置決定部
３００      光ディスク用信号処理装置
３０１      近似式係数判定部
３０２      フォーカス位置決定部
４００      光ディスク用信号処理装置
４０１      記録完了判定部
４０２      フォーカス位置決定部
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、他の実施形態と同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。【００２２】
《実施形態１》
本実施形態に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１０１が装着され、光学ピックアップ１０２、再生信号処理部１０３、レーザ制御部１０４、駆動部１０５、フォーカス制御部１０６、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、測定結果判定部１１１、およびドライブコントロール部１１２を備えている。再生信号処理部１０３、レーザ制御部１０４、フォーカス制御部１０６、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、測定結果判定部１１１、およびドライブコントロール部１１２によって、光ディスク用信号処理装置１００が構成される。【００２３】
より具体的には、光ディスク装置は、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ（Read-Only Memory）、ＲＡＭ(Random-Access Memory)、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置１００は、集積回路であるＬＳＩ（Large Scale Integration）によって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置１００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置１００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。【００２４】
光ディスク１０１は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ等、情報の読み出しや書き込みにレーザ光が用いられる光ディスクである。【００２５】
光学ピックアップ１０２は、再生時および記録時において、レーザ光の強度、出力タイミング等に関するレーザ制御部１０４からの指示に従って、光ディスク１０１の情報記録面にレーザ光を照射する。そして、光ディスク１０１から反射された反射光を内部に備えたフォトディテクタによって読み取り、ＲＦ信号に変換して出力する。また、光学ピックアップ１０２は、光ディスク１０１の案内溝で反射回折した光を前記フォトディテクタによって受光し、制御用信号に変換して出力する。当該制御用信号には、フォーカス制御信号やトラッキング制御信号等、光学ピックアップ１０２の位置を制御するために用いられる信号が含まれる。【００２６】
再生信号処理部１０３は、光学ピックアップ１０２によって出力されたＲＦ信号を記録状態測定部１０７に出力する。また、光学ピックアップ１０２によって出力された制御用信号をフォーカス制御部１０６に出力する。【００２７】
レーザ制御部１０４は、ドライブコントロール部１１２によって保持された光ディスク１０１の線速度を示す速度情報を受信する。そして、当該速度情報によって示される線速度に対応したレーザ光の強度および出力タイミングでレーザ光の照射を行うように光学ピックアップ１０２に指示する。【００２８】
駆動部１０５は、アクチュエータによって構成され、フォーカス制御部１０６によって行われた指示に従って、フォーカスを制御する。具体的には、フォーカス制御部１０６による指示に従って、光学ピックアップ１０２内のレンズの位置を移動させる。【００２９】
フォーカス制御部１０６は、再生信号処理部１０３によって出力された制御用信号を受信するとともに、ドライブコントロール部１１２から、光ディスク１０１の線速度を示す速度情報と、読み出しや書き込みを行うべきデータの識別子を含む動作情報を受け、駆動部１０５を制御する。より詳しくは、前記速度情報によって示される線速度において光学ピックアップ１０２によるデータの読み出しおよび書き込みが行われるように、光学ピックアップ１０２の位置の制御に関する指示を駆動部１０５に対して行う。【００３０】
記録状態測定部１０７は、再生信号処理部１０３によって出力されたＲＦ信号に基づいて、記録された信号の記録品質を表す値として変調度を測定する。【００３１】
ここで、読出クロック信号の周期（１Ｔ）を基準とすると、光ディスク１０１に記録される記録マークは、それぞれが３Ｔ〜１４Ｔの時間長に相当する。【００３２】
１４Ｔの時間長に相当する信号波形の振幅を、図２に示すように、Ｉ１４で表した場合、変調度はＩ１４／Ｉ１４Ｈで表される。この変調度の値が大きいほど、信号波の振幅が大きく、信号の記録品質が良い、すなわちＲＦ信号の状態が良いということになる。【００３３】
記録状態測定部１０７は、図３に示すように、ピークホールド部１１３、ボトムホールド部１１４、Ａ／Ｄコンバ−ター１１５、Ａ／Ｄコンバ−ター１１６、および変調度演算部１１７を備えている。【００３４】
ピークホールド部１１３は、ＲＦ信号をピーク検波してＩ１４Ｈを求め、ボトムホールド部１１４は、ＲＦ信号をボトム検波してＩ１４Ｌを求める。【００３５】
Ａ／Ｄコンバ−ター１１５は、ピークホールド部１１３によって求められたＩ１４Ｈをデジタル化し、Ａ／Ｄコンバ−ター１１６は、ボトムホールド部１１４によって求められたＩ１４Ｌをデジタル化する。【００３６】
変調度演算部１１７は、
変調度＝  Ｉ１４／Ｉ１４Ｈ  ＝（Ｉ１４Ｈ  −  Ｉ１４Ｌ）／Ｉ１４Ｈ
の式に基づいて、変調度を求める。【００３７】
測定結果記憶部１０８は、記録状態測定部１０７によって求められたＲＦ信号の状態を示す変調度を受信すると同時に、ドライブコントロール部１１２より、当該ＲＦ信号が記録された時の記録フォーカス位置を受信する。そして、当該変調度と当該記録フォーカス位置とを組み合わせて記憶する。測定結果記憶部１０８は、変調度および記録フォーカス位置の組み合わせを複数組記憶することができる。【００３８】
近似式演算部１０９は、測定結果記憶部１０８に記憶された変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせを受信し、これらの組み合わせに基づいて、最小二乗法を用いて、Ｘ軸を記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙ軸を変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃを求める。なお、最小二乗法については、公知の技術であるので、説明は省略する。【００３９】
本実施形態では、光ディスク装置は、記録フォーカス位置を７段階に変化させながら記録を行い、近似式演算部１０９は、測定結果記憶部１０８に記憶された変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせに基づいて近似式を求める。図４に、測定結果記憶部１０８に各記録フォーカス位置と対応させて記憶された変調度、近似式演算部１０９によって求められる２次の近似式、およびその近似式を表す曲線の極に対応する記録フォーカス位置を示す。【００４０】
最適記録フォーカス位置演算部１１０は、近似式演算部１０９によって求められた二次の近似式を受信し、当該近似式を示す曲線の極に対応する記録フォーカス位置を示す値−０．５＊ｂ／ａを求め、求めた値を最適記録フォーカス位置としてドライブコントロール部１１２に伝達する。図４の例においては、最適記録フォーカス位置を示す値は−０．１４μｍとなる。【００４１】
測定結果判定部１１１は、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度を受信し、受信した７つの変調度が近似式演算部１０９において近似式を求めるために用いられるのに適した値であるか否か、つまり、７つの変調度が最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。すなわち、測定結果判定部１１１は、７つの変調度を得るために行ったテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。【００４２】
具体的には、測定結果判定部１１１は、７種類の記録フォーカス位置に対応する７つの変調度を測定結果記憶部１０８より受信し、受信した７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かを判定する。そして、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以上であった場合は、テスト記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、測定結果判定部１１１は、７種類の記録フォーカス位置に対応する７つの変調度を測定結果記憶部１０８より受信し、受信した７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かを判定する。そして、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以下であった場合は、テスト記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。【００４３】
記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および測定結果判定部１１１によって、フォーカス位置決定部１１８が構成される。【００４４】
ドライブコントロール部１１２は、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を出すことによって、光学ピックアップのレーザーパワーおよび駆動を制御する。ドライブコントロール部１１２は、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせのデータを測定結果記憶部１０８に破棄させ、近似式演算部１０９に演算を停止させる。そして、レーザーパワーを３ｍＷ下げた状態で再度記録が行われるように、レーザ制御部１０４やフォーカス制御部１０６に指示を出す。また、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせのデータを測定結果記憶部１０８に破棄させ、近似式演算部１０９に演算を停止させる。そして、レーザーパワーを３ｍＷ上げた状態で再度記録が行われるように、レーザ制御部１０４やフォーカス制御部１０６に指示を出す。さらに、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、測定結果記憶部１０８に記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせに基づいて求められた最適記録フォーカス位置を示す信号を最適記録フォーカス位置演算部１１０から受け、以降、記録時のフォーカス位置が当該最適記録フォーカス位置となるようにフォーカス制御部１０６に対して指示を行う。【００４５】
また、ドライブコントロール部１１２は、光ディスク１０１からのデータの読み出し、光ディスク１０１へのデータの書き込みを行うための光ディスク装置の全体動作を制御する。さらに、ドライブコントロール部１１２は、光ディスク１０１の線速度を示す速度情報や、読み出しや書き込みを行うべきデータの識別子を含む動作情報等のドライブ制御情報を保持している。【００４６】
図５に、複数種類のレーザパワーで記録が行われた場合に、測定結果記憶部１０８に各記録フォーカス位置と対応させて記憶される変調度と近似式演算部１０９によって求められる２次の近似式を示す。【００４７】
図６には、レーザーパワーと、各記録フォーカス位置に対応する変調度と、最適記録フォーカス位置演算部１１０によって求められる最適記録フォーカス位置（近似式の極）との対応関係を示す表を示す。【００４８】
図６に示すように、記録時のレーザーパワー（記録パワー）が２３ｍＷである場合、２０ｍＷである場合、１７ｍＷである場合、それぞれ、求められる最適記録フォーカス位置は、−０．１６μｍ、−０．１４μｍ、−０．１４μｍとなっている。記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合、求められる最適記録フォーカス位置は−０．３３μｍとなり、他の場合と０．１７μｍ以上異なる。図５のグラフに示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合、パワーが高すぎるため、記録フォーカス位置の７段階の変化に対して変調度があまり変化しない。このような変調度を用いて最小二乗法によって２次の近似式を求めると、近似式を示す曲線はフラットな形状となり、その極の座標が測定誤差の影響によってばらつきやすくなる。したがって、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。【００４９】
また、記録時のレーザーパワーが低い場合には記録時のフォーカス位置とは関係なく記録状態が悪くなる。図６に示すように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷである場合、求められる最適記録フォーカス位置は−０．３６μｍとなり、他の場合と大きく異なっている。これは、図５のグラフに示すように、記録時のレーザーパワーが初期値の１４ｍＷである場合、記録するにはパワーが低過ぎるため、記録フォーカス位置の７段階の変化に対して変調度が２３％前後の値であまり変化しない。記録フォーカス位置の変化に対してあまり変化しない変調度を用いて最小二乗法によって２次の近似式を求めると、近似式を示す曲線はフラットな形状となり、その極の座標が測定誤差の影響によってばらつきやすくなる。したがって、その極の座標に対応した値となる最適記録フォーカス位置も測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。【００５０】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図７のフローチャートを参照して説明する。【００５１】
（Ｓ１００１）光ディスク装置が、光ディスク１０１に対してフォーカス位置を７段階に順次変化させて一定のレーザーパワーによってテスト記録を行う。このテスト記録は、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザ制御部１０４が光学ピックアップ１０２を制御し、フォーカス制御部１０６が駆動部１０５を制御することによって行われる。【００５２】
（Ｓ１００２）記録状態測定部１０７が、テスト記録が行われた光ディスク１０１上の領域の記録状態を示す変調度をフォーカス位置毎に測定する。【００５３】
（Ｓ１００３）測定結果記憶部１０８は、記録状態測定部１０７によって得られた測定結果である７つの変調度をそれぞれフォーカス位置と対応づけて記憶する。【００５４】
（Ｓ１００４）測定結果判定部１１１が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かを判定する。当該７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上である場合には（Ｓ１００５）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００６）に進む。【００５５】
（Ｓ１００５）ドライブコントロール部１１２は、７つの変調度を示すデータを測定結果記憶部１０８に破棄させる。また、ドライブコントロール部１１２は、レーザパワーを３ｍＷ下げて再度（Ｓ１００１）のテスト記録が開始されるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。【００５６】
（Ｓ１００６）測定結果判定部１１１が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かを判定する。当該７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下である場合には（Ｓ１００７）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００８）に進む。【００５７】
（Ｓ１００７）ドライブコントロール部１１２は、７つの変調度を示すデータを測定結果記憶部１０８に破棄させる。また、ドライブコントロール部１１２は、レーザパワーを３ｍＷ上げて再度（Ｓ１００１）のテスト記録が開始されるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。【００５８】
（Ｓ１００８）光ディスク用信号処理装置１００は、データ記録時に、フォーカス位置が７つの変調度に基づいて求められる近似曲線の極に対応するフォーカス位置となるように駆動部１０５を制御する。【００５９】
