(57)【要約】【課題】プラズマトーチの高さ調整用の治具の発光室内からの取り出し忘れを防止し高い安全性を確保する。【解決手段】調整治具１２と発光室２の外部とをチェーン１３で接続し、調整治具１２を使用しない場合には該治具１２を治具保持穴１４に挿入しておけるようにする。測定者が調整治具１２を用いてプラズマトーチ１１の高さを決めて固定ネジ１０３を締めてトーチ１１を固定した後に、調整治具１２を取り出し忘れて内ドア４を閉めようとすると、チェーン１３が挟まるため内ドア４が完全には閉まらない。この内ドア４の非閉鎖状態は内ドアスイッチ７により検知され、制御部はプラズマ発光を禁止する。このように、調整治具１２を発光室２内に置き忘れた状態ではプラズマ発光が実行されないので、高い安全性を確保できる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
ドアにより略閉塞可能な発光室内にプラズマトーチを配置し、該プラズマトーチにより発生させたプラズマ炎中で試料原子を励起発光させて分析を行うＩＣＰ発光分析装置において、
前記プラズマトーチの高さ位置調整に使用される調整治具と、該調整治具と前記発光室の外部とを接続する紐状の連結体と、を備えることを特徴とするＩＣＰ発光分析装置。
【請求項２】
前記ドアの開閉を検知する開閉検知手段と、該開閉検知手段により前記ドアが開放されているときに前記プラズマトーチでのプラズマ炎形成を禁止する制御手段と、をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載のＩＣＰ発光分析装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、誘導結合プラズマ（Inductively Coupled Plasma：ＩＣＰ）発光分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣＰ発光分析装置では、ネブライザ等により噴霧した試料液をプラズマトーチ中の高温のプラズマ炎中に導入して励起発光させ、その発光光を分光器により波長分散させて検出器で検出することにより発光スペクトルを取得し、その発光スペクトルに現れているスペクトル線の波長から試料液に含まれる元素の定性分析を、スペクトル線の強度からその元素の定量分析を行う（特許文献１など参照）。プラズマトーチは非常に高温になるので、プラズマによる高周波や熱を外部に漏出させないようにするとともに、分析時には外部からの光を遮蔽する必要があるため、一般に、プラズマトーチはドアで閉塞可能な発光室内に収納されている。
【０００３】
こうした装置では、分析対象の試料の種類によって異なる形状のプラズマトーチが使用されることがある。また、プラズマトーチは消耗品であるため、使用頻度にもよるが、例えば３ヶ月毎など定期的に交換する必要がある。プラズマトーチの交換の際には、プラズマ炎が適切な位置に形成されるようにトーチの取付高さを調整する必要があり、そのために位置決め用の調整治具が使用される。
【０００４】
しかしながら、従来、測定者が調整治具を使用してプラズマトーチの取付作業を行った後に、この治具を発光室内から取り出すのを忘れてしまうことがあった。こうした場合に、従来の装置では、そのままプラズマトーチでプラズマ炎を発生させると、熱によって調整治具が熔解してプラズマトーチやその周囲の各種部材に付着して、それ以降の使用に支障をきたすおそれがあった。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−２０２３２４号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
本考案は上記課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、測定者が調整治具を用いてプラズマトーチの高さ調節を行った後にその治具の取り出し忘れを防止することができるＩＣＰ発光分析装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために成された本考案は、ドアにより略閉塞可能な発光室内にプラズマトーチを配置し、該プラズマトーチにより発生させたプラズマ炎中で試料原子を励起発光させて分析を行うＩＣＰ発光分析装置において、
前記プラズマトーチの高さ位置調整に使用される調整治具と、該調整治具と前記発光室の外部とを接続する紐状の連結体と、を備えることを特徴としている。
【考案の効果】
【０００８】
