(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発射して光ディスクの記録面に照射すると共に、当該記録面で上記レーザ光が反射して得られる反射光を受光し、当該受光した上記反射光に基づいて受光信号を生成する光ピックアップ部と、
レーザ強度設定値を設定し、当該設定した上記レーザ強度設定値に基づいて、上記光ピックアップ部から発射される上記レーザ光の強度を制御するレーザ強度制御部と、
上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号とに基づいて上記オフセットを除去したサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、
上記光ディスクの上記記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続して上記レーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号に基づいて、上記複数の試書領域の試書開始位置に順次上記レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成する信号生成部と、
上記信号生成部から与えられる上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記レーザ強度設定値を上記レーザ強度制御部に送出すると共に、上記通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記オフセット補正値を上記サーボ信号生成部に送出する送出部と
を具え、
上記レーザ強度制御部は、
上記信号生成部から与えられる上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知される毎に、上記送出部から与えられる上記レーザ強度設定値を保持すると共に、１つ前の上記レーザ到達タイミングが通知されたときに上記送出部から与えられ保持していた上記レーザ強度設定値を設定し、当該設定した上記レーザ強度設定値に基づいて、上記光ピックアップ部から発射される上記レーザ光の強度を制御し、
上記サーボ信号生成部は、
上記信号生成部から与えられる上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知される毎に、上記送出部から与えられる上記オフセット補正値を保持すると共に、１つ前の上記レーザ到達タイミングが通知されたときに上記送出部から与えられ保持していた上記オフセット補正値を設定し、当該設定した上記オフセット補正値と、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号とに基づいて上記オフセットを除去して上記サーボ信号を生成する
光ディスク記録装置。
【請求項２】
レーザ光を発射して光ディスクの記録面に照射すると共に、当該記録面で上記レーザ光が反射して得られる反射光を受光し、当該受光した上記反射光に基づいて受光信号を生成する光ピックアップ部を用いて、上記光ディスクの上記記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続して上記レーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、信号生成部が上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号に基づいて、上記複数の試書領域の試書開始位置に順次上記レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成して、当該生成したタイミング通知信号を、レーザ強度設定値を設定し、当該設定した上記レーザ強度設定値に基づいて、上記光ピックアップ部から発射される上記レーザ光の強度を制御するレーザ強度制御部と、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号とに基づいて上記オフセットを除去したサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記レーザ強度設定値を上記レーザ強度制御部に送出すると共に、上記通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記オフセット補正値を上記サーボ信号生成部に送出する送出部とに送出する信号生成ステップと、
上記送出部が、上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知されたとき、当該通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記レーザ強度設定値を上記レーザ強度制御部に送出すると共に、上記通知された上記レーザ到達タイミングで上記レーザ光が到達した上記試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する上記試書開始位置からの上記試書領域に対する上記試書データの試し書きに用いる上記オフセット補正値を上記サーボ信号生成部に送出して、上記レーザ強度制御部が、上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知されたとき、上記送出部から与えられる上記レーザ強度設定値を保持すると共に、１つ前の上記レーザ到達タイミングが通知されたときに上記送出部から与えられ保持していた上記レーザ強度設定値を設定して、当該設定した上記レーザ強度設定値に基づいて、上記光ピックアップ部から発射される上記レーザ光の強度を制御し、上記サーボ信号生成部が、上記タイミング通知信号により上記レーザ到達タイミングが通知されたとき、上記送出部から与えられる上記オフセット補正値を保持すると共に、１つ前の上記レーザ到達タイミングが通知されたときに上記送出部から与えられ保持していた上記オフセット補正値を設定して、当該設定した上記オフセット補正値と、上記光ピックアップ部により生成される上記受光信号とに基づいて上記オフセットを除去して上記サーボ信号を生成する設定ステップと
を具える光記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク記録装置及び光記録方法に関し、例えば光ディスクに対してデータを記録再生する光記録ビデオカメラに適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク記録装置は、装置本体に光ディスクが装填されたとき、光ディスクを回転させながら、当該光ディスクの記録面に設けられた連続する複数の試書領域にそれぞれ強度の異なるレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きしていた。そして光ディスク記録装置は、光ディスクの複数の試書領域からそれに応じた試書データを再生し、その再生結果に基づいてデータ記録時のレーザ光の最適な強度を求めるＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれるレーザ光最適強度選定処理を行っていた（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−２１３８０８公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところでかかる構成の光ディスク記録装置は、制御部が光ディスク上の個々の試書領域の試書開始位置にレーザ光が到達する毎に、その到達を検出していた。また光ディスク記録装置の制御部は、試書開始位置にレーザ光が到達したことを検出したとき、試書データを試し書きする際のレーザ光の強度の値を示す試書用レーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出して設定することにより、かかるレーザ強度制御部により当該設定した試書用レーザ強度設定値に基づいてレーザ光の強度を制御させていた。
【０００４】
