(57)【要約】      （修正有）【課題】多極コネクタの高周波特性を精度良く測定するプローブを提供する。【解決手段】複数の内部端子６ｂを有する多極コネクタ６を測定するためのプローブであって、フランジ１０と、内部端子に対して嵌合される測定端子を複数個有する測定用コネクタ６０と、測定用コネクタを一方面に保持するプランジャ２０と、フランジとプランジャの他方面との間に配置された１つまたは複数の弾性部材１９（コイルバネ）とを備える。【選択図】図３
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数の内部端子を有する多極コネクタを測定するためのプローブであって、
フランジと、
前記内部端子に対して嵌合可能に構成された測定端子を複数個有する測定用コネクタと、
前記測定用コネクタを前記フランジに対して進退可能に保持するプランジャとを備える、プローブ。
【請求項２】
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する複数の弾性部材が設けられている、請求項１に記載のプローブ。
【請求項３】
前記複数の弾性部材は、前記測定用コネクタを平面視で囲むように周上に離間して配置されている、請求項２に記載のプローブ。
【請求項４】
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する弾性部材が設けられていて、前記弾性部材は、前記測定端子に接続される伝送路を平面視で囲むように配置されている、請求項１に記載のプローブ。
【請求項５】
前記測定用コネクタが、第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されて前記測定端子として働く複数の第１内部端子と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備える多極コネクタである、請求項１に記載のプローブ。
【請求項６】
前記測定用コネクタが、前記プランジャに取り付けられた実装基板に実装されている、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のプローブ。
【請求項７】
前記実装基板が、前記測定用コネクタの反対側の面において、前記測定用コネクタに電気的に接続された反対側コネクタを有する、請求項６に記載のプローブ。
【請求項８】
前記実装基板が、剛性を有するプリント基板である、請求項６または請求項７に記載のプローブ。
【請求項９】
前記測定端子に接続される伝送路として働くフレキシブル基板を有する、請求項３、請求項５から請求項８のいずれか１項に記載のプローブ。
【請求項１０】
前記伝送路として働く同軸ケーブルを有する、請求項４に記載のプローブ。
【請求項１１】
前記フランジおよび前記プランジャには、前記伝送路を通すための貫通孔が、それぞれ形成されている、請求項９または請求項１０に記載のプローブ。
【請求項１２】
複数の測定端子と、前記複数の測定端子を保持する第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタと、
前記測定用コネクタが先端面に配設され、前記測定端子に電気的に接続される伝送路を通すための第２貫通孔を有するプランジャと、
前記第２貫通孔と平面視で重なり、前記伝送路を通すための第１貫通孔を有するフランジと、
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する複数の弾性部材とを備え、
前記複数の弾性部材は、前記測定用コネクタを平面視で囲むように周上に離間して配置されている、プローブ。
【請求項１３】
前記伝送路として働くフレキシブル基板を有する、請求項１２に記載のプローブ。
【請求項１４】
複数の測定端子と、前記複数の測定端子を保持する第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタと、
前記測定用コネクタが先端面に配設され、前記測定端子に電気的に接続される伝送路を通すための第２貫通孔を有するプランジャと、
前記第２貫通孔と平面視で重なり、前記伝送路を通すための第１貫通孔を有するフランジと、
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する弾性部材とを備え、
前記弾性部材は、前記伝送路を平面視で囲むように配置されている、プローブ。
【請求項１５】
前記伝送路として働く同軸ケーブルを有する、請求項１４に記載のプローブ。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この考案は、多極コネクタを測定するためのプローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
多極コネクタにおける複数の内部端子の特性（例えば、高周波特性）は、例えば、特許文献１に開示されたプローブを用いて同時に測定される。
【０００３】
特許文献１のプローブを用いて、多極コネクタの特性を測定するとき、プローブにおける複数の測定端子の各先端部を、測定対象の複数の内部端子に向けてそれぞれ動かして、内部端子の測定位置（例えば、図１４における上面位置７）でそれぞれ接触させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１９−１３８７６８号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
測定時において、プローブの測定端子の先端部は、内部端子と嵌合することなく、測定すべき複数の内部端子の測定位置で接触するだけである。すなわち、一対の多極コネクタにおける内部端子の相互接触位置は、上面位置よりも奥まったところに位置する内部端子の嵌合位置であるのに対して、プローブによる接触位置は、測定時に測定端子に対面する上面位置である。
【０００６】
プローブによる接触位置が内部端子の嵌合位置から大きく離れているために、高周波特性を精度良く測定することを困難にしている場合がある。特に、より高周波側（例えば、ミリ波）に対応した多極コネクタでは、プローブによる接触位置と内部端子の嵌合位置との間でのこのような大きな位置ずれが、特性の測定結果に影響を及ぼす。そのため、多極コネクタの高周波特性を精度良く測定するプローブが要望されている。
