(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
閉位置と開位置とを取り得るように開閉可能に支持した外蓋を有する収容ケース内に制御盤を設置し、この外蓋以外にさらにこの制御盤の操作部品が設けられた操作面を覆うように開閉可能に支持した内蓋を備え、
前記内蓋は、前記外蓋が開位置から閉位置へ閉動するのを許容する閉位置と、その閉動を阻止する開位置とを取り、
前記制御盤の操作面に設けた前記操作部品は、前記内蓋が開位置から閉位置へ閉動するのを許容する第一切換位置と、その閉動を阻止する第二切換位置とを取り得るように操作される前記操作面から突出するレバーを有するスイッチを備え、
このスイッチの第二切換位置で前記内蓋の閉動が阻止された状態で、この内蓋は前記外蓋の閉動を阻止する開位置へ開動し得る開閉器用制御装置において、
前記制御装置は、供給側と負荷側との間を接続する開閉器に接続された継電器であり、この継電器にあっては、
前記開閉器に対し、地絡に伴うトリップ信号を出力して開閉制御を行う通常状態と、
前記開閉器に対し、試験器から試験トリップ信号を出力して開閉試験を行う試験状態とを取り、
前記制御盤の操作面にあって前記スイッチは、
電源を前記通常状態の第一切換位置と前記試験状態の第二切換位置とに切り換える電源切換スイッチ、または、前記試験トリップ信号を出力しない前記通常状態の第一切換位置とこの試験トリップ信号を出力する前記試験状態の第二切換位置とに切り換える試験トリップ切換スイッチとのうち、少なくとも一方を有するものであることを特徴とする開閉器用制御装置。
【請求項２】
前記内蓋において開位置と閉位置との間の開閉軌跡方向は重力の働く方向に沿い、この内蓋はその重量により開閉軌跡方向で閉位置から開位置へ開動し得ることを特徴とする請求項１に記載の開閉器用制御装置。
【請求項３】
前記内蓋は、
前記スイッチの第二切換位置でこのスイッチに当接して開位置から閉位置への内蓋の閉動を阻止する閉動規制面と、
前記スイッチの第一切換位置でこのスイッチとの当接を回避して開位置から閉位置への内蓋の閉動を許容する閉動許容部と
を有する開閉規制手段を備えたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の開閉器用制御装置。
【請求項４】
前記内蓋の開閉規制手段において、閉動許容部は内蓋に形成した貫通孔内の空間であり、閉動規制面は内蓋にあってこの貫通孔の周辺部であることを特徴とする請求項３に記載の開閉器用制御装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、配電線に発生した地絡事故を検出して開閉器を自動開放させる地絡継電器などの開閉器用制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、地絡継電器の収容ケースは、制御盤を収容したケース本体と、このケース本体の開口部を開閉する外蓋とからなる。この制御盤の制御部品取付部は、電源切換スイッチや試験トリップ切換スイッチなどの操作部品を取り付けた操作面を有し、ケース本体の開口部を通して外蓋と対向している。これらの切換スイッチは、それぞれ、例えばスナップスイッチであり、そのレバーを傾動させて通常位置と試験位置とに切り換え得る。
【０００３】
この地絡継電器に試験器を接続して模擬地絡試験を行う場合、これらの切換スイッチをそれぞれ通常位置から試験位置に切り換える。模擬地絡試験が終了すると、これらの切換スイッチをそれぞれ試験位置から通常位置に切り換た後、ケース本体を外蓋により閉じる。これらの切換スイッチが試験位置から通常位置に切り換わっていない場合、外蓋の内側に設けられた突起がこの切換スイッチに当たって外蓋を閉じることはできない。従って、この切換スイッチが試験位置のままで、外蓋を閉じる誤操作を防止することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
