(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
医療診断用画像形成システム（１００）のＸ線検出器（１１０）から医療診断用画像を獲得して生成する画像生成方法であって、
Ｘ線エネルギー源（１２０）により露光される検出器（１１０）の検出領域を、少なくとも患者に対応する露光患者小区分と、この露光患者小区分を内側に含み前記露光患者小区分よりも大きい領域の露光検出器区分（１１５）とに分け、前記露光検出器区分（１１５）全体をＸ線エネルギーで露光する検出器露光工程と、
前記検出器（１１０）が検出した少なくとも第１と第２の検出データ集合であって、該第１の検出データ集合は、前記露光患者小区分の外側にあり前記露光検出器区分（１１５）の少なくとも一部である第１の検出領域（４１０，５１０，６１０）からの検出データを表し、前記第２の検出データ集合が、該露光患者小区分の少なくとも一部である第２の検出領域（４２０）からの検出データを表すように、露光下において該第１と第２の検出データ集合を測定する検出データ測定工程と、
前記第１の検出領域（４１０，５１０，６１０））と第２の検出領域（４２０）との位置関係に従い、前記第１と第２の検出データ集合の値に基づいて第２検出領域光導電性オフセット量（ＰＣ）と、これに続いて医療診断用画像データ値（ＩＤ）とを生成する診断用画像生成工程とを含み、
前記診断用画像生成工程において、医療診断用画像データ値（ＩＤ）を、画素の露光データ値（ＥＤ）から前記第２検出領域光伝導性オフセット量（ＰＣ）を減算して求めることを特徴とする画像生成方法。
【請求項２】
前記検出器（１１０）の検出領域は行と列とに区分され、前記第１の検出領域（４１０，５１０，６１０）は、前記検出器の最先の少なくとも１つの走査行と、最終の少なくとも１つの走査行との少なくとも一方または双方を含むことを特徴とする請求項１の画像生成方法。
【請求項３】
更に暗画像を形成する暗画像工程を有し、
前記診断用画像生成工程は、得られた暗画像から電荷保持オフセット量（ＣＲ）を計算し、前記第２検出領域光導電性オフセット量（ＰＣ）を減算して求めた前記画像データ値（ＩＤ）から、さらに、前記暗画像工程で求めた前記電荷保持オフセット量うＣＲ）を減算する工程とを含むことを特徴とする請求項１または２の画像生成方法
【請求項４】
前記検出器はフォトダイオードを含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像生成方法。
【請求項５】
Ｘ線エネルギー量を検出するアレイ状のセル（４１０，７１０）を有し、測定対象の物体からのエネルギーと該物体の外側からのエネルギーとを前記アレイ状のセル（４１０，７１０）にて露光するパネル（１１５）と、
前記Ｘ線エネルギーに露光される前記パネル（１１５）を、第１の検出領域（４２０）と第２の検出領域（４１０，５１０，６１０）とに分けて走査して読み取るスキャナ（１４０）であって、前記第１の検出領域（４２０）は、少なくとも前記物体に対応するように配置され、前記第２の検出領域（４１０，５１０，６１０）は、前記第１の検出領域を内側に含み、前記第１の検出領域よりも大きく配置され、前記第１の検出領域と第２の検出領域から夫々第１の検出データ集合と第２の検出データ集合とを夫々読みとるスキャナ（１４０）と、
前記第１の検出領域（４１０，５１０，６１０）と第２の検出領域（４２０）との位置関係に従い、前記第１と第２の検出データ集合の値に基づいて第２検出領域光導電性オフセット量（ＰＣ）と、これに続いて医療診断用画像データ値（ＤＩ）とを生成する画像獲得調整部（１４０，１５０）とを備え、
前記画像獲得調整部（１４０，１５０）は、医療診断用画像データ値（ＩＤ）を、画素の露光データ値（ＥＤ）から前記第２検出領域光導電性オフセット量（ＰＣ）を減算して求めることを特徴とする医療診断用画像形成システム（１００）。
【請求項６】
前記パネル（１１５）は、さらに、
前記スキャナ（１４０）と前記画像獲得調整部（１４０，１５０）とを選択的に接続する電界効果トランジスタアレイを有することを特徴とする請求項５のシステム。
【請求項７】
