【事件の表示】
　特願２００１−３３５０２２号「真空スイッチ用容器の製造方法及び真空スイッチの製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年７月１８日出願公開、特開２００３−２０３５４５号〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　本件出願は、平成１３年１０月３１日（優先権主張　平成１２年１０月３１日、平成１３年１０月２６日）の出願であって、平成１７年５月３０日付けで拒絶理由が通知され、同年８月８日に手続補正がなされ、平成１８年１月１０日付けで拒絶査定がなされた。
　その後、同年２月１５日に本件拒絶査定不服審判の請求がなされ、当審において平成１９年１２月２１日付けで拒絶理由が通知されたものである。
　
第２．本願発明
　本件出願の請求項１〜８に係る発明は、平成１７年８月８日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜８に記載された事項によって特定されるものと認められるが、そのうち、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、次のとおりである。
「【請求項１】　セラミック製の筒状の真空スイッチ用容器の製造方法であって、
　セラミック造粒粉を金型成形して真空スイッチ用容器の圧粉体を作成し、その後、該圧粉体を焼成して、
　前記真空スイッチ用容器の外周面の軸方向における中心線平均粗さＲａを１．０μｍ以下とするとともに、十点平均粗さＲｚを１０．０μｍ以下とすることを特徴とする真空スイッチ用容器の製造方法。」
　
第３．引用刊行物とその記載事項
　引用文献１：特開平８−３０６２８１号公報
　引用文献２：特開２０００−７１２２３号公報
　
１．引用文献１
　これに対して、当審の拒絶の理由に引用した、本件出願の優先権主張の日前に日本国内において頒布された刊行物である引用文献１には、「真空遮断器用真空バルブ」に関し、図１〜４とともに以下の記載がある。
（ア）「【０００２】
【従来の技術】真空バルブは、真空容器の内部に開閉接点を収納し、高圧回路の開閉性能を備えたものである。図４は、従来の真空遮断器用真空バルブの構成を示す断面図である。真空容器１が筒状のセラミックス材よりなり、真空容器１の外表面が釉薬（いわゆる、うわぐすり）を焼き付けて形成した保護層１０で覆われている。」
（イ）「【０００４】図４において、釉薬を真空容器１に焼き付けて保護層１０を設ける目的は、真空容器１の表面を平滑にし汚損を防止することにある。すなわち、一般にセラミックスは、その表面が微小な凸凹状態になっている。そのために、釉薬がないと、そこに大気中の塵埃などが付着しやすく、一旦塵埃が付着するとメンテナンスのときの清掃でも落ちにくくなる。これでは、絶縁性能の低下を招くので、汚れが付着しにくく、かつ簡単に落ちるように表面を滑らかにしている。
【０００５】図４の真空容器１は、１）絶縁破壊電圧が高いこと、２）汚損特性に優れていること、３）機械的強度が高いこと、４）真空の気密性に優れていることなどの性能が要求される。」
（ウ）「【０００６】図４の真空バルブの製造工程としては、まず真空容器１がアルミナセラミックスによって筒状に焼成される。次に、真空容器１に外表面に釉薬が塗布、焼成される。この真空容器１において、金属を接合する部分には予めメタライジングが施される。真空容器１の内部に収納部品を収めた後、真空容器１端面のメタライジング層８に金属フランジ２Ａ、２Ｂが接合される。
【０００７】真空容器１の成形では、まず材料としてアルミナ粉末（Ａ１2 Ｏ 3）にシリカ（ＳｉＯ2 ）、炭酸カルシウム（ＣａＣＯ 3）が加えられ、これら粉末は粉砕、混合され、泥土の混合粉に形成される。この混合粉は、霧状に噴出させながら乾燥される。乾燥された混合粉は９．８ｋＮ（１ ton・ｆ／mm2 ）の圧力で筒状に加圧成形され、１，５００℃以上の温度で加熱、焼成される。」
