(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を通す被測定物の特性を測定する装置であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定手段と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成手段と、
前記被測定物を透過した前記可変波長光および前記固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定手段と、
前記測定条件に基づき前記特性測定手段を制御する測定制御手段と、
前記測定条件を前記測定制御手段に伝達し、前記測定結果を前記測定条件設定手段に伝達する測定制御通信手段と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光特性測定装置。
【請求項２】
光を通す被測定物の特性を測定する装置に使用する光生成装置であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定手段と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成手段と、
前記測定条件設定手段から前記測定条件を送信し、前記被測定物の測定結果を前記測定条件設定手段に伝達する測定制御通信手段と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光生成装置。
【請求項３】
光を通す被測定物の特性を測定する装置であって、
前記被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定手段と、
測定条件に基づき前記特性測定手段を制御する測定制御手段と、
前記測定条件を前記測定制御手段に伝達し、前記測定制御手段から前記被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信手段と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光特性測定装置。
【請求項４】
前記可変波長光および前記固定波長光が合成された合成光を受ける第一端子と、前記第一端子が受けた光を出力し、光の入力を受け付ける第二端子と、前記第二端子が受けた光を出力する第三端子と、を有し、前記第二端子が前記被測定物の一端に接続され、前記第三端子が前記測定条件設定手段に接続されている一端側サーキュレータと、
前記測定結果を受ける第一端子と、前記第一端子が受けた光を出力し、光の入力を受け付ける第二端子と、前記第二端子が受けた光を出力する第三端子と、を有し、前記第二端子が前記被測定物の他端に接続され、前記第三端子が前記測定制御手段に接続されている他端側サーキュレータと、
を備えた請求項１または３に記載の光特性測定装置。
【請求項５】
光を通す被測定物の特性を測定する方法であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定工程と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成工程と、
前記被測定物を透過した前記可変波長光および前記固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定工程と、
前記測定条件に基づき前記特性測定工程を制御する測定制御工程と、
前記測定制御工程を遂行する測定制御部に前記測定条件を伝達し、前記測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段に前記測定結果を伝達する測定制御通信工程と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信工程を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光特性測定方法。
【請求項６】
光を通す被測定物の特性の測定に使用する光生成方法であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定工程と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成工程と、
前記測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段から前記測定条件を送信し、前記測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段に前記被測定物の測定結果を伝達する測定制御通信工程と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信工程を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光生成方法。
【請求項７】
光を通す被測定物の特性を測定する方法であって、
前記被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定工程と、
測定条件に基づき前記特性測定工程を制御する測定制御工程と、
前記測定制御工程を遂行する測定制御手段に前記測定条件を伝達し、前記測定制御工程を遂行する測定制御手段から前記被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信工程と、
