(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系を介して読取手段により所定の基準濃度を有する基準部材を読み取って得た基準データを基に、前記光学系を介して前記読取手段により原稿を読み取る際に前記読取手段の出力を補正する画像読取装置であって、
前記読取手段により前記基準部材を読み取る際には前記光学系を前記基準部材の位置に移動させた後、前記読取手段により読取位置上の原稿を読み取る際には前記光学系を前記読取位置の位置に移動させる移動手段と、
前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に前記基準部材上のゴミの位置を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出されたゴミの位置と、ゴミとして検出したゴミ検出頻度を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されたゴミの位置とゴミ検出頻度を、前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に更新する更新手段と、
前記記憶手段に記憶され前記更新手段により更新されたゴミ検出頻度の高い上位のものから予め決められた個数のゴミの位置について、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置の周囲の基準データを用いて、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置の基準データを補正する補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記読取手段が前記基準部材を所定回読み取る間に連続して前記検出手段によりゴミが検出されなかった場合に、前記記憶手段からゴミの位置を示す位置情報を削除することを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
【請求項３】
光学系を介して読取手段により所定の基準濃度を有する基準部材を読み取って得た基準データを基に、前記光学系を介して前記読取手段により原稿を読み取る際に前記読取手段の出力を補正する画像読取装置であって、
前記読取手段により前記基準部材を読み取る際には前記光学系を前記基準部材の位置に移動させ、前記読取手段により読取位置上の原稿を読み取る際には前記光学系を前記読取位置の位置に移動させる移動手段と、
前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に前記基準部材上のゴミの位置を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出されたゴミの位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されたゴミの位置を、前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に更新する更新手段と、
前記記憶手段に記憶され前記更新手段により更新されたゴミの位置の周囲の基準データを用いて、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置の基準データを補正する補正手段と、
を備え、
前記記憶手段は、一度記憶したゴミの位置は、前記読取手段が前記基準部材を所定回読み取る間に連続して前記検出手段がゴミを検出しなくなるまで保持することを特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ドキュメントスキャナ、デジタル複写機、ファクシミリ等の画像読取部に適用される画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像読取装置におけるシェーディング補正方法として、原稿台に配設されたシェーディング補正用の基準白色板に付着したゴミ、埃等を検出し、シェーディング補正を行う方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。該方法は、基準白色板を移動して行き、基準白色板を読み取ったデータに所定レベルを超えるレベル変動があった場合には、基準白色板の移動を続けることで、基準白色板の異なる位置を読み取り、所定レベル以上の変動が無い位置でシェーディング補正を行うものである。
【０００３】
また、上記以外にもシェーディング補正方法に関する技術が提案されている（例えば、特許文献２、特許文献３参照）。前者は、基準白色板を数ライン読み取り、欠陥画素の有無に関わらずライン間で平均化処理を行い、平均化処理したデータをシェーディング補正用の白基準データとする技術である。後者は、基準白色板を数ライン読み取り、欠陥画素の判定を行い、欠陥画素データを白基準データに取り入れないようにする技術である。