例えば、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには大きすぎる２６ｍＷであった場合、記録フォーカス位置を−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの間を０．２５μｍずつ７段階に変化させた時の変調度は最大値が６７．４％、最小値が６４．５％となり、最大値と最小値の差は２．９％となり、６％以下という判定基準に合致する。また、最大値が６７．４％であるため、１つ以上の変調度が５０％以上であるという判定基準にも合致する。この場合、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以上である、という条件を満たすため、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録パワーを求めるために用いるのには不適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザーパワーを３ｍＷ下げて記録が行われ、変調度が再測定される。再測定により得られる変調度は、図６において２３ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、最大値が５８．３％、最小値が４８．８％であり、最大値と最小値の差は９．５％となり、６％以下という判定基準に合致しない。よってこの場合、記録時のレーザーパワーは最適記録パワーを求めるために用いるのに適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。【００６０】
また、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには小さすぎる１４ｍＷであった場合、記録フォーカス位置を−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの間を０．２５μｍずつ７段階に変化させた時の変調度は最大値が２４．６％、最小値が２１．１％となり、最大値と最小値の差は３．５％となり、６％以下という判定基準に合致する。また、最小値が２１．１％であるため、１つ以上の変調度が５０％以下であるという判定基準にも合致する。この場合、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以下である、という条件を満たすため、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録パワーを求めるために用いるのには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザーパワーを３ｍＷ上げて記録が行われ、変調度が再測定される。再測定される変調度は、図６において１７ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、最大値が４０．８％、最小値が３２．０％であり、最大値と最小値の差は８．８％となり、６％以下という判定基準に合致しない。よってこの場合、記録時のレーザーパワーは最適記録パワーを求めるために用いるのに適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。【００６１】
なお、本実施形態において、測定結果判定部１１１は、７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かという判定基準、および７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かという判定基準に基づいて、記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。例えば、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定、および７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定に代えて、７つの変調度のうち４つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定、および７つの変調度のうち４つ以上の変調度が５０％未満であるか否かの判定が行われるようにしてもよい。【００６２】
また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる場合の最大値と最小値の差や、レーザーパワーの大小を確実に判定できる場合の変調度の値を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。【００６３】
光ディスク装置においては、回路オフセットや色収差等の影響があるため、記録時の最適なフォーカス位置を、再生時とは別に求める必要がある。記録状態を示す値と記録フォーカス位置との関係を最小二乗法を用いて二次式に近似し、その二次式を表す曲線の極に対応するフォーカス位置を最適記録フォーカス位置として求めると、従来の方式より調整に必要な光ディスクの領域や時間を減らすことができる。しかし、光学ピックアップの特性や光ディスクの記録特性にはばらつきが生じるので、記録時のレーザーパワーが大きすぎたり、小さすぎたりする場合がある。これらの場合においては、測定される記録状態が記録フォーカス位置の変化に応じて変化しない特性となり、二次式を表す曲線がフラットな形状となり、曲線の極に対応するフォーカス位置は最適な記録フォーカス位置から大きくずれてしまう。【００６４】
本実施形態の光ディスク装置は、上述したように、求めた変調度の最大値および最小値に基づいて、求めた変調度に基づいて最適記録フォーカス位置を求めることができるか否かを判定する。そして、求めた変調度が不適切な場合には、レーザーパワーを変化させて再記録を行い、再度変調度を求める。これにより、光学ピックアップの特性や光ディスクの記録特性にばらつきが生じる場合でも、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。【００６５】
《発明の実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置は、図８に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置２００を備えている。光ディスク用信号処理装置２００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、測定結果判定部２０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および測定結果判定部２０１によって、フォーカス位置決定部２０２が構成される。【００６６】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置２００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置２００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置２００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。【００６７】
測定結果判定部２０１は、変調度を記録状態測定部１０７より直接受信し、変調度が測定される毎に、測定結果である変調度が６０％以上であるか否かの判定、および当該変調度が３０％以下であるか否かの判定を行う。【００６８】
具体的には、測定結果判定部２０１は、記録状態測定部１０７より変調度を受信し、当該変調度が６０％以上であるか否かを判別する。当該変調度が６０％以上であった場合には、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっているという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、測定結果判定部２０１は、記録状態測定部１０７より変調度を受信し、当該変調度が３０％以下であるか否かを判別する。当該変調度が３０％以下であった場合には、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっているという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。【００６９】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図９のフローチャートを参照して説明する。なお、図７のフローチャートと同一の符号を付した動作については、実施形態１で説明した動作と同様であるので説明を省略する。【００７０】
（Ｓ２００１）光ディスク装置が、フォーカス位置を、７つの位置のうちの１番目の位置に指定する。【００７１】
（Ｓ２００２）光ディスク装置が、フォーカス位置を指定している位置にし、設定されているレーザーパワーでテスト記録を行う。【００７２】
（Ｓ２００３）記録状態測定部１０７が、指定されているフォーカス位置に対応する変調度を測定する。【００７３】
（Ｓ２００４）測定結果判定部２０１が、（Ｓ２００３）において記録状態測定部１０７によって測定された変調度が６０％以上であるか否かを判定する。６０％以上である場合には、（Ｓ２００５）に進み、６０％未満である場合には、（Ｓ２００６）に進む。【００７４】
（Ｓ２００５）光ディスク装置が、テスト記録時におけるレーザーパワーを３ｍＷ下げた値に設定する。【００７５】
（Ｓ２００６）測定結果判定部２０１が、記録状態測定部１０７によって求められた変調度が３０％以下であるか否かを判定する。３０％以下である場合には、（Ｓ２００７）に進み、３０％より大きい場合には、（Ｓ２００８）に進む。【００７６】
（Ｓ２００７）光ディスク装置が、テスト記録時におけるレーザーパワーを３ｍＷ上げた値に設定する。【００７７】
（Ｓ２００８）測定結果判定部２０１が、指定されているフォーカス位置が７つの位置のうちの７番目の位置であるか否かを判定する。７番目の位置である場合には（Ｓ１００８）に進み、７番目の位置でない場合には（Ｓ２００９）に進む。【００７８】
（Ｓ２００９）光ディスク装置が、フォーカス位置を、７つの位置のうちの次の位置に指定する。【００７９】
本実施形態の光ディスク装置においては、７段階にフォーカス位置を変化させるテスト記録が行われる際、１段階のフォーカス位置に対応するテスト記録が行われる毎に、そのテスト記録が行われた領域の変調度が測定される。そして、測定結果判定部２０１は、６０％以上の変調度が測定されると、記録時のレーザーパワーが大きすぎ、最適フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっていると判定する。また、３０％以下の変調度が測定されると、記録時のレーザーパワーが小さすぎ、最適フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっていると判定する。【００８０】
図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。記録時のレーザーパワーが２６ｍＷであった場合、記録フォーカス位置が−０．７５μｍである場合の変調度は６６．９％で、６０％以上という判定基準に合致する。この場合、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果を測定結果判定部２０１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２の指示によりレーザーパワーを３ｍＷ下げて記録が行われ、変調度が再測定される。その再測定により得られる７つの変調度の最大値は、図６において２３ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、５８．３％である。つまり、７つの変調度に、６０％以上という判定基準に合致するものは含まれない。よってこの場合、測定によって得られた７つの変調度は近似式を求めるために用いるのに適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。【００８１】
また、図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。記録時のレーザーパワーが１４ｍＷであった場合、記録フォーカス位置が−０．７５ｍＷである場合の変調度は２４．０％で、３０％以下という判定基準に合致する。この場合、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果を測定結果判定部２０１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２の指示によりレーザーパワーを３ｍＷ上げて記録が行われ、変調度が再測定される。その再測定により得られる７つの変調度の最小値は、図６において１７ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、３２．０％である。つまり、７つの変調度に、３０％以下という判定基準に合致するものは含まれない。よってこの場合、測定によって得られた７つの変調度は近似式を求めるために用いるのに適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。【００８２】
なお、本実施形態において、測定結果判定部２０１は、７段階のフォーカス位置に対応する７つの変調度のうちの少なくとも１つが６０％以上であるか否かという判定基準、およびこれらの７つの変調度のうちの少なくとも１つが３０％以下であるか否かという判定基準に基づいて、記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる変調度の範囲を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。  【００８３】
《発明の実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、図１０に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置３００を備えている。光ディスク用信号処理装置３００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、近似式係数判定部３０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および近似式係数判定部３０１によって、フォーカス位置決定部３０２が構成される。【００８４】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置３００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置３００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置３００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。【００８５】
近似式係数判定部３０１は、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａおよび係数ｃに基づいて、当該近似式が最適フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。すなわち、測定結果判定部１１１は、当該近似式を得るために行ったテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。【００８６】
具体的には、近似式係数判定部３０１は、近似式演算部１０９より、Ｘを記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙを変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａと係数ｃを受信し、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上であるか否かを判別する。そして、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上である場合には、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当でないという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、近似式係数判定部３０１は、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満であるか否かを判別する。そして、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満である場合には、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当でないという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。【００８７】
図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａは、図５に示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合に−２．２９、記録時のレーザーパワーが２３ｍＷである場合に−１１．７１、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷである場合に−１１．９６、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷである場合に−１１．１１となっている。したがって、上記のように係数ａが−７以上であるか否かを判定することにより、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当であるか否かを適切に判定できる。【００８８】
