(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電源グループから供給される複数種類の電源電圧が接続されるトランジスタ回路を含む集積回路における回路接続情報を対象とし、コンピュータを用いて実現される回路検証装置であって、
入力部と、処理部と、出力部と、を備え、
前記入力部は、
前記集積回路に含まれる多数のトランジスタ回路のそれぞれに関する接続情報を入力する機能と、
前記複数種類の電源電圧を当該電源電圧が供給される電源グループ別に分類して保持する機能と、を備えてなり、
前記処理部は、前記トランジスタ回路のそれぞれについて、前記電源グループ別に分類して保持された電源電圧情報に基づき、同一の電源電圧値を有する複数の電源電圧が互いに異なった電源グループから供給されているトランジスタ回路を検出する機能を備えてなり、
前記出力部は、前記処理部で検出された同一の電源電圧値が互いに異なった電源グループから供給されているトランジスタ回路をエラー検出対象として出力することを特徴とする回路検証装置。
【請求項２】
請求項１記載の回路検証装置において、
前記トランジスタ回路は、第１電源電圧を出力する第１バッファ回路と第２電源電圧を出力する第２バッファ回路からなり、
前記入力部における前記回路接続情報の入力機能は、前記集積回路のネットリストデータを保持する機能を含み、
前記複数の電源グループは、第１グループと第２グループを含み、
前記処理部は、前記第１電源電圧と前記第２電源電圧の両方が前記第１グループおよび前記第２グループのいずれか一方に分類されている場合はエラー検出対象として検出せず、前記第１電源電圧と前記第２電源電圧が同一の電源電圧値を与えるものであって、前記第１グループおよび前記第２グループの一方に前記第１電源電圧が分類され、他方に前記第２電源電圧が分類されている場合は、エラー検出対象として検出することを特徴とする回路検証装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の回路検証装置において、
前記処理部は、
入力された前記回路接続情報に基づき、対応するグループの電源から接続ノードのそれぞれに伝播される電位を演算する機能と、
前記接続ノードに伝播される電位と対応する電源電圧の関係が貫通電流を発生させる関係にある接続ノードを検出する機能と、を備えてなり、
前記出力部は、検出された前記貫通電流を発生させる関係にある接続ノードをエラー検出対象として出力することを特徴とする回路検証装置。
【請求項４】
請求項１または２記載の回路検証装置において、
前記回路接続情報は、ダイオード回路を含み、
前記処理部は、前記ダイオード回路の両端子に接続される一対の電源電圧が同一の電源グループの電源から供給されている場合は、前記ダイオード回路をエラー検出対象として検出せず、前記両端子に接続される電源電圧が互いに異なるグループに分類されている場合は、前記ダイオード回路をエラー検出対象として検出することを特徴とする回路検証装置。
【請求項５】
請求項４記載の回路検証装置において、
前記ダイオード回路は、前記入力部に入力されたレイアウトデータから抽出した寄生ダイオード回路データであることを特徴とする回路検証装置。
【請求項６】
請求項４記載の回路検証装置において、
前記両端子に接続される電源電圧は最大値がそれぞれ異なり、一方の電源電圧の最大値＞他方の電源電圧の最大値の関係にある場合は、前記電源グループへの分類に関わらず、前記一方の電源電圧がアノード端子に供給され、前記他方の電源電圧がカソード端子に供給される前記ダイオード回路をエラー検出対象として検出することを特徴とする回路検証装置。
【請求項７】
複数の電源グループから供給される複数種類の電源電圧が接続されるトランジスタ回路を含む集積回路を構成する回路接続情報を対象とし、コンピュータを用いて実現される回路検証装置であって、
入力部と、処理部と、出力部と、を備え、
前記入力部は、
前記集積回路に含まれる複数のトランジスタ回路のそれぞれに関する接続情報を入力する機能と、
前記複数種類の電源電圧を当該電源電圧が供給される前記電源グループ別に複数のグループに分類して保持する機能と、を備えてなり、
前記処理部は、
入力された前記回路接続情報に基づき対応するグループの電源から接続ノードのそれぞれに伝播される電位を定める処理を行う機能と、
前記伝播される電位が確定された前記トランジスタ回路のそれぞれについて、前記電源グループ別に分類して保持された電源電圧情報を参照して、同一の電源電圧値を有する複数の電源電圧が互いに異なるグループの電源から供給されているトランジスタ回路を検出する機能と、
