【事件の表示】
　特願２００１−３１３２１「ニッケル粉及び導電ペースト」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年１１月１６日出願公開、特開２００１−３１６７０１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１３年２月７日の出願（優先日：平成１２年２月２８日）であって、平成１８年９月２９日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年１０月２７日に拒絶査定不服審判の請求がされたものである。
　
２．本願発明
　本願に係る発明は、平成１８年９月１１日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜３に記載されたとおりのものである。そのうちの請求項１に係る発明（以下、「本願発明１」という。）は、次のとおりのものである。
　
「ＳＥＭ観察による平均粒子径が０．１〜１μｍであり、且つレーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値及びＳＥＭ観察による平均粒子径が下記式（１）の条件を満たしていることを特徴とするニッケル粉：
１≦｛（レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値）／（ＳＥＭ観察による平均粒子径）｝≦１．５‥‥‥（１）」
　
３．原査定の理由の概要
　原査定の理由の概要は、次のとおりのものである。
　本願請求項１〜３に係る発明は、その出願前頒布された下記刊行物１に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　　　　　　　　　　　　　記
刊行物１：特開平１１−１５２５０７号公報
　
４．引用刊行物とその記載事項
　原査定の理由で引用された刊行物１（特開平１１−１５２５０７号公報）には、次の事項が記載されている。
　
（１）刊行物１：特開平１１−１５２５０７号公報
（１ａ）「【請求項８】１次粒子の平均粒径が０．１〜０．９μｍであり、Ｄ９０値が２．１μｍ以下であり且つタップ密度が３．５ｇ／ｃｃ以上であるニッケル微粉末を製造することを特徴とする請求項１〜７の何れかに記載の製造方法。」
　
（１ｂ）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はニッケル微粉末の製造方法に関し、より詳しくは、主として積層セラミックコンデンサの内部電極材料として用いるのに適しており、粒度分布がシャープで凝集が少なく、且つペースト化した際の充填性に優れているニッケル微粉末の製造方法に関する。」
　
（１ｃ）「【００３７】ニッケル微粉末の特性値測定及びＳＥＭ写真
上記の実施例１〜３及び比較例１〜６で得た各々のニッケル微粉末について、電子顕微鏡写真によりフェレ径（１次粒子の平均粒径）を求め、マイクロトラックによりＤ９０値を求め、タップデンサーによるタップ密度を測定した。その測定値は下記の表に示す通りであった。また、実施例２で得たニッケル微粉末のＳＥＭ写真（倍率８０００倍）は図１に示す通りであり、比較例５で得たニッケル微粉末のＳＥＭ写真（倍率８０００倍）は図２に示す通りであった。」
　
５．当審の判断
（１）引用発明
　原査定で引用された刊行物１の上記（１ａ）には、
「１次粒子の平均粒径が０．１〜０．９μｍであり、Ｄ９０値が２．１μｍ以下であり且つタップ密度が３．５ｇ／ｃｃ以上であるニッケル微粉末を製造することを特徴とする請求項１〜７の何れかに記載の製造方法。」と記載されているから、１次粒子の平均粒径が０．１〜０．９μｍであり、Ｄ９０値が２．１μｍ以下であり且つタップ密度が３．５ｇ／ｃｃ以上であるニッケル微粉末も記載されているといえる。ここで、「ニッケル微粉末」は、ニッケル粉ともいうことができるから、刊行物１には、ニッケル粉について記載されているといえる。このニッケル粉の１次粒子の平均粒径は、（１ｃ）の「上記の実施例１〜３及び比較例１〜６で得た各々のニッケル微粉末について、電子顕微鏡写真によりフェレ径（１次粒子の平均粒径）を求め、・・・その測定値は下記の表に示す通りであった。また、実施例２で得たニッケル微粉末のＳＥＭ写真（倍率８０００倍）は図１に示す通りであり、比較例５で得たニッケル微粉末のＳＥＭ写真（倍率８０００倍）は図２に示す通りであった。」という記載によれば、ＳＥＭ観察による平均粒子径といえる。また、このニッケル粉は、（１ｂ）の「積層セラミックコンデンサの内部電極材料として用いるのに適しており、粒度分布がシャープで凝集が少なく、且つペースト化した際の充填性に優れているニッケル微粉末の製造方法に関する。」という記載によれば、粒度分布がシャープで凝集が少なく、且つペースト化した際の充填性に優れたものといえる。
　以上の記載及び認定事項を本願発明１の記載ぶりに則って整理すると、刊行物１には、次のとおりの発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているといえる。
　
「ＳＥＭ観察による平均粒子径が０．１〜０．９μｍであり、粒度分布がシャープで凝集が少なく、且つペースト化した際の充填性に優れたニッケル粉」
　
（２）本願発明１と引用発明との対比
　そこで、本願発明１と引用発明とを対比すると、両者は、
「ＳＥＭ観察による平均粒子径が０．１〜０．９μｍであるニッケル粉」という点で一致し、次の点で相違しているといえる。
　
（相違点）
　本願発明１は、「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値及びＳＥＭ観察による平均粒子径」が「１≦｛（レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値）／（ＳＥＭ観察による平均粒子径）｝≦１．５」の条件を満たすものであるのに対して、引用発明は、「粒度分布がシャープで凝集が少なく、且つペースト化した際の充填性に優れた」ものであるが、前記条件を満たすか否か不明である点
　
（３）相違点についての判断
　次に、この相違点について検討する。
　特開平９−１７６２５号公報、特開平８−８１２０７号公報、特開平７−１８７６１２号公報、特開平７−１８７６１３号公報等に示されるように、粉粒子の粒子径の平均値を示す代表的なものとして、「ＳＥＭ観察による平均粒子径」及び「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値」があり、そのうち「ＳＥＭ観察による平均粒子径」によって求められる平均値は、１次粒子径であり、「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値」によって求められる平均値は、２次粒子径、すなわち凝集粒子径であり、この２つの数値を用いて粉粒子の凝集の度合い、言い換えれば単分散状態の度合いを評価することが、本出願優先日前当業者によく知られていることといえる。そして、「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値」の「ＳＥＭ観察による平均粒子径」に対する比を指標として用い、この比が小さいことが凝集が少ないこと、言い換えれば単分散状態に近いを意味することも、前記刊行物に示されているように、本出願優先日前当業者によく知られていることといえる。一方、引用発明の「粒度分布がシャープで凝集が少なく」ということは、凝集が少なく粉粒子の粒子径の粒度の分布が平均値の付近に集中していることといえるから、「粒度分布がシャープで凝集が少なく」を定量的に示す指標として、前記指標を用いることは、当業者が容易に想到することといえる。そして、この指標を用いるにあたり、「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値」は、「ＳＥＭ観察による平均粒子径」以上であり、「レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ５０値」の「ＳＥＭ観察による平均粒子径」に対する比の下限値は、１であることは明らかであるから、その下限値を１とし、その上限値を粒度分布がシャープで凝集の少ない範囲内、すなわち１以上の所望の範囲内で定めることは、当業者が容易に想到し得ることといえる。
　してみると、この相違点は、当業者が容易に想到し得ることといえる。
　
（４）小括
　したがって、本願発明１は、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものといえる。
　
６．結び
　以上のとおり、本願発明１は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、その他の発明について検討するまでもなく、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。