【手続補正書】
【提出日】平成17年11月28日(2005.11.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段とを備えた光学装置における形状可変光学素子の制御方法であって、
前記光学装置の結像状態を取得し、次いで、前記形状可変光学素子の形状を微小に変化させ、その形状変化に伴う前記光学装置の結像状態を取得し、次いで、前記形状可変光学素子の形状変化後の結像状態と形状変化前の形状での結像状態とを比較して結像状態の改善度を評価し、これらの処理を結像状態が改善されなくなるまで繰り返して、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正することを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項２】  次の手順で行う光学特性可変光学素子の制御方法及び該制御方法を備えた光学装置。
Ｉ．最初に、光学特性可変光学素子に仮の補償信号を与え、この補償信号によって決まる光学特性可変光学素子の状態で像を撮像する、
II．次に、上記光学特性可変光学素子を多少変形させる信号を与え、この変形した光学特性可変光学素子の状態で像を撮像する、
III.次に、撮像した２つの像について高周波成分を比較し、高周波成分の値が大きい方を仮の補償信号とする、
IV．上記Ｉ〜IIIを繰り返し行い、高周波成分が最大となる補償信号を見つける。
【請求項３】  可変形状光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段とを備えた光学装置において、結像状態を評価する手段と、前記形状可変光学素子の形状を微小に変化させる手段と、前記形状可変光学素子の形状変形に伴う結像状態の改善度を判断する手段とを介して、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正することを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項４】  形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段と、形状可変光学素子の変形基本パターンを記録したＬＵＴ（ルックアップテーブル）を備えた光学装置において、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正するために、ＬＵＴに記録された変形基本パターン形状に形状可変光学素子を変形させたときにおける結像状態を評価する手段と、基本パターン形状に形状可変光学素子が変形したときにおける光学系の結像状態の改善度を判断する手段とを有することを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項５】  請求項３又は４に記載の制御方法による制御手段を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項６】  請求項４に記載の制御方法を第１段階の手段とし、請求項３に記載の制御方法を第２段階の手段として有することを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項７】  形状可変光学素子の光学作用面の面形状を記憶する手段と、形状制御機構により光学作用面の面形状を変化させる手段と、形状制御機構の数だけ繰り返す手段と、形状可変光学素子の光学作用面の面形状が同一かどうかを判断する手段とを有することを特徴とする請求項３に記載の制御方法。
【請求項８】  光学系の結像状態を記憶する手段と、個別の形状制御機構を操作して光学作用面の面形状を微小に変化させた場合の結像状態の改善度を記億する手段と、前記記憶手段に記憶した結像状態の改善度をもとに次の光学作用面の面形状を決定する手段と、次の光学作用面の面形状における光学系の結像状態と記憶させた結像状態とを比較し更なる改善の余地の有無を判定する手段とを有することを特徴とする光学系の制御方法。
【請求項９】  形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に所定の制御信号（印加電圧又は印加電流）を設定（供給）することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、次いで、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、結像状態が改善された場合は、その最新の制御信号及び結像状態を保持し、結像状態が改善されない場合は、もとの制御信号及び結像状態に戻し、これらの処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返し、次いで、制御機構Ｚ（Ｎ）についての結像状態の評価が終了した時点における光学作用面の面形状が初期の面形状と比べて変化している場合に、最初から処理を再開することを特徴とする請求項１に記載の形状可変光学素子の制御方法。
【請求項１０】  形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に所定の制御信号（印加電圧又は印加電流）を設定（供給）することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、次いで、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、結像状態が改善された場合は、その制御信号及び結像状態を保持するとともに、制御機構にさらに制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、これらの処理を結像状態が改善されなくなるまで繰り返し、改善されない場合は、直前の制御信号及び結像状態に戻し、これらの処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返すことを特徴とする請求項１に記載の形状可変光学素子の制御方法。
