(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象（人体を除く）を研究する方法であって、
低干渉性光学放射を形成する段階と、
前記低干渉性光学放射を第１の低干渉性光学放射のビームおよび第２の低干渉性光学放射のビームに分ける段階と、
前記第１の低干渉性光学放射のビームを測定光路に沿って伝える段階と、
前記第２の低干渉性光学放射のビームを支持光路に沿って伝える段階と、
前記測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射を、前記支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する段階と、
前記混合の結果である光学放射の干渉強度変調の少なくとも一つの信号を利用して、研究する対象についてのインフォメーションを持ち測定光路を伝わって透過した低干渉性光学放射の強度を写像する段階とを備え、
前記支持光路がループ状に形成され、
前記第１の低干渉性光学放射のビームが第３の低干渉性光学放射のビームおよび第４の低干渉性光学放射のビームに分けられ、
前記第３の低干渉性光学放射のビームが前記対象に向けられ、
前記第４の低干渉性光学放射のビームが時計回りに前記支持光路のループに向けられ、
前記第２の低干渉性光学放射のビームが反時計回りに前記支持光路のループに向けられ、
前記第３の低干渉性光学放射のビームが双方向性の測定光路を前向きおよび後ろ向きに前記測定光路に沿って伝わり、
前記対象から戻ってきた低干渉性光学放射が、反時計回りに前記支持光路を通過した前記第２の低干渉性光学放射のビームと混合され、
前記混合の結果である光学放射の部分が時計回りに前記支持光路を通過した前記第４の低干渉性光学放射のビームと混合されることを特徴とする方法。
【請求項２】
光学放射線源と、第１の光ビームスプリッターと、測定腕と、支持腕と、第２の光ビームスプリッターと、少なくとも一つの光受信器とを備えた光学干渉計であって、
前記測定腕が双方向性であり、前記第２の光ビームスプリッターの一つに接続されていて、
前記支持腕が前記第１の光ビームスプリッターのポートの一つから前記第２の光ビームスプリッターのポートの一つにループ状に接続されていて、
前記第１の光ビームスプリッターが前記第２の光ビームスプリッターのポートを介して対象と光学的に結合され、
前記光ビームスプリッターのうちの少なくとも一方が前記光受信器に光学的に結合されていることを特徴とする光学干渉計。
【請求項３】
該光学干渉計の少なくとも一方の腕が光学遅延線を備えることを特徴とする請求項２に記載の光学干渉計。
【請求項４】
該光学干渉計の少なくとも一方の腕が位相変調器を備えることを特徴とする請求項２に記載の光学干渉計。
【請求項５】
前記測定腕の端部に探針が設置されていることを特徴とする請求項２から４のいずれか一項に記載の光学干渉計。
【請求項６】
前記探針を備えた測定腕の少なくとも一部が光ファイバで作られていることを特徴とする請求項５に記載の光学干渉計。
【請求項７】
該光学干渉計の少なくとも一方の腕が光ファイバで作られていることを特徴とする請求項２から４のいずれか一項に記載の光学干渉計。
【請求項８】
前記光ビームスプリッターの少なくとも一方が光ファイバで作られていることを特徴とする請求項２から７のいずれか一項に記載の光学干渉計。
【請求項９】
前記探針が着脱式に作られていて、該光学干渉計の別の部分とコネクタを使って接続されていることを特徴とする請求項５または６に記載の光学干渉計。
【請求項１０】
前記第１の光ビームスプリッターがノンレシプロカルに作られていることを特徴とする請求項２から９のいずれか一項に記載の光学干渉計。
【請求項１１】
前記第１の光ビームスプリッターが偏光感度性に作られていて、前記測定腕に偏光スイッチが加入されていることを特徴とする請求項２から１０のいずれか一項に記載の光学干渉計。
【請求項１２】
光学放射源と、
低干渉性光学放射を第１の低干渉性光学放射のビームおよび第２の低干渉性光学放射のビームに分けるための第１の光ビームスプリッターと、
双方向性の測定腕と、
支持腕であって、低干渉性光学放射が第１及び第２の双方向に該支持腕に沿って伝播するようにループ状に形成された支持腕と、
前記第１の低干渉性光学放射のビームを第３の低干渉性光学放射のビームおよび第４の低干渉性光学放射のビームに分けて、前向きおよび後ろ向きに前記双方向性の測定腕に沿って伝わった前記第３の低干渉性光学放射のビームを、前記第１の方向に前記支持腕のループに沿って伝わった前記第２の低干渉性光学放射のビームと混合することによって第１の混合光学放射を形成するための第２の光ビームスプリッターと、
少なくとも一つの光受信器とを備えた光学干渉計であって、
前記第１の光ビームスプリッターが、前記第２の光ビームスプリッターのポートを介して対象と光学的に結合され、前記第１の光ビームスプリッターが、第１の低干渉性光学放射のビームの一部を、前記第２の方向に前記支持腕のループに沿って伝わった前記第４の低干渉性光学放射のビームと混合することによって、第２の混合光学放射を形成し、
前記光ビームスプリッターのうちの少なくも一方が、前記少なくとも一つの光受信器に接続されている、光学干渉計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は物理工学に関し、特に光学測定手段を利用する対象となる内部構造の研究に関する。さらに低干渉性反射計および光学干渉性トモグラフィー装置に利用できる。上記の低干渉性反射計および光学干渉性トモグラフィー装置は特に人間内臓器官医療診断、そのうち「ＩＮ  ＶＩＶＯ」或いは「ＩＮ  ＶＩＴＲＯ」における人間身体器官の診断、産業技術診断、例えば技術的な工程の制御のために利用できる。
【背景技術】
【０００２】
低干渉性光学放射を使って、対象の研究のために利用する光学干渉計の利点は高空間的分解能のある混濁的媒体の像を得ることが出来、そして医療検査および様々な設備の技術診断を行う時、非侵襲的診断および非破壊的コントロールが出来るようになる。
【０００３】
低干渉性反射計および光学干渉性トモグラフィー装置の成分となる光学干渉計はかなりよく知られている。（例えば、米国特許第５３２１５０１号明細書（特許文献１），米国特許第５３８３４６７号明細書（特許文献２），米国特許第５４５９５７０号明細書（特許文献３），米国特許第５５８２１７１号明細書（特許文献４），米国特許第６１３４００３号明細書（特許文献５），国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレット（特許文献６）、その他を参照）。時々干渉計の光学図式は完全にあるいは部分的に集中したパラメーター光学素子を利用して実現する（米国特許第５３８３４６７号明細書）、それよりもっと頻繁には、このような用途の光学干渉計は光ファイバ形に作られる（米国特許第５３２１５０１号明細書、米国特許第５４５９５７０号明細書、米国特許第５５８２１７１号明細書を参照）。
