(57)【要約】構造が簡単な測定セルを使用しつつ、測定精度を担保する。分散媒に粒子群を分散させた測定試料Ｘに光を照射する光照射部２０と、この光の照射により生じる散乱光を検出する光検出部３０とを具備し、散乱光の時間変化に基づき粒子の物性を測定する粒子物性測定装置１００であって、測定試料Ｘが載せられる平板状の測定セル１０と、測定セルを保持するセルホルダ２０と、測定セル１０又はセルホルダ２０に設けられた温度センサ５とを備えているようにした。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
分散媒に粒子群を分散させた測定試料に光を照射する光照射部と、この光の照射により生じる散乱光を検出する光検出部とを具備し、前記散乱光の時間変化に基づき粒子の物性を測定する粒子物性測定装置であって、
前記測定試料が載せられる平板状の測定セルと、
前記測定セルを保持するセルホルダと、
前記測定セル又は前記セルホルダに設けられた温度センサとを備えている粒子物性測定装置。
【請求項２】
前記温度センサにより検出された温度を用いて前記分散媒の粘性を算出し、その粘性を用いて粒子の物性を示す物性値を算出する演算装置をさらに備えている請求項１記載の粒子物性測定装置。
【請求項３】
前記測定セル又は前記セルホルダに設けられて、前記測定セルを加熱又は冷却する温調機構をさらに備えている請求項１記載の粒子物性測定装置。
【請求項４】
前記温度センサが、前記測定セルに設けられており、
前記温度センサが接続される接続端子が、前記セルホルダに設けられており、
前記セルホルダが前記測定セルを保持することで、前記温度センサが前記接続端子に接続される請求項１記載の粒子物性測定装置。
【請求項５】
前記セルホルダが、前記測定セルを下方から光が照射されるように保持するものであり、
前記測定セルが、透光性を有したものであり、
前記光照射部が、前記セルホルダの下方に設けられて前記測定セルの下面に光を照射する請求項１記載の粒子物性測定装置。
【請求項６】
前記光検出部が、前記セルホルダの下方に設けられて、前記測定試料で散乱した散乱光のうち、前記測定セルの下面を通過する散乱光を検出する請求項５記載の粒子物性測定装置。
【請求項７】
前記光検出部が、前記光照射部から射出された光のうち前記測定セルで反射した反射光を検出しない位置に設けられている請求項１記載の粒子物性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば粒子径分布等の粒子の物性を測定する粒子物性測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の粒子物性測定装置としては、特許文献１に示すように、分散媒に粒子群を分散させた測定試料をセルに収容するとともに、このセルに光を照射して生じる散乱光を検出して粒子径分布を測定するものがある。【０００３】
この測定装置は、測定精度の向上を図るべく、セルを保持するセルホルダに温度センサを設けて、検出された温度に対する分散媒の粘性を演算パラメータとして粒子径分布を算出している。
なお、ゼータ電位や異方性など、分散媒中での粒子の動きに関わりのある粒子物性を測定するうえでは、上記の粒子径分布測定と同様、検出された温度に対する分散媒の粘性が重要となる。【０００４】
ところで、特許文献１の測定装置では、測定対象を収容するセルにキュベットと呼ばれる角型のものを用いており、このキュベットの側方から光を照射している。このような構成において、測定対象が少量であっても側方から照射した光が測定対象に当たるようにするためには、測定対象を収容するスペースが薄いキュベットが必要となる。【０００５】
しかしながら、このようなキュベットは、価格が高いうえ、洗浄しにくいという課題があり、この点に関して特許文献１では一切考慮されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特表２００１−８３０７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであって、温度センサを用いた測定精度の向上を図りつつ、測定セルを安価で洗浄しやすいものにすることをその主たる目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
すなわち、本発明に係る粒子物性測定装置は、分散媒に粒子群を分散させた測定試料に光を照射する光照射部と、この光の照射により生じる散乱光を検出する光検出部とを具備し、前記散乱光の時間変化に基づき粒子の物性を測定する粒子物性測定装置であって、前記測定試料が載せられる平板状の測定セルと、前記測定セルを保持するセルホルダと、前記測定セル又は前記セルホルダに設けられた温度センサとを備えていることを特徴とするものである。【０００９】
