(57)【要約】  反射特性／透過特性に誤差が生じることを抑制し、反射／透過特性測定装置の構造が複雑になることを抑制し、反射／透過特性測定装置において制御が複雑になることを抑制する。  反射／透過特性測定装置においては、反射光または透過光に応じた検出信号が積分され積分信号が出力される。白色校正が行われる場合に積分信号が第１の積分信号となっており測定が行われる場合に積分信号が第２の積分信号になっているとした場合に、（１）白色校正が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第１の発光時間だけ照明光が発光され、第１の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理が少なくともひとつの発光時間に対して行われ、（２）測定が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第２の発光時間だけ照明光が発光される。
2018110267.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料に照射される照明光を発光する光源と、
前記照明光を発光するのに要する電力を前記光源に供給する発光回路と、
前記試料が前記照明光を反射することにより生じる反射光または前記試料が前記照明光を透過させることにより生じる透過光に応じた検出信号を出力する光検出器と、
前記検出信号を積分し積分信号を出力する積分器と、
少なくともひとつの発光時間を記憶する記憶部と、
白色校正が行われる場合に前記積分信号が第１の積分信号となっており測定が行われる場合に前記積分信号が第２の積分信号になっているとした場合に、（１）前記白色校正が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第１の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御し、前記第１の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理を前記少なくともひとつの発光時間に対して行い、（２）前記測定が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第２の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御する制御部と、
前記第２の積分信号から前記試料の反射／透過特性を演算する演算処理部と、
を備える反射／透過特性測定装置。
【請求項２】
前記反射／透過特性測定装置の内部の温度を検出する温度検出器
をさらに備え、
前記少なくともひとつの発光時間が複数の発光時間であり、
前記記憶部は、前記複数の発光時間にそれぞれ対応する複数の温度をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第１の温度となっており前記測定が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第２の温度になっているとした場合に、（１）前記白色校正が行われるときに、前記複数の温度から前記第１の温度に一致する温度である第１の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第１の一致温度に対応する発光時間である第１の対応発光時間を選択し、前記第１の対応発光時間を前記第１の発光時間とし、（２）前記測定が行われるときに、前記複数の温度から前記第２の温度に一致する温度である第２の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第２の一致温度に対応する発光時間である第２の対応発光時間を選択し、前記第２の対応発光時間を前記第２の発光時間とする
請求項１に記載の反射／透過特性測定装置。
【請求項３】
前記補正処理は、第１の補正処理であり、
前記記憶部は、前記測定が行われた回数である測定回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記第１の積分信号が許容範囲内になく前記測定回数が基準の測定回数より少ないと判定したときに前記第１の補正処理を行い、前記第１の積分信号が前記許容範囲内になく前記測定回数が前記基準の測定回数以上であると判定したときに前記第１の補正処理と異なる第２の補正処理を行う
請求項１または２に記載の反射／透過特性測定装置。
【請求項４】
表示部
をさらに備え、
前記記憶部は、前記測定が行われた回数である測定回数および前記補正処理が行われた回数である補正回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記測定回数が基準の測定回数以上であり前記補正回数が基準の補正回数以上であると判定したときに前記表示部にエラー表示を行わせる
