(57)【要約】光ディスク装置において、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を通して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光の第１の偏光成分レベル比と、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光の第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるようにレーザ光のＳ偏光及びＰ偏光に対する偏光ビームスプリッタ１３の透過率及び反射率を調整するようにした。
2005066948.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、
上記調整した後の上記信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記第１及び第２の偏光成分レベル比の差が上記許容範囲内となるように、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値が次の関係式で表されることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
2005066948.tif 000013
ただし、
Ｎａ：レーザノイズキャンセル後のノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のノイズレベル
ＬＤｐ：上記レーザ光源から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比
ＲＦｐｏ：上記レーザ光源と上記信号再生用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記信号再生用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比
ＦＰＤｐｏ：上記レーザ光源と上記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記光源モニタ用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比
【請求項３】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記光分離素子は、
上記Ｓ偏光に対する上記透過率が０％、当該Ｓ偏光に対する上記反射率が１００％に選定されるとともに、上記Ｐ偏光に対する上記透過率が９０％、当該Ｐ偏光に対する上記反射率が１０％に選定された
ことを特徴とする請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源と上記光分離素子との間に上記レーザ光源から出射される上記レーザ光ＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、
上記偏光素子により上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光素子で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、
上記調整した後の上記信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする請求の範囲第５項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  本発明は、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）やＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクを記録媒体として用い、この光ディスクにレーザ光を照射して情報を記録し、または再生するための光ディスク装置に関し、さらに詳しくは、レーザ光源のノイズ成分を除去するようにした光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】  ＤＶＤやＣＤなどの光ディスクでは、取り扱う信号がアナログであるため、光源ノイズに対する要求は非常に厳しい。
一方、光ディスクに対する情報の記録・再生に使用する半導体レーザの発生するノイズには、戻り光ノイズとモードホッピング・ノイズとが存在し、いずれも再生信号に重大な妨害を与える。
この戻り光ノイズは、光ディスクで反射されるビームの一部が半導体レーザの内部に戻るため、光ディスクが外部反射鏡として作用して本来の内部共振器との間でモード競合を発生し、発振に揺らぎが生じた結果である。また、モードホッピング・ノイズは、半導体レーザ自身の共振器長が温度変化などで変動する結果縦モードが変化し、その際に生じるノイズである。
光ディスク記録再生装置において、光ディスクからの戻り光や半導体レーザの温度変化によりレーザノイズが増大し、再生信号に悪影響を及ぼすといった問題がある。このレーザノイズを低減する手法として、光ディスクにより変調を受けた光信号より直接モニタしたレーザ光のノイズ成分を相殺するレーザノイズキャンセル（ＬＮＣ）方式がある（例えば、特開２００２−３５２４５９号公報）。
ここで、図４により従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置について説明する。
図４において、光学ヘッド部４０は、レーザダイオード（ＬＤ）４１、コリメータレンズ（ＣＬ）４２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）４３、１／４波長板（ＱＷＰ）４４、対物レンズ（ＯＬ）４５、集光レンズ４６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）４７、光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）４８から構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード４１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ４２を通って偏光ビームスプリッタ４３に入る。偏光ビームスプリッタ４３を通過した一部のレーザ光は１／４波長板４４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ４５により光ディスク５０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク５０の記録情報により変調された後、再度、対物レンズ４５及び１／４波長板４４を通過し、この１／４波長板４４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ４３に入り、その偏光分離面で反射された後、集光レンズ４６を通して信号再生用受光器４７に入射される。一方、レーザダイオード４１から出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ４３の偏光分離面により反射され、光源モニタ用受光器４８に入射される。
また、信号再生用受光器４７および光源モニタ用受光器４８により検出された光信号は電気信号に変換され、それぞれ増幅器５１、５２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、差動増幅回路等で構成される演算回路５３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分のみを相殺したＬＮＣ信号が出力される。
ここで、偏光ビームスプリッタ４３は偏光特性を持っており、ＲＦ信号を取り出す光経路上に戻り光の影響を抑える１／４波長板４４が挿入されていることから、信号再生用受光器４７で受光するレーザ光と光源モニタ用受光器４８とで受光するレーザ光のＴＥ波とＴＭ波の比が異なる場合がある。このような場合、レーザダイオード４１から出射されるレーザ光のＴＥ波とＴＭ波のノイズの相関性が低いため、仮に増幅器５１，５２により信号再生用受光器４７で受光するＲＦ信号の一方のノイズ成分（例えばＴＥ成分）のレベルと光源モニタ用受光器４８で受光するＦＰＤ信号（同一ＴＥ成分）のノイズ成分のレベルを一致させ、演算回路５３で全てキャンセルできたとしても、もう一方のノイズ成分（ＴＭ成分）のノイズはレベルが異なるためキャンセルしきれない。
すなわち、レーザダイオード４１には、レーザダイオード４１から出射するレーザ光の偏光方向を示すものとして、図５に示すように、電場が活性領域層と平行な方向（活性領域層の厚み方向と垂直な方向）に偏波しているＴＥモードと、電場が活性領域と垂直な方向（活性領域層の厚み方向と平行な方向）に偏波しているＴＭモードとの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生させることから、偏光依存性をもつ光学系ではキャンセル量が低下するという問題がある。
【発明の開示】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、レーザ光源から出射したレーザ光の直交する二つの偏光成分（偏光方向がＴＭモードのＴＥ波と、偏光方向がＴＭモードのＴＭ波）のレーザノイズ成分を確実に除去できるようにした光ディスク装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、調整した後の信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から発射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された又は許容範囲内に抑えられた再生信号を得ることができる。
また本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源と光分離素子との間にレーザ光源から出射されるレーザ光ＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、偏光素子によりレーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光素子で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致するように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、調整した後の信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から発射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された再生信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】  図１は、本発明にかかる光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。
図２は、本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図３は、本発明にかかる光ディスク装置の他の実施例を示す構成図である。
図４は、従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置を示す構成図である。
図５は、レーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥモード及びＴＭモードの説明に供する説明図である。
