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　特願２０００−３４７６３８「積層セラミックコンデンサの製造方法及び積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　５月２４日出願公開、特開２００２−１５１３４７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１２年１１月１５日の出願であって、平成１７年１１月４日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成１７年１２月８日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、平成１８年１月６日付けで手続補正がなされ、その後、当審において平成１９年７月１９日付けで審尋がなされ、同１９年９月１８日に回答書が提出されたものである。
　
　
第２　平成１８年１月６日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　　平成１８年１月６日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
１　補正後の本願発明
　本件補正により、補正前の特許請求の範囲の請求項１又は３は、
「【請求項１】Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下であって、かつ該Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径と比表面積より換算したＢＥＴ径との比を、
　１．２８≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１．５６
の範囲とし、かつ前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下としてＮｉペーストを作製し、セラミックグリーンシート上に前記Ｎｉペーストを塗布し焼成して内部電極を形成したことを特徴とする積層セラミックコンデンサの製造方法。
　【請求項２】Ｎｉ粉末とバインダと溶剤とを混合した積層セラミックコンデンサ用内部電極ペーストであって、前記Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下であり、かつ前記Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径と比表面積より換算したＢＥＴ径との比を、
　１．２８≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１．５６
の範囲とし、かつ前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下としたことを特徴とする積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト。」と補正された。
　
２　特許法第１７条の２第３項について　
　本願明細書【００２７】には、表１の試料１−６のＳＥＭ径が０．３５，０．５８，０．３３，０．５０，０．４１，０．６５μｍであることは、記載されているが、ＳＥＭ径を「０．６５μｍ以下」にすること、すなわち、ＳＥＭ径が０．３３μｍ未満のものをも含むことは記載がなく、また願書に最初に添付した明細書又は図面（以下、「当初明細書等」という。）の記載から自明な事項でもない。
　したがって、補正後の請求項１又は２における「前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下とした」点は、当初明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものではないから、特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしていない。
　
３　特許法第１７条の２第４項について
　本件補正は、補正前の請求項１又は３に「前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下とした」という新たな事項を付加して、補正後の請求項１又は２とする補正を含む補正であって、補正前の請求項１又は３に記載した発明を特定するために必要な事項のいずれの限定とも認められないので、特許法第１７条の２第４項第２号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当せず、さらに、特許法第１７条の２第４項第１号、第３号、及び第４号に掲げる請求項の削除、誤記の訂正、明りょうでない記載の釈明のいずれの事項をも目的とするものではないので、本件補正は、特許法第１７条の２第４項に規定する要件を満たしていない。
　
４　独立特許要件について
　仮に、補正前の請求項１又は３に「前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下とした」との構成を付加する補正及び補正前の請求項１又は３の「１≦（ＳＥＭ径／ＢＥＴ径）≦１．５６」を補正後の請求項１又は２の「１．２８≦（ＳＥＭ径／ＢＥＴ径）≦１．５６」とする補正が、特許法第１７条の２第４項第２号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するとした場合、前記「１　補正後の本願発明」の「請求項２」に記載される本件補正後の前記請求項２に記載された事項により特定される発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
［特許法第２９条第２項について］
（１）刊行物に記載された発明
（ア）刊行物１：特開平８−２４６００１号公報
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願日前に日本国内において頒布された刊行物１には、「積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉」（発明の名称）に関して、図１〜図３とともに以下の事項が記載されている。（なお、下線は、引用箇所のうち特に強調する部分に付加した。以下、同様。）
「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、
積層セラミックコンデンサーの内部電極
「【０００３】特開平1-136910号公報には、純度99％以上、粒径 0.1〜 0.3μm のニッケル粉を湿式法で製造する方法が開示されているが、実際にペーストを試作して電子部品の電極に使用したという記述はない。しかしながら、本発明者らの調査では、従来の湿式法による