前記伝播される電位が確定された前記トランジスタ回路のそれぞれについて、与えられる電源電圧と入力端子に伝播される電位の関係が貫通電流を発生させる関係にあるトランジスタを含むトランジスタ回路を検出する機能と、を備えてなり、
前記出力部は、前記処理部で検出された、同一の電源電圧値を有する複数の電源電圧が互いに異なる電源グループから供給されているトランジスタ回路と、前記貫通電流を発生させる関係にあるトランジスタを含むトランジスタ回路と、をそれぞれエラー検出対象として出力することを特徴とする回路検証装置。
【請求項８】
複数の電源グループから供給される複数種類の電源電圧が接続されるトランジスタ回路を含む集積回路における回路接続情報を対象として、コンピュータを用いて実現される回路検証装置によって実行される回路検証方法であって、
前記集積回路に含まれる多数のトランジスタ回路のそれぞれに関する接続情報を入力する段階と、
前記複数種類の電源電圧を当該電源電圧が供給される電源グループ別に分類した情報を入力する段階と、
前記トランジスタ回路のそれぞれについて、前記電源グループ別に分類して保持された情報に基づき、同一の電源電圧値を有する複数の電源電圧が互いに異なった電源グループから供給されているトランジスタ回路を検出する段階と、
前記検出された同一の電源電圧値を有する複数の電源電圧が互いに異なった電源グループから供給されているトランジスタ回路をエラー検出対象として出力する段階と、を含むことを特徴とする集積回路における回路接続を検証する回路検証方法。
【請求項９】
請求項８記載の回路検証方法において、
前記トランジスタ回路のそれぞれに対し、前記トランジスタ回路に含まれる接続ノードのそれぞれに伝播される電位を定める処理を行う段階と、
前記伝播される電位が確定された前記トランジスタ回路のそれぞれについて、与えられる電源電圧と入力端子に伝播される電位の関係が貫通電流を発生させる関係にあるトランジスタを含むトランジスタ回路を検出する段階と、
前記貫通電流を発生させる関係にあるトランジスタを含むトランジスタ回路をエラー検出対象として出力する段階と、をさらに含むことを特徴とする回路検証方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路検証装置に関し、特に、システムＬＳＩなどの大規模ＬＳＩに対して電源系の不具合を検出する回路検証装置に適用して有効な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、回路を対象とした検証装置（回路検証装置）としては、入力波形等を設定して回路の動作確認を行うＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ  Ｐｒｏｇｒａｍ  ｗｉｔｈ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｅｍｐｈａｓｉｓ）等のアナログ回路シミュレータや論理回路シミュレータなどが挙げられる。また、レイアウトを対象とした検証装置（レイアウト検証装置）としては、オープンおよびショート等の検証を行うＥＲＣ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ  Ｒｕｌｅ  Ｃｈｅｃｋ）装置、デザインルールの検証を行うＤＲＣ（Ｄｅｓｉｇｎ  Ｒｕｌｅ  Ｃｈｅｃｋ）装置、およびノイズの検証を行う装置などが挙げられる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
近年、システムＬＳＩ、ＳＯＣ（Ｓｙｓｔｅｍ  Ｏｎ  Ｃｈｉｐ）およびマイクロコンピュータ等を代表とする大規模集積回路が多く存在している。このような大規模集積回路では、リーク電流なども含む消費電力が増加する傾向にあり、特に電力増加対策が必要となる。この対策の最も有効的な手段は、電源の部分的な遮断であり、内部に複数種類の電源ラインを配置し、それぞれを独立にコントロールすることである。こうした中、このような電源の多様化に伴い、回路検証の難易度も上がっており、検証手法の改善が望まれている。
【０００４】
すなわち、前述したような大規模集積回路の電源系の不具合を検証する際には、通常、前述したアナログ回路シミュレータなどが用いられる。この場合、例えば、設計者がシミュレータによる動作波形や電源波形および電流値などを検証し、設計者の力量によって不具合を見つけ出すことになる。しかしながら、電源の部分的な遮断が存在すると、例えば遮断されない電源ラインから遮断される電源ラインに向けて貫通電流が流れるといった予期せぬ電源不具合が発生する場合がある。このような不具合は、複数種類の電源ラインを含むチップ全体に対して検証を行わないと検出が困難である。ところが、例えばアナログ回路シミュレータでは、扱える回路規模に制限があり、検証漏れが発生する可能性が高い。
