【事件の表示】
　特願２０１８−　８８５８８「タッチパネル」拒絶査定不服審判事件〔平成３０年　９月２７日出願公開、特開２０１８−１５２１０５、請求項の数（３）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２６年２月２５日に出願した特願２０１４−３４４７６号の一部を平成３０年５月２日に新たな特許出願としたものであって、その手続の経緯は以下のとおりである。
　令和元年　７月　４日付け：拒絶理由通知
　令和元年　９月　５日　　：意見書の提出
　令和元年１０月　７日付け：拒絶査定
　令和２年　１月　９日　　：審判請求書、手続補正書の提出
　令和２年１２月２５日付け：拒絶理由通知
　令和３年　３月　３日　　：意見書、手続補正書の提出
第２　原査定の概要
　原査定（令和元年１０月７日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。
　本願請求項１に係る発明は、以下の引用文献Ａに基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
Ａ．特開２０１２−２３４４１９号公報
第３　当審拒絶理由の概要
　当審拒絶理由（令和２年１２月２５日付け拒絶理由通知）の概要は次のとおりである。
　本願請求項１に係る発明は、以下の引用文献１−３に基づいて、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
１．特表２０１２−５１４２６４号公報（当審で新たに引用した文献）
２．特開２０１２−２３４４１９号公報（拒絶査定時の引用文献Ａ）
３．特開平８−１６１０９９号公報（当審で新たに引用した文献）
第４　本願発明
　本願請求項１−３に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」−「本願発明３」という。）は、令和３年３月３日の手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１−３に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１−３は以下のとおりの発明である。
「　【請求項１】
　上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、
　前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、
　前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、
　前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗を介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部における分圧値を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第２の抵抗を介して電源電位を供給した状態で、前記第２の電位測定部における分圧値を検出することを特徴とするタッチパネル装置。
　　【請求項２】
　上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、
　前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、
　前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、
　前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、
　前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、
　前記第４の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と、
　前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第４の抵抗と、
　前記第３の給電端子における電位を測定する第４の電位測定部と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗と前記第２の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧値を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第３の抵抗と前記第４の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第３の電位測定部及び前記第４の電位測定部において分圧値を検出することを特徴とするタッチパネル装置。
　　【請求項３】
　上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、
　前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、
　前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、
　前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、
　前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、
