(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学性能を測定すべき光ピックアップの凹所に嵌まり込むことによって、光ピックアップの予め定めるＸ方向の一端部を保持する第１保持部材と、
前記光ピックアップの前記Ｘ方向の他端部には、前記Ｘ方向に垂直なＹ方向に延びる主軸が設けられ、前記主軸の両端部を上方から押さえるとともに、前記光ピックアップを前記Ｘ方向一方側に付勢する第２保持部材と、
前記保持された光ピックアップに対して、測定用光ディスクを予め定めるスキュー位置に保持する光ディスク保持手段と、
前記測定すべき光ピックアップが、前記測定用光ディスクから読み出すことによって生じた電気信号を光学情報値に演算する制御手段を有する制御装置とを備えることを特徴とする光ピックアップ性能測定装置。
【請求項２】
前記第１および第２保持部材は、少なくとも前記Ｘ方向に直線的に変位可能で、かつＸ方向とＹ方向と、Ｘ方向およびＹ方向に垂直なＺ方向とに平行な、Ｘ〜Ｚ軸線まわりに角変位可能な精密ステージ上に固定されることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ性能測定装置。
【請求項３】
前記光ディスク保持手段は、保持すべき測定用光ディスクを、予め定めるセンタ位置に規制するセンタ規制部材を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の光ピックアップ性能測定装置。
【請求項４】
前記光ディスク保持手段は、前記スキュー位置と、このスキュー位置から離反する予め定める離反位置との間で直線的に移動可能に設けられるものであって、
前記スキュー位置と前記離反位置との間で所定の間隔を開けて配置され、前記光ディスク保持手段の位置を検出する複数の位置センサを備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光ピックアップ性能測定装置。
【請求項５】
前記制御装置は、前記各位置センサに個別に割り当てられた数値信号、およびこの数値信号に個別の位置情報が、予め記憶された記憶手段を有し、
前記制御手段は、位置センサが出力した数値信号と、前記記憶手段に記憶された数値信号とを比較して、前記光ディスク保持手段の位置を判定することを特徴とする請求項４記載の光ピックアップ性能測定装置。
【請求項６】
前記制御手段は、移動前の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号と、移動後の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号とを比較して、光ディスク保持手段の移動方向を判定することを特徴とする請求項５記載の光ピックアップ性能測定装置。
【請求項７】
少なくとも前記光ディスク保持手段の制御命令を入力するために必要な最低限の構成を有する操作手段を備え、
前記操作手段から出力された制御命令は、前記制御装置に入力され、制御装置の制御手段は、前記制御命令に基づいて、少なくとも光ディスク保持手段を制御することを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の光ピックアップ性能測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップの光学性能を測定する光ピックアップ性能測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクの記録情報を光学的に読み取る光ピックアップは、その光学特性を厳密に調整される必要がある。このような光ピックアップの光学性能の測定は、確認項目および工程数が多く、時間がかかると言う問題がある。したがって、光学性能の測定以外の工程、たとえば、光ピックアップを予め定める保持位置に正確に保持する工程や測定用の光ディスクを正確に保持する工程にかかる時間の短縮が望まれている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
したがって本発明の目的は、光ピックアップの光学性能の測定を早く行うことができる光ピックアップ性能測定装置を提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の本発明は、光学性能を測定すべき光ピックアップの凹所に嵌まり込むことによって、光ピックアップの予め定めるＸ方向の一端部を保持する第１保持部材と、
前記光ピックアップの前記Ｘ方向の他端部には、前記Ｘ方向に垂直なＹ方向に延びる主軸が設けられ、前記主軸の両端部を上方から押さえるとともに、前記光ピックアップを前記Ｘ方向一方側に付勢する第２保持部材と、
前記保持された光ピックアップに対して、測定用光ディスクを予め定めるスキュー位置に保持する光ディスク保持手段と、
前記測定すべき光ピックアップが、前記測定用光ディスクから読み出すことによって生じた電気信号を光学情報値に演算する制御手段を有する制御装置とを備えることを特徴とする光ピックアップ性能測定装置である。
【０００５】
本発明に従えば、光学性能を測定すべき光ピックアップの予め定めるＸ方向一端部には凹所が形成される。この光ピックアップが光ディスク再生装置に搭載されるときには、凹所に、光ディスク再生装置の光ピックアップの変位を、光ディスクの回転中心と光ディスクの半径方向外方端部とを結ぶ直線に沿うように案内する副軸が嵌まり込む。この凹所に第１保持部材が嵌まり込んで、光ピックアップのＸ方向一端部が保持される。このように、光ピックアップの凹所に第１保持部材を嵌め込むだけで、光ピックアップが保持されるので、光ピックアップを保持する工程にかかる時間が短縮される。
【０００６】
上述のように、保持された光ピックアップによって、光ディスク保持手段によって、予め定めるスキュー位置に保持された測定用光ディスクから読み出された電気信号が制御装置によって、光学情報値に演算される。測定作業者はこの光学情報値に基づいて、光ピックアップの光学性能の評価を行うことができる。
【０００８】
また光ピックアップのＸ方向他端部には、Ｘ方向に垂直なＹ方向に延びる主軸が設けられる。この光ピックアップが光ディスク再生装置に搭載されたとき、主軸は光ピックアップの変位を、光ディスクの回転中心と光ディスクの半径方向外方端部とを結ぶ直線に沿うように案内する。第１保持部材によってＸ方向一方側が保持された光ピックアップが、主軸の両端部を第２保持部材によって上方から押さえられることによって、第１保持部材側に付勢される。これによって、光ピックアップが予め定めるピックアップ保持位置に確実に保持される。
