【事件の表示】
　平成１１年特許願第１０１１７９号「粒度センサー」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年１０月２０日出願公開、特開２０００−２９２３４０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
I．手続の経緯
　本願は、平成１１年４月８日の出願であって、平成１８年８月１１日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年９月２１日に拒絶査定に対する審判請求がなされるともに、同年１０月１９日付けで手続補正がなされたものである。
　
II．平成１８年１０月１９日付け手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１８年１０月１９日付け手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。
　
［理由］
１．補正の内容
　本件補正は特許請求の範囲についてするもので、
（ａ）本件補正前の特許請求の範囲（平成１８年５月２４日付けの手続補正による。）
「【請求項１】
　筐体内に、採取した試料を分散させる試料分散部と、該試料分散部で分散された試料にレーザ光を照射するレーザ光源及び試料分散部で分散された試料によって回折・散乱されたレーザ光の散乱光強度を検出するための複数のチャンネル区分を持つ光検出器並びに該光検出器に散乱光をフォーカシングするための光学系を有する散乱光測定部と、該散乱光測定部の光検出器で検出した各チャンネル区分毎の散乱光強度データを処理し、粉体の粒度状態に関連付けられた信号に変換処理して出力するデータ処理部と、を備えるとともに、前記データ処理部は、光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データと、各チャンネル区分毎に設定した基準値とを個々に独立して比較し、その比較結果に基づいて所定の信号を出力することを特徴とする粒度センサー。」を、
　
（ｂ）本件補正後の特許請求の範囲
「【請求項１】
　筐体内に、採取した試料を分散させる試料分散部と、該試料分散部で分散された試料にレーザ光を照射するレーザ光源及び試料分散部で分散された試料によって回折・散乱されたレーザ光の散乱光強度を検出するための複数のチャンネル区分を持つ光検出器並びに該光検出器に散乱光をフォーカシングするための光学系を有する散乱光測定部と、該散乱光測定部の光検出器で検出した各チャンネル区分毎の散乱光強度データを処理し、粉体の粒度状態に関連付けられた信号に変換処理して出力するデータ処理部と、を備えるとともに、前記データ処理部は、光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データと、各チャンネル区分毎に設定した基準値とを個々に独立して比較し、その比較結果に基づいて
粉体の粒度状態を判定し
正常信号又は異常信号
と補正するものである。（下線は補正箇所である。）
　
２．補正内容の検討
　本件補正は、本件補正前の請求項１において「その比較結果に基づいて所定の信号を出力することを特徴とする粒度センサー。」とあったところを、「その比較結果に基づいて粉体の粒度状態を判定し、所定の正常信号又は異常信号を出力することを特徴とする粒度センサー。」と限定するものであるので、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号に規定する、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
３．独立特許要件について 
　そこで、本件補正後の特許請求の範囲請求項１に記載されている事項により特定される発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たすか）否かについて以下に検討する。
　
３−１．引用刊行物
（１）原査定の拒絶の理由に引用された、特開平６−７６６２号公報（以下、「刊行物１」という。）には、次の事項が記載されている。
　
（１ａ）粒度分布測定装置の構成、及び、回折／散乱光の空間強度分布をフィードバック信号として用いる点について
「【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の構成を、図１に示す基本概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、あらかじめ設定された粒度分布目標値を回折／散乱光の空間強度分布目標値に変換して出力する目標値発生手段ａと、粒子処理プラントｂ内で形成されつつある粒子群にレーザ光を照射するレーザ光照射光学系ｃと、このレーザ光の照射により得られる粒子群による回折／散乱光の空間強度分布を測定する測定光学系ｄと、目標値発生手段ａからの目標値に上記回折／散乱光の空間強度分布測定結果をフィードバックして、粒子群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるよう、粒子処理プラントｂに対して制御信号を供給する制御信号発生手段ｅを備えたことによって特徴づけられる。
【０００６】
【作用】本発明は、レーザ回折／散乱法を基本とするが、粒度分布を計算してからフィードバック信号として用いるのではなく、粒度分布算出のもとになる回折／散乱光の空間強度分布をそのままフィードバック信号として用いることにより、刻々の粒度分布情報を得て、所期の目的を達成している。
