(57)【要約】【課題】常温での保存安定性に優れたレジスト下層膜形成組成物を提供する。【解決手段】窒素原子と結合する下記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物、ポリマー、架橋反応を促進させる化合物及び有機溶剤を含むリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物は、例えば下記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である。【化１】2017187969.tif 000023（式中、Ｒ１はそれぞれ独立にメチル基又はエチル基を表し、Ｒ２及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表す。）【選択図】図１
2017187969.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
窒素原子と結合する下記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物、ポリマー、架橋反応を促進させる化合物及び有機溶剤を含むリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。
【化１】
2017187969.tif 000018
（式中、Ｒ１はメチル基又はエチル基を表す。）
【請求項２】
前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物は下記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である、請求項１に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。
【化２】
2017187969.tif 000019
（式中、４つのＲ１はそれぞれ独立にメチル基又はエチル基を表し、Ｒ２及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表す。）
【請求項３】
前記有機溶剤は、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルエチルケトン、乳酸エチル、シクロヘキサノン、γ−ブチロラクトン、３−エトキシプロピオン酸エチル及び４−メチル−２−ペンタノールからなる群より選択される１種、又は２種以上の混合物である、請求項１又は請求項２に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。
【請求項４】
前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物の含有量は前記ポリマーに対し１質量％乃至８０質量％である、請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。
【請求項５】
前記架橋反応を促進させる化合物は、４−メチルベンゼンスルホン酸、ｐ−トルエンスルホン酸ピリジニウム、４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸又は５−スルホサリチル酸である、請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物。
【請求項６】
窒素原子と結合する下記式（２）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物と下記式（３）で表される少なくとも１種の化合物とを反応させて前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物を合成し、該式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物と、前記ポリマーと、前記架橋反応を促進させる化合物とを前記有機溶剤に溶解することからなる、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物の製造方法。
【化３】
2017187969.tif 000020
（式中、Ｒ１はメチル基又はエチル基を表し、Ｒ４は炭素原子数１乃至４のアルキル基を表す。）
【請求項７】
前記式（２）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物は、下記式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である、請求項６に記載のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物の製造方法。
【化４】
2017187969.tif 000021
（式中、Ｒ２は及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表し、Ｒ４はそれぞれ独立に炭素原子数１乃至４のアルキル基を表す。）
【請求項８】
下記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体。
【化５】
2017187969.tif 000022
（式中、４つのＲ１はそれぞれ独立にメチル基又はエチル基を表し、Ｒ２及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表す。）
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、保存安定性を改善したリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物、及びその製造方法、並びに該レジスト下層膜形成組成物に含まれるグリコールウリル誘導体に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、ジスルフィド結合、すなわち“Ｓ−Ｓ結合”を主鎖に有するポリマー及び溶剤を含み、さらに架橋性化合物及びスルホン酸化合物を含む、リソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物が開示されている。【０００３】
