【事件の表示】
　平成１０年特許願第　９２６１７号「チルトサーボ制御装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年　１月　６日出願公開、特開平１１−　　３５３１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　
　本件審判請求に係る出願（以下、「本願」という。）は、平成１０年３月２０日の出願（優先権主張：平成９年４月１８日）であって、平成１５年１０月２４日付けで拒絶理由が通知され、これに対し、平成１５年１２月２２日付けで意見書の提出と共に手続補正がなされたが、平成１６年４月９日付けで最後の拒絶理由が通知され、これに対し、平成１６年６月１４日付けで意見書の提出と共に手続補正がなされたが、平成１６年１１月１日付けで、上記平成１６年６月１４日付けの手続補正は却下されるとともに、平成１６年４月９日付けの最後の拒絶理由により拒絶査定がなされた。
　これに対し、平成１６年１２月９日付けで拒絶査定不服の審判が請求されるとともに、同年１２月２７日付けで手続補正がなされたものである。
   　
第２．平成１６年１２月２７日付け手続補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　平成１６年１２月２７日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
１．本件補正の概要
　平成１６年１２月２７日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）は、特許請求の範囲については、平成１５年１２月２２日付け手続補正による
　
「【請求項１】　光記録媒体に光ビームを照射し、当該光記録媒体からの反射光を検出する光ピックアップと、
　前記光ビームの光軸上に配置されると共に、独立して屈折率を変更可能な複数の領域に分割された液晶パネルにより構成され、前記光記録媒体の媒体面の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなすチルト角により生ずる収差によるチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段と、
　前記液晶パネルを駆動するための信号であって、前記チルトエラー補正手段の補正量を制御する制御信号を供給するチルトエラー補正制御手段と、
　前記光ピックアップの検出信号のレベルを検出するレベル検出手段と、を備え、
　前記チルトエラー補正制御手段は、前記液晶パネルの前記各領域を通過する前記光ビームに位相差を生じさせるように前記制御信号に変動を与えて前記液晶パネルを駆動することにより、前記レベル検出手段の出力レベルが当該変動に対して最適となるよう前記制御信号を調整し制御を行うことを特徴とするチルトサーボ制御装置。
【請求項２】　前記チルトエラー補正制御手段は、外乱として２種の前記制御信号を生成し、外乱に対応する前記レベル検出手段の出力レベルの大小を比較し、当該出力レベルが最大に近づくよう前記制御信号を所定量だけ増加または減少させるよう制御を行うことを特徴とする請求項１に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項３】　前記液晶パネルは、光ディスクの半径方向に対し、内周寄り、中央、外周寄りの３つの領域に分割され、各領域ごとに前記駆動信号により駆動することができるようにしたことを特徴とする請求項１または２に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項４】　前記チルトエラー補正制御手段は、前記光ピックアップの検出信号のレベルを一定に保つよう制御するＡＧＣアンプの利得制御信号に基づいて補正量を制御することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項５】　前記チルトエラー補正制御手段の前記制御信号は、変動の幅が所定の上限値を超えないように制限されることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項６】　前記チルトサーボ制御装置は、前記液晶パネルの環境温度を検出する温度検出器を備え、前記チルトエラー補正制御手段は前記温度検出器の検出結果に基づいて、前記制御信号の周波数を変化させることを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項７】　前記チルトサーボ制御装置は、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転に同期して周波数信号を生成する周波数信号生成手段を備え、前記チルトエラー補正制御手段は、前記周波数信号に基づいて前記制御信号の発生するタイミングを制御することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項８】　前記制御信号の周波数は、その周波数の偶数倍が前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期に同期していることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。」
    　
を、
  　
「【請求項１】　光記録媒体に光ビームを照射し、当該光記録媒体からの反射光を検出する光ピックアップと、
