【手続補正書】
【提出日】平成31年2月7日(2019.2.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体（１）の背後に隠れた目的物（３）の検出方法であって、以下のステップ
・第１交流電圧（５）を第１センサ（７）に印加すること、
・第２交流電圧（９）を第１センサ（７）に近接して配置された第２センサ（１１）に印加すること、
・第１及び第２交流電圧（５、９）の少なくとも１つに対する物体（１）の作用の距離に依存する測定値を求めること、
・物体（１）に沿って第１及び第２センサ（７、１１）が運動（１９）する際に生じる前記測定値の距離依存性の変化（１７）を求めること、
・前記測定値の距離依存性の変化に依存して目的物（３）を検出すること
を含み、
・測定値として、第１及び第２交流電圧（５、９）の少なくとも１つに対する物体（１）の作用の距離に依存する関数（以下「距離依存関数」という。）が求められ、
・第１及び第２センサ（７、１１）が運動（１９）する際に生じる前記関数の距離依存性の変化（１７）が求められ、
・目的物（３）は、前記関数の距離依存性の変化（１７）に依存して検出される、
検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載の検出方法において、該検出方法は、
・測定交流電圧（２１）を生成すること、
・位相シフト（２３）を引き起こすフィルタ（２５）によって測定交流電圧（２１）をフィルタリングすること、及び、かくして、
・第１交流電圧（５）を生成すること
を含む、
検出方法。
【請求項３】
請求項２に記載の検出方法において、
・測定交流電圧（２１）を測定電圧分圧器（２７）に印加すること、
・第２交流電圧（９）を第２センサ（１１）に印加するために、測定電圧分圧器（２７）において第２交流電圧（９）を取り出すこと
を含む、
検出方法。
【請求項４】
請求項２又は３に記載の検出方法において、
フィルタ（２５）は、測定電圧分圧器（２７）と比べて、低い又は等しくないインピーダンスを有する、
検出方法。
【請求項５】
請求項１〜４の何れかに記載の検出方法において、該検出方法は、
・測定交流電圧（２１）に対し１８０°だけ位相シフトされた参照交流電圧（２９）を生成すること、
・参照交流電圧（２９）を第１及び第２センサ（７、１１）に並列接続された参照経路（３１）に印加すること
を含む、
検出方法。
【請求項６】
請求項５に記載の検出方法において、
参照経路（３１）には、第１及び第２センサ（７、１１）、フィルタ（２５）及び測定電圧分圧器（２７）を有する測定経路（３３）が並列接続されており、
参照経路（３１）は測定経路（３３）と同様に構成されている、
検出方法。
【請求項７】
請求項６に記載の検出方法において、該検出方法は、
・参照経路（３１）の参照出力信号（３５）と測定経路（３３）の１次測定出力信号（３７）を加算して２次測定出力信号（３９）を生成すること
を含む、
検出方法。
【請求項８】
請求項７に記載の検出方法において、該検出方法は、
・２次測定出力信号（３９）のための目標値（４０）を予め設定すること、
・フィードバック制御器（４３）の制御信号（４１）によって目標値（４０）に依存して２次測定出力信号（３９）に影響を及ぼすこと、
・距離依存関数を及び距離依存関数の変化を求めるために制御信号（４１）を評価すること
を含む、
検出方法。
【請求項９】
請求項８に記載の検出方法において、該検出方法は、
・物体（１）に対する第１及び第２センサ（７、１１）の距離（１３）に依存する制御信号（４１）の推移（４５）を求めること、及び／又は、
・制御信号（４１）の位相空間（４９）におけるベクトル解析（４７）の形で前記推移（４５）を求めること、及び／又は、
・目的物（３）を検出する前に、物体（１）への第１及び第２センサ（７、１１）の接近（５１）中に前記推移（４５）を求めること
を含む、
検出方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の検出方法において、該検出方法は、
・位相空間（４９）において推移（４５）又はベクトル（１１７、１１９）によって画成される面（１２３）を求めること、
・該面（１２３）に依存する変化（１７）を求めること
を含む、
検出方法。
【請求項１１】
請求項９又は１０に記載の検出方法において、該検出方法は、
・推移（４５）のための閾値（５３）を予め設定すること、
・制御信号（４１）と閾値（５３）を比較すること、
・制御信号（４１）が閾値（５３）を上回るよう推移（４５）から外れると直ちに、目的物（３）を検出すること
を含む、
検出方法。
【請求項１２】
請求項１〜１１の何れかに記載の検出方法において、該検出方法は、
