【誤訳訂正書】
【提出日】令和1年10月3日(2019.10.3)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１２３】
以下の例は、流体試料内の構成要素の濃度を判断するために使用されるシステムにおける光学センサについての追加的な詳細を提供し得る。
以下の項目［１］〜［２４］に、本発明の実施形態の例を列記する。
［１］
第１の光路であって、前記光路に光学的に接続された光学窓を通して分析中の流体試料の中に光を方向付け、前記光学窓を通して前記流体試料から光を受け取るように構成された、第１の光路と；
前記第１の光路を通して前記流体試料の中に、第１の波長の光を放出するように構成された、第１の光学エミッタと；
前記第１の光路に光学的に連結され、かつ前記第１の光路を通して前記流体試料から光を受け取るように構成された、第１の光学検知器と；
前記光学センサに連結され、前記第１の光路内に少なくとも部分的に配置された光学エミッタアセンブリであって、前記第１の光路の中に、及び前記光学窓に向かって、第２の波長の光を放出するように構成された第２の光学エミッタを備える、光学エミッタアセンブリと
を備える、光学センサ。
［２］
前記第１の光路内の前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の光学エミッタからの光の一部分が、前記光学窓に到達することを阻止する、項目１に記載のセンサ。
［３］
前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された、第１の参照光学検知器と；
前記第２の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成され、前記光学エミッタアセンブリ内に位置付けられた、第２の参照光学検知器と、
を更に備える、項目１に記載のセンサ。
［４］
前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の光路を通って前記第１の光学検知器に向かって前記第２の光学エミッタから光が放出されることを実質的に防ぐためのシールドを更に備える、項目１〜３のいずれか一項に記載のセンサ。
［５］
前記光学エミッタアセンブリは、前記光学センサに取り外し可能に連結される、項目１〜４のいずれか一項に記載のセンサ。
［６］
前記シールドは、実質的に囲まれた容積を含む、項目１〜４のいずれか一項に記載のセンサ。
［７］
前記第２の光学エミッタは、前記実質的に囲まれた容積の中に前記第２の波長の光を放出するように構成され、前記第２の参照光学検知器は、前記実質的に囲まれた容積内に配置される、項目１〜６のいずれか一項に記載のセンサ。
［８］
前記第２の光学エミッタと前記光学窓の間に配置されたコリメーティングレンズであって、前記第２の光学エミッタから放出された前記光を前記光学窓に向かって実質的に視準するように構成されたコリメーティングレンズを更に備える、項目１に記載のセンサ。
［９］
前記第１の光路に約９０度の角度で交差する第２の光路を更に備え、前記第１の光学エミッタは、前記第２の光路の中に光を放出するように構成される、項目１に記載のセンサ。
［１０］
前記第１の光路と前記第２の光路の間の交差部に位置付けられた第１の部分的に反射性の光学窓であって、前記第１の光学検知器によって放出された光の少なくとも一部分を前記第１の光路の中に及び前記流体試料に向かって方向付けるように構成された、第１の部分的に反射性の光学窓を更に備える、項目１〜９のいずれか一項に記載のセンサ。
［１１］
前記第２の光路内に配置された第２の部分的に反射性の光学窓であって、前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部を前記第１の参照光学検知器に向かって方向付けるように構成された第２の部分的に反射性の光学窓を更に備える、項目１〜１０のいずれか一項に記載のセンサ。
［１２］
前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の部分的に反射性の光学窓と前記光学窓の間の前記第１の光路において前記光学センサに取り外し可能に取り付けられる、項目１〜１０のいずれか一項に記載のセンサ。
［１３］
分析中の流体試料と光学的に連通する光学センサを位置付けることであって、前記光学センサは、
第１の光学エミッタと、
第２の光学エミッタと、
第１の光路と、
光学検知器と、
前記光学センサ及び前記流体試料を光学的に連結する光学窓と
を備える、ことと；
前記第１の光学エミッタによって、前記第１の光路及び光学インターフェースを通して、前記流体試料の中に、第１の波長の光を放出することと；
前記流体試料によって放出された蛍光発光を、前記第１の光路を通して、前記光学検知器によって検知することと；
第２の光学エミッタによって、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を、前記第１の光路を通して前記分析中の流体試料の中に放出することであって、前記第２の光学エミッタは第１の光路内に位置付けられている、ことと；
前記流体試料によって散乱された光を、前記第１の光路を通して、前記光学検知器によって検知することと、を含む、方法。
［１４］
前記光路を通して前記第１の波長の光を放出することは、前記光学検知器と前記光学窓の間で前記第１の光路に約９０度の角度で交差する第２の光路の中に前記第１の波長の光を方向付けることを含む、項目１３に記載の方法。
［１５］
前記光学センサは、前記第１及び第２の光路の交差部に配置された部分的に反射性の光学窓を更に備え、それにより：
前記第２の光路の中に方向付けられた前記第１の波長における前記光の少なくとも一部分が、前記部分的に反射性の光学窓によって、前記第１の光路の中に、及び前記流体試料へと反射され；かつ