【０００７】
したがって、この考案の解決すべき技術的課題は、多極コネクタの高周波特性を精度良く測定するプローブを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記技術的課題を解決するために、この考案によれば、以下のプローブが提供される。
【０００９】
すなわち、この考案の請求項１に係るプローブは、
複数の内部端子を有する多極コネクタを測定するためのプローブであって、
フランジと、
前記内部端子に対して嵌合可能に構成された測定端子を複数個有する測定用コネクタと、
前記測定用コネクタを前記フランジに対して進退可能に保持するプランジャとを備えることを特徴とする。
【００１０】
この考案によれば、測定用コネクタが、内部端子に対して嵌合可能に構成された測定端子を有することによって、プローブによる接触位置が内部端子の嵌合位置に近づくので、多極コネクタの高周波特性を精度良く測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】この考案の第１実施形態に係るプローブの斜視図である。
【図２】図１に示したプローブのＩＩ−ＩＩ線に沿った断面の斜視図である。
【図３】図２の要部を拡大した断面図である。
【図４】プランジャが後退している状態を説明する、要部を拡大した断面図である。
【図５】この考案の第２実施形態に係るプローブの斜視図である。
【図６】図５に示したプローブの分解斜視図である。
【図７】図５の要部拡大図である。
【図８】図７に示したプローブにおいてプランジャと実装基板との関係を説明する斜視図である。
【図９】図８に示した実装基板の拡大図である。
【図１０】実装基板と測定用コネクタとの関係を説明する斜視図である。
【図１１】図８に示したプランジャのＶ−Ｖ線に沿った断面の拡大斜視図である。
【図１２】図５に示したプローブの第１変形例を説明する図である。
【図１３】図５に示したプローブの第２変形例を説明する図である。
【図１４】多極コネクタと測定用コネクタとの間での嵌合状態を模式的に説明する断面図である。
【考案を実施するための形態】
【００１２】
以下、この考案に係る、複数の内部端子６ｂを有する多極コネクタ６を測定するためのプローブ１の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１３】
〔第１実施形態〕
図１〜図４および図１４を参照しながら、第１実施形態に係るプローブ１を説明する。図１は、この考案の第１実施形態に係るプローブ１の斜視図である。図２は、図１に示したプローブ１のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面の斜視図である。図３は、図２の要部を拡大した断面図である。図４は、プランジャが後退している状態を説明する、要部を拡大した断面図である。図１４は、多極コネクタ６と測定用コネクタ６０との間での嵌合状態を模式的に説明する断面図である。
【００１４】
図１〜図４に示すように、プローブ１は、フランジ１０と、プランジャ２０と、実装基板３０と、測定用コネクタ６０と、フレキシブル基板４１とを備える。
【００１５】
フランジ１０は、プローブ１を、図示しないコネクタ測定用装置に取り付けるための部材である。フランジ１０は、例えば矩形状をした平板体である。フランジ１０は、金属材料、例えばステンレス鋼で構成される。フランジ１０には、軸方向に延在する第１貫通孔１２および収容穴１８がそれぞれ形成されている。第１貫通孔１２は、フレキシブル基板（伝送路）４１を通すための貫通孔である。収容穴１８は、プランジャネジ２７と螺合する雌ネジ部と、コイルバネ１９を収容する収容部とを有する。フランジ１０には、例えば２つの収容穴１８が設けられている。プランジャ２０には、雌ネジ孔が形成されている。なお、フランジ１０の形状は、矩形状だけでなく、長円状、あるいは、矩形状と円弧状を組み合わせた形状でもよい。
【００１６】
プランジャ２０は、測定用コネクタ６０をフランジ１０に対して弾性的に進退可能に保持するための部材である。これにより、プランジャ２０に取り付けられた実装基板３０に実装された測定用コネクタ６０は、弾性部材であるコイルバネ１９によって軸方向に弾性的に進退可能になる。言い換えると、コイルバネ１９は、フランジ１０に対して測定用コネクタ６０を付勢している。プランジャ２０は、例えば矩形状をした平板体である。プランジャ２０は、金属材料、例えばステンレス鋼で構成される。プランジャ２０には、軸方向に延在する第２貫通孔２２およびネジ挿入孔２４がそれぞれ形成されている。第２貫通孔２２は、フレキシブル基板（伝送路）４１を通すための貫通孔である。これにより、フレキシブル基板（伝送路）４１の長さが短くなるので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００１７】
ネジ挿入孔２４は、プランジャネジ２７のネジ部を挿通する貫通穴部と、プランジャネジ２７のヘッド部２８と係合するテーパー部２６とを有する。プランジャネジ２７は、例えば、ヘッド部２８における上面が平らであって座面が円錐状になっている皿ネジである。プランジャネジ２７の雄ネジ部は、プランジャ２０の雌ネジ孔に螺合する。ネジ挿入孔２４は、軸方向において収容穴１８と一直線になる位置に設けられている。例えば２つのネジ挿入孔２４が、プランジャ２０に設けられている。テーパー部２６は、フランジ１０の反対側に向けて末広がりに拡径している。
【００１８】
コイルバネ１９は、プランジャネジ２７を挿通した状態で、フランジ１０とプランジャ２０との間に配設されている。コイルバネ１９は、軸方向に延在する螺旋状の弾性体である。２つのコイルバネ１９は、測定用コネクタ６０を平面視で囲むように周上に離間して配置されている。図２には、２つのコイルバネ１９が配置されているが、３つ以上のコイルバネ１９が、測定用コネクタ６０を平面視で囲むように周上に離間して配置されてもよい。これにより、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に進退することが可能になる。
【００１９】
プランジャネジ２７の雄ネジ部は、フランジ１０の雌ネジ部に螺合してネジ止めされる。それとともに、プランジャネジ２７のヘッド部２８は、プランジャ２０のテーパー部２６に係合して当接している。このとき、プランジャ２０は、コイルバネ１９の軸方向の付勢力によって前進位置にある。
