【事件の表示】
　特願２００１−１０２４８９「地盤の調査方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年１０月　９日出願公開、特開２００２−２９６１８９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯
　本願は平成１３年３月３０日の出願であって、平成１７年１２月２１日付け拒絶理由通知に対して、平成１８年２月２７日付けで手続補正がなされたが、同年４月３日付けで拒絶査定され、これに対し、同年５月８日に拒絶査定不服審判が請求されるとともに、同年６月６日に手続補正がされたものである。
　
II．平成１８年６月６日付け手続補正についての補正却下の決定
〔補正却下の決定の結論〕
　平成１８年６月６日付け手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。
〔理由１〕
II−１−１．特許請求の範囲についてする補正
　本件補正は、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明についてするもので、特許請求の範囲の請求項１についてする補正は、本件補正前の請求項１の「炭酸ガス（CO２）レーザ光」なる事項を、「地盤中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅のパルス炭酸ガス（CO２）レーザ光」と限定するものであるから、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第４項第２号に掲げる事項を目的とするものである。
　そこで、本件補正後の特許請求の範囲に記載されている発明特定事項により特定される発明が、特許出願の際、独立して特許を受けることができるものであるか否か、すなわち、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たすか否かを、請求項１に係る発明（以下、「本願補正発明」という。）について、以下に検討する。
II−１−２．本願補正発明
　本願補正発明は、次のとおりのものである。
「【請求項１】地盤の被調査部位に地盤中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅のパルス炭酸ガス（CO２）レーザ光を照射してプラズマを発生させ、該プラズマの発光のスペクトル強度分布中における汚染物質成分のスペクトル強度と汚染物質以外の特定地盤成分のスペクトル強度との強度比に基づき前記被調査部位の汚染物質又はその濃度を検出してなる地盤の調査方法。」
II−１−３．引用文献
（３−１）引用文献１
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願前に頒布された刊行物である国際公開第００／１４５１６号（以下、「引用文献１」という。）には、以下の技術的事項が記載されている。なお、以下の引用文献１に関する邦文による摘記は、引用文献１に対応する国内公表公報である特表２００２−５２４７３２号公報に基づいた。
（ア）「【請求項１】レーザ光を材料に衝突させて、材料の少なくとも一部分を蒸発して、イオン化し、そこからスペクトル放射を生じさせるレーザと、材料からのスペクトル放射を検出する複数の検出手段であって、各検出手段がスペクトル放射のスペクトルの一部を検出する検出手段と、前記スペクトル放射について前記複数の検出手段からデータを収集するデータ収集手段と、材料内の元素または核種の存在または量、あるいはその両者を判断する判断手段とを含む装置。
……
【請求項１３】レーザが、１０６４ナノメートルのＮｄ：ＹＡＧレーザ、すなわち５３２ナノメートルと３５５ナノメートルと２６６ナノメートルの高調波波長をもつＮｄ：ＹＡＧレーザ；３０８ナノメートルのＸｅＣｌのエキシマレーザ、または２４８ナノメートルのＫｒＦのエキシマレーザを含むガスレーザ；二酸化炭素レーザ；色素レーザを含む液体レーザ；または波長／周波数シフト；高調波生成またはその混合を含むグループから選択される請求項１ないし１２の何れか１項記載の装置。
……
【請求項１６】装置が、地中の材料を分析するためのホール内または地中の装置を含む請求項１ないし１４の何れか１項記載の装置。
……
【請求項２０】前記材料にレーザ光を当てて、前記材料を少なくとも部分的に蒸発して、イオン化し、スペクトル放射を生じさせることと、複数の検出手段を使用して前記スペクトル放射を検出し、前記複数の検出手段の各々がスペクトル放射のスペクトルの一部を検出することと、複数の検出手段からデータを収集することと、前記データを分析して、材料内の元素または核種の存在または量、あるいはその両者を判断することとを含む方法。」（頁番号１２〜１４（対応する国内公表公報の【特許請求の範囲】の欄））
