【誤訳訂正書】
【提出日】平成20年8月28日(2008.8.28)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【書類名】      明細書
【発明の名称】  最適な消去及び書込みパワーを決定する方法及び前記方法のための装置を具える記録装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】  光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで該記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記変化は照射パルスの低減された反射によって明らかになる、光学記録担体にマークを提供するための光学的書込みパワーを決定する方法であって、
第１のパワーを有する照射パルスで前記記録担体を局所的に加熱することにより該記録担体上にマークを提供する準備ステップと、次いで、
第２のパワーより低いパワーで前記記録担体が照射されると、前記準備ステップにおいて提供された前記マークの位置における該記録担体の光学特性は実質的に変化せず、該第２のパワーより高いパワーで該記録担体が照射されると、提供された該マークの位置における該記録担体の光学特性は、正規化反射パワーが増加する程度にまで変化する、照射パルスの該第２のパワーＰｍｉｎを決定する第１の測定ステップと、
前記準備ステップにおいて提供された前記マークの位置において前記記録担体が第３のパワーで照射されると、該記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが最大になる、照射パルスの該第３のパワーＰｍａｘを決定する第２の測定ステップと、次いで、
αがあらかじめ知られた定数であり、β及びδが前記記録担体の特性に依存する変数であるとしたとき、
方程式
【数１】
2002534757.tif 000001
から最適書込みパワーＰｗｏを決定する比較ステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項２】  第１の測定ステップは、少なくとも２つのサブステップを含み、前記サブステップにおいて、
前記記録担体は、提供された前記マークの位置において選択された値のテストパワーを有する照射パルスで照射され、該テストパワーは、照射された該マークの位置における該記録担体の光学特性が実質的に変化しない限り連続するサブステップの中で増加し、
前記サブステップは、照射された前記マークの位置における前記記録担体の光学特性が正規化反射パワーが増加する程度にまで変化するとすぐに終了され、次いで、
第１の最終ステップにおいて、最後のサブステップのテストパワーの値が前記第２のパワーＰｍｉｎに割り当てられることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】  前記第２の測定ステップは、少なくとも２つのサブステップを含み、前記サブステップにおいて、
前記記録担体は、提供された前記マークの位置において選択された値のテストパワーを有する照射パルスで照射され、前記テストパワーは、連続するサブステップの中で増加し、
前記サブステップは、照射された前記マークの位置における前記記録担体の光学特性が正規化反射パワーが減少する程度にまで変化するとすぐに終了され、次いで、
第２の最終ステップにおいて、最後のサブステップのテストパワーの値が前記第３のパワーＰｍａｘに割り当てられることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項４】  前記準備ステップにおいて提供されるマークは、適用される符号化方法によって許容される最大長であることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項５】  前記準備ステップにおいて提供されるマークは、ＥＦＭ＋（Eight-to-Fourteen Modulation Plus）符号化方法に従ってＩ１１キャリアを用いて符号化されることを特徴とする、請求項４に記載の方法。
【請求項６】  前記準備ステップにおいて提供されるマークは、選択される識別可能なエリアに提供されることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項７】  選択される前記識別可能なエリアは、前記記録担体の表面にわたって均一に分布していることを特徴とする、請求項６に記載の方法。
