【手続補正書】
【提出日】平成18年1月20日(2006.1.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物である光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスにコヒーレント光を入射させ出力させたときの分岐出力光量としての互いに直交する偏光モードの光パワーＰ（１）とＰ（２）ならびにそれらの比としてのＰＥＲ＝１０ｌｏｇ（Ｐ（１）／Ｐ（２））等を測定する偏光消光比等の測定装置において、前記測定装置は少なくとも擾乱付加部と検出部を有しており、前記擾乱付加部は、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与えることができる機能を有しており、前記検出部は、前記擾乱付加部により前記光ファイバの一部に当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させるような擾乱を与えたときの前記光パワーＰ（１）、Ｐ（２）、ＰＥＲ等を測定することができる機能を有していることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記偏光消光比等の測定装置は、前記検出部は偏光分離素子を有しているとともに、前記被測定物である光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスにコヒーレント光を入射させ出力させた出射光が前記偏光分離素子に導かれる構成になっており、前記擾乱付加部によって、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与え、特定のパラメータを変化させたときの前記特定のパラメータに関する前記ＰＥＲの変動量が最小になり、かつ、測定対象範囲の前記特定のパラメータの各値に対応するＰＥＲの最小値が最大になるところを求めて、前記被測定物のＰＥＲの値を求めることができる測定装置であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記擾乱を与える手段にモータが用いられていることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与える擾乱の与え方が、前記位相差がステップ状に変化するように擾乱を与える擾乱の与え方であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項５】
請求項４に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記擾乱を与える手段にステップモータが用いられていることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光パワーＰ（１）が前記偏光分離素子の偏光分離軸に平行な方向に振動する偏光モードの光パワーであり、前記光パワーＰ（２）が前記偏光分離素子の偏光分離軸に直交する方向に振動する偏光モードの光パワーであることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光ファイバが以下においてＰＭＦとも称する偏波面保存ファイバ（  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  Ｍａｉｎｔａｉｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｆｉｂｅｒ）であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項８】
請求項７に記載の偏光消光比等の測定装置において、特定のパラメータが、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度、ならびに、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度のいずれか一方または双方であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項９】
請求項８に記載の偏光消光比等の測定装置において、特定のパラメータを変化させる装置が、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度ならびに被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度の一方を固定して他方を変化させてＰＥＲを測定する装置であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１０】
請求項７〜９のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、被測定物のＰＥＲを測定することができるとともに、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射直線偏光の偏光方向のなす角度ならびに前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度の少なくとも一方を前記ＰＥＲの測定と同時に測定することができることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１１】
請求項７〜１０のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記測定装置が、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度を角度ａ（単位：ラディアン）とし、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度を角度ｂ（単位：ラディアン）とし、被測定物である前記ＰＭＦに擾乱を与えることによって当該ＰＭＦに生じる当該ＰＭＦの固有偏光モード間の位相差をτ（単位：ラディアン）とするとき、下記（数式１）と（数式２）すなわち、
【数１】
2004226209.tif 000001
【数２】
2004226209.tif 000002
により与えられる分岐出力光量Ｐ（１）とＰ（２）を用いて算出される前記ＰＥＲを、前記角度ａと角度ｂのうちのいずれか一方を一定の値にして他方を変動させ、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを前記ＰＭＦに与える擾乱によって変化させながら測定し、前記ＰＥＲを縦軸にとり、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度を前記縦軸に直交する横軸にとり、第１のＰＥＲ−角度曲線である前記ＰＥＲを測定する前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを０にしたときのＰＥＲ−角度ａまたは角度ｂ曲線と、第２のＰＥＲ−角度曲線である前記ＰＥＲを測定する前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τをπにしたときのＰＥＲ−角度ａまたは角度ｂ曲線とを求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線との交点から被測定物のＰＥＲ等を算出することを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ａがある未知の一定の値であるとき、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線を求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線のピーク値を与える角度ｂ、および前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線とが交差するときの角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦへ入射する入射光の偏光方向と前記ＰＭＦの固有偏光軸とのなす角度を求めることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１３】
請求項１１に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線を求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線とが交差するときの角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１４】
