【事件の表示】
　平成　８年特許願第　５０４６４号「ＬＳＩ試験用回路」拒絶査定に対する審判事件［平成　９年　９月１９日出願公開、特開平　９−２４３７０９］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．出願の経緯
　この出願は、平成８年３月７日の出願であって、平成１０年１月２３日付で審査請求され、平成１２年４月１８日付で拒絶理由の通知がなされ、その指定期間内の平成１２年６月２６日付で手続補正がなされたが、平成１２年７月２５日付で拒絶の査定がなされ、平成１２年８月３１日付で特許法第１２１条第１項の審判の請求がなされたものである。
　なお、平成１２年１０月２日付の手続補正は却下された。
　
２．本願発明
　この出願の請求項１〜６に係る発明は、平成１２年６月２６日付手続補正で補正された明細書及び図面の記載からみて、その請求項１〜６に記載されたとおりのものであるところ、その請求項１に係る発明(以下「本願発明１」という。)は次のとおりである。
　
「【請求項１】　入出力端子と、入出力端子間の通常バスと、通常バスに接続される複数のブロックとを有するＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路において、
　前記入出力端子の一部を用いて各前記ブロックの試験データ及び試験結果を伝達する試験用入力／出力バスと、
　各前記ブロックに前記通常バス及び前記試験用入力／出力バスのいずれかを選択して接続させるセレクタと、
　各前記ブロックの試験を設定するための試験モードデータを入力する試験用入力端子と、
　前記試験モードデータをデコードして前記セレクタにバスの切換を行わせるデコーダとを備え、
　前記試験用入力端子には、端子をＮ個設け、２N −１通りの試験モードの設定を可能にし、かつ、前記試験用入力端子を多重系にしたことを特徴とするＬＳＩ試験用回路。」
　
３．刊行物
刊行物１　　特開平４−２５８７７５号公報
刊行物２　　特開昭６０−１３２６６号公報
　
３−１．刊行物１
　原審の拒絶の理由でも引用された上記刊行物１(原審では引用文献１として引用された。)には、下記の記載がある。
　
「【０００４】図３に示される従来例においては、機能回路Ａ２８およびセレクタ回路３２を含む機能ブロックＡ３３と、機能回路Ｂ２９およびセレクタ回路３４を含む機能ブロックＢ３５と、機能回路Ｃ３０およびセレクタ回路３６を含む機能ブロックＣ３７と、機能回路Ｄ３１およびセレクタ回路３８を含む機能ブロックＤ３９とが備えられている。図３において、通常動作時においては、入力信号１５３に対応して、機能ブロックＡ３３、機能ブロックＢ３５、機能ブロックＣ３７および機能ブロックＤ３９に対しては、それぞれ入力信号１５４、１５８、１６２および１６６が入力され、また、各機能ブロックのテスト時においては、それぞれ機能ブロックＡテスト用入力信号１５５、機能ブロックＢテスト用入力信号１５９、機能ブロックＣテスト用入力信号１６３および機能ブロックＤテスト用入力信号１６７が、対応するセレクタ回路３２、３４、３６および３８を介して、機能ブロックＡ３３、機能ブロックＢ３５、機能ブロックＣ３７および機能ブロック
Ｄ３９に入力される。
【０００５】また、機能回路Ａ２８、機能回路Ｂ２９、機能回路Ｃ３０および機能回路Ｄ３１の出力信号１５６、１６０、１６４および１６８は、通常動作時に接続される内部バス２０３に対応する信号とは別に、テスト時に使用される、機能ブロックテスト用出力信号１５７、１６１、１６５および１６９として出力される。本従来例の回路構成においては、通常の使用時に使用される入力端子および出力端子とは別に、機能ブロックＡ３３、機能ブロックＢ３５、機能ブロックＣ３７および機能ブロックＤ３９のテスト時に使用される入力端子および出力端子が設けられている。機能ブロックをテストする時には、外部より直接、信号を入力し、機能ブロックの出力信号を外部にて判定して、機能ブロックが正常動作しているか否かを判断する。
【０００６】図４は、他の従来例を示すブロック図である。図３の従来例においては、機能ブロックごとにテスト用の入力端子および出力端子が設けられているのに対して、この従来例においては、機能ブロックテスト用入力端子および機能ブロックテスト用出力端子を、各機能ブロック共用としている。外部から入力される機能ブロックテスト用入力信号１７３は、入力選択回路５２により、各機能ブロックＡ４５、機能ブロックＢ４７、機能ブロックＣ４９および機能ブロックＤ５１に振分けられるが、この場合、入力選択回路５２からは、テストする機能ブロックのみに機能ブロックテスト用入力信号１７３が出力される。一方、機能ブロックテスト時における各機能ブロックの出力信号１７４、１７６、１７８および１８０は、出力選択回路５３に入力され、出力選択回路５３においては、テストする機能ブロックに対応する出力信号が選択されて、機能ブロックテスト用出力信号１８１として、外部に出力される。