また、係数ｃは、図５に示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合に６７．０９、記録時のレーザーパワーが２３ｍＷである場合に５８．０７、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷである場合に４７．８９、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷである場合に４０．４２、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷである場合に２３．９７となっている。このように、係数ｃの値は、記録時のレーザーパワーが大きい程、大きくなっている。したがって、上記のように係数ｃが４５以上であるか４５未満であるかを判定することにより、レーザーパワーを大きくするべきか小さくするべきかを適切に判定できる。【００８９】
記録時のレーザーパワーが低い場合には記録時のフォーカス位置とは関係なく記録状態が悪くなる。図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合、求められる近似式を示す曲線はフラットな形状となる。近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａは、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合に−２．５０、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷの場合に−１１．９６、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷの場合に−１１．１１となる。したがって、上記のように係数ａが−７以上であるか否かを判定することにより、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当であるか否かを適切に判定できる。【００９０】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図１１のフローチャートを参照して説明する。なお、図７、図９のフローチャートと同一の符号を付した動作については、実施形態１、２で説明した動作と同様であるので説明を省略する。  【００９１】
（Ｓ３００１）近似式演算部１０９が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度および７つの記録フォーカス位置に基づいて、最小二乗法を用いて、Ｘを記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙを変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃを求める。【００９２】
（Ｓ３００２）近似式係数判定部３０１が、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａが−７以上であり、かつ、当該近似式の係数ｃが４５以上であるか否かを判定する。係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上である場合には（Ｓ１００５）に進み、そうでない場合には（Ｓ３００３）に進む。【００９３】
（Ｓ３００３）近似式係数判定部３０１が、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａが−７以上であり、かつ、当該近似式の係数ｃが４５未満であるか否かを判定する。係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満である場合には（Ｓ１００７）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００８）に進む。【００９４】
なお、レーザーパワーの大小を判定するために、係数ｃの値を使用していたが、Ｘ＝−０．５＊ｂ／ａとした場合における最大値（極大値）Ｙ＝ｃ−０．２５＊ｂ＊ｂ／ａが、特定の値Ｖ以上である場合にはレーザーパワーが高めに設定されていると判定し、特定の値Ｗ以下である場合にはレーザーパワーが低めに設定されていると判定するようにしてもよい。【００９５】
なお、本実施形態において、測定結果判定部２０１は、係数ａが−７以上であるか否かという判定基準に基づいて、テスト記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる変調度の範囲を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。【００９６】
《発明の実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置は、図１２に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置４００を備えている。光ディスク用信号処理装置４００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、記録完了判定部４０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および記録完了判定部４０１によって、フォーカス位置決定部４０２が構成される。【００９７】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置４００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置４００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置４００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。【００９８】
記録完了判定部４０１は、ドライブコントロール部１１２からの出力に基づいて記録動作が正常に完了したか否かを判定し、判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。例えば、デフォーカスが原因でＲＦ信号の品質が悪く、記録中にアドレスが取得できなくなり、記録が中断した場合、ドライブコントロール部１１２は、記録が中断したことを示す情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１はこの情報に応じて記録が正常に完了しなかったと判定し、この判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。【００９９】
本実施形態では、フォーカス位置を変化させながらテスト記録が行われるが、光ディスク１０１の記録面に光ビームの焦点が合う位置からフォーカス位置をずらし過ぎると、ＲＦ信号の劣化により、ＲＦ信号に含まれるアドレス情報が取得できなくなったり、記録の基準クロックと同期をとるための光ディスク１０１上に予め刻まれた信号から生成されるクロックが取得できなくなったり、記録中にトラッキング制御やフォーカス制御が外れたりする。これらの異常を示す情報はドライブ全体をコントロールするドライブコントロール部１１２が管理しており、前述の記録中の異常が発生した場合はドライブコントロール部１１２によって、これらの異常を示す情報が記録完了判定部４０１に伝えられる。記録完了判定部４０１は、当該情報に基づいて記録動作が正常に完了しなかったと判定し、その判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。【０１００】
ドライブコントロール部１１２は、記録動作が正常に完了しなかったと判定されたときのフォーカス位置に応じて、変調度を再生信号処理部１０３に再度測定させるためのテスト記録が行われるように光学ピックアップ１０２および駆動部１０５を制御したり、最適記録フォーカス位置を求めるためにどのような範囲のフォーカス位置に対応する変調度を用いるかを制御したりする。【０１０１】
具体的には、ドライブコントロール部１１２は、テスト記録に用いられる−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍの７段階のフォーカス位置のうち、フォーカス位置が１段階目である−０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、フォーカス位置を−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階のフォーカス位置に変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。また、この場合、フォーカス位置の変化範囲を２段階ずらしたことを示すフラグ（flag）を立てる。また、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置を変化させる範囲をずらした後、ずらされた後の７段階のフォーカス位置のうちの５段階目以降にフォーカス位置があるときに記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、記録フォーカス位置の変化範囲を狭め、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍの７段階のフォーカス位置に変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６を制御する。ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置の変化範囲がずらされた後であるか否かを、前記フラグが立っているか否かによって判断できる。さらに、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置が最初のフォーカス位置の変化範囲の１段階目である−０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了したと記録完了判定部４０１によって判定された場合であって、フォーカス位置が最初のフォーカス位置の変化範囲の７段階目である＋０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍに変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６を制御する。【０１０２】
なお、記録完了判定部４０１がドライブコントロール部１１２と別個に設けられるのではなく、記録完了判定部４０１の機能がドライブコントロール部１１２によって果たされるようにしてもよい。【０１０３】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について説明する。【０１０４】
まず、光ディスク装置は、記録フォーカス位置を１段階目の−０．７５μｍに設定し記録を開始する。記録フォーカス位置が−０．７５μｍのときに、デフォーカスが原因でＲＦ信号の品質が悪く、記録中にアドレスが取得できなくなり記録が中断した場合、ドライブ全体をコントロールするドライブコントロール部１１２は記録中断の情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１は記録動作が正常に完了しなかったと判定し、ドライブコントロール部１１２に判定結果を出力する。ドライブコントロール部１１２は、１段階目で記録が完了しなかったので、記録フォーカス位置を変化させる範囲を＋方向に２段階ずらし、フォーカス位置を−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。【０１０５】
そして、フォーカス位置を−０．２５μｍ〜＋１．２５μｍの７段階に変化させてテスト記録が中断することなく行われた場合には、ドライブコントロール部１１２は、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階の各フォーカス位置に対応する変調度が測定され、測定された変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。そして、データの記録時に、フォーカス位置が求められた最適記録フォーカス位置となるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。【０１０６】
また、フォーカス位置を−０．２５μｍから変化させるテスト記録が開始され、フォーカス位置が５段階目の＋０．７５μｍ、６段階目の＋１．０μｍ、または７段階目の＋１．２５μｍであるときに記録動作が正常に完了せず、失敗した場合には、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。そして、ドライブコントロール部１１２は、この７段階の各フォーカス位置に対応する変調度が測定され、測定した変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。【０１０７】
なお、ここで、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍに変化させて記録が行われたときに記録が中断した場合には、さらに狭くした記録範囲で再度記録が行われるように光ディスク装置を構成してもよい。【０１０８】
また、フォーカス位置が１段階目の−０．７５μｍであるときに正常に記録動作が完了した場合には、引き続き、フォーカス位置を−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍに変化させてテスト記録が行われる。【０１０９】
このテスト記録において、フォーカス位置が−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍのときには記録動作が正常に完了し、フォーカス位置が７段階目の＋０．７５μｍであるときに、デフォーカス等が原因で記録が中断した場合、ドライブコントロール部１１２は記録中断の情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１は記録動作が正常に完了しなかったと判定し、ドライブコントロール部１１２に判定結果を出力する。このとき、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍまでの変調度がすでに測定され、測定結果記憶部１０８に１〜５段階目のフォーカス位置に対応する変調度として記憶されている。ドライブコントロール部１１２は、当該判定結果の出力に応じて、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度をシフトし、３〜７段階目のフォーカス位置に対応する変調度として記憶するように測定結果記憶部１０８に指示する。さらに、ドライブコントロール部１１２は、７段階目で記録が完了しなかったので、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍの２段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。そして、−１．２５μｍ、−１．０μｍのフォーカス位置に対応する変調度が１、２段階目のフォーカス位置に対応する変調度として測定され、ドライブコントロール部１１２は、−１．２５μｍ、−１．０μｍ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。なお、ここで、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍの２段階に順に変化させてテスト記録が行われる代わりに、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度が再度測定されるようにしてもよい。【０１１０】
光学ピックアップの個体バラツキにより、最適記録フォーカス位置が＋方向にずれており、フォーカス位置が−０．７５μｍのときに記録が正常に完了せず失敗に終わる場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１３に示すような関係にある場合、−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの範囲ではなく、−０．２５μｍ〜＋１．２５μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１４に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適記録フォーカス位置として求められる。【０１１１】
また、光学ピックアップの個体バラツキにより、最適記録フォーカス位置が−方向にずれており、フォーカス位置が＋０．７５μｍのときに記録が正常に完了せず失敗に終わる場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１５に示すような関係にある場合、−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの範囲ではなく、−１．２５μｍ〜＋０．２５μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１６に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適記録フォーカス位置として求められる。【０１１２】
また、光学ピックアップの個体バラツキにより、記録が正常に完了するフォーカス位置の範囲が狭くなっている場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１７に示すような関係にある場合、−０．６μｍ〜＋０．６μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１８に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適フォーカス位置として求められる。【０１１３】
