(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも部分的に筒状の物体の放射密度投影画像から壁厚を決定する方法であって、
−物体の筒状部分が、放射源より放射される放射により横断して照射され、
−前記筒状部分の前記放射画像が、放射検出器の支援により記録され、
−前記放射画像がデジタル画像に変換され、
−直線上の前記デジタル画像から減衰プロフィルが取られ、前記減衰プロフィルは物体の筒状部分の壁と筒状物体の外側の部分と筒状物体の内側の部分の接線方向画像よりなり、
−前記減衰プロフィルは、測定反射減衰プロフィルを得るために前記物体の中央の方向で反射され、
−物体の相対密度分布が、転写トモグラフ投影再構築法の手段により再構築され、測定反射減衰プロフィルが環状位置のすべてに対して使用され、
−物体の中央を通る直線における走査によりこの密度分布から密度プロフィルが選定され、この密度プロフィルは境界をなす周囲を有する物体の少なくとも筒状の部分の壁を再現し、壁は境界をなす周囲に関する密度の相違のため強調された部分により表現され、
−前記壁の外面の位置と内面の位置とが前記密度プロフィルより決定され、
−壁厚が壁の外面の位置と内面の位置との間の間隔から決められ、
壁の外面の位置及び内面の位置が前記強調された部分における密度プロフィルの高さの２５％と７５％との間の範囲内にあることを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、特許請求の範囲の前文による筒状物体の壁厚の測定方法に関する。この方法は、例えば高い透過力のビームの使用による鋼管の壁厚の非接触測定に適している。
【０００２】
【従来技術及びその課題】
通常、パイプラインの壁厚は投影放射写真法又は投影放射透視法を使用して測定される。この目的で、断熱材あり又はなしのパイプラインは、ガンマ線放射装置のためのＸ線管の手段により透過放射される。放射源とパイプラインとの間に置かれたパイプラインの投影像を得るために、ビーム方向と直角に固定されたフィルム又はその他の平坦な検出器が使用される。別の検出器では、フィルム上の管壁の陰影像が、古典的に、目視による査定の後に長さ測定装置（例えば物差し又はカリパス）を使用して測定される。壁厚は、壁の像の既知の倍率を使った測定値の修正後に得られる。この場合の問題は、放射への露出過度及び非鮮鋭度のため、測定すべき壁の境界の目視による決定が不正確にしかなされず、かつ評価者により非常に大きく変動することである。
【０００３】
人間による主観的評価のこの問題を回避するために、種々のシステムが特許を獲得しかつ説明された。これらはコンピューター支援の評価を可能とさせ、かつ測定誤差を避けるために測定手順を自動化する。
【０００４】
ビーム、例えばＸ線ビームが物体を横切ったとき、ビームの強度はその物体の吸収により減少する。ビームの強度は光子の数として考えられ、また放射検出器のカウンターの読みとしても考えられる。物理的な関係は、初期放射に対して次式で表されこれが像を形成する。
【０００５】
Ｉ＝Ｉ0 ＊ ＥＸＰ（−μＸ）                      （１）
Ｉは物体を横切った後のビームの強度、Ｉ0 は物体を透過する前のビームの強度、ＥＸＰは自然対数の底、μは材料及びエネルギーに依存する吸収係数、そしてＸは物体中におけるビームの通過経路の長さである。
【０００６】
物体を横切るビームは、吸収に加えて散乱も受ける。これの影響はいわゆるビルドアップ係数Ｂにより考慮される。
【０００７】
Ｉ＝Ｉ0 ＊ Ｂ ＊ ＥＸＰ（−μＸ）                （２）
Ｂは１より大きいか又は１に等しい。ビルドアップ係数Ｂは変数である。これは物体とビーム検出器との間の距離、物体の形状及び物体の材料に依存する。
【０００８】