【００２０】
プランジャ２０の下面には、実装基板３０が取り付けられている。例えば、基板取付ネジ３７が、実装基板３０の基板取付穴３６に挿通されて、プランジャ２０のネジ穴２５に螺合することによって、実装基板３０がプランジャ２０にネジ止めで取り付けられている。
【００２１】
実装基板３０は、電気絶縁性の絶縁基材の上面や下面や内部において、導体の配線が施された、いわゆるＰＣＢ（Printed Circuit Board）である。実装基板３０は、剛性を有する基板であり、例えば、ガラスエポキシ基板や、低温同時焼成セラミックス基板(LTCC)などである。これにより、実装基板３０における測定用コネクタ６０の位置が安定して、多極コネクタ６に対する測定用コネクタ６０の位置決めを精度良く行うことができる。
【００２２】
実装基板３０の下面には、複数の（例えば３個の）下面側のランドが形成されている。下面側のランドを介して、測定用コネクタ６０が実装される。これにより、測定用コネクタ６０の設置が容易になり、測定用コネクタ６０の測定端子６２の引き出しが容易になる。
【００２３】
実装基板３０の上面には、複数の（例えば３個の）上面側のランドが形成されている。上面側のランドを介して、反対側コネクタ３３が実装されている。実装基板３０には、上面側のランドおよび下面側のランドを電気的に接続する接続導体、例えば、スルーホール（図示しない）が形成されている。測定用コネクタ６０および反対側コネクタ３３は、実装基板３０の下面側のランド、上面側のランドおよびスルーホールを介して、電気的に接続されている。測定用コネクタ６０および反対側コネクタ３３は、プランジャ２０の第２貫通孔２２に対応する場所に設けられている。
【００２４】
図４に示すように、測定対象物である多極コネクタ６は、測定治具５に取り付けられている。多極コネクタ６は、樹脂などの第２絶縁性部材６ａと、第２絶縁性部材６ａに保持される複数の第２内部端子６ｂと、第２絶縁性部材６ａに保持されてグランドに接続される第２外部端子６ｃとを備える。第２内部端子６ｂは、測定対象となる内部端子である。
【００２５】
測定用コネクタ６０は、例えば、多極コネクタ６に嵌合するための多極コネクタの構成を有する。多極コネクタ６が雄コネクタであれば、測定用コネクタ６０は雌コネクタであり、多極コネクタ６が雌コネクタであれば、測定用コネクタ６０は雄コネクタである。測定用コネクタ６０は、樹脂などの第１絶縁性部材６１と、第１絶縁性部材６１に保持される複数の第１内部端子６２と、第１絶縁性部材６１に保持されてグランドに接続される第１外部端子６３とを備える。これにより、それぞれが多極コネクタ構造を有する多極コネクタ６および測定用コネクタ６０の間での嵌合であるので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００２６】
測定用コネクタ６０の第１外部端子６３と多極コネクタ６の第２外部端子６ｃとが嵌合する構成であってもよい。ここでいう嵌合とは、一方側に形成された凸部と、他方側に形成された凹部とがかみ合うような、いわゆるロック機構を有する強めの嵌合であってもよいし、一方側を他方側が平面的にこすれ合いながら挿入される弱めの嵌合であってもよい。ロック機構を有する強めの嵌合であれば、嵌合時のブレを抑制することができるので、特性をより精度良く測定できる。ロック機構を有しないで、擦れ合いながら挿入される弱めの嵌合であれば、コネクタの挿抜をスムーズに行うことができるので、より効率的に測定できる。なお、測定用コネクタ６０の第１内部端子（測定端子）６２と多極コネクタ６の第２内部端子（内部端子）６ｂとの間での嵌合も、同様に、強めの嵌合であってもよいし、弱めの嵌合であってもよい。
【００２７】
測定用コネクタ６０において、複数の第１内部端子６２のうち、所定数の（例えば３個の）第１内部端子６２が、測定端子６２として働く。測定用コネクタ６０の第１内部端子（測定端子）６２は、多極コネクタ６の第２内部端子６ｂに対して嵌合可能に構成されている。プローブ１による多極コネクタ６への接触位置が、多極コネクタ６における第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９（図１４に図示）に近づく。これにより、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。なお、図１４には、第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９に加えて、従来技術に係るプローブが接触することになる、第２内部端子（内部端子）６ｂの上面位置７を図示している。
【００２８】
測定用コネクタ６０として、測定対象となる第２内部端子６ｂに対する嵌合だけを目的にした専用コネクタを用いることもできるし、多極コネクタ６に嵌合する相手方コネクタと同じ種類のコネクタを用いることができる。前者の場合、専用コネクタによる嵌合が、必ずしも、多極コネクタ６の相手方コネクタによる嵌合と同じにならないため、専用コネクタの測定端子が第２内部端子６ｂに嵌合しても、両者の接触位置が、第２内部端子６ｂにおける嵌合位置９から位置ずれすることもある。後者の場合、第１内部端子（測定端子）６２と嵌合する第２内部端子（内部端子）６ｂにおける接触位置が、多極コネクタ６における第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９と同じであり、多極コネクタ６の実際の使用態様に合致している。これにより、測定端子６２による接触位置と第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９との間での大きな位置ずれが解消されるので、多極コネクタ６の高周波特性をさらに精度良く測定できる。換言すれば、測定端子６２による接触位置と第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９との間での位置ずれを抑制することができるので、多極コネクタ６の高周波特性をさらに精度良く測定できる。
【００２９】
