【手続補正書】
【提出日】平成18年4月11日(2006.4.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法において、
サスペンション、およびジンバルばねを介して上記サスペンションの先端部に支持された磁気ヘッドを有したヘッドサスペンションアッセンブリを用意し、
上記サスペンションの基端部を検査用ディスクの表面に対して、所定の取り付け高さに支持するとともに上記ヘッドサスペンションアッセンブリの磁気ヘッドを検査用ディスクの表面に接触させた状態で上記検査用ディスクを回転させ、
上記検査用ディスクの回転数を所定の値まで増加させて上記検査用ディスク表面からの上記磁気ヘッドの分離を検出し、分離の有無をもって磁気ヘッドを選別することを特徴とする接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項２】
過小接触力を有する磁気ヘッドの選別は、選別したい最小接触力値、磁気ディスク装置におけるディスク回転数および接触力のディスク回転数依存性とから決まる分離回転数以下で分離する磁気ヘッドを除くことによって実施されることを特徴とする請求項１に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項３】
過大接触力を有する磁気ヘッドの選別は、選別したい最大接触力値、磁気ディスク装置におけるディスク回転数および接触力のディスク回転数依存性とから決まる分離回転数以下で分離しないヘッドを除くことによって実施されることを特徴とする請求項１に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項４】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記磁気ヘッドの再生信号を検出し、その再生信号半値幅の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項５】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記磁気ヘッドの再生信号を検出し、その再生信号強度の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項６】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記サスペンションの基端部のアコースティック・エミッションを検出し、そのアコースティック・エミッション信号の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法。
【請求項７】
接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法において、
サスペンション、およびジンバルばねを介して上記サスペンションの先端部に支持された磁気ヘッドを有したヘッドサスペンションアッセンブリを用意し、
上記サスペンションの基端部を上記検査用ディスクの表面に対して所定の取り付け高さに支持するとともに上記ヘッドサスペンションアッセンブリの磁気ヘッドを検査用ディスクの表面に接触させた状態で上記検査用ディスクを回転させ、
上記サスペンションの取り付け高さおよび磁気検査用ディスクの回転数の少なくとも一方を変化させて上記検査用ディスク表面からの上記磁気ヘッドの分離を検出し、
上記磁気ヘッドが上記検査用ディスク表面から分離した時の上記取り付け高さおよび検査用ディスクの回転数を接触力に換算して上記磁気ヘッドの接触力を測定することを特徴とする接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【請求項８】
上記接触記録型磁気ヘッドを磁気ディスク装置に組み込んで使用する際の取り付け高さを基準取り付け高さ、磁気ディスクの回転数を基準回転数とした場合、上記検査用ディスクに対する取り付け高さを上記基準取り付け高さよりも小さい任意の値に調整した状態で、上記検査用ディスクの回転数を上記基準回転数から徐々に上げて上記磁気ヘッドの分離を検出することを特徴とする請求項７に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【請求項９】
予め、所定の基準接触力を有した接触記録型磁気ヘッドにおける接触力と磁気ディスクの回転数との関係を示す回転数感度を求め、この回転数感度と、上記磁気ヘッドを上記検査用ディスク表面から分離した時の上記取り付け高さおよび検査用ディスクの回転数とから、上記磁気ヘッドの接触力を求めることを特徴とする請求項７又は８に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【請求項１０】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記磁気ヘッドの再生信号を検出し、その再生信号半値幅の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項７ないし９のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【請求項１１】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記磁気ヘッドの再生信号を検出し、その再生信号強度の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項７ないし９のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【請求項１２】
