(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
片面側から光学的に情報信号を記録再生可能な複数の記録層が光ヘッドからのレーザービームの照射方向に積層されており、前記複数の記録層の各々に、前記情報信号を記録するデータ領域と、前記情報信号の記録時に前記レーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とが設けられた多層構造の光ディスクに対して、決定された最適記録パワー値で情報信号の記録を行い、記録情報信号の再生を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が１回目である時は、前記複数の記録層の積層方向で前記複数の記録層の各試し書きするテスト信号がそれぞれ重ならないように、前記複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録再生して、各記録層毎にレーザービームの発光パワーの１回目の最適記録パワー値を求め、前記光ディスクの記録管理情報領域に記憶し、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が２回目以降の時は、前記複数の記録層のうち、前記光ディスクの第１層目の記録層の試し書き領域に対しテスト信号を記録再生して、前記第１層目の２回目以降の最適記録パワー値を求め、前記第１層目以外の他の記録層の２回目以降の最適記録パワー値は、前記第１層目の２回目以降の最適記録パワー値に、前記第１層目の１回目の最適記録パワー値に対する他の記録層の１回目の最適記録パワー値の比率を乗算して求める制御手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記各記録層の試し書き領域として、前記光ディスクに設けられている記録管理情報を記録するための記録管理情報領域に対し内周側又は外周側のいずれかの一方側を使用することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御手段は、
前記第１層目の試し書き領域として、前記光ディスクに設けられている記録管理情報を記録するための記録管理情報領域に対し内周側又は外周側のいずれかの一方側を使用し、前記第２層目の試し書き領域として、前記記録管理情報領域に対し内周側又は外周側の他方側を使用することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が１回目で、前記複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録する際、前記第１層目以外の他の記録層の試し書き領域に対して積層方向に重なる前記第１層目の領域にダミーデータを記録した後に、前記第１層目以外の他の記録層の試し書き領域に対して前記テスト信号を記録再生して１回目の最適記録パワー値を求めることを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか一項記載の光ディスク装置。
【請求項５】
片面側から光学的に情報信号を記録再生可能な複数の記録層が光ヘッドからのレーザービームの照射方向に積層されており、前記複数の記録層の各々に、前記情報信号を記録するデータ領域と、前記情報信号の記録時に前記レーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とが設けられた多層構造の光ディスクに対して、前記レーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定する光ディスクの最適記録パワー値決定方法であって、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が１回目であるか２回目以降であるかを判定する第１のステップと、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が１回目である時は、前記複数の記録層の積層方向で前記複数の記録層の各試し書きするテスト信号がそれぞれ重ならないように、前記複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録再生して、各記録層毎にレーザービームの発光パワーの１回目の最適記録パワー値を求め、前記光ディスクの記録管理情報領域に記憶する第２のステップと、
前記光ディスクに対する前記情報信号の記録が２回目以降の時は、前記複数の記録層のうち、前記光ディスクの第１層目の記録層の試し書き領域に対してテスト信号を記録再生して、前記第１層目の２回目以降の最適記録パワー値を求め、前記第１層目以外の他の記録層の２回目以降の最適記録パワー値は、前記第１層目の２回目以降の最適記録パワー値に、前記第１層目の１回目の最適記録パワー値に対する他の記録層の１回目の最適記録パワー値の比率を乗算して求める第３のステップと
を含むことを特徴とする光ディスクの最適記録パワー値決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び光ディスクの最適記録パワー値決定方法に係り、特に多層構造を持つ光ディスクにレーザー光によって情報の記録を行う際、各層のデータ領域に対して最適な記録パワー値を求め、その最適記録パワー値で情報を記録する光ディスク装置、及び上記の多層構造を持つ光ディスクに情報を記録するときの最適記録レーザパワーを求める光ディスクの最適記録パワー値決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光ディスクの分野において、情報の記録が可能な様々な種類の光ディスクが増えてきており、ディジタル多用途光ディスク（ＤＶＤ：Digital Versatile Disk）には多種類のものが市販されている（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等の追記型光ディスクやＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え型光ディスクなど）。また、光ディスクの記録層の構造が異なる光ディスクがある。例えば、今まで単層の記録層であった光ディスクが、片面側から光学的に情報信号の記録再生可能な２つの記録層を有する片面２層構造を持つ光ディスクへと記録層の多層化が進み、光ディスクの構造がより複雑化してきている。
【０００３】
しかし、記録層が多層構造になれば、今までよりも記録容量の増大が見込め、大容量化を目指している光ディスクにおいて非常に有用である。そのような片面２層構造の光ディスクを含む記録層が多層化した光ディスクにおいて、情報の記録に関して追記もしくは書き換えを行う場合について、単層の光ディスクで行っていた様々な記録時の設定を、多層構造を持つ光ディスクでも行わなくてはならない。その設定の一つに情報の記録を行うレーザ出力の最適記録パワー値を設定することが挙げられる。
【０００４】
多層構造を持つ光ディスクに対する記録時のレーザ出力を最適記録パワー値に設定する理由は、単層の光ディスクの場合と同じであり、情報を記録する際に照射するレーザの最適記録パワー制御（ＯＰＣ：Optimum Power Control）が行われていないと、情報の記録を行った後に光ディスクに記録した情報を再生する際、ジッタが大きくなり、正確な情報の再生が行われない可能性も出てくるからである。
