(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体像を撮像するための撮像素子と、該撮像素子に対する露光を制御する露出制御手段と、前記撮像素子における電荷蓄積時間を制御する蓄積時間制御手段と、前記露出制御手段及び蓄積時間制御手段の制御による前記撮像素子の所定の動作状況における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、該欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段とを具備した撮像装置において、前記欠陥画素検出手段は、前記露出制御手段により前記撮像素子に対する露光を遮断した状態で、前記撮像素子における電荷蓄積及び読み出し動作を実行するテスト撮像手段と、このテスト撮像に対応して得られた撮像素子出力レベルを所定の画素欠陥判定レベルと比較することにより欠陥画素を判定する欠陥判定手段と、該欠陥判定手段によって一旦判定された欠陥画素の数が所定値を超える場合には、前記画素欠陥判定レベルを変更した後に再度前記欠陥判定手段による判定を行わせることで、検出する欠陥画素の数を前記所定値以下に制限する欠陥画素数制限手段と、前記画素欠陥判定レベルが許容限界レベルに達した状態で前記欠陥判定手段によって判定された欠陥画素の数が前記所定値を超える場合には、画質破綻状態であると判定する画質破綻状態検出手段と、前記画質破綻状態検出手段が画質破綻状態を検出した場合に、所定の画質破綻対応処理を実行する画質破綻対応処理実行手段とを備えていることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記画質破綻対応処理実行手段による画質破綻対応処理は、本撮影における露出時間を短縮するための露出時間短縮処理であることを特徴とする請求項１に係る撮像装置。
【請求項３】
前記画質破綻対応処理実行手段による画質破綻対応処理は、撮影禁止処理であることを特徴とする請求項１に係る撮像装置。
【請求項４】
前記画質破綻対応処理実行手段は、警告処理部を備えていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に係る撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、デジタルカメラ等の撮像装置に係わり、特に画素欠陥補償機能を有する撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ビデオカメラなどの撮像装置は、従来より広く利用されている。近年、主として静止画を撮像記録する電子スチルカメラも特にデジタルカメラとして普及するにいたり、主として動画記録用であったビデオムービーにおいても静止画撮影記録機能を有するようになってきている。そして、静止画撮影に際して使用される長時間露光は、撮像素子における電荷蓄積時間を長くすることによって露光時間を長くするもので、これによって低照度下でもストロボなどの補助照明を使用することなく撮影できるようにする技術として知られている。
【０００３】
一方、ＣＣＤ等の固体撮像素子においては、いわゆる暗電流の存在などによる暗出力が存在し、これが画像信号に重畳されるために画質劣化をきたす。この暗出力レベルが大きい画素が存在する場合は画素欠陥と称され、その画素の出力情報は用いず、近隣の画素の出力情報を用いて画像情報を補完することが広く実用化されている。以下本明細書においては、このような補完処理を画素欠陥の補償と称することとする。例えば、使用フレームレートにおける動画駆動を前提に決められる所定の標準露光時間（ＮＴＳＣでは１／60秒、あるいはこれに基づいて所定のマージンを見込んだ、例えば４倍マージンだと１／15秒）で暗出力を評価し、そのレベルが大きい画素については、欠陥画素と見做して上記画素欠陥補償を適用している。
【０００４】
そして更に、画素欠陥は温度依存や経時変化を伴うものであるから、欠陥画素の評価を工場出荷前に行うだけでは不十分であるという点について改善を図った技術も、特開平６−３８１１３号公報に開示されている。この公開公報には、電源オン直後にアイリスを閉じることで受光面を遮光し、カメラの使用に先立ってＣＣＤ暗出力を評価することで欠陥画素を検出して、欠陥補償を行う技術が記載されている。
【０００５】
