【手続補正書】
【提出日】令和1年10月18日(2019.10.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
飛行時間（「ＴＯＦ」）質量分析法分析用の質量分析システムであって、前記質量分析システムは、パルス化されて入力ＴＯＦ焦点を有する第１イオンビームを提供するパルス化イオン源に結合可能であり、前記質量分析システムは、
第１の静電ミラープリズムであって、前記第１イオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有し中間イオンの第２イオンビームを提供するために、第１の減速電界を発生する第１の複数の電極を有し、前記第２イオンビームは中間ＴＯＦ焦点を有する、第１の静電ミラープリズムと、
第２の静電ミラープリズムであって、該第２の静電ミラープリズムは、前記第１の静電ミラープリズムから第１の所定の距離だけ離間し、前記第１の静電ミラープリズムから所定の第１の角度オフセットを有するように更に配置され、該第２の静電ミラープリズムは、前記第２イオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、再結合したイオンの第３イオンビームを提供するために、第２の減速電界を発生する第２の複数の電極を有し、前記第３イオンビームは出力ＴＯＦ焦点を有する、第２の静電ミラープリズムと、を備える静電ミラープリズム配置と、
前記第３イオンビームを受信するために前記出力ＴＯＦ焦点に配置されたイオン検出器であって、前記第３イオンビームの複数のイオンを検出するように適合される、イオン検出器と、
を備える、質量分析システム。
【請求項２】
前記所定の第１の角度オフセットは９０度である、請求項１に記載の質量分析システム。
【請求項３】
前記静電ミラープリズム配置は、
第１の方向に前記第１の静電ミラープリズムから離間して配置された第１のリフレクトロンと、
前記第１の方向に対向する第２の方向に前記第２の静電ミラープリズムから離間して配置された第２のリフレクトロンと、
を更に備え、
前記第１及び第２のリフレクトロンはそれぞれ、対応する中心軸を有し、前記第１及び第２のリフレクトロンは、各中心軸が前記第２イオンビームに整列しかつ同一の広がりを持つ状態で更に配置される、請求項１に記載の質量分析システム。
【請求項４】
前記静電ミラープリズム配置は、
第３の静電ミラープリズムであって、前記第１イオンビーム又は第７のイオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有する第４のイオンビームを提供するために、第３の減速電界を発生する第３の複数のイオン透過電極を有し、前記第４のイオンビームは第４のＴＯＦ焦点を有する、第３の静電ミラープリズムと、
第４の静電ミラープリズムであって、該第４の静電ミラープリズムは、前記第３の静電ミラープリズムから第２の所定の距離だけ離間し、前記第３の静電ミラープリズムから所定の第２の角度オフセットを有するように更に配置され、該第４の静電ミラープリズムは、前記第４のイオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、再結合したイオンの第５イオンビームを提供するために、第４の減速電界を発生する第４の複数の電極を有し、前記第のイオンビームは第５のＴＯＦ焦点を有する、第４の静電ミラープリズムと、
第５の静電ミラープリズムであって、前記第５イオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有する第６イオンビームを提供するため、第５の減速電界を発生する第５の複数の電極を有し、前記第６イオンビームは第６のＴＯＦ焦点を有する、第５の静電ミラープリズムと、
第６の静電ミラープリズムであって、該第６の静電ミラープリズムは、前記第５の静電ミラープリズムから第３の所定の距離だけ離間し、前記第５の静電ミラープリズムから所定の第３の角度オフセットを有するように更に配置され、該第６の静電ミラープリズムは、前記第６イオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、再結合したイオンの第７イオンビームを提供するために、第６の減速電界を発生する第６の複数のイオン透過電極を有し、前記第７イオンビームは、前記入力ＴＯＦ焦点に配列された第７のＴＯＦ焦点を有する、第６の静電ミラープリズムと、
を更に備える、請求項１に記載の質量分析システム。
【請求項５】
前記第３の静電ミラープリズム及び前記第６の静電ミラープリズムは、オフ状態にあり、前記第１イオンビームは、前記第１の静電ミラープリズムまで透過する、請求項４に記載の質量分析システム。
【請求項６】
前記第３の静電ミラープリズムは、オフ状態にあり、前記第７のイオンビームは、前記第１の静電ミラープリズムまで透過する、請求項４に記載の質量分析システム。
【請求項７】
前記第３の静電ミラープリズム、前記第４の静電ミラープリズム、前記第５の静電ミラープリズム、及び前記第６の静電ミラープリズムは、オン状態にあり、前記第４、第５、第６、及び第７のイオンビームは、循環して発生されて、選択された飛行時間に比例する選択可能な数の反射を提供する、請求項４に記載の質量分析システム。
【請求項８】
前記第１の静電ミラープリズム、前記第２の静電ミラープリズム、前記第３の静電ミラープリズム、前記第４の静電ミラープリズム、前記第５の静電ミラープリズム、及び前記第６の静電ミラープリズムは、エネルギー分散平面において同一平面上にある、請求項４に記載の質量分析システム。
【請求項９】
飛行時間（「ＴＯＦ」）質量分析法分析用の質量分析システムであって、前記質量分析システムはパルス化されて入力ＴＯＦ焦点を有する第１イオンビームを提供するパルス化イオン源に結合可能であり、前記質量分析システムは、