特許文献２には、（Ａ）樹脂、（Ｂ）ブチルエーテル基を有する架橋剤及び（Ｃ）溶剤を含有し、該（Ｂ）ブチルエーテル基を有する架橋剤が少なくとも２つのブチルエーテル基を有する含窒素環状化合物であり、該含窒素環状化合物はグリコールウリル骨格又はトリアジン骨格を有する化合物である、レジスト下層膜形成組成物が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】国際公開第２００９／０９６３４０号
【特許文献２】国際公開第２００８／１４３３０２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
レジスト下層膜形成組成物は、該組成物から得られるレジスト下層膜の安定性のみならず、近年は該組成物自体の保存安定性に関して満たすべき基準がますます厳しくなっている。そのため、レジスト下層膜形成組成物の保存安定性のさらなる向上が要求され、長期間保管した後においても、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（以下、本明細書ではＧＰＣと略称する。）分析により得られた、該組成物のＧＰＣチャートのピーク等が変化しない、即ち分子量分布が変化しないことが求められている。【０００６】
例えば、レジスト下層膜形成組成物の成分である架橋性化合物及び溶剤として、それぞれ、アルコキシ基を有する含窒素化合物、及びヒドロキシ基を有するアルコール類を含有する有機溶剤を使用する場合、スルホン酸化合物の存在下、該アルコキシ基と該ヒドロキシ基を有するアルコール類とが意図せず反応する。その結果、前記レジスト下層膜形成組成物は、保存安定性に劣る場合がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第一態様は、窒素原子と結合する下記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物、ポリマー、架橋反応を促進させる化合物及び有機溶剤を含むリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物である。
【化１】
2017187969.tif 000003
（式中、Ｒ１はメチル基又はエチル基を表す。）【０００８】
前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物は、例えば、下記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である。
【化２】
2017187969.tif 000004
（式中、４つのＲ１はそれぞれ独立にメチル基又はエチル基を表し、Ｒ２及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表す。）【０００９】
本発明の第二態様は、窒素原子と結合する下記式（２）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物と下記式（３）で表される少なくとも１種の化合物とを反応させて前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物を合成し、該式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物と、前記ポリマーと、前記架橋反応を促進させる化合物とを前記有機溶剤に溶解することからなる、本発明の第一態様のリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物の製造方法である。
【化３】
2017187969.tif 000005
（式中、Ｒ１はメチル基又はエチル基を表し、Ｒ４は炭素原子数１乃至４のアルキル基を表す。）【００１０】
前記式（２）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物は、例えば、下記式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である。
【化４】
2017187969.tif 000006
（式中、Ｒ２は及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表し、Ｒ４はそれぞれ独立に炭素原子数１乃至４のアルキル基を表す。）【００１１】
本発明の第三態様は、下記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体である。
【化５】
2017187969.tif 000007
（式中、４つのＲ１はそれぞれ独立にメチル基又はエチル基を表し、Ｒ２及びＲ３はそれぞれ独立に水素原子、炭素原子数１乃至４のアルキル基、又はフェニル基を表す。）
【発明の効果】
【００１２】
本発明のレジスト下層膜形成組成物は、常温（２０℃±１５℃の範囲）での保存安定性に優れる。さらに、本発明のレジスト下層膜形成組成物から形成されるレジスト下層膜は、反射防止膜として使用することができ、該レジスト下層膜上に所望のレジストパターンを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、実施例１で調製したレジスト下層膜形成用組成物を用いて基板上に形成したレジスト下層膜上に、レジストパターンを形成した結果を示す断面ＳＥＭ像である。
【図２】図２は、実施例２で調製したレジスト下層膜形成用組成物を用いて基板上に形成したレジスト下層膜上に、レジストパターンを形成した結果を示す断面ＳＥＭ像である。
【図３】図３は、実施例３で調製したレジスト下層膜形成用組成物を用いて基板上に形成したレジスト下層膜上に、レジストパターンを形成した結果を示す断面ＳＥＭ像である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
