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　特願２００２−３０３２４９「酸素イオン共鳴散乱光観測装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　５月１３日出願公開、特開２００４−１３８４９６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件は、平成１４年１０月１７日にされた特許出願（平成１４年特許願第３０３２４９号。以下「本件出願」という。）につき、平成１７年１０月２８日付けで拒絶査定がなされ、同年１１月９日に発送されたところ、拒絶査定に対する審判が同年１２月５日に請求されるとともに平成１８年１月４日付けで手続補正書が提出されたものである。
　　
第２　平成１８年１月４日付けの手続補正について
　（１）平成１８年１月４日付けの手続補正書による手続補正（以下「本件補正」という。）の内容
　　本件補正は、本件出願明細書の特許請求の範囲の請求項１を以下のとおり補正することを含むものである。
　　ア　本件補正前の特許請求の範囲の請求項１
「【請求項１】飛翔体に搭載され、ミラーとそのミラーの焦点に配設される検出器を備えた１枚鏡の反射型光学系を用いて、磁気圏における酸素イオン共鳴散乱光を観測する装置において、
　反射型ミラーの少なくとも表面にモリブデン層を設けると共に、
　そのミラーの焦点に配設される検出器に、インジウムの薄膜から成り、ジオコロナによる水素のライマンα線（121．57nm）に対する酸素イオンの共鳴散乱（OII：83．4nm）の感度を高めるバンドパスフィルターを付設した
　ことを特徴とする酸素イオン共鳴散乱光撮像装置。」
　　イ　本件補正後の特許請求の範囲の請求項１
「【請求項１】飛翔体に搭載され、ミラーとそのミラーの焦点に配設される検出器を備えた１枚鏡の反射型光学系を用いて、磁気圏における酸素イオン共鳴散乱光を観測する装置において、
　反射型ミラーの少なくとも表面にモリブデン層を設けると共に、
　そのミラーの焦点に配設される検出器に、インジウムの薄膜から成り、ジオコロナによる水素のライマンα線（121．57nm）に対する酸素イオンの共鳴散乱（OII：83．4nm）の感度比を高めるバンドパスフィルターを付設した
　ことを特徴とする酸素イオン共鳴散乱光観測装置。」
　　
　（２）　本件補正の目的の適否について
　本件補正において、本件補正前の請求項１の「酸素イオン共鳴散乱光撮像装置」を「酸素イオン共鳴散乱光観測装置」と補正することは、拒絶理由通知に係る拒絶の理由に示す事項の「なお、図４記載の光学系は『撮像』用のものではない。」の記載、及び拒絶査定の理由を示す事項の「ミラーの焦点に検出器を配置することにより何故『撮像装置』として機能しうるのかが装置構成として依然判然としない。発明の詳細な説明を参酌しても、該検出器は単体の検出器であってそれ自体に撮像機能はないものとしか解せず、上記機能を与える原理は不明である。」の記載に基づく明りょうでない記載の釈明にあたるものであって、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第４号の明りょうでない記載の釈明に該当する。
　　
第３　本願発明について
　平成１８年１月４日付けの手続補正は、上記のとおり適法になされたものと認められるので、本願の請求項１〜４に係る発明は、平成１６年１２月２８日提出の手続補正書及び平成１８年１月４日提出の手続補正書で補正された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１〜４に記載された事項により特定されるとおりのものであって、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、上記　第２（１）イ　本件補正後の特許請求の範囲の【請求項１】に記載したとおりのものと認める。
　 
第４　引用刊行物記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用された特開２００２−２８６５４７号公報（以下、「引用刊行物Ａ」という。）には、
