(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価対象の記録型の情報媒体に記録データを記録する記録処理と、前記情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体から前記記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、
前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける情報媒体評価方法。
【請求項２】
評価対象の記録型の情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体に記録データを記録する記録処理と、前記情報媒体から前記記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、
前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける情報媒体評価方法。
【請求項３】
評価対象の再生専用型の情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体から記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、
前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける情報媒体評価方法。
【請求項４】
前記周方向の一部として当該周方向に沿った長さが５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の処理対象領域に前記処理用部材を擦り付ける請求項１から３のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項５】
前記情報媒体の１周当り１箇所の前記処理対象領域に前記処理用部材を擦り付ける請求項４記載の情報媒体評価方法。
【請求項６】
前記擦り付け処理時において前記情報媒体および前記処理用部材の少なくとも一方を当該情報媒体の径方向に沿って往復動させて前記データ記録面に当該処理用部材を擦り付ける請求項１から５のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項７】
前記擦り付け処理時において前記情報媒体および前記処理用部材の少なくとも一方を当該情報媒体におけるデータ記録トラックの接線方向に沿って往復動させて前記データ記録面に当該処理用部材を擦り付ける請求項１から５のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項８】
前記情報媒体および前記処理用部材の間の相対的な移動の速さが３０ｍｍの距離を１秒以上２秒以下の範囲内で１往復する速さとなるように当該少なくとも一方を往復動させる請求項６または７記載の情報媒体評価方法。
【請求項９】
前記擦り付け処理時において前記少なくとも一方を３回以上１０回以下の範囲内で往復動させる請求項６から８のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項１０】
前記擦り付け処理時において前記情報媒体に対して前記処理用部材を下方側から擦り付ける請求項１から９のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項１１】
粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の複数の粒体を有する乾式研磨部材を前記処理用部材として使用する請求項１から１０のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項１２】
前記粒体としてＡｌ２Ｏ３を使用する請求項１１記載の情報媒体評価方法。
【請求項１３】
前記擦り付け処理時において前記乾式研磨部材としてのテープ状研磨部材を使用すると共に予め規定した速度で当該テープ状研磨部材をテープ送りする請求項１１または１２記載の情報媒体評価方法。
【請求項１４】
直径が４０ｍｍ以上６０ｍｍ以下の範囲内のローラによって前記乾式研磨部材を前記データ記録面に押し付ける請求項１１から１３のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項１５】
前記乾式研磨部材を前記データ記録面に押し付ける向きで前記ローラに対して１．０Ｎ以上３０．０Ｎ以下の範囲内の押圧力を加える請求項１４記載の情報媒体評価方法。
【請求項１６】
前記評価処理時において、前記読み出し結果としてのエラーレートと、当該エラーレートに基づく評価処理用の前記評価用基準データとに基づいて前記情報媒体を評価する請求項１から１５のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【請求項１７】
前記記録データの記録部を覆うようにして形成された光透過性樹脂の層によって前記データ記録面が構成された光ディスクを前記情報媒体として評価する請求項１から１６のいずれかに記載の情報媒体評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付けた後に記録データを読み出して、その読み出し結果に基づいて情報媒体を評価する情報媒体評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の情報媒体評価方法として、出願人は、特開２００２−２６０２８０号公報において、光ディスクのデータ記録面（記録再生用のレーザービームの入射面）を故意に傷付けてその特性を評価する光情報媒体（光ディスク）の評価方法を開示している。この評価方法では、評価対象の光ディスクを記録再生装置（光ディスクドライブ）に装填して記録データを再生する（記録データを読み出す）ことにより、再生信号についてのＢＥＲ（Bit Error Rate）を測定する。次いで、ＩＳＯ９３５２によって規定された摩耗試験（テーバー摩耗試験）に従い、光ディスクのデータ記録面に摩耗輪（車輪状の研削砥石）を擦り付ける摩耗処理を実行する。
【０００３】
具体的には、まず、データ記録面を上向きにして評価対象の光ディスクを摩擦試験機におけるターンテーブルの上に載置する。次いで、ターンテーブル上の光ディスクに摩耗輪を押し付けながらターンテーブルを回転させる。この際に、ターンテーブルの回転に伴って光ディスクが回転することにより、光ディスクのデータ記録面における環状の領域（各データ記録トラックと同心円上の領域）が摩耗輪との擦れに起因して傷付けられる。続いて、摩耗処理を完了した光ディスクを記録再生装置に装填して記録データを再生する（記録データを読み出す）ことにより、再生信号についてのＢＥＲを測定する。この後、摩耗処理の前後において測定した両ＢＥＲを比較することにより、例えば、変化量が大きい光ディスクについては、傷付き易い光ディスク、または、傷付きに起因して記録データの読み出しが困難な光ディスクと評価し、変化量が小さい光ディスクについては、傷付き難い光ディスク、または、傷付きが生じたとしても記録データの読み出しが可能な光ディスクと評価する。以上により、光情報媒体についての評価処理を完了する。
【特許文献１】特開２００２−２６０２８０号公報（第５−１３頁、第１−９図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、出願人が開示している評価方法には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、出願人が開示している評価方法では、評価対象の光ディスクにおけるデータ記録面に摩耗輪を押し付けながら光ディスクを回転させることで、データ記録面における環状の領域を光ディスクの１周に亘って傷付けている。この場合、この種の光ディスクの傷付き要因としては、例えば、収容ケース等から取り出して搬送する際に手を滑らせて指先や爪等が接触することでデータ記録面において線的に傷付けられるケースが挙げられる。また、記録データの読み出し中において記録再生装置に大きな衝撃が加わるなどして記録再生装置のピックアップ等が光ディスクに接触することでデータ記録面が傷付けられるケースもある。しかし、いずれのケースにおいても、光ディスクの１周に相当する長い距離に亘ってデータ記録面が傷付けられることはなく、多くの場合、データ記録トラックを横切るようにして、幅数ｍｍから数十ｍｍ程度の範囲内で傷付いている。
【０００５】
一方、出願人が開示している評価方法では、前述したように、光ディスクの１周に亘って摩耗輪を擦り付けてデータ記録面を傷付けているため、通常の使用状態において生じる程度の傷付きでは何ら問題なく記録データの記録再生が行える光ディスクであっても正常なトラッキングが困難となるおそれがある。したがって、出願人が開示している評価方法では、通常の使用状態において問題なく使用できる光ディスクを傷付き易い光ディスク、または、傷付きに起因して記録データの読み出しが困難な光ディスクと評価するおそれがあり、この点を改善するのが好ましい。
【０００６】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、通常の使用状態に即した条件で情報媒体の良否を評価し得る情報媒体評価方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成すべく、本発明に係る情報媒体評価方法は、評価対象の記録型の情報媒体に記録データを記録する記録処理と、前記情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体から前記記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける。
【０００８】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、評価対象の記録型の情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体に記録データを記録する記録処理と、前記情報媒体から前記記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける。
【０００９】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、評価対象の再生専用型の情報媒体におけるデータ記録面に処理用部材を擦り付ける擦り付け処理と、前記情報媒体から記録データを読み出す読み出し処理と、当該読み出し処理による読み出し結果および評価用基準データに基づいて当該情報媒体を評価する評価処理とをこの順で実行する情報媒体評価方法であって、前記擦り付け処理時において、前記情報媒体における周方向の一部のみに前記処理用部材を擦り付ける。
【００１０】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記周方向の一部として当該周方向に沿った長さが５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の処理対象領域に前記処理用部材を擦り付ける。
【００１１】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記情報媒体の１周当り１箇所の前記処理対象領域に前記処理用部材を擦り付ける。
【００１２】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記擦り付け処理時において前記情報媒体および前記処理用部材の少なくとも一方を当該情報媒体の径方向に沿って往復動させて前記データ記録面に当該処理用部材を擦り付ける。
【００１３】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記擦り付け処理時において前記情報媒体および前記処理用部材の少なくとも一方を当該情報媒体におけるデータ記録トラックの接線方向に沿って往復動させて前記データ記録面に当該処理用部材を擦り付ける。
【００１４】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記情報媒体および前記処理用部材の間の相対的な移動の速さが３０ｍｍの距離を１秒以上２秒以下の範囲内で１往復する速さとなるように当該少なくとも一方を往復動させる。
【００１５】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記擦り付け処理時において前記少なくとも一方を３回以上１０回以下の範囲内で往復動させる。
【００１６】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記擦り付け処理時において前記情報媒体に対して前記処理用部材を下方側から擦り付ける。
【００１７】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の複数の粒体を有する乾式研磨部材を前記処理用部材として使用する。
【００１８】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記粒体としてＡｌ２Ｏ３を使用する。
【００１９】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記擦り付け処理時において前記乾式研磨部材としてのテープ状研磨部材を使用すると共に予め規定した速度で当該テープ状研磨部材をテープ送りする。
【００２０】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、直径が４０ｍｍ以上６０ｍｍ以下の範囲内のローラによって前記乾式研磨部材を前記データ記録面に押し付ける。