このように構成された粒子物性測定装置であれば、測定セル又はセルホルダに温度センサを設けているので、検出される温度に基づいて分散媒の粘性を算出することができ、この粘性を用いて粒子の物性を算出することで、分散媒の温度と温度センサの検出温度との差違による測定誤差を抑えることができ、測定精度の向上を図れる。
そのうえ、測定セルが構造が簡単な平板状のものとしているので、例えばキュベットと呼ばれる角型のセルと比較して、測定セルを安価で洗浄しやすいものにすることができる。【００１０】
温度センサを用いた測定する具体的な実施態様としては、前記温度センサにより検出された温度を用いて前記分散媒の粘性を算出し、その粘性を用いて粒子の物性を示す物性値を算出する演算装置をさらに備えている構成が挙げられる。【００１１】
ところで、粒子には、温度によってその物性が変わるものや、温度が変わると凝集状態が変わるものなどがある。
そこで、前記測定セル又は前記セルホルダに設けられて、前記測定セルを加熱又は冷却する温調機構をさらに備えていることが好ましい。
このような構成であれば、粒子の物性を任意の温度で測定することができ、温度による物性の変化や温度による凝集状態の変化を観測することが可能となる。【００１２】
前記温度センサが、前記測定セルに設けられており、前記温度センサが接続される接続端子が、前記セルホルダに設けられており、前記セルホルダが前記測定セルを保持することで、前記温度センサが前記接続端子に接続されることが好ましい。
このような構成であれば、温度センサを接続端子に接続することで、測定セルがセルホルダに対して位置決めされる。これにより、光照射部からの光を測定セルの決められた位置に照射するとともにその位置に測定対象を載せるようにすれば、測定対象と温度センサとの相対位置関係や、測定対象と光が照射される位置との相対位置関係が変わらず、測定誤差（系統誤差）を抑制することができる。【００１３】
前記セルホルダが、前記測定セルを下方から光が照射されるように保持するものであり、前記測定セルが、透光性を有したものであり、前記光照射部が、前記セルホルダの下方に設けられて前記測定セルの下面に光を照射するように構成されていることが好ましい。
このような構成であれば、光照射部をセルホルダの下方に設けてあるので、セルホルダの上方に、測定セルをセルホルダに載置したり、載置されたセルホルダに測定試料を滴下するための作業スペースを確保することができ、作業性が良い。【００１４】
上述の作業スペースをより大きく確保するためには、前記光検出部が、前記セルホルダの下方に設けられて、前記測定試料で散乱した散乱光のうち、前記測定セルの下面を通過する散乱光を検出することが好ましい。【００１５】
光照射部及び光検出部の配置によっては、光照射部から射出された光のうち測定セルで反射した反射光が光検出部で検出されてしまい、検出すべき散乱光強度に誤差が生じ得る。
そこで、測定精度を担保するためには、前記光検出部が、前記光照射部から射出された光のうち前記測定セルで反射した反射光を検出しない位置に設けられていることが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
このように構成した本発明によれば、温度センサを用いた測定精度の向上を図りつつ、測定セルを安価で洗浄しやすいものにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態における粒子物性測定装置を示す模式図。
【図２】同実施形態における測定セルを示す模式図。
【図３】その他の実施形態における粒子物性測定装置を示す模式図。
【図４】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図５】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図６】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図７】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図８】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図９】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図１０】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【図１１】その他の実施形態における測定セルを示す模式図。
