(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層を有する記録媒体の記録層に光ビームを集光させ、前記記録層からの反射光を受光して情報データの記録及び／又は読み取りをなす光ピックアップ装置であって、
前記光ビームを射出する光源と、
前記光ビームを集光する集光レンズ、前記光ビームの前記記録媒体への往きの光路と前記記録媒体からの反射光の光路との共通光路に位置し且つ前記光ビームの射出点と光学的な共役点に位置する通過部を有する遮光板、及び前記通過部を通過した光ビームをコリメートするコリメータレンズ、を含むビームエキスパンダと、
前記ビームエキスパンダによりコリメートされた光ビームを前記記録層に合焦せしめる対物レンズと、
前記記録媒体により反射され、前記対物レンズ及び前記ビームエキスパンダを経た光ビームを検出し、合焦位置制御のための誤差信号及び読取データ信号を生成する光検出器と、を有し、
前記光源は主ビーム及び副ビームを生成する光学素子を有し、前記遮光板は各々が前記主ビーム及び副ビームの光学的共役位置に配され、前記主ビーム及び副ビームに対応する通過部を有することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記ビームエキスパンダは、前記コリメータレンズを前記光ビームの光軸方向に駆動する駆動部を有し、前記記録層に合焦する光ビームの収差を補正することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記通過部は、前記光ビームが合焦されている記録層以外の記録層からの反射光を遮光する大きさを有することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記副ビームに対応する通過部は、前記主ビームに対応する通過部よりも大なる径を有することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記光源及び前記集光レンズ間の光路上に配され、前記ビームエキスパンダを経た反射光ビームを前記光検出器に導くホログラム素子を有することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
複数の記録層を有する記録媒体の記録層に光ビームを集光させ、前記記録層からの反射光を受光して情報データの記録及び／又は読み取りをなす光ピックアップ装置であって、
光源から前記記録媒体への往きの光路と前記記録媒体から光検出器への帰りの光路とを分離するビームスプリッタと、
前記記録層に合焦する光ビームの収差を補正するビームエキスパンダと、を備え、
前記ビームエキスパンダは、前記光ビームを集光する集光レンズと、前記往きの光路と帰りの光路との共通光路に位置し且つ前記光ビームの射出点と光学的な共役点に通過部が位置する遮光板と、前記通過部を通過した光ビームをコリメートするコリメータレンズとを含み、
前記光源は主ビーム及び副ビームを生成する光学素子を有し、前記遮光板は各々が前記主ビーム及び副ビームの光学的共役位置に配され、前記主ビーム及び副ビームに対応する通過部を有することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記遮光板は、前記光ビームが合焦されている記録層からの反射光を透過させ、合焦されていない記録層からの反射光を遮光することを特徴とする請求項６に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  本発明は複数の記録層を有する多層ディスク用の光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】  光学的に情報記録又は情報再生が行われる情報記録媒体として、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｉｄｅｏ  Ｄｉｓｃ又はＤｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）等の光ディスクが知られている。さらに、光ディスクの大容量化のため、複数の記録層を同一記録面（サイド）に設けることにより１面当たりの記録容量を増大させることが可能な多層光ディスクが知られている。かかる多層光ディスクは、比較的小さな所定の間隔を置いた複数の記録層を積層した構造を有している。例えば、相変化媒体等の記録媒体を用いた記録可能な多層光ディスクの開発が進められている。
