(57)【要約】  データの記録において、レーザーの出力パルスの測定を行い、正しい位相でパルスを出力するように、ライト・ストラテジの位相設定を補正して、記録する。  レーザー制御系で一定のパワーをレーザーが出射している状態で、ライト・ストラテジの位相設定を変化させ。レーザーのマーク部であるマルチパルスの出射光を、光検出器で電圧変換して、ＬＰＦで平均化する。位相設定に対する時間的変化を、電圧レベルで測定検出して、測定レベルが理想レベルとなるように、ライト・ストラテジ生成回路の位相設定を、補正更新する。
2007052797.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、
前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、
レーザー光を出射するレーザー光源と、
前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、
前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、
前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、
前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、
前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、
前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、
前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、
前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、
前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、
前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結んだ直線の傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１に補間して求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、
前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項８】
請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、
前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わない、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１０】
１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジによって記録する光ディスク記録装置であって、
前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、
レーザー光を出射するレーザー光源と、
前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、
前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、
前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、
前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、
前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、
前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、
前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すブロックパルスに設定し、
前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる前記位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、
前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、
前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、
前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、
前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１２】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１３】
請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１４】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１５】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１７】
請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、
前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、
前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１８】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録可能な情報記録媒体への光学情報の記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報記録媒体に情報、特にデジタル情報を記録再生する装置は、大容量のデータを記録再生する手段として注目されている。その中で、レーザー光を用いて、データを記録する光学的情報記録媒体について、記録可能な光学的情報記録媒体には、一度だけ記録ができる追記型の光ディスクと、書き換え型の相変化光ディスクなどがある。いずれも、光ディスクへの記録は、半導体レーザーの光ビームを、回転するディスクに照射し、記録膜を加熱融解させることで行う。その光ビーム強度の強弱により、記録膜の到達温度、及び冷却過程が異なり、記録膜の変化が起こる。記録されたデータの再生は、記録膜が変化しない程度の再生用の低い光ビームの強度を照射して、記録膜の反射率の違いから得られる反射波の強度差から、記録されたデータを読み取ることで行われる。【０００３】
光ディスクへのデータの記録方式として、マークポジション記録方式（またはＰＰＭ方式）と、マークエッジ記録方式（またはＰＷＭ方式）とがあり、通常はマークエッジ記録方式の方が、情報記録密度を高くすることができる。【０００４】
このマークエッジ記録方式では、マーク始端部分と、マーク終端部分の位置、記録パワーなどを変化させて、所定のマークを記録する。近年では、記録するときの速度が高速化し、また、様々な材質や、メーカーの違い、規格が異なる記録媒体が存在し、これらに対応するために、記録する速度に応じて、または、記録される記録媒体の種類や、記録媒体の製造上のばらつき、規格を考慮して、最適なマークの記録位置設定を、記録媒体に応じて行うことが求められている。【０００５】
前記マークエッジ記録方式は、ディスク上に、データをマークとして、マークエッジ記録する場合に、所定のマークを、レーザー光をマルチパルスと呼ばれる複数のパルス列や、複数のパルスがない非マルチパルスと呼ばれるものなど、ライト・ストラテジを生成し、このライト・ストラテジの調整を行って、最適な記録を行うようにする。ライト・ストラテジを生成する際には、所定のマークを記録するために、ライト・ストラテジの時間的位置、すなわち位相を設定するが、高倍速化のために位相設定の高分解能が要求されている。【０００６】
実際の光ディスク記録再生装置を実現するためには、ライト・ストラテジを決定するための記録パルス条件は、光ディスク記録装置、またはディスクに記録されており、あらかじめ記録媒体ごとに異なる特性パラメータで記録するように設定される。しかしながら、特性のばらついた記録媒体ディスクと、記録装置では、あらかじめ決められたライト・ストラテジの設定では、十分な品質で記録できない場合が考えられる。【０００７】
以上のような課題に対して、特許文献１（または特許文献２）においては、複数のマーク前端パルス条件や、複数のマーク後端パルス条件をシフトさせ、各々に対応した記録パターンを記録し再生したときのジッタが許容値以下となるように、各標準条件をそれぞれ別々に補正した値を、記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生を行なっている。【０００８】
また、特許文献２には、マーク始端部分と、終端部分の最適な位置を求める手法について、最適記録自体の信頼性、最適位置の探索時間短縮、最適な手法の確立のために、特定記録装置の固有情報を記録するための特定情報記録領域を有することを特徴とする情報記録媒体が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００４−２８１０４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
最適な記録を行えるような情報記録媒体、記録再生装置を提供するには、設定されたとおりに出力されるライト・ストラテジの精度が必要となる。記録する装置によっては、ライト・ストラテジの時間や、位相設定に対する出力がばらついている可能性がある。また、ライト・ストラテジの設定に対する位相出力が、異常である場合などが考えられる。その場合、従来の手法では、学習の収束レベル、学習精度の向上が見込めず、最適な設定が求まらない可能性がある。【００１０】
また、ある特定の装置のばらつきに対応しようとしたとき、その特定の装置の出力特性に応じた学習アルゴリズムが必要となり、ひとつの学習アルゴリズムでは、すべての装置に対応することができない。また、すべての装置のばらつきに対応しようとした場合、最適値を求める学習が、複雑になり最適設定が求まらない場合がある。【００１１】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、記録装置ごとにライト・ストラテジの出力特性が異なったとしても、設定に対する最適ライト・ストラテジの出力を補正し、正確な出力を行えるようにして、装置ごとのばらつきを抑え、最適な記録を行うことのできる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る光ディスク記録装置は、１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることを特徴とする。【００１３】
また、本発明の請求項２に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定することを特徴とする。【００１４】
また、本発明に係る光ディスク記録装置は、請求項２に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定することを特徴とする。【００１５】
また、本発明の請求項４に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定することを特徴とする。【００１６】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク記録装置は、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することを特徴とする。【００１７】
また、本発明の請求項６に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結んだ直線の傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１に補間して求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることを特徴とする。【００１８】
また、本発明の請求項７に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることを特徴とする。【００１９】
また、本発明の請求項８に係る光ディスク記録装置は、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備えることを特徴とする。【００２０】
また、本発明の請求項９に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わないことを特徴とする。【００２１】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスク記録装置は、１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジによって記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すブロックパルスに設定し、前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる前記位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることを特徴とする。【００２２】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドすることを特徴とする。【００２３】
また、本発明の請求項１２に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備えることを特徴とする。【００２４】
また、本発明の請求項１３に係る光ディスク記録装置は、請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御することを特徴とする。【００２５】
また、本発明の請求項１４に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定することを特徴とする。【００２６】
また、本発明の請求項１５に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力することを特徴とする。【００２７】
また、本発明の請求項１６に係る光ディスク記録装置は、請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備えることを特徴とする。【００２８】
また、本発明の請求項１７に係る光ディスク記録装置は、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行うことを特徴とする。【００２９】
また、本発明の請求項１８に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の請求項１による光ディスク記録装置によれば、１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることとしたので、実際に出力されるライト・ストラテジの位相設定を電圧レベルで測定することができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。【００３１】
また、本発明の請求項２による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定することとしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。【００３２】
また、本発明の請求項３による光ディスク記録装置によれば、請求項２に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定することとしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。【００３３】
また、本発明の請求項４による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定することとしたので、記録速度の高倍速化に伴い、デューティが０％や１００％付近の設定付近で、レーザー出射特性の立ち上がり特性、立ち下がり特性が悪化しても、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。【００３４】
また、本発明の請求項５による光ディスク記録装置によれば、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することとしたので、記録速度の高倍速化に伴い、デューティが０％や１００％付近の設定付近で、レーザー出射特性の立ち上がり特性、立ち下がり特性が悪化しても、デューティ比を２５％から７５％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。【００３５】
また、本発明の請求項６による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結んだ直線の傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１に補間して求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることとしたので、基本周期である１Ｔ分の最初と、次の１Ｔの最初の２点で直線近似することができ、相対的に１Ｔの最小分解能で、すべての位相設定について補正を行なうことができる。【００３６】
また、本発明の請求項７による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることとしたので、平均化レベルの測定を行う検出系の出力を校正することができ、より正確な位相設定の補正が可能となる。【００３７】
また、本発明の請求項８による光ディスク記録装置によれば、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備えることとしたので、ライト・ストラテジの異常検出や、記録装置の不良品検出を行うことができる。【００３８】
また、本発明の請求項９による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わないこととしたので、本来の設定とは全く異なる位相設定がされることがなくなり、異常な出力がなくなる。【００３９】
また、本発明の請求項１０による光ディスク記録装置によれば、１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジによって記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すブロックパルスに設定し、前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる前記位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることとしたので、ライト・ストラテジの最も簡単な出力波形であるブロックパルスにおいても、位相設定に対する時間軸を、電圧レベルで測定することができ、高倍速化に伴い、マルチパルスの出力が困難になった場合でも、位相設定の補正ができる。【００４０】
また、本発明の請求項１１による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドすることとしたので、ライト・ストラテジ用の位相誤差検出系と、レーザー制御に用いる位相誤差検出系と共有することができ、回路の簡略化を行うことができる。【００４１】
また、本発明の請求項１２による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備えることとしたので、最適なレンジを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。【００４２】
また、本発明の請求項１３による光ディスク記録装置によれば、請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御することとしたので、最適なレーザーパワーを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。【００４３】
また、本発明の請求項１４による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定することとしたので、光ディスク記録装置の記録動作中に、記録媒体への記録を行わずに、設定したライト・ストラテジの補正、及び設定したライト・ストラテジが出力されているかを確認することができる。【００４４】
また、本発明の請求項１５による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力することとしたので、ライト・ストラテジの時間信号を直接電圧信号に変換でき、レーザーの制御とは関係なく、レーザーの出射を停止している状態でも、ライト・ストラテジの位相設定を補正できる。【００４５】
また、本発明の請求項１６による光ディスク記録装置によれば、請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備えることとしたので、ライト・ストラテジの時間信号と、レーザー出射の時間信号とを比較することができる。【００４６】
また、本発明の請求項１７による光ディスク記録装置によれば、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行うこととしたので、マルチパルスのレーザー制御用のパワー補正を行うことができる。【００４７】
また、本発明の請求項１８による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備えることとしたので、あらかじめ工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値を使用することで、記録装置の起動の短縮を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】図１は、実施の形態１による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２】図２は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図３】図３は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝ゼロでデューティ比が０％となる場合の信号波形図である。
【図４】図４は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１Ｔでデューティ比が１００％となる場合の信号波形図である。
【図５】図５は、１Ｔマルチパルスの幅設定と、測定レベルの関係を示す図である。
【図６】図６は、実施の形態１による光ディスク記録装置の、位相設定の補正手順を示すフロー図である。
【図７】図７は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、位相設定毎のＡＤ変換値を得るための測定手順を示すフロー図である。
【図８】図８は、実施の形態１による光ディスク記録装置の測定結果例を示す図である。
【図９】図９は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、理想値を算出するための計算式を示す図である。
【図１０】図１０は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、測定値と、算出された理想値の結果例を示す図。
【図１１】図１１は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、最適位相設定をサーチし、位相設定を補正する手順を示すフロー図である。
【図１２】図１２は、実施の形態１による光ディスク記録装置における補正結果例を示す図である。
【図１３】図１３は、実施の形態１による光ディスク記録装置における補正結果例をグラフで示した図である。
【図１４】図１４は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、２Ｔマルチパルスの場合に、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図１５】図１５は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１．０Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図１６】図１６は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１．５Ｔでデューティ比が７５％となる場合の信号波形図である。
【図１７】図１７は、２Ｔマルチパルスの幅設定と測定レベルの関係を示す図である。
