(57)【要約】【課題】チップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置の提供。【解決手段】本考案はチップ型コンデンサの高圧スクリーニング装置であり、チップ型コンデンサの篩い分けを行う。これには整列定位置群、移動吸引ヘッド群、挟み測定群及び材料分類収集群を含む。整列定位置群により、少なくとも１つのチップ型コンデンサを特定の方向に整列させ、特定位置に定まるよう送り出し、移動吸引ヘッド群上の少なくとも１つの吸引口と移動機構及び、挟み測定群の少なくとも１つの挟み接続ヘッドと開閉機構により、チップ型コンデンサを挟み接続ヘッド上に挟み込む。測定装置はチップ型コンデンサの検証を行い、検証結果を生成する。最後に、材料分類収集群は検証結果に依って、チップ型コンデンサの分類配置を行い、チップ型コンデンサの篩い分けを行うことができる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
チップ型コンデンサの篩い分けに使用されるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置であり、整列定位群、位置移動吸引ヘッド群、挟み測定群、及び材料分類収集群を包含し
整列定位群は整列定位群により、少なくとも１つのチップ型コンデンサが特定方向に整列され、特定位置に移送され、位置移動吸引ヘッド群は少なくとも１つの吸引口と１つの移動機構を持ち、この吸引口は移動機構の上に設置され、吸引口は真空発生装置が接続され、挟み測定群は、少なくとも１組の挟み接続ヘッドを持ち、この挟み接続ヘッドは、それぞれ開閉機構の両側に設置され、この挟み接続ヘッドには測定装置が接続され、吸引口は吸引力を使用して特定位置のチップ型コンデンサを吸い取り、移動機構によりチップ型コンデンサを挟み測定群の場所に移動し、同時に挟み接続ヘッドは開閉機構の移動により、チップ型コンデンサを挟み接続ヘッド上に挟み込み、測定装置によりチップ型コンデンサに対して検査を行い、測定結果を生成し、材料分類収集群は、２つの材料収集箱と少なくとも１つの材料分類機構を持ち、この材料分類機構は挟み接続ヘッドの下に位置し、チップ型コンデンサの測定完了後、挟み接続ヘッドはチップ型コンデンサを開放し、チップ型コンデンサを材料分類機構に落とし、材料分類機構は、測定結果に基づき、２つの材料収集箱の１つを選び、チップ型コンデンサを落とし込み、チップ型コンデンサの篩い分けを行うことを特徴とするチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項２】
さらに材料貯蔵枡群が含まれ、当該材料貯蔵枡群は、じょうご状の材料貯蔵桶、材料進入滑り道と材料振動送り器を備え、材料貯蔵桶の底には材料進入滑り道への入り口が開いており、材料進入滑り道は材料振動送り器の上に設けられ、材料進入滑り道の末端は整列定位群の上に位置し、材料振動送り器の振動により、チップ型コンデンサは材料貯蔵桶より、材料進入滑り道を経由して整列定位置群の上に落ちることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項３】
材料進入滑り道の末端縁が材料進入滑り道と斜め角を抱える点にあることを特徴とする請求項２で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項４】
材料進入滑り道が整列定位群の上方に感知器を装着した点にあることを特徴とする請求項２で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項５】
整列定位群は材料振動送り器、整列プレートと覆いカバーを備え、整列プレートは、材料振動送り器の上に設けられ、かつ、整列プレートの表面には、少なくとも１つの整列槽があり、材料振動送り器の振動により、チップ型コンデンサは整列槽内に落ち、特定の方向に整列され、覆いカバーは整列プレート上に装着され、また整列プレートの縁はこの覆いカバーの外に露出され、また、整列プレートと覆いカバーの間には１個のチップ型コンデンサのみが振動により整列槽を沿い、整列プレートの縁まで移動することを許容し、この特定位置は整列プレートの縁になることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項６】
更に遮り片を含み、この遮り片はチップ型コンデンサが特定位置にある時、チップ型コンデンサを覆い、また位置移動吸引ヘッド群がチップ型コンデンサの吸引時に、平行移動してチップ型コンデンサを露出させることを特徴とする請求項５で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項７】
整列プレート上に調節式止め板を設けることができ、調節式止め板は固定ねじで覆いカバーに取り付けることができ、整列プレートと調節式止め板の間に、チップ型コンデンサが通過可能な隙間を提供することを特徴とする請求項５で述べる、チップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項８】
