【事件の表示】
　平成１０年特許願第　　９９４２号「電気信号評価方法」拒絶査定に対する審判事件［平成１０年　８月２１日出願公開、特開平１０−２２１４１５］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．出願の経緯・本願発明
　この出願は、平成１０年１月２１日(パリ条約による優先権主張、１９９７年１月２１日、米国)の出願であって、当審において平成１３年７月１８日付で拒絶の理由を通知し、その指定期間内である平成１３年１０月１０日付で手続補正がなされたものである。
　そして、その請求項１に係る発明は、平成１１年４月１２日付、平成１２年１月１４日付、平成１２年９月５日付、平成１３年１月２４日付、および上記平成１３年１０月１０日付手続補正で補正された明細書及び図面の記載からみて、その請求項１に記載されたとおりの次のものである。(以下「本願発明」という。)
　
「【請求項１】　基準電気信号に対して評価すべき被試験電気信号の特性を求める方法であって、
　上記基準電気信号を用いて、基準ヒストグラムを作成し、
　上記被試験電気信号をサンプリングして、一連のデジタル電圧値を発生し、
　上記一連のデジタル電圧値から試験結果ヒストグラムを作成し、
　上記基準ヒストグラム及び上記試験結果ヒストグラムの各々の総てのビン内のデータの和が夫々１となるように、上記基準ヒストグラム及び上記試験結果ヒストグラムを正規化し、
　上記試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムの夫々の中央ビンの差に応じて上記試験結果ヒストグラムのオフセットの調整用のオフセット・エラーを求め、
　該オフセット・エラーに応じて上記試験結果ヒストグラムのオフセットを調整して、上記基準ヒストグラムのオフセットに合わせ、
　上記基準ヒストグラムの値を上記試験結果ヒストグラムの値から減算して偏差ヒストグラムを発生することによって上記試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムを比較して、評価結果を求めることを特徴とする電気信号評価方法。」
　
２．刊行物記載の発明
　これに対し、上記平成１３年７月１８日付で通知した拒絶の理由では下記刊行物１〜４を引用した。
　
刊行物１　　特開平６−３０９４７３号公報
刊行物２　　一松信・竹之内脩編「改訂増補　新数学辞典」(1991-11-20)大阪書籍、p.634-635
刊行物３　　特開平２−１１２３１３号公報
刊行物４　　特開平８−３７５４４号公報
　
２−１．刊行物１
　上記刊行物１には下記の記載がある。
　
「【請求項２】　アナログ入力波形を所定のサンプリング周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データの入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力されるデータ数をカウントする計数部と、上記波形データ入力用メモリと同一の記憶領域を有し、その各アドレスに判定基準としての基準データが書き込まれる比較用メモリと、上記各メモリの書込み、読出しなどを制御するＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同制御手段は上記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして上記波形データ入力用メモリに入力するとともに、上記計数部は各アドレスについてそのアドレスに該当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数される頻度数として収集し、一方、上記比較用メモリの各アドレスには判定基準波形についての波形データが同じく頻度数として記憶されており、上記波形データ入力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を行なうようにしたことを特徴とする波形データの判定方法。」(公報第１欄第１６〜３６行)
 