(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射されるレーザー光を出射する半導体レーザーと、全受光面の中心から同一の放射角度をもって隣接配置された複数の受光面を有し、前記複数の受光面が前記光ディスクに照射された前記レーザー光の反射光を受光した場合、前記受光面ごとの前記反射光のレベルに相当する光電変換信号を出力する光検出器と、前記光電変換信号に基づいて、前記光ディスクに対するフォーカスサーボ又はトラックサーボのための制御信号を出力する複数の演算増幅器と、前記制御信号に基づいて、前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うアクチュエータと、を有する光ピックアップ装置と、
前記制御信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うべく、前記アクチュエータを駆動する駆動部と、
前記複数の演算増幅器のゲインを設定するためのゲインデータが記憶される記憶部と、
前記記憶部から読み出される前記ゲインデータに基づいて前記複数の演算増幅器のゲインが設定された後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となるように、前記複数の演算増幅器のゲインを補正するゲイン設定部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記記憶部は、前記光ピックアップ装置の外部に設けられる、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記記憶部は、前記複数の演算増幅器の初期ゲインを設定するための初期ゲインデータを記憶し、
前記ゲイン設定部は、前記複数の演算増幅器に対して前記初期ゲインを設定した後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記複数の演算増幅器のゲインを前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となる値とするべく、前記複数の演算増幅器のゲインデータを算出する、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記ゲイン設定部が算出した前記複数の演算増幅器の前記ゲインデータを、前記初期ゲインとして前記記憶部に記憶させる書き込み部を備えた、
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記ゲイン設定部は、電源の投入時、前記複数の演算増幅器の前記ゲインデータを算出する、
ことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクに照射されるレーザー光を出射する半導体レーザーと、全受光面の中心から同一の放射角度をもって隣接配置された複数の受光面を有し、前記複数の受光面が前記光ディスクに照射された前記レーザー光の反射光を受光した場合、前記受光面ごとの前記反射光のレベルに相当する光電変換信号を出力する光検出器と、前記光電変換信号に基づいて、前記光ディスクに対するフォーカスサーボ又はトラックサーボのための制御信号を出力する複数の演算増幅器と、前記制御信号に基づいて、前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うアクチュエータと、を有する光ピックアップ装置と、
前記制御信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うべく、前記アクチュエータを駆動する駆動部と、
前記複数の演算増幅器の初期ゲインを設定するための初期ゲインデータが記憶される、前記光ピックアップ装置の内部の第１記憶部と、
前記複数の演算増幅器のゲインを調整するための調整ゲインデータが記憶される、前記光ピックアップ装置の外部の第２記憶部と、
前記第１記憶部から読み出される前記初期ゲインデータにて前記複数の演算増幅器の初期ゲインを設定した後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となる値とするべく、前記第２記憶部から読み出される前記調整ゲインデータにて前記複数の演算増幅器のゲインを調整するゲイン設定部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスクに照射されるレーザー光を出射する半導体レーザーと、全受光面の中心から同一の放射角度をもって隣接配置された複数の受光面を有し、前記複数の受光面が前記光ディスクに照射された前記レーザー光の反射光を受光した場合、前記受光面ごとの前記反射光のレベルに相当する光電変換信号を出力する光検出器と、前記光ディスクに対するフォーカスサーボ又はトラックサーボを行うためのアクチュエータと、を有する光ピックアップ装置と、
前記光電変換信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うための制御信号を出力する前記光ピックアップ装置の外部の複数の演算増幅器と、
前記制御信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うべく、前記アクチュエータを駆動する駆動部と、
前記複数の演算増幅器のゲインを設定するためのゲインデータが記憶される記憶部と、
前記記憶部から読み出される前記ゲインデータに基づいて前記複数の演算増幅器のゲインが設定された後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となるように、前記複数の演算増幅器のゲインを補正するゲイン設定部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報の記録／再生のための記録媒体として光ディスク（例えば、ＣＤ（Compact Disc、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等）が普及している。そして、光ディスクの普及に伴い、当該光ディスクから情報の記録／再生を行うための光ディスク装置が普及している。この光ディスク装置は、一般的に、光ピックアップ装置、ＡＳＰ（Analog Signal Processor）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、モータドライバ等から構成されている。また、光ピックアップ装置は、光ディスクに対してレーザー光を出射するための半導体レーザー、光ディスクからのレーザー光の反射光を受光するための光検出器等から構成されている。
【０００３】
これらの構成からなる光ディスク装置は、光ディスクに対してレーザー光を正確に照射させるべく、光検出器から出力される反射光のレベルに相当する光電変換信号に基づいて各種サーボ制御のための信号を生成している。一例を示すと、光ディスク装置は、光ディスクの信号層にレーザー光を合焦させるためのフォーカスサーボ、光ディスクのトラックにレーザー光を追従させるためのトラックサーボを行うべく、基準直流値と最大振幅値の１／２とが一致する特性（以下、基準値に対するＳ字特性という。図９（ａ）参照）のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を生成している。そして、このフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に基づいて、光ピックアップ装置のアクチュエータを駆動させ光軸方向の制御（フォーカスサーボ）、径方向の制御（トラックサーボ）することにより、光ディスクに対してレーザー光が正確に照射されることとなる。このため、これら各種サーボ制御のためのフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号の基となる光検出器が出力する光電変換信号は、反射光のレベルに相当する正確な信号であることが要求される。
【０００４】
しかしながら、光検出器が出力する光電変換信号は、光検出器の特性や光ピックアップ装置の特性等によってばらつきが発生する可能性があった。そのため、当該ばらつきの影響を受けたフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が生成される可能性があった。例えば、図９（ｂ）に示すような、基準直流値と最大振幅値の１／２とに差（オフセット）が生じた特性のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号が生成される可能性があった（基準直流値に対するＳ字特性のバランス変化、レベル変位等）。この場合、従来の光ディスク装置においては、ＡＳＰにおけるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を生成する演算処理において、例えば基準直流値と最大振幅値の１／２との差を補正する直流値を重畳させ、当該フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に発生するオフセットを補正する調整処理（バランス調整、レベル調整等）が施されていた。
【０００５】
ところで、光検出器は、光ディスクに対するレーザー光の照射状態に対応した正確な光電変換信号を出力するべく、光ピックアップ装置の光学ハウジングに高精度に位置決めされて取り付けられることとなる。以下、図１０を参照しつつ、光検出器の位置決めについて詳述する。光検出器は、光ディスクからの反射光を受光するための、例えば全受光面を４つに分割した受光面Ａ乃至Ｄを有している。このように全受光面を受光面Ａ乃至Ｄに分割する分割線Ｏ、Ｐは、互いに直交し、フォーカスサーボにおいて非点収差法、差動非点収差法等を採用したときの非点収差の発生方向に対して、略４５°の角度となるように設けられる。また、分割線Ｐの方向は、トラックサーボにおいてプッシュプル法、差動プッシュプル法、３ビーム法等を採用したとき、トラックの接線方向を示すように設けられる。
【０００６】
このような４つの受光面Ａ乃至Ｄを有する光検出器は、例えば、光ディスクに対してレーザー光が正確に照射されたとき、当該レーザー光の反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して略均等に照射されるように（図１０（ａ）参照）位置決めされて、光学ハウジングに取り付けられることとなる。つまり、光検出器は、光ディスクに対してレーザー光が正確に照射されたとき、分割線Ｏ、Ｐの交点と反射光の中心が略一致するように位置決めされることとなる。そして、このように光検出器を位置決めし、（受光面Ａにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号＋受光面Ｃにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号）−（受光面Ｂにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号＋受光面Ｄにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号）を演算処理することによって、正確なフォーカスエラー信号を生成することが可能となる。また、（受光面Ａにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号＋受光面Ｄにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号）−（受光面Ｂにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号＋受光面Ｃにおける反射光のレベルに相当する光電変換信号）を演算処理することによって、正確なトラッキングエラー信号を生成することが可能となる。
【特許文献１】特開２００２−３２９２４号公報