　前記光ビームの光軸上に配置され
且つ
であって、各前記領域
ことにより前記チルトエラーを補正するチルトエラー補正手段
　前記液晶パネルを駆動
して
における
　前記光ピックアップの検出信号のレベルを検出するレベル検出手段と、を備え、
　前記チルトエラー補正制御手段は、前記制御信号
を
させつつ
当該変動の範囲内において
大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように
を、異なる前記変動の範囲について繰り返すと共に、
　
前記変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期していること
【請求項２】　前記チルトエラー補正制御手段は、
異なる
当該生成された各制御信号に夫々
【請求項３】　前記液晶パネルは、光ディスクの半径方向に対し、内周寄り、中央、外周寄りの３つの領域に分割され、各領域ごとに前記駆動信号により駆動することができるようにしたことを特徴とする請求項１または２に記載のチルトサーボ制御装置。
【請求項４】　前記チルトエラー補正制御手段は、
前記
前記制御信号を変動させ
３
【請求項５】　前記チルトサーボ制御装置は、前記液晶パネルの環境温度を検出する温度検出器を備え、前記チルトエラー補正制御手段は前記温度検出器の検出結果に基づいて、前記制御信号の周波数を変化させることを特徴とする請求項１から
４
  　
　と（下線は、当審で付与したものである。）、本件補正前の請求項４、７及び８を削除し、請求項５、６について項番を４、５に繰り上げ、
　請求項１について、
　本件補正前の「光ビームの光軸上に配置されると共に、」を「光ビームの光軸上に配置され
且つ
　「チルトエラー補正手段」の後に「
であって、
であって
各前記領域
ことにより前記チルトエラーを補正するチルトエラー補正手段
　本件補正前の「液晶パネルを駆動するための信号であって、前記チルトエラー補正手段の補正量を」を、「液晶パネルを駆動
して
における
　本件補正前の「チルトエラー補正制御手段」が、
「前記制御信号に変動を与えて前記液晶パネルを駆動することにより、前記レベル検出手段の出力レベルが当該変動に対して最適となるよう前記制御信号を調整し制御を行う」
とされていたものを、
　「前記制御信号
を
させつつ
当該変動の範囲内において
大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように
を、異なる前記変動の範囲について繰り返すと共に
　「
前記変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期している
と、その動作について補正し、
　
　請求項２について、
　本件補正前の請求項２において、「外乱として２種の」とされていたものを、「
異なる
「外乱に対応する前記レベル検出手段の出力レベル」とされていたものを、「
当該生成された各制御信号に夫々
　 
　請求項４について、
　本件補正前の請求項５（本件補正後の請求項４）において、「変動の幅」とされていたものを「
前記
「制限される」とされていたものを「
前記制御信号を変動させる
　本件補正前の請求項４が削除されたことにより、本件補正前の請求項５が引用する請求項が「請求項１から４」であったものを「請求項１から
３
　
  請求項５について、
　本件補正前の請求項４が削除されたことにより、本件補正前の請求項６（本件補正後の請求項５）が引用する請求項が「請求項１から５」であったものを「請求項１から
４
  　
　上記補正のうち、請求項４、７及び８の削除、請求項４の削除に伴う請求項４、５が引用する項番の変更の補正については、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第１号に掲げる、請求項の削除を目的とするものと認められる。
　また、請求項１の「チルトエラー補正制御手段」の動作についての補正は、請求項に記載した発明を特定する事項を減縮するもので、同法第１７条の２第４項第２号に掲げる、特許請求の範囲の減縮を目的とするものと認められる。
  しかしながら、請求項１における「チルトエラー補正制御手段」の動作についての補正を除く、請求項１乃至３の、上記各文言の変更乃至追加する補正は、補正前の特許請求の範囲の発明を特定するために必要な事項を限定するものではないため、同法第１７条の２第４項第２項に掲げる、特許請求の範囲の減縮を目的とするものとは認められない。
　また、同法第１７条の２第４項第２号以外の各号に掲げる事項を目的とするものでもない。
　したがって、本件補正は、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
  　
２．独立特許要件
　本件補正は、上記のとおり、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項各号に掲げる要件を満たさないため、却下すべきものであって、本来これ以上の検討は不要であるが、上記請求項１乃至３についての、文言の変更乃至追加の補正は、請求項に係る発明の内容を実質的に変更するものでもないため、請求項１についての、同法第１７条の２第４項第２項に掲げる、特許請求の範囲の減縮を目的とする補正について、本件補正後の上記請求項１に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するか）についても、一応、以下に検討する。
