(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
合焦光学系を含む望遠鏡光学系と、この望遠鏡光学系からの光を受け、受光信号に変換するための光電変換部と、この光電変換部上に像を形成するための合焦駆動部と、前記光電変換部の出力信号に基づき、合焦を検出し、前記合焦駆動部を制御するための演算処理手段とを備える電子式測量機であって、前記合焦駆動部には、使用者が手動でデフォーカス量の補正を行うためのマニュアルフォーカス部材が備えられており、前記演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づき、前記合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことを特徴とする電子式測量機。
【請求項２】
インターナルレンズを含む望遠鏡光学系と、この望遠鏡光学系からの光を受け、受光信号に変換するための光電変換部と、この光電変換部上に像を形成するための合焦駆動部と、前記光電変換部の出力信号に基づき、合焦を検出し、前記合焦駆動部を制御するための演算処理手段とを備える電子式測量機であって、前記合焦駆動部には、使用者が手動でインターナルレンズを移動可能とするためのマニュアルフォーカス部材が備えられており、前記演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づく、前記インターナルレンズの移動量を認識し、前記合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことを特徴とする電子式測量機。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は電子レベルとその合焦制御方法に係わり、特に標尺のパターン像を光電変換部により電気信号に変換し、得られた電気信号によりコントラストのピークを検出し、合焦制御を行う電子レベル等に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
高低差の測定は、標尺とレベル測定器とにより測定される。標尺は、地上からの高さを示す目盛りと数値が表示されている。レベル測定器は、水平方向を視準する様に構成されている。
【０００３】
高さは水準点（高さの与えられた点）又は既知点を基準に、既知点と測定されるべき測点の差を測定する。正確に高さを測定するために、測点までを所定の距離に区切り、一区間の中間にレベル測定器を設置し、前後に置かれた標尺の目盛りを読み取り差を求める。これを繰返すことにより、高低差を測定する。
【０００４】
レベル測定器は望遠鏡のピントを標尺に合せ、標尺の目盛りを視準する。このため目盛り間の読み取り精度は、作業者の熟練度に左右される。即ち、作業者の熟練度により測定精度が異なることになる。これらの作業者の熟練度の相違による精度差を無くし、作業効率の向上を目的として電子レベルが開発された。
【０００５】
この電子レベルも、標尺と、レベル測定器である電子レベルとから構成されている。電子レベルは、標尺の目盛りを電子的に読み取るために、センサで光電変換し、数値に変換して表示機に表示する様になっており、数値はそのまま記憶装置に記憶されるので、記帳や打込み作業を簡略することができる。
【０００６】
電子レベルに使用する標尺自体は、基本的には従来のままであるが、目盛りはパターン化され、電子的に読み取り可能となっており、必ずしも測量者自体が読みとれる様には構成されていない。しかしながら、ある程度の知識があれば熟練者と同等の測量作業を行なうことができる。即ち作業者は、電子レベル装置を標尺に対して向け、ピントを合すのみである。
【０００７】
また、従来の自動合焦装置は、組立時の誤差や、周囲の湿度、温度等によって、設計値からの光学距離が変動したり、レンズの焦点位置が変化してしまうという現象が生じ、これらがフォーカス量にプラス又はマイナスの誤差（デフォーカス量）を生じさせることになる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら従来の電子レベルは、ある程度の知識があれば熟練者と同等の測量作業が行なうことができ、標尺の目盛りを読み取ることに関しては、電子的に解決することができたが、ピント合わせにおいては、熟練者と比較して精度が落ちるという問題点があった。電子レベル本体の視準を平行に保ちながらピント調整を行わないと正確な測量作業ができないからである。
