(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
追記型記録媒体を管理する方法であって、
前記記録媒体は、リードイン領域と、ユーザデータ領域および１つまたは複数のスペア領域を有するデータ領域と、アウター・ゾーンとを有し、該記録媒体がファイナライズされる時に欠陥管理情報を格納するための、リードイン領域およびアウター・ゾーンにある複数の欠陥管理領域を含み、
前記１つまたは複数のスペア領域は、代替書き込みのために使用され、
前記方法は、
前記記録媒体をファイナライズする時まで、前記データ領域で検出される欠陥領域についての欠陥リスト情報を仮欠陥管理領域内に書き込むステップと、
代替書き込みのための、各スペア領域内の次に利用可能な位置を示す第１の位置情報および前記仮欠陥管理領域に記録されている前記欠陥リスト情報を指し示す第２の位置情報を書き込むステップと
を備えることを特徴とする方法。
【請求項２】
追記型記録媒体を管理する方法であって、
前記記録媒体は、リードイン領域と、ユーザデータ領域および１つまたは複数のスペア領域を有するデータ領域と、アウター・ゾーンとを有し、該記録媒体がファイナライズされる時に欠陥管理情報を格納するための、リードイン領域およびアウター・ゾーンにある複数の欠陥管理領域を含み、
前記１つまたは複数のスペア領域は、代替書き込みのために使用され、
前記方法は、
代替書き込みのための、各スペア領域内の次に利用可能な位置を示す第１の位置情報および前記データ領域で検出される欠陥領域についての欠陥リスト情報を指し示す第２の位置情報を前記記録媒体から再生するステップと、
前記第２の位置情報に基づいて前記記録媒体の仮欠陥管理領域内に書き込まれている前記欠陥リスト情報を再生するステップと
を備えることを特徴とする方法。
【請求項３】
リードイン領域と、ユーザデータ領域および１つまたは複数のスペア領域を有するデータ領域と、アウター・ゾーンとを有する追記型記録媒体であって、
前記記録媒体は、該記録媒体がファイナライズされる時に欠陥管理情報を格納するための、リードイン領域およびアウター・ゾーンにある複数の欠陥管理領域を含み、
前記１つまたは複数のスペア領域は、代替書き込みのために使用され、
前記記録媒体は、
前記データ領域内で検出される欠陥領域についての欠陥リスト情報を格納するための仮欠陥管理領域と、
代替書き込みのための、各スペア領域の次に利用可能な位置を示す第１の位置情報と、
前記仮欠陥管理領域に書き込まれている前記欠陥リスト情報を指し示す第２の位置情報と
を備えたことを特徴とする追記型記録媒体。
【請求項４】
追記型記録媒体を管理する装置であって、
前記記録媒体は、リードイン領域と、ユーザデータ領域および１つまたは複数のスペア領域を有するデータ領域と、アウター・ゾーンとを有し、該記録媒体がファイナライズされる時に欠陥管理情報を格納するための、リードイン領域およびアウター・ゾーンにある複数の欠陥管理領域を含み、
前記１つまたは複数のスペア領域は、代替書き込みのために使用され、
前記装置は、
データを前記記録媒体に書き込むように構成されているピックアップと、
前記ピックアップに動作可能なように結合されるマイクロプロセッサであって、前記記録媒体をファイナライズする時まで、前記ピックアップが、前記データ領域で検出される欠陥領域についての欠陥リスト情報を前記記録媒体の仮欠陥管理領域に書き込み、かつ代替書き込みのための、各スペア領域の次に利用可能な位置を示す第１の位置情報および前記仮欠陥管理領域に書き込まれている前記欠陥リスト情報を指し示す第２の位置情報を書き込むように前記ピックアップを制御するように構成されているマイクロプロセッサと
を備えたことを特徴とする装置。
【請求項５】
前記欠陥リスト情報は、前記欠陥領域にアクセスするための欠陥エントリであって、前記記録媒体のスペア領域に書き込まれている代替データに対応する欠陥エントリを含むことを特徴とする請求項４に記載の装置。
【請求項６】
前記欠陥リスト情報は、前記欠陥リスト情報に含まれるエントリの終わりを示す欠陥リストターミネータを含むことを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、次に利用可能な位置の最初の物理的セクタ番号を前記第１の位置情報として書き込むように構成されていることを特徴とする請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、仮ディスク定義構造情報を第１および第２の位置情報として前記記録媒体に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、前記第１の位置情報を前記仮欠陥管理領域に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、４クラスタより大きくはない記録サイズで前記欠陥リスト情報を前記仮欠陥管理領域に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項４に記載の装置。
【請求項１１】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、前記第１の位置情報に基づいてスペア領域の次に利用可能な位置にて新たな欠陥領域についての新たな代替データを書き込み、および各スペア領域の新たな次に利用可能な位置を示す新たな第１の位置情報を前記記録媒体に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項４乃至１０のいずれかに記載の装置。
【請求項１２】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、前記新たな欠陥領域についての欠陥エントリを含む新たな欠陥リスト情報を前記仮欠陥管理領域に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
【請求項１３】
前記ピックアップを制御して、前記ピックアップの対物レンズと前記記録媒体との間の距離を維持し、前記記録媒体のトラックをトラッキングするように構成されているサーボと、