【符号の説明】
１０……光学ヘッド部、１１……レーザダイオード、１２……コリメータレンズ、１３……偏光ビームスプリッタ、１４……１／４波長板、１５……対物レンズ、１６……集光レンズ、１７……信号再生用受光器、１８……光源モニタ用受光器、１９……偏光素子、２０……光ディスク、２１，２２……増幅器、２３……演算回路
【発明を実施するための最良の形態】  この発明の実施の最良の形態における光ディスク装置は、レーザ光源から光分離素子を介して信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第１の偏光成分レベル比と呼ぶ）と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第２の偏光成分レベル比と呼ぶ）とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、この調整した後の信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成する。
そして、レーザ光源から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比である偏光比ＬＤｐと、レーザ光源と信号再生用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から信号再生用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比（以下、これを第１の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＲＦｐｏと、レーザ光源と前記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から光源モニタ用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比（以下、これを第２の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＦＰＤｐｏと、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値とが次の関係式で表されるようにした。
2005066948.tif 000003
これによりレーザ光源のＴＥ偏光成分とＴＭ偏光成分に含まれるレーザノイズ成分を所望の許容範囲内に抑えることができる。
（１）実施例１
以下、本発明にかかる光ディスク装置の実施例について説明する。
図１は本発明にかかる光ディスク装置の一例を示す構成図、図２は本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図１において、光学ヘッド部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）１１、コリメータレンズ（ＣＬ）１２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）１３、１／４波長板（ＱＷＰ）１４、対物レンズ（ＯＬ）１５、集光レンズ１６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）１７及び光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）１８を備える。
また、信号再生用受光器１７及び光源モニタ用受光器１８の出力端には増幅器２１または２２がそれぞれ接続され、さらに、この増幅器２１，２２の各出力信号は、差動増幅回路等で構成される演算回路２３に入力されるように構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ１２を通って偏光ビームスプリッタ１３に入る。偏光ビームスプリッタ１３を透過した一部のレーザ光は１／４波長板１４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ１５により光ディスク２０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク２０の記録情報により変調され、この変調されたレーザ光は、再度、対物レンズ１５及び１／４波長板１４を通過し、１／４波長板１４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ１３に入り、偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面で反射される。そして、この偏光分離面で反射されたレーザ光は集光レンズ１６を通して信号再生用受光器１７に入射され、この信号再生用受光器１７により電気信号に変換される。
また、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面により反射されて、光源モニタ用受光器１８に入射される。この光源モニタ用受光器１８に入射されたレーザ光は電気信号に変換される。
信号再生用受光器１７および光源モニタ用受光器１８により検出された光信号は電気信号に変換され、この各電気信号はそれぞれの増幅器２１，２２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、演算回路２３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分を相殺したＬＮＣ信号が出力される。
かかるレーザダイオード１１の発光モードにはＴＥモードとＴＭモードの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生する。このため、無偏光系の光学ヘッド部では信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比と、光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比とが異なるため、レーザノイズのキャンセル量が低下するという問題がある。
これを解決するために本実施例では、レーザダイオード１１から光分離素子である偏光ビームスプリッタ１３を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光のかかる第１の偏光成分レベル比と、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光のかかる第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整し、この調整した後の信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにする。以下、その詳細について図２を参照して説明する。
図２において、ベクトル３１は信号再生用受光器１７で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表し、ベクトル３２は光源モニタ用受光器１８で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表している。
また、図２において、ＴＥ，ＴＭの成分比を表すα，βは次のような式で表すことができる。
2005066948.tif 000004
ここで、ＬＤｐはレーザダイオード１１から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルの偏光比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐは信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐは光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐｏはレーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３及び１／４波長板１４を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第１の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐｏはレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第２の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）を表す。
信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分の大きさを一致させてその差をとると、図２から明らかなように、ＴＥ残留レーザノイズＮＥ、ＴＭ残留レーザノイズＮＭ及び総残留レーザノイズＮＴは次式を満たす。
2005066948.tif 000005
ただし、θ＝α−βである。
ここで、必要となるレーザノイズキャンセル量Ｎａがわかっている場合、レーザノイズキャンセル量Ｎａは次式を満たすことが必要となる。
2005066948.tif 000006
ただし、レーザノイズキャンセル量Ｎａは、レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベルとレーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベルとの比（レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベル）で表される。
また、この（８）式を（３）式及び（４）式により変形させると、次のようになる。
2005066948.tif 000007
すなわち、この（９）式は、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３と１／４波長板１４を含む光学系を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光の第１の偏光成分レベル比ＲＦｐと、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光の第２の偏光成分レベル比ＦＰＤｐとが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差が所定の許容範囲内となるように偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を調整することにより達成される。すなわち、この（９）式が成立できることは、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られることになる。
例えば、図１において、特に偏光ビームスプリッタ１３の偏光特性であるＰ偏光の透過率ＴｐをＴｐ＝９０％、Ｐ偏光の反射率ＲｐをＲｐ＝１０％、Ｓ偏光の透過率ＴｓをＴｓ＝０％、Ｓ偏光の反射率ＲｓをＲｓ＝１００％とすれば、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光する光量比は異なるものの、第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐは共にＴＥ：ＴＭ＝１０：０（ＴＥをＳ方向に合わせた場合）となるため、後段の増幅器２１，２２によりノイズレベルを合わせ込むことでノイズを完全に相殺することができる。ここで、偏光ビームスプリッタ１３以外の光学素子の偏光特性については、一般的に偏光ビームスプリッタ１３と比較して小さいため、無視できるものとした。
