(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に上記主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および上記主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、
上記主反射鏡支持部と上記副反射鏡支持部の内部空間および上記副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームと、
上記リファレンスフレームに設置されて上記副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、
上記リファレンスフレームに設置されて上記副反射鏡支持部の副反射鏡側または上記副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、
上記副反射鏡支持部変位センサと上記副反射鏡変位センサの出力値から上記副反射鏡の位置を計算し、上記副反射鏡の変形前後の位置の差分から副反射鏡位置補正値を計算する計測演算部と、
上記計測演算部で計算された上記副反射鏡補正値を元に上記副反射鏡の位置を補正する副反射鏡駆動部とを備えたことを特徴とするアンテナ装置。
【請求項２】
主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に上記主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および上記主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、
上記主反射鏡支持部と上記副反射鏡支持部の内部空間および上記副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームと、
上記リファレンスフレームに設置されて上記副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、
上記リファレンスフレームに設置されて上記副反射鏡支持部の副反射鏡側または上記副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、
上記副反射鏡支持部変位センサと上記副反射鏡変位センサの出力値から上記副反射鏡の位置を計算し、上記副反射鏡の変形前後の位置の差分から指向補正値を計算する計測演算部と、
上記計測演算部で計算された上記指向補正値を元にＡＺ軸の指向を補正するＡＺ軸駆動機構と、
上記計測演算部で計算された上記指向補正値を元にＥＬ軸の指向を補正するＥＬ軸駆動機構とを備えたことを特徴とするアンテナ装置。
【請求項３】
副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサは少なくとも３対以上有し、計測演算部は各センサの変位から副反射鏡位置補正値を計算するようにした請求項１に記載のアンテナ装置。
【請求項４】
副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサを少なくとも３対以上有し、計測演算部は各センサの変位から指向補正値を計算するようにした請求項２に記載のアンテナ装置。
【請求項５】
副反射鏡支持部変位センサの出力値と副反射鏡変位センサの出力値の差分から副反射鏡の位置を計算し、この副反射鏡の位置を自重変形や風圧による変形、日射等の温度変化や温度分布による変形が発生する前（基準値）と後（変位値）の２つのケースで計算し、それらの基準値と変位置の差分から、副反射鏡の平行変位と回転変位を計算し、その値から副反射鏡位置の補正値や指向補正値を演算するようにした請求項１または請求項２に記載のアンテナ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、天体観測や通信の分野において精密な反射面精度や指向精度、追尾精度が必要とされるアンテナ装置の変位や変形を測定して、これらを補正することのできるアンテナ装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば電波天文学の分野では、近年になってミリ波からサブミリ波へとより高い周波数の電波の観測の要求が高まっている。高い周波数の電波天体の観測を行う場合、望遠鏡のビームの指向や、焦点位置は、より高い精度が必要となる。一方、観測効率を上げるために、望遠鏡はより大口径化が進み、また、昼夜のあらゆる天候で観測を実施できることが望まれている。口径が大きくなると望遠鏡の自重変形が大きくなり、また、日中の風の強いときは日射による熱変形や風圧による望遠鏡構造物の変形が大きくなるため、高い指向精度や焦点位置精度を保つことが難しくなる。このような高い指向精度と焦点位置精度の要求と、大口径化、２４時間全天候型の望遠鏡を両立させて実現するためには、望遠鏡の副反射鏡の位置や平行変位と回転変位、主反射鏡の変形による焦点位置のずれをリアルタイムに測定し、補正するシステムが必要となる。