（イ）「【００３０】図１に示した装置を使用する際に、制御手段46は制御信号をレーザ10へ送り、レーザはレーザ光のパルスを放射する。レーザ光10のパルスが材料14の表面上で焦点を結ばれて、材料14の小さい部分の蒸気化およびイオン化を行う。
【００３１】制御信号がレーザ光10のパルスをレーザによって放射した少し後で、制御手段46が制御信号を検出手段20、22、24へ送ると、これらの検出手段はオンになる。レーザの励起と分光計の動作の開始との間にはわずかな遅延があり、ＣＣＤ検出器がレーザ光のパルスを検出せず、放射されたスペクトルのみを検出することを確実にすることが好ましい。この制御信号によって分光計26、30、34は所定の期間に関連するスペクトル領域から光を集め、ＣＣＤ検出器28、32、36がその光を検出できるようにする。分光計26、30、34の各々は、放射スペクトルの特定の領域から光を収集する。特定の領域は、スペクトラムのディスクリートで、別個の領域であるか、または分光計の１つによって収集されるスペクトル領域と分光計の別のスペクトル領域と部分的に重なり合っていてもよい。検出手段20、22、24はサンプル14から放射されたスペクトル領域からの光を収集および検出する一方で、ＣＣＤ検出器はさらに情報を各データ捕捉カード38、40、42へ送る。ＣＣＤ検出器は、ピクセルとして知られている光感知材料（通常はシリコン）の個々の領域から形成される。各ピクセルは光強度を電荷または電流に変換し、次にデータ捕捉カードによってディジタル化される。各検出手段に対して別々のデータ捕捉カードを使用すると、大量のデータを迅速に収集することができ、したがって材料の迅速な分析を高スペクトル分解能で行うことができる。
【００３２】次に捕捉カード38、40、42によって収集されるデータは、コンピュータによって分析されて、材料内に存在している元素または核種を判断し、さらにそれらの元素または核種の各々の関係する量を判断する。材料内の各元素または核種の量は、所定の元素または核種のスペクトル放射の特徴である波長においてスペクトルライン内の領域を統合し、この領域を特定の元素または核種の既知の内容をもつ材料から得られる同じスペクトルライン内の領域と比較することによって判断することができる。」（頁番号７第１行〜頁番号８第２行（対応する国内公表公報の【００３０】〜【００３２】））
（ウ）「【００３８】第１に、ダイナミックレンジは、分光計システムの感度によって判断される。これはＣＣＤの感度および分解能に、検出器への光透過レベル（例えば、フィルタの使用によって調節可能である）を加えた関数である。
【００３９】ダイナミックレンジを調節する第２の方法は、レーザの出力に関係している。この技術の感度（すなわち、検出制限）は決定的にレーザ出力に依存する。したがってレーザ出力を調節して、ユーザに使用可能なダイナミックレンジを広げる好都合な方法を提供する。この装置におけるレーザ出力の調節は、タイミングまたは制御回路を変化するか、または装置の設計者が使用できる多数の他の方法によって実行することができる。これは、本発明の別の長所である。」（頁番号９第５〜１５行（対応する国内公表公報の【００３８】〜【００３９】））
（エ）「【００４４】ここで図３を参照すると、地中の分析器は、レーザを含むレーザ分析システム50を含む。光ファイバケーブル51はレンズシステム52へリンクされ、レーザ分析システム50からのレーザ光を、分析される材料の領域へ送ることができるようにする。ボアホール54は地面を予めドリルされて作られるか、または針入装置によって形成される。
【００４５】光ファイバケーブル51およびレンズシステム52は、ボアホール54へ挿入される強力なハウジング55内に収容される。ハウジング55はクリアウインドウ53を含み、クリアウインドウ53にはレンズシステム52が隣接して位置付けられている。これは、図３の挿入された拡大図内により明白に示した。したがってレーザ光はクリアウインドウ53に隣接する石炭に当たって、プラズマを形成することができる。プラズマの放射スペクトルは分析のために光ファイバケーブル51を介してレーザ分析システム50へ戻される。レーザ分析システム50は、これに関して、図１に示した装置に本質的に同じである。」（頁番号１０第１７−２９行（対応する国内公表公報の【００４４】〜【００４５】））
（オ）図面のうち頁番号１／４のＦig１には「装置の模式図」が、同じく頁番号３／４のＦig３には「地中分析器の模式図」が、それぞれ図示されている。（対応する国内公表公報の【図１】、【図３】）
　これらの記載からして、引用文献１には次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている
「地面を予めドリルして作ったボアホール内の分析される材料の領域へ、レーザ分析システムからのレーザ光を送ることができる地中の分析器、