（Ａ−１）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、広帯域直入射望遠鏡に関し、さらに詳細には、広いエネルギー帯域の光が垂直に入射する天体観測に用いて好適な広帯域直入射望遠鏡に関する。」こと、
（Ａ−２）「【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記したような従来の技術の有する問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、単一の反射鏡によって広いエネルギー帯域、例えば、軟Ｘ線から可視光の領域の光それぞれを高い反射率で反射するようにして、広いエネルギー帯域の光を観測することができるようにした広帯域直入射望遠鏡を提供しようとするものである。」こと、
（Ａ−３）「【００２５】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照しながら、本発明による広帯域直入射望遠鏡の第１の実施の形態を詳細に説明するものとする。
・・・
【００２７】図１に示す本発明による広帯域直入射望遠鏡１０は、光が垂直に入射する反射鏡１２と、反射鏡１２からの反射光が集光される検出器たる超伝導トンネル接合素子・・・１４とを有して構成されている。
【００２８】ここで、反射鏡１２は、全体が円形の皿状体１２ａであり、当該皿状体１２ａの表面部１２ｂは、中心部Ｐを中心として凹状に窪んで形成された回転放物面として形成されている。
【００２９】そして、反射鏡１２の円形形状を有する表面部１２ｂは、中心部Ｐを頂点とする複数の扇形形状の領域１２ｃに区分されており、当該表面部１２ｂにおける複数の扇形形状の領域１２ｃはそれぞれ、軟Ｘ線から極端紫外線の領域における所定のエネルギーの光をそれぞれ反射するとともに、真空紫外線から可視光までの領域にわたって全反射による高い反射率を有する多層膜１２ｄ（図３参照）が形成されているものである。」こと、
（Ａ−４）「【００３４】多層膜１２ｄは、反射鏡１２の皿状体１２ａ上に、所定の屈折率を有する第１の層１２ｄ−１を形成し、当該第１の層１２ｄ−１上に当該第１の層１２ｄ−１の屈折率とは異なる屈折率を有する第２の層１２ｄ−２を積層する。そして、これら第１の層１２ｄ−１と当該第１の層１２ｄ−１に積層された第２の層１２ｄ−２との２つの層を一組として所定の積層数ｎ（ただし、「ｎ」は正の整数である。）分だけ積層して形成され・・・
・・・
【００３７】具体的には、第１の層１２ｄ−１は、例えば、・・・Ｍｏ（モリブデン）などの重元素によって形成されるものであり、第２の層１２ｄ−２は、例えば、Ｃ（炭素）、Ｓｉ（ケイ素）などの軽元素によって形成されるものである。」こと、
（Ａ−５）「【００９０】（２）上記した第１ならびに第２の実施の形態における反射鏡１０の表面部１２ｂ、３２ｂの直径や凹面の曲率などは、当該反射鏡１０の観測対象や、搭載される天体衛星のスペースなどにより寸法設定すればよい。」こと、
（Ａ−６）「【００９１】（３）上記した実施の形態において、超伝導トンネル接合素子１４の特性から、軟Ｘ線（３００ｅＶ）から可視域までの光を同時に検出する際には、エネルギーの高い光が作り出すフォノンイベントにより、低エネルギー側の光のイベントを埋もれさせてしまう可能性がある。
【００９２】このため、軟Ｘ線、極端紫外線、紫外線、可視光線をそれぞれ選択するためのバンドパスフィルターを配設するようにすると、軟Ｘ線から可視光の領域における光の分光検出を一層確実に行うことができる。」こと、
（Ａ−７）「【０１００】また、観測上、特定の波長が意味をなさない場合、例えば、５０ｅＶの光は必要ないが、１００ｅＶの光量を増やしたい場合には、５０ｅＶに対応する多層膜が形成された扇形形状の領域を１００ｅＶに対応する多層膜が形成された扇形形状の領域に変更する。その結果、１００ｅＶの光が一層高い反射率で反射されるようになり、１００ｅＶの光量を増加させることができる。」こと、
（Ａ−８）「【０１０６】このように主鏡たる反射鏡３２’と副鏡たる反射鏡４０とを用いるようにすると、反射鏡３２’の表面部３２ｂ’に入射した広いエネルギー帯域の光が２回反射され、反射鏡４０によって光路が折り返されて、反射鏡３２’の背面側で焦点が結ばれる。」ことが記載されている。