【請求項８】  前記比較ステップにおける係数αは、２の値を有することを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項９】  前記比較ステップにおける係数αは２の値を有し、前記比較ステップにおけるβは、０．７から１．３までの間の値を有することを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】  前記比較ステップにおける係数βは、前記記録担体の特性に関する情報を含む該記録担体上のエリアから読み取られることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】  前記比較ステップにおける係数δは、前記記録担体の特性に関する情報を含む該記録担体上のエリアから読み取られることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】  光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで該記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記変化は照射パルスの低減された反射によって明らかになる、光学記録担体にマークを提供するために必要とされる最適書込みパワーを決定する較正装置を有する記録装置であって、前記較正装置は、
第１のパワーを有する照射パルスで前記記録担体を局所的に加熱することにより前記記録担体上にマークを提供し、
第２のパワーより低いパワーで前記記録担体が照射されると、提供された前記マークの位置における該記録担体の光学特性は実質的に変化せず、該第２のパワーより高いパワーで該記録担体が照射されると、提供された該マークの位置における該記録担体の光学特性は正規化反射パワーが増加する程度にまで変化する、照射パルスの該第２のパワーＰｍｉｎを決定し、
前記記録担体が提供された前記マークの位置において第３のパワーで照射されると、該記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが最大になる、照射パルスの該第３のパワーＰｍａｘを決定し、
αがあらかじめ知られている定数であり、β及びδが前記記録担体の特性に依存する変数であるとしたとき、
方程式
【数２】
2002534757.tif 000002
から最適書込みパワーＰＷＯを決定するように構成されることを特徴とする、記録装置。
【請求項１３】  請求項１２に記載の記録装置において使用される較正装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで該記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記変化が照射パルスの低減された反射によって明らかになる(manifest)タイプである光学記録担体に提供されたマークを消去するための最適消去パワーを決定する方法に関する。
【０００２】
本発明は更に、光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記変化が照射パルスの低減された反射によって明らかになる、光学記録担体にマークを提供するための最適書込みパワーを決定する方法に関する。
【０００３】
本発明は更に、照射ビームにより書き込み可能（inscribable）であり、光学記録担体の特性に関する情報を含むエリアを有する、本発明による方法のうちの１つに使用される光学記録担体に関する。
【０００４】
本発明は、光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記変化は照射パルスの低減された反射によって明らかになるタイプである光学記録担体に提供されたマークを消去するために必要とされる最適消去パワーを決定する較正装置を有する記録装置に関する。
【０００５】
本発明は更に、光学記録担体の光学特性に変化を起こさせるように十分に高いパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することによりマークが提供され、前記の変化が照射パルスの低減された反射によって明らかになる、光学記録担体にマークを提供するために必要とされる最適書込みパワーを決定する較正装置を有する記録装置に関する。
【０００６】
本発明は更に、記録装置において使用される較正装置に関する。
【０００７】
【従来の技術】
最適消去パワー及び最適書込みパワーは、使用される記録担体の特性及び記録装置の特性に依存する。従ってこれらのパワーは、所与の記録担体が記録装置において使用されるたびに決定されるべきである。
【０００８】