（エ）「【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述したような従来の装置は、保護層の形成に多大の時間を要するという問題があった。すなわち、保護層の形成においては、塗布した釉薬を焼成した後に急激に冷却すると真空容器にクラックが発生してしまう。そのために、その冷却は徐々に降温されねばならなかった。保護層の形成工程には５日ないし７日位必要であったが、そのうち、殆どの時間が冷却工程に費やされていた。この釉薬保護層の形成工程が真空バルブの製造上のネックとなっており、コストアップの要因にもなっていた。」
　上記記載事項（ア）〜（エ）、及び図面の図示内容を総合すると、引用文献１には、「筒状のセラミック材よりなる真空バルブの真空容器１の製造方法であって、
　真空バルブの真空容器１の成形では、アルミナ粉末にシリカ、炭酸カルシウムが加えられ、これら粉末は粉砕、混合され、泥土の混合粉に形成され、乾燥された混合粉は筒状に加圧成形され、加熱、焼成され、
　真空バルブの真空容器１の外表面に釉薬が塗布、焼成され、真空容器１の表面を平滑にする真空バルブの真空容器１の製造方法。」の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　
２．引用文献２
　また、当審の拒絶の理由に引用した、本件出願の優先権主張の日前に日本国内において頒布された刊行物である引用文献２には、「粉末加圧成形方法とこれにより製造したツバを有する筒状体、及び電気部品用ケース」に関し、図１〜６とともに以下の記載がある。
（オ）「【請求項１】内周に段部を備えたウスと、下パンチと、上記段部に対応する位置に備えた第１上パンチ及びその内側に備えた第２上パンチからなる金型を用い、上記ウスと下パンチで形成される空間に粉末を充填し、まず第２パンチをウス内に挿入し、次に第１上パンチを下降させてウスの段部近傍を加圧した後、各上下パンチを加圧することにより、外周にツバを有する筒状体を成形する工程からなる粉末加圧成形方法。
【請求項２】セラミック原料粉末を請求項１の方法により成形した後、焼成してなることを特徴とするツバを有する筒状体。
【請求項３】セラミックス製の有底筒状体の開口端外周にツバを備えてなり、その外周面が焼成したままの面であることを特徴とする電気部品用ケース。」
（カ）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サーモスタット用ケースなどの電気部品用ケース、及びこれを製造するための粉末加圧成形方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】 従来、家電製品、ＯＡ機器、自動車等の温度制御部品として、図６の様なサーモスタットが用いられている。・・・（中略）・・・
【０００３】 サーモスタットの温度制御機構は、バイメタル３９の温度変化による弧状の変形量を摺動ピン４０を介して、接点金具４２のたわみ量とし、リベット４３で固定された端子電極４４への接触有無を電気のスイッチ機構にしたもので、所定の温度になると電気の流れを遮断し、異常な高温に上昇しない様に制御する安全部品である。
【０００４】このサーモスタットに使用されるケース４１は、・・・（中略）・・・有底筒状体をしており、キャップ４６にて固定する為、開口側の外周にツバを有する形状である。また、絶縁性を維持するために、セラミックスから形成されている。」
（キ）「【００２３】上記各成形体１、１０を所定条件で焼成して、図６に示す様なサーモスタット用ケース４１とすることができる。この時、ケースの外周は、焼成したままの面であり、切削ではなく金型で形成してある為、表面粗度（Ｒａ）１．８μｍ以下の滑らかな面とできる。その為、この面に印刷を施してもにじみが生じにくい。」
（ク）「【００２５】 さらに、サーモスタット用ケースに限らず、その他の各種電気部品用のケースに本発明を適用できることはいうまでもない。」
（ケ）「【００２９】 従って、製造工程を短縮することができ、且つ安価に製品を供給することができる。又、切削加工をなくすることにより、表面の加工筋がなくなり、繊細な文字の印刷にも適した表面状態に仕上げることができ、極めて効果的である。」
