(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から３００μｓ以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置。
【請求項２】
Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から３００μｓ以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を再び一時停止させるか又は発生電圧を再び一時低下させ復帰再遅延時間後に通常動作へ再復帰開始させることを１回以上行う再復帰試行手段と、その再復帰試行手段による再復帰開始の回数が保護回数に達すると前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の高圧発生装置において、前記保護手段の作動時に異常を報知する異常報知手段を具備したことを特徴とする高圧発生装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の高圧発生装置を具備したことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項５】
正電圧および負電圧のそれぞれについて請求項１から請求項３のいずれかに記載の高圧発生装置を具備したことを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項６】
Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段と、データ取得中に前記Ｘ線管に加わる管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データをその前後に取得したデータを用いて補間する補間手段とを具備したことを特徴とするＸ線撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高圧発生装置およびＸ線撮像装置に関し、さらに詳しくは、Ｘ線管内で微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰する際にオーバーシュートが発生することを防止できる高圧発生装置およびその高圧発生装置を用いたＸ線撮像装置、並びに、微小放電が起った場合の画質の悪化を抑制できるＸ線撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１０は、特開平１１−２８３７８９号公報に開示された高圧発生装置の模式的ブロック図である。
この高圧発生装置５００は、Ｘ線管ＸＴに供給する高圧Ｖｏ（例えば１ｋＶ）を発生する高圧発生器１１と、前記Ｘ線管ＸＴに加わる管電圧を測定して測定電圧Ｖｍを出力する管電圧測定部１２と、前記測定電圧Ｖｍに基づいて前記高圧発生器１１へ電圧制御信号Ｒを送る高圧制御部５０１とを具備している。
【０００３】
図１１は、微小放電が起った時の上記高圧発生装置５００の動作を示すグラフである。
微小放電が起ると、測定電圧Ｖｍが定常電圧Ｖｈから急降下するので、それを高圧制御部５０１で検知する。この検知に要する時間ｔｏは、例えば数１０μｓ程度である。
すると、前記高圧制御部５０１は、前記高圧発生器１１を一時停止させ、所定時間ｔ１’（例えば１００μｓ）後に通常動作に復帰開始させる。
測定電圧Ｖｍは、高圧制御部５０１や高圧発生器１１やＸ線管ＸＴの特性で決まる立上り時間ｔ２後に定常電圧Ｖｈに復帰する。
ここで、復帰中の管電流を監視し、管電流が基準より大きければ、前記高圧制御部５０１は、前記高圧発生器１１を再び一時停止させ、所定時間（例えば１ｍｓ）後に通常動作に再び復帰開始させる。この再復帰の動作が所定回数繰り返されたら、前記高圧制御部５０１を停止させる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の高圧発生装置５００では、図１１に示すように滑らかに定常電圧Ｖｈに復帰する場合もあるが、図１２に示すようにオーバーシュートが生じる場合もあった。
しかし、オーバーシュートが発生すると、Ｘ線管ＸＴや高圧発生器１１に過大な電圧が加わるので、損傷や短寿命化の要因となる問題点がある。
そこで、本発明の第１の目的は、微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰する際にオーバーシュートが発生することを防止できる高圧発生装置およびその高圧発生装置を用いたＸ線撮像装置を提供することにある。
【０００５】
また、従来のＸ線撮像装置では、微小放電が起って管電圧が低下してから定常電圧に復帰するまでの期間のデータが欠落するため、画像の画質が悪化する問題点がある。
そこで、本発明の第２の目的は、微小放電が起った場合の画質の悪化を抑制できるＸ線撮像装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
