【事件の表示】
　平成　９年特許願第５１４１０４号「単色分光計用の固定ダイヤフラムからなる粒子光学装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　９年　４月１０日国際公開、ＷＯ９７／１３２６８、平成１０年１０月１３日国内公表、特表平１０−５１０６７４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
 １　手続の経緯 
　本願は、１９９６年１０月１日を国際出願日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９５年１０月３日、オランダ国）とする出願であって、平成１８年１０月２４日付けで拒絶査定がなされ、これに対して平成１９年１月２９日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同日付けで手続補正がなされ、その後、当審により平成１９年５月１４日付けで平成１９年１月２９日の手続補正を却下する決定がなされるとともに、拒絶理由が通知され、平成１９年１１月２２日付けで手続補正がなされたものである。
　
２　当審が通知した拒絶理由の概要
　本願は、明細書又は図面の記載が不備であるので、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。（以下「理由１」という。）
　
　請求項１ないし４に係る発明は、その特許出願前に日本国内又は外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明に基づいて、その特許出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。（以下「理由２」という。）
　　　　　　　　　　　　　　記　
　特開昭６２−９３８４８号公報
　特開平４−１０４４４１号公報
　特開平１−３１１５５６号公報
　特開昭６４−８１１５１号公報
　特開昭６１−２２５７４７号公報
　
３　本願の特許請求の範囲の記載
　平成１９年１１月２２日付けの手続補正により補正された本願明細書（以下「本願明細書」という。）の特許請求の範囲には、以下のとおりに記載されている。
　
「【請求項１】
　放出性チップを含む、荷電粒子の１次ビームを生成する粒子源と、
　粒子が横切る加速高圧電界を粒子源内に確立する高圧手段と、
　１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための、上記放出性チップと上記高圧手段との間における且つ高圧における単色分光計フィルタ組立体と
を含む粒子光学装置であって、
　上記単色分光計フィルタ組立体の入り口側に在り、通常の動作条件で単色分光計フィルタ組立体の一部に固定的に連結されたダイヤフラムが設けられていることを特徴とする粒子光学装置。
【請求項２】
　上記単色分光計フィルタ組立体は、ウィーンフィルタを含む請求項１記載の粒子光学装置。
【請求項３】
　上記フィルタ組立体は、フィルタの磁界を発生させる永久磁石を含む請求項２記載の粒子光学装置。
【請求項４】
　ダイヤフラムは、ウィーンフィルタの磁気回路の磁極面又は磁界画成密閉部品に連結されていることを特徴とする請求項２又は３記載の粒子光学装置。」
　
４　理由１について
　本願明細書の特許請求の範囲の請求項１（以下「請求項１」という。）、特に「上記放出性チップと上記高圧手段との間における且つ高圧における単色分光計フィルタ組立体」（以下「事項１」という。）について検討する。
　
（１）「放出性チップを含む、荷電粒子の１次ビームを生成する粒子源と、粒子が横切る加速高圧電界を粒子源内に確立する高圧手段」なる事項（以下「事項２」という。）
上記事項１を検討するに当たって、上記事項２を整理する。
　
　事項２を構成する「放出性チップ」、「粒子源」、「高圧手段」の関係について、本願明細書には、
「図１は、粒子光学装置、特に、本発明によるフィルタ組立体からなる電子顕微鏡の適当な部分の光軸を通る面による略断面図である。電子顕微鏡は、特に、図示されない電子の１次ビームを生成する電子源である粒子源２を含む。本発明の実施例の電子源２は、放出性チップ４と、抽出電極６と、電子銃からの電子ビームを電子顕微鏡の他の構成部品に制御可能的に伝搬させる銃レンズを形成するレンズ効果電極８とからなる電界放出源として構成される。チップ及び上記の２個の電極により形成された組立体は、チップにより生成された１次電子ビームに集光効果を与える静電レンズを構成する。
