【事件の表示】
　平成　８年特許願第２５４９８７号「設計データに基づく図形データ展開装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　４月２４日出願公開、特開平１０−１０４１６８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成８年９月２６日の出願であって、平成１８年２月７日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年３月１６日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年４月１７日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．平成１８年４月１７日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１８年４月１７日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
２−１．補正後の特許請求の範囲の記載
　本件補正により、特許請求の範囲の請求項２は、
「【請求項２】パターン位置とパターン寸法とを画素の１／ｎ（ｎは整数）の精度で含み、パターン設計者により用意された設計パターンを表わしているパターンデータを入力するステップと、
　
前記設計パターンの図形形状と、図形位置と、図形寸法から基本図形を生成する基本図形生成手段と、
　各々が所定の寸法を有し、マトリックスに配列された複数のセグメントに分割される複数のマス目に前記
基本図形
　前記パター
ンに
を示す
　占有率に対応して０〜ｎの
多
の図形
　でなり、画素単位で表わされる階調パターンを生成する方法。」
と補正された。（下線部が、補正箇所である。）
　
２−２．補正の目的
　請求項２はその記載から、階調パターンを生成する方法に関するものといえるので、「前記設計パターンの図形形状と、図形位置と、図形寸法から基本図形を生成する基本図形生成手段」を発明を特定する事項として追加することは、請求項の削除、特許請求の範囲の減縮、誤記の訂正、又は明りょうでない記載の釈明のいずれかを目的とするものとはいえない。
　そして、「前記設計パターンの図形形状と、図形位置と、図形寸法から基本図形を生成する基本図形生成手段」が「前記設計パターンの図形形状と、図形位置と、図形寸法から基本図形を生成する基本図形生成ステップ」の誤記であるとしても、そのような新たなステップを発明を特定する事項として追加するとともに、追加した新たなステップに基づいて、「各々が所定の寸法を有し、マトリックスに配列された複数のセグメントに分割される複数のマス目に前記設計パターンを割り付けるステップ」の「設計パターン」を「基本図形」と変更することは、補正前の発明を特定するために必要な事項を限定するものではないから、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号でいう特許請求の範囲の減縮には該当しない。請求項の削除、誤記の訂正、又は拒絶理由通知に係る拒絶の理由に示す事項についてする明りょうでない記載の釈明でないことは明らかである。
　
２−３．むすび
　したがって、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項の規定に適合しないので、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により、却下する。
　
２−４．備考
　なお、請求項２の「前記パターンデータによって各マス目のいくつのセグメントが占有されているかに関して前記パターンデータによって各マス目のどの程度がパターンデータによって占有されているかを規定する占有率を計算するステップ」を「前記パターンによって各マス目のいくつのセグメントが占有されているかを示す占有率を計算するステップ」とする補正についても、「（占有）されているかに関して前記パターンデータによって各マス目のどの程度がパターンデータによって占有（されているか）」との文言を削除することが、特許請求の範囲の減縮を目的とするものとはいえない。
　また、上記文言を削除することで、その記載がより明りょうになるとしても、補正前の「計算するステップ」が不明りょうであったわけではないし、補正前の「計算するステップ」について明りょうでないとする拒絶の理由は示されていない。
　さらに、請求項の削除又は誤記の訂正を目的とするものでないことは明らかであるから、この点においても本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項の規定に適合しない。
　以上のことは、請求項１の「計算手段」についてする補正も同様である。