前記パネルの要素である前記セルはフォトダイオードを含むことを特徴とする請求項５乃至６のいずれかに記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、概して医療診断用画像形成システム、詳しくは固体検出器を用いた医療用画像形成システムにおいて電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）の光伝導効果により誘発されるディジタル画像のオフセットを補正するための方法と装置に関連する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線画像形成は、医療診断用の手段として長年受け入れられてきた。Ｘ線画像形成システムは通例、医者が正確な診断を行なうのに必要な情報を含むことの多い胸部、頸部、脊髄、頭部、腹部などの画像を得るのに使用される。一般的にＸ線画像形成システムは、Ｘ線源とＸ線センサとを包含する。例えば胸部Ｘ線画像を撮影する際には、患者は胸部をＸ線センサに向けて立ち、Ｘ線技師がＸ線センサとＸ線源を適当な高さに配置する。源から発生されたＸ線が患者の胸部を通過すると、Ｘ線センサは源から発生されて体の各部分によって様々な程度に減衰されたＸ線エネルギーを検出する。関連の制御システムは、Ｘ線センサから検出Ｘ線エネルギーを受け取って、対応する診断用画像をディスプレイに用意する。
【０００３】
Ｘ線センサは、スクリーンが、Ｘ線をフィルムを露光させる光線へ転化させるという従来のスクリーン／フィルム構造でよい。Ｘ線センサは、固体ディジタル画像検出器でもよい。ディジタル検出器は、従来のスクリーン／フィルム構造よりも著しく大きなダイナミックレンジを提供する。
【０００４】
固体ディジタルＸ線検出器の一例は、半導体ＦＥＴとフォトダイオードのパネルで構成される。パネルのＦＥＴとフォトダイオードは一般的に、行（走査ライン）と列（データライン）に配列される。ＦＥＴ制御装置は、ＦＥＴがターンオン・オフされる順序を制御する。ＦＥＴは一般的に行単位でターン・オンされる、つまり活性化される。ＦＥＴがターン・オンされると、ＦＥＴチャネルを確立するための電荷が、トランジスタのソースとドレーンの両方からＦＥＴに引き込まれる。各ＦＥＴのソースはフォトダイオードに接続されている。各フォトダイオードは、Ｘ線の吸収を受けて、上方のシンチレータにより発せられた光線信号を集積し、吸収されたＸ線に比例するエネルギーを放出する。ＦＥＴのゲートはＦＥＴ制御装置に接続されている。画像獲得モジュールは、ＦＥＴとフォトダイオードのパネルから放出された信号を読み取る。画像獲得モジュールは、ＦＥＴとフォトダイオードのパネルから放出された信号を変換する。検出器のフォトダイオードにより放出され、変換されたエネルギーは、画素を活性化するために画像獲得モジュールに使用され、ディジタル診断画像を表示する。ＦＥＴとフォトダイオードのパネルは一般的に、行により走査される。ディジタル診断画像の対応する画素は、一般的に行ごとに活性化される。
【０００５】
Ｘ線検出器のＦＥＴは、フォトダイオードの充電と放電を制御するためのスイッチとして作用する。ＦＥＴが閉じると、関連のフォトダイオードは初期電荷まで再充電される。ＦＥＴが開くと、フォトダイオードにはＸ線が被爆する。各フォトダイオードが受けるＸ線の数は、Ｘ線の線量に相当する。Ｘ線は、フォトダイオード上方のシンチレータに吸収され、シンチレータは光線を発し、接触したフォトダイオードを放電させる。こうして、露光が終了した後、ＦＥＴが開いている間じゅう、フォトダイオードはＸ線線量を表す電荷を保持するのである。ＦＥＴが閉じると、フォトダイオードに所望の電荷が再確立されるため、ＦＥＴには或る量の電荷が印加される。ＦＥＴが閉じると、各フォトダイオードの初期電荷を回復するのに必要な電荷の量が測定される。測定された電荷量はシンチレータにより集積されるＸ線線量の基準となり、結果的に得られる光線は、Ｘ線露光の間にフォトダイオードによって集積される。
【０００６】
Ｘ線画像の使用目的は多い。例えば対象物体の内的欠陥を検出することができる。さらに内部構造や配列の変化を判断できる。そのうえ画像は、対象内における物体の有無を示すことができ、Ｘ線画像形成から得られた情報は、医学や製造を含む多くの分野に用途を持つ。