ところが光ディスク記録装置において制御部は、レーザ光最適強度選定処理を実行しているとき、これ以外の処理も合せて実行しているため、処理負荷が増大すると、例えば試書開始位置にレーザ光が到達したことを検出してからレーザ強度制御部に対し試書用レーザ強度設定値を送出して設定するまでの間に時間的なずれが生じ、その結果、試書開始位置にレーザ光が到達したことを検出してからレーザ光の強度を切り替えるまでのタイミングがずれる場合がある。従って光ディスク記録装置は、光ディスクの個々の試書領域の試書開始位置と実際に試し書きを開始する位置とがずれてしまい、試書データの試し書きに試書領域を有効には利用していないという問題があった。
【０００５】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、個々の試書領域をそれぞれ有効に使って試書データを試し書きし得る光ディスク記録装置及び光記録方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
かかる課題を解決するため本発明においては、レーザ光を発射して光ディスクの記録面に照射すると共に、当該記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を受光し、当該受光した反射光に基づいて受光信号を生成する光ピックアップ部を用いて、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、信号生成部が光ピックアップ部により生成される受光信号に基づいて、複数の試書領域の試書開始位置に順次レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成して、当該生成したタイミング通知信号を、レーザ強度設定値を設定し、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部から発射されるレーザ光の強度を制御するレーザ強度制御部と、光ピックアップ部により生成される受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去したサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出すると共に、通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出する送出部とに送出し、当該送出部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出すると共に、通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出して、レーザ強度制御部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、送出部から与えられるレーザ強度設定値を保持すると共に、１つ前のレーザ到達タイミングが通知されたときに送出部から与えられ保持していたレーザ強度設定値を設定して、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部から発射されるレーザ光の強度を制御し、サーボ信号生成部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、送出部から与えられるオフセット補正値を保持すると共に、１つ前のレーザ到達タイミングが通知されたときに送出部から与えられ保持していたオフセット補正値を設定して、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去してサーボ信号を生成するようにした。
【０００７】
従って本発明では、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域の試書開始位置に順次レーザ光が到達するレーザ到達タイミングで、レーザ強度制御部がレーザ強度設定値を切り替えて設定し、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部の発射するレーザ光の強度を制御すると共に、サーボ信号生成部がオフセット補正値を切り替えて設定し、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去してサーボ信号を生成することで、複数の試書領域それぞれに当該試書領域に対応する強度のレーザ光で試書データを的確に試し書きすることができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、レーザ光を発射して光ディスクの記録面に照射すると共に、当該記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を受光し、当該受光した反射光に基づいて受光信号を生成する光ピックアップ部を用いて、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、信号生成部が光ピックアップ部により生成される受光信号に基づいて、複数の試書領域の試書開始位置に順次レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成して、当該生成したタイミング通知信号を、レーザ強度設定値を設定し、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部から発射されるレーザ光の強度を制御するレーザ強度制御部と、光ピックアップ部により生成される受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去したサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出すると共に、通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出する送出部とに送出し、当該送出部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出すると共に、通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置からの試書領域に対する試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出して、レーザ強度制御部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、送出部から与えられるレーザ強度設定値を保持すると共に、１つ前のレーザ到達タイミングが通知されたときに送出部から与えられ保持していたレーザ強度設定値を設定して、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部から発射されるレーザ光の強度を制御し、サーボ信号生成部が、タイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知されたとき、送出部から与えられるオフセット補正値を保持すると共に、１つ前のレーザ到達タイミングが通知されたときに送出部から与えられ保持していたオフセット補正値を設定して、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去してサーボ信号を生成するようにしたことにより、複数の試書領域それぞれに当該試書領域に対応する強度のレーザ光で試書データを的確に試し書きすることができ、かくして個々の試書領域をそれぞれ有効に使って試書データを試し書きし得る光ディスク記録装置及び光記録方法を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１０】
図１において、１は全体として本発明を適用した光記録ビデオカメラの構成を示したブロック図である。かかる光記録ビデオカメラ１は、本体部に例えば書込型のＤＶＤ（Digital Versatile Disk）のような光ディスク２が装填された状態で、中央処理ユニット（Central Processing Unit ）３が図示しないメモリに予め記憶している各種プログラムを読み出して実行することにより、当該光記録ビデオカメラ１全体を統括的に制御して各種処理を実行する。
【００１１】
