【手続補正書】
【提出日】平成20年5月2日(2008.5.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  複数のサンプルからの光を分析する光学システムであって、
複数のサンプルホルダと、
該複数のサンプルホルダからの光を受け、実質的にコリメートするように構成された集束レンズと、
該実質的にコリメートされた該集束レンズからの光をスペクトル分散させるように構成された透過格子と、
該透過格子からの該スペクトル分散された光を受け、該スペクトル分散された光を光検出デバイス上に向けるように構成された再像レンズと、
を含み、
該システムは、
該複数のサンプルホルダに対面する平面と、該集束レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含む実質的に半球状の光学要素であって、該曲率半径の中心が該集束レンズの光軸上に実質的に位置し、該集束レンズの物体平面に実質的にまたは該集束レンズの物体平面の近くに位置する、実質的に半球状の光学要素を含むか、または、
該システムは、該スペクトル分散された光の色収差を補償するように構成され、該補償は、該光検出デバイスの表面に対して非垂直である再像レンズの光軸を含むことの少なくとも１つを含むことを特徴とする光学システム。
【請求項２】  前記システムは、前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスは、それぞれ垂直な空間検出軸およびスペクトル検出軸を有する２次元の、複数の要素フォト検出デバイスである請求項１に記載のシステム。
【請求項３】  前記複数のサンプルホルダからの光は、各サンプルホルダからの光が検出され得るように、前記フォト検出デバイスの前記空間検出軸に沿って空間的に分散される請求項２に記載のシステム。
【請求項４】  前記サンプルホルダのそれぞれからの光は、各サンプルホルダからの光の複数のスペクトル成分が検出され得るように、前記フォト検出デバイスの前記スペクトル検出軸に沿ってスペクトル分散される請求項２に記載のシステム。
【請求項５】  前記システムは、前記サンプルホルダのそれぞれから光を独立して検出するように構成される請求項３に記載のシステム。
【請求項６】  前記システムは、前記複数のスペクトル成分を独立して検出するように構成される請求項４に記載のシステム。
【請求項７】  複数のスペクトル成分の焦点がフォト検出デバイスの面上に合わされる請求項１に記載のシステム。
【請求項８】  前記半球状の光学要素が非球面状である請求項１に記載のシステム。
【請求項９】  前記システムは、前記光検出デバイスと、前記再像レンズと該光検出デバイスとの間に位置する第２の実質的に半球状の光学要素とをさらに含み、該第２の実質的に半球状の光学要素は、該光検出デバイスに対面する平面と、該再像レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含み、該曲率半径の中心が該再像レンズの光軸上に実質的に位置し、該再像レンズの物体平面に実質的にまたは該再像レンズの物体平面の近くに位置する請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】  前記複数のサンプルホルダを照射する励起光源をさらに含む請求項１に記載のシステム。
【請求項１１】  前記励起光源からの光は、前記サンプルホルダを照射する前に前記集束レンズを通過しない請求項１０に記載のシステム。
【請求項１２】  前記システムは、１つの透過格子のみを含む請求項１に記載のシステム。
【請求項１３】  前記複数のサンプルホルダは、電気泳動レーンを含む請求項１に記載のシステム。
【請求項１４】  前記レーンの少なくとも１つが細管に位置する請求項１３に記載のシステム。
【請求項１５】  前記複数のサンプルホルダと前記集束レンズとの間および該集束レンズと前記再像レンズとの間の少なくとも１つに位置する光学フィルタをさらに含む請求項１に記載のシステム。
【請求項１６】  前記光学フィルタが干渉フィルタである請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】  前記光学フィルタが実質的に光を遮断する請求項１５に記載のシステム。
【請求項１８】  前記光学フィルタは、前記複数のサンプルの励起波長より短い波長を有する光を実質的に遮断する請求項１５に記載のシステム。
