【事件の表示】
　特願２００１−３４０８１０「測定プレート」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　５月１４日出願公開、特開２００３−１３９６９４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯　 
 　 
　本件出願は、平成１３年１１月６日の出願であって、平成１８年２月１日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年３月９日に拒絶査定不服審判の請求が行われるとともに、同年４月１０日付けで手続補正が行われたものである。
 　 
２．平成１８年４月１０日付け手続補正についての補正却下の決定
 　 
［補正却下の決定の結論］　 
 　 
　平成１８年４月１０日付け手続補正を却下する。　 
 　 
［理由］　 
 　 
（１）平成１８年４月１０日付け手続補正（本件補正）　 
 　 
　本件補正は、補正の内容として、特許請求の範囲の請求項１について、補正前（本件出願の願書に最初に添付された明細書の特許請求の範囲）の　 
　
「【請求項１】　試料に接触させられる薄膜層を有する誘電体プレートと、
　光ビームを発生させる光源と、
　前記光ビームを前記誘電体プレートに対して、該誘電体プレートと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させる入射光学系と、
　前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検知する光検出手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサーに用いられる前記誘電体プレートからなる測定プレートであって、
　前記誘電体プレートが、前記薄膜層上に供給される試料を保持する試料保持機構として機能する複数の凹部を備え、
　各該凹部が、前記薄膜層を備え、
　前記誘電体プレートが、前記複数の凹部毎に、前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる反射光学系を備え、
　該反射光学系が、少なくとも一部に前記ブロックに一体的に形成された反射面を有することを特徴とする測定プレート。」を、 
 　 
「【請求項１】　試料に接触させられる薄膜層を有する誘電体プレートと、
　光ビームを発生させる光源と、
　前記光ビームを前記誘電体プレートに対して、該誘電体プレートと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させる入射光学系と、
　前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検知する光検出手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサーに用いられる前記誘電体プレートからなる測定プレートであって、
　前記誘電体プレートが、前記薄膜層上に供給される試料を保持する試料保持機構として機能する複数の凹部を備え、
　各該凹部が、前記薄膜層を備え、
　前記誘電体プレートが、前記複数の凹部毎に、
前記光ビームの前記誘電体ブロック内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように、
　該反射光学系が、少なくとも一部に前記ブロックに一体的に形成された反射面を有することを特徴とする測定プレート。」（下線部分は、補正箇所である。以下、補正後の請求項１に記載された発明を、「本願補正発明」という。）と補正することを含むものである。 
  
　この補正は、補正前の請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である、「前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる反射光学系」について「前記光ビームの前記誘電体ブロック内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように」との限定を付加するものであって、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。　 
 　 
　そこで、本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について検討する。　 
 　 
（２）引用例　 
（２−１）引用刊行物１ 
　原査定の拒絶の理由で引用されたれた刊行物である特開平１０−３００６６７号公報（以下、「引用刊行物１」という。）には、「分子間相互作用測定プレートおよび測定装置」に関する発明が記載されており、図面とともに次の記載がある。（下線は、当審にて付加。）
　  　 
ア．「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、生化学、分子生物学や臨床検査，診断分野に適用することができる
測定プレート
【０００２】
【従来の技術】生化学、分子生物学や臨床検査，診断分野においては、生体分子との相互作用の特異性、強度、および速度等を測定するスクリーニングを行う必要がある。
従来、このような生体高分子間の結合状態（バインド）等の相互作用を測定する装置として、表面プラズモン共鳴現象を利用した測定装置が知られている。
【０００３】表面プラズモン共鳴現象を利用した測定装置は、金属表面に接触している溶液の濃度変化を、光の反射角度（屈折率）の変化として検出する表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ：Ｓｕｒｆａｃｅ  Ｐｌａｓｍｏｎ  Ｒｅｓｏｎａｎｓ）現象を利用した測定装置である。