【０００７】図４の従来例は、図３の従来例に比較して、機能ブロックテスト用の入力端子および出力端子の数を少なくすることが可能である。更に、通常使用時の入力端子および出力端子と、テスト時に使用するテスト用の入力端子および出力端子を共用する方法もあるが、ここでは説明を省略する。」(公報第１欄第３８行〜第２欄第４２行)
　
　したがって、上記刊行物１には、
　「入力端子１７１と、出力端子１８２と、入出力端子間の内部バス２０４と、内部バス２０４に接続される機能ブロックＡ４５，機能ブロックＢ４７，機能ブロックＣ４９，機能ブロックＤ５１とを有するＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路において、
　各前記機能ブロックの試験データである機能ブロックテスト入力信号１７３と、
　各前記機能ブロックの試験結果である機能ブロックテスト出力信号１８１と、
　前記機能ブロックテスト入力信号１７３を各機能ブロックに振り分ける入力選択回路５２と、
　各前記機能ブロックに、入力選択回路５２で振り分けられた機能ブロックテスト入力信号と、前記内部バス２０４をのいずれかを選択して接続させるセレクタ４４，４６，４８，５０と、
　各前記機能ブロックの出力を選択して、機能ブロックテスト出力信号１８１とする出力選択回路５３と、
　を備えたことを特徴とするＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路。」(以下「刊行物１記載の発明」)が記載されている。
　
３−２．刊行物２
　原審の拒絶の理由でも引用された上記刊行物２(原審では引用文献３として引用された。)には、下記の記載がある。
　
「第１図は本発明による診断容易化回路の一実施例を示すブロック図である。第１図において、高実装集積回路は入力信号ピンＰ１と出力信号ピンＰ２と内部論理ゲートなどからなるが、この内部論理ゲートをたとえば図示のように３つの第１，第２，第３診断ブロック１，２，３に分けこれらに第１，第２，第３セレクタ４，５，６とその制御回路をなすデコーダ７とデコーダ入力ピンＰ３を設けることにより診断容易化回路を構成する。」(公報第１頁右下欄第１６行〜第２頁左上欄第５行)
　また、第１図からは、デコーダ入力ピンＰ３の端子が２個あることがみてとれる。
　
　したがって、上記刊行物２には「ＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路において、ＬＳＩを３つの診断ブロック１，２，３に分け、それぞれの診断ブロックの入出力を、通常時の接続と、診断時に診断入出力ピンとして用いられる実信号入出力ピンと直接接続する試験時の接続の間で切り替えるセレクタ４，５，６と、２本のデコーダ入力ピンを持つデコーダ７とを備え、デコーダ７の２本のデコーダ入力ピンによって制御することにより、３つの診断ブロック１，２，３のいずれかひとつのみを診断できるようにセレクタを切り替えることを特徴とするＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路。」(以下「周知事項２」)という。
　
４．対比
　本願発明１と、上記刊行物１記載の発明を比較する。
　
　第一に、上記刊行物１記載の発明の「入力端子１７１」「出力端子１８２」が、本願発明１の「入出力端子」と対応し、上記刊行物１記載の発明の「内部バス２０４」「機能ブロックＡ４５，機能ブロックＢ４７，機能ブロックＣ４９，機能ブロックＤ５１」が本願発明１の「入出力端子間の通常バス」「複数のブロック」に相当することは明らかである。
　第二に、上記刊行物１記載の発明の「機能ブロックテスト入力信号１７３」「機能ブロックテスト出力信号１８１」は、機能ブロック間で共用されるという点で、本願発明１の「前記ブロックの試験データ及び試験結果を伝達する試験用入力／出力バス」と同様にバスとしての機能を有するものである。
　第三に、上記刊行物１記載の発明の「入力選択回路５２」と「セレクタ４４，４６，４８，５０」の組合せは、「入力選択回路５２」と「セレクタ４４」が協同して動作することにより「内部バス２０４」上の信号と「機能ブロックテスト入力信号１７３」を選択して「機能回路Ａ４０」に加えているという点で、また、「入力選択回路５２」と「セレクタ４６」が協同して動作することにより「内部バス２０４」上の信号と「機能ブロックテスト入力信号１７３」を選択して「機能回路Ｂ４１」に加えているという点で、また、「入力選択回路５２」と「セレクタ４８」が協同して動作することにより「内部バス２０４」上の信号と「機能ブロックテスト入力信号１７３」を選択して「機能回路Ｃ４２」に加えているという点で、また、「入力選択回路５２」と「セレクタ５０」が協同して動作することにより「内部バス２０４」上の信号と「機能ブロックテスト入力信号１７３」を選択して「機能回路Ｄ４３」に加えているという点で、本願発明１の「各前記ブロックに前記通常バス及び前記試験用入力／出力バスのいずれかを選択して接続させるセレクタ」と同様に「各前記ブロックの
入力に
試験データ
