(57)【要約】  測色計は、測定光を導入する導光部と、複数の画素を含む画素領域を有し、測定光が入射すると複数の画素から受光信号を出力する受光センサと、導光部と受光センサとの間において、画素領域の一部であって互いに異なる複数の部分画素領域にそれぞれ対向して配置され、分光透過率の特性が互いに異なる複数のフィルタと、複数の部分画素領域にそれぞれ含まれる画素のなかで、演算に使用する各画素群の画素位置を記憶する記憶部と、各画素群からそれぞれ出力される受光信号を用いて、色に関する指標を算出する演算制御部と、を備え、各画素群の画素位置は、複数のフィルタの各々と受光センサとの位置関係に基づき予め求められている。
2018012478.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物から出射された測定光を導入する導光部と、
２次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有し、前記測定光が入射すると前記複数の画素から受光信号を出力する受光センサと、
前記導光部と前記受光センサとの間において、前記画素領域の一部であって互いに異なる複数の部分画素領域にそれぞれ対向して配置され、波長に対する分光透過率の特性が互いに異なる複数のフィルタと、
前記複数の部分画素領域にそれぞれ含まれる画素のなかで、演算に使用する各画素群の画素位置を記憶する記憶部と、
前記複数の部分画素領域内の前記各画素群からそれぞれ出力される受光信号を用いて、色に関する指標を算出する演算制御部と、
を備え、
前記各画素群の画素位置は、前記複数のフィルタの各々と前記受光センサとの位置関係に基づき予め求められて前記記憶部に記憶されている、
測色計。
【請求項２】
前記受光センサの前記各画素群は、前記受光信号として、それぞれ等色関数に近似する分光応答度を有する受光信号を出力し、
前記記憶部は、さらに、前記各画素群に対応してそれぞれ予め取得された校正用データ又は校正データを記憶し、
前記演算制御部は、前記各画素群からそれぞれ出力される前記受光信号と、前記各画素群に対応する前記各校正用データ又は前記各校正データとに基づいて、前記色に関する指標として、色を算出する、
請求項１に記載の測色計。
【請求項３】
前記複数の部分画素領域は、第１部分画素領域と、第２部分画素領域と、第３部分画素領域と、を含み、
前記複数のフィルタは、前記第１部分画素領域に対向して配置されたＸフィルタと、前記第２部分画素領域に対向して配置されたＹフィルタと、前記第３部分画素領域に対向して配置されたＺフィルタと、を含み、
前記Ｘフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｘ（λ）に一致するように形成され、
前記Ｙフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｙ（λ）に一致するように形成され、
前記Ｚフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｚ（λ）に一致するように形成され、
請求項２に記載の測色計。
【請求項４】
前記Ｘフィルタと前記Ｙフィルタと前記Ｚフィルタとは、同一面積を有し、
Ｎ（Ｎは正の整数）個の前記Ｘフィルタ及び前記Ｙフィルタを備え、
２×Ｎ個の前記Ｚフィルタを備える、
請求項３に記載の測色計。
【請求項５】
前記複数のフィルタからなる組が、さらに複数並べられて前記受光センサに対向して配置されている、
請求項２に記載の測色計。
【請求項６】
前記複数のフィルタは、波長に対する分光透過率の特性が互いに異なる４個以上のフィルタを含む、
請求項１に記載の測色計。
【請求項７】
並んで配置された前記各フィルタの互いの境界領域に設けられ、前記受光センサの受光面の法線方向の長さが前記各フィルタより長く、前記測定光を透過しない遮光壁をさらに備える請求項１〜６のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項８】
前記遮光壁は、前記各フィルタの周囲を取り囲むように一体的に形成された枠形状を有する、
請求項７に記載の測色計。
【請求項９】
前記導光部は、
前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、
前記ミキシング部の前記光入射面及び前記光出射面の外側に配置され、前記ミキシング部を通らずに前記測定光を前記複数のフィルタに導く光ファイバと、
を含み、
前記演算制御部は、前記光ファイバによって導かれた前記測定光が入射した前記２次元センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出する、
請求項１〜８のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１０】
前記導光部は、
前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、
前記被測定物と前記ミキシング部との間に配置され、前記測定光を結像する受光光学系と、
を含み、
前記受光センサは、前記受光光学系による結像位置に配置され、
前記ミキシング部は、前記受光光学系による結像位置以外の位置に配置され、
前記演算制御部は、前記受光光学系により結像された前記測定光が入射した前記２次元センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出する、
請求項１〜８のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１１】
前記受光光学系は、倍率が可変の光学系である、
請求項１０に記載の測色計。
【請求項１２】
２次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有し、前記測定光が入射すると前記複数の画素から受光信号を出力する画像位置確認用センサをさらに備え、
前記導光部は、
前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、
前記被測定物と前記ミキシング部との間に配置され、前記ミキシング部に向かう前記測定光の少なくとも一部を前記画像位置確認用センサに導く分岐部と、
を含み、
前記演算制御部は、前記分岐部により導かれた前記測定光が入射した前記画像位置確認用センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出する、
請求項１〜８のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１３】
警告を出力する出力部をさらに備え、
前記演算制御部は、前記算出された前記被測定物上の測定領域の位置と、前記算出された前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とに基づき、前記測定領域の大きさと前記表示領域の大きさとを比較し、前記測定領域が前記表示領域より大きい場合に、前記出力部に警告を出力させる、
請求項９〜１２のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１４】
警告を出力する出力部をさらに備え、
前記演算制御部は、前記算出された前記被測定物上の測定領域の位置と、前記算出された前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とに基づき、前記測定領域と前記表示領域とが重なるか否かを判定し、前記測定領域の少なくとも一部が前記表示領域と重ならない場合に、前記出力部に警告を出力させる、
請求項９〜１２のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１５】
前記ミキシング部は、ロッドレンズで構成されたインテグレータ光学系を含む、
請求項９〜１４のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１６】
前記ミキシング部は、蠅の目レンズで構成されたインテグレータ光学系を含む、
請求項９〜１４のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１７】
前記ミキシング部は、バンドルファイバを含む、
請求項９〜１４のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１８】
前記複数のフィルタは、それぞれ、透過光量が互いに一致するような面積を有する、
請求項１〜１７のいずれか１項に記載の測色計。
【請求項１９】
前記複数のフィルタのうち、透過率がピーク値のときの波長が最長のフィルタと最短のフィルタとは、隣接して配置されている、
請求項６に記載の測色計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置のカラー表示性能を計測する測色計に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置は、表示性能の向上が求められており、特に、近年は、低輝度の性能が重要視されてきている。これに応えるべく、表示装置の表示性能を測定する測定装置も、低輝度での測定精度の向上が必要になってきている。【０００３】
低輝度での測定精度を向上するためには、高いＳ／Ｎ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）が必要になる。なぜなら、Ｓ／Ｎが低いと、ノイズの中に信号が埋もれてしまい、色度又は輝度を正確に測定することができないためである。【０００４】
