【事件の表示】
　特願２００４−　５８４４３「分光装置応答特性の平準化法」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　９月１５日出願公開、特開２００５−２４９５０７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１６年３月３日の出願であって、平成１８年６月２９日付けで拒絶査定がされ、これに対し同年８月２日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同年８月２５日付けで手続補正がなされたものである。
　
　
２．平成１８年８月２５日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１８年８月２５日付けの手続補正を却下する。
［理由］
　平成１８年８月２５日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）は、特許請求の範囲を補正するものであって、平成１７年１２月１４日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項１
「　【請求項１】
　基準とする分光装置である親機にて測定した標準物質のスペクトルを、親機に類似した他の分光装置である子機で測定したその標準物質のスペクトルから差し引くことにより親機と子機の差スペクトルを求め、その差スペクトルを子機で測定する個々の測定対象試料のスペクトルから差し引くことにより、子機の応答特性を親機の応答特性に一致させる分光装置応答特性の平準化法において、前記標準物質のスペクトルは、測定対象試料の２次微分スペクトルの平均スペクトルであることを特徴とする分光装置応答特性の平準化法。」
を
「　【請求項１】
　　基準とする分光装置である親機にて測定した標準物質のスペクトルを、親機に類似した他の分光装置である子機で測定したその標準物質のスペクトルから差し引くことにより親機と子機の差スペクトルを求め、その差スペクトルを子機で測定する個々の測定対象試料のスペクトルから差し引くことにより、子機の応答特性を親機の応答特性に一致させる分光装置応答特性の平準化法において、前記標準物質のスペクトルは、
重回帰モデルを補正して得た
と補正するものである。
　
　当該補正は、補正前の発明の２次微分スペクトルの平均スペクトルである標準物質のスペクトルを「
重回帰モデルを補正して得た
　
　一方、本願出願当初の明細書には、以下の記載がある。
「【０００６】
  また、近赤外分光法を用いて定量分析・定性分析を行うためのキャリブレーションモデル（以後、モデルという。）において同モデルを開発した機器から類似した他の機器に移設する場合、分光装置応答特性の違いにより誤差が発生する。定量分析の場合、補正方法としてモデルのバイアス補正という方法があるが、この方法は推定結果の補正であり、モデルごとの補正が必要で、労力が必要であるとともに作業が煩雑である。
  一方、定性分析の場合の補正方法はまだ開発されていない。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
  本発明は親機で開発したモデルを子機で使用できるようにするため、分光装置応答特性の違いから発生するスペクトルの歪みを補正する分光装置応答特性の平準化法を提供することを目的とする。
  上記目的を達成するため本発明に係る分光装置応答特性の平準化法は、子機で測定した標準物質のスペクトル、例えば２次微分スペクトルから親機で測定した同物質のスペクトル、例えば２次微分スペクトルを差し引くことにより子機と親機の差スペクトルを求め、その差スペクトルを子機で測定する個々の測定対象試料の２次微分スペクトルから差し引くことにより、子機の応答特性を親機の応答特性に一致させる方法を提供する。尚、２次微分スペクトルを採用することにより、ベースラインのシフトが無くなるというメリットがある。」、
「【００１３】
  図１の(1)における親機によるモデルの作成の段階では、被測定体の複数の試料（リンゴ）１を、まず親機のセンサー２で測定し、親機の２次微分スペクトル３を得る。次に、前記複数の試料（リンゴ）１の化学分析値４を求める。前記２次微分スペクトル３と前記化学成分値４のデータを基に重回帰分析等ケモメトリックスの方法によりモデル５を得る。
【００１４】
  図１の(2)における親機と子機の分光特性の差を求める段階では、被測定体の複数の試料（リンゴ）６を、まず親機のセンサー２で測定して、親機の２次微分スペクトルの平均スペクトル７を得る。次に、子機のセンサー８で同じ被測定体の複数の試料（リンゴ）６を測定して、子機の２次微分スペクトルの平均スペクトル９を得る。更に該子機の平均スペクトル９から前記親機の平均スペクトル７を引いて、２次微分値の差スペクトル１０を得る。
