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　平成　８年特許願第３４３１０２号「磁気ディスク記録装置の記録電流制御回路とその最適化方法」拒絶査定不服審判事件〔平成　９年１１月　４日出願公開、特開平　９−２８８８０３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　
　本件の審判請求に係る特許出願（以下「本願」という。）は、平成８年１２月２４日（パリ条約による優先権主張　１９９５年１２月２１日　大韓民国）を出願日とする出願であって、平成１７年８月２６日付け拒絶理由の通知に応答して平成１７年１１月３０日付けで手続補正がなされたが、平成１８年２月２４日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成１８年５月２９日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．本願発明
　　
　本願の請求項１〜８に係る発明は、平成１８年５月２９日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜８に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項５に係る発明（以下「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
　
「【請求項５】　磁気ディスク上へのデータ記録時に記録電流制御端子の電流量に対応する記録電流を記録データに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子と、所定の記録電流制御値に対応するデューティを有するパルス幅変調信号により前記記録電流制御端子の電流量を調整する記録電流調整手段と、を備える磁気ディスク記録装置の記録電流最適化方法において、
前記磁気ディスク記録装置に備えられた全てのヘッドに対してそれぞれ、前記記録電流制御値を一定の範囲内で段階的に増加させつつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し試験を行うことにより、各段階の記録電流制御値ごとに誤り発生回数を検査する試験過程と、
それぞれのヘッドごとに、前記誤り発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流制御値と最大段階の記録電流制御値との平均を求め、最適な記録電流制御値として設定する設定過程とを備えてなることを特徴とする記録電流最適化方法。」
　
３．引用例
　
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平４−１３２００４号公報（以下「引用例１」という。）には、磁気ディスク記憶装置のディスクにデータを書き込む際にヘッドに与えるべき書込電流の最適値を試験するための方法に関して、図面と共に、以下の記載がある。なお、下線は、当審で付与した。
　
（１）「〔産業上の利用分野〕
　本発明は固定ディスク装置等の
磁気ディスク記憶装置のディスクにデータを書き込む際にヘッドに与えるべき書込電流の最適値を試験するための方法
　
（２）「〔発明が解決しようとする課題〕
　上述したように種々な磁気記録媒体につき事前に磁気特性を精密に評価することにより、ディスク記憶装置に最適な書込電流値を設定できるはずであるが、実際に量産されたディスク記憶装置から品質管理のために若干個をサンプリングしてその書込電流の妥当性を確かめて見ると、その設定が必ずしも理想的になされているとはいい切れないことが判明して来た。
　この原因の一半はもちろん媒体の磁気記録特性が製造ロッドごとに若干変動し得る点にあるが、詳しい原因調査結果によれば
ヘッドのデータ読み書き特性の変動の影響分の方がむしろ大きい
　
（３）「〔課題を解決するための手段〕
　この課題は本発明による
磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法では、データの書込電流を所定値に保ちかつディスクのトラックにヘッドをオントラックされた状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対しヘッドをオンおよびオフトラックさせた状態でそのつど試験データを読み取って読取エラーの有無を検定した上で、読取エラー回数の総和を書込電流値に対応させて記憶し、書込電流を所定範囲内に変化させながらその値ごとに記憶された読取エラー回数中の最低回数に対応する書込電流を最適書込電流値として選定する
