【誤訳訂正書】
【提出日】平成20年2月20日(2008.2.20)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
また、好適には試験ストリップは試験ストリップが係留されているそれぞれの端部に窪部を有している。これら窪部はそれぞれにサンプルパッドと吸い取りパッドとを収容する。窪部は試験ストリップをカセットに整合させるためにそれぞれの端部で整合突起も含む。好適には試験ストリップの端部は露出したポリエステルフィルム上の接着剤部分を有している。これでストリップは突起周囲に固持される。さらに、ストリップの提供に先立って、シリコン等のシーラントをカセットと試験ストリップのカバー層との接合部でカセットのフレーム部に提供することができる。カセットの最終シール処理はカバープレート（１面に接着剤を有する）で実行され、窪部上で試験ストリップの裏側をシール状態に保持させる。乾燥剤をカセットの格子部またはフレーム部内に提供することもできる。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
別実施例ではカセットの１端部の窪部に収容されたサンプルパッドと結合パッドが可変圧力ポイントで搭載され、様々な検定膜への再現可能な接触を確実に提供する。カセットの先端は検定液が無くなった後に液体の保存領域として作用する吸い取り材料を含む。カセットはサンプル導入端部と同じ接触ポイント構造を有する。これら実施例ではこれら圧力ポイントの特徴を多様とすることができる。１好適実施例では、それら圧力ポイントは、例えばシリコンゴムのごときフレキシブルな材料で提供される。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
以下で本発明の目的、特徴及び利点を図面を利用して解説する。本発明の重要な利点は従来の横流技術と較べて大きく感度が改善された装置を提供することである。試験ストリップ内の検定領域の非常に迅速な測定も提供する。さらに、検出器に端部からではなくストリップの側部から試験ストリップにアクセスさせることで、検出器の要素間の間隔を比較的に小さくできる。これは検出器の要素間のスペースを、比較的に厚いサンプルパッドや吸い取りパッドを収容するように厚くする必要がないからである。試験ストリップが検出器に対して縦方向に挿入されると厚くなる。従って、本発明では電磁石は端部ローディング検出器よりも消費電力が小さい。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３１】
典型的には吸い取りパッドは余剰の液体を受領するために孔質膜の先端に搭載されている。毛管作用は孔質膜の一端の導入部からの流体を膜全長に流す。本発明では吸い取りパッドはクロマトグラフィ膜の１端と接触している。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
検定膜への改善アクセス以外のＣ形状実施態様の利点は、サンプル導入部の利便性と単純性、サンプル導入部の体積可変性、及び検定実行後の全サンプル体積の吸い取り手段に関する。これら特徴はカセットのアームまたは端部によって提供される。それらは横流技術の従来材料を含む。サンプル導入部も接着剤コーティングされた膜によってサンプル適用後にシールされる。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３４】
図面、特に図１Ａは本発明の試験ストリップの１実施例の分解図を示す。試験ストリップ１０はベース部材２４、接着剤２２、バッキング部材２０、孔質膜１８、及びカバー層１６を有している。１好適実施例においては、ベース部材はマイラーのごときポリエステルフィルムであり、孔質膜はニトロセルロースである。結合パッド１１とサンプルパッド１２はストリップの１端と接触している。結合パッドとサンプルパッドはサンプル源及びサンプルの孔質膜への提供手段として機能する。吸い取りパッド１４はストリップの他端に関連して示されている。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３７】
挿挟型検定物を解説したが、競合型検定技術でも可能である。捕獲領域は周知のごとくアンチゲンまたは抗体でストライプ処理によって形成される。サンプルの液体は毛管作用によって、まず孔質膜１８、続いて吸い取りパッド１４によって検定膜内で図１Ａと図１Ｂの右から左へと移動する。吸い取りパッドは液体を吸引して移動させることで毛管作用を補強し、サンプル全体を吸い取りパッドで吸収させる。検定物に必要な液体量は検定膜の全床体積として知られている。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３９】
孔質膜の検定領域の端部と接触している吸い取りパッドはサンプルの余剰液を保存する。従来の吸い取り材料は検定装置内の膜の床体積を含む。シール状態の装置内でのサンプルの封入によって装置全体が使い捨てとなり、汚染を防止する。この点は他の検定装置には見られない特徴である。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４１】
毛管作用と、捕獲領域及びコントロール領域の存在は良く知られているが、本発明の上記実施例の目的検定物の存在と量の検出法は従来のものとは大いに異なる。検定膜は薄くてシールされた積層体に含有され、サンプルの液体は吸い取りパッドに孔質膜を通過して流れる。この実施例の重要な特徴は、磁気検出装置が非特定結合磁気ラベルまたは粒子を測定しないことである。なぜなら、それらは捕獲/コントロール領域を通過し、磁気検出装置の読取領域外に送られるからである。１実施例においては、装置の読取領域は約２ｍｍの幅である。吸い取りパッドの吸い取り能力は知られており、床体積分は充分に吸収され、検定ストリップは磁気検出装置が測定する検定物の唯一の成分である。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４４】
図２はＣ形状カセット３０の分解底面図である。試験ストリップ１０はカセットの両端間の開いた空間を横断しており、サンプルパッド１２と吸い取りパッド１４はそれぞれ窪部３６と４６にフィットしている。整合穴２６は突起３８と係合し、適切な整合状態を提供する。調整式圧力パッド３５はカセットのアーム上の窪部内に提供され、試験ストリップに望む特定圧を付与する。カバー層３２と３４が試験ストリップの両端に配置され、装置を完全にシールすると、試験ストリップにかかる圧力が形成される。この圧力量はストリップを通過する液体量に影響を及ぼす要因である。図３で示す実施例においては、カバー層３２と３４は１枚のカバー層３９内に組み入れられる。さらにそれはカセットの全底面を実質的にカバーする。この実施例においては、乾燥剤（図示せず）が格子部内でカバー層３９の下側に配置され、検定装置の保存性を改善させている。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
カセットはプラスチック等のどのような適した剛性材料製でもよい。図２で示す１好適実施例ではカセットの追加強度が格子部３３で提供される。他の形状であっても構わない。さらに、Ｃ形状部３１が示されているが、検出器が試験ストリップにカセット、サンプルパッドあるいは吸い取りパッドを越えることなくアクセスできれば他の形状でもよい。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５１】
好適には試験ストリップは薄型にて提供され、図６の読取装置に捕獲領域の検定物を判読させることができる。好適には試験ストリップは固定され、比較的に剛体であり、使い捨て検定装置のシールされた吸い取り部材内に検定物の床体積と余剰液を収容している。図６で示すように、検出器４６は試験ストリップの縦軸ではなく側部から試験ストリップにアクセスできる。従って、磁石４８はサンプルパッドまたは吸い取りパッドの収納にさほど大きなギャップを必要としない。なぜなら、それらパッドは検出器を通過しないからである。