【０００９】
請求項２記載の本発明は、前記第１および第２保持部材は、少なくとも前記Ｘ方向に直線的に変位可能で、かつＸ方向とＹ方向と、Ｘ方向およびＹ方向に垂直なＺ方向とに平行な、Ｘ〜Ｚ軸線まわりに角変位可能な精密ステージ上に固定されることを特徴とする。
【００１０】
本発明に従えば、第１および第２保持部材は精密ステージ上に固定される。したがって、光ピックアップ性能測定装置を複数台製造する場合に、これらの第１および第２保持部材に、製造ロット毎のばらつきがあったとしても、精密ステージによって、これらのばらつきを吸収することができ、全ての光ピックアップ性能測定装置において、上記第１および第２保持部材は同一の位置精度を再現することができる。
【００１１】
請求項３記載の本発明は、前記光ディスク保持手段は、保持すべき測定用光ディスクを、予め定めるセンタ位置に規制するセンタ規制部材を備えることを特徴とする。
【００１２】
本発明に従えば、光ディスク保持手段は、測定用光ディスクを予め定めるセンタ位置に規制するセンタ規制部材を備えるので、測定用光ディスクに製造ロット毎のばらつきがあったとしても、第１および第２保持部材によって保持された光ピックアップに対して、予め定めるスキュー位置を再現することができ、これによって、測定用光ディスクに製造ロット毎のばらつきに起因する光ピックアップの性能測定結果のばらつきを防ぐことができる。
【００１３】
請求項４記載の本発明は、前記光ディスク保持手段は、前記スキュー位置と、このスキュー位置から離反する予め定める離反位置との間で直線的に移動可能に設けられるものであって、
前記スキュー位置と前記離反位置との間で所定の間隔を開けて配置され、前記光ディスク保持手段の位置を検出する複数の位置センサを備えることを特徴とする。
【００１４】
本発明に従えば、前記光ディスク保持手段は、スキュー位置と、このスキュー位置から離反する離反位置との間を、直線的に移動可能に設けられる。この直線に沿って、所定の間隔を開けた状態で複数の位置センサが設けられ、この位置センサは光ディスク保持手段が位置されたときのみ、信号を出力する。このように位置センサを、光ディスク保持手段の移動軌跡に沿って配置することによって、制御装置の制御手段は、測定される光ピックアップに対する測定用光ディスクの位置を検出することができ、光ピックアップに対して測定用光ディスクを、光学性能の測定時に読み取るべき光学測定用情報の記録位置に配置されるように制御することができる。
【００１５】
請求項５記載の本発明は、前記制御装置は、前記各位置センサに個別に割り当てられた数値信号、およびこの数値信号に個別の位置情報が、予め記憶された記憶手段を有し、
前記制御手段は、位置センサが出力した数値信号と、前記記憶手段に記憶された数値信号とを比較して、前記光ディスク保持手段の位置を判定することを特徴とする。
【００１６】
本発明に従えば、制御装置は、記憶手段と制御手段とを含む。記憶手段には、各位置センサに個別に割り当てられた数値信号と、この数値信号に個別の光ディスク保持手段の位置情報とが記憶されている。制御手段は、光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号と、記憶手段に記憶された数値信号とを比較して、光ディスク保持手段の位置を認識する。したがって制御手段は、位置センサから入力される信号を演算する必要がなくなる。
【００１７】
請求項６記載の本発明は、前記制御手段は、移動前の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号と、移動後の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号とを比較して、光ディスク保持手段の移動方向を判定することを特徴とする。
【００１８】
本発明に従えば、各位置センサには、個別の数値信号が割り当てられているので、制御手段は、移動前の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号と、移動後の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号とを比較するだけで、光ディスク保持手段の移動方向を判定することができる。
【００１９】
請求項７記載の本発明は、少なくとも前記光ディスク保持手段の制御命令を入力するために必要な最低限の構成を有する操作手段を備え、
前記操作手段から出力された制御命令は、前記制御装置に入力され、制御装置の制御手段は、前記制御命令に基づいて、少なくとも光ディスク保持手段を制御することを特徴とする。
【００２０】
本発明に従えば、光ピックアップ性能測定装置は、少なくとも光ディスク保持手段の制御命令を入力するために必要な最低限の構成を有する制御手段を備える。制御装置の制御手段は、操作手段からＩ／Ｏポートに入力された制御命令に基づいて光ディスク保持手段を制御する。
【００２１】
この制御装置には、光ディスク保持手段を制御するための専用のプログラムが記憶されている。また操作手段は、たとえば光ディスク保持手段を制御するための複数の命令が、それぞれアイコン化されて表示される表示画面と、これらの各命令を切り替えるためのカーソルキーと、各命令の実行を決定するための決定キーと、各命令の実行をキャンセルするための否定キーとを備える。このように、測定作業者は、光ピックアップ測定用の最低限の操作キーしか使用しないので、制御装置のキーボードやマウスを使用して命令を入力する場合に比較して、誤操作が減少し、操作性も向上する。また、パーソナルコンピュータを使用するので、光ピックアップの設計変更に応じて制御命令の変更も容易である。
【００３４】
【発明の実施の形態】
まず図１〜図３を参照して、本発明の光ピックアップ性能測定装置１００によって、光学性能が測定される光ピックアップ１について説明する。図１は、光ピックアップ１の簡略化した断面図であり、図２は光ピックアップ１を図１の下方から見た図であり、図３は光ピックアップ１を図１の右方からみた図である。
【００３５】
光ピックアップ１は、アクチュエータユニット２と、レンズユニット３と、ホログラムユニット４と、反射ミラー５と、第１および第２スキュー調整用ボルト６，７と、主軸２７とを含んで構成される。なお本明細書で定義するＺ方向（図１の上下方向）とは、アクチュエータユニット２の底壁８の厚み方向を指し、Ｘ方向（図１の左右方向）とは、上記Ｚ方向に垂直な方向を指し、Ｙ方向（図１の紙面に垂直な方向）とは、上記Ｚ方向およびＸ方向に垂直な方向を指す。
【００３６】