なお、上記実施形態では、記録が正常に行われたか否かが判定されるのは、当初のフォーカス位置の範囲の１段階目、７段階目、およびずらされた後のフォーカス位置の範囲の５段階目以降であった。しかし、フォーカス位置のマージンによっては、当初のフォーカス位置の範囲の６段階目等、他の段階で記録が失敗する場合もあるので、他の段階で判定が行われるようにしてもよい。また、何段階目で記録が正常に行われたか否かを判定するか、および記録が正常に行われなかったと判定された場合に記録フォーカス位置を何段階ずらすかは、記録フォーカス位置のマージンのばらつきによって決めておけばよい。【０１１４】
また、何段階目で記録が正常に行われなかったと判定されたかに応じて、フォーカス位置を何段階ずらすかが異なってもよい。例えば、最後の段階で記録が失敗した場合にはフォーカス位置を変化させる範囲を２段階ずらし、最後から２番目の段階で記録が失敗した場合にはフォーカス位置を変化させる範囲を３段階ずらすようにしてもよい。【０１１５】
また、上記実施形態では、フォーカス位置が−０．７５μｍの場合とフォーカス位置が＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、または＋１．２５μｍの場合とで記録が失敗した場合にフォーカス位置を変化させる範囲が狭められるようになっていた。しかし、他の段階で記録が失敗した場合に狭められるようにしてもよい。また狭めた後のフォーカス位置の変化範囲も、−０．６μｍ〜＋０．６μｍに限らない。どの段階で記録が失敗した場合にフォーカス位置の変化範囲を狭めるか、および狭めた後の変化範囲は、光学ピックアップのマージンのばらつきによって決めればよい。【０１１６】
つまり、フォーカス位置を複数種類に変化させてテスト記録を行った場合に、その複数種類のフォーカス位置の中に、記録完了判定部４０１によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、その記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないように、フォーカス位置の範囲を変更したり狭めることによってテスト記録が行われるようにすればよい。【０１１７】
また、フォーカス位置の変化範囲、フォーカス位置の変化範囲を判定に応じてどれだけの量ずらしたり狭めるか、およびフォーカス位置を何段階に変化させるかは、あらかじめ、実験等によって導きだされる。例えば、フォーカス位置の変化範囲、フォーカス位置の変化範囲を判定に応じてどれだけの量ずらしたり狭めるか、およびフォーカス位置を何段階に変化させるかは、様々な光学ピックアップを用いて記録が正常に完了する場合の記録フォーカス位置のマージンや最適記録フォーカス位置のばらつきを実験によって測定し、その測定結果に基づいて求めてもよい。また、実験に限らず、シミュレーション等を用いて求めてもよい。【０１１８】
上記実施形態の光ディスク装置は、フォーカス位置がどのフォーカス位置であった場合に記録が正常に完了しなかったと判定されたかに応じて、最適記録フォーカス位置を求めるために用いるフォーカス位置の範囲を、記録が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないように当初の範囲からずらしたり狭めたりする。したがって、最適記録フォーカス位置がずれている場合や、正常に記録できるフォーカス位置のマージンが狭い場合においても、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。【０１１９】
《その他の実施形態》
なお、上記実施形態の光ディスク装置は、変調度を測定し、変調度とフォーカス位置との関係を示す近似式を求めるようになっていたが、変調度の代わりに、β値、アシンメトリ値、ＲＦ振幅値、ジッター値等のいずれかを測定し、その測定結果とフォーカス位置との関係を示す近似式を求めるようにしてもよい。また、これらの値に限らず、光ディスク上に記録された信号の記録品質、すなわちＲＦ信号の状態を示す指標となる他の値が用いられるようにしてもよい。【０１２０】
また、上記実施形態の光ディスク装置は、フォーカス位置を７種類に変化させるテスト記録を行うようになっていたが、７種類に限らず、他の複数種類に変化させるテスト記録を行うようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１２１】
以上説明したように、本発明に係る光ディスク用信号処理装置、集積回路、光ディスク装置および最適記録フォーカス位置検出方法は、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができるという効果を有し、例えば、最適記録フォーカス位置を調整する技術等として有用である。
【図１】
2008007644.tif 000003
【図２】
2008007644.tif 000004
【図３】
2008007644.tif 000005
【図４】
2008007644.tif 000006
【図５】
2008007644.tif 000007
【図６】
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【図７】
2008007644.tif 000009
【図８】
2008007644.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008007644.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【手続補正書】
【提出日】平成19年12月5日(2007.12.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（削除）
【請求項２】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項３】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項４】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項５】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項６】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項７】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値未満であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項８】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部を備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項９】
請求項８の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する第３のステップと、
前記第３のステップにおいて前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、レーザーパワーを変更してテスト記録を再度行う第４のステップとを備え、
前記所定の判定基準は、前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記第３のステップにおいて、前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記第３のステップにおいて前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記第４のステップにおいて、レーザーパワーを下げて前記テスト記録を再度行うことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【請求項１１】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１２】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置を含まないように上限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１３】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該上限位置を含まないように下限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１４】
請求項１１の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置および上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置および上限位置を含まないように狭めて前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１５】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項１６】
請求項１５の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項１７】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記テスト記録において、フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が前記複数種類のフォーカス位置の中に存在したとき、前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して、テスト記録を再度行う第３のステップとを備えたことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【手続補正書】
【提出日】平成20年9月16日(2008.9.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項２】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項３】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項４】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、記録品質の少なくともいずれか１つが所定値以下であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項５】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項６】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記フォーカス位置毎の記録品質に基づいて求められる近似関数を、フォーカス位置をＸ、記録状態を示す値をＹと示すことによって表した方程式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃにおける係数ａが第１の所定値以上であり、かつ係数ｃが第２の所定値未満であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを上げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項７】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部を備え、
前記フォーカス位置決定部は、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、
前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御し、
前記所定の判定基準は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記判定部は、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部は、レーザーパワーを下げて再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項８】
請求項７の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する第３のステップと、
前記第３のステップにおいて前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、レーザーパワーを変更してテスト記録を再度行う第４のステップとを備え、
前記所定の判定基準は、前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質の最大値と最小値との差が第１の所定値以下であり、かつ、記録品質の少なくともいずれか１つが第２の所定値以上であることであり、
前記第３のステップにおいて、前記第２のステップにおいて得られたフォーカス位置毎の記録品質が前記所定の判定基準を満たしているとき、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定し、
前記第３のステップにおいて前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記第４のステップにおいて、レーザーパワーを下げて前記テスト記録を再度行うことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【請求項１０】
光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１１】
請求項１０の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置を含まないように上限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１２】
請求項１０の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該上限位置を含まないように下限側にずらして前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１３】
請求項１０の光ディスク用信号処理装置において、
前記記録完了判定部が前記複数種類のフォーカス位置の範囲の下限位置および上限位置において記録動作が正常に完了しなかったと判定したとき、前記ドライブコントロール部は、フォーカス位置の範囲を当該下限位置および上限位置を含まないように狭めて前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする光ディスク用信号処理装置。
【請求項１４】
光ディスクの記録再生を制御する集積回路であって、
光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、
フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、
前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、
前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする集積回路。
【請求項１５】
請求項１４の集積回路と、
前記光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの駆動部とを備えた光ディスク装置。
【請求項１６】
光ディスクの記録再生を行う光ディスク装置において、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求める方法であって、
フォーカス位置を複数種類に変化させたテスト記録を行う第１のステップと、
前記テスト記録において、フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が前記複数種類のフォーカス位置の中に存在したとき、前記第２のステップにおいて記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して、テスト記録を再度行う第３のステップとを備えたことを特徴とする最適記録フォーカス位置検出方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置におけるフォーカシング技術に関し、特に、最適記録フォーカス位置を調整する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、多種多様な光ディスクの商品化が進んでおり、大容量のデータをより高速に記録及び再生できる光ディスク装置が要望されている。
【０００３】
高速にデータを記録再生し、かつ高速記録の信頼性を高めるには、記録中の光ビームの焦点が光ディスクの記録面に合うように、フォーカス位置が最適に制御される必要がある。
【０００４】
通常、記録時の最適フォーカス位置（最適記録フォーカス位置）は、再生時の最適フォーカス位置とは異なる。これは、レーザーパワーの変化により光学ピックアップ内部や電気回路上にオフセットや色収差が発生するからである。したがって、通常の光ディスク装置は、記録時と再生時とで別々の最適フォーカス位置を求めるようになっている。
【０００５】
