【手続補正書】
【提出日】平成19年12月27日(2007.12.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  許容可能な指紋画像をキャプチャする方法であって、該方法は、
（ａ）名目上の画像積分時間において、初期の指紋画像をキャプチャする工程と、
（ｂ）第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャする工程と、
（ｃ）指紋画像暗さテストを実行する工程であって、一対の画像暗さ線に配置される複数の画像暗さ線の平均暗さ値を計算する工程をさらに含み、該一対の画像暗さ線は期待された画像キャプチャ領域内に設置されている、工程と、
（ｄ）画像解像度テストを実行する工程と
を包含する、方法。
【請求項２】  前記工程（ｃ）が許容不可能な暗さレベルで生じるとき、前記工程（ｄ）より前に、次の中間画像積分時間において、次の中間指紋画像をキャプチャする工程（ｅ）をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】  前記工程（ｃ）が許容可能な暗さレベルで生じるまで、さらなる次の中間積分時間において前記工程（ｅ）を繰り返す工程をさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】  前記中間積分時間は、前記名目上の画像積分時間を含む時間の範囲内にある、請求項３に記載の方法。
【請求項５】  前記中間積分時間は、前記名目上の画像積分時間の１／７の倍数を含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】  前記工程（ｄ）が許容可能な画像解像度レベルで生じるまで、前記工程（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、および（ｅ）を繰り返す工程をさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項７】  前記工程（ｃ）は、
（ｆ）複数の画像暗さテスト線の平均暗さ値を計算する工程と、
（ｇ）全体的な画像暗さが許容可能であることを検証する工程と、
（ｈ）画像暗さ分布が許容可能であることを検証する工程と
をさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項８】  前記工程（ｇ）は、前記複数の画像暗さテスト線の所定数が、暗さ閾値を上回る計算された平均暗さ値に関連していることを検証する工程をさらに含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】  前記工程（ｇ）は、前記複数の画像暗さテスト線のうち８本が暗さ閾値を上回る計算された平均暗さ値に関連していることを検証する工程をさらに含み、該複数の画像暗さテスト線は１０本の画像暗さテスト線を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】  前記工程（ｄ）は、
（ｉ）複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する工程と、
（ｊ）画像解像度が該工程（ｉ）で決定される隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する工程と
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】  前記工程（ｉ）は、画像解像度テスト線の第１のセットの所定数の各々について、および画像解像度テスト線の第２のセットの所定数の各々について隆線の数を決定する工程をさらに含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】  前記画像解像度テスト線の第１のセットは、５本の垂直解像度テスト線を含み、前記画像解像度テスト線の第２のセットは、７本の水平画像解像度テスト線を含み、前記工程（ｉ）は、該５本の垂直画像解像度テスト線の各々について、および該７本の水平画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する工程をさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】  許容可能な指紋画像をキャプチャするための指紋スキャナーであって、該指紋スキャナーは、
名目上の画像積分時間において、初期の指紋画像をキャプチャし、第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャするカメラと、
画像暗さテストおよび画像解像度テストを実行するプロセッサと
を含み、
該プロセッサは、一対の画像暗さ線に配置される複数の画像暗さ線に対する平均暗さ値を計算し、該一対の画像暗さ線は、期待された画像キャプチャ領域内に設置されている、指紋スキャナー。
【請求項１４】  前記プロセッサが許容不可能な暗さレベルで生じる画像暗さテストを実行すると、前記カメラは、次の中間画像積分時間において、次の中間指紋画像をさらにキャプチャする、請求項１３に記載の指紋スキャナー。