　さらに、補正後の請求項１に係る発明は、後述のように補正前の請求項１に係る発明が、引用発明１及び２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、引用発明２には基本図形の生成についても記載されているので、引用発明１及び２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものといえるので、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないから、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反し、この点においても本件補正は却下すべきものである。
　
３．本願発明について
３−１．本願発明
　平成１８年４月１７日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下、同項記載の発明を「本願発明」という。）は、平成１７年５月２３日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。
　
「パターン設計者により用意され設計パターンを表わす複数の設計パタ一ンデ一タを格納する記憶手段と、
　前記記憶手段から読出された各設計パターンから、図形形状と、図形位置と、図形寸法とを有する復号図形を得る復号手段と、
　各々が所定の寸法をもちマトリックスに配列された複数のセグメントに分割される複数のマス目に前記復号図形を割り付ける割付手段と、
　各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する占有率を計算する計算手段と、
　前記占有率にそれぞれ対応する０〜ｎの階調を表わす多階調レベルを出力する出力手段により構成されるパターンデータ生成装置。」
　
３−２．引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平７−２６０６９９号公報（以下、引用例１という。）には、図面とともに以下の記載がなされている。
　
（１）「【特許請求の範囲】
【請求項１】　画像メモリ（７）に格納された被検査用画像データ（Ｄ１）と、設計データ（Ｄ２）に基づいてデータ処理装置（１５）により生成された比較用画像データ（Ｄ３）とを比較回路（１３）で比較して、被検査用画像データ（Ｄ１）に含まれる欠陥データを検出する画像データ比較装置であって、
前記データ処理装置（１５）には、前記設計データ（Ｄ２）に基づいて前記被検査用画像データ（Ｄ１）より細かい画素寸法で生成した基本画像データをあらかじめ生成し、前記基本画像データに基づいて前記被検査用画像データ（Ｄ１）と画素寸法が等しい前記比較用画像データ（Ｄ３）を生成する画素寸法調整回路（１１）を備えたことを特徴とする画像データ比較装置。
【請求項２】　前記被検査用画像データ（Ｄ１）はビットマップとして前記
画像メモリ（７）に格納され、前記基本画像データは前記被検査用画像データ（Ｄ１）より細かい画素寸法のビットマップで形成し、前記比較用画像データ（Ｄ３）は前記画素寸法調整回路（１１）により前記基本画像データに基づいて前記被検査用画像データ（Ｄ１）と等しい画素寸法のビットマップで形成したことを特徴とする請求項１記載の画像データ比較装置。」
　
（２）「【００１７】画像データ検査装置８内のデータ格納装置９は磁気ディスクあるいは磁気テープ等に設計データが格納される。前記データ格納装置９に格納される設計データは次に示す態様で格納される。
【００１８】図３に示すように、マスクパターンの検査領域１０が所定の走査幅Ｗを有する走査線Ｌで走査される。図４に示すように例えば一つの走査線Ｌ１内に方形の図形Ｐ１，Ｐ２が存在したとき、図形Ｐ１では一つの頂点の座標ｘ１，ｙ１と、その頂点と対角位置にある頂点の座標ｘ２，ｙ２とが図形データとして格納される。座標ｘ２，ｙ２は座標ｘ１，ｙ１を基準とした座標値として格納される。
【００１９】同様に図形Ｐ２では一つの頂点の座標ｘ３，ｙ３と、その頂点と対角位置にある頂点の座標ｘ４，ｙ４とが図形データとして格納される。座標ｘ４，ｙ４は座標ｘ３，ｙ３を基準とした座標値として格納される。
【００２０】前記データ格納装置９に格納された設計データはパターン展開回路１１でビットマップ化される。すなわち、パターン展開回路１１は例えば前記図形Ｐ１の図形データを読み出すと、座標ｘ１，ｙ１と、同ｘ２，ｙ２とに基づいて走査線Ｌ１内の図形Ｐ１を復元する。
【００２１】次いで、パターン展開回路１１は走査線Ｌ１の走査幅Ｗを例えば５１２ビットに分解し、図形の存在する部分を「１」とし、図形が存在しない部分を「０」として、同走査線Ｌ１を例えば図５に示すビットマップＢＭ１に展開して、内蔵するメモリに格納する。
【００２２】前記パターン読み取り装置１の画素が図５に示すビットマップＢＭ１の４ビット分であると、パターン展開回路１１は図５に実線で区画される４ビットの画素データを加算して１つの画素データとし、図６に示すビットマップＢＭ２を生成する。
【００２３】ビットマップＢＭ２は各画素が多値を持つが、前記画像メモリ７に格納されているビットマップがこのような多値を持つものであれば、パターン展開回路１１はビットマップＢＭ２を画像メモリ１２に格納する。」
　