まず、アクチュエータユニット２について説明する。アクチュエータユニット２は、底壁８と、第１，第２ボルト挿通孔９，１０と、第１，第２側壁１１，１２と、球面座１４と、ミラー支持台１５と、副軸嵌合凹所１６と、主軸挿通孔１７と、開口部２１とを含んで構成される。
【００３７】
第１，第２側壁１１，１２は、底壁８のＸ方向両端部からＺ方向一方側（図１の上方）に立設される。第１側壁１１には、第１側壁１１をＸ方向に貫通する略円柱形状の開口部２１が形成される。さらに、第１側壁１１のＸ方向一端部（図１の右方）には、連なり部１８が連なって形成され、この連なり部１８のＺ方向一端部（図１の上方）に、Ｘ方向一方側（図１の右方）に臨んで開口しＹ方向（図１の紙面に垂直な方向）に延びる副軸嵌合凹所１６が形成される。この副軸嵌合凹所１６に、アクチュエータユニット２を光ディスクの回転中心と、半径方向外方端部とを結ぶ直線に沿うように、案内するための副軸２８が嵌まり込む。第２側壁１２のＺ方向一端部には、Ｙ方向（図１の紙面に垂直な方向）に貫通する主軸挿通孔１７が形成される。この主軸挿通孔１７に、アクチュエータユニット２を可動させるための送りネジなどの主軸２７が挿通される。
【００３８】
球面座１４は、Ｚ方向一方側（図１の上方）になるにつれて拡径する球面の一部から成る支持面１３を有し、底壁８の一表面１９に一体的に形成される。ミラー支持台１５は、底壁８の一表面の１９上の球面座１４の非形成領域に、その傾斜面をＸ方向一方側（図１の右方）に向けて一体的に形成される。このミラー支持台１５に反射ミラー５が固定される。段付きの第１ボルト挿通孔９は、底壁８のＸ方向一端部のＹ方向一端部（図２の下方）に、底壁８および球面座１４をＺ方向（図１の上下方向）に貫通して形成される。第２ボルト挿通孔１０は、底壁８のＸ方向他端部（図１の左方）のＹ方向略中央部（図２参照）に、Ｚ方向（図１の上下方向）に貫通して形成される。
【００３９】
次に、レンズユニット３について説明する。レンズユニット３は、ケーシング２２と、レンズホルダ２３と、マグネット２４と、サスペンションワイヤ２６と、ダンパホルダ２９と、爪部３０とを含んで構成される。
【００４０】
ケーシング２２は、底壁３１と、底壁３１のＸ方向略中央部から立設される第１側壁３３と、底壁３１のＸ方向他端部（図１の左方）から立設される第２側壁３２と、第２側壁３２のＸ方向他方面からＸ方向他方側に突出する突出片３４と、底壁３１の上記第１側壁３３と第２側壁３２との間に形成されるレーザ透過孔３５とを有する。
【００４１】
ケーシング２２の第１側壁３３のＸ方向一方面にダンパホルダ２９が固定され、第１側壁３３のＸ方向他方面と第２側壁３２のＸ方向一方面とにマグネット２４が固定される。このケーシング２２の上記各マグネット２４間に、集光レンズ２５が固定されたレンズホルダ２３が配置され、このレンズホルダ２３はサスペンションワイヤ２６によって、上記ダンパホルダ２９に弾発的に支持される。
【００４２】
また、ケーシング２２の底壁３１の他表面３６には、Ｚ方向他方側（図１の下方）に突出する複数本（本実施形態では４本）の爪部３０が一体的に形成される。この各爪部３０が、アクチュエータユニット２の球面座１４の支持面１３上に摺動自在に乗載されて、レンズユニット３がアクチュエータユニット２に支持される。
【００４３】
ケーシング２２の底壁３１のＸ方向一方側には、Ｚ方向に貫通される第１スキュー用ネジ孔３８が形成され、上記突出片３４には、Ｚ方向（図１の上下方向）に貫通される第２スキュー用ネジ孔３７が形成される。
【００４４】
次に、第１および第２スキュー調整用ボルト６，７について説明する。第１スキュー調整用ボルト６は、アクチュエータユニット２の底壁８の他表面側から、第１ボルト挿通孔９を挿通され、レンズユニット３の第１スキュー用ネジ孔３８に螺合する。第２スキュー調整用ボルト７は、アクチュエータユニット２の底壁８の他表面側から、第２ボルト挿通孔１０を挿通され、レンズユニット３の第２スキュー用ネジ孔３８に螺合する。
【００４５】
前述したように、アクチュエータユニット２の球面座１４の支持面１３上に、レンズユニット３の各爪部３０が、摺動自在に支持されているので、第１スキュー調整用ボルト６および第２スキュー調整用ボルト７を締める、あるいは緩めることによって、レンズユニット３がアクチュエータユニット２の支持面１３に沿って変動する、つまり光ディスクと集光レンズ２５との位置関係であるスキュー位置が変動する。第１スキュー調整用ボルト６は、タンジェンシャル方向のスキューを調整し、第２スキュー調整用ボルト７は、ラジアル方向のスキューを調整する。
【００４６】
次に、ホログラムユニット４について説明する。ホログラムユニット４は、光ディスクの読み出し用のレーザ光を出射するレーザダイオード（図示せず）と、光ディスクからの反射光を偏光分離する偏光分離部（図示せず）と、偏光分離部を出たレーザ光を＋１次回折光および−１次回折光に回折させるホログラム部（図示せず）と、ホログラム部を出た光を受光する受光部（図示せず）とを、ユニット化して組み付けた部材である。
【００４７】
ホログラムユニット４は、基板３９とホログラム保持部４０とホログラム４１とによって構成される。図３に示すように、基板３９は矩形板状の部材であって、そのＹ方向（図３の左右方向）両端部に、Ｘ方向他方側（図３の紙面奥側）に凹設される凹部４２がそれぞれ形成される。この基台３９のＸ方向他表面にホログラム保持部４０が固定される。ホログラム保持部４０は、上記アクチュエータユニット２の第１側壁１１に形成された略円柱形状の開口部２１に、回転摺動自在に嵌まり込む略円柱形状の嵌合部４２を有し、この嵌合部４２には上記ホログラム４１が収容される収容凹所４４が形成される。ホログラム４１は、透明な直方体状の部材であって、上記ホログラム保持部４０の収容凹所４４に収容された状態で固定される。
【００４８】
上述のように構成されるホログラムユニット４を、アクチュエータユニット２に対して、光軸４５まわりに回転させることによって、ホログラムユニット４の光学特性を調整することができる。
【００４９】
次に、上記構成の光ピックアップの光学性能を測定する本発明の実施の一形態の光ピックアップ性能測定装置１００について説明する。図４は、光ピックアップ性能測定装置１００を簡略化して示す図である。光ピックアップ性能測定設備１００は、光ピックアップ１を予め定めるピックアップ保持位置に保持するとともに、測定用光ディスク３２４を予め定めるスキュー位置に保持する光ピックアップ性能測定ユニット１０１（以下、測定ユニット１０１と略記する）と、この測定ユニット１０１の近傍に配置され、測定作業者が測定ユニット１０１の制御命令を入力するために必要な最低限の構成を有する操作手段１０２と、測定ユニット１０１から離反して配置され、かつ操作手段１０２から出力された制御命令が入力され、測定ユニット１０１を制御する制御装置であるパーソナルコンピュータ１０３（以下、パソコン１０３と略記する）とを含んで構成される。
