(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、
第２トラックが形成されたディスク状の第２記録層と
を少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なアドレスのずれの大きさを検証する位置検証装置であって、
前記第１記録層の複数トラックにわたる第１開始アドレスから第１終了アドレスまでの第１領域に情報を記録する第１記録手段と、
前記第１記録層の前記第１開始アドレス及び前記第１終了アドレスと同じアドレス若しくは補数関係となる前記第２記録層のアドレスから複数トラック前及び後のアドレスであり、且つ前記第１領域を透過しないレーザ光によってのみ情報が記録されるアドレスを第２開始アドレス及び第２終了アドレスとし、前記第２記録層の前記第２開始アドレスから前記第２終了アドレスまでの第２領域に情報を記録する第２記録手段と、
前記第２領域を再生する再生手段と
を備え、
前記第２領域には、前記第１記録層の前記第１開始アドレス及び第１終了アドレスと同じアドレス若しくは補数関係となる前記第２記録層のアドレスの範囲内にあり、且つ許容範囲内の相対的なアドレスのずれによって特定可能な推定領域があり、
前記推定領域に含まれる位置において検出されたアシンメトリ値が、適正レベルと概ね等しいか否かに基づいて、前記相対的なアドレスのずれが許容範囲内にあるか否かを判定する判定手段を更に備えることを特徴とする位置検証装置。
【請求項２】
第１トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、
第２トラックが形成されたディスク状の第２記録層と
を少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なアドレスのずれの大きさを検証する位置検証装置における位置検証方法であって、
前記第１記録層の複数トラックにわたる第１開始アドレスから第１終了アドレスまでの第１領域に情報を記録する第１記録工程と、
前記第１記録層の前記第１開始アドレス及び前記第１終了アドレスと同じアドレス若しくは補数関係となる前記第２記録層のアドレスから複数トラック前及び後のアドレスであり、且つ前記第１領域を透過しないレーザ光によってのみ情報が記録されるアドレスを第２開始アドレス及び第２終了アドレスとし、前記第２記録層の前記第２開始アドレスから前記第２終了アドレスまでの第２領域に情報を記録する第２記録工程と、
前記第２領域を再生する再生工程と
を備え、
前記第２領域には、前記第１記録層の前記第１開始アドレス及び第１終了アドレスと同じアドレス若しくは補数関係となる前記第２記録層のアドレスの範囲内にあり、且つ許容範囲内の相対的なアドレスのずれによって特定可能な推定領域があり、
前記推定領域に含まれる位置において検出されたアシンメトリ値が適正レベルと概ね等しいか否かに基づいて、前記相対的なアドレスのずれが許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備えることを特徴とする位置検証方法。
【請求項３】
請求項１に記載の位置検証装置に備えられたコンピュータを制御する位置検証用のコンピュータプログラムであって、該コンピュータを、前記第１記録手段、前記第２記録手段、前記再生手段、及び、前記判定手段のうち少なくとも一部として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば２層型のＤＶＤ、ＣＤ（Compact Disc）等の多層型の情報記録媒体における複数の記録層における相対的なずれを検証するための位置検証装置及び方法、位置測定装置及び方法、並びに、位置検証用又は位置測定用のコンピュータプログラムの技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc−Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc−Recordable）、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、及び、ＤＶＤ＋Ｒ等の情報記録媒体では、特許文献１、２等に記載されているように、同一基板上に複数の記録層が積層、または貼り合わされてなる多層型若しくはデュアルレイヤ型の光ディスク等の情報記録媒体も開発されている。そして、このようなデュアルレイヤ型、即ち、２層型の光ディスクに記録を行う、ＤＶＤレコーダ等の情報記録装置では、レーザ光の照射側から見て最も手前側（即ち、光ピックアップに近い側）に位置する記録層（本願では適宜「Ｌ０層」と称する）に対して記録用のレーザ光を集光することで、Ｌ０層に対して情報を加熱などによる非可逆変化記録方式や書換え可能方式で記録し、Ｌ０層等を介して、レーザ光の照射側から見てＬ０層の奥側（即ち、光ピックアップから遠い側）に位置する記録層（本願では適宜「Ｌ１層」と称する）に対して該レーザ光を集光することで、Ｌ１層に対して情報を加熱などによる非可逆変化記録方式や書換え可能方式で記録することになる。【０００３】
このような２層型の光ディスクを構成するＬ１層に情報を記録する際には、図１８（ａ）に示されるように、記録済みのＬ０層を介してＬ１層に照射されたレーザ光の最適な記録パワーは、例えば、図１８（ｃ）の細線（白三角印）の放物線上におけるジッタ値が最小となる４４．５（ｍＷ：ミリワット）である。他方、図１８（ｂ）に示されるように、記録済みのＬ０層とは光透過率の異なる未記録状態のＬ０層を介してＬ１層に照射されたレーザ光の最適な記録パワーは、例えば、図１８（ｃ）の太線（黒三角印）の放物線上におけるジッタ値が最小となる４６（ｍＷ：ミリワット）であり、Ｌ１層の記録においてはＬ０層が記録されているか否かを考慮する必要性がある。これに対しては、例えば記録済みの状態のＬ０層を透過した記録用のレーザ光が照射されなければならないという、所謂、記録要件（Recording Order）を満たす記録方法が考案されている。【０００４】
しかしながら、このような２層型の情報記録媒体を製造する際には、Ｌ０層とＬ１層とが別々のスタンパによって形成され、夫々の記録層が貼り合わせ、又は積層される。よって、Ｌ０層及びＬ１層において、貼り合わせ誤差によって偏芯が生じてしまう可能性がある。或いは、Ｌ０層とＬ１層とが別々のスタンパによって夫々作成されているため、夫々の記録層におけるトラックピッチに偏差が生じてしまったり、夫々の記録層における基準アドレスに対する絶対的な半径位置に偏差、所謂、寸法誤差が生じてしまう可能性がある。これらの原因によって、Ｌ０層の記録領域に、例えばプリフォーマットアドレス等のアドレス情報によって対応されるＬ１層の記録領域の半径位置にズレが生じてしまい、上述した記録要件を必ず満たすとは限らない可能性が生じてしまう。【０００５】
より具体的には、例えば記録済みのＬ０層を透過して記録する際に最適化された記録パワーを用いて記録が行われた場合、図１９の左側部で示されるように、Ｌ１層に情報を記録する際に、単一のトラック上において、記録済みの状態のＬ０層を透過した記録用のレーザ光が照射された場合には、再生信号の振幅が大きくなり良好な信号品質が得られる、即ち、信号品質を表す一例であるアシンメトリ値は適正な値になる。他方、図１９の右側部で示されるように、未記録状態のＬ０層を透過した記録用のレーザ光が照射された場合には、再生信号の振幅が小さくなり良好な信号品質は得られない、即ち、アシンメトリ値は適正でなくなる。更に、他方、図１９の中央部で示されるように、単一のトラック上において記録済みの状態の領域と未記録状態の領域とが混在するＬ０層を透過した記録用のレーザ光が照射された場合には、再生信号の振幅は偏芯量の大きさに応じて変動する、即ち、アシンメトリ値が適正なレベル及び適正でないレベルのうち一方から他方へと遷移する。【０００６】
この相対的なずれに起因する最適な記録パワーの偏差を無くすために、記録装置が、Ｌ１層の記録領域に対応されるＬ０層の記録領域の記録状態を検知することは、上述した相対的なずれを的確に認識する必要もあるため、記録制御処理が複雑になってしまう。他方、仮にこの相対的なずれに起因する最適な記録パワーの偏差を無視して、情報を記録した場合、記録された情報を再生する再生装置において２値化信号を得るための処理パラメータを動的に変更しなければならない等制御が複雑になり、再生処理において負荷を高めてしまう。【０００７】
そこで、本願発明者らによって、上述した相対的なずれに起因するアドレス情報と半径位置との誤差を許容範囲内に収めるように規定することが可能な情報記録媒体も提案されている。【０００８】
一般に、２層型の光ディスクに生じる相対的ずれ、即ち、Ｌ０層の一のアドレスにおける半径位置と、一のアドレスに対応されるＬ１層の他のアドレスにおける半径位置との誤差を測定するには、以下のような２つの方法が考案されている。【０００９】
第１の方法は、レーザ光を照射及び受光する光学ヘッド（以下適宜「ＰＵ：Pick Up」と称する）の半径位置を計測する方法である。この方法では、Ｌ０層及びＬ１層において所望のアドレスがＰＵによって夫々読み出されつつ、ディスクの回転中心位置、及びＰＵの相対位置に基づいて、所望のアドレスに対応される半径位置を検知することが可能である。より具体的には、レーザ光やエンコーダによって構成される位置センサ等の位置測定手段によって、ＰＵ本体、又はレーザ光を集光させる対物レンズにおける位置が測定される。また、測定された対物レンズの位置を時系列的に解析することで、Ｌ０層のトラックとＬ１層のトラックとが偏芯して回転する状態を解析することが可能となる。以上より、第１の方法によれば、Ｌ０層及びＬ１層の任意のアドレスにおける半径位置を高精度に測定することが可能となる。【００１０】
第２の方法は、２次元座標を測定可能な顕微鏡を用いる方法である。この方法では、ディスク上のトラックを顕微鏡下で観察し、概ね円形状であるトラック上の任意の三点における平面座標を座標測定することで、そのトラックの中心座標と半径とを検知できる。より具体的には、図２０に示された三点（「Ｑ１」から「Ｑ３」）から中心座標「ＯＬ１」を検知できる。更に、この座標測定をＬ０層及びＬ１層において夫々行うことで、二つのトラックの相対的な位置関係を検知できる。図２０に示された「ｄ」によってＬ０層とＬ１層との半径方向での偏芯量を検知できる。特に、所望のアドレスを含むトラックに予め記録を行うことで、この座標測定において、該当トラックの発見を容易にすることができる。この第２の方法では、第１の方法と同様に任意のアドレスにおける半径位置を容易に測定できる。加えて、各層に存在するトラックの中心座標と半径とを同時に検知できるので、相対的な位置関係を直接的に把握できる。【００１１】
【特許文献１】特開２０００−３１１３４６号公報
【特許文献２】特開２００１−２３２３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、上述した第１の方法では、任意のアドレスにおける半径位置の高精度な測定のために、レーザ光の変位を計測可能な位置測定装置等の比較的高価な測定装置が組み込まれた専用の測定機器を利用しなければならないという技術的な問題点を有している。【００１３】
加えて、上述した第２の方法では、測定に２次元座標を測定可能な顕微鏡を用いるため、比較的高価な測定システムを利用しなければならないという技術的な問題点を有している。また、トラック上の任意の三点から中心座標と半径を算出する算出過程において、誤差が生じ易く高精度に測定できない可能性があるという技術的な問題点も有している。【００１４】
