(57)【要約】      （修正有）【課題】キャリブレーションアダプタの個数を削減するとともにキャリブレーションに要する時間を短くする、キャリブレーションアダプタを提供する。【解決手段】複数の測定ピンを有するプローブをキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタ２であって、第１面２４と、第１面２４の反対側に位置する第２面とを有し、第１面２４および第２面が対向方向に配設されるハウジング２０と、第１面２４および第２面をつなぐ複数の貫通孔と、貫通孔のそれぞれに配置されて、対応する測定ピンにそれぞれ電気的に接続される先端接続部を有する複数の接続端子２７とを備え、第１面２４に対する先端接続部の対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、それぞれ、一定に保たれる。【選択図】図１
0003225841.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数の測定ピンを有するプローブをキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタであって、
第１面と、前記第１面の反対側に位置する第２面とを有し、前記第１面および前記第２面が対向方向に配設されるハウジングと、
前記第１面および前記第２面をつなぐ複数の貫通孔と、
前記貫通孔のそれぞれに配置されて、対応する前記測定ピンにそれぞれ電気的に接続される先端接続部を有する複数の接続端子とを備え、
前記第１面に対する前記先端接続部の前記対向方向の相対位置が、それぞれ、一定に保たれる、キャリブレーションアダプタ。
【請求項２】
前記ハウジングの側面部には、前記接続端子に対応するコネクタがそれぞれ設けられている、請求項１に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項３】
前記コネクタが、同軸構造を有する、請求項２に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項４】
前記接続端子が、絶縁部材を介して前記ハウジングにおける前記貫通孔の中で固定されている、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項５】
前記ハウジングが多角柱形状をしている、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項６】
前記先端接続部が、前記第１面に対して前記対向方向に出っ張った位置または引っ込んだ位置にある、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項７】
前記キャリブレーションのときに前記プローブと嵌合するための嵌合部を備えており、前記嵌合部が、前記対向方向に凸形状または凹形状をしている、請求項１から請求項６のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項８】
前記キャリブレーションのときに前記キャリブレーションアダプタの設置面から前記ハウジングを離間させて保持するための保持部が設けられている、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項９】
前記接続端子が、前記貫通孔の中に配設されるブッシングおよびバレルと、前記ハウジングに取り付けられる取付板とを介して、前記ハウジングによって支持されている、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載のキャリブレーションアダプタ。
【請求項１０】
複数の前記測定ピンを有する前記プローブと、請求項１〜請求項９のいずれか１つに記載の前記キャリブレーションアダプタとを備える、プローブセット。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この考案は、プローブをキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタに関する。
【背景技術】
【０００２】
マイクロ波のような高周波を取り扱うデバイスや回路基板（以下、被測定物という）の高周波特性は、例えば、測定ピンを有するプローブを用いて測定される（特許文献１を参照）。被測定物の電極端子に対してプローブの測定ピンを当接させた状態で、測定器（例えばネットワーク・アナライザ）を用いて、被測定物に高周波やマイクロ波を入力することによって被測定物の高周波特性が測定される。
【０００３】
被測定物の高周波特性を測定するとき、プローブにおいて生じる損失によって、被測定物の実測値と真の値とで誤差が生じる。そのため、プローブを使用する前に、誤差を補正する校正（以下、キャリブレーションという）を行なう必要がある。
【０００４】