　前記第３の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　前記第４の給電端子は前記第１の給電端子の対角に配置されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗と前記第２の抵抗とをそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第２の抵抗と前記第３の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第２の電位測定部及び前記第３の電位測定部において分圧値を検出することを特徴とするタッチパネル装置。」
第５　引用文献、引用発明等
１．引用文献１、引用発明について
（１）令和２年１２月２５日付けの当審拒絶理由に引用された引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている。
「【００２４】 
　図３に
５線抵抗膜方式タッチスクリーン
５線式構成３１は、２枚のプレート３３、３４とコントローラ３９とを含むセンサ３２を備え
一方のプレート３４の表面は、均一な抵抗層を形成するためにＩＴＯといった抵抗材料で被覆されており、他方のプレート３３の対向する表面は金属層といった導電層で被覆され
上板３３の下面は導電層を備え、下板３４の上は抵抗層を備え
【００２５】
　
（以下で抵抗プレートと呼ぶ）抵抗層を備えるプレート３４は、４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８を含み、各電極は抵抗プレート３４の個々の角のところに形成され
（以下で導電プレートと呼ぶ）他方のプレート３３の導電層は
、ワイパ電極Ｗとも呼ばれ
４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８はそれぞれコントローラ３９の個々の出力に接続され
ワイパ電極Ｗはコントローラ３９の入力に接続されている
【００２６】
　５線式構成３１の動作原理は多くの点で４線式構成１の動作原理と類似する。使用に際しては、４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８にしかるべくバイアスをかけることによって、電圧がＸ方向またはＹ方向で抵抗層の両端に印加される。この例では、タッチ点のＸ座標およびＹ座標は、図３に「Ｏ」で示すプレートの角のうちの１つに原点を有する図３に示す軸によって示される方向で定義される。
Ｘ座標を測定するには、（プレートの一方の縁部に位置する）電極ＵＲ３５およびＬＲ３６を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、（プレートの対向する縁部に位置する）電極ＬＬ３７およびＵＬ３８を接地に接続することによって、電圧がＸ方向に印加され
【００２７】
　
各電極３５、３６、３７、３８に前述のようにバイアスをかけることにより、Ｘ方向で抵抗プレート３４の両端に線形電圧増加が生じ
導電プレート３３がタッチされると、ワイパ電極がタッチ点Ｔにおいて抵抗プレート３４上に形成された抵抗層と電気的に接続する
印加電圧がワイパ電極によって分割される電圧分割回路が生じ
ワイパ電極によって測定される分割電圧ＶＷＸＭＥＡＳはタッチ点ＴのＸ座標に比例する
Ｘ座標は電圧比ＶＷＸＭＥＡＳ／ＶＲＥＦにＸＭＡＸを乗じたもので与えられ
【００２８】
　
Ｘ座標が決定されると、
電極ＵＬ３８およびＵＲ３５を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、
電極ＬＬ３７およびＬＲ３６を接地に接続することによって、電圧がＹ方向に印加され
線形電圧増加がＹ方向で抵抗プレート３４の両端に作り出され、センサ３２がタッチされるときにワイパ電極によって分割され
ワイパ電極によって測定される分割電圧ＶＷＹＭＥＡＳはタッチ点ＴのＹ座標に比例する
Ｙ座標は電圧比ＶＷＹＭＥＡＳ／ＶＲＥＦにＹＭＡＸを乗じたものにより与えられる
【００２９】
　また、センサの他の構成も可能である。例えば、７線式および９線式の各タッチスクリーンセンサは、前述の４線式および５線式の各構成の変形を備える。
【００３０】
　電圧の印加および測定はコントローラ９、３９によって行われる。例えば図２ｄに、Ｘ座標を決定するために電圧の印加および測定を行う４線式構成１のセンサ２およびコントローラ９の回路構成を示す。
【００３１】
　前述のタッチスクリーン装置では、Ｘ座標およびＹ座標の測定値は連続して取得される。例えば４線式構成１では、一方の座標を測定するために一方のプレートの電極の両端に電圧が印加され、次いで、他方の座標を測定するために他方のプレートの電極の両端に電圧が印加される。このプロセスは必要な位置測定ごとに繰り返される。典型的なタッチスクリーン装置は、毎秒１００から１０００の座標対測定値を生じる。」
「【図３】
」
（２）上記下線部の記載及び図３によれば、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
〈引用発明〉
「５線抵抗膜方式タッチスクリーンであって、
　５線式構成３１は、２枚のプレート３３、３４とコントローラ３９とを含むセンサ３２を備え、
　一方の下板プレート３４の表面は、均一な抵抗層を形成するためにＩＴＯといった抵抗材料で被覆されており、他方の上板プレート３３の対向する表面は金属層といった導電層で被覆され、
　上板３３の下面は導電層を備え、下板３４の上は抵抗層を備え、
　（以下で抵抗プレートと呼ぶ）抵抗層を備えるプレート３４は、４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８を含み、各電極は抵抗プレート３４の個々の角のところに形成され、
　（以下で導電プレートと呼ぶ）他方のプレート３３の導電層は、ワイパ電極Ｗとも呼ばれ、４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８はそれぞれコントローラ３９の個々の出力に接続され、ワイパ電極Ｗはコントローラ３９の入力に接続されており、
