【手続補正書】
【提出日】平成19年9月11日(2007.9.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゲート線、ソース線、前記ゲート線と前記ソース線との交差に対応して設けられたスイッチング素子、前記スイッチング素子に接続された画素電極、および対向電極に接続される配線が設けられてなる素子基板と、
接着部材によって前記素子基板に実装されてなる回路基板と、
前記素子基板に形成されてなり、ソース線、前記ゲート線、又は前記配線と接続される検査用端子と、を含み、
前記検査用端子は、前記回路基板を前記素子基板に接着する前記接着部材に覆われてなることを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記回路基板には複数の電極が設けられており、
前記検査用端子は、前記回路基板に重なる位置に且つ前記複数の電極と重ならない位置に形成されてなることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記素子基板に実装されてなる半導体装置と、
一端が前記半導体装置に接続され、他端が前記回路基板に接続されてなる外部接続配線と、を含んでなり、
前記外部接続配線の前記他端には複数の端子が設けられ、
前記外部接続配線の前記他端に設けた複数の端子は、前記回路基板に設けた複数の電極に接続されてなることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記接着部材が異方性導電膜であることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記回路基板がフレキシブル基板であることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記基板と対向して配置された対向基板を更に備え、
前記対向電極が前記対向基板に形成されてなることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の電気光学装置。
【請求項７】
ゲート線、ソース線、前記ゲート線と前記ソース線との交差に対応して設けられたスイッチング素子、前記スイッチング素子に接続された画素電極、および対向電極に接続される配線が設けられてなる素子基板と、
接着部材によって前記素子基板に実装されてなり電極を有する実装部品と、
前記素子基板に形成されてなり、ソース線、前記ゲート線、又は前記配線に接続される検査用端子と、
前記素子基板に積層された複数の絶縁層と、
前記複数の絶縁層のうちの一の絶縁層に覆われた第１の配線、および他の絶縁層に覆われた第２の配線を接続し、且つ前記実装部品の前記電極に接続される接続用端子と、を含み、
前記検査用端子、及び前記接続用端子とが、前記接着部材に覆われてなることを特徴とする電気光学装置。
【請求項８】
前記複数の絶縁層の各々にはコンタクトホールが形成されており、前記接続用端子は、前記コンタクトホールを通じて前記第１の配線と前記第２の配線とを接続することを特徴とする請求項７に記載の電気光学装置。
【請求項９】
請求項１乃至請求項８のいずれかに記載の電気光学装置を備えた電子機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明の電気光学装置においては、ゲート線、ソース線、前記ゲート線と前記ソース線との交差に対応して設けられたスイッチング素子、前記スイッチング素子に接続された画素電極、および対向電極に接続される配線が設けられてなる素子基板と、接着部材によって前記素子基板に実装されてなる回路基板と、前記素子基板に形成されてなり、ソース線、前記ゲート線、又は前記配線と接続される検査用端子と、を含み、前記検査用端子は、前記接着部材に覆われてなることを特徴とする。また、前記回路基板には複数の電極が設けられており、前記検査用端子は、前記回路基板に重なる位置に且つ前記複数の電極と重ならない位置に形成するとよい。更には、前記素子基板に実装されてなる半導体装置と、一端が前記半導体装置に接続され、他端が前記回路基板に接続されてなる外部接続配線と、を含んでなり、前記外部接続配線の前記他端には複数の端子が設けられ、前記外部接続配線の前記他端に設けた複数の端子は、前記回路基板に設けた複数の電極に接続されてなることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
上記の電気光学装置は、ガラスなどよりなる素子基板と、その素子基板に設けられたゲート線、ソース線及び配線と、その素子基板上に、異方性導電膜（ＡＣＦ）を介して実装され複数の入出力用の電極を有する回路基板と、素子基板と対向配置された対向基板と、を備えている。そして対向基板には、対向電極が形成され、素子基板に設けた配線と電気的に接続されている。回路基板は、素子基板に実装される半導体装置に接続されるフレキシブルプリント基板とすることができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
この電気光学装置では、ゲート線、ソース線又は配線と電気的に接続された検査用端子を含んでいる。よって、ゲート線、ソース線及び配線の検査用端子にプローブを接触させて所定電圧を印加することにより、この電気光学装置の表示パネルの良否を検査することができる。また、当該検査用端子端子は、特に、基板上において回路基板と平面的に重なる位置に且つその実装部品の複数の入出力用の電極と重ならない位置に配置されており、その回路基板と基板とを接着する異方性導電膜により覆われている。これにより、当該検査用端子は、硬化した異方性導電膜とにより保護され、好ましくは回路基板によっても保護されることになる。よって、当該検査用端子に異物や水分が付着したり、或いは汚れたりするのを防止できる。その結果、端子間（検査用端子間を含む）で短絡が生じるのを防止することができると共に、複数の端子の耐食性（耐電蝕性を含む）の向上を図ることができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明の電気光学装置の他の形態では、ゲート線、ソース線、前記ゲート線と前記ソース線との交差に対応して設けられたスイッチング素子、前記スイッチング素子に接続された画素電極、および対向電極に接続される配線が設けられてなる素子基板と、接着部材によって前記素子基板に実装されてなり電極を有する実装部品と、前記素子基板に形成されてなり、ソース線、前記ゲート線、又は前記配線に接続される検査用端子と、前記素子基板に積層された複数の絶縁層と、前記複数の絶縁層のうちの一の絶縁層に覆われた第１の配線、および他の絶縁層に覆われた第２の配線を接続し、且つ前記実装部品の前記電極に接続される接続用端子と、を含み、前記検査用端子、及び前記接続用端子とが、前記接着部材に覆われてなることを特徴とする。これにより、１つの絶縁層により覆われた配線と他の絶縁層により覆われた配線とを接続用端子を介して容易に接続することができる。また、これにより、接続用端子と実装部品であるドライバＩＣの入出力用電極の各々との電気的な接続が容易となる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
好適な例では、前記複数の絶縁層の各々にはコンタクトホールが形成されており、前記接続用端子は、前記コンタクトホールを通じて前記第１の配線と前記第２の配線とを接続する。