　電子源２は、粒子が横切る加速高圧電界を電子源内に確立する高圧手段を更に有する。高圧手段は、電子顕微鏡の動作中に、接地電位に対し、−３００ＫＶの強度のオーダーの高圧をチップ及び電極に供給し得る高圧発生器（図示しない）からなる。抽出電極は、チップに対し略４ＫＶの強度のオーダーの電圧を担持し、一方、レンズ効果電極は、チップに対し２ＫＶのオーダーの電圧に調整される。」（第４ページ下から２行〜第５ページ第１３行）と記載されている。
　
　この記載によれば、高圧手段は、高圧発生器からなり、粒子源２内に含まれる放出性チップ、抽出電極４等に高電圧を供給する、所謂「電源」である。
　
　ところで、例えば、真空管の電極に電圧を印加する電源が組み入れていないのと同様に、上記高圧手段が、粒子源２内に、さらには、ＦＩＧ．１に図示される電子顕微鏡（粒子光学装置）の内部においても収納されていないことは明らかである。
　
　したがって、請求項１に係る発明で用いられる高圧手段が、電子顕微鏡（粒子光学装置）の外側に配置されていることは明らかである。
　
（２）事項１の検討
　
　先ず、「上記放出性チップと上記高圧手段との間における且つ高圧における」の記載、それ自体、日本語としての意味が不明であり、また、該記載が「単色分光計フィルタ組立体」に関する如何なる事項を特定するのかも不明である。
　
　次に、上記事項１が「単色分光計フィルタ組立体」の配置を特定する事項であると仮定して、以下検討する。
ア　上記事項１中の「上記放出性チップと上記高圧手段との間における」の技術的意味が不明である。
　
　すなわち、「単色分光計フィルタ組立体」に配置について、本願明細書には、
「スペース１４には、単色分光計フィルタ組立体１０が、均一な高圧分布を得るため、レンズ効果電極の下、かつ、電極１６ａ及び１６ｂの上に配置され、フィルタ組立体の光軸２６は、電子顕微鏡の光軸とできる限り一致する。フィルタ組立体は、チップから放出した１次電子ビームの中から１次ビームのエネルギー分散よりも少なくないエネルギー分散を有する２次ビームを選択することが意図されている。このフィルタ組立体の構造及び特性は、以下、他の図を参照して詳細に説明する。」（第６ページ第１〜８行）と記載されている。
　
　この記載によれば、単色分光計フィルタ組立体が、電子顕微鏡の内側に収納されていることは明らかである。
　
　しかし、「（１）」の項で述べたように、高圧手段が、電子顕微鏡（粒子光学装置）の外側に配置されており、それを踏まえると、単色分光計フィルタ組立体の配置を「上記放出性チップと上記高圧手段との間」と限定することにより、単色分光計フィルタ組立体が、電子顕微鏡の装置の外側に配置される場合も含むことになってしまう。
　したがって、上記「上記放出性チップと上記高圧手段との間」なる記載では、単色分光計フィルタ組立体の配置が不明である。
　
イ　上記事項１中の「且つ高圧における」の技術的意味が不明である。
　
　すなわち、「高圧」に関する本願明細書の記載を参照するに、「高圧を円盤状の電極１６ａ，１６ｂに印加するため、上記電極には、高圧端子１８ａ及び１８ｂが設けられる。」（第５ページ下から５〜４行目）と記載されているから、請求項１に記載した「高圧」は、高電圧と解釈できる。
　
　請求項１に記載した「高圧」をそのように解釈した場合でも、上記「且つ高圧における」は、単色分光計フィルタ組立体の配置を特定する記載として、意味不明な記載であることに変わりないことは明らかである。
　
ウ　まとめ
　ア及びイで検討したことから、請求項１に記載した「上記放出性チップと上記高圧手段との間における且つ高圧における」なる記載では、上記事項２との関連で上記高圧手段の配置に矛盾があり、また「高圧における単色分光計フィルタ組立体」の意味も不明である。
　
　よって、事項１は意味不明な事項である。
　
（３）請求項１に係る発明の明確性
　よって、事項１を含む請求項１に係る発明は明確であるとはいえない。
　
（４）小括
　本願は、特許請求の範囲の記載が不備であり、請求項１に係る発明が明確ではないから、特許法第３６条第６項第２号の規定を満たさない。
　
５　理由２について
　「４　理由１について」の項で述べたように、請求項１に係る発明が明確ではない。