「【０００６】また、この発明の波形データの判定方法においては、アナログ入力波形を所定のサンプリング周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データの入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力されるデータ数をカウントする計数部と、上記波形データ入力用メモリと同一の記憶領域を有し、その各アドレスに判定基準としての基準データが書き込まれる比較用メモリと、上記各メモリの書込み、読出しなどを制御するＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同制御手段は上記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして上記波形データ入力用メモリに入力するとともに、上記計数部は各アドレスについてそのアドレスに該当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数される頻度数として収集し、一方、上記比較用メモリの各アドレスには判定基準波形についての波形データが同じく頻度数として記憶されており、上記波形データ入力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を行なうようにしたことを特徴としている。」(公報第２欄第３７行〜第３欄第７行)
　
　したがって、上記刊行物１には、「アナログ入力波形を所定のサンプリング周波数にてディジタルの波形データに変換し、計数部は各アドレスについてそのアドレスに該当する瞬時値を持つ波形データ数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数される頻度数として記憶し、同様に判定基準波形を比較メモリに判定基準波形についての頻度数として記憶し、上記波形データ入力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を行なうようにした波形データの判定方法」(以下「刊行物１記載の発明」という。)が記載されている。
　
２−２．刊行物２
　上記刊行物２には、下記の記載がある。
　
「度数分布(表)において、各階級の度数のかわりに各階級の度数を総度数で割ったもの(これを相対頻度という)でおきかえたものを相対度数分布(表)という。相対度数分布は総度数の異なる２つの資料の間でもすぐに分布の状態が比較できるという長所をもっている。」(第６３４頁左欄第１１〜１６行)
　
　したがって、上記刊行物２には「度数分布(ヒストグラム)において各階級の度数を総度数をで割ったもの(相対度数分布)を用いて、２つの度数分布間の分布の状態を比較すること」が記載されている。そして、この「相対度数分布」において「相対度数」の総和が１となることは数学的に明らかである。
　
２−３．刊行物３
　上記刊行物３には、下記の記載がある。
　
「[課題を解決するための手段]
　前述の課題を解決するため、本発明はつぎの手段により構成するものとなっている。
　すなわち、正弦波信号を被測定回路へ与え、この回路の出力をサンプリングしてメモリへ格納し、このメモリの内容に含まれるオフセット成分を除去してから標本化定理による補間関数を用いてメモリ内容のゼロクロス点を求め、このゼロクロス点を始点として正弦波信号との位相合せを行ない、この位相合せ後の信号をサンプリングし、このデータと利得補正を行なった正弦波信号との偏差二乗和を求め、この結果よりＳ／Ｎを求めるものとしている。」(公報第２頁左上欄第７〜１９行)
　
　したがって、上記刊行物３には、「信号のオフセット成分を除去して信号測定をすること」が記載されている。
　
２−４．刊行物４
　上記刊行物４には、下記の記載がある。
　
「【００１３】
【実施例】本発明の実施例は、ＧＭＳＫ変調された変調信号のオフセット得る為、ＩＱ両信号のヒストグラム分布を求めて、これから変調信号のオフセットを求める場合である。これについて、図１と図２を参照して説明する。
　構成は、図１に示すように、被試験器（ＤＵＴ）１００と、ＡＤ変換部５０と、バッファメモリ６０と、ヒストグラム演算部２０と、ピーク検出部３０とで構成している。ヒストグラム演算部２０と、ピーク検出部３０以外は、従来の構成と同様である。
　本発明では、直交変調されたデータ位置が、円周上に、ほぼ一様に分布して存在する点に着目して、このデータの分布を求め、この分布の２箇所の最大ピークの中間値をオフセット位置として求める手段としている。
【００１４】ヒストグラム演算部２０は、バッファメモリ６０に格納されたＩデータ６１ａの中から所望のデータ区間のデータを読み出して、図２に示すように、各データの値の度数分布、即ちヒストグラムＩhistを求め、ピーク検出部３０に供給する。同様に、Ｑデータ６２ａ側もヒストグラムＱhistを求め、ピーク検出部３０に供給する。
【００１５】ピーク検出部３０は、ヒストグラムから円周上の位置を示す２つの最大ピーク点を検出した後、目的のオフセット位置を求めるものである。
　この為に、ヒストグラム演算部２０からのＩ側のヒストグラムＩhistの中から最大値を示すピーク点Ｐi1、Ｐi2を求める。この両ピーク点の中間値がオフセット位置Ｉoffとして求まることとなる。Ｑ側も同様にして、ヒストグラムＱhistから２つの最大ピーク点Ｐq1、Ｐq2を求め、両ピーク点の中間値を計算することでオフセット位置Ｑoffが求まる。