【特許文献２】特開２００５−７１４５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、光学ハウジングに対する光検出器の取り付けは、取付時における誤差や取付時の残留応力、或いは光検出器をハウジングに固着するための接着剤の塗布量誤差等によって、位置決めされる位置に対して光検出器の位置ずれが発生する可能性があった。或いは、取り付け当初は位置決めされる位置に光検出器を取り付けることが可能であっても、経時変化（例えば、温度変化、湿度変化、衝撃・振動等）によって光検出器の位置ずれが発生する可能性があった。このため、光ディスクに対してレーザー光が正確に照射されているにもかかわらず、当該光ディスクからの反射光が、例えば図１０（ｂ）に示すように照射される可能性があった。つまり、４つの受光面Ａ乃至Ｄに対して反射光が略均等に照射されなくなる可能性があった。そして、当該照射状態において光検出器から光電変換信号が出力され、本来であれば、フォーカスサーボ、トラックサーボ等の各種サーボ制御を行う必要がないにもかかわらず、フォーカスエラー信号、トラキングエラー信号が生成される可能性があった。そして、当該フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に基づいたフォーカスサーボやトラックサーボが行われることにより、光ディスクに対してレーザー光が正確に照射されなくなり、当該光ディスクに対する情報の記録／再生が不能となる可能性があった。或いは、光ディスクに対する正確な情報の記録／再生が行えない可能性があった。
【０００８】
そこで、上述のような課題を解決する手段として、例えば、前述のＡＳＰの演算処理において、光検出器の位置ずれが発生時に生成されるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に対して調整処理を施す方法が考えられる。しかしながら、光検出器の位置ずれの大きさによっては、ＡＳＰにおける調整可能な範囲を超えてしまう可能性があった。さらに、ＡＳＰが本来果たすべき性能面を確保するためには、光検出器の位置ずれに対する調整処理にも限界がある。
【０００９】
そこで、本発明は、光検出器の位置ずれが発生しているにもかかわらず、フォーカスサーボ又はトラックサーボのための正確な信号を出力可能な光ディスク装置、光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記課題を解決するための発明は、光ディスクに照射されるレーザー光を出射する半導体レーザーと、全受光面の中心から同一の放射角度をもって隣接配置された複数の受光面を有し、前記複数の受光面が前記光ディスクに照射された前記レーザー光の反射光を受光した場合、前記受光面ごとの前記反射光のレベルに相当する光電変換信号を出力する光検出器と、前記光電変換信号に基づいて、前記光ディスクに対するフォーカスサーボ又はトラックサーボのための制御信号を出力する複数の演算増幅器と、前記制御信号に基づいて、前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うアクチュエータと、を有する光ピックアップ装置と、前記制御信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うべく、前記アクチュエータを駆動する駆動部と、前記複数の演算増幅器のゲインを設定するためのゲインデータが記憶される記憶部と、前記記憶部から読み出される前記ゲインデータに基づいて前記複数の演算増幅器のゲインが設定された後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となるように、前記複数の演算増幅器のゲインを補正するゲイン設定部と、を備えたことを特徴とする。
【００１１】
また、光ディスクに照射されるレーザー光を出射する半導体レーザーと、全受光面の中心から同一の放射角度をもって隣接配置された複数の受光面を有し、前記複数の受光面が前記光ディスクに照射された前記レーザー光の反射光を受光した場合、前記受光面ごとの前記反射光のレベルに相当する光電変換信号を出力する光検出器と、前記光電変換信号に基づいて、前記光ディスクに対するフォーカスサーボ又はトラックサーボのための制御信号を出力する複数の演算増幅器と、前記制御信号に基づいて、前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うアクチュエータと、を有する光ピックアップ装置と、前記制御信号に基づいて、前記アクチュエータが前記フォーカスサーボ又は前記トラックサーボを行うべく、前記アクチュエータを駆動する駆動部と、前記複数の演算増幅器の初期ゲインを設定するための初期ゲインデータが記憶される、前記光ピックアップ装置の内部の第１記憶部と、前記複数の演算増幅器のゲインを調整するための調整ゲインデータが記憶される、前記光ピックアップ装置の外部の第２記憶部と、前記第１記憶部から読み出される前記初期ゲインデータにて前記複数の演算増幅器の初期ゲインを設定した後、前記複数の演算増幅器から出力される前記制御信号の最大振幅値に対する重畳する直流値の割合が所定値を超え、且つ、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されていないと判別された場合、前記反射光が前記複数の受光面に均等に照射されることと等価となる値とするべく、前記第２記憶部から読み出される前記調整ゲインデータにて前記複数の演算増幅器のゲインを調整するゲイン設定部と、を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、光検出器の位置ずれが発生しているにもかかわらず、フォーカスサーボ又はトラックサーボのための正確な信号を出力可能な光ディスク装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１５】
＜＜第１の実施形態＞＞
＝＝＝光ディスク装置１の全体構成＝＝＝
図１、図２を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置１の全体構成について説明する。図１は、本発明に係る光ディスク装置１の全体構成の一例を示す機能ブロック図である。図２は、図１に示す光検出器１１の構成の一例を示す機能ブロック図である。尚、以下に示す光ディスク装置１は、光ディスク９に対するフォーカスサーボとして例えば非点収差法を採用し、トラックサーボとして例えばプッシュプル法を採用するものとして、以下説明する。
【００１６】
先ず、図１を参照しつつ、光ディスク装置１の各構成について説明する。光ディスク装置１は、光ピックアップ装置２、スピンドルモータ３、信号処理部４、ＣＰＵ（Central Processing Unit）５、メモリ６（記憶部）、ゲイン設定部７、ドライバ８（駆動部）から構成される。
【００１７】
光ピックアップ装置２は、半導体レーザー１０、光検出器１１、アクチュエータ１２を有している。尚、本発明の要旨に関係していないため不図示としたが、光ピックアップ装置２は、一般的な光ピックアップ装置が有する各種光学系（コリメータレンズ、ビームスプリッタ、対物レンズ、アナモフィックレンズ等）、フロントモニタダイオード等を有している。
【００１８】
半導体レーザー１０は、信号処理部４からの信号に基づくレーザー駆動回路（不図示）からの制御電圧が印加されることにより、光ディスク９の規格に対応する波長（光ディスク９がＣＤ規格である場合：７８０〜７９０ｎｍ、ＤＶＤ規格である場合：６５０〜６６０ｎｍ）のレーザー光を出射する。半導体レーザー１０が出射するレーザー光の強度は、フロントモニタダイオードが当該レーザー光を受光することにより、光ディスク９の媒体の種類（例えば、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）、ＤＶＤ−Ｒ／＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Random Access Memory））に対応し、また、記録／再生処理に対応した強度とするべくサーボ制御される。
【００１９】
光検出器１１は、光ディスク９からのレーザー光の反射光が受光される。以下、図２を参照しつつ、光検出器１１の構成について詳述する。光検出器１１は、反射光を受光するための４つの受光面Ａ乃至Ｄ（複数の受光面）、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ（複数の演算増幅器）、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄを有している。全受光面を受光面Ａ乃至Ｄに分割する分割線Ｏ、Ｐは、互いに直交し、フォーカスサーボにおいて非点収差法を採用したときの非点収差の発生方向に対して、略４５°の角度となるように設けられる。また、分割線Ｐの方向は、トラックサーボにおいてプッシュプル法を採用したとき、トラックの接線方向を示すように設けられる。この結果、受光面Ａ乃至Ｄは、全受光面の中心（分割線Ｏ、Ｐの交点）から同一の放射角度をもって隣接して配置されるように設けられる。
【００２０】
第１演算増幅器１７Ａは、受光面Ａにおいて受光される反射光のレベルに相当する光電変換信号を生成し、ゲイン設定部７からの信号に基づいて設定されるゲインで増幅した制御信号を、第２演算増幅器１８Ａに出力する。尚、後述のＤＳＰ１４において詳述するが、第１演算増幅器１７Ａに設定されるゲインは、トラック方向（以下、Ｘ方向という）又は径方向（以下、Ｙ方向という）における光検出器１１の位置ずれ等を補正するための値に設定される。同様に、第１演算増幅器１７Ｂは受光面Ｂに対応して設けられ、第１演算増幅器１７Ｃは受光面Ｃに対応して設けられ、第１演算増幅器１７Ｄは受光面Ｄに対応して設けられ、それぞれ前述の第１演算増幅器１７Ａと同様に動作するものとして説明を省略する。尚、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄの詳細な構成については後述する。
【００２１】
第２演算増幅器１８Ａは、第１演算増幅器１７Ａからの制御信号をゲイン設定部７からの信号に基づいて設定されるゲインで増幅した制御信号Ａ´を、信号処理部４に出力する。尚、第２演算増幅器１８Ａに設定されるゲインは、光ディスク９の媒体の種類に対応する値に設定される。同様に、第２演算増幅器１８Ｂは第１演算増幅器１７Ｂに対応して設けられ、第２演算増幅器１８Ｃは第１演算増幅器１７Ｃに対応して設けられ、第２演算増幅器１８Ｄは第１演算増幅器１７Ｄに対応して設けられ、それぞれ前述の第２演算増幅器１８Ａと同様に動作するものとして説明を省略する。これらの構成からなる光検出器１１は、半導体集積回路（所謂、ＰＤＩＣ（Photo Detector Integrated Circuit）より構成され、光ピックアップ装置２の光学ハウジングに位置決めされて取り付けられる。尚、上述した光検出器１１は、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄを有するものとして説明いるが、これに限るものではない。例えば、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄを除く光検出器１１と、当該第１第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄとを別個の集積回路として光ピックアップ装置２に設けても良い。
【００２２】
次に、再び図１を参照しつつ光ディスク装置１の各構成について説明する。スピンドルモータ３は、光ディスク９の規格に対応した、例えば角速度一定方式（ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式）、又は線速度一定方式（ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式）等で回転することによって当該光ディスク９を回転させる。例えば、スピンドルモータ３は、当該スピンドルモータ３の回転によって発生するパルス信号に基づいた制御電圧がドライバ８から印加されることにより、光ディスク９をＣＡＶ方式により回転させる。或いは、スピンドルモータ３は、信号処理部４において、光ディスク９に記録された信号から抽出される同期信号及びビットクロックを用いることにより、光ディスク９をＣＬＶ方式で回転させる。