・物体（１）に沿った第１及び第２センサ（７、１１）の運動（１９）の際に生じる実際の距離依存関数と、距離依存関数と比べた実際の距離依存関数の変化（１７）を求めること、
・距離依存関数と比べた実際の距離依存関数の変化（１７）に依存して目的物（３）を検出すること
を含む、
検出方法。
【請求項１３】
請求項１〜１２の何れかに記載の検出方法において、該検出方法は、
・求められた距離依存関数を記憶すること、
・前記変化（１７）を求めるために、物体（１）に沿った第１及び第２センサ（７、１１）の運動（１９）中に生じる実際の作用と、記憶された距離依存関数を比較すること、
・前記比較に依存して目的物（３）を検出すること、
を含む、
検出方法。
【請求項１４】
物体（１）の背後に隠れた目的物を検出するための測定装置（５５）であって、該測定装置は、
・第１交流電圧（５）が印加可能に構成された第１センサ（７）、
・第１センサ（７）に近接して配置され、第２交流電圧（９）が印加可能に構成された第２センサ（１１）、
・解析装置（５７）
を有し、
解析装置（５７）によって、第１及び第２交流電圧（５、９）の少なくとも１つに対する物体（１）の作用の距離に依存する測定値（以下「距離依存測定値」という。）が求められること又は少なくとも記憶されることが可能であり、物体（１）に沿って第１及び第２センサ（７、１１）が運動（１９）する際に生じる距離依存測定値の距離依存性の変化（１７）が求められることが可能であり、及び、前記測定値の距離依存性の変化（１７）に依存して目的物（３）が検出可能であり、
・解析装置（５７）によって、測定値として、第１及び第２交流電圧（５、９）の少なくとも１つに対する物体（１）の作用の距離に依存する関数（以下「距離依存関数」という。）が求められること又は少なくとも記憶されることが可能であり、
第１及び第２センサ（７、１１）が運動（１９）する際に生じる距離依存関数の距離依存性の変化（１７）が求められることが可能であり、
目的物（３）は、前記関数の距離依存性の変化（１７）に依存して検出可能である、
測定装置。
【請求項１５】
請求項１４に記載の測定装置（５５）において、該測定装置（５５）は、
・第１及び第２センサ（７、１１）を有する回路装置（５９）、
・解析装置（５７）に前置されると共に、回路装置（５９）に対し入力側において後置されかつ出力側において並列接続されたフィードバック制御器（４３）
を有し、
フィードバック制御器（４３）の制御挙動は、距離依存関数を及び／又は距離依存関数の変化（１７）を求めるために、解析装置（５７）によって解析可能である、
測定装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
この課題は、請求項１の特徴を有する物体の背後に隠れた目的物の検出方法によって及び請求項１４の特徴を有する測定装置によって解決される。
即ち、本発明の第１の視点により、物体の背後に隠れた目的物の検出方法が提供される。該方法は、以下のステップ
・第１交流電圧を第１センサに印加すること、
・第２交流電圧を第１センサに近接して配置された第２センサに印加すること、
・第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する測定値を求めること、
・物体に沿って第１及び第２センサが運動する際に生じる前記測定値の距離依存性の変化を求めること、
・前記測定値の距離依存性の変化に依存して目的物を検出すること
を含み、
・測定値として、第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する関数（以下「距離依存関数」という。）が求められ、
・第１及び第２センサが運動する際に生じる前記関数の距離依存性の変化が求められ、
・目的物は、前記関数の距離依存性の変化に依存して検出される（形態１・第１基本構成）。
更に、本発明の第２の視点により、物体の背後に隠れた目的物を検出するための測定装置が提供される。該測定装置は、
・第１交流電圧が印加可能に構成された第１センサ、
・第１センサに近接して配置され、第２交流電圧が印加可能に構成された第２センサ、
・解析装置
を有し、
解析装置によって、第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する測定値（以下「距離依存測定値」という。）が求められること又は少なくとも記憶されることが可能であり、物体に沿って第１及び第２センサが運動する際に生じる距離依存測定値の距離依存性の変化が求められることが可能であり、及び、前記測定値の距離依存性の変化に依存して目的物が検出可能であり、
