(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法において、
波形補正量の情報が予め用意されていない光ディスクについて、前記予め用意されている全部のディスク種類または適宜採択された複数のディスク種類の波形補正量を用いて、それぞれ記録パワーを変化させてテスト記録を行い、該テスト記録を再生して、該再生信号の信号品位を判定し、相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行い、かつ、
前記テスト記録および信号品位の判定を、まず、記録材料系統ごとに定められた代表的な波形補正量を用いて行い、次いで、該テスト記録の結果から相対的に高い信号品位が得られると判定された記録材料系統に属する複数のディスク種類について予め用意された複数種類の波形補正量を用いて行い、その結果から相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行う光ディスク記録方法。
【請求項２】
前記再生信号の信号品位の判定を、アシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性の適宜のＣ１エラーレート値のスライスレベルで囲まれる面積、または、アシンメトリ値β対ジッタ値特性の適宜のジッタ値のスライスレベルで囲まれる面積の測定にて行い、該面積が広いほど信号品位が相対的に高いと判定する請求項１に記載の光ディスク記録方法。
【請求項３】
前記選択された波形補正量を、使用している光ディスクの識別情報と組み合わせてメモリに保存し、次に該光ディスクの識別情報が判別されたときに、該メモリに保存された波形補正量を用いてテスト記録を行う請求項１または２に記載の光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法に関し、記録信号の波形補正量が予め用意されていない光ディスクや、予め用意されている記録信号の波形補正量では良好な記録品位が得られない光ディスクに記録を行う場合、またＣＡＶ（回転速度一定）記録を行う場合に、良好な記録品位が得られる記録信号の波形補正量を容易に設定できるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等の記録可能型ＣＤやＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ等の記録可能型ＤＶＤ等の記録可能型光ディスクの記録においては、同じ記録信号でレーザ光を駆動しても、ディスク種類（フォーマットの違いでなく、同一フォーマットで記録材料、メーカー、型番等が違うものをいう。）に応じて、記録膜の感度や熱の伝わり方に違いが生じ、このため、形成されるピット、ランドの前縁位置、後縁位置がディスク種類ごとに変化し、再生信号のジッタ（時間軸方向のずれ）、デビエーション（正規の信号長に対する偏差）等の特性に違いが生じる。このため、ディスク種類にかかわらず常に最適な記録品位が確保されるように、ディスク種類に応じて記録信号波形に時間軸等の波形補正を施す必要がある。従来の光ディスク記録装置は、記録信号の信号長（ピット長、ランド長等）に応じて、該記録信号波形に付与するディスク種類ごとの時間軸補正量や波形の一部に付加する付加パルスのパルス振幅、パルス幅等の波形補正量のデータ（いわゆる記録ストラテジー）がメーカーから提供されてメモリに保存されていた。そして、記録時に、記録に使用するディスク種類に応じて、該当する記録ストラテジーをメモリから読み出し、本番の記録に先立ち、ディスクの所定のテスト記録領域で、テスト信号をこの読み出された記録ストラテジーで時間軸等の波形補正をしかつレーザ光の記録パワー（レーザパワー）を順次変化させてテスト記録を行い、該テスト記録後これを再生して各記録パワーごとの信号品位を測定し、該測定に基づき、最良の再生信号品位が得られる記録パワーを判定し、レーザ光の記録パワーを該判定された記録パワーに設定し、かつ前記読み出された記録ストラテジーを使用して本番の記録を開始するようにしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、新規に発売されたディスクや出所の不明なディスクについては、その記録ストラテジーがメモリに保存されていないため、記録ストラテジーを選択することができなかった。したがって、この種のディスクに対応するためには、記録装置側で独自に、テスト記録に基づき記録ストラテジーをゼロから作成しなければならず、高速かつ大量のハードウエアを必要とし、コストが高くつく問題があった。また、記録ストラテジーを作成するためのアルゴリズムが複雑で、記録ストラテジーを作成するための時間が長くかかっていた。
また、記録ストラテジーがメモリに保存されている既存ディスクについても、製造上のばらつきや告知無しのマイナーチェンジ等により、メモリに保存されている該当する記録ストラテジーでは、高品位の記録を行えない場合があった。
また、ＣＡＶ記録を行う場合には、記録速度が変化するので、各記録速度において良好な再生信号品位が得られる記録ストラテジーを設定するのが難しかった。