　Ｘ座標を測定するには、（プレートの一方の縁部に位置する）電極ＵＲ３５およびＬＲ３６を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、（プレートの対向する縁部に位置する）電極ＬＬ３７およびＵＬ３８を接地に接続することによって、電圧がＸ方向に印加され、各電極３５、３６、３７、３８に前述のようにバイアスをかけることにより、Ｘ方向で抵抗プレート３４の両端に線形電圧増加が生じ、導電プレート３３がタッチされると、ワイパ電極がタッチ点Ｔにおいて抵抗プレート３４上に形成された抵抗層と電気的に接続し、印加電圧がワイパ電極によって分割される電圧分割回路が生じ、ワイパ電極によって測定される分割電圧ＶＷＸＭＥＡＳはタッチ点ＴのＸ座標に比例し、Ｘ座標は電圧比ＶＷＸＭＥＡＳ／ＶＲＥＦにＸＭＡＸを乗じたもので与えられ、
　Ｘ座標が決定されると、電極ＵＬ３８およびＵＲ３５を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、電極ＬＬ３７およびＬＲ３６を接地に接続することによって、電圧がＹ方向に印加され、線形電圧増加がＹ方向で抵抗プレート３４の両端に作り出され、センサ３２がタッチされるときにワイパ電極によって分割され、ワイパ電極によって測定される分割電圧ＶＷＹＭＥＡＳはタッチ点ＴのＹ座標に比例し、Ｙ座標は電圧比ＶＷＹＭＥＡＳ／ＶＲＥＦにＹＭＡＸを乗じたものにより与えられる、５線抵抗膜方式タッチスクリーン。」
２．引用文献２について
（１）令和２年１２月２５日付けの当審拒絶理由に引用された引用文献２には、図面とともに次の事項が記載されている。
「【００３６】 
　（マルチタッチ時２）
　図５（ａ）は、
タッチパネル１上で、点ＰＭ１と点ＰＭ２とが押された例
　図５（ｂ）は、図５（ａ）の状態で抵抗膜１１が駆動膜となっている時の状態を、等価回路で示したものである。
【００３７】
　図５（ａ）を参照して、図５（ａ）の点ＰＭ１及び点ＰＭ２は、Ｘ軸又はＹ軸に対して平行ではない。抵抗膜１１は、電極ＸＬから点ＰＭ１までの抵抗ＲＭ１と、電極ＸＬから点ＰＭ２までの抵抗ＲＭ２と、点ＰＭ１から電極ＸＲまでの抵抗ＲＭ３と、点ＰＭ２から電極ＸＲまでの抵抗ＲＭ４と、に分けて説明することができる。
【００３８】
　
抵抗膜１１上の点ＰＭ１と、抵抗膜１３上の点ＰＭ１’とが接触し
また、抵抗膜１１上の点ＰＭ２と、抵抗膜１３上の点ＰＭ２’とが接触し
　
ＭＣＵ３１は、検出用抵抗３９Ｌ、３９Ｒ、電極ＸＬ及び電極ＸＲを通るラインに電圧をかけ
ると、抵抗膜１１上に電流が流れ
抵抗膜１３上も、点ＰＭ１’と点ＰＭ２’との間で電流が流れ
図５（ｂ）に示すように、並列回路が形成され
電極ＸＬと電極ＸＲとの間の全体抵抗ＲＴｘは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下する
　
その結果、検出用抵抗３９Ｌと電極ＸＬとの間での電位は低下し、検出用抵抗３９Ｒと電極ＸＲとの間の電位は上昇する
この電位の変化は、Ａ／Ｄコンバータ３５Ｌ及び３５Ｒによって計測でき
　
つまり、ＭＣＵ３１は、抵抗膜１１が駆動膜である時のＡ／Ｄコンバータ３５Ｌ及び３５Ｒが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができ
【００３９】
　
次に、ＭＣＵ３１は、検出用抵抗３９Ｕ、３９Ｄ、電極ＹＵ及び電極ＹＤを通るラインに電圧をかける
と、抵抗膜１３上に電流が流れ
抵抗膜１３上も、点ＰＭ１’と点ＰＭ２’との間で電流が流れ
並列回路が形成され
電極ＹＵと電極ＹＤとの間の全体抵抗ＲＴｙは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下する
　
その結果、検出用抵抗３９Ｕと電極ＹＵとの間での電位は低下し、検出用抵抗３９Ｄと電極ＹＤとの間の電位は上昇する
この電位の変化は、Ａ／Ｄコンバータ３５Ｕ及び３５Ｄによって計測でき
　
つまり、ＭＣＵ３１は、抵抗膜１３が駆動膜である時のＡ／Ｄコンバータ３５Ｕ及び３５Ｄが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができる
「【図５】
」
（２）上記下線部の記載及び【図５】（ａ）、（ｂ）によれば、引用文献２には、次の技術事項（以下、「引用文献２記載の技術事項」という。）が記載されていると認められる。
〈引用文献２記載の技術事項〉
「タッチパネル１上で、点ＰＭ１と点ＰＭ２とが押された例であって、
　抵抗膜１１上の点ＰＭ１と、抵抗膜１３上の点ＰＭ１’とが接触し、また、抵抗膜１１上の点ＰＭ２と、抵抗膜１３上の点ＰＭ２’とが接触し、
　ＭＣＵ３１は、検出用抵抗３９Ｌ、３９Ｒ、電極ＸＬ及び電極ＸＲを通るラインに電圧をかけると、抵抗膜１１上に電流が流れ、抵抗膜１３上も、点ＰＭ１’と点ＰＭ２’との間で電流が流れ、図５（ｂ）に示すように、並列回路が形成され、電極ＸＬと電極ＸＲとの間の全体抵抗ＲＴｘは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下し、
　　その結果、検出用抵抗３９Ｌと電極ＸＬとの間での電位は低下し、検出用抵抗３９Ｒと電極ＸＲとの間の電位は上昇し、この電位の変化は、Ａ／Ｄコンバータ３５Ｌ及び３５Ｒによって計測でき、
　　つまり、ＭＣＵ３１は、抵抗膜１１が駆動膜である時のＡ／Ｄコンバータ３５Ｌ及び３５Ｒが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができ、
　次に、ＭＣＵ３１は、検出用抵抗３９Ｕ、３９Ｄ、電極ＹＵ及び電極ＹＤを通るラインに電圧をかけると、抵抗膜１３上に電流が流れ、抵抗膜１３上も、点ＰＭ１’と点ＰＭ２’との間で電流が流れ、並列回路が形成され、電極ＹＵと電極ＹＤとの間の全体抵抗ＲＴｙは、マルチタッチがなされていない場合よりも低下し、