次に、必要となるレーザノイズキャンセル量とα（レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を通して信号再生用受光器１７に至る光学系の第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏから求まる値）がわかっている場合について説明する。この場合は、（８）式から、
2005066948.tif 000008
となり、（４）式及び（１０）式から第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求めることができる。
例えば、ＬＤｐ＝１００（ＴＥ：ＴＭ＝１００：１），ＲＦｐｏ＝１（ＴＥ：ＴＭ＝１：１），必要とするレーザノイズキャンセル量Ｎａを２０ｄＢ（１／１００）としたときの第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求める場合、上述の（３）式に与えられた条件を当てはめると、
2005066948.tif 000009
この（１０）式にα，Ｎａの条件を代入すると、
2005066948.tif 000010
ここでβは（４）式で表すことができるので、
2005066948.tif 000011
ＴＥ，ＴＭ成分は共に正の値であるため、
2005066948.tif 000012
と計算され、第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを０．５以上の値に設定することにより２０ｄＢ以上のレーザノイズキャンセルが可能となる。
なお、これら光学系の設定条件はほとんど偏光ビームスプリッタ１３によって決定されるものである。
（２）実施例２
次に、図３により本発明の他の実施例について説明する。
図３において、図１と同一の構成要素には同一符号を付してその構成説明を省略し、図１と異なる部分を重点に述べる。
この他の実施例において、図１と異なる点は、レーザダイオード１１と偏光ビームスプリッタ１３との間にレーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子１９を設けたところにある。
このように偏光素子１９により、レーザダイオードＬＤ１１から出射される一方の偏光成分（例えば、ＴＥ波成分）のみを通過させることにより第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを実施例１の場合と同様にＴＥ：ＴＭ＝１０：０とすることができる。
また、必要となるレーザノイズキャンセル量があらかじめわかっている場合、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光の第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを完全に一致させる必要は無く、（９）式及び（１０）式を基に必要キャンセル量から求まる誤差範囲内に第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差を抑えればよい。
また、増幅器２１及び２２のゲインを調整することにより、その増幅器２１，２２でＲＦ信号とＦＰＤ信号のノイズレベルを一致させる際、ノイズレベル（ノイズの実効性成分）の大きさをモニタし一致させる。このとき、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベル及びＴＭ成分のレベルの比である偏光比ＬＤｐと、レーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する光学素子によって决定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏがわかっていれば、必要となるノイズキャンセル量Ｎａからレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比である第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏが求まる。
なお、以上の説明例では偏光ビームスプリッタの偏光特性により偏光比を調整しているが、他の光学部品によって偏光比を調整された場合も動作に何ら影響がない。また、以上の説明は減算方式のＬＮＣに基づいたものであるが、特開２００２−１８３９７０で既知の乗算方式についても同様の効果が期待できる。
【産業上の利用可能性】  本発明は、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに、光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する種々の光ディスク装置に広く適用することができる。
【図１】
2005066948.tif 000014
【図２】
2005066948.tif 000015
【図３】
2005066948.tif 000016
【図４】
2005066948.tif 000017
【図５】
2005066948.tif 000018
【手続補正書】
【提出日】平成17年7月27日(2005.7.27)
【手続補正００１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【手続補正００２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項５】レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源と上記光分離素子との間に上記レーザ光源から出射される上記レーザ光ＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、
上記偏光素子により上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光素子で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【手続補正００３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００３】
で受光するＦＰＤ信号（同一ＴＥ成分）のノイズ成分のレベルを一致させ、演算回路５３で全てキャンセルできたとしても、もう一方のノイズ成分（ＴＭ成分）のノイズはレベルが異なるためキャンセルしきれない。
すなわち、レーザダイオード４１には、レーザダイオード４１から出射するレーザ光の偏光方向を示すものとして、図５に示すように、電場が活性領域層と平行な方向（活性領域層の厚み方向と垂直な方向）に偏波しているＴＥモードと、電場が活性領域と垂直な方向（活性領域層の厚み方向と平行な方向）に偏波しているＴＭモードとの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生させることから、偏光依存性をもつ光学系ではキャンセル量が低下するという問題がある。
【発明の開示】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、レーザ光源から出射したレーザ光の直交する二つの偏光成分（偏光方向がＴＭモードのＴＥ波と、偏光方向がＴＭモードのＴＭ波）のレーザノイズ成分を確実に除去できるようにした光ディスク装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解决するため本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ
３
【手続補正００４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から発射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された又は許容範囲内に抑えられた再生信号を得ることができる。
また本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源と光分離素子との間にレーザ光源から出射されるレーザ光ＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、偏光素子によりレーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光素子で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致するように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から発射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された再生信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
図１は、本発明にかかる光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。
図２は、本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光
４
【手続補正００５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図３は、本発明にかかる光ディスク装置の他の実施例を示す構成図である。
図４は、従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置を示す構成図である。
図５は、レーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥモード及びＴＭモードの説明に供する説明図である。
【発明を実施するための最良の形態】
この発明の実施の最良の形態における光ディスク装置は、レーザ光源から光分離素子を介して信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第１の偏光成分レベル比と呼ぶ）と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第２の偏光成分レベル比と呼ぶ）とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成する。
そして、レーザ光源から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比である偏光比ＬＤｐと、レーザ光源と信号再生用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から信号再生用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比（以下、これを第１の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＲＦｐｏと、レーザ光源と前記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から光源モニタ用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比（以下、これを第２の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＦＰＤｐｏと、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値とが
５