前記流体試料から前記光学窓を通して前記第１の光路の中に方向付けられた前記光の少なくとも一部分が、前記部分的に反射性の光学窓を通して光学検知器まで伝送される、項目１３又は１４に記載の方法。
［１６］
前記試料から検知された前記蛍光発光に基づいて、前記流体試料の少なくとも１つの特質を判断することを更に含む、項目１３に記載の方法。
［１７］
前記少なくとも１つの特質は、前記試料の蛍光体濃度である、項目１３〜１６のいずれか一項に記載の方法。
［１８］
前記流体試料によって散乱され検知された前記光に基づいて、前記流体試料の前記濁度を判断することを更に含む、項目１３〜１６のいずれか一項に記載の方法。
［１９］
前記流体試料の前記少なくとも１つの特質を判断することは、前記流体試料の前記判断された濁度に更に基づく、項目１３〜１８のいずれか一項に記載の方法。
［２０］
前記光学センサは、前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された第１の参照光学検知器と、前記第２の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された第２の参照光学検知器と、を更に備え、前記流体試料の前記少なくとも１つの特質を判断することは、前記第１の参照光学検知器から検知された前記光及び前記第２の参照光学検知器から検知された前記光に更に基づく、項目１３〜１９のいずれか一項に記載の方法。
［２１］
前記光学センサは、取り外し可能な光学エミッタアセンブリを更に備え、前記取り外し可能な光学エミッタアセンブリは、前記第２の光学エミッタ及び前記第２の参照光学検知器を備える、項目１３〜２０のいずれか一項に記載の方法。
［２２］
前記取り外し可能な光学エミッタアセンブリを前記第１の光路の近傍で前記光学センサに連結することを更に含む、項目１３〜２１のいずれか一項に記載の方法。
［２３］
前記第１の光学検知器において検知された前記光及び前記第１の参照光学検知器において検知された前記光を比較して、相対蛍光測定値を判断することと；
前記第２の光学検知器及び前記第２の参照光学検知器において検知された前記光を比較して、相対濁度測定値を判断することと、
を更に含み、
前記試料から検知された前記蛍光発光に基づいて、前記流体試料の少なくとも１つの特質を判断することは、前記相対蛍光測定値及び前記相対濁度測定値を組み合わせることを含む、項目１３〜２０のいずれか一項に記載の方法。
［２４］
前記第１の参照光学検知器及び前記第２の参照光学検知器は電気的に並列に接続され、参照信号を単一電気チャネルに提供する、項目１３〜２０のいずれか一項に記載の方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の光路であって、前記光路に光学的に接続された光学窓を通して分析中の流体試料の中に光を方向付け、前記光学窓を通して前記流体試料から光を受け取るように構成された、第１の光路と；
前記第１の光路を通して前記流体試料の中に、第１の波長の光を放出するように構成された、第１の光学エミッタと；
前記第１の光路に光学的に連結され、かつ前記第１の光路を通して前記流体試料から光を受け取るように構成された、第１の光学検知器と
を備える、光学センサであって、
前記光学センサは、前記光学センサに連結され、前記第１の光路内に少なくとも部分的に配置された光学エミッタアセンブリであって、前記第１の光路の中に、及び前記光学窓に向かって、第２の波長の光を放出するように構成された第２の光学エミッタを備える、光学エミッタアセンブリを更に備え、
前記第１の光路内の前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の光学エミッタからの光の一部分が、前記光学窓に到達することを阻止する、光学センサ。
【請求項２】
前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された、第１の参照光学検知器と；
前記第２の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成され、前記光学エミッタアセンブリ内に位置付けられた、第２の参照光学検知器と、
を更に備える、請求項１に記載のセンサ。
【請求項３】
前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の光路を通って前記第１の光学検知器に向かって前記第２の光学エミッタから光が放出されることを実質的に防ぐためのシールドを更に備える、請求項１又は２に記載のセンサ。
【請求項４】
前記光学エミッタアセンブリは、前記光学センサに取り外し可能に連結される、請求項１〜３のいずれか一項に記載のセンサ。
【請求項５】
前記シールドは、実質的に囲まれた容積を含む、請求項３に記載のセンサ。
【請求項６】
前記第２の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成され、前記光学エミッタアセンブリ内に位置付けられた、第２の参照光学検知器を更に備え、前記第２の光学エミッタは、前記実質的に囲まれた容積の中に前記第２の波長の光を放出するように構成され、前記第２の参照光学検知器は、前記実質的に囲まれた容積内に配置される、請求項５に記載のセンサ。
【請求項７】
前記第２の光学エミッタと前記光学窓の間に配置されたコリメーティングレンズであって、前記第２の光学エミッタから放出された前記光を前記光学窓に向かって実質的に視準するように構成されたコリメーティングレンズを更に備える、請求項１に記載のセンサ。
【請求項８】
前記第１の光路に約９０度の角度で交差する第２の光路を更に備え、前記第１の光学エミッタは、前記第２の光路の中に光を放出するように構成される、請求項１に記載のセンサ。
【請求項９】