測定用コネクタ６０の測定端子６２は、伝送路を介して、図示しない測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に電気的に接続されている。測定用コネクタ６０から測定器への伝送路は、実装基板３０のスルーホール，反対側コネクタ３３およびフレキシブル基板４１などで構成されている。
【００３０】
反対側コネクタ３３は、実装基板３０において測定用コネクタ６０の反対側に設けられている。反対側コネクタ３３として、専用コネクタを用いることもできるが、測定用コネクタ６０と同じ種類のコネクタを用いることができる。これにより、測定システムで使用するコネクタが共通化されて、測定システムにおける部品点数を削減できる。反対側コネクタ３３は、樹脂などの第３絶縁性部材３３ａと、第３絶縁性部材３３ａに保持される複数の第３内部端子３３ｂと、第３絶縁性部材３３ａに保持されてグランドに接続される第３外部端子３３ｃとを備える。したがって、実装基板３０が、測定用コネクタ６０の反対側の面において、測定用コネクタ６０に電気的に接続された反対側コネクタ３３を有する。これにより、実装基板３０において測定用コネクタ６０の反対側に設けられた反対側コネクタ３３を通じて、測定信号を取り出すことができ、測定信号の取り出しが容易になる。
【００３１】
伝送路として働くフレキシブル基板４１は、例えば、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレートまたはＬＣＰ（Liquid Crystal Polymer）などの薄い樹脂フィルムに、プリント導体回路を形成した、いわゆるＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）である。フレキシブル基板４１は、電気絶縁性のベースフィルムの上に接着層を形成し、その上に導体箔を形成した構造を有していてもよいし、導体パターンを形成したベースフィルム同士を一括して積層することで接着剤を介さずに接合した積層構造を有していてもよい。フレキシブル基板４１は、柔軟性を有するので、例えば、クランク状に折り曲げ可能である。フレキシブル基板４１は、第２貫通孔２２および第１貫通孔１２に沿って軸方向に延在したあと、約９０度の角度で屈曲して、軸直交方向に延在している。伝送路として働くフレキシブル基板４１が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【００３２】
フレキシブル基板４１は、一端に接続コネクタ４３を有するとともに、他端に複数の（例えば３個の）同軸コネクタ４２を有する。同軸コネクタ４２に対して、図示しない同軸ケーブルが接続されて、当該同軸ケーブルは、図示しない測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に接続される。プローブ１は、複数の（例えば３個の）第１内部端子（測定端子）６２によって、多極コネクタ６に設けられた複数の（例えば３個の）第２内部端子（内部端子）６ｂを同時に測定することができる。
【００３３】
フレキシブル基板４１の接続コネクタ４３は、実装基板３０の反対側コネクタ３３に嵌合するように構成されている。接続コネクタ４３として、専用コネクタを用いることもできるが、多極コネクタ６と同じ種類のコネクタを用いることができる。これにより、測定システムで使用するコネクタが共通化されて、測定システムにおける部品点数を削減できる。接続コネクタ４３は、樹脂などの第４絶縁性部材４３ａと、第４絶縁性部材４３ａに保持される複数の第４内部端子４３ｂと、第４絶縁性部材４３ａに保持されてグランドに接続される第４外部端子４３ｃとを備える。
【００３４】
図４に示すように、プランジャ２０がコイルバネ１９を圧縮する方向に移動するとき、プランジャ２０がフランジ１０に近づいて後退位置に位置する。しかしながら、プランジャネジ２７がフランジ１０にネジ止めで固定されているので、プランジャネジ２７の位置は、変化しない。したがって、プランジャ２０が後退位置にあるとき、ヘッド部２８およびテーパー部２６との間には隙間３２が形成される。そして、ヘッド部２８およびテーパー部２６における係合および当接が解除されるので、プランジャ２０は、軸方向に直交する平面において自由に動くことが可能になる。これにより、プランジャ２０が、ひいては、測定用コネクタ６０が、軸方向に直交する平面において変位できる。後退位置においては、測定用コネクタ６０が多極コネクタ６の位置に対応して変位可能であるので、多極コネクタ６に対する測定用コネクタ６０の位置決めを精度良く行うことができる。
【００３５】
したがって、上記構成によれば、測定用コネクタ６０が、多極コネクタ６の第２内部端子（内部端子）６ｂに対して嵌合可能に構成された第１内部端子（測定端子）６２を有することによって、プローブ１による接触位置が第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９に近づくので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００３６】
〔第２実施形態〕
図５〜図１１を参照しながら、第２実施形態に係るプローブ１を説明する。図５は、この考案の第２実施形態に係るプローブ１の斜視図である。図６は、図５に示したプローブ１の分解斜視図である。図７は、図５の要部拡大図である。図８は、図７に示したプローブ１においてプランジャ２０と実装基板３０との関係を説明する斜視図である。図９は、図８に示した実装基板３０の拡大図である。図１０は、実装基板３０と測定用コネクタ６０との関係を説明する斜視図である。図１１は、図８に示したプランジャ２０のＶ−Ｖ線に沿った断面の拡大斜視図である。
【００３７】
図５〜図１１に示すように、プローブ１は、フランジ１０と、プランジャ２０と、実装基板３０と、測定用コネクタ６０と、同軸ケーブル７０とを備える。
【００３８】
フランジ１０は、プローブ１を、図示しないコネクタ測定用治具に取り付けるための部材である。フランジ１０は、例えば矩形状をした平板体である。フランジ１０は、金属材料、例えばステンレス鋼で構成される。フランジ１０には、軸方向に延在する第１貫通孔１２が形成されている。第１貫通孔１２は、円筒状のケーブル挿入体１７を介して複数の同軸ケーブル（伝送路）７０を通すための貫通孔である。これにより、伝送路において信号線路として働く芯線７１が、個別の外導体７３に覆われる(つまり、個別の同軸構造を有する)ので、複数の信号線路のアイソレーションが向上し、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。なお、フランジ１０の形状は、矩形状だけでなく、長円状、あるいは、矩形状と円弧状を組み合わせた形状でもよい。