プローブをキャリブレーションするためには、キャリブレーションアダプタが用いられる。例えば、被測定物が多極コネクタであって、多極コネクタにおける複数の電極端子を測定する場合、第１のキャリブレーションアダプタと第２のキャリブレーションアダプタとを用いることによって、プローブのキャリブレーションが行なわれる。第１のキャリブレーションアダプタは、複数の電極端子のうちの或る電極端子に対応する専用接続端子を有し、第２のキャリブレーションアダプタは、別の電極端子に対応する専用接続端子を有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１９−１３８７６８号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
多極コネクタにおいて複数の電極端子を測定する場合、キャリブレーションアダプタを複数個準備する必要がある。そして、例えば、第１のキャリブレーションアダプタによって或る電極端子を測定したあと、第２のキャリブレーションアダプタによって別の電極端子を測定するためには、第１のキャリブレーションアダプタの取り外しと、第２のキャリブレーションアダプタの装着とが必要になる。測定すべき電極端子の数が多くなると、多くのキャリブレーションアダプタを準備する必要があり、プローブに対するキャリブレーションアダプタの脱離・装着に時間がかかるのでキャリブレーションに要する時間が長くなる。
【０００７】
したがって、この考案の解決すべき技術的課題は、キャリブレーションアダプタの個数を削減するとともにキャリブレーションに要する時間を短くする、キャリブレーションアダプタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記技術的課題を解決するために、この考案によれば、以下のキャリブレーションアダプタが提供される。
【０００９】
すなわち、この考案の請求項１に係るキャリブレーションアダプタは、
複数の測定ピンを有するプローブをキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタであって、
第１面と、前記第１面の反対側に位置する第２面とを有し、前記第１面および前記第２面が対向方向に配設されるハウジングと、
前記第１面および前記第２面をつなぐ複数の貫通孔と、
前記貫通孔のそれぞれに配置されて、対応する前記測定ピンにそれぞれ電気的に接続される先端接続部を有する複数の接続端子とを備え、
前記第１面に対する前記先端接続部の対向方向の相対位置が、それぞれ、一定に保たれることを特徴とする。
【００１０】
この考案によれば、測定ピンに対応する先端接続部を有する複数の接続端子が設けられているとともに、第１面に対する先端接続部の対向方向の相対位置が、それぞれ、一定に保たれているので、一つのキャリブレーションアダプタで複数の測定ピンを同時にキャリブレーションできる。したがって、キャリブレーションアダプタの個数を削減できるとともに、キャリブレーションに要する時間を短くできる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】この考案の第１実施形態に係るキャリブレーションアダプタの斜視図である。
【図２】図１に示したキャリブレーションアダプタの平面図である。
【図３】図２に示したキャリブレーションアダプタのＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿った断面の斜視図である。
【図４】図３の要部拡大図である。
【図５】図１に示したキャリブレーションアダプタとプローブとの関係を説明する図である。
【図６】この考案の第２実施形態に係るキャリブレーションアダプタの斜視図である。
【図７】図６に示したキャリブレーションアダプタの平面図である。
【図８】図７に示したキャリブレーションアダプタのＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ線に沿った断面の斜視図である。
【図９】図８の要部拡大図である。
【図１０】図６に示したキャリブレーションアダプタとプローブとの関係を説明する図である。
【図１１】図１に示したキャリブレーションアダプタの接続端子と第１面との関係を説明する図である。
【図１２】図１に示したキャリブレーションアダプタの第１変形例に係る、接続端子と第１面との関係を説明する図である。
【図１３】図１に示したキャリブレーションアダプタの第２変形例に係る、接続端子の支持構造を説明する図である。
【図１４】図１３に示したキャリブレーションアダプタを下面側から見た斜視図である。
【考案を実施するための形態】
【００１２】
以下、この考案に係る、プローブ１を校正（以下、キャリブレーションという）するためのキャリブレーションアダプタ２の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１３】
