(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方において立ち上がり期間及び立ち下がり期間における振幅値を階段状にした複数のパルス信号を用いて階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生部と、
前記パルス発生部によって発生される前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力するローパスフィルタと、
前記パルス発生部で発生されたパルス信号の振幅値をアイパターン化して前記ローパスフィルタから出力したときのアイ開口度を、アイ開口レベルと、符号間干渉を除いたレベルとの比率となるように所定のアイ開口度に設定する設定値を出力するアイ開口度設定部と、
前記アイ開口度設定部からの前記設定値に基づいて前記複数値のパルス信号のそれぞれの振幅値を前記パルス発生部に対して変更する振幅値設定部とを備え、
前記振幅値設定部によって設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を前記ローパスフィルタから出力可能としたことを特徴とするパルスパターンジェネレータ。
【請求項２】
前記パルス発生部は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の所定の振幅値と異なる振幅値を有すると共に、前記基本パルス信号の位相と異なる位相を有する変形パルスを発生する変形パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号と、前記変形パルス発生部によって発生される前記変形パルス信号とを合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項１記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項３】
前記パルス発生部は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する複数の変形パルス信号を発生する複数の変形パルス発生部と、
前記複数の変形パルス発生部によって発生される前記複数の変形パルス信号を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項１記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項４】
前記複数の変形パルス発生部は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部と、
を含むことを特徴とする請求項３記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項５】
前記複数の変形パルス発生部は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部と、
前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第４の変形パルス信号を発生する第４の変形パルス発生部と、
前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第５の変形パルス信号を発生する第５の変形パルス発生部と、
を含むことを特徴とする請求項３記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項６】
前記パルス発生部は、
前記基本パルス発生回路として，２値のパルス信号を発生する２値パルス信号発生回路と、
前記変形パルス発生回路として，前記２値パルス信号発生回路から出力される２値のパルス信号を１ビット遅延させる１ビット遅延回路及び前記２値パルス信号発生回路から出力される２値のパルス信号を２ビット遅延させる２ビット遅延回路と、
前記２値パルス信号発生回路、前記１ビット遅延回路及び前記２ビット遅延回路の各出力信号を合波して８値のパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項１記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項７】
前記パルス発生部は、
前記基本パルス発生回路及び前記変形パルス発生回路として、初段をマスターとして２段以降がそれぞれスレーブとなる関係になされていると共に、初段のデータ端子に、所定のデータ周波数を有するデータが供給され、且つ、各段のクロック端子には、前記データ周波数の２倍の周波数を有するクロックが共通に供給されていることにより、中間段からの出力を基準パルス信号（基準波）としたとき前記中間段より前の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ進んだ位相を有する所定数の第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）を出力すると共に、前記中間段より後の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ遅れた位相を有する所定数の第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）を出力する複数段縦続接続されたフリップフロップと、
前記複数段縦続接続されたフリップフロップの各段の出力を各別に受ける複数段の増幅器と、
前記複数段の増幅器のそれぞれの出力を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部とを備え、
前記振幅値設定部は、前記複数段の増幅器のそれぞれのゲイン設定部に対して、最終的に、前記ローパスフィルタからの出力が所望のアイ開口度を有するように、前記基準パルス信号（基準波）と、前記第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）及び第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）とが所定の振幅値関係となるようなゲインに設定するゲイン設定部を含むことを特徴とする請求項１記載のパルスパターンジェネレータ。
【請求項８】
所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方において階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生部と、
前記パルス発生部によって発生される前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力するローパスフィルタと、
前記ローパスフィルタからの出力をアイパターン化したときのアイ波形を所定のアイ開口度に設定するために、前記パルス信号を形成する階段波の振幅値を設定値に基づいて調整する振幅値設定部とを備え、
前記振幅値設定部によって設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を前記ローパスフィルタから出力可能とするパルスパターンジェネレータと、
前記パルスパターンジェネレータの前記ローパスフィルタから出力される前記設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号に基づいて被試験機器の所定の特性を評価する特性評価装置と、
を備えたことを特徴とするパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項９】
前記パルスパターンジェネレータの前記パルス発生部は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の所定の振幅値と異なる振幅値を有すると共に、前記基本パルス信号の位相と異なる位相を有する変形パルスを発生する変形パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号と、前記変形パルス発生部によって発生される前記変形パルス信号とを合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項８記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１０】
前記パルス発生部は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部と、
前記基本パルス発生部によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する複数の変形パルス信号を発生する複数の変形パルス発生部と、
前記複数の変形パルス発生部によって発生される前記複数の変形パルス信号を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項８記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１１】
前記複数の変形パルス発生部は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部と、
を含むことを特徴とする請求項１０記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１２】
前記複数の変形パルス発生部は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部と、
前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第４の変形パルス信号を発生する第４の変形パルス発生部と、
前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第５の変形パルス信号を発生する第５の変形パルス発生部と、
を含むことを特徴とする請求項１０記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１３】
前記パルスパターンジェネレータのパルス発生部は、
前記基本パルス発生回路として、２値のパルス信号を発生する２値パルス信号発生回路と、
前記変形パルス発生回路として、前記２値パルス信号発生回路から出力される２値のパルス信号を１ビット遅延させる１ビット遅延回路及び前記２値パルス信号発生回路から出力される２値のパルス信号を２ビット遅延させる２ビット遅延回路と、
前記２値パルス信号発生回路、前記１ビット遅延回路及び前記２ビット遅延回路の各出力信号を合波して８値のパルス信号を出力する信号合波部と、
を含むことを特徴とする請求項８記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１４】
前記パルスパターンジェネレータのパルス発生部は、
前記基本パルス発生回路及び前記変形パルス発生回路として、初段をマスターとして２段以降がそれぞれスレーブとなる関係になされていると共に、初段のデータ端子に、所定のデータ周波数を有するデータが供給され、且つ、各段のクロック端子には、前記データ周波数の２倍の周波数を有するクロックが共通に供給されていることにより、中間段からの出力を基準パルス信号（基準波）としたとき前記中間段より前の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ進んだ位相を有する所定数の第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）を出力すると共に、前記中間段より後の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ遅れた位相を有する所定数の第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）を出力する複数段縦続接続されたフリップフロップと、
前記複数段縦続接続されたフリップフロップの各段の出力を各別に受ける複数段の増幅器と、
前記複数段の増幅器のそれぞれの出力を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部とを備え、
前記振幅値設定部は、前記複数段の増幅器のそれぞれのゲイン設定部に対して、最終的に、前記ローパスフィルタからの出力が所望のアイ開口度を有するように、前記基準パルス信号（基準波）と、前記第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）及び第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）とが所定の振幅値関係となるようなゲインに設定するゲイン設定部を含むことを特徴とするを含むことを特徴とする請求項８記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【請求項１５】
