(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定ポート（１，２）を少なくとも２個持つネットワークアナライザーであって、
その測定ポート（１，２）のそれぞれに個別の高周波発生器（Ｇ１、Ｇ２）が連携し、
その測定アーム（Ｚ１、Ｚ２）がそれぞれ４端子ゲート（Ｒ１、Ｒ２）を持ち、
その４端子ゲート（Ｒ１、Ｒ２）が連携する測定点（Ｍ１からＭ４）を持つ、
ところのネットワークアナライザーにおいて、
高周波発生器（Ｇ１、Ｇ２）の高周波信号（ｆ１、ｆ２）が相互に区別可能であって、且つ同時的に各測定ポート（１，２）に供給され、
前記高周波発生器（複数）（Ｇ１、Ｇ２）の高周波信号（複数）が周波数（ｆ１、ｆ２）によって異なること、
を特徴とするベクトルネットワークアナライザー。
【請求項２】
前記個別の高周波発生器（複数）（Ｇ１、Ｇ２）からの高周波信号（複数）が互いに異なったやり方で変調されることを特徴とする、
請求項１のネットワークアナライザー。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、独立請求項の前文（序文部）に述べられている種類のベクトルネットワークアナライザーに関し、それを改良するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種類のベクトルネットワークアナライザーは既知である（たとえば、ドイツ特許第４４  ０１ ０６８明細書）。それは主としていわゆるヘテロダイン法を用いて動作しており、試験対象物の広い周波数帯にわたっての散乱パラメーターの大きさと位相についての測定を可能とするものである。従来からあるすべてのネットワークアナライザーは、今日まで、切り替えスイッチを通して２本の個別の測定アームにそれぞれ交互に接続された１台の共通の、周波数調整可能な高周波発生器を用いている。
【０００３】
測定のスピードを上げて測定時間を短縮するため、プロセッサーによる調整が可能で互いに独立な出力信号を交互に測定ポート（複数）に送ることのできる、２台の個別の高周波発生器を用いることが提案されている（旧特許出願１９８ ５７ ８３４ の第２欄３０行から４０行まで及び５９行から６４行まで）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題と発明の目的】
１台の共通の高周波発生器または２台の個別の高周波発生器からの信号が交互に測定ポートに送られるこれらの既知のネットワークアナライザーによれば、１本の測定アームによる前向きパラメーターの測定中に試験対象物に後向きの測定信号を送ることができず、またその逆もできない。それ故、試験対象物の散乱パラメーターを真の測定条件のもとで測定することができない。一時には、測定ポートの一方だけが１つの測定信号を受けており、その間、他方の測定ポートは受動的に終端されている。しかし、増幅器のような、ある種の試験対象物は、負荷状態では、すなわち、実際の動作状態では、上のような測定方法とは異なった特性を示すものである。
【０００５】
本発明の目的は、試験対象物の散乱パラメーターを真の動作条件のもとで測定することのできるベクトルネットワークアナライザーを提供することである。
この目的は独立請求項に述べられている顕著な特徴を用いて、独立請求項の前文に述べられているベクトルネットワークアナライザーの改良として達成される。さらなる有用な展開は従属請求項に述べられる。
【０００６】
【課題を解決するための手段と発明の効果】
本発明の主請求項のネットワークアナライザーは、
測定ポート（１，２）を少なくとも２個持つネットワークアナライザーであって、
その測定ポート（１，２）のそれぞれに個別の高周波発生器（Ｇ１、Ｇ２）が連携し、
その測定アーム（Ｚ１、Ｚ２）がそれぞれ４端子ゲート（Ｒ１、Ｒ２）を持ち、
その４端子ゲート（Ｒ１、Ｒ２）が連携する測定点（Ｍ１からＭ４）を持つ、
ところのネットワークアナライザーにおいて、
高周波発生器（Ｇ１、Ｇ２）の高周波信号（ｆ１、ｆ２）が相互に区別可能であって、且つ同時的に各測定ポート（１，２）に供給され、