【０００４】
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、記録信号の波形補正量が予め用意されていないディスクや、予め用意されている記録信号の波形補正量では良好な記録品位が得られないディスクに記録を行う場合、またＣＡＶ（回転速度一定）記録を行う場合に、良好な記録品位が得られる記録信号の波形補正量を容易に設定できるようにした光ディスク記録方法を提供しようとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この発明の光ディスク記録方法は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して、記録に使用するディスク種類に応じて、該当する波形補正量の情報を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行う光ディスク記録装置に適用することができる。
【０００６】
この発明の光ディスク記録方法は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法において、波形補正量の情報が予め用意されていない光ディスクについて、前記予め用意されている全部のディスク種類または適宜採択された複数のディスク種類の波形補正量を用いて、それぞれ記録パワーを変化させてテスト記録を行い、該テスト記録を再生して、該再生信号の信号品位を判定し、相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行うものである。これによれば、波形補正量の情報が予め用意されていない光ディスクについて、予め用意されている波形補正量のうち相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択して波形補正を行うので、波形補正量の情報つまり記録ストラテジーをゼロから作成するのに比べて波形補正量の設定を容易に行うことができる。この場合、前記テスト記録および信号品位の判定を、まず、記録材料系統（例えば、色素系統）ごとに定められた代表的な波形補正量を用いて行い、次いで、該テスト記録の結果から相対的に高い信号品位が得られると判定された記録材料系統に属する複数のディスク種類について予め用意された複数種類の波形補正量を用いて行い、その結果から相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行うようにすれば、予め用意された全ての波形補正量についてテスト記録を行わなくて済むので、波形補正量の選択に要する時間を短縮することができ、また、テスト記録で消費する光ディスクの使用領域を削減することができる。なお、記録パワーについては、例えば、前記テスト記録の結果から、前記選択された波形補正量について良好な信号品位が得られる記録パワーを求めて、該記録パワーを使用して本番の記録を行うようにすることができる。
【０００７】
また、この出願で開示する別の光ディスク記録方法は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法において、波形補正量の情報が予め用意されている光ディスクについて、該予め用意されている波形補正量を用いて、記録パワーを変化させて第１のテスト記録を行い、該第１のテスト記録を再生して、所定の信号品位が得られる記録パワーが存在する場合は、その波形補正量を用いて記録信号を補正して本番の記録を行い、所定の信号品位が得られる記録パワーが存在しない場合は、前記予め用意されている複数種類の波形補正量を用いて、それぞれ記録パワーを変化させて第２のテスト記録を行い、該第２のテスト記録を再生して、該再生信号の信号品位を判定し、相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行うものである。これによれば、予め用意されている記録信号の波形補正量では良好な記録品位が得られない光ディスクについて、他のディスク種類について予め用意されている波形補正量のうち相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択して波形補正を行うことができるので、波形補正量の情報つまり記録ストラテジーをゼロから作成するのに比べて波形補正量の設定を容易に行うことができる。この場合、前記所定の信号品位が得られる記録パワーが存在しない場合に、記録に使用する光ディスクと同じ記録材料系統に属する複数のディスク種類について用意された複数種類の波形補正量を用いて前記第２のテスト記録を行うようにすれば、第２のテスト記録で各波形補正量について使用する記録パワーの変化段数を削減することができるので、波形補正量の選択に要する時間を短縮することができ、また、テスト記録で消費する光ディスクの使用領域を削減することができる。