【００２１】
また、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記乾式研磨部材を前記データ記録面に押し付ける向きで前記ローラに対して１．０Ｎ以上３０．０Ｎ以下の範囲内の押圧力を加える。
【００２２】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記評価処理時において、前記読み出し結果としてのエラーレートと、当該エラーレートに基づく評価処理用の前記評価用基準データとに基づいて前記情報媒体を評価する。
【００２３】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法は、前記記録データの記録部を覆うようにして形成された光透過性樹脂の層によって前記データ記録面が構成された光ディスクを前記情報媒体として評価する。
【発明の効果】
【００２４】
本発明に係る情報媒体評価方法によれば、記録型の情報媒体を評価対象として、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、情報媒体における周方向の一部のみに処理用部材を擦り付けることにより、評価対象の情報媒体に対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の記録型の情報媒体が傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの読み出し特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【００２５】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、記録型の情報媒体を評価対象として、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、情報媒体における周方向の一部のみに処理用部材を擦り付けることにより、評価対象の記録型の情報媒体に対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の情報媒体が傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの記録特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【００２６】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、再生専用型の情報媒体を評価対象として、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、情報媒体における周方向の一部のみに処理用部材を擦り付けることにより、評価対象の再生専用型の情報媒体に対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の情報媒体が傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの読み出し特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【００２７】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、周方向の一部として周方向に沿った長さが５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の処理対象領域に処理用部材を擦り付けることにより、処理用部材の幅が狭くなることに起因して擦り付けの度合い（摩耗の度合い）にばらつきが生じる事態や、通常の使用状態からかけ離れた広い領域が傷付けられることで記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングエラー信号に大きなノイズが重畳する事態を招くことなく、記録処理時における評価用の記録データの確実な記録や読み出し処理時における記録データの確実な読み出しを実現して、評価対象の情報媒体の良否を正しく評価することができる。
【００２８】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、情報媒体の１周当りに１箇所の処理対象領域に処理用部材を擦り付けることにより、データ記録トラックの一周当りに複数の領域を対象として処理用部材が擦り付けられることで記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングエラー信号に大きなノイズが重畳する事態を招くことなく、記録処理時における評価用の記録データの確実な記録や読み出し処理時における記録データの確実な読み出しを実現して、評価対象の情報媒体の良否を正しく評価することができる。
【００２９】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、擦り付け処理時において情報媒体および処理用部材の少なくとも一方を情報媒体の径方向に沿って往復動させてデータ記録面に処理用部材を擦り付けることにより、データ記録トラックと交差する方向の傷を生じさせて各情報媒体の実際の使用に即した評価を行うことができる。
【００３０】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、擦り付け処理時において情報媒体および処理用部材の少なくとも一方を情報媒体におけるデータ記録トラックの接線方向に沿って往復動させてデータ記録面に処理用部材を擦り付けることにより、データ記録トラックに沿って長い傷を生じさせて各情報媒体の実際の使用に即した評価を行うことができる。
【００３１】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、情報媒体および処理用部材の間の相対的な移動の速さが３０ｍｍの距離を１秒以上２秒以下の範囲内で１往復する速さとなるように少なくとも一方を往復動させることにより、往復動の速度が遅過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、往復動の速度が速過ぎて通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【００３２】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、擦り付け処理時において情報媒体および処理用部材の少なくとも一方を３回以上１０回以下の範囲内で往復動させることにより、往復動の回数が少な過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、往復動の回数が多過ぎて通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【００３３】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、擦り付け処理時において情報媒体に対して処理用部材を下方側から擦り付けることにより、擦り付け時に生じる削り屑を自然落下させることができる。したがって、削り屑の付着に起因して評価対象の情報媒体毎に摩耗の度合いにばらつきが生じる事態を回避することができる。
【００３４】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の複数の粒体を有する乾式研磨部材を処理用部材として使用することにより、粒径が過剰に小さい粒体を有する乾式研磨部材を使用することで通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、粒径が過剰に大きい粒体を有する乾式研磨部材を使用することで通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【００３５】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、粒体としてＡｌ２Ｏ３を使用することにより、乾式研磨部材が安価であるため、情報媒体の評価に要するコストを低減することができる。また、粒体としてのＡｌ２Ｏ３を有する乾式研磨部材の入手が容易であるため、入手が困難な乾式研磨部材を使用するのとは異なり、多くの評価者に対して同一条件で擦り付け処理を実施させることができる。
【００３６】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、乾式研磨部材としてのテープ状研磨部材を使用すると共に予め規定した速度で擦り付け処理時においてテープ状研磨部材をテープ送りすることにより、削り屑に起因する乾式研磨部材の目詰まりを回避することができる。したがって、目詰まりに起因して各情報媒体毎に摩耗の度合いにばらつきが生じる事態を回避して、その良否を正しく評価することができる。
【００３７】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、直径が４０ｍｍ以上６０ｍｍ以下の範囲内のローラによって乾式研磨部材をデータ記録面に押し付けることにより、過剰に小径のローラによって乾式研磨部材を押し付けることで評価対象の情報媒体が通常の使用状態を超えて強く傷付けられる事態や、直径数センチから数十センチ程度の小さな情報媒体に対して過剰に大径のローラによって乾式研磨部材を押し付けることでローラが邪魔となり、十分な距離の往復動が困難となる事態を回避することができる。
【００３８】
また、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、乾式研磨部材をデータ記録面に押し付ける向きでローラに対して１．０Ｎ以上３０．０Ｎ以下の範囲内の押圧力を加えることにより、乾式研磨部材を押し付ける力が弱過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、乾式研磨部材を押し付ける力が大き過ぎて評価対象の情報媒体が通常の使用状態を超えて強く傷付けられる事態を回避することができる。
【００３９】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、評価処理時において、読み出し結果としてのエラーレートと、エラーレートに基づく評価処理用の評価用基準データとに基づいて情報媒体を評価することにより、実際のドライブ装置の運用に即した適切な評価を行うことができ、その結果、例えば、エラー訂正が可能か、それともエラー訂正が不可能かという点も正確かつ容易に判断することができる。
【００４０】
さらに、本発明に係る情報媒体評価方法によれば、記録データの記録部を覆うようにして形成された光透過性樹脂の層によってデータ記録面が構成された光ディスクを情報媒体として評価することにより、通常の使用状態に即した条件で良品であると評価され得る高品質な光ディスクを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る情報媒体評価方法の最良の形態について説明する。
【００４２】
図１に示すディスク評価システム１は、本発明に係る情報媒体評価方法に従って図３〜５に示す光ディスク１００Ａ〜１００Ｃ（以下、区別しないときには「光ディスク１００」ともいう）などを評価する装置であって、摩耗試験機２、記録再生装置３および制御装置４を備えて構成されている。なお、図３〜５では、本発明についての理解を容易とするために、評価対象の光ディスク１００を構成する各層の厚みの比率を実際とは相違する比率で図示している。
【００４３】
この場合、光ディスク１００Ａは、本発明における「評価対象の記録型の情報媒体」の一例である書換え型（rewritable）の光情報媒体であって、図３に示すように、反射層１２０、記録層１３０Ａ、光透過層１４０および保護層１５０がディスク基板１１０の上にこの順で形成されている。ディスク基板１１０は、例えば、ポリカーボネート等の樹脂材料で直径１２０ｍｍ程度の円板状に射出成形されている。この場合、ディスク基板１１０としては、直径が１２０ｍｍ程度に限らず、８０ｍｍ程度であってもよいし、円板状に限らず、各種形状で構成してもよい。反射層１２０は、ディスク基板１１０の表面にアルミニウム等の金属材料をスパッタリングすることによって薄膜状に形成されている。
【００４４】
記録層１３０Ａは、本発明における記録部の一例であって、例えば、ＧｅＳｂＴｅやＡｇＩｎＳｂＴｅなどの相変化記録材料の層と、その記録材料の層を挟むようにして形成した第１誘電体層および第２誘電体層とを備えて構成されている（図示せず）。光透過層１４０は、例えばアクリル系樹脂をスピンコート法によって塗布した後に硬化させることで、その厚みが１００μｍ程度となるように形成されている。保護層１５０は、光ディスク１００Ａのデータ記録面を傷付きから保護するための層であって、例えばポリシザラン等の樹脂材料をスピンコート法によって塗布した後に硬化させることで形成されている。なお、この光ディスク１００Ａでは、保護層１５０の形成面（同図における上面）が本発明におけるデータ記録面に相当する。
【００４５】
また、光ディスク１００Ｂは、本発明における「評価対象の記録型の情報媒体」の他の一例である追記型（write-once）の光情報媒体であって、図４に示すように、反射層１２０、記録層１３０Ｂ、光透過層１４０および保護層１５０がディスク基板１１０の上にこの順で形成されている。なお、この光ディスク１００Ｂおよび後述する光ディスク１００Ｃにおいて上記の光ディスク１００Ａと同一の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。記録層１３０Ｂは、本発明における記録部の他の一例であって、無機材料を利用して合金化したものや色素などの記録材料の層と、記録材料の層を挟むようにして形成した第１誘電体層および第２誘電体層とを備えて構成されている（図示せず）。なお、この光ディスク１００Ｂでは、保護層１５０の形成面（同図における上面）が本発明におけるデータ記録面に相当する。
