(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源により発生された電流をデバイスに供給する同軸ケーブルユニットであって、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を有する第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を有する第２の同軸ケーブルと
を備え、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、前記電源から前記デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、前記デバイスから前記電源の方向に電流を流す
同軸ケーブルユニット。
【請求項２】
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、互いに並列に接続され、前記電源から前記デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、互いに並列に接続され、前記電源により発生されて前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体を流れた電流を、前記デバイスから前記電源の方向に流す
請求項１に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項３】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされている請求項１または２に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項４】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされている請求項１または２に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項５】
デバイスに電流を供給する電源装置であって、
電源と、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を有する第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を有する第２の同軸ケーブルと
を備え、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、互いに並列に接続され、前記電源から前記デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、互いに並列に接続され、前記電源により発生されて前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体を流れた電流を、前記デバイスから前記電源の方向に流す
電源装置。
【請求項６】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされている請求項５に記載の電源装置。
【請求項７】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされている請求項５に記載の電源装置。
【請求項８】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
電流を発生させる電源と、
前記電源により発生された電流を前記被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットと、
前記被試験デバイスに電流が供給された場合に前記被試験デバイスに印加される電圧を検出する検出部と、
前記検出部により検出された電圧に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記同軸ケーブルユニットは、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルと
を有し、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、前記電源から前記被試験デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、前記被試験デバイスから前記電源の方向に電流を流す
試験装置。
【請求項９】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
電流を発生させる電源と、
前記電源により発生された電流を前記被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットと、
前記被試験デバイスに電圧が印加された場合に前記被試験デバイスに供給される電流を検出する検出部と、
前記検出部により検出された電流に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記同軸ケーブルユニットは、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルと
を有し、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、前記電源から前記被試験デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、前記被試験デバイスから前記電源の方向に電流を流す
試験装置。
【請求項１０】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスに供給する試験信号のパターンを発生するパターン発生部と、
前記被試験デバイスに前記試験信号を供給するタイミングを発生するタイミング発生部と、
前記パターン発生部が発生した前記パターン、及び前記タイミング発生部が発生した前記タイミングに基づいて、前記試験信号の波形を成形する波形成形部と、
前記波形成形部によって波形が成形された前記試験信号を、前記被試験デバイスに供給するドライバと、
供給された前記試験信号に対応して前記被試験デバイスから出力された出力信号を基準電圧と比較するコンパレータと、
前記コンパレータによる比較結果を期待値と比較することにより、前記被試験デバイスの良否を判定する論理比較部と、
前記被試験デバイスに供給する電流を発生させる電源と、