【０００７】すなわち、レーザ回折／散乱法に基づく粒度分布測定においては、分散飛翔状態の粒子群にレーザ光を照射することによって得られる回折／散乱光の空間強度分布を、フラウンフォーファ回折理論ないしはミーの散乱理論等に基づく演算により粒度分布に換算するが、本発明ではこの換算を行う前の回折／散乱光の空間強度分布測定結果をフィードバック信号として用いるとともに、それに伴って、目標値信号として粒度分布を用いずに、所望の粒度分布を回折／散乱光の空間に逆換算して用いることで、処理中の粒子群の刻々の粒度分布情報を用いたリアルタイム制御を可能としている。」（段落【０００５】−【０００７】）
　
（１ｂ）レーザ回折／散乱式の粒度分布測定装置の構成について
「【００１０】レーザ回折／散乱式の粒度分布測定装置４は、上記のレーザ光照射光学系４１と回折／散乱光測定光学系４２のほか、粒度分布計算器４３を備えた公知のものであり、レーザ光照射光学系４１および回折／散乱光測定光学系４２の具体的な構成は図３に模式的に例示する通りである。すなわち、レーザ光照射光学系４１はレーザ光源４１ａとコリメータ４１ｂからなり、回折／散乱光測定光学系４２は、前方への回折／散乱光を集光する集光レンズ４２ａ、その焦点面上に置かれたリングデテクタ４２ｂ、および側方への散乱光を検出する側方散乱光センサ４２ｃ等によって構成されている。そして、リングデテクタ４２ｂおよび側方散乱光センサ４２ｃの出力は、そのまま回折／散乱光強度分布情報のフィードバック信号として制御信号発生器２に導かれるとともに、増幅器、Ａ−Ｄ変換器（いずれも図示せず）を介して粒度分布計算器４３に採り込まれ、ここで粒度分布に換算される。また、この粒度分布計算器４３で粒度分布に換算された情報についても、制御信号発生器２に供給される。」（段落【００１０】）
　
（１ｃ）図３について
　図３には、レーザ回折／散乱式粒度分布測定装置のレーザ光照射光学系及び回折／散乱光測定光学系の具体的構成を示す模式図が記載されている。（【図３】）
　
（１ｄ）光強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布との比較について
「【００２８】さて、本発明実施例における光強度分布目標値発生器１は、係数行列Ａと所望の粒度分布（ベクトル）ｑから、この粒度分布（ベクトル）ｑに対応する光強度分布（ベクトル）ｒを求めて制御信号発生器２に供給するわけである。そして、制御信号発生器２では、この光強度分布目標値に、回折／散乱光測定光学系４２からの出力信号が一致ないしは近づくように粒子処理プラント３を制御するわけである。すなわち、例えばＰＤＬＣ等の高分子材料中の液晶粒子の形成においては、粒子処理プラント３において加える熱量、つまり加熱温度とその持続時間等を制御することになる。
【００２９】すなわち、図４に示すような回折／散乱光強度分布パターンにおいて、光強度が最初に（回折／散乱角の最も小さいところで）しきい値を越える位置Ｐ0 は、粒度分布範囲の上限と密接な関係がある。また、ファーストピークの位置Ｐ1 は、粒度分布範囲が狭い場合において、メディアン径またはモード径と密接な関係がある。このような関係に基づき、光強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系４２からの分布とを比較し、例えば上記のＰ0 およびＰ1 の位置をそれぞれ一致させるように粒子処理プラント３における加熱温度と持続時間等の運転条件を適宜に制御することにより、得られる粒子群の粒度分布範囲の上限およびメディアン径またはモード径を粒度分布目標値に近似させることができる。このような回折／散乱光強度分布をそのまま制御に用いることは、粒度分布計算の段階を省略できるため、リアルタイム制御が可能となる。」（段落【００２８】、【００２９】）
　
（１ｅ）図４について
　図４には、回折／散乱光強度パターンと粒子系との関係の説明図として、横軸にセンサ素子の位置、縦軸に光強度を表示したグラフが示されている。（【図４】）
　
（１ｆ）回折／散乱光の強度分布パターンと粒子の大きさとの関係について
「【００１３】このような前方および側方への回折／散乱光の強度分布パターンは、粒子の大きさによって変化する。実際のサンプルには、大きさの異なる粒子が混在しているため、粒子群から生じる光強度分布パターンは、それぞれの粒子からの回折／散乱光の重ね合わせとなる。」（段落【００１３】）
　
３−２．本願補正発明と刊行物１記載の発明との対比
３−２−１．刊行物１記載の発明
　上記（１ａ）ないし（１ｅ）の記載より、刊行物１には、
「レーザ光照射光学系、回折／散乱光測定光学系、及び、制御信号発生手段とを備え、前記回折／散乱光測定光学系は、前方への回折／散乱光を集光する集光レンズ、その焦点面上に置かれたリングデテクタ、および側方への散乱光を検出する側方散乱光センサを含むものであり、前記制御信号発生手段は、あらかじめ設定された粒度分布目標値から変換して得られた回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布とを比較し、粒子群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるよう、粒子処理プラントに対して制御信号を供給する構成を有する、粒子処理プラント制御装置。」（以下、「刊行物１記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
３−２−２．対比
