(57)【要約】      （修正有） 【課題】作動力が均一で計測精度が良好な、複数の電子部品に対して電気試験を行うためのテストソケット装置を提供する。【解決手段】位置決めユニット及びテストソケットユニットを含み、位置決めユニット３は固定台３１及び固定台に接続された位置決め板３２を備え、位置決め板は第一表面及びそれと反対の第二表面を有し、テストソケットユニットは間隔を開けて位置決め板に設けられた二つの第二表面上のテストソケットグループを備え、テストソケットグループのそれぞれは上部接続ブロック５１１、上部接続ブロックに接続された第一プローブカード５１２、第二プローブカード５１３、及び第一と第二プローブカードの間に設けられた絶縁シートを有し、第一、第二プローブカードはそれぞれ外方へ突出して同じ角度で傾いている第一、第二検出端部を有し、複数の電子部品の電気的性質を検出する。【選択図】図２
0003224585.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子部品に対して電気試験を行うために用いられるテストソケット装置であって、
固定台、及び、該固定台に接続され、第一表面及びそれと反対の第二表面を有する位置決め板を備える位置決めユニットと、
該位置決め板の前記第二表面上に間隔を開けて設けられた二つのテストソケットグループを備えるテストソケットユニットとを含み、
該テストソケットグループはそれぞれ上部接続ブロック、該上部接続ブロックに接続された第一プローブカード、第二プローブカード、及び該第一と第二プローブカードの間に設けられた絶縁シートを有し、
該第一、第二プローブカードはそれぞれ外方へ突出して同じ角度で傾いている第一、第二検出端部を有し、
該複数の電子部品の電気的性質を検出する、
テストソケット装置。
【請求項２】
該上部接続ブロックは第一端部及びそれと反対の第二端部を有し、該第一、第二プローブカード及び該絶縁シートは該第一端部に位置し、前記二つのテストソケットグループはさらにそれぞれ下部接続ブロックを有し、該下部接続ブロックはそれぞれ該固定台及び該上部接続ブロックの第二端部に接続されて、該テストソケットユニットを該位置決めユニットに固定する、請求項１に記載のテストソケット装置。
【請求項３】
該第一プローブカードはさらに一列になって設置した三つの第一接続口を有し、該第二プローブカードはさらに一列になって設置した二つの第二接続口を有し、該絶縁シートは一列になって設置した二つの第三接続口を有し、且つ該第一、第二検出端部は該上部接続ブロックの第一端部に近づいて設置される、請求項２に記載のテストソケット装置。
【請求項４】
前記二つのテストソケットグループの第一、第二検出端部は対向して反対になる角度で傾いて設置される、請求項３に記載のテストソケット装置。
【請求項５】
該第一、第二プローブカードはさらに片側に形成された第一、第二接続端部を有し、且つ該第一、第二接続端部は該第一、第二検出端部から遠く離れて設置される、請求項４に記載のテストソケット装置。
【請求項６】
該位置決めユニットは、さらに、該位置決め板の第二表面上に間隔を開けて別々に設けられた二つののスライドレールを備えて、二つの前記上部接続ブロックの摺動方向を制限する、請求項５に記載のテストソケット装置。
【請求項７】
該上部接続ブロックはさらに該第二端部に位置したリミット溝を有し、該下部接続ブロックは該リミット溝に位置した突出部を有し、且つ該突出部の幅は該リミット溝より小さい、請求項６に記載のテストソケット装置。
【請求項８】
前記二つのテストソケットグループはさらに第一固定具を有して、該上部接続ブロックを該位置決め板に固設する、請求項７に記載のテストソケット装置。
【請求項９】
前記二つのテストソケットグループはそれぞれ第一、第二固定シート及び第二固定具を有し、該第二固定具はそれぞれ該第一、第二固定シートを通って、該第一、第二固定シートを該第一、第二接続端部に固定する、請求項８に記載のテストソケット装置。
【請求項１０】
前記二つのテストソケットグループはそれぞれロッキングベース及び第三固定具を有し、該ロッキングベースは一列になって設置した三つの第四接続口を有し、該第三固定具はそれぞれ該複数の第四接続口を通って、二つの前記ロッキングベースを二つの前記上部接続ブロックに固定する、請求項９に記載のテストソケット装置。
【請求項１１】