前記電源により発生された電流を前記被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットと
を備え、
前記同軸ケーブルユニットは、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルと
を有し、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、前記電源から前記被試験デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、前記被試験デバイスから前記電源の方向に電流を流す
試験装置。
【請求項１１】
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、互いに並列に接続され、前記電源から前記デバイスの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、互いに並列に接続され、前記電源により発生されて前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体を流れた電流を、前記デバイスから前記電源の方向に流す
請求項８から１０のいずれかに記載の試験装置。
【請求項１２】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされている請求項８から１１のいずれかに記載の試験装置。
【請求項１３】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされている請求項８から１１のいずれかに記載の試験装置。
【請求項１４】
電源が発生した電流により駆動されるＣＰＵシステムであって、
プログラムに基づいて演算処理を行うＣＰＵと、
前記電源が発生した電流を前記ＣＰＵに供給する同軸ケーブルユニットと
を備え、
前記同軸ケーブルユニットは、
第１の内部導体、及び前記第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、
第２の内部導体、及び前記第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルと
を有し、
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、前記電源から前記ＣＰＵの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、前記ＣＰＵから前記電源の方向に電流を流す
ＣＰＵシステム。
【請求項１５】
前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体は、互いに並列に接続され、前記電源から前記ＣＰＵの方向に電流を流し、
前記第１の外部導体及び前記第２の内部導体は、互いに並列に接続され、前記電源により発生されて前記第１の内部導体及び前記第２の外部導体を流れた電流を、前記ＣＰＵから前記電源の方向に流す
請求項１４に記載のＣＰＵシステム。
【請求項１６】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされている請求項１４または１５に記載のＣＰＵシステム。
【請求項１７】
前記第１の同軸ケーブル及び前記第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされている請求項１４または１５に記載のＣＰＵシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、同軸ケーブル、より対線ケーブル、同軸ケーブルユニット、試験装置、及びＣＰＵシステムに関する。特に本発明は、電源により発生された電流をデバイスに供給する同軸ケーブル、より対線ケーブル、及び同軸ケーブルユニット、当該同軸ケーブルユニットを備える試験装置、並びに当該同軸ケーブル、当該より対線ケーブル、または当該同軸ケーブルユニットを備えるＣＰＵシステムに関する。
文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。
米国特許願１０／７３８，６１７    出願日  ２００３年１２月１７日
【背景技術】
【０００２】  図１は、本発明の関連技術に係る試験装置１００の構成を示すブロック図である。試験装置１００は、ＤＵＴ（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ：被試験デバイス）１１０に予め定められた電流を供給し、ＤＵＴ１１０に印加される電圧を測定する電流印加電圧試験を行う。試験装置１００は、電源１２０、同軸ケーブルユニット１３０、検出部１６０、及び判定部１７０を備える。【０００３】  電源１２０は、電流を発生し、同軸ケーブルユニット１３０に送る。同軸ケーブルユニット１３０は、第１の同軸ケーブル１４０、及び第２の同軸ケーブル１５０を有し、電源１２０が発生した電流をＤＵＴ１１０に供給する。第１の同軸ケーブル１４０は、第１の内部導体１４２、及び第１の内部導体１４２の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体１４４を含む。第１の内部導体１４２及び第１の外部導体１４４は、電源１２０からＤＵＴ１１０の方向に電流を流す。第２の同軸ケーブル１５０は、第２の内部導体１５２、及び第２の内部導体１５２の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体１５４を含む。第２の内部導体１５２及び第２の外部導体１５４は、ＤＵＴ１１０から電源１２０の方向に電流を流す。【０００４】  検出部１６０は、電源１２０により発生された電流がＤＵＴ１１０に供給された場合にＤＵＴ１１０に印加される電圧を検出し、検出した電圧を判定部１７０に送る。判定部１７０は、検出部１６０により検出された電圧に基づいて、ＤＵＴ１１０の良否を判定する。【０００５】  本発明の関連技術に係る試験装置１００によれば、同軸ケーブルユニット１３０を用いることにより、ＤＵＴ１１０に大電流を供給して電流印加電圧試験を行うことができる。【０００６】  現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】  図２は、本発明の関連技術に係る同軸ケーブルユニット１３０の等価回路を示す。第１の同軸ケーブル１４０は、Ｓ１からＳ２の方向に電流を流す。