ところで、上記公報開示の技術のように、工場出荷後の完成品としてのカメラ装置において欠陥画素を検出して欠陥補償を行うと、記録画像に画質破綻を来すおそれがある。何故なら、温度依存や経時変化によって生じる暗電流増加によって新たに欠陥画素が検出された場合、この欠陥画素の発生の状況は一般には予測困難である。これは、特に上記従来技術を更に発展応用させて、長時間露光にも適用を図った場合には深刻な問題となる。
【０００６】
これに対して、「標準露光時間を超える長時間露光の場合には暗電流の蓄積効果によって画素の暗出力レベルが更に大きくなることを考慮し、長時間露光の場合にこれに対応した欠陥画素検出を行い欠陥補償を行う手法」が考えられるが、このような場合には生じる欠陥は暗電流の蓄積効果によって概略露光時間に比例して増大することから、最悪の場合は欠陥と判定される画素が大量発生することもある。そして、欠陥画素の数が余りに多いと、どのように上記画素欠陥補償を適用したとしても、もはや近隣には補完に用いるべき画像情報を有した画素が存在しない場合も生じるから、このような場合には鑑賞に耐える画質の画像を得ることはできないという問題がある。
【０００７】
この問題は、特に以下のような点からも深刻な問題となるものである。すなわち、実際に欠陥補償を行うためには、検出された欠陥画素のアドレスを一旦カメラ内の所定のメモリ領域に登録し、この登録されたアドレス情報をもとに周辺画素情報による補完処理を行うことになる。そしてこの場合、アドレス登録メモリの割当て領域（容量）には限りがあるため、もしもこの容量が許す以上の数の欠陥画素が発生した場合には、欠陥画素アドレス登録に際してシステムエラーが生じ、最悪の場合カメラの機能維持ができなくなる。
【０００８】
このような問題点を解決するため、本件発明者は先に特願平１１−３２７２１７号において、画素欠陥補償における欠陥画素の大量発生に伴う問題点を解決し、画質劣化に一定の歯止めをかけると共に、システムの破綻を生じないようにした撮像装置を提案した。
【０００９】
すなわち、この提案の撮像装置は、被写体像を撮像するための撮像素子と、この撮像素子に対する露光を制御する露出制御手段と、前記撮像素子における電荷蓄積時間を制御する蓄積時間制御手段と、前記露出制御手段及び蓄積時間制御手段の制御による前記撮像素子の所定の動作状況における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、この欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段とを具備した撮像装置において、前記欠陥画素検出手段は、検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限する欠陥画素数制限手段を備えていることを特徴とするものである。
【００１０】
このように構成した撮像装置においては、欠陥画素検出手段が検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限する欠陥画素数制限手段を備えているため、画質劣化に一定の歯止めをかけられると共に、格納可能な数以上の欠陥を検出してしまうことによるシステムの破綻を防止することが可能となる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記先に提案した撮像装置は検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限することで、欠陥補償による画質劣化に一定の歯止めをかけると共にシステムの破綻が生じないようにしたものであるが、システム破綻をさけるために欠陥判定レベルを制限なく上げてしまうと、結局画質破綻を来してしまい、意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまうという不具合があった。
【００１２】