入力データを処理し、該入力データを前記ピックアップに供給するように構成されているデータプロセッサと、
前記記録媒体に関連付けられる情報を格納するように構成されているメモリと
をさらに備え、
前記マイクロプロセッサは、前記サーボ、前記データプロセッサおよび前記メモリに動作可能なように結合され、前記サーボ、前記データプロセッサおよび前記メモリの動作を制御するように構成されていることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
【請求項１４】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、前記記録媒体をファイナライズする時に、前記仮欠陥管理領域に書き込まれている欠陥リスト情報の複製を欠陥管理領域に記録するように構成されていることを特徴とする請求項４乃至１０のいずれかに記載の装置。
【請求項１５】
追記型記録媒体を管理する装置であって、
前記記録媒体は、リードイン領域と、ユーザデータ領域および１つまたは複数のスペア領域を有するデータ領域と、アウター・ゾーンとを有し、該記録媒体がファイナライズされる時に欠陥管理情報を格納するための、リードイン領域およびアウター・ゾーンにある複数の欠陥管理領域を含み、
前記１つまたは複数のスペア領域は、代替書き込みのために使用され、
前記装置は、
前記記録媒体にデータを書き込み、前記記録媒体からデータを読み出すように構成されているピックアップと、
前記ピックアップに動作可能なように結合されるマイクロプロセッサであって、前記記録媒体をファイナライズするまで、前記ピックアップが、代替書き込みのための、各スペア領域内の次に利用可能な位置を示す第１の位置情報および前記データ領域で検出される欠陥領域についての欠陥リスト情報を指し示す第２の位置情報を前記記録媒体から再生し、かつ前記第２の位置情報に基づいて前記記録媒体の仮欠陥管理領域内に書き込まれている前記欠陥リスト情報を再生するように前記ピックアップを制御するように構成されているマイクロプロセッサと
を備えたことを特徴とする装置。
【請求項１６】
前記マイクロプロセッサは、前記ピックアップを制御して、前記第１の位置情報に基づいて新たな欠陥領域についての代替データを、スペア領域の次に利用可能な位置に書き込むように構成されていることを特徴とする請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記欠陥リスト情報は、前記欠陥領域にアクセスするための欠陥エントリであって、スペア領域に書き込まれている代替データに対応する欠陥エントリを含み、前記欠陥リスト情報に含まれているエントリの終わりを示す欠陥リストターミネータを含むことを特徴とする請求項１５に記載の装置。
【請求項１８】
前記ピックアップによって再生される前記第１の位置情報は、各スペア領域の次に利用可能な位置の最初の物理的セクタ番号であることを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれかに記載の装置。
【請求項１９】
前記ピックアップを制御して、前記ピックアップの対物レンズと前記記録媒体との間の距離を維持し、前記記録媒体のトラックをトラッキングするように構成されているサーボと、
入力データを処理して、該入力データを前記ピックアップに供給し、および前記記録媒体から読み出されたデータを処理するように構成されているデータプロセッサと、
前記記録媒体に関連付けられる情報を格納するように構成されているメモリと
をさらに備え、
前記マイクロプロセッサは、前記サーボ、前記データプロセッサおよび前記メモリに動作可能なように結合され、前記サーボ、前記データプロセッサおよび前記メモリの動作を制御するように構成されていることを特徴とする請求項１８に記載の装置。
【請求項２０】
前記マイクロプロセッサは、前記記録媒体がファイナライズされた場合に、前記ピックアップを制御して、欠陥管理領域に記録されている欠陥リスト情報を再生するように構成されていることを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれかに記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高密度光ディスク上の欠陥領域を管理する方法に関し、特に、追記型ブルーレイディスク(BD-WO)等の高密度光ディスク上の欠陥領域を管理する追記型光ディスク、装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、例えば、書き換え可能なブルーレイディスク(BD-RE)等の、高品質のビデオデータとオーディオデータを長時間にわたり、記録し、消去し、書き換え可能な新規な高密度光ディスクが開発されている。
【０００３】
図１によると、ＢＤ−ＲＥに対してデータを書き込み、再生する光ディスク装置は、光ディスク１０に対して信号を書き込み、再生するための光ピックアップ１１を備える。
【０００４】
光ピックアップ１１からの信号を再生信号として処理し、外部データストリームを書き込みに適した書き込み可能な信号に変調し処理するビデオディスクレコーダ（ＶＤＲ）システム１２もまた図示されている。光ディスク装置は、外部アナログ信号をエンコードし、ＶＤＲシステム１２に提供するエンコーダー１３もまた備える。
【０００５】
図２によると、ＢＤ−ＲＥディスクは、リードイン領域(LIA; Lead-In Area)と、データ領域、及びリードアウト領域(LOA; Lead-Out Area)とに区画される。データ領域は、ユーザデータ領域と、ユーザデータ領域の先頭及び末尾にそれぞれ割り当てられたインナー・スペア領域(ISA; Inner Spare Area)とアウター・スペア領域(OSA; Outer Spare Area)が備える。リードイン領域は、欠陥領域の管理のためのディスク定義構造(DDS; Disc Definition Structure)情報と欠陥リスト(DFL; Defect List)情報を有する欠陥管理領域(DMA; Defect Management Area)を備える。
