【事件の表示】
　平成４年特許願第３０１４４３号「複屈折分布測定方法」拒絶査定に対する審判事件［平成６年５月２７日出願公開、特開平６−１４７９８６］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　
　この出願は、平成４年１１月１２日にされた特許出願であって、その請求項１に係る発明は、平成１２年１月２７日付け手続補正書によって補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものと認める。
　
「【請求項１】測定試料に誘起した複屈折分布を二次元的に求める複屈折分布測定方法であって、単色光源と二次元受光器との間の光路に測定試料を円偏光子と検光子との間に挿入して配置し、単色光源から出射した平行光束を前記円偏光子により円偏光に変えた上で測定試料を透過させて検光子に導くとともに、検光子を光束の軸の回りに角度θ回転しつつ、等角度毎に受光器で検出した画像データをサンプリングして画像処理装置に取り込み、かつその画像データを基に各ピクセル毎に演算処理して測定試料の複屈折で生じた相対位相差δ、およびその正、負符号を含む二次元的な複屈折分布と、主軸方向φを求めるもので、単色光源から出射した平行光束の光強度をＩ0、検光子を透過した光強度をＩとしたとき、
　Ｉ＝Ｉ0／２・〔１±ｓｉｎ２（φ−θ）ｓｉｎδ〕
なる式（式中、±は円偏光の回転の向きを表し、右回り円偏光が＋、左回り円偏光が−、である）を用いて算出することを特徴とする複屈折分布測定方法。」
　
２．引用例
　
　これに対して、前置審査における拒絶の理由に引用された特開昭６０−２９６２１号公報（以下、「刊行物１」という。）には、
　
（１−１）「（３）直線偏光を発生する光源と、この光源から発生する前記直線偏光が供給され前記直線偏光から円偏光を生成しこの円偏光を被測定試料に照射する１／４λ板と、前記被測定試料から出力する円偏光あるいは楕円偏光を入射する回転検光子と、この回転検光子から出力する光線の光の強弱を電気信号に変換する受光素子と、前記１／４λ板から供給される円偏光を前記被測定試料の全面に連続的に照射できるよう前記被測定試料を移動させる移動装置とからなることを特徴とする複屈折測定装置。」（特許請求の範囲）、
　
（１−２）「第２図に示すのは、本発明になる複屈折測定に用いる測定装置の第１実施例である。光源６はヘリウムネオンレーザである。光源６から出力する光線は偏光子７に入射する。偏光子７から出力する直線偏光は１／４λ板２に入射した後、円偏光となり、成型された光学プラスチックス（被測定試料）４に入射する。試料４から出力する光は、試料４が複屈折しているときは楕円偏光であり複屈折していないときは円偏光である。光源６と１／４λ板２との間に偏光子７が介挿されているが、これは試料４に照射した光が反射して光源６に戻ることを防ぐためのものである。試料４から出力した光は回転検光子３に入射した後、受光素子８に供給されて光の強弱は電気信号の変化に変換され、測定装置９でその信号を測定し記録する。回転検光子３に入射する楕円偏光は、予め測定しておいた、複屈折していない試料により発生する円偏光を電気信号に変換した値と、試料４が複屈折しているときの楕円偏光を電気信号に変換した値とを比較することにより、複屈折の値をきわめて簡便に測定できる。」（第３頁右上欄第８行〜左下欄第９行）、
　
（１−３）「第４図に示すのは、本発明になる複屈折測定に用いる測定装置の第３実施例である。前述した第１および第２実施例と異なることは、被測定試料の全面にわたり複屈折を連続的に測定できることである。このための構成として、１／４λ板２からの光線を被測定試料４全面にわたって連続的に照射できるように試料４を連続して移動させるため、試料４を回転させる軸１４および軸１４を回転させるモータ等の駆動装置（図示せず）を有した点である。この装置を用いた測定動作は、試料４に１／４λ板２からの光源が照射される動作は、試料４がディスク形状であるときには、ディスクの最外周から内周に向かってピックアップがディスクの音溝をトレースしていく動作と同様の動作となる。このように、一定の面の広がりをもった試料４の複屈折を測定するときでも、きわめて短時間にしかも簡単に測定できるものである。」（第３頁右下欄第１４行〜第４頁左上欄第１１行）、
　
と記載されている。
　
　また、同じく引用された特開平４−５８１２０号公報（以下、「刊行物２」という。）には、
　
（２−１）「従来から、平行平面板等の被検物に偏光特性を測定するために、偏光測定装置が用いられている。従来の偏光測定装置は、細い光束を発生する光源と受光素子との間に偏光子と検光子とを配置し、これらの偏光板の間に被検物をセットし、検光子を回転させつつ透過光量を検出する構成である。検出光量と検光子の回転角度とから、少なくとも透過した偏光の偏光楕円の傾きを求めることができる。しかしながら、上述した従来の偏光測定装置は、１本のビームにより測定を実行しているため、二次元的な情報を得るためには試料を機械的に走査させるための機構が必要となり、装置が複雑になると共に、測定に時間がかかるという問題がある。」（第１頁右下欄第２０行〜第２頁左上欄第１３行）、
