【手続補正書】
【提出日】平成18年3月13日(2006.3.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１基板に形成された液晶密封用シールラインにより取囲まれて形成された領域の第１体積を算出する段階と、
前記液晶密封用シールラインの内部に形成された少なくとも１個のスペーサが占める第２体積をイメージ処理を通じて算出する段階と、
前記第１体積と第２体積との差異である第３体積を算出する段階と、
前記第３体積に当該する液晶量を算出して、前記液晶密封用シールライン内部に液晶を供給する段階と、
前記第１基板に第２基板を覆って前記液晶を密封する段階と、
を含み、
前記イメージ処理は、前記スペーサのイメージを得て前記スペーサのイメージを処理することを特徴とする液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項２】
前記第１体積を算出する段階は、
前記液晶密封用シールライン内部に平面積を測定する段階と、
前記液晶密封用シールラインの高さを測定する段階と、
前記平面積及び前記高さを演算する段階と、
を含む、請求項１に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項３】
前記平面積を測定する段階は、
前記液晶密封用シールラインの画像イメージを生成する段階と、
前記画像イメージを映像処理する段階と、
映像処理された画像イメージから前記第１平面積を演算する段階と、
を含む、請求項２に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項４】
前記高さを測定する段階は、前記液晶密封用シールラインの少なくとも一所以上を測定する、請求項２に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項５】
前記スペーサは球形状でランダムの個数が散布されたスペーサであって、
前記スペーサの体積を算出する段階は、
前記スペーサの個数を測定する段階と、
測定された前記スペーサの個数に一つのスペーサの単位体積を演算する段階と、
を含む、請求項１に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項６】
前記スペーサの個数を測定する段階は、
前記スペーサの画像イメージを生成する段階と、
前記画像イメージを映像処理して前記スペーサの位置データを算出する段階と、
前記スペーサの前記位置データから前記スペーサでの個数を演算する段階と、
を含む、請求項５に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項７】
前記スペーサは感光物質をパターニングして指定された位置に柱形状で形成されたスペーサであって、
前記スペーサの体積を算出する段階は、
各々の前記スペーサの平面積を測定する段階と、
各々の前記スペーサの高さを測定する段階と、
測定された各々の前記スペーサの前記第２平面積及び第２高さを演算する段階と、
を含む、請求項１に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項８】
前記平面積を測定する段階は、
前記スペーサの画像イメージを生成する段階と、
前記画像イメージを映像処理する段階と、
映像処理された前記画像イメージにより前記平面積を演算する段階と、
を含む、請求項７に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項９】
前記液晶量を算出する段階は、前記第３体積に液晶の比重を掛けて算出する、請求項１に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項１０】
前記液晶を供給する段階は、前記液晶量の９５％〜１０５％を供給する、請求項１に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項１１】
前記液晶を供給する段階は、前記液晶量の９５％〜１００％を供給する、請求項１０に記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項１２】
前記高さを測定する段階は、画像イメージを用いる、請求項７記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項１３】
前記高さを測定する段階は、レーザービームを第１基板側に走査して反射された光で高さを測定する、請求項７記載の液晶表示パネルに液晶を注入する方法。
【請求項１４】
第１基板に形成された液晶密封用シールライン及び前記液晶密封用シールラインの内部に形成されたスペーサの画像イメージを生成するための画像イメージ生成手段と、
前記液晶密封用シールライン及び前記スペーサの高さを測定して高さデータを発生するための高さ測定手段と、
前記画像イメージ及び前記高さデータから前記液晶密封用シールライン内部に注入される液晶の量を算出するための液晶量算出手段と、
前記液晶量算出モジュールで算出された液晶量に前記液晶密封用シールライン内部に前記液晶を供給する液晶供給手段と、
前記第１基板に前記第２基板を覆って前記液晶を密封する基板組立装置と、
を含む液晶注入システム。
【請求項１５】
前記画像イメージ生成手段は、前記第１基板を撮影して前記液晶密封用シールラインの画像イメージ、前記スペーサの画像イメージを生成するためのＣＣＤカメラである、請求項１４に記載の液晶注入システム。
【請求項１６】
前記高さ測定手段は、前記液晶密封用シールラインの高さ、前記スペーサの高さを測定するための高さ測定センサーである、請求項１４に記載の液晶注入システム。
【請求項１７】
前記液晶供給手段は、前記液晶量を制御する液晶流量制御器、前記液晶流量制御器で制御された液晶を供給する液晶ディスペンサーを含む、請求項１４に記載の液晶注入システム。
【請求項１８】
前記液晶量算出手段は、データ記録モジュール、演算プログラム記録モジュール及び液晶量演算モジュールを含む、請求項１４に記載の液晶注入システム。
【請求項１９】
前記データ記録モジュールには、前記液晶密封用シールラインにより取囲まれた第１平面積データ、前記液晶密封用シールラインの高さデータ、前記スペーサの第２平面積データ、前記スペーサの個数データが記録される、請求項１８に記載の液晶注入システム。
【請求項２０】
前記液晶供給手段は、前記液晶量の９５％〜１０５％を供給する、請求項１４に記載の液晶注入システム。
【請求項２１】
前記液晶供給手段は、前記液晶量の９５％〜１００％を供給する、請求項２０に記載の液晶注入システム。
【請求項２２】
前記高さを測定する手段は、画像イメージを通じて高さを測定する、請求項１４記載の液晶注入システム。
【請求項２３】
前記高さを測定する手段は、レーザービームを第１基板側に走査して反射された光で高さを測定する、請求項１４記載の液晶注入システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