なお、各図には、便宜上、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸を示している。Ｘ軸方向は、キャリブレーションアダプタ２の長手方向である。Ｙ軸方向は、キャリブレーションアダプタ２の長手直交方向である。Ｚ軸方向は、キャリブレーションアダプタ２に対するプローブ１の挿抜方向であり、ハウジング２０の第１面２４と、第１面２４の反対側に位置する第２面２９とが対向して配設される対向方向である。
【００１４】
〔第１実施形態〕
図１〜図５および図１１を参照しながら、第１実施形態に係るキャリブレーションアダプタ２を説明する。図１は、この考案の第１実施形態に係るキャリブレーションアダプタ２の斜視図である。図２は、図１に示したキャリブレーションアダプタ２の平面図である。図３は、図２に示したキャリブレーションアダプタ２のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿った断面の斜視図である。図４は、図３の要部拡大図である。図５は、図１に示したキャリブレーションアダプタ２とプローブ１との関係を説明する図である。図１１は、図１に示したキャリブレーションアダプタ２の接続端子２７と第１面２４との関係を説明する図である。
【００１５】
図５に示すように、プローブ１は、プランジャ１１と、プランジャ１１から突出する凸形状の第１嵌合部１３と、第１嵌合部１３の突出面１４から突出する凸形状の第２嵌合部１５と、突出面１４から突出する複数の（例えば３個の）測定ピン１７とを有する。プランジャ１１は、弾性的に挿抜方向（Ｚ軸方向）に進退自在に構成されている。複数の（例えば３個の）測定ピン１７も、弾性的に対向方向（Ｚ軸方向）に進退自在に構成されている。
【００１６】
プローブ１は、複数の（例えば３個の）測定ピン１７によって、デバイス（例えば、多極コネクタ）および回路基板などの被測定物に設けられた複数の（例えば３個の）電極端子を同時に測定する。複数の測定ピン１７は、図示しない同軸ケーブルおよびコネクタを介して、図示しない測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に電気的に接続されている。測定器（例えばネットワーク・アナライザ）を用いて、被測定物に高周波やマイクロ波を入力することによって被測定物の高周波特性が測定される。
【００１７】
キャリブレーションアダプタ２は、複数の（例えば３個の）測定ピン１７を有する上記プローブ１を、同時にキャリブレーションするためのものである。プローブ１と、キャリブレーションアダプタ２とによって、プローブセット１０が構成される。
【００１８】
図１および図２に示すように、キャリブレーションアダプタ２は、ハウジング２０と、複数の（例えば３個の）接続端子２７と、複数の（例えば３個の）貫通孔２８と、複数の（例えば３個の）コネクタ３０，４０，５０とを備える。
【００１９】
ハウジング２０は、多角柱形状をしていて、例えば図１に示すように大略四角柱形状をしている。これにより、複数の接続端子２７に対応することができる。ハウジング２０は、導電性部材（例えば、ベリリウム銅）からなる筐体である。ハウジング２０の両側部には、キャリブレーションアダプタ２の設置面からハウジング２０を離間させて保持するための保持部として働くフランジ２１が、それぞれ設けられている。これによって、同軸ケーブル７０に加わる応力を緩和している。
【００２０】
ハウジング２０の上面２２の側には、凹形状をした第３嵌合部（嵌合部）２３が形成されている。第３嵌合部２３は、プローブ１の第１嵌合部１３と嵌合するように構成されている。これにより、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での安定した電気的接続が得られる。上面２２と第３嵌合部２３との境界には、傾斜したガイド部２６が設けられている。ガイド部２６は、第１嵌合部１３の誘い込みを行う。
【００２１】
図４に示すように、第３嵌合部２３の底面である第１面２４には、凹形状をした第４嵌合部２５が設けられている。第４嵌合部２５は、プローブ１の第２嵌合部１５と嵌合するように構成されている。ハウジング２０は、第１面２４と、第１面２４の反対側に位置する第２面２９とを有する。すなわち、第１面２４および第２面２９が対向方向（Ｚ軸方向）に配設されている。第１面２４および第２面２９をつなぐように、複数の（例えば３個の）貫通孔２８がハウジング２０に形成されている。複数の（例えば３個の）貫通孔２８は、対向方向（Ｚ軸方向）に延在するとともにＸ軸方向に離間するように形成されている。各貫通孔２８には、接続端子２７が、それぞれ挿通されている。すなわち、キャリブレーションアダプタ２には、複数の（例えば３個の）接続端子２７が設けられている。
【００２２】