前記第１の光路と前記第２の光路の間の交差部に位置付けられた第１の部分的に反射性の光学窓であって、前記第１の光学エミッタによって放出された光の少なくとも一部分を前記第１の光路の中に及び前記流体試料に向かって方向付けるように構成された、第１の部分的に反射性の光学窓を更に備える、請求項８に記載のセンサ。
【請求項１０】
前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された、第１の参照光学検知器と；
前記第２の光路内に配置された第２の部分的に反射性の光学窓であって、前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部を前記第１の参照光学検知器に向かって方向付けるように構成された第２の部分的に反射性の光学窓と
を更に備える、請求項８又は９に記載のセンサ。
【請求項１１】
前記光学エミッタアセンブリは、前記第１の部分的に反射性の光学窓と前記光学窓の間の前記第１の光路において前記光学センサに取り外し可能に取り付けられる、請求項９に記載のセンサ。
【請求項１２】
分析中の流体試料と光学的に連通する光学センサを位置付けることであって、前記光学センサは、
第１の光学エミッタと、
第２の光学エミッタと、
第１の光路と、
光学検知器と、
前記光学センサ及び前記流体試料を光学的に連結する光学窓と
を備える、ことと；
前記第１の光学エミッタによって、前記第１の光路及び光学インターフェースを通して、前記流体試料の中に、第１の波長の光を放出することと；
前記流体試料によって放出された蛍光発光を、前記第１の光路を通して、前記光学検知器によって検知することと；
第２の光学エミッタによって、前記第１の波長とは異なる第２の波長の光を、前記第１の光路を通して前記分析中の流体試料の中に放出することであって、前記第２の光学エミッタは第１の光路内に位置付けられている、ことと；
前記流体試料によって散乱された光を、前記第１の光路を通して、前記光学検知器によって検知することと、を含む、方法。
【請求項１３】
前記光学センサは、前記第１の光路に約９０度の角度で交差する第２の光路を更に備え、前記光路を通して前記第１の波長の光を放出することは、前記光学検知器と前記光学窓の間で前記第１の光路に約９０度の角度で交差する前記第２の光路の中に前記第１の波長の光を方向付けることを含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記光学センサは、前記第１及び第２の光路の交差部に配置された部分的に反射性の光学窓を更に備え、それにより：
前記第２の光路の中に方向付けられた前記第１の波長における前記光の少なくとも一部分が、前記部分的に反射性の光学窓によって、前記第１の光路の中に、及び前記流体試料へと反射され；かつ
前記流体試料から前記光学窓を通して前記第１の光路の中に方向付けられた前記光の少なくとも一部分が、前記部分的に反射性の光学窓を通して光学検知器まで伝送される、請求項１２又は１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記流体試料から検知された前記蛍光発光に基づいて、前記流体試料の少なくとも１つの特質を判断することを更に含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
前記少なくとも１つの特質は、前記流体試料の蛍光体濃度である、請求項１２〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１７】
前記流体試料によって散乱され検知された前記光に基づいて、前記流体試料の濁度を判断することを更に含む、請求項１２〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
前記流体試料の前記少なくとも１つの特質を判断することは、前記流体試料の前記判断された濁度に更に基づく、請求項１２〜１７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１９】
前記光学センサは、前記第１の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された第１の参照光学検知器と、前記第２の光学エミッタから放出された前記光の少なくとも一部分を受け取るように構成された第２の参照光学検知器と、を更に備え、前記流体試料の前記少なくとも１つの特質を判断することは、前記第１の参照光学検知器から検知された前記光及び前記第２の参照光学検知器から検知された前記光に更に基づく、請求項１２〜１８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２０】
前記光学センサは、取り外し可能な光学エミッタアセンブリを更に備え、前記取り外し可能な光学エミッタアセンブリは、前記第２の光学エミッタ及び前記第２の参照光学検知器を備える、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記取り外し可能な光学エミッタアセンブリを前記第１の光路の近傍で前記光学センサに連結することを更に含む、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記光学検知器において検知された前記光及び前記第１の参照光学検知器において検知された前記光を比較して、相対蛍光測定値を判断することと；
前記光学検知器及び前記第２の参照光学検知器において検知された前記光を比較して、相対濁度測定値を判断することと、
を更に含み、
前記流体試料から検知された前記蛍光発光に基づいて、前記流体試料の少なくとも１つの特質を判断することは、前記相対蛍光測定値及び前記相対濁度測定値を組み合わせることを含む、請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
前記第１の参照光学検知器及び前記第２の参照光学検知器は電気的に並列に接続され、参照信号を単一電気チャネルに提供する、請求項１９に記載の方法。