【０００５】
そのため、記録した情報を再生する時に、上記ジッタを極力抑えて正確な再生を行うために、情報を書き込むデータ領域の特性に合わせてレーザービームを最適記録パワーに制御しなくてはならない。そして、記録の発光パワー（記録パワー）を制御する事は、再生ジッタを抑えることにおいて非常に有効な方法の一つであることから最適記録パワー値を制御する。
【０００６】
しかしながら、多層構造を持つ光ディスクでは、単層構造の光ディスクと比較して情報の記録前において異なる特性を持っており、各層の記録状態が他層の記録パワーに影響を与えるため、最適記録パワーを求める方法においては、従来の単層構造の光ディスクの最適記録パワー値を求める方法とは異なる方法を用いなければならない。
【０００７】
そこで、記録層を複数有する多層記録媒体の各記録層に対して、適切なパワーの光ビームで記録、再生あるいは消去するため、各半径位置の各情報トラック毎に試し書き動作を行い、その再生信号を検査することによって、各情報トラックに対する情報の記録，消去または再生動作に最適な光ビームの条件を求める光ディスク装置が従来提案されている（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００８】
特許文献１には、多層記録媒体の基準層（例えば、光ヘッドに最も近い記録層又は最も遠い記録層）上にて、複数の試し書き領域のそれぞれについて、記録パワーを段階的に順次に変更した光ビームで最小マークを連続して書き込んだ後、再生して再生信号振幅が最大となったときの記録パワーを最適記録パワーとしてメモリに格納する。その後、基準層以外の記録層では、上記の基準層の複数の試し書き領域のうちの一つの試し書き領域と同じ半径位置にある領域を試し書き領域として基準層と同様にして最適記録パワーを求めた後、その最適記録パワーと試し書き領域と同じ半径位置にある基準層の試し書き領域における最適記録パワーとから感度係数を求め、その感度係数を用いて各半径位置の領域の最適記録パワーを求めることを、基準層以外のすべての記録層に対して行う構成の光ディスク装置が記載されている。
【０００９】
また、特許文献２には、各記録層において、情報を記録するためのデータ領域と、情報の記録時にレーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とをそれぞれ異なる位置に設け、情報を記録するデータ領域と同層の試し書き領域に記録パワーの試し書きを行って、最適記録パワー値を求める光ディスク装置が記載されている。また、特許文献２には、多層構造の記録面の一つの層だけにデータ領域と試し書き領域とを設け、その他の層にはデータ領域のみを設け、光ディスクに情報を記録するとき、データ領域と試し書き領域の２つの領域を持つ層の試し書き領域に記録パワーの試し書きを行って最適記録パワー値を求め、その最適記録パワー値に基づいてデータ領域しか持たない層の最適記録パワー値を求める光ディスク装置も記載されている。
【００１０】
【特許文献１】特開平１１−３５５０号公報（要約、図３）
【特許文献２】特開２０００−３１１３４６号公報（請求項１、５、図４、図８等）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ここで、多層構造を持つ光ディスクの主な特徴について述べると、多層構造の光ディスクでは、記録層が幾層にも重なっていることもあり、より上位にある記録層（対物レンズに近い方の記録層）の反射率は低く抑えられている。また、下位の層の記録層にレーザ光を届かせるため、より上位にある記録層の透過率が高く設定されている。
【００１２】
記録層に情報信号を記録すると、記録層の屈折率が変化し、また、記録層の熱吸収により記録膜形状が変化するなどして、上記の透過率は記録前後で変化するため、下位の記録層の記録パワーに影響を与える。
【００１３】
しかるに、前記特許文献１記載の従来の光ディスク装置では、基準層とそれ以外の記録層とで同じ半径位置にある試し書き領域を用いているため、対物レンズに近い方の記録層（上位の記録層）の記録状態（記録か未記録、記録している場合は記録パワー）によって、他層の透過率が異なってくるため、記録しようとする層の最適記録パワーが変わってしまう、という問題がある。
【００１４】
また、前記特許文献２記載の従来の光ディスク装置では、各層について記録する度に毎回試し書き（ＯＰＣ：Optimum Power Control）を実行するのでは、その試し書きに時間がかかる一方、試し書き（ＯＰＣ）を行うのは一つの記録層だけで、他の記録層はすべてデータ領域として試し書き（ＯＰＣ）を省略しているため、他の記録層での最適記録パワーに誤差が発生する可能性が大きい、という問題がある。
【００１５】
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、追記又は書き換え可能な多層構造を持つ光ディスクに情報の記録を行う場合、試し書き領域（ＯＰＣ領域）の節約を図り、追記可能な回数を増加すると共に、試し書き所要時間の短縮を図り得る光ディスク装置及び光ディスクの最適記録パワー値決定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記の目的を達成するため、本発明の光ディスク装置は、片面側から光学的に情報信号を記録再生可能な複数の記録層が光ヘッドからのレーザービームの照射方向に積層されており、複数の記録層の各々に、情報信号を記録するデータ領域と、情報信号の記録時にレーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とが設けられた多層構造の光ディスクに対して、決定された最適記録パワー値で情報信号の記録を行い、記録情報信号の再生を行う光ディスク装置であって、光ディスクに対する情報信号の記録が１回目である時は、複数の記録層の積層方向で複数の記録層の各試し書きするテスト信号がそれぞれ重ならないように、複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録再生して、各記録層毎にレーザービームの発光パワーの１回目の最適記録パワー値を求め、光ディスクの記録管理情報領域に記憶し、光ディスクに対する情報信号の記録が２回目以降の時は、複数の記録層のうち、光ディスクの第１層目の記録層の試し書き領域に対しテスト信号を記録再生して、第１層目の２回目以降の最適記録パワー値を求め、第１層目以外の他の記録層の２回目以降の最適記録パワー値は、第１層目の２回目以降の最適記録パワー値に、第１層目の１回目の最適記録パワー値に対する他の記録層の１回目の最適記録パワー値の比率を乗算して求める制御手段を有するものである。
【００１７】