本考案に係るＩＣＰ発光分析装置において、測定者は調整治具を用いて発光室内のプラズマトーチの高さを調整しつつ該トーチを取り付け、取り付け終了後、調整治具を発光室内から取り出してドアを閉め、発光室内を閉塞して分析の開始を指示する。このような手順において、測定者が調整治具を発光室内から取り出すのを忘れると、ドアを閉めようとしても連結体がドアと開口部との間に挟まりドアは完全に閉まらない。これにより、測定者は調整治具を発光室内に置き忘れた状態になっていることを容易に認識することができる。
【０００９】
また本考案によるＩＣＰ発光分析装置において、好ましくは、前記ドアの開閉を検知する開閉検知手段と、該開閉検知手段により前記ドアが開放されているときに前記プラズマトーチでのプラズマ炎形成を禁止する制御手段と、をさらに備える構成とするとよい。
【００１０】
この構成では、上述したように連結体がドアと開口部との間に挟まってドアが完全に閉まらない状態であると、開閉検知手段によりドアが開放していると認識されるから、仮に分析開始が指示されても、制御手段はプラズマトーチでのプラズマ炎の形成、つまりはプラズマトーチの発光を許可しない。したがって、調整治具の置き忘れや連結体が挟まっていることに測定者が気付かない場合であっても、調整治具が発光室内に置き忘れられた状態でプラズマ発光が実行されてしまうことを確実に回避し、これによるプラズマトーチやその周辺部材の損壊を未然に防止することができる。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本考案の一実施例であるＩＣＰ発光分析装置を図１〜図４により説明する。図１は本実施例のＩＣＰ発光分析装置の発光室の正面図であり（ａ）は内ドアを閉鎖した状態、（ｂ）は内ドアを開放した状態を示す。また、図２はプラズマトーチの固定部分の概略上面図、図３は本実施例のＩＣＰ発光分析装置で使用される調整治具の斜視図、図４は本実施例のＩＣＰ発光分析装置の要部の制御系構成図である。
【００１２】
筐体１内には前面が四角形状に開口した発光室２が形成され、その前面開口３は横開き式の内ドア４により開閉され、さらにその外側には別の横開き式の外ドア５が設けられている。即ち、発光室２は、内ドア４と外ドア５の二重のドアで閉鎖される。これは、非常な高温になる発光室２内の熱が外部に伝わるのを遮断するためと、発光室２内に入る光を確実に遮蔽するためである。内ドア４の開閉は前面開口３の周縁部６に設けられた内ドアスイッチ７により検知され、外ドア５の開閉は外ドアスイッチ８により検知される。なお、必ずしもこのような二重ドア構造が必要とは限らない。
【００１３】
発光室２内には略水平なトーチホルダ１０が設置され、該トーチホルダ１０に本体外形が略円筒形状であるプラズマトーチ１１が着脱可能に取り付けられる。より詳しく述べると、図２に示すように、トーチホルダ１０のテーブル１００には上面Ｖ字状の切れ込み１０１が形成されており、その切れ込み１０１にプラズマトーチ１１を収容してヒンジにより蝶動自在である前面の押さえ部１０２を閉じて固定ネジ１０３を締める。これにより、プラズマトーチ１１は固定される。プラズマトーチ１１の水平面内での位置は切れ込み１０１により規制されるため一義的に決まっているが、高さ方向の位置は自由に調整可能である。したがって、プラズマトーチ１１を適宜の高さに調整した状態で固定ネジ１０３を締めることにより、プラズマトーチ１１の高さ位置を決めることができる。
【００１４】
様々な種類のプラズマトーチを取り付ける際に、その上端面の高さを揃える必要があり、そのために高さ位置調整用の治具が使用される。この調整治具１２は本考案における連結体としての適度な長さのチェーン１３により発光室２外側の前面壁に接続されている。また、この前面壁にあってチェーン１３の固着個所の近傍には治具保持穴１４が形成されている。
【００１５】
調整治具１２は図３に示すような形状の金属板部材であり、脚部１２１と位置決め片部１２２とを有する。測定者が図１（ｂ）に示すように内ドア４を開放して発光室２内部が露出した状態でプラズマトーチ１１をトーチホルダ１０に取り付けるときには、調整治具１２の脚部１２１をトーチホルダ１０のテーブル１００上に置き、位置決め片部１２２の下面にプラズマトーチ１１の上端面が当接する状態で固定ネジ１０３を締める。これにより、プラズマトーチ１１は適切な位置決めがなされた状態でトーチホルダ１０に固定される。
【００１６】