該第一、第二検出端部から最も遠く離れている第三固定具は該第一検出端部から最も遠く離れている第一接続口だけを通る、請求項１０に記載のテストソケット装置。
【請求項１２】
該第一、第二、第三固定具はねじ、スタッド及びこれらの組合せより選ばれる、請求項１１に記載のテストソケット装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案はテストソケット装置に関し、特に複数の電子部品に対して電気試験を行うために用いられるテストソケット装置を指す。
【背景技術】
【０００２】
電子製品の発展がますます盛んになるにつれて、電子製品の出荷時の品質確保が要求されており、電子部品の製造、組立て及び出荷前工程において、各工程間の不可避な原因で欠陥を生成し、製品品質の安定を維持するため、生産した電子部品に対して欠陥検出を行う必要があり、検出の結果によってこれらの欠陥の原因を分析しさらに把握し、電子部品の工程歩留まり及び信頼度を向上させるという目的を達成する。
【０００３】
測定される電子部品に対して試験を行った時、電子部品は計器に接続されて、駆動信号が生成したフィードバック信号を計測している計器に伝送する。四端子法を例にとって、各測定対象物の両端のそれぞれに２つのプローブ（合わせて４つのプローブ）が接触する必要があり、現在４端点検出は個別に独立した４つのレールで４つのプローブカードを動かして、測定対象物を接続して計測を行うことによって、駆動端子の駆動信号伝送による電圧降下を減らして計測における精度を上げることができるが、実際使用の時に調整と実装の難しさを増加させる上に、実装平坦度が揃っていないため、プローブカードにさまざまな程度の摩耗、緩み、抜け、接触不良または破断などの問題が生じて、間接的に電気計測の結果に影響して、精度の懸念をもたらす。
【０００４】
上記した欠点の全ては従来電子部品の試験に由来する種々の問題を表している。従って、如何に計測精度における問題を解決し、電子部品の生産効率及び生産品質をさらに向上させるかは各方面の人々が直面している重要課題である。故に従来技術についてより良い解決手段を提案するのは確かに必要である。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
これに鑑みて、本考案は、位置決めユニット及びテストソケットユニットを含み、複数の電子部品に対して電気試験を行うために用いられるテストソケット装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
該位置決めユニットは固定台及び該固定台に接続された位置決め板を備え、該位置決め板は第一表面及びそれと反対の第二表面を有し、該テストソケットユニットは該位置決め板の第二表面上に間隔を開けて設けられた二つのテストソケットグループを備え、該テストソケットグループはそれぞれ上部接続ブロック、該上部接続ブロックに接続された第一プローブカード、第二プローブカード、及び該第一と第二プローブカードの間に設けられた絶縁シートを有し、該第一、第二プローブカードはそれぞれ外方へ突出して同じ角度で傾いている第一、第二検出端部を有し、該複数の電子部品の電気的性質を検出する。
【０００７】
本考案の他の技術手段において、上記した上部接続ブロックは第一端部及びそれと反対の第二端部を有し、該第一、第二プローブカード及び該絶縁シートは該第一端部に位置し、この二つのテストソケットグループはさらにそれぞれ下部接続ブロックを有し、該下部接続ブロックはそれぞれ該固定台及び該上部接続ブロックの第二端部に接続されて、該テストソケットユニットを該位置決めユニットに固定する。
【０００８】
本考案のもう１つの技術手段において、上記した第一プローブカードはさらに一列になって設置した三つの第一接続口を有し、該第二プローブカードはさらに一列になって設置した二つの第二接続口を有し、該絶縁シートは一列になって設置した二つの第三接続口を有し、且つ該第一、第二検出端部は該上部接続ブロックの第一端部に近づいて設置される。
【０００９】
本考案の更にもう一つの技術手段において、この二つのテストソケットグループの第一、第二検出端部は対向して反対になる角度で傾いて設置される。
【００１０】
本考案の他の技術手段において、上記した第一、第二プローブカードはさらに片側に形成された第一、第二接続端部を有し、且つ該第一、第二接続端部は該第一、第二検出端部から遠く離れて設置される。