これにより中央処理ユニット３は、データ再生時、光記録ビデオカメラ１の本体部に装填された光ディスク２を、図示しないスピンドルモータドライバを介してスピンドルモータにより線速度一定（CLV:Constant Linear Velocity）又は角速度一定（CAV:Constant Angular Velocity ）で回転させる。この状態でオートパワーコントロール回路４は、レーザドライバ５の制御用に自己に対して、データ再生用のレーザ光の強度（以下、これを再生用レーザ強度と呼ぶ）を示す再生用レーザ強度設定値を設定し、当該設定した再生用レーザ強度設定値に基づいてレーザドライバ５を制御する。レーザドライバ５は、オートパワーコントロール回路４の制御の元に図２に示す光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａを駆動することにより当該レーザ発光素子６ａに対して再生用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を発射させる。
【００１２】
ここで光ピックアップ部６（図２）は、かかるレーザ発光素子６ａに加えて、再生データ生成用のＩＣ（Integrated Circuit）チップ構成でなる受光素子（以下、これを主受光素子と呼ぶ）６ｂと、レーザ強度監視用のＩＣチップ構成でなる受光素子（以下、これを副受光素子と呼ぶ）６ｃとを有している。そして光ピックアップ部６において主受光素子６ｂは、レーザ発光素子６ａから発射されたレーザ光Ｌ１が光ディスク２の記録面２Ａで反射して得られる反射光Ｌ２を受光し、当該受光した反射光Ｌ２を光電変換することにより受光信号を生成すると共に、当該生成した受光信号をサーボ演算回路７に送出する。
【００１３】
サーボ演算回路７は、受光信号に基づいて例えば非点収差法に従いフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と呼ぶ）を生成すると共に、当該受光信号に基づいて例えばプッシュプル法に従いトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と呼ぶ）を生成し、さらに受光信号に基づいてプルイン信号（以下、ＰＩ信号と呼ぶ）を生成している。そしてサーボ演算回路７は、かかるＰＩ信号に基づいてＦＥ信号及びＴＥ信号を正規化し、当該正規化したＦＥ信号及びＴＥ信号をサーボ回路８に送出する。またサーボ演算回路７は、受光信号に基づいて再生ＲＦ信号を生成し、これをデジタル信号処理部（DSP:Digital Signal Processor）９に送出する。サーボ回路８は、かかるＦＥ信号に基づいて、光ピックアップ部６の対物レンズを保持する図示しないアクチュエータを駆動することにより、光ディスク２の記録面２Ａにレーザ光Ｌ１が焦点を合わせるようにフォーカスを制御する。またサーボ回路８は、かかるＴＥ信号に基づいて、光ピックアップ部６を光ディスクの径方向に移動（シーク）させる図示しないスレッドモータを駆動することにより、レーザ光Ｌ１を光ディスク２の記録面２Ａの所望のトラックに照射するようにトラッキングを制御する。一方、デジタル信号処理部９は、かかる再生ＲＦ信号から再生データを生成し、これを中央処理ユニット３に送出する。
【００１４】
因みに光ピックアップ部６の副受光素子６ｃ（図２）は、レーザ発光素子６ａから発射されたレーザ光Ｌ１の少なくとも一部を受光して光電変換することにより得られる受光信号をオートパワーコントロール回路４に送出する。オートパワーコントロール回路４は、かかる受光信号に基づいてその時点で光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａによって発射されているレーザ光Ｌ１の強度を検知し、その検知結果に応じて当該レーザ発光素子６ａの発射するレーザ光Ｌ１の強度が再生用レーザ強度として一定になるようにレーザドライバ５を制御する。すなわちオートパワーコントロール回路４は、レーザドライバ５を制御しつつ副受光素子６ｃから受光信号を得ることでフィードバックループを構築し、かくして光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａに対し、レーザ光Ｌ１を再生用レーザ強度で安定して発射させる。
【００１５】
一方、中央処理ユニット３は、データ記録時、上述したデータ再生時と同様に光ディスク２を回転させた状態で、図示しない撮像部によって被写体を撮像することにより得られた撮像データを取り込み、当該取り込んだ撮像データをオートパワーコントロール回路４に送出する。オートパワーコントロール回路４は、レーザドライバ５の制御用に自己に対してデータ記録用のレーザ光Ｌ１の強度（以下、これを記録用レーザ強度と呼ぶ）の値を示す記録用レーザ強度設定値を設定し、当該設定した記録用レーザ強度設定値に基づいてレーザドライバ５を制御すると共に、かかるレーザドライバ５に対し撮像データを送出する。レーザドライバ５は、オートパワーコントロール回路４の制御の元に光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａを駆動することにより当該レーザ発光素子６ａに対し、記録用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を発射させると共に、これに加えて撮像データに基づいてレーザ発光素子６ａの駆動及び停止を制御することにより当該撮像データに応じてレーザ光Ｌ１を発射させ、またその発射を停止させる。
【００１６】
これにより光ピックアップ部６は、撮像データに応じて光ディスク２の記録面２Ａに、記録用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を照射し、またかかる照射を停止することにより当該光ディスクの記録面２Ａに対し撮像データを記録する。ところで光ピックアップ部６の主受光素子６ｂは、このときにも上述したデータ再生時と同様に、光ディスク２の記録面２Ａでレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を受光すると共に、当該受光した受光信号をサーボ演算回路７に送出する。従ってサーボ演算回路７は、上述したデータ再生時と同様に受光信号に基づいてＦＥ信号及びＴＥ信号を生成してサーボ回路８に送出することにより、当該サーボ回路８によりレーザ光Ｌ１のトラッキング及びフォーカスを制御する。また、光ピックアップ部６の副受光素子６ｃも、レーザ光Ｌ１の少なくとも一部を受光して受光信号をオートパワーコントロール回路４に送出する。従ってオートパワーコントロール回路４は、データ記録時にも上述したデータ再生時と同様に光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａに対しレーザ光Ｌ１を記録用レーザ強度で安定して発射させる。
【００１７】
ここで図３に示すように、光ディスク２の記録面２Ａの最内周側には、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる、試書データの試し書きにより最適な記録用レーザ強度を選定するための最適レーザ強度選定領域２２が例えば一周に渡って設けられている。因みに最適レーザ強度選定領域２２は、フォーマットによっては複数周に渡るものもある。かかる最適レーザ強度選定領域２２は、例えばセクタのような所定単位の連続する複数の試書領域２３に分割されている。また、光ディスク２の記録面２Ａには、当該光ディスク２上の位置や時間情報等を含むウォブル（Wobble）信号が図示しない蛇行した溝として予め形成されている。そして中央処理ユニット３は、本体部に対しかかる光ディスク２が装填されたとき、ＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれるレーザ光最適強度選定処理を開始し、上述したデータ再生時と同様に当該光ディスク２を回転させる。このときオートパワーコントロール回路４は、再生用レーザ強度設定値に基づいてレーザドライバ５を制御することにより、そのレーザドライバ５を介して光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａを駆動してレーザ光Ｌ１を発射させる。またサーボ回路８は、図示しないスレッドモータを駆動させて光ピックアップ部６をシークさせることにより、光ディスク２の記録面２Ａにおいてウォブル信号として形成された蛇行した溝にレーザ光Ｌ１を照射させる。これにより光ピックアップ部６の主受光素子６ｂは、当該光ディスク２の記録面２Ａにおいて蛇行した溝でレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を受光し、その結果得られた受光信号をサーボ演算回路７に送出する。