【０００５】
また、仮にチップ全体の回路規模を扱えるようなシミュレータを用いた場合でも、電源ラインの種類が増えてくると、その電源ラインの多様化に伴う不具合検証の仕様自体が複雑化してくる。例えば、２種類の電源ラインがあったとして、更にそれぞれ電源ラインが２種類の電圧値を取り得るとすると、４通りの組み合わせで検証を行う必要がある。電源ラインの種類が更に増えると、このような組み合わせが膨大な数となり、全ての組み合わせ対して検証を行うと多大な検証時間を要してしまう。しかしながら、実際には、多種類の電源ラインの中には実動作上同一と考えても問題がないような電源ラインも存在するため、これらを反映して回路検証を行えるような仕組みがあると容易で効率的な回路検証が実現可能となる。
【０００６】
そこで、本発明の目的は、効率的に電源系の検証を行うことが可能な回路検証装置を提供することにある。また、本発明の他の目的は、容易に電源系の検証を行うことが可能な回路検証装置を提供することにある。
【０００７】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【０００９】
本発明による回路検証装置は、複数種類の電源電圧を含んだ集積回路を対象とし、コンピュータを用いて実現されるものとなっている。そして、この回路検証装置は、複数種類の電源電圧が、予めユーザによって複数のグループに分類され、この分類に基づいて集積回路内の各ノードの電圧関係を検証するものとなっている。具体的には、同一のグループに属する電源電圧は、時間的に全て同様に推移するものとし、異なるグループに属する電源電圧は、時間的に同様に推移しないものとして検証する。
【００１０】
すなわち、集積回路内に、例えば、１．２Ｖの第１電源電圧で動作する第１バッファ回路の後段に１．２Ｖの第２電源電圧で動作する第２バッファ回路が接続された異電源接続回路がある場合を想定する。この場合、第１電源電圧と第２電源電圧の電圧値に誤差が生じなければ問題はないが、誤差の可能性がある場合は、第２バッファ回路に静的な貫通電流が発生する恐れがあり問題となり得る。このような場合に、第１電源電圧と第２電源電圧を異なるグループに分類すると、回路検証装置は、第１および第２電源電圧の電源推移がそれぞれ異なるものとして扱い、それぞれの電圧値が異なる場合を考慮して問題となり得る異電源接続回路を検出する。
【００１１】
また、集積回路内に、例えば、一端に１．２Ｖの第１電源電圧が供給され、他端に１．２Ｖの第２電源電圧が供給されるダイオード回路がある場合を想定する。この場合、第１電源電圧と第２電源電圧が同様に電源推移すれば問題は生じないが、例えば第１電源電圧を対象に電源遮断が生じた場合には、第１電源電圧側をカソードとするダイオード回路が順方向バイアスとなるため問題となる。このような場合に、第１電源電圧と第２電源電圧を異なるグループに分類すると、回路検証装置は、第１および第２電源電圧の電源推移がそれぞれ異なるものとして扱い、それぞれの電圧値が異なる場合を考慮して問題となるダイオード回路を検出する。
【００１２】
このように、電源グループ設定機能を備え、この電源グループ設定機能に基づいて回路検証を行うことで、十分な電源系の回路検証を、効率的または容易に行うことが可能になる。
【発明の効果】
【００１３】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、電源系の回路検証を効率的または容易に行うことが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００１５】
図１は、本発明の一実施の形態による回路検証装置において、その構成の一例を示す概略図である。図１に示す回路検証装置は、入力部１０と、入力部１０のデータを受けて各種処理を行う処理部１１と、処理部１１の結果を出力する出力部１２などによって構成される。このような回路検証装置は、コンピュータによって実現される。例えば、入力部１０は、ハードディスク等の記憶媒体やキーボード等によって実現され、処理部１１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等によって実現され、出力部１２はディスプレイやプリンタ等によって実現される。
【００１６】
入力部１０は、トランジスタレベルのネットリストデータ１０ａや、ＬＶＳ（Ｌａｙｏｕｔ  Ｖｅｒｓｕｓ  Ｓｃｈｅｍａｔｉｃ）等の設計ツールを用いてレイアウトデータから抽出したネットリストデータ１０ｂや、電源グループ設定データ１０ｃなどを含んでいる。処理部１１は、電位伝播処理部１１ａや、その後に行われる異電源系信号接続検出処理部１１ｂおよび順方向ダイオード検出処理部１１ｃなどを含んでいる。出力部１２は、エラー箇所表示部１２ａなどを含み、これによって、異電源系信号接続検出処理部１１ｂおよび順方向ダイオード検出処理部１１ｃで検出したエラーとなる回路箇所が表示される。
