(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定磁性体の両端から等距離にある中央の節の位置において印加磁界を変化させながら、誘導起電力の実効磁界依存性を求めるステップと、
上記被測定磁性体の両端から等距離にある中央の節の位置において、印加磁界を変化させながら磁気歪みの実効磁界依存性を求めるステップと、
上記被測定磁性体の長手方向に沿って一定磁界を印加した状態で、磁性体に弾性波を伝播させると共に反射させて上記被測定磁性体中に定在波を形成して振動磁界を発生させ、弾性波の伝播軸方向にコイルの位置を変化させながら、上記被測定磁性体の長手方向の各部における誘導起電力を測定するステップと、
上記被測定磁性体の長手方向の各位置における誘導起電力の分布から、定在波の腹の測定値の包絡線を求め、この包絡線から求めた各位置での誘導起電力の値と、上記誘導起電力の実効磁界依存性と、上記磁気歪みの実効磁界依存性とから、各位置における磁気歪みを求めて、磁気歪み分布を求めるステップと、
を含む、弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法。
【請求項２】
初期状態の磁性体と、機械的ストレスを印加して疲労状態にある該磁性体とについて、それぞれ、請求項１に記載の弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法を用いて、磁性体の長手方向の磁気歪み分布を測定し、初期状態の磁性体の磁気歪み分布と疲労状態の磁性体の磁気歪み分布とを比較して、疲労状態を判定することを特徴とする、弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法を用いた応力検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、弾性体に弾性波を定在波を発生させることにより、磁性体各部における磁気歪みを計測する、弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法、及びこの磁気歪み分布測定法を用いた応力検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
鉄棒に代表される磁性体棒は、機械的強度が大きく、且つ、低コストであることから、例えば、電車の車軸等の極めて機械的負荷が大きい部分に使用されている。しかしながら、良く知られているように、機械的負荷が大きい状態で使用し続けると、金属疲労が進行し、突然の破断等の破壊を招く。このため、磁性体棒の疲労の程度を非破壊で検査する方法が必要である。
従来のこの種の検査方法には、超音波パルス法がある。また、超音波は縦波、すなわち伸縮波であるので、検査対象が鉄鋼のような磁性を持つ構造物であれば、超音波による伸縮箇所には磁気歪みが生じ、この磁気歪みによる逆磁歪効果に基づいて異方性磁界が生じる。この現象に着目し、磁性体の一端に配置した弾性波発生器からの入射弾性波と磁性体の他端からの反射弾性波とで定在波を形成し、該定在波の節に応力が生じることを利用してこの応力の逆磁歪効果で発生する振動する異方性磁界から磁性体の磁気歪みを測定する方法が知られている（特許文献１や非特許文献１）。
また、鋼板の表面にバイアス磁界を印加すると共にこのバイアス磁界と同一平面内で直交し互いに逆行するように誘導磁界を印加させることで磁歪を生じさせ、この磁歪により生じる表面波の二方向への伝播速度の違いから、内部応力を評価することも、知られている（特許文献２）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−２８７５６５号公報
【特許文献２】特開平７−２８６９１６号公報
【非特許文献１】籏福  寛、電気学会論文誌Ａ、１２１巻８号、ｐｐ７３９〜７４４、２００１年
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、超音波パルス法は、疲労が進み、ひび割れが生じた場合には有効であるが、ひび割れが生じてから、交換や補修をするのでは、安全が確保できない場合があるので十分な検査方法ではないという課題がある。