【０００４】
普通、上記の光学干渉計はマイケルソン干渉計（例えば、Ｘ．Ｃｌｉｖａｚ  ｅｔ  ａｌ．  “Ｈｉｇｈ  ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ  ｉｎ  ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌ  ｔｉｓｓｕｅｓ”，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．１７，Ｎｏ．１／Ｊａｎｕａｒｙ  １，１９９２（非特許文献１）；  Ｊ．Ａ．Ｉｚａｔｔ，Ｊ．Ｇ．Ｆｕｊｉｍｏｔｏ  ｅｔ  ａｌ，  “Ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ  ｉｎ  ｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ  ｍｅｄｉａ”，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．１９，Ｎｏ．８／Ａｐｒｉｌ  １５，１９９４，ｐ．５９０−５９２（非特許文献２）を参照）、あるいはマッハ・ゼンデル干渉計の形に作られる（例えば、Ｊ．Ａ．Ｉｚａｔｔ，Ｊ．Ｇ．Ｆｕｊｉｍｏｔｏ  ｅｔ  ａｌ．  “Ｍｉｃｒｏｎ−ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ  Ｂｉｏｍｅｄｉｃａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ｗｉｔｈ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ”，Ｏｐｔｉｃｓ  ＆  Ｐｈｏｔｏｎｉｃ  Ｎｅｗｓ，Ｏｃｔｏｂｅｒ  １９９３，Ｖｏｌ．４，Ｎｏ．１０，ｐ．１４−１９（非特許文献３）；米国特許第５５８２１７１号明細書を参照）。その具体的な光学図式に関わらず、光学干渉計は恒例的に一つあるいは二つの光ビームスプリッター、測定腕と支持腕、そして少なくとも光受信器を含有する。原則として測定腕は探針を有し、その探針は大抵光ファイバ探針である（例えば、Ａ．Ｓｅｒｇｅｅｖ  ｅｔ  ａｌ，  “Ｉｎ  ｖｉｖｏ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ  ｏｆ  ｈｕｍａｎ  ｓｋｉｎ  ｍｉｃｒｏｓｔｒｕｃｔｕｒｅ”，  Ｐｒｏｃ．ＳＰＩＥ，  ｖ．２３２８，  １９９４，  ｐ．１４４（非特許文献４）；  Ｘ．Ｊ．Ｗａｎｇ  ｅｔ  ａｌ．  Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｈｕｍａｎ  ｓｃａｌｐ  ｈａｉｒｓ  ｂｙ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｌｏｗ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ．  Ｏｐｔ．  Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．２０，  Ｎｏ．５，  １９９５，  рр．５２４−５２６（非特許文献５）を参照）。
【０００５】
マイケルソン干渉計（図１）において、測定腕と支持腕は双方向性であり、支持腕の先に対照ミラーが設置されている。研究する対象の深部走査を確保するように対照ミラーはその機械的移動を確保する素子に接続される（米国特許第５３２１５０１号明細書，１９９４；米国特許第５４５９５７０号明細書，１９９５を参照），あるいは対照ミラーの位置を固定して、例えば、深部走査は圧電走査素子を利用して（露国特許第２１００７８７号明細書，１９９７（特許文献７））、分散・格子遅延線を利用して、あるいは別の光学素子たとえば、回転ミラー、プリズム、らせん面ミラー、その他を利用して実行する（Ｋ．Ｆ．Ｋｗｏｎｇ，Ｄ．Ｙａｎｋｅｌｅｖｉｃｈ  ｅｔ  ａｌ．  ４００−Ｈｚ  ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  ｓｃａｎｎｉｎｇ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｄｅｌａｙ  ｌｉｎｅ，  Ｏｐｔｉｃｓ  Ｌｅｔｔｅｒｓ，Ｖｏｌ．１８，Ｎｏ．７，Ａｐｒｉｌ  １，１９９３（非特許文献６）を参照）。
【０００６】
実際には知られているマイケルソン干渉計はたとえば、米国特許第５３２１５０１号明細書、米国特許第５３８３４６７号明細書、米国特許第５４５９５７０号明細書そして露国特許第２１４８３７８号明細書（特許文献８）に説明されるような同じような対象の研究する方法を実現する。この方法によって、低干渉性光学放射を形成し、その低干渉性光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。上記した第１低干渉性光学放射のビームは測定光路を伝わって、研究する対象へ向けられ、第２低干渉性光学放射のビームは支持光路に向けられる。そして、前向きおよび後ろ向きに測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は前向きおよび後ろ向きに支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合される。測定光路および支持光路は双方向性につくられる。研究する対象についてのインフォメーションを持ち、測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である干渉強度変調の信号を利用する。
【０００７】
マイケルソン干渉計の主要な欠陥はその干渉計で実現される方法と同じように光学放射線源の利用の不十分な有効性である。その理由は、光ビームスプリッターの最適分裂係数であっても（その係数はノンレシプロカルな配図の場合に０．５である）、入力パワーの大部分は支持腕で、そして光ビームスプリッターから放射線源への逆路で損失するからである。尚、光ビームスプリッターから放射線源へ戻ってくる光学放射は可変成分を含み、その可変成分は利用できる干渉信号に対応する。その信号の振幅は検波器の出力パワーの信号振幅に比例する。その成分は信号対雑音比を改良するため、別の配図の干渉計では用いられる可能性があるが、マイケルソン干渉計ではその成分は損失し、更に多数の知られている広帯域光学放射源泉（例えば、半導体スーパールミネセンス・ダイオード、ドープト  コア  ファイバーのスーパールミネセンス放射線源、スーパールミネッセント自発放射レーザー、固体および光ファイバーフェムト秒レーザー）に悪影響を与える。
【０００８】
