【手続補正書】
【提出日】平成17年11月30日(2005.11.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】  
【請求項１】  時間的に前後する参照フレームと探索フレームとから動きベクトルを検出する動きベクトル検出装置であって、
上記参照フレームの所定の参照ブロックを構成する画素データと該画素データに対応した上記探索フレームの探索範囲に存在する複数の画素データとの間のマッチング演算を、上記参照ブロックを構成する各画素データ分行うマッチング演算手段と、
上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に、上記マッチング演算の結果に基づき、上記探索範囲の各画素位置に対応して、マッチングの度合いがその閾値より高いときは計数値として０以外の値を配し、マッチングの度合いがその閾値以下のときは計数値として０を配した計数値テーブルを生成する計数値テーブル生成手段と、
上記各画素データに対応した計数値テーブルの各計数値をそれぞれ度数とし、該度数を上記探索範囲の画素位置毎に足し込んで、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルを生成するヒストグラムテーブル生成手段と、
上記ヒストグラムテーブルの度数の極大値または極小値に基づいて、上記参照ブロックの動きベクトルを検出する動きベクトル検出手段と
を備えることを特徴とする動きベクトル検出装置。
【請求項２】  上記計数値テーブル生成手段は、
上記マッチングの度合いがその閾値より高いときは、該マッチングの度合いが高い程絶対値の大きな値を上記計数値として配する
ことを特徴とする請求項１に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項３】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求め、該各画素データ毎に、アクティビティの最大アクティビティに対する割合が高い程大きな値を補正係数として得る補正係数取得手段と、
上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値テーブルの計数値に、それぞれ該各画素データに対応した補正係数を掛けて補正する計数値補正手段とをさらに備える
ことを特徴とする請求項１に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項４】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求めるアクティビティ算出手段と、
上記計数値テーブル生成手段で上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値テーブルの計数値を得る際に使用される上記閾値を、それぞれ該各画素データに対応したアクティビティに基づいて変更する閾値変更手段とをさらに備え、
上記閾値変更手段は、アクティビティが大きい程上記閾値を低くする
ことを特徴とする請求項１に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項５】  上記動きベクトル検出手段で検出された動きベクトルに基づいて、上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルを特定する動きベクトル特定手段をさらに備え、
上記動きベクトル特定手段は、
参照ブロックを構成する画素データと該画素データの画素位置を基準として上記動きベクトル検出手段で検出された各動きベクトルに対応した上記探索フレームの画素位置の画素データとの間の相関情報を求め、最も相関が高くなる場合の動きベクトルを該参照ブロックを構成する画素データの動きベクトルとする
ことを特徴とする請求項１に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項６】  上記動きベクトル特定手段で特定される上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルより孤立した動きベクトルを除去する孤立点除去手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項５に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項７】  時間的に前後する参照フレームと探索フレームとから動きベクトルを検出する動きベクトル検出装置であって、
上記探索フレームより取り出される画素データを共通に入力すると共に、上記参照フレームより取り出される、上記画素データを探索範囲に含む所定の参照ブロックの画素データとの差分絶対値を演算する複数の差分絶対値演算器と、
上記複数の差分絶対値演算器で演算されて得られた複数の差分絶対値のそれぞれに対応して、該差分絶対値がその閾値より小さいときは０以外の所定値とし、該差分絶対値がその閾値以上のときは０とするように計数値を生成する計数値生成手段と、
上記複数の差分絶対値演算器にそれぞれ対応した複数の記憶領域を有する計数値テーブル生成用の第１の記憶手段と、
上記複数の差分絶対値演算器で演算されて得られた差分絶対値のそれぞれに対応して上記計数値生成手段で生成された計数値を、上記第１の記憶手段の該計数値に係る上記差分絶対値演算器および上記参照ブロックの画素位置に対応した記憶領域内の計数値記憶領域に書き込み、上記第１の記憶手段に、上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した、上記探索範囲の各画素位置に対応して計数値が配された計数値テーブルが得られるように制御する書き込み制御手段と、
上記第１の記憶手段に得られた上記参照ブロックを構成する各画素データにそれぞれ対応した計数値テーブルの各計数値をそれぞれ度数とし、該度数を上記探索範囲の画素位置毎に足し込んで、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルを生成するヒストグラムテーブル生成手段と、
上記ヒストグラムテーブルの度数の極大値または極小値に基づいて、上記参照ブロックの動きベクトルを検出する動きベクトル検出手段と
を備えることを特徴とする動きベクトル検出装置。
【請求項８】  上記ヒストグラムテーブル生成手段は、
上記探索範囲の画素数に対応した複数の加算器と、
上記複数の加算器にそれぞれ対応した複数の記憶領域を有する第２の記憶手段と、
