【事件の表示】
　特願２００２−２４６３７１「容器の異物検出方法および装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　７月３０日出願公開、特開２００３−２１５０５７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
I．手続の経緯 
　本願は、平成１４年８月２７日（優先権主張平成１３年１１月１５日）の出願であって、平成１８年８月２日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年９月７日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年１０月１０日付で手続補正がなされたものである。 
　 
II．平成１８年１０月１０日付け手続補正についての補正却下の決定 
[補正却下の決定の結論] 
　平成１８年１０月１０日付け手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。 
　 
[理由] 
１．補正の内容 
　本件補正は明細書全文についてするもので、特許請求の範囲については、 （Ａ）本件補正前の特許請求の範囲（平成１７年８月２９日付けの手続補正による） 
「【請求項１】　容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップと、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップと、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求めるステップと、
　前記濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップと
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記検出するステップでは、前記濃淡値の分布値を見て、前記容器からの透過光量が部分的に増大している場合、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の表面もしくは内部に付着し、またはその容器内部の液中に浮遊していると判定する
　ことを特徴とする容器の異物検出方法。
　　【請求項２】　容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップと、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップと、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求めるステップと、
　前記濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップと
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は、直線偏光板と、この直線偏光板に無偏光の光を入射したとき、その透過光の直線偏光の光に対して磁場を加えることによりその直線偏光の光を円偏光の光に変換する磁場発生手段とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記検出するステップでは、前記濃淡値の分布値を見て、前記容器からの透過光量が部分的に増大している場合、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の表面もしくは内部に付着し、またはその容器内部の液中に浮遊していると判定する
　ことを特徴とする容器の異物検出方法。
　　【請求項３】　容器に対して一方からその容器に照射される光が入射して、その容器に向かう透過光が円偏光となる第１円偏光素子と、
　透過光が円偏光となる第２円偏光素子と、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対し、前記容器との間に前記第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行う撮像手段と、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求め、この濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出する画像処理装置と
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記画像処理装置は、前記濃淡値の分布値を見て、前記容器からの透過光量が部分的に増大している場合、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の表面もしくは内部に付着し、またはその容器内部の液中に浮遊していると判定する
　ことを特徴とする容器の異物検出装置。
　　【請求項４】　容器に対して一方からその容器に照射される光が入射して、その容器に向かう透過光が円偏光となる第１円偏光素子と、
　透過光が円偏光となる第２円偏光素子と、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対し、前記容器との間に前記第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行う撮像手段と、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求め、この濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出する画像処理装置と
