【事件の表示】
　平成　９年特許願第　８２４４４号「画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する方法及びその装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　９月２９日出願公開、特開平１０−２６０２６０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は、平成９年３月１７日に出願された特願平９−８２４４４号であって、平成１８年３月３０日付けで拒絶理由通知がされ、同年６月５日付けで手続補正がされ、平成１９年３月９日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年４月１７日付けで審判請求がされるとともに手続補正がされたものである。
　
第２　平成１９年４月１７日付けの手続補正についての補正却下の決定
　
[補正却下の決定の結論]
　
　平成１９年４月１７日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）を却下する。
　
[理由]
１．本件補正の内容
　
　本件補正は、特許請求の範囲について、補正前（平成１８年６月５日付け手続補正書参照）に
　
「【請求項１】Ｘ線発生装置から発生する平行Ｘ線ビームをＣＣＤの直前に配置する小さな孔を有する金属メッシュを介してＣＣＤカメラにより撮像するとともに、前記金属メッシュの孔の間隔がＣＣＤ画素の間隔と等しくなるように配置することにより、画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する方法。
【請求項２】　
（ａ）平行Ｘ線ビームを得るＸ線発生装置と、
（ｂ）前記平行Ｘ線ビームを受けるとともに、ＣＣＤの直前に配置する小さな孔を有する金属メッシュとを備え、
（ｃ）前記金属メッシュの孔の間隔がＣＣＤ画素の間隔と等しくなるように配置し、前記ＣＣＤで撮像するＣＣＤカメラを具備することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項３】　請求項２記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュはＸ線を遮断するに十分な厚さを有することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項４】　請求項３記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記孔は１２μｍ間隔で４μｍ径、平行Ｘ線ビームラインの長さが２１ｍ、前記ＣＣＤ表面の前方約１０ｍｍ位置に、メッシュ面とＣＣＤ受光面とは平行に配置することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項５】　請求項２、３又は４記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュは銅製であることを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項６】　請求項２、３又は４記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュは金製であることを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項７】　請求項２、３、４、５又は６記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュとＣＣＤとの間のアラインメントは０．３７°に傾き、モアレパターンを作り出すように配置してなることを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。」
　
とあったものを、
　
「【請求項１】　Ｘ線発生装置から発生する平行Ｘ線ビームをＣＣＤの直前に配置する小さな孔を有し、かつ前記Ｘ線ビームの光軸に対して０．３７°傾けた金属メッシュを介してＣＣＤカメラにより撮像するとともに、前記金属メッシュの孔の間隔がＣＣＤ画素の間隔と等しくなるように配置することにより、画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する方法。
【請求項２】
（ａ）平行Ｘ線ビームを得るＸ線発生装置と、
（ｂ）前記平行Ｘ線ビームを受けるとともに、ＣＣＤの直前に配置する小さな孔を有し、かつ前記Ｘ線ビームの光軸に対して０．３７°傾けた金属メッシュとを備え、
（ｃ）前記金属メッシュの孔の間隔がＣＣＤ画素の間隔と等しくなるように配置し、前記ＣＣＤで撮像するＣＣＤカメラを具備することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項３】　請求項２記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュはＸ線を遮断するに十分な厚さを有することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項４】　請求項３記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュの孔は１２μｍ間隔で４μｍ径、平行Ｘ線ビームラインの長さが２１ｍ、前記ＣＣＤ表面の前方約１０ｍｍ位置に、メッシュ面とＣＣＤ受光面とを平行に配置することを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項５】　請求項２、３又は４記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュは銅製であることを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。