　また、請求項１の記載に誤記が存在するか否かも不明である。
　したがって、請求項１の記載のとおりに請求項１に係る発明を認定することができず、また、請求項１の記載に基づいて、請求項１に係る発明を認定することもできない。
　
　そこで、念のため、請求項１に係る発明の進歩性の有無について検討するに当たり、請求項１に記載した「単色分光計フィルタ組立体」の位置関係についてFIG．１に記載された実施例を考慮して、請求項１に係る発明を認定し、発明の進歩性の有無について検討する。
　
（１）請求項１に係る発明の認定
　単色分光計フィルタ組立体の配置関係に関して、本願明細書には、以下の記載がある。
「電子源２は、粒子が横切る加速高圧電界を電子源内に確立する高圧手段を更に有する。高圧手段は、電子顕微鏡の動作中に、接地電位に対し、−３００ＫＶの強度のオーダーの高圧をチップ及び電極に供給し得る高圧発生器（図示しない）からなる。抽出電極は、チップに対し略４ＫＶの強度のオーダーの電圧を坦持し、一方、レンズ効果電極は、チップに対し２ＫＶのオーダーの電圧に調整される。
電子は、最終的に、接地電位を担持するアノード１２内のアパーチャを介して電子源から放射する。電子は、次に、銃スペース１４内のチップ４とアノード１２との間にある加速静高圧電界に対応する略３００ＫＶの加速電圧差が与えられる。上記電界をスペース１４全体に亘り垂直方向に均一に分散させるため、多数、例えば、８個の円盤状の電極が上記スペースに設けられ、その中の２個の電極（１６ａ及び１６ｂ）が図示される。電極１６ａ及び１６ｂは、上記の−３００ＫＶと接地電位との間に値が定められ、その値がチップからの距離の関数として均一に増加する高圧に接続される。スペース１４は、酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）のような絶縁性材料の壁２０により囲まれる。
　高圧を円盤状の電極１６ａ及び１６ｂに印加するため、上記電極には、高圧端子１８ａ及び１８ｂが設けられる。高圧端子は、壁２０を通って電極１６ａ及び１６ｂまで延在し、高圧絶縁の目的のための気体状のフッ化硫黄（ＳＦ６  ）で充填されたスペース２２内に在る。スペース２２自体は、耐ガス構造の壁２４によって囲まれている。
　スペース１４には、単色分光計フィルタ組立体１０が、均一な高圧分布を得るため、レンズ効果電極の下、かつ、電極１６ａ及び１６ｂの上に配置され、フィルタ組立体の光軸２６は、電子顕微鏡の光軸とできる限り一致する。フィルタ組立体は、チップから放出した１次電子ビームの中から１次ビームのエネルギー分散よりも少なくないエネルギー分散を有する２次ビームを選択することが意図されている。このフィルタ組立体の構造及び特性は、以下、他の図を参照して詳細に説明する。」（第５ページ第８行〜第６ページ第８行）。
　
　この記載からみて、単色分光計フィルタ組立体が、放出性チップと電極との間で、且つ粒子源内の加速高圧電界とは異なる加速高圧電界に配置されているといえる。
　
　したがって、請求項１に係る発明は、以下のように認定することができる。
　放出性チップを含む、荷電粒子の１次ビームを生成する粒子源と、
　粒子が横切る加速高圧電界を粒子源内に確立する高圧手段と、
　１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための、上記放出性チップと電極との間で、且つ粒子源内の加速高圧電界とは異なる加速高圧電界に配置された単色分光計フィルタ組立体と
を含む粒子光学装置であって、
　上記単色分光計フィルタ組立体の入り口側に在り、通常の動作条件で単色分光計フィルタ組立体の一部に固定的に連結されたダイヤフラムが設けられていることを特徴とする粒子光学装置。
　
（２）引用刊行物に記載された発明
　当審での拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開昭６２−９３８４８号公報（以下「引用刊行物１」という。）には、「電界放射形走査電子顕微鏡及びその類似装置」の発明に関して、以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項１＞
「２．特許請求の範囲