【００１１】
本考案のもう１つの技術手段において、上記した位置決めユニットはさらに、該位置決め板の第二表面上に間隔を開けて別々に設けられた二つのスライドレールを備えて、この二つの上部接続ブロックの摺動方向を制限する。
【００１２】
本考案の更にもう一つの技術手段において、上記した上部接続ブロックはさらに該第二端部に位置したリミット溝を有し、該下部接続ブロックは該リミット溝に位置した突出部を有し、且つ該突出部の幅は該リミット溝より小さい。
【００１３】
本考案の他の技術手段において、上記した二つのテストソケットグループはさらに第一固定具を有して、該上部接続ブロックを該位置決め板に固設する。
【００１４】
本考案のもう１つの技術手段において、上記した二つのテストソケットグループはそれぞれ第一、第二固定シート及び第二固定具を有し、該第二固定具はそれぞれ該第一、第二固定シートを通って、該第一、第二固定シートを該第一、第二接続端部に固定する。
【００１５】
本考案の更にもう一つの技術手段において、上記した二つのテストソケットグループはそれぞれロッキングベース及び第三固定具を有し、該ロッキングベースは一列になって設置した三つの第四接続口を有し、該第三固定具はそれぞれ該複数の第四接続口を通って、この二つのロッキングベースをこの二つの上部接続ブロックに固定する。
【００１６】
本考案の他の技術手段において、上記した該第一、第二検出端部から最も遠く離れている第三固定具は該第一検出端部から最も遠く離れている第一接続口だけを通る。
【００１７】
本考案のもう１つの技術手段において、上記した第一、第二、第三固定具はねじ、スタッド及びこれらの組合せより選ばれる。
【考案の効果】
【００１８】
本考案の有利な効果について、この二つのテストソケットグループはそれぞれ該上部接続ブロック、該第一、第二プローブカード及び該絶縁シートを有し、該テストソケット装置が作動して該複数の電子部品の電気的性質を検出した時に、該位置決めユニットに設けられた二つのテストソケットグループの第一と第二プローブカードの作動を一致させることで、作動力が均一である上に、摩耗のムラで計測精度に影響することが発生し難く、さらに電子部品の生産の歩留まりを向上させる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は本考案にかかるテストソケット装置の好適な実施例を説明する斜視分解模式図である。
【図２】図２は該好適な実施例が接続ユニットに装設された態様を説明する斜視模式図である。
【図３】図３は該好適な実施例の別の視角から見た態様を説明する斜視模式図である。
【考案を実施するための形態】
【００２０】
本考案にかかる関連出願の特徴と技術内容は、以下の図面を参照した好適な実施例の詳細説明によって、はっきり示される。
【実施例】
【００２１】
図１、図２及び図３を参照して、本考案にかかるテストソケット装置の好適な実施例は複数の電子部品に対して電気試験を行うことに適用し、ここで該テストソケット装置は接続ユニット１を介して検出を行うテーブルに装設され、位置決めユニット３及びテストソケットユニット５を備える。
【００２２】
該位置決めユニット３は固定台３１、該固定台３１に接続された位置決め板３２、及び間隔を開けて別々に該位置決め板３２に設けられたスライドレール３３を備え、その中、該位置決め板３２は第一表面３２１及びそれと反対の第二表面３２２を有し、この二つのスライドレール３３は該第二表面３２２に設けられる。
【００２３】
該テストソケットユニット５は間隔を開けて該位置決め板３２の第二表面３２２に設けられた二つのテストソケットグループ５１を備える。該テストソケットグループは、それぞれ、上部接続ブロック５１１、該上部接続ブロック５１１に接続された第一プローブカード５１２、第二プローブカード５１３、該第一と第二プローブカード５１２、５１３の間に設けられた絶縁シート５１４、及び下部接続ブロック５１５を備える。該絶縁シート５１４の材質はプラスチックを選択して、該第一、第二プローブカード５１２、５１３の電流と絶縁する。
【００２４】