前記ケース本体と外蓋とからなる収容ケースは、制御盤を保護する機能を有している。しかし、制御盤の制御部品取付部において、電源切換スイッチや試験トリップ切換スイッチなどの操作部品を有する操作面は、溝部の底面側に設けられている場合もあるとは言え、この操作面上の操作部品はこの溝部内で露出しているため、例えば制御盤をケース本体内に取着する場合、この操作面上の操作部品に物が当たるおそれはあり、操作部品を損傷する原因となり得る。
【０００５】
そこで、この操作面上の操作部品のうち全部または一部を閉塞する内蓋を外蓋以外に付設することを提案した。
本発明にあっては、例えば模擬地絡試験時において切換スイッチが試験位置のままで外蓋を閉じる誤操作を防止する機能も、この内蓋に持たせるべく、改良した。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
後記実施形態の図面（図１（ａ）及び図２〜９に示す第一実施形態または図１（ｂ）及び図１０，１１に示す第二実施形態）の符号を援用して本発明を説明する。
【０００７】
請求項１の発明にかかる開閉器用制御装置（１）は、下記のように構成されている。
閉位置（ＥＳ）と開位置（ＥＯ）とを取り得るように開閉可能に支持した外蓋（６）を有する収容ケース（４）内に制御盤（１１）を設置し、この外蓋（６）以外にさらにこの制御盤（１１）の操作部品が設けられた操作面（１３）を覆うように開閉可能に支持した内蓋（１７）を備えている。この内蓋（１７）は、前記外蓋（６）が開位置（ＥＯ）から閉位置（ＥＳ）へ閉動するのを許容する閉位置（ＩＳ）と、その閉動を阻止する開位置（ＩＯ）とを取り得る。前記制御盤（１１）の操作面（１３）に設けた前記操作部品は、前記内蓋（１７）が開位置（ＩＯ）から閉位置（ＩＳ）へ閉動するのを許容する第一切換位置（Ｐ）と、その閉動を阻止する第二切換位置（Ｑ）とを取り得るように操作される前記操作面（１３）から突出するレバー（２４，２５）を有するスイッチ（１４，１５）を備えている。このスイッチ（１４，１５）の第二切換位置（Ｑ）で前記内蓋（１７）の閉動が阻止された状態で、この内蓋（１７）は前記外蓋（６）の閉動を阻止する開位置（ＩＯ）へ開動し得る。この開閉器用制御装置（１）は、供給側と負荷側との間を接続する開閉器（２）に接続された継電器である。この継電器（１）にあっては、前記開閉器（２）に対し、地絡に伴うトリップ信号を出力して開閉制御を行う通常状態と、前記開閉器（２）に対し、試験器（３５）から試験トリップ信号を出力して開閉試験を行う試験状態とを取り得る。前記制御盤（１１）の操作面（１３）にあって前記スイッチ（１４，１５）は、電源を前記通常状態の第一切換位置（Ｐ）と前記試験状態の第二切換位置（Ｑ）とに切り換える電源切換スイッチ（１４）、または、前記試験トリップ信号を出力しない前記通常状態の第一切換位置（Ｐ）とこの試験トリップ信号を出力する前記試験状態の第二切換位置（Ｑ）とに切り換える試験トリップ切換スイッチ（１５）とのうち、少なくとも一方を有するものである。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１の発明に下記の構成を追加している。
前記内蓋（１７）において開位置（ＩＯ）と閉位置（ＩＳ）との間の開閉軌跡方向は重力の働く方向（Ａ）に沿い、この内蓋（１７）はその重量により開閉軌跡方向で閉位置（ＩＳ）から開位置（ＩＯ）へ開動し得る。
【０００９】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２の発明に下記の構成を追加している。
前記内蓋（１７）は、前記スイッチ（１４，１５）の第二切換位置（Ｑ）でこのスイッチ（１４，１５）に当接して開位置（ＩＯ）から閉位置（ＩＳ）への内蓋（１７）の閉動を阻止する閉動規制面（内蓋１７の隔壁１８にあって貫通孔２６，２７の周辺部）と、前記スイッチ（１４，１５）の第一切換位置（Ｐ）でこのスイッチ（１４，１５）との当接を回避して開位置（ＩＯ）から閉位置（ＩＳ）への内蓋（１７）の閉動を許容する閉動許容部（内蓋１７の隔壁１８にあって貫通孔２６，２７内の空間）とを有する開閉規制手段を備えている。