【００３９】
プランジャ２０は、測定用コネクタ６０をフランジ１０に対して弾性的に進退可能に保持するための部材である。これにより、プランジャ２０に取り付けられた実装基板３０に実装された測定用コネクタ６０は、弾性部材であるコイルバネ１９によって軸方向に弾性的に進退可能になる。言い換えると、コイルバネ１９は、フランジ１０に対して測定用コネクタ６０を付勢している。プランジャ２０は、金属材料、例えばステンレス鋼で構成されるブロック体である。プランジャ２０には、それぞれが軸方向に延在する、複数の（例えば、６個の）バレル挿入孔２１および複数の（例えば、４個の）ネジ穴２５が形成されている。バレル挿入孔２１は、バレル８４を挿入するための貫通孔である。ネジ穴２５は、基板取付ネジ３７のネジ部と螺合する雌ネジである。
【００４０】
コイルバネ１９は、ケーブル挿入体１７を挿通した状態で、フランジ１０と、スペーサ１５を介したプランジャ２０との間に配設されている。コイルバネ１９は、軸方向に延在する螺旋状の弾性体である。コイルバネ１９は、測定端子６２に接続される同軸ケーブル（伝送路）７０を平面視で連続的に囲むように配置されている。これにより、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に進退することが可能になる。
【００４１】
コイルバネ１９の一端は、第１貫通孔１２の中で係止される。それとともに、コイルバネ１９の他端は、スペーサ１５の端面に当接している。このとき、プランジャ２０は、コイルバネ１９の軸方向の付勢力によって前進位置に位置する。プランジャ２０をフランジ１０に向けて動かすと、コイルバネ１９が圧縮されるとともに、プランジャ２０は、後退位置に位置する。したがって、プランジャ２０は、フランジ１０に対して弾性的に進退可能である。
【００４２】
プランジャ２０の下面には、実装基板３０が取り付けられている。例えば、基板取付ネジ３７が、実装基板３０の基板取付穴３６に挿通されて、プランジャ２０のネジ穴２５に螺合することによって、実装基板３０がプランジャ２０にネジ止めで取り付けられる。
【００４３】
図９に示すように、実装基板３０の下面（実装面）には、複数の（例えば２２個の）接続ランド３４が形成されている。接続ランド３４を介して、測定用コネクタ６０が、実装基板３０の下面（実装面）に実装されている。図１０に示すように、実装基板３０の上面（実装面の反対側の面）には、複数の（例えば６個の）接続パッド３１が形成されている。図９に示すスプリングピン８０の可動ピン８５が、接続パッド３１に対して弾性的に当接する。これにより、スプリングピン８０および接続パッド３１が、電気的に接続されている。実装基板３０には、接続ランド３４および接続パッド３１を電気的に接続するスルーホール（図示しない）が形成されている。これにより、測定用コネクタ６０およびスプリングピン８０は、実装基板３０の接続ランド３４、接続パッド３１およびスルーホールを介して、電気的に接続されている。
【００４４】
測定用コネクタ６０は、多極コネクタ（図示しない）に嵌合するように構成されている。多極コネクタが雄コネクタであれば、測定用コネクタ６０は雌コネクタであり、多極コネクタが雌コネクタであれば、測定用コネクタ６０は雄コネクタである。図８に示すように、測定用コネクタ６０は、樹脂などの第１絶縁性部材６１と、第１絶縁性部材６１に保持される複数の第１内部端子６２と、第１絶縁性部材６１に保持されてグランドに接続される第１外部端子６３とを備える。
【００４５】
測定用コネクタ６０において、複数の第１内部端子６２のうち、所定数の（例えば６個の）第１内部端子６２が、測定端子６２として働く。測定用コネクタ６０の第１内部端子（測定端子）６２は、多極コネクタ６の第２内部端子（内部端子）６ｂに対して嵌合可能に構成されている。プローブ１による多極コネクタ６への接触位置が、多極コネクタ６における第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９に近づく。これにより、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００４６】
測定用コネクタ６０として、測定対象となる第２内部端子６ｂに対する嵌合だけを目的にした専用コネクタを用いることもできし、多極コネクタ６に嵌合する相手方コネクタと同じ種類のコネクタを用いることができる。前者の場合、専用コネクタによる嵌合が、必ずしも、多極コネクタ６の相手方コネクタによる嵌合と同じにならないため、専用コネクタの測定端子が第２内部端子６ｂに嵌合しても、両者の接触位置が、第２内部端子６ｂにおける嵌合位置９から位置ずれすることもある。後者の場合、第１内部端子（測定端子）６２と嵌合する第２内部端子（内部端子）６ｂにおける接触位置が、多極コネクタ６における第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９と同じであり、多極コネクタ６の実際の使用態様に合致している。これにより、測定端子６２による接触位置と第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９との間での大きな位置ずれが解消されるので、多極コネクタ６の高周波特性をさらに精度良く測定できる。
【００４７】
測定用コネクタ６０の測定端子６２は、伝送路を介して、図示しない測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に電気的に接続されている。測定用コネクタ６０から測定器への伝送路は、実装基板３０のスルーホール、スプリングピン８０、同軸ケーブル７０およびＳＭＡコネクタ９０などで構成されている。
【００４８】
バレル８４が、例えば、バレル挿入孔２１の中に圧入・固定されている。バレル８４においては、スプリングピン８０が、先端ブッシング８２および基端ブッシング８３によって支持されている。スプリングピン８０は、ポゴピンまたはコンタクトプローブと言われており、可動ピン８５、チューブおよびスプリングから構成されている。スプリングピン８０の可動ピン８５は、軸方向に弾性的に進退可能に構成されており、プランジャ２０の下面よりも僅かに突出している。
