(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、
前記光記録装置は、
実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第１導出ステップと、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第２導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
前記一の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーとパルス位相とを変化させ、
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、
実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第１導出手段と、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第２導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項４】
前記一の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーとパルス位相とを変化させ、
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項３に記載の光記録装置。
【請求項５】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子であって、
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第１導出ステップと、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第２導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップＣＰＵ素子。
【請求項６】
前記一の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーとパルス位相とを変化させ、
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項５に記載のワンチップＣＰＵ素子。
【請求項７】
一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるＣＰＵ素子を動作させるコンピュータプログラムであって、
請求項１，２，５又は６の何れかに記載の処理ステップを含むことを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層を有する光記録媒体への情報の記録に関するもので、特に、情報書き込み時のテスト時間を短縮可能な光記録方法、光記録装置、マイクロＣＰＵ素子、及びコンピュータプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、レーザ光を用いて周知のＤＶＤ等の光記録メディア（光記録媒体）にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアに情報の記録を行う場合、一般的には、実際の情報記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。
【０００３】
しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアに情報の記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率、熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。
【０００４】
このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図１９及び図２０に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ（光記録装置）のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアに情報の記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。
【０００５】
また、記録ドライブ自体の個体差やバラツキ或いはレーザの温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみを情報の記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
【特許文献１】特開２００５−１００６１０号公報
【特許文献２】特開２００３−２２５３２号公報
【特許文献３】特開２００４−１７１７４０号公報
【特許文献４】特開２００４−２４７０２４号公報
【特許文献５】ＷＯ２００２−０２９７９１号公報
【特許文献６】特開２００３−１７８４４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来技術においては、有限である記録ドライブのメモリ容量への負担が大きく、高容量のメモリーを用いた場合は記録ドライブのコストアップに繋がるため、対応できる記録メディアの数が制限されるといった第１の課題点を有する。
【０００７】
また記録レーザパワーのみで補えない記録メディアおよび記録ドライブの持つ特性バラツキに十分に対応できず、さらには記録ドライブのメモリに予め記憶されなかった記録メディアおよび記録ドライブが発売された後に発売された記録メディア等の「未知の種類の光記録メディア」に対しても、一部ではファームアップという形で対応しているが、十分な対応ができないといった第２の課題点を有する。
【０００８】
さらには、複数層におけるテスト記録により情報記録以外の所要時間が増加するといった第３の課題点を有する。
【０００９】
上記３つの課題に対応する多層型光ディスクの記録条件最適化手法の構築が求められている。
【００１０】
本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、光記録装置、ワンチップＣＰＵ素子、及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第１導出ステップと、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第２導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。
【００２０】
本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。
【００２５】
本発明は、上記の目的を達成するために、上記光記録方法における各処理ステップを実行する手段を備えた光記録装置と、該光記録装置に用いるワンチップＣＰＵ素子、及び前記光記録装置に用いるＣＰＵを駆動して前記光記録方法を実行するコンピュータプログラムを提案する。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。
【００３３】
また、本発明の光記録装置によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。
【００３４】
さらに、本発明のマイクロＣＰＵ素子によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。
【００３５】
また、本発明のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録方法を容易に実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。
【００３７】
図１は本発明の第１実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図である。図において、１０は光ディスクで、周知のＤＶＤ、ＨＤ−ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙディスク等の多層型光記録媒体であり、本実施形態ではレーザ光照射面から最も離れた位置から第１記録層１１、第２記録層１２の順で２つの記録層を有する光記録媒体である。尚、本実施形態では２つの記録層を有する光記録媒体を用いて説明するが、３層以上の記録層を有する光記録媒体を光ディスク１０として光記録装置100によって情報の記録再生を行うことができる。
【００３８】
100は光記録装置で、光ピックアップ110と、レーザダイオード（以下、ＬＤと称する）ドライバ121、スライサ122、データ復調回路123、特性値検出部124、ワンチップＣＰＵ素子（以下、ＣＰＵと称する）125、メモリ127、インタフェース（以下、Ｉ／Ｆと称する）128とを備えている。尚、ここでは、本発明に特に関係する構成部分のみを記載して説明する。
【００３９】
また、光記録装置100には、パーソナルコンピュータやディスプレイ等からなる表示部131と、キーボード等からなる操作部132が接続されている。
【００４０】
光ピックアップ110は、レーザダイオード（以下、ＬＤと称する）111と、フォトディテクタ（以下、ＰＤと称する）112、コリメートレンズ113、対物レンズ114、検出レンズ115、ビームスプリッタ116を有している。ＬＤ111から射出されたレーザ光はコリメートレンズ113とビームスプリッタ116と対物レンズ114を透過して光ディスク１０に照射される。また、光ディスク１０によって反射されたレーザ光は対物レンズ114を透過した後にビームスプリッタ116によって反射され、検出レンズ115を介してＰＤ112に入射される。ＰＤ112は入射した光の光量に対応した値の電流を出力する。
【００４１】
ＬＤドライバ121はＣＰＵ素子125から入力した記録信号に基づいてＬＤ111に駆動電流を供給してＬＤ111を発光させる。
【００４２】
スライサ122は、ＰＤ112から出力電流を所定の閾値でスライスして２値化電圧信号に変換して出力する。
【００４３】
データ復調回路123は、スライサ122から出力される符号化されている２値化信号を復調してＣＰＵ125に出力する回路であり、例えば、スライサ122から出力された２値化電圧信号である３Ｔ〜１１Ｔのパルス幅でＥＦＭ変調されて符号化された信号を復調したディジタル信号をＣＰＵ125に出力する。
【００４４】
特性値検出部124は、ＰＤ112から出力された電流信号を入力し、この電流値に基づいて光ディスク１０からの反射光から特性値を検出してディジタル情報としてＣＰＵ125に出力する。この反射光から検出する特性値としては、例えば、記録レーザパワーや記録パルス条件に依存し、且つ記録パルス条件を最適化するのに相応しい特性値であればよく、本実施形態では、β、アシンメトリ(Asymmetry)、位相、振幅等を検出している。
【００４５】
