(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査対象の液晶表示パネルに所定の検査表示パターンを表示させ、前記液晶表示パネルの表示欠陥を検出する液晶表示パネル点灯表示検査方法であって、
前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの所定の欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、
前記欠陥種を検出する検査を省略し、
取得した前記所定の欠陥種の欠陥情報と液晶表示パネル点灯表示検査結果とを併せて前記液晶表示パネルを良否判定すること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【請求項２】
請求項１記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【請求項３】
請求項１記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成されたＴＦＴのドレイン電極とソース電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【請求項４】
請求項１記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素領域に隣接する画素領域に形成された画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【請求項５】
請求項１記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインの延びる方向に隣接する画素領域に形成された画素電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネル点灯表示検査装置を用いた液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示装置（ＬＣＤ；Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）を構成する薄膜トランジスタ（ＴＦＴ；Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）基板は、ＴＦＴ基板の製造工程終了後に行われるＴＦＴ基板欠陥検査装置を用いたＴＦＴ基板欠陥検査工程で欠陥の有無が検査されている。ＴＦＴ基板欠陥検査工程では、ＴＦＴ／ＬＣＤセルコンデンサに電荷を蓄積し、一定時間保持した後に積分器によって蓄積された電荷を読み取ることにより、ＴＦＴ基板内の全ての欠陥が検出される。その後ＴＦＴ基板は、欠陥の個数や位置等により良否判定される。
【０００３】
ＴＦＴ基板とカラーフィルタ（ＣＦ；Ｃｏｌｏｒ  Ｆｉｌｔｅｒ）基板を貼り合わせて液晶を注入した後には、液晶表示パネル点灯表示検査が行われる。図１１は、従来の液晶表示パネル点灯表示検査工程を示す概略構成図である。まず、被検査対象の液晶表示パネル１０２の全ての端子にプローブ１０４のプローブピン１０６を接触させる。次に、処理系Ｂ１１６は、信号発生器１１４、コントロール基板１１２、プローブ１０４及びプローブピン１０６を介して液晶表示パネル１０２の端子に所定の表示信号を供給する。この表示信号により、液晶表示パネル１０２の全ての欠陥を検出するのに必要な全ての検査表示パターンを液晶表示パネル１０２に表示させている。また、液晶表示パネル１０２は、裏面からバックライト１０８により照明されている。次に、電荷結合素子（ＣＣＤ；Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ１１０により得られた液晶表示パネル１０２の検査表示パターンの画像を処理系Ｂ１１６で解析して液晶表示パネル１０２の全ての表示欠陥を検出し、液晶表示パネル１０２を良否判定する。また、液晶表示パネル点灯表示検査工程では、ムラや異物の有無等も検査する。
【０００４】
検出された欠陥情報を含む液晶表示パネル１０２の検査結果は、処理系Ｂ１１６から処理系Ａ１１８に送出される。処理系Ａ１１８は、液晶表示パネル１０２の検査結果を液晶表示パネル点灯表示検査装置用データベース（ＤＢ）１２０に書き込む。ＴＦＴ基板欠陥検査と液晶表示パネル点灯表示検査はそれぞれ独立して取扱われており、液晶表示パネル点灯表示検査工程での検査結果はＴＦＴ基板欠陥検査工程での検査結果とは別のＤＢに格納される。
【０００５】
図１２は、従来の他の液晶表示パネル点灯表示検査工程を示す概略構成図である。図１２に示す液晶表示パネル点灯表示検査工程は、図１１に示すようにＣＣＤカメラ１１０を用いずに、オペレータ１２２が液晶表示パネル１０２に表示される検査表示パターンを目視して液晶表示パネル１０２の欠陥を検出し、液晶表示パネル１０２を良否判定する。液晶表示パネル１０２の検査結果は、オペレータ１２２により処理系Ａ１１８へ入力される。処理系Ａ１１８は、液晶表示パネル１０２の検査結果を液晶表示パネル点灯表示検査装置用ＤＢ１２０に書き込む。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
従来の液晶表示パネル点灯表示検査工程では、液晶表示パネル１０２の全ての表示欠陥を検出するのに必要な全ての検査表示パターンが液晶表示パネル１０２に表示される。そのため、液晶表示パネル点灯表示検査に長時間を要してしまうという問題を有している。
【０００７】
