【事件の表示】
　特願２００２−５５５６８９「レーザー超音波を使用した歯構造の診断」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　７月１８日国際公開、ＷＯ０２／５４９４８、平成１６年１２月　９日国内公表、特表２００４−５３６６２０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、２００２年１月１０日（パリ条約による優先権主張外国庁受理２００１年１月１１日、アメリカ合衆国）の出願であって、平成１８年３月２７日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年６月２６日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同年７月１３日付けで誤訳訂正による補正がなされたものである。
　
　
２．平成１８年７月１３日付けの誤訳訂正による補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１８年７月１３日付けの誤訳訂正による補正を却下する。
［理由］
（１）平成１８年７月１３日付けの誤訳訂正による補正
　平成１８年７月１３日付けの誤訳訂正による補正は、特許請求の範囲の補正を含み、平成１８年２月２日付けの誤訳訂正書により補正された特許請求の範囲の請求項１
「　　【請求項１】
　超音波のビームを生成するパルスレーザーと、
　パルスレーザーのビームを、歯表面における所望の領域に焦点化し、バルク内および歯構造表面上に超音波を生成するレンズと、
　上記歯構造内および上記歯構造表面上に生成された上記音波を光学的に検知する、光学干渉計検知手段と、
　上記歯の内部および表面構造を診断するため、検知された上記音波を処理するオシロスコープとを備え、
　上記パルスレーザーは、歯構造の吸収領域または上記歯表面に配置された薄膜の吸収領域の波長を有するビームを生成することを特徴とする、レーザー超音波を使用して歯構造を診断する装置。」
を
「　　【請求項１】
　超音波のビームを生成するパルスレーザーと、
　パルスレーザーのビームを、歯表面における所望の領域に焦点化し、バルク内および歯構造表面上に超音波を生成するレンズと、
　上記歯構造内および上記歯構造表面上に生成された上記音波を光学的に検知する、光学干渉計検知手段と、
　上記歯の内部および表面構造を診断するため、検知された上記音波を処理し
、上記音波における波先の到達時間および振幅を解析するコンピュータを有する
　上記パルスレーザーは、歯構造の吸収領域または上記歯表面に配置された薄膜の吸収領域の波長を有するビームを生成
するものであり、
　
上記パルスレーザーと上記光学干渉計検知手段とが、上記歯から同じ側にある状態で測定
と補正するものである。
　上記補正は、補正前の請求項１に係る発明のオシロスコープについて「音波における波先の到達時間および振幅を解析するコンピュータを有する」との限定を付加し、またパルスレーザと光学干渉計検知手段と歯の位置関係を、「上記パルスレーザーと上記光学干渉計検知手段とが、上記歯から同じ側にある状態」と限定するものであるところ、いずれも、発明特定事項を限定するものであり、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　そこで、本願補正発明が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について、以下に検討する。
　
（２）引用例
引用例１
　原査定の拒絶の理由に引用された、D.W.Blodgett and K.C.Baldwin, Laser Ultrasonic Techniques for Assessment of Tooth Structure, Proceedings of SPIE, USA, 2000, vol.3914, p.588-598 には（日本語訳として記載する）、
「　レーザパルスによって生成される、高周波数で高度に局在化された超音波（音波）を基礎とした、歯の内部構造を調査する手段について検討した。超音波の光学干渉計による検知は、非常に小さい検知フットプリントである補完技術を提供する。レーザに基づく超音波を歯構造の調査に用いた初めての結果を提供した。この技術の診療用途への適用可能性が検討の中心となる。」（第588頁 ABSTRACT 第２段落）、