を備え、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信工程を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
光特性測定方法。
【請求項８】
光を通す被測定物の特性を測定する処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定処理と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成処理と、
前記被測定物を透過した前記可変波長光および前記固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定処理と、
前記測定条件に基づき前記特性測定処理を制御する測定制御処理と、
前記測定制御処理を遂行する測定制御部に前記測定条件を伝達し、前記測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段に前記測定結果を伝達する測定制御通信処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信処理を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
記録媒体。
【請求項９】
光を通す被測定物の特性の測定に使用する光生成処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定処理と、
可変波長光および固定波長光とを生成する光生成処理と、
前記測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段から前記測定条件を送信し、前記測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段に前記被測定物の測定結果を伝達する測定制御通信処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信処理を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
記録媒体。
【請求項１０】
光を通す被測定物の特性を測定する処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき前記被測定物の特性を測定する特性測定処理と、
測定条件に基づき前記特性測定処理を制御する測定制御処理と、
前記測定制御処理を遂行する測定制御手段に前記測定条件を伝達し、前記測定制御処理を遂行する測定制御手段から前記被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記被測定物は光を双方向に通し、
前記可変波長光および前記固定波長光が合成されて前記被測定物を透過し、
前記測定制御通信処理を遂行する測定制御通信手段は、前記被測定物と共通する、
記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバなどの光伝送デバイスの分散測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
長距離にわたって光を伝送する場合は、光ファイバのみによって光を伝送すると損失が大きい。そこで、光ファイバに、光信号を増幅する光アンプ（EDFA）とを組み合わせた光ファイバ線路を用いて、損失を防ぐ。光アンプは、ある一方向にのみ光を通す。そこで、双方向通信を行うためには、ある一方向に光を伝送する一本の光ファイバ線路と、ある一方向とは反対の方向に光を伝送する一本の光ファイバ線路とをまとめてケーブルとする。このケーブルを１ファイバペアという。
【０００３】
ここで、１ファイバペアを被測定物（DUT：Device Under Test）として、可変波長光を通して分散測定を行う場合は、リファレンス光を通し、しかも測定制御を行うことに必要な通信のために、もう一本の１ファイバペアを用意する必要がある。すなわち、２ファイバペアが必要になる。
【０００４】
図５に、従来技術における１ファイバペアをDUTとした場合の光分散の測定システムの構成を示す。２ファイバペア３００が、DUT３１０とリファレンス線路３２０とを有し、それぞれ光ファイバ線路３１０ａ、３１０ｂ、３２０ａ、３２０ｂを有する。
【０００５】
２ファイバペア３００の一端にはマスター測定器１００が、他端にはスレーブ測定器２００が、接続されている。光ファイバ線路３１０ａ、３２０ａはマスター測定器１００からスレーブ測定器２００に光を伝送し、光ファイバ線路３１０ｂ、３２０ｂはスレーブ測定器２００からマスター測定器１００に光を伝送する。
【０００６】
可変波長光源１０２が生成する可変波長光は光変調器１１２で変調されてＤＵＴ３１０の光ファイバ線路３１０ａに入射される。固定波長光源１０４が生成する固定波長光は光変調器１１４で変調されてリファレンス線路３２０の光ファイバ線路３２０ａに入射される。そして、光ファイバ線路３１０ａ、３２０ａを透過した可変波長光および固定波長光の位相を位相比較器２１０で比較してＤＵＴ３１０の波長分散を測定する。
【０００７】