【０００７】
いかなる画像形成システムでも、Ｘ線、さもなければ画像品質が最も重要である。これに関して、ディジタルつまり固体画像検出器（「ディジタルＸ線システム」）を用いるＸ線画像形成システムは、ある独自の欠点に直面する。すなわちディジタルＸ線システムは、利用可能な画像を提供するため、品質関連重要（ＣＴＱ）測定に対する厳しい要求を満たさなければならないのである。ＣＴＱ測定は、画像解像度と、画像解像度の一貫性（例えばシステム間で画像を比較）と、画像ノイズ（画像のアーチファクト、「ゴースト」、ひずみ）とを含む。しかし過去には、ディジタルＸ線システムがＣＴＱ要件を満たす、つまり一貫した画像品質を提供するのが不可能なことが多かった。この従来の欠点は、固体ディジタル画像検出器の製造に使用される半導体製造技術のプロセスにおける変動によるものである。さらに画像品質の低下は、画像形成技術に使用される半導体材料に固有の電荷保持性によるものである。
【０００８】
多くの半導体素子は光伝導性を呈する。光伝導性とは、物質中の電子の光学（光）励起により、物質の電子伝導性が上昇することである。固体Ｘ線検出器でスイッチとして使用されるＦＥＴには、光伝導性が見られる。理想的には、ＦＥＴスイッチは、フォトダイオードに蓄積された電荷を測定する電子機器から、フォトダイオードを絶縁する。光伝導性を呈するＦＥＴは、ＦＥＴが開いた時に、フォトダイオードをシステムから絶縁しない。その結果、複数ダイオードからの電荷が画像獲得モジュールにより同時に回復される(restored)。画像獲得モジュールはどのダイオードに電荷が回復されたかを判断できず、これは画像獲得プロセスに悪影響を与える。意図せずＦＥＴから電荷が漏れると、欠陥またはゴースト画像を発生するか、ディジタルＸ線画像の成分値に電荷オフセットを加えることがある。
【０００９】
アモルファスシリコンで製作されたＦＥＴや他の物質はまた、電荷保持(charge retention)と呼ばれる特性を示す。電荷保持は構造的現象であり、ある程度は制御され得る。電荷保持は、ＦＥＴがターン・オフされた時に、伝導チャネルを確立するためＦＥＴに引き込まれた電荷すべてが放出されるわけではないという現象に相当する。保持された電荷は、ＦＥＴがターン・オフされた後でも時間とともにＦＥＴから漏出し、ＦＥＴから漏出した電荷は、Ｘ線制御システムによりフォトダイオードから読み取られる信号にオフセットを加える。
【００１０】
Ｘ線検出器のＦＥＴは、Ｘ線検出器の行を読み取るため電圧がＦＥＴに印加された時に電荷保持性を呈する。検出器の行は概して、所定の方法、順序、時間間隔で読み取られる。Ｘ線画像の完成フレームでは、読取り作業ごとに時間間隔が異なる。ＦＥＴが閉じている時、関連するフォトダイオード上の電荷は電荷測定ユニットにより回復されるが、ＦＥＴは電荷の一部を保持する。読取り作業の間でＦＥＴが開いている時、ＦＥＴに保持された電荷の一部はＦＥＴから電荷測定ユニットに漏出する。ＦＥＴから漏出する電荷の量は、時間とともに指数関数的に減衰する。保持された電荷すべてがＦＥＴから漏出する前に、次の読取り作業が行なわれる。その結果、電荷測定ユニットは、各読取り作業中、前の読取り作業中にＦＥＴに保持された電荷の量を測定することになるのである。
【００１１】
新しい読取り作業が開始された時にＦＥＴに残留している電荷は、初期保持電荷と呼ばれる。列の単一の行のＦＥＴなどの、複数のＦＥＴに蓄積された初期保持電荷が組み合わされて、電荷保持オフセットを形成する。電荷保持オフセットは、Ｘ線検出器パネルの行が読み取られる速度に基づいて変化する。読取り作業の間隔が長くなると、電荷の減衰は増大する。パネルの行が一定速度で読み取られる時、電荷保持オフセットは定常値まで上昇する。電荷保持速度の定常値は、パネルの行がＦＥＴの電荷の指数関数的な減衰速度と等しい速度で読み取られる点を表す。
【００１２】