【００４６】
さらに、光ディスク１００Ｃは、本発明における「評価対象の再生専用型（read-only ）の情報媒体」の一例である光情報媒体であって、図５に示すように、反射層１２０、光透過層１４０および保護層１５０がディスク基板１１０Ｃの上にこの順で形成されている。ディスク基板１１０Ｃは、ポリカーボネート等の樹脂材料で円板状に射出成形されると共に、その一面（同図における上面）には、記録データに対応する多数のピット（記録マーク）が射出成形時に形成されている。なお、この光ディスク１００Ｃでは、保護層１５０の形成面（同図における上面）が本発明におけるデータ記録面に相当する。また、この光ディスク１００Ｃでは、ディスク基板１１０Ｃの一面（多数のピットが形成されている面）が本発明における記録部に相当する。
【００４７】
一方、摩耗試験機２は、上記の光ディスク１００に対する擦り付け処理を実行する装置であって、図２に示すように、ディスク保持部２ａ、テープ押し付け部２ｂおよび移動機構２ｃを備えて構成されている。ディスク保持部２ａは、データ記録面を下向きにした状態で評価対象の光ディスク１００をテープ押し付け部２ｂ上で保持する。テープ押し付け部２ｂは、支点１２を介して基台１１上に配置されたアーム１３と、矢印Ａの方向でスライド可能にアーム１３に取り付けられたウェイト１４と、アーム１３の一端部に連結されたローラ取付部１５と、研磨用テープ２００を光ディスク１００のデータ記録面に押し付けるためのローラ１６と、研磨用テープ２００をテープ送りするテープ送り機構１７と、図示しない制御部とを備えている。
【００４８】
この場合、この摩耗試験機２では、アーム１３に対してウェイト１４を矢印Ａの方向でスライドさせて支点１２からの距離を調整することで、ローラ１６を介して研磨用テープ２００を光ディスク１００に押し付ける力（矢印Ｂの向きでローラ１６の回転軸１６ａに加える押圧力）を調整する構成が採用されている。具体的には、ローラ１６の回転軸１６ａに対して、矢印Ｂの向きで１．０Ｎ以上３０．０Ｎ以下の範囲内（一例として、５．０Ｎ）の押圧力を加えることができるように構成されている。また、アーム１３に取り付けるウェイト１４の数や重さを変更することで、ローラ１６の回転軸１６ａに対して上記範囲外の押圧力を加えることもできる。なお、ローラ１６に加える押圧力については、上記の例に限定されるものではなく、ローラ１６の幅および直径や、研磨用テープ２００の材質等に応じて適宜調節することができる。
【００４９】
ローラ１６は、その幅が１０ｍｍで直径が５０ｍｍとなるように金属材料（一例として、ステンレススチール）で形成されている。この場合、ローラ１６の幅については、使用する研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（図６参照）に応じて適宜変更することができる。一方、ローラ１６の直径については、４０ｍｍ以上６０ｍｍ以下の範囲内とするのが好ましい。この場合、ローラ１６の直径を４０ｍｍ未満としたときには、光ディスク１００に対して研磨用テープ２００を接触させる面積が小さくなることに起因して光ディスク１００を必要以上に傷付けるおそれがある。また、ローラ１６の直径を６０ｍｍよりも大きくしたときには、その直径が１２０ｍｍ程度の小さな光ディスク１００に対して研磨用テープ２００を接触させた状態において光ディスク１００を往復動させるのが困難となる（大きなローラ１６が邪魔となる）おそれがある。
【００５０】
テープ送り機構１７は、矢印Ｃの向きで研磨用テープ２００をテープ送りする。この場合、この摩耗試験機２では、一例として、後述するように移動機構２ｃがディスク保持部２ａを矢印Ｄ１の方向で１往復させる都度、テープ送り機構１７は、ローラ１６が０．９°回転するのに相当する長さだけ（本発明における「予め規定した速度」の一例）研磨用テープ２００をテープ送りする。したがって、研磨用テープ２００の同一箇所を複数回に亘って光ディスク１００に擦り付けることなく、往復動の都度、評価対象の光ディスク１００に対して研磨用テープ２００の新しい研磨面を擦り付けることができる。なお、研磨用テープ２００をテープ送りする速度については、上記の例示に限定されるものではなく、後述する押し付け処理時において研磨用テープ２００に目詰まりを生じさせないように適宜変更することができる。また、１往復する都度にテープ送りする構成に限定されず、研磨用テープ２００を極く低速で矢印Ｃの向きに常時テープ送りする構成を採用することもできる。
【００５１】
研磨用テープ２００は、本発明における処理用部材としての乾式研磨部材（テープ状研磨部材）の一例であって、その粒径が０．６μｍの研磨用の粒体を有している。具体的には、一例として、幅１０ｍｍのベーステープ（帯状の支持体）の一面に、本発明における粒体の一例である粒径０．６μｍのＡｌ２Ｏ３が接着用のバインダーを用いて塗布されている。この場合、Ａｌ２Ｏ３に代えて、ＳｉＣ、Ｃｒ２Ｏ３、ＳｉＯ２、Ｆｅ２Ｏ３、ＣｅＯ２およびＣ（ダイヤモンド）などの各種の粒体を有する研磨用テープ２００を使用することができる。また、上記の光ディスク１００等の通常の使用状態における傷付きを再現するためには、研磨用テープ２００として、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の粒体（この例では、Ａｌ２Ｏ３）を有するもの（すなわち、＃１５０００以上＃３０００以下の範囲内の研磨用テープ）を使用するのが好ましい。なお、粒体の粒径と光ディスク１００の評価結果との関係については、後に詳細に説明する。
【００５２】
また、この摩耗試験機２では、ディスク保持部２ａによって保持された光ディスク１００に対して研磨用テープ２００をその下方側から接触させるようにして擦り付ける構成が採用されている。したがって、研磨用テープ２００の擦り付け時において生じた削り屑（光ディスク１００が研削された粉体や、研磨用テープ２００から剥がれた粒体等の摩耗粉）が光ディスク１００のデータ記録面に残留することなく落下するため、この削り屑の存在に起因して評価対象の光ディスク１００毎に摩耗の度合いが変化する事態が回避されている。
【００５３】
移動機構２ｃは、テープ押し付け部２ｂに対してディスク保持部２ａを矢印Ｄ１の方向で往復動させることにより、光ディスク１００を研磨用テープ２００に擦り付ける（研磨用テープ２００を光ディスク１００に擦り付ける）。この場合、移動機構２ｃは、光ディスク１００および研磨用テープ２００の間の相対的な移動（ここでは往復動）の速さが３０ｍｍの距離を１秒以上２秒以下の範囲内で１往復する速さ（一例として、１．５秒で１往復する速さ）でディスク保持部２ａ（光ディスク１００）を往復動させる。また、移動機構２ｃは、後述する擦り付け処理時においてディスク保持部２ａ（光ディスク１００でもある。本発明における情報媒体および処理用部材の少なくとも一方の一例）をテープ押し付け部２ｂ（研磨用テープ２００）に対して３回以上１０回以下の範囲内で（一例として、５回だけ）往復動させる。
【００５４】
記録再生装置３は、光ディスク１００Ａ，１００Ｂに対する記録データの記録、および光ディスク１００Ａ〜１００Ｃからの記録データの読み出しを可能に構成されたディスクドライブであって、制御装置４から出力される制御信号Ｓ１に従い、記録信号Ｓ２に基づく記録データの記録、および光ディスク１００から読み出した記録データに基づく再生信号Ｓ３の出力を実行する。制御装置４は、図１に示すように、表示部２１、制御部２２および記憶部２３を備えている。表示部２１は、制御部２２の制御に従い、各光ディスク１００についての評価結果等を表示する。制御部２２は、記録再生装置３を制御して記録データを記録させると共に（本発明における記録処理の実行）、光ディスク１００から記録データを読み出させる（本発明における読み出し処理の実行）。また、制御部２２は、記録再生装置３から出力された再生信号Ｓ３と、記憶部２３に記憶されている評価用基準データＤａ〜Ｄｃとに基づき、光ディスク１００の良否を評価する（本発明における評価処理の実行）。
【００５５】
次に、ディスク評価システム１による光ディスク１００の評価方法について、図面を参照して説明する。
【００５６】
まず、前述した光ディスク１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃと、保護層１５０が形成されていない光ディスク１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ（以下、保護層１５０が形成されていない光ディスクについては、「光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂｘ，１００Ｃｘ」ともいう）とを用意する。この場合、光ディスク１００Ａ〜１００Ｃは、通常の使用状態において生じる程度の傷付きでは記録データの記録や読み出しが妨げられることのない良品の光ディスクの一例である。また、光ディスク１００Ａｘ〜１００Ｃｘ（以下、区別しないときには「光ディスク１００ｘ」ともいう）は、通常の使用状態において生じる程度の傷付きによって記録データの記録や読み出しが困難となるおそれがある光ディスクの一例である。
【００５７】
次いで、本発明に係る情報媒体評価方法に従って、上記の各光ディスク１００，１００ｘを評価する。この際に、データ記録面の傷付きに起因する記録データの読み出し特性について評価する際には、記録データが記録された状態の各光ディスク１００，１００ｘに対して本発明における擦り付け処理を実行した後に、本発明における読み出し処理および評価処理をこの順で実行する。
【００５８】
この場合、記録型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについては、擦り付け処理に先立って本発明における記録処理を実行する。具体的は、例えば光ディスク１００Ａを記録再生装置３に装填して記録処理の開始を指示する。この際に、制御装置４の制御部２２が、記憶部２３に記憶されている評価用の評価用記録データＤｄに基づいて記録信号Ｓ２を生成して、制御信号Ｓ１と共に記録再生装置３に出力する。これに応じて、記録再生装置３が、光ディスク１００Ａに対して記録信号Ｓ２に基づく評価用記録データＤｄの記録処理を実行する。同様にして、記録型の光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについても評価用記録データＤｄの記録処理を実行する。なお、光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘには、その製造時にディスク基板１１０Ｃにピットが形成されることで、上記の評価用記録データＤｄが記録されているものとする。
【００５９】
続いて、各光ディスク１００，１００ｘに対して摩耗試験機２によって本発明における擦り付け処理をそれぞれ実行する。この際には、図２に示すように、データ記録面を下向きにして例えば光ディスク１００Ａをディスク保持部２ａに保持させる。次いで、アーム１３に対してウェイト１４をスライドさせることにより、ローラ１６の回転軸１６ａに対して矢印Ｂの向きで５．０Ｎの押圧力が加わるように調整する。これにより、ディスク保持部２ａによって保持されている光ディスク１００Ａのデータ記録面に５．０Ｎの押圧力で研磨用テープ２００が押し付けられる。この際には、図６に示すように、一例として、光ディスク１００Ａにおける複数のデータ記録トラックのうちの中周部のデータ記録トラックＴに研磨用テープ２００を当接させる。
【００６０】
次いで、移動機構２ｃが矢印Ｄ１の方向（光ディスク１００Ａの半径方向）でテープ押し付け部２ｂ（研磨用テープ２００）に対してディスク保持部２ａ（光ディスク１００Ａを往復動させる。この際に、移動機構２ｃは、３０ｍｍの距離を１．５秒で１往復する速さでディスク保持部２ａ（光ディスク１００Ａ）を５回だけ往復動させる。また、テープ送り機構１７は、移動機構２ｃによってディスク保持部２ａが１往復させられる都度、ローラ１６を９°だけ回転させる速度で研磨用テープ２００をテープ送りする。これにより、研磨用テープ２００に対して光ディスク１００Ａが１往復する都度、研磨用テープ２００の新しい研磨面が光ディスク１００Ａのデータ記録面に擦り付けられる。この結果、図６に示すように、その半径方向に沿った長さが３０ｍｍで、その幅が研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と等しい１０ｍｍの領域Ａ１（本発明における処理対象領域の一例）に研磨用テープ２００が擦り付けられる。
【００６１】
また、この摩耗試験機２では、評価対象の光ディスク１００Ａに対して、研磨用テープ２００を下方側から擦り付ける構成を採用している。したがって、光ディスク１００Ａに研磨用テープ２００を擦り付けることで生じる削り屑（研磨用テープ２００を擦り付けることによって光ディスク１００Ａから削り取られた粉体、および光ディスク１００Ａに擦り付けることによってベーステープから剥がれたＡｌ２Ｏ３）が、光ディスク１００Ａのデータ記録面（研磨用テープ２００を擦り付ける面）に付着することなく落下する。これにより、擦り付け処理時において生じる削り屑の量の差異に起因して、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘ毎にデータ記録面の摩耗の度合いが変化する事態が回避される。以上により、光ディスク１００Ａに対する擦り付け処理を完了する。この後、光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘ，１００Ｃ，１００Ｃｘについても、上記の光ディスク１００Ａと同様にして擦り付け処理を実行する。