【００１８】
サーボ演算回路７は、受光信号からプッシュプル（PushPull）信号を生成し、これをデジタル信号処理部９に送出する。デジタル信号処理部９は、かかるプッシュプル信号に基づいてウォブル信号を生成する。またデジタル信号処理部９は、かかるウォブル信号に基づいてタイミング通知信号ＣＬを生成する。かかるタイミング通知信号ＣＬは、光ディスク２を回転させた状態で光ピックアップ部６を当該光ディスク２の径方向に適宜移動させながら、最適レーザ強度選定領域２２の複数の試書領域２３に対し連続して試書データを試し書きする一連の処理において、その光ディスク２の記録面２Ａに照射しているレーザ光Ｌ１がこれら複数の試書領域２３の試書開始位置に順次到達するタイミングを、論理「Ｌ」レベルから論理「Ｈ」レベルへの立ち上がりで示している。そしてデジタル信号処理部９は、かかるタイミング通知信号ＣＬを中央処理ユニット３、オートパワーコントロール回路４及びサーボ演算回路７に送出する。
【００１９】
中央処理ユニット３は、光ディスク２の複数の試書領域２３に対しそれぞれ試書データを試し書きするときに用いるレーザ光Ｌ１の強度（以下、これを試書用レーザ強度と呼ぶ）の値を示す複数の異なる試書用レーザ強度設定値を、図示しないメモリに予め保持している。そして中央処理ユニット３は、まずレーザ光最適強度選定処理を開始したとき（すなわち、複数の試書領域２３に対し試書データを全く試し書きしてはいない時点）、かかるメモリから１つ目の試書用レーザ強度設定値を読み出してオートパワーコントロール回路４に送出する。また中央処理ユニット３は、引き続きデジタル信号処理部９から与えられたタイミング通知信号ＣＬが論理「Ｌ」レベルから論理「Ｈ」レベルに立ち上がる毎に、当該立ち上がりのタイミング（以下、これをレーザ光到達タイミングと呼ぶ）で、かかるメモリから試書用レーザ強度設定値を順番に１つずつ読み出してオートパワーコントロール回路４に送出する。このようにして中央処理ユニット３は、光ディスク２の複数の試書領域２３に対しそれぞれ試書データを試し書きするときに用いる当該試書領域２３毎に異なる試書用レーザ強度設定値を個々の試書領域２３に対する試書データの試し書きに先立ってオートパワーコントロール回路４に送出する。因みに中央処理ユニット３は、オートパワーコントロール回路４に対し、例えば１つ目の試書用レーザ強度設定値を送出するとき、これに合わせて試書データも送出している。
【００２０】
オートパワーコントロール回路４の内部には、試書領域２３への試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を事前に格納する第１のレジスタ（以下、これを事前格納用レジスタと呼ぶ）と、試書領域２３に対する試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を設定用に格納する第２のレジスタ（以下、これを設定格納用レジスタと呼ぶ）とが設けられている。そしてオートパワーコントロール回路４は、事前格納用レジスタに対し、光ディスク２の記録面２Ａにおいて現時点のレーザ光Ｌ１の照射位置から次にそのレーザ光Ｌ１が到達する試書領域２３の試書開始位置で試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を格納している。またオートパワーコントロール回路４は、一旦は事前格納用レジスタに格納していた試書用レーザ強度設定値を設定格納用レジスタに移すようにして、当該設定格納用レジスタに対し、光ディスク２の記録面２Ａにおいて現時点にレーザ光Ｌ１が照射されている試書領域２３で試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を格納している。
【００２１】
すなわち図４（Ａ）〜（Ｄ）に示すように、オートパワーコントロール回路４は、まずレーザ光最適強度選定処理の開始時（すなわち、複数の試書領域２３に対し試書データを全く試し書きしてはいない時点）に中央処理ユニット３から与えられた１つ目の試書用レーザ強度設定値Ｐａを事前格納用レジスタに格納する（図４（Ｃ））。そしてオートパワーコントロール回路４は、引き続きデジタル信号処理部９から与えられるタイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知された時点（図４（Ａ）及び（Ｂ））に、事前格納用レジスタに対しすでに格納していた試書用レーザ強度設定値Ｐａを設定格納用レジスタに移して格納することにより自己に対して当該試書用レーザ強度設定値Ｐａをレーザドライバ５の制御に対し使用するように設定し（図４（Ｄ））、かかる試書用レーザ強度設定値Ｐａに基づいてレーザドライバ５を制御すると共に、このとき中央処理ユニット３から新たに与えられた試書用レーザ強度設定値Ｐｂを事前格納用レジスタに格納する（図４（Ｃ））。またオートパワーコントロール回路４は、試書用レーザ強度設定値Ｐａに基づいてレーザドライバ５を制御するときには、中央処理ユニット３から与えられていた試書データをレーザドライバ５に送出する。
【００２２】
このようにしてオートパワーコントロール回路４は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知される毎に（図４（Ａ）及び（Ｂ））、事前格納用レジスタに対し事前に格納していた試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇを設定格納用レジスタに移して格納することにより、その時点まで設定格納用レジスタに格納していた試書用レーザ強度設定値Ｐａ〜Ｐｆに切り替えて当該設定格納用レジスタに対し新たに格納した試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇをレーザドライバ５の制御に使用するように設定して（図４（Ｄ））、かかる試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇに基づいてレーザドライバ５を制御すると共に、次の試書領域２３に対する試書データの試し書きに使用する試書用レーザ強度設定値Ｐｃ〜Ｐｇを事前格納用レジスタに格納する（図４（Ｂ））。ここでオートパワーコントロール回路４は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知されたとき（図４（Ａ）及び（Ｂ））、事前格納用レジスタに対し事前に格納していた試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇを設定格納用レジスタに移して格納し、その時点まで設定格納用レジスタに格納していた試書用レーザ強度設定値Ｐａ〜Ｐｆに切り替えて当該設定格納用レジスタに対し新たに格納した試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇをレーザドライバ５の制御に使用するように設定して（図４（Ｄ））、かかる試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇに基づいてレーザドライバ５を制御するものの、このとき中央処理ユニット３から新たな試書用レーザ強度設定値が与えられないと、事前格納用レジスタに対しては何も格納しない（図４（Ｂ））。またオートパワーコントロール回路４は、試書用レーザ強度設定値Ｐｂ〜Ｐｇを切り替えてレーザドライバ５を制御する毎に当該レーザドライバ５に対し試書データを送出する。
【００２３】
