(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録方法であって、
光ディスク上の線速度の遅い領域では、試し書きの再生波形のジッタ値から当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の線速度の速い領域では、試し書きの再生波形の振幅値から得られる情報で当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項２】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録方法であって、
光ディスク上の線速度の遅い領域では、試し書きの再生波形のジッタ値から当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の線速度の速い領域では、前記線速度の遅い領域で求められた記録パラメータ学習結果から所定の計算手段により得られる記録パラメータで試し書きを行い、試し書きの再生波形の振幅値から得られる情報で当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項３】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録方法であって、
光ディスク上の線速度の遅い領域では、試し書きの再生波形のジッタ値から当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の線速度の速い領域では、以前に該光ディスクにおいて該線速度で実行された試し書き結果から決定された記録パラメータで試し書きを行い、試し書きの再生波形の振幅値から得られる情報で当該線速度での記録波形の最適記録パラメータを決定し、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定することを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項４】
請求項１から3記載の光学的情報記録方法において、
振幅値から得られる情報として、再生波形のベータ値を指標とすることを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項５】
請求項１から3記載の光学的情報記録方法において、
振幅値から得られる情報として、再生波形のアシンメトリ値を用いることを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項６】
請求項１から5記載の光学的情報記録方法において、
前記線速度の遅い領域は前記光ディスクの内周側に設けられた試し書き領域であり、
前記線速度の速い領域は前記光ディスクの外周側に設けられた試し書き領域であることとを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項７】
請求項１から6記載の光学的情報記録方法において、
前記記録パラメータには、レーザーに供給する記録パワー、消去パワーが含まれることを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項８】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録装置であって、
レーザー光を発生させるレーザーと、
所定の記録パラメータに基づいて前記レーザーを駆動するレーザードライバと、
光ディスクを所定の回転速度で回転駆動させるモータと、
光ディスク上の線速度の遅い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形のジッタ値から決定する第１のパラメータ決定回路と、
光ディスク上の線速度の速い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形の振幅値から決定する第２のパラメータ決定回路と、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定する第３のパラメータ決定回路と、
前記レーザードライバ、モータ、第１の試し書き回路、第２の試し書き回路、および、第３の試し書き回路を制御する制御回路と、
を具備することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項９】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録装置であって、
レーザー光を発生させるレーザーと、
所定の記録パラメータに基づいて前記レーザーを駆動するレーザードライバと、
光ディスクを所定の回転速度で回転駆動させるモータと、
光ディスク上の線速度の遅い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形のジッタ値から決定する第１のパラメータ決定回路と、
前記線速度の遅い領域で求められた記録パラメータ学習結果から所定の計算手段により得られる記録パラメータで試し書きを行い、光ディスク上の線速度の速い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形の振幅値から得られる情報から決定する第２のパラメータ決定回路と、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定する第３のパラメータ決定回路と、
前記レーザードライバ、モータ、第１の試し書き回路、第２の試し書き回路、および、第３の試し書き回路を制御する制御回路と、