【符号の説明】
【００１８】
１００・・・粒子物性測定装置
Ｘ    ・・・測定試料
１０  ・・・測定セル
２０  ・・・セルホルダ
３０  ・・・光照射部
４０  ・・・光検出部
５    ・・・温度センサ
５１  ・・・熱電対
６    ・・・温調機構
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下に本発明に係る粒子物性測定装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
【００２０】
本実施形態に係る粒子物性測定装置１００は、例えば粒子のブラウン運動に起因して発生する散乱光の揺らぎに基づいて粒子径分布を測定する粒子径分布測定装置であり、図１に示すように、水などの分散媒に粒子群を分散させた測定試料Ｘが載せられる測定セル１０と、測定セル１０が設置されるセルホルダ２０と、滴下された測定試料Ｘに光を照射する光照射部３０と、これにより生じる散乱光を検出する光検出部４０と、光検出部４０により検出された散乱光の時間変化に基づいて粒子径分布を算出する演算装置Ｃとを具備する。
【００２１】
測定セル１０は、図１に示すように、平板状のものであり、一方の面板部１１（以下、上面１１という）に測定試料Ｘが１〜数滴ほど滴下される。ここでいう平板状のものとは、完全な平板に限らず、平板に凹部や凸部が設けられたものや、曲面を有しているものも含む概念である。
測定セル１０の上面１１において測定試料Ｘが滴下される箇所は限らないが、ここでは図２に示すように、目安として上面１１の中央部を測定試料Ｘが滴下される滴下領域Ｒに設定してある。ここでの滴下領域Ｒは、所定の滴下数又は所定量の測定試料Ｘを上面１１に滴下した場合に、この上面１１において測定試料Ｘが接触している領域或いはそれよりもやや大きめに設定した領域である。なお、滴下された測定試料Ｘは表面張力によって盛り上がった状態で上面１１に保持される。
【００２２】
本実施形態の測定セル１０は、透光性を有し、他方の面板部１２（以下、下面１２という）に光が照射されて、その光を上面１１に透過するものであり、具体的にはガラスプレート等の平面視矩形状の透明基板である。なお、測定セル１０の端部などには、滴下される測定試料Ｘの種類を識別したり、測定セル１０の上面１１又は下面１２を識別するためのマーカ１３（色や印など）が設けられている。ここでは、測定セル１０の端部がユーザにより把持される把持部であり、この把持部の上面１１側に前記マーカ１３が設けられている。
【００２３】
セルホルダ２０は、図２に示すように、測定セル１０を保持するものであり、ここでは測定セル１０が上方から載置される載置面２１を有している。この載置面２１に載置された測定セル１０は、水平な状態で保持される。
具体的にこのセルホルダ２０は、測定セル１０がセットされる段部が形成されたものであり、ここでは上述した載置面２１と、載置面２１に載置された測定セル１０の側面が接触する被接触面２２とによって前記段部を形成してある。
【００２４】
載置面２１は、測定セル１０の下面１２と同じ形状（ここでは平面視矩形状）であり、その中央部に光が通過する光通過孔２１ｈが形成されている。これにより、載置面２１全体と測定セル１０の下面１２全体とを重ね合わせることで、光通過孔２１ｈが測定セル１０の中央部の下方、すなわち滴下領域Ｒの下方に位置することになる。
【００２５】
光照射部３０は、図１に示すように、セルホルダ２０の下方に配置されており、上述した光通過孔２１ｈに向かって光を射出することで、その光を測定セル１０を透過させて測定試料Ｘに照射するものである。具体的にこの光照射部３０は、光源たるレーザ装置３１と、レーザ装置３１から射出されたレーザ光Ｌを光通過孔２１ｈに向かって反射させる反射ミラー３２とを備えており、ここでは測定セル１０の下面１２で反射したレーザ光Ｌがレーザ装置３１に戻ることを防ぐべく、レーザ光Ｌを測定セル１０の下面１２に対して斜めに照射するように配置されている。
【００２６】
光検出部４０は、図１に示すように、セルホルダ２０の下方に配置されており、測定試料Ｘで散乱した散乱光のうち光通過孔２１ｈを通過した散乱光を検出するものである。具体的にこの光検出部４０は、受光部たるレンズ４１と、レンズ４１により平行化された散乱光を伝達する光ファイバ４２と、光ファイバ４２により伝達された散乱光を検出する光検出器４３とを備える。