従ってレーザドライバ５は、このとき光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａを駆動してレーザ光Ｌ１を発射させているものの、光ディスク２の記録面２Ａにおいて当該レーザ光Ｌ１の照射位置が試書領域２３の試書開始位置に到達する毎に、オートパワーコントロール回路４による制御の切り替えに応じて、レーザ発光素子６ａに発射させるレーザ光Ｌ１の強度を当該試書領域２３に対応する試書用レーザ強度に切り替える。またレーザドライバ５は、光ディスク２の試書領域２３に対しレーザ光Ｌ１を照射するとき、オートパワーコントロール回路４から与えられる試書データに基づいてレーザ発光素子６ａの駆動及び停止を制御してレーザ光Ｌ１を発射させ、またその発射を停止させる。これによりレーザドライバ５は、光ディスク２の複数の試書領域２３にそれぞれ異なる試書用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を照射して試書データを書き込むことができる。
【００２４】
ところで光記録ビデオカメラ１では、光ピックアップ部６の小型化等に伴い、レーザ発光素子６ａから発射したレーザ光Ｌ１が光ディスク２の記録面２Ａで反射して得られる反射光Ｌ２を主受光素子６ｂで受光する場合、光ピックアップ部６内で生じるレーザ光Ｌ１の回折光や散乱光等の往路迷光も合わせて主受光素子６ｂで受光することがある。従って主受光素子６ｂは、光ディスク２の記録面２Ａに対しレーザ光Ｌ１が照射されている間、往路迷光も光電変換し、その結果得られる誤差信号を含む受光信号を生成してサーボ演算回路７に送出している。このためサーボ演算回路７は、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから受光信号が与えられたとき、その受光信号に基づいて単にＰＩ信号を生成すると、当該受信信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットが生じているＰＩ信号を生成することになり、その結果、ＦＥ信号やＴＥ信号も、かかるオフセットの影響を受けることになる。そしてＰＩ信号に生じるオフセットは、光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａから発射されるレーザ光Ｌ１の強度に応じて異なる値となる。
【００２５】
従って中央処理ユニット３は、図示しないメモリに対し、再生用レーザ強度や記録用レーザ強度に応じたオフセット補正値を予め保持しており、データ再生時やデータ記録時にこれらオフセット補正値をサーボ演算回路７に送出している。これによりサーボ演算回路７は、データ再生時やデータ記録時、かかるオフセット補正値と、光ピックアップ部６から与えられた誤差信号を含む受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成している。
【００２６】
これに加えてサーボ演算回路７は、光ディスク２の複数の試書領域２３に対して連続的に試書データを試し書きしている間も、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂによる受光結果に基づいてＦＥ信号、ＴＥ信号及びＰＩ信号を生成し、これらＦＥ信号及びＴＥ信号をＰＩ信号により正規化した後、サーボ回路８に送出することにより、当該サーボ回路８によりフォーカス制御及びトラッキング制御を実行している。そして中央処理ユニット３は、光ディスク２の複数の試書領域２３に対しそれぞれ試書データを試し書きするとき、かかる試書領域２３毎に試書用レーザ強度を変更させるため、これら複数の異なる試書用レーザ強度に対応する複数の異なるオフセット補正値も試書用レーザ強度設定値と対応付けて図示しないメモリに予め保持している。このため中央処理ユニット３は、まずレーザ光最適強度選定処理を開始したとき（すなわち、複数の試書領域２３に対し試書データを全く試し書きしてはいない時点）、かかるメモリから１つ目のオフセット補正値を読み出してサーボ演算回路７に送出する。また中央処理ユニット３は、引き続きデジタル信号処理部９から与えられたタイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知される毎に、かかるメモリからオフセット補正値を順番に１つずつ読み出してサーボ演算回路７に送出する。このようにして中央処理ユニット３は、光ディスク２の複数の試書領域２３に対しそれぞれ試書データを試し書きするときに用いる当該試書領域２３毎に異なるオフセット補正値を個々の試書領域２３に対する試書データの試し書きに先立ってサーボ演算回路７に送出する。
【００２７】
サーボ演算回路７の内部には、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号に基づいて生成するＰＩ信号から、当該受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するために用いるオフセット補正値を事前に格納する第１のレジスタ（以下、これを事前格納用レジスタと呼ぶ）と、試書領域２３に対し試書データを試し書きしている間、主受光素子６ｂから与えられる受光信号に基づいて生成するＰＩ信号からオフセットを除去するために用いるオフセット補正値を設定用に格納する第２のレジスタ（以下、これを設定格納用レジスタと呼ぶ）とが設けられている。そしてサーボ演算回路７は、試書領域２３に対し試書データを試し書きするとき、事前格納用レジスタに対し、光ディスク２の記録面２Ａにおいて現時点のレーザ光Ｌ１の照射位置から次にそのレーザ光Ｌ１が到達する試書開始位置の試書領域２３で試書データの試し書きの際に用いるオフセット補正値を格納している。またサーボ演算回路７は、一旦は事前格納用レジスタに格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移すようにして、当該設定格納用レジスタに対し、光ディスク２の記録面２Ａにおいて現時点にレーザ光Ｌ１が照射されている試書領域２３で試書データを試し書きしている間に用いるオフセット補正値を格納している。
【００２８】
すなわち上述した図４（Ａ）〜（Ｄ）に示す試書用レーザ強度の変更の場合と同様に、サーボ演算回路７は、まずレーザ光最適強度選定処理を開始すると（すなわち、複数の試書領域２３に対し試書データを全く試し書きしてはいない時点）中央処理ユニット３から与えられた１つ目のオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。そしてサーボ演算回路７は、引き続きデジタル信号処理部９から与えられるタイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知された時点に、事前格納用レジスタに対しすでに格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納することにより自己に対して当該オフセット補正値をＰＩ信号からのオフセットの除去に使用するように設定すると共に、このとき中央処理ユニット３から新たに与えられたオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。
【００２９】
このようにしてサーボ演算回路７は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し事前に格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納することにより、その時点まで設定格納用レジスタに格納していたオフセット補正値に切り替えて当該設定格納用レジスタに対し新たに格納したオフセット補正値をＰＩ信号からのオフセットの除去に使用するように設定すると共に、次の試書領域２３に試書データを試し書きするときにＰＩ信号からオフセットを除去するために使用するオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。ただしサーボ演算回路７は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ光到達タイミングが通知されたとき、事前格納用レジスタに対し事前に格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納し、その時点まで設定格納用レジスタに格納していたオフセット補正値に切り替えて当該設定格納用レジスタに対し新たに格納したオフセット補正値をＰＩ信号からのオフセットの除去に使用するように設定するものの、このとき中央処理ユニット３から新たなオフセット補正値が与えられないと、事前格納用レジスタに対しては何も格納しない。