　
（１）特許法第３６条第６項第１号及び同法３６条第４項第１号の規定について
　本願補正発明においては、チルトエラー補正制御手段の、制御信号の変動周期について、「前記変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期している」としているが、本件補正の根拠とする、明細書の発明の詳細な説明の段落【００９１】には、「ディスクの回転周期が外乱の周期の偶数倍になるように構成する」と記載され、ディスクの回転周期と外乱の周期とで両者は逆の構成となっており、一致していない。
　また、上記補正の根拠とする構成が発明の詳細な説明に記載されていない以上、発明の詳細な説明は、特許を得ようとする発明が、その発明を実施することができる程度に明確且つ十分に記載されたものではない。
　
　したがって、本願補正発明は、特許法第３６条第６項第１号及び同法３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていないため、特許出願の際、独立して特許を受けることができないものである。
  　
（２）特許法第２９条第２項の規定について
（ａ）本願補正発明
　本願補正発明は、上記「第２　１．」で記載したとおりのものである。
　
（ｂ）引用例
（ｂ−１）引用例１
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平１−１９９３２９号公報（以下、「引用例１」という。）は、光ディスク再生装置のチルトサーボ回路に関して、図面と共に、以下の技術事項が記載されている（なお、下線は当審で付与した。以下同様。）。
　
（ア）
「第６図に示すように、光ビーム１４がディスク１０に垂直に当たっているときには、光ビーム１４の光軸ｌはカバーガラス１６を直進し、記録面１８上に収束する。このとき、記録面１８上での光スポットの強度分布は第７図に示すようになり、目的トラックＴ０に隣接する両トラックＴ−１，Ｔ＋１の付近にできる一次干渉リングの強度は小さく外周側の部分ａの強度と内周側の部分ｂの強度は等しい。ところが、
ディスク１０にそれを生じて光軸１に対して例えば第８図に示すように傾斜すると光ビーム１４がカバーガラス１６で屈折して収差を持つようになる。
　このようなクロストークは、ビデオディスクにおいては再生の画像にいわゆるゴースト障害をもたらす。また、コンパクトディスクにおいてはジッタの増加とか、誤り率の増加とかの障害をもたらす。
　ディスク面に垂直な方向に対して光ビームの光軸が傾く現象は、上述したディスクにそりがある場合のほか、ターンテーブル自体の傾きや光ピックアップ製造時の光軸角度誤差等によっても生じる。
　
このような光ビーム光軸の傾きに対して、光ピックアップの角度を制御して常に光ビーム光軸がディスク面に対して垂直になるように制御するチルト制御が従来から行なわれていた。このチルト制御は、一般に第４図に示すように、光ピックアップ１２をディスク半径方向にスライドさせるガイドシャフト２０を軸２２を回動軸としてディスク１０の中心を通りディスク１０の面に垂直な平面内で回動させる機構や、第５図に示すようにガイドシャフト２０上をスライドするヘッドベース２４に光ピックアップ１２を載置したサブベース２６を軸２８を回動軸としてディスク１０の中心を通りディスク１０の面に垂直な平面内で回動させる機構等で実現される。
  　
（イ）
「〔課題が解決するための手段〕
　この発明は、光ピックアップからのＲＦ再生信号のレベルを検出するＲＦレベル検出手段と、前記光ピックアップのチルト角を変化させるチルト変化手段と、前記ＲＦレベル検出手段の出力に基づいて該ＲＦレベルが最大または略々最大となるように前記チルト変化手段を制御するチルトサーボ制御手段とを具備してなるものである。」（３頁左上欄６〜１３行）
  　
（ウ）
「〔実施例〕
　この発明の一実施例を第１図に示す。
ディスク１０はターンテーブル１３上に載置されてディスクモータ１１により回転駆動される。光ピックアップ１２から発せられる光ビーム１４はディスク１０の記録面に照射され、その反射光が光ピックアップ１２内の受光素子で受光される。この受光信号に基づき光ピックアップ１２のフォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行なわれる。受光信号はＲＦ再生信号としてＲＦアンプ４０を介して信号処理系へ送られて、信号再生処理が行なわれる。
　
ＲＦ再生信号はまた、チルトサーボ回路４２に送られる。このチルトサーボ回路４２では一定周期ごとに所定量ずついずれかの方向にチルト駆動している。駆動方向は前回の駆動方向と、その駆動の結果ＲＦレベルが増大したか減少したかにより決定する。すなわち、駆動の結果ＲＦレベルが増大した場合はチルトエラーが減少する方向に駆動されたことになるので、次回も同方向に駆動する。また、駆動の結果ＲＦレベルが減少した場合はチルトエラーが増大する方向に駆動されたことになるので、次回は逆方向に駆動する。このようにして、常にＲＦレベルが最大になるようにチルト駆動されてチルト制御が行なわれる。
　
チルトサーボ回路４２においてＲＦレベル増減判定回路４４はＲＦレベルの増加、減少状態を一定周期ごとに判定する。ＣＰＵ４６はこの判定がなされるごとにチルト制御の駆動方向を決定して駆動信号を出力する。この駆動信号は、チルトモータ駆動回路４８を介してチルトモータ５０を駆動し、光ピックアップ１４をチルト制御する。