【請求項１１】  制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに、初期値の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を設定し、次いで、制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに設定されている現在の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を、光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷX(i)に記憶し、次いで、現在の制御信号Ｘ（ｉ）が与えられている状態で、光学装置の結像状態Ａ１を取得し、次いで、制御信号Ｘ（ｉ）をわずかに変化させた値Ｘ（ｉ）＋δＸをｉ番目の制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、次いで、このときの光学装置の結像状態Ａ２を取得し、次いで、取得した結像状態Ａ２を光学系の結像状態の良否を定量的に表すための評価関数にあてはめて関数値Ｙ２を算出し、次いで、結像状態Ａ１近傍において制御信号Ｘ（ｉ）の微小変化δＸに対する評価関数の変化率Ｃ（ｉ）（＝｜Ｙ２−Ｙ１｜／δＸ）を求め、次いで、求めた変化率Ｃ（ｉ）を光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷC(i)に記憶し、次いで、所定の記憶領域ＷX(i)に記憶された制御信号Ｘ（ｉ）を制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、この結像状態Ａ２の取得から変化率Ｃ（ｉ）の取得に関する処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返し、次いで、所定の記憶領域ＷC(i)に記憶されたそれぞれの評価関数の変化率を用いて、結像状態Ａ１よりも良い結像状態を与える制御信号Ｘ’（ｉ）＝Ｘ（ｉ）＋ｍ（ｉ）δＸを与えるｍ（ｉ）を求め、次いで、光学装置に設けられた所定の記憶領域Ｗm(i)により良い結像状態に改善するパラメータｍ（ｉ）を記憶し、次いで、ΣＣ（ｉ）ｍ（ｉ）δＸを計算し、次いで、ΣＣ（ｉ）ｍ（ｉ）δＸに基づいて結像状態Ａ１が最良結像状態かどうかを判断し、評価関数の変化量が一定の範囲内に収束するまで、結像状態の記憶領域Ｗm(i)に記憶されたそれぞれのパラメータを使って新たな制御信号Ｘ’（ｉ）を作成して各制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、再度、制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに設定されている現在の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）の光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷX(i)への記憶、光学装置の結像状態Ａ１の取得以降の処理を繰り返すことを特徴とする光学特性可変光学素子の制御方法。
【請求項１２】  形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段と、形状可変光学素子の変形基本パターンを記録したＬＵＴ（ルックアップテーブル）とを備えた光学装置における形状可変光学素子の制御方法であって、各制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）に設定すべき各制御信号（印加電圧又は印加電流）の値Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）が１つの変形基本パターンデータとして、複数パターン記録されたＬＵＴ（ルックアップテーブル）から１つの変形基本パターンデータを取り出し、取り出した変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を形状可変光学素子に備わる制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態Ａ１を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、ＬＵＴから次の変形基本パターンデータを取り出し、取り出した変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を形状可変光学素子に備わる制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態Ａ２を取得し、次いで、結像状態Ａ１と結像状態Ａ２とを比較し、結像状態が改善された場合は、改善した結像状態となる制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）の変形基本パターンデータを記憶するとともに結像状態Ａ２の値を結像状態Ａ１に移し、これら結像状態Ａ２の取得から結像状態Ａ１と結像状態Ａ２との比較までの処理を全てのＬＵＴの変形基本パターンデータについて繰り返し、次いで、記憶されている変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定し、そのときの結像状態にもどすことを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項１３】  請求項９乃至１２のいずれかの制御方法による制御手段を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項１４】  異なる変形基本パターンデータで構成されたＬＵＴを温度、湿度等の環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態等の条件に応じて分類してＬＵＴ群を構成しておき、操作時の撮影情報等を図示省略した検出手段等を介して入力し、次いで、図示省略した制御手段を介して入力情報に基づきＬＵＴ群の中から光学装置の使用条件に最適なＬＵＴを選択し、次いで、請求項１２に記載の制御方法を用い、ＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索することを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項１５】  第１段階で請求項１２に記載の制御方法による光学作用面の制御を行いＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索し、次いで、第２段階で請求項９乃至１１のいずれかに記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、形状可変光学素子の光学作用面の面形状をフィードバック制御することで最良結像状態を得ることを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【請求項１６】  第１段階で請求項１４に記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、温度、湿度等の環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態等の条件に応じて分類された異なる変形基本パターンデータで構成されたＬＵＴ群の中から光学装置の使用条件に最適なＬＵＴを選択してＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索し、次いで、第２段階で請求項９乃至１１のいずれかに記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、形状可変光学素子の光学作用面の面形状をフィードバック制御することで最良結像状態を得ることを特徴とする形状可変光学素子の制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段とを備えた光学装置における形状可変光学素子の制御方法であって、前記光学装置の結像状態を取得し、次いで、前記形状可変光学素子の形状を微小に変化させ、その形状変化に伴う前記光学装置の結像状態を取得し、次いで、前記形状可変光学素子の形状変化後の結像状態と形状変化前の形状での結像状態とを比較して結像状態の改善度を評価し、これらの処理を結像状態が改善されなくなるまで繰り返して、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