これらのパワーを決定するための方法及び装置は、とりわけヨーロッパ特許出願ＥＰ０７３７９６２（株式会社リコー）から知られている。この出願では、記録担体と記録装置とのそれぞれの組合せについて定められるべき変調パワー曲線を参照して最適書込みパワーが決定される方法を記述している。変調パワー曲線は、書込みパワー（ＰＷ）の広い範囲で記録担体にマークを提供し、続いてそれぞれの書込みパワーについて関連するマークの変調（ｍ）、すなわちマーク無しのエリアから到来する反射パワーに対してのマークから到来する反射パワーを測定することにより定められる。このようにして得られる変調値は、変調パワー曲線（ｍ（ＰＷ））において関連する書込みパワーに対してプロットされる。その後、前述の変調パワー曲線（ｍ（ＰＷ））の正規化１次導関数（γ＝（ｄｍ／ｄＰＷ）．（ＰＷ／ｍ））を表す曲線（γ曲線）が決定される。このγ曲線は、高い方の書込みパワーにおいてγがほんのわずかに減少する漸近的な変化を有している。最適書込みパワーは、導関数γのあらかじめ決められた値に関連するパワーを選択することにより求められる。続いて最適消去パワーは、求められた最適書込みパワーに線形に依存している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
γ曲線のように漸近的に変化する曲線からは明確な値をあまり良好に決定することができない。γのあらかじめ決められた値である入力値の小さな変化は、最適書込みパワーである出力値に大きな変化を起こさせることがある。さらに、変調パワー曲線を決定する際、最適書込みパワーより高い書込みパワーが使用されるので不必要に高い温度が記録担体に生じることになる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、記録担体に不必要な高温を引き起こすことを回避しながら最適消去パワーを明確に決定する方法及び最適書込みパワーを明確に決定する方法を提供することを目的とする。
【００１１】
本発明によれば、この目的は、最適消去パワーを決定する方法であって、第１のパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することにより記録担体上にマークを提供する準備ステップと、次いで、第２のパワーより低いパワーで記録担体が照射されると、準備ステップにおいて提供されたマークの位置における記録担体の光学特性が実質的に変化せず、第２のパワーより高いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが増加する、照射パルスの該第２のパワー（Ｐｍｉｎ）を決定する第１の測定ステップと、記録担体が準備ステップにおいて提供されたマークの位置において第３のパワーで照射されると、記録担体の光学特性が、正規化反射パワーが最大になる程度にまで変化する、照射パルスの前記第３のパワー（Ｐｍａｘ）を決定する第２の測定ステップと、次いで、αがあらかじめ知られた定数であり、βが記録担体の特性に依存する変数であるとすると、
方程式
【数３】
2002534757.tif 000003
から最適消去パワー（ＰＥＯ）を決定する比較ステップと、を有することを特徴とする方法によって達成される。正規化反射パワー（Ｒ）は、記録担体が照射されるパワーに対する相対反射パワーを意味することを理解されたい。
【００１２】
この方法の利点は、ある方程式を介して結果的に最適消去パワーを与える決定されるべきパワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘが、準備ステップにおいて提供されたマークの位置における記録担体への照射パワー（Ｐ）に対して正規化反射パワー（Ｒ）がプロットされた曲線上の変曲点に位置するのでそれらを明確に決定することができるということである。これは、１次導関数ｄＲ／ｄＰが、パワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘにおいて値又は符号の急激な変化を示すので、これらのパワーを単純且つ明確な方法で決定することができることを意味する。この方法の更なる利点は、決定されるパワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘが、準備ステップにおいて記録担体上にマークが提供される際に用いられる書込み方法にほとんど依存しないことである。更に、上記の方法を連続して実施することにより記録担体上の同じ位置にマークが提供される回数が、決定されるパワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘに大きな影響を及ぼすこともない。
【００１３】
本発明によれば、上記の目的は、最適書込みパワーを決定する方法であって、第１のパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することにより記録担体上にマークを提供する準備ステップと、次いで、第２のパワーより低いパワーで記録担体が照射されると、準備ステップにおいて提供されたマークの位置における記録担体の光学特性は実質的に変化せず、第２のパワーより高いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性は、正規化反射パワーが増加する程度にまで変化する、照射パルスの該第２のパワー（Ｐｍｉｎ）を決定する第１の測定ステップと、準備ステップにおいて提供されたマークの位置において記録担体が第３のパワーで照射されると、記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが最大になる、照射パルスの前記第３のパワー（Ｐｍａｘ）を決定する第２の測定ステップと、次いで、αがあらかじめ知られた定数であり、β及びδが記録担体の特性に依存する変数であるとすると、