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は、直線偏光板と、この直線偏光板に無偏光の光を入射したとき、その透過光の直線偏光の光に対して磁場を加えることによりその直線偏光の光を円偏光の光に変換する磁場発生手段とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記画像処理装置は、前記濃淡値の分布値を見て、前記容器からの透過光量が部分的に増大している場合、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の表面もしくは内部に付着し、またはその容器内部の液中に浮遊していると判定する
　ことを特徴とする容器の異物検出装置。」を、 
　 
（Ｂ）本件補正後の特許請求の範囲 
「【請求項１】　容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップと、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップと、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求めるステップと、
　前記濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップと
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記検出するステップでは、
異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶し、そして画像処理装置によって、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、
　ことを特徴とする容器の異物検出方法。
　　【請求項２】　容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップと、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップと、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求めるステップと、
　前記濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップと
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は、直線偏光板と、この直線偏光板に無偏光の光を入射したとき、その透過光の直線偏光の光に対して磁場を加えることによりその直線偏光の光を円偏光の光に変換する磁場発生手段とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記検出するステップでは、
異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶し、そして画像処理装置によって、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、
　ことを特徴とする容器の異物検出方法。
　　【請求項３】　容器に対して一方からその容器に照射される光が入射して、その容器に向かう透過光が円偏光となる第１円偏光素子と、
　透過光が円偏光となる第２円偏光素子と、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対し、前記容器との間に前記第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行う撮像手段と、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求め、この濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出する画像処理装置と
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記画像処理装置は、
異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め記憶し、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、
　ことを特徴とする容器の異物検出装置。
　　【請求項４】　容器に対して一方からその容器に照射される光が入射して、その容器に向かう透過光が円偏光となる第１円偏光素子と、
　透過光が円偏光となる第２円偏光素子と、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対し、前記容器との間に前記第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行う撮像手段と、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求め、この濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出する画像処理装置と
　を備え、
　前記第１および第２円偏光素子は、直線偏光板と、この直線偏光板に無偏光の光を入射したとき、その透過光の直線偏光の光に対して磁場を加えることによりその直線偏光の光を円偏光の光に変換する磁場発生手段とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものであり、前記第２円偏光素子は、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するものであって前記一の面が前記撮像手段側を向いた状態で配置され、
