【事件の表示】
　特許第２８９０７２７号に関する訂正審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　特許第２８９０７２７号に係る明細書を本件審判請求書に添付された訂正明細書のとおり訂正することを認める。
【理　由】
１．請求の要旨
　本件審判の請求の要旨は、特許第２８９０７２７号発明（平成２年７月２６日特許出願、平成１１年２月２６日設定登録）の明細書を審判請求書に添付した訂正明細書のとおり、すなわち、下記(1）ないし(16)のとおり訂正することを求めるものである。
(1）請求項１を削除する。
(2）請求項２に記載中の、「静電潜像を現像する現像方法」を「静電潜像を反転現像する現像方法」と訂正する。
(3）同　「ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」を「６０００≧ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」と訂正する。
(4）同　「絶縁破壊電圧（ボルト）」を「絶縁破壊電圧（ボルト／ｃｍ）」と訂正する。
(5）請求項２の番号を繰り上げて請求項１に訂正する。
　
(6）願書に添付された明細書（以下、「特許明細書」という。）第５頁第１３行〜第７頁第４行（特許公報第２頁右欄第２〜２８行）の記載
「本発明の第１のものは、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアス電位を印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法において、該樹脂被覆されたキャリアとして、現像部位の最大現像電界
　｜ＶＩ−ＶＢ｜／Ｄ
〔式中、ＶＩは現像部位における感光体の画像部最大電位（ボルト）、ＶＢは現像バイアス電位（ボルト）、Ｄは感光体と磁気ロールとの空隙（ｃｍ）を意味する。〕における比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であるものを用いることを特徴とする。
　本発明の第２のものは、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアス電位を印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法において、該樹脂被覆されたキャリアとして、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ 以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が、下記式で示される条件を満たすものを用いることを特徴とする。
　ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ
〔式中、ＥＢはキャリアの絶縁破壊電圧（ボルト）、ＶＩは現像部位における感光体の画像部最大電位（ボルト）、ＶＢは現像バイアス電位（ボルト）、Ｄは感光体と磁気ロールとの空隙（ｃｍ）を意味する。〕」を
「本発明は、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアス電位を印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を反転現像する現像方法において、該樹脂被覆されたキャリアとして、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ 以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が、下記式で示される条件を満たすものを用いることを特徴とする。
　６０００≧ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ
〔式中、ＥＢはキャリアの絶縁破壊電圧（ボルト／ｃｍ）、ＶＩは現像部位における感光体の画像部最大電位（ボルト）、ＶＢは現像バイアス電位（ボルト）、Ｄは感光体と磁気ロールとの空隙（ｃｍ）を意味する。〕」と訂正する。
(7）特許明細書第８頁第３〜１２行（特許公報第２頁右欄下から２行〜第３頁左欄第７行）の記載