パルス炭酸ガスレーザ光を材料に衝突させて、材料の少なくとも一部分を蒸発して、イオン化し、そこからスペクトル放射を生じさせるレーザと、
材料からのスペクトル放射を検出する複数の検出手段であって、各検出手段がスペクトル放射のスペクトルの一部を検出する検出手段と、
前記スペクトル放射について前記複数の検出手段からデータを収集するデータ収集手段と、材料内の元素または核種の存在または量、あるいはその両者を判断する判断手段とを含む装置。」
　
（３−２）引用文献５
　同じく原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開平８−２１９９９３号公報（以下、「引用文献５」という。）には、以下の技術的事項が記載されている。
（カ）「【請求項１】パルスレーザー光を溶融金属表面に照射し発生する励起光を分光して測光し分析するレーザー発光分光分析において溶融金属に上方から挿入して用いるプローブであって、上面にレーザー光の透過窓を備え、上方に不活性ガスの導入口と励起光の採光部を備え、下方に開口面が設けられ、且つこの開口面が水平面に対して傾斜を有することを特徴とする溶融金属のレーザー発光分光分析用プローブ。」
（キ）「【０００４】発光分光分析では、励起された元素が発する固有波長の発光強度からその元素の濃度を求めるが、発光及び採光条件の変動を相殺するために同時に内標準元素即ち金属の母体となる元素についてもその発光強度を測定し両者の発光強度比を基本データにすることが一般に行われる。この強度比から濃度を求めるには検量線を用いるが、この検量線は成分濃度既知の金属即ち標準試料に励起のためのエネルギを投入し、上記の発光強度比を求めこれと濃度の関係を示したものである。」
　これらの記載から、引用文献５には次の発明（以下、「引用文献５発明」という。）が記載されている。
「パルスレーザー光を溶融金属表面に照射し、励起された元素が発する固有波長の発光強度からその元素の濃度を求めるレーザー発光分光分析において、同時に金属の母体となる元素についてもその発光強度を測定し、両者の発光強度比から濃度を求める方法。」
　
（３−３）引用文献６
　同じく原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開平８−１５１５３号公報（以下、「引用文献６」という。）には、以下の技術的事項が記載されている。
（ク）「【請求項１】レーザ照射用ランスを介して、レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、上記溶融物試料面に超音波を別途照射し、その反射波を検出して該溶融物試料面高さを測定し、上記レーザ照射用ランス先端と溶融物試料面間の距離を一定に保つことを特徴とするレーザ発光分光分析方法。」
（ケ）「【００２０】図２は、溶融亜鉛めっき浴中のＡｌ濃度を連続分析したときの時間と発光スペクトル線の強度比（Ａｌ／Ｚｎ）との関係を示したものである。……図２で得られた発光スペクトル線の強度比は、あらかじめ標準試料を用いて作成した図３に示す検量線を利用してＡｌ濃度に換算する。他の元素についても同様に上記強度比と検量線を作成しておけば、各元素についてその濃度の時間変化も連続的に求まることになる。…」
　これらの記載から、引用文献６には次の発明（以下、「引用文献６発明」という。）が記載されている。
「レーザ光を溶融物試料面に照射し、発生したプラズマの発光を分光させて得たスペクトル線の強度を測定して該溶融物試料中に含まれる元素を分析するレーザ発光分光分析方法において、特定の元素に関する標準試料に対する発光スペクトル線の強度比と検量線をあらかじめ作成し、両者の発光強度比から特定の元素の濃度を求める方法。」
　
II−１−４．対比
　そこで、本願補正発明を、引用発明と対比する。
　引用発明の「地面を予めドリルして作ったボアホール内の分析される材料の領域」が、本願補正発明の「地盤の被調査部位」に相当することは、本願明細書の【０００８】の「好ましくは、地盤１にボーリング孔３を穿ち、ボーリング孔３の入口から孔内の被調査部位２まで導波路９を挿入し、導波路９経由でレーザ光６を被調査部位２に照射し且つ被調査部位２で発生したプラズマ７の発光をボーリング孔３の入口まで導き前記地盤構成物質の検出に供する。」なる記載、ならびに、【図１】の図示内容からして明らかである。そして、引用発明の「レーザ光を材料に衝突させ」ることは、本願補正発明の「レーザ光を照射」することに相当する事項であるので、引用発明の「材料の少なくとも一部分を蒸発し、イオン化」することが、本願補正発明の「物質のアブレーション」、ならびに、「プラズマを発生させ」ることに相当する事項であることは、本願明細書の【０００７】の記載からしても明らかである。