ニッケル粉をペーストにして積層セラミックコンデンサーの電極とする
「【００１２】
　タップ密度≧−2.5 ×（平均粒径)２＋ 7.0×（平均粒径）＋ 0.8  ・・・（２）式
さらには、タップ密度が（３）式を満たすのがより好ましく、クラック、デラミネーション発生率は１％以下となっている。
　タップ密度≧−2.5 ×（平均粒径)２＋ 7.0×（平均粒径）＋ 1.0  ・・・（３）式
さらに、粒度分布の幾何標準偏差が 2.0以下、かつ平均結晶子径が平均粒径の0.2倍以上であることが好ましい。粒度分布の幾何標準偏差が 2.0を超えると粗大な粒子が混入するので、
膜厚が不均一となってクラックの原因となり好ましくない。
ニッケル粉を電極層として用いた場合、ニッケル層が過焼結により収縮してしまうのである。
「【００１５】この生成粉の比表面積は 2.7m２／ｇ、
電子顕微鏡観察による平均粒径0.25μm、
【００１６】酸素含有量 0.3重量％を含む以外はほとんど不純物を含まず、純度99.5重量％以上であった。また、タップ密度は2.5g／cm３であり、平均粒径は0.25μm であることから（１）式を満たしている。
実施例２
実施例１において、塩化ニッケルの蒸気濃度（分圧）が 1.0×10−１、反応部1070℃（1343Ｋ）とした以外は同じ条件で
ニッケル粉を製造した
【００１７】この
生成粉の比表面積は 1.7m
２
／ｇ、平均粒径 0.4μm
形状はほぼ完全な球状であった。図３に電子顕微鏡により撮影したニッケル超微粉の粒子構造を示す。
「【００３２】実施例１〜８、比較例１〜４で得られたそれぞれの
ニッケル粉のペーストを用いて積層セラミックスコンデンサーを作製し、
バインダとしてエチルセルロース 2.5重量部、溶媒としてテレピネオール10重量部を添加し
　さらに、図３には、形状がほぼ完全な球状のニッケル粉が示されている。
　以上から、刊行物１には、特に実施例２に注目すると、「ニッケル粉に対し、バインダと溶媒を添加した積層セラミックコンデンサ用内部電極ペーストであって、前記ニッケル粉の比表面積が１．７ｍ２／ｇであり、かつ前記ニッケル粉の電子顕微鏡観察による平均粒径が０．４μｍであり、前記ニッケル粉の形状はほぼ完全な球状である積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト」（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　
（２）本願補正発明と引用発明との対比・判断
　本願補正発明と引用発明とを対比すると、引用発明の「ニッケル粉」、「溶媒」、「電子顕微鏡観察による平均粒径」は、それぞれ本願補正発明の「Ｎｉ粉末」、「溶剤」、「電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径」に相当する。
　さらに、引用発明の「ニッケル粉の比表面積が１．７ｍ２／ｇ」は、本願補正発明の「Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下」に含まれており、引用発明の「ニッケル粉の電子顕微鏡観察による平均粒径が０．４μｍ」は、本願補正発明の「Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径」が「０．６５μｍ以下」であることに含まれている。
　ゆえに、両者は、
「Ｎｉ粉末とバインダと溶剤とを混合した積層セラミックコンデンサ用内部電極ペーストであって、前記Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下であり、かつ前記Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径を０．６５μｍ以下としたことを特徴とする積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト。」である点で一致し、以下の点で相違する。
｛相違点１｝
　本願発明は、「Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径と比表面積より換算したＢＥＴ径との比を、　１．２８≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１．５６　の範囲とし」ているのに対して、引用発明は「前記ニッケル粉の形状はほぼ完全な球状である」が、上記構成を備えていない点。
　そこで、上記相違点について検討する。
｛相違点１について｝
　引用発明では、形状はほぼ完全な球状であるニッケル粉を用いており、「ＳＥＭ径／ＢＥＴ径」は完全な球状に近いほど１に近くなるので、引用発明における「ＳＥＭ径／ＢＥＴ径」は、ほぼ１である。
　そして、請求人が、回答書（第３頁第９行〜第２１行）において「しかしながら、ＳＥＭ径とＢＥＴ径との比にはＮｉ粉末を実際に製造する上で限界があり、その下限は１．２８程度となることから、本願術願人は、「１．２８以上」との規定はＮｉ粉末を実際に製造する上で技術的意義があると思料いたします。　　そして、本願の出願当初明細書の段落【００２４】以降の実施例にもありますように、
試料として用意することが可能であったＮｉ粉末のうちＳＥＭ径とＢＥＴ径との比が最も小さいＮｉ粉末は、実際に製造されるＮｉ粉末として限界となる、ＳＥＭ径とＢＥＴ径との比が１．２８であるＮｉ粉末（試料６）であります。従いまして、ＳＥＭ径とＢＥＴ径との比が１．２８未満となるＮｉ粉末を用意することが困難であることから、ＳＥＭ径とＢＥＴ径との比が１．２８未満となるＮｉ粉末を比較例として採用して、実験することはできませんでした
　ゆえに、引用発明において、ほぼ完全な球状のニッケル粉に代えて、次善の策として、入手容易なできるだけ球状に近い「１．２８≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１．５６」のニッケル粉を用いることは、当業者が適宜なし得たことである。
　
　なお、請求人は、回答書（第３頁第２４行〜第４頁第４行）において、「ところで、引用文献２に記載の発明では、平成１８年２月２４日付け手続補正書にて補正しました「請求の理由」にて述べましたように、ＳＥＭ径とＢＥＴ径との比が１以下であるＮｉ粉末が存在しております。引用文献２に記載の発明におけるこれらの数値は、実際に製造されるＮｉ粉末が真球であり得ないという出願時の技術常識に照らし合わせてみますと、異常とも言える数値であり、実施例１、２、及び５並びに比較例３も含めまして、「平均粒径」や「比表面積」を如何にして測定したのか、また、その測定が適切になされたのかということに疑義を持たざるを得ず、このような異常な数値を示す引用文献２に記載の発明は、請求項１及び請求項２に係る発明に対する引用発明としての適格性を有するものではないと言わざるを得ないと思料いたします。」と主張している。