【００４９】
伝送路として働く同軸ケーブル７０は、導電性の芯線７１と、芯線７１を覆う電気絶縁性の絶縁体７２と、絶縁体７２を覆う外導体７３と、外導体７３を覆う電気絶縁性の外皮７４とを有する。スプリングピン８０のチューブの基端部が、中央ソケット８６を介して、同軸ケーブル７０の芯線７１に対して電気的に接続されている。伝送路として働く同軸ケーブル７０が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【００５０】
図６に示すように、複数のバレル８４の基端部は、バレル支持板１６によって、束ねられるとともに支持されている。図５に示すように、同軸ケーブル７０におけるスプリングピン８０の反対側には、ＳＭＡコネクタ９０が配設されている。当該ＳＭＡコネクタ９０は、図示しない測定器（例えばネットワーク・アナライザ）に接続される。プローブ１は、複数の（例えば６個の）第１内部端子（測定端子）６２によって、多極コネクタ６に設けられた複数の（例えば６個の）第２内部端子（内部端子）６ｂを同時に測定できる。
【００５１】
したがって、上記構成によれば、測定用コネクタ６０が、多極コネクタ６の第２内部端子（内部端子）６ｂに対して嵌合可能に構成された第１内部端子（測定端子）６２を有することによって、プローブ１による接触位置が第２内部端子（内部端子）６ｂの嵌合位置９に近づくので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００５２】
〔第１変形例〕
図１２を参照しながら、第１変形例に係るプローブ１を説明する。図１２は、図５に示したプローブ１の第１変形例を説明する図である。
【００５３】
上記第２実施形態では、実装基板３０の四隅に設けられた基板取付穴３６と、プランジャ２０の四隅に設けられたネジ穴２５と位置合わせした状態で、４つの基板取付ネジ３７を用いて、実装基板３０をプランジャ２０に固定している。これに対して、図１２に示した第１変形例では、実装基板３０の左右の側部に設けられた基板取付穴３６と、プランジャ２０の左右の側部に設けられたネジ穴２５と位置合わせした状態で、２つの基板取付ネジ３７を用いて、実装基板３０をプランジャ２０に固定している。これにより、プランジャ２０に対する実装基板３０の取付構造の簡素化および実装基板３０の交換作業時間の短縮化が可能になる。
【００５４】
〔第２変形例〕
図１３を参照しながら、第２変形例に係るプローブ１を説明する。図１３は、図５に示したプローブ１の第２変形例を説明する図である。
【００５５】
上記第１変形例では、実装基板３０およびプランジャ２０の各左右の側部において、２つの基板取付ネジ３７を用いて、実装基板３０をプランジャ２０に固定している。これに対して、図１３に示した第２変形例では、実装基板３０およびプランジャ２０の各上下の側部において、２つの基板取付ネジ３７を用いて、実装基板３０をプランジャ２０に固定している。これにより、プランジャ２０に対する実装基板３０の取付構造の簡素化および実装基板３０の交換作業時間の短縮化が可能になる。
【００５６】
この考案の具体的な実施の形態について説明したが、この考案は、上記実施形態に限定されるものではなく、この考案の範囲内で種々変更して実施することができる。
【００５７】
上記第１実施形態および第２実施形態においては、フレキシブル基板４１が、フランジ１０の第１貫通孔１２およびプランジャ２０の第２貫通孔２２を通して引き出されているが、他の態様によってフレキシブル基板４１を引き出すことができる。例えば、フランジ１０およびプランジャ２０の少なくとも一方において、軸直交方向（横方向）に延在する溝（図示しない）を形成して、当該溝を通じてフレキシブル基板４１を引き出すことができる。
【００５８】
反対側コネクタ３３、接続コネクタ４３および測定用コネクタ６０は、多極コネクタ６と、多極コネクタ６に嵌合する相手方コネクタとの中から適宜に選択することができる。また、測定用コネクタ６０は、いくつかの第１内部端子（測定端子）６２が測定対象の第２内部端子（内部端子）６ｂに対して嵌合するものの、それ以外の第１内部端子６２が測定対象外の第２内部端子６ｂには嵌合しないという部分的に嵌合可能に構成された態様にすることもできる。反対側コネクタ３３および接続コネクタ４３は、多極コネクタ６とは嵌合関係を有さない別異のコネクタである態様にすることもできる。
【００５９】
この考案および実施形態をまとめると、次のようになる。
【００６０】
この考案の一態様に係るプローブ１は、
複数の内部端子６ｂを有する多極コネクタ６を測定するためのプローブ１であって、
フランジ１０と、
前記内部端子６ｂに対して嵌合可能に構成された測定端子６２を複数個有する測定用コネクタ６０と、
前記測定用コネクタ６０を前記フランジ１０に対して進退可能に保持するプランジャ２０とを備えることを特徴とする。
【００６１】
上記構成によれば、測定用コネクタ６０が、多極コネクタ６の内部端子６ｂに対して嵌合可能に構成された測定端子６２を有することによって、プローブ１による接触位置が内部端子６ｂの嵌合位置９に近づくので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００６２】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記フランジ１０に対して前記測定用コネクタ６０を付勢する複数の弾性部材１９が設けられている。
【００６３】
上記実施形態によれば、測定用コネクタ６０が弾性的に進退可能になる。
【００６４】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記複数の弾性部材１９は、前記測定用コネクタ６０を平面視で囲むように周上に離間して配置されている。
【００６５】
上記実施形態によれば、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に進退することが可能になる。
【００６６】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記フランジ１０に対して前記測定用コネクタ６０を付勢する弾性部材１９が設けられていて、前記弾性部材１９は、前記測定端子６２に接続される伝送路７０を平面視で囲むように配置されている。