また、前記第１のテスト記録で所定の信号品位が得られる記録パワーが存在しない場合に、該第１のテスト記録で比較的良好な信号品位が得られた限定された範囲の記録パワーについて、前記前記第２のテスト記録を行い、該第２のテスト記録の結果から相対的に高い信号品位が得られる波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行うようにすれば、第２のテスト記録で各波形補正量について使用する記録パワーの変化段数を削減することができるので、波形補正量の選択に要する時間を短縮することができ、また、テスト記録で消費する光ディスクの使用領域を削減することができる。この場合、さらに、第２のテスト記録で選択された波形補正量について、記録パワーを第２のテスト記録よりも広い範囲で変化させて再テスト記録を行って、最適記録パワーを求めることができる。なお、記録パワーについては、例えば、前記第１のテスト記録の結果、所定の信号品位が得られる記録パワーが存在すると判定された場合は、該第１のテスト記録の結果から、良好な信号品位が得られる記録パワーを求めて、該記録パワーを使用して本番の記録を行い、該第１のテスト記録の結果、所定の信号品位が得られる記録パワーが存在しないと判定された場合は、前記第２のテスト記録の結果から、前記選択された波形補正量について良好な信号品位が得られる記録パワーを求めて、該記録パワーを使用して本番の記録を行うようにすることができる。
【０００８】
また、この出願で開示する別の光ディスク記録方法は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法において、波形補正量の情報が予め用意されている光ディスクまたは波形補正量の情報が予め用意されていない光ディスクについてＣＡＶ記録をする場合に、前記予め用意されている全部のディスク種類または適宜採択された複数のディスク種類の波形補正量を用いて、それぞれ複数の記録速度（線速度）についてそれぞれ記録パワーを変化させてテスト記録を行い、該テスト記録を再生して、該再生信号の信号品位を判定し、各記録速度での信号品位の平均が相対的に高い波形補正量を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正してＣＡＶ記録による本番の記録を行うものである。これによれば、各記録速度での信号品位の平均が相対的に高い波形補正量を選択してＣＡＶ記録による本番の記録を行うようにしたので、ＣＡＶ記録で記録速度が順次変化しても、信号品位の高い記録を行うことができる。なお、テスト記録で使用する記録速度は、例えば、本番のＣＡＶ記録で変化する記録速度範囲内の複数の速度を採用することができる。
【０００９】
また、この出願で開示する別の光ディスク記録方法は、記録信号の信号長に応じて該記録信号に付与する波形補正量の情報を、複数のディスク種類について予め用意して記録を行う光ディスク記録方法において、波形補正量の情報が予め用意されている光ディスクまたは波形補正量の情報が予め用意されていない光ディスクについてＣＡＶ記録をする場合に、前記予め用意されている全部のディスク種類または適宜採択された複数のディスク種類の波形補正量を用いて、それぞれ複数の記録速度（線速度）についてそれぞれ記録パワーを変化させてテスト記録を行い、該テスト記録を再生して、該再生信号の信号品位を判定し、各記録速度について相対的に高い信号品位が得られる波形補正量をそれぞれ選択し、ＣＡＶ記録による本番の記録時に、記録信号を、記録速度に応じて、前記選択された複数の波形補正量を補間した波形補正量で補正して該本番の記録を行うものである。これによれば、ＣＡＶ記録による本番の記録時に、記録信号を、記録速度に応じて、前記選択された複数の波形補正量を補間した波形補正量で補正して該本番の記録を行うようにしたので、ＣＡＶ記録で記録速度が順次変化しても、信号品位の高い記録を行うことができる。なお、テスト記録で使用する記録速度は、例えば、本番のＣＡＶ記録で変化する記録速度範囲内の複数の速度を採用することができる。あるいは、本番のＣＡＶ記録で変化する記録速度範囲外の速度を採用することもできる。また、記録速度（線速度）は、ＣＡＶの回転速度とディスク径方向位置から求めることができ、ディスク径方向位置は、ＡＴＩＰ情報や送り機構の位置検出器（リニアスケール等）で検知することができる。
【００１０】
なお、前記再生信号の信号品位の判定は、例えば、アシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性の適宜のＣ１エラーレート値のスライスレベルで囲まれる面積、または、アシンメトリ値β対ジッタ値特性の適宜のジッタ値のスライスレベルで囲まれる面積の測定にて行い、該面積が広いほど信号品位が相対的に高いと判定することができる。また、前記選択された波形補正量を、使用している光ディスクの識別情報と組み合わせてメモリに保存し、次に該光ディスクの識別情報が判別されたときに、該メモリに保存された波形補正量を用いてテスト記録を行うようにすることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を説明する。図１はこの発明の記録方法を実施するＣＤ−Ｒ／ＲＷドライブ（ＣＤ−ＲディスクとＣＤ−ＲＷディスクの記録および再生が可能な光ディスク記録装置）のシステム構成の概要を示したものである。