【手続補正書】
【提出日】平成19年4月25日(2007.4.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
キャリブレーションのための方法において、
遠位先端部、位置センサ、及び超音波トランスデューサを含むプローブを、内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記トランスデューサの出力信号が、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合していることを示すまで、前記超音波トランスデューサを作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作するステップと、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合した状態で前記位置センサにより生成される位置信号を測定して、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定するステップと、
前記遠位先端部に対する前記超音波トランスデューサの位置ずれを測定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定し、前記位置ずれの測定値を決定するステップと、
を含む、方法。
【請求項２】
前記キャリブレーションデータが、前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記整合を決定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記整合を決定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合及び前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、各前記整合を決定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記試験取付け具に対する前記超音波ターゲットの前記既知の位置及び前記プローブの前記向きに応じて前記プローブの前記キャリブレーションデータを決定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記プローブを操作する前記ステップが、前記プローブのロール、ヨー、及び、ピッチからなる群から選択される前記プローブの回転軸を変えるステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記プローブを操作する前記ステップが、前記トランスデューサが前記超音波ターゲットと整合していることを前記出力信号が示すまで、前記超音波トランスデューサを作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作して、前記超音波ターゲットのイメージを生成するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記プローブを操作する前記ステップが、前記プローブを手動で操作するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記プローブを操作する前記ステップが、前記プローブを自動で操作するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記位置信号を測定する前記ステップが、前記試験取付け具内で少なくとも２つの磁界を生成するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記位置センサが、少なくとも２つのコイルを含み、前記位置信号を測定する前記ステップが、各前記コイルについてコイル信号を測定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記プローブを操作する前記ステップが、前記プローブの長軸を中心に前記プローブを回動させるステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記位置信号を測定する前記ステップが、前記プローブの温度を変更するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記プローブの温度を変更する前記ステップが、前記プローブを加熱するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記プローブの温度を変更する前記ステップが、前記プローブを冷却するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記プローブが、プログラム可能な超小型回路を含み、前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記超小型回路に前記キャリブレーションデータを記録するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１７】
前記キャリブレーションデータを記録する前記ステップが、キャリブレーションコードを暗号化するステップを含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記試験取付け具が、クランプ組立体を含み、前記プローブを前記試験取付け具内に配置する前記ステップが、前記プローブを前記クランプ組立体内に配置するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
前記クランプ組立体が、溝を画定するように成形されており、前記プローブを前記試験取付け具内に配置する前記ステップが、前記プローブを前記溝に配置するステップを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記試験取付け具が、既知の位置に固定された少なくとも２つの放射器コイルを含み、
前記プローブを配置する前記ステップが、前記放射器コイルに対して既知の向きに前記プローブを整合させるステップを含み、
前記位置信号を測定する前記ステップが、前記放射器コイルを作動させて前記試験取付け具内で既知の磁界を生成するステップと、前記位置センサによって生成される位置センサキャリブレーション位置信号を測定して、前記プローブの軸に対する前記位置センサの位置センサの向きを決定するステップと、を含み、
前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記位置センサの前記向きに応じて前記プローブの位置センサキャリブレーションデータを決定するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２１】
前記プローブが、遠位先端部を含み、前記位置センサキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記遠位先端部に対する前記位置センサの位置ずれの程度を決定するステップを含む、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記位置信号を測定する前記ステップが、前記位置信号を測定して前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの向きを決定するステップを含み、前記プローブの前記キャリブレーションデータを決定する前記ステップが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの前記向き及び前記プローブの前記軸に対する前記位置センサの向きに応じて、前記プローブの前記軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を決定するステップを含む、請求項２０に記載の方法。
【請求項２３】
前記位置センサが、少なくとも２つのコイルを含み、前記位置センサキャリブレーション位置信号を測定する前記ステップが、各前記コイルのコイルキャリブレーション信号を測定するステップを含む、請求項２０に記載の方法。
【請求項２４】
前記プローブの前記位置センサキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、各前記コイルの利得をキャリブレーションするステップを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記プローブの前記位置センサキャリブレーションデータを決定する前記ステップが、各前記コイルについて、前記プローブの前記軸との整合からの前記コイルのずれを決定するステップを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項２６】