［グリコールウリル誘導体］
本発明のレジスト下層膜形成組成物に含まれる前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物として、前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体が挙げられる。該式（１Ａ）においてＲ２及びＲ３が炭素原子数１乃至４のアルキル基を表す場合、該アルキル基としては、直鎖状に限らず分岐鎖状でもよく、例えば、メチル基、エチル基、ｎ−プロピル基、イソプロピル基、ｎ−ブチル基、イソブチル基及びｔｅｒｔ−ブチル基が挙げられる。
【００１５】
前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体として、例えば、下記式（１Ａ−１）乃至式（１Ａ−６）で表される化合物が挙げられる。
【化６】
2017187969.tif 000008
【００１６】
前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体の含有量は、後述するポリマーに対し例えば１質量％乃至８０質量％、好ましくは１０質量％乃至５０質量％である。前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体以外の、前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物の含有量の範囲もこれと同様である。
【００１７】
前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体は、前記式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体と前記式（３）で表される少なくとも１種の化合物とを反応させることにより得られる。該式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体として、例えば、下記式（２Ａ−１）乃至式（２Ａ−４）で表される化合物が挙げられる。さらに該式（３）で表される化合物として、例えば下記式（３−１）及び式（３−２）で表される化合物が挙げられる。
【化７】
2017187969.tif 000009
【化８】
2017187969.tif 000010
【００１８】
［メラミン誘導体］
また、本発明のレジスト下層膜形成組成物に含まれる前記式（１）で表される置換基を１分子中に２乃至６つ有する含窒素化合物として、前記グリコールウリル誘導体に代えて、メラミン誘導体を用いることもできる。該メラミン誘導体として、例えば、下記式（１Ｂ−１）及び式（１Ｂ−２）で表される化合物が挙げられる。
【化９】
2017187969.tif 000011
【００１９】
［ポリマー］
本発明のレジスト下層膜形成組成物に含まれるポリマーとして、レジスト下層膜形成組成物に従来から使用されるポリマーを採用することができる。該ポリマーが共重合体である場合、交互共重合体、ブロック共重合体、ランダム共重合体いずれでもよく、２種のモノマーを重合させたコポリマー、３種のモノマーを重合させた三元共重合体、４種のモノマーを重合させた四元共重合体いずれでもよい。本発明のレジスト下層膜形成組成物に含まれるポリマーの繰り返しの構造単位を、下記式（４Ａ）乃至式（４Ｎ）及び式（５Ａ）乃至式（５Ｅ）に例示するが、これらの例に限定されるわけではない。
【化１０】
2017187969.tif 000012
【化１１】
2017187969.tif 000013
【化１２】
2017187969.tif 000014
【００２０】
［架橋反応を促進させる化合物］
本発明のレジスト下層膜組成物に含まれる架橋反応を促進させる化合物として、例えば、４−メチルベンゼンスルホン酸、ｐ−トルエンスルホン酸ピリジニウム、４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸及び５−スルホサリチル酸が挙げられる。前記架橋反応を促進させる化合物の含有量は、前記ポリマーに対し例えば０．０１質量％乃至１５質量％である。
【００２１】
［有機溶剤］
本発明のレジスト下層膜組成物に含まれる有機溶剤として、例えば、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルエチルケトン、乳酸エチル、シクロヘキサノン、γ−ブチロラクトン、３−エトキシプロピオン酸エチル、４−メチル−２−ペンタノール、及びこれらの有機溶剤から選択された２種以上の混合物が挙げられる。本発明のレジスト下層膜組成物に含まれる該有機溶剤の含有量は、例えば４０質量％乃至９９．９質量％である。
【００２２】
［その他の成分］
本発明のレジスト下層膜形成組成物は、任意成分として界面活性剤をさらに含んでもよい。界面活性剤は、基板に対する塗布性を向上させるための添加物である。ノニオン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤のような公知の界面活性剤を用いることができ、本発明のレジスト下層膜組成物に含まれる該界面活性剤の含有量は、前記ポリマーに対し例えば０．０１質量％乃至５質量％である。
【００２３】
本発明のレジスト下層膜形成組成物は、半導体装置の製造過程におけるリソグラフィー工程に適用することができる。本発明のレジスト下層膜形成組成物を半導体基板上に塗布しベークしてレジスト下層膜を形成する工程、前記レジスト下層膜上にレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、露光後に現像液を用いて前記レジスト膜を現像する工程、現像後に前記現像液を除去するためリンス処理する工程を少なくとも経て、レジストパターンが形成される。
【００２４】
上記露光は、例えばＡｒＦエキシマレーザーを用いて行われる。ＡｒＦエキシマレーザーに代えて、ＥＵＶ（波長１３．５ｎｍ）または電子線を用いてもよい。“ＥＵＶ”は極端紫外線の略称である。レジスト膜を形成するためのレジストは、ポジ型、ネガ型いずれでもよい。ＡｒＦエキシマレーザー、ＥＵＶまたは電子線に感光する化学増幅型レジストを用いることができる。