を具備することを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項１０】
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な光ディスクに情報を記録する光学的情報記録装置であって、
レーザー光を発生させるレーザーと、
所定の記録パラメータに基づいて前記レーザーを駆動するレーザードライバと、
光ディスクを所定の回転速度で回転駆動させるモータと、
光ディスク上の線速度の遅い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形のジッタ値から決定する第１のパラメータ決定回路と、
以前に該光ディスクにおいて該線速度で実行された試し書き結果から決定された記録パラメータで試し書きを行い、光ディスク上の線速度の速い領域での記録波形の最適記録パラメータを試し書きの再生波形の振幅値から得られる情報から決定する第２のパラメータ決定回路と、
光ディスク上の任意のアドレス位置に情報を記録するときの記録波形の最適記録パラメータを該光ディスク上の線速度の異なる2つ以上の領域における最適記録パラメータの学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出し決定する第３のパラメータ決定回路と、
前記レーザードライバ、モータ、第１の試し書き回路、第２の試し書き回路、および、第３の試し書き回路を制御する制御回路と、
を具備することを特徴とする光学的情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー光線などを利用して光ディスクに情報を記録する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにおける回転制御方法として、線速度一定のＣＬＶ（Constant Linear Velocity）制御と回転角速度一定のＣＡＶ(Constant Angular Velocity) の2種類が一般的に用いられている。
【０００３】
ＣＬＶ制御では内周での光ディスク回転速度が大きくなるため、近年求められている記録、再生速度高速化をＣＬＶ制御によって行うのは実現である。このため、外周部分での線速度の増加が実現できるＣＡＶ制御が記録、再生速度の高速化に伴って採用されている。
【０００４】
また、光ディスクにマーク、スペースを用いて情報を記録する場合、レーザー光の発光パワー、発光時間を細かく制御して、光ディスク上のマーク形成の精度を向上させることが一般に行われている。この制御はライトストラテジと呼ばれる。
【０００５】
ライトストラテジは光ディスクに記録する際の線速度によって異なる。ＣＡＶ制御により光ディスクに記録を行う場合、半径位置により光ディスクの線速度が異なるため、各半径位置に応じてパルスの発光パワー、発光時間の制御量といったライトストラテジの記録パラメータを設定することが必要になる。
【０００６】
また、レーザーから照射される記録レーザー光の立ち上がり、立下りなどの特性は個々のレーザーごとに若干異なるため、ライトストラテジは光ディスク記録装置毎に調整を行うことが必要になる。ＣＡＶ方式記録装置では、特許文献１に示すように、最内周と最外周で記録パラメータの学習を行って、中間の半径位置での記録パラメータは、両学習結果から線形補間などの補間手段により求める手法が用いられている。
【０００７】
しかし、一般に、製造工程において光ディスクの外周部分に記録膜厚ムラや光ディスク記録溝のひずみなどが発生することが多い。このため、ＣＡＶ方式により高速記録を行う場合、外周部分ではサーボ帯域よりも高いノイズ成分が発生する。これらの記録膜厚ムラや光ディスク記録溝のひずみを以降では、デビエーションと呼ぶこととする。デビエーションは外周部分でのサーボ振られによる記録不良、再生不良を発生させる要因となる。
【０００８】
このため、高速ＣＡＶ記録において、外周領域でのデビエーション発生部分で記録パラメータ学習を行うと、不適切な記録パラメータを最適な記録パラメータであると学習する可能性がある。特に、DVD-RAM規格では、記録パラメータ学習方法の指標として記録マーク、スペースのエッジ成分の揺らぎであるジッタを指標とすることが規格で推奨されているため、デビエーションによる記録不良によりS/N比が劣化した場合、記録パラメータ取得に大きく影響し、不適切な記録パラメータを最適であると学習してしまう虞が高くなる。
【０００９】
このような問題を回避する手法として、外周領域での高線速記録時に採用する記録パラメータを内周領域の試し書き結果から求めた記録パラメータに対し所定の計算をすることで算出する手法が知られている（特許文献２参照、）。
【００１０】
【特許文献１】特開２００３−８５７５３号公報
【特許文献２】特開２００３−１２３２５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかし、外周におけるフォーカス、トラッキングサーボの条件または光ディスクチルトなどの影響により、内周の試し書き結果からの計算による外周で高線速度記録を行う場合の最適な記録パラメータの推定では、最適な記録パラメータを求められないという課題がある。
【００１２】
また、光ディスクの記録パワーマージンは記録線速度が高くなるにつれて減少する傾向にあり、内周の試し書き結果からの計算による推定では外周領域での記録パワーマージン内に記録パワーを設定することは困難になるという課題もある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため、本発明により提供される手段は、
レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、
任意のアドレス位置に情報を記録する際の記録パラメータを、該記録媒体上の線速度の異なる2つ以上の領域における記録パラメータ学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出する記録方式であって、
線速度の遅い領域では試し書き時の再生波形のジッタ値から最適記録パラメータを決定し、線速度の速い領域では試し書き時の再生波形の振幅値から得られる情報で最適記録パラメータを決定することを特徴とする。
【００１４】
また、レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、
任意のアドレス位置に情報を記録する際の記録パラメータを、該記録媒体上の線速度の異なる2つ以上の領域における記録パラメータ学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出する記録方式であって、
線速度の遅い領域では試し書き時の再生波形のジッタ値から最適記録パラメータを決定し、
線速度の速い領域では、線速度の遅い領域で求められた記録パラメータ学習結果から所定の計算手段により得られる記録パラメータで記録を行い、該記録領域の再生波形の振幅値から得られる情報で前期記録パラメータを決定することを特徴とする。
【００１５】
さらに、レーザー光を照射して記録層にマークを形成することにより情報の記録を行う書き換え可能な記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、
任意のアドレス位置に情報を記録する際の記録パラメータを、該記録媒体上の線速度の異なる2つ以上の領域における記録パラメータ学習結果から所定の計算方法により記録パラメータを算出する記録方式であって、
線速度の遅い領域では試し書き時の再生波形のジッタ値から最適記録パラメータを決定し、
線速度の速い領域では、以前に該光ディスクにおいて該線速度で実行された試し書き結果で得られた記録パラメータで記録を行い、該記録領域の再生波形の振幅値から得られる情報で前期記録パラメータを決定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、外周領域におけるデビエーションによる信号S/N劣化時の試し書きによる誤った記録パラメータ取得の可能性を低減しながら外周での記録特性を確保することができ、データ記録の信頼性向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下の本発明の実施例について説明する。
【実施例１】
【００１８】
第１の実施例では書き換え可能な光ディスクであるDVD-RAMを例に挙げ説明する。
【００１９】
図1に本実施例における光学的情報記録装置の構成を示す。図のレーザー108より出射されたレーザー光はコリメートレンズ105、対物レンズ103を通してＤＶＤ-ＲＡＭなどの光ディスク101の指定半径位置に照射される。光ディスク101からの反射光はビームスプリッタ104を通して集光レンズ106で集光され、光電変換素子107で電気信号（以下信号）に変換される。得られた信号はI/V変換手段 109, 信号処理手段110を経て復調手段111でデコードされ、マイコン114を経由して上位ホスト115に送られる。なお、116はモータでありマイコンの制御により光ディスクを回転駆動する。
【００２０】
試し書き動作時には、再生信号は信号処理手段110より試し書き情報検出および処理回路112に送られ、その結果によりレーザードライバ113にストラテジを設定する記録パラメータ値が決定される。試し書き情報検出および処理回路112には、第１のパラメータ決定回路、第2のパラメータ決定回路、第3のパラメータ決定回路が含まれている。これらの詳細は後述する。このパラメータ値に基づいて光ディスク101に記録動作を行い、記録結果を再生して再び試し書き情報検出および処理手段111に送ることを繰り返して、記録パラメータ値の最適値を求める。
【００２１】
図2にDVD-RAMの記録波形の一例を示す。201は記録クロック、202はNRZ信号、203はレーザー発光波形を示す。試し書きでは図の記録パワーPw, 消去パワーPeおよびパルスエッジTspf, Telpの位置情報を記録学習により最適化する。その際に試し書き記録マークの2値化再生波形と再生クロックとのジッタにより最適化を評価することが規格で推奨されている。例えば記録パワーPwとジッタの関係は図3に示すようになり、記録パワーPwとジッタ値の関係を示す曲線301から最適パワーを求める。
【００２２】
図4に該試し書きのシーケンスの一例を示す。はじめに、消去パワーPeの学習(401), 記録パワーPwの学習(402)を行い、次に、パルスエッジ位置学習(以降これをシフト学習と呼ぶ)403により基本的な記録ストラテジを決定する。その後、消去パワーPe,の再学習(404) 記録パワーPwの再学習(405)行い、記録パラメータを決定し記録パラメータの学習を終了する。
【００２３】