  　
（エ）
「第１図のＲＦレベル増減判定回路４４の具体例を第１４図に示す。また、第１４図の回路にマルａ〜マルｆで示した各部の波形を第１５図マルａ〜マルｆにそれぞれ示す。第１４図において、ＲＦ再生信号マルａは検波回路７０でＲＦレベルのエンベロープマルｂが検出され、これが微係数検出回路７２に入力されて微係数検出回路７２の出力には第１５図マルｃに示すようにＲＦ再生信号の増減に応じた極性を有し、かつこれに交流成分が畳重してなる信号が得られる。この信号はノイズ分（交流成分）を多く含むため、区間内平均化回路７４でこの交流成分を除くべく区間内平均処理を行なう。すなわち、微係数検出回路７２の出力マルｃは抵抗７８を介してコンデンサ８０に充電される。コンデンサ８０には並列にトランジスタ８２が接続され、第１５図マルｄに示す信号Ｖ１により一定周期でトランジスタ８２がオンされてコンデンサ８０が放電される。これによりコンデンサ８０には第１５図マルｅに示すような鋸状波の各ピーク値が直前区間における微係数検出回路７２の出力マルｃの平均値となる。
　増減判定回路（ゼロクロスコンパレータ）８４は、第１５図マルｅに示すコンデンサ８０の出力がゼロクロスするごとに出力極性を反転する。そして、コンパレータ８４から信号Ｖ１の周期ごとにＲＦレベルの増減を判定した結果が第１５図マルｆに示すように出力される。
　第１図のＣＰＵ４６による制御フローの一例を第１６図に示す。ＲＦ信号レベルの増減判定結果が得られると（Ｐｉ）、前回のチルト駆動の方向とそれによるＲＦ信号の増減判定結果とで今回のチルト駆動の方向を決定する（Ｐ２）。すなわち、前回のチルト駆動の結果、ＲＦレベルが増大した場合は、チルトエラーが縮小される方向に駆動されたことになるから、さらに同方向に駆動する。また、前回のチルト駆動の結果ＲＦレベルが縮小した場合は、チルトエラーが拡大される方向に駆動されたことになるから、逆方向に駆動する。
　
このような決定に基づいてチルト駆動信号が所定時間出力されて（Ｐ３）、チルトモータ５０が駆動されて光ピックアップ１２がチルト制御される。
チルト駆動後所定の待ち時間経過後に以上の動作が繰り返される。これにより、ディスク面に対して光軸ｌが常に垂直になるように制御される。
　次に、前記ＲＦレベル増減判定回路４４を第１４図のように構成した場合の第１図の回路の動作例を第１７図に示す。第１７図中（Ａ）〜（Ｃ）はそれぞれ第１図に（Ａ）〜（Ｃ）で示した各部の波形である。ＲＦレベル増減判定は第１４図の信号Ｖ１の周期で行なわれ、増加の場合“Ｈ”を出力し、減少の場合“Ｌ”を出力する。ＣＰＵ４６から出力されるチルトモータ駆動信号は前回のチルト駆動の方向と今回のＲＦレベルの増減判定結果とで極性（すなわち駆動方向）が決定される。すなわち、第１７図（Ｃ）のマルイは前回（図示せず）−方向に駆動し、その結果ＲＦレベルが減少（チルトエラーが増大）したとマルイ′のタイミングで検出したため、駆動方向を逆転して＋方向に駆動したものである。同マルロはマルイの＋方向の駆動の結果ＲＦレベルが増大（チルトエラーが減少）したことがマルロ′のタイミングで検出されたため、さらに＋方向に駆動したものである。同マルハはマルロの＋方向の駆動の結果ＲＦレベルが減少（チルトエラー０を通過）したことがマルハ′のタイミングで検出されたため、駆動方向を逆転して−方向に駆動したものである。同マルニはマルハの−方向の駆動の結果ＲＦレベルが減少（チルトエラー増大）したことがマルニ′のタイミングで検出されたため、駆動方向を逆転して＋方向に駆動したものである。このような動作により、ディスク面のそり等に追従して常にチルトエラー０に制御される。
〔変更例〕
　前記実施例では第１２図、第１３図のチルト機構でチルト駆動する場合について示したが、この発明は各種のチルト機構に適用することができる。
　また、
ＲＦレベルが最大または略々最大となるようにする制御は前記実施例に示したＲＦレベル増減判定によるものに限らず種々の方法を適用することができる
（※なお、上記（エ）において、マルａ〜マルｆと記載した記号、マルイ〜マルニ、マルイ′〜マルニ′と記載した各記号は、引用例１においては、○の中に上記各記号が記載されたものである。）
  　
　上記摘示事項、及び図面の記載を参酌すると、引用例１には、次の発明（以下、「引用例１発明」という。）が記載されているものと認める。
    　
「ディスク１０はターンテーブル１３上に載置されてディスクモータ１１により回転駆動され、
　光ピックアップ１２から発せられる光ビーム１４はディスク１０の記録面に照射され、その反射光が光ピックアップ１２内の受光素子で受光され、
　受光信号はＲＦ再生信号としてＲＦアンプ４０を介して信号処理系へ送られて、信号再生処理が行なわれる光ディスク再生装置において、
　ＲＦ再生信号はまた、チルトサーボ回路４２に送られ、
　このチルトサーボ回路４２では一定周期ごとに所定量ずついずれかの方向にチルト駆動信号を出力してチルト駆動し、
　駆動方向は前回の駆動方向と、その駆動の結果ＲＦレベルが増大したか減少したか、すなわち、駆動の結果ＲＦレベルが増大した場合はチルトエラーが減少する方向に駆動されたことになるので、次回も同方向に駆動し、駆動の結果ＲＦレベルが減少した場合はチルトエラーが増大する方向に駆動されたことになるので、次回は逆方向に駆動して、常にＲＦレベルが最大になるようにチルト駆動されてチルト制御が行なわれ、
