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　平成　８年特許願第　１８６４０号「ジルコニア被覆層およびその製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成　９年　８月１２日出願公開、特開平　９−２０８３０６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成８年２月５日の出願であって、平成１６年７月８日付けの拒絶理由通知書に対して、同年９月６日付けで手続補正書が提出され、その後、同年１０月２５日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年１２月１日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものであり、当審より平成１９年１０月９日付けの拒絶理由通知書が通知されたところ、同年１２月１１日に意見書が提出されたものである。
　
２．当審が通知した拒絶の理由
　当審において平成１９年１０月９日付けの拒絶理由通知書で通知した拒絶の理由は次のとおりである。
「理由
１）この出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
２）、３）　　　　　　　　　＜省略＞
　記
１．手続の経緯・本願発明　　＜省略＞
２．理由１）について
（ａ）請求項１には、「酸化イットリウムで安定化された正方晶ジルコニアを８０％以上含むジルコニア溶射被膜からなる被覆層であって、前記ジルコニア溶射被膜は前記酸化イットリウムの平均濃度が５．６〜７重量％の範囲であると共に、微小領域における前記酸化イットリウムの濃度が５．５〜６．５重量％の範囲の濃度分布領域が５０％以上含まれており、かつ前記ジルコニア溶射被膜は７７３〜１５２３Ｋの温度による熱処理が施されていると共に、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足することを特徴とするジルコニア被覆層。」の発明が記載され、発明の詳細な説明によれば、当該発明によって「優れた機械的強度や靱性が得られると共に、水蒸気劣化を有効に抑制することが可能となる」（段落【００６７】）との効果が達せられると記載されている。
　上記発明の発明特定事項である「Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足する」ことに関して、発明の詳細な説明に具体的に記載されている事項は、実施例１の試料Ｎｏ５について、明細書の段落【００５９】に「回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３・・・を示すと、△２θ１＝０．５２ｄｅｇ、△２θ２＝０．３７３ｄｅｇ、△２θ３＝０．６６３ｄｅｇ・・・である。」と記載された事項と、表３に、Ｙ２Ｏ３組成の平均濃度６．４重量％、５．５〜６．５ｗｔ％の微小領域の占有率９８面積％、水蒸気暴露前の密着強度３７．７ＭＰａ、水蒸気暴露後の密着強度３８．０ＭＰａ、水蒸気暴露後単斜晶量０体積％であることが示されている事項のみである。そして、Ｙ２Ｏ３組成の平均濃度や５．５〜６．５ｗｔ％の微小領域の占有率、水蒸気暴露前後の密着強度、及び水蒸気暴露後の単斜晶量について示された実施例１の試料Ｎｏ１〜４、６、７に対しては、「上記実施例１による各ジルコニア被覆層は歪み除去熱処理により、いずれも歪みが解放されていることを、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により確認した。」（段落【００５９】）と記載されているのみであり、回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３の具体的な数値は示されていない。
　また、明細書の段落【００２７】に「ジルコニア部材が歪みを有しているか否かは、Ｃｕターゲットを用いて行ったＸ線回折により得られる、(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差△２θ３から判定することができる。そして、本発明の歪みが除去されたジルコニア部材は、上記Ｘ線回折による回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３が
　△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５……（１）
　△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５……（２）
　△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５……（３）
（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足するものである。」と記載されているが、これら（１）〜（３）の関係式が、明細書に記載された効果、ジルコニア部材の歪みの有無、あるいは、実施例１の試料Ｎｏ５の△２θ１、△２θ２、△２θ３の具体的な数値との関係から、どのように導き出されたものかについては何ら記載も示唆もなされていない。また、（１）〜（３）の関係式が当業者に自明な事項ともいえない。
　さらに、実施例１の試料Ｎｏ５の△２θ１、△２θ２、△２θ３は、（１）〜（３）の関係式のそれぞれを満足する数値であり、請求項１に記載された「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）」の３つの条件をすべて満足するものであるが、このことから、「少なくとも１つの条件を満足」しても、同様な効果が得られることは、発明の詳細な説明に記載も示唆もなされておらず、また、当業者にとって自明な事項ともいえない。