前記被試験機器は、電気信号及び光信号の少なくとも一方によって通信する通信機器であることを特徴とする請求項８記載のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明はパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムに係り、特に、例えば、電気通信装置や光通信装置等の通信機器を評価するための所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生するパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムに関する。
【背景技術】
【０００２】  周知のように、近時、インターネットに代表される情報通信の急成長に伴い、通信の高速化、大容量化の需要が高まっている。【０００３】  これらは、電気通信システムや光ファイバを利用した光通信システムによるブロードバンド通信の拡大の理由ともなっている。【０００４】  電気通信システムや光通信システムにおける通信方式としてデジタル通信方式が採用され、１と０とを組み合わせたデータを送受することによるデジタル通信システムが実現されている。【０００５】  したがって、このようなデジタル通信システムにおいては、１又は０を表すパルス信号をいかに高信頼度で送受できるかが重要なこととなる。【０００６】  そして、デジタル通信システムを実現するために、電気通信システムや光通信システムを構成する各種の通信機器は、所定のパルス信号が入力される評価試験、例えば、エラーレート試験が実施されている。【０００７】  これにより、電気通信システムや光通信システムを構成する各種の通信機器の性能及び信頼性が確保される。【０００８】  一般に、パルス信号の特性は、アイパターン化されたときのアイ開口度によって規定される。【０００９】  そこで、ＩＥＥＥ（Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ  ｏｆ  Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ  ａｎｄ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ  Ｅｎｇｉｎｅｅｒｓ）では、各種の通信機器を評価する際に使用するパルス信号のアイ開口度を規定し、この規定されたアイ開口度を有するパルス信号による試験をストレス試験として実施することを規格により定めている（例えば、非特許文献１参照）。【００１０】  このため、従来より各種の通信機器の評価システムにおいては、前述のＩＥＥＥで定められているストレス試験を実施するために、所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生するパルスパターンジェネレータに加えて４次ベッセルトムソンフィルタを準備すると共に、その４次ベッセルトムソンフィルタのフィルタ特性を調整することにより、前述のＩＥＥＥのアイ開口度規格に準拠した所定のアイ開口度を有するパルス信号が生成されている。【００１１】  そして、このようにして生成された規定のアイ開口度を有するパルス信号を用いて各種の通信機器のストレス試験が実施されている。
【非特許文献１】ＩＥＥＥ  Ｄｒａｆｔ  Ｐ８０２  ３ａｅ／Ｄ５．０  Ｍａｙ  １，２００２  ｐｐ．４７７−４８１  Ｆｉｇｕｒｅ  ５２−１０
【発明の開示】
【００１２】  しかしながら、このような従来の通信機器の評価システムでは、ストレス試験で定められたアイ開口度の規格が異なる多種の通信機器のストレス試験を当該通信機器の生産ラインで実施する際に、所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生するパルスパターンジェネレータに加えて異なるアイ開口度の規格の数と同じ個数の４次ベッセルトムソンフィルタを用意する必要がある。
【００１３】  また、それらの４次ベッセルトムソンフィルタを構成しているコンデンサの容量やコイルのインダクタンスをレーザトリマ等で変化させることにより、アイ開口度を別個に設定する必要がある。
【００１４】  そして、設定された所定のアイ開口度を有するパルス信号に基づいて通信機器のエラーレートを通信機器毎に評価する必要がある。
【００１５】  したがって、このような従来の通信機器の評価システムでは、当該通信機器の生産ラインで実施するストレス試験の工程が著しく煩雑になるため、当該通信機器の生産ラインにおける生産性を低下させているという問題がある。
【００１６】  そこで、本発明は、以上のような従来技術による問題点を解決するためになされたものであり、パルスパターンジェネレータ自体で設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生することができるように改良すると共に、このように改良されたパルスパターンジェネレータを通信機器評価システムに用いることにより、被試験機器の評価試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができるようにしたパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムを提供することを目的としている。
【００１７】  上記目的を達成するために、本発明の第１の態様によると、
所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方において階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生部（１２）と、
前記パルス発生部（１２）によって発生される前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力するローパスフィルタ（１４）と、
前記ローパスフィルタ（１４）からの出力をアイパターン化したときのアイ波形を所定のアイ開口度に設定するために、前記パルス信号を形成する階段波の振幅値を設定値に基づいて調整する振幅値設定部（１３，１３ａ）とを備え、
前記振幅値設定部（１３，１３ａ）によって設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を前記ローパスフィルタ（１４）から出力可能としたことを特徴とするパルスパターンジェネレータ（１１）が提供される。
【００１８】  また、上記目的を達成するために、本発明の第２の態様によると、
前記パルス発生部（１２）は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部（１２ａ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の所定の振幅値と異なる振幅値を有すると共に、前記基本パルス信号の位相と異なる位相を有する変形パルスを発生する変形パルス発生部（１２ｂ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号と、前記変形パルス発生部（１２ｂ）によって発生される前記変形パルス信号とを合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１２ｃ）と、
を含むことを特徴とする第１の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００１９】  また、上記目的を達成するために、本発明の第３の態様によると、
前記パルス発生部（１２）は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部（１２ａ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する複数の変形パルス信号を発生する複数の変形パルス発生部（１２ｂ）と、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）によって発生される前記複数の変形パルス信号を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１２ｃ）と、
を含むことを特徴とする第１の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００２０】  また、上記目的を達成するために、本発明の第４の態様によると、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部（１２ｂ１）と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
を含むことを特徴とする第３の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００２１】  また、上記目的を達成するために、本発明の第５の態様によると、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部（１２ｂ１）と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第４の変形パルス信号を発生する第４の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第５の変形パルス信号を発生する第５の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
を含むことを特徴とする第３の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００２２】  また、上記目的を達成するために、本発明の第６の態様によると、
前記パルス発生部（３０）は、
前記基本パルス発生回路（１２ａ）として，２値のパルス信号を発生する２値パルス信号発生回路（３１ａ）と、
前記変形パルス発生回路（１２ｂ）として，前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）から出力される２値のパルス信号を１ビット遅延させる１ビット遅延回路（３１ｂ）及び前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）から出力される２値のパルス信号を２ビット遅延させる２ビット遅延回路（３１ｃ）と、
前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）、前記１ビット遅延回路（３１ｂ）及び前記２ビット遅延回路（３１ｃ）の各出力信号を合波して８値のパルス信号（３３）を出力する信号合波部（３１ｄ）と、
を含むことを特徴とする第１の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００２３】  また、上記目的を達成するために、本発明の第７の態様によると、
前記パルス発生部（１２）は、
前記基本パルス発生回路（１２ａ）及び前記変形パルス発生回路（１２ｂ）として、初段をマスターとして２段以降がそれぞれスレーブとなる関係になされていると共に、初段のデータ端子に、所定のデータ周波数を有するデータが供給され、且つ、各段のクロック端子には、前記データ周波数の２倍の周波数を有するクロックが共通に供給されていることにより、中間段からの出力を基準パルス信号（基準波）としたとき前記中間段より前の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ進んだ位相を有する所定数の第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）を出力すると共に、前記中間段より後の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ遅れた位相を有する所定数の第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）を出力する複数段縦続接続されたフリップフロップ（ＦＦ１，ＦＦ２，…）と、
前記複数段縦続接続されたフリップフロップ（ＦＦ１，ＦＦ２，…）の各段の出力を各別に受ける複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）と、
前記複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）のそれぞれの出力を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１００）とを備え、