この表面プラズモン共鳴現象は、ガラス等の媒質内を進む光が外部との境界で反射するとき、その表面に金属の薄膜があると入射した光の一部が吸収され反射光の強度が減衰する現象であり、この減衰する光の角度は金属薄膜の外側に接する溶液の媒体密度や濃度に依存する特性を利用することによって、生体分子との相互作用を測定するものである。
 　 
イ．「【０００９】本出願の第１の発明の測定プレートによれば、複数個の開口部の底部に測定対象の生体分子を付着させ、これと相互作用を行う分子を加え、
開口部の底部内面に設けた金属薄膜における表面プラズモン共鳴現象を金属薄膜と高屈折率で光学的に接続する光学系を通して検出し、相互作用による結合の度合いを測定するものである。
【００１０】本出願の第１の発明の第１の実施態様の測定プレートは、金属薄膜に接続する光学系をプリズムとするものである。第２の実施態様の測定プレートは、開口部の底部の外側に光学系を取り付け、これによって、金属薄膜と光学系との光学的接続を行うものである。第３の実施態様の測定プレートは、
開口部の底部の外側に光学系を一体に形成し、これによって、金属薄膜と光学系との光学的接続を行うものである。
　
ウ．「【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を参照しながら詳細に説明する。本発明の実施の形態について、図１の本発明の分子間相互作用測定プレートの一構成例を説明する概略図、および図２の断面図を用いて説明する。図１に示す
分子間相互作用測定プレート１は、樹脂等によって形成される平面状の基板３の一方の面に複数個の開口部５を備え、該開口部５を試料の収納部とする容器部４を形成し、さらに、この容器部４の底部にはプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系６を備える。
開口部５内の底部には、金属薄膜７を設ける。
【００１７】測定プレート１に形成した開口部５内に試料を注入することによって、サンプルを生成することができる。また、
金属薄膜７とこの金属薄膜７に接して設けられる高屈折率の光学系６との組み合わせによって、表面プラズモン共鳴現象を起こす
測定プレート１に形成する開口部５および容器部４の個数は任意であり、
　 
エ．「【００２０】図３は測定プレートと測定手段との関係を示す図であり、図４は表面プラズモン共鳴現象による反射角度の変化を示す図である。図３において、
容器部４の底部に設けたプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系６に対して、レーザー光光源１１等から光を集光させて入射し、反射光の広がりをフォトアレー１２で検出する。
異なる方向の反射光強度を一挙に測定して、
【００２１】
図４（ａ）はフォトアレーの位置に対する反射光の強度を示し、
この角度変化は図４（ａ）において、強度が減衰するフォトアレーの位置変化として検出することができる。
　
オ．「【００２７】次に、本発明の測定プレートの他の実施形態について図７，８の断面図を用いて説明する。図７，８に示す測定プレートは、光学系６ａ，６ｂを基板３と一体に形成する構成例である。
プレートの枠を構成する基板３は樹脂により形成することができ、この樹脂として高屈折率の光学素材を用いて、容器部４とともにプリズムあるいはレンズの光学系６ａ，６ｂを一体に形成する。
 　  　 
　そして、これらの記載から、引用刊行物１には「金属薄膜が表面にある境界面で反射した光をフォトアレーで検出し、表面プラズモン共鳴現象により減衰する反射光の角度が金属薄膜の外側に接する溶液の媒体密度や濃度に依存する特性を利用した測定装置に用いられる測定プレートであって、高屈折率の光学素材である樹脂によって形成される平面状の基板の一方の面に複数個の開口部を備え、該開口部を試料の収納部とする容器部を形成し、さらに、この容器部の底部にはプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系を一体に形成し、前記開口部内の底部には、サンプルが付着する金属薄膜を設け、前記容器部の底部に設けたプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系に対して、レーザー光光源等から光を集光させて入射し、反射光の広がりをフォトアレーで検出して異なる方向の反射光強度を一挙に測定する分子間相互作用測定プレート。」（以下、「引用刊行物１記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。 
 　 
（２−２）引用刊行物２ 
　新たに引用する刊行物である国際公開第９５／２２７５４号（以下、「引用刊行物２」という。）には、「分析を行うための装置」に関する発明が記載されており、図面とともに次の記載がある。（訳文は、当審にて作成。下線は、当審にて付加。）　 
 　 
カ．明細書第２ページ第１−９行
「分析ウェルは、少なくとも１つのウェル列を伴う複数のウェル構造を形成する。
ＳＰＲ現象に基づく測定は、望ましくは、垂直方向に一定の断面を有する列構造が縦方向に連続する構造に隣接する適切なプリズム構造を通して下方向から行われる。
 　 
キ．明細書第２ページ第２１行−第３ページ第５行
「第１ａ−１ｅ図は、本発明の複数ウェル装置を含んだ免疫学的な分析に用いたれる分析ウェル１を示す。ウェル内で生じた免疫学的な反応結果は、例えばフィンランド特許第８５７６６号及び第８４９４０号に示されるような、表面プラズモン共鳴技術（ＳＰＲ）を用いて光学的に読み取られる。
ウェルは実質的な反応領域２とプリズム３とからなる。両者は、例えばポリスチレンのような、光学的に透明な樹脂性であり、一体に固められている。
当該層は、前記内側表面に蒸着又はスパッタリングされた金の薄膜であってよい。
　
ク．明細書第３ページ第１２−１７行
「測定においては、試料がウェルに注入されると、層４の表面に固定された免疫的分子層と反応する。
