【手続補正書】
【提出日】平成18年8月11日(2006.8.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
帯状の領域に色分けされたフィルターを通過させたパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンフィルターであって、
当該パターンフィルターで投光された投光パターンは、複数のスリット光を有し、
前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、
前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、
ことを特徴とするパターンフィルター。
【請求項２】
濃淡差のある複数の帯状領域を有するフィルターを通過させたパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンフィルターであって、
当該パターンフィルターで投光された投光パターンは、複数のスリット光を有し、
前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、
前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、
ことを特徴とするパターンフィルター。
【請求項３】
前記色距離は、Ｒの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさから算出される、ことを特徴とする請求項１又は２記載のパターンフィルター。
【請求項４】
光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンであって、
前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、
前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、
ことを特徴とするパターン光のパターン。
【請求項５】
前記色距離は、Ｒの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさから算出される、ことを特徴とする請求項４記載のパターン光のパターン。
【請求項６】
光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測装置であって、
前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、
前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、
ことを特徴とする３次元形状計測装置。
【請求項７】
記色距離は、Ｒの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさから算出される、ことを特徴とする請求項６記載の３次元形状計測装置。
【請求項８】
光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測システムであって、
前記パターン光を投光する投光部と、撮像された画像に基づき３次元形状を計測する３次元形状計算装置とを有し、
前記投光部は、同等な色距離を有するスリット光が形成するスリット光配列パターンを、パターン光に等間隔に配置し、
前記３次元形状計算装置は、前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさに基づいて所定の色距離を有するスリット光を抽出するスリット光抽出手段と、
前記スリット光抽出手段により抽出されたスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測手段とを有する、
ことを特徴とする３次元形状計測システム。
【請求項９】
前記３次元形状計算装置は、
前記３次元形状計測手段により計測された３次元形状に基づき、前記立体物の部位の形状を判別する部位形状判別手段を有し、
前記スリット光抽出手段は、
前記部位形状判別手段により判別された立体物の部位の形状に基づき前記所定の色距離を変更する、
ことを特徴とする請求項８記載の３次元形状計測システム。
【請求項１０】
光学的性質の異なるスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するプログラムをコンピュータに実行させる３次元形状計測プログラムであって、
前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさから色距離を算出する色距離算出ステップと、
前記色距離算出ステップに基づいて、所定の色距離を有するスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測ステップとを、
コンピュータに実行させる３次元形状計測プログラム。
【請求項１１】
光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンコード生成方法であって、
前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、
前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、
ことを特徴とするパターンコード生成方法。
【請求項１２】
前記色距離は、Ｒの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさのから算出される、
ことを特徴とする請求項１１記載のパターンコード生成方法。
【請求項１３】
光学的性質の異なるスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測方法であって、
投光パターンを投光する投光ステップと、
前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさに基づいて所定の色距離を有するスリット光を抽出するスリット光抽出ステップと、
前記スリット光抽出ステップにより抽出されたスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測ステップとを
ことを特徴とする３次元形状計測方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記問題を解決するために、請求項１記載の発明は、帯状の領域に色分けされたフィルターを通過させたパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンフィルターであって、当該パターンフィルターで投光された投光パターンは、複数のスリット光を有し、前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置されていることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
更に、請求項２記載の発明は、濃淡差のある複数の帯状領域を有するフィルターを通過させたパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンフィルターであって、当該パターンフィルターで投光された投光パターンは、複数のスリット光を有し、前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置されていることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
更に、請求項４記載の発明は、光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンであって、前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置される、ことを特徴とするパターン光のパターン。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
更に、請求項６記載の発明は、光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測装置であって、前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置されることを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
更に、請求項８記載の発明は、光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測システムであって、前記パターン光を投光する投光部と、撮像された画像に基づき３次元形状を計測する３次元形状計算装置とを有し、前記投光部は、同等な色距離を有するスリット光が形成するスリット光配列パターンを、パターン光に等間隔に配置し、前記３次元形状計算装置は、前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさに基づいて所定の色距離を有するスリット光を抽出するスリット光抽出手段と、前記スリット光抽出手段により抽出されたスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測手段とを有する、ことを特徴とする。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
更に、請求項１０記載の発明は、光学的性質の異なるスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するプログラムをコンピュータに実行させる３次元形状計測プログラムであって、前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさから色距離を算出する色距離算出ステップと、前記色距離算出ステップに基づいて、所定の色距離を有する境界を形成するスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測ステップとを、コンピュータに実行させることを特徴とする。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
更に、請求項１１記載の発明は、光学的性質の異なる複数のスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測するパターン光のパターンコード生成方法であって、前記スリット光は、同等な色距離を有するスリット光から成るスリット光配列パターンを形成し、前記スリット光配列パターンが、パターン光に等間隔に配置されていることを特徴とする。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
更に、請求項１３記載の発明は、光学的性質の異なるスリット光を有するパターン光が投光された立体物を撮像し、それによって得た画像から３次元形状を計測する３次元形状計測方法であって、投光パターンを投光する投光ステップと、前記パターン光のＲの大きさ、Ｇの大きさ及びＢの大きさに基づいて所定の色距離を有するスリット光を抽出するスリット光抽出ステップと、前記スリット光抽出ステップにより抽出されたスリット光に基づき３次元形状を計測する３次元形状計測ステップとをことを特徴とする。