本発明は、例えば上述した従来の問題点に鑑みなされたものであり、例えば複数の記録層を有する情報記録媒体における相対的なずれを、より低コスト、且つ簡便に検証することが可能な位置検証装置及び方法、位置測定装置及び方法、並びに、コンピュータをこのような位置検証装置、又は位置測定装置として機能させるコンピュータプログラムを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
（位置検証装置）
以下、本発明に係る位置検証装置について説明する。【００１６】
本発明の位置検証装置は上記課題を解決するために、情報を記録するための第１トラック（Ｌ０層におけるアドレスと半径位置との関係を表示可能）が形成されたディスク状の第１記録層（Ｌ０層）と、前記情報を記録するための第２トラック（Ｌ１層におけるアドレスと半径位置との関係を表示可能）が形成されたディスク状の第２記録層（Ｌ１層）とを少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なずれの大きさを検証する位置検証装置であって、前記第１記録層の第１領域に前記情報を記録する第１記録手段と、前記第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む前記第２記録層の第２領域において、（ｉｉｉ）前記第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報を記録し、（ｉｖ）前記第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報を記録する第２記録手段と、前記第２領域に記録された前記一部情報、及び前記他部情報を再生する再生手段と、前記再生された一部情報が示す再生品質、及び前記再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、前記相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを判定する判定手段とを備える。【００１７】
本発明の位置検証装置によれば、先ず、第１記録手段によって、第１記録層の第１領域に、例えば第１トラックに沿って、情報の記録が行われる。その後に、第２記録手段によって、第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む第２領域に、例えば第２トラックに沿って、第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報が記録され、第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報が記録される。ここに、本願発明に係る「対向」とは、相向かい合った２つの記録層において、半径位置が概ね等しい位置関係を意味すると共に、例えば所定マージン等を含みつつ概ね等しい位置関係を意味するようにしてもよい。【００１８】
詳細には、第１トラックは、情報記録媒体に備えられた、例えばディスク状の基板の内周側及び外周側のうち一方側から他方側へと向かい、これとは逆に、第２トラックは、他方側から一方側へと向かうように構成してもよい。即ち、当該２層型或いは多層型の
情報記録媒体では、記録のためのトラックが２つの記録層の間で逆方向を向いている「オポジット方式」による連続記録が可能とされる。従って、第１記録層の終了端に続いて第２記録層の開始端へと、記録を連続的に行うようにすれば、情報に係る記録処理或いは再生処理の対象としての記録層を切り換える際に、基板面内におけるレーザ光の照射位置を半径方向に殆ど又は全く変えないで済むので、迅速な層間ジャンプ（即ち、層間切替動作）が可能となる。これは、例えば映画などの連続した記録情報を記録する際に、記録層の切り換えのために特別なバッファ機能を必要とすることなく、途切れのない再生を行うことが容易となるという意味で、実践上大変便利である。【００１９】
或いは、また、第１トラックは、前述した内周側及び外周側のうち一方側から他方側へと向かい、第２トラックも、第１トラックと同様に、一方側から他方側へと向かうように構成してもよい。即ち、当該二層型或いは多層型の情報記録媒体では、トラックが二つの記録層の間で同一方向を向いている「パラレル方式」による連続記録が可能とされる。このパラレル方式では、第１記録層における記録又は再生が終了されると、第２記録層における記録又は再生が開始される時に、例えば、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要があるため、前述したオポジット方式と比較して、第１記録層から第２記録層への切り換え時間がその分だけ掛かってしまう。【００２０】
次に、再生手段によって、第２領域に記録された一部情報、及び他部情報が再生される。【００２１】
続いて、判定手段によって、再生された一部情報が示す再生品質、及び再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが判定される。【００２２】
ここで、相対的なずれが許容範囲外である場合、例えば、第１記録層と第２記録層との相対的なずれが許容範囲内であれば、第１記録層の第１領域を透過したレーザ光によって、記録された情報が示す再生品質と概ね等しい再生品質が得られると推定される推定領域と、遷移位置との間に矛盾が生じてしまう。従って、判定手段は遷移位置と例えば推定領域との位置関係の比較に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを簡便に判定することが可能となる。加えて、この推定領域における再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを、より簡便に判定することも可能となる。【００２３】
また、仮に、従来行われている一の方法を利用した場合、任意のアドレスにおける半径位置の高精度な測定のために、レーザ光の変位を計測可能な位置測定装置等の比較的高価な測定装置が組み込まれた専用の測定機器を利用しなければならない。或いは、従来行われている他の方法を利用した場合、測定に２次元座標を測定可能な顕微鏡を用いるため、比較的高価な測定システムを利用しなければならない。加えて、トラック上の任意の三点から中心座標と半径を算出する算出過程において、誤差が生じ易く高精度に測定できない可能性がある。【００２４】
これに対して、本発明によれば、例えばオシロスコープやＰＣ等の汎用的な装置によって構成することができるので、相対的ずれ、即ち、第１記録層と第２記録層とのアドレスにおける半径位置の誤差を、より低コスト且つ簡便に検証することが可能となる。【００２５】
本発明の位置検証装置の一の態様では、前記第１領域は、第１開始アドレスから第１終了アドレスまでの範囲を示した第１アドレス範囲によって特定可能であり、前記第２領域は、前記第１アドレス範囲に理論的に対応（補数関係に加えて、相対偏差を含む関係）される範囲を示した推定アドレス範囲によって特定可能な推定領域を含み、前記判定手段は、前記推定領域の位置と、前記遷移位置とに基づいて、前記相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを判定する。【００２６】
この態様によれば、判定手段によって、推定領域の位置と、遷移位置とに基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが簡便に判定される。ここに、本願発明に係る「推定領域」とは、（ｉ）第１領域を示す第１アドレス範囲に理論的に対応される範囲を示した推定アドレス範囲によって特定可能であり、（ｉｉ）第１記録層と第２記録層との相対的なずれが許容範囲内であれば、第１記録層の第１領域を透過したレーザ光によって、記録された情報が示す再生品質と概ね等しい再生品質が得られると推定される領域のことである。また、本願発明に係る「対応」とは、一のアドレスから他のアドレスを一義的に特定することが可能である関係を意味する。具体的には、一のアドレスと、他のアドレスとが補数の関係にある場合、一のアドレスと、他のアドレスとは対応していると言える。加えて、相対偏差をマージンとして含めた関係でもよい。【００２７】
上述した遷移位置又は推定領域の位置に係る態様では、前記遷移位置又は前記推定領域の位置は、前記第１記録層及び前記第２記録層のうちの一方を基準とした、アドレス又は半径位置で示されるように構成してもよい。【００２８】
このように構成すれば、判定手段によって、推定領域の位置、及び遷移位置を示す、アドレス又は半径位置とに基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが迅速且つ簡便に判定される。【００２９】
上述した推定領域に係る態様では、前記推定領域は、更に、（ｉ）前記第１記録層、及び前記第２記録層が夫々保持する寸法誤差、（ｉｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量、並びに（ｉｉｉ）前記第２記録層において焦点を結ぶように前記レーザ光が照射される際、前記第１記録層を透過しつつ、前記第１記録層において焦点を結ばないように前記レーザ光が照射される領域の半径を示す透過光径のうち少なくとも一つを有する相対偏差を含むようにして特定可能であるように構成してもよい。【００３０】
このように構成すれば、相対的なずれを生じさせる寸法誤差、偏芯量、又は透過光径の影響を除いて、判定手段による判定を行うことが可能となる。従って、判定手段によって、推定領域の位置と、遷移位置とに基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが高精度に且つ簡便に判定される。【００３１】
上述した推定領域に係る態様では、前記推定領域は、更に、少なくとも、前記第１開始アドレスに対応される第２開始アドレス（Ｇ点）、及び前記第１終了アドレスに対応される第２終了アドレス（Ｈ点）によって特定可能であるように構成してもよい。【００３２】
このように構成すれば、推定領域は、第１領域を示す第１開始アドレス及び第１終了アドレスと、許容範囲内の相対的なずれとに基づいて特定可能であるので、この推定領域に含まれる、少なくとも２つの地点も、第２開始アドレス及び第２終了アドレスと、許容範囲内の相対的なずれとに基づいて特定可能である。【００３３】
従って、判定手段によって、第２開始アドレス及び第２終了アドレスにおける再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが迅速に且つ簡便に判定される。【００３４】
更に、上述した推定領域に係る態様では、前記推定領域は、更に、前記第２開始アドレス（Ｇ点に対応）に、前記相対偏差に相当するアドレスを示したマージンアドレスが加算又は減算されたマージン開始アドレス、及び前記第２終了アドレス（Ｈ点に対応）に前記マージンアドレスが減算又は加算されたマージン終了アドレスによって特定可能であるように構成してもよい。【００３５】
このように構成すれば、判定手段によって、マージン開始アドレス及びマージン終了アドレスにおける再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが高精度に且つ簡便に判定される。【００３６】
本発明の位置検証装置の他の態様では、前記第１記録層及び前記第２記録層における半径方向の所定長は、前記第１トラック、及び前記第２トラックにおける、単位長さ当たりのデータ量を示す記録線密度が容易に算出可能なよう数値的に夫々指定されていることに基づいて規定可能である。【００３７】