　また、引用発明の「（レーザによって生じた）材料からのスペクトル放射…の一部を検出する」ことは、「スペクトル」が波長に対する強度分布を意味することが技術常識であることを鑑みると、本願補正発明の「プラズマの発光のスペクトル強度分布中における物質成分のスペクトル強度（を検出する）」ことに相当する事項である。
　さらに、引用発明の「材料内の元素または核種の存在または量、あるいはその両者を判断する」ことが、本願補正発明の「物質又はその濃度を検出」することと同義であることも明らかであって、引用発明の前記「判断」が本願補正発明の「調査」と同等の概念であることも明らかである。
　すると、本願補正発明と引用発明とは、次の点で一致する。
（４−１）一致点
「地盤の被調査部位に地盤中の物質のアブレーションのためにパルス炭酸ガス（CO２）レーザ光を照射してプラズマを発生させ、該プラズマの発光のスペクトル強度分布中における物質成分のスペクトル強度に基づき前記被調査部位の物質又はその濃度を検出してなる地盤の調査方法。」
一方、両者は、次の点で相違する。
（４−２）相違点
（相違点１）物質又はその濃度の検出対象が、
本願補正発明は「重金属汚染物質」であるのに対し、引用発明はそのような物質でない点。
（相違点２）パルス炭酸ガス（CO２）レーザ光の照射が、
本願補正発明は「地盤中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅」であるのに対し、引用発明は、そのような時間幅について規定していない点。
（相違点３）物質又はその濃度の検出を、
本願補正発明は「汚染物質成分のスペクトル強度と汚染物質以外の特定地盤成分のスペクトル強度との強度比に基づ」いて行っているのに対し、引用発明はそのような強度比に基づいた検出を行っていない点。
　
II−１−５．判断
　そこで、上記相違点について検討する。
（５−１）相違点１について
　土壌の重金属汚染物質を検出することは周知の課題であって、その検出手法として、被調査対象の土壌にレーザ光を照射してプラズマを発生させ、その発光を分光分析する手法は、例えば、「R.Barbini，Semi-quantitative time resolved LIBS measurements，Applied Physics B，１９９７年，Vol.B65,No.1，Page.101-107」、「Richard Wisbrun，Detector for Trace Elemental Analysis of Solid Environmental Samples by Laser Plasma Spectroscopy，Analytical Chemistry，１９９４年，Vol.66,No.18，Page.2964-2975」に見られるように、当業者に非常によく知られた周知の検出手法にすぎない。
　してみると、引用発明を土壌の重金属汚染物質の検出に適用し、地盤中の重金属汚染物質を検出するために用いるよう構成することは、当業者が格別の困難を要することなくなし得る事項にすぎない。
（５−２）相違点２について
　引用発明を地盤中の重金属汚染物質を検出するために用いる際には、検出対象である物質が蒸発、イオン化してプラズマ状態となる必要があることは明らかであることを勘案すると、検出対象である「地盤中の重金属汚染物質」がアブレーションするために必要な、所定のレーザ出力が供給される必要があることは明らかである。そして、レーザ出力は、一般的に、レーザパルスの大きさと時間幅の積で与えられることを勘案すると、前記所定のレーザ出力を得るためのパラメータの１つである「時間幅」を「地盤中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅」と定めることは、検出対象である物質を蒸発、イオン化してプラズマ状態とするために当然必要となる事項にすぎず、パルス炭酸ガス（CO２）レーザ光を照射する「時間幅」をそのように定める点に格別の困難性を見出すことはできない。
（５−３）相違点３について
　レーザ光を照射してプラズマを発生させ、その発光を分光分析して注目元素の存在や濃度を検出するため、注目元素と他の成分元素の発光強度比に基づいて注目元素の濃度を求める手法は、前記引用文献５発明、引用文献６発明に見られるように、当業者に非常によく知られた手法にすぎない。
　してみると、スペクトルデータ（分光分析データ）そのものから、分析対象内の元素の存在や量を検出する態様に代えて、検出対象である「汚染物質成分」のスペクトル強度と、検出対象でない「汚染物質以外の特定地盤成分」のスペクトル強度の強度比に基づいて、検出対象の存在や濃度を検出するよう構成することは、当業者が容易に想到しうる事項である。
　