「本発明は、このような観点においてなされたものである。そして、本発明者等は、現像条件下におけるキャリアの比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であれば、キャリア付着の発生がないことを確認した。さらにまた、１０００Ｖ／ｃｍで１０９Ω・ｃｍ以上の抵抗を有し、画像部最大電位と現像バイアス電位及び感光体と磁気ロールの間隙で規定される現像電界の１／２以上の絶縁破壊電圧を示すキャリアを用いれば、キャリア付着の発生がないことを実験的に確認し、本発明を完成したのである。」を
「本発明は、このような観点においてなされたものである。そして、本発明者等は、１０００Ｖ／ｃｍで１０９Ω・ｃｍ以上の抵抗を有し、画像部最大電位と現像バイアス電位及び感光体と磁気ロールの間隙で規定される現像電界の１／２以上で６０００Ｖ／ｃｍ以下の絶縁破壊電圧を示すキャリアを用いれば、キャリア付着の発生がないことを実験的に確認し、本発明を完成したのである。」と訂正する。
(8）特許明細書第１０頁第２〜１１行（特許公報第３頁左欄第３４〜４３行）の記載
「即ち、第１の場合においては、現像部位の最大現像電界である。
　｜ＶＩ−ＶＢ｜／Ｄ
のもとで測定した比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であるものを用いる。
　また、第２の場合には、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧ＥＢが、下記式で示される条件を満たすものを用いる。
ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」を、
「即ち、本発明は、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧ＥＢが、下記式で示される条件を満たすものを用いる。
６０００≧ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」と訂正する。
(9）特許明細書第１６頁第５行（特許公報第４頁右欄第８行）の「ポリメチルメタクリレートまたは」を削除する。、
(10)　特許明細書第１６頁第９〜１０行（特許公報第４頁右欄第１２〜１３行）の記載「より行った。得られたキャリアの被覆状態及び比抵抗を第１表に示す。」を
「より、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗及び絶縁破壊電圧が第１表に示される値になるように樹脂被覆を行った。得られたキャリアの被覆状態も第１表に示す。」と訂正する。
(11)　特許明細書第１６頁第１１〜１７行（特許公報第４頁右欄第１４〜２０行）の「ポリメチルメタクリレートで被覆したキャリアの場合は、スチレン−ｎ−ブチルメタクリレート共重合体（Mn＝８，０００、Mw＝１００，０００）に、カーボンブラック（BP１３００、デグサ社製）をトナー全重量に対して１０重量％添加し、混練粉砕法によって得た平均粒径１０μｍのトナーを使用した。また、」を削除する。
(12)　特許明細書第１８頁（特許公報第５頁）の第１表を削除する。
(13)　特許明細書第１９頁第１〜７行（特許公報第５頁第１表の下の左欄第１行〜右欄第３行）の「例２　例１におけると同様にしてキャリアを作成した。但し、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗及び絶縁破壊電圧が、第２表に示される値になるように樹脂被覆を行った。例１と同様のトナーを使用し、同様の条件でコピー操作を行った。それらの結果を第２表に示す。」を削除する。
(14)　特許明細書第２０頁（特許公報第６頁）の第２表の記載を、添付した訂正明細書第８頁の第１表のように、すなわち、「第２表」を「第１表」と訂正し、試験No．９〜１２のデータを削除し、試験No．１３〜１６を試験No．１〜４に訂正する。
(15)　特許明細書第１３頁第２〜３行（特許公報第３頁右欄第４０行）の「絶縁破壊電圧を所定の値のするためには、」を「絶縁破壊電圧を所定の値にするためには、」と訂正する。
(16)　特許明細書第１６頁第８行（特許公報第４頁右欄第１０〜１１行）の「例えばを」を「例えば、」と訂正する。
　
２．当審の判断
２．１　訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否
(1）の訂正は、特許請求の範囲の請求項が２つであったものを、１つにするものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