この態様により、例えば記録線密度が記録層内において一定であるとすれば、所定長に基づいた、例えば推定領域を示すアドレス等の位置情報を、例えば光ディスクにおける記録領域の面積に基づいて簡便に導出することが可能となる。【００３８】
この所定長に係る態様では、前記所定長に対応されるデータ量は、前記所定長に相当する面積と、所定係数（ｃ）との商で示されるように構成してもよい。【００３９】
このように構成すれば、所定長に基づいた、例えば推定領域を示すアドレス等の位置情報を、より簡便に導出することが可能となる。【００４０】
この所定長に係る態様では、前記所定長に対応されるデータ量は、前記所定長の開始端を示すアドレスから、前記所定長の終了端を示すアドレスまでのスパイラル積分計算によって示されるように構成してもよい。【００４１】
このように構成すれば、所定長に基づいた、例えば推定領域を示すアドレス等の位置情報を、より高精度に導出することが可能となる。【００４２】
本発明の位置検証装置の他の態様では、前記再生品質は、アシンメトリ値によって示される。【００４３】
この態様によれば、例えばオシロスコープ等を含む判定手段によって、アシンメトリ等の再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが高精度に且つ簡便に判定される。【００４４】
本発明の位置検証装置の他の態様では、前記第１記録手段は、前記第１領域を、前記第１記録層において、内周部、中周部、及び、外周部のうち少なくともいずれか２箇所において形成し、前記第２記録手段は、前記第２領域を、前記第２記録層において、少なくとも前記２箇所において形成し、前記判定手段は、少なくとも前記２箇所において、前記相対的なずれが許容できるか否かを判定する。【００４５】
この態様によれば、判定手段によって、ディスク上の少なくとも２箇所における再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かが高精度に且つ簡便に判定される。【００４６】
（位置検証方法）
以下、本発明に係る位置検証方法について説明する。【００４７】
本発明の位置検証方法は上記課題を解決するために、情報を記録するための第１トラック（Ｌ０層におけるアドレスと半径位置との関係を表示可能）が形成されたディスク状の第１記録層（Ｌ０層）と、前記情報を記録するための第２トラック（Ｌ１層におけるアドレスと半径位置との関係を表示可能）が形成されたディスク状の第２記録層（Ｌ１層）とを少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なずれの大きさを検証する位置検証装置における位置検証方法であって、前記第１記録層の第１領域に前記情報を記録する第１記録工程と、前記第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む前記第２記録層の第２領域において、（ｉｉｉ）前記第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報を記録し、（ｉｖ）前記第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報を記録する第２記録工程と、前記第２領域に記録された前記一部情報、及び前記他部情報を再生する再生工程と、前記再生された一部情報が示す再生品質、及び前記再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、前記相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程とを備える。【００４８】
本発明の位置検証方法によれば、上述した本発明の位置検証装置が有する各種利益を享受することが可能となる。【００４９】
尚、上述した本発明の位置検証装置が有する各種態様に対応して、本発明の位置検証方法も各種態様を採ることが可能である。【００５０】
（位置測定装置）
以下、本発明に係る位置測定装置について説明する。【００５１】
本発明の位置測定装置は上記課題を解決するために、情報を記録するための第１トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、前記情報を記録するための第２トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なずれの大きさを測定する位置測定装置であって、前記第１記録層の第１領域に前記情報を記録する第１記録手段と、前記第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む前記第２記録層の第２領域において、（ｉｉｉ）前記第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報を記録し、（ｉｖ）前記第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報を記録する第２記録手段と、前記第２領域に記録された前記一部情報、及び前記他部情報を再生する再生手段と、前記再生された一部情報が示す再生品質、及び前記再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、前記相対的なずれとして、（ｖ）前記第１記録層、及び前記第２記録層が夫々保持する寸法誤差、又は（ｖｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を測定する測定手段とを備える。【００５２】
本発明の位置測定装置によれば、先ず、第１記録手段によって、第１記録層の第１領域に、例えば第１トラックに沿って、情報の記録が行われる。その後に、第２記録手段によって、第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む第２領域に、例えば第２トラックに沿って、第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報が記録され、第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報が記録される。【００５３】
次に、再生手段によって、第２領域に記録された一部情報、及び他部情報が再生される。【００５４】
続いて、測定手段によって、再生された一部情報が示す再生品質、及び再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、相対的なずれとして、（ｖ）第１記録層、及び第２記録層が夫々保持する寸法誤差、又は（ｖｉ）第１記録層と第２記録層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量が測定される。【００５５】
以上の結果、本発明によれば、例えばオシロスコープやＰＣ等の汎用的な装置によって構成することができるので、例えば（ｖ）寸法誤差、又は（ｖｉ）偏芯量等の相対的ずれの大きさを、より低コスト且つ簡便に測定することが可能となる。【００５６】
（位置測定方法）
以下、本発明に係る位置測定方法について説明する。【００５７】
本発明の位置測定方法は上記課題を解決するために、情報を記録するための第１トラックが形成されたディスク状の第１記録層と、前記情報を記録するための第２トラックが形成されたディスク状の第２記録層とを少なくとも備える情報記録媒体において、（ｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との間の、又は、（ｉｉ）前記第１トラックと前記第２トラックとの間の半径方向における相対的なずれの大きさを測定する位置測定装置における位置測定方法であって、前記第１記録層の第１領域に前記情報を記録する第１記録工程と、前記第１領域に対向される部分領域を少なくとも含む前記第２記録層の第２領域において、（ｉｉｉ）前記第１領域を透過したレーザ光によって、一部情報を記録し、（ｉｖ）前記第１領域を透過しないレーザ光によって、他部情報を記録する第２記録工程と、前記第２領域に記録された前記一部情報、及び前記他部情報を再生する再生工程と、前記再生された一部情報が示す再生品質、及び前記再生された他部情報が示す再生品質のうち一方から他方へと遷移する遷移位置に基づいて、前記相対的なずれとして、（ｖ）前記第１記録層、及び前記第２記録層が夫々保持する寸法誤差、又は（ｖｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を測定する測定工程とを備える。【００５８】
本発明の位置測定方法によれば、上述した本発明の位置測定装置が有する各種利益を享受することが可能となる。【００５９】
尚、上述した本発明の位置測定装置が有する各種態様に対応して、本発明の位置測定方法も各種態様を採ることが可能である。【００６０】
（コンピュータプログラム）
以下、本発明に係るコンピュータプログラムについて説明する。【００６１】
本発明の位置検証用のコンピュータプログラムは上記課題を解決するために、上述した本発明の位置検証装置（但し、その各種態様を含む）に備えられたコンピュータを制御する位置検証用のコンピュータプログラムであって、該コンピュータを、前記第１記録手段、前記第２記録手段、前記再生手段、及び、前記判定手段のうち少なくとも一部として機能させる。【００６２】
本発明の位置測定用のコンピュータプログラムは上記課題を解決するために、上述した本発明の位置測定装置（但し、その各種態様を含む）に備えられたコンピュータを制御する位置測定用のコンピュータプログラムであって、該コンピュータを、前記第１記録手段、前記第２記録手段、前記再生手段、及び、前記測定手段のうち少なくとも一部として機能させる。【００６３】
本発明に係るコンピュータプログラムによれば、当該コンピュータプログラムを格納するＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ハードディスク等の記録媒体から、当該コンピュータプログラムをコンピュータに読み込んで実行させれば、或いは、当該コンピュータプログラムを、通信手段を介してコンピュータにダウンロードさせた後に実行させれば、上述した本発明の位置検証装置又は位置測定装置を比較的簡単に実現できる。【００６４】
尚、上述した本発明の位置検証装置又は位置測定装置における各種態様に対応して、本発明のコンピュータプログラムも各種態様を採ることが可能である。【００６５】
コンピュータ読取可能な媒体内のコンピュータプログラム製品は上記課題を解決するために、上述した本発明の位置検証装置（但し、その各種形態も含む）に備えられたコンピュータにより実行可能なプログラム命令を明白に具現化し、該コンピュータを、前記第１記録手段、前記第２記録手段、前記再生手段、及び、前記判定手段のうち少なくとも一部として機能させる。【００６６】
コンピュータ読取可能な媒体内のコンピュータプログラム製品は上記課題を解決するために、上述した本発明の位置測定装置（但し、その各種形態も含む）に備えられたコンピュータにより実行可能なプログラム命令を明白に具現化し、該コンピュータを、前記第１記録手段、前記第２記録手段、前記再生手段、及び、前記測定手段のうち少なくとも一部として機能させる。【００６７】
