【事件の表示】
　特願２００１−１１２４３０「長尺加工物の厚み及び非真円性測定装置並びに測定プロセス」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　１月１８日出願公開、特開２００２−　１３９１５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本願発明 
　本願は、平成１３年４月１１日（優先権主張　２０００年５月１１日　ドイツ連邦共和国）の出願であって、平成１７年１月１２日付け（発送日：同月２５日）で拒絶査定がなされ、これに対して、平成１７年４月２０日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同日付けで手続補正書が提出され、さらに同年５月１７日付けで明細書を補正対象とする手続補正書が提出されたものである。
　
第２　平成１７年４月２０日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　　平成１７年４月２０日付けの手続補正を却下する。
［理由］
１．平成１７年４月２０日付けの手続補正（以下、「本件補正１」という。）の内容
　本件補正１は、以下の（１）に示される本件補正１前の特許請求の範囲を、以下の（２）に示される本件補正１後の特許請求の範囲に補正するものである。
（１）本件補正１前の特許請求の範囲
　「【請求項１】　金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するための方法であって、それぞれ光検知センサー及びセンサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれるレーザーを具備する三基以上のレーザースキャナーを有する装置を用いる方法において、次の工程からなることを特徴とする長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法、
ａ　それぞれのレーザーが１つ又は２つの影をそれぞれのセンサー上に形成するように加工物に投光する、
ｂ　それぞれのスキャナーの加工物の外側エッジに接する直線を計算する、該直線は、加工物がレーザースキャナーのセンサーに形成する影のエッジ（38, 44)からレーザー光と平行に延びている、
ｃ　計算装置によって、３本の直線が接線となる円を求める、
ｄ　加工物又は測定装置を回転させて、３本の直線を用いて円を求めるという測定を数回行なう、
ｅ　測定した円の径から、最大直径と最小直径の差として加工物の非真円性を決定する。
　【請求項２】　測定が、測定装置により、トリガー信号に対応し同期して行なわれるものである請求項１記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項３】　測定装置が測定を様々な回数行ない、評価装置がいくつかの測定から加工物動作ベクトルを決めるものである請求項１又は２記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項４】　３本以上の平行でない直線が測定される場合は、直線３本組すべてを接線の計算に用いるものである請求項１〜３記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。」
（２）本件補正１後の特許請求の範囲
　「【請求項１】　金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するための方法であって、三基以上のレーザー式三角測量装置を用いる方法において、次の工程からなることを特徴とする長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法、
ａ　それぞれのレーザーがそれぞれのセンサー上に加工物のシャドウーエッジを形成するように加工物に投光する、
ｂ　それぞれのスキャナーの加工物の外側エッジに接する直線を求める、該直線は、加工物がレーザーのセンサーに形成するシャドウーエッジ（38, 44) からレーザー光と平行に延びている、
ｃ　計算装置によって、３本の直線が接線となる円を求める、
ｄ　加工物又は測定装置を回転させて、３本の直線を用いて円を求めるという測定を数回行なう、
ｅ　測定した円の径から、最大直径と最小直径の差として加工物の非真円性を決定する。
　【請求項２】　測定が、測定装置により、トリガー信号に対応し同期して行なわれるものである請求項１記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項３】　測定装置が測定を様々な回数行ない、評価装置がいくつかの測定から加工物動作ベクトルを決めるものである請求項１又は２記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項４】　３本以上の平行でない直線が測定される場合は、直線３本組すべてを接線の計算に用いるものである請求項１〜３記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。」
　
２．本件補正１についての当審の判断
　本件補正１は、補正前の請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「レーザースキャナー」を「レーザー式三角測量装置」に補正するとともに、センサー上に形成される「１つ又は２つの影」を「シャドウーエッジ」に補正するものである。