【０００４】
また、基準白色板を読み取ったデータに所定レベル以上のレベル変動を検出した場合に、レベル変動を検出した部分の周囲の画素の補間値を使用して画像を読み取ることで、ゴミや欠陥画素の影響を受けにくくする技術が提案されている（例えば、特許文献４参照）。
【特許文献１】特許第２７３６５３６号
【特許文献２】特開平３−２８９８７２号公報
【特許文献３】特開平６−１２１１６２号公報
【特許文献４】特開平６−２４５０６５号広報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１に記載の技術では、基準白色板を読み取ったデータに所定レベル以上の変動があった場合、基準白色板の移動を続けるため、シェーディング補正に時間がかかるという問題がある。また、基準白色板を読み取ったデータについて所定レベル以下の変動を許容してしまっているため、読み取り画像に対する白スジの発生を抑えることができない場合がある。
【０００６】
また、上記特許文献２に記載の技術では、基準白色板から読み取った数ラインのデータの中に欠陥画素に対応するデータが含まれていた場合、平均化処理によりデータへの欠陥画素の影響は少なくなるが、原稿の読み取り画像に欠陥画素の影響が残ってしまうという問題がある。
【０００７】
また、上記特許文献３に記載の技術では、基準白色板から読み取った数ラインのデータに欠陥画素に対応するデータが含まれていた場合、欠陥画素を含まないラインのデータに至るまで、ラインデータを検証しながら白基準データを取り込む処理を行う。そのため、処理時間がかかり、原稿の高速読み取りを行う際には問題になる場合がある。
【０００８】
また、上記特許文献３に記載の技術のように、光学台を停止してラインデータに欠陥画素に対応するデータが含まれているか否かを検出する方法の場合、基準白色板に含まれる欠陥は、光学台を基準白色板の位置に制御する際の制御精度に比べて小さいことが多い。そのため、ゴミが基準白色板に付着していた場合、光学台を図１０の（１）に示す位置に停止した場合、所定のスレッシュレベルにてゴミを検出できる。しかし、光学台を図１０の（２）に示す位置に停止した場合、ゴミを検出できない状態となる可能性がある。図１１に（１）及び（２）位置での読取結果を示す。
【０００９】
基準白色板のゴミを検出できた場合は、上記特許文献４に記載の技術のように置き換え補正を行うことが可能である。しかし、基準白色板のゴミを検出できなかった場合は、スレッシュレベル以下のレベル変動の影響を微小ながらも受けてしまい、原稿の読み取り画像に影響が残ってしまうという問題がある。
【００１０】
本発明の目的は、基準部材に付着したゴミや埃等の影響を受けにくいシェーディング補正を可能とする画像読取装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上述の目的を達成するために、本発明の画像読取装置は、光学系を介して読取手段により所定の基準濃度を有する基準部材を読み取って得た基準データを基に、前記光学系を介して前記読取手段により原稿を読み取る際に前記読取手段の出力を補正する画像読取装置であって、前記読取手段により前記基準部材を読み取る際には前記光学系を前記基準部材の位置に移動させ、前記読取手段により読取位置上の原稿を読み取る際には前記光学系を前記読取位置の位置に移動させる移動手段と、前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に前記基準部材上のゴミの位置を検出する検出手段と、前記検出手段により検出されたゴミの位置と、ゴミとして検出したゴミ検出頻度を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置とゴミ検出頻度を、前記読取手段が前記基準部材を読み取る毎に更新する更新手段と、前記記憶手段に記憶され前記更新手段により更新されたゴミ検出頻度の高い上位のものから予め決められた個数のゴミの位置について、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置の周囲の基準データを用いて、前記記憶手段に記憶されたゴミの位置の基準データを補正する補正手段と、を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、記憶手段に記憶され更新手段により更新されたゴミ検出頻度の高い上位のものから予め決められた個数のゴミの位置について、記憶手段に記憶されたゴミの位置の周囲の基準データを用いて、記憶手段に記憶されたゴミの位置の基準データを補正する。そのため、一度検出した閾値以下のデータを補正し続けることが可能となる。これにより、基準部材に付着したゴミや埃等の影響を受けにくいシェーディング補正が可能となる。更に、メモリ資源の有効活用が可能となり、スレッシュレベル以下の微小なレベル変動により画像にゴミの影響が残ってしまう影響を極力減らすことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１６】