　
（４）「〔実施例〕
　以下、図を参照しながら本発明の具体実施例を詳しく説明する。第１図に本発明を実施した磁気ディスク記憶装置９０として固定磁気ディスク装置の構成例を示す。
　図の左上部に示されたディスク１はスピンドルモータ２により定速駆動される。このディスク１の各面ごとに設けられるヘッド３は、例えば図のような揺動アーム４に支承されて、ボイスコイルモータ等のアクチュエータ５によってその位置が操作される。なお、このヘッド３の各トラック上への位置決めは、通例のようにディスク１に書き込まれているサーボ情報をスピンドルモータ２のパルス発生器２ａが発するインデックスパルスＩＸに同期して読み取りながら、後述のヘッド位置制御手段５０からアクチュエータ５をその駆動回路５ａを介して制御することによって行われる。また、磁気ディスク記憶装置９０内のすべてのヘッド３は図で細線で示したように可撓性リード等を介してリードライト回路６と接続される。
　
このリードライト回路６はふつう磁気ディスク記憶装置８０内に組み込まれるもので、ヘッド選択指令ＨＳにより指定されたヘッド３をリードライト指令ＲＷに応じて読み取り状態または書き込み状態に置くとともに、読取信号ＲＳと書込信号ＷＳを増幅するものであるが、本発明との関連では書込信号調整回路３０がこれに接続される
　
リードライト回路６には電流設定端子があってヘッド３に流す書込電流をそれに接続する抵抗値で設定できるので、書込電流調整回路３０は例えば第２図のように高抵抗３１と３個の低抵抗３２〜３４の直列回路および各低抵抗に並列に接続したトランジスタ等のスイッチ３５〜３７とで構成でき、これに例えば３ビット構成の電流指定コードｉを与え、その０〜７の値に応じてスイッチ３５〜３７を選択的に開閉させる
　リードライト回路６から出力される読取信号ＲＳは、通例のように復調回路７とデータ分離回路８とエンコーダ・デコーダ回路９とを介してデータ回路１０に与えられる。
　データ回路１０はデータ専用の小形のプロセッサであり、エンコーダ・デコーダ回路９から受けた読取信号ＲＳをディジタルなデータに変換して内部バス１２に乗せ、または逆に内部バス１２からデータを読み込んでデータを書込信号ＷＳに変換した上でエンコーダ・デコーダ回路９を介しリードライト回路６に与えるが、本発明との関連では
ディスクから読み取ったふつう１トラック分の試験データを一時記憶し、その読取エラーの有無を検定してエラー回数を計数する
　…（中略）…
　さて、本発明による最適書込電流試験に際しては、前述の書込電流調整回路３０をプロセッサ１１にその出力ポート等を介して接続し、かつ書込電流指定手段４０とヘッド位置制御手段５０と試験データ書込手段６０と読取試験手段７０とをいずれもソフトウエアの形で図示のようにプロセッサ１１内に装荷して、これら手段を動作させることにより試験を自動的に進める。
　…（中略）…
　以下、第３図に示すこれら手段４０〜７０の動作例を参照して本発明の全体動作を説明する。なお、図には各手段の動作がそれぞれ一点鎖線で囲んで示されている。最適書込電流試験は例えば量産時の品質管理のため組み立てが完了したロットから抜き取った磁気ディスク記憶装置に対して行われ、そのディスク１にサーボ情報を書き込みかつ望ましくはその以外の部分の全面をイレーズした後に図示の流れが起動される。
　
試験開始後にはまず書込電流指定手段４０が起動され、その最初のステップ４１では前述の電流指定コード用の変数ｉに０を入れ、次のステップ４２でこの値を書込電流調整回路３０に出力して第２図のスイッチ３５〜３７を例えばすべてオフさせることにより、試験データの書き込み時にヘッド３に流すべき書込電流を最低値に設定する
ビットの電流指定コードｉの値に応じて書込電流が高抵抗３１の値と３個の低抵抗３２〜３４の全抵抗値の比で決まる変化範囲内で指定される
　この後の流れは試験データ書込手段６０の動作に入る。この実施例では試験データをオーバライトにより常に書き込むので、その最初のステップ６１では試験データＩＤとして被消去データＤ０を指定する。この被消去データＤ０は例えばその書込周波数が最低のデータとするのがよく、データ記録方式がＲＬＬ方式の１／７コードの場合は８８のバイトデータの繰り返しとされる。
　…（中略）…
　
