(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品のパッケージから複数突出したリードを投影画像によりリードピッチ方向及び上下方向の曲がりを検査する装置であって、該パッケージを移送させる移送レール上のリード撮影位置において、該移送レールの底部に開口部と、該開口部の下方部にエア吹き出し流路を設けたもので、該エア吹き出し流路はエア流入部とエア流出部の間で該開口部に連通させたことを特徴とするリード検査装置。
【請求項２】
投影画像は、各リード先端の正対位置から４５゜上方に設置したカメラで取り込むものである請求項１記載のリード検査装置。
【請求項３】
開口部は、移送レールの底部から背面側壁面にかけて設けられたものである請求項１記載のリード検査装置。
【請求項４】
電子部品のパッケージから複数突出したリードを投影画像によりリードピッチ方向及び上下方向の曲がりを検査する方法であって、該パッケージ本体を移送レール上で撮影位置に停止させ、リード撮影位置で該移送レールの底部に設けた開口部を横切って連通させたエア吹き出し流路にエアを送給し、該リード撮影位置で該パッケージ本体の姿勢制御を行った後、撮影した投影画像で判定することを特徴とするリード検査方法。
【請求項５】
投影画像は、各リード先端の正対位置から４５゜上方に設置したカメラで取り込むものである請求項４記載のリード検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、集積回路等におけるリードの変形を検査する方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
現在、各種電子機器の多様化に伴い、半導体素子の需要がさらに増大する傾向にある。これらの半導体素子はプリント基板に自動実装されることから、該半導体素子のリードの曲がりや異物の付着が、組立工程に大きな影響を及ぼすことになる。
【０００３】
従来のリード検査方法や装置としては、光源からの透過光や反射光をカメラを利用して画像処理を行ない、良品のリードピッチデータとの比較により、リードピッチ方向やリード上下反り方向の曲がり、異物の付着の有無の検査が行われていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のリード曲がり検査では、リードピッチ方向とリード上下方向の夫々の曲がりを検査しなければならないことから、各方向の検査を行う検査機を２台使用する必要があった。このため、検査ステーションでのスペースを広く必要とする問題があり、しかも、検査機２台による検査コストや処理スピードの問題を有していた。また、図６に示すように検査位置でのＩＣ本体２２の姿勢が不確定なことからリード位置のバラツキが多く、検査精度に大きな影響を及ぼしていた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明者は上記問題に鑑み鋭意研究の結果、本発明を成し得たものであり、その特徴とするところは、物の発明にあっては、電子部品のパッケージから複数突出したリードを投影画像によりリードピッチ方向及び上下方向の曲がりを検査する装置であって、該パッケージを移送させる移送レール上のリード撮影位置において、該移送レールの底部に開口部と、該開口部の下方部にエア吹き出し流路を設けたもので、該エア吹き出し流路はエア流入部とエア流出部の間で該開口部に連通させたことにある。
【０００６】
方法の発明にあっては、電子部品のパッケージから複数突出したリードを投影画像によりリードピッチ方向及び上下方向の曲がりを検査する方法であって、該パッケージ本体を移送レール上で撮影位置に停止させ、リード撮影位置で該移送レールの底部に設けた開口部を横切って連通させたエア吹き出し流路にエアを送給し、該リード撮影位置で該パッケージ本体の姿勢制御を行った後、撮影した投影画像で判定することにある。
【０００７】
ここで、本明細書中でいう移送レールとは、検査すべきリードを投影画像による検査位置に位置させるものをいう。検査位置への供給は、例えばエアシリンダ等による送り込みや、レールを傾斜させて滑らせるなどの方法で行う。移送レール上の検査位置で電子部品のパッケージを保持した状態で、カメラでリードの投影画像を取り込み、リード曲がりによる良否の判定を行う。
【０００８】
投影画像によるリード検査においては、従来のように２台の検査機による検査方法では、リードのピッチ方向と上下方向を個々に２台の検査機で撮影し、これらを総合して判定することから、検査位置におけるパッケージの位置決めにあまり精度を必要としないメリットがあった。しかし、上述したように大きな検査スペースを必要とする点や、検査コストが高くなるなどの問題があることから、本発明では検査位置での位置決め精度を高めることにより、１台の検査機でも良否判定が可能なる。