　したがって、請求項１に記載された「Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足する」ことは、発明の詳細な説明に記載された事項とはいえない。
　よって、請求項１に係る発明は、発明の詳細な説明に記載されたものとはいえない。
＜以下、省略＞」
　
３．本願発明について
　本願の請求項１乃至３に係る発明は、平成１６年９月６日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１乃至３に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に記載された発明は次のとおりである。
「【請求項１】酸化イットリウムで安定化された正方晶ジルコニアを８０％以上含むジルコニア溶射被膜からなる被覆層であって、
　前記ジルコニア溶射被膜は前記酸化イットリウムの平均濃度が５．６〜７重量％の範囲であると共に、微小領域における前記酸化イットリウムの濃度が５．５〜６．５重量％の範囲の濃度分布領域が５０％以上含まれており、
　かつ前記ジルコニア溶射被膜は７７３〜１５２３Ｋの温度による熱処理が施されていると共に、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足することを特徴とするジルコニア被覆層。」
　
４．当審の判断
（一）本願請求項１に係る発明の「Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足すること」との発明特定事項が、発明の詳細な説明に記載された事項といえるかを検討する。
　検討にあたっては、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）」の各関係式、及び、前記関係式の「少なくとも１つの条件を満足する」ことについてそれぞれ検討する。
　
（二）発明の詳細な説明には、「回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３」に関して、次の事項が記載されている。
　（ａ）「ジルコニア部材が歪みを有しているか否かは、Ｃｕターゲットを用いて行ったＸ線回折により得られる、(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差△２θ３から判定することができる。そして、本発明の歪みが除去されたジルコニア部材は、上記Ｘ線回折による回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３が
　　△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５　……（１）
　　△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５　……（２）
　　△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５　……（３）
（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％)を示す）の少なくとも１つの条件を満足するものである。」（段落【００２７】）
　（ｂ）「歪みを除去したジルコニア部材は、図１に斜線で示した領域に回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３が存在する。すなちわ、上述した（１）式、（２）式および（３）式に示すそれぞれの条件を満足することになる。ここで、ジルコニア部材表面の歪みの除去程度は、（１）式〜（３）式の少なくとも１つを満足するものであればよいが、水蒸気腐食を安定かつ再現性よく抑制する上で、（１）式、（２）式および（３）式の全てを満足させることが望ましい。」（段落【００２９】）
　（ｃ）「上記参考例１による各ジルコニア焼結体は歪み除去熱処理により、いずれも歪みが解放されていることを、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により確認した。代表例として試料Ｎｏ５の回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３および正方晶ジルコニアの格子定数ａ、ｃを示すと、△２θ１＝０．５２８ｄｅｇ、△２θ２＝０．３９６ｄｅｇ、△２θ３＝０．６９８ｄｅｇ、格子定数ａ＝０．５１０７ｎｍ、格子定数ｃ＝０．５１７７ｎｍである。」（段落【００４９】）
　（ｄ）「参考例１および比較例１と同様に作製したジルコニア焼結体（比較例２：表２の試料Ｎｏ２０〜３１、比較例３：表２の試料Ｎｏ３２〜３８）を、歪み除去熱処理を施すことなく後述する特性評価に供した。これら焼結したままの状態のジルコニア焼結体は、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により歪みが残留していることが確認された。代表例として試料Ｎｏ２４の回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３および正方晶ジルコニアの格子定数ａ、ｃを示すと、△２θ１＝０．５１５ｄｅｇ、△２θ２＝０．３８３ｄｅｇ、△２θ３＝０．６８４ｄｅｇ、格子定数ａ＝０．５１０ｎｍ、格子定数ｃ＝０．５１７０ｎｍである。」（段落【００５１】）
