【事件の表示】
　平成１１年特許願第３５０２２０号「波形測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　６月２２日出願公開、特開２００１−１６５９６１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
理　由 
第１　手続の経緯・本願発明 
　本願は、平成１１年１２月９日の出願であって、平成１７年１２月２０日付け（発送日：平成１８年１月５日）で拒絶査定がなされ、これに対して、同年１月２７日に拒絶査定に対する審判請求がなされたものであり、その請求項１ないし５に係る発明は、平成１７年５月２５日提出の手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は次のとおりのものである。
　「【請求項１】
　測定信号をＡ／Ｄ変換し測定データとしてメモリに取り込むとともに、これら測定データに基づき測定波形として画面上に表示する波形測定装置において、
　測定信号に対して任意の幅を有する少なくとも２個所の測定領域を設定する測定領域設定手段と、
　各測定領域内の波形パラメータを自動測定する波形パラメータ測定手段と、
　これら自動測定された波形パラメータを用いて波形パラメータ間の演算を行う演算手段、
を設けたことを特徴とする波形測定装置。」
　
第２　引用刊行物に記載された発明
　原査定の拒絶の理由に引用された本願出願前に頒布された刊行物である特開平４−２５９８６１号公報（以下、「引用刊行物」という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
　１　「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は波形観測装置に関し、特に立ち上がり時間，行き過ぎ量，２乗和等の波形パラメータの自動測定を高速に実行する波形観測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の波形観測装置の構成を図５に示す。この種の波形観測装置は、波形の立ち上がり時間，行き過ぎ量，２乗和等のパラメータの自動測定を行うことができる。
【０００３】外部より与えられる波形は波形メモリ１に記憶され、更に画像処理装置２により表示に適したデータに変換され、表示装置３に画像として表示される。一方、この波形の波形パラメータを自動測定する場合は、パラメータ測定用の演算装置４が波形メモリ１内の波形データにアクセスし、所定の演算を実行して波形パラメータを求める。
【０００４】例えば、オシロスコープで波形の行き過ぎ量を求める場合について説明する。この場合、波形メモリには、時系列のデータが記憶されている。表示される波形が図６に示すようなものである場合を考える。まず、最もデータが集中しているレベルを２箇所見つける。
そして、下位レベルｃと上位レベルｂを求める。次に、最大値ａをサーチして、以下の式より行き過ぎ量Ａを求める。
【０００５】
Ａ［％］＝（ａ−ｂ）／（ｂ−ｃ）×１００」
　
　上記摘記事項１及び図面の記載から、引用刊行物には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
　「外部より与えられる波形が波形メモリ１に記憶され、更に画像処理装置２により表示に適したデータに変換され、表示装置３に画像として表示される波形観測装置において、
　波形の波形パラメータを自動測定する場合は、パラメータ測定用の演算装置４が波形メモリ１内の波形データにアクセスし、所定の演算を実行して波形パラメータを求めるものであり、例えば、波形の行き過ぎ量を求める場合には、まず、最もデータが集中しているレベルを２箇所見つけて下位レベルｃと上位レベルｂを求め、次に、最大値ａをサーチして、以下の式より行き過ぎ量Ａを求めることを特徴とする波形観測装置。
　Ａ［％］＝（ａ−ｂ）／（ｂ−ｃ）×１００」
　
第３　対比・判断  
　１　本願発明と引用発明との対比
　（１）引用発明の「外部より与えられる波形」、「波形メモリ１」、「波形観測装置」は、それぞれ、本願発明の「測定信号」、「メモリ」、「波形測定装置」に相当する。
　（２）引用発明の「下位レベルｃ」又は「上位レベルｂ」は、本願発明の「波形パラメータ」に相当する。
　（３）引用発明の「演算装置４」は、「波形の波形パラメータを自動測定する場合は」、「最もデータが集中しているレベルを２箇所見つけて下位レベルｃと上位レベルｂを求め」、該ｃとｂを用いて演算を行うものであるから、上記相当関係も勘案すると、該「演算装置４」と、本願発明の「波形パラメータ測定手段」及び「演算手段」の両者よりなるものとは、ともに、２個所の波形パラメータを自動測定し、これら自動測定された波形パラメータを用いて波形パラメータ間の演算を行う測定演算手段である点で共通する。
　（４）したがって、本願発明と引用発明とは、
　「測定信号をＡ／Ｄ変換し測定データとしてメモリに取り込むとともに、これら測定データに基づき測定波形として画面上に表示する波形測定装置において、
　２個所の波形パラメータを自動測定し、これら自動測定された波形パラメータを用いて波形パラメータ間の演算を行う測定演算手段、
を設けたことを特徴とする波形測定装置。」
である点で一致し、次の相違点で相違する。
［相違点］　本願発明が、測定信号に対して任意の幅を有する少なくとも２個所の測定領域を設定する測定領域設定手段を具備し、各測定領域内の波形パラメータを自動測定するのに対し、引用発明は、上記測定領域設定手段を有しておらず、演算手段が見つけた２箇所の各レベルを求める点。
　
　２　判断
　上記相違点について検討する。
　引用刊行物の図面の図６の記載をみると、最もデータが集中しているのは波形が立ち上がる遷移領域を挟んだその前後の低レベルの領域と高レベルの領域であり、これらの領域において、波形のデータはそれぞれ下位レベルｃと上位レベルｂ付近に集中していることから、引用発明において、「最もデータが集中しているレベルを２箇所見つけて下位レベルｃと上位レベルｂを求め」るためには、上記低レベルの領域と高レベルの領域に着目して、これらのレベルを求めるようにしてやればよいことは明らかである。
　一方、波形観測装置において、波形の任意の領域を指定する手段を設けて、その手段が指定した領域内の波形のレベル等の値を求めるようにすることは、例えば、特開平９−２２９６５７号公報、特開平６−４３１８８号公報に示されるように本願出願前周知である。
　してみると、引用発明において、上記低レベルの領域と高レベルの領域の各レベルを求めるにあたり、該周知技術を適用して、波形の任意の領域を指定する手段を設け、該手段により上記低レベルの領域と高レベルの領域を指定し各領域内のレベルを求めるようにすることは当業者が容易に想到し得たことである。
　したがって、引用発明に該周知技術を適用して上記相違点に係る構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
　
　そして、本願発明の奏する効果は、引用発明及び周知技術から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別のものではない。  
　よって、本願発明は、引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第４　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　そして、本願発明が特許を受けることができないものであるから、その余の請求項２ないし５に係る発明について検討するまでもなく、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。