前記振幅値設定部（１３，１３ａ）は、前記複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）のそれぞれのゲイン設定部（１，２，…）に対して、最終的に、前記ローパスフィルタ（１４）からの出力が所望のアイ開口度を有するように、前記基準パルス信号（基準波）と、前記第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）及び第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）とが所定の振幅値関係となるようなゲインに設定するゲイン設定部（１０１，１０２，１０３）を含むことを特徴とする第１の態様に従うパルスパターンジェネレータが提供される。
【００２４】  また、上記目的を達成するために、本発明の第８の態様によると、
所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方において階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生部（１２）と、
前記パルス発生部（１２）によって発生される前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力するローパスフィルタ（１４）と、
前記ローパスフィルタ（１４）からの出力をアイパターン化したときのアイ波形を所定のアイ開口度に設定するために、前記パルス信号を形成する階段波の振幅値を設定値に基づいて調整する振幅値設定部（１３，１３ａ）とを備え、
前記振幅値設定部（１３，１３ａ）によって設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を前記ローパスフィルタ（１４）から出力可能とするパルスパターンジェネレータ（１１）と、
前記パルスパターンジェネレータ（１１）の前記ローパスフィルタ（１４）から出力される前記設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号に基づいて被試験機器（ＤＵＴ，１５）の所定の特性を評価する特性評価装置（１６）と、
を備えたことを特徴とするパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００２５】  また、上記目的を達成するために、本発明の第９の態様によると、
前記パルスパターンジェネレータ（１１）の前記パルス発生部（１２）は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部（１２ａ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の所定の振幅値と異なる振幅値を有すると共に、前記基本パルス信号の位相と異なる位相を有する変形パルスを発生する変形パルス発生部（１２ｂ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号と、前記変形パルス発生部（１２ｂ）によって発生される前記変形パルス信号とを合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１２ｃ）と、
を含むことを特徴とする第８の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００２６】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１０の態様によると、
前記パルス発生部（１２）は、
所定のビット列で所定の振幅値を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生部（１２ａ）と、
前記基本パルス発生部（１２ａ）によって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する複数の変形パルス信号を発生する複数の変形パルス発生部（１２ｂ）と、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）によって発生される前記複数の変形パルス信号を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１２ｃ）と、
含むことを特徴とする第８の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００２７】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１１の態様によると、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部（１２ｂ１）と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
を含むことを特徴とする第１０の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００２８】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１２の態様によると、
前記複数の変形パルス発生部（１２ｂ）は、
前記基本パルス信号の位相と同じ又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生部（１２ｂ１）と、
前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第４の変形パルス信号を発生する第４の変形パルス発生部（１２ｂ２）と、
前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第５の変形パルス信号を発生する第５の変形パルス発生部（１２ｂ３）と、
を含むことを特徴とする第１０の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００２９】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１３の態様によると、
前記パルスパターンジェネレータ（３１）のパルス発生部（３０）は、
前記基本パルス発生回路（１２ａ）として、２値のパルス信号を発生する２値パルス信号発生回路（３１ａ）と、
前記変形パルス発生回路（１２ｂ）として、前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）から出力される２値のパルス信号を１ビット遅延させる１ビット遅延回路（３１ｂ）及び前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）から出力される２値のパルス信号を２ビット遅延させる２ビット遅延回路（３１ｃ）と、
前記２値パルス信号発生回路（３１ａ）、前記１ビット遅延回路（３１ｂ）及び前記２ビット遅延回路（３１ｃ）の各出力信号を合波して８値のパルス信号（３３）を出力する信号合波部（３１ｄ）と、
を含むことを特徴とする第８の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００３０】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１４の態様によると、
前記パルスパターンジェネレータ（１１）のパルス発生部（１２）は、
前記基本パルス発生回路（１２ａ）及び前記変形パルス発生回路（１２ｂ）として、初段をマスターとして２段以降がそれぞれスレーブとなる関係になされていると共に、初段のデータ端子に、所定のデータ周波数を有するデータが供給され、且つ、各段のクロック端子には、前記データ周波数の２倍の周波数を有するクロックが共通に供給されていることにより、中間段からの出力を基準パルス信号（基準波）としたとき前記中間段より前の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ進んだ位相を有する所定数の第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）を出力すると共に、前記中間段より後の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ遅れた位相を有する所定数の第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）を出力する複数段縦続接続されたフリップフロップ（ＦＦ１，ＦＦ２，…）と、
前記複数段縦続接続されたフリップフロップ（ＦＦ１，ＦＦ２，…）の各段の出力を各別に受ける複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）と、
前記複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）のそれぞれの出力を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部（１００）とを備え、
前記振幅値設定部（１３，１３ａ）は、前記複数段の増幅器（Ａ１，Ａ２，…）のそれぞれのゲイン設定部（１，２，…）に対して、最終的に、前記ローパスフィルタ（１４）からの出力が所望のアイ開口度を有するように、前記基準パルス信号（基準波）と、前記第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）及び第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）とが所定の振幅値関係となるようなゲインに設定するゲイン設定部（１０１，１０２，１０３）を含むことを特徴とするを含むことを特徴とする第８の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００３１】  また、上記目的を達成するために、本発明の第１５の態様によると、
前記被試験機器（ＤＵＴ，１５）は、電気信号及び光信号の少なくとも一方によって通信する通信機器であることを特徴とする第８の態様に従うパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが提供される。
【００３２】  以上のような構成により、本発明によるパルスパターンジェネレータは、振幅値設定部が、階段波の振幅値を調整し、パルス信号をアイパターン化したときのアイ波形の形状を設定することにより、パルスパターンジェネレータ自体で設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生することができる。
【００３３】  これにより、本発明によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、パルスパターンジェネレータからアイが開口したパルス信号やアイが開いていないパルス信号を試験信号として被試験機器に供給することができるので、被試験機器の評価試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができる。
【００３４】  さらに、本発明によるパルスパターンジェネレータでは、ローパスフィルタから平滑化して出力される所望のパルスパターンを有するパルス信号は、前記パルス信号に含まれる信号成分のうち、予め定められた周波数範囲の信号成分が減衰されている。
【００３５】  これにより、本発明によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、電気通信ネットワークや光通信ネットワーク等で実際に伝送されるパルス信号波形に近似したパルス信号波形で被試験機器を評価することができるので、評価結果の信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】［図１］図１は、本発明による通信機器評価システムの第１の実施形態の概略的な構成を示すブロック図である。
［図２］図２は、図１に示した第１の実施形態による通信機器評価システムに用いられるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図３Ａ］図３Ａは、図２に示した基本パルス発生回路及び変形パルス発生回路によって発生される基本パルス及び変形パルスを説明するために示す図である。
［図３Ｂ］図３Ｂは、図２に示した信号合波器によって図３Ａに示した基本パルス及び変形パルスを合波して階段波で形成される４値のパルス信号が生成される例を説明するために示す図である。
［図４Ａ］図４Ａは、図２に示した信号合波器によって生成される４値のパルス信号を示す図である。
［図４Ｂ］図４Ｂは、図２に示したローパスフィルタ通過後のパルス信号を示す図である。
［図４Ｃ］図４Ｃは、図２に示したローパスフィルタ通過後のパルス信号のアイ波形の一例を示す図である。
［図５］図５は、図１に示した第１の実施形態による通信機器評価システムの動作を説明するために示すフローチャートである。