方程式
【数４】
2002534757.tif 000004
から最適書込みパワー（ＰＷＯ）を決定する比較ステップと、を有することを特徴とする。
【００１４】
この方法においても、パワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘは、準備ステップにおいて提供されたマークの位置における記録担体が照射されるパワー（Ｐ）に対する正規化反射パワー（Ｒ）がプロットされた曲線上の変曲点に位置するのでそれらを明確に決定することができる。決定されるパワーＰｍｉｎ及びＰｍａｘは、書込み方法及びその方法を実施する回数にほとんど依存しない。
【００１５】
記述した方法は、とりわけ「相変化」タイプの光学記録担体を使用する際に適用できる。この場合、記録担体を局所的に加熱して結晶状態から非結晶状態（及びその逆）への局所的な遷移を生じさせることによりマークが記録担体に提供される。
【００１６】
本発明による方法の別の実施例は、第１の測定ステップが少なくとも２つのサブステップを含み、これらのサブステップの中で、記録担体は、提供されたマークの位置において選択された値のテストパワーを有する照射パルスで照射され、このテストパワーは、照射されたマークの位置における記録担体の光学特性が実質的に変化しないかぎり連続するサブステップの中で増加し、これらのサブステップは、照射されたマークの位置における記録担体の光学特性が正規化反射パワーが増加する程度にまで変化するとすぐに終了され、次いで、第１の最終ステップにおいて、最後のサブステップのテストパワーの値が第２のパワー（Ｐｍｉｎ）に割り当てられることを特徴とする。
【００１７】
この実施例の利点は、第２のパワー（Ｐｍｉｎ）より少し高いテストパワーで照射したときの正規化反射パワーが、第２のパワー（Ｐｍｉｎ）より少し低いテストパワーで照射したときの正規化反射パワーに対してかなり急激な変化を示すので、連続するサブステップのシーケンスが明らかなストップ基準により終了されるということである。
【００１８】
本発明による方法の別の実施例は、第２の測定ステップが少なくとも２つのサブステップを含み、これらのサブステップの中で、記録担体は、提供されたマークの位置において選択された値のテストパワーを有する照射パルスで照射され、このテストパワーは、連続するサブステップの中で増加し、これらのサブステップは、照射されたマークの位置における記録担体の光学特性が正規化反射パワーが減少する程度にまで変化するとすぐに終了され、次いで、第２の最終ステップにおいて、最後のサブステップのテストパワーの値が第３のパワー（Ｐｍａｘ）に割り当てられることを特徴とする。
【００１９】
この実施例の利点は、第３のパワー（Ｐｍａｘ）より少し高いテストパワーで照射したときの正規化反射パワーが、第３のパワー（Ｐｍａｘ）より少し低いテストパワーで照射したときの正規化反射パワーに対してかなり急激な減少を示すので、連続するサブステップのシーケンスが明らかなストップ基準により終了されるということである。この実施例の別の利点は、上記のテストパワーが、マークを提供するために必要とされる最小パワーより高くならないということである。結果として記録担体は不必要に高いテストパワーを有する照射パルスで照射されることがなくなり、従って記録担体において不必要に高い温度が生じなくて済む。
【００２０】
本発明による方法の別の実施例は、準備ステップにおいて提供されるマークが、適用される符号化方法により許容される最大長であることを特徴とする。
【００２１】
この実施例では、この方法の範囲内で許容される可能な限り長いマークが提供される。例えば、（ｄ，ｋ）ＲＬＬ符号化方法が適用されるとき、チャネル−ビット長（すなわちＩ（ｄ＋Ｉ）キャリア）の（ｄ＋１）倍の長さをもつマークが適用される。
【００２２】
これらの可能な限り長いマークの長さは、記録担体に関する照射パルスのビーム断面の直径より少なくとも大きい。この実施例の利点は、これらのマークを提供することにより、正規化反射パワー（Ｒ）の最大限に明確な遷移がマークとマーク無しのエリアとの間で得られることである。これは、マークの位置における記録担体の光学特性が、マーク無しのエリアの光学特性とわずかしか異ならない場合に特に重要である。
【００２３】