従来、最適記録フォーカス位置を求めるためにはフォーカス位置を順次変化させながら記録を行い、光ディスクにおける記録した領域の信号品質を後から測定し、信号品質と記録フォーカス位置との関係を求め、信号品質が最も良好であった場所のフォーカス位置を、記録時の最適フォーカス位置としていた。
【０００６】
また、特許文献１〜４には、再生時の最適フォーカス位置を簡単に求めるために近似式を用いる技術について記載されている。
【特許文献１】特開平４−２３８１２０号公報
【特許文献２】特開平２−２４６０２４号公報
【特許文献３】特開平１１−０５３７４４号公報
【特許文献４】特開２００２−３４２９６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、フォーカス位置を順次変化させながら記録を行い、記録した領域の信号品質を後から測定し、信号品質が最も良好であったフォーカス位置を最適記録フォーカス位置とする前記従来の方法を用いた場合、最適記録フォーカス位置を精度良く求めるためには信号品質の測定回数が２０〜３０回程度必要となり、時間がかかる。したがって、工場等において出荷前の光ディスク装置の最適記録フォーカス位置がこの方法を用いて求められる場合、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等の１度しか書けない光ディスクを記録に用いると、光ディスクの消費量が多くなる。
【０００８】
さらに、工場から出荷後の光ディスク装置が、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒといった１度しか書けない光ディスクに記録を行うことによって前記方法を用いて最適記録フォーカス位置を求めようとしても、光ディスクのＴＥＳＴ領域が足りず、調整ができない。
【０００９】
そこで、信号品質とフォーカス位置との関係を示す近似式を求め、この近似式を表す曲線の極に対応するフォーカス位置を最適記録フォーカス位置として求める方法が考えられる。この方法を用いた場合、前記従来の方法よりも少ない測定回数で精度良く最適記録フォーカス位置を求めることができるので、最適記録フォーカス位置を求めるための時間を短縮し、ディスク消費量を減少させることが可能になる。
【００１０】
しかし、本願発明者は、近似式を用いた前記方法に関して、以下のような問題点を発見した。
【００１１】
まず、光ディスクの記録面に照射されるレーザービームのパワーは装置によってばらつきがある。これは、光学ピックアップの光の伝達効率や光学ピックアップに用いられるレーザー素子の性質にばらつきがあるからである。したがって、個々の装置において、記録時のレーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりすることがある。記録時のレーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりすると、記録フォーカス位置の変化に対して信号品質はあまり変化せず、信号品質とフォーカス位置との関係を示す近似曲線がフラットな形状となる。このような場合、近似曲線の極に対応するフォーカス位置を示す値は最適フォーカス位置を示す値とはかけ離れたものとなってしまう。レーザーパワーが大きすぎたり小さすぎたりした場合に近似曲線がフラットになる傾向は、二層式のディスクを用いた場合に特に顕著である。
【００１２】
さらに、少ない測定ポイントによってフラットではない二次曲線を近似により求めるには、フォーカス位置の変化幅を広くする必要がある。しかし、光学ピックアップ等のデフォーカスマージンは個々の装置によってばらつくので、個々の装置において、記録時に光ディスクの記録面上に光ビームの焦点が合ったフォーカス位置からデフォーカスさせすぎることによって、記録エラーが発生する場合がある。
【００１３】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、最適記録フォーカス位置が正しく求められるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記の課題を解決するため、本発明の第１の実施態様は、光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、フォーカス位置を複数種類に変化させるテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部とを備え、前記フォーカス位置決定部は、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質を、フォーカス位置毎に測定する記録状態測定部と、前記記録状態測定部によって得られたフォーカス位置毎の記録品質を用いて、前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを所定の判定基準に従って判定する判定部とを備え、前記判定部によって前記テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していないと判定されたとき、前記ドライブコントロール部が、レーザーパワーを変更して再度前記テスト記録が行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする。
【００１５】
これにより、光ディスク用信号処理装置は、テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していない場合には、レーザーパワーを変更してテスト記録が再度行われるように光学ピックアップを制御する。したがって、再度テスト記録が行われ、このテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していた場合には、このテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置が正しく求められる。
【００１６】
また、本発明の第２の実施態様は、光ディスクの記録再生を制御する光ディスク用信号処理装置であって、光学ピックアップを制御するドライブコントロール部と、フォーカス位置を複数種類に変化させてテスト記録が行われたときに、前記光ディスクにおける前記テスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を求めるフォーカス位置決定部と、前記テスト記録において、各フォーカス位置毎に、記録動作が正常に完了したか否かを判定する記録完了判定部とを備え、前記複数種類のフォーカス位置の中に、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、前記ドライブコントロール部が、前記記録完了判定部によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して前記テスト記録が再度行われるように前記光学ピックアップを制御することを特徴とする。
【００１７】
これにより、あるフォーカス位置について記録動作が正常に完了しなかったと判定されたとき、このフォーカス位置を含まないようにフォーカス位置の範囲を変更して再度テスト記録が行われ、このテスト記録が行われた光ディスク上の領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置が求められる。したがって、最適記録フォーカス位置を求めるために光ディスク上における記録が正常に行われなかった領域の記録品質が用いられる可能性が低くなり、最適記録フォーカス位置が正しく求められる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によると、テスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適してない場合には、レーザーパワーを変更してテスト記録が再度行われる。再度テスト記録が行われ、このテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適していた場合には、このテスト記録が行われた領域の記録品質に基づいて最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、他の実施形態と同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して説明を省略する。
【００２０】
《実施形態１》
本実施形態に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１０１が装着され、光学ピックアップ１０２、再生信号処理部１０３、レーザ制御部１０４、駆動部１０５、フォーカス制御部１０６、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、測定結果判定部１１１、およびドライブコントロール部１１２を備えている。再生信号処理部１０３、レーザ制御部１０４、フォーカス制御部１０６、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、測定結果判定部１１１、およびドライブコントロール部１１２によって、光ディスク用信号処理装置１００が構成される。
【００２１】
より具体的には、光ディスク装置は、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ（Read-Only Memory）、ＲＡＭ(Random-Access Memory)、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置１００は、集積回路であるＬＳＩ（Large Scale Integration）によって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置１００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置１００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。
【００２２】
光ディスク１０１は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ等、情報の読み出しや書き込みにレーザ光が用いられる光ディスクである。
【００２３】
光学ピックアップ１０２は、再生時および記録時において、レーザ光の強度、出力タイミング等に関するレーザ制御部１０４からの指示に従って、光ディスク１０１の情報記録面にレーザ光を照射する。そして、光ディスク１０１から反射された反射光を内部に備えたフォトディテクタによって読み取り、ＲＦ信号に変換して出力する。また、光学ピックアップ１０２は、光ディスク１０１の案内溝で反射回折した光を前記フォトディテクタによって受光し、制御用信号に変換して出力する。当該制御用信号には、フォーカス制御信号やトラッキング制御信号等、光学ピックアップ１０２の位置を制御するために用いられる信号が含まれる。
【００２４】
再生信号処理部１０３は、光学ピックアップ１０２によって出力されたＲＦ信号を記録状態測定部１０７に出力する。また、光学ピックアップ１０２によって出力された制御用信号をフォーカス制御部１０６に出力する。
【００２５】
レーザ制御部１０４は、ドライブコントロール部１１２によって保持された光ディスク１０１の線速度を示す速度情報を受信する。そして、当該速度情報によって示される線速度に対応したレーザ光の強度および出力タイミングでレーザ光の照射を行うように光学ピックアップ１０２に指示する。
【００２６】
駆動部１０５は、アクチュエータによって構成され、フォーカス制御部１０６によって行われた指示に従って、フォーカスを制御する。具体的には、フォーカス制御部１０６による指示に従って、光学ピックアップ１０２内のレンズの位置を移動させる。
【００２７】
フォーカス制御部１０６は、再生信号処理部１０３によって出力された制御用信号を受信するとともに、ドライブコントロール部１１２から、光ディスク１０１の線速度を示す速度情報と、読み出しや書き込みを行うべきデータの識別子を含む動作情報を受け、駆動部１０５を制御する。より詳しくは、前記速度情報によって示される線速度において光学ピックアップ１０２によるデータの読み出しおよび書き込みが行われるように、光学ピックアップ１０２の位置の制御に関する指示を駆動部１０５に対して行う。
【００２８】
記録状態測定部１０７は、再生信号処理部１０３によって出力されたＲＦ信号に基づいて、記録された信号の記録品質を表す値として変調度を測定する。
【００２９】
ここで、読出クロック信号の周期（１Ｔ）を基準とすると、光ディスク１０１に記録される記録マークは、それぞれが３Ｔ〜１４Ｔの時間長に相当する。
【００３０】
１４Ｔの時間長に相当する信号波形の振幅を、図２に示すように、Ｉ１４で表した場合、変調度はＩ１４／Ｉ１４Ｈで表される。この変調度の値が大きいほど、信号波の振幅が大きく、信号の記録品質が良い、すなわちＲＦ信号の状態が良いということになる。
【００３１】
記録状態測定部１０７は、図３に示すように、ピークホールド部１１３、ボトムホールド部１１４、Ａ／Ｄコンバ−ター１１５、Ａ／Ｄコンバ−ター１１６、および変調度演算部１１７を備えている。
【００３２】
ピークホールド部１１３は、ＲＦ信号をピーク検波してＩ１４Ｈを求め、ボトムホールド部１１４は、ＲＦ信号をボトム検波してＩ１４Ｌを求める。
【００３３】
Ａ／Ｄコンバ−ター１１５は、ピークホールド部１１３によって求められたＩ１４Ｈをデジタル化し、Ａ／Ｄコンバ−ター１１６は、ボトムホールド部１１４によって求められたＩ１４Ｌをデジタル化する。
【００３４】
変調度演算部１１７は、
変調度＝  Ｉ１４／Ｉ１４Ｈ  ＝（Ｉ１４Ｈ  −  Ｉ１４Ｌ）／Ｉ１４Ｈ
の式に基づいて、変調度を求める。
【００３５】
測定結果記憶部１０８は、記録状態測定部１０７によって求められたＲＦ信号の状態を示す変調度を受信すると同時に、ドライブコントロール部１１２より、当該ＲＦ信号が記録された時の記録フォーカス位置を受信する。そして、当該変調度と当該記録フォーカス位置とを組み合わせて記憶する。測定結果記憶部１０８は、変調度および記録フォーカス位置の組み合わせを複数組記憶することができる。
【００３６】
近似式演算部１０９は、測定結果記憶部１０８に記憶された変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせを受信し、これらの組み合わせに基づいて、最小二乗法を用いて、Ｘ軸を記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙ軸を変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃを求める。なお、最小二乗法については、公知の技術であるので、説明は省略する。
【００３７】
本実施形態では、光ディスク装置は、記録フォーカス位置を７段階に変化させながら記録を行い、近似式演算部１０９は、測定結果記憶部１０８に記憶された変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせに基づいて近似式を求める。図４に、測定結果記憶部１０８に各記録フォーカス位置と対応させて記憶された変調度、近似式演算部１０９によって求められる２次の近似式、およびその近似式を表す曲線の極に対応する記録フォーカス位置を示す。
【００３８】
最適記録フォーカス位置演算部１１０は、近似式演算部１０９によって求められた二次の近似式を受信し、当該近似式を示す曲線の極に対応する記録フォーカス位置を示す値−０．５＊ｂ／ａを求め、求めた値を最適記録フォーカス位置としてドライブコントロール部１１２に伝達する。図４の例においては、最適記録フォーカス位置を示す値は−０．１４μｍとなる。
【００３９】
測定結果判定部１１１は、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度を受信し、受信した７つの変調度が近似式演算部１０９において近似式を求めるために用いられるのに適した値であるか否か、つまり、７つの変調度が最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。すなわち、測定結果判定部１１１は、７つの変調度を得るために行ったテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。
【００４０】
具体的には、測定結果判定部１１１は、７種類の記録フォーカス位置に対応する７つの変調度を測定結果記憶部１０８より受信し、受信した７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かを判定する。そして、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以上であった場合は、テスト記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、測定結果判定部１１１は、７種類の記録フォーカス位置に対応する７つの変調度を測定結果記憶部１０８より受信し、受信した７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かを判定する。そして、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以下であった場合は、テスト記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。
【００４１】
記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および測定結果判定部１１１によって、フォーカス位置決定部１１８が構成される。
【００４２】