【０００３】
主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持する副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡、主反射鏡支持部および副反射鏡支持部に光ファイバーを敷設し、この光ファイバーに入射光を入射し、光ファイバーの各部で発生する散乱光を検出して主反射鏡、主反射鏡支持部および副反射鏡支持部に発生する歪みを測定し、この歪みから補正データを算出して、ＥＬ軸駆動部およびＡＺ軸駆動部や副反射鏡駆動部を駆動して指向誤差を補正し、アンテナの指向方向を補正するようにしたものが提案されている。（特許文献１参照）
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−７４３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来のアンテナ装置は以上のように構成されているので、光ファイバーを主反射鏡や副反射鏡支持部などに望遠鏡建設時に敷設し、数ヶ所で固定・設置しなければならない。これらの設置作業は非常に困難で労力が必要になる。また、望遠鏡の組立が終了した後に、何らかの原因により光ファイバーが切断されるなどの故障が発生した場合、例えば副反射鏡支持部の中など建設後にアクセスしにくい場所には再設置が非常に困難である。
また光ファイバーは伸縮の一次元の変位しか測定できず、例えば副反射鏡周りなどで３次元的な変位を計ろうとすると、光ファイバーをいろいろな方向に張り巡らせ、光ファイバーの出力から副反射鏡の変位を推定するモデルを作って演算しなければならず、このような変位測定は誤差が乗りやすい。
【０００６】
この発明は、このような敷設の困難さや、メンテナンス性の問題を解決し、主反射鏡や副反射鏡鏡の変位による指向誤差を高精度に測定し、補正することのできるアンテナ装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明は、主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡の周囲に設けられたリファレンスフレームと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサの出力値から副反射鏡の位置を計算し、副反射鏡の変形前後の位置の差分から副反射鏡位置補正値を計算する計測演算部と、計測演算部で計算された副反射鏡補正値を元に副反射鏡の位置を補正する副反射鏡駆動部とを備えたものである。
【０００８】
またこの発明は、主反射鏡、この主反射鏡を支持する主反射鏡支持部、副反射鏡、この副反射鏡を支持すると共に主反射鏡又は主反射鏡支持部に取り付けられる副反射鏡支持部、および主反射鏡支持部を支持するアンテナマウント部を有するアンテナ装置において、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡の周囲に設けられたリファレンスフレームと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサと、リファレンスフレームに設置されて副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサと、副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサの出力値から副反射鏡の位置を計算し、副反射鏡の変形前後の位置の差分から指向補正値を計算する計測演算部と、計測演算部で計算された指向補正値を元にＡＺ軸の指向を補正するＡＺ軸駆動機構と、計測演算部で計算された指向補正値を元にＥＬ軸の指向を補正するＥＬ軸駆動機構とを備えたものである。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、安定した構造体であるリファレンスフレームの上に副反射鏡支持部変位センサと副反射鏡変位センサを設置し、各センサの変位から副反射鏡または主反射鏡の位置を補正するようにした為、センサの設置の容易性やメンテナンス性が大幅に向上し、且つ指向精度の高いアンテナ装置を得ることができる。また、センサは３次元の位置センサを用いることができるため、副反射鏡の変位をより高精度に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態１におけるアンテナ装置を図に基づいて説明する。図１はこの発明の実施の形態１におけるアンテナ装置のシステム構成図、図２は主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間に設けられたリファレンスフレームの詳細図、図３は副反射鏡支持部の内部空間と副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームの詳細図、図４はこの発明の実施の形態１において使用される計測演算部の具体的構成図である。