【０００９】
そこで本出願人は、特願平４−３５３３４６号においてオートフォーカス電子レベルを出願したが、ピント合わせ時間の問題、コストの問題等から実用的なオートフォーカス電子レベルではないという問題点があった。
【００１０】
更に従来の自動合焦装置は、組立時の誤差や、周囲の湿度、温度等によって、フォーカス量にプラス又はマイナスの誤差を生じ、受光素子に正確に像を形成することができず、理論的なフォーカス位置と異なるフォーカス位置が算出され、デフォーカス状態になってしまうという問題点があった。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題に鑑み案出されたもので、合焦光学系を含む望遠鏡光学系と、この望遠鏡光学系からの光を受け、受光信号に変換するための光電変換部と、この光電変換部上に像を形成するための合焦駆動部と、前記光電変換部の出力信号に基づき、合焦を検出し、前記合焦駆動部を制御するための演算処理手段とを備える電子式測量機であって、前記合焦駆動部には、使用者が手動でデフォーカス量の補正を行うためのマニュアルフォーカス部材が備えられており、前記演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づき、前記合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことを特徴としている。
【００１２】
そして本発明の電子式測量機は、インターナルレンズを含む望遠鏡光学系と、前記光電変換部の出力信号に基づき、合焦を検出し、前記合焦駆動部を制御するための演算処理手段とを備える電子式測量機であって、前記合焦駆動部には、使用者が手動でインターナルレンズを移動可能とするためのマニュアルフォーカス部材が備えられており、前記演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づく、前記インターナルレンズの移動量を認識し、前記合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことを特徴としている。
【００２５】
【発明の実施の形態】
本発明は上記課題に鑑み案出されたもので、合焦駆動部に備えられたマニュアルフォーカス部材により、使用者が手動によりデフォーカス量の補正を行い、演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づき、合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことができる。
【００２６】
そして本発明の電子式測量機は、合焦駆動部に備えられたマニュアルフォーカス部材により、使用者がインターナルレンズを移動させることができ、演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づく、インターナルレンズの移動量を認識し、合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことができる。
【００３０】
「原理」
【００３１】
本実施例の測量装置は、電子レベル１と電子レベル用標尺２とから構成されている。
【００３２】
この電子レベル１の使用する電子レベル用標尺２は、図２に示す様に、第１のパターンＡと第２のパターンＢと第３のパターンＲが等間隔（ｐ）で繰り返し配置されている電子レベル用標尺２を使用している。即ち、３種のパターンを１組として各ブロックが連続して形成されており、最も左側に配置されたブロックを、０ブロックと定義し、Ｒ（０）、Ａ（０）、Ｂ（０）と記載すれば、Ｒ（１）、Ａ（１）、Ｂ（１）、Ｒ（２）、Ａ（２）、Ｂ（２）、・・・・と繰り返し配置されている。なお、全てのパターンが等間隔ｐで繰り返されているので、この間隔に対応した信号を基準信号とすることができる。
【００３３】