【００２３】
信号処理部４は、ＡＳＰ１３、ＤＳＰ１４（ゲイン設定部、書き込み部）を有している。ＡＳＰ１３は、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´からＲＦ信号（ラジオ周波数信号）を生成して、最適レベルにゲインコントロールする。そして、ＡＳＰ１３は、ＲＦ信号に対してイコライジング処理を施して２値データ化する。また、ＡＳＰ１３は、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて、フォーカスエラー信号｛＝（Ａ´＋Ｃ´）−（Ｂ´＋Ｄ´）｝、トラッキングエラー信号｛＝（Ａ´＋Ｄ´）−（Ｂ´＋Ｃ´）｝を生成する。このとき、ＡＳＰ１３は、例えば図９（ｂ）に示すように、光検出器１１の位置ずれや当該光検出器１１の特性、光ピックアップ装置２の特性等に起因して、基準直流値に対して発生するフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号のオフセットを検出する。そして、ＡＳＰ１３は、オフセットが発生したフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を、基準直流値に対するＳ字特性を有する信号（図９（ａ）参照）とするべく、当該フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に重畳させるべき基準直流値に対する直流値を算出する。そして、ＡＳＰ１３は、算出した直流値を重畳させることによって、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号のバランス調整、レベル調整等の調整処理を行い、当該フォーカスエラー信号、トラッキング信号をＳ字特性を有する信号とする。このときＡＳＰ１３にて算出される直流値は、アナログデジタル変換回路（不図示）によってデジタル化されて、ＤＳＰ１４に送信される。
【００２４】
ＣＰＵ５は、光ディスク装置１の各種制御を統括するとともに、周知のディスク判別法を処理するディスク判別部１５によって、光ディスク９の媒体の種類を判別する。例えば、ＣＰＵ５（ディスク判別部１５）は、電源電圧投入時において光ディスク９の信号層を検出するべく（以下、フォーカスサーチという）出射されるレーザー光の反射光に基づいて、ＡＳＰ１３にて生成されるフォーカスエラー信号のピーク値が、光ディスク９の媒体の種類ごとに定まる閾値を超えるか否かを判別することによって、光ディスク９の媒体の種類を判別する。或いは、ＣＰＵ５（ディスク判別部１５）は、フォーカスサーチにおいて、ＡＳＰ１３にて生成されるフォーカスエラー信号の単位時間当たりの変化量の最大値が、光ディスク９の媒体の種類ごとに定まる基準値を超えるか否かを判別することによって、光ディスク９の媒体の種類を判別する。そして、ＣＰＵ５は、光ディスク９の媒体の種類を判別した判別結果を、信号処理部４に送信する。
【００２５】
ＤＳＰ１４は、光ディスク装置１への電源電圧の投入を検出すると、このときメモリ６に記憶されている第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲイン（初期ゲイン）を設定するためのデータ（以下、第１ゲインデータという。初期ゲインデータ）を読み出し、ゲイン設定部７に送信する。この第１ゲインデータの一例としては、光ディスク装置１が初めて動作する場合、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを０ｄＢとするデータを設けることが可能である。或いは、光ピックアップ装置２と光ディスク装置１を製造するメーカが独立している場合がある。この場合、光ピックアップ装置２を製造するメーカが、製造工程において、光ピックアップ装置２の性能の特性を検出するべく、光ディスク装置１と同様の構成の光ディスク装置に組み込む場合がある。そして、このとき検出される制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて第１演算増幅器１７Ａ乃至Ｄに設定するべきゲインを第１ゲインデータとしても良い。尚、本実施形態おける後述する光ディスク装置１の動作により、第１ゲインデータは、反射光に対する光検出器１１の位置状態に最も適したデータに更新されることとなる。また、ＤＳＰ１４は、フォーカスサーチにおいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄのゲインを例えば０ｄＢとするべく、当該０ｄＢを示すデータ（以下、初期データという）をゲイン設定部７に送信する。また、ＤＳＰ１４は、ＣＰＵ５からの光ディスク９の媒体の種類を判別した判別結果に基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄのゲインを設定するべく、当該判別結果に対応するデータ（以下、第２ゲインデータという）をメモリ６から読み出し、ゲイン設定部７に送信する。
【００２６】
また、ＤＳＰ１４は、ＡＳＰ１３からの２値データ化された信号に対し、光ディスク９の規格に対応するデコード処理を施し、インタフェース（Ｉ／Ｆ）を介してホストコンピュータ等に出力する。例えば、光ディスク９がＣＤである場合、ＣＤ規格においては変調コードとしてＥＦＭ（Eight Fourteen Modulation）が採用され、誤り訂正符号としてＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code）が採用されているため、ＤＳＰ１４は、これらの変調コード、誤り訂正符号に基づくデコード処理を行う。或いは、光ディスク９がＤＶＤである場合、ＤＶＤ規格においては変調コードとしてＥＦＭ−Ｐｌｕｓ（８−１６）が採用され、誤り訂正符号としてＲＳ（Reed-Solomon）Ｐｒｏｄｕｃｔ−Ｃｏｄｅが採用されているため、ＤＳＰ１４は、これらの変調コード、誤り訂正符号に基づくデコード処理を行う。この結果、光ディスク９に記録された情報が再生されることとなる。
【００２７】
また、ＤＳＰ１４は、インタフェースを介して入力される入力データに対し、光ディスク９の規格に対応するエンコード処理を施す。このＤＳＰ１４のエンコード処理は、前述の光ディスク９の規格に対応した変調コード、誤り訂正符号に基づいて施されることとなる。そして、ＤＳＰ１４は、ライトスステラジ回路（不図示）に対してエンコード処理した信号を出力する。そして、ライトステラジ回路の処理によって、レーザー駆動回路から半導体レーザー１０に印加される制御電圧が制御されることにより、光ディスク９に対して情報の記録が行われることとなる。
【００２８】
また、ＤＳＰ１４は、ＡＳＰ１３からの直流値を示すデジタル信号に基づいて、例えば、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値（図９（ｂ）参照）に対する直流値の割合が±２５（％）を超えるか否かを判別する。尚、±２５（％）という値は、ＡＳＰ１３がオフセットに対する調整処理を行うにあたって、調整処理以外の処理（例えば、前述のイコライジング、２値化処理等）を行うための性能の低下（例えば処理速度低下、処理結果の精度低下等）を招くことなく、オフセットに対する調整処理が可能となる直流値の最大値の一例を示したものである。つまり、本実施形態においては、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超える場合、ＡＳＰ１３による調整処理以外の処理を行うための性能が低下する可能性があるものとして以下説明する。尚、例えば、ＡＳＰ１３がより高性能のものである場合においては±２５（％）を超える値を設定しても良いし、ＡＳＰ１３におけるオフセットに対する調整処理にかかる負担をより軽減させたい場合においては、±２５（％）より小さい値を設定しても良い。
【００２９】
そして、ＤＳＰ１４は、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別すると、アナログデジタル変換回路（不図示）を介して、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´を検出して、第１ゲインデータに基づいて設定された第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｂのゲインの補正量を算出する。詳述すると、ＤＳＰ１４は、１００＊｛（Ａ´＋Ｂ´）−（Ｃ´＋Ｄ´）｝を算出して、Ｘ方向（図２参照）における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの有無を判別する。また、ＤＳＰ１４は、１００＊{（Ａ´＋Ｄ´）−（Ｂ´＋Ｃ´）}を算出してＹ方向（図２参照）における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの有無を判別する。尚、これらの演算処理において１００倍は、光検出器１１の位置ずれをより正確且つ確実に検出するためである。ＤＳＰ１４は、Ｘ方向又はＹ方向に対する位置ずれを判別すると（演算結果≠ゼロ）、制御信号Ａ´乃至Ｄ´の平均値{（Ａ´＋Ｂ´＋Ｃ´＋Ｄ´）／４}に対する各制御信号Ａ´乃至Ｄ´の差を算出する。そして、ＤＳＰ１４は、平均値に対する各制御信号Ａ´乃至Ｄ´の差から、それぞれに対応する第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインの補正値を算出する。詳述すると、ＤＳＰ１４は、平均値−制御信号Ａ´の演算結果から、当該制御信号Ａ´を受光面Ａ乃至Ｄに反射光が均等に照射される場合の制御信号Ａ´とするための第１演算増幅器１７Ａのゲインを算出する。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値−制御信号Ｂ´の演算結果から、当該制御信号Ｂ´を受光面Ａ乃至Ｄに反射光が均等に照射される場合の制御信号Ｂ´とするための第１演算増幅器１７Ｂのゲインを算出する。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値−制御信号Ｃ´の演算結果から、当該制御信号Ｃ´を受光面Ａ乃至Ｄに反射光が均等に照射される場合の制御信号Ｃ´とするための第１演算増幅器１７Ｃのゲインを算出する。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値−制御信号Ｄ´の演算結果から、当該制御信号Ｄ´を受光面Ａ乃至Ｄに反射光が均等に照射される場合の制御信号Ｄ´とするための第１演算増幅器１７Ｄのゲインを算出する。この結果、ＤＳＰ１４は、受光面Ａ乃至Ｄに反射光が均等に照射されることと等価となる第１演算増幅器１７Ａ乃至Ｄのゲインを算出することとなる。そして、ＤＳＰ１４は、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインの補正値を示すデータ（以下、ゲイン補正データという。ゲインデータ）をゲイン設定部７に送信する。また、ＤＳＰ１４は、ゲイン補正データを第１ゲインデータとするべく、メモリ６に記憶されている第１ゲインデータを更新する。尚、本実施形態においては、ゲイン補正データを第１ゲインデータとして更新する構成としているが、これに限るものではない。例えば、第１ゲインデータが記憶されているメモリ６のアドレスとは異なるアドレスにゲイン補正データを追記するように設けても良い。この場合、ＤＳＰ１４は、次回の光ディスク装置１の動作開始時において、メモリ６の最新のゲイン補正データが記憶されているアドレスから、当該ゲイン補正データを読み出すこととなる。
【００３０】