【００１７】
このような構成において、本発明の主要な特徴は、電源グループ設定データ１０ｃを備え、これに基づいて異電源系信号接続検出処理部１１ｂおよび順方向ダイオード検出処理部１１ｃで処理を行うことにある。以降、図１の各処理の詳細な一例について説明する。
【００１８】
図２は、図１の回路検証装置において、その電位伝播処理部の概要を示す説明図であり、（ａ），（ｂ）には、それぞれ異なる入力に対する伝播処理の一例を示している。図２（ａ），（ｂ）においては、例えば、全体回路内の一部の回路例として２段構成のインバータ回路が示されている。前段のインバータ回路は、電源電圧（電源電圧ライン）ＶＤＤＡと接地電源電圧（接地電源電圧ライン）ＶＳＳＡで動作し、ＰＭＯＳトランジスタＭＰ１とＮＭＯＳトランジスタＭＮ１を備えている。後段のインバータ回路は、電源電圧ＶＤＤＢと接地電源電圧ＶＳＳＢで動作し、ＰＭＯＳトランジスタＭＰ２とＮＭＯＳトランジスタＭＮ２を備えている。
【００１９】
図２（ａ）では、前段のインバータ回路に‘Ｌ’入力が与えられ、これを受けて前段のインバータ回路が‘Ｈ’出力となる電源電圧ＶＤＤＡを出力（伝播）し、更にこの‘Ｈ’出力を入力として後段のインバータ回路が‘Ｌ’出力となる接地電源電圧ＶＳＳＢを出力（伝播）している。一方、図２（ｂ）では、前段のインバータ回路に‘Ｈ’入力が与えられ、これを受けて前段のインバータ回路が‘Ｌ’出力となる接地電源電圧ＶＳＳＡを出力（伝播）し、更にこの‘Ｌ’出力を入力として後段のインバータ回路が‘Ｈ’出力となる電源電圧ＶＤＤＢを出力（伝播）している。そして、このような伝播処理によって、全体回路内の各ノードの電位が定められる。
【００２０】
このような処理機能は、一般的な論理シミュレータ等とほぼ同等な機能によって実現される。したがって、システムＬＳＩ等の大規模ＬＳＩに対しても対応可能である。具体的な処理としては、例えば、ネットリストデータに対して入力を与え、ネットリストデータの各ノードの‘Ｈ’レベル又は‘Ｌ’レベルを演算していく。但し、ここでは、この‘Ｈ’レベル又は‘Ｌ’レベルの情報に加えて、各ノードの‘Ｈ’レベル又は‘Ｌ’レベルに対応する電源電圧ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ又は接地電源電圧ＶＳＳＡ，ＶＳＳＢを記憶しておく。
【００２１】
図３は、図１の回路検証装置において、その電源グループ設定データの一例とそれによる異電源系信号接続検出処理部の処理内容の一例を示す説明図である。図３においては、全体回路が、例えば３．３Ｖ系となる電源系ＶＣＣと１．２Ｖ系となる電源系ＶＤＤを備え、更に、電源系ＶＤＤが、３種類の電源系（電源電圧ライン）ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣを備えている場合を例としている。そして、このような電源系に対し、図１の電源グループ設定データ１０ｃにおいて、予めグループ設定を定義しておく。
【００２２】
この場合の電源グループ設定では、同じ１．２Ｖ系の電源系ＶＤＤであっても、例えば、電源電圧発生回路となるレギュレータ回路が異なり、これによって電源電圧値に誤差が生じる場合などを考慮して行う。すなわち、例えば、電源電圧ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣが同一のレギュレータ回路で生成されるならば、列３２ｒのように、全て同じ電源グループに設定するか、もしくは設定無しとする。一方、例えば、電源電圧ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢが同一のレギュレータ回路で生成され、電源電圧ＶＤＤＣが別のレギュレータ回路で生成されるならば、列３３ｒのように、（ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ）を同一の電源グループに設定し、（ＶＤＤＣ）をこれとは別の電源グループに設定する。また、同様にして、列３４ｒでは、（ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣ）が同一の電源グループに設定され、（ＶＤＤＡ）がこれとは別の電源グループに設定されている。
【００２３】