このとき、測定条件設定部１２０は、波長分散の測定条件を設定する。測定制御部２２０は、測定条件設定部１２０により設定された測定条件に基づき、波長分散の計測データを測定し、測定条件設定部１２０に送信する。このように、測定条件設定部１２０および測定制御部２２０は互いに通信する必要がある。そこで、測定制御部１２０から測定制御部２２０へは光ファイバ線路３２０ａを使用して、測定制御部２２０から測定制御部１２０へは光ファイバ線路３２０ｂを使用して、通信する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような構成では、測定制御部１２０および測定制御部２２０の通信のために、リファレンス線路３２０という１ファイバペアがさらに必要になってしまう。
【０００９】
そこで、本発明は、ＤＵＴの他にさらに１ファイバペアを必要とすることなく波長分散特性を測定できる装置等を提供することを課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する装置であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定手段と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成手段と、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定手段と、測定条件に基づき特性測定手段を制御する測定制御手段と、測定条件を測定制御手段に伝達し、測定結果を測定条件設定手段に伝達する測定制御通信手段と、を備えるように構成される。
【００１１】
上記のように構成された光特性測定装置によれば、測定制御通信手段によって、測定制御手段と測定条件設定手段との通信が行えるため、新たに１ファイバペアを用意する必要がない。
【００１２】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する装置に使用する光生成装置であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定手段と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成手段と、測定条件設定手段から測定条件を送信し、被測定物の測定結果を測定条件設定手段に伝達する測定制御通信手段と、を備えるように構成される。
【００１３】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する装置であって、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定手段と、測定条件に基づき特性測定手段を制御する測定制御手段と、測定条件を測定制御手段に伝達し、測定制御手段から被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信手段と、を備えるように構成される。
【００１４】
なお、本発明は、被測定物は、光をある一方向にのみ通す第一光線路および第二光線路とを有し、可変波長光は第一光線路を透過し、固定波長光は第二光線路を透過する、ものであるようにしてもよい。
【００１５】
なお、本発明は、被測定物は、光をある一方向にのみ通す第一光線路および第二光線路とを有し、可変波長光は第一光線路を透過し、固定波長光は第二光線路を透過する、ものであるようにしてもよい。
【００１６】
なお、本発明は、被測定物は光をある一方向にのみ通し、可変波長光および固定波長光が合成されて被測定物を透過する、ものであるようにしてもよい。
【００１７】
なお、本発明は、被測定物は光をある一方向にのみ通し、可変波長光および固定波長光が合成されて被測定物を透過する、ものであるようにしてもよい。
【００１８】
なお、本発明は、被測定物は光を双方向に通し、可変波長光および固定波長光が合成されて被測定物を透過し、測定通信制御手段は、被測定物と共通する、ものであるようにしてもよい。
【００１９】
なお、本発明は、被測定物は光を双方向に通し、可変波長光および固定波長光が合成されて被測定物を透過し、測定通信制御手段は、被測定物と共通する、ものであるようにしてもよい。
【００２０】
なお、本発明は、測定制御通信手段は、有線ケーブル、無線通信手段および衛星通信手段の内のいずれか一つであるようにしてもよい。
【００２１】
なお、本発明は、可変波長光および固定波長光が合成された合成光を受ける第一端子と、第一端子が受けた光を出力し、光の入力を受け付ける第二端子と、第二端子が受けた光を出力する第三端子と、を有し、第二端子が被測定物の一端に接続され、第三端子が測定条件設定手段に接続されている一端側サーキュレータと、測定結果を受ける第一端子と、第一端子が受けた光を出力し、光の入力を受け付ける第二端子と、第二端子が受けた光を出力する第三端子と、を有し、第二端子が被測定物の他端に接続され、第三端子が測定制御手段に接続されている他端側サーキュレータと、を備えるようにしてもよい。
【００２２】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定工程と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成工程と、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定工程と、測定条件に基づき特性測定工程を制御する測定制御工程と、測定制御工程を遂行する測定制御部に測定条件を伝達し、測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段に測定結果を伝達する測定制御通信工程と、を備えるように構成される。