(2）の訂正は、特許請求の範囲に記載中の静電潜像を現像する現像方法を反転現像に限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。そして、かかる訂正は、実施例として、反転現像用に改造した複写機を用いてコピー操作を行った旨の記載（特許公報第４頁右欄第２８〜３０行）及び第２表（特許公報第６頁）の試験No.13〜No.16の記載に基づくものである。
(3）の訂正は、特許請求の範囲に記載中の式「ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」において、ＥＢに上限を設けるものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　本件特許明細書には、実施例として正規現像の場合と反転現像の場合とが記載されており、正規現像の場合にはＥＢの値は上限値が１５０００以上であるが、反転現像の場合にはＥＢの値の上限値は６０００であることが第２表（特許公報第６頁）に示されている。そして、(2）の訂正によって、請求項２に係る発明を反転現像の場合に限定したものであるから、(3）の訂正は、第２表（特許公報第６頁）の試験No.13〜No.16の記載に基づくものである。
(4）の訂正は、関係式「ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ」の右辺の単位がボルト／ｃｍであること、及び本件特許明細書に記載される絶縁破壊電圧の測定法の説明（特許公報第４頁左欄第３１行〜右欄第２行）からみて、絶縁破壊電圧ＥＢの単位は、感光体と磁気ロールとの間隙を前提として単位長さ当たりのボルト、すなわちボルト／ｃｍとして表記すべきものであるから、誤記の訂正を目的とするものである。
(5）の訂正は、請求項１の削除によって、請求項１が欠番となり不明瞭となることを防ぐものであるから、明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
(6）ないし(14)の訂正は、訂正された特許請求の範囲の記載に整合するように、特許明細書の記載を訂正するものであり、特許法第１２６条第１項ただし書き第３号に規定する明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
(15)および(16)の訂正は、明らかな誤記の訂正であり、実質的に意味内容を変更するものではない。
　そして、上記各訂正は、願書に添付した明細書又は図面に記載された事項の範囲内のものであって、かつ、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものでない。
　
２．２　独立特許要件の判断
　訂正後の特許請求の範囲に記載された事項により特定される発明が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか否かを検討する。
　訂正前の特許請求の範囲に記載の発明は、特許異議の決定に記載された理由によって、特許すべきものでないものに対して特許をされたものであるとして、特許を取り消された。
　したがって、前記訂正後の特許請求の範囲に記載の発明が前記特許異議の決定に記載された理由を解消し得るか否かについて検討する。
　
ア．本件訂正後の発明
「【請求項１】　感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアス電位を印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を反転現像する現像方法において、該樹脂被覆されたキャリアとして、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が、下記式で示される条件を満たすものを用いることを特徴とする現像方法。
　６０００≧ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ
〔式中、ＥＢはキャリアの絶縁破壊電圧（ボルト／ｃｍ）、ＶＩは現像部位における感光体の画像部最大電位（ボルト）、ＶＢは現像バイアス電位（ボルト）、Ｄは感光体と磁気ロールとの空隙（ｃｍ）を意味する。〕」
　
イ．刊行物の記載事項
　本件特許明細書の請求項１ないし２に係る発明に対し、特許異議の決定で示された刊行物１ないし６は、以下に示すものであって、各々以下に摘示した記載内容がある。