・解析装置によって、測定値として、第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する関数（以下「距離依存関数」という。）が求められること又は少なくとも記憶されることが可能であり、
第１及び第２センサが運動する際に生じる距離依存関数の距離依存性の変化が求められることが可能であり、
目的物は、前記関数の距離依存性の変化に依存して検出可能である（形態１４・第２基本構成）。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
ここに、本発明の好ましい実施の形態を示す。
（形態１）上記第１基本構成参照。
（形態２）形態１の検出方法において、該検出方法は、
・測定交流電圧を生成すること、
・位相シフトを引き起こすフィルタによって測定交流電圧をフィルタリングすること、及び、かくして、
・第１交流電圧を生成すること
を含む。
（形態３）形態２の検出方法において、該検出方法は、
・測定交流電圧を測定電圧分圧器に印加すること、
・第２交流電圧を第２センサに印加するために、測定電圧分圧器において第２交流電圧を取り出すこと
を含む。
（形態４）形態２又は３の検出方法において、
フィルタは、測定電圧分圧器と比べて、低い又は等しくないインピーダンスを有する。
（形態５）形態１〜４の何れかの検出方法において、該検出方法は、
・測定交流電圧に対し１８０°だけ位相シフトされた参照交流電圧を生成すること、
・参照交流電圧を第１及び第２センサに並列接続された参照経路に印加すること
を含む。
（形態６）形態５の検出方法において、
参照経路には、第１及び第２センサ、フィルタ及び測定電圧分圧器を有する測定経路が並列接続されており、
参照経路は測定経路と同様に構成されている。
（形態７）形態６の検出方法において、該検出方法は、
・参照経路の参照出力信号と測定経路の１次測定出力信号を加算して２次測定出力信号を生成すること
を含む。
（形態８）形態７の検出方法において、該検出方法は、
・２次測定出力信号のための目標値を予め設定すること、
・フィードバック制御器の制御信号によって目標値に依存して２次測定出力信号に影響を及ぼすこと、
・距離依存関数を及び距離依存関数の変化を求めるために制御信号を評価すること
を含む。
（形態９）形態８の検出方法において、該検出方法は、
・物体に対する第１及び第２センサの距離に依存する制御信号の推移を求めること、及び／又は、
・制御信号の位相空間におけるベクトル解析の形で前記推移を求めること、及び／又は、
・目的物を検出する前に、物体への第１及び第２センサの接近中に前記推移を求めること
を含む。
（形態１０）形態９の検出方法において、該検出方法は、
・位相空間において推移又はベクトルによって画成される面を求めること、
・該面に依存する変化を求めること
を含む。
（形態１１）形態９又は１０の検出方法において、該検出方法は、
・推移のための閾値を予め設定すること、
・制御信号と閾値を比較すること、
・制御信号が閾値を上回るよう推移から外れると直ちに、目的物を検出すること
を含む。
（形態１２）形態１〜１１の何れかの検出方法において、該検出方法は、
・物体に沿った第１及び第２センサの運動の際に生じる実際の距離依存関数と、距離依存関数と比べた実際の距離依存関数の変化を求めること、
・距離依存関数と比べた実際の距離依存関数の変化に依存して目的物を検出すること
を含む。
（形態１３）形態１〜１２の何れかの検出方法において、該検出方法は、
・求められた距離依存関数を記憶すること、
・前記変化を求めるために、物体に沿った第１及び第２センサの運動中に生じる実際の作用と、記憶された距離依存関数を比較すること、
・前記比較に依存して目的物を検出すること、
を含む。
（形態１４）上記第２基本構成参照。
（形態１５）上記形態１４の測定装置において、該測定装置は、
・第１及び第２センサを有する回路装置、
・解析装置に前置されると共に、回路装置に対し入力側において後置されかつ出力側において並列接続されたフィードバック制御器
を有し、
フィードバック制御器の制御挙動は、距離依存関数を及び／又は距離依存関数の変化を求めるために、解析装置によって解析可能である。
以下に本発明を図面に記載した実施例を用いて詳細に説明する。
なお、特許請求の範囲に付記した図面参照符号は専ら発明の理解を助けるためのものであり、本発明を図示の態様に限定することは意図していない。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６７】
本開示は、添付の請求の範囲に均等な範囲内において多種多様な修正、変更および適合化を施すことができることは自明である。
ここに、本発明の態様を付記する。
