(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ユーザデータの記録が可能であり、かつ記録再生用の光入射面が同一である第１と第２の２つの情報記録層を有した光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置であって、
前記第１の情報記録層は、少なくとも、内周に位置する第１のテスト領域と、外周に位置する第２のテスト領域と、ユーザデータを記録するための第１のデータ記録領域とを備え、
前記第２の情報記録層は、少なくとも、内周に位置する第３のテスト領域と、外周に位置する第４のテスト領域と、ユーザデータを記録するための第２のデータ記録領域とを備え、
前記第１のテスト領域と前記第３のテスト領域とは、互いに重ならない半径位置に配置され、
前記第２のテスト領域と前記第４のテスト領域とは、互いにほぼ同じ半径位置に配置され、
前記光ディスク装置は、
前記第１のテスト領域と前記第３のテスト領域とにおいて記録学習を行った後に、前記第２のテスト領域と前記第４のテスト領域とにおいて記録学習を行い、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層とのそれぞれに対する記録条件を決定する、
光ディスク装置。
【請求項２】
前記第１から前記第４のテスト領域に対する情報の記録は、前記光ディスクの内周側から外周側もしくは外周側から内周側へ連続的に行われることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１及び前記第２の情報記録層に対する情報の記録は、前記第１の情報記録層から、前記第１の情報記録層よりも光入射側である前記第２の情報記録層へ連続的に行われることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２つの情報記録層を備え、各層にテスト領域を備えた光ディスクに関する。また、別の本発明は、その光ディスクに対する記録を行う光ディスク装置に関する。テスト領域は、ドライブの諸条件を調整するため、例えば、記録条件を学習するために使われる。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの高密度化、大容量化が進んでおり、光ディスクの信頼性を確保することが重要になっている。この信頼性を確保するため、このような光ディスクに対して記録または再生を行う光ディスク装置では、光ディスクに対する記録再生条件を求める記録学習を行っている（特許文献１参照）。
記録学習とは、光ディスクに照射されるレーザパルスに関するパルス条件を最適化する動作のことである。パルス条件とは、例えば、記録時に光ディスクに照射されるレーザーパルスのパワー値、あるいは、レーザーパルスの発生タイミングや長さ等に関する条件を含む。
また、記録再生用の光ビームに対して、半透明な情報記録層を手前側にさらに配置し、奥側の情報記録層と２層化して記録容量を倍増する技術の開発も盛んである。このような２層光ディスクにおいても記録学習が必要であり、光ビームに対して手前側の層（Ｌ１層と呼ぶ）と奥側の層（Ｌ０層と呼ぶ）とのそれぞれにおいてデータの記録の前に記録条件の学習がなされる（特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００１−３３８４２２号公報
【特許文献２】特開２０００−３１１３４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、従来の記録学習では、Ｌ０層において最適な記録条件の抽出が行われない可能性がある。具体的に説明すると、記録学習ではデータを記録するのに適切な記録パワー（Ｐｗｏ１とする）に比べ、かなり高いテスト記録パワーでテスト信号を記録することも考えられる。よって、記録パワーＰｗｏ１ではＬ１層の記録の有無がＬ０層への記録品質に影響を与えないような光ディスクであっても、上記のようなテスト記録パワーではＬ１層を光ビームが通過するときに強度変化などの影響を受け、Ｌ０層の記録パワーの最適値（Ｐｗｏ０とする）が得られないことが考えられる。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、記録可能な情報記録層を２層有する光ディスクにおいて、いずれの層においても精度の良い記録学習が可能な光ディスクを提供することを目的とする。さらに、その光ディスクを用いて記録学習を行う光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の光ディスクは、トラックにユーザデータの記録が可能であり、かつ記録再生用の光入射面が同一である第１と第２の２つの情報記録層を有した光ディスクである。第１の情報記録層は、少なくとも、ドライブの諸条件を調整するための内周に位置する第１のテスト領域と、ドライブの諸条件を調整するための外周に位置する第２のテスト領域と、ユーザデータを記録するための第１のデータ記録領域とを備える。第２の情報記録層は、少なくとも、ドライブの諸条件を調整するための内周に位置する第３のテスト領域と、ドライブの諸条件を調整するための外周に位置する第４のテスト領域と、ユーザデータを記録するための第２のデータ記録領域とを備える。第１のテスト領域と第３のテスト領域とは、互いに重ならない半径位置に配置される。第２のテスト領域と第４のテスト領域とは、互いにほぼ同じ半径位置に配置される。これにより、上記目的が達成される。