マッハ・ゼンデル干渉計（図２）の利点は光パワーの本質的な部分が放射線源に返らないことである。しかも、光パワーの分割と結合のために異なる光ビームスプリッターが使われるので支持腕および測定腕の間に光パワーの分割と結合の広い可能性がある。
【０００９】
更に逆位相干渉成分を含有する第２の光学チャネルを得ることが可能であり、差動検波用の装置に信号対雑音比を改良するために使われる。マッハ・ゼンデル干渉計において、測定腕および支持腕は単方向性であり、それゆえ、反射的な研究する対象で機能するため、光学循環器を測定腕に加入することが必要である。低干渉性光学放射で通過を使って、生物組織の像をつくるのは、実際には不可能である。なぜなら光散乱のために、低干渉性光学放射は奥深くに浸透することが原則的に２〜３ｍｍに限られるのに、人間と動物の組織および器官にはもっと大きな厚さがあるからである。マッハ・ゼンデル干渉計で深さの走査することが、ビルトインされた透過性の遅延線、例えば光ファイバ圧電遅延線を使って実現可能である。単方向性のため、その遅延線は同様の反射性の遅延素子よりもたった５０％光路長さの変化（従って、５０％の深さの走査すること）しかできない。もっとも普及された遅延線はマイケルソン干渉計に使われる遅延線の様な反射遅延線である。しかし、その遅延線の利用はもう一つの光学循環器の加入が要り、その結果、構造はもっと複雑に、そして高価になる。
【００１０】
知られているマッハ・ゼンデル干渉計は例えば、国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレット，米国特許第６４８５４１３号明細書（特許文献９）に説明される少しだけ別の研究方法を実現する。この方法によって、低干渉性光学放射を形成し、その低干渉性光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。上記した第１低干渉性光学放射のビームは単方向性の測定光路の第１部を伝わって、研究する対象へ向けられ、第２低干渉性光学放射のビームは単方向性の支持光路に向けられる。補足の光学システムを使って、研究する対象についてのインフォメーションを持っている低干渉性光学放射を単方向性の測定光路の第２部に伝える。そして、前向きに測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は前向きに支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する。それから、研究する対象についてのインフォメーションを持ち、測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である光学放射の干渉強度変調の信号を利用する。その方法は、その実現する装置と同じように、光学放射線源パワーのもっと高い有効的な利用を確保する。
【００１１】
研究する対象の深部走査することは、第１、第２方法において、そしてその方法を実現する干渉計においても同じように、研究する対象へ向けたおよび支持光路へ向けた低干渉性光学放射のため光路の光学長の差を変化させて実施される。必要に応じて、研究する対象の横方向走査を実施する。
【００１２】
国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットに説明された対象を研究するためのハイブリッド方法も知られている。この方法によると、低干渉性光学放射を形成し、その低干渉性光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。上記した第１低干渉性光学放射のビームは単方向性の測定光路の第１部を伝わって、研究する対象に焦点をあわせ、研究する対象に向けられ、第２低干渉性光学放射のビームは双方向性の支持光路を伝わる。補足の光学システムを使って、研究する対象についてのインフォメーションを持っている低干渉性光学放射を単方向性の測定光路の第２部に伝える。そして、前向きに測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は前向きおよび後ろ向きに支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する。研究する対象についてのインフォメーションを持っている測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である光学放射の干渉強度変調のすくなくとも一つの信号を利用する。
【００１３】
国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットによって上記した方法を実現するハイブリッド光学干渉計が知られている。この干渉計（図３を参照）は光学的に結合された低干渉性光学放射線源、第１の光ビームスプリッター、測定腕と支持腕、第２の光ビームスプリッター、そして少なくとも一つの光受信器を含有する。低干渉性光学放射線源は第１の光ビームスプリッターの第１ポートと光学的に結合される。測定腕は単方向性に作られ、二つの部があり、その一つの部は第１の光ビームスプリッターの第２ポートと結線している。測定腕の第１部は光学システムが含む探針を含有する。光学システムは研究している対象に低干渉性光学放射の第１の光ビームの焦点をあわせることを確保する。測定腕の第２部は補足の光学システムを含む。補足の光学システムは研究する対象についてのインフォメーションを持っている低干渉性光学放射を第２の光ビームスプリッターの第１ポートに届けることを確保する。第１の光ビームスプリッターの第３ポートは第２の光ビームスプリッターの第３ポートと接合される。第１の光ビームスプリッターの第４ポートは双方向性に作られた支持腕と接合して、支持腕の先に対照ミラーが設置される。第２の光ビームスプリッターの第２ポートおよび第４ポートに適当な光受信器が結線される。対照ミラーは研究する対象の深部走査を確保する適当な装置に接合される。
【００１４】
国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットによって知られている対象のハイブリッド研究方法、そしてその方法を実現するハイブリッド光学干渉計の欠陥は、研究する対象についてのインフォメーションを持っている低干渉性光学放射を収集および届けのために補足の光学システムを利用する必要性であることである。研究している対象に低干渉性光学放射の焦点をあわせるように利用される光学システムおよび記載した補足の光学システムは調整されて同時にミクロン精度（研究している対象の表面の上にビームの直径は１５〜３０μ必要である）を守って同じ点へ向けられなければならない。その理由は、一つビーム直径量の偏差でも測定腕の第２部へ届く光パワーの絶対的な損失に導くからである。更に支持腕から光パワーの部分は不可避的に線源に戻り、線源の作動に悪影響をあたえる可能がある。
【特許文献１】米国特許第５３２１５０１号明細書
【特許文献２】米国特許第５３８３４６７号明細書
