(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
加熱炉内において試料を熱分解し、そのとき発生するガスをガス流路を介してガス分析部に供給し、このガス分析部におけるガス分析結果に基づいて前記試料中の元素を定量分析する試料中の元素分析装置において、前記ガス流路中にハロゲン系の気体を吸着またはこれと反応させるためナイロン、ウレタン系、ＡＢＳ系またはエポキシ系の樹脂よりなるフィルタを設けたことを特徴とする試料中の元素分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば鉄鋼やセラミックスなどの素材中に含まれるＣ（炭素）やＳ（硫黄）などの元素を分析する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、鉄鋼中に微量に含まれるＣ、Ｓの定量分析法としては、酸素気流中燃焼法と赤外線吸収法とを組み合わせたものが一般に用いられている。図２は、従来のこの種の試料中の元素分析装置（以下、単に元素分析装置という）の構成を概略的に示している。この図において、１は加熱炉としての高周波加熱炉、２はこの高周波加熱炉１内に着脱自在にセットされる磁製るつぼであり、その内部には秤量された試料３が収容される。４は高周波加熱炉１にキャリアガスとしての酸素ガスｇを供給するキャリアガス（酸素ガス）供給路で、５はキャリアガス（酸素ガス）ボンベである。
【０００３】
６は高周波加熱炉１において試料３が加熱され、熱分解されるときに生ずるガスＧが流れる流路で、このガス流路６には、発生ガスＧ中に含まれる酸化鉄などの酸化ダストを除去するダストフィルタ７、発生ガスＧ中に含まれる水蒸気（水分）を除去する除湿器８、発生ガスＧ中に含まれるＣＯをＣＯ2 に酸化する酸化器９が設けられ、その下流側にはガス分析部１０が設けられている。このガス分析部１０は、ＣＯ2 およびＳＯ2 をそれぞれ定量分析することができる例えば非分散型赤外線ガス分析計を備えている。なお、ガス流路６を流れる発生ガスＧは、一定流量になるように制御される。
【０００４】
１１はガス分析部１０からの濃度信号を適宜増幅する増幅器、１２はデータ処理・表示部で、ＡＤ変換器１３、濃度演算などを行うマイクロコンピュータ１４、演算結果などを表示する表示部１５などよりなる。
【０００５】
上記構成の元素分析装置においては、例えば試料３として鉄鋼を用いる場合、この試料３を秤量して磁製るつぼ２に収容し、この磁製るつぼ２を高周波加熱炉１内にセットする。そして、高周波加熱炉１に酸素ｇを供給しながら試料３を加熱し燃焼（酸化）させる。この燃焼により発生したガスＧには、ＣＯ、ＣＯ2 、ＳＯ2 や水蒸気が含まれている。この発生ガスＧは、キャリアガスとしての酸素ガスｇによって流路６に導出され、これを下流側に流れるが、その途中、ダストフィルタ７において酸化鉄などの酸化物ダストが除去され、除湿器８において水が除去され、さらに、酸化器９においてＣＯがＣＯ2 に酸化されるなどの前処理を受け、この前処理後の発生ガスＧ中には、成分としてＣＯ2 およびＳＯ2 が含まれている。
【０００６】
前記ＣＯ2 およびＳＯ2 を含んだ発生ガスＧは、一定流量になるように制御されてガス分析部１０に導入され、赤外吸収法によってＣＯ2 およびＳＯ2 の濃度が測定される。このガス分析部１０で検出した出力を、信号処理部１２のマイクロコンピュータ１４において、ガス流量、前記濃度、温度などを用いて演算・積算処理して、試料３の重量で割り算することにより、Ｃ、Ｓのそれぞれの質量濃度％（ｍ／ｍ）が得られ、これが表示部１５に表示される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、例えば鉄鋼スラッジのように、ＮａＦ、ＣａＦ2 、ＢａＦ2 を含む固体試料３を上記構成の元素分析装置の高周波加熱炉１において酸化分解すると、フッ素ガスが多量に発生し、このフッ素ガスが磁製るつぼ２と反応して気体であるＳｉＦ4 を生じたり、また、試料３中に含まれる水分と反応してＨＦを生ずる。そして、前記ガスＳｉＦ4 やＨＦの赤外吸収波長帯域が測定対象元素の赤外吸収領域と同じかまたは近接している場合、前記測定対象元素の濃度が実際よりも高い目に出るといった正の干渉を引き起こす。
【０００８】
また、前記試料を酸化分解したときに、塩素などのハロゲンガスが発生すると、これらのハロゲンガスは、ガス分析部１０におけるセルの内面を腐食するだけでなく、ガス流路６を構成する配管や、これに設けられている除湿器８や酸化器９を腐食し、その機能の低下を招来する。
【０００９】
これに対して、ＣａＣｌ2 やＢａＦ2 などのアルカリのハロゲン化塩中の微量のＣやＳの測定に際して発生するＨＦやＨＣｌを除去するために、発生したガスを、ＫＣｌ、ＡｇＣｌ、Ｎａ2 Ｓ2 Ｏ3 を詰めたカラムを通過させ、
ＨＦ＋ＫＣｌ→ＫＦ＋Ｃｌ2 
Ｎａ2 Ｓ2 Ｏ3 ＋４Ｃｌ2 ＋５Ｈ2 Ｏ→２ＮａＣｌ＋２Ｈ2 ＳＯ4 ＋６ＨＣｌ
という反応によって除去しようと試みたが、測定対象成分であるＳＯ2 が発生し、所望の分析を行うのが困難であった、