【００６２】
続いて、擦り付け処理を完了した各光ディスク１００，１００ｘから記録再生装置３を用いて評価用記録データＤｄを読み出す読み出し処理と、記録再生装置３による読み出し処理の結果（読み出し結果）に基づく各光ディスク１００，１００ｘの評価処理とを実行する。具体的には、例えば光ディスク１００Ａを記録再生装置３に装填した状態において処理の開始を指示する。この際に、制御装置４（制御部２２）は、記録再生装置３対して制御信号Ｓ１を出力することによって読み出し処理を開始させる。
【００６３】
この場合、このディスク評価システム１では、前述した摩耗試験機２による研磨用テープ２００の擦り付け処理に際して、光ディスク１００Ａの周方向に沿った長さが１０ｍｍ程度（研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１に対応する長さ：本発明における５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の一例）であって光ディスク１００Ａの１周当り１箇所の領域Ａ１を対象として研磨用テープ２００を擦り付けている。したがって、評価対象の光ディスクに対して一周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、擦り付け処理後の光ディスク１００Ａに対するトラッキングが不能な状態となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄを読み出すことが可能となっている。したがって、記録再生装置３は、光ディスク１００Ａにおける中周部のデータ記録トラックＴから読み出した評価用記録データＤｄに基づいて再生信号Ｓ３を生成し、生成した再生信号Ｓ３を制御装置４の制御部２２に出力する。なお、上記の領域Ａ１の周方向に沿った長さと、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１とは、実際には、テープ幅Ｌ１の方が僅かに短い長さとなるが、本明細書中では、この２つの長さを同じ長さとして説明する。
【００６４】
これに応じて、制御部２２は、記録再生装置３から出力された再生信号Ｓ３に基づき、そのＳＥＲ（Symbol Error Rate ：エラーレートの一例）を求めると共に、求めたＳＥＲと、記憶部２３に記憶されている評価用基準データＤａ（書き換え型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘについての評価用基準データ）とに基づいて、擦り付け処理後の光ディスク１００Ａについての記録データの読み出し特性（再生特性）について評価する。この場合、評価用基準データＤａは、ＳＥＲが所定の基準値未満のときに、その光ディスク１００Ａ，１００Ａｘが良品であると評価し、ＳＥＲが所定の基準値以上のときに、その光ディスク１００Ａ，１００Ａｘが不良品であると評価する旨の閾値で構成されている。したがって、制御部２２は、再生信号Ｓ３に基づいて求めたＳＥＲが所定の基準値未満であるか否か（言い替えれば所定の基準値以上であるか否か）を判定し、その判定結果に基づいて光ディスク１００Ａの読み出し特性（再生特性）を評価する。なお、上記のＳＥＲについては、所定時間当りのＳＥＲの平均値または所定時間内のＳＥＲの最大値のいずれか予め規定された一方を求める。
【００６５】
この際に、保護層１５０が形成されて傷付きが生じ難くなっている光ディスク１００Ａでは、ＳＥＲが所定の基準値未満となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａが傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの読み出しが可能な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、光ディスク１００Ａについての評価を完了する。次いで、上記の光ディスク１００Ａと同様にして、光ディスク１００Ａｘについての読み出し処理および評価処理を実行する。この際に、保護層１５０が形成されていないことで傷付きが生じ易くなっている光ディスク１００Ａｘでは、ＳＥＲが所定の基準値以上となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａｘが傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの読み出しが困難な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、光ディスク１００Ａｘについての評価を完了する。
【００６６】
この後、光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘ，１００Ｃ，１００Ｃｘについても、上記の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘと同様にして評価用記録データＤｄの読み出し処理および評価処理を実行する。この場合、光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価処理時には、上記の評価用基準データＤａに代えて、評価用基準データＤｂ（追記型の光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価用基準データ）を使用する。また、光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘについての評価処理時には、上記の評価用基準データＤａに代えて、評価用基準データＤｃ（再生専用型の光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘについての評価用基準データ）を使用する。これにより、保護層１５０が形成されている光ディスク１００Ｂ，１００Ｃは、傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの読み出しが可能な媒体であると評価され、保護層１５０が形成されていない光ディスク１００Ｂｘ，１００Ｃｘは、傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの読み出しが困難な媒体であると評価される。以上により、本発明に係る情報媒体評価方法による各光ディスク１００，１００ｘの評価を完了する。
【００６７】
一方、記録型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについて、データ記録面の傷付きに起因する記録データの記録特性について評価する際には、未記録状態の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して本発明における擦り付け処理を実行した後に、本発明における記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する。具体的には、まず、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して、上記の擦り付け処理時と同様の手順、同様の条件に従って研磨用テープ２００を擦り付ける。この結果、図６に示すように、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘ毎に、半径方向に沿った長さが３０ｍｍで、その幅が研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と等しい１０ｍｍの領域Ａ１（本発明における処理対象領域の一例）に研磨用テープ２００が擦り付けられる。
【００６８】
次いで、擦り付け処理を完了した各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して記録処理を実行する。この際には、前述した記録処理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して評価用記録データＤｄを記録する。この際に、このディスク評価システム１では、前述した摩耗試験機２による研磨用テープ２００の擦り付け処理に際して、光ディスク１００Ａの周方向に沿った長さが１０ｍｍ程度（研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１に対応する長さ：本発明における５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の一例）で光ディスク１００Ａの１周当りに１箇所の領域Ａ１を対象として研磨用テープ２００を擦り付けている。したがって、評価対象の光ディスクに対して一周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、擦り付け処理後の光ディスク１００，１００ｘに対するトラッキングが不能な状態となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄを記録することが可能となっている。
【００６９】
続いて、記録処理を完了した各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘから評価用記録データＤｄを読み出す読み出し処理と、記録再生装置３による読み出し処理の結果（読み出し結果）に基づく各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘの評価処理とを実行する。この際には、前述した読み出し理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘから評価用記録データＤｄを読み出すと共に、前述した評価処理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘの記録特性（再生特性）を評価する。
【００７０】
この際に、保護層１５０が形成されて傷付きが生じ難くなっている光ディスク１００Ａ，１００Ｂでは、ＳＥＲが所定の基準値未満となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａ，１００Ｂが傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの記録が可能な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。一方、保護層１５０が形成されていないことで傷付きが生じ易くなっている光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂｘでは、ＳＥＲが所定の基準値以上となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂｘが傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの記録が困難な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価（本発明に係る情報媒体評価方法による各光ディスク１００，１００ｘの評価）を完了する。
【００７１】
次に、本発明における擦り付け処理時において研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ１の周方向に沿った長さと、各光ディスク１００，１００ｘについての評価結果との関係について、図面を参照して説明する。
【００７２】
前述したように、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘに対して、その周方向（データ記録トラックに沿った方向）の一部のみを評価対象として研磨用テープ２００を擦り付けることで、評価対象の各光ディスクに対して全周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングが不能となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄの記録および評価用記録データＤｄの読み出しを実行することが可能となっている。この場合、出願人は、本発明における擦り付け処理時において研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ１の周方向の長さを５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内とするのが好ましいのを見い出した。
【００７３】
具体的には、例えば、上記の光ディスク１００Ａに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１を変更することで、上記の領域Ａ１における周方向の長さを変化させたところ、図７に示すように、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（すなわち、領域Ａ１における周方向の長さ）が５ｍｍ〜３０ｍｍの範囲内では、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を２ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの１枚が良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を１ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの２枚が良品であると誤って評価した。一方、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００７４】
