【手続補正書】
【提出日】平成31年3月12日(2019.3.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ランタイムセルフテスト能力を有する統合周辺デバイスであって、
データを内部で転送するように構成された読取パスおよび／または書込パスと、
前記データ内の任意のビット位置を識別するアドレスを受信する、前記読取および／または書込パスと関連付けられた少なくとも１つのビットポインタデコーダと、
プログラム制御下で、少なくとも１つの故障ビットを前記転送されたデータに注入するように構成されている、故障注入論理と、
プログラム制御下で、故障注入が起こるときにエラーインジケーションをプロセッサに提供するように構成されている、エラーインジケーション論理と
を備え、
前記故障注入論理は、注入が有効にされたときおよび読取および／または書込アドレスがユーザ規定メモリ場所に合致するときのみ、前記転送された読取データへの故障注入を有効にするように構成されている、統合周辺デバイス。
【請求項２】
前記周辺デバイスは、マイクロコントローラ内のエラー訂正コードモジュールである、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項３】
前記データは、メモリデータおよび関連付けられたパリティデータを備える、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項４】
前記読取パスおよび／または前記書込パスは、１３６ビットの幅を有し、前記少なくとも１つのビットポインタデコーダは、８ビットの幅を有する、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項５】
前記読取および／または書込故障注入論理は、故障注入を有効にするように構成されたイネーブリング論理を備える、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項６】
２つのビットポインタデコーダを備える、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項７】
前記故障注入論理は、故障注入イネーブル信号および故障注入アドレス合致信号を受信するＡＮＤゲートを備える、請求項４に記載の統合周辺デバイス。
【請求項８】
プログラム制御下で、少なくとも前記転送された読取データ内の前記少なくとも１つの故障ビットに基づいて、エラーが存在することをＥＣＣシステムに通知するように構成されている、エラー検出論理をさらに備える、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項９】
プログラム制御下で、少なくとも前記転送された書込データ内の前記少なくとも１つの故障ビットに基づいて、エラーが存在することをＥＣＣシステムに通知するように構成されている、エラー検出論理をさらに備える、請求項１に記載の統合周辺デバイス。
【請求項１０】
請求項１〜９のうちの１項に記載の統合周辺デバイスを備える、マイクロコントローラ。
【請求項１１】
故障注入を構成するためのレジスタを備え、前記レジスタは、故障注入ビット場所を規定する少なくとも１つのレジスタと、前記故障注入が行われるメモリアドレスを規定するための少なくとも１つのレジスタとを備える、請求項１０に記載のマイクロコントローラ。
【請求項１２】
エラー訂正の結果を指示するフラグをさらに備える、請求項１０に記載のマイクロコントローラ。
【請求項１３】
ハードウェア検証用のランタイムＥＣＣエラー注入方式を実装するための方法であって、
データを内部で転送するように読取パスまたは書込パスを構成することであって、前記データは、好ましくは、メモリデータおよび関連付けられたパリティデータを備える、ことと、
前記読取データ内の任意のビート位置を識別するアドレスを規定することと、
注入が有効にされたときおよび読取アドレスがユーザ規定メモリ場所に合致するときのみ、故障注入論理を介して、少なくとも１つの故障ビットを前記転送されたデータに注入することと
を含む、方法。
【請求項１４】
前記周辺デバイスは、マイクロコントローラ内のエラー訂正コードモジュールである、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記少なくとも１つの故障ビットは、故障パリティビットを含む、請求項１３〜１４のうちの１項に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
種々の実施形態によると、ハードウェア検証用のランタイムＥＣＣエラー注入方式を実装するための方法が開示される。本方法は、読取データを内部で転送するように読取パスを構成することと、読取故障注入論理を介して、少なくとも１つの故障ビットを転送された読取データに注入することとを含んでもよい。同一または代替実施形態では、本方法はまた、書込データを内部で転送するように書込パスを構成することと、書込故障注入論理を介して、少なくとも１つの故障ビットを転送された書込データに注入することとを含んでもよい。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
（項目１）
ランタイムセルフテスト能力を有する統合周辺デバイスであって、
読取データを内部で転送するように構成された読取パスと、