図１において、主反射鏡１はパラボラ状に構成され、主反射鏡支持部２により支持されている。副反射鏡３は主反射鏡１で反射した電波を更に収束するためのもので、主反射鏡１の焦点位置に配置され、複数本の副反射鏡支持部４により支持されている。副反射鏡３は副反射鏡駆動機構５により駆動され、その向き・位置が変えられるようになっている。なお副反射鏡支持部４の下側は主反射鏡１あるいは主反射鏡支持部２に取り付け固定されている。副反射鏡駆動機構５は副反射鏡支持部４の上部により支持されている。
【００１１】
主反射鏡支持部２は中央支持部６に固定され、中央支持部６はこの主反射鏡支持部２を介して主反射鏡１および副反射鏡３などを支持している。中央支持部６はＥＬ回転構造物７に設けられたＥＬ軸駆動機構８により、アンテナのＥＬ軸周りに回転駆動され、主反射鏡１がＥＬ角（仰角）方向に任意に駆動されるようになっている。ＥＬ回転構造物７はＡＺ回転構造物９に設けられたＡＺ軸駆動機構１０により、アンテナのＡＺ軸周りに回転駆動され、主反射鏡１がＡＺ角（方位角）方向に任意に駆動されるようになっている。中央支持部６とＥＬ回転構造物７とＡＺ回転構造物９によりアンテナマウント部が構成される。
【００１２】
主反射鏡支持部２の内部空間と複数の副反射鏡支持部４の各内部空間には、主反射鏡１および副反射鏡３の変位を検出するための基準フレームとなる主鏡部リファレンスフレーム１１ａおよび副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂが設けられている。また副反射鏡３の周囲には副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を検出するための基準フレームとなる副鏡部リファレンスフレーム１１ｃが設けられている。主反射鏡支持部２の内部に配置された主鏡部リファレンスフレーム１１ａには少なくとも３個の副反射鏡支持部変位センサ１２が設置され、副反射鏡支持部４の主反射鏡側根元の変位を測定するようになっている。副反射鏡４の周囲に配置された副鏡部リファレンスフレーム１１ｃには少なくとも３個の副反射鏡変位センサ１３が設置され、副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を測定するようになっている。
【００１３】
なお主反射鏡１、主反射鏡支持部２、副反射鏡３および副反射鏡支持部４の変形・変位がリファレンスフレーム１１に伝わらないようにするため、主鏡部リファレンスフレーム１１ａは主反射鏡１および主反射鏡支持部２に直接接触しないように、主反射鏡支持部２の内部空間に支持されている。同様に、副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは各副反射鏡支持部４に直接接触しないように、副反射鏡支持部４の内部空間に支持されている。また副鏡部リファレンスフレーム１１ｃは副反射鏡３および副反射鏡駆動部５に直接接触しないように、により支持されている。
【００１４】
上記したリファレンスフレーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃと変位センサ１２、１３の関係は図２および図３に詳細に示す。これら図２および図３から明らかなように、主鏡部リファレンスフレーム１１ａは中央支持部６に剛に接続されて支持されている。副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは主鏡部リファレンスフレーム１１ａに剛に接続されている。なお副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂは図２には１個しか図示していないが、各副反射鏡支持部４の内部空間にそれぞれ設けられ、少なくとも３個は有している。副鏡部リファレンスフレーム１１ｃは副鏡ステイ部リファレンスフレーム１１ｂに剛に接続されている。したがって中央支持部６はリファレンスフレーム１１ａ〜１１ｃ及び主反射鏡支持部２を支えるに十分剛性の高い構造物となっている。
副反射鏡支持部変位センサ１２は主鏡部リファレンスフレーム１１ａに剛に接続され、副反射鏡支持部４の主反射鏡側根元の変位を測定するようになっている。副反射鏡変位センサ１３は副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに剛に接続され、副反射鏡支持部４の副反射鏡側または副反射鏡３の変位を測定するようになっている。そして１つの副反射鏡支持部変位センサ１２と１つの副反射鏡変位センサ１３とで一対のセンサを構成し、少なくとも３対以上のセンサが設けられるようになっている。