ドライブコントロール部１１２は、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を出すことによって、光学ピックアップのレーザーパワーおよび駆動を制御する。ドライブコントロール部１１２は、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせのデータを測定結果記憶部１０８に破棄させ、近似式演算部１０９に演算を停止させる。そして、レーザーパワーを３ｍＷ下げた状態で再度記録が行われるように、レーザ制御部１０４やフォーカス制御部１０６に指示を出す。また、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせのデータを測定結果記憶部１０８に破棄させ、近似式演算部１０９に演算を停止させる。そして、レーザーパワーを３ｍＷ上げた状態で再度記録が行われるように、レーザ制御部１０４やフォーカス制御部１０６に指示を出す。さらに、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているという判定結果が測定結果判定部１１１によって出力された場合には、測定結果記憶部１０８に記憶されている変調度および記録フォーカス位置の７組の組み合わせに基づいて求められた最適記録フォーカス位置を示す信号を最適記録フォーカス位置演算部１１０から受け、以降、記録時のフォーカス位置が当該最適記録フォーカス位置となるようにフォーカス制御部１０６に対して指示を行う。
【００４３】
また、ドライブコントロール部１１２は、光ディスク１０１からのデータの読み出し、光ディスク１０１へのデータの書き込みを行うための光ディスク装置の全体動作を制御する。さらに、ドライブコントロール部１１２は、光ディスク１０１の線速度を示す速度情報や、読み出しや書き込みを行うべきデータの識別子を含む動作情報等のドライブ制御情報を保持している。
【００４４】
図５に、複数種類のレーザパワーで記録が行われた場合に、測定結果記憶部１０８に各記録フォーカス位置と対応させて記憶される変調度と近似式演算部１０９によって求められる２次の近似式を示す。
【００４５】
図６には、レーザーパワーと、各記録フォーカス位置に対応する変調度と、最適記録フォーカス位置演算部１１０によって求められる最適記録フォーカス位置（近似式の極）との対応関係を示す表を示す。
【００４６】
図６に示すように、記録時のレーザーパワー（記録パワー）が２３ｍＷである場合、２０ｍＷである場合、１７ｍＷである場合、それぞれ、求められる最適記録フォーカス位置は、−０．１６μｍ、−０．１４μｍ、−０．１４μｍとなっている。記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合、求められる最適記録フォーカス位置は−０．３３μｍとなり、他の場合と０．１７μｍ以上異なる。図５のグラフに示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合、パワーが高すぎるため、記録フォーカス位置の７段階の変化に対して変調度があまり変化しない。このような変調度を用いて最小二乗法によって２次の近似式を求めると、近似式を示す曲線はフラットな形状となり、その極の座標が測定誤差の影響によってばらつきやすくなる。したがって、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。
【００４７】
また、記録時のレーザーパワーが低い場合には記録時のフォーカス位置とは関係なく記録状態が悪くなる。図６に示すように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷである場合、求められる最適記録フォーカス位置は−０．３６μｍとなり、他の場合と大きく異なっている。これは、図５のグラフに示すように、記録時のレーザーパワーが初期値の１４ｍＷである場合、記録するにはパワーが低過ぎるため、記録フォーカス位置の７段階の変化に対して変調度が２３％前後の値であまり変化しない。記録フォーカス位置の変化に対してあまり変化しない変調度を用いて最小二乗法によって２次の近似式を求めると、近似式を示す曲線はフラットな形状となり、その極の座標が測定誤差の影響によってばらつきやすくなる。したがって、その極の座標に対応した値となる最適記録フォーカス位置も測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。
【００４８】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図７のフローチャートを参照して説明する。
【００４９】
（Ｓ１００１）光ディスク装置が、光ディスク１０１に対してフォーカス位置を７段階に順次変化させて一定のレーザーパワーによってテスト記録を行う。このテスト記録は、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザ制御部１０４が光学ピックアップ１０２を制御し、フォーカス制御部１０６が駆動部１０５を制御することによって行われる。
【００５０】
（Ｓ１００２）記録状態測定部１０７が、テスト記録が行われた光ディスク１０１上の領域の記録状態を示す変調度をフォーカス位置毎に測定する。
【００５１】
（Ｓ１００３）測定結果記憶部１０８は、記録状態測定部１０７によって得られた測定結果である７つの変調度をそれぞれフォーカス位置と対応づけて記憶する。
【００５２】
（Ｓ１００４）測定結果判定部１１１が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かを判定する。当該７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上である場合には（Ｓ１００５）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００６）に進む。
【００５３】
（Ｓ１００５）ドライブコントロール部１１２は、７つの変調度を示すデータを測定結果記憶部１０８に破棄させる。また、ドライブコントロール部１１２は、レーザパワーを３ｍＷ下げて再度（Ｓ１００１）のテスト記録が開始されるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。
【００５４】
（Ｓ１００６）測定結果判定部１１１が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かを判定する。当該７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、当該７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下である場合には（Ｓ１００７）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００８）に進む。
【００５５】
（Ｓ１００７）ドライブコントロール部１１２は、７つの変調度を示すデータを測定結果記憶部１０８に破棄させる。また、ドライブコントロール部１１２は、レーザパワーを３ｍＷ上げて再度（Ｓ１００１）のテスト記録が開始されるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。
【００５６】
（Ｓ１００８）光ディスク用信号処理装置１００は、データ記録時に、フォーカス位置が７つの変調度に基づいて求められる近似曲線の極に対応するフォーカス位置となるように駆動部１０５を制御する。
【００５７】
例えば、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには大きすぎる２６ｍＷであった場合、記録フォーカス位置を−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの間を０．２５μｍずつ７段階に変化させた時の変調度は最大値が６７．４％、最小値が６４．５％となり、最大値と最小値の差は２．９％となり、６％以下という判定基準に合致する。また、最大値が６７．４％であるため、１つ以上の変調度が５０％以上であるという判定基準にも合致する。この場合、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以上である、という条件を満たすため、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録パワーを求めるために用いるのには不適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザーパワーを３ｍＷ下げて記録が行われ、変調度が再測定される。再測定により得られる変調度は、図６において２３ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、最大値が５８．３％、最小値が４８．８％であり、最大値と最小値の差は９．５％となり、６％以下という判定基準に合致しない。よってこの場合、記録時のレーザーパワーは最適記録パワーを求めるために用いるのに適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。
【００５８】
また、記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには小さすぎる１４ｍＷであった場合、記録フォーカス位置を−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの間を０．２５μｍずつ７段階に変化させた時の変調度は最大値が２４．６％、最小値が２１．１％となり、最大値と最小値の差は３．５％となり、６％以下という判定基準に合致する。また、最小値が２１．１％であるため、１つ以上の変調度が５０％以下であるという判定基準にも合致する。この場合、最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、１つ以上の変調度が５０％以下である、という条件を満たすため、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録パワーを求めるために用いるのには不適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２による指示に応じて、レーザーパワーを３ｍＷ上げて記録が行われ、変調度が再測定される。再測定される変調度は、図６において１７ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、最大値が４０．８％、最小値が３２．０％であり、最大値と最小値の差は８．８％となり、６％以下という判定基準に合致しない。よってこの場合、記録時のレーザーパワーは最適記録パワーを求めるために用いるのに適切であるという判定結果を測定結果判定部１１１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。
【００５９】
なお、本実施形態において、測定結果判定部１１１は、７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かという判定基準、および７つの変調度の最大値と最小値の差が６％以下であり、かつ、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以下であるか否かという判定基準に基づいて、記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。例えば、７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定、および７つの変調度のうち１つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定に代えて、７つの変調度のうち４つ以上の変調度が５０％以上であるか否かの判定、および７つの変調度のうち４つ以上の変調度が５０％未満であるか否かの判定が行われるようにしてもよい。
【００６０】
また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる場合の最大値と最小値の差や、レーザーパワーの大小を確実に判定できる場合の変調度の値を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。
【００６１】
光ディスク装置においては、回路オフセットや色収差等の影響があるため、記録時の最適なフォーカス位置を、再生時とは別に求める必要がある。記録状態を示す値と記録フォーカス位置との関係を最小二乗法を用いて二次式に近似し、その二次式を表す曲線の極に対応するフォーカス位置を最適記録フォーカス位置として求めると、従来の方式より調整に必要な光ディスクの領域や時間を減らすことができる。しかし、光学ピックアップの特性や光ディスクの記録特性にはばらつきが生じるので、記録時のレーザーパワーが大きすぎたり、小さすぎたりする場合がある。これらの場合においては、測定される記録状態が記録フォーカス位置の変化に応じて変化しない特性となり、二次式を表す曲線がフラットな形状となり、曲線の極に対応するフォーカス位置は最適な記録フォーカス位置から大きくずれてしまう。
【００６２】
本実施形態の光ディスク装置は、上述したように、求めた変調度の最大値および最小値に基づいて、求めた変調度に基づいて最適記録フォーカス位置を求めることができるか否かを判定する。そして、求めた変調度が不適切な場合には、レーザーパワーを変化させて再記録を行い、再度変調度を求める。これにより、光学ピックアップの特性や光ディスクの記録特性にばらつきが生じる場合でも、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。
【００６３】
《発明の実施形態２》
本発明の実施形態２に係る光ディスク装置は、図８に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置２００を備えている。光ディスク用信号処理装置２００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、測定結果判定部２０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および測定結果判定部２０１によって、フォーカス位置決定部２０２が構成される。
【００６４】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置２００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置２００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置２００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。
【００６５】
測定結果判定部２０１は、変調度を記録状態測定部１０７より直接受信し、変調度が測定される毎に、測定結果である変調度が６０％以上であるか否かの判定、および当該変調度が３０％以下であるか否かの判定を行う。
【００６６】
具体的には、測定結果判定部２０１は、記録状態測定部１０７より変調度を受信し、当該変調度が６０％以上であるか否かを判別する。当該変調度が６０％以上であった場合には、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっているという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、測定結果判定部２０１は、記録状態測定部１０７より変調度を受信し、当該変調度が３０％以下であるか否かを判別する。当該変調度が３０％以下であった場合には、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっているという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。
【００６７】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図９のフローチャートを参照して説明する。なお、図７のフローチャートと同一の符号を付した動作については、実施形態１で説明した動作と同様であるので説明を省略する。
【００６８】
（Ｓ２００１）光ディスク装置が、フォーカス位置を、７つの位置のうちの１番目の位置に指定する。
【００６９】
（Ｓ２００２）光ディスク装置が、フォーカス位置を指定している位置にし、設定されているレーザーパワーでテスト記録を行う。
【００７０】
（Ｓ２００３）記録状態測定部１０７が、指定されているフォーカス位置に対応する変調度を測定する。
【００７１】
（Ｓ２００４）測定結果判定部２０１が、（Ｓ２００３）において記録状態測定部１０７によって測定された変調度が６０％以上であるか否かを判定する。６０％以上である場合には、（Ｓ２００５）に進み、６０％未満である場合には、（Ｓ２００６）に進む。
【００７２】
（Ｓ２００５）光ディスク装置が、テスト記録時におけるレーザーパワーを３ｍＷ下げた値に設定する。
【００７３】
（Ｓ２００６）測定結果判定部２０１が、記録状態測定部１０７によって求められた変調度が３０％以下であるか否かを判定する。３０％以下である場合には、（Ｓ２００７）に進み、３０％より大きい場合には、（Ｓ２００８）に進む。
【００７４】
（Ｓ２００７）光ディスク装置が、テスト記録時におけるレーザーパワーを３ｍＷ上げた値に設定する。
【００７５】
（Ｓ２００８）測定結果判定部２０１が、指定されているフォーカス位置が７つの位置のうちの７番目の位置であるか否かを判定する。７番目の位置である場合には（Ｓ１００８）に進み、７番目の位置でない場合には（Ｓ２００９）に進む。
【００７６】
（Ｓ２００９）光ディスク装置が、フォーカス位置を、７つの位置のうちの次の位置に指定する。