【００１０】
請求項４の発明は、請求項３の発明に下記の構成を追加している。
前記内蓋（１７）の開閉規制手段において、閉動許容部は内蓋（１７）に形成した貫通孔（２６，２７）内の空間であり、閉動規制面は内蓋（１７）にあってこの貫通孔（２６，２７）の周辺部である。
【００１２】
【発明の実施の形態】
〔第一実施形態〕
まず、本発明の第一実施形態にかかる開閉器用制御装置を図１（ａ）及び図２〜９参照して説明する。
【００１３】
＜図１（ａ）に示す制御装置１の概要＞
図１（ａ）に示すように、供給側と負荷側との間を接続する開閉器２は、地上に設置されたキャビネット３内に収納されている。この開閉器２上には制御装置１が載設されている。この制御装置１は、継電器であって、この開閉器２に対し地絡に伴うトリップ信号を出力して開閉制御を行う通常状態と、開閉器２に対し試験トリップ信号を出力して開閉試験を行う試験状態とを取り得る。
【００１４】
図２に示すように、この制御装置１の外壁をなす収容ケース４は、ケース本体５と外蓋６とからなり、それらの主体部分が金属により成形されている。このケース本体５は、上壁５ａと下壁５ｂと左壁５ｃと右壁５ｄと後壁５ｅとにより囲まれ、図２，４に示すようにこの上下左右の各壁５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの前端部間で後壁５ｅに面して開放された開口部７を有している。この開口部７の四隅部付近で上壁５ａの上側及び下壁５ｂの下側にそれぞれ止め部８が取着されている。なお、前記上壁５ａと下壁５ｂとを結ぶ方向を上下方向Ａ、前記左壁５ｃと右壁５ｄとを結ぶ方向を左右方向Ｂ、前記開口部７と後壁５ｅとを結ぶ方向を前後方向Ｃとする。
【００１５】
前記外蓋６は、四隅部付近で上縁部の上側及び下縁部の下側にそれぞれ止め部９を有し、閉位置ＥＳにおいて、前記ケース本体５に対し開口部７を塞ぐように当てがわれ、それらの各止め部８，９で各止めねじ１０により取着されている。この各止めねじ１０をケース本体５の各止め部８から外すと、図８に示すように、外蓋６をケース本体５から離脱させて開位置ＥＯにすることができる。この外蓋６の中央部には目視窓６ａが設けられている。
【００１６】
図４及び図３，７に示すように、前記ケース本体５内には制御盤１１が収容されて着脱可能に取り付けられている。この制御盤１１の主体部分はプラスチックにより成形されている。この制御盤１１において、ケース本体５の開口部７を介して外蓋６に面する前側には、操作面１３を有する制御部品取付部１２（後述）が設けられている。この操作面１３においては、電源切換スイッチ１４や試験トリップ切換スイッチ１５などの操作部品等が設けられている。
【００１７】
＜前記制御盤１１の改良＞
この制御盤１１の制御部品取付部１２においては、外蓋６の閉状態で目視窓６ａに面する溝部１６が形成されている。この溝部１６においては、前記操作面１３を有する底面１６ａと、この底面１６ａの左右方向Ｂの両側で相対向する側面１６ｂとを有し、この底面１６ａと左右両側面１６ｂとで囲まれた凹所１６ｃが上下方向Ａへ開放されているとともに前後方向Ｃで前方へ開放されている。
【００１８】
前記制御部品取付部１２の凹所１６ｃを開閉する内蓋１７（後で詳述）が前記外蓋６以外に新たに付設された点と、この内蓋１７と操作面１３との相互関連構成（後で詳述）と、この内蓋１７と外蓋６との相互関連構成（後で詳述）とが、特に従来品と異なる。
【００１９】
＊  前記内蓋１７の支持構造
この内蓋１７においては、図５に示すように、プラスチックにより成形された隔壁１８を有し、この隔壁１８の周囲で上縁部１８ａと下縁部１８ｂと左縁部１８ｃと右縁部１８ｄとが形成されて、この上下左右の各縁部１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄ間で凹部１８ｅが形成されている。この下縁部１８ｂと左右両縁部１８ｃ，１８ｄとの間の左右両隅部には支持孔部１９（支持部）が形成されている。この左右両縁部１８ｃ，１８ｄの上端部には弾性を有する係止舌片部２０（係止部）が形成されている。この上縁部１８ａには把手部２１が形成されている。