　一般に、「レーザースキャナー」は、レーザー光を走査して投光するものであるのに対し、「レーザー式三角測量装置」は、レーザー光を投光しその反射光を受光して三角測量の原理により対象物までの距離を測定するものであるから、両者は異なるものである。
　また、「影」により「シャドウーエッジ」は形成されるものの、補正前の「１つ又は２つ」という限定された「影」により形成される「シャドウーエッジ」は、それに応じて限定された「シャドウーエッジ」であるにも拘わらず、補正後はそのような限定が省かれたものとなっている。
　したがって、本件補正１は、平成１８年法律第５５号による改正前の特許法第１７条の２第４項各号に規定する請求項の削除を目的とするもの、特許請求の範囲の減縮を目的とするもの、誤記の訂正を目的とするもの、明りょうでない記載の釈明を目的とするもののいずれにも該当しない。
　よって、本件補正１は、同法第１７条の２第４項の規定に違反するものであり、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　平成１７年５月１７日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１７年５月１７日付けの手続補正を却下する。
［理由］
１．平成１７年５月１７日付けの手続補正（以下、「本件補正２」という。）の内容
　平成１７年４月２０日付けの手続補正は、上記のように却下されたので、本件補正２は、上記「第２」の「１．」の「（１）」に記載した補正前の特許請求の範囲を、以下の（１）に示される本件補正２後の特許請求の範囲に補正するものである。
（１）本件補正２後の特許請求の範囲
　「【請求項１】
　金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するための方法であって、測定野の周囲に設けられた三基以上のレーザースキャナーからなる測定装置を用いる方法において、
　該レーザースキャナーは、レーザー（４０）と対応するセンサー（４２）からなり、該レーザーのレーザービームは、
該加工物（１２）がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位し、且つ
ａ　該加工物のそれぞれのシャドーエッジに係るもので、該シャドーエッジの１つからレーザービームと平行に伸びる直線を求める、
ｂ　求めた３本の直線に関し、評価装置により直線が接線となる円を求める、
ｃ　円の直径を計算するため、該円を求めるという測定を数回繰り返す、
ｄ　測定した円の径から、最大直径と最小直径の差として加工物の非真円性を決定する。
　【請求項２】
　測定が、測定装置のすべてのセンサーにより、トリガー信号に対応し同期して行なわれるものである請求項１記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項３】
　測定装置が測定を様々な回数行ない、評価装置がいくつかの測定から加工物動作ベクトルを決めるものである請求項１又は２記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。
　【請求項４】
　３本以上の平行でない直線が測定される場合は、直線３本組すべてを接線の計算に用いるものである請求項１〜３記載の長尺状加工物の直径及び非真円性の測定方法。」
　なお、アンダーラインは、補正箇所を示すために請求人が付したものである。
　
２．本件補正２の目的の適否
　本件補正２は、補正前の請求項１に記載された発明を特定するために必要な事項である「それぞれ光検知センサー及びセンサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれるレーザーを具備する三基以上のレーザースキャナー」を、「測定野の周囲に設けられた三基以上のレーザースキャナー」、「該レーザースキャナーは、レーザー（４０）と対応するセンサー（４２）からなり、該レーザーのレーザービームは、該加工物（１２）がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位し」と補正するとともに、センサー上に形成される「１つ又は２つの影」を「二つのシャドーエッジ」と補正するものである。
　補正前の「それぞれ光検知センサー及びセンサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれるレーザーを具備する」は記載が削除されてはいるものの、補正後の「レーザースキャナー」は、「レーザー（４０）と対応するセンサー（４２）からなり、該レーザーのレーザービームは、該加工物（１２）がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛ける」ものであるから、補正後の「レーザースキャナー」も、「それぞれ光検知センサー及びセンサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれるレーザーを具備する」ものである。したがって、上記補正は、「レーザースキャナー」に関して、「測定野の周囲に設けられた」及び「該レーザーのレーザービームは、該加工物（１２）がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位」するものに限定するものである。
　また、加工物により「二つのシャドウーエッジ」が形成されるためには、「１つの影」が形成されなければならないから、上記補正は、補正前の「１つ又は２つの影」を実質的に限定するものである。
