【手続補正書】
【提出日】平成18年1月26日(2006.1.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、被検眼の瞳径の値若しくは瞳径画像を含む瞳径データを受け取り、その測定データ及び瞳径データに基づき低次収差及び高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、求めた低次収差及び高次収差に基づき、被検眼での見え具合の質を示す評価パラメータを算出する第２ステップと、
演算部は、算出した評価パラメータに従い、低次収差を変化させることにより被検眼に相応しい適正な矯正データを算出する第３ステップと、
をコンピュータに実行させるための矯正データ測定用プログラム。
【請求項２】
演算部は、求めた矯正データに基づくランドルト環若しくは任意の像の輝度分布画像をシミュレートし、該矯正データ及び／又はシミュレーションの結果をメモリに記憶する、又は、表示部に表示する第４ステップをさらに含む請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項３】
上記第1ステップは、演算部が、被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、矯正データを求める矯正環境での瞳孔画像を含む瞳径データを受け取り、受け取った瞳径データに基づき、該矯正環境での瞳径を算出し、受け取った測定データ及び算出した瞳径に基づき低次収差と高次収差を求めるように構成されている請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項４】
上記第１ステップは、
演算部が被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、矯正環境での瞳孔画像を含む瞳径データを受け取るステップと、
演算部が、受け取った瞳径データに基づき瞳孔エッジ上の点を検出するステップと、
演算部が、検出した点にフィットする楕円の焦点及び長径及び／又は短径を算出するステップと、
演算部が、楕円の長径及び／又は短径に基づき被検眼の瞳径を算出するステップと、
演算部が、受け取った測定データ及び算出した瞳径に基づき低次収差と高次収差を求めるステップと
を含む請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項５】
上記第３ステップは、高次の球面収差又は非対称な高次のコマ様収差が所定値以上である場合に、演算部が、評価パラメータに基づきデフォーカスに対応する低次収差を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項６】
上記第３ステップは、高次の非点収差が所定値以上である場合に、演算部が、評価パラメータに基づき乱視成分に相当する低次収差を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項７】
上記第２ステップは、演算部が、求めた低次収差及び高次収差に基づき、評価パラメータとしてストレール比を算出し、
上記第３ステップは、演算部が、ストレール比が大きくなるように所定の低次収差を変化させて被検眼に相応しい適正な矯正データを算出するように構成されている請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項８】
上記第２ステップは、演算部が、求めた低次収差及び高次収差に基づき、評価パラメータとして位相シフトを算出し、
上記第３ステップは、演算部が、位相シフトが小さくなるように低次収差を変化させて被検眼に相応しい適正な矯正データを算出するように構成されている請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項９】
上記第２ステップは、
演算部が、矯正後の被検眼における検眼用視標の見え具合をシミュレーションして視標画像データを形成するステップと、
演算部が、該視標画像データと該検眼用視標のパターンデータとをテンプレートマッチングにより比較するステップと、
演算部が、テンプレートマッチングの結果に基づき評価パラメータを算出するステップと
を含む請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項１０】
上記第２ステップは、
演算部が、低次収差及び高次収差に基づき、矯正後の被検眼の伝達特性を示すＭＴＦ(Modulation Transfer Function)のデータを形成するステップと、
演算部が、形成されたＭＴＦのデータに基づき評価パラメータを算出するステップと
を含む請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項１１】
上記第２ステップは、演算部が、低次収差と高次収差に基づき、評価パラメータとしてストレール比と位相シフトとの関係式を形成し、
