(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定接地棒に接続されるリード線、および絶縁状態で大地上に配置されるリターン導体が接続可能に構成されると共に前記被測定接地棒の接地抵抗を測定可能に構成され、
交流信号を生成すると共にその周波数を可変制御可能に構成された信号発生部と、前記リード線または前記リターン導体と前記信号発生部との間に接続される出力抵抗と、当該出力抵抗の前記リード線または前記リターン導体側の出力端部の電圧を前記交流信号で同期検波することにより直流電圧成分を生成する同期検波部と、前記接地抵抗を算出する際に前記信号発生部における前記交流信号の測定用周波数を変化させると共に前記出力抵抗の抵抗値に前記直流電圧成分の電圧値を乗算した乗算値を前記交流信号の電圧値から前記直流電圧成分の電圧値を減算した減算値で除算した除算値の最小値を探索する演算制御部とを備えた接地抵抗測定装置であって、
前記演算制御部は、予め設定された中心周波数と、当該中心周波数を中心として第１の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第１の高周波側周波数および第１の低周波側周波数と、前記中心周波数を中心として前記第１の周波数よりも大きい第２の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第２の高周波側周波数および第２の低周波側周波数とをそれぞれ前記測定用周波数として前記除算値を求めると共に当該各除算値における最小値を仮最小値として求める測定処理を実行し、
前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数以外の他の前記測定用周波数のときに当該最小値に対応する前記測定用周波数を新たな前記中心周波数として前記測定処理を実行し、
前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波数が予め設定された基準周波数を超えるときに当該第１の周波数を小値化させて新たな前記第１の周波数として前記測定処理を実行し、
前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波数が前記基準周波数以下のときに当該仮最小値を前記除算値の最小値として探索することを特徴とする接地抵抗測定装置。
【請求項２】
前記演算制御部は、前記各測定処理において、前記第２の周波数を一定値に維持して前記第２の高周波側周波数および前記第２の低周波側周波数を前記測定用周波数として設定することを特徴とする請求項１記載の接地抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、信号電圧比を用いて接地抵抗を測定する接地抵抗測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の接地抵抗測定装置として、図３に示す接地抵抗測定装置５１が従来から知られている。この接地抵抗測定装置５１は、補助電極を用いないで接地抵抗を測定可能に構成されており、第１端子２、装置アースに接続された第２端子３、操作部５４、信号発生部６、第１アンプ７、出力抵抗（抵抗値Ｒｏ：既知）８、同期検波部１０、第２アンプ１１、演算部５２、第３アンプ５３および表示部５５を備えている。また、第１端子２には、リード線１４が接続され、第２端子３には、リターン線１５が接続されている。さらに、リード線１４の先端には、金属棒等で構成され大地１７に埋設された被測定接地棒１６が接続されている。この場合、リターン線１５は、一定の長さ（通常、１０ｍ以上）を有する絶縁被覆付きの導線で構成され、絶縁状態で大地１７上に自由配置される。なお、リターン線１５に代えて、大地１７から絶縁された状態で大地１７上に配設可能な金属板を用いることもできる。
【０００３】
操作部５４は、周波数設定信号を出力する周波数設定手段（具体的には可変抵抗）を備え、この周波数設定手段はオペレータによって操作される。信号発生部６は、周波数設定信号によって特定される周波数の高周波正弦波（以下、「高周波信号ｖｃ」ともいう）を測定信号として生成する。したがって、信号発生部６は、操作部５４内の周波数設定手段が操作された際には、その操作に応じた周波数の高周波信号ｖｃを生成する。第１アンプ７は、バッファとして機能し、入力した高周波信号ｖｃを注入信号ｖｏとして低インピーダンスで出力する。出力抵抗８は、第１アンプ７と第１端子２との間に接続されている。したがって、第１アンプ７から出力された注入信号ｖｏは、出力抵抗８を介してリード線１４に供給される。