Ｓ／Ｎを向上するためには、以下の２つの方法がある。第１の方法は、センサに入射する光量を増加させるものである。第２の方法は、測定装置のノイズを減少させるものである。ここで、測定装置のノイズを減少させるにも限界があるため、センサに入射する光量を増加させることが考えられる。【０００５】
ところで、例えば特許文献１に記載の従来の測定装置では、表示装置から出射される光量の一部のみを測定装置に導いていた。その結果、測定装置は、表示装置から出射される光量の一部のみしか測定に使用していなかった。【０００６】
例えば、表示領域が１３３ｍｍ×７５ｍｍの表示装置を測定する場合、特許文献１では直径１０ｍｍの測定領域からの測定光を用いて測定しているので、全表示領域に対する測定領域の面積の比率は、
５×５×π／（１３３×７５）×１００≒０．７９％
であり、測定装置は、表示領域の０．７９％の光量しか測定に使用していなかった。【０００７】
この理由は、例えば被測定物の表示装置が液晶ディスプレイの場合、視野角特性が存在するためである。すなわち、斜めに出射された光が含まれると、視野角特性の影響により斜めの角度に依存して測定結果にずれが生じてしまう。このため、特許文献１では法線方向に出射される光以外は含まれないようにする必要があった。【０００８】
しかしながら、例えば被測定物が有機エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）ディスプレイの場合には、液晶ディスプレイに比べて、視野角特性が良いので、被測定物が有機ＥＬディスプレイの場合には、測定に使用する光量を増加させてＳ／Ｎを向上することが可能となる。【０００９】
測定に使用する光量を増加させるために、例えば特許文献２に記載のような、受光面積が大きい２次元センサを採用することが考えられる。特許文献２に記載の技術では、受光素子として２次元センサが採用され、この２次元センサに、色測定に適した分光応答度にするためのカラーフィルタが貼り付けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００３−２４７８９１号公報
【特許文献２】特開２０１０−１４５１７７号公報
【発明の概要】
【００１１】
しかしながら、２次元センサにカラーフィルタを貼り付けることによって新たな課題が発生する。すなわち、２次元センサ上にカラーフィルタを貼り付ける際に、貼り付け位置に誤差が生じる。その場合、２次元センサの画素の位置と、カラーフィルタの位置との関係が不明確になる。その結果、２次元センサ上のどの画素をどの色の測定用の画素として採用したらよいのかが判らなくなる。これに対して、上記特許文献２では、この点が十分に検討されていない。
【００１２】
本発明は、上述の事情に鑑みて為されたものであり、２次元センサを搭載しつつ、高精度に測定することが可能な測色計を提供することを目的とする。
【００１３】
上述した目的を実現するために、本発明の一側面を反映した測色計は、測定光を導入する導光部と、複数の画素を含む画素領域を有し、前記測定光が入射すると前記複数の画素から受光信号を出力する受光センサと、前記導光部と前記受光センサとの間において、前記画素領域の一部であって互いに異なる複数の部分画素領域にそれぞれ対向して配置され、分光透過率の特性が互いに異なる複数のフィルタと、前記複数の部分画素領域にそれぞれ含まれる画素のなかで、演算に使用する各画素群の画素位置を記憶する記憶部と、前記各画素群からそれぞれ出力される受光信号を用いて、色に関する指標を算出する演算制御部と、を備え、前記各画素群の画素位置は、前記複数のフィルタの各々と前記受光センサとの位置関係に基づき予め求められている。
【００１４】
発明の１又は複数の実施形態により与えられる利点及び特徴は以下に与えられる詳細な説明及び添付図面から十分に理解される。これら詳細な説明及び添付図面は、例としてのみ与えられるものであり本発明の限定の定義として意図されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の一実施形態の測色計の構成を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１の測色計が被測定物を測定している状態を概略的に示す図である。
【図３】各フィルタが貼り付けられた２次元センサを概略的に示す図である。
【図４】図３にロッドレンズを付加した図である。
【図５】２次元センサを光軸に直交する方向に横から見た図４のＡ矢視図である。
【図６】標準表示装置に赤を表示させたときの測色計の出力データを示す図である。
【図７】算出されたＸフィルタの領域を概略的に示す図である。
【図８】ロッドレンズの周囲に配置された光ファイバを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図９】ロッドレンズの周囲に配置された光ファイバを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図１０】ロッドレンズの周囲に配置された光ファイバを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図１１】ロッドレンズに対して２次元センサと反対側に集光レンズが配置された実施形態を概略的に示す図である。
【図１２】ハーフミラーと２次元センサを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図１３】被測定物の表示画面と２次元センサとの種々の位置関係の例を概略的に示す図である。
【図１４】被測定物の表示画面と２次元センサとの種々の位置関係の例を概略的に示す図である。
【図１５】被測定物の表示画面と２次元センサとの種々の位置関係の例を概略的に示す図である。
【図１６】被測定物の表示画面と２次元センサとの種々の位置関係の例を概略的に示す図である。
【図１７】出力部が付け加えられた測色計を概略的に示すブロック図である。
【図１８】バンドルファイバを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図１９】バンドルファイバの入射面を概略的に示す図である。
【図２０】バンドルファイバの出射面を概略的に示す図である。
【図２１】６個のフィルタを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図２２】６個のフィルタを備える実施形態を概略的に示す図である。
【図２３】各フィルタの分光透過率特性を示す図である。
【図２４】図２２と異なる６個のフィルタの配置例を示す図である。
【図２５】面積に代えて各フィルタの個数を変更する例を示す図である。
【図２６】小面積の複数のフィルタを用いた例を示す図である。
【図２７】フィルタの間に遮光壁が設けられない場合の課題を説明する図である。
【図２８】フィルタの間に遮光壁が設けられた実施形態を概略的に示す図である。
【図２９】遮光壁の別の構成例を示す図である。
【図３０】２次元センサの受光面にカラーフィルタが貼り付けられた状態を概略的に示す図である。
【図３１】２次元センサの受光面にカラーフィルタが貼り付けられた状態を概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面を参照して、本発明の１又は複数の実施形態が説明される。しかし、発明の範囲は、開示された実施形態に限定されない。
【００１７】
（本発明の基礎となった知見）
図３０、図３１は、それぞれ、２次元センサの受光面にカラーフィルタが貼り付けられた状態を概略的に示す図である。最初に、図３０、図３１を用いて、本発明の基礎となった知見が説明される。
【００１８】
測定領域を広げた測色計を実現するためには、例えば図３０に示されるように、カラーフィルタ１Ｘ，１Ｙ，１Ｚが受光面に貼り付けられたモノクロの２次元センサ２を用いることが考えられる。この測色計では、測定時に、２次元センサ２の計算領域２Ｘから出力される受光信号に基づき、カラーフィルタ１Ｘに応じた測光量が計算され、計算領域２Ｙから出力される受光信号に基づき、カラーフィルタ１Ｙに応じた測光量が計算され、計算領域２Ｚから出力される受光信号に基づき、カラーフィルタ１Ｚに応じた測光量が計算される。
【００１９】
しかしながら、カラーフィルタ１Ｘ，１Ｙ，１Ｚを２次元センサ２の受光面に貼り付ける際に、例えば図３１に示されるように、カラーフィルタ１Ｘ，１Ｙ，１Ｚの貼り付け位置がずれて、カラーフィルタ１Ｙが配置されるべき計算領域２Ｙに、カラーフィルタ１Ｘの一部が配置されてしまうこともあり得る。
【００２０】
この場合、カラーフィルタ１Ｘを通った光により出力される受光信号が計算領域２Ｙに含まれることになる。また、カラーフィルタ１Ｘとカラーフィルタ１Ｙとの間の隙間を通った光により出力される受光信号も、計算領域２Ｙに含まれることになる。この場合、上述のように、計算領域２Ｙから出力される受光信号に基づき、カラーフィルタ１Ｙに応じた測光量が計算されるため、測定誤差となる。
【００２１】
一方、貼り付け位置の誤差を予め想定して、計算領域の面積を小さくすると、計算に使用する光量が減少するため、従来技術と変わらなくなり、低輝度の測定性能を向上することが困難になる。
【００２２】
以上の考察により、本発明者は、２次元センサを搭載しつつ、高精度に測定することができる発明を想到するに至った。
【００２３】
（実施の形態）
以下、本発明に係る実施の一形態が図面を用いて説明される。なお、各図において、同一の構成には同一の符号が付され、適宜、その説明は省略される。
【００２４】
