【手続補正書】
【提出日】平成20年3月21日(2008.3.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のマークを含むイメージにおける仮想ラスターパターンを特定する方法において、前記各マークが、前記仮想ラスターパターンに属するラスター線の交点に関連づけられており、
前記方法は、
前記ラスターパターンを、前記イメージのフーリエ解析によって特定することと、
前記イメージを、前記フーリエ解析に先立って、前記イメージにおける前記マークの位置に配置されたユニットパルスの集合に変換することと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記ユニットパルスのそれぞれが、対応するマークの重心に配置されている請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記フーリエ解析が、
前記イメージに基づく二次元の空間周波数スペクトルを計算することと、
前記周波数スペクトルに基づいて、前記イメージにおける少なくとも２つのメインベクトルを特定することと、
前記メインベクトルに基づいて、前記ラスターパターンの前記ラスター線を特定することと、
を含む請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記空間周波数スペクトルが、前記イメージにおける少なくとも２方向に沿った二次元フーリエ変換によって計算される請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記空間周波数スペクトルが、前記イメージの中心部分に基づいて計算される請求項３又は４に記載の方法。
【請求項６】
前記少なくとも２つのメインベクトルを特定することが、
空間周波数において所定の閾値を越えるピークの位置を決定することと、
前記位置に基づいて、前記少なくとも２つのメインベクトルを選択することと、
を含む請求項３〜５のいずれか１つに記載の方法。
【請求項７】
空間周波数スペクトルを計算し、その中のメインベクトルを特定することが、
ある角度幅内において段階的に方向ベクトルの方向を変化させることと、
そのような各方向ベクトルに基づいて、前記イメージについての二次元フーリエ解析の少なくとも一つの絶対値を計算することと、
閾値を超えた絶対値を特定することと、
を含む請求項３〜６のいずれか１つに記載の方法。
【請求項８】
前記方向ベクトルの長さが、前記ラスターパターンの基準空間周波数を含む周波数帯域内において変化される請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記方向ベクトルの長さが、段階的に変化される請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記ピークのそれぞれの位置が、前記閾値を超え且つ前記空間周波数スペクトルにおいて隣り合う前記絶対値についての重心を計算することにより決定される請求項７〜９のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１１】
少なくとも２つのメインベクトルを選択することが、
各位置が候補ベクトルを特定するようにさせることと、
２つのベクトルの間に所定の変化を与える少なくとも一つの最新のイメージ変換が、前記候補ベクトルに作用するようにさせることと、
前記少なくとも一つの最新のイメージ変換のための、必要な相互の関係を与える候補ベクトルを、メインベクトルとして選択することと、
を含む請求項６〜１０のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１２】
それぞれの最新のイメージ変換が、前記イメージを記録するセンサーと、前記複数のマークを備えた対象物との間の所定の像関係に対応する請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記候補ベクトル間における必要な相互関係が得られるまで、相異なるイメージ変換が、前記候補ベクトルに順次作用するようにすることを含む請求項１１又は１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記ラスターパターンが、候補ベクトルの間における必要な関係を生じるイメージ変換に基づいて特定される請求項１１〜１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記最新のイメージ変換が、先行するイメージについての必要な関係を生じる先行するイメージ変換に基づいて選択される請求項１１又は１２に記載の方法。
【請求項１６】
前記メインベクトルは、ある先行するイメージについて決定された先行するメインベクトルに基づいて決定される請求項３〜１５のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１７】
前記マークを、イメージ平面におけるマークの回転が実質的に除去された回転補正済みイメージを生産するための基礎としてのメインベクトルを用いて変換することを含む請求項１〜１６のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１８】
回転補正済みイメージの遠近を補償することをさらに含む請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記回転補正済みイメージにおける空間周波数スペクトルにおけるメインベクトルに対応するピークの幅を決定することと、
前記幅が所定の幅の値を超えた場合に前記回転補正済みイメージの遠近を補償することと、
をさらに含む請求項１７又は１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記遠近を補償することが、
前記回転補正済みイメージにおける各メインベクトルに沿ったラスターパターンについての傾きの変動を測定することと、
測定した傾き変動に基づいて、実質的に前記傾き変動を除去する遠近変換を行う工程と、前記遠近変換により遠近補正済みイメージを生成することと、
をさらに含む請求項１７又は１８に記載の方法。
【請求項２１】
選択されたメインベクトルに沿った前記ラスターパターンについての前記傾きの変動の測定が、
選択されたメインベクトルに沿った回転補正済みイメージの少なくとも２つのサブセットのフーリエ解析を利用して、各サブセットについての少なくとも一つのサブセットメインベクトルを計算することと、
各サブセットメインベクトルに関連付けられたサブセットにおける初期位置を特定することと、
前記サブセットメインベクトル及び初期位置に基づいて、選択されたメインベクトルに沿った傾き変動を計算することと、
を含む請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記初期位置は、対応するサブセットに組み込まれたマークの重心に基づいて特定される請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
それぞれのメインベクトルに沿った、回転補正又は遠近補正がなされたイメージにおける位相差を、前記回転補正又は遠近補正がなされたイメージのフーリエ解析により計算することと、
前記測定された位相差に基づいて、前記イメージ中の前記マークに関連する前記ラスターパターンの位置を決定することと、
をさらに含む請求項１７〜２２のいずれか１つに記載の方法。
【請求項２４】
ラスターパターンの交点を所定の距離だけ離して配置する規格化変換の計算を行うことと、
前記イメージに対して前記規格化変換を行って規格化イメージを生成することと、
をさらに含む請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
複数のマークを含むイメージにおける仮想ラスターパターンを特定する方法において、前記各マークが前記仮想ラスターパターンに属するラスター線の各交点に関連づけられており、
前記イメージを、前記イメージにおける前記マークの位置に配置されたユニットパルスの集合に変換することと
フーリエ解析を介して、前記イメージのメインベクトルを検出することと、
前記メインベクトルに基づいて前記イメージの前記平面内における回転を補償することと、
前記イメージにおける遠近を検出することと、
必要な場合には、前記遠近を補償することと、
前記メインベクトルに基づいて、前記仮想ラスターパターンを特定することと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２６】
請求項１〜２５のいずれか１つに記載の方法をコンピュータに実行させる命令を有するコンピュータプログラムを含むことを特徴とするコンピュータによる読み取りが可能なコンピュータプログラム製品。
【請求項２７】
仮想ラスターパターンに属する複数の交点の一つに関連づけられた複数のマークの形式を有する位置符号を備えた面における部分面のイメージを生成するイメージセンサーと、
請求項１〜２５のいずれか１つに記載の方法に基づいて仮想ラスターパターンを特定し、面のサブセットに基づく部分面の位置を計算するイメージ処理手段と、
を備えたことを特徴とする位置決定のための装置。
【請求項２８】
前記装置が携帯型である請求項２７に記載の装置。
【請求項２９】
位置情報のワイヤレス送信を行うための手段を有する請求項２７又は２８に記載の装置。