また、本発明の光ディスクの最適記録パワー値決定方法は、片面側から光学的に情報信号を記録再生可能な複数の記録層が光ヘッドからのレーザービームの照射方向に積層されており、複数の記録層の各々に、情報信号を記録するデータ領域と、情報信号の記録時にレーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とが設けられた多層構造の光ディスクに対して、レーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定する光ディスクの最適記録パワー値決定方法であって、光ディスクに対する情報信号の記録が１回目であるか２回目以降であるかを判定する第１のステップと、光ディスクに対する情報信号の記録が１回目である時は、複数の記録層の積層方向で複数の記録層の各試し書きするテスト信号がそれぞれ重ならないように、複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録再生して、各記録層毎にレーザービームの発光パワーの１回目の最適記録パワー値を求め、光ディスクの記録管理情報領域に記憶する第２のステップと、光ディスクに対する情報信号の記録が２回目以降の時は、複数の記録層のうち、光ディスクの第１層目の記録層の試し書き領域に対してテスト信号を記録再生して、第１層目の２回目以降の最適記録パワー値を求め、第１層目以外の他の記録層の２回目以降の最適記録パワー値は、第１層目の２回目以降の最適記録パワー値に、第１層目の１回目の最適記録パワー値に対する他の記録層の１回目の最適記録パワー値の比率を乗算して求める第３のステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、積層された複数の記録層のうち、光ヘッドに最も近い第１層目以外の記録層の試し書き領域を使用した最適記録パワー値を求めるためのテスト信号の記録再生（ＯＰＣの実行）は、光ディスク装置で初めて記録される場合だけ行うことにより、第１層目以外の記録層のテスト信号記録再生回数を低減するようにしたため、第１層目の記録層の試し書き領域を、他の記録層の試し書き領域より広い範囲を確保でき、最適記録パワー値を求めるための回数（ＯＰＣ回数）を大幅に増大させることができる。
【００１９】
また、本発明によれば、２回目以降の記録から第１層目の記録層の試し書き領域のみで試し書きをし、第１層目以外の記録層の最適パワー値は、第１層目の記録層の試し書き領域への試し書きによる第１層目の記録層の最適記録パワー値に基づき決定するようにしたので、第１層目以外の他層での試し書きを行うための切り替え時間、及び他層でのＯＰＣに要する時間が不要となり、最適記録パワー値を求めるまでの所要時間を短縮することができる。
【００２０】
また、上記の目的を達成するため、本発明の光ディスク装置は、片面側から光学的に情報信号を記録再生可能な複数の記録層が光ヘッドからのレーザービームの照射方向に積層されており、複数の記録層の各々が、情報信号を記録するデータ領域と、情報信号の記録時にレーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定するために用いる試し書き領域とが、互いに異なる位置に設けられた多層構造の光ディスクに対して、決定された最適記録パワー値で情報信号の記録を行い、記録情報信号の再生を行う光ディスク装置において、光ディスクに対する情報信号の記録が１回目である時は、複数の記録層の各試し書き領域に対して順次テスト信号を記録再生して、各記録層毎にレーザービームの発光パワーの第１の最適記録パワー値を求めてそれらを記憶する第１の最適記録パワー値決定手段と、光ディスクに対する情報信号の記録が２回目以降の時は、複数の記録層のうち、光ヘッドに最も近い第１層目の記録層の試し書き領域に対してテスト信号を記録再生して、第１層目の記録層に対するレーザービームの発光パワーの第２の最適記録パワー値を求め、複数の記録層のうち、第１層目以外の他の記録層に対するレーザービームの第３の最適記録パワー値は、第２の最適記録パワー値に、記録パワー値を求める記録層と第１層目の記録層との第１の最適記録パワー値の比率を乗算して求める第２の最適記録パワー値決定手段とを有し、複数の記録層のそれぞれについてレーザービームの発光パワーの最適記録パワー値を決定することを特徴とする。
【００２１】
この発明では、光ディスクに対する情報信号の記録が２回目以降の時は、複数の記録層のうち、光ヘッドに最も近い第１層目の記録層の試し書き領域に対してテスト信号を記録再生して、第１層目の記録層に対するレーザービームの発光パワーの第２の最適記録パワー値を求め、第１層目以外の記録層の最適記録パワー値は、この第２の最適記録パワー値と初回記録時に求めた最適記録パワー値を用いて演算により求めるようにしたため、第１層目以外の記録層の試し書き領域を使用した最適記録パワー値を求めるためのテスト信号の記録再生（ＯＰＣの実行）は、光ディスク装置で初めて記録される場合だけ行われるので、第１層目以外の記録層のテスト信号記録再生回数を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
次に、本発明の実施の形態について図面と共に詳細に説明する。
【００２３】
（第１の実施の形態）
図１は本発明になる光ディスク装置の一実施の形態のブロック図を示す。この光ディスク装置は、光ヘッド２、レーザ駆動回路３、サーボ回路４、ＯＰＣ記録処理部５、符号化回路６、再生信号処理部７、ＯＰＣ再生処理部８、及びシステム制御回路９を有しており、マイクロコンピュータによって実現されるシステム制御回路９による各ブロックの制御により、例えば、片面２層構造を持つ追記型又は書換型光ディスク１に対して最適記録パワー値で情報を記録し、光ディスク１に記録された情報を再生する処理を行うものである。
【００２４】
すなわち、図１に示す光ディスク装置は、光ヘッド２から光ディスク１へレーザービームを照射し、これにより光ディスク１から反射される反射光を光ヘッド２で受光して光電変換して得られた信号に基づいて、サーボ回路４が光ヘッド２から光ディスク１へ照射するレーザービームのトラッキング制御やフォーカス制御や移動制御を行うと共に、光ヘッド２内の受光素子により光ディスク１の信号を読み取り、その読取信号を再生信号処理部７により所定の信号処理を行わせた後ＯＰＣ再生処理部８に供給する。
【００２５】
一方、情報の記録については、試し書き情報に対して、記録時のレーザービームの最適記録パワーを求めるために、システム制御回路９からの試し書き情報を、ＯＰＣ記録処理部５によってレーザ駆動回路３を介して光ヘッド２内のレーザダイオードを駆動制御して、順次段階的に記録時のレーザーパワー（記録パワー）を変化させて試し書きを行う。その際、システム制御回路９は各層の最適記録パワー値を決定する。
【００２６】
そして、試し書きを行った記録試し書き情報を、光ディスク１からの反射光に基づいて光ヘッド２内の受光素子により光ディスク１の信号を読み取り、その読取信号を再生信号処理部７により所定の信号処理を行わせた後、ＯＰＣ再生処理部８で検出させ、最適記録パワー値を求める処理を行う。
【００２７】
最適記録パワー値が求められた後、記録データ１０が符号化回路６により符号化される。符号化回路６から出力された符号化データは、ＯＰＣ記録処理部５を介してレーザ駆動回路３に供給されて駆動制御信号を生成する。レーザ駆動回路３からの駆動制御信号は、光ヘッド２内のレーザダイオードを駆動することにより、最適記録パワー値に基づいたパワーのレーザービームを出射し、光ディスク１に符号化データを記録する。
【００２８】