この二つのスライドレール３３は該位置決め板３２の第二表面３２２と該上部接続ブロック５１１との間に設けられて、この二つの上部接続ブロック５１１の摺動方向を制限する。実際実施の時に、作動器（図示せず）を装設して該テストソケット装置を該接続ユニット１に対して作動させて、検出作業を行う。この二つのスライドレール３３及びこの二つのテストソケットグループ５１上の二つの第一プローブカード５１２とこの二つの第二プローブカード５１３によって、従来４つのレールで４つのプローブカードを動かす設置コストを低減できる。
【００２５】
その中、該上部接続ブロック５１１は第一端部５１１１及びそれと反対の第二端部５１１２を有し、該第一、第二プローブカード５１２、５１３及び該絶縁シート５１４は該第一端部５１１１に位置し、該下部接続ブロック５１５はそれぞれ該固定台３１及び該上部接続ブロック５１１の第二端部５１１２に接続されて、該テストソケットユニット５を該位置決めユニット３に固定する。
【００２６】
なお、該上部接続ブロック５１１はさらに該第二端部５１１２に位置したリミット溝5113を有し、該下部接続ブロック５１５は該リミット溝5113に位置した突出部5151を有し、且つ該突出部5151の幅は該リミット溝5113より小さく、該下部接続ブロック５１５と該上部接続ブロック５１１の組立て位置を固定する。該リミット溝5113は該第一、第二プローブカード５１２、５１３の交換時の位置合わせを改善するために用いられる。
【００２７】
また、該第一、第二プローブカード５１２、５１３はそれぞれ外方へ突出して同じ角度で傾いている第一、第二検出端部５１２１、５１３１を有して、該複数の電子部品の電気的性質を検出する。なお、間隔を開けて設置された二つのテストソケットグループ５１の第一、第二検出端部５１２１、５１３１は対向して反対になる角度で傾いて交錯して設置することで、該第一、第二検出端部５１２１、５１３１の末端が対向して間隔を開けている。
【００２８】
この二つのテストソケットグループ５１はそれぞれ該上部接続ブロック５１１、該第一、第二プローブカード５１２、５１３、該絶縁シート５１４、及び該下部接続ブロック５１５を有し、該テストソケット装置が作動して該複数の電子部品の電気的性質を検出した時に、該位置決め板３２に設けられた二つのテストソケットグループ５１の第一、第二プローブカード５１２、５１３の作動を一致させることで、力が均一であり、摩耗のムラで計測精度に影響することが発生し難い。また、該位置決め板３２に設けられた二対の第一、第二プローブカード５１２、５１３を摩耗により交換する必要があった時に、その摩耗が一致しているため、交換の時に一回に一対の第一、第二プローブカード５１２、５１３を交換することがメインテナンス作業を簡素化できる。
【００２９】
なお、この二つのテストソケットグループ５１の第一、第二プローブカード５１２、５１３は合わせて４つの点があり、四端子法の計測に適用でき、現在個別に独立した４つのレールで４つのプローブカードを動かすことに取って代わる。
【００３０】
なお、該第一、第二プローブカード５１２、５１３及び双方の間に設けられた絶縁シート５１４によって、検出の衝突強度と緩衝力を強くして、該第一、第二プローブカード５１２、５１３の破断の頻度を低減できる。
【００３１】
さらに、該第一プローブカード５１２はさらに一列になって設置した三つの第一接続口５１２２を有し、該第二プローブカード５１３はさらに一列になって設置した二つの第二接続口５１３２を有し、該絶縁シート５１４は一列になって設置した二つの第三接続口５１４１を有し、且つ該第一、第二検出端部５１２１、５１３１は該上部接続ブロック５１１の第一端部５１１１に近づいて設置される。
【００３２】
その中、該第一、第二プローブカード５１２はさらに片側に形成された第一、第二接続端部５１２３、５１３３を有し、且つ該第一、第二接続端部５１２３、５１３３は該第一、第二検出端部５１２１、５１３１から遠く離れて設置される。該第一、第二接続端部５１２３、５１３３は外部計測装置を接続して、該複数の電子部品の電気的性質を検出する。ここで、該電子部品はインダクタンス、抵抗等であってよい。
【００３３】
この二つのテストソケットグループ５１はさらにそれぞれ第一固定具５１６を有して、該上部接続ブロック５１１を該位置決め板31に固設する。さらに、この二つのテストソケットグループ５１はさらにそれぞれ第一、第二固定シート５１７、５１８及び第二固定具５１９を有し、該第二固定具519はそれぞれ該第一、第二固定シート５１７、５１８を通って、該第一、第二固定シート５１７、５１８を該第一、第二接続端部５１２３、５１３３に固定する。