【００７７】
本実施形態の光ディスク装置においては、７段階にフォーカス位置を変化させるテスト記録が行われる際、１段階のフォーカス位置に対応するテスト記録が行われる毎に、そのテスト記録が行われた領域の変調度が測定される。そして、測定結果判定部２０１は、６０％以上の変調度が測定されると、記録時のレーザーパワーが大きすぎ、最適フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっていると判定する。また、３０％以下の変調度が測定されると、記録時のレーザーパワーが小さすぎ、最適フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切になっていると判定する。
【００７８】
図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。記録時のレーザーパワーが２６ｍＷであった場合、記録フォーカス位置が−０．７５μｍである場合の変調度は６６．９％で、６０％以上という判定基準に合致する。この場合、記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるには不適切であるという判定結果を測定結果判定部２０１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２の指示によりレーザーパワーを３ｍＷ下げて記録が行われ、変調度が再測定される。その再測定により得られる７つの変調度の最大値は、図６において２３ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、５８．３％である。つまり、７つの変調度に、６０％以上という判定基準に合致するものは含まれない。よってこの場合、測定によって得られた７つの変調度は近似式を求めるために用いるのに適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。
【００７９】
また、図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。記録時のレーザーパワーが１４ｍＷであった場合、記録フォーカス位置が−０．７５ｍＷである場合の変調度は２４．０％で、３０％以下という判定基準に合致する。この場合、記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのには不適切であるという判定結果を測定結果判定部２０１がドライブコントロール部１１２に出力する。そして、ドライブコントロール部１１２の指示によりレーザーパワーを３ｍＷ上げて記録が行われ、変調度が再測定される。その再測定により得られる７つの変調度の最小値は、図６において１７ｍＷの記録パワーと対応させて示すように、３２．０％である。つまり、７つの変調度に、３０％以下という判定基準に合致するものは含まれない。よってこの場合、測定によって得られた７つの変調度は近似式を求めるために用いるのに適切であるという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。そして、再測定された変調度に基づいて、近似式演算部１０９が最小二乗法を用いて２次の近似式を求める。そして、求められた近似式に基づいて、最適記録フォーカス位置演算部１１０が最適記録フォーカス位置を求める。
【００８０】
なお、本実施形態において、測定結果判定部２０１は、７段階のフォーカス位置に対応する７つの変調度のうちの少なくとも１つが６０％以上であるか否かという判定基準、およびこれらの７つの変調度のうちの少なくとも１つが３０％以下であるか否かという判定基準に基づいて、記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる変調度の範囲を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。
【００８１】
《発明の実施形態３》
本発明の実施形態３に係る光ディスク装置は、図１０に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置３００を備えている。光ディスク用信号処理装置３００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、近似式係数判定部３０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および近似式係数判定部３０１によって、フォーカス位置決定部３０２が構成される。
【００８２】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置３００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置３００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置３００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。
【００８３】
近似式係数判定部３０１は、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａおよび係数ｃに基づいて、当該近似式が最適フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。すなわち、測定結果判定部１１１は、当該近似式を得るために行ったテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適しているか否かを判定する。
【００８４】
具体的には、近似式係数判定部３０１は、近似式演算部１０９より、Ｘを記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙを変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａと係数ｃを受信し、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上であるか否かを判別する。そして、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上である場合には、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが大きすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当でないという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。また、近似式係数判定部３０１は、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満であるか否かを判別する。そして、係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満である場合には、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが小さすぎて最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当でないという判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。
【００８５】
図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷの場合には、求められる最適記録フォーカス位置が測定誤差の影響によって大きくばらつきやすくなる。近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａは、図５に示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合に−２．２９、記録時のレーザーパワーが２３ｍＷである場合に−１１．７１、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷである場合に−１１．９６、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷである場合に−１１．１１となっている。したがって、上記のように係数ａが−７以上であるか否かを判定することにより、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当であるか否かを適切に判定できる。
【００８６】
また、係数ｃは、図５に示すように、記録時のレーザーパワーが２６ｍＷである場合に６７．０９、記録時のレーザーパワーが２３ｍＷである場合に５８．０７、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷである場合に４７．８９、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷである場合に４０．４２、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷである場合に２３．９７となっている。このように、係数ｃの値は、記録時のレーザーパワーが大きい程、大きくなっている。したがって、上記のように係数ｃが４５以上であるか４５未満であるかを判定することにより、レーザーパワーを大きくするべきか小さくするべきかを適切に判定できる。
【００８７】
記録時のレーザーパワーが低い場合には記録時のフォーカス位置とは関係なく記録状態が悪くなる。図５を参照して前述したように、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合、求められる近似式を示す曲線はフラットな形状となる。近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃの係数ａは、記録時のレーザーパワーが１４ｍＷの場合に−２．５０、記録時のレーザーパワーが２０ｍＷの場合に−１１．９６、記録時のレーザーパワーが１７ｍＷの場合に−１１．１１となる。したがって、上記のように係数ａが−７以上であるか否かを判定することにより、当該近似式を得るために行われたテスト記録時のレーザーパワーが最適記録フォーカス位置を求めるために用いるのに適当であるか否かを適切に判定できる。
【００８８】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について、図１１のフローチャートを参照して説明する。なお、図７、図９のフローチャートと同一の符号を付した動作については、実施形態１、２で説明した動作と同様であるので説明を省略する。
【００８９】
（Ｓ３００１）近似式演算部１０９が、測定結果記憶部１０８に記憶された７つの変調度および７つの記録フォーカス位置に基づいて、最小二乗法を用いて、Ｘを記録フォーカス位置［μｍ］、Ｙを変調度［％］とした２次の近似式Ｙ＝ａ＊Ｘ＊Ｘ＋ｂ＊Ｘ＋ｃを求める。
【００９０】
（Ｓ３００２）近似式係数判定部３０１が、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａが−７以上であり、かつ、当該近似式の係数ｃが４５以上であるか否かを判定する。係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５以上である場合には（Ｓ１００５）に進み、そうでない場合には（Ｓ３００３）に進む。
【００９１】
（Ｓ３００３）近似式係数判定部３０１が、近似式演算部１０９によって求められた近似式の係数ａが−７以上であり、かつ、当該近似式の係数ｃが４５未満であるか否かを判定する。係数ａが−７以上であり、かつ、係数ｃが４５未満である場合には（Ｓ１００７）に進み、そうでない場合には（Ｓ１００８）に進む。
【００９２】
なお、レーザーパワーの大小を判定するために、係数ｃの値を使用していたが、Ｘ＝−０．５＊ｂ／ａとした場合における最大値（極大値）Ｙ＝ｃ−０．２５＊ｂ＊ｂ／ａが、特定の値Ｖ以上である場合にはレーザーパワーが高めに設定されていると判定し、特定の値Ｗ以下である場合にはレーザーパワーが低めに設定されていると判定するようにしてもよい。
【００９３】
なお、本実施形態において、測定結果判定部２０１は、係数ａが−７以上であるか否かという判定基準に基づいて、テスト記録時のレーザーパワーが適切であるか否かを判定していた。しかし、判定基準はこれに限らない。また、判定基準は、予め、実験等によって導きだしておくことが望ましい。例えば、様々な記録時のレーザパワーを用いて、記録フォーカス位置と変調度との関係を様々な種類のディスクについて求め、その実験結果に基づいて、最小二乗法の結果を安定して求めることのできる変調度の範囲を求めてもよい。また、判定基準は、実験に限らず、シミュレーション等を用いて導き出してもよい。
【００９４】
《発明の実施形態４》
本発明の実施形態４に係る光ディスク装置は、図１２に示すように、実施形態１の光ディスク用信号処理装置１００に代えて、光ディスク用信号処理装置４００を備えている。光ディスク用信号処理装置４００は、光ディスク用信号処理装置１００の測定結果判定部１１１に代えて、記録完了判定部４０１を備えている。また、記録状態測定部１０７、測定結果記憶部１０８、近似式演算部１０９、最適記録フォーカス位置演算部１１０、および記録完了判定部４０１によって、フォーカス位置決定部４０２が構成される。
【００９５】
本実施形態の光ディスク装置も、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、光ディスクドライブユニット等から構成されるコンピュータシステムである。光ディスク用信号処理装置４００は、集積回路であるＬＳＩによって構成される。また、これら各部の機能は、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより実現される。光ディスク用信号処理装置４００に含まれる複数の機能ブロックのそれぞれが個別に１チップ化されてもよいし、複数の機能ブロックの一部または全てが、１チップ化されてもよい。光ディスク用信号処理装置４００は、ＬＳＩと呼ばれる規模の集積回路に限らず、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩ等と呼ばれる集積回路で構成してもよい。さらには、半導体技術の進歩、または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場した場合には、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。例えば、バイオ技術が集積回路化の技術に適用される可能性がある。
【００９６】
記録完了判定部４０１は、ドライブコントロール部１１２からの出力に基づいて記録動作が正常に完了したか否かを判定し、判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。例えば、デフォーカスが原因でＲＦ信号の品質が悪く、記録中にアドレスが取得できなくなり、記録が中断した場合、ドライブコントロール部１１２は、記録が中断したことを示す情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１はこの情報に応じて記録が正常に完了しなかったと判定し、この判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。
【００９７】
本実施形態では、フォーカス位置を変化させながらテスト記録が行われるが、光ディスク１０１の記録面に光ビームの焦点が合う位置からフォーカス位置をずらし過ぎると、ＲＦ信号の劣化により、ＲＦ信号に含まれるアドレス情報が取得できなくなったり、記録の基準クロックと同期をとるための光ディスク１０１上に予め刻まれた信号から生成されるクロックが取得できなくなったり、記録中にトラッキング制御やフォーカス制御が外れたりする。これらの異常を示す情報はドライブ全体をコントロールするドライブコントロール部１１２が管理しており、前述の記録中の異常が発生した場合はドライブコントロール部１１２によって、これらの異常を示す情報が記録完了判定部４０１に伝えられる。記録完了判定部４０１は、当該情報に基づいて記録動作が正常に完了しなかったと判定し、その判定結果をドライブコントロール部１１２に出力する。
【００９８】
ドライブコントロール部１１２は、記録動作が正常に完了しなかったと判定されたときのフォーカス位置に応じて、変調度を再生信号処理部１０３に再度測定させるためのテスト記録が行われるように光学ピックアップ１０２および駆動部１０５を制御したり、最適記録フォーカス位置を求めるためにどのような範囲のフォーカス位置に対応する変調度を用いるかを制御したりする。
【００９９】