【００５０】
まず図５および図６を参照して、測定ユニット１０１の機械的構成について説明する。図５は、測定ユニット１０１の簡略化した側面図であり、図６は測定ユニット１０１の簡略化した平面図である。
【００５１】
調整装置１０１は、主基台１０４のＸ方向他方側（図５の左方）に固定される精密ステージ１０５と、この精密ステージ１０５上に固定される光ピックアップ保持ユニット１０６（以下、保持ユニット１０６と略記する）と、主基台１０４のＸ方向一方側に固定される光ディスク保持ユニット１０７とを備える。
【００５２】
まず図７および図８を参照して、精密ステージ１０５について説明する。図７は、精密ステージ１０５の側面図であり、図８は精密ステージ１０５の平面図である。精密ステージ１０５は、上記主基台１０４上に設けられ平坦な乗載面１２０を有するＸ移動ステージ１０８と、このＸ移動ステージ１０８上に設けられＺ方向他方側（図７の下方）に突出して湾曲するＺ乗載面１２１を有するＺ回転ステージ１１０と、このＺ回転ステージ１１０上に設けられ、Ｚ方向他方側に突出して湾曲するＹ乗載面１２２を有するＹ回転ステージ１１２と、このＹ回転ステージ１１２に設けられ、平坦なＸ乗載面１２３を有するＸ回転ステージ１１４とによって構成される。
【００５３】
Ｘ移動ステージ１０８は、Ｘ方向に延びるリニアスライダ１１６によって、Ｘ方向に移動可能に設けられ、Ｘ移動ステージ用マイクロメータ１１９によって、Ｘ方向の移動量が決定され、Ｘ移動ステージ固定ネジ１１５によってＸ方向に位置が固定される。
【００５４】
Ｚ回転ステージ１１０は、Ｘ移動ステージ１０８上でＺ方向に平行なＺ軸線１０９まわりに回転摺動可能に設けられ、Ｚ回転用マイクロメータ１１７によって、Ｚ軸線１０９まわりの回転量が決定され、Ｚ回転ステージ固定ネジ１１８によって、その回転位置が固定される。
【００５５】
Ｙ回転ステージ１１２は、Ｙ方向に平行なＹ軸線１１１まわりにＺ乗載面１２１に沿って回転摺動自在であり、このＹ軸線１１１に同軸に設けられるＹ回転モータ１２４によって回転駆動される。このＹ回転モータ１２４に同軸に、Ｙロータリーエンコーダ１２５が設けられ、このＹロータリーエンコーダ１２５の検出結果に基づいて、パソコン１０３によってＹ回転モータ１２４が制御され、Ｙ回転ステージ１１２のＹ軸線１１１まわりの角度位置が決定される。
【００５６】
Ｘ回転ステージ１１４は、Ｘ方向に平行なＸ軸線１１３まわりにＹ乗載面１２２に沿って回転摺動自在であり、このＸ軸線１１３に同軸に設けられるＸ回転モータ１２６によって回転駆動される。このＸ回転モータ１２６に同軸に、Ｘロータリーエンコーダ１２７が設けられ、このＸロータリーエンコーダ１２７の検出結果に基づいて、パソコン１０３によってＸ回転モータ１２６が制御され、Ｘ回転ステージ１１４のＸ軸線１１３まわりの角度位置が決定される。
【００５７】
このＸ回転ステージ１１４のＸ乗載面１２３上に、保持ユニット１０６が固定される。このように保持ユニット１０６は、精密ステージ１０５上に設けられているので、後述する保持ユニット１０６の第１〜第４保持手段１４６〜１４９に製造ロット毎にばらつきがあったとしても、これらのばらつきを吸収することができ、複数台の測定装置１０１の保持ユニット１０６の位置精度を再現することができる。また、保持ユニット１０６の位置精度にずれが生じたとしても、上記精密ステージ１０５によって、厳密な位置調整を行うことができる。
【００５８】
次に図９および図１０を参照して、保持ユニット１０６について説明する。図９は、保持ユニット１０６の平面図であり、図１０は図９の左方から見た保持ユニット１０６を示す図である。
【００５９】
保持ユニット１０６は、副基台１４１と、光ピックアップ保持手段１４２とを備えて構成される。平坦な副基台１４１は、精密ステージ１０５のＸ乗載面１２３上に固定される。この副基台１４１上に、上記光ピックアップ保持手段１４２が固定される。
【００６０】
光ピックアップ保持手段１４２について説明する。光ピックアップ保持手段１４２は、光ピックアップ１を予め定めるピックアップ保持位置に保持するものであって、光ピックアップ１のＸ方向一端部（図９の下方、図１０の右方）を保持する第１保持手段１４６と、光ピックアップ１のＸ方向他端部（図９の上方、図１０の左方）を保持する第２保持手段１４７と、光ピックアップ１のＹ方向他端部（図９の右方、図１０の紙面奥側）を保持する第３保持手段１４８と、光ピックアップ１のＹ方向一端部（図９の左方、図１０の紙面手前側）を保持する第４保持手段１４９とを含んで構成される。
【００６１】
次に、第１保持手段１４６について説明する。第１保持手段１４６は、副基台１４１からＺ方向一方側（図１０の上方）に立設される段付きの第１立設壁１５０と、この第１立設壁１５０のＸ方向他表面１５１のＺ方向一端部（図１０の上方）から、Ｘ方向他方側（図１０の左方）に突出されＸ方向に延びる嵌合凸片１５２とによって構成される。この嵌合凸片１５２が、光ピックアップ１の副軸嵌合凹所１６（図１参照）に嵌まり込むことによって、光ピックアップ１のＸ方向一端部が保持される。
【００６２】
次に、図１０を参照して第２保持手段１４７について説明する。第２保持手段１４７は、第２立設壁１５３と、第１案内部材１５５と、第１Ｚ方向移動体１５６と、連結部材１６０と、押さえ部材１５８と、一対のエルボ管１５９ａ，１５９ｂとによって構成される。
【００６３】
第２立設壁１５３は、副基台１４１のＸ方向他端部（図１０の左方）からＺ方向一方側（図１０の上方）に向けて立設され、この第２立設壁１５３のＸ方向一表面１５４に、Ｚ方向に延びる案内部材１５５が一体的に形成される。また、第２立設壁１５３のＺ方向両端部にエルボ管１５９ａ，１５９ｂの一端部が取り付けられ、このエルボ管１５９ａ，１５９ｂの他端部は、図示しないエアシリンダなどの圧縮空気供給源が取り付けられる。第１案内部材１５５には、Ｘ方向一方側から、Ｚ方向（図１０の左右方向）に移動可能に、第１Ｚ方向移動体１５６が嵌まり込む。この第１Ｚ方向移動体１５６のＸ方向一表面側に、連結部材１６０が固定される。
【００６４】
連結部材１６０は、連結部材本体１６０ａと、この連結部材１６０ａのＺ方向一端部に連なって形成される突出壁１６０ｂとによって構成される。この第１突出壁１６０ｂのＸ方向一方面に、押さえ部材１５８がＸ方向に平行な軸線１６１まわりに、回転可能に取り付けられる。
【００６５】