本発明のコンピュータプログラム製品によれば、当該コンピュータプログラム製品を格納するＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ハードディスク等の記録媒体から、当該コンピュータプログラム製品をコンピュータに読み込めば、或いは、例えば伝送波である当該コンピュータプログラム製品を、通信手段を介してコンピュータにダウンロードすれば、上述した本発明の位置検証装置又は位置測定装置を比較的容易に実施可能となる。更に具体的には、当該コンピュータプログラム製品は、上述した本発明の位置検証装置又は位置測定装置として機能させるコンピュータ読取可能なコード（或いはコンピュータ読取可能な命令）から構成されてよい。【００６８】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から明らかにされる。【００６９】
以上説明したように、本発明の位置検証装置及び方法によれば、第１記録手段及び工程、第２記録手段及び工程、再生手段及び工程、並びに、判定手段及び工程を備える。従って、例えばオシロスコープ等の汎用的な装置によって構成された位置検証装置によって、相対的ずれ、即ち、第１記録層と第２記録層とのアドレスにおける半径位置の差を、より低コスト且つ簡便に検証することが可能となる。【００７０】
また、本発明の位置測定装置及び方法によれば、第１記録手段及び工程、第２記録手段及び工程、再生手段及び工程、並びに、測定手段及び工程を備える。従って、例えばオシロスコープ等の汎用的な装置によって構成された位置測定装置によって、相対的なずれとして、（ｖ）寸法誤差、又は（ｖｉ）貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を、より低コスト且つ簡便に測定することが可能となる。【００７１】
また、本発明のコンピュータプログラムによれば、コンピュータを上述した本発明の位置検証装置として機能させるので、位置検証装置をして、相対的ずれ、即ち、第１記録層と第２記録層とのアドレスにおける半径位置の差を、より低コスト且つ簡便に検証せしめることが可能となる。【００７２】
また、本発明のコンピュータプログラムによれば、コンピュータを上述した本発明の位置測定装置として機能させるので、位置測定装置をして、相対的ずれ、即ち、（ｉ）前記第１記録層、及び前記第２記録層が夫々保持する寸法誤差、又は（ｉｉ）前記第１記録層と前記第２記録層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を、より低コスト且つ簡便に測定せしめることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明の情報記録媒体の実施例に係る複数の記録領域を有する光ディスクの基本構造を示した概略平面図（図１（ａ））、該光ディスクの概略断面図と、これに対応付けられた、その半径方向における記録領域構造の図式的概念図（図１（ｂ））である。
【図２】本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係の一具体例を示したグラフ（図２（ａ））、及び他の具体例を示したグラフ（図２（ｂ））である。
【図３】本発明の第１記録層及び第２記録層に係る、Ｌ０層及びＬ１層が夫々保持する寸法誤差を概念的に示した模式図（図３（ａ））、並びに、Ｌ０層とＬ１層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を概念的に示した模式図（図３（ｂ））である。
【図４】本発明の第２記録層に係るＬ１層において焦点を結ぶようにレーザ光が照射される際、本発明の第１記録層に係るＬ０層を透過しつつ、Ｌ０層において焦点を結ばないようにレーザ光が照射される領域（照射領域）の半径、即ち、透過光径を概念的に示した模式図である。
【図５】本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層において、寸法誤差、又は張り合わせ誤差（偏芯量）が発生した場合の、アドレスと半径位置との関係の一具体例を示したグラフである。
【図６】本発明の位置検証装置に係る実施例における情報記録再生装置及び、ホストコンピュータの基本構成を示したブロック図である。
【図７】本発明の位置検証装置の実施例に係る情報記録再生装置による記録動作を示したフローチャートである。
【図８】本発明の「全体領域」に係るＬ１層の全体領域１１、及び、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０、並びに、全体領域１１と記録領域１０とのデータ量の一具体例を図式的に示した模式図である。
【図９】本発明の「推定領域」に係る推定領域１２、及び本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０、推定領域１２における再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移を図式的に示した模式図（図９（ａ））、Ｌ１層の推定領域１２におけるアシンメトリ値の一の状態への遷移を示したグラフ（図９（ｂ））、並びに、Ｌ１層の推定領域１２におけるアシンメトリ値の他の状態への遷移を示したグラフ（図９（ｃ））である。
【図１０】本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２に含まれる２つの地点（「Ｊ点」及び「Ｋ点」）におけるアドレスを図式的に示した模式図である。
【図１１】（ｉ）本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２の外周端付近における再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値が適正なレベルから適正でないレベルへ徐々に遷移する様子、並びに、（ｉｉ）このアシンメトリ値の遷移に対応される、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０及び推定領域１２と、レーザ光との位置関係を、図式的に示した模式図である。
【図１２】本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２と、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０とにおける半径位置と、アドレスとの関係を図式的に示したグラフ（図１２（ａ））、並びに、この推定領域１２における再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移を図式的に示した模式図（図１２（ｂ））である。
【図１３】本発明に係る一のアドレスから半径位置を算出される過程を示した一又は他の概念図（図１３（ａ）及び図１３（ｂ））である。
【図１４】比較例に係る光ディスクにおいて、Ｌ１層の推定領域１２、及びＬ０層の記録領域１０の半径位置と、アドレスとの関係を図式的に示したグラフ（図１４（ａ））、並びに、比較例に係る推定領域１２における再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移を図式的に示した模式図（図１４（ｂ））である。
【図１５】本発明の第２実施例に係る、貼り合わせ誤差（偏芯）と透過光径とを含んだ場合の推定領域１２の偏芯を含む情報記録媒体で実際に測定された再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移を図式的に示した模式図（図１５（ａ））、及び、Ｌ０層及びＬ１層における寸法誤差が許容範囲内の基準値である理想的な場合の全体領域１１におけるアシンメトリ値の遷移（点線）と、寸法誤差を含む情報記録媒体で実際に測定されたＬ１層におけるアシンメトリ値の遷移（太線）とを示したグラフ（図１５（ｂ））である。
【図１６】本発明の第２実施例に係る第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層において、寸法誤差、張り合わせ誤差（偏芯量）、及び透過光径が生じた場合のＬ０層における一のトラックと、Ｌ１層における、当該一のトラックに対応される他のトラックとの位置関係を示した図式的な平面図である。
【図１７】本発明の第２実施例に係る相対偏差が最大となる場合の再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移、及び、相対偏差が最小となる場合の再生品質の遷移を示した模式図である。
【図１８】本発明に係る記録要件を概念的に示した模式図（図１８（ａ）及び図１８（ｂ））、並びに数値的に示したグラフ（図１８（ｃ））である。
【図１９】比較例に係る問題点を示した模式図である。
【図２０】比較例に係る手法を示した模式図である。
【符号の説明】
【００７４】
１０    記録領域
１１    全体領域
１１ａ  部分領域
１２    推定領域
１００  光ディスク
１０１  リードインエリア
１０２  データエリア
１０３  リードアウトエリア
１０４  ミドルエリア
３００  情報記録再生装置
３１０  オシロスコープ
ＬＢ    レーザ光
【発明を実施するための最良の形態】
【００７５】
以下、本発明を実施するための最良の形態について実施例毎に順に図面に基づいて説明する。【００７６】
（１）情報記録媒体
先ず、図１から図１２を参照して、本発明の情報記録媒体の実施例について詳細に説明する。尚、本実施例に係る光ディスクにおいては、本願発明に係る「第１トラック」の一例を構成するＬ０層のトラックパスと、本願発明に係る「第２トラック」の一例を構成するＬ１層のトラックパスとが反対の記録方向であるオポジット方式が記録方式の一具体例として適用されている。更に、本実施例では、パラレル方式にも適用可能であることは言うまでもない。【００７７】
特に、本実施例においては、後述される一のアドレスによって、一のトラック（一の円周）が特定されることに基づいて説明を行う。【００７８】
（１−１）基本構成
先ず図１を参照して、本発明の情報記録媒体の実施例に係る光ディスクの基本構造について説明する。ここに、図１（ａ）は、本発明の情報記録媒体の実施例に係る複数の記録領域を有する光ディスクの基本構造を示した概略平面図であり、図１（ｂ）は、該光ディスクの概略断面図と、これに対応付けられた、その半径方向における記録領域構造の図式的概念図である。【００７９】
図１（ａ）及び図１（ｂ）に示されるように、光ディスク１００は、例えば、ＤＶＤと同じく直径１２ｃｍ程度のディスク本体上の記録面に、センターホール１を中心として本実施例に係るリードインエリア１０１又はリードアウトエリア１０３、データエリア１０２、並びに、ミドルエリア１０４が設けられている。そして、光ディスク１００の例えば、透明基板１０６に、Ｌ０層及びＬ１層等の記録層が積層されている。そして、この記録層の各記録領域には、例えば、センターホール１を中心にスパイラル状或いは同心円状に、例えば、グルーブトラック及びランドトラック等のトラック１０が交互に設けられている。また、このトラック１０上には、データがＥＣＣブロック１１という単位で分割されて記録される。ＥＣＣブロック１１は、記録情報がエラー訂正可能なデータ管理単位である。【００８０】
尚、本発明は、このような三つのエリアを有する光ディスクには特に限定されない。例えば、リードインエリア１０１又はリードアウトエリア１０３、並びにミドルエリア１０４が存在せずとも、以下に説明するデータ構造等の構築は可能である。また、後述するように、リードインエリア１０１又はリードアウト１０３、並びにミドルエリア１０４は更に細分化された構成であってもよい。【００８１】