キャリブレーションのための方法において、
遠位先端部、位置センサ、及びイメージング装置を含むプローブを、内部の既知の位置に配置されたイメージングターゲットを含む試験取付け具内に配置するステップと、
前記イメージング装置の出力信号が、前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合していることを示すまで、前記イメージング装置を作動させながら前記試験取付け具内で前記プローブを操作するステップと、
前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合した状態で前記位置センサにより生成される位置信号を測定して、前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定するステップと、
前記遠位先端部に対する前記イメージング装置の位置ずれを測定するステップと、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定し、前記位置ずれの測定値を決定する、ステップと、
を含む、方法。
【請求項２７】
遠位先端部、位置センサ、および超音波トランスデューサを有するプローブをキャリブレーションする装置において、
内部の既知の位置に配置された超音波ターゲットを含む試験取付け具と、
コンピュータと、を含み、前記コンピュータが、
前記トランスデューサが前記超音波ターゲットに整合した状態で前記位置センサによって生成される位置信号を受け取り、
前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定し、
前記遠位先端部に対する前記超音波トランスデューサの位置ずれを測定し、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定し、
前記位置ずれの程度を決定するように構成されている、装置。
【請求項２８】
前記キャリブレーションデータが、前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記コンピュータが、前記整合を決定するように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項２９】
前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記コンピュータが、前記整合を決定するように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３０】
前記キャリブレーションデータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの整合及び前記プローブの軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、前記コンピュータが、各前記整合を決定するように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３１】
前記コンピュータが、前記試験取付け具に対する前記超音波ターゲットの前記既知の位置及び前記プローブの前記向きに応じて前記プローブの前記キャリブレーションデータを決定するように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３２】
前記超音波ターゲットが、超音波反射材料を含む泡を含む、請求項２７に記載の装置。
【請求項３３】
前記位置センサが、少なくとも２つのコイルを含み、前記コンピュータが、前記コイルの電流に応答して前記位置信号を受け取るように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３４】
前記試験取付け具が、前記プローブを加熱するように構成された加熱要素を含む、請求項２７に記載の装置。
【請求項３５】
前記超音波ターゲットが、前記試験取付け具内で移動できるように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３６】
前記プローブが、プログラム可能な超小型回路を含み、前記コンピュータが、前記超小型回路に前記キャリブレーションデータを記録するように構成されている、請求項２７に記載の装置。
【請求項３７】
前記コンピュータが、キャリブレーションコードを暗号化するように構成されている、請求項３６に記載の装置。
【請求項３８】
前記試験取付け具が、前記プローブを保持するように構成されたクランプ組立体を含む、請求項２７に記載の装置。
【請求項３９】
前記クランプ組立体が、前記プローブの回転軸において前記プローブの向きを変えることができるように構成されており、前記プローブの前記回転軸が、前記プローブのロール、ヨー、及びピッチからなる群から選択される、請求項３８に記載の装置。
【請求項４０】
前記クランプ組立体が、前記プローブを保持するように構成された溝を画定するように成形されている、請求項３８に記載の装置。
【請求項４１】
前記クランプ組立体が、前記プローブを自動で操作するように構成されている、請求項３８に記載の装置。
【請求項４２】
前記試験取付け具が、既知の位置に固定された少なくとも２つの放射器コイルを含む、請求項２７に記載の装置。
【請求項４３】
前記試験取付け具が、互いに直交した３対の平行な放射器コイルを含む、請求項４２に記載の装置。
【請求項４４】
前記放射器コイルが、前記試験取付け具内でそれぞれの磁界を生成するように構成されており、前記コンピュータが、前記磁界に応答して前記位置センサによって生成される前記位置信号を受け取るように構成されている、請求項４２に記載の装置。
【請求項４５】
前記コンピュータが、前記プローブが前記放射器コイルに対して既知の向きに整合した状態で前記位置センサによって生成される位置センサキャリブレーション位置信号を受け取り、前記プローブの軸に対する前記位置センサの位置センサの向きを決定し、前記位置センサの前記向きに応じて前記プローブの位置センサキャリブレーションデータを決定するように構成されている、請求項４２に記載の装置。
【請求項４６】
前記プローブが、遠位先端部を含み、前記位置センサキャリブレーションデータが、前記遠位先端部に対する前記位置センサの位置ずれの程度を含み、前記コンピュータが、前記位置ずれの前記程度を決定するように構成されている、請求項４５に記載の装置。
【請求項４７】
前記プローブの前記キャリブレーションデータが、前記プローブの前記軸に対する前記超音波トランスデューサの整合を含み、
前記コンピュータが、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの向きを決定し、前記位置センサに対する前記超音波トランスデューサの前記向き及び前記プローブの前記軸に対する前記位置センサの向きに応じて、前記プローブの前記軸に対する前記超音波トランスデューサの前記整合を決定するように構成されている、請求項４５に記載の装置。
【請求項４８】
前記位置センサが、少なくとも２つのコイルを含み、前記コンピュータが、各前記コイルのコイルキャリブレーション信号を測定するように構成されている、請求項４５に記載の装置。
【請求項４９】
前記コンピュータが、各前記コイルの利得をキャリブレーションするように構成されている、請求項４８に記載の装置。
【請求項５０】
前記コンピュータが、各前記コイルについて、前記プローブの前記軸との整合からの前記コイルのずれを決定するように構成されている、請求項４８に記載の装置。
【請求項５１】
遠位先端部、位置センサ、及びイメージング装置を有するプローブをキャリブレーションするための装置において、
内部の既知の位置に配置されたイメージングターゲットを含む、試験取付け具と、
コンピュータと、
を含み、
前記コンピュータは、
前記イメージング装置が前記イメージングターゲットに整合した状態で、前記位置センサによって生成される位置信号を受け取り、
前記試験取付け具の基準フレームにおける前記プローブの向きを決定し、
前記遠位先端部に対する前記イメージング装置の位置ずれを決定し、
前記プローブの前記向きに応じて前記プローブのキャリブレーションデータを決定し、
前記位置ずれの測定値を決定するように構成されている、
装置。