【手続補正書】
【提出日】平成18年11月30日(2006.11.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部に電子機器が入れられ、当該電子機器の動作を試験するための電子機器用試験箱であって、
電波の遮蔽性、および、前記電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱本体と、
前記試験箱本体の外部と内部との空気の流通を確保しつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、
を備えたことを特徴とする電子機器用試験箱。
【請求項２】
前記電波遮蔽手段は、電波を回折損失させることで遮蔽する金属製のフィルタを備えたことを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項３】
前記電波遮蔽手段は、前記試験箱本体の外部と内部を連通させるために当該試験箱本体に設けられると共に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項４】
前記導波管は手挿入用導波管であることを特徴とする請求項３に記載の電子機器用試験箱。
【請求項５】
前記導波管は排気用導波管であることを特徴とする請求項３に記載の電子機器用試験箱。
【請求項６】
前記導波管を複数備えており、当該複数の導波管は束状であることを特徴とする請求項３から請求項５のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項７】
前記導波管は、内側に電波吸収性を有することを特徴とする請求項３から請求項６のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項８】
前記導波管は、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする請求項３から請求項７のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項９】
前記試験箱本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筺体を備えたことを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１０】
前記金属製の筺体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、当該複数の金属部材の隙間に介在した抵抗損失部材を、さらに備えたことを特徴とする請求項９に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１１】
前記筺体は、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする請求項９または請求項１０に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１２】
前記試験箱本体は、前記電子機器を視認可能な窓を有することを特徴とする請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１３】
前記窓は、電波の遮蔽性を有することを特徴とする請求項１２に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１４】
前記窓は、前記電子機器から放射される電波を反射し、反射した電波が前記試験箱本体で吸収可能な方向を向いていることを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１５】
前記試験箱本体は、開閉自在の扉を有することを特徴とする請求項１から請求項１４のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１６】
前記試験箱本体の内部に、前記電子機器との間で電波を授受するアンテナを、さらに備えたことを特徴とする請求項１から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１７】
前記試験箱本体は、電磁妨害を防止しつつ、外部から内部にケーブルを配線可能とするＥＭＩダクトを、さらに備えたことを特徴とする請求項１から請求項１６のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１８】
前記ＥＭＩダクトを介して、外部から内部にケーブルが配線されており、当該ケーブルはノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されたことを特徴とする請求項１７に記載の電子機器用試験箱。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
前記課題を解決するための手段として、本発明は、内部に電子機器が入れられ、当該電子機器の動作を試験するための電子機器用試験箱であって、電波の遮蔽性、および、前記電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱本体と、前記試験箱本体の外部と内部との空気の流通を確保しつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、を備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
また、前記電波遮蔽手段は、電波を回折損失させることで遮蔽する金属製のフィルタを備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
また、前記電波遮蔽手段は、前記試験箱本体の外部と内部を連通させるために当該試験箱本体に設けられると共に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管を備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
また、前記導波管を複数備えており、当該複数の導波管は束状であることを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
また、前記導波管は、内側に電波吸収性を有することを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
また、前記試験箱本体は、電波の遮蔽性を有する金属製の筺体を備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
また、前記金属製の筺体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、当該複数の金属部材の隙間に介在した抵抗損失部材を、さらに備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
また、前記筺体および前記導波管の少なくとも一方は、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
また、前記試験箱本体は、前記電子機器を視認可能な窓を有することを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
また、前記窓は、電波の遮蔽性を有することを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
また、前記窓は、前記電子機器から放射される電波を反射し、反射した電波が前記試験箱本体で吸収可能な方向を向いていることを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
また、前記試験箱本体は、開閉自在の扉を有することを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
また、前記試験箱本体の内部に、前記電子機器との間で電波を授受するアンテナを、さらに備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
また、前記試験箱本体は、電磁妨害を防止しつつ、外部から内部にケーブルを配線可能とするＥＭＩダクトを、さらに備えたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
また、前記ＥＭＩダクトを介して、外部から内部にケーブルが配線されており、当該ケーブルはノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されたことを特徴とする電子機器用試験箱である。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６３】
携帯電話Ｐまたはアンテナ７０から放射された電波Ｗ１は、保護膜２５Ｃを通過した後、その１／２が抵抗膜シート２５Ｂを透過し、１／２が反射する。ここで、透過した電波を電波Ｗ２、反射した電波を電波Ｗ３とする。電波Ｗ２は、スペーサ２５Ａの内部を進んだ後、遮蔽性を有する背面パネル１５で反射し、電波Ｗ４となる。なお、反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。
そうすると、抵抗膜シート２５Ｂに到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート２５Ｂで反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ２５Ａの厚みＬ１の２倍、つまり、「λ／４×２＝λ／２」進んでおり、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相が反転することになる。したがって、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート２５Ｂに入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９３】
【図１】本実施形態に係る電子機器用試験箱の斜視図である。
【図２】図１に示す電子機器用試験箱の分解斜視図である。
【図３】図１に示す電子機器用試験箱のＸ−Ｘ断面図である。
【図４】（ａ）は図１に示す電子機器用試験箱の接合部分を示す拡大側断面図であり、（ｂ）は絶縁抵抗フィルムの拡大図である。
【図５】図１に示す手挿入用導波管の側断面図である。
【図６】本実施形態に係る電子機器用試験箱の電波吸収構造による電波の擬似的な吸収状況を示す断面図である。
【図７】変形例に係る電子機器用試験箱の拡大側断面図である。
【図８】変形例に係る電子機器用試験箱の拡大側断面図である。
【図９】変形例に係る電子機器用試験箱の斜視図である。
【図１０】変形例に係る電子機器用試験箱の斜視図である。
【図１１】変形例に係る電子機器用試験箱の図であり、（ａ）は電子機器用試験箱内から背面パネルを見た図であり、（ｂ）は背面外側から背面パネルを見た図であり、（ｃ）は背面パネルの断面図である。
【図１２】変形例に係る電子機器用試験箱の図であり、（ａ）および（ｂ）は電子機器用試験箱内から背面パネルを見た図であり、（ｃ）は背面パネルの断面図である。
【図１３】変形例に係る電子機器用試験箱の図であり、（ａ）および（ｂ）は電子機器用試験箱内から背面パネルを見た図であり、（ｃ）は背面パネルの断面図である。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図６】
2006153841.tif 000001