　刊行物１：特開昭６１−１２６５６７号公報（特許異議申立の甲第１号証、本請求の甲第３号証）
　刊行物２：特開昭６１−１２６５７０号公報（特許異議申立の甲第２号証、本請求の甲第４号証）
　刊行物３：特開昭６１−１１８７６７号公報（特許異議申立の甲第３号証、本請求の甲第５号証）
　刊行物４：特開昭６３−１６９６５８号公報（特許異議申立の甲第４号証、本請求の甲第６号証）
　刊行物５：特開昭６３−１７４０６０号公報（特許異議申立の甲第５号証、本請求の甲第７号証）
　刊行物６：第１９回電子写真学会講習会
　「イメージング技術の基礎講座」（昭和６０年６月１３日、１４日）（特許異議申立の甲第６号証、本請求の甲第８号証）
　
(1）　刊行物１の記載内容
　電子写真法、静電記録法、静電印刷法等において形成される静電潜像を二成分現像剤により現像する工程を含む画像形成方法に関するものである。
　当該刊行物１には、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアスを印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法が記載されており、該樹脂被覆されたキャリアは通常１０１３Ω・ｃｍ以上の電気固有抵抗値を有する絶縁性のものであることが記載されている。
　ただし、当該刊行物１において、現像部位の最大現像電界、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０１３Ω・ｃｍ以上であること、および絶縁破壊電圧については記載されていない。
　また、現像方法は、帯電電位と現像バイアス電位との関係から見て正規現像法によるものと考えられる。
　
(2）　刊行物２の記載内容
　有機光導電性感光体を用いて電子写真法、静電記録法、静電印刷法等において形成される静電潜像を二成分現像剤により現像する工程を含む画像形成方法に関するものである。
　当該刊行物２には、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアスを印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法が記載されており、前記刊行物１と同様の発明が記載されている。
　
(3）　刊行物３の記載内容
　有機光導電性感光体を用いて電子写真法、静電記録法、静電印刷法等において形成される静電潜像を二成分現像剤により現像する工程を含む画像形成方法に関するものである。
　当該刊行物３には、感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアスを印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法が記載されており、該樹脂被覆されたキャリアは通常１０１３Ω・ｃｍ以上の電気固有抵抗値を有する絶縁性のものであることが記載されている。
　ただし、当該刊行物３において、現像部位の最大現像電界、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０１３Ω・ｃｍ以上であること、および絶縁破壊電圧については記載されていない。
　また、現像方法は、帯電電位と現像バイアス電位との関係から見て正規現像法によるものと考えられる。
　
(4）　刊行物４の記載内容
　電子写真法、静電記録法、静電印刷法等において形成される静電潜像を現像するために用いられる静電像現像剤、およびこの静電像現像剤を用いて有機光導電性半導体よりなる感光体の表面に形成された静電潜像を現像するための静電像現像方法に関するものである、特に有機光導電性半導体よりなる感光体の表面に形成された負の静電潜像を現像する場合に好適な静電像現像剤および静電像現像方法に関するものである。
　第１７頁及び第１図には、感光体と対向して配置された現像剤搬送担体（磁気ロール）に樹脂の被覆層を有するキャリアとトナーとからなる現像剤を担持して現像を行うこと、現像剤搬送担体に直流の現像バイアス電位を印加すること、さらに、現像剤搬送担体は感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送して現像することが記載されている。
　また、現像方法は、帯電電位と現像バイアス電位との関係および第２図に示された画像形成装置の説明図から見て正規現像法によるものと考えられる。
　
(5）　刊行物５の記載内容