第１の内部導体１４２の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ１を有する、直列に接続された複数のコイル１４６を含む。第１の外部導体１４４の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ２を有する、直列に接続された複数のコイル１４８を含む。第２の同軸ケーブル１５０は、Ｇ２からＧ１の方向に電流を流す。第２の内部導体１５２の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ１を有する、直列に接続された複数のコイル１５６を含む。第２の外部導体１５４の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ２を有する、直列に接続された複数のコイル１５８を含む。【０００８】  電源１２０により発生される電流が変化した場合、第１の内部導体１４２を流れる電流が変化することにより、コイル１４６により発生される磁束が変化する。これにより、第１の内部導体１４２に自己誘導起電力が発生する。発生した自己誘導起電力は、第１の内部導体１４２における電流の流れを妨げるように作用する。また、電源１２０により発生される電流が変化した場合、第１の外部導体１４４を流れる電流が変化することにより、コイル１４８により発生される磁束が変化する。これにより、コイル１４６に交差する磁束が変化して第１の内部導体１４２に相互誘導起電力が発生する。発生した相互誘導起電力は、第１の内部導体１４２における電流の流れを妨げるように作用する。同様に、第１の外部導体１４４、第２の内部導体１５２、及び第２の外部導体１５４のそれぞれにおいても、発生した自己誘導起電力及び相互誘導起電力は、それぞれの導体における電流の流れを妨げるように作用する。【０００９】  本発明の関連技術に係る試験装置１００において作用する誘導起電力により、同軸ケーブルユニット１３０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性が低下する。具体的には、これらの誘導起電力により、試験装置１００は、電源１２０により発生される電流が変化してからＤＵＴ１１０に供給する電流が変化するまでに、より多くの時間を要する。このため、急激な電流の変化が必要とされる場合に、精度よく試験することが困難であった。【００１０】  そこで本発明は、上記の課題を解決することができる同軸ケーブル、より対線ケーブル、同軸ケーブルユニット、試験装置、及びＣＰＵシステムを提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】  本発明の第１の形態によれば、電源により発生された電流をデバイスに供給する同軸ケーブルであって、内部導体と、内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた外部導体とを備え、内部導体及び外部導体のうち一方は、電源からデバイスの方向に電流を流し、内部導体及び外部導体のうち他方は、デバイスから電源の方向に電流を流す。内部導体及び外部導体が一纏めにシールドされていてもよい。【００１２】  また、本発明の第２の形態によれば、電源により発生された電流をデバイスに供給するより対線ケーブルであって、電源からデバイスの方向に電流を流すＡ導体と、Ａ導体とより合わされ、デバイスから電源の方向に電流を流すＢ導体とを備える。【００１３】  また、本発明の第３の形態によれば、電源により発生された電流をデバイスに供給する同軸ケーブルユニットであって、第１の内部導体、及び第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を有する第１の同軸ケーブルと、第２の内部導体、及び第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を有する第２の同軸ケーブルとを備え、第１の内部導体及び第２の外部導体は、電源からデバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、デバイスから電源の方向に電流を流す。【００１４】  第１の内部導体及び第２の外部導体は、互いに並列に接続され、電源からデバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、互いに並列に接続され、デバイスから電源の方向に電流を流してもよい。第１の同軸ケーブル及び第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされていてもよい。第１の同軸ケーブル及び第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされていてもよい。【００１５】  また、本発明の第４の形態によれば、被試験デバイスを試験する試験装置であって、電流を発生させる電源と、電源により発生された電流を被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットと、被試験デバイスに電流が供給された場合に被試験デバイスに印加される電圧を検出する検出部と、検出部により検出された電圧に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備え、同軸ケーブルユニットは、第１の内部導体、及び第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、第２の内部導体、及び第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルとを有し、第１の内部導体及び第２の外部導体は、電源から被試験デバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、被試験デバイスから電源の方向に電流を流す。【００１６】  また、本発明の第５の形態によれば、被試験デバイスを試験する試験装置であって、電流を発生させる電源と、電源により発生された電流を被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットと、被試験デバイスに電圧が印加された場合に被試験デバイスに供給される電流を検出する検出部と、検出部により検出された電流に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備え、同軸ケーブルユニットは、第１の内部導体、及び第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、第２の内部導体、及び第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルとを有し、第１の内部導体及び第２の外部導体は、電源から被試験デバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、被試験デバイスから電源の方向に電流を流す。