このような多層光ディスク用の光ピックアップ装置には、光ディスクでの反射により生じる収差を補正するための収差補正装置を備えたものがある。かかる従来の収差補正装置としては、光ビームのビーム径を変更せしめるビームエキスパンダを用いたものがある（例えば、特開平１０−１０６０１２号公報参照）。ビームエキスパンダを用いた収差補正装置は、当該ビームエキスパンダのレンズを光ビームの光軸に沿って移動せしめて光ディスクの厚みの違いによって生じた光ビームの球面収差を補正するものである。
また、複数の記録層を有する光ディスクの記録・再生時においては、記録・再生の対象である記録層、すなわち光ビームがフォーカシングされている記録層以外の記録層からの光が信号光に混入することなどによる光ピックアップ装置の性能低下が問題となる。このような不要な光の混入を避けるため、不要光を除去する手段を設けた光ピックアップ装置が開示されている。（例えば、特開２００３−３２３７３６号公報、特開２００１−１８９０３２号公報、特開平０８−１８５６４０号公報参照）。
しかしながら、上記した従来の光ピックアップ装置では、高精度化及び低コスト化を図るのは困難であり、装置構成が複雑になっていた。また、前述のように、光ディスクの大容量化に応じて、多層光ディスクの記録層間の間隔は小さくなっており、高品質な受光信号が得られ、高精度に制御可能な光ピックアップ装置が要求されている。
【発明の開示】
本発明は、上記した課題を解決するためになされたものであり、不要光の混入を回避でき、高品質な受光信号が得られ、高精度にしてかつ簡易な光ピックアップ装置を提供することが一例として挙げられる。
本発明による光ピックアップ装置は、複数の記録層を有する記録媒体の記録層に光ビームを集光させ、記録層からの反射光を受光して記録及び／又は再生をなす光ピックアップ装置であって、光ビームを射出する光源と、光ビームを集光する集光レンズ、光ビームの射出点の光学的共役位置に配されて当該集光レンズにより集光された光ビームを通過させる通過部を有する遮光板、及び通過部を通過した光ビームをコリメートするコリメータレンズ、を含むビームエキスパンダと、ビームエキスパンダによりコリメートされた光ビームを記録層に合焦せしめる対物レンズと、記録媒体により反射され、対物レンズ及びビームエキスパンダを経た光ビームを検出し、合焦位置制御のための誤差信号及び読取データ信号を生成する光検出器と、を有することを特徴としている。
また、本発明による光ピックアップ装置は、複数の記録層を有する記録媒体の記録層に光ビームを集光させ、記録層からの反射光を受光して情報データの記録及び／又は読み取りをなす光ピックアップ装置であって、光源から記録媒体への往きの光路と記録媒体から光検出器への帰りの光路とを分離するビームスプリッタと、記録層に合焦する光ビームの収差を補正するビームエキスパンダと、を備え、ビームエキスパンダは、光ビームを集光する集光レンズと、往きの光路と帰りの光路との共通光路に位置し且つ光ビームの射出点と光学的な共役点に通過部が位置する遮光板と、通過部を通過した光ビームをコリメートするコリメータレンズとを含むことを特徴としている。
【図面の簡単な説明】  図１は、本発明の実施例１である光ピックアップ装置の構成を模式的に示すブロック図である。
図２は、図１に示す遮光板の構造を模式的に示す平面図である。
図３は、図１に示す遮光板の構造を模式的に示す断面図である。
図４は、複数の記録層を有する光ディスクの構造を模式的に示す断面図である。
図５は、光ディスクからの反射不要光が遮光板によって遮光される様子を模式的に示す図である。
図６は、デフォーカス量に対する受光信号強度（信号光量）を示す図である。
図７は、デフォーカス量に対するフォーカスエラー（ＦＥ）信号強度を示す図である。
図８は、本発明の実施例２における遮光板の構造を示す平面図である。
図９は、本発明の実施例３である光ピックアップ装置の光学系の構成を模式的に示す図である。
図１０は、本発明の実施例４である光ピックアップ装置の光学系の構成を模式的に示す図である。
図１１は、実施例４の改変例である光ピックアップ装置の光学系の構成を模式的に示す図である。
