(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザをデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに連続的に照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルの変化を検出するステップと、
前記反射率レベルの変化に応じて、前記光ディスクに対する再生条件を変更して設定するステップと、
を含む再生条件制御方法。
【請求項２】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出するステップと、
前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して所定時間又は所定回数前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出するステップと、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出するステップと、
反射率レベルの変化量又は変化率と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、算出された前記反射率レベルの変化量又は変化率に対応する前記再生条件の補償量を特定する補償量特定ステップと、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップと、
を含む再生条件制御方法。
【請求項３】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出する第１検出ステップと、
前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出する第２検出ステップと、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出するステップと、
前記反射率レベルの変化量又は変化率が所定の閾値を超えている場合には、時間又はレーザ照射回数と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、前記第１検出ステップと前記第２検出ステップとの間の時間又はレーザ照射回数に対応する前記再生条件の補償量を特定するステップと、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップと、
を含む再生条件制御方法。
【請求項４】
前記再生条件が、再生時のレーザパワーのレベル又はスピンドルモータの回転速度である請求項１乃至３のいずれか１つ記載の再生条件制御方法。
【請求項５】
前記補償量特定ステップが、
前記反射率レベルの変動態様が直線型、飽和型又は指数関数型のいずれであるかを特定するステップと、
特定された前記変動態様に応じて、前記反射率レベルの変化量又は変化率と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを特定するステップと、
を含む請求項２記載の再生条件制御方法。
【請求項６】
光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザをデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに連続的に照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルの変化を検出する手段と、
前記反射率レベルの変化に応じて、前記光ディスクに対する再生条件を変更して設定する手段と、
を有する光ディスク・ドライブ装置。
【請求項７】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出する手段と、
前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して所定時間又は所定回数前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出する手段と、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出する手段と、
反射率レベルの変化量又は変化率と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、算出された前記反射率レベルの変化量又は変化率に対応する前記再生条件の補償量を特定する手段と、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定する手段と、
を有する光ディスク・ドライブ装置。
【請求項８】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出する第１検出処理と、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出する第２検出処理とを実施する手段と、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出する手段と、
前記反射率レベルの変化量又は変化率が所定の閾値を超えている場合には、時間又はレーザ照射回数と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、前記第１検出処理と前記第２検出処理との間の時間又はレーザ照射回数に対応する前記再生条件の補償量を特定する手段と、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定する手段と、
を有する光ディスク・ドライブ装置。
【請求項９】
光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザをデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに連続的に照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルの変化を検出するステップと、
前記反射率レベルの変化に応じて、前記光ディスクに対する再生条件を変更して設定するステップと、
を、プロセッサに実行させるためのプログラム。
【請求項１０】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出するステップと、
前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して所定時間又は所定回数前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出するステップと、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出するステップと、
反射率レベルの変化量又は変化率と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、算出された前記反射率レベルの変化量又は変化率に対応する前記再生条件の補償量を特定するステップと、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップと、
をプロセッサに実行させるためのプログラム。
【請求項１１】
光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである初期反射率レベルを検出する第１検出ステップと、
前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックに対して前記マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、前記光ディスクのデータ記録がなされていない領域の所定のトラックからの戻り光による反射率レベルである第２の反射率レベルを検出する第２検出ステップと、
前記初期反射率レベルと前記第２の反射率レベルとから反射率レベルの変化量又は変化率を算出するステップと、