　　その結果、検出用抵抗３９Ｕと電極ＹＵとの間での電位は低下し、検出用抵抗３９Ｄと電極ＹＤとの間の電位は上昇し、この電位の変化は、Ａ／Ｄコンバータ３５Ｕ及び３５Ｄによって計測でき、
　　つまりＭＣＵ３１は、抵抗膜１３が駆動膜である時のＡ／Ｄコンバータ３５Ｕ及び３５Ｄが計測する電位に変化があった場合、マルチタッチがなされたと判断することができること。」
３．引用文献３について
（１）令和２年１２月２５日付けの当審拒絶理由に引用された引用文献３には、図面とともに次の事項が記載されている。
「【００３９】〔実施例１〕　図１は，実施例１のブロック構成図である。実施例１の操作パネルは，アナログタッチパネル方式の操作パネルであり，人間の指などでタッチパネルのタッチ感応表面上のどこにタッチしてもそのタッチを検出するものである。
【００４０】まず，構成について説明する。１０１は，Ｘ方向／Ｙ方向それぞれの抵抗膜であるＸ側抵抗膜１０１ａとＹ側抵抗膜１０１ｂとを重ね合わせて形成されたアナログタッチパネルであり，１０２のＬＣＤモジュール上に設置される。上記Ｘ側抵抗膜１０１ａには，Ｘ電極端子（Ｘ２）と対向する端部にＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値を測定する測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）が配置されており，Ｙ側抵抗膜１０１ｂには，Ｙ電極端子（Ｙ２）と対向する端部にＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値を測定する測定用Ｙ電極端子（Ｙ１）が配置されている。
【００４１】１０３は，ＬＣＤモジュール１０２の画面を制御するＬＣＤコントローラである。１０４ａ〜ｆは，タッチパネル１０１の端子間に印加する（または端子から検出する）信号ラインを切り替えるスイッチ（ＳＷａ〜ＳＷｆ）であり，１０５ａ〜ｄは，信号を検出するセンスアンプ（ＡＭＰ．ａ〜ＡＭＰ．ｄ）である。
【００４２】また，１０６はセンスアンプ１０５ａ〜ｄから信号（電圧値）を入力して後述するＡ／Ｄコンバータに選択的に出力するマルチプレクサ（ＭＵＸ），１０７は検出した電圧値をデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータ，１０８はタッチパネル１０１面が押下されたことを検出する独立した検出回路（実施例１では，コンパレータ（ＣＯＭＰ）），１０９は押下検出，タッチパネル１０１の端子信号切り替え，および座標データの算出を行う入力制御部，１１０は上記各部を制御するメインコントローラ，１１１ａおよび１１１ｂは，Ｘ電極，Ｙ電極の各電極間の抵抗値測定時のバイアス抵抗回路である。なお，Ｘ電極の電極間の抵抗値測定時のバイアス抵抗回路を１１１ａ，Ｙ電極の電極間の抵抗値測定時のバイアス抵抗回路を１１１ｂとする。また，本装置では点線枠で囲まれた部分は１チップのマイコン（マイクロ・コンピュータ）１１２によって実現されている。
【００４３】なお，スイッチ１０４ａ〜ｆによって切替手段が構成され，センスアンプ１０５ａ〜ｄおよび検出回路１０８によって検出手段が構成され，入力制御部１０９によって座標算出手段が構成され，ＬＣＤモジュール１０２によって表示手段が構成され，マイコン１１２によって制御手段が構成され，またバイアス抵抗回路１１１ａおよび１１１ｂとによって抵抗値検出手段および電圧値検出手段が構成される。」
「【００５４】次に，入力制御部１０９は，Ｘ側，Ｙ側それぞれについて抵抗膜の抵抗値を測定するための回路に接続する。このとき，パネル上の１点を押下したときの測定した抵抗値をＲＴＰＸとし，パネル上の１点を押下した場合抵抗値ＲＴＰＸは，初期データの値と同一となるが，パネル上の２点を押下した場合には，図６に示すような等価回路になり，Ｙ側抵抗膜の抵抗値がＸ側抵抗膜に並列に接続された回路になるため，抵抗値が低下する。
【００５５】
入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｂおよび１０４ｅをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｃ，ｄおよびｆをオフとして（Ｓ４０３），Ｘ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値がセンスアンプ１０５ａに検出され，この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０９に通知される（Ｓ４０４）。
【００５６】
ここで，測定されたＸ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値と，電圧値ＶＲｘとの差異を求め（Ｓ４０５），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４０６），差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場合には，パネル上の複数点が押下されたものと判断
【００５７】ステップＳ４０４にて差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と同じであると判断した場合，
Ｙ側抵抗膜に対しても同様の比較／評価を実行する
【００５８】
入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｆ，ｄをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｂ，ｃ，ｅをオフとする（Ｓ４０７）。この状態でタッチパネル１０１上が押下されるとセンスアンプ１０５ｃに電圧が検出され，この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０９に通知される（Ｓ４０８）。