ＣＰＵ125は、周知のワンチップＣＰＵ素子で、内部にＣＰＵをどうさせるためのコンピュータプログラムが格納されているメモリ回路126を備えている。また、ＣＰＵ125は、駆動機構部（図示せず）を制御して光りピックアップ110の位置、トラッキング、フォーカスの調整及び光ディスク１０の回転駆動制御を行うと共に、メモリ127に蓄積されているデータテーブルに基づいて外部から入力されたデータを光ディスク１０に記録する（書き込む）、或いは光ディスク１０に記録されているデータを読み出して外部装置に出力する。また、後述する処理によって光ディスク１０への情報の記録時におけるテストを行い最適なレーザ好条件を求めて、データの記録を行えるようにしている。
【００４６】
メモリ回路127は、ＣＰＵ125に接続され、内部には従来例と同様のストラテジテーブルとして他種類の光ディスクに対応したデータがデータテーブルに記録されている。
【００４７】
Ｉ／Ｆ128はＣＰＵと外部の表示部131及び操作部132を接続するためのインタフェースであると共に、外部装置とＣＰＵ125との間の記録・再生データの転送を行う。
【００４８】
上記構成では、ＬＤ111から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク１０に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等の外部装置との間でデータの送受信を行う。尚、光記録装置100は、光ディスク１０へデータを記録するときに、第１記録層１１、第２記録１２の順に情報の記録を行うものである。
【００４９】
光ディスク１０に対して情報の記録を行う場合は、記録データを符号化し、この符号化した記録データをＣＰＵ125で処理することで、光ディスク１０に対する記録条件となるストラデジを決定し、このストラテジをＬＤドライバ121で記録パルスに変換し、この記録パルスに基づいてパルス化されたレーザ光をＬＤ111から出力する。
【００５０】
ＬＤドライバ121は、入力された記録パルスに基づいてＬＤ111を駆動し、ＬＤ111はこの記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメートレンズ113、ビームスプリッタ116、対物レンズ114を介して、線速度一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射し、これにより光ディスク１０に、所望の記録データに対応したピットとスペース列からなる記録パターンが記録される。
【００５１】
また、光ディスク１０にデータを記録する際には、周知のように光ディスク１０のテスト領域にテストデータの記録及びその再生を行って最適なレーザ光の照射条件を決定する。本実施形態の光記録装置100では、このレーザ光の照射条件を決定するテスト時間を従来よりも短縮することができる。
【００５２】
以下に、本実施形態におけるレーザ光の照射条件を決定する方法に関して詳細に説明する。
【００５３】
図２は第１実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【００５４】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図２に示す処理を実行する。処理を開始すると、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＡ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＡ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様の記録レーザ光強度最適化（ＯＰＣ：Optimum Power Control ，以下ＯＰＣと称する）によって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定回数行い、記録した情報を再生して（ＳＡ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＡ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【００５５】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＡ４）。この特性関係式としては、例えば、図４のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図６のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテストデータから２種類のパラメータ、すなわち図４のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とβとの関係を表した特性関係式と、図５のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。
【００５６】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＡ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＡ６）。
【００５７】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＡ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＡ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＡ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＡ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００５８】
一方、前記ＳＡ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第１記録層１１における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して（ＳＡ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＡ１０）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【００５９】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＡ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【００６０】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＡ１２）。
【００６１】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＡ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＡ６）。
【００６２】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＡ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＡ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＡ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＡ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００６３】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第１記録層１１にテスト記録が行われて第１記録層１１に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層１１におけるテスト時間よりも少ない時間内に記録パルス条件が導出されるので、第２記録層１２の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【００６４】
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第１記録層１１以外の記録層に関してはレーザパワー調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
【００６５】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【００６６】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。また、光ディスク１０として周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いる場合はＤＶＤとは規格が異なるため、第１記録層においては、図９のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）とアシンメトリー（Asymmetry）との関係を表した特性関係式と、図１０のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式と、図１１のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出し、第１記録層以外の記録層においては、テストによって図１２のグラフに示すようなレーザパワー（Write PW）と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を求め、これらの特性関係式の相関関係から他の記録層における図１３のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測して、他の記録層における最適値を求めることができる。また、パルス幅調整用パラメータ（評価指標）とは、位相ずれ、長さずれ、振幅ずれを意味するものである。
【００６７】
次に、本発明の第２実施形態を説明する。
【００６８】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第２実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【００６９】
以下に、本実施形態におけるレーザ光の記録パルス条件を決定する方法に関して詳細に説明する。
【００７０】