【手続補正００６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
の許容範囲内となるように、偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにする。以下、その詳細について図２を参照して説明する。
図２において、ベクトル３１は信号再生用受光器１７で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表し、ベクトル３２は光源モニタ用受光器１８で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表している。
また、図２において、ＴＥ，ＴＭの成分比を表すα，βは次のような式で表すことができる。
α＝Ａｒｃｔａｎ（１／ＲＦｐ）
＝Ａｒｃｔａｎ｛１／（ＬＤｐ・ＲＦｐｏ）｝      ……（３）
β＝Ａｒｃｔａｎ（１／ＦＰＤｐ）
＝Ａｒｃｔａｎ｛１／（ＬＤｐ・ＦＰＤｐｏ）｝    ……（４）
ここで、ＬＤｐはレーザダイオード１１から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルの偏光比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐは信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐは光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐｏはレーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３及び１／４波長板１４を含む光学
８
【手続補正００７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定することにより達成される。すなわち、この（９）式が成立できることは、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られることになる。
例えば、図１において、特に偏光ビームスプリッタ１３の偏光特性であるＰ偏光の透過率ＴｐをＴｐ＝９０％、Ｐ偏光の反射率ＲｐをＲｐ＝１０％、Ｓ偏光の透過率ＴｓをＴｓ＝０％、Ｓ偏光の反射率ＲｓをＲｓ＝１００％とすれば、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光する光量比は異なるものの、第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐは共にＴＥ：ＴＭ＝１０：０（ＴＥをＳ方向に合わせた場合）となるため、後段の増幅器２１，２２によりノイズレベルを合わせ込むことでノイズを完全に相殺することができる。ここで、偏光ビームスプリッタ１３以外の光学素子の偏光特性については、一般的に偏光ビームスプリッタ１３と比較して小さいため、無視できるものとした。
次に、必要となるレーザノイズキャンセル量とα（レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を通して信号再生用受光器１７に至る光学系の第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏから求まる値）がわかっている場合について説明する。この場合は、（８）式から、
１１
【手続補正書】
【提出日】平成18年6月26日(2006.6.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記第１及び第２の偏光成分レベル比の差が上記許容範囲内となるように、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値が次の関係式で表されることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
2005066948.tif 000019
ただし、
Ｎａ：レーザノイズキャンセル後のノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のノイズレベル
ＬＤｐ：上記レーザ光源から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比
ＲＦｐｏ：上記レーザ光源と上記信号再生用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記信号再生用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比
ＦＰＤｐｏ：上記レーザ光源と上記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記光源モニタ用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比
【請求項３】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記光分離素子は、
上記Ｓ偏光に対する上記透過率が０％、当該Ｓ偏光に対する上記反射率が１００％に選定されるとともに、上記Ｐ偏光に対する上記透過率が９０％、当該Ｐ偏光に対する上記反射率が１０％に選定された
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源と上記光分離素子との間に上記レーザ光源から出射される上記レーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、
上記偏光素子により上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光素子で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第５項に記載の光ディスク装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の詳細な説明
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）やＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクを記録媒体として用い、この光ディスクにレーザ光を照射して情報を記録し、または再生するための光ディスク装置に関し、さらに詳しくは、レーザ光源のノイズ成分を除去するようにした光ディスク装置に関するものである。
背景技術
ＤＶＤやＣＤなどの光ディスクでは、取り扱う信号がアナログであるため、光源ノイズに対する要求は非常に厳しい。
一方、光ディスクに対する情報の記録・再生に使用する半導体レーザの発生するノイズには、戻り光ノイズとモードホッピング・ノイズとが存在し、いずれも再生信号に重大な妨害を与える。
この戻り光ノイズは、光ディスクで反射されるビームの一部が半導体レーザの内部に戻るため、光ディスクが外部反射鏡として作用して本来の内部共振器との間でモード競合を発生し、発振に揺らぎが生じた結果である。また、モードホッピング・ノイズは、半導体レーザ自身の共振器長が温度変化などで変動する結果縦モードが変化し、その際に生じるノイズである。
光ディスク記録再生装置において、光ディスクからの戻り光や半導体レーザの温度変化によりレーザノイズが増大し、再生信号に悪影響を及ぼすといった問題がある。このレーザノイズを低減する手法として、光ディスクにより変調を受けた光信号より直接モニタしたレーザ光のノイズ成分を相殺するレーザノイズキャンセル（ＬＮＣ）方式がある（例えば、特開２００２−３５２４５９号公報）。
ここで、図４により従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置について説明する。
図４において、光学ヘッド部４０は、レーザダイオード（ＬＤ）４１、コリメータレンズ（ＣＬ）４２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）４３、１／４波長板（ＱＷＰ）４４、対物レンズ（ＯＬ）４５、集光レンズ４６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）４７、光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）４８から構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード４１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ４２を通って偏光ビームスプリッタ４３に入る。偏光ビームスプリッタ４３を通過した一部のレーザ光は１／４波長板４４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ４５により光ディスク５０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク５０の記録情報により変調された後、再度、対物レンズ４５及び１／４波長板４４を通過し、この１／４波長板４４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ４３に入り、その偏光分離面で反射された後、集光レンズ４６を通して信号再生用受光器４７に入射される。一方、レーザダイオード４１から出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ４３の偏光分離面により反射され、光源モニタ用受光器４８に入射される。
また、信号再生用受光器４７および光源モニタ用受光器４８により検出された光信号は電気信号に変換され、それぞれ増幅器５１、５２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、差動増幅回路等で構成される演算回路５３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分のみを相殺したＬＮＣ信号が出力される。
ここで、偏光ビームスプリッタ４３は偏光特性を持っており、ＲＦ信号を取り出す光経路上に戻り光の影響を抑える１／４波長板４４が挿入されていることから、信号再生用受光器４７で受光するレーザ光と光源モニタ用受光器４８とで受光するレーザ光のＴＥ波とＴＭ波の比が異なる場合がある。このような場合、レーザダイオード４１から出射されるレーザ光のＴＥ波とＴＭ波のノイズの相関性が低いため、仮に増幅器５１，５２により信号再生用受光器４７で受光するＲＦ信号の一方のノイズ成分（例えばＴＥ成分）のレベルと光源モニタ用受光器４８で受光するＦＰＤ信号（同一ＴＥ成分）のノイズ成分のレベルを一致させ、演算回路５３で全てキャンセルできたとしても、もう一方のノイズ成分（ＴＭ成分）のノイズはレベルが異なるためキャンセルしきれない。
すなわち、レーザダイオード４１には、レーザダイオード４１から出射するレーザ光の偏光方向を示すものとして、図５に示すように、電場が活性領域層と平行な方向（活性領域層の厚み方向と垂直な方向）に偏波しているＴＥモードと、電場が活性領域層と垂直な方向（活性領域層の厚み方向と平行な方向）に偏波しているＴＭモードとの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生させることから、偏光依存性をもつ光学系ではキャンセル量が低下するという問題がある。
発明の開示