そして、図２で説明したような電位伝播処理部１１ａの処理によって、全体回路内の各ノードの電位（電源電圧）が定まった段階で、回路検証装置は、このような電源グループ設定に基づいて異電源系の信号接続をチェックする。例えば、前述した図３の列３３ｒのように（ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ）と（ＶＤＤＣ）で電源グループ設定を行われている場合、回路検証装置は、列３３ｒの「対象」に該当する列３１ｒの回路を検出対象とする。すなわち、全体回路の中で、列３１ｒの行３２ｇや行３５ｇのようにＶＤＤＡ又はＶＤＤＣ接続のバッファ回路（ここではインバータ回路）にＶＤＤＣ又はＶＤＤＡ接続のバッファ回路が接続されている箇所や、列３１ｒの行３４ｇや行３６ｇのようにＶＤＤＢ又はＶＤＤＣ接続のバッファ回路にＶＤＤＣ又はＶＤＤＢ接続のバッファ回路が接続されている箇所を検出する。また、この検出した箇所は、図１のエラー箇所表示部１２ａで表示される。
【００２４】
このような接続箇所の場合、例えば、電源電圧の誤差によって、前段のバッファ回路の‘Ｈ’出力となる電源電圧値が後段のバッファ回路の電源電圧値よりも低い場合に後段のバッファ回路内で静的な貫通電流が発生する恐れがある。一方、行３１ｇや行３３ｇのようにＶＤＤＡ又はＶＤＤＢ接続のバッファ回路にＶＤＤＢ又はＶＤＤＡ接続のバッファ回路が接続されている箇所は、同じ電源グループ設定であるため電源電圧の誤差が生じないものとして扱い検出は行わない。なお、回路検証装置は、具体的には例えば、ネットリストデータ上で図２（ａ）のＰＭＯＳトランジスタＭＰ２のようにゲートとソースが異電源電圧となる箇所を認識し、これによって異電源のバッファ回路の接続箇所を認識する。そして、このゲートの電源電圧とソースの電源電圧の関係を、電源グループ設定を参照しながら判定する。
【００２５】
次に、図３の列３４ｒの電源グループ設定の場合は、列３３ｒの場合と同様にして、ＶＤＤＡとＶＤＤＢの組み合わせかＶＤＤＡとＶＤＤＣの組み合わせとなる列３１ｒの行３１ｇ、３２ｇ、３３ｇ、３５ｇに該当する回路が検出対象となる。一方、ＶＤＤＢとＶＤＤＣの組み合わせとなる列３１ｒの行３４ｇ、３６ｇに該当する回路は検出非対象となる。また、図３の列３２ｒの電源グループ設定の場合は、ＶＤＤＡ、ＶＤＤＢ、ＶＤＤＣのいずれの組み合わせにおいても、同一の電源グループ設定に属するため、列３１ｒの行３１ｇ〜３６ｇの回路は全て検出非対象となる。
【００２６】
更に、前述したような電源グループ設定に共通して、全体回路の中で、図３の列３１ｒの行３７ｇのように電源系ＶＤＤ接続のバッファ回路に電源系ＶＣＣ接続のバッファ回路が接続されている箇所は、検出対象となる。これは、ＶＤＤ＜ＶＣＣであるため、後段のバッファ回路に静的な貫通電流が発生するからである。一方、図３の列３１ｒの行３８ｇのように電源系ＶＣＣ接続のバッファ回路に電源系ＶＤＤ接続のバッファ回路が接続されている箇所は、貫通電流の恐れがなく、検出非対象となる。
【００２７】
なお、各電源グループ設定における行３１ｇ〜３６ｇの「対象」に該当する箇所は、必ずしも不具合になる訳ではないが、電源電圧の誤差によっては不具合の恐れがある箇所であり、十分な検証が必要となる箇所である。従来技術において、例えば論理シミュレータ等では、各ノードの‘Ｈ’又は‘Ｌ’レベルは判明するが、その電圧値を参照する機能を備えていないため、このような異電源系の接続に伴う不具合を検証することは困難であった。また、仮に、このような電圧値を参照する機能を備えていたとしても、電源グループ設定機能が無ければ、図３の列３１ｒの行３１ｇ〜３８ｇに該当する回路を全て検出することになり、その検出箇所を確認する手間等で時間を要することが予想された。つまり、ここでは、ＶＤＤＡ〜ＶＤＤＣの３種類を例としたが、種類が増加すると格段に検出箇所が増加することになる。
【００２８】
そこで、図３のように、電源グループ設定を用い、これに基づいて、全体回路内で不具合の恐れがある異電源系の信号接続箇所を検出することで、効率的または容易に電源系の不具合検証を行うことが可能になる。そして、これによって、設計期間の短縮や、設計の信頼性を向上させることができる。
【００２９】
図４は、図１の回路検証装置において、その電源グループ設定データの一例とそれによる順方向ダイオード検出処理部の処理内容の一例を示す説明図である。図４においては、図３と同様に全体回路が、例えば３．３Ｖ系となる電源系ＶＣＣと１．２Ｖ系となる電源系ＶＤＤを備え、更に、電源系ＶＤＤが、３種類の電源系（電源電圧ライン）ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣを備えている場合を例としている。そして、このような電源系に対し、図１の電源グループ設定データ１０ｃにおいて、予めグループ設定を定義しておく。
【００３０】