　電子写真法、静電記録法、静電印刷法等において形成される静電潜像を現像するために用いられる静電像現像剤、およびこの静電像現像剤を用いて有機光導電性半導体よりなる感光体の表面に形成された静電潜像を現像するための静電像現像方法に関するものである、特に有機光導電性半導体よりなる感光体の表面に形成された負の静電潜像を現像する場合に好適な静電像現像剤および静電像現像方法に関するものである。
　第１８頁〜第１９頁及び第１図には、感光体と対向して配置された現像剤搬送担体（磁気ロール）に樹脂の被覆層を有するキャリアとトナーとからなる現像剤を担持して現像を行うこと、現像剤搬送担体に直流の現像バイアス電位を印加すること、さらに、現像剤搬送担体は感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送して現像することが記載されている。
　また、現像方法は、帯電電位と現像バイアス電位との関係および第２図に示された画像形成装置の説明図から見て正規現像法によるものと考えられる。
　
(6）　刊行物６の記載内容
　電子写真乾式現像と転写に係る技術を説明するものに関するものである。
　第３０頁〜第３２頁には、キャリア付着とキャリア特性の依存性について記載がある。
　第３０頁には、キャリア付着には、キャリア特性として粒径、電気抵抗、磁気特性等が関係すると記載されている。
　第３１頁には、キャリアの電気抵抗が１０１０Ω・cmを越えれば、急激にキャリア付着が減少することが記載されている。
　そして、Fig.１５からは、１０１１Ω・cmの抵抗値のキャリアは粒径によらずキャリア付着が発生しないことが把握できる。
　
(7）　特許異議申立人の提示した実験成績証明書（１９９９年１１月４日付）（甲第９号証）
目的：　特開昭６１−１２６５６７公報（刊行物１）、特開昭６１−１２６５７０号公報（刊行物２）に記載されているキャリアＡ、及び、特開昭６３−１６９６５８号公報（刊行物４）、特開昭６３−１７４０６０号公報（刊行物５）に記載されているキャリアＣ４を忠実に追試し、その抵抗値が本件（特許第２８９０７２７号）の請求項１記載の最大現像電界下での比抵抗が１０９Ωcm以上であること、本件請求項２記載の１０３Ｖ/cmの比抵抗が１０９Ωcm以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が関係式　ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ　を満足することを証明する。
実験結果：
測定電位をあげていった場合の抵抗値の推移を図?１及び２（図は省略）に示す。
キャリアＡ　　現像部最大電界での比抵抗　
　　　　　　　　　刊行物１の場合　　　：１．２１×１０１４Ωｃｍ
　　　　　　　　　刊行物２の場合　　　：１．３０×１０１４Ωｃｍ
　　　　　　　１０００Ｖ／ｃｍの比抵抗：１．３８×１０１４Ωｃｍ
キャリアＣ４　現像部最大電界での比抵抗：１．２３×１０１４Ωｃｍ
　　　　　　　１０００Ｖ／ｃｍの比抵抗：１．３９×１０１４Ωｃｍ
電界強度約２９０００Ｖ／ｃｍまでの範囲ではキャリアＡ及びキャリアＣ４の絶縁破壊電圧は観察されなかった。
　
(8）特許異議申立人の提示した２０００年７月１４日付の実験成績証明書
目的：　特開昭６３−１７４０６０号公報（刊行物５）に記載されているキャリアＣ１、Ｃ３を忠実に追試し、その抵抗値が本件の請求項１記載の最大現像電界下での抵抗値が１０９〜５×１０１０Ωｃｍであること、本件請求項２記載の１０３Ｖ／ｃｍの比抵抗が１０９Ωｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が関係式　ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ　を満足することを証明する。
結果：　刊行物５の実施例の｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄは、６１１１Ｖ／ｃｍである。
キャリアＣ１　現像部最大電界での比抵抗：３．７×１０１０Ωｃｍ
１０００Ｖ／ｃｍの比抵抗：１．３×１０１４Ωｃｍ
絶縁破壊電圧　　　　　　：６００Ｖ
絶縁破壊電界　　　　　　：７７９２Ｖ／ｃｍ
キャリアＣ３　現像部最大電界での比抵抗：１．０×１０１０Ωｃｍ
１０００Ｖ／ｃｍの比抵抗：１０１２Ωｃｍ
絶縁破壊電圧　　　　　　：１００Ｖ以下
絶縁破壊電界　　　　　　：１２８２Ｖ／ｃｍ以下
　