【００３０】
従ってサーボ演算回路７は、光ディスク２の記録面２Ａに対しレーザ光Ｌ１が照射されている間、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂによる受光結果に基づいてＰＩ信号を生成するものの、光ディスク２の記録面２Ａにおいて当該レーザ光Ｌ１の照射位置が試書領域２３の試書開始位置に到達する毎に、試書用レーザ強度の切り替えに合わせてＰＩ信号からのオフセットの除去に使用するオフセット補正値を切り替え、その時点に光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられた誤差信号を含む受光信号と共に、当該時点に試書データを試し書きするためのレーザ光Ｌ１の試書用レーザ強度に対応するオフセット補正値を用いて、オフセットを除去したＰＩ信号を生成することができる。
【００３１】
ここで光記録ビデオカメラ１は、光記録ビデオカメラ１の本体部に光ディスク２が装填されると、図５に示すレーザ光最適強度選定処理の一環としての試書処理手順ＲＴ１を開始し、ステップＳＰ１に移る。
【００３２】
ステップＳＰ１においてオートパワーコントロール回路４は、レーザドライバ５を介して光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａを駆動させることにより当該レーザ発光素子６ａに対しレーザ光Ｌ１を発射させ光ディスク２の記録面２Ａに照射させる。次いでステップＳＰ２において中央処理ユニット３は、１つ目の試書用レーザ強度設定値をオートパワーコントロール回路４に送ると共に、オフセット補正値をサーボ演算回路７に送出する。そしてオートパワーコントロール回路４は取り込んだ試書用レーザ強度設定値を事前格納用レジスタに格納し、またサーボ演算回路７は取り込んだオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。さらにデジタル信号処理部９は、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂで生成される受光信号を、サーボ演算回路７を介してプッシュプル信号として取り込み、当該プッシュプル信号からウォブル信号を生成すると共に、かかるウォブル信号に基づきタイミング通知信号ＣＬを生成し、当該タイミング通知信号ＣＬを中央処理ユニット３、オートパワーコントロール回路４及びサーボ演算回路７に送出する。
【００３３】
続いてステップＳＰ３において中央処理ユニット３は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、試書用レーザ強度設定値をオートパワーコントロール回路４に送出する。またオートパワーコントロール回路４は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していた試書用レーザ強度設定値を設定格納用レジスタに移して格納することにより当該試書用レーザ強度設定値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を事前格納用レジスタに格納する。これによりオートパワーコントロール回路４は、レーザ到達タイミングが通知される毎に、レーザドライバ５を介して光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａに対し、当該レーザ到達タイミングで設定した試書用レーザ強度設定値に応じた試書用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を発射させて、当該レーザ光Ｌ１をその時点に試書データを試し書きする試書領域２３に照射させる。
【００３４】
またステップＳＰ３と並行して実行されるステップＳＰ４において中央処理ユニット３は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、オフセット補正値をサーボ演算回路７に送出する。またサーボ演算回路７は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納することにより当該オフセット補正値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きの際に用いるオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。これによりサーボ演算回路７は、レーザ到達タイミングが通知される毎に、当該レーザ到達タイミングで設定したオフセット補正値と、そのとき光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成する。
【００３５】
そしてステップＳＰ５において中央処理ユニット３は、デジタル信号処理部９から与えられるタイミング通知信号ＣＬに基づいて、光ディスク２の複数の試書領域２３に対する試書データの試し書きが終了したか否かを判別する。ここで、中央処理ユニット３は、未だ試書データを試し書きしている途中であり、否定結果を得ると、再びステップＳＰ３及びステップＳＰ４に戻る。これに対して光ディスク２の複数の試書領域２３に対する試書データの試し書きが終了したことで肯定結果を得ると、次のステップＳＰ６に移り、かかる試書処理手順ＲＴ１を終了する。因みに中央処理ユニット３は、かかる試書処理手順ＲＴ１が終了すると、引き続き上述したデータ再生時と同様にして、当該複数の試書領域２３に対し再生用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を照射するようにしてこれら試書領域２３から試し書きした試書データを順次読み出すと共に、当該読み出した試書データを例えば記録前の試書データと比較する。そして中央処理ユニット３は、かかる比較結果に基づいて、データ記録時の最適なレーザ光Ｌ１の強度を選定する。
【００３６】
以上の構成において光記録ビデオカメラ１は、レーザ光最適強度選定処理時、光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａによりレーザ光Ｌ１を発射して光ディスク２の記録面２Ａに照射すると共に、当該記録面２Ａでレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を主受光素子６ｂで受光し、得られた受光信号に基づいてタイミング通知信号ＣＬを生成し、当該生成したタイミング通知信号ＣＬを中央処理ユニット３、オートパワーコントロール回路４及びサーボ演算回路７に送出する。また中央処理ユニット３は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、試書用レーザ強度設定値をオートパワーコントロール回路４に送出すると共に、オフセット補正値をサーボ演算回路７に送出する。
【００３７】
そしてオートパワーコントロール回路４は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していた試書用レーザ強度設定値を設定格納用レジスタに移して格納し当該試書用レーザ強度設定値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を事前格納用レジスタに格納する。このようにしてオートパワーコントロール回路４は、レーザ到達タイミングが通知される毎に、レーザドライバ５を介して光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａに対し、当該レーザ到達タイミングで設定した試書用レーザ強度設定値に応じた試書用レーザ強度のレーザ光Ｌ１を発射させて、当該レーザ光Ｌ１をその時点に試書データを試し書きする試書領域２３に照射させる。
【００３８】