（付記１）物体の背後に隠れた目的物の検出方法。該方法は、以下のステップ
・第１交流電圧を第１センサに印加すること、
・第２交流電圧を第１センサに近接して配置された第２センサに印加すること、
・第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する関数及び／又は作用相関（以下「距離依存関数／作用相関」という。）を求めること、
・物体に沿って第１及び第２センサが運動する際に生じる距離依存関数／作用相関の変化を求めること、
・距離依存関数及び／又は作用相関の変化に依存して目的物を検出すること
を含む。
（付記２）検出方法は、
・測定交流電圧を生成すること、
・位相シフトを引き起こすフィルタによって測定交流電圧をフィルタリングすること、及び、かくして、
・第１交流電圧を生成すること
を含む。
（付記３）検出方法は、
・測定交流電圧を測定電圧分圧器に印加すること、
・第２交流電圧を第２センサに印加するために、測定電圧分圧器において第２交流電圧を取り出すこと
を含む。
（付記４）検出方法において、
フィルタは、測定電圧分圧器と比べて、低い又は等しくないインピーダンスを有する。
（付記５）検出方法は、
・測定交流電圧に対し１８０°だけ位相シフトされた参照交流電圧を生成すること、
・参照交流電圧を第１及び第２センサに並列接続された参照経路に印加すること
を含む。
（付記６）検出方法において、
参照経路には、第１及び第２センサ、フィルタ及び測定電圧分圧器を有する測定経路が並列接続されており、
参照経路は測定経路と同様に構成されている。
（付記７）検出方法は、
・参照経路の参照出力信号と測定経路の１次測定出力信号を加算して２次測定出力信号を生成すること
を含む。
（付記８）検出方法は、
・２次測定出力信号のための目標値を予め設定すること、
・フィードバック制御器の制御信号によって目標値に依存して２次測定出力信号に影響を及ぼすこと、
・距離依存関数／作用相関を及び距離依存関数／作用相関の変化を求めるために制御信号を評価すること
を含む。
（付記９）検出方法は、
・物体に対する第１及び第２センサの距離に依存する制御信号の推移を求めること、及び／又は、
・制御信号の位相空間におけるベクトル解析の形で前記推移を求めること、及び／又は、
・目的物を検出する前に、物体への第１及び第２センサの接近中に前記推移を求めること
を含む。
（付記１０）検出方法は、
・位相空間において推移又はベクトルによって画成される面を求めること、
・該面に依存する変化を求めること
を含む。
（付記１１）検出方法は、
・推移のための閾値を予め設定すること、
・制御信号と閾値を比較すること、
・制御信号が閾値を上回るよう推移から外れると直ちに、目的物を検出すること
を含む。
（付記１２）検出方法は、
・物体に沿った第１及び第２センサの運動の際に生じる実際の距離依存関数／作用相関と、距離依存関数／作用相関と比べた実際の距離依存関数／作用相関の変化を求めること、
・距離依存関数／作用相関と比べた実際の距離依存関数／作用相関の変化に依存して目的物を検出すること
を含む。
（付記１３）検出方法は、
・求められた距離依存関数／作用相関を記憶すること、
・前記変化を求めるために、物体に沿った第１及び第２センサの運動中に生じる実際の作用と、記憶された距離依存関数／作用相関を比較すること、
・前記比較に依存して目的物を検出すること、
を含む。
（付記１４）物体の背後に隠れた目的物を検出するための測定装置。該測定装置は、
・第１交流電圧が印加可能に構成された第１センサ、
・第１センサに近接して配置され、第２交流電圧が印加可能に構成された第２センサ、
・解析装置
を有する。
解析装置によって、第１及び第２交流電圧の少なくとも１つに対する物体の作用の距離に依存する関数及び／又は作用相関（以下「距離依存関数／作用相関」という。）が求められること又は少なくとも記憶されることが可能であり、物体に沿って第１及び第２センサが運動する際に生じる距離依存関数／作用相関の変化が求められることが可能であり、及び、距離依存関数／作用相関の変化に依存して目的物が検出可能である。
（付記１５）測定装置は、
・第１及び第２センサを有する回路装置、
・解析装置に前置されると共に、回路装置に対し入力側において後置されかつ出力側において並列接続されたフィードバック制御器
を有する。
フィードバック制御器の制御挙動は、距離依存関数／作用相関を及び／又は距離依存関数／作用相関の変化を求めるために、解析装置によって解析可能である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図４】
2018511788.tif 000001