第１のパターンＡは６００ｍｍで１周期となる様に黒部分の幅を変調し、第２のパターンＢは５７０ｍｍで１周期となる様に黒部分の幅を変調し、第３のパターンＲは、黒幅８ｍｍで固定幅となっている。
【００３４】
ここで電子レベル用標尺２の水平位置を求める原理を説明する。
【００３５】
第１のパターンＡは、６００ｍｍで１周期となる様に、０〜１０ｍｍの変調幅で黒部分の幅を変調している。同様に、第２のパターンＢは、５７０ｍｍで１周期となる様に黒部分の幅を変調している。
【００３６】
第１のパターンＡと第２のパターンＢとは周期が僅かに異なり、両者の最小公倍数である距離で同様のパターンが現れる。この例では６００ｍｍと５７０ｍｍの最小公倍数である１１４００ｍｍで同様のパターンが現れる。従って第１のパターンＡによる信号と、第２のパターンＢによる信号との位相差は、０〜１１４００ｍｍの範囲で０〜２πまで変化することになる。
【００３７】
次に、上記電子レベル１が電子レベル用標尺２のパターンを読み取ることによる距離の測定を説明する。
【００３８】
第１のパターンＡと第２のパターンＢと第３のパターンＲの鮮明な画像から直接に信号幅を測定する。リニアセンサ１５が受光するパターンの立ち上がり、立ち下がりエッジを求めるため出力信号を微分する。これらのエッジにより、黒部分のエッジ間の間隔を求めることができる。更に、黒部分の中心に相当するビットを求める。このビットの間隔が、等間隔に配置するパターンＡ、パターンＢ、パターンＲのピッチｐであり基準信号となる。
【００３９】
そして水平位置に相当するアドレス位置（第ｍビット）を求めると、基準信号の幅は、電子レベル用標尺２上で１０ｍｍに相当するため、前後の基準信号をそれぞれＮｆ（第Ｎｆ ビット）、Ｎｂ（第Ｎｂビット）とすれば、
【００４０】
Ｈ１＝ （（ｍ−Ｎｆ）／（Ｎｂ−Ｎｆ））＊１０ ・・・    第１式
【００４１】
となる。（精測定）
【００４２】
また、基準信号のスタート位置と最終位置の基準信号の間隔から、電子レベル１と電子レベル用標尺２との概略距離を求めることができる。
【００４３】
次に、一定幅である第３のパターンＲを認識し、第３のパターンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢの順に配置されていることから、黒部分の幅を最初より３個毎に間引き、第３のパターンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢの対応が決定する。更に水平位置に相当するリニアセンサ１５のアドレス位置（第ｍビット目）を含む基準信号が、第３のパターンＲ、第１のパターンＡ、第２のパターンＢの何番目ブロックに属するかを決定する（粗測定）。この精測定と粗測定を桁合せする水平位置が測定される。
【００４４】
本出願人が出願した特願平４−３５３３４６号では、遠距離測定ではフーリエ変換を基本に行い、近距離測定ではエッジ検出に基づいて計測していたが、本発明では、遠近切替が不要となるエッジ検出のみによる計測を行っている。
【００４５】
【実施例】
【００４６】
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【００４７】
図１〜図３に示す様に、本実施例の測量装置は、電子レベル１と、電子レベル用標尺２とからなっている。電子レベル１は、図３に示す様に整準装置１００上に載置されており、図１に示す様に、対物レンズ部１１と、コンペンセータ１２と、ビームスプリッタ１３と、接眼レンズ部１４と、リニアセンサ１５と、演算処理手段１６と、駆動部１７とから構成されている。
【００４８】
対物レンズ部１１は、電子レベル用標尺２のパターンの像を形成するためのものである。本実施例の対物レンズ部１１は、対物レンズ１１１とインターナルレンズ１１２とから構成されており、インターナルレンズ１１２を移動させることにより、電子レベル用標尺２のパターン像を焦点板１４１とリニアセンサ１５とに対するピント合わせを行うことができる。
【００４９】
