【手続補正書】
【提出日】平成18年6月8日(2006.6.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１および第２のプレートを有するセンサを用いて表面の背後の特徴を見つけ出す方法であって、該方法は、
該センサと該表面とが互いに近付くように移動させるステップと、
該第１のプレートおよび該特徴を備える第１のキャパシタの第１のキャパシタンスを測定するステップと、
該第２のプレートおよび該特徴を備える第２のキャパシタの第２のキャパシタンスを測定するステップと、
該第１および該第２のキャパシタンス測定値の比率を計算するステップとを包含する、方法。
【請求項２】
前記第１のキャパシタの初期キャパシタンスを表す第１の基準を判定するステップと、
前記第２のキャパシタの初期キャパシタンスを表す第２の基準を判定するステップと
をさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１のキャパシタンス測定値は、前記第１の基準と該第１のキャパシタンス測定値との間の差であり、
前記第２のキャパシタンス測定値は、前記第２の基準と該第２のキャパシタンス測定値との間の差である、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１および第２のキャパシタンス測定値の１つ以上が第２の閾値を超過するかどうかを判定するステップと、
前記第１および第２のキャパシタンス測定値の１つ以上が該第２の閾値を超過する場合、該第１および第２のキャパシタンスを再測定するステップと
をさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記比率が所定の範囲内であるかどうかを判定するステップをさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記比率が前記所定の範囲内である場合、前記表面の背後の物体のエッジが検出されたことを示すステップをさらに包含する、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記比率は、前記第１および第２のキャパシタンス測定値の最大値の関数である、請求項５に記載の方法。
【請求項８】
前記所定の範囲は、固定限界を有する範囲である、請求項５に記載の方法。
【請求項９】
前記所定の範囲は、約０．３〜０．３５である、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記所定の範囲をルックアップテーブルから導出するステップをさらに包含する、請求項５に記載の方法。
【請求項１１】
前記所定の範囲を生成するステップをさらに包含する、請求項５に記載の方法。
【請求項１２】
前記第１のキャパシタンス測定値と第２のキャパシタンス測定値とを比較するステップと、
前記第１のキャパシタンス測定値が前記第２のキャパシタンス測定値よりも大きい場合、前記表面の背後の物体のエッジが、前記第２のプレートの中心線よりも、前記第１のプレートの中心線に近いと判定するステップと、
該第１のキャパシタンス測定値が該第２のキャパシタンス測定値よりも小さい場合、該エッジは、該第１のプレートの該中心線よりも該第２のプレートの該中心線に近いと判定するステップと
をさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記比率が１の値の所定の範囲内であるかどうかを判定するステップをさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記所定の範囲は、０．９以上１以下の範囲である、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記比率が前記所定の範囲内である場合、物体の中心線が検出されたことを示すステップをさらに包含する、請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
前記第１および第２のキャパシタンスは、前記第１および第２のプレートのそれぞれ１つをそれぞれの基準レベルになるように充電するために必要な継続時間を示す、請求項１に記載の方法。
【請求項１７】
前記第１の基準は、前記初期キャパシタンスを有する前記第１のプレートを第１の基準になるように充電するために必要な継続時間を示し、
前記第２の基準は、前記初期キャパシタンスを有する前記第２のプレートを第２の基準になるように充電するために必要な継続時間を示し、
ここで、前記第１のキャパシタンスは、該第１の基準と、該第１のプレートを該第１の基準になるように充電する継続時間との間の差であり、
前記第２のキャパシタンスは、該第２の基準と、該第２のプレートを該第２の基準になるように充電する継続時間との間の差である、請求項２に記載の方法。
【請求項１８】
前記第１の基準は、前記第２の基準と等しい、請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記移動させるステップは、前記センサを前記表面に付与するステップを包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項２０】
前記移動させるステップは、前記表面を前記センサに付与するステップを包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項２１】
前記比率の表示を提供するステップをさらに包含し、該比率がほぼ１である場合、前記特徴の中心線を特定する、請求項１に記載の方法。
【請求項２２】
ほぼ等しい面積の第１のプレートおよび第２のプレートを有するセンサを用いて、表面の背後の特徴を見つけ出す方法であって、該方法は、
該センサと該表面とが互いに近付くように移動させるステップと、
該第１のプレートおよび該特徴を備える第１のキャパシタの第１のキャパシタンスを測定するステップと、
該第２のプレートおよび該特徴を備える第２のキャパシタの第２のキャパシタンスを測定するステップと、
該第１のキャパシタンス測定値を該第２のキャパシタンス測定値と比較するステップと、
該測定するステップおよび比較するステップを繰返すステップとを包含する方法。
【請求項２３】