【００５９】
ここで，測定されたＹ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値と，電圧値ＶＲｙとの差異を求め（Ｓ４０９），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４１０），差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場合には，パネル上の複数点が押下されたものと判断し
【００６０】ステップＳ４１０にて差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と同じであると判断した場合，Ｘ側，Ｙ側共に基準データの抵抗値と同一の結果が得られ，すなわち，パネル上の押下点は，１点であると判断できる。」
「【図１】
」
　図１を参照すると、「Ｘ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値」は、Ｘ側抵抗膜１０１ａの測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）におけるバイアス回路１１１ａの抵抗ＲｘとＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値の分圧値であり、また、「Ｙ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値」は、Ｙ側抵抗膜１０１ｂの測定用Ｙ電極端子（Ｙ１）におけるバイアス回路１１１ｂの抵抗ＲｙとＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値の分圧値であると認められる。
（２）上記下線部の記載及び図１によれば、引用文献３には、次の技術事項（以下、「引用文献３記載の技術事項」という。）が記載されていると認められる。
〈引用文献３記載の技術事項〉
「入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｂおよび１０４ｅをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｃ，ｄおよびｆをオフとして（Ｓ４０３），Ｘ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値（Ｘ側抵抗膜１０１ａの測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）におけるバイアス回路１１１ａの抵抗ＲｘとＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値の分圧値）がセンスアンプ１０５ａに検出され，この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０９に通知され（Ｓ４０４），
　ここで，測定されたＸ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値（Ｘ側抵抗膜１０１ａの測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）におけるバイアス回路１１１ａの抵抗ＲｘとＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値の分圧値）と，電圧値ＶＲｘとの差異を求め（Ｓ４０５），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４０６），差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場合（Ｓ４０６；Ｎｏ）には，パネル上の複数点が押下されたものと判断し，
　Ｙ側抵抗膜に対しても同様の比較／評価を実行し，
　入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｆ，ｄをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｂ，ｃ，ｅをオフとし（Ｓ４０７），この状態でタッチパネル１０１上が押下されるとセンスアンプ１０５ｃに電圧が検出され，この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０９に通知され（Ｓ４０８），
　ここで，測定されたＹ側抵抗膜の抵抗値を示す電圧値（Ｙ側抵抗膜１０１ｂの測定用Ｙ電極端子（Ｙ１）におけるバイアス回路１１１ｂの抵抗ＲｙとＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値の分圧値）と，電圧値ＶＲｙとの差異を求め（Ｓ４０９），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４１０），差異の電圧値があらかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場合（Ｓ４１０；Ｎｏ）には，パネル上の複数点が押下されたものと判断すること。」
第６　対比・判断
１．本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明を対比すると次のことがいえる。
 
（ア）引用発明の「他方のプレート３３（導電プレート）」は、本願発明１の「上部導電膜を有する上部電極基板」に相当するといえる。
（イ）引用発明の「抵抗層を備えるプレート３４（抵抗プレート）」は、本願発明１の「下部導電膜を有する下部電極基板」に相当するといえる。