【００６７】
上記実施形態によれば、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に進退することが可能になる。
【００６８】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記測定用コネクタ６０が、第１絶縁性部材６１と、前記第１絶縁性部材６１に保持されて前記測定端子６２として働く複数の第１内部端子６２と、前記第１絶縁性部材６１に保持されてグランドに接続される第１外部端子６３とを備える多極コネクタである。
【００６９】
上記実施形態によれば、それぞれが多極コネクタ構造を有する多極コネクタ６および測定用コネクタ６０の間での嵌合であるので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００７０】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記測定用コネクタ６０が、前記プランジャ２０に取り付けられた実装基板３０に実装されている。
【００７１】
上記実施形態によれば、測定用コネクタ６０の取付が容易になり、測定用コネクタ６０の測定端子６２の引き出しが容易になる。
【００７２】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記実装基板３０が、前記測定用コネクタ６０の反対側の面において、前記測定用コネクタ６０に電気的に接続された反対側コネクタ３３を有する。
【００７３】
上記実施形態によれば、実装基板３０において測定用コネクタ６０の反対側に設けられた反対側コネクタ３３を通じて、測定信号を取り出すことができ、測定信号の取り出しが容易になる。
【００７４】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記実装基板３０が、剛性を有するプリント基板である。
【００７５】
上記実施形態によれば、実装基板３０における測定用コネクタ６０の位置が安定して、多極コネクタ６に対する測定用コネクタ６０の位置決めを精度良く行うことができる。
【００７６】
また、一実施形態のプローブ１は、
前記測定端子６２に接続される伝送路として働くフレキシブル基板４１を有する。
【００７７】
上記実施形態によれば、伝送路として働くフレキシブル基板４１が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【００７８】
また、一実施形態のプローブ１は、
前記伝送路として働く同軸ケーブル７０を有する。
【００７９】
上記実施形態によれば、伝送路として働く同軸ケーブル７０が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【００８０】
また、一実施形態のプローブ１では、
前記フランジ１０および前記プランジャ２０には、前記伝送路を通すための貫通孔１２，２２が、それぞれ形成されている。
【００８１】
上記実施形態によれば、伝送路４１，７０の長さが短くなるので、多極コネクタ６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００８２】
この考案の別の局面に係るプローブ１は、
複数の測定端子６２と、前記複数の測定端子６２を保持する第１絶縁性部材６１と、前記第１絶縁性部材６１に保持されてグランドに接続される第１外部端子６３とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタ６０と、
前記測定用コネクタ６０が先端面に配設され、前記測定端子６２に電気的に接続される伝送路４１を通すための第２貫通孔２２を有するプランジャ２０と、
前記第２貫通孔２２と平面視で重なり、前記伝送路４１を通すための第１貫通孔１２を有するフランジ１０と、
前記フランジ１０に対して前記測定用コネクタ６０を付勢する複数の弾性部材１９とを備え、
前記複数の弾性部材１９は、前記測定用コネクタ６０を平面視で囲むように周上に離間して配置されていることを特徴とする。
【００８３】
上記構成によれば、測定端子６２による接触位置が測定端子６２の嵌合位置９に近づくとともに、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に弾性的に進退するので、測定対象物（多極コネクタ）６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００８４】
また、一実施形態のプローブ１は、
前記伝送路として働くフレキシブル基板４１を有する。
【００８５】
上記実施形態によれば、伝送路が設けられているフレキシブル基板４１が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【００８６】
この考案の別の局面に係るプローブ１は、
複数の測定端子６２と、前記複数の測定端子６２を保持する第１絶縁性部材６１と、前記第１絶縁性部材６１に保持されてグランドに接続される第１外部端子６３とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタ６０と、
前記測定用コネクタ６０が先端面に配設され、前記測定端子６２に電気的に接続される伝送路７０を通すための第２貫通孔２２を有するプランジャ２０と、
前記第２貫通孔２２と平面視で重なり、前記伝送路７０を通すための第１貫通孔１２を有するフランジ１０と、
前記フランジ１０に対して前記測定用コネクタ６０を付勢する弾性部材１９とを備え、
前記弾性部材１９は、前記伝送路７０を平面視で囲むように配置されていることを特徴とする。
【００８７】
上記構成によれば、測定端子６２による接触位置が測定端子６２の嵌合位置９に近づくとともに、測定用コネクタ６０が、片寄ること無く均等に弾性的に進退するので、測定対象物（多極コネクタ）６の高周波特性を精度良く測定できる。
【００８８】
また、一実施形態のプローブ１は、
前記伝送路として働く同軸ケーブル７０を有する。
【００８９】
上記実施形態によれば、伝送路として働く同軸ケーブル７０が柔軟性を有するので、伝送路の配置が制約されにくくなる。
【符号の説明】
【００９０】
１：プローブ
５：測定治具
６：多極コネクタ（測定対象物）