【００２３】
本発明は、光を通す被測定物の特性の測定に使用する光生成方法であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定工程と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成工程と、測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段から測定条件を送信し、測定条件設定工程を遂行する測定条件設定手段に被測定物の測定結果を伝達する測定制御通信工程と、を備えるように構成される。
【００２４】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定工程と、測定条件に基づき特性測定工程を制御する測定制御工程と、測定制御工程を遂行する測定制御手段に測定条件を伝達し、測定制御工程を遂行する測定制御手段から被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信工程と、備えるように構成される。
【００２５】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定処理と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成処理と、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定処理と、測定条件に基づき特性測定処理を制御する測定制御処理と、測定制御処理を遂行する測定制御部に測定条件を伝達し、測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段に測定結果を伝達する測定制御通信処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００２６】
本発明は、光を通す被測定物の特性の測定に使用する光生成処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、被測定物の特性の測定のための測定条件を設定する測定条件設定処理と、可変波長光および固定波長光とを生成する光生成処理と、測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段から測定条件を送信し、測定条件設定処理を遂行する測定条件設定手段に被測定物の測定結果を伝達する測定制御通信処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００２７】
本発明は、光を通す被測定物の特性を測定する処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、被測定物を透過した可変波長光および固定波長光に基づき被測定物の特性を測定する特性測定処理と、測定条件に基づき特性測定処理を制御する測定制御処理と、測定制御処理を遂行する測定制御手段に測定条件を伝達し、測定制御処理を遂行する測定制御手段から被測定物の特性の測定結果を送信する測定制御通信処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
【００２９】
第一の実施形態
本発明の第一の実施形態に係る光特性測定装置を図１に示す。光特性測定装置はマスター機１０、スレーブ機２０、測定制御通信手段４０を有する。マスター機１０はＤＵＴ３０の一端に接続され、スレーブ機２０はＤＵＴ３０の他端に接続されている。
【００３０】
ＤＵＴ３０には、第一光ファイバ線路３２、第二光ファイバ線路３４を備える。第一光ファイバ線路３２および第二光ファイバ線路３４は、共に光アンプを有し、そのため一方向にしか光を通さない。なお、第一光ファイバ線路３２および第二光ファイバ線路３４の光を通す方向は同一とする。例えば、図１に示すように、マスター機１０からスレーブ機２０へ光を通す。
【００３１】
マスター機１０は、測定条件設定部１１、可変波長光源１２、固定波長光源１４、光変調器１６、１８を備える。
【００３２】
測定条件設定部１１は、ＤＵＴ３０の特性の測定のための測定条件を設定するためのものである。ＤＵＴ３０の特性の測定は、後述するようにスレーブ機２０にて行われるが、スレーブ機２０の初期設定や通信エラー復帰処理は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて行われる。
【００３３】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。第一光変調器１６は、可変波長光を所定の周波数ｆで変調する。第一光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。第一光変調器１６の出力した光（第一入射光）は、第一光ファイバ線路３２に入射される。
【００３４】
固定波長光源１４は、波長がλ０に固定された固定波長光を生成する。第二光変調器１８は、可変波長光を周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、固定波長光を所定の周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。第二光変調器１８の出力した光（第二入射光）は、第二光ファイバ線路３４に入射される。
【００３５】
なお、マスター機１０から、測定条件設定部１１を除いたものが光生成手段に相当する。