本実施形態の光検出部４０は、光照射部３０から射出された後、測定セル１０の下面１２で反射したレーザ光Ｌを検出しない位置に設けられている。具体的には受光部たるレンズ４１を反射光の光路から変位させた位置に設けてある。ここでのレンズ４１は測定セル１０の下面１２を斜め下方から臨むように配置されている。
【００２７】
ここでは、前記光検出器４３が、検出した散乱光の時間変化に基づき自己相関関数を算出し、この自己相関関数を示す自己相関データを後述する演算装置Ｃに送信するようにしてある。
【００２８】
演算装置Ｃは、物理的に言えば、ＣＰＵ、メモリ、入出力インターフェース等を備えた汎用乃至専用のコンピュータであり、前記メモリの所定領域に格納されたプログラムに従ってＣＰＵや周辺機器が協働することにより、上述した光検出器４３により算出された自己相関データを取得して、この自己相関データが示す自己相関関数に所定の演算処理を行うことで粒子径分布を算出する。
【００２９】
然して、本実施形態の粒子物性測定装置１００は、図１及び図２に示すように、測定セル１０に設けられた温度センサ５を具備している。
【００３０】
温度センサ５としては、サーミスタや白金測温抵抗体を用いたものなどを挙げることができるが、ここでは熱電対５１を用いており、この熱電対５１の測温接点を上述した滴下領域Ｒの近傍に設けて、滴下領域Ｒの温度を検出できるようにしている。
ここでの熱電対５１は、測定セル１０の上面１１に設けられた線状のものである。より具体的には、一対の接続端子（以下、セル側端子ａ１という）を測定セル１０の上面１１の縁部に設けて、これらのセル側端子ａ１それぞれから滴下領域Ｒに向かって熱電対５１を延ばしている。
【００３１】
本実施形態では、上述したセルホルダ２０に熱電対５１が接続される一対の接続端子（以下、ホルダ側端子ｂ１という）を基準接点として設けてある。具体的にこれらのホルダ側端子ｂ１は、上述したセルホルダ２０の被接触面２２に設けられており、測定セル１０の下面１２全体を載置面２１に重ねあわせることで、セル側端子ａ１が電気的に接続されるように配置されている。
これにより、測定セル１０を載置面２１に載置してセル側端子ａ１とホルダ側端子ｂ１とを接続することで、ホルダ側端子ｂ１間に生じる電位差に基づいて滴下領域Ｒ又はその近傍の温度を検出することができる。
【００３２】
ここでは、温度センサ５が検出温度を上述した演算装置Ｃに送信し、演算装置Ｃが前記検出温度を用いて分散媒の粘性を算出して、この粘性と上述した自己相関関数とを用いて粒子の物性を示す物性値（ここでは粒子径分布）を算出するようにしてある。
【００３３】
本実施形態の粒子物性測定装置１００は、測定セル１０を加熱する温調機構６をさらに具備している。この温調機構６は、発熱抵抗体たる電熱線ヒータ６１と、電熱線ヒータ６１に電圧を印加する温度制御装置６２とを備えている。
【００３４】
電熱線ヒータ６１は、ここでは測定セル１０の上面１１に設けられた線状のものである。より具体的には、一対の接続端子（以下、第２セル側端子ａ２という）を測定セル１０の上面１１の縁部に設けて、これらの第２セル側端子ａ２それぞれから滴下領域Ｒを取り囲むように電熱線ヒータ６１を設けてある。
なお、上述したホルダ側端子ｂ１と同様、測定セル１０をセルホルダ２０の載置面２１に載置することで、前記第２セル側端子ａ２が電気的に接続される一対の接続端子（以下、第２ホルダ側端子ｂ２という）を被接触面２２に設けてある。
【００３５】
温度制御装置６２は、物理的に言えば、少なくとも電子基板を備えたものであり、ここではその他にＣＰＵ、メモリ等を備え、前記メモリの所定領域に格納されたプログラムに従ってＣＰＵや周辺機器が協働することにより、温度センサ５により検出される検出温度を取得して、この検出温度が予め設定された目標温度となるように、電熱線ヒータ６１に印加する電圧を制御する。
なお、ここでは温度制御装置６２をセルホルダ２０に設けてあるが、温度制御装置６２をセルホルダ２０とは別に設けても良いし、温度制御装置６２としての機能を上述した図示しない演算装置に備えさせても良い。
【００３６】
このように構成された本実施形態に係る粒子物性測定装置１００によれば、測定セル１０に温度センサ５を設けているので、検出される温度に基づいて分散媒の粘性を算出することができ、この粘性を用いて粒子径分布を算出することで、測定精度の向上を図れる。
そのうえ、測定セル１０として構造が簡単な平板状のものを用いているので、例えばキュベットと呼ばれる角型のセルと比較して、測定セル１０が安価で洗浄がしやすい。特に、測定試料Ｘが少量の場合に用いられるキュベットは高価で非常に洗浄しにくいため、上記の作用効果は測定試料Ｘが少量であるほど顕著に発揮される。
