【誤訳訂正書】
【提出日】平成20年1月30日(2008.1.30)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】特許請求の範囲
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  共焦点イメージングシステムであって、
ａ）放射が伝搬する光軸に横向きに伸びる電磁放射の伸長ビームを形成する手段；
ｂ）対象が位置する第１平面における第１伸長領域に伸長ビームを向けて集束させるとともに、対象から放射される蛍光放射を１以上の第２伸長領域に向ける手段であって、各第２伸長領域が第１平面に共役した異なる第２平面上にある手段；
ｃ）第２共役平面において又は第２共役平面に共役した第３平面において、対象から放射される蛍光放射と一致する検出エレメントの方形アレイを含む検出デバイス；及び
ｄ）放射された蛍光放射が検出エレメントの方形アレイに送達されて検出デバイスによって走査と同調して蛍光放射を示す複数の電子シグナルに変換されるように、対象に対して伸長ビームを動かすか或いは伸長ビームに対して対象を動かすことにより対象を走査する手段
を含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項２】  更にａ）第２伸長領域と整列した長軸を有する伸長空間フィルター；及び
ｂ）検出デバイス上に、第２共役平面のイメージを形成する手段
を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項３】  対象に向かう電磁放射の伸長ビームが２以上の波長を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項４】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する、請求項１記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、該不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第１ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、該連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第２ビーム；
ｃ）反射されて対物レンズを通して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分ける手段；
ｄ）不連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第１集束ビームの検出のための第１ディテクター；
ｅ）連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第２集束ビームの検出のための第２ディテクター；
ｆ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｇ）第１及び第２ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがって、移動手段を操作するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項５】  走査手段が対象を通して伸長ビームを移動させるための回転光学手段を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項６】  対象上に向かう電磁放射の伸長ビームが１以上の波長を含み、第２平面が一つである、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項７】  第１平面の第１伸長領域の対象から２以上の波長の蛍光放射が放射され、更に放射波長を分離して１以上の検出デバイスで少なくとも１つの分離した波長を検出する、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項８】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、該不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第１ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、該連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第２ビーム；
ｃ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｄ）焦点ディテクター及び移動手段に接続したコントローラー、支持体上の集束ビームの位置にしたがって焦点ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を調節するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項９】  第１及び第２波長が同じである、請求項４記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１０】  支持体がマイクロタイタープレートであり、不連続表面がマイクロタイタープレートの底である、請求項４又は請求項８記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１１】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置し、対象から２以上の波長の蛍光放射が放出される請求項７記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、該不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第１集束ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、該連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第２集束ビーム；