　前記画像処理装置は、
異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め記憶し、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、
　ことを特徴とする容器の異物検出装置。」 
と補正するものである。（下線は補正箇所である。） 
　 
２．補正内容の検討 
　本件補正は、（ｉ）本願補正前の請求項１及び請求項２において「前記検出するステップでは、前記濃淡値の分布値を見て、」とあったところを、「前記検出するステップでは、異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶し、そして画像処理装置によって、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、」と限定し、（ｉｉ）本願補正前の請求項３及び４において「前記画像処理装置は、前記濃淡値の分布値を見て、」とあったところを、「前記画像処理装置は、異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め記憶し、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、」と限定するものであるから、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に規定する、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 
　 
３．独立特許要件について 
　そこで、本件補正後の特許請求の範囲請求項１に記載されている事項により特定される発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たすか）否かについて以下に検討する。 
　 
３−１．引用刊行物 
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、本願優先日前に頒布された特開昭５９−１１４４４５号公報（以下、「刊行物１」という。）には、次の事項が記載されている。 
（１ａ）「この発明の第１の実施例を第１図ないし第８図に基づき以下に説明する。
　この実施例の欠陥検出装置は、ガラス瓶を被検査体１とし、その胴部の欠陥検査を行うものであつて、拡散光源となる拡散板２から被検査体１に向けて拡散光が照射される入射側に、偏光板３ａ、1/4波長板３ｂの組合せからなり光源側に向けた偏光板３ａで拡散光を受け1/4波長板３ｂに対応する単色光を1/4波長板３ｂ側から所定旋回方向の円偏光として取り出す入射側円偏光偏光子３を配置する一方、被検査体１を透過した光をレンズ系４で集光して光学像を結像させ、その光学像を結像面５に配置した光電変換器６で電気信号に変換するようにした検出側に、入射側の1/4波長板３ｂと同じ1/4波長板７ｂ、偏光板７ａの組合せからなり被検査体１を透過した光のうち前記入射側における円偏光と同じ旋回方向の円偏光を被検査体１側に向けた1/4波長板７ｂで受け入れ偏光板７ａ側から平面偏光として取り出す検出側円偏光偏光子７を配置し、光電変換器６より出力される電気信号を次段の信号処理系８…でアナログ演算処理して、被検査体１の欠陥検出を行うようにしたものである。
　前記したように入射側円偏光偏光子３として、第４図(ａ)に示すように光源側に向く偏光板３ａの主軸Ｐ１に対し1/4波長板３ｂの主軸Ｑ１が1/4波長板３ｂ側からみて時計方向にπ／４だけずれている右円偏光偏光子を用いた場合、検出側円偏光偏光子７は、光電変換器６側に向く偏光板７ａの主軸Ｐ２に対し1/4波長板７ｂの主軸Ｑ２がこの1/4波長板７ｂ側からみてπ／４だけ時計方向にずれている（第４図(ｂ)は1/4波長板７ｂ側よりみた状態を示す）同じく右円偏光偏光子を用いる。逆に入射側円偏光偏光子３として、第５図(ａ)に示すように光源側に向く偏光板３ａの主軸Ｐ１に対し1/4波長板３ｂの主軸Ｑ１が反時計方向にπ／４だけずれている左円偏光偏光子を用いた場合は、検出側円偏光偏光子７として1/4板長板７ｂ側からみた状態を示す第５図(ｂ)のように、偏光板７ａの主軸Ｐ２に対し1/4波長板７ｂの主軸Ｑ２がこの1/4波長板７ｂ側からみてπ／４だけ反時計方向にずれている左円偏光偏光子を用いる。」（第３ページ右上欄１３行−第４ページ左上欄８行）
　
（１ｂ）「入射側円偏光偏光子３では、拡散板２から投射される拡散光を受けて所定旋回方向の円偏光が取り出される。この円偏光は被検査体１であるガラス瓶の胴部に照射される。被検査体１の材料素地に異物がないときには、照射された円偏光はそのまま被検査体１を透過する。入射側円偏光偏光子３と検出側円偏光偏光子７とは、互の1/4波長板３ｂ，７ｂが対向し合うように配置されているので、被検査体１を透過した円偏光は検出側円偏光偏光子７に受け入れられ偏光板７ａ側から平面偏光として取り出される。すなわち、被検査体１に異物混入がないときには、光が光電変換器６まで透過する。
　これに対し、被検査体１の材料素地に異物が混入しており、この異物が遮光性を呈する場合には、検出側円偏光偏光子７では、円偏光透過作用に関係なく異物に当つた光は透過されず、光電変換器６が配置される結像面では、異物に対応する部分が第７図に符号(イ)で示すように暗部となつて結像される。