本発明による方法の別の実施例は、準備ステップにおいて提供されるマークは、ＥＦＭ＋（Eight-to-Fourteen Modulation Plus）符号化方法に従ってＩ１１キャリアを用いて符号化されることを特徴とする。
【００２４】
この実施例では、ＥＦＭ＋符号化方法の範囲内で可能となる最長のマークが提供される。この方法はとりわけＤＶＤシステムにおいて使用される。
【００２５】
本発明による方法の別の実施例は、準備ステップにおいて提供されるマークが選択された識別可能なエリアに提供されることを特徴とする。
【００２６】
例えばトラックの限られた数のセクタにマークを提供するようにしてもよい。この実施例の利点は、測定ステップを、例えばトラック全体のような一層広いエリアにマークを提供するときよりも迅速に実施することができるということである。
【００２７】
本発明による方法の実施例は、選択された識別可能なエリアが記録担体の表面にわたって均一に分布していることを特徴とする。
【００２８】
この実施例の利点は、識別可能なエリアが記録担体の表面に均一に分布していない場合と比べて、記録担体の表面にわたって均一に分布していない記録担体の光学特性の不規則性によってもたらされる測定ステップの結果への影響が小さいということである。記録担体の表面にわたって均一に分布しているエリアを使用することによって、記録担体の全体に適用される消去パワー及び書込みパワーの最適値が求められる。
【００２９】
本発明による方法の別の実施例は、比較ステップにおいて係数αが２の値を有することを特徴とする。
【００３０】
当業者であれば、係数αは（Ｐｍｉｎ＋Ｐｍａｘ）／Ｐｍｉｎと（Ｐｍｉｎ＋Ｐｍａｘ）／Ｐｍａｘとの間のいかなる値をも取りうることが分かるであろうが、測定においてβがほぼ１であるとすると、係数αを２の値としたときに上記の方法が最適消去パワー及び書込みパワーの良好な近似を与えることが分かった。
【００３１】
本発明による方法の別の実施例は、比較ステップにおける係数αが２の値を有し、比較ステップにおける係数βが０．７から１．３まで間の値を有することを特徴とする。
【００３２】
測定によって、上記の範囲内のβの値が消去パワー及び書込みパワーの最適値を与えるということが判明した。これらの最適値が得られるβの値は、使用される記録担体の特性に依存する。
【００３３】
本発明による方法の別の実施例は、比較ステージにおける係数βが記録担体の特性に関する情報を含む記録担体上のエリアから読み込まれることを特徴とする。
【００３４】
消去パワー及び書込みパワーの最適値が得られるβの値は、使用される記録担体の特性に依存するので、この値は記録担体の生成の間に一度決定することができ、この記録担体上に定めることが可能である。
【００３５】
本発明の別の目的は、本発明による方法のうちの１つにおいて使用される光学記録担体を提供することである。
【００３６】
本発明による光学記録担体は、記録担体の特性に関する情報を含むエリアが、本発明による方法の比較ステージで使用される係数βの値を有することを特徴とする。
【００３７】
本発明による光学記録担体は、記録担体の特性に関する情報を含むエリアが、本発明による方法の比較ステージにおいて使用される係数δの値を有することを特徴とする。
【００３８】
消去パワー及び書込みパワーの最適値が得られるβ及びδのそれぞれの値は記録担体の特性に依存するので、この値は、記録担体の生成の間に一度決定することができ、その後、記録担体の特性に関する情報を含む記録担体上のエリアに記憶することが可能である。
【００３９】
このようなエリアは、たとえばＣＤ−Ｒ（記録可能なコンパクトディスク）のリードインエリア内のいわゆるプリグルーブである。このプリグルーブは補助信号を用いて周波数変調され、記録担体の特性に関する情報が補助信号に符号化される。プリグルーブ内に記録されるそのような情報を有する記録担体の説明は、ヨーロッパ特許公開公報ＥＰ０３９７２３８に記述されている。このようなエリアの別の例としては記録担体の制御エリアがある。このような記録担体は、ユーザ情報を書き込むための情報記録エリアと、記録担体上への書込み、読取り及び消去情報について関連した情報を記憶するための制御エリアとに分割されている。β及びδのそれぞれの符号化された値は、この制御エリア内のマークのパターンとして記憶することができる。制御エリアは型押しされてもよい。
【００４０】
異なるタイプ（例えば光学タイプ）の記録媒体は、例えばテープの開始部分においてまたは補助トラックに沿って光学記録担体の特性に関する情報を有するエリアを設けることにより、異なる方法で記録担体の特性に関する情報を具えることが可能である。
【００４１】
記録担体の特性に関する情報を含む記録担体上のエリアに記憶することができる記録担体の特性に関する他の情報は、例えば１つ又は複数の記録スピードや、バイアスパワーレベルのような記録の間に使用される照射ビームの固定のパワーレベル、照射パルスの持続期間及びデューティサイクルを有する。