次に、この光ディスク装置で使用する記録層が片面２層構造の光ディスク１について説明する。図２は記録層が片面２層構造の光ディスク１の一例の断面図を示す。図３は図２に示す片面２層構造の光ディスク１の一例の上面図を示す。図４は第１の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスク１の試し書き領域（以下、ＯＰＣ領域という）の構成の一例の説明図を示す。
【００２９】
図２に示すように、この光ディスク１は、情報を記録する記録層が第１層目２０と第２層目２１とが積層された片面２層構造である。光ヘッド２に近い方の第１層目２０と、遠い方の第２層目２１の各記録層の間は、約４０〜６０μｍであり、また、光ディスク１の表面から第１層目２０と第２層目２１との中間点までの距離は、約０.５７ｍｍである。そして、第１層目２０が半透明の記録層となっている。なお、各層２０、２１には、それぞれランドとグルーブとが形成され、各種の記録方式によりデータが書き込まれる。
【００３０】
また、図３に示すように、第１の実施の形態の片面２層構造の光ディスク１の上面には、データが書き込まれるデータ領域１１と、そのデータ領域１１の内周側に設けられた管理領域１２とが設けられる。管理領域１２は、試し書きのためのＯＰＣ領域１２ａと、媒体の種類や記録方式、記録回数などの記録管理情報を記録するための記録管理情報（ＲＭＡ：Recording Management Area）領域１２ｂと、ＣＰＲＭ（Content Protection for Prerecorded Media）に対応するためのＢＣＡ（Burst Cutting Area）領域１２ｃなどからなる。なお、試し書きを行うＯＰＣ領域１２ａは、記録媒体や層構造によっては、ＰＣＡ（Power Calibration Area）領域又はＤＴＡ（Disc Testing Area）領域と呼ぶ場合もあり、本明細書では、これらをＯＰＣ領域と総称するものとする。
【００３１】
また、第１の実施の形態では、片面２層構造を持つ光ディスク１の第１層目記録層（以下、単に第１層目という）２０と第２層目記録層（以下、単に第２層目という）２１の両記録層において、図４に示すように、情報の記録時にレーザービームの発光パワー（記録パワー）を決定するために用いるＯＰＣ領域Ｔ１（第１層目２０）、ＯＰＣ領域Ｔ２（第２層目２１）を、積層方向で重ならないように異なる位置にそれぞれ設けている。そして、ＯＰＣ領域Ｔ１、Ｔ２の外周側にＲＭＡ領域１２ｂがあり、ＲＭＡ領域１２ｂの外周側にＢＣＡ領域１２ｃがあり、ＢＣＡ領域１２ｃの外周側にデータ領域１１がある。
【００３２】
図４に示す第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１は、例えば、光ディスク１の半径方向の幅が約５０μｍで容量が約１６００セクタ、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２も光ディスク１の半径方向の幅が約５０μｍで容量が約１６００セクタとなっている。ただし、それぞれのＯＰＣ領域Ｔ１、Ｔ２の幅は、それらの幅の合計の最大値が決まっているだけであり、本発明では、その最大値の範囲でＯＰＣ領域Ｔ１、Ｔ２の幅をそれぞれ決めることができる。なお、試し書きの際、１トラック当り２７セクタ程度記録されるが、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）記録であるので、各トラック当りのセクタ数は変化する。
【００３３】
また、前述したように、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１と第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２とは、積層方向に重ならないように配置されるが、第１層目２０と第２層目２１の偏心及び上位層でのレーザービーム径を考慮して、図４に示すように第１層目２０と第２層目２１のＯＰＣ領域の境界には余裕度Ｃを持たせている。Ｃは半径方向の幅で、約１００μｍ前後となっている。
【００３４】
次に、本発明になる光ディスクの最適記録レーザーパワー値決定方法の実施の形態について説明する。
【００３５】
図５は本発明になる最適記録レーザーパワー値決定方法の一実施の形態のフローチャートを示す。この実施の形態の最適記録レーザーパワー値決定方法は、図１に示す光ディスク装置により、後述する片面２層構造を持つ光ディスク１に情報を記録する際の記録レーザーパワーの最適値を決定する方法である。
【００３６】
まず、図１に示す光ディスク装置では、サーボ回路４により光ヘッド２が光ディスク１の管理領域１２上に移動されると、管理領域１２のＲＭＡ領域１２ｂから記録回数を示す情報を読み取り、再生信号処理部７にてその情報を再生する。再生された記録回数を示す情報は、ＯＰＣ再生処理部８を介してシステム制御回路９へ入力される。ここで、再生された記録回数を示す情報は、ＯＰＣ再生処理部８を介さず、再生信号処理部７から直接システム制御回路９へ入力されるようにしても勿論よい。
【００３７】
システム制御回路９は、ＲＭＡ領域１２ｂから再生された記録回数を示す情報に基づいて、まず、同一光ディスク装置において同一光ディスクの組み合わせで初めて記録する（１回目記録）のか否かを判定する（ステップＳ１）。１回目（初回）の記録であると判断した場合、システム制御回路９は、まず、片面２層構造の光ディスク１の光ヘッド２に最も近い記録層である第１層目２０に対して公知の方法でＯＰＣを実行し、第１層目の最適記録パワーＰＬ１を求め、その最適記録パワーの値ＰＬ１を、例えばシステム制御回路９内のメモリ９１等、光ディスク装置内に１回目の最適記録パワー値ＭＬ１として記憶する（ステップＳ２）。
【００３８】
ここで、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１にて、記録パワーを段階的に順次に変更した光ビームで所定パターンのテスト信号を連続して書き込んだ後、再生して、その再生信号のジッタが最も低くなる記録パワーが、最適記録パワーＰＬ１である。記録パワーと再生信号のジッタとの間には、例えば図６に示す如き関係があり、最適記録パワーで記録した時の再生信号のアシンメトリ値βは、目標値にほぼ一致する。上記のβは、例えば図７に示すように、再生テスト信号のピーク値Ａ１（正数）とボトム値Ａ２（負数）との和［ピーク値Ａ１とボトム値Ａ２の絶対値の差分］を、ピーク値Ａ１とボトム値Ａ２との差（ピーク・ツウ・ピーク値）［ピーク値Ａ１とボトム値Ａ２の絶対値の和分］で除算したアシンメトリ値である。
【００３９】
このアシンメトリ値βの目標値は実際に使用される光ヘッド２や光ディスク１によって異なるので、製造工程で個々に実験結果によって目標値が予め決定されていて、その目標値が光ディスク装置内のシステム制御回路９内のメモリに記憶されていて、システム制御回路９はこの目標値にほぼ一致するときのアシンメトリ値βが得られる記録パワーを最適な記録パワーとしてメモリ９１に記憶する。
【００４０】