本実施例に係る光ディスク１００は、図１（ｂ）に示されるように、例えば、透明基板１０６に、後述される本発明に係る第１及び第２記録層の一例を構成するＬ０層及びＬ１層が積層された構造をしている。このような二層型の光ディスク１００の記録再生時には、図１（ｂ）中、上側から下側に向かって照射されるレーザ光ＬＢの集光位置をいずれの記録層に合わせるかに応じて、Ｌ０層における記録再生が行なわれるか又はＬ１層における記録再生が行われる。また、本実施例に係る光ディスク１００は、２層片面、即ち、デュアルレイヤに限定されるものではなく、２層両面、即ちデュアルレイヤーダブルサイドであってもよい。更に、上述の如く２層の記録層を有する光ディスクに限られることなく、３層以上の多層型の光ディスクであってもよい。【００８２】
尚、２層型光ディスクにおけるオポジット方式による記録又は再生手順等については、後述される。【００８３】
（１−２）アドレスと半径位置
次に、図２を参照して、本発明の情報記録媒体の実施例に係る２層型光ディスクにおけるアドレスと半径位置について説明する。ここに、図２は、本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係の一具体例を示したグラフ（図２（ａ））、及び他の具体例を示したグラフ（図２（ｂ））である。尚、図２（ａ）、及び図２（ｂ）中の横軸は半径方向の位置を示し、縦軸はアドレスを示す。【００８４】
図２（ａ）、及び図２（ｂ）に示されるように、本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係の一及び他の具体例においては、オポジット方式に基づいてアドレスと半径位置との関係が規定されている。ここに、オポジット方式とは、より詳細には、２層型光ディスクの記録又は再生手順として、後述される情報記録再生装置の光ピックアップが、Ｌ０層において、内周側から外周側へ向かって、即ち、図２（ａ）、及び図２（ｂ）中の矢印ＡＲ０の右方向へ移動するのとは逆に、Ｌ１層においては、光ピックアップが外周側から内周側へ向かって、即ち、図２（ａ）、及び図２（ｂ）の矢印ＡＲ１の左方向へ移動することによって、２層型光ディスクにおける記録又は再生が行われる方式である。このオポジット方式では、Ｌ０層における記録又は再生が終了されると、Ｌ１層における記録又は再生が開始される時に、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要はなく、Ｌ０層からＬ１層への焦点距離だけを切り替えればよいため、Ｌ０層からＬ１層への切り替え時間がパラレル方式と比較して短いという利点があるため大容量のコンテンツ情報の記録に広く採用されている。【００８５】
（１−２−１）減少していくアドレスと半径位置
本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係の一の具体例においては、上述したオポジット方式に基づくアドレスの体系において、アドレスが減少していく。尚、一の具体例においては、レーザ光ＬＢは上側から下側に向かって照射され、Ｌ０層におけるアドレスの推移は、上側部の直線で示され、Ｌ１層におけるアドレスの推移は、下側部の直線で示される。【００８６】
具体的には、図２（ａ）に示されるように、先ず、Ｌ０層において、光ピックアップから照射されたレーザ光がリードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０及びミドルエリア１０４−０を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるアドレスは減少していく。より具体的には、レーザ光の焦点が、先ず、アドレスが「ＦＦＣＦＦＦｈ」（１６進数表示）であり、半径位置が「２４（ｍｍ）」であるＬ０層のデータエリア１０２−０の開始位置（図２（ａ）中のＡ点）から外周側に向かって移動される。そして、レーザ光の焦点が、アドレスが「ＦＤＤ１０９ｈ」であり、半径位置が「５８．１（ｍｍ）」のＬ０層のデータエリア１０２−０の終了位置（図２（ａ）中のＢ点）まで移動されることによって、Ｌ０層のデータエリア１０２−０に記録された情報の記録又は再生が行われる。【００８７】
他方、Ｌ１層において、レーザ光がミドルエリア１０４−１、データエリア１０２−１及びリードアウトエリア１０３−１を外周側から内周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるアドレスは減少していく。より具体的には、レーザ光の焦点が、先ず、アドレスが「２２ＥＦ６ｈ」であり、半径位置が「５８．１（ｍｍ）」であるＬ１層のデータエリア１０２−１の開始位置（図２（ａ）中のＤ点）から内周側に向かって移動される。そして、レーザ光の焦点が、アドレスが「０３０００ｈ」であり、半径位置が「２４ｍｍ」のＬ１層のデータエリア１０２−１の終了位置（図２（ａ）中のＣ点）まで移動されることによって、Ｌ１層のデータエリア１０２−１に記録された情報の記録又は再生が行われる。【００８８】
（１−２−２）増加していくアドレスと半径位置
本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係の他の具体例においては、上述したオポジット方式に基づくアドレスの体系において、アドレスが増加していく。尚、他の具体例においては、レーザ光ＬＢは下側から上側に向かって照射され、Ｌ０層におけるアドレスの推移は、下側部の直線で示され、Ｌ１層におけるアドレスの推移は、上側部の直線で示される。【００８９】
具体的には、図２（ｂ）に示されるように、先ず、Ｌ０層において、光ピックアップから照射されたレーザ光がリードインエリア１０１−０、データエリア１０２−０及びミドルエリア１０４−０を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるアドレスは増加していく。より具体的には、レーザ光の焦点が、先ず、アドレスが「０３０００ｈ」であり、半径位置が「２４（ｍｍ）」であるＬ０層のデータエリア１０２−０の開始位置（図２（ｂ）中のＡ点）から外周側に向かって移動される。そして、レーザ光の焦点が、アドレスが「２２ＥＦ６ｈ」であり、半径位置が「５８．１（ｍｍ）」のデータエリア１０２−０の終了位置（図２（ｂ）中のＢ点）まで移動されることによって、Ｌ０層のデータエリア１０２−０に記録された情報の記録又は再生が行われる。【００９０】
他方、Ｌ１層において、レーザ光がミドルエリア１０４−１、データエリア１０２−１及びリードアウトエリア１０３−１を外周側から内周側へ移動するにつれて光ディスク１００の記録領域におけるアドレスは増加していく。より具体的には、レーザ光の焦点が、先ず、アドレスが「ＦＤＤ１０９ｈ」であり、半径位置が「５８．１（ｍｍ）」であるＬ１層のデータエリア１０２−１の開始位置（図２（ｂ）中のＤ点）から内周側に向かって移動される。そして、レーザ光の焦点が、アドレスが「ＦＦＣＦＦＦｈ」であり、半径位置が「２４ｍｍ」のデータエリア１０２−１の終了位置（図２（ｂ）中のＣ点）まで移動されることによって、Ｌ１層のデータエリア１０２−１に記録された情報の記録又は再生が行われる。【００９１】
尚、本発明の第１記録層に係るＬ０層において一の半径位置にある地点のアドレスの値と、本発明の第２記録層に係るＬ１層において一の半径位置にある地点のアドレスの値とは、互いにビット反転（インバート：invert）させた関係、即ち、補数関係にある。また、本願発明においては、後述されるように補数を示す関数である「Ｉｎｖ（ｘ）」によって補数関係が定義される。更に、また、Ｌ０層及びＬ１層におけるアドレスの一具体例として、例えばランドプリピット（「ＬＰＰ：Land Pre Pit」）アドレスとして利用されているＥＣＣブロックアドレスが適用されているが、所謂、セクタ番号が適用されてもよいことは言うまでもない。【００９２】
（１−３）相対的なずれ
次に、本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層を備えた２層型の光ディスクにおいて生じる相対的なずれの３種類の具体例について、図３、及び図４を参照して説明する。ここに、図３は、本発明の第１記録層及び第２記録層に係る、Ｌ０層及びＬ１層が夫々保持する寸法誤差を概念的に示した模式図（図３（ａ））、並びに、Ｌ０層とＬ１層との貼り合わせ誤差に基づいて生じる偏芯量を概念的に示した模式図（図３（ｂ））である。図４は、本発明の第２記録層に係るＬ１層において焦点を結ぶようにレーザ光が照射される際、本発明の第１記録層に係るＬ０層を透過しつつ、Ｌ０層において焦点を結ばないようにレーザ光が照射される領域（照射領域）の半径、即ち、透過光径を概念的に示した模式図である。【００９３】
先ず、図３を参照して、本発明に係る「寸法誤差」と「偏芯量」とについて説明する。【００９４】
（１−３−１）寸法誤差
図３（ａ）に示されるように、２層型の光ディスクを構成するＬ０層及びＬ１層は、相対的なずれとして、寸法誤差を夫々保持している。ここに、「寸法誤差」とは、Ｌ０層とＬ１層とが夫々無関係に保持しているアドレスと半径位置との誤差であり、張り合わされた際に、Ｌ０層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置と、Ｌ１層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置との偏差として生じる量である。【００９５】
詳細には、この寸法誤差は、製造工程に構成する各種工程の夫々に起因して生じている。即ち、Ｌ０層及びＬ１層は、カッティングマシンによって作られた原盤を基にして作製されたスタンパに樹脂材料が射出成型されることによって製造される。従って、（ｉ）原盤を作る際の、カッティングマシンの半径位置の誤差やトラックピッチのばらつき等によって、原盤自体が半径誤差を保持する可能性がある。（ｉｉ）光ディスクの射出成型時の熱収縮において許容範囲以外の個体差が、半径誤差となる可能性がある。（ｉｉｉ）Ｌ０層とＬ１層とが別々のスタンパによって夫々作成されているため、夫々の記録層におけるトラックピッチにおける偏差を含む可能性がある。【００９６】
具体的には、寸法誤差ｔｏｌは、前述した図２にも示されたアドレスが「ＦＦＣＦＦＦｈ」であるＬ０層のデータエリア１０２−０の開始位置（Ａ点）の半径位置と、アドレスが「０３０００ｈ」であり、半径位置が「２４ｍｍ」のＬ１層のデータエリア１０２−１の終了位置（Ｃ点）の半径位置との差として示される。そして、この寸法誤差ｔｏｌの許容範囲は、Ｌ０層において、例えば正方向、又は負方向の夫々で、「２０μｍ」以内であり、Ｌ１層においても、例えば正方向、又は負方向の夫々で、「２０μｍ」以内である場合、２層型の光ディスクの個体毎において、合計「４０μｍ」だけ保持することが許容されていることを意味する。【００９７】
（１−３−２）貼り合わせ誤差（偏芯量）
図３（ｂ）に示されるように、２層型の光ディスクにおいては、相対的なずれとして、Ｌ０層とＬ１層とが貼り合わされる際の誤差、所謂、貼り合わせ誤差に起因する偏芯量が生じてしまう可能性がある。ここに、「偏芯量」とは、Ｌ０層とＬ１層とが夫々保持する寸法誤差とは無関係であり、Ｌ０層とＬ１層とが張り合わされた際に、Ｌ０層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置と、Ｌ１層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置との偏差として生じる量である。【００９８】
具体的には偏芯量ｒｏは、前述した図２にも示されたアドレスが「ＦＦＣＦＦＦｈ」であるＬ０層のデータエリア１０２−０の開始位置（Ａ点）の半径位置と、アドレスが「０３０００ｈ」であり、半径位置が「２４ｍｍ」のＬ１層のデータエリア１０２−１の終了位置（Ｃ点）の半径位置との差として示される。そして、この偏芯量ｒｏの許容範囲は、Ｌ０層において、例えば正方向、又は負方向の夫々で、「２０μｍ」以内であり、Ｌ１層において、例えば正方向、又は負方向の夫々で、「３０μｍ」以内であるので、２層型の光ディスクの個体毎において、合計「５０μｍ」だけ保持することが許容されていることを意味する。【００９９】