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、レーザ光源から出射したレーザ光の直交する二つの偏光成分（偏光方向がＴＥモードのＴＥ波と、偏光方向がＴＭモードのＴＭ波）のレーザノイズ成分を確実に除去できるようにした光ディスク装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された又は許容範囲内に抑えられた再生信号を得ることができる。
また本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源と光分離素子との間にレーザ光源から出射されるレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、偏光素子によりレーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光素子で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致するように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された再生信号を得ることができる。
発明を実施するための最良の形態
この発明の実施の最良の形態における光ディスク装置は、レーザ光源から光分離素子を介して信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第１の偏光成分レベル比と呼ぶ）と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第２の偏光成分レベル比と呼ぶ）とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成する。
そして、レーザ光源から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比である偏光比ＬＤｐと、レーザ光源と信号再生用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から信号再生用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比（以下、これを第１の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＲＦｐｏと、レーザ光源と前記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から光源モニタ用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比（以下、これを第２の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＦＰＤｐｏと、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値とが次の関係式で表されるようにした。
2005066948.tif 000020
これによりレーザ光源のＴＥ偏光成分とＴＭ偏光成分に含まれるレーザノイズ成分を所望の許容範囲内に抑えることができる。
（１）実施例１
以下、本発明にかかる光ディスク装置の実施例について説明する。
図１は本発明にかかる光ディスク装置の一例を示す構成図、図２は本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図１において、光学ヘッド部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）１１、コリメータレンズ（ＣＬ）１２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）１３、１／４波長板（ＱＷＰ）１４、対物レンズ（ＯＬ）１５、集光レンズ１６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）１７及び光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）１８を備える。
また、信号再生用受光器１７及び光源モニタ用受光器１８の出力端には増幅器２１または２２がそれぞれ接続され、さらに、この増幅器２１，２２の各出力信号は、差動増幅回路等で構成される演算回路２３に入力されるように構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ１２を通って偏光ビームスプリッタ１３に入る。偏光ビームスプリッタ１３を透過した一部のレーザ光は１／４波長板１４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ１５により光ディスク２０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク２０の記録情報により変調され、この変調されたレーザ光は、再度、対物レンズ１５及び１／４波長板１４を通過し、１／４波長板１４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ１３に入り、偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面で反射される。そして、この偏光分離面で反射されたレーザ光は集光レンズ１６を通して信号再生用受光器１７に入射され、この信号再生用受光器１７により電気信号に変換される。
また、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面により反射されて、光源モニタ用受光器１８に入射される。この光源モニタ用受光器１８に入射されたレーザ光は電気信号に変換される。
信号再生用受光器１７および光源モニタ用受光器１８により検出された光信号は電気信号に変換され、この各電気信号はそれぞれの増幅器２１，２２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、演算回路２３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分を相殺したＬＮＣ信号が出力される。
かかるレーザダイオード１１の発光モードにはＴＥモードとＴＭモードの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生する。このため、無偏光系の光学ヘッド部では信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比と、光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比とが異なるため、レーザノイズのキャンセル量が低下するという問題がある。
これを解決するために本実施例では、レーザダイオード１１から光分離素子である偏光ビームスプリッタ１３を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光のかかる第１の偏光成分レベル比と、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光のかかる第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにする。以下、その詳細について図２を参照して説明する。
図２において、ベクトル３１は信号再生用受光器１７で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表し、ベクトル３２は光源モニタ用受光器１８で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表している。
また、図２において、ＴＥ，ＴＭの成分比を表すα，βは次のような式で表すことができる。
2005066948.tif 000021
2005066948.tif 000022
ここで、ＬＤｐはレーザダイオード１１から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルの偏光比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐは信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐは光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐｏはレーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３及び１／４波長板１４を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第１の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐｏはレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第２の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）を表す。
信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分の大きさを一致させてその差をとると、図２から明らかなように、ＴＥ残留レーザノイズＮＥ、ＴＭ残留レーザノイズＮＭ及び総残留レーザノイズＮＴは次式を満たす。
2005066948.tif 000023
2005066948.tif 000024
2005066948.tif 000025
ただし、θ＝α−βである。
ここで、必要となるレーザノイズキャンセル量Ｎａがわかっている場合、レーザノイズキャンセル量Ｎａは次式を満たすことが必要となる。
2005066948.tif 000026
ただし、レーザノイズキャンセル量Ｎａは、レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベルとレーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベルとの比（レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベル）で表される。
また、この（８）式を（３）式及び（４）式により変形させると、次のようになる。
2005066948.tif 000027
すなわち、この（９）式は、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３と１／４波長板１４を含む光学系を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光の第１の偏光成分レベル比ＲＦｐと、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光の第２の偏光成分レベル比ＦＰＤｐとが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差が所定の許容範囲内となるように偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定することにより達成される。すなわち、この（９）式が成立できることは、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られることになる。