【００１５】
なお、変位測定の基準となるリファレンスフレーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃは、主反射鏡支持部２や副反射鏡支持部４と比較して、一桁以上剛性が大きく、線膨張係数が小さくなくてはならないが、線膨張係数の小さな炭素繊維強化樹脂（Carbon Fiber Rein-forced Plastics＝ＣＦＲＰ）などの複合材料や、スーパーインバーなどの超低膨張率特殊合金を用いることにより、低熱膨張で高剛性なフレームを製作することができる。
【００１６】
計測演算部１４は、副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５を入力して、副反射鏡３の位置を計算し、副反射鏡３の変形前後の位置の差分から副反射鏡位置補正値１６を計算したり、ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７を計算したりするものである。この計測演算部１４で計算された副反射鏡位置補正値１６は副反射鏡駆動部５に入力され、副反射鏡３の位置を補正する。また計測演算部１４で計算されたＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７はＡＺ駆動機構１０及びＥＬ駆動機構８へ入力され、主反射鏡１の指向誤差を補正する。
【００１７】
以下、図４に基づいて計測演算部１４の具体的構成図について説明する。図４において、計測演算部１４には、副反射鏡支持部変位センサ１２から出力される変位データ１５ａと副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５ｂが入力される。計測演算部１４の出力側は、図１に示す副反射鏡駆動部５、ＥＬ駆動機構８およびＡＺ駆動機構１０が接続される。図４において、複数の副反射鏡支持部変位センサ１２と複数の副反射鏡変位センサ１３から出力される変位データ１５ａ、１５ｂは指向誤差演算部３１に入力され、望遠鏡の指向誤差３２が算出される。第一の副鏡補正演算部（指向誤差）３３は、指向誤差演算部３１で演算された指向誤差３２が入力され、指向誤差を補正するための副鏡位置補正値（指向誤差）３４を演算する。第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）３５は、天体方向などの主鏡駆動指令値１８が入力され、望遠鏡の姿勢に依存した自重変形による誤差である副鏡位置補正値（姿勢変形）３６を算出する。副鏡駆動演算部３７は、副鏡位置補正値（指向誤差）３４と副鏡位置補正値（姿勢変形）３６が入力され、副反射鏡位置補正値１６を演算する。こうして副反射鏡３の変形前後の位置の差分により計測演算部１４で計算された副反射鏡位置補正値１６は副反射鏡駆動機構５に入力され、副反射鏡３の位置を補正して、指向誤差や自重変形による誤差が補正される。
【００１８】
主鏡補正演算部３８は、指向誤差演算部３１で演算された指向誤差３２が入力され、指向誤差によるアンテナの指向補正値である主鏡位置補正値３９を算出する。主鏡補正演算部３８は、ＡＺ補正演算部３８ａとＥＬ補正演算部３８ｂとを有する。主鏡駆動演算部４０は、主鏡補正演算部３８で演算された主鏡位置補正値３９と主鏡駆動指令値１８が入力され、ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７が算出される。ＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７のうち、ＥＬ駆動補正値１７ａはＥＬ軸駆動機構８に、ＡＺ駆動補正値１７ｂはＡＺ軸駆動機構１０にそれぞれ入力され、アンテナは指向誤差が補正された所望の方向に駆動される。
【００１９】
次にこの発明の実施の形態１における動作を図５に基づき説明する。図５において、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに取付けられた副反射鏡支持部変位センサ１２は、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに対する副反射鏡支持部４の下部（主反射鏡側）の３次元の位置Ｐ（ｐｘ，ｐｙ，ｐｚ）を測定する。なおこの位置Ｐは主反射鏡１を代表する点と考え、副反射鏡部支持部４の数だけ設置する。同様に副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに取付けられた副反射鏡変位センサ１３は、副反射鏡３の裏面外周部などの副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに対する副反射鏡３の変位Ｑ（ｑｘ、ｑｙ、ｑｚ）を測定する。こうして変形前のＰ点とＱ点の基準空間における座標を副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３で測定する。これらの測定値から、位置Ｐ（主反射鏡）を基準とした副反射鏡部３の位置Ｒは、