　チルトサーボ回路４２においてＲＦレベル増減判定回路４４はＲＦレベルの増加、減少状態を一定周期ごとに判定し、ＣＰＵ４６はこの判定がなされるごとにチルト制御の駆動方向を決定して駆動信号を出力し、この駆動信号は、チルトモータ駆動回路４８を介してチルトモータ５０を駆動し、光ピックアップ１４をチルト制御する制御を繰り返し、
　光ビーム光軸の傾きに対して、光ピックアップの角度を制御して常に光ビーム光軸がディスク面に対して垂直になるように制御する
　光ディスク再生装置のチルトサーボ回路。」
   　
（ｂ−２）引用例２
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平８−２１２６１１号公報（以下、「引用例２」という）には、波面収差補正装置および光情報記録再生装置に関して、図面と共に以下の技術事項が記載されている。
   　
（オ）　
「【０００５】
【発明の目的】この発明は、上述した従来技術の課題に鑑みてなされたものであり、光情報記録再生装置の波面収差の発生を小さく抑えつつ、光学素子の加工、調整の精度を緩和することができる波面収差補正装置の提供を目的とする。」
  　
（カ）
「【００３５】
【実施例３】図４は、実施例３にかかる波面収差補正装置が設けられた光磁気ディスク装置を示す。光学系の構成は実施例１、２と同一である。この実施例では、使用段階での条件の変化によって発生する動的な波面収差を補正するよう液晶素子が駆動される。ただし、実施例２と異なり制御情報は持たず、液晶制御回路５０は、使用段階で検出される信号に基づいてクローズドループで液晶素子ＬＣを制御する。
【００３６】温度変化やディスクの種類の交換は、条件の変化を使用段階で直接検出できるため、制御情報と温度、あるいはディスク種類とを関連づけて製造段階でテーブルを作成することができる。しかしながら、例えばディスクのそりや傾き等の条件の変化は、使用段階で直接検出できないため、実施例２のように予めテーブルを作成することができない。
【００３７】
ディスクのそりや傾きがあると、収束光中に配置された平行平面板が傾くこととなるため、コマ収差が発生し、プッシュプル法により検出されるトラッキングエラー信号にオフセットが生じると共に、データ信号のＳＮ比が低下する。
【００３８】
実施例３では、情報信号検出用の受光素子２９，３０とエラー信号検出用の受光素子３３とからの信号をマイコン５４に入力している。マイコン５４は、受光素子の信号をモニターしつつ、各検出信号の状態が良好になるよう液晶素子ＬＣの各要素単位の印可電圧を求め、液晶制御回路５０は求められた印可電圧を液晶素子ＬＣの各要素に印可する。この例では、液晶素子ＬＣ、液晶制御回路５０、マイコン５４により波面収差補正装置が構成されている。
【００３９】実施例３の構成によれば、受光素子からの検出信号に基づき、これらの信号の劣化が小さくなるよう液晶素子が制御されるため、ディスクのそりや傾きのように信号を劣化させる要因が直接検出できない場合も含め、信号劣化の原因が波面収差であれば、液晶素子を制御することにより劣化を抑えることができる。
【００４０】なお、実施例１、２で示した光学系に固有の波面収差や、温度変化あるいはディスクの基板の厚さの変化により発生する波面収差についても、実施例３の装置を用いればキャリブレーションなしに補正することができる。ただし、実施例３の装置は信号が良好となる状態を帰納的に求めるため、信号が安定するまでに要する時間は実施例１、２よりも長くなる。
【００４１】
【実施例４】図５は、実施例４にかかる波面収差補正装置を示す。この例では、実施例１で示した光学系固有の収差を補正するための第１の液晶素子ＬＣ1と、実施例３で示した使用状態での条件の変化に基づいて発生する波面収差を補正するための第２の液晶素子ＬＣ2との２枚の液晶素子を同一光路上に配置している。これらの液晶素子は、上記の実施例と同様に複合プリズム２０と可動部１５との間に配置される。
【００４２】第１の液晶素子ＬＣ1は、メモリ５１内に格納された制御情報に基づいて第１の液晶制御回路５０ａによりオープンループで制御され、光学系固有の静的な波面収差を補正する。一方、第２の液晶素子ＬＣ2は、受光素子２９，３０，３３の出力を受けるマイコン５４からの信号に基づいて第２の液晶制御回路５０ｂによりクローズドループで制御され、使用状態での条件の変化、例えば温度変化やディスクの傾きに基づいて発生する動的な波面収差を補正する。」
  　
（ｂ−３）引用例３
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開平９−３５３１５号公報（以下、「引用例３」という）には、光ピックアップ装置に関して、図面と共に以下の技術事項が記載されている。
　
（キ）
「【００２１】
【実施例】以下、図面を参照しながら実施例を詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施例の光ピックアップ装置を示したものであり、図８と同一名称のものには同一の符号を付してある。即ち、１は光源であり、レーザビーム２aを出射する。13は後で詳述する反射部材で、レーザビーム２aを上方へ光路変更し、レーザビーム２bとする。４は対物レンズであり、入射したレーザビーム２bを集光する。集光されたレーザビーム２cは、光ディスクの記録面５にラジアルチルト10をもって照射され、光スポット７を形成する。８はアクチュエータで、対物レンズ４をディスクのラジアル方向に変位させることができる。11はセンサで、対物レンズ４と光ディスクの記録面５とのラジアルチルト10の量と方向を検出する。