「　本稿では、人の歯と特殊な歯模型の両者からの超音波波形を紹介する。この歯模型は、健康な歯と、アマルガム修復した歯の両者を模る。これらの歯模型からの結果は、人の歯からの超音波波形を解析するのに役立つ。Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザを歯模型および実際の歯の両者において、超音波を生成するのに使用した。全ての超音波検出には、マイケルソン型干渉計を使用して行った。」（第589頁第35〜39行）、
「３．実験形態
３．１ 超音波生成の考察
超音波生成の効率はパルスレーザの波長における材料の吸収特性に依存する。Zuerlein等およびDuplain等により、エナメル質と象牙質は、ヒドロキシアパタイト炭酸塩（ＣＡＰ）中のリン酸塩により、9-11μｍの領域で強い吸収を有することが示された。Zuerlein等は、9.3、9.6、10.3および10.6μｍにおける吸収係数を5500、8000、1125、および825ｃｍ-1に決定した。これらは、1.25と12μｍの間の吸収深度に対応する。BlodgettおよびBaldwinにより、ＣＯ2レーザ（10.6μｍ）で生成した超音波により、約10μｍの吸収深度を達成することが示された。
　今回の実験では、歯模型および実際の歯における超音波の発生を、パルスNd:YAGレーザ（18nsパルス幅@1.064μｍ）を用いて行った。測定されたNd:YAGパルスの時間経過が図３に示される。歯のエナメル質および象牙質は1.064μｍにおいてとても低い吸収係数を有することが以前の実験により示されている。このため、効果的に超音波を生成するため、金属テープ片を歯に配置した。ほとんどの金属は1.064μｍにおいて非常に高い吸収係数を有する。テープは超音波波形の検出をゆがめない様、十分に薄い。金属テープは、ガラス／ネオプレン／ガラス（象牙質／歯髄／象牙質）とガラス／銅／ガラス（エナメル質／象牙質／エナメル質）歯模型にも用いた。アルミニウムガラス／アルミニウム歯模型（象牙質／アマルガム／象牙質）は金属テープを必要としない。」（第592頁全行）、
「３．３ 実験の組み立て
実験配置の全体図を図４に示す。Laser Photonics製シングルモードNd:YAGレーザを超音波の生成に使用した。レーザ出力をグラントムソンポラライザーを使用して、全ての測定が熱弾性条件で行われるように制御した。干渉計において使用したレーザ源は、Coherent532、150mW 周波数二倍化 Nd:YAGレーザ（λ＝532nm）である。光ビームダンプを、干渉計の全出力を制限し、光学検出器が飽和するのを避けるために使用した。
　超音波の測定は中央に配置（レーザ源と検出器を反対側に）して行われた。干渉計の出力は超音波事象を記録するために、高速デジタルオシロスコープに送られた。超音波波形は、パルスレーザの出力パルスをサンプリングする高速光ダイオードをきっかけとし、取り込まれる。」（第593頁第11〜20行）、
「４．３ 人の臼歯の結果
　アマルガム修復された人の臼歯の異なる位置において３回の測定が行われた。これらの測定位置をおおよその歯の厚さと共に図９に示す。対応する３つの超音波波形もこの図に含まれる。図９ａに示される超音波波形には、最初の剪断の到着前に４つの異なる縦波を有している。これらの縦波の到達は、歯模型と同様に、歯内部の異なる層間からの反射に起因するものと考えられる。この図において、最初の２つの縦波が到達する時間差は0.54μｓである。もし、この縦波の到達がエナメル質／象牙質またはエナメル質／アマルガム界面の反射によるものとすると、エナメル質の厚さは約１．７ｍｍ、であり極めて信頼できる。残りの反射は、エナメル質／象牙質または象牙質／アマルガム界面からの反射に対応する。超音波測定を追加することなしに、歯のこの領域の他の層の厚さを調査することは困難である。
　図９ｂの超音波波形には縦波が３つのみ存在する。これは、反射を引き起こす界面が１つ少ない可能性を示す。反射の振幅が小さいことからアマルガム修復は歯のこの深さ位置にはないと考えられる。」（第596頁第8〜21行）