【特許文献３】米国特許第５４５９５７０号明細書
【特許文献４】米国特許第５５８２１７１号明細書
【特許文献５】米国特許第６１３４００３号明細書
【特許文献６】国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレット
【特許文献７】露国特許第２１００７８７号明細書
【特許文献８】露国特許第２１４８３７８号明細書
【特許文献９】米国特許第６４８５４１３号明細書
【非特許文献１】Ｘ．Ｃｌｉｖａｚ  ｅｔ  ａｌ．  “Ｈｉｇｈ  ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ  ｉｎ  ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌ  ｔｉｓｓｕｅｓ”，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．１７，Ｎｏ．１／Ｊａｎｕａｒｙ  １，１９９２
【非特許文献２】Ｊ．Ａ．Ｉｚａｔｔ，Ｊ．Ｇ．Ｆｕｊｉｍｏｔｏ  ｅｔ  ａｌ，  “Ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ  ｉｎ  ｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ  ｍｅｄｉａ”，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．１９，Ｎｏ．８／Ａｐｒｉｌ  １５，１９９４，ｐ．５９０−５９２
【非特許文献３】Ｊ．Ａ．Ｉｚａｔｔ，Ｊ．Ｇ．Ｆｕｊｉｍｏｔｏ  ｅｔ  ａｌ．  “Ｍｉｃｒｏｎ−ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ  Ｂｉｏｍｅｄｉｃａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ｗｉｔｈ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ”，  Ｏｐｔｉｃｓ  ＆  Ｐｈｏｔｏｎｉｃ  Ｎｅｗｓ，Ｏｃｔｏｂｅｒ  １９９３，Ｖｏｌ．４，Ｎｏ．１０，ｐ．１４−１９
【非特許文献４】Ａ．Ｓｅｒｇｅｅｖ  ｅｔ  ａｌ，“Ｉｎ  ｖｉｖｏ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ  ｏｆ  ｈｕｍａｎ  ｓｋｉｎ  ｍｉｃｒｏｓｔｒｕｃｔｕｒｅ”，Ｐｒｏｃ．ＳＰＩＥ，  ｖ．２３２８，１９９４，ｐ．１４４
【非特許文献５】Ｘ．Ｊ．Ｗａｎｇ  ｅｔ  ａｌ．  Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｈｕｍａｎ  ｓｃａｌｐ  ｈａｉｒｓ  ｂｙ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｌｏｗ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ．  Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．／Ｖｏｌ．２０，Ｎｏ．５，１９９５，рр．５２４−５２６
【非特許文献６】Ｋ．Ｆ．Ｋｗｏｎｇ，  Ｄ．Ｙａｎｋｅｌｅｖｉｃｈ  ｅｔ  ａｌ．  ４００−Ｈｚ  ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  ｓｃａｎｎｉｎｇ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｄｅｌａｙ  ｌｉｎｅ，Ｏｐｔｉｃｓ  Ｌｅｔｔｅｒｓ，Ｖｏｌ．１８，Ｎｏ．７，Ａｐｒｉｌ  １，１９９３
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
提案する発明は最適の信号対雑音比が確保され、光学放射線源パワーの利用の高い有効性を確保する低干渉性光学放射を使って対象を研究するために利用される方法および光学干渉計の列挙を増やすことを目的とする。少なくとも、従来の技術から知られている最良の類似のものの動作特性に負けない動作特性のある方法および光学干渉計の変型の創造を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
対象の研究方法の開発された第１の変型は国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットから知られているハイブリッド研究方法と同じように以下に述べる。この方法によって、低干渉性光学放射を形成し、その低干渉性光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。第１低干渉性光学放射のビームは測定光路を伝わって研究する対象に向けられ、第２低干渉性光学放射のビームは支持光路を伝わる。そして、測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する。研究する対象についてのインフォメーションを持っている測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である光学放射の干渉強度変調のすくなくとも一つの信号を利用する。
【００１７】
知られている方法と違って、発明に従って第１低干渉性光学放射のビームは前向きおよび後ろ向きに双方向性で作った測定光路を伝わって通過し、第２低干渉性光学放射のビームは前向きに単方向性で作った支持光路を伝わって通過する。
【００１８】
具体的な場合に研究している対象へ向けたおよび対照光路へ向けた低干渉性光学放射のため光路の光学長の差を変化させて、研究している対象の深部走査を実施する。
【００１９】
その場合の具体的な実施例において研究している対象へ向けたおよび対照光路へ向けた低干渉性光学放射光路の光学長の差を少なくとも低干渉性光学放射の動作波長の数十倍ほど変化させる。別の具体的な場合に上記の光学放射の伝播方向に対してほとんど直交である表面に研究している対象へ向けた低干渉性光学放射に対して指定法則で走査を実施する。
【００２０】
別の具体的な場合に生きた有機体の生物組織が研究している対象である。
【００２１】
その具体的な場合の具体的な実施例において生きた有機体の内臓器官が研究している対象である。
【００２２】
具体的な実施例において上記した低干渉性光学放射として、見える或いは近い波長の周波数の赤外線光学放射を利用する。
【００２３】