（ウ）引用発明の「抵抗プレート３４の個々の角のところに形成」された「４つの電極ＵＲ３５、ＬＲ３６、ＬＬ３７およびＵＬ３８」は、本願発明１の「前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子」に相当するといえる。
（エ）引用発明の「導電プレート３３がタッチされると、ワイパ電極がタッチ点Ｔにおいて抵抗プレート３４上に形成された抵抗層と電気的に接続し、印加電圧がワイパ電極によって分割される電圧分割回路が生じ、」「分割電圧ＶＷＸＭＥＡＳ」を「ワイパ電極によって」測定すること、及び「タッチされるときにワイパ電極によって分割され、」「分割電圧ＶＷＹＭＥＡＳ」を「ワイパ電極によって」測定する構成は、「ワイパ電極」は、「導電プレート」（本願発明１の「上部電極基板」に相当する。）の導電層であるから、本願発明１の「前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出」する構成に相当するといえる。
（オ）引用発明の「電極ＵＬ３８およびＵＲ３５を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、電極ＬＬ３７およびＬＲ３６を接地に接続」し、「分割電圧ＶＷＹＭＥＡＳ」を「ワイパ電極によって測定」する構成と、「Ｘ座標を測定するには、」「電極ＵＲ３５およびＬＲ３６を正の基準電圧ＶＲＥＦに接続し、」「電極ＬＬ３７およびＵＬ３８を接地に接続」し、「分割電圧ＶＷＸＭＥＡＳ」を「ワイパ電極によって測定」する構成は、本願発明１の「前記第１の給電端子は接地されており」、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗を介して
前記第１の電位測定部における分圧値
前記第２の抵抗を介して
前記第２の電位測定部における分圧値
（カ）引用発明の「５線抵抗膜方式タッチスクリーン」は、後述する相違点を除き、本願発明１の「タッチパネル装置」に相当するといえる。
　したがって、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点と相違点があるといえる。
（一致点）
「上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出するタッチパネル装置。」　
（相違点）
　本願発明１では、「前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗を介して
前記第１の電位測定部における分圧値
前記第２の抵抗を介して
前記第２の電位測定部における分圧値
（２）相違点についての判断
　上記相違点について検討する。相違点に係る本願発明１の「前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と」を有することにより、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗を介して
前記第１の電位測定部における分圧値
前記第２の抵抗を介して
前記第２の電位測定部における分圧値
　したがって、本願発明１は、当業者であっても引用発明、引用文献２、３に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
  
２．本願発明２について
（１）対比
　本願発明２と引用発明を対比すると、本願発明２と引用発明との間には、次の一致点と相違点があるといえる。
（一致点）
「上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出するタッチパネル装置。」　
（相違点）
　本願発明２では、「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第４の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第４の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗と前記第２の抵抗をそれぞれ介して
前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧値
前記第３の抵抗と前記第４の抵抗をそれぞれ介して
前記第３の電位測定部及び前記第４の電位測定部において分圧値
（２）相違点についての判断
　上記相違点について検討する。相違点に係る本願発明２の「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第４の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第４の電位測定部と」を有することにより、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗と前記第２の抵抗をそれぞれ介して
前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧値
前記第３の抵抗と前記第４の抵抗をそれぞれ介して
前記第３の電位測定部及び前記第４の電位測定部において分圧値
　したがって、本願発明２は、当業者であっても引用発明、引用文献２、３に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
３．本願発明３について
（１）対比
　本願発明３と引用発明を対比すると、本願発明３と引用発明との間には、次の一致点と相違点があるといえる。
（一致点）
「上部導電膜を有する上部電極基板と、
　下部導電膜を有する下部電極基板と、
　前記下部電極基板の４隅の各々に設けられた、第１の給電端子と、第２の給電端子と、第３の給電端子と、前記第１の給電端子の対角に配置される第４の給電端子と、