また、リード線１４に供給された注入信号ｖｏは、被測定接地棒１６に注入され、リターン線１５と大地１７との大地間結合容量を介して、リターン線１５および第２端子３からなる経路を経て接地抵抗測定装置５１に帰還する。同期検波部１０は、第２端子３と第１端子２との間に発生する電圧Ｖｍを入力し、注入信号ｖｏで同期検波することにより、測定対象信号としての電圧Ｖｍの実数成分（以下、「直流電圧成分」ともいう）を抽出する。また、同期検波部１０は、例えば、図４に示すように、注入信号ｖｏの電圧Ｖｏと電圧Ｖｍとを乗算する乗算器１０ａと、乗算器１０ａにおける出力電圧の直流電圧成分を通過させる低域フィルタ１０ｂとで構成される。第２アンプ１１は、同期検波部１０によって生成された直流電圧成分の電圧レベルを調整し、最終的な直流電圧成分Ｖｍｒとして出力する。演算部５２は、例えば乗算器を用いて構成され、直流電圧成分Ｖｍｒを用いて予め決められた所定のアナログ演算処理を行い、接地抵抗Ｒｇの抵抗値の大小に比例する電圧を生成する。第３アンプ５３は、演算部５２によって生成された電圧に対してスケーリング調整を行う。表示部５５は、アナログメータで構成され、スケーリング調整後の電圧に応じてメータ針を振らすことによって接地抵抗Ｒｇを表示する。
【０００４】
次に、この接地抵抗測定装置５１を用いた接地抵抗測定方法の原理について説明する。最初に、接地抵抗測定装置５１、リード線１４、リターン線１５、大地１７および被測定接地棒１６を含めた測定系の等価回路を図５に示す。この場合、同図において、Ｒｇは被測定接地棒１６の接地抵抗、Ｌはリード線１４のインダクタンス成分、Ｃはリターン線１５の大地間結合容量、Ｒはリターン線１５の皮膜による絶縁抵抗を意味する。また、第１端子２および第２端子３間のインピーダンスＺｍ（つまり、リード線１４、被測定接地棒１６、大地１７およびリターン線１５からなるループのインピーダンス）は、下記の（１）式で表される。
Ｚｍ＝Ｒｍ＋Ｉｍ・・・・（１）式
ただし、Ｒｍは実数成分、Ｉｍは虚数成分を意味し、それぞれ下記の（２）式および（３）式で表される。
Ｒｍ＝Ｒｇ＋Ｒ／（１＋（ωＣＲ）２）・・・・・・・・・（２）式
Ｉｍ＝ｊωＬ−ｊωＣＲ２／（１＋（ωＣＲ）２）・・・・（３）式
【０００５】
一方、上記インピーダンスＺｍを形成するループの共振周波数においては、Ｉｍ＝０となるため、（３）式より、下記の（４）式が成立する。
Ｒ／（１＋（ωＣＲ）２）＝Ｌ／ＣＲ・・・・・・・・・・（４）式
この場合、（４）式は（２）式の右辺第２項と等しいため、ＣＲ≫Ｌの条件下では、（２）式の右辺第２項の値がゼロとなる。この結果、下記の式が成立する。
Ｒｍ≒Ｒｇ
したがって、被測定接地棒１６の接地抵抗Ｒｇは、出力抵抗８（抵抗値Ｒｏ）と接地抵抗Ｒｇとで注入信号ｖｏの電圧Ｖｏを分圧した電圧Ｖｍに基づいて算出することができる。このため、この接地抵抗測定装置５１では、まず、同期検波部１０が、注入信号ｖｏの周波数を上記したループの共振周波数と等しくした状態で、第１端子２での電圧Ｖｍを注入信号ｖｏの電圧Ｖｏで同期検波し、第２アンプ１１が、電圧レベルを調整することによって直流電圧成分Ｖｍｒを生成する。次いで、演算部５２が、下記の（５）式における右辺の（ｘ／（１−ｘ））をアナログ演算することによって直流電圧を生成し、第３アンプ５３が、演算部５２によって生成された直流電圧を所定利得で増幅することによって接地抵抗Ｒｇの抵抗値に応じた直流電圧を生成して表示部５５に出力する。この結果、表示部５５が接地抵抗Ｒｇの抵抗値を表示する。
Ｒｇ＝Ｒｏ×Ｖｍｒ／（Ｖｏ−Ｖｍｒ）＝Ｒｏ×ｘ／（１−ｘ）・・（５）式
ただし、ｘ＝Ｖｍｒ／Ｖｏ
【０００６】
この場合、接地抵抗Ｒｇの抵抗値は、図６に示すように、注入信号ｖｏの周波数がループの共振周波数と等しいときに最小となる。したがって、オペレータは、表示部５５に表示される接地抵抗Ｒｇの値を監視しつつ、操作部５４の周波数設定手段を操作して、共振周波数が存在すると予測される下限周波数から上限周波数までの範囲内で信号発生部６によって生成される高周波信号ｖｃの周波数を変化させ、表示された接地抵抗Ｒｇが最も小さくなる点（共振周波数）を探すことにより、その最も小さな値を接地抵抗Ｒｇとして測定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、この従来の接地抵抗測定装置５１には、以下の問題点がある。すなわち、接地抵抗Ｒｇを測定する際に、オペレータは、表示部５５に表示される接地抵抗Ｒｇを監視しつつ、操作部５４の周波数設定手段を操作して信号発生部６によって生成される高周波信号ｖｃの周波数を徐々に変化させることにより、最も小さい接地抵抗Ｒｇを探し出す必要がある。したがって、測定作業が煩雑であり、しかも、測定に長時間を要するという問題点がある。
【０００８】