焦点板１４１とリニアセンサ１５とは当然に像を結像する事において共役な関係にある。従ってインターナルレンズ１１２は合焦駆動部の一部に該当する。コンペンセータ１２は、電子レベル１の光軸が多少傾いても、視準線を自動的に水平にするための自動補償機構であり、水平光線を上下に変化させて結像させるものである。ビームスプリッタ１３は、光を接眼レンズ部１４方向と、リニアセンサ１５方向に分割させるためのものである。接眼レンズ部１４は、測量者が、電子レベル用標尺２を目視するためのものである。焦点板１４１は接眼レンズ部１４の前に置かれ、視準軸に対する十字線が描かれ共に視準像を結像される。十字線に像を一致させる事により視準方向となる。更に焦点板１４１の前には図示しないが、反射ミラー又はプリズム構成される正立光学系が置かれている。
【００５０】
リニアセンサ１５はパターン検出部に該当するもので、対物レンズ部によって形成された電子レベル用標尺２のパターン像を電気信号に変換する。検出信号に基づいてレベル検出及びオートフォーカスする。本実施例では、ＣＣＤリニアセンサが使用されている。このリニアセンサ１５は、ホトダイオードを少なくとも１次元的に配置したリニアイメージセンサであれば、何れのセンサを採用することができる。なお、図におけるリニアセンサ１５は光軸と垂直に置かれた標尺と平行になるように配置されている。これにより省配置スペースとする事が出来る。なおリニアセンサ１５は、光電変換部に該当するものである。
【００５１】
演算処理手段１６は、アンプ１６１と、サンプルホールド１６２と、Ａ／Ｄ変換器１６３と、ＲＡＭ１６４と、クロックドライバ１６５と、マイクロコンピュータ１６６と、表示器１６７とから構成されている。駆動部１７は、インターナルレンズ１１２を移動させるためのものである。
【００５２】
駆動部１７は、演算処理手段１６の演算結果に基づき、インターナルレンズ１１２を所定量移動させるためのものである。この本実施例の駆動部１７は、円弧モータが採用されているが、超音波モータ等の様にインターナルレンズ１１２を往復移動させることができるものであれば、何れの駆動手段を採用することができる。なお駆動部１７には、エンコーダ１７１が取り付けられている。
【００５３】
次に電子レベル用標尺２は、図２に示す様に、第１のパターンＡと第２のパターンＢと第３のパターンＲが等間隔（ｐ）で長手方向に繰り返し配置されている。ここで本実施例の電子レベル１に搭載された演算処理手段１６を詳細に説明する。
【００５４】
アンプ１６１は、リニアセンサ１５からの電気信号を増幅するものであり、サンプルホールド１６２は、増幅された電気信号をクロックドライバ１６５からのタイミング信号でサンプルホールドするものである。Ａ／Ｄ変換器１６３は、サンプルホールドされた電気信号をＡ／Ｄ変換するためのものである。そしてＲＡＭ１６４は、Ａ／Ｄ変換されたデジタル信号を記憶するためのものである。またマイクロコンピュータ１６６は、各種演算処理を行うものである。
【００５５】
そして、対物レンズ部１１とコンペンセータ１２とビームスプリッタ１３と接眼レンズ部１４とは、望遠鏡光学系に該当するものであり、リニアセンサ１５は光電変換器に該当するものである。
【００５６】
ここでマイクロコンピュータ１６６が果たす機能を図４に基づいて説明すると、演算処理手段１６は、基準信号形成部１６６１と、パターン信号形成部１６６２と、ブロック検出部１６６３と、算出部１６６４と、合焦制御部１６６５とからなり、基準信号形成部１６６１は、リニアセンサ１５から得られた電気信号から、リニアセンサ１５の出力信号を微分し、立ち上がり、立ち下がりエッジから基準信号を形成する。
【００５７】
パターン信号形成部１６６２は、３つ毎の間引き動作により、第１のパターン信号と第２のパターン信号と第３のパターン信号とを形成する。
【００５８】
ブロック検出部１６６３は、第１のパターン信号Ａの幅ＤＡ及び第２のパターン信号Ｂの幅ＤＢを比較することにより、水平位置に相当するブロックが何番目のブロックであるかを決定する。算出部１６６４は、視準線付近の特定されたブロックに基づき高低差を算出する様になっている。
【００５９】
合焦制御部１６６５は、リニアセンサ１５上に像が結像するように駆動部１７を介してインターナルレンズ１１２を制御する。本実施例のオートフォーカスの原理は、コントラスト方式を採用しているが、この方式に限定されることなく、他の方式でも良い。
【００６０】
そして合焦制御部１６６５は、インターナルレンズ１１２を前後に移動させリニアセンサ１５上の像のエッジ、コントラストが最も高い位置を検知して合焦させる様になっている。