前記反射率レベルの変化量又は変化率が所定の閾値を超えている場合には、時間又はレーザ照射回数と前記光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、前記第１検出ステップと前記第２検出ステップとの間の時間又はレーザ照射回数に対応する前記再生条件の補償量を特定するステップと、
特定された前記再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップと、
をプロセッサに実行させるためのプログラム。
【請求項１２】
請求項９乃至１１のいずれか１つ記載のプログラムを格納したメモリを有するプロセッサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク・ドライブ装置において、書き込み可能な光ディスクの記録状態の劣化を防止又は抑制するための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば特開２００６−３０９９２１号公報には、光記録媒体の再生耐久性の評価が短時間で精度高く評価することができる光記録媒体の評価方法が開示されている。具体的には、記録層を記録動作温度に加熱するための動作レーザパワーを求め、データ再生時に所定の再生レーザパワーのレーザビームを照射した際の記録層の温度を、データ再生時の周囲温度及び再生レーザパワー並びに動作レーザパワーに基づいて求め、データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係を求め、データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係からデータ再生時の記録層の温度と上記再生耐久回数との関係を求める。しかしながら、どのようにすれば耐久性を保持しつつ再生を行うことができるかについて考察されていない。
【特許文献１】特開２００６−３０９９２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
光ディスクに記録された情報を再生するには当該光ディスクに再生パワーのレーザ光を照射するが、規格の上、１００万回以上の、再生パワーによるレーザ照射に耐えられるようにしなければならない。これまでＣＤやＤＶＤにおいては、さほど大きな問題とはならなかったが、Ｂｌｕ-ｒａｙ規格やＨＤ−ＤＶＤ規格のような高容量光ディスクに対して、より短波長のレーザを用いるようになると、書き込み可能な光ディスクにおいて、繰り返し再生による記録状態の劣化が発生しやすくなり、再生耐久性の問題が大きくなる。
【０００４】
本来、商品化される全ての光ディスク・ドライブと全ての光ディスク自体の組み合わせにおいて、十分な再生耐久性を持ち、いかなる再生環境においても再生劣化を生じない、又は記録再生システムにおいて問題となるレベルに達しないといった形が理想であるが、実際には、光ディスク・ドライブのレーザや光ディスクには生産時の個体ばらつきや経時変化が存在し、外環温度変動等の外乱も影響するので、従来技術で、十分なマージンを確保することは難しい。
【０００５】
従って、本発明の目的は、書き込み可能な光ディスクの再生耐久性を確保するための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続的に照射し、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化を検出するステップと、信号状態の変化に応じて、光ディスクに対する再生条件を変更して設定するステップとを含む。このように再生条件を適応的に制御することによって、光ディスクの再生耐久性を確保することができるようになる。
【０００７】
本発明の第２の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクの所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、光ディスクの所定のトラックからの戻り光による信号状態である初期信号状態を検出するステップと、光ディスクの所定のトラックに対して所定時間又は所定回数マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、光ディスクの所定のトラックからの戻り光による信号状態である第２の信号状態を検出するステップと、初期信号状態と第２の信号状態とから信号状態の変化量又は変化率を算出するステップと、信号状態の変化量又は変化率と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、算出された信号状態の変化量又は変化率に対応する再生条件の補償量を特定するステップと、特定された再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップとを含む。信号状態の変化量又は変化率が大きいほど、この光ディスクの再生耐久性が低いことが分かる。従って、信号状態の変化量又は変化率と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用意すれば、適切な再生条件に調整することができ、再生耐久性を確保することができるようになる。
【０００８】
本発明の第３の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクの所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、光ディスクの所定のトラックからの戻り光による信号状態である初期信号状態を検出する第１検出ステップと、光ディスクの所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、光ディスクの所定のトラックからの戻り光による信号状態である第２の信号状態を検出する第２検出ステップと、初期信号状態と第２の信号状態とから信号状態の変化量又は変化率を算出するステップと、信号状態の変化量又は変化率が所定の閾値を超えている場合には、時間又はレーザ照射回数（ディスクが１回転して、同一位置にレーザ光が繰り返し照射される回数をレーザ照射回数とする。以下同じ。）と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、第１検出ステップと第２検出ステップとの間の時間又はレーザ照射回数に対応する再生条件の補償量を特定するステップと、特定された再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップとを含む。レーザの照射時間又はレーザ照射回数が短いうちに信号状態の変化量又は変化率が所定の閾値を超えた場合には、この光ディスクの再生耐久性が低いことが分かる。従って、時間又はレーザ照射回数と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用意すれば、適切な再生条件に調整することができ、再生耐久性を確保することができるようになる。
【０００９】
本発明の第４の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクの所定のトラックに所定の記録条件でデータ記録を行うステップと、所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、所定のトラックからの戻り光による信号状態である初期信号状態を検出するステップと、光ディスクの所定のトラックに対して所定時間又は所定回数マーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、光ディスクの所定のトラックからの戻り光による信号状態である第２の信号状態を検出するステップと、初期信号状態と第２の信号状態とから信号状態の変化量又は変化率を算出するステップと、信号状態の変化量又は変化率と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、算出された信号状態の変化量又は変化率に対応する再生条件の補償量を特定するステップと、特定された再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップとを含む。例えばテスト記録領域に実際に所定の符号パターンを記録することによって、実際の再生に近い環境において信号状態の変化量又は変化率を取得することができるようになる。すなわち、より適切に再生条件の調整を行うことができるようになる。