【図１８】図１８は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、１Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図１９】図１９は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、１．５Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図２０】図２０は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、２．０Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図２１】図２１は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、トップパルスの幅設定と測定レベルの関係を示す図である。
【図２２】図２２は、実施の形態４による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２３】図２３は、実施の形態４による光ディスク記録装置における、測定値［ｎ］と標準装置［ｎ］の測定結果例を示す図である。
【図２４】図２４は、実施の形態４による光ディスク記録装置における測定結果例を示す図である。
【図２５】図２５は、実施の形態５による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２６】図２６は、実施の形態５による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の波形図である。
【図２７】図２７は、実施の形態５による光ディスク記録装置における測定手順を示すフロー図である。
【図２８】図２８は、実施の形態６による光ディスク記録装置における、ピックアップのブロック図である。
【図２９】図２９は、実施の形態７による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図３０】図３０は、実施の形態８による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図３１】図３１は、実施の形態８による光ディスク記録装置における、デューティ比の補正値を算出するための計算式を示す図である。
【図３２】図３２は、実施の形態８による光ディスク記録装置において、デューティ比を補正した結果を示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
１  光ディスク
２  ピックアップ
３  レーザー制御系
３ａ  マーク部検出系
３ｂ  スペース／イレース部検出系
４  位相検出設定系
５  記録データ生成系
６  レーザーダイオード（ＬＤ）ドライバ
７  レーザー（ＬＤ）
８  光検出器
９  アッテネータ（ＡＴＴ）回路
１０  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）回路
１１  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
１２  切替スイッチ
１３  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１４  ＡＤ変換回路
１５  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１６  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
１７  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１８  ＡＤ変換回路
１９  レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路
２０  ＤＡＣ
２１  記録データ格納回路
２２  記録変調回路
２３  ライト・ストラテジ生成回路
２４  位相設定回路
２５  多層クロック生成回路
２６  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）回路
２７  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
２８  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）回路
２９  ＡＤ変換回路
３０  ＣＰＵ
３１  ＲＡＭ
３２  位相設定テーブル
３３  デューティ補正回路
３４  信号変換回路
３５  信号切替スイッチ
３６  信号切替スイッチ
３７  標準信号発生装置
３８  ＳＨ位置設定回路
３９  ＯＮスイッチ
４０  レンズ
４１  アクチュエータ
４２  フォーカス駆動回路
【発明を実施するための最良の形態】
【００５０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
図１において、本実施の形態１による光ディスク記録装置１００は、光ディスク１にレーザーを出射し、光ディスク１に対する情報の書き込み、及び読み出しを行うピックアップ２と、レーザーの出射パワーを制御するレーザー制御系３と、ライト・ストラテジの位相検出や、位相設定などの制御を行う位相検出設定系４と、記録データを生成する記録データ生成系５とを有する。【００５１】
ピックアップ２では、レーザーダイオード（ＬＤ）７が、レーザーダイオード（ＬＤ）ドライバ６によって電流駆動され、レーザー光がＬＤ７から光ディスク１に出射される。このレーザー光の反射光は、受光素子である光検出器８により受光され、光検出器８により、受光した光の強度が電圧レベルに変換されて出力される。そして電圧レベルに変換された光は、後段のレーザー制御系３と、位相検出設定系４に出力される【００５２】
レーザー制御系３は、アッテネータ（ＡＴＴ回路）９と、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂと、レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路１９と、ＤＡＣ２０とを有する。【００５３】
ＡＴＴ回路９は、光検出器８より出力される電圧レベルが高い場合、その電圧レベルを下げるものである。近年、光ディスク記録装置の記録速度は高倍速化しており、大きなパワーでＬＤ７が発光される場合は、ＡＴＴ回路９で電圧レベルを下げる。ＡＴＴ回路９の出力信号は、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂに出力される。【００５４】
マーク部検出系３ａは、マーク部へレーザーを発光した時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するものであり、周波数調整付ローパスフィルタ（ＬＰＦ回路）１０と、切替スイッチ１２と、サンプルホールド回路（ＳＨ回路）１１と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１３と、ＡＤ変換回路１４とよりなる。マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９の出力信号がマルチパルス波形のときは、ＬＰＦ１０にその信号を通して信号のレベルを平均化し、マルチパルスの平均パワーレベルをＳＨ回路１１によりサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。ＳＨ回路１１は、マーク用サンプル・ホールド（ＳＨ）信号（図示せず）に基づいて、レーザーパワーレベルに対応する電圧レベルをサンプルしてホールドする。その後、ＳＨ回路１１の出力は、記録速度や記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ１３によりゲイン調整され、ＡＤ変換回路１４によりＡＤ変換される。【００５５】
スペース／イレース部検出系３ｂは、スペース部／イレース部へレーザーを発光した時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するものであり、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１５と、サンプル・ホールド回路（ＳＨ回路）１６と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１７と、ＡＤ変換回路１８とよりなる。スペース部に対するレーザーパワーは、イレース部やマーク部に対するレーザーパワーと比較して小さいので、スペース部に対するレーザーパワーレベル（電圧レベル）の信号については、ＶＧＡ１５によりゲインを上げる。一方で、イレース部に対するレーザーパワーは、十分大きなレベルであるので、ゲインを上げる必要はない。ＶＧＡ１５の出力信号（レベル）は、ＳＨ回路１６によって、スペース用ＳＨ信号（図示せず）に基づいてサンプルされホールドされる。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル・ホールドは、スペース部の場合と同様である。その後、ＳＨ回路１６の出力は、記録速度や、記録時のレーザーパワーに応じて、ＶＧＡ１７により信号のゲイン調整が行われ、ＡＤ変換回路１８により信号がＡＤ変換される。【００５６】
レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路１９は、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂとにより検出されたＡＤ変換値を、入力としてＬＤ７の駆動電流を演算し、ＬＤドライバ６に駆動電流を供給するものである。また、ＤＡＣ２０は、レーザーＡＰＣ制御回路１９の出力をアナログ信号に変換して、ＬＤドライバ６に出力するものである。【００５７】
以下、上述したレーザー制御系３によるレーザーパワーの制御方法について説明する。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル、及びホールドの動作は、スペース部のそれと同様であるので、その説明を省略する。【００５８】
まず、光ディスク１の情報を再生するときのＬＤ７のパワー制御について説明する。【００５９】
レーザーＡＰＣ制御回路１９は、ＬＤ７のパワーを、光ディスク１の情報を再生するために必要な再生パワーに一定に制御するために、初期の電流値をＬＤドライバ６に設定し、ＬＤドライバ６がその電流値に基づいてＬＤ７を発光させる。その後、光検出器８の出力信号がＡＴＴ回路９を通り、スペース／イレース部検出系３ｂでＡＤ変換される。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９が駆動電流の値を制御する。再生時には、このレーザーＡＰＣ制御回路１９によって、レーザーパワーが所定の目標値になるように制御される。【００６０】
次に、光ディスク１に情報を記録するときのＬＤ７のパワー制御について説明する。
通常、記録波形ＮＲＺＩは、マーク部の波形とスペース部の波形とが繰り返し出力される。１つの記録マークを形成する際、メディアの材質や特性または記録速度に応じて、記録波形ＮＲＺＩからライト・ストラテジを生成し、このライト・ストラテジによりレーザーを出射するため、レーザーの発光波形は様々な形となる。また、ＬＤ７は、温度特性により、目標パワーを出射するための必要な電流量が変化する。このため、マーク部と、スペース部のレーザーパワーを目的のパワーになるように制御するために、それぞれのレーザーパワーレベルを測定して、レーザーパワーが一定となるようレーザーＡＰＣ制御が行われる。【００６１】
マーク部検出系３ａは、マルチパルス波形を示すマーク部のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。マーク部の波形が複数のパルスからなるマルチパルスの場合、マーク部検出系３ａは、切替スイッチ１２を、信号がＬＰＦ回路１０を通過するように切替え、ＬＰＦ回路１０で信号のレベルを平均化し、平均化したレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。記録用の高パワーが出現する時間Ｔｐと、再生用の低パワーが出力されるボトムパワーの出現する時間Ｔｂとの比率、Ｔｐ／（Ｔｐ＋Ｔｂ）をデューティ比とすると、マルチパルス波形のときに目標パワーの計算を行うときは、得られた平均レベルと、デューティ比とから、ピークパワーの換算を行う。例えば、デューティ比が５０％、得られた平均レベルをａｖｅとすると、実際に発光しているピークパワーは、レーザーＡＰＣ制御回路１９により、ａｖｅ／５０％＝ａｖｅ×２と計算される。この検出された平均パワーレベルは、ＳＨ回路１１によりサンプルされホールドされる。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９により駆動電流の値が制御される。【００６２】
なお、ＡＴＴ回路９からの出力が非マルチパルス波形の場合は、マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９からの信号がＬＰＦ回路１０をスルーするように切替スイッチ１２を切替えてレベルを測定する。この場合、直接レベルの測定を行うことができるので、デューティ比の計算は必要ない。また、マルチパルスの場合でも、マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９からの出力信号がＬＰＦ回路１０をスルーするように切替スイッチ１２を切替えて、Ｔｏｐパルス部分をサンプル・ホールドするようにしてもよい。この場合も、直接レベルの測定を行うことができるので、デューティ比の計算は必要ない。【００６３】
一方、スペース／イレース部検出系３ｂでは、先に述べた再生時と同様の方法により、スペース部のレーザーパワーレベルがサンプルしてホールドされ、そのレベルが測定される。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９により駆動電流の値が制御される。【００６４】
次に、図１において、位相検出設定系４は、ライト・ストラテジの位相検出や、位相の決定などの制御を行うものであり、周波数調整付ローパスフィルタ（ＬＰＦ回路）２６と、サンプル・ホールド回路（ＳＨ回路）２７と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）２８と、ＣＰＵ３０と、ＲＡＭ３１とを有する。なお、ＲＡＭ３１に代わる不揮発性メモリを設け、該不揮発性メモリに、ＲＡＭ３１にされる各種のデータを格納してもよい。【００６５】
位相検出設定系４の処理では、光検出器８により電圧レベルに変換された光信号は、以下のように電気的処理がなされ、ライト・ストラテジの時間軸の設定が、電圧レベルで検出される。【００６６】
すなわち、電圧レベルに変換されたマーク部のマルチパルス波形が、ＬＰＦ２６に通され、マルチパルスの平均パワーレベルが検出される。検出された平均パワーレベルは、ＳＨ回路２７によりサンプルされホールドされる。その後、記録速度や、記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ２８により信号のゲイン調整がなされ、ＡＤ変換回路２９によりＡＤ変換される。【００６７】
ＣＰＵ３０は、ライト・ストラテジの位相設定を順次変更して、それぞれの位相設定毎にＡＤ変換回路２９より出力される測定値を得る。そして、この測定値を元に直線近似を行なって、各位相設定毎に測定値の理想値を求め、測定値と理想値との誤差が最小となるような位相設定を最適位相設定として求めて、ＲＡＭ３１の位相設定テーブル３２に格納する。なお、位相検出設定系４の詳細な動作については、後述する。【００６８】
記録データ生成系５は、光ディスク１に記録される記録データを生成するものであり、記録データ格納回路２１と、記録変調回路２２と、ライト・ストラテジ生成回路２３と、位相設定回路２４と、多相クロック生成回路２５と、を有している。【００６９】
記録データ生成系５では、記録データ格納回路２１に格納される記録データが、記録変調回路２２により、所定の規格に応じて変調される。そして、記録波形ＮＲＺＩ信号が、記録変調回路２２からライト・ストラテジ生成回路２３に入力される。【００７０】
位相設定回路２４は、多相クロック生成回路２５が生成した基準クロックを、ＣＰＵ３０により読み出された位相設定テーブル３２の値に基づいて選択し、ライト・ストラテジ生成回路２３に入力する。【００７１】
ライト・ストラテジ生成回路２３は、記録変調回路２２、及び位相設定回路２４からの出力に基づいて、光ディスク１の特性や記録速度等に応じて、光ディスク１への記録に最適なライト・ストラテジを生成する。このとき、ライト・ストラテジ生成回路２３は、基準となる記録の繰返し周期１Ｔに対して、更に短い複数のパルス、またはひとつのパルスを生成するために、１Ｔより更に分解能のある多相クロックを基準として、ライト・ストラテジの位相を決定する。そして、ＬＤドライバ６は、このライト・ストラテジに基づいてＬＤ７を発光させる。なお、位相検出設定系４のＲＡＭ３１に格納されている位相設定テーブル３２は、位相設定回路２４などに保持してもよい。【００７２】
次に、以上のように構成された光ディスク記録装置１００における、マルチパルスの位相設定と、位相検出系４におけるマルチパルスの平均化レベルの測定値との関係について説明する。【００７３】
上述したように、マルチパルス波形を示すマーク部のレーザーパワーレベルは、ＬＰＦ回路２７で平均化され、平均化されたレベルがサンプル、ホールドされ、そのレベルが測定される。この時、レーザーパワーは一定となるように、レーザーＡＰＣ制御が行われているため、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐが変化したとき、ＬＰＦ回路２７で平均化されるレベルは変化する。【００７４】
例えば、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔとしたときの、１Ｔマルチパルスの場合について、図２を用いて説明する。【００７５】
図２は、記録中のマークと、スペースの信号を示しており、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合を示す。図２（ｂ）は、レーザーの出力を表しており、図２（ｂ）において、Ｔｍｐは、マルチパルスの位相設定を示し、Ｔｍｐの矢印方向（＋）が可変できる位相設定である。また、Ｔｍｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。図２では、基本周期は、１Ｔであるので、Ｔｍｐは、０Ｔから１Ｔまで可変される。【００７６】
図２（ａ）は記録変調回路２２の出力信号である記録波形ＮＲＺＩを表し、ＨＩＧＨの区間が、データが記録されるマーク部分であり、ＬＯＷの区間が、データが記録されない、または、消去されるスペース部である。スペース部は、バイアスパワーｂ１でＡＰＣ制御されており、マーク部のマルチパルスは、ピークパワーｂ２で制御されている。また、ボトムパワーｂ３は、再生中のレーザーパワーとなるように電流が設定されている。このボトムパワーｂ３は、記録特性に応じて変化させてもよい。【００７７】
図２（ｃ）は、レーザー制御系３ａでの信号出力を表すものであり、マーク部検出系３ａにおけるＳＨ信号、及びＳＨ回路１１の出力と、スペース／イレース部検出系３ｂにおけるＳＨ信号、及びＳＨ回路１６の出力とをそれぞれ表す。レーザー制御系３ａでは、マーク部のレベルを検出するためのＳＨ信号がＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。また、スペース／イレース部検出系３ｂでは、スペース部のレベルを検出するためのＳＨ信号がＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。なお、本発明の実施の形態１において、サンプリングとホールドの意味が同じであれば、ＳＨ信号のＬＯＷや、ＨＩＧＨの極性は、特に反転設定で同じ動作を行ってもよい。【００７８】
図２（ｄ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６、ＳＨ信号、及びＳＨ回路２７のそれぞれの出力を表す。位相検出設定系４において、ＬＰＦ回路１０の平均化信号は、デューティが５０％なので、理想的には図２（ｄ）のようにピークパワーｄ１からボトムパワーｄ２を引き算した５０％のレベルで平均化される。このマーク部分の位置で、ＳＨ信号によりＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。【００７９】
また、位相検出設定系４において、図３に示すように、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝ゼロで、１Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が０％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図３（ｃ）のようにボトムパワーｃ２と略同じレベルで、検出される。また、例えば、図４に示すように、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１Ｔで、１Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が１００％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図４（ｃ）のようにピークパワーｃ１と略同じレベルで検出される。以上、図２、図３、図４の結果をまとめて、マルチパルスの位相設定を変化させたときのレベル検出の関係を表すと、図５のように示すことができる。【００８０】
図５は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの時間軸０％から１００％までを、平均化レベルのボトムパワーからピークパワーの関係で表している。図５において、横軸はライト・ストラテジ回路のマルチパルス設定Ｔｍｐとデューティ比、縦軸はＳＨ回路２７でホールドされた信号のＡＤ変換レベルである。図５に示すように、本実施の形態１において、１Ｔマルチパルスの幅設定と測定レベルとの関係は、デューティが０％では、ＡＤ変換レベルはボトムパワーのレベルとなり、デューティが１００％ではピークパワーのレベルとなる直線で表される。【００８１】
次に、以上のように構成される光ディスク記録装置１００において、ライト・ストラテジの位相設定に対応する電圧レベルをサンプルして、最適位相値を決定する動作について詳細に説明する。なお、以下マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について説明する。【００８２】
１Ｔの分解能が１／１０ということは、０．１Ｔ単位でマルチパルスの位相設定が可能であることを示す。本実施の形態１による光ディスク記録装置では、分解能は１／ｎ（ｎは任意の整数）でもよく、任意の分解能ｎであっても、１０の分解能の場合と同じ結果を得ることができる。【００８３】
図６は、本発明の実施の形態１による光ディスク記録装置１００により、ライト・ストラテジの位相設定を補正し、最適位相設定を出力する動作の概略を示すフローである。【００８４】
まずステップＳ１１において、ライト・ストラテジの位相設定を順次変化させて、各位相設定における信号レベルの測定を行う。次にステップＳ１２において、各位相設定毎に最適値をサーチして、最適位相設定を求める。そしてステップＳ１３において、最適位相値の出力を行う。【００８５】
以下、ステップＳ１１、ステップＳ１２について、詳細に説明する。まず、ステップＳ１１の処理について説明する。
図７は、マルチパルスの位相を最小分解能で順に設定し、各位相設定毎の平均化レベルの測定を行うフローを示す。なお、以下の各ステップはＣＰＵ３０により実行されるものであり、また、当該フローにおける変数や、配列変数は、ＣＰＵ３０に接続されているＲＡＭ３１に確保される。【００８６】
まず、ステップＳ２１で、変数が初期化される。この変数は、測定回数を示す変数ｎで、本実施の形態１の場合は、０から１０までの整数となる。【００８７】
次に、ステップＳ２２からステップＳ２７までのループ１処理が形成され、変数ｎが１０以下の場合、ステップＳ２３からステップＳ２７までが繰り返し処理される。【００８８】
すなわち、ステップＳ２３で、位相＿０／１０が設定され、ステップＳ２４で、位相＿０／１０の時のＡＤ値が取得され、ステップＳ２５で、取得されたＡＤ値が配列＿測定値［０］に格納される。次に、ステップＳ２６で、０をインクリメントし、ステップＳ２７では、ステップＳ２２の条件で形成されているループ１を継続するか、終了するかが、判断され以降、測定値［１０］が得られるまで、ループ１が繰り返される。【００８９】
以上の測定により、例えば、図８のような測定結果が得られる。
本発明の実施の形態１では、デューティが０％から１００％になるように、ｎを０からインクリメントしたが、デューティが１００％から０％になるように、ｎを１０からデクリメントしても、同様な測定結果を得ることができる。また、ステップＳ２３や、ステップＳ２４の実施の前後において、設定後の安定性や、測定の安定性のために、待ち時間をとって、次の処理を実行してもよい。【００９０】
次に、ステップＳ１２の処理について説明する。
まず、位相設定の最適値がサーチされる前に、ライト・ストラテジの位相設定を補正するための理想値が算出される。理想値は、ステップＳ１１により得られた測定結果から算出されるものであり、デューティが０％の測定結果を保持している配列変数＿測定値［０］と、デューティが１００％の測定結果を保持している配列変数＿測定値［１０］の結果とから、直線近似することにより得られる。直線近似式は、図９の式で表され、本実施の形態１の測定結果から、理想値は、【００９１】