【０００６】
光ディスク装置のＶＤＲシステム１２は、外部信号を書き込みに適する信号へとエンコードし変調した後に、所定の記録サイズを有するＥＣＣブロックユニットに対応するクラスタ(Cluster)に外部データを書き込む。図２に示すように、データをユーザデータ領域に書き込むときにユーザデータ領域内に欠陥領域が発見された場合、ＶＤＲシステム１２は、欠陥領域に記録された一群のデータを、スペア領域の１つ、例えば、インナー・スペア領域に書き込む一連の代替書き込み動作を行う。
【０００７】
ＶＤＲシステム１２は、代替書き込み動作をする間、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥リスト情報を書き込み、管理する。欠陥リスト情報は、所定の記録サイズ、例えば、固定された４クラスタの記録サイズを有し、複数の欠陥エントリ（Ｄｅｆｅｃｔ＿Ｅｎｔｒｙ＃１〜＃４）を含み、各欠陥エントリ（Ｄｅｆｅｃｔ＿Ｅｎｔｒｙ＃１〜＃４）は、欠陥領域の位置情報と、代替動作の間にスペア領域に書き込まれたデータに関する書き込み位置情報を含む。
【０００８】
従って、ＢＤ−ＲＥのユーザデータ領域内に欠陥領域が存在する場合であっても、ＶＤＲシステム１２は、当該欠陥領域に書き込まれた一群のデータを、スペア領域上に書き込み、当該スペア領域からデータを再生することによって、データの書き込みエラーを予め防止する。
【０００９】
追記型ブルーレイディスク(BD-WO)は、開発中の、ディスクに対して高品質のデータを記録し再生することができる別のタイプの高密度光ディスクである。この名称から分かるように、ＢＤ−ＷＯ上にはデータを１回だけ書き込むことが可能であり、ＢＤ−ＷＯ上での書き換えはできない。しかし、ＢＤ−ＷＯは、繰り返し読み出すことはできる。したがって、ＢＤ−ＷＯは、記録媒体上のデータの書き換えが望まれず、または必須ではない場合に有用である。
【００１０】
近年、ＢＤ−ＷＯ等の高密度光ディスクの標準化に関する論議が進められている。ＢＤ−ＷＯの欠陥領域を管理するディスク構造、方法及び装置が必要とされ、これは、ＢＤ−ＷＯの固有な特性及び目的とする動作を提供する。この技術により、ＢＤ−ＷＯの商業的な活用度が高められ、操作の利便性が提供される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明には、従来技術では実現できない利点がある。
【００１２】
本発明の目的は、光記録媒体の欠陥領域を管理する方法を提供することにある。この光記録媒体においては、ＢＤ−ＷＯ等の高密度光ディスクの欠陥領域を管理する欠陥リスト情報又は仮欠陥リスト情報(temporary defect list information)がより有効かつ効率的に書き込まれ、管理される。例えば、本発明の方法は、欠陥リストまたは仮欠陥リストに起因するデータ記録容量の無用な損失を低減することを目指す。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の１又は複数の態様は、少なくとも１つの仮欠陥管理領域と、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域を備えた光記録媒体を管理する方法によって達成される。本方法は、データ領域内から欠陥領域が検出される場合、欠陥領域に書き込まれたデータを代替データとして少なくとも１つのスペア領域に代替書き込みすること、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥管理情報を少なくとも１つの仮欠陥管理領域内に書き込むことを含み、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥管理情報は、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタ（navigation pointer)によって識別される。
【００１４】
本発明の１又は複数の態様は、少なくとも１つの仮欠陥管理領域と、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域を備えた光記録媒体を管理する方法によって達成される。本方法は、データ領域内から欠陥領域が検出される場合、欠陥領域に書き込まれたデータを代替データとして少なくとも１つのスペア領域に代替書き込みすること、少なくとも１つの仮欠陥管理領域内に、代替データとしてスペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥リスト情報とディスク定義構造情報を生成すること、欠陥リスト情報とディスク定義構造情報を管理することを含み、欠陥リスト情報は、実際に書き込まれた代替データに対応する欠陥エントリを含み、ディスク定義構造情報は、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタとして、代替書き込みのためのスペア領域内の次の使用可能なセクタに関する書き込み位置情報を含む。
【００１５】
本発明の１又は複数の態様は、記録媒体によって実現される。この記録媒体は、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域と、データ領域内の欠陥領域を管理するための仮欠陥管理領域と、代替データを格納できる少なくとも１つのスペア領域の一部であって、欠陥領域に書き込まれたデータを代替データとして代替書き込みすることができるスペア領域の一部と、少なくとも１つの仮欠陥管理領域内には少なくとも１つのスペア領域内の一部に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥管理情報であって、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタによって識別される欠陥管理情報を含む。  