図１は、本発明の一実施形態の測色計の構成を概略的に示すブロック図である。図２は、図１に示される測色計が被測定物を測定している状態を概略的に示す図である。
【００２５】
図２において、本実施形態では、被測定物である表示装置１０は、例えば有機ＥＬディスプレイである。なお、表示装置１０は、有機ＥＬディスプレイに限られず、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどの他のディスプレイでもよい。
【００２６】
本実施形態の測色計２０は、表示装置１０の表示画面１１から出射される測定光１２を受光する。測色計２０は、図１に示されるように、レンズ３０と、インテグレータ光学系４０と、Ｘフィルタ５１と、Ｙフィルタ５２と、Ｚフィルタ５３と、２次元センサ６０と、演算制御部７０と、入力部７５と、記憶部８０とを備える。
【００２７】
レンズ３０（導光部の一例）は、表示装置１０の表示画面１１に対向するように配置される。レンズ３０は、表示装置１０の表示画面１１から出射される測定光１２を集束してインテグレータ光学系４０の光入射面に導く。レンズ３０は、１つのレンズで構成されていてもよく、複数のレンズで構成されていてもよい。
【００２８】
インテグレータ光学系４０（ミキシング部の一例）は、本実施形態では、四角柱形状のロッドレンズで構成されている。以下では、インテグレータ光学系４０はロッドレンズ４０とも称される。ロッドレンズ４０に入射した測定光１２がロッドレンズ４０の側面で全反射を繰り返すことにより表示装置１０上の色度ムラ、輝度ムラがミキシングされて、２次元センサ６０の受光面上では、照度分布が均一化される。
【００２９】
ロッドレンズ４０の光軸Ｌ０方向の長さは、光軸Ｌ０に直交する方向の長さの５倍以上であることが好ましい。これによって、測定光１２は、ある程度以上の回数繰り返してロッドレンズ４０の側面で全反射されることとなる。その結果、照度分布を均一化させることが可能となる。
【００３０】
なお、インテグレータ光学系４０は、蠅の目レンズで構成されていてもよい。蠅の目レンズは、正方形又は正六角形のレンズを多数敷き詰めた構造を有し、この構造によって光源像を多数発生させる。蠅の目レンズは、少しずつ位置をずらした光源像を重ね合わせた効果によって、光照射面の照度分布を均一化する。
【００３１】
Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３は、それぞれ、モノクロ２次元センサ６０の分光応答度との合成分光応答度が国際照明委員会（ＣＩＥ）の等色関数ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）に一致するような分光透過率特性を有する。Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３は、薄膜状に形成され、２次元センサ６０の受光面に貼り付けられる。２次元センサ６０（受光センサの一例）は、ＣＭＯＳセンサ又はＣＣＤセンサで構成され、二次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有する。
【００３２】
図３は、フィルタ５１，５２，５３が貼り付けられた２次元センサ６０を概略的に示す図である。図４は、図３にロッドレンズ４０を付加した図である。図５は、２次元センサ６０を光軸Ｌ０に直交する方向に横から見た図４のＡ矢視図である。図３、図４は、２次元センサ６０を図５の光軸Ｌ０方向に表示装置１０側から見た図である。
【００３３】
図３、図４に示されるように、本実施形態では、２次元センサ６０の左上の画素座標は（１，１）であり、右下の画素座標は（１９２０，１０８０）であり、２次元センサ６０の解像度は１９２０×１０８０となっている。
【００３４】
Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３は、図３、図４に示されるように、２次元センサ６０の１９２０×１０８０の画素領域の内部において、ｘ軸方向に並んで配置されている。Ｘフィルタ５１とＹフィルタ５２との間、Ｙフィルタ５２とＺフィルタ５３との間には、それぞれ若干の隙間が設けられている。
【００３５】
ロッドレンズ４０の四角形状の入射面４０ａ（出射面４０ｂ）の各辺の長さは、図４に示されるように、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３が貼り付けられたフィルタ領域の内側に収まるように設定されている。
【００３６】
２次元センサ６０のサイズは、例えば１２ｍｍ×２０ｍｍである。ロッドレンズ４０の四角形状の入射面４０ａ（出射面４０ｂ）の各辺の長さは、例えば１０ｍｍ×１５ｍｍである。ロッドレンズ４０の光軸Ｌ０方向の長さは、例えば５０ｍｍである。
【００３７】
図１に戻って、入力部７５は、例えばキーボード又はマウスを含む。測定者（ユーザ）は、入力部７５を用いて、例えば校正用の三刺激値（後述）を入力する。記憶部８０は、半導体メモリ又はハードディスク等を含む。記憶部８０は、２次元センサ６０に貼り付けられているＸフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の位置情報を予め記憶する。記憶部８０は、入力部７５を用いて測定者により入力された、三刺激値の校正データを記憶する。記憶部８０は、測定者（ユーザ）により予め求められた校正用の三刺激値又は補正係数（後述の行列Ａ）を記憶する。
【００３８】
演算制御部７０は、例えば中央演算処理装置（ＣＰＵ）を含む。演算制御部７０は、記憶部８０に記憶されているプログラムに従って動作することで、２次元センサ６０から出力される受光信号と、記憶部８０に記憶されている上記位置情報及び上記補正係数とから、例えばＬｕｖ表色系での測定光１２の色を算出する。
【００３９】
２次元センサ６０に貼り付けられているＸフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の位置情報は、測色計２０の生産段階で予め算出されて記憶部８０に記憶される。Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の校正の為の三刺激値又は補正係数は、測色計２０のユーザにより実際の測定前に予め算出されて記憶部８０に記憶される。ここで、これらを算出する手法が説明される。
【００４０】
まず、図６、図７を用いて、測色計２０の生産段階でＸフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の位置情報を算出する手法が説明される。この位置情報を算出する際には、例えばＬｕ’ｖ’表色系におけるＬ値、ｕ’値、ｖ’値が既知の表示装置（以下、「標準表示装置」と称される）を測色計２０により測定する。
【００４１】
図６は、標準表示装置に例えば赤の原色を表示させたときの測色計２０の出力データを示す図である。図７は、算出されたＸフィルタの領域（２次元センサ６０上の貼り付け位置）を概略的に示す図である。Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の位置情報は、以下の処理Ｓ１〜Ｓ８によって算出され、記憶部８０に記憶される。
【００４２】
（処理Ｓ１）
まず、標準表示装置の表示画面全体に赤の原色を表示させる。Ｘフィルタ５１は、主に赤色に対する分光透過率が高い。そこで、これを利用して、赤色を表示させることによりＸフィルタ５１の領域を特定する。
【００４３】
（処理Ｓ２）
赤色が表示された標準表示装置の表示画面を、測色計２０の２次元センサ６０で撮像する。このときの２次元センサ６０の出力をＳ（ｘ，ｙ）とする。図６では、説明の簡単のために，ｙ座標が５４０におけるｘ軸方向の断面が示されている。
【００４４】
（処理Ｓ３）
２次元センサ６０から出力される受光信号において、予め設定された閾値Ｔｈ＿ｒ以上になる、ｘ座標が最小の画素番号Ｐｒ（ｘｍｉｎ，５４０）とｘ座標が最大の画素番号Ｐｒ（ｘｍａｘ，５４０）とを求める。
【００４５】
（処理Ｓ４）
ｙ軸方向にｙ＝１〜１０８０までｙ座標を順次変更して、処理Ｓ２，Ｓ３と同様の操作を行う。これによって、図7に示されるように、２次元センサ６０上における、Ｘフィルタ５１が貼り付けられた画素領域が特定される。
【００４６】
（処理Ｓ５）
三刺激値を演算する際に、Ｘフィルタ５１の計算に使用する画素数Ｎｘを式（１）により算出する。
Ｎｘ＝Σ｛Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ）−Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）｝  （１）
ここで、ｊ＝ｕ〜ｂである。
【００４７】
（処理Ｓ６）
処理Ｓ４で求めたＰｒ（ｘｍｉｎ，ｊ），Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂと、処理Ｓ５で求めた画素数Ｎｘとを、測色計２０の記憶部８０に記憶させる。
【００４８】
（処理Ｓ７）
次に、標準表示装置の表示画面全体に緑の原色を表示させる。Ｙフィルタ５２は、主に緑色に対する分光透過率が高い。そこで、これを利用して、緑色を表示させることによりＹフィルタ５２の領域を特定する。すなわち、処理Ｓ２〜Ｓ５と同様の動作を行う。そして、Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ），Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂと、画素数Ｎｙとを、測色計２０の記憶部８０に記憶させる。
【００４９】
（処理Ｓ８）