［図６］図６は、図２に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号が生成される変形例を説明するために示す図である。
［図７］図７は、本発明の第２の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図８Ａ］図８Ａは、図７に示したパルス発生部によって階段波で形成される８値のパルス信号が生成される例を説明するために示す図である。
［図８Ｂ］図８Ｂは、図７に示したパルス発生部のアイ波形設定部によって設定されるアイが開かないパルス信号の一例を示す図である。
［図８Ｃ］図８Ｃは、図８Ｂに示したパルス発生部のアイ波形設定部によって設定されるアイが開かないパルス信号がローパスフィルタ通過後にアイが開いていないアイ波形として観測されるの一例を示す図である。
［図９］図９は、本発明による通信機器評価システムの第３の実施形態の概略的な構成を示すブロック図である。
［図１０］図１０は、図９に示した第３の実施形態による通信機器評価システムの動作を説明するために示すフローチャートである。
［図１１］図１１は、本発明の第４の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図１２］図１２は、図１１に示したパルス発生部によって階段波で形成される４値のパルス信号及びその４値のパルス信号のローパスフィルタ通過後の出力波を示す図である。
［図１３］図１３は、本発明の第５の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図１４］図１４は、本発明の第６の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図１５］図１５は、図１４に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号及びその６値のパルス信号のローパスフィルタ通過後の出力波を示す図である。
［図１６］図１６は、本発明の第７の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図１７］図１７は、本発明の第８の実施の形態による通信機器評価システムが備えるパルスパターンジェネレータのパルス発生部の回路構成を示すブロック図である。
［図１８］図１８は、図１７に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号のローパスフィルタ通過後のアイ波形の一例を示す図である。
［図１９］図１９は、図１７に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号のローパスフィルタ通過前のアイ波形の一例を示す図である。
［図２０Ａ］図２０Ａは、図１７に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号に基づいて得られるのローパスフィルタ通過後のアイ波形としてアイ開口度の高い例を示す図である。
［図２０Ｂ］図２０Ｂは、図１７に示したパルス発生部によって階段波で形成される６値のパルス信号に基づいて得られるのローパスフィルタ通過後のアイ波形としてアイ開口度の低い例を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】  以下、本発明によるパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムの幾つかの実施の形態について、図面を参照して説明する。【００３８】  （第１の実施の形態）
まず、本発明の第１の実施の形態に係るパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について説明する。【００３９】  なお、本実施の形態に係るパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが、電気通信で使用される装置、例えば、トランシーバ、ルータ等を被試験機器（以下「ＤＵＴ」という。）として評価する場合を例に挙げて説明する。【００４０】  図１に示すように、本実施の形態のパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０は、パルス信号を発生するパルスパターンジェネレータ１１と、このパルスパターンジェネレータ１１から出力されるパルス信号に基づいて電気通信で使用される通信機器であるＤＵＴ１５の諸特性を測定するデジタル信号測定器１６と、パルスパターンジェネレータ１１から出力されるパルス信号をモニタするサンプリングオシロスコープ１７とを備えている。【００４１】  パルスパターンジェネレータ１１は、所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生手段としてのパルス発生部１２と、このパルス発生部１２で発生されるパルス信号の振幅値をアイパターン化したときのアイ開口度（Ｖｅｒｔｉｃａｌ  Ｅｙｅ  Ｃｌｏｓｕｒｅ  Ｐｅｎａｌｔｙ：以下「ＶＥＣＰ」という。）を前記階段波で形成されたパルス信号のレベルに基づいて設定する振幅値設定部１３ａを含むアイ開口度設定部１３と、前記パルス発生部１２で発生されるパルス信号に含まれる信号成分のうち所定の周波数以上の信号成分を減衰させ、且つ、前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力するローパスフィルタ１４とを備え、前記振幅値設定部１３ａによって設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を前記ローパスフィルタ１４から出力可能としたことを特徴としている。【００４２】  パルス発生部１２は、図２に示すように、所定のビット列で所定の振幅値変化を有する信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方が階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するために、基本パルス信号を発生する基本パルス発生回路１２ａと、この基本パルス発生回路１２ａによって発生される基本パルス信号２１を所定のパルス波形のパルス信号に変形した変形パルス信号２２を発生する変形パルス発生回路１２ｂと、これら基本パルス発生回路１２ａによって発生された基本パルス信号２１と変形パルス発生回路１２ｂによって発生された変形パルス信号２２とを合波して階段波を含むパルス信号２３を出力する信号合波器１２ｃとを備えている。【００４３】  具体的には、基本パルス発生回路１２ａは、図３Ａの上側に示すように、所定のビット列で所定の振幅値、例えば、第１レベルａと第２レベルｂとを含む所定の振幅を有する２値の基本パルス信号２１を発生するようになっている。【００４４】  また、変形パルス発生回路１２ｂは、図３Ａの下側に示すように、前記基本パルス発生部１２ａによって発生される前記基本パルス信号２１のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号２１の所定の振幅値より小さい振幅値を有すると共に、前記基本パルス信号２１の位相と異なる位相を有する変形パルスを発生するために、基本パルス信号２１の位相に対し、例えば、１ビット分だけ時間（位相）を遅延させると共に、振幅を予め設定された値に縮小した変形パルス信号２２を発生するようになっている。【００４５】  変形パルス信号２２は、第１レベルｃと第２レベルｄとを含む所定の振幅（ただし、基本パルス信号２１の振幅よりも小さい振幅とする）を有する２値のパルス信号である。【００４６】  また、信号合波器１２ｃは、図３Ｂに示すように、基本パルス信号２１と変形パルス信号２２とを合波して４値のパルス信号２３を発生するようになっている。【００４７】  この４値のパルス信号２３は、第１レベルａと、第２レベルｅと、第３レベルｆと、第４レベルｂとを有し、例えば、立ち上がり期間ｔ１〜ｔ２や立ち下がり期間ｔ３〜ｔ４等において信号波形が階段状に変化する階段波になっている。【００４８】  アイ開口度設定部１３はパルス発生部１２に対して振幅値設定部１３ａを介して、図４Ａに示すように、４値のパルス信号２３の第１レベルａと第２レベルｅとの差であるレベルＡと、第３レベルｆと第４レベルｂとの差であるレベルＢとをストレス試験で定められたＶＥＣＰの規格に基づいて設定するようになっている。【００４９】  ここで、ＶＥＣＰについて説明する。【００５０】  図４Ｃに示されたアイ波形２５は、サンプリングオシロスコープ１７で観測されるパルス信号、すなわちＤＵＴ１５に入力されるパルス信号の振幅値をアイパターン化したものである。【００５１】  ＶＥＣＰは、アイ波形２５におけるレベルＣ及びＤによって次式で定められる。【００５２】  なお、この場合、レベルＣはアイ開口レベル、レベルＤは符号間干渉を除いたレベルを表している。【００５３】  ＶＥＣＰ（ｄＢ）＝１０×Ｌｏｇ（Ｄ／Ｃ）        （１）
例えば、ＶＥＣＰを２．６ｄＢとしてＤＵＴ１５を評価する場合、レベルＤに対してレベルＣが約５５％になるようレベルＡ及びＢがアイ開口度設定部１３からパルス発生部１２に対して振幅値設定部１３ａを介して設定される。【００５４】  ここで、アイ開口度設定部１３は、図３に示された基本パルス信号２１の振幅と変形パルス信号２２の振幅との比率を変更することによって、レベルＡ及びＢを所望の値に設定することができる。【００５５】  なお、アイ開口度設定部１３が、所望のＶＥＣＰが得られるようレベルＡ及びＢのいずれかのレベルを設定する構成としてもよい。【００５６】  ローパスフィルタ１４は、前記階段波で形成されたパルス信号を平滑化して出力する際に、予め定められたカットオフ周波数以上の信号を減衰させることによって、実際の通信ネットワークにおいて伝送されるパルス信号の波形に近い波形を出力するようになっている。【００５７】  具体的には、図４Ａに示されたパルス信号２３がローパスフィルタ１４に入力された場合、ローパスフィルタ１４は、例えば、図４Ｂに示すようなパルス信号２４を出力するようになっている。【００５８】  デジタル信号測定器１６は、例えば、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ディスプレイ、キーボード等で構成され、ＶＥＣＰの規格でレベルが設定されたパルス信号を受信した際のＤＵＴ１５の諸特性、例えば、エラーレート、パルス信号の波長、パルス信号のレベル等の各データや分布データ等の取得及び波形観測ができるようになっている。【００５９】  また、デジタル信号測定器１６は、ＤＵＴ１５がエラーを発生した際に、エラーの分布データやエラー発生箇所の波形データ等を取得するようになっている。【００６０】  サンプリングオシロスコープ１７は、垂直増幅器、水平増幅器、トリガパルス発生器、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器、陰極線管（ＣＲＴ）等を備え、入力された電気信号の波形をＣＲＴに表示するようになっている。【００６１】  次に、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０の動作について、図１乃至５に基づいて説明する。【００６２】  図５において、まず、基本パルス発生回路１２ａによって、例えば、図３Ａの上側に示すような２値の基本パルス信号２１が発生される（ステップＳ１）。【００６３】  次いで、変形パルス発生回路１２ｂによって、例えば、基本パルス信号２１に対して時間軸が１ビット分だけ時間（位相）遅延され、振幅が予め設定された値に縮小された図３Ａの下側に示すような変形パルス信号２２が発生される（ステップＳ２）。【００６４】  次いで、信号合波器１２ｃによって、基本パルス信号２１と変形パルス信号２２とが合波され、立ち上がり期間及び立ち下がり期間における振幅値を階段状にした４値のパルス信号２３が生成される（ステップＳ３）。【００６５】  続いて、アイ開口度設定部１３によって、ＶＥＣＰに基づいて図４Ａに示された４値のパルス信号２３のレベルＡ及びＢが設定されることによりアイ開口度が設定される（ステップＳ４）。【００６６】  ここで、アイ開口度の設定は、サンプリングオシロスコープ１７に表示されるアイ波形２５をモニタしながら行なわれる。【００６７】  具体的には、サンプリングオシロスコープ１７に表示されるアイ波形２５をモニタすることによって得られるアイ波形２５のレベルＣ及びＤの測定値を式（１）に代入して所望のＶＥＣＰが得られるように、４値のパルス信号２３のレベルＡ及びＢがアイ開口度設定部１３によって変更設定される。【００６８】  次いで、ローパスフィルタ１４によって、４値のパルス信号２３は当該４値のパルス信号２３に含まれる信号成分のうちカットオフ周波数以上の高周波成分が減衰されて平滑化されることにより、所望のパルス波形に変更されて出力される（ステップＳ５）。