オフセットとＸ線画像の両方に対するフレーム間の時間が一定の場合、電荷保持効果が最終画像から消去される。検出器を読み取る通常のプロセスでは、「暗」走査の結果を「露光」走査の結果から差し引くだけで、保持電荷の効果が校正中に最小となる。「暗」走査とは、Ｘ線露光なしで行なわれる読取りである。「暗」走査では、Ｘ線検出器パネル上のＦＥＴを活性化させるだけである。そのため「暗」走査により、Ｘ線検出器を読み取るため活性化されたＦＥＴが呈する電荷保持性が判断される。所望する対象物の実際の「露光」走査から「暗」走査を差し引くことにより、電荷保持効果が消去される。
【００１３】
Ｘ線露光中には、ＦＥＴの持つ光伝導性特性の結果、ＦＥＴで電荷が発生するという同様の現象が発生する。露光の最後にＦＥＴがターン・オフされると、追加電荷も漏出して、電荷保持と類似した方法で読取り信号に追加される。しかし、ＦＥＴの光伝導性特性から生じた追加電荷はＸ線検出器に衝突するＸ線に関連するため、追加電荷を除去することはできない。そのためＦＥＴの光伝導性特性から生じた追加電荷は、予測可能でなく、Ｘ線が伝達されない「暗」画像では再現可能でもない。光伝導を行なうＦＥＴの数とＦＥＴにより伝導される電荷の量とは、各ＦＥＴに固有の特性だけでなく、Ｘ線露光量と画像が形成される物体とに左右される。固体Ｘ線検出器は行（走査ライン）と列（データライン）とに沿った構造を持つので、ＦＥＴの過剰電荷は、「露光」画像と「暗」画像との対比では補正できない構造的な画像の欠陥つまりオフセットを生じさせる。
【００１４】
光伝導性は、電荷保持ほど構造的でない。第一に、Ｘ線検出器のＦＥＴが読取りのためターン・オンされる場合には、ＦＥＴは常に同じ電圧でターン・オンされる。光伝導効果により、ＦＥＴがターン・オンされる「量」は、所定のＦＥＴに到達する光線の強度によって決定される。ＦＥＴに到達する光線は、Ｘ線検出器のＦＥＴすべてにおいて広範囲の強度で変化する。第二に、（各ＦＥＴにおける光線強度により）各ＦＥＴが光伝導性にどれだけ強い影響を受けるかに関係なく、すべてのＦＥＴが同時に影響される。電荷保持では、一度に所定の列のＦＥＴを一つ刺激するに過ぎない。そのため光伝導性はさらに予測不可能であり、単純な画像差し引き方法では補正不可能である。
【００１５】
上記のように、ディジタル画像検出器の特性は、固有の変化を見せる。複数の医療診断用画像形成システム内およびシステム間で一定した画像品質（特に画像解像度）を提供する必要があるが、このような一貫性を得るための自動化された技術は、従来は存在しなかった。厳しいＣＴＱ要件の結果、許容範囲のディジタル画像検出器の生産量は低く、許容範囲外のものは破棄されるか、せいぜい医療診断システムには使用不可能であると見なされる。その結果、時間と金銭と資源が浪費される。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
そのため、固体Ｘ線検出器の電界効果トランジスタの光伝導効果により誘発されるオフセットを補正するための方法と装置に対する必要性が存在する。
【００１７】
【発明を解決するための手段】
本発明の好適な実施例では、固体Ｘ線検出器の電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）の光伝導効果により誘発されるディジタル画像のオフセットを補正するための方法と装置が提供される。この方法と装置は、通常のＸ線検出器の走査範囲の最初と最後の両方に、一つ以上の行を追加することを含む。この追加行は、固体Ｘ線検出器の物理的画像範囲の外側にある。追加行は次に、固体Ｘ線検出器のＦＥＴスイッチの光伝導性により誘発された「信号」を測定するのに使用される。信号は、検出器範囲の最初と最後の両方で測定される。ＦＥＴの光伝導性により誘発された信号は、時間とともに減衰するので、走査の最初と最後に得られた測定値は、検出器走査の各行について光伝導性により誘発されたオフセットに起因する信号の量を、内挿法により列ごとに予測するのに用いられる。
【００１８】