【００６１】
そして表示器１６７は、算出部１６６４で算出された高低差を表示するもので、液晶表示等の表示手段を採用してもよく、更に、外部記憶手段等に出力させる構成としてもよい。
【００６２】
以上の様に構成された本実施例の合焦動作を図５に基づいて説明する。
【００６３】
まず、ステップ１（以下、Ｓ１と略する）で、リニアセンサ１５から得られた画像信号に基づき、合焦制御部１６６５がコントラストの演算を行う。
【００６４】
次にＳ２では、演算処理手段１６が、コントラストが一定の値（しきい値）以上であるかを判断する。Ｓ２で、コントラストの値が一定の値（しきい値）に達していない場合には、Ｓ３に進み、演算処理手段１６が駆動部１７を介してインターナルレンズ１１２を移動させる。Ｓ３では、インターナルレンズ１１２を無限遠から近距離の方向に向かってスキャン（粗測定）を開始する。
【００６５】
そしてＳ４では、演算処理手段１６が、コントラストのピークを検出する。これは、コントラストの山の頂点を検出することにより、コントラストのピークを検出している。（山登り法）
【００６６】
更にＳ５では、演算処理手段１６が、コントラストが一定の値（しきい値）以上であるかを判断する。そしてＳ５で、一定の値に達していない場合には、Ｓ６に進み、演算処理手段１６が、インターナルレンズ１１２を更に近距離の方向に向かってスキャンを続行する。
【００６７】
そしてＳ７では、粗測定で検出したコントラストのピークの位置まで、演算処理手段１６が駆動部１７を介してインターナルレンズ１１２を移動させる。この位置決めには、エンコーダ１７１の検出信号を利用する。
【００６８】
なおＳ２で、コントラストの値が一定の値（しきい値）に達している場合には、スキャン（粗測定）の必要がないので、Ｓ７に進む。同様にＳ５で、コントラストの値が一定の値（しきい値）に達している場合にも、スキャン（粗測定）の必要がないので、Ｓ７に進む様になっている。この結果、合焦動作に要する時間を飛躍的に短くすることができる。仮に、しきい値を標尺のコントラストの値に設定しておくと、標尺への合焦動作が短くなり作業時間が短縮される。
【００６９】
そしてＳ７で、コントラストのピークの位置までインターナルレンズ１１２を移動させた後、Ｓ８に進み、コントラストのピークの位置近傍でスキャン（精測定）を行う。Ｓ８のスキャンは、Ｓ３のスキャンより細かなスキャンとなっており、精度の高いピーク検出を行うことができる。
【００７０】
Ｓ８のスキャン（精測定）が完了すると、Ｓ９に進み、コントラストのピークの位置を正確に検出することができる。
【００７１】
更にＳ１０では、Ｓ９で検出したコントラストのピークの位置に基づき、演算処理手段１６が駆動部１７を介してインターナルレンズ１１２を移動させ、自動合焦が完了する。なお、この位置決めにも、エンコーダ１７１の検出信号を利用する。
【００７２】
次に図６に基づいて、電子レベル１と電子レベル用標尺２とを利用した測量作業を具体的に説明する。
【００７３】
まず、ステップ１（以下、Ｓ１と略する）で、電子レベル１を設定する。次にＳ２では、電子レベル用標尺２を測定地点に設置する。次にＳ３では、後視を行う。ここで後視とは、進行方向に対して後方向に視準することを意味する。なお、前視とは、進行方向に対して前方向に視準することを意味する。
【００７４】
次にＳ４では、前述した合焦動作によりオートフォーカスを実行する。なお、このオートフォーカス動作では、コントラストの検出速度を見るために、リニアセンサ１５の検出範囲を狭く設定する。
【００７５】
そしてＳ５では、オートフォーカス動作が完了したかを判断し、オートフォーカス動作が完了した場合には、Ｓ６に進み、高さの測定（レベル測定）を行う。またＳ５でオートフォーカス動作が完了していないと判断した場合には、オートフォーカス動作を繰り返す様になっている。なお、Ｓ６のレベル測定では、高さの測定精度を上げるためにリニアセンサ１５の検出範囲を拡く設定する。
【００７６】
次にＳ７では前視を行う。そしてＳ８では、前述した合焦動作によりオートフォーカスを実行する。なお、このオートフォーカス動作では、リニアセンサ１５の検出範囲を狭く設定する。
【００７７】