本発明の１又は複数の態様は、記録媒体によって実現される。この記録媒体は、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域と、データ領域内の欠陥領域を管理するための仮欠陥管理領域と、代替データを格納できる少なくとも１つのスペア領域の一部であって、欠陥領域に書き込まれたデータを代替データとして代替書き込みすることができるスペア領域の一部と、仮欠陥領域内には、少なくとも１つのスペア領域内の一部に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥リスト情報とディスク定義構造情報を含み、欠陥リスト情報は、実際に書き込まれた代替データに対応する欠陥エントリを含み、ディスク定義構造情報は、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタとして、代替書き込みのための少なくとも１つのスペア領域内の次の使用可能なセクタに関する書き込み位置情報を含む。
【００１６】
本発明の１又は複数の態様は、装置によって実現される。この装置は、少なくとも１つの仮欠陥管理領域と、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域を備えた光記録媒体を管理する装置であって、データ領域内から欠陥領域が検出される場合、欠陥領域に記録されたデータを代替データとして少なくとも１つのスペア領域に代替書き込みする手段と、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥管理情報を少なくとも１つの仮欠陥管理領域内に書き込む手段とを含み、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥管理情報は、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタによって識別される。
【００１７】
本発明の１又は複数の態様は、装置によって実現される。この装置は、少なくとも１つの仮欠陥管理領域と、データ領域内に少なくとも１つのスペア領域を備えた光記録媒体を管理する装置であって、データ領域内から欠陥領域が検出される場合、欠陥領域に書き込まれたデータを代替データとして少なくとも１つのスペア領域に代替書き込みする手段と、少なくとも１つの仮欠陥管理領域内に、スペア領域内に書き込まれたデータにアクセスするための欠陥リスト情報とディスク定義構造情報を生成し、欠陥リスト情報とディスク定義構造情報を管理する手段とを含み、欠陥リスト情報は、実際に書き込まれた代替データに対応する欠陥エントリを含み、ディスク定義構造情報は、少なくとも１つのナビゲーション・ポインタとして、代替書き込みのためのスペア領域内の次の使用可能なセクタに関する書き込み位置情報を含む。
【００１８】
本発明の適用可能なまた他の範囲は、後述する実施例により明らかになるはずである。しかし、本発明の範囲及び技術思想内での種々の変更及び適用が可能であることは、本発明の技術分野に属する当業者にとっては自明な事項であるため、本発明に関する詳細な説明及び特定の実施例は、本発明を説明するための１つの典型的で例示的な例として理解すべきである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明すれば、次の通りである。なお、本発明の最良の実施例について図３〜図１６を参照してより詳しく説明する。
【００２０】
図３は、本発明の好適な実施例に係わる、光ディスク記録再生装置２０のブロック図である。光ディスク記録再生装置２０は、光記録媒体２１に対してデータを読み書きする光ピックアップ２２と、光ピックアップ２２を制御し、光ピックアップ２２の対物レンズと記録媒体２１との間隔を一定に保持し、記録媒体２１上のトラックをトラッキングするためのサーボユニット２３と、書き込みのため、入力データを処理し光ピックアップ２２に供給し、記録媒体から読み込んだデータを処理するデータプロセッサ２４と、外部ホスト３０とのデータ及び／又はコマンドのやり取りをするインターフェイス２５と、記録媒体２１に関連する欠陥管理データを含む情報とデータを記録するメモリ又はストレージ２７と、記録再生装置２０の各構成要素の動作を制御するマイクロプロセッサ又はコントローラー２６とを含む。
【００２１】
記録媒体２１に対して読み書きするデータは、メモリ２７に保存される。光記録再生装置２０内の全ての構成要素は、相互作用するように接続される。一実施例では、記録媒体２１は、ＢＤ−ＷＯ等の追記型記録媒体である。
【００２２】
図４Ａ及び図４Ｂは、本発明の実施例に係る、単層ＢＤ−ＷＯ及び二層ＢＤ−ＷＯの構造を示す。図４Ａ及び図４Ｂに示すように、ＢＤ−ＷＯは、１つまたは２つの記録層を有することができる。図４Ａに示すように、１つの記録層(Layer0)を有するＢＤ−ＷＯは、リードイン領域(LIA)と、データ領域、及びリードアウト領域(LOA)から構成される１つの記録層を含み、以下、これを単層ディスクという。図４Ｂに示すように、二層ＢＤ−ＷＯは、２つの記録層(Layer0、1)を有し、以下、これを二層ディスクという。第１の記録層(Layer0)は、ＬＩＡと、データ領域、及びアウター・ゾーンを含む。第２の記録層(Layer1)は、ＬＯＡと、データ領域、及びアウター・ゾーンを含む。一般に、データの書き込みは、二層ディスクにおいて点線の矢印で示した方向に沿って行われる。単層ディスクは、２３．３、２５．０または２７．０ギガバイトの容量を有するのに対し、二層ディスクは、４６．６、５０．０または５４．０ギガバイトの容量を有する。
【００２３】
本発明の各種の実施例（後述する）は、単層ＢＤ−ＷＯまたは二層ＢＤ−ＷＯまたはＢＤ−ＲＥのいずれのタイプのディスクにも適用可能である。更に、本発明の方法に関連する図３に示す記録再生装置２０の活用は後述するが、本発明は、本方法を実行するために構成されている限り前述の装置に限定されず、他の記録再生装置をも包含する。例えば、図１に示す装置も必要に応じて本方法を実行するために使用することができる。