　第四に、上記刊行物１記載の発明の「出力選択回路５３」は、各機能ブロックの出力を選択して機能ブロックテスト出力信号１８１としているから、本願発明１の「各前記ブロックに前記通常バス及び前記試験用入力／出力バスのいずれかを選択して接続させるセレクタ」と同様に、「各前記ブロックの出力を選択して試験用出力バスに接続」する機能を有している。
　
　したがって、本願発明１と上記刊行物１記載の発明を比較すると、
　
「入出力端子と、入出力端子間の通常バスと、通常バスに接続される複数のブロックとを有するＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路において、
　各前記ブロックの試験データ及び試験結果を伝達する試験用入力／出力バスと、
　各前記ブロックの
入力に
　有することを特徴とするＬＳＩ試験用回路。」
　
　という点で一致し、下記の点で相違する。
　
(あ)　本願発明１の「試験用入力／出力バス」は、「前記入出力端子の一部を用いて各前記ブロックの試験データ及び試験結果を伝達する」ものであり、「セレクタ」が「前記ブロックに前記通常バス及び前記試験用出力バスのいずれかを選択して接続させる」ものであるのに対し、上記刊行物１記載の発明の「機能ブロックテスト入力信号１７３」「機能ブロックテスト出力信号１８１」は専用の端子であるとともに、「出力選択回路５３」が、機能ブロックの出力を選択して機能ブロックテスト出力信号１８１としているものの、機能ブロックの出力を切り替えて機能ブロックテスト出力信号と内部バスのいずれかに接続する動作をしていない点。
(い)　本願発明１は「各前記ブロックの試験を設定するための試験モードデータを入力する試験用入力端子と、前記試験モードデータをデコードして前記セレクタにバスの切換を行わせるデコーダとを備え、前記試験用入力端子には、端子をＮ個設け、２N−１通りの試験モードの設定を可能にし」ているのに対し、上記刊行物１には「入力選択回路５２」「セレクタ４４，４６，４８，５０」「出力選択回路５３」がどのように制御されているか記載されていない点。
(う)　本願発明１は「試験用入力端子を多重系にし」たものであるが、上記刊行物１にはこの点がなんら記載されていない点。
　
５．判断
　ここで、上記相違点(あ)〜(う)について検討する。
　
５−１．相違点(あ)
　上記周知事項２にも見られるように、ＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験回路において、診断時に通常の入出力ピンを診断用の入出力ピンとして用いること、および、診断時に診断用の出力ピンとして用いられている通常の出力ピンに診断対象のブロックの出力を接続することは知られており、上記刊行物１記載の発明に上記周知事項２を適用することは、上記刊行物１の「更に、通常使用時の入力端子および出力端子と、テスト時に使用するテスト用の入力端子および出力端子を共用する方法もあるが、ここでは説明を省略する。」という記載からみて、格別の技術的困難性は認められない。
　したがって、上記相違点(あ)は、当業者が適宜なし得た設計的事項にすぎない。
　
５−２．相違点(い)
　上記周知事項２にも見られるように、ＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路において、その内部の接続をセレクタを用いて切り替えられるようにしておき、それらセレクタをデコーダの出力で制御することは周知である。
　また、上記周知事項２において、３つの診断ブロックのいずれを試験するかが、本願発明１の「２Ｎ−１通りの試験モード」に相当し、また、２本のデコーダ入力ピンが、本願発明１の「Ｎ個の」「試験用入力端子」に相当することは明らかである。
　そして、上記刊行物１記載の発明も上記周知事項２も「ＬＳＩの試験を行うＬＳＩ試験用回路」に関するものであるから、上記刊行物１記載の発明に上記周知事項２を組み合わせることに格別の技術的困難性は認められない。
　したがって、上記相違点(い)は、当業者が適宜なし得た設計的事項にすぎない。
　
５−３．相違点(う)
　高信頼性を得るシステムとして、同機能を有する複数のシステムを並列に使用し、その出力が同じ値を示さないときには、その値を無効として取り扱うシステムは、例を挙げるまでもなく周知である。そして、そのような周知事項を上記刊行物１記載の発明に適用することに格別の技術的困難性は認められないから、上記相違点(う)は、当業者が必要に応じて適宜なし得た事項にすぎない。
　
　そして、本願発明１が奏する作用効果は、上記刊行物１記載の発明、および、上記周知事項から予測しうる範囲のものにすぎない。
　
　したがって、本願発明１は、上記刊行物１記載の発明、および、上記周知事項から、当業者が容易に発明できたものである。
　
６．むすび
　したがって、本願発明１は、上記刊行物１記載の発明、および、上記周知事項に基づき、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。