対象を研究方法の開発された第２の変型は国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットから知られているハイブリッド研究方法と同じように以下に述べる。この方法によって、低干渉性光学放射を形成し、その低干渉性光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。第１低干渉性光学放射のビームは測定光路を伝わって、第２低干渉性光学放射のビームは支持光路を伝わる。そして、測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する。研究する対象についてのインフォメーションを持っている測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である光学放射の干渉強度変調のすくなくとも一つの信号を利用する。
【００２４】
知られている方法と違って、発明に従って支持光路はループ状に作って、第１低干渉性光学放射のビームを第３低干渉性光学放射のビームおよび第４低干渉性光学放射のビームに分ける。上記した第３低干渉性光学放射のビームは研究している対象に向けられ、上記した第４低干渉性光学放射のビームは時計回りに対照光路を伝わって、上記した第２低干渉性光学放射のビームは反時計回りに対照光路を伝わる。しかも、第３低干渉性光学放射のビームは前向きおよび後ろ向きに双方向性で作った測定光路を伝わって通過する。研究している対象から戻ってきた低干渉性光学放射は反時計回りに支持光路を通過した第２低干渉性光学放射のビームと混合し、上記の混合の結果である光学放射の部分は時計回りに支持光路を通過した第４低干渉性光学放射のビームと混合する。
【００２５】
開発された光学干渉計の第１の変型は国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットから知られているハイブリッド光学干渉計と同じように光学的に結合された低干渉性光学放射線源、第１の光ビームスプリッター、測定腕と支持腕、第２の光ビームスプリッター、そして第２の光ビームスプリッターの適当なポートに結線した少なくとも一つの光受信器を含有する。
【００２６】
知られているハイブリッド光学干渉計と違って、発明に従って測定腕は双方向性で作り、支持腕は単方向性で作った。
【００２７】
具体的な場合に光学干渉計のすくなくとも一つの腕は光学遅延線を含有する。
【００２８】
別の具体的な場合に光学干渉計のすくなくとも一つの腕は位相変調器を含有する。
【００２９】
別の具体的な場合に光学干渉計の測定腕はその離れた先に設置された探針を有する。
【００３０】
別の具体的な場合に探針を含める干渉計のすくなくとも測定腕の部分は光ファイバで作られる。
【００３１】
別の具体的な場合に光学干渉計のすくなくとも一つの腕は光ファイバで作られる。
【００３２】
別の具体的な場合にすくなくとも一つの光ビームスプリッターは光ファイバで作られる。
【００３３】
別の具体的な場合に探針は着脱式で作り、光学干渉計の別の部分とコネクタを使って接合した。
【００３４】
別の具体的な場合に第１の光ビームスプリッターはノンレシプロカルに作った。
【００３５】
別の具体的な場合に第１の光ビームスプリッターは偏光感度性で作られ、測定腕に偏光スイッチが加入された。
【００３６】
開発された光学干渉計の第２の変型は国際公開第ＷＯ００／１６０３４号パンフレットに説明したハイブリッド光学干渉計と同じように光学的に結合された低干渉性光学放射線源、第１の光ビームスプリッター、測定腕と支持腕、第２の光ビームスプリッター、少なくとも光受信器を含有する。
【００３７】
知られているハイブリッド光学干渉計と違って、発明に従って測定腕は双方向性で作り、支持腕はループ状である。しかも、第１の光ビームスプリッターは第２の光ビームスプリッターのポートを通じ、研究している対象と光学的に結合され、そして少なくとも一つの光ビームスプリッターは適当な光受信器と結線した。
【００３８】
具体的な場合に光学干渉計のすくなくとも一つの腕は光学遅延線を含有する。
【００３９】
別の具体的な場合に光学干渉計の測定腕はその離れた先に設置された探針を有する。
【００４０】
別の具体的な場合に光学干渉計のすくなくとも一つの腕は光ファイバで作られる。
【００４１】
別の具体的な場合に探針は着脱式で作り、光学干渉計の別の部分とコネクタを使って接合した。
【００４２】
別の具体的な場合に第１の光ビームスプリッターはノンレシプロカルに作った。
【００４３】
別の具体的な場合に第１の光ビームスプリッターは偏光感度性で作られ、測定腕に偏光スイッチが加入された。
【００４４】
対象の開発した研究方法の変型およびその方法を実現するハイブリッド光学干渉計は研究している対象に向ける低干渉性光学放射のために双方向性光路の実行、支持低干渉性光学放射のために単方向性光路の実行を規定する。第１の変型において、それは分裂係数および光学放射混合係数の絶対的な独立を確保し、それによって光学放射線源パワーの最適制御を実現できる。第２の変型において、支持光路はループ状に作って、しかも、支持放射の部分は時計回りに支持光路を通過し、別の支持放射の部分は反時計回りに支持光路を通過する。この変型において、分裂係数は光ビームスプリッターをノンレシプロカルに、あるいは偏光依存性に作り、そして光ビームスプリッターの間および／あるいは測定腕と支持腕に光学放射の偏光を変化させる素子を加入して最適化できる。提案した対象の研究方法の変型およびその方法を実現するハイブリッド光学干渉計に分裂係数および光学放射混合係数は光学放射線源の指定したパワーを持ち、最良の信号対雑音比を確保するように取り決めることが出来る。
【００４５】
従って、提案した技術的ソリュションは最適の信号対雑音比を持って、光学放射線源パワーの利用の高い有効性を確保する。そして、その動作特性は少なくとも従来の技術から知られている低干渉性光学放射および光学干渉計を使って対象を研究する最良の方法の動作特性に負けない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４６】
本発明の本質を以下の発明の実施例の変型において図解する。
【００４７】
開発した研究方法の変型およびその方法を実現する光学干渉計の変型は光学低干渉性トモグラフィー装置の成分となる光ファイバ干渉計の例によって図解される。けれども、その変型は集中したパラメーター光学素子を利用して実現できることは明らかである。このような実現は医療用、特に内診鏡検査法に利用するのに適している。内視鏡検査法に利用する時に光ファイバの伸縮性は内視鏡検査法を使って内臓を含め、様々な組織および器官に便利なアクセスを確保する。けれども、光学干渉計は全体として、または、その一部分としては恒例的な集中したパラメーターの光学素子を使って作る可能である。ミラー、プリズム、等々。その任意の光学干渉計の単方向性の支持腕および双方向性の測定腕の作りは本発明に含まれる。
【００４８】
光学干渉計の第１変型の作動は以下に述べた対象を研究する方法の第１変型の実施例から明らかになる。
【００４９】
構成上の図が図４に示された光学干渉計を利用して対象を研究する方法は以下のように実現する。
【００５０】
