【手続補正書】
【提出日】平成19年3月15日(2007.3.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
設定値または変数が定義される設定値データの実行順が示される実行順データに基づいて、実行命令及び変数の設定値を出力するテストシステムコントローラと、
前記設定値データと前記実行順データに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令及び変数の設定値により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データ、変数の設定値を記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データ、変数の設定値に基づいて、実行命令及び設定の変数値を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令及び変数の設定値により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
ピンエレクトロニクスカードは、テストシステムコントローラから変数の設定値を受け取り、設定データの変数を固定値にすることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【請求項４】
ピンエレクトロニクスカードは、所望の変数のみ固定値にすることを特徴とする請求項３記載のＩＣテスタ。
【請求項５】
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
実行命令を出力するテストシステムコントローラと、
設定値が定義される設定値データとこの設定データの実行順が示される実行順データとに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項６】
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データを記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、実行命令を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とする請求項５記載のＩＣテスタ。
【請求項７】
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
実行命令を出力するテストシステムコントローラと、
設定値が定義される設定データ、この設定データの実行順が示される実行順データを記憶する複数の記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、記憶部の設定データを準備し、前記テストシステムコントローラの実行命令により、設定値を設定する複数の制御部と
を設けたことを特徴とするＩＣテスタ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
設定値または変数が定義される設定値データの実行順が示される実行順データに基づいて、実行命令及び変数の設定値を出力するテストシステムコントローラと、
前記設定値データと前記実行順データに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令及び変数の設定値により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データ、変数の設定値を記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データ、変数の設定値に基づいて、実行命令及び設定の変数値を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令及び変数の設定値により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
ピンエレクトロニクスカードは、テストシステムコントローラから変数の設定値を受け取り、設定データの変数を固定値にすることを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項３記載の発明において、
ピンエレクトロニクスカードは、所望の変数のみ固定値にすることを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
実行命令を出力するテストシステムコントローラと、
設定値が定義される設定値データとこの設定データの実行順が示される実行順データとに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、請求項５記載の発明において、
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データを記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、実行命令を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項７記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
実行命令を出力するテストシステムコントローラと、
設定値が定義される設定データ、この設定データの実行順が示される実行順データを記憶する複数の記憶部と、
この記憶部の実行順データに基づいて、記憶部の設定データを準備し、前記テストシステムコントローラの実行命令により、設定値を設定する複数の制御部と
を設けたことを特徴とするものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
請求項１，２，５，６によれば、ピンエレクトロニクスカードが、事前に設定データを格納し、設定準備を行うので、その都度、テストシステムコントローラが設定値を送る必要がなくなり、試験時間を短縮することができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
請求項３，４によれば、ピエンレクトロニクスカードが変数を固定値と同じように扱うので、その都度、テストシステムコントローラがピンエレクトロニクスカードに変数の設定値を送る必要がなく、試験時間を短縮することができる。
請求項７によれば、記憶部が事前に設定データを格納し、制御部が設定準備を行うので、その都度、テストシステムコントローラが設定値を送る必要がなくなり、試験時間を短縮することができる。