ここで、例えば、第１の情報記録層が光入射面から遠い側の層であり、第２の情報記録層が光入射面から近い側の層であってよい。第１のテスト領域と第３のテスト領域とは、内周での記録条件を学習するための領域であってよい。第２のテスト領域と第４のテスト領域とは、外周での記録条件を学習するための領域であってよい。
【０００５】
第１の情報記録層は、少なくとも読み出し専用のコントロールデータ領域を備え、コントロールデータ領域に対面する位置には、第３のテスト領域が配置されることを特徴としてもよい。
コントロールデータ領域は、エンボス状のピット、ウォブルグルーブ、もしくはウォブルピットによってコントロールデータが予め記録されていることを特徴としてもよい。
第１の情報記録層では、内周側から少なくとも、コントロールデータ領域、第１のテスト領域、第１のデータ記録領域の順に配置され、第２の情報記録層では、内周側から少なくとも、第３のテスト領域、第２のデータ記録領域の順に配置されることを特徴としてもよい。
【０００６】
第１のテスト領域の最内周の半径Ｒ１と第３のテスト領域の最外周の半径Ｒ２との間は、第１の情報記録層のトラックの偏芯量と第２の情報記録層のトラックの偏芯量との和以上離れたことを特徴としてもよい。
半径Ｒ１と半径Ｒ２との間は、第１の情報記録層のトラックの偏芯量と第２の情報記録層のトラックの偏芯量との和に相当する距離に対して、第１の情報記録層に読み出し光が収束されているときの第２の情報記録層における読み出し光のビーム半径を加えた距離以上離れていることを特徴としてもよい。
半径Ｒ１と半径Ｒ２との間は、第１の情報記録層のトラックの偏芯量と第２の情報記録層のトラックの偏芯量との和に相当する距離に対して、第１の情報記録層のトラック始端の半径位置公差と第２の情報記録層のトラック始端の半径位置公差との和を加えた距離以上離れていることを特徴としてもよい。
【０００７】
光の入射面から第１の情報記録層までの距離は、単一の情報記録層を有する光ディスクにおける光入射面と単一の情報記録層との距離と等しいことを特徴としてもよい。
コントロールデータ領域には、第１の情報記録層に関するコントロールデータと、第２の情報記録層に関するコントロールデータとの両方が格納されていてもよい。
テスト領域への書き込みは、内周側から外周側もしくは外周側から内周側へ連続的に行われることを特徴としてもよい。
データの書き込みは、光入射面に対して奥側の層である第１の情報記録層から手前側の層である第２の情報記録層へ連続的に行われることを特徴としてもよい。
【０００８】
また、本発明の光ディスク装置は、上述の光ディスクに対して記録を行う光ディスク装置であって、光ヘッドと、光ヘッド駆動手段と、制御手段とを備えている。光ヘッドは、光ディスクに光を照射し、光ディスクからの反射光に応じた信号を出力する。光ヘッド駆動手段は、光ヘッドを所定の記録条件に応じて駆動する。制御手段は、光ヘッドから出力される信号に応じて光ヘッド駆動手段を制御する。制御手段は、第１のテスト領域と第３のテスト領域とにおいて記録学習を行い、第１の情報記録層と第２の情報記録層とのそれぞれに対する最適記録条件を決定する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の２層光ディスクによれば、第１のテスト領域と第３のテスト領域とが重ならない構成のため、光入射側手前に位置する情報記録層の記録状態によって透過する光ビームの強度が影響を受ける場合においても、奥側の情報記録層において適切な記録学習が可能になる。
また、第２のテスト領域と第４のテスト領域とがデータ記録領域の外周に設けられている構成のため、外周でも記録学習を行うことができ、データ記録領域全面に渡って良質な記録が可能になる。
また、第２のテスト領域と第４のテスト領域とが重なる構成のため、データ記録領域の記録容量の減縮を少なくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明の光ディスクは、Ｌ０層とＬ１層との両方にテスト領域を備え、基準面となるＬ０層にエンボス状のピット、ウォブルグルーブもしくはウォブルピットからなるコントロールデータ領域を備え、Ｌ１層のテスト領域をＬ０コントロールデータ領域と対面する位置に配している。
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。
【００１１】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１の光ディスク１０１の構造、特に第１の情報記録層の構造を示す。
光ディスク１０１には、複数のトラック１０２が同心円状に形成されている。あるいは、光ディスク１０１には、単一のトラック１０２がスパイラル状に形成されていてもよいし、複数のトラック１０２がスパイラル状に形成されていてもよい。
光ディスク１０１の領域は、プリレコード領域１０３と記録可能領域１０４とを含む。