【００３７】
また、測定セル１０に電熱線ヒータ６１を設けるとともに、この熱電線ヒータに印加する電圧を温度制御装置６２によって制御させているので、測定セル１０を任意の温度に調整することができ、温度による物性の変化や温度による凝集状態の変化を観測することが可能となる。
【００３８】
さらに、測定セル１０の下面１２をセルホルダ２０の載置面２１に重ね合わせることで、熱電対５１のセル側端子ａ１がホルダ側端子ｂ１に接続されるとともに、電熱線ヒータ６１の第２セル側端子ａ２が第２ホルダ側端子ｂ２に接続されるので、測定セル１０の温度検出や温調を簡単に行うことができる。
また、セル側端子ａ１や第２セル側端子ａ２をホルダ側端子ｂ１や第２ホルダ側端子ｂ２に接続することで、測定セル１０がセルホルダ２０に対して位置決めされる。これにより、測定セル１０に設定された滴下領域Ｒと光照射部３０からのレーザ光Ｌが照射される領域との位置ずれを防ぐことができ、こうした位置ずれによる測定誤差（系統誤差）を抑制することができる。
【００３９】
そのうえ、光照射部３０や光検出部４０をセルホルダ２０の下方に設けてあるので、セルホルダ２０の上方に、測定セル１０をセルホルダ２０に載置したり、載置されたセルホルダ２０に測定試料Ｘを滴下するための作業スペースを確保することができ、作業性が良い。
【００４０】
加えて、光照射部３０から射出された光のうち測定セル１０の下面１２で反射した反射光の光路から受光部たるレンズ４１を変位させているので、反射光が光検出部４０で検出されてしまうことを避けることができ、反射光による測定誤差を抑えることができる。
【００４１】
さらに加えて、電熱線ヒータ６１を滴下領域Ｒを取り囲むように設けてあるので、滴下領域Ｒ全体を均等に加熱することができる。
【００４２】
そのうえ、例えばタンパク質を測定対象とした場合、温調機構６によりタンパク質の温度を変化させていくことで、タンパク質の凝集状態等、タンパク質構造の変化を観察することができる。
【００４３】
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではない。
【００４４】
例えば、前記実施形態では、温度センサ５を測定セル１０に設けていたが、図３に示すように、セルホルダ２０に温度センサ５を設けても良い。この場合、温度センサ５はセルホルダ２０に設置された測定セル１０に接触することが好ましく、ここでは載置面２１に設けてある。
また、温調機構６を構成する電熱線ヒータ６１に関しても同様であり、同図３に示すように、セルホルダ２０に設けても良い。この場合も、電熱線ヒータ６１はセルホルダ２０に設置された測定セル１０に接触することが好ましく、ここでは載置面２１に設けてある。
【００４５】
前記実施形態の温調機構６は、線状の電熱線ヒータ６１を用いたものであったが、例えば金属箔からなる面状のヒータ６３を用いたものであっても良い。
この場合、面状のヒータ６３は、例えば図４（ａ）に示すように、測定セル１０の側面に設けられていても良いし、図４（ｂ）に示すように、測定セル１０の上面１１に設けられていても良いし、図示しないが測定セル１０の下面１２に設けられていても良い。なお、測定セル１０の上面１１に設ける場合は、面状のヒータ６３には測定試料Ｘが滴下される滴下穴６３ｈを開けておくことが好ましい。
【００４６】
さらに、熱電対５１の配置としては、図５に示すように、測定セル１０の側面などに熱電対５１を差し込むための差込孔１０ｈを形成しておき、熱電対５１を前記差込孔１０ｈから差し込んで測定セル１０の内部に配置しても良い。なお、この熱電対５１は、一対の線状金属の先端に箔状金属を設けたものである。
【００４７】
また、測定セル１０は、図６に示すように、測定試料Ｘが滴下される凹部１４が形成されていても良い。この場合、測定セル１０としては、凹部１４を塞ぐように設けられて、測定試料Ｘが流れ出ることを防ぐガラスプレートなどの被覆部材１５を備えていても良い。
【００４８】
さらに、測定セル１０は、図７に示すように、測定セル１０の外周部に設けられて、滴下された測定試料Ｘが流れ落ちることを防ぐ流れ落ち防止部１６が設けられていても良い。
【００４９】
前記実施形態の測定セル１０は平面視矩形状であったが、例えば図８に示すように平面視円形状や、図示しないが平面視多角形状や平面視楕円形状など、測定セル１０の形状は適宜変更して構わない。
【００５０】
さらに、測定セル１０は、図９に示すように、厚み方向に積層させた平板状の基板１０ａ、１０ｂ、１０ｃを複数枚有したものであっても良い。具体的にこの測定セル１０は、最上段に位置する第１基板１０ａの上面１１ａに測定試料Ｘが滴下されるものであり、この第１基板１０ａの下段に位置する第２基板１０ｂの上面１１ｂに熱電対５１や電熱線ヒータ６１を設けてある。