［第１の実施の形態］
図１は、本発明の第１の実施の形態に係る画像読取装置の概略構成を示す構成図である。
【００１７】
図１において、画像読取装置は、原稿読取部１０１、プラテンカバー１０３、基準白色板１１４を備えている。更に、原稿読取部１０１は、レンズ１０８、ＣＣＤ１０９、基板１１０、モータ１１１、光学台１１２、光学台１１３、ホームポジションセンサ１１５、操作部（不図示）を備えている。
【００１８】
モータ１１１は、光学台１１２、１１３を副走査方向に移動させる駆動源である。ホームポジションセンサ１１５は、光学台１１２、１１３の基準位置を検出する。ホームポジションセンサ１１５による基準位置の検出に基づき、原稿読取コントローラ１１６（図２）によりモータ１１１を回転制御（正転／逆転）し、光学台１１２、１１３を移動させることで、原稿１０２を走査する。基準白色板１１４は、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを測定する際に使用され、主走査方向全域をカバーする大きさを有し且つ比較的濃度の安定した（一様な白基準濃度を有する）部材から構成される。操作部（不図示）は、原稿の読み取り開始の指示等に用いる。
【００１９】
光学台１１２は、ランプ１０４、ミラー１０５を備える。ランプ１０４は、原稿１０２に対して光を照射する。ミラー１０５は、プラテンカバー１０３が閉じられた原稿台に載置された原稿１０２にランプ１０４から光を照射した際に、原稿面からの反射光を受け反射する。光学台１１３は、ミラー１０６、１０７を備える。ミラー１０６、１０７は、ミラー１０５によって反射された光をレンズ１０８に導光する。
【００２０】
レンズ１０８は、光学台１１２、１１３によって導光された原稿面からの反射光を集光しＣＣＤ１０９に結像させる。ＣＣＤ１０９は、基板１１０に配設され、主走査方向に沿って１次元配列された複数の光電変換素子を備えており、レンズ１０８によって集光された原稿面からの反射光を電気信号に光電変換する。ＣＣＤ１０９は、光電変換した電気信号（原稿１０２から読み取った画像データ）を原稿読取コントローラ１１６に転送する。原稿読取コントローラ１１６は、後述するシェーディング補正等の画像処理を行う画像処理回路を備える。
【００２１】
原稿読取部１０１においては、上記の構成を用いて、原稿台上に載置された原稿１０２に対して光学台１１２、１１３を副走査方向に走査することにより原稿１０２の画像を読み取る。この場合、原稿読取コントローラ１１６は、原稿１０２の画像を読み取る際に、ＣＣＤ１０９の各光電変換素子の出力を基準白色板１１４の読取結果（基準白色板読取データ）に基づいて補正する。
【００２２】
図２は、原稿読取部１０１の制御系の構成を示すブロック図である。
【００２３】
図２において、原稿読取コントローラ１１６は、ＣＣＤ１０９の駆動制御、ランプ１０４の点灯制御、モータ１１１の駆動制御を行う。また、原稿読取コントローラ１１６は、シェーディング補正等の画像処理を行う画像処理回路（図３）を備えており、プログラムに基づいて、図１３（第１の実施の形態）、図１５（第２の実施の形態）、図１７（第３の実施の形態）の各フローチャートに示す処理を実行する。
【００２４】
原稿読取部１０１において原稿１０２を読み取る際の動作について説明する。原稿読取コントローラ１１６は、原稿読み取りを指示された際に、モータ１１１を制御して光学台１１２、１１３を基準白色板１１４の読取位置に停止し、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯することで基準白色板１１４を読み取る。原稿読取コントローラ１１６は、基準白色板１１４の読取結果を基に、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを補正するシェーディング補正を行い、正規化しながら、モータ１１１を制御して原稿１０２を副走査することにより、原稿１０２を読み取る。
【００２５】
図３は、原稿読取コントローラ１１６の詳細構成を示すブロック図である。
【００２６】
図３において、原稿読取コントローラ１１６は、シェーディング補正回路３０１、シェーディング補正用メモリ３０２、ゴミ検出回路３０３、検出結果保持用メモリ３０４を備えている。
【００２７】
シェーディング補正回路３０１は、ＣＣＤ１０９から出力されるデータを入力し、後述のシェーディング補正処理を行い、シェーディング補正後のデータを出力する。シェーディング補正用メモリ３０２は、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを含んだ基準白色板１１４の読取結果（基準白色板読取データ）を記憶する。ゴミ検出回路３０３は、基準白色板１１４に付着したゴミや埃等を検出する。検出結果保持用メモリ３０４は、ゴミ検出回路３０３により検出したゴミや埃等の位置情報、ゴミの発生頻度情報を記憶する。