図１は、ビームの使用により鋼管の壁厚を測定すための知られた方法を示し、日本公開特許出願１１４２６３号において明らかにされる。図１は、以下チューブと呼ばれる筒状物体（番号１で示される）を示し、その壁厚が測定される。チューブは円筒状であり、従ってその外面は半径Ｒ１を有し、その内面は半径Ｒ２を持つとする。Ｘ線ビーム２は、チューブを走査するためにチューブと直角方向に向けられる。ｘ軸はチューブの壁におけるビームの横断経路ｘを示す。ｙ軸はチューブ軸に直角に、従ってチューブの壁にも直角に走る。Ｉ軸はビームのチューブ横断後の強度を示す。強度曲線（ｙの関数としてのＩ）の典型的なプロフィルが図１に示される。屈曲点Ｓ１とＳ２又はＳ３とＳ４の位置は、測定された曲線Ｐ上で定められ、屈曲点Ｓ１とＳ２又はＳ３とＳ４の間の距離がューブの壁厚に相当する。屈曲点Ｓ１又はＳ４は、ビームがチューブの外面と接線方向に走る位置であり、ビームの減衰はまだ最小である。屈曲点Ｓ２又はＳ３はビームがチューブの内面と接線方向に走る位置であり、ビームの減衰は最大である。
【０００９】
ビームの使用により鋼管の壁厚を測定するために知られた更なる方法が、ドイツ公開特許出願３１２３６８５  Ａ１号に明らかにされる。この方法においては、図１の強度曲線は少なくも３個の区域に分解され、これらの各部分はある方程式により近似される。これらの近似式を解くことにより、屈曲点のｙ座標が決定され、続いて代入により壁厚が決められる。
【００１０】
この知られた方法は、特にチューブが液体で満たされたとき、ビームの鮮鋭でない映像化と材料内のビームの散乱のため、実際の測定により屈曲点を正確に見いだすことは事実上不可能であり、このためチューブの壁厚の決定における精度が不適切である。
【００１１】
チューブの鮮明な像を得るためには極めて狭いビームが必要である。ビームの太さの減少は、単位時間当たりビーム検出器に到達するビーム強度の低下をもたらす。希望の信号レベルに達するために、ビームの太さの減少に従って測定点当たり数分間までの測定時間の延長が必要である。この結果は、壁厚の各決定ごとの数時間の測定時間である。
【００１２】
ビームの散乱は、ビームの太さを減らしたときでも発生し続ける。散乱量、ビルドアップ係数Ｂの信頼し得る予測、及びこれらから得られる補正は、特にチューブが散乱を増加させる液体で満たされたときは、散乱による非鮮鋭度のためにほとんど不可能である。
【００１３】
放射シールド、いわゆるコリメーターの使用が散乱を減少させる。コリメーターは、２個の長方形の強固な放射スクリーンにより形成された平面スリットが、幾何学的に定められた形のビーム経路の通過を許すように設計される。コリメーターの使用は、壁厚の測定方向を表示し、即ち、壁厚の測定はコリメーターと揃った方向でのみ行うことができる。このため、コリメーターはチューブと直角方向に揃えられる。断熱材で囲まれたチューブベンドでの壁厚の測定は、コリメーターを湾曲したチューブ表面と正確に直角方向に確実に揃えることができないため、コリメーターではほとんど不可能である。
【００１４】
上に示されたように、公知の方法は、壁厚の測定における実際の応用に対しては実行不可能である。これは、特に化学工場及びリファイナーにおけるパイプラインの検査において然りである。
【００１５】
【発明の目的】
従来技術の諸問題を克服する少なくとも部分的に筒状の物体の壁厚を測定する方法を提供することが本発明の目的である。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は、特許請求の範囲の方法により解決される。
【００１７】
本発明の方法は、化学工場及びリファイナーにおけるパイプラインのような少なくとも部分的に筒状である物体の検査での使用に適している。これは、実際の運転状態、即ち部分的に筒状の物体が空であるとき、又は満たされたとき、例えば流体がチューブを通って流れているとき、チューブの表面温度が−１２０℃から＋４００℃の範囲であるとき、及びパイプラインが種々のチューブベンドを通って走るときの壁厚を測定するに適している。
【００１８】