(9）特許権者の提示した実験成績証明書（甲第１０号証）
目的：　特開昭６３−１２６５６７号公報（刊行物１）実施例１の記載に準じたキャリアＡ、及び特開昭６３−１６９６５８号公報（刊行物４）の実施例の記載に準じたキャリアＣを追試作成し、本件訂正明細書のキャリア（Ｎｏ．３）との差を明確にするために絶縁破壊電圧と画質評価の値を測定した。
結果：　
キャリアＡおよびＣ共に
　　　　　　１０００Ｖ／ｃｍでの比抵抗：１．４×１０１４Ωｃｍ
電界強度２０００／０．１２＝１６６６７Ｖ／ｃｍまでの範囲で絶縁破壊電圧は観察されなかった。
キャリアＮｏ．３
　　　　　　１０００Ｖ／ｃｍでの比抵抗：４×１０１４Ωｃｍ
　　　　　　絶縁破壊電圧　　　　　　　：６０００Ｖ／ｃｍ
画質評価
キャリアＡおよびＣ：
初期画質：
（総合評価）は△、画像濃度はキャリアＡは１．４０、キャリアＣは１．４５、濃度ムラはやや発生、エッジ効果は顕著、キャリア付着はキャリアＡは発生なし、キャリアＣはやや発生　
１万枚後の画質：
（総合評価）は×、画像濃度はキャリアＡは１．３０、キャリアＣは１．３５、濃度ムラは著しく発生、エッジ効果は顕著、キャリア付着はキャリアＡは発生なし、キャリアＣはやや発生、
キャリアＮｏ．３：
初期画質：
（総合評価）は○、画像濃度は１．５０、濃度ムラは発生なし、エッジ効果はなし、キャリア付着は発生なし　
１万枚後の画質：
（総合評価）は○、画像濃度は１．５０、濃度ムラは発生なし、エッジ効果はなし、キャリア付着は発生なし
　
ウ．　対比・判断
　本件訂正請求項１に係る発明（以下、「本件訂正発明」という。）と、前記刊行物１ないし５に記載された発明とを対比する。
　本請求によって、本件訂正発明は、反転現像法におけるものに限定され、さらに、キャリアの絶縁破壊電圧ＥＢの上限が６０００ｖ／ｃｍであることが加えられた。
　そこで、まず初めに、反転現像法に限定したことについて検討する。
　通常一般的に行われている正規現像法と反転現像法とでは、帯電電位、露光電位、及び現像バイアス電位等の関係が異なるから、用いられているトナー及びキャリアを構成する材料もそれぞれの現像法に対応したものが用いられる。それ故、正規現像法で有効なトナー及びキャリアがそのまま反転現像法においても有効であるということはできない。また、逆の場合も同様である。
　それ故、本件訂正発明は、反転現像法において用いることを前提としてキャリアの特性を特定したものであるから、本件訂正発明に用いられているキャリアが、樹脂被覆されたキャリアであって、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が、６０００≧ＥＢ≧｜ＶＩ−ＶＢ｜／２Ｄ　を満たすものであるという条件は、反転現像法に用いられるキャリアであるという前提に立つものとして把握しなければならない。
　したがって、本件特許明細書には、本件訂正発明が反転現像法を前提としていることの技術的特徴等については何ら記載されておらず、また、反転現像法自体は周知のものであるが、正規現像法および反転現像法に関する前記技術常識等を加味して考えると、本件訂正発明における現像方法が反転現像法を前提としていることと、キャリアの比抵抗及び絶縁破壊電圧に関する条件とはそれぞれ別個に判断されるものではなく、両者一体のものとして判断されなければならない。
　次に、キャリアの絶縁破壊電圧ＥＢの上限が６０００ｖ／ｃｍであることについて検討する。
　本件訂正明細書の発明の詳細な説明に「本発明者等は、１０００Ｖ／ｃｍで１０９Ω・ｃｍ以上の抵抗を有し、画像部最大電位と現像バイアス電位及び感光体と磁気ロールの間隙で規定される現像電界の１／２以上で６０００Ｖ／ｃｍ以下の絶縁破壊電圧を示すキャリアを用いれば、キャリア付着の発生がないことを実験的に確認し、本発明を完成したのである。」（訂正明細書第３頁第１４〜１８行）と記載されるように、本件訂正発明は、絶縁破壊電圧とキャリア付着との関係、ひいては、キャリア付着の発生しない絶縁破壊電圧の範囲を見出したことに基づくものであって、キャリアの絶縁破壊電圧の上限が６０００Ｖ／ｃｍであるということは、使用されるキャリアが現像電界領域において絶縁破壊を生じるものであることを意味しているものとして把握される。
　