【００６９】  そして、デジタル信号測定器１６によって、ＤＵＴ１５である電気通信装置の評価が実施される（ステップＳ６）。【００７０】  具体的には、ＤＵＴ１５のエラーレート、パルス信号の波長、パルス信号のレベル等の各データ等やエラーの分布データ、エラー発生箇所の波形データ等が取得される。【００７１】  以上のように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０によれば、パルス発生部１２は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生し、アイ開口度設定部１３は、パルス信号の振幅値をアイパターン化したときのＶＥＣＰを階段波のレベルに基づいて設定する構成としたので、電気通信で使用される被試験機器のストレス試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができる。【００７２】  なお、本実施の形態において、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号２３を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。【００７３】  例えば、信号の立ち上がり及び立ち下がりの少なくとも一方が階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を使用しても同様な効果を得ることができる。【００７４】  また、本実施の形態において、パルス発生部１２が発生する基本パルス信号２１と変形パルス信号２２とを合成し、合成して得られた４値のパルス信号２３が有する階段波の振幅をアイ開口度設定部１３が振幅値設定部１３ａを介して調整する例で説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。【００７５】  例えば、アイ開口度設定部１３が、変形パルス信号２２の振幅値を予め設定した後に基本パルス信号２１と合成して４値のパルス信号２３を得る構成としても同様の効果が得られる。【００７６】  また、アイ開口度設定部１３が階段波以外の振幅値、例えば、４値のパルス信号２３のレベルａ及びｂを調整する構成としてもよい。【００７７】  また、本実施の形態において、４値のパルス信号２３でストレス試験を実施する例で説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。【００７８】  例えば、６値や８値等のパルス信号でストレス試験を実施する構成としても同様の効果が得られる。【００７９】  例えば、図６に示すような６値のパルス信号２６でストレス試験を実施する場合は、レベルｇに対してレベルｈ及びレベルｉの値と、レベルｍに対してレベルｊ及びレベルｋの値とをアイ開口度設定部１３によって変更して所望のアイ開口度を設定すればよい。【００８０】  なお、パルス信号２６は、ローパスフィルタ１４を通過した際、例えば、図６に破線で示されたパルス信号２７のようになる。【００８１】  また、本実施の形態において、電気通信で使用される装置を被試験機器として試験する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。【００８２】  例えば、階段波を有するパルス信号を使用して評価できる装置を被試験機器として試験できるものであれば同様の効果が得られる。【００８３】  （第２の実施の形態）
まず、本発明の第２の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図７により説明する。【００８４】  なお、本実施の形態では、パルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムが、アイ開口度が極めて低いパルス信号、又は、アイが開いていないパルス信号をアイが開口したパルス信号に変換する装置、例えば、イコライザをＤＵＴとして評価する場合を例に挙げて説明する。【００８５】  ただし、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１に示した本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０におけるパルスパターンジェネレータ１１を変更したものであり、その他の構成は図１と同様である。【００８６】  したがって、図７において、図１と同様な構成については図示を省略する。【００８７】  図７に示すように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムのパルスパターンジェネレータ３０は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するパルス発生手段としてのパルス発生部３１と、パルス信号の振幅値をアイパターン化したときのアイ波形の形状を設定する振幅値設定手段としてのアイ波形設定部３２とを備えている。【００８８】  なお、アイ波形の形状は、アイが開いている状態の波形形状及びアイが開いていない状態の波形形状を含んでいる。【００８９】  パルス発生部３１は、基本パルス発生回路１２ａとして、２値のパルス信号を発生する２値パルス信号発生回路３１ａと、変形パルス発生回路１２ｂとして、２値パルス信号発生回路３１ａから出力される２値のパルス信号を１ビット遅延させる１ビット遅延回路３１ｂ及び２値パルス信号発生回路３１ａから出力される２値のパルス信号を２ビット遅延させる２ビット遅延回路３１ｃと、これら２値パルス信号発生回路３１ａ、１ビット遅延回路３１ｂ及び２ビット遅延回路３１ｃの出力信号を合波して８値のパルス信号３３を出力する信号合波器３１ｄとを備えている。【００９０】  具体的には、パルス発生部３１は、例えば，図８Ａに示すように、レベルｎからレベルｐ，ｑ，ｒ，ｓ，ｔ，ｕ，ｖまでの振幅値を有する８値のパルス信号３３を発生するようになっている。【００９１】  この図８Ａに示す８値のパルス信号３３は、「０１１１１００１０１０００１」を表している。【００９２】  アイ波形設定部３２は、パルス信号３３の階段波のレベルを所定の値に設定し、例えば、図８Ｂに示された８値のパルス信号３４を出力するようになっている。【００９３】  この８値のパルス信号３４をサンプリングオシロスコープ１７（図１参照）でモニタすると、図８Ｃに示すようにアイが開いていない波形３５となっている。【００９４】  すなわち、この場合、アイ波形設定部３２は、入力されたパルス信号をアイが開かないパルス信号に変換することができるようになっている。【００９５】  次に、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの動作について説明する。【００９６】  ただし、本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネ���ータを用いる通信機器評価システム１０と同様な動作については詳細な説明を省略する。【００９７】  まず、基本パルス発生回路としての２値パルス信号発生回路３１ａによって、２値のパルス信号が発生される。【００９８】  次いで、変形パルス発生回路としての１ビット遅延回路３１ｂ及び２ビット遅延回路３１ｃによって、２値パルス信号発生回路３１ａが発生した２値のパルス信号より、それぞれ、１ビット及び２ビット遅延したパルス信号が発生される。【００９９】  次いで、信号合波器３１ｄによって、２値パルス信号発生回路３１ａが発生した２値のパルス信号と１ビット遅延回路３１ｂ及び２ビット遅延回路３１ｃによってそれぞれ、１ビット及び２ビット遅延したパルス信号との３つのパルス信号が合波されることにより、８ビットのパルス信号３３が発生される。【０１００】  続いて、アイ波形設定部３２によって、パルス信号３３の階段波のレベルが所定値に設定され、アイが開いていない波形３５が得られるパルス信号３４が出力される。【０１０１】  このパルス信号３４は、ローパスフィルタ１４を介してＤＵＴ１５に入力され、デジタル信号測定器１６によって、ＤＵＴ１５の特性が評価される。【０１０２】  その結果、アイが開いていない波形３５のパルス信号３４に対し、ＤＵＴ１５がどれ程のアイ開口度を有するパルス信号を出力することができるかが試験されることとなる。【０１０３】  以上のように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムによれば、パルス発生部３１は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生し、アイ波形設定部３２は、階段波のレベルを設定してアイが開いていない波形３５が得られるパルス信号３４を出力する構成としたので、アイが開いていないパルス信号をアイが開口したパルス信号に変換する被試験機器を評価する試験を容易化することができるので、生産ラインでストレス試験を実施する際の生産性を従来の評価システムよりも高くすることができる。【０１０４】  なお、本実施の形態において、アイ波形設定部３２が８値のパルス信号でアイが開いていないパルス信号を設定する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。【０１０５】  例えば、アイ波形設定部３２が、信号の立ち上がり又は立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号でアイ開口度が極めて低いパルス信号、又は、アイが開いていないパルス信号を設定するものであれば同様の効果が得られる。【０１０６】  （第３の実施の形態）
まず、本発明の第３の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図９により説明する。【０１０７】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムでは、光通信で使用される装置、例えば光トランシーバ、光トランスポンダ等をＤＵＴとして評価する場合を例に挙げて説明する。【０１０８】  ただし、図９において、本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０と同様な構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。【０１０９】  図９に示すように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム４０は、パルスパターンジェネレータ１１と、このパルスパターンジェネレータ１１から出力されるパルス信号を光信号に変換する電気／光コンバータ（以下「Ｅ／Ｏコンバータ」という。）４１と、光信号のレベルを所定値に調整する光アッテネータ（以下「光ＡＴＴ」という。）４２と、光通信で使用される装置であるＤＵＴ１５の諸特性を測定するデジタル信号測定器１６と、光ＡＴＴ４２から出力される光信号を電気信号に変換してモニタするサンプリングオシロスコープ４４とを備えている。【０１１０】  Ｅ／Ｏコンバータ４１は、レーザダイオードを備えた光送信部やインターフェース部等で構成され、パルスパターンジェネレータ１１から出力される電気的なパルス信号を光パルス信号に変換して光ファイバ４５ａに出力するようになっている。【０１１１】  光ＡＴＴ４２は、光ファイバ４５ａから入力された光信号のレベルを所定値に調整して光ファイバ４５ｂに出力するようになっている。【０１１２】  デジタル信号測定器１６は、例えば、マイクロプロセッサ、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ディスプレイ、キーボード等で構成され、ＶＥＣＰの規格でレベルが設定された光信号を受信した際のＤＵＴ４３の諸特性、例えばエラーレート、光信号の波長、光信号のレベル等の各データや分布データ等の取得及び波形観測を行うことができるようになっている。【０１１３】  また、デジタル信号測定器１６は、ＤＵＴ４３がエラーを発生した際に、エラーの分布データやエラー発生箇所の波形データ等を取得するようになっている。【０１１４】  サンプリングオシロスコープ４４は、垂直増幅器、水平増幅器、トリガパルス発生器、Ａ／Ｄ変換器、Ｅ／Ｏコンバータ、ＣＲＴ等を備え、入力された光信号を電気信号に変換して波形をＣＲＴに表示するようになっている。【０１１５】  次に、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム４０の動作について、図９及び図１０に基づいて説明する。【０１１６】  ただし、本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０と同様な動作については、詳細な説明を省略する。【０１１７】  すなわち、図１０のステップＳ５において、階段波で形成されたパルス信号がローパスフィルタ１４によって高周波成分が減衰され、且つ、平滑化されたパルス信号が、Ｅ／Ｏコンバータ４１によって、光信号に変換される（ステップＳ７）。【０１１８��  さらに、光ＡＴＴ４２によって、光信号のレベルが所定値に設定され（ステップＳ８）、ＤＵＴ４３に出力される。【０１１９】  そして、デジタル信号測定器１６によって、ＤＵＴ４３である光通信装置の評価が実施される（ステップＳ９）。【０１２０】  具体的には、ＤＵＴ４３のエラーレート、光信号の波長、光信号のレベル等の各データ等やエラーの分布データ、エラー発生箇所の波形データ等が取得される。【０１２１】  以上のように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム４０によれば、パルス発生部１２は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生し、アイ開口度設定部１３は、パルス信号の振幅値をアイパターン化したときのＶＥＣＰを階段波のレベルに基づいて設定する構成としたので、光通信で使用されるＤＵＴ４３のストレス試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができる。【０１２２】  （第４の実施の形態）
