(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体の周りを連続して複数回回転し、前記被検体に向かってＸ線ビームを放出するためのＸ線源と少なくとも１つの半導体Ｘ線検出器とを含み、前記連続して複数回回転するＸ線ビームに基づいて複数の断面像を作成するイメージング・システムにおいて、画像アーチファクトを減少させる方法であって、
少なくとも１つの作動信号を各検出器に印加することにより、前記Ｘ線ビームが１回転する間に複数のビューに対する投影データを収集するステップと、
隣接するビューについての投影データの収集の合間にＸ線源を不作動にするステップと、
前記合間に、少なくとも１つの作動信号を各検出器に印加するステップと、
前記複数のビューに対する投影データを用いて前記被検体の１つの断面像を作成するステップと、
を含む、前記方法。
【請求項２】
複数のビューに対する投影データを収集する前記ステップが、各ビューを特定するステップと、Ｘ線源を作動して、各検出器を用いて特定された各ビューに対する投影データを収集するステップとを含む請求項１に記載の方法。
【請求項３】
Ｘ線源を作動して、各検出器を用いて特定された各ビューに対する投影データを収集する前記ステップが、Ｘ線源からＸ線ビームを放出すべきか否かを決定するステップと、Ｘ線ビームを放出すべきである場合に、電圧／電流信号をＸ線源に供給するステップとを含む請求項２に記載の方法。
【請求項４】
各検出器がＭ行Ｎ列のアレイの形に配置された複数のピクセルを含んでおり、前記少なくとも１つの作動信号を各検出器に印加する前記ステップが各検出器の各ピクセルに作動信号を印加するステップを含む請求項３に記載の方法。
【請求項５】
各ディジタル検出器がＭ個の出力信号とＮ個の作動信号を含んでおり、前記合間に、前記各検出器の各ピクセルに作動信号を印加する前記ステップが、各検出器に対するＮ個の作動信号のすべてを同時に印加するステップ（ａ）を含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記ステップ（ａ）を複数回繰り返すステップをさらに含む請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記Ｘ線ビームが１回転する毎に３００個のビューの投影データが収集され、前記投影データの収集が毎秒６０フレームのサンプリング速度で行われる、請求項１乃至６のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
各検出器に対して遅延補正値を利用して投影データを補正するステップと、
補正済みの投影データを用いて被検体の断面像を作成するステップをさらに含む請求項１乃至７のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
被検体の周りを連続して複数回回転し、前記被検体に向かってＸ線ビームを放出するためのＸ線源と少なくとも１つの半導体Ｘ線検出器とを含み、、前記連続して複数回回転するＸ線ビームに基づいて複数の断面像を作成する、画像アーチファクトを減少させるためのイメージング・システムであって、
少なくとも１つの作動信号を各検出器に印加することにより、前記Ｘ線ビームが１回転する間に複数のビューに対する投影データを収集し、
隣接するビューについての投影データの収集の合間にＸ線源を不作動にし、
前記合間に、少なくとも１つの作動信号を前記の各検出器に印加し、
前記投影データを用いて前記被検体の１つの断面像を作成するように構成されているイメージング・システム。
【請求項１０】
前記システムは、複数のビューに対する投影データを収集するために、各ビューを特定し、前記Ｘ線源を作動して、前記の各検出器を用いて特定された各ビューに対する投影データを収集するように構成されており、
前記Ｘ線源を作動して、前記の各検出器を用いて特定された各ビューに対する投影データを収集するために、前記システムは、前記Ｘ線源から前記Ｘ線ビームを放出すべきか否かを決定し、前記Ｘ線ビームを放出すべきである場合に、電圧／電流信号を前記Ｘ線源に供給するように構成されている請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
前記の各検出器がＭ行Ｎ列のアレイの形に配置された複数のピクセルを含んでおり、前記システムは、前記少なくとも１つの作動信号を前記の各検出器に印加するために、前記の各検出器の前記の各ピクセルに作動信号を印加するように構成されており、
