【手続補正書】
【提出日】平成19年5月14日(2007.5.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
活性領域、位相領域、分布ブラッグ反射器（ＤＢＲ）が形成されたＤＢＲ領域を有する半導体レーザーと、半導体レーザーから発せられた基本波を入射してその第2高調波を出力する非線形光学素子と、基本波の出力をモニターする第1の光検出器と、第2高調波の出力を制御できる様にするために第2高調波の出力をモニターする第2の光検出器と、半導体レーザーの駆動電流を制御する制御部を有する光波長変換装置であって、
前記制御部は、前記ＤＢＲ領域に与えるＤＢＲ電流、前記位相領域に与える位相電流を変化させ、前記第1の光検出器からの電気信号に基づいて、基本波出力の変化点を求め、前記変化点に近づかないようにＤＢＲ電流、位相電流を制御する制御パラメータを抽出する制御パラメータ抽出手段と、前記制御パラメータに従ってＤＢＲ電流、位相電流を制御することで半導体レーザーの発振波長を連続に制御する波長制御手段を有していることを特徴とする光波長変換装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記第2の光検出器からの電気信号に基づいて、第2高調波出力が所定の値になるように前記活性領域に注入するゲイン電流を制御する第2高調波出力制御手段を有していることを特徴とする請求項1に記載の光波長変換装置。
【請求項３】
前記制御パラメータ抽出手段は、ＤＢＲ電流および位相電流を変化させたときに現れる変化点の隣り合う2つの軌跡の略中心を通るようにＤＢＲ電流および位相電流を制御するパラメータを決定することを特徴とする請求項1に記載の光波長変換装置。
【請求項４】
前記制御パラメータ抽出手段は、順方向にＤＢＲ電流および位相電流を変化させたときに現れる変化点の隣り合う2つの軌跡の略中心と、逆方向にＤＢＲ電流および位相電流を変化させたときに現れる変化点の隣り合う2つの軌跡の略中心とを平均した線を通るようにＤＢＲ電流および位相電流を制御するパラメータを決定することを特徴とする請求項1に記載の光波長変換装置。
【請求項５】
前記半導体レーザーの温度をモニターするための温度モニターを有しており、前記波長制御手段は、前記温度モニターからの温度情報に対する補正係数を予め記憶しており、前記制御パラメータ抽出手段によって抽出された制御パラメータを前記温度モニターからの温度情報に基づいて補正することを特徴とする請求項1に記載の光波長変換装置。
【請求項６】
前記半導体レーザーは、前記ＤＢＲ領域中および位相領域中に設けられた半導体層にキャリアを注入することで前記半導体層の屈折率を変化させることが可能な構成を有していることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の光波長変換装置。
【請求項７】
前記半導体レーザーは、前記ＤＢＲ領域中および位相領域中に設けられた発熱体に電流を注入して発熱させることでその領域の屈折率を変化させることが可能な構成を有していることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の光波長変換装置。
【請求項８】
活性領域、位相領域、分布ブラッグ反射器（ＤＢＲ）が形成されたＤＢＲ領域を有する半導体レーザーと、半導体レーザーから発せられた基本波を入射してその第2高調波を出力する非線形光学素子と、基本波の出力をモニターする第1の光検出器と、第2高調波の出力を制御できる様にするために第2高調波の出力をモニターする第2の光検出器を有する光波長変換装置の制御方法であって、
前記ＤＢＲ領域に与えるＤＢＲ電流、前記位相領域に与える位相電流を変化させ、前記第1の光検出器からの電気信号に基づいて、基本波出力の変化点を求め、前記変化点に近づかないようにＤＢＲ電流、位相電流を制御する制御パラメータを抽出する工程と、前記制御パラメータに従ってＤＢＲ電流、位相電流を制御することで半導体レーザーの発振波長を連続に制御する波長制御工程を有していることを特徴とする光波長変換装置の制御方法。
【請求項９】
前記第2の光検出器からの電気信号に基づいて、第2高調波出力が所定の値になるように前記活性領域に注入するゲイン電流を制御する工程を有していることを特徴とする請求項8に記載の光波長変換装置の制御方法。
【請求項１０】
前記波長制御工程は、常に、あるいは、一定時間間隔ごとに波長を連続にスイープして、第2高調波出力が一定値になるか、あるいは最大値になるように制御を行うことを特徴とする請求項8または9に記載の光波長変換装置の制御方法。
【請求項１１】
請求項1乃至7の何れかに記載の光波長変換装置および少なくとも1つの光走査素子を有し、光波長変換装置によって発せられた第2高調波を光走査素子で走査することで画像が形成されることを特徴とする画像投影装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記課題に鑑み、本発明の光波長変換装置は、活性領域、位相領域、分布ブラッグ反射器（ＤＢＲ）が形成されたＤＢＲ領域を有する半導体レーザーと、半導体レーザーから発せられた基本波を入射してその第2高調波を出力する非線形光学素子と、基本波の出力をモニターする第1の光検出器と、第２高調波の出力を制御できる様にするために第2高調波の出力をモニターする第2の光検出器と、半導体レーザーの駆動電流を制御する制御部を有する光波長変換装置であって、前記制御部は、前記ＤＢＲ領域に与えるＤＢＲ電流、前記位相領域に与える位相電流を変化させ、前記第1の光検出器からの電気信号に基づいて、基本波出力の変化点を求め、前記変化点に近づかないようにＤＢＲ電流、位相電流を制御する制御パラメータを抽出する制御パラメータ抽出手段と、前記制御パラメータに従ってＤＢＲ電流、位相電流を制御することで半導体レーザーの発振波長を連続に制御する波長制御手段を有していることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
また、上記課題に鑑み、本発明の光波長変換装置の制御方法は、活性領域、位相領域、分布ブラッグ反射器（ＤＢＲ）が形成されたＤＢＲ領域を有する半導体レーザーと、半導体レーザーから発せられた基本波を入射してその第2高調波を出力する非線形光学素子と、基本波の出力をモニターする第１の光検出器と、第2高調波の出力を制御できる様にするために第２高調波の出力をモニターする第2の光検出器を有する光波長変換装置の制御方法であって、前記ＤＢＲ領域に与えるＤＢＲ電流、前記位相領域に与える位相電流を変化させ、前記第１の光検出器からの電気信号に基づいて、基本波出力の変化点を求め、前記変化点に近づかないようにＤＢＲ電流、位相電流を制御する制御パラメータを抽出する工程と、前記制御パラメータに従ってＤＢＲ電流、位相電流を制御することで半導体レーザーの発振波長を連続に制御する波長制御工程を有していることを特徴とする。前記波長制御工程では、常に、あるいは、一定時間間隔ごとに波長を連続にスイープして、第2高調波出力が一定値になるか、あるいは最大値になるように制御を行うようにできる。こうした制御は、上記の半導体レーザーの駆動電流を制御する制御部に、この手順を実行するプログラムを実装することなどで行える。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
また、上記課題に鑑み、本発明の画像投影装置（これには、レーザーディスプレイなどの画像表示装置、感光体を有するレーザープリンタなどの画像形成装置などが含まれる）は、上記光波長変換装置および少なくとも1つの光走査素子を有し、光波長変換装置によって発せられた第2高調波を光走査素子で走査することで画像が投影されることを特徴とする。