プログラム制御下で、少なくとも１つの故障ビットを前記転送された読取データに注入するように構成されている、読取故障注入論理と、
プログラム制御下で、故障注入が起こるときにエラーインジケーションをプロセッサに提供するように構成されている、エラーインジケーション論理と
を備える、統合周辺デバイス。
（項目２）
書込データを内部で転送するように構成された書込パスと、
プログラム制御下で、少なくとも１つの故障ビットを前記転送された書込データに注入するように構成されている、書込故障注入論理と、
プログラム制御下で、前記故障注入と関連付けられる場所がアクセスされるときにエラーインジケーションをプロセッサに提供するように構成されている、エラーインジケーション論理と
をさらに備える、項目１に記載の統合周辺デバイス。
（項目３）
前記周辺デバイスは、マイクロコントローラ内のエラー訂正コードモジュールである、項目１または項目２に記載の統合周辺デバイス。
（項目４）
前記読取パスは、１３６ビットの幅を有する、項目１〜３のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目５）
前記少なくとも１つの故障ビットは、故障パリティビットを含む、項目１〜４のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目６）
前記少なくとも１つの故障ビットは、故障パリティビットを含む、項目１〜５のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目７）
前記読取故障注入論理はさらに、ユーザが前記注入を有効にしたとき、および前記読取アドレスがユーザ規定メモリ場所に合致するときに、前記少なくとも１つの故障ビットを前記転送された読取データに注入するように構成されている、項目１〜６のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目８）
前記書込故障注入論理はさらに、ユーザが前記注入を有効にしたとき、および前記書込アドレスがユーザ規定メモリ場所に合致するときに、前記少なくとも１つの故障ビットを前記転送された書込データに注入するように構成されている、項目１〜７のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目９）
プログラム制御下で、少なくとも前記転送された読取データ内の前記少なくとも１つの故障ビットに基づいて、エラーが存在することをＥＣＣシステムに通知するように構成されている、エラー検出論理をさらに備える、項目１〜８のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目１０）
プログラム制御下で、少なくとも前記転送された書込データ内の前記少なくとも１つの故障ビットに基づいて、エラーが存在することをＥＣＣシステムに通知するように構成されている、エラー検出論理をさらに備える、項目１〜９のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目１１）
ランタイムセルフテスト能力を有する統合周辺デバイスであって、
書込データを内部で転送するように構成された書込パスと、
プログラム制御下で、少なくとも１つの故障ビットを前記転送された書込データに注入するように構成されている、書込故障注入論理と
を備える、統合周辺デバイス。
（項目１２）
前記周辺デバイスは、マイクロコントローラ内のエラー訂正コードモジュールである、項目１１に記載の統合周辺デバイス。
（項目１３）
前記読取パスは、１３６ビットの幅を有する、項目１１または項目１２に記載の統合周辺デバイス。
（項目１４）
前記少なくとも１つの故障ビットは、故障パリティビットを含む、項目１１〜１３のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目１５）
前記書込故障注入論理はさらに、ユーザが前記注入を有効にしたとき、および前記書込アドレスがユーザ規定メモリ場所に合致するときに、前記少なくとも１つの故障ビットを前記転送された書込データに注入するように構成されている、項目１１〜１４のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目１６）
プログラム制御下で、少なくとも前記転送された書込データ内の前記少なくとも１つの故障ビットに基づいて、エラーが存在することをＥＣＣシステムに通知するように構成されている、エラー検出論理をさらに備える、項目１１〜１５のうちの１項に記載の統合周辺デバイス。
（項目１７）
ハードウェア検証用のランタイムＥＣＣエラー注入方式を実装するための方法であって、
読取データを内部で転送するように読取パスを構成することと、
読取故障注入論理を介して、少なくとも１つの故障ビットを前記転送された読取データに注入することと
を含む、方法。
（項目１８）
書込データを内部で転送するように書込パスを構成することと、
書込故障注入論理を介して、少なくとも１つの故障ビットを前記転送された書込データに注入することと
をさらに含む、項目１７に記載の方法。
（項目１９）
前記周辺デバイスは、マイクロコントローラ内のエラー訂正コードモジュールである、項目１７または項目１８に記載の方法。
（項目２０）
前記少なくとも１つの故障ビットは、故障パリティビットを含む、項目１７〜１９のうちの１項に記載の方法。