請求項１１に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ｂを一定の値にして前記角度ａを変動させ、前記角度ａの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることにより変動するＰＥＲ値の最小値を測定することを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１５】
請求項７〜１０のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記測定装置が、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度を角度ａ（単位：ラディアン）とし、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度を角度ｂ（単位：ラディアン）とし、被測定物である前記ＰＭＦに擾乱を与えることによって当該ＰＭＦに生じる当該ＰＭＦの固有偏光モード間の位相差をτ（単位：ラディアン）とするとき、下記（数式３）と（数式４）すなわち、
【数３】
2004226209.tif 000003
【数４】
2004226209.tif 000004
により与えられる分岐出力光量Ｐ（１）とＰ（２）を用いて算出される前記ＰＥＲを、前記角度ａと角度ｂのうちのいずれか一方を一定の値にして他方を変動させ、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを前記ＰＭＦに与える擾乱によって少なくとも０〜２πの間にわたって変化させて測定し、前記ＰＥＲを縦軸にとり、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度を前記縦軸に直交する横軸にとり、前記の如く測定した前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度において少なくとも０〜２πの間にわたって変化させた前記位相差τの各値の時のＰＥＲの値の分布をグラフに表し、前記グラフにおける前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τの変化に基づくＰＥＲの変動量が最小になるとともに、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τの変化に基づき変化するＰＥＲの値の最小値が最大になるＰＥＲの値を被測定物のＰＥＲとして求めることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ａがある未知の一定の値であるとき、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最大値が極大になる角度ｂ、および前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦへ入射する入射光の偏光方向と前記ＰＭＦの固有偏光軸とのなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１７】
請求項１５に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ａの値に関わらず前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１８】
請求項１５に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ａの値に関わらず前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦのコネクタのキー方向のなす角度あるいは前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦのコネクタを取り付けるアダプタのキー溝方向のなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項１９】
請求項１５に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記角度ｂを一定の値にして前記角度ａを変動させ、前記角度ａの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることにより変動するＰＥＲ値の最小値を測定することを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２０】
請求項１〜１９のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記擾乱付加部に、前記光ファイバの側面方向から該光ファイバに振動を与える加振手段が用いられていることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２１】
請求項１〜２０のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光ファイバは前記擾乱を与えられる部分の両側において所定の間隔をおいて少なくとも２カ所の固定部で固定保持されており、該光ファイバに与えられる擾乱は、該ファイバの２カ所の固定部の間の部分に該ファイバの外部から振動として与えられる擾乱であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２２】
請求項１〜２１のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光ファイバに与えられる擾乱は、該ファイバの２カ所の固定部の間の部分をたわませるように該ファイバの外部から振動として与えられる擾乱であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２３】
請求項２２に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記光ファイバに与えられる擾乱は、該ファイバの２カ所の固定部の間の部分に、該光ファイバの長さ方向に交差する方向に周期的に変位する加振部を当てて該ファイバの２カ所の固定部の間の部分を周期的にたわませるように該ファイバの外部から振動として与えられる擾乱であることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２４】
請求項２３に記載の偏光消光比等の測定装置において、前記加振部は、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させるような擾乱を当該光ファイバに与える全過程において、該光ファイバの２カ所の固定部の間の部分を該光ファイバの長さ方向に交差する方向の同一方向に当該光ファイバを周期的にたわませるように該ファイバ当てられていることを特徴とする偏光消光比等の測定装置。
【請求項２５】
被測定物である光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスにコヒーレント光を入射させ出力させたときの分岐出力光量としての、互いに直交する偏光モードの光パワーＰ（１）とＰ（２）ならびにそれらの比としてのＰＥＲ＝１０ｌｏｇ（Ｐ（１）／Ｐ（２））等を測定する偏光消光比等の測定方法において、前記測定方法、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与える擾乱付加手段を用い、前記擾乱付加手段により前記光ファイバの一部に当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与えたときの前記光パワーＰ（１）、Ｐ（２）、ＰＥＲ等を測定することができる機能を有していることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項２６】
請求項２５に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記測定方法は、被測定物である光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスにコヒーレント光を入射しその出力光を偏光分離素子に導き、分岐出力光量として互いに直交する偏光モードの光パワーＰ（１）とＰ（２）ならびにそれらの比としてのＰＥＲ＝１０ｌｏｇ（Ｐ（１）／Ｐ（２））等を測定する偏光消光比等の測定方法であって、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与え、特定のパラメータを変化させたときの特定のパラメータに関する前記ＰＥＲの変動量が最小になり、かつ、測定対象範囲の特定のパラメータの各値に対応するＰＥＲの最小値が最大になるところを求めて、前記被測定物のＰＥＲの値を求めることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項２７】