また、上記の光ディスク１００Ｂに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ１における周方向の長さを変化させたところ、図８に示すように、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（すなわち、領域Ａ１における周方向の長さ）が５ｍｍ〜３０ｍｍの範囲内では、１０枚の光ディスク１００Ｂのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を２ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのうちの１枚が良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を１ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのうちの２枚が良品であると誤って評価した。一方、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００７５】
さらに、上記の光ディスク１００Ｃに対して、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ１における周方向の長さを変化させたところ、図９に示すように、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（すなわち、領域Ａ１における周方向の長さ）が５ｍｍ〜３０ｍｍの範囲内では、１０枚の光ディスク１００Ｃのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｃｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を２ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの１枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｃｘのうちの１枚が良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を１ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｃｘのうちの２枚が良品であると誤って評価した。一方、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｃｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｃｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００７６】
また、上記の光ディスク１００Ａに対して、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ１における周方向の長さを変化させたところ、図１０に示すように、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（すなわち、領域Ａ１における周方向の長さ）が５ｍｍ〜３０ｍｍの範囲内では、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を２ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの１枚が良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を１ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの２枚が良品であると誤って評価した。一方、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００７７】
さらに、上記の光ディスク１００Ｂに対して、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ１における周方向の長さを変化させたところ、図１１に示すように、研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１（すなわち、領域Ａ１における周方向の長さ）が５ｍｍ〜３０ｍｍの範囲内では、１０枚の光ディスク１００Ｂのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を２ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのうちの１枚が良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を１ｍｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのうちの２枚が良品であると誤って評価した。一方、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、テープ幅Ｌ１（領域Ａ１における周方向の長さ）を５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００７８】
この場合、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１が狭いときには、研磨用テープ２００が各光ディスク１００，１００ｘに擦り付けられる面積が狭いことに起因して、テープ押し付け部２ｂによる研磨用テープ２００の押圧力（ローラ１６の回転軸１６ａに対して図２の矢印Ｂの向きで加える力の大きさ）を一定にしているにも拘わらず、その摩耗の度合いにばらつきが生じているものと考えられる。したがって、保護層１５０が形成されていることで傷付きが生じ難い光ディスク１００に傷付きが生じると共に、保護層１５０が形成されていないことで傷付きが生じ易い光ディスク１００ｘに大きな傷付きが生じない事態が生じ、１〜２枚程度の誤った評価を招いている。このため、ある程度幅広の研磨用テープ２００（処理用部材：乾式研磨部材）を用いた擦り付け処理を可能とするために、領域Ａ１の周方向の長さを５ｍｍ以上とするのが好ましい。
【００７９】
一方、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１が広いときには、領域Ａ１の周方向の長さ（データ記録トラックＴに沿った長さ）が長くなることに起因して記録処理時や読み出し処理時においてトラッキング不良が生じているものと考えられる。このため、領域Ａ１の周方向の長さ（領域Ａ１において、記録処理や読み出し処理を行うデータ記録トラックＴに沿った長さ）は、図６に示す長さＬ２（３０ｍｍ）以下とするのが好ましい。
【００８０】
続いて、本発明における擦り付け処理のうち、処理用部材および情報媒体を径方向に往復動させる場合において、使用する研磨用テープ２００の粒体の粒径と各光ディスク１００，１００ｘについての評価結果との関係について、図面を参照して説明する。
【００８１】
前述したように、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘに対して、その粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の粒体（この例では、粒径０．６μｍのＡｌ２Ｏ３）を有する研磨用テープ２００を擦り付けることで、通常の使用状態に即した傷付きの状態を再現することが可能となっている。この場合、研磨用の粒体の粒径が０．３μｍ未満の場合や、粒径が５μｍを超える場合には、各光ディスク１００，１００ｘについての誤った評価を招くおそれがある。具体的には、一例として、上記の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を変更したところ、図１２に示すように、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内のときには、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。
【００８２】
これに対して、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を０．１μｍとしたときには、各光ディスク１００Ａについては、１０枚のすべてを良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの２枚については、良品であると誤って評価した。これは、研磨用テープ２００に用いる粒体の粒径が小さ過ぎることに起因して、研磨用テープ２００の擦り付けによって生じる傷付きの度合いが小さ過ぎるものと考えられる（通常の使用状態に即していない傷付きの一例）。したがって、本発明における擦り付け処理時において使用する乾式研磨部材については、その粒径が０．３μｍ以上の粒体を有するものを使用するのが好ましい。
【００８３】
一方、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を９．０μｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてにおいて、領域Ａ１に対応する部位においてトラッキングエラー信号に大きなノイズが重畳してトラッキングが不能となり、評価用記録データＤｄの読み出しができなかった。つまり、粒径が９．０μｍのときには、保護層１５０が形成されて通常の使用状態における程度の傷付きでは読み出しエラーの生じることのない光ディスク１００Ａであっても傷付きが生じ、保護層１５０が形成されていない光ディスク１００Ａｘでは、評価用記録データＤｄの読み出しすら行えないほど大きい傷付きが生じているものと考えられる（通常の使用状態に即していない傷付きの他の一例）。したがって、本発明における擦り付け処理時において使用する乾式研磨部材については、その粒径が５．０μｍ以下の粒体を有するものを使用するのが好ましい。
【００８４】
次に、ディスク評価システム１による各光ディスク１００，１００ｘの他の評価方法について、図面を参照して説明する。なお、上記の評価方法（擦り付け処理時において研磨用テープ２００を各光ディスク１００，１００ｘの半径方向に沿って擦り付ける方法）と同様の手順や、ディスク評価システム１の各構成要素および各光ディスク１００，１００ｘについては、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
【００８５】
以下に説明する評価方法では、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘに対して研磨用テープ２００を擦り付ける方向（研磨用テープ２００に対して各光ディスク１００，１００ｘを往復動させる方向）が相違する点を除き、前述した各光ディスク１００，１００ｘの評価方法と同様の手順、同様の条件で各処理を実行する。まず、データ記録面の傷付きに起因する記録データの読み出し特性について評価する際には、記録データが記録された状態の各光ディスク１００，１００ｘに対して本発明における擦り付け処理を実行した後に、本発明における読み出し処理および評価処理をこの順で実行する。この場合、記録型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについては、擦り付け処理に先立って本発明における記録処理を実行する。
【００８６】
続いて、各光ディスク１００，１００ｘに対して摩耗試験機２によって本発明における擦り付け処理をそれぞれ実行する。この際には、図２に示すように、まず、データ記録面を下向きにして例えば光ディスク１００Ａをディスク保持部２ａに保持させる。次いで、アーム１３に対してウェイト１４をスライドさせることにより、ローラ１６の回転軸１６ａに対して矢印Ｂの向きで５．０Ｎの押圧力が加わるように調整する。これにより、ディスク保持部２ａによって保持されている光ディスク１００Ａのデータ記録面に５．０Ｎの力で研磨用テープ２００が押し付けられる。この際には、図１３に示すように、一例として、光ディスク１００Ａにおける複数のデータ記録トラックのうちの中周部のデータ記録トラックＴに研磨用テープ２００を当接させる。
【００８７】
次いで、移動機構２ｃが矢印Ｄ２の方向（光ディスク１００Ａにおけるデータ記録トラックＴの接線に沿った方向）でテープ押し付け部２ｂ（研磨用テープ２００）に対してディスク保持部２ａ（光ディスク１００Ａ）を往復動させる。この際に、移動機構２ｃは、３０ｍｍの距離を１．５秒で１往復する速さでディスク保持部２ａ（光ディスク１００Ａ）を５回だけ往復動させる。また、テープ送り機構１７が、移動機構２ｃによってディスク保持部２ａが１往復させられる都度、ローラ１６を９°だけ回転させる速度で研磨用テープ２００をテープ送りする。これにより、研磨用テープ２００に対して光ディスク１００Ａが１往復する都度、研磨用テープ２００の新しい研磨面が光ディスク１００Ａのデータ記録面に擦り付けられる。この結果、図１３に示すように、その幅（半径方向に沿った長さ）が研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と等しい１０ｍｍで、その周方向の長さが２０ｍｍの領域Ａ２（本発明における処理対象領域の他の一例）に研磨用テープ２００が擦り付けられる。これにより、光ディスク１００Ａに対する擦り付け処理を完了する。この後、光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘ，１００Ｃ，１００Ｃｘについても、上記の光ディスク１００Ａと同様にして擦り付け処理を実行する。
