【事件の表示】
　特願２０００−６１８７２１「イオン移動度及び質量分析器」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年１１月２３日国際公開、ＷＯ００／７０３３５、平成１４年１２月２４日国内公表、特表２００２−５４４５１７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、２０００年５月１６日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９９年５月１７日、アメリカ合衆国）を国際出願日とする出願であって、平成１６年６月２９日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成１６年１０月４日に審判請求がなされるとともに、同日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．補正の適否
　平成１６年１０月４日付けの手続補正を認める。
［理由］
　本件補正は、特許請求の範囲の請求項１を補正するものであり、特許法第１７条の２第４項第３号乃至第４号の規定、すなわち、「誤記の訂正」乃至「明りょうでない記載の釈明（拒絶理由通知に係る拒絶の理由に示す事項についてするものに限る。）」に該当する補正と認められる。
　
３．本願発明
　したがって、本願発明は、平成１６年１０月４日付けで補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１ないし１８に記載された事項により特定されるものであり、その請求項１に係る発明（以下で、「本願請求項１の発明」という）は、次のものである。
　「【請求項１】気塊状イオンを発生することと、
　該気塊状イオンの少なくとも一部をイオン移動度分析器内にゲートして上記気塊状イオンを時間的に分離することによりそれぞれ対応するイオン移動度を有する多数のイオンパケットを形成することと、
　上記形成された多数のイオンパケットのうち少なくとも一部のイオンパケットを順次質量分析器に向けることと、
　上記質量分析器を連続的に動作させることによって上記少なくとも一部のイオンパケットのうちの少なくとも一部を順次時間的に分離させてそれぞれ対応するイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成することと、
　上記形成されたイオンサブパケットの少なくとも一部を処理して質量スペクトル情報を測定することと、
の各ステップにより構成されたことを特徴とするイオン質量スペクトル情報を生成する方法。」
　
４．刊行物
　これに対して原査定の拒絶理由（特許法第２９条第２項違反）で示された刊行物は次のものである。
刊行物１：国際公開第９８／５６０２９号パンフレット（１９９８年）
　
　刊行物１には、日本語訳すると［日本語訳は、刊行物１のパテントファミリである特表２００１−５０３１９５号公報（以下で、「刊行物２」という）を参照］
ア）「グーブモント及びその他の者は、ＩＭＳ計測器をＴＯＦＭＳ計測器に接続することに多少実験的に成功したが、それに伴なう計測器及び技術には、幾つかの欠点がある。例えば、グーブモント及びその他の者の要約書は、イオンをＩＭＳ計測器内に導入するため、５ｍｓゲートのパルスを使用すると説明しているため、形成されるＩＭＳスペクトルは、少なくとも５ｍｓのピーク幅を有する低分解度であることが分かる。」（刊行物１第５頁１０−１５行）（刊行物２第４８頁１４−１９行）、
　
イ）「本発明の別の形態によれば、イオンの質量スペクトルの情報を発生させる方法は、
　α：ガス状のイオン塊を発生させるステップと、
　β：第一の軸線に沿ってガス状のイオン塊を時間の点にて分離し、各々が関連した独特のイオン移動度を有する多数のイオンパケットを形成するステップと、
　γ：イオンパケットを第一のイオントラップ内に集め且つイオンパケットをイオントラップから放出することを連続的に行うステップと、
　δ：第二の軸線に沿って第一のイオントラップから放出されたイオンパケットの少なくとも幾つかを時間の点にて連続的に分離して、各々が関連した独特のイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成するステップと、
　ε：イオンサブパケットの少なくとも幾つかを処理して、質量スペクトルの情報を決定するステップ
　とを備えている。」（刊行物１第６頁２４行−第７頁１行）（刊行物２第４９頁２０行−第５０頁１行）（ただし、α：、β：、γ：、δ：、ε：、の段落表記は便宜上、今回追加したものである。）
　
ウ）「上記の方法を実施する１つの好適な装置は、
　α’：試料源からガス状のイオン塊を発生させる手段と、
　β’：ガス状のイオン塊を発生させる手段と流体的に連通した一端におけるイオンの入口開口、及びその他端におけるイオンの出口開口を確定するイオン移動度分析器（ＩＭＳ）とを備え、イオンの入口開口及びイオンの出口開口が、その間に第一の軸線を画定し、更に、
　γ’：ＩＭＳのイオンの入口開口と流体的に連通したイオンの入口開口、及びイオンの出口開口を画定するイオントラップと、
　δ’，ε’：イオントラップのイオンの入口開口と流体的に連通したその一端におけるイオンの加速領域、及びその他端におけるイオン検出器を確定する質量分析器（ＭＳ）とを備えており、イオンの加速領域及びイオン検出器がその間に第二の軸線を確定する