このステップ６６から真の試験データの書き込みに移り、試験データ番号ｊに１を入れ、フラグＦを０に戻した上で、電流指定コードｉに対応する読取エラー回数Ｃ１を０に置く。次のステップ６７では試験データＴ０にｊ番目の試験データＤｊを指定する。本発明の実施上は試験データに読み取り難いいわゆるバッドパターンのデータを２〜３個指定するのが望ましく、試験データ番号ｊはこれらを順次に指定するためのものである
　ステップ６７の後は流れをステップ６２に戻すことにより、ヘッド位置制御手段５０によりヘッド３を再びオントラックさせ、かつステップ６３と６４とで上述の試験データＤｊをトラックに書き込んだ上で動作をステップ６５に戻すが、今度はフラグＦが０に戻っているので流れはこれから読取試験手段７０としての動作に入る。
　この最初のステップ７１では、まずリードライトと指令ＲＷを０にしてヘッド３を読み取り状態にした上で、オフトラック量ｄに対する目標値ｄａに−δを入れて、ヘッドを負方向にオフトラックさせた状態で読取試験を開始すべきことを指定する。
この実施例では読取試験をオントラック状態と正負のオフトラック状態の３個の状態について行なうものとする
　…（中略）…
　
このステップ７２では、試験データＴＤ，すなわち前にステップ６７で指定したｊ番目の試験データＤｊをデータ回路１０内に読み取らせる。データ回路１０はこの試験データＤｊを読み取った上で前述のように読取エラーの有無を検定して読取エラー回数を計数するので、読取試験手段７０は次のステップ７３でインデックスパルスＩＸを待ち、それに同期してステップ７４でｊ番目の試験データＤｊに対する読取エラー回数Ｃｊをデータ回路１０から読み込んで前述の読取回数変数Ｃｉに加算する
　次のステップ７５ではオフトラック目標値ｄａがδに達したか否かを調べ、否である限りステップ７６で目標値ｄａをδだけ歩進させて流れをステップ５５に戻す。従って、今度はヘッド３をオントラックさせた状態で、さらに次にはδだけ正方向にオフトラックさせた状態で上述と同じ動作が繰り返される。このようにｊ番目の試験データＤｊに対するオフトラックと正負のオフトラック状態での読取試験が終了したとき、動作がステップ７５から試験データ書込手段６０のステップ６８に移る。
　このステップ６８では、試験データ番号ｊが予定の最大値ｊｍに達したか否かを調べ、否である限りステップ６９で試験データ番号ｊを歩進させた上で流れをステップ６７に戻して試験データＴＤに新しい試験データＤｊを指定する。以降は、ステップ６２に動作が戻され、試験データ書込手段６０と読取試験手段７０の上と同じ動作が繰り返される。このような試験データＤｊを順次切り換え番号ｊの最大値ｊｍに対する動作を終えた時、流れはステップ６８から読取試験手段７０のステップ７７に移る。
　この時までに
ステップ７４で逐次加算された読取エラー回数Ｃｉには、電流指定コードｉに対応する書込電流でオーバライトにより順次に書き込んだｊｍ個の試験データをそれぞれオントラックおよび正負のオフトラック状態で読みとった結果の読取エラー回数の総和が記憶されていることになる。ステップ７７では、この値を電流指定コードｉの値に対応させて記憶する
　
以後の動作は書込電流指定手段４０のステップ４３に移され、その時の電流指定コードｉの値がその最大値ｉｍ，この実施例では７に到達したか否かが判定され、否である限り次のステップ４４でｉの値を歩進させた上で流れをステップ４２に戻すことにより、新しい電流指定コードｉにより指定される書込電流で今までと同じ動作を繰り返す
　このように、電流指定コードｉを逐次歩進させながら試験を繰り返してその最大値ｉｍにより指定された最大書込電流における試験を終了した時、流れはステップ４３から今までの動作ループを抜け出してステップ８１に移る。
　
このステップ８１からステップ８５まではそれまでに記憶されたｉｍ個の読取エラー回数Ｃｉ中の最低値に対応する電流指定コードｉの値を求めるためのものである
　電流指定コードｉが最大値ｉｍに達した時、
すべての読取エラー回数Ｃｉ中の最低読取エラー回数Ｃの値およびそれに対応する最適電流指定コードｉｎが判明しているので、ステップ８６でこれらの値を記憶する
　…（中略）…　
　なお、第３図の実施例では無用な煩雑を避けるためヘッドの切り換えや移動用のステップを省略したが、
実際にはヘッドをディスク内の複数個のトラック上に順次に置き、かつヘッドを切り換えながら複数個のディスク面について試験を行うのが望ましい
　
（５）「〔発明の効果〕
　以上述べたとおり、