　以上のことに基づいて、本件訂正発明と刊行物１ないし５に記載の発明とを対比すると、刊行物１ないし５には、本件訂正発明の構成要件のうち、「感光体と対向して配置された磁気ロール上に、トナーと樹脂被覆されたキャリアとよりなる現像剤を担持し、該磁気ロールに現像バイアスを印加しながら感光体の移動方向と同一方向に移動させて現像剤を搬送し、感光体上に形成された静電潜像を現像する現像方法」の構成に関しては開示されているものと認められる。ところが、現像方法の方式に関しては明記されていないものの、刊行物１ないし５に記載の印加される帯電電位、露光電位、および現像バイアス電位の関係をみる限り、いずれも正規現像法によるものと考えられ、反転現像法が採用されていることを示唆する記載はない。
　また、刊行物１ないし５にはキャリアの絶縁破壊電圧と現像電界との関係については記載も示唆もされていない。
　よって、本件訂正発明と刊行物１ないし５に記載の発明とは以下の点で相違するものと認められる。
相違点ａ：　本件訂正発明に用いられるキャリアが、反転現像法に用いられる樹脂被覆されたキャリアであって、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であり、かつ、絶縁破壊電圧が、請求項（「２．２ア．」参照）に記載の条件を満たすものであるのに対し、刊行物１ないし５にはこの点が明記されていない点。
　
　前記相違点ａについて検討する。
　刊行物１または３には、樹脂被覆されたキャリアであって、比抵抗が１０９Ωｃｍ以上であるものが記載されており、刊行物２、４または５には、樹脂被覆されたキャリアが記載されている。
　ここで、特許異議申立人の提示した１９９９年１１月４日付の実験成績証明書（本請求の甲第９号証）を検討する。
　当該実験成績証明書は、前記「２．２イ．(7）」に摘示したように、刊行物１及び刊行物２の実施例に使用されているキャリア、及び刊行物４及び刊行物５に使用されているキャリアを忠実に追試し、その比抵抗を測定した結果、１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上の値を示すことが確認されると共に、その測定範囲では絶縁破壊が発生しなかったことが確認された、とするものである。この追試の結果に対しては、特許異議意見書において、特許権者は当面これを争うことはしないとしている。
　さらに、特許異議申立人は、上申書と共に実験成績証明書（２０００年７月１４日付け）を提出しており、これには、前記「２．２イ．(8）」に摘示した内容が記載されている。
　また、特許権者は、これらとは別に、実験成績証明書（本請求の甲第１０号証）を提出しており、これには前記「２．２イ．(9）」に摘示した内容が記載されている。
　前記３つの実験成績証明書によると、刊行物１ないし５に記載されたキャリアは、いずれも１０３Ｖ／ｃｍにおける比抵抗が１０９Ω・ｃｍ以上であることが示されているが、絶縁破壊電圧に関しては、いずれにも本件訂正明細書の請求項１に記載の条件を満たすものは示されていない。
　したがって、刊行物１ないし５のものは、いずれも現像方法自体も本件訂正発明とは異なり、キャリアの特性も本件訂正明細書の請求項１に記載の条件を満たしていない。
　刊行物６についても、キャリア付着とキャリアの比抵抗との関係が示されているだけであって、キャリアの絶縁破壊電圧については記載も示唆もされていない。
　よって、相違点ａが刊行物１ないし６に記載のものから容易に想到できたものと認めることはできない。
　
　そして、本件訂正発明は、請求項１に記載の比抵抗および絶縁破壊電圧の条件を満たす樹脂被覆されたキャリアを用いて反転現像することによって、他の構成と相俟って、明細書記載の、キャリア付着等によるキャリア汚染が生じ難く、背景部汚れ及び画像荒れのない高品質の画像を得ることができ、また、長期間使用した場合、キャリア消費の少ない安定した維持性を実現することができる、という効果を奏するものと認められる。
　
　以上のとおり、本件訂正発明が、前記刊行物１ないし６のいずれかに記載された発明であるとも、それらに記載のものから容易に発明をすることができたものともすることはできない。
　また、他に本件訂正発明が特許を受けることができない発明であるとする理由を発見しない。
　したがって、本件訂正発明は、本件特許出願持に独立して特許を受けることのできない発明であるとすることはできない。
　
３．　むすび
　以上のとおりであるから、本件審判の請求は、特許法第１２６条第１項ただし書き第１号ないし第３号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第２項ないし第４項の規定に適合する。
　よって、結論のとおり審決する。