（Ａ−９）また、図１には反射鏡１２の回転放物面の複数の点で反射した反射光が検出器１４に集光されることが描かれ、また、図１７（ｂ）には、反射鏡３２’で反射した光が反射鏡４０で反射され、検出器１４上で１点に集光することが描かれている。
　上記（Ａ−１）〜（Ａ−９）の記載を参照すると、上記引用刊行物Ａには、
「天体衛星に搭載され、重元素の層と軽元素の層の多層膜１２ｄからなる単一の反射鏡１２とその反射鏡１２からの反射光が集光される検出器１４を備えて、軟Ｘ線、極端紫外線、紫外線、可視光線の天体観測を行う広帯域直入射望遠鏡において、
　反射鏡１２の多層膜１２の重元素の層にモリブデンなどを用いると共に、
　反射鏡１２からの反射光が集光される検出器１４に、バンドパスフィルターを配設した、
　広帯域直入射望遠鏡。」の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　また、原査定の拒絶の理由に引用された、APPLIED OPTICS，1991年７月1日，VOL.30，NO.19，P2788-2794（以下、「引用刊行物Ｂ」という。）には、
（Ｂ−１）「Ｉ．概論
　極端紫外領域（ＥＵＶ）における地球の大気光のスペクトルがロケットや軌道上の装置を用いて観測されている。最も激しい放射は、ヘリウムイオンの 584Å、 酸素イオンの 834 Å、酸素イオンの 989Å、そして水素イオンの 1216Åです。主として、中性、もしくはわずかに帯電した酸素や窒素において、多くの弱い遷移がこの波長領域において現れる。酸素イオンの834 Åの放射は、主として太陽からの放射による酸素原子の直接の励起により生じる。酸素イオンの 834 Åの放射は、電離層のＦ領域において光学的に多くなっているので、酸素イオンの密度は、大気モデルを用いて決定することができる。酸素イオンは電離層のＦ領域において、最も捨てられるイオンであるので、電子密度は酸素イオンの密度から引き出されたものである。電離層の電子密度の決定は、本質的には地球の大気の上層における電磁的放射の伝搬を予測し、地球の電離層と磁気圏の動きを理解することにある。
　軌道上や月の基準点から、大気光の酸素イオンの 834 Åを連続的に観測することを進展させるためのイメージング装置が提案される。２つの着想された研究がそのような観測の可能性を指している。有益な観測は、直径が１０〜１５ｃｍで、反射率が２５〜３０％の反射光学を使うことにより可能となる。
しかしながら、考慮すべき重要なところは、 834 Åの通過帯域の外側の放射、特に834 Åの放射よりも少なくとも１００倍以上も強い水素イオンの1216 Åの放射を排除することである。この紙面では、酸素イオンの834 Åにを中心として狭い通過帯域の反射と透過のための垂直入射薄膜の干渉ミラーとフィルタの着想を発表する。」（２７８８頁の左欄〜右欄のＩ．Ｉｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎの項）こと、
（Ｂ−２）「図８は、全部の厚さが１５００ÅのIn/MaF２/In の干渉フィルタの波長の関数としての透過率を示す。比較例として、１５００ÅのＩｎフィルタの透過率もまた示す。酸素イオンの 834 Å放射に対する２つのフィルタの透過率はほぼ同じである。望ましくないヘリウムイオンの 584Å と 水素イオンの 1216Å放射に対して、In/MaF2/Inの干渉フィルタの透過率はＩｎフィルタの透過率よりもかなり低い。２つのフィルタの可視領域における透過率は、１０−６よりも小さいことが期待できる。酸素イオンの 834 Å放射の透過し、他の波長での透過を阻止する目的のために、In/MaF２/In　のフィルタは優れている。
　図９の、破線、あるいは一番上の破線はAI/MaF２/Si  の干渉ミラー（図５）の反射率とIn/MaF２/In のフィルタ（図８）の透過率を描いたものである。
８３４Å放射の透過は６％であり、 ヘリウムイオンの 584Å と水素イオンの 1216Å放射は１０２ よりも小さい。」（２７９２頁、左欄末行から２行〜右欄１９行）ことが記載されている。
　　　
第５　対比・判断
　（５−ａ）　本願発明と引用発明とを対比する。