また、特許文献２の方法は、ひび割れが生じる直前の状態である内部応力の発生を検査できるが、誘導磁界により表面波を発生させるため、その発生効率が良くない。また、疲労した被測定物の残留応力を測定する場合には、疲労によって被測定物の硬度が高くなり、硬度が高くなると一般に弾性率が大きくなるために表面波の伝搬速度が大きくなり、また、疲労個所は表面全体に亘って一様ではないので、内在する応力のみに基づく表面波の二方向への伝播速度の違いを正確に測定することは困難であり、この測定方法では正確に測定することが困難であるという課題がある。
さらに、特許文献１に開示された方法では、内在する応力の大きさの異なる複数の磁性体を用いて各誘導起電力曲線を測定しておく必要があり、測定に手間がかかる。
【０００５】
このような状況の下、本発明者は、特許文献１および非特許文献１に開示した技術内容に更に改良を加え、磁性体棒の長手方向に沿って各部の磁気歪みを容易に算出できる、弾性波定在波法による磁気歪みを着想するに至った。
【０００６】
そこで、本発明は、上記課題に鑑み、磁性体内に生じさせた弾性波定在波を利用して、正確、且つ、簡便に磁性体の任意の部位の磁気歪みを求めることができる、弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法、及び、その方法を用いた応力検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法は、被測定磁性体の両端から等距離にある中央の節の位置において印加磁界を変化させながら、誘導起電力の実効磁界依存性を求めるステップと、被測定磁性体の両端から等距離にある中央の節の位置において、印加磁界を変化させながら磁気歪みの実効磁界依存性を求めるステップと、被測定磁性体の長手方向に沿って一定磁界を印加した状態で、磁性体に弾性波を伝播させると共に反射させて被測定磁性体中に定在波を形成して振動磁界を発生させ、弾性波の伝播軸方向にコイルの位置を変化させながら、被測定磁性体の長手方向の各部における誘導起電力を測定するステップと、被測定磁性体の長手方向の各位置における誘導起電力の分布から、定在波の腹の測定値の包絡線を求め、この包絡線から求めた各位置での誘導起電力の値と、誘導起電力の実効磁界依存性と、磁気歪みの実効磁界依存性とから、各位置における磁気歪みを求めて、磁気歪み分布を求めるステップと、を含むことを特徴とする。
【０００８】
この方法によれば、磁性体の長手方向に沿って印加した所定のバイアス磁界における、磁性体の任意の位置の磁気歪み量を測定することができる。すなわち、弾性波定在波法により測定される誘導起電力は、被測定磁性体の形状に基づく反磁界効果に影響されないので、誘導起電力と予め測定した誘導起電力と実効磁界の関係とから、被磁性体に形成された定在波の節の位置に実際に印加されている磁界、すなわち、実効磁界を求めることができ、また、磁性体に印加する磁界強度と磁気歪みの関係から、磁性体の節の磁気歪み量がわかる。また、弾性波の周波数を選択することにより、定在波の節の位置を選択できるので、任意の位置の磁気歪み量を測定することができる。
【０００９】
また、本発明の応力検査方法は、初期状態の磁性体と、機械的ストレスを印加して疲労状態にある該磁性体とについてそれぞれ、上記弾性波定在波法による磁気歪み分布測定方法を用いて、磁性体の長手方向の磁気歪み分布を測定し、初期状態の磁性体の磁気歪み分布と疲労状態の磁性体の磁気歪み分布とを比較して、疲労状態の程度を判定することを特徴とする。
【００１０】
この検査方法によれば、正確に磁性体の疲労状態を判定できる。すなわち、磁性体に機械的ストレスを印加すると、磁性体に応力が内在するようになり、応力が一定値を越えると破断等の破壊が生じ易くなるので、磁性体に内在する応力を測定すれば、磁性体の疲労状態を破壊前に知ることができる。磁性体に応力が内在すると、磁気歪み特性が変化するので、磁性体に磁場を印加し、磁性体全体の磁気歪みによる伸縮を測定することによって疲労度を判定できる。しかしながら、磁性体に印加されるストレスの種類によっては、磁性体の部位によって応力の方向が異なり、磁性体全体の伸縮が必ずしも疲労度に比例しない場合がある。