【００１０】
本発明の第５の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクの所定のトラックに所定の記録条件でデータ記録を行うステップと、所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを照射し、所定のトラックからの戻り光による信号状態である初期信号状態を検出する第１検出ステップと、所定のトラックに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射し、所定のトラックからの戻り光による信号状態である第２の信号状態を検出する第２検出ステップと、初期信号状態と第２の信号状態とから信号状態の変化量又は変化率を算出するステップと、信号状態の変化量又は変化率が所定の閾値を超えている場合には、時間又はレーザ照射回数と光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータを用いて、第１検出ステップと第２検出ステップとの間の時間又はレーザ照射回数に対応する再生条件の補償量を特定するステップと、特定された再生条件の補償量を反映させた後の再生条件を設定するステップとを含む。
【００１１】
また、本発明の第１乃至第３の態様における信号状態が、反射率レベルである場合もある。また、本発明の第１、第４及び第５の態様における信号状態が、データ記録における所定符号の電圧レベル、β値、アシンメトリ値、ジッタ値、エラー値のいずれかである場合もある。
【００１２】
さらに、上で述べた再生条件が、再生時のレーザパワーのレベル又はスピンドルモータの回転速度である場合もある。
【００１３】
本発明の第６の態様に係る再生条件制御方法は、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続的に照射した結果生ずる、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化に関する情報を、当該信号状態の変化に関する情報を格納する光ディスクドライブ内のメモリ又は光ディスクから読み出すステップと、信号状態の変化に関する情報に応じて、光ディスクに対する再生条件を変更して設定するステップとを含む。このように信号状態の変化に関する情報を光ディスク・ドライブ装置で算出することなく、光ディスク・ドライブ装置内のメモリ又は光ディスクから読み出す場合もある。なお、再生耐久性が考慮された再生条件が、光ディスク・ドライブ装置内のメモリ又は光ディスクから読み出され、設定される場合もある。
【００１４】
本発明の第７の態様に係る光ディスクは、当該光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射した結果生ずる、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化量又は変化率と、光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータが記録されたものである。このような光ディスクが用意されれば、上で述べたような処理を行うことができ、適切な再生条件が設定されて、再生耐久性を確保できるようになる。
【００１５】
本発明の第８の態様に係る光ディスクは、当該光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射した結果生ずる、所定のトラックからの戻り光による信号状態の変化量又は変化率が所定の閾値を超えた場合におけるレーザ照射開始からの時間又はレーザ照射回数と、光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータが記録されたものである。
【００１６】
本発明の第９の態様に係る光ディスク・ドライブ装置は、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射した結果生ずる、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化量又は変化率と、光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータが記録されているメモリを有する。
【００１７】
本発明の第１０の態様に係る光ディスク・ドライブ装置は、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続して照射した結果生ずる、所定のトラックからの戻り光による信号状態の変化量又は変化率が所定の閾値を超えた場合におけるレーザ照射開始からの時間又はレーザ照射回数と、光ディスクに対する再生条件の補償量との関係を表すデータが記録されているメモリを有する。
【００１８】
本発明の第１１の態様に係る光ディスクは、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続的に照射した結果生ずる、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化に関する情報と光ディスクに対するデータ再生条件とのうち少なくともいずれかが記録されたものである。このようにすれば、上で述べたような処理を行うことができ、適切な再生条件が設定されて、再生耐久性を確保できるようになる。
【００１９】
本発明の第１２の態様に係る光ディスク・ドライブ装置は、光ディスクに対してマーク形成レベルより低いパワーレベルのレーザを連続的に照射した結果生ずる、光ディスクからの戻り光による信号状態の変化に関する情報と、信号状態の変化に応じて決定され且つ前記光ディスクの再生品位を劣化させることのない又は前記光ディスクの再生品位を劣化を抑制し得る前記光ディスクに対するデータ再生条件とのうち少なくともいずれかを格納するメモリを有する。
【００２０】
本発明の方法をプロセッサに実行させるためのプログラムを作成することができ、当該プログラムは、例えばフレキシブル・ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置若しくはプロセッサの不揮発性メモリに格納される。また、ネットワークを介してディジタル信号にて頒布される場合もある。なお、処理途中のデータについては、プロセッサのメモリ等の記憶装置に一時保管される。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、書き込み可能な光ディスクの再生耐久性を確保することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
［実施の形態１］
本発明の第１の実施の形態におけるドライブ・システムの機能ブロック図を図１を用いて説明する。本発明の実施の形態に係るドライブ・システムは、光ディスク・ドライブ装置１００と、テレビ受像器などの表示部とリモートコントローラなどの操作部とを含む入出力システム（図示せず）とを含む。
【００２３】
光ディスク・ドライブ装置１００は、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データなどを格納するメモリ１２７と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路１２６を含むＣＰＵ（中央演算装置：Central Processing Unit）などから構成される制御回路１２５と、入出力システムとのインターフェースであるインターフェース部（Ｉ／Ｆ）１２８と、再生信号であるＲＦ信号の振幅レベル（最大振幅レベル又は最小振幅レベル）等を検出する特性値検出部１２４と、再生信号であるＲＦ信号から２Ｔ乃至８Ｔ符号（例えばＢｌｕ-ｒａｙ規格の場合。Ｂｌｕ-ｒａｙ規格の場合同期符号の９Ｔも識別する。また、ＨＤ−ＤＶＤ規格の場合、２Ｔ乃至１１Ｔ符号と同期符号の１３Ｔを識別する。）のいずれが読み出されたかを復号するための処理などを行う等化器１３１及びデータ復調回路１２３と、ピックアップ部１１０と、制御回路１２５から出力される記録すべきデータに対して所定の変調を行い、レーザ・ダイオード（ＬＤ）ドライバ１２１に出力するデータ変調回路１２９と、ＬＤドライバ１２１と、光ディスク１５０の回転制御部及びスピンドルモータ１３３並びにピックアップ部１１０用のサーボ制御回路１３２等を含む。