【００３６】
第一光ファイバ線路３２に入射した第一入射光は、第一光ファイバ線路３２を透過する。第一光ファイバ線路３２を透過した光を第一出射光という。第二光ファイバ線路３４に入射した第二入射光は、第二光ファイバ線路３４を透過する。第二光ファイバ線路３４を透過した光を第二出射光という。
【００３７】
スレーブ機２０は、第一光電変換器２２、第二光電変換器２４、位相比較器２６、特性計算部２８、測定制御部２９を有する。
【００３８】
第一光電変換器２２は、第一出射光を電気信号に変換して計測用電気信号を出力する。第二光電変換器２４は、第二出射光を電気信号に変換して基準電気信号を出力する。
【００３９】
位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。
【００４０】
特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００４１】
測定制御部２９は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて特性計算部２８を制御して、ＤＵＴ３０の特性を測定する。また、測定制御部２９は、測定条件設定部１１へ、ＤＵＴ３０の特性の測定結果を送信する。
【００４２】
なお、スレーブ機２０から測定制御部２９を除いたものが特性測定手段に相当する。
【００４３】
測定制御通信手段４０は、測定条件設定部１１と測定制御部２９との間の通信を可能とする。測定条件設定部１１から測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に測定条件が送信される。また、測定制御部２９から測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１にＤＵＴ３０の特性の測定結果が送信される。測定制御通信手段４０は、例えば、有線ケーブル、無線通信手段および衛星通信手段の内のいずれか一つである。
【００４４】
次に、第一の実施形態の動作を図２のフローチャートを参照して説明する。測定が開始されると、マスター機１０側の測定条件設定部１１は、ファーストコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１０）。ファーストコマンドは、測定条件を設定するためのコマンドである。
【００４５】
スレーブ機２０側の測定制御部２９はファーストコマンドを受信すると（Ｓ２０）、ファーストコマンドの内容により、スレーブ機２０の初期設定や各種処理および通信エラー復帰処理などを行う（Ｓ２１）。そして、各種処理を終えると、測定制御部２９は各種処理を終えた旨を示すリプライコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２２）。
【００４６】
測定条件設定部１１がリプライコマンドを受信すると（Ｓ１１）、可変波長光源１２の波長が変更され（Ｓ１２）、測定条件設定部１１からセカンドコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１３）。セカンドコマンドは、いわばＤＵＴ３０に測定のための第一入射光および第二入射光を入射する旨の合図である。そして、可変波長光源１２が可変波長光を、固定波長光源１４が固定波長光を、入射する（Ｓ１４）。
【００４７】
可変波長光は第一光変調器１６で第一入射光に変換され、固定波長光は第二光変調器１８で第二入射光に変換される。第一入射光は第一光ファイバ線路３２を透過して第一出射光となる。第二入射光は第二光ファイバ線路３４を透過して第二出射光となる。第一出射光は第一光電変換器２２で計測用電気信号に変換され、第二出射光は第二光電変換器２４で基準電気信号に変換され、位相比較器２６に入力される。位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００４８】
測定制御部２９がセカンドコマンドを受信すると（Ｓ２３）、その後、特性計算部２８がＤＵＴ３０の特性を計算する（Ｓ２４）。そして、測定制御部２９が特性の測定結果を測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２５）。
【００４９】
測定条件設定部１１が測定結果を受信すると（Ｓ１５）、ファーストコマンドの送信に戻る（Ｓ１０）。そして、任意の時点でマスター機１０の電源を断つことにより終了する。
【００５０】
第一の実施形態によれば、測定条件設定部１１および測定制御部２９の通信は、測定制御通信手段４０を介して行えるため、新たに１ファイバペアを用意する必要がない。
【００５１】
第二の実施形態
第二の実施形態は、ＤＵＴ３０が、ある一方向にしか光を通さないという点で第一の実施形態と異なる。
【００５２】
本発明の第二の実施形態に係る光特性測定装置を図３に示す。光特性測定装置はマスター機１０、スレーブ機２０、測定制御通信手段４０を有する。マスター機１０はＤＵＴ３０の一端に接続され、スレーブ機２０はＤＵＴ３０の他端に接続されている。
【００５３】
ＤＵＴ３０には、一方向にしか光を通さない。例えば、図３に示すように、マスター機１０からスレーブ機２０へ光を通す。
【００５４】
マスター機１０は、測定条件設定部１１、可変波長光源１２、固定波長光源１４、光変調器１６、１８、カプラ１９を備える。
【００５５】