請求項１から３までのいずれか一項に記載の反射／透過特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射／透過特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
分光測色計は、試料の分光反射特性を測定する装置である。【０００３】
分光測色計は、試料に照明光を照射し、試料が照明光を反射することにより生じた反射光の分光特性等を測定する。【０００４】
分光測色計においては、例えば、発光回路が発光動作に必要な電力を光源に供給し、光源が照明光を発光する発光動作を行い、光検出器が反射光に応じた検出信号を出力し、積分回路が検出信号を積分し積分信号を出力し、演算処理部が出力された積分信号から分光測色の結果を演算する。【０００５】
分光測色計に備えられる光源および分光測色計に備えられる発光回路が備える素子の特性は、環境に依存するとともに、時間が経過するにつれて変化する。このため、分光測色計の測定性能も、環境に依存するとともに、時間が経過するにつれて変化する。例えば、環境温度が変化した場合は、発光回路が供給する電力が変化し、光源が発光する照明光の光量が変化し、光検出器が受光する反射光の光量が変化し、分光測色計の測定性能が変化する。また、時間が経過するにつれて、光源が劣化し、光源が発光する光の光量が低下し、光検出器が受光する反射光の光量が低下し、分光測色計の測定性能が変化する。【０００６】
分光測色計等の反射特性測定装置において、光源が発光する光の光量が変化した場合でも測定が精度よく行われるようにするための校正が行われる場合がある。特許文献１および２に記載された技術は、その一例である。【０００７】
特許文献１に記載された技術においては、光源の明るさが明るさ検知センサーにより測定され、光源の明るさが正常でないと判断された場合に光源の明るさが正常な明るさに調整される（段落００２７および００２８）。特許文献１に記載された技術によれば、光源の明るさが正常値に保たれ、測定の信頼性が向上する（段落００３０および００３４）。【０００８】
特許文献２に記載された技術においては、ラインセンサーの視野内で測定の邪魔にならない位置でかつラインセンサーのピントがあう位置に白色校正板が配置され、色測定が行われる場合に白色校正板が撮像されランプの経時的なエネルギーの減衰量が演算され、減衰量だけ色測定データを補正するための補正値が求められ、色測定値に補正値が掛けられる（段落０００８，００１２および００３５）。特許文献２に記載された技術によれば、安定した色測定値が得られる（段落００３５）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平７−５５７０４号公報
【特許文献２】特開２００１−９９７０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
特許文献１に記載された技術に代表される従来の技術においては、照明光の強度が変更されるため、照明光の強度の変更にともなって照明光の分光強度が変化し、測定される分光反射特性に誤差が生じる場合がある。例えば、特許文献１に記載された技術においては、光源の明るさが調整されるため、光源の明るさの調整にともなって投光される光の分光強度が変化し、鮮映性の数値の精度に誤差が生じる場合がある。【００１１】
特許文献１に記載された技術に代表される従来の技術においては、照明光の強度をモニターするための機構が必要になり、反射特性測定装置の構造が複雑になる等の問題が生じる。例えば、特許文献１に記載された技術においては、光源の明るさを測定する明るさ検知センサーが必要になり、塗装面性状測定装置の構造が複雑になる等の問題が生じる。【００１２】
特許文献２に記載された技術に代表される従来の技術においては、分光反射特性を補正するため、反射特性に補正誤差が生じる場合がある。例えば、特許文献２に記載された技術においては、色測定値に補正値が掛けられるため、色測定値に補正誤差が生じる場合がある。【００１３】
特許文献２に記載された技術に代表される従来の技術においては、分光反射特性を補正するため、反射／透過特性測定装置において制御が複雑になる等の問題が生じる。【００１４】
これらの問題は、分光測色計以外の反射特性測定装置においても生じる。また、これらの問題は、透過特性測定装置においても生じる。【００１５】
発明の詳細な説明に記載された発明は、これらの問題を解決することを目的とする。発明の詳細な説明に記載された発明が解決しようとする課題は、反射特性／透過特性に誤差が生じることを抑制し、反射／透過特性測定装置の構造が複雑になることを抑制し、反射／透過特性測定装置において制御が複雑になることを抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