【００２０】
一方、図３及び図６（ａ）（ｂ）に示すように、前記溝部１６の左右両側面１６ｂの下端部には支持軸部２２（支持部）が形成されている。この左右両側面１６ｂの上端部には係止突部２３（係止部）が形成されている。
【００２１】
前記内蓋１７の左右両支持孔部１９に前記溝部１６の左右両支持軸部２２が着脱可能に挿嵌された状態で、この内蓋１７は上下方向Ａ（重力の働く方向）へ回動可能に支持される。
【００２２】
外蓋６の開状態で、この内蓋１７を上方へ回動させて隔壁１８を溝部１６の凹所１６ｃに嵌め込んだ状態では、図３，４に示すように、この隔壁１８の上下左右の各縁部１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄが溝部１６の左右両側面１６ｂ間で底面１６ａに当てがわれ、隔壁１８の左右両係止舌片部２０がその弾性により溝部１６の左右両係止突部２３に係止される。そのため、この底面１６ａ上の操作面１３が隔壁１８に面して閉位置ＩＳの内蓋１７により閉塞される。
【００２３】
また、外蓋６の開状態で、この内蓋１７を下方へ回動させて左右両係止舌片部２０をその弾性により左右両係止突部２３から抜くと、図７，８に示すように、隔壁１８が溝部１６から離れ、操作面１３が開放されるとともに、内蓋１７が開位置ＩＯになってケース本体５の外側へ突出する。
【００２４】
＊  前記操作面１３の各切換スイッチ１４，１５
前記電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５は、いずれもスナップスイッチであって、図７に示すように、操作面１３から突出するレバー２４，２５（操作部）を有している。この両レバー２４，２５は上下方向Ａで互いに並設されている。この電源切換スイッチ１４のレバー２４は、左右方向Ｂへ傾動し、図６（ｃ）に示す前記通常状態の第一切換位置（通常位置Ｐ）と図９（ａ）に示す前記試験状態の第二切換位置（試験位置Ｑ）とに電源を切り換え得る。また、試験トリップ切換スイッチ１５のレバー２５は、前記電源切換スイッチ１４のレバー２４の下方に配置されて左右方向Ｂへ傾動し、図６（ｄ）にように前記試験トリップ信号を出力しない前記通常状態の第一切換位置（通常位置Ｐ）と、図９（ｂ）に示すようにこの試験トリップ信号を出力する前記試験状態の第二切換位置（試験位置Ｑ）とに切り換え得る。
【００２５】
＊  前記内蓋１７と操作面１３との相互関連構成
図３，５に示すように、この内蓋１７の隔壁１８には内蓋１７の閉状態で前記上下両レバー２４，２５に対応する上下両貫通孔２６，２７が形成されている。この上下両貫通孔２６，２７は、円形状をなし、隔壁１８の凹部１８ｅからその外側へ貫通されている。
【００２６】
この上下両レバー２４，２５が前記試験位置Ｑにある場合に、内蓋１７を閉じる上方へ回動させると、図９（ａ）（ｂ）に示すように、隔壁１８の凹部１８ｅにあって上下両貫通孔２６，２７の周辺部（開閉規制手段としての閉動規制面）が上下両レバー２４，２５に当接し、内蓋１７の閉動を阻止する。
【００２７】
この上下両レバー２４，２５が前記通常位置Ｐにある場合に、内蓋１７を閉じる上方へ回動させると、図３及び図６（ｃ）（ｄ）に示すように、上下両貫通孔２６，２７内の空間（開閉規制手段としての閉動許容部）に上下両レバー２４，２５が入り込んで隔壁１８との当接を回避し、内蓋１７の閉動を許容する。
【００２８】
＊  前記内蓋１７と外蓋６との相互関連構成
図２に示すようにこの内蓋１７と外蓋６とを閉じた状態では、外蓋６と操作面１３との間に内蓋１７が介在する。
【００２９】
図７，８に示すように外蓋６の開状態でこの内蓋１７を開いてケース本体５の外側へ突出させた状態では、外蓋６をケース本体５に対し前後方向Ｃへ着脱させて開閉させる開閉軌跡Ｌに対し、内蓋１７の一部が交差する。そのため、外蓋６を閉じることができない。
【００３０】