  図１の(3)における子機の分光特性の平準化の段階では、被測定体の個々の試料（リンゴ）１１を子機のセンサー８で測定して、子機の２次微分スペクトル１２を測定して、前記２次微分スペクトル１２から前記差スペクトル１０を差し引くことによって得られる平準化２次微分スペクトル１３を得る。該平準化２次微分スペクトル１３に前記モデル５を適用することにより、目的とする化学成分値１４を得る。
【００１５】
  図２は分散型近赤外装置（NIR Systems社製、NIRS6500）２台（近赤外装置ＡおよびＢとよぶ。）で測定したリンゴ（品種：ふじ）の近赤外２次微分スペクトルである。該近赤外装置には光源にタングステンランプ、分光器に回折格子、センサーにシリコン検出器が用いられている。
【００１６】
　近赤外装置Ａで測定した１００個のリンゴスペクトルの２次微分値および糖度（Brix値）を基に重回帰により次式のモデルを開発した。
　　　　C=16.035-266.386D2A(906)+1351.578D2A(870)                     　　　（1）
ここで、CはBrix値、D2A(906)及びD2A(870)はそれぞれ９０６ｎｍ及び８７０ｎｍにおけるスペクトルの2次微分値である。」
　
　段落【００１３】および【００１６】において「重回帰」という用語が用いられているが、いずれもモデルを得るまたは開発するために行われるものであり、ここでは定量分析・定性分析を行うためのキャリブレーションモデルのことをモデルと称している（段落【０００６】）。ところが、補正後の請求項１に係る発明では、測定対象試料の２次微分スペクトルの平均スペクトルを得るために重回帰モデルが用いられており、ここでの重回帰モデルは定量分析・定性分析の値を算出するためのキャリブレーションモデルを得るためのものではなく、２次微分スペクトルの平均スペクトルを導き出すものである。したがって、補正後の請求項１に係る発明における「重回帰」は、本願明細書の段落【００１３】または【００１６】に基づくものとは認められない。また、本願明細書の段落【００１３】および【００１６】以外の箇所に、「重回帰」という用語は記載されていない。
　
　よって、補正後の請求項１に係る発明について、「重回帰モデルを補正して得た測定対象試料の２次微分スペクトルの平均スペクトル」とする補正は、本願の出願当初の明細書又は図面に記載した事項の範囲においてしたものではないので、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第３項の規定に違反するものである。
　
　したがって、本件補正は、特許法第１５９条で読み替えて準用する特許法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
　
３．本願発明について
　平成１８年８月２５日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、平成１７年１２月１４日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、上記 ２．に記載したとおりのものである。
　
　
４．引用例に記載された発明について
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、平成１１年１１月２６日に公開された特開平１１−３２６０４６号公報（以下「引用例１」という。）には、
「【請求項１】  被測定物を化学的手法や物理的手法により分析しその特性値を明らかにしておき、オフラインの近赤外分光分析計により同じ被測定物のスペクトルを求め、このスペクトルと前記特性値との関係を表す検量線を求めておき、同じ種類の被測定物の中から少なくても１つのサンプルを選び、前記オフラインの近赤外分光分析計とオンラインの近赤外分光分析計とでスペクトルを求め、得られた両スペクトルの差を求めておき、前記オンラインの近赤外分光分析計で同じ種類の被測定物のスペクトルを測定し、この測定したスペクトルを前記両スペクトルの差で修正し、この修正スペクトルと前記検量線を用いて被測定物の特性値を推定することを特徴とするオンライン用分光分析計の計測値解析方法。」、
「【００１８】近赤外分光法による対象物の特性値の推定は石油化学などの液体の製造ラインや、固体、粒状物に対して行われている。本実施形態ではガソリンの特性値のオンライン分析計の計測解析方法について説明する。ガソリンではオクタン価（RON)、蒸気圧(RVP) 、蒸留( 例えば５０％蒸発する温度でこれをT50 と表す) などの項目がオンラインで測定される。