その後、測定者は調整治具１２を発光室２内から取り出して図１（ａ）に示すように調整治具１２の脚部１２１を治具保持穴１４に挿入することで該調整治具１２を片付け、内ドア４及び外ドア５を閉めて発光室２を密閉する。
【００１７】
図４に示すように、プラズマトーチ１１にはガス流量制御弁２３を介してアルゴンガス供給源２２より、プラズマガスやキャリアガスとしてのアルゴンガスが供給されるようになっている。またプラズマトーチ１１の上部には誘導コイル２０が設けられ、高周波電源２１により誘導コイル２０に電力が供給されるとプラズマトーチ１１内部に高周波磁界が形成され、この磁界の作用により電離ガス中に誘導電流が流れてプラズマが生成されるようになっている。このプラズマ中に霧化した試料が導入されることで、試料分子の励起発光が生じる。高周波電源２１やガス流量制御弁２３の動作はＣＰＵ等を中心に構成される制御部２４により制御され、この制御部２４には測定者が指示を与えるための操作部２５と、上述した内ドアスイッチ７、外ドアスイッチ８などが接続されている。この制御部２４が本考案における制御手段に相当し、内ドアスイッチ７が開閉検知手段に相当する。
【００１８】
制御部２４は内ドアスイッチ７及び外ドアスイッチ８からの検知信号により内ドア４及び外ドア５がともに閉鎖していると認識したときに、プラズマ点灯を許可する。即ち、高周波電源２１を駆動し得る状態となる。例えば、上述したように測定者がプラズマトーチ１１を取り付けて内ドア４及び外ドア５を閉めて発光室２を密閉した後に操作部２５から分析の開始を指示すると、この指示を受けて制御部２４は内ドアスイッチ７及び外ドアスイッチ８からの検知信号により内ドア４及び外ドア５が閉鎖していることを確認する。そして、閉鎖が確認できると、所定のシーケンスに従ってプラズマ点灯を伴う分析を開始する。
【００１９】
これに対し、測定者が調整治具１２を用いてプラズマトーチ１１の高さ調整を行って取付作業を終了した後に、調整治具１２を取り出し忘れて内ドア４及び外ドア５を閉めたものとすると、図１（ｂ）の状態のまま内ドア４を閉めることになるから、内ドア４と前面開口３との間にチェーン１３が挟まる。そのため、内ドア４は完全には閉まらず、内ドアスイッチ７の検知信号はドア開放を示す。この状態でも外ドア５は閉鎖可能であり、見かけ上は発光室２が閉鎖されている状態になるが、測定者が操作部２５により分析開始を指示したときに制御部２４は内ドアスイッチ７からの検知信号により内ドア４が閉鎖していないことを認識する。したがって、このときにはプラズマは点灯されず、分析は開始されない。これにより、発光室２内に残された調整治具１２が熱により熔解することを回避できる。
【００２０】
なお、表示手段により内ドア４や外ドア５が開放状態であることを報知するようにしておけば、測定者はより速やかに調整治具１２の取り出し忘れを認識することができる。もちろん、ブザー等の警告音で報知を行ってもよい。
【００２１】
なお、上記実施例は本考案の一例であり、上記記載以外においても本考案の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行うことができることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本考案の一実施例であるＩＣＰ発光分析装置の発光室の正面図であり、（ａ）は内ドアを閉鎖した状態、（ｂ）は内ドアを開放した状態。
【図２】プラズマトーチの固定部分の概略上面図。
【図３】本実施例のＩＣＰ発光分析装置で使用される調整治具の斜視図。
【図４】本実施例のＩＣＰ発光分析装置の要部の制御系構成図。
【符号の説明】
【００２３】
１…筐体
２…発光室
３…前面開口
４…内ドア
５…外ドア
６…周縁部
７…内ドアスイッチ
８…外ドアスイッチ
１０…トーチホルダ
１００…テーブル
１０１…切れ込み
１０２…押さえ部
１０３…固定ネジ
１１…プラズマトーチ
１２…調整治具
１２１…脚部
１２２…位置決め片部
１３…チェーン
１４…治具保持穴
２０…誘導コイル
２１…高周波電源
２２…アルゴンガス供給源
２３…ガス流量制御弁
２４…制御部
２５…操作部
【図１】
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【図２】
0003118926.tif 000004
【図３】
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【図４】
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