図１２は、本発明の実施例５である光ピックアップ装置の光学系の構成を模式的に示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】  以下、本発明の実施例について図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、以下に示す実施例において、等価な構成要素には同一の参照符を付している。
【実施例１】  図１は、本発明の実施例１である光ピックアップ装置１０の構成を模式的に示すブロック図である。
光源１１は、例えば半導体レーザを有し、レーザ光を射出する。光源１１からの光ビームＬＢは、偏光ビームスプリッタ１２でその一部が反射されて受光素子を含むパワーモニタ１４によって受光され、光源１１の光強度がモニタされる。パワーモニタ１４は、記録を行う場合などに、光源１１からの光量をモニターするためのもので、光源１１内にパワーモニタを設けても良い。光源１１からの光ビームの殆どは偏光ビームスプリッタ１２を透過して、球面収差補正用のビームエキスパンダ１５に入射する。
ビームエキスパンダ１５は、集光レンズ１６、遮光板（不要光除去板）１７及びコリメーターレンズ１８を有する集光型ビームエキスパンダである。図２及び図３は、それぞれ遮光板１７の構造を模式的に示す平面図及び断面図である。遮光板１７の中央部には、集光レンズ１６により集光された光ビームが遮光板１７を通過することができるようにピンホール１７Ａが設けられている。ピンホール１７Ａは直径Ｄを有し、遮光板１７は厚さＴＨを有している。すなわち、ピンホール１７Ａは直径Ｄ、長さＴＨの円柱形状の貫通孔として形成されている。また、当該通過部（ピンホール１７Ａ）以外の部分は、用いられるレーザ光を遮光する遮光領域１７Ｂである。なお、ピンホール１７Ａは貫通孔として形成されていてもよいが、これに限らず、集光された光ビームを通過又は透過させることが可能な通過部として形成されていればよい。また、円柱形状に限らず、集光された光ビームが通過できるような形状を有していればよい。
コリメーターレンズ１８は、光軸に平行なガイドシャフト（図示しない）により支持されており、レンズドライバ３２によりムービングコイル、ステップモータ等のアクチュエータ１８Ａを駆動することにより光軸（光路）方向に移動できるように構成されている。これにより光ディスクの厚みの違いによって生じた光ビームの球面収差を補正することができる。
偏光ビームスプリッタ１２を透過した光源１１からの光ビームは、集光レンズ１６により集光され、集光点（すなわち、光源１１の光ビーム射出点と光学的に共役な位置）に位置するピンホール１７Ａを通過する。すなわち、遮光板１７は、ピンホール１７Ａが光源１１（光ビームの射出点）と共役な位置となるように、光軸上の位置に配置されている。つまり、通過部（ピンホール）１７Ａは、当該光学的共役点を含むような形状に形成されている。また、通過部１７Ａは、ディスクの焦点が合わされている（すなわち、目標としている）記録層からの反射光を通過させ、焦点の合っていない記録層からの反射光を遮光するピンホール径を有する。また、同様に、光軸方向の通過部１７Ａの長さ（遮光板１７の厚さ）は、焦点が合わされている記録層からの反射光を通過させ、焦点の合っていない記録層からの反射光を遮光するような大きさである。すなわち、通過部１７Ａの形状及び大きさは、焦点が合わされている記録層からの反射光の通過部１７Ａにおけるビーム形状及び大きさに応じて定めることができる。
遮光板１７のピンホール１７Ａを通過した光ビームはコリメーターレンズ１８により略平行光とされる。ビームエキスパンダ１５は、偏光ビームスプリッタ１２と対物レンズ２２の間に配置されている。なお、通過部１７Ａは、焦点の合っていない記録層からの反射光をほぼ全て遮光するような大きさであるのが好ましい。
ビームエキスパンダ１５からの略平行光ビームはλ／４波長板２１で円偏光にされ、対物レンズ２２に入射する。対物レンズ２２で集光された光ビームは、光ディスク２３に入射し、反射される。対物レンズ２２は光ビームを光ディスク２３の所望の層に焦点を合わせる（フォーカシングする）ように駆動される。より詳細には、図４に示すように、光ディスク２３は、基板２４上に複数の記録層（記録面）が形成されている。以下においては、光ディスク２３が３つの記録層を有する場合を例に説明する。基板２４上には、第１記録層２５Ａ、第２記録層２５Ｂ、第３記録層２５Ｃが形成されている。第１記録層２５Ａ及び第２記録層２５Ｂ間、第２記録層２５Ｂ及び第３記録層２５Ｃ間にはそれぞれスペーサ層（中間層）２６Ａ，２６Ｂが形成され、第３記録層２５Ｃ上（ディスク表面）にはカバー層（保護層）２６が形成されている。