具体的には、ドライブコントロール部１１２は、テスト記録に用いられる−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍの７段階のフォーカス位置のうち、フォーカス位置が１段階目である−０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、フォーカス位置を−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階のフォーカス位置に変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。また、この場合、フォーカス位置の変化範囲を２段階ずらしたことを示すフラグ（flag）を立てる。また、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置を変化させる範囲をずらした後、ずらされた後の７段階のフォーカス位置のうちの５段階目以降にフォーカス位置があるときに記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、記録フォーカス位置の変化範囲を狭め、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍの７段階のフォーカス位置に変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６を制御する。ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置の変化範囲がずらされた後であるか否かを、前記フラグが立っているか否かによって判断できる。さらに、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置が最初のフォーカス位置の変化範囲の１段階目である−０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了したと記録完了判定部４０１によって判定された場合であって、フォーカス位置が最初のフォーカス位置の変化範囲の７段階目である＋０．７５μｍである場合に記録動作が正常に完了しなかったと記録完了判定部４０１によって判定された場合には、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍに変化させてテスト記録が行われるようにレーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６を制御する。
【０１００】
なお、記録完了判定部４０１がドライブコントロール部１１２と別個に設けられるのではなく、記録完了判定部４０１の機能がドライブコントロール部１１２によって果たされるようにしてもよい。
【０１０１】
ここで、本実施形態の光ディスク装置の動作について説明する。
【０１０２】
まず、光ディスク装置は、記録フォーカス位置を１段階目の−０．７５μｍに設定し記録を開始する。記録フォーカス位置が−０．７５μｍのときに、デフォーカスが原因でＲＦ信号の品質が悪く、記録中にアドレスが取得できなくなり記録が中断した場合、ドライブ全体をコントロールするドライブコントロール部１１２は記録中断の情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１は記録動作が正常に完了しなかったと判定し、ドライブコントロール部１１２に判定結果を出力する。ドライブコントロール部１１２は、１段階目で記録が完了しなかったので、記録フォーカス位置を変化させる範囲を＋方向に２段階ずらし、フォーカス位置を−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。
【０１０３】
そして、フォーカス位置を−０．２５μｍ〜＋１．２５μｍの７段階に変化させてテスト記録が中断することなく行われた場合には、ドライブコントロール部１１２は、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、＋１．２５μｍの７段階の各フォーカス位置に対応する変調度が測定され、測定された変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。そして、データの記録時に、フォーカス位置が求められた最適記録フォーカス位置となるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。
【０１０４】
また、フォーカス位置を−０．２５μｍから変化させるテスト記録が開始され、フォーカス位置が５段階目の＋０．７５μｍ、６段階目の＋１．０μｍ、または７段階目の＋１．２５μｍであるときに記録動作が正常に完了せず、失敗した場合には、ドライブコントロール部１１２は、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。そして、ドライブコントロール部１１２は、この７段階の各フォーカス位置に対応する変調度が測定され、測定した変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。
【０１０５】
なお、ここで、フォーカス位置を−０．６μｍ、−０．４μｍ、−０．２μｍ、０μｍ、＋０．２μｍ、＋０．４μｍ、＋０．６μｍに変化させて記録が行われたときに記録が中断した場合には、さらに狭くした記録範囲で再度記録が行われるように光ディスク装置を構成してもよい。
【０１０６】
また、フォーカス位置が１段階目の−０．７５μｍであるときに正常に記録動作が完了した場合には、引き続き、フォーカス位置を−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍ、＋０．７５μｍに変化させてテスト記録が行われる。
【０１０７】
このテスト記録において、フォーカス位置が−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍのときには記録動作が正常に完了し、フォーカス位置が７段階目の＋０．７５μｍであるときに、デフォーカス等が原因で記録が中断した場合、ドライブコントロール部１１２は記録中断の情報を記録完了判定部４０１に送り、記録完了判定部４０１は記録動作が正常に完了しなかったと判定し、ドライブコントロール部１１２に判定結果を出力する。このとき、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍ、＋０．５μｍまでの変調度がすでに測定され、測定結果記憶部１０８に１〜５段階目のフォーカス位置に対応する変調度として記憶されている。ドライブコントロール部１１２は、当該判定結果の出力に応じて、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度をシフトし、３〜７段階目のフォーカス位置に対応する変調度として記憶するように測定結果記憶部１０８に指示する。さらに、ドライブコントロール部１１２は、７段階目で記録が完了しなかったので、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍの２段階に順に変化させてテスト記録が行われるように、レーザ制御部１０４およびフォーカス制御部１０６に指示を行う。そして、−１．２５μｍ、−１．０μｍのフォーカス位置に対応する変調度が１、２段階目のフォーカス位置に対応する変調度として測定され、ドライブコントロール部１１２は、−１．２５μｍ、−１．０μｍ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度に基づいて最適記録フォーカス位置が求められるようにフォーカス位置決定部４０２を制御する。なお、ここで、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍの２段階に順に変化させてテスト記録が行われる代わりに、フォーカス位置を−１．２５μｍ、−１．０μｍ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍの７段階に順に変化させてテスト記録が行われ、−０．７５μｍ、−０．５μｍ、−０．２５μｍ、０μｍ、＋０．２５μｍのフォーカス位置に対応する変調度が再度測定されるようにしてもよい。
【０１０８】
光学ピックアップの個体バラツキにより、最適記録フォーカス位置が＋方向にずれており、フォーカス位置が−０．７５μｍのときに記録が正常に完了せず失敗に終わる場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１３に示すような関係にある場合、−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの範囲ではなく、−０．２５μｍ〜＋１．２５μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１４に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適記録フォーカス位置として求められる。
【０１０９】
また、光学ピックアップの個体バラツキにより、最適記録フォーカス位置が−方向にずれており、フォーカス位置が＋０．７５μｍのときに記録が正常に完了せず失敗に終わる場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１５に示すような関係にある場合、−０．７５μｍ〜＋０．７５μｍの範囲ではなく、−１．２５μｍ〜＋０．２５μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１６に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適記録フォーカス位置として求められる。
【０１１０】
また、光学ピックアップの個体バラツキにより、記録が正常に完了するフォーカス位置の範囲が狭くなっている場合がある。例えば、変調度とフォーカス位置とが図１７に示すような関係にある場合、−０．６μｍ〜＋０．６μｍの範囲の記録フォーカス位置に対応する変調度に基づいて、図１８に示すような近似曲線の極に対応するフォーカス位置が、最適フォーカス位置として求められる。
【０１１１】
なお、上記実施形態では、記録が正常に行われたか否かが判定されるのは、当初のフォーカス位置の範囲の１段階目、７段階目、およびずらされた後のフォーカス位置の範囲の５段階目以降であった。しかし、フォーカス位置のマージンによっては、当初のフォーカス位置の範囲の６段階目等、他の段階で記録が失敗する場合もあるので、他の段階で判定が行われるようにしてもよい。また、何段階目で記録が正常に行われたか否かを判定するか、および記録が正常に行われなかったと判定された場合に記録フォーカス位置を何段階ずらすかは、記録フォーカス位置のマージンのばらつきによって決めておけばよい。
【０１１２】
また、何段階目で記録が正常に行われなかったと判定されたかに応じて、フォーカス位置を何段階ずらすかが異なってもよい。例えば、最後の段階で記録が失敗した場合にはフォーカス位置を変化させる範囲を２段階ずらし、最後から２番目の段階で記録が失敗した場合にはフォーカス位置を変化させる範囲を３段階ずらすようにしてもよい。
【０１１３】
また、上記実施形態では、フォーカス位置が−０．７５μｍの場合とフォーカス位置が＋０．７５μｍ、＋１．０μｍ、または＋１．２５μｍの場合とで記録が失敗した場合にフォーカス位置を変化させる範囲が狭められるようになっていた。しかし、他の段階で記録が失敗した場合に狭められるようにしてもよい。また狭めた後のフォーカス位置の変化範囲も、−０．６μｍ〜＋０．６μｍに限らない。どの段階で記録が失敗した場合にフォーカス位置の変化範囲を狭めるか、および狭めた後の変化範囲は、光学ピックアップのマージンのばらつきによって決めればよい。
【０１１４】
つまり、フォーカス位置を複数種類に変化させてテスト記録を行った場合に、その複数種類のフォーカス位置の中に、記録完了判定部４０１によって記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置が存在するとき、その記録動作が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないように、フォーカス位置の範囲を変更したり狭めることによってテスト記録が行われるようにすればよい。
【０１１５】
また、フォーカス位置の変化範囲、フォーカス位置の変化範囲を判定に応じてどれだけの量ずらしたり狭めるか、およびフォーカス位置を何段階に変化させるかは、あらかじめ、実験等によって導きだされる。例えば、フォーカス位置の変化範囲、フォーカス位置の変化範囲を判定に応じてどれだけの量ずらしたり狭めるか、およびフォーカス位置を何段階に変化させるかは、様々な光学ピックアップを用いて記録が正常に完了する場合の記録フォーカス位置のマージンや最適記録フォーカス位置のばらつきを実験によって測定し、その測定結果に基づいて求めてもよい。また、実験に限らず、シミュレーション等を用いて求めてもよい。
【０１１６】
上記実施形態の光ディスク装置は、フォーカス位置がどのフォーカス位置であった場合に記録が正常に完了しなかったと判定されたかに応じて、最適記録フォーカス位置を求めるために用いるフォーカス位置の範囲を、記録が正常に完了しなかったと判定されたフォーカス位置を含まないように当初の範囲からずらしたり狭めたりする。したがって、最適記録フォーカス位置がずれている場合や、正常に記録できるフォーカス位置のマージンが狭い場合においても、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができる。
【０１１７】
《その他の実施形態》
なお、上記実施形態の光ディスク装置は、変調度を測定し、変調度とフォーカス位置との関係を示す近似式を求めるようになっていたが、変調度の代わりに、β値、アシンメトリ値、ＲＦ振幅値、ジッター値等のいずれかを測定し、その測定結果とフォーカス位置との関係を示す近似式を求めるようにしてもよい。また、これらの値に限らず、光ディスク上に記録された信号の記録品質、すなわちＲＦ信号の状態を示す指標となる他の値が用いられるようにしてもよい。
【０１１８】
また、上記実施形態の光ディスク装置は、フォーカス位置を７種類に変化させるテスト記録を行うようになっていたが、７種類に限らず、他の複数種類に変化させるテスト記録を行うようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１１９】
以上説明したように、本発明に係る光ディスク用信号処理装置、集積回路、光ディスク装置および最適記録フォーカス位置検出方法は、最適記録フォーカス位置を正しく求めることができるという効果を有し、例えば、最適記録フォーカス位置を調整する技術等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１２０】
【図１】図１は、本発明の実施形態１の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、同、再生信号処理部１０３によって出力されたＲＦ信号の波形を示すグラフである。
【図３】図３は、同、記録状態測定部１０７の構成を示すブロック図である。
【図４】図４は、同、記録フォーカス位置と変調度との関係を説明する説明図である。
【図５】図５は、同、記録フォーカス位置と変調度との関係を説明する説明図である。
【図６】図６は、同、レーザパワーと、各記録フォーカス位置に対応する変調度と、近似式の極との対応関係を示す表である。
【図７】図７は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】図８は、本発明の実施形態２の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、本発明の実施形態３の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】図１１は、同、光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態４の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、同、最適記録フォーカス位置がプラス方向にずれている場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１４】図１４は、同、プラス方向にずらされた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１５】図１５は、同、最適記録フォーカス位置がマイナス方向にずれている場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１６】図１６は、同、マイナス方向にずらされた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１７】図１７は、同、記録を正常に行える記録フォーカス位置のマージンが狭い場合に測定される変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【図１８】図１８は、同、狭められた記録フォーカス位置の変化範囲における変調度とフォーカス位置との関係を説明する説明図である。
【符号の説明】
【０１２１】
１００      光ディスク用信号処理装置
１０１      光ディスク
１０２      光学ピックアップ
１０３      再生信号処理部
１０４      レーザ制御部
１０５      駆動部
１０６      フォーカス制御部
１０７      記録状態測定部
１０８      測定結果記憶部
１０９      近似式演算部
１１０      最適記録フォーカス位置演算部
１１１      測定結果判定部
１１２      ドライブコントロール部
１１３      ピークホールド部
１１４      ボトムホールド部
１１５      Ａ／Ｄコンバ−ター
１１６      Ａ／Ｄコンバ−ター
１１７      変調度演算部
１１８      フォーカス位置決定部
２００      光ディスク用信号処理装置
２０１      測定結果判定部
２０２      フォーカス位置決定部
３００      光ディスク用信号処理装置
３０１      近似式係数判定部
３０２      フォーカス位置決定部
４００      光ディスク用信号処理装置
４０１      記録完了判定部
４０２      フォーカス位置決定部
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【国際調査報告】
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