押さえ部材１５８は、押さえ部材本体１５８ａと、この押さえ部材本体１５８ａのＺ方向他端部（図１０の下方）に連なって形成される突出部１５８ｂと、押さえ部材本体１５８ａのＺ方向一端部のＹ方向（図１０の紙面に垂直な方向）両端部にそれぞれ設けられ、Ｘ方向一方側（図１０の右方）に延びる第１および第２アーム１６４ａ，１６４ｂとによって構成される。上記連結部材１６０の突出壁１６０ｂのＺ方向一端面１６０ｃと上記押さえ部材本体１５８ａのＺ方向他端面１５８ｃとの間には、わずかな間隙が設けられ、押さえ部材１５８は、このわずかな間隙の分だけ連結部材１６０に対して回転する、つまり押さえ部材１５８は連結部材１６０に対してガタを持たせた状態で取り付けられている。また、上記第１および第２アーム１６４ａ，１６４ｂのＸ方向一端部には、Ｚ方向他方側（図１０の下方）になるにつれて、Ｘ方向他方側（図１０の左方）に傾斜するテーパ面１６５ａ，１６５ｂが形成される。
【００６６】
上記構成を有する第２保持手段１４７による光ピックアップ１のＸ方向他端部（図１の参照）の保持方法について説明する。一方のエルボ管１５９ａから供給された圧縮空気によって、Ｚ方向移動体１５６をＺ方向一方側（図１０の上方）に配置した状態で、主軸２７が挿通された光ピックアップ１を調整装置１に装着した後、他方のエルボ１５９ｂから供給される圧縮空気によって、第１Ｚ方向移動体１５６をＺ方向他方側（図１０の下方）に移動させる。すると、押さえ部材１５８の第１および第２アーム１６４ａ，１６４ｂのテーパ面１６５ａ，１６５ｂによって、主軸２７が上方から押さえられるとともに、主軸２７はテーパ面１６５ａ，１６５ｂに沿って案内されて、Ｘ方向一方側（図１０の右方）に移動する。このとき、光ピックアップ１のＸ方向一端部は、第１保持手段１４６によって保持されているので、光ピックアップ１のＸ方向の位置が確実に保持される。また前述したように、押さえ部材１５８は連結部材１６０に対して、ガタを持った状態で取り付けられているので、光ピックアップ１の主軸２７の両端部は、第１および第２アーム１６４ａ，１６４ｂによって、それぞれ均一な力で押さえられる。
【００６７】
次に、第３保持手段１４８について説明する。第３保持手段１４８は、上記第２保持手段１４７よりもＹ方向他方側（図１０の紙面奥側）に配置され、副基台１４１から立設される第３立設壁１６６によって実現され、この第３立設壁１６６のＹ方向一端面に光ピックアップ１のＹ方向他端部が当接することによって、光ピックアップ１のＹ方向他端部が保持される。
【００６８】
次に第４保持手段１４９について説明する。第４保持手段１４９は、押さえ部材１５８の第１および第２アーム１６４ａ，１６４ｂよりも、Ｚ方向他方側（図１０の下方）に配置される。第４保持手段１４９は、Ｙ方向（図９の左右方向）に延びるボールネジを有するボールネジユニット１６７と、このボールネジユニット１６７にＹ方向に移動可能に螺合されるＹ方向移動体１６８と、このＹ方向移動体１６８のＺ方向他端部からＸ方向一方側（図１０の右方）に延びる板状の連接板１６９と、この連接板１６９のＸ方向一端部からＺ方向一方側（図１０の上方）に立ち上がる棒状の押さえ部１７０とによって構成される。
【００６９】
上記Ｙ方向移動体１６８が、ボールネジユニット１６７の軸線に沿ってＹ方向他方側（図９の右方）に移動することによって、上記押さえ部１７０が光ピックアップ１をＹ方向一方側に移動させる。このとき前述したように、光ピックアップ１のＹ方向一端部は、第３保持手段１４８によって保持されているので、光ピックアップ１は、Ｙ方向にも第４保持手段１４９によって保持される。
【００７０】
以上説明したように光ピックアップ１は、第１〜第４保持手段１４６〜１４９によって、Ｘ方向両端部およびＹ方向両端部が保持され、予め定める光ピックアップ保持位置に保持される。
【００７１】
再び、図５および図６を参照して、光ディスク保持ユニット１０７について説明する。光ディスク保持ユニット１０７は、光ピックアップ１の測定用光ディスク３２４を保持する光ディスク保持手段３０１と、この光ディスク保持手段３０１を予め定めるスキュー位置と、このスキュー位置から離反した離反位置との間で直線的に移動させる移動手段３０２と、測定される光ピックアップ１からのレーザ光を受光して、このレーザ光の強度を検知するレーザパワー検知手段３２１とによって構成される。
【００７２】
まず、移動手段３０２について説明する。光ピックアップ調整装置１０１の主基台１０４のＸ方向一方側（図５の右方）に、Ｘ方向に所定の間隔を開けて一対の脚３０３ａ，３０３ｂが立脚され、この一対の脚３０３ａ，３０３ｂ間に天板３０９が掛け渡されて固定される。天板３０９上にＸ方向（図５の左右方向）に延びる案内レール３０４が固定され、この案内レール３０４にＸ方向に移動可能な移動体３０５が装着される。この移動体３０５上に、光ディスク保持手段３０１および移動体用モータ３１０を支持する支持台３０６が固定される。天板３０９のＺ方向他方面側には、Ｘ方向（図５の左右方向）に延びるラック３０７が固定され、このラック３０７にピニオン３０８が噛合する。このピニオン３０８には、カップリング３１１を介して上記移動体用モータ３１０が同軸に取り付けられる。
【００７３】
移動体用モータ３１０が回転すると、ピニオン３０８が回転し、これに伴って移動体３０５がＸ方向に移動する。これによって、支持台３０６がＸ方向に移動し光ディスク保持手段３０１がＸ方向に移動し、光ディスク保持手段３０１に保持された測定用光ディスク３２４がＸ方向に移動する。またピニオン３０８のＺ方向他方側には、光ディスク保持手段３０１のＸ方向の位置を固定するための固定ネジ３１２が設けられる。
【００７４】
光ディスク保持手段３０１は、角変位部材３１３と、ターンテーブル３１５と、ターンテーブル用モータ３１６と、取り付け体３１８と、Ｚ方向用マイクロメータ３１９と、保持壁３２０とによって構成される。角変位部材３１３は、Ｙ方向（図５の紙面に垂直な方向）に平行な軸線３１４まわりに角変位可能に取り付けられる。この角変位部材３１３のＺ方向一表面（図５の上方）に保持壁３２０が立設され、この保持壁３２０に取り付け体３１８がＺ方向に変位可能に取り付けられる。この取り付け体３１８のＺ方向の位置は、Ｚ方向用マイクロメータ３１９によって決定され、その位置は固定ネジ３２２によって固定される。取り付け体３１８には、ターンテーブル用モータ３１６が固定され、このターンテーブル用モータ３１６に同軸に、かつ各変位部材３１３のＺ方向他表面側に、ターンテーブル３１５が設けられる。このターンテーブル３１５に測定用光ディスク３２４が保持される。
【００７５】