例えば、図１において、特に偏光ビームスプリッタ１３の偏光特性であるＰ偏光の透過率ＴｐをＴｐ＝９０％、Ｐ偏光の反射率ＲｐをＲｐ＝１０％、Ｓ偏光の透過率ＴｓをＴｓ＝０％、Ｓ偏光の反射率ＲｓをＲｓ＝１００％とすれば、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光する光量比は異なるものの、第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐは共にＴＥ：ＴＭ＝１０：０（ＴＥをＳ方向に合わせた場合）となるため、後段の増幅器２１，２２によりノイズレベルを合わせ込むことでノイズを完全に相殺することができる。ここで、偏光ビームスプリッタ１３以外の光学素子の偏光特性については、一般的に偏光ビームスプリッタ１３と比較して小さいため、無視できるものとした。
次に、必要となるレーザノイズキャンセル量とα（レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を通して信号再生用受光器１７に至る光学系の第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏから求まる値）がわかっている場合について説明する。この場合は、（８）式から、
2005066948.tif 000028
となり、（４）式及び（１０）式から第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求めることができる。
例えば、ＬＤｐ＝１００（ＴＥ：ＴＭ＝１００：１），ＲＦｐｏ＝１（ＴＥ：ＴＭ＝１：１），必要とするレーザノイズキャンセル量Ｎａを２０ｄＢ（１／１００）としたときの第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求める場合、上述の（３）式に与えられた条件を当てはめると、
2005066948.tif 000029
この（１０）式にα，Ｎａの条件を代入すると、
2005066948.tif 000030
ここでβは（４）式で表すことができるので、
2005066948.tif 000031
ＴＥ，ＴＭ成分は共に正の値であるため、
2005066948.tif 000032
と計算され、第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを０．５以上の値に設定することにより２０ｄＢ以上のレーザノイズキャンセルが可能となる。
なお、これら光学系の設定条件はほとんど偏光ビームスプリッタ１３によって決定されるものである。
（２）実施例２
次に、図３により本発明の他の実施例について説明する。
図３において、図１と同一の構成要素には同一符号を付してその構成説明を省略し、図１と異なる部分を重点に述べる。
この他の実施例において、図１と異なる点は、レーザダイオード１１と偏光ビームスプリッタ１３との間にレーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子１９を設けたところにある。
このように偏光素子１９により、レーザダイオードＬＤ１１から出射される一方の偏光成分（例えば、ＴＥ波成分）のみを通過させることにより第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを実施例１の場合と同様にＴＥ：ＴＭ＝１０：０とすることができる。
また、必要となるレーザノイズキャンセル量があらかじめわかっている場合、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光の第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを完全に一致させる必要は無く、（９）式及び（１０）式を基に必要キャンセル量から求まる誤差範囲内に第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差を抑えればよい。
また、増幅器２１及び２２のゲインを調整することにより、その増幅器２１，２２でＲＦ信号とＦＰＤ信号のノイズレベルを一致させる際、ノイズレベル（ノイズの実効性成分）の大きさをモニタし一致させる。このとき、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベル及びＴＭ成分のレベルの比である偏光比ＬＤｐと、レーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏがわかっていれば、必要となるノイズキャンセル量Ｎａからレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比である第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏが求まる。
なお、以上の説明例では偏光ビームスプリッタの偏光特性により偏光比を調整しているが、他の光学部品によって偏光比を調整された場合も動作に何ら影響がない。また、以上の説明は減算方式のＬＮＣに基づいたものであるが、特開２００２−１８３９７０で既知の乗算方式に本発明を適用しても同様の効果が期待できる。
産業上の利用可能性
本発明は、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに、光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する種々の光ディスク装置に広く適用することができる。
【手続補正書】
【提出日】平成18年10月2日(2006.10.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】手続補正書
【補正対象項目名】手続補正１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光分離素子を介して上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記第１及び第２の偏光成分レベル比の差が上記許容範囲内となるように、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値が次の関係式で表されることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。 
【数１】
2005066948.tif 000033
ただし、
Ｎａ：レーザノイズキャンセル後のノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のノイズレベル
ＬＤｐ：上記レーザ光源から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比
ＲＦｐｏ：上記レーザ光源と上記信号再生用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記信号再生用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比ＦＰＤｐｏ：上記レーザ光源と上記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する上記光分離素子によって決定される、上記レーザ光源から上記光源モニタ用受光器までの上記レーザ光の上記ＴＥ成分に相当する成分の透過率及び上記ＴＭ成分に相当する成分の透過率との比
【請求項３】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記光分離素子は、
上記Ｓ偏光に対する上記透過率が０％、当該Ｓ偏光に対する上記反射率が１００％に選定されるとともに、上記Ｐ偏光に対する上記透過率が９０％、当該Ｐ偏光に対する上記反射率が１０％に選定された
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源と、上記レーザ光源から光ディスクに照射されたレーザ光の上記光ディスクからの反射光を受光して電気信号に変換する信号再生用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を検出する光源モニタ用受光器と、上記レーザ光源からの上記レーザ光を上記光ディスクと上記光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子とを有する光ディスク装置において、
上記レーザ光源と上記光分離素子との間に上記レーザ光源から出射される上記レーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、
上記偏光素子により上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記信号再生用受光素子で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、上記レーザ光源から上記光分離素子を介して上記光ディスクからの上記反射光を上記光源モニタ用受光器で受光する上記レーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように上記光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、
上記信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と上記光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成した
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
上記光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第５項に記載の光ディスク装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】手続補正書
【補正対象項目名】手続補正２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】明細書
【発明の名称】光ディスク装置
【技術分野】
本発明は、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）やＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクを記録媒体として用い、この光ディスクにレーザ光を照射して情報を記録し、または再生するための光ディスク装置に関し、さらに詳しくは、レーザ光源のノイズ成分を除去するようにした光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
ＤＶＤやＣＤなどの光ディスクでは、取り扱う信号がアナログであるため、光源ノイズに対する要求は非常に厳しい。
一方、光ディスクに対する情報の記録・再生に使用する半導体レーザの発生するノイズには、戻り光ノイズとモードホッピング・ノイズとが存在し、いずれも再生信号に重大な妨害を与える。
この戻り光ノイズは、光ディスクで反射されるビームの一部が半導体レーザの内部に戻るため、光ディスクが外部反射鏡として作用して本来の内部共振器との間でモード競合を発生し、発振に揺らぎが生じた結果である。また、モードホッピング・ノイズは、半導体レーザ自身の共振器長が温度変化などで変動する結果縦モードが変化し、その際に生じるノイズである。
光ディスク記録再生装置において、光ディスクからの戻り光や半導体レーザの温度変化によりレーザノイズが増大し、再生信号に悪影響を及ぼすといった問題がある。このレーザノイズを低減する手法として、光ディスクにより変調を受けた光信号より直接モニタしたレーザ光のノイズ成分を相殺するレーザノイズキャンセル（ＬＮＣ）方式がある（例えば、特開２００２−３５２４５９号公報）。
ここで、図４により従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置について説明する。