【００１７】  また、本発明の第６の形態によれば、被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに供給する試験信号のパターンを発生するパターン発生部と、被試験デバイスに試験信号を供給するタイミングを発生するタイミング発生部と、パターン発生部が発生したパターン、及びタイミング発生部が発生したタイミングに基づいて、試験信号の波形を成形する波形成形部と、波形成形部によって波形が成形された試験信号を、被試験デバイスに供給するドライバと、供給された試験信号に対応して被試験デバイスから出力された出力信号を基準電圧と比較するコンパレータと、コンパレータによる比較結果を期待値と比較することにより、被試験デバイスの良否を判定する論理比較部と、被試験デバイスに供給する電流を発生させる電源と、電源により発生された電流を被試験デバイスに供給する同軸ケーブルユニットとを備え、同軸ケーブルユニットは、第１の内部導体、及び第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、第２の内部導体、及び第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルとを有し、第１の内部導体及び第２の外部導体は、電源から被試験デバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、被試験デバイスから電源の方向に電流を流す。【００１８】  また、本発明の第７の形態によれば、電源が発生した電流により駆動されるＣＰＵシステムであって、プログラムに基づいて演算処理を行うＣＰＵと、電源が発生した電流をＣＰＵに供給する同軸ケーブルとを備え、同軸ケーブルは、内部導体と、内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた外部導体とを有し、内部導体及び外部導体のうち一方は、電源からＣＰＵの方向に電流を流し、内部導体及び外部導体のうち他方は、ＣＰＵから電源の方向に電流を流す。内部導体及び外部導体が一纏めにシールドされている。【００１９】  また、本発明の第８の形態によれば、電源が発生した電流により駆動されるＣＰＵシステムであって、プログラムに基づいて演算処理を行うＣＰＵと、電源が発生した電流をＣＰＵに供給するより対線ケーブルとを備え、より対線ケーブルは、電源からＣＰＵの方向に電流を流すＡ導体と、Ａ導体とより合わされ、ＣＰＵから電源の方向に電流を流すＢ導体とを有する。【００２０】  また、本発明の第９の形態によれば、電源が発生した電流により駆動されるＣＰＵシステムであって、プログラムに基づいて演算処理を行うＣＰＵと、電源が発生した電流をＣＰＵに供給する同軸ケーブルユニットとを備え、同軸ケーブルユニットは、第１の内部導体、及び第１の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体を含む第１の同軸ケーブルと、第２の内部導体、及び第２の内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体を含む第２の同軸ケーブルとを有し、第１の内部導体及び���２の外部導体は、電源からＣＰＵの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、ＣＰＵから電源の方向に電流を流す。【００２１】  第１の内部導体及び第２の外部導体は、互いに並列に接続され、電源からデバイスの方向に電流を流し、第１の外部導体及び第２の内部導体は、互いに並列に接続され、デバイスから電源の方向に電流を流してもよい。第１の同軸ケーブル及び第２の同軸ケーブルのそれぞれがシールドされていてもよい。第１の同軸ケーブル及び第２の同軸ケーブルが一纏めにシールドされていてもよい。【００２２】  なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた発明となりうる。
【発明の効果】
【００２３】  本発明によれば、同軸ケーブル、より対線ケーブル、及び同軸ケーブルユニットにおける入力電流の変化に対する出力電流の応答性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の関連技術に係る試験装置１００の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の関連技術に係る同軸ケーブルユニット１３０の等価回路を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る試験装置２００の構成の一例を示すブロック図である。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る同軸ケーブルユニット２３０の等価回路の一例を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施形態に係る試験装置３００の構成の一例を示すブロック図である。
【図６】本発明の第３の実施形態に係るコンピュータシステム４００の構成の一例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００２５】１００  試験装置、１１０  ＤＵＴ、１２０  電源、１３０  同軸ケーブルユニット、１４０  第１の同軸ケーブル、１４２  第１の内部導体、１４４  第１の外部導体、１４６  コイル、１４８  コイル、１５０  第２の同軸ケーブル、１５２  第２の内部導体、１５４  第２の外部導体、１５６  コイル、１５８  コイル、１６０  検出部、１７０  判定部、２００  試験装置、２１０  ＤＵＴ、２２０  電源、２３０  同軸ケーブルユニット、２４０  第１の同軸ケーブル、２４２  第１の内部導体、２４４  第１の外部導体、２４６  コイル、２４８  コイル、２５０  第２の同軸ケーブル、２５２  第２の内部導体、２５４  第２の外部導体、２５６  コイル、２５８  コイル、２６０  検出部、２７０  判定部、３００  試験装置、３１０  ＤＵＴ、３２０  パターン発生部、３２５  タイミング発生部、３３０  波形成形部、３３５  ドライバ、３４０  コンパレータ、３４５  論理比較部、３５０  電源、３５５  同軸ケーブルユニット、３６０  第１の同軸ケーブル、３６２  第１の内部導体、３６４  第１の外部導体、３７０  第２の同軸ケーブル、３７２  第２の内部導体、３７４  第２の外部導体、４００  ＣＰＵシステム、４１０  ＣＰＵユニット、４１２  ＣＰＵ、４１４  ホストコントローラ、４１６  ＲＡＭ、４１８  入出力コントローラ、４２０  ＲＯＭ、４３０  ハードディスクドライブ、４４０  電源、４５０  同軸ケーブルユニット、４６０  第１の同軸ケーブル、４６２  第１の内部導体、４６４  第１の外部導体、４７０  第２の同軸ケーブル、４７２  第２の内部導体、４７４  第２の外部導体