本発明の目的は、液晶表示パネル点灯表示検査の検査時間を短縮させた液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、被検査対象の液晶表示パネルに所定の検査表示パターンを表示させ、前記液晶表示パネルの表示欠陥を検出する液晶表示パネル点灯表示検査方法であって、前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、前記欠陥種を検出する検査を省略することを特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法によって達成される。
【０００９】
また、上記目的は、被検査対象の液晶表示パネルに所定の検査表示パターンを表示させ、前記液晶表示パネルの表示欠陥を検出する液晶表示パネル点灯表示検査システムであって、前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、前記欠陥種を検出する検査を省略することを特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システムによって達成される。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムについて図１乃至図１０を用いて説明する。まず、本実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムの概略の構成について図１を用いて説明する。図１は、本実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムを示す概略構成図である。被検査対象の液晶表示パネル２は、バックライト８上に位置決めされており、液晶表示パネル２の全ての端子にはプローブ４のプローブピン６が接触できるようになっている。。液晶表示パネル２上方には液晶表示パネル２の表示状態を撮影するＣＣＤカメラ１０が配置されており、ＣＣＤカメラ１０は撮影した画像情報を処理系Ｂ１６へ送出するようになっている。処理系Ｂ１６は、信号発生器１４、コントロール基板１２、プローブ４及びプローブピン６を介して液晶表示パネル２の各端子に所定の表示信号を供給するとともに、ＣＣＤカメラ１０から送られる画像情報を解析するようになっている。
【００１１】
処理系Ｂ１６は、処理系Ａ１８に接続されている。処理系Ａ１８は、液晶表示パネル点灯表示検査の検査結果を格納する液晶表示パネル点灯表示検査装置用ＤＢ２０にローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡＮ；Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）２８を介して接続されている。ＬＡＮ２８上には、前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程に用いるＴＦＴ基板欠陥検査装置２６と、ＴＦＴ基板欠陥検査の検査結果を格納しているＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４とがさらに接続されている。
【００１２】
次に、本実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法について説明する。まず、ＴＦＴ基板欠陥検査を通過したＴＦＴ基板とＣＦ基板とを貼り合わせ、両基板間に液晶を注入して形成した液晶表示パネル２を搬送装置（図示せず）を用いてバックライト８上に搬送し、位置決めを行い、液晶表示パネル２の全ての端子にプローブピン６を接触させる。次いで処理系Ｂ１６は、液晶表示パネル２の全ての端子に、液晶表示パネル２が所定の検査表示パターンを表示するような表示信号を供給する。液晶表示パネル２の上方に配置されているＣＣＤカメラ１０は、液晶表示パネル２に表示された検査表示パターンを撮影する。ＣＣＤカメラ１０は撮影した画像情報を処理系Ｂ１６へ送出する。処理系Ｂ１６は、画像情報を画像解析して表示欠陥を検出し、液晶表示パネル２の表示欠陥の検出結果をＬＡＮ２８に接続されている処理系Ａ１８に送出する。
【００１３】
ここで、液晶表示パネル点灯表示検査工程で検出される表示欠陥の中には、前工程であるＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種も含まれている。次に、ＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出される欠陥種であって、液晶表示パネル点灯表示検査工程でも検出可能な４つの欠陥種について図２乃至図８を用いて説明する。
【００１４】
図２は第１の欠陥種を示す画素領域の平面図である。絶縁性を有するガラス基板３２上には、図中左右方向へ延びるゲートバスライン３６と図中上下方向へ延びるドレインバスライン３８とで画素領域が画定されている。画素領域には画素電極３４が形成されている。画素領域のほぼ中央部には、蓄積容量バスライン４０が画素領域を横切って形成されている。蓄積容量バスライン４０上には中間電極５１が形成されており、中間電極５１と画素電極３４はコンタクトホール５２を介して接続されている。画素領域の図中左上方には、ゲートバスライン３６と、ドレインバスライン３８から延出しているドレイン電極４２と、ドレイン電極４２と所定の間隙で対向して形成されているソース電極４４とでＴＦＴ４５が形成されている。ＴＦＴ４５の図中下方の楕円で囲まれた領域は第１の欠陥種を示している。この欠陥種は、ドレインバスライン３８と中間電極５１が接続された状態で形成されており、ドレインバスライン３８と画素電極３４が中間電極５１とコンタクトホール５２を介して短絡している状態を示している。
【００１５】
図３は、液晶表示パネル点灯表示検査工程で表示される検査表示パターンの１つである白黒上下２分割検査表示パターンを示している。図３に示すように、表示領域４６は上下２領域に分割されている。上部は白（又は黒）表示されており、下部は黒（又は白）表示されている。表示領域４６の左下部には、黒を表示している領域の中に中間調の輝点欠陥５０が生じている。なお、この表示は、ＣＣＤカメラ１０の撮影に要する時間（例えば数秒）程度の間隔で白黒が反転される。