図４において、光学ヘッド部４０は、レーザダイオード（ＬＤ）４１、コリメータレンズ（ＣＬ）４２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）４３、１／４波長板（ＱＷＰ）４４、対物レンズ（ＯＬ）４５、集光レンズ４６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）４７、光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）４８から構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード４１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ４２を通って偏光ビームスプリッタ４３に入る。偏光ビームスプリッタ４３を通過した一部のレーザ光は１／４波長板４４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ４５により光ディスク５０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク５０の記録情報により変調された後、再度、対物レンズ４５及び１／４波長板４４を通過し、この１／４波長板４４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ４３に入り、その偏光分離面で反射された後、集光レンズ４６を通して信号再生用受光器４７に入射される。一方、レーザダイオード４１から出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ４３の偏光分離面により反射され、光源モニタ用受光器４８に入射される。
また、信号再生用受光器４７および光源モニタ用受光器４８により検出された光信号は電気信号に変換され、それぞれ増幅器５１、５２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、差動増幅回路等で構成される演算回路５３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分のみを相殺したＬＮＣ信号が出力される。
ここで、偏光ビームスプリッタ４３は偏光特性を持っており、ＲＦ信号を取り出す光経路上に戻り光の影響を抑える１／４波長板４４が挿入されていることから、信号再生用受光器４７で受光するレーザ光と光源モニタ用受光器４８とで受光するレーザ光のＴＥ波とＴＭ波の比が異なる場合がある。このような場合、レーザダイオード４１から出射されるレーザ光のＴＥ波とＴＭ波のノイズの相関性が低いため、仮に増幅器５１，５２により信号再生用受光器４７で受光するＲＦ信号の一方のノイズ成分（例えばＴＥ成分）のレベルと光源モニタ用受光器４８で受光するＦＰＤ信号（同一ＴＥ成分）のノイズ成分のレベルを一致させ、演算回路５３で全てキャンセルできたとしても、もう一方のノイズ成分（ＴＭ成分）のノイズはレベルが異なるためキャンセルしきれない。
すなわち、レーザダイオード４１には、レーザダイオード４１から出射するレーザ光の偏光方向を示すものとして、図５に示すように、電場が活性領域層と平行な方向（活性領域層の厚み方向と垂直な方向）に偏波しているＴＥモードと、電場が活性領域層と垂直な方向（活性領域層の厚み方向と平行な方向）に偏波しているＴＭモードとの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生させることから、偏光依存性をもつ光学系ではキャンセル量が低下するという問題がある。
【発明の開示】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、レーザ光源から出射したレーザ光の直交する二つの偏光成分（偏光方向がＴＥモードのＴＥ波と、偏光方向がＴＭモードのＴＭ波）のレーザノイズ成分を確実に除去できるようにした光ディスク装置を提案しようとするものである。
かかる課題を解決するため本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された又は許容範囲内に抑えられた再生信号を得ることができる。
また本発明においては、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する光ディスク装置において、レーザ光源と光分離素子との間にレーザ光源から出射されるレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子を設け、偏光素子によりレーザ光源から光分離素子を介して光ディスクからの反射光を信号再生用受光素子で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第１の偏光成分レベル比と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である第２の偏光成分レベル比とが互いに一致するように光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光素子で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、レーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにした。
この結果この光ディスク装置では、レーザ光源から出射されたレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のレーザノイズ成分が確実に除去された再生信号を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
この発明の実施の最良の形態における光ディスク装置は、レーザ光源から光分離素子を介して信号再生用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第１の偏光成分レベル比と呼ぶ）と、レーザ光源から光分離素子を介して光源モニタ用受光器で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比（以下、これを第２の偏光成分レベル比と呼ぶ）とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、光分離素子のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるように構成する。
そして、レーザ光源から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルとの比である偏光比ＬＤｐと、レーザ光源と信号再生用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から信号再生用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比（以下、これを第１の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＲＦｐｏと、レーザ光源と前記光源モニタ用受光器との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザ光源から光源モニタ用受光器までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比（以下、これを第２の偏光成分透過率比と呼ぶ）ＦＰＤｐｏと、レーザノイズキャンセル量Ｎａの必要値とが次の関係式で表されるようにした。
【数２】
2005066948.tif 000034
これによりレーザ光源のＴＥ偏光成分とＴＭ偏光成分に含まれるレーザノイズ成分を所望の許容範囲内に抑えることができる。
（１）実施例１
以下、本発明にかかる光ディスク装置の実施例について説明する。
図１は本発明にかかる光ディスク装置の一例を示す構成図、図２は本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図１において、光学ヘッド部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）１１、コリメータレンズ（ＣＬ）１２、偏光ビームスプリッタ（ＢＳ）１３、１／４波長板（ＱＷＰ）１４、対物レンズ（ＯＬ）１５、集光レンズ１６、信号再生用受光器（ＲＦＰＤ）１７及び光源モニタ用受光器（ＦＰＤ）１８を備える。
また、信号再生用受光器１７及び光源モニタ用受光器１８の出力端には増幅器２１または２２がそれぞれ接続され、さらに、この増幅器２１，２２の各出力信号は、差動増幅回路等で構成される演算回路２３に入力されるように構成されている。
このような光ディスク装置において、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光はコリメータレンズ１２を通って偏光ビームスプリッタ１３に入る。偏光ビームスプリッタ１３を透過した一部のレーザ光は１／４波長板１４を通り円偏光に変換された後、対物レンズ１５により光ディスク２０上に集光される。そして、このレーザ光は光ディスク２０の記録情報により変調され、この変調されたレーザ光は、再度、対物レンズ１５及び１／４波長板１４を通過し、１／４波長板１４で直線偏光に戻されて偏光ビームスプリッタ１３に入り、偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面で反射される。そして、この偏光分離面で反射されたレーザ光は集光レンズ１６を通して信号再生用受光器１７に入射され、この信号再生用受光器１７により電気信号に変換される。
また、レーザダイオード１１より出射されたレーザ光の一部は偏光ビームスプリッタ１３の偏光分離面により反射されて、光源モニタ用受光器１８に入射される。この光源モニタ用受光器１８に入射されたレーザ光は電気信号に変換される。
信号再生用受光器１７および光源モニタ用受光器１８により検出された光信号は電気信号に変換され、この各電気信号はそれぞれの増幅器２１，２２によりノイズレベルが等しくなるよう増幅された後、演算回路２３にてＲＦ信号からレーザノイズ成分を相殺したＬＮＣ信号が出力される。
かかるレーザダイオード１１の発光モードにはＴＥモードとＴＭモードの２つのモードがあり、これらは互いに無相関にノイズを発生する。このため、無偏光系の光学ヘッド部では信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比と、光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比とが異なるため、レーザノイズのキャンセル量が低下するという問題がある。
これを解決するために本実施例では、レーザダイオード１１から光分離素子である偏光ビームスプリッタ１３を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光のかかる第１の偏光成分レベル比と、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光のかかる第２の偏光成分レベル比とが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比の差が所定の許容範囲内となるように、偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定し、信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分との差をとることにより、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られるようにする。以下、その詳細について図２を参照して説明する。