本願第１発明は、第１基板に形成された液晶密封用シールラインにより取囲まれて形成された領域の第１体積を算出する段階と、前記液晶密封用シールラインの内部に形成された少なくとも１個のスペーサが占める第２体積をイメージ処理を通じて算出する段階と、前記第１体積と第２体積との差異である第３体積を算出する段階と、前記第３体積に当該する液晶量を算出して、前記液晶密封用シールライン内部に液晶を供給する段階と、前記第１基板に第２基板を覆って前記液晶を密封する段階とを含み、前記イメージ処理は、前記スペーサのイメージを得て前記スペーサのイメージを処理することを特徴とする液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第２発明は、第１発明において、前記第１体積を算出する段階は、前記液晶密封用シールライン内部に平面積を測定する段階と、前記液晶密封用シールラインの高さを測定する段階と、前記平面積及び前記高さを演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第３発明は、第２発明において、前記平面積を測定する段階は、前記液晶密封用シールラインの画像イメージを生成する段階と、前記画像イメージを映像処理する段階と、映像処理された画像イメージから前記第１平面積を演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第４発明は、第２発明において、前記高さを測定する段階は、前記液晶密封用シールラインの少なくとも一所以上を測定する、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第５発明は、第１発明において、前記スペーサは球形状でランダムの個数が散布されたスペーサであって、前記スペーサの体積を算出する段階は、前記スペーサの個数を測定する段階と、測定された前記スペーサの個数に一つのスペーサの単位体積を演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第６発明は、第５発明において、前記スペーサの個数を測定する段階は、前記スペーサの画像イメージを生成する段階と、前記画像イメージを映像処理して前記スペーサの位置データを算出する段階と、前記スペーサの前記位置データから前記スペーサでの個数を演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第７発明は、第１発明において、前記スペーサは感光物質をパターニングして指定された位置に柱形状で形成されたスペーサであって、前記スペーサの体積を算出する段階は、各々の前記スペーサの平面積を測定する段階と、各々の前記スペーサの高さを測定する段階と、測定された各々の前記スペーサの前記第２平面積及び第２高さを演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第８発明は、第７発明において、前記平面積を測定する段階は、前記スペーサの画像イメージを生成する段階と、前記画像イメージを映像処理する段階と、映像処理された前記画像イメージにより前記平面積を演算する段階とを含む、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第９発明は、第１発明において、前記液晶量を算出する段階は、前記第３体積に液晶の比重を掛けて算出する、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第１０発明は、第１発明において、前記液晶を供給する段階は、前記液晶量の９５％〜１０５％を供給する、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第１１発明は、第１０発明において、前記液晶を供給する段階は、前記液晶量の９５％〜１００％を供給する、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第１２発明は、第７発明において、前記高さを測定する段階は、画像イメージを用いる、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
本願第１３発明は、第７発明において、前記高さを測定する段階は、レーザービームを第１基板側に走査して反射された光で高さを測定する、液晶表示パネルに液晶を注入する方法を提供する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
本願第１４発明は、第１発明において、第１基板に形成された液晶密封用シールライン及び前記液晶密封用シールラインの内部に形成されたスペーサの画像イメージを生成するための画像イメージ生成手段と、前記液晶密封用シールライン及び前記スペーサの高さを測定して高さデータを発生するための高さ測定手段と、前記画像イメージ及び前記高さデータから前記液晶密封用シールライン内部に注入される液晶の量を算出するための液晶量算出手段と、前記液晶量算出モジュールで算出された液晶量に前記液晶密封用シールライン内部に前記液晶を供給する液晶供給手段と、前記第１基板に前記第２基板を覆って前記液晶を密封する基板組立装置とを含む液晶注入システムを提供する。
本願第１５発明は、第１４発明において、前記画像イメージ生成手段は、前記第１基板を撮影して前記液晶密封用シールラインの画像イメージ、前記スペーサの画像イメージを生成するためのＣＣＤカメラである、液晶注入システムを提供する。
本願第１６発明は、第１４発明において、前記高さ測定手段は、前記液晶密封用シールラインの高さ、前記スペーサの高さを測定するための高さ測定センサーである、液晶注入システムを提供する。
本願第１７発明は、第１４発明において、前記液晶供給手段は、前記液晶量を制御する液晶流量制御器、前記液晶流量制御器で制御された液晶を供給する液晶ディスペンサーを含む、液晶注入システムを提供する。
本願第１８発明は、第１４発明において、前記液晶量算出手段は、データ記録モジュール、演算プログラム記録モジュール及び液晶量演算モジュールを含む、液晶注入システムを提供する。
本願第１９発明は、第１８発明において、前記データ記録モジュールには、前記液晶密封用シールラインにより取囲まれた第１平面積データ、前記液晶密封用シールラインの高さデータ、前記スペーサの第２平面積データ、前記スペーサの個数データが記録される、液晶注入システムを提供する。
本願第２０発明は、第１４発明において、前記液晶供給手段は、前記液晶量の９５％〜
本願第２１発明は、第２０発明において、前記液晶供給手段は、前記液晶量の９５％〜１００％を供給する、液晶注入システムを提供する。
本願第２２発明は、第１４発明において、前記高さを測定する手段は、画像イメージを通じて高さを測定する、液晶注入システムを提供する。
本願第２３発明は、第１４発明において、前記高さを測定する手段は、レーザービームを第１基板側に走査して反射された光で高さを測定する、液晶注入システムを提供する。