本発明は、先に提案した撮像装置における上記問題点を解消するためになされたもので、判定レベルの許容限界値を決めておき、許容限界レベルにおいても欠陥画素が所定数を超える場合には、所定の画質破綻対応処理を行って、意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまう不具合を回避できるようにした撮像装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するため、請求項１に係る発明は、被写体像を撮像するための撮像素子と、該撮像素子に対する露光を制御する露出制御手段と、前記撮像素子における電荷蓄積時間を制御する蓄積時間制御手段と、前記露出制御手段及び蓄積時間制御手段の制御による前記撮像素子の所定の動作状況における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、該欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段とを具備した撮像装置において、前記欠陥画素検出手段は、前記露出制御手段により前記撮像素子に対する露光を遮断した状態で、前記撮像素子における電荷蓄積及び読み出し動作を実行するテスト撮像手段と、このテスト撮像に対応して得られた撮像素子出力レベルを所定の画素欠陥判定レベルと比較することにより欠陥画素を判定する欠陥判定手段と、該欠陥判定手段によって一旦判定された欠陥画素の数が所定値を超える場合には、前記画素欠陥判定レベルを変更した後に再度前記欠陥判定手段による判定を行わせることで、検出する欠陥画素の数を前記所定値以下に制限する欠陥画素数制限手段と、前記画素欠陥判定レベルが許容限界レベルに達した状態で前記欠陥判定手段によって判定された欠陥画素の数が前記所定値を超える場合には、画質破綻状態であると判定する画質破綻状態検出手段と、前記画質破綻状態検出手段が画質破綻状態を検出した場合に、所定の画質破綻対応処理を実行する画質破綻対応処理実行手段とを備えていることを特徴とするものである。
【００１４】
このように構成した撮像装置においては、欠陥画素数制限手段において、検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限するための、欠陥判定手段における欠陥判定レベルに、許容限界レベルを設定し、その許容限界レベルにおいても欠陥画素数が所定数を超える場合には、画質破綻状態検出手段により画質破綻状態と判定される。これにより、画質破綻対応処理を実行することが可能となり、意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまう不具合を回避することができる。また、画質破綻状態検出手段により画質破綻状態と判定された場合に、画質破綻対応処理実行手段により画質破綻対応処理が実行されるから、意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまう不具合は起こらない。
【００１５】
また、請求項２に係る発明は、請求項１の撮像装置において、前記画質破綻対応処理実行手段による画質破綻対応処理は、本撮影における露出時間を短縮するための露出時間短縮処理であることを特徴とするものである。
【００１６】
このように構成した撮像装置においては、画質破綻状態と判定された場合には、本撮影における露出時間の短縮によって画素欠陥の発生を低減するから、記録される画像の画質の破綻を防止することができる。
【００１７】
また、請求項３に係る発明は、請求項１の撮像装置において、前記画質破綻対応処理実行手段による画質破綻対応処理は、撮影禁止処理であることを特徴とするものである。
【００１８】
このように構成した撮像装置においては、画質破綻状態と判定された場合には、撮影自体を禁止するから、画質の破綻した画像を記録してしまうことがない。
【００１９】
また、請求項４に係る発明は、請求項１〜３のいずれか１項に係る撮像装置において、前記画質破綻対応処理実行手段は、警告処理部を備えていることを特徴とするものである。
【００２０】
このように構成した撮像装置においては、使用者は警告によって画質破綻状態を認識した上で、撮影に関する設定や撮影の可否を判断できるから、その意図を最大限に生かすことができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
次に、実施の形態について説明する。図１は、本発明の撮像装置の実施の形態に係わるデジタルカメラの回路構成を示すブロック図である。図１において、１は各種レンズからなるレンズ系、２はレンズ系１を駆動するためのレンズ系駆動機構、３はレンズ系１の絞り・シャッタ装置を制御するための露出制御機構、４はＬＰＦ等のフィルタ系、５は色フィルタを内蔵したＣＣＤ撮像素子、６は撮像素子５を駆動するためのＣＣＤドライバ、７はＡ／Ｄ変換器等を含むプリプロセス回路、８はメモリを備え次に述べる各種のデジタル処理を行うためのデジタルプロセス回路、９はメモリカードインターフェース、10はメモリカード、11はＬＣＤ画像表示系、12は主たる構成としてマイコンを含み各部を統括的に制御するためのシステムコントローラ、13は各種ＳＷからなる操作スイッチ系、14は操作状態及びモード状態等を表示するための操作表示系、15はレンズ系駆動機構２を制御するためのレンズドライバ、16はストロボ、17は露出制御ドライバ、18はＥＥＰＲＯＭを示している。