まず、本発明の第４の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図１１により説明する。【０１２３】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１に示した本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０におけるパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２を変更したものであり、その他の構成は図１と同様である。【０１２４】  したがって、図１１においては、パルス発生部１２のみを図示し、その他の図１と同様な構成については図示を省略する。【０１２５】  図１１に示すように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムのパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するために、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生回路１２ａと、前記基本パルス発生回路１２ａによって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生回路１２ｂ１と、前記基本パルス発生回路１２ａによって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２の変形パルス信号を発生する第２の変形パルス発生回路１２ｂ２と、前記基本パルス発生回路１２ａによって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第３の変形パルス信号を発生する第３の変形パルス発生回路１２ｂ３と、前記第１、第２及び第３の変形パルス発生回路１２ｂ１、１２ｂ２、１２ｂ３によって発生される前記第１、第２及び第３の変形パルス信号を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波器１２ｃとを有している。【０１２６】  さらに、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第１の遅延部１２ｂ１１と、この第１の遅延部１２ｂ１１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第１の振幅調整部１２ｂ１２とを有している。【０１２７】  同様に、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第２の遅延部１２ｂ２１と、この第２の遅延部１２ｂ２１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第２の振幅調整部１２ｂ２２とを有している。【０１２８】  同様に、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第３の遅延部１２ｂ３１と、この第３の遅延部１２ｂ３１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第３の振幅調整部１２ｂ３２とを有している。【０１２９】  ここで、第１の遅延部１２ｂ１１、第２の遅延部１２ｂ２１及び第３の遅延部１２ｂ３１のそれぞれの遅延量は、（第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量）＜（第２の遅延部１２ｂ２１の遅延量）＜（第３の遅延部１２ｂ３１の���延量）という関係が成り立つように設定されている。【０１３０】  また、第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量は０としても良いし、あるいは、第１の遅延部１２ｂ１１を省略する構成としても良い。【０１３１】  さらに、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、信号合波器１２ｃで合波されて形成される階段波の基準となる基準パルス信号２２ｂを発生する基準パルス発生回路である。【０１３２】  したがって、この第２の変形パルス発生回路１２ｂ２の第２の振幅調整部１２ｂ２２を省略する構成としても良い。【０１３３】  具体的には、基本パルス発生回路１２ａは、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号（基本波）２１を発生する。【０１３４】  また、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａを発生する。【０１３５】  また、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、図１２に示すような前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量１８０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅と同じ振幅を有する第２の変形パルス信号２２ｂを発生する。【０１３６】  この第２の変形パルス信号２２ｂは、すなわち、基準パルス信号２２ｂである。【０１３７】  また、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、図１２に示すような前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量１８０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第３の変形パルス信号（基準パルス＋１８０°）２２ｃを発生する。【０１３８】  また、信号合波器１２ｃは、これらの第１の変形パルス２２ａ、第２の変形パルス２２ｂ及び第３の変形パルス信号２２ｃとを合波して図１２に示すような前記階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３を出力する。【０１３９】  そして、この階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３は、図１のローパスフィルタを通過することにより、平滑化された図１２に示すようなフィルタ出力波２４として被試験機器のストレス試験に供するために、図１のＤＵＴ１５及びサンプリングオシロスコープ１７に送出される。【０１４０】  この場合、図１のアイ開口度設定部１３から振幅値設定部１３ａを介してパルス発生部１２の基本パルス発生回路１２ａと、第１及び第２の変形パルス発生回路１２ｂ１、１２ｂ２に対して、最終的に、フィルタ出力波２４が所望のアイ開口度を有するように、第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａ、第２の変形パルス信号（基準パルス）２２ｂ及び第３の変形パルス信号（基準パルス＋１８０°）２２ｃとが所定の振幅値関係及び位相関係となるように調整されているものとする。【０１４１】  また、未知のＥ／Ｏコンバータと接続されたとき等は、前述した第３の実施の形態と同様に、ＶＥＣＰをサンプリングオシロスコープからのフィードバック情報を使って調整することもある。【０１４２】  （第５の実施の形態）
まず、本発明の第５の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図１３により説明する。【０１４３】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１１に示した本発明の第４の実施の形態によるパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２を変更したものであるので、以下では、第４の実施の形態との差異について説明する。【０１４４】  図１３に示すように、基木パルス発生回路１２ａは、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号（基本波）２１を発生する。【０１４５】  また、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａを発生する。【０１４６】  また、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１の第１の遅延部１２ｂ１１からの出力を受けて、図１２に示すような前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量１８０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅と同じ振幅を有する第２の変形パルス信号２２ｂを発生する。【０１４７】  この第２の変形パルス信号２２ｂは、すなわち、基準パルスである。【０１４８】  また、第３の変形パルズ発生回路１２ｂ３は、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２の第２の遅延部１２ｂ２１からの出力を受けて、図１２に示すような前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量１８０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第３の変形パルス信号（基準パルス＋１８０°）２２ｃを発生する。【０１４９】  また、信号合波器１２ｃは、これらの第１の変形パルス信号２２ａ、第２の変形パルス信号２２ｂ及び第３の変形パルス信号２２ｃとを合波して図１２に示すような前記階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３を出力する。【０１５０】  なお、前述した第４の実施の形態においては、第１の遅延部１２ｂ１１、第２の遅延部１２ｂ２１及び第３の遅延部１２ｂ３１のそれぞれの遅延量は、（第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量）＜（第２の遅延部１２ｂ２１の遅延量）＜（第３の遅延部１２ｂ３１の遅延量）という関係が成り立つように設定されていたが、本実施の形態においては、上記の関係を満たす必要はない。【０１５１】  以下の説明は、前述した第４の実施の形態と同様であるので省略する。【０１５２】  （第６の実施の形態）