この光ディスク記録装置は、記録信号の信号長（ピット長、ランド長）に応じて、該記録信号に付与する波形補正量の情報（記録ストラテジー）を複数のディスク種類について予めメモリ用意して、記録に使用するディスク種類に応じて、該当する波形補正量の情報を選択し、記録信号を該選択された波形補正量で補正して本番の記録を行う機能を有している。光ディスク１０（ＣＤ−ＲディスクまたはＣＤ−ＲＷディスク）は、スピンドルモータ１２で駆動され、光ピックアップ１４で情報の記録および再生が行われる。スピンドルモータ１２はスピンドルコントロール１５の制御により、ＣＬＶ（線速度一定）制御またはＣＡＶ制御される。すなわち、ＣＬＶ制御による記録時は、光ピックアップ１４から出力されるトラッキングエラー信号に含まれるウォブル信号が所定周波数（１倍速記録時は２２．０５ｋＨｚ）で検出されるように制御され、ＣＡＶ制御による記録時（ＣＬＶディスクのＣＡＶ記録モード時）は、スピンドルモータ１２から出力されるＦＧパルスが所定周波数で検出されるように制御される。
【００１２】
ＰＬＬ回路１６は、ウォブル信号に同期した書込クロックを生成する。レッド／イエローデコーダおよびバッファ１８は、書込クロックに同期して、記録信号にレッドブック規格およびイエローブック規格に準拠したＥＦＭ変調を施す。記録ストラテジー回路２０は、ＥＦＭ信号の時間軸を補正する。時間軸が補正されたＥＦＭ信号は、光ピックアップ１４内のレーザ源を駆動して、光ディスク１０に書き込まれる。
【００１３】
ＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２は、レーザ光のパワーを所定値に保つためのいわゆるＡＬＰＣ（Automatic Laser Power Control）制御を行い、また、テスト記録によって最適記録パワーを見つけるためのいわゆるＯＰＣ（Optimum Power Control）制御においてテスト記録の記録パワーを所定ステップで順次変化させる制御を行う。ＡＬＰＣ制御は、光ピックアップ１４内のフロントモニタで検出されるレーザパワーが所定値となるようにレーザパワーを制御することで行われる。ＯＰＣ書込（テスト記録）は、テスト用記録信号をレッド／イエローデコーダおよびバッファ１８でＥＦＭ変調し、記録ストラテジー回路２０で時間軸補正し、レーザパワーを所定ステップで所定段数順次変化させて（図３参照）、光ディスク１０の最内周のＯＰＣ領域に記録することで行われる。
【００１４】
ＯＰＣ読込回路２４は、ＯＰＣ制御において、テスト記録の再生時に、再生信号を読み込んで、各レーザパワーステップごとのＣ１エラー（リードソロモン補正１レベルエラー）レート、ＣＵエラー（訂正不能エラー）レート、ＰＬＬクロック再生の同期外れレート、ジッタ値等の信号品位に関するパラメータを測定する。マイコン２６は、光ディスク１０が装置にローディングされたときに、ディスクＩＤ（ディスク識別情報）等によりディスク種類（メーカーおよび型番等）を判別し、ＯＰＣ制御を実行し、ＯＰＣ読込回路２４の測定結果から最適記録ストラテジーおよび最適記録パワーを求め、最適記録ストラテジーを記録ストラテジー回路２０に設定し、最適記録パワーを本番記録開始当初の記録パワー目標値としてＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２に設定し、本番記録の指令を待って本番記録を開始し、本番記録開始後は、いわゆるＲＯＰＣ（Real Time OPC）制御により、所定の記録状態を維持するようにＡＬＰＣ制御の記録パワー目標値を変動させる制御を行う。メモリ２８はフラッシュメモリ等で構成され、各ディスクメーカーの各製品（型番等）ごとに、適用する記録ストラテジー（すなわち、時間軸補正量や波形の一部に付加する付加パルスのパルス振幅、パルス幅等の波形補正量）のデータが記憶されている。
【００１５】
マイコン２６の制御により記録ストラテジーおよび記録パワーを設定するための手順を図２のフローチャートを参照して説明する。光ディスク１０が装置にローディングされると、ＯＰＣ制御が開始される（ステップＳ１）。すなわち、はじめに、ローディングされた光ディスク１０のリードイン領域のプリグルーブのＡＴＩＰスペシャル情報にディスク識別情報として記録されているディスクＩＤ｛ディスク種類（メーカーおよび型番等）を識別する情報｝を読み込み、メモリ２８に記録ストラテジーが保存されている光ディスクであるか否（不明ディスク）かが判別される（ステップＳ２）。その判別の結果に応じて、次の制御が引き続き実行される。
【００１６】
（１）記録ストラテジーがメモリに保存されているディスクの場合