第１の観点では、本発明は、Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から３００μｓ以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第１の観点による高圧発生装置では、管電圧の急降下を検知すると、３００μｓ以上の復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させる。従来は、この復帰遅延時間が１００μｓ程度であり、微小放電が起ってからＸ線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が少なかったため、オーバーシュートが発生する場合があったが、この復帰遅延時間を３００μｓ以上としたため、微小放電が起ってからＸ線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生を防止できる。そして、これにより、Ｘ線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
さらに、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、Ｘ線管や高圧発生手段を保護できる。
【０００７】
第２の観点では、本発明は、Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から３００μｓ以上の復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を再び一時停止させるか又は発生電圧を再び一時低下させ復帰再遅延時間後に通常動作へ再復帰開始させることを１回以上行う再復帰試行手段と、その再復帰試行手段による再復帰開始の回数が保護回数に達すると前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段とを具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第２の観点による高圧発生装置では、管電圧の急降下を検知すると、３００μｓ以上の復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させる。従来は、この復帰遅延時間が１００μｓ程度であり、微小放電が起ってからＸ線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が少なかったため、オーバーシュートが発生する場合があったが、この復帰遅延時間を３００μｓ以上としたため、微小放電が起ってからＸ線管が安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生を防止できる。そして、これにより、Ｘ線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
また、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、Ｘ線管や高圧発生手段を保護できる。
さらに、復帰が失敗しても、再復帰を試行するので、放電時間が比較的長い微小放電が発生した場合でも、定常電圧に復帰することが出来る。
【０００８】
第３の観点では、本発明は、上記構成の高圧発生装置において、前記保護手段の作動時に異常を報知する異常報知手段を具備したことを特徴とする高圧発生装置を提供する。
上記第３の観点による高圧発生装置では、保護手段の作動時に異常を報知するので、操作者が異常に対して迅速に対処することが可能となる。
【０００９】
第４の観点では、本発明は、上記構成の高圧発生装置を具備したことを特徴とするＸ線撮像装置を提供する。
上記第４の観点によるＸ線撮像装置は、上記高圧発生装置を具備したものなので、Ｘ線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。また、微小放電による管電圧の低下から好適に復帰できるので、データの欠落を抑制できる。
【００１０】
第５の観点では、本発明は、正電圧および負電圧のそれぞれについて上記構成の高圧発生装置を具備したことを特徴とするＸ線撮像装置を提供する。
上記第５の観点によるＸ線撮像装置は、正電圧の高圧発生装置および負電圧の高圧発生装置のそれぞれについて、Ｘ線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。また、微小放電による管電圧の低下から好適に復帰できるので、データの欠落を抑制できる。
【００１１】
第６の観点では、本発明は、Ｘ線管に供給する高圧を発生する高圧発生手段と、前記Ｘ線管に加わる管電圧を測定する管電圧測定手段と、前記管電圧の急降下を検知すると前記高圧発生手段を一時停止させるか又は発生電圧を一時低下させ前記検知から復帰遅延時間後に通常動作へ復帰開始させる復帰遅延手段と、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合に前記高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させた状態を継続する保護手段と、データ取得中に前記Ｘ線管に加わる管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データをその前後に取得したデータを用いて補間する補間手段とを具備したことを特徴とするＸ線撮像装置を提供する。
