【手続補正書】
【提出日】平成19年5月31日(2007.5.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されているＫビットのビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク工程と、
前記マスク工程でマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記メモリに保持されているＫビットのビット列を予め定められた方向にシフトした結果に含める演算工程と、
予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値に応じて、前記演算工程によるビット列中の各ビット値の反転／非反転を制御する第１の反転制御工程と、
前記第１の反転制御工程による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする乱数発生方法。
【請求項２】
更に、前記演算工程で演算されたビット列が、ある特定のパターンのビット列であるか否かに応じて、前記予め設定されたビットパターンの反転／非反転を制御する第２の反転制御工程を備えることを特徴とする請求項１に記載の乱数発生方法。
【請求項３】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク工程と、
前記マスク工程でマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列を予め定められた方向にシフトした結果に含める第１の演算工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択工程で選択されたビット値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記第１の演算工程によるビット列の先頭に前記反転制御工程での処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする乱数発生方法。
【請求項４】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
Ｋビットのビット列を保持するレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトするシフト手段と、
前記マスク手段がマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記シフト手段がシフトした前記レジスタ内のビット列に含める演算手段と、
予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値に応じて、前記演算手段によるビット列中の各ビット値を反転させる処理を制御する第１の反転制御手段と、
前記第１の反転制御手段による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする乱数発生装置。
【請求項５】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
（Ｋ−１）ビットのビット列を保持するレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトするシフト手段と、
前記マスク手段がマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記シフト手段がシフトした前記レジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
前記第１の演算手段によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列がある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値とに応じて決まるビット値を演算する第２の演算手段と、
前記第１の演算手段で演算されたビット列の先頭に前記第２の演算手段によるビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする乱数発生装置。
【請求項６】
コンピュータに請求項１乃至３の何れか１項に記載の乱数発生方法を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項７】
請求項６に記載のプログラムを格納したことを特徴とする、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項８】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
Ｋビットのビット列を保持する第１のレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト手段と、
前記第１の選択手段が選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト手段がシフトした前記第１のレジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
前記第１の演算手段によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列が、ある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、処理する画素の画像上の位置に応じて、前記第１の演算手段によるビット列中の各ビットの値を反転させる処理を制御する反転制御手段と、
前記反転制御手段による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする乱数発生装置。
【請求項９】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
（Ｋ−１）ビットのビット列を保持する第１のレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト手段と、
前記第１の選択手段が選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト手段がシフトした前記第１のレジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択手段と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択手段により選択されたビットの値を反転させる処理を制御する反転制御手段と、
前記第１の演算手段によるビット列の先頭に前記反転制御手段による処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする乱数発生装置。
【請求項１０】
Ｋビットのビット列を保持する第２のレジスタと、
前記第２のレジスタが保持するビット列から予め定められたビット列を選択する第２の選択手段と、
前記第２のレジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第２のシフト手段と、
前記第２の選択手段が選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第２のシフト手段がシフトした前記第２のレジスタ内のビット列に含める第２の演算手段とを備え、
処理する画像上のライン終端またはライン先頭にて、前記第１のレジスタに前記第２のレジスタの値をロードすることを特徴とする請求項８又は９に記載の乱数発生装置。
【請求項１１】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されているＫビットのビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択工程と、
前記メモリが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト工程と、
前記第１の選択工程で選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト工程でシフトした前記メモリ内のビット列に含める第１の演算工程と、
前記第１の演算工程によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列が、ある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、処理する画素の画像上の位置に応じて、前記第１の演算工程によるビット列中の各ビットの値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記反転制御工程による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする乱数発生方法。
【請求項１２】
Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択工程と、
前記メモリが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト工程と、