このような構成であれば、第２基板１０ｂの上面１１ｂに設けられた熱電対５１や電熱線ヒータ６１が第１基板１０ａの下面に接触するので、第１基板１０ａの温度検出や温調を精度良く行いつつ、熱電対５１や電熱線ヒータ６１に測定試料Ｘが付着してしまうことを防ぐことができる。
【００５１】
また、前記実施形態のセルホルダ２０は、測定セル１０が載置される載置面２１を有していたが、セルホルダ２０としては測定セル１０を所望の位置に保持できるものであれば良く、例えば図９に示すように、測定セル１０を側方から挟み込んで保持する一対の保持部材２０ａ、２０ｂを有したものであっても良い。
【００５２】
さらにセルホルダ２０としては、図１０に示すように、載置面２１との間で測定セル１０を挟み込んで保持する挟込部材２３を有していても良い。
具体的にこの挟込部材２３は、測定セル１０を載置面２１に向かって押し付けるように設けられた弾性部材であり、ここでは金属製のもので電熱線ヒータ６１が接続される第２ホルダ側接続端子ｂ２として兼用されている。なお、この挟込部材２３を熱電対５１が接続される第１ホルダ側接続端子として兼用しても良い。
【００５３】
前記実施形態の温調機構６は、測定セルを加熱するものであったが、例えば測定セルに設けられたペルチェ素子を備え、測定セルを冷却するように構成されていても良い。
【００５４】
前記実施形態では、光照射部をセルホルダの下方に配置していたが、光照射部の配置は適宜変更可能であり、例えばセルホルダの上方に配置して上方から測定試料に光を照射するようにしても良いし、セルホルダの側方に配置して側方から測定試料に光を照射するようにしても良い。これらの場合、測定セルは透光性を有していなくても良い。
【００５５】
前記実施形態では、光検出部をセルホルダの下方に配置していたが、光検出部の配置は適宜変更可能であり、例えばセルホルダの上方や側方に配置しても良い。
【００５６】
前記実施形態では、粒子物性測定装置を粒子径分布測定装置として説明したが、ゼータ電位を測定する装置、粒子の個数を測定する装置、粒子の異方性を測定する装置、ゲル構造（ゲルの網目距離など）を測定する装置、粒子間相互作用を測定する装置などとしても良い。
なお、ゼータ電子を測定する場合の粒子物性測定装置としては、図１１に示すように、測定セル１０に設けられて粒子に電界を一対の電極７を備えていれば良い。なお、一対の電極７は、測定セル１０の上面１１、下面１２、内部の何れに設けても良いし、セルホルダ（不図示）に設けても良い。
【００５７】
なお、上述した測定セルも本発明の１つである。
すなわち、本発明に係る測定セルは、分散媒に粒子群を分散させた測定試料に光を照射する光照射部と、この光の照射により生じる二次光を検出する光検出部とを具備し、前記二次光の時間変化に基づき粒子の物性を測定する粒子物性測定装置に用いられる測定セルであって、前記測定試料が載せられるとともに温度センサが設けられた平板状をなすものであることを特徴とする。
【００５８】
二次光の時間変化に基づき粒子の物性を測定する装置としては、ラマン光（可視光）を二次光として検出するラマン分光分析装置や、蛍光を二次光として検出する蛍光分光分析装置などが挙げられる。
このような装置においては、光検出器として例えばＣＣＤ等を用いるとともに、測定セルと光検出器との間に分光器やフィルタ等を設けておくことが好ましい。
【００５９】
さらに、粒子物性測定装置としては、測定セルを走査する走査機構をさらに備えていても良い。
このような構成であれば、測定試料の二次元情報を得ることができ、粒子群の凝集状態を把握することができる。
【００６０】
加えて、粒子物性測定装置としては、散乱光、ラマン光、及び蛍光それぞれを検出して粒子物性を測定するものであっても良い。
【００６１】
その他、本発明は前記各実施形態に限られないし、その各部分構成を組み合わせても良く、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００６２】
本発明によれば、温度センサを用いた測定精度の向上を図りつつ、測定セルを安価で洗浄しやすいものにすることができる粒子物性測定装置を提供できる。
【図１】
2018110468.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【国際調査報告】
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