本発明の方法は、−物体の筒状部分が、放射源より放射される放射(radiation)により横断して照射され、−前記筒状部分の前記放射画像が、放射検出器の支援により記録され、−前記放射画像がデジタル画像に変換され、−直線上の前記デジタル画像から減衰プロフィルが取られ、前記減衰プロフィルが物体の筒状部分の壁と筒状物体の外側の部分と筒状物体の内側の部分の接線方向画像よりなり、−前記減衰プロフィルは、測定反射減衰プロフィルを得るために前記物体の中央の方向で反射され、−物体の相対密度分布が転写トモグラフ投影再構築法の手段により再構築され、この場合測定反射減衰プロフィルが環状位置のすべてに対して使用され−物体の中央を通る直線における走査によりこの密度分布から密度プロフィルが選定され、この密度プロフィルは境界をなす周囲を有する物体の少なくとも筒状の部分の壁を再現し、壁は境界をなす周囲に関する密度の相違のため強調された部分により表現され、−前記壁の外面の位置と内面の位置とが前記密度プロフィルより決定され、−壁厚が壁の外面の位置と内面の位置との間の間隔から決められる諸段階を含む。
【００１９】
放射検出器は、Ｘ線フィルム、ラインカメラ、記憶形蛍光板、Ｘ線画像増強装置又は半導体に基づく検出システム又は同等品とすることができる。壁の外面の位置及び内面の位置が、強調部分における密度プロフィルの高さの２５％と７５％との間の範囲に決定される。好ましくは、強調部分における密度プロフィルの高さの５０％が取られる。
【００２０】
放射源は、放射検出器と向かい合いに配列されたＸ線管又はガンマ線放射装置とすることができ、物体は放射源と放射検出器との間に置かれる。
【００２１】
測定された壁厚は、記録用の幾何学的配置から得られた倍率により修正されることが好ましい。
【００２２】
別の実施例においては、放射源及び放射検出器は平行ビーム投影プロフィルを作るように配列される。
【００２３】
一定の壁厚を有する少なくとも部分的に筒状の物体の放射投影プロフィルから壁厚を決定するために、反射されたプロフィルを、物体の全断面部分にわたるプロフィルにより置換することができる。
【００２４】
測定プロフィルの反射は不要にすることができ、更に投影の再構築は角度９０゜にわたり行うことができる。
【００２５】
一連の一定強度の値が反射点位置における減衰プロフィルに加えられ、この一連の一定強度の値の中央に固定された反射点に最寄りの測定された強度の値から、この一定の強度が決定される。
【００２６】
壁厚は、再構築された密度プロフィルの導関数の極値間の間隔より決定することができる。
【００２７】
再構築された密度プロフィルが微分の前又は後で平滑化され、更に次いで壁厚は、導関数の極値間の間隔より決定することができる。
【００２８】
筒状物体の壁に沿った複数の平行で隣接した減衰プロフィルがデジタル画像より得られること、及び新しい減衰プロフィルがこれら減衰プロフィルの結合により計算されること、及び次いでこの減衰プロフィルが説明された相対密度分布を計算するために使用することが可能である。
【００２９】
壁厚が一定でない場合及び一定である場合の測定されたプロフィルの点の数又は再構築された密度分布の点の数が、補間により増加させられ、このため壁厚はより高い解像度で決定される。
【００３０】
【詳細な説明】
本発明の更なる利点及び特別な実施例が付属図面の手段により示される以下の詳細な説明より明らかとなるであろう。
【００３１】
空の又は満たされた筒状又は部分的に筒状の物体１の壁厚を判定するために、この物体は、適切なエネルギーのＸ線又はガンマ線２の手段により横切って放射される。これは、図１におけるような平行ビームを使用する方法、及び図２に示されるような扇形又は円錐状ビームを使う方法の両者を含むことができる。
【００３２】
いずれの配列も、測定し得る強度プロフィルＰが平面又は線形又は点走査式の検出器４に投影された放射写真画像から測定位置の関数として得られるという事実に基づく。
【００３３】
これは、アナログデジタル変換により電子的に直接に、又は光子カウンターの値から、又は光学式スキャナーの手段によるフィルムのデジタル化により、或いは写真フィルム又は光刺激可能な蛍光スクリーンの走査によるなどのいずれかで行われる。
【００３４】
この場合における典型的な平面形検出器は、フィルム、Ｘ線画像増強装置、記憶フィルム、光刺激可能な蛍光スクリーン、変換用の蛍光スクリーン又は半導体を有するアモルファスシリコンに基づく平面形検出器である。
【００３５】
線形プロフィルは、検出器アレイ又はラインカメラを使用して直接得ることもできる。デジタル画像表現を得るなお別の方法が可能である。
【００３６】