【００４２】
本発明による方法の別の実施例は、比較ステップにおける係数δが、記録担体の特性に関する情報を含む記録担体上のエリアから読み込まれることを特徴とする。
【００４３】
書込みパワーの最適値が得られるδの値は、使用される記録担体の特性に依存するので、この値は、記録担体の生成の間に一度決定することができ、その記録担体上に定められることが可能である。
【００４４】
本発明の別の目的は、最適消去パワーを決定する方法を使用する記録装置と、最適書込みパワーを決定する方法を使用する記録装置とを提供することである。
【００４５】
本発明による記録装置は、較正装置が、第１のパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することによりマークを記録担体上に提供し、第２のパワーより低いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性は実質的に変化せず、第２のパワーより高いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが増加する、照射パルスの該第２のパワー（Ｐｍｉｎ）を決定し、記録担体が提供されたマークの位置において第３のパワーで照射されると、その記録担体の光学特性が、正規化反射パワーが最大になる程度にまで変化する、照射パルスの該第３のパワー（Ｐｍａｘ）を決定し、αがあらかじめ知られた定数であり、βが記録担体の特性に依存する変数であるとしたとき、
方程式
【数５】
2002534757.tif 000005
から最適消去パワー（ＰＥＯ）を決定するように構成されることを特徴とする。
【００４６】
本発明による記録装置は、較正装置が、第１のパワーを有する照射パルスで記録担体を局所的に加熱することによりマークを記録担体上に提供し、第２のパワーより低いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性は実質的に変化せず、第２のパワーより高いパワーで記録担体が照射されると、提供されたマークの位置における記録担体の光学特性は、正規化反射パワーが増大する程度にまで変化する、照射パルスの該第２のパワー（Ｐｍｉｎ）を決定し、記録担体が提供されたマークの位置において第３のパワーで照射されると、その記録担体の光学特性が変化して正規化反射パワーが最大になる、照射パルスの該第３のパワー（Ｐｍａｘ）を決定し、αがあらかじめ知られた定数であり、β及びδが記録担体の特性に依存する変数であるとしたとき、
方程式
【数６】
2002534757.tif 000006
から最適書込みパワー（ＰＷＯ）を決定するように構成されることを特徴とする。
【００４７】
本発明のこれら及び他の特徴は、以下に記述した実施例を参照して明らかになるであろう。
【００４８】
【発明の実施の形態】
図１の曲線（１０）は、準備ステップで提供されたマークの位置において記録担体が照射されるテストパワーＰ（１１）と、正規化反射パワーＲ（１２）との間の関係を概略的に示している。第２のパワーＰｍｉｎ（１５）は、曲線が、実質的に一定の正規化反射パワー（２１）を有するエリアと増加する正規化反射パワー（２３）を有するエリアとの間に位置する変曲点（２２）を有するパワーである。第３のパワーＰｍａｘ（１６）は、正規化反射パワーが最大Ｒｍａｘ（１９）となるパワーである。これは更に、曲線が、増加する正規化反射パワー（２３）を有するエリアと減少する正規化反射パワー（２５）を有するエリアとの間に位置する変曲点（２４）を有するパワーである。最適消去パワー（１７）は、Ｐｍｉｎ（１５）とＰｍａｘ（１６）との間にある。
【００４９】
図２は、任意の装置ユニットにおいてテストパワーＰ（１１）の関数として正規化反射パワーＲ（１２）の多数の測定結果の例（３１ないし３４）を示すグラフである。測定３１では、測定３２ないし３４において使用された書込み方法とは異なる、準備ステップにおいてマークを提供するための書込み方法が使用されている。測定３１及び３２は、前の測定が何ら実施されていない記録担体上で実施されたものである。測定３３及び３４は、以前の測定が測定３３については１００回、測定３４については１０００回行われた記録担体上で実施された。その際、マークは常に記録担体上の同じ位置に提供された。グラフに示している測定により、Ｐｍｉｎ（１５）及びＰｍａｘ（１６）は、使用される書込み方法及び１つの同じ記録担体上で測定を実施した回数には比較的依存しないことが判明した。
【００５０】