真空発生器と吸引口の関に圧力感知器を設け、吸引口がチップ型コンデンサを吸引できたかを感知することを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項９】
移動機構は横方向移動レールと縦方向移動レールを備え、横方向と縦方向に移動できることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項１０】
材料分類機構は滑り移動槽、押し移動軸と復位ばねを含み、２つの材料収集箱の上方にはそれぞれ材料入口道を設け、滑り移動槽は受容れ口と底部開き口を持ち、滑り移動槽は押し移動軸と復位ばねにより、２つの材料収集箱上を左右に移動し、また常設位置と起動位置を備え、底部開き口を常設位置及び起動位置にて其々２つの材料入口道の１つに対応させ、受容れ口は滑り移動槽が常設位置及び起動位置にある場合、どれも挟み接続ヘッドから落下するチップ型コンデンサを受取ることができることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【請求項１１】
材料分類機構は感知器を持ち、この感知器は滑り移動槽が起動位置にあるかを検知することを特徴とする請求項１０で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案はスクリーニング機器についてであり、特にはチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置である。
【背景技術】
【０００２】
チップ型コンデンサは電子製品の重要なコンポーネントの１つであり、チップ型コンデンサの製作完成後、スクリーニング装置の高圧検証を通して、正常使用が可能なことを確かめる必要がある。
【０００３】
現在既知のスクリーニング装置は、スクリーニング機構により単一のチップ型コンデンサを分離し、このチップ型コンデンサを測定装置により検証する。検証結果によって、再び材料分類機構を利用して、検証を通過済み及び未通過のチップ型コンデンサを、それぞれ異なる放置区域に移動することにより、検証を通過したチップ型コンデンサを篩い分ける。
【０００４】
この既知のスクリーニング装置は、一度に１つのチップ型コンデンサに対してのみ測定を行うため、既知のスクリーニング装置のスクリーニング周期を短縮することは難しく、スクリーニングの効率は高くなく、ユーザの需要を満たすことは難しい。
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
したがって、上述の欠点を解決するため、本考案の主要目的は、チップ型コンデンサの高圧スクリーニング装置を提供し、篩い分けの効率を上げ、スクリーニング装置の生産性を高め、ユーザの需要に合致させることにあるる。
【０００６】
本考案はチップ型コンデンサの高圧スクリーニング装置であり、チップ型コンデンサの篩い分けを行う。これには整列定位置群、移動吸引ヘッド群、挟み測定群及び材料分類収集群を含む。整列定位置群により、少なくとも１つのチップ型コンデンサを特定の方向に整列させ、特定位置に定まるよう送り出し、移動吸引ヘッド群上の少なくとも１つの吸引口と移動機構及び、挟み測定群の少なくとも１つの挟み接続ヘッドと開閉機構により、チップ型コンデンサを挟み接続ヘッド上に挟み込む。測定装置はチップ型コンデンサの検証を行い、検証結果を生成する。最後に、材料分類収集群は検証結果に依って、チップ型コンデンサの分類配置を行い、チップ型コンデンサの篩い分けを行うことができる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１の考案は、チップ型コンデンサの篩い分けに使用されるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置であり、整列定位群、位置移動吸引ヘッド群、挟み測定群、及び材料分類収集群を包含し
整列定位群は整列定位群により、少なくとも１つのチップ型コンデンサが特定方向に整列され、特定位置に移送され、位置移動吸引ヘッド群は少なくとも１つの吸引口と１つの移動機構を持ち、この吸引口は移動機構の上に設置され、吸引口は真空発生装置が接続され、挟み測定群は、少なくとも１組の挟み接続ヘッドを持ち、この挟み接続ヘッドは、それぞれ開閉機構の両側に設置され、この挟み接続ヘッドには測定装置が接続され、吸引口は吸引力を使用して特定位置のチップ型コンデンサを吸い取り、移動機構によりチップ型コンデンサを挟み測定群の場所に移動し、同時に挟み接続ヘッドは開閉機構の移動により、チップ型コンデンサを挟み接続ヘッド上に挟み込み、測定装置によりチップ型コンデンサに対して検査を行い、測定結果を生成し、材料分類収集群は、２つの材料収集箱と少なくとも１つの材料分類機構を持ち、