別の好適な実施例では、既存の固体ｘ線検出器の走査範囲を使用し、Ｘ線検出器走査範囲の最初と最後の一つ以上の行を単に活性化させることはしない。この実施例では、走査でカバーされる画像範囲が縮小する。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に従って使用される医療診断用画像形成システム１００の好適な実施例を示す。医療診断用画像形成システム１００は、複数のサブシステムを含む。例示のみを目的として、医療診断用画像形成システムをＸ線システムとして説明する。医療診断用画像形成システム１００は、Ｘ線検出器１１０とＸ線検出器走査範囲１１５とＸ線源１２０と患者１３０などのサブシステムを含む。医療診断用画像形成システム１００はまた、画像獲得モジュール１４０と画像調整モジュール１５０とを含む。
【００２０】
患者１３０は、医療診断用画像形成システム１００に載置される。一例であるシステムでは、Ｘ線源１２０は患者１３０の上方に配置される。Ｘ線検出器１１０は、患者１３０の下方に配置される。Ｘ線は、Ｘ線源１２０から患者１３０を通過し、Ｘ線検出器１１０とＸ線検出器走査範囲１１５へと伝達される。
【００２１】
図４は、Ｘ線検出器１１０内の固体Ｘ線検出器走査範囲１１５の好適な実施例を示す。Ｘ線検出器走査範囲１１５は、Ｘ線画像の画素に対応するセル４１０で構成される。各セル４１０は一般的に、フォトダイオードと電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）を含む。セル４１０は、列（データライン）４２０と行（走査ライン）４３０に配列される。セル４１０は、行４３０と列４２０に従って活性化される。一つ以上のセル４１０がＸ線画像の一つ以上の画像へ、独自にマッピングされる。画素が活性化されると、患者１３０に関する所望のディジタルＸ線画像が形成される。
【００２２】
図７は、Ｘ線検出器１１０内の固体Ｘ線検出器走査範囲１１５の好適な実施例を示す低レベル図である。Ｘ線検出器走査範囲１１５は、フォトダイオード７２０と電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）７３０とを含むセル７１０で構成される。
導線７４０により、セル７１０が画像獲得モジュール１４０に接続されている。
【００２３】
画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５からＸ線画像を獲得する。好適な実施例において画像獲得モジュール１４０は、ある範囲から、つまりＸ線検出器走査範囲１１５の通常の患者小区分よりも大きな露光検出器区分から、画像を獲得する。図５に図示された好適な実施例では、Ｘ線検出器走査範囲１１５の最初より前にある追加走査行５１０、またはＸ線検出器走査範囲１１５の最後より後にある追加走査行５１０によって、Ｘ線検出器走査範囲１１５が拡張されることにより、拡張Ｘ線検出器走査範囲１１５が形成される。行５１０の数は変化してもよい。また、行５１０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５の前後に配置されるのに加えて、またはこれに代わって、Ｘ線検出器走査範囲１１５の両側の一方に沿って配置されてもよい。画像獲得モジュール１４０は、拡張Ｘ線検出器走査範囲１１５から画像を獲得する。
【００２４】
図６に図示された別の好適な実施例では、Ｘ線検出器走査範囲１１５の最初にある一つ以上の行６１０とＸ線検出器走査範囲１１５の最後にある一つ以上の行６１０、および／またはＸ線検出器走査範囲１１５の片側に沿った一つ以上の行の分だけ、Ｘ線検出器走査範囲１１５を縮小してもよい。別の好適な実施例で追加される追加行５１０に代わって、通常のＸ線検出器走査範囲１１５に割り当てられた行を、オフセット補正に使用してもよい。画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５からＸ線画像を獲得する。
【００２５】
画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５のセル４１０，７１０からの信号を、導線７４０を介して受信することにより、Ｘ線検出器走査範囲１１５からＸ線画像を獲得する。導線７４０からの信号は、フォトダイオード７２０に蓄積された電荷により発生する。フォトダイオード７２０に蓄積された電荷は、フォトダイオード７２０によるＸ線エネルギーの吸収により生じる。フォトダイオード７２０に蓄積された電荷は、ＦＥＴ７３０によって導線７４０を流れる信号として移動する。ＦＥＴ７３０は、画像獲得モジュール１４０により活性化する。導線７４０を介して画像獲得モジュール１４０により受信された信号は、ＦＥＴ７３０の電荷保持性と光伝導効果とにより発生したオフセットを含む。