反射／透過特性測定装置は、光源、発光回路、光検出器、積分器、記憶部、制御部および演算処理部を備える。【００１７】
光源は、試料に照射される照明光を発光する。【００１８】
発光回路は、照明光を発光するのに要する電力を光源に供給する。【００１９】
光検出器は、反射光または透過光に応じた検出信号を出力する。反射光は、試料が照明光を反射することにより生じる。透過光は、試料が照明光を透過させることにより生じる。【００２０】
積分器は、検出信号を積分し、積分信号を出力する。【００２１】
記憶部は、少なくともひとつの発光時間を記憶する。【００２２】
制御部は、白色校正が行われる場合に積分信号が第１の積分信号となっており測定が行われる場合に積分信号が第２の積分信号になっているとした場合に、（１）白色校正が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第１の発光時間だけ光源が照明光を発光するように発光回路を制御し、第１の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理を少なくともひとつの発光時間に対して行い、（２）測定が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第２の発光時間だけ光源が照明光を発光するように発光回路を制御する。【００２３】
演算処理部は、第２の積分信号から試料の反射／透過特性を演算する。
【発明の効果】
【００２４】
発明の詳細な説明に記載された発明によれば、反射特性／透過特性に誤差が生じることが抑制され、反射／透過特性測定装置の構造が複雑になることが抑制され、反射／透過特性測定装置において制御が複雑になることが抑制される。【００２５】
この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】第１実施形態の分光測色計を図示するブロック図である。
【図２】第１実施形態の分光測色計に記憶されるテーブルを示す図である。
【図３】第１実施形態の分光測色計における光源の発光光量の発光回路の温度による変化を図示するグラフである。
【図４】第１実施形態の分光測色計において行われる白色校正の手順を図示するフローチャートである。
【図５】第１実施形態の分光測色計において行われる測定の手順を図示するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
１  第１実施形態
１．１  分光測色計
図１は、第１実施形態の分光測色計を図示するブロック図である。
【００２８】
図１に図示される分光測色計１０００は、試料１０２０に照明光１０４０を照射し、試料１０２０が照明光１０４０を反射することにより生じる反射光１０４１を受光し、反射光１０４１の分光強度を得、分光強度から試料１０２０の測色値を得る。測色値に代えてまたは測色値に加えて、測色値以外の反射特性が得られてもよい。例えば、分光反射率が得られてもよい。反射光１０４１に代えて、試料１０２０が照明光１０４０を透過させることにより生じる透過光が受光されてもよい。反射光１０４１に代えて透過光が受光される場合は、反射特性を得る反射特性測定装置である分光測色計１０００が、透過特性を得る透過特性測定装置になる。分光測色方式の反射特性測定装置である分光測色計１０００が、刺激値直読方式の反射特性測定装置である色彩計に置き換えられてもよい。
【００２９】
分光測色計１０００は、光源１０６０、発光回路１０６１、光検出器１０６２、積分器１０６３、Ａ／Ｄ変換器１０６４、制御演算部１０６５、記憶部１０６６、温度検出器１０６７および表示部１０６８を備える。光検出器１０６２は、受光素子１０８０を備える。積分器１０６３は、積分回路１１００を備える。制御演算部１０６５は、制御部１１２０および演算部１１２１を備える。分光測色計１０００がこれらの構成物以外の構成物を備えてもよい。
【００３０】
光源１０６０は、キセノンフラッシュランプ、発光ダイオード（ＬＥＤ）等であり、照明光１０４０を発光する。
【００３１】
発光回路１０６１は、照明光１０４０を発光するのに要する電力を光源１０６０に供給する。
【００３２】
光検出器１０６２は、反射光１０４１に応じた検出信号１１４０を出力する。受光素子１０８０は、フォトセンサーとも呼ばれ、反射光１０４１を受光し、反射光１０４１に応じた電流を出力する。検出信号１１４０は、受光素子１０８０が出力する電流である。反射光１０４１に代えて透過光が受光される場合は、光検出器１０６２は透過光に応じた検出信号を出力する。
【００３３】