との記載が認められる。
　また、Fig.4 には、Nd:YAGパルスレーザをレンズを介して歯に照射することが示されている。
　これらの記載によれば、引用例１には、
「Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザと、レンズと、超音波検出を検出するマイケルソン型干渉計を使用し、レーザ源と検出器を反対側に配置し、効果的に超音波を生成するために1.064μｍにおいて非常に高い吸収係数を有する金属テープ片を歯に配置して超音波を発生させ、干渉計の出力を高速デジタルオシロスコープに送り、超音波波形の縦波の到達および反射の振幅から歯の内部構造を調査する手段。」（以下「引用例１発明１」という。）
が開示されていると認めることができる。
　また、引用例１には、
「エナメル質と象牙質は、ヒドロキシアパタイト炭酸塩（ＣＡＰ）中のリン酸塩により、9-11μｍの領域で強い吸収を有し、ＣＯ2レーザ（10.6μｍ）で生成した超音波により、約10μｍの吸収深度を達成すること。」（以下「引用例１発明２」という。）
も開示されていると認めることができる。
　
引用例２
　特開平１０−１９７４９６号公報（以下「引用例２」という。）には、
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光音響分光法による測定方法と測定装置に関する。特に、測定対象試料の表層の深さ方向の分析や測定対象試料に適用した剤の深さ方向の浸透状態の分析を非破壊で行うことを可能とする、光音響分光測定方法及び測定装置に関する。」、
「【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２０】図１は、本発明の一実施例の光音響分光測定装置のブロック図である。この装置は、励起光光源として、パルス光源１を有することを第１の特徴としている。パルス光源１としては、例えば、Ｘｅのフラッシュランプ２をパルスジェネレーター３で駆動するものやパルスレーザー等を用いることができる。この場合、パルスの半値幅は、深さ分析の分解能の点から１ｍｓ以下が好ましく、また半値幅の上限は特に制限はないが、実用的には１ｎｓ以上が好ましい。
【００２１】パルス光源１から発せられたパルス光は、レンズ４、光源の熱をカットするための水フィルター５を通し、分光用のフイルターまたは分光器６で試料Ｓに照射すべき波長に分光する。分光した光は紫外／可視用の光フアイバー７によって光音響セルに導くが、本発明においては、この光音響セルとして開放型光音響セル１０を使用することを第２の特徴としている。
【００２２】開放型光音響セル１０としては、例えば図１あるいは図２に示すように、ハウジング１１内に照射室１２とマイクロホン１３とを有し、照射室１２の一端が試料Ｓに押し当てられる開口部となっているものを種々使用することができる。好ましくは、周囲からのノイズの混入を防止し、Ｓ／Ｎ比を向上させる点から、特願平８−１３１０９５号明細書の特許請求の範囲に開示されているように、マイクロホン収納室内にマイクロホンが取り付けられ、照射室とマイクロホン収納室とが連通孔で連通しており、かつハウジングの底面に開口部の周縁部に沿った凸部が形成されているものや、マイクロホン収納室のマイク面と平行な断面の内径が、マイク面側から連通孔側に向かって小さくなっているもの等を使用することができる。
【００２３】開放型光音響セル１０では、その開口部を通して光が試料Ｓに照射され、それにより試料Ｓは音波を発生し、その音波がマイクロホン１３で検出される。そして、検出された音波信号は光音響信号としてプリアンプ２１で増幅される。
【００２４】光音響信号は、パルス照射と同期して記録され、デジタルオシロスコープ２２上またはパーソナルコンピューター２３上で積算され、その積算結果がデジタルオシロスコープ２２又はパーソナルコンピューター２３に表示され、過渡的光音響信号を検出することが可能となる。ここで、光音響信号の積算をパーソナルコンピューター２３上で行うと、大きな雑音を含む信号を除外した後に積算することが可能となるので、より精度よく過渡的光音響信号を検出することができる。このようにして検出された光音響信号は、次のように解析される。この解析に際しては、図２に示したように、開放型光音響セル１０を用いて、パルス光を励起光Ｌとし、試料Ｓとして表面に角質層Ｓ1 を有する皮膚を考える。この場合、皮膚の深さ方向をｘ方向とする。また、熱拡散は１次元とし、その方向もｘ方向とする。」