【００１９】ガソリンの特性値のオンライン分析計の計測解析は次の３ステップで行われる。
第１ステップ
被測定物のサンプルを用意し、化学的分析や物理的手法により、特性値RON,RVP,T50 の測定（この測定値を手分析値またはラボ値という）をする。これとともにラボ分析計を用いて各サンプルのスペクトルを測定する。このスペクトルと前記特性値との関係を表す検量線を統計的手法により作成する。この検量線は特性値毎、つまりRON,RVP,T50 毎に作成される。ガソリンの組成は原油の生産地により異なること、シーズンにより精製ラインの製品分布が変化するので、ガソリンの基材となるものの変化が大きく、このためサンプルを集める期間が長くなり、長い場合には一製油所で検量線を作成するのに一年間が必要ともいわれている。従来、製油所が異なると検量線は共通に使用できず、それぞれで作成していた。
【００２０】第２ステップ
ラボ分析計で作成した検量線をオンライン分析計に移設するに当たり次の作業をを行なう。被測定物の中から１つのサンプルを選び、ラボ分析計とオンライン分析計とでスペクトルを求め、得られた２つのスペクトルの差（例えば、ラボ分析計のスペクトルよりオンライン分析計のスペクトルを引いた差）を求める。この差が２つの分光分析計の計器差となる。発明者は多数のサンプルの計測からこの計器差は被測定物が同じ種類（例えばガソリンであれば、生産地が異なっても）の場合、ほぼ一定であることを見出した。また１つのサンプルでこの計器差を算出しても問題ないことを見出した。本発明はこの発見に基づくものである。この１つのサンプルとしては、可能であれば測定範囲の中心に近いサンプルを選ぶことが望ましい。例えば、ガソリンのオクタン価RON を測定する場合、測定範囲が８５〜９４とすれば、９０前後のサンプルを選択する。しかし測定項目が、ガソリンのように３項目（RON,RVP,T50)の場合、全ての項目に対して中心値に近い保証はない。従ってこのように複数項目計測する場合は、最も重要視する項目、例えば、RON の測定範囲に対して中心値に近いサンプルを選択する。
【００２１】第３ステップ
オンライン分析計にこの計器差とラボ分析計で作成した検量線を記憶させる。オンライン分析計では、被測定物のオンラインで計測したスペクトルを計器差で補正する。つまりオンライン分析計のスペクトルに計器差を加算する。（なお計器差をオンライン分析計のスペクトルからラボ分析計のスペクトルを引いた場合は、オンライン分析計のスペクトルから計器差を減算する）これによりオンライン分析計のスペクトルをラボ分析計のスペクトルに換算したことになる。この加算したスペクトルをラボ分析計で作成した検量線を用いて解析し、測定項目の推定値を得る。以上の解析はコンピュータで行われ、その結果はモニタ画面に表示される。」
と記載されている。これらの記載によれば、引用例１には、
「ラボ分析計とオンライン分析計とでスペクトルを求め、得られた２つのスペクトルの差をオンライン分析計のスペクトルからラボ分析計のスペクトルを引いて求めておき、オンライン分析計のスペクトルから計器差を減算し、ラボ分析計で作成した検量線を用いて解析し、測定項目の推定値を得る分光分析計の計測値解析法。」
が開示されていると認めることができる。
　
（２）原査定の拒絶の理由に引用され、平成８年６月１１日に公開された特開平　８−１５２４００号公報（以下「引用例２」という。）には、
「【００１４】あるいは、平均蛋白含量が標準の基準サンプルの所定範囲であるが、バラツキが大きいときは、他玄米とのブレンド米の対象としては不適当と判断される。このように、品質特性値等のみならず、基準サンプルとのバラツキの比較によって当該測定対象サンプルのバラツキ程度を確認できるから、その後の加工適正評価等品質特性の評価が行なえ、評価対象を多くして評価の精度を向上させるものである。第２の近赤外分析装置２３には近赤外分析装置４の検量線が移設されてあるが、波長のずれが、測定機種の相違、光源の特性その他の原因で発生し易く、このためその検量線移設の際には主波長の修正を要する。その要領は次のとおりである。上記システムにおいて、例えば、玄米非粉砕の基準サンプルを親機としての近赤外分析装置４にて測定する。その分光特性データは記憶部１７に記憶される。次いでそのサンプルを子機としての近赤外分析装置２３に供給する。ここでも分光特性データを測定し記憶する。先の親機側の分光特性データは子機側に転送され比較表示される。子機２３側の制御部２８は、これら分光特性データの比較によって主波長の修正を行なうものである。