測定された強度プロフィルＰは、横断方向照射位置ｙ（図１）の関数としての壁厚ＰＷの変化から得られる典型的な形状を特徴とする。この場合に生ずる極値が、壁厚決定の普通の方法において使用される。対応した点は強度プロフィルＰにおいてＳ１−Ｓ４で示され、ｙ軸に沿った距離Ｓ２−Ｓ１又はＳ４−Ｓ３から左側又は右側の壁厚を決めることができる。図１のプロフィル表現は、放射吸収の法則から得られる。事実上、プロフィルＰは、種々の要因により乱される。非鮮鋭と散乱された放射の影響が、測定されたプロフィルの理想的形状からのかなりの偏差を導くことがある。このときは、位置Ｓ１−Ｓ４はもはや正確に決定することはできない。最下方の位置又は極値の移動も発生する。
【００３７】
平面形又は線形の検出器と共にＸ線管又はガンマ線放射装置３が使用されるときは、記録用の幾何学的配置が、一般に扇形又は円錐状のビームである技法である（図２）。
【００３８】
この場合、拡大効果の計算及び検出器位置の最適位置からの偏差を考慮するために、予定された正確な記録用の幾何学的配置を維持すること、又は対応する偏差を測定することが好ましい。図２による記録用配置の場合は、形状の拡大を考慮するために寸法ａ及びｂが必要である。
【００３９】
Ｖ ＝ ａ／ｂ                                   （３）
式（３）は別の幾何学的配置に対しては更に複雑になる。
【００４０】
壁厚を決定するために、この例示実施例においては、測定されたプロフィルＰ１は、投影の再構築のために反転され対数化される。
【００４１】
Ｐ２ ＝ Ｉｎ（Ｉ0／Ｐ１）                      （４）
図２は、この演算の結果をＰ２として示す。測定プロフィルの反転、及びチューブの内部におけるプロフィル線の延長を、点線で見ることができる。
【００４２】
図６は、投影再構築の結果を示す。
【００４３】
すべての公知の後方投影法を使うことができる。ここに説明された特別の実施例においては、濾波された後方投影が使用された。
【００４４】
エー・ケイ・ジャンのFundamentals of image processing,Prentice Hall［参考文献１］の１０章、及びエー・ローゼンフェルド及びエー・シー・カクのDigital Picture Processing,Academic Press 1982［参考文献２］の８章に、別の幾種かの後方投影法が広範囲に説明される。
【００４５】
第１の形式の方法は、空間座標（ｘ，ｙ）と投影空間座標（ｓ，θ）との間を往復するために要する数学的フレームワークを提供するラドン変換に基づく。
【００４６】
画像の再構築にはすべての方向からの投影ｇ（ｓ，θ）が必要である。これは、エー・ケイ・ジャン［１］の図３において見ることができる。これは、理論的に、ｇ（ｓ，θ）の逆ラドン変換を見いだすことに相当する。
【００４７】
この反転を得ることの本質は投影理論である。この理論は、投影ｇ（ｓ，θ）のｓに関する１次元フーリエ変換を、角度θにおける物体の中央スライスを記述している関数の２次元フーリエ変換と等置する。
【００４８】
事実上、逆ラドン変換は幾つかの方法で得ることができる。
ａ）希望の周波数応答｜ξ｜を有するフィルターを適用し、次いで濾波された投影を後方投影する。
ｂ）ヒルバート変換を使う。この方法においては、逆ラドン変換は、１／２πｓで微分された投影を合成し、次いでその結果を後方投影する。
ｃ）フーリエ空間において濾波する。
【００４９】
これらはエー・ケイ・ジャン［参考文献１］から取られた図４に示される。
【００５０】
逆ラドン変換に要するフィルター機能が高空間周波数を強化する。大多数の画像は高空間周波数における信号対ノイズ比が小さいので、このフィルターの使用による付加的なノイズの増幅は避けられるであろう。ノイズの増幅を限定するために、帯域限定フィルターが適用される。［参考文献１及び２］に提案されたすべての帯域限定フィルターを適用できるが、本発明は再構築フィルターのこの選定には限定されない。
【００５１】
フーリエ再構築法（［文献１］のパラグラフ１０．１０参照）及び代数的再構築法（［文献１］のパラグラフ１０．１１参照）のような別の再構築方法を使うこともできる。
【００５２】