【請求項６】　請求項２、３又は４記載の画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置において、前記金属メッシュは金製であることを特徴とする画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する装置。」
　
　とする補正を含むものであるところ、その内容は、以下の（１）乃至（４）に示すとおりである。
　
（１）補正１
　補正前の請求項１における「小さな孔を有する金属メッシュ」を、補正後の請求項１において「小さな孔を有し、かつ前記Ｘ線ビームの光軸に対して０．３７°傾けた金属メッシュ」と補正する。
　
（２）補正２
　補正前の請求項２における「小さな孔を有する金属メッシュ」を、補正後の請求項２において「小さな孔を有し、かつ前記Ｘ線ビームの光軸に対して０．３７°傾けた金属メッシュ」と補正する。
　
（３）補正３
　補正前の請求項４における「前記孔」という記載を、補正後の請求項４において「前記金属メッシュの孔」と補正する。
　
（４）補正４
　補正前の請求項７を削除する。
　
２．新規事項の有無についての判断　
（１）補正１，２について
　本願の願書に最初に添付した明細書又は図面（以下「当初明細書」という）には、補正１，２に係る「０．３７°傾けた金属メッシュ」に関連して、段落【００３４】に「シミュレーションと同じような解析を行った。算出したパラメータは、θ＝０．３７°、Ｄ＝１２．２ｍｍである。」と記載されており、また、図１を参照すると、「金属メッシュ」をＣＣＤ表面と平行な面内において傾けたことは読み取れる。
　しかし、「金属メッシュ」を、「Ｘ線ビームの光軸に対して０．３７°傾け」ることは、当初明細書には記載されておらず、その記載からも自明の事項とも認めることができない。
　したがって、当該補正１，２は、当初明細書に記載されていた事項の範囲内でなされたものとは認められない。
　
３．補正の目的の適否についての判断
（１）補正１について
　仮に、「Ｘ線ビームの光軸に対して」傾けたことが、当初明細書の記載から自明である場合、補正前の請求項１には、「金属メッシュを介してＣＣＤカメラにより撮像する」ことが記載されているのみであって、「金属メッシュを傾けた」という発明特定事項が記載されていないので、当該補正１は、補正前の請求項１に記載された発明特定事項を限定する補正とはいえない。
　したがって、補正１は、特許請求の範囲の限定的減縮を目的とするものに該当しない。さらに、補正１は、請求項の削除、誤記の訂正、明りようでない記載の釈明のいずれを目的とするものにも該当しない。
　
　よって、本件補正は、特許法第１７条の２第３項の規定に違反してなされたものであり、また、仮に、特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たす場合、平成１８年改正前特許法第１７条の２第４項第２号（特許請求の範囲の限定的減縮）を目的とするものに該当せず、同第１号（請求項の削除）、第３号（誤記の訂正）及び第４号（明りようでない記載の釈明）に掲げるのいずれの事項を目的とするものにも該当しないので、特許法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する特許法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
４．独立特許要件についての検討
　本件補正が、仮に、当初明細書の記載の範囲内でなされ、かつ、特許請求の範囲の減縮を目的とする場合、本件補正後における特許請求の範囲に記載された請求項１に係る発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たすか）否かを以下に検討する。
　
４−１．明細書の記載について
　平成１８年６月５日付けの手続補正により補正された明細書の発明の詳細な説明は、本願の特許請求の範囲の請求項１に係る発明について、当業者がその発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものか否かについて検討する。
　
　請求項１に係る発明に関して、発明の詳細な説明には、以下の記載がある。
　
（１）「【０００９】
　本発明は、上記した状況に鑑みて、如何なるタイプのＣＣＤにも簡単に適用することができ、画素内部の場所毎のＸ線検出効率を測定可能な画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する方法及びその装置を提供することを目的とする。」
　
（２）「【００１７】
　　【発明の実施の形態】
　以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
　　　【００１８】
　ＣＣＤは、各画素における積分型センサであり、得られる空間的分解能は、画素サイズで決まり、画素内の細かい構造による検出効率の差はわからない。
　　　【００１９】
　そこで、この点を改善するため、本発明は、ＣＣＤ画素と直線に並べた小さな孔で構成される金属メッシュをＣＣＤの前方に配置する。この金属メッシュの孔を通過したＸ線は、一定の間隔を置いてＣＣＤ上に到達する。ここでは、金属メッシュの孔の間隔がＣＣＤ画素の間隔と等しくなるように設計した。しかしながら、メッシュとＣＣＤとの間のアラインメントは僅かに傾き、モアレパターンを作り出す。モアレパターンを見れば、メッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントが分り、このことにより、画素内部におけるＸ線の入射位置を決定することができる。」
　
（３）「【００３０】