【００２８】
次に、上記構成を有する本実施の形態の画像読取装置の動作について図１乃至図１３を参照しながら詳細に説明する。
【００２９】
図１３は、本実施の形態に係る読取制御の流れを示すフローチャートである。
【００３０】
図１３において、原稿読取コントローラ１１６のシェーディング補正回路３０１は、ユーザの読み取り開始指示に伴い、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し（ステップＳ１）、基準白色板１１４を読み取る（ステップＳ２）。次に、シェーディング補正回路３０１は、図４に示すようなランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを含んだ基準白色板１１４の読取結果を、主走査方向全域の画素毎にシェーディング補正用メモリ３０２に記憶する（ステップＳ３）。以下、記憶したデータをＨＤＡＴＡと表記する。
【００３１】
基準白色板１１４の上記読取結果を所定の目標値（ＫＤＡＴＡ）にするように、以下の演算を行いながら、原稿の画像を読み取ることができるようになっている。
【００３２】
ＯＤＡＴＡ（n）＝ＫＤＡＴＡ（n）／ＨＤＡＴＡ（n）×ＩＤＡＴＡ（n）・・・（Ａ）
ＯＤＡＴＡ：出力データ
ＩＤＡＴＡ：入力データ
ＨＤＡＴＡ：基準白色板読取データ
ＫＤＡＴＡ：目標値データ
ｎ：主走査位置
上記演算を行うことにより、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを補正した読み取りを行うことが可能となる。図５に補正した際の読取結果の例を示す。
【００３３】
上記のように、基準白色板１１４を読み取った結果からシェーディング補正回路３０１により補正を行うため、基準白色板１１４がゴミや埃等により汚れていた場合には補正結果に影響が出てしまう。
【００３４】
例えば図６に示すように、基準白色板１１４にゴミ６０２が付着して、その位置が読取位置６０１になった場合を想定する。シェーディング補正回路３０１によりＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯して基準白色板１１４を読み取ると、図７に示すような読取結果となり、式（Ａ）のＫＤＡＴＡ（ｎ）／ＨＤＡＴＡ（ｎ）の値が過剰ゲインとなってしまう。その結果、ゴミの無いハーフトーン調の原稿を読み取った際に、読み取り画像に図８に示すような白スジを発生させてしまう。
【００３５】
そこで、シェーディング補正回路３０１によりＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯して基準白色板１１４を読み取った結果から、所定の閾値以下のデータをゴミ検出回路３０３で検出した場合に、次のような処理を行う。即ち、ゴミ検出回路３０３は、検出した所定の閾値以下のデータ（ゴミ検出画素データ）を、該データ周囲の画素データ（シェーディング補正用メモリ３０２に記憶されているデータ）を用いて線形補間処理することで置き換える。
【００３６】
例えば、ゴミ検出回路３０３により基準白色板１１４上において１画素の幅のゴミを検出し、検出したゴミ検出画素データを該データ周囲の画素データを用いて上記線形補間処理により置き換える場合は、以下の演算を行う。
【００３７】
ＨＤＡＴＡnew（ｎ）＝（ＨＤＡＴＡ（ｎ−１）＋ＨＤＡＴＡ（ｎ＋１））／２
ＨＤＡＴＡnew（ｎ）：置き換え後の基準白色板読取データ
ｎ：主走査位置
ゴミ検出回路３０３でゴミと判断した部分が複数画素の幅を持つ場合は、ゴミと判断されなかった一番近い周囲画素データを用いて上記演算を行い、ゴミ検出画素データを一番近い周囲画素データに置き換える。
【００３８】
上記図６に示したように基準白色板１１４のゴミ６０２を検出し、検出したゴミ検出画素データを周囲画素データを用いて上記線形補間処理により置き換えた場合の例を図９に示す。
【００３９】
図９（ａ）は、基準白色板１１４のゴミを検出した場合の基準白色板１１４の読取結果を示す図、図９（ｂ）は、補正後のシェーディング補正用メモリ３０２に記憶されるデータを示す図、図９（ｃ）は、補正後のハーフトーン調原稿の読取結果を示す図である。
【００４０】
図９において、（ａ）に示すように、基準白色板１１４上のゴミを検出した部分（ゴミ検出画素データ）を、（ｂ）に示すように、ゴミと判断されなかった一番近い周囲画素データを用いて置き換えるため、（ｃ）に示すような読取結果となる。これにより、上記図８と同様の画像を読み取った際にも白スジの発生を防止することができる。
【００４１】
但し、小さいゴミが基準白色板１１４に付着していた場合には、原稿読取部１０１のモータ１１１の制御精度により、光学台が停止する毎にゴミの読取値が変化する。図１０に示すように光学台が（１）の位置に停止した場合は、ゴミとして検出できるが、光学台が（２）の位置に停止した場合は、読取値が閾値以下とならないためゴミとして検出ができない。上記図６に示した例では、光学台が読取位置６０１に停止した場合はゴミ６０２を検出できるが、光学台の停止精度によりゴミ６０３は検出できたり検出できなかったりする。