ｃ）反射されて対物レンズを通して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分ける手段；
ｄ）不連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第１集束ビームの検出のための第１ディテクター；
ｅ）連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第２集束ビームの検出のための第２ディテクター；
ｆ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｇ）第１及び第２ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがって、第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を操作するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、請求項７記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１２】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置し、対象から２以上の波長の蛍光放射が放出される請求項７記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、該不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第１集束ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、該連続表面で反射されて対物レンズを通して戻る第２集束ビーム；
ｃ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｄ）焦点ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の集束ビームの位置にしたがって焦点ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を調節するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、請求項７記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１３】  対象の試験方法であって、
ａ）請求項１記載の共焦点イメージングシステムを使用した対象から放射される蛍光放射を測定する段階、並びに
ｂ）複数のシグナルの受信；
複数のシグナルと閾値との比較；
複数のシグナルと閾値との比較に基づいた複数のシグナルに対応する一組の縮約データ値の製造；及び
一組の縮約データ値に対応する対象の複数の領域の部分の空間的に関係に基づいた少なくとも二つのグループへの縮約データのグループ化
を含む過程を使用して、検出デバイスで生成した複数の電子シグナルをグループ化する段階
を含む試験方法。
【請求項１４】  対象の試験方法であって、
ａ）放射が伝搬する光軸に横向きに伸びる電磁放射の伸長ビームを形成する段階；
ｂ）対象が位置する第１平面における第１伸長領域に伸長ビームを向けて集束させるとともに、対象から放射される蛍光放射を１以上の第２伸長領域に向ける段階であって、各第２伸長領域が第１平面に共役した異なる第２平面上にある段階；
ｃ）第２共役平面において又は第２共役平面に共役した第３平面において、対象から放射される蛍光放射と一致する検出エレメントの方形アレイを含む検出デバイスを設置する段階；及び
ｄ）放射された蛍光放射が検出エレメントの方形アレイに送達されて検出デバイスによって走査と同調して蛍光放射を示す複数の電子シグナルに変換されるように、対象に対して伸長ビームを動かすか或いは伸長ビームに対して対象を動かすことにより対象を走査する段階
を含む試験方法。
【請求項１５】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１４記載の試験方法であって、当該方法が、
ａ）第１集束ビームが対物レンズを通して不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、不連続表面への対物レンズを通して第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームを方向付ける段階；
ｂ）第２集束ビームが対物レンズを通して連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、連続表面への対物レンズを通した第２波長を有する電磁放射の第１集束ビームの方向付ける段階；
ｃ）反射されて対物レンズを通して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分離する段階；
ｄ）不連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第１集束ビームを第１ディテクターで検出する段階；
ｅ）不連続表面から対物レンズを通して戻ってきた第２集束ビームを第２ディテクターで検出する段階；及び
ｆ）支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがう第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して、支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束法を更に含む、試験方法。
【請求項１６】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１４記載の試験方法であって、当該方法が、
ａ）対物レンズを通して不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、不連続表面へ対物レンズを通して電磁放射の集束ビームを方向付ける段階；
ｂ）不連続表面から対物レンズを通して戻ってきた集束ビームを焦点ディテクターで検出する段階；及び
