【手続補正書】
【提出日】平成18年10月11日(2006.10.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気回路をテストする方法であって、
試験下の前記電子回路に刺激を加え、
第１の複数のアクセス可能ノードにおいて、第１の複数のノード電圧を測定し、及び、
前記第１の複数のノード電圧から、コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントに障害があるか否かを判定する
ことを含み、
前記電子回路は、複数のコンポーネントを有し、前記複数のコンポーネントは、
少なくとも第１のコンポーネントを含み、
前記複数のコンポーネントのうちの少なくとも１つが、ある値の範囲にわたって変動する可能性があり且つそれでも障害無しと定義されることが可能な、回路パラメータを有しており、前記電子回路はまた、アクセス可能ノードとアクセス不能ノードとを有し、前記刺激は、少なくとも第１のアクセス可能ノードに加えられ、
前記コンポーネントの第１のグループは、前記第１のコンポーネントを含み、前記第１のコンポーネントは、第１のコンポーネント値を有し、
前記コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントが、少なくとも１つのアクセス不能ノードに接続されており、
前記第１のコンポーネント値が第１の許容範囲の範囲外にある場合には、前記第１のコンポーネントには障害があることからなる、方法。
【請求項２】
前記判定するステップが、
前記第１の複数のノード電圧を、ノード電圧ベクトルに構成し、前記ノード電圧ベクトルと予め定義された電圧ベクトルとの間の差分であるデルタ・ベクトルを生成し、
前記デルタ・ベクトルに第１の回転行列を掛けて、第１の結果ベクトルを形成し、及び、
前記結果ベクトルの各要素と１組の範囲の個別要素とを比較して、前記第１のコンポーネントが第１の許容範囲の範囲外であるか否かを判定する
ことを含み、
前記１組の範囲の各要素が、最大値と最小値から構成されることからなる、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記１組の範囲の各要素の前記最大値及び前記最小値が、線形計画法を用いて決定されることからなる、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
第１のコンポーネント・セットによって相互接続された第１のノード・セットを含む電子回路内における障害をテストするためのシステムであって、
第２のコンポーネント・セットであって、該第２のコンポーネント・セットの各メンバが、前記第１のコンポーネント・セットのメンバであり、前記第２のコンポーネント・セットの各メンバが、そのコンポーネントの電気的特性を表すパラメータのセットを有しており、前記第２のコンポーネント・セットの各メンバは、前記パラメータのセットの各メンバが、そのパラメータとそのコンポーネントとについて定義されたパラメータ値の範囲内にある時には障害がないことからなる、第２のコンポーネント・セットと、
第２のノード・セットに対して１組の刺激を加えるための手段であって、前記第２のノード・セットは、前記第１のノード・セットのサブセットであることからなる、手段と、
第３のノード・セットにおける１組の応答を測定するための手段であって、前記第３のノード・セットは、前記第１のノード・セットのサブセットであることからなる、手段と、
前記１組の応答が、前記電子回路内に存在する少なくとも１つの障害と一致するかどうかを検証するための手段
とを備える、システム。
【請求項５】
第３のコンポーネント・セットを判定するための手段を更に備え、
前記第３のコンポーネント・セットと第４のノード・セットの組み合わせが、少なくとも１つの障害を含み、
前記第４のノード・セットは、前記第３のコンポーネント・セット内には無いどのコンポーネントに対する接続も無いことからなる、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
処理手段を更に備え、
前記処理手段が、前記１組の応答における数学的な演算を実施して、１組の結果を生成し、前記１組の結果のうちの少なくとも１つが、その結果について定義された結果値の範囲外である場合には、前記１組の応答は、前記電子回路内に存在する少なくとも１つの障害に一致することからなる、請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
電子回路をテストするための方法ステップを実施するために、コンピュータによって実行可能な命令プログラムを明確に具現化した、該コンピュータによって読み出し可能なプログラム記憶媒体であって、前記方法が、
試験下の電子回路に刺激を加え、
第１の複数のアクセス可能ノードにおいて、第１の複数のノード電圧を測定し、及び、
前記第１の複数のノード電圧から、コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントに障害があるか否かを判定する
ことを含み、
前記電子回路は、複数のコンポーネントを有し、前記複数のコンポーネントは、少なくとも第１のコンポーネントを含み、
前記複数のコンポーネントのうちの少なくとも１つは、ある値の範囲にわたって変動する可能性があり且つそれでも障害無しと定義されることが可能な、回路パラメータを有しており、前記電子回路はまた、アクセス可能ノードとアクセス不能ノードとを有し、前記刺激は、少なくとも第１のアクセス可能ノードに加えられ、
前記コンポーネントの第１のグループは、前記第１のコンポーネントを含み、前記第１のコンポーネントは、第１のコンポーネント値を有し、
前記コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントが、少なくとも１つのアクセス不能ノードに接続されており、
前記第１のコンポーネント値が第１の許容範囲の範囲外にある場合には、前記第１のコンポーネントには障害があることからなる、プログラム記憶媒体。
【請求項８】
前記判定するステップが、
前記第１の複数のノード電圧を、ノード電圧ベクトルに構成し、
前記ノード電圧ベクトルと予め定義された電圧ベクトルとの間の差分であるデルタ・ベクトルを生成し、
前記デルタ・ベクトルに第１の回転行列を掛けて、第１の結果ベクトルを形成し、及び、
前記結果ベクトルの各要素と１組の範囲の個別要素とを比較して、前記第１のコンポーネントが第１の許容範囲の範囲外であるか否かを判定する
ことを更に含み、
前記１組の範囲の各要素が、最大値と最小値から構成されることからなる、請求項７に記載のプログラム記憶媒体。
【請求項９】
前記１組の範囲の各要素の前記最大値及び前記最小値が、線形計画法を用いて決定されることからなる、請求項８に記載のプログラム記憶媒体。
【請求項１０】
電子回路をテストするための装置であって、
試験下の電子回路に刺激を加えるための手段であって、前記電子回路は、複数のコンポーネントを有し、前記複数のコンポーネントは、少なくとも第１のコンポーネントを含み、前記複数のコンポーネントのうちの少なくとも１つのコンポーネントが、ある値の範囲にわたって変動する可能性があり且つそれでも障害無しと定義されることが可能な、回路パラメータを有しており、前記電子回路はまた、アクセス可能ノードとアクセス不能ノードとを有し、前記刺激は、少なくとも第１のアクセス可能ノードに加えられることからなる、手段と、
第１の複数のアクセス可能ノードにおいて、第１の複数のノード電圧を測定するための手段と、
前記第１の複数のノード電圧から、コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントに障害があるか否かを判定するための手段であって、前記コンポーネントの第１のグループは、前記第１のコンポーネントを含み、前記第１のコンポーネントは、第１のコンポーネント値を有し、前記コンポーネントの第１のグループのうちの少なくとも１つのコンポーネントが、少なくとも１つのアクセス不能ノードに接続されており、前記第１のコンポーネント値が第１の許容範囲の範囲外にある時には、前記第１のコンポーネントには障害があることからなる、手段
とを備える、装置。