具体的な実施例において線源１を使って、見える或いは近い波長の周波数の赤外線低干渉性光学放射を形成する。
【００５１】
線源１は見える或いは近い波長の周波数の赤外線低干渉性光学放射線源である。線源１として、例えば半導体スーパールミネセンス・ダイオード、スーパールミネッセント自発放射レーザー、固体および光ファイバーフェムト秒レーザーを利用することが可能である。図４の具体的な実施例において線源１は光学的に第１の光ビームスプリッター（２）の第１ポート（６）と結合されている。第１の光ビームスプリッター（２）を使って、この光学放射を第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分ける。第１低干渉性光学放射のビームは研究する対象（８）に向けられる。具体的な実施例において研究する対象は光学的に第１の光ビームスプリッター（２）の第２ポート（７）と結合されている。上記した第１低干渉性光学放射のビームは具体的な実施例において第１の光ビームスプリッター（２）の第２ポート（７）と結線した測定腕（３）を使って、測定光路を伝わって、研究する対象（８）へ向けられる。研究する対象（８）に便利なアクセスを確保するために測定腕（３）の離れた先に探針（１９）を配置することが可能である。
【００５２】
対象の研究方法の優先的実現の変型において探針（１９）は着脱式で作り、測定腕（３）の別の部分と光ファイバコネクタを使って接合した。もし光学干渉計が偏光保持型ファイバを使って作られる場合、コネクタも偏光保持型に作らなければならない。探針（１９）は従来の技術から知られている任意の構成が可能である。例えば、内視鏡、内視鏡探針、カテーテル、導体カテーテル、針が挙げられ、あるいは内臓に対する瞬間的なアクセスを確保するため身体に移植することが可能である。もし探針（１９）が周辺のイメージ（例えば、血管の内部）を写像するために構成されるならば、探針は干渉計の別の部分と回転コネクタを使って接合することが可能である。
【００５３】
測定腕（３）で形成した測定光路は双方向性で作られる。それゆえ、第１低干渉性光学放射のビームは測定光路を伝わって前向きに光ビームスプリッター（２）の第２ポート（７）から光学遅延線（１７）を通じ、研究する対象（８）へ届く。少なくとも、第１低干渉性光学放射のビームの一部は研究する対象（８）から反射して、測定光路を伝わって後ろ向きに光学遅延線（１７）を通じ、光ビームスプリッター（２）の第２ポートへ届く。測定光路を伝わって通過した、研究する対象（８）についてのインフォメーションを持っている低干渉性光学放射は光ビームスプリッター（２）の第３ポート（９）から光ビームスプリッター（２）と光学的に結合された光ビームスプリッター（５）の第３ポート（１０）へ届く。
【００５４】
第２低干渉性光学放射のビームは光ビームスプリッター（２）と光学的に結合された支持腕（４）を使って、支持光路を伝わる。具体的な実施例において支持腕（４）の一つの先は光ビームスプリッター（２）の第４ポート（１５）と結線し、その他方の先は光ビームスプリッター（５）の第１ポート（１６）と結線する。支持腕（４）で形成した支持光路は単方向性で作られる。それゆえ、第２低干渉性光学放射のビームは支持光路を伝わって前向きに光ビームスプリッター（２）の第４ポート（１５）から光学遅延線（１８）を通じ、光ビームスプリッター（５）の第１ポート（１６）へ届く。光学遅延線（１７、１８）は一定速度（Ｖ）で測定腕（３）および支持腕（４）の光学長の差を変化させる。つまり、研究する対象（８）の深部走査を行う。
【００５５】
図４で示した好ましい実施例において光学遅延線（１７、１８）は露国特許第２１００７８７号明細書によるような、同じ様なビルトインされた光ファイバ遅延線の形で作り、効果を合算するため、制御装置（図示せず）を使って、適切な偏光を守って、同時に始動させる。けれども、従来の技術から知られている光学長の変化させるための任意の手段を利用することが可能である。例えば、ミラー、プリズム移動に基づいている遅延線、回折遅延線、回転ミラー、回転プリズム、カムシャフト機械およびヘリコイドミラーが挙げられる。
【００５６】
それから測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射は光ビームスプリッター（５）を使って支持光路を伝わって通過した低干渉性光学放射と混合する。光学遅延線（１７、１８）によって測定腕（３）および支持腕（４）の光学長の差が変化する時、光ビームスプリッター（５）の第２ポート（１１）と第４ポート（１２）にドップラー周波数（ｆ＝ν／λ）で混合光学放射の干渉強度変調が行われる。
ν＝ｄΔ／ｄｔ，
ν−光学長の差（Δ）の速度
λ−線源（１）の中央の波長
【００５７】
それに干渉変調の法則は研究している対象（８）の様々な深さから反射したあるいは逆分散した光学放射の強度の変化に対応する。それから、研究する対象についてのインフォメーションを持っている測定光路を伝わって通過した低干渉性光学放射の強度を写像する。そのために、上記の混合の結果である光学放射の干渉強度変調のすくなくとも一つの信号（具体的な実施例において二つの信号）を利用する。それは以下のように実行する。
【００５８】
光受信器（１３、１４）は対応する光ビームスプリッター（５）の第２ポート（１１）と第４ポート（１２）に結線した。光受信器（１３、１４）として光ダイオードを使うことが可能である。光受信器（７、８）は二つの干渉信号の逆位相可変成分を受信する。上記した干渉信号の逆位相可変成分は適当に支持腕（３）および測定腕（４）からのドップラー周波数で偏移した放射（一定速度で深部走査するによって）の混合によって形成される。光受信器（１３、１４）は光ビームスプリッター（５）の第２ポート（１１）と第４ポート（１２）からの混合光学放射を電気信号に変換することを確保する。この電気信号は差動増幅器（図示せず）、それから処理と表示ブロック（図示せず）に届く。処理と表示ブロックは露国特許第２１４８３７８号明細書に説明される直列接続した帯域フィルタ、対数増幅器、振幅検波器、アナログデジタル変換器とコンピュータを含む処理と表示ブロックと同じように作ることが可能である。処理と表示ブロックの帯域フィルタはドップラー周波数で信号選択を行う。それは信号対雑音比の改良を確保する。増幅の後、信号はこの信号の包絡線に比例する信号を選択する振幅検波器に届く。処理と表示ブロックの振幅検波器で選択した信号は混合光学放射の干渉強度変調の信号に比例する。処理と表示ブロックのアナログデジタル変換器は振幅検波器の出力からの信号をデジタル形式に変換する。処理と表示ブロックのコンピュータはディスプレーでデジタル信号の強度のイメージが示すように確保する。（上述したイメージングは例えば、「Ｈ．Ｅ．Ｂｕｒｄｉｃｋ．  Ｄｉｇｉｔａｌ  ｉｍａｇｉｎｇ：  Ｔｈｅｏｒｙ  ａｎｄ  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ，３０４ｐｐ．，ＭｃＧｒａｗＨｉｌｌ，１９９７」という本によって実現することが可能である。）なぜならヂジタル信号は研究している対象（８）の様々な深さからの反射したあるいは逆分散した光学放射の強度の変化に対応するので、ディスプレーでのイメージは研究している対象（８）のイメージに対応する。