＜前記制御装置１による開閉器２の模擬地絡試験に伴う蓋開閉操作＞
図２に示すように収容ケース４の外蓋６と制御盤１１の内蓋１７とを閉じた状態では、制御盤１１の操作面１３を外蓋６の目視窓６ａ及び内蓋１７の隔壁１８を通して視認することができる。
【００３１】
ケース本体５に対し閉状態にある外蓋６を開くと、図３，４に示すようにケース本体５内の制御盤１１をケース本体５の開口部７を通して外側から直接見ることができる。この場合、制御盤１１にあって内蓋１７は制御部品取付部１２の操作面１３を閉じたままである。
【００３２】
この内蓋１７も開くと、図７に示すように操作面１３も開口部７を通して外側から直接見ることができる。図８に示すように内蓋１７はケース本体５の外側へ突出する。ちなみに、この操作面１３には、前記電源切換スイッチ１４や試験トリップ切換スイッチ１５のほかに、復帰スイッチ２８と試験種類切換スイッチ２９と動作表示マグサイン３０と電源表示ＬＥＤ３１と零相電流整定タップ３２と自己診断異常表示ＬＥＤ３３と動作時間整定タップ３４とが設けられている。
【００３３】
図１（ａ）に示す試験器３５は、ケーブル３５ａにより、制御盤１１の制御部品取付部１２において端子台３６に接続される。模擬地絡試験を行う場合、上記電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５をそれぞれ通常位置Ｐから試験位置Ｑに切り換える。なお、模擬地絡試験の具体的手順については、従来公知であって本発明の要旨と直接的に関連がないため省略する。
【００３４】
模擬地絡試験の終了後、まず内蓋１７を閉じ、次に外蓋６も閉じる。
前記電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５が、いずれも、前記試験位置Ｑから通常位置Ｐに切り換わっている場合、前述したように、それらのレバー２４，２５が貫通孔２６，２７内の空間に入り込んで内蓋１７の閉動を許容する。
【００３５】
しかし、前記電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５のうち少なくとも一方のものが前記試験位置Ｑから通常位置Ｐに切り換わっていない場合、前述したように、それらのレバー２４，２５が貫通孔２６，２７の周辺部に当接して内蓋１７の閉動を阻止する。そのため、内蓋１７はその重量により開動してケース本体５の外側へ突出する。従って、前述したように、外蓋６を閉じることができない。
【００３６】
＜第一実施形態の特徴＞
第一実施形態は下記＊の特徴（後記する他の技術的思想以外）を有する。
＊  収容ケース４内の制御盤１１においては、各種操作部品を有する操作面１３を開閉し得る内蓋１７を備えている。従って、収容ケース４により制御盤１１を保護することができるばかりではなく、収容ケース４において外蓋６を開いた状態でケース本体５から露出する制御盤１１の操作面１３を内蓋１７により保護することができるとともに、例えば制御盤１１をケース本体５内に取着する場合、制御盤１１に物が当たってもその物を内蓋１７により遮るために操作面１３上の操作部品を損傷するおそれは少なくなる。
【００３７】
＊  上記内蓋１７は、上記操作面１３上にある電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５との当接により内蓋１７の閉動を阻止する閉動規制面（貫通孔２６，２７の周辺部である隔壁１８の内側）と、その当接を回避して内蓋１７の閉動を許容する閉動許容部（貫通孔２６，２７内の空間）とを有する開閉規制手段を備えている。そのため、電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５が試験位置Ｑにある場合、この開閉規制手段の機能により、内蓋１７の閉動阻止を確実に行い、内蓋１７を操作面１３に対し閉じることができずに内蓋１７が開位置ＩＯへ開動し、この内蓋１７を有効に利用して外蓋６の閉動を阻止している。従って、上記各切換スイッチ１４，１５が試験位置Ｑのままで外蓋６を閉じる誤操作を防止することができる。