【００２４】
また、ピックアップ部１１０は、対物レンズ１１４と、ビームスプリッタ１１６と、検出レンズ１１５と、コリメートレンズ１１３と、ＬＤ１１１と、フォトディテクタ（ＰＤ）１１２とを含む。ピックアップ部１１０では、サーボ制御回路１３２の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。
【００２５】
制御回路１２５は、メモリ１２７、特性値検出部１２４、Ｉ／Ｆ１２８、ＬＤドライバ１２１、データ変調回路１２９、サーボ制御回路１３２などに接続されている。また、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２、制御回路１２５などに接続されている。ＬＤドライバ１２１は、データ変調回路１２９、制御回路１２５及びＬＤ１１１に接続されている。制御回路１２５は、Ｉ／Ｆ１２８を介して入出力システムにも接続されている。
【００２６】
次に、光ディスク１５０に対してデータを記録する場合における処理の概要を説明する。まず、制御回路１２５は、データ変調回路１２９に、光ディスク１５０に記録すべきデータに対して所定の変調処理を実施させ、データ変調回路１２９は変調処理後のデータをＬＤドライバ１２１に出力する。なお、制御回路１２５は、サーボ制御回路１３２を介してスピンドルモータ１３３を所定の回転速度で回転するように制御している。ＬＤドライバ１２１は、指定の記録条件（ストラテジ及びパラメータ）に従って、受信したデータでＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介して光ディスク１５０に照射され、光ディスク１５０にマークとスペースを形成する。なお、本実施の形態では、データ記録ができない光ディスク・ドライブ装置１００であってもよい。
【００２７】
また、光ディスク１５０に記録されたデータを再生する場合における処理の概要を説明する。制御回路１２５からの指示に従ってＬＤドライバ１２１は、ＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。なお、制御回路１２５は、サーボ制御回路１３２を介してスピンドルモータ１３３を所定の回転速度で回転するように制御している。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介して光ディスク１５０に照射される。光ディスク１５０からの反射光は、対物レンズ１１４、ビームスプリッタ１１６、検出レンズ１１５を介してＰＤ１１２に入力される。ＰＤ１１２は、光ディスク１５０からの反射光を電気信号に変換し、特性値検出部１２４等に出力する。等化器１３１及びデータ復調回路１２３等は、出力された再生信号に対して所定の復号処理を行い、復号されたデータを制御回路１２５及びＩ／Ｆ１２８を介して、入出力システムの表示部に出力して、再生データを表示させる。特性値検出部１２４は、通常の再生では用いられない。
【００２８】
次に図２乃至図５を用いて本実施の形態に係る処理について説明する。まず、ユーザは、再生すべきデータが記録された光ディスク１５０（少なくとも１度はデータ書き込み可能な光ディスク）を光ディスク・ドライブ装置１００にセットする。そして、制御回路１２５は、予めメモリ１２７等に格納されている、データ再生位置（例えばテスト領域内の所定のトラック）、レーザパワーレベル、及びスピンドルモータ１３３の回転速度等の初期設定情報を読み出し、ＬＤドライバ１２１やサーボ制御回路１３２等に設定する（ステップＳ１）。なお、レーザパワーレベルは、通常の再生レーザパワーレベルより高い値を採用することが好ましい。これは、短時間で以下で説明する再生信号の変化が生ずるようにするためである。
【００２９】
次に、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１に、上で述べたデータ再生位置に対してレーザ照射を開始させる（ステップＳ３）。レーザ照射は連続して行われる。レーザ照射が開始されると、光ディスク１５０からの戻り光がＰＤ１１２で電気信号に変換され、特性値検出部１２４に出力される。特性値検出部１２４は、戻り光による信号状態を検出し、制御回路１２５に出力すると共に、制御回路１２５は、メモリ１２７に格納する（ステップＳ５）。ステップＳ５は、ステップＳ３の直後と、所定時間経過後（又は所定回数レーザ照射後）の少なくとも２回実施される。但し、より多くの回数ステップＳ５を実施することによって、信号状態の変動態様（例えば直線型、飽和型や指数関数型など）を特定するようにしても良い。
【００３０】
なお、再生劣化が生じていない場合、図３（縦軸は電圧レベルを表し、横軸は時間を表す）の実線Ｒｅｆ．で示すように、特性値検出部１２４では、ほぼ一定の電圧レベルが検出される。電圧レベルは、光ディスク１５０の反射率レベルを反映したものであり、ここでは、反射率は一定ということを示している。これに対して、繰り返し再生を行うことによって信号劣化が生ずると、電圧レベルは変化する。一般的には、光ディスク１５０がLow to Highタイプの場合には、点線で表すように高電圧側に変化する。また、光ディスク１５０がHigh to Lowタイプの場合には、一点鎖線で表すように低電圧側に変化する。すなわち、反射率が変化する。
【００３１】
なお、光ディスク１５０からの戻り光による電圧レベルを直接用いるのではなく、何らかの他の指標を算出するようにして、当該指標値を信号状態として用いるようにしても良い。
【００３２】
従って、ステップＳ３の直後に検出した電圧レベルを基準信号状態又は初期信号状態としてメモリ１２７に格納しておき、所定時間経過後にどのような信号状態となるかを特定する。
【００３３】
ステップＳ５の検出が終了した時点で、制御回路１２５はＬＤドライバ１２１にレーザ照射を終了させる。そして、制御回路１２５は、検出された信号状態の変動特性を導出する（ステップＳ７）。具体的には、基準信号状態である第１の電圧レベルと、所定時間経過後の信号状態である第２の電圧レベルとの差（即ち変化量）又は変化率（＝差／第１の電圧レベル）を算出する。上でも述べたように、信号状態の変動態様を併せて特定するようにしても良い。
【００３４】
その後、制御回路１２５は、導出された信号状態の変動特性に応じた、再生条件の補償量を特定する（ステップＳ９）。例えば、メモリ１２７に、信号状態の変動特性と適用すべき補償量との対応テーブル、又は信号状態の変動特性から適用すべき補償量を算出する式のデータを格納しておき、当該対応テーブル又は式を用いて、導出された信号状態の変動特性に応じた補償量を特定する。変動特性に変動態様を含む場合には、例えば各タイプに応じた対応テーブル又は式を用意する。なお、以下でも述べるが、メモリ１２７ではなく、光ディスク１５０に対応テーブル又は式を記録しておき、光ディスク１５０から読み出すようにしても良い。
【００３５】
例えば、再生劣化が大きい光ディスク１５０に対しては、レーザパワーレベルをより大きく下げる必要があり、再生劣化があまりない光ディスク１５０に対しては、レーザパワーレベルをあまり下げないという方式を採用しても良い。具体的には、図４（縦軸は再生パワー補償量を表し、横軸は信号状態変化量を表す）に示すように、信号状態変化量と再生パワー補償量（通常の再生条件に「加算」することを前提としているので、負の方向に大きくなる。）との関係は右下がりの曲線で表される。すなわち、信号状態変化量が増加すれば、再生パワー補償量の絶対値は増加する。なお、信号状態変化量が所定の閾値以下である場合には、再生パワーを変更する必要がないので、補償量が０となっている。また、補償を大きくし過ぎるとデータ再生時の再生信号のＣ／Ｎ比が悪化するので、補償の上限も設定することが好ましい。なお、図４の曲線は一例であって、他の形状カーブで表される場合もある。