　
（２−２）「この発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、所定の広がりを持った光束の偏光状態を機械走査せずに測定することができ、しかも、測定に対する空間的な分解能が高い偏光測定装置を提供することを目的とする。」（第２頁左上欄第１９行〜右上欄第３行）、
　
（２−３）「第１図は、この発明に係る偏光測定装置の一実施例を示す構成図である。この装置は、所定の広がりを持った直線偏光を試料２０である光学素子に入射させる光源部１０と、試料２０を透過した光束の光路内に回転自在に設けられた検光子３０と、検光子３０を透過した光束を受光するＣＣＤセンサ等の二次元のイメージセンサ４０と、このイメージセンサ４０の出力をＡ／Ｄ変換して記憶するフレームメモリ５０と、少なくとも検光子が３つの異なる角度に設定された際に記憶されたフレームメモリ５０のデータを解析するためのコンピュータ６０と、解析された結果を表示するディスプレイ７０とを備えている。」（第２頁左下欄第４行〜第１６行）、
　
（２−４）「これらの強度は、イメージセンサ４０の各画素毎に独立したデータとして測定され、測定を行う４つの角度毎に画像情報としてフレームメモリ５０に記憶される。コンピュータ６０は、４回の測定が終了した時点で、４つの強度データを用い、下式に従って各画素毎に偏光特性を表現する変数を求める。」（第３頁右上欄第１３行〜第１８行）、
　
と記載されている。
　
　さらに、同じく引用された特開平１−２３２２３８号公報（以下、「刊行物３」という。）には、
（３−１）「この発明においては、光ディスク基板に対して円偏光集束ビームが入射され、その反射光のうち特定の入射方位、入射角度に対応したビームの断面一部分がアパーチャを有するビーム選択手段により選択され、その後、複数のビームになり波長板と偏光子によって特定方向の偏光成分のみが光検出器に入り目的の検光光強度信号が得らえる。また、施光子と検光子を用いた場合は、特定方向の偏光成分が順次１個の光検出器に得らえる。」（第３頁右上欄第７行〜第１５行）、
　
（３−２）「はじめに、この発明の装置の動作原理について説明する。回転状態の光ディスクに斜め方向からのビームを照射し、円偏光光源と組み合せて検出光の偏光状態を検出する。・・・・・・・・・・また、偏光状態の検出は、検出光の０°、４５°、９０° 、１３５° の方位の光強度信号Ｉ0、Ｉ45、Ｉ90、Ｉ135により光ディスクに入射した円偏光ビームの複屈折による楕円化として、複屈折位相差δと進相軸方向φを既知の偏光解析の計算により次式で求めることができる。
検光出力と複屈折位相差δ、進相軸方位ψの関係
Ｉx　＝　１／２｛１−ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝　……（１）」
複屈折位相差δ
δ＝ｓｉｎ−１ （Ｐ）　……（２）
進相軸方向ψ
ψ＝ｔａｎ−１ （Ｑ）　……（３）」
（第３頁左下欄第８行〜右下欄第１３行、ただし、都合によりＰ、Ｑを用いた。Ｐは、√［｛（Ｉ45 −Ｉ135 ）／（Ｉ45 ＋Ｉ135 ）｝2＋｛（Ｉ90 −Ｉ0 ）／（Ｉ90 −Ｉ0 ）｝2］であり、Ｑは、｛（Ｉ90 −Ｉ0 ）・（Ｉ45 ＋Ｉ135）｝／｛２・（Ｉ90 ＋Ｉ0）・（Ｉ45 −Ｉ135 ）｝で表される式である。）、
　
（３−３）「第２図はこの発明の第２の実施例を示すものである。半導体レーザ１０１から可変アパーチャ１１２でビームを切り出す部分までは第１の実施例と同じであるが、偏光検出を行うのに、例えばファラデーセルのような偏光面の回転角が可変の旋光子２００によりその回転角をコントローラ２０１により制御し、可変アパーチャ１１２で切り出されたビームの偏光面をディスクの回転に同期して時間的に順次０°、４５°、９０°、１３５°に回転させ、その後方に配置された検光子２０２、コンデンサレンズ２０３、光検出器２０４により各々の回転状態での検光出力を得る。この検出信号を計算器に記憶し、第（１）、（２）、（３）式に基づいて演算処理を行うことにより複屈折を求める。」（第４頁左下欄第１２行〜右下欄第６行）、
　
と記載されている。
　
３．請求項１に係る発明と刊行物１に記載された発明（以下、「引用発明１」という。）との対比
　
　請求項１に係る発明と引用発明１とを対比すると、引用発明１は、面の広がりをもった試料の複屈折を測定するものであり、その「偏光子」及び「１／４λ板」は請求項１に係る発明の「円偏光子」に相当するから、両者は、
「測定試料に誘起した複屈折分布を求める二次元的に求める複屈折測定方法であって、単色光源と受光器との間の光路に測定試料を円偏光子と検光子との間に挿入して配置し、単色光源から出射した光を前記円偏光子により円偏光に変えた上で測定試料を透過させて検光子に導くとともに、検光子を光の軸の回りに回転させて受光器で検出したデータを処理装置に取り込み、そのデータを基に測定試料の複屈折の値を求める複屈折分布測定方法」、