　この様にして求めたオフセット位置は、ＤＵＴ１００の入力デジタル情報データの０／１情報の出現状態に依存されにくくなり、安定した精度のオフセット位置Ｉoff、Ｑoffが得られる。」(公報第３欄第２６行〜第４欄第９行)
　
　したがって、上記刊行物４には「入力された信号のヒストグラムの中の２つのピーク点の中間値をオフセット値とすること」が記載されている。
　
３．対比
　本願発明と上記刊行物１記載の発明を比較すると、上記刊行物１記載の発明の「判定基準波形」「判定基準波形についての頻度数」「アナログ入力波形を所定のサンプリング周波数にてティジタルの波形データに変換」「計数部は各アドレスについてそのアドレスに該当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数される頻度数として記憶」「上記波形データ入力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、それらの頻度数を比較すること」「波形データの判定方法」が、本願発明の「基準電気信号」「基準ヒストグラム」「被試験電気信号をサンプリングして、一連のデジタル電圧値を発生」「一連のデジタル電圧値から試験結果ヒストグラムを作成」「上記試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムを比較して、評価結果を求めること」「電気信号評価方法」に相当するので、本願発明と上記刊行物１記載の発明は「基準電気信号に対して評価すべき被試験電気信号の特性を求める方法であって、上記基準電気信号を用いて、基準ヒストグラムを作成し、上記被試験電気信号をサンプリングして、一連のデジタル電圧値を発生し、上記一連のデジタル電圧値から試験結果ヒストグラムを作成し、上記試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムを比較して、評価結果を求めることを特徴とする電気信号評価方法。」という点で一致し、下記の点で相違する。
　
 (あ)　本願発明が「基準ヒストグラム及び上記試験結果ヒストグラムの各々の総てのビン内のデータの和が夫々１となるように、上記基準ヒストグラム及び上記試験結果ヒストグラムを正規化」するのに対し、上記刊行物１記載の発明では、「正規化」を行っていない点。
(い)　本願発明が「オフセット・エラーに応じて上記試験結果ヒストグラムのオフセットを調整して、上記基準ヒストグラムのオフセットに合わせ」るのに対し、上記刊行物１記載の発明では、「オフセット」に関する処理を行っていない点。
(う)　本願発明が「試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムの夫々の中央ビンの差に応じて上記試験結果ヒストグラムのオフセットの調整用のオフセット・エラーを求め」ているのに対し、上記刊行物１には上記事項についての記載がない点。
(え)　本願発明は「基準ヒストグラムの値を上記試験結果ヒストグラムの値から減算して偏差ヒストグラムを発生することによって上記試験結果ヒストグラム及び上記基準ヒストグラムを比較」するのに対し、上記刊行物１には「上記波形データ入力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を行なうようにした」との記載のみがある点。
　
４．当審の判断
　上記相違点について検討する。
　
４−１．相違点(あ)
　上記刊行物２にも記載されるように、分布を比較するときに「相対度数分布」で行うことは周知のことであって、当業者が当然採用すべきことにすぎないから、上記相違点(あ)は実質的な相違点ではない。
　
４−２．相違点(い)
　上記刊行物３にも記載されるように、２つの信号を比較するときにそのオフセットを除去して比較することは周知のことであって、当業者が当然採用すべきことにすぎないから、上記相違点(い)は実質的な相違点ではない。
　
４−３．相違点(う)
　上記刊行物４記載の発明の「中間値」が本願発明の「中央ビン」に相当することは明らかである。そして、上記刊行物１記載の発明において、上記刊行物４記載の発明を採用することに格別の技術的困難性は認められないから、上記相違点(う)は当業者が容易になしえたことである。
　
４−４．相違点(え)
　２つの値を比較するときに、これら２つの値の「差」を計算して行うことは、きわめて良く行われていることにすぎないから、上記相違点(え)は当業者が適宜なし得た設計的事項にすぎない。
　
　そして、本願発明の作用効果は上記刊行物１，４記載の発明、および、周知技術から予測しうる程度のものである。
　
５．むすび
　したがって、本願発明は、上記刊行物１，４記載の発明、および、周知技術に基づき、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。