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】  以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。【００２７】  図３は、本発明の第１の実施形態に係る試験装置２００の構成の一例を示すブロック図である。試験装置２００は、ＤＵＴ２１０に予め定められた電流を供給し、ＤＵＴ２１０に印加される電圧を測定する電流印加電圧試験と、ＤＵＴ２１０に予め定められた電圧を印加し、ＤＵＴ２１０に供給される電流を測定する電圧印加電流試験とを行うが、以下、電流印加電圧試験を行う場合を例として、試験装置２００を説明する。試験装置２００は、電源２２０、同軸ケーブルユニット２３０、検出部２６０、及び判定部２７０を備える。【００２８】  本発明の第１の実施形態に係る試験装置２００は、電流の伝送路として同軸ケーブルユニット２３０を用いることにより、試験に必要な大電流をＤＵＴ２１０に供給する。ここで、試験装置２００は、同軸ケーブルユニット２３０に含まれる同軸ケーブルにおいて、内部導体と外部導体とで互いに異なる方向に電流を流すことにより、電流が変化した場合に発生する自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させる。これにより、同軸ケーブルユニット２３０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性を向上させ、急激な電流の変化が必要とされる場合であっても、精度よく試験することを目的とする。【００２９】  電源２２０は、電流を発生させ、同軸ケーブルユニット２３０に送る。同軸ケーブルユニット２３０は、第１の同軸ケーブル２４０、及び第２の同軸ケーブル２５０を有し、電源２２０により発生された電流をＤＵＴ２１０に供給する。ここで、第１の同軸ケーブル２４０及び第２の同軸ケーブル２５０は、例えば束ねられているという様に互いに近接している必要はなく、互いに離れていてもよい。第１の同軸ケーブル２４０は、第１の内部導体２４２、及び第１の内部導体２４２の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体２４４を含む。第２の同軸ケーブル２５０は、第２の内部導体２５２、及び第２の内部導体２５２の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体２５４を含む。第１の内部導体２４２及び第２の外部導体２５４は、互いに並列に接続され、電源２２０からＤＵＴ２１０の方向に電流を流す。第１の外部導体２４４及び第２の内部導体２５２は、互いに並列に接続され、ＤＵＴ２１０から電源２２０の方向に電流を流す。【００３０】  検出部２６０は、電源２２０により発生された電流がＤＵＴ２１０に供給された場合にＤＵＴ２１０に印加される電圧を検出し、検出した電圧を判定部２７０に送る。判定部２７０は、検出部２６０により検出された電圧に基づいて、ＤＵＴ２１０の良否を判定する。例えば、判定部２７０は、検出部２６０により検出された電圧を、アナログデジタルコンバータを用いてデジタルデータに変換し、当該デジタルデータを予め定められた期待値と比較することにより、ＤＵＴ２１０の良否を判定する。【００３１】  なお、検出部２６０は、本例において、電源２２０により発生された電流がＤＵＴ２１０に供給された場合にＤＵＴ２１０に印加される電圧を検出したが、電圧印加電流試験においては、電源２２０により発生された電圧がＤＵＴ２１０に印加された場合にＤＵＴに供給される電流を検出してもよい。この場合、判定部２７０は、検出部２６０により検出された電流に基づいて、ＤＵＴ２１０の良否を判定する。【００３２】  本発明の第１の実施形態に係る試験装置２００によれば、第１の内部導体２４２及び第２の外部導体２５４が互いに並列に接続され、また、第１の外部導体２４４及び第２の内部導体２５２が互いに並列に接続されることにより、電源２２０により発生された大電流をＤＵＴ２１０に供給して電流印加電圧試験及び電圧印加電流試験を行うことができる。【００３３】  なお、同軸ケーブルユニット２３０が有する第１の同軸ケーブル２４０及び第２の同軸ケーブル２５０は、シールドされていてもよい。この場合、第１の同軸ケーブル２４０及び第２の同軸ケーブル２５０のそれぞれがシールドされていてもよく、また、第１の同軸ケーブル２４０及び第２の同軸ケーブル２５０が一纏めにシールドされていてもよい。同軸ケーブルユニット２３０が有する同軸ケーブルがシールドされることにより、同軸ケーブルユニット２３０に対する外部からのノイズの影響を低減させて、同軸ケーブルユニット２３０が供給する電流の品質を高めることができる。【００３４】  図４は、本発明の第１の実施形態に係る同軸ケーブルユニット２３０の等価回路の一例を示す。第１の内部導体２４２の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ１を有する、直列に接続された複数のコイル２４６を含む。第１の外部導体２４４の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ２を有する、直列に接続された複数のコイル２４８を含む。第２の内部導体２５２の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ１を有する、直列に接続された複数のコイル２５６を含む。第２の外部導体２５４の等価回路は、それぞれが自己インダクタンスＬ２を有する、直列に接続された複数のコイル２５８を含む。