　本願補正発明と刊行物１記載の発明とを対比する。
（ア）刊行物１記載の発明の「レーザ光照射光学系」、「前方への回折／散乱光を集光する集光レンズ」は、それぞれ、本願補正発明の「レーザ光源」、「光検出器に散乱光をフォーカシングするための光学系」に相当する。
（イ）刊行物１記載の発明の「リングデテクタ」に関して、刊行物１の図３には、４２ｂとして散乱光を環状の複数のセンサ素子で受光する構成のリングデテクタが示されており、図４には、回折／散乱光強度パターンを示すグラフの横軸としてセンサ素子の位置が示されていることから、前記「リングデテクタ」は複数のセンサ素子、つまり複数のチャンネル毎に散乱光強度を測定する構成の光検出器であるといえ、そうすると、刊行物１記載の発明の「リングデテクタ」は、本願補正発明の「試料によって回折・散乱されたレーザ光の散乱光強度を検出するための複数のチャンネル区分を持つ光検出器」に相当する。
（ウ）刊行物１記載の発明の「回折／散乱光測定光学系からの分布」は、複数のセンサ素子で散乱光強度を測定するリングデテクタで測定される空間強度分布測定結果であり、本願補正発明の「光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データ」に相当する。
（エ）刊行物１記載の発明の「あらかじめ設定された粒度分布目標値から変換して得られた回折／散乱光の空間強度分布目標値」と、本願補正発明の「各チャンネル区分毎に設定した基準値」とは、共に、設定した基準値である点で共通し、また、刊行物１記載の発明の「あらかじめ設定された粒度分布目標値から変換して得られた回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布とを比較し」と、本願補正発明の「光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データと、各チャンネル区分毎に設定した基準値とを個々に独立して比較し」とは、共に、光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データと、設定した基準値とを比較する点で共通する。
（オ）刊行物１記載の発明の「粒子群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるよう、粒子処理プラントに対して制御信号を供給する」と、本願補正発明の「その比較結果に基づいて粉体の粒度状態を判定し、所定の正常信号又は異常信号を出力する」とは、共に、比較結果に基づいて所定の信号を出力する点で共通する。
（カ）刊行物１記載の発明の「制御信号発生手段」は、複数のセンサ素子を有するリングデテクタで検出した空間強度分布測定結果と、設定した基準値である空間強度分布目標値とを比較し、その比較結果に基づいて所定の信号を出力する構成を有するものであり、本願補正発明の「該散乱光測定部の光検出器で検出した各チャンネル区分毎の散乱光強度データを処理し、粉体の粒度状態に関連付けられた信号に変換処理して出力するデータ処理部」とは、共に、該散乱光測定部の光検出器で検出した各チャンネル区分毎の散乱光強度データを処理し、信号を出力する点で共通する。
　
　すると、本願補正発明と刊行物１記載の発明は、次の点で一致する。
＜一致点＞
「試料にレーザ光を照射するレーザ光源及び試料によって回折・散乱されたレーザ光の散乱光強度を検出するための複数のチャンネル区分を持つ光検出器並びに該光検出器に散乱光をフォーカシングするための光学系を有する散乱光測定部と、該散乱光測定部の光検出器で検出した各チャンネル区分毎の散乱光強度データを処理し、信号を出力するデータ処理部と、を備えるとともに、前記データ処理部は、光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データと、設定した基準値とを比較し、その比較結果に基づいて所定の信号を出力することを特徴とする粒度センサー。」
　
　一方で、両者は、次の点で相違する。
＜相違点１＞
　本願補正発明は、基準値は各チャンネル区分毎に設定され、前記基準値と光検出器の各チャンネル区分毎に検出した散乱光強度データとを個々に独立して比較するのに対して、刊行物１記載の発明は、回折／散乱光の空間強度分布目標値が複数のセンサ素子毎に設定されているか明らかでなく、さらに、回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布とを、複数のセンサ素子毎に個々に独立して比較する構成を有しているか明らかでない点。
　
＜相違点２＞      
　本願補正発明は、データ処理部において、比較結果に基づいて粉体の粒度状態を判定し、所定の正常信号又は異常信号を、粉体の粒度状態に関連付けられた信号として出力する構成を有するのに対して、刊行物１記載の発明の制御信号発生手段は、比較結果に基づいて粉体の粒度状態を判定し、所定の正常信号又は異常信号を出力する構成を有するか明らかでない点。
　
＜相違点３＞
　本願補正発明は「筐体内に、採取した試料を分散させる分散部」を有するのに対して、刊行物１記載の発明は前記分散部に相当する構成を有さない点。
　
３−３．相違点についての検討
　
　上記相違点１について検討する。
　レーザ回折・散乱法を用いた粒度分布測定は、前方および側方への回折／散乱光の強度分布パターンが粒子の大きさによって決まることを測定原理として、粒度分布の測定を行う方法であるということは、刊行物１の（１ｆ）にも記載されているように、よく知られていることである。