　したがって、本件補正２は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものと認められ、平成１８年法律第５５号による改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の規定に該当するものである。
　
３．独立特許要件
　そこで、本件補正２後の請求項１に記載された事項により特定される発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかどうか（平成１８年法律第５５号による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について、以下検討する。
　
４．引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である特開昭６３−２０５５０４号公報（以下、「引用刊行物」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
（１）「本発明はプロフィール測定方法に関し、更に詳述すれば物体断面の真円度測定に好適なプロフィール測定方法に関する。」（第２頁左上欄第３行〜第５行）
（２）「本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、物体の被測定断面に接する３方向からの３本のビームにて構成される外接三角形につき、幾何学的考察を加えて内接円の半径を求めることにより、３ロ−ル圧延における物体の断面のプロフィールを精度良く、・・・・・連続的に測定できるプロフィール測定方法を提供することを目的とする。
　［問題点を解決するための手段］
　本発明に係るプロフィール測定方法は、断面が略円状をなす物体につきその断面のプロフィールを測定する方法において、前記物体少なくとも異なる３方向からビームを投射し、何れも被測定断面の外周に接しており、任意の２本が非平行の３本のビームを検出し、これらの３本のビームにて構成される被測定断面の外接三角形につき、所定の演算式に基づいてこの外接三角形の内接円の半径ｒを求めることを特徴とする。」（第３頁左上欄第７行〜右上欄第５行）
（３）「以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて具体的に説明する。第１図は本発明方法を実施するための装置の模式図である。プロフィールを測定すべき被測定物ｌを取り囲む位置で、そのビーム投射方向を異ならせて３個の投射手段つまり第１投射手段１１，第２投射手段１２及び第３の投射手段１３が配置されており、各投射手段１１，１２，１３からは夫々平行ビーム群Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３が被測定物１に向けて投射され、また各ビーム群Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３の中には被測定物１の断面外周に接するビームｍ１，ｍ２，ｍ３（以下接線ビームという）が存在する。各投射手段１１，１２，１３の被測定物１を挟んで対向する側には、各ビーム群Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３のうち接線ビームを検出する検出手段２１，２２，２３が設けられている。各検出手段２１，２２，２３はイメージセンサであって、何れのビットでビームを受光し、何れのビットでビームを受光しなかったかを検出して接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し、また接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３とビーム群のなかで一番外側のビーム（被測定物ｌ中心から最も遠距離にあるビーム、以下外側線ビームという）ｎ１，ｎ２，ｎ３との距離を検出する。
そして、各検出手段２１，２２，２３の検出結果は演算部３０に入力され、以下に説明する演算式に基づき演算部３０にて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒが演算される。」（第３頁右上欄第１６行〜右下欄第２行）
（４）「各投射手段及び各検出手段を一体的に回転させ、第３図とは別の角度位置における内接円の半径を測定する。第４図は別の角度位置における被測定物１，各投射手段１１，１２，１３及び各検出手段２１，２２，２３の位置関係を示す模式図であり、この場合も第３図に示した場合と同様に、ｈ２及びｒ２が求められる。
　以下全く同様にして、多数の角度位置における内接円の半径を求めれば、被測定物ｌの断面のプロフィールを測定できる。」（第４頁左下欄第３行〜第１２行）
（５）「なお、本実施例では３方向から平行ビーム群を投射する場合について説明したが、これに限らず１本のビームを回転ミラー等を使用し、ビームと直角方向に高速で移動させて平行ビームの代替としてもよい。」（第６頁右上欄第１１行〜第１５行）
　
　上記（１）〜（５）の記載から、以下のことが読み取れる。
・（１）及び（２）の記載から、３ロール圧延における物体の断面の真円度測定に好適なプロフィール測定方法。