【００２５】
上記半導体基板は、代表的にはシリコンウエハーであるが、ＳＯＩ（Ｓｉｌｉｃｏｎ  ｏｎ  Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ）基板、または砒化ガリウム（ＧａＡｓ）、リン化インジウム（ＩｎＰ）、リン化ガリウム（ＧａＰ）などの化合物半導体ウエハーを用いてもよい。酸化珪素膜、窒素含有酸化珪素膜（ＳｉＯＮ膜）、炭素含有酸化珪素膜（ＳｉＯＣ膜）などの絶縁膜が形成された半導体基板を用いてもよく、その場合、該絶縁膜上に本発明のレジスト下層膜形成組成物を塗布する。
【実施例】
【００２６】
以下、本発明について合成例及び実施例によって具体的に説明する。ただし、本発明は下記合成例及び実施例の記載に限定されるものではない。【００２７】
本明細書の下記合成例１で１Ｈ  ＮＭＲの測定に使用したＮＭＲ装置は、５００ＭＨｚ−ＮＭＲ（日本電子（株）製、ＪＮＭ−ＥＣＡシリーズ）、重溶媒はＣＤＣｌ３である。また、下記合成例２乃至合成例４に記載の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（以下、ＧＰＣと略称する。）による測定結果である。測定には東ソー（株）製ＧＰＣ装置を用い、測定条件等は次のとおりである。
ＧＰＣカラム：Ｓｈｏｄｅｘ〔登録商標〕・Ａｓａｈｉｐａｋ〔登録商標〕（昭和電工（株））
カラム温度：４０℃
溶媒：Ｎ，Ｎ−ジメチルホルムアミド（ＤＭＦ）
流量：０．６ｍＬ／分
標準試料：ポリスチレン（東ソー（株））【００２８】
＜合成例１＞
２０００ｍＬのフラスコに、テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４，以下、本明細書ではＰＬ−ＬＩと略称する。）６０ｇ（０．１８８ｍｏｌ）、プロピレングリコールモノメチルエーテル（以下、本明細書ではＰＧＭＥと略称する。）１２００ｇ、及び洗浄済みの触媒用イオン交換樹脂１２０ｇ（商品名：アンバーリスト〔登録商標〕１５ＪＷＥＴ、ダウケミカル社製，以下、本明細書では１５ＪＷＥＴと略称する。）を仕込み、２５℃で撹拌溶解させたのち、減圧下（８０Ｔｏｒｒ乃至１００Ｔｏｒｒ）、６０℃で７時間加熱撹拌した。その後、前記フラスコ内を復圧し、２５℃になるまで冷却させたのち、１５ＪＷＥＴをろ過し、目的とする化合物（以下、本明細書ではＰＧＭＥ−ＰＬと略称する。）を得た。得られた化合物を１Ｈ  ＮＭＲにて同定した。その結果、ＰＬ−ＬＩが有しているメトキシ基のピーク（３１．９ｐｐｍ）が消失し、１分子のＰＬ−ＬＩに対し約４分子のＰＧＭＥが導入された、前記式（１Ａ−１）で表されるグリコールウリル誘導体（以下、本明細書ではＰＧＭＥ−ＰＬと略称する。）が得られたことを確認した。
［1.0〜1.1ppm(3H, -CH3),3.2〜3.3ppm(20H, -OCH3 and -CH2O-),3.6〜3.8ppm(4H, -OCH<)］【００２９】
＜参考例１＞
上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ１０ｇに４−メチルベンゼンスルホン酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５０ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３０】
＜参考例２＞
上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ１０ｇにｐ−トルエンスルホン酸ピリジニウム０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５０ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３１】
＜参考例３＞
上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ１０ｇに４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５０ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３２】
＜参考例４＞
上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ１０ｇに５−スルホサリチル酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５０ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３３】
＜比較例１＞
テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．５９ｇと４−メチルベンゼンスルホン酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５９ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３４】
＜比較例２＞
テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．５９ｇとｐ−トルエンスルホン酸ピリジニウム０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５９ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３５】
＜比較例３＞
テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．５９ｇと４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５９ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３６】
＜比較例４＞
テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．５９ｇと５−スルホサリチル酸０．０１５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル５９ｇを加え、該混合物を溶解させた溶液を作製した。【００３７】
架橋剤（グリコールウリル誘導体）と有機溶剤であるプロピレングリコールモノメチルエーテルの交換反応が、架橋反応を促進させる化合物の存在下で生じるかどうかを、ＧＰＣ分析にて確認した。参考例１乃至参考例４及び比較例１乃比較例４で調製した溶液を、該溶液の調製直後、該溶液を２３℃にて１週間保管した後、及び該溶液を３５℃にて１週間保管した後、それぞれＧＰＣにて測定した。下記表１に、溶液調製直後と比較し、ＧＰＣチャートに変動があった場合は“変動あり”、変動がなかった場合を“変動なし”と表した。この結果は、前記式（１Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体とプロピレングリコールモノメチルエーテルの交換反応が生じない一方、前記式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体とプロピレングリコールモノメチルエーテルの交換反応が生じたことを示唆している。
【表１】
2017187969.tif 000015
【００３８】
＜合成例２＞
モノアリルジグリシジルイソシアヌル酸（四国化成工業（株）、商品名：ＭＡＤＧＩＣ）６．３ｇ、３，３’−ジチオジプロピオン酸（堺化学工業（株）、商品名：ＤＴＤＰＡ）５．０ｇ、及び触媒としてエチルトリフェニルホスホニウムブロミド（東京化成工業（株））０．２０ｇをプロピレングリコールモノメチルエーテル４５．９ｇに加え、反応容器中で溶解させた。その反応容器を窒素置換後、１０５℃で２４時間反応させ、ポリマー溶液を得た。得られたポリマー溶液のＧＰＣ分析を行ったところ、ポリマーの重量平均分子量は標準ポリスチレン換算にて４０００であった。【００３９】
＜合成例３＞
モノメチルジグリシジルイソシアヌル酸（四国化成工業（株）、商品名：ＭｅＤＧＩＣ）１０．０ｇ、３，３’−ジチオジプロピオン酸（堺化学工業（株）、商品名：ＤＴＤＰＡ）４．４ｇ、及び触媒としてエチルトリフェニルホスホニウムブロミド（東京化成工業（株））０．３７ｇをプロピレングリコールモノメチルエーテル３３．３７ｇに加え、反応容器中で溶解させた。その反応容器を窒素置換後、１０５℃で２４時間反応させ、ポリマー溶液を得た。得られたポリマー溶液のＧＰＣ分析を行ったところ、ポリマーの重量平均分子量は標準ポリスチレン換算にて３０００であった。【００４０】
＜合成例４＞
ベンジルメタクリレート（東京化成工業（株））１０ｇ、ヒドロキシプロピルメタクリレート（東京化成工業（株））１９．２ｇ、及びγ−ブチロラクトンメタクリレート（大阪有機化学工業（株））１０．８gを、１２８ｇのプロピレングリコールモノメチルエーテルに溶解させた後、フラスコ内を窒素で置換し８０℃まで昇温した。その後、１．６ｇの２，２’−アゾビスイソ酪酸メチルを３０．４ｇのプロピレングリコールモノメチルエーテルに溶解させ、窒素加圧下に添加し、８０℃で２４時間反応させポリマーを得た。得られたポリマー（樹脂）の重量平均分子量はポリスチレン換算で１００００であった。【００４１】
＜実施例１＞
上記合成例２で得られたポリマー溶液７．０９ｇに、上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ５．９５ｇと４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸０．０３ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル１２２．０８ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１４．８５ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物を作製した。【００４２】
＜実施例２＞
上記合成例３で得られたポリマー溶液１．２５ｇに、上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ０．９７ｇと５−スルホサリチル酸０．０１ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル２４．８０ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート２．９７ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物を作製した。【００４３】
＜実施例３＞
上記合成例４で得られたポリマー溶液１７．１７ｇに、上記合成例１で得られたＰＧＭＥ−ＰＬ１７．０２ｇとｐ−トルエンスルホン酸ピリジニウム０．０５ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル１０１．１９ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１４．５７ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物を作製した。【００４４】
＜比較例５＞
上記合成例２で得られたポリマー溶液７．０９ｇに、テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．２９ｇと４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸０．０３ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル１２４．８２ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１４．８５ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物とした。【００４５】