以下においては、第１記録層２５Ａに情報データ信号を記録又は第１記録層２５Ａから記録データ信号を再生する場合について説明する。光ディスク２３に入射した光ビームは、第３記録層２５Ｃ及び第２記録層２５Ｂを透過して第１記録層２５Ａ上に焦点を結ぶ。この光は第１記録層２５Ａで反射され、対物レンズに戻る。また、光ディスク２３に入射した光ビームの一部は、第３記録層２５Ｃ及び第２記録層２５Ｂによって反射される。当該反射光は信号の品質を低下させる不要光である。
第１記録層２５Ａからの信号光は、合焦面（記録層）で反射されているため、対物レンズ２２を通り、往路と同一の光路を通って偏光ビームスプリッタ１２に入射する。光ディスク２３からの反射光は、λ／４波長板２１によって往路の偏光状態と直交した偏光状態となっている。従って、当該反射光は、ビームスプリッタ１２により反射され、サーボ制御信号用光学素子を含む集光素子２７によって集光され、光検出器２８に入射する。すなわち、偏光ビームスプリッタ１２によって、往きの光路と帰りの光路とが分離されている。また、偏光ビームスプリッタの代わりにハーフミラー等を用いることもできる。なお、光検出器２８には、当該フォーカシングされている記録層からの反射光を受光して読取データ信号を生成する受光素子、及びフォーカスエラー、トラッキングエラー等を含む合焦位置制御用の誤差信号を生成するサーボ制御信号生成用の受光素子が設けられている。
一方、第２記録層２５Ｂ及び第３記録層２５Ｃからの反射光（不要光）は、デフォーカス面での反射光であるため、発散光として往路とは異なる光路を経てビームエキスパンダ１５のコリメーターレンズ１８に入射して集光される。しかしながら、発散光を集光しているため、ピンホール１７Ａの位置では集光されず、当該反射光（不要光）の殆どは遮光板１７によって遮光される。
図５に、光ディスク２３からの反射不要光が遮光板１７によって遮光される様子を模式的に示す。対物レンズ２２によって合焦されている記録層（目標の記録層、ここでは第１記録層２５Ａ）への光路については破線で示し、合焦されていない記録層（第２記録層２５Ｂ及び／又は第３記録層２５Ｃ）からの反射不要光の光路を実線で示している。図に示すように、合焦されていない記録層からの反射光はピンホール１７Ａの位置では集光されず、遮光板１７を通過することはできない。なお、コリメーターレンズ１８を光軸方向に移動することにより光ビームの収差を補正することができるが、ピンホール１７Ａが光源１１（光ビームの射出点）と光学的に共役な位置に配置されている限りにおいては、収差補正のためコリメーターレンズ１８を移動させても当該目標記録層からの反射光の合焦位置は変化しない。
なお、このような光ピックアップ装置１０を得るためには、ピンホール１７Ａを正確に位置決めする必要があるが、以下に説明するように、簡単な方法によってピンホール１７Ａの位置決め調整を行うことができる。すなわち、光ビームの射出点と光学的に共役な位置（集光レンズ１６による集光点）にピンホール１７Ａを配置した場合には、光ビームの往路ではピンホール１７Ａによる光ビームのけられは生じない。なお、ピンホール１７Ａの径を集光スポット径よりも大きくしておく。従って、まず、例えば光パワーメータをコリメーターレンズ１８の直後に配置し、遮光板１７を配置しない状態において集光レンズ１６からの光パワーをモニタしておく。次に、遮光板１７を挿入し、光ビームの光軸方向及び光軸方向に垂直な面内における遮光板１７の位置（すなわち、ピンホール１７Ａの位置）を調整する。光パワーメータにより検出される光パワーが遮光板１７を挿入する前の光パワーと同等な大きさとなるように遮光板１７の位置を調整することによってピンホール１７Ａを正確に位置決めすることができる。
上記したように、反射不要光は遮断され、ピンホール１７Ａを通過する光は全不要光のごく一部（１％未満）である。また、ピンホール１７Ａを通過した当該不要光の一部は、集光素子２７によって集光されるが、光検出器２８に対してはデフォーカス状態となるため、光検出器２８において信号光に混入する不要光はさらに少なくなり、無視できる程度である。従って、光検出器２８において検出される情報データ信号及びサーボ信号は、他の記録層からの影響を受けず、高品質な検出信号を得ることが可能である。