【００３６】
また、再生劣化が大きい光ディスク１５０に対しては、スピンドルモータ１３３の回転速度（又は回転数）をより大きくしてレーザ照射の時間を短縮し、再生劣化があまりない光ディスク１５０に対しては、スピンドルモータ１３３の回転速度をあまり大きくしないという方式を採用しても良い。具体的には、図５（縦軸は再生時スピンドル回転速度補償量を表し、横軸は信号状態変化量を表す）に示すように、信号状態変化量と再生時のスピンドル回転速度補償量との関係は右上がりの曲線で表される。なお、信号状態変化量が所定の閾値以下である場合は、スピンドルモータ１３３の回転速度を変更する必要がないので、補償量が０となっている。また、補償量を大きくし過ぎるとデータ再生時の再生信号のＣ／Ｎ比が悪化するので、補償量の上限も設定することが好ましい。なお、図５の曲線は一例であって、他の形状カーブで表される場合もある。
【００３７】
このように再生条件には、再生時のレーザパワーレベルの場合やスピンドルモータ１３３の回転速度の場合もあるが、その他の再生条件を調整するようにしても良い。また、図４又は図５に示すような関係を、テーブル状のデータで保持しても良いし、式の形式で保持するようにしても良い。
【００３８】
そして、制御回路１２５は、特定された再生条件の補償量を通常の再生条件に反映させた再生条件を、ＬＤドライバ１２１又はサーボ制御回路１３２に設定する（ステップＳ１１）。すなわち、通常の再生条件に補償量を加算して、この後のデータ再生のための再生条件を特定し、レーザパワーレベルが再生条件である場合にはＬＤドライバ１２１に設定し、スピンドルモータ１３３の回転速度が再生条件である場合にはサーボ制御回路１３２に設定する。
【００３９】
このような処理を、データ再生の実施前に実施することにより、再生劣化を防止又は抑制することができる。すなわち、データ書き込みが可能な光ディスク１５０に対する再生耐久性を確保することができるようになる。
【００４０】
［実施の形態２］
本発明の第２の実施の形態に係るドライブ・システムの機能ブロック図は図１に示した第１の実施の形態のものと同じである。但し、図６で示すような処理を実施する。
【００４１】
まず、ユーザは、再生すべきデータが記録された光ディスク１５０（少なくとも１度はデータ書き込み可能な光ディスク）を光ディスク・ドライブ装置１００にセットする。そして、制御回路１２５は、予めメモリ１２７等に格納されている、データ再生位置（例えばテスト領域内の所定のトラック）、レーザパワーレベル、及びスピンドルモータ１３３の回転速度等の初期設定情報を読み出し、ＬＤドライバ１２１やサーボ制御回路１３２等に設定する（ステップＳ２１）。なお、レーザパワーレベルは、通常の再生レーザパワーレベルより高い値を採用することが好ましい。
【００４２】
次に、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１に、上で述べたデータ再生位置に対してレーザ照射を開始させる（ステップＳ２３）。レーザ照射は連続して行われる。レーザ照射が開始されると、光ディスク１５０からの戻り光がＰＤ１１２で電気信号に変換され、特性値検出部１２４に出力される。特性値検出部１２４は、戻り光による信号状態を検出し、制御回路１２５に出力すると共に、制御回路１２５は、メモリ１２７に格納する（ステップＳ２５）。信号状態については第１の実施の形態で説明したものと同様である。まず、ステップＳ２３の直後の信号状態を基準信号状態又は初期信号状態として検出する。また、初めてのステップＳ２３実行から経過時間の測定又はレーザ照射回数の計数を開始する。
【００４３】
そして、制御回路１２５は、経過時間が所定時間に達したか又はレーザ照射回数が所定回数に達したか判断する（ステップＳ２７）。経過時間が所定時間に達していない場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達していない場合、ステップＳ２５に戻る。一方、経過時間が所定時間に達した場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達した場合には、制御回路１２５はＬＤドライバ１２１にレーザ照射を終了させる。そして、制御回路１２５は、検出された信号状態の変動特性を導出する（ステップＳ２９）。具体的には、基準信号状態である第１の電圧レベルと、所定時間経過後の信号状態である第２の電圧レベルとの差（即ち変化量）又は変化率（＝差／第１の電圧レベル）を算出する。第１の実施の形態で説明したように、信号状態の変動態様を併せて特定するようにしても良い。
【００４４】
その後、制御回路１２５は、導出された信号状態の変動特性に応じた、再生条件の補償量を特定する（ステップＳ３１）。例えば、メモリ１２７に、信号状態の変動特性と適用すべき補償量との対応テーブル、又は信号状態の変動特性から適用すべき補償量を算出する式のデータを格納しておき、当該対応テーブル又は式を用いて、導出された信号状態の変動特性に応じた補償量を特定する。変動特性に変動態様を含む場合には、例えば各タイプに応じた対応テーブル又は式を用意する。なお、メモリ１２７ではなく、光ディスク１５０に対応テーブル又は式を記録しておき、光ディスク１５０から読み出すようにしても良い。ステップＳ３１についても、第１の実施の形態におけるステップＳ９と同様である。
【００４５】
第１の実施の形態と同様に、再生条件には、再生時のレーザパワーレベルの場合やスピンドルモータ１３３の回転速度の場合もあるが、その他の再生条件を調整するようにしても良い。
【００４６】
そして、制御回路１２５は、特定された再生条件の補償量を通常の再生条件に反映させた再生条件を、ＬＤドライバ１２１又はサーボ制御回路１３２に設定する（ステップＳ３３）。すなわち、通常の再生条件に補償量を加算して、この後のデータ再生のための再生条件を特定し、レーザパワーレベルが再生条件である場合にはＬＤドライバ１２１に設定し、スピンドルモータ１３３の回転速度が再生条件である場合にはサーボ制御回路１３２に設定する。
【００４７】
このような処理を、データ再生の実施前に実施することにより、再生劣化を防止又は抑制することができる。すなわち、データ書き込みが可能な光ディスク１５０に対する再生耐久性を確保することができるようになる。
【００４８】
［実施の形態３］
本発明の第３の実施の形態に係るドライブ・システムの機能ブロック図は図１に示した第１の実施の形態のものと同じである。但し、図７で示すような処理を実施する。
【００４９】
まず、ユーザは、再生すべきデータが記録された光ディスク１５０（少なくとも１度はデータ書き込み可能な光ディスク）を光ディスク・ドライブ装置１００にセットする。そして、制御回路１２５は、予めメモリ１２７等に格納されている、データ再生位置（例えばテスト領域内の所定のトラック）、レーザパワーレベル、及びスピンドルモータ１３３の回転速度等の初期設定情報を読み出し、ＬＤドライバ１２１やサーボ制御回路１３２等に設定する（ステップＳ４１）。なお、レーザパワーレベルは、通常の再生レーザパワーレベルより高い値を採用することが好ましい。
【００５０】
次に、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１に、上で述べたデータ再生位置に対してレーザ照射を開始させる（ステップＳ４３）。レーザ照射は連続して行われる。レーザ照射が開始されると、光ディスク１５０からの戻り光がＰＤ１１２で電気信号に変換され、特性値検出部１２４に出力される。特性値検出部１２４は、戻り光による信号状態を検出し、制御回路１２５に出力すると共に、制御回路１２５は、メモリ１２７に格納する（ステップＳ４５）。信号状態については第１の実施の形態で説明したものと同様である。まず、ステップＳ４３の直後の信号状態を基準信号状態又は初期信号状態として検出する。また、初めてのステップＳ４３実行から経過時間の測定又はレーザ照射回数の計数を開始する。
【００５１】