また、本発明による光学装置は、次の手順で行う光学特性可変光学素子の制御方法及び該制御方法を備えたことを特徴とする。
Ｉ．最初に、光学特性可変光学素子に仮の補償信号を与え、この補償信号によって決まる光学特性可変光学素子の状態で像を撮像する、
II．次に、上記光学特性可変光学素子を多少変形させる信号を与え、この変形した光学特性可変光学素子の状態で像を撮像する、
III.次に、撮像した２つの像について高周波成分を比較し、高周波成分の値が大きい方を仮の補償信号とする、
IV．上記Ｉ〜IIIを繰り返し行い、高周波成分が最大となる補償信号を見つける。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、可変形状光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段とを備えた光学装置において、結像状態を評価する手段と、前記形状可変光学素子の形状を微小に変化させる手段と、前記形状可変光学素子の形状変形に伴う結像状態の改善度を判断する手段とを介して、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正することを特徴とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段と、形状可変光学素子の変形基本パターンを記録したＬＵＴ（ルックアップテーブル）を備えた光学装置において、環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態の少なくとも１つにより生ずる結像状態の変化を補正するために、ＬＵＴに記録された変形基本パターン形状に形状可変光学素子を変形させたときにおける結像状態を評価する手段と、基本パターン形状に形状可変光学素子が変形したときにおける光学系の結像状態の改善度を判断する手段とを有することを特徴とする。
また、本発明による光学装置は、請求項３又は４に記載の制御方法による制御手段を備えたことを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、請求項４に記載の制御方法を第１段階の手段とし、請求項３に記載の制御方法を第２段階の手段として有することを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子の光学作用面の面形状を記憶する手段と、形状制御機構により光学作用面の面形状を変化させる手段と、形状制御機構の数だけ繰り返す手段と、形状可変光学素子の光学作用面の面形状が同一かどうかを判断する手段とを有することを特徴とする。
また、本発明による光学系の制御方法は、光学系の結像状態を記憶する手段と、個別の形状制御機構を操作して光学作用面の面形状を微小に変化させた場合の結像状態の改善度を記億する手段と、前記記憶手段に記憶した結像状態の改善度をもとに次の光学作用面の面形状を決定する手段と、次の光学作用面の面形状における光学系の結像状態と記憶させた結像状態とを比較し更なる改善の余地の有無を判定する手段とを有することを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に所定の制御信号（印加電圧又は印加電流）を設定（供給）することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、次いで、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、結像状態が改善された場合は、その最新の制御信号及び結像状態を保持し、結像状態が改善されない場合は、もとの制御信号及び結像状態に戻し、これらの処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返し、次いで、制御機構Ｚ（Ｎ）についての結像状態の評価が終了した時点における光学作用面の面形状が初期の面形状と比べて変化している場合に、最初から処理を再開することを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に所定の制御信号（印加電圧又は印加電流）を設定（供給）することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、形状可変光学素子に備わるｉ番目の制御機構に制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、次いで、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、結像状態が改善された場合は、その制御信号及び結像状態を保持するとともに、制御機構にさらに制御信号をわずかに変化させて設定することによって光学作用面を変形させたとき光学装置の結像状態を取得し、直前の結像状態と最新の結像状態とを比較し、これらの処理を結像状態が改善されなくなるまで繰り返し、改善されない場合は、直前の制御信号及び結像状態に戻し、これらの処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返すことを特徴とする。
