【手続補正書】
【提出日】平成19年4月2日(2007.4.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析計を用いて質量スペクトルデータを得る工程と、
前記質量スペクトルデータにおいて認められるｎ種のイオンの質量／電荷数を測定する工程と、
測定された前記ｎ種のイオンの各々の質量／電荷数について、個々のエラーバーを算出する工程とを含み、
イオン種の真正の、正確な、実際の、または許容できる質量／電荷数が、算出された個々のエラーバーの範囲内となる確率または信頼性が、ｘ％に等しいか、またはそれよりも大きく、ｘ≧５０である質量分析方法。
【請求項２】
ｎが、（ｉ）１、（ｉｉ）２〜５、（ｉｉｉ）５〜１０、（ｉｖ）１０〜１５、（ｖ）１５〜２０、（ｖｉ）２０〜２５、（ｖｉｉ）２５〜３０、（ｖｉｉｉ）３０〜３５、（ｉｘ）３５〜４０、（ｘ）４０〜４５、（ｘｉ）４５〜５０、（ｘｉｉ）≧５０、（ｘｉｉｉ）≧６０、（ｘｉｖ）≧７０、  （ｘｖ）≧８０、（ｘｖｉ）≧９０および（ｘｖｉｉ）≧１００からなる群より選択される範囲内である請求項１記載の方法。
【請求項３】
ｘが、５０〜５５、５５〜６０、６０〜６５、６５〜７０、７０〜７５、７５〜８０、８０〜８５、８５〜９０、９０〜９１、９１〜９２、９２〜９３、９３〜９４、９４〜９５、９５〜９６、９６〜９７、９７〜９８、９８〜９９、９９〜９９．５、９９．５〜９９．９５、９９．９５〜９９．９９および９９．９９〜１００からなる群より選択される範囲内である請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
更に、前記ｎ種のイオンの少なくとも一部の質量／電荷数を、各質量／電荷数について算出された個々のエラーバーとともに記録することを含む請求項１〜３のいずれかに記載の方法。
【請求項５】
個々のエラーバーを算出する工程が、前記イオンの質量／電荷数の測定における系統誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正において用いられる数学モデルの正確度を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項７】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
個々のエラーバーを算出する工程が、１以上の内部基準または検量体の使用による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計の安定性または不安定性を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１０】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計における外乱の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１１】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計における温度変化の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１２】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の干渉変化の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１３】
個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量分析計が最後に校正されてからの経過時間を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１４】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後における前記質量分析計の１以上の部品の熱膨張の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１５】
個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量分析計内の空間電荷反発作用による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１６】
個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正の間に記録される誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１７】
個々のエラーバーを算出する工程が、前記イオンの質量／電荷数の測定における統計誤差または偶然誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１８】
個々のエラーバーを算出する工程が、１以上のイオン種の検出時間の不確定性または標準偏差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項１９】
個々のエラーバーを算出する工程が、１以上のイオン種の検出頻度の不確定性または標準偏差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２０】
個々のエラーバーを算出する工程が、イオン検出統計による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２１】
個々のエラーバーを算出する工程が、不十分なサンプリングによる誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２２】
個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量スペクトルデータ内の１以上のイオン種が、前記イオンの算出された個々のエラーバーが記録されないという障害を被るか、または十分に改悪されるという記録除外状況における誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２３】
個々のエラーバーを算出する工程が、分析物イオンと実質的に同一の質量／電荷数を有するバックグラウンドイオンまたは干渉イオンが、前記バックグラウンドイオンまたは干渉イオンから分析物イオンを分解する能力に影響を及ぼす、質量干渉による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２４】
個々のエラーバーを算出する工程が、検出器の飽和による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２５】
個々のエラーバーを算出する工程が、イオン検出器の応答による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２６】
個々のエラーバーを算出する工程が、異なる誤差の複数の推定値を併合することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２７】
更に、測定された１以上のイオン種の質量／電荷数と、測定された質量／電荷数について算出された個々のエラーバーとに関連する範囲内に、質量／電荷数を有することが知られている１以上のイオン種を探すために、データベースを検索する工程を含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項２８】
前記データベースが、バイオポリマー、タンパク質、ペプチド、ポリペプチド、オリゴヌクレオチド、オリゴヌクレオシド、アミノ酸、炭水化物、糖、脂質、脂肪酸、ビタミン、ホルモン、ＤＮＡの部分またはフラグメント、ｃＤＮＡの部分またはフラグメント、ＲＮＡの部分またはフラグメント、ｍＲＮＡの部分またはフラグメント、ｔＲＮＡの部分またはフラグメント、ポリクローナル抗体、モノクローナル抗体、リボ核酸、酵素、メタボライト、多糖類、加リン酸分解ペプチド、加リン酸分解タンパク質、糖ペプチド、糖タンパク質またはステロイドの詳細を含む請求項２７記載の方法。
【請求項２９】
前記データベースが、化合物の電子衝撃質量スペクトルの詳細を含む請求項２７記載の方法。
【請求項３０】
更に、１以上のイオン種の測定された質量／電荷数の算出されたエラーバー内の範囲に質量／電荷数を有する元素組成を算出することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項３１】
前記元素組成が、原子若しくは原子群および／またはそれらの同位体の既知の質量または質量／電荷数を用いて算出される請求項３０記載の方法。
【請求項３２】
更に、１以上の関心対象の質量／電荷数を限定する工程と
前記１以上の関心対象の質量／電荷数が、前記異種のイオンの少なくとも一部のエラーバーの範囲内に入るか否かを知るために、前記質量スペクトルデータにおいて認められた前記異種のイオンの少なくとも一部の測定された質量／電荷数および算出された個々のエラーバーの少なくとも一部を調べる工程とを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項３３】
更に、１以上の関心対象の質量／電荷数を限定する工程と、
前記１以上の関心対象の質量／電荷数が、前記複数の質量スペクトルから認められた前記異種のイオンの少なくとも一部のエラーバーの範囲内に入るか否かを知るために、期間中に得られた前記複数の質量スペクトルから認められた前記異種のイオンの測定された質量／電荷数および算出された個々のエラーバーを調べる工程とを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
【請求項３４】
質量分析装置および処理システムを含み、
前記処理システムが、質量スペクトルデータを得て、前記質量スペクトルデータにおいて認められたｎ種のイオンの質量／電荷数を測定し、測定された前記ｎ種のイオンのそれぞれの質量／電荷数について、個々のエラーバーを算出するように構成されており、
イオン種の真正の、正確な、実際の、または許容できる質量／電荷数が、算出された個々のエラーバーの範囲内となる確率または信頼性が、ｘ％に等しいか、またはそれよりも大きく、ｘ≧５０である質量分析計。