メモリ２８から、判別したディスクの記録ストラテジーを読み出して、記録ストラテジー回路２０に設定し、ＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２で記録パワーを図３のようにステップ状に変化させてテスト記録を行う（ステップＳ３）。テスト記録後これを再生して、ＯＰＣ読込回路２４で再生信号の信号品位を判定する（ステップＳ４，Ｓ５）。信号品位の判定は、例えばＣ１エラーレートやジッタ値に基づいて行うことができる。すなわち、例えば、図４のようにアシンメトリ値β｛再生ＲＦ信号の正負レベル比に関連するパラメータで、記録パワーに応じて（したがって、ピットの記録深さに応じて）値が変動する。｝対Ｃ１エラーレート特性（実線）とアシンメトリ値β対ジッタ値特性（点線）を測定し、Ｃ１エラーレートが所定値以下となり、かつ、ジッタ値が所定値以下となるアシンメトリ値β（言い換えれば記録パワー値）が存在するかどうかを判断し、そのようなアシンメトリ値βが存在する場合は信号品位が良好と判定し、存在しない場合は信号品位が不良と判断することができる。なお、アシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性のみ、あるいは、アシンメトリ値β対ジッタ値特性のみから信号品位を判定することもできる。また、ＣＵエラーレート、ＰＬＬクロック再生の同期外れレート等に基づいて信号品位を判定することもできる。
【００１７】
ｉ）信号品位が良好と判定された場合
信号品位が良好と判定された場合は、テスト記録の測定結果から、最良の信号品位が得られるときのアシンメトリ値β（例えば、Ｃ１エラーレートが最低となるアシンメトリ値βの範囲の中央値、ジッタ値が最低となるアシンメトリ値βの範囲の中央値、Ｃ１エラーレートおよびジッタ値が共に最低となるアシンメトリ値βの範囲の中央値、アシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性のアシンメトリ値β方向の重心値、アシンメトリ値β対ジッタ値特性のアシンメトリ値β方向の重心値等）を目標アシンメトリ値βt（図４参照）として求める。また、テスト記録の測定結果から、図５ように記録パワー対アシンメトリ値β特性（実線）を求め、該特性を最小二乗法などで近似して直線または二次近似式（点線）を求め、該近似式から、目標アシンメトリ値βtを実現する記録パワー値Ｐtを最適記録パワーとして求める（ステップＳ６）。この求められた最適記録パワー値ＰtをＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２にＡＬＰＣ目標値として設定し、自己のディスクの記録ストラテジーをそのまま記録ストラテジー回路２０に設定して（ステップＳ７）、本番記録待機状態となり（ステップＳ８）、ユーザーによる本番記録開始指令を待って本番記録を開始する。なお、本番記録開始後は、ディスク径方向位置による記録膜厚の変動等により、目標アシンメトリ値βtを実現するための記録パワー値Ｐtが変動するので、ＲＯＰＣ制御により、目標アシンメトリ値βtを維持するようにＡＬＰＣ目標値を変動させる。
【００１８】
ｉｉ）信号品位が不良と判定された場合
信号品位が不良と判定された場合は、メモリ２８に用意されている記録ストラテジーのうち、使用している光ディスク１０と記録材料が同じ系統（ＣＤ−Ｒディスクであれば、シアニン系、フタロシアニン系、スーパーシアニン系等の各種色素材料系統のうち、同じ色素材料系統）に属する自己以外の光ディスクについて用意されている全記録ストラテジーを記録ストラテジー回路２０に順次設定して、テスト記録を行う（ステップＳ９）。ただし、このとき、各記録ストラテジーごとに記録パワーを最初のテスト記録（ステップＳ３）と同様に広い範囲で変化させてテスト記録を行うと、記録ストラテジー数が多い場合は、テスト記録で光ディスク１０の広い領域を消費し、また、テスト記録に要する時間も長くかかってしまう。そこで、図６に示すように、最初のテスト記録｛図６（ａ）｝の結果から、信号品位が比較的良好な記録パワーを判断して、その記録パワーを中心として、記録パワーを限定された範囲で（したがって、限定されたステップ段数で）変化させて、記録材料系統が同じ全記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…について順次テスト記録｛図６（ｂ）｝を行う。記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…についてテスト記録｛図６（ｂ）｝が終了したら、それを再生して、その中から信号品位が最良の記録ストラテジーを選択する（ステップＳ１０）。
【００１９】
記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…の中から最良の記録ストラテジーを選択する手法の一例を説明する。いま、記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…のテスト記録の再生信号について測定したアシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性が図７（ａ）に示すようであったとする。この特性を適宜のＣ１エラーレート値でスライスして反転すると、図７（ｂ）に示す特性となる。例えば、ＣＤフォーマットの場合は、１サブコードフレームごとに測定したＣ１エラー回数がＣ１エラーレートであるとすると、Ｃ１エラーレート値は最大で９８となるので、スライス値を例えば９８に設定することができ、このとき反転した特性の縦軸はＣ１エラー無し回数ＮＥＲを示すものとなる。