・（３）の記載から、被測定物１を取り囲む位置に３個の投射手段１１，１２，１３及び検出手段２１，２２，２３が配置されていること、各投射手段１１，１２，１３からはそれぞれ平行ビーム群Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３が被測定物１に向けて投射され、各ビーム群Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３の中には被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３が存在すること、各検出手段２１，２２，２３はイメージセンサであって、何れのビットでビームを受光し、何れのビットでビームを受光しなかったかを検出して接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出すること、各検出手段２１，２２，２３の検出結果は演算部３０に入力され、演算部３０にて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒが演算されること。
・（４）の記載から、各投射手段及び各検出手段を一体的に回転させ、多数の角度位置における内接円の半径を求めて、被測定物ｌの断面のプロフィールを測定すること。
・（５）の記載から、１本のビームを回転ミラー等を使用し、ビームを平行に移動させて平行ビームの代替とすること。
　
　以上のことから、引用刊行物には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　「３ロール圧延における物体の断面の真円度測定に好適なプロフィール測定方法であって、被測定物１を取り囲む位置に３個の投射手段１１，１２，１３及び検出手段２１，２２，２３が配置されており、各投射手段１１，１２，１３は、それぞれ、１本のビームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するものであり、各投射手段１１，１２，１３からはそれぞれ平行ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３が被測定物１に向けて投射され、各ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３の中には被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３が存在し、各検出手段２１，２２，２３はイメージセンサであって、何れのビットでビームを受光し、何れのビットでビームを受光しなかったかを検出して接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し、各検出手段２１，２２，２３の検出結果は演算部３０に入力され、演算部３０にて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒが演算され、各投射手段及び各検出手段を一体的に回転させ、多数の角度位置における内接円の半径を求めて、被測定物ｌの断面のプロフィールを測定するプロフィール測定方法。」
　
５．対比・判断
　本願補正発明（前者）と引用発明（後者）とを対比する。
・後者の「３ロール圧延における物体の断面の真円度測定に好適なプロフィール測定方法」と前者の「金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するための方法」は、ともに、「圧延された加工物の真円性に関する測定を行うための方法」である点で共通する。
・後者の「各投射手段１１，１２，１３」は、「１本のビームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するもの」であり、一般に、形状測定において用いられるビームはレーザービームであるから、上記「各投射手段１１，１２，１３」は、一本のレーザービームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するものを内包すると認められる。また、後者の「各検出手段２１，２２，２３」は「イメージセンサ」であることから、後者の「各投射手段１１，１２，１３」、「各検出手段２１，２２，２３」、これらよりなるものは、それぞれ、前者の「レーザー（４０）」、「センサー（４２）」、「レーザースキャナー」に相当する。
・後者の投射手段１１，１２，１３及び検出手段２１，２２，２３は、「被測定物１を取り囲む位置に３個の投射手段１１，１２，１３及び検出手段２１，２２，２３が配置されて」いるから、前者と同様に「測定野の周囲に設けられた」ものである。
　また、後者の「投射手段１１，１２，１３」、「検出手段２１，２２，２３」よりなる装置は前者の「三基以上のレーザースキャナーからなる測定装置」に相当する。
・後者の「各投射手段１１，１２，１３は、それぞれ、１本のビームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するものであり、各投射手段１１，１２，１３からはそれぞれ平行ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３が被測定物１に向けて投射され、各ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３の中には被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３が存在し、各検出手段２１，２２，２３はイメージセンサであって、何れのビットでビームを受光し、何れのビットでビームを受光しなかったかを検出して接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し」は、各検出手段２１，２２，２３において、ビームを受光したビットとビームを受光しなかったビットとの境界が前者の「シャドーエッジ」に相当し、該境界に入射する