【００２２】
本実施の形態のデジタルカメラにおいては、システムコントローラ12が全ての制御を統括的に行っており、特に露出制御機構３に含まれるシャッタ装置と、ＣＣＤドライバ６によるＣＣＤ撮像素子５の駆動を制御して露光（電荷蓄積）及び信号の読み出しを行い、その信号をプリプロセス回路７を介してデジタルプロセス回路８に格納した出力レベル情報を用いて、以下で説明する画素欠陥の検出等を行うものである。したがって、システムコントローラ12には、更に欠陥画素検出部19を備え、該欠陥画素検出部19には、前記露出制御機構３によりＣＣＤ撮像素子５に対する露光を遮断した状態で、ＣＣＤ撮像素子５における電荷蓄積及び読み出し動作を実行するテスト撮像部19-1と、このテスト撮像により得られたＣＣＤ撮像素子５の出力レベルを所定の画素欠陥判定レベルと比較することにより欠陥画素を判定する欠陥判定部19-2と、この欠陥判定部19-2によって一旦判定された欠陥画素の数が所定値を超える場合には、前記画素欠陥判定レベルを変更した後に再度前記欠陥判定部19-2による判定を行わせることで、検出する欠陥画素の数を前記所定値以下に制限する欠陥画素数制限部19-3と、前記画素欠陥判定レベルが許容限界レベルに達した状態で前記欠陥判定部19-2によって判定された欠陥画素の数が前記所定値を超える場合には、画質破綻状態であると判定する画質破綻状態検出部19-4と、該画質破綻状態検出部19-4が画質破綻状態を検出した場合に、画質破綻対応処理として露出時間短縮処理を実行する破綻対応処理部19-5とを有している。なお、画質破綻対応処理としては、後述のように、この他に撮影禁止処理、警告処理等があるが、ここでは露出時間短縮処理を例として説明する。
【００２３】
また、本実施の形態に係るデジタルカメラにおけるデジタルプロセス回路８には画素欠陥補償部20を有しており、本撮影に際して、
(a) 予めＥＥＰＲＯＭ18に格納された通常時の欠陥（以下常欠陥と称する）に関する欠陥画素のアドレスデータ、
(b) 長時間露光時には、更に撮影に先立って上記欠陥画素検出部19ににより画素欠陥の検出を行った結果の欠陥（以下検出欠陥と称する）に関する欠陥画素の画素アドレスデータ
に基づいて、この画素欠陥補償処理を施すようになっている。
【００２４】
次に、本実施の形態における画素欠陥の検出と補償及び欠陥画素数制限並びに画質破綻状態検出に直接関わる処理を、図２のフローチャートを参照しながら説明する。但し、本カメラにおいて信号レベルのデジタル処理は８ビット（０〜255 ）で行われるものとする。また、特記する部分を除いて常温での動作を仮定して説明する。
【００２５】
撮影に先立って、マニュアル設定又は測光結果に基づいて撮影に必要な露光時間Ｔtotal が設定される（但し、このカメラのスペックとして最長露光時間は10秒とする）。この露光時間Ｔtotal が本カメラにおける標準露光時間Ｔstd （任意に設定可能であるが、この例では１／15秒とする）よりも短いかどうか、すなわちＴtotal ≦Ｔstd であるか否かを判断する（Ｓ１）。
【００２６】
（１）Ｔtotal ≦Ｔstd の場合は、特に従来技術と変わりなく本撮像の撮影トリガー指令を待機し、指令を受けて所定の露出制御値に基づいた露光を行い（Ｓ２）、撮像信号を読み出して所定の信号処理を施した後にメモリカード10に記録する（Ｓ４）。その際、上記(a) に対応する、すなわち常欠陥画素についてのみの画素欠陥補償部20における画素欠陥補償を伴う（Ｓ３）。
【００２７】
（２）Ｔtotal ＞Ｔstd の場合（長時間露光）は、まず実際の本撮像に先立って、欠陥画素検出部19において画素欠陥の検出を行う。この画素欠陥検出処理は、以下に示すテスト撮像と、その結果を用いた欠陥判定、欠陥画素数を制限する処理、画素破綻状態検出処理及び画質破綻対応処理とからなる。
【００２８】