ｃ）支持体上の集束ビームの位置にしたがう焦点ディテクターからのシグナルに応答して、支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束法を更に含む、請求項１４記載の試験方法。
【請求項１７】  ａ）複数のシグナルの受信；
ｂ）複数のシグナルと閾値との比較；
ｃ）複数のシグナルと閾値との比較に基づいた複数のシグナルに対応する一組の縮約データ値の製造；そして
ｄ）一組の縮約データ値に対応する対象の複数の領域の部分の空間的に関係に基づいた少なくとも二つのグループへの縮約データのグループ化
を含む過程を使用して検出デバイスで生成した複数の電子シグナルをグループ化する段階を更に含む、請求項１４記載の試験方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１２】
図１（ａ）−１（ｆ）は、レセプター結合ＳＳＡのステップを示す。図１（ａ）では、選択されたレセプター１２を有する可溶性膜１０を、液体３０を含むウェル２０に加える。これら膜は、レセプターを発現する細胞から単離される。図１（ｂ）では、放射標識リガンド１４をウェルに加える。当該リガンドは、膜レセプターに対して高い結合親和性をもつことが知られている。最も通常の放射標識は、３Ｈ、３５Ｓ、１２５Ｉ、３３Ｐ及び３２Ｐである。図１（ｃ）では、ビーズ１６をウェルに添加する。当該ビーズは、膜が強く付着する小麦胚凝集素のような物質で被覆されている。当該ビーズは、直径３−８μｍであり、シンチラント（scintillant）をドープしたプラスチックで作られている。更に、図１（ｂ）及び１（ｃ）で示した操作の順序は、互いに入れ替えることができる。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
放射標識は、高エネルギー電子つまりベータ粒子を放出して崩壊するが、ベータ粒子は放射性同位元素に応じて停止するまでに約１−１００μｍ移動する。放射標識がビーズに付着する膜に結合すると、ベータ粒子は、ビーズに到達し、ルミネセンスのバーストを起こす。放射標識が液体を通して分散する場合には、放出されたベータ粒子は、通常、ビーズ内のルミネセンスを励起しない。図１（ｄ）では、放射標識の崩壊に起因するビーズのルミネセンスが検出される。図１（ｅ）では、試験化合物１８がウェルに添加される。アッセイの目的は、この化合物による放射標識化リガンドの置換の程度を測定することである。放射標識リガンドが置換されて、液体に分散すると、ビーズのルミネセンスは減少する。図１（ｆ）では、ビーズのルミネセンスを再び検出する。ルミネセンスの減少を測定することにより、試験化合物の活性を測定し得る。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
図３（ａ）−３（ｄ）は、酵素ＳＳＡの実施態様のステップを示す。図３（ａ）では、シンチラントでドープしたビーズ４０に放射標識ペプチド４２を付着させ、それを、液体６０を含むウェル５０に加える。図３（ｂ）では、試験化合物４４をウェルに加える。図３（ｃ）では、酵素４６をウェルに加える。酵素が阻害されなければ、酵素４６によって、ビーズ４０から放射標識ペプチド４２が切断される。結果として放射標識が溶液中に分散し、放射標識の崩壊によるビーズ４０のルミネセンスは生じない。他方、試験化合物が酵素４６を（典型的には酵素の活性部位をブロックすることによって）阻害すると、酵素４６は放射標識を切断せず、放射標識の崩壊によるビーズのルミネセンスが生ずる。図３（ｄ）では、ビーズのルミネセンスを測定し、試験化合物の活性を測定する。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
上記例により、通常のＳＳＡの原理、すなわちシンチラントの放射崩壊時間内の多くの放射標識の変化により目的の活性をアッセイすることが示される。ＳＳＡの１つの魅力は、シンチラントに付着していない放射標識を洗浄ステップでウェルから除去する必要がないことである。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
しかし、ＳＳＡ及びＲＩＡには、多くの不利な点がある。第一に、これらアッセイには、放射活性物質を扱う必要があり、そのため費用と時間がかかる。第二に、これらアッセイは、大きなウェルで効果があるのみである。ビーズ又はウェル底からのルミネセンス放出の速さは、ベータ粒子放出速度に比例する。典型的な３Ｈアッセイで検出される光子は、３Ｈ崩壊あたり１未満である。アッセイの速さを増すには、放射標識リガンドの量を増加させなければならず、それに応じて膜、ビーズ及び試験化合物の量を増加させなければならない。１０−６０秒間トリチウムＳＳＡを実施するには、１０７個のビーズを用いなければならない。このビーズ量は、約１５０μＬのウェルを必要とする。ＳＳＡは、多数の化合物のスクリーニングに望まれるμＬ体積のウェルには効果的ではない。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
本発明は、神経又は筋肉細胞における活動電位の伝達のような急速に変化する生物学的事象を開始させる物質を添加することのできる内蔵分注系を提供する。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４８】
光学的配置
図６は、本発明の第一の実施態様を示す。当該顕微鏡は、電磁放射、例えば、光学的範囲３５０−７５０ｎｍの光源４００又は４１０、円筒型レンズ４２０、  第一スリットマスク４３０、第一リレーレンズ４４０、二色性ミラー４５０、対物レンズ４７０、サンプルウェル４８２の二次元的アレイを含むマイクロタイタープレート４８０、チューブレンズ４９０、フィルター５００、第二スリットマスク５１０及び検出器５２０を含む。これらエレメントは、図６の面に垂直に広がるマスク４３０、５１０中のスリット口４３２、５１２を有する光学軸ＯＡに沿って配置される。レンズ４４０、４７０及び４９０の焦点距離及びこれらレンズ同士の間隔、並びにマスク４３０とレンズ４４０との間隔、対物レンズ４７０とマイクロタイタープレート４８０との間隔、レンズ４９０とマスク５１０との間隔は、共焦点顕微鏡を与えるようにされる。この実施態様では、ランプ４００又はレーザー４１０の電磁放射を、円筒型レンズ４２０を用いラインに焦点化される。ラインの形は、第一スリットマスク４３０により最適化される。当該スリットマスク４３０は、光学的システムの結像面つまり対象面との共役面として示される。スリットマスク４３０中の口４３２で形成される照明ストライプは、サンプルウェル４８２の二次元アレイを含むマイクロタイタープレート４８０上に、レンズ４４０、二色性ミラー４５０及び対物レンズ４７０によりリレーされる。説明の便宜上、図６の光学的エレメントは、断面図で示され、ウェルプレートは遠近法で示されている。ウェルプレート４８０上の照明のラインの投影はライン４８４で示され、また、図６の面に垂直であると理解される。矢印Ａ及びＢによって示されるように、ウェルプレート４８０は、図示していない手段によりアレイの次元に平行に２次元（Ｘ、Ｙ）で移動し得る。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４９】