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３は、シャドーエッジからレーザービームと平行に伸びる直線をなすビームであるから、前者の「該レーザーのレーザービームは、該加工物（１２）がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位し」、「該加工物のそれぞれのシャドーエッジに係るもので、該シャドーエッジの１つからレーザービームと平行に伸びる直線を求める」と、「レーザーのレーザービームは、加工物がセンサー上にシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位し」、「加工物のそれぞれのシャドーエッジに係るもので、シャドーエッジからレーザービームと平行に伸びる直線に関する測定を行う」点で共通する。
・後者の「演算部３０にて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒが演算され」は、前者の「求めた３本の直線に関し、評価装置により直線が接線となる円を求める」と、「３本の直線に関し、装置により接線となる円を求める」点で共通する。
　
　したがって、前者と後者とは、
　「圧延された加工物の真円性に関する測定を行うための方法であって、測定野の周囲に設けられた三基以上のレーザースキャナーからなる測定装置を用いる方法において、
　該レーザースキャナーは、レーザーと対応するセンサーからなり、該レーザーのレーザービームは、該加工物がセンサー上にシャドーエッジを投げ掛けるように、測定野を平行に変位し、且つ次の工程からなることを特徴とする加工物の真円性に関する測定方法、
ａ　該加工物のそれぞれのシャドーエッジに係るもので、該シャドーエッジからレーザービームと平行に伸びる直線に関する測定を行う、
ｂ　３本の直線に関し、装置により接線となる円を求める。」
である点で一致し、次の相違点１ないし３で相違する。
　
［相違点１］　前者が、金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するためのものであり、レーザービームは、加工物がセンサー上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるのに対し、後者では、圧延された加工物及びその測定に関して上記のような限定がなく、シャドーエッジも一つである点。
［相違点２］　前者が、シャドーエッジの１つからレーザービームと平行に伸びる直線を求め、求めた３本の直線に関し、評価装置により直線が接線となる円を求め、測定した円の径から、最大直径と最小直径の差として加工物の非真円性を決定するのに対し、後者は、シャドーエッジの１つから直線を求めるか否か明らかではなく、非真円性の決定に関する記載もない点。
［相違点３］前者が、円の直径を計算するため、該円を求めるという測定を数回繰り返すのに対し、後者は、そのような構成を具備しない点。
　
　そこで、上記相違点について検討する。
［相違点１について］
　圧延され搬送されてきた鋼材の断面形状を測定することは、例えば、実願昭６１−２５９８９号（実開昭６２−１４０３１６号）のマイクロフィルム（原審において拒絶の理由に引用された引用例２）、特開平７−８３６３５号公報に示されるように周知である。
　また、丸棒圧延材が検出手段上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように平行ビームを投射し、その二つのシャドーエッジから丸棒圧延材の直径を求めるようにすることは、引用刊行物の第２頁左上欄第７行〜第１６行及び第１２図に記載されており、このように二つのシャドーエッジを投げ掛けるようにしても、その一つから引用発明と同様に接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出することができることは明らかである。
　また、真円性と非真円性は、ともに真円との一致性の評価に関するものであり、真円との一致の度合いで評価するかまたは乖離の度合いで評価するかという表裏一体のものであるから、両者の間に実質的な相違はない。
　したがって、上記周知技術を引用発明に適用して上記相違点１に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
［相違点２について］　
　引用発明は、被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し、その検出結果に基づいて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒを演算するものであるから、検出した接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３がなす直線を求めて、これらの直線により構成される外接三角形の内接円の半径を求めるようにしてもよいことは明らかである。また、二つのシャドーエッジの一つから接線ビームを検出することができることは上述の如く明らかである。
　また、真円度を最大直径と最小直径の差により求めることは、例えば、特開平７−１９８４０号公報（特に、段落【００２０】の記載参照）、特開平７−１７４５４４号公報（特に、段落【００６０】の記載参照）、特開平８−２３３５３６号公報（特に、第１１欄第３８行〜第４０行の記載参照）に示されるように周知である。
　したがって、該周知技術を引用発明に適用して上記相違点２に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