と記載されている。
　また、図１には、試料Ｓから同じ側に、照射室１２とマイクロホン１３が配置され、デジタルオシロスコープ２２には、パーソナルコンピューター２３を接続している光音響分光測定装置が示されている。
　これらの記載によれば、引用例２には、
「パルス光源１と、レンズ４と、照射室１２とマイクロホン１３とを有する開放型光音響セル１０と、パーソナルコンピューター２３を接続したデジタルオシロスコープ２２を備え、試料Ｓから同じ側に、照射室１２とマイクロホン１３が配置され、光が試料Ｓに照射され、それにより試料Ｓは音波を発生し、その音波がマイクロホン１３で検出され、検出された音波信号は光音響信号とされ、デジタルオシロスコープ２２上またはパーソナルコンピューター２３上で積算、表示され、解析される、測定対象試料の表層の深さ方向の分析等を非破壊で行う光音響分光測定装置。」
が開示されていると認めることができる。
　
引用例３
　特開平８−２１１０３０号公報（以下「引用例３」という。）には、
「【００３５】図１は本発明にかかる溶着部検査装置の構成例を示す。ここで、５は互いに平行する上下面を有する２つの部品からなる製品４をその溶着部３の長手方向に沿って移動可能に支持する支持台（ステージ）、６はステージ５を移動させるための駆動モータ、また、１０は超音波探傷子、８は探傷子１０を製品４の上面側から鉛直方向に支持する探傷子支持部材、９は支持部材８を介して探傷子１０に所定の圧力を供給するための駆動モータであり、駆動モータ９により探傷子１０をサブミクロン単位の分解能で上下方向に移動させることができる。２０は探傷子１０の製品４に対する検出時の接触圧を検出するための圧力計、２１はその圧力制御装置である。
【００３６】また、２２は超音波の送受信を行う超音波探傷器本体であり、本例では探傷器本体２２にオシログラフ２２Ａが設けられていて、探傷子１０を介して得られる製品からの超音波の反射波が後述するようにしてオシログラフ２２Ａ上に時間軸をベースに表示される。２３は本装置制御用のコンピュータであり、コンピュータ２３により圧力制御装置２１を介して製品検査時の接触圧が制御される外、モータドライバ２４を介して駆動モータ６の駆動を制御し、また、探傷器２２から探傷子１０への超音波出力を制御すると共に、探傷器２２から後述する信号波形を受信し、溶着部３の結合の良否を判断する。２５はＡ／Ｄ変換用インタフェースである。」、
「【００４７】かくしてＡ／Ｄ変換インターフェース２５により、デジタル化された超音波信号が、時系列的に、コンピュータ２３に入力されるので、コンピュータ２３では、付属するＣＲＴ２３Ａなどにオシロスコープ像として出力させ、超音波パルス反射の時間変化を記録することができる。」
と記載されている。これらの記載によれば、引用例３には、
「超音波の送受信を行う超音波探傷器本体２２と、本装置制御用のコンピュータ２３を備え、コンピュータ２３では、付属するＣＲＴ２３Ａなどにオシロスコープ像として出力させ、超音波パルス反射の時間変化を記録することができる溶着部検査装置。」
が開示されていると認めることができる。
引用例４
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平６−２９４７７７号公報（以下「引用例４」という。）には、
「【０００６】
【実施例】以下添付図面を参照して，本発明を具体化した実施例につき説明し，本発明の理解に供する。尚，以下の実施例は，本発明を具体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。ここに，図１は本発明の一実施例に係る超音波振動測定装置Ａ１の概略構成を示す模式図，図２は装置Ａ１による測定結果を示すグラフ，図３は本発明の他の実施例に係る超音波測定装置の概略部分構成を示す模式図（ａ），（ｂ），図４は本発明の他の実施例に係る超音波振動測定装置の概略部分構成を示す模式図である。尚，前記図５に示した従来の超音波振動測定装置Ａ０１の一例における概略構成を示す模式図と共通する要素には同一の符号を使用する。