(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの出力ピンごとに設けられ、液晶駆動ドライバの出力ピンに電流の供給または吸引を行い、階調測定時、発振を防止するアクティブロードと、
このアクティブロードに接続し、アクティブロードの電流値を求める電流測定モジュールと、
前記液晶駆動ドライバの出力ピンごとに設けられ、液晶駆動ドライバの出力ピンの出力の電圧測定するＡ／Ｄコンバータと、
このＡ／Ｄコンバータが求めた前記液晶駆動ドライバの出力抵抗の電圧値と前記電流測定モジュールの電流値とにより、液晶駆動ドライバの出力抵抗値を求め、階調測定時に、Ａ／Ｄコンバータの出力を、液晶駆動ドライバの出力抵抗値と前記アクティブロードの電流値とにより補正し、実際の階調電圧値を求める演算部と
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
液晶駆動ドライバの出力ピンとＡ／Ｄコンバータとの間に設けられ、出力を所定電圧で減算する減算部と、
この減算部の出力を増幅して、Ａ／Ｄコンバータに出力するアンプと
を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
演算部は、（出力抵抗値）×(電流値)により補正して、液晶駆動ドライバの出力電圧値を求めることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象、例えば、液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタに関し、被試験対象に電流供給または吸引しても、正確に測定が行えるＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶駆動ドライバは、複数ピンから多段階（多階調）電圧を出力し、液晶ディスプレイを駆動している。このような液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタは、例えば下記特許文献１，２等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−６９９７０号公報
【特許文献２】特開平９−１９６９９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような装置は、液晶駆動ドライバの出力ピンの階調電圧をＡ／Ｄコンバータにより測定を行い、液晶駆動ドライバの判定を行っている。
【０００５】
ところが、液晶駆動ドライバの種類により、液晶駆動ドライバが液晶ディスプレイパネルに組み込まれるときは、出力ピンに接続される負荷容量が小さく発振が起きないが、ＩＣテスタの負荷容量により発振してしまう。そこで、アクティブロードを用いて、液晶駆動ドライバの出力ピンに対して、電流印加または吸引を行い、発振を防止して、試験を行っている。
【０００６】
しかし、アクティブロードにより電流印加または吸引を行うので、液晶駆動ドライバの出力抵抗により、階調電圧の測定に誤差が生じてしまい、正確に試験が行えなくなってしまった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、被試験対象に電流供給または吸引しても、正確に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの出力ピンごとに設けられ、液晶駆動ドライバの出力ピンに電流の供給または吸引を行い、階調測定時、発振を防止するアクティブロードと、
このアクティブロードに接続し、アクティブロードの電流値を求める電流測定モジュールと、
前記液晶駆動ドライバの出力ピンごとに設けられ、液晶駆動ドライバの出力ピンの出力の電圧測定するＡ／Ｄコンバータと、
このＡ／Ｄコンバータが求めた前記液晶駆動ドライバの出力抵抗の電圧値と前記電流測定モジュールの電流値とにより、液晶駆動ドライバの出力抵抗値を求め、階調測定時に、Ａ／Ｄコンバータの出力を、液晶駆動ドライバの出力抵抗値と前記アクティブロードの電流値とにより補正し、実際の階調電圧値を求める演算部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
液晶駆動ドライバの出力ピンとＡ／Ｄコンバータとの間に設けられ、出力を所定電圧で減算する減算部と、
この減算部の出力を増幅して、Ａ／Ｄコンバータに出力するアンプと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
演算部は、（出力抵抗値）×(電流値)により補正して、液晶駆動ドライバの出力電圧値を求めることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば以下のような効果がある。
演算部が、液晶駆動ドライバの出力抵抗値とアクティブロードの電流値とにより補正するので、液晶駆動ドライバに電流供給または吸引しても、正確な試験を行うことができる。
また、アクティブロードから電流を与え、液晶駆動ドライバの出力ピンごとの出力抵抗値を、Ａ／Ｄコンバータにより高速に求めることができ、液晶駆動ドライバごとに測定しても試験時間が少なくて済み、補正に用いても、試験時間の増加を抑制できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１１】
図１において、被試験対象（以下ＤＵＴ）１は、例えば液晶駆動ドライバで、多階調電圧を複数の出力ピンから出力し、複数のＤ／Ａコンバータ１１、複数の出力抵抗Ｒ等からなる。Ｄ／Ａコンバータ１１は、出力段に出力抵抗Ｒの一端が接続される。スイッチＳＷ１は、ＤＵＴ１の出力ピン、つまり、出力抵抗Ｒの他端に固定端が接続される。スイッチＳＷ２は、スイッチＳＷ１の可動端に固定端が接続される。アンプ２は、スイッチＳＷ２の可動端に入力端が接続される。Ａ／Ｄコンバータ３は、アンプ２の出力端を入力端が接続される。演算部４は、Ａ／Ｄコンバータ３の出力から、（出力抵抗値）×（電流値）により補正し、階調電圧値を求める。スイッチＳＷ３は、スイッチＳＷ１の可動端に固定端を接続する。アンプ２、Ａ／Ｄコンバータ３、演算部４は測定部を構成する。
