【手続補正書】
【提出日】平成18年7月5日(2006.7.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】複数画素を有し、各画素において受光した信号を対数圧縮変換してその出力値を画素毎の測光値として出力する積分型の測光センサと、該測光センサの出力が均一輝度上の被写界に対し前記各画素の出力値が特定の同一値となるように、前記各画素のレベル補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素が輝度変化に対してある特定のゲイン特性となるように、ゲイン補正演算手段により算出されるゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、
前記第１のメモリ手段は、前記複数の積分時間のうちの基準の積分時間におけるレベル補正値に関しては、画素毎にレベル補正値を格納し、他の積分時間におけるレベル補正値に関しては、前記基準の積分時間に対する各画素の単位光量当りの出力変化量の平均値と積分時間変化に伴う積分光量変化量により算出される全画素共通の一つのレベルシフト量をレベル補正値として格納することを特徴とする露出演算装置。
【請求項２】複数画素を有し、各画素において受光した信号を対数圧縮変換してその出力値を画素毎の測光値として出力する積分型の測光センサと、該測光センサの出力が均一輝度上の被写界に対し前記各画素の出力値が特定の同一値となるように、前記各画素のレベル補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素が輝度変化に対してある特定のゲイン特性となるように、ゲイン補正演算手段により算出されるゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、
前記第１のメモリ手段は、前記複数の積分時間のうちの基準の積分時間におけるレベル補正値に関しては、画素毎にレベル補正値を格納し、他の積分時間におけるレベル補正値に関しては、先に算出され前記第２のメモリ手段に格納されているゲイン補正値を用いて前記各画素の単位光量当りの出力変化量を求め、該各画素の単位光量当りの出力変化量と積分時間変化に伴う積分光量変化量により画素毎のレベルシフト量を求める際に用いられる、前記積分時間変化に伴う積分光量変化量をレベル補正値として格納することを特徴とする露出演算装置。
【請求項３】測光センサの各画素の出力レベルの補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素のゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、
前記第２のメモリ手段は、ゲイン補正値の平均値と前記各画素のゲイン補正値の差を前記各画素のゲイン補正値として格納することを特徴とする露出演算装置。
【請求項４】前記測光センサにて得られる測光値と前記第１及び第２のメモリ手段に格納された各補正値より露出値を算出する露出演算手段を有することを特徴とする請求項１，２又は３記載の露出演算装置。
【請求項５】前記第１のメモリ手段は、書き換え可能な不揮発性メモリであることを特徴とする請求項１，２又は３記載の露出演算装置。
【請求項６】前記第２のメモリ手段は、書き換え可能な不揮発性メモリであることを特徴とする請求項１，２又は３記載の露出演算装置。
【請求項７】前記第１のメモリ手段と前記第２のメモリ手段は、書き換え可能な一つの不揮発性メモリより成ることを特徴とする請求項１，２又は３記載の露出演算装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００２】
【従来の技術】受光部からの電気信号を対数圧縮変換し、各画素の測光出力として出力する多分割積分型測光センサを用い、全画素の測光出力が輝度変化を伴う均一輝度面の被写界に対してある特定の同一の出力値を得るように、測光センサの各画素に対しレベル補正、ゲイン補正を施し、その各々の補正値と測光センサ出力値より露出値を演算する露出演算装置において、補正値を格納するメモリに対しては、各画素毎にレベル補正値、ゲイン補正値を持たせていた。例えば、６分割の測光センサにおいて、１画素辺りのレベル補正値、ゲイン補正値が各々１byte必要だとすると、全画素の補正に必要なメモリ量は「２byte×６＝１２byte」の容量が必要となっていた。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成するために、請求項１記載の本発明は、複数画素を有し、各画素において受光した信号を対数圧縮変換してその出力値を画素毎の測光値として出力する積分型の測光センサと、該測光センサの出力が均一輝度上の被写界に対し前記各画素の出力値が特定の同一値となるように、前記各画素のレベル補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素が輝度変化に対してある特定のゲイン特性となるように、ゲイン補正演算手段により算出されるゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、前記第１のメモリ手段が、前記複数の積分時間のうちの基準の積分時間におけるレベル補正値に関しては、画素毎にレベル補正値を格納し、他の積分時間におけるレベル補正値に関しては、前記基準の積分時間に対する各画素の単位光量当りの出力変化量の平均値と積分時間変化に伴う積分光量変化量により算出される全画素共通の一つのレベルシフト量をレベル補正値として格納する露出演算装置とするものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
