【手続補正書】
【提出日】平成17年12月16日(2005.12.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｎチャネル型ＴＦＴとＰチャネル型ＴＦＴとで形成されたＣＭＯＳ回路を含む半導体装置であって、
前記ＣＭＯＳ回路は前記Ｎチャネル型ＴＦＴのみ、絶縁層を介して第１配線および第２配線によって活性層が挟まれた構造を有し、
前記活性層はチャネル形成領域に接して低濃度不純物領域を含んでおり、
前記チャネル形成領域は前記第１配線および前記第２配線に重なり、
前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成されていることを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記第１配線と前記第２配線とは電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
【請求項３】
第１配線と、第２配線とを含むＮチャネル型ＴＦＴとＰチャネル型ＴＦＴとで形成されたＣＭＯＳ回路を有する半導体装置であって、
前記ＣＭＯＳ回路は前記Ｎチャネル型ＴＦＴのみ、絶縁層を介して前記第１配線および前記第２配線によって活性層が挟まれた構造を有し、
前記活性層はチャネル形成領域に接して低濃度不純物領域を含んでおり、
前記チャネル形成領域は前記第１配線および前記第２配線に重なり、
前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成され、
前記第２配線は、第１導電層と第２導電層との積層構造からなる部分と、前記第１導電層と前記第１導電層上に形成された第３導電層と前記第３導電層を覆って前記第１導電層上に形成された前記第２導電層とからなる部分とを有することを特徴とする半導体装置。
【請求項４】
請求項３において、
前記第３導電層は、第１導電層または前記第２導電層よりも抵抗値が低いことを特徴とする半導体装置。
【請求項５】
請求項３または請求項４において、
前記第１導電層または前記第２導電層は、タンタル（Ｔａ）、チタン（Ｔｉ）、タングステン（Ｗ）、モリブデン（Ｍｏ）、またはシリコン（Ｓｉ）から選ばれた元素を主成分とする導電膜、或いは前記元素を組み合わせた合金膜やシリサイド膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項６】
請求項３乃至請求項５のいずれか一項において、
前記第３導電層は、アルミニウムまたは銅を主成分とする膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項７】
Ｎチャネル型ＴＦＴで形成された画素ＴＦＴと保持容量とを有する画素マトリクス回路を含む半導体装置であって、
前記画素ＴＦＴは絶縁層を介して第１配線および第２配線によって活性層が挟まれた構造を有し、
前記活性層はチャネル形成領域に接して低濃度不純物領域を含んでおり、
前記チャネル形成領域は前記第１配線および前記第２配線に重なり、
前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成されていることを特徴とする半導体装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記第１配線は接地電位またはソース電源電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項９】
請求項７において、
前記第１配線はフローティング電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項１０】
Ｎチャネル型ＴＦＴで形成された画素ＴＦＴを有する画素マトリクス回路を含む半導体装置であって、
前記画素ＴＦＴは絶縁層を介して第１配線および第２配線によって活性層が挟まれた構造を有し、
前記活性層はチャネル形成領域に接して低濃度不純物領域を含んでおり、
前記チャネル形成領域は前記第１配線および前記第２配線に重なり、
前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成され、
前記第２配線は、第１導電層と第２導電層との積層構造からなる部分と、前記第１導電層と前記第１導電層上に形成された第３導電層と前記第３導電層を覆って前記第１導電層上に形成された前記第２導電層とからなる部分とを有することを特徴とする半導体装置。
【請求項１１】
請求項１０において、
前記第３導電層は、前記第１導電層または前記第２導電層よりも抵抗値が低いことを特徴とする半導体装置。
【請求項１２】
請求項１０または請求項１１において、