【００３４】
該第一、第二固定シート５１７、５１８を設けることで、該第一、第二接続端部５１２３、５１３３が外部計測装置を接続した時の便利性を向上させて、さらに作業の効率を向上できる。
【００３５】
また、この二つのテストソケットグループ５１はそれぞれロッキングベース５２０及び第三固定具５２１を有し、該ロッキングベース５２０は一列になって設置した三つの第四接続口５２０１を有し、該第三固定具５２１はそれぞれ該複数の第四接続口５２０１を通って、この二つのロッキングベース５２０をこの二つの上部接続ブロック５１１に固定する。
【００３６】
なお、該第一固定具５１６、該ロッキングベース５２０及び該第三固定具５２１を設けることで、交換の時に該上部接続ブロック５１１、該第一、第二プローブカード５１２、５１３及び該絶縁シート５１４を該位置決め板３２に実装する便利性を向上できる上に、緩み、抜け、接触不良または破断等を減らして、さらに電子部品の生産効率を向上できる。
【００３７】
該第一、第二検出端部５１２１、５１３１から最も遠く離れている第三固定具５２１は該第二プローブカード５１３を通ることなく、該第一検出端部５１２１から最も遠く離れている第一接続口５１２２だけを通る。その中、該第一、第二、第三固定具５１６、５１９、５２１はねじ、スタッド及びこれらの組合せより選ばれ、且つその数は接続口の数により、これに限定されない。
【００３８】
以上をまとめると、本考案のテストソケット装置において、該位置決めユニット３及び該テストソケットユニット５の間に相互設置を行い、この二つのテストソケットグループ５１はそれぞれ該上部接続ブロック５１１、該第一、第二プローブカード５１２、５１３、該絶縁シート５１４及び該下部接続ブロック５１５を有し、作動して該複数の電子部品の電気的性質を検出した時に、該位置決めユニット３に設けられた二つのテストソケットグループ５１の第一、第二プローブカード５１２、５１３の作動を一致させることで、力が均一であり、摩耗のムラで計測精度に影響することが発生し難い。なお、該第一、第二プローブカード５１２、５１３及び双方の間に設けられた絶縁シート５１４の設計は、検出の衝突強度と緩衝力を強くして、該第一、第二プローブカード５１２、５１３の破断の頻度を低減し、さらに電子部品の生産の歩留まりを向上させるため、確かに本考案の目的を達成できる。
【００３９】
ところが、上記したものはただ本考案の好適な実施例に過ぎなく、それで本考案の実施の範囲を限定するわけにはいかなく、即ち本考案の請求範囲及び説明内容により行った簡単で同等な変化と修飾の全ては本考案の範囲内に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本考案の有利な効果について、この二つのテストソケットグループはそれぞれ該上部接続ブロック、該第一、第二プローブカード及び該絶縁シートを有し、該テストソケット装置が作動して該複数の電子部品の電気的性質を検出した時に、該位置決めユニットに設けられた二つのテストソケットグループの第一と第二プローブカードの作動を一致させることで、作動力が均一である上に、摩耗のムラで計測精度に影響することが発生し難く、さらに電子部品の生産の歩留まりを向上させる。
【符号の説明】
【００４１】
1             接続ユニット
3             位置決めユニット
31            固定台
32            位置決め板
321           第一表面
322           第二表面
33            スライドレール
5             テストソケットユニット
51            テストソケットグループ
511           上部接続ブロック
5111          第一端部
5112          第二端部
5113          リミット溝
512           第一プローブカード
5121          第一検出端部
5122          第一接続口
5123          第一接続端部
513           第二プローブカード
5131          第二検出端部
5132          第二接続口
5133          第二接続端部
514           絶縁シート
5141          第三接続口