　を有し、
　前記上部電極基板に力を加えることにより前記上部導電膜と前記下部導電膜とが接触し、前記上部電極基板は前記接触した位置における前記下部電極基板の電位を検出し、
　前記第１の給電端子は接地されており、
　前記第４の給電端子は前記第１の給電端子の対角に配置されており、
　第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出し、
　前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に電源電位を供給した状態で、電圧値を検出するタッチパネル装置。」　
（相違点）
　本願発明３では、「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗と前記第２の抵抗とをそれぞれ介して
前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧
前記第２の抵抗と前記第３の抵抗をそれぞれ介して
前記第２の電位測定部及び前記第３の電位測定部において分圧値
（２）相違点についての判断
　上記相違点について検討する。相違点に係る本願発明３の「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と」を有することにより、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に
前記第１の抵抗と前記第２の抵抗とをそれぞれ介して
前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧
前記第２の抵抗と前記第３の抵抗をそれぞれ介して
前記第２の電位測定部及び前記第３の電位測定部において分圧値
　したがって、本願発明３は、当業者であっても引用発明、引用文献２、３に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。
第７　原査定についての判断
　令和３年３月３日付けの補正により、補正後の請求項１は、「前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第３の給電端子及び前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗を介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部における分圧値を検出し」、「前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第２の抵抗を介して電源電位を供給した状態で、前記第２の電位測定部における分圧値を検出する」という技術的事項を有するものとなった。
　また、補正後の請求項２は、「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第４の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第４の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗と前記第２の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧値を検出し」、「前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第３の抵抗と前記第４の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第３の電位測定部及び前記第４の電位測定部において分圧値を検出する」という技術的事項を有するものとなった。
　また、補正後の請求項３は、「前記第２の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第１の抵抗と、前記第２の給電端子における電位を測定する第１の電位測定部と、前記第４の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第２の抵抗と、前記第４の給電端子における電位を測定する第２の電位測定部と、前記第３の給電端子と電源電位との間に直列に設けられた第３の抵抗と、前記第３の給電端子における電位を測定する第３の電位測定部と」を有し、「第１の方向における測定時には、前記第３の給電端子を接地し、前記第２の給電端子と前記第４の給電端子に前記第１の抵抗と前記第２の抵抗とをそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第１の電位測定部及び前記第２の電位測定部における分圧を検出し」、「前記第１の方向と交差する第２の方向における測定時には、前記第２の給電端子を接地し、前記第３の給電端子と前記第４の給電端子に前記第２の抵抗と前記第３の抵抗をそれぞれ介して電源電位を供給した状態で、前記第２の電位測定部及び前記第３の電位測定部において分圧値を検出する」という技術的事項を有するものとなった。
　これらの技術的事項は、いずれも原査定における引用文献Ａ（当審拒絶理由における引用文献２）には記載されておらず、本願出願日前における周知技術でもないので、本願発明１−３は、当業者であっても、原査定における引用文献Ａに基づいて容易に発明できたものではない。
　したがって、原査定を維持することはできない。
第８　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によって、本願を拒絶することはできない。
　他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。