【００１６】
図２に示した欠陥種は、画素電極３４とドレインバスライン３８が短絡しているため、ドレインバスライン３８上の階調電圧の電圧変化がそのまま画素電極３４の電圧変化となる。図３に示した白黒上下２分割検査表示パターンを表示させると、例えばフレーム反転駆動されるノーマリーブラックモードの液晶表示パネルにおけるドレインバスライン３８の階調電圧は、フレーム毎にフレームの前半が例えば±５Ｖで後半が例えば±１Ｖとなる。１フレーム周期が１／６０ｓｅｃ（秒）であれば、図２に示した欠陥種を有する画素は、１／１２０ｓｅｃずつ白表示と黒表示を繰り返すため中間調の点として視認される。したがって、図２に示した欠陥種を有する画素は、白表示領域中にあれば暗点欠陥となり、黒表示領域中にあれば輝点欠陥となる。これはドット反転駆動でも同様であり、また、ノーマリーホワイトモードでも同様である。
【００１７】
図４は第２の欠陥種を示す画素領域の平面図である。ＴＦＴ４５上の円で囲まれた領域は、ドレイン電極４２とソース電極４４が短絡している状態を示している。図４に示した欠陥種を有する画素は、図２に示した欠陥種を有する画素と同様に、ドレインバスライン３８の階調電圧の電圧変化がそのまま画素電極３４の電圧変化となる。したがって、図３に示した白黒上下２分割検査表示パターンを表示させることによって、白表示領域中にあれば暗点欠陥となり、黒表示領域中にあれば輝点欠陥となる。
【００１８】
図５は第３の欠陥種を示す画素領域の平面図である。ＴＦＴ４５の図中左下の楕円で囲まれた領域は、ドレインバスライン３８が図中左側の中間電極５１と接続された状態で形成されており、ドレインバスライン３８と図中左側の画素電極３４が中間電極５１とコンタクトホール５２を介して短絡している状態を示している。図５に示した欠陥種を有する画素は、ドレインバスライン３８の階調電圧の電圧変化がそのまま図中左側の画素電極３４の電圧変化となる。したがって、図３に示した白黒上下２分割検査表示パターンを表示させることによって、白表示領域中にあれば暗点欠陥となり、黒表示領域中にあれば輝点欠陥となる。
【００１９】
図６は第４の欠陥種を示す画素領域の平面図である。ＴＦＴ４５の図中右側の円で囲まれた領域は、画素電極３４が図中上側の画素領域の画素電極３４と短絡している状態を示している。
【００２０】
図７は、液晶表示パネル点灯表示検査工程で表示される検査表示パターンの１つである横縞模様検査表示パターンを示している。図７に示すように、表示領域４６は図中横方向の１画素分の太さを有するラインが１ラインおきに白黒交互に表示されている。図中左上部には、黒を表示するラインが一部途切れている輝点欠陥４８が生じている。図８は、図７に示した表示領域４６における輝点欠陥４８付近の拡大図を示している。表示領域４６に表示されている黒を表示するラインのうち、図中上から２番目のラインは１画素分途切れている。図６に示した欠陥種を有する画素は、液晶表示パネル点灯表示検査工程で、ゲートバスライン３６方向のラインを１ライン置きに白黒交互に表示させる横縞模様検査表示パターンを表示領域４６に表示させることにより検出される。この検査表示パターンは、ＣＣＤカメラ１０の撮影に要する時間（例えば数秒）程度の間隔で反転して表示される。
【００２１】
図６に示した欠陥種は図中上下に隣接する画素領域に形成された画素電極３４が短絡しているため、上部画素の画素電位は下部画素の画素電位と同電位になる。すなわち、図中下側の画素が白を表示しているライン上にあるときは、図中上側の画素は黒を表示するライン上にあるにも関わらず白を表示するため、図７及び図８に示すように輝点欠陥４８となる。逆に、図中下側の画素が黒を表示しているライン上にあるときは、図中上側の画素は白を表示するライン上にあるにも関わらず黒を表示するため暗点欠陥となる。これらはノーマリーブラックモードでもノーマリーホワイトモードでも同様であり、また、フレーム反転駆動でもドット反転駆動でも同様である。
【００２２】
上述の４つの欠陥種は、前工程であるＴＦＴ基板欠陥検査工程で既に検出されている。またこれらの欠陥種は、液晶表示パネル点灯表示検査工程では、白黒上下２分割検査表示パターンあるいは横縞模様検査表示パターンを表示させたときのみ検出される。したがって、液晶表示パネル点灯表示検査工程では、ＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みのこれらの欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４から取得することによって、これらの欠陥種を検出するための検査を省略することができる。
【００２３】
図１に戻って、ＴＦＴ基板欠陥検査の検査結果は、ＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４に書き込まれている。検査結果に含まれている欠陥情報は、例えば検査年月日、ロット番号、シリアル番号、欠陥を有する画素を特定するゲートバスライン番号及びドレインバスライン番号、欠陥種等のデータで構成されている。処理系Ａ１８は、ＬＡＮ２８を介してＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４から上述の第１乃至第４の４つの欠陥種についての欠陥情報を検索して取得し、処理系Ｂ１６へ送る。処理系Ｂ１６はそれらの欠陥種を液晶表示パネル点灯表示検査でも検出される欠陥と判断して、それらの欠陥種を検出する検査表示パターンを表示しないことで検査を省略し、送られた欠陥情報と液晶表示パネル点灯表示検査結果とを併せて液晶表示パネル２を良否判定する。次いで、処理系Ｂ１６は、ＴＦＴ基板欠陥情報を含んだ最終的な液晶表示パネル点灯表示検査結果を処理系Ａへ送る。処理系Ａは、最終的な液晶表示パネル点灯表示検査結果を液晶表示パネル点灯表示検査装置用ＤＢ２０に書き込む。