そして、制御回路１２５は、信号状態がターゲットレベルに達したか判断する（ステップＳ４７）。ターゲットレベルは、Low to Highの光ディスク１５０の場合には基準信号状態に所定割合α（例えば５％）だけ上乗せされたレベルである。High to Lowの光ディスク１５０の場合には、基準信号状態を所定割合αだけ減じたレベルである。すなわち、再生劣化が生じていて、基準信号状態から所定割合α以上信号状態が変化したか判断する。
【００５２】
信号状態がターゲットレベルに達していない場合には、制御回路１２５は、経過時間が所定時間に達したか又はレーザ照射回数が所定回数に達したか判断する（ステップＳ４９）。経過時間が所定時間に達していない場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達していない場合、ステップＳ４５に戻る。一方、経過時間が所定時間に達した場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達した場合には、再生劣化が小さいため、所定時間又は所定回数に達しても、信号状態がターゲットレベルまで変化しない場合であり、そのような場合レーザ照射を中止してステップＳ５１に移行する。
【００５３】
また、信号状態がターゲットレベルに達した場合には、制御回路１２５はＬＤドライバ１２１にレーザ照射を終了させる。そして、制御回路１２５は、光ディスク１５０の再生耐久性指標を導出する（ステップＳ５１）。
【００５４】
図８（縦軸は正規化した電圧を表し、横軸は時間を表す）の曲線ａやｂで示すように、光ディスク１５０がLow to Highの場合には、再生劣化が生じていると、レーザの照射時間（又は回数）が増加すると電圧が上昇する。再生劣化しやすい光ディスク１５０の場合には、曲線ｂで示すようにターゲットレベル（例えば１＋α）に達する時間ｂ（劣化時間と呼ぶ）が短くなる。一方、再生劣化しにくい光ディスク１５０の場合には、曲線ａで示すようにターゲットレベル（例えば１＋α）に達する劣化時間ａが長くなる。従って、劣化時間（又は回数を計数する場合には劣化回数）は、再生耐久性指標として用いることができる。なお、High to Lowの光ディスク１５０の場合にも、劣化時間又は劣化回数は、再生耐久性指標として用いることができる。
【００５５】
但し、ステップＳ４９で所定時間又は所定回数に達したと判断された場合には、所定時間又は所定回数に適切な値（０を含む）を加えた値を劣化時間又は劣化回数として用いる。
【００５６】
その後、制御回路１２５は、導出された再生耐久性指標に応じた、再生条件の補償量を特定する（ステップＳ５３）。例えば、メモリ１２７に、再生耐久性指標と適用すべき補償量との対応テーブル、又は再生耐久性指標から適用すべき補償量を算出する式のデータを格納しておき、当該対応テーブル又は式を用いて、導出された再生耐久性指標に応じた補償量を特定する。なお、メモリ１２７ではなく、光ディスク１５０に対応テーブル又は式を記録しておき、光ディスク１５０から読み出すようにしても良い。
【００５７】
再生条件がレーザパワーの場合には図９に示すような補償量の特定が行われる。図９は、縦軸は再生パワー補償量を表し、横軸は再生耐久性指標を表す。このように、再生耐久性指標が小さい値の場合には再生パワー補償量の絶対値は大きくなり、再生耐久性指標が増加すると比例して再生パワー補償量の絶対値は減少して、ある程度再生耐久性指標が増加すると再生パワー補償量は０となる。なお、補償を大きくし過ぎるとデータ再生時の再生信号のＣ／Ｎ比が悪化するので、補償の上限も設定することが好ましい。なお、図９の曲線は一例であって、他の形状カーブで表される場合もある。
【００５８】
再生条件がスピンドルモータ１３３の回転速度（又は回転回数）の場合には図１０のような補償量の特定が行われる。図１０は、縦軸が再生スピンドル回転速度補償量を表し、横軸は再生耐久性指標を表す。このように、再生耐久性指標が小さい値の場合には再生スピンドル回転速度補償量は大きな値となり、再生耐久性指標が増加するとそれに応じて再生スピンドル回転速度補償量は０に近づく。そして、ある程度再生耐久性指標が増加すると再生スピンドル回転速度補償量は０となる。なお、補償を大きくし過ぎるとデータ再生時の再生信号のＣ／Ｎ比が悪化するので、補償の上限も設定することが好ましい。なお、図１０の曲線は一例であって、他の形状カーブで表される場合もある。
【００５９】
そして、制御回路１２５は、特定された再生条件の補償量を反映させた再生条件を、ＬＤドライバ１２１又はサーボ制御回路１３２に設定する（ステップＳ５５）。すなわち、通常の再生条件に補償量を加算して、この後のデータ再生のための再生条件を特定し、レーザパワーレベルが再生条件である場合にはＬＤドライバ１２１に設定し、スピンドルモータ１３３の回転速度が再生条件である場合にはサーボ制御回路１３２に設定する。
【００６０】
このような処理を、データ再生の実施前に実施することにより、再生劣化を防止又は抑制することができる。すなわち、データ書き込みが可能な光ディスク１５０に対する再生耐久性を確保することができるようになる。
【００６１】
［実施の形態４］
本発明の第４の実施の形態に係るドライブ・システムの機能ブロック図は図１に示した第１の実施の形態のものと同じである。第１乃至第３の実施の形態では、データ記録がなされていない領域に対してレーザを照射して、再生劣化の程度を擬似的に特定していたが、本実施の形態では、テスト記録を行って実際に所定の符号を書き込んだ上で再生を行って、再生劣化の程度を実際に特定する。以下、図１１及び図１２を用いて処理を説明する。
【００６２】
まず、ユーザは、再生すべきデータが記録された光ディスク１５０（少なくとも１度はデータ書き込み可能な光ディスク）を光ディスク・ドライブ装置１００にセットする。そして、制御回路１２５は、予めメモリ１２７等に格納されている、データ記録位置（例えばテスト領域内の所定のトラック）、記録レーザパワーレベル、再生レーザパワーレベル、及びスピンドルモータ１３３の回転速度等の初期設定情報を読み出し、ＬＤドライバ１２１やサーボ制御回路１３２等に設定する（ステップＳ６１）。なお、再生レーザパワーレベルは、通常の再生レーザパワーレベルより高い値を採用することが好ましい。
【００６３】
次に、制御回路１２５は、所定の符号列をデータ変調回路１２９に出力し、ＬＤドライバ１２１及びＬＤ１１１を介して所定の符号列を光ディスク１５０の所定のトラックに記録させる（ステップＳ６３）。
【００６４】
そして、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１に、上で述べた所定のトラックに対して上で述べたように設定された再生レーザパワーレベルでレーザ照射を開始させることによって、データ再生を開始させる（ステップＳ６５）。レーザ照射は連続して行われる。レーザ照射が開始されると、光ディスク１５０からの戻り光がＰＤ１１２で電気信号に変換され、特性値検出部１２４に出力される。特性値検出部１２４は、戻り光による再生信号の信号状態を検出し、制御回路１２５に出力する。
【００６５】
例えば、Ｂｌｕ-ｒａｙ規格のLow to Highの場合における再生信号（２Ｔ乃至８Ｔ符号）の電圧レベルは図１２に示されるようなものである。図１２では、縦軸は電圧を表し、横軸は時間を表す。Low to Highタイプであれば、２Ｔマークを再生するとＩ２Ｈレベルを、２Ｔスペースを再生するとＩ２Ｌレベルを得ることができ、３Ｔマークを再生するとＩ３Ｈレベルを３Ｔスペースを再生するとＩ３Ｌレベルを得ることができる。８Ｔマークを再生するとＩ８Ｈレベルを、８Ｔスペースを再生するとＩ８Ｌレベルとを得ることができる。繰り返しデータ再生を行って再生劣化が生ずれば、これらの電圧レベルは、データ記録がない実施の形態と同様に、光ディスク１５０がLow to Highの場合には高電圧側に変化し、光ディスク１５０がLow to Highの場合には低電圧側に変化する。なお、符号によってその変動量は異なる場合が多く、符号間のバランスが崩れ、記録品位が劣化した形となる。そこで、例えば１つの符号について特性値検出部１２４で電圧レベル（振幅レベルとも呼ぶ）を検出し、そのまま信号状態評価指標として採用するようにしても良い。複数の符号について電圧レベルを検出し、それらの値に対して何らかの演算を施し信号状態評価値を算出するようにしても良い。