上記第１の記憶手段に得られた計数値テーブルの複数の計数値をそれぞれ度数とし、該複数の度数のそれぞれを、上記第２の記憶手段の複数の記憶領域に記憶されていた記憶データのそれぞれに、上記複数の加算器を用いて足し込み、該複数の加算器で得られた足し込みデータのそれぞれを上記第２の記憶手段の複数の記憶領域に記憶することを、上記第１の記憶手段に得られた上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した複数の計数値テーブルの個数分だけ繰り返し、上記第２の記憶手段に、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルが得られるように制御する制御手段とを有する
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項９】  上記第２の記憶手段は半導体メモリであって、少なくとも上記複数の加算器および上記半導体メモリは一体化されており、
上記加算器を構成するビット単位の複数の加算部は、上記半導体メモリのカラムのピッチに揃えて配されている
ことを特徴とする請求項８に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１０】  上記第２の記憶手段は半導体メモリであって、
該半導体メモリは上記複数の加算器に関連して設けられた書き込みおよび読み出し用の第１のポートと、上記度数の累積値を読み出すための読み出し専用の第２のポートとを有する
ことを特徴とする請求項８に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１１】  上記計数値生成手段は、
上記差分絶対値がその閾値より小さいときは、該差分絶対値が小さい程絶対値の大きな値を上記計数値とする
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１２】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求め、該各画素データ毎に、アクティビティの最大アクティビティに対する割合が高い程大きな値を補正係数として得る補正係数取得手段と、
上記第１の記憶手段に得られた上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値テーブルの計数値に、それぞれ該各画素データに対応した補正係数を掛けて補正する計数値補正手段とをさらに備える
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１３】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求めるアクティビティ算出手段と、
上記計数値生成手段で上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値を得る際に使用される上記閾値を、それぞれ該各画素データに対応したアクティビティに基づいて変更する閾値変更手段とをさらに備え、
上記閾値変更手段は、アクティビティが大きい程上記閾値を大きくする
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１４】  上記動きベクトル検出手段で検出された動きベクトルに基づいて、上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルを特定する動きベクトル特定手段をさらに備え、
上記動きベクトル特定手段は、
参照ブロックを構成する画素データと該画素データの画素位置を基準として上記動きベクトル検出手段で検出された各動きベクトルに対応した上記探索フレームの画素位置の画素データとの間の相関情報を求め、最も相関が高くなる場合の動きベクトルを該参照ブロックを構成する画素データの動きベクトルとする
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１５】  上記動きベクトル特定手段で特定される上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルより孤立した動きベクトルを除去する孤立点除去手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項１４に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１６】  上記第１の記憶手段は半導体メモリであって、
上記半導体メモリのカラム方向に延びる各ワード線は、上記複数の記憶領域に対応して分割された複数の分割ワード線からなっており、
上記半導体メモリは、任意のワード線を構成する上記複数の分割ワード線のうち任意の分割ワード線を選択的に活性化させるためのロウデコード手段を有している
ことを特徴とする請求項７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１７】  上記カラム方向に延びる各ワード線は、連続したグローバルワード線と、上記複数の記憶領域に対応して分割され、それぞれ所定数のメモリセルに接続された複数のセクションワード線とから構成され、
上記ロウデコード手段は、
上記各ワード線を構成するグローバルワード線のうち任意のグローバルワード線を選択的に活性化させるメインロウデコード手段と、上記メインロウデコード手段で活性化されたグローバルワード線に対応した複数のセクションワード線のうち任意のセクションワード線を選択的に活性化させるサブロウデコード手段とからなる
ことを特徴とする請求項１６に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１８】  上記半導体メモリの複数の記憶領域は、それぞれ複数の参照ブロックに係る計数値を記憶するための複数のブロック領域がロウ方向に配列されてなり、
上記メインロウデコード手段は、所定数の連続するブロック領域に対応した所定数のグローバルワード線を同時に活性化させ、
上記サブロウデコード手段は、上記所定数のグローバルワード線に対応してそれぞれ活性化させるセクションワード線を、互いに異なる上記記憶領域に対応したセクションワード線とする
ことを特徴とする請求項１７に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項１９】  時間的に前後する参照フレームと探索フレームとから動きベクトルを検出する動きベクトル検出装置であって、
上記参照フレームより取り出される所定の参照ブロックを構成する画素データを共通に入力すると共に、上記探索フレームより取り出される、上記参照ブロックを構成する画素データの探索範囲に存在する複数の画素データとの差分絶対値を演算する複数の差分絶対値演算器と、