この材料分類機構は挟み接続ヘッドの下に位置し、チップ型コンデンサの測定完了後、挟み接続ヘッドはチップ型コンデンサを開放し、チップ型コンデンサを材料分類機構に落とし、材料分類機構は、測定結果に基づき、２つの材料収集箱の１つを選び、チップ型コンデンサを落とし込み、チップ型コンデンサの篩い分けを行うことを特徴とするチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項２の考案は、さらに材料貯蔵枡群が含まれ、当該材料貯蔵枡群は、じょうご状の材料貯蔵桶、材料進入滑り道と材料振動送り器を備え、材料貯蔵桶の底には材料進入滑り道への入り口が開いており、材料進入滑り道は材料振動送り器の上に設けられ、材料進入滑り道の末端は整列定位群の上に位置し、材料振動送り器の振動により、チップ型コンデンサは材料貯蔵桶より、材料進入滑り道を経由して整列定位置群の上に落ちることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項３の考案は、材料進入滑り道の末端縁が材料進入滑り道と斜め角を抱える点にあることを特徴とする請求項２で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項４の考案は、材料進入滑り道が整列定位群の上方に感知器を装着した点にあることを特徴とする請求項２で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項５の考案は、整列定位群は材料振動送り器、整列プレートと覆いカバーを備え、整列プレートは、材料振動送り器の上に設けられ、かつ、整列プレートの表面には、少なくとも１つの整列槽があり、材料振動送り器の振動により、チップ型コンデンサは整列槽内に落ち、特定の方向に整列され、覆いカバーは整列プレート上に装着され、また整列プレートの縁はこの覆いカバーの外に露出され、また、整列プレートと覆いカバーの間には１個のチップ型コンデンサのみが振動により整列槽を沿い、整列プレートの縁まで移動することを許容し、この特定位置は整列プレートの縁になることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項６の考案は、  更に遮り片を含み、この遮り片はチップ型コンデンサが特定位置にある時、チップ型コンデンサを覆い、また位置移動吸引ヘッド群がチップ型コンデンサの吸引時に、平行移動してチップ型コンデンサを露出させることを特徴とする請求項５で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項７の考案は、整列プレート上に調節式止め板を設けることができ、調節式止め板は固定ねじで覆いカバーに取り付けることができ、整列プレートと調節式止め板の間に、チップ型コンデンサが通過可能な隙間を提供することを特徴とする請求項５で述べる、チップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項８の考案は、真空発生器と吸引口の関に圧力感知器を設けた点にあり、吸引口がチップ型コンデンサを吸引できたかを感知することを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項９の考案は、移動機構は横方向移動レールと縦方向移動レールを備え、横方向と縦方向に移動できることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項１０の考案は、材料分類機構は滑り移動槽、押し移動軸と復位ばねを含み、２つの材料収集箱の上方にはそれぞれ材料入口道を設け、滑り移動槽は受容れ口と底部開き口を持ち、滑り移動槽は押し移動軸と復位ばねにより、２つの材料収集箱上を左右に移動し、また常設位置と起動位置を備え、底部開き口を常設位置及び起動位置にて其々２つの材料入口道の１つに対応させ、受容れ口は滑り移動槽が常設位置及び起動位置にある場合、どれも挟み接続ヘッドから落下するチップ型コンデンサを受取ることができることを特徴とする請求項１で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
請求項１１の考案は、材料分類機構は感知器を持ち、この感知器は滑り移動槽が起動位置にあるかを検知することを特徴とする請求項１０で述べるチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置としている。
【考案の効果】
【０００８】
本考案は同時に多数のチップ型コンデンサを検証でき、本考案の移動吸引ヘッド群が挟み測定群でチップ型コンデンサを測定する時、再び次に測定を待つチップ型コンデンサ群を吸引することができ、篩い分けの速度を速め、スクリーニング装置の作業効率を高め、ユーザの需要を満たすことができる。
【考案を実施するための最良の形態】
【０００９】