図２において、ベクトル３１は信号再生用受光器１７で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表し、ベクトル３２は光源モニタ用受光器１８で受光する振幅１のレーザノイズ成分を表している。
また、図２において、ＴＥ，ＴＭの成分比を表すα，βは次のような式で表すことができる。
【数３】
2005066948.tif 000035
【数４】
2005066948.tif 000036
ここで、ＬＤｐはレーザダイオード１１から出射されるＴＥ成分のレベルとＴＭ成分のレベルの偏光比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐは信号再生用受光器１７で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第１の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐは光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光のＴＥ成分に相当する成分のレベル及びＴＭ成分に相当する成分のレベルの比である上述の第２の偏光成分レベル比（ＴＥ／ＴＭ）、ＲＦｐｏはレーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３及び１／４波長板１４を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第１の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）、ＦＰＤｐｏはレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する偏光ビームスプリッタ１３を含む光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である上述の第２の偏光成分透過率比（ＴＥ／ＴＭ）を表す。
信号再生用受光器１７で受光するレーザノイズ成分と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザノイズ成分の大きさを一致させてその差をとると、図２から明らかなように、ＴＥ残留レーザノイズＮＥ、ＴＭ残留レーザノイズＮＭ及び総残留レーザノイズＮＴは次式を満たす。
【数５】
2005066948.tif 000037
【数６】
2005066948.tif 000038
【数７】
2005066948.tif 000039
ただし、θ＝α−βである。
ここで、必要となるレーザノイズキャンセル量Ｎａがわかっている場合、レーザノイズキャンセル量Ｎａは次式を満たすことが必要となる。
【数８】
2005066948.tif 000040
ただし、レーザノイズキャンセル量Ｎａは、レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベルとレーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベルとの比（レーザノイズキャンセル後のレーザノイズレベル／レーザノイズキャンセル前のレーザノイズレベル）で表される。
また、この（８）式を（３）式及び（４）式により変形させると、次のようになる。
【数９】
2005066948.tif 000041
すなわち、この（９）式は、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３と１／４波長板１４を含む光学系を介して信号再生用受光器１７で受けるレーザ光の第１の偏光成分レベル比ＲＦｐと、レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を介して光源モニタ用受光器１８で受けるレーザ光の第２の偏光成分レベル比ＦＰＤｐとが互いに一致又は第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差が所定の許容範囲内となるように偏光ビームスプリッタ１３のＳ偏光及びＰ偏光に対する透過率及び反射率を選定することにより達成される。すなわち、この（９）式が成立できることは、所望の量のレーザノイズが相殺された再生信号が得られることになる。
例えば、図１において、特に偏光ビームスプリッタ１３の偏光特性であるＰ偏光の透過率ＴｐをＴｐ＝９０％、Ｐ偏光の反射率ＲｐをＲｐ＝１０％、Ｓ偏光の透過率ＴｓをＴｓ＝０％、Ｓ偏光の反射率ＲｓをＲｓ＝１００％とすれば、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光する光量比は異なるものの、第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐは共にＴＥ：ＴＭ＝１０：０（ＴＥをＳ方向に合わせた場合）となるため、後段の増幅器２１，２２によりノイズレベルを合わせ込むことでノイズを完全に相殺することができる。ここで、偏光ビームスプリッタ１３以外の光学素子の偏光特性については、一般的に偏光ビームスプリッタ１３と比較して小さいため、無視できるものとした。
次に、必要となるレーザノイズキャンセル量とα（レーザダイオード１１から偏光ビームスプリッタ１３を通して信号再生用受光器１７に至る光学系の第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏから求まる値）がわかっている場合について説明する。この場合は、（８）式から、
【数１０】
2005066948.tif 000042
となり、（４）式及び（１０）式から第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求めることができる。
例えば、ＬＤｐ＝１００（ＴＥ：ＴＭ＝１００：１），ＲＦｐｏ＝１（ＴＥ：ＴＭ＝１：１），必要とするレーザノイズキャンセル量Ｎａを２０ｄＢ（１／１００）としたときの第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを求める場合、上述の（３）式に与えられた条件を当てはめると、
【数１１】
2005066948.tif 000043
この（１０）式にα，Ｎａの条件を代入すると、
【数１２】
2005066948.tif 000044
ここでβは（４）式で表すことができるので、
【数１３】
2005066948.tif 000045
ＴＥ，ＴＭ成分は共に正の値であるため、
【数１４】
2005066948.tif 000046
と計算され、第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏを０．５以上の値に設定することにより２０ｄＢ以上のレーザノイズキャンセルが可能となる。
なお、これら光学系の設定条件はほとんど偏光ビームスプリッタ１３によって決定されるものである。
（２）実施例２
次に、図３により本発明の他の実施例について説明する。
図３において、図１と同一の構成要素には同一符号を付してその構成説明を省略し、図１と異なる部分を重点に述べる。
この他の実施例において、図１と異なる点は、レーザダイオード１１と偏光ビームスプリッタ１３との間にレーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥ成分及びＴＭ成分のいずれか一方を通過させる偏光素子１９を設けたところにある。
このように偏光素子１９により、レーザダイオードＬＤ１１から出射される一方の偏光成分（例えば、ＴＥ波成分）のみを通過させることにより第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを実施例１の場合と同様にＴＥ：ＴＭ＝１０：０とすることができる。
また、必要となるレーザノイズキャンセル量があらかじめわかっている場合、信号再生用受光器１７と光源モニタ用受光器１８で受光するレーザ光の第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐを完全に一致させる必要は無く、（９）式及び（１０）式を基に必要キャンセル量から求まる誤差範囲内に第１及び第２の偏光成分レベル比ＲＦｐ，ＦＰＤｐの差を抑えればよい。
また、増幅器２１及び２２のゲインを調整することにより、その増幅器２１，２２でＲＦ信号とＦＰＤ信号のノイズレベルを一致させる際、ノイズレベル（ノイズの実効性成分）の大きさをモニタし一致させる。このとき、レーザダイオード１１から出射されるレーザ光のＴＥ成分のレベル及びＴＭ成分のレベルの比である偏光比ＬＤｐと、レーザダイオード１１と信号再生用受光器１７との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から信号再生用受光器１７までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率の比である第１の偏光成分透過率比ＲＦｐｏがわかっていれば、必要となるノイズキャンセル量Ｎａからレーザダイオード１１と光源モニタ用受光器１８との間の光路上に存在する光学素子によって決定される、レーザダイオード１１から光源モニタ用受光器１８までのレーザ光のＴＥ成分に相当する成分の透過率及びＴＭ成分に相当する成分の透過率との比である第２の偏光成分透過率比ＦＰＤｐｏが求まる。
なお、以上の説明例では偏光ビームスプリッタの偏光特性により偏光比を調整しているが、他の光学部品によって偏光比を調整された場合も動作に何ら影響がない。また、以上の説明は減算方式のＬＮＣに基づいたものであるが、特開２００２−１８３９７０で既知の乗算方式に本発明を適用しても同様の効果が期待できる。
【産業上の利用可能性】
本発明は、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクと光源モニタ用受光器とに向けて分配するとともに、光ディスクからの反射光を信号再生用受光器に向けて反射する光分離素子を有する種々の光ディスク装置に広く適用することができる。
【図面の簡単な説明】
図１は、本発明にかかる光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。
図２は、本実施例におけるレーザダイオード（レーザ光源）のＴＥ波及びＴＭ波に対して信号再生用受光器で受光するノイズ成分と光源モニタ用受光器で受光するノイズ成分との関係を示す説明図である。
図３は、本発明にかかる光ディスク装置の他の実施例を示す構成図である。
図４は、従来におけるＬＮＣ方式の光ディスク装置を示す構成図である。
図５は、レーザダイオードから出射されるレーザ光のＴＥモード及びＴＭモードの説明に供する説明図である。
【符号の説明】
１０……光学ヘッド部、１１……レーザダイオード、１２……コリメータレンズ、１３……偏光ビームスプリッタ、１４……１／４波長板、１５……対物レンズ、１６……集光レンズ、１７……信号再生用受光器、１８……光源モニタ用受光器、１９……偏光素子、２０……光ディスク、２１，２２……増幅器、２３……演算回路。
【国際調査報告】
2005066948.tif 000047
2005066948.tif 000048
2005066948.tif 000049
2005066948.tif 000050
2005066948.tif 000051
2005066948.tif 000052