【００８８】
続いて、擦り付け処理を完了した各光ディスク１００，１００ｘから記録再生装置３を用いて評価用記録データＤｄを読み出す読み出し処理と、記録再生装置３による読み出し処理の結果（読み出し結果）に基づく各光ディスク１００，１００ｘの評価処理とを実行する。この場合、このディスク評価システム１では、前述した摩耗試験機２による研磨用テープ２００の擦り付け処理に際して、光ディスク１００Ａの径方向に沿った幅が１０ｍｍ程度（研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１に対応する長さ）で、その周方向に沿った長さが２０ｍｍで光ディスク１００Ａの１周当りに１箇所の領域Ａ２を対象として研磨用テープ２００を擦り付けている。したがって、評価対象の光ディスクに対して一周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、擦り付け処理後の光ディスク１００Ａに対するトラッキングが不能な状態となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄを読み出すことが可能となっている。したがって、記録再生装置３は、光ディスク１００Ａにおける中周部のデータ記録トラックＴから読み出した評価用記録データＤｄに基づいて再生信号Ｓ３を生成し、制御装置４の制御部２２に出力する。
【００８９】
これに応じて、制御部２２は、記録再生装置３から出力された再生信号Ｓ３に基づき、そのＳＥＲ（Symbol Error Rate ）を求めると共に、求めたＳＥＲと、記憶部２３に記憶されている評価用基準データＤａ（書き換え型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘについての評価用基準データ）とに基づいて、擦り付け処理後の光ディスク１００Ａについての記録データの読み出し特性（再生特性）について評価する。この際に、保護層１５０が形成されて傷付きが生じ難くなっている光ディスク１００Ａでは、ＳＥＲが所定の基準値未満となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａが傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの読み出しが可能な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、光ディスク１００Ａについての評価が完了する。次いで、上記の光ディスク１００Ａと同様にして、光ディスク１００Ａｘについての読み出し処理および評価処理を実行する。この際に、保護層１５０が形成されていないことで傷付きが生じ易くなっている光ディスク１００Ａｘでは、ＳＥＲが所定の基準値以上となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａｘが傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの読み出しが困難な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、光ディスク１００Ａｘについての評価が完了する。
【００９０】
この後、光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘ，１００Ｃ，１００Ｃｘについても、上記の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘと同様にして評価用記録データＤｄの読み出し処理および評価処理を実行する。この場合、光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価処理時には、上記の評価用基準データＤａに代えて、評価用基準データＤｂ（追記型の光ディスク１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価用基準データ）を使用する。また、光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘについての評価処理時には、上記の評価用基準データＤａに代えて、評価用基準データＤｃ（再生専用型の光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘについての評価用基準データ）を使用する。これにより、保護層１５０が形成されている光ディスク１００Ｂ，１００Ｃは、傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの読み出しが可能な媒体であると評価され、保護層１５０が形成されていない光ディスク１００Ｂｘ，１００Ｃｘは、傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの読み出しが困難な媒体であると評価される。以上により、本発明に係る情報媒体評価方法による各光ディスク１００，１００ｘの評価が完了する。
【００９１】
一方、記録型の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについて、データ記録面の傷付きに起因する記録データの記録特性について評価する際には、未記録状態の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して本発明における擦り付け処理を実行した後に、本発明における記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する。具体的には、まず、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して、上記の擦り付け処理時と同様の手順、同様の条件に従って研磨用テープ２００を擦り付ける。この結果、図１３に示すように、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘ毎に、半径方向に沿った幅が１０ｍｍで、周方向（データ記録トラックＴ）に沿った長さが２０ｍｍの領域Ａ２（本発明における処理対象領域の一例）に研磨用テープ２００が擦り付けられる。
【００９２】
次いで、擦り付け処理を完了した各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して記録処理を実行する。この際には、前述した記録処理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘに対して評価用記録データＤｄを記録する。この際に、このディスク評価システム１では、前述した摩耗試験機２による研磨用テープ２００の擦り付け処理に際して、光ディスク１００Ａの周方向に沿った長さが２０ｍｍ程度（本発明における５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の一例）で光ディスク１００Ａの１周当りに１箇所の領域Ａ２に研磨用テープ２００を擦り付けている。したがって、評価対象の光ディスクに対して一周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、擦り付け処理後の光ディスク１００，１００ｘに対するトラッキングが不能な状態となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄを記録することが可能となっている。
【００９３】
続いて、記録処理を完了した各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘから評価用記録データＤｄを読み出す読み出し処理と、記録再生装置３による読み出し処理の結果（読み出し結果）に基づく各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘの評価処理とを実行する。この際には、前述した読み出し理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘから評価用記録データＤｄを読み出すと共に、前述した評価処理時と同様の手順、同様の条件に従って各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘの良否を評価する。
【００９４】
この際に、保護層１５０が形成されて傷付きが生じ難くなっている光ディスク１００Ａ，１００Ｂでは、ＳＥＲが所定の基準値未満となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａ，１００Ｂが傷付き難い媒体、または、傷付きが生じたとしても記録データの記録が可能な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。一方、保護層１５０が形成されていないことで傷付きが生じ易くなっている光ディスク１００Ａｘでは、ＳＥＲが所定の基準値以上となる。したがって、制御部２２は、その光ディスク１００Ａｘ，１００Ｂｘが傷付き易い媒体、または、傷付きが生じたときに記録データの記録が困難な媒体であると評価して、その旨のメッセージを表示部２１に表示させる。これにより、各光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘについての評価（本発明に係る情報媒体評価方法による各光ディスク１００，１００ｘの評価）が完了する。
【００９５】
次いで、本発明における擦り付け処理時において、研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ２の周方向に沿った長さと、各光ディスク１００，１００ｘについての評価結果との関係について、図面を参照して説明する。
【００９６】
前述したように、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘに対して、その周方向（データ記録トラックに沿った方向）の一部のみを評価対象として研磨用テープ２００を擦り付けることで、評価対象の各光ディスクに対して全周に亘って摩耗輪を擦り付ける従来の評価方法とは異なり、記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングが不能となる事態を招くことなく、評価用記録データＤｄの記録および評価用記録データＤｄの読み出しを実行することが可能となっている。この場合、出願人は、本発明における擦り付け処理時において研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ２の周方向の長さを３０ｍｍ以下とするのが好ましいのを見い出した。なお、各光ディスク１００，１００ｘに対して研磨用テープ２００を往復動させる距離に応じて領域Ａ２における周方向の長さが定まるため、この摩耗試験機２では、極く短距離を往復動させることができないことに起因して、領域Ａ２の周方向の長さを５ｍｍ以下とするのが困難となっている。
【００９７】
例えば、上記の光ディスク１００Ａに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において研磨用テープ２００に対して光ディスク１００Ａを往復動させる距離を変更することで、上記の領域Ａ２における周方向の長さを変化させたところ、図１４に示すように、領域Ａ２の周方向の長さが３０ｍｍ以下のときには、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、領域Ａ２の周方向の長さを４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、領域Ａ２の周方向の長さを５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００９８】
また、上記の光ディスク１００Ｂに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ２における周方向の長さを変化させたところ、図１５に示すように、領域Ａ２の周方向の長さが３０ｍｍ以下のときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、領域Ａ２の周方向の長さを４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、領域Ａ２の周方向の長さを５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【００９９】
さらに、上記の光ディスク１００Ｃに対して、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ２における周方向の長さを変化させたところ、図１６に示すように、領域Ａ２の周方向の長さが３０ｍｍ以下のときには、１０枚の光ディスク１００Ｃのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｃｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、領域Ａ２の周方向の長さを４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｃｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、領域Ａ２の周方向の長さを５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｃｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｃのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【０１００】