【００３８】
＊  従来は、操作面１３上の操作部材に当接して外蓋６の閉動を阻止する突起がこの外蓋６に直接設けられていた。ところで、前記ケース本体５と外蓋６とからなる収容ケース４は、制御盤１１を保護する機能を有しているため、通常は金属により頑丈に設計されている。そのため、この外蓋６の突起により操作面１３上の操作部材に衝撃が与えられると、操作部材が損傷するおそれがあり得る。しかし、本実施形態では、必ずしも金属により成形する必要のないプラスチック製内蓋１７の隔壁１８が上記各切換スイッチ１４，１５に当接するため、各切換スイッチ１４，１５が損傷するおそれは少なくなる。
【００３９】
＊  上記内蓋１７の開閉規制手段として、内蓋１７に貫通孔２６，２７を形成している。そのため、開閉規制手段を容易に構成することができる。
＊  上記内蓋１７は、重力の働く方向である上下方向Ａへ重量により開動し得る。そのため、試験位置Ｑにある上記各切換スイッチ１４，１５に対し内蓋１７が当接して閉まらない場合に、内蓋１７から手を離せば、自ずと内蓋１７は開位置ＩＯへ開動して外蓋６の閉動を阻止する。従って、内蓋１７が開位置ＩＯへ確実に開動して外蓋６の閉動阻止を行うことができる。
【００４０】
＊  制御装置１は、開閉器２に接続された継電器であり、この継電器の電源切換スイッチ１４及び試験トリップ切換スイッチ１５に対する内蓋１７の当接により、操作面１３に対する内蓋１７の閉動規制を行っている。そのため、模擬地絡試験時において上記各切換スイッチ１４，１５が試験位置Ｑのままで外蓋６を閉じる誤操作を防止することができる。
【００４１】
〔第二実施形態〕
次に、本発明の第二実施形態にかかる開閉器用制御装置を図１（ｂ）及び図１０，１１を参照して説明する。
【００４２】
この第二実施形態では、電柱３７に開閉器２及び制御装置１がそれぞれ別々に設置され、この開閉器２に対し制御装置１がケーブル２ａにより接続されている。この制御装置１に対し試験器３５がケーブル３５ａにより接続されて前記模擬地絡試験が行われる。この第二実施形態にかかる制御装置１は、第一実施形態と比較して、ケース本体５に対する外蓋６の開閉支持構造を下記＊のように変更している。
【００４３】
＊  第一実施形態の各止め部８，９及び各止めねじ１０が省略されている。ケース本体５の右壁５ｄの前縁部に対し外蓋６がヒンジ３８により回動可能に支持されている。この外蓋６は、上下方向Ａに対し直交する平面（左右方向Ｂ及び前後方向Ｃを含む平面）に沿って回動し、図１０に示す閉位置ＥＳと、図１１に示す開位置ＥＯとを取り得る。閉位置ＥＳにある外蓋６は、鉤部３９によりケース本体５に対し止着される。図１１に示すように内蓋１７が開位置ＩＯにあってケース本体５から突出した状態では、外蓋６の開閉軌跡Ｌに内蓋１７が交差するため、外蓋６をケース本体５に閉じることができない。
【００４４】
〔他の実施形態等〕
前記各実施形態以外にも下記＊のように構成してもよい。
＊  前記第一実施形態で例示した貫通孔２６，２７に代わる開閉規制手段としては、図示しないが、内蓋１７の隔壁１８に突起を形成し、この突起の先端面を閉動規制面（貫通孔２６，２７の周辺部に該当）とするとともに、この突起の周辺空間を閉動許容部（貫通孔２６，２７内の空間に該当）とする。
【００４５】
＊  前記スナップスイッチに代わる他のスイッチとしては、例えばスライドスイッチなどを採用する。
＊  前記第一実施形態において、外蓋６をケース本体５に対し左右方向Ｂへスライドし得るように支持して開閉動させる。また、前記内蓋１７を制御盤１１に対し上下方向Ａへスライドし得るように支持して開閉動させる。
【００４６】
＊  請求項で言う「操作面を開閉し得る内蓋」とは、操作面の全部または一部を内蓋で開閉させることを意味する。
〔他の技術的思想〕
前記各実施形態から把握できる技術的思想（請求項以外）を記載する。
【００４７】
（イ）  請求項２において、内蓋１７は、重力の働く方向（上下方向Ａ）の両側のうち一側（下側）で制御盤１１に対し回動可能に支持され、制御盤１１の他側（上側）に係止されて閉位置ＩＳを取り得る。従って、簡単な内蓋１７の開閉支持構造のもとで、内蓋１７による外蓋６の閉動阻止を行うことができる。
