【手続補正書】
【提出日】平成19年7月23日(2007.7.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の基板と、
前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、
前記第１の基板と、前記第２の基板との間に配置された電気光学材料と、
を含む電気光学装置であって、
前記第１の基板は、透明電極と、
第１の検査用電極と、
第２の検査用電極と、
検査用電気配線と、
を含み、
前記検査用電極配線は、前記第１の検査用電極と、前記第２の検査用電極と、に電気的に接続され、
前記第２の基板は、第１の電極と、
第２の電極と、
第３の検査用電極と、
第４の検査用電極と、
第１の検査用電位を印加するための第５の検査用電極と、
第２の検査用電位を印加するための第６の検査用電極と、
を含み、
前記第３の検査用電極は前記第５の検査用電極に電気的に接続され、
前記第４の検査用電極は前記第６の検査用電極に電気的に接続され、
前記透明電極と、前記第１の電極との間に電圧を印加することにより前記電気光学材料は駆動され、
さらに、前記透明電極と前記第２の電極とは第１の導通剤を介して電気的に接続され、
前記第１の検査用電極と前記第３の検査用電極とは第２の導通剤を介して電気的に接続され、
前記第２の検査用電極と前記第４の検査用電極とは第３の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記第１の基板は、さらに、第７の検査用電極と、
第８の検査用電極と、
第２の検査用電極配線と、
を含み、
前記第２の検査用電極配線は、前記第７の検査用電極と、前記第８の検査用電極と、に電気的に接続され、
前記第２の基板は、さらに、第９の検査用電極と、
第１０の検査用電極と、
第３の検査用電位を印加するための第１１の検査用電極と、
第４の検査用電位を印加するための第１２の検査用電極と、
を含み、
前記第９の検査用電極は前記第１１の検査用電極に電気的に接続され、
前記第１０の検査用電極は前記第１２の検査用電極に電気的に接続され、
さらに、前記第７の検査用電極と前記第９の検査用電極とは第４の導通剤を介して電気的に接続され、
前記第８の検査用電極と前記第１０の検査用電極とは第５の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記透明電極は、縞状に複数本配列され、
前記第２の電極は複数個配列され、
前記複数の透明電極と、前記複数の第２の電極とは前記第１の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする請求項１または２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記第１の電極は、縞状に複数本配列されたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
第１の基板と、前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、を含み、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極とが導通剤を介して電気的に接続された電気光学装置の検査装置であって、
前記第２の基板の電極に電気的に接続された検査用電極に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う電気測定手段と、
を含むことを特徴とする電気光学装置の検査装置。
【請求項６】
前記電気測定における測定データを取得する電気測定データ取得手段と、
前記電気測定データ取得手段により取得した測定データの適否を判定する電気測定データ判定手段と、
をさらに含むことを特徴とする請求項５に記載の電気光学装置の検査装置。
【請求項７】
ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定により局所領域の電気特性の測定を行うＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定手段をさらに含むことを特徴とする請求項５または６に記載の電気光学装置の検査装置。
【請求項８】
前記ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定における測定データを取得するＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ取得手段と、
前記ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ取得手段により取得した測定データの適否を判定するＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ判定手段と、
をさらに含むことを特徴とする請求項７に記載の電気光学装置の検査装置。
【請求項９】
第１の基板と、前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、を含み、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極とが導通剤を介して電気的に接続された電気光学装置の検査方法であって、
前記第２の基板の電極に電気的に接続された検査用電極に電圧を印加する手順と、
前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う手順と、
を含むことを特徴とする電気光学装置の検査方法。
【請求項１０】
前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う手順において、前記導通剤の導通状態を検査することを特徴とする請求項９に記載の電気光学装置の検査方法。
【請求項１１】
前記電気測定における測定データの適否を判定する手順をさらに含むことを特徴とする請求項９または１０に記載の電気光学装置の検査方法。
【請求項１２】
ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定法により前記導通剤に含まれる導電粒子の導通状態を検査する手順をさらに含むことを特徴とする請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の電気光学装置の検査方法。
【請求項１３】
