【手続補正書】
【提出日】平成18年9月13日(2006.9.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定試料をイオン化するイオン源と、リング電極と１対のエンドキャップ電極から成り、前記イオン源で生成されたイオンをトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置における質量分析法おいて、
前記イオン源でイオン化された質量数既知の試料イオンを前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップのエンドキャップ電極に周波数成分ωを有する補助交流電圧を印加してイオントラップ内の不要イオンを排出し、前記イオントラップ内に残存するイオンを前記リング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで排出して前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記周波数成分ωを変化させながら前記測定処理を繰り返し、前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することで、前記既知質量数のイオンに対する前記周波数成分ωの補正を行うことを特徴とする質量分析方法。
【請求項２】
測定試料をイオン化するイオン源と、リング電極と１対のエンドキャップ電極から成り、前記イオン源で生成されたイオンをトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置における質量分析法おいて、
前記イオン源でイオン化された質量数既知の試料イオンを前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップのリング電極に印加する主高周波電圧を任意の電圧値Ｖまで走査してイオントラップ内の不要イオンを排出し、前記イオントラップ内に残存するイオンを前記リング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで排出して前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記電圧値Ｖを変化させながら前記測定処理を繰り返し、前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することで、前記既知質量数のイオンに対する前記電圧値Ｖの補正を行うことを特徴とする質量分析方法。
【請求項３】
上記請求項１または２において、
前記測定処理に先立ち、前記イオントラップのリング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで、イオントラップ内をイオンが通過する状態とし、質量数既知の試料イオンを前記飛行時間質量分析計に導いて計測し、飛行時間型質量分析計の補正を行うことを特徴とする質量分析方法。
【請求項４】
上記請求項１において、
複数の質量数既知の試料イオンについて、前記周波数成分ωを変化させながら前記測定処理を繰り返し、各試料イオン毎に得られた周波数成分ωと質量数の関係から検量線を作成することを特徴とする質量分析方法。
【請求項５】
上記請求項１において、
複数の質量数既知の試料イオンについて、前記電圧値Ｖを変化させながら前記測定処理を繰り返し、各試料イオン毎に得られた電圧値Ｖと質量数の関係から検量線を作成することを特徴とする質量分析方法。
【請求項６】
測定試料をイオン化するイオン源と、リング電極と１対のエンドキャップ電極から成り、前記イオン源で生成されたイオンをトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計と、前記イオン源や飛行時間質量分析計を制御する制御部とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置において、
前記制御部は、
前記イオントラップにおいて、所定の質量範囲のイオンをトラップし、他の質量範囲のイオンを排出するための前記エンドキャップ電極に印加する補助交流電圧の周波数成分ωを設定する手段を有し、
前記イオン源でイオン化された質量数既知の試料イオンを前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップのエンドキャップ電極に前記周波数成分ωを有する補助交流電圧を印加してイオントラップ内の不要イオンを排出し、前記イオントラップ内に残存するイオンを前記リング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで排出して前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記周波数成分ωを変化させながら前記測定処理を繰り返し、前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することで、前記既知質量数のイオンに対する前記周波数成分ωの補正を行うことを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。
【請求項７】
測定試料をイオン化するイオン源と、リング電極と１対のエンドキャップ電極から成り、前記イオン源で生成されたイオンをトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計と、前記イオン源や飛行時間質量分析計を制御する制御部とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置において、
前記制御部は、
前記イオン源でイオン化された質量数既知の試料イオンを前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップのリング電極に印加する主高周波電圧を任意の電圧値Ｖまで走査してイオントラップ内の不要イオンを排出し、前記イオントラップ内に残存するイオンを前記リング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで排出して前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記電圧値Ｖを変化させながら前記測定処理を繰り返し、前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することで、前記既知質量数のイオンに対する前記電圧値Ｖの補正を行うことを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。
【請求項８】
上記請求項６または７において、
前記制御部は、
前記測定処理に先立ち、前記イオントラップのリング電極およびエンドキャップ電極に直流電圧を印加することで、イオントラップ内をイオンが通過する状態とし、質量数既知の試料イオンを前記飛行時間質量分析計に導いて計測し、飛行時間型質量分析計の補正を行うことを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。
【請求項９】
上記請求項６において、
前記制御部は、
複数の質量数既知の試料イオンについて、前記周波数成分ωを変化させながら前記測定処理を繰り返し、各試料イオン毎に得られた周波数成分ωと質量数の関係から検量線を作成することを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。
【請求項１０】
上記請求項７において、
前記制御部は、
複数の質量数既知の試料イオンについて、前記電圧値Ｖを変化させながら前記測定処理を繰り返し、各試料イオン毎に得られた電圧値Ｖと質量数の関係から検量線を作成することを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。
【請求項１１】
イオン化された測定対象物をトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置における質量分析法において、
イオン化された質量数既知の測定対象物を前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップ内の不要イオンを排出し、前記イオントラップ内に残存するイオンを前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することに基づいて、前記イオントラップ内の不要イオンの排出を制御することを特徴とする質量分析方法。
【請求項１２】
イオン化された測定対象物をトラップするイオントラップと、飛行時間質量分析計と、前記イオントラップおよび前記飛行時間質量分析計を制御する制御部とを有するイオントラップ／飛行時間型質量分析装置において、
前記制御部は、
前記イオントラップにおいて、イオン化された質量数既知の試料イオンを前記イオントラップでトラップし、前記イオントラップ内の不要イオンを排出し、
前記イオントラップ内に残存するイオンを前記飛行時間質量分析計で計測する測定処理を行い、
前記飛行時間質量分析計で計測されたイオンの信号強度を予め記憶された閾値と比較することで、前記イオントラップ内の不要イオンを排出することを制御することを特徴とするイオントラップ／飛行時間型質量分析装置。