【００２２】反射部材13は、レーザビームの光路中に配設され、タンジェンシャル方向に境界線が入るように２分割された液晶板13ａ及び13ｂから構成されており、その各反射率は図示しない駆動手段によりそれぞれ独立に電気的に変化させることができる。
【００２３】センサ11は、例えば図10に示したように、ＬＥＤからなる発光素子31と、フォトダイオードからなる２分割された受光素子32とからなり、発光素子31からレンズ33を介して出射された光線をディスク34に照射し、その反射光を受光素子32で受ける。ここで、ディスク34にチルトがない場合(図10(a))は、図10(b)に示したように、２分割された受光素子32の境界線上に中心を持つスポットを受光し、両受光部からの出力Ａ，Ｂが等しくなって、図10(e)に示す特性を持つ差動増幅器35から出力される差信号Ｃは０となる。そこで、チルトが発生する(図10(c))と、図10(d)に示したように、スポットの位置がずれ、両受光部からの出力Ａ，Ｂが異なって差動増幅器35から、チルトの方向及び大きさに応じた差信号Ｃが現われる。
【００２４】次に本実施例の動作を説明する。まず、メインビームが読出トラックの上に照射されるように、アクチュエータ８によって対物レンズ４が駆動され、メインビームによって読出トラックの信号が読み出される。
【００２５】ここで、反射部材13の液晶板13a及び13bの反射率が同一で、対物レンズ４に入射されるレーザビーム２bの強度分布が一様であり、かつラジアルチルト10がなく、レーザビーム２cが光ディスクの記録面５に垂直に照射される場合は、光スポット７は、図２に示したように、読出トラック22上にメインビーム24a、隣接トラック21付近にサイドローブ24b、他方の隣接トラック23付近にサイドローブ24cが照射される光スポット形状となる。
【００２６】また、液晶板13a及び13bの反射率が同一で、対物レンズ４に入射されるレーザビーム２bの強度分布が一様であり、かつラジアルチルト10がある場合は、光スポット７は、図２におけるメインビーム25a、サイドローブ25b、サイドローブ25cからなる光スポット形状となる。この時は、サイドローブ25bによって隣接トラック21の信号がクロストークとして読み出されることになり、メインビーム25aで読み取られる本来の再生信号に対する雑音となって再生信号の品質が劣化する。
【００２７】そこで、
ラジアルチルトの量と方向を検出したセンサ11の信号に基づいて、駆動手段により、反射部材11の液晶板13aの反射率を液晶板13bの反射率より小さくして、対物レンズ４に入射するレーザビーム２bの強度分布を、図３の破線27aで示すように対称から、実線27bで示すように非対称にする。こうすることにより、図２におけるサイドローブ25bの強度は低減され、メインビーム26a，サイドローブ26b，26cからなる光スポット形状となる。
【００２８】以上のように構成された本実施例では、センサ11のチルト量検出信号に基づいて、液晶板13a及び13bの反射率をそれぞれ独立に電気的に変化させ、サイドローブの強度を低減することができるので、光ディスクの回転に従って逐次発生するチルトの変化に対して高速で応答し、クロストークを減らして再生信号品質を向上させることができる。
【００２９】また、機械的可動部を有する補正機構を全く使用せず、電気的手段でチルト補正を行うので、光ピックアップに搭載する補正手段の小型、軽量化を図ることができる。」
  　
（ク）
「【００４１】なお、
本発明の各実施例においては、２分割または４分割されて、各反射率をそれぞれ独立に電気的に可変の液晶板からなる反射部材で説明したが、レーザビームを透過し、その透過率をそれぞれ独立に電気的に可変の、例えば液晶板からなる透過部材を用いてもよい。
  　
（ｃ）対比
　本願補正発明と引用例１発明とを対比する。
  　
(i)引用例１発明の「光ピックアップ１２」は、「光ビーム１４」を発し、当該「光ビーム１４」は「ディスク１０の記録面に照射され、その反射光が光ピックアップ１２内の受光素子で受光され」るものであるから、本願補正発明の「光記録媒体に光ビームを照射し、当該光記録媒体からの反射光を検出する光ピックアップ」に相当する。
  　
(ii)引用例１発明の「チルトモータ５０」は、「光ピックアップ１４をチルト制御」し、「ディスク面に対直な方向に対して光ビームの光軸が傾く場合に、光ビーム光軸の傾きに対して、光ピックアップの角度を制御して常に光ビーム光軸がディスク面に対して垂直になるように制御」するもので、本願補正発明の「前記光記録媒体の媒体面の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなすチルト角により生ずる収差によるチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段」に相当する。
  　
(iii)引用例１発明は、「ＲＦレベルの増加、減少状態を一定周期ごとに判定」する「ＲＦレベル増減判定回路４４」を備えているものであるから、これは本願補正発明の「光ピックアップの検出信号のレベルを検出する手段」に相当する。
  　