具体的には、テスト撮像部19-1により、撮影トリガー指令を受けた時点で、まず露出制御機構３に含まれるシャッタ装置でＣＣＤ撮像素子５の受光面を遮光した状態でテスト撮像を行う。すなわち、暗黒下でＣＣＤドライバ６により露出時間Ｔtotal の電荷蓄積動作を行ってテスト撮像信号（暗出力信号）を読み出し、デジタルプロセス回路８に格納する。
【００２９】
次に、格納された全データのうち少なくとも常欠陥画素を除いた有効出力画素に関して、欠陥判定部19-2において各出力レベルを調べて所定の画素欠陥判定レベルＴＨとデジタル比較を行うことで欠陥判定を行う。初期判定基準は以下のようなものである。すなわち、着目画素の出力レベルがＳであったとして、
Ｓ＞ＴＨ
の場合に欠陥、それ以外（Ｓ≦ＴＨ）のときには非欠陥とするものである。本カメラでは、画素欠陥判定レベルＴＨの初期値として25を採用している。
【００３０】
この意味は、初期判定に際しては、本撮像時の暗出力レベルを25（フルレンジ255 の約10％）までは許容するとしたものである（Ｓ５）。ここで、出力レベル25（約10％）という判定レベルはもとより唯一絶対的なものではなく、設計時に事情に合わせて任意に設定し得るものではあるが、上記程度以下の適当な値（他に例えば約５％なども有効）を選んでおけば、画像に重畳される暗出力の影響の顕在化可能性は十分低くなる。
【００３１】
また、画素欠陥判定レベルＴＨを暗出力０％に選べば、暗出力が重畳された画素を完全に排除することが可能であり、この点ではこれも一つの好適実施の形態として挙げ得るが、ほんの僅かな暗電流の存在のために欠陥画素と見做され、補完を受ける（すなわち、画像情報を全く無効とされる）画素の数が多くなるため、かえって画質劣化を招きやすい。現実には、これらのトレードオフ要素を勘案して初期基準レベルを設定する。そして、このトレードオフの効果が通常十分に発揮される値として、特に５〜10％という数値領域が極めて有効である。
【００３２】
次に、検出された欠陥に関して、先に説明したようにＳ＞ＴＨを判定して欠陥画素数を算出する（Ｓ６）。欠陥の補償は常欠陥も検出欠陥も同様に行われるから、この判定に際してはこれらの欠陥アドレスは全て同じ欠陥アドレスとして統合された形で処理される。次いで、欠陥画素数制限部19-3において、この欠陥画素が所定数以下かどうかが判定される（Ｓ７）。本実施の形態のカメラにおいては、欠陥アドレスの格納は最大 255個まで可能なようにデジタルプロセス回路８内のメモリ領域が確保されている。したがって、検出された欠陥画素数が 255以下の場合は、その欠陥画素アドレスを欠陥アドレス格納領域に格納して画素欠陥検出を終了する（Ｓ８）。
【００３３】
検出された欠陥画素数が 256以上であった場合は、ＴＨ＝ＴＨ＋10として（Ｓ９）、２回目の欠陥判定を行う。すなわち、初期判定の場合は上記のように許容する暗出力レベルを25としたが、これでは欠陥画素数が所定値に収まらなかったので、止むを得ず許容暗出力レベルを引き上げた後に、欠陥画素判定を改めて行うものである。
【００３４】
その際、画質破綻状態検出部19-4により、設定された画素欠陥判定レベルＴＨが予め設定されている許容限界レベルＴＨＬを超えているか否か、すなわちＴＨ＞ＴＨＬであるか否かの判断が行われる（Ｓ10）。本カメラでは、ＴＨの許容限界レベルＴＨＬは105 （≒フルレンジ255 に対して約40％）に設定されている。画素欠陥判定レベルＴＨの初期値は25であるから、このときＴＨ＝35，すなわちＴＨ≦ＴＨＬとなり、ステップＳ６の欠陥画素数の算出に戻る。そして、検出された欠陥画素数が 255以下の場合は、その時点での欠陥画素アドレスを欠陥アドレス格納領域に格納して、画素欠陥検出を終了する。
【００３５】
以下同様に、毎回の判定において検出された欠陥画素数が 256以上であった場合は、ＴＨを10ずつ増やして次回の欠陥判定を行い、欠陥画素数が 255以下の場合は、その時点での欠陥画素アドレスを欠陥アドレス格納領域に格納して画素欠陥検出を終了する。
【００３６】
本実施の形態では、ＴＨＬ＝105 に設定しているので、ＴＨの変更を８回繰り返すとＴＨＬに達する。ＴＨがＴＨＬに達しても欠陥画素数が 255を超える、すなわち 256以上の場合は、画質破綻状態検出部19-4により画質破綻状態であると判定する（Ｓ10）。
【００３７】
画質破綻状態検出部19-4において画質破綻状態であると判定された場合は、画質破綻対応処理部19-5で画質破綻対応処理を実行する。この実施の形態においては、露光時間Ｔtotal の変更（短縮処理）を行う（Ｓ11）。