　（ｅ）「表１」には、上記記載事項（ｃ）に関しての「Ｙ２Ｏ３組成」が示されており、「参考例１試料Ｎｏ５」の「Ｙ２Ｏ３組成」の「平均濃度（重量％）」が「５．９」であることが記載されている。また、「表２」には、上記記載事項（ｄ）に関しての「Ｙ２Ｏ３組成」が示されており、「比較例２試料Ｎｏ２４」の「Ｙ２Ｏ３組成」の「平均濃度（重量％）」が「５．９」であること記載されている。（段落【００５４】）
　（ｆ）「上記実施例１による各ジルコニア被覆層は歪み除去熱処理により、いずれも歪みが解放されていることを、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により確認した。代表例として試料Ｎｏ５の回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３および正方晶ジルコニアの格子定数ａ、ｃを示すと、Δ２θ１＝０．５２ｄｅｇ、△２θ２＝０．３７３ｄｅｇ、△２θ３＝０．６６３ｄｅｇ、格子定数ａ＝０．５１０８ｎｍ、格子定数ｃ＝０．５１７６ｎｍである。」（段落【００５９】）
　（ｇ）「実施例１および比較例４と同様に作製したジルコニア被覆層（比較例５：表３の試料Ｎｏ１０〜１３、比較例６：表３の試料Ｎｏ１４〜１９）を、歪み除去熱処理を施すことなく後述する特性評価に供した。これら溶射したままの状態のジルコニア被覆層は、Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により歪みが残留していることが確認された。代表例として試料Ｎｏ１３の回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３および正方晶ジルコニアの格子定数ａ、ｃを示すと、△２θ１＝０．５１ｄｅｇ、△２θ２＝０．３６１ｄｅｇ、△２θ３=０．６５１ｄｅｇ、格子定数ａ＝０．５１０５ｎｍ、格子定数ｃ＝０．５１７０ｎｍである。」（段落【００６１】）
　（ｈ）「表２」には、上記記載事項（ｆ）及び（ｇ）に関しての「Ｙ２Ｏ３組成」が示されており、「実施例１試料Ｎｏ５」の「Ｙ２Ｏ３組成」の「平均濃度（重量％）」が「６．４」であること、及び、「比較例５試料Ｎｏ１３」の「Ｙ２Ｏ３組成」の「平均濃度（重量％）」が「６．２」であることが記載されている。
　（ｉ）「図１」には、記載事項（ｂ）に関しての「歪み除去後のジルコニアのＸ線回折ピーク角度差とＹ２Ｏ３組成との関係を示す図」が示されている。
　
（三）上記発明特定事項の「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式について検討する。
　上記関係式は、記載事項（ａ）に記載されているとおり、「ジルコニア部材が歪みを有しているか否か」を判定するものであるといえる。
　そして、発明の詳細な説明に具体的に記載されている「△２θ１」と「酸化イットリウムの濃度ｘ（重量％)」との関係は、記載事項（ｃ）乃至（ｈ）に記載されたとおりである。
　これら記載事項（ｃ）乃至（ｈ）によれば、歪みが開放されている試料は、参考例１試料Ｎｏ５と実施例１試料Ｎｏ５であり、歪みが残留している試料は、比較例２試料Ｎｏ２４と比較例５試料Ｎｏ１３であるといえる。そして、「△２θ１」と「酸化イットリウムの濃度ｘ（重量％)」との関係についてみてみると、歪みが開放されている試料では、Ｙ２Ｏ３組成の平均濃度が５．９重量％、６．４重量％のとき、△２θ１はそれぞれ０．５２８ｄｅｇ、０．５２ｄｅｇである。また、歪みが残留している試料では、Ｙ２Ｏ３組成の平均濃度が５．９重量％、６．２重量％のとき、△２θ１はそれぞれ０．５１５ｄｅｇ、０．５１ｄｅｇである。
　しかしながら、これら４点の具体例は、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式にすべて含まれるものであるから、これら４点の具体例から、上記関係式を満足する範囲内であれば、ジルコニウム部材の歪みが開放されていることを認識できるとはいえない。
　また、請求人の主張するように、安定化ジルコニアの酸素欠損に基づく歪みが正方晶のｃ軸長を長くａ軸長を短くすることが、出願時の技術常識であったとしても、歪みが開放されている試料である参考例１試料Ｎｏ５と実施例１試料Ｎｏ５の２つの具体例から、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式を導き出せるものでない。
　また、発明の詳細な説明には、記載事項（ａ）に「ジルコニア部材が歪みを有しているか否かは、Ｃｕターゲットを用いて行ったＸ線回折により得られる、(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差△２θ１、・・・から判定することができる。そして、本発明の歪みが除去されたジルコニア部材は、上記Ｘ線回折による回折ピーク角度差・・・△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５・・・の少なくとも１つの条件を満足するものである。」と記載され、また、記載事項（ｂ）及び（ｉ）のとおり、「歪みを除去したジルコニア部材は、図１に斜線で示した領域に回折ピーク角度差△２θ１・・・が存在する。」と記載されている。
　しかしながら、これらの記載は、具体的な根拠を持って「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式を記載したものでない。
　さらに、明細書の他の記載をみても、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式が、ジルコニア部材が歪みの有無を判定する式であることが、当業者にとって自明なこととはいえない。