６ａ：第２絶縁性部材
６ｂ：第２内部端子（内部端子）
６ｃ：第２外部端子
７：上面位置
９：嵌合位置
１０：フランジ
１２：第１貫通孔（貫通孔）
１５：スペーサ
１６：バレル支持板
１７：ケーブル挿入体
１８：収容穴
１９：コイルバネ（弾性部材）
２０：プランジャ
２１：バレル挿入孔
２２：第２貫通孔（貫通孔）
２４：ネジ挿入孔
２５：ネジ穴
２６：テーパー部
２７：プランジャネジ
２８：ヘッド部
３０：実装基板
３１：接続パッド
３２：隙間
３３：反対側コネクタ
３３ａ：第３絶縁性部材
３３ｂ：第３内部端子
３３ｃ：第３外部端子
３４：接続ランド
３６：基板取付穴
３７：基板取付ネジ
４１：フレキシブル基板（伝送路）
４２：同軸コネクタ
４３：接続コネクタ
４３ａ：第４絶縁性部材
４３ｂ：第４内部端子
４３ｃ：第４外部端子
６０：測定用コネクタ
６１：第１絶縁性部材
６２：第１内部端子（測定端子）
６３：第１外部端子
７０：同軸ケーブル（伝送路）
７１：芯線
７２：絶縁体
７３：外導体
７４：外皮
８０：スプリングピン
８２：先端ブッシング
８３：基端ブッシング
８４：バレル
８５：可動ピン
８６：中央ソケット
９０：ＳＭＡコネクタ
【図１】
0003226821.tif 000003
【図２】
0003226821.tif 000004
【図３】
0003226821.tif 000005
【図４】
0003226821.tif 000006
【図５】
0003226821.tif 000007
【図６】
0003226821.tif 000008
【図７】
0003226821.tif 000009
【図８】
0003226821.tif 000010
【図９】
0003226821.tif 000011
【図１０】
0003226821.tif 000012
【図１１】
0003226821.tif 000013
【図１２】
0003226821.tif 000014
【図１３】
0003226821.tif 000015
【図１４】
0003226821.tif 000016
【手続補正書】
【提出日】令和2年4月8日(2020.4.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】実用新案登録請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
複数の内部端子を有する多極コネクタを測定するためのプローブであって、
フランジと、
前記内部端子に対して嵌合される測定端子を複数個有する測定用コネクタと、
前記測定用コネクタを一方面に保持するプランジャと、
前記フランジと前記プランジャの他方面との間に配置された１つまたは複数の弾性部材とを備える、プローブ。
【請求項２】
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する複数の弾性部材が設けられている、請求項１に記載のプローブ。
【請求項３】
前記複数の弾性部材は、前記測定用コネクタを平面視で囲むように周上に離間して配置されている、請求項２に記載のプローブ。
【請求項４】
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する弾性部材が設けられていて、前記弾性部材は、前記測定端子に接続される伝送路を平面視で囲むように配置されている、請求項１に記載のプローブ。
【請求項５】
前記測定用コネクタが、第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されて前記測定端子として働く複数の第１内部端子と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備える多極コネクタである、請求項１に記載のプローブ。
【請求項６】
前記測定用コネクタが、前記プランジャに取り付けられた実装基板に実装されている、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のプローブ。
【請求項７】
前記実装基板が、前記測定用コネクタの反対側の面において、前記測定用コネクタに電気的に接続された反対側コネクタを有する、請求項６に記載のプローブ。
【請求項８】
前記実装基板が、剛性を有するプリント基板である、請求項６または請求項７に記載のプローブ。
【請求項９】
前記測定端子に接続される伝送路として働くフレキシブル基板を有する、請求項３、請求項５から請求項８のいずれか１項に記載のプローブ。
【請求項１０】
前記伝送路として働く同軸ケーブルを有する、請求項４に記載のプローブ。
【請求項１１】
前記フランジおよび前記プランジャには、前記伝送路を通すための貫通孔が、それぞれ形成されている、請求項９または請求項１０に記載のプローブ。
【請求項１２】
複数の測定端子と、前記複数の測定端子を保持する第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタと、
前記測定用コネクタが先端面に配設され、前記測定端子に電気的に接続される伝送路を通すための第２貫通孔を有するプランジャと、
前記第２貫通孔と平面視で重なり、前記伝送路を通すための第１貫通孔を有するフランジと、
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する複数の弾性部材とを備え、
前記複数の弾性部材は、前記測定用コネクタを平面視で囲むように周上に離間して配置されている、プローブ。
【請求項１３】
前記伝送路として働くフレキシブル基板を有する、請求項１２に記載のプローブ。
【請求項１４】
複数の測定端子と、前記複数の測定端子を保持する第１絶縁性部材と、前記第１絶縁性部材に保持されてグランドに接続される第１外部端子とを備え、多極コネクタとして構成される測定用コネクタと、
前記測定用コネクタが先端面に配設され、前記測定端子に電気的に接続される伝送路を通すための第２貫通孔を有するプランジャと、
前記第２貫通孔と平面視で重なり、前記伝送路を通すための第１貫通孔を有するフランジと、
前記フランジに対して前記測定用コネクタを付勢する弾性部材とを備え、
前記弾性部材は、前記伝送路を平面視で囲むように配置されている、プローブ。
【請求項１５】
前記伝送路として働く同軸ケーブルを有する、請求項１４に記載のプローブ。