【００６６】
また、単なる電圧レベルではなく、周知のβ値、アシンメトリ値、ジッタ値、エラーレート値などの評価指標を信号状態評価指標として採用するようにしても良い。そのような場合には、それらを制御回路１２５で算出するのに必要な特性値を特性値検出部１２４で検出して、制御回路１２５に出力する。
【００６７】
制御回路１２５は、特性値検出部１２４からの出力を用いて、予め定められた信号状態評価指標を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ６７）。ステップＳ６５を実施した直後に算出された信号状態評価指標の値を、信号状態評価指標の基準値又は初期値として取り扱う。
【００６８】
また、ステップＳ６５の実施から経過時間の測定又はレーザ照射回数の計数を開始する。
【００６９】
そして、制御回路１２５は、経過時間が所定時間に達したか又はレーザ照射回数が所定回数に達したか判断する（ステップＳ６９）。経過時間が所定時間に達していない場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達していない場合、ステップＳ６７に戻る。一方、経過時間が所定時間に達した場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達した場合には、制御回路１２５はＬＤドライバ１２１にレーザ照射を終了させる。そして、制御回路１２５は、信号状態評価指標の変動特性を導出する（ステップＳ７１）。具体的には、信号状態評価指標の基準値と、最後に実施したステップＳ６７で算出された信号状態評価指標の値との差（即ち変化量）又は変化率（＝差／信号状態評価指標の基準値）を算出する。例えば、信号状態評価指標の変動カーブの形など、変動態様についても特定するようにしても良い。
【００７０】
その後、制御回路１２５は、導出された信号状態評価指標の変動特性に応じた、再生条件の補償量を特定する（ステップＳ７３）。例えば、メモリ１２７に、信号状態評価指標の変動特性と適用すべき補償量との対応テーブル、又は信号状態評価指標の変動特性から適用すべき補償量を算出する式のデータを格納しておき、当該対応テーブル又は式を用いて、導出された信号状態評価指標の変動特性に応じた補償量を特定する。変動特性に変動態様を含む場合には、各タイプに応じた対応テーブル又は式を用意する。なお、メモリ１２７ではなく、光ディスク１５０に対応テーブル又は式を記録しておき、光ディスク１５０から読み出すようにしても良い。
【００７１】
再生条件については、第１の実施の形態と同様に再生時のレーザパワーレベルやスピンドルモータ１３３の回転速度などである。従って、図４で述べた信号状態変化量と再生パワー補償量と、信号状態評価指標の変動特性と再生パワー補償量との関係はほぼ同じである。同様に、図５で述べた信号状態変化量と再生時のスピンドル回転速度補償量との関係と、信号状態評価指標の変動特性と再生時のスピンドル回転速度補償量との関係は、ほぼ同様である。
【００７２】
第１の実施の形態と同様に、再生条件には、再生時のレーザパワーレベルの場合やスピンドルモータ１３３の回転速度の場合もあるが、その他の再生条件を調整するようにしても良い。
【００７３】
そして、制御回路１２５は、特定された再生条件の補償量を通常の再生条件に反映させた再生条件を、ＬＤドライバ１２１又はサーボ制御回路１３２に設定する（ステップＳ７５）。すなわち、通常の再生条件に補償量を加算して、この後のデータ再生のための再生条件を特定し、レーザパワーレベルが再生条件である場合にはＬＤドライバ１２１に設定し、スピンドルモータ１３３の回転速度が再生条件である場合にはサーボ制御回路１３２に設定する。
【００７４】
このような処理を、データ再生の実施前に実施することにより、再生劣化を防止又は抑制することができる。すなわち、データ書き込みが可能な光ディスク１５０に対する再生耐久性を確保することができるようになる。
【００７５】
［実施の形態５］
本発明の第５の実施の形態に係るドライブ・システムの機能ブロック図は図１に示した第１の実施の形態のものと同じである。本実施の形態でもテスト記録を行って実際に所定の符号を書き込んだ上で再生を行って、再生劣化の程度を実際に特定する。以下、図１３を用いて処理を説明する。
【００７６】
まず、ユーザは、再生すべきデータが記録された光ディスク１５０（少なくとも１度はデータ書き込み可能な光ディスク）を光ディスク・ドライブ装置１００にセットする。そして、制御回路１２５は、予めメモリ１２７等に格納されている、データ記録位置（例えばテスト領域内の所定のトラック）、記録レーザパワーレベル、再生レーザパワーレベル、及びスピンドルモータ１３３の回転速度等の初期設定情報を読み出し、ＬＤドライバ１２１やサーボ制御回路１３２等に設定する（ステップＳ８１）。なお、再生レーザパワーレベルは、通常の再生レーザパワーレベルより高い値を採用することが好ましい。
【００７７】
次に、制御回路１２５は、所定の符号列をデータ変調回路１２９に出力し、ＬＤドライバ１２１及びＬＤ１１１を介して所定の符号列を光ディスク１５０の所定のトラックに記録させる（ステップＳ８３）。
【００７８】
そして、制御回路１２５は、ＬＤドライバ１２１に、上で述べた所定のトラックに対して上で述べたように設定された再生レーザパワーレベルでレーザ照射を開始させることによって、データ再生を開始させる（ステップＳ８５）。レーザ照射は連続して行われる。レーザ照射が開始されると、光ディスク１５０からの戻り光がＰＤ１１２で電気信号に変換され、特性値検出部１２４に出力される。特性値検出部１２４は、戻り光による再生信号の信号状態を検出し、制御回路１２５に出力する。この処理は第４の実施の形態のステップＳ６５と同じである。すなわち、例えば１つの符号について特性値検出部１２４で電圧レベルを検出し、そのまま信号状態評価指標として採用するようにしても良い。複数の符号について電圧レベルを検出し、それらの値に対して何らかの演算を施し信号状態評価値を算出するようにしても良い。また、単なる電圧レベルではなく、周知のβ値、アシンメトリ値、ジッタ値、エラーレート値などの評価指標を信号状態評価指標として採用するようにしても良い。
【００７９】
制御回路１２５は、特性値検出部１２４からの出力を用いて、予め定められた信号状態評価指標を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ８７）。ステップＳ８５を実施した直後に算出された信号状態評価指標の値を、信号状態評価指標の基準値又は初期値として取り扱う。
【００８０】
また、ステップＳ８５の実施から経過時間の測定又はレーザ照射回数の計数を開始する。
【００８１】
そして、制御回路１２５は、信号状態評価指標の値がターゲットレベルに達したか判断する（ステップＳ８９）。ターゲットレベルは、再生劣化が進むと増加するような信号状態評価指標の場合には信号状態評価指標の基準値に所定割合α（例えば５％）だけ上乗せされたレベルである。再生劣化が進むと減少するような信号状態評価指標の場合には信号状態評価指標の基準値を所定割合αだけ減じたレベルである。すなわち、再生劣化が生じていて、信号状態評価指標の基準値から所定割合α以上信号状態が変化したか判断する。
【００８２】
信号状態評価指標の値がターゲットレベルに達していない場合には、制御回路１２５は、経過時間が所定時間に達したか又はレーザ照射回数が所定回数に達したか判断する（ステップＳ９１）。経過時間が所定時間に達していない場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達していない場合、ステップＳ８７に戻る。一方、経過時間が所定時間に達した場合、又はレーザ照射回数が所定回数に達した場合には、再生劣化が小さいため、所定時間又は所定回数に達しても、信号状態がターゲットレベルまで変化しない場合であり、そのような場合レーザ照射を中止してステップＳ９３に移行する。
【００８３】