【００１５】いま、親機４と子機２３の分光特性データ（原スペクトル）の一例が図３のとおりである。これを２次微分（図４）してその要部を拡大すると図５のとおりとなるものとする。目的の検量線ＣPを、波長λ1，λ2を主波長として構成するものとする。
ＣP＝ｋ0＋ｋ1△ＯＤ2λ1＋ｋ2△ＯＤ2λ2（△ＯＤ2は２次微分をあらわす）であらわされるが、λ2はともかくλ1については機差が生じており波長の修正を要する。その手順は、
（１）主波長の近赤外線の極値λα1からのずれ量α1を求める。
【００１６】α1＝λα1−λ1（２）次いで親機４のλα1に相当する子機２３の近傍の極値λα2を求める。
（３）従って、修正主波長λ1’は、
λ1’＝λα2−α1＝λα2−λα1＋λ1＝△λ＋λ1となる。
【００１７】この修正主波長λ1’を上記検量線にあてはめ、
  ＣP’＝ｋ0’＋ｋ1’△ＯＤ2λ1'＋ｋ2’△ＯＤ2λ2とし、具体的にｎ個のサンプルを用いて係数ｋ0’，ｋ1’，ｋ2’を決定し、この検量線とともに、記憶部２７に記憶するものである。なお、上記主波長修正の実行は親機４側の制御部で行なってもよい。
【００１８】従来波長のずれを確認できないままで、微な範囲の調整を行なってはいたが、機種の相違や光源の相違等、分光特性に大きく影響する場合には相当の時間を要していたが、上記のように、対象サンプルにつき、親機４と子機２３とで分光特性データを比較し、そのずれ量を予め確認して目的とする検量線の主波長を修正するものであるから、円滑な移設作業をおこなうことができる。」
と記載されている。これらの記載によれば、引用例２には、
「分光特性データを２次微分して目的の検量線にあてはめること。」
が開示されていると認めることができる。
　
（３）平成１５年９月２５日に公開された特開２００３−２７０１３３号公報（以下「引用例３」という。）には、
「【００４１】そして、前記解析手段１００は、このようにして得られた各種データに基づいて公知技術である分光分析手法を用いて被計測物Ｍの内部品質を解析する演算処理を実行するように構成されている。つまり、上記したようにして得られた受光センサ２５にて計測された計測データを、前記基準データ計測モードにて求められた基準データ及び暗電流データを用いて正規化して、各波長毎の吸光度の情報に対応する分光スペクトルデータとしての吸光度スペクトルデータを得るとともに、その吸光度スペクトルデータの二次微分値を求める。そして、その二次微分値により被計測物Ｍに含まれる糖度に対応する成分量や酸度に対応する成分量を算出する解析演算処理を実行するように構成されている。吸光度スペクトルデータｄは、基準データをＲｄ、計測データをＳｄとし、暗電流データをＤａとすると、
【００４２】
【数１】
ｄ＝ｌｏｇ｛（Ｒｄ−Ｄａ）／（Ｓｄ−Ｄａ）｝
【００４３】という演算式にて求められる。そして、解析手段１００は、このようにして得られた吸光度スペクトルデータｄを二次微分した値のうち特定波長λ１、λ２での値Ａ（λ１）、Ａ（λ２）と、計測データＳｄが計測されたときにおける温度センサ４１の計測値Ｔａ（凹面回折格子２４の温度の情報）とに基づいて、下記の数２に示される検量式を用いて被計測物Ｍに含まれる成分量に対応する検量値を算出する。
【００４４】
【数２】Ｙ＝Ｋ０＋Ｋ１・Ａ（λ１）＋Ｋ２・Ａ（λ２）＋Ｋ３・Ｔａ
【００４５】但し、
Ｙ  ；成分量に対応する検量値
Ｋ０，Ｋ１，Ｋ２  ；係数
Ａ（λ1 ），Ａ（λ2 ）  ；特定波長λにおける吸光度スペクトルの二次微分値
Ｔａ  ；温度センサ４１の計測値」
と、記載されている。これらの記載によれば、引用例３には、
「分光スペクトルデータとしての吸光度スペクトルデータを得るとともに、その吸光度スペクトルデータの二次微分値を求め、その二次微分値により被計測物Ｍに含まれる糖度に対応する成分量や酸度に対応する成分量を検量式を用いて算出する解析演算処理を実行する分光分析手法」
が開示されていると認めることができる。
　
（４）平成６年２月１８日に公開された特開平　６−　４３０９５号公報（以下「引用例４」という。）には、
「【０００９】
【実施例】次に、本発明の実施例について、以下に図面を参照して説明する。
【００１０】この実施例は、図１に示すように近赤外線分光装置１と、その近赤外線分光装置１の各部を制御するとともに、その装置１から得られるデータの処理を行う制御処理装置２と、から構成する。」、
「【００１６】この実施例では、試料が基準温度Ｔｏ（摂氏２０度近傍）における検量線を、以下のようにして求める。
