【手続補正書】
【提出日】令和1年7月26日(2019.7.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を生成する方法であって、
第1の平面超音波をプラテン表面に向かって平面波生成器から発射するステップと、
第1の取得時間遅延の分だけ前記第1の平面超音波の前記発射から遅延する第1の取得時間において画素出力信号の第1のセットを取得するステップであって、画素出力信号の前記第1のセットからの各画素出力信号が、前記プラテン表面から反射された前記第1の平面超音波のセンサ画素アレイにおける局所的な大きさを表す、ステップと、
第2の平面超音波を前記プラテン表面に向かって前記平面波生成器から発射するステップと、
第2の取得時間遅延の分だけ前記第2の平面超音波の前記発射から遅延する第2の取得時間において画素出力信号の第2のセットを取得するステップであって、画素出力信号の前記第2のセットからの各画素出力信号が、前記プラテン表面から反射された前記第2の平面超音波の前記センサ画素アレイにおける局所的な大きさを表す、ステップと、
画素出力信号の前記第1のセットからの選択された出力信号および画素出力信号の前記第2のセットからの第1レベル訂正信号に基づいて、前記センサ画素アレイの選択された画素に対する訂正された出力信号を生成するステップであって、前記選択された出力信号が前記選択された画素に対応し、前記第1レベル訂正信号が前記選択された画素の近くの近隣の画素の第1のセットに対応し、前記第1の取得時間遅延と前記第2の取得時間遅延との間の差が前記選択された画素と近隣の画素の前記第1のセットとの間の平均距離に対応する、ステップとを備える、方法。
【請求項２】
前記第1の取得時間遅延が、前記選択された画素と前記プラテン表面との間の距離を考慮する、請求項1に記載の方法。
【請求項３】
前記第2の取得時間遅延が前記第1の取得時間遅延より長い、請求項1に記載の方法。
【請求項４】
前記選択された画素に対する前記訂正された出力信号を生成するステップが、前記選択された出力信号とは異なるように前記第1レベル訂正信号を重み付けるステップを含むか、または、
前記選択された画素に対する前記訂正された出力信号を生成するステップが、前記選択された画素の前記出力信号と、近隣の画素の前記第1のセットからの前記第1レベル訂正信号との加重和を、較正係数と幾何学的位相係数の組合せを含む画素依存の重みを用いて計算するステップを含む、請求項1に記載の方法。
【請求項５】
前記第1の取得時間遅延および前記第2の取得時間遅延が、前記選択された画素に到達する前記反射された第1の平面超音波と近隣の画素の前記第1のセットに到達する前記反射された第2の平面超音波との間の位相の差を考慮するように異なる、請求項1に記載の方法。
【請求項６】
画素出力信号の前記第1のセットを取得するステップが、第1の取得時間枠の間に前記反射された第1の平面超音波の前記局所的な大きさを表す振幅を検出するステップを含み、
前記第1の取得時間枠が、前記反射された第1の平面超音波の周期よりも短い時間長、または前記反射された第1の平面超音波の少なくとも1周期の時間長のうちの1つから選択される時間長を有する、請求項1に記載の方法。
【請求項７】
画素出力信号の前記第2のセットを取得するステップが、第2の取得時間枠の間に前記反射された第2の平面超音波の前記局所的な大きさを表す振幅を検出するステップを含む、請求項1に記載の方法。
【請求項８】
画素出力信号の前記第1のセットまたは第2のセットを取得するステップが、それぞれ、前記第1の取得時間または前記第2の取得時間において前記センサ画素アレイにサンプリング電圧を印加するステップを含む、請求項1に記載の方法。
【請求項９】
前記サンプリング電圧が、前記センサ画素アレイの受信機バイアス電極に印加されるか、または、
前記サンプリング電圧が、前記センサ画素アレイのダイオードバイアス電極に印加される、請求項8に記載の方法。
【請求項１０】
前記第1の平面超音波または前記第2の平面超音波が1つまたは複数の周期を含む、請求項1に記載の方法。
【請求項１１】
前記第1の平面超音波または前記第2の平面超音波の周波数が、前記センサ画素アレイから前記プラテン表面までの距離に基づくか、または、
前記第1の平面超音波または前記第2の平面超音波の周波数が、前記プラテン表面に配置される対象物の幅に基づく、請求項1に記載の方法。
【請求項１２】
第3の平面超音波を前記プラテン表面に向かって前記平面波生成器から発射するステップと、
第3の取得時間遅延の分だけ前記第3の平面超音波の前記発射から遅延する第3の取得時間において画素出力信号の第3のセットを取得するステップであって、画素出力信号の前記第3のセットからの各画素出力信号が、前記プラテン表面から反射された前記第3の平面超音波の前記センサ画素アレイにおける局所的な大きさを表し、前記選択された画素に対する前記訂正された出力信号を生成するステップがさらに、画素出力信号の前記第3のセットからの前記選択された出力信号、前記第1レベル訂正信号、および第2レベル訂正信号の加重和に基づき、前記第2レベル訂正信号が前記選択された画素の近くの近隣の画素の第2のセットに対応し、近隣の画素の前記第2のセットが、前記選択された画素からの近隣の画素の前記第1のセットの平均距離と異なる前記選択された画素からの平均距離を有する、ステップとをさらに備える、請求項1に記載の方法。
【請求項１３】
複数の選択された画素に対する訂正された出力信号に基づいて、前記プラテン表面に配置された対象物の画像を生成するステップをさらに備える、請求項1に記載の方法。
【請求項１４】
画像を生成するためのシステムであって、
第1の平面超音波をプラテン表面に向かって発射するための手段と、
第1の取得時間遅延の分だけ前記第1の平面超音波の前記発射から遅延する第1の取得時間において画素出力信号の第1のセットを取得するための手段であって、画素出力信号の前記第1のセットからの各画素出力信号が、前記プラテン表面から反射された前記第1の平面超音波における局所的な大きさを表す、手段と、
第2の平面超音波を前記プラテン表面に向かって発射するための手段と、
第2の取得時間遅延の分だけ前記第2の平面超音波の前記発射から遅延する第2の取得時間において画素出力信号の第2のセットを取得するための手段であって、画素出力信号の前記第2のセットからの各画素出力信号が、前記プラテン表面から反射された前記第2の平面超音波における局所的な大きさを表す、手段と、
画素出力信号の前記第1のセットからの選択された出力信号および画素出力信号の前記第2のセットからの第1レベル訂正信号に基づいて、選択された画素に対する訂正された出力信号を生成するための手段であって、前記選択された出力信号が前記選択された画素に対応し、前記第1レベル訂正信号が前記選択された画素の近くの近隣の画素の第1のセットに対応し、前記第1の取得時間遅延と前記第2の取得時間遅延との間の差が前記選択された画素と近隣の画素の前記第1のセットとの間の平均距離に対応する、手段とを備える、システム。
【請求項１５】
画像を生成する方法を実行するために平面波生成器およびセンサ画素アレイと通信している1つまたは複数のプロセッサによる実行のためのコンピュータ可読命令の1つまたは複数のコンピュータプログラムを備えるコンピュータ可読記録媒体であって、前記コンピュータプログラムが、請求項１から13のうちのいずれか一項に記載の方法を実行するための命令を備える、コンピュータ可読記録媒体。