【００５９】
光学干渉計の第２の変型の作動は以下に述べた対象の研究方法の第２の変型の実現の説明から明らかになる。
【００６０】
構成上の図が図５に示された光学干渉計を利用して対象を研究する方法は以下のように実現する。
【００６１】
線源（２０）によって具体的な実施例において見える或いは近い波長の周波数の赤外線光学放射を形成する。線源（２０）は図４に示された装置と同じように作ることが可能である。図５に示された具体的な実施例において線源（２０）は、光学的に第１の光ビームスプリッター（２１）の第１ポート（２５）と結合される。その低干渉性光学放射は光ビームスプリッター（２１）によって第１低干渉性光学放射のビームおよび第２低干渉性光学放射のビームに分けられる。光ビームスプリッター（２１）の第２ポート（２６）は第２光ビームスプリッター（２４）の第１ポート（２８）と第２ポート（２９）を通じて研究している対象（２７）と光学的に結合される。第１低干渉性光学放射のビームは光ビームスプリッター（２４）の第１ポート（２８）に届く。光ビームスプリッター（２４）によって第１低干渉性光学放射のビームは第３低干渉性光学放射のビームおよび第４低干渉性光学放射のビームに分けられる。上記した第３低干渉性光学放射のビームは測定腕（２２）を使って、測定光路を伝わって、研究している対象（２７）に向けられる。研究する対象（２７）に便利なアクセスを確保するために測定腕（２２）の離れた先に探針（３８）を配置することが可能である。測定光路は測定腕（２２）で形成して双方向性に作った。第３低干渉性光学放射のビームは測定光路を伝わって前向きに光ビームスプリッター（２４）の第２ポート（２９）から光学遅延線（３６）を通じ、研究する対象（２７）へ届く。少なくとも、第３低干渉性光学放射のビームの一部は研究する対象（２７）から反射して、測定光路を伝わって後ろ向きに光学遅延線（３６）を通じ、光ビームスプリッター（２４）の第２ポート（２９）へ届く。
【００６２】
支持光路は支持腕（２３）で形成し、ループ状に作った。上記した第４低干渉性光学放射のビームは支持腕（２３）によって支持光路を伝わって時計回りに光ビームスプリッター（２４）の第４ポート（３１）から光学遅延線（３７）を通じ、光ビームスプリッター（２１）の第４ポート（３０）へ届く。上記した第２低干渉性光学放射のビームは支持腕（２３）によって支持光路を伝わって反時計回りに光ビームスプリッター（２１）の第４ポート（３０）から光学遅延線（３７）を通じ、光ビームスプリッター（２４）の第４ポート（３１）へ届く。研究する対象（２７）から戻ってきた低干渉性光学放射は、光ビームスプリッター（２４）によって反時計回りに支持光路を通過した第２低干渉性光学放射のビームと混合する。上記した混合の結果である光学放射の部分は光ビームスプリッター（２４）の第１ポート（２８）を通じ、光ビームスプリッター（２１）の第２ポート（２６）へ届く。その光学放射は光ビームスプリッター（２１）によって時計回りに支持光路を通過した第４低干渉性光学放射のビームと混合する。光学遅延線（３６、３７）は一定速度（ν）で光学干渉計の測定腕（２２）および支持腕（２３）の光学長の差を変化させる。つまり、研究する対象（２７）の深部走査を行う。測定腕（２２）および支持腕（２３）の光学長の差が変化する時、光ビームスプリッター（２１）の第３ポート（３２）と光ビームスプリッター（２４）の第３ポート（３４）にドップラー周波数（ｆ＝ν／λ）で混合光学放射の干渉強度変調が行われる。
【００６３】
図５での光学干渉計の今後の作動は図４での光学干渉計の作動と同様である。
【００６４】
図５での光学干渉計の線源（２０）、光受信器（３３，３５）、光学遅延線（３６、３７）、探針（３８）は図４での光学干渉計の適切な素子と同じように作ることが可能である。
【００６５】
対象の第１と第２の研究方法の好ましい実現の変型において探針（１９、３８）は着脱式で作り、相応的に測定腕（３、２２）の別の部分と光ファイバコネクタを使って接合した。もしハイブリッド光学干渉計が偏光保持型ファイバを使って作られた場合、コネクタも偏光保持型に作らなければならない。探針（１９、３８）は従来の技術から知られている任意の構成が可能である。例えば、内視鏡、内視鏡探針、カテーテル、導体カテーテル、針が挙げられ、あるいは内臓に対する瞬間的なアクセスを確保するため身体に移植することが可能である。もし探針（１９、３８）が周辺のイメージ（例えば、血管の内部のイメージを写像するためカテーテル）を写像するために構成されるならば、探針は干渉計の別の部分と回転コネクタを使って接合することが可能である。
【００６６】
探針（１９、３８）は横方向走査システムを含むことが可能である。横方向走査システムは例えば、露国特許第２１４８３７８号明細書で説明される装置と同じように作ることが可能である。
【００６７】
一定速度での深部走査は、第１変型の方法を実現するハイブリッド光学干渉計においても、第２変型の方法を実現するハイブリッド光学干渉計においても、任意の腕に加入された一つの遅延線によって実行することが可能である。けれども、光学遅延線は大部分の量の光ファイバを含む光ファイバ遅延線の形で作ることが好ましい。別の腕は同じような長さの光路を有するべきで、従って同様の量の光ファイバを有するべきである。それゆえ、図４と図５での好ましい変型において遅延線は、光路の長さの変化がもっと有効であるように支持腕にも、測定腕にも加入される。深部走査は位相変調によっても実行可能である。その場合には位相変調器を任意の腕、あるいは両方ともの腕（図で示さない）に配置することが可能である。
【００６８】
よく知られているのは静的および動的の偏光のひずみは信号のフェーディングを起こさせ、光学干渉計の任意の腕に起こる可能性がある。その効果は提案したハイブリッド光学干渉計の変型を含み、任意の知られている配図の光学干渉計に起こる可能性がある。その効果の予防、あるいは補整するため、様々な知られている手段を利用することが可能である。その手段に関するのは偏光保持型（複屈折がある）あるいは偏光保存型（不必要な偏光の高吸収性がある）光ファイバ、ノンレシプロカル素子（ファラデー素子、ファラデー効果に基づいた偏光回転機）、偏光感度受信器である。更に、偏光状態の変化を用いることが可能である。そして、幾つかの順次に出来たイメージから偏光についてのインフォメーションを受け取るようにすることが可能である。その全ての手段は従来の技術から知られている、以前に説明した他の図式のように新しいハイブリッド光学干渉計の図式と適合する。尚、任意の必要な偏光状態の保存、あるいは除去のために任意の腕に偏光コントローラおよび偏光器を加入可能である。