【００２６】
画像調整モジュール１５０は、獲得済みの画像を画像獲得モジュール１４０から受け取る。画像調整モジュール１５０は、Ｘ線検出器１１０により画像に誘発されたオフセットを補正する。Ｘ線画像のオフセットは、Ｘ線検出器１１０のＦＥＴ（電界効果トランジスタ）７３０の光伝導および／または電荷保持性により誘発されたものである。好適な実施例では、ＦＥＴ７３０からの電荷保持オフセットは、ＦＥＴにおける電荷保持により生じた電荷の漏出を含む「暗」画像を用いて消去される。好適な実施例では、Ｘ線検出器走査範囲１１５の最初と最後に走査される追加行が、Ｘ線画像のＦＥＴ光伝導効果により誘発されたオフセットを補正するため、画像調整モジュール１５０に使用される。別の好適な実施例では、通常のＸ線検出器走査範囲１１５の最初と最後に割り当てられた行が、Ｘ線画像のＦＥＴ光伝導効果により誘発されたオフセットを補正するため、画像調整モジュール１５０に使用される。
【００２７】
さて、本発明による医療診断用画像形成システムで誘発されるオフセットを補正するための好適な実施例に関する流れ図２００を示す図である図２を参考にする。ステップ２１０において画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５から「暗」画像を獲得する。「暗」画像は、Ｘ線露光なしで行なわれる読取りから得られる。「暗」画像の走査により、Ｘ線検出器走査範囲１１５のＦＥＴ７３０が活性化し、ＦＥＴ７３０からの保持電荷の漏出が測定される。こうして「暗」画像は、Ｘ線検出器走査範囲１１５を読み取るように活性化されたＦＥＴ７３０により発生した電荷保持オフセットを判断するのに使用されるのである。
【００２８】
ステップ２２０において、画像獲得モジュール１４０はＸ線検出器走査範囲１１５からＸ線画像を獲得する。個体Ｘ線検出器１１０を含むＦＥＴ７３０の光伝導効果と電荷保持特性など、源からの過剰な電荷により、画像はオフセットしている。Ｘ線検出器走査範囲１１５のセル７１０からの導線７４０を用いて、画像獲得モジュール１４０によりＸ線検出器走査範囲１１５からＸ線画像が行ごとに読み取られる。本発明の好適な実施例では、画像獲得モジュール１４０は画像走査の最初に二つの追加行５１０を獲得し、画像走査の最後に二つの追加行５１０を獲得する。追加行５１０は走査される物体を表すのではない。追加行５１０は、ＦＥＴ光伝導効果により誘発されたオフセット電荷「信号」を示す。本発明の別の好適な実施例では、画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５の最初の２行６１０と、Ｘ線検出器走査範囲１１５の最後の２行６１０とを光伝導性測定に割り当て、これにより、獲得された画像の全体寸法を縮小する。
【００２９】
動作中に画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５のセル４１０，７１０の各行４３０に対して、連続的または継続的な走査（読取り作業）を実行する。画像獲得モジュール１４０は最初に、Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の外側（例えば前）にある一つ以上の行５１０，６１０を走査する。