一方、演算部５２が信号発生部６を制御して高周波信号ｖｃの周波数を例えば測定精度に基づいて予め設定された周波数ステップずつ下限周波数から上限周波数まで徐々に変化させながら接地抵抗Ｒｇを自動探索する構成を採用することも考えられる。しかしながら、この構成を採用した場合には、測定作業の簡略化を図ることができるものの、測定精度を上げるために周波数ステップが細かくなることに起因して、測定すべき周波数ポイントが激増する結果、測定に膨大な時間を必要とするという問題が生じる。
【０００９】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、高精度で、しかも短時間で接地抵抗を自動的に測定可能な接地抵抗測定装置を提供することを主目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく請求項１記載の接地抵抗測定装置は、被測定接地棒に接続されるリード線、および絶縁状態で大地上に配置されるリターン導体が接続可能に構成されると共に前記被測定接地棒の接地抵抗を測定可能に構成され、交流信号を生成すると共にその周波数を可変制御可能に構成された信号発生部と、前記リード線または前記リターン導体と前記信号発生部との間に接続される出力抵抗と、当該出力抵抗の前記リード線または前記リターン導体側の出力端部の電圧を前記交流信号で同期検波することにより直流電圧成分を生成する同期検波部と、前記接地抵抗を算出する際に前記信号発生部における前記交流信号の測定用周波数を変化させると共に前記出力抵抗の抵抗値に前記直流電圧成分の電圧値を乗算した乗算値を前記交流信号の電圧値から前記直流電圧成分の電圧値を減算した減算値で除算した除算値の最小値を探索する演算制御部とを備えた接地抵抗測定装置であって、前記演算制御部は、予め設定された中心周波数と、当該中心周波数を中心として第１の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第１の高周波側周波数および第１の低周波側周波数と、前記中心周波数を中心として前記第１の周波数よりも大きい第２の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第２の高周波側周波数および第２の低周波側周波数とをそれぞれ前記測定用周波数として前記除算値を求めると共に当該各除算値における最小値を仮最小値として求める測定処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数以外の他の前記測定用周波数のときに当該最小値に対応する前記測定用周波数を新たな前記中心周波数として前記測定処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波数が予め設定された基準周波数を超えるときに当該第１の周波数を小値化させて新たな前記第１の周波数として前記測定処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波数が前記基準周波数以下のときに当該仮最小値を前記除算値の最小値として探索することを特徴とする。
【００１１】
請求項２記載の接地抵抗測定装置は、請求項１記載の接地抵抗測定装置において、前記演算制御部は、前記各測定処理において、前記第２の周波数を一定値に維持して前記第２の高周波側周波数および前記第２の低周波側周波数を前記測定用周波数として設定することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る接地抵抗測定装置の好適な実施の形態について説明する。なお、従来の接地抵抗測定装置５１と同一の構成要素については同一の符号を付して、重複する説明を省略する。
【００１３】
接地抵抗測定装置１は、図１に示すように、第１端子２、第２端子３、操作部４、表示部５、測定信号としての高周波信号ｖｃを生成する信号発生部６、高周波信号ｖｃを注入信号（交流信号）ｖｏとして出力する第１アンプ７、抵抗値Ｒｏの出力抵抗８、同期検波部１０、第２アンプ１１、および演算制御部１２を備えている。また、第１端子２には、リード線１４が接続され、第２端子３には、リターン線１５が接続されている。この場合、リード線１４は、大地１７に埋設された被測定接地棒１６に接続される。一方、リターン線１５は、大地１７と絶縁した状態で、その大地１７上に自由配置される。
【００１４】
表示部５は、例えばＬＣＤを用いて構成され、測定した接地抵抗Ｒｇを数値によってディジタル表示する。また、信号発生部６は、一例としてＤＤＳ（Direct Digital Synthesizer）を用いて構成され、演算制御部１２によって出力された周波数データＤF に応じた周波数の高周波信号ｖｃを生成する。また、操作部４は、演算制御部１２に対して接地抵抗Ｒｇの演算処理を開始させるための開始信号Ｓａを出力する演算開始スイッチ４１を備えている。同期検波部１０は、出力抵抗８の第１端子２側の出力端部の電圧Ｖｍを注入信号ｖｏで同期検波することによって直流電圧成分を生成する。第２アンプ１１は、同期検波部１０によって生成された直流電圧成分を直流電圧成分Ｖｍｒとして低インピーダンスで出力する。