(iv)引用例１発明における、「前回の駆動方向と、その駆動の結果ＲＦレベルが増大したか減少したか、すなわち、駆動の結果ＲＦレベルが増大した場合はチルトエラーが減少する方向に駆動されたことになるので、次回も同方向に駆動し、駆動の結果ＲＦレベルが減少した場合はチルトエラーが増大する方向に駆動されたことになるので、次回は逆方向に駆動して、常にＲＦレベルが最大になるようにチルト駆動されてチルト制御が行なわれ」、「ＲＦレベル増減判定回路４４はＲＦレベルの増加、減少状態を一定周期ごとに判定し、ＣＰＵ４６はこの判定がなされるごとにチルト制御の駆動方向を決定して駆動信号を出力」する動作であるが、上記チルトモータ５０をＲＦレベルが増加する方向に駆動する動作は、ＲＦレベルが最大となるように繰り返されるものであるから、本願補正発明の「前記制御信号を変動させつつ」チルトエラー補正手段を「駆動することにより、当該変動の範囲内において前記レベル検出手段の出力レベルが大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように制御を行うことを異なる変動の範囲について繰り返す」動作に相当し、上記チルト補正のための制御を行う引用例１発明の「チルトサーボ回路４２」は、本願補正発明の「前記チルトエラー補正手段における補正量を制御する制御信号を供給するチルトエラー補正制御手段」に相当する。
  　
(v)引用例１発明の「光ディスク再生装置のチルトサーボ回路」は、光ディスクのチルト補正に係る構成要素を全て含むもので、本願補正発明の「チルト制御装置」に相当する。
  　
そうすると、本願補正発明と引用例１発明とは以下の点で一致する。
   　
［一致点］
　
「光記録媒体に光ビームを照射し、当該光記録媒体からの反射光を検出する光ピックアップと、
　前記光記録媒体の媒体面の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなすチルト角により生ずる収差によるチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段と、
　前記チルトエラー補正手段における補正量を制御する制御信号を供給するチルトエラー補正制御手段と、
　前記光ピックアップの検出信号のレベルを検出するレベル検出手段と、を備え、
　前記チルトエラー補正制御手段は、前記制御信号を変動させつつ駆動することにより、当該変動の範囲内において前記レベル検出手段の出力レベルが大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように制御を行うことを、異なる前記変動の範囲について繰り返す
　チルトサーボ制御装置。」の点。
   　
一方下記の各点で相違する。
  　
［相違点］
  　
相違点（イ）
　本願補正発明のチルトエラー補正手段が、「前記光ビームの光軸上に配置され且つ独立して屈折率を変更可能な複数の領域に分割された液晶パネルにより構成され、」「各前記領域を通過する前記光ビームに位相差を生じさせることにより前記チルトエラーを補正する」ものであるのに対し、引用例１発明はチルトモータ５０を駆動することでチルト制御を行うものである点。
  　
相違点（ロ）
　本願補正発明は、チルトエラー補正手段を制御する制御信号の「変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期している」のに対し、引用例１発明は、チルトモータ５０を駆動するためのチルト駆動信号の周期と、ディスクモーターの回転周期との関係について特に記載がない点。
  　
上記各相違点について検討する。
   　
（ｄ）当審の判断
　
相違点（イ）について
　ディスクのチルトエラー補正手段として、液晶素子を用い、該液晶素子を複数の領域に分割し、それぞれ独立して屈折率を制御することで、光ビームが液晶素子を透過する際の位相を制御し、チルトエラー補正を行うものは、上記引用例２、３に記載されるよう周知である。
　したがって、引用例１発明において、光ピックアップを直接駆動するチルトモータ等の駆動機構に替えて、上記周知の液晶素子によるチルトエラー補正手段を採用することは、当業者が容易に想到し得たものと認められる。
   　
相違点（ロ）について
　平成１６年１１月１日付け補正却下時に提示した特開平７−９３７８５号公報（以下、「引用例４」という。）には、ＲＦ再生信号の振幅を検出することにより光ディスクのチルト補正を行う光ディスクのチルト補正制御において、高精度な補正値を検出するために、チルト制御を行う制御駆動機構へ入力される走査信号Ｓ１３を、光ディスク１の１回転毎にそのレベルを変化し、そのときのＲＦ再生信号Ｓ３の振幅をメモリ７に記憶し、複数のＲＦ信号の振幅値中の最大値を検出し、その最大値に対応する走査信号Ｓ１３の値を補正信号Ｓ１１とすることが記載されている。
　したがって、引用例１発明においても、高精度なチルト補正を行うために、光ディスクの１回転毎にチルト駆動し、そのときのＲＦレベルの増減を検出しての制御とすることは、当業者が容易に想到し得たことと認められる。
　その際に、チルト駆動する周期を、ディスクの回転周期の偶数倍とすることは、必要に応じて適宜になし得た事項に過ぎない。
  　
　したがって、本願補正発明は、引用例１〜４に基づき、当業者が容易に想到し得たものである。
   　
　なお、本願補正発明は、「前記チルトエラー補正制御手段は、前記制御信号
を
させつつ
当該変動の範囲内において
大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように
を、異なる前記変動の範囲について繰り返す