【００３８】
このＴtotal の変更処理においては、テスト撮像をやり直す必要はなく、画素欠陥判定レベルＴＨを許容限界レベルＴＨＬ（＝105 ）を超えて変更させ、繰り返し欠陥画素数の検出を行い、欠陥画素数が 255以内に納まった時点での最終画素欠陥判定レベルＴＨ(fin）（但し 255未満）を求める。そして、その時点での変更後の露光時間Ｔtotal(fin)を、Ｔtotal ×ＴＨＬ／ＴＨ(fin）で求め、その変更された露光時間Ｔtotal(fin)に基づいた露光で本撮影を行い、ＴＨ(fin）に設定された時点で検出された欠陥画素及び常欠陥画素に対応した画素欠陥補償を行うものである。フローチャート上では、ステップＳ11において上記露光時間Ｔtotal(fin)の算出を毎回行った上でステップＳ６に戻すことにより実現されている。
【００３９】
このような露光時間Ｔtotal の変更は、Ｔtotal(fin)≧ 0.4×Ｔtotal までテスト撮像をやり直さずに行うことができる（数値0.4 はＴＨＬが105 ≒フルレンジ255 に対して約40％であることによる）が、それ以外の場合はＴＨＬを超えたＴＨの変更が255 に達してしまうため、どれだけ露光時間を短くしたら欠陥画素を減らすことができるのか、その判定レベルの設定がわからなくなるので、更に例えば露光時間を0.1 ×Ｔtotal 程度（数値0.1 はＴＨの初期値が25≒フルレンジ255 に対して約10％であることによる）に設定し、再度テスト撮像を行い、その結果に基づいてＴtotal(fin)を求めればよい。（なお、このテスト撮像をやり直す場合の処理については図２のフローチャートでは省略した。）
【００４０】
さて上記のようにして画素欠陥検出処理を終了した後は、（２）のケースにおいても（１）のケースの撮影トリガー指令後と全く同様に、所定の露出制御値に基づいた、すなわち露出時間Ｔtotal 又はＴtotal(fin)の本露光を行い（Ｓ２）、撮像信号を読み出して所定の信号処理を施した後にメモリカード10に記録する（Ｓ４）。この際、まず始めに上記ステップＳ８において欠陥アドレス格納領域に格納された欠陥画素アドレスデータに基づいて、公知の画素欠陥補償を行う（Ｓ３）。そして、欠陥補償後において記録に至るまでの後段の回路における映像信号処理は、（１），（２）共に共通であるが、その必要に応じて適宜使用されるそれ自体は公知の、例えば色バランス処理、マトリクス演算による輝度−色差信号への変換あるいはその逆変換処理、帯域制限等による偽色除去あるいは低減処理、γ変換に代表される各種非線型処理、各種情報圧縮処理などである。
【００４１】
このように、本実施の形態によれば、画素欠陥判定レベルに許容限界レベルを設定し、許容限界レベルにおいても検出欠陥画素数が所定数（255)を超える場合には、画質破綻状態と判定し、露出時間の短縮処理をするようにしているので、その露出時間は当初予定のものとは異なりはするものの、画素欠陥の発生が低減し、記録される画像の画質の破綻を防止することができる。すなわち意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまう不具合を回避することができる。
【００４２】
なお、上記実施の形態においては、画質破綻状態検出部19-4で画質破綻状態を判定した場合には、画質破綻対応処理部19-5で露出時間を短縮して処理する方式のものを示したが、露出時間を短縮した場合にはシャッタ時間が短くなり、暗い画像を取り込むことになる（この際絞りに余裕がある場合にはこれを開けるなどして露出値の低下を補うように構成することもできるが、絞りが開放の場合には無効である）から、かかる暗い画像の撮像は本来予定していないような場合には、画質破綻状態が検出されたときには撮像を禁止する処置をとるように構成してもよい。
【００４３】
また、画質破綻状態の判定がなされた場合、図示しないブザーやＬＣＤ画像表示系11や操作表示系14などで警告表示を行いながら、先に提案したものと同様に、ＴＨを上げて行き検出欠陥画素数が所定値（255)以下になったときに、撮像処理を行うようにしてもよい。
【００４４】
この警告処理は、本実施の形態による露出時間の短縮処理、あるいは撮像禁止処理を行わせる場合にも、併用させることができる。すなわち、露出時間の短縮処理を行う場合には、シャッタ時間を短くしたことを警告表示したり、また撮像禁止処理を行う場合には、撮像ボタンを操作しても撮像できないことを、合わせ警告するようにしてもよい。