である点で一致し、
　
（１）請求項１に係る発明においては、複屈折分布を二次元的に求めるために平行光束を測定試料に入射し、受光器として二次元受光器を用い、得られた画像データを基に各ピクセル毎に演算処理するのに対して、引用発明１においては、測定試料を移動しながら光線を測定試料に入射し、受光器からの信号を演算処理する点、
　
（２）請求項１に係る発明においては、検光子を回転させつつ、等角度毎に受光器で検出した画像データをサンプリングして画像処理装置に取り込み、その画像データを基に演算処理して測定試料の複屈折で生じた相対位相差δ、およびその正、負符号を含む二次元的な複屈折分布と、主軸方向φを、Ｉ＝Ｉ0 ／２・〔１±ｓｉｎ２（φ−θ）ｓｉｎδ〕なる式を用いて算出するのに対し、引用発明１においては、検光子を回転させて受光器で検出したデータを基に複屈折の値を求める点、
　
において相違している。
　
４．当審の判断　
　上記相違点（１）、（２）について検討する。
　
・相違点（１）について
　所定の広がりのある平行光束を測定試料に入射し、測定試料からの光を二次元受光器により検出し、二次元受光器により検出された画像データを各ピクセル毎に演算処理する技術は刊行物２に記載されており、当該技術を刊行物１に記載された発明に適用することは、技術分野の類似性に鑑みれば、当業者であれば容易に想到し得ることである。
　
・相違点（２）について
　刊行物３には、円偏光を測定試料に入射し、測定試料からの光を偏光面の回転角が可変の旋光子に入射した後に検光子を通過させ、検光出力が Ｉx＝１／２｛１−ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝となることを利用して、複屈折位相差δ（請求項１に係る発明における相対位相差δに相当する）及び進相軸方位ψ（請求項１に係る発明における主軸方向φに相当する）を求めることが記載されている。刊行物３に記載された発明においては、検光子の方位は固定され、旋光子により偏光面を回転させて検出光の０°、４５°、９０° 、１３５°の方位の光強度信号を得ているが、これは、技術的に見ると、検光子だけを用い、その検光子を回転させて検出光の０°、４５°、９０° 、１３５° の方位の光強度信号を得ることと等価であるから、刊行物３に記載された角度ｘは請求項１に係る発明における角度θに相当し、刊行物３に記載された発明では、等角度毎（４５°毎）に受光器で検出したデータをサンプリングしているということができる。そうすると、刊行物１に記載された発明において、刊行物３に記載された式：Ｉx＝１／２｛１−ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝を用いて複屈折位相差δ（相対位相差δ）及び進相軸方位ψ（主軸方向φ）を求めることは、技術分野の類似性に鑑みれば、当業者であれば容易に想到し得ることである。
　なお、刊行物３にはＩx＝１／２｛１＋ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝という式を用いること、即ち、右回り円偏光を用いることが記載されていないが、円偏光に右回りと左回りのものがあることはこの出願前に周知であり、円偏光として右回りのものを用いるか、左回りのものを用いるかは、単なる設計的事項である。また、上記刊行物３に記載された式：Ｉx＝１／２　｛１−ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝がｓｉｎδについて一次である以上、当該式を用いればδの正、負符号まで求め得ることは明らかである。
　
５．審判請求人の主張について
 
　審判請求人は、平成１２年１０月２日付け意見書において「複屈折位相差δが微小なδ＜π／４のとき、回転検光子からの出力光がδの一次関数に比例していることにより高感度であることに新たに着目し、微小δの２次元分布測定を可能とした」と主張しているが、平成１２年１月２７日付け手続補正書によって補正された請求項１には、δがπ／４より小さいと限定する記載はない（Ｉ＝Ｉ0　／２・〔１±ｓｉｎ２（φ−θ）ｓｉｎδ〕なる式を用いるとしか記載されていない）し、また、δがπ／４より小さいと限定する記載があったとしても、δが小さいときにｓｉｎδ≒δと近似することはこの出願前に慣用された手法であるから、刊行物３に記載されたＩx＝１／２｛１−ｓｉｎδｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝という式を、δが小さいときに　　Ｉx≒１／２｛１−δｓｉｎ（２ψ−２ｘ）｝と近似することが格別に困難であったということはできない。
　
６．むすび
 
　以上のことから、この出願の請求項１に係る発明は、上記刊行物１〜３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。