【事件の表示】
　平成４年特許願第３５９３４２号「フィードバック式加工条件補正装置」拒絶査定に対する審判事件［平成６年７月１９日出願公開、特開平６−１９８５４３］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本件発明
　本件出願は、平成４年１２月２５日の特許出願であって、その請求項１乃至請求項４に係る発明は、願書に添付した明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１乃至請求項４に記載されたとおりのものであると認められるところ、請求項１に係る発明（以下「本件発明１」という。）は、次のとおりである　
「【請求項１】　(a)複数のワークを順に加工する加工機を加工条件に従って制御する加工機制御手段と、(b)前記加工機により加工された複数のワークの各々の寸法を順に測定する測定機とに接続されて使用されるべきフィードバック式加工条件補正装置であって、
　前記測定機による測定値を逐次蓄積し、その蓄積した最新の測定値を含む複数の測定値の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き移動平均値を取得し、その重み付き移動平均値の目標値に対する誤差である寸法誤差と、その寸法誤差の変化傾向とを含む寸法情報を取得し、その寸法情報に基づいて、前記加工機により次に加工されるべきワークの前記加工条件の補正値を決定して前記加工機制御手段に供給する加工条件補正手段を含むことを特徴とするフィードバック式加工条件補正装置。」
第２　引用例
１　引用例１
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された本件出願前に日本国内において頒布された刊行物である特開昭６２−１７６７３４号公報（以下「引用例１」という。）には以下の事項が記載されている。
(1) 特許請求の範囲
「旋盤等の工作機械から搬出された加工ワークを計測し、得られた計測データを再び工作機械側へとフィードバックして加工条件を補正し、順次新しいワーク加工サイクルを繰り返す工程において、加工サイクルごとの、加工前に指令した補正値、加工後のワークの計測値等の加工精度を評価するためのデータを記憶しておき、新たなワーク加工サイクルを実行する際には、過去の加工サイクルについての上記データから、加工回数に対する平均値を演算して、得られた平均値に基づき新たな加工サイクルについての補正値を決定することを特徴とする工作機械におけるワークの加工方法。」
(2) 第２頁右上欄第１１行〜第３頁左上欄第３行
「〔実施例〕
　以下、図面に基づいて実施例を説明する。
　第１図はこの発明の加工方法を適用した、ＮＣタレット旋盤(1)と、その制御装置(2)およびタレット(3)に取付けたワーク径測定用の差動トランス(4)に接続した計測コントローラ(5)（第２図）とからなるワークの加工システムの略構成図であり、上記制御装置(2)は主にＮＣ装置(6)と、CPU,ROM,RAM等の記憶装置を内蔵し演算機能を具えたプログラマブルコントローラ(7)とから構成され、テープ(8)等を介してＮＣ装置(6)内に入力されたプログラムに従ってワーク加工が実行される。(9)は主軸チャック、(11)はタレット軸であり、この旋盤ではタレット軸(11)が主軸に平行のまま第１図左右方向に移動自在であると共に、図面を貫く方向に進退自在である。
　そして、所定のプログラムによる加工が完了したならば、タレット軸(11)が移動して上記差動トランス(4)によりワ−ク(W)面に当接することによって、ワーク径を計測するのであるが、上記計測コントローラ(5)は第２図示のようにアンプ(12)と、A/D変換器(13)およびCPU(14),ROM(15),RAM(16)等を具えた演算機(17)とからなっていて、差動トランス(4)からの信号がデジタル変換された後、演算機(17)によって次のようにして処理される。
　すなわち、今既に第５回目のワーク加工サイクルを終了している状態の場合について説明すると、上記のようにデジタル化された差動トランス(4)からの信号が読取られ、例えば外径測定の場合には、差動トランス(4)先端がワークの左端に接触した際の値とワークの右端に接触した際の値との差からワーク直径を演算する・・・・・・・（中略）・・・・・・・。
　上記計測値が第５回目の加工サイクルにおいてのものであるので、第３図に(RD5)で示し、当該加工サイクルに基づく設定値(T)との差・・・（中略）・・・・(T−RD5)を第３図に(SD5)で示す。つまり、(SD5)＝(T−RD5)になり、第１〜４回目の加工サイクル夫々について求めた（設定値）−（計測値）の値は同様に(SD1),(SD2),(SD3),(SD4)であり、第３図に示す。」
(3) 第３頁左上欄第１３行〜同頁右上欄第８行　