続いて、システム制御回路９は、サーボ回路４を介して光ヘッド２内の対物レンズを光ディスク１方向へ所定距離移動し、かつ、光ディスク１の第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２の先頭位置に光ヘッド２を移動させて、第２層目２１に対しても上記ＯＰＣを実行し、第２層目の最適記録パワーＰＬ２を求め、その最適記録パワーの値ＭＬ２をメモリ９１等に記憶する（ステップＳ３）。なお、この１回目の第１層目２０に対する第２層目２１上の最適記録パワー値の比ＭＬ２／ＭＬ１を、第２層目２１の２回目以降のデータ書き込みの最適記録パワーＰＬ２を求める際に使用するので、この１回目の最適記録パワー値の比ＭＬ２／ＭＬ１を、予め求めてメモリ９１に記憶するようにしても勿論よい。
【００４１】
なお、レーザービームの照射方向（積層方向）において第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２と重なる第１層目２０の領域には、余裕幅Ｃも含めて工場出荷時等や１回目の記録時に、ダミーデータが記録される。これにより、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２への記録時には、常に第１層目２０の記録済みの領域を透過してレーザービームが第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２へ照射されてテスト信号の記録を行うこととなる。これにより、記録条件を第１層目２０と第２層目２１とで同じにしてテスト信号の記録ができる。
【００４２】
次に、システム制御回路９は、サーボ回路４を介して光ヘッド２を光ディスク１の第１層目２０のデータ領域１１の先頭位置に移動させると共に、データ領域１１の第１層目２０にレーザービームの焦点を一致させて最適記録パワーＰＬ１でデータの記録を開始する。第１層目２０へのデータの記録が終了すると、光ヘッド２内の対物レンズを所定距離だけ光ディスク１に近付く方向へ移動させて、第２層目２１のデータ領域１１にレーザービームの焦点を一致させて第２層目２１のデータ領域１１に最適記録パワーＰＬ２でデータを記録する（ステップＳ６）。
【００４３】
ところで、システム制御回路９が、図５のステップＳ１により、同一の光ディスク装置にて同一光ディスク１への２回目以降での記録であると判定した場合は、まず、光ディスク１の第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１にて前記ＯＰＣを実行して、第１層目の最適記録パワーＰＬ１を求め、メモリ９１等に記憶する（ステップＳ４）。続いて、システム制御回路９は、第２層目の最適記録パワーＰＬ２を、１回目（初回）のＯＰＣ時にステップＳ２、Ｓ３で求めメモリ９１に保存したＭＬ１、ＭＬ２の値、若しくはステップＳ３で求めメモリ９１等に保存した比率ＭＬ２／ＭＬ１を、ステップＳ４で求めた２回目以降の第１層目２０の最適記録パワーＰＬ１に乗算して求める（ステップＳ５）。
【００４４】
すなわち、システム制御回路９は、２回目以降の第２層目２１の最適記録パワーＰＬ２を、次式（１）、すなわち、
ＰＬ２＝ＰＬ１×ＭＬ２／ＭＬ１    ・・・    （１）
の計算で求める。ただし、上式（１）のＰＬ１はステップＳ４で求めた対応する２回目以降の第１層目２０の最適記録パワーである。
【００４５】
その後、システム制御回路９は、光ディスク１の第１層目２０のデータ領域１１に対しては、ステップＳ４で求めた最適記録パワーＰＬ１でデータの記録を行い、第１層目２０のデータ領域１１へのデータ記録終了後は第２層目２１のデータ領域１１に対してステップＳ５で求めた最適記録パワーＰＬ２でデータを記録する（ステップＳ６）。
【００４６】
このように、本実施の形態では、同一光ディスク装置と同一光ディスクの組み合わせで、２回目以降での記録であるときには、第１層目２０の最適記録パワーＰＬ１についてはＯＰＣを実行して求め、第２層目２１の最適記録パワーＰＬ２については、２回目以降ＯＰＣにより求めた第１層目２０の最適記録パワーＰＬ１に１回目のＯＰＣ時に求めた第１層目２０の最適記録パワーＭＬ１と第２層目２１の最適記録パワーＭＬ２との間の比率ＭＬ２／ＭＬ１を乗算して求めるようにしたので、２回目以降の第２層目２１の最適記録パワーＰＬ２はＯＰＣを実行することなく求めることが可能になり、第２層目２１については、起動時間の短縮化、すなわちＯＰＣに要する時間を省いて少しでも早く記録開始することを実現できると共に、第２層目２１のＯＰＣ実行回数を低減できる。
【００４７】
また、本実施の形態では、第２層目２１のＯＰＣの実行は、各光ディスク装置で初めて記録される場合だけ行われるので、特に、光ディスク１が追記型の場合は、第２層目２１のＯＰＣ実行回数の低減により、ＯＰＣ可能な回数を増大させることができる。つまり、第２層目２１については、１回目のみＯＰＣを実行し、２回目以降はＯＰＣを実行することなく、第１回目の第１層目２０に対する第２層目２１の最適記録パワー比率ＭＬ２／ＭＬ１に基づいて求めるので、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２は、幅が少なくて済み、節約することが可能となるので、その分相対的に、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１は、幅を広く確保できることになる。これにより、２回目以降も第２層目２１にＯＰＣを実行する従来技術と比べて、ＯＰＣ回数を増大させることができる。
【００４８】
（第２の実施の形態）
上記第１の実施の形態では、図３及び図４に示すように、ＣＰＲＭに対応するためのＢＣＡ領域１２ｃを設けた光ディスク１に対するＯＰＣについて説明したが、第２の実施の形態では、ＣＰＲＭ非対応の光ディスクを使用するため、ＢＣＡ領域１２ｃを設ける必要がなく、ＢＣＡ領域１２ｃとして使用していた領域を、さらに第２層目以降のＯＰＣ領域として使用することで、ＯＰＣ回数をさらに増大させようにした実施の形態である。なお、光ディスク装置の構成、及びその記録処理の手順は、図１及び図５に示した第１の実施の形態と同様であるので、第２の実施の形態特有の光ディスク１へのＯＰＣ処理の実行部分について説明する。
【００４９】
図８（ａ）、（ｂ）は、本実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスク１のＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。図８（ａ）、（ｂ）に示すように、第２の実施の形態の光ディスク１は、ＣＰＲＭ対応ではないので、ＲＭＡ領域の外周側にＢＣＡ領域を設ける必要がない。そこで、本実施の形態のシステム制御回路９は、その領域をＯＰＣ領域として使用する。
【００５０】
第１の実施の形態では、図４に示したように、各記録層のＯＰＣ領域が重ならないように各記録層にＯＰＣ領域を配置させているが、その場合には各記録層の偏心及び上位層でのレーザービーム径を考慮して、各層のＯＰＣ領域の境界に水平方向で余裕度Ｃを持たせている。従って、多層構造を持つ光ディスクのＯＰＣ領域は、単層構造の光ディスクのＯＰＣ領域に比べて、１層当たりの容量が小さくなる傾向にある。
【００５１】