【００２４】
図５は、本発明の実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法のブロック図である。本方法において、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域の管理は、ＢＤ−ＲＥに対して使用された方法と類似の方法で行われる。この場合、固定された４クラスタの記録サイズを有する新規の仮欠陥リスト(TDFL)がＢＤ−ＷＯに適用されるために定義される。図５に示す欠陥領域を管理する方法の一例において、第１のデータ書き込み動作中の代替書き込み過程で生成される第１〜第３の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃３）が４クラスタの第１の仮欠陥リスト（１ｓｔ＿ＴＤＦＬ）として書き込まれ、管理される。
【００２５】
次いで、第２のデータ書き込み動作中の代替書き込み過程で生成される第４の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃４）が加えられ、第１〜第４の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃４）が４クラスタの第２の仮欠陥リスト（２ｎｄ＿ＴＤＦＬ）として書き込まれ、管理される。また、第３のデータ書き込み動作中の代替書き込み過程で生成される第５の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃５）が加えられ、第１〜第５の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃５）が４クラスタの第３の仮欠陥リスト（３ｎｄ＿ＴＤＦＬ）として書き込まれ、管理される。
【００２６】
しかし、前述の動作を繰り返し行う場合、４クラスタの固定された記録サイズを有するＴＤＦＬ情報が多数回書き込み、書き換えられるため、ＢＤ−ＷＯのデータ記録容量が浪費されるか、または非効率的な使用になるという問題が起こりうる。
【００２７】
すなわち、ＢＤ−ＲＥの場合には、４クラスタの固定された記録サイズを有する欠陥リスト情報の使用は問題にはならない。なぜならば、ＢＤ−ＲＥは、書き換え可能であるため、前の欠陥リスト情報を更新することができるからである。しかし、ＢＤ−ＷＯの場合には、ＢＤ−ＷＯのデータ記録容量が浪費されるか、または非効率な使用になる。なぜならば、前の欠陥リストは非書き換え可能（追記型）ＢＤ−ＷＯでは更新できず、その結果、新しい仮欠陥リスト情報を書き込む必要があるからである。したがって、本発明者は、前の欠陥リスト情報をこのタイプのシステムではこのフォーマットで効率的に更新できないと判断している。
【００２８】
図６は、本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法を示す別のブロック図である。図６に示すように、ＢＤ−ＷＯは、リードイン領域(LIA)と、データ領域、及びリードアウト領域(LOA）を含む。データ領域は、物理的セクタ番号(PSN)と論理的セクタ番号(LSN)をともに有するユーザデータ領域と、物理的セクタ番号(PSN)だけを有する非ユーザデータ領域を含む。
【００２９】
非ユーザデータ領域は、欠陥領域に代わってデータを書き込むためのアウター・スペア領域（ＯＳＡ）等のスペア領域と、欠陥領域とスペア領域に書き込まれたデータに関する管理情報を書き込むための仮欠陥リスト領域(TDFL Area)を含む。ＯＳＡは、ＩＳＡに割り当てることができ、ＩＳＡは、両位置に備えることができる。同様に、ＴＤＦＬ領域は、ＯＳＡに隣接する位置に割り当てることができ、または、両位置に備えることができる
図３を参照して説明した光ディスク記録再生装置２０は、データ書き込み時、ユーザデータ領域内の所定の書き込みセクタにデータを連続して書き込む。所定のデータ書き込みセクタは、記録サイズの欠陥検証ユニット(DVU;  Defect Verify Unit)として設定され、その記録サイズは、データの書き込み中に検出される欠陥領域に対する１つまたは複数のトラックまたはクラスタと等価である。
【００３０】
ＤＶＵ上にデータを書き込んだ後、光ディスク記録再生装置２０は、一連の欠陥領域検出動作を繰り返し、その場合、光ディスク記録再生装置２０は、ＤＶＵに書き込まれたデータを再生し、書き込まれたデータを規則正しく検証する。例えば、光ディスク記録再生装置２０は、第１の欠陥検証ユニット（ＤＶＵ＃１）として第１〜第５のクラスタ（ｃｌｕｓｔｅｒ＃１〜＃５）を書き込んだ後（Ｓ１０）、ＤＶＵ＃１上に書き込まれたデータを順次再生し欠陥領域を検出する。
【００３１】
例えば、図６に示すように、欠陥領域がクラスタ＃２で検出される場合（Ｓ１１）、光記録再生装置２０のメモリ２７内または他のストレージに格納されたクラスタ＃２のデータを、欠陥領域に代わってＯＳＡに仮に書き込む（Ｓ１２）。
【００３２】
この場合、クラスタ＃２は、ＯＳＡの先頭または末尾から書き込みを始めればよい。光ディスク記録再生装置２０は、書き込み動作の後、ＤＶＵ＃１に記録されたデータをクラスタ＃３から再生する。例えば、図６に示すように、クラスタ＃４に欠陥領域がある場合（Ｓ１３）、光記録再生装置２０のメモリ２７内または他のストレージに格納されたクラスタ＃４のデータを欠陥領域の代わりにＯＳＡに一時的に書き込む（Ｓ１４）。
【００３３】
したがって、ＤＶＵ＃１は、最終的に、規則的に書き込まれるクラスタ＃１、＃３、＃５と、２つの欠陥領域を有する。これに対し、ＯＳＡは、欠陥領域に代わって書き込まれるクラスタ＃２とクラスタ＃４を有する。
【００３４】
欠陥領域の検出及び代替書き込み動作が、ＤＶＵ＃１、ＤＶＵ＃２、・・・、ＤＶＵ＃ｎにおいて連続して行われる間に仮の連続性を有するデータ記録（ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ１）が終了すると、光ディスク記録再生装置２０は、ＴＤＦＬ領域内に、欠陥領域とこの欠陥領域に代わって書き込まれたデータを管理するＴＤＦＬ情報として管理情報を書き込む。