上記第６の観点によるＸ線撮像装置では、管電圧の急降下を検知すると、復帰遅延時間だけ高圧発生手段を一時停止させるか又は高圧発生手段の発生電圧を一時低下させた後で通常動作へ復帰開始させるが、復帰開始から復帰監視時間後の管電圧が異常判定用閾値よりも低い場合は、高圧発生手段を停止させるか又は発生電圧を低下させ、無理な復帰を行わないので、Ｘ線管や高圧発生手段を保護できる。また、管電圧が急降下してから元の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データを補間するので、画質の悪化を最小限に抑制することが出来る。
【００１２】
上記第４の観点から第６の観点のＸ線撮像装置としては、Ｘ線ＣＴ装置やＸ線ラインセンサＴＶなどが挙げられる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、図に示す実施形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【００１４】
−第１の実施形態−
図１は、本発明の第１の実施形態にかかるＸ線ＣＴ（Ｃomputed Ｔomograhy）装置１０００のブロック図である。
このＸ線ＣＴ装置１０００は、操作コンソール２０と、撮影テーブル３０と、走査ガントリ４０とを具備している。
前記操作コンソール２０は、操作者の指示入力や情報入力などを受け付ける入力装置２２と、ヘリカルスキャンによる撮影処理や補間処理などを実行する制御を行う中央処理装置２３と、制御信号などを前記撮影テーブル３０や前記走査ガントリ４０とやり取りする制御インタフェース２４と、前記走査ガントリ４０で取得したデータを収集するデータ収集バッファ２５と、前記データから再構成して得たＸ線画像を表示するＣＲＴ２６と、プログラムやデータを記憶する記憶装置２７とを具備している。
前記撮影テーブル３０は、被検体を乗せて体軸方向に移動させる。
前記走査ガントリ４０は、Ｘ線管ＸＴと、本発明にかかる高圧発生装置１００と、検出器アレイ４７と、データ収集部４８と、被検体の体軸の回りにＸ線管ＸＴなどを回転させる回転コントローラ４９とを具備している。
【００１５】
図２は、上記高圧発生装置１００のブロック図である。
この高圧発生装置１００は、Ｘ線管ＸＴに供給する高圧Ｖｏ（例えば１ｋＶ）を発生する高圧発生器１１と、前記Ｘ線管ＸＴに加わる管電圧を測定して測定電圧Ｖｍを出力する管電圧測定部１２と、前記測定電圧Ｖｍの急降下を検知するマイコン（マイクロコンピュータ）１３と、前記高圧発生器１１へ前記測定電圧Ｖｍに応じた電圧制御信号Ｒを送るか又は前記高圧Ｖｏの電圧レベルを低下させるための電圧低下信号Ｒlowを送る高圧制御部１０１とを具備して構成されている。
前記高圧制御部１０１は、前記測定電圧Ｖｍと基準電圧Ｖrefの差に基づく電圧制御信号Ｒを出力するレギュレータ回路１４と、前記電圧制御信号Ｒまたは前記電圧低下信号Ｒlowを選択出力するスイッチ１５とを具備している。前記スイッチ１５の選択状態は、前記マイコン１３からの切換信号Ｓにより切り換えられる。なお、前記電圧低下信号Ｒlowを選択する代わりに、前記高圧発生器１１を停止させてもよい。
【００１６】
図３は、上記高圧発生装置１００による高圧制御処理を示すフロー図である。
この高圧制御処理は、前記マイコン１３が微小放電（例えば前記測定電圧Ｖｍが１μｓの期間に基準電圧Ｖrefの１０％以下までに低下する現象）を検知することにより起動される。なお、初期状態では、スイッチ１５は、電圧制御信号Ｒを選択出力する状態である。
【００１７】
ステップＳＴ１では、繰り返し数ｎを“１”に初期化する。
ステップＳＴ２では、３００μｓ〜１ｍｓ位の復帰遅延時間ｔ１だけスイッチ１５を電圧低下信号Ｒlowの選択出力状態に切り換える。
ステップＳＴ３では、スイッチ１５を電圧制御信号Ｒの選択出力状態に戻す。
【００１８】
ステップＳＴ４では、復帰監視時間ｔ３が経過するまで待ち、経過したらステップＳＴ５へ進む。前記復帰監視時間ｔ３は、Ｘ線管ＸＴが正常の場合に、測定電圧Ｖｍが基準電圧Ｖrefの９０％以上まで上昇するのに要する時間よりも長い時間とする。
ステップＳＴ５では、管電圧測定部１２で管電圧を測定する。
ステップＳＴ６では、測定電圧Ｖｍが基準電圧Ｖrefの９０％以上か否か判定する。測定電圧Ｖｍが基準電圧Ｖrefの９０％以上であれば、高圧制御処理を終了する（この場合、Ｘ線管ＸＴに安定な高圧が供給される）。また、測定電圧Ｖｍが基準電圧Ｖrefの９０％以上でなければステップＳＴ７へ進む。
【００１９】
ステップＳＴ７では、繰り返し数ｎが“３”以上か否か判定する。繰り返し数ｎが“３”より小さいならステップＳＴ８へ進み、繰り返し数ｎが“３”以上であればステップＳＴ９へ進む。
【００２０】
ステップＳＴ８では、繰り返し数ｎを“１”だけインクリメントする。その後、上記ステップＳＴ２に戻る。
【００２１】