そこで、本発明の検査方法は、磁性体全体の磁気歪みによる伸縮ではなく、磁性体の各部位の磁気歪みによる伸縮、即ち、磁性体の磁気歪みの分布を比較して疲労度を検査するので、内部内在する応力の方向が異なる場合でも、正確に検査できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を説明する。
本発明の方法は、特許文献１に記載された、被測定磁性体の長手方向に沿って一定のバイアス磁界を印加した状態で、磁性体に弾性波を伝播させると共に反射させて磁性体中に定在波を形成して振動磁界を発生させ、上記定在波の節の位置の振動磁界を誘導起電力として測定して実効磁界を計測する方法を用いるものであるので、初めにこの方法を説明する、なお、詳しくは特許文献１を参照していただきたい。
応力σを磁性体に加え、磁性体に機械的歪みεを加えると、εは磁気歪みλに等価な歪みを伴い、その結果、異方性磁界Ｈe が生じる。この効果は、磁界を印加して磁性体を機械的に歪ませることの逆であるので、逆磁歪効果という。
次に異方性磁界Ｈe の大きさと方向を説明する。応力σの印加により、磁性体の応力場には、磁気弾性エネルギーＫe が発生する。この効果は、逆磁歪効果と呼ばれ、等方性磁性体の場合には、（１）式で表される。
Ｋe ＝−（３／２）λσｃｏｓ2 φ                （１）
ここで、λは磁気歪み量、φは応力σと磁化Ｉとのなす角である。異方性磁界Ｈe の大きさは次式によって表される。
Ｈe ＝２Ｋe ／Ｉ                                （２）
異方性磁界Ｈe の方向は、（１）式の磁気弾性エネルギーＫe が最小となる方向であり、単位体積当たりの磁気モーメント、すなわち磁化（磁気モーメント）Ｉが、Ｋe が最小となる方向に回転し、回転した磁化Ｉの方向が異方性磁界Ｈe の方向となる。
【００１２】
図１は、磁性体にバイアス磁界を印加し、磁性体の一端から弾性波を伝播させたときの現象を説明するため図である。図において、磁性体１０の一端１１に弾性波発生器１２が配置され、磁性体１０の他端１３には弾性波１４を吸収する吸収体１５が配置されている。図中の矢印は磁性体１０の磁気モーメント１６を表しており、概略バイアス磁界ＨDCの方向を向いている。
【００１３】
弾性波発生器１２から弾性波１４を発生させると、弾性波１４は磁性体中を伝搬する。図において、１４ａは伝搬する弾性波の張力部分を、１４ｂは圧力部分をそれぞれ示している。
応力σが正の場合（張力が働いて伸びている状態の応力）に磁気歪みが正となる磁性体（逆磁歪効果による磁界が増える磁性体）、すなわち磁気歪み定数が正の磁性体の場合には、上記（１）式より、磁気弾性エネルギーＫe が最小となる応力σと磁気モーメント１６とのなす角φは、φ＝０，またはπであるから、図１の１４ａに示したように、磁気モーメント１６は弾性波の伝搬方向に平行となる。同様に、応力σが負の場合（圧力が働いて縮んでいる状態の応力）に磁気弾性エネルギーＫe が最小となる角φは、φ＝π／２，または３π／２であるから、図１の１４ｂに示したように、磁気モーメント１６は弾性波の伝搬方向に垂直になる。弾性波１４は伝搬するから、磁性体１０の一点において磁気モーメント１６が平行及び垂直方向に時間的に振動することになり、磁性体中に振動磁界を発生させることができる。
また、磁気歪み定数が負の磁性体の場合には、応力σが負の部位の磁気モーメントは平行になり、応力が正の部位の磁気モーメントは垂直になる。
【００１４】