【００３５】
この場合、一例として、管理情報をＴＤＦＬとして書き込み管理してもよい。図７に示すように、ＴＤＦＬは、複数の欠陥エントリ（Ｄｅｆｅｃｔ＿Ｅｎｔｒｙ＃１、・・・、ｍ＃）を含み、各欠陥エントリは、欠陥領域の第１の物理的セクタ番号(PSN of Defective)と、欠陥領域に対する代替データが書き込まれたデータ領域の第１の物理的セクタ番号(PSN of replacement)及び互いのクロスリファレンスを含む。ＴＤＦＬ情報は、例えば、ＰＳＮ ｏｆ ＴＤＦＬ＃１等の各ＴＤＦＬの第１の物理的セクタと、スペア領域の大きさ、及び必要ならば、他の管理情報を含む。ＴＤＤＳ情報とＴＤＦＬ情報は、ＢＤ−ＷＯが終了する時、またはある指定された時に、ＢＤ−ＷＯの欠陥管理領域(DMA)へと転送され、書き込みされる。
【００３６】
光ディスク記録再生装置２０は、ＢＤ−ＷＯのＴＤＦＬ領域に、仮欠陥リスト情報を４クラスタより小さい所定の記録サイズ内（例えば、１クラスタ記録サイズ）に書き込み、管理する。例えば、図８に示すように、光ディスク記録再生装置２０は、ＴＤＦＬ領域内に、第１の書き込み動作中の代替書き込み過程によって生成される第１〜第３の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃３）を１クラスタの第１の仮欠陥リスト（１ｓｔ＿ＴＤＦＬ）として書き込み、管理する。第１の仮欠陥リスト（１ｓｔ＿ＴＤＦＬ）情報は、連続して書き換え可能なスペア領域内の書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ）をまた含む。例えば、ＩＳＡ内における連続して代替記録可能な書き込み位置情報が第１の仮欠陥リスト（１ｓｔ−ＴＤＦＬ）内に含まれる。この書き込み位置情報は、欠陥管理を行うに際してデータ領域の適切な位置を指定するナビゲーション・ポインタとしての役割を果たす。
【００３７】
光ディスクの記録再生装置２０は、第２のデータ書き込み動作中の代替書き込み処理によって生成される第４の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃４）を加えて、第１〜第４の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃４）を形成する。光ディスク記録再生装置２０は、ＴＤＦＬ領域内に、１クラスタの第２の仮欠陥リスト（２ｓｔ＿ＴＤＦＬ）として第１〜第４の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃４）を書き込み、管理する。第２の仮欠陥リスト（２ｎｄ＿ＴＤＦＬ）情報は、利用可能であれば、ＩＳＡ連続代替書き込み位置に関する新しい書き込み位置情報もまた含む。
【００３８】
光ディスク記録再生装置２０は、第３のデータ書き込み動作中の代替書き込み処理によって生成される第５の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃５）を加えて、第１〜第５の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃５）を形成する。光ディスク記録再生装置２０は、ＴＤＦＬ領域内に、１クラスタの第３の仮欠陥リスト（３ｓｔ＿ＴＤＦＬ）として第１〜第５の欠陥エントリ（Ｄ＿Ｅｎｔ＃１〜＃５）を書き込み、管理する。第３の仮欠陥リスト（３ｎｄ＿ＴＤＦＬ）情報は、利用可能であれば、ＩＳＡ連続代替書き込み位置に関する新しい書き込み位置情報を含む。
【００３９】
したがって、欠陥リスト情報は、スペア領域内に実際に代替書き込みされたデータへのアクセスのための欠陥エントリと、スペア領域連続代替書き込み位置に関する書き込み位置情報だけを含むため、欠陥リスト情報の記録サイズを１クラスタに制限できる。従って、これらのナビゲーション・ポインタは、欠陥管理情報のために必要とされるスペースを低減するのに役立つ。
【００４０】
図９は、ＩＳＡ等のスペア領域の１つが代替データで満杯である場合にＢＤ−ＷＯ上に欠陥管理情報を書き込む例を示す。図９を参照すると、光ディスク記録再生装置２０は、欠陥リストに連続代替書き込みに関する書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ）を書き込む。光ディスク記録再生装置２０は、ＯＳＡ内において、データがＯＳＡの外周部分から始まって内周部分へと記録される等、データの代替書き込み方向を逆にして代替書き込みを行う。
【００４１】
図１０によれば、新たに書き込まれるＴＤＦＬ情報が、１クラスタのＴＤＦＬ情報を生成する途中に、欠陥エントリの増加により、１クラスタの記録サイズを超える場合、新たに生成されるＴＤＦＬの記録サイズは、本発明の第１の実施例によって、その時点から２クラスタに拡張される。例えば、１クラスタの大きさの第３のＴＤＦＬ（ＴＤＦＬ＃３）が前述したようにＴＤＦＬ情報で満たされている場合、引き続くＴＤＦＬの割り当てサイズは、ＴＤＦＬ情報の増大に対応するために、例えば２クラスタに増える。この方式により、各ＴＤＦＬの割り当てサイズを必要に応じて２クラスタから４クラスタの記録サイズに増大させることができる。
【００４２】
図１１に示す第２の実施例では、新たに書き込まれるＴＤＦＬ情報が、第１クラスタのＴＤＦＬ情報の書き込み中に、欠陥エントリの増加により１クラスタの記録サイズを超える場合、新たなＴＤＦＬ情報、例えば、第４のＴＤＦＬ（ＴＤＦＬ＃４）から、前に書き込まれた欠陥エントリの記録が削除される。新たなＴＤＦＬ情報が１クラスタ内に記録されると同時に、新たな欠陥エントリとスペア領域連続代替書き込み位置に関する書き込み位置情報がＴＤＦＬに書き込まれる。本方式によれば、各ＴＤＦＬのサイズを１クラスタ内に保持することができる。
【００４３】