本発明の磁気ディスク記録装置の最適書込電流試験では、データの書込電流を所定値に保ちかつディスクのトラックにヘッドをオントラックされた状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対しヘッドをオンおよびオフトラックさせた状態でそのつど試験データを読み取って読取エラーの有無を検定した上で、読取エラー回数の総和を書込電流値に対応させて記憶し、書込電流を所定範囲内に変化させながらその値ごとに記憶された読取エラー回数中の最低回数に対応する書込電流を最適書込電流値として選定する
　
　上記摘示事項及び図面の記載を参酌すると、引用例１には、次の発明が記載されているものと認める。
　
「ヘッド選択指令により指定されたヘッドをリードライト指令に応じて読み取り状態または書き込み状態に置くとともに、読取信号と書込電流を増幅するリードライト回路であって、
　電流設定端子があってヘッドに流す書込電流をそれに接続する抵抗値で設定できるリードライト回路と、
　リードライト回路に接続される書込電流調整回路であって、
　抵抗およびトランジスタのスイッチとで構成され、電流指定コードが与えられ、その値に応じスイッチを選択的に開閉させる書込電流調整回路と、
　を備える磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法において、
　データの電流指定コードに応じた書込電流を所定値に保ちかつディスクのトラックにヘッドをオントラックさせた状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対しヘッドをオンおよびオフトラックさせた状態で試験データを読み取って読取エラー回数の総和を（電流指定コードに応じた）書込電流に対応させて記憶し、（電流指定コードに応じた）書込電流を所定の範囲内に変化させながらその値ごとに記憶された読取エラー回数中の最低回数に対応する書込電流（電流指定コード）を最適書込電流（最適電流指定コード）として選定する磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法。」
　
　同じく、原査定の拒絶の理由に引用された特開平５−２４２４０９号公報（以下「引用例２」という。）には、図面と共に、以下の記載がある。
　
（６）「【特許請求の範囲】
【請求項１】磁気ヘッドの記録電流を変化させながら磁気テープに信号を記録し、この磁気テープから磁気ヘッドで信号を再生してその再生信号を測定して磁気ヘッドの記録電流を設定する磁気テープ装置の記録電流設定方法において、マイクロコンピュータからＰＷＭ信号を出力してこのＰＷＭ信号により磁気ヘッドの記録電流を変化させることを特徴とする磁気テープ装置の記録電流設定方法。
【請求項２】（省略）。」
　
（７）【００１３】
【実施例】図１は本発明を適用した磁気テープ装置の記録電流設定回路の一例を示す。この例はデータバックアップ用磁気テープ装置の記録電流設定回路であり、記録用磁気ヘッド１１の記録電流を設定する時には、カートリッジに収容されている磁気テープ１２が走行駆動部により駆動されて図示矢印方向へ走行する。ＣＰＵ１３は１つの出力ポートＰから記録用磁気ヘッド１１の記録電流を記録用磁気ヘッド１１のバラツキを補正するように決めると同時に記録用磁気ヘッドの記録電流を磁気テープ１２の種類（記録密度、抗磁力等）に応じて切り換えるためのＰＷＭ信号を出力する。
【００１４】この場合、ＣＰＵ１３はＰＷＭ信号のパルス幅を例えば、書き込み駆動回路１４の入力信号電圧が０〜５Ｖ程度の間で２５６段階程度に分割されるような分解能で、図２に示すように記録用磁気ヘッド１１の記録電流を最小値から最大値まで変化させるように変化されながら出力ポートＰから出力する。ＣＰＵ１３の出力ポートＰからのＰＷＭ信号は平均化回路１５によって平均化され、この平均化回路１５は例えば抵抗Ｒ８及びコンデンサＣからなる平滑回路が用いられてＣＰＵ１３の出力ポートＰからのＰＷＭ信号を平滑する。
【００１５】平滑回路１５の出力の出力信号はインピーダンス変換回路１６を介して書き込み駆動回路１４に入力され、インピーダンス変換回路１６は演算増幅器の電圧フォロア、あるいはトランジスタのエミッタフォロア等により構成される。なお、平滑回路１５の出力インピーダンスを低インピーダンスに設計すればインピーダンス変換回路１６が不要になる。
【００１６】書き込み駆動回路１４は前述の書き込み駆動回路５と同様にトランジスタＱ１，Ｑ２、ナンド回路ＩＣ２，ＩＣ３および抵抗Ｒ６，Ｒ７により構成され、インピーダンス変換回路１６からの入力信号電圧に応じた記録電流を記録用磁気ヘッド１１に流して記録用磁気ヘッド１１が走行中の磁気テープ１２に信号の書込を行う。」
　