また、信号評価指標の値がターゲットレベルに達した場合には、制御回路１２５はＬＤドライバ１２１にレーザ照射を終了させる。そして、制御回路１２５は、光ディスク１５０の再生耐久性指標を導出する（ステップＳ９３）。再生耐久性指標については、第３の実施の形態と同様の考え方を採用する。すなわち、再生劣化が大きい場合には信号状態評価指標の値が早くターゲットレベルに到達し、再生劣化が小さい場合には信号状態評価指標の値がなかなかターゲットレベルに到達しないという性質から、ターゲットレベルに到達するまでの時間である劣化時間又はターゲットレベルに到達するためのレーザ照射回数である劣化回数を、再生耐久性指標として採用する。
【００８４】
但し、ステップＳ９１で所定時間又は所定回数に達したと判断された場合には、所定時間又は所定回数に適切な値（０を含む）を加えた値を劣化時間又は劣化回数として用いる。
【００８５】
その後、制御回路１２５は、導出された再生耐久性指標に応じた、再生条件の補償量を特定する（ステップＳ９５）。例えば、メモリ１２７に、再生耐久性指標と適用すべき補償量との対応テーブル、又は再生耐久性指標から適用すべき補償量を算出する式のデータを格納しておき、当該対応テーブル又は式を用いて、導出された再生耐久性指標に応じた補償量を特定する。なお、メモリ１２７ではなく、光ディスク１５０に対応テーブル又は式を記録しておき、光ディスク１５０から読み出すようにしても良い。この処理は、第３の実施の形態におけるステップＳ５３と同様である。すなわち、再生条件が再生レーザパワーレベルである場合には、再生耐久性指標が小さい値ほど補償量の絶対値が大きくなるように、再生耐久性指標の値が大きくなれば補償量が０に近づくようにする。再生条件がスピンドルモータ１３３の回転速度である場合には、再生耐久性指標が小さい値の場合には再生スピンドル回転速度補償量は大きな値となり、再生耐久性指標が増加するとそれに応じて再生スピンドル回転速度補償量は０に近づく。
【００８６】
そして、制御回路１２５は、特定された再生条件の補償量を反映させた再生条件を、ＬＤドライバ１２１又はサーボ制御回路１３２に設定する（ステップＳ９７）。すなわち、通常の再生条件に補償量を加算して、この後のデータ再生のための再生条件を特定し、レーザパワーレベルが再生条件である場合にはＬＤドライバ１２１に設定し、スピンドルモータ１３３の回転速度が再生条件である場合にはサーボ制御回路１３２に設定する。
【００８７】
このような処理を、データ再生の実施前に実施することにより、再生劣化を防止又は抑制することができる。すなわち、データ書き込みが可能な光ディスク１５０に対する再生耐久性を確保することができるようになる。
【００８８】
［その他の実施の形態］
上で述べた実施の形態ではレーザ照射を連続して実施し、再生信号の変化を検出して各種処理を実施している。しかし、この処理は比較的時間が長く掛かる。そこで、例えば、光ディスク・ドライブ装置１００のメモリ１２７に、光ディスク１５０の種別毎に、例えばステップＳ７（第１の実施の形態）又はＳ２９（第２の実施の形態）における変動特性、ステップＳ５１（第３の実施の形態）又はステップＳ９３の再生耐久性指標、ステップＳ７１（第４の実施の形態）の信号状態評価指標の変動特性に相当する値を、格納しておき、当該値を読み出して用いるようにしても良い。同様に、光ディスク１５０に、その光ディスク１５０についての値を記録しておくようにしても良い。
【００８９】
さらに、再生条件の補償量自体又は補償後の再生条件自体を、メモリ１２７又は光ディスク１５０に格納しておくようにしても良い。
【００９０】
また、ターゲットレベルを決定するための割合や、所定時間又は所定回数の値も、メモリ１２７又は光ディスク１５０に格納しておくようにしてもよい。
【００９１】
上で述べたように光ディスク１５０に保持させる場合には、図１４に示すようなＬｅａｄ−ｉｎ領域の中に保持しておく。Ｌｅａｄ−ｉｎ領域は、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域と、コネクション領域と、データＬｅａｄ−ｉｎ領域とに大きく分かれており、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域は、イニシャル・ゾーン、バッファ・ゾーン、コントロールデータ・ゾーン、バッファ・ゾーンを含む。また、コネクション領域は、コネクション・ゾーンを含む。さらに、データＬｅａｄ−ｉｎ領域は、ガードトラック・ゾーン、ディスクテスト・ゾーン、ドライブテスト・ゾーン、ガードトラック・ゾーン、ＲＭＤデュープリケーション・ゾーン、レコーディングマネジメント・ゾーン、Ｒ−フィジカルフォーマットインフォメーション・ゾーン、リファレンスコード・ゾーンを含む。本実施の形態では、システムＬｅａｄ−ｉｎ領域のコントロールデータ・ゾーンに、レコーディングコンディションデータ・ゾーン１７０を含むようにする。例えば、レコーディングコンディションデータ・ゾーン１７０に、上で述べたようなデータを保持しておく。
【００９２】
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図１の機能ブロック図は、実施の形態を説明するために示したもので、必ずしも実際の回路やモジュール構成と一致しない場合もある。また、処理フローについても処理結果が同じであれば処理順番を入れ替えたり、並列に実行するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本発明の実施の形態におけるドライブ・システムの機能ブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図３】再生信号の電圧レベルの時間変化を模式的に示した図である。
【図４】信号状態変化量と再生パワー補償量との関係を示す模式図である。
【図５】信号状態変化量と再生時スピンドル回転速度補償量との関係を示す模式図である。
【図６】本発明の第２の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図７】本発明の第３の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図８】再生劣化が生じている場合における電圧レベルの時間変化を表す模式図である。
【図９】再生耐久性指標と再生パワー補償量との関係を示す模式図である。
【図１０】再生耐久性指標と再生時スピンドル回転速度補償量との関係を示す模式図である。
【図１１】本発明の第４の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図１２】再生信号の電圧レベルを表す図である。
【図１３】本発明の第５の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図１４】光ディスクに格納されるデータ構造を示す図である。
【符号の説明】
【００９４】
１００  光ディスク記録再生装置
１１０  ピックアップ部    １１１  ＬＤ  
１１２  ＰＤ    １１３  コリメートレンズ
１１４  対物レンズ    １１５  検出レンズ
１１６  ビームスプリッタ    １２１  ＬＤドライバ
１２３  データ復調回路    １２４  特性値検出部
１２５  制御回路    １２６  メモリ回路
１２７  メモリ    １２８  Ｉ／Ｆ    １２９  データ変調回路
１３１  等化器    １３２  サーボ制御回路
１３３  スピンドルモータ
１５０  光ディスク
【図１】
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【図２】
0004546510.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
0004546510.tif 000007
【図７】
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【図８】
0004546510.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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