【請求項１５】  前記プロセッサが許容可能な暗さレベルを生じる画像暗さテストを実行するまで、前記カメラは、さらなる次の中間積分時間をキャプチャする、請求項１４に記載の指紋スキャナー。
【請求項１６】  前記中間積分時間は、前記名目上の画像積分時間から導き出される、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】  前記中間積分時間は、前記名目上の画像積分時間の１／７の倍数に該名目上の画像積分時間を掛けることによって該名目上の画像積分時間から導き出される、請求項１６に記載の指紋スキャナー。
【請求項１８】  単一の中間指紋画像のため、前記プロセッサが、それぞれ許容可能な画像暗さおよび解像度レベルを共に生じる画像暗さテストおよび画像解像度テストを実行するまで、前記カメラは、次の中間積分時間において、次の中間指紋画像をキャプチャする、請求項１４に記載の指紋スキャナー。
【請求項１９】  前記プロセッサは、複数の画像暗さテスト線の平均暗さ値を計算し、全体的な暗さが許容可能であることを検証し、画像暗さ分布が許容可能であることを検証する、請求項１３に記載の指紋スキャナー。
【請求項２０】  前記プロセッサは、前記複数の画像暗さテスト線の所定数が暗さ閾値を上回る計算された平均暗さ値に関連していることを検証する、請求項１３に記載の指紋スキャナー。
【請求項２１】  前記プロセッサは、前記複数の画像暗さテスト線のうち８本が暗さ閾値を上回る計算された平均暗さ値に関連していることを検証し、該複数の画像暗さテスト線が１０本の画像暗さテスト線を含む、請求項２０に記載の指紋スキャナー。
【請求項２２】  前記プロセッサは、複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定し、画像解像度が複数の画像解像度テスト線の各々に対する隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する、請求項１３に記載の指紋スキャナー。
【請求項２３】  前記プロセッサは、垂直画像解像度テスト線の所定数の各々について、および水平画像解像度テスト線の所定数の各々について隆線の数を決定する、請求項２２に記載の指紋スキャナー。
【請求項２４】  前記プロセッサは、５本の垂直画像解像度テスト線の各々について、および７本の水平画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する、請求項２３に記載の指紋スキャナー。
【請求項２５】  許容可能な指紋画像をキャプチャする方法であって、該方法は、
（ａ）第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャする工程と、
（ｂ）画像暗さテストを実行する工程であって、一対の画像暗さ線に配置される複数の画像暗さ線の平均暗さ値を計算する工程をさらに含み、該一対の画像暗さ線は期待された画像キャプチャ領域内に設置されている、工程と、
（ｃ）画像解像度テストを実行する工程と
を包含する、方法。
【請求項２６】  前記工程（ｂ）が許容不可能な暗さレベルで生じると、前記工程（ｃ）より前に、次の中間画像積分時間において、次の中間指紋画像をキャプチャする工程（ｄ）をさらに含む、請求項２５に記載の方法。
【請求項２７】  前記工程（ｂ）が許容可能な暗さレベルで生じるまで、さらなる次の中間積分時間において、前記工程（ｄ）を繰り返す工程をさらに含む、請求項２６に記載の方法。
【請求項２８】  許容可能な指紋画像をキャプチャする指紋スキャナーであって、該指紋スキャナーは、
名目上の画像積分時間において、初期の指紋画像をキャプチャし、第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャするための手段と、
画像暗さテストおよび画像解像度テストを実行するための手段と
を含み、
該指紋画像暗さテストを実行するための手段は、一対の画像暗さ線に配置される複数の画像暗さ線の平均暗さ値を計算するための手段を含み、該一対の画像暗さ線は期待された画像キャプチャ領域内に設置されている、指紋スキャナー。
【請求項２９】  指紋スキャナーに使用されるシステムコントローラであって、該システムコントローラは、一対の画像暗さ線に配置される複数の画像暗さ線の平均暗さ値を計算し、画像解像度テストを実行し、該一対の画像暗さ線は、指紋画像暗さテストをするのに期待される画像キャプチャ領域内に設置されている、システムコントローラ。
【請求項３０】  前記システムコントローラは、指紋画像内の複数の画像暗さテスト線の平均暗さ値を計算し、全体的な画像暗さおよび画像暗さ分布が共に許容可能であることを検証する、請求項２９に記載のシステムコントローラ。
【請求項３１】  前記システムコントローラは、指紋画像内の複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定し、画像解像度が複数の画像解像度テスト線の各々に対する隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する、請求項２９に記載のシステムコントローラ。