【００１２】
アクティブロード５は電流部で、スイッチＳＷ３の可動端に電流の供給または吸引を行い、ダイオードブリッジ５１、電流源５２，５３、ドライバ５４からなる。ダイオードブリッジ５１は、ダイオードＤ１，Ｄ２が直列に接続され、ダイオードＤ３，Ｄ４が直列に接続され、ダイオードＤ１，Ｄ２とダイオードＤ３，Ｄ４が並列に接続される。ダイオードＤ１，Ｄ２の接続点がスイッチＳＷ３の可動端に接続される。電流源５２は、ダイオードＤ１，Ｄ３のアノードに接続される。電流源５３は、ダイオードＤ２，Ｄ４のカソードに接続される。ドライバ５４は、ダイオードＤ３，Ｄ４の接続点に接続される。スイッチＳＷ４は、スイッチＳＷ１の可動端に固定端が接続される。電流測定モジュール６は、アクティブロード６より少数設けられ、スイッチＳＷ４の可動端に接続され、電流測定を行い、演算部４に出力する。
【００１３】
このような装置の動作を以下に説明する。まず、アクティブロード５の電流誤差を求める。図示しない制御部が、スイッチＳＷ１，ＳＷ２をオフとし、スイッチＳＷ３，ＳＷ４をオンとする。ドライバ５４が、ダイオードブリッジ５１に対して電圧を与える。これにより、電流源５２による定電流供給、または、電流源５３による定電流吸引が行われ、スイッチＳＷ３，ＳＷ４を介して、電流測定モジュール６により測定され、この電流値を電流測定モジュール６が演算部４に出力する。これにより、実際の電流値が求められる。
【００１４】
次に、出力抵抗Ｒの抵抗値（出力抵抗値）を求める。図示しない制御部が、スイッチＳＷ１〜ＳＷ３をオンとし、スイッチＳＷ４をオフとする。ドライバ５４が、ダイオードブリッジ５１に対して電圧を与え、スイッチＳＷ３，ＳＷ１を介して、ＤＵＴ１に、電流源５２による定電流供給、または、電流源５３による定電流吸引が行われる。そして、Ａ／Ｄコンバータ３が、スイッチＳＷ１，ＳＷ２、アンプ２を介して、ＤＵＴ１の出力抵抗Ｒの電圧値を求める。この電圧値を、演算部４が、電流測定モジュール６が測定した電流値を用いて、出力抵抗Ｒの抵抗値を求める。
【００１５】
そして、階調測定を実施する。図示しない制御部が、スイッチＳＷ１〜ＳＷ３をオンとし、スイッチＳＷ４をオフとする。ドライバ５４が、ダイオードブリッジ５１に対して電圧を与え、スイッチＳＷ３，ＳＷ１を介して、ＤＵＴ１に、電流源５２による定電流供給、または、電流源５３による定電流吸引が行われる。そして、ＤＵＴ１が、図示しない信号発生器からデータを入力し、Ｄ／Ａコンバータ１１から階調電圧を、出力抵抗Ｒを介して出力する。この階調電圧を、Ａ／Ｄコンバータ３が、スイッチＳＷ１，ＳＷ２、アンプ２を介して、測定値を求める。この測定値を演算部４が入力し、演算部４が、（測定値）−（ＤＵＴ１の出力抵抗値）×（アクティブロード５の電流値）により、実際の階調電圧値を求める。この階調電圧値により、演算部４がＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【００１６】
このように、演算部４が、ＤＵＴ１の出力抵抗値とアクティブロード５の電流値とにより補正するので、ＤＵＴ１に電流供給または吸引しても、正確なＤＵＴ１の階調電圧値を得ることができ、正確な試験を行うことができる。
【００１７】
また、ＤＵＴ１の出力ピンごとに設けるアクティブロード５から電流を与え、ＤＵＴ１の出力ピンごとの出力抵抗Ｒを、Ａ／Ｄコンバータ３により高速に求めることができ、ＤＵＴ１ごとに測定しても試験時間が少なくて済み、階調電圧値の補正に用いても、試験時間の増加を抑制できる。
【００１８】
次に、他の実施例を図２に示し説明する。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１９】
図２において、減算部７は、ＤＵＴ１の出力ピンとアンプ２の間に設けられ、出力を所定電圧で減算する。そして、減算部７は、Ｄ／Ａコンバータ７１、減算器７２からなる。Ｄ／Ａコンバータ７１は所定電圧を出力する。減算器７２は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を介したＤＵＴ１からの出力とＤ／Ａコンバータ７１の出力とを減算し、アンプ２に出力する。
【００２０】
このような装置の動作を説明する。ＤＵＴ１が出力する階調電圧から減算器７２で、Ｄ／Ａコンバータ７１の出力を減算し、アンプ２で増幅して、Ａ／Ｄコンバータ３に出力する。その他の動作は、図１に示す装置と同様なので説明を省略する。このように、減算部７で、ＤＵＴ１の階調電圧を減算し、アンプ２で増幅することにより、Ａ／Ｄコンバータ３で高精度に階調電圧の測定が行える。
【００２１】
なお、測定した出力抵抗値、電流値により、階調電圧の補正を行ったが、出力抵抗値の理想値を使用したり、アクティブロード５の設定電流を電流値にして補正を行う構成でもよい。また、ＤＵＴ１の出力ピンの代表の出力抵抗値、アクティブロード５の代表の電流値を使用して補正する構成でもよい。
【００２２】
また、測定部は、アンプを含めた構成を示したが、Ｄ／Ａコンバータ３内にある構成でもよい。
【００２３】
また、演算部４は、階調電圧を補正する構成を示したが、期待値側を補正して、測定値と比較し、ＤＵＴ１の良否の判定を行う構成でもよい。
【００２４】
また、減算部７は、減算器７２を設けた構成を示したが、加算器でもよい。この場合、Ｄ／Ａコンバータ７１に負電圧を出力させる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の他の実施例を示した構成図である。
【符号の説明】
【００２６】
１  ＤＵＴ
２  アンプ
３  Ａ／Ｄコンバータ
４  演算部
５  アクティブロード
６  電流測定モジュール
７  減算部
【図１】
0004596264.tif 000002
【図２】
0004596264.tif 000003