以上の結果，上述したＬ０層及びＬ１層を備えた二層型の光ディスクにおいて生じる２種類の相対的なズレに基づいて、Ｌ０層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置と、Ｌ１層の基準アドレスにおける絶対的な半径位置との偏差は、正方向、又は負方向の夫々において、「９０μｍ」の値を取る可能性があると言える。従って、この偏差は、最大値として「１８０μｍ」の値を保持する範囲内において、変動する可能性があると言える。【０１００】
（１−３−３）透過光径
次に、図４を参照して、本発明に係る「透過光径」について説明する。【０１０１】
図４に示されるように、２層型の光ディスクにおいては、レーザ光のビーム形状が円錐であることに起因する透過光径ｒｂが生じてしまう可能性がある。ここに、「透過光径」とは、Ｌ１層において焦点を結ぶようにレーザ光が照射される際、このレーザ光がＬ０層を透過しつつ、Ｌ０層において焦点を結ばないように（デフォーカスされて）、レーザ光が照射される領域（照射領域）の半径である。【０１０２】
詳細には、透過光径ｒｂの最大値は、次の式（１０）によって示される。【０１０３】
ｒｂ  ＝  Ｌ  ×ｔａｎ＜ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ）＞  …（１０）
但し、Ｌ  ：  中間層（Ｌ０層とＬ１層との間に挿入された層）の厚さ
ＮＡ：  光学系の開口率
ｎ  ：  屈折率。【０１０４】
尚、「ｓｉｎ−１」は、関数「ｓｉｎ」の逆関数を示す。【０１０５】
より詳細には、透過光径ｒｂの最大値の一具体例としては、（ｉ）レーザ光の開口率（ＮＡ：Numerical Aperture）、（ｉｉ）Ｌ０層とＬ１層間に存在する中間層の屈折率、及び（ｉｉｉ）Ｌ０層、及びＬ１層の層間距離を決定する中間層の厚さに基づいて、「３４μｍ」である値が算出されるようにしてもよい。【０１０６】
そして、記録又は再生を行う際においては、この透過光径ｒｂの影響を考慮する必要があり、具体的にはより良好な記録信号特性（又は再生品質）を得るためには、この透過光径ｒｂを避けた位置で記録が行われるべきである。【０１０７】
以上の結果、実際の記録を行う際においては、正方向、又は負方向の夫々において、例えば「９０μｍ」の値を保持する相対偏差と、例えば「３４μｍ」の値を保持する透過光径ｒｂとを考慮する必要がある。【０１０８】
（１−４）相対的なずれを含むアドレスと半径位置との関係
次に、本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層を備えた２層型の光ディスクにおいて、例えば３種類の相対的なずれが生じた場合の具体例について、図５を参照して説明する。ここに、図５は、本発明の第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層において、寸法誤差、又は張り合わせ誤差（偏芯量）が発生した場合の、アドレスと半径位置との関係の一具体例を示したグラフである。尚、図５中の横軸は半径方向の位置を示し、縦軸はアドレスを示す。【０１０９】
（１−４−１）アドレスと半径位置との関係（アドレスに着眼して解釈）
図５に示されるように、上述した例えば３種類の相対的なずれが生じた場合、Ｌ０層及びＬ１層におけるアドレスと半径位置との関係も、この相対的なずれに相当する「相対偏差」の値だけ、グラフ上、水平方向にシフトすることが判明している。【０１１０】
具体的には、Ｌ０層におけるアドレス「Ｘ０」で示された「Ａ点」の半径位置と、Ｌ１層におけるアドレス「Ｉｎｖ Ｘ０」で示された「Ｃ点」の半径位置「２４ｍｍ」との偏差によって、一の相対偏差が示される。他方、Ｌ０層におけるアドレス「Ｘ」で示された「Ｂ点」の半径位置と、Ｌ１層におけるアドレス「Ｉｎｖ Ｘ」で示された「Ｄ点」の半径位置「５８ｍｍ」との偏差によって、他の相対偏差が示される。【０１１１】
（２）相対的なずれを検証する位置検証装置
次に、図６から図１３を参照して、本発明の第１記録層に係るＬ０層、及び本発明の第２記録層に係るＬ１層を備えた光ディスクにおける相対的なずれを検証する位置検証装置の基本構成及び動作原理について詳細に説明する。特に、本実施例は、本発明に係る「位置検証装置」を光ディスク用の情報記録再生装置に適用した例である。【０１１２】
（２−１）基本構成
先ず、図６を参照して、本発明の位置検証装置の実施例に係る情報記録再生装置３００及び、ホストコンピュータ４００の基本構成について説明する。ここに、図６は、本発明の位置検証装置に係る実施例における情報記録再生装置及び、ホストコンピュータの基本構成を示したブロック図である。尚、情報記録再生装置３００は、光ディスク１００に記録データを記録する機能と、光ディスク１００に記録された記録データを再生する機能とを備える。【０１１３】
図６を参照して情報記録再生装置３００の内部構成を説明する。情報記録再生装置３００は、ドライブ用のＣＰＵ（Central Processing Unit）３０５の制御下で、光ディスク１００に情報を記録すると共に、光ディスク１００に記録された情報を読み取る装置である。【０１１４】
情報記録再生装置３００は、光ディスク１００、光ピックアップ３０１、信号記録再生手段３０２、アドレス検出部３０３、アドレス演算部３０４、ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３０５、スピンドルモータ３０６、メモリ３０７、データ入出力制御手段３０８、バス３０９、及びオシロスコープ３１０を備えて構成されている。【０１１５】
また、ホストコンピュータ４００は、ＣＰＵ（ホスト制御手段）４０１、メモリ４０２、操作制御手段４０３、操作ボタン４０４、表示パネル４０５、データ入出力制御手段４０６、及びバス４０７を備えて構成される。【０１１６】
特に、情報記録再生装置３００は、例えばモデム等の通信手段を備えたホストコンピュータ４００を同一筐体内に収めることにより、外部ネットワークと通信可能となるように構成してもよい。或いは、例えばｉ−ｌｉｎｋ等の通信手段を備えたホストコンピュータ４００のＣＰＵ（ホスト制御手段）４０５が、データ入出力制御手段３０８、及びバス３０９を介して、直接情報記録再生装置３００を制御することによって、外部ネットワークと通信可能となるように構成してもよい。【０１１７】
光ピックアップ３０１は光ディスク１００への記録再生を行うもので、半導体レーザ装置とレンズから構成される。より詳細には、光ピックアップ３０１は、光ディスク１００に対してレーザービーム等の光ビームを、再生時には読み取り光として第１のパワーで照射し、記録時には書き込み光として第２のパワーで且つ変調させながら照射する。【０１１８】
信号記録再生手段３０２は、光ピックアップ３０１とスピンドルモータ３０６とを制御することで光ディスク１００に対して記録再生を行う。より具体的には、信号記録再生手段３０２は、例えば、レーザダイオードドライバ（ＬＤドライバ）及びヘッドアンプ等によって構成されている。レーザダイオードドライバは、光ピックアップ３０１内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。ヘッドアンプは、光ピックアップ３０１の出力信号、即ち、光ビームの反射光を増幅し、該増幅した信号を出力する。より詳細には、信号記録再生手段３０２は、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理時には、ＣＰＵ３０５の制御下で、図示しないタイミング生成器等と共に、ＯＰＣパターンの記録及び再生処理により最適なレーザパワーの決定が行えるように、光ピックアップ３０１内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。特に、信号記録再生手段３０２は、光ピックアップ３０１と共に、本発明に係る「第１記録手段」及び「第２記録手段」に加えて「測定手段」の一例を構成する。【０１１９】
アドレス検出部３０３は、信号記録再生手段３０２によって出力される、例えばプリフォーマットアドレス信号等を含む再生信号から光ディスク１００におけるアドレス（アドレス情報）を検出する。また、アドレス検出部３０３は、例えばコントロールデータゾーンにプリ記録されたオフセット情報を検出可能であるように構成してもよい。【０１２０】
アドレス演算部３０４は、検出されたアドレスに対して、例えばアドレスオフセット値を加減算する等の演算を施す。【０１２１】
オシロスコープ３１０は、信号記録再生手段３０２によって出力される、再生信号から、例えばＲＦ再生波形等の波形を観察することができる。特に、オシロスコープ３１０は、本発明に係る「測定手段」の他の例を構成する。【０１２２】
ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３０５は、バス３０９を介して、各種制御手段に指示を行うことで、情報記録再生装置３００全体の制御を行う。特に、ＣＰＵ３０５は、アドレス演算部３０４によって、演算が施されたアドレスに基づいて、各種記録エリアの配置を決定する。そして、決定された各種記録エリアに対して、各種記録情報を記録するように、信号記録再生手段３０２を制御する。また、ＣＰＵ３０５が動作するためのソフトウェア又はファームウェアは、メモリ３０７に格納されている。特に、ＣＰＵ３０５は、本発明に係る「判定手段」の一例、及び「測定手段」の他の例を構成する。【０１２３】
スピンドルモータ３０６は光ディスク１００を回転及び停止させるもので、光ディスクへのアクセス時に動作する。より詳細には、スピンドルモータ３０６は、図示しないサーボユニット等によりスピンドルサーボを受けつつ所定速度で光ディスク１００を回転及び停止させるように構成されている。【０１２４】
メモリ３０７は、記録再生データのバッファ領域や、信号記録再生手段３０２で使用出来るデータに変換する時の中間バッファとして使用される領域など情報記録再生装置３００におけるデータ処理全般及びＯＰＣ処理において使用される。また、メモリ３０７はこれらレコーダ機器としての動作を行うためのプログラム、即ちファームウェアが格納されるＲＯＭ領域と、記録再生データの一時格納用バッファや、ファームウェアプログラム等の動作に必要な変数が格納されるＲＡＭ領域などから構成される。特に、
上述したオフセット量（ずれ量）や、該オフセット量（ずれ量）に基づいて計算されたアドレスオフセット値等のオフセット情報は、当該メモリ３０７に保存（記憶）されるように構成していてもよい。【０１２５】
データ入出力制御手段３０８は、情報記録再生装置３００に対する外部からのデータ入出力を制御し、メモリ３０７上のデータバッファへの格納及び取り出しを行う。情報記録再生装置３００と、ＳＣＳＩやＡＴＡＰＩ等のインターフェースを介して接続されている外部のホストコンピュータ４００（以下、適宜ホストと称す）から発行されるドライブ制御命令は、当該データ入出力制御手段３０８を介してＣＰＵ３０５に伝達される。また、記録再生データも同様にして、当該データ入出力制御手段３０８を介して、ホストコンピュータ４００に対して送受信される。【０１２６】
ホストコンピュータ４００における、ＣＰＵ（ホスト制御手段）４０１、メモリ４０２、データ入出力制御手段４０６、及びバス４０７は、これらに対応される、情報記録再生装置３００内の構成要素と、概ね同様である。【０１２７】