　しかし、平成１６年７月２３日付け刊行物等提出書（第５頁第１１行〜第１５行）に「ＳＥＭ径／ＢＥＴ径が１未満になる場合があります。これは実際のニッケル粉末が真球ではなく、また個々が完全に分散された状態で存在するわけでもなく、言い換えると、粉末同士が面接触、もしくは結合しているために、ニッケル粉末の比表面積の値が小さくなってしまい、結果としてＢＥＴ径が大きくなるからであります。」と記載されているように、ＳＥＭ径／ＢＥＴ径が１未満になることは、起こり得ることである。
　さらに、刊行物１（引用文献２）には、ニッケル粉の比表面積の測定法は明記されていないが、ニッケル粉の平均粒径（０．４μｍ）は、電子顕微鏡観察によるもの（「【００１５】この生成粉・・・電子顕微鏡観察による平均粒径・・・」）であるから正確であり、また、刊行物１には、「【００１７】この生成粉の比表面積は１．７ｍ２／ｇ、平均粒径０．４μｍ、粒度分布の幾何標準偏差は１．５であり，
形状はほぼ完全な球状であった
　
　したがって、本願補正発明は、刊行物１に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明することができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
［特許法第３６条第６項第１号について］
　さらに、補正後の本願請求項１又は２に係る発明における「前記Ｎｉ粉末の前記ＳＥＭ径を０．６５μｍ以下とした」点については、発明の詳細な説明における実施例としてＳＥＭ径を０．３５，０．５８，０．３３，０．５０，０．４１，０．６５μｍとすることしか記載がなく、すなわち、ＳＥＭ径が０．３３μｍ未満については記載も示唆もなく、本願請求項１又は２に係る発明は、出願時の技術常識を参酌しても、発明の詳細な説明に開示された内容（試料１−６の結果）を請求項１又は２に係る発明の広い数値範囲に拡張ないし一般化することができないので、特許を受けようとする発明が発明の詳細な説明に記載したものであるとは認められず、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
　したがって、本願補正発明は、特許法第３６条第６項第１号の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
５　むすび
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第３項及び第４項に規定する要件を満たさず、仮に特許法第１７条の２第４項に規定する要件を満たしているとしても、特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合しないので、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
　
第３　本願発明
　平成１８年１月６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項３に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成１７年９月２６日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項３に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。
「【請求項３】Ｎｉ粉末とバインダと溶剤とを混合した積層セラミックコンデンサ用内部電極ペーストにおいて、前記Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下であり、かつ前記Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径と比表面積より換算したＢＥＴ径との比を、
　１≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１.５６
の範囲としたことを特徴とする積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト。」
　
第４　刊行物１に記載された発明
　前記「第２　４（１）（ア）」に記載したとおりである。
　
第５　本願発明と引用発明との対比・判断
　本願発明と引用発明とを対比すると、引用発明の「ニッケル粉」、「溶媒」は、それぞれ本願発明の「Ｎｉ粉末」、「溶剤」に相当する。
　さらに、引用発明の「ニッケル粉の比表面積が１．７ｍ２／ｇ」は、本願発明の「Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下」に含まれている。
　ゆえに、両者は、
「Ｎｉ粉末とバインダと溶剤とを混合した積層セラミックコンデンサ用内部電極ペーストにおいて、前記Ｎｉ粉末の比表面積が３．０ｍ２／ｇ以下であることを特徴とする積層セラミックコンデンサ用内部電極ペースト。」である点で一致し、以下の点で一応相違する。
｛相違点１｝
　本願発明は、「Ｎｉ粉末の粒径を電子顕微鏡で観察したＳＥＭ径と比表面積より換算したＢＥＴ径との比を、　１≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１．５６　の範囲とし」ているのに対して、引用発明は、「前記ニッケル粉の形状はほぼ完全な球状である」が、上記構成を備えていない点。
　そこで、上記相違点について検討する。
｛相違点１について｝
　引用発明は、「ニッケル粉の比表面積が１．７ｍ２／ｇであり、かつ前記ニッケル粉の電子顕微鏡観察による平均粒径が０．４μｍであり、前記ニッケル粉の形状はほぼ完全な球状であ」り、ＢＥＴ径は、「ＢＥＴ径＝６／（比重×比表面積）」で求められ、Ｎｉの比重は８．９であるから、ＢＥＴ径＝６／（８．９×１．７）＝０．３９７であり、引用発明のＳＥＭ径／ＢＥＴ径＝０．４／０．３９７＝１．０１となり、本願発明の「１≦ＳＥＭ径／ＢＥＴ径≦１.５６」に含まれる。　　
　
　したがって、本願発明は、刊行物１に記載された発明を包含するものであり、実質的に同一である。
　
第６　むすび　
　以上のとおり、本願発明は、刊行物１に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができず、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。