次に、標準表示装置の表示画面全体に青の原色を表示させる。Ｚフィルタ５３は、主に青色に対する分光透過率が高い。そこで、これを利用して、青色を表示させることによりＺフィルタ５３の領域を特定する。すなわち、処理Ｓ２〜Ｓ５と同様の動作を行う。そして、Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ），Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂと、画素数Ｎｚとを、測色計２０の記憶部８０に記憶させる。
【００５０】
本実施形態において、Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂは、第１部分画素領域に含まれる、演算に使用する画素群の一例であり、Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂは、第２部分画素領域に含まれる、演算に使用する画素群の一例であり、Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ），ｊ＝ｕ〜ｂは、第３部分画素領域に含まれる、演算に使用する画素群の一例である。
【００５１】
次に、測色計２０のユーザが、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の補正係数を算出する手法が説明される。２次元センサ６０の受光面に貼り付けられたフィルタ５１，５２，５３と、モノクロ２次元センサ６０の分光応答度との合成分光応答度は、必ずしもＣＩＥの等色関数と一致しない。そこで、合成分光応答度が等色関数と一致しない場合でも正確に色度を測定するために、分光放射輝度計を用いてマトリックス校正データを求める方法が紹介される。
【００５２】
まず、測色計２０のユーザは、標準表示装置で三原色を表示した場合の三刺激値を、予め分光放射輝度計などを用いて実測しておく。より具体的には、標準表示装置で赤色を表示した場合の分光放射輝度計で測定した三刺激値をＸｒ，Ｙｒ，Ｚｒとする。同様に標準表示装置で緑色を表示した場合の分光放射輝度計で測定した三刺激値をＸｇ，Ｙｇ，Ｚｇとする。同様に標準表示装置で青色を表示した場合の分光放射輝度計で測定した三刺激値をＸｂ，Ｙｂ，Ｚｂとする。測色計２０のユーザは、入力部７５を用いて、測定した各三刺激値Ｘｒ，Ｙｒ，Ｚｒ，Ｘｇ，Ｙｇ，Ｚｇ，Ｘｂ，Ｙｂ，Ｚｂを入力する。演算制御部７０は、入力部７５を用いて入力された各三刺激値Ｘｒ，Ｙｒ，Ｚｒ，Ｘｇ，Ｙｇ，Ｚｇ，Ｘｂ，Ｙｂ，Ｚｂを記憶部８０に記憶させる。本実施形態において、入力部７５を用いて入力された各三刺激値Ｘｒ，Ｙｒ，Ｚｒ，Ｘｇ，Ｙｇ，Ｚｇ，Ｘｂ，Ｙｂ，Ｚｂは、校正用データの一例である。
【００５３】
次に、標準表示装置の表示画面全体で赤の原色を表示し、測色計２０の２次元センサ６０で撮像する。このときの２次元センサ６０の出力をＳ（ｘ，ｙ）とする。
【００５４】
そして、
Ｘｒ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｘ  （２）
Ｙｒ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｙ  （３）
Ｚｒ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｚ  （４）
上記式（２）〜（４）によって、赤色表示時の三刺激値Ｘｒ＿２ｄ，Ｙｒ＿２ｄ，Ｚｒ＿２ｄを算出する。
【００５５】
例えば式（２）は、全体の測定値Ｓ（ｘ，ｙ）、ｘ＝１〜１９２０、ｙ＝１〜１０８０のデータ、つまり１９２０×１０８０個のデータのうち、Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）からＰｒ（ｘｍａｘ，ｊ）まで（但し、ｊ＝ｕ〜ｂ）の範囲のデータの総和を画素数Ｎｘで除算した値がＸｒ＿２ｄであるということを意味する。
【００５６】
次に、同様に、標準表示装置の表示画面全体で緑の原色を表示し、
Ｘｇ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｘ  （５）
Ｙｇ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｙ  （６）
Ｚｇ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｚ  （７）
上記式（５）〜（７）によって、緑色表示時の三刺激値Ｘｇ＿２ｄ，Ｙｇ＿２ｄ，Ｚｇ＿２ｄを算出する。
【００５７】
次に、同様に、標準表示装置の表示画面全体で青の原色を表示し、
Ｘｂ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｘ  （８）
Ｙｂ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｙ  （９）
Ｚｂ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｚ  （１０）
上記式（８）〜（１０）によって、青色表示時の三刺激値Ｘｂ＿２ｄ，Ｙｂ＿２ｄ，Ｚｂ＿２ｄを算出する。
【００５８】
以上より、以下の関係式（１１）〜（１３）が成立する。すなわち、赤色表示時の三刺激値に関し、
Ｘｒ              Ｘｒ＿２ｄ
Ｙｒ  ＝  Ａ  ×  Ｙｒ＿２ｄ    （１１）
Ｚｒ              Ｚｒ＿２ｄ
が成立し、緑色表示時の三刺激値に関し、
Ｘｇ              Ｘｇ＿２ｄ
Ｙｇ  ＝  Ａ  ×  Ｙｇ＿２ｄ    （１２）
Ｚｇ              Ｚｇ＿２ｄ
が成立し、青色表示時の三刺激値に関し、
Ｘｂ              Ｘｂ＿２ｄ
Ｙｂ  ＝  Ａ  ×  Ｙｂ＿２ｄ    （１３）
Ｚｂ              Ｚｂ＿２ｄ
が成立する。
【００５９】
上記式（１１）〜（１３）において、Ａは３×３の行列であり、９個の要素（未知数）を含む。その結果、式が９個で未知数が９個であるので、これらの式を解くことにより、行列Ａの要素を算出することができる。ユーザは、上述のように、入力部７５を用いて、校正用の三刺激値を測色計２０に入力する。演算制御部７０は、この三刺激値を基に行列Ａを算出し、算出した行列Ａを補正係数として記憶部８０に記憶させる。なお、ユーザは、行列Ａを測色計２０の外部で算出しておき、入力部７５を用いて、測色計２０に入力してもよい。演算制御部７０は、入力された行列Ａを記憶部８０に記憶させてもよい。本実施形態において、行列Ａは、第１〜第３部分画素領域に含まれる、演算に使用する各画素群に対応する校正データの一例である。
【００６０】
次に、測色計２０により実際に被測定物である表示装置１０を測定するときの手順が説明される。
【００６１】
まず、表示装置１０の表示画面１１に白色、赤色等の測定する内容を表示させる。次に、測色計２０で表示装置１０を撮像する。このときの２次元センサ６０の出力をＳ（ｘ，ｙ）とする。
【００６２】
次に、校正前の三刺激値Ｘ＿２ｄ，Ｙ＿２ｄ，Ｚ＿２ｄを、記憶部８０に記憶されているフィルタ５１，５２，５３の貼り付け位置の情報を用いて、
Ｘ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｒ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｘ  （１４）
Ｙ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｇ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｇ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｙ  （１５）
Ｚ＿２ｄ＝ΣΣ｛Ｓ（ｘ，ｙ）｝
ｘ＝Ｐｂ（ｘｍｉｎ，ｊ）〜Ｐｂ（ｘｍａｘ，ｊ）＆ｊ＝ｕ〜ｂ／Ｎｚ  （１６）
上記式（１４）〜（１６）によって算出する。
【００６３】
最後に、分光放射輝度計で校正後の真の三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを、記憶部８０に記憶されている補正係数である行列Ａを用いて、
Ｘ              Ｘ＿２ｄ
Ｙ  ＝  Ａ  ×  Ｙ＿２ｄ    （１７）
Ｚ              Ｚ＿２ｄ
上記式（１７）によって算出する。
【００６４】
以上説明されたように、本実施形態では、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の２次元センサ６０への貼り付け位置を予め算出しておき、記憶部８０に記憶している。また、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の補正係数を予め算出しておき、記憶部８０に記憶している。したがって、被測定物である表示装置１０の三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを精度良く算出することができ、これらの三刺激値から演算により輝度、色度（Ｌｕ’ｖ’）を求めることができる。
【００６５】
また、本実施形態では、被測定物である表示装置１０と２次元センサ６０との間にインテグレータ光学系４０を配置し、測定光１２をインテグレータ光学系４０に入射させることにより、図１の測定光１２の照度分布を均一化している。
【００６６】