第１の静電ミラープリズムであって、前記第１イオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有し中間イオンの第２イオンビームを提供するために、第１の減速電界を発生する第１の複数の電極を有し、前記第２イオンビームは第２の中間ＴＯＦ焦点を有する、第１の静電ミラープリズムと、
第２の静電ミラープリズムであって、該第２の静電ミラープリズムは、前記第１の静電ミラープリズムから第１の所定の距離だけ離間し、前記第１の静電ミラープリズムから所定の第１の角度オフセットを有するように更に配置され、該第２の静電ミラープリズムは、前記第２イオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、再結合したイオンの第３イオンビームを提供するために、第２の減速電界を発生する第２の複数の電極を有し、前記第３イオンビームは第３のＴＯＦ焦点を有する、第２の静電ミラープリズムと、
第３の静電ミラープリズムであって、前記第３イオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有する第４のイオンビームを提供するために、第３の減速電界を発生する第３の複数の電極を有し、前記第４のイオンビームは第４の中間ＴＯＦ焦点を有する、第３の静電ミラープリズムと、
第４の静電ミラープリズムであって、該第４の静電ミラープリズムは、前記第３の静電ミラープリズムから第２の所定の距離だけ離間し、前記第３の静電ミラープリズムから所定の第２の角度オフセットを有するように更に配置され、該第４の静電ミラープリズムは、前記第４のイオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、再結合したイオンの第５イオンビームを提供するために、第４の減速電界を発生する第４の複数の電極を有し、前記第５イオンビームは第５の出力ＴＯＦ焦点を有する、第４の静電ミラープリズムと、
を備える静電ミラープリズム配置と、
前記第５イオンビームを受信するために前記第５の出力ＴＯＦ焦点に配置されたイオン検出器であって、前記第５イオンビームの複数のイオンを検出するように適合される、イオン検出器と、
を備える、質量分析システム。
【請求項１０】
レーザービーム又は電子ビームを発生して、前記第３のＴＯＦ焦点において、前記第３イオンビームの分子を破砕するように適合される解離デバイスを更に備える、請求項９に記載の質量分析システム。
【請求項１１】
前記解離デバイスに結合されたプロセッサを更に備え、該プロセッサは、前記解離デバイスのオン状態及びオフ状態を制御して、前記第３のＴＯＦ焦点において、前記第３イオンビームの分子を選択的に破砕するように適合される、請求項１０に記載の質量分析システム。
【請求項１２】
前記プロセッサは、前記解離デバイスを、選択されたデューティサイクルでターンオン又はターンオフして、複数のフラグメント分子を有する質量スペクトル及びフラグメントなし分子を有する質量スペクトルについてタンデム動作モードを提供するように更に適合される、請求項１１に記載の質量分析システム。
【請求項１３】
前記第１の静電ミラープリズム、前記第２の静電ミラープリズム、前記第３の静電ミラープリズム、及び前記第４の静電ミラープリズムは、エネルギー分散平面において同一平面上にある、請求項９に記載の質量分析システム。
【請求項１４】
前記第３の静電ミラープリズム及び前記第４の静電ミラープリズムは、前記第１の静電ミラープリズム及び前記第２の静電ミラープリズムと同一平面上にない、請求項９に記載の質量分析システム。
【請求項１５】
飛行時間（「ＴＯＦ」）質量分析法分析用の質量分析システムであって、前記質量分析システムは、パルス化されて入力ＴＯＦ焦点を有する第１イオンビームを提供するパルス化イオン源に結合可能であり、前記質量分析システムは、
静電ミラープリズムの複数の対であって、静電ミラープリズムの該複数の対のうちの静電ミラープリズムの各対は、
第１の静電ミラープリズムであって、前記第１イオンビーム又は次の再結合済みイオンビームを反射し、イオン運動エネルギーに比例するイオンの空間分散を有する中間イオンビームを提供するため、第１の減速電界を発生する第１の複数の電極を有し、前記中間イオンビームは中間ＴＯＦ焦点を有する、第１の静電ミラープリズムと、
第２の静電ミラープリズムであって、該第２の静電ミラープリズムは、前記第１の静電ミラープリズムから第１の所定の距離だけ離間し、前記第１の静電ミラープリズムから所定の第１の角度オフセットを有するように更に配置され、該第２の静電ミラープリズムは、前記中間イオンビームを反射し、イオンの前記空間分散を収束させて、前記次の再結合済みイオンビームを提供するため、第２の減速電界を発生する第２の複数の電極を有し、前記次の再結合済みイオンビームは、結合式出力−入力ＴＯＦ焦点を有する、第２の静電ミラープリズムと、
を含む、静電ミラープリズムの複数の対と、
可動エネルギーバンドパス制御スリットを有するバンドパスフィルターであって、静電ミラープリズムの前記複数の対によって提供される複数の中間ＴＯＦ焦点の少なくとも１つの中間ＴＯＦ焦点に配置されて、選択された範囲のイオン運動エネルギーを有する対応する中間イオンビームのイオンの伝搬を選択的に可能にする、バンドパスフィルターと、
静電ミラープリズムの前記複数の対のうちの静電ミラープリズムの最後の対によって提供される前記次の再結合済みイオンビームを受信するために、前記結合式出力−入力ＴＯＦ焦点に配置されたイオン検出器であって、前記次の再結合済みイオンビームの複数のイオンを検出するように適合される、イオン検出器と、
を備える、質量分析システム。