　上記記載事項（オ）〜（ケ）、及び図面の図示内容を総合すると、引用文献２には、セラミック製の有底筒状のサーモスタット用ケースなどの電器部品用ケースの製造方法について、サーモスタット用ケースは絶縁性を維持するためにセラミックスから形成され、「セラミック原料粉末を、金型を用いて成形して、サーモスタット用ケースの筒状体を成形した後、該筒状体を焼成して、前記サーモスタット用ケースの外周を、切削ではなく金型で形成し、表面粗度（Ｒａ）を１．８μｍ以下の滑らかな面とする」ことにより、製造工程を短縮することができ、安価に製品を供給することができ、切削加工をなくすることにより、表面の加工筋がなくなり、繊細な文字の印刷にも適した表面状態に仕上げることができるという事項が記載されている。
　
第４．本願発明と引用発明との対比
１．両者の対応関係
　本願発明と引用発明とを対比する。
　引用発明の「真空バルブ」は、その機能、作用からみて、本願発明の「真空スイッチ」に相当し、以下同様に、「真空容器１」は「容器」に、「筒状のセラミック材よりなる」「真空バルブの真空容器１」は「セラミック製の筒状の」「真空スイッチ用容器」に、「アルミナ粉末にシリカ、炭酸カルシウムが加えられ、これら粉末は粉砕、混合され、泥土の混合粉に形成され、乾燥された混合粉」は「セラミック造粒粉」に、各々相当する。
　また、引用発明は、真空バルブの真空容器１の成形において、乾燥された混合粉が筒状に加圧成形されるものであるので、乾燥された混合粉を筒状に加圧成形して真空バルブの真空容器１の「圧粉体」を作成するものであることは明らかであり、さらに引用発明は、乾燥された混合粉が筒状に加圧成形され、加熱、焼成されるものであるので、「圧粉体を焼成」するものであることも明らかである。よって、引用発明の「真空バルブの真空容器１の成形では、アルミナ粉末にシリカ、炭酸カルシウムが加えられ、これら粉末は粉砕、混合され、泥土の混合粉に形成され、乾燥された混合粉は筒状に加圧成形され、加熱、焼成され」るとの事項は、本願発明の「セラミック造粒粉を金型成形して真空スイッチ用容器の圧粉体を作成し、その後、該圧粉体を焼成」するとの事項と、「セラミック造粒粉を成形して真空スイッチ用容器の圧粉体を作成し、その後、該圧粉体を焼成」するとの事項である点で共通する。
　すると、両者の一致点、相違点は以下のとおりとなる。
　
２．両者の一致点
「セラミック製の筒状の真空スイッチ用容器の製造方法であって、
　セラミック造粒粉を成形して真空スイッチ用容器の圧粉体を作成し、その後、該圧粉体を焼成する、
真空スイッチ用容器の製造方法。」
　
３．両者の相違点
（１）相違点１
　圧粉体の作成に関し、本願発明では、「金型成形」するのに対し、引用発明では、「成形」するものの、「金型成形」であるのか否かが明確ではない点。
（２）相違点２
　真空スイッチ用容器に関し、本願発明では「外周面の軸方向における中心線平均粗さＲａを１．０μｍ以下とするとともに、十点平均粗さＲｚを１０．０μｍ以下とする」のに対し、引用発明では、外表面に釉薬が塗布、焼成され、真空容器１の表面を平滑する点。
　
第５．相違点についての検討
１．相違点１について
　引用発明は、真空バルブの真空容器１の外表面に釉薬が塗布、焼成され、表面を平滑にするものである。そして、引用文献１には、この釉薬の保護層の形成工程が製造上のネックとなっており、コストアップの要因にもなっていることが示唆されている（上記記載事項（エ）参照。）ので、引用発明において、釉薬を塗布、焼成することなく、容器の表面を平滑状態としようとすることは、当業者が当然考慮する程度のことといえる。そして、引用文献２に記載された電器部品用ケースの製造方法は、金型を用いて成形してケースの外周を滑らかな面とするものであるから、この技術を引用発明に用いることは、当業者にとって格別困難とはいえない。
　したがって、引用発明に、引用文献２に記載された金型を用いて成形する技術を適用して、相違点１に係る本願発明の発明特定事項とすることは、当業者が容易に想到し得たものである。
　
２．相違点２について
　絶縁体の表面において、絶縁性を高めるために、平滑にしたり、表面粗さを小さくしたりすることは、引用文献１（上記記載事項（イ）参照。）や特開平１１−２７３５１２号公報（段落【００５５】〜【００５７】，【００７０】参照。）、特開平５−１４６０３５号公報（段落【００１１】〜【００１４】，【００２１】参照。）、特開平９−１２９０９７号公報（段落【０００４】，【０００５】参照。）に記載されており、本件出願の出願前に周知の技術である。