515           下部接続ブロック
5151          突出部
516           第一固定具
517           第一固定シート
518           第二固定シート
519           第二固定具
520           ロッキングベース
5201          第四接続口
521           第三固定具
【図１】
0003224585.tif 000003
【図２】
0003224585.tif 000004
【図３】
0003224585.tif 000005
【手続補正書】
【提出日】令和1年10月29日(2019.10.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】実用新案登録請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子部品に対して電気試験を行うために用いられるテストソケット装置であって、
固定台及び該固定台に接続された位置決め板を備える位置決めユニットと、
間隔を開けて該位置決め板に設けられた二つの第二表面上のテストソケットグループを備えるテストソケットユニットとを含み、
該位置決め板は第一表面及びそれと反対の第二表面を有し、該テストソケットグループはそれぞれ上部接続ブロック、該上部接続ブロックに接続された第一プローブカード、第二プローブカード、及び該第一と第二プローブカードの間に設けられた絶縁シートを有し、該第一、第二プローブカードはそれぞれ外方へ突出して同じ角度で傾いている第一、第二検出端部を有し、該複数の電子部品の電気的性質を検出する、
テストソケット装置。
【請求項２】
該上部接続ブロックは第一端部及びそれと反対の第二端部を有し、該第一、第二プローブカード及び該絶縁シートは該第一端部に位置し、この二つのテストソケットグループはさらにそれぞれ下部接続ブロックを有し、該下部接続ブロックはそれぞれ該固定台及び該上部接続ブロックの第二端部に接続されて、該テストソケットユニットを該位置決めユニットに固定する、請求項1に記載のテストソケット装置。
【請求項３】
該第一プローブカードはさらに一列になって設置した三つの第一接続口を有し、該第二プローブカードはさらに一列になって設置した二つの第二接続口を有し、該絶縁シートは一列になって設置した二つの第三接続口を有し、且つ該第一、第二検出端部は該上部接続ブロックの第一端部に近づいて設置される、請求項２に記載のテストソケット装置。
【請求項４】
該第一、第二プローブカードはさらに片側に形成された第一、第二接続端部を有し、且つ該第一、第二接続端部は該第一、第二検出端部から遠く離れて設置される、請求項3に記載のテストソケット装置。
【請求項５】
該位置決めユニットはさらに間隔を開けて別々に該位置決め板に設けられた二つの第二表面上のスライドレールを備えて、この二つの上部接続ブロックの摺動方向を制限する、請求項4に記載のテストソケット装置。
【請求項６】
該上部接続ブロックはさらに該第二端部に位置したリミット溝を有し、該下部接続ブロックは該リミット溝に位置した突出部を有し、且つ該突出部の幅は該リミット溝より小さい、請求項5に記載のテストソケット装置。
【請求項７】
この二つのテストソケットグループはさらに第一固定具を有して、該上部接続ブロックを該位置決め板に固設する、請求項6に記載のテストソケット装置。
【請求項８】
この二つのテストソケットグループはそれぞれ第一、第二固定シート及び第二固定具を有し、該第二固定具はそれぞれ該第一、第二固定シートを通って、該第一、第二固定シートを該第一、第二接続端部に固定する、請求項7に記載のテストソケット装置。
【請求項９】
この二つのテストソケットグループはそれぞれロッキングベース及び第三固定具を有し、該ロッキングベースは一列になって設置した三つの第四接続口を有し、該第三固定具はそれぞれ該複数の第四接続口を通って、この二つのロッキングベースをこの二つの上部接続ブロックに固定する、請求項8に記載のテストソケット装置。
【請求項１０】
該第一、第二検出端部から最も遠く離れている第三固定具は該第一検出端部から最も遠く離れている第一接続口だけを通る、請求項9に記載のテストソケット装置。
【請求項１１】
該第一、第二、第三固定具はねじ、スタッド及びこれらの組合せより選ばれる、請求項10に記載のテストソケット装置。