　一方、異物の混入により被検査体１の異物周辺部で歪が生じた場合は、入射側より被検査体１に照射される円偏光は、前記歪部の光弾性効果により複屈折して被検査体１を透過する。被検査体１を出た光は前記歪の程度に応じて円偏光から楕円偏光へとずれるため、検出側円偏光偏光子７では歪の程度に応じて光透過がさまたげられ、結像面では第７図に符号(ロ)で示すように、前記異物に対応する暗部(イ)の周辺部は歪部に対応する暗部で囲まれる。すなわち、従来例のダークオン方式で得られる異物そのものに対応する暗部(イ)に比べて、歪部に対応する暗部(ロ)の分だけ検出される暗部面積が大きくなり、検出精度が向上することになる。
　また、被検査体１がガラス瓶であるこの実施例において材料素地に細結晶化ガラスが混入した場合、このような細結晶化ガラスの混入は異物の混入と同様に欠陥と判定する必要があるが、被検査体１に入射した円偏光は、この細結晶化ガラスによつて複屈折する。したがつて、被検査体１を出た光は、細結晶化ガラスの溶融状態の程度に応じて検査側円偏光偏光子７で光透過がさまたげられ、結像面では第８図に符号(ハ)で示すように細結晶化ガラスに対応する暗部が結像される。」（第５ページ左上欄２行−左下欄１４行）
　
（１ｃ）「なお、以上の各実施例のように光電変換器６としてダイオードアレーを用いる構成に替えて、テレビカメラを用いたり、自己走査型ダイオードアレーカメラを用いてもよい。テレビカメラは、撮像部が真空管で構成されているものに限らず、ＣＣＤなどの固体撮像素子からなるものでもよいことは勿論である。」（第８ページ左下欄１１行−右下欄２行）　
　
（１ｄ）「この発明はガラス瓶などの透明体の欠陥検出装置に関する。
　この種の欠陥検出を光照射により行う装置として、従来よりダークオン方式を採用したものと偏光ライトオン方式を採用したものが知られている。
　ダークオン方式は、検査される透明体の材料素地に混入した異物などの遮光性を利用して、検出面に前記異物などに対応する暗部を映し出すようにしたものである。
　しかしながら、この方式の場合、検出される異物は煉瓦片や金属などの遮光性異物に限られる。例えば被検査体がガラス瓶である場合には、細結晶化したガラス素材が材料素地に混入すると歪が生じるのでこのような異物の混入は許されないが、上記方式ではこのような透明異物の検出は不可能である。しかも、この方式では微細な異物まで検出できるように精度を上げようとすると、不良とすべきでない合せ目、梨地、彫刻なども異物と区別されずに検出されてしまい、これらを不良品と誤つて判定してしまうことになる。
  一方、偏光ライトオン方式は、被検査体に光を照射する入射側と、被検査体を透過した光を検出する検出側とにそれぞれ偏光板を配置して、これら偏光板の主軸が直交するように角度設定し、被検査体の材料素地内に異物などがないときは、入射側偏光板より取り出された平面偏光が被検査体をそのまま透過するので、この透過光は検出側偏光板で遮光されて検出面に届かない一方、材料素地内に異物があつてその部分に歪が生じているときは、この歪部の光弾性効果によつて被検査体を透過する光に検出側偏光板を透過する平面偏光成分が生じるので、これを検出面で検出することにより異物の有無すなわち欠陥検出を行うものである。」（第２ページ左下欄１行−第３ページ左上欄４行）
　
３−２．本願補正発明と刊行物１記載の発明との対比 
３−２−１．刊行物１記載の発明 
　上記（１ａ）ないし（１ｃ）の記載より、刊行物１には、 
「拡散光源となる拡散板から被検査体であるガラス瓶に向けて拡散光が照射される入射側に、偏光板、1/4波長板の組合せからなり光源側に向けた偏光板で拡散光を受け1/4波長板に対応する単色光を1/4波長板側から所定旋回方向の円偏光として取り出す入射側円偏光偏光子を配置して被検体に光を照射する一方、被検査体を透過した光をレンズ系で集光して光学像を結像させ、その光学像を結像面に配置したＣＣＤで電気信号に変換するようにした検出側に、入射側の1/4波長板と同じ1/4波長板、偏光板の組合せからなり被検査体を透過した光のうち前記入射側における円偏光と同じ旋回方向の円偏光を被検査体側に向けた1/4波長板で受け入れ偏光板側から平面偏光として取り出す検出側円偏光偏光子を配置し、ＣＣＤより出力される電気信号を次段の信号処理系でアナログ演算処理して被検査体の欠陥検出を行う方法であって、被検査体の材料素地に細結晶化ガラスが混入している場合、被検査体に入射した円偏光は、この細結晶化ガラスによつて複屈折し、被検査体を出た光が、細結晶化ガラスの溶融状態の程度に応じて検査側円偏光偏光子で光透過がさまたげられ、結像面で細結晶化ガラスに対応する暗部が結像される、ガラス瓶の欠陥検出方法。」（以下、「刊行物１記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。 
　 
３−２−２．対比 
　本願補正発明と刊行物１記載の発明とを対比する。 
（ア）刊行物１記載の発明の「入射側円偏光偏光子」は本願補正発明の「第１円偏光素子」に相当する。
　そして、刊行物１記載の発明の「拡散光源となる拡散板から被検査体であるガラス瓶に向けて拡散光が照射される入射側に、偏光板、1/4波長板の組合せからなり光源側に向けた偏光板で拡散光を受け1/4波長板に対応する単色光を1/4波長板側から所定旋回方向の円偏光として取り出す入射側円偏光偏光子を配置して被検体に光を照射する」は、本願補正発明の「容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップ」に相当する。 