前記の各検出器がＭ個の出力信号とＮ個の作動信号を含んでおり、前記システムは、前記の各検出器の前記の各ピクセルに作動信号を印加するために、前記の各検出器に対する前記Ｎ個の作動信号のすべてを同時に印加するように構成されている請求項９又は１０に記載のシステム。
【請求項１２】
さらに、前記の各検出器に対する前記Ｎ個の作動信号のすべてを、複数回同時に印加するように構成されている請求項１１に記載のシステム。
【請求項１３】
さらに、前記の各検出器に対して遅延補正値を利用して前記投影データを補正し、
前記補正済みの投影データを用いて被検体の断面像を作成するように構成されている請求項９乃至１２のいずれかに記載のシステム。
【請求項１４】
前記Ｘ線源と前記検出器とを含む回転するガントリと、
前記Ｘ線源に電力およびタイミング信号を供給するＸ線制御装置と、
前記ガントリの回転速度および位置を制御するガントリ・モータ制御装置と、
前記検出器からのアナログＸ線データをサンプリングし、ディジタルＸ線信号に変換するデータ収集システムと、
前記ディジタルＸ線データを前記データ収集システムから受け取り、前記断面像を生成する画像再構成装置と、
生成された前記断面像を処理すると共に、前記Ｘ線制御装置および前記ガントリ・モータ制御装置に対して制御信号や制御情報を提供するコンピュータと、を備え、
前記コンピュータが前記Ｘ線制御装置に、特定の時間に前記Ｘ線ビームの放出を始動し停止させる信号を送出し、
前記Ｘ線ビームが１回転する毎に３００個のビューの投影データが収集され、前記投影データの収集が毎秒６０フレームのサンプリング速度で行われる、請求項９乃至１３のいずれかに記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、全般的にはイメージング（画像作成）システムに関し、さらに詳細には、検出器信号の遅延(lag) により生じるアーチファクトを減少させることに関する。
【０００２】
【従来の技術】
イメージング・システムの周知の少なくとも１つの構成では、Ｘ線源が、デカルト座標系のＸ−Ｙ平面（一般に「イメージング平面」と呼ばれる）内に位置するようにコリメートされた扇形状のビームを放出する。Ｘ線ビームは、たとえば患者などの被検体を透過する。ビームは、被検体によって減衰を受けたのち、放射線検出器のアレイ上に入射する。検出器アレイで受け取った減衰したＸ線ビームの放射線強度は、被検体によるＸ線ビームの減衰に依存する。このアレイの各検出器素子は、それぞれの検出器位置でのビーム減衰の計測値に相当する電気信号を別々に発生する。
【０００３】
一般にコンピュータ断層撮影（ＣＴ）システムと呼ばれる少なくとも１つのタイプのイメージング・システムでは、検出器アレイより得られる一群のＸ線減衰量計測値（すなわち、投影データ）が「ビュー(view)」と呼ばれている。また、被検体の「スキャン(scan)」は、Ｘ線源と検出器が少なくとも１回転する間に、様々な投影角度（すなわち、ビュー角度）で得られるビューの集合からなる。アキシャル・スキャンでは、この投影データを処理し、被検体を透過させて得た２次元スライスに対応する画像を構成する。各スライスは、患者撮影域が患者の軸（すなわちＺ軸）の方向に概ね２ｃｍ未満であり、またガントリの１回転の間に得た９８４個のビューから収集したデータにより作成されるのが通常である。投影データの組から画像を再構成するための一方法に、当技術分野においてフィルタ補正逆投影法(filtered back projection)と呼ばれるものがある。この処理方法では、スキャンにより得た減衰量計測値を「ＣＴ値」、別名「ハウンスフィールド値」という整数に変換し、これらの整数値を用いて陰極線管表示装置上の対応するピクセルの輝度を制御する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
少なくとも１つの周知のＣＴシステムは、行と列の形に配置された複数のピクセルを有する大型フラット・パネル・ディジタルＸ線デバイス（すなわち検出器）を利用してデータを収集する。しかし、こうしたフラット・パネルは、検出器による遅延を免れない。この検出器遅延により、直前のサンプル値からの信号のかなりの部分が後続のサンプル値に対し不正なバイアスとなる。この遅延の大きな原因の一つは、エネルギー・ギャップ内の高密度の電子欠陥に起因する電子のデトラップ(de-trapping) に関係するものである。デトラップ時間は数ミリ秒から、長くは１００秒までである。この遅延は不均一であるため、たとえばリング状や帯状のアーチファクトが再構成画像内に生じる。
