【手続補正書】
【提出日】令和1年9月2日(2019.9.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
偏光解消動的光散乱法を用いて試料の粒径分布を測定するための装置であって、
光線を発生するための光源と、
キュベットキャリアであって、
キュベットのための収容容積を規定する複数の壁と、
前記複数の壁に含まれる第１及び第２透過領域であって、前記第１透過領域は前記複数の壁のうちの第１壁に配置される、前記第１及び第２透過領域と、
前記第１透過領域を通過する光を偏光するように構成される第１光学偏光子と、
を備えるキュベットキャリアと、
前記キュベットキャリアの前記収容容積に配置されるキュベットと、
前記第１光学偏光子を通過する散乱光を検出するための検出器と、
を備える、装置。
【請求項２】
請求項１に記載の装置であって、
前記第１透過領域及び前記第２透過領域は、前記複数の壁のうちの前記第１壁に配置される、装置。
【請求項３】
装置であって、
キュベットのための収容容積を規定する複数の壁と、
前記複数の壁に含まれる第１及び第２透過領域と、
前記第１透過領域を通過する光を偏光するように構成される第１光学偏光子と、
を備えるキュベットキャリアを備え、
前記第１透過領域及び前記第２透過領域は、前記複数の壁のうちの第１壁に配置され、前記キュベットキャリアは、前記キュベットキャリア内にある前記キュベット内の試料に関する偏光解消動的光散乱測定を実行するためのものであり、前記試料は前記第２透過領域を通して照射され、散乱光が前記第１透過領域を通して検出される、装置。
【請求項４】
請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第２透過領域を通過する光を偏光するように構成される第２光学偏光子をさらに備える、装置。
【請求項５】
請求項４に記載の装置であって、
前記第１光学偏光子の偏光軸は、前記第２光学偏光子の偏光軸と直交する、装置。
【請求項６】
請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の装置であって、
前記複数の壁のうちの第２壁に配置される第３透過領域と、
前記第３透過領域を通過する光を偏光するように構成される第３光学偏光子と、
をさらに備える、装置。
【請求項７】
請求項６に記載の装置であって、
前記第３光学偏光子の偏光軸は、前記第１光学偏光子の偏光軸と直交する、装置。
【請求項８】
請求項６または請求項７に記載の装置であって、
第４透過領域をさらに備える、装置。
【請求項９】
請求項８に記載の装置であって、
光線を発生するための光源を備え、
前記装置は、
前記光源からの光線が前記第２透過領域を通過し、前記検出器が前記第１光学偏光子を通過する散乱光を検出する第１測定と、
前記光線が前記第４透過領域を通過するように前記キュベットキャリアが回転され、前記検出器が前記第３光学偏光子を通過する散乱光を検出する第２測定と、
を実行するように構成される、装置。
【請求項１０】
請求項８または請求項９に記載の装置であって、
前記第４透過領域を通過する光を偏光するように構成される第４光学偏光子をさらに備える、装置。
【請求項１１】
請求項８〜請求項１０のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第４透過領域は、前記第２壁に配置される、装置。
【請求項１２】
請求項６〜請求項１１のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第１壁は、前記第２壁に隣接する、装置。
【請求項１３】
請求項８〜請求項１１のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第１、第２、第３、または、第４透過領域のうちの少なくとも１つは、壁に開口を備える、装置。
【請求項１４】
請求項１〜請求項１３のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第１及び第２透過領域は、連続する透過領域を形成するように互いに隣接する、装置。
【請求項１５】
請求項８〜請求項１４のいずれか１項に記載の装置であって、
前記第３及び第４透過領域は、連続する透過領域を形成するように互いに隣接する、装置。
【請求項１６】
請求項１〜請求項１５のいずれか１項に記載の装置であって、
前記収容容積に嵌合するように構成されるインサートをさらに備え、前記インサートは、前記収容容積よりも小さい内容積を規定する複数の壁を備える、装置。
【請求項１７】
偏光解消動的光散乱法を用いて、試料内に分散される粒子を特徴づける方法であって、
前記方法は、
前記試料を、キュベットに配置することと、
前記キュベットを、キュベットキャリアに配置することであって、
前記キュベットキャリアは、
キュベットのための収容容積を規定する複数の壁と、
前記複数の壁に含まれる第１及び第２透過領域であって、前記第１透過領域は前記複数の壁のうちの第１壁に配置される、前記第１及び第２透過領域と、
前記第１透過領域を通過する光を偏光するように構成される第１光学偏光子と、