【請求項１９】  前記光学フィルタは、前記複数のサンプルの励起波長に実質的に等しい波長を有する光を実質的に遮断する請求項１５に記載のシステム。
【請求項２０】  前記システムが前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスが前記再像レンズの像平面に位置する請求項１に記載のシステム。
【請求項２１】  前記システムが前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスが電荷結合デバイス（ＣＣＤ）を含む請求項１に記載のシステム。
【請求項２２】  前記システムが前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスが反射防止コーティングを含む請求項１に記載のシステム。
【請求項２３】  前記集束レンズと前記再像レンズとの間に位置する開口部をさらに含む請求項１に記載のシステム。
【請求項２４】  前記開口部が実質的に均一な光スループットを提供するように構成される請求項２３に記載のシステム。
【請求項２５】  前記システムは、前記光検出デバイスと、前記集束レンズと前記再像レンズとの間に配置され、該光検出デバイス上の像の曲率を減少させるように構成された補正レンズとをさらに含む請求項１に記載のシステム。
【請求項２６】  前記システムが前記光検出デバイスをさらに含み、前記スペクトル分散された光の焦点が該光検出デバイスの平面上に合わせられる請求項１に記載のシステム。
【請求項２７】  分離システムにてサンプルからの光を分析するシステムであって、
少なくとも１つの分離レーンと、
該少なくとも１つの分離レーンから放出された光を受け、実質的にコリメートするように構成された集束レンズと、
実質的にコリメートされた該集束レンズからの光をスペクトル分散するように構成された光分散要素と、
該光分散要素からの光を受け、光検出デバイスに向けるように構成された再像レンズと
を含み、
該システムは、
該少なくとも１つの分離レーンに対面する平面と、該集束レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含む実質的に半球状の光学要素であって、該曲率半径の中心が該補正レンズの光軸上に実質的に位置し、該集束レンズの物体平面に実質的に位置するか、または、該集束レンズの物体平面の近くに位置する、実質的に半球状の光学要素を含むか、または、
該システムは、該スペクトル分散された光の色収差を補償するように構成され、該補償は、該光検出デバイスの表面に非垂直な該再像レンズの光軸を含むこと
の少なくとも１つを含むことを特徴とするシステム。
【請求項２８】  前記光分散要素が透過格子を含む請求項２７に記載のシステム。
【請求項２９】  前記光分散要素が反射格子を含む請求項２７に記載のシステム。
【請求項３０】  前記システムは、前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスは、前記複数の分離レーンからの光を分析するように構成された複数の要素フォト検出器である請求項２７に記載のシステム。
【請求項３１】  前記複数の要素フォト検出器が電荷結合デバイス（ＣＣＤ）を含む請求項３０に記載のシステム。
【請求項３２】  前記システムは、前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスが前記再像レンズの像平面に実質的に位置する請求項２７に記載のシステム。
【請求項３３】  前記少なくとも一つの分離レーンに励起光を提供する光源をさらに含む請求項２７に記載のシステム。
【請求項３４】  前記半球状の光学要素が非球面状である請求項２７に記載のシステム。
【請求項３５】  前記システムは、前記光検出デバイスと、前記再像レンズと該光検出デバイスとの間に位置する第２の実質的に半球状の光学要素とを含み、該第２の実質的に半球状の光学要素は、該光検出デバイスに対面する平面と、該再像レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含み、該曲率半径の中心は、該再像レンズの光軸上に実質的に位置し、該再像レンズの物体平面に実質的に位置するか、または、該再像レンズの物体平面の近くに位置する請求項２７に記載のシステム。
【請求項３６】  光源からの光を分析するシステムであって、
該光源から放出された光を受け、実質的にコリメートするように構成された集束レンズと、
該実質的にコリメートされた該集束レンズからの光をスペクトル分散するように構成された光分散要素と、