積分回路１１００は、検出信号１１４０を積分し、積分信号１１６０を出力する。積分信号１１６０は、受光素子１０８０が出力した電流を電圧に変換したものである。
【００３４】
Ａ／Ｄ変換器１０６４は、アナログ電気信号である積分信号１１６０をデジタル電気信号である積分信号１１８０に変換する。
【００３５】
制御演算部１０６５は、組み込みコンピューターであり、インストールされたファームウェアにしたがって動作する。制御演算部１０６５の機能の一部がソフトウェアを実行しないハードウェアに担われてもよい。制御部１１２０は、発光回路１０６１を制御する。演算部１１２１は、積分信号１１８０から試料１０２０の測色値を演算する。したがって、Ａ／Ｄ変換器１０６４および演算部１１２１は、積分信号１１６０から試料１０２０の測色値を演算する演算処理部１１９０を構成する。
【００３６】
記憶部１０６６は、制御演算部１０６５から出力された情報を記憶し、後述するテーブル、測定回数および補正回数を記憶する。測定回数は、後述する測定が行われた回数である。補正回数は、後述する補正処理が行われた回数である。
【００３７】
温度検出器１０６７は、発光回路１０６１の温度を検出する。発光回路１０６１の温度以外の分光測色計１０００の内部の温度が検知されてもよい。
【００３８】
表示部１０６８は、制御演算部１０６５から出力された情報を表示する。
【００３９】
１．２  テーブル
図２は、第１実施形態の分光測色計に記憶されるテーブルを示す図である。
【００４０】
図２に図示されるテーブル１２００は、記憶部１０６６に記憶され、発光回路１０６１の温度と光源１０６０の発光時間との関係を定義する関係テーブルであり、５個の発光時間である「８５μｓｅｃ」「８０μｓｅｃ」「７５μｓｅｃ」「６５μｓｅｃ」および「６０μｓｅｃ」を含み、５個の温度である「１０℃以下」「１０−１５℃」「１５−２０℃」「２０−３５℃」および「３５℃以上」を含む。「１０℃以下」「１０−１５℃」「１５−２０℃」「２０−３５℃」および「３５℃以上」は、「８５μｓｅｃ」「８０μｓｅｃ」「７５μｓｅｃ」「６５μｓｅｃ」および「６０μｓｅｃ」にそれぞれ対応する。テーブル１２００が、４個以下または６個以上の発光時間を含み４個以下または６個以上の発光時間にそれぞれ対応する４個以下または６個以上の温度を含むテーブルに置き換えられてもよい。テーブル１２００は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されている。
【００４１】
テーブル１２００に代えて任意の温度に対応する１個の発光時間が記憶部１０６６に記憶されてもよい。
【００４２】
１．３  発光光量の温度依存性
図３は、光源がキセノン管である場合の光源の発光光量の発光回路の温度による変化を図示するグラフである。
【００４３】
図３に図示されるように、光源１０６０の発光光量は、発光回路１０６１の温度が低下するにつれて低下する。発光回路１０６１の温度が低下するにつれて光源１０６０の発光光量が低下するのは、発光回路１０６１に備えられるコンデンサーの温度が低下するにつれて当該コンデンサーのｔａｎδが増加することで、コンデンサー内部における損失が増加するためである。温度が５℃だけ変化した場合の発光光量の変化は、２５℃における発光光量の１０％以上になる場合があり、低温側において特に大きくなる。
【００４４】
このため、発光回路１０６１の温度が低くなるにつれて光源１０６０の発光時間が長くなるように定義されるテーブル１２００を参照して発光回路１０６１の温度が低くなるほど光源１０６０の発光時間が長くなる補正処理が行われた場合は、光源１０６０の発光光量の低下が光源１０６０の発光時間の延長により補償され、積分信号１１６０の強度が維持され、Ｓ／Ｎ比の低下等の分光測色計１０００の性能の低下が抑制される。
【００４５】
１．４  白色校正の手順
図４は、第１実施形態の分光測色計において行われる白色校正の手順を図示するフローチャートである。
【００４６】
以下では、白色校正が行われる場合に、積分信号１１６０が第１の積分信号になっており、温度検出器１０６７により検出される温度が第１の温度になっているとする。
【００４７】
ステップＳ１０１においては、白色校正が開始される。
【００４８】
ステップＳ１０１に続くステップＳ１０２においては、温度検出器１０６７が温度を検出する。
【００４９】
ステップＳ１０２に続くステップＳ１０３においては、制御部１１２０が、第１の発光時間を設定する。第１の発光時間の設定においては、テーブル１２００が参照され、５個の温度である「１０℃以下」「１０−１５℃」「１５−２０℃」「２０−３５℃」および「３５℃以上」から第１の温度に一致する温度である第１の一致温度が選択され、５個の発光時間である「８５μｓｅｃ」「８０μｓｅｃ」「７５μｓｅｃ」「６５μｓｅｃ」および「６０μｓｅｃ」から第１の一致温度に対応する発光時間である第１の対応発光時間が選択され、第１の対応発光時間が第１の発光時間とされる。