図３は、本発明による方法のフローチャートを示している。準備ステップ（４０）において、マークが記録担体上に提供される。続いて第１の測定ステップ（４１）において、第２のパワーＰｍｉｎを決定することができ、次いで第２の測定ステップ（４２）において、第３のパワーＰｍａｘを決定することができる。準備ステップ（４０）の後、第２の測定ステップ（４２）において第３のパワーＰｍａｘを決定することができ、次いで第１の測定ステップ（４１）において、第２のパワーＰｍｉｎを決定することができる。両方の測定ステップが実施されると、比較ステップ（４３）において消去パワー及び書込みパワーのそれぞれの最適値が決定される。
【００５１】
図４Ａは、Ｐｍｉｎを決定するための第１の測定ステップ（４１）の一実施例のフローチャートを示しており、図４Ｂは、Ｐｍａｘを決定するための第２の測定ステップ（４２）の一実施例のフローチャートを示している。ブロック５１において、初期値１がカウンタｎに割り当てられる。カウンタは、実施されるサブステップの数を常に把握する。続いてブロック５２において、記録担体は、準備ステップ（４０）において提供されたマークの位置において選択された値Ｐ（１）のテストパワーを有する照射パルスで照射され、このテストパワーに関連する正規化反射パワーＲ（１）が測定される。ブロック５３において、実施されるサブステップの数を常に把握するカウンタｎが１だけ増やされる。次いでブロック５４において、記録担体は、準備ステップ（４０）において提供されたマークの位置において、直前のステップのテストパワーの値Ｐ（ｎ−１）より大きいテストパワーの値Ｐ（ｎ）を有する照射パルスで照射され、このテストパワーに関連する正規化反射パワーＲ（ｎ）が測定される。
【００５２】
図４Ａの比較ブロック５５１では、現在のサブステップの正規化反射パワーＲ（ｎ）が直前のサブステップの正規化反射パワーＲ（ｎ−１）と比較される。２つのパワーが実質的に等しい場合、経路５８１を介してブロック５３及び５４が繰り返される。２つのパワーが実質的に等しくない場合、経路５９１を介して、ブロック５６１において最後のサブステップのテストパワーの値Ｐ（ｎ）がＰｍｉｎに割り当てられる。
【００５３】
図４Ｂの比較ブロック５５２では、現在のサブステップＲ（ｎ）における正規化反射パワーが、直前のサブステップＲ（ｎ−１）における正規化反射パワーと比較される。Ｒ（ｎ）の値がＲ（ｎ−１）の値より小さい場合、経路５９２を介してブロック５６２において、最後のサブステップにおけるテストパワーの値Ｐ（ｎ）がＰｍａｘに割り当てられる。Ｒ（ｎ）の値がＲ（ｎ−１）の値より大きい場合、経路５８２を介してブロック５３及び５４が繰り返される。
【００５４】
図５は、本発明による記録装置内の較正装置（６０）のブロック図である。ブロック８１は、記録装置内の光学系を示している。光学系は、光学記録担体（８５）に照射パルス（８４）を照射し、反射した照射パルスを受け取ってそれらを情報信号（７１）に変換する。光学系（８１）は、制御ロジックを有するブロック（８２）により駆動される。この制御ロジック・ブロック（８２）は、とりわけ照射パルス（８４）のパワーを制御する。較正装置（６０）は、本発明の方法に従って準備ステップを実施するための制御ロジックを有するブロック（６１）と、本発明の方法に従って第１の測定ステップを実施するための制御ロジックを有するブロック（６２）と、本発明の方法に従って第２の測定ステップを実施するための制御ロジックを有するブロック（６３）と、本発明の方法に従って比較ステップを実施するための制御ロジックをもつブロック（６４）とを有する。
【００５５】
ブロック６１は、光学記録担体（８５）上にマークを提供するために必要とされる情報を制御信号７２を介して制御ロジック（８２）に送る。ブロック６２及び６３は、測定ステップを実施するために必要とされる情報を制御信号７３を介して制御ロジック（８２）に送る。情報信号（７１）は、反射した照射パルスに関する情報をブロック６２及び６３に供給する。ブロック６２は、第１の測定ステップの結果を信号７５を介してブロック６４に供給し、ブロック６３は、第２の測定ステップの結果を信号７６を介してブロック６４に供給する。このブロック６４は、最適消去パワー及び最適書込みパワーを信号７９を介して記録装置に供給する。パラメータβ及びδに関する情報は、光学記録担体（８５）からの情報信号７１を介してまたは記録装置からの信号７８を介して得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】正規化反射パワー（Ｒ）と、準備ステップにおいて提供されたマーク位置において記録担体が照射されるテストパワー（Ｐ）との関係を概略的に示すグラフ。
【図２】テストパワー（Ｐ）の関数として正規化反射パワー（Ｒ）の多数の測定結果例を示すグラフ。
【図３】本発明による方法のフローチャート。
【図４Ａ】本発明による方法の実施例のフローチャート。
【図４Ｂ】本発明による方法の実施例のフローチャート。
【図５】本発明による記録装置内の較正装置のブロック図。
【符号の説明】
６０  較正装置
８１  光学系
８５  記録担体