理想値＝１００×ｎ＋１００【００９２】
で直線近似される。図１０は、上記ステップＳ１１により得られた測定結果と、上記直線近似式から理想値を求めた結果を示すものである。【００９３】
図１１は、図１０の結果から、各位相設定の最適値をサーチして、位相設定を補正するフローを示す。最適値のサーチ処理は、ある位相設定のときの理想値に最も近い測定値をサーチして、そのサーチした結果の測定値に対応する位相設定を最適位相設定とするものである。理想値に最も近い測定値は、測定結果と、理想値の絶対値とから演算する。以下、フローの詳細について説明する。【００９４】
まず、ステップＳ３０では、図９で求めた直線近似式に基づき、各位相設定値毎の理想値が計算され、配列変数＿理想値［ｎ］に格納される。本実施の形態１の場合、理想値［０］から理想値［１０］までの１１個のデータが、配列変数に格納される。【００９５】
次に、ステップＳ３１で、変数ｍの初期化を行う。変数ｍは、後述するループ１のカウントに使用する変数である。【００９６】
次に、ステップＳ３２からステップＳ４４までのループ１の処理が形成され、変数ｍが１０未満の場合、ステップＳ３３からステップＳ４３までが繰り返し処理される。このループ１の処理は、ある位相設定ｎについて、理想値に最も近い最適値を、実測した結果から検索し、当該最適値に対応する位相設定を、ある位相設定値ｎについての最適位相設定として決定する処理を行うものである。【００９７】
次に、ステップＳ３３で、変数＿理想値［ｍ］に、最適位相設定を検索する位相設定値に対してステップＳ３０で計算された理想値が取得される。【００９８】
次に、ステップＳ３４で、変数の初期化が行われる。ステップＳ３４で初期化される変数は、後述するループ２のカウントに使用する変数＿ｎ、最小絶対値、及び最適テーブル［ｍ］である。ここで、変数＿最小絶対値は、ループ２の処理において、最も理想値に近い測定値を検索するときに、理想値からの誤差が最も小さい値を格納する変数である。なお、最小絶対値の初期値としては、値として取り得る最大の値が格納されている。また、変数＿最適テーブル［ｍ］は、ループ１の処理において、ある位相設定に対して、最も誤差が小さい値が検索されたときの位相設定値を格納する変数である。【００９９】
次に、ステップＳ３５からステップＳ４１までのループ２の処理が形成され、変数ｎが１０未満の場合、ステップＳ３６からステップＳ４０までが繰り返し処理される。このループ２の処理は、上記ループ１処理のうち、最適位相設定値を検索する位相設定値について、理想値［ｍ］とすべての実測値とを比較して、最も理想値に近い測定値を検索する処理を行うものである。【０１００】
すなわち、ステップＳ３６では、配列変数＿測定値［ｎ］と計算で求めた理想値［ｍ］との差分の絶対値が計算される。ステップＳ３７では、この差分絶対値と最小絶対値とが比較され、差分絶対値のほうが小さければ、ステップＳ３８に移行し、差分絶対値のほうが大きければ、ステップＳ４０に移行する。【０１０１】
ステップＳ３８では、変数＿最小絶対値に、差分絶対値が格納され、ステップＳ３９では、変数＿最適位相設定に、変数ｎが設定される。そして、ステップＳ４０で、変数ｎがインクリメントされし、ステップＳ４１では、ステップＳ３５の条件で形成されているループ２を継続するか、終了するかが判断される。ループ２を終了する場合は、ステップＳ４２で、配列変数＿最適テーブル［ｍ］に、最適位相設定が格納される。【０１０２】
次に、ステップＳ４３で、変数ｍをインクリメントし、ステップＳ４４では、ステップＳ３２の条件で形成されているループ１を継続するか、終了するかが、判断され、ループ１が終了により、各位相設定の最適値の最適値をサーチする処理が終了する。【０１０３】
以上のように、処理を行った結果を、図１２と図１３に示す。
図１２は、補正前と補正後の位相設定ｎに対する理想値、測定値、レベル誤差、及び誤差（ＬＳＢ）をそれぞれ示している。図１２において、理想値は、ステップＳ３０で求められた値であり、測定値は、ステップＳ１１で求められたものである。また、レベル誤差は、測定値と、理想値との差分を表し、誤差（ＬＳＢ）は、測定値と理想値との差分を、理想直線の傾きで割った結果であり、位相設定に対する誤差を示す。なお、図１２において、補正後の“補正ｎ”の欄は、図１１で説明したフローにより得られる最適テーブル［ｍ］に相当するものである。【０１０４】
図１２に示すように、上述した補正により、レベル誤差、誤差（ＬＳＢ）は、補正前に比べて、小さくなっている。【０１０５】
また、図１３は、図１２に示す各数値をグラフ化したものであり、横軸の位相設定ｎに対して、左の第一軸は、測定値を、右の第二軸は、誤差（ＬＳＢ）をそれぞれ示している。図１３に示されるように、理想の直線に対して、補正前は、−０．８（ＬＳＢ）から＋１．０（ＬＳＢ）の誤差があったが、補正後は、−０．７（ＬＳＢ）から＋０．４（ＬＳＢ）の誤差に低減している。【０１０６】
以上の動作により得られた、補正後の位相設定は、不揮発メモリ３１の位相設定テーブル３２に保持される。具体的には、補正前には、［０、１、２、３、４、５、６、７、８、９］と順番に格納されていた設定を、補正結果により、［０、２、１、３、５、５、６、７、９、８］と書き換えておくことである。【０１０７】
そして、実際のライト・ストラテジの出力では、本実施形態のように位相設定ｎが、０から１０まで存在している場合、例えば、ｎ＝１の設定を行うときは、補正ｎ＝２となる選択を行えばよい。また、位相設定ｎ＝４のときは、補正ｎ＝５を選択すればよい。このように、ＣＰＵ３０が、ある位相設定に対して補正後の位相設定ｎを設定することで、あらかじめ定められた位相設定順序を並べ替えを行ない、回路特性に応じた最適なライト・ストラテジの位相設定が可能となる。【０１０８】
なお、本発明の実施の形態１では、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。【０１０９】
また、本発明の実施の形態１では、レーザーパワーを可変することで、マーク部検出系３ａのダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。【０１１０】
また、本発明の実施の形態１では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定を、ｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を、０％から１００％に変化させて測定を行ったが、ここで測定するｎは任意の設定でもよい。また、補正するための基準直線０％と、１００％の測定結果が得られていれば、任意の位相設定を補正することができる。【０１１１】
また、本発明の実施の形態１では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定が、ｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を、０％から１００％に変化させて測定を行ったが、ここで、測定するｎ＝１や、ｎ＝９の設定は、出力波形の幅が最も短い時間幅である。近年の高倍速化に伴い、記録倍速が上がると、時間幅も短くなる。信号出力の立ち上がり特性と、立下り特性の時間が、設定したライト・ストラテジの時間幅を上回った場合、正常な波形は出力されない。この条件に関して、あらかじめ立ち上がり特性、および立下り特性は、製品仕様として規定されており、明確化されている。ここで、上記条件のように正常な波形が出力されない記録倍速設定のときは、測定を行うことができない。したがって、あらかじめ測定を行うことができない時間設定のときは、測定を行わず、補正を行わないようにする。具体的には、ｎ＝１の補正結果は、補正ｎ＝１とする。【０１１２】
また、本発明の実施の形態１では、ステップＳ１２で、直線の近似と補正とを行い、ＲＡＭ３１に補正後の位相設定値である補正ｎを保持し、次のライト・ストラテジの設定に補正ｎを設定するとしたが、ＲＡＭ３１に、直線近似の結果である理想値を保持しておいてもよい。この場合、直線近似の結果だけを読み出し、設定したライト・ストラテジの位相設定ｎの出力結果とを比較し、その精度を判断することができる。【０１１３】
また、本発明の実施の形態１において、ＣＰＵ３０は、理想値と測定値を比較して、あらかじめ設定されている値を超えている場合は、エラー検出を行うものとしてもよい。例えば、理想値から測定値を引き算して、設定されている値を超えた場合、エラーとする。そして、エラー検出した場合、この記録装置は不良品と判断する。また、一部の部品交換を行って、再度測定し、設定されている値より小さくなれば良品と判断しても良い。また、エラーとなった場合でも、測定の誤差によって、あらかじめ設定されている値を超えている場合も考えられるため、再度、任意の回数測定を行って、エラー検出を行っても良い。【０１１４】
以上のように本実施の形態１による光ディスク記録装置は、ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御を行い、マルチパルス発光しているレーザー光を光検出して、マーク部をＬＰＦ回路で平均化して、そのレベルをサンプリングしてホールドして、マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを電圧によって測定し、その測定結果に応じて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差を減らすように、パルスエッジの位相設定順序の並べ替えを行うこととしたので、ライト・ストラテジの実際に出力される時間軸に対する位相設定を電圧レベルで測定することができ、誤差が大きい位相設定については、その誤差が低減される最適な位相設定を決定することができる。【０１１５】
また、マルチパルスの出力周期をマーク・スペース長の基本周期である１Ｔとしたとき、マルチパルスのデューティ比を０％から１００％に変化させて、レベルの測定を行うようにしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定することができ、該測定結果に基づいて位相設定順序を並べ替えることで、誤差が低減される位相設定を行うことができる。【０１１６】
また、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベルを（ｙ１）とし、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベルを（ｙ２）とした場合に、傾きを（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）とし、接片をｙ１とする直線を用いて、各位相設定についての理想値を求めることとしたので、基本周期である１Ｔ分の最初と、次の１Ｔの最初の２点で直線近似することができ、相対的に１Ｔの最小分解能で、すべての位相設定について補正を行なうことができる。【０１１７】
また、本実施の形態１による光ディスク記録装置では、電圧レベルで測定するときに、最適なレンジを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。また、レーザーＡＰＣ制御回路１９によりレーザーパワーを変化させて、レーザーパワー制御を複数回行ない、もっと精度の良いレーザパワーを選択し設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。【０１１８】
また、本実施の形態１による光ディスク記録装置は、ＲＡＭ３１に、位相設定を補正した結果を書き換えて保持しておくようにしたので、あらかじめ光ディスク記録装置の工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値を使用することにより光ディスク記録装置の起動時の時間短縮を行うことができる。【０１１９】
また、測定が困難な設定値付近では、位相設定の補正を行わないようにしたので、本来の設定とは全く異なる位相設定がされることがなくなり、異常な出力がされなくなる。【０１２０】
また、ＲＡＭ３１に、理想値や、補正値を保持しておくようにしたので、あらかじめ工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値や、理想値を使用することで、光ディスク記録装置の起動にようする時間短縮を行うことができる。【０１２１】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態２による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置１００において、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期を２Ｔとするものである。【０１２２】
本実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔとしたときの、２Ｔマルチパルスの場合について、図１４を用いて説明をする。なお、本実施の形態２による光ディスク記録装置の構成、及び基本的な動作は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置１００と同じである。【０１２３】
図１４において（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を、（ｃ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路２７の出力を表す。図１４は、記録中のマークとスペースの信号を示しており、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝０．５Ｔで、デューティ比が２５％である場合に対応するものである。Ｔｍｐは、マルチパルスの位相設定を示し、Ｔｍｐの矢印方向（＋）に変化させることができる。Ｔｍｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。基本周期は、２Ｔであるので、Ｔｍｐは、０Ｔから２Ｔまで可変される。【０１２４】
ここで、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔにおいて、時間軸２５％から７５％は１Ｔ相当の時間となる。【０１２５】
マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝０．５で、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が２５％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１４（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の２５％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１４（ｃ）のように検出される。【０１２６】
また、図１５は、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．０Ｔで、デューティ比が５０％である場合に対応する図であり、マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１Ｔで、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が５０％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図１５（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の５０％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１５（ｃ）のように検出される。【０１２７】
さらに、図１６は、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．５Ｔで、デューティ比が７５％である場合に対応する図であり、マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．５Ｔで、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が７５％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図１６（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の７５％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１６（ｃ）のように検出される。【０１２８】
図１４、図１５、図１６の結果をまとめて、マルチパルスの位相設定を変化させたときの、位相設定と測定レベルとの関係を表すと、図１７のように示すことができる。図１７において、横軸は、ライト・ストラテジ回路のマルチパルス設定Ｔｍｐとデューティ比を示し、縦軸は、ＳＨ回路２７でホールドされたレベルのＡＤ変換レベルを示す。【０１２９】
図１７に示すように、マルチパルスの位相設定を変化させたときの、位相設定と測定レベルとの関係は、デューティが２５％では、ＡＤ変換レベルがピークパワーとボトムパワーの差の２５％となり、デューティが７５％では、ＡＤ変換レベルがピークパワーとボトムパワーの差の７５％のレベルとなる直線で表される。図１７は、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔにおいて、時間軸２５％から７５％を、平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表しており、この時間幅は、ちょうど１Ｔ相当の時間幅があり、本発明の実施の形態１と同じである。【０１３０】
したがって、本実施の形態２においては、検出できる電圧レベルは、ちょうど５０％となり、上述した実施の形態１とは異なるが、この電圧レベルの検出が、ＡＤ変換回路２９の分解能より十分大きいならば、上述した図１７で示す直線を用いて各位相設定毎の理想値を求めることにより、本発明の実施の形態１と同じ方法により、ライト・ストラテジの位相設定を補正することができる。【０１３１】
以上のように本発明の実施の形態２による光ディスク記録装置によれば、マルチパルスの出力周期をマーク・スペース長の基本周期である２Ｔとしたとき、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させて、レベルの測定を行うようにしたので、デューティ比が２５％から７５％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定順序を並べ替えることで位相設定の補正を行ない、誤差を低減させることができる。【０１３２】
なお、本実施の形態２では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定がｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を２５％から７５％に変化させて測定を行ったが、基準直線２５％と７５％の測定結果が得られていれば、任意の設定ｎを補正することができる。【０１３３】
（実施の形態３）
以下、本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態３による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置１００において、１つの記録マークを形成するときに、１つのパルスで形成するブロックパルスからなるライト・ストラテジによって記録するものである。【０１３４】
以下、本実施の形態３による光ディスク記録装置において、ブロックパルスの出力を、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔとして、３Ｔマークと３Ｔスペースを出力した場合の動作について、図１８を例に説明をする。なお、本実施の形態３による光ディスク記録装置の構成は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置１００と同じである。【０１３５】
図１８において、（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を、（ｃ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路２７の出力を表す。図１８は、記録中のマークと、スペースの信号を示しており、３Ｔマークにおいて、１Ｔの長さのブロックパルスとなる場合である。Ｔｔｏｐは、このブロックパルスの幅設定であるトップパルスの位相設定を示し、Ｔｔｏｐの矢印方向（＋）が可変できる位相設定である。またＴｔｏｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。Ｔｔｏｐの可変範囲は、特に制限はない。【０１３６】
以下、マークとスペース長がそれぞれ３Ｔであり、マークとスペース長の周期が、合わせて６Ｔの場合を例として説明する。本実施の形態３による光ディスク記録装置では、ＬＰＦ回路２６のカットオフ周波数の設定を下げて、マーク３Ｔとスペース３Ｔをまとめて、レーザー出力全体を平均化する設定にする。そして、マーク３Ｔの記録を行うときの位相設定をＴｔｏｐとしたとき、Ｔｔｏｐの設定を、１Ｔから２Ｔまで可変して、マーク３Ｔとスペース３Ｔの６Ｔ分のレーザー出力全体を平均化する。【０１３７】
このとき、Ｔｔｏｐ＝１Ｔのときは、６Ｔ中にピークパワーが出現する割合は、１Ｔ／６Ｔ＝１６．６７％であり、Ｔｔｏｐ＝２Ｔのときは、６Ｔ中にピークパワーが出現する割合は、２Ｔ／６Ｔ＝３３．３３％である。つまり、Ｔｔｏｐが１Ｔから２Ｔまで変化したときの、ピークパワーが出現する割合は、１６．６７％から３３．３３％となる。これを平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表すと、時間軸では１Ｔ相当の時間となり、このピークパワーが出現する割合を、デューティ比と同じとすれば、本発明の実施の形態１と同様に扱うことができる。【０１３８】
ここで、Ｔｔｏｐ＝１Ｔで、デューティ比が、１６．６７％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１８（ｃ）のように検出される。また、図１９に示すように、Ｔｔｏｐ＝１．５Ｔで、デューティ比が、２５％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１９（ｃ）のように検出される。さらに、図２０に示すように、Ｔｔｏｐ＝２Ｔで、デューティ比が、３３．３３％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図２０（ｃ）のように検出される。【０１３９】
図１８、図１９、図２０の結果をまとめて、トップパルスＴｔｏｐの位相設定を変化させたときの位相設定と測定レベルとの関係を表すと、図２１のように示すことができる。図２１において、横軸は、ライト・ストラテジ回路のトップパルス設定Ｔｔｏｐとデューティ比を示し、縦軸は、ＳＨ回路２７でホールドされたレベルのＡＤ変換レベル示す。【０１４０】
デューティが１６．６７％では、ピークパワーとボトムパワーの差の１６．６７％、デューティが３３．３３％では、ピークパワーとボトムパワーの差の３３．３３％のレベルとなる直線になり、マークとスペース長の基本周期である６Ｔにおいて、時間軸１６．６７％から３３．３３％を、平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表している。この時間幅は、ちょうど１Ｔ相当の時間幅があり、本発明の実施の形態１と同じである。【０１４１】
したがって、本実施の形態３においては、検出できる電圧レベルは、ちょうど１６．６７％となり、本発明の実施の形態１と異なるが、この電圧レベルの検出が、ＡＤ変換回路２９の分解能より十分大きいならば、本発明の実施の形態１と同じ方法により、ライト・ストラテジの位相設定を補正することができる。【０１４２】
以上のように本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置は、トップパルスの出力周期をマークとスペース長の発生周期６Ｔを基準とし、トップパルスの位相設定を１Ｔ分の時間を変化させて、レベルの測定を行うこととしたので、デューティ比を１６．６７％から３３．３３％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、これにより上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定順序を並べ替えることで位相設定の補正を行ない、誤差を低減させることができる。【０１４３】
また、本発明の実施の形態３においては、マークとスペース長の発生周期は６Ｔとしたが、その他の周期に設定した場合でも、基本周期の長さに合わせて、デューティ比計算を変えれば、本実施の形態３と同様に、平均化レベルの測定と位相設定の補正を行うことができる。【０１４４】
（実施の形態４）
以下、本発明の実施の形態４に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２２は、本実施の形態４による光ディスク記録装置２２００の構成を示すブロック図である。図２２において、信号切替スイッチ３６は、ＬＰＦ２６への入力を、光検出器８の出力と、後述する標準信号発生装置３７の出力との間で切り換えるものである。【０１４５】