請求項２５または２６に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記擾乱を与える手段にモータが用いられていることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項２８】
請求項２５〜２７のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記光ファイバの一部に、当該光ファイバの固有偏光モード間の位相差を０〜２πラディアンの間にわたって変化させることができるような擾乱を与える擾乱の与え方が、前記位相差がステップ状に変化するように擾乱を与える擾乱の与え方であることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項２９】
請求項２８に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記擾乱を与える手段にステップモータが用いられていることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３０】
請求項２５〜２９のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記光パワーＰ（１）が前記偏光分離素子の偏光分離軸に平行な方向に振動する偏光モードの光パワーであり、前記光パワーＰ（２）が前記偏光分離素子の偏光分離軸に直交する方向に振動する偏光モードの光パワーであることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３１】
請求項２５〜３０のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記光ファイバが以下においてＰＭＦとも称する偏波面保存ファイバ（  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  Ｍａｉｎｔａｉｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉ−ｃａｌ  Ｆｉｂｅｒ）であり、特定のパラメータが、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度、ならびに、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度のいずれか一方または双方であることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３２】
請求項３１に記載の偏光消光比等の測定方法において、特定のパラメータを変化させる方法が、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度ならびに被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度の一方を固定して他方を変化させて測定する方法であることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３３】
請求項３１または３２に記載の偏光消光比等の測定方法において、被測定物のＰＥＲを測定することができるとともに、前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射直線偏光の偏光方向のなす角度ならびに前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度の少なくとも一方を前記ＰＥＲの測定と同時に測定することができることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３４】
請求項３１〜３３のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記測定方法が、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度を角度ａ（単位：ラディアン）とし、特定のパラメータの１つとしての、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度を角度ｂ（単位：ラディアン）とし、被測定物である前記ＰＭＦに擾乱を与えることによって当該ＰＭＦに生じる当該ＰＭＦの固有偏光モード間の位相差をτ（単位：ラディアン）とするとき、下記（数式５）と（数式６）すなわち、
【数５】
2004226209.tif 000005
【数６】
2004226209.tif 000006
により与えられる分岐出力光量Ｐ（１）とＰ（２）を用いて算出される前記ＰＥＲを、前記角度ａと角度ｂのうちのいずれか一方を一定の値にして他方を変動させ、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを前記ＰＭＦに与える擾乱によって変化させながら測定し、前記ＰＥＲを縦軸にとり、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度を前記縦軸に直交する横軸にとり、第１のＰＥＲ−角度曲線である前記ＰＥＲを測定する前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを０にしたときのＰＥＲ−角度ａまたは角度ｂ曲線と、第２のＰＥＲ−角度曲線である前記ＰＥＲを測定する前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τをπにしたときのＰＥＲ−角度ａまたは角度ｂ曲線とを求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線との交点から被測定物のＰＥＲを算出することを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３５】
請求項３４に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ａがある未知の一定の値であるとき、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線を求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線のピーク値を与える角度ｂ、および前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線とが交差するときの角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦへ入射する入射光の偏光方向と前記ＰＭＦの固有偏光軸とのなす角度を求めることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３６】
請求項３４に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線を求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線とが交差するときの角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３７】
請求項３４に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ｂを一定の値にして前記角度ａを変動させ、前記角度ａの各値において前記光ファイバに前記擾乱を与えて前記光ファイバにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることにより変動するＰＥＲ値の最小値を測定することを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３８】