上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に、上記複数の差分絶対値演算器で演算されて得られた複数の差分絶対値のそれぞれに対応して、該差分絶対値がその閾値より小さいときは０以外の所定値とし、該差分絶対値がその閾値以上のときは０とするように計数値を生成し、上記探索範囲の各画素位置に対応して計数値が配された計数値テーブルを得る計数値テーブル生成手段と、
上記計数値テーブル生成手段で得られた上記参照ブロックを構成する各画素データにそれぞれ対応した計数値テーブルの各計数値をそれぞれ度数とし、該度数を上記探索範囲の画素位置毎に足し込んで、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルを生成するヒストグラムテーブル生成手段と、
上記ヒストグラムテーブルの度数の極大値または極小値に基づいて、上記参照ブロックの動きベクトルを検出する動きベクトル検出手段と
を備えることを特徴とする動きベクトル検出装置。
【請求項２０】  上記ヒストグラムテーブル生成手段は、
上記探索範囲の画素数に対応した複数の加算器と、
上記複数の加算器にそれぞれ対応した複数の記憶領域を有する記憶手段と、
上記計数値テーブル生成手段で得られた計数値テーブルの複数の計数値をそれぞれ度数とし、該複数の度数のそれぞれを、上記記憶手段の複数の記憶領域に記憶されていた記憶データのそれぞれに、上記複数の加算器を用いて足し込み、該複数の加算器で得られた足し込みデータのそれぞれを上記記憶手段の複数の記憶領域に記憶することを、上記計数値テーブル生成手段で得られる上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した複数の計数値テーブルの個数分だけ繰り返し、上記記憶手段に、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルが得られるように制御する制御手段とを有する
ことを特徴とする請求項１９に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２１】  上記記憶手段は半導体メモリであって、少なくとも上記複数の加算器および上記半導体メモリは一体化されており、
上記加算器を構成するビット単位の複数の加算部は、上記半導体メモリのカラムのピッチに揃えて配されている
ことを特徴とする請求項２０に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２２】  上記記憶手段は半導体メモリであって、
該半導体メモリは上記複数の加算器に関連して設けられた書き込みおよび読み出し用の第１のポートと、上記度数の累積値を読み出すための読み出し専用の第２のポートとを有する
ことを特徴とする請求項２０に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２３】  上記計数値テーブル生成手段は、
上記差分絶対値がその閾値より小さいときは、該差分絶対値が小さい程絶対値の大きな値を上記計数値とする
ことを特徴とする請求項１９に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２４】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求め、該各画素データ毎に、アクティビティの最大アクティビティに対する割合が高い程大きな値を補正係数として得る補正係数取得手段と、
上記計数値テーブル生成手段で得られた上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値テーブルの計数値に、それぞれ該各画素データに対応した補正係数を掛けて補正する計数値補正手段とをさらに備える
ことを特徴とする請求項１９に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２５】  上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に周囲におけるアクティビティを求めるアクティビティ算出手段と、
上記計数値テーブル生成手段で上記参照ブロックを構成する各画素データに対応した計数値を得る際に使用される上記閾値を、それぞれ該各画素データに対応したアクティビティに基づいて変更する閾値変更手段とをさらに備え、
上記閾値変更手段は、アクティビティが大きい程上記閾値を大きくする
ことを特徴とする請求項１９に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２６】  上記動きベクトル検出手段で検出された動きベクトルに基づいて、上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルを特定する動きベクトル特定手段をさらに備え、
上記動きベクトル特定手段は、
参照ブロックを構成する画素データと該画素データの画素位置を基準として上記動きベクトル検出手段で検出された各動きベクトルに対応した上記探索フレームの画素位置の画素データとの間の相関情報を求め、最も相関が高くなる場合の動きベクトルを該参照ブロックを構成する画素データの動きベクトルとする
ことを特徴とする請求項１９に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２７】  上記動きベクトル特定手段で特定される上記参照ブロックを構成する各画素データの動きベクトルより孤立した動きベクトルを除去する孤立点除去手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項２６に記載の動きベクトル検出装置。
【請求項２８】  時間的に前後する参照フレームと探索フレームとから動きベクトルを検出する動きベクトル検出方法であって、
上記参照フレームの所定の参照ブロックを構成する画素データと該画素データに対応した上記探索フレームの探索範囲に存在する複数の画素データとの間のマッチング演算を、上記参照ブロックを構成する各画素データ分行うマッチング演算ステップと、
上記参照ブロックを構成する各画素データ毎に、上記マッチング演算の結果に基づき、上記探索範囲の各画素位置に対応して、マッチングの度合いがその閾値より高いときは計数値として０以外の値を配し、マッチングの度合いがその閾値以下のときは計数値として０を配した計数値テーブルを生成する計数値テーブル生成ステップと、
上記各画素データに対応した計数値テーブルの各計数値を度数とし、該度数を上記探索範囲の画素位置毎に足し込んで、上記探索範囲の各画素位置に対応して度数の累積値が配されたヒストグラムテーブルを生成するヒストグラムテーブル生成ステップと、
上記ヒストグラムテーブルの度数の極大値または極小値に基づいて、上記参照ブロックの動きベクトルを検出する動きベクトル検出ステップと
を備えることを特徴とする動きベクトル検出方法。