光検出器２８からの読取データ信号、サーボ信号は、信号処理回路３１により信号処理され、コントローラ３５に送出される。また、コントローラ３５はビームエキスパンダ１５を駆動して球面収差補正制御をなす。また、コントローラ３５は光ピックアップ装置１０の動作状況に応じて各種の制御信号を生成するとともに、データ信号の再生及び記録に必要な信号処理など、光ピックアップ装置１０の全体の制御をなす。また、コントローラ３５には上記制御に必要なデータ等を格納するための記憶装置（メモリ）３６が接続されている。
図６は、デフォーカス量に対する受光信号強度（信号光量）を示している。すなわち、ピンホール１７Ａを有する遮光板１７を設けた場合（実線で示す）の信号強度を、遮光板１７を設けない場合（破線で示す）と比較して示している。また、図７は、デフォーカス量に対するフォーカスエラー（ＦＥ）信号強度を示している。すなわち、遮光板１７を設けた場合（実線で示す）と、設けない場合（破線で示す）でのエラー信号強度を比較して示している。なお、図６及び図７においては、比較の容易さのため、遮光板１７を設けた場合及び設けない場合について受光信号強度及びフォーカスエラー信号強度を略１にノーマライズして示している。
図６及び図７に示されるように、遮光板１７を設けない場合では、例えば±０．０２程度（約５μｍ）デフォーカスしても信号光、フォーカスエラー共に残っており、この程度の層間厚でも信号雑音比（ＳＮＲ）の低下と、フォーカスエラーにオフセットが生じることがわかる。一方、遮光板１７を設けた場合では、±０．０２程度（約５μｍ）のデフォーカスにおいて、信号光は完全にはゼロとはなっていないが、不要光の混入は１／１００程度になっており、十分に高いＳＮＲが得られている。また、フォーカスエラー信号強度はほぼゼロになっており、オフセットは生じていない。従って、高品質な受光信号（データ信号）得られるとともに、誤差信号の信頼度も高いため、高精度に合焦位置制御（フォーカシング制御、トラッキング制御）を行うことが可能である。また、構成も簡易であり、コンパクトな光ピックアップ装置を実現することができる。
本発明によれば、光ビームの往路と復路を分離する素子（ビームスプリッタ１２）と対物レンズ２２の間の往復共通光路中にピンホール１７Ａが設けられている。また、ピンホール１７Ａによってキャプチャーレンジを制限する構成としているので、サーボエラー検出光学系の倍率を大きくしなくても、フォーカスサーボ等を高精度に行うことができる。
【実施例２】  以下に、本発明の実施例２である光ピックアップ装置１０について説明する。光ピックアップ装置１０は、３ビーム法によるトラッキング制御を行うように構成されている。すなわち、光ピックアップ装置１０の光学系は、光源１１のレーザ光からメインビーム及び２つのサブビームを生成する光学素子を有している。例えば、光源１１及び偏光ビームスプリッタ１２間に配されたグレーティング素子によってメインビーム及びサブビームが生成される。その他の構成は、実施例１と同様である。
図８は、本実施例の遮光板１７の構造を示す平面図である。遮光板１７の中央部には、集光されたメインビーム光が遮光板１７を通過することができるようにメインビーム用ピンホール１７Ａが設けられているとともに、トラッキング制御などに用いられる２つのサブビームが通過することができるようにサブビーム用ピンホール１７Ｓがメインビーム用ピンホール１７Ａを中心とした対称位置に２つ設けられている。
サブビームの位置を光軸周りに回転調整できるようにサブビーム用ピンホール１７Ｓの各々の径は、メインビーム用ピンホール１７Ａよりも大きい。あるいは、サブビーム用ピンホール１７Ｓの各々の径は回転調整方向、すなわち光軸周りの円弧に沿った長円、又は所定幅を有する円弧部分等であってもよい。
かかる構成によって、３ビーム法による制御を行う場合にも本発明を適用することができる。
【実施例３】  図９は、本発明の実施例３である光ピックアップ装置１０の光学系の構成を模式的に示す図である。なお、光ピックアップ装置１０の信号処理回路３１、レンズドライバ３２、コントローラ３５、記憶装置３６等の回路については省略して示している。
本実施例が上記した実施例と異なるのは、ビームスプリッタ１２に代えて偏光ホログラム素子を用いている点である。また、上記した実施例と同様、本光学系には集光レンズ１６、遮光板１７及びコリメーターレンズ１８を含む集光型ビームエキスパンダ１５と、λ／４波長板２１と、対物レンズ２２と、光検出器２８が設けられている。