一般に、被測定物の表示画面は、必ずしも均一な色度又は輝度でない可能性があり、この不均一性により測定値が影響を受ける。特に、本実施形態のように、二次元の画素領域を有する２次元センサ６０を用いて、２次元センサ６０に入射する測定光１２が被測定物の広い測定領域から出射されると、空間的なムラが測定精度に大きな影響を及ぼす。
【００６７】
これに対して、本実施形態では、インテグレータ光学系４０を用いて照度分布を均一化しているため、被測定物である表示装置１０の表示画面１１から出射される測定光１２に色度ムラ又は輝度ムラなどの空間的なムラがあったとしても、測定精度に対するムラの影響を低減することができる。
【００６８】
このように、本実施形態によれば、２次元センサ６０を搭載しつつ、高精度に測定することが可能になる。
【００６９】
（変形された実施形態）
（１）上記実施形態のように、被測定物である表示装置１０の測定領域が大きくなると、測色計２０と表示装置１０との位置関係によって、測色計２０は、表示画面１１以外の部分を測定してしまう可能性がある。その場合には、正確な色度、輝度を測定できなくなる。特に、表示装置１０の生産ラインにおいて、測色計２０を用いて表示装置１０の色検査を行う場合には、測定すべき表示装置１０が測色計２０に対して配置される位置が個々の表示装置１０によって異なることがあり得る。
【００７０】
従来方式であれば、測定領域が狭いので、測定位置が多少ずれても余裕があるが、測定領域が大きくなると許容できなくなる。上述のように、従来は、測定領域の直径が例えば１０ｍｍであり、被測定物の表示装置の大きさより遥かに小さく、且つ、被測定物の表示装置が測色計に近接して設置される。このため、目視で位置決めしても、表示画面以外の背景を撮像するような状況は起こらなかった。
【００７１】
そこで、表示画面１１上の２次元センサ６０が撮像している測定領域を特定し、測定領域が表示領域から外れている等の場合には警告を出力することが考えられる。
【００７２】
しかしながら、上記実施形態では、２次元センサ６０とレンズ３０との間にインテグレータ光学系４０を配置して、空間的に測定光１２をミキシングしている。このミキシングの影響により、２次元センサ６０で測定された画像情報には、表示装置１０のどの部分を測定しているのかという位置情報がなくなっている。その結果、上記実施形態の測色計２０では、表示画面１１における測定領域を特定できない。この課題を解決するために、図８〜図１２に示されるように、表示画面１１における測定領域を特定するための構成を上記実施形態の測色計２０に付け加えてもよい。
【００７３】
図８〜図１０は、ロッドレンズ４０の周囲に配置された光ファイバ４２を備える実施形態を概略的に示す図である。図８は光軸Ｌ０に直交する方向から見た側面図である。図９、図１０は光軸Ｌ０方向に被測定物（表示装置１０）側から見た正面図である。図９は、ロッドレンズ４０及び光ファイバ４２のみを示す。図１０は、ロッドレンズ４０、光ファイバ４２、２次元センサ６０及びフィルタ５１〜５３を示して、光ファイバ４２とフィルタ５１〜５３との位置関係を表している。
【００７４】
２次元センサ６０は、光ファイバ４２を介して、ミキシングされていない測定光１２を受光することができる。したがって、図８〜図１０に示される実施形態では、演算制御部７０は、２次元センサ６０によって、位置情報を含む画像信号を取得することができるので、測定領域が表示装置１０の範囲外になっていないことを検出できる。
【００７５】
図１１は、ロッドレンズ４０に対して２次元センサ６０と反対側に集光レンズ４３が配置された実施形態を概略的に示す図である。
【００７６】
集光レンズ４３（受光光学系の一例）は、入射する測定光１２を集束する。図１１の実施形態では、２次元センサ６０の受光面が集光レンズ４３の結像位置に配置され、ロッドレンズ４０の入射面４０ａが集光レンズ４３の結像位置と異なる位置に配置される。
【００７７】
２次元センサ６０が集光レンズ４３の結像位置に配置されているため、演算制御部７０は、２次元センサ６０を介して、位置情報を含む画像信号を取得することができる。但し、集光レンズ４３からの測定光１２は、ロッドレンズ４０によって邪魔されるので、２次元センサ６０に結像する光量は少なくなるが、測定領域を判定するだけであるため、支障はない。
【００７８】
図１２は、ハーフミラー３２と２次元センサ６２とを備える実施形態を概略的に示す図である。ハーフミラー３２（分岐部の一例）は、ロッドレンズ４０に対して２次元センサ６０と反対側に配置されている。ハーフミラー３２は、測定光１２の一部を透過して２次元センサ６０に導き、残りを反射して２次元センサ６２に導く。
【００７９】
２次元センサ６２（画像位置確認用センサの一例）は、ハーフミラー３２により反射された測定光１２、つまりロッドレンズ４０によりミキシングされていない測定光１２を受光する。演算制御部７０は、２次元センサ６２を介して、位置情報を含む画像信号を取得することができる。
【００８０】
なお、表示領域と測定領域との位置関係を検出できればよいため、２次元センサ６２は低解像度のセンサでもよい。また、２次元センサ６２は、多くの光量を必要としないので、ハーフミラー３２として、透過光と反射光との光量比率が５：５ではなくて、１０：１等の透過光と反射光との光量比率に差があるミラーを用いてもよい。
【００８１】
また、ハーフミラー３２に代えて、図１２のハーフミラー３２の位置と、測定光１２の光路から外れた位置との間で移動可能な可動式ミラーを用いてもよい。
【００８２】
次に、図８〜図１２に示されるように、表示画面１１における測定領域を特定するための構成を上記実施形態の測色計２０に付け加えている場合において、測定領域がずれている場合に警告を出力する実施形態が説明される。
【００８３】
図１３〜図１６は、被測定物の表示画面１１と２次元センサ６０との種々の位置関係の例を概略的に示す図である。図１７は、出力部９０が付け加えられた測色計２０を概略的に示すブロック図である。図１３〜図１７の実施形態は、図８〜図１０の実施形態と同様に、ロッドレンズ４０の周囲に配置された光ファイバ４２を備える。図１３〜図１６において、表示領域１１ａは、レンズ３０によって形成された表示装置１０の表示画面１１の像に対応する。
【００８４】
図１７において、出力部９０は、例えば電子ブザー等を含み、警告音を出力する。２次元センサ６０は、光ファイバ４２を通る測定光１２、つまりロッドレンズ４０によってミキシングされていない測定光１２を受光する。演算制御部７０は、２次元センサ６０によって、位置情報を含む受光信号を取得する。演算制御部７０は、取得した受光信号に基づき、被測定物の表示装置１０の位置がずれていれば、出力部９０を制御して、出力部９０から警告音を出力させる。
【００８５】
図１３に示される状態では、被測定物である表示装置１０が測色計２０に対して正常な位置に配置されている。このため、表示領域１１ａは、光ファイバ４２の領域より大きく、フィルタ５１〜５３の領域より小さくなっている。したがって、演算制御部７０は、表示装置１０の配置位置が正常であると判定し、出力部９０から警告音を出力させない。
【００８６】
図１４に示される状態では、表示装置１０の配置位置がずれて、表示領域１１ａがフィルタ５１〜５３の領域に対してずれている。したがって、演算制御部７０は、表示装置１０の配置位置が正常状態からずれていると判定し、出力部９０から警告音を出力させる。
【００８７】
図１５に示される状態では、表示領域１１ａが小さくなって、ロッドレンズ４０に対応する領域（測定領域の一例）よりも小さくなっている。この状態では、２次元センサ６０から出力される受光信号のうち、表示領域１１ａに対応する領域以外の領域の信号レベルがゼロになる。その場合、想定より輝度ムラの大きい測定光がロッドレンズ４０に入射されてしまう。例えば、表示領域１１ａに対応する領域から全白が入射され、表示領域１１ａに対応する領域以外の領域から全黒が入射されると、輝度ムラの非常に大きい測定光がロッドレンズ４０に入射されることになる。この場合、測定光を十分にミキシングすることが困難であることから、正確な測定を行うことが困難になる。尚、この状態では、三刺激値を演算する領域の外側にある位置情報を持った光ファイバ４２を通った光による２次元センサ６０からの信号出力が全てゼロになっているので、測色計２０は正確に色度及び輝度を測れないことが判り、演算制御部７０は、出力部９０から警告音を出力させて、測定者に警告を通知することができる。
【００８８】
図１６に示される状態では、ロッドレンズ４０に対応する領域（測定領域の一例）の一部が、表示領域１１ａと重なっていない。したがって、この表示領域１１ａと重なっていない領域のロッドレンズ４０には、図１５の場合と同様に、全黒が入射されるので、正確な測定を行うことが困難になる。この状態では、三刺激値を演算する領域の外側にある位置情報を持った光ファイバ４２を通った光による２次元センサ６０からの信号出力の一部がゼロになっているので、測色計２０は正確に色度及び輝度を測れないことが判る。そこで、演算制御部７０は、出力部９０から警告音を出力させて、測定者に警告を通知する。
【００８９】
（２）上記実施形態では、インテグレータ光学系４０を備えているが、測定光１２をミキシングする構成は、インテグレータ光学系４０に限られない。
【００９０】
図１８は、インテグレータ光学系４０に代えて、バンドルファイバ４４を備える実施形態を概略的に示す図である。図１９は、バンドルファイバ４４の入射面４４ａを概略的に示す図である。図２０は、バンドルファイバ４４の出射面４４ｂを概略的に示す図であり、バンドルファイバ４４の内部から２次元センサ６０に向かって見た状態が示されている。図１９には、光の入射領域が示され、図２０には、光の出射領域が示されている。
【００９１】