前記ＩＲ−ＯＲＢＩＣＨ測定法における測定データの適否を判定する手段をさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の電気光学装置の検査方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】電気光学装置、電気光学装置の検査装置、及び電気光学装置の検査方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置は、第１の基板と、前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、前記第１の基板と、前記第２の基板との間に配置された電気光学材料と、を含む電気光学装置であって、前記第１の基板は、透明電極と、第１の検査用電極と、第２の検査用電極と、検査用電気配線と、を含み、前記検査用電極配線は、前記第１の検査用電極と、前記第２の検査用電極と、に電気的に接続され、前記第２の基板は、第１の電極と、第２の電極と、第３の検査用電極と、第４の検査用電極と、第１の検査用電位を印加するための第５の検査用電極と、第２の検査用電位を印加するための第６の検査用電極と、を含み、前記第３の検査用電極は前記第５の検査用電極に電気的に接続され、前記第４の検査用電極は前記第６の検査用電極に電気的に接続され、前記透明電極と、前記第１の電極との間に電圧を印加することにより前記電気光学材料は駆動され、さらに、前記透明電極と前記第２の電極とは第１の導通剤を介して電気的に接続され、前記第１の検査用電極と前記第３の検査用電極とは第２の導通剤を介して電気的に接続され、前記第２の検査用電極と前記第４の検査用電極とは第３の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置は、前記第１の基板は、さらに、第７の検査用電極と、第８の検査用電極と、第２の検査用電極配線と、を含み、前記第２の検査用電極配線は、前記第７の検査用電極と、前記第８の検査用電極と、に電気的に接続され、前記第２の基板は、さらに、第９の検査用電極と、第１０の検査用電極と、第３の検査用電位を印加するための第１１の検査用電極と、第４の検査用電位を印加するための第１２の検査用電極と、を含み、前記第９の検査用電極は前記第１１の検査用電極に電気的に接続され、前記第１０の検査用電極は前記第１２の検査用電極に電気的に接続され、さらに、前記第７の検査用電極と前記第９の検査用電極とは第４の導通剤を介して電気的に接続され、前記第８の検査用電極と前記第１０の検査用電極とは第５の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置は、前記透明電極は、縞状に複数本配列され、前記第２の電極は複数個配列され、前記複数の透明電極と、前記複数の第２の電極とは前記第１の導通剤を介して電気的に接続されたことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置は、前記第１の電極は、縞状に複数本配列されたことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査装置は、第１の基板と、前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、を含み、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極とが導通剤を介して電気的に接続された電気光学装置の検査装置であって、前記第２の基板の電極に電気的に接続された検査用電極に電圧を印加する電圧印加手段と、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う電気測定手段と、
を含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査装置は、前記電気測定における測定データを取得する電気測定データ取得手段と、前記電気測定データ取得手段により取得した測定データの適否を判定する電気測定データ判定手段と、をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査装置は、ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定により局所領域の電気特性の測定を行うＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定手段をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査装置は、前記ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定における測定データを取得するＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ取得手段と、前記ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ取得手段により取得した測定データの適否を判定するＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定データ判定手段と、をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査方法は、第１の基板と、前記第１の基板と対向するように配置された第２の基板と、を含み、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極とが導通剤を介して電気的に接続された電気光学装置の検査方法であって、前記第２の基板の電極に電気的に接続された検査用電極に電圧を印加する手順と、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う手順と、を含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査方法は、前記第１の基板の電極と前記第２の基板の電極との間の電気測定を行う手順において、前記導通剤の導通状態を検査することを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査方法は、前記電気測定における測定データの適否を判定する手順をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査方法は、ＩＲ−ＯＢＩＲＣＨ測定法により前記導通剤に含まれる導電粒子の導通状態を検査する手順をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の電気光学装置の検査方法は、前記ＩＲ−ＯＲＢＩＣＨ測定法における測定データの適否を判定する手段をさらに含むことを特徴とする。
また、上記の本発明は、カラーフィルタ基板と素子基板とを有する液晶パネルであって、前記カラーフィルタ基板は、複数の縞状透明電極と、前記カラーフィルタ基板と前記素子基板とを、前記素子基板が有する縞状電気配線及び縞状電気配線と電気的に接続されている画素用透明電極とを介さずに電気的に接続するために、少なくとも２本以上の前記縞状透明電極と電気的に接続された少なくとも１本以上の検査用電気配線と、を有し、前記素子基板は、前記カラーフィルタ基板が有する複数の前記縞状透明電極に
対応して電気的に接続された複数の素子電極と、複数の前記素子電極と電気的に接続された少なくとも１つ以上の共通電極と、前記カラーフィルタ基板が有する少なくとも１本以上の前記検査用電気配線に対応して電気的に接続された複数の検査用電極とを有し、前記カラーフィルタ基板と前記素子基板とを電気的に接続するために、前記素子基板が有する複数の前記素子電極と、前記カラーフィルタ基板が有する複数の前記縞状透明電極とを電気的に接続するための導通剤とを有する液晶パネルであることを要旨とする。
この構成によれば、カラーフィルタ基板に検査用電気配線を有し、素子基板に検査用電極を有することにより、電流経路は検査用電極から、共通電極、素子電極、縞状透明電極、検査用電気配線、別な縞状透明電極、別な素子電極、共通電極、別な検査用電極となり、液晶パネルにおけるカラーフィルタ基板と素子基板との間の電気抵抗を液晶駆動素子等を介さずに直接測定することができる。