標準信号発生装置３７は、位相設定回路２４からの出力を受けて、各位相設定毎にライト・ストラテジ生成回路２３の出力と同等な波形信号を出力するものであり、光ディスク装置２２００に接続される外部装置である。その出力は、出力信号のばらつきがない標準波形となる。なお、図２２において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。【０１４６】
次に、以上のように構成された本実施の形態４による光ディスク記録装置２２００の動作について説明する。
まず、信号切替スイッチ３６が、標準信号発生装置３７側に切り替えられ、この状態で、位相設定ｎが、０から１０まで順に＋１づつ変化されて、標準信号発生装置３７の出力が平均化される。その結果は、ＲＡＭ３２の変数＿標準装置［ｎ］に格納される。次に、信号切替スイッチ３６が、光検出器８側に切り替えられ、位相設定ｎを、０から１０まで、順に＋１づつ変化させて、光検知器８より出力される、電圧レベルに変換されたマルチパルス部のレーザーパワーの平均化レベルが検出され、その結果が、ＲＡＭ３２の配列＿測定値［ｎ］に格納される。【０１４７】
図２３は、上記測定結果を示す例であり、図２４は、該測定結果をグラフで表したものである。図２３と、図２４の測定結果から、本発明の実施の形態４の標準信号発生装置３７を使用した測定では、理想直線から少し弓形をした結果を得ることができている。【０１４８】
上記実施の形態１では、ステップＳ１２において、直線近似式である、図９より理想値を求めた。つまり図１０の理想値［ｎ］は、測定結果と、これより得られた直線近似式から理想値を求めた結果であった。本実施の形態４では、図１０の理想値［ｎ］を、図２３の変数＿標準装置［ｎ］に置き換えて、ステップＳ１２以降の処理が行われる。これにより、標準信号発生装置３７によりその出力が校正された位相検出設定系４により、上記実施の形態１と同様に位相設定の補正を行うことができる。【０１４９】
なお、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。【０１５０】
また、標準信号発生装置３７は、位相検出設定系４を校正する目的なので、本実施の形態４では外部装置として想定しているが、位相検出設定系４に、標準信号発生装置３６を標準信号発生器として設けてもよい。【０１５１】
以上のように本実施の形態４による光ディスク記録装置によれば、位相検設定系において、ライト・ストラテジ生成回路と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置３７の出力を平均化し、切替スイッチ３６標準信号発生装置３７この平均レベルを測定した結果を理想値として、位相設定の補正を行なうこととしたので、レベル測定を行う位相検出設定系４の出力を校正することができ、より正確な位相設定の補正が可能となる。【０１５２】
（実施の形態５）
以下、本発明の実施の形態５に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２５は、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００の構成を示すブロック図である。なお、図２５において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。
図２５において、３８は、レーザー制御系３のＳＨ回路１１のサンプルホールド位置を変化させるＳＨ位置設定回路である。３９は、レーザーＡＰＣ制御回路１９の出力のＯＮ／ＯＦＦを制御するＯＮスイッチである。また、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００では、位相設定系４のＣＰＵ３０は、レーザー制御系３のＡＤ変換回路１４の出力を、その入力信号とする。【０１５３】
次に、以上のように構成される光ディスク記録装置２５００の動作について、図２６、及び図２７を用いて説明する。
図２６は、１Ｔマルチパルスで、６Ｔマークのレーザー出力を行なっている状態を表し、（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を表す。また、図２６（ｃ）は、ＳＨ回路１１のＳＨ信号がマルチパルス部に位置する場合の、ＬＰＦ回路１２の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路１１の出力を表し、図２６（ｄ）は、ＳＨ回路１１のＳＨ信号がトップパルス部に位置する場合の、ＬＰＦ回路１２の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路１１の出力を表す。【０１５４】
図２６において、マルチパルス部をＳＨ回路１１によりサンプルホールドした後の信号レベルをＡＤ変換した結果は、トップパルス部をＳＨ回路１１によりサンプルホールドした後の信号レベルをＡＤ変換した結果より、小さい状態である。マルチパルス部の位相設定を変化させたとき、マルチパルス部のＬＰＦ回路１０のレベルは、マルチパルスのデューティ変化により変動するので、このＡＤ変換レベルを用いてレーザーを一定に出力するレーザーＡＰＣ制御はできない。このため、レーザーＡＰＣ制御を行う場合は、図２６（ｄ）に示すように、ＳＨ位置設定回路３８によりサンプルホールド位置をトップパルス部に移動させ、トップパルス部をサンプル・ホールドする。そして、ホールドされたレベルがＡＤ変換回路１４によりＡＤ変換された結果に基づいて、レーザーＡＰＣ制御回路１９によるレーザーＡＰＣ制御が行なわれる。【０１５５】
一方、ライト・ストラテジの位相設定を変化させて、マルチパルス波形のデューティ比が変化したときの平均化レベルを検出する場合は、図２６（ｃ）に示すように、ＳＨ位置設定回路３８によりサンプルホールド位置をマルチパルス部に移動させてレベル測定を行うそして、ＡＤ変換回路１４でＡＤ変換された結果が、位相検出設定系４のＣＰＵ３０に入力され、該検出結果を元に、上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定の補正が行われる。【０１５６】
以下、図２７に示すフローを用いて、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００において、レーザー制御系３を用いて、ライト・ストラテジの位相を電圧レベルで測定する動作について説明する。
まず、ステップＳ５０で、ＳＨ位置設定回路３８によりＳＨ信号がトップパルス部に変更される。【０１５７】
次に、ステップＳ５１で、切替スイッチ１２が、ＬＰＦ回路１０がスルーされる側に切り替えられる。ＬＰＦ回路１０をスルーすることで、光検出器８で電圧変換されたレーザーの出射波形が、そのままＳＨ回路１１に入力される。【０１５８】
次に、ステップＳ５２で、レーザーＡＰＣ制御が行なわれ、レーザーの出射パワーが所定のパワーに制御される。この時トップパルス部がサンプル・ホールドされているので、位相設定を変化させてデューティ比が変化しても、同じレベルが検出される。【０１５９】
次に、ステップＳ５３で、レーザー制御の安定待ちを行い、ステップＳ５４で、レーザーＡＰＣ制御が停止される。このレーザーＡＰＣ制御の停止は、スイッチ３９をＯＦＦにし、ＬＤドライバ６への電流設定であるＤＡＣ２０の出力を一定とすることで行う。この時、ＬＤドライバ６に供給される電流は一定であるので、ＬＤ７は、同じ電流でレーザーを出射する。【０１６０】
次に、ステップＳ５５で、ＳＨ位置設定回路３８によりＳＨ信号がマルチパルス部に変更される。【０１６１】
次に、ステップＳ５６で、切替スイッチ１２がＬＰＦ回路１０側に切り替られ、ステップＳ５７で、ライト・ストラテジの位相設定が順次変化されて、各位設定毎のレベル測定が行われる。以降は、上記実施の形態１と同様に、ステップＳ５７により得られた測定値と、理想値とを元に、位相設定順序を並べ替えることで、位相設定の補正が行なわれる。【０１６２】
以上のように本発明の実施の形態５による光ディスク記録装置によれば、レーザーパワーの制御を行なう場合は、マーク検出系のＳＨ回路のサンプルタイミングを、トップパルス部に移動させてレーザーＡＰＣ制御を行ない、位相設定の補正を行なう場合は、レーザー制御をホールドして、レーザーへの電流量を一定とし、マーク検出系のＳＨ回路のサンプルタイミングを、マルチパルス部に移動させて、各位相設定毎のレベル測定を行うこととしたので、レーザー制御に用いるレーザーパワーの検出手段を使って、ライト・ストラテジの位相設定に対する時間軸を、電圧レベルで測定することができ、これにより、レーザー制御系のマーク検出系と、位相検出設定系におけるライト・ストラテジの位相検出手段とを共通化させて、回路規模の縮小化を図ることが可能となる。【０１６３】
（実施の形態６）
以下、本発明の実施の形態６に係る光ディスク記録装置について説明する。
上記実施の形態１ないし５による光ディスク記録装置は、光ディスク記録装置の電源投入時やリセット時に、マルチパルスの位相設定を補正するものであるが、本実施の形態６による光ディスク記録装置は、記録動作時にマルチパルスの位相設定を補正するものである。【０１６４】
図２８は、本実施の形態６による光ディスク記録装置における光ピックアップの構成を示すブロック図である。なお、本実施の形態６による光ディスク記録装置の、レーザー制御系３、位相検出設定系４、及び記録データ生成系５は、上述した実施の形態１ないし実施の形態５と同じものであり、図２８では省略している。【０１６５】
図２８において、４１は、レンズ４０を上下させて、光ディスク１の記録層に焦点を合わすためのアクチュエータである。４２は、レンズ４０と連動したアクチュエータ４１を駆動してレンズ４０を上下に動作させて、光ディスク１の記録層に対してフォーカスを合わせたり、はずしたりするフォーカス駆動回路４２である。【０１６６】
次に、本実施の形態６による光ディスク記録装置において、記録動作時に位相設定の補正を行なう場合の制御動作について説明する。【０１６７】
光ディスク１の記録層にフォーカスを合わせる制御が行われている状態においては、マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを電圧によって測定する場合、レーザーの出射パワーは記録を行うためのレーザーパワーであるために、レーザーからの出射光が光ディスク１の記録層に、データとして記録されてしまう。すべての位相設定を変化させて測定を行った場合、記録されるデータは、特に意味のないデータとなる。【０１６８】
本実施の形態６では、光ディスクの記録動作時に、フォーカスを、フォーカス駆動回路４２により光ディスク１の記録層より一瞬はずし、この間に、マルチパルスの平均化レベルを測定する。これにより、光ディスクの記録動作時に、記録媒体への記録を行うことなく平均化レベルを測定することができ上述した実施の形態１と同様の方法により、設定したライト・ストラテジの位相設定を補正することできる。【０１６９】
また、光ディスクの記録時に、フォーカス駆動回路４２により、光ディスク１の記録層よりフォーカスを合わせた状態において特定の位相設定に対するマルチパルスの平均化レベルを測定し、この測定値と理想値との比較を行うことで、光ディスク記録装置の異常を検知することができる。例えば、測定値と理想値との差が大きければ、位相設定に対して異なる位相が出力されている可能性があり、装置が異常であると判断できる。【０１７０】
以上のように、本実施の形態６による光ディスク記録装置によれば、光ディスク記録装置の記録時に、フォーカス駆動回路によりレンズのフォーカスをはずし、この間にマルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを測定することとしたので、記録媒体へデータを記録する場合においても、ライト・ストラテジの位相設定の補正を行なうことができる。【０１７１】
また、記録媒体への記録時に測定した値と理想値とを比較することにより、設定したライト・ストラテジが正確に出力されているか否かを確認することができる。【０１７２】
（実施の形態７）
以下、本発明の実施の形態７に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２９は、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００の構成を示すブロック図である。図２９において、３４は、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力信号に応じて、その出力信号のレベルを変換する信号変換回路である。例えば、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力信号が、近年よく使用される、低電圧差動伝送（ＬＶＤＳ）信号である場合のように、ひとつの信号レベルが２つの差動信号で伝達される場合、２つの差動信号を元の振動に変換する必要があるが、信号変換回路３４はこの変換回路に相当するものである。【０１７３】
３５は、ＬＰＦ回路２６への入力を、光検出器８の出力信号と、信号変換回路３４の出力信号との間で切り換える信号切替スイッチである。なお、図２９において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。【０１７４】
以下、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００において、信号切替スイッチ３５が、ＬＰＦ回路２６への入力として信号変換回路３４の信号を選択している場合の動作について詳細に説明する。【０１７５】
信号変換回路３４の出力が、例えば、０Ｖから３．３Ｖのレベルで出力される回路とする。このとき、ライト・ストラテジ生成回路２３の２値化信号は、信号変換回路３４により変換されると、レーザー出力を許可するときが、３．３Ｖ、許可しないときが、０Ｖのレベルで出力される。【０１７６】
このように、信号変換回路３４の出力は、２値化された状態で出力されるので、例えば、ＡＤ変換回路２９のレンジが、０Ｖから３．３Ｖである場合、マルチパルスのデューティ比が０％のときは、ＡＤ変換回路２９で検出されるレベルは、０レベルで検出される。また、マルチパルスのデューティ比が１００％のときは、ＡＤ変換回路２９で検出されるレベルは、３．３Ｖレベルで検出される。信号変換回路３４の出力が２値化されていることで、上記実施の形態１のと同様の方法によりライト・ストラテジの位相設定を補正する場合、理想値を求める場合は、０Ｖから３．３Ｖの理想直線と単純化することができる。【０１７７】
また、ＬＰＦ回路２６による平均化レベルは、デューティ比に応じて０Ｖから３．３Ｖの間で変化する。このため、上記理想直線より求められる理想値と、信号変換回路３４の出力をＬＰＦ回路２６により平均化し、そのレベルをＡＤ変換した測定値と、を用いて、上記実施の形態１と同じ方法により、マルチパルスの位相設定の補正を行うことができる。【０１７８】
また、本実施の形態６による方式により位相設定の補正を行なう場合は、実際のレーザー発光を必要としないので、記録データ生成系５と、位相検出設定系４とを、光ディスク記録装置２９００から独立した装置とし、記録データ生成系５を単独で動作させて、補正を行うことも可能である。【０１７９】
例えば、位相検出設定系４が検査装置であり、記録データ生成系５が被検査装置であるとした場合、検査装置である位相検出設定系４は、記録データ生成系５のより出力されるライト・ストラテジ波形の測定と位相設定の補正とを行い、位相設定テーブル３２の値を出力すれば良い。【０１８０】
また、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００は、図２５に示す本発明の実施の形態５による光ディスク記録装置２５００と同様に、レーザー制御系３のＳＨ回路１１のＳＨ位置を可変するＳＨ位置設定回路３８を設けて、位相検出系４が、レーザー制御系のマーク部検出系３ａを用いて、マルチパルス部の平均化レベルを測定するようにしても良い。ＳＨ位置設定回路この場合、信号変換回路３４の出力は、レーザー制御系３に入力すればよい。【０１８１】
さらに、本発明の実施の形態７による光ディスク記録装置は、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。【０１８２】
また、本発明の実施の形態７に係る光ディスク記録装置２９００では、信号切替スイッチ３５が、光検出器８の出力を選択する場合は、本発明の実施の形態１と全く同じ構成を有するものとなる。このため、レーザー出力を、光検出器８の出力を測定して補正した結果と、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力を測定して補正した結果との、２種類の結果を得ることができ、この両者の結果を、場合に応じて使い分けても良い。【０１８３】
以上のように本実施の形態７による光ディスク記録装置は、ライト・ストラテジのパルス信号を直接平均化し、ライト・ストラテジの時間信号を直接電圧信号に変換することとしたので、レーザーの制御とは関係なく、レーザーの出射を停止している状態でもライト・ストラテジ設定回路の出力に基づいて位相設定の補正を行うことができる。【０１８４】
（実施の形態８）
以下、本発明の実施の形態８に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態８による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスのデューティ比を補正し、該補正後のデューティ比を用いて、レーザーパワーの制御を行うものである。【０１８５】
図３０は、本実施の形態８による光ディスク記録装置３０００の構成を示すブロック図である。図３０において、デューティ補正回路３３は、ＡＤ変換回路２９の出力に基づいて、位相設定値より求められるデューティ比の値を補正し、レーザーＡＰＣ制御回路１９に出力するものである。【０１８６】
上記実施の形態１におけるレーザーＡＰＣ制御は、以下のように制御するものであった。
すなわち、光検出器８の出力がマルチパルス波形のときは、目標パワーの計算を行うときは、得られた平均レベルと、デューティ比とから、ピークパワーの換算を行う。例えば、デューティ比が５０％、得られた平均レベルをａｖｅとすると、実際に発光しているピークパワーは、ａｖｅ／５０％＝ａｖｅ×２と計算する。この計算方法では、マルチパルス波形を平均化して、そのデューティ比を使って、目標パワーを計算するので、設定した位相設定より算出されるデューティ比が、ＬＤ７の出力を光検出器８で電圧変換した結果とずれている場合、目標パワーの計算がずれる。例えば、平均化レベルａｖｅ＝１０のレベルを測定した場合、デューティ比＝５０％では、１０×２＝２０のレベルを得ることができる。そして、この２０のレベルになるようにＡＰＣ制御を行う。【０１８７】
実際の波形でデューティ比ずれが生じて、平均化レベルａｖｅ＝１２が得られると、１２×２＝２４のレベル検出となり、レーザーＡＰＣ制御回路１９により２４のレベルを２０のレベルになるようにパワー制御される。その結果、実際のレーザー出力は、２０／２４の割合で小さいパワーが出力されることになる。【０１８８】
本発明の実施の形態８においては、理想では５０％であるデューティ比を、実際には、５０％／（２０／２４）＝約６０％のデューティで計算を行い、ａｖｅ／６０％＝ａｖｅ×１．６７と計算する。これにより、平均化レベルａｖｅ＝１２の場合、１２×１．６７＝約２０のレベルを得ることができ、実際のレーザー出力が小さくなることはない。【０１８９】
以下、本実施の形態８による光ディスク記録装置３０００において、このデューティ補正を行う方法について、図３１、及び図３２を用いて説明する。
図１０に示すレーザーパワーの測定値［ｎ］と理想値［ｎ］に対して、補正デューティ比は、図３１の式のように表すことができる。図３２は、位相設定ｎに対する理想値［ｎ］、測定値［ｎ］、デューティ比の設定、及び図３１の式に基づき補正したデューティ比の結果を示す。なお、位相設定ｎと、理想値［ｎ］、測定値［ｎ］は、上記実施の形態１と同じ方法で得られるものである。【０１９０】
図３２の結果によれば、例えば、位相設定ｎ＝５のとき、マルチパルスの幅は、０．５Ｔであり、デューティ比は５０％となるはずである。しかし、測定値［５］の結果から、図３１の補正により、得られる補正デューティ比は４４％となる。【０１９１】
レーザーの目標パワーは、本来は５０％で行えばよいが、５０％のデューティ計算では、レーザーＡＰＣ制御回路１９により、小さいパワーが出力される可能性がある。ここで補正されたデューティ比４４％を使用すると、測定値［５］／４４％×５０％＝５３１．２／０．４４×０．５＝６０３．６となり、理想値［５］＝６００に近い状態に補正される。【０１９２】
なお、本実施の形態８による光ディスク記録装置は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置にデューティ補正回路３３を追加したものであるが、この形態８において追加されたデューティ補正回路３３は、上述した実施の形態２ないし７による光ディスク記録装置に対して追加しても、同様の効果を得ることができる。【０１９３】
また、本発明の実施の形態８では、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。【０１９４】
以上のように本発明の実施の形態８に係る光ディスク記録装置は、デューティ補正回路により、デューティ比を補正し、該補正後のデューティ比に基づいてレーザーＡＰＣ制御を行なうこととしたので、マルチパルスのレーザー制御時のパワー補正を行うことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１９５】
本発明によれば、装置ごとのばらつきを抑え、最適な記録を行うことのできる光ディスク記録装置を提供することができる点において有用である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
2007052797.tif 000033
【図３２】
2007052797.tif 000034
【手続補正書】
【提出日】平成20年5月1日(2008.5.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、
前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、
レーザー光を出射するレーザー光源と、
前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、
前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、
前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、
前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、
前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、
前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、
前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、
前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、
前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、
前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結ぶ傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１の直線を用いて求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、
前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項８】
請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、
前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わない、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１０】
１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジ波形によって記録する光ディスク記録装置であって、
前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、
レーザー光を出射するレーザー光源と、
前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、
前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、
前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、
前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、
前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、
前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、
前記ライト・ストラテジ波形の一部を、１つの記録マークを１つのパルスで形成するブロックパルスに設定し、
前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のブロックパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、
前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、