そこで、本実施の形態のシステム制御回路９は、図８（ａ）、（ｂ）に示すように、ＲＭＡ領域の外周側、すなわちＣＰＲＭ対応の光ディスクであればＢＣＡ領域として使用された領域を、第１層目２０の場合には空き領域Ｖ１、第２層目２１の場合にはＯＰＣ領域Ｔ２として使用することを特徴としている。そのため、本実施の形態の場合、ＲＭＡ領域より内周側の図４では第２層目２０のＯＰＣ領域Ｔ２として使用していた領域は使用しないことになる。
【００５２】
なお、図８（ａ）に示す光ディスクでは、例えば、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１のディスク半径方向の幅が約５０μｍで容量が約１６００セクタ、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２の幅は、約２０μｍで容量が６４０セクタとしている。また、第１層目２０の空き領域Ｖ１には、第１の実施の形態の場合と同様に、工場出荷時等や１回目の記録時に、光ディスク装置によりダミーデータが記録されるようにしてもよい。
【００５３】
また、ＲＭＡ領域を介して第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１と第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２とを分けたことを有効に活用して、本実施の形態では、図８（ｂ）に示すように、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１として、第２層目２１のＯＰＣ領域や、それとの間の余裕幅を考慮せずに、ＲＭＡ領域の内周側に幅広く確保することができる。
【００５４】
次に、第２の実施の形態の光ディスク装置によるＯＰＣの特徴を説明する。本実施の形態の場合、図５に示した第１の実施の形態の光ディスク装置と同様の処理を行い、１回目の書き込みの場合、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１と、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２とに、それぞれ試し書きを行う。
【００５５】
その際、レーザービームの照射方向（積層方向）において第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２と重なる第１層目２０の空き領域Ｖ１にダミーデータが記録されている場合、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２への記録時には、常に第１層目２０のダミーデータ記録済みの空き領域Ｖ１を透過して光ヘッド２からのレーザービームが第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２へ照射され、試し書きのテスト信号の記録を行うことが可能となる。これにより、第１層目２０のデータ領域１１にデータが記録されている場合と記録条件を同じにして、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２にテスト信号の記録ができ、より正確に第２層目２１の最適記録パワー値を決定できることになる。
【００５６】
従って、本実施の形態によれば、第１の実施の形態と同様の効果が得られると共に、本実施の形態では、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１と第２層目のＯＰＣ領域Ｔ２とをＲＭＡ領域を中心にそれぞれ内周側または外周側に設けているので、第１の実施の形態の場合よりもＯＰＣ可能な回数をさらに増大させることが可能となる。
【００５７】
すなわち、本実施の形態では、図８（ａ）、（ｂ）に示すように、第２層目２１においてＲＭＡ領域より外側の領域Ｔ２をＯＰＣ領域に使用しているので、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として、例えば、６４０セクタを使用すると、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２は、各光ディスク装置で初めて記録される場合だけ使用するので、１回のＯＰＣに１６セクタを使用するならば、４０台の光ディスク装置でＯＰＣを実行することが可能であり、現実には十分な回数である。
【００５８】
その上、本実施の形態では、図８（ｂ）に示すように、第２層目２１の今回ＯＰＣ領域として使用しない領域と、その間の余裕幅の領域Ｃと、第１の実施の形態における第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１とを合計した領域（約、幅２００μｍ）を第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１として使用することができる。その結果、本実施の形態によれば、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１では、６４００セクタ使用できることになり、１回のＯＰＣに１６セクタを使用するならば、合計４００回のＯＰＣの実行が可能となる。
【００５９】
第１の実施の形態の方法と対比すると、図４に示したように、第１の実施の形態では、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２を第２層目のＯＰＣ専用に使い、第１層目２１のＯＰＣ領域Ｔ１を第１層目のＯＰＣ専用に使っているので、各１６００セクタを１回のＯＰＣに１６セクタを使用するならば、１００台の光ディスク装置で１回ずつＯＰＣを実行することが可能となり、ＯＰＣの合計回数も１００回となる。
【００６０】
これに対し、本実施の形態によれば、上述したように第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１により、第１層目２０では４００回のＯＰＣが実行できるので、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１と同様の幅を確保することにより、上記第１の実施の形態の方法に比べて４倍（＝４００／１００）の回数の追記が可能となる。
【００６１】
つまり、本実施の形態によれば、一枚の光ディスク１が複数の光ディスク装置で記録される場合は、４００台の光ディスク装置で１回ずつＯＰＣを実行することが可能となり、全部で４００回のＯＰＣの実行が可能となる。
【００６２】
なお、本実施の形態では、第１層目２０のＲＭＡ領域の外周側の空き領域Ｖ１にダミーデータを予め書き込む等して、第１層目２０のデータ領域１１にデータが記録されている場合と記録条件を同じにして、第２層目のＯＰＣ領域Ｔ３にテスト信号の記録ができるように説明したが、本発明は、これに限定されるものでなく、第１層目２０のＲＭＡ領域の外周側の空き領域Ｖ１にダミーデータを書き込まず、空いたままの領域にしても勿論よい。
【００６３】
この場合、第１層目２０のデータ領域１１にデータが記録されている場合と記録条件を同じにして、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２にテスト信号を記録することはできないものの、それでも、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１の幅を第１の実施の形態の場合よりも広く確保できるので、ＯＰＣ回数をさらに増大することができるという効果は得られる。