　（i）　引用発明の（ａ）「天体衛星」、（ｂ）「単一の反射鏡１２」、（ｃ）「検出器１４」、（ｄ）「天体観測を行う広帯域直入射望遠鏡」がそれぞれ本願発明の（ａ’）「飛翔体」、（ｂ’）「ミラー」、（ｃ’）「検出器」、（ｄ’）「観測する装置」に相当する。
　（ii）　引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」は、単一の反射鏡１２と検出器１４を備えているから、引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」は本願発明の「観測する装置」と同様に「１枚鏡の反射型光学系を用いて」いるものである。
　（iii）　引用発明の「単一の反射鏡１２」には、多層膜１２ｄに重元素としてモリブデン層を用いていることから、引用発明の「単一の反射鏡１２」と本願発明の「ミラー」とは「反射型ミラーにモリブデン層を設ける」点で共通するものである。
　（iv）　引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」は、検出器１４にバンドパスフィルターを配設しているから、引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」と本願発明の「酸素イオン共鳴散乱光観測装置」とは、「検出器に、バンドパスフィルターを付設した」点で共通するものである。
　（v）　引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」は天体観測を行う装置であり、本願発明の「酸素イオン共鳴散乱光観測装置」は磁気圏における酸素イオン共鳴散乱を観測する装置であるから、引用発明の「広帯域直入射望遠鏡」と本願発明の「酸素イオン共鳴散乱光観測装置」とは「天体観測装置」である点で共通するものである。
　そうすると、本願発明と引用発明とは、
　「飛翔体に搭載され、ミラーと検出器を備えた１枚鏡の反射型光学系を用いて、観測する装置において、
　反射型ミラーにモリブデン層を設けると共に、
　検出器に、バンドパスフィルターを付設した
　天体観測装置。」である点で一致し、次の相違点（あ）〜相違点（う）で相違している。
・相違点（あ）
　本願発明の検出器は「そのミラーの焦点に配設される検出器」であるのに対して、引用発明の検出器１４は「反射鏡１２からの反射光が集光される検出器」である点。
　　　　
・相違点（い）
　本願発明のミラーは「反射型ミラーの少なくとも表面にモリブデン層を設け」たミラーであるのに対して、引用発明の反射鏡１２は反射鏡１２の多層膜１２の重元素の層にモリブデンを用いた反射鏡である点。
　　　　
・相違点（う）　　　　　　　　　
　天体観測装置が、本願発明では「磁気圏における酸素イオン共鳴散乱光を観測する装置」であり、「そのミラーの焦点に配設される検出器に、インジウムの薄膜から成り、ジオコロナによる水素のライマンα線（121．57nm）に対する酸素イオンの共鳴散乱（OII：83．4nm）の感度比を高めるバンドパスフィルターを付設した酸素イオン共鳴散乱光観測装置」であるのに対して、引用発明では天体観測を行う広帯域直入射望遠鏡であり、反射鏡１２からの反射光が集光される検出器１４に、バンドパスフィルターを配設した広帯域直入射望遠鏡である点。
　　　　
　（５−ｂ）当審の判断
　上記相違点（あ）〜相違点（う）について判断する。
・相違点（あ）について
　上記引用刊行物Ａの（Ａ−８）には「このように主鏡たる反射鏡３２’と副鏡たる反射鏡４０とを用いるようにすると、反射鏡３２’の表面部３２ｂ’に入射した広いエネルギー帯域の光が２回反射され、反射鏡４０によって光路が折り返されて、反射鏡３２’の背面側で焦点が結ばれる。」ことが記載され、また（Ａ−９）には「反射鏡３２’で反射した光が反射鏡４０で反射され、検出器１４上で１点に集光する」ことが記載されていることから、引用刊行物Ａには反射鏡３２’と反射鏡４０を用いて、反射光が検出器１４上で焦点を結ぶように構成して反射光を集光することが記載されていることになる。