上記磁気ヘッドの分離の検出は、上記サスペンションの基端部のアコースティック・エミッションを検出し、そのアコースティック・エミッション信号の変化に基づいて検出することを特徴とする請求項７ないし９のいずれか１項に記載の接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法および接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、磁気ディスク装置に組み込む前の磁気ヘッド単体で磁気ヘッドおよび磁気ディスク間の接触力を測定することができるとともに、接触型磁気ヘッドの出荷前検査において、許容され得る接触力分布から外れる異常品を検出、排除することが可能な接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法および接触記録型磁気ヘッドの接触力測定方法を提供することにある。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
上記目的を達成するため、この発明の形態に係る接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法は、サスペンション、およびジンバルばねを介して上記サスペンションの先端部に支持された磁気ヘッドを有したヘッドサスペンションアッセンブリを用意し、上記サスペンションの基端部を検査用ディスクの表面に対して、所定の取り付け高さに支持するとともに上記ヘッドサスペンションアッセンブリの磁気ヘッドを検査用ディスクの表面に接触させた状態で上記検査用ディスクを回転させ、上記検査用ディスクの回転数を所定の値まで増加させて上記検査用ディスク表面からの上記磁気ヘッドの分離を検出し、分離の有無をもって磁気ヘッドを選別することを特徴としている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
この発明によれば、磁気ディスク装置に組み込む前の磁気ヘッド単体で磁気ヘッドおよび磁気ディスク間の接触力を測定することができるとともに、接触型磁気ヘッドの出荷前検査において、許容され得る接触力分布から外れる異常品を検出、排除することが可能な接触記録型磁気ヘッドの接触力によるヘッド選別方法および接触力測定方法を提供することができる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
続いて、接触力測定の前に、昇降機構１８によりＨＳＡ２４を基準取り付け高さＺＨに調整するとともに、検査用ディスク１４を基準回転数で回転させ、磁気ヘッド２２の電気特性を測定する。この測定により得られた磁気スペーシングの指標値、例えば、再生信号の半値幅ＰＷ５０をメモリ３４に記憶する。次に、接触力の測定を行うが、例えば、接触力が基準接触力より小さい磁気ヘッドの測定と、基準接触力より大きい磁気ヘッドの測定とで以下のように２段階に分けて行う。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
磁気ヘッド２２の接触力が基準接触力より小さい場合、図７に示すように、測定装置の回転数上限値を例えば１５０００ｒｐｍとし、磁気ヘッド２２を検査用ディスク１４上にロードする。その後、特性線Ａと浮上開始線１との交点１９が回転数上限値１５０００ｒｐｍと一致する点１９まで、取り付け高さＺＨを下げる。取り付け高さＺＨの下げ量は、１５０００ｒｐｍでの接触力８３ｍｇｆを接触力−取り付け高さ依存性で割った値（ここでは、接触力−取り付け高さ依存性を２ｍｆｇ／μｍとして計算している）である。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
次に、磁気ヘッド２２の接触力が基準接触力よりも大きい場合、磁気ヘッド２２を検査用ディスク１４上にロードする。その後、図８に示すように、基準接触力１５０ｍｇｆの特性線Ａと浮上開始線１との交点２１が回転数上限値４２００ｒｐｍと一致するまで、取り付け高さＺＨを下げる。取り付け高さＺＨの下げ量は、１５０（ｍｇｆ）／２（ｍｇｆ／μｍ）＝７５μｍである。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
上述した接触力測定方法を応用することにより、過大接触力および過小接触力を有した磁気ヘッドを、出荷前検査において一層簡便に選別、除外することが可能となる。  
図９に示す接触力−回転数特性において、基準接触力の磁気ヘッドを示す直線をＡとした場合、基準接触力より大きな接触力の磁気ヘッドは直線Ｂで、基準接触力より小さな接触力の磁気ヘッドは直線Ｃで表されている。以降、これらの直線を分離直線と呼ぶ。このとき、それぞれの直線が基準回転数Ｒｎと交わる時の接触力の読みが、それぞれの接触力の値Ｆｃｎ、Ｆｃｕ、Ｆｃｌとなる。また、分離回転数は、分離直線Ａ、Ｂ、Ｃが横軸と交わる部分Ｒｓｎ、Ｒｓｌ、Ｒｓｕでそれぞれ表される。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４４】
図９を参照して以下に選別方法を述べる。まず、過小接触力ヘッドを選別、除外するときの例として、選別したい接触力がＦｃｌの場合を説明する。選別接触力がＦｃの時の分離直線はＣで表されるため、これとＦｃ＝０の横軸との交点が分離回転数Ｒｓｌである。よって、ディスク回転数がＲｓｌの時に分離する磁気ヘッドを除外することで、接触力がＦｃｌ以下の磁気ヘッドの選別が実現できる。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
一方、過大接触力ヘッドを選別、除外するときには、前述と同様に、ディスク回転数が選別したい接触力（例えばＦｃｕとする)の分離直線ＢとＦｃ＝０の軸との交点で表される分離回転数Ｒｓｕになったとき分離しない磁気ヘッドを除外すればよい。ただし、図９に示す例のように、分離直線とＦｃ＝０の軸との交点Ｒｓｕとが測定装置で許容される最大回転数を超えてしまう場合には、前述のように適切なＺＨだけ取り付け高さを下げることによって分離回転数を許容回転数以下に抑えることができる。すなわち、適切に下げたＺＨを表す横軸と上記の分離回転直線との交点で表される分離回転数で分離しない磁気ヘッドを除外することによって選別が実現できる。