図１１に示すように、接続端子２７は、導電性部材（例えば、ベリリウム銅）からなるセンターピンである。接続端子２７は、頂部に先端接続部２７ａを有する筒状体であり、対向方向（Ｚ軸方向）に延在している。接続端子２７は、例えば、貫通孔２８の中に圧入・固定されたブッシング８０に挿入されることにより、ブッシング８０を介して貫通孔２８の中で固定されている。これにより、接続端子２７が貫通孔２８の中で安定的に保持されて、安定したキャリブレーションを提供できる。ブッシング８０は、樹脂などの電気絶縁性の絶縁部材からなる筒状体である。
【００２３】
図４および図１１に示すように、キャリブレーションアダプタ２には、複数の（例えば３個の）同軸ケーブル７０が設けられている。同軸ケーブル７０は、導電性の芯線７２と、芯線７２を覆う電気絶縁性の絶縁体７４と、絶縁体７４を覆う外導体７６と、外導体７６を覆う外皮７８とを有する。接続端子２７の中には、同軸ケーブル７０の芯線７２の先端部が挿入されて、接続端子２７および芯線７２が、例えばハンダによって電気的に接続されている。同軸ケーブル７０は、貫通孔２８の中に圧入・固定されたバレル８６に挿入されることにより、バレル８６によって支持されている。バレル８６は、導電性部材（例えばリン青銅）からなる筒状体である。同軸ケーブル７０の外導体７６は、バレル８６を介して、ハウジング２０に電気的に接続されている。
【００２４】
図３に示すように、同軸ケーブル７０は、例えば、Ｌ字状に屈曲されることによって、ハウジング２０の外側に引き出される。引き出された３つの同軸ケーブル７０の各基端部は、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０に対してそれぞれ接続されている。第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０は、外部の測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に接続するためのコネクタであり、例えばＳＭＡ（Sub Miniature Type A）型コネクタである。第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０は、同一種類のコネクタであり、導電性のコネクタボディ８５の中に、電気絶縁性のコネクタブッシング８４を介して、導電性の中央ソケット８２を配置した同軸構造をしている。これにより、マイクロ波のような高周波の帯域でも、精度良くキャリブレーションすることができる。中央ソケット８２は、同軸ケーブル７０の芯線７２の基端部に対して電気的に接続されている。
【００２５】
図５に示すように測定ピン１７の先端部が突出面１４よりも突出している。図１１に示すようにキャリブレーションアダプタ２の接続端子２７の先端接続部２７ａは、第１面２４に対して対向方向（Ｚ軸方向）に引っ込んだ位置にある。これにより、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での電気的接続が確実に得られる。そして、貫通孔２８の中に圧入・固定されたブッシング８０およびバレル８６によって、第１面２４に対する先端接続部２７ａの対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、一定に保たれている。すなわち、接続端子２７が貫通孔２８の中で固定されているので、第１面２４に対する先端接続部２７ａの位置が、変化しない。これにより、ハウジング２０における接続端子２７の構成を簡略化できるので、プローブ１のキャリブレーションを高精度で行うことができる。
【００２６】
なお、プローブ１のキャリブレーションのために、プローブ１に対して、スルー(through)、オープン(open)、ショート(short)、ロード（load）と呼ばれる所定の標準器として構成されたキャリブレーションアダプタ２が順に接続され、その度に、ネットワーク・アナライザで散乱パラメータ（Ｓパラメータ）を求める測定が行われる。標準器の種類は、校正方法の違いで異なり、上記４つの種類に限定されない。これにより、ネットワーク・アナライザの状態によるばらつき、接続端部での信号反射、および、ケーブルによる信号の遅延や損失などが補正される。
【００２７】
したがって、上記構成によれば、測定ピン１７に対応する先端接続部２７ａを有する複数の接続端子２７が設けられているとともに、第１面２４に対する先端接続部２７ａの対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、それぞれ、一定に保たれているので、一つのキャリブレーションアダプタ２で複数の測定ピン１７を同時にキャリブレーションできる。したがって、キャリブレーションアダプタ２の個数を削減できるとともに、キャリブレーションに要する時間を短くできる。
【００２８】
〔第２実施形態〕