書き込まれた新たな欠陥エントリを備えるＴＤＦＬ情報と、前に書き込まれたＴＤＦＬ情報は、第１のグループ（Ｇｒｏｕｐ＃１）と第２のグループ（Ｇｒｏｕｐ＃２）とに分けられる。第１のグループ（Ｇｒｏｕｐ＃１）と第２のグループ（Ｇｒｏｕｐ＃２）を識別するための識別情報（例えば、ｉｎｄｅｘ＿Ｇｒｏｕｐ）は、ＴＤＤＳ情報とともに含まれる。ＴＤＤＳ情報は、ＢＤ−ＷＯ内の指定されたＴＤＤＳ領域内、例えば、図６に示すＬＩＡ内のＴＤＤＳ領域内に書き込まれる。
【００４４】
従って、光ディスク装置は、通常の欠陥領域の管理と代替書き込み動作を、ＴＤＦＬ情報内の欠陥エントリと、代替書き込みのための連続スペア領域位置の書き込み位置情報を参照して行うことができる。更に、光ディスク装置は、最も小さい可能性がある記録サイズでＴＤＦＬ情報を書き込み、管理することができる。
【００４５】
ＴＤＦＬ情報は、記録媒体内の特定領域に記録することが可能であり、ＢＤ−ＷＯの不変の欠陥管理領域(DMA)にＤＦＬ情報として転送される。また、ＴＤＤＳ情報を、同様に、記録媒体内の特定領域に割り当てることができ、ＤＭＡ内にＤＤＳ情報として転送される。
【００４６】
最小限の欠陥エントリと連続代替書き込み位置に関する書き込み位置情報を書き込み、管理する本発明は、上述し、添付の図面に示されたＢＤ−ＷＯのみならず、ＢＤ−ＲＷ等の他の各種の媒体にも適用できる。
【００４７】
図１２に示された本発明の他の実施例からわかるように、最小限の欠陥エントリと、欠陥エントリの書き込み終りまたは最後を表す識別情報、例えば、８バイト記録サイズの欠陥リスト終了ターミネータ(Defect List Terminator)が、第１のＴＤＦＬ（ＴＤＦＬ＃１）内に書き込まれ、管理される。スペア領域内の連続代替書き込み位置の書き込み位置情報は、第１のＴＤＦＬ情報に対応する第１のＴＤＤＳ（ＴＤＤＳ＃１）内に書き込まれ、管理される。
【００４８】
更に、例えば、図示したＢＤ−ＷＯのスペア領域の例において、代替書き込み可能な第１の連続クラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ｓｐａｒｅ＿ｃｌｕｓｔｅｒ）と、第１のＴＤＦＬ情報にアクセスするための物理的セクタ情報（ＰＳＮ ｏｆ ＴＤＬＦ＃１）が第１のＴＤＤＳ情報内に含まれる。
【００４９】
また、図１３を参照すれば、新たな第２のＴＤＦＬ情報（ＴＤＦＬ＃２）が更新される場合、新たな欠陥エントリと欠陥リストの記録が終了したことを表す欠陥リスト終了情報(terminator information)が第２のＴＤＦＬ情報（ＴＤＦＬ＃２）に書き込まれる。
【００５０】
更にまた、連続代替書き込み可能なスペア領域の第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ｓｐａｒｅ＿ｃｌｕｓｔｅｒ）と、第２のＴＤＦＬ情報にアクセスするための物理的セクタ情報（ＰＳＮ ｏｆ ＴＤＦＬ＃２）が第２のＴＤＤＳ情報内に対応する第２のＴＤＤＳに含まれる。
【００５１】
従って、ＴＤＤＳ情報（ＴＤＤＳ＃ｋ）は、新たに書き込まれたＴＤＦＬ情報にアクセスするための物理的セクタ情報（ＰＳＮ ｏｆ ＴＤＦＬ＃ｋ）と、連続代替書き込み可能なスペア領域の第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ｓｐａｒｅ＿ｃｌｕｓｔｅｒ）を含む。
【００５２】
図１４によれば、１つの記録層と、ＩＳＡとＯＳＡの両方を備えた単層ＢＤ−ＷＯにおいて、ＴＤＤＳ（ＴＤＤＳ＃ｋ）は、連続代替書き込み可能なＩＳＡの第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＩＳＡ０＿ｃｌｕｓｔｅｒ）と、連続代替書き込み可能なＯＳＡの第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＯＳＡ０＿ｃｌｕｓｔｅｒ）を含む。
【００５３】
図１４に示すように、ＯＳＡ内におけるデータの代替書き込み方向が光ディスクの外周部分から内周部分に向かって行われる場合、代替書き込みされた最後のデータの前のクラスタの最後のセクタの書き込み位置情報が書き込まれ、連続代替書き込み可能なＯＳＡの書き込み位置情報として管理される。
【００５４】
図１５によれば、第１の記録層(Layer0)及び第２の記録層(Layer1)のそれぞれに割り当てられたインナー・スペア領域(ISA0とISA1)とアウター・スペア領域(OSA0とOSA1)を有する二層ＢＤ−ＷＯにおいて、ＴＤＤＳ情報（ＴＤＤＳ＃ｋ）は、連続代替書き込みセクタとして利用可能な第１のインナー・スペア領域と第２のインナー・スペア領域の第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＩＳＡ０＿ｃｌｕｓｔｅｒ及び１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＩＳＡ１＿ｃｌｕｓｔｅｒ）と、欠陥管理のために、連続代替書き込みセクタとして利用可能な第１のアウター・スペア領域と第２のアウター・スペア領域の第１のクラスタの第１のセクタに対応する書き込み位置情報（１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＯＳＡ０＿ｃｌｕｓｔｅｒ及び１ｓｔ＿ｕｓａｂｌｅ＿ＯＳＡ１＿ｃｌｕｓｔｅｒ）を含む。これらの書き込み位置情報は、図示した順番に沿って記録してもよく、または他の順番に沿って記録してもよい。
【００５５】
図１６によれば、連続代替書き込み可能なスペア領域の書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ）が、図７〜図１１に示すようにＴＤＦＬ情報内に書き込まれ、管理される場合においても、図１６に示されたように、ＢＤ−ＷＯが、割り当てられたＩＳＡとＯＳＡの両方を備えた１つの記録層を有する場合は、ＴＤＦＬ情報は、欠陥管理のために、連続代替書き込み可能なＩＳＡの第１のクラスタの第１のセクタを識別する書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＩＳＡ）と、連続代替書き込み可能なＯＳＡの第１のクラスタの第１のセクタを識別する書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＯＳＡ）を含む。