　そして、真空バルブの真空容器の外周面において、必要とされる絶縁性は、真空スイッチの用途やその電圧クラス、容器の寸法や構造に応じて当業者が適宜設計する事項であるので、上記周知の技術を合わせみれば、引用発明に、引用文献２に記載された事項を適用する際に、必要とされる絶縁性に応じて、平滑にしたり、表面粗さを小さくして、軸方向における中心線平均粗さＲａを１．０μｍ以下とするとともに、十点平均粗さＲｚを１０．０μｍ以下として、相違点２に係る本願発明の発明特定事項とすることに、格別の困難性があるとは認められない。
　そもそも、本願発明は、従来のラバープレス法では、寸法精度を得るために、切削により形状を整えていたものを、金型成型としたことで、切削しなくても平滑となり、中心線平均粗さＲａを１．０μｍ以下、十点平均粗さＲｚを１０．０μｍ以下となるものであって、引用文献２には、切削ではなく金型で形成すること、そして、それにより切削より平滑となることが示されているのであるから、従来のものより平滑となるようにすることも、当業者が通常なし得る設計的事項といえる。なお、引用文献２の記載では、表面粗度（Ｒａ）を１．８μｍ以下としているが、その値が、粉末の径や種類、金型の表面粗さや加圧圧力などで変化しうるものであることも明らかである。
　なお、十点平均粗さは、ＪＩＳ　Ｂ０６０１に定義されているように広く普及したものであるので、粗さとして十点平均粗さＲｚを同時に用いて規定することも格別ではない。
　
３．本願発明の数値限定の臨界的意義について
　本願の明細書の発明の詳細な説明の段落【００２５】〜【００３０】、図面の図３には、実験方法及びその結果に関する事項が記載され、段落【００２８】の表２には、実施例のによる製造方法にて製造されたセラミック焼成体の試料（Ｎo.１〜３）の実験結果と、従来のラバーブレス法により製造された同様なセラミック焼成体の試料（Ｎo.４、５）の実験結果が記載されている。ここで、実施例の製造方法については、段落【００２１】〜【００２５】に、内径φ１２０ｍｍの超硬製の外型１１と、外径φ１０８ｍｍの超硬製の中ピン１３とに挟まれた円筒形の隙間１５に、セラミック造粒粉１７を充填し、円筒形の隙間１５の上下から同様な円筒形の下パンチ１９び上パンチ２１を用いて、円筒形の軸方向に９８ＭＰａの圧力で加圧して、圧粉体を作製し、前記圧粉体を、大気中にて１６００℃で加熱して焼成し、円筒形のセラミック焼成体３を作製することが示されている。一方、従来のラバープレス法については、段落【０００２】に、金属製の柱状の中ピンと、ゴム製の円筒形のラバー型との間の筒状の空間に、セラミックス粉を配置するとともに、その筒状の空間を塞ぐよう下底と上蓋とを配置し、ラバー型の周囲からセラミック粉を押圧して圧粉体を形成し、その後、この圧粉体を切削して形状を整えた後に焼成して、セラミック焼成体を形成することが示されているものの、成形圧力や焼成温度の条件が不明であり、切削につても具体的に条件が示されていない。このように、試料（Ｎo.４、５）は、その製造時の条件が不明確ではあるものの、試料（Ｎo.１〜３）に対して製造方法が大きく相違しているので、表２に記載された実験結果のみからでは、本願発明の製造方法において、中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚの数値に臨界的な意義があるとはいえない。このことについては、製造方法による影響が大きいともいえる。
　表２に記載された実験結果における試料（Ｎo.２，３）と試料（Ｎo.５）とを比較すると、試料（Ｎo.２，３）の方が試料（Ｎo.５）より周方向における十点平均粗さＲｚが大きいので、試料（Ｎo.２，３）と試料（Ｎo.５）のどちらがより平滑であるのかは必ずしも明確ではないといえる。そして、平滑性に明確な相違がないのに、試料（Ｎo.２，３）の破壊電圧と試料（Ｎo.５）の破壊電圧とが相違するので、製造方法が相違することにより破壊電圧が相違するとも考えられる。
　一般に、ある物理量の数値による作用効果を明らかにする実験を行う場合、その物理量の数値以外は全く同一条件の実験、いわゆる対照実験を行なって、その結果を比較検討するが、試料（Ｎo.１〜３）と試料（Ｎo.４、５）とは、実験の条件が、中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚの数値以外に、製造方法も相違しているので、試料（Ｎo.４、５）の実験は対照実験とはいえず、表２の実験結果の破壊電圧の相違が、製造方法の相違によるものであるのか、それとも中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚの数値の相違によるものであるのかが明確ではない。