　上記（２）の段落【００２２】の「図５に実線で区画される４ビットの画素データ」は、図５のとおり２×２のマトリックスに配列されているから、引用例１には次の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されているといえる。
　
「設計データが格納されるデータ格納装置９と、
　前記データ格納装置９から読み出された図形データの一つの頂点の座標　（ｘ１，ｙ１）と、その頂点と対角位置にある頂点の座標（ｘ２，ｙ２）から、方形の図形を復元し、
　前記図形の存在する部分を「１」とし、図形が存在しない部分を「０」として、ビットマップＢＭ１に展開し、
　ビットマップＢＭ１の２×２のマトリックスに配列されている４ビットの画素データを加算し、
　前記加算した値を１つの画素データとし、ビットマップＢＭ２を生成するパターン展開回路１１により構成される画像データ比較装置。」
　
　また、原査定の拒絶の理由に引用された特開平４−３４４３４号公報（以下、引用例２という。）には、図面とともに以下の記載がなされている。
　
（３）「（産業上の利用分野）
　本発明は、図形情報をビットパターンイメージとして展開するビットパターン展開方法およびその装置とそれらを利用し半導体の製造等に用いられるマスクあるいはレチクル等の欠陥を検査するためのパターン欠陥検査方法およびその装置に関する。」
　（第５頁右上欄第１７行−左下欄第３行）
　
（４）「第２図はパラメータコンディショナ９とビットパターン発生回路７の概略図を示すものであり、その構成は種々考えられるものであるが、ここではその例を示す。したがってこれに限定されるものではない。計算機６で変換処理された設計パターンデータは、検査に必要な一部をビットパターン発生回路７のパターンメモリ７１にストアされる。記号化されているデータは次のデータ展開回路７２によって基本図形データとして展開される。
　すなわち、第４図に示されるように四角形、３角形、台形等の基本図形データとして図に示すようなイメージで展開していく。」
　（第９頁右上欄第１７行−左下欄第８行）
　
（５）「第５図は本発明のビットパターン展開回路の第１の実施例である。ベクトルデータ２１（ベクトルデータとは、任意図形の形状を解析し、線分あるいは三角形・四角形等の簡単な基本要素図形の集合として認識し、要素図形毎に位置、大きさ、線分の方向等をベクトルデータとして記録するものである。）はこの回路の上位制御計算機のディスク装置やメモリに保存されている。保存されているデータの形態は第６図に例示した図形の場合は、直角三角形と四角形の要素図形に分割して、第７図に示すように要素図形ごとの集合体としである。
　要素図形の情報は、同じ直角三角形でもｘ，ｙ座標軸に対してどの状態になっているかの情報が織り込まれている。ベクトルデータ２１の要素情報の、図形コードは図形コードレジスタ２６に、また（ｘ，ｙ）座標、および図形の辺の長さは、それぞれレジスタ２２乃至２５に書き込まれる。」
　（第１０頁左下欄第３行−第１９行）
　
　したがって、引用例２には次の発明（以下、「引用発明２」という。）が記載されている。
　
「任意図形の形状を解析し、線分あるいは三角形・四角形等の簡単な基本要素図形の集合として認識し、要素図形毎に位置、大きさ、線分の方向等をベクトルデータとして、メモリに保存されている設計パターンデータから基本図形データを展開するビットパターン発生回路。」
　
３−３．対比
　引用発明１の「設計データが格納されるデータ格納装置９」は、後述の相違点１の点を除いて、本願発明の「パターン設計者により用意され設計パターンを表わす複数の設計パタ一ンデ一タを格納する記憶手段」と、設計パターンを表わす複数の設計パターンデータを格納する機能の点で共通する。
　引用発明１の「前記データ格納装置９から読み出された図形データの一つの頂点の座標　（ｘ１，ｙ１）と、その頂点と対角位置にある頂点の座標（ｘ２，ｙ２）から、方形の図形を復元し」とする機能は、図形データから図形を復元することは、復号図形を得ることといえるから、後述の相違点２の点を除いて、本願発明の「前記記憶手段から読出された各設計パターンから、図形形状と、図形位置と、図形寸法とを有する復号図形を得る復号手段」と、記憶手段から読出された各設計パターンから復号図形を得る機能の点で共通する。
　引用発明１の「前記図形の存在する部分を「１」とし、図形が存在しない部分を「０」として、ビットマップＢＭ１に展開し」とする機能は、ビットマップＢＭ１の２×２のマトリックスに配列されている４ビットの画素データを加算した値を１つの画素データとし、ビットマップＢＭ２が生成されるので、ビットマップＢＭ１の画素及びビットマップＢＭ２の画素がそれぞれ本願発明の「セグメント」及び「マス目」に対応することから、本願発明の「各々が所定の寸法をもちマトリックスに配列された複数のセグメントに分割される複数のマス目に前記復号図形を割り付ける割付手段」と、その機能の点で共通する。