【００２４】
本実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムによれば、液晶表示パネル点灯表示検査工程において、ＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出されている欠陥種を検出するための検査を省略することができる。そのため、表示される検査表示パターンを減らすことにより液晶表示パネル点灯表示検査の検査時間を短縮できる。本実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムをある液晶表示パネル点灯表示検査工程に適用したところ、液晶表示パネル１枚当たりの点灯表示検査時間は、従来１５０ｓｅｃかかっていたのに対し９０ｓｅｃとなり４０％短縮することができた。また、不良パネルの後工程への流出もこれまで以上に少なくすることができた。
【００２５】
図９は、上記実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムの変形例を示す概略構成図である。本変形例は、処理系Ａ１８がＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４から検索して取得した欠陥情報を処理系Ｂ１６へは送らない点に特徴を有している。このため処理系Ｂ１６は、最終的な液晶表示パネル点灯表示検査結果による良否判定をせず、液晶表示パネル点灯表示検査工程での検査結果のみを処理系Ａ１８へ送る。処理系Ａ１８は、処理系Ｂ１６から送られてくる液晶表示パネル点灯表示検査結果と欠陥情報とを併せて液晶表示パネル２を良否判定する。本変形例によっても上記実施の形態と同様の効果が得られる。
【００２６】
図１０は、上記実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムの他の変形例を示す概略構成図である。本変形例は、ＣＣＤカメラ１０で得られた画像を処理系Ｂ１６で解析するのではなく、オペレータ２２が液晶表示パネル２に表示される検査表示パターンを目視することにより液晶表示パネル２の欠陥を検出することを特徴としている。液晶表示パネル２の検査結果は、オペレータ２２により処理系Ａ１８へ入力される。処理系Ａ１８は、入力された液晶表示パネル２の検査結果と、ＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ２４から検索して取得した欠陥情報とを併せて液晶表示パネル２を良否判定する。本変形例によっても上記実施例と同様な効果が得られる。
【００２７】
本発明は、上記実施の形態に限らず種々の変形が可能である。
例えば、図１に示した上記実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムでは、ＣＣＤカメラ１０から送られてくる画像情報は、処理系Ｂ１６により解析されているが、本発明はこれに限られない。処理系Ｂ１６の負荷が大きければ処理系Ｂ１６とは別に画像処理解析用の処理系を設けてもよい。その場合、専用インターフェイス経由となるため処理速度は低下するが、非常に負荷の大きい画像処理解析を他の処理系で行うため、処理系Ｂ１６の負荷を軽くすることができるようになる。
【００２８】
以上説明した実施の形態による液晶表示パネル点灯表示方法及び表示システムは、以下のようにまとめられる。
（付記１）
被検査対象の液晶表示パネルに所定の検査表示パターンを表示させ、前記液晶表示パネルの表示欠陥を検出する液晶表示パネル点灯表示検査方法であって、
前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、
前記欠陥種を検出する検査を省略すること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００２９】
（付記２）
付記１記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記省略する検査は、前記液晶表示パネルに検査表示パターンを表示させて表示欠陥を検出することを内容とすること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００３０】
（付記３）
付記１又は２に記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００３１】
（付記４）
付記１又は２に記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成されたＴＦＴのドレイン電極とソース電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００３２】
（付記５）
付記１又は２に記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素領域に隣接する画素領域に形成された画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００３３】
（付記６）
付記１又は２に記載の液晶表示パネル点灯表示検査方法において、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインの延びる方向に隣接する画素領域に形成された画素電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査方法。
【００３４】
（付記７）