「この実施例の加工システムでは、本発明に従って次のようにして次回の加工サイクルについての補正値を決定している。
　すなわち、前記計測コントローラ(5)のRAM(16)内には、過去の加工サイクルにおける設定値と計測値との差(SD1,SD2,SD3・・・)を記憶しておくメモリーテーブルが設けられており、例えば当該第５回目の加工を了え、第６回目の加工サイクルに移行するに際しては、第２〜５回目の加工サイクルにおける最近の過去４回の差(SD2)(SD3)(SD4)(SD5)を読み出して来て、当該値の加工回数（４回）に対する平均を演算し、演算した平均値▲(SD5)▼（当審注：SD5にアッパーラインが付されていることを意味する。以下同様）の正負を反転した値を次回の加工サイクルについての補正値として用いるのである(第３図)。」                  
(4) 第３頁左下欄第５〜１５行　
「さらに、平均値を求めるための過去の加工サイクルはもちろん４回に限られず、平均値を求める際の演算形式も、単純平均ではなく、重み付き平均としてもよい。
　すなわち、例えば上記例の第６回目の加工サイクルについての補正値を求める場合に、新しい加工サイクルほど重い加重（係数）をかけるとして、
　▲(SD5)▼＝｛k1×(SD2)＋k2×(SD3)＋k3×(SD4)＋k4×(SD5)｝／４
　　　（但し、k1＜k2＜k3＜k4、k1＋k2＋k3＋k4＝４）
のようにして求めてもよい。」
　これらの記載事項を本件発明１に照らして整理すると、引用例１には次の発明が記載されていると認める。
　複数のワークを順に加工するＮＣタレット旋盤(1)を加工条件に従って制御する制御装置(2)と、前記ＮＣタレット旋盤(1)により加工された複数のワークの各々の寸法を順に測定する差動トランス(4)とに接続されて使用されるフィードバック式加工条件補正装置であって、
　設定値(T)と前記差動トランス(4)による計測値との差を逐次蓄積し、その蓄積した最新の差を含む複数の差の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き平均値を取得し、その重み付き平均値に基づいて、前記ＮＣタレット旋盤(1)により次に加工されるべきワークの前記加工条件の補正値を決定して前記制御装置(2)に供給する計測コントローラ(5)を含むフィードバック式加工条件補正装置。
２　引用例２
　同じく原査定の拒絶の理由に引用された本件出願前に日本国内において頒布された刊行物である特開昭６２−１６６９４４号公報（以下「引用例２」という。）には、請求人の提出した平成１３年１月１２日受付の手続補正書（方式）の第５頁第１段落で請求人もその旨認めているように、以下の事項が記載されていると認める。
　工作機械に対する入力としての補正値と、その補正値による補正の結果である工作機械の出力であるワークの測定値との差を工作機械のゲインと見なし、今回のゲインのみならず前回のゲインをも考慮して副補正値を決定し、その副補正値を、今回の測定値と設定値との差である当初補正値に加えて次回の補正値を決定すること、すなわち、誤差の補正に誤差の変化傾向をも考慮すること。
第３　対比
　本件発明１と引用例１記載の発明とを対比すると、引用例１記載の発明の「ＮＣタレット旋盤(1)」は、本件発明１の「加工機」に相当し、以下同様に「制御装置(2)」が「加工機制御手段」に、「差動トランス(4)」が「測定機」に、「設定値(T)」が「目標値」に、「計測値」が「測定値」に、また、「計測コントローラ(5) 」が「加工条件補正手段」にそれぞれ相当することが明らかである。
　また、加工機により次に加工されるべきワークの加工条件の補正値を決定するに当たって、引用例１記載の発明において、目標値と測定機による測定値との差を逐次蓄積し、その蓄積した最新の差を含む複数の差の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き平均値を取得し、その重み付き平均値に基づいていることと、本件発明１において、測定機による測定値を逐次蓄積し、その蓄積した最新の測定値を含む複数の測定値の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き移動平均値を取得し、その重み付き移動平均値の目標値に対する誤差である寸法誤差に基づいていることとは、少なくとも目標値と測定機による測定値とに基づいているという点で共通している。
　したがって、本件発明１と引用例１記載の発明とは、
　複数のワークを順に加工する加工機を加工条件に従って制御する加工機制御手段と、前記加工機により加工された複数のワークの各々の寸法を順に測定する測定機とに接続されて使用されるべきフィードバック式加工条件補正装置であって、
　目標値と前記測定機による測定値とに基づいて、前記加工機により次に加工されるべきワークの前記加工条件の補正値を決定して前記加工機制御手段に供給する加工条件補正手段を含むフィードバック式加工条件補正装置