［相違点３について］　
　測定を複数回繰り返してその信頼度を高めることは測定分野における慣用技術であるから、該慣用技術を引用発明に適用して上記相違点３に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願補正発明の奏する効果は、引用刊行物の記載、周知技術及び慣用技術から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別のものではない。
　したがって、本願補正発明は、引用発明、周知技術及び慣用技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
６．むすび
　以上のとおり、本件補正２は、平成１８年法律第５５号による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、特許第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第４　本願発明について
　平成１７年４月２０日付け及び同年５月１７日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし４に係る発明は、平成１６年５月１９日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし４に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、上記「第２」の「１．」の「（１）」の本件補正１前の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものである。
　
第５　引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物及びその記載事項は、上記「第３」の「４．」の（１）ないし（５）に記載したとおりである。
　
第６　対比・判断
　本願発明（前者）と引用発明（後者）とを対比する。
・後者の「３ロール圧延における物体の断面の真円度測定に好適なプロフィール測定方法」と前者の「金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するための方法」は、ともに、「圧延された加工物の真円性に関する測定を行うための方法」である点で共通する。
・後者の「各投射手段１１，１２，１３」は、「１本のビームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するもの」であり、一般に、形状測定において用いられるビームはレーザービームであるから、上記「各投射手段１１，１２，１３」は、一本のレーザービームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するものを内包すると認められる。また、後者の「各検出手段２１，２２，２３」は「イメージセンサ」であることから、後者の「各投射手段１１，１２，１３」、「各検出手段２１，２２，２３」、これらよりなるものは、それぞれ、前者の「レーザー」、「光検知センサー」、「レーザースキャナー」に相当する。
・後者の「投射手段１１，１２，１３」は、「被測定物１を取り囲む位置に３個の投射手段１１，１２，１３が配置されて」いるから、前者と同様に「センサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれる」ものである。
　また、後者の「投射手段１１，１２，１３」、「検出手段２１，２２，２３」よりなる装置は前者の「三基以上のレーザースキャナーを有する装置」に相当する。
・後者の「各投射手段１１，１２，１３は、それぞれ、１本のビームを回転ミラー等を使用しビームを平行に移動させて平行ビームを投射するものであり、各投射手段１１，１２，１３からはそれぞれ平行ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３が被測定物１に向けて投射され、各ビームＢ１，Ｂ２，Ｂ３の中には被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３が存在し、各検出手段２１，２２，２３はイメージセンサであって、何れのビットでビームを受光し、何れのビットでビームを受光しなかったかを検出して接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し」は、各検出手段２１，２２，２３において、ビームを受光しなかったビットの部分が前者の「１つの影」に相当し、ビームを受光したビットとビームを受光しなかったビットとの境界が前者の「影のエッジ」に相当し、該境界に入射する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３は、被測定物１の断面外周に接する接線をなすビームであり、境界からレーザービームと平行に延びているから、前者の「それぞれのレーザーが１つ又は２つの影をそれぞれのセンサー上に形成するように加工物に投光する」、「それぞれのスキャナーの加工物の外側エッジに接する直線を計算する、該直線は、加工物がレーザースキャナーのセンサーに形成する影のエッジ（38, 44)からレーザー光と平行に延びている」と、「それぞれのレーザーが１つの影をそれぞれのセンサー上に形成するように加工物に投光する」、「それぞれのスキャナーの加工物の外側エッジに接する直線に関する測定行う、該直線は、加工物がレーザースキャナーのセンサーに形成する影のエッジからレーザー光と平行に延びている」点で共通する。