【００６４】
また、第２の実施の形態では、図８（ａ）、（ｂ）に示すように、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１をＲＭＡ領域の内側に設け、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２をＲＭＡ領域の外側に設けて説明したが、本発明は、これに限らず、図９に示すように、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１をＲＭＡ領域の外側に設け、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２をＲＭＡ領域の内側に設けるようにしても勿論よい。このことは、後述する他の実施の形態でも同様である。
【００６５】
（第３の実施の形態）
上記の第２の実施の形態では、ＣＰＲＭ非対応の光ディスク１において、ＢＣＡ領域として使用されないＲＭＡ領域の外周側を第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として使用し、第２層目２１のＲＭＡ領域の内周側をＯＰＣ領域として使用しない場合を説明したが、第３の実施の形態では、第１層目２０のＲＭＡ領域の内周側及び外周側を、第１層目２１のＯＰＣ領域Ｔ１として使用したり、第２層目２１のＲＭＡ領域の内周側及び外周側を、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として使用するものである。なお、第３の実施の形態の光ディスク装置の構成、及びその記録処理の手順は、図１及び図５に示した第１、第２の実施の形態と同様であるので、この第３の実施の形態特有の光ディスク１へのＯＰＣ処理の実行について説明する。
【００６６】
図１０（ａ）、（ｂ）は、第３の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスク１のＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。図１０（ａ）は、片面２層構造の光ディスク１の第１層目２０のＲＭＡ領域の内周側及び外周側を、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１として使用する一例を示している。これにより、本実施の形態のシステム制御回路９は、第１層目２０へのＯＰＣ回数を増大させることができる。
【００６７】
図１０（ｂ）は、片面２層構造の光ディスク１の第２層目２１のＲＭＡ領域の内周側及び外周側を、第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として使用する一例を示している。これにより、本実施の形態のシステム制御回路９は、第２層目２１へのＯＰＣ回数を増大させることができる。
【００６８】
また、本実施の形態のシステム制御回路９は、ＲＭＡ領域の内周側及び外周側を、第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１又は第２層目２１のＯＰＣ領域Ｔ２として適応的に使用する。例えば、図１０（ａ）に示す片面２層構造の光ディスク１の第１層目２０のＲＭＡ領域の内周側及び外周側を第１層目２０のＯＰＣ領域Ｔ１として使用する場合であれば、１回目は、ＲＭＡ領域の内周側のＯＰＣ領域Ｔ１を優先的に使用し、ＲＭＡ領域内周側のＯＰＣ領域Ｔ１が一杯になったらＲＭＡ領域外周側のＯＰＣ領域Ｔ１を使用するようにしてもよいし、その逆に外周側のＯＰＣ領域Ｔ１を優先的に使用してもよい。
【００６９】
また、第１層目２０のＲＭＡ領域の内周側及び外周側のＯＰＣ領域Ｔ１でＯＰＣを実行して平均し、その平均値を１回目の最適記録パワーとしたり、第２層目２１であれば内周側又は外周側のいずれか一方のＯＰＣ領域Ｔ２のみ第２の実施の形態で説明したダミーデータを介してＯＰＣを実行して、その平均値を１回目の最適記録パワーとするようにしてもよい。
【００７０】
従って、本実施の形態によれば、上記第１、第２の実施の形態と同様の効果が得られると共に、第１層目２０及び第２層目２１のＯＰＣ領域としてＲＭＡ領域の内周側及び外周側を共に使用するようにしたので、ＯＰＣの回数を増大させることができる等の効果が得られる。
【００７１】
（第４の実施の形態）
本実施の形態は、片面３層の記録層を持つ構造の光ディスクに対して最適記録レーザーパワー値を決定する装置及び方法についての実施の形態である。なお、本実施の形態の光ディスク装置の構成は、図１に示す上記第１、第２、第３の実施の形態と同様であるが、記録処理の手順は、光ディスク１が３層構造となったので、図５に示した第１の実施の形態等の記録処理の手順に１層分追加されたことになる。このことは、片面３層の記録層を持つ光ディスク１を対象にする次の第５の実施の形態でも同様である。
【００７２】
図１１は本発明の第４の実施の形態における記録層が片面３層構造の光ディスク１のＯＰＣ領域の配置の一例の説明図を示す。なお、本実施の形態では、第１の実施の形態と同様に、図３に示したＲＭＡ領域１２ｂの外周側をＢＣＡ領域１２ｃとして使用するＣＰＲＭ対応の光ディスクとして説明する。
【００７３】
本実施の形態の光ディスク１は、図１１に示すように、光ヘッドに最も近い側から最も遠い側へ順に第１層目３０、第２層目３１及び第３層目３２の順で記録層が積層されている。第１層目３０のＯＰＣ領域Ｔ１、第２層目３１のＯＰＣ領域Ｔ２、第３層目３２のＯＰＣ領域Ｔ３は、それぞれ所定の余裕幅の領域Ｃを空けてＲＭＡ領域の内周側のみに設けられる。
【００７４】
次に、本実施の形態の動作を説明する。この第４の実施の形態では、片面３層の記録層を持つ構造の光ディスクを対象としているので、光ディスク装置内のシステム制御回路９は、光ディスク１の１回目記録時には、第１層目３０のＯＰＣ領域Ｔ１、第２層目３１のＯＰＣ領域Ｔ２、第３層目３２のＯＰＣ領域Ｔ３に対して順次にＯＰＣを実行して、最適記録パワーＭＬ１、ＭＬ２及びＭＬ３をそれぞれ求め、その値をメモリ９１等に格納する。
【００７５】
そして、光ディスク１の１回目記録時には、システム制御回路９は、この最適記録パワーＭＬ１、ＭＬ２及びＭＬ３により、第１層目３０、第２層目３１及び第３層目３２のデータ領域に対してデータの記録を行う。
【００７６】
次に、同じ光ディスク装置で同じ光ディスクに対して２回目以降の記録を行う場合は、まず、光ディスク装置内のシステム制御回路９が光ディスクの第１層目３０のＯＰＣ領域Ｔ１に対してＯＰＣを実行して、最適記録パワーＰＬ１を求める。
【００７７】
続いて、システム制御回路９は、光ディスクの第２層目３１の最適記録パワーＰＬ２と、第３層目３２の最適記録パワーＰＬ３については、ＯＰＣを実行せず、それぞれ、２回目の第１層目３０の最適記録パワー値と、１回目のＯＰＣにより求めた第１層目３０の最適記録パワーに対する各層の最適記録パワー値の比率とに基づいて、次式（２）、（３）の計算により求めてメモリ９１に格納する。
【００７８】
ＰＬ２＝ＰＬ１×ＭＬ２／ＭＬ１    ・・・    （２）
ＰＬ３＝ＰＬ１×ＭＬ３／ＭＬ１    ・・・    （３）