　そうすると、引用刊行物Ａには反射鏡３２’と反射鏡４０を用いて、反射光が検出器１４上で焦点を結ぶように構成して反射光を集光することが記載され、また、反射鏡１２の回転放物面の複数の点で反射した反射光を検出器１４に集光するよう構成するには、光学的にみて反射鏡１２の焦点上に検出器１４を配置すればよいことは技術常識であることを考慮すると、引用発明の反射鏡１２の回転放物面の複数の点で反射した反射光を検出器１４に集光する際に、反射鏡１２を用いて、反射光が検出器１４上で焦点を結ぶように検出器１４を反射鏡１２の焦点上に配置して、本願発明のごとく構成することは当業者が容易になし得るものである。
　　　　　
・相違点（い）について
　引用発明では、反射鏡１２の多層膜１２の重元素の層にモリブデンを用いる反射鏡を用いているが、この多層膜を用いた理由は、例えば特開昭６３−８０２０２号公報の５頁左上欄６行〜右上欄２行に記載されているように、高反射率を得るためであることは技術常識である。そして、赤外からＸ線までの広い波長に対する反射鏡としてモリブデンミラーを用いることも技術常識（例えば、上記特開昭６３−８０２０２号公報の２頁右上欄１４〜１９行参照）であり、さらに、本願明細書の段落番号【００２４】に記載されているＳＳ−５２０−２号機観測ロケットの観測に搭載された観測機においてもモリブデン用いたミラーが用いられていることは明らかである（例えば、本願明細書の段落番号【００２６】の表１のＳＳ−５２０−２と本発明の反射率同じである点、あるいは、タイトル:  Optical Observation of the Ionospheric-Magnetospheric Outflowing Oxygen Ions by XUV Onboard Sounding Rocket SS-520-2 ，著者: Tashiro, S.; Yamazaki, A.; Yoshikawa, I.; Takizawa, Y.; Miyake, W.; Endo, M.; Nakamura, M.，発行:  American Geophysical Union, Fall Meeting 2001, abstract #SM51B-0829，発行日: ２００１年１２月 の抄録の欄３〜５行に「ＸＵＶは、酸素イオンの放出波長８３．４ｎｍにピーク感度を持ち、モリブデンコートミラー、バンドパスフィルタ、チャンネル電子増倍管からなる垂直入射望遠鏡からなる。」ことが記載されている点を参照）ことを考慮すると、引用発明の反射鏡１２においても、高反射率を考慮しなければ、重元素にモリブデンを用いた多層膜を用いる代わりに、技術常識として用いられるモリブデンミラーを用いること、すなわち本願発明のごとく、ミラーは「反射型ミラーの少なくとも表面にモリブデン層を設け」たミラーとすることは当業者が容易になし得るものである。
　　
・相違点（う）について
　上記引用刊行物Ｂには、ロケットや軌道上の装置を用いて酸素イオンの834 Åの放射を観測するためのフィルタ、特に水素イオンの1216 Åの放射を排除し、酸素イオンの834 Åの放射を中心として狭い通過帯域を有するフィルタとして、１５００ÅのIn/MaF２/In の干渉フィルタや１５００ÅのＩｎフィルタのフィルタの例が記載されている。そして、上記引用刊行物Ｂには酸素イオンの834 Åの放射は主として太陽からの放射による酸素原子の直接の励起により生じるものであることが記載されていることから、引用刊行物Ｂに記載された酸素イオンの834 Åの放射は、酸素イオン共鳴散乱光であることは明らかであり、さらに、水素イオンの1216 Åの放射はジオコロナのライマンα線であることも自明な事項である。そうすると、上記引用刊行物Ｂには、酸素イオン共鳴散乱を観測するために、水素のライマンα線（1216Å）の放射を排除し、酸素イオンの共鳴散乱光（834Å）の通過させる通過帯域を有するフィルタとして、１５００ÅのIn/MaF２/In の干渉フィルタや１５００ÅのＩｎフィルタのフィルタを用いた天体観測装置の発明が記載されていることになる。