また、第１の記録層(Layer0)及び第２の記録層(Layer1)に割り当てられたインナー・スペア領域(ISA0とISA1)とアウター・スペア領域(OSA0とOSA1)を有する２つの層を有するＢＤ−ＷＯにおいては、ＴＤＦＬ情報は、欠陥管理のために、連続代替書き込みセクタとして利用可能な第１のインナー・スペア領域と第２のインナー・スペア領域の第１のクラスタの第１のセクタを識別する書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＩＳＡ０及びｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＩＳＡ１）と、インナー層とアウター層の欠陥管理のために連続代替書き込みのために利用可能な第１のアウター・スペア領域と第２のアウター・スペア領域の第１のクラスタの第１のセクタを識別する書き込み位置情報（ｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＯＳＡ０及びｕｓａｂｌｅ＿Ａｄｄ＿ＯＳＡ１）を含む。これらの記録位置情報は、図示した順番に沿って書き込んでも、他の順番に沿って書き込んでもよい。
【００５６】
また他の実施例として、１つまたは複数のスペア領域内における有効なセクタを識別する書き込み位置情報を、必要に応じて、ＴＤＦＬ内とＴＤＤＳ内に書き込むことができる。
【００５７】
従って、光ディスク記録再生装置２０は、通常の欠陥領域の管理と代替書き込み動作を、ＴＤＦＬ情報内の欠陥エントリと、ＴＤＤＳ情報内及び／またはＴＤＦＬ情報内の書き込み位置情報を参照して行うことが可能になり、更に、最も小さい可能性がある記録サイズのスペア領域にＴＤＦＬ情報を書き込み、管理することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５８】
上述の通り、追記型高密度光ディスク上の欠陥領域を管理する方法よれば、ＢＤ−ＷＯ等の高密度光ディスク上に存在する欠陥領域のデータを欠陥領域の代わりにスペア領域に書き込むことによって、最小限の記録サイズで欠陥領域を管理するための欠陥リスト情報または仮欠陥リスト情報を効率よく記録し管理すること、スペア領域に書き込まれた代替データにアクセスするための欠陥リスト情報を生成することが可能となり、代替書き込みデータに対応する欠陥エントリ及び、スペア領域連続代替書き込みの書き込み位置情報は管理のための欠陥リスト情報として書き込まれ、管理され、又は、代替書き込みが可能な書き込み位置情報は、欠陥定義構造情報に書き込まれ、管理される。
【００５９】
本発明は、本発明の精神又は範囲を逸脱することなく種々の変更、または変形的な使用が可能であることは、当該発明の属する技術分野の当業者にとっては自明なことである。従って、本発明の特許請求の範囲及びその均等な範囲内での変形的な使用は、本発明に属するということを明らかにする。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】関連技術の光ディスク装置を概略的に示す図である。
【図２】ＢＤ−ＲＥ上の欠陥領域を管理する関連技術の方法のブロック図である。
【図３】本発明の実施例に係る、光ディスク記録再生装置のブロック図である。
【図４Ａ】本発明の実施例に係る、単層ＢＤ−ＷＯ及び二層ＢＤ−ＷＯ光ディスクの構造を示す図である。
【図４Ｂ】本発明の実施例に係る、単層ＢＤ−ＷＯ及び二層ＢＤ−ＷＯ光ディスクの構造を示す図である。
【図５】本発明の実施例に係るＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法のブロック図である。
【図６】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法のブロック図である。
【図７】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法のブロック図である。
【図８】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理される仮欠陥リスト情報のブロック図である。
【図９】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理される仮欠陥リスト情報のブロック図である。
【図１０】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理される仮欠陥リスト情報のブロック図である。
【図１１】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理される仮欠陥リスト情報のブロック図である。
【図１２】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理されるディスク定義構造情報を示すブロック図である。
【図１３】本発明の好適な実施例に係る、ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理されるディスク定義構造情報を示すブロック図である。
【図１４】本発明の好適な実施例に係る、単層ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理されるディスク定義構造情報を示すブロック図である。
【図１５】本発明の好適な実施例に係る、二層ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理されるディスク定義構造情報を示すブロック図である。
【図１６】本発明の好適な実施例に係る、単層または二層ＢＤ−ＷＯ上の欠陥領域を管理する方法によって書き込まれ管理される仮欠陥リスト情報を示すブロック図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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