【００４２】
光学台が図１０の（１）の位置及び（２）の位置に停止した場合の各々の読取結果を、図１１（ａ）、図１１（ｂ）に示す。閾値（ゴミ検出スレッシュレベル）を所定値以下に下げすぎると、ランダムノイズ成分との切り分けが難しくなってしまい、ランダムノイズ成分までゴミとして検出してしまう可能性がある。よって、基準白色板１１４のゴミを検出できない場合でも、ゴミの影響を受けて微小レベルではあるが読み取り画像に白スジを発生させてしまう場合がある。
【００４３】
そこで、ゴミ検出回路３０３に検出結果保持用メモリ３０４を装備する。即ち、ゴミ検出回路３０３は、基準白色板１１４のゴミを検出すると（ステップＳ４）、検出したゴミの位置情報を検出結果保持用メモリ３０４に保存しておく。更に、ゴミ検出回路３０３は、図１２に示すように、基準白色板１１４を読み取った際にゴミとして検出した検出頻度（発生頻度）も検出結果保持用メモリ３０４に保存しておく。図１２は、検出頻度（発生頻度）と、ゴミ検出画素の位置情報（ＣＣＤ１０９の光電変換素子の主走査方向の画素位置を示す情報）と、ゴミ検出画素の幅との対応関係を表したものである。
【００４４】
次に、シェーディング補正回路３０１は、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し基準白色板１１４を読み取り、検出結果保持用メモリ３０４に記憶されたデータを更新する（ステップＳ５）。シェーディング補正回路３０１は、一度でも検出したゴミの位置については（ゴミが検出されなくなるまで）、ゴミの周囲の読取値を用いて線形補間してゴミ検出位置のＨＤＡＴＡを置き換える処理を、検出結果保持用メモリ３０４に記憶された全てのゴミ検出画素データについて行う。
【００４５】
シェーディング補正回路３０１は、検出結果保持用メモリ３０４の記憶データを参照し、ゴミ検出位置に対応するシェーディング補正用メモリ３０２の値を補正する（ステップＳ６）。シェーディング補正回路３０１は、全てのゴミ検出画素の置き換え処理が終了した場合は（ステップＳ７でＹＥＳ）、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し原稿台上の原稿の読み取りを行う（ステップＳ８）。
【００４６】
上記のように、基準白色板１１４上の一度でもゴミと検出したゴミ検出画素データについては、所定回数連続で検出されなくなるまで上記補正を継続する。即ち、モータ１１１の制御精度により、光学台が停止する毎にゴミの読取値が変化する場合でも、一度検出したゴミについては線形補間してゴミ検出位置のＨＤＡＴＡを置き換える処理を行う。
【００４７】
以上説明したように、本実施の形態によれば、基準白色板１１４の読み取りの結果、一度でもゴミを検出すると、ゴミ検出位置の画素データをゴミ周囲の読取値を用いて線形補間により置き換える補正処理を、全てのゴミ検出画素データについて行う。これにより、モータ１１１の制御精度により光学台の停止位置毎にゴミの読取値が変化する場合でも、一度検出したゴミ検出画素データを補正し続けることが可能となり、基準白色板１１４に付着したゴミや埃等の影響を受けにくいシェーディング補正が可能となる。
【００４８】
［第２の実施の形態］
本発明の第２の実施の形態は、上述した第１の実施の形態に対して、図１５のフローチャートに示す読取制御を行う点において相違する。本実施の形態のその他の要素は、上述した第１の実施の形態（図１乃至図３）の対応するものと同一なので、説明を省略する。
【００４９】
図１５は、本実施の形態に係る読取制御の流れを示すフローチャートである。
【００５０】
図１５において、原稿読取コントローラ１１６のシェーディング補正回路３０１は、ユーザの読み取り開始指示に伴い、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し（ステップＳ１１）、基準白色板１１４を読み取る（ステップＳ１２）。次に、シェーディング補正回路３０１は、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを含んだ基準白色板１１４の読取結果を、主走査方向全域の画素毎にシェーディング補正用メモリ３０２に記憶する（ステップＳ１３）。
【００５１】
ゴミ検出回路３０３は、基準白色板１１４上のゴミを検出すると（ステップＳ１４）、検出したゴミの位置情報を検出結果保持用メモリ３０４に保存する。シェーディング補正回路３０１は、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し基準白色板１１４を読み取り、検出結果保持用メモリ３０４に記憶されたデータを更新する（ステップＳ１５）。
【００５２】
