【事件の表示】
　特願２００１−３５０２０１「光導波回路モジュール」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　５月２１日出願公開、特開２００３−１４９４９５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　本願発明
　本願は、平成１３年１１月１５日に特許出願したものであって、その請求項に係る発明は、平成１８年１１月６日付けで補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものである。
　
「複数の光ファイバ配列ガイド溝を並列に配列したガイド基板と、該ガイド基板の前記光ファイバ配列ガイド溝に挿入された光ファイバと、該光ファイバを押さえる押さえ板とを有する光ファイバアレイの光ファイバ端面側を、光導波回路部品に接続して成る光導波回路モジュールにおいて、前記光ファイバ配列ガイド溝の配列方向をＸ方向としたとき、前記光ファイバアレイのＸ方向の両側面とそれぞれの側面に最も近い位置に配置された光ファイバ配列ガイド溝のそれぞれの側面がわの溝端位置とのＸ方向の距離をいずれも０．８ｍｍ以上として、８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下としたことを特徴とする光導波回路モジュール。」（以下「本願発明」という。）
　
２　刊行物の記載    
（１）原査定の拒絶理由に引用した特開平５−２６４８６２号公報（以下「刊行物１」という。）には、下記の記載がある。
　
　ア　「【０００８】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して詳細にのべると、図１及び図２は本発明に係る光導波路モジュール１０を示し、この光導波路モジュール１０は、従来の光導波路モジュールと同様に、平面基板１２上に光導波路１４を有するプレーナ光波回路チップ１６と、この光波回路チップ１６の光導波路１４に接続される光ファイバリボン１８の光ファイバ１８ａが係入する複数のＶ溝２０ａを有する有溝基板２０とこの有溝基板２０に衝合して有溝基板２０と共に光ファイバ１８ａを挟む抑え蓋２２とを含むファイバ配列具２４とから成っている。
【０００９】プレーナ光波回路チップ１６とファイバ配列具２４とは、光導波路１４とファイバ配列具２４の光ファイバ１８ａとを調心して突合わせ面を接着剤により相互に接着して結合されている。」
　
　イ　「【００１５】
　一方、ファイバ配列具の有溝基板用に幅が５ｍｍ、長さが６ｍｍ、厚さが１．０９ｍｍのシリコン基板を用意し、このシリコン基板上に異方性エッチングにより幅が２４０μｍの８本のＶ溝を２５０μｍの間隔で形成して有溝基板を完成した。抑え蓋は幅が５ｍｍ、長さが６ｍｍ、厚さが０．９７ｍｍのシリコン基板から形成した。有溝基板のＶ溝にシングルモード８心光ファイバリボンの各光ファイバを整列して係合し、抑え蓋で抑えながら接着剤で固定した後、有溝基板と抑え蓋の端面を研磨してファイバ配列具を完成した。
【００１６】
　このようにして完成されたプレーナ光波回路チップの両端面に２つのファイバ配列具との端面を突合わせて通光パワーをモニタしながら微調台上で光導波路と光ファイバとを調心し、突合わせ部に接着剤を塗布して固定した（図２参照）。」
　
（２）原査定の拒絶理由に引用した特開２０００−１１１７６２号公報（以下「刊行物２」という。）には、下記の記載がある。
　
　ア　「【０００１】
　【発明の属する技術分野】
　本発明は光部品に光ファイバを接続するための光ファイバ接続部品に係り、特に、溝を形成した光ファイバ整列部材と蓋によって光ファイバ心線を挟持して光ファイバを整列配置した光ファイバ接続部品に関するものである。」
　
　イ　「【０００３】
　高い配列精度を有し、高信頼の光ファイバ接続部品としては、従来よりＶ溝を形成した光ファイバ整列部材を用いた光ファイバ接続部品が広く用いられている。この光ファイバ接続部品は図５に示すように、Ｖ溝１５を形成した光ファイバ整列部材１１と蓋１２と被覆を除去した光ファイバ心線１３とから構成され、光ファイバ整列部材１１上に形成されたＶ溝１５上に光ファイバ心線１３を整列した後、蓋１２を設置して光ファイバ整列部材１１、蓋１２、光ファイバ心線１３との間にできた空隙に接着剤を充填し、接着剤を固化することによって光ファイバ整列部材１１、蓋１２、光ファイバ心線１３を固定することによって光ファイバ心線１３を整列固定している。・・・光ファイバ整列部材１１と蓋１２との接合において、Ｖ溝１５が形成されている部分では蓋１２と光ファイバ整列部材１１との間に光ファイバ心線１３を介して接着しているため、光ファイバ整列部材１１と蓋１２との接着面積が小さく接着強度が十分に取れない。このため、Ｖ溝形成部の両端にのりしろ部１４を設けこの部分で光ファイバ整列部材１１と蓋１２との接着強度を確保する構造となっている。従って、長期にわたる信頼性を確保するためには、のりしろ部１４の面積を大きくして十分な接着強度を確保するといった工夫がなされている。」
　
３　引用発明
　上記２（１）によれば、刊行物１には、次の発明が記載されているものと認められる。
「平面基板１２上に光導波路１４を有するプレーナ光波回路チップ１６と、この光波回路チップ１６の光導波路１４に接続される光ファイバリボン１８の光ファイバ１８ａが係入する複数のＶ溝２０ａを有する有溝基板２０とこの有溝基板２０に衝合して有溝基板２０と共に光ファイバ１８ａを挟む抑え蓋２２とを含むファイバ配列具２４とから成り、プレーナ光波回路チップ１６とファイバ配列具２４とは、光導波路１４とファイバ配列具２４の光ファイバ１８ａとを調心して突合わせ面を接着剤により相互に接着して結合されている光導波路モジュール１０。」（以下「引用発明」という。）
　
４　対比
（１）本願発明と引用発明とを対比する。
　