第１の内部導体２４２及び第２の外部導体２５４は、Ｓ１からＳ２の方向に電流を流す。第１の外部導体２４４及び第２の内部導体２５２は、Ｇ２からＧ１の方向に電流を流す。【００３５】  電源２２０により発生される電流が変化した場合、第１の内部導体２４２を流れる電流が変化することにより、コイル２４６により発生される磁束が変化する。これにより、第１の内部導体２４２に自己誘導起電力が発生する。発生した自己誘導起電力は、Ｓ２からＳ１の方向、即ち第１の内部導体２４２における電流の方向とは逆の方向に電流を流すべく作用する。また、電源２２０により発生される電流が変化した場合、第１の外部導体２４４を流れる電流が変化することにより、コイル２４８により発生される磁束が変化する。これにより、コイル２４６に交差する磁束が変化して第１の内部導体２４２に相互誘導起電力が発生する。発生した相互誘導起電力は、Ｓ１からＳ２の方向、即ち第１の内部導体２４２における電流の方向と同じ方向に電流を流すべく作用する。【００３６】  従って、第１の内部導体２４２に発生した相互誘導起電力は、第１の内部導体２４２に発生した自己誘導起電力を相殺すべく作用する。つまり、第１��内部導体２４２における自己インダクタンスは実質的に低減される。これにより、第１の内部導体２４２における、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００３７】  一方、電源２２０により発生される電流が変化した場合、第１の外部導体２４４を流れる電流が変化することにより、コイル２４８により発生される磁束が変化する。これにより、第１の外部導体２４４に自己誘導起電力が発生する。発生した自己誘導起電力は、Ｇ１からＧ２の方向、即ち第１の外部導体２４４における電流の方向とは逆の方向に電流を流すべく作用する。また、電源２２０により発生される電流が変化した場合、第１の内部導体２４２を流れる電流が変化することにより、コイル２４６により発生される磁束が変化する。これにより、コイル２４８に交差する磁束が変化して第１の外部導体２４４に相互誘導起電力が発生する。発生した相互誘導起電力は、Ｇ２からＧ１の方向、即ち第１の外部導体２４４における電流の方向と同じ方向に電流を流すべく作用する。【００３８】  従って、第１の外部導体２４４に発生した相互誘導起電力は、第１の外部導体２４４に発生した自己誘導起電力を相殺すべく作用する。つまり、第１の外部導体２４４における自己インダクタンスは実質的に低減される。これにより、第１の外部導体２４４における、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。同様にして、第２の内部導体２５２及び第２の外部導体２５４のそれぞれにおける、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。以上により、同軸ケーブルユニット２３０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００３９】  ここで、第１の内部導体２４２を流れる電流を変化させた場合の第１の外部導体２４４に対する相互誘導インダクタンスＭ１２は、第１の外部導体２４４を流れる電流を変化させた場合の第１の内部導体２４２に対する相互誘導インダクタンスＭ２１とは異なっている。また、第２の同軸ケーブル２５０における相互誘導インダクタンスも同様である。従って、Ｓ１からＳ２の方向に流れる電流は、第１の内部導体２４２において相互誘導インダクタンスＭ２１による利得を得て、第２の外部導体２５４において相互誘導インダクタンスＭ１２による利得を得る。また、Ｇ２からＧ１の方向に流れる電流は、第１の外部導体２４４において相互誘導インダクタンスＭ１２による利得を得て、第２の内部導体２５２において相互誘導インダクタンスＭ２１による利得を得る。つまり、Ｓ１からＳ２の方向に流れる電流と、Ｇ２からＧ１の方向に流れる電流とは、相互誘導による利得が互いに等しいので、効率よく回路を流れることができる。【００４０】  なお、本図に示した構成は一例であり、本図の構成に多様な変更を加えてもよい。例えば、第１の内部導体２４２及び第２の内部導体２５２が互いに並列に接続されて電源２２０からＤＵＴ２１０の方向に電流を流し、第１の外部導体２４４及び第２の外部導体２５４が互いに並列に接続されてＤＵＴ２１０から電源２２０の方向に電流を流してもよい。また、例えば、第１の外部導体２４４及び第２の外部導体２５４が互いに並列に接続されて電源２２０からＤＵＴ２１０の方向に電流を流し、第１の内部導体２４２及び第２の内部導体２５２が互いに並列に接続されてＤＵＴ２１０から電源２２０の方向に電流を流してもよい。【００４１】  本発明の第１の実施形態に係る試験装置２００によれば、同軸ケーブルユニット２３０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上することにより、例えば２μｓの立ち上がり時間で１００Ａの電流を発生させる等、急激な電流の変化が必要とされる場合であっても、精度よく試験することができる。【００４２】  図３及び図４において、電源２２０によって発生された電流は、２本の同軸ケーブルを有する同軸ケーブルユニット２３０によってＤＵＴ２１０に供給されていた。しかし、電源２２０によって発生された電流は、少なくとも１本の同軸ケーブルによってＤＵＴ２１０に供給されてもよい。ここで、内部導体と、内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた外部導体とを有する当該同軸ケーブルにおいて、内部導体及び外部導体のうち一方は、電源２２０からＤＵＴ２１０の方向に電流を流すと共に、内部導体及び外部導体のうち他方は、ＤＵＴ２１０から電源２２０の方向に電流を流してよい。これにより、内部導体及び外部導体のそれぞれにおける自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、それぞれの導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００４３】  なお、この場合、当該同軸ケーブルにおいて、内部導体及び外部導体は、一纏めにシールドされていてよい。これにより、同軸ケーブルに対する外部からのノイズの影響を低減させて、同軸ケーブルが供給する電流の品質を高めることができる。【００４４】  また、電源２２０によって発生された電流は、少なくとも１本のより対線ケーブルによってＤＵＴ２１０に供給されてもよい。