図６〜図１０を参照しながら、第２実施形態に係るキャリブレーションアダプタ２を説明する。図６は、第２実施形態に係るキャリブレーションアダプタ２の斜視図である。図７は、図６に示したキャリブレーションアダプタ２の平面図である。図８は、図７に示したキャリブレーションアダプタ２のＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ線に沿った断面の斜視図である。図９は、図８の要部拡大図である。図１０は、図６に示したキャリブレーションアダプタ２とプローブ１との関係を説明する図である。
【００２９】
上記第１実施形態では、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０が、それぞれ、同軸ケーブル７０を介してハウジング２０に接続されている。言い換えると、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０が、ハウジング２０とは別体に設けられている。これに対して、第２実施形態では、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０が、ハウジング２０と一体で設けられている。第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０は、同一種類のコネクタであり、例えばＳＭＡ型コネクタである。第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０は、ハウジング２０の３つの貫通孔２８にそれぞれ配設された３つの接続端子２７に対応している。
【００３０】
ハウジング２０は、多角柱形状をしていて、例えば図６に示すように四角柱形状をしている。図７に示すように、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０が、ハウジング２０の３つの側面部に直に取り付けられている。これにより、キャリブレーションアダプタ２をコンパクトにできる。第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０の各コネクタボディ８５には、キャリブレーションアダプタ２の設置面からハウジング２０を離間させて保持するための保持部として働くコネクタ凹部８８が設けられている。
【００３１】
図８および図９に示すように、第１コネクタ３０、第２コネクタ４０および第３コネクタ５０における中央ソケット８２の先端部が、それぞれ、対応する接続端子２７の基部に当接している。これにより、３対の中央ソケット８２および接続端子２７が、電気的に接続されている。接続端子２７は、大径の基部および小径の先端接続部２７ａを有する円柱体であり、対向方向（Ｚ軸方向）に延在している。接続端子２７は、貫通孔２８の中に圧入・固定されたブッシング８０に挿入されることにより、ブッシング８０によって支持されている。ブッシング８０は、樹脂などの電気絶縁性の絶縁部材からなる筒状体である。キャリブレーションアダプタ２には、例えば３個の接続端子２７が設けられている。
【００３２】
図１０に示すように測定ピン１７の先端部が突出面１４よりも突出している。図９に示すようにキャリブレーションアダプタ２の接続端子２７の先端接続部２７ａは、第１面２４に対して対向方向（Ｚ軸方向）に引っ込んだ位置にある。これにより、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での電気的接続が確実に得られる。そして、貫通孔２８の中に圧入・固定されたブッシング８０によって、第１面２４に対する接続端子２７の先端接続部２７ａの対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、一定に保たれている。すなわち、接続端子２７が貫通孔２８の中で固定されているので、第１面２４に対する先端接続部２７ａの位置が、変化しない。これにより、ハウジング２０における接続端子２７の構成を簡略化できるので、プローブ１のキャリブレーションを高精度で行うことができる。換言すれば、プローブ１のように、例えばコイルスプリングのような弾性体が測定経路上に設けられていないので、測定を高精度に行うことができる。
【００３３】
したがって、上記構成によれば、測定ピン１７に対応する先端接続部２７ａを有する複数の接続端子２７が設けられているとともに、第１面２４に対する先端接続部２７ａの対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、それぞれ、一定に保たれているので、一つのキャリブレーションアダプタ２で複数の測定ピン１７を同時にキャリブレーションできる。したがって、キャリブレーションアダプタ２の個数を削減できるとともに、キャリブレーションに要する時間を短くできる。
【００３４】
〔第１変形例〕
図１２を参照しながら、第１変形例に係るキャリブレーションアダプタ２を説明する。図１２は、図１に示したキャリブレーションアダプタ２の第１変形例に係る、接続端子２７と第１面２４との関係を説明する図である。