　Ｄn はＣＣＤ３のｎ番目の画素の出力、Ｍ（ｘ）はメッシュの透過率、Ｅ（Ｘ）はＣＣＤの検出効率、Ｈ（ｘ）はメッシュ孔の典型的な形状、Ｌ（ｘ）はメッシュの孔の位置、ｓは孔の間隔、ＸはＣＣＤ上の座標、ａはビームラインの長さが有限であることによるメッシュの影の拡大率であり、Ｒ（θ）はメッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘとの回転行列、Ｘoff はメッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘ間のオフセットである。
　　　【００３１】
　それゆえ、以下の式を得る。
　　　【００３２】
　　　【数６】
」
　
（４）「【００３４】
　最初に、電荷の転送方向にのみ変化する画素内の検出効率の変化を仮定することにより、シミュレーションを行った。
　　　【００３５】
　図２はそのモアレパターンを示すシミュレーションである。このシミュレーションでは、検出効率が電荷の転送方向に沿って０から１へ直線的に変化すると仮定した。実際には、測定するエネルギー範囲では画素内の相対的検出効率の変化は０．９５〜１である。シミュレートしたデータをつくった後、そのデータからパラメータの決定を試みた。一旦全てのパラメータを仮定すると、Ｄn が表す画素内部の位置を算出することができる。これにより、Ｄn を再配置して画素内の正確な応答を得ることができる。」
　
（５）「【００３６】
　画素を各々が画素内部の位置を表す１２×１２の要素に分割する。次に、Ｄn に相当する要素を計算する。この方法で、すべての画素データを特定の要素に配分していくことができる。最後に、各要素に対して平均Ｘ線強度を決定する。ごく特殊な条件においては、すべての要素に対するＸ線強度を決定できないことがある。例えば、θ＝０、ａ＝１において、すべての画素データは、画素内部の特定した要素に対応する。しかし、実際的観点から見れば、前述したように、画素データがほぼ一様に１２×１２の要素に散らばるために、すべての要素に対して常に強度を決定することができる。
　　　【００３７】
　次に、パラメータを様々に組み合わせて、１２×１２要素に対するデータ分散を算出する。
　　　【００３８】
　図３はθに対するデータ分散の例を示す。この図において、横軸はθ（角度）、縦軸はデータ分散を示している。
　　　【００３９】
　大きなピークはθの真の値である。約（１／１０００）ｒａｄずつの間隔をあけて、数個の小さなピークが見られる。これらのピークは、メッシュが有限であるということにより生じる。このシミュレーションから、（１／１０００）ｒａｄよりはるかに小さい正確さでθを決定しなければならないことが分かった。
　　　【００４０】
　データ解析において、ａもまた重要な役割を持つ。Ｘ線の発光点はメッシュから２１ｍ離れており、ＣＣＤ上のメッシュの影はある程度拡大し、メッシュの穴の間隔も拡大する。もし完全に平行なＸ線ビームを用いたとしても、ａに影響するような要因がいくつか存在する。ＣＣＤは−５０℃に冷却される一方、メッシュはそのままの状態にしておくために、メッシュとＣＣＤの熱膨張の差が要因となり得る。メッシュとＣＣＤの製造プロセスに起因するエラーも要因となる。
　　　【００４１】
　ここでは、ａが、単にＤの影響を受けるのみであると仮定するが、測定したａ値は、上記の影響を全て含む。そこで、１２×１２の要素のデータ分散を最大にすることによりＤを決定する。
　　　【００４２】
　また、Ｘoff は１２×１２の要素のデータ分散の値に影響しないことを確かめた。Ｘoff は結果を単にずらせるだけである。
　　　【００４３】
　それゆえ、データ分散を最大にすることにより、θとａを決定することができるが、Ｘoff の決定方法は後の章で記述する。」
　　
４−２．当審の判断
（１）モアレパターンからメッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントが求められるか
　発明の詳細な説明には、モアレパターンから金属メッシュとＣＣＤとの間の傾きθ、メッシュの影の拡大率ａ、メッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘ間のオフセットＸoffというパラメータを決定することにより、メッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントを求めることが記載されている。
　しかし、発明の詳細な説明の記載を検討したが、画素データの、画素内部の位置を表す要素への配分をどのようにするのかが不明であるために、金属メッシュとＣＣＤとの間の傾きθ、メッシュの影の拡大率ａ、メッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘ間のオフセットＸoffをどのようにして決定するのか不明である。
　
　したがって、金属メッシュとＣＣＤとの間の傾きθ、メッシュの影の拡大率ａ、メッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘ間のオフセットＸoffを決定することがどのようにすれば可能であるのか不明であるために、発明の詳細な説明には、モアレパターンからメッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントを求めることについて、当業者が容易にその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されたものとはいえない。
　
（２）画素内部の場所毎のＸ線検出効率を測定可能な画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定することは可能か