測定条件設定部１１は、ＤＵＴ３０の特性の測定のための測定条件を設定するためのものである。ＤＵＴ３０の特性の測定は、後述するようにスレーブ機２０にて行われるが、スレーブ機２０の初期設定や通信エラー復帰処理は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて行われる。
【００５６】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。第一光変調器１６は、可変波長光を所定の周波数ｆで変調する。第一光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。
【００５７】
固定波長光源１４は、波長がλ０に固定された固定波長光を生成する。第二光変調器１８は、可変波長光を周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、固定波長光を所定の周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。
【００５８】
カプラ１９は、第一光変調器１６および第二光変調器１８の出力した光を合成した合成光をＤＵＴ３０に入射する。
【００５９】
スレーブ機２０は、分波器２１、第一光電変換器２２、第二光電変換器２４、位相比較器２６、特性計算部２８、測定制御部２９を有する。
【００６０】
分波器２１は、ＤＵＴ３０を透過した合成光を固定波長光成分と可変波長光成分とに分波する。
【００６１】
第一光電変換器２２は、可変波長光成分を電気信号に変換して計測用電気信号を出力する。第二光電変換器２４は、固定波長光成分を電気信号に変換して基準電気信号を出力する。
【００６２】
位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。
【００６３】
特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００６４】
測定制御部２９は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて特性計算部２８を制御して、ＤＵＴ３０の特性を測定する。また、測定制御部２９は、測定条件設定部１１へ、ＤＵＴ３０の特性の測定結果を送信する。
【００６５】
測定制御通信手段４０は、測定条件設定部１１と測定制御部２９との間の通信を可能とする。測定条件設定部１１から測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に測定条件が送信される。また、測定制御部２９から測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１にＤＵＴ３０の特性の測定結果が送信される。測定制御通信手段４０は、例えば、有線ケーブル、無線通信手段および衛星通信手段の内のいずれか一つである。
【００６６】
次に、第二の実施形態の動作を説明する。第二の実施形態の動作は、第一の実施形態の動作とほぼ同様なので、図２のフローチャートを参照して説明する。測定が開始されると、マスター機１０側の測定条件設定部１１は、ファーストコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１０）。ファーストコマンドは、測定条件を設定するためのコマンドである。
【００６７】
スレーブ機２０側の測定制御部２９はファーストコマンドを受信すると（Ｓ２０）、ファーストコマンドの内容により、スレーブ機２０の初期設定や各種処理および通信エラー復帰処理などを行う（Ｓ２１）。そして、各種処理を終えると、測定制御部２９は各種処理を終えた旨を示すリプライコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２２）。
【００６８】
測定条件設定部１１がリプライコマンドを受信すると（Ｓ１１）、可変波長光源１２の波長が変更され（Ｓ１２）、測定条件設定部１１からセカンドコマンドを測定制御通信手段４０を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１３）。セカンドコマンドは、いわばＤＵＴ３０に測定のための合成光を入射する旨の合図である。そして、可変波長光源１２が可変波長光を、固定波長光源１４が固定波長光を、生成する（Ｓ１４）。
【００６９】
可変波長光は第一光変調器１６で変調され、固定波長光は第二光変調器１８で変調される。第一光変調器１６および第二光変調器１８で変調された光はカプラ１９で合成され、この合成光がＤＵＴ３０を透過する。ＤＵＴ３０を透過した合成光は、分波器２１により可変波長光成分と固定波長光成分とに分波される。可変波長光成分は第一光電変換器２２で計測用電気信号に変換され、固定波長光成分は第二光電変換器２４で基準電気信号に変換され、位相比較器２６に入力される。位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００７０】
測定制御部２９がセカンドコマンドを受信すると（Ｓ２３）、その後、特性計算部２８がＤＵＴ３０の特性を計算する（Ｓ２４）。そして、測定制御部２９が特性の測定結果を測定制御通信手段４０を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２５）。
【００７１】
測定条件設定部１１が測定結果を受信すると（Ｓ１５）、ファーストコマンドの送信に戻る（Ｓ１０）。そして、任意の時点でマスター機１０の電源を断つことにより終了する。
【００７２】