また、本発明による光学特性可変光学素子の制御方法は、制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに、初期値の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を設定し、次いで、制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに設定されている現在の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を、光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷX(i)に記憶し、次いで、現在の制御信号Ｘ（ｉ）が与えられている状態で、光学装置の結像状態Ａ１を取得し、次いで、制御信号Ｘ（ｉ）をわずかに変化させた値Ｘ（ｉ）＋δＸをｉ番目の制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、次いで、このときの光学装置の結像状態Ａ２を取得し、次いで、取得した結像状態Ａ２を光学系の結像状態の良否を定量的に表すための評価関数にあてはめて関数値Ｙ２を算出し、次いで、結像状態Ａ１近傍において制御信号Ｘ（ｉ）の微小変化δＸに対する評価関数の変化率Ｃ（ｉ）（＝｜Ｙ２−Ｙ１｜／δＸ）を求め、次いで、求めた変化率Ｃ（ｉ）を光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷC(i)に記憶し、次いで、所定の記憶領域ＷX(i)に記憶された制御信号Ｘ（ｉ）を制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、この結像状態Ａ２の取得から変化率Ｃ（ｉ）の取得に関する処理をすべての制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）について繰り返し、次いで、所定の記憶領域ＷC(i)に記憶されたそれぞれの評価関数の変化率を用いて、結像状態Ａ１よりも良い結像状態を与える制御信号Ｘ’（ｉ）＝Ｘ（ｉ）＋ｍ（ｉ）δＸを与えるｍ（ｉ）を求め、次いで、光学装置に設けられた所定の記憶領域Ｗm(i)により良い結像状態に改善するパラメータｍ（ｉ）を記憶し、次いで、ΣＣ（ｉ）ｍ（ｉ）δＸを計算し、次いで、ΣＣ（ｉ）ｍ（ｉ）δＸに基づいて結像状態Ａ１が最良結像状態かどうかを判断し、評価関数の変化量が一定の範囲内に収束するまで、結像状態の記憶領域Ｗm(i)に記憶されたそれぞれのパラメータを使って新たな制御信号Ｘ’（ｉ）を作成して各制御機構Ｚ（ｉ）に設定し、再度、制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）のそれぞれに設定されている現在の制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）の光学装置に設けられた所定の記憶領域ＷX(i)への記憶、光学装置の結像状態Ａ１の取得以降の処理を繰り返すことを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、形状可変光学素子と、形状可変光学素子を駆動する回路と、撮像手段と、形状可変光学素子の変形基本パターンを記録したＬＵＴ（ルックアップテーブル）とを備えた光学装置における形状可変光学素子の制御方法であって、各制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ，Ｎ：制御機構の総数）に設定すべき各制御信号（印加電圧又は印加電流）の値Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）が１つの変形基本パターンデータとして、複数パターン記録されたＬＵＴ（ルックアップテーブル）から１つの変形基本パターンデータを取り出し、取り出した変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を形状可変光学素子に備わる制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態Ａ１を（撮像手段を用いて取得した画像の周波数成分の強度や光強度等で）取得し、次いで、ＬＵＴから次の変形基本パターンデータを取り出し、取り出した変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を形状可変光学素子に備わる制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定することによって光学作用面を変形させたときの光学装置の結像状態Ａ２を取得し、次いで、結像状態Ａ１と結像状態Ａ２とを比較し、結像状態が改善された場合は、改善した結像状態となる制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）の変形基本パターンデータを記憶するとともに結像状態Ａ２の値を結像状態Ａ１に移し、これら結像状態Ａ２の取得から結像状態Ａ１と結像状態Ａ２との比較までの処理を全てのＬＵＴの変形基本パターンデータについて繰り返し、次いで、記憶されている変形基本パターンデータの制御信号Ｘ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）を制御機構Ｚ（ｉ）（ｉ：１〜Ｎ）に設定し、そのときの結像状態にもどすことを特徴とする。
また、本発明による光学装置は、請求項９乃至１２のいずれかの制御方法による制御手段を備えたことを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、異なる変形基本パターンデータで構成されたＬＵＴを温度、湿度等の環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態等の条件に応じて分類してＬＵＴ群を構成しておき、操作時の撮影情報等を図示省略した検出手段等を介して入力し、次いで、図示省略した制御手段を介して入力情報に基づきＬＵＴ群の中から光学装置の使用条件に最適なＬＵＴを選択し、次いで、請求項１２に記載の制御方法を用い、ＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索することを特徴とする。
また、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、第１段階で請求項１２に記載の制御方法による光学作用面の制御を行いＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索し、次いで、第２段階で請求項９乃至１１のいずれかに記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、形状可変光学素子の光学作用面の面形状をフィードバック制御することで最良結像状態を得ることを特徴とする。
更に、本発明による形状可変光学素子の制御方法は、第１段階で請求項１４に記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、温度、湿度等の環境変化、個体差、物体距離、ズーム状態等の条件に応じて分類された異なる変形基本パターンデータで構成されたＬＵＴ群の中から光学装置の使用条件に最適なＬＵＴを選択してＬＵＴ内で最良結像状態に至近の結像状態から得られる形状可変光学素子の面形状を探索し、次いで、第２段階で請求項９乃至１１のいずれかに記載の制御方法による光学作用面の制御を行い、形状可変光学素子の光学作用面の面形状をフィードバック制御することで最良結像状態を得ることを特徴とする。