　発明の詳細な説明には、メッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントが分り、このことにより、画素内部におけるＸ線の入射位置を決定することができるということが記載されている。
　しかしながら、上記（１）で述べたように、金属メッシュとＣＣＤとの間の傾きθ、メッシュの影の拡大率ａ、メッシュ座標ｘとＣＣＤ座標Ｘ間のオフセットＸoffを決定することがどのようにすれば可能であるのか不明であるので、メッシュとＣＣＤとの正確なアラインメントを求めることがどのようにすれば可能であるのか不明であるから、Ｄnが表す画素内部の位置を算出することがどのようにすれば可能となるのかが不明である。また、Ｄnをどのように再配置すれば画素内の正確な応答を得ることが可能であるのかが不明である。
　したがって、発明の詳細な説明は、請求項１に係る発明の、画素内部の場所毎のＸ線検出効率を測定可能な画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定することがどのようにすれば可能となるのかが不明であり、当業者が、容易にその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されたものとはいえない。
　
　なお、本願明細書の発明の詳細な説明が、明確かつ十分に記載されていない旨は、原審の審査官が平成１８年３月３０日付け拒絶理由通知で指摘している。
　
（３）小括
　したがって、依然として、本願明細書の発明の詳細な説明は、請求項１に係る発明について当業者が容易にその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものということができない。
　
４−３．特許請求の範囲の記載について
　平成１９年４月１７日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲に記載された請求項１に係る発明が明確であるか否かについて検討する。
　
　方法の発明を記載した請求項１には、「画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する」という事項が記載されているが、前記事項は、機能により方法の発明を特定する事項を含むために、その発明の範囲が不明確である。また、上記３−２．で述べたように、画素内部の場所毎のＸ線検出効率を測定可能な画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定することがどのようにすれば可能となるのかが不明であるので、請求項１に係る発明は明確ではない。
　
　なお、請求項１に係る発明が明確でない点については、原審の審査官が平成１８年３月３０日付け拒絶理由通知で指摘している。
　
　したがって、依然として、本願の特許請求の範囲に記載された請求項１に係る発明は明確ではない。
　
４−４．独立特許要件の検討についての結び
　本件補正は、仮に、特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たし、かつ、特許請求の範囲の減縮を目的とする場合であっても、以上のとおり、本願は、特許法第３６条第４項及び第６項第２号に規定する要件を満たしておらず、請求項１に係る発明は特許出願の際独立して特許を受けることができないものであるから、本件補正は、平成１８年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項に規定する要件を満たさないものであり、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願明細書について
１．本願明細書
　平成１９年４月１７日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願明細書は、平成１８年６月５日付けの手続補正により補正された明細書となる。
　
２．本願明細書の記載について
　本願明細書の発明の詳細な説明は、特許請求の範囲の請求項１に係る発明について、当業者がその発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものか否かについて検討する。
　
　請求項１に係る発明に関して、発明の詳細な説明には、「第２[理由]３−１．」に記載したとおりの記載がある。
　すると、本願明細書の発明の詳細な説明は、「第２[理由]３−２．」に記載したとおり、請求項１に係る発明について当業者が容易にその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものということができない。
　
３．特許請求の範囲の記載について
　平成１８年６月５日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲に記載された請求項１に係る発明が明確であるか否かについて検討する。
　
　方法の発明を記載した請求項１には、「画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定する」という事項が記載されているが、前記事項は、機能により方法の発明を特定する事項を含むために、その発明の範囲が不明確である。また、上記「第２[理由]３−２．」で述べたたように、画素内部の場所毎のＸ線検出効率を測定可能な画素よりも細い分解能でＣＣＤのＸ線検出効率を測定することがどのようにすれば可能となるのかが不明であるので、請求項１に係る発明は明確ではない。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願は、特許法第３６条第４項及び第６項第２号に規定する要件を満たしていない。
　したがって、その余の請求項について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結審のとおり審決する。