前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、
前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、
前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドする、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１２】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１３】
請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１４】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１５】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、
前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１７】
請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、
前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、
前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１８】
請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備える、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録可能な情報記録媒体への光学情報の記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報記録媒体に情報、特にデジタル情報を記録再生する装置は、大容量のデータを記録再生する手段として注目されている。その中で、レーザー光を用いて、データを記録する光学的情報記録媒体について、記録可能な光学的情報記録媒体には、一度だけ記録ができる追記型の光ディスクと、書き換え型の相変化光ディスクなどがある。いずれも、光ディスクへの記録は、半導体レーザーの光ビームを、回転するディスクに照射し、記録膜を加熱融解させることで行う。その光ビーム強度の強弱により、記録膜の到達温度、及び冷却過程が異なり、記録膜の変化が起こる。記録されたデータの再生は、記録膜が変化しない程度の再生用の低い光ビームの強度を照射して、記録膜の反射率の違いから得られる反射波の強度差から、記録されたデータを読み取ることで行われる。
【０００３】
光ディスクへのデータの記録方式として、マークポジション記録方式（またはＰＰＭ方式）と、マークエッジ記録方式（またはＰＷＭ方式）とがあり、通常はマークエッジ記録方式の方が、情報記録密度を高くすることができる。
【０００４】
このマークエッジ記録方式では、マーク始端部分と、マーク終端部分の位置、記録パワーなどを変化させて、所定のマークを記録する。近年では、記録するときの速度が高速化し、また、様々な材質や、メーカーの違い、規格が異なる記録媒体が存在し、これらに対応するために、記録する速度に応じて、または、記録される記録媒体の種類や、記録媒体の製造上のばらつき、規格を考慮して、最適なマークの記録位置設定を、記録媒体に応じて行うことが求められている。
【０００５】
前記マークエッジ記録方式は、ディスク上に、データをマークとして、マークエッジ記録する場合に、マルチパルスと呼ばれる複数のパルス列や、複数のパルスがない非マルチパルスと呼ばれるものなど、ライト・ストラテジを生成し、このライト・ストラテジの調整を行って、所定のマークの最適な記録を行うようにする。ライト・ストラテジを生成する際には、所定のマークを記録するために、ライト・ストラテジの時間的位置、すなわち位相を設定するが、高倍速化のために位相設定の高分解能が要求されている。
【０００６】
実際の光ディスク記録再生装置を実現するためには、ライト・ストラテジを決定するための記録パルス条件は、光ディスク記録装置、またはディスクに記録されており、あらかじめ記録媒体ごとに異なる特性パラメータで記録するように設定される。しかしながら、特性のばらついた記録媒体と、記録装置では、あらかじめ決められたライト・ストラテジの設定では、十分な品質で記録できない場合が考えられる。
【０００７】
以上のような課題に対して、特許文献１（または特許文献２）においては、複数のマーク前端パルス条件や、複数のマーク後端パルス条件をシフトさせ、各々に対応した記録パターンを記録し再生したときのジッタが許容値以下となるように、各標準条件をそれぞれ別々に補正した値を、記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生を行なっている。
【０００８】
また、特許文献２には、マーク始端部分と、終端部分の最適な位置を求める手法について、最適記録自体の信頼性、最適位置の探索時間短縮、最適な手法の確立のために、特定記録装置の固有情報を記録するための特定情報記録領域を有することを特徴とする情報記録媒体が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００４−２８１０４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
最適な記録を行えるような情報記録媒体、記録再生装置を提供するには、設定されたとおりに出力されるライト・ストラテジの精度が必要となる。記録する装置によっては、ライト・ストラテジの時間や、位相設定に対する出力がばらついている可能性がある。また、ライト・ストラテジの設定に対する位相出力が、異常である場合などが考えられる。その場合、従来の手法では、学習の収束レベル、学習精度の向上が見込めず、最適な設定が求まらない可能性がある。
【００１０】
また、ある特定の装置のばらつきに対応しようとしたとき、その特定の装置の出力特性に応じた学習アルゴリズムが必要となり、ひとつの学習アルゴリズムでは、すべての装置に対応することができない。また、すべての装置のばらつきに対応しようとした場合、最適値を求める学習が、複雑になり最適設定が求まらない場合がある。
【００１１】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、記録装置ごとにライト・ストラテジの出力特性が異なったとしても、設定に対する最適ライト・ストラテジの出力を補正し、正確な出力を行えるようにして、装置ごとのばらつきを抑え、最適な記録を行うことのできる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る光ディスク記録装置は、１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明の請求項２に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明に係る光ディスク記録装置は、請求項２に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の請求項４に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク記録装置は、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することを特徴とする。
【００１７】
また、本発明の請求項６に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結ぶ傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１の直線を用いて求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明の請求項７に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明の請求項８に係る光ディスク記録装置は、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備えることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明の請求項９に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わないことを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスク記録装置は、１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジ波形によって記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を１つの記録マークを１つのパルスで形成するブロックパルスに設定し、前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のブロックパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスク記録装置は、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドすることを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の請求項１２に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備えることを特徴とする。
【００２４】
また、本発明の請求項１３に係る光ディスク記録装置は、請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御することを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の請求項１４に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定することを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の請求項１５に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力することを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の請求項１６に係る光ディスク記録装置は、請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備えることを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の請求項１７に係る光ディスク記録装置は、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行うことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項１８に係る光ディスク記録装置は、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の請求項１による光ディスク記録装置によれば、１つの記録マークを、該記録マークよりも更に短い複数のパルスからなるライト・ストラテジ波形に基づいて記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、前記マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることとしたので、実際に出力されるライト・ストラテジの位相設定を電圧レベルで測定することができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【００３１】
また、本発明の請求項２による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ１）Ｔから（ｒ２）Ｔまで変更して（ｒ１は０≦ｒ１≦１の範囲の実数、ｒ２は０≦ｒ２≦１の範囲の実数を示し、ｒ１＜ｒ２）、前記マルチパルスのデューティ比を、（ｒ１×１００）％から（ｒ２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、前記位相設定のそれぞれに対応する前記平均化レベルを測定することとしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【００３２】
また、本発明の請求項３による光ディスク記録装置によれば、請求項２に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）と、前記（ｒ２）とを、ｒ１＝０、ｒ２＝１に設定し、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０Ｔから１Ｔまで変更させて、前記マルチパルスのデューティ比を、０％から１００％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均レベルをすべて測定することとしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【００３３】
また、本発明の請求項４による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記マルチパルスの出力周期は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの２倍の２Ｔであり、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、（ｒ３）Ｔから（ｒ３＋１）Ｔまで変更して（ｒ３は、０≦ｒ３≦１の範囲の実数）、前記マルチパルスのデューティ比を（ｒ３÷２×１００）％から（（ｒ３＋１）÷２×１００）％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する前記平均化レベルを測定することとしたので、記録速度の高倍速化に伴い、デューティが０％や１００％付近の設定付近で、レーザー出射特性の立ち上がり特性、立ち下がり特性が悪化しても、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【００３４】
また、本発明の請求項５による光ディスク記録装置によれば、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ１）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することとしたので、記録速度の高倍速化に伴い、デューティが０％や１００％付近の設定付近で、レーザー出射特性の立ち上がり特性、立ち下がり特性が悪化しても、デューティ比を２５％から７５％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【００３５】
また、本発明の請求項６による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記理想値を、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベル（ｙ１）と、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベル（ｙ２）とを、結ぶ傾き（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）、接片ｙ１の直線を用いて求め、該理想値と、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値のそれぞれとを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることとしたので、基本周期である１Ｔ分の最初と、次の１Ｔの最初の２点で直線近似することができ、相対的に１Ｔの最小分解能で、すべての位相設定について補正を行なうことができる。
【００３６】
また、本発明の請求項７による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検出回路の出力と、当該光ディスク記録装置に接続され、前記ライト・ストラテジ波形と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置の出力と、の間で切り換える切替回路を備え、前記位相設定並べ替え回路は、前記切り替え回路が前記標準信号発生装置の出力を選択する場合に得られる前記平均化レベルを、前記理想値とし、該理想値と、前記切り替え回路が前記光検出回路の出力を選択している場合に得られる、各位相設定毎に得られるマルチパルス列の平均化レベルの測定値とを比較し、前記各測定値の中から前記理想値に最も近い値をとる測定値に対応する位相設定を、前記最適位相設定とすることとしたので、平均化レベルの測定を行う検出系の出力を校正することができ、より正確な位相設定の補正が可能となる。
【００３７】
また、本発明の請求項８による光ディスク記録装置によれば、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記各測定値と前記理想値との誤差を算出し、該誤差が大きい場合は、当該光ディスク記録装置を不良品と判定する判定回路を備えることとしたので、ライト・ストラテジの異常検出や、記録装置の不良品検出を行うことができる。
【００３８】
また、本発明の請求項９による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する電圧値の測定が困難な位相設定では、前記最適位相設定の算出を行わないこととしたので、本来の設定とは全く異なる位相設定がされることがなくなり、異常な出力がなくなる。
【００３９】
また、本発明の請求項１０による光ディスク記録装置によれば、１つの記録マークを、１つのブロックパルスからなるライト・ストラテジ波形によって記録する光ディスク記録装置であって、前記ライト・ストラテジ波形を生成するライト・ストラテジ生成回路と、レーザー光を出射するレーザー光源と、前記ライト・ストラテジ波形のパルス列に応じて前記レーザー光源を駆動するレーザー駆動回路と、前記レーザー光源より出射されるレーザー光の光強度を出力する光検出器と、前記レーザー駆動回路から前記レーザー光源に供給される電流量を、前記光検出器が出力する光強度信号に応じて制御することにより、前記レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御回路と、前記光検出器より出力されるマーク部のパルス列の光強度信号を平均化し、平均化レベルとして出力する平均化回路と、前記マーク部における前記平均化回路の出力を、サンプル・ホールドするサンプル・ホールド回路と、前記サンプル・ホールド回路によりホールドされたアナログレベルを電圧値として測定する電圧測定回路と、前記ライト・ストラテジ波形の一部を１つの記録マークを１つのパルスで形成するブロックパルスに設定し、前記ブロックパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、前記マーク部のブロックパルス列の光強度信号を平均化して得られる前記平均化レベルの測定値と、その理想値とに基づいて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差が最小となる最適位相設定を求め、予め設定される位相設定を変更する位相設定並べ替え回路とを備えることとしたので、ライト・ストラテジの最も簡単な出力波形であるブロックパルスにおいても、位相設定に対する時間軸を、電圧レベルで測定することができ、高倍速化に伴い、マルチパルスの出力が困難になった場合でも、位相設定の補正ができる。
【００４０】
また、本発明の請求項１１による光ディスク記録装置によれば、請求項１に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路によるレーザー制御を停止するホールド制御回路と、前記サンプル・ホールド回路における前記平均化レベルのサンプル位置を所定の位置に移動させるサンプル位置設定回路と、をさらに備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力に基づいて、前記レーザー光源の光強度を制御するものであり、前記レーザーパワー制御回路がレーザー制御を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のトップパルス部に移動させ、前記位相設定並び替え回路が前記位相設定の変更を行う場合は、前記サンプル位置設定回路は、前記サンプル位置を、前記マーク部のマルチパルス部に移動させ、前記ホールド制御回路は、レーザー制御をホールドすることとしたので、ライト・ストラテジ用の位相誤差検出系と、レーザー制御に用いる位相誤差検出系と共有することができ、回路の簡略化を行うことができる。
【００４１】
また、本発明の請求項１２による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記サンプルホールド回路の出力信号の電圧レベルを任意にコントールする電圧ゲインアンプを備えることとしたので、最適なレンジを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。
【００４２】
また、本発明の請求項１３による光ディスク記録装置によれば、請求項１または請求項１０に記載の光ディスク記録装置において、前記レーザーパワー制御回路は、レーザー出射パワーレベルを変更してレーザーパワー制御を複数回行い、レーザーパワー制御の精度が最も高いレーザーパワーで、前記レーザー光源の光強度を制御することとしたので、最適なレーザーパワーを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。
【００４３】
また、本発明の請求項１４による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、光ディスクへのフォーカスがはずれている間に、前記位相設定並べ替え回路が、前記位相設定を順次変更し、前記平均化回路が、各位相設定毎に、前記マーク部のマルチパルス列の光強度信号を平均化して前記平均化レベルを測定することとしたので、光ディスク記録装置の記録動作中に、記録媒体への記録を行わずに、設定したライト・ストラテジの補正、及び設定したライト・ストラテジが出力されているかを確認することができる。
【００４４】
また、本発明の請求項１５による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路が、前記ライト・ストラテジ生成回路より出力される前記ライト・ストラテジ波形のパルス信号を直接平均化して、前記平均レベルとして出力することとしたので、ライト・ストラテジの時間信号を直接電圧信号に変換でき、レーザーの制御とは関係なく、レーザーの出射を停止している状態でも、ライト・ストラテジの位相設定を補正できる。
【００４５】
また、本発明の請求項１６による光ディスク記録装置によれば、請求項１５に記載の光ディスク記録装置において、前記平均化回路への出力を、前記光検知器の出力と、前記ライト・ストラテジ生成回路の出力との間で切り換える切り替え回路を備えることとしたので、ライト・ストラテジの時間信号と、レーザー出射の時間信号とを比較することができる。
【００４６】
また、本発明の請求項１７による光ディスク記録装置によれば、請求項６または７に記載の光ディスク記録装置において、前記理想値と、前記測定値とに基づいて、前記マルチパルスのデューティ比の設定を補正するデューティ補正回路を備え、前記レーザーパワー制御回路は、前記電圧測定回路の出力と、前記補正されたデューティ比とに基いて、ピークパワー換算計算を行うこととしたので、マルチパルスのレーザー制御用のパワー補正を行うことができる。
【００４７】
また、本発明の請求項１８による光ディスク記録装置によれば、請求項１または１０に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路により算出される補正パラメータの値を保持する不揮発メモリを備えることとしたので、あらかじめ工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値を使用することで、記録装置の起動に要する時間の短縮を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４８】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
図１において、本実施の形態１による光ディスク記録装置１００は、光ディスク１にレーザーを出射し、光ディスク１に対する情報の書き込み、及び読み出しを行うピックアップ２と、レーザーの出射パワーを制御するレーザー制御系３と、ライト・ストラテジの位相検出や、位相設定などの制御を行う位相検出設定系４と、記録データを生成する記録データ生成系５とを有する。
【００４９】
ピックアップ２では、レーザーダイオード（ＬＤ）７が、レーザーダイオード（ＬＤ）ドライバ６によって電流駆動され、レーザー光がＬＤ７から光ディスク１に出射される。このレーザー光の反射光は、受光素子である光検出器８により受光され、光検出器８により、受光した光の強度が電圧レベルに変換されて出力される。そして電圧レベルに変換された光は、後段のレーザー制御系３と、位相検出設定系４に出力される
【００５０】