図１４は第２実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【００７１】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図１４に示すように、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＢ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＢ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様のＯＰＣによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の使用領域内で行い、記録した情報を再生して（ＳＢ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＢ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【００７２】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＢ４）。この特性関係式は、第１実施形態と同じである。
【００７３】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＢ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＢ６）。
【００７４】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＢ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＢ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＢ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＢ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００７５】
一方、前記ＳＢ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第１記録層１１における使用領域よりも少ない使用領域を用いて行い、記録した情報を再生して（ＳＢ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＢ１０）。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【００７６】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＢ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【００７７】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＢ１２）。
【００７８】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＢ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＢ６）。
【００７９】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＢ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＢ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＢ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＢ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００８０】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第１記録層１１に所定のテスト使用領域にテスト記録が行われて第１記録層１１に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層１１におけるテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録が行われ記録パルス条件が導出されるので、第２記録層１２の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【００８１】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【００８２】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【００８３】
次に、本発明の第３実施形態を説明する。
【００８４】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第３実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【００８５】
図１５は第３実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【００８６】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図１５に示すように、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＣ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＣ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様のＯＰＣによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の記録時間で行い、記録した情報を再生して（ＳＣ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＣ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【００８７】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＣ４）。この特性関係式は、第１実施形態と同じである。
【００８８】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＣ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＣ６）。
【００８９】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＣ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＣ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＣ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＣ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００９０】
一方、前記ＳＣ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第１記録層１１における記録時間よりも少ない記録時間で行い、記録した情報を再生して（ＳＣ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＣ１０）。この際、テストデータの再生に要する時間も第１記録層１１における再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【００９１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＣ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【００９２】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＣ１２）。
【００９３】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＣ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＣ６）。
【００９４】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＣ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＣ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＣ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＣ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【００９５】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第１記録層１１に、テストデータが所定の記録時間内で記録されると共に所定の再生時間内でテストデータが再生されて、第１記録層１１に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層１１におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および第１記録層１１におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に記録パルス条件が導出されるので、第２記録層１２の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【００９６】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【００９７】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【００９８】
次に、本発明の第４実施形態を説明する。
【００９９】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第４実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１００】
図１６は第４実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【０１０１】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図１６に示すように、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＤ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＤ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様のＯＰＣによって所定記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＤ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＤ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１０２】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＤ４）。この特性関係式は、第１実施形態と同じである。