シェーディング補正回路３０１は、一度でも検出したゴミの位置については、ゴミの周囲の読取値を用いて線形補間してゴミ検出位置のＨＤＡＴＡを置き換える際に、以下の処理を行う。即ち、検出頻度（発生頻度）が高いと判断されたゴミ検出画素データに対し、検出頻度の高い上位のものから順番に予め決められた所定個数もしくは所定時間に達するまで補正する処理を行う（ステップＳ１６）。本実施の形態では、図１４に示すようにゴミ検出画素の発生頻度に順位をつける。
【００５３】
また、ユーザの読み取り開始指示から実際に読み取りを開始するまでの制限時間がある場合でも、ゴミ検出画素データに対し、所定時間内に検出頻度の高い上位のものから順番に補正処理を行う。これにより、制限時間を有効に活用したゴミの影響を受けにくいシェーディング補正処理を行うことが可能となる。
【００５４】
その後、シェーディング補正回路３０１は、補正したゴミ検出画素数が所定個数もしくは所定時間に達したと判断した場合は（ステップＳ１７でＹＥＳ）、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し原稿台上の原稿の読み取りを行う（ステップＳ１８）。
【００５５】
以上説明したように、本実施の形態によれば、検出頻度が高いと判断したゴミ検出画素データに対し、検出頻度が上位のものから順番に所定個数もしくは所定時間に達するまで補正処理を行う。これにより、ユーザの原稿読み取り指示から実際の原稿読み取りまでの時間が短い場合でも、限られた時間を有効に活用した且つ基準白色板１１４に付着したゴミや埃等の影響を受けにくいシェーディング補正が可能となる。
【００５６】
［第３の実施の形態］
本発明の第３の実施の形態は、上述した第１の実施の形態に対して、図１７のフローチャートに示す読取制御を行う点において相違する。本実施の形態のその他の要素は、上述した第１の実施の形態（図１乃至図３）の対応するものと同一なので、説明を省略する。
【００５７】
図１７は、本実施の形態に係る読取制御の流れを示すフローチャートである。
【００５８】
図１７において、原稿読取コントローラ１１６のシェーディング補正回路３０１は、ユーザの読み取り開始指示に伴い、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し（ステップＳ２１）、基準白色板１１４を読み取る（ステップＳ２２）。次に、シェーディング補正回路３０１は、ランプ１０４の光量ばらつき、ＣＣＤ１０９の感度ばらつきを含んだ基準白色板１１４の読取結果を、主走査方向全域の画素毎にシェーディング補正用メモリ３０２に記憶する（ステップＳ２３）。
【００５９】
ゴミ検出回路３０３は、基準白色板１１４上のゴミを検出すると（ステップＳ２４）、検出したゴミの位置情報及びゴミの検出頻度を検出結果保持用メモリ３０４に保存する。シェーディング補正回路３０１は、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し基準白色板１１４を読み取り、検出結果保持用メモリ３０４に記憶されたデータを更新する（ステップＳ２５）。
【００６０】
ゴミ検出回路３０３は、検出結果保持用メモリ３０４にゴミとして検出した位置情報及び検出頻度を保存しておく際に、所定の検出頻度以下の場合もしくは所定回数連続でゴミとして検出しなかった場合、検出結果保持用メモリ３０４からゴミの位置情報を削除する処理を行う（ステップＳ２６）。例えば１０回連続でゴミが検出されなかった場合に検出結果保持用メモリ３０４からゴミの位置情報を削除する場合を想定すると、図１６に示すような結果が得られた場合、「主走査画素位置６６０」のゴミの位置情報を検出結果保持用メモリ３０４から削除する。
【００６１】
即ち、所定回数連続で所定の閾値以下と検出されなかったデータ或いは所定検出頻度以下のデータを補正の対象から除外する。これにより、検出結果保持用メモリ３０４の記憶容量が限られている場合においても、メモリ資源を有効に活用した且つゴミの影響を受けにくいシェーディング補正処理を行うことが可能となる。
【００６２】
その後、シェーディング補正回路３０１は、検出結果保持用メモリ３０４の記憶データを参照し、ゴミ検出位置に対応するシェーディング補正用メモリ３０２の記憶値を発生頻度上位から補正する（ステップＳ２７）。シェーディング補正回路３０１は、補正したゴミ検出画素数が所定個数もしくは所定時間に達したと判断した場合は（ステップＳ２８でＹＥＳ）、ＣＣＤ１０９を駆動しランプ１０４を点灯し原稿台上の原稿の読み取りを行う（ステップＳ２９）。
【００６３】
以上説明したように、本実施の形態によれば、所定回数連続で所定の閾値以下と検出されなかったデータ或いは所定検出頻度以下のデータを補正の対象から除外する。これにより、限られたメモリ資源を最大限及び有効に活用した且つ基準白色板１１４に付着したゴミや埃等の影響を受けにくいシェーディング補正が可能となる。
【００６４】
［他の実施の形態］