ステップＳＴ９では、微小放電以外の異常（異常短絡など）が発生したと判定して、スイッチ１５を電圧低下信号Ｒlowの選択出力状態に切り換える。これにより、Ｘ線管ＸＴや高圧発生器１１の損傷を防止できる。
ステップＳＴ１０では、異常の発生を報知する。例えば、アラーム音を鳴らしたり，警告ランプを点灯したり，ＣＲＴ２６に警告メッセージを表示したりする。その後、高圧制御処理を終了する。
【００２２】
図４〜図６は、図３の高圧制御処理を行ったときの測定電圧Ｖｍの変化を示すグラフである。
図４は、放電時間の短い微小放電（例えばアノード−カソード間での微小放電）が起って、繰り返し数ｎ＝１の段階で、測定電圧Ｖｍが定常電圧Ｖｈに上昇する場合を示す。すなわち、図３の１回目のステップＳＴ６の時点で、測定電圧Ｖｍが基準電圧Ｖrefの９０％（異常判定用閾値Ｖｔ）以上と判定されるので、スイッチ１５を電圧制御信号Ｒの選択出力状態に戻してから所定時間ｔ２（例えば１ｍｓ〜５ｍｓ）後に安定な定常電圧Ｖｈとなる。
このように復帰遅延時間ｔ１が３００μｓ以上あるため、微小放電が起ってからＸ線管ＸＴが安定した状態に戻るまでの時間的な余裕が十分あり、オーバーシュートの発生が防止できている。そして、これにより、Ｘ線管や高圧発生手段に過大な電圧が加わる不都合を回避できる。
【００２３】
図５は、放電時間の長い微小放電（例えばアノード−グラウンド間やカソード−グラウンド間での微小放電）が起って、繰り返し数ｎ＝２の段階で、測定電圧Ｖｍが定常電圧Ｖｈに上昇する場合を示す。すなわち、図３の１回目のステップＳＴ６の時点で測定電圧Ｖｍが異常判定用閾値Ｖｔ以上でないと判定され、２回目のステップＳＴ６の時点で測定電圧Ｖｍが異常判定用閾値Ｖｔ以上と判定された後、測定電圧Ｖｍが安定な定常電圧Ｖｈとなる。
このように最初の復帰が失敗しても再復帰するので、放電時間が比較的長い微小放電が発生した場合でも、定常電圧に復帰することが出来る。
【００２４】
図６は、微小放電でない異常短絡等が起って、繰り返し数ｎ＝３の段階で、異常終了する場合を示す。すなわち、図３の１回目，２回目，３回目のステップＳＴ６の時点で測定電圧Ｖｍが異常判定用閾値Ｖｔ以上でないと判定され、ステップＳＴ９でスイッチ１５を電圧低下信号Ｒlowの選択出力状態に切り換えた状態で終わる。その後、Ｘ線管ＸＴに低い電圧が供給される状態が継続し、異常が報知される。
このように高圧発生機１１の発生電圧を低下させ（又は高圧発生機１１を停止させ）、無理な復帰を行わないので、Ｘ線管ＸＴや高圧発生器１１を保護できる。
また、異常を報知するので、操作者が異常に対して迅速に対処することが可能となる。
【００２５】
図７は、上記Ｘ線ＣＴ装置１０００によるＣＴ画像表示処理を示すフロー図である。
ステップＳＵ１では、被検体の周りにＸ線管ＸＴを回転させながら、一つのＣＴ画像を再構成しうるビュー数のデータを取得する（ＣＴスキャン）か、又は、Ｘ線管ＸＴを回転させないで、被検体の体軸方向に移動させながら、必要な範囲をカバーする一つのスカウト（scout）画像を生成しうる数のデータを取得する（スカウトスキャン）。
ステップＳＵ２では、データの取得が途切れた期間（管電圧が急降下してからＸ線管ＸＴに安定した高圧が供給されるまでの期間）があるか否か判定する。データの取得が途切れた期間があればステップＳＵ３へ進み、データの取得が途切れた期間がなければステップＳＵ４へ進む。
【００２６】
ステップＳＵ３では、図８に示すように、データの取得が途切れた期間の前後に取得した検出器チャネル番号ｉごとのデータＤ（ｉ）-，Ｄ（ｉ）+を用いて、欠落ローデータＤ（ｉ）’を補間する。
【００２７】
ステップＳＵ４では、取得したデータまたは前記補間処理したデータよりＣＴ画像またはスカウト画像を生成する。
ステップＳＵ５では、生成したＣＴ画像またはスカウト画像をＣＲＴ２６に表示する。
【００２８】
以上のＸ線ＣＴ装置１０００によれば、微小放電が起ったために取得できなかった欠落データを補間して画像を生成するので、画質の劣化を抑制することが出来る。
【００２９】
なお、上記第１の実施形態では、ｎ＝１の時の復帰遅延時間ｔ１を、ｎ＝２，３の時の復帰遅延時間としても適用したが、ｎの値によって異なる復帰遅延時間としてもよい。
【００３０】
−第２の実施形態−
図９は、本発明の第２の実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置２０００の要部ブロック図である。
このＸ線Ｃｔ装置２０００は、Ｘ線管ＸＴ’のアノードに正の高圧＋Ｖｏ（例えば＋５００Ｖ）を供給する正高圧発生装置２００−１と、前記Ｘ線管ＸＴ’のカソードに負の高圧−Ｖｏ（例えば−５００Ｖ）を供給する負高圧発生装置２００−２とを具備している。
【００３１】
前記正高圧発生装置２００−１は、前記正の高圧＋Ｖｏを発生する正高圧発生器１１−１と、前記Ｘ線管ＸＴ’に加わる正の管電圧を測定して測定電圧＋Ｖｍを出力する管電圧測定部１２−１と、前記測定電圧＋Ｖｍの急降下を検知するマイコン１３−１と、前記正高圧発生器１１−１へ前記測定電圧＋Ｖｍに応じた電圧制御信号＋Ｒを送るか又は前記高圧＋Ｖｏの電圧レベルを低下させるための電圧低下信号Ｒlowを送る正高圧制御部２０１−１とを具備して構成されている。前記正高圧制御部２０１−１は、前記測定電圧＋Ｖｍと基準電圧＋Ｖrefの差に基づく電圧制御信号＋Ｒを出力するレギュレータ回路１４−１と、前記電圧制御信号＋Ｒまたは前記電圧低下信号Ｒlowを選択出力するスイッチ１５−１とを具備している。前記スイッチ１５−１の選択状態は、前記マイコン１３−１からの切換信号Ｓ１により切り換えられる。