まず、本発明の第６の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図１４により説明する。【０１５３】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１に示した本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器の装置評価システム１０におけるパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２を変更したものであり、その他の構成は図１と同様である。【０１５４】  したがって、図１４においては、パルス発生部１２のみを図示し、その他の図１と同様な構成については図示を省略する。【０１５５】  図１４に示すように、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムのパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するために、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号を発生する基本パルス発生回路１２ａと、前記基本パルス発生回路１２ａによって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相を有する第１の変形パルス信号を発生する第１の変形パルス発生回路１２ｂ１と、前記基本パルス発生回路１２ａによって発生される前記基本パルス信号のビット列と同一のビット列で、前記基本パルス信号の位相と異なる位相を有する変形パルスとして前記基本パルス信号の位相よりも所定量だけ遅れた位相を有する第２、第３、第４及び第５の変形パルス信号を発生する第２、第３、第４及び第５の変形パルス発生回路１２ｂ２、１２ｂ３、１２ｂ４、１２ｂ５と、前記第１乃至第５の変形パルス発生回路１２ｂ１、１２ｂ２、１２ｂ３、１２ｂ４，１２ｂ５によって発生される前記第１乃至第５の変形パルス信号とを合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波器１２ｃとを有している。【０１５６】  さらに、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第１の遅延部１２ｂ１１と、この第１の遅延部１２ｂ１１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第１の振幅調整部１２ｂ１２とを有している。【０１５７】  同様に、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第２の遅延部１２ｂ２１と、この第２の遅延部１２ｂ２１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第２の振幅調整部１２ｂ２２とを有している。【０１５８】  同様に、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第３の遅延部１２ｂ３１と、この第３の遅延部１２ｂ３１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第３の振幅調整部１２ｂ３２とを有している。【０１５９】  同様に、第４の変形パルス発生回路１２ｂ４は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第４の遅延部１２ｂ４１と、この第４の遅延部１２ｂ４１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第４の振幅調整部１２ｂ４２を有している。【０１６０】  同様に、第５の変形パルス発生回路１２��５は、基本パルス信号２１を受けて、その位相を遅らせるための第５の遅延部１２ｂ５１と、この第５の遅延部１２ｂ５１から出力されたパルス信号の振幅を調整するための第５の振幅調整部１２ｂ５２とを有している。【０１６１】  ここで、第１の遅延部１２ｂ１１、第２の遅延部１２ｂ２１、第３の遅延部１２ｂ３１、第４の遅延部１２ｂ４１及び第５の遅延部１２ｂ５１のそれぞれの遅延量は、（第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量）＜（第２の遅延部１２ｂ２１の遅延量）＜（第３の遅延部１２ｂ３１の遅延量）＜（第４の遅延部１２ｂ４１の遅延量）＜（第５の遅延部１２ｂ５１の遅延量）という関係が成り立つように設定されている。【０１６２】  また、第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量は０としても良いし、あるいは、第１の遅延部１２ｂ１１を省略する構成としても良い。【０１６３】  さらに、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、信号合波器１２ｃで合波されて形成される階段波の基準となる基準パルス信号２２ｂを発生する基準パルス発生回路である。【０１６４】  したがって、第３の振幅調整部１２ｂ３２を省略する構成としても良い。【０１６５】  具体的には、基本パルス発生回路１２ａは、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号（基本波）２１を発生する。【０１６６】  また、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａ１を発生する。【０１６７】  また、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、図１５に示すような前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／２の振幅を有する第２の変形パルス信号（基準パルス−９０°）２２ａ２を発生する。【０１６８】  また、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、図１５に示すような前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅と同じ振幅を有する第３の変形パルス信号２２ｂを発生する。【０１６９】  この第３の変形パルス信号２２ｂは、すなわち、基準パルスである。【０１７０】  また、第４の変形パルス発生回路１２ｂ４は、図１５に示すような前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／２の振幅を有する第４の変形パルス（基準パルス＋９０°）２２ｃ１を発生する。【０１７１】  また、第５の変形パルス発生回路１２ｂ５は、図１５に示すような前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第５の変形パルス（基準パルス＋１８０°）２２ｃ２を発生する。【０１７２】  また、信号合波器１２ｃは、これらの第１の変形パルス２２ａ１、第２の変形パルス２２ａ２、第３の変形パルス２２ｂ、第４の変形パルス２２ｃ１及び第５の変形パルス２２ｃ２とを合波して図１５に示すような前記階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３を出力する。【０１７３】  そして、この階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３は、図１のローパスフィルタを通過することにより、平滑化された図１５に示すようなフィルタ出��波２４として被試験機器のストレス試験に供するために、図１のＤＵＴ１５及びサンプリングオシロスコープ１７に送出される。【０１７４】  この場合、図１のアイ開口度設定部１３から振幅値設定部１３ａを介してパルス発生部１２の第１、第２、第３、第４及び第５の変形パルス発生回路１２ｂ１、１２ｂ２、１２ｂ３、１２ｂ４、１２ｂ５に対して、最終的に、フィルタ出力波２４が所望のアイ開口度を有するように、第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａ１、第２の変形パルス信号（基準パルス−９０°）２２ａ２、第３の変形パルス信号（基準パルス）２２ｂ、第４の変形パルス信号（基準パルス＋９０°）２２ｃ１及び第５の変形パルス信号（基準パルス＋１８０°）２２ｃ２とが所定の振幅値関係及び位相関係となるように調整されているものとする。【０１７５】  また、未知のＥ／Ｏコンバータと接続されたとき等は、前述した第３の実施の形態の同様に、ＶＥＣＰをサンプリングオシロスコープからのフィードバック情報を使って調整することもある。【０１７６】  （第７の実施の形態）
まず、本発明の第７の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図１６により説明する。【０１７７】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１４に示した本発明の第６の実施の形態によるパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２を変更したものであるので、以下では、第６の実施の形態との差異について説明する。【０１７８】  図１６に示すように、基本パルス発生回路１２ａは、所定のビット列で、所定の振幅を有する基本パルス信号（基本波）２１を発生する。【０１７９】  また、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１は、前記基本パルス信号の位相と同じか又は遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第１の変形パルス信号（基準パルス−１８０°）２２ａ１を発生する。【０１８０】  また、第２の変形パルス発生回路１２ｂ２は、第１の変形パルス発生回路１２ｂ１の第１の遅延部１２ｂ１１からの出力を受けて、図１５に示すような前記第１の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／２の振幅を有する第２の変形パルス信号（基準パルス−９０°）２２ａ２を発生する。【０１８１】  また、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３は、第２の変形パルス発生同路１２ｂ２の第２の遅延部１２ｂ２１からの出力を受けて、図１５に示すような前記第２の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅と同じ振幅を有する第３の変形パルス信号２２ｂを発生する。【０１８２】  この第３の変形パルス信号２２ｂは、すなわち、基準パルスである。【０１８３】  また、第４の変形パルス発生回路１２ｂ４は、第３の変形パルス発生回路１２ｂ３の第３遅延部１２ｂ３１からの出力を受けて、図１５に示すような前記第３の変形パルス信号の位相よりも所定最９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／２の振幅を有する第４の変形パルス信号（基準パルス＋９０°）２２ｃ１を発生する。【０１８４】  また、第５の変形パルス発生回路１２ｂ５は、第４の変形パルス発生回路１２ｂ４の第４の遅延部１２ｂ４１からの出力を受けて、図１５に示すような前記第４の変形パルス信号の位相よりも所定量９０°だけ遅れた位相で、且つ、前記所定の振幅の１／４の振幅を有する第５の変形パルス信号（基準パルス＋１８０°）２２ｃ２を発生する。【０１８５】  また、信号合波器１２ｃは、これらの第１の変形パルス信号２２ａ１、第２の変形パルス信号２２ａ２、第３の変形パルス信号２２ｂ．第４の変形パルス信号２２ｃ１及び第５の変形パルス信号２２ｃ２とを合波して図１５に示すような前記階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３を出力する。【０１８６】  なお、前述した第４の実施の形態においては、第１の遅延部１２ｂ１１、第２の遅延部１２ｂ２１．第３の遅延部１２ｂ３１、第４の遅延部１２ｂ４１及び第５の遅延部１２ｂ５１のそれぞれの遅延量は、（第１の遅延部１２ｂ１１の遅延量）＜（第２の遅延部１２ｂ２１の遅延量）＜（第３の遅延部１２ｂ３１の遅延量）＜（第４の遅延部１２ｂ４１の遅延量）＜（第５の遅延部１２ｂ５１の遅延量）という関係が成り立つように設定されていたが、本実施の形態においては、上記の関係を満たす必要はない。【０１８７】  以下の説明は、前述した第６の実施の形態と同様であるので省略する。【０１８８】（第８の実施の形態）
