【手続補正書】
【提出日】令和1年8月2日(2019.8.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料の質量分析情報を測定する方法であって、
イオントラップにおいて前記試料から発生したイオンを捕捉することであり、前記イオントラップは、開口の縦軸に対して直交する平面に延びる中央電極を備え、前記中央電極は、前記縦軸に沿って前記中央電極を通って伸びる１つまたはそれ以上の開口によって画定されるトラッピング領域を備える、こと、
捕捉されたイオンの少なくとも一部を前記トラッピング領域の第１部分から選択的に放出することであり、前記第１部分は前記トラッピング領域のサブセットに対応する、こと、及び、
前記試料に関する前記質量分析情報を取得するために、前記放出されたイオンを検出すること、
を含む方法。
【請求項２】
イオン源中の前記試料から前記イオンを発生させることを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記イオンを生成することは、前記イオンを発生させるエレクトロスプレーイオン源を用いることを含む、
請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記捕捉されたイオンの少なくとも一部を選択的に放出することは、前記トラッピング領域の前記第１部分と対応しない前記トラッピング領域の部分内において、前記捕捉されたイオンの少なくとも一部を維持するように、空間的なマスクを用いることを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記イオンを捕捉することは、前記トラッピング領域の前記第１部分を含まない前記トラッピング領域の前記部分における前記試料から生成された前記イオンを認識することを含む、
請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記イオンを捕捉することは、前記トラッピング領域の前記第１部分を少なくとも部分的に含む前記トラッピング領域の前記部分における前記試料から発生された前記イオンを認識することを含む、
請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記イオンを捕捉することは、前記トラッピング領域の全体における前記試料から発生された前記イオンを認識することを含む、
請求項４に記載の方法。
【請求項８】
前記トラッピング領域は、複数の開口を含み、前記捕捉されたイオンの少なくとも一部を選択的に放出することは、前記複数の開口の第１サブセットから捕捉されたイオンを放出することを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記イオンを捕捉することは、前記複数の開口の第２サブセットにおける前記試料から発生された前記イオンを認識することを含み、前記第２サブセットの少なくとも一部のメンバーは、前記複数の開口の第１サブセットのメンバーとは異なる、
請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記複数の開口の第１サブセットの各メンバーは、前記複数の開口の第２サブセットのメンバーである、
請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
放出された前記イオンを検出するために、複数の検出器のサブセットをアクティベートすることを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記トラッピング領域の前記第１部分からイオンを放出した後、
前記トラッピング領域の第２部分から前記捕捉されたイオンの少なくとも一部を選択的に放出することであって、前記第２部分は、前記トラッピング領域の前記第１部分とは異なる前記トラッピング領域のサブセットに対応する、こと、及び、
前記試料に関する前記質量分析情報を取得するために、前記トラッピング領域の前記第２部分から放出されたイオンを検出すること、を含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記トラッピング領域は、複数の開口を備え、
前記トラッピング領域の前記第１部分から捕捉されたイオンを選択的に放出することは、前記複数の開口の第１サブセットから捕捉されたイオンを放出することを含み、
前記トラッピング領域の前記第２部分から捕捉されたイオンを選択的に放出することは、前記複数の開口の第１サブセットとは異なる前記複数の開口の第２サブセットから捕捉されたイオンを放出することを含む、
請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記複数の開口の第１のサブセットのメンバーのいずれも、前記複数の開口の第２のサブセットに共通しない、
請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記イオンを捕捉することは、前記複数の開口の第３サブセットにおける前記試料から生成された前記イオンを認識することを含み、前記第３サブセットの少なくとも一部のメンバーは、前記複数の開口の前記第１サブセットのメンバー及び前記第２サブセットのメンバーとは異なる、
請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記複数の開口の第１サブセットの各メンバー及び第２サブセットの各メンバーは、前記複数の開口の第３サブセットのメンバーである、
請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記トラッピング領域から捕捉された前記イオンを選択的に放出する前に、
前記複数の開口の前記第１サブセットにおけるイオン質量の第１範囲に対応する捕捉されたイオンを選択的にトラッピングすること、及び
前記複数の開口の前記第２サブセットにおけるイオン質量の前記第１範囲とは異なるイオン質量の第２範囲に対応する捕捉されたイオンを選択的にトラッピングすることを含む、
請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
前記トラッピング領域の前記第１部分から放出された前記イオンを検出するために、複数の検出器の第１サブセットをアクティベートすること、及び
前記トラッピング領域の前記第２部分から放出された前記イオンを検出するために、前記複数の検出器の第１サブセットとは異なる前記複数の検出器の第２サブセットをアクティベートすることを含む、
請求項１３に記載の方法。
【請求項１９】
試料の質量分析情報を測定する方法であって、
イオン源の試料からイオンを生成すること、
イオントラップの電極内に複数の開口を含む前記イオントラップにおいて発生したイオンを捕捉することであり、前記複数の開口の各々は、前記イオントラップの縦軸に対して直交する平面に横方向に延び、かつ前記軸に沿って縦方向に延び、
前記複数の開口の第１サブセットから捕捉されたイオンを選択的に放出し、前記複数の開口の前記第１サブセットにおいて捕捉された前記イオンの質量分析情報を決定するために、放出された前記イオンを検出し、及び、
前記複数の開口の第２サブセットから捕捉されたイオンを選択的に放出し、前記複数の開口の前記第２サブセットにおいて捕捉された前記イオンの質量分析情報を決定するために、放出された前記イオンを検出し、
前記複数の開口の前記第１サブセットのメンバーと前記２サブセットのメンバーは、異なる、
方法。
【請求項２０】
前記複数の開口の前記第１サブセットにおける捕捉された前記イオンは、前記複数の開口の前記第２サブセットにおける捕捉された前記イオンとは、前記イオンの少なくとも１つの特定に関して異なる、
請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記イオン源は、エレクトロスプレーイオン源である、
請求項１９に記載の方法。
【請求項２２】
前記複数の開口の前記第１サブセットから捕捉されたイオンを選択的に放出することは、前記複数の開口の少なくとも一部内において、前記捕捉されたイオンの少なくとも一部を維持するように、空間的なマスクを用いることを含む、
請求項１９に記載の方法。
【請求項２３】
前記複数の開口の前記第１サブセットから捕捉されたイオンを検出するために、複数の検出器の第１サブセットをアクティベートすること、及び、
前記複数の開口の前記第２サブセットから捕捉されたイオンを検出するために、前記複数の検出器の第２サブセットをアクティベートすることを含む、
請求項１９に記載の方法。
【請求項２４】
前記イオントラップ内で発生されたイオンを捕捉することは、前記複数の開口の第３サブセットにおいて前記イオンを認識することを含む、
請求項１９に記載の方法。
【請求項２５】
前記複数の開口の第３サブセットの少なくとも一部のメンバーは、前記複数の開口の前記第１サブセットの各メンバー及び前記第２サブセットの各メンバーとは異なる、
請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
前記複数の開口の第１サブセットの各メンバー及び第２サブセットの各メンバーは、前記複数の開口の第３サブセットのメンバーである、
請求項２４に記載の方法。