　そして、本願の出願当初の明細書ならびに図面を参酌しても、地盤中の重金属汚染物質を検出するために「炭酸ガスレーザ」を用いたことによって特異的な作用効果が得られること、あるいは、被調査部位に所定のレーザ出力を与える際のレーザ光照射の「時間幅」として適切な具体的時間幅の開示がないばかりでなく、所定の時間幅とすることによって格別の作用効果が奏されること、に関して何ら根拠を見いだすことができない。また、明細書の【００１２】、【００１８】―【００２０】の記載内容からして、炭酸ガスレーザは単なる選択肢の１つにすぎず、さらに、レーザ光の照射時間も適宜選択しうる事項であるにすぎないことからして、上記相違点によって得られる作用効果も、引用発明および周知事項、ならびに、引用文献５発明および引用文献６発明から当業者が予想しうる域を超えるものでもない。
　
II−１−６．〔理由１〕に関するむすび
　したがって、本願補正発明は、引用発明および周知事項、ならびに、引用文献５発明および引用文献６発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　よって、本願補正発明は特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものであるから、特許請求の範囲についてする補正は、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たさないものである。
　
〔理由２〕
II−２−１．発明の詳細な説明についてする補正
　上記のとおり、本件補正は特許請求の範囲及び発明の詳細な説明についてするもので、発明の詳細な説明についてする補正のうち、段落【００１２】についてする補正は、平成１８年２月２７日付け手続補正書によって補正された記載をさらに、「【００１２】レーザ光６は、地盤１へ照射したときにアブレーションによるプラズマ７を発生させ得る
エネルギー
地盤１の重金属汚染物質の大きなスペクトル強度を得る
し、
地盤１中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅（パルス幅）の
する
　そこで、上記段落【００１２】についてする補正が、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たすか否か、以下に検討する。
　
II−２−２．願書に最初に添付した明細書又は図面に記載した事項
　レーザ装置５の種別について、願書に最初に添付した明細書又は図面（以下、「当初明細書等」と言う。）には、以下の事項が記載されている。
「【００１２】レーザ光６は、地盤１へ照射したときにアブレーションによるプラズマ７を発生させ得る強度を有するものとする。パワー密度が大きいレーザ光６を得るため、レーザ装置５を例えばYAG（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）レーザ装置や炭酸ガス（CO２）レーザ装置等の出力が大きいものとすることが好ましい。また大きなパワー密度が得やすいように、レーザ光６をパルスレーザ光とし、所定パルス数のレーザ光６（以下、パルスレーザ光ということがある。）を地盤１の被調査部位２に照射してもよい。但し、本発明はYAGレーザ光や炭酸ガスレーザ光、パルスレーザ光の使用に限定されない。」
「【００１８】図２は、大理石（CaCO３）へのレーザ光６の照射により発生するプラズマ７の発光のスペクトル強度分布10を測定した実験結果の一例を示す。本実験では出力3.0〜3.8ＪのTEA-CO２レーザ（Transversely Excited Autospheric pressure laser、大気圧横方向放電励起レーザ）光を用いた。例えば地盤１中の大理石が鉛・水銀等の重金属や砒素等の非金属で汚染されている場合は、同図において鉛・水銀等の重金属成分や砒素等の非金属成分のスペクトル強度が大きくなると予想される。…」
そして、【図２】には、大理石へのレーザ光照射によるプラズマ発光のスペクトル強度分布を示すグラフの一例が示されている。
　また、パルスレーザ光の時間幅、すなわち照射時間について、当初明細書等には以下の事項が記載されている。
「【００１８】…。汚染物質成分のスペクトル強度の大きさはレーザ光６の照射時間又はパルスレーザ光６の照射パルス数等によって変化するが、レーザ光６の照射時間又はパルス数等を定めることにより、汚染物質成分のスペクトル強度から地盤１の被調査部位２における重金属、非金属等による汚染の程度を検出することができる。また、スペクトル強度分布10中における汚染物質以外の特定地盤成分のスペクトル強度との比較、例えばケイ素（Si）成分のスペクトル強度と汚染物質成分のスペクトル強度との相互比較（ケイ素成分強度による汚染物質成分強度の正規化）に基づき、被調査部位２における汚染物質の濃度を検出することも可能である。」
「【００１９】…。汚染物質以外の特定地盤成分と汚染物質成分との相互スペクトル強度比を用いれば、レーザ光６の照射時間又はパルス数が一定でない場合であっても、地盤１中の汚染物質濃度を比較的正確に検出することが期待できる。