次に図１１を参照して、ターンテーブル３１５について説明する。このターンテーブル３１５は、測定用光ディスク３２４に製造ロット毎のばらつきがあったとしても、各測定用光ディスク３２４のセンタ位置が同一の状態で、測定用光ディスク３２４を保持することができる。図１１はターンテーブル３１５の断面図であり、（ａ）は測定用光ディスク３２４の非装着状態を示し、（ｂ）は測定用光ディスク３２４の装着状態を示す。ターンテーブル３１５は、ターンテーブル用モータ３１６に同軸に固定されるターンテーブル本体３２５と、このターンテーブル本体３２５から着脱可能に設けられる光ディスク乗載部材３２６とによって構成される。
【００７６】
ターンテーブル本体３２５のＺ方向他端部（図１１の下方）には、Ｚ方向他方側（図１１の下方）に突出する円柱状の突出柱３２７が一体的に形成され、この突出柱３２７にはＺ方向他方側に臨んで開口する係合孔３２８が凹設される。また突出柱３２７の外周面には、Ｚ方向一方側（図１１の上方）になるにつれて拡径するセンタ規制部材であるセンタ規制リング３２９が固定される。
【００７７】
光ディスク乗載部材３２６は、光ディスク３２４が乗載される乗載面３３０を有する乗載フランジ３３１と、この乗載面３３０からＺ方向一方側に突出され、上記係合孔３２８に係合する係合片３３２と、乗載フランジ３３１の他表面に固定される把持部３３３とによって構成される。
【００７８】
次に、上記ターンテーブル３１５による測定用光ディスク３２４の保持方法について説明する。図１１（ａ）に示すように、測定用光ディスク３２４の孔に光ディスク乗載部材３２６の係合片３３２を挿通した状態で、測定用光ディスク３２４を乗載フランジ３３１の乗載面３３０上に乗載する。この状態で、係合片３３２をターンテーブル本体３２５の係合孔３２８に係合させて、ターンテーブル本体３２５と光ディスク乗載部材３２６とによって、測定用光ディスク３２４を挟み込んで保持する。すると図１１（ｂ）に示すように、測定用光ディスク３２４の一表面側の内周縁３３４が、センタ規制部材３２９のテーパ面３３５に案内されて、測定用光ディスク３２４のセンタ位置が決定される。このようにして、測定用光ディスク３２４のセンタ位置が決定されるので、測定用光ディスク３２４を取り替える毎に、測定用光ディスク３２４のセンタ位置が確実に再現される。
【００７９】
次に、レーザパワー検知手段３２１について説明する。レーザパワー検知手段３２１は、各変位部材３１３のＸ方向他端部（図５の左方）に、着脱可能に設けられ、光ピックアップ１からのレーザ強度を検知される。このようにして光ピックアップ１からのレーザ強度が測定される。測定作業者は、このレーザ強度の測定結果に基づいて、光ピックアップ１が測定用光ディスク３２４の記録面に、予め定める強度のレーザ光を照射するようにレーザ光強度を調整しておく。
【００８０】
再び図６を参照して、光ディスク保持ユニット１０７は、案内レール３０４に沿って配置される複数（本実施形態では４個）の第１〜第４位置センサ３２３ａ〜３２３ｄを備える。図１２は、これらの第１〜第４位置センサ３２３ａ〜３２３ｄとパソコン１０３との接続状態を示す図である。図１２に示すように、パソコン１０３は、制御手段３４１と、記憶手段３４２と、入出力ポート３４３（以下、Ｉ／Ｏポート３４３と略記する）とを有し、Ｉ／Ｏポート３４３は、第１〜第８のピット３４４ａ〜３４４ｈを備える。これらの各第１〜第４位置センサ３２３ａ〜３２３ｄは、上述したパーソナルコンピュータ１０３のＩ／Ｏポート３４３の第１〜第４ピット３２４ａ〜３２４ｈに、それぞれ個別に対応して接続される。
【００８１】
上記第１〜第４センサ３２３ａ〜３２３ｄは、いずれも発光素子と受光素子とを備えるフォトカプラなどによって実現され、光ディスク保持手段３０１に備えられるドグなどと呼ばれる遮蔽部材（図示せず）が、発光素子から受光素子に向かう光を遮ったときに、Ｉ／Ｏポート３４３の対応するピットに「１」を出力し、発光素子から受光素子に向かう光を遮らなかったときには、Ｉ／Ｏポート３４３の対応するピットに「０」を出力する。なお、上記第１〜第４位置センサ３２３ａ〜３２３ｄは、上記遮蔽部材が同時に２つ以上の位置センサを遮らないように配置される。
【００８２】
したがって、パソコン１０３には、第１位置センサ３２３ａが遮蔽部材を検出したとき、図１３（ａ）に示す２進数のＩ／Ｏデータ「０００００００１」2が入力され、第２位置センサ３２３ｂが遮蔽部材を検出したとき図１３（ｂ）に示す２進数のＩ／Ｏデータ「００００００１０」2が入力され、第３位置センサ３２３ｃが遮蔽部材を検出したとき、図１３（ｃ）に示す２進数のＩ／Ｏデータ「００００００１００」2が入力され、第４位置センサ３２３ｄが遮蔽部材を検出したとき、図１３（ｄ）に示す２進数のＩ／Ｏデータ「００００１０００」2が入力される。
【００８３】
制御手段３４１は、Ｉ／Ｏポート３４３に入力された２進数のＩ／Ｏデータを１６進数のＩ／Ｏデータに変換して読み出す。
【００８４】
記憶手段３４２には、上記図１３（ａ）〜図１３（ｄ）に示す２進数のＩ／Ｏデータを１６進数のＩ／Ｏデータに変換したＩ／Ｏデータと、この１６進数のＩ／Ｏデータにそれそれ個別に対応する位置センサ３２３のオン情報とが予め記憶されている。つまり記憶手段３４２には図１４に示すように、「０１」16のとき第１位置センサ３２３ａがオンであると言う第１センサオン情報と、「０２」16のとき第２位置センサ３２３ｂがオンであると言う第２センサオン情報、「０４」16のとき第３位置センサ３２３ｃがオンであると言う第３センサオン情報と、「０８」16のとき第４位置センサ３２３ｄがオンであると言う第４センサオン情報が記憶されている。
【００８５】
通常、パソコンでＩ／Ｏ制御を行う場合、８ビットで構成される１ポート単位でデータの読み出しを行っており、そのデータフォーマットは、１６進数である。つまり、図１３（ｃ）および図１４に示すように第３位置センサ３２３ｃが遮蔽部材を検出したとき、制御手段３４１はＩ／Ｏポート３４３から「０００００１００」2→「０４」16と読み込む。
【００８６】
したがって先行技術では、第３位置センサ３２３ｃに遮蔽部材がある場合、制御手段は、Ｉ／Ｏポート３４３から１６進数のＩ／Ｏデータ「０４」16を読み込み、これを２進数のＩ／Ｏデータ「０００００１００」2に変換演算し、この２進数のデータの第１ビットから１つずつ順番に比較して、第３位置センサ３２３ｃのオンを認識していた。つまり、４つの位置センサを使用する場合には、制御手段は、データの読み出しに一回、変換演算に一回、および比較処理に最大で４回の処理が必要であった。
【００８７】