【０００５】
半導体検出器を利用して実質的に「無アーチファクト」の体積画像(volumeric image) を作成するイメージング・システムを提供することが望ましい。また、イメージングに要する時間を大幅に増加させることなく検出器遅延によるアーチファクトを減少させるようなシステムを提供することが望ましい。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記およびその他の目的は、本発明の実施の一形態では、ディジタル式Ｘ線イメージング・システムにおいて、複数のビューから投影データを収集して、隣接するビューの収集期間の合間に検出器残留信号を減少させることにより、達成できる。より具体的に述べると、実施の一形態では、そのイメージング・システムはＸ線源および少なくとも１つの半導体Ｘ線検出器を含む。体積画像を作成するため、Ｘ線源とＸ線検出器のうちの少なくとも一方が被検体の周りを回転する。
特定された各ビューを得るため、Ｘ線源からＸ線検出器に向けてＸ線が放出され、そのビューに対する投影データが収集される。隣接するビューに対する投影データの収集の合間の非作動期間中は、Ｘ線放射を停止し、検出器の各ピクセルを少なくとも一度同時に付勢する。
【０００７】
より具体的に述べると、この非作動期間中に、検出器の各スキャン線を同時に付勢する。すべてのスキャン線に対する同時付勢により、各ピクセルの残留信号が減少する。この結果、後続のビューに対する投影データを収集するときには、各ピクセルの信号レベルがその時点のビューに関する被検体の減衰をより正確に反映することになる。複数のビューに対して収集した投影データを用いて、被検体の断面像が作成される。
【０００８】
上記のイメージング・システムを用いて、検出器遅延によるアーチファクトが減少し、実質的に「無アーチファクト」の体積画像を作成できる。さらに、このシステムによりイメージングに要する時間が大幅に増加することはない。
【０００９】
【発明の実施の形態】
図１および図２を参照すると、「第３世代」のＣＴスキャナに典型的なガントリ１２を含むものとして、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム１０を示している。ガントリ１２は、このガントリ１２の対向面上に位置する検出器アレイ１８に向けてＸ線ビーム１６を放出するＸ線源１４を含む。Ｘ線ビームは、デカルト座標系のＸ−Ｙ平面（一般に「イメージング平面」と呼ばれる）内に位置させるためのコリメータ（図示せず）によりコリメートされる。検出器アレイ１８は、放出され患者２２を透過したＸ線を一体となって検出する（図１には示していない）複数のピクセル（素子）により形成される。各検出器素子は、入射したＸ線ビームの強度を表す電気信号、すなわち患者２２を透過したＸ線ビームの減衰量を表す電気信号を発生する。Ｘ線投影データを収集するためのスキャンの間に、ガントリ１２およびガントリ上に装着された構成部品は回転中心２４の周りを回転する。
【００１０】
ガントリ１２の回転およびＸ線源１４の動作は、ＣＴシステム１０の制御機構２６により制御される。制御機構２６は、Ｘ線源１４に電力およびタイミング信号を供給するＸ線制御装置２８と、ガントリ１２の回転速度および位置を制御するガントリ・モータ制御装置３０とを含む。制御機構２６内にはＤＡＳ（データ収集システム）３２があり、これによって検出器素子２０からのアナログ・データをサンプリングし、このデータを後続の処理のためにディジタル信号に変換する。画像再構成装置３４は、サンプリングされディジタル化されたＸ線データをＤＡＳ３２から受け取り、高速で画像再構成を行う。再構成された画像はコンピュータ３６に入力として渡され、コンピュータにより大容量記憶装置３８内に再構成画像が格納される。
【００１１】
コンピュータ３６はまた、キーボードを有するコンソール４０を介して、オペレータからのコマンドおよびスキャン・パラメータを受け取る。付属の陰極線管表示装置４２により、オペレータはコンピュータ３６からの再構成画像やその他のデータを観察することができる。コンピュータ３６は、オペレータの発したコマンドおよびパラメータを用いて、ＤＡＳ３２、Ｘ線制御装置２８およびガントリ・モータ制御装置３０に対して制御信号や制御情報を提供する。さらにコンピュータ３６は、モータ式テーブル４６を制御してガントリ１２内での患者２２の位置決めするためのテーブル・モータ制御装置４４を操作する。詳細には、テーブル４６により患者２２の各部分をガントリ開口４８内に通すことができる。