一方、サーボ演算回路７は、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納することにより当該オフセット補正値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きの際に用いるオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納する。このようにしてサーボ演算回路７は、レーザ到達タイミングが通知される毎に、当該レーザ到達タイミングで設定したオフセット補正値と、そのとき試書領域２３に対しレーザ光Ｌ１を照射するようにして試書データを試し書きすることで光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成する。
【００３９】
従って光記録ビデオカメラ１は、オートパワーコントロール回路４が、光ディスク２の記録面２Ａに設けられた複数の試書領域２３の試書開始位置に順次レーザ光Ｌ１が到達する毎に、試書用レーザ強度設定値を切り替えて設定し、当該設定した試書用レーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部６の発射するレーザ光Ｌ１の強度を制御することで、複数の試書領域２３の試書開始位置にそれぞれレーザ光Ｌ１が到達したレーザ到達タイミングで当該レーザ光Ｌ１の強度を当該試書開始位置の試書領域２３に対応する強度に切り替えて、かかる試書領域２３に対し試書データを試し書きすることができる。また光記録ビデオカメラ１は、サーボ演算回路７が、光ディスク２の記録面２Ａに設けられた複数の試書領域２３の試書開始位置に順次レーザ光Ｌ１が到達するレーザ到達タイミングでオフセット補正値を切り替えて設定し、当該設定したオフセット補正値と、そのとき試書領域２３に対しレーザ光Ｌ１を照射するようにして試書データを試し書きすることにより光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成することで、試書領域２３の試書開始位置から試書終了位置まで試書データを試し書きしている間、かかるオフセットを除去したＰＩ信号により正規化したオフセットのないＦＥ信号及びＴＥ信号に基づいて、レーザ光Ｌ１のフォーカス及びトラッキングを的確に制御することができる。
【００４０】
以上の構成によれば、光記録ビデオカメラ１は、レーザ光最適強度選定処理時、光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａによりレーザ光Ｌ１を発射して光ディスク２の記録面２Ａに照射すると共に、当該記録面２Ａでレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を主受光素子６ｂで受光し、得られた受光信号に基づいてタイミング通知信号ＣＬを生成し、当該生成したタイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、試書用レーザ強度設定値を切り替えて設定し、当該設定した試書用レーザ強度設定値に基づいて光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａから発射させるレーザ光Ｌ１の強度を制御するようにした。これにより光記録ビデオカメラ１は、複数の試書領域２３の試書開始位置にそれぞれレーザ光Ｌ１が到達したレーザ到達タイミングで当該レーザ光Ｌ１の強度を当該試書開始位置の試書領域２３に対応する強度に切り替えて、かかる試書領域２３に対し試書データを試し書きすることができ、かくして個々の試書領域２３をそれぞれ有効に使って試書データを試し書きすることができる。
【００４１】
また光記録ビデオカメラ１は、レーザ光最適強度選定処理時、光ピックアップ部６のレーザ発光素子６ａによりレーザ光Ｌ１を発射して光ディスク２の記録面２Ａに照射すると共に、当該記録面２Ａでレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を主受光素子６ｂで受光し、得られた受光信号に基づいてタイミング通知信号ＣＬを生成し、当該生成したタイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、オフセット補正値を切り替えて設定し、当該設定したオフセット補正値と、そのとき試書領域２３に対しレーザ光Ｌ１を照射するようにして試書データを試し書きすることにより光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成するようにした。これにより光記録ビデオカメラ１は、試書領域２３の試書開始位置から試書終了位置まで試書データを試し書きしている間、オフセットを除去したＰＩ信号により正規化したオフセットのないＦＥ信号及びＴＥ信号に基づいて、レーザ光Ｌ１のフォーカス及びトラッキングを的確に制御することができ、かくして光ディスク２の記録面２Ａに設けられた複数の試書領域２３に対し、それぞれ試書データを的確に試し書きさせることができる。よって光記録ビデオカメラ１は、光ディスク２の記録面２Ａに設けられた複数の試書領域２３それぞれを有効に利用して的確に試書データを試し書きすることができるので、これら複数の試書領域２３に試し書きした試書データに基づいて、データ記録時の最適なレーザ光Ｌ１の強度を的確に選定することができる。
【００４２】
さらに光記録ビデオカメラ１は、レーザ光最適強度選定処理時、中央処理ユニット３がタイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、試書用レーザ強度設定値をオートパワーコントロール回路４に送出すると共に、オフセット補正値をサーボ演算回路７に送出している。そして光記録ビデオカメラ１は、オートパワーコントロール回路４が、タイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していた試書用レーザ強度設定値を設定格納用レジスタに移して格納し当該試書用レーザ強度設定値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値を事前格納用レジスタに格納している。また光記録ビデオカメラ１は、サーボ演算回路７もタイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、事前格納用レジスタに対し１つ前のレーザ到達タイミングで格納していたオフセット補正値を設定格納用レジスタに移して格納することにより当該オフセット補正値を設定すると共に、中央処理ユニット３から与えられる次の試書領域２３に対する試書データの試し書きの際に用いるオフセット補正値を事前格納用レジスタに格納している。従って光ビデオカメラ１は、レーザ光Ｌ１が試書領域２３の試書開始位置に到達する前に、当該試書開始位置から始まる試書領域２３への試書データの試し書きに用いる試書用レーザ強度設定値及びオフセット補正値を、オートパワーコントロール回路４及びサーボ演算回路７に対し確実に保持させておくことができ、かくして試書開始位置にレーザ光Ｌ１が到達したときに、試書用レーザ強度設定値及びオフセット補正値が用意できずに、当該試書領域２３を有効に利用しかつ適確に試書データが試し書きし得なくなることを未然に回避することができる。また光記録ビデオカメラ１は、このように試書用レーザ強度設定値の設定及び保持や、オフセット補正値の設定及び保持をほぼ同時に行うため、試書領域２３に対し試書データを試し書きしている間に、中央処理ユニット３やオートパワーコントロール回路４、サーボ演算回路７の処理負荷が増大することを回避することができる。
【００４３】
なお上述した実施の形態においては、レーザ光最適強度選定処理時、サーボ演算回路７が、自己に設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＰＩ信号を生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、レーザ光最適強度選定処理時、サーボ演算回路７が、自己に設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部６の主受光素子６ｂから与えられる受光信号とに基づいてオフセットを除去したＦＥ信号、ＴＥ信号及びＰＩ信号を生成するようにしても良い。
【００４４】