【００１７】まず基準板を近赤外線分光装置１の測定位置にセットし、近赤外線分光装置１を動作させると、光源３から発射する近赤外線は、反射鏡４を経由して回折格子６に到達し、ここで分光されたのち基準板で反射し、その反射光は反射光検出器９で検出される。回折格子６の回転に伴って反射光の波長が変わるので、反射光検出器９では波長に応じた信号が連続的に検出される。そこで、その検出信号を読み込む動作（対照スペクトルの測定）を、所定回数行ったのち、そのスペクトルの平均を求める。
【００１８】次に、測定成分の濃度がわかっている標準試料（温度は摂氏２０度近傍とする）の入った試料セルを、試料セル移送モータ２２の駆動により測定位置にセットする。そして、近赤外線分光装置１が再び動作すると、反射光検出器９は標準試料からの反射光を検出する。そこで、標準試料のスペクトルの測定を所定回数行ったのち、その測定スペクトルの平均を求め、対照スペクトルと測定スペクトルとから吸光度を算出する。
【００１９】そして、濃度の異なる複数の標準試料について上述のように吸光度を求め、その測定吸光度と既知の濃度に基づき、基準温度Ｔｏ（摂氏２０度近傍）における検量線をあらかじめ求めておく。
【００２０】さらに、測定成分がわかっている標準試料について、例えば温度が摂氏３度近傍、摂氏２０度近傍、および摂氏３４度近傍における各吸光度スペクトル求め、引き続き、温度が摂氏２０度のときの吸光度スペクトルを基準とし、それと温度が摂氏３度のときの吸光度スペクトルとのずれ量を算出するとともに、温度が摂氏３４度のときの吸光度スペクトルと上記の基準スペクトルとのずれ量をあらかじめ算出しておく。そして、これら算出したずれ量を、記憶装置２７にあらかじめ記憶しておく。」
と記載されている。これらの記載によれば、引用例４には、
「近赤外線分光装置１と、その装置１から得られるデータの処理を行う制御処理装置２において、対照スペクトルの測定を所定回数行ったのちそのスペクトルの平均を求め、標準試料のスペクトルの測定を所定回数行ったのちその測定スペクトルの平均を求め、対照スペクトルと測定スペクトルとから吸光度を算出すること、および、吸光度スペクトルと上記の基準スペクトルとのずれ量をあらかじめ算出しておくこと。」
が開示されていると認めることができる。
　
（５）平成９年１１月４日に公開された特開平　９−２８８０５６号公報（以下「引用例５」という。）には、
「【００３４】以下、被測定試料の等級を決定する第１実施の形態について説明する。被測定試料の等級を近赤外線分析法を用いて決定するに当たり、決定の基準となる標準スペクトルを定める。官能試験により得られた食味に基づき定められた等級ごとに官能試験で用いた精白米と同種のまたは同一ロットの精白米を１０〜２０試料用意する。全ての等級について必要となるので、この等級数倍の試料米が必要となる。ここに精白米の「種類」と稱しているのはコシヒカリ・ササニシキなどの遺伝子的品種に限らず、産地別、保存方法の差異、保存期間の相違なども異なるものは異なる種類の試料米として扱う。
【００３５】各等級の全ての試料米について精白米の表層を４〜５重量％研削して得た試料粉につき近赤外領域７００〜２５００ｎｍの波長範囲を２ｎｍ毎に走査して９００吸光度データを得る。これらの吸光度データは対数処理、微分処理をして使用する。
反射光強度：Ｒ，透過光強度：Ｔ，波長：λとすると、ｄ2 （ｌｏｇＲ）／ｄλ2 またはｄ2 （ｌｏｇＴ）／ｄλ2 を算出し、以降この２次微分値を吸光度データと称する。このように吸光度、または各波長の吸光度からなるスペクトルは、反射光強度Ｒまたは透過光強度Ｔを用いてもよいが、通常はそれらの値の対数値の１次微分や２次微分をとり正規化して用いることによりドリフトや照明強度の変化を打ち消し測定誤差を減少させる。
【００３６】このようにして各等級ごとに得られた各試料粉のスペクトル（各波長の吸光度の集合）について、各波長における各試料粉の吸光度の平均値を求め、この平均値よりなるスペクトルを標準スペクトルと称する。標準スペクトルは各等級毎に作成される。」
と記載されている。これらの記載によれば、引用例５には、
「近赤外線分析法を用いるに当たり、決定の基準となる標準スペクトルを定める方法として、近赤外領域の波長範囲を走査して吸光度データを得、各波長の吸光度からなるスペクトルは対数値の２次微分をとりドリフトや照明強度の変化を打ち消して測定誤差を減少させ、各波長における各試料粉の吸光度の平均値を求め、この平均値よりなるスペクトルを標準スペクトルと称すること。」
が開示されていると認めることができる。
　
　
５．対比