この場合の電源グループ設定では、同じ１．２Ｖ系の電源系ＶＤＤであっても、例えば、電源電圧発生回路となるレギュレータ回路が異なり、個々のレギュレータ回路で一時的な内部電源遮断および復帰が独立して行われる場合などを考慮して行う。すなわち、例えば、電源電圧ラインＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣに対して同時に電源遮断および復帰が行われるならば、列４２ｒのように、全て同じ電源グループに設定するか、もしくは設定無しとする。一方、例えば、電源電圧ラインＶＤＤＡ，ＶＤＤＢに対しては、同時に電源遮断および復帰が行われ、これとは独立して電源電圧ラインＶＤＤＣの電源遮断および復帰が行われるならば、列４３ｒのように、（ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ）を同一の電源グループに設定し、（ＶＤＤＣ）をこれとは別の電源グループに設定する。また、同様にして、列４４ｒでは、（ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣ）が同一の電源グループに設定され、（ＶＤＤＡ）がこれとは別の電源グループに設定されている。
【００３１】
そして、図２で説明したような電位伝播処理部１１ａの処理によって、全体回路内の各ノードの電位（電源電圧）が定まった段階で、回路検証装置は、このような電源グループ設定に基づいて順方向ダイオード接続をチェックする。例えば、前述した図４の列４３ｒのように（ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ）と（ＶＤＤＣ）で電源グループ設定を行われている場合、回路検証装置は、列４３ｒの「対象」に該当する列４１ｒのダイオード回路を検出対象とする。すなわち、全体回路の中で、列４１ｒの行４２ｇや行４５ｇのように、ダイオード回路の一端の電位がＶＤＤＡ又はＶＤＤＣとなり、他端の電位がＶＤＤＣ又はＶＤＤＡとなる箇所や、列４１ｒの行４４ｇや行４６ｇのようにダイオード回路の一端の電位がＶＤＤＢ又はＶＤＤＣとなり、他端の電位がＶＤＤＣ又はＶＤＤＢとなる箇所を検出する。また、この検出した箇所は、図１のエラー箇所表示部１２ａで表示される。
【００３２】
このように検出したダイオード回路は、例えば、各電源電圧ラインＶＤＤＡ〜ＶＤＤＣの電源遮断および復帰の組み合わせによって順方向バイアスとなり、これによって静的な導通電流が発生することになる。ここで、このようなダイオード回路は、例えば図５に示すような箇所のダイオード回路である。
【００３３】
図５は、図１の順方向ダイオード検出処理において、その検出対象となるダイオード回路の一例について説明するチップ概略図である。図５は、チップ全体回路内に、例えば３．３Ｖ系の電源電圧ラインＶＣＣＡとそれに対応する接地電源電圧ラインＶＳＳＡと、１．２Ｖ系の電源電圧ラインＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣとそれに対応する接地電源電圧ラインＶＳＳＡ，ＶＳＳＢが含まれている。そして、このような各電源電圧ライン（各接地電源電圧ライン）間の各所にダイオード回路Ｄ１１〜Ｄ７２，ＤＡ，ＤＢ，ＤＣが備わっている。このようなダイオード回路は、静電破壊対策として意図的に設けたものや、設計ミスや半導体基板上の寄生ダイオード等によって意図せずに設けられたものが含まれる。なお、寄生ダイオードは、図１のレイアウトから抽出したネットリストデータ１０ｂに備わっている。
【００３４】
図５において、例えば、ＶＣＣＡをカソード、ＶＳＳＡをアノードとして接続するダイオード回路Ｄ２１は、意図的に挿入したものであり逆方向バイアスであるため特に問題にならないが、これと逆接続であるダイオード回路Ｄ２２は設計ミスや寄生ダイオード等によって発生し、順方向バイアスとなるため問題となる。また、例えばＶＤＤＡ−ＶＤＤＢ間を接続するダイオード回路ＤＢや、ＶＤＤＡ−ＶＤＤＣ間を接続するダイオード回路ＤＣや、ＶＤＤＢ−ＶＤＤＣ間を接続するダイオード回路ＤＡは、仮にＶＤＤＡ〜ＶＤＤＣに対して同時に電源遮断および復帰が行われるのであれば特に問題にはならない。このようなダイオード回路は、静電破壊対策やノイズの伝搬防止のため、例えば双方向ダイオード回路として挿入される場合が多い。
【００３５】
しかしながら、仮にＶＤＤＡとＶＤＤＢが同時に電源遮断されて０Ｖとなる一方、ＶＤＤＣが１．２Ｖを維持していた場合は、ＶＤＤＣをアノード、ＶＤＤＡおよびＶＤＤＢをカソードとするダイオード回路ＤＣ，ＤＡが順方向バイアスとなるため問題となる。また、その逆にＶＤＤＡ，ＶＤＤＢが１．２Ｖで、ＶＤＤＣが０Ｖの場合は、ＶＤＤＣをカソード、ＶＤＤＡおよびＶＤＤＢをアノードとするダイオード回路ＤＣ，ＤＡが順方向バイアスとなるため問題となる。このように各電源電圧ラインにおける電源遮断および復帰の組み合わせによっては、ダイオード回路の不具合が発生するが、図４のような電源グループ設定を行ってダイオード回路の両端子の電源電圧を検証することで、このような不具合箇所を検出することが可能になる。