これに対して本件発明では、上述したように記憶手段３４２に１６進数のＩ／Ｏデータと、これに対応する位置センサオン情報とが予め記憶されているので、制御手段３４１は、Ｉ／Ｏポート３４３から１６進数のＩ／Ｏデータを読み出し、これを記憶手段３４２に記憶されている情報とを比較することによって、どの位置センサ３２３がオンされているか認識することができる。つまり、制御手段３４１の処理回数は、データの読み出しに一回、および比較処理に最大で４回の処理回数に削減され、処理速度が向上する。また、Ｉ／Ｏポート３４３を変更したとしても、上記と同様に位置センサ３２３と変更後のＩ／Ｏポートとを接続すれば、Ｉ／Ｏポートのアドレスを変更するだけの設計変更で、上記と同様に使用できる。
【００８８】
また記憶手段３４２には、各センサオン情報に基づいて、遮蔽部材の移動方向、つまり光ピックアップ保持手段３１７の移動方向の判別をするための移動方向判別情報が記憶される。図１５は、この移動方向判別情報を示す図である。つまり、記憶手段３４２には、「第２位置センサ情報から第３位置センサ情報に変化したときは、光ピックアップ保持手段３１７はＸ方向他方側（図６の右方）に移動した」などの複数の移動方向判別情報が記憶される。第２位置センサ３２３ｂから第３位置センサ３２３ｃへ遮蔽部材が移動したとき、制御手段３４１が、Ｉ／Ｏポート３４３から「０２」16の第２センサオン情報を読み出した後、Ｉ／Ｏポート３４３から「０４」16の第３センサオン情報を読み出せば、制御手段３４１は記憶手段３４２の移動方向判別情報に基づいて、光ディスク保持手段３１７の移動方向を認識することができる。
【００８９】
上述のようにして、制御装置３４１は光ディスク保持手段３１７の位置と移動方向とを認識し、この認識結果に基づいて移動体用モータ３１０を制御して光ディスク保持手段３１７をＸ方向の移動を制御する。
【００９０】
再び図４を参照して、操作手段１０２について説明する。操作手段１０２は、パソコン１０３の制御手段３４１にＩ／Ｏポート３４３を介して接続され、表示手段３４８と、命令切り替えボタン３４５と、命令肯定ボタン３４６と、命令否定ボタン３４７とを含む。表示手段３４８には、上述したレーザパワー検知手段３２１が検出したレーザ強度の測定値などが表示される。
【００９１】
測定作業者は、表示手段３４８に表示された測定作業命令に対して、命令肯定ボタン３４６を操作して命令を肯定するか、命令否定ボタン３４７を操作して命令を否定するだけで、測定ユニット１０１（図４参照）を操作することができる。したがって、測定作業者はパソコン１０３のキーボードやマウスを使用して、複雑な操作を行う必要がない。また操作手段１０２は、光ピックアップ１を測定するのに、必要最低限の構成しか有さないので、パソコン１０３のキーボードやマウスを使用して、命令を実行する場合に比較して、誤操作が減少し操作性も向上する。
【００９２】
次に前述したような構成を有する光ピックアップ性能測定装置１００による光ピックアップ１の光学特性の測定方法、特にスキュー精度の測定方法について説明する。まず、タンジェンシャル方向のスキュー精度の測定方法について説明する。調整すべき光ピックアップ１を光ピックアップ保持手段１４２によって、予め定める光ピックアップ保持位置に保持した状態で、この光ピックアップ１によって、光ディスク保持手段３０１に保持された測定用光ディスク読み取ることによって、このスキュー位置におけるジッタ値が算出され、このジッタ値を示す輝点３４９が予め定める直交座標係を有する表示手段３４８に表示される。このジッタ値とスキュー位置との関係は、図１６の実線３５０に示すような略２次関数曲線である。
【００９３】
光ピックアップ１の最適なスキュー位置は、上記実線３５０に示す略２次曲線のジッタ値が最小となる点３５１である。したがって、測定作業者は表示手段３４８に表示された輝点３４９が最小点３５１から離間距離を確認して、光ピックアップ１のスキュー精度を評価する。
【００９４】
また、光ピックアップ１のラジアル方向のスキュー精度も、上述のタンジェンシャル方向のスキュー位置の調整と同様の手順によって、評価される。
【００９５】
上述した光ピックアップ性能測定装置１００は、光ピックアップ１の光学特性の調整のみならず、光ピックアップ１の光学特性の解析を行う光ピックアップ解析モードを備える。たとえば、光ピックアップ保持手段１４１によって、解析すべき光ピックアップ１を予め定める保持位置に保持した状態で、光ディスク保持手段３１７に保持された測定用光ディスクの光学測定用情報を読み出すことによって、この光ピックアップ１のスキュー位置の、最適位置からのずれ量を解析することができ、この解析結果を光ピックアップ１の改良や設計に反映させることができる。
【００９６】
また光ピックアップ性能測定装置１００は、光ディスクの検査を行うディスク検査モードを有する。汚れや傷などの劣化が生じた測定用光ディスクを、測定ユニット１０１に装着した状態で光ピックアップ１を測定すると、光ピックアップ１のジッタが過検知されてしまうので、これによって光ピックアップ１の歩留まりが低下するおそれがある。これに対して、先行技術では測定用光ディスクの表面を目視検査することによって、光ディスクの劣化を検出してきた。しかしながら、測定用光ディスクに目視不可能な程度の劣化が存在していても、光ピックアップ１の調整に支障をきたし、この僅かな傷を目視検査で検出することは困難である。これに対してディスク検査モードを実行すれば、既に厳密に調整された光ピックアップ１を測定ユニット１０１に装着し、この装着した光ピックアップ１によって、劣化を検出したい測定用光ディスクの記録情報を読み出し、この読み出した情報と正常な測定用光ディスクの記録情報とを比較することによって、測定用光ディスクの劣化を検出することができ、劣化した測定用光ディスクを予め除去することができる。したがって、測定用光ディスクに起因する光ピックアップ１の誤測定が防止できる。
【００９７】
また光ピックアップ性能測定装置１００は、前記光ディスク保持手段３１７の光ディスクの保持状態を検査する保持状態検査モードを備える。測定用光ディスクが位置ずれして装着された状態で、光ピックアップ１の光学特性を測定すると、光ピックアップ１のＥＦ位相差を正確に測定できない。これに対して保持状態検査モードを実行すれば、既に厳密に調整された光ピックアップ１を光ピックアップ性能測定装置１００に装着し、この装着した光ピックアップ１によって、劣化していないことが確認されている測定用光ディスクの記録情報を読み出し、この読み出した情報と正常な測定用光ディスクの記録情報とを比較することによって、光ディスク保持手段３１７の光ディスクの保持状態を検査することができる。したがって、測定用光ディスクの保持状態が不良であることに起因する光ピックアップの誤測定が防止できる。
【００９８】