【００１５】
演算制御部１２は、Ａ／Ｄコンバータと、所定のソフトウェアに従って動作するＣＰＵ（若しくはＤＳＰ）と、ソフトウェアやデータを格納するメモリとを備えて構成されている（いずれも図示せず）。この場合、Ａ／Ｄコンバータは、第２アンプ１１によって電圧レベル変換された直流電圧成分Ｖｍｒをディジタルデータに変換する。また、ＣＰＵは、演算開始スイッチ４１から開始信号Ｓａが入力された際に、メモリに記憶されている接地抵抗測定用プログラムを実行して、測定用周波数の設定、各測定用周波数に対応する周波数データＤF の信号発生部６への出力、および各測定周波数に対応する各測定ポイントにおける接地抵抗Ｒｇの演算を繰り返し行いながら接地抵抗Ｒｇの最小値を演算する。また、ＣＰＵは、接地抵抗Ｒｇを演算する際に、出力抵抗８の抵抗値Ｒｏと、注入信号ｖｏの電圧Ｖｏと、直流電圧成分Ｖｍｒとを用いて、等価的に、出力抵抗８の抵抗値Ｒｏに直流電圧成分Ｖｍｒを乗算した乗算値を、注入信号ｖｏの電圧値Ｖｏから直流電圧成分Ｖｍｒを減算した減算値で除算し、その除算値を接地抵抗Ｒｇとして算出する演算処理を行う。具体的には、上記（５）式に従い、接地抵抗Ｒｇをディジタル演算する処理を行う。
【００１６】
また、メモリには、後述する接地抵抗測定処理の際に信号発生部６によって生成される測定用周波数を決定するために予め設定された中心周波数の初期周波数ｆC （例えば、下限周波数および上限周波数のほぼ中心値とし、８００ｋＨｚとする）、中心周波数に対して加算または減算される第１の周波数の初期周波数ｆA （例えば１００ｋＨｚとする）、第１の周波数よりも大きい値であって中心周波数に対して加算または減算される第２の周波数ｆB （例えば、第２の周波数ｆB の２倍の周波数値が下限周波数から上限周波数までの周波数幅のほぼ１／２となる周波数とし、３００ｋＨｚとする）、および第１の周波数の初期周波数ｆA を段階的に小値化制御する（小さい値に制御する）ための複数の小値化制御用周波数（例えば５０ｋＨｚ、２０ｋＨｚ、１０ｋＨｚとする）が記憶されている。
【００１７】
次に、接地抵抗測定装置１による接地抵抗測定処理について、図２を参照して説明する。
【００１８】
最初に、測定に先立ち、第２端子３にリターン線１５を接続した後、リターン線１５を大地１７上に配設する。次いで、大地１７に打ち込まれた被測定接地棒１６と第１端子２とをリード線１４で接続する。この後、接地抵抗測定装置１の電源を投入する。
【００１９】
この接地抵抗測定処理では、まず、演算制御部１２が、中心周波数の初期周波数ｆC 、第１の周波数の初期周波数ｆA 、および第２の周波数の初期周波数ｆB をメモリから読み出して初期化する（ステップ５１）。次に、演算制御部１２は、中心周波数ｆC 、中心周波数ｆC を中心として第１の周波数ｆA だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第１の高周波側周波数ｆAHおよび第１の低周波側周波数ｆAL、および中心周波数ｆC を中心として第２の周波数ｆB だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位置する第２の高周波側周波数ｆBHおよび第２の低周波側周波数ｆBLをそれぞれ周波数ポイントとして設定する（ステップ５２）。これにより、低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（５００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ２（７００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ３（ｆC ：８００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４（９００ｋＨｚ）、および周波数ポイントｒ５（１．１ＭＨｚ）の５つの周波数ポイントが設定される。次に、演算制御部１２は、各周波数ポイントｒ１〜ｒ５にそれぞれ対応する周波数データＤF を信号発生部６へ順次出力しつつ、各周波数ポイントにおける接地抵抗Ｒｇを順次測定する（ステップ５３）。
【００２０】