上記第３ステップは、演算部が、低次収差を変化させてストレール比を極大値に、かつ位相シフトが略ゼロとなる条件を求め、その時の低次収差を適正な矯正データとする請求項１に記載の矯正データ測定用プログラム。
【請求項１２】
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差及び高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、求めた低次収差及び高次収差に基づき、被検眼での見え具合の質を示す評価パラメータを算出する第２ステップと、
演算部は、算出した評価パラメータに従い、低次収差を変化させることにより被検眼に相応しい適正な矯正データを算出する第３ステップと、
をコンピュータに実行させるための矯正データ測定用プログラム。
【請求項１３】
請求項１乃至１２のいずれかに記載の矯正データ測定用プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項１４】
第１波長の光束を発する第１光源部と、
上記第１光源部からの光束で被検眼眼底付近に集光するように照明するための第１照明光学系と、
被検眼眼底から反射して戻ってくる光束の一部を、少なくとも実質的に１７本のビームに変換する第１変換部材を介して受光するための第１受光光学系と、
上記第１受光光学系の受光光束を受光する第１受光部と、
上記第１受光部で得られた光束の傾き角に基づいてゼルニケ解析を行い、被検眼の光学特性を求め、且つ、被検眼に相応しい適正な矯正データを算出する演算部と
を備え、
上記演算部は、
被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、被検眼の瞳径の値若しくは瞳径画像を含む瞳径データを受け取り、その測定データ及び瞳径データに基づき低次収差及び高次収差を求める第１手段と、
求めた低次収差及び高次収差に基づき、被検眼での見え具合の質を示す評価パラメータを算出する第２手段と、
算出した評価パラメータに従い、低次収差を変化させることにより被検眼に相応しい適正な矯正データを算出する第３手段と
を有する矯正データ測定装置。
【請求項１５】
上記演算部は、求めた矯正データに基づくランドルト環若しくは任意の像の輝度分布画像をシミュレートし、該矯正データ及び／又はシミュレーション結果をメモリに記憶する、又は、表示部に表示する第４手段をさらに含む請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１６】
上記第１手段は、演算部が、被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、矯正データを求める矯正環境での瞳孔画像を含む瞳径データを受け取り、受け取った瞳径データに基づき、該矯正環境での瞳径を算出し、受け取った測定データ及び算出した瞳径に基づき低次収差と高次収差を求めるように構成されている請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１７】
上記第１手段は、
上記演算部が、被検眼の屈折力分布を示す測定データ、及び、矯正環境での瞳孔画像を含む瞳径データを受け取る手段と、
上記演算部が、受け取った瞳径データに基づき瞳孔エッジ上の点を検出する手段と、
上記演算部が、検出した点にフィットする楕円の焦点及び長径及び／又は短径を算出する手段と、
上記演算部が、楕円の長径及び／又は短径に基づき被検眼の瞳径を算出する手段と、
上記演算部が、受け取った測定データ及び算出した瞳径に基づき低次収差と高次収差を求める手段と
を有する請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１８】
第２波長の光束を発する第２光源と、
上記第２光源からの第２照明光束で被検眼角膜付近を所定のパターンで照明する第２照明光学系と、
被検眼角膜付近から反射して戻ってくる第２照明光束を受光するための第２受光光学系と、
上記第２受光光学系の受光光束を受光する第２受光部と、
上記第２受光部の出力から被検眼の瞳径データを形成する瞳径データ形成部と
をさらに備え、
上記演算部は、上記瞳径データ形成部から瞳径データを受け取るように構成されている請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１９】  
被検眼の前眼部を所望の明るさで照明可能に構成した前眼照明部をさらに備え、
上記演算部は、上記前眼照明部を所定の矯正環境に応じた明るさに調整し、その照明状態おける上記第１受光部の出力信号及び瞳径データに基づき被検眼に相応しい適正な矯正データを求めるように構成されている請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２０】