図１に示すごとくこの装置Ａ１による超音波振動測定方法では，大出力パルスレーザ発振器１からのパルスレーザ光（励起光に相当）の照射により，試料３に超音波振動を誘起すると共に，試料３のパルスレーザ光の照射部分に照射されるＣＷレーザ発振器４からの検出レーザ光（放射光に相当）の試料３での反射光を光干渉計の一種であるファブリぺロー干渉計（以下，干渉計と記す）１２を用いて検出し，この検出データに基づいて試料３の超音波振動を測定する点で従来例と同様である。しかし本実施例では，試料３での反射光を二分割し，分割された反射光の一方を干渉計１２を経由させて検出すると共に，他方を干渉計１２を経由させずに検出し，両検出データを比較することによって試料３の超音波振動を測定する点で従来例と異なる。尚，干渉計１２については，前記透過型と反射型とで超音波振動測定上の特性が異なるため，ここでは本実施例に対しより好適な特性を示す反射型の干渉計を用いる。但し透過型を用いてもよいものとする。以下この装置Ａ１による測定方法についてより具体的に説明する。大出力パルスレーザ発振器１からのパルスレーザ光は，発生側凸レンズ４で集光され，ダイクロイックミラー１８により偏向されて試料３の表面に反射される。この照射点でパルス状超音波が発生する。一方検出側では，超音波検出用のＣＷレーザ発振器４からの検出レーザ光がＰＢＳ５により偏向され，１／４波長板６，検出側凸レンズ７，ダイクロイックミラー１８を通過後，上記照射点と一致する位置に照射される。試料３で反射された検出レーザ光の反射光は，検出側凸レンズ７により概略平行光となり，再び１／４波長板６，ＰＢＳ５を通過して取り出される。取り出された反射光は凸レンズ８，凹レンズ９によって細く絞られる。そして，適当な反射率を有する分割ミラー１９により二分割される。分割された一方の光はＰＢＳ１０，１／４波長板１１を通過後，干渉計１２に導光される。干渉計１２から反射された多光束干渉光は，再び１／４波長板１１，ＰＢＳ１０を通過することにより取り出される。この多光束干渉光と分割された他方の光とを測定するため，一方のアノードと他方のカソードとを結ぶように直接接続したフォトダイオード２０，２１からなる検出器を用いる。フォトダイオード２０には干渉計１２からの多光束干渉光を，フォトダイオード２１には分割ミラー１９により分割された残りの検出光を照射する。二つのフォトダイオード２０，２１からの光電流は，両フォトダイオードの接続点から取り出され，負荷抵抗１５によって電流電圧変換され，増幅器１６により増幅された後，測定器１７により測定される。」
と記載されている。
　また、図１には、試料３から同じ側にパルスレーザ発信器１とファブリペロー干渉計１２が配置されていることが示されている。
　これらの記載によれば、引用例４には、
「大出力パルスレーザ発振器１からのパルスレーザ光（励起光に相当）の照射により，試料３に超音波振動を誘起し、光干渉計の一種であるファブリぺロー干渉計１２を用いて検出し，この検出データに基づいて試料３の超音波振動を測定する超音波振動測定装置Ａ１において、試料３から同じ側にパルスレーザ発信器１とファブリペロー干渉計１２が配置されている超音波振動測定装置Ａ１。」
が開示されていると認めることができる。
　
（３）対比
　本願補正発明と引用例１発明１とを比較すると、引用例１発明１の「Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザ」は、本願補正発明の「超音波のビームを生成するパルスレーザ」に相当する。また、引用例１発明１の「金属テープ片」は歯に配置するものであるから、本願補正発明の「歯表面に配置された薄膜」に相当する。そして、Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザは1.064μｍの波長を有し、金属テープ片の金属は1.064μｍにおいて非常に高い吸収係数を有し、効果的に超音波を生成するものであるから、引用例１発明１の「Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザ」は、本願補正発明と同様に、歯表面に配置された薄膜の吸収領域の波長を有するビームを生成するものである。