【手続補正書】
【提出日】平成18年10月12日(2006.10.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項２】
電子回路の電子回路モデルを修正する方法のステップを実行するために、コンピュータにより実行可能な命令からなるコンピュータプログラムを明白に具体化する、前記コンピュータによって読取り可能なコンピュータプログラム記憶媒体であって、前記ステップが、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得し、前記電子回路モデルが複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の前記電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有し、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得し、
最小リストを生成し、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストであり、
前記最小リストが空でない場合に、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得し、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得し、前記短絡するよう指定された前記電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有し、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算し、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正し、
前記最小リストを生成する方法のステップから始まる前記方法のステップを繰返すことからなる、コンピュータプログラム記憶媒体。
【請求項３】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストであり、最良優先探索技術を用いて前記最小リストが生成される、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項４】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路の残りの部分からサブクラスタを電気的に絶縁するステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項５】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記電気試験応答が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、および前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定することによって生じる、ステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項６】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記電気試験応答が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、第１の周波数の前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記第１の周波数の前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定すること、前記第１の周波数とは異なる第２の周波数の前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記第２の周波数の前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定すること、および前記電子回路構成要素が抵抗器、コンデンサ、又は誘導子のいずれであるかを判断することによって生じる、ステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項７】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記電気試験応答が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、前記刺激ノードに与えられる前記電気試験刺激の大きさが、前記電子回路上の能動電子素子をオンとするために必要な大きさより小さいという条件で、前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、および前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定することによって生じる、ステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項８】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記電気試験応答が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、前記電気試験刺激が電圧であるという条件で、前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、および前記電気試験応答が電圧であるという条件で、前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定することによって生じる、ステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項９】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記電気試験応答が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、前記電気試験刺激が０．７Ｖ未満の大きさの電圧であるという条件で、前記電気試験刺激を前記電子回路上の前記刺激ノードに与えること、および前記電気試験応答が電圧であるという条件で、前記電子回路上の少なくとも１つの測定ノードにおいて前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定することによって生じる、ステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。
【請求項１０】
電子回路の電子回路モデルを修正するための方法であって、
前記電子回路モデルに関する記述データを取得するステップであって、前記電子回路モデルが、複数の相互接続されたモデル要素からなり、そのモデル要素の各々が前記電子回路の電子回路構成要素を記述し、前記電子回路構成要素が２つのノードを有し、前記電子回路が複数の相互接続された電子回路構成要素を含むと共に少なくとも１つの刺激ノードと少なくとも１つの測定ノードを有する、ステップと、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップと、
最小リストを生成するステップであって、前記最小リストが、電気試験刺激および電気試験応答の所定の値を有し、前記最小リストに無いモデル要素の値を計算するために使用される指定されたモデル要素を含むリストである、ステップと、
前記最小リストが空でない場合、前記モデル要素の少なくとも１つの仕様を取得するステップと、
少なくとも１つの電子回路構成要素が短絡するよう指定された場合に、
前記電子回路上の刺激ノードに与えられる電気試験刺激の値、および前記電子回路の少なくとも１つの測定ノードで測定された、前記電気試験刺激を与えることで発生する電気試験応答の値を取得するステップであって、前記短絡するよう指定された電子回路構成要素が、電気試験マシンを前記電子回路に電気的に接続すること、前記電子回路モデルにおいて短絡するよう指定された前記電子回路構成要素のノードを共に短絡させること、前記電子回路上の前記刺激ノードに前記電気試験刺激を与えること、および前記電子回路上の測定ノードにおいて前記電気試験刺激に対する前記電気試験応答を測定することによって共に短絡された２つのノードを有する、ステップと、
前記最小リストに無い少なくとも１つのモデル要素の値を計算するステップと、
少なくとも１つの計算された値が、指定限界内の対応するモデル要素の値に等しくない場合に、
少なくとも１つのモデル要素の値を修正するステップと、
前記最小リストを生成する方法のステップから始めて前記方法のステップを繰返すステップとを含む、方法。