ここで、当該より対線ケーブルは、電源２２０からＤＵＴ２１０の方向に電流を流すＡ導体と、当該Ａ導体とより合わされ、ＤＵＴ２１０から電源２２０の方向に電流を流すＢ導体とを有していてよい。これにより、Ａ導体及びＢ導体のそれぞれにおける自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、それぞれの導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００４５】  なお、この場合、当該より対線ケーブルにおいて、Ａ導体及びＢ導体は、一纏めにシールドされていてよい。これにより、より対線ケーブルに対する外部からのノイズの影響を低減させて、より対線ケーブルが供給する電流の品質を高めることができる。【００４６】  図５は、本発明の第２の実施形態に係る試験装置３００の構成の一例を示すブロック図である。試験装置３００は、ＤＵＴ３１０に試験信号を供給すると共に、当該試験信号に対応してＤＵＴ３１０が出力した出力信号を期待値と比較することによって、ＤＵＴ３１０の良否を判定する、所謂機能試験を行う。試験装置３００は、パターン発生部３２０、タイミング発生部３２５、波形成形部３３０、ドライバ３３５、コンパレータ３４０、論理比較部３４５、電源３５０、及び同軸ケーブルユニット３５５を備える。【００４７】  本発��の第２の実施形態に係る試験装置３００は、伝送路として同軸ケーブルユニット３５５を用いることにより、ＤＵＴ３１０の駆動電流を安定してＤＵＴ３１０に供給することを目的とする。【００４８】  パターン発生部３２０は、ＤＵＴ３１０に供給する試験信号のパターンを発生する。そして、パターン発生部３２０は、発生した試験信号のパターンを、波形成形部３３０に出力する。また、パターン発生部３２０は、発生した試験信号のパターンに対応する、出力信号の期待値を更に発生する。そして、パターン発生部３２０は、発生した期待値を、論理比較部３４５に出力する。タイミング発生部３２５は、ＤＵＴ３１０に試験信号を供給するタイミングを発生する。そして、タイミング発生部３２５は、発生したタイミングを波形成形部３３０及び論理比較部３４５に出力する。【００４９】  波形成形部３３０は、パターン発生部３２０が発生した試験信号のパターンと、タイミング発生部３２５が発生した、ＤＵＴ３１０に試験信号を供給するタイミングとに基づいて、試験信号の波形を成形する。そして、波形成形部３３０は、試験信号をドライバ３３５に出力する。ドライバ３３５は、波形成形部３３０によって波形が成形された試験信号を、ＤＵＴ３１０に供給する。【００５０】  コンパレータ３４０は、ドライバ３３５によって供給された試験信号に対応してＤＵＴ３１０から出力された出力信号を、基準電圧と比較する。そして、コンパレータ３４０は、比較結果である論理値を、論理比較部３４５に出力する。論理比較部３４５は、コンパレータ３４０から受け取った、出力信号と基準電圧との比較結果である論理値、及びパターン発生部３２０から受け取った期待値を、タイミング発生部３２５から受け取ったタイミングに基づいて比較することにより、ＤＵＴ３１０の良否を判定する。具体的には、論理比較部３４５は、比較結果である論理値と期待値とが一致している場合に、ＤＵＴ３１０を合格として判定する。【００５１】  一方、電源３５０は、ＤＵＴ３１０に供給する電流を発生させる。そして、電源３５０は、発生させた電流を、同軸ケーブルユニット３５５に送る。同軸ケーブルユニット３５５は、第１の同軸ケーブル３６０、及び第２の同軸ケーブル３７０を有し、電源３５０により発生された電流をＤＵＴ３１０に供給する。第１の同軸ケーブル３６０は、第１の内部導体３６２、及び第１の内部導体３６２の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体３６４を含む。また、第２の同軸ケーブル３７０は、第２の内部導体３７２、及び第２の内部導体３７２の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体３７４を含む。そして、第１の内部導体３６２及び第２の外部導体３７４は、電源３５０からＤＵＴ３１０の方向に電流を流す。また、第１の外部導体３６４及び第２の内部導体３７２は、ＤＵＴ３１０から電源３５０の方向に電流を流す。【００５２】  つまり、図３及び図４において説明した、本発明の第１の実施形態に係る同軸ケーブルユニット２３０の場合と同様にして、同軸ケーブルユニット３５５においても、第１の内部導体３６２、第１の外部導体３６４、第２の内部導体３７２、及び第２の外部導体３７４のそれぞれにおける自己誘導起電力と相互誘���起電力とが相殺されることにより、それぞれの導体における自己インダクタンスが実質的に低減する。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。また、図３及び図４において説明した同軸ケーブルユニット２３０の場合と同様にして、同軸ケーブルユニット３５５においても、電源３５０からＤＵＴ３１０に流れる電流と、ＤＵＴ３１０から電源３５０に流れる電流とは、相互誘導による利得が互いに等しいので、効率よく電源３５０とＤＵＴ３１０との間を流れることができる。【００５３】  以上により、本発明の第２の実施形態に係る試験装置３００は、電源３５０によって発生された駆動電流を、安定してＤＵＴ３１０に供給することができる。これにより、試験信号の変化等に伴って、ＤＵＴ３１０内の回路の動作が変化する場合であっても、ＤＵＴ３１０を安定して動作させることができるので、高い精度でＤＵＴ３１０を試験することができる。【００５４】  なお、本図において、電源３５０によって発生された電流は、２本の同軸ケーブルを有する同軸ケーブルユニット３５５によってＤＵＴ３１０に供給されていたが、当該電流は、少なくとも１本の同軸ケーブルによってＤＵＴ３１０に供給されてもよい。例えば、電源３５０によって発生された電流は、本図に示した第１の同軸ケーブル３６０によってＤＵＴ３１０に供給されてもよく、また、第２の同軸ケーブル３７０によってＤＵＴ３１０に供給されてもよい。この場合であっても、当該同軸ケーブルの内部導体及び外部導体における自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、それぞれの導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。【００５５】  また、電源３５０によって発生された電流は、少なくとも１本のより対線ケーブルによってＤＵＴ３１０に供給されてもよい。