図5に高倍速再生時のサーボ波形の実測図を示す。図5の501はフォーカスエラー信号、502はトラッキングエラー信号を示す。503, 504は光ディスク成型時に生じたデビエーションなどに起因するサーボの信号振られであり、再生速度が高くなると振られの帯域も高くなり、サーボ帯域よりも大きくなるとサーボ制御では抑圧できなくなる。光ディスクの記録データ再生時にデビエーションがあると、再生波形の振幅変動により2値化データに誤りが発生し、例えば試し書き結果が正しく評価できなくなる。また、デビエーションがある箇所では記録信号が乱れるという悪影響があり、光ディスクのテストエリアにデビエーションがあったときには、そこでの試し書き結果に基づいて決定した記録パラメータは信頼性が低いものとなってしまう。
【００２４】
具体的には、DVD-RAMでCAV記録を行う場合、最内周と最外周に設けられたドライブテストエリアでそれぞれ記録パラメータを学習し、途中の半径部分は、上記最内周と最外周の学習結果から線形補間などの補間手段でパラメータを算出する手法が知られている。しかし、CAV記録では外周は内周に比べて線速度が高いため、上記デビエーションの影響を受けやすく、記録パラメータを正しく学習することが困難になる。そのため、内周の外周結果から所定の計算により外周の記録パラメータを算出する方法が提案されている。一般的に記録ストラテジは倍速に対してほぼ相似形となるため、パルスエッジ位置情報はこの手法で求めることができるが、記録パワーは前期デビエーションへの対応、および外周領域での記録膜ムラなどにより、計算だけでは最適な記録パワーを求めることは困難となる。さらに、外周では記録線速度が高くなるため、光ディスクの記録膜の記録パワーに対する感度が高くなり、記録パワーずれに対する許容量(以下これを記録パワーマージンと呼ぶ)が減少する。このことからも、内周学習結果からの計算のみによる外周記録パラメータ算出は、精度が十分確保できないことがある。
【００２５】
このため、本実施例では、高い線速度となる外周領域での試し書きでは、2値化信号を用いず例えば再生波形のアシンメトリ情報、もしくは再生波形のベータ値を用いて記録パワーの評価を行う。例えば、記録パワーPwと再生波形のベータ値との関係は図6に示すように単調増加となる。そのため、例えば内周試し書き結果から所定の計算により算出した外周記録パワー値Pout 602で外周試し書き領域に記録を行ったときの再生波形のベータ値を取得し、その値があらかじめ設定した所定のベータ値の範囲内に入っているかを確認する。さらに、前記ベータ値が所定のベータ値の範囲内に入らない場合には、所定のベータ値になるように記録パワーを補正する。
【００２６】
上記実施例による、CAV記録方式における記録パワー学習のシーケンスを図7に示す。以下に本シーケンスの動作を説明する。
【００２７】
1.  記録パラメータ学習開始(701)
2.  第１のパラメータ決定回路によって、2値化データのジッタ値を指標として内周試し書き動作実行する(702)。この結果、内周でのパラメータ初期値Aに対して、内周でのパラメータ学習結果Bが求まる。
【００２８】
3.  パラメータA, Bから所定の計算により外周試し書き結果を推定する(703)。この結果、外周でのパラメータ初期値Cに対して、外周でのパラメータ学習結果Dが求まる。
【００２９】
4.  第2のパラメータ決定回路によって、再生波形振幅情報を指標として外周試し書きによる記録パワー確認および補正動作実行する(704)。この結果、パワー補正結果Eが求まる。
【００３０】
5.  記録パラメータの学習を終了する(705)。
【００３１】
上記において、外周試し書き時の記録パワー確認の指標として用いるアシンメトリ、ベータ値は何れも再生波形の粗密情報の相対値であるため、デビエーションなどにより再生波形の振幅変動が発生した場合でも、前記内周での試し書きで使用した再生波形の2値化信号のジッタ値評価と比較して安定して記録パワーの評価が実行でき、外周での最適記録パワー値の取得精度を向上させることができる。
【００３２】
このように求めた内周、外周での最適記録パワー値に基づいて、第3のパラメータ決定回路は、任意の線速度、記録位置での最適記録パラメータを求める。これにより任意の線速度、位置でも好適な記録品質を達成することができる。
【実施例２】
【００３３】
次に本発明の第二の実施例について以下に説明する。本実施例における光学的情報記録装置の構成は前記第一の実施例における光学的情報記録装置の構成と同様であるため説明を省略する。実施例1では外周での記録パワーの確認および補正を再生波形の振幅値に依存した値、具体的にはアシンメトリ、ベータ値を用いる手段について述べたが、DVD-RAMのような書き換え可能型光ディスクの場合、記録パワーPwと消去パワーPeを学習する必要がある。消去パワーは下地が記録された領域に対する上書き記録後の記録品質を確認する必要があり、再生波形の振幅情報からは下地記録波形と上書き記録の差を判断するのが困難となる。
【００３４】
一方、例えばDVD-RAMではドライブの固有情報を光ディスク記録できる領域(Disc Information Zone: DIZ)がある。そのため、任意の装置で試し書きを実施した結果をDIZに記録することにより、次回同じ光ディスクが同じ装置に挿入された場合に前記DIZに記録した情報を活用することができる。
【００３５】
これらより、ある光学的情報記録装置に対して初めての光ディスクが挿入されたときには、外周において内周と同様に2値化信号のジッタ評価による試し書きを実施し、記録パワーPwと消去パワーPeを学習する。その際同時に外周での学習結果の記録パワー、消去パワーによる振幅情報値、例えばアシンメトリ、もしくはベータ値も求めておく。試し書き終了後、これらの結果をDIZに記録する。
【００３６】
次に同じ光ディスクが再度光学的情報記録装置に挿入された場合のシーケンスを図8に示す。以下に本シーケンスについて説明する。
【００３７】