【００１２】
図３に示す実施の一形態では、検出器１８は、その上に基板１１４およびシンチレータ１１８を配置したフォトセンサ・アレイ１１０を有する、大型フラット・パネル構成とした半導体検出器または放射線イメージャである。シンチレータ１１８は、入射放射線たとえばＸ線ビーム１６を受け取って吸収するように配置される。シンチレータ１１８はフォトセンサ・アレイ１１０と光学的に結合させ、シンチレータ１１８で発生された光子がフォトセンサ・アレイ１１０内に通るようにする。フォトセンサ・アレイ１１０は、フォトダイオードなど複数のフォトセンサ１２０と、各フォトセンサ１２０と電気的に結合されたアドレス可能な薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）アレイ１３０とを含む。実施の一形態では、各フォトセンサ１２０はアモルファス・シリコン（ａ−Ｓｉ）製のフォトダイオード（図示せず）を含む。
【００１３】
アドレス可能なＴＦＴアレイ１３０は、通常それぞれがスキャン線１３１およびデータ線１３２として知られるアドレス線（１３１、１３２）と、複数の電荷保持ＴＦＴ１３４とを備える。スキャン線１３１およびデータ線１３２は、フォトセンサ・アレイ１１０が複数のピクセル１４０に分割されるように、行および列の形に配置される。その際、１つのフォトセンサ１２０が、各ピクセル１４０上に配置され、かつ対応する電荷保持ＴＦＴ１３４と電気的に結合され、続いて１本のスキャン線１３１および１本のデータ線１３２と電気的に結合されるようにする。アドレス可能なＴＦＴアレイ１３０は、各フォトセンサ１２０が選択的かつ個別にアドレス可能であるようにする。すなわち、各フォトセンサの出力（図示せず）は、その対応するデータ線１３２と選択的に電気的結合するようにする。放射線がシンチレータ１１８上に入射すると、各ピクセルのフォトセンサ１２０が、フォトダイオードの両端間の電荷の変化により、シンチレータ１１８とのＸ線の相互作用により発生された光の量を計測する。この結果、各ピクセル１４０は、患者２２による減衰を受けたのち入射したＸ線ビーム１６の強度を表すディジタル出力電気信号を発生する。この方式では、各フォトセンサ１２０により投影データが作成される。より具体的には、対応する各フォトセンサ１２０の出力信号は、各フォトダイオード内に蓄積した電荷がＤＡＳ３２の入力チャネル（図示せず）に伝送されるように、ＤＡＳ３２と個々に結合される。実施の一形態では、検出器１８は４０ｃｍ×４０ｃｍであり、かつ被検体全体に対する投影データが作成できるように構成される。より具体的には、各ピクセル１４０は概ね２００μｍ×２００μｍであり、かつ検出器１８は２０００ピクセル×２０００ピクセルのアレイを含む。
【００１４】
動作時には、複数の投影角度すなわちビュー角度で投影データを収集することにより、患者２２の少なくとも１つの画像が作成される。実施の一形態では、Ｘ線源１４とＸ線検出器１８のうちの少なくとも一方を患者２２の周りに回転させて検出器１８から投影データを収集することにより各画像が作成される。より具体的に実施の一形態では、複数のビューからの投影データを収集することにより、患者２２の少なくとも一部分に対する体積画像を作成する。検出器アレイ１８の速度限界および５秒間のスキャン時間を利用することにより、システム１０は、実施の一形態では、互いに概ね１．２度（３６０度／３００ビュー）の間隔での３００個のビューからの投影データを収集する。
【００１５】
ビューの数と、ビューの位置または間隔とを特定したのち、検出器１８を利用して各ビューに対する投影データを収集する。具体的に述べると、実施の一形態では、Ｘ線源１４とＸ線検出器１８のうちの少なくとも一方を患者２２の周りに回転させながら、特定された各ビューに対する投影データを収集する。より具体的には、特定された各ビューに対して、制御機構は付勢信号を線源１４に伝送して、Ｘ線１６が線源１４から検出器１８に向けて送出されるようにする。検出器１８（具体的には、各ピクセル１４０）への放射により、特定された各ビューに対する投影データが作成される。特定されたビューに対するこの投影データは、次いでＤＡＳ３２に伝送される。より具体的には、各電荷保持ＴＦＴ１３４の電荷がＤＡＳ３２に伝送される。