画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の外側で走査された行５１０，６１０から、光伝導性オフセットデータを獲得する。次に画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の各行４３０について、行ごとに走査を実行する。Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の各行４３０について行ごとに走査を行なう間、画像獲得モジュール１４０はＸ線検出器走査範囲１１５の各セル４１０，７１０について、露光データを取得する。画像獲得モジュール１４０は次に、Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の外（例えば後）にある、他の一つ以上の行５１０，６１０を走査する。画像獲得モジュール１４０は、Ｘ線検出器走査範囲１１５の走査画像範囲の外側で走査された行５１０，６１０から、光伝導性オフセットデータを獲得する。
【００３０】
ステップ２３０において画像調整モジュール１５０は、画像獲得モジュール１４０からＸ線画像データを受け取る。画像は、画像走査の最初と最後にある、オフセット補正に割り当てられた追加行を含む。画像調整モジュール１５０は、行と列に従って、画素ごとに画像を分析する。ステップ２４０において画像調整モジュール１５０は、画像の画素４１０の画像データ値を計算する。各画素について、画像データ値（ＩＤ）は、〔画像からの露光データ値（ＥＤ）−「暗」画像からの電荷保持オフセットデータ値（ＣＲ）−オフセット補正行５１０，６１０からの計算された光伝導性オフセットデータ値（ＰＣ）〕に等しい（つまりＩＤij＝ＥＤij−ＣＲij−ＰＣij）。この計算において、ｉは画像への行４３０のインデックス、ｊは画像への列４２０のインデックスを表す。所定の列４２０ｊの各画素４１０ｉについて計算された光伝導性オフセットデータ値は、
（（ＲN−Ｒi）／ＲN）*１／２｛（Ｒ−２）e＋（Ｒ−１）e−（ＲN＋１）e−（ＲN＋２）e−（Ｒ−２）o−（Ｒ−１）o＋（ＲN＋１）o＋（ＲN＋２）0｝
であり、（Ｒ−２）eは画素（−２，ｊ）の露光フレームで測定された信号を表し、ＲNとＲiは行番号である。図３に図示されたように、下付き文字“ｅ”は露光フレームを指し、下付き文字“ｏ”はオフセットフレームを指す。結果的に得られた画像中の各画素の画像データ値は、ディジタルディスプレイを作成するのに使用される。
【００３１】
こうして本発明は、固体Ｘ線検出器の深刻な劣化問題に解決法を提供する。固体Ｘ線検出器の光導電性ＦＥＴにより誘発されるオフセットを測定および補正するための方法と装置は、新しい医療診断用画像形成システムの設計を改良し、既存の医療診断用画像形成システムをオフセット補正を介して従来通りに使用できる。本発明は実行が簡単であり、既存のハードウェアの変更を必ずしも必要としない。
【００３２】
本発明を好適な実施例について説明したが、発明の範囲から逸脱せずに様々な変更を加え、均等物を代わりに使用できることは当業者には理解できるだろう。
さらに、特定の状況や材料を本発明の範囲から逸脱せずに本発明の教示に適合させるための多くの修正が可能である。そのため、本発明は開示された特定の実施例に限定されるものではなく、本発明は請求項の範囲に包まれるすべての実施例を包含することが意図されている。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に関連して使用される一般的な医療診断用画像形成システムの好適な実施例を示す。
【図２】固体Ｘ線検出器のＦＥＴ（電界効果トランジスタ）光伝導効果により誘発されるオフセットを補正するための好適な実施例に関する流れ図である。
【図３】本発明による好適な実施例に従って画像を獲得するための方法を説明する波形図である。
【図４】固体Ｘ線検出器の好適な実施例を示す。
【図５】Ｘ線検出器走査範囲の最初にオフセット補正のための二つの追加行と、Ｘ線検出器走査範囲の最後にオフセット補正のための二つの追加行を備える、固体Ｘ線検出器走査範囲の好適な実施例を示す。
【図６】Ｘ線検出器走査範囲の最初にオフセット補正に割り当てられた二つの行と、Ｘ線検出器走査範囲の最後にオフセット補正に割り当てられた二つの行とを備える、固体Ｘ線検出器走査範囲の好適な実施例を示す。
【図７】固体Ｘ線検出器走査の好適な実施例を示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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