他の実施態様では、スリットマスク４３０は、物体背面共焦面（objective back focal plane）（ＢＦＰ）４６０との共役面である光学的システムのフーリエ面内に位置する。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５１】
サンプル領域、例えば、サンプルウェル４８２中のサンプルのイメージを、サンプル内の平面への照明ラインの投影により得、そこからの蛍光放射をディテクター５２０にイメージングし、プレート４８０を照明ラインに垂直な方向で移動させ、ディテクター５２０の読取と同調させる。図６に記載の態様において、蛍光放射を対物レンズ４７０で回収し、二色性ビームスプリッター４５０を通して投影させ、フィルター５００及び第２スリットマスク５１０を通してレンズ４９０により、ディテクター５２０に、無限遠補正対物レンズ４７０を備えた共焦点イメージングシステムに適当なようにイメージさせる。二色性ビームスピリッター４５０及びフィルター５００は、優先的にその照明波長で光を遮断する。ディテクター５２０は、例示的にカメラであり、一次元又は二次元のいずれかであり得る。一次元ディテクターを使用した場合、スリットマスク５１０は必要ない。照明、検出及びトランスレーション法は、指定された領域がイメージされるまで続ける。機械運動は、サンプルを連続的速度でトランスレートした場合、単純化される。連続運動は、カメラ読取時間が曝露時間と比較して小さい場合、最も有用である。好ましい態様において、カメラは連続的に読み取る。合わせた曝露時間及び読取時間中のサンプルの転置ｄは、照明ラインの幅Ｗよりも大きいか又は小さくてもよく、例示的に０．５Ｗ＜ｄ＜５Ｗである。多ウェルプレートの全てのウェルを同じ方法でイメージできる。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５２】
あるいは、顕微鏡を、主に光学システムの視野により限定される多くの隣接ウェルを通って照明ラインを集束するように構成できる。最終的に、１個以上の顕微鏡を同時に使用できる。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５８】
独立した波長又は色の数は行う具体的アッセイに依存する。一つの態様において、３つの照明波長を使用する。図８（ａ）及び８（ｂ）は、３色ラインスキャン共焦点イメージングシステムにおける光線通過を記載し、おのおの平面図及び側面図である。一般に、システムは数個の電磁放射の源Ｓｎ、視準レンズＬｎ、及び円筒状ラインＣＬにより第１空間フィルターで伸長したビームに集束される平行ビームを産生するためのミラーＭｎ、第１空間フィルターの間の共焦点顕微鏡、及び第２空間フィルターＳＦ２及びイメージングレンズＩＬ、サンプルからの蛍光放射の異なる波長組成を分離し、検出するためのビームスピリッターＤＭ１及びＤＭ２及びディテクターＤｎを含む。空間フィルターＳＦ、及びＳＦ１及びＳＦ２は、好ましくはスリットマスクである。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００８２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００８２】
各々対象平面との共役面に配列された、図８、９及び図６の５１０における、可変幅検出空間フィルターＳＦ２に関連した検出デバイスとして１個又はそれ以上の方形ＣＣＤカメラを有する好ましい態様の更なる利点は、以下のように説明される。上記のように、本発明の一つの態様において、検出空間フィルターが除かれ、ラインカメラを組合わせ検出空間フィルター及び検出デバイスとして使用する。しかし、上記また上記のように、可変幅検出空間フィルターは検出容量の最適化を可能にし、サンプル依存的シグナル対ノイズ比の検出を最適化する。以下の好ましい態様は、ラインカメラの利点、即ち、速度及び可変検出容量の柔軟性を残す。倍率は回折限界線の高さｈをカメラの一つの列に造影するようにセットする。検出空間フィルターｄの幅は、好ましくはｈ＜ｄ＜１０ｈで変化する。カメラの照射カラムにおけるディテクターは読取の前に収納され、それは曝露及び読取時間に比較して取るにたらない時間を必要とする操作である。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９４】
図１４は、サンプル平面の回折限界領域よりも大きく照射することが有利である、上記に記載の場合の焦点領域を記載する。照明及び回収光線は図１３の逆暗視野幾何学と同様である。遮断物が、照明ビームに適合した幅を有する対物逆焦点平面に共役しておかれる場合、暗視野構成が達成される。この配置が、ディテクターにおける平面外蛍光衝突の減少に寄与することは図１４から理解できる。対物レンズの上及び下の暗くされた領域からの蛍光は遮断物により通過しない。点走査共焦点において、これらの平面外領域からの蛍光は、検出開口により効率的に拒絶される。ライン走査とも焦点において、ラインに沿った一つの側面位置からの平面外蛍光は、他の点でラインに沿ったバックグラウンドシグナルに寄与する；これは点走査共焦点に対したライン走査におけるシグナル対バックグラウンドにおける分解の起源である。ラインスキャン共焦点の逆暗視野構成は、点スキャン共焦点の特性であるバックグラウンド拒絶の有意なフラクションを回復するが、ラインスキャン構成の速度の利点は残したままである。