同じく上記第１の目的を達成するために、請求項２記載の本発明は、複数画素を有し、各画素において受光した信号を対数圧縮変換してその出力値を画素毎の測光値として出力する積分型の測光センサと、該測光センサの出力が均一輝度上の被写界に対し前記各画素の出力値が特定の同一値となるように、前記各画素のレベル補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素が輝度変化に対してある特定のゲイン特性となるように、ゲイン補正演算手段により算出されるゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、前記第１のメモリ手段が、前記複数の積分時間のうちの基準の積分時間におけるレベル補正値に関しては、画素毎にレベル補正値を格納し、他の積分時間におけるレベル補正値に関しては、先に算出され前記第２のメモリ手段に格納されているゲイン補正値を用いて前記各画素の単位光量当りの出力変化量を求め、該各画素の単位光量当りの出力変化量と積分時間変化に伴う積分光量変化量により画素毎のレベルシフト量を求める際に用いられる、前記積分時間変化に伴う積分光量変化量をレベル補正値として格納する露出演算装置とするものである。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、上記第２の目的を達成するために、請求項３記載の本発明は、測光センサの各画素の出力レベルの補正値を算出するレベル補正演算手段により算出される複数の積分時間に対応したレベル補正値を格納する第１のメモリ手段と、前記各画素のゲイン補正値を格納する第２のメモリ手段とを有し、前記第２のメモリ手段が、ゲイン補正値の平均値と前記各画素のゲイン補正値の差を前記各画素のゲイン補正値として格納する露出演算装置とするものである。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
図３において、１は、複数の画素を有し、撮影レンズを通した光を各画素毎に測光し、各画素では受光した信号を対数圧縮変換し、その出力値を各画素毎の測光値として出力する測光センサであり、この出力は露出演算部３内のＡ／Ｄ変換器９によりＡ／Ｄ変換され、補正演算部２と露出演算部３内のＲＡＭ６に出力される。２は補正演算部であり、二つの輝度に対する前記Ａ／Ｄ変換されたセンサ出力よりゲイン補正値を算出するゲイン補正演算部４、一つの輝度に対する前記Ａ／Ｄ変換されたセンサ出力よりレベル補正値を算出するレベル補正演算部５を有しており、各々で算出された補正値は、露出演算部３内のＲＯＭ７に保存される。なお、ＲＯＭ７に書かれた補正値は、露出値のチェック後、再度補正値を変更する可能性が有る為、該ＲＯＭ７は書き換え可能なＥＥＰＲＯＭ等を用いられる。ここで、前記補正演算部２は、カメラに具備される露出演算部３内のＡ／Ｄ変換器９からセンサ出力を読み込み、算出した補正値を露出演算部ＲＯＭに書き込む為の手段であり、カメラとは独立した、該カメラと通信可能な工具（ＰＣ等）である。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
図５に示す式（１）は、センサの出力特性１６をカメラ固有の露出特性１５に変換する為の基本式である。 GAIN ，LEVEL とは、ゲインとレベルの補正値であり、また、Ｔは温度に対する補正値、AEBaseは温度に関わらずセンサ出力が変化しない値であり、Ｔ，AEBaseはそのセンサの温度における固有の値である。尚、Ｔ，AEBaseは本発明の本筋と外れるためこれ以上の説明は省略する。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
次に、異なる積分時間に対してのレベルシフト補正を行う際には、ゲイン算出時に得られる輝度ａ，ｂのセンサ出力値（測光値）ＡＤ(a) ，ＡＤ(b) より、式（８）を用いて各画素の出力変化特性を算出する（＃９）。さらに、その平均値を算出し（＃１０）、式（９）を用いる事で全画素の平均的なレベルシフト量を算出する（＃１１）。更に、図２に示すように、全画素の共通のレベルシフト量として、メモリに保存する（＃１２）。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１又は２記載の本発明によれば、レベル補正値を格納する為のメモリ領域を少なくすることができ、しかも、全画素の複数の積分時間に対応した、信頼性の高い、測光センサの出力補正を行うことができる露出演算装置を提供できるものである。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
また、請求項３記載の本発明によれば、ゲイン補正値を格納する為のメモリ領域を少なくすることができる露出演算装置を提供できるものである。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
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