また、引用例１発明１の「レンズ」は、パルスNd:YAGレーザのレーザ光を焦点化し、歯において超音波を生成するものであるから、本願補正発明の「パルスレーザーのビームを、歯表面における所望の領域に焦点化し、バルク内および歯構造表面上に超音波を生成するレンズ」に相当する。さらに、引用例１発明１の「マイケルソン型干渉計」および「高速デジタルオシロスコープ」は、本願補正発明の「上記歯構造内および上記歯構造表面上に生成された上記音波を光学的に検知する、光学干渉計検知手段」および「オシロスコープ」に相当する。そして、引用例１発明１は、高速デジタルオシロスコープに送った超音波波形の「縦波の到達および反射の振幅」から「歯の内部構造を調査する」ものであるから、本願補正発明と同様に、オシロスコープにより「歯の内部および表面構造を診断するため、検知された上記音波を処理し、上記音波における波先の到達時間および振幅を解析する」ものである。
　したがって、両者は
「　超音波のビームを生成するパルスレーザーと、
　パルスレーザーのビームを、歯表面における所望の領域に焦点化し、バルク内および歯構造表面上に超音波を生成するレンズと、
　上記歯構造内および上記歯構造表面上に生成された上記音波を光学的に検知する、光学干渉計検知手段と、
　上記歯の内部構造を診断するため、検知された上記音波を処理し、上記音波における波先の到達時間および振幅を解析するオシロスコープとを備え、
　上記パルスレーザーは、上記歯表面に配置された薄膜の吸収領域の波長を有するビームを生成するものである、レーザー超音波を使用して歯構造を診断する装置。」である点で一致し、以下の点で相違している。
［相違点１］オシロスコープが、本願補正発明では解析するコンピュータを有するとされているのに対し、引用例１発明１ではその点が不明である点。
［相違点２］パルスレーザーと光学干渉計検知手段とが、本願補正発明では歯から同じ側にある状態で測定するのに対し、引用例１発明１ではＮｄ：ＹＡＧパルスレーザとマイケルソン型干渉計を反対側に配置した状態で測定している点。
　
（４）判断
［相違点１］について
　引用例２には、光を照射することにより発生した音波をデジタルオシロスコープ２２に送られる光音響分光測定装置において、コンピューター２３を接続したデジタルオシロスコープ２２を備え、音波信号を解析することが示されている。また、引用例３には、超音波を受信する検査装置において、オシロスコープ像を表示する機能を有するコンピュータを用いることが示されている。このように、音波や超音波を測定する装置において、オシロスコープに解析を行うコンピュータを備えることは従来より周知である。そして、オシロスコープを用いてデータを表示させ、その後解析を行う際に、従来周知のコンピュータを備えたオシロスコープを採用することは、当業者ならば適宜なし得ることである。
　したがって、引用例１発明１の高速デジタルオシロスコープとして、コンピュータを有するオシロスコープを採用することは、当業者が容易に想到しうることである。
［相違点２］について
　引用例２には、光音響分光測定装置において、試料Ｓから同じ側に、照射室１２とマイクロホン１３が配置されることが示されている。また、引用例４には、超音波振動測定装置において、試料３から同じ側にパルスレーザ発信器１とファブリペロー干渉計１２が配置されることが示されている。このように、光を照射し、超音波または音波を測定する際に、試料から同じ側に光源と検出器を配置することは、従来より一般に行われていることである。また、光を照射し音波を測定する装置において、試料と光源および検出器をどのように配置するかは、測定の行いやすさや、取得しようとするデータに応じて当業者が適宜設計しうることである。また、配置のしやすさなどの効果も従来認知されているものであり、同じ側に配置することにより格別な効果の差異が生じるとは認められない。
　したがって、引用例１発明１のＮｄ：ＹＡＧパルスレーザとマイケルソン型干渉計を歯から同じ側に配置することは、当業者が容易に想到しうることである。
　そして、本願補正発明の作用効果も、引用例１発明１および上記周知技術から当業者が予測できる範囲のものである。
　
　よって、本願補正発明は、引用例１に記載された発明および周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