（イ）刊行物１記載の発明の「検出側円偏光偏光子」と本願補正発明の「第２円偏光素子」とは、直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、撮像手段と容器との間に置かれ、透過光が円偏光となる、検出側の円偏光素子である点で共通する。
　また、刊行物１記載の発明の「被検査体を透過した光をレンズ系で集光して光学像を結像させ、その光学像を結像面に配置したＣＣＤで電気信号に変換するようにした検出側に、入射側の1/4波長板と同じ1/4波長板、偏光板の組合せからなり被検査体を透過した光のうち前記入射側における円偏光と同じ旋回方向の円偏光を被検査体側に向けた1/4波長板で受け入れ偏光板側から平面偏光として取り出す検出側円偏光偏光子を配置し」と、本願補正発明の「前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる第２円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップ」とは、共に、容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる検出側の円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行う」点で共通する。
（ウ）刊行物１記載の発明の被検査体の材料素地に混入している「細結晶化ガラス」は、円偏光を複屈折させるものであり、本願補正発明の「容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物」に相当する。
（エ）刊行物１記載の発明の「ＣＣＤより出力される電気信号を次段の信号処理系でアナログ演算処理して被検査体の欠陥検出を行う」構成の「ＣＣＤより出力される電気信号」は、光学像をＣＣＤで受けた結果得られる画像データであり、また「信号処理系でアナログ演算処理」するとは、前記画像データを演算処理すること、つまり画像処理を行うことであることから、刊行物１記載の発明の「ＣＣＤより出力される電気信号を次段の信号処理系でアナログ演算処理して被検査体の欠陥検出を行う」構成と、本願補正発明の「前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて前記容器からの透過光量についての濃淡値の分布値を求めるステップと、前記濃淡値の分布値から、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップ」とは、共に、撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて、光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップである点で共通する。
　
　すると、本願補正発明と刊行物１記載の発明は、次の点で一致する。 
＜一致点＞ 
「容器に対して一方からその容器に光を、透過光が円偏光となる第１円偏光素子を介して照射するステップと、
　前記容器を透過した光の進行方向に正対する撮像手段を用いて、この撮像手段と前記容器との間に透過光が円偏光となる検出側の円偏光素子を逆向きに介在させた状態で撮像を行うステップと、
　前記撮像で得られた画像データを画像処理装置で画像処理にかけて、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の側に存在しているか否かを検出するステップと
　を備え、
　前記第１および検出側の円偏光素子は直線偏光板と１／４波長板とにより構成され、
　前記第１円偏光素子は、この透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て所定方向に回転するものである、
　ことを特徴とする容器の異物検出方法。」 
　 
　一方で、両者は、以下の点で相違する。 
＜相違点１＞ 
　検出側の円偏光素子として、本願補正発明の第２円偏光素子は、「一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て前記所定方向とは逆方向に回転するもの」であり、第１円偏光素子の旋回方向とは逆の旋回方向の円偏光素子であるのに対して、刊行物１記載発明の検出側円偏光偏光子は、「入射側の1/4波長板と同じ1/4波長板、偏光板の組合せからなり被検査体を透過した光のうち前記入射側における円偏光と同じ旋回方向の円偏光を被検査体側に向けた1/4波長板で受け入れ偏光板側から平面偏光として取り出す」ものであり、入射側円偏光偏光子と同じ旋回方向の円偏光素子である点。
　 
＜相違点２＞ 
　本願補正発明は、前記容器からの透過光量が部分的に増大している場合、前記容器に照射された円偏光の偏光方向を変化させる光学活性の異物が、前記容器の表面もしくは内部に付着し、またはその容器内部の液中に浮遊していると判定するのに対して、刊行物１記載の発明は、被検査体の材料素地に細結晶化ガラスが混入している場合、結像面で細結晶化ガラスに対応する暗部が結像され、この暗部を検出することで被検査体の欠陥を検出する点。
　 
＜相違点３＞ 
　検出するステップに関して、本願補正発明は、異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶し、そして画像処理装置によって、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して、異物の存在の判定を行うのに対して、刊行物１記載の発明は、被検査体を透過した光の光学像の濃淡値の分布値から異物を判定する構成を有しておらず、さらに、異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶する構成も有さない点。