特に、操作制御手段４０３は、ホストコンピュータ４００に対する動作指示受付と表示を行うもので、例えば記録又は再生といった操作ボタン４０４による指示をＣＰＵ４０１に伝える。ＣＰＵ４０１は、操作制御手段４０３からの指示情報を元に、データ入出力手段４０６を介して、情報記録再生装置３００に対して制御命令（コマンド）を送信し、情報記録再生装置３００全体を制御するように構成してもよい。同様に、ＣＰＵ４０１は、情報記録再生装置３００に対して、動作状態をホストに送信するように要求するコマンドを送信することができる。これにより、記録中や再生中といった情報記録再生装置３００の動作状態が把握できるためＣＰＵ４０１は、操作制御手段４０３を介して蛍光管やＬＣＤなどの表示パネル４０５に情報記録再生装置３００の動作状態を出力することができる。【０１２８】
以上説明した、情報記録再生装置３００とホストコンピュータ４００を組み合わせて使用する一具体例は、映像を記録再生するレコーダ機器等の家庭用機器である。このレコーダ機器は放送受信チューナや外部接続端子からの映像信号をディスクに記録し、テレビなど外部表示機器にディスクから再生した映像信号を出力する機器である。メモリ４０２に格納されたプログラムをＣＰＵ４０１で実行させることでレコーダ機器としての動作を行っている。また、別の具体例では、情報記録再生装置３００はディスクドライブ（以下、適宜ドライブと称す）であり、ホストコンピュータ４００はパーソナルコンピュータやワークステーションである。パーソナルコンピュータ等のホストコンピュータとドライブはＳＣＳＩやＡＴＡＰＩといったデータ入出力制御手段３０８（４０６）を介して接続されており、ホストコンピュータにインストールされているライティングソフトウェア等のアプリケーションが、ディスクドライブを制御する。【０１２９】
（２−２）動作原理
次に、図７に加えて、図８から図１３を適宜参照して、本発明の位置検証装置の実施例に係る情報記録再生装置における動作原理について説明する。ここに、図７は、本発明の位置検証装置の実施例に係る情報記録再生装置による記録動作を示したフローチャートである。図８は、本発明の「第２領域」に係るＬ１層の全体領域１１、及び、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０、並びに、全体領域１１と記録領域１０とのデータ量の一具体例を図式的に示した模式図である。図９は、本発明の「推定領域」に係る推定領域１２、及び本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０、推定領域１２における再生品質の遷移を図式的に示した模式図（図９（ａ））、Ｌ１層の推定領域１２における再生品質の一の状態への遷移を示したグラフ（図９（ｂ））、並びに、Ｌ１層の推定領域１２における再生品質の他の状態への遷移を示したグラフ（図９（ｃ））である。図１０は、本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２に含まれる２つの地点（「Ｊ点」及び「Ｋ点」）におけるアドレスを図式的に示した模式図である。尚、図９（ａ）中の上側部分の横軸は半径方向の位置を示す。図９（ａ）中の下側部分の横軸は、Ｌ１層におけるアドレスを示し、縦軸はＬ１層のアシンメトリを示す。【０１３０】
本発明の位置検証装置に係る実施例によれば、本発明に係る「推定領域」に含まれる２つの所定地点における、例えばアシンメトリ等の再生品質が、情報が記録されたＬ０層における記録領域を透過したレーザ光によって記録された情報が示す再生品質と概ね等しい場合、Ｌ０層及びＬ１層における相対的なずれが許容範囲内にあると判定することが可能である。【０１３１】
以下、所定の手順に従って説明する。【０１３２】
図７に示されるように、先ず、ＣＰＵ３０５の制御下で、Ｌ０層の記録領域１０に情報が記録される（ステップＳ１０１）。具体的には、図８の左側部において示されるように、Ｌ０層の、例えば中周部において、「２７００ＥＣＣブロック」に相当するデータ量の情報が記録される。【０１３３】
次に、ＣＰＵ３０５の制御下で、一定のパワーを保持するレーザ光ＬＢが、Ｌ０層を介して、Ｌ１層に照射されることによって、Ｌ０層の記録領域１０に物理的に対向される部分領域１１ａを少なくとも含むＬ１層の全体領域１１において情報が記録される（ステップＳ１０２）。即ち、Ｌ０層の記録領域１０を透過したレーザ光ＬＢによって、部分領域１１ａにおいて、情報の一部（以下、適宜「情報Ｉ１ａ」と称す）が記録される。と共に、Ｌ０層の記録領域１０を透過しないレーザ光ＬＢによって、全体領域１１のうち部分領域１１ａ以外の残りの領域において、情報の他部（以下、適宜「情報Ｉ１」と称す）が記録される。具体的には、図８の右側部において示されるように、Ｌ１層の、例えば中周部において、「７０６０ＥＣＣブロック（＝２１８０×２＋２７００）」に相当するデータ量の情報が記録される。尚、本実施例では全体領域１１が記録される際にはＬ０層が記録済み状態である際に、レーザ光のパワーを最適な一定値に保持して記録する方法について説明している。しかしながら、Ｌ０層が未記録状態の際に、レーザ光のパワーを最適な一定値に保持して記録する方法においても本発明は応用可能であることは言うまでもない。【０１３４】
次に、ＣＰＵ３０５の制御下で、本発明に係る推定領域１２に含まれる少なくとも２つの地点（「Ｊ点」及び「Ｋ点」）に記録された情報が再生され、例えばアシンメトリ等の再生品質が測定される（ステップＳ１０３）。ここに、本願発明に係る「推定領域」とは、Ｌ０層とＬ１層との相対的なずれが許容範囲内であればＬ０層の記録領域１０を透過したレーザ光ＬＢによって、記録された情報が示す再生品質と概ね等しい再生品質が得られると推定される領域のことである。尚、この推定領域１２は、記録領域１０のアドレスと、許容範囲内の相対的なずれとに基づいて特定可能であるので、この推定領域１２に含まれる２つの地点（「Ｊ点」及び「Ｋ点」）も記録領域１０のアドレスと、許容範囲内の相対的なずれとに基づいて特定可能である。【０１３５】
具体的には、図９及び図１０に示されるように、推定領域１２に含まれる「Ｊ点」を示すアドレス「Ｍ（ｚ）」は、（ｉ）Ｌ０層の記録領域１０の開始端「Ｅ点」を示すアドレス「ｚ」、及び（ｉｉ）許容範囲内の相対的なずれに相当するオフセット量「ｂ」をパラメータとして特定可能である。同様にして、推定領域１２に含まれる「Ｋ点」を示すアドレス「Ｍ（ｙ）」も、（ｉｉｉ）Ｌ０層の記録領域１０の終了端「Ｆ点」を示すアドレス「ｙ」、及び（ｉｉ）オフセット量「ｂ」をパラメータとして特定可能である。尚、推定領域１２に含まれる「Ｊ点」及び「Ｋ点」を示すアドレス「Ｍ（ｚ）」及び「Ｍ（ｙ）」の定量的な説明については後述される。尚、部分領域１１ａに記録された情報Ｉ１ａ、及び、部分領域１１ａ以外の全体領域１１に記録された情報Ｉ１が再生され、例えばアシンメトリ等の再生品質の遷移が測定されるようにしてもよい。【０１３６】
続いて、ここで、図１１に加えて前述した図９を適宜参照して、推定領域１２における再生品質の遷移について定性的に説明する。ここに、図１１は、（ｉ）本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２の外周端付近における再生品質が適正なレベルから適正でないレベルへ徐々に遷移する様子、並びに、（ｉｉ）この再生品質の一指標（一例）である例えばアシンメトリ値の遷移に対応される、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０及び推定領域１２と、レーザ光との位置関係を、図式的に示した模式図である。【０１３７】
図１１に加えて、図９（ｃ）及び図９（ａ）に示されるように、Ｌ１層において照射されるレーザ光ＬＢが円錐の形状をしているために生じる、前述した透過光径に起因して、Ｌ１層の推定領域１２の外周端付近におけるアシンメトリ値は、適正なレベルから適正でないレベルへ徐々に遷移される。より具体的には、図１１の上側左部分に示されるように、推定領域１２の外周端より内周側付近においては、Ｌ０層の記録領域１０を透過したレーザ光ＬＢによって情報が記録されているので、アシンメトリ値は適正なレベルを示す。他方、図１１の上側中央部分に示されるように、推定領域１２の外周端より外周側であり、且つ、Ｌ０層の記録領域１０に物理的に対向される部分領域１１ａの外周端より内周側の領域である遷移領域１１ｂにおいては、Ｌ０層の記録領域１０を透過したレーザ光ＬＢの割合と、Ｌ０層の記録領域１０を透過していないレーザ光ＬＢとの割合が推移する状況の下で、情報が記録されているので、アシンメトリ値は、適正なレベルから適正でないレベルへ徐々に遷移される。更に、他方、図１１の上側右部分に示されるように、部分領域１１ａの外周端より外周側の領域である全体領域１１においては、Ｌ０層の記録領域１０を透過しないレーザ光ＬＢによって情報が記録されているので、アシンメトリ値は適正でないレベルを示す。従って、推定領域１２に含まれる「Ｋ点」は、相対偏差及び透過光径を含むオフセット量「ｂ」だけ例えば内周側に位置していることが望ましい。【０１３８】
同様にして、図９（ｂ）及び図９（ａ）に示されるように、Ｌ１層において照射されるレーザ光ＬＢにおける透過光径に起因して、Ｌ１層の推定領域１２の内周端付近における再生品質は、適正でないレベルから適正なレベルへ徐々に遷移される。従って、推定領域１２に含まれる「Ｊ点」は、オフセット量「ｂ」だけ例えば外周側に位置していることが望ましい。【０１３９】
再び、図７に戻る。【０１４０】
次に、ＣＰＵ３０５の制御下で、推定領域１２に含まれる「Ｊ点」及び「Ｋ点」において測定された例えば再生品質の一指標である例えばアシンメトリ値が、記録領域１０を透過したレーザ光によって記録された情報１１ａのアシンメトリ値と概ね等しいか否かが判定される（ステップＳ１０４）。ここで、「Ｊ点」及び「Ｋ点」において測定されたアシンメトリ値が、適正なレベルのアシンメトリ値と概ね等しい場合（ステップＳ１０４：Ｙｅｓ）、Ｌ０層及びＬ１層における相対的なずれが規定された許容範囲内にあると判定することが可能である（ステップＳ１０５）。【０１４１】
他方、「Ｊ点」及び「Ｋ点」において測定されたアシンメトリ値が、適正なレベルのアシンメトリ値と等しくない場合（ステップＳ１０４：Ｎｏ）、Ｌ０層及びＬ１層における相対的なずれが許容範囲外にあると判定できるので、当該Ｌ０層、及びＬ１層を備えた光ディスクを規定に準拠していない光ディスクであると識別することが可能である（ステップＳ１０６）。【０１４２】
（２−３）推定領域に含まれる「Ｋ点」及び「Ｊ点」を示すアドレスの定量化
続いて、ここで、前述した推定領域１２に含まれる「Ｋ点」及び「Ｊ点」を示すアドレス「Ｍ（ｙ）」及び「Ｍ（ｚ）」について、図１２及び図１３を参照して、定量的に説明する。ここに、図１２は、本発明の「推定領域」に係るＬ１層の推定領域１２と、本発明の「第１領域」に係るＬ０層の記録領域１０とにおける半径位置と、アドレスとの関係を図式的に示したグラフ（図１２（ａ））、並びに、この推定領域１２における再生品質の遷移を図式的に示した模式図（図１２（ｂ））である。図１３は、本発明に係る一のアドレスから半径位置を算出される過程を示した一又は他の概念図（図１３（ａ）及び図１３（ｂ））である。尚、図１２（ａ）中の横軸は半径方向の位置を示し、縦軸はアドレスを示す。図１２（ｂ）中の横軸は、Ｌ１層におけるアドレスを示し、縦軸はＬ１層のアシンメトリを示す。【０１４３】
（２−３−１）「Ｋ点」を示すアドレスの定量化