続いて、演算制御部１２は、測定した各周波数ポイントｒ１〜ｒ５の接地抵抗Ｒｇにおける最小値を仮最小値として求め、この仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ３であるか否かを判別する（ステップ５４）。仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ１，ｒ２，ｒ４，ｒ５のいずれかであると判別したときには、仮最小値に対応する周波数ポイントの周波数を新たな中心周波数ｆC に設定し（ステップ５５）、その後ステップ５２に戻り、各周波数ポイントｒ１〜ｒ５の再設定を行う。例えば、仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ１であると判別したときには、周波数ポイントｒ１〜ｒ５の再設定時には、周波数ポイントｒ１が新たな周波数ポイントｒ３となるため、低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（２００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ２（４００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ３（５００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４（６００ｋＨｚ）、および周波数ポイントｒ５（８００ｋＨｚ）の５つの周波数ポイントが新たに設定される。また、仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ４であると判別したときには、同様にして低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（６００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ２（８００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ３（９００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４（１ＭＨｚ）、および周波数ポイントｒ５（１．２ＭＨｚ）の５つの周波数ポイントが新たに設定される。したがって、再設定された周波数ポイントｒ３の周波数は、直前に設定された周波数ポイントｒ３の周波数と比較して、求める共振周波数に近づくことになる。
【００２１】
一方、ステップ５４において、仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ３であると判別した場合、演算制御部１２は、第１の周波数ｆA が予め設定された基準周波数ｆREF （例えば１０ｋＨｚ）以下であるか否かを判別する（ステップ５６）。この場合、基準周波数ｆREF は、共振周波数の測定精度に応じた周波数値に規定されている。つまり、測定精度に５ｋＨｚまで要求されるときには、基準周波数ｆREF は５ｋＨｚに規定される。第１の周波数ｆA が基準周波数ｆREF を超えると判別したときには、演算制御部１２は、メモリから小値化制御用周波数を読み出し、第１の周波数ｆA を小値化制御用周波数の内から１段階小さい周波数に小値化（最初の時点では、１００ｋＨｚから５０ｋＨｚ）して新たな第１の周波数ｆA とした後（ステップ５７）、ステップ５２の処理に移行する。この場合、演算制御部１２が、予め設定した一定の値を第１の周波数ｆA から減算して新たな第１の周波数ｆA に設定することもできる。
【００２２】
この際に、例えば、初期周波数ｆC が８００ｋＨｚの場合、第１の周波数ｆA を１００ｋＨｚから５０ｋＨｚに小値化したときには、ステップ５２における周波数ポイントの再設定によって、低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（５００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ２（７５０ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ３（８００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４（８５０ｋＨｚ）、および周波数ポイントｒ５（１．１ＭＨｚ）の５つの新たな周波数ポイントが設定される。演算制御部１２は、これらのステップ５６，５７を実行した後、周波数ポイントｒ３（中心周波数ｆC ）が仮最小値に対応する周波数ポイントであると判別した都度、第１の周波数ｆA を小値化する。この結果、中心周波数ｆC と第１の高周波側周波数ｆAHおよび第１の低周波側周波数ｆALとの周波数差が小さくなるため、共振周波数の測定精度を次第に高めることができる。
【００２３】