【００６９】
従来の技術からよく知られているように、最良の信号対雑音比を確保するためには、測定腕と支持腕の間に放射線源のパワーの不等分配が必要とされる。提案した対象の研究する方法の変型および、それを実現する光学干渉計の変型はマッハ・ゼンデル光学干渉計のように、分裂係数および混合係数が絶対的に独立であるので、パワーの最適な制御を実行できる。そのために、例えば、図４での光学干渉計には光ビームスプリッター（２）はノンレシプロカルであるべきで、あるいは光ビームスプリッター（２）を偏光依存性で作り、測定腕（３）に偏光を変化させる素子、例えば、ファラデー回転機、あるいは複屈折の平たい平行した平板、あるいは偏光コントローラ（図４に示さず）を加入すべきである。この場合に、必要な三つ全ての分裂係数［光ビームスプリッター（２）の前向きに、光ビームスプリッター（２）の後ろ向きに、そして光ビームスプリッター（５）の］は最適化可能である。最適化は線源（１）、中央波長、帯域幅、様々な素子の光学損失、光受信器（１３，１４）の有効性および暗いノイズのレベル、予増幅器の光電流の電流ノイズおよび潜在的のノイズ、データ収集の速度、その他を考慮することによって実現することが可能である。その計算はかなり標準的である。８００〜１３００ナノメートル（中央波長）および１０〜１５μｍ干渉性長がある分光範囲の数ミリワットの電力の低干渉性光学放射線源を利用する光学干渉計の代表的な図式にとって、光ビームスプリッター（２）が前向きに通過する場合、パワーの９５％を測定腕（３）に伝えるべきである。どんな場合にも支持放射と混合するために、出来る限り大きなパワーが測定腕（３）から光ビームスプリッター（２）へ伝えられるべきである。指摘すべきことは光ビームスプリッター（２）の任意の分裂係数に対して、線源（１）へ反射した光パワーは実際にゼロであり、なぜなら生物対象から反射したパワーレベルはめったに０．１％を超えないからであるということである。最適の一致の場合、一寸したパワーは線源（１）へ戻らない。
【００７０】
図５に対応する光学干渉計の配図に対して、分裂係数はほとんど同じような方法で、光ビームスプリッター（２１、２４）をノンレシプロカルあるいは偏光依存性で作り、光ビームスプリッター（２１）と光ビームスプリッター（２４）の間に、および／あるいは測定腕（２２）と支持腕（２３）に、偏光を変化させる素子を加入によって、最適化可能である。
【００７１】
両方の変型において、探針および測定する対象の間の距離の補整のために、あるいは探針―測定する対象の光学遅延の変化の補整のために、補足の遅延線の加入が便利であり得る。探針―測定する対象の光学遅延線の変化は、望遠焦点、あるいは様々な探針の光学長の相違によって起こる可能性がある。その補足の遅延は指定した長さの光ファイバを任意の腕に加入することによって確保することが可能である。上記した光ファイバの加入は例えば、機械的接合を使って、あるいは溶解接合を使って、その他の光ファイバ接合を使って実行することが可能である。尚、遅延はコリメーテッド放射が通過する隙間の機械的調整を使い、放射をスペースに、そして逆にファイバに向けることによって作ることが可能である。尚、その目的のために、マイケルソン干渉計に恒例的に利用する遅延線のような機械的遅延線を利用することが可能である。遅延線はファラデー回転機と結合した偏光器の形で作ることが可能である光学循環器あるいは４分の１λ複屈折平板と結合する。その構成は腕に偏光の変化が必要である時に有利である。反射する機械的遅延線は逆リフレクター（「猫目」あるいは逆リフレクターのプリズム）の利用によって、機械的な偏差あるいは振動に対して、著しく縮小した感度性（二桁のオーダー）を有するように作ることが可能である。従って、光学機械的システムでの隙間の調整することの技術的要求及び実行コストを減らすことが可能である。
【００７２】
よく知られているのは低干渉性光学干渉計においては、両方の腕の光学長の平等だけではなく、波の分散の平等も必要であるということである。なぜなら、支持腕および測定腕の波の分散の任意の相違は干渉性のクロス相互関係の機能の拡大、そして軸分解能（深部分解能）の減少を導くからである。支持腕および測定腕の波の分散の相違を補整するために、干渉計の上記した腕に光ファイバの素子を加入することが可能である。上記した光ファイバの素子は機械的接合、あるいは溶接、あるいは光ファイバ接合を使って、腕のその他の部分と結合される。その素子は干渉計に利用するその他の光ファイバの分散特性と違う分散特性がある光ファイバの一切れで作ることが可能である。更に、任意の腕からの放射をスペースに送り、それから逆に光ファイバに送ることが可能である。コリメーション（好ましくは）あるいは放射の焦点をあわせること／焦点の転位が行われる隙間に、分散を補整するための適当な集中したパラメーターのある光学素子を配置可能である。このような素子は上記した単方向性、あるいは双方向性の機械的光学遅延線と合わせることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００７３】
本発明は光学装置の対象となる内部構造の研究、すなわち低干渉性反射計および光学干渉性トモグラフィー装置に利用できる。上記の低干渉性反射計および光学干渉性トモグラフィー装置は特に人間内臓器官医療診断、そのうち「ＩＮ  ＶＩＶＯ」における人間身体器官の診断、産業技術診断、例えば技術的な工程の制御のために利用できる。指摘しておかなければならないのは本発明が標準的な手段によって実施できるということである。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】従来の技術から知られているマイケルソン光学干渉計の構成上の図である。
【図２】従来の技術から知られているマッハ・ゼンデル光学干渉計の構成上の図である。
【図３】従来の技術から知られているハイブリッド光学干渉計の構成上の図である。
【図４】光学干渉計の構成上の図の変型である。その変型によって開発した方法の第１の変型が実現できる。
【図５】光学干渉計の構成上の図の変型である。その変型によって開発した方法の第２の変型が実現できる。
【符号の説明】
【００７５】
１，２０  線源
２  第１の光ビームスプリッター
３，２２  測定腕
４，２３  支持腕
５，２１，２４  光ビームスプリッター
６，１６，２５，２８  第１ポート
７，１１，２６，２９  第２ポート
８，２７  対象
９，１０，３２，３４  第３ポート
１２，１５，３０，３１  第４ポート
１３，１４，３３，３５  光受信器
１７，１８，３６，３７  光学遅延線
１９，３８  探針
【図１】
0004472991.tif 000002
【図２】
0004472991.tif 000003
【図３】
0004472991.tif 000004
【図４】
0004472991.tif 000005
【図５】
0004472991.tif 000006