請求項３１〜３３のいずれか１項に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記測定方法が、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度を角度ａ（単位：ラディアン）とし、被測定物である前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度を角度ｂ（単位：ラディアン）とし、被測定物である前記ＰＭＦに擾乱を与えることによって当該ＰＭＦに生じる当該ＰＭＦの固有偏光モード間の位相差をτ（単位：ラディアン）とするとき、下記（数式７）と（数式８）すなわち、
【数７】
2004226209.tif 000007
【数８】
2004226209.tif 000008
により与えられる分岐出力光量Ｐ（１）とＰ（２）を用いて算出される前記ＰＥＲを、前記角度ａと角度ｂのうちのいずれか一方を一定の値にして他方を変動させ、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τを前記ＰＭＦに与える擾乱によって少なくとも０〜２πの間にわたって変化させて測定し、前記ＰＥＲを縦軸にとり、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度を前記縦軸に直交する横軸にとり、前記の如く測定した前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度において少なくとも０〜２πの間にわたって変化させた前記位相差τの各値の時のＰＥＲの値の分布をグラフに表し、前記グラフにおける前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τの変化に基づくＰＥＲの変動量が最小になるとともに、前記角度ａと角度ｂのうちの変動させる方の角度の各値における前記位相差τの変化に基づき変化するＰＥＲの値の最小値が最大になるＰＥＲの値を被測定物のＰＥＲとして求めることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項３９】
請求項３８に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ａがある未知の一定の値であるとき、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最大値が極大になる角度ｂ、および前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦへ入射する入射光の偏光方向と前記ＰＭＦの固有偏光軸とのなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項４０】
請求項３８に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ａの値に関わらず前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項４１】
請求項３８に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ａの値に関わらず前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦのコネクタのキー方向のなす角度あるいは前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦのコネクタを取り付けるアダプタのキー溝方向のなす角度を求めることができることを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【請求項４２】
請求項３８に記載の偏光消光比等の測定方法において、前記角度ｂを一定の値にして前記角度ａを変動させ、前記角度ａの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させることにより変動するＰＥＲ値の最小値を測定することを特徴とする偏光消光比等の測定方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
【発明の属する技術分野】  
本発明は、光ファイバ（以下、単に、ファイバともいう）あるいは光ファイバを有する光デバイスの偏光消光比等の新規な測定装置ならびにその測定装置に用いることができる偏光消光比等測定方法に関し、さらに詳しくは、光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスの伝送特性を表す偏光消光比、光ファイバへ入射する入射光の偏光方向とＰＭＦの固有偏光軸とのなす角度、光ファイバの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸とのなす角度などを同時に知ることができる光ファイバあるいは光ファイバを有する光デバイスの偏光消光比等の新規な測定装置ならびにその測定装置に用いることができる偏光消光比等測定方法に関する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
しかしながら、本発明の発明者の検討の結果、後述のように、前記方法においては、光ファイバへの張力のかけ方次第で不合格品であっても合格品であると判定されることもあり、偶然の結果を除けば、製品の歩留まりをあげることは不可能に近い。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、上記の課題を解決して、被測定対象の光ファイバの正確なＰＥＲを求めることができるだけでなく、ＰＥＲの測定とともに、被測定物であるＰＭＦの固有偏光軸と該ＰＭＦに入射する入射光の偏光方向とのなす角度や被測定物であるＰＭＦの固有偏光軸とコネクタのキー溝の方向とのなす角度を測定することもできる測定装置と測定方法を提供することにある。
被測定対象の光ファイバのコネクタの偏光キー溝のＰＳＰからのずれ量やファイバに対する張力などの各種要因について、分離しての測定が可能で、かつ完成されたファイバに対しても測定が可能なＰＥＲ測定装置を提供することにある。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
以下、本発明の各種の例について説明する。出願時の本発明の明細書における特許請求の範囲の各請求項の記載からも明らかなように、本発明の例は、前記ならびに後記の各種特徴の一つを単独で有する場合もあるが、諸特徴のいくつかを併せもつ場合もある。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６８】
本発明の偏光消光比等の測定方法の例は、被測定物のＰＥＲを測定することができるとともに、前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記ＰＭＦに入射する入射直線偏光の偏光方向のなす角度ならびに前記ＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度の少なくとも一方を前記ＰＥＲの測定と同時に測定することができることを特徴としている。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７１】
本発明の偏光消光比等の測定方法の例は、前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて前記第１のＰＥＲ−角度曲線ならびに前記第２のＰＥＲ−角度曲線を求め、前記第１のＰＥＲ−角度曲線と前記第２のＰＥＲ−角度曲線とが交差するときの角度ｂの値から前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることを特徴としている。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
本発明の偏光消光比等の測定方法の例は、前記角度ａの値に関わらず前記角度ｂを変動させ、前記角度ｂの各値において前記ＰＭＦに前記擾乱を与えて前記ＰＭＦにおける前記位相差τを少なくとも０〜２πラディアンの間にわたって変化させて測定したＰＥＲの値の分布を表す前記グラフで、前記角度ｂの各値におけるＰＥＲの値の最小値が最大になる角度ｂの値から、前記被測定物のＰＭＦの固有偏光軸と前記偏光分離素子の偏光分離軸の回転基準方向とのなす角度を求めることができることを特徴としている。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１４２】
本発明を、たとえば、ＰＭＦを取り付けたレーザダイオードモジュールの製造工程に適用することにより、従来は合格品を不合格品に判定したり、不合格品を合格品に判定したりしていた検査工程の信頼性を極めて高いものにすることができるとともに、製品の品質を各段に高めることができ、製造コストを大幅に低減することができる。