【００３６】
すなわち、図４の列４３ｒのように、ＶＤＤＡとＶＤＤＢが同時に電源遮断され、ＶＤＤＣがそれとは独立して電源遮断されるならば、列４３ｒのような電源グループ設定を行って、ダイオード回路の一端がＶＤＤＡ又はＶＤＤＢとなり、他端がＶＤＤＣとなる箇所を検出すればよい。一方、一端がＶＤＤＡで他端がＶＤＤＢとなる列４３ｒの行４１ｇ，４３ｇの箇所は検証非対象でも問題はない。なお、ここでは、電源遮断の組み合わせを基に電源グループ設定を行ったが、これに限らず、図３と同様に各電源電圧ラインで電圧値の誤差が生じる可能性がある場合も、これに伴いダイオード回路の順方向バイアスの可能性がある。この場合も、電源グループ設定を行うことで、このような可能性がある箇所のダイオード回路を検証できる。
【００３７】
次に、図４の列４４ｒの電源グループ設定の場合は、列４３ｒの場合と同様にして、ＶＤＤＡとＶＤＤＢの組み合わせかＶＤＤＡとＶＤＤＣの組み合わせとなる列４１ｒの行４１ｇ、４２ｇ、４３ｇ、４５ｇに該当するダイオード回路が検出対象となる。一方、ＶＤＤＢとＶＤＤＣの組み合わせとなる列４１ｒの行４４ｇ、４６ｇに該当するダイオード回路は検出非対象となる。また、図４の列４２ｒの電源グループ設定の場合は、ＶＤＤＡ、ＶＤＤＢ、ＶＤＤＣのいずれの組み合わせにおいても、同一の電源グループ設定に属するため、列４１ｒの行４１ｇ〜４６ｇのダイオード回路は全て検出非対象となる。
【００３８】
更に、前述したような電源グループ設定に共通して、全体回路の中で、図４の列４１ｒの行４７ｇのようにアノードに電源系ＶＣＣが供給され、カソードに電源系ＶＤＤが供給されるダイオード回路は、検出対象となる。これは、ＶＣＣ＞ＶＤＤであるため、常に順バイアスとなってしまうからである。また、図４の列４１ｒの行４８ｇのようにアノードに電源系ＶＤＤが供給され、カソードに電源系ＶＣＣが供給されるダイオード回路は、ＶＤＤとＶＣＣの電源グループ設定に応じて検出対象／非対象が変化する。すなわち、電源グループ設定を行わないか、ＶＤＤとＶＣＣが同一の電源グループ設定に属している場合は、順方向バイアスの恐れがないため検出非対象となる。一方、ＶＤＤとＶＣＣが異なる電源グループ設定に属している場合、すなわち例えばＶＤＤが供給された状態でＶＣＣが電源遮断される場合などは、ダイオード回路が順方向バイアスとなるため検出対象となる。
【００３９】
図６は、図１の順方向ダイオード検出処理部において、その検出対象となるダイオード回路の他の一例について説明する回路図である。図５においては、電源電圧ライン（接地電源電圧ライン）間に直接的に設けられているダイオード回路を示したが、図１の順方向ダイオード検出処理部１１ｃで検出するダイオード回路は、図５のような箇所に限らず、例えば図６のような箇所も有り得る。
【００４０】
図６においては、例えば、電源電圧ラインＶＤＤＡに接続され、ＰＭＯＳトランジスタＭＰ１とＮＭＯＳトランジスタＭＮ１を含むインバータ回路の出力ノードと、電源電圧ラインＶＤＤＢとの間に、ＶＤＤＢをカソードとするダイオード回路Ｄ６００が設けられている。このようなダイオード回路Ｄ６００は、例えば寄生ダイオードである場合や、出力のクランプ回路であるが電源電圧ラインの接続ミスを有している場合などで存在しえる。図１の電位伝播処理部１１ａによって、図６のインバータ回路に‘Ｌ’入力を与えると、その出力ノードにＶＤＤＡの電圧が伝播される。
【００４１】
ここで、電源遮断等が生じない場合は、ＶＤＤＡとＶＤＤＢの電圧値は等しいためダイオード回路Ｄ６００は順方向バイアスとはならず問題にはならない。しかしながら、ＶＤＤＡが供給された状態で、ＶＤＤＢに電源遮断が行われるとＤ６００は順方向バイアスとなり静的な導通電流が発生することになる。そこで、電源グループ設定により、ＶＤＤＡとＶＤＤＢを異なる電源グループに設定しておくと、このようなダイオード回路Ｄ６００も検出可能となる。
【００４２】
以上、図４のように、電源グループ設定を用い、これに基づいて全体回路内で順方向バイスになり得るダイオード回路を検出することで、効率的または容易に電源系の不具合検証を行うことが可能になる。そして、これによって、設計期間の短縮や、設計の信頼性を向上させることができる。
【００４３】