図１を参照してください。本考案のチップ型コンデンサ高圧スクリーニング装置は、チップ型コンデンサ９０の篩い分けに用いられ、これには材料貯蔵枡群１０、整列定位群２０、移動吸引ヘッド群３０、挟み測定群４０及び材料分類収集群５０が含まれる。
【００１０】
次に図２を参照してください。材料貯蔵枡１０はじょうご状の材料貯蔵桶１１、材料進入滑り道１２及び材料振動送り器１３を備える。材料貯蔵桶１１の底には材料進入滑り道１２に対する口が開き、この材料進入滑り道１２は材料振動送り器１３上に設けられる。材料進入滑り道１２の末端は整列定位群２０の上に位置し、材料振動送り器１３の振動でチップ型コンデンサ９０を材料貯蔵桶１１から材料進入滑り道１２を通じて整列定位群２０上に落とす。かつ材料進入滑り道１２の末端の末端縁１２１は材料進入滑り道１２と斜め角を挟み、チップ型コンデンサ９０を整列定位群２０上に等しく落とすことが可能である。かつ整列定位群２０上に過多のチップ型コンデンサ９０が累積することを避けるため、材料進入滑り道１２の整列定位群２０上方の位置に感知器１４を設置し、整列定位群２０上のチップ型コンデンサ９０が一定の高度に累積した場合、材料振動送り器１３は動作を停止する。
【００１１】
次に図３を参照してください。本考案は整列定位群２０により、少なくとも１つのチップ型コンデンサ９０が特定の方向に向けられ、特定の位置に送られる。整列定位群２０は、材料振動送り器２１、整列プレート２２、覆いカバー２３を備え、整列プレート２２は材料振動送り器２１の上に設けられている。また当該整列プレート２２の表面には少なくとも１つの整列槽２２１が設けられ、材料振動送り器２１の振動により、チップ型コンデンサ９０を整列槽２２１内に落とし、特定の方向に整列する。覆いカバー２３は整列プレート２２上に設置され、整列プレート２２の縁２２２を覆いカバー２３の外に露出する。また、当該整列プレート２２と覆いカバー２３の間には、単一のチップ型コンデンサ９０のみが許容される隙間が開いており、振動により整列槽２２１を整列プレート２２の縁２２２に滑り移動する。特定位置とは整列プレート２２の縁２２２であり、整列プレート２２上には調整式止め板２４を設けることが可能であり、当該調節式止め板２４は固定ねじ２４１で覆いカバー２３上に留めることが可能である。チップ型コンデンサ９０の横断面は長方形である場合、本考案は調整可能止め板２４により、整列プレート２２と調節式止め板２４との間を調節でき、チップ型コンデンサ９０が通過できる隙間を提供する。チップ型コンデンサ９０は寝かされた状態でのみ覆いカバー２３内に進入できるため、整列プレート２２の整列の効率が高まる。
【００１２】
図４を参照してください。当該位置移動吸引ヘッド群３０は、少なくとも１つの吸引口３１と１つの移動機構３２を持ち、ここの吸引口３１の数量は整列槽２２１の数量で決まる。本実施例の数量は８個であるが、これに制限されるわけではない。吸引口３１は移動機構３２の上に設けられており、この吸引口３１は真空発生装置（図中未表示）に接続される。真空発生装置と吸引口３１の間には圧力感知器３３が設けてあり、吸引口３１がチップ型コンデンサ９０を吸い取ったかどうか感知する。また、この移動機構３２は横向き移動レール３２１と縦向き移動レール３２２を備えており、横方向移動及び縦方向移動を行う。
【００１３】
図５を参照してください。チップ型コンデンサ９０が振動により整列槽２２１に沿って整列プレート２２の縁２２２に滑って移動する時、吸引口３１は移動機構３２の移動により、チップ型コンデンサ９０と接触し、吸引力を利用してチップ型コンデンサ９０を吸い取る。同時に圧力感知器３３を利用して、チップ型コンデンサ９０を吸い取ったかどうか判断する。また、本考案にはさらに遮り片６０を含むことも可能である。この遮り片６０はチップ型コンデンサ９０が特定位置にある場合、このチップ型コンデンサ９０に覆いかぶさり、位置移動吸引ヘッド群３０がチップ型コンデンサ９０を吸い取る時、平行移動によりこのチップ型コンデンサ９０を露出させる。これによりチップ型コンデンサ９０の整列プレート２２上での落下の確率を減少させることが可能である。
【００１４】
図６と図７を参照してください。当該挟み測定群４０はすくなくとも１つの挟み接続ヘッド４１を持ち、ここでの挟み接続ヘッド４１の数量は吸引口３１の数量によって定まる。挟み接続ヘッド４１はそれぞれ開閉機構４２の両側に設けられており、挟み接続ヘッド４１は高圧測定の出力が可能な測定装置（図中未表示）が接続される。当該吸引口３１は吸引力で特定位置にあるチップ型コンデンサ９０を吸いつけた後、移動機構３２によりチップ型コンデンサ９０を挟み測定群４０の位置に移動する。同時に挟み接続ヘッド４１は開閉機構４２の移動により、チップ型コンデンサ９０を挟み接続ヘッド４１上に挟み込み、測定装置がチップ型コンデンサ９０への検証を行い、検証結果を生成する。
【００１５】