そしてＳ９では、オートフォーカス動作が完了したかを判断し、オートフォーカス動作が完了した場合には、Ｓ１０に進み、高さの測定（レベル測定）を行う。
またＳ９でオートフォーカス動作が完了していないと判断した場合には、オートフォーカス動作を繰り返す様になっている。なお、Ｓ１０のレベル測定では、リニアセンサ１５の検出範囲を拡く設定する。
【００７８】
以上の様に構成された本実施例のオートフォーカス動作は、インターナルレンズ１１２を遠点から近点まで移動し、リニアセンサ１５の検出信号によりコントラスのピークを探す様になっている。電子レベル用標尺２を視準する毎に、合焦動作を繰返すと時間がかかり、オートフォーカスの手動に対する利点が無くなってしまう。
【００７９】
しかしながら、高低差を測量する水準測量では、一区間の略中心にレベル測量機を設置する。レベル測量機の前後において標尺までの距離には殆ど差はない。従って実質的にインターナルレンズ１１２を移動させる必要はない。
【００８０】
このことから、リニアセンサ１５の検出信号がある一定以上のコントラストを検出した場合には、狭い範囲で精測定を行えば十分である。更に、一区間の半分は２０ｍ前後である。望遠鏡の特性からすると、近距離に合焦する程、インターナルレンズ１１２の移動量は大きく、遠い程小さくなり、１０ｍ以上では略無限大となるから、無限遠の近くで微少な調整を行えば足り、高速な合焦動作を実現できるという効果がある。
【００８１】
次に、デフォーカス量の補正機構について説明する。
【００８２】
図７は、デフォーカス量の補正機構５０００の構成を説明する図である。
【００８３】
デフォーカス量の補正機構５０００は、インターナルレンズ１１２と、駆動部１７と、エンコーダ１７１と、演算処理手段１６等から構成されている。
【００８４】
駆動部１７は、合焦駆動モータ１７０１と、駆動歯車１７０２と、マニュアルフォーカスノブ１７０３と、従動歯車１７０４と、スライド機構１７０５とから構成されている。なお駆動部１７は、合焦駆動部に該当するものである。またマニュアルフォーカスノブ１７０３は、マニュアルフォーカス部材に相当するものである。
【００８５】
合焦駆動モータ１７０１は、インターナルレンズ１１２を移動させるための動力源であり、演算処理手段１６からの制御信号に基づき、駆動回路１８００が合焦駆動モータ１７０１を制御駆動する様に構成されている。
【００８６】
合焦駆動モータ１７０１が回動すると、この回動軸に連結された駆動歯車１７０２が回動し、この駆動歯車１７０２と噛合する従動歯車１７０４が回動して、この従動歯車１７０４がスライド機構１７０５を駆動する。スライド機構１７０５は、ネジ部が形成された棒部材等から構成されており、従動歯車１７０４の回動に伴って、インターナルレンズ１１２を前後に移動させることができる。
【００８７】
合焦駆動モータ１７０１の回動軸には、エンコーダ１７１が取り付けられており、インターナルレンズ１１２の移動量に相当するデータを得ることができ、このデータは、演算処理手段１６に送出される様に構成されている。
【００８８】
合焦駆動モータ１７０１の回動軸には、マニュアルフォーカスノブ１７０３が連結されている。フォーカス動作後、像がぼやけている場合はフォーカスずれがあり、デフォーカスの状態である。使用者は、マニュアルフォーカスノブ１７０３を操作して、マミュアルにてピント合わせを行い、デフォーカス量の補正値を、エンコーダ１７１から演算処理手段１６に送出することができる。この結果、演算処理手段１６が、デフォーカス量の補正値を記憶し、その後の処理に補正を与えることができる。
【００８９】
演算処理手段１６には、このデフォーカス量の補正値を記憶するための記憶部１６０１が設けられており、更に、演算処理手段１６には、使用者が操作命令等を入力するための操作部１９００が取り付けられている。
【００９０】
即ち演算処理手段１６が、マニュアルフォーカスノブ１７０３の操作に基づく、インターナルレンズ１１２の移動量を認識し、合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行うことができる。
【００９１】
次に、本実施例のデフォーカス量の補正機構５０００の作用を図８に基づいて説明する。
【００９２】