　刊行物１記載の発明における、回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布との比較として、刊行物１の明細書には、回折／散乱光の強度分布パターンの光強度が最初にしきい値を超える位置Ｐ0及びファーストピークの位置Ｐ1を利用して比較を行う例が示されているが、回折／散乱光の強度分布パターン自体を、回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布の比較として用いることは、レーザ回折・散乱法を用いた粒度分布測定の原理からみて何ら困難性はなく、そうすると、刊行物１記載の発明において、回折／散乱光の空間強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布の比較として、回折／散乱光の強度分布パターン自体を比較する構成を採用することは、当業者が容易になし得た事項であるといえる。
　そして、回折／散乱光の強度分布パターンは、刊行物１の図４に示すような、複数のセンサ素子の位置毎の光強度のパターンであるので、強度分布パターンを比較に用いる際に、複数の各センサ素子毎に光強度の目標値を設定し、各センサ素子毎に光強度を個々に独立して比較する構成とすることは、単なる設計事項にすぎない。
　
　上記相違点２について検討する。
　刊行物１記載の発明の、粒子群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるよう、粒子処理プラントに対して制御信号を供給する構成に関して、粒度群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるようにするための制御信号を供給するためには、粒子処理プラントにおける粒子群があらかじめ設定された粒度分布を有するかどうかを、光強度分布目標値と回折／散乱光測定光学系からの分布とを比較することで判定する必要があるといえ、これは、粒子処理プラントにおける粒子群の粒度状態を判定していることに他ならない。
　そして、前記判定に基づいて粒子処理プラントに供給される、粒度群の粒度分布があらかじめ設定された分布となるようにするための制御信号として、判定によって得られた結果の情報である、正常又は異常に関する信号を出力することは、処理プラントにおいて通常行われる事項であり、したがって、刊行物１記載の発明において、正常信号又は異常信号を出力する構成とすることは、当業者が容易になし得る事項である。
　
　上記相違点３について検討する。
　レーザ回折・散乱光による粒度分布測定において、試料分散部に試料を分散し、前記分散部で分散された試料にレーザ光を照射する構成は、例えば、粉体工学会編「粒子径計測技術」（１９９４年１１月３０日）の第８章「レーザ回折・散乱法」の第１４６ページの「測定試料は，空気の噴流中あるいはフローセル内の液体中に分散されることが多いが，攪拌式の光学セル内の液体中に分散させる場合もある．」という記載にあるように、従来周知の構成である。
　そうすると、刊行物１記載の発明において、粉体試料を分散させる分散部を設ける構成とすることに、別段、困難性があったとはいえない。
　
　そして、本願補正発明の作用効果も、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項から当業者が予測できた範囲のものである。 
　 
　したがって、本願補正発明は、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 
　 
４．本件補正についてのむすび 
　以上のとおり、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。 
　 
　
III．本願発明について 
１．本願発明 
　平成１８年１０月１９日付けの手続補正は上記のとおり却下されることとなったので、本願の請求項１に係る発明は、平成１８年５月２４日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲請求項１記載されたとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、上記II．の１の（ａ）本件補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものである。 
　 
２．引用刊行物 
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物及びその記載事項は、前記II．３−１に記載したとおりである。 
　 
３．対比・判断 
　本願発明は、前記II．で検討した本願補正発明から、（ｉ）「粉体の粒度状態を判定し、所定の正常信号又は異常信号を出力する」の限定を省いたものである。 
　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、前記II．３−２．、３−３．に記載したとおり、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 
　 
４．むすび 
　以上のとおり、本願発明は、刊行物１記載の発明及び周知の技術的事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　したがって、本願は拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。