前記マイコン１３−１の動作は、前記第１の実施形態と同様である。
【００３２】
前記負高圧発生装置２００−２は、前記負の高圧−Ｖｏを発生する負高圧発生器１１−２と、前記Ｘ線管ＸＴ’に加わる負の管電圧を測定して測定電圧−Ｖｍを出力する管電圧測定部１２−２と、前記測定電圧−Ｖｍの急上昇を検知するマイコン１３−２と、前記負高圧発生器１１−２へ前記測定電圧−Ｖｍに応じた電圧制御信号−Ｒを送るか又は前記高圧−Ｖｏの電圧レベルを上昇させるための電圧上昇信号Ｒｈｉｇｈを送る負高圧制御部２０１−２とを具備して構成されている。
前記負高圧制御部２０１−２は、前記測定電圧−Ｖｍと基準電圧−Ｖrefの差に基づく電圧制御信号−Ｒを出力するレギュレータ回路１４−２と、前記電圧制御信号−Ｒまたは前記電圧上昇信号Ｒｈｉｇｈを選択出力するスイッチ１５−２とを具備している。前記スイッチ１５−２の選択状態は、前記マイコン１３−２からの切換信号Ｓ２により切り換えられる。
前記マイコン１３−２の動作は、前記第１の実施形態と同様である。
【００３３】
以上のＸ線ＣＴ装置２０００によれば、正高圧発生装置２００−１でも、負高圧発生装置２００−２でも、オーバーシュートの発生を防止できる。
【００３４】
【発明の効果】
本発明の高圧発生装置およびＸ線撮像装置によれば、微小放電が起ると、３００μｓ以上の復帰遅延時間だけ高圧の発生を停止するか又は電圧レベルを低下させた後で通常の高圧に戻すので、その間にＸ線管が安定になり、オーバーシュートの発生を防止できる。したがって、Ｘ線管や高圧発生手段の損傷を回避でき、長寿命化できる。
【００３５】
また、本発明のＸ線撮像装置によれば、微小放電が起ってから通常の高圧に復帰するまでの間に取得できなかった欠落データを補間して画像を生成するので、微小放電が起った場合でも、高画質の画像を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置のブロック図である。
【図２】図１のＸ線ＣＴ装置における高圧発生装置のブロック図である。
【図３】図２の高圧発生装置による高圧制御処理を示すフロー図である。
【図４】図３の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示すグラフである。
【図５】図３の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示す別のグラフである。
【図６】図３の高圧制御処理を行ったときの測定電圧の変化を示す更に別のグラフである。
【図７】図１のＸ線ＣＴ装置による画像生成表示処理を示すフロー図である。
【図８】図７の画像生成表示処理における補間処理の一例を示す説明図である。
【図９】本発明の第２の実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置の要部ブロック図である。
【図１０】従来の高圧発生装置の一例のブロック図である。
【図１１】微小放電が起った時の図１０の高圧発生装置の動作を示すグラフである。
【図１２】オーバーシュートが起った時の測定電圧の変化を示すグラフである。
【符号の説明】
１１，１１−１，１１−２      高圧発生器
１２，１２−１，１２−２      管電圧測定部
１３，１３−１，１３−２      マイコン
１４，１４−１，１４−２      レギュレータ回路
１５，１５−１，１５−２      スイッチ
１００，２００                高圧発生装置
１０１                        高圧制御部
２００−１                    正高圧発生装置
２００−２                    負高圧発生装置
２０１−１                    正高圧制御部
２０１−２                    負高圧制御部
１０００，２０００            Ｘ線ＣＴ装置
ＸＴ，ＸＴ’                  Ｘ線管
【図１】
0004472818.tif 000002
【図２】
0004472818.tif 000003
【図３】
0004472818.tif 000004
【図４】
0004472818.tif 000005
【図５】
0004472818.tif 000006
【図６】
0004472818.tif 000007
【図７】
0004472818.tif 000008
【図８】
0004472818.tif 000009
【図９】
0004472818.tif 000010
【図１０】
0004472818.tif 000011
【図１１】
0004472818.tif 000012
【図１２】
0004472818.tif 000013