【００５０】
任意の温度に対応する１個の発光時間が記憶部１０６６に記憶されている場合は、当該１個の発光時間が第１の発光時間とされる。
【００５１】
ステップＳ１０３に続くステップＳ１０４においては、分光測色計１０００が測定動作を行う。測定動作においては、試料１０２０が、白色校正板になり、制御部１１２０が、第１の発光時間だけ光源１０６０が照明光１０４０を発光するように発光回路１０６１を制御する。テーブル１２００は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されているため、第１の発光時間は、第１の温度が低くなるほど長くなる。
【００５２】
ステップＳ１０４に続くステップＳ１０５においては、制御部１１２０が、第１の積分信号が許容範囲内にあるか否かを判定する。制御部１１２０は、ステップＳ１０５において第１の積分信号が許容範囲内にあると判定した場合は、ステップＳ１０５に続いてステップＳ１０６を実行する。制御部１１２０は、ステップＳ１０５において第１の積分信号が許容範囲内にないと判定した場合は、ステップＳ１０５に続いてステップＳ１０７からＳ１１３までを実行する。
【００５３】
ステップＳ１０６においては、白色校正が完了する。
【００５４】
ステップＳ１０７においては、制御部１１２０が、測定回数が基準の測定回数であるＮ回より少ないか否かを判定する。制御部１１２０は、測定回数がＮ回より少ないと判定した場合は、ステップＳ１０７に続いてステップＳ１０８からＳ１１０までを実行する。制御部１１２０は、測定回数がＮ回以上であると判定した場合は、ステップＳ１０７に続いてステップＳ１１１からステップＳ１１３までを実行する。
【００５５】
測定回数がＮ回より少ない場合は、白色校正板からの反射光１０４１の強度が許容範囲内にない原因が光源１０６０の劣化ではなく光源１０６０の個体差にあると推定される。一方、測定回数がＮ回以上である場合は、白色校正板からの反射光１０４１の強度が許容範囲内にない原因が光源１０６０の個体差ではなく光源１０６０の劣化にあると推定される。したがって、ステップＳ１０７によれば、光源１０６０の個体差が存在すると推定される場合は、ステップＳ１０８からＳ１１０までにおいて光源１０６０の個体差が存在する場合に適した第１の補正処理が行われ、光源１０６０の劣化が存在すると推定される場合は、ステップＳ１１１からＳ１１３までにおいて光源１０６０の劣化が存在する場合に適した第２の補正処理が行われる。第１の補正処理および第２の補正処理は、互いに異なる。
【００５６】
ステップＳ１０８においては、制御部１１２０が、第１の積分信号が許容範囲の下限より小さいのかまたは許容範囲の上限より大きいのかを判定する。制御部１１２０は、ステップＳ１０８において第１の積分信号が許容範囲の下限より小さいと判定した場合は、ステップＳ１０８に続いてステップＳ１０９を実行する。制御部１１２０は、ステップＳ１０８において第１の積分信号が許容範囲の上限より大きいと判定した場合は、ステップＳ１０８に続いてステップＳ１１０を実行する。
【００５７】
ステップＳ１０９においては、制御部１１２０が、テーブル１２００を補正する。ステップＳ１０９におけるテーブル１２００の補正においては、補正後の５個の発光時間が補正前の５個の発光時間よりそれぞれ長くなるようにテーブル１２００に含まれる５個の発光時間の補正処理が行われる。例えば、５個の発光時間が一律に５μｓｅｃだけ延長される。５個の発光時間の補正量が互いに異なってもよい。
【００５８】
ステップＳ１１０においては、制御部１１２０が、テーブル１２００を補正する。ステップＳ１１０におけるテーブル１２００の補正においては、補正後の５個の発光時間が補正前の５個の発光時間よりそれぞれ短くなるようにテーブル１２００に含まれる５個の発光時間の補正処理が行われる。
【００５９】
ステップＳ１０９およびＳ１１０によれば、第１の積分信号が小さくなるほど補正後の５個の発光時間が長くなる補正処理が５個の発光時間に対して行われる。
【００６０】
ステップＳ１０９が実行された後は、再びステップＳ１０２が実行される。また、ステップＳ１１０が実行された後は、再びステップＳ１０２が実行される。これにより、第１の積分信号が許容範囲内にあるようになるまで第１の補正処理が繰り返される。
【００６１】
ステップＳ１１１においては、制御部１１２０が、テーブル１２００が補正済であるか否かを判定する。制御部１１２０は、ステップＳ１１１においてテーブル１２００が補正済でないと判定した場合は、ステップＳ１１１に続いてステップＳ１１２を実行する。制御部１１２０は、ステップＳ１１１においてテーブル１２００が補正済であると判定した場合は、ステップＳ１１１に続いてステップＳ１１３を実行する。