【００２０】また、レーザ光６の照射時間又はパルス数等を定め、記憶装置４に岩盤種類が既知の参照岩盤のスペクトル強度分布15を記憶しておけば、分光光度計８で計測したスペクトル強度分布10と参照岩盤のスペクトル強度分布15との比較することにより、スペクトル分析装置12により被調査部位２の岩盤種類を判定することができる。この場合も、スペクトル強度分布10、15中の複数の特定成分（特定鉱物）の相互スペクトル強度比により岩盤種類を判定すれば、レーザ光６の照射時間又はパルス数等が一定でない場合であっても、比較的正確な岩種判定が期待できる。…」
　
II−２−３．検討・判断
　当初明細書等の上記の記載事項からは、レーザ装置、スペクトル強度、パルスレーザ光の時間幅について、
レーザ装置５は、地盤１へレーザ光を照射したときにアブレーションによるプラズマ７を発生させ得る強度を有する出力が大きいものとすること、
スペクトル強度分布10は、地盤１中の物質が重金属や砒素等の非金属で汚染されている場合には、その重金属成分や砒素等の非金属成分のスペクトル強度が大きくなること、
パルスレーザ光の時間幅は、検出手法に応じて所定値とすること、
という一般的な技術的事項は把握できるものの、
単にスペクトル強度分布を得るにとどまらず、「地盤１の
重金属汚染物質の大きなスペクトル強度
レーザ装置５を選択的に「炭酸ガス（CO２）レーザ装置」とすること、
さらに、前記目的のために、パルスレーザ光６の時間幅を「地盤１中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅（パルス幅）」とすることについては、当初明細書等には何ら記載ないし示唆されておらず、また、前記目的のためにそのようにすることが、当初明細書等の記載事項から当業者に自明の事項であるとも認められない。
　してみると、前記段落【００１２】についてする補正は、当初明細書等に記載された技術的事項の範囲内においてしたものであるとは認められない。
　
II−２−４．〔理由２〕に関するむすび
　したがって、発明の詳細な説明についてする補正のうち、段落【００１２】についてする補正は、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たさないものである。
　
II−３．本件補正についての結び
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項に規定する要件、ならびに、同法１７条の２第３項に規定する要件を満たさないものであるので、同法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
III．本願発明について
III−１．本願発明
　平成１８年６月６日付けの手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項１乃至１１に係る発明は、平成１８年２月２７日付け手続補正書によって補正された、明細書の特許請求の範囲の請求項１乃至１１に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
「【請求項１】
地盤の被調査部位に炭酸ガス（CO２）レーザ光を照射してアブレーションによるプラズマを発生させ、該プラズマの発光のスペクトル強度分布中における汚染物質成分のスペクトル強度と汚染物質以外の特定地盤成分のスペクトル強度との強度比に基づき前記被調査部位の汚染物質又はその濃度を検出してなる地盤の調査方法。」
　
III−２．引用文献
　原査定の拒絶の理由で引用された引用文献及び、その記載事項は、前記「II．〔理由１〕II−１−３．」に記載したとおりである。
　
III−３．対比・判断
　本願発明は、上記「II．〔理由１〕II−１−２．」で検討した本願補正発明から、「炭酸ガス（CO２）レーザ光」に関する限定的事項である、「地盤中の重金属汚染物質のアブレーションに必要な時間幅のパルス炭酸ガス（CO２）レーザ光」との事項を削除したものに相当する。
　
　そうすると、本願発明の発明特定事項をすべて含み、更に他の発明特定事項を付加したものに相当する本願補正発明が、「II．〔理由１〕II−１−５．」に記載したとおり、引用発明および周知事項、ならびに、引用文献５発明および引用文献６発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである以上、本願発明も、同様の理由により、引用文献１に記載された発明および周知事項、ならびに、引用文献５および引用文献６に記載された技術的事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
III−４．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。