図１９、図２０に示されるように、入射面４４ａの上段の左の領域Ａ１、中央の領域Ａ２、右の領域Ａ３から入射した光は、それぞれ、出射面４４ｂの上段の左の領域Ａ１、中央の領域Ａ２、右の領域Ａ３から出射している。一方、入射面４４ａの中段の左の領域Ｂ１、中央の領域Ｂ２、右の領域Ｂ３から入射した光は、それぞれ位置がずれて、出射面４４ｂの中段の右の領域Ｂ１、左の領域Ｂ２、中央の領域Ｂ３から出射している。同様に、入射面４４ａの下段の左の領域Ｃ１、中央の領域Ｃ２、右の領域Ｃ３から入射した光は、それぞれ位置がずれて、出射面４４ｂの下段の中央の領域Ｃ１、右の領域Ｃ２、左の領域Ｃ３から出射している。
【００９２】
このように、図１８〜図２０に示される実施形態では、バンドルファイバ４４（ミキシング部の一例）を用いることによって、測定光１２の入射面４４ａでの位置と、２次元センサ６０側での出射面４４ｂでの位置とを変化させている。これによって、この実施形態によれば、表示装置１０の表示画面１１における色度又は輝度の空間的なムラの影響を低減している。
【００９３】
（３）上記実施形態では、測色計２０は、２次元センサ６０の分光応答度との合成分光応答度がＣＩＥの等色関数ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）にそれぞれ一致するような分光透過率特性を有するＸフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３を備えているが、これに限られない。例えば、互いに異なる分光透過率特性を有する４個以上のフィルタを備えるマルチバンドタイプの測色計であってもよい。
【００９４】
図２１、図２２は、６個のフィルタを備える実施形態を概略的に示す図である。図２１は、光軸Ｌ０に直交する方向から見た状態を示し、図２２は、光軸Ｌ０方向に見た状態を示す。図２３は、各フィルタの分光透過率特性を示す図である。図２３において、横軸は波長を示し、縦軸は分光透過率を示す。
【００９５】
６個のフィルタ５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄ，５４ｅ，５４ｆは、それぞれ、図２３に示される分光透過率特性Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ６を有する。
【００９６】
この実施形態でも、上記実施形態と同様に、分光透過率特性Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ６にそれぞれ適切な６種類の色を標準表示装置に表示させて、フィルタ５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄ，５４ｅ，５４ｆの貼り付け位置をそれぞれ求め、記憶部８０に記憶させておけばよい。
【００９７】
なお、図２２では、２次元センサ６０上において、分光透過率の中心波長の順番にフィルタ５４ａ〜５４ｆが配置されている。すなわち、図２２において、分光透過率の中心波長が最短のフィルタ５４ａが左上に配置され、分光透過率の中心波長が次に短いフィルタ５４ｂがフィルタ５４ａの下に配置され、分光透過率の中心波長が次に短いフィルタ５４ｃがフィルタ５４ａの右に配置され、分光透過率の中心波長が次に短いフィルタ５４ｄがフィルタ５４ｃの下に配置され、分光透過率の中心波長が次に短いフィルタ５４ｅがフィルタ５４ｃの右に配置され、分光透過率の中心波長が最長のフィルタ５４ｆがフィルタ５４ｅの下に配置されている。しかし、フィルタ５４ａ〜５４ｆの配置位置は、これに限られない。
【００９８】
図２４は、図２２と異なる６個のフィルタ５４ａ〜５４ｆの配置例を示す図である。図２４の配置例では、図２２と同様に、分光透過率の中心波長が最短のフィルタ５４ａが左上に配置されているが、フィルタ５４ａの下に、分光透過率の中心波長が最長のフィルタ５４ｆが配置されている。フィルタ５４ｃ，５４ｄ，５４ｅの配置位置は、図２２と同様である。分光透過率の中心波長が２番目に長いフィルタ５４ｅの下に、分光透過率の中心波長が２番目に短いフィルタ５４ｂが配置されている。
【００９９】
図２４に示されるように、２次元センサ６０上に配置するフィルタ５４ａ〜５４ｆの順番を、中心波長の順番にせずに、波長が短い側の２つを互いに引き離して配置し、波長が長い側の２つを互いに引き離して配置して、２次元センサ６０の左右に波長が対称的な位置になるように配置してもよい。このような配置によって、表示装置１０の表示画面１１における色度又は輝度の空間的なムラの影響を低減することができる。すなわち。２次元センサ６０上において、受光波長が最も異なるフィルタが近い位置に配置されているため、空間的なムラの影響を少なくすることができる。
【０１００】
（４）上記実施形態では、例えば図３に示されるように、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３は、ほぼ同じ面積を有しているが、これに限られない。一般に、２次元センサの短波長の量子効率は、長波長の量子効率より悪いので、短波長側は、多くの光量をセンサに導かないと、高いＳ／Ｎを実現することができない。そこで、例えば、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３の面積を、それぞれの受光感度に応じた値としてもよい。
【０１０１】
例えば、２次元センサ６０のモノクロの分光感度をＳｍ（λ）とし、フィルタ５１，５２，５３の分光透過率特性をそれぞれＦｘ（λ），Ｆｙ（λ），Ｆｚ（λ）とすると、それぞれの合成分光応答度が等色関数ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）に一致するので、
ｘ（λ）＝Ｆｘ（λ）×Ｓｍ（λ）  （１８）
ｙ（λ）＝Ｆｙ（λ）×Ｓｍ（λ）  （１９）
ｚ（λ）＝Ｆｚ（λ）×Ｓｍ（λ）  （２０）
上記式（１８）、（１９）、（２０）が成立する。
【０１０２】
ここで、被測定物である表示装置１０の分光放射輝度をＬｅ（λ）とし、Ｘフィルタ５１の面積を１（基準値）とし、Ｙフィルタ５２の面積をＡｙとし、Ｚフィルタ５３の面積をＡｚとすると、以下の式（２１）を満足する面積比を採用すればよい。
【０１０３】
∫Ｆｘ（λ）×Ｓｍ（λ）×Ｌｅ（λ）ｄλ
＝Ａｙ×∫Ｆｙ（λ）×Ｓｍ（λ）×Ｌｅ（λ）ｄλ
＝Ａｚ×∫Ｆｚ（λ）×Ｓｍ（λ）×Ｌｅ（λ）ｄλ  （２１）
【０１０４】
上記式（２１）を満足する面積比１：Ａｙ：Ａｚのフィルタ５１，５２，５３を採用することにより、２次元センサ６０の各フィルタ５１，５２，５３の領域に入射する光量をほぼ同じ値にすることができる。その結果、測色計２０全体としてのＳ／Ｎの向上を図ることができる。
【０１０５】
図２５は、面積に代えて各フィルタの個数を変更する例を示す図である。一般に、Ｚフィルタ５３の受光感度は、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２の受光感度に比べて低い。そこで、図２５の実施形態では、各フィルタ５１，５２，５３を同じ面積にした上で、２個のＺフィルタ５３を使用している。図２５の実施形態でも、図３の実施形態に比べて、２次元センサ６０の各フィルタ５１，５２，５３の領域に入射する光量の差異を小さくすることができる。その結果、測色計２０全体としてのＳ／Ｎの向上を図ることができる。
【０１０６】
（５）上記実施形態では、例えば図３に示されるように、Ｘフィルタ５１、Ｙフィルタ５２、Ｚフィルタ５３として、比較的大きい面積のフィルタを１個ずつ用いているが、これに限られない。
【０１０７】
図２６は、小面積の複数のフィルタ５１，５２，５３を用いた例を示す図である。図２６では、横に並んだフィルタ５１，５２，５３の組が、横に３個、縦に５個、２次元センサ６０上に配置されている。例えば、２次元センサ６０のサイズを１０ｍｍ×１８ｍｍとし、フィルタ５１，５２，５３のサイズを約□２ｍｍとしてもよい。なお、３×５個に限られず、ｍ×ｎ個（ｍ，ｎは２以上の整数）としてもよい。
【０１０８】
（６）上記図１１の実施形態において、集光レンズ４３として倍率が可変のズームレンズを用いてもよい。画像処理の結果、表示領域１１ａ（例えば図１３）が小さくなる場合には、集光レンズ４３の倍率を増大することによって、表示領域１１ａの面積を測定領域の面積より大きくすることができる。
【０１０９】
（７）上記実施形態において、各フィルタ５１，５２，５３の間に光を遮断する遮光壁を設けてもよい。
【０１１０】
図２７は、フィルタの間に遮光壁が設けられていない場合の課題を説明する図である。図２８は、フィルタの間に遮光壁が設けられた実施形態を概略的に示す図である。図２９は、遮光壁の別の構成例を示す図である。
【０１１１】
図２７において、インテグレータ光学系（ロッドレンズ）４０の出射面４０ｂから出射される測定光１２ａ，１２ｂは、出射される前にロッドレンズ４０の内部において側面４０ｃで全反射を繰り返している。したがって、測定光１２ａのように２次元センサ６０に対して垂直に入射する光だけではなくて、測定光１２ｂのように２次元センサ６０に対して斜めに入射する光も存在する。このような測定光１２ｂは、２次元センサ６０に到達する前に、Ｘフィルタ５１だけでなくＹフィルタ５２も通過している。このため、測定光１２ｂは、正確な三刺激値を求める上では迷光となる。
【０１１２】
そこで、図２８に示されるように、Ｘフィルタ５１とＹフィルタ５２との間、及び、Ｙフィルタ５２とＺフィルタ５３との間に、ブラックの隔壁からなる遮光壁９１，９２を設けてもよい。この遮光壁９１，９２によって、インテグレータ光学系４０から斜めに出射される測定光１２ｂが２次元センサ６０に入射しないようにすることができる。遮光壁９１，９２は、光を全吸収する黒色、又は全反射する白色の隔壁で構成すればよい。