図１において、１７は磁性体１０の一点に固定した、磁性体を取り巻いて形成したコイルであり、弾性波１４の伝搬に伴って、逆磁歪効果による振動磁界が発生し、この振動磁束がコイル１７に鎖交するので誘導起電力が発生し、磁性体中に発生した振動磁界振幅、すなわち、異方性磁界Ｈe を測定することができる。すなわち、誘導起電力は、上記（３）式に示した異方性磁界Ｈe と弾性波の周波数に比例するから、測定した誘導起電力と弾性波の周波数とから異方性磁界Ｈe を知ることができる。
【００１５】
ところが、第１の問題として、弾性波は伝搬に伴い減衰し、磁性体の各部位に同等の応力を印加することができないことになる。
また、第２の問題として、誘導起電力には、磁束の時間変化に基づく起電力以外に、磁場勾配中を磁界源が動くことに基づく起電力が加算され、磁束の時間変化に基づく起電力のみを測定できない。すなわち、コイル１７に誘導される起電力ｅは、Φをコイル１７に鎖交する磁束、ｔを時間、ｘを位置座標、ｖをコイル中を振動磁界が通過する速度とすると、
ｅ＝−（∂Φ／∂ｔ）−（∂Φ／∂ｘ）・ｖ              （３）
で表される。磁性体１０に外部磁界を印加すると、磁性体端面に磁極が発生し、反磁界効果によって磁性体端面近傍では磁束勾配（∂Φ／∂ｘ）が存在し、この磁束勾配（∂Φ／∂ｘ）が未知であるため、起電力ｅから磁束Φを求めることができず、従って、磁性体端面近傍では正確な実効磁界が求められない。
これらの問題は次のようにすることで解決される。
【００１６】
図２は、磁性体中に弾性波を共振させて定在波を形成する構成を示す図である。図２（ａ）は、測定系の構成を示し、磁性体１０の一端１１には弾性波発生器１２が配置され、磁性体１０の他端１３には先端が針状の機械的固定端３０が取り付けられている。図中、符号３１は弾性波発生器１２によって発生した入射弾性波を表し、符号３２は磁性体の他端１３で反射した反射弾性波を表している。
この構成によれば、磁性体１０の一端１１及び他端１３は弾性波の自由端として働き、一端１１及び他端１３が腹となる定在波が形成される。コイル１７は磁性体１０を取り巻いて構成されており、コイル１７を弾性波の進行軸に沿って移動し、磁性体１０中に生じた複数の定在波の節に発生する逆磁歪効果による異方性磁界に基づく誘導起電力を測定する。
【００１７】
図２（ｂ）は、図２（ａ）の構成において形成される定在波を模式的に示したものであり、縦線３３は原子面を表し、縦線３３の密度が大きい部位は、定在波から圧縮力を受け磁性体１０が縮んでいることを表し、縦線３３の密度が小さい部位は、定在波から張力を受け磁性体が伸びていることを表す。定在波の腹に位置する原子は、一斉に同一方向に変位するため応力は生じない。図２（ｂ）にＣ．Ｎ．（ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ  ｎｏｄｅ）及びＴ．Ｎ．（ｔｅｎｓｉｌｅ  ｎｏｄｅ）で示すように、磁性体が圧縮される節（Ｃ．Ｎ．）と引っ張られる節（Ｔ．Ｎ．）が交互に並ぶ。
図２（ｃ）は定在波によって発生する応力σの磁性体１０中の分布を示したものであり、正の領域は圧縮応力、負の領域は引張応力を表す。
図に示すように、定在波は入射波３１と反射波３２が合成されて形成されるから、弾性波の伝搬に伴う磁性体中の減衰によらずに、磁性体中の全ての部位で同等の応力を発生させることができる。よって、上記第１の問題が解決する。
さらに、コイルに誘導される起電力ｅは、前記式（３）で表されるが、本発明では定在波を用いるので、コイル１７中を振動磁界が通過する速度ｖが零であり、磁束勾配（∂Φ／∂ｘ）に影響されずに、磁束の時間変化（∂Φ／∂ｔ）に基づく起電力のみを測定でき、第２の問題が解決する。
【００１８】
そこで、上記の弾性波定在波法を用いた、本発明の弾性波定在波法による磁気歪みの測定方法を説明する。本発明の方法は、以下の工程よりなる。
（１）被測定磁性体について、反磁界効果が無視でき、従って印加磁場が実効磁場に等しい、或いは、反磁界係数が既知であり、印加磁場から実効磁場が計算できる条件で、磁気歪みと実効磁場との関係、すなわち、磁気歪み特性を測定する。
（２）被測定磁性体について、反磁界効果が無視でき、従って印加磁場が実効磁場に等しい、或いは、反磁界係数が既知であり、印加磁場から実効磁場が計算できる条件で、誘導起電力と実効磁場との関係を測定する。