また上述した実施の形態においては、レーザ光最適強度選定処理時、レーザ光Ｌ１の強度の制御と、オフセットを除去したＰＩ信号の生成とを実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光記録ビデオカメラ１に対し往路迷光が発生しない光ピックアップ部が設けられているときには、レーザ光最適強度選定処理時にレーザ光Ｌ１に対する強度の制御のみを実行し、オフセットを除去したＰＩ信号の生成を特には行わないようにすることができる。
【００４５】
さらに上述した実施の形態においては、レーザ光最適強度選定処理時、中央処理ユニット３がタイミング通知信号ＣＬによりレーザ到達タイミングが通知される毎に、試書用レーザ強度設定値をオートパワーコントロール回路４に送出すると共に、オフセット補正値をサーボ演算回路７に送出するようにした場合について述べたが、本発明はそれに限らず、オートパワーコントロール回路４が予め複数の異なる試書用レーザ強度設定値を保持すると共に、サーボ演算回路７が予め複数の異なるオフセット補正値を保持するようにしても良い。このようにすれば、レーザ光最適強度選定処理時に中央処理ユニット３の処理負荷を大幅に低減させることができる。
【００４６】
さらに上述した実施の形態においては、ウォブル信号に基づいてタイミング通知信号ＣＬを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスクの記録面に形成されたランドプリピット（LPP:Land Pre Pit）を再生して得られる信号に基づいてタイミング通知信号を生成するようにしても良い。
【００４７】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク２の記録面２Ａに設けられた連続する複数の試書領域２３に対し連続的に試書データを試し書きするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスク２の記録面２Ａに対し、分散して設けられ複数の試書領域に対し試書データを試し書きするようにしても良い。
【００４８】
さらに上述した実施の形態においては、本発明による光ディスク記録装置を、図１乃至図５について上述した光記録ビデオカメラ１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、据置型のＤＶＤレコーダ等のように、この他種々の光ディスク記録装置に広く適用することができる。
【００４９】
さらに上述した実施の形態においては、レーザ強度設定値を設定し、当該設定したレーザ強度設定値に基づいて、光ピックアップ部から発射されるレーザ光の強度を制御するレーザ強度制御部として、図１乃至図５について上述したオートパワーコントロール回路４を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばオートパワーコントロール回路４とレーザドライバ５とが一体化されて形成されたレーザ強度制御回路等のように、この他種々のレーザ強度制御部を広く適用することができる。
【００５０】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、光ピックアップ部により生成される受光信号に基づいて、複数の試書領域の試書開始位置に順次レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成する信号生成部として、図１乃至図５について上述したデジタル信号処理部９を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、光ピックアップ部により生成される受光信号に基づいて、複数の試書領域の試書開始位置に順次レーザ光が到達するレーザ到達タイミングを通知するタイミング通知信号を生成するハードウェア構成の信号生成回路等のように、この他種々の信号生成部を広く適用することができる。
【００５１】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、光ピックアップ部により生成される受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去したサーボ信号を生成するサーボ信号生成部として、図１乃至図５について上述したサーボ演算回路７を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスクの記録面に設けられた複数の試書領域に対し連続してレーザ光を照射するようにして試書データを試し書きするとき、光ピックアップ部により生成される受光信号に含まれる誤差信号に応じたオフセットを除去するオフセット補正値を設定し、当該設定したオフセット補正値と、光ピックアップ部により生成される受光信号とに基づいてオフセットを除去したサーボ信号を生成するハードウェア構成のサーボ信号生成回路等のように、この他種々のサーボ信号生成部を広く適用することができる。
【００５２】
さらに上述した実施の形態においては、信号生成部から与えられるタイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置の試書領域に対し試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出する強度設定値送出部として、図１乃至図５について上述した中央処理ユニット３を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、信号生成部から与えられるタイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置の試書領域に対し試書データの試し書きに用いるレーザ強度設定値をレーザ強度制御部に送出するハードウェア構成の強度設定値送出回路等のように、この他種々の強度設定値送出部を広く適用することができる。
【００５３】
さらに上述した実施の形態においては、信号生成部から与えられるタイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置の試書領域に対し試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出する補正値送出部として、図１乃至図５について上述した中央処理ユニット３を適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、信号生成部から与えられるタイミング通知信号によりレーザ到達タイミングが通知される毎に、当該通知されたレーザ到達タイミングでレーザ光が到達した試書開始位置の次に当該レーザ光が到達する試書開始位置の試書領域に対し試書データの試し書きに用いるオフセット補正値をサーボ信号生成部に送出するハードウェア構成の補正値送出回路等のように、この他種々の補正値送出部を広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明はレーザ光を用いて光ディスクにデータを書き込む光記録ビデオカメラ等の光ディスク記録装置に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明による光記録ビデオカメラの構成の一実施の形態を示すブロック図である。
【図２】光ピックアップ部の構成を示すブロック図である。
【図３】光ディスクの説明に供する略線図である。
【図４】試書用レーザ強度設定値の設定の説明に供するタイミングチャートである。
【図５】試書処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５６】
１……光記録ビデオカメラ、２……光ディスク、２Ａ……記録面、３……中央処理ユニット、４……オートパワーコントロール回路、６……光ピックアップ部、６ａ……レーザ発光素子、６ｂ……主受光素子、７……サーボ演算回路、２２……最適レーザ強度選定領域、２３……試書領域、Ｌ１……レーザ光、Ｌ２……反射光、ＣＬ……タイミング通知信号、ＲＴ１……試書処理手順。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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