・後者の「演算部３０にて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒが演算され」は、前者の「計算装置によって、３本の直線が接線となる円を求める」と、「計算装置によって、３本の直線が接線となる円を求める」点で共通する。
・後者の「各投射手段及び各検出手段を一体的に回転させ、多数の角度位置における内接円の半径を求めて、被測定物ｌの断面のプロフィールを測定する」は、前者の「加工物又は測定装置を回転させて、３本の直線を用いて円を求めるという測定を数回行なう」と、「測定装置を回転させて、円を求めるという測定を行なう」点で共通する。
　
　したがって、前者と後者とは、
　「圧延された加工物の真円性に関する測定を行うための方法であって、それぞれ光検知センサー及びセンサーエリアのイルミネーションのためそれに導かれるレーザーを具備する三基以上のレーザースキャナーを有する装置を用いる方法において、次の工程からなることを特徴とする加工物の真円性に関する測定方法、
ａ　それぞれのレーザーが１つの影をそれぞれのセンサー上に形成するように加工物に投光する、
ｂ　それぞれのスキャナーの加工物の外側エッジに接する直線に関する測定を行う、該直線は、加工物がレーザースキャナーのセンサーに形成する影のエッジからレーザー光と平行に延びている、
ｃ　計算装置によって、３本の直線が接線となる円を求める、
ｄ　測定装置を回転させて、円を求めるという測定を行なう。」
である点で一致し、次の相違点１ないし３で相違する。
　
［相違点１］　前者が、金属圧延機系統内を長さ方向に進行させる長尺の加工物の直径及び非真円性を測定するためのものであるのに対し、後者は、圧延された加工物及びその測定に関して上記のような限定がない点。
［相違点２］　前者が、加工物の外側エッジに接する直線を計算し、３本の直線を用いて円を求めるという測定を数回行なうのに対し、後者は、このような構成を具備しない点。
［相違点３］　前者が、測定した円の径から、最大直径と最小直径の差として加工物の非真円性を決定するのに対し、後者では、非真円性の決定に関する記載がない点。
　
　そこで、上記相違点について検討する。
［相違点１について］
　圧延され搬送されてきた鋼材の断面形状を測定することは、例えば、実願昭６１−２５９８９号（実開昭６２−１４０３１６号）のマイクロフィルム（原審において拒絶の理由に引用された引用例２）、特開平７−８３６３５号公報に示されるように周知である。
　また、丸棒圧延材が検出手段上に二つのシャドーエッジを投げ掛けるように平行ビームを投射し、その二つのシャドーエッジから丸棒圧延材の直径を求めるようにすることは、引用刊行物の第２頁左上欄第７行〜第１６行及び第１２図に記載されており、このように二つのシャドーエッジを投げ掛けるようにしても、その一つから引用発明と同様に接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出することができることは明らかである。
　また、真円度と非真円性は、ともに真円との一致性の評価に関するものであり、真円との一致の度合いで評価するかまたは乖離の度合いで評価するかという表裏一体のものであるから、両者の間に実質的な相違はない。
　したがって、上記周知技術を引用発明に適用して上記相違点１に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
［相違点２について］　
　引用発明は、被測定物１の断面外周に接する接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３を検出し、その検出結果に基づいて３本の接線ビームにて構成される断面外周の外接三角形の内接円の半径ｒを演算するものであるから、検出した接線ビームｍ１，ｍ２，ｍ３がなす直線を計算して、これら３本の直線を用いて外接三角形の内接円の半径を求めるようにしてもよいことは明らかである。
　また、測定を複数回繰り返してその信頼度を高めることは測定分野における慣用技術であるから、該慣用技術を引用発明に適用して上記相違点２に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
［相違点３について］
　真円度を最大直径と最小直径の差により求めることは、例えば、特開平７−１９８４０号公報（特に、段落【００２０】の記載参照）、特開平７−１７４５４４号公報（特に、段落【００６０】の記載参照）、特開平８−２３３５３６号公報（特に、第１１欄第３８行〜第４０行の記載参照）に示されるように周知である。
　したがって、該周知技術を引用発明に適用して上記相違点３に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願発明の奏する効果は、引用刊行物の記載、周知技術及び慣用技術から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別のものではない。
　したがって、本願発明は、引用発明、周知技術及び慣用技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第７　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そして、本願発明が特許を受けることができないものであるから、その余の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。