メモリ６は、第１ゲインデータが記憶されている。また、メモリ６は、前述したように光ディスク９の媒体の種類ごとに対応した第２ゲインデータが記憶されている。このメモリ６は、例えば電気消去することによりデータを繰り返し書き込み読み出し可能なＥＥＰＲＯＭ（Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory。フラッシュＲＯＭ（Read Only Memory）を含む）等の不揮発性記憶素子で構成される。
【００３１】
ゲイン設定部７は、電源電圧投入時におけるＤＳＰ１４からの第１ゲインデータに基づいて、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに対し当該第１ゲインデータが示すゲインを設定する。また、ゲイン設定部７は、ＤＳＰ１４からの初期データに基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに対し当該初期データが示すゲイン（０ｄＢ）を設定する。また、ゲイン設定部７は、ＤＳＰ１４からの第２ゲインデータに基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに対し当該第２ゲインデータが示すゲインを設定する。また、ゲイン設定部７は、ＤＳＰ１４からのゲイン補正データに基づいて、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに対し当該ゲイン補正データが示すゲインを設定する。
【００３２】
アクチュエータ１２は、フォーカスサーボ用のフォーカス用駆動コイル（不図示）、トラックサーボ用のトラッキング用駆動コイル（不図示）等の磁気回路部を有している。そして、アクチュエータ１２が有するこれらの制御用コイルに、信号処理部４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に基づいたドライバ８からの制御電圧が印加されることにより、光軸方向（以下、Ｚ方向という。図２参照）またはＹ方向に対物レンズを移動させるフォーカスサーボ、トラックサーボが行われることとなる。つまり、光ピックアップ装置２からのレーザー光を光ディスク９の信号層に合焦させるとともに、トラックに追従させることが可能となり、情報の記録／再生のためのレーザー光を正確に照射させることが可能となる。尚、本発明の要旨に関係しないため詳述しないが、アクチュエータ１２は、一般的なサーボ制御であるチルト制御、スレッド制御等も行う。
【００３３】
尚、上述した光ディスク装置１は、例えば、光ディスク９が設置されるディスクトレイ（不図示）を有し、当該ディスクトレイが光ディスク装置１から引き出されたとき光ディスク９の付け外しが行われる。そして、ディスクトレイは、光ディスク装置１内の光ピックアップ装置２と対向する位置に引き込まれた後は飛び出しを防止するべくロックされる。そして、例えば、イジェクト機構の操作によりロックが解除されることにより、ディスクトレイが引き出される構成となっているものとして以下説明する。
【００３４】
＝＝＝第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄの詳細＝＝＝
以下、図３を参照しつつ第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄの詳細な構成について説明する。尚、図３は、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのうち、例えば第１演算増幅器１７Ａの構成を示す回路図であって、第１演算増幅器１７Ｂ乃至１７Ｄについても同様の構成であるものとして以下説明を省略する。
【００３５】
フォトダイオード１６Ａは、受光面Ａ（図２参照）の一部を構成するものであって、アノードが接地され、カソードが第１演算増幅器１７Ａの反転入力端子（−端子）に接続される。フォトダイオード１６Ａは、受光面Ａにおいて受光される反射光のレベルに相当する電流が流れる。
【００３６】
第１演算増幅器１７Ａは、非反転入力端子（＋端子）が基準電圧Ｖrefと接続され、反転入力端子がフォトダイオード１６Ａのカソード及びスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮの一端と接続され、出力端子が第２演算増幅器１８Ａ及び帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの一端と接続される。
【００３７】
スイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮは、帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮに１対１に対応して設けられおり、当該帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮとともに反転入力端子と出力端子との間に並列接続される。スイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮは、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択的にオンする。尚、スイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮはトランジスタで構成され、例えば、ゲイン設定部７からの信号が示すハイレベルが制御電極に印加されることによりオンし、ゲイン設定部７からの信号が示すローレベルが制御電極に印加されることによりオフする。
【００３８】
帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮは、一端が出力端子と接続され、他端がスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮの他端と接続される。そして、ゲイン設定部７からの信号に基づいてスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮが選択的にオンすることにより、当該選択的にオンするスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮと接続される帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの抵抗値から定まる抵抗値（以下、帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値という。例えば、帰還抵抗２０ＡＡの抵抗値を２０ＡＡＲ、帰還抵抗２０ＡＣの抵抗値を２０ＡＣＲとし、スイッチ回路１９ＡＡ、１９ＡＣがオンした場合の抵抗値＝{２０ＡＡＲ＊２０ＡＣＲ／（２０ＡＡＲ＋２０ＡＣＲ）}が、第１演算増幅器１７Ａのゲインとして設定されることとなる。つまり、第１ゲインデータおよびゲイン補正データに基づいてゲイン設定部７がスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮを選択的にオンすることにより、当該第１ゲインデータおよびゲイン補正データが示すゲインを第１演算増幅器１７Ａに設定することが可能となる。そして、フォトダイオード１６Ａに流れる電流と、帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値との積により、当該電流に応じた電圧（光電変換信号）が生成される。また、第１演算増幅器１７Ａは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の光電変換信号との差を帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値で定まるゲインで増幅した制御信号を、第２演算増幅器１８Ａに出力する。
【００３９】
以下、前述の第１演算増幅器１７Ａと同様の構成となる第１演算増幅器１７Ｂの構成を、フォトダイオード１６Ｂ、スイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮ、帰還抵抗２０ＢＡ乃至ＢＮと称して説明する。また、第１演算増幅器１７Ｃの構成を、フォトダイオード１６Ｃ、スイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮ、帰還抵抗２０ＣＡ乃至ＣＮと称して説明する。また、第１演算増幅器１７Ｄの構成を、フォトダイオード１６Ｄ、スイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮ、帰還抵抗２０ＤＡ乃至ＤＮと称して説明する。
【００４０】
＝＝＝光ディスク装置１の動作＝＝＝
図１乃至図４を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置１の動作について説明する。図４は、光ディスク装置１の動作の一例を示すフローチャートである。尚、本実施形態においては、光検出器１１が位置決めされる位置から経時変化等により位置ずれが発生したものとし、受光面Ａ乃至Ｄが光ディスク９からの反射光を、例えば図２に示すように（実線）受光するものとして以下説明する。
【００４１】
ＤＳＰ１４は、光ディスク装置１への電源電圧の投入を検出すると（Ｓ１０１・ＹＥＳ）、メモリ６から第１ゲインデータを読み出し（Ｓ１０２）、ゲイン設定部７に送信する。ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ａに第１ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｂに第１ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｃに第１ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｄに第１ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮに信号を送信する。そして、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮがオンする。この結果、選択的にオンするスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮと接続される帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ａのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ａに対して、第１ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮと接続される帰還抵抗２０ＢＡ乃至２０ＢＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｂのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｂに対して、第１ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮと接続される帰還抵抗２０ＣＡ乃至２０ＣＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｃのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｃに対して、第１ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮと接続される帰還抵抗２０ＤＡ乃至２０ＤＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｄのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｄに対して、第１ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる（Ｓ１０３）。また、ＤＳＰ１４は、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄのゲインを０ｄＢに設定するべく、ゲイン設定部７に初期データを送信する。ゲイン設定部７は、初期データに基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに対し当該初期データが示すゲイン（０ｄＢ）を設定する（Ｓ１０４）。