【請求項３２】  前記一対に配置される複数の画像暗さ線は、第１画像暗さテスト線と第２画像暗さテスト線とを含んでいる第１対の画像暗さテスト線を含んでおり、該第１画像暗さテスト線は該第２画像暗さテスト線と交差する、請求項２９に記載のシステムコントローラ。
【請求項３３】  指紋スキャナーに使用されるシステムコントローラであって、該システムコントローラは、画像暗さテストを実行し、画像解像度テストを実行し、
該システムコントローラは、該画像解像度テストの実行中に、指紋画像内の複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定し、該画像解像度が該複数の画像解像度テスト線の各々に対する隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する、システムコントローラ。
【請求項３４】  前記一対に配置される複数の画像暗さ線は、第１画像暗さテスト線と第２画像暗さテスト線とを含んでいる第１対の画像暗さテスト線を含んでおり、該第１画像暗さテスト線は該第２画像暗さテスト線と交差し、前記工程（ｃ）は、該第１画像暗さテスト線および該第２画像暗さテスト線に対する平均暗さ値を計算する工程を包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項３５】  前記一対に配置される複数の画像暗さ線は、第１画像暗さテスト線と第２画像暗さテスト線とを含んでいる第１対の画像暗さテスト線を含んでおり、該第１画像暗さテスト線は該第２画像暗さテスト線と交差する、請求項１３に記載の指紋スキャナー。
【請求項３６】  前記一対に配置される複数の画像暗さ線は、第１画像暗さテスト線と第２画像暗さテスト線とを含んでいる第１対の画像暗さテスト線を含んでおり、該第１画像暗さテスト線は該第２画像暗さテスト線と交差し、前記工程（ｂ）は、該第１画像暗さテスト線および該第２画像暗さテスト線に対する平均暗さ値を計算する工程を包含する、請求項２５に記載の方法。
【請求項３７】  前記一対に配置される複数の画像暗さ線は、第１画像暗さテスト線と第２画像暗さテスト線とを含んでいる第１対の画像暗さテスト線を含んでおり、該第１画像暗さテスト線は該第２画像暗さテスト線と交差する、請求項２８に記載の指紋スキャナー。
【請求項３８】  許容可能な指紋画像をキャプチャする方法であって、該方法は、
（ａ）名目上の画像積分時間において、初期の指紋画像をキャプチャする工程と、
（ｂ）第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャする工程と、
（ｃ）画像暗さテストを実行する工程と、
（ｄ）画像解像度テストを実行する工程と
を包含し、
該工程（ｃ）は、
（ｉ）複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する工程と、
（ｉｉ）画像解像度が、該工程（ｉ）で決定される隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する工程と
を包含する、方法。
【請求項３９】  前記工程（ｉ）は、画像解像度テスト線の第１のセットの所定数の各々について、および画像解像度テスト線の第２のセットの所定数の各々について隆線の数を決定する工程をさらに含む、請求項３８に記載の方法。
【請求項４０】  前記画像解像度テスト線の第１のセットは、５本の垂直解像度テスト線を含み、前記画像解像度テスト線の第２のセットは、７本の水平画像解像度テスト線を含み、前記工程（ｉ）は、該５本の垂直画像解像度テスト線の各々について、および該７本の水平画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する工程をさらに含む、請求項３９に記載の方法。
【請求項４１】  許容可能な指紋画像をキャプチャするための指紋スキャナーであって、該指紋スキャナーは、
名目上の画像積分時間において、初期の指紋画像をキャプチャし、第１の中間画像積分時間において、第１の中間指紋画像をキャプチャするカメラと、
画像暗さテストおよび画像解像度テストを実行するプロセッサと
を含み、
該プロセッサは、複数の画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定し、画像解像度が該複数の画像解像度テスト線の各々に対する隆線の数に基づいて許容可能であることを検証する、指紋スキャナー。
【請求項４２】  前記プロセッサは、垂直画像解像度テスト線の所定数の各々について、および水平画像解像度テスト線の所定数の各々について隆線の数を決定する、請求項４１に記載の指紋スキャナー。
【請求項４３】  前記プロセッサは、５本の垂直画像解像度テスト線の各々について、および７本の水平画像解像度テスト線の各々について隆線の数を決定する、請求項４２に記載の指紋スキャナー。