一方、従来技術のシミュレータにおいては、このように大規模回路を対象に順方向バイアスとなるダイオード回路を検出することは困難であった。また、仮に、このようなダイオード回路を検出する機能を備えていたとしても、電源グループ設定機能が無ければ、全ての電源電圧ラインが独立に電源遮断されるものとして図４の列４１ｒの行４１ｇ〜行４８ｇの全てのダイオード回路を検出対象として扱う必要がある。または、電源遮断がないものとして、例えば両端とも電源系ＶＤＤが供給されるダイオード回路などは検出非対象とする必要がある。電源グループ設定を用いると、各電源電圧ラインが取り得る電圧値の組み合わせを考慮できるため、真に不具合となる箇所を特定して検出できる。
【００４４】
また、これまでに説明した図３および図４の処理内容から判るように、本発明の一実施の形態による回路検証装置は、その基本概念として同一の電源グループ設定に含まれる電源電圧（電源電圧ライン）は、その電源推移が時間的に同様であるものとして扱い、各ノードの電位参照によってエラーを検出している。一方、異なる電源グループ設定に含まれる電源電圧（電源電圧ライン）は、逆に、その電源推移が時間的に異なるものとして扱い、各ノードの電位参照によってエラーを検出している。そして、この基本概念は、前述したような異なる電源推移が生じた場合に、図３および図４のように、結果として不具合になり得る回路（及びその回路における各ノードの状態）を回路検証装置上で定義しておき、回路検証装置が、全体回路の中からこの定義された回路を検出することで実現される。
【００４５】
なお、例えば図３の列３３ｒの「対象」に該当する異電源接続回路のように、同一の電源系ＶＤＤであって、電圧値の誤差によって不具合が生じる場合は、必ずしも前段の電源電圧と後段の電源電圧で電源推移が異なるわけではない。しかし、回路検証装置の処理上は、異電源接続回路の前段と後段で電源電圧の電源推移が異なり、これによって電圧値が異なる場合が生じる現象と等価なものとして扱えばよい。また、例えば図４の列４３ｒの「対象」に該当するダイオード回路の場合は、電源遮断などによって、明らかにダイオード回路の両端子の電源推移が異なることになる。
【００４６】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【００４７】
例えば、本実施の形態の説明では、特に言及はしなかったが、前述したような電源グループ設定機能は、例えば、本願発明者等が先に出願した非公知の回路検証装置（特願２００４−３６０３９号）のようなものに適用して有益なものとなる。この回路検証装置は、大規模回路を対象に、その異電源系の信号接続箇所や順方向バイアスとなるダイオード回路を検出可能な装置である。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明の回路検証装置は、システムＬＳＩなどの大規模ＬＳＩを対象に電源系の不具合を検証するシミュレータとして適用して特に有益な技術であり、これに限らず、ＬＳＩ全般の不具合を検証するシミュレータとして広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の一実施の形態による回路検証装置において、その構成の一例を示す概略図である。
【図２】図１の回路検証装置において、その電位伝播処理部の概要を示す説明図であり、（ａ），（ｂ）には、それぞれ異なる入力に対する伝播処理の一例を示している。
【図３】図１の回路検証装置において、その電源グループ設定データの一例とそれによる異電源系信号接続検出処理部の処理内容の一例を示す説明図である。
【図４】図１の回路検証装置において、その電源グループ設定データの一例とそれによる順方向ダイオード検出処理部の処理内容の一例を示す説明図である。
【図５】図１の順方向ダイオード検出処理部において、その検出対象となるダイオード回路の一例について説明するチップ概略図である。
【図６】図１の順方向ダイオード検出処理部において、その検出対象となるダイオード回路の他の一例について説明する回路図である。
【符号の説明】
【００５０】
１０  入力部
１０ａ，１０ｂ  ネットリストデータ
１０ｃ  電源グループ設定データ
１１  処理部
１１ａ  電位伝播処理部
１１ｂ  異電源系信号接続検出処理部
１１ｃ  順方向ダイオード検出処理部
１２  出力部
１２ａ  エラー箇所表示部
ＭＰ１，ＭＰ２  ＰＭＯＳトランジスタ
ＭＮ１，ＭＮ２  ＮＭＯＳトランジスタ
ＶＤＤ，ＶＤＤＡ，ＶＤＤＢ，ＶＤＤＣ，ＶＣＣ，ＶＣＣＡ  電源電圧ライン
ＶＳＳＡ，ＶＳＳＢ  接地電源電圧ライン
Ｄ１１〜Ｄ７２，Ｄ６００，ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ  ダイオード回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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