まずステップ１（以下、Ｓ１と略する。）で、使用者が操作部１９００を操作して、入力メニューの中から「フォーカス調整」を選択する。
【００９３】
次にＳ２では、前述したオートフォーカスを実行する。そしてＳ３で、合焦が完了したら、オートフォーカスを終了する。次にＳ４では、使用者が対物レンズ部１１を接眼し、視準を行う。そしてＳ５では、マニュアルフォーカスノブ１７０３を操作して、ピント合わせを行う。
【００９４】
Ｓ５のピント合わせの結果、Ｓ６で、使用者が合焦を確認した場合には、Ｓ７に進み、使用者は、操作部１９００を操作して、入力メニューの中から「フォーカス調整終了」を選択する。この結果、デフォーカス量の補正値に相当するデータが、エンコーダ１７１より演算処理手段１６に送られる。演算処理手段１６は、デフォーカス量の補正値に相当するデータを記憶部１６０１に記憶し、以後の合焦制御に、この補正値を使用する様に構成されている。
【００９５】
従って、最初に手動でマニュアルフォーカスノブ１７０３を操作すれば、以後は演算処理手段１６により自動的にデフォーカス量の補正を行うことができるという効果がある
【００９６】
なお、デフォーカス量の補正機構は、前述の実施例の電子レベル１に限ることなく、図９に示す様に、一般的な電子式測量機６０００に使用することもできる。この電子式測量機６０００にも、マニュアルフォーカスノブ１７０３が取り付けられており、望遠鏡接眼部６１００（対物レンズ部１１を覗くことに相当する）を使用者が接眼し、マニュアルフォーカスノブ１７０３を操作してピント合わせを行い、デフォーカス量の補正を行う様になっている。
【００９７】
【効果】
以上の様に構成された本発明は、合焦光学系を含む望遠鏡光学系と、この望遠鏡光学系からの光を受け、受光信号に変換するための光電変換部と、この光電変換部上に像を形成するための合焦駆動部と、前記光電変換部の出力信号に基づき、合焦を検出し、前記合焦駆動部を制御するための演算処理手段とを備える電子式測量機であって、前記合焦駆動部には、使用者が手動でデフォーカス量の補正を行うためのマニュアルフォーカス部材が備えられており、前記演算処理手段が、マニュアルフォーカス部材の操作に基づき、前記合焦制御におけるデフォーカス量の補正を行う様に構成されているので、最初に手動でマニュアルフォーカス部材を操作すれば、以後は前記演算処理手段により自動的にデフォーカス量の補正を行うことができるという卓越した効果がある。
【００９９】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例の電子レベル１の構成を示す図である。
【図２】本実施例の電子レベル用標尺２を説明する図である。
【図３】本発明の実施例の電子レベル１の外観を示す斜視図である。
【図４】本実施例の演算処理手段１６の構成を示す図である。
【図５】本発明の実施例の作用を示す図である。
【図６】本発明の実施例の作用を示す図である。
【図７】デフォーカス量の補正機構の構成を示す図である。
【図８】デフォーカス量の補正機構の動作を示す図である。
【図９】デフォーカス量の補正機構の動作を示す図である。
【符号の説明】
１  電子レベル
２  電子レベル用標尺
１１  対物レンズ部
１１１  対物レンズ
１１２  インターナルレンズ
１２  コンペンセータ
１３  ビームスプリッタ
１４  接眼レンズ部
１４１  焦点板
１５  リニアセンサ
１６  演算処理手段
１６１  アンプ
１６２  サンプルホールド
１６３  Ａ／Ｄ変換器
１６４  ＲＡＭ
１６５  クロックドライバ
１６６  マイクロコンピュータ
１６６１  基準信号形成部
１６６２  パターン信号形成部
１６６３  ブロック検出部
１６６４  算出部
１６６５  合焦制御部
１６７  表示器
１７  駆動部
１７１  エンコーダ
１００  整準装置
５０００  デフォーカス量の補正機構
１６０１  記憶部
１７０１  合焦駆動モータ
１７０２  駆動歯車
１７０３  マニュアルフォーカスノブ
１７０４  従動歯車
１７０５  スライド機構
１９００  操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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