【００４８】
（ロ）  上記（イ）において、内蓋１７は、開位置ＩＯで、収容ケース４の外側へ突出し、外蓋６にあって開位置ＥＯと閉位置ＥＳとの間の開閉軌跡Ｌに対し交差して外蓋６の閉動を阻止する。従って、内蓋１７による外蓋６の閉動阻止を確実に行うことができる。
【００４９】
（ハ）  請求項１から請求項４のうちいずれかの請求項、または上記（イ）または上記（ロ）で、制御盤１１の操作面１３にあってスイッチ（電源切換スイッチ１４や試験トリップ切換スイッチ１５）は、操作面１３から閉位置ＩＳの内蓋１７側へ突出する操作部（レバー２４，２５）を有し、この操作部（レバー２４，２５）が第一切換位置（通常位置Ｐ）と第二切換位置（試験位置Ｑ）とに移動し得る。従って、内蓋１７に対する閉動阻止を確実に行うことができる。
【００５０】
【発明の効果】
請求項１の発明にかかる開閉器用制御装置（１）によれば、制御盤（１１）にあって内蓋（１７）により操作面（１３）を保護することができるとともに、スイッチ（１４，１５）が所定位置にないために内蓋（１７）を操作面（１３）に閉じることができない状態のままで外蓋（６）を閉じる誤操作を防止することができる。特に、この効果を、継電器の模擬地絡試験時において発揮することができる。
【００５１】
請求項２の発明によれば、請求項１の発明の効果に加え、内蓋（１７）が開位置（ＩＯ）へ確実に開動して外蓋（６）の閉動阻止を行うことができる。
請求項３の発明によれば、請求項１または請求項２の発明の効果に加え、開閉規制手段の機能により、内蓋（１７）の閉動阻止を確実に行うことができる。
【００５２】
請求項４の発明の発明によれば、請求項３の発明の効果に加え、開閉規制手段を容易に構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  （ａ）は第一実施形態にかかる制御装置を地上の開閉器上に設置した状態を示す概略正面図であり、（ｂ）は第二実施形態にかかる制御装置を開閉器とともに電柱に設置した状態を示す概略側面図である。
【図２】  （ａ）は図１（ａ）の制御装置において外蓋を閉じた状態を示す正面図であり、（ｂ）は同じく平面図であり、（ｃ）は同じく一部切欠き右側面図である。
【図３】  図２の制御装置において外蓋を開いた状態を示す正面図である。
【図４】  図３の制御装置を上側から見た断面図である。
【図５】  図３の制御装置において内蓋のみを示す斜視図である。
【図６】  （ａ）は図３のＸーＸ線部分断面図であり、（ｂ）は図３のＹーＹ線部分断面図であり、（ｃ）は図３のＺ1 ーＺ1 線部分断面図であり、（ｄ）は図３のＺ2 ーＺ2 線部分断面図である。
【図７】  図３の制御装置においてさらに内蓋を開いた状態を示す正面図である。
【図８】  図７の制御装置及び外蓋を示す一部切欠き右側面図である。
【図９】  （ａ）は図３の制御装置において内蓋が切換スイッチに当接した状態を示す図６（ｃ）相当の部分断面図であり、（ｂ）は同じく図６（ｄ）相当の部分断面図である。
【図１０】  第二実施形態にかかる制御装置において外蓋を閉じた状態を示す正面図である。
【図１１】  第二実施形態にかかる制御装置において外蓋及び内蓋を開いた状態を示す正面図である。
【符号の説明】
１…制御装置（継電器）、２…開閉器、４…収容ケース、６…外蓋、１１…制御盤、１３…操作面、１４…電源切換スイッチ、１５…試験トリップ切換スイッチ、１７…内蓋、２６，２７…貫通孔、３５…試験器、ＥＳ…外蓋閉位置、ＥＯ…外蓋開位置、ＩＳ…内蓋閉位置、ＩＯ…内蓋開位置、Ｐ…スイッチ通常位置（第一切換位置）、Ｑ…スイッチ試験位置（第二切換位置）、Ａ…上下方向（重力の働く方向）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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