　同じく、原査定の拒絶の理由に引用された特開平３−９１１２４号公報（以下「引用例３」という。）には、図面と共に、以下の記載がある。
　
（８）「〔課題を解決するための手段〕
　この発明は、光ディスクに異なったレーザーパワーで複数のデータを試し書きし、試し書きされたデータを再生し、再生データ中のエラーを測定して記録時のレーザーパワーの最適範囲を決定し、この最適範囲の略中心に記録時のレーザーパワーを設定するようにした光ディスクドライブ装置である。」（２頁右下欄２〜９行）
　
（９）「試し書き用のトラックに互いに異なるレーザーパワーでデータが記録されたら、このデータが再生され、各アドレス毎に再生データ中のエラーがカウントされる（ステップ５３）。
　各アドレス毎の再生データ中のエラー数が所定の値Ｅ１以下かどうかが判断される。そして、エラー数が所定の値Ｅ１以下になるアドレスの範囲が検出される（ステップ５４）。このエラー数が所定の値Ｅ１以下になるアドレスの範囲が記録可能範囲である。
　このエラー数が所定の値Ｅ１以下になるアドレスの範囲の中間のアドレスにデータを記録した時のレーザーパワーに対応して、最適なレーザーパワーが設定される（ステップ５５）。」（４頁右上欄１２行〜左下欄５行）
　
（１０）第６図には、エラーレートと記録レーザーパワーとの関係を示すグラフが記載されている。
　
４．対比
　
　そこで、本願発明と引用例１に記載された発明とを対比する。
（１）引用例１に記載された発明の、磁気ディスク記憶装置の最適書込電流試験方法の「書込電流」および読み取り状態または書き込み状態に置く「リードライト回路」は、それぞれ本願発明の「記録電流」および「読出し／記憶素子」に相当する。また、引用例１に記載された発明の、ヘッドに流す書込電流を設定する「電流設定端子」は、本願発明の「記録電流制御端子」に相当する。そして、磁気ディスクにデータを書き込む際に書込電流（記録電流）を記録データに応じてヘッドに印加することは自明のことである。
　そうすると、引用例１に記載された発明は、本願発明の「磁気ディスク上へのデータ記録時に記録電流制御端子の電流量に対応する記録電流を記録データに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子」に相当する構成を備えている。
（２）引用例１に記載された発明の「電流指定コード」及び「書込電流調整回路」は、それぞれ本願発明の「記録電流制御値」及び「記録電流調整手段」に相当する。そして、引用例１に記載された発明の「書込電流」は、「電流指定コード」に応じて与えられるものである。
　そうすると、引用例１に記載された発明は、本願発明の「所定の記録電流制御値により記録電流制御端子の電流量を調整する記録電流調整手段」に相当する構成を備えている。
（３）引用例１に記載された発明の「磁気ディスク記憶装置」は、本願発明の「磁気ディスク記録装置」に相当する。
（４）引用例１に記載された発明の「最適書込電流試験方法」は、本願発明の「記録電流最適化方法」に相当する。
（５）引用例１には、「電流指定コードを逐次歩進させながら繰り返してその最大値により指定された最大電流値における試験を終了」（上記摘示事項（４）参照）と記載されている。そして、引用例１に記載された発明の「読取エラー回数」は、本願発明の「誤り発生回数」に相当する。さらに、引用例１に記載された発明は、「データの（電流指定コードに応じたる）書込電流を所定値に保ちかつディスクのトラックにヘッドをオントラックさせた状態で所定の試験データを書き込み、このトラックに対しヘッドをオンおよびオフトラックさせた状態で試験データを読み取って」「読取エラー回数の総和を（電流指定コードに応じた）書込電流に対応させて記憶」するものである。
　そうすると、引用例１に記載された発明は、本願発明の「磁気ディスク記録装置に備えられたヘッドに対して、記録電流制御値を一定の範囲内で段階的に増加させつつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し試験を行うことにより、」「各段階の記録電流制御値ごとに誤り発生回数を検査する試験過程」に相当する構成を備えている。
（６）引用例１に記載された発明は、「最低回数に対応する電流指定コードを最適電流指定コードとして選定する」から、本願発明の「最適な記録電流制御値として設定する設定過程」に相当する構成を備えている。
　　
　そうすると、本願発明と引用例１に記載された発明との＜一致点＞＜相違点＞は次の点である。
　
＜一致点＞
　