【０１０３】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＤ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＤ６）。
【０１０４】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＤ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＤ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＤ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＤ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１０５】
一方、前記ＳＤ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いた調整用データパターンの記録長よりも短い記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＤ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＤ１０）。この際、テストデータの記録及び再生に要する時間は第１記録層１１における記録時間及び再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【０１０６】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＤ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【０１０７】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＤ１２）。
【０１０８】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＤ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＤ６）。
【０１０９】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＤ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＤ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＤ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＤ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１１０】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層１１に、所定の情報記録長内のテストデータの記録が行われると共に所定の情報再生長内のテストデータの再生が行われて、第1記録層１１に適した記録パルス条件が導出されると共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層１１におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および第1記録層１１におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように第２記録層１２にテストデータの記録及び再生が行われて記録パルス条件が導出されるので、第２記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１１１】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【０１１２】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１１３】
次に、本発明の第５実施形態を説明する。
【０１１４】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第５実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１１５】
図１７は第５実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【０１１６】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図１７に示すように、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＥ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＥ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様のＯＰＣによって所定の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＥ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＥ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１１７】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＥ４）。この特性関係式は、第１実施形態と同じである。
【０１１８】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＥ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＥ６）。
【０１１９】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＥ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＥ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＥ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＥ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１２０】
一方、前記ＳＥ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いた調整用データパターンとは異なる調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＥ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＥ１０）。この際、第２記録層１２において用いる調整用データパターンとしては、例えば、パルス幅の変動が顕著に現れる短いパルス幅の信号を並べたデータパターンを用いている。このようにパルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いるので、第１記録層１１のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【０１２１】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＥ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【０１２２】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＥ１２）。
【０１２３】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＥ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＥ６）。
【０１２４】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＥ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＥ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＥ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＥ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１２５】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第１記録層１１に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第１記録層１１に適した記録パルス条件が導出されと共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、第２記録層１２の記録パルス条件が導出されるので、第２記録層１２の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１２６】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【０１２７】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１２８】
次に、本発明の第６実施形態を説明する。
【０１２９】
本実施形態における装置構成は前述した第１実施形態と同様であり、第１実施形態との相違点は、第６実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したＣＰＵ125を用いていることである。以下の説明において第１実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
【０１３０】
図１８は第６実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはＣＰＵ125のメモリ回路126に予め記憶されており、ＣＰＵ125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク１０の第１記録層１１へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第１記録層１１以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第１記録層１１におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