Ｐ偏光の光ビーム又は照明ビームが、ウェルの底部を形成しているプリズム３を通って、反応領域２とプリズム３との間の境界面に位置する材料層４に向けて入射される。
　 
ケ．明細書第４ページ第１４−２５行
「第１ｅ図は
プリズム構造を示す。
全反射効果又はプリズムの外側の面に取り付けられた反射面３ｃでの鏡面反射によってプリズムの外側の面で層４の方向へ反射される。
いずれかの第２の外側面で反射し、
 　 
コ．第１ｅ図
　第１ｅ図には、測定光が入射して、境界面３ａで屈折して、反射面３ｃで反射し、層４で反射して、反射面３ｃで反射し、境界面３ｂで屈折してプリズム３から出て行き、プリズム３内での光路幅が２つの境界面３ｃの間に収まっている様子が示されている。 
 　 
　そして、これらの記載から、引用刊行物２には「ＳＰＲ現象を用いて分析ウェルの反応領域における反応結果を読み取るために、分析ウェルに形成された反応領域の内側表面に付着された金薄膜に全反射条件で光を入射し、当該全反射した光を出射するプリズム構造であって、プリズム内での光路幅が２つの境界面３ｃの間に収まる光路となるプリズム構造。」（以下、「引用刊行物２記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。 
 　 
（３）対比・判断　 
　まず、本願補正発明における「前記誘電体ブロック」について検討すると、「誘電体ブロック」は前記されていないが、「誘電体プレート」は前記されており、また、明細書の記載を参酌すれば、「誘電体ブロック」は「誘電体プレート」の誤記であると認められる。したがって、以下においては「誘電体ブロック」を「誘電体プレート」に読み替えて検討する。
　
　つづいて、本願補正発明と上記引用刊行物１記載の発明とを対比する。 
 　 
　引用刊行物１記載の発明の「サンプル」、「金属薄膜」、「高屈折率の光学素材である樹脂によって形成される平面状の基板」、「レーザー光光源」、「フォトアレー」及び「開口部を試料の収納部とする容器部」は、それぞれ本願補正発明の「試料」、「薄膜層」、「誘電体プレート」、「光ビームを発生させる光源」、「光検出手段」及び「試料を保持する試料保持機構として機能する凹部」に相当する。
　 
　また、引用刊行物１記載の発明の「金属薄膜が表面にある境界面で反射した光をフォトアレーで検出し、表面プラズモン共鳴現象により減衰する反射光の角度が金属薄膜の外側に接する溶液の媒体密度や濃度に依存する特性を利用した測定装置」は、金属薄膜に全反射条件で入射した光により表面プラズモン共鳴現象が励起されることを測定原理とする測定装置であることは明らかであるから、前記測定装置は本願補正発明における「前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検知する光検出手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサー」に相当する。
 
　そして、引用刊行物１記載の発明における「高屈折率の光学系に対して、レーザー光光源等から光を集光させて入射」する手段は、反射光の広がりをフォトアレーで検出して異なる方向の反射光強度を一挙に測定するための手段であって、異なる方向の反射光を生じるために異なる方向に光を入射する入射光学系であることは明らかであるから、当該入射光学系は本願補正発明における「光ビームを誘電体プレートに対して、該誘電体プレートと薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させる入射光学系」に相当する。
　
　さらに、引用刊行物１記載の発明における「容器部の底部にはプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系を一体に形成」したことと本願補正発明において「前記誘電体プレートが、前記複数の凹部毎に、前記光ビームの前記誘電体ブロック（誘電体プレート）内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように、前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる反射光学系を備え」たこととは、誘電体プレートが、複数の凹部毎に、入射光学系から入射される光ビームを界面に入射させ、界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる光学系を備えているという点で共通する。 
 　 
　したがって、両者は「試料に接触させられる薄膜層を有する誘電体プレートと、
　光ビームを発生させる光源と、
　前記光ビームを前記誘電体プレートに対して、該誘電体プレートと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させる入射光学系と、
　前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検知する光検出手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサーに用いられる前記誘電体プレートからなる測定プレートであって、
　前記誘電体プレートが、前記薄膜層上に供給される試料を保持する試料保持機構として機能する複数の凹部を備え、
　各該凹部が、前記薄膜層を備え、
　前記誘電体プレートが、前記複数の凹部毎に、前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる光学系を備える測定プレート。」である点で一致し、次の点で相違すると認められる。 
  
（相違点１）　 
　入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる光学系が、本願補正発明においては、「少なくとも一部に前記ブロック（プレート）に一体的に形成された反射面を有する反射光学系」であるのに対して、引用刊行物１記載の発明においては、「容器部の底部に一体に形成されたプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系」を用いている点。 