を備える、前記キュベットをキュベットキャリアに配置することと、
前記試料を光源からの光線で照射することであって、前記光線は、前記キュベットキャリアの前記第２透過領域を通過する、前記試料を光源からの光線で照射することと、
前記光線と前記粒子との相互作用により生成される、前記試料からの散乱光を検出することであって、前記散乱光は前記第１光学偏光子を通過する、前記試料からの散乱光を検出することと、
を備える方法。
【請求項１８】
請求項１７に記載の方法であって、
後方散乱光、側方散乱光、または、前方散乱光が検出される、方法。
【請求項１９】
請求項１７または請求項１８に記載の方法であって、
前記方法は、
前記第１光学偏光子を代替光学偏光子に取り換えることであって、前記代替光学偏光子は、前記第１光学偏光子の偏光軸と直交する偏光軸を有する、前記第１光学偏光子を代替光学偏光子に取り換えることと、
前記代替光学偏光子を通過する、前記試料からの散乱光を検出することと、
をさらに備える、方法。
【請求項２０】
請求項１７または請求項１８に記載の方法であって、
前記キュベットキャリアは、第３透過領域、第４透過領域、及び、前記第３透過領域を通過する光を偏光するように構成される第３光学偏光子をさらに備え、
前記方法は、
前記光線が前記キュベットキャリアの前記第４透過領域を通過するように前記キュベットキャリアを回転させることと、
前記第３光学偏光子を通過する、前記試料からの散乱光を検出することと、
をさらに備える、方法。
【請求項２１】
請求項１７〜請求項２０のいずれか１項に記載の方法であって、
請求項１〜請求項１６のいずれか１項に記載の装置を用いること、
を備える、方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
図２Ｂにおいて、入射光２０１は、第４透過領域１０７を通過し、収容容積１０２内の試料により散乱される。繰り返しになるが、図示された実施形態では、後方散乱光のみが測定される。後方散乱光２０２は、第３透過領域１０６を通過し、第３光学偏光子１０８により偏光される。その結果、後方散乱光２０２の水平偏光成分のみが、偏光子１０８を通過する。この光は、その後、検出器により検出されうる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４６】
第１段階において、垂直方向に偏光された側方散乱光が測定される。入射光線４０８は、第２透過領域４０２を通過し、キュベットキャリア４００内の試料により散乱される。側方散乱光４０９ａは、第１透過領域４０１を通過する。この側方散乱光４０９ａの垂直偏光成分は、第１光学偏光子４０６を通過し、検出器により検出される。第２透過領域４０２を通過する入射光線４０８は、第４透過領域４０４を介してキュベットキャリア４００から出射しうる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
第２段階において、水平方向に偏光された側方散乱光が測定される。キュベットキャリアは、１８０°回転され、その結果、入射光線４０８が第４透過領域４０４を通過してキュベットキャリア４００内の試料により散乱される。側方散乱光４０９ｂは、第３透過領域４０３を通過する。第４透過領域４０４を通過する入射光線４０８は、第２透過領域４０２を介してキュベットキャリア４００から出射しうる。この側方散乱光４０９ｂの水平偏光成分は、第３光学偏光子４０７を通過し、検出器により検出される。それゆえに、側方散乱光の垂直方向成分及び水平方向成分の両方が測定され、ＤＤＬＳ解析のために用いられる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
図５は、側方散乱光を測定するための、キュベットキャリア５００を用いた別の方法を図示する。キュベットキャリア５００は、複数の壁のうちの第１壁５０４ａ、第２壁５０４ｂ、第３壁５０４ｃ、及び、第４壁５０４ｄ、にそれぞれ配置された、第１透過領域５０１、第２透過領域５０２、第３透過領域５０３、及び、第４透過領域５０４を備える。側方散乱光を測定するための本実施形態においては、第１壁５０４ａは第２壁５０４ｂに隣接し、且つ、第３壁５０４ｃは、第２壁５０４ｂに隣接すると共に第１壁５０４ａと対向する。第４壁５０４ｄは、第２壁５０４ｂと対向する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
側方散乱光の水平方向成分を測定するために、キュベットキャリア５００は、９０°回転されてもよく、その結果、入射光５０８は、今度は、第２透過領域５０２を通って試料に入射する。第２光学偏光子５０６は、垂直方向に偏光された入射光５０８のみが試料に伝えられることを確実にすることになる。第２透過領域５０２を介してキュベットに入射し、試料にて散乱されない入射光５０８は、第４透過領域５０４を介してキュベットキャリア５００から出射する。試料により側方散乱された光は、その後、第３透過領域５０３を通過する。第３光学偏光子５０７により、側方散乱光５０９ｂの水平方向成分のみが透過されてその後検出器により検出される。それゆえに、側方散乱光の垂直方向及び水平方向の成分は、３つの透過領域のみを用いて測定されうる。