　ア　引用発明の「光ファイバ１８ａが整列して係合する複数のＶ溝２０ａ」及び「有溝基板２０」は、それぞれ、本願発明の「光ファイバ配列ガイド溝」及び「ガイド基板」に相当し、引用発明の「複数のＶ溝２０ａ」は「光ファイバリボン１８の光ファイバ１８ａが係入する」ものであるから、「有溝基板２０」に並列に配列されていることは明らかである。
　
　イ　引用発明の「抑え蓋２２」、「ファイバ配列具２４」及び「プレーナ光波回路チップ」は、それぞれ、本願発明の「押さえ板」、「光ファイバアレイ」及び「光導波回路モジュール」に相当する。
　
　ウ　よって、両者は、
「複数の光ファイバ配列ガイド溝を並列に配列したガイド基板と、該ガイド基板の前記光ファイバ配列ガイド溝に挿入された光ファイバと、該光ファイバを押さえる押さえ板とを有する光ファイバアレイの光ファイバ端面側を、光導波回路部品に接続して成る光導波回路モジュール。」
である点で一致し、
「本願発明は、光ファイバ配列ガイド溝の配列方向をＸ方向としたとき、光ファイバアレイのＸ方向の両側面とそれぞれの側面に最も近い位置に配置された光ファイバ配列ガイド溝のそれぞれの側面がわの溝端位置とのＸ方向の距離をいずれも０．８ｍｍ以上とし、８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下としているのに対して、引用発明は、光ファイバアレイの両側面とそれぞれの側面に最も近い位置に配置された光ファイバ配列ガイド溝のそれぞれの側面がわの溝端位置との距離、及び、８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量が不明である点。」（以下「相違点」という。）
で相違するものと認められる。
　
５　判断
（１）ア　本願明細書には、相違点に係る構成に関して、下記の記載が認められる。
　
（ア）「【００２５】
【発明が解決しようとする課題】
　ところで、上記のような光導波回路モジュールを実用化するためには、長期間の耐環境試験に合格する必要があり、耐環境試験の一つに、長期高温高湿試験がある。この長期高温高湿試験は、例えば１１個の光導波回路モジュールを８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持することにより行われるものであり、全てのサンプルの試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下にすることが要求されている。」、
　
（イ）「【００４３】
　その結果、表１に示すように、距離Ｄが０．８ｍｍ以上であれば、上記長期高温高湿試験後の光ファイバアレイ１と光導波回路部品３０との接続損失増加量が０．５ｄＢ以下になることが分かったので、本実施形態例では、距離Ｄを０．８ｍｍとした。」。
　
（ウ）段落【００４２】の表１には、距離Ｄ（ｍｍ）を、０．３，０．５，０．８，１．１とした場合の、 最大損失増加量（ｄＢ）が、それぞれ、１，０．６，０．４，０．４であり、１１個中の不合格数が、４，２，０，０であることが記載されているものと認められる。
　
　イ　上記によれば、本願発明は、光ファイバ配列ガイド溝の配列方向をＸ方向としたとき、前記光ファイバアレイのＸ方向の両側面とそれぞれの側面に最も近い位置に配置された光ファイバ配列ガイド溝のそれぞれの側面がわの溝端位置とのＸ方向の距離（以下、単に「距離Ｄ」という。）を０．８ｍｍ以上とすることによって、耐環境試験の一つである、８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下とする要求を満たすようにしたものと認められる。
　してみると、相違点１に関する本願発明の構成は、「８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下」にするとの要求を満たすための設計上の条件として、距離Ｄが「０．８ｍｍ以上」であることを定めたものと認められる。
　
（２）しかるところ、前記２（２）によれば、刊行物２には、Ｖ溝を形成した光ファイバ整列部材と蓋によって光ファイバ心線を挟持して光ファイバを整列配置した光ファイバ接続部品において、長期にわたる信頼性を確保するために、Ｖ溝形成部の両端のりしろ部の面積を大きくして十分な接着強度を確保する技術が記載されているものと認められる。
　ここで、上記における「Ｖ溝形成部の両端のりしろ部」の幅は、本願発明でいう「光ファイバ配列ガイド溝の配列方向をＸ方向としたとき、前記光ファイバアレイのＸ方向の両側面とそれぞれの側面に最も近い位置に配置された光ファイバ配列ガイド溝のそれぞれの側面がわの溝端位置とのＸ方向の距離」、すなわち距離Ｄに相当することは明らかである。
　そうすると、引用発明においても、距離Ｄを大きくすることにより長期にわたる信頼性を確保することは、当業者が容易になし得る程度のことである。
　他方、長期にわたる信頼性をどのように評価するかは、必要とされる仕様等に応じて当業者が設計上適宜決定すべき事項であって、引用発明において、距離Ｄを定める際の設計上の条件として、本願発明で規定する「８５℃、８５％ＲＨで５０００時間保持する長期高温高湿試験後の光損失増加量を０．５ｄＢ以下」にするとの要求を満たすようにすることは、当業者が必要に応じて適宜なし得る程度のことというべきであり、本願発明において、距離Ｄを０．８ｍｍ以上としたことに、設計的事項の域を超えるほどの技術的意義があるものとは認められない。
　
（３）してみると、引用発明において、相違点に係る本願発明の構成となすことは、刊行物２記載の技術を適用して、距離Ｄを大きいものとし、その際に設計上の条件を適宜考慮することによって、当業者が容易になし得る程度のことである。
　　　
６　むすび
　以上の検討によれば、本願発明は、引用刊行物１及び引用刊行物２にそれぞれ記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。