（３）被測定磁性体の任意の個所で誘導起電力を測定し、この誘導起電力と（２）で求めた誘導起電力と実効磁場との関係から実効磁場を求め、この実効磁場と（１）で求めた磁気歪み特性とから、磁気歪み量を求める。
すなわち、前記（１）、（２）式からわかるように、異方性磁界Ｈe 、すなわち、実効磁界を求めるためには、磁気歪みλと磁化Ｉを知る必要がある。特許文献２では磁気歪み曲線と磁化曲線を、反磁界効果が無視でき、従って印加磁場が実効磁場に等しい、或いは、反磁界係数が既知であり、印加磁場から実効磁場が計算できる条件で測定して実効磁界を求めているが、磁化曲線を測定するためには、専用の測定装置を必要とし、簡便ではない。そこで本発明の方法では、磁化曲線の代わりに、反磁界効果が無視でき、従って印加磁場が実効磁場に等しい、或いは、反磁界係数が既知であり、印加磁場から実効磁場が計算できる条件で被測定磁性体の一点について、誘導起電力と実効磁界の関係を求めておき、実際の測定に当たっては、測定した誘導起電力とこの関係とから実効磁界を求め、この実効磁界と予め求めた磁気歪み曲線とから、磁気歪み量を求めるものである。
磁気歪み曲線は、一般のストレインゲージを使用して比較的容易に測定できる。
【実施例】
【００１９】
次に、実施例を示す。
一辺が５ｍｍの断面正方形で長さ１００ｍの鉄の角棒を熱処理して被測定磁性体とし、図２（ａ）に示した測定系で測定した。なお、測定位置は角棒の中心位置であり、この位置では、反磁界効果が無視でき、印加した磁界は実効磁界に等しい。弾性波発生器１２には、超音波振動子（共振周波数１ＭＨｚ）を用い、被測定磁性体の一端に密着させた。他端は開放端とした。
【００２０】
先ず、被測定磁性体での、磁気歪み曲線と定在波による誘導起電力の実効磁界依存性を求めた。誘導起電力の実効磁界依存性は、図２（ａ）の測定系において、磁性体の両端から等距離の位置にある中央の節の位置において、印加磁界を変化させながら、コイル１７により測定を行って求めた。また、磁気歪み曲線は、図２（ａ）の測定系において、同じく磁性体の両端から等距離の位置にある中央の節の位置において、印加磁界を変化させながら、磁気歪みをストレンゲージ法で求めた。
図３は、本発明の実施例における、被測定磁性体の磁気歪み曲線と誘導起電力の実効磁界依存性の結果を示す図である。左縦軸は磁気歪みで、右縦軸は誘導起電力［ｍＶ］であり、横軸は実効磁界である。
【００２１】
次に、図２（ａ）の測定系において、定在波が形成されている被測定磁性体に一定磁界を印加し、弾性波の伝播軸方向にコイル１７の位置を変化させながら、被測定磁性体各部の誘導起電力を測定した。この際、外部印加磁界は１３．４ｋＡ／ｍとした。弾性波の周波数は３５４ｋＨｚ、波数は６．５ｍ-1としたので、波長は１５．４ｍｍで速度は５４５０ｍｍ／ｓであった。コイル１７には、直径７．２ｍｍ、厚さ１ｍｍ、巻数１００回のものを用いた。
【００２２】
図４は、本発明の実施例における、被測定磁性体の長手方向の各位置における誘導起電力の分布を示す図である。図において、横軸は、被測定磁性体の長手方向の一方を正方向にとってその中心をゼロとしたときの被測定磁性体の各部位、即ち、検出用のコイル１７の位置［ｍｍ］であり、縦軸は誘導起電力［ｍＶ］である。また、図中の矢印は、被測定磁性体の長手方向の中央から左右に１．７５波長、すなわち、±２７ｍｍの箇所であり、定在波の節が腹の誘導起電力の符号が反転している箇所である。
【００２３】
図５は、図４の測定データの定在波の腹の測定値の包絡線を求めたものである。横軸は、被測定磁性体の長手方向の一方を正方向にとってその中心をゼロとしたときの磁性体の各位置、即ち検出用のコイル１７の位置［ｍｍ］であり、縦軸は誘導起電力［ｍＶ］である。図５から、磁性体の所望の位置の誘導起電力がわかり、この誘導起電力と図３の誘導起電力と実効磁界との関係から実効磁界がわかり、この実効磁界と図３の磁気歪みと実効磁界との関係から、磁性体の所望の位置の磁気歪み量がわかる。