　
３−３．相違点についての検討 
　上記相違点１と相違点２は相互に関連する構成であるので、併せて検討する。 
　ところで、刊行物１には、ガラス瓶などの透明体の欠陥検出として、従来より、検査体の材料素地内に異物などがないときは、透過光は検出側偏光板で遮光されて検出面に届かない一方、材料素地内に異物があつてその部分に歪が生じているときは、この歪部の光弾性効果によつて被検査体を透過する光に検出側偏光板を透過する平面偏光成分が生じるので、これを検出面で検出することにより異物の有無を行う、偏光ライトオン方式が存在することが記載されている（上記（１ｄ）参照）。このように、容器に異物が存在すると検出側の偏光板を光が透過することで明部が発生し、この明部を検出して異物を判定することは、従来周知の事項である。
　そして、刊行物１記載の発明において、検出側円偏光偏光子として、入射側円偏光偏光子と旋回方向が逆の円偏光偏光子を検出側円偏光偏光子として採用すれば、透明であるガラス瓶からの光は検出側円偏光偏光子を透過できず、異物である細結晶化ガラスによって複屈折した光だけが検出側円偏光偏光素子を透過し、その結果、異物を明部として検出できることは、光学分野の当業者であれば容易に予測できる事項である。
　そうすると、刊行物１記載の発明において、検出側円偏光偏光子として入射側円偏光偏光子と同じ旋回方向の円偏光素子の代わりに、入射側円偏光偏光子と旋回方向が逆の円偏光素子、つまり、一の面に無偏光の光が入射したとき、透過光の電界ベクトルがその透過光の進行方向に正対した観測者から見て入射側円偏光偏光子の旋回方向とは逆方向に回転するものを採用し、容器に異物が存在すると検出側の偏光板を光が透過することにより発生する明部であるところの透過光量が部分的に増大する部分を検出して、異物を判定する構成とすることは、当業者が容易になし得る事項である。
　　
　次に、上記相違点３について検討する。
　被検査物を撮像し、画素の濃淡の分布をとり、基準の分布との比較によって表面検査を行うことは、例えば、実願昭５９−１４２２４５号（実開昭６１−５７８４３号）のマイクロフィルムの第５ページ３行−第７ページ１４行、特開平６−０４３１０８号公報の【００３５】〜【００３８】に示すように、従来周知である。
　また、欠陥検出において、良品の画像データを予め記憶しておき、記憶しておいた良品の基準画像データと測定した画像データとを比較することで欠陥検査を行う構成も、例えば、特開平５−８２６１８号公報の【００１１】、【００１２】、特開２０００−１９９７０９号公報の【０００３】に記載されているように、従来周知である。
　そうすると、刊行物１記載の発明における、被検査体を通過した光学像をＣＣＤで電気信号に変化して画像データを得、前記画像データを演算処理して欠陥を検出する際に、前記画像データの演算処理として、前記周知の技術的事項を採用し、画像データにおける光学像の明暗、つまり濃淡の分布をとり、これを予め記憶しておいた良品の濃淡の分布と比較することにより、異物の有無を判定する構成とすることに、別段、困難性があったとはいえない。
 　
　そして、本願補正発明の作用効果も、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項から当業者が予測できた範囲のものである。 
　 
　したがって、本願補正発明は、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 
　 
４．本件補正についてのむすび 
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。 
　 
III．本願発明について 
１．本願発明 
　平成１８年１０月１０日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので、本願の請求項１ないし４に係る発明は、平成１７年８月２９日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲請求項１ないし４に記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、上記II．の１の（Ａ）本件補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものである。 
　 
２．引用刊行物 
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物及びその記載事項は、前記II．３−１．に記載したとおりである。 
　 
３．対比・判断 
　本願発明は、前記II．で検討した本願補正発明から、検出するステップに関して「異物の存在しない良品基準の画像データまたはこの画像データから得られる濃淡値の分布値を予め画像処理装置に記憶し、そして画像処理装置によって、検査対象の容器の撮像で得られた濃淡値の分布値と前記良品基準の画像データの濃淡値の分布値とを比較して」の限定を省いたものである。　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、前記II．３−２．及び３−３．に記載したとおり、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 
　 
４．むすび 
　以上のとおり、本願発明は、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　したがって、その余の請求項について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。