詳しく述べると、実施の一形態では、その投影データは、検出器１８の対応するスキャン線１３１に作動信号を伝送して、ピクセル１４０の各行を順次イネーブル(enable)することにより、計測（すなわちサンプリング）される。作動信号を受け取ると、アレイの対応する行にある各電荷保持ＴＦＴ１３４の電荷出力信号は、対応するデータ線１３２を介してＤＡＳ３２の入力チャネルに伝送され、ついで画像再構成装置３４に伝送される。より具体的に述べると、作動信号により、付勢されたスキャン線１３１に電気的に接続されている各ピクセル１４０が付勢される。この結果、付勢されたスキャン線１３１に電気的に接続されている各ピクセル１４０からの各出力信号が、データ線１３２を介してＤＡＳ３２に伝送される。次いで、各スキャン線１３１を順次付勢して、アレイ１１０の対応する行の各ピクセル１４０の出力信号を計測（すなわちサンプリング）することにより、特定されたビュー毎にアレイ１１０の各行に対してこの手順が反復される。
【００１６】
たとえば、検出器１８がＭ×Ｎ個（ここで、Ｍは列数、Ｎは行数）のピクセルからなるアレイを含む場合、第１のビュー角度で検出器１８に向けてＸ線１６を放出することにより、第１のビュー角度に対する投影データが収集される。次いで、ピクセル１４０の出力信号がＤＡＳ３２を用いて計測される。具体的には、第１行の作動信号を第１行のスキャン線１３１を介して付勢したのち、Ｍ本のデータ線１３２の各々により出力信号がＤＡＳ３２に伝送され、次いで画像再構成装置３４に伝送される。次いで、第１行の作動信号は停止されて、第２行の作動信号が印加される。次いで、データ線１３２の各々での出力信号がＤＡＳ３２に伝送され、次いで画像再構成装置３４に伝送される。第Ｎ番目の作動信号が印加されてデータ線１３２の出力信号がＤＡＳ３２に伝送されるまで、このプロセスが繰り返される。実施の一形態では、検出器１８が２０００行を含み、そのサンプリング速度が毎秒６０フレームである場合、各行に対する読み出し速度は０．００８３ミリ秒となる。
【００１７】
特定されたビューに対する投影データを収集し、線源１４と検出器１８のうちの少なくとも一方を患者２２の周りに回転し続けたのち、制御機構２６は線源１４に伝送する信号を、Ｘ線１６が線源１４から放出されないように変更する。より具体的に述べると、ビュー間の角度範囲が大きいために起こるボケを最小にするため、Ｘ線１６の放出を決められた期間に限定する。たとえば、分解能要件により１つのビュー内の「スメア(smearing)」が０．６度未満である必要があると決定される場合、線源１４は、各投影間の時間間隔の５０％の間Ｘ線１６を放出することになる。
【００１８】
たとえば、システム１０の分解能要件を満足させるために、各ビューに対して概ね０．５度の間Ｘ線源１４を作動する必要があると決めた場合、Ｘ線源１４は０．５度の間作動される。線源１４が作動されている時間内に、投影データが検出器１８から収集される。その後、Ｘ線源１４は不作動にされる。より具体的には、その電圧／電流信号が除去される、すなわちＸ線ビーム１６が線源１４から放出されないように変更される。
【００１９】
実施の一形態では、Ｘ線制御装置２８は、当技術分野では周知のように電源装置１５０および切換ユニット（または回路）１５２を含み、線源１４に供給する信号を変更する。電源装置１５０はＸ線管１４および切換ユニット１５２に結合され、線源１４およびユニット１５２に信号を供給する。より詳しく述べると、電源装置１５０からの電圧／電流信号は、線源１４の陽極（図示せず）および陰極（図示せず）に供給される。高電圧信号はまた、電源装置１５０から切換ユニット１５２に供給される。Ｘ線ビーム１６を放出すべきである場合、適正な電圧／電流信号がＸ線源１４に伝送される。より具体的には、切換ユニット１５２に供給される制御信号（図示せず）、たとえばコンピュータ３６からの信号を利用することにより、切換ユニット１５２は線源１４に供給する信号を変更する。より具体的に述べると、この制御信号を変更することにより、線源１４の制御グリッド（図示せず）に供給する信号が変更され、陽極から陰極まで電子が移動する速度が修正される、したがって、線源１４から放出されるＸ線ビーム１６の大きさおよび持続時間が変化する。この結果、特定の時間（すなわち規定された時間）にＸ線１６の放出を始動し停止させることができる。
【００２０】