＜比較例６＞
上記合成例３で得られたポリマー溶液１．２５ｇに、テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．０５ｇと５−スルホサリチル酸０．０１ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル２５．１２ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート２．９７ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物とした。【００４６】
＜比較例７＞
上記合成例４で得られたポリマー溶液７．０９ｇに、テトラメトキシメチルグリコールウリル（日本サイテックインダストリーズ（株）製、商品名：ＰＯＷＤＥＲＬＩＮＫ〔登録商標〕１１７４）０．２９ｇと４−ヒドロキシベンゼンスルホン酸０．０３ｇを混合し、その混合物にプロピレングリコールモノメチルエーテル１２４．８２ｇ及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１４．８５ｇを加え、該混合物を溶解させたリソグラフィー用レジスト下層膜形成組成物とした。【００４７】
実施例１乃至実施例３及び比較例５乃比較例７で調製した溶液を、該溶液の調製直後、該溶液を２３℃にて１週間保管した後、及び該溶液を３５℃にて１週間保管した後、それぞれＧＰＣにて測定した。下記表２に、溶液調製直後と比較し、ＧＰＣチャートに明らかな変動があった場合は“変動あり”、ほとんど変動がなかった場合は“変動なし”と表した。この結果は、本発明のレジスト下層膜形成組成物は保存安定性に優れる一方、前記式（２Ａ）で表されるグリコールウリル誘導体を含むレジスト下層膜形成組成物は保存安定性に劣ることを示唆している。
【表２】
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【００４８】
〔光学パラメーターの測定〕
実施例１乃至実施例３及び比較例５乃至比較例７で調製したレジスト下層膜形成用組成物を、それぞれスピナーによりシリコンウエハー上に塗布した。前記レジスト下層膜形成用組成物を塗布したシリコンウエハーを、ホットプレート上で、２０５℃、１分間ベークし、レジスト下層膜を形成した。これら６種のレジスト下層膜に対し、分光エリプソメーター（Ｊ．Ａ．Ｗｏｏｌｌａｍ社製、ＶＵＶ−ＶＡＳＥ  ＶＵ−３０２）を用い、波長１９３ｎｍでのｎ値（屈折率）及びｋ値（減衰係数又は吸光係数）を測定した。その結果を下記表３に表す。いずれのレジスト下層膜についても、波長１９３ｎｍに対し有効なｎ値及びｋ値を有し、反射防止膜としての効果が得られることを示している。また、実施例１と比較例５を対比し、レジスト下層膜のｎ値及びｋ値はほとんど変化しない結果となった。実施例２と比較例６を対比した場合、及び実施例３と比較例７を対比した場合も同様に、レジスト下層膜のｎ値及びｋ値はほとんど変化しない結果となった。【００４９】
〔接触角の測定〕
実施例１乃至実施例３及び比較例５乃至比較例７で調製したレジスト下層膜形成用組成物を、それぞれスピナーによりシリコンウエハー上に塗布した。前記レジスト下層膜形成用組成物を塗布したシリコンウエハーを、ホットプレート上で、２０５℃、１分間ベークし、レジスト下層膜を形成した。そして、協和界面科学（株）製、ＤｒｏｐＭａｓｔｅｒ７００を使用し、液体試料として水及びジヨードメタンを用いて、形成された６種のレジスト下層膜の表面の接触角を測定した。その結果を下記表３に表す。いずれのレジスト下層膜の表面も、水及びジヨードメタンに対し濡れ性がよい（親液性である）ことを示している。また、実施例１と比較例５を対比し、レジスト下層膜の表面の、水及びジヨードメタンに対する接触角はほとんど変化しない結果となった。実施例２と比較例６を対比した場合、及び実施例３と比較例７を対比した場合も同様に、レジスト下層膜の表面の、水及びジヨードメタンに対する接触角はほとんど変化しない結果となった。
【表３】
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【００５０】
〔レジストパターンの形成及び評価〕
実施例１乃至実施例３で調製したレジスト下層膜形成用組成物を、それぞれスピナーにより、シリコンウエハー上にＳｉＯＮ膜（窒素含有酸化珪素膜）が０．０５μｍの厚さに形成された基板上に塗布した。それから、前記レジスト下層膜形成用組成物を塗布した基板を、ホットプレート上で、２０５℃、１分間ベークし、膜厚２０ｎｍ乃至３０ｎｍのレジスト下層膜を形成した。これら６種のレジスト下層膜上に、市販のフォトレジスト溶液（住友化学（株）製、商品名：ＰＡＲ８５５）をスピナーにより塗布し、ホットプレート上で、１０５℃、１分間ベークして、フォトレジスト膜を形成した。次いで、スキャナー［（株）ニコン製、ＮＳＲＳ３０７Ｅ（波長１９３ｎｍ、ＮＡ：０．８５）］を用い、現像後に、フォトレジストのライン幅及びそのフォトレジストのライン間の幅がそれぞれ０．０６５μｍ、即ち０．０６５μｍＬ／Ｓとなるパターンが形成されるように設定されたフォトマスクを通じて、前記フォトレジスト膜に対し露光した。その後、ホットプレート上で、１００℃、６０秒間露光後加熱（ＰＥＢ）を行い、冷却後、現像液として０．２６規定のテトラエチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて現像し、さらにリンス処理した。以上の過程を経て、レジストパターンを形成した。得られたレジストパターンについて、基板と垂直方向の断面を、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察し、目的のレジストパターンが形成されたことを確認した。その結果を図１乃至図３に示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際調査報告】
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