【００４２】
次に、例えば、ＣＰＵ５は、光ディスク９が設置されたディスクトレイの引き込みを検出すると（Ｓ１０５）、スピンドルモータ３を回転させるべく、ドライバ８に信号を送信する。ドライバ８は、ＣＰＵ５からの信号に基づいて、スピンドルモータ３を例えばＣＡＶ方式で回転させるべく制御電圧を印加させる。この結果、スピンドルモータ３が角速度一定で回転するとともに、光ディスク９が回転される（Ｓ１０６）。次に、ＣＰＵ５は、フォーカスサーチを実行するために半導体レーザー１０からレーザー光を出射させるべく、信号処理部４に信号を送信する。信号処理部４は、ＣＰＵ５からの信号に基づいてレーザー駆動回路に信号を送信する。そして、レーザー駆動回路からの制御電圧が半導体レーザー１０に印加されることにより、光ディスク９に対して半導体レーザー１０からのレーザー光が出射される（Ｓ１０７）。
【００４３】
光ディスク９からのレーザー光の反射光は、光検出器１１の受光面Ａ乃至Ｄにて受光される。そして、受光面Ａ乃至Ｄにそれぞれ対応するフォトダイオード１６Ａ乃至１６Ｄに、反射光のレベルに相当する電流が流れる。この結果、第１演算増幅器１７Ａは、フォトダイオード１６Ａに流れる電流と帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値との積による光電変換信号を生成する。そして、第１演算増幅器１７Ａは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の光電変換信号との差を設定されたゲインで増幅し、出力端子から制御信号を出力する。第２演算増幅器１８Ａは、第１演算増幅器１７Ａからの制御信号を設定されたゲイン０ｄＢで増幅し、信号処理部４に制御信号Ａ´を出力する。同様に、第１演算増幅器１７Ｂは、フォトダイオード１６Ｂに流れる電流と帰還抵抗２０ＢＡ乃至２０ＢＮの選択抵抗値との積による光電変換信号を生成する。そして、第１演算増幅器１７Ｂは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の光電変換信号との差を設定されたゲインで増幅し、出力端子から制御信号を出力する。第２演算増幅器１８Ｂは、第１演算増幅器１７Ｂからの制御信号を設定されたゲイン０ｄＢで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｂ´を出力する。同様に、第１演算増幅器１７Ｃは、フォトダイオード１６Ｃに流れる電流と帰還抵抗２０ＣＡ乃至２０ＣＮの選択抵抗値との積による光電変換信号を生成する。そして、第１演算増幅器１７Ｃは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の光電変換信号との差を設定されたゲインで増幅し、出力端子から制御信号を出力する。第２演算増幅器１８Ｃは、第１演算増幅器１７Ｃからの制御信号を設定されたゲイン０ｄＢで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｃ´を出力する。同様に、第１演算増幅器１７Ｄは、フォトダイオード１６Ｄに流れる電流と帰還抵抗２０ＤＡ乃至２０ＤＮの選択抵抗値との積による光電変換信号を生成する。そして、第１演算増幅器１７Ｄは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の光電変換信号との差を設定されたゲインで増幅し、出力端子から制御信号を出力する。第２演算増幅器１８Ｄは、第１演算増幅器１７Ｄからの制御信号を設定されたゲイン０ｄＢで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｄ´を出力する。ＡＳＰ１３は、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて、フォーカスエラー信号｛＝（Ａ´＋Ｃ´）−（Ｂ´＋Ｄ´）｝を生成する。ＣＰＵ５は、例えば、ＡＳＰ１３にて生成されるフォーカスエラー信号のピーク値が、光ディスク９の媒体の種類ごとに定まる閾値を超えるか否かを判別することによって、光ディスク９の媒体の種類を判別する（Ｓ１０８、Ｓ１０９）。そして、ＣＰＵ５は、光ディスク９の媒体の種類を判別した判別結果を、信号処理部４に送信する。
【００４４】
ＤＳＰ１４は、ＣＰＵ５からの光ディスク９の媒体の種類を判別した判別結果に基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄのゲインを設定するべく、当該判別結果に対応する第２ゲインデータをメモリ６から読み出し、ゲイン設定部７に送信する。ゲイン設定部７は、第２ゲインデータに基づいて、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに対し当該第２ゲインデータが示すゲインを設定する（Ｓ１１０）。この結果、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに対して、光ディスク９の媒体の種類に対応したゲインが設定されたこととなる。そして、第２演算増幅器１８Ａは、第１演算増幅器１７Ａからの制御信号を第２ゲインデータが示すゲインで増幅し、信号処理部４に制御信号Ａ´を出力する。同様に、第２演算増幅器１８Ｂは、第１演算増幅器１７Ｂからの制御信号を第２ゲインデータが示すゲインで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｂ´を出力する。同様に、第２演算増幅器１８Ｃは、第１演算増幅器１７Ｃからの制御信号を第２ゲインデータが示すゲインで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｃ´を出力する。同様に、第２演算増幅器１８Ｄは、第１演算増幅器１７Ｄからの制御信号を第２ゲインデータが示すゲインで増幅し、信号処理部４に制御信号Ｄ´を出力する。
【００４５】
ＡＳＰ１３は、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて、フォーカスエラー信号｛＝（Ａ´＋Ｃ´）−（Ｂ´＋Ｄ´）｝、トラッキングエラー信号｛＝（Ａ´＋Ｄ´）−（Ｂ´＋Ｃ´）｝を生成する。このとき、受光面Ａ乃至Ｄは、光ディスク９からの反射光を図２・実線で示すように受光しているため、ＡＳＰ１３にて生成されるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号は、例えば図９（ｂ）に示すような基準直流値に対してオフセットが発生した信号となる。そこで、ＡＳＰ１３は、基準直流値に対してＳ字特性を有する信号とするべく、当該フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に重畳する直流値を算出する（Ｓ１１１）。そして、ＡＳＰ１３にて算出される直流値はデジタル化されて、ＤＳＰ１４に送信される。ＤＳＰ１４は、ＡＳＰ１３からの直流値を示すデジタル信号に基づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値（図９（ｂ）参照）に対する直流値の割合が±２５（％）を超えるか否かを判別する（Ｓ１１２）。
【００４６】
ＤＳＰ１４は、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別すると（Ｓ１１２・ＹＥＳ）、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄからの制御信号Ａ´乃至Ｄ´を検出する（Ｓ１１３）。次に、ＤＳＰ１４は、１００＊｛（Ａ´＋Ｂ´）−（Ｃ´＋Ｄ´）｝を算出して、Ｘ方向（図２参照）における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの有無を判別する（Ｓ１１４）。ＤＳＰ１４は、Ｘ方向における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれが有ると判別すると（Ｓ１１４・ＮＯ）、後述するＳ１１６の処理へと移行する。また、ＤＳＰ１４は、Ｘ方向における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれが無いと判別すると（Ｓ１１４・ＹＥＳ）、１００＊{（Ａ´＋Ｄ´）−（Ｂ´＋Ｃ´）}を算出してＹ方向（図２参照）における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの有無を判別する（Ｓ１１５）。ＤＳＰ１４は、Ｙ方向における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれが有ると判別すると（Ｓ１１５・ＮＯ）、先ず、制御信号Ａ´乃至Ｄ´の平均値{（Ａ´＋Ｂ´＋Ｃ´＋Ｄ´）／４}を算出する。そして、ＤＳＰ１４は、平均値に対する制御信号Ａ´の差に基づいて、第１演算増幅器１７Ａのゲインの補正値を算出する（Ｓ１１６）。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値に対する制御信号Ｂ´の差に基づいて、第１演算増幅器１７Ｂのゲインの補正値を算出する（Ｓ１１７）。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値に対する制御信号Ｃ´の差に基づいて、第１演算増幅器１７Ｃのゲインの補正値を算出する（Ｓ１１８）。同様に、ＤＳＰ１４は、平均値に対する制御信号Ｄ´の差に基づいて、第１演算増幅器１７Ｄのゲインの補正値を算出する（Ｓ１１９）。そして、ＤＳＰ１４は、第１演算増幅器１７Ａ乃至Ｄのゲインの補正値を示すゲイン補正データを生成する。次に、ＤＳＰ１４は、半導体レーザー１０からのレーザー光の出射を停止するべく、レーザー駆動回路に信号を送信する。そして、レーザー駆動回路からの制御電圧（例えば、０（Ｖ））が印加されることにより、光ディスク９に対する半導体レーザー１０からのレーザー光の出射が停止される（Ｓ１２０）。また、ＤＳＰ１４は、ゲイン補正データをゲイン設定部７に送信する。
【００４７】
ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ａにゲイン補正データが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｂにゲイン補正データが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｃにゲイン補正データが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｄにゲイン補正データが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮに信号を送信する。そして、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮがオンする。この結果、選択的にオンするスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮと接続される帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ａのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ａに対して、ゲイン補正データが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮと接続される帰還抵抗２０ＢＡ乃至２０ＢＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｂのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｂに対して、ゲイン補正データが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮと接続される帰還抵抗２０ＣＡ乃至２０ＣＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｃのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｃに対して、ゲイン補正データが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮと接続される帰還抵抗２０ＤＡ乃至２０ＤＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｄのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｄに対して、ゲイン補正データが示すゲインが設定されたこととなる（Ｓ１２１）。また、ＤＳＰ１４は、ゲイン補正データを第１ゲインデータとするべく、メモリ６に記憶されている第１ゲインデータを更新する（Ｓ１２２）。その後、前述のＳ１０７の処理に戻る。この結果、受光面Ａ乃至Ｄは実際の反射光を、図２・実線に示すように受光しいるにもかかわらず、図２・破線に示すように受光していることと等価となるような第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインが設定されることとなる。そして、当該ゲインが設定された第１演算増幅器１７Ａ乃至Ｄからの制御信号が出力端子から出力されることとなる。この結果、ＡＳＰ１３にて生成されるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号は、基準直流値に対してＳ字特性を有する信号となる。
【００４８】
そして、ＤＳＰ１４が、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えていないと判別すると（Ｓ１１２・ＮＯ）、直流値が重畳された後（尚、基準直流値に対してオフセットが発生しない場合、直流値の重畳は行われない）のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号がドライバ８に送信される。ドライバ８は、当該フォーカスエラー信号が光ディスク９の信号層に対する合焦ずれ、又は、トラッキングエラー信号が光ディスク９のトラックに対する追従ずれを示す信号である場合（つまり、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号がゼロで無い場合）、フォーカス用駆動コイル、トラッキング用駆動コイルに制御電圧を印加させる（Ｓ１２３）。そして、フォーカス用駆動コイル、トラッキング用駆動コイルが制御電圧に基づいて駆動することにより、対物レンズがＺ方向、又はＸ方向に移動されフォーカスサーボ、トラックサーボが行われることとなる（Ｓ１２４）。この結果、光ディスク９に対してレーザー光が正確に照射されることとなり、当該光ディスク９に対する情報の再生／記録が正確に行われることとなる（Ｓ１２５）。
【００４９】
尚、上述によれば、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインの補正をするため、制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づく算出処理（平均値−各制御信号Ａ´乃至Ｄ´の差）を行っているが、これに限るものではない。例えば、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するための複数の異なる値のゲインを示す複数のゲイン補正データを、メモリ６に予め記憶させておいても良い。詳述すると、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別したとき（Ｓ１１２・ＹＥＳ）、メモリ６から複数のゲイン補正データのうちの１のゲイン補正データを読み出してゲイン設定部７に送信する。この結果、当該１のゲイン補正データが示すゲインが第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定される。そして、再び、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えるか否かを判別する（Ｓ１１２）。そして、再び最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別すると（Ｓ１１２・ＹＥＳ）、前述の１のゲイン補正データとは異なる、複数のゲイン補正データのうちの１のゲイン補正データを読み出してゲイン設定部７に送信する。このように、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えないと判別する（Ｓ１１２・ＮＯ）まで、メモリ６に記憶された複数のゲイン補正データを順次読み出し、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインに設定するように設けても良い。或いは、全ての複数のゲイン補正データが示すゲインを、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインに設定し、最大振幅値に対する直流値の割合が最も小さくなると判別したとき（若しくは、最大振幅値に対する直流値の割合がゼロ）、当該最大振幅値に対する直流値の割合が最も小さくなるゲイン補正データが示すゲインを、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインに設定するように設けても良い。
【００５０】
また、上述によれば、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別したとき（Ｓ１１２・ＹＥＳ）、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを補正するべく処理を行っているが、これに限るものではない。例えば、図４・Ｓ１１０からＳ１１１の間において、Ｓ１１４、Ｓ１１５の処理を行って、Ｘ方向又はＹ方向における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれを判別したとき（Ｓ１１４・ＮＯ、Ｓ１１５・ＮＯ）、Ｓ１１６からの処理を行うように設けることも可能である。この結果、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えるか否かを判別する（Ｓ１１２）必要がなくなり、ＤＳＰ１４における処理負担を軽減することが可能となる。
【００５１】
また、上述によれば、フォーカスサーボにおいて非点収差法、トラックサーボとしてプッシュプル法を採用し、半導体レーザー１０からのレーザー光が回折されないものとして説明したが、これに限るものではない。例えば、フォーカスサーボにおいて差動非点収差法等、トラックサーボにおいて差動プッシュプル法、３ビーム法等を用いる場合、光ピックアップ装置２の光学系においてレーザー光を回折する回折格子（不図示）を設け、レーザー光が回折格子によって回折した後の０次光、±１次回折光の反射光を受光すべく３つの光検出器１１を設けても良い。そして、各光検出器１１に対して４つの受光面Ａ乃至Ｄ（又は、±１次回折光の反射光に対しては２つの受光面）を設け、差動非点収差法等によるフォーカスエラー信号、差動プッシュプル法等によるトラッキングエラー信号を生成することとしても良い。
【００５２】
また、上述における第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄの構成については、本発明の要旨に関係しないため省略したが、例えば、図３に示すような第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄと同様の構成としても良い。そして、ゲイン設定部７からの第２ゲインデータに応じた信号に基づいて、スイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮが閉じることによって、光ディスク９の媒体に種類に対応したゲインが第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに設定されるように設けても良い。
【００５３】
また、上述によれば、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのための第１ゲインデータと、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄのための第２ゲインデータ及び初期データとがともにメモリ６に記憶されるものとして説明したが、これに限るものではない。例えば、メモリ６を第１ゲインデータを記憶するための専用のものとしても良い。この結果、例えば、メモリ６は、第１ゲインデータのゲイン補正データへの更新が必要となるためデータを繰り返し書き込み読み出し可能なＥＥＰＲＯＭ等で構成されるが、第２ゲインデータ及び初期データともに更新の必要がないため、ＣＰＵ５が処理を行うためのプログラムデータ等が記憶されるＲＯＭ等に記憶させることも可能となる。つまり、メモリ６における記憶可能な容量を軽減することが可能となり、光ディスク装置１に係るコストの軽減、回路配置の簡略化を図ることが可能となる。
【００５４】
上述した実施形態によれば、メモリ６から読み出される第１ゲインデータ（又はゲイン補正データが更新された後の第１ゲインデータ）に基づいて、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを、反射光が受光面Ａ乃至Ｄに均等に照射されることと等価となる値とするべく調整することが可能となる。この結果、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの影響が防止（又は軽減）された信号とすることが可能となる。そして、当該制御信号に基づいて、フォーカスサーボ又はトラックサーボを良好に行うことが可能となる。また、光ピックアップ装置２の製造工程において、光検出器１１の位置決めの精度を厳密にすることなく粗調整で行うことが可能となる。何故ならば、光ディスク装置１において、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号と等価となるようなゲインを算出処理するためである。この結果、光ピックアップ装置２の製造において、光検出器１１の位置決めのためのコストの軽減、煩雑さの軽減を図ることが可能となる。
【００５５】
また、光ディスク装置１におけるメモリ６を、光ピックアップ装置２の外部に設けることによって、光ピックアップ装置２に係るコストの軽減、回路配置の容易化を図ることが可能となる。
【００５６】
また、メモリ６に予め記憶されている第１ゲインデータが示すゲインに第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定したときの制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて、ゲイン補正データを算出することが可能となる。この結果、予め記憶されている第１ゲインデータが、光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれを正確に補正可能となるゲインではない場合であっても、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを、反射光が受光面Ａ乃至Ｄに均等に照射されることと等価となる値とするべく調整することが可能となる。