「磁気ディスク上へのデータ記録時に記録電流制御端子の電流量に対応する記録電流を記録データに応じてヘッドに印加する読出し／記録素子と、所定の記録電流制御値により前記記録電流制御端子の電流量を調整する記録電流調整手段と、を備える磁気ディスク記録装置の記録電流最適化方法において、
前記磁気ディスク記録装置に備えられたヘッドに対して、前記記録電流制御値を一定の範囲内で段階的に増加させつつ各段階ごとに一定の回数だけ読出し試験を行うことにより、各段階の記録電流制御値ごとに誤り発生回数を検査する試験過程と、
最適な記録電流制御値として設定する設定過程とを備えてなる記録電流最適化方法。」の点。
　
＜相違点＞
（ａ）「記録電流調整手段」について、本願発明は、「（記録電流制御値に対応する）デューティを有するパルス幅変調信号により」とするのに対し、引用例１に記載された発明は、スイッチの選択的な開閉である点。
　
（ｂ）「試験」及び「設定」について、本願発明は、「全てのヘッドに対してそれぞれ」及び「それぞれのヘッドごと」に行うのに対し、引用例１に記載された発明は、ヘッドに関して明記されていない点。
　
（ｃ）「最適な記録電流制御値」について、本願発明は、「誤り発生回数が急激に増加する最小段階の記録電流制御値と最大段階の記録電流制御値との平均を求め」たものであるのに対し、引用例１に記載された発明は、「読取エラー回数中の最低値に対応する」ものである点。
　
５．判断
　
　そこで、上記各相違点について検討する。
　
（相違点ａについて）
　本願発明及び引用例１に記載された発明と共通する技術分野に属する上記引用例２には、磁気テープ装置の記録電流設定方法において、マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）からＰＷＭ（パルス幅変調）信号を出力してこのＰＷＭ信号により磁気ヘッドの記録電流を変化させる技術（上記摘示事項（６）参照）が記載されている。
　そうすると、引用例１に記載された発明において、書込電流調整手段としてスイッチの選択的な開閉に代えて、「デューティを有するパルス幅変調信号により」とすることは、当業者が容易に想到できることである。
　
（相違点ｂについて）
  引用例１には、磁気ディスク記憶装置の最適書込電流値の設定に関して、「ヘッドのデータ読み書き特性の変動の影響が大きい」（上記摘示事項（１）参照）と記載され、また、「ヘッドを切り換えながら複数個のディスク面について試験を行うのが望ましい。」（上記摘示事項（４）参照）と記載されており、これらの記載から、ヘッドごとに最適書込電流試験を行うことが示唆されている。
　そして、原査定の拒絶査定で提示された特開昭６４−７６４０３号公報には、複数の書込ヘッド／読出しヘッドを備えた磁気ディスク装置において、ヘッド毎個別に最高性能が得られる回路定数（書込電流値等）を付与する技術（「特許請求の範囲」の記載参照）が記載されている。
　そうすると、引用例１に記載された発明においても、磁気ディスク記憶装置に備えられた全てのヘッドに対してそれぞれ（それぞれのヘッドごとに）試験及び設定を行う程度のことは、当業者が適宜容易になし得ることである。
　
（相違点ｃについて）
　上記引用例３には、光ディスクにおいて、試し書きされたデータを再生し、再生データ中のエラーを測定して記録時のレーザーパワーの最適範囲を決定し、その最適範囲の略中心を最適な値とする技術（上記摘示事項（８）参照）が記載されている。また、第６図からエラーレート特性は、エラー訂正可能なエラーレートの閾値外では、エラー訂正可能なエラーレートの範囲内に比較してエラーレートが急激に増加しており、換言すれば、エラーレートの閾値付近では、エラーレートが急激に増加する段階にあることが解る。
　そうすると、引用例１に記載された発明において、読取エラー回数中の最低回数に対応する電流指定コード（記録電流制御値）を最適な値とすることに代えて、記録電流制御値として許容できる最適範囲を決定し、その最適範囲の略中心（平均）を最適な値とすることは、当業者が容易に想到できることである。また、最適範囲の決定に際し、誤り発生回数が急激に増加する最小段階と最大段階の記録電流制御値により最適範囲とすることも当業者が適宜なし得る程度の事項である。　　
　
　そして、上記各相違点を総合的に判断しても、本願発明が奏する効果は引用例１乃至引用例３から、当業者が十分に予測できたものであって、格別なものとはいえない。
　
６．むすび
　
　以上のとおり、本願の請求項５に係る発明は、引用例１乃至引用例３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。