Ｒ＝ Ｑ - Ｐ      ・・・（１）
と求まる。
【００２０】
副反射鏡支持部４の日射などの熱変形や自重変形、風圧などによる変形が発生する前の副反射鏡位置をＲ0、変形が発生した後の副反射鏡位置をＲ’とすると、変形後の副反射鏡位置補正値ΔＲは、
ΔＲ＝ Ｒ’−Ｒ0    ・・・（２）
と求まる。この副反射鏡位置補正値ΔＲが補正すべき副反射鏡３の変位量で、その演算は、各変位センサ１２、１３の変位データ１５ａ、１５ｂから図４に示す計測演算部１４の指向誤差演算部３１、第一の副鏡補正演算部（指向誤差）３３、第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）３５および副鏡駆動演算部３７で演算して求めることができる。
【００２１】
以上は１つの副反射鏡支持部変位センサ１２と１つの副反射鏡変位センサ１３とで構成される一対のセンサで測定する場合の基本的な考え方について説明したが、実際は副反射鏡支持部変位センサ１２と副反射鏡変位センサ１３の対を数対設けて測定する。この場合の動作について説明する。
例えば、副反射鏡支持部４の数が３個の場合は、センサは３対となる。センサが３対あった場合、主鏡部リファレンスフレーム１１ａに対する副反射鏡支持部４の下部（主反射鏡側）の位置Ｐは、各副反射鏡支持部センサ１２毎にＰ１、Ｐ２、Ｐ３とする。副鏡部リファレンスフレーム１１ｃに対する副反射鏡３の変位Ｑは、各副反射鏡変位センサ１３毎にＱ１、Ｑ２、Ｑ３とする。副反射鏡バーテックス位置の変位Ｒは、
Ｒ(x,y,z)＝（Σ(qxi-pxi)／３，Σ(qyi-pyi)／３，Σ(qzi-pzi)／３）  ・・・（３）
但し（ｉ＝１，２，３）
と求まる。
ここで、Ｑ＝（ｑｘ、ｑｙ、ｑｚ）
Ｐ＝（ｐｘ、ｐｙ、ｐｚ）      である。
また、ΔＲは
ΔＲ(△x,△y,△z) ＝（Σ(r’xi-r0xi)/3，Σ(r’yi-r0yi)/3，Σ(r’zi-r0zi)/3）・・（４）
と求まる。
ここで、Ｒ’＝（ｒ’ｘ、ｒ’ｙ、ｒ’ｚ）
Ｒ0 ＝（ｒ0ｘ、ｒ0ｙ、ｒ0ｚ）      である。
このようにして計算された副反射鏡位置補正値ΔＲは、副反射鏡駆動機構５へ入力され、副反射鏡３の位置は補正され、指向誤差や焦点位置誤差はリアルタイムに補正される。
【００２２】
以上のように、この発明は、主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間および副反射鏡周囲にリファレンスフレーム１１を設け、このリファレンスフレームに副反射鏡支持部の主反射鏡側根元の変位を測定する副反射鏡支持部変位センサ１２と、副反射鏡支持部の副反射鏡側または副反射鏡の変位を測定する副反射鏡変位センサ１３を設置するようにしたから、小型のセンサを数ケ所に設置するだけでよく、また敷設後にもアクセスしやすい場所にセンサを配置することが出来るのでメンテナンス性が大幅に向上する。更に、設置するセンサによっては３次元の情報が１つのセンサで精度良く計れ、指向精度の高いアンテナ装置を得ることができる。
なお以上は副反射鏡支持部４の数が３個の場合について説明したが、４個あるいはそれ以上の場合も同様である。
【００２３】
実施の形態２．
次に、この発明の実施の形態２におけるアンテナ装置を図に基づいて説明する。この実施の形態２におけるアンテナ装置の図面は実施の形態１におけるアンテナ装置の図１乃至図４と同じにつき、これらの図を援用して説明する。
この発明の実施の形態２は、式２で求まる副反射鏡位置補正値ΔＲによって発生する指向誤差を、副反射鏡駆動機構５による補正の代わりに、アンテナの主反射鏡１の位置・向きを変えるＡＺ駆動機構１０やＥＬ駆動機構８で補正するようにしたものである。以下、この場合の動作について説明する。
【００２４】
副反射鏡３の変位ΔＲによるアンテナの指向誤差Δθは、
Δθ(ΔＡＺ、ΔＥＬ)＝ｆ（ΔＲ、Ｆｍ、Ｍ）    ・・・（５）
のように、アンテナの合成焦点距離Ｆｍと倍率要素（Magnification Factor）Ｍの関数で表される。
ここでΔＡＺとΔＥＬは、ＡＺおよびＥＬの駆動補正値である。これらの副反射鏡３の変位ΔＲからＡＺ及びＥＬの駆動補正値ΔＡＺ、ΔＥＬへの演算は、図４に示す計測演算部４の主鏡補正演算部３８と主鏡駆動演算部４０において演算される。
即ち、主鏡補正演算部３８におけるＡＺ補正演算部３８ａとＥＬ補正演算部３８ｂで主鏡位置補正値３９を演算し、この主鏡位置補正値３９と主鏡駆動指令値１８が主鏡駆動演算部４０に入力されて、ＡＺ・ＥＬの駆動補正値１７が演算される。