また、上記の光ディスク１００Ａに対して、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ２における周方向の長さを変化させたところ、図１７に示すように、領域Ａ２の周方向の長さが３０ｍｍ以下のときには、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、領域Ａ２の周方向の長さを４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、領域Ａ２の周方向の長さを５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ａｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【０１０１】
さらに、上記の光ディスク１００Ｂに対して、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、上記の領域Ａ２における周方向の長さを変化させたところ、図１８に示すように、領域Ａ２の周方向の長さが３０ｍｍ以下のときには、１０枚の光ディスク１００Ｂのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ｂｘのすべてを不良品であると評価することができた。これに対して、領域Ａ２の周方向の長さを４０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの１枚が不良品であると誤って評価した。また、領域Ａ２の周方向の長さを５０ｍｍとしたときには、光ディスク１００Ｂｘについてはすべてを不良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ｂのうちの２枚が不良品であると誤って評価した。
【０１０２】
この場合、領域Ａ２の周方向の長さ（データ記録トラックＴに沿った長さ）が３０ｍｍを超えているときには、記録処理時や読み出し処理時にトラッキング不良が生じているものと考えられる。このため、領域Ａ２の周方向の長さ（領域Ａ２において、記録処理や読み出し処理を行うデータ記録トラックＴに沿った長さ）は、図１３に示す長さＬ２（３０ｍｍ）以下とするのが好ましく、３０ｍｍを超えることのないように研磨用テープ２００に対して各光ディスク１００，１００ｘを往復動させる距離を規定するのが好ましい。
【０１０３】
続いて、本発明における擦り付け処理のうち、処理用部材および情報媒体をデータ記録トラックの接線方向に往復動させる場合において、使用する研磨用テープ２００の粒体の粒径と各光ディスク１００，１００ｘについての評価結果との関係について、図面を参照して説明する。
【０１０４】
前述したように、評価対象の各光ディスク１００，１００ｘに対して、その粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の粒体（この例では、粒径０．６μｍのＡｌ２Ｏ３）を有する研磨用テープ２００を擦り付けることで、通常の使用状態に即した傷付きの状態を再現することが可能となっている。この場合、研磨用の粒体の粒径が０．３μｍ未満の場合や、粒径が５μｍを超える場合には、各光ディスク１００，１００ｘについての誤って評価を招くおそれがある。具体的には、一例として、上記の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘに対して、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を変更したところ、図１９に示すように、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内のときには、１０枚の光ディスク１００Ａのすべてを良品であると評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてを不良品であると評価することができた。
【０１０５】
これに対して、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を０．１μｍとしたときには、各光ディスク１００Ａについては、１０枚のすべてを良品であると評価することができたものの、１０枚の光ディスク１００Ａｘのうちの２枚については、良品であると誤って評価した。これは、研磨用テープ２００に用いる粒体の粒径が小さ過ぎることに起因して、研磨用テープ２００の擦り付けによって生じる傷付きの度合いが小さ過ぎるものと考えられる（通常の使用状態に即していない傷付きの一例）。したがって、本発明における擦り付け処理時において使用する乾式研磨部材については、その粒径が０．３μｍ以上の粒体を有するものを使用するのが好ましい。
【０１０６】
一方、擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒子の粒径を９．０μｍとしたときには、１０枚の光ディスク１００Ａのうちの２枚が不良品であると誤って評価し、１０枚の光ディスク１００Ａｘのすべてにおいて、領域Ａ２に対応する部位においてトラッキングエラー信号に大きなノイスが重畳してトラッキングが不能となり、評価用記録データＤｄの読み出しができなかった。つまり、粒径が９．０μｍのときには、保護層１５０が形成されて通常の使用状態における程度の傷付きでは読み出しエラーの生じることのない光ディスク１００Ａであっても傷付きが生じ、保護層１５０が形成されていない光ディスク１００Ａｘでは、評価用記録データＤｄの読み出しすら行えないほど大きい傷付きが生じているものと考えられる（通常の使用状態に即していない傷付きの他の一例）。したがって、本発明における擦り付け処理時において使用する乾式研磨部材については、その粒径が５．０μｍ以下の粒体を有するものを使用するのが好ましい。
【０１０７】
このように、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、記録型（書換え型および追記型）の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘを評価対象として、本発明における記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、光ディスク１００，１００ｘにおける周方向の一部のみに処理用部材としての研磨用テープ２００を擦り付けることにより、評価対象の記録型の光ディスク１００，１００ｘに対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の光ディスク１００，１００ｘが傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの読み出し特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【０１０８】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、記録型（書換え型および追記型）の光ディスク１００Ａ，１００Ａｘ，１００Ｂ，１００Ｂｘを評価対象として、本発明における擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、光ディスク１００，１００ｘにおける周方向の一部のみに処理用部材としての研磨用テープ２００を擦り付けることにより、評価対象の記録型の光ディスク１００，１００ｘに対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の光ディスク１００，１００ｘが傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの記録特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【０１０９】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、再生専用型の光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘを評価対象として、本発明における擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行する際に、擦り付け処理時において、光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘにおける周方向の一部のみに処理用部材としての研磨用テープ２００を擦り付けることにより、評価対象の再生専用型の光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘに対して通常の使用状態に即した傷付きを生じさせることができる。したがって、評価対象の光ディスク１００Ｃ，１００Ｃｘが傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの読み出し特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【０１１０】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、本発明における「周方向の一部」として周方向に沿った長さ（データ記録トラックＴに沿った長さ）が５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内の処理対象領域（この例では、データ記録トラックＴに沿った長さが１０ｍｍの領域Ａ１）に処理用部材（研磨用テープ２００）を擦り付けることにより、処理用部材の幅が狭くなることに起因して擦り付けの度合い（摩耗の度合い）にばらつきが生じる事態や、通常の使用状態からかけ離れた広い領域が傷付けられることで記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングエラー信号に大きなノイズが重畳する事態を招くことなく、記録処理時における評価用記録データＤｄの確実な記録や読み出し処理時における評価用記録データＤｄの確実な読み出しを実現して、評価対象の光ディスク１００，１００ｘの良否を正しく評価することができる。
【０１１１】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、光ディスク１００，１００ｘの１周当り１箇所の処理対象領域（領域Ａ１，Ａ２）に処理用部材（研磨用テープ２００）を擦り付けることにより、データ記録トラックＴの一周当りに複数の領域Ａ１を対象として研磨用テープ２００が擦り付けられることで記録処理時や読み出し処理時においてトラッキングエラー信号に大きなノイズが重畳する事態を招くことなく、記録処理時における評価用記録データＤｄの確実な記録や読み出し処理時における評価用記録データＤｄの確実な読み出しを実現して、評価対象の光ディスク１００，１００ｘの良否を正しく評価することができる。
【０１１２】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、擦り付け処理時において光ディスク１００，１００ｘおよび処理用部材（研磨用テープ２００）の少なくとも一方（この例では、光ディスク１００，１００ｘのみ）を光ディスク１００の径方向に沿って往復動させてデータ記録面に処理用部材を擦り付けることにより、データ記録トラックＴと交差する方向の傷を生じさせて各光ディスク１００等の実際の使用に即した評価を行うことができる。
【０１１３】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、擦り付け処理時において光ディスク１００，１００ｘおよび処理用部材（研磨用テープ２００）の少なくとも一方（この例では、光ディスク１００，１００ｘのみ）をデータ記録トラックの接線方向に沿って往復動させてデータ記録面に処理用部材を擦り付けることにより、データ記録トラックＴに沿って長い傷を生じさせて各光ディスク１００等の実際の使用に即した評価を行うことができる。
【０１１４】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、光ディスク１００，１００ｘおよび処理用部材（研磨用テープ２００）の間の相対的な移動の速さが３０ｍｍの距離を１秒以上２秒以下の範囲内で１往復する速さとなるように少なくとも一方（この例では、光ディスク１００，１００ｘ）を往復動させることにより、往復動の速度が遅過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、往復動の速度が速過ぎて通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【０１１５】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、本発明における擦り付け処理時において光ディスク１００，１００ｘおよび処理用部材（研磨用テープ２００）の少なくとも一方（この例では、光ディスク１００，１００ｘ）を３回以上１０回以下の範囲内で往復動させることにより、往復動の回数が少な過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、往復動の回数が多過ぎて通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【０１１６】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、本発明における擦り付け処理時において光ディスク１００，１００ｘに対して処理用部材（研磨用テープ２００）を下方側から擦り付けることにより、擦り付け時に生じる削り屑を自然落下させることができる。したがって、削り屑の付着に起因して評価対象の光ディスク１００，１００ｘ毎に摩耗の度合いにばらつきが生じる事態を回避することができる。