第二の実施形態によれば、測定条件設定部１１および測定制御部２９の通信は、測定制御通信手段４０を介して行えるため、新たに１ファイバペアを用意する必要がない。
【００７３】
第三の実施形態
第三の実施形態は、カプラを用いて光を合成してＤＵＴに入射するという点では第二の実施形態と共通するが、ＤＵＴが双方向に光を通すという点で第二の実施形態と異なる。すなわち、ＤＵＴが光アンプを有さない光ファイバである。なお、第三の実施形態では、ＤＵＴ３０が双方向に光を通すことを利用してＤＵＴ３０と測定制御通信手段を兼用するものである。
【００７４】
本発明の第三の実施形態に係る光特性測定装置を図４に示す。光特性測定装置はマスター機１０、スレーブ機２０を有する。マスター機１０はＤＵＴ３０の一端に接続され、スレーブ機２０はＤＵＴ３０の他端に接続されている。
【００７５】
ＤＵＴ３０は光アンプを有さない光ファイバなので、双方向に光を通す。なお、ＤＵＴ３０の一端には一端側サーキュレータ４２が、他端には他端側サーキュレータ４４が接続されている。
【００７６】
マスター機１０は、測定条件設定部１１、可変波長光源１２、固定波長光源１４、光変調器１６、１８、カプラ１９を備える。
【００７７】
測定条件設定部１１は、ＤＵＴ３０の特性の測定のための測定条件を設定するためのものである。ＤＵＴ３０の特性の測定は、後述するようにスレーブ機２０にて行われるが、スレーブ機２０の初期設定や通信エラー復帰処理は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて行われる。測定条件設定部１１により設定された測定条件に基づき、図示省略した光変調器が、図示省略した固定波長光源の固定波長光を変調してＤＵＴ３０に入射する。
【００７８】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。第一光変調器１６は、可変波長光を所定の周波数ｆで変調する。第一光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。
【００７９】
固定波長光源１４は、波長がλ０に固定された固定波長光を生成する。第二光変調器１８は、可変波長光を周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、固定波長光を所定の周波数ｆで変調する。第二光変調器１８は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなくてもよい。
【００８０】
カプラ１９は、第一光変調器１６および第二光変調器１８の出力した光を合成した合成光を出力する。合成光は測定制御部１１から出射されている、測定条件を示す測定条件光と合成されてＤＵＴ３０の一端に入射される。
【００８１】
一端側サーキュレータ４２は、第一端子４２ａ、第二端子４２ｂ、第三端子４２ｃを有する。第一端子４２ａは、合成光あるいは測定条件設定部１１が出力する光（測定条件光等）を受ける。第二端子４２ｂは、第一端子４２ａが受けた光を出力し、光の入力を受け付ける。第三端子４２ｃは、第二端子４２ｂが受けた光を出力する。なお、第二端子４２ｂがＤＵＴ３０の一端に接続されており、第三端子４２ｃが測定条件設定部１１に接続されている。
【００８２】
スレーブ機２０は、分波器２１、第一光電変換器２２、第二光電変換器２４、位相比較器２６、特性計算部２８、測定制御部２９を有する。
【００８３】
分波器２１は、ＤＵＴ３０を透過した合成光を固定波長光成分と可変波長光成分と測定条件光成分に分波する。
【００８４】
第一光電変換器２２は、可変波長光成分を電気信号に変換して計測用電気信号を出力する。第二光電変換器２４は、固定波長光成分を電気信号に変換して基準電気信号を出力する。
【００８５】
位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。
【００８６】
特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００８７】
測定制御部２９は、測定条件設定部１１が設定する測定条件に基づいて特性計算部２８を制御して、ＤＵＴ３０の特性を測定する。なお、測定制御部２９は、分波器２１から測定条件光成分を受けて、測定条件を取得する。また、測定制御部２９は測定結果等を光変調器５４に伝達する。そこで、測定結果等に基づき光変調器５４が固定波長光源５２の生成する固定波長光を変調することで、測定制御部１１へ測定結果等を送信する。
【００８８】
他端側サーキュレータ４４は、第一端子４４ａ、第二端子４４ｂ、第三端子４４ｃを有する。第一端子４４ａは、固定波長光源５２の生成する測定結果を示した固定波長光を受ける。第二端子４４ｂは、第一端子４４ａが受けた光を出力し、光の入力を受け付ける。第三端子４４ｃは、第二端子４４ｂが受けた光を出力する。なお、第二端子４４ｂはＤＵＴ３０の他端に接続され、第三端子４４ｃは、分波器２１に接続されている。
【００８９】
次に、第三の実施形態の動作を説明する。第三の実施形態の動作は、ほぼ第一の実施形態の動作と同様なので、図２のフローチャートを参照して説明する。測定が開始されると、マスター機１０側の測定条件設定部１１は、ファーストコマンドを一端側サーキュレータ４２、ＤＵＴ３０および他端側サーキュレータ４４を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１０）。より詳細には、測定条件設定部１１は測定条件を示す光を発生し、一端側サーキュレータ４２の第一端子４２ａに入射する。第一端子４２ａに入射された光は、第二端子４２ｂから出力され、ＤＵＴ３０を透過する。ＤＵＴ３０を透過して他端側サーキュレータ４４の第二端子４４ｂに入射される。第二端子４４ｂに入射された光は、第三端子４４ｃから出力される。第三端子４４ｃから出力された測定条件光は、分波器２１を介して測定制御部２９に送信される。ただし、ファーストコマンドは、測定条件を設定するためのコマンドである。