（１）電界放射形電子銃から放出される電子線を集束するレンズ手段と、この電子線を試料面上で二次元的に走査する走査手段と、試料から放出される二次電子、反射電子、Ｘ線などの信号を検出する検出手段とを具備した装置において、上記電子銃と走査手段との間に配置されて電子線をエネルギー的に分離するエネルギーフィルタと、分離された電子線の一部分を情報信号Ｍとして検出する検出器と、分離された電子線の他方部分を集束して試料上に照射する手段と、試料から放出される二次電子、反射電子、Ｘ線などの信号を情報信号Ｓとして検出する検出器と、上記情報信号Ｍ、ＳよりＳ／Ｍを求めて試料信号として出力する回路手段とを備えたことを特徴とする電界放射形走査電子顕微鏡及びその類似装置。」（第１ページ左下欄第４〜１９行）
＜記載事項２＞
「〔発明の利用分野〕
　本発明は、電界放射形（以下、ＦＥと略称）電子銃を用いた走査形電子顕微鏡（以下、ＳＥＭと略称）及びその類似装置に係り、特に、照射電子線の電流雑音に起因する試料情報信号の雑音除去を図った、ＦＥ電子銃を用いたＳＥＭ及びその類似装置に関する。」（第１ページ右下欄第６〜１２行）
＜記載事項３＞
「〔発明の実施例〕
　以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。
　第１図において、ＦＥ電子銃１より出た電子線１１は、加速レンズ２により所望の電圧に加速される。電子線１１は、絞り３により所望の電子線電流のみが絞り３を通過し、ウィーンフィルタ２０により電子線のエネルギー分離が行われる。一定のエネルギー幅の電子線２１のみが絞り４を通過し、残りの電子線２２は絞り４に衝突して二次電子１４を発生し、検出器８で検出信号Ｍとして検出される。」（第２ページ左下欄第１０〜２０行）
　
　そして、引用刊行物１の第１図から、絞り３が、ウィーンフィルタ２０の近傍の上流側に設けられていることを読み取ることができる。
　
　したがって、上記記載事項１〜３、及び図面に基づけば、引用刊行物１には
「電子線を放出する電界放射形電子銃１と、
電子線を加速する加速レンズ２と、
電子線のエネルギー分離を行い、一定のエネルギー幅の電子線を通過させるウィーンフィルタ２０と、
を含む走査形電子顕微鏡であって、
上記ウィーンフィルタ２０の近傍の上流側に絞り３が設けられている走査形電子顕微鏡。」の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　
　同じく、当審での拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開平４−１０４４４１号公報（以下「引用刊行物２」という。）には、「質量分離機構を備えたイオン源」の発明に関して、以下の事項が記載されている。
　
＜記載事項４＞
「【産業上の利用分野】
　この発明は質量分離機構を備えた面イオン型のイオン源に関する。
【従来の技術】
　イオン源は真空容器に導入されたガスをプラズマ化しイオンビームとして取り出すものである。」（第１ページ右下欄第１〜６行）
　＜記載事項５＞
「【課題を解決するための手段】
　本発明の質量分離機構を備えたイオン源は真空に引くことができ原料ガスを導入し放電によってこれを励起しプラズマとするイオン源チャンバとイオン源チャンバからイオンビームを引き出し加速するためにイオン源チャンバの出口に設けられイオン通し穴が面と直角な方向に一致するように穿たれた多孔電極板よりなるプラズマ電極、引出電極、加速電極、接地電極とを含み、引出電極の全てのイオン通し穴に、対向磁石と対向電極とよりなり静磁場と電界とが互いに直交しイオンビームにも直交するようにしたウィーンフィルタを設け、引出電極のイオン通し穴を通過したイオンのうち所望の質量のイオンのみがそれより後方の加速電極の通し穴を通過することができるようにした事を特徴とする。
【作用】
　本発明のイオン源に於いては、引出電極のイオン通し穴の全てに直交電磁界よりなるウィーンフィルタを設ける。
　プラズマ電極、引出電極、加速電極、接地電極のイオン通し穴は電極板に対して直角な方向に一直線上に並んでいる。
　このため引出電極のイオン通し穴をほぼ直進したイオンのみがこれに続く加速電極、接地電極のイオン通し穴を通過することができる。」（第２ページ右上欄第１３行〜同左欄下から３行目）
＜記載事項６＞
「本発明に於いてはエネルギーが未だに低い引出電極に於いてウィーンフィルタを設けているので、静電界Ｅか小さいものであっても良い事になる。静電界Ｅか小さいと電極構造や絶縁体構造か簡略化され製作しやすい。」（第３ページ左上欄第１〜５行）
　