【０１３１】
即ち、第１記録層１１にデータを記録する際には、図１８に示すように、光ディスク１０の第１記録層１１への記録か否かを判定する（ＳＦ１）。第１記録層１１以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するＳＦ９の処理に移行し、第１記録層１１へデータを記録する場合は、従来と同様のＯＰＣによって所定の複数種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＦ２）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＦ３）。このパラメータとしては、例えば、ＤＶＤの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図３に示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク１０の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
【０１３２】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＦ４）。この特性関係式は、第１実施形態と同じである。
【０１３３】
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し（ＳＦ５）、この最適記録パルス条件を用いて第１記録層１１への実際の情報記録を行う（ＳＦ６）。
【０１３４】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＦ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＦ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＦ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＦ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１３５】
一方、前記ＳＦ１の判定の結果、情報の記録を第１記録層１１以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のＯＰＣによって、第１記録層１１のテストに用いた複数種類の調整用データパターンのうちの一部の種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して（ＳＦ９）、レーザ光照射条件におけるパラメータ（特性値）を検出する（ＳＦ１０）。この際、第２記録層１２において用いる調整用データパターンとしては、第１記録層１１において用いた複数種類のデータパターンのうちの一部の種類のみを用いるので、第１記録層１１のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図３示すように段階的にレーザパワー（Wrigte PW）を変化させて行う。
【０１３６】
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する（ＳＦ１１）。この特性関係式としては、例えば、図７のグラフに示すようなレーザパワー（Wrigte PW）とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第２記録層１２への記録を行う際には、第１記録層１１とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
【０１３７】
この後、上記求めた特性関係式と第１記録層１１において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層１２におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図８のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する（ＳＦ１２）。
【０１３８】
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する（ＳＦ１３）。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク１０への情報の記録を行う（ＳＦ６）。
【０１３９】
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し（ＳＦ７）、記録層の変更を必要とするときは前記ＳＦ１の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する（ＳＦ８）。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記ＳＦ６の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。
【０１４０】
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第１記録層１１に、複数種の所定のデータパターンを含むテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第１記録層１１に適した記録パルス条件が導出されと共に、第２記録層１２においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第１記録層１１における複数種データパターンのうちの一部の種類のデータパターンをを用いてテスト記録が行われ、第２記録層１２の記録パルス条件が導出されるので、第２記録層１２の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
【０１４１】
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロＣＰＵ素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のＣＰＵを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
【０１４２】
尚、上記実施形態では光ディスク１０として周知の多層型ＤＶＤを用いた例を挙げて説明したが、第１実施形態と同様に光ディスク１０としてＨＤ−ＤＶＤや周知のＢｌｕ−ｒａｙディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
【０１４３】
また、上記実施形態は、本発明の一具体例にすぎず、本発明が上記実施形態の構成のみに限定されることはない。例えば、上記実施形態では２層の記録層１１，１２を有する光ディスク１０を用いて説明したが、３層以上の記録層を有する光ディスクへの情報の記録においても同様の効果を得ることができることは言うまでもない。
【０１４４】
また、上記各実施形態では、第１記録層１１を基準として他の記録層１２への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしたが、第１記録層以外の記録層を基準として他の記録層への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしても良い。また、上記各実施形態ではレーザ光照射面から離れた位置にある第１記録層１１から順に照射面に近い位置にある第２記録層１２へと順に情報記録を行うようにしたがこれに限定されることはなく、第１記録層１１以外の記録層を初めとして情報記録を行うようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１４５】
【図１】本発明の第１実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図
【図２】本発明の第１実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図３】レーザパワー調整用テスト記録における段階的なレーザパワー変化を説明する図
【図４】レーザパワーとβとの関係を表した特性関係を示す図
【図５】レーザパワーとパルス位相との関係を表した特性関係を示す図
【図６】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図７】レーザパワーとパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図８】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図９】レーザパワーとアシンメトリーとの関係を表した特性関係を示す図
【図１０】レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１１】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１２】レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１３】パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
【図１４】本発明の第２実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１５】本発明の第３実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１６】本発明の第４実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１７】本発明の第５実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１８】本発明の第６実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
【図１９】従来例のストラテジテーブルを示す図
【図２０】従来例のストラテジテーブルを示す図
【符号の説明】
【０１４６】
１０…光ディスク（記録媒体）、１１…第１記録層（一の記録層）、１２…第２記録層（他の記録層）、100…光記録装置、110…光ピックアップ、111…レーザダイオード（ＬＤ）、112…フォトディテクタ（ＰＤ）、113…コリメートレンズ、114…対物レンズ、115…検出レンズ、116…ビームスプリッタ、121…ＬＤドライバ、122…スライサ、123…データ復調回路、124…特性値検出部、125…ワンチップＣＰＵ素子（ＣＰＵ）、126…メモリ回路、127…メモリ、128…インタフェース（Ｉ／Ｆ）、131…表示部、132…操作部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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