このアシンメトリ値β対Ｃ１エラー無し回数ＮＥＲ特性は、信号品位が良好なほど、横軸とで囲まれる面積が広くなるので、記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…ごとに横軸とで囲まれる面積を求め、最大の面積が得られる記録ストラテジー｛図７（ｂ）の例では、記録ストラテジーＳＴＲ３｝を最良の記録ストラテジーとして選択する。なお、実際には、記録パワーをスをテップ状に変化させてテスト記録を行うので、アシンメトリ値β対Ｃ１エラー無し回数ＮＥＲ特性は図７（ｃ）のように階段状となる。そこで、次式により、各記録パワーにおけるＣ１エラー無し回数ＮＥＲｎと、次のステップの記録記録パワーのアシンメトリ値との差分Δβｎとを乗じ、総和をとることで、１つの記録ストラテジーについて面積ＳＱを求める。
【００２０】
【数１】
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そして、ＳＱ値が最大の記録ストラテジーを最良の記録ストラテジーとして選択する。
【００２１】
ジッタ値に基づく場合も、同様にして記録ストラテジーを選択することができる。いま、１つの記録ストラテジーを用いたテスト記録の再生信号について測定したアシンメトリ値β対ジッタ値特性が図８（ａ）に示すようであったとする。この特性を適宜のジッタ値でスライスして反転すると、図８（ｂ）に示す特性となる。このアシンメトリ値β対ジッタ反転値特性は、信号品位が良好なほど、横軸とで囲まれる面積が広くなるので、記録ストラテジーごとに横軸とで囲まれる面積を求め、最大の面積が得られる記録ストラテジーを最良の記録ストラテジーとして選択する。
【００２２】
最良の記録ストラテジーが選択されたら、図６（ｃ）に示すように、該選択された記録ストラテジーを使用して、記録パワーを最初のテスト記録｛図６（ａ）｝と同様に大きく変化させて再度テスト記録を行う（ステップＳ１１）。テスト記録後これを再生して、信号品位を判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。信号品位が良好と判定された場合は、今回のテスト記録の再生信号特性の測定結果から、前記図４のように、最良の信号品位が得られるときのアシンメトリ値βを目標アシンメトリ値βtとして求める。また、今回のテスト記録の再生信号特性の測定結果から、前記図５のように、記録パワー対アシンメトリ値β特性（実線）を求め、該特性を最小二乗法などで近似して直線または二次近似式（点線）を求め、該近似式から、目標アシンメトリ値βtを実現するレーザパワー値Ｐtを最適記録パワーとして求める（ステップＳ１４）。この求められた最適記録パワー値ＰtをＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２にＡＬＰＣ目標値として設定し、選択された記録ストラテジーを記録ストラテジー回路２０に設定して（ステップＳ７）、本番記録待機状態となり（ステップＳ８）、ユーザーによる本番記録開始指令を待って本番記録を開始する。選択された記録ストラテジーはディスクＩＤと組み合わせてメモリ２８に記憶され、次回該当するディスクＩＤが読み取られたときに、該記憶された記録ストラテジーが読み出されて、ＯＰＣテスト記録が行われる。なお、再テスト記録｛図６（ｃ）｝の結果、選択された記録ストラテジーでは良好な信号品位が得られない場合｛例えば、Ｃ１エラーレートが所定値以下となり、かつ、ジッタ値が所定値以下となるアシンメトリ値βが存在しない場合｝は、記録を中止する（ステップＳ１５）。
【００２３】
（２）記録ストラテジーがメモリに保存されていないディスクの場合
メモリ２８に保存されている記録ストラテジーのうち、記録材料系統（ＣＤ−Ｒディスクの場合、シアニン系、フタロシアニン系、スーパーシアニン系等の色素材料系統）ごとに定められた代表的な記録ストラテジーを用いて、それぞれ記録パワーを図９（ａ）のようにステップ状に変化させて順次テスト記録を行う（ステップＳ１６）。テスト記録後これを再生して、その中から信号品位が最良の記録材料系統を選択する（ステップＳ１７）。記録材料系統が選択されたら、メモリ２８に保存されている記録ストラテジーのうち、該選択された記録材料系統を使用した光ディスクについて用意されている全記録ストラテジーを用いて、順次テスト記録を行う（ステップＳ１８）。ただし、このとき、各記録ストラテジーごとに記録パワーを最初のテスト記録（ステップＳ１６）と同様に広い範囲で変化させてテスト記録を行うと、記録ストラテジー数が多い場合は、テスト記録で光ディスク１０の広い領域を消費し、また、テスト記録に要する時間も長くかかってしまう。そこで、該記録材料系統についての最初のテスト記録｛図９（ａ）｝の結果から、信号品位が比較的良好と判断される記録パワーを判断して、その記録パワーを中心として、記録パワーを限定された範囲で（したがって、限定されたステップ段数で）変化させて、記録材料系統が同じ全記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…について順次テスト記録｛図９（ｂ）｝を行う。記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…についてテスト記録｛図９（ｂ）｝が終了したら、それを再生して、その中から信号品位が最良の記録ストラテジーを選択する（ステップＳ１９）。