【０００９】
つまり、本発明の特徴は、パッケージが摺動する移送レールの底部に開口部とその下方部にエア吹き出し流路を設け、該エア吹き出し流路にエアを送給することにより、該開口部に発生した吸引力でパッケージを移送レール底部に引き付けて姿勢制御させることで、検査位置において位置決めすることにある。開口部としては、その大きさや形状は特に限定するものではない。ただ、開口部を底部のみならず、移送レールの底部から背面側壁面にかけて設けることにより、背面側にも引き付けて、前後方向の位置決めも行わせるようにするのが好ましい。
【００１０】
本発明方法及び装置においては、１台の検査機でリード曲がりの良否を判定することが可能となるため、検査機としてのカメラをリードの斜め方向に設置することで、リードのピッチ方向及び上下方向の曲がりを判定することができる。通常、各リードの正対位置から４５゜上方にカメラを設置し、これの延長線上のリードの背後に透過型照明装置を設ける。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図面に示す発明の実施の形態に基づいて詳細に説明する。
【００１２】
図１は本発明に係るリード検査装置１の実施の形態の一例を示すもので、ＩＣ２を移送させる移送レール３上の撮影位置に、該移送レール３の底部に開口部４と該開口部４の下方部にエア吹き出し流路５を設けたものである。また、撮影位置にはＩＣ２のリード２１先端の正対位置から４５゜上方にカメラ６を設置し、これの延長線上に透過用ＬＥＤ照明６１を設けている。本例では、ＩＣ２としてＳＩＰ型を例示しているが、フラットパッケージ型やトランジスタ型などでもよく、特に限定するものではない。
【００１３】
本発明方法は、図２に示すように移送レール３上に送られてきたＩＣ２の本体２２をストッパ７で撮影位置に停止させる。そして、エア吹き出し流路５にエアを送給させて本体２２を姿勢制御させることにより、撮影位置でのＩＣ２の位置決めを行う。この状態で、カメラ６で撮影したリード２１の投影画像で曲がりの良否を判定する。尚、本例の装置１本体の前面に設けている四角形は、ＬＥＤ照明６１の透過用窓６２である。
【００１４】
移送レール３の撮影位置における姿勢制御の状態は、図３に示すようにエア吹き出し流路５のエア流入部からエアを送給して、エア流出部から送出させる。これによって、該移送レール３の底部に設けられ該エア吹き出し流路５に連通させた開口部４に吸引力が発生する。この吸引力で位置ズレ状態にある本体２２が、移送レール３底部に引き付けられて図の鎖線位置に保持され、常に一定位置での投影画像を得ることができる。
【００１５】
開口部４の位置としては、図４に示すように移送レール３の底部から背面側壁面８にかけて設けることにより、本体２２を底部のみならず背面側壁面にも引き付けることができ、位置決めをより確実にすることが可能となる。また、図５のように移送レール３の底部にテーパー部９を設け、本体２２を所定位置に収まりやすくするようにしてもよい。
【００１６】
【発明の効果】
以上のように本発明に係るリード検査方法及び装置は、撮影位置における移送レールの底部に開口部を設け、該開口部の下方部にエア吹き出し流路を連通させた状態に設けたことにより、カメラによる投影画像の撮影位置におけるＩＣ本体の位置決めが確実となり、極めて精度の高い検査を行うことができる。また、これによって、カメラ一台だけでリードのピッチ方向と上下方向の曲がりを判定することが可能となり、広い検査スペースを必要としないことや、検査コストが低くなる利点が生じる。しかも、構造が極めて簡単であり、装置の保守管理が容易であると共に、低コストで導入できるなど、実用上極めて有益な効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るリード検査装置の実施の形態の一例を示す断面図である。
【図２】本発明に係るリード検査方法の実施の形態の一例を示す概略斜視図である。
【図３】移送レールの撮影位置での姿勢制御の状態の一例を示す部分断面図である。
【図４】開口部の実施の形態の他の例を示す部分断面図である。
【図５】移送レールの実施の形態の他の例を示す部分断面図である。
【図６】撮影位置における移送レールの従来例を示す部分断面図である。
【符号の説明】
１  リード検査装置
２  ＩＣ
２１  リード
２２  ＩＣ本体
３  移送レール
４  開口部
５  エア吹き出し流路
６  カメラ
６１  透過用ＬＥＤ照明
６２  透過用窓
７  ストッパ
８  背面側壁面
９  テーパー部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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