　他方、上記引用刊行物Ａの（Ａ−６）及び（Ａ−７）にはそれぞれ「【００９２】このため、軟Ｘ線、極端紫外線、紫外線、可視光線をそれぞれ選択するためのバンドパスフィルターを配設するようにすると、軟Ｘ線から可視光の領域における光の分光検出を一層確実に行うことができる。」こと、及び「【０１００】また、観測上、特定の波長が意味をなさない場合、例えば、５０ｅＶの光は必要ないが、１００ｅＶの光量を増やしたい場合には、５０ｅＶに対応する多層膜が形成された扇形形状の領域を１００ｅＶに対応する多層膜が形成された扇形形状の領域に変更する。その結果、１００ｅＶの光が一層高い反射率で反射されるようになり、１００ｅＶの光量を増加させることができる。」ことが記載されていることから、引用発明の広帯域直入射望遠鏡は軟Ｘ線、極端紫外線、紫外線、可視光線の広帯域の天体観測を行う直入射望遠鏡ではあるが、特定の帯域、例えば１００ｅＶの帯域のみの天体観測が必要となり、特定の帯域のみの天体観測をすることを妨げていないことは明らかである。
　そうすると、引用発明の広帯域直入射望遠鏡においても、特定の帯域のみの天体観測が必要となり、特定の帯域のみの天体観測をする場合があり、さらに、この引用発明の広帯域直入射望遠鏡において、特定の帯域のみの天体観測が必要となり、特定の帯域のみの天体観測を行う場合も、上記引用刊行物Ｂに記載された発明の天体観測装置もともに、特定の帯域のみの光を天体観測する点で共通するものであるから、引用発明の広帯域直入射望遠鏡においても、特定の帯域のみの天体観測が必要となり、特定の帯域のみの天体観測をする場合において、特定の帯域として酸素イオンの共鳴散乱である834Åの放射帯域を選択し、この選択された酸素イオンの共鳴散乱である834Åの放射を観測するために、引用発明の検出器１４に配設されたバントパスフィルタとして、ジオコロナの水素のライマンα線（1216Å）の放射を排除し、酸素イオンの共鳴散乱光（834Å）の通過させる通過帯域を有する１５００ÅのIn/MaF２/In の干渉フィルタや１５００ÅのＩｎフィルタのフィルタのうち、例えば１５００ÅのＩｎフィルタを選択すること、すなわち、天体観測装置が「酸素イオン共鳴散乱光を観測する装置」であり、「検出器に、インジウムの薄膜から成り、ジオコロナによる水素のライマンα線（121．57nm）に対する酸素イオンの共鳴散乱（OII：83．4nm）の感度比を高めるバンドパスフィルターを付設した酸素イオン共鳴散乱光観測装置」とすることは当業者が容易になし得るものである。
　また、検出器がミラーの焦点に配設されることは、上記相違点（あ）に記載したとおりである。そして、上記引用刊行物Ｂには磁気圏の酸素イオンの834 Åの放射を観測することは記載されていないが、磁気圏に酸素イオンが存在することは自明な事項（例えば、上記、タイトル:  Optical Observation of the Ionospheric-Magnetospheric Outflowing Oxygen Ions by XUV Onboard Sounding Rocket SS-520-2 ，著者: Tashiro, S.; Yamazaki, A.; Yoshikawa, I.; Takizawa, Y.; Miyake, W.; Endo, M.; Nakamura, M.，発行:  American Geophysical Union, Fall Meeting 2001, abstract #SM51B-0829，発行日: ２００１年１２月 の抄録の欄１及び２行の「我々は、酸素イオンが極地の電離層から磁気圏の流出するイメージを観測極端紫外撮像機（ＸＵＶ）で開発した。」の記載参照。）であり、当然、磁気圏においても酸素イオンの共鳴散乱光が存在することは明らかであることから、必要に応じて磁気圏における酸素イオン共鳴散乱光を観測することも当業者が適宜なし得るものである。
　　
　そして、本願発明によってもたらされる効果は、上記引用刊行物Ａに記載された発明、上記引用刊行物Ｂに記載された発明及び技術常識から予測される範囲内のものであって、格別のものではない。
　したがって、本願発明は、上記引用刊行物Ａに記載された発明、上記引用刊行物Ｂに記載された発明及び技術常識に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　　　　　　　　
第６　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるので、その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本件出願は、拒絶をすべきものである。
  よって、結論のとおり審決する。