　したがって、表２に記載された実験結果は、製造方法や表面粗さと破壊電圧との関係を示すものであって、製造方法にも関連しているのであるから、表２に記載された５つの試料（Ｎo.１〜５）のみの実験結果から、中心線平均粗さＲａの「１．０μｍ」という数値や十点平均粗さＲｚの「１０．０μｍ」という数値に臨界的な意義があるとは認められない。
　なお、もし製造方法にかかわらず中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚのみにより、その破壊電圧が定まるというのであれば、上記２．で述べたように、必要に応じて、より高い破壊電圧が得られるように、より滑らかな中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚとすることに、格別な困難性があるとは認められない。
　
　また、段落【００２８】の表２に記載された実験結果は、鉛筆（黒鉛）で塗りつぶす範囲を１０ｍｍ四方とし、塗りつぶした部分を軸方向に指で延ばす長さを約２０ｍｍとする特殊な条件に基づいたものである。そして、段落【００２７】〜【００３０】には、黒鉛の付着状態（汚れの状態）を観察し、「汚れの濃さ」によって、絶縁性の優劣が変わる旨が記載されているが、鉛筆（黒鉛）で塗りつぶす際の鉛筆の硬さや黒鉛の付着量、さらに塗りつぶした部分を軸方向に指で延ばす際の延ばし方（例えば、指の移動開始位置や押圧力、移動速度、移動終了位置、繰り返し回数）によって、「汚れの濃さ」が変化し、実験結果が大きく異なった数値になったり、数値のバラツキが大きくなったりすることと考えられる。したがって、表２に記載された５つの試料（Ｎo.１〜５）のみの実験結果から、中心線平均粗さＲａの「１．０μｍ」という数値や十点平均粗さＲｚの「１０．０μｍ」という数値に臨界的な意義があるとは認められない。
　なお、請求人は、平成２０年２月２５日付け意見書において、実験例の場合には、大きな電荷が鉛筆マーク先端に溜まるから、多少のサンプルの製作によるバラツキに影響されないとしている。そうだとすると、鉛筆マーク先端は２０ｍｍ延ばされたものであるから、その延ばされた鉛筆マーク先端間の放電によって絶縁破壊が起こるといえ、表２に記載された実験結果における破壊電圧の差は、鉛筆マーク先端間のセラミック焼結体表面の状態のみに関連すると解される。そうすると、この実験は、２０ｍｍ延ばされた鉛筆マークによる汚れやその汚れによる破壊電圧をみるものとはいえないので、単に、表面における破壊電圧を、製造方法、表面の粗さに関連して調べたというにすぎず、その結果をみても、上記２．で述べたように、必要に応じて、より高い破壊電圧が得られるように、より滑らかな中心線平均粗さＲａ及び十点平均粗さＲｚとすることに、格別な困難性があるとは認められない。なお、もしサンプルの作成時に鉛筆マーク先端間に汚れが付着するとすると、その汚れのバラツキにより破壊電圧が影響されることは明らかであるので、サンプルの製作によるバラツキに影響されないとする上記意見書における主張と対応しないこととなる。
　
４．まとめ
　本願発明の全体構成により奏される作用効果は、引用発明、引用文献２に記載された事項及び上記周知の技術から当業者が予測できる範囲内のものである。
　したがって、本願発明は、引用発明、引用文献２に記載された事項及び上記周知の技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第６．むすび
　以上のとおり、本願発明（請求項１に係る発明）については、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そうすると、このような特許を受けることができない発明を包含する本願は、本願の請求項２〜８に係る発明について検討するまでもなく、拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。