　記載事項４〜記載事項６によれば、引用刊行物２には、荷電粒子装置において、加速電極より上流側で、且つエネルギーの低い荷電粒子が通過する位置にウィーンフィルタを設けることが記載されている。
　
　同じく、当審での拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開平１−３１１５５６号公報（以下「引用刊行物３」という。）には、「電子線装置」の発明に関して、以下の事項が記載されている。
＜記載事項７＞
「［産業上の利用分野］
　本発明は電子顕微鏡等に使用されるエネルギー分析器を支持するために用いて好適な装置に関する。」（第１ページ左下欄末行〜同右下欄第３行）
＜記載事項８＞
「本発明は上記問題点を考慮し、ウィーンフィルターを電子線光軸にあわせるための調整を容易に行い得る電子線装置を提供することを目的としている。」（第２ページ右上欄第２〜５行）
＜記載事項９＞
「［発明の効果］
　以上の説明から明らかなように、本発明によれば、筒状絶縁部材と環状電極板を交互に積層して形成した多段減速管及び多段加速管によってエネルギー分析器を挾持すると共に、前記高圧ケーブルを前記エネルギー分析器に接続するためのブッシングを前記分析室側面から前記エネルギー分析器に向けて挿入するようにしている。そのため、前記分析器を電子線光軸にあわせるための軸調整を行なう場合には、ウィーンフィルターを加速管及び減速管と共に移動すれば良いので、従来より容易に軸調整を行なうことができる。」
（第３ページ右上欄第７〜１８行）
　
　これらの記載からみて、引用刊行物３には、電子顕微鏡等の電子線装置において、ウィーンフィルターの軸調整を容易に行なうために、ウィーンフィルターに隣接する、電子線が通過する環状電極板を有する構成要素と、ウィーンフィルターとを一体化する発明が記載されている。
　
　（３）対比
　本願発明と引用発明とを比較する。
　
ア　引用発明の「電子線」、「電界放射形電子銃１」は、本願発明の「荷電粒子」、「粒子源」に相当し、また、引用発明の「電界放射形電子銃１」は、本願発明の「放出性チップを含む」ことは明らかである。
　さらに、引用発明の「電子線を放出する電界放射形電子銃１」における電子線は、ウィーンフィルタ２０によってエネルギー分離されることから、引用発明の「電子線」は、本願発明の「荷電粒子の１次ビーム」に相当する。
　したがって、引用発明の「電子線を放出する電界放射形電子銃１」は、本願発明の「放出性チップを含む、荷電粒子の１次ビームを生成する粒子源」に相当する。
　
イ　引用発明の「電子線のエネルギー分離を行い、一定のエネルギー幅の電子線を通過させる」は、本願発明の「１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための」に相当する。
　また、引用発明の「ウィーンフィルタ２０」は、本願発明の「単色分光計フィルタ組立体」に相当する。
　したがって、引用発明の「電子線のエネルギー分離を行い、一定のエネルギー幅の電子線を通過させるウィーンフィルタ２０」と本願発明の「１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための、上記放出性チップと電極との間の加速高電圧電界に配置された単色分光計フィルタ組立体」とは、１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための単色分光計フィルタ組立体の点で一致する。
　
ウ　本願明細書には「図２に示されたアパーチャ３２よりも実質的に小さいアパーチャを有するエントランスダイヤフラム３０が設けられる。」（第６ページ下から４〜２行目）との記載及びＦＩＧ．２、ＦＩＧ．３ｂに図示されたエントランスダイヤフラム３０から、電子線のビームを絞る作用をする部材であることは明らかである。
　してみると、引用発明の「絞り３」は本願発明の「ダイヤフラム」に相当する。
　また、引用発明の「近傍の上流側に」は本願発明の「入り口側に在り」に相当する。
　したがって、引用発明の「上記ウィーンフィルタ２０の近傍の上流側に絞り３が設けられている」と本願発明の「上記単色分光計フィルタ組立体の入り口側に在り、通常の動作条件で単色分光計フィルタ組立体の一部に固定的に連結されたダイヤフラムが設けられていること」とは、上記単色分光計フィルタ組立体の入り口側にダイヤフラムが設けられている点で一致する。