（５）むすび
　以上のとおり、平成１８年７月１３日付け誤訳訂正による補正は、平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するものであり、同法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
　
３．本願発明について
（１）本願発明の認定
　平成１８年７月１３日付け誤訳訂正による補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１および２に係る発明（以下「本願発明１」および「本願発明２」という。）は、平成１８年２月２日付けの誤訳訂正書により補正された特許請求の範囲の請求項１および２に記載された事項により特定される下記のとおりのものである。
「　【請求項１】
　超音波のビームを生成するパルスレーザーと、
　パルスレーザーのビームを、歯表面における所望の領域に焦点化し、バルク内および歯構造表面上に超音波を生成するレンズと、
　上記歯構造内および上記歯構造表面上に生成された上記音波を光学的に検知する、光学干渉計検知手段と、
　上記歯の内部および表面構造を診断するため、検知された上記音波を処理し、上記音波における波先の到達時間および振幅を解析するコンピュータを有するオシロスコープとを備え、
　上記パルスレーザーは、歯構造の吸収領域または上記歯表面に配置された薄膜の吸収領域の波長を有するビームを生成するものであり、
　上記パルスレーザーと上記光学干渉計検知手段とが、上記歯から同じ側にある状態で測定することを特徴とする、レーザー超音波を使用して歯構造を診断する装置。
　　【請求項２】
　上記パルスレーザーは、パルスＣＯ２レーザーであることを特徴とする、請求項１に記載の装置。」
　
（２）引用例の認定
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例と、その記載事項は、上記２．（２）に記載したとおりである。
　
（３）対比・判断
（３−１）本願発明１
　本願発明１は、本願補正発明におけるオシロスコープの「音波における波先の到達時間および振幅を解析するコンピュータを有する」とする限定および、パルスレーザと光学干渉計検知手段と歯の位置関係を、「上記パルスレーザーと上記光学干渉計検知手段とが、上記歯から同じ側にある状態」とする限定を、それぞれ省いたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、前記２．（４）に記載したとおり、引用例１発明１および周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も同様の理由により、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（３−２）本願発明２
　本願発明２は、本願発明１の構成要件において、パルスレーザーを「パルスＣＯ２レーザー」と限定するものである。
　本願発明２と引用例１発明１とを比較すると、本願発明１において検討した事項に加え、パルスレーザーとして、本願発明２ではパルスＣＯ２レーザーを用いるのに対し、引用例１発明１ではＮｄ：ＹＡＧパルスレーザを用いている点で相違している。
　上記相違点について検討すると、引用例１発明２に示されるように、ＣＯ2レーザが歯の構成要素であるエナメル質と象牙質に強い吸収を有する波長を有するビームを生成することは、当該分野において従来より知られていたことである。そして、歯にエネルギーを吸収させるためのレーザー源として、歯がエネルギーを吸収することが知られているＣＯ2レーザを選択することは、当業者ならば当然思い至ることである。
　したがって、引用例１発明１において、Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザの代わりに従来知られたＣＯ2レーザを採用することは、当業者が容易に想到しうることである。
　
（４）むすび
　以上のとおり、本願発明１および本願発明２は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。