前記第１導電層または前記第２導電層は、タンタル（Ｔａ）、チタン（Ｔｉ）、タングステン（Ｗ）、モリブデン（Ｍｏ）、またはシリコン（Ｓｉ）から選ばれた元素を主成分とする導電膜、或いは前記元素を組み合わせた合金膜やシリサイド膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項１３】
請求項１０乃至請求項１２のいずれか一項において、
前記第３導電層は、アルミニウムまたは銅を主成分とする導電膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項１４】
同一基板上に形成された画素マトリクス回路とドライバー回路とを有する半導体装置であって、
前記画素マトリクス回路に含まれる画素ＴＦＴと前記ドライバー回路に含まれるＮチャネル型ＴＦＴは、絶縁層を介して第１配線および第２配線によって活性層が挟まれた構造を有し、
前記活性層はチャネル形成領域に接して低濃度不純物領域を含んでおり、
前記チャネル形成領域は前記第１配線および前記第２配線に重なり、
前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成され、
前記画素ＴＦＴが有する第１配線は固定電位またはフローティング電位に保持され、前記ドライバー回路に含まれるＮチャネル型ＴＦＴが有する第１配線は、該ドライバー回路に含まれるＮチャネル型ＴＦＴが有する第２配線と同電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項１５】
請求項１４において、
前記固定電位は、接地電位またはソース電源電位であることを特徴とする半導体装置。
【請求項１６】
請求項１４または請求項１５において、
前記第２配線は、第１導電層と第２導電層との積層構造からなる部分と、前記第１導電層と前記第１導電層上に形成された第３導電層と前記第３導電層を覆って前記第１導電層上に形成された前記第２導電層とからなる部分とを有することを特徴とする半導体装置。
【請求項１７】
請求項１６において、
前記第３導電層は、前記第１導電層または前記第２導電層よりも抵抗値が低いことを特徴とする半導体装置。
【請求項１８】
請求項１６または請求項１７において、
前記第１導電層または前記第２導電層は、タンタル（Ｔａ）、チタン（Ｔｉ）、タングステン（Ｗ）、モリブデン（Ｍｏ）、またはシリコン（Ｓｉ）から選ばれた元素を主成分とする導電膜、或いは前記元素を組み合わせた合金膜やシリサイド膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項１９】
請求項１６乃至請求項１８のいずれか一項において、
前記第３導電層は、アルミニウムまたは銅を主成分とする導電膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項２０】
請求項１乃至請求項１９に記載された半導体装置とは、アクティブマトリクス型液晶ディスプレイまたはアクティブマトリクス型ＥＬディスプレイであることを特徴とする半導体装置。
【請求項２１】
請求項１乃至請求項１９に記載された半導体装置とは、ビデオカメラ、デジタルカメラ、プロジェクター、プロジェクションＴＶ、ゴーグル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、携帯情報端末であることを特徴とする半導体装置。
【請求項２２】
Ｎチャネル型ＴＦＴとＰチャネル型ＴＦＴとで形成されたＣＭＯＳ回路を含む半導体装置の作製方法であって、
基板上に第１配線を形成し、
前記第１配線の上に第１絶縁層を形成し、
前記第１絶縁層の上に前記Ｎチャネル型ＴＦＴの活性層および前記Ｐチャネル型ＴＦＴの活性層を形成し、
前記Ｎチャネル型ＴＦＴの活性層および前記Ｐチャネル型ＴＦＴの活性層を覆って第２絶縁層を形成し、
前記第２絶縁層の上に導電層を形成し、
第１のレジストマスクを用いて前記導電層をエッチングすることで前記Ｎチャネル型ＴＦＴの第２配線を形成し、
前記第１のレジストマスクを用い不純物を添加することで前記Ｎチャネル型ＴＦＴの活性層に低濃度不純物領域を形成し、
第２のレジストマスクを用いて前記導電層をエッチングすることで前記Ｐチャネル型ＴＦＴの配線を形成し、
前記第２のレジストマスクを用い不純物を添加することで前記Ｐチャネル型ＴＦＴの活性層に不純物領域を形成し、
裏面露光によって前記第２の配線上に形成された第３のレジストマスクを用い不純物を添加することで前記低濃度不純物領域にソースおよびドレイン領域を形成し、
前記第１配線は前記Ｎチャネル型ＴＦＴの活性層のみと交差するように形成され、
前記Ｎチャネル型ＴＦＴの前記低濃度不純物領域は前記第１配線に重なり、且つ、前記第２配線に重ならないように形成されることを特徴とする半導体装置の作製方法。
【請求項２３】
請求項２２において、
前記導電層は、第１導電層および第２導電層を有することを特徴とする半導体装置の作製方法。