上記第１乃至第３の実施の形態では、画像読取装置単体について説明したが、本発明は、画像読取装置単体のみへの適用に限定されるものではなく、複写機、複合機、ファクシミリ等に搭載する画像読取部にも適用することが可能である。
【００６５】
また、本発明の目的は、前述した各実施の形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても達成される。
【００６６】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した各実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【００６７】
また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。
【００６８】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した各実施の形態の機能が実現されるだけではなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した各実施の形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００６９】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、次のプログラムコードの指示に基づき、その拡張機能を拡張ボードや拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した各実施の形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００７０】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した各実施の形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した各実施の形態の機能が実現される場合も、本発明に含まれることは言うまでもない。
【００７１】
この場合、上記プログラムは、該プログラムを記憶した記憶媒体から直接、又はインターネット、商用ネットワーク、若しくはローカルエリアネットワーク等に接続された不図示の他のコンピュータやデータベース等からダウンロードすることにより供給される。
【００７２】
上記プログラムの形態は、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラムコード、ＯＳ（オペレーティングシステム）に供給されるスクリプトデータ等の形態から成ってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る画像読取装置の概略構成を示す構成図である。
【図２】画像読取装置の原稿読取部の制御系の構成を示すブロック図である。
【図３】原稿読取部の原稿読取コントローラの詳細構成を示すブロック図である。
【図４】基準白色板の読取結果を示す図である。
【図５】シェーディング補正後の読取結果を示す図である。
【図６】基準白色板にゴミが付着した場合を示す図である。
【図７】基準白色板の読取結果を示す図である。
【図８】読み取り画像に白スジが発生した状態を示す図である。
【図９】（ａ）は基準白色板のゴミを検出した場合の基準白色板の読取結果を示す図、（ｂ）は補正後のシェーディング補正用メモリに記憶されるデータを示す図、（ｃ）は補正後のハーフトーン調原稿の読取結果を示す図である。
【図１０】原稿読取部の光学台の停止位置の例を示す図である。
【図１１】（ａ）は光学台が（１）の位置に停止した場合の読取結果を示す図、（ｂ）は光学台が（２）の位置に停止した場合の読取結果を示す図である。
【図１２】検出結果保持用メモリの記憶情報を示す図である。
【図１３】読取制御の流れを示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第２の実施の形態に係る画像読取装置の検出結果保持用メモリの記憶情報を示す図である。
【図１５】読取制御の流れを示すフローチャートである。
【図１６】本発明の第３の実施の形態に係る画像読取装置の検出結果保持用メモリの記憶情報を示す図である。
【図１７】読取制御の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７４】
１０１  原稿読取部
１０９  ＣＣＤ（読取手段）
１１２、１１３  光学台
１１４  基準白色板（基準部材）
１１６  原稿読取コントローラ
３０１  シェーディング補正回路（補正手段）
３０２  シェーディング補正用メモリ
３０３  ゴミ検出回路（検出手段）
３０４  検出結果保持用メモリ（記憶手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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