また光ピックアップ性能測定装置１００は、精密ステージ１０５の精度の検査を行うステージ精度検査モードを備える。光ピックアップ保持手段１４２が固定される精密ステージ１０５の位置調整が不良の状態で、光ピックアップ１を調整すると、光学特性の正確な測定ができない。これに対してステージ検査モードを実行すれば、測定装置１０１に調整済みの光ピックアップ１を装着し、かつ光ディスク保持手段１４２が正確に、非劣化の測定用光ディスクを保持した状態で、この光ピックアップ１によって測定用光ディスクから記録情報を読み出し、この読み出した記録情報と、精密ステージ１０５が正確に位置合わせされた状態で読み出した記録情報とを比較することによって、精密ステージ１０５の正常な状態からのずれ量を算出することができる。このずれ量に基づいて、精密ステージ１０５の位置あわせを行うことができる。したがって、精密ステージ１０５の位置合わせ不良に起因する光ピックアップの誤測定が防止される。
【００９９】
また光ピックアップ性能測定装置１００は、上記光ピックアップ性能測定装置１００を起動したときに、前記ディスク検査モード、保持状態検査モードおよびステージ精度検査モードのいずれかを実行することが好ましい。光ピックアップ性能測定装置１００を起動したときに、ディスク検査モード、保持状態検査モードおよびステージ検査モードの少なくとも１つが実行されるので、光ピックアップ性能測定装置の日常点検やディスクの保持状態の確認を自動的に行うことができる。さらに、これらの各検査結果をハードディスクなどの記録媒体に保存したり、あるいはプリンタなどによって用紙に記録しておくことによって、光ピックアップ性能測定装置１００の管理を効率よく行うことができる。
【０１００】
また、光ピックアップ性能測定装置１００は、光ピックアップの性能を評価した後、この光ピックアップのシリアルナンバーや、測定値情報が印刷されたラベルが作成するラベル測定手段を備えることが望ましい。これによって、このラベルを測定後の光ピックアップに貼り付けることができ、光ピックアップ１に対してトレーサビリティによる工程管理および品質管理を行うことができる。
【０１０１】
【発明の効果】
請求項１記載の本発明によれば、光ピックアップの凹所に第１保持部材を嵌め込むだけで、光ピックアップが保持されるので、光ピックアップを保持する工程にかかる時間が短縮される。
【０１０２】
また第１保持部材によってＸ方向一方側が保持された光ピックアップが、主軸の両端部を第２保持部材によって上方から押さえられることによって、第１保持部材側に付勢される。これによって、光ピックアップが予め定めるピックアップ保持位置に確実に保持される。
【０１０３】
請求項２記載の本発明によれば、光ピックアップ性能測定装置を複数台製造する場合に、これらの第１および第２保持部材に、製造ロット毎のばらつきがあったとしても、精密ステージによって、これらのばらつきを吸収することができ、全ての光ピックアップ性能測定装置において、上記第１および第２保持部材は同一の位置精度を再現することができる。
【０１０４】
請求項３記載の本発明によれば、光ディスク保持手段は、測定用光ディスクを予め定めるセンタ位置に規制するセンタ規制部材を備えるので、測定用光ディスクに製造ロット毎のばらつきがあったとしても、第１および第２保持部材によって保持された光ピックアップに対して、予め定めるスキュー位置を再現することができ、これによって、測定用光ディスクに製造ロット毎のばらつきに起因する光ピックアップの性能測定結果のばらつきを防ぐことができる。
【０１０５】
請求項４記載の本発明によれば、位置センサを、光ディスク保持手段の移動軌跡に沿って配置することによって、制御装置の制御手段は、測定される光ピックアップに対する測定用光ディスクの位置を検出することができ、光ピックアップに対して測定用光ディスクを、光学性能の測定時に読み取るべき光学測定用情報の記録位置に配置されるように制御することができる。
【０１０６】
請求項５記載の本発明によれば、制御手段は、位置センサから入力される信号を演算する必要がなくなる。
【０１０７】
請求項６記載の本発明によれば、各位置センサには、個別の数値信号が割り当てられているので、制御手段は、移動前の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号と、移動後の光ディスク保持手段が位置された位置センサが出力した数値信号とを比較するだけで、光ディスク保持手段の移動方向を判定することができる。
【０１０８】
請求項７記載の本発明によれば、測定作業者は、光ピックアップ測定用の最低限の操作キーしか使用しないので、パーソナルコンピュータのキーボードやマウスを使用して命令を入力する場合に比較して、誤操作が減少し、操作性も向上する。また、パーソナルコンピュータを使用するので、光ピックアップの設計変更に応じて制御命令の変更も容易である。
【図面の簡単な説明】
【図１】光ピックアップ１の簡略化した断面図である。
【図２】光ピックアップ１を図１の下方から見た図である。
【図３】光ピックアップ１を図１の右方からみた図である。
【図４】光ピックアップ性能測定装置１００を簡略化して示す図である。
【図５】測定ユニット１０１の簡略化した側面図である。
【図６】測定ユニット１０１の簡略化した平面図である。
【図７】精密ステージ１０５の側面図である。
【図８】精密ステージ１０５の平面図である。
【図９】光ピックアップ保持ユニット１０６の平面図である。
【図１０】図９の左方から見た保持ユニット１０６を示す図である。
【図１１】ターンテーブル３１５の断面図であり、（ａ）は光ディスク３２４の非装着状態を示し、（ｂ）は光ディスク３２４の装着状態を示す。
【図１２】第１〜第４位置センサ３２３ａ〜３２３ｄとパソコン１０３との接続状態を示す図である。
【図１３】Ｉ／Ｏポート３４３に入力される２進数のＩ／Ｏデータを示す図である。
【図１４】記憶手段３４２に記憶されている情報を示す図である。
【図１５】移動方向判別情報を示す図である。
【図１６】スキュー精度の評価方法を説明するための図である。
【符号の説明】
１  光ピックアップ
１００  光ピックアップ性能測定装置
１０１  光ピックアップ性能測定ユニット
１０２  操作手段
１０３  パーソナルコンピュータ
１０５  精密ステージ
３０１  光ディスク保持手段
３１５  ターンテーブル
３２３  位置センサ
３２４  測定用光ディスク
３４１  制御手段
３４３  Ｉ／Ｏポート
【図１】
0004430248.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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