レーザー制御系３は、アッテネータ（ＡＴＴ回路）９と、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂと、レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路１９と、ＤＡＣ２０とを有する。
【００５１】
ＡＴＴ回路９は、光検出器８より出力される電圧レベルが高い場合、その電圧レベルを下げるものである。近年、光ディスク記録装置の記録速度は高倍速化しており、大きなパワーでＬＤ７が発光される場合は、ＡＴＴ回路９で電圧レベルを下げる。ＡＴＴ回路９の出力信号は、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂに出力される。
【００５２】
マーク部検出系３ａは、マーク部へレーザーを発光した時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するものであり、周波数調整付ローパスフィルタ（ＬＰＦ回路）１０と、切替スイッチ１２と、サンプルホールド回路（ＳＨ回路）１１と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１３と、ＡＤ変換回路１４とよりなる。マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９の出力信号がマルチパルス波形のときは、ＬＰＦ１０にその信号を通して信号のレベルを平均化し、マルチパルスの平均パワーレベルをＳＨ回路１１によりサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。ＳＨ回路１１は、マーク用サンプル・ホールド（ＳＨ）信号（図示せず）に基づいて、レーザーパワーレベルに対応する電圧レベルをサンプルしてホールドする。その後、ＳＨ回路１１の出力は、記録速度や記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ１３によりゲイン調整され、ＡＤ変換回路１４によりＡＤ変換される。
【００５３】
スペース／イレース部検出系３ｂは、スペース部／イレース部へレーザーを発光した時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するものであり、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１５と、サンプル・ホールド回路（ＳＨ回路）１６と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）１７と、ＡＤ変換回路１８とよりなる。スペース部に対するレーザーパワーは、イレース部やマーク部に対するレーザーパワーと比較して小さいので、スペース部に対するレーザーパワーレベル（電圧レベル）の信号については、ＶＧＡ１５によりゲインを上げる。一方で、イレース部に対するレーザーパワーは、十分大きなレベルであるので、ゲインを上げる必要はない。ＶＧＡ１５の出力信号（レベル）は、ＳＨ回路１６によって、スペース用ＳＨ信号（図示せず）に基づいてサンプルされホールドされる。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル・ホールドは、スペース部の場合と同様である。その後、ＳＨ回路１６の出力は、記録速度や、記録時のレーザーパワーに応じて、ＶＧＡ１７により信号のゲイン調整が行われ、ＡＤ変換回路１８により信号がＡＤ変換される。
【００５４】
レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路１９は、マーク部検出系３ａと、スペース／イレース部検出系３ｂとにより検出されたＡＤ変換値を、入力としてＬＤ７の駆動電流を演算し、ＬＤドライバ６に駆動電流を供給するものである。また、ＤＡＣ２０は、レーザーＡＰＣ制御回路１９の出力をアナログ信号に変換して、ＬＤドライバ６に出力するものである。
【００５５】
以下、上述したレーザー制御系３によるレーザーパワーの制御方法について説明する。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル、及びホールドの動作は、スペース部のそれと同様であるので、その説明を省略する。
【００５６】
まず、光ディスク１の情報を再生するときのＬＤ７のパワー制御について説明する。
【００５７】
レーザーＡＰＣ制御回路１９は、ＬＤ７のパワーを、光ディスク１の情報を再生するために必要な再生パワーに一定に制御するために、初期の電流値をＬＤドライバ６に設定し、ＬＤドライバ６がその電流値に基づいてＬＤ７を発光させる。その後、光検出器８の出力信号がＡＴＴ回路９を通り、スペース／イレース部検出系３ｂでＡＤ変換される。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９が駆動電流の値を制御する。再生時には、このレーザーＡＰＣ制御回路１９によって、レーザーパワーが所定の目標値になるように制御される。
【００５８】
次に、光ディスク１に情報を記録するときのＬＤ７のパワー制御について説明する。
通常、記録波形ＮＲＺＩは、マーク部の波形とスペース部の波形とが繰り返し出力される。１つの記録マークを形成する際、メディアの材質や特性または記録速度に応じて、記録波形ＮＲＺＩからライト・ストラテジを生成し、このライト・ストラテジによりレーザーを出射するため、レーザーの発光波形は様々な形となる。また、ＬＤ７は、温度特性により、目標パワーを出射するための必要な電流量が変化する。このため、マーク部と、スペース部のレーザーパワーを目的のパワーになるように制御するために、それぞれのレーザーパワーレベルを測定して、レーザーパワーが一定となるようレーザーＡＰＣ制御が行われる。
【００５９】
マーク部検出系３ａは、マルチパルス波形を示すマーク部のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。マーク部の波形が複数のパルスからなるマルチパルスの場合、マーク部検出系３ａは、切替スイッチ１２を、信号がＬＰＦ回路１０を通過するように切替え、ＬＰＦ回路１０で信号のレベルを平均化し、平均化したレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。記録用の高パワーが出現する時間Ｔｐと、再生用の低パワーが出力されるボトムパワーの出現する時間Ｔｂとの比率、Ｔｐ／（Ｔｐ＋Ｔｂ）をデューティ比とすると、マルチパルス波形のときに目標パワーの計算を行うときは、得られた平均レベルと、デューティ比とから、ピークパワーの換算を行う。例えば、デューティ比が５０％、得られた平均レベルをａｖｅとすると、実際に発光しているピークパワーは、レーザーＡＰＣ制御回路１９により、ａｖｅ／５０％＝ａｖｅ×２と計算される。この検出された平均パワーレベルは、ＳＨ回路１１によりサンプルされホールドされる。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９により駆動電流の値が制御される。
【００６０】
なお、ＡＴＴ回路９からの出力が非マルチパルス波形の場合は、マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９からの信号がＬＰＦ回路１０をスルーするように切替スイッチ１２を切替えてレベルを測定する。この場合、直接レベルの測定を行うことができるので、デューティ比の計算は必要ない。また、マルチパルスの場合でも、マーク部検出系３ａは、ＡＴＴ回路９からの出力信号がＬＰＦ回路１０をスルーするように切替スイッチ１２を切替えて、Ｔｏｐパルス部分をサンプル・ホールドするようにしてもよい。この場合も、直接レベルの測定を行うことができるので、デューティ比の計算は必要ない。
【００６１】
一方、スペース／イレース部検出系３ｂでは、先に述べた再生時と同様の方法により、スペース部のレーザーパワーレベルがサンプルしてホールドされ、そのレベルが測定される。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路１９により駆動電流の値が制御される。
【００６２】
次に、図１において、位相検出設定系４は、ライト・ストラテジの位相検出や、位相の決定などの制御を行うものであり、周波数調整付ローパスフィルタ（ＬＰＦ回路）２６と、サンプル・ホールド回路（ＳＨ回路）２７と、電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）２８と、ＣＰＵ３０と、ＲＡＭ３１とを有する。なお、ＲＡＭ３１に代わる不揮発性メモリを設け、該不揮発性メモリに、ＲＡＭ３１に記憶される各種のデータを格納してもよい。
【００６３】
位相検出設定系４の処理では、光検出器８により電圧レベルに変換された光信号は、以下のように電気的処理がなされ、ライト・ストラテジの時間軸の設定が、電圧レベルで検出される。
【００６４】
すなわち、電圧レベルに変換されたマーク部のマルチパルス波形が、ＬＰＦ２６に通され、マルチパルスの平均パワーレベルが検出される。検出された平均パワーレベルは、ＳＨ回路２７によりサンプルされホールドされる。その後、記録速度や、記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ２８により信号のゲイン調整がなされ、ＡＤ変換回路２９によりＡＤ変換される。
【００６５】
ＣＰＵ３０は、ライト・ストラテジの位相設定を順次変更して、それぞれの位相設定毎にＡＤ変換回路２９より出力される測定値を得る。そして、この測定値を元に直線近似を行なって、各位相設定毎に測定値の理想値を求め、測定値と理想値との誤差が最小となるような位相設定を最適位相設定として求めて、ＲＡＭ３１の位相設定テーブル３２に格納する。なお、位相検出設定系４の詳細な動作については、後述する。
【００６６】
記録データ生成系５は、光ディスク１に記録される記録データを生成するものであり、記録データ格納回路２１と、記録変調回路２２と、ライト・ストラテジ生成回路２３と、位相設定回路２４と、多相クロック生成回路２５と、を有している。
【００６７】
記録データ生成系５では、記録データ格納回路２１に格納される記録データが、記録変調回路２２により、所定の規格に応じて変調される。そして、記録波形ＮＲＺＩ信号が、記録変調回路２２からライト・ストラテジ生成回路２３に入力される。
【００６８】
位相設定回路２４は、多相クロック生成回路２５が生成した基準クロックを、ＣＰＵ３０により読み出された位相設定テーブル３２の値に基づいて選択し、ライト・ストラテジ生成回路２３に入力する。
【００６９】
ライト・ストラテジ生成回路２３は、記録変調回路２２、及び位相設定回路２４からの出力に基づいて、光ディスク１の特性や記録速度等に応じて、光ディスク１への記録に最適なライト・ストラテジを生成する。このとき、ライト・ストラテジ生成回路２３は、基準となる記録の繰返し周期１Ｔに対して、更に短い複数のパルス、またはひとつのパルスを生成するために、１Ｔより更に分解能のある多相クロックを基準として、ライト・ストラテジの位相を決定する。そして、ＬＤドライバ６は、このライト・ストラテジに基づいてＬＤ７を発光させる。なお、位相検出設定系４のＲＡＭ３１に格納されている位相設定テーブル３２は、位相設定回路２４などに保持してもよい。
【００７０】
次に、以上のように構成された光ディスク記録装置１００における、マルチパルスの位相設定と、位相検出系４におけるマルチパルスの平均化レベルの測定値との関係について説明する。
【００７１】
上述したように、マルチパルス波形を示すマーク部のレーザーパワーレベルは、ＬＰＦ回路２７で平均化され、平均化されたレベルがサンプル、ホールドされ、そのレベルが測定される。この時、レーザーパワーは一定となるように、レーザーＡＰＣ制御が行われているため、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐが変化したとき、ＬＰＦ回路２７で平均化されるレベルは変化する。
【００７２】
例えば、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔとしたときの、１Ｔマルチパルスの場合について、図２を用いて説明する。
【００７３】
図２は、記録中のマークと、スペースの信号を示しており、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合を示す。図２（ｂ）は、レーザーの出力を表しており、図２（ｂ）において、Ｔｍｐは、マルチパルスの位相設定を示し、Ｔｍｐの矢印方向（＋）が可変できる位相設定である。また、Ｔｍｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。図２では、基本周期は、１Ｔであるので、Ｔｍｐは、０Ｔから１Ｔまで可変される。
【００７４】
図２（ａ）は記録変調回路２２の出力信号である記録波形ＮＲＺＩを表し、ＨＩＧＨの区間が、データが記録されるマーク部分であり、ＬＯＷの区間が、データが記録されない、または、消去されるスペース部である。スペース部は、バイアスパワーｂ１でＡＰＣ制御されており、マーク部のマルチパルスは、ピークパワーｂ２で制御されている。また、ボトムパワーｂ３は、再生中のレーザーパワーとなるように電流が設定されている。このボトムパワーｂ３は、記録特性に応じて変化させてもよい。
【００７５】
図２（ｃ）は、レーザー制御系３ａでの信号出力を表すものであり、マーク部検出系３ａにおけるＳＨ信号、及びＳＨ回路１１の出力と、スペース／イレース部検出系３ｂにおけるＳＨ信号、及びＳＨ回路１６の出力とをそれぞれ表す。レーザー制御系３ａでは、マーク部のレベルを検出するためのＳＨ信号がＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。また、スペース／イレース部検出系３ｂでは、スペース部のレベルを検出するためのＳＨ信号がＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。なお、本発明の実施の形態１において、サンプリングとホールドの意味が同じであれば、ＳＨ信号のＬＯＷや、ＨＩＧＨの極性は、特に反転設定で同じ動作を行ってもよい。
【００７６】
図２（ｄ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６、ＳＨ信号、及びＳＨ回路２７のそれぞれの出力を表す。位相検出設定系４において、ＬＰＦ回路１０の平均化信号は、デューティが５０％なので、理想的には図２（ｄ）のようにピークパワーｄ１からボトムパワーｄ２を引き算した５０％のレベルで平均化される。このマーク部分の位置で、ＳＨ信号によりＬＯＷの区間でサンプリングが行われ、ＬＯＷからＨＩＧＨのタイミングでサンプリングレベルがホールドされる。
【００７７】
また、位相検出設定系４において、図３に示すように、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝ゼロで、１Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が０％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図３（ｃ）のようにボトムパワーｃ２と略同じレベルで、検出される。また、例えば、図４に示すように、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１Ｔで、１Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が１００％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図４（ｃ）のようにピークパワーｃ１と略同じレベルで検出される。以上、図２、図３、図４の結果をまとめて、マルチパルスの位相設定を変化させたときのレベル検出の関係を表すと、図５のように示すことができる。
【００７８】
図５は、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの時間軸０％から１００％までを、平均化レベルのボトムパワーからピークパワーの関係で表している。図５において、横軸はライト・ストラテジ回路のマルチパルス設定Ｔｍｐとデューティ比、縦軸はＳＨ回路２７でホールドされた信号のＡＤ変換レベルである。図５に示すように、本実施の形態１において、１Ｔマルチパルスの幅設定と測定レベルとの関係は、デューティが０％では、ＡＤ変換レベルはボトムパワーのレベルとなり、デューティが１００％ではピークパワーのレベルとなる直線で表される。
【００７９】
次に、以上のように構成される光ディスク記録装置１００において、ライト・ストラテジの位相設定に対応する電圧レベルをサンプルして、最適位相値を決定する動作について詳細に説明する。なお、以下マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について説明する。
【００８０】
１Ｔの分解能が１／１０ということは、０．１Ｔ単位でマルチパルスの位相設定が可能であることを示す。本実施の形態１による光ディスク記録装置では、分解能は１／ｎ（ｎは任意の整数）でもよく、任意の分解能ｎであっても、１０の分解能の場合と同じ結果を得ることができる。
【００８１】
図６は、本発明の実施の形態１による光ディスク記録装置１００により、ライト・ストラテジの位相設定を補正し、最適位相設定を出力する動作の概略を示すフローである。
【００８２】
まずステップＳ１１において、ライト・ストラテジの位相設定を順次変化させて、各位相設定における信号レベルの測定を行う。次にステップＳ１２において、各位相設定毎に最適値をサーチして、最適位相設定を求める。そしてステップＳ１３において、最適位相値の出力を行う。
【００８３】
以下、ステップＳ１１、ステップＳ１２について、詳細に説明する。まず、ステップＳ１１の処理について説明する。
図７は、マルチパルスの位相を最小分解能で順に設定し、各位相設定毎の平均化レベルの測定を行うフローを示す。なお、以下の各ステップはＣＰＵ３０により実行されるものであり、また、当該フローにおける変数や、配列変数は、ＣＰＵ３０に接続されているＲＡＭ３１に確保される。
【００８４】
まず、ステップＳ２１で、変数が初期化される。この変数は、測定回数を示す変数ｎで、本実施の形態１の場合は、０から１０までの整数となる。
【００８５】
次に、ステップＳ２２からステップＳ２７までのループ１処理が形成され、変数ｎが１０以下の場合、ステップＳ２３からステップＳ２７までが繰り返し処理される。
【００８６】
すなわち、ステップＳ２３で、位相＿０／１０が設定され、ステップＳ２４で、位相＿０／１０の時のＡＤ値が取得され、ステップＳ２５で、取得されたＡＤ値が配列＿測定値［０］に格納される。次に、ステップＳ２６で、０をインクリメントし、ステップＳ２７では、ステップＳ２２の条件で形成されているループ１を継続するか、終了するかが、判断され以降、測定値［１０］が得られるまで、ループ１が繰り返される。
【００８７】
以上の測定により、例えば、図８のような測定結果が得られる。
本発明の実施の形態１では、デューティが０％から１００％になるように、ｎを０からインクリメントしたが、デューティが１００％から０％になるように、ｎを１０からデクリメントしても、同様な測定結果を得ることができる。また、ステップＳ２３や、ステップＳ２４の実施の前後において、設定後の安定性や、測定の安定性のために、待ち時間をとって、次の処理を実行してもよい。
【００８８】
次に、ステップＳ１２の処理について説明する。
まず、位相設定の最適値がサーチされる前に、ライト・ストラテジの位相設定を補正するための理想値が算出される。理想値は、ステップＳ１１により得られた測定結果から算出されるものであり、デューティが０％の測定結果を保持している配列変数＿測定値［０］と、デューティが１００％の測定結果を保持している配列変数＿測定値［１０］の結果とから、直線近似することにより得られる。直線近似式は、図９の式で表され、本実施の形態１の測定結果から、理想値は、
【００８９】
理想値＝１００×ｎ＋１００
【００９０】
で直線近似される。図１０は、上記ステップＳ１１により得られた測定結果と、上記直線近似式から理想値を求めた結果を示すものである。
【００９１】
図１１は、図１０の結果から、各位相設定の最適値をサーチして、位相設定を補正するフローを示す。最適値のサーチ処理は、ある位相設定のときの理想値に最も近い測定値をサーチして、そのサーチした結果の測定値に対応する位相設定を最適位相設定とするものである。理想値に最も近い測定値は、測定結果と、理想値の絶対値とから演算する。以下、フローの詳細について説明する。
【００９２】
まず、ステップＳ３０では、図９で求めた直線近似式に基づき、各位相設定値毎の理想値が計算され、配列変数＿理想値［ｎ］に格納される。本実施の形態１の場合、理想値［０］から理想値［１０］までの１１個のデータが、配列変数に格納される。
【００９３】
次に、ステップＳ３１で、変数ｍの初期化を行う。変数ｍは、後述するループ１のカウントに使用する変数である。
【００９４】
次に、ステップＳ３２からステップＳ４４までのループ１の処理が形成され、変数ｍが１０未満の場合、ステップＳ３３からステップＳ４３までが繰り返し処理される。このループ１の処理は、ある位相設定ｎについて、理想値に最も近い最適値を、実測した結果から検索し、当該最適値に対応する位相設定を、ある位相設定値ｎについての最適位相設定として決定する処理を行うものである。
【００９５】
次に、ステップＳ３３で、変数＿理想値［ｍ］に、最適位相設定を検索する位相設定値に対してステップＳ３０で計算された理想値が取得される。
【００９６】
次に、ステップＳ３４で、変数の初期化が行われる。ステップＳ３４で初期化される変数は、後述するループ２のカウントに使用する変数＿ｎ、最小絶対値、及び最適テーブル［ｍ］である。ここで、変数＿最小絶対値は、ループ２の処理において、最も理想値に近い測定値を検索するときに、理想値からの誤差が最も小さい値を格納する変数である。なお、最小絶対値の初期値としては、値として取り得る最大の値が格納されている。また、変数＿最適テーブル［ｍ］は、ループ１の処理において、ある位相設定に対して、最も誤差が小さい値が検索されたときの位相設定値を格納する変数である。
【００９７】
次に、ステップＳ３５からステップＳ４１までのループ２の処理が形成され、変数ｎが１０未満の場合、ステップＳ３６からステップＳ４０までが繰り返し処理される。このループ２の処理は、上記ループ１処理のうち、最適位相設定値を検索する位相設定値について、理想値［ｍ］とすべての実測値とを比較して、最も理想値に近い測定値を検索する処理を行うものである。
【００９８】
すなわち、ステップＳ３６では、配列変数＿測定値［ｎ］と計算で求めた理想値［ｍ］との差分の絶対値が計算される。ステップＳ３７では、この差分絶対値と最小絶対値とが比較され、差分絶対値のほうが小さければ、ステップＳ３８に移行し、差分絶対値のほうが大きければ、ステップＳ４０に移行する。
【００９９】
ステップＳ３８では、変数＿最小絶対値に、差分絶対値が格納され、ステップＳ３９では、変数＿最適位相設定に、変数ｎが設定される。そして、ステップＳ４０で、変数ｎがインクリメントされし、ステップＳ４１では、ステップＳ３５の条件で形成されているループ２を継続するか、終了するかが判断される。ループ２を終了する場合は、ステップＳ４２で、配列変数＿最適テーブル［ｍ］に、最適位相設定が格納される。
【０１００】
次に、ステップＳ４３で、変数ｍをインクリメントし、ステップＳ４４では、ステップＳ３２の条件で形成されているループ１を継続するか、終了するかが、判断され、ループ１が終了により、各位相設定の最適値の最適値をサーチする処理が終了する。
【０１０１】
以上のように、処理を行った結果を、図１２と図１３に示す。
図１２は、補正前と補正後の位相設定ｎに対する理想値、測定値、レベル誤差、及び誤差（ＬＳＢ）をそれぞれ示している。図１２において、理想値は、ステップＳ３０で求められた値であり、測定値は、ステップＳ１１で求められたものである。また、レベル誤差は、測定値と、理想値との差分を表し、誤差（ＬＳＢ）は、測定値と理想値との差分を、理想直線の傾きで割った結果であり、位相設定に対する誤差を示す。なお、図１２において、補正後の“補正ｎ”の欄は、図１１で説明したフローにより得られる最適テーブル［ｍ］に相当するものである。
【０１０２】
図１２に示すように、上述した補正により、レベル誤差、誤差（ＬＳＢ）は、補正前に比べて、小さくなっている。
【０１０３】
また、図１３は、図１２に示す各数値をグラフ化したものであり、横軸の位相設定ｎに対して、左の第一軸は、測定値を、右の第二軸は、誤差（ＬＳＢ）をそれぞれ示している。図１３に示されるように、理想の直線に対して、補正前は、−０．８（ＬＳＢ）から＋１．０（ＬＳＢ）の誤差があったが、補正後は、−０．７（ＬＳＢ）から＋０．４（ＬＳＢ）の誤差に低減している。
【０１０４】
以上の動作により得られた、補正後の位相設定は、不揮発メモリ３１の位相設定テーブル３２に保持される。具体的には、補正前には、［０、１、２、３、４、５、６、７、８、９］と順番に格納されていた設定を、補正結果により、［０、２、１、３、５、５、６、７、９、８］と書き換えておくことである。
【０１０５】
そして、実際のライト・ストラテジの出力では、本実施形態のように位相設定ｎが、０から１０まで存在している場合、例えば、ｎ＝１の設定を行うときは、補正ｎ＝２となる選択を行えばよい。また、位相設定ｎ＝４のときは、補正ｎ＝５を選択すればよい。このように、ＣＰＵ３０が、ある位相設定に対して補正後の位相設定ｎを設定することで、あらかじめ定められた位相設定順序を並べ替えを行ない、回路特性に応じた最適なライト・ストラテジの位相設定が可能となる。
【０１０６】