前記第１のキャパシタンス測定値を前記第２のキャパシタンス測定値と比較する前記ステップは、
該第１のキャパシタンス測定値と第２のキャパシタンス測定値との間の比率を計算するステップと、
該比率が所定の範囲内であるかどうかを判定するステップと、
該比率が該範囲内である場合、物体のエッジが検出されたことを示すステップと
を包含する、請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記第１のキャパシタンス測定値を前記第２のキャパシタンス測定値と比較する前記ステップは、
該第１および第２のキャパシタンス測定値が第２の閾値より少ない量だけ異なるかどうかを判定するステップと、
該第１および第２のキャパシタンスが該閾値より少ない量だけ異なる場合、物体の中心線が検出されたことを示すステップと
を包含する、請求項２２に記載の方法。
【請求項２５】
前記第１のキャパシタンス測定値を前記第２のキャパシタンス測定値と比較する前記ステップは、
該第１のキャパシタンス測定値と該第２のキャパシタンス測定値との間の比率を計算するステップと、
該比率が１の所定の範囲内であるかどうかを判定するステップと、
該キャパシタンス比率が該範囲内である場合、物体の中心線が検出されることを示すステップと
を包含する、請求項２２に記載の方法。
【請求項２６】
前記比率の表示を提供するステップをさらに包含し、該比率がほぼ１である場合、前記特徴の中心線を特定する、請求項２２に記載の方法。
【請求項２７】
構造の特徴を見つけ出すセンサであって、
第１のキャパシタンスを有し、かつ、該構造とともに第１のキャパシタを形成することに適合した第１のプレートと、
第２のキャパシタンスを有し、かつ、該構造とともに第２のキャパシタを形成することに適合した第２のプレートと、
該第１のプレートに結合された第１の測定回路であって、該第１のキャパシタの第１のキャパシタンス値を測定する、第１の測定回路と、
該第２のプレートに結合された第２の測定回路であって、該第２のキャパシタの第２のキャパシタンス値を測定する、第２の測定回路と、
該第１および第２の測定回路に結合された比較回路であって、該第１および第２のキャパシタンス値の比率を生成する、比較回路と
を備える、センサ。
【請求項２８】
前記第１のキャパシタンス値は、前記第１のキャパシタンスと、該第１のキャパシタの初期キャパシタンスとの間の差を表し、
前記第２のキャパシタンス値は、前記第２のキャパシタンスと、該第２のキャパシタの初期キャパシタンスとの間の差を表す、請求項２７に記載のセンサ。
【請求項２９】
第１および第２の測定回路に結合された閾値回路をさらに備え、該閾値回路は、前記第１および第２のキャパシタンス値が第２の閾値を越えるかどうかを判定する、請求項２７に記載のセンサ。
【請求項３０】
前記比較回路に結合され、かつ、前記比率値を受取るように結合された処理回路をさらに備える、請求項２７に記載のセンサ。
【請求項３１】
前記処理回路は、前記比率が所定の範囲内であるかどうかを判定する、請求項３０に記載のセンサ。
【請求項３２】
前記処理回路に結合されたインジケータをさらに備え、該インジケータは、前記比率が前記所定の範囲内である場合に、前記センサが前記構造のエッジ上にあるという表示を提供する、請求項３１に記載のセンサ。
【請求項３３】
前記処理回路は、前記キャパシタンス比率が１の所定の範囲内であるかどうかを判定する、請求項３０に記載のセンサ。
【請求項３４】
前記処理回路に結合されたインジケータをさらに備え、該インジケータは、前記比率が１の範囲内である場合に、前記センサが前記構造の物体の中心線上にあるという表示を提供する、請求項３３に記載のセンサ。
【請求項３５】
ルックアップテーブルを格納し、かつ、前記処理回路に結合されたメモリをさらに備え、該ルックアップテーブルは、該処理回路の遷移比率を有し、該遷移比率は、前記所定の範囲をセットするために用いられる、請求項３２に記載のセンサ。
【請求項３６】
基準電圧のソースをさらに備え、
前記第１の測定回路は、第１のインデックスを備え、該第１のインデックスは、前記第１のプレートを前記基準電圧レベルになるように充電するために必要とされる複数のクロックサイクルを示し、
該第２の測定回路は、第２のインデックスを備え、該第２のインデックスは、前記第２のプレートを該基準電圧レベルになるように充電するために必要とされる複数のクロックサイクルを示す、請求項３０に記載のセンサ。
【請求項３７】
前記第１および第２の測定回路は、
前記第１または第２のプレートのそれぞれに結合された電流源と、
該第１または第２のプレートのそれぞれに結合された放電スイッチと、
前記処理回路および出力端子からデータ信号を受取るように結合された入力端子を有するデジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）と、
該第１または第２のプレートのそれぞれに結合された第１の入力端子と、該ＤＡＣに結合された第２の入力端子と、前記測定回路の前記出力信号を提供する出力端子とを有する比較器と
をそれぞれ備える、請求項３６に記載のセンサ。
【請求項３８】
前記比較回路に結合されたインジケータをさらに備え、該インジケータは、前記比率がほぼ１である場合に、前記センサが前記構造の物体の前記中心線上にあるという表示を提供する、請求項２７に記載の方法。
【請求項３９】
センサであって、
ほぼ同じ平面上に位置し、間隔を空けて離れ、かつ、表面近くに配置されるように調整される、第１のプレートおよび第２のプレートと、
該第１および第２のプレートに結合され、これにより、該プレートの各々のキャパシタンス値を測定する測定回路と、
該測定されたキャパシタンス値を受取り、かつ、該測定されたキャパシタンス値の変化間の比率を判定するように結合された第１の比較回路と
を備える、センサ。
【請求項４０】
前記比較回路に結合され、これにより、前記キャパシタンスの前記比率の表示を提供するインジケータをさらに備える、請求項３９に記載のセンサ。
【請求項４１】
前記表示は、前記比率が所定の比率とほぼ等しいという表示であり、これにより、前記表面の背後の物体のエッジの位置を特定する、請求項４０に記載のセンサ。
【請求項４２】
前記表示は、前記比率が１にほぼ等しいという表示であり、これにより、前記表面の背後の物体の中心線の位置を特定する、請求項４０に記載のセンサ。