上記前眼照明部は、複数の照明状態を形成する場合に、照明状態を暗い方から明るい方へ順次変化させて測定が行われるように構成されている請求項１９に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２１】
上記第３手段は、高次の球面収差又は非対称な高次のコマ様収差が所定値以上である場合に、上記演算部が、評価パラメータに基づきデフォーカスに対応する低次収差を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２２】
上記第３手段は、高次の非点収差が所定値以上である場合に、上記演算部が、評価パラメータに基づき乱視成分に相当する低次収差を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２３】
上記第２手段は、上記演算部が、求めた低次収差及び高次収差に基づき、評価パラメータとしてストレール比を算出し、
上記第３手段は、上記演算部が、ストレール比が大きくなるように所定の低次収差を変化させて被検眼に相応しい適正な矯正データを算出するように構成されている請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２４】
上記第２手段は、上記演算部が、求めた低次収差及び高次収差に基づき、評価パラメータとして位相シフトを算出し、
上記第３手段は、上記演算部が、位相シフトが小さくなるように低次収差を変化させて被検眼に相応しい適正な矯正データを算出するように構成されている請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２５】
上記第２手段は、
上記演算部が、矯正後の被検眼における検眼用視標の見え具合をシミュレーションして視標画像データを形成する手段と、
上記演算部が、該視標画像データと該検眼用視標のパターンデータとをテンプレートマッチングにより比較する手段と、
上記演算部が、テンプレートマッチングの結果に基づき評価パラメータを算出する手段と
を有する請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２６】
上記第２手段は、
上記演算部が、低次収差及び高次収差に基づき、矯正後の被検眼の伝達特性を示すＭＴＦのデータを形成する手段と、
上記演算部が、形成されたＭＴＦのデータに基づき評価パラメータを算出する手段と
を有する請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２７】
上記第２手段は、上記演算部が、低次収差と高次収差に基づき、評価パラメータとしてストレール比と位相シフトとの関係式を形成し、
上記第３手段は、上記演算部が、低次収差を変化させてストレール比を極大値に、かつ位相シフトが略ゼロとなる条件を求め、その時の低次収差を適正な矯正データとする請求項１４に記載の矯正データ測定装置。
【請求項２８】
第１波長の光束を発する第１光源部と、
上記第１光源部からの光束で被検眼眼底付近に集光するように照明するための第１照明光学系と、
被検眼眼底から反射して戻ってくる光束の一部を、少なくとも実質的に１７本のビームに変換する第１変換部材を介して受光するための第１受光光学系と、
上記第１受光光学系の受光光束を受光する第１受光部と、
被検眼の瞳径データを受け取り、該瞳径データ及び上記第１受光部の出力信号に基づき、被検眼の光学特性を求める演算部と
を備える眼特性測定装置。
【請求項２９】
上記演算部は、測定環境における被検眼の瞳孔画像を含む瞳径データを受け取り、受け取った瞳径データに基づき、該測定環境での瞳径を算出し、算出した瞳径及び上記第１受光部からの出力信号に基づき被検眼の光学特性を求めるように構成されている請求項２８に記載の眼特性測定装置。
【請求項３０】
第２波長の光束を発する第２光源部と、
上記第２光源部からの第２照明光束で被検眼角膜付近を所定のパターンで照明する第２照明光学系と、
被検眼角膜付近から反射して戻ってくる第２照明光束を受光するための第２受光光学系と、
上記第２受光光学系の受光光束を受光し前眼部像信号を生成する第２受光部と、
上記第２受光部から得られる前眼部像信号から被検眼の瞳径データを形成する瞳径データ形成部と
をさらに備え、
上記演算部は、上記瞳径データ形成部から瞳径データを受け取るように構成されている請求項２８に記載の眼特性測定装置。
【請求項３１】
上記演算部は、
被検眼の瞳径の値若しくは瞳径画像を含む瞳径データを受け取り、その瞳径データ及び上記第１受光部からの出力信号に基づき低次収差及び高次収差を求める第１手段と、
求めた低次収差及び高次収差に基づき、被検眼での見え具合の質を示す評価パラメータを算出する第２手段と、
算出した評価パラメータに従い、低次収差を変化させることにより被検眼に相応しい適正な矯正データを算出する第３手段と
を有する請求項２８に記載の眼特性測定装置。