前記第１の選択工程で選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト工程でシフトした前記メモリ内のビット列に含める第１の演算工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択工程により選択されたビットの値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記第１の演算工程によるビット列の先頭に前記反転制御工程による処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする乱数発生方法。
【請求項１３】
メモリが保持するＫビットのビット列から予め定められたビット列を選択する第２の選択工程と、
当該メモリが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第２のシフト工程と、
前記第２の選択工程で選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第２のシフト工程でシフトした当該メモリ内のビット列に含める第２の演算工程とを備え、
処理する画像上のライン終端またはライン先頭にて、前記第１のレジスタに前記第２のレジスタの値をロードすることを特徴とする請求項１１又は１２に記載の乱数発生方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されているＫビットのビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク工程と、
前記マスク工程でマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記メモリに保持されているＫビットのビット列を予め定められた方向にシフトした結果に含める演算工程と、
予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値に応じて、前記演算工程によるビット列中の各ビット値の反転／非反転を制御する第１の反転制御工程と、
前記第１の反転制御工程による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク工程と、
前記マスク工程でマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列を予め定められた方向にシフトした結果に含める第１の演算工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択工程で選択されたビット値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記第１の演算工程によるビット列の先頭に前記反転制御工程での処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
Ｋビットのビット列を保持するレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトするシフト手段と、
前記マスク手段がマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記シフト手段がシフトした前記レジスタ内のビット列に含める演算手段と、
予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値に応じて、前記演算手段によるビット列中の各ビット値を反転させる処理を制御する第１の反転制御手段と、
前記第１の反転制御手段による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
（Ｋ−１）ビットのビット列を保持するレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められたビットパターンでマスクするマスク手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトするシフト手段と、
前記マスク手段がマスクしたビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記シフト手段がシフトした前記レジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
前記第１の演算手段によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列がある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、予め設定されたビットパターン中の指示されたビット値とに応じて決まるビット値を演算する第２の演算手段と、
前記第１の演算手段で演算されたビット列の先頭に前記第２の演算手段によるビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
Ｋビットのビット列を保持する第１のレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト手段と、
前記第１の選択手段が選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト手段がシフトした前記第１のレジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
前記第１の演算手段によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列が、ある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、処理する画素の画像上の位置に応じて、前記第１の演算手段によるビット列中の各ビットの値を反転させる処理を制御する反転制御手段と、
前記反転制御手段による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生装置であって、
（Ｋ−１）ビットのビット列を保持する第１のレジスタと、
前記レジスタが保持するビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択手段と、
前記レジスタが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト手段と、
前記第１の選択手段が選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト手段がシフトした前記第１のレジスタ内のビット列に含める第１の演算手段と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択手段と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択手段により選択されたビットの値を反転させる処理を制御する反転制御手段と、
前記第１の演算手段によるビット列の先頭に前記反転制御手段による処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力手段と
を備えることを特徴とする。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されているＫビットのビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択工程と、
前記メモリが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト工程と、
前記第１の選択工程で選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト工程でシフトした前記メモリ内のビット列に含める第１の演算工程と、
前記第１の演算工程によるビット列中の予め定められたビット数分のビット列が、ある特定のビット列であるか否かに応じて決まるビット値と、処理する画素の画像上の位置に応じて、前記第１の演算工程によるビット列中の各ビットの値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記反転制御工程による処理結果のビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
すなわち、Ｋビットで表現される乱数を発生する乱数発生方法であって、
メモリに保持されている（Ｋ−１）ビットのビット列から予め定められたビット列を選択する第１の選択工程と、
前記メモリが保持するビット列を予め定められた方向にシフトする第１のシフト工程と、
前記第１の選択工程で選択したビット列に対する排他的論理和演算を行い、当該排他的論理和演算結果を示すビット値を、前記第１のシフト工程でシフトした前記メモリ内のビット列に含める第１の演算工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、予め設定されたビットパターン中のビット値を選択する選択工程と、
処理する画素の画像上の位置に応じて、前記選択工程により選択されたビットの値を反転させる処理を制御する反転制御工程と、
前記第１の演算工程によるビット列の先頭に前記反転制御工程による処理結果のビットを付加したことにより得られるビット列を、Ｋビットで表現される乱数として出力する出力工程と
を備えることを特徴とする。