【００３５】
プローブ１の測定ピン１７の先端部が、突出面１４から突出しているものの、測定ピン１７の先端部を囲む外部導体（図示しない）で隠れてしまう態様がある。このとき、接続端子２７の先端接続部２７ａが第１面２４に対して引っ込んだ位置にある場合、測定ピン１７および接続端子２７が電気的に接続されなくなる。そこで、図１２に示す第１変形例では、接続端子２７の先端接続部２７ａが、第１面２４に対して対向方向（Ｚ軸方向）に出っ張った位置に位置するように構成されている。これにより、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での電気的接続が確実に得られる。
【００３６】
〔第２変形例〕
図１３および図１４を参照しながら、第２変形例に係るキャリブレーションアダプタ２を説明する。図１３は、図１に示したキャリブレーションアダプタ２の第２変形例に係る、接続端子２７の支持構造を説明する図である。図１４は、図１３に示したキャリブレーションアダプタ２を下面側から見た斜視図である。
【００３７】
図１１に示したキャリブレーションアダプタ２では、接続端子２７が同軸ケーブル７０の絶縁体７４によって支持されているため、プローブ１の測定ピン１７によって印加されるピン荷重を受け止める耐荷重性が大きくない。そこで、図１３および図１４に示す第２変形例では、接続端子２７の耐荷重性を高めるように構成されている。
【００３８】
接続端子２７が、ブッシング８０の上面に係止される大径の先端接続部２７ａと、ブッシング８０の挿入孔に挿入される小径の本体部とを有する。すなわち、接続端子２７が段差構造を有するように構成されている。先端接続部２７ａの下面は、ブッシング８０の上面に対して当接・支持されている。ブッシング８０は、バレル８６によって支持されている。
【００３９】
ハウジング２０の下部には、取付凹部９５が形成されている。取付板９０が、取付凹部９５の第２面２９に取付ネジ９４で固定されている。取付板９０は、複数の（例えば３個の）同軸ケーブル７０を挿通するための溝９２を有する。ブッシング８０の下面は、溝９２の外側部分によって当接・支持されている。したがって、接続端子２７は、貫通孔２８の中に配設されるブッシング８０およびバレル８６と、ハウジング２０に取り付けられる取付板９０とを介して、ハウジング２０によって支持されている。これにより、接続端子２７の耐荷重性を高めることができる。
【００４０】
この考案の具体的な実施の形態について説明したが、この考案は、上記実施形態に限定されるものではなく、この考案の範囲内で種々変更して実施することができる。
【００４１】
上記第１実施形態および第２実施形態においては、プローブ１の第１嵌合部１３および第２嵌合部１５が凸形状をなしているとともにキャリブレーションアダプタ２の第３嵌合部２３および第４嵌合部２５が凹形状をなしているが、凸形状および凹形状を逆にすることができる。すなわち、プローブ１の第１嵌合部１３および第２嵌合部１５が凹形状をなしているとともにキャリブレーションアダプタ２の第３嵌合部２３および第４嵌合部２５が凸形状をなすようにすることができる。これにより、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での安定した電気的接続が得られる。
【００４２】
上記第１変形例は、第１実施形態に係る変形例であるが、第２実施形態においても、上記第１変形例と同様に、接続端子２７の先端接続部２７ａが、第１面２４に対して出っ張った位置に位置するように構成することができる。
【００４３】
この考案および実施形態をまとめると、次のようになる。
【００４４】
この考案の一態様に係るキャリブレーションアダプタ２は、
複数の測定ピン１７を有するプローブ１をキャリブレーションするためのキャリブレーションアダプタ２であって、
第１面２４と、前記第１面２４の反対側に位置する第２面２９とを有し、前記第１面２４および前記第２面２９が対向方向に配設されるハウジング２０と、
前記第１面２４および前記第２面２９をつなぐ複数の貫通孔２８と、
前記貫通孔２８のそれぞれに配置されて、対応する前記測定ピン１７にそれぞれ電気的に接続される先端接続部２７ａを有する複数の接続端子２７とを備え、
前記第１面２４に対する前記先端接続部２７ａの前記対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、それぞれ、一定に保たれることを特徴とする。
【００４５】
上記構成によれば、測定ピン１７に対応する先端接続部２７ａを有する複数の接続端子２７が設けられているとともに、第１面２４に対する先端接続部２７ａの対向方向（Ｚ軸方向）の相対位置が、それぞれ、一定に保たれているので、一つのキャリブレーションアダプタ２で複数の測定ピン１７を同時にキャリブレーションできる。したがって、キャリブレーションアダプタ２の個数を削減できるとともに、キャリブレーションに要する時間を短くできる。