　ものである。」（刊行物１第７頁２−１２行）（刊行物２第５０頁１−１０行）（ただし、α’：、β’、：γ’：、δ’，ε’：、の段落表記は便宜上、今回追加したものである。）、
　
エ）「コンピュータ３８を作動して電圧源８８，９６及び／又は１０４を制御し、瞬時にグリッド即ちプレート８６，９４、１０２間の電界を増加し、それによってイオンが引き出された電界を創造し、これらグリッド間のイオンをフライトチューブ１１０の方へ加速する。」（刊行物１第１５頁１７−２１行）（刊行物２第５８頁２１−２４行）、
　　
オ）「好ましくは、コンピュータ３８は上述したように、イオン源７４からのイオンの発生を制御し、コンピュータ３８ＩＭＳ３４内にイオンが導入される時間を記憶する。これを以後、イオン導入事象と呼ぶ。コンピュータ３８は電圧源８８、９６を制御するように作動し、何回かの各イオン導入事象で、パルス化されたイオン引き出し電界を提供する。」（刊行物１第１７頁１−６行）（刊行物２第６０頁１３−１７行）、
　
カ）「一実施例において、パルス化されたイオン引き出し電界は、イオン導入事象ごとに５１２回繰り返して提供された。当業者は、各イオン導入事象で提供されたパルスイオン引き出し電界の数が質量分析装置３０の最終分解能に直接比例するということがわかるであろう。」（刊行物１第１７頁６−１０行）（刊行物２第６０頁１７−２０行）、
　
キ）「グリッド即ちプレート８６，９４に対するイオンパケットの移動の方向により、及びイオン引き出し電界のパルス特性により、ＴＯＦＭＳ３６は、それらがドリフトチューブ線７２に沿って移動する時、各イオンパケットを検出器１１６の方へ加速する複数の機会を持つ。そのように、装置３０は検出器１１６に最大イオンスループットを提供するようになっている。」（刊行物１第１７頁１３−１８行）（刊行物２第６０頁２３−２８行）、
　
ク）「電源１６４によって付与されるＤＣレベル及び高周波ピークの大きさを適切に選択することによって、全ての質量対電荷の比率のイオン又はあらゆる特定の質量対電荷の比率のイオンが、イオントラップ１５２内に選択的に集めることができる。」（刊行物１第（刊行物１第１９頁２０−２３行）（刊行物２第６３頁１５−１８行）、
　
ケ）「本発明においては、イオントラップは、……コンピュータ３８によって制御して、集められたイオンパケットを周期的に排出するようにすることができる。この動作は、以下においてイオン排出動作と称する。」（刊行物１第１９頁２４−２７行）（刊行物２第６３頁１９−２３行）、
　
コ）「コンピュータ３８は、集められたイオンパケットがイオントラップ１５２から排出される時間を制御するので、イオンパケットがグリッド又はプレート８６’及び９４間に形成された空間内の特定の位置に到達する時間を正しく予測することができる。イオンパケットがグリッド又はプレート８６’及び９４間の特定の位置に到達する時間をイオン排出動作に関して適切に知ることによって、コンピュータ３８は、パルス化されたイオン引き出し電界を付与するための適切なタイミングをより正確に予測して、以下に説明するように最も高い質量分析能力を提供することができかもしれない。」（刊行物１第１９頁２８行−第２０頁４行）（刊行物２第６３頁２３行−第６４頁２行）、
　が記載されている。
　
５．刊行物１記載の発明
　刊行物１には、
　イ）のα及びウ）のα’に、気塊状のイオンを発生すること、が記載され、
　イ）のβ及びウ）のβ’に、気塊状イオンをイオン移動度分析器内で上記気塊状イオンを時間的に分離することによりそれぞれ対応するイオン移動度を有する多数のイオンパケットを形成することが、記載され、
　イ）のγ、ウ）のγ’及びク）、ケ）、コ）の記載により、イオントラップが、形成された多数のイオンパケットのうち少なくとも一部のイオンパケットを順次質量分析器に向けるものであることが明らかであり、
　イ）のδ及びウ）のδ’、ε’に、質量分析器により、少なくとも一部のイオンパケットのうちの少なくとも一部を順次時間的に分離させてそれぞれ対応するイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成すること、が記載され、
　カ）の「パルス化されたイオン引き出し電界は、イオン導入事象毎に５１２回繰り返して提供された。」という記載は、質量分析装置のイオン引き出し電界を、“イオン導入事象”毎に、５１２回繰り返してパルス動作させるという意味であり、該５１２回繰り返してパルス動作をさせるという仕方で質量分析器を動作させることにより、イオンパケットの少なくとも幾つかを時間の点にて連続的に分離して、各々が関連した独特のイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成するようにさせるものであることも明らかであり、
　イ）のε’及びウ）のδ’、ε’に、イオンサブパケットの少なくとも一部を処理して質量スペクトル情報を測定することが、記載されているから、　
　刊行物１には、　
　気塊状イオンを発生することと、
　該気塊状イオンの少なくとも一部をイオン移動度分析器内で上記気塊状イオンを時間的に分離することによりそれぞれ対応するイオン移動度を有する多数のイオンパケットを形成することと、