その後、最適記録パワーＰＬ１、ＰＬ２及びＰＬ３で第１層目３０、第２層目３１及び第３層目３２のデータ領域に対してデータの記録を順次に行う。
【００７９】
従って、この第４の実施の形態でも、片面３層の光ディスクであっても、同一光ディスク装置と同一光ディスクの組み合わせで、２回目以降での記録であるときには、第１層目３０に対してＯＰＣを実行して求めた最適記録パワーＰＬ１に、１回目のＯＰＣ時に求めた第１層目３０の最適記録パワーに対する各層の最適記録パワー値の比率ＭＬ２／ＭＬ１、ＭＬ３／ＭＬ１を乗算することで、第２層目３１の最適記録パワーＰＬ２と、第３層目３２の最適記録パワーＰＬ３とを、ＯＰＣを実行することなく計算で求めるようにしたため、上記第１の実施の形態等の片面２層の光ディスクの場合と同様に、起動時間を短縮でき、すなわちＯＰＣに要する時間を省いて少しでも早く記録開始することを実現できると共に、光ディスク１が追記型の場合は、ＯＰＣ可能な回数を増大させることができる。
【００８０】
（第５の実施の形態）
上記第４の実施の形態では、ＲＭＡ領域の外周側をＢＣＡ領域として使用するＣＰＲＭ対応の光ディスクとして説明したが、この第５の実施の形態は、ＲＭＡ領域の外周側をＢＣＡ領域として使用しないＣＰＲＭ非対応で、片面３層の記録層を持つ構造の光ディスクに対して最適記録レーザーパワー値を決定する装置及び方法の実施の形態である。
【００８１】
図１２は本発明の第５の実施の形態における記録層が片面３層構造の光ディスク１のＯＰＣ領域の配置の一例の説明図を示す。本実施の形態では、上記の第２の実施の形態と同様に、ＲＭＡ領域の外周側をＢＣＡ領域として使用するＣＰＲＭ対応の光ディスクであるので、図１２に示すように、第１層目３０のＯＰＣ領域Ｔ１は、ＲＭＡ領域の内周側に設ける一方、第１層目３０以外の第２層目３１、第３層目３２のＯＰＣ領域Ｔ２、Ｔ３は、それぞれＣＰＲＭ対応であればＢＣＡ領域として利用されたＲＭＡ領域外周側の領域に、所定の余裕幅の領域Ｃを空けて設ける。
【００８２】
その際、第２の実施の形態でも説明したように、第２層目３１のＯＰＣ領域Ｔ２、第３層目３２のＯＰＣ領域Ｔ３に対し、レーザービームの照射方向（積層方向）で重複する隣接する第１層目３０の空き領域Ｖ１と、第３層目３２のＯＰＣ領域Ｔ３に対しレーザービーム照射方向（積層方向）に隣接する第２層目３１の空き領域Ｖ２には、予めダミーデータが記録されているか、又は１回目のＯＰＣ実行時に光ディスク装置でダミーデータを記録しておき、実際のデータ記録時と同様の条件でＯＰＣを実行できるようにしても勿論よい。
【００８３】
従って、この第５の実施の形態によれば、上記の第４の実施の形態と同様に、片面３層の光ディスクであっても、同一光ディスク装置と同一光ディスクの組み合わせで、２回目以降での記録であるときには、起動時間を短縮でき、すなわちＯＰＣに要する時間を省いて少しでも早く記録開始することを実現できると共に、ＲＭＡ領域の内周側を第１層目３０のＯＰＣ領域Ｔ１専用として使用することにより、第４の実施の形態の場合よりも、ＯＰＣ可能な回数をさらに増大させることができる。
【００８４】
なお、以上の第１〜第５の実施の形態では、光ディスク１を追記型のものとして説明したが、本発明は、これに限らず、光ディスク１は書換型でも同様に適用される。光ディスクが書換型の場合は、試し書きしたデータを消去することが可能であるので、必ずしも第１層目の試し書き領域を他の層の試し書き領域より広い範囲を確保する必要がないが、消去時間や消去回数を減少できるので、上記の各実施の形態のように第１層目の試し書き領域を他の層の試し書き領域よりも広くすることが好ましい。
【００８５】
また、以上の実施の形態では、複数の記録層を有する光ディスクとして、片面２層、３層の光ディスク１を対象として説明したが、本発明は、これに限らず、片面４層以上でも適用可能であり、また、片面２層の光ディスクを張り合わせた両面２層の光ディスクにも適用可能である。
【００８６】
また、以上の実施の形態では、同一の光ディスク装置に対し同一の光ディスク１に対するデータの記録が１回目（初回）である場合、システム制御回路９は、各記録層についてＯＰＣを実行して最適記録パワー値を求めて、システム制御回路９内のメモリ９１等、光ディスク装置内に記憶するものと説明したが、本発明は、これに限らず、各記録層についてＯＰＣを実行して求めた最適記録パワー値を、例えば光ディスク１の各記録層の管理領域１２のＲＭＡ領域に記録するようにしても勿論よい。
【００８７】
このようにすれば、常に、光ディスク装置は、各記録層の管理領域１２のＲＭＡ領域を読みにいくので、同一の光ディスク装置に対し１回目（初回）であるか否かを判断する際に、常に各記録層の最適記録パワー値を読むことになり、簡単、かつ、確実に各記録層の最適記録パワー値を得ることができる。特に、各記録層について１回目のＯＰＣを実行して求めた最適記録パワー値を、光ディスク１の第１層目の管理領域１２のＲＭＡ領域に記録することにより、第１層目のＲＭＡ領域を読みにいった際に、各記録層の１回目の最適記録パワー値を１度で検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の光ディスク装置の一実施の形態のブロック図である。
【図２】片面記録層が２層構造の光ディスクの一例の断面図である。
【図３】片面記録層が２層構造の光ディスクを情報から見た場合の上面図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。
【図５】本発明の光ディスクの最適記録レーザーパワー値決定方法の一実施の形態の処理を示すフローチャートである。
【図６】記録パワーとジッタとβとの関係を示す図である。
【図７】βの定義を説明する図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の他の構成の一例を示す説明図である。
【図１０】本発明の第３の実施の形態における記録層が片面２層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。
【図１１】本発明の第４の実施の形態における記録層が片面３層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。
【図１２】本発明の第５の実施の形態における記録層が片面３層構造の光ディスクのＯＰＣ領域の配置の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００８９】
１  光ディスク
２  光ヘッド
３  レーザ駆動回路
４  サーボ回路
５  ＯＰＣ記録処理部
６  符号化回路
７  再生信号処理部
８  ＯＰＣ再生処理部
９  システム制御回路
２０、３０  第１層目の記録層
２１、３１  第２層目の記録層
３２  第３層目の記録層
９１  メモリ
Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３  ＯＰＣ領域
Ｖ１、Ｖ２  空き領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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