　したがって、上記発明特定事項の「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式は、発明の詳細な説明に記載された事項とはいえない。
　
（四）上記発明特定事項の「△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５」及び「△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５」の各関係式について検討すると、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５」の関係式と同様に、「△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５」及び「△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５」の各関係式も、発明の詳細な説明に記載された事項とはいえない。
　
（五）次に、上記発明特定事項の「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足する」ことについて検討する。
　発明の詳細な説明に具体的に記載されている「△２θ１、△２θ２、△２θ３」と「ジルコニア部材の歪み」との関係は、記載事項（ｃ）乃至（ｈ）に記載されたとおりである。そして、歪みが開放されている試料である参考例１試料Ｎｏ５と実施例１試料Ｎｏ５では、Ｙ２Ｏ３組成の平均濃度が５．９重量％の試料の△２θ１、△２θ２、△２θ３は、それぞれ０．５２８ｄｅｇ、０．３９６ｄｅｇ、０．６９８ｄｅｇであり、また６．４重量％の試料の△２θ１、△２θ２、△２θ３は、それぞれ０．５２ｄｅｇ、０．３７３ｄｅｇ、０．６６３ｄｅｇである。
　これら△２θ１、△２θ２、△２θ３の値をみてみると、発明特定事項である「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）」のすべての条件を満足している。
　したがって、発明の詳細な説明には、「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）」のすべての条件を満足するジルコニア部材が具体的に記載されているといえ、「少なくとも１つの条件を満足する」ジルコニア部材については具体的に記載されていない。
　また、(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差△２θ３は、正方晶の各面格子に基づく回折ピーク角度差であるから、△２θ１、△２θ２、△２θ３の数値に相関関係があることを考慮しても、すべての条件を満足する場合から、少なくとも１つの条件を満足する場合にまで一般化又は拡張できるものでもない。
　また、発明の詳細な説明には、記載事項（ａ）に「本発明の歪みが除去されたジルコニア部材は、上記Ｘ線回折による回折ピーク角度差△２θ１、△２θ２、△２θ３が
　　△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５　……（１）
　　△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５　……（２）
　　△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５　……（３）
（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％)を示す）の少なくとも１つの条件を満足するものである。」と記載され、また、記載事項（ｂ）に「ジルコニア部材表面の歪みの除去程度は、（１）式〜（３）式の少なくとも１つを満足するものであればよいが、水蒸気腐食を安定かつ再現性よく抑制する上で、（１）式、（２）式および（３）式の全てを満足させることが望ましい。」と記載されている。
　しかしながら、これらの記載は、具体的な根拠に基づいて「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足する」ことについて記載したものでない。
　したがって、上記発明特定事項の「△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも１つの条件を満足する」ことは、発明の詳細な説明に記載された事項とはいえない。
　
（六）以上に検討したとおり、本願請求項１に係る発明の「Ｘ線回折（Ｃｕターゲット使用）により得られる(００２)面と(２００)面との回折ピーク角度差を△２θ１、(２２０)面と(２０２)面との回折ピーク角度差を△２θ２、(３１１)面と(１１３)面との回折ピーク角度差を△２θ３としたとき、△２θ１＝０．８２−０．０５ｘ±０．０５、△２θ２＝０．６３−０．０４ｘ±０．０５、および△２θ３＝１．０５−０．０６ｘ±０．０５（ただし、ｘは酸化イットリウムの濃度（重量％）を示す）の少なくとも1つの条件を満足すること」との発明特定事項は、発明の詳細な説明に記載された事項といえない。
　
５．まとめ
　以上のとおり、請求項１に係る発明は、発明の詳細な説明に記載したものでないから、特許法第３６条第６項第１号の規定する要件を満たしておらず、特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項について言及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。