　上記形成された多数のイオンパケットのうち少なくとも一部のイオンパケットを順次質量分析器に向けることと、
　上記質量分析器のイオン引き出し電界を、５１２回繰り返してパルス動作させるという仕方で、質量分析器を動作させることによって上記少なくとも一部のイオンパケットのうちの少なくとも一部を順次時間的に分離させてそれぞれ対応するイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成することと、
　上記形成されたイオンサブパケットの少なくとも一部を処理して質量スペクトル情報を測定することと、
の各ステップにより構成されたことを特徴とするイオン質量スペクトル情報を生成する方法、
　の発明が記載されている。
　
６．対比・検討
　本願請求項１の発明と、刊行物１記載の発明を対比すると、本願請求項１の発明の「質量分析器を連続的に動作させる」と、刊行物１記載の発明の「質量分析装置のイオン引き出し電界を、５１２回繰り返してパルス動作させるという仕方で、質量分析器を動作させる」というのは、質量分析器を動作させるという点で共通しているから、
　両者は、
　気塊状イオンを発生することと、
　該気塊状イオンの少なくとも一部をイオン移動度分析器内で上記気塊状イオンを時間的に分離することによりそれぞれ対応するイオン移動度を有する多数のイオンパケットを形成することと、
　上記形成された多数のイオンパケットのうち少なくとも一部のイオンパケットを順次質量分析器に向けることと、
　上記質量分析器を動作させることによって上記少なくとも一部のイオンパケットのうちの少なくとも一部を順次時間的に分離させてそれぞれ対応するイオン質量を有する多数のイオンサブパケットを形成することと、
　上記形成されたイオンサブパケットの少なくとも一部を処理して質量スペクトル情報を測定することと、
の各ステップにより構成されたことを特徴とするイオン質量スペクトル情報を生成する方法、
　である点で一致し、次の点で相違する。
　
　相違点１
　本願請求項１の発明は「該気塊状イオンの少なくとも一部をイオン移動度分析器内にゲート」するのに対し、
　刊行物１記載の発明は「ゲート」について記載がない点。
　
　相違点２
　本願請求項１の発明は、「質量分析器を連続的に動作させる」のに対し、　刊行物１記載の発明は、「質量分析器のイオン引き出し電界を、５１２回繰り返してパルス動作させるという仕方で、質量分析器を動作させる」ものである点。
　
　前記相違点について検討すると、
　相違点１について
　刊行物１のア）に、「……、イオンをＩＭＳ計測器内に導入するため、５ｍｓゲートのパルスを使用する……」と記載があり、ＩＭＳ計測器というのは、イオン移動度分析器のことであるから、刊行物１記載の発明において、気塊状イオンの少なくとも一部をイオン移動度分析器内にゲートすることは、当業者が容易に想到できたものである。
　
　相違点２について
　本願請求項１の発明で「質量分析器を連続的に動作させる」という記載は、
　本願明細書（平成１３年１１月１９日受付の国内書面である）において
　段落【００１６】の「本発明の他の面によれば、……、上記気塊状イオンの少なくとも一部を上記ＩＭＳのイオンの入口にゲートし上記
ＭＳのイオン加速領域に連続的にパルスを与え
　段落【００６５】の「……、ＴＯＦＭＳ３６の
イオン加速領域（グリッド８６、９４及び１０２の間の）が連続的に作動し、あるいはパルス状になっている場合
ＴＯＦＭＳ３６のイオン加速領域が自由動作モードで連続的なパルス状
　段落【００７６】の「……。その後にステップ４１０において、制御コンピュータ３１０は所定の時間だけイオンゲート３５６（図１０）にパルスを与えそれによって気塊状イオンを収集チャンバ３５４からＩＭＳ３４に通過させ、上述したように
ＭＳ３６のイオン加速領域に連続的にパルスを与えそれによってＭＳ３６を自由動作モードで動作させる
　すなわち本願請求項１は、質量分析器のイオン加速領域に連続的にパルスを与えて質量分析器を動作させることを、「質量分析器を連続的に動作させる」と表現したものと認められる。
　刊行物１記載の発明について検討すると、質量分析器のイオン引き出し電界はイオン加速のためのものであるから、該電界に係る領域はイオン加速領域ということができ、５１２回繰り返してパルス動作させるというのは、連続的にパルス動作させるということに外ならないから、刊行物１記載の発明で、「質量分析器のイオン引き出し電界を、“イオン導入事象”毎に、５１２回繰り返してパルス動作させるという仕方で、質量分析器を動作させる」というのは、質量分析器のイオン加速領域に連続的にパルスを与えて質量分析器を動作させるということであり、これは、本願明細書の前記表現方法を用いれば、質量分析器を連続的に動作させる、ということになる。
　したがって、相違点２は単なる表現上の相違に過ぎず、実質的には、両発明において同一の技術内容である。
　
　そして、相違点１，２を総合的に判断しても、本願請求項１の発明は、刊行物１記載の発明に基づいて当業者が容易に発明できたものである。
　
７．むすび
　したがって、本願請求項１の発明は、刊行物１記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、その余の請求項を検討するまでもなく、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。