フーリエ再構築法は投影理論に基づく。２次元フーリエ空間は、投影の１次元フーリエ変換により満たされる。このとき、２次元逆フーリエ変換が得られる。これはエー・ケイ・ジャン［参考文献１］から取られた図５に図示される。代数的再構築技術は一組の方程式を解くために反復アルゴリズムを適用する。この方程式の組は、物体の格子点の離散的な組についての投影への物質関数に関係する。すべての知られた代数的再構築アルゴリズムを適用することができる。
【００５３】
本事例においては、濾波された後方投影が使用され（図６参照）、ここで使用された１０８個の投影のすべてはＰ２と同様である。Ｐ２の濾波後、
【００５４】
【数１】
0004426697.tif 000002
【００５５】
のようなフィルター関数（例えばブレースウエルフィルター）を使用した合成からＰ３が得られる。後方投影は１８０゜にわたり又は９０゜にわたって行うことができる。
【００５６】
【数２】
0004426697.tif 000003
【００５７】
この場合、仮想回転点（ｙ＝０）として反射点を使うことが重要である。（例えば式（６）により）任意の位置における半径方向プロフィルは、計算された平らなチューブプロフィルから得られる。このプロフィルは、パイプラインの内側及び外側の密度分布Ｐ４にほぼ相当し、そして壁厚Ｗ＝Ｗ２−Ｗ１の決定に使用される。生じた非鮮鋭度は、壁のプロフィルの高さの半分において測定された平均壁厚にはもはや影響しない点に注意すべきである。壁の材料と比べて放射写真の濃度の低い媒体が充填材として使用されたとき、この測定は妨害されない。真の壁厚は、形状倍率Ｖの値による割算によって結ばれた測定値Ｗ（図２）から得られる。
【００５８】
非鮮鋭度の増加によるプロフィルＰ１の曲り部分及び先端部分の滲みが決定的でないことがこの方法の利点である。特に、高い放射エネルギーのため、検出器における高い内部の非鮮鋭度ｕiを作るガンマ線放射装置の使用の場合（例えばコバルト６０はｕi≧４００μm）、或いは、放射源と検出器との間の所要距離が設備のため減らされ、従って幾何学的配置により非鮮鋭度が大きくされた場合に、大きな非鮮鋭度が生ずる。この場合、放射源と検出器との間の距離の熟考されたアンダーシュートが測定時間及び費用のかなりの節約をもたらす可能性がある。
【００５９】
測定されたプロフィルの高域濾波に基づく別の方法と比較して、密度プロフィルへの換算による測定プロフィルの信号対ノイズ比はごく僅か落ちるだけである。１次又はより高次の導関数に基づく高域濾波は、特定の測定が信号対ノイズ比の改善に適しないならば、一般に使用できない。他の方法と比較し得る結果を達成するために要する出費又は暴露時間が小さいため、この効果もまた説明された方法についての測定時間又は費用における利点と一致する。
【００６０】
図７は、測定プロフィル及び測定され再構築されたプロフィルにおける非鮮鋭度の上昇の影響を示す。非鮮鋭度の上昇は、図７ａにおけるプロフィルを変えかつ点Ｓ１並びにＳ２を滲ませるが、プロフィルの高さの半分において測定された図７ｂの壁厚の距離Ｗ２−Ｗ１は一定のままである。
【００６１】
この壁厚測定方法は、筒状物体の軸方向に沿った連続した壁厚の計算の連鎖に拡張することができる。これが図８に示される。２種の卓越したチューブ形状、ここでは直線状チューブ（図８ａ）と円形セグメント（図９ｂ）が特に重要である。正確には、最も薄いチューブ断面がチューブの軸方向経路に沿ったどこで生ずるかは未知であるため、軸方向位置の関数としての壁厚の自動計算が自動非破壊検査装置の望ましい特徴であり、これが最も決定的な位置を明らかにすることができる。以下は、かかる機能性がいかにして達成されるかを明らかにする。
（１）直線チューブの軸方向軸線に沿った壁厚の計算