【００４５】
また、上記実施の形態の説明においては説明を簡単にするために、電荷蓄積時間と露光時間とを同一視しているが、厳密にはメカニカルシャッタを用いて露光開始前から電荷蓄積を開始する場合や、あるいは露光完了してから所定時間後に電荷を転送路に移送したり、蓄積電荷を転送路に移送した後、所定時間後に転送開始する、いわゆる遅延読み出しの手法を用いる場合などにおいては、この両者は必ずしも一致しないことがある。しかし、この両者の差はいずれもシステムコントローラ12が管理認識しているものであるから、必要に応じてこの差を具体的に考慮して上記実施の形態に適用すればよい。
【００４６】
また、上記実施の形態の変形例以外にも様々な変形例が考えられる。まず、テスト撮像時の露光時間設定については、上記実施の形態では本露光の露出時間Ｔtotal をそのまま用いたが、例えばＴtotal/２とか、Ｔtotal/10に設定してテスト露光時間を短縮することもできる。この場合、暗電荷は蓄積時間にほぼ比例することを利用して、判定レベルＴＨも１／２とか、１／10にすればよい。無論判定のやり方に同様の補正を加えれば、少なくともＴtotal が一定値以下の範囲までは、テスト撮像露光時間に固定値を採用することも可能である。
【００４７】
また、テスト撮像のタイミングについては本撮影直前が好適ではあるが、これに限定されるものではない。例えば、電源投入時、再生モードと切り替え可能なカメラにおける撮影モードへの切り替え時、２段レリーズスイッチカメラ（２段目が撮影トリガー）における１段目操作時、別途設けたテスト撮像スイッチの操作時など、目的に応じて任意の時点で行うように構成し得る。
【００４８】
また、上記実施の形態で用いているプリプロセス回路におけるＡ／Ｄ変換器の量子化レベルに関して補足すれば、現実には、Ａ／Ｄ変換器のハードウェアの有する誤差特性の存在や、仮にそれがないとしても原理的に最小量子化レベル付近においては、量子化誤差は相対的に 100％にも相当することを考慮すれば、上記実施の形態において実際の量子化に用いるＡ／Ｄ変換器は、画像処理系の量子化ビット数（この実施の形態では８ビット）よりも多い、例えば10ビットあるいは12ビット程度（それ以上でもよい）のものを使用することがより好適であり、これによって各演算式の演算に際して誤差の影響を十分低減することができる。
【００４９】
以上本発明のいくつかの実施の形態及び変形例を具体的に挙げたが、本発明はこれらに限られることなく、特許請求の範囲に記載の限りにおいて如何なる態様をも取り得るものであることは言うまでもない。
【００５０】
【発明の効果】
以上実施の形態に基づいて説明したように、本発明によれば、検出する欠陥画素の数を所定値以下に制限するための欠陥判定手段における欠陥判定レベルに許容限界レベルを設定し、許容限界レベルにおいても欠陥画素数が所定数を超える場合には、画質破綻状態と判定する画質破綻状態検出手段と、画質破綻状態検出手段が画質破綻状態を検出した場合に所定の画質破綻対応処理を実行する画質破綻対応処理実行手段とを備えているので、画質破綻対応処理を実行することが可能となり、意図せずに画質が破綻した画像を記録してしまう不具合を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の撮像装置の実施の形態に係わるデジタルカメラの基本構成を示すブロック図である。
【図２】  図１に示したデジタルカメラの動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１  レンズ系
２  レンズ系駆動機構
３  露出制御機構
４  フィルタ系
５  ＣＣＤ撮像素子
６  ＣＣＤドライバ
７  プリプロセス回路
８  デジタルプロセス回路
９  メモリカードインターフェース
10  メモリカード
11  ＬＣＤ画像表示系
12  システムコントローラ
13  操作スイッチ系
14  操作表示系
15  レンズドライバ
16  ストロボ
17  露出制御ドライバ
18  ＥＥＰＲＯＭ
19  欠陥画素検出部
19-1  テスト撮像部
19-2  欠陥判定部
19-3  欠陥画素数制限部
19-4  画質破綻状態検出部
19-5  画質破綻対応処理部
20  画素欠陥補償部
【図１】
0004454771.tif 000002
【図２】
0004454771.tif 000003