図８を参照してください。当該材料分類収集群５０は２つの材料収集箱５１と少なくとも１つの材料分類機構５２を持ち、ここでの材料分類機構５２の終了は挟み接続ヘッド４１の数量によって定まる。材料分類機構５２は挟み接続ヘッド４１の下に位置し、チップ型コンデンサ９０の測定完了後、挟み接続ヘッド４１はチップ型コンデンサ９０を放し、チップ型コンデンサ９０を材料分類機構５２に落とし込む。材料分類機構５２は測定結果によって、２つの材料収集箱５１の１つを選び、チップ型コンデンサ９０を落とし、チップ型コンデンサ９０の篩い分けを行う。
【００１６】
この中で、材料分類機構５２は滑り移動槽５２１、押し移動軸５２２及び復位ばね５２３を含む。２つの材料収集箱５１の上方にはそれぞれ材料入口道５３を設ける。当該滑り移動槽５２１には受容れ口５２１ａと底部開き口５２１ｂがあり、滑り移動槽５２１は押し移動軸５２２と復位ばね５２３により２つの材料収集箱５１の上を左右に滑り移動でき、常設位置と起動位置を持つ。また底部開き口５２１ｂを常設位置と起動位置が其々対応する２つの材料入口道５３の１つに位置させ、受容れ口５２１ａは滑り移動槽５２１が常設位置及び起動位置にある時に、挟み接続ヘッド４１から落ちたきたチップ型コンデンサ９０をすべて受け取ることができる。また材料分類機構５２は感知器５２４を持ち、当該感知器５２４は滑り移動槽５２１が起動位置にあるかどうか検知し、材料分類機構５２が正常に動作するかを確認する。本実施例で言うと、チップ型コンデンサ９０が測定に合格すると、滑り移動槽５２１は押し移動軸５２２により起動位置に移動し、測定を通過したチップ型コンデンサ９０を左側の材料収集箱５１に集中させる。この時、感知器５２４は滑り移動槽５２１が起動位置にあるか確認し、滑り移動槽５２１の動作が正常であることを確保する。チップ型コンデンサ９０が測定に不合格或いはチップ型コンデンサ９０が不明な原因により測定前に落下した場合、この時の滑り移動槽５２１は常設位置にあるため、それらは右側の材料収集箱５１に収集され、次の段階の測定を待つ。この設計の下、左側の材料収集箱５１下のすべてのチップ型コンデンサ９０は、検証を通過した良品であることを確保できる。
【００１７】
上述のように、本考案は同時に多数のチップ型コンデンサを検証でき、本考案の移動吸引ヘッド群が挟み測定群でチップ型コンデンサを測定する時、再び次に測定を待つチップ型コンデンサ群を吸引することができ、篩い分けの速度を速め、スクリーニング装置の作業効率を高め、ユーザの需要を満たすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本考案の構造立体外観図である。
【図２】本考案の材料貯蔵枡の右側図である。
【図３】本考案の整列定位群の正面図である。
【図４】本考案の移動吸引ヘッドの右側図である。
【図５】本考案の移動吸引ヘッド群がチップ型コンデンサ吸引の表示図である。
【図６】本考案の挟み測定群の正面図である。
【図７】本考案の挟み測定群によるチップ型コンデンサの挟み設置の表示図である。
【図８】本考案の材料分類収集群の正面図である。
【符号の説明】
【００１９】
１０  材料貯蔵枡群              １１  材料貯蔵桶
１２  材料進入滑り道            １３、２１  材料振動送り器
１２１  末端縁                  １４  感知器
２０  整列定位群                ２２  整列プレート
２２１  整列槽                  ２２２  縁
２３  覆いカバー                ２４  調節式止め板
２４１  固定ねじ                ３０  位置移動吸引ヘッド群
３１  吸引口                    ３２  移動機構
３２１  横方向移動レール        ３２２  縦方向移動レール
３３  圧力感知器                ４０  挟み測定群
４１  挟み接続ヘッド            ４２  開閉機構
５０  材料分類収集群            ５１  材料収集箱
５２  材料分類機構              ５２１  滑り移動槽
５２１ａ  受容れ口              ５２１ｂ  底部開き口
５２２  押し移動軸              ５２３  復位ばね
５２４  感知器                  ５３  材料入口道
６０  遮り片                    ９０  チップ型コンデンサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
0003119384.tif 000005
【図４】
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【図５】
0003119384.tif 000007
【図６】
0003119384.tif 000008
【図７】
0003119384.tif 000009
【図８】
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