この目的に対しては、チューブの関心部分にわたる画像内に回転された長方形が置かれる。この長方形の角度は、チューブ軸線と平行に揃えられるように調整される。これは、（ａ）図式的なユーザーインターフェースを使用してオペレーターにより手作業で、又は（ｂ）画像におけるチューブの計算された方向を使用して自動的に、のいずれかで達成される。以後、後者の選択が明らかにされる。回転された長方形は、底線と高さとで定義され、ときには部分的に画像の外側に置くこともできる。また、底線は、チューブの両方の壁の一方だけをカバーするようにチューブ断面上を部分的に伸びることしか必要でないことがこの方法の利点である。オリジナルの入力画像Ａは、出力画像Ｂを得るために長方形内のデカルト格子に沿って試料の再採取が行われる。このとき、チューブの部分は出力画像の垂直方向の画像境界と平行であることが好ましい。（ジー・ウオルバーグのDigital Image Warping,IEEE Computer Society Press,Ch.6 Image Resamplingのような）従来技術が、双一次補間法（bilinear interpolation）又は三次Ｂスプライン補間法のような入力画素の組合せから出力画素を決定するために使用された。次いで、画像Ｂは、画像Ｃにおける信号対ノイズ比を大きくさせるために、垂直方向の平滑化フィルターにかけられる。完全に整列されない場合はチューブと空気との境界が滲んで誤った厚さの値をもたらすので、完全な整列の重要性が明らかとなる。前記の平滑化又は統合は、ビー・ヤーネのDigital Image Processing,Springer-Verlag,1993,Ch.6.1 Smoothingのような従来技術から公知の直截的なボックスフィルター又はガウスのフィルターにより達成することができる。画像Ｃにおける水平線の各は、壁厚測定アルゴリズムにより細かく進められ、壁厚の１個の値（又は、プロフィルの両側に適用された場合は２個の値）を作る。かかる値の連鎖が軸方向に沿った壁厚のプロフィルを作り、かかるプロフィルは、チューブの最も重要な断面の確認及び抽出のために、適宜のグラフ作成プログラムにより表示することができる。このアルゴリズムより得られた壁厚は、変換法を使って物理的な長さに変換される。変換係数は、（ａ）同時に暴露された物差しの使用により、又は（ｂ）底線上のチューブの外側境界点間の画素数を使用して自動的に、のいずれかで決定される。チューブの外径は、普通は、チューブの寿命中は影響されずかつ既知であり予め記憶される。チューブと空気との境界の画素の定量化された方位の値のヒストグラムの計算及びヒストグラムの最大値の方位の維持が、長方形の方位の自動抽出の問題を解く。チューブと空気の境界の画素は、通常、有効な縁の画素を与える境界検出演算子の大きさの閾値を与えるように大きい傾斜量を持つ画素である。大きさと浮動境界方位とを有する適宜の境界演算子は、ここでは、公知のソベル又はキャニイの境界検出器のように使うことができる。
円形状のチューブ部分の軸方向軸線に沿った壁厚の計算
円形状のチューブ部分は壁厚の大きさを計ることがより困難であるが、ここは乱流が増すために流体の腐食作用が強くされるので、検査の非常に望ましい部分である。直線状部分と比べて、ここでは、対象物の円形状部分の頂部と底部の線を引いた後で、半径θの（ｒ，θ）空間における資料の再採取が行われ、画像の縁と好ましくは平行なチューブと空気との境界を有する画像Ｂが得られる。（ｒ，θ）空間の原点は、（ａ）その部分の半径の従来の知識を使って手作業で、又は（ｂ）円形状部分の境界の画素に適用される円形用のホフ変換を使用した自動的のいずれかで決定される。より一般的には、一般化されたホフ変換は、任意のパラメーター化された形状を検出でき、従って、チューブと空気との境界の湾曲した経路の接線と直角方向における資料の再採取により、プロフィルのある連鎖が構築される。壁厚は、適宜のかかるプロフィルに厚さ決定アルゴリズムを適用することにより同様に得られる。
【００６２】
【実施態様】
１．少なくとも部分的に筒状の物体の放射密度投影画像から壁厚を決定する方法であって、−物体の筒状部分が、放射源より放射される放射により横断して照射され、−前記筒状部分の前記放射画像が、放射検出器の支援により記録され、−前記放射画像がデジタル画像に変換され、−直線上の前記デジタル画像から減衰プロフィルが取られ、前記減衰プロフィルが物体の筒状部分の壁と筒状物体の外側の部分と筒状物体の内側の部分の接線方向画像よりなり、−前記減衰プロフィルは、測定反射減衰プロフィルを得るために前記物体の中央の方向で反射され、−物体の相対密度分布が、転写トモグラフ投影再構築法の手段により再構築され、測定反射減衰プロフィルが環状位置のすべてに対して使用され、−物体の中央を通る直線における走査によりこの密度分布から密度プロフィルが選定され、この密度プロフィルは境界をなす周囲を有する物体の少なくとも筒状の部分の壁を再現し、壁は境界をなす周囲に関する密度の相違のため強調された部分により表現され、−前記壁の外面の位置と内面の位置とが前記密度プロフィルより決定され、−壁厚が壁の外面の位置と内面の位置との間の間隔から決められることを特徴とする方法。