　
エ　引用発明の対象である「走査形電子顕微鏡」は、本願発明の対象である「粒子光学装置」に相当する。
　
　したがって、本願発明と引用発明の両者は、
「放出性チップを含む、荷電粒子の１次ビームを生成する粒子源と、
　１次ビームのエネルギー分散よりも少ないエネルギー分散を備えた２次ビームを１次ビームから選択するための、単色分光計フィルタ組立体と
を含む粒子光学装置であって、
　上記単色分光計フィルタ組立体の入り口側にダイヤフラムが設けられている粒子光学装置」の点で一致し、以下の点で相違する。
　
[相違点１]
　本願発明は、粒子が横切る加速高圧電界を粒子源内に確立する高圧手段を含むのに対して、引用発明は、その点が限定されていない点。
[相違点２]
　単色分光計フィルタ組立体が、本願発明は、放出性チップと電極との間で、かつ粒子源における加速高圧電界とは異なる加速高圧電界に配置されているのに対して、引用発明は、その点が限定されていない点。
[相違点３]
　単色分光計フィルタ組立体の入り口側にダイヤフラムが、本願発明は、通常の動作条件で単色分光計フィルタ組立体の一部に固定的に連結されているのに対して、引用発明は、その点が限定されていない点。
　
（４）当審の判断
　上記相違点について検討する。
ア　相違点１
　引用発明の「電界放射形電子銃１」は、電界により電子が放射される以上、本願発明の加速高圧電界に相当する電界が確立されていることは明らかであり、そのための電源、本願発明でいう「高圧手段」が必要であることも明らかである。
　してみると、相違点１に係る本願発明の特定事項は、格別なものではない。
　
イ　相違点２
　本願発明の「単色分光計フィルタ組立体」が配置される、放出性チップと電極との間で、かつ粒子源における加速高圧電界とは異なる加速高圧電界とは、本願明細書の記載からみて、エネルギーが低い荷電粒子のビームが通過する電界である。
　
　ところで、引用刊行物１の第１図に示されるように、引用発明において、加速レンズ２の下流側にウィーンフィルタ２０が配置されており、また、加速レンズ２が、加速電界（加速高圧電界）を形成するための電極を有することは当然のことである。
　また、引用刊行物２には、荷電粒子装置において、加速電極より上流側で、且つエネルギーの低い荷電粒子が通過する位置にウィーンフィルタを設けることが記載されている。
　なお、請求人が本願明細書おいて引用する米国特許第５，３００，７７５号明細書（第４欄第１〜１０行）（そのパテントファミリである特開平６−６８８３３号公報も参照。）に示されるように、電子ビーム装置において、ウィーンフィルタを加速電位が十分に低い位置に配置することは、従来周知の技術である。
　そして、引用発明に、引用刊行物２に記載された発明、又は上記従来周知の技術を適用することに困難性はない。
　
　してみると、相違点２係る本願発明の特定事項は、引用刊行物１及び２に記載された発明、並びに従来周知の技術を適用することにより、当業者が容易に想到し得たものである。
　
ウ　相違点３
　引用刊行物３には、電子顕微鏡等の電子線装置において、ウィーンフィルターの軸調整を容易に行なうために、ウィーンフィルターに隣接する、電子線が通過する環状電極板を有する構成要素と、ウィーンフィルターとを一体化する発明が記載されている。
　そして、引用発明に引用刊行物３に記載された発明を適用することに困難性はない。
　したがって、相違点３に係る本願発明の特定事項は、引用刊行物１及び３に記載された発明に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。
　　
　そして、本願発明の効果は、引用刊行物１ないし３の記載から当業者が予測し得る範囲内のものである。
　
（５）小括
　よって、本願発明を、「５（１）」の項に記載したように仮に認定することができたとしても、本願発明は、引用刊行物１ないし３に記載された発明、及び従来周知の技術に基づいて当業者が容易に発明することができたものである。　　
　
６　まとめ
　本願は、請求項１に係る発明が明確ではないから、特許法第３６条第６項第２号の規定を満たさない。
　また、本願発明は、引用刊行物１ないし３に記載された発明、及び従来周知の技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項により特許を受けることができない。
　
　よって、結論のとおり審決する。