【００５７】
また、最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別したとき、ゲイン補正データを算出することが可能となる。この結果、従来技術におけるＡＳＰ１３の直流値の重畳によって、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号をＳ字特性を有する信号への補正が可能である場合、ゲイン補正データを算出するための処理負担を軽減することが可能となる。また、最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別したとき、ＡＳＰ１３による処理を行うことなくゲイン補正データを算出することから、当該ＡＳＰ１３の性能の低下等を防止することが可能となる。
【００５８】
また、ゲイン補正データをメモリ６に記憶させることから、次回の光ディスク装置１の動作において、光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの状態に最新のゲインが第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定されることとなり、ゲイン補正データの算出を常に行う必要が無くなる可能性がある。この結果、光ディスク装置１の処理負担を軽減することが可能となるとともに、光ディスク９に対する情報の記録／再生を迅速に行うことが可能となる。
【００５９】
また、光ディスク装置１への電源電圧の投入の検出によって、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを設定することから、良好なフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を迅速に生成することが可能となる。この結果、光ディスク９に対する情報の記録／再生を迅速に行うことが可能となる。
【００６０】
＜＜第２の実施形態＞＞
＝＝＝光ディスク装置２３の全体構成＝＝＝
図５を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置２３の構成について説明する。尚、図５に示す光ディスク装置２３において、図１に示す光ディスク装置１と同一の構成については同一符号を付して説明を省略する。
【００６１】
図５に示す光ディスク装置２３は、光ピックアップ装置２４の内部にメモリ６を設けた構成となっている。このように、光ピックアップ装置２４の内部にメモリ６を設けることによって、例えば、光ピックアップ装置２４と、当該光ピックアップ装置２４を除く構成の光ディスク装置２３とが別個に製造される場合、当該光ディスク装置２３の製造に係るコストの軽減、回路配置の容易化等を図ることが可能となる。また、光ピックアップ装置２４の製造工程において、光検出器１１の位置決めの精度を厳密にすることなく粗調整で行うことが可能となる。何故ならば、光ディスク装置２３において、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号と等価となるようなゲインを算出処理するためである。この結果、光ピックアップ装置２４の製造において、光検出器１１の位置決めのためのコストの軽減、煩雑さの軽減を図ることが可能となる。尚、光ディスク装置２３の動作は、前述の第１の実施形態と同様である。
【００６２】
＜＜第３の実施形態＞＞
＝＝＝光ディスク装置２５の全体構成＝＝＝
図６を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置２５の構成について説明する。尚、図６に示す光ディスク装置２５において、図１に示す光ディスク装置１と同一の構成については同一符号を付して説明を省略する。
【００６３】
光ピックアップ装置２６は、メモリ２１（第１記憶部）を有している。例えば、光ピックアップ装置２６と光ディスク装置２５を製造するメーカが独立している場合がある。この場合、光ピックアップ装置２６を製造するメーカが、製造工程において光ピックアップ装置２６の性能の特性を検出するべく、光ディスク装置２５（又は光ディスク装置１）と同様の構成の光ディスク装置に組み込む場合がある。そして、メモリ２１には、光ピックアップ装置２６を製造するメーカ側において検出される制御信号Ａ´乃至Ｄ´に基づいて第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するべきゲインを示す初期ゲインデータが記憶されている。
【００６４】
また、光ディスク装置２５は、メモリ２２（第２記憶部）を有している。このメモリ２２には、第１の実施形態において記述した第２ゲインデータ、初期データとともに、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定する複数の異なる値のゲインを示す複数のゲイン補正データが予め記憶されている。尚、本実施形態においては、メモリ２２には、第１ゲイン補正データ、第２ゲイン補正データが予め記憶されているものとして、以下説明する。図２を参照しつつ、第１ゲイン補正データ、第２ゲイン補正データおよびメモリ２１に記憶されている初期ゲインデータについて詳述する。初期ゲインデータは、光ピックアップ装置２６の製造工程において、破線に示すように照射されるべき反射光がＸ方向又はＹ方向に僅かにずれた（尚、実線が示す反射光のずれよりも十分にずれが小さい）ときの第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号とするべく、当該第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するゲインを示しているものとする。また、第１ゲイン補正データは、Ｘ方向又はＹ方向への反射光のずれが、前述の初期ゲインデータにおけるずれより大きく、実線が示す反射光のずれよりも小さいときの第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号とするべく、当該第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するゲインを示しているものとする。また、第２ゲイン補正データは、Ｘ方向又はＹ方向への反射光のずれが、実線が示す反射光のずれであるときの第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号とするべく、当該第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するゲインを示しているものとする。
【００６５】
＝＝＝光ディスク装置２５の動作＝＝＝
図７を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置２５の動作について説明する。図７は、本発明に係る光ディスク装置２５の動作の一例を示すフローチャートである。尚、Ｓ２０１、Ｓ２０４乃至Ｓ２１５、Ｓ２２７乃至Ｓ２２９は、第１の実施形態において説明した図４に示すＳ１０１、Ｓ１０４乃至Ｓ１１５、Ｓ１２３乃至Ｓ１２５と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００６６】
ＤＳＰ２７は、光ディスク装置２５への電源電圧の投入を検出すると（Ｓ２０１・ＹＥＳ）、メモリ２１から初期ゲインデータを読み出し（Ｓ２０２）、ゲイン設定部７に送信する。ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ａに初期ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｂに初期ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｃに初期ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮに信号を送信する。同様に、ゲイン設定部７は、第１演算増幅器１７Ｄに初期ゲインデータが示すゲインを設定するべくスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮに信号を送信する。そして、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮがオンする。同様に、ゲイン設定部７からの信号に基づいて選択されるスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮがオンする。この結果、選択的にオンするスイッチ回路１９ＡＡ乃至１９ＡＮと接続される帰還抵抗２０ＡＡ乃至２０ＡＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ａのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ａに対して、初期ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＢＡ乃至１９ＢＮと接続される帰還抵抗２０ＢＡ乃至２０ＢＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｂのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｂに対して、初期ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＣＡ乃至１９ＣＮと接続される帰還抵抗２０ＣＡ乃至２０ＣＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｃのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｃに対して、初期ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる。同様に、選択的にオンするスイッチ回路１９ＤＡ乃至１９ＤＮと接続される帰還抵抗２０ＤＡ乃至２０ＤＮの選択抵抗値が、第１演算増幅器１７Ｄのゲインとして設定される。つまり、第１演算増幅器１７Ｄに対して、初期ゲインデータが示すゲインが設定されたこととなる（Ｓ２０３）。つまり、光ピックアップ装置２６を製造するメーカ側から提供される初期ゲインデータに基づいて、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインが設定されることとなる。
【００６７】
その後、ＤＳＰ２７は、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別し（Ｓ２１２・ＹＥＳ）、Ｘ方向Ｙ方向への光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれを判別すると（Ｓ２１４・ＮＯ、Ｓ２１５・ＮＯ）、メモリ２２から第１ゲイン補正データを読み出す（Ｓ２１６）。尚、Ｓ２１２において、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別されたということは、光ディスク装置２５に光ピックアップ装置２６が組み込まれた後の光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれが、当該光ピックアップ装置２６の製造工程時における光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれよりも経時変化等により大きくなったことを意味する。そして、半導体レーザー１０のレーザー光の出射が停止され（Ｓ２１７）、ゲイン設定部７により第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに対して第１ゲイン補正データが示すゲインが設定されることとなる（Ｓ２１８）。そして、再び半導体レーザー１０から光ディスク９に対してレーザー光が出射されて（Ｓ２１９）、直流値が算出される（Ｓ２２０）。