【００２５】
このようにして計算されたＡＺ・ＥＬ駆動補正値１７のうち、ＥＬ駆動補正値１７ａはアンテナのＥＬ軸駆動機構８に、ＡＺ駆動補正値１７ｂはアンテナのＡＺ軸駆動機構１０にそれぞれ入力されて、主反射鏡１の位置・向きが補正され、副反射鏡３の位置による指向誤差はリアルタイムに補正される。こうしてアンテナは指向誤差が補正された所望の方向に駆動される。
【００２６】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３に係わるアンテナ装置は、より高精度に指向誤差を補正するために、副反射鏡支持部変位センサ１２の変位データ１５ａと副反射鏡変位センサ１３の変位データ１５ｂの差分から副反射鏡３の位置を計算し、この副反射鏡３の位置を自重変形や風圧による変形、日射等の温度変化や温度分布による変形が発生する前（基準値）と後（変位値）の２つのケースで計算し、それらの基準値と変位値の差分から、副反射鏡３の平行変位と回転変位を計算し、その値から副反射鏡位置の補正値や指向補正値を演算するものである。
【００２７】
副反射鏡３の平行変位と回転変位とは、例えば、図６に示すように、Ｑを副反射鏡３の位置と定義し、主鏡部リファレンスフレーム１１ａの中心を、中心とする座標を設けた場合、平行変位△Ｒは、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向の変位△ｘ、△ｙ、△ｚとすると、式６のようになる。
【数１】
0004536096.tif 000002
また回転変位△Ｒθは、各軸周りの回転θｘ、θｙ、θｚとすると、式７のようになる。
【数２】
0004536096.tif 000003
【００２８】
上記のようにして平行変位△Ｒと回転変位△Ｒθを計算し、これらの値から副反射鏡位置の補正値や指向補正値を演算して、実施の形態１や実施の形態２と同様に、副反射鏡駆動機構５により副反射鏡３の位置を補正したり、ＡＺ駆動機構１０やＥＬ駆動機構８によりアンテナの主反射鏡１の位置・向きを補正するようにして、指向誤差を補正するようにしたものである。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】この発明の実施の形態１におけるアンテナ装置のシステム構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１における主反射鏡支持部と副反射鏡支持部の内部空間に設けられたリファレンスフレームの詳細図である。
【図３】この発明の実施の形態１における副反射鏡支持部の内部空間と副反射鏡周囲に設けられたリファレンスフレームの詳細図である。
【図４】この発明の実施の形態１および実施の形態２において使用される計測演算部の具体的構成図である。
【図５】この発明の実施の形態１における動作を説明するための概念図である。
【図６】この発明の実施の形態３における平行変位及び回転変位を説明する図である。
【符号の説明】
【００３０】
１  主反射鏡、                            ２  主反射鏡支持部、
３  副反射鏡、                            ４  副反射鏡支持部、
５  副反射鏡駆動機構、                    ６  中央支持部（アンテナマウント部）、
７  ＥＬ回転構造物（アンテナマウント部）、８  ＥＬ軸駆動機構
９  ＡＺ回転構造物（アンテナマウント部）、１０  ＡＺ軸駆動機構、
１１ａ  主鏡部リファレンスフレーム、  １１ｂ  副鏡ステイ部リファレンスフレーム、
１１ｃ  副鏡部リファレンスフレーム、  １２  副反射鏡支持部変位センサ、
１３  副反射鏡変位センサ、           １４  計測演算部、
１５  変位データ                      １６  副反射鏡位置補正値、
１７  ＡＺ・ＥＬ駆動補正値、          １８  主鏡駆動指令値
３１  指向誤差演算部、                  ３２  指向誤差、
３３  第一の副鏡補正演算部（指向誤差）、３４  副鏡位置補正値（指向誤差）、
３５  第二の副鏡補正演算部（姿勢変形）、３６  副鏡位置補正値（姿勢変形）、
３７  副鏡駆動演算部、                  ３８  主鏡補正演算部、
３９  主鏡位置補正値、                  ４０  主鏡駆動演算部、
【図１】
0004536096.tif 000004
【図２】
0004536096.tif 000005
【図３】
0004536096.tif 000006
【図４】
0004536096.tif 000007
【図５】
0004536096.tif 000008
【図６】
0004536096.tif 000009