【０１１３】
また、図２９に示されるように、フィルタ５１，５２，５３をそれぞれ取り囲むような構造を有する遮光壁９３を用いてもよい。この場合、まず遮光壁９３を２次元センサ６０に固定してもよい。その後、フィルタ５１，５２，５３をそれぞれ遮光壁９３の開口部に落とし込むようにしてもよい。これによって、容易にフィルタ５１，５２，５３を２次元センサ６０に貼り付けることができる。
【０１１４】
（８）上記実施形態では、フィルタ５１，５２，５３の画素位置として、例えば図７に示されるように、それぞれ１種類の画素位置が求められて、記憶部８０に記憶されているが、これに限られない。例えば、フィルタ５１，５２，５３の画素位置として、それぞれフィルタ５１，５２，５３に含まれる範囲内において、複数種類の画素位置を求めて記憶部８０に記憶してもよい。
【０１１５】
演算制御部７０は、フィルタ５１，５２，５３の画素位置として、Ｓ／Ｎの高低に応じて、複数種類の画素位置から一つの画素位置を選択し、選択した画素位置に含まれる領域の画素から出力される受光信号を用いて、色を算出してもよい。例えば、演算制御部７０は、受光信号の大小に基づきＳ／Ｎの高低を判断してもよい。Ｓ／Ｎが予め定められた閾値より高い場合には、演算制御部７０は、演算領域を図７のＰｒ（ｘｍｉｎ，ｕ）〜Ｐｒ（ｘｍａｘ，ｂ）より小さい領域に設定してもよい。この場合、演算に使用する画素数が減ることになる。その結果、演算時間を減らすことが可能になり、高速に測定ができる。
【０１１６】
本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。
【０１１７】
本発明の一態様は、被測定物から出射された測定光を導入する導光部と、２次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有し、前記測定光が入射すると前記複数の画素から受光信号を出力する受光センサと、前記導光部と前記受光センサとの間において、前記画素領域の一部であって互いに異なる複数の部分画素領域にそれぞれ対向して配置され、波長に対する分光透過率の特性が互いに異なる複数のフィルタと、前記複数の部分画素領域にそれぞれ含まれる画素のなかで、演算に使用する各画素群の画素位置を記憶する記憶部と、前記複数の部分画素領域内の前記各画素群からそれぞれ出力される受光信号を用いて、色に関する指標を算出する演算制御部と、を備え、前記各画素群の画素位置は、前記複数のフィルタの各々と前記受光センサとの位置関係に基づき予め求められて前記記憶部に記憶されている。
【０１１８】
本態様では、被測定物から出射された測定光が導光部によって導入される。２次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有する受光センサに測定光が入射すると、複数の画素から受光信号が出力される。導光部と受光センサとの間において、画素領域の一部であって互いに異なる複数の部分画素領域にそれぞれ対向して、波長に対する分光透過率の特性が互いに異なる複数のフィルタが配置されている。各部分画素領域に含まれる画素のなかで、演算に使用する画素群の画素位置が、それぞれ記憶部に記憶されている。複数の部分画素領域内の各画素群から出力される受光信号を用いて、色に関する指標が、演算制御部によって算出される。ここで、各画素群の画素位置は、それぞれ、複数のフィルタの各々と受光センサとの位置関係に基づき予め求められて記憶部に記憶されている。したがって、本態様によれば、２次元センサを搭載しつつ、高精度に測定することが可能になる。
【０１１９】
上記態様において、例えば、前記受光センサの前記各画素群は、前記受光信号として、それぞれ等色関数に近似する分光応答度を有する受光信号を出力してもよい。前記記憶部は、さらに、前記各画素群に対応してそれぞれ予め取得された校正用データ又は校正データを記憶してもよい。前記演算制御部は、前記各画素群からそれぞれ出力される前記受光信号と、前記各画素群に対応する前記各校正用データ又は前記各校正データとに基づいて、前記色に関する指標として、色を算出してもよい。
【０１２０】
本態様では、受光センサの各画素群から、受光信号として、それぞれ等色関数に近似する分光応答度を有する受光信号が出力される。記憶部には、さらに、各画素群に対応してそれぞれ予め取得された校正データが記憶されている。演算制御部によって、各画素群からそれぞれ出力される受光信号と、各画素群に対応する各校正データとに基づいて、色に関する指標として、色が算出される。したがって、本態様によれば、色を高精度で算出することができる。
【０１２１】
上記態様において、例えば、前記複数の部分画素領域は、第１部分画素領域と、第２部分画素領域と、第３部分画素領域と、を含んでもよい。前記複数のフィルタは、前記第１部分画素領域に対向して配置されたＸフィルタと、前記第２部分画素領域に対向して配置されたＹフィルタと、前記第３部分画素領域に対向して配置されたＺフィルタと、を含んでもよい。前記Ｘフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｘ（λ）に一致するように形成されてもよい。前記Ｙフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｙ（λ）に一致するように形成されてもよい。前記Ｚフィルタは、分光透過率の特性が、前記受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｚ（λ）に一致するように形成されてもよい。
【０１２２】
本態様では、Ｘフィルタ、Ｙフィルタ、Ｚフィルタは、それぞれ、分光透過率が、受光センサとの合成分光応答度が等色関数ｘ（λ）、ｙ（λ）、ｚ（λ）に一致するように形成されている。したがって、本態様によれば、色に関する指標として、三刺激値を高精度で算出することができる。
【０１２３】
上記態様において、例えば、前記Ｘフィルタと前記Ｙフィルタと前記Ｚフィルタとは、同一面積を有してもよい。Ｎ（Ｎは正の整数）個の前記Ｘフィルタ及び前記Ｙフィルタを備えてもよい。２×Ｎ個の前記Ｚフィルタを備えてもよい。
【０１２４】
本態様では、Ｚフィルタの全体の面積は、Ｘフィルタの全体の面積及びＹフィルタの全体の面積の２倍になっている。Ｚフィルタの透過光量は、Ｘフィルタ及びＹフィルタの透過光量に比べて半分程度の低い値であり、Ｘフィルタの透過光量はＹフィルタの透過光量とほぼ同じ値である。本態様では、Ｚフィルタの、Ｘフィルタ及びＹフィルタに対する面積比が２倍になっているため、受光センサから出力される、Ｘフィルタの透過光による受光信号のレベルと、Ｙフィルタの透過光による受光信号のレベルと、Ｚフィルタの透過光による受光信号のレベルとが、ほぼ同じ値になる。このため、三刺激値をより高精度で算出することができる。
【０１２５】
上記態様において、例えば、前記複数のフィルタからなる組が、さらに複数並べられて前記受光センサに対向して配置されてもよい。
【０１２６】
上記態様において、例えば、前記複数のフィルタは、波長に対する分光透過率の特性が互いに異なる４個以上のフィルタを含んでもよい。
【０１２７】
上記態様において、例えば、並んで配置された前記各フィルタの互いの境界領域に設けられ、前記受光センサの受光面の法線方向の長さが前記各フィルタより長く、前記測定光を透過しない遮光壁をさらに備えてもよい。
【０１２８】
被測定物から出射された測定光が、複数のフィルタを透過して受光センサの受光面に入射すると、算出される色に関する指標の精度が低下する。しかし、本態様では、並んで配置された各フィルタの互いの境界領域に、受光センサの受光面の法線方向の長さが各フィルタより長く、測定光を透過しない遮光壁が設けられている。したがって、本態様によれば、被測定物から出射された測定光が、複数のフィルタを透過して受光センサの受光面に入射することはない。このため、色に関する指標の精度の低下を防止することができる。
【０１２９】
上記態様において、例えば、前記遮光壁は、前記各フィルタの周囲を取り囲むように一体的に形成された枠形状を有してもよい。
【０１３０】
本態様では、遮光壁は、各フィルタの周囲を取り囲むように一体的に形成された枠形状を有する。したがって、本態様によれば、各フィルタを配置する際に、枠形状の遮光壁に嵌め込むことにより、各フィルタを容易に配置することができる。
【０１３１】
上記態様において、例えば、前記導光部は、前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、前記ミキシング部の前記光入射面及び前記光出射面の外側に配置され、前記ミキシング部を通らずに前記測定光を前記複数のフィルタに導く光ファイバと、を含んでもよい。前記演算制御部は、前記光ファイバによって導かれた前記測定光が入射した前記２次元センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出してもよい。
【０１３２】
本態様では、被測定物と複数のフィルタとの間に配置されたミキシング部によって、光入射面に入射した測定光がミキシングされて光出射面から複数のフィルタに向けて出射される。したがって、被測定物から出射される測定光に空間的なムラがあっても、測定光がミキシングされることにより、空間的なムラの影響が低減される。但し、ミキシング部によって測定光がミキシングされるため、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することは困難となる。