【００６８】
ＤＳＰ２７は、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに第１ゲイン補正データが示すゲインが設定されたときの、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えるか否かを判別する（Ｓ２２１）。そして、ＤＳＰ２７は、最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えると判別すると（Ｓ２２１・ＹＥＳ）、メモリ２２から第２ゲイン補正データを読み出す（Ｓ２２２）。そして、半導体レーザー１０のレーザー光の出射が停止され（Ｓ２２３）、ゲイン設定部７により第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに対して第２ゲイン補正データが示すゲインが設定されることとなる（Ｓ２２４）。そして、再び半導体レーザー１０から光ディスク９に対してレーザー光が出射されて（Ｓ２２５）、直流値が算出される（Ｓ２２６）。そして、Ｓ２１２への処理へ移行することとなる。第２ゲイン補正データは、前述したように、Ｘ方向又はＹ方向への反射光のずれが、図２・実線が示す反射光のずれであるときの第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号とするための当該第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するゲインを示している。この結果、ＤＳＰ２７は、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号の最大振幅値に対する直流値の割合が±２５（％）を超えていないと判別する（Ｓ２１２・ＮＯ）。そして、Ｓ２２７への処理へ移行することとなる。
【００６９】
尚、上述によれば、第１ゲイン補正データ、第２ゲイン補正データの２つのゲイン補正データを用いて、反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号とするべく、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを設定しているが、これに限るものではない。受光面Ａ乃至Ｄに対するより多くの反射光のずれに対応するため、より多くのゲイン補正データをメモリ２２に記憶させて設けても良い。
【００７０】
また、上述によれば、光ディスク装置２５は、第１ゲイン補正データから順次、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインを設定しているが、これに限るものではない。例えば、前回の光ディスク装置２５の処理において、Ｓ２２７への移行したときのゲイン補正データを検出し、次回の光ディスク装置２５の処理においては、先ず、当該ゲイン補正データが示すゲインを第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するように設けても良い。この結果、光ディスク装置２５の処理負担を軽減することが可能となるとともに、光ディスク９に対する情報の記録／再生を迅速に行うことが可能となる。
【００７１】
上述した実施形態によれば、例えば、光ピックアップ装置２６と光ディスク装置２５を製造するメーカが独立している場合、当該光ピックアップ装置２６が製造されたときの第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄに設定するべきゲインの情報を、当該光ディスク装置２５を製造するメーカがメモリ２１を介して得ることが可能となる。この結果、仮に、光ディスク装置２５に光ピックアップ装置２６を組み込んだ以後、光検出器１１（受光領域Ａ乃至Ｄ）の位置ずれが発生しない場合、当該光ディスク装置２５における光ディスク９に対する情報の記録／再生のための処理を迅速に行うことが可能となる。また、光ディスク装置２５を製造する側における光検出器１１（受光領域Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの検出の負担を軽減することが可能となる。また、光ピックアップ装置２６の製造工程において、光検出器１１の位置決めの精度を厳密にすることなく粗調整で行うことが可能となる。何故ならば、光ディスク装置１において、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号と等価となるようなゲインを算出処理するためである。この結果、光ピックアップ装置２６の製造において、光検出器１１の位置決めのためのコストの軽減、煩雑さの軽減を図ることが可能となる。
【００７２】
また、上述した第２の実施形態および第３の実施形態によれば、メモリ６（２１）から読み出される第１ゲインデータ（例えば、光ピックアップ装置２４（２６）を提供するメーカにて検出した初期ゲインデータ）に基づいて、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄのゲインが、反射光が受光面Ａ乃至Ｄに均等に照射されることと等価となる値に設定される光ピックアップ装置２４（２６）を提供することが可能となる。この結果、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、光検出器１１（受光面Ａ乃至Ｄ）の位置ずれの影響が防止（又は軽減）された信号とすることが可能となる。そして、当該制御信号に基づいて、フォーカスサーボ又はトラックサーボを良好に行うことが可能となる。また、光ピックアップ装置２４（２６）の製造工程において、光検出器１１の位置決めの精度を厳密にすることなく粗調整で行うことが可能となる。何故ならば、光ピックアップ装置２４（２６）が適用される光ディスク装置２３（２５）において、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄからの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号と等価となるようなゲインを算出処理するためである。この結果、光ピックアップ装置２４（２６）の製造において、光検出器１１の位置決めのためのコストの軽減、煩雑さの軽減を図ることが可能となる。
【００７３】
＜＜第４の実施形態＞＞
図８を参照しつつ、本発明に係る光ディスク装置２８の構成について説明する。尚、図８に示す光ディスク装置２８において、図１に示す光ディスク装置１と同一の構成については同一符号を付して説明を省略する。
【００７４】
第１の実施形態乃至第３の実施形態においては、演算増幅器１１´（第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄ）を光ピックアップ装置２（２４、２６）の内部に設けているがこれに限るものではなく、光ピックアップ装置の外部に設ける構成としても良い。一例として、図８に示す光ディスク装置２８は、信号処理部３１のＡＳＰ３２と一体化して演算増幅器３２´（第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄ）が設けられている。つまり、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄ、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄを設ける箇所は、光検出器１１（３０）の出力からＡＳＰ１３（３２）の入力までの間であれば良い。尚、図８に示す光ディスク装置２８においては、前述した光検出器３０を構成するフォトダイオード１６Ａ乃至１６Ｄにて生成される反射光のレベルに応じた各電流（光電変換信号）が、ＡＳＰ３２に供給される。ＡＳＰ３２の第１演算増幅回路１７Ａ乃至１７Ｄは、光検出器３０からの各電流と、各選択抵抗値との積により、当該電流に応じた電圧を生成する。また、第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄは、非反転入力端子の基準電圧Ｖrefと反転入力端子の電圧との差を各選択抵抗値で定まるゲインで増幅した制御信号を、第２演算増幅器１８Ａ乃至１８Ｄに出力する。以下の動作については、前述の実施形態のとおりである。
【００７５】
この実施形態によれば、例えば、光ピックアップ装置２９と、当該光ピックアップ装置２９を除く構成の光ディスク装置２８とが別個に製造される場合、当該光ピックアップク装置２９の製造に係るコストの軽減、回路配置の容易化等を図ることが可能となる。また、光ピックアップ装置２９の製造工程において、光検出器３０の位置決めの精度を厳密にすることなく粗調整で行うことが可能となる。何故ならば、光ディスク装置２８において、光検出器３０からの電流に基づく第１演算増幅器１７Ａ乃至１７Ｄの制御信号を、当該反射光が受光面Ａ乃至Ｄに対して均等に照射されたときの制御信号と等価となるようなゲインを算出処理するためである。この結果、光ピックアップ装置２９の製造において、光検出器３０の位置決めのためのコストの軽減、煩雑さの軽減を図ることが可能となる。
【００７６】
以上、本発明に係る光ディスク装置、光ピックアップ装置について説明したが、上記の説明は、本発明の理解を容易とするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得る。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】光検出器を示す回路図である。
【図３】本発明に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】レーザー光のスポット光及び４分割光検出器における反射光を示す図である。
【図５】本発明に係る光ディスク装置の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図６】本発明に係る光ディスク装置の第３の実施形態を示すブロック図である。
【図７】第３の実施形態における本発明に係る光ディスク装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図８】本発明に係る光ディスク装置の第４の実施形態を示すブロック図である。
【図９】フォーカスエラー信号又はトラッキングエラー信号を示す図である。
【図１０】光検出器に対するレーザー光の照射を示す図である。
【符号の説明】
【００７８】
１  光ディスク装置
２  光ピックアップ装置
３  スピンドルモータ
４  信号処理部
５  ＣＰＵ
６  メモリ
７  ゲイン設定部
８  ドライバ
９  光ディスク
１０  半導体レーザー
１１  光検出器
１２  アクチュエータ
１３  ＡＳＰ
１４  ＤＳＰ
１５  ディスク判別部
１６  フォトダイオード
１７  第１演算増幅器
１８  第２演算増幅器
１９  スイッチ回路
２０  帰還抵抗
２１、２２  メモリ
２３、２５、２８  光ディスク装置
２４、２６、２９  光ピックアップ装置
２７  ＤＳＰ
３０  光検出器
３１  信号処理部
３２  ＡＳＰ
【図１】
0004601546.tif 000002
【図２】
0004601546.tif 000003
【図３】
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【図４】
0004601546.tif 000005
【図５】
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【図６】
0004601546.tif 000007
【図７】
0004601546.tif 000008
【図８】
0004601546.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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