【００９０】
スレーブ機２０側の測定制御部２９はファーストコマンドを受信すると（Ｓ２０）、ファーストコマンドの内容により、スレーブ機２０の初期設定や各種処理および通信エラー復帰処理などを行う（Ｓ２１）。そして、各種処理を終えると、測定制御部２９は各種処理を終えた旨を示すリプライコマンドを他端側サーキュレータ４４、ＤＵＴ３０および一端側サーキュレータ４２を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２２）。より詳細には、固定波長光源５２の生成した固定波長光が光変調器５４により変調される。測定制御部２９は光変調器５４を制御して固定波長光源５２の生成した固定波長光がリプライコマンドを示すようにして他端側サーキュレータ４４の第一端子４４ａに入射する。第一端子４４ａに入射された光は第二端子４４ｂから出力される。第二端子４４ｂから出力された光はＤＵＴ３０を透過して一端側サーキュレータ４２の第二端子４２ｂに入射される。第二端子４２ｂに入射された光は、第三端子４２ｃから出力される。第三端子４２ｃから出力された測定結果光は、測定条件設定部１１に送信される。
【００９１】
測定条件設定部１１がリプライコマンドを受信すると（Ｓ１１）、可変波長光源１２の波長が変更され（Ｓ１２）、測定条件設定部１１からセカンドコマンドを一端側サーキュレータ４２、ＤＵＴ３０および他端側サーキュレータ４４を介して測定制御部２９に送信する（Ｓ１３）。ただし、セカンドコマンドは、いわばＤＵＴ３０に測定のための合成光を入射する旨の合図である。そして、可変波長光源１２が可変波長光を、固定波長光源１４が固定波長光を、生成する（Ｓ１４）。
【００９２】
可変波長光は第一光変調器１６で変調され、固定波長光は第二光変調器１８で変調される。第一光変調器１６および第二光変調器１８で変調された光はカプラ１９で合成され、この合成光がＤＵＴ３０を透過する。ＤＵＴ３０を透過した合成光は、分波器２１により可変波長光成分と固定波長光成分とに分波される。可変波長光成分は第一光電変換器２２で計測用電気信号に変換され、固定波長光成分は第二光電変換器２４で基準電気信号に変換され、位相比較器２６に入力される。位相比較器２６は、基準電気信号を基準として、計測用電気信号の位相を計測する。特性計算部２８は、位相比較器２６が計測した位相に基づき、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることができる。
【００９３】
測定制御部２９がセカンドコマンドを受信すると（Ｓ２３）、その後、特性計算部２８がＤＵＴ３０の特性を計算する（Ｓ２４）。そして、測定制御部２９が特性の測定結果を他端側サーキュレータ４４、ＤＵＴ３０および一端側サーキュレータ４２を介して測定条件設定部１１に送信する（Ｓ２５）。
【００９４】
測定条件設定部１１が測定結果を受信すると（Ｓ１５）、ファーストコマンドの送信に戻る（Ｓ１０）。そして、任意の時点でマスター機１０の電源を断つことにより終了する。
【００９５】
第三の実施形態によれば、ＤＵＴ３０が双方向に光を通すので、測定条件設定部１１および測定制御部２９の通信は、ＤＵＴ３０を介して行えるため、新たに１ファイバペアを用意する必要がない。
【００９６】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各構成要素を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００９７】
【発明の効果】
本発明によれば、ＤＵＴの他にさらに１ファイバペアを必要とすることなく波長分散特性を測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施形態に係る光特性測定装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第二の実施形態に係る光特性測定装置を示すブロック図である。
【図４】本発明の第三の実施形態に係る光特性測定装置を示すブロック図である。
【図５】従来技術における１ファイバペアをDUTとした場合の光分散の測定システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０  マスター機
１１  測定条件設定部
１２  可変波長光源
１４  固定波長光源
１６、１８  光変調器
１９  カプラ
２０  スレーブ機
２２  第一光電変換器
２４  第二光電変換器
２６  位相比較器
２８  特性計算部
２９  測定制御部
３０  ＤＵＴ
４２  一端側サーキュレータ
４２ａ  第一端子
４２ｂ  第二端子
４２ｃ  第三端子
４４  他端側サーキュレータ
４４ａ  第一端子
４４ｂ  第二端子
４４ｃ  第三端子
【図１】
0004507225.tif 000002
【図２】
0004507225.tif 000003
【図３】
0004507225.tif 000004
【図４】
0004507225.tif 000005
【図５】
0004507225.tif 000006