前記変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期している
　上記「異なる前記変動の範囲」とは、単に、個々の時点での制御信号の変動とも読み取れるほか、本願の発明の詳細な説明の段落【００８６】によれば、「
２種の
どちらの外乱印加時の方がＲＦ振幅レベルが大きくなるのかを正確に判定
　しかしながら、本願補正発明が、仮に上記のようなものであったとしても、異なる２種のチルト補正値を入力し、チルト制御をした際に、それぞれ得られたＲＦ信号の振幅を比較して、ＲＦ信号の振幅が増加する方向に補正値を変化させるチルト補正制御において、チルト補正、ＲＦ信号振幅を検出するタイミングを、回転周期に同期させること、要するに、異なる２種のチルト補正値によってチルトさせる制御を１周期とするのであれば、その周期を、ディスクの回転周期の偶数倍である２倍とすることは、特開平６−３３３２５６号公報（【００１１】〜【００２６】、第１図〜第９図）、特開平８−２９７８４９号公報（【００４７】〜【００５３】、【００６４】〜【００６８】、【０１１２】）に記載されるよう本願の優先権主張の日前周知であり、引用例１発明において、光ピックアップの高精度なチルト補正制御を行うために、回転数に同期して、異なる補正値によりチルト駆動を行い、その際のＲＦ信号の振幅を比較することにより、より大きい振幅が得られる方向にチルト制御を行い、これを繰り返すことによって、最適なチルト制御を行うことは、当業者が容易に想到し得たものである。
　したがって、本願補正発明が、発明の詳細な説明に記載されたような、異なる２種の補正値を印加した際のそれぞれのＲＦ振幅のどちらが大きいかを判定するものとした場合でも、結局、引用例１〜３、及び周知技術に基づき、当業者が容易に想到できたものである。
   　
　よって、本願補正発明は、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
  　
 （３）本件補正についてのむすび
　以上のとおり、本件補正のうち、請求項１に係る補正が、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるとしても、同法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、結局特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
  　
 第３．本願発明について
　
１．本願発明
　平成１６年１２月２７日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成１５年１２月２２日付け手続補正による特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、上記「第２　１．」に摘記したとおりのものである。
　
２．引用例
　原査定の拒絶の理由で引用された引用例１〜３、およびその記載事項は、前記「第２　２．（２）（ｂ）」に記載したとおりである。
    　
３．対比・判断
　本願発明は、前記「第２　２．」で検討した本願補正発明から、請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である、「チルトエラー補正制御手段」が、「前記制御信号を変動させつつ前記液晶パネルを駆動することにより、当該変動の範囲内において前記レベル検出手段の出力レベルが大きくなる前記変動の方向と同じ方向に当該制御信号が変化するように制御を行うことを、異なる前記変動の範囲について繰り返すと共に、前記変動の周期（Ｄb）が、前記光記録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転周期の偶数倍に同期している」を、単に「チルトエラー補正制御手段は、前記液晶パネルの前記各領域を通過する前記光ビームに位相差を生じさせるように前記制御信号に変動を与えて前記液晶パネルを駆動することにより、前記レベル検出手段の出力レベルが当該変動に対して最適となるよう前記制御信号を
調整し制御を行う」としたものである（上記「チルトエラー補正制御手段」に係る補正以外の、上記「第２　［理由]　１．本件補正の概要」に記載した、請求項１の、文言の変更、追加の各補正については、実質的に請求項１の技術内容を変更するものではないため、詳細な検討は省略する。）。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、さらに上記チルトエラー補正制御手段に関する限定要素を付加したものに相当する本願補正発明が、前記「第２　２．（２）（ｄ）」に記載したとおり、引用例１〜４、乃至周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、上記チルト補正制御手段に関する限定のない本願発明は、前記「第２　２．（２）（ｃ）」の相違点（ロ）が存在せず、前記「第２　２．（２）（ｄ）」で判断したとおり、引用例１〜３に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用例１〜３に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
  したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。