【０１３３】
一方、ミキシング部の光入射面及び光出射面の外側に配置された光ファイバにより、ミキシング部を通らずに測定光が複数のフィルタに導かれる。光ファイバによって導かれた測定光が入射した２次元センサから出力される受光信号を用いて、演算制御部によって、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とが算出される。したがって、本態様によれば、ミキシング部の光入射面及び光出射面の外側に配置された光ファイバにより、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することが可能になる。
【０１３４】
上記態様において、例えば、前記導光部は、前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、前記被測定物と前記ミキシング部との間に配置され、前記測定光を結像する受光光学系と、を含んでもよい。前記受光センサは、前記受光光学系による結像位置に配置されてもよい。前記ミキシング部は、前記受光光学系による結像位置以外の位置に配置されてもよい。前記演算制御部は、前記受光光学系により結像された前記測定光が入射した前記２次元センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出してもよい。
【０１３５】
本態様では、被測定物と複数のフィルタとの間に配置されたミキシング部によって、光入射面に入射した測定光がミキシングされて光出射面から複数のフィルタに向けて出射される。したがって、被測定物から出射される測定光に空間的なムラがあっても、測定光がミキシングされることにより、空間的なムラの影響が低減される。但し、ミキシング部によって測定光がミキシングされるため、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することは困難となる。
【０１３６】
一方、受光センサは、被測定物とミキシング部との間に配置された受光光学系による結像位置に配置される。受光光学系により結像された測定光が入射した２次元センサから出力される受光信号を用いて、演算制御部によって、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とが算出される。したがって、本態様によれば、受光光学系による結像位置に受光センサを配置しているため、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することが可能になる。
【０１３７】
上記態様において、例えば、前記受光光学系は、倍率が可変の光学系であってもよい。
【０１３８】
上記態様において、例えば、２次元的に配列された複数の画素を含む画素領域を有し、前記測定光が入射すると前記複数の画素から受光信号を出力する画像位置確認用センサをさらに備えてもよい。前記導光部は、前記被測定物と前記複数のフィルタとの間において、光入射面が前記被測定物側に、光出射面が前記複数のフィルタ側に配置され、前記光入射面に入射した前記測定光をミキシングして前記光出射面から前記複数のフィルタに向けて出射するミキシング部と、前記被測定物と前記ミキシング部との間に配置され、前記ミキシング部に向かう前記測定光の少なくとも一部を前記画像位置確認用センサに導く分岐部と、を含んでもよい。前記演算制御部は、前記分岐部により導かれた前記測定光が入射した前記画像位置確認用センサから出力される受光信号を用いて、前記ミキシング部の前記光入射面に対応する前記被測定物上の測定領域の位置と、前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とを算出してもよい。
【０１３９】
本態様では、被測定物と複数のフィルタとの間に配置されたミキシング部によって、光入射面に入射した測定光がミキシングされて光出射面から複数のフィルタに向けて出射される。したがって、被測定物から出射される測定光に空間的なムラがあっても、測定光がミキシングされることにより、空間的なムラの影響が低減される。但し、ミキシング部によって測定光がミキシングされるため、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することは困難となる。
【０１４０】
一方、被測定物とミキシング部との間に配置された分岐部により、ミキシング部に向かう測定光の少なくとも一部が画像位置確認用センサに導かれる。分岐部により導かれた測定光が入射した画像位置確認用センサから出力される受光信号を用いて、演算制御部によって、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とが算出される。したがって、本態様によれば、被測定物とミキシング部との間に配置された分岐部により、ミキシング部に向かう測定光の少なくとも一部が画像位置確認用センサに導かれることによって、ミキシング部の光入射面に対応する被測定物上の測定領域の位置と、測定光を出射する被測定物上の表示領域の位置とを検出することが可能になる。
【０１４１】
上記態様において、例えば、警告を出力する出力部をさらに備えてもよい。前記演算制御部は、前記算出された前記被測定物上の測定領域の位置と、前記算出された前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とに基づき、前記測定領域の大きさと前記表示領域の大きさとを比較し、前記測定領域が前記表示領域より大きい場合に、前記出力部に警告を出力させてもよい。
【０１４２】
上述のように、被測定物上の測定領域は、ミキシング部の光入射面に対応する領域である。この被測定物上の測定領域が、測定光を出射する被測定物上の表示領域より大きい場合、表示領域以外の領域に対応するミキシング部の光入射面には、測定光が入射されないことから、ミキシング部の光入射面には大きな輝度ムラの光が入射される。このため、測定光が十分にミキシングされないことから、正確な測定を行うことが困難になる。
【０１４３】
本態様では、被測定物上の測定領域が、測定光を出射する被測定物上の表示領域より大きい場合に、出力部から警告が出力される。したがって、本態様によれば、正確な測定を行うことが困難であることを測定者（ユーザ）に報知することができる。
【０１４４】
上記態様において、例えば、警告を出力する出力部をさらに備えてもよい。前記演算制御部は、前記算出された前記被測定物上の測定領域の位置と、前記算出された前記測定光を出射する前記被測定物上の表示領域の位置とに基づき、前記測定領域と前記表示領域とが重なるか否かを判定し、前記測定領域の少なくとも一部が前記表示領域と重ならない場合に、前記出力部に警告を出力させてもよい。
【０１４５】
上述のように、被測定物上の測定領域は、ミキシング部の光入射面に対応する領域である。この被測定物上の測定領域の少なくとも一部が、測定光を出射する被測定物上の表示領域と重ならない場合、表示領域と重ならない領域に対応するミキシング部の光入射面には、測定光が入射されないことから、ミキシング部の光入射面には大きな輝度ムラの光が入射される。このため、測定光が十分にミキシングされないことから、正確な測定を行うことが困難になる。
【０１４６】
本態様では、被測定物上の測定領域の少なくとも一部が、測定光を出射する被測定物上の表示領域と重ならない場合に、出力部から警告が出力される。したがって、本態様によれば、正確な測定を行うことが困難であることを測定者（ユーザ）に報知することができる。
【０１４７】
上記態様において、例えば、前記ミキシング部は、ロッドレンズで構成されたインテグレータ光学系を含んでもよい。
【０１４８】
上記態様において、例えば、前記ミキシング部は、蠅の目レンズ（フライアイレンズ）で構成されたインテグレータ光学系を含んでもよい。
【０１４９】
上記態様において、例えば、前記ミキシング部は、バンドルファイバを含んでもよい。
【０１５０】
上記態様において、例えば、前記複数のフィルタは、それぞれ、透過光量が互いに一致するような面積を有してもよい。
【０１５１】
本態様では、複数のフィルタは、それぞれ、透過光量が互いに一致するような面積を有する。したがって、本態様によれば、各々のフィルタを通った測定光によって２次元センサから出力される各々の受光信号のレベル差は小さい。その結果、装置のＳ／Ｎを向上することが可能になる。
【０１５２】
上記態様において、例えば、前記複数のフィルタのうち、透過率がピーク値のときの波長が最長のフィルタと最短のフィルタとは、隣接して配置されてもよい。
【０１５３】
本態様では、複数のフィルタのうち、透過率がピーク値のときの波長が最長のフィルタと最短のフィルタとは、隣接して配置されている。したがって、本態様によれば、透過率がピーク値のときの波長の順番に並んで複数のフィルタが配置される場合に比べて、被測定物から出射される測定光のムラの影響を低減することができる。
【０１５４】
本発明の実施形態が詳細に図示され、かつ、説明されたが、それは単なる図例及び実例であって限定ではない。本発明の範囲は、添付されたクレームの文言によって解釈されるべきである。
【０１５５】
明細書、クレーム、図面、及び要約を含む、２０１６年７月１５日に提出された日本国特許出願番号２０１６−１４０３２４、その全体の開示は、その全体において参照によりここに組み込まれる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【国際調査報告】
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