ここで、当該より対線ケーブルは、電源３５０からＤＵＴ３１０の方向に電流を流すＡ導体と、当該Ａ導体とより合わされ、ＤＵＴ３１０から電源３５０の方向に電流を流すＢ導体とを有していてよい。これにより、Ａ導体及びＢ導体における自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、当該導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００５６】  図６は、本発明の第３の実施形態に係るコンピュータシステム４００の構成の一例を示すブロック図である。コンピュータシステム４００は、ＣＰＵユニット４１０、ハードディスクドライブ４３０、電源４４０、及び同軸ケーブルユニット４５０を備える。コンピュータシステム４００は、例えばＯＡＤＧ規格に基づいたパーソナルコンピュータである。【００５７】  ＣＰＵユニット４１０は、ＣＰＵ４１２、ホストコントローラ４１４、ＲＡＭ４１６、入出力コントローラ４１８、及びＲＯＭ４２０を有する。ＣＰＵユニット４１０は、例えば、パーソナルコンピュータにおけるマザーボードである。ホストコントローラ４１４は、ＣＰＵ４１２とＲＡＭ４１６とを接続する。入出力コントローラ４１８は、ホストコントローラ４１４と、ＲＯＭ４２０及びハードディスクドライブ４３０とを接続する。ＣＰＵ４１２は、ＲＡＭ４１６及びＲＯＭ４２０に格納されたプログラムに基づいて演算処理を行う。ハードディスクドライブ４３０は、コンピュータシステム４００が使用するプログラム及びデータを格納する。【００５８】  電源４４０は、電流を発生し、同軸ケーブルユニット４５０に送る。同軸ケーブルユニット４５０は、第１の同軸ケーブル４６０、及び第２の同軸ケーブル４７０を有し、ＣＰＵユニット４１０に形成された配線を介して、電源４４０が発生した電流をＣＰＵ４１２に供給する。ＣＰＵ４１２及び同軸ケーブルユニット４５０は、本発明におけるＣＰＵシステムの一例である。第１の同軸ケーブル４６０は、第１の内部導体４６２、及び第１の内部導体４６２の周囲に絶縁体を介して設けられた第１の外部導体４６４を含む。第２の同軸ケーブル４７０は、第２の内部導体４７２、及び第２の内部導体４７２の周囲に絶縁体を介して設けられた第２の外部導体４７４を含む。第１の内部導体４６２及び第２の外部導体４７４は、互いに並列に接続され、電源４４０からＣＰＵ４１２の方向に電流を流す。第１の外部導体４６４及び第２の内部導体４７２は、互いに並列に接続され、ＣＰＵ４１２から電源４４０の方向に電流を流す。【００５９】  これにより、図４に示した本発明の第１の実施形態に係る同軸ケーブルユニット２３０と同様に、第１の内部導体４６２、第１の外部導体４６４、第２の内部導体４７２、及び第２の外部導体４７４のそれぞれにおいても、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上し、同軸ケーブルユニット４５０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００６０】  本発明の第３の実施形態に係るコンピュータシステム４００によれば、同軸ケーブルユニット４５０における入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上することにより、ＣＰＵ４１２に供給する電流の変化が大きい場合であっても、ＣＰＵ４１２が必要とする電流を正確に供給することができる。【００６１】  なお、同軸ケーブルユニット４５０が有する第１の同軸ケーブル４６０及び第２の同軸ケーブル４７０は、シールドされていてもよい。この場合、第１の同軸ケーブル４６０及び第２の同軸ケーブル４７０のそれぞれがシールドされていてもよく、また、第１の同軸ケーブル４６０及び第２の同軸ケーブル４７０が一纏めにシールドされていてもよい。同軸ケーブルユニット４５０が有する同軸ケーブルがシールドされることにより、同軸ケーブルユニット４５０に対する外部からのノイズの影響を低減させて、同軸ケーブルユニット４５０が供給する電流の品質を高めることができる。【００６２】  図６において、電源４４０によって発生された電流は、２本の同軸ケーブルを有する同軸ケーブルユニット４５０によってＣＰＵユニット４１０に供給されていた。しかし、電源４４０によって発生された電流は、少なくとも１本の同軸ケーブルによってＣＰＵユニット４１０に供給されてもよい。ここで、内部導体と、内部導体の周囲に絶縁体を介して設けられた外部導体とを有する当該同軸ケーブルにおいて、内部導体及び外部導体のうち一方は、電源４４０からＣＰＵユニット４１０の方向に電流を流すと共に、内部導体及び外部導体のうち他方は、ＣＰＵユニット４��０から電源４４０の方向に電流を流してよい。これにより、内部導体及び外部導体における自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、それぞれの導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００６３】  なお、この場合、当該同軸ケーブルにおいて、内部導体及び外部導体は、一纏めにシールドされていてよい。これにより、同軸ケーブルに対する外部からのノイズの影響を低減させて、同軸ケーブルが供給する電流の品質を高めることができる。【００６４】  また、電源４４０によって発生された電流は、少なくとも１本のより対線ケーブルによってＣＰＵユニット４１０に供給されてもよい。ここで、当該より対線ケーブルは、電源４４０からＣＰＵユニット４１０の方向に電流を流すＡ導体と、当該Ａ導体とより合わされ、ＣＰＵユニット４１０から電源４４０の方向に電流を流すＢ導体とを有していてよい。これにより、Ａ導体及びＢ導体における自己誘導起電力と相互誘導起電力とを相殺させて、当該導体における自己インダクタンスを実質的に低減することができる。従って、それぞれの導体において、入力電流の変化に対する出力電流の応答性が向上する。【００６５】  なお、この場合、当該より対線ケーブルにおいて、Ａ導体及びＢ導体は、一纏めにシールドされていてよい。これにより、より対線ケーブルに対する外部からのノイズの影響を低減させて、より対線ケーブルが供給する電流の品質を高めることができる。【００６６】  以上、実施形態を用いて本発明を説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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