【００１０】
この発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、試料中に含まれるハロゲン元素に起因する気体の分子を確実に除去して、測定対象成分を精度よく測定することができるとともに、ガス流路を構成する配管やガス流路に設けられている各種の部材の腐食を防止することができる元素分析装置を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明では、加熱炉内において試料を熱分解し、そのとき発生するガスをガス流路を介してガス分析部に供給し、このガス分析部におけるガス分析結果に基づいて前記試料中の元素を定量分析する試料中の元素分析装置において、前記ガス流路中にハロゲン系の気体を吸着またはこれと反応させるためナイロン、ウレタン系、ＡＢＳ系またはエポキシ系の樹脂よりなるフィルタを設けている。
【００１２】
ナイロンは吸湿性が高くかつ耐薬品性（無機酸）に優れるとともに、ハロゲンガスに対して比較的反応を起こし易いといった性質がある。
【００１３】
そして、前記ナイロンのほか、ウレタン系、ＡＢＳ系およびエポキシ系の樹脂（有機系高分子素材）もＨＦやＨＣｌなどのハロゲン系ガスに対して同様の効果を奏するものと考えられる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の詳細を、図を参照しながら説明する。図１は、この発明の元素分析装置の一例を示すもので、この元素分析装置が図２に示した元素分析装置と大きく異なる点は、ガス流路６中に有機系高分子素材よりなるフィルタ１６を設けたことである。
【００１５】
より具体的には、前記フィルタ１６は、例えばナイロンストッキングよりなり、このナイロンフィルタ１６は、ガス流路６の最上流位置に設けられるダストフィルタ７に隣接するようにして充填される。
【００１６】
上記構成の元素分析装置によって、鉄鋼スラッジ中のＳ（硫黄）を分析したところ、下記表１に示すような結果が得られた。
【００１７】
【表１】
0004564686.tif 000002
【００１８】
上記表１から次のことが分かる。すなわち、ガス流路６にナイロンを充填しない場合、試料にＦ（フッ素）を含むときには、Ｓの分析値が大きく変動し、バラツキが生じている。そして、ガス流路６にナイロンを充填した場合、試料にハロゲンを含まないときと含むときとにおいて分析値にバラツキはない。つまり、ハロゲンの気体分子によって測定対象成分であるＳの分析結果に何の影響も及ぼされてないことが分かる。これは、ハロゲンから発生する気体の分子がナイロンフィルタ１６を構成する分子に吸着されまたはこれと反応してキャリアガスから除去されるためであると考えられる。また、ナイロンの充填量を多くすると、分析可能回数が大きくなることも分かる。
【００１９】
そして、ナイロンフィルタ１６は、Ｆを含む試料を分析したときには、溶解するなど外見が著しく変化していた。また、Ｃｌ（塩素）を含む試料を分析したときには、分析後、塩素臭がしたが、長時間放置するとその臭いは無くなった。
【００２０】
なお、上記ナイロンフィルタ１６は、高周波加熱炉１とガス分析部１０とを結ぶガス流路６に設けてあればよく、最も好ましいのは、ガス流路６の最上流位置であるが、これに限られるものではないのはいうまでもない。
【００２１】
この発明は、上記実施の形態に限られるものではなく、例えば、加熱炉１として電気抵抗炉を用いた元素分析装置にも同様に適用することができる。また、この発明は、インパルス炉内に試料入れた黒鉛るつぼを配置し、不活性ガスを供給しながら試料を加熱融解し、そのとき抽出されるガスを分析して、試料中の酸素、窒素または水素の少なくともいずれか一つを定量分析する元素分析装置にも適用することができる。さらに、この発明は、電気抵抗炉内に水素ガスを供給しながら試料を加熱し、そのとき発生するガスを分析して、試料中の炭素、硫黄および窒素の少なくともいずれか一つを定量分析する元素分析装置にも適用することができる。
【００２２】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明においては、高周波加熱炉とガス分析部とを結ぶガス流路中に有機系高分子素材よりなるフィルタを設けるいったきわめて簡単な工夫により、分析結果に悪影響を与えたり、装置の構成部材を損傷させたりするハロゲン系の気体を確実に除去することができ、したがって、この発明によれば、ハロゲン系の元素を含む試料を分析する場合にも、高精度の測定結果を得ることができるとともに、装置を構成する部材の損傷・劣化を効果的に防止することができ、装置を長期にわたって好適に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の元素分析装置の一例を概略的に示す図である。
【図２】従来の元素分析装置の構成を概略的に示す図である。
【符号の説明】
１…加熱炉、３…試料、６…ガス流路、１０…ガス分析部、１６…フィルタ、Ｇ…発生ガス。
【図１】
0004564686.tif 000003
【図２】
0004564686.tif 000004