本実施例において、光ピックアップ装置１０の光学系は、偏光ホログラム素子４１を用いて光ビームの往路と復路を分離するように構成されている。また、光ビームの往復共通光路中に、光ビームの射出点の光学的共役位置に配されたピンホール１７Ａを有する遮光板１７が配置されている。従って、上記した実施例と同様、合焦されていない記録層からの反射光（不要光）はピンホール１７Ａの位置では集光されず、遮光板１７によって遮断される。
従って、信号雑音比（ＳＮＲ）の低下と、誤差信号にオフセットが生じることを回避できる。すなわち、高品質な受光信号（データ信号）が得られるとともに、高精度に合焦位置制御（フォーカシング制御、トラッキング制御）を行うことが可能である。また、構成も簡易であり、コンパクトな光ピックアップ装置を実現することができる。
また、かかる構成においてはホログラム素子を用いているためピックアップの構成が簡単である。すなわち、高いＳＮＲを有し、高精度で低コストな収差補正装置をより簡単かつコンパクトな構成で実現することができる。
【実施例４】  図１０は、本発明の実施例４である光ピックアップ装置１０の光学系の構成を模式的に示す図である。本実施例が上記した実施例と異なるのは、ビームスプリッタ１２に代えてホログラム素子４２を用いている点である。また、上記した実施例と同様、集光レンズ１６、遮光板１７及びコリメーターレンズ１８を含む集光型ビームエキスパンダ１５と、対物レンズ２２と、光検出器２８とを有している。なお、ホログラム素子４２は偏光型ではない通常のホログラムであり、本実施例においては、λ／４波長板は用いていない。
すなわち、ホログラム素子４２を用いて光ビームの往路と復路を分離するように構成されている。また、光ビームの往復共通光路中に、光ビームの射出点の光学的共役位置に配されたピンホール１７Ａを有する遮光板１７が配置されている。従って、上記した実施例と同様、合焦されていない記録層からの反射光（不要光）はピンホール１７Ａの位置では集光されず、遮光板１７によって遮断される。さらに、本実施例では、光源１１から射出されたレーザ光の往路においても１次回折光等の回折光（不要光）を遮断することができ、不要光による悪影響を回避することができる。
従って、信号雑音比（ＳＮＲ）の低下と、フォーカスエラーにオフセットが生じることを回避できる。また、かかる構成においてはホログラム素子を用いているためピックアップの構成が簡単である。すなわち、高いＳＮＲを有し、高精度で低コストな収差補正装置をより簡単な構成で実現することができる。
なお、図１１の改変例に示すように、光源１１、ホログラム素子４２及び光検出器２８を有するホログラム集積（ＨＯＥ）ユニット４５を用いてもよい。さらに、簡単な構成によって、低コストかつ高いＳＮＲ、精度を有する収差補正装置を提供することができる。
【実施例５】  図１２は、本発明の実施例５である光ピックアップ装置１０の構成を模式的に示すブロック図である。
上記した実施例においては、光ディスクの記録又は再生時にビームエキスパンダ１５を駆動して収差を補正することができるよう、アクチュエータ１８Ａ及びアクチュエータ１８Ａを駆動する駆動部（レンズドライバ３２）からなる駆動装置を有する場合について説明したが、かかる駆動装置を設けない場合について説明する。
本実施例において、ビームエキスパンダ１５は予め調整され、集光レンズ１６、遮光板１７及びコリメーターレンズ１８の配置は固定されている。例えば、光ピックアップ装置１０の組み立て時において、光ディスクの所定の記録層に対して球面収差補正の調整がなされ、その状態で固定されている。例えば、３つの記録層を有する３層光ディスクの場合では、それらの中間の記録層である第２記録層に対して収差補正が最適であるように初期調整がなされている。また、例えば、４つの記録層を有する４層光ディスクの場合では、それらの中間の記録層である第２記録層あるいは第３記録層に対して収差補正が最適であるように初期調整がなされている。すなわち、複数の記録層を有する光ディスクにおいては、当該複数の記録層（及びスペーサ層）からなる層構造の中間位置に最も近い記録層に対して収差補正が最適であるように初期調整すればよい。このように、複数の記録層のうち、光ディスクの中間に位置する記録層に収差補正量を合わせておけば実用上、上記したＳＮＲやオフセット等の問題は回避することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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