なお、本発明の実施の形態１では、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。
【０１０７】
また、本発明の実施の形態１では、レーザーパワーを可変することで、マーク部検出系３ａのダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。
【０１０８】
また、本発明の実施の形態１では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定を、ｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を、０％から１００％に変化させて測定を行ったが、ここで測定するｎは任意の設定でもよい。また、補正するための基準直線０％と、１００％の測定結果が得られていれば、任意の位相設定を補正することができる。
【０１０９】
また、本発明の実施の形態１では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定が、ｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を、０％から１００％に変化させて測定を行ったが、ここで、測定するｎ＝１や、ｎ＝９の設定は、出力波形の幅が最も短い時間幅である。近年の高倍速化に伴い、記録倍速が上がると、時間幅も短くなる。信号出力の立ち上がり特性と、立下り特性の時間が、設定したライト・ストラテジの時間幅を上回った場合、正常な波形は出力されない。この条件に関して、あらかじめ立ち上がり特性、および立下り特性は、製品仕様として規定されており、明確化されている。ここで、上記条件のように正常な波形が出力されない記録倍速設定のときは、測定を行うことができない。したがって、あらかじめ測定を行うことができない時間設定のときは、測定を行わず、補正を行わないようにする。具体的には、ｎ＝１の補正結果は、補正ｎ＝１とする。
【０１１０】
また、本発明の実施の形態１では、ステップＳ１２で、直線の近似と補正とを行い、ＲＡＭ３１に補正後の位相設定値である補正ｎを保持し、次のライト・ストラテジの設定に補正ｎを設定するとしたが、ＲＡＭ３１に、直線近似の結果である理想値を保持しておいてもよい。この場合、直線近似の結果だけを読み出し、設定したライト・ストラテジの位相設定ｎの出力結果とを比較し、その精度を判断することができる。
【０１１１】
また、本発明の実施の形態１において、ＣＰＵ３０は、理想値と測定値を比較して、あらかじめ設定されている値を超えている場合は、エラー検出を行うものとしてもよい。例えば、理想値から測定値を引き算して、設定されている値を超えた場合、エラーとする。そして、エラー検出した場合、この記録装置は不良品と判断する。また、一部の部品交換を行って、再度測定し、設定されている値より小さくなれば良品と判断しても良い。また、エラーとなった場合でも、測定の誤差によって、あらかじめ設定されている値を超えている場合も考えられるため、再度、任意の回数測定を行って、エラー検出を行っても良い。
【０１１２】
以上のように本実施の形態１による光ディスク記録装置は、ライト・ストラテジ波形の一部を所定の周期で同じ形状のパルスを繰り返すマルチパルスに設定し、マルチパルスの一方のパルスエッジの位相設定を固定し、他方のパルスエッジの位相設定を順次変更し、レーザー光源の光強度を制御するレーザーパワー制御を行い、マルチパルス発光しているレーザー光を光検出して、マーク部をＬＰＦ回路で平均化して、そのレベルをサンプリングしてホールドして、マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを電圧によって測定し、その測定結果に応じて、実際に出力される時間軸のパルスエッジの位相誤差を減らすように、パルスエッジの位相設定順序の並べ替えを行うこととしたので、ライト・ストラテジの実際に出力される時間軸に対する位相設定を電圧レベルで測定することができ、誤差が大きい位相設定については、その誤差が低減される最適な位相設定を決定することができる。
【０１１３】
また、マルチパルスの出力周期をマーク・スペース長の基本周期である１Ｔとしたとき、マルチパルスのデューティ比を０％から１００％に変化させて、レベルの測定を行うようにしたので、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定することができ、該測定結果に基づいて位相設定順序を並べ替えることで、誤差が低減される位相設定を行うことができる。
【０１１４】
また、位相設定が最も小さいマルチパルスのデューティ比が（ｘ１）％時の平均化レベルを（ｙ１）とし、位相設定が最も大きいマルチパルスのデューティ比が（ｘ２）％時の平均化レベルを（ｙ２）とした場合に、傾きを（ｙ２−ｙ１）÷（ｘ２−ｘ１）とし、接片をｙ１とする直線を用いて、各位相設定についての理想値を求めることとしたので、基本周期である１Ｔ分の最初と、次の１Ｔの最初の２点で直線近似することができ、相対的に１Ｔの最小分解能で、すべての位相設定について補正を行なうことができる。
【０１１５】
また、本実施の形態１による光ディスク記録装置では、電圧レベルで測定するときに、最適なレンジを設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。また、レーザーＡＰＣ制御回路１９によりレーザーパワーを変化させて、レーザーパワー制御を複数回行ない、もっと精度の良いレーザパワーを選択し設定することで、Ｓ／Ｎ比の向上をすることができる。
【０１１６】
また、本実施の形態１による光ディスク記録装置は、ＲＡＭ３１に、位相設定を補正した結果を書き換えて保持しておくようにしたので、あらかじめ光ディスク記録装置の工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値を使用することにより光ディスク記録装置の起動時の時間短縮を行うことができる。
【０１１７】
また、測定が困難な設定値付近では、位相設定の補正を行わないようにしたので、本来の設定とは全く異なる位相設定がされることがなくなり、異常な出力がされなくなる。
【０１１８】
また、ＲＡＭ３１に、理想値や、補正値を保持しておくようにしたので、あらかじめ工程調整で補正値を求めておいて、その保持されている補正値や、理想値を使用することで、光ディスク記録装置の起動にようする時間短縮を行うことができる。
【０１１９】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態２による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置１００において、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔとするものである。
【０１２０】
本実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの出力周期を、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔとしたときの、２Ｔマルチパルスの場合について、図１４を用いて説明をする。なお、本実施の形態２による光ディスク記録装置の構成、及び基本的な動作は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置１００と同じである。
【０１２１】
図１４において（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を、（ｃ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路２７の出力を表す。図１４は、記録中のマークとスペースの信号を示しており、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝０．５Ｔで、デューティ比が２５％である場合に対応するものである。Ｔｍｐは、マルチパルスの位相設定を示し、Ｔｍｐの矢印方向（＋）に変化させることができる。Ｔｍｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。基本周期は、２Ｔであるので、Ｔｍｐは、０Ｔから２Ｔまで可変される。
【０１２２】
ここで、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔにおいて、時間軸２５％から７５％は１Ｔ相当の時間となる。
【０１２３】
マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝０．５で、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が２５％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１４（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の２５％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１４（ｃ）のように検出される。
【０１２４】
また、図１５は、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．０Ｔで、デューティ比が５０％である場合に対応する図であり、マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１Ｔで、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が５０％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図１５（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の５０％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１５（ｃ）のように検出される。
【０１２５】
さらに、図１６は、ライト・ストラテジのマルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．５Ｔで、デューティ比が７５％である場合に対応する図であり、マルチパルスの位相設定がＴｍｐ＝１．５Ｔで、２Ｔ単位中の記録パワー出射比率であるデューティ比が７５％となる場合、ＬＰＦ回路１０で平均したレベルは、図１６（ｃ）に示すようにピークパワーとボトムパワーの差の７５％と同じレベルとなり、ＳＨ回路２７にて図１６（ｃ）のように検出される。
【０１２６】
図１４、図１５、図１６の結果をまとめて、マルチパルスの位相設定を変化させたときの、位相設定と測定レベルとの関係を表すと、図１７のように示すことができる。図１７において、横軸は、ライト・ストラテジ回路のマルチパルス設定Ｔｍｐとデューティ比を示し、縦軸は、ＳＨ回路２７でホールドされたレベルのＡＤ変換レベルを示す。
【０１２７】
図１７に示すように、マルチパルスの位相設定を変化させたときの、位相設定と測定レベルとの関係は、デューティが２５％では、ＡＤ変換レベルがピークパワーとボトムパワーの差の２５％となり、デューティが７５％では、ＡＤ変換レベルがピークパワーとボトムパワーの差の７５％のレベルとなる直線で表される。図１７は、マーク・スペース長の基本周期である２Ｔにおいて、時間軸２５％から７５％を、平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表しており、この時間幅は、ちょうど１Ｔ相当の時間幅があり、本発明の実施の形態１と同じである。
【０１２８】
したがって、本実施の形態２においては、検出できる電圧レベルは、ちょうど５０％となり、上述した実施の形態１とは異なるが、この電圧レベルの検出が、ＡＤ変換回路２９の分解能より十分大きいならば、上述した図１７で示す直線を用いて各位相設定毎の理想値を求めることにより、本発明の実施の形態１と同じ方法により、ライト・ストラテジの位相設定を補正することができる。
【０１２９】
以上のように本発明の実施の形態２による光ディスク記録装置によれば、マルチパルスの出力周期をマーク・スペース長の基本周期である２Ｔとしたとき、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させて、レベルの測定を行うようにしたので、デューティ比が２５％から７５％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定順序を並べ替えることで位相設定の補正を行ない、誤差を低減させることができる。
【０１３０】
なお、本実施の形態２では、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔの分解能が１／１０の場合について、位相設定をｎ＝０からｎ＝１０まで１ずつ変更して、マルチパルスのディーティ比を２５％から７５％に変化させて測定を行ったが、基準直線２５％と７５％の測定結果が得られていれば、任意の設定ｎを補正することができる。
【０１３１】
（実施の形態３）
以下、本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態３による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置１００において、１つの記録マークを形成するときに、１つのパルスで形成されるブロックパルスからなるライト・ストラテジによって記録するものである。
【０１３２】
以下、本実施の形態３による光ディスク記録装置において、ブロックパルスの出力を、マーク・スペース長の基本周期である１Ｔとして、３Ｔマークと３Ｔスペースを出力した場合の動作について、図１８を例に説明をする。なお、本実施の形態３による光ディスク記録装置の構成は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置１００と同じである。
【０１３３】
図１８において、（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を、（ｃ）は、位相検出設定系４における、ＬＰＦ回路２６の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路２７の出力を表す。図１８は、記録中のマークと、スペースの信号を示しており、３Ｔマークにおいて、１Ｔの長さのブロックパルスとなる場合である。Ｔｔｏｐは、このブロックパルスの幅設定であるトップパルスの位相設定を示し、Ｔｔｏｐの矢印方向（＋）が可変できる位相設定である。またＴｔｏｐの矢印の始点は、固定された位相設定である。Ｔｔｏｐの可変範囲は、特に制限はない。
【０１３４】
以下、マークとスペース長がそれぞれ３Ｔであり、マークとスペース長の周期が、合わせて６Ｔの場合を例として説明する。本実施の形態３による光ディスク記録装置では、ＬＰＦ回路２６のカットオフ周波数の設定を下げて、マーク３Ｔとスペース３Ｔをまとめて、レーザー出力全体を平均化する設定にする。そして、マーク３Ｔの記録を行うときの位相設定をＴｔｏｐとしたとき、Ｔｔｏｐの設定を、１Ｔから２Ｔまで可変して、マーク３Ｔとスペース３Ｔの６Ｔ分のレーザー出力全体を平均化する。
【０１３５】
このとき、Ｔｔｏｐ＝１Ｔのときは、６Ｔ中にピークパワーが出現する割合は、１Ｔ／６Ｔ＝１６．６７％であり、Ｔｔｏｐ＝２Ｔのときは、６Ｔ中にピークパワーが出現する割合は、２Ｔ／６Ｔ＝３３．３３％である。つまり、Ｔｔｏｐが１Ｔから２Ｔまで変化したときの、ピークパワーが出現する割合は、１６．６７％から３３．３３％となる。これを平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表すと、時間軸では１Ｔ相当の時間となり、このピークパワーが出現する割合を、デューティ比と同じとすれば、本発明の実施の形態１と同様に扱うことができる。
【０１３６】
ここで、Ｔｔｏｐ＝１Ｔで、デューティ比が、１６．６７％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１８（ｃ）のように検出される。また、図１９に示すように、Ｔｔｏｐ＝１．５Ｔで、デューティ比が、２５％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図１９（ｃ）のように検出される。さらに、図２０に示すように、Ｔｔｏｐ＝２Ｔで、デューティ比が、３３．３３％となる場合、ＬＰＦ回路２６で平均したレベルは、図２０（ｃ）のように検出される。
【０１３７】
図１８、図１９、図２０の結果をまとめて、トップパルスＴｔｏｐの位相設定を変化させたときの位相設定と測定レベルとの関係を表すと、図２１のように示すことができる。図２１において、横軸は、ライト・ストラテジ回路のトップパルス設定Ｔｔｏｐとデューティ比を示し、縦軸は、ＳＨ回路２７でホールドされたレベルのＡＤ変換レベル示す。
【０１３８】
デューティが１６．６７％では、ピークパワーとボトムパワーの差の１６．６７％、デューティが３３．３３％では、ピークパワーとボトムパワーの差の３３．３３％のレベルとなる直線になり、マークとスペース長の基本周期である６Ｔにおいて、時間軸１６．６７％から３３．３３％を、平均化レベルでボトムパワーからピークパワーの関係で表している。この時間幅は、ちょうど１Ｔ相当の時間幅があり、本発明の実施の形態１と同じである。
【０１３９】
したがって、本実施の形態３においては、検出できる電圧レベルは、ちょうど１６．６７％となり、本発明の実施の形態１と異なるが、この電圧レベルの検出が、ＡＤ変換回路２９の分解能より十分大きいならば、本発明の実施の形態１と同じ方法により、ライト・ストラテジの位相設定を補正することができる。
【０１４０】
以上のように本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置は、トップパルスの出力周期をマークとスペース長の発生周期６Ｔに設定し、トップパルスの位相設定を１Ｔ分の時間を変化させて、レベルの測定を行うこととしたので、デューティ比を１６．６７％から３３．３３％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、これにより上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定順序を並べ替えることで位相設定の補正を行ない、誤差を低減させることができる。
【０１４１】
また、本発明の実施の形態３においては、マークとスペース長の発生周期は６Ｔとしたが、その他の周期に設定した場合でも、基本周期の長さに合わせて、デューティ比計算を変えれば、本実施の形態３と同様に、平均化レベルの測定と位相設定の補正を行うことができる。
【０１４２】
（実施の形態４）
以下、本発明の実施の形態４に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２２は、本実施の形態４による光ディスク記録装置２２００の構成を示すブロック図である。図２２において、信号切替スイッチ３６は、ＬＰＦ２６への入力を、光検出器８の出力と、後述する標準信号発生装置３７の出力との間で切り換えるものである。
【０１４３】
標準信号発生装置３７は、位相設定回路２４からの出力を受けて、各位相設定毎にライト・ストラテジ生成回路２３の出力と同等な波形信号を出力するものであり、光ディスク装置２２００に接続される外部装置である。その出力は、出力信号のばらつきがない標準波形となる。なお、図２２において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。
【０１４４】
次に、以上のように構成された本実施の形態４による光ディスク記録装置２２００の動作について説明する。
まず、信号切替スイッチ３６が、標準信号発生装置３７側に切り替えられ、この状態で、位相設定ｎが、０から１０まで順に＋１づつ変化されて、標準信号発生装置３７の出力が平均化される。その結果は、ＲＡＭ３２の変数＿標準装置［ｎ］に格納される。次に、信号切替スイッチ３６が、光検出器８側に切り替えられ、位相設定ｎを、０から１０まで、順に＋１づつ変化させて、光検知器８より出力される、電圧レベルに変換されたマルチパルス部のレーザーパワーの平均化レベルが検出され、その結果が、ＲＡＭ３２の配列＿測定値［ｎ］に格納される。
【０１４５】
図２３は、上記測定結果を示す例であり、図２４は、該測定結果をグラフで表したものである。図２３と、図２４の測定結果から、本発明の実施の形態４の標準信号発生装置３７を使用した測定では、理想直線から少し弓形をした結果を得ることができている。
【０１４６】
上記実施の形態１では、ステップＳ１２において、直線近似式である、図９より理想値を求めた。つまり図１０の理想値［ｎ］は、測定結果と、これより得られた直線近似式から理想値を求めた結果であった。本実施の形態４では、図１０の理想値［ｎ］を、図２３の変数＿標準装置［ｎ］に置き換えて、ステップＳ１２以降の処理が行われる。これにより、標準信号発生装置３７によりその出力が校正された位相検出設定系４により、上記実施の形態１と同様に位相設定の補正を行うことができる。
【０１４７】
なお、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。
【０１４８】
また、標準信号発生装置３７は、位相検出設定系４を校正する目的なので、本実施の形態４では外部装置として想定しているが、位相検出設定系４に、標準信号発生装置３６を標準信号発生器として設けてもよい。
【０１４９】
以上のように本実施の形態４による光ディスク記録装置によれば、位相検出設定系において、ライト・ストラテジ生成回路と同等の波形信号を出力する標準信号発生装置３７の出力を平均化し、この平均レベルを測定した結果を理想値として、位相設定の補正を行なうこととしたので、レベル測定を行う位相検出設定系４の出力を校正することができ、より正確な位相設定の補正が可能となる。
【０１５０】
（実施の形態５）
以下、本発明の実施の形態５に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２５は、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００の構成を示すブロック図である。なお、図２５において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。
図２５において、３８は、レーザー制御系３のＳＨ回路１１のサンプルホールド位置を変化させるＳＨ位置設定回路である。３９は、レーザーＡＰＣ制御回路１９の出力のＯＮ／ＯＦＦを制御するＯＮスイッチである。また、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００では、位相設定系４のＣＰＵ３０は、レーザー制御系３のＡＤ変換回路１４の出力を、その入力信号とする。
【０１５１】
次に、以上のように構成される光ディスク記録装置２５００の動作について、図２６、及び図２７を用いて説明する。
図２６は、１Ｔマルチパルスで、６Ｔマークのレーザー出力を行なっている状態を表し、（ａ）は、記録波形ＮＲＺＩを、（ｂ）はレーザー出力を表す。また、図２６（ｃ）は、ＳＨ回路１１のＳＨ信号がマルチパルス部に位置する場合の、ＬＰＦ回路１２の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路１１の出力を表し、図２６（ｄ）は、ＳＨ回路１１のＳＨ信号がトップパルス部に位置する場合の、ＬＰＦ回路１２の出力、ＳＨ信号の出力、及びＳＨ回路１１の出力を表す。
【０１５２】
図２６において、マルチパルス部をＳＨ回路１１によりサンプルホールドした後の信号レベルをＡＤ変換した結果は、トップパルス部をＳＨ回路１１によりサンプルホールドした後の信号レベルをＡＤ変換した結果より、小さい状態である。マルチパルス部の位相設定を変化させたとき、マルチパルス部のＬＰＦ回路１０のレベルは、マルチパルスのデューティ変化により変動するので、このＡＤ変換レベルを用いてレーザーを一定に出力するレーザーＡＰＣ制御はできない。このため、レーザーＡＰＣ制御を行う場合は、図２６（ｄ）に示すように、ＳＨ位置設定回路３８によりサンプルホールド位置をトップパルス部に移動させ、トップパルス部をサンプル・ホールドする。そして、ホールドされたレベルがＡＤ変換回路１４によりＡＤ変換された結果に基づいて、レーザーＡＰＣ制御回路１９によるレーザーＡＰＣ制御が行なわれる。
【０１５３】
一方、ライト・ストラテジの位相設定を変化させて、マルチパルス波形のデューティ比が変化したときの平均化レベルを検出する場合は、図２６（ｃ）に示すように、ＳＨ位置設定回路３８によりサンプルホールド位置をマルチパルス部に移動させてレベル測定を行うそして、ＡＤ変換回路１４でＡＤ変換された結果が、位相検出設定系４のＣＰＵ３０に入力され、該検出結果を元に、上記実施の形態１と同様の方法により、位相設定の補正が行われる。
【０１５４】
以下、図２７に示すフローを用いて、本実施の形態５による光ディスク記録装置２５００において、レーザー制御系３を用いて、ライト・ストラテジの位相を電圧レベルで測定する動作について説明する。
まず、ステップＳ５０で、ＳＨ位置設定回路３８によりＳＨ信号がトップパルス部に変更される。
【０１５５】
次に、ステップＳ５１で、切替スイッチ１２が、ＬＰＦ回路１０がスルーされる側に切り替えられる。ＬＰＦ回路１０をスルーすることで、光検出器８で電圧変換されたレーザーの出射波形が、そのままＳＨ回路１１に入力される。
【０１５６】
次に、ステップＳ５２で、レーザーＡＰＣ制御が行なわれ、レーザーの出射パワーが所定のパワーに制御される。この時トップパルス部がサンプル・ホールドされているので、位相設定を変化させてデューティ比が変化しても、同じレベルが検出される。