高周波発生器（複数）（Ｇ１、Ｇ２）からの高周波信号（複数）が周波数（ｆ１、ｆ２）に関して異なっていること、
を特徴とする。
本発明の別の観点のベクトルネットワークアナライザーは、主請求項の発明で、さらに
前記個別の高周波発生器（複数）（Ｇ１，Ｇ２）からの高周波信号（複数）が互いに異なったやり方で変調されることを特徴とする。
【０００７】
本発明の原理によれば、１台ずつの個別の高周波発生器が各々の測定アームにそれぞれ使われ、これら高周波発生器の高周波信号がそれらに連携する測定点に同時に送られる。このようにして、所望の対象物に対して前向きと後向きの測定を同時に行うことができる。ここで必要なことは、たとえばそれらが異なった変調を施されているか、それらが違った周波数を持っているかなどの方法によって、それら高周波発生器の高周波信号が互いに区別できるものであることである。
【０００８】
これによって、本発明の原理は、２つの測定ポートのみを持つネットワークアナライザーに対しても、また、測定ポートの数だけ余分の個別の高周波発生器を必要とする３つあるいはそれ以上の測定ポートを持つネットワークアナライザーに対しても使うことができる。その上、本発明の原理は、既知のネットワークアナライザーにおいて従来深刻な問題を起こしその欠点となっていた、広帯域の高周波切り換えスイッチを不要とする利点を持っている。さらに、その上、レベル制御が、ＯＮとＯＦＦのような極値の間について動作する必要がないので、ダイナミックな過渡的振動を起こすという問題が少なくなる。
【０００９】
本発明のネットワークアナライザーによれば、真の動作条件のもとでの散乱パラメーター、たとえば試験対象物の入力に一定の高レベルの信号がある場合の広帯域出力整合などを記録することができる。それに加えて、試験アームと参照アームを増やすだけで簡単な多ポートシステムを構成することができ、また簡単な方法で相互変調測定を複数調波励起で行うことができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明を回路図に示した実施例を用いてより詳細に説明する。
図１は、２つの測定ポート１と２、個別の高周波発生器Ｇ１とＧ２から信号を供給される測定アームＺ１とＺ２を持つベクトルネットワークアナライザーの、模式的回路図である。高周波発生器Ｇ１とＧ２は、予め決められた周波数領域でともに同調可能である。４端子ゲートＲ１とＲ２は、たとえば、測定ブリッジあるいは方向性結合器であって、それには測定点Ｍ１からＭ４の出力が接続されており、測定アームＺ１とＺ２中に配設接続され、それによって試験対象物の大きさと位相についての電圧測定が、行われる。このようにして、２つの測定点の間に接続された対象物ＤＵＴの入出力端で、それぞれの複素反射係数と複素透過係数を前向きと後向きの両方向に対して同時に測定することができる。測定点における測定値の評価は図示していない評価デバイスでなされる。
【００１１】
同時にスイッチオンされ試験対象物ＤＵＴに加えられるところの２台の高周波発生器Ｇ１とＧ２からの２つの高周波信号ｆ１とｆ２を互いに区別するため、これらの高周波信号ｆ１とｆ２とは互いに異なったやり方で、たとえば、互いに異なった周波数で変調されている。異なる変調としてはどのような変調でも使うことができ、また、相互に区別し得る全ての既知の変調形式が適用できる。２つの高周波信号の間の周波数差は、測定値処理用高周波受信器の所望のダイナミックレンジと分解帯域幅を考慮して選択されるのが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の好ましい実施例の構成を示す回路図。
【符号の説明】
１，２          測定ポート
Ｒ１，Ｒ２      四端子ゲート
Ｚ１，Ｚ２      測定アーム
Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４  測定点
Ｇ１，Ｇ２      高周波発生器
ＤＵＴ          試験対象物
【図１】
0004426067.tif 000002