 　 
（相違点２）　 
　入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる光学系が、本願補正発明においては、「前記光ビームの前記誘電体ブロック（誘電体プレート）内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように」前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させるのに対して、引用刊行物１には、「光ビームの誘電体ブロック内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように」前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させることは記載されていない点。
 　 
　上記相違点について検討する。　 
 　 
（相違点１について） 
　光ビームを誘電体プレートと薄膜層との界面に全反射条件が得られるように入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる光学系として、前記誘電体プレートに一体的に形成された反射面を有する反射光学系は周知（例えば、引用刊行物２記載の発明、拒絶の理由で引用した特開平５−３１２７１９号公報並びに国際公開第００／２９８３０号（特表２００２−５３０６４３号）明細書第４ページ第１９行−第５ページ第３行及び第４図等参照）であり、引用刊行物１記載の発明において、光ビームを誘電体プレートと薄膜層との界面に全反射条件が得られるように入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させるための「容器部の底部に一体に形成されたプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系」として、上記周知の「前記誘電体プレートに一体的に形成された反射面を有する反射光学系」を用いることは当業者が適宜なし得る事項である。
　
（相違点２について）
　引用刊行物１記載の発明における「容器部の底部に一体に形成されたプリズムあるいはレンズ等の高屈折率の光学系」として、上記周知の「前記誘電体プレートに一体的に形成された反射面を有する反射光学系」を用いる際に、該周知技術の具体的な反射光学系である引用刊行物２記載の発明を用いることは当業者が容易に想到し得ることである。そして、容器部の底部に一体に形成された引用刊行物２記載の発明は、プリズム内での光路幅が２つの境界面３ｃの間に収まる光路となるものであるから、当該光路幅が、互いに隣接する引用刊行物１記載の発明における容器部同士の間隔以下に収まることは明らかである。
　 　 
　そして、本願補正発明の作用効果も、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。 
 　 
（４）むすび 
　以上のとおり、本願補正発明は、引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
　したがって、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。　 
 　 
３．本願発明について　 
（１）本願発明　 
　平成１８年４月１０日付け手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明は、本件出願当初の願書に最初に添付された明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された、上記２．（１）に記載のとおりのものである。（以下、「本願発明」という。）
　なお、本願発明における「前記ブロック」について検討すると、「ブロック」は前記されていないが、「プレート」は前記されており、また、明細書の記載を参酌すれば、「ブロック」は「プレート」の誤記であると認められる。したがって、以下においては、「ブロック」を「プレート」に読み替えて検討する。
 　 
（２）引用例　 
　原査定の拒絶の理由に引用した引用刊行物１及びその記載事項は上記「２．（２）引用例」に記載したとおりである。　 
 　 
（３）対比・判断　 
　本願発明は、前記２．で検討した本願補正発明から、「前記入射光学系から入射される光ビームを前記界面に入射させ、前記界面で反射した光ビームを所定位置へ出射させる反射光学系」について「前記光ビームの前記誘電体ブロック内での光路幅が互いに隣接する前記凹部同士の間隔以下に収まるように」との限定を省いたものである。 
 　 
　そうすると、本願発明と引用刊行物１記載の発明とは、本願補正発明と引用刊行物１記載の発明との対比（上記２．（３））において一致点とした点で一致し、上記相違点１の点で相違するが、当該相違点１については、本願補正発明に対する判断において示したとおりであるから、本願発明は引用刊行物１記載の発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　そして、本願発明の作用効果も、引用刊行物１記載の発明及び上記周知技術から当業者であれば予測できる範囲のものである。 
 　 
（４）むすび　 
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物１記載の発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　したがって、請求項２−２２に係る発明について審理するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。　 
 　 
　よって、結論のとおり審決する。