1.  記録パラメータ学習開始する(801)。
【００３８】
2.  2値化データのジッタ値を指標として内周試し書き動作を実行する(802)。
【００３９】
3.  前回の外周試し書きによる記録パラメータ学習結果がDIZに保存されているかを確認する(803)。
【００４０】
4.  上記保存されている場合は、DIZに記載された外周記録パラメータ学習結果を外周試し書き結果とし(804)、ベータなどの再生波形振幅情報を指標として外周試し書きによる記録パワーおよび消去パワーの確認および補正動作を実行する(805)。
【００４１】
5.  上記保存されていない場合は、内周と同様に2値化データのジッタ値を指標として外周試し書き動作実行する(806)。
【００４２】
6.  試し書き結果を所定の保存方法にて保持する (807)。
【００４３】
7.  記録パラメータの学習を終了する(808)。
【００４４】
このシーケンスによれば、光ディスクが最初に光学的情報記録装置に挿入されたときにシーケンス5（806）で詳細な記録パワーと消去パワーを学習しているため、外周での消去パワーの学習結果を簡易に高精度で取得できる。また、この時点で記録パワーと消去パワーの最適比(PwPe比)が求められるため、シーケンスの4における記録パワー、消去パワーの学習時に上記PwPe比を固定してベータ値を確認することにより、記録パワー、消去パワーを確認、補正することができる。
【００４５】
なお、シーケンス6（807）の所定の保存方法としては、例えば光ディスクの所定領域に記録パラメータを記録し次回の試し書き実行時に該記録された記録パラメータを読み出す方法、もしくは、光学的情報記録装置の内部メモリに記録パラメータを保存しておいて次回の試し書き実行時に保存された記録パラメータを読み出すなどの方法などが考えられる。
【００４６】
また、本実施例では外周での試し書き時に前回試し書き結果の保存値を利用しているが、内周での試し書きにおいても同様に前回の試し書き結果を初期値として試し書きを行っても良い。これにより内周での記録パワー、消去パワーを確認、補正することができる。
【実施例３】
【００４７】
次に、本発明の第三の実施例について説明する。本実施例における光学的情報記録装置の構成は第一の実施例における光学的情報記録装置の構成と同様であり、説明を省略する。図9に本実施例の試し書き処理シーケンスを示す。以下に本シーケンスの動作について説明する。
【００４８】
1.  記録パラメータの学習を開始する (901)。
【００４９】
2.  2値化データのジッタ値を指標として内周試し書き動作を実行する(902)。
【００５０】
3.  内周試し書き実行結果から所定の計算により外周試し書きの初期値を計算する(903)。
【００５１】
4.  外周の前回試し書きベータが保存されているかを確認する(904)。
【００５２】
5.  保存されている場合は、保存されているベータ値を目標値として設定する(905)。
【００５３】
6.  保存されていない場合は、該装置に設定されている所定のベータ値を目標値として設定する(906)。
【００５４】
7.  設定された目標ベータ値に対して、外周試し書きによりベータ値を取得して記録パワーおよび消去パワーの確認および補正動作を実行する(907)。
【００５５】
8.  試し書き結果のベータ値を所定の保存方法にて保持する(908)。
【００５６】
9.  記録パラメータの学習を終了する(909)。
【００５７】
上記シーケンス8（908）の保存方法としては、実施例２のシーケンス6の保存方法と同様のものを用いることができる。
【００５８】
本実施例によれば、光ディスクまたは光学的情報記録装置において、記録パラメータを保存できる領域が十分確保されていない場合でも、試し書き結果の記録パラメータによる記録波形を再生したときのベータ値のみ保存することにより、外周領域において安定した記録パラメータ学習を行うことができ、これにより記録パワー、消去パワーを確認、補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の第一の実施例における装置構成の一例を示す図
【図２】DVD-RAMの記録パルスを示す図
【図３】記録パワーと再生ジッタの関係の一例を示す模式図
【図４】試し書き実行内容の一例を示す図
【図５】デビエーションによるサーボ信号の振られを示す図
【図６】記録パワーとベータ値の関係の一例を示す模式図
【図７】第一の実施例における試し書き実施フローチャート
【図８】第二の実施例における試し書き実施フローチャート
【図９】第三の実施例における試し書き実施フローチャート
【符号の説明】
【００６０】
101 …光ディスク、102 …スピンドルモータ、103 …対物レンズ、104 …ビームスプリッタ、
105 …コリメータレンズ、106 …集光レンズ、107 …光電変換素子、108…レーザー、109…IV変換素子、110…信号処理手段、111…変調手段、112…試し書き情報検出および処理回路、113…レーザードライバ、114…マイコン、115…上位ホスト、116…モータ
【図１】
0004474372.tif 000002
【図２】
0004474372.tif 000003
【図３】
0004474372.tif 000004
【図４】
0004474372.tif 000005
【図５】
0004474372.tif 000006
【図６】
0004474372.tif 000007
【図７】
0004474372.tif 000008
【図８】
0004474372.tif 000009
【図９】
0004474372.tif 000010