隣接するビューの合間の、Ｘ線１６が線源１４から放出されない期間である「非作動期間」と呼ばれる期間中、各ピクセル１４０は最後に収集されたビューに対して生成された出力信号の一部分を保持している。この信号を検出器１８の「残留信号」と定義する。この残留信号は、たとえばピクセル１４０からの信号を所望しない期間に、各ピクセル１４０のスイッチング・デバイス（例えば、ＦＥＴ（図示せず））をターンオフとした後、スイッチング・デバイスの半導体材料（図示せず）内でのバンド間状態のデトラップにより生じる。
【００２１】
システム１０は、隣接するビューの合間のＸ線源１４が不作動状態にされる時間内（たとえば、非作動期間中）に、残留信号レベルを減少させることにより、残留信号により生じるアーチファクトを減少させる。具体的に実施の一形態では、この非作動期間中に、各検出器１８の複数の行を少なくとも一度付勢する（すなわち、作動する）ことにより各ピクセル１４０の残留信号が減少する。より具体的に述べると、実施の一形態では、作動信号が、各スキャン線１３１を介して各ピクセル１４０に少なくとも一度同時に印加される。非作動期間中の利用可能な時間の長さに従って、各スキャン線１３１を介した作動信号の同時印加は複数回繰り返される。スキャン線１３１を介した検出器１８の同時作動の度毎に、各ピクセル１４０の残留電荷が減少する。実施の一形態では、電荷保持ＴＦＴ１３４の残留電荷は１／Ｓ（Ｓはサンプリング数）に減少する。作動信号の同時印加の結果として、検出器１８の各ピクセル１４０の残留信号は急速に減少する。
【００２２】
たとえば、検出器１８が２０００列×２０００行のピクセル１４０からなるアレイを含み、作動信号が２０００本のスキャン線１３１のすべてに対し２０回（すなわちの０．００８３ミリ秒毎に１回の割で）同時に印加される場合、非作動期間中に電荷保持ＴＦＴ１３４の残留信号は当初の強度の概ね５％まで減少する。
【００２３】
実施の一形態では、各ビューに対して収集される投影データの正確さは、遅延補正値を利用して補正される。より具体的には、各スキャン線１３１を同時に作動する回数に基づき、遅延補正値を決定し収集した投影データと組み合わせることにより、残留信号より生じる画像アーチファクトをさらに減少させることができる。様々な実施の形態では、その遅延補正値は、各検出器１８に対する実際の履歴データ、評価済みの値、あるいは数学的推定値に基づく。
【００２４】
非作動期間の終了時に、特定された各ビューに対する投影データを収集し終えるまで、各ビューに対して上記のプロセスを繰り返す。次いで、当技術分野において周知の方法により、収集した投影データを利用して、たとえば患者２２の一部分など被検体の少なくとも１つの画像を作成する。より具体的に実施の一形態では、被検体の断面像が投影データから作成される。別の実施形態では、補正した投影データを利用して被検体の画像を作成する。
【００２５】
上記のシステムにより、半導体検出器アレイの電荷保持により生じるアーチファクトが減少する。詳しく述べると、検出器アレイの各スキャン線を同時に付勢することにより、検出器の残留信号が減少する。
【００２６】
本発明を、様々な具体的な実施形態に関して記載してきたが、当業者であれば、本発明は特許請求の範囲の精神および範囲の域内にある変更を伴う実施が可能であることを理解するであろう。たとえば、本発明はＣＴシステムで使用するように記載したが、本発明は他の多くのタイプのイメージング・システムで実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ディジタル式イメージング・システムの外観図である。
【図２】図１に示すシステムのブロック図である
【図３】図１に示すＸ線検出器の略図である。
【符号の説明】
１０  ＣＴイメージング・システム
１２  ガントリ
１４  Ｘ線源
１６  Ｘ線ビーム
１８  検出器アレイ
２０  検出器素子
２２  患者
２４  回転中心
２６  制御機構
２８  Ｘ線制御装置
３０  ガントリ・モータ制御装置
３２  データ収集システム（ＤＡＳ）
３４  画像再構成装置
３６  コンピュータ
３８  大容量記憶装置
４０  コンソール
４２  陰極線管表示装置
４４  テーブル・モータ制御装置
４６  モータ式テーブル
４８  ガントリ開口
１１０  フォトセンサ・アレイ
１１４  基板
１１８  シンチレータ
１２０  フォトセンサ
１３０  ＴＦＴアレイ
１３１  スキャン線
１３２  データ線
１３４  電荷保持ＴＦＴ
１４０  ピクセル
１５０  電源装置
１５２  切換ユニット
【図１】
0004542227.tif 000002
【図２】
0004542227.tif 000003
【図３】
0004542227.tif 000004