　そこで、本願発明と引用例１に記載された発明とを比較すると、引用例１に記載された発明の「ラボ分析計」は分光法に用いられるものであり、これを用いて各サンプルのスペクトルを測定し、オンライン分析計に移設して用いるための検量線を作成するものであるから、モデルの開発に用いられるものである本願発明の「基準とする分光装置である親機」に相当する。また、引用例１に記載された発明の「オンライン分析計」は、ラボ分析計で作成された検量線が移設されるものであるから、親機で開発したモデルを使用できるようにする本願発明の「親機に類似した他の分光装置である子機」に相当する。そして、引用例１に記載された発明の「ラボ分析計とオンライン分析計とでスペクトルを求め、得られた２つのスペクトルの差をオンライン分析計のスペクトルからラボ分析計のスペクトルを引いて求め」る工程は、本願発明の「基準とする分光装置である親機にて測定した標準物質のスペクトルを、親機に類似した他の分光装置である子機で測定したその標準物質のスペクトルから差し引くことにより親機と子機の差スペクトルを求め」る工程に相当し、引用例１に記載された発明の「オンライン分析計のスペクトルから計器差を減算する」工程は、本願発明の「差スペクトルを子機で測定する個々の測定対象試料のスペクトルから差し引く」工程に相当する。そして引用例１に記載された発明は、この減算の結果オンライン分析計のスペクトルをラボ分析計で作成した検量線を用いて解析していることから、本願発明と同様に「子機の応答特性を親機の応答特性に一致させる分光装置応答特性の平準化」がなされているものである。
　したがって、両者は、
「基準とする分光装置である親機にて測定した標準物質のスペクトルを、親機に類似した他の分光装置である子機で測定したその標準物質のスペクトルから差し引くことにより親機と子機の差スペクトルを求め、その差スペクトルを子機で測定する個々の測定対象試料のスペクトルから差し引くことにより、子機の応答特性を親機の応答特性に一致させる分光装置応答特性の平準化法。」の点で一致し、以下の点で相違している。
［相違点１］標準物質のスペクトルとして、本願発明は、２次微分スペクトルを用いているのに対し、引用例１に記載された発明では、原スペクトルを用いている点。
［相違点２］標準物質のスペクトルとして、本願発明は、平均スペクトルを用いているのに対し、引用例１に記載された発明では、１つのサンプルから求めたスペクトルを用いる点。
　
　
６．判断
［相違点１］について
　測定データをノイズ処理等の前処理を行ってから演算処理に利用することは一般に行われていることであり、前処理を行うか否かは必要に応じて当業者が適宜選択しうることである。そして、引用例２および引用例３に例示されるように、測定したスペクトルに対して検量線をあてはめて特性値を算出するに際し、前処理として２次微分したスペクトルを用いることは従来より周知である。
　したがって、引用例２および引用例３と同様に、測定したスペクトルに対して検量線をあてはめて特性値を算出する引用例１に記載された発明において、従来より当該分野で用いられていたようにスペクトルを２次微分して用いることは、当業者ならば容易に想到しうることである。
　そして、２次微分スペクトルを用いることによりベースラインのシフトを除去しうるという効果は既知のものであり、２次微分スペクトルを採用することによって格別な効果の差異を生じるとは認められない。
　
［相違点２］について
　引用例１に記載された発明は、平均スペクトルを用いるものではないが、２つのスペクトルの差を求める際に１つのサンプルを選ぶにあたり、「多数のサンプルの計測からこの計器差は被測定物が同じ種類の場合、ほぼ一定であることを見出した」ことを理由として挙げ、「１つのサンプルでこの計器差を算出しても問題ない」と結論づけている。
　多数の計測により得られる値が特定の値を中心にばらつくような場合に、多数の計測により得られた値の平均値を算出して用いることは、分析を行う際に広く一般に行われている手法である。そして、引用例１において適用される対象ではほぼ一定であることから平均化処理が不要であるが、例えば引用例４および引用例５に示されるように対象によっては測定値がある程度ばらつくためスペクトルの平均化処理を行うことも一般に知られている。平均値を算出する処理を行うか否かはそれぞれの対象に応じて当業者が適宜選択しうることである。
　したがって、引用例１に記載された発明において、スペクトルを複数求め平均スペクトルを算出して用いることは、当業者ならば容易に想到しうることである。
　
　したがって、本願発明は、引用例１に記載された発明および上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　
７．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明、および上記周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。