【００４６】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記ハウジング２０の側面部には、前記接続端子２７に対応するコネクタ４０，５０，６０がそれぞれ設けられている。
【００４７】
上記実施形態によれば、キャリブレーションアダプタ２をコンパクトにできる。
【００４８】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記コネクタ４０，５０，６０が、同軸構造を有する。
【００４９】
上記実施形態によれば、マイクロ波のような高周波の帯域でも、精度良くキャリブレーションすることができる。
【００５０】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記接続端子２７が、絶縁部材８０を介して前記ハウジング２０における前記貫通孔２８の中で固定されている。
【００５１】
上記実施形態によれば、接続端子２７が貫通孔２８の中で安定的に保持されて、安定したキャリブレーションを提供できる。
【００５２】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記ハウジング２０が多角柱形状をしている。
【００５３】
上記実施形態によれば、複数の接続端子２７に対応することができる。
【００５４】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記先端接続部２７ａが、前記第１面２４に対して前記対向方向に出っ張った位置または引っ込んだ位置にある。
【００５５】
上記実施形態によれば、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での電気的接続が確実に得られる。
【００５６】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記キャリブレーションのときに前記プローブ１と嵌合するための嵌合部２３を備えており、前記嵌合部２３が、前記対向方向に凸形状または凹形状をしている。
【００５７】
上記実施形態によれば、キャリブレーションのときに測定ピン１７および接続端子２７の間での安定した電気的接続が得られる。
【００５８】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記キャリブレーションのときに前記キャリブレーションアダプタ２の設置面から前記ハウジング２０を離間させて保持するための保持部２１，８８が設けられている。
【００５９】
上記実施形態によれば、キャリブレーションアダプタ２の設置面からハウジング２０を離間させるように保持することができる。
【００６０】
また、一実施形態のキャリブレーションアダプタ２では、
前記接続端子２７が、前記貫通孔２８の中に配設されるブッシング８０およびバレル８６と、前記ハウジング２０に取り付けられる取付板９０とを介して、前記ハウジング２０によって支持されている。
【００６１】
上記実施形態によれば、接続端子２７の耐荷重性を高めることができる。
【００６２】
別の局面では、この考案のプローブセット１０は、
複数の測定ピン１７を有するプローブ１と、上述したキャリブレーションアダプタ２とを備える。
【００６３】
上記構成によれば、測定ピン１７に対応する先端接続部２７ａを有する複数の接続端子２７が設けられているとともに、第１面２４に対する先端接続部２７ａの対向方向の相対位置が、それぞれ、一定に保たれているので、一つのキャリブレーションアダプタ２で複数の測定ピン１７を同時にキャリブレーションできる。したがって、キャリブレーションアダプタ２の個数を削減できるとともに、キャリブレーションに要する時間を短くできる。
【符号の説明】
【００６４】
１：プローブ
２：キャリブレーションアダプタ
１０：プローブセット
１１：プランジャ
１３：第１嵌合部
１４：突出面
１５：第２嵌合部
１７：測定ピン
２０：ハウジング
２１：フランジ（保持部）
２２：上面
２３：第３嵌合部（嵌合部）
２４：第１面
２５：第４嵌合部
２６：ガイド部
２７：接続端子
２７ａ：先端接続部
２８：貫通孔
２９：第２面
３０：第１コネクタ（コネクタ）
４０：第２コネクタ（コネクタ）
５０：第３コネクタ（コネクタ）
７０：同軸ケーブル
７２：芯線
７４：絶縁体
７６：外導体
７８：外皮
８０：ブッシング（絶縁部材）
８２：中央ソケット
８４：コネクタブッシング
８５：コネクタボディ
８６：バレル
８８：コネクタ凹部（保持部）
９０：取付板
９２：溝
９４：取付ネジ
９５：取付凹部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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