例えば、誘導起電力０ｍＶは実効磁界約４ｋＡ／ｍに対応し、実効磁界４ｋＡ／ｍは磁気歪み約３×１０-6に対応するので、被測定磁性体の中央から２７ｍｍの部位における磁気歪みは約３×１０-6の伸びと求めることができる。
また、誘導起電力が１２０ｍＶは実効磁界約２０ｋＡ／ｍに対応し、実効磁界２０ｋＡ／ｍは磁気歪み約５×１０-6と求められるので、被測定磁性体の中央では、磁気歪みは約５×１０-6縮みと求めることができる。
このように、節毎に磁気歪みを求めることができる。また、定在波の波長を単位として、各部での引張りや圧縮など各種応力を評価することができる。
【００２４】
次に、上記の弾性波定在波法による磁気歪みの測定方法を用いた、本発明の応力検査方法を説明する。
この測定方法は、初期状態の磁性体と、機械的ストレスを印加して疲労状態にある該磁性体とについてそれぞれ、上記弾性波定在波法による磁気歪み測定方法を用いて、磁性体の長手方向の磁気歪み分布を測定し、初期状態の磁性体の磁気歪み分布と疲労状態の磁性体の磁気歪み分布とを比較して、疲労状態の程度を判定することを特徴とする。
【００２５】
この検査方法によれば、正確に磁性体の疲労状態を判定できる。すなわち、磁性体に機械的ストレスを印加すると、磁性体に応力が内在するようになり、応力が一定値を越えると破断等の破壊が生じ易くなるので、磁性体に内在する応力を測定すれば、磁性体の疲労状態を破壊前に知ることができる。磁性体に応力が内在すると、磁気歪み特性が変化するので、磁性体に磁場を印加し、磁性体全体の磁気歪みによる伸縮を測定することによっても疲労度を判定できる。しかしながら、磁性体に印加されるストレスの種類によっては、磁性体の部位によって応力の方向が異なり、磁性体全体の伸縮が必ずしも疲労度に比例しない場合がある。
そこで、本発明の検査方法は、磁性体全体の磁気歪みによる伸縮ではなく、磁性体の各部位の磁気歪みによる伸縮、即ち、磁性体の磁気歪みの分布を比較して疲労度を検査するので、内部内在する応力の方向が異なる場合でも、正確に検査できる。
【産業上の利用可能性】
【００２６】
以上の説明から理解されるように、被測定磁性体の実効磁界と磁気歪み及び誘導起電力との関係を求めておき、一定磁界中に置かれた被測定磁性体の長手方向の各部における誘導磁界を検出することで、上記関係に基いて、被測定磁性体の長手方向の各部の磁気歪みを評価することができる。よって、被測定磁性体の全体の伸び縮みの量ではなく、各被測定磁性体の各部における伸び縮みを求めることができる。
従って、各種の磁性体の非破壊検査に用いれば、極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】磁性体にバイアス磁界を印加し、磁性体の一端から弾性波を伝播させたときの現象を説明する図である。
【図２】磁性体中に弾性波を共振させて定在波を形成する構成を示す図で、（ａ）は測定系の構成図、（ｂ）は形成される定在波の模式図、（ｃ）は定在波によって発生する応力の磁性体中の分布図である。
【図３】本発明の実施例における、磁性体の磁気歪み曲線と、誘導起電力の実効磁界依存性を示す図である。
【図４】本発明の実施例における、被測定磁性体の長手方向の各位置における誘導起電力の分布を示す図である。
【図５】図４における、定在波の腹の位置における誘導起電力の包絡線を示す図である。
【符号の説明】
【００２８】
１０    磁性体
１１    一端
１２    弾性波発生器
１３    他端
１４    弾性波
１４ａ  弾性波の張力部分
１４ｂ  弾性波の圧力部分
１５    弾性波吸収体
１６    磁気モーメント
１７    コイル
３０    機械的固定端
３１    入射弾性波
３２    反射弾性波
３３    原子面
Ｃ．Ｎ．圧縮される節
Ｔ．Ｎ．引っ張られる節
ＨDC    外部磁界
【図１】
0004552013.tif 000002
【図２】
0004552013.tif 000003
【図３】
0004552013.tif 000004
【図４】
0004552013.tif 000005
【図５】
0004552013.tif 000006