演算制御部１２は、これらステップ５２〜５７を繰り返し行い、ステップ５６において第１の周波数ｆA が基準周波数ｆREF 以下になったと判別したときに、周波数ポイントｒ３における接地抵抗Ｒｇを求める接地抵抗Ｒｇとし（ステップ５８）、この接地抵抗Ｒｇを表示部５５に表示させて、この接地抵抗測定処理を終了する。
【００２４】
このように、この接地抵抗測定装置１によれば、初期周波数ｆC 、第１の高周波側周波数ｆAH、第１の低周波側周波数ｆAL、第２の高周波側周波数ｆBH、および第２の低周波側周波数ｆBLからなる５つの各周波数ポイントにおいて、第１の周波数ｆA が基準周波数ｆREF 以下となるまで接地抵抗Ｒｇを測定することにより、予め設定された周波数ステップずつ下限周波数から上限周波数まで徐々に変化させながら接地抵抗Ｒｇを自動探索する従来方法と比較して、基準周波数ｆREF の精度で、最小の接地抵抗Ｒｇを迅速に測定することができる。また、演算制御部１２が接地抵抗Ｒｇを自動測定するため、接地抵抗Ｒｇの測定が極めて容易となる。さらに、第２の周波数ｆB の値を固定しておくことにより、接地抵抗Ｒｇの測定中において測定条件の変動に起因して共振周波数が変化した場合であっても、仮最小値の周波数ポイント確認処理（ステップ５４）、および初期周波数ｆC を仮最小値に対応する周波数ポイントの周波数に変更する処理（ステップ５５）を実行することにより、その変化した共振周波数に自動追従して測定することができる。
【００２５】
なお、本発明は、上述した発明の実施の形態に示した構成に限定されない。例えば、第１端子２にリターン線１５を接続し、かつ、第２端子３にリード線１４を接続して接地抵抗Ｒｇを測定することができる。また、上記したステップ５７において、第１の周波数ｆA を急激に小さくしない限り、接地抵抗Ｒｇは、周波数ポイントｒ３を中心としてその両側に位置する周波数ポイントｒ２，ｒ４間の範囲内に存在すると考えられる。したがって、ステップ５４において、一旦、仮最小値に対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ３であると判別した後には、周波数ポイントｒ２〜ｒ４の３つの周波数ポイントのみに基づく処理（ステップ５２，５３）を実行して接地抵抗Ｒｇを求めることもできる。これにより、測定対象となる周波数ポイントが減少する結果、演算処理に要する時間を短縮することができるため、接地抵抗Ｒｇを短時間で求めることができる。
【００２６】
【発明の効果】
以上のように、請求項１記載の接地抵抗測定装置によれば、演算制御部が、測定処理によって求めた仮最小値に対応する測定用周波数が中心周波数のときであって第１の周波数が予め設定された基準周波数を超えるときに第１の周波数を小値化させて新たな第１の周波数として測定処理を実行し、第１の周波数が基準周波数以下のときに仮最小値を除算値の最小値として探索することにより、高精度で、しかも短時間で接地抵抗を自動測定することができる。
【００２７】
また、請求項２記載の接地抵抗測定装置によれば、演算制御部が、各測定処理において、第２の周波数を一定値に維持して第２の高周波側周波数および第２の低周波側周波数を測定用周波数として設定することにより、測定中において測定条件の変動に起因して共振周波数が変化した場合であっても、その変化した共振周波数に自動追従して接地抵抗を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る接地抵抗測定装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】接地抵抗測定装置１による接地抵抗測定処理のフローチャートである。
【図３】従来の接地抵抗測定装置５１の構成を示すブロック図である。
【図４】接地抵抗測定装置５１における同期検波部１０の構成を主として示すブロック図である。
【図５】接地抵抗Ｒｇを測定する測定系の等価回路図である。
【図６】高周波信号ｖｃの周波数に対する接地抵抗Ｒｇの分布イメージを示す説明図である。
【符号の説明】
１  接地抵抗測定装置
４  操作部
６  信号発生部
８  出力抵抗
１０  同期検波部
１２  演算制御部
１４  リード線
１５  リターン線
１６  被測定接地棒
１７  大地
ｒ１〜ｒ５  周波数ポイント
Ｖｍｒ  直流電圧成分
ｖｃ  高周波信号
ｖｏ  注入信号
【図１】
0004421769.tif 000002
【図２】
0004421769.tif 000003
【図３】
0004421769.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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