まず、本発明の第８の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムの構成について図１７により説明する。【０１８９】  なお、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、図１に示した本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器の装置評価システム１０におけるパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２を変更したものであり、その他の構成は図１と同様である。【０１９０】  したがって、図１７においては、パルス発生部１２とローパスフィルタ１４のみを図示し、その他の図１と同様な構成については図示を省略する。【０１９１】  すなわち、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムのパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２は、信号の立ち上がり及び立ち下がりが階段状に変化する階段波で形成されたパルス信号を発生するために、前記基本パルス発生回路１２ａ及び前記変形パルス発生回路１２ｂとして、初段をマスターとして２段以降がそれぞれスレーブとなる関係になされていると共に、初段のデータ端子に、所定のデータ周波数を有するデータが供給され、且つ、各段のクロック端子には、前記データ周波数の２倍の周波数を有するクロックが共通に供給されていることにより、中間段からの出力を基準パルス信号（基準波）としたとき前記中間段より前の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ進んだ位相を有する所定数の第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）を出力すると共に、前記中間段より後の段から前記基準波の位相よりも所定の位相量だけ遅れた位相を有する所定数の第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）を出力する複数段縦続接続されたフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，…と、前記複数段縦続接続されたフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，…の各段の出力を各別に受ける複数段の増幅器Ａ１，Ａ２，…と、前記複数段の増幅器Ａ１，Ａ２，…のそれぞれの出力を合波して前記階段波で形成されたパルス信号を出力する信号合波部１００とを備え、前記振幅値設定部１３，１３ａは、前記複数段の増幅器Ａ１，Ａ２，…のそれぞれのゲイン設定部１，２，…に対して、最終的に、ローパスフィルタ１４からの出力が所望のアイ開口度を有するように、前記基準パルス信号（基準波）と、前記第１の変形パルス信号（マイナス位相変形波）及び第２の変形パルス信号（プラス位相変形波）とが所定の振幅値関係となるようなゲインに設定するゲイン設定部１０１，１０２，１０３を含むことを特徴とする。【０１９２】  具体的には、本実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムのパルスパターンジェネレータ１１のパルス発生部１２は、図１７に示すように、５段従続接続されたフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５と、これらのフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５の各段の出力を各別に受ける５段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５とを有している。【０１９３】  ここで、５段従続接続されたフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５は、初段のフリップフロップＦＦ１にＤフリップフロッ��の内部でマスター段として用いられるフリップフロップを使用し、２段以降のフリップフロップＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５がＤフリップフロップの内部でスレーブ段として用いられるフリップフロップを使用する構成になされている。【０１９４】  そして初段のフリップフロップＦＦ１のデータ端子に、例えば、１０ＧＨｚ帯のデータが供給されるとするとき、各段のフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５のクロック端子には、データ周波数の２倍の周波数２×１０ＧＨｚを有するクロックが共通に供給されているものとする。【０１９５】  これにより、５段従続接続されたフリップフロップＦＦ１，ＦＦ２，ＦＦ３，ＦＦ４，ＦＦ５においては、それぞれ、データがクロックの立ち上がり及び立ち下がりエッジ毎にホールドされながら、初段から最終段までデータがクロックの立ち上がり及び立ち下がりエッジ毎にシフトされることになる。【０１９６】  このため、３段目のフリップフロップＦＦ３からの出力を基準波としたとき、初段のフリップフロップＦＦ１からは、基準波−１８０°の位相関係を有した第１の変形波が出力されることになる。【０１９７】  同様にして、２段目のフリップフロップＦＦ２からは、基準波−９０°の位相関係を有した第２の変形波が出力されることになる。【０１９８】  同様にして、４段目のフリップフロップＦＦ４からは、基準波＋９０°の位相関係を有した第３の変形波が出力されることになる。【０１９９】  同様にして、５段目のフリップフロップＦＦ４からは、基準波＋１８０°の位相関係を有した第４の変形波が出力されることになる。【０２００】  そして、３段目のフリップフロップＦＦ３から出力される基準波は、３段目の増幅器Ａ３に供給される。【０２０１】  また、初段のフリップフロップＦＦ１から出力される基準波−１８０°の位相関係を有した第１の変形波は、初段の増幅器Ａ１に供給される。【０２０２】  また、２段目のフリップフロップＦＦ２から出力される基準波−９０°の位相関係を有した第２の変形波は、２段目の増幅器Ａ２に供給される。【０２０３】  同様にして、４段目のフリップフロップＦＦ４から出力される基準波＋９０°の位相関係を有した第３の変形波は、４段目の増幅器Ａ４に供給される。【０２０４】  同様にして、５段目のフリップフロップＦＦ４から出力される基準波＋１８０°の位相関係を有した第４の変形波は、５段目の増幅器Ａ５に供給される。【０２０５】  すなわち、これらの基準波及び第１乃至第４の変形波は、第５の実施の形態の図１４に示した基準パルス信号（基準波）２２ｂと、第１の変形パルス信号（基準波−１８０°）２２ａ１、第２の変形パルス信号（基準波−９０°）２２ａ２、第３の変形パルス信号（基準波＋９０°）２２ｃ１及び第４の変形パルス信号（基準波＋１８０°）２２ｃ２と同様の位相関係を有して各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５から出力されることになる。【０２０６】  そして、これらの各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５から出力されるそれぞれのパルス信号２２ｂ、２２ａ１、２２ａ２、２２ｃ１、２２ｃ２は、図１の信号合波器１２ｃに相当する信号合波部１００で合波された後、ローパスフィルタ１４を通過することによ���、平滑化された図１４に示すようなフィルタ出力波２４として被試験機器のストレス試験に供するために、図１のＤＵＴ１５及びサンプリングオシロスコープ１７に送出される。【０２０７】  ここで、各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５には、図１のアイ開口度設定部１３及び振幅値設定部１３ａを構成する設定部１０１、ＣＰＵ１０２及びデジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器１０３を介して、それぞれのゲイン設定部１，２，３，４，５に対して、最終的に、フィルタ出力波２４が所望のアイ開口度を有するように、基準パルス信号（基準波）２２ｂと、第１の変形パルス信号（基準波−１８０°）２２ａ１、第２の変形パルス信号（基準波−９０°）２２ａ２、第３の変形パルス信号（基準波＋９０°）２２ｃ１及び第４の変形パルス信号（基準波＋１８０°）２２ｃ２とが所定の振幅値関係となるようなゲインが設定されているものとする。【０２０８】  具体的には、設定部１０１により所望のアイ開口度が設定されると、ＣＰＵ１０２がその設定された所望のアイ開口度に基づいて各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５から出力されるそれぞれのパルス信号２２ｂ、２２ａ１、２２ａ２、２２ｃ１、２２ｃ２が所定の振幅値となるように、各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５のそれぞれのゲイン設定部１，２，３，４，５に対して設定すべく所定のゲイン設定値を演算により算出するかあるいはそれらを予めテーブル形式で記憶しているＣＰＵ１０２内のＲＯＭから読み出してデジタルデータでデジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器１０３に出力する。【０２０９】  また、前述した第３の実施の形態と同様に、未知のＥ／Ｏコンバータと接続されたとき等は、Ｄ／Ａ変換器１０３に出力するデジタルデータをサンプリングオシロスコープからのフィードバック情報を使って調整することもできる。【０２１０】  デジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器１０３は、それらのデジタルデータをアナログ値に変換して各段の増幅器Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５のそれぞれのゲイン設定部１，２，３，４，５に対して設定する。【０２１１】  なお、図１７において２段目の増幅器Ａ２と４段目の増幅器Ａ４とを省略した構成とすることにより、第４の実施の形態の図１２に示した基準パルス信号（基準波）２２ｂと、第１の変形パルス信号（基準波−１８０°）２２ａ、第２の変形パルス信号（基準波＋１８０°）２２ｃと同様の位相関係を有して各段の増幅器Ａ１，Ａ３，Ａ５から出力されることになる。【０２１２】  さらに、図１７において１段目の増幅器Ａ１と５段目の増幅器Ａ５とを省略した構成とし、入力するクロックをデータと同期する（１倍の）クロックとすることでも、第４の実施の形態の図１２に示した基準パルス信号（基準波）２２ｂと、第１の変形パルス信号（基準波−１８０°）２２ａ、第３の変形パルス信号（基準波＋１８０°）２２ｃと同様の位相関係を有して各段の増幅器Ａ２，Ａ３，Ａ４から出力されることになる。【０２１３】  図１８は、フィルタ出力波２４を、図１のサンプリングオシロスコープ１７で観測したときのアイ波形を示しており、このアイ波形はＶＥＣＰ＝２．３１ｄｂのアイ開口度を有している。【０２１４】  図１９は、ローパスフィルタ通過��の階段波で形成されたパルス信号（合成波）２３を、図１のサンプリングオシロスコープ１７で観測したときのアイ波形を示しており、このアイ波形は図１８に示したフィルタ出力波２４のそれと比較して平滑化されていないのが一目瞭然である。【０２１５】  図２０Ａ，Ｂは、本実施の形態において、基本波と各変形波との振幅値関係及び位相関係を適宜に調整すると共に、ローパスフィルタ１４との組み合わせによって得られるアイ波形を示している。【０２１６】  すなわち、図２０Ａに示すアイ波形は高いアイ開口度の場合であるのに対し、図２０Ｂに示すアイ波形は低いアイ開口度の場合である。【０２１７】  なお、第４乃至第８実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムによっても、図１に示した本発明の第１の実施の形態によるパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システム１０と同様の効果が得られることはいうまでもない。【０２１８】  したがって、以上のような本発明によれば、従来技術による問題点を解消して、パルスパターンジェネレータ自体で設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生することができるように改良すると共に、このように改良されたパルスパターンジェネレータを通信機器評価システムに用いることにより、被試験機器の評価試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができるようにしたパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムを提供することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０２１９】  以上のように、本発明によるパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器評価システムによれば、パルスパターンジェネレータ自体で設定された所定のアイ開口度を有する所望のパルスパターンを有するパルス信号を発生することができるという効果を有し、そのパルスパターンジェネレータを用いる通信機器評価システムは、被試験機器に対する評価試験を容易化して従来の評価システムよりも生産性を高くすることができるという効果を有し、電気通信装置や光通信装置等を評価するパルス信号を発生するパルスパターンジェネレータ及びそれを用いる通信機器置評価システム等として有用である。
【図１】
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【図２】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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