【００６２】
ステップＳ１１２においては、制御部１１２０が、テーブル１２００を補正する。ステップＳ１１２におけるテーブル１２００の補正においては、補正後の５個の発光時間が補正前の５個の発光時間よりそれぞれ長くなるようにテーブル１２００に含まれる５個の発光時間の補正処理が行われる。これにより、測定回数がＮ回より多くなっているにもかかわらずテーブル１２００が補正されていない場合は、テーブル１２００が補正される。
【００６３】
ステップＳ１１３においては、制御部１１２０が、表示部１０６８にエラー表示を行わせる。エラー表示は、光源１０６０が劣化していることを示す警告表示である。これにより、測定回数がＮ回以上であり補正回数が１回以上であると判定されたときに、エラー表示が行われる。測定回数がＮ回以上であり補正回数が１回以上であると判定された場合は、光源１０６０の劣化が存在すると推定されるため、エラー表示は、光源１０６０の劣化が存在すると推定される場合に行われる。１回という基準の回数が他の基準の回数に置き換えられてもよい。
【００６４】
ステップＳ１１２が実行された後は、再びステップＳ１０２が実行される。
【００６５】
１．５  測定の手順
図５は、第１実施形態の分光測色計において行われる測定の手順を図示するフローチャートである。
【００６６】
以下では、測定が行われる場合に、積分信号１１６０が第２の積分信号になっており、温度検出器１０６７により検出される温度が第２の温度になっているとする。
【００６７】
ステップＳ１２１においては、測色が開始される。
【００６８】
ステップＳ１２１に続くステップＳ１２２においては、温度検出器１０６７が温度を検出する。
【００６９】
ステップＳ１２２に続くステップＳ１２３においては、制御部１１２０が、第２の発光時間を設定する。第２の発光時間の設定においては、テーブル１２００が参照され、５個の温度である「１０℃以下」「１０−１５℃」「１５−２０℃」「２０−３５℃」および「３５℃以上」から第２の温度に一致する温度である第２の一致温度が選択され、５個の発光時間である「８５μｓｅｃ」「８０μｓｅｃ」「７５μｓｅｃ」「６５μｓｅｃ」および「６０μｓｅｃ」から第２の一致温度に対応する発光時間である第２の対応発光時間が選択され、第２の対応発光時間が第２の発光時間とされる。
【００７０】
ステップＳ１２３に続くステップＳ１２４においては、分光測色計１０００が測色動作を行う。測色動作においては、制御部１１２０が、第２の発光時間だけ光源１０６０が照明光１０４０を発光するように発光回路１０６１を制御する。テーブル１２００は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されているため、第２の発光時間は、第２の温度が低くなるほど長くなる。
【００７１】
ステップＳ１２４に続くステップＳ１２５においては、制御部１１２０が、第２の積分信号が飽和しているか否かを判定する。制御部１１２０は、ステップＳ１２５において第２の積分信号が飽和していないと判定した場合は、ステップＳ１２６を実行する。制御部１１２０は、ステップＳ１２６において第２の積分信号が飽和していると判定した場合は、ステップＳ１２７を実行する。
【００７２】
ステップＳ１２６においては、演算処理部１１９０が、第２の積分信号から測色値を演算し、測色が完了する。
【００７３】
ステップＳ１２７においては、制御部１１２０が、表示部１０６８にエラー表示を行わせる。エラー表示は、校正を促す警告表示である。
【００７４】
第１実施形態の分光測色計１０００によれば、照明光１０４０の強度が変更されず、光源１０６０の測色値に補正が行われないため、測色値に誤差が生じることが抑制され、分光測色計１０００において制御が複雑になることが抑制される。また、照明光１０４０の強度をモニターするための機構が不要であるため、分光測色計１０００の構造が複雑になることが抑制される。
【００７５】
この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
【産業上の利用可能性】
【００７６】
本発明に係る反射／透過特性測定装置は、反射／透過特性を測定する測定分野において利用可能性がある。
【符号の説明】
【００７７】
１０００  分光測色計
１０６０  光源
１０６１  発光回路
１０６２  光検出器
１０６３  積分器
１０６４  Ａ／Ｄ変換器
１０６５  制御演算部
１０６６  記憶部
１０６７  温度検出器
１０６８  表示部
１１９０  演算処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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