被検査対象の液晶表示パネルに所定の検査表示パターンを表示させ、前記液晶表示パネルの表示欠陥を検出する液晶表示パネル点灯表示検査システムであって、
前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種の欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、
前記欠陥種を検出する検査を省略すること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００３５】
（付記８）
付記７記載の液晶表示パネル点灯表示検査システムにおいて、
前記省略する検査は、前記液晶表示パネルに検査表示パターンを表示させて表示欠陥を検出することを内容とすること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００３６】
（付記９）
付記７又は８に記載の液晶表示パネル点灯表示検査システムにおいて、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００３７】
（付記１０）
付記７又は８に記載の液晶表示パネル点灯表示検査システムにおいて、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上に形成されたＴＦＴのドレイン電極とソース電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００３８】
（付記１１）
付記７又は８に記載の液晶表示パネル点灯表示検査システムにおいて、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素領域と隣接する画素領域に形成された画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインとが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００３９】
（付記１２）
付記７又は８に記載の液晶表示パネル点灯表示検査システムにおいて、
前記欠陥種は、ＴＦＴ基板上の画素領域に形成された画素電極と、前記画素電極に階調電圧を印加するドレインバスラインの延びる方向に隣接する画素領域に形成された画素電極とが短絡していることを示していること
を特徴とする液晶表示パネル点灯表示検査システム。
【００４０】
【発明の効果】
以上の通り、本発明によれば、液晶表示パネル点灯表示検査の検査時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムを示す概略構成図である。
【図２】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムが適用される第１の欠陥種を示す画素領域の平面図である。
【図３】液晶表示パネル点灯検査工程において表示される白黒上下２分割検査表示パターンを示す図である。
【図４】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムが適用される第２の欠陥種を示す画素領域の平面図である。
【図５】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムが適用される第３の欠陥種を示す画素領域の平面図である。
【図６】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムが適用される第４の欠陥種を示す画素領域の平面図である。
【図７】液晶表示パネル点灯検査工程において表示される横縞模様検査表示パターンを示す図である。
【図８】液晶表示パネル点灯検査工程において表示される横縞模様検査表示パターンを示す拡大図である。
【図９】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムの変形例を示す概略構成図である。
【図１０】本発明の一実施の形態による液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システムの他の変形例を示す概略構成図である。
【図１１】従来の液晶表示パネル点灯表示検査工程を示す構成図である。
【図１２】従来の他の液晶表示パネル点灯表示検査工程を示す構成図である。
【符号の説明】
２  液晶表示パネル
４  プローブ
６  プローブピン
８  バックライト
１０  ＣＣＤカメラ
１２  コントロール基板
１４  信号発生器
１６  処理系Ｂ
１８  処理系Ａ
２０  液晶表示パネル点灯表示検査装置用ＤＢ
２２  オペレータ
２４  ＴＦＴ基板欠陥情報ＤＢ
２６  ＴＦＴ基板欠陥検査装置
２８  ＬＡＮ
３２  ガラス基板
３４  画素電極
３６  ゲートバスライン
３８  ドレインバスライン
４０  蓄積容量バスライン
４２  ドレイン電極
４４  ソース電極
４５  ＴＦＴ
４６  表示領域
４８、５０  輝点欠陥
５１  中間電極
５２  コンタクトホール
【図１】
0004443779.tif 000002
【図２】
0004443779.tif 000003
【図３】
0004443779.tif 000004
【図４】
0004443779.tif 000005
【図５】
0004443779.tif 000006
【図６】
0004443779.tif 000007
【図７】
0004443779.tif 000008
【図８】
0004443779.tif 000009
【図９】
0004443779.tif 000010
【図１０】
0004443779.tif 000011
【図１１】
0004443779.tif 000012
【図１２】
0004443779.tif 000013