　引用発明１の「ビットマップＢＭ１の２×２のマトリックスに配列されている４ビットの画素データを加算し」とする機能は、ビットマップＢＭ１では、図形の存在する部分を「１」とし、図形が存在しない部分を「０」としていることから、４ビットの画素データを加算することは、「マス目」に対応するビットマップＢＭ２の画素の、いくつの「セグメント」に対応するビットマップＢＭ１の画素が図形によって占有されているかを規定する数値を計算することといえるから、後述の相違点３の点を除いて、本願発明の「各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する占有率を計算する計算手段」と、各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する数値を計算する機能の点で共通する。
　引用発明１の「前記加算した値を１つの画素データとし、ビットマップＢＭ２を生成する」とする機能は、「マス目」に対応するビットマップＢＭ２の画素の、いくつの「セグメント」に対応するビットマップＢＭ１の画素が図形によって占有されているかを規定する数値にそれぞれ対応する多値の画像データを生成するから、本願発明の「前記占有率にそれぞれ対応する０〜ｎの階調を表わす多階調レベルを出力する出力手段」と、マス目のいくつのセグメントが図形によって占有されているかを規定する数値にそれぞれ対応する０〜ｎの階調を表わす多階調レベルを出力する機能の点で共通する。
　また、引用発明１の画像データ比較装置が、パターンデータ生成装置としての機能を有することは明らかである。
　したがって、本願発明と引用発明とを対比すると、次の点で一致する。
　
「設計パターンを表わす複数の設計パターンデータを格納する記憶手段と、
　前記記憶手段から読出された各設計パターンから、復号図形を得る復号手段と、
　各々が所定の寸法をもちマトリックスに配列された複数のセグメントに分割される複数のマス目に前記復号図形を割り付ける割付手段と、
　各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する数値を計算する計算手段と、
　前記数値にそれぞれ対応する０〜ｎの階調を表わす多階調レベルを出力する出力手段により構成されるパターンデータ生成装置。」
　
　また次の点で相違する。
　
　相違点１
　本願発明の「設計パタ一ンデ一タ」は「パターン設計者により用意され」と特定されているのに対して、引用発明１のものにはそのような特定がなされていない点。
　
　相違点２
　本願発明の「復号手段」は、「図形形状と、図形位置と、図形寸法とを有する復号図形」を得るものであるのに対して、引用発明１のものは「方形の図形」を復元することしか示されていない点。
　
　相違点３
　本願発明の「計算手段」は、「各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する数値」として占有率を計算するのに対して、引用発明１のものは「ビットマップＢＭ１の２×２のマトリックスに配列されている４ビットの画素データを加算し」とするので、各ビットマップＢＭ２の画素（マス目）の図形によって占有されているビットマップＢＭ１の画素（セグメント）の数を計算するものであり、本願発明の「出力手段」も「占有率にそれぞれ対応する０〜ｎの階調を表わす多階調レベルを出力する」のに対して、引用発明１のものは各ビットマップＢＭ２の画素（マス目）の図形によって占有されているビットマップＢＭ１の画素（セグメント）の数を画素データとする点。
　
３−４．相違点に対する判断
　相違点１について
　設計パターンがパターン設計者により設計されることは普通のことであるから、設計パターンデータをパターン設計者により用意されたものとすることに格別の点はない。
　
　相違点２について
　引用発明２のように、「任意図形の形状を解析し、線分あるいは三角形・四角形等の簡単な基本要素図形の集合として認識し、要素図形毎に位置、大きさ、線分の方向等をベクトルデータとして、メモリに保存されている設計パターンデータから基本図形データを展開するビットパターン発生回路。」が知られているから、方形の図形を復元するだけではなく、「図形形状と、図形位置と、図形寸法とを有する復号図形」を得るようにすることに困難な点はない。
　
　相違点３について
　数値を割合で表すか、数そのままで表すかは設計事項といえる程度のことであり、「各マス目のいくつのセグメントが前記図形によって占有されているかに関して各マス目のどの程度が図形によって占有されているかを規定する数値」として占有率を計算するか、各ビットマップＢＭ２の画素（マス目）の図形によって占有されているビットマップＢＭ１の画素（セグメント）の数そのものを計算するかに、格別の相違はなく、どちらに基づいて対応する階調を表わす多階調レベルを出力するかについても、設計事項といえる程度のことである。
　
　したがって、引用発明１において、各相違点を本願発明のようにすることに困難な点はないから、本願発明は、引用発明１及び２に基づき、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３−５．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明１及び２に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。