【００６３】
２．壁の外面の位置及び内面の位置が強調部分における密度プロフィルの高さの２５％と７５％との間の範囲内にある実施態様１による方法。
【００６４】
３．壁の外面の位置及び内面の位置が強調部分における密度プロフィルの高さの５０％にある実施態様１による方法。
【００６５】
４．放射源は、放射検出器と向かい合いに配列されたＸ線管又はガンマ線放射装置であり、物体は放射源と放射検出器との間に置かれていることを特徴とする実施態様１による方法。
【００６６】
５．測定された壁厚が記録用の幾何学的配置から得られた倍率により修正される実施態様１から４のいずれかによる方法。
【００６７】
６．放射源及び放射検出器が平行ビーム投影プロフィルを作るように配列されることを特徴とする実施態様１による方法。
【００６８】
７．一定の壁厚を有する少なくとも部分的に筒状の物体の放射投影プロフィルから壁厚を決定するための実施態様１による方法であって、反射されたプロフィルが物体の全断面部分にわたるプロフィルにより置換されることを特徴とする方法。
【００６９】
８．測定プロフィルの反射を不要とすること及び投影の再構築が角度９０゜にわたり行われることを特徴とする実施態様１による方法。
【００７０】
９．一連の一定強度の値が反射点位置において減衰プロフィルに加えられ、この一定の強度は、この一連の一定強度の値の中央に固定された反射点に最も近い測定された強度の値から決定されることを特徴とする実施態様１による方法。
【００７１】
１０．再構築された密度プロフィルの導関数が計算されること、及び壁厚が導関数の極値間の間隔より決定されることを特徴とする実施態様１による方法。
【００７２】
１１．再構築された密度プロフィルが微分の前又は後で平滑化されること、及び壁厚が導関数の極値間の間隔より決定されることを特徴とする実施態様１又は９による方法。
【００７３】
１２．筒状物体の壁に沿った複数の平行で隣接した減衰プロフィルがデジタル画像より得られること、及び新しい減衰プロフィルがこれら減衰プロフィルの結合により計算されること、及びこの減衰プロフィルが実施態様１による相対密度分布を計算するために使用されることを特徴とする実施態様１又は７による方法。
【００７４】
１３．測定されたプロフィルの点の数又は再構築された密度分布の点の数が補間により増加され、かつ壁厚がより高い解像度で決定されることを特徴とする実施態様１又は７による方法。
【００７５】
１４．放射検出器がＸ線フィルム、ラインカメラ、記憶形蛍光板、Ｘ線画像増強装置又は半導体に基づく検出システムのひとつであることを特徴とする先行実施態様のいずれかによる方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】平行ビームの手段により放射が物体を横切る場合の本発明の壁厚測定方法を示す。
【図２】円錐状ビームの手段により放射が物体を横切る場合の本発明の壁厚測定方法を示す。
【図３】すべての方向からの投影ｇ（ｓ，θ）からの３次元画像の再構築を示す。
【図４】後方投影法に基づくラドン変換を示す。
【図５】フーリエの再構築アルゴリズムを示す。
【図６】投影再構築の結果を示す。
【図７】通常の方法（図７ａ）及び本発明による方法（図７ｂ）に対する生じた非鮮鋭度の影響を示す。
【図８】筒状物体の軸方向に沿った連続した壁厚の連鎖の計算のための本発明の方法の拡張を示す。
【図１】
0004426697.tif 000004
【図２】
0004426697.tif 000005
【図３】
0004426697.tif 000006
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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