【０１５７】
次に、ステップＳ５３で、レーザー制御の安定待ちを行い、ステップＳ５４で、レーザーＡＰＣ制御が停止される。このレーザーＡＰＣ制御の停止は、スイッチ３９をＯＦＦにし、ＬＤドライバ６への電流設定であるＤＡＣ２０の出力を一定とすることで行う。この時、ＬＤドライバ６に供給される電流は一定であるので、ＬＤ７は、同じ電流でレーザーを出射する。
【０１５８】
次に、ステップＳ５５で、ＳＨ位置設定回路３８によりＳＨ信号がマルチパルス部に変更される。
【０１５９】
次に、ステップＳ５６で、切替スイッチ１２がＬＰＦ回路１０側に切り替られ、ステップＳ５７で、ライト・ストラテジの位相設定が順次変化されて、各位設定毎のレベル測定が行われる。以降は、上記実施の形態１と同様に、ステップＳ５７により得られた測定値と、理想値とを元に、位相設定順序を並べ替えることで、位相設定の補正が行なわれる。
【０１６０】
以上のように本発明の実施の形態５による光ディスク記録装置によれば、レーザーパワーの制御を行なう場合は、マーク検出系のＳＨ回路のサンプルタイミングを、トップパルス部に移動させてレーザーＡＰＣ制御を行ない、位相設定の補正を行なう場合は、レーザー制御をホールドして、レーザーへの電流量を一定とし、マーク検出系のＳＨ回路のサンプルタイミングを、マルチパルス部に移動させて、各位相設定毎のレベル測定を行うこととしたので、レーザー制御に用いるレーザーパワーの検出手段を使って、ライト・ストラテジの位相設定に対する時間軸を、電圧レベルで測定することができ、これにより、レーザー制御系のマーク検出系と、位相検出設定系におけるライト・ストラテジの位相検出手段とを共通化させて、回路規模の縮小化を図ることが可能となる。
【０１６１】
（実施の形態６）
以下、本発明の実施の形態６に係る光ディスク記録装置について説明する。
上記実施の形態１ないし５による光ディスク記録装置は、光ディスク記録装置の電源投入時やリセット時に、マルチパルスの位相設定を補正するものであるが、本実施の形態６による光ディスク記録装置は、記録動作時にマルチパルスの位相設定を補正するものである。
【０１６２】
図２８は、本実施の形態６による光ディスク記録装置における光ピックアップの構成を示すブロック図である。なお、本実施の形態６による光ディスク記録装置の、レーザー制御系３、位相検出設定系４、及び記録データ生成系５は、上述した実施の形態１ないし実施の形態５と同じものであり、図２８では省略している。
【０１６３】
図２８において、４１は、レンズ４０を上下させて、光ディスク１の記録層に焦点を合わすためのアクチュエータである。４２は、レンズ４０と連動したアクチュエータ４１を駆動してレンズ４０を上下に動作させて、光ディスク１の記録層に対してフォーカスを合わせたり、はずしたりするフォーカス駆動回路４２である。
【０１６４】
次に、本実施の形態６による光ディスク記録装置において、記録動作時に位相設定の補正を行なう場合の制御動作について説明する。
【０１６５】
光ディスク１の記録層にフォーカスを合わせる制御が行われている状態においては、マルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを電圧によって測定する場合、レーザーの出射パワーは記録を行うためのレーザーパワーであるために、レーザーからの出射光が光ディスク１の記録層に、データとして記録されてしまう。すべての位相設定を変化させて測定を行った場合、記録されるデータは、特に意味のないデータとなる。
【０１６６】
本実施の形態６では、光ディスクの記録動作時に、フォーカスを、フォーカス駆動回路４２により光ディスク１の記録層より一瞬はずし、この間に、マルチパルスの平均化レベルを測定する。これにより、記録媒体への記録を行うことなく平均化レベルを測定することができ上述した実施の形態１と同様の方法により、設定したライト・ストラテジの位相設定を補正することできる。
【０１６７】
また、光ディスクの記録時に、フォーカス駆動回路４２により、光ディスク１の記録層にフォーカスを合わせた状態において特定の位相設定に対するマルチパルスの平均化レベルを測定し、この測定値と理想値との比較を行うことで、光ディスク記録装置の異常を検知することができる。例えば、測定値と理想値との差が大きければ、位相設定に対して異なる位相が出力されている可能性があり、装置が異常であると判断できる。
【０１６８】
以上のように、本実施の形態６による光ディスク記録装置によれば、光ディスク記録装置の記録時に、フォーカス駆動回路によりレンズのフォーカスをはずし、この間にマルチパルスのデューティ比の時間幅に対応する平均化レベルを測定することとしたので、記録媒体へデータを記録する場合においても、ライト・ストラテジの位相設定の補正を行なうことができる。
【０１６９】
また、記録媒体への記録時に測定した値と理想値とを比較することにより、設定したライト・ストラテジが正確に出力されているか否かを確認することができる。
【０１７０】
（実施の形態７）
以下、本発明の実施の形態７に係る光ディスク記録装置について説明する。
図２９は、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００の構成を示すブロック図である。図２９において、３４は、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力信号に応じて、その出力信号のレベルを変換する信号変換回路である。例えば、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力信号が、近年よく使用される、低電圧差動伝送（ＬＶＤＳ）信号である場合のように、ひとつの信号レベルが２つの差動信号で伝達される場合、２つの差動信号を元の信号に変換する必要があるが、信号変換回路３４はこの変換回路に相当するものである。
【０１７１】
３５は、ＬＰＦ回路２６への入力を、光検出器８の出力信号と、信号変換回路３４の出力信号との間で切り換える信号切替スイッチである。なお、図２９において、図１と同じ構成要素については同一の符号を使用し、その説明を省略する。
【０１７２】
以下、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００において、信号切替スイッチ３５が、ＬＰＦ回路２６への入力として信号変換回路３４の信号を選択している場合の動作について詳細に説明する。
【０１７３】
信号変換回路３４の出力が、例えば、０Ｖから３．３Ｖのレベルで出力されるとする。このとき、ライト・ストラテジ生成回路２３の２値化信号は、信号変換回路３４により変換されると、レーザー出力を許可するときが、３．３Ｖ、許可しないときが、０Ｖのレベルで出力される。
【０１７４】
このように、信号変換回路３４の出力は、２値化された状態で出力されるので、例えば、ＡＤ変換回路２９のレンジが、０Ｖから３．３Ｖである場合、マルチパルスのデューティ比が０％のときは、ＡＤ変換回路２９で検出されるレベルは、０Ｖレベルで検出される。また、マルチパルスのデューティ比が１００％のときは、ＡＤ変換回路２９で検出されるレベルは、３．３Ｖレベルで検出される。信号変換回路３４の出力が２値化されていることで、上記実施の形態１のと同様の方法によりライト・ストラテジの位相設定を補正する場合、理想値を求める場合は、０Ｖから３．３Ｖの理想直線と単純化することができる。
【０１７５】
また、ＬＰＦ回路２６による平均化レベルは、デューティ比に応じて０Ｖから３．３Ｖの間で変化する。このため、上記理想直線より求められる理想値と、信号変換回路３４の出力をＬＰＦ回路２６により平均化し、そのレベルをＡＤ変換した測定値と、を用いて、上記実施の形態１と同じ方法により、マルチパルスの位相設定の補正を行うことができる。
【０１７６】
また、本実施の形態６による方式により位相設定の補正を行なう場合は、実際のレーザー発光を必要としないので、記録データ生成系５と、位相検出設定系４とを、光ディスク記録装置２９００から独立した装置とし、記録データ生成系５を単独で動作させて、補正を行うことも可能である。
【０１７７】
例えば、位相検出設定系４が検査装置であり、記録データ生成系５が被検査装置であるとした場合、検査装置である位相検出設定系４は、記録データ生成系５より出力されるライト・ストラテジ波形の測定と位相設定の補正とを行い、位相設定テーブル３２の値を出力すれば良い。
【０１７８】
また、本実施の形態７による光ディスク記録装置２９００は、図２５に示す本発明の実施の形態５による光ディスク記録装置２５００と同様に、レーザー制御系３のＳＨ回路１１のＳＨ位置を可変するＳＨ位置設定回路３８を設けて、位相検出系４が、レーザー制御系のマーク部検出系３ａを用いて、マルチパルス部の平均化レベルを測定するようにしても良い。この場合、信号変換回路３４の出力は、レーザー制御系３に入力すればよい。
【０１７９】
さらに、本発明の実施の形態７による光ディスク記録装置は、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。
【０１８０】
また、本発明の実施の形態７に係る光ディスク記録装置２９００では、信号切替スイッチ３５が、光検出器８の出力を選択する場合は、本発明の実施の形態１と全く同じ構成を有するものとなる。このため、レーザー出力を、光検出器８の出力を測定して補正した結果と、ライト・ストラテジ生成回路２３の出力を測定して補正した結果との、２種類の結果を得ることができ、この両者の結果を、場合に応じて使い分けても良い。
【０１８１】
以上のように本実施の形態７による光ディスク記録装置は、ライト・ストラテジのパルス信号を直接平均化し、ライト・ストラテジの時間信号を直接電圧信号に変換することとしたので、レーザーの制御とは関係なく、レーザーの出射を停止している状態でもライト・ストラテジ設定回路の出力に基づいて位相設定の補正を行うことができる。
【０１８２】
（実施の形態８）
以下、本発明の実施の形態８に係る光ディスク記録装置について説明する。
本実施の形態８による光ディスク記録装置は、上記実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスのデューティ比を補正し、該補正後のデューティ比を用いて、レーザーパワーの制御を行うものである。
【０１８３】
図３０は、本実施の形態８による光ディスク記録装置３０００の構成を示すブロック図である。図３０において、デューティ補正回路３３は、ＡＤ変換回路２９の出力に基づいて、位相設定値より求められるデューティ比の値を補正し、レーザーＡＰＣ制御回路１９に出力するものである。
【０１８４】
上記実施の形態１におけるレーザーＡＰＣ制御は、以下のように制御するものであった。
すなわち、光検出器８の出力がマルチパルス波形のときは、目標パワーの計算を行うときは、得られた平均レベルと、デューティ比とから、ピークパワーの換算を行う。例えば、デューティ比が５０％、得られた平均レベルをａｖｅとすると、実際に発光しているピークパワーは、ａｖｅ／５０％＝ａｖｅ×２と計算する。この計算方法では、マルチパルス波形を平均化して、そのデューティ比を使って、目標パワーを計算するので、設定した位相設定より算出されるデューティ比が、ＬＤ７の出力を光検出器８で電圧変換した結果とずれている場合、目標パワーの計算がずれる。例えば、平均化レベルａｖｅ＝１０のレベルを測定した場合、デューティ比＝５０％では、１０×２＝２０のレベルを得ることができる。そして、この２０のレベルになるようにＡＰＣ制御を行う。
【０１８５】
実際の波形でデューティ比ずれが生じて、平均化レベルａｖｅ＝１２が得られると、１２×２＝２４のレベル検出となり、レーザーＡＰＣ制御回路１９により２４のレベルを２０のレベルになるようにパワー制御される。その結果、実際のレーザー出力は、２０／２４の割合で小さいパワーが出力されることになる。
【０１８６】
本発明の実施の形態８においては、理想では５０％であるデューティ比を、実際には、５０％／（２０／２４）＝約６０％のデューティで計算を行い、ａｖｅ／６０％＝ａｖｅ×１．６７と計算する。これにより、平均化レベルａｖｅ＝１２の場合、１２×１．６７＝約２０のレベルを得ることができ、実際のレーザー出力が小さくなることはない。
【０１８７】
以下、本実施の形態８による光ディスク記録装置３０００において、このデューティ補正を行う方法について、図３１、及び図３２を用いて説明する。
図１０に示すレーザーパワーの測定値［ｎ］と理想値［ｎ］に対して、補正デューティ比は、図３１の式のように表すことができる。図３２は、位相設定ｎに対する理想値［ｎ］、測定値［ｎ］、デューティ比の設定、及び図３１の式に基づき補正したデューティ比の結果を示す。なお、位相設定ｎと、理想値［ｎ］、測定値［ｎ］は、上記実施の形態１と同じ方法で得られるものである。
【０１８８】
図３２の結果によれば、例えば、位相設定ｎ＝５のとき、マルチパルスの幅は、０．５Ｔであり、デューティ比は５０％となるはずである。しかし、測定値［５］の結果から、図３１の補正により、得られる補正デューティ比は４４％となる。
【０１８９】
レーザーの目標パワーの計算は、本来はデューティ比５０％で行えばよいが、５０％のデューティ計算では、レーザーＡＰＣ制御回路１９により、小さいパワーが出力される可能性がある。ここで補正されたデューティ比４４％を使用すると、測定値［５］／４４％×５０％＝５３１．２／０．４４×０．５＝６０３．６となり、理想値［５］＝６００に近い状態に補正される。
【０１９０】
なお、本実施の形態８による光ディスク記録装置は、上述した実施の形態１による光ディスク記録装置にデューティ補正回路３３を追加したものであるが、この形態８において追加されたデューティ補正回路３３は、上述した実施の形態２ないし７による光ディスク記録装置に対して追加しても、同様の効果を得ることができる。
【０１９１】
また、本発明の実施の形態８では、ＡＤ変換回路２９の分解能やレンジに合わせて、ＶＧＡ２８の設定を可変して、Ｓ／Ｎ比を向上させても良い。また、レーザーパワーを可変することで、検出系のダイナミックレンジにより、Ｓ／Ｎ比を向上させてもよい。また、ＶＧＡ２８の設定や、レーザーパワーを可変した結果をそれぞれ比較して、より精度のよい検出を行ってもよい。
【０１９２】
以上のように本発明の実施の形態８に係る光ディスク記録装置は、デューティ補正回路により、デューティ比を補正し、該補正後のデューティ比に基づいてレーザーＡＰＣ制御を行なうこととしたので、マルチパルスのレーザー制御時のパワー補正を行うことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１９３】
本発明によれば、装置ごとのばらつきを抑え、最適な記録を行うことのできる光ディスク記録装置を提供することができる点において有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１９４】
【図１】図１は、実施の形態１による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２】図２は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図３】図３は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝ゼロでデューティ比が０％となる場合の信号波形図である。
【図４】図４は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１Ｔでデューティ比が１００％となる場合の信号波形図である。
【図５】図５は、１Ｔマルチパルスの幅設定と、測定レベルの関係を示す図である。
【図６】図６は、実施の形態１による光ディスク記録装置の、位相設定の補正手順を示すフロー図である。
【図７】図７は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、位相設定毎のＡＤ変換値を得るための測定手順を示すフロー図である。
【図８】図８は、実施の形態１による光ディスク記録装置の測定結果例を示す図である。
【図９】図９は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、理想値を算出するための計算式を示す図である。
【図１０】図１０は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、測定値と、算出された理想値の結果例を示す図。
【図１１】図１１は、実施の形態１による光ディスク記録装置において、最適位相設定をサーチし、位相設定を補正する手順を示すフロー図である。
【図１２】図１２は、実施の形態１による光ディスク記録装置における補正結果例を示す図である。
【図１３】図１３は、実施の形態１による光ディスク記録装置における補正結果例をグラフで示した図である。
【図１４】図１４は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、２Ｔマルチパルスの場合に、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図１５】図１５は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１．０Ｔでデューティ比が５０％となる場合の信号波形図である。
【図１６】図１６は、実施の形態２による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝１．５Ｔでデューティ比が７５％となる場合の信号波形図である。
【図１７】図１７は、２Ｔマルチパルスの幅設定と測定レベルの関係を示す図である。
【図１８】図１８は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、１Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図１９】図１９は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、１．５Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図２０】図２０は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、３Ｔマークにおいて、２．０Ｔの長さのブロックパルスが出力される場合の波形図である。
【図２１】図２１は、実施の形態３による光ディスク記録装置において、トップパルスの幅設定と測定レベルの関係を示す図である。
【図２２】図２２は、実施の形態４による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２３】図２３は、実施の形態４による光ディスク記録装置における、測定値［ｎ］と標準装置［ｎ］の測定結果例を示す図である。
【図２４】図２４は、実施の形態４による光ディスク記録装置における測定結果例を示す図である。
【図２５】図２５は、実施の形態５による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２６】図２６は、実施の形態５による光ディスク記録装置において、マルチパルスの位相設定Ｔｍｐ＝０．５Ｔでデューティ比が５０％となる場合の波形図である。
【図２７】図２７は、実施の形態５による光ディスク記録装置における測定手順を示すフロー図である。
【図２８】図２８は、実施の形態６による光ディスク記録装置における、ピックアップのブロック図である。
【図２９】図２９は、実施の形態７による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図３０】図３０は、実施の形態８による光ディスク記録装置のブロック図である。
【図３１】図３１は、実施の形態８による光ディスク記録装置における、デューティ比の補正値を算出するための計算式を示す図である。
【図３２】図３２は、実施の形態８による光ディスク記録装置において、デューティ比を補正した結果を示す図である。
【符号の説明】
【０１９５】
１  光ディスク
２  ピックアップ
３  レーザー制御系
３ａ  マーク部検出系
３ｂ  スペース／イレース部検出系
４  位相検出設定系
５  記録データ生成系
６  レーザーダイオード（ＬＤ）ドライバ
７  レーザー（ＬＤ）
８  光検出器
９  アッテネータ（ＡＴＴ）回路
１０  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）回路
１１  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
１２  切替スイッチ
１３  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１４  ＡＤ変換回路
１５  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１６  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
１７  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１８  ＡＤ変換回路
１９  レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路
２０  ＤＡＣ
２１  記録データ格納回路
２２  記録変調回路
２３  ライト・ストラテジ生成回路
２４  位相設定回路
２５  多層クロック生成回路
２６  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）回路
２７  サンプル・ホールド（ＳＨ）回路
２８  電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）回路
２９  ＡＤ変換回路
３０  ＣＰＵ
３１  ＲＡＭ
３２  位相設定テーブル
３３  デューティ補正回路
３４  信号変換回路
３５  信号切替スイッチ
３６  信号切替スイッチ
３７  標準信号発生装置
３８  ＳＨ位置設定回路
３９  ＯＮスイッチ
４０  レンズ
４１  アクチュエータ
４２  フォーカス駆動回路
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2007052797.tif 000035
【図２】
2007052797.tif 000036
【図３】
2007052797.tif 000037
【図４】
2007052797.tif 000038
【図５】
2007052797.tif 000039
【図６】
2007052797.tif 000040
【図７】
2007052797.tif 000041
【図８】
2007052797.tif 000042
【図９】
2007052797.tif 000043
【図１０】
2007052797.tif 000044
【図１１】
2007052797.tif 000045
【図１２】
2007052797.tif 000046
【図１３】
2007052797.tif 000047
【図１４】
2007052797.tif 000048
【図１５】
2007052797.tif 000049
【図１６】
2007052797.tif 000050
【図１７】
2007052797.tif 000051
【図１８】
2007052797.tif 000052
【図１９】
2007052797.tif 000053
【図２０】
2007052797.tif 000054
【図２１】
2007052797.tif 000055
【図２２】
2007052797.tif 000056
【図２３】
2007052797.tif 000057
【図２４】
2007052797.tif 000058
【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【手続補正書】
【提出日】平成20年12月9日(2008.12.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク記録装置において、
前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ３）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、
前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定する、
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク記録装置は、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ３）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
また、本発明の請求項５による光ディスク記録装置によれば、請求項４に記載の光ディスク記録装置において、前記位相設定並べ替え回路は、前記（ｒ３）をｒ３＝０．５に設定し、マルチパルスのパルスエッジの位相設定を、０．５Ｔから１．５Ｔまで変更して、マルチパルスのデューティ比を２５％から７５％に変化させ、前記平均化回路は、それぞれの前記位相設定に対応する平均レベルをすべて測定することとしたので、記録速度の高倍速化に伴い、デューティが０％や１００％付近の設定付近で、レーザー出射特性の立ち上がり特性、立ち下がり特性が悪化しても、デューティ比を２５％から７５％の範囲で、基本周期である１Ｔ分を、最小分解能ですべて測定ができ、測定値と理想値との誤差が大きい場合は、その誤差が最小となる位相設定に補正することができる。
【国際調査報告】
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