図１２（ａ）に示されるように、推定領域１２に含まれる「Ｋ点」を示すアドレス「Ｍ（ｙ）」は、（ｉｉｉ）Ｌ０層の記録領域１０の終了端「Ｆ点」を示すアドレス「ｙ」、及び（ｉｉ）許容範囲内のオフセット量「ｂ」をパラメータとした次の式（１）及び式（２）によって表現可能である。尚、本願において、「Ｒｔ（ｘ）」は、平方根を示す関数である。「Ｓｑｒ（ｘ）」は、２乗を示す関数である。「Ｉｎｖ（ｘ）」は、補数を示す関数である。【０１４４】
Ｍ（ｙ）＝Ｉｎｖ Ｙ ＋Ａｘ −＜ｂ×（２×Ｒ（ｙ）−ｂ）×π＞÷ｃ  …（１）
但し、ｂ＝（寸法誤差ｔｏｌ）＋（偏芯量ｒｏ）＋（透過光径ｒｂ）
＝１２４（μｍ）
ｃ＝「１ＥＣＣブロック当たりの記録面積を示す所定係数」
（単位：ｍｍ2／ＥＣＣブロック）
Ａｘ＝「基準ずれ量」
上述した、１ＥＣＣブロック当たりの記録面積を示す所定係数「ｃ」は，情報記録媒体の単位面積当たりに記録されるデータ量の逆数を示す係数であり、例えば
ｃ＝（３２×１０２４×８×３．８４×０．７４）
／（「２０４８／２４１８」×「８／１６」×２６．１６×１００００００）
であるようにしてもよい。【０１４５】
上述した「Ａｘ」の値を示すＥＣＣブロック数は、次に示された基準ずれ量「ａ」に基づいて、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により一義的に決定可能な値である。【０１４６】
具体的には、この基準ずれ量「ａ」は、「Ａ点」（図２を参照）の半径位置と、「Ｃ点」（図２を参照）の半径位置とのディスク設計上において設定された基準となるずれ量を表すＥＣＣブロック数である。より具体的には、「Ａ点」は、例えばＬ０層のデータエリアの開始位置であり、アドレスが「ＦＦＣＦＦＦｈ」であり、半径位置が２４ｍｍ（尚、直径Ｄ０＝４８ｍｍ）である地点である。「Ｃ点」は、この「Ａ点」に対応される（即ち、補数関係にある）、Ｌ１層のデータエリアの終了位置であり、アドレスが「００３０００ｈ」である半径位置に位置する地点である。【０１４７】
尚、式（１）中の「Ｒ（ｙ）」は、次の式（２）によって表現される。【０１４８】
Ｒ（ｙ）＝Ｒｔ［＜Ｓｑｒ（Ｄ０／２）×π＋（ｘ０−ｙ）Ｃ＞／π］  …（２）
尚、式（２）の詳細については、後述される。【０１４９】
（２−３−２）「Ｊ点」を示すアドレスの定量化
同様にして、推定領域１２に含まれる「Ｊ点」を示すアドレス「Ｍ（ｚ）」も、（ｉ）Ｌ０層の記録領域１０の開始端「Ｅ点」を示すアドレス「ｚ」、及び（ｉｉ）相対的なずれに相当するオフセット量「ｂ」をパラメータとした次の式（１ａ）及び（２ａ）によって表現可能である。【０１５０】
Ｍ（ｚ）＝Ｉｎｖ Ｚ ＋Ａｘ −＜ｂ×（２Ｒ（ｚ）−ｂ）×π＞÷Ｃ  …（１ａ）
尚、式（１ａ）中の「Ｒ（ｙ）」は、次の式（２）によって表現される。【０１５１】
Ｒ（ｚ）＝Ｒｔ［＜Ｓｑｒ（Ｄ０／２）×π＋（ｘ０−ｚ）Ｃ＞／π］  …（２ａ）
尚、式（２ａ）の詳細については、後述される。【０１５２】
（２−３−３）アドレスと半径位置との定量化
より詳細には、上述した式（２）及び式（２ａ）は、次のようにして導出することが可能である。【０１５３】
図１３（ａ）に示されるように、アドレスが「ｙ」である「Ｆ点」の半径位置「Ｒ（ｙ）」を備える円の面積「Ｓｒ」は、（ｉ）アドレスが例えば「ｘ０」である前述した「Ａ点」の半径位置「Ｄ０／２」を備える円の面積「Ｓ０」と、（ｉｉ）アドレス「ｘ０」からアドレス「ｙ」までの差分データ量「ΔＳ」との和に等しい。【０１５４】
また、面積「Ｓｒ」は、π（パイ）に「Ｒ（ｘ）」の２乗を積算することで求められる。面積「Ｓ０」は、πに「Ｄ０／２」の２乗を積算することで求められる。差分データ量「ΔＳ」は、アドレス「ｘ０」とアドレス「ｙ」との差に所定係数「Ｃ」を積算することで求められる。よって、次の式（３）が得られる。この式（３）から前述した式（２）を導出することが可能である。【０１５５】
Ｓｑｒ＜Ｒ（ｙ）＞×π＝Ｓｑｒ（Ｄ０／２）×π＋（ｘ０−ｙ）×Ｃ
……（３）。【０１５６】
同様にして、図１３（ｂ）に示されるように、アドレスが「ｚ」である「Ｅ点」の半径位置「Ｒ（ｚ）」を備える円の面積「Ｓｒ」は、（ｉ）アドレスが「ｘ０」である「Ａ点」の半径位置「Ｄ０／２」を備える円の面積「Ｓ０」と、（ｉｉ）アドレス「ｘ０」からアドレス「ｚ」までの差分データ量「ΔＳ」との和に等しい。よって、次の式（３ａ）が得られる。この式（３ａ）から前述した式（２ａ）を導出することが可能である。【０１５７】
Ｓｑｒ＜Ｒ（ｚ）＞×π＝Ｓｑｒ（Ｄ０／２）×π＋（ｘ０−ｚ）×Ｃ
……（３ａ）。【０１５８】
特に、本実施例では、差分データ量「ΔＳ」を算出する際に、第１トラック、及び第２トラックにおける、単位長さ当たりのデータ量を示す記録線密度が等しいことを前提とし、アドレスからデータ量が理論的に決定されている。【０１５９】
また、差分データ量「ΔＳ」を算出する際に、前述したＬ０層のデータエリアの開始位置「Ａ点」と、Ｌ１層のデータエリアの終了位置「Ｃ点」における標準的な誤差の影響は殆ど又は完全にないものとしてもよい。加えて、差分データ量「ΔＳ」を算出する際に、所謂、スパイラル積分計算を用いてもよい。【０１６０】
以上のようにして、推定領域１２に含まれる「Ｋ点」及び「Ｊ点」を示すアドレス「Ｍ（ｙ）」及び「Ｍ（ｚ）」と、Ｌ１層における再生品質との関係が、図１２（ｂ）において示されている。【０１６１】
（３）本発明に係る位置検証装置の作用効果の検討
次に、図１４を参照して、本発明に係る位置検証装置の作用効果について検討を加える。ここに、図１４は、比較例に係る光ディスクにおいて、Ｌ１層の推定領域１２、及びＬ０層の記録領域１０の半径位置と、アドレスとの関係を図式的に示したグラフ（図１４（ａ））、並びに、比較例に係る推定領域１２における再生品質の遷移を図式的に示した模式図（図１４（ｂ））である。尚、図１４（ａ）中の横軸は半径方向の位置を示し、縦軸はアドレスを示す。図１４（ｂ）中の横軸は、Ｌ１層におけるアドレスを示し、縦軸はＬ１層のアシンメトリを示す。【０１６２】
図１４（ａ）及び図１４（ｂ）に示されるように、比較例に係る光ディスクにおいて、オフセット量「ｂ」が前述した例えば１２４（μｍ）より大きい場合、推定領域１２に含まれる、アドレス「Ｍ（ｚ）」によって特定可能な「Ｊ点」におけるアシンメトリ値は、情報が記録されたＬ０層の記録領域１０を透過したレーザ光によって記録された情報が示すアシンメトリ値より小さくなる。【０１６３】
この結果、Ｌ０層とＬ１層との相対的なずれが許容範囲内であれば、Ｌ０層の記録領域１０を透過したレーザ光によって、記録された情報が示す再生品質と概ね等しい再生品質が得られると推定される推定領域１２において、所望の再生品質が得られないという矛盾が生じてしまう。従って、制御手段は、推定領域における再生品質に基づいて、相対的なずれが許容範囲内にあるか否かを簡便に判定することが可能となる。【０１６４】
（４）位置検証装置の第２実施例
次に、図１５から図１７を参照して、本発明に係る位置検証装置の第２実施例について説明する。ここに、図１５は、本発明の第２実施例に係る、貼り合わせ誤差（偏芯）と透過光径とを含んだ場合の推定領域１２の偏芯を含む情報記録媒体で実際に測定された再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移を図式的に示した模式図（図１５（ａ））、及び、Ｌ０層及びＬ１層における寸法誤差が許容範囲内の基準値である理想的な場合の全体領域１１におけるアシンメトリ値の遷移（点線）と、寸法誤差を含む情報記録媒体で実際に測定されたＬ１層におけるアシンメトリ値の遷移（太線）とを示したグラフ（図１５（ｂ））である。図１６は、本発明の第２実施例に係る第１記録層及び第２記録層に係るＬ０層及びＬ１層において、寸法誤差、張り合わせ誤差（偏芯量）、及び透過光径が生じた場合のＬ０層における一のトラックと、Ｌ１層における、当該一のトラックに対応される他のトラックとの位置関係を示した図式的な平面図である。図１７は、第２実施例に係る相対偏差が最大となる場合の再生品質を表す一例としてのアシンメトリ値の遷移、及び、相対偏差が最小となる場合の再生品質の遷移を示した模式図である。尚、図１５（ａ）、及び図１５（ｂ）中の横軸は、Ｌ１層におけるアドレスを夫々示す。【０１６５】
図１５（ａ）に示されるように、情報記録媒体が一回転する間隔において相対偏差が最大値となる位置における例えばアシンメトリ値によって表される再生品質の遷移と、相対偏差が最小値となる位置における再生品質の遷移（太線）との比較によって、（ｉ）Ｌ０層におけるレーザ光のスポット径、即ち、Ｌ０層においてデフォーカスされた径、及び、（ｉｉ）例えば偏芯量からなる相対偏差を測定することが可能となる。【０１６６】
加えて、図１５（ｂ）に示されるように、理想的な場合の全体領域１１における再生品質の遷移（点線）と、実際に測定されたＬ１層における再生品質の遷移（太線）との比較によって、例えば寸法誤差からなる相対偏差を測定することが可能となる。【０１６７】
実際の情報記録媒体を対象にすると、これら偏芯量又は寸法誤差の影響が複合されて観測されるが、上述した手法に基づいて、偏芯量からなる相対偏差、及び寸法誤差からなる相対偏差を、夫々抽出することが可能である。【０１６８】
詳細には、図１６に示されるように、円周Ｃｒ１によって示されたＬ１層の一のトラック上の「Ｍ１−ｂ点」と、円周Ｃｒ０によって示されたＬ０層の一のトラック上の「Ｍ０−ｂ点」との半径位置の偏差によって、相対偏差の最大値が示される。他方、図１６に示されるように、円周Ｃｒ１によって示されたＬ１層の一のトラック上の「Ｍ１−ｓ点」と、円周Ｃｒ０によって示されたＬ０層の一のトラック上の「Ｍ０−ｓ点」との半径位置の偏差によって、相対偏差の最小値が示される。【０１６９】
より詳細には、図１７の中央部や、図１７の下側部分のグラフで示されるように、記録済みの状態の領域と未記録状態の領域とが混在するＬ０層を透過した記録用のレーザ光が照射された場合の再生信号の振幅を示す曲線は、情報記録媒体が一回転する間隔において「ｔｏｐ」と「ｂｏｔｔｏｍ」で示される値の間を、相対偏差の大きさに応じて変動する。そして、これら「ｔｏｐ」と「ｂｏｔｔｏｍ」で示される値から、例えばアシンメトリ値等の再生品質が夫々に対応して算出される。【０１７０】
上述した実施例では、位置検証装置又は位置測定装置の一具体例として、例えば、ＤＶＤ−Ｒレコーダー又はＤＶＤ＋Ｒレコーダー等の追記用の情報記録再生装置について説明したが、本発明は、例えば、ＤＶＤ−ＲＷレコーダー又はＤＶＤ＋ＲＷレコーダー等の書き換え用の情報記録再生装置に適用可能である。更に、ブルーレーザーを記録再生に用いる大容量記録用の情報記録再生装置にも適用可能である。【０１７１】
本発明は、上述した実施例に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う位置検証装置及び方法、位置測定装置及び方法、並びにコンピュータプログラムもまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【産業上の利用可能性】
【０１７２】
本発明に係る位置検証装置及び方法、並びに位置検証用のコンピュータプログラムは、例えば２層型のＤＶＤ、ＣＤ（Compact Disc）等の多層型の情報記録媒体における複数の記録層における相対的なずれを検証するための位置検証装置及び方法に利用可能である。また、例えば民生用或いは業務用の各種コンピュータ機器に搭載される又は各種コンピュータ機器に接続可能な位置検証装置にも利用可能である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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