【００２４】
最良の記録ストラテジーが選択されたら、図９（ｃ）に示すように、該選択された記録ストラテジーを使用して、記録パワーを最初のテスト記録｛図９（ａ）｝と同様に大きく変化させて再度テスト記録を行う（ステップＳ１１）。テスト記録後これを再生して、信号品位を判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。信号品位が良好と判定された場合は、今回のテスト記録の再生信号特性の測定結果から、前記図４のように、最良の信号品位が得られるときのアシンメトリ値βを目標アシンメトリ値βtとして求める。また、今回のテスト記録の再生信号特性の測定結果から、前記図５のように、記録パワー対アシンメトリ値β特性（実線）を求め、該特性を最小二乗法などで近似して直線または二次近似式（点線）を求め、該近似式から、目標アシンメトリ値βtを実現するレーザパワー値Ｐtを最適記録パワーとして求める（ステップＳ１４）。この求められた最適記録パワー値ＰtをＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路２２にＡＬＰＣ目標値として設定し、選択された記録ストラテジーを記録ストラテジー回路２０に設定して（ステップＳ７）、本番記録待機状態となり（ステップＳ８）、ユーザーによる本番記録開始指令を待って本番記録を開始する。選択された記録ストラテジーはディスクＩＤと組み合わせてメモリ２８に記憶され、次回該当するディスクＩＤが読み取られたときに、該記憶された記録ストラテジーを読み出してＯＰＣテスト記録が行われる。なお、再テスト記録｛図９（ｃ）｝の結果、選択された記録ストラテジーでは良好な信号品位が得られない場合｛例えば、Ｃ１エラーレートが所定値以下となり、かつ、ジッタ値が所定値以下となるアシンメトリ値βが存在しない場合｝は、記録を中止する（ステップＳ１５）。
【００２５】
ところで、ＣＤ−Ｒディスク、ＣＤ−ＲＷディスクを高速で記録、高速でアクセスする方法として、ＣＡＶ記録、ＣＡＶ再生がある。ＣＡＶ記録の場合、記録速度（線速度）が徐々に変化する（上がっていく）ので、テスト記録を何点かの記録速度について行って記録ストラテジーを選択するのが好ましい。その手法の一例を図１０を参照して説明する。図１０は、記録ストラテジーがメモリ２８に保存されている光ディスクの場合で、はじめに、該記録ストラテジーを用いて、記録パワーを大きく変化させて、所定の速度でテスト記録｛図１０（ａ）｝を行う。該テスト記録を再生して、良好な信号品位が得られる場合は該記録ストラテジーを選択し、さらに、該テスト記録結果から最適記録パワーを求めて、本番記録を行う。
【００２６】
良好な信号品位が得られない場合は、使用している光ディスク１０と記録材料が同じ系統に属する自己以外の光ディスクについて用意されている全記録ストラテジーＳＴＲ１，ＳＴＲ２，ＳＴＲ３，…について、それぞれ複数の記録速度（８倍速、１２倍速、…）で順次テスト記録｛図１０（ｂ）｝を行う。この場合、最初のテスト記録｛図１０（ａ）｝の結果から、信号品位が比較的良好と判断される記録パワーを判断して、その記録パワーを中心として、記録パワーを限定された範囲で（したがって、限定されたステップ段数で）変化させてテスト記録を行う。テスト記録｛図１０（ｂ）｝が終了したら、それを再生して、その中から各記録速度における信号品位の平均が最良の記録ストラテジーを選択する。最良の記録ストラテジーが選択されたら、図１０（ｃ）に示すように、該選択された記録ストラテジーを使用して、記録パワーを最初のテスト記録｛図１０（ａ）｝と同様に大きく変化させて再度テスト記録を行う。テスト記録後これを再生して、信号品位を判定する。信号品位が良好と判定された場合は、今回のテスト記録｛図１０（ｃ）｝の測定結果から最適記録パワーを求めて、本番記録を行う。信号品位が不良と判定された場合は、ＣＡＶによる本番記録を中止する。
なお、上記の説明では、自己の記録ストラテジーを使用した最初のテスト記録｛図１０（ａ）｝で良好な信号品位が得られたら、即その記録ストラテジーを使用するようにしたが、これに代えて、自己の記録ストラテジーを使用した最初のテスト記録｛図１０（ａ）｝で良好な信号品位が得られた場合についても、自己の記録ストラテジーを含めて、記録材料系統が同じ全記録ストラテジーについて、複数の記録速度で次のテスト記録｛図１０（ｂ）｝を行って、その中から最良の記録ストラテジーを選択することもできる。
【００２７】