該光分散要素からの該スペクトル分散された光を受け、光検出デバイス上に該光を向けるように構成された再像レンズと
を含み、
該システムは、
該光源に対面する平面と、該集束レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径とを含む実質的に半球状の光学要素であって、該曲率半径の中心は、該集束レンズの光軸上に実質的に位置し、該集束レンズの物体平面に実質的に位置するか、または、該集束レンズの物体平面の近くに位置する実質的に半球状の光学要素を含むか、または、
該システムは、該スペクトル分散された光の色収差を補償するように構成され、該補償が該光検出デバイスの表面に非垂直である該再像レンズの光軸を含むことの少なくとも１つを含むことを特徴とするシステム。
【請求項３７】  前記システムが少なくとも１つの分離レーンを含む請求項３６に記載のシステム。
【請求項３８】  前記少なくとも１つの分離レーンが前記光源を含む請求項３７に記載のシステム。
【請求項３９】  前記光分散要素が透過格子を含む請求項３６に記載のシステム。
【請求項４０】  前記光分散要素が反射格子を含む請求項３６に記載のシステム。
【請求項４１】  前記システムが前記光検出デバイスをさらに含み、該光検出デバイスは、前記複数の分離レーンからの光を分析するように構成された複数の要素フォト検出器である請求項３７に記載のシステム。
【請求項４２】  複数のサンプルを光学的に分析する方法であって、
複数のサンプルを提供する工程と、
放出光を生成するように励起光で該サンプルを照射する工程と、
該サンプルから放出された放出光を集束レンズで集束する工程と、  
該放出光を該集束レンズで実質的にコリメートする工程と、
該実質的にコリメートされた放出光を透過格子でスペクトル分散する工程と、
再像レンズにより、該スペクトル分散された該透過格子からの放出光を光検出デバイスに向ける工程と、
光検出デバイスで該スペクトル分散された放出光の該スペクトル特性を光学的に検出する工程であって、該励起光が該サンプルを照射する前に該集束レンズを通過しない、工程とを包含し、
該集束レンズで該サンプルから放出された放出光を集束する工程は、該集束レンズと該複数のサンプルとの間に位置する実質的に半球状の光学要素を通過して該放出光を集束する工程を包含し、該実質的に半球状の光学要素は、該複数のサンプルに対面する平面と、該集束レンズに対面する半球状の曲面と、曲率半径を含み、該曲率半径の中心は、該集束レンズの光軸上に実質的に位置し、該集束レンズの物体平面に実質的に位置するか、または、該集束レンズの物体平面の近くに位置する、工程を包含するか、または、
該方法は、該スペクトル分散された放出レンズの色収差を補償する工程を包含し、該補償する工程は、該光検出デバイスの表面と非垂直である該再像レンズの光軸を構成する工程を包含すること
の少なくとも１つを包含することを特徴とする方法。
【請求項４３】  前記光検出デバイスは、それぞれ垂直の空間検出軸およびスペクトル検出軸を有する、２次元の、複数の要素フォト検出器である請求項４２に記載の方法。
【請求項４４】  前記スペクトル分散放出光は、各サンプルホルダからの光が独立して検出され得るように、前記フォト検出器の前記空間検出軸に沿って空間的に分散される請求項４３に記載の方法。
【請求項４５】  前記スペクトル分散された放出光は、各サンプルからの光の複数のスペクトル成分が独立して検出され得るように、前記フォト検出デバイスの前記スペクトル検出軸に沿ってスペクトル分散される請求項４３に記載の方法。
【請求項４６】  光検出デバイス上に像を生成させるように、レンズを用いて、該光検出デバイス上に光の焦点を合わせる工程と、
該像の第１の端部と第２の端部とのうちの少なくとも１つの端部の焦点を該像の中心の焦点と比較する工程と、
該光検出デバイス上の像の色収差を減少させるように、該レンズの光軸と該光検出デバイスの表面との間のチルト角を調整する工程と、
を包含する光学的な位置調整方法。
【請求項４７】  前記光検出デバイスがプラーナー光検出デバイスである請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】  前記像の中心は、該像の第１の端部と第２の端部の間の点である請求項４６に記載の方法。
【請求項４９】  前記像の第１の端部および第２の端部は、それぞれ、該像の対向する端部に位置する点か、または、該像の対向する端部近くの点かである請求項４６に記載の方法。