である点で一致し、次の２点で相違している。
相違点１：
　加工機により次に加工されるべきワークの加工条件の補正値を決定するに当たって、本件発明１では、測定機による測定値を逐次蓄積し、その蓄積した最新の測定値を含む複数の測定値の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き移動平均値を取得し、その重み付き移動平均値の目標値に対する誤差である寸法誤差に基づいているのに対して、引用例１記載の発明では、目標値と測定機による測定値との差を逐次蓄積し、その蓄積した最新の差を含む複数の差の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き平均値を取得し、その重み付き平均値に基づいている点。
相違点２：
　上記補正値を決定するに当たって、本件発明１では、上記寸法誤差だけでなく、その寸法誤差の変化傾向にも基づいているのに対して、引用例１記載の発明では、その様になっていない点。
第４　判断
　そこで、上記相違点について検討する。
１　相違点１について
　引用例１記載の発明の「目標値と測定機による測定値との差を逐次蓄積し、その蓄積した最新の差を含む複数の差の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き平均値」を、引用例１記載の数式で示すと以下のとおりである。
　▲(SD5)▼＝｛k1×(SD2)＋k2×(SD3)＋k3×(SD4)＋k4×(SD5)｝／４
　　　（但し、k1＜k2＜k3＜k4、k1＋k2＋k3＋k4＝４）
　ここで、SD2〜SD5は、目標値Tと第２回目から第５回目までの各測定値RD2〜RD5との差であることから、SD2〜SD5をTとRD2〜RD5とで表すと、以下のようになる。
▲(SD5)▼＝｛k1×(T−RD2)＋k2×(T−RD3)＋k3×(T−RD4)＋k4×
　　　　　　 (T−RD5)｝／４
　　　　 ＝｛T(k1＋k2＋k3＋k4)−(k1×RD2＋k2×RD3＋k3×RD4
　　　　　　 ＋k4×RD5)｝／４
　　　 　＝ T−(k1×RD2＋k2×RD3＋k3×RD4＋k4×RD5)／４
　上式の右辺第２項(k1×RD2＋k2×RD3＋k3×RD4＋k4×RD5)／４は、本件発明１の「最新の測定値を含む複数の測定値の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き移動平均値」であるから、結局、引用例１記載の発明の「目標値と測定機による測定値との差を逐次蓄積し、その蓄積した最新の差を含む複数の差の、後に蓄積されたものほど大きな重みを与えた重み付き平均値」▲(SD5)▼は、本件発明１の「重み付き移動平均値の目標値に対する誤差である寸法誤差」と同一である。
　そして、引用例１記載の発明のように逐次蓄積した目標値と測定値との差に重み付をして平均値を求めるようにするか、或いは、本件発明１のように先ず逐次蓄積した測定値の重み付き移動平均値を求めてからその重み付き移動平均値の目標値に対する誤差である寸法誤差を求めるようにするかは、必要に応じて適宜選択すればよい単なる設計的事項にすぎない。
　そうしてみると、相違点１について本件発明１と引用例１記載の発明との間に実質的な差異はない。
２　相違点２について　
　先に認定したように、引用例２には、工作機械に対する入力としての補正値と、その補正値による補正の結果である工作機械の出力であるワークの測定値との差を工作機械のゲインと見なし、今回のゲインのみならず前回のゲインをも考慮して副補正値を決定し、その副補正値を、今回の測定値と設定値との差である当初補正値に加えて次回の補正値を決定すること、すなわち、誤差の補正に誤差の変化傾向をも考慮することが記載されている。
　そして、引用例１記載の発明及び引用例２記載の事項の技術的親近性を考慮すると、引用例１記載の発明に引用例２記載の事項を適用することにより、加工機により次に加工されるべきワークの加工条件の補正値を決定するに当たって、寸法誤差だけでなく、その寸法誤差の変化傾向にも基づくように構成することは当業者が格別の創意を要することなく容易に想到し得る事項である。
３　本件発明１の効果について
　また、本件発明１の採用する構成によって齎される効果も、引用例１記載の発明及び引用例２記載の事項から当業者であれば予測できる程度のものであって格別のものではない。
第５　むすび
　したがって、本件発明１は、引用例１記載の発明及び引用例２記載の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許をすることができない。
　よって、本件出願の請求項２乃至請求項４に係る発明について検討するまでもなく結論のとおり審決する。