【０１１７】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、粒径が０．３μｍ以上５．０μｍ以下の範囲内の複数の粒体を有する乾式研磨部材（研磨用テープ２００）を本発明における処理用部材として使用することにより、粒径が過剰に小さい粒体を有する乾式研磨部材を使用することで通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、粒径が過剰に大きい粒体を有する乾式研磨部材を使用することで通常の使用状態を超える傷付きが生じる事態を回避することができる。
【０１１８】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、粒体としてＡｌ２Ｏ３を使用することにより、乾式研磨部材が安価であるため、光ディスク１００，１００ｘの評価に要するコストを低減することができる。また、粒体としてのＡｌ２Ｏ３を有する乾式研磨部材の入手が容易であるため、入手が困難な乾式研磨部材を使用するのとは異なり、多くの評価者に対して同一条件で擦り付け処理を実施させることができる。
【０１１９】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、乾式研磨部材としてのテープ状研磨部材（研磨用テープ２００）を使用すると共に擦り付け処理時において予め規定した速度で研磨用テープ２００をテープ送りすることにより、削り屑に起因する乾式研磨部材の目詰まりを回避することができる。したがって、目詰まりに起因して各光ディスク１００，１００ｘ毎に摩耗の度合いにばらつきが生じる事態を回避して、その良否を正しく評価することができる。
【０１２０】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、直径が４０ｍｍ以上６０ｍｍ以下の範囲内のローラ１６によって乾式研磨部材（研磨用テープ２００）をデータ記録面に押し付けることにより、過剰に小径のローラによって研磨用テープ２００を押し付けることで評価対象の光ディスク１００，１００ｘが通常の使用状態を超えて強く傷付けられる事態や、直径数センチから数十センチ程度の小さな情報媒体（この例では、光ディスク１００，１００ｘ）に対して過剰に大径のローラによって研磨用テープ２００を押し付けることでローラが邪魔となり、十分な距離の往復動が困難となる事態を回避することができる。
【０１２１】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、乾式研磨部材（研磨用テープ２００）をデータ記録面に押し付ける向きでローラに対して１．０Ｎ以上３０．０Ｎ以下の範囲内の押圧力を加えることにより、研磨用テープ２００を押し付ける力が弱過ぎて通常の使用状態に即した傷付きを再現できない事態や、研磨用テープ２００を押し付ける力が大き過ぎて評価対象の光ディスク１００，１００ｘが通常の使用状態を超えて強く傷付けられる事態を回避することができる。
【０１２２】
さらに、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、本発明における評価処理時において、本発明における読み出し結果としてのエラーレートの一例であるＳＥＲと、ＳＥＲに基づく評価処理用の評価用基準データとに基づいて光ディスク１００，１００ｘを評価することにより、実際のドライブ装置の運用に即した適切な評価を行うことができ、その結果、例えば、エラー訂正が可能か、それともエラー訂正が不可能かという点も正確かつ容易に判断することができる。
【０１２３】
また、このディスク評価システム１による光ディスク１００，１００ｘの評価方法によれば、記録データの記録部（この例では、光ディスク１００Ａ，１００Ｂにおける記録層１３０Ａ，１３０Ｂ、および光ディスク１００Ｃにおけるディスク基板１１０Ｃの一面）を覆うようにして形成された光透過性樹脂の層（この例では、光透過層１４０および保護層１５０）によって本発明におけるデータ記録面が構成された光ディスク（光ディスク１００Ａ〜１００Ｃ）を本発明における情報媒体として評価することにより、通常の使用状態に即した条件で良品であると評価され得る高品質な光ディスクを提供することができる。
【０１２４】
なお、本発明は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、上記のディスク評価システム１による評価方法では、本発明における擦り付け処理に際して、粒体としてのＡｌ２Ｏ３を有する研磨用テープ２００を使用しているが、本発明における処理用部材はこれに限定されず、サンドペーパや砥石のような各種研磨用部材を使用することができるし、帆布、超極細繊維クロス、不織布およびジーンズ地等の布地を使用することもできる。また、上記のディスク評価システム１による評価方法では、各光ディスク１００，１００ｘの一周当りに１カ所の領域Ａ１，Ａ２を対象として処理用部材としての研磨用テープ２００を擦り付けているが、各光ディスク１００，１００ｘの一周当り複数箇所の領域Ａ１，Ａ２を対象として処理用部材としての研磨用テープ２００を擦り付けてもよい。
【０１２５】
さらに、上記のディスク評価システム１（摩耗試験機２）では、光ディスク１００，１００ｘの径方向、または、データ記録トラックＴの接線方向に沿ってディスク保持部２ａ（光ディスク１００，１００ｘ）を往復動させる構成を採用しているが、ディスク保持部２ａのみならず、テープ押し付け部２ｂ（研磨用テープ２００等の各種処理用部材）を光ディスク１００，１００ｘの径方向、または、データ記録トラックＴの接線方向に沿って往復動させる構成や、ディスク保持部２ａを制止させた状態においてテープ押し付け部２ｂ（研磨用テープ２００等の各種処理用部材）のみを光ディスク１００，１００ｘの径方向、または、データ記録トラックＴの接線方向に沿って往復動させる構成を採用することもできる。
【０１２６】
また、例えば先端に円柱状の処理用部材を取り付けた電動ドリルによって処理用部材を回転させながら光ディスク１００，１００ｘのデータ記録面に押し付けることで本発明における擦り付け処理を実行する構成を採用することもできる。この構成を採用した場合には、処理用部材における評価対象との接触面の大きさを直径５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内とすることで、前述した研磨用テープ２００の擦り付けによる擦り付け処理時における領域Ａ１，Ａ２に対応する領域（処理用部材が擦り付けられる領域）の周方向に沿った長さを５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲内とすることができる。
【０１２７】
さらに、上記のディスク評価システム１による評価方法では、評価処理に際してＳＥＲを求めて評価用基準データＤａ〜Ｄｃと比較することで各光ディスク１００，１００ｘを評価しているが、ＳＥＲに代えて、ＢＥＲ（Bit Error Rate）などの各種エラーレートに基づく評価を実行することができる。また、本発明における評価処理時において、本発明における読み出し結果としてのＢＥＲと、ＢＥＲに基づく評価処理用の評価用基準データとに基づいて光ディスク１００，１００ｘを評価することもでき、この構成においても、評価対象の光ディスク１００，１００ｘが傷付き易い媒体であるか否か、および傷付きが生じた状態における記録データの読み出し特性が所定の基準を満たしている媒体であるか否かなどを正しく評価することができる。
【０１２８】
また、本発明に係る情報媒体評価方法の評価対象（本発明における情報媒体）は、上記の各光ディスク１００のような情報媒体に限定されず、光磁気記録媒体や磁気記録媒体等の各種の情報媒体がこれに含まれる。
【図面の簡単な説明】
【０１２９】
【図１】ディスク評価システム１の構成を示す構成図である。
【図２】摩耗試験機２の構成を示す構成図である。
【図３】評価対象の光ディスク１００Ａの断面図である。
【図４】評価対象の光ディスク１００Ｂの断面図である。
【図５】評価対象の光ディスク１００Ｃの断面図である。
【図６】研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ１について説明するための光ディスク１００の平面図である。
【図７】光ディスク１００Ａについて、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図８】光ディスク１００Ｂについて、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図９】光ディスク１００Ｃについて、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１０】光ディスク１００Ａについて、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１１】光ディスク１００Ｂについて、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける研磨用テープ２００のテープ幅Ｌ１と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１２】径方向に往復動させる擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒体の粒径と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１３】研磨用テープ２００を擦り付ける領域Ａ２について説明するための光ディスク１００の平面図である。
【図１４】光ディスク１００Ａについて、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける領域Ａ２の周方向の長さと評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１５】光ディスク１００Ｂについて、記録処理、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける領域Ａ２の周方向の長さと評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１６】光ディスク１００Ｃについて、擦り付け処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける領域Ａ２の周方向の長さと評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１７】光ディスク１００Ａについて、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける領域Ａ２の周方向の長さと評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１８】光ディスク１００Ｂについて、擦り付け処理、記録処理、読み出し処理および評価処理をこの順で実行したときにおける領域Ａ２の周方向の長さと評価結果との関係について説明するための説明図である。
【図１９】接線方向に往復動させる擦り付け処理時において使用する研磨用テープ２００の粒体の粒径と評価結果との関係について説明するための説明図である。
【符号の説明】
【０１３０】
１  ディスク評価システム
２  摩耗試験機
２ａ  ディスク保持部
２ｂ  テープ押し付け部
２ｃ  移動機構
３  記録再生装置
４  制御装置
１１  基台
１２  支点
１３  アーム
１４  ウェイト
１５  ローラ取付部
１６  ローラ
１６ａ  回転軸
１７  テープ送り機構
２１  表示部
２２  制御部
２３  記憶部
１００Ａ〜１００Ｃ  光ディスク
２００  研磨用テープ
Ａ１，Ａ２  領域
Ｄａ〜Ｄｃ  評価用基準データ
Ｄｄ  評価用記録データ
Ｌ１  テープ幅Ｌ１
Ｌ２  長さ
Ｓ１  制御信号
Ｓ２  記録信号
Ｓ３  再生信号
Ｔ  データ記録トラック
【図１】
0004466609.tif 000002
【図２】
0004466609.tif 000003
【図３】
0004466609.tif 000004
【図４】
0004466609.tif 000005
【図５】
0004466609.tif 000006
【図６】
0004466609.tif 000007
【図７】
0004466609.tif 000008
【図８】
0004466609.tif 000009
【図９】
0004466609.tif 000010
【図１０】
0004466609.tif 000011
【図１１】
0004466609.tif 000012
【図１２】
0004466609.tif 000013
【図１３】
0004466609.tif 000014
【図１４】
0004466609.tif 000015
【図１５】
0004466609.tif 000016
【図１６】
0004466609.tif 000017
【図１７】
0004466609.tif 000018
【図１８】
0004466609.tif 000019
【図１９】
0004466609.tif 000020