また、記録ストラテジーがメモリ２８に保存されていない光ディスクについてＣＡＶ記録を行う場合は、メモリ２８に保存されている記録ストラテジーのうち、記録材料系統ごとに定められた代表的な記録ストラテジーを用いて、図１１（ａ）のように順次最初のテスト記録を行う。テスト記録後これを再生して、その中から信号品位が最良の記録材料系統を選択する。記録材料系統が選択されたら、メモリ２８に保存されている記録ストラテジーのうち、該記録材料系統を使用した光ディスクについて用意されている全記録ストラテジーを用いて、それぞれ複数の記録速度について、次のテスト記録｛図１１（ｂ）｝を行う。このとき、記録パワーは、該記録材料の最初のテスト記録｛図１１（ａ）｝の結果から、信号品位が比較的良好と判断される記録パワーを中心として、記録パワーを限定された範囲で（したがって、限定されたステップ段数で）変化させる。テスト記録｛図１１（ｂ）｝が終了したら、それを再生して、その中から各記録速度における信号品位の平均が最良の記録ストラテジーを選択する。最良の記録ストラテジーが選択されたら、該選択された記録ストラテジーを使用して、記録パワーを最初のテスト記録｛図１１（ａ）｝と同様に大きく変化させて再度テスト記録を行う｛図１１（ｃ）｝。テスト記録後これを再生して、信号品位を判定する。信号品位が良好と判定された場合は、今回のテスト記録｛図１１（ｃ）｝の測定結果から最適記録パワーを求めて、本番記録に用いる。信号品位が不良と判定された場合は、ＣＡＶによる本番記録を中止する。
【００２８】
上記の説明では、１つの記録ストラテジーを選択してＣＡＶ記録を行うようにしたが、ＣＡＶ記録で徐々に変化する記録速度に応じて記録ストラテジーを変化させることもできる。その手法の一例を図１２を参照して説明する。ＣＡＶ記録で記録速度が標準速の８倍から１２倍の範囲にわたり変化するものとし、８倍速での最良の記録ストラテジー｛ＳＴＲ（×８）｝と１２倍速での最良の記録ストラテジー｛ＳＴＲ（×１２）｝が異なるものとする。このとき、補正前の記録信号波形｛図１２（ａ）｝に対し、ディスク内周側での８倍速記録時は、８倍速用に選択された記録ストラテジーＳＴＲ（×８）で補正し｛図１２（ｂ）。この例では、波形立上り部分の時間軸補正量が、３Ｔは８nsec、１１Ｔは４nsecの場合を示す。｝、ディスク外周側の１２倍速記録時は、１２倍速用に選択された記録ストラテジーＳＴＲ（×１２）で補正し｛図１２（ｄ）。この例では、波形立上り部分の時間軸補正量が、３Ｔは４nsec、１１Ｔは８nsecの場合を示す。｝、その中間位置では、記録速度倍率に応じて、両記録ストラテジーＳＴＲ（×８）、ＳＴＲ（×１２）を段階的に補間した記録ストラテジーで補正して｛図１２（ｃ）｝、ＣＡＶ記録を行う。補間による記録ストラテジーの変更は、ゆっくりでよいので、ＣＡＶによる本番記録中に、マイコン２６が記録ストラテジーの補間値を順次演算して、適宜のタイミングで記録ストラテジー回路２０の記録ストラテジーを更新すればよい。
【００２９】
上記実施の形態では、波形補正量の情報が、時間軸補正量の情報である場合について説明したが、波形の一部に付加する付加パルス（パワード付加パルス、トップパワー付加パルス等と称される）のパルス振幅、パルス幅等の情報を含ませることもできる。また、上記実施の形態では、この発明をＣＤ規格の光ディスク記録に適用した場合について示したが、ＤＶＤ規格等のマーク長記録方式の他の規格の光ディスク記録にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の記録方法を実施する光ディスク記録装置のシステム構成の概要を示すブロック図である。
【図２】  図１の光ディスク記録装置による記録ストラテジーおよび記録パワーを設定するための手順を示すフローチャートである。
【図３】  ＯＰＣ制御による記録パワーの変化を示す線図である。
【図４】  ＯＰＣ制御により求められるアシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性およびアシンメトリ値β対ジッタ値特性を示す線図である。
【図５】  ＯＰＣ制御により求められる記録パワー対アシンメトリ値β特性を示す線図である。
【図６】  ＯＰＣ制御による記録パワーの変化を示す線図である。
【図７】  ＯＰＣ制御により求められたアシンメトリ値β対Ｃ１エラーレート特性に基づいて最良の記録ストラテジーを選択する手法を説明する図である。
【図８】  ＯＰＣ制御により求められたアシンメトリ値β対ジッタ値特性に基づいて最良の記録ストラテジーを選択する手法を説明する図である。
【図９】  ＯＰＣ制御による記録パワーの変化を示す線図である。
【図１０】  ＯＰＣ制御による記録パワーの変化を示す線図である。
【図１１】  ＯＰＣ制御による記録パワーの変化を示す線図である。
【図１２】  ＣＡＶ記録で徐々に変化する記録速度に応じて記録ストラテジーを変化させる手法を説明する波形図である。
【符号の説明】
１０…光ディスク、２０…記録ストラテジー回路、２２…ＡＬＰＣ制御およびＯＰＣ書込回路、２４…ＯＰＣ読込回路、２８…メモリ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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