プリレコード領域１０３には、光ディスク１０１にアクセスするために必要とされる各種のパラメータが格納されている。
記録学習やユーザデータの記録再生は、記録可能領域１０４において行われる。
【００１２】
図２に、本発明の片面２層型光ディスクの構造を示す。
図２において、２０１は基板、２０２は第１の情報記録層、２０３は接着樹脂などのスペース層、２０４は第２の情報記録層、２０５は光透過層である。光ディスクに対しては、光透過層２０５側からレーザ光が照射され、第１の情報記録層（Ｌ０層）２０２および第２の情報記録層（Ｌ１層）２０４にデータが記録され、再生される。
本実施の形態の２層光ディスクにおいては、光入射面に対する第１の情報記録層２０２の位置（軸方向位置）は、情報記録層を一つしか持たない単層光ディスク（図示せず）の光入射面に対する情報記録層の位置（軸方向位置）と同一である。
第１の情報記録層２０２および第２の情報記録層２０４には、トラックがスパイラル状に形成されていてもよいし、複数のトラックがスパイラル状に形成されていてもよい。
【００１３】
図３は、図２に示した２層光ディスクに配置される領域の構造を示す。
第１の情報記録層のプリレコード領域３０１ａは、２層光ディスクの識別情報などの情報を基板２０１もしくはスペース層２０３に形成されたトラックのウォブル形状、またはエンボスピット、またはウォブルしたエンボスピット等により記録した領域である。
プリレコード領域３０１ａは、バッファとしてのプロテクト領域３０３ａと、光ディスクの識別情報として、ディスクタイプ、ディスクサイズ、ディスク構造、チャネルビット、データゾーン配置情報、記録線速度、再生可能最大パワー、記録パワー情報、記録パルス情報、ディスク固有情報のうち少なくとも１つを記録したコントロールデータ領域３０４ａを含む。
コントロールデータ領域３０４ａは、第１の情報記録層に関する情報と第２の情報記録層に関する情報の両方を含む。
第２の情報記録層のプリレコード領域３０１ｂは、少なくともバッファとしてのプロテクト領域３０３ｂを含む。
【００１４】
第１の情報記録層の記録可能領域３０２ａは、プリレコード領域３０１ａと記録可能領域３０２ａのトラックピッチが異なる場合にトラックピッチの遷移領域として用いられることもできる、プロテクト領域３０５ａと、第１のテスト領域３０６ａと、バッファ領域３０７ａと、光ディスクの様々な特性などの情報を格納するために利用されるドライブ管理情報領域３０８ａと、バッファ領域３０９ａと、ユーザデータ等を記録するユーザデータ記録領域３１０ａと、第２のテスト領域３１５ａと、バッファ領域３１１ａと、将来の拡張のためのリザーブ領域３１２ａと、バッファ領域３１３ａと、プロテクト領域３１４ａを含む。
【００１５】
第２の情報記録層の記録可能領域３０２ｂは、第３のテスト領域３０４ｂと、プロテクト領域３０５ｂを含み、プロテクト領域３０５ｂは、第１の情報記録層のプロテクト領域３０５ａと同じ半径位置に配置されている。
さらに第２の情報記録層の第３のテスト領域３０４ｂは、第１の情報記録層のコントロールデータ領域３０４ａと同じ半径位置に配置されるか、あるいは外周側半径位置が等しく配置されている。
第２の情報記録層の記録可能領域３０２ｂは、将来の拡張のためのリザーブ領域３０６ｂ、バッファ領域３０７ｂおよびリザーブ領域３０８ｂを含み、それぞれ第１の情報記録層の第１のテスト領域３０６ａ、バッファ領域３０７ａおよびドライブ管理情報領域３０８ａと同じ半径位置に配置される。
また第２の情報記録層の記録可能領域３０２ｂは、バッファ領域３０９ｂと、ユーザデータ等を記録するユーザデータ記録領域３１０ｂと、第４のテスト領域３１５ｂと、バッファ領域３１１ｂと、将来の拡張のためのリザーブ領域３１２ｂと、バッファ領域３１３ｂと、プロテクト領域３１４ｂを含み、それぞれ第１の情報記録層のバッファ領域３０９ａと、ユーザデータ記録領域３１０ａと、第２のテスト領域３１５ａと、バッファ領域３１１ａと、将来の拡張のためのリザーブ領域３１２ａと、バッファ領域３１３ａと、プロテクト領域３１４ａと同じ半径位置に配置されている。
【００１６】
以上、説明した光ディスクの領域の主要部の半径位置関係を示した配置図を図４に示す。
同図において上部は第１の情報記録層のプロテクト領域３０３ａ、コントロールデータ領域３０４ａ、プロテクト領域３０５ａ、第１のテスト領域３０６ａ、バッファ領域３０７ａ、ドライブ管理情報領域３０８ａ、バッファ領域３０９ａ、ユーザデータ記録領域３１０ａ、第２のテスト領域３１５ａを示している。同図において下部は第２の情報記録層のプロテクト領域３０３ｂ、第３のテスト領域３０４ｂ、プロテクト領域３０５ｂ、リザーブ領域３０６ｂ、バッファ領域３０７ｂ、リザーブ領域３０８ｂ、バッファ領域３０９ｂ、ユーザデータ記録領域３１０ｂ、第４のテスト領域３１５ｂを示している。
【００１７】
第３のテスト領域３０４ｂは、コントロールデータ領域３０４ａに向かい合う半径位置（重なる半径位置）に配置され、第３のテスト領域３０４ｂの最外周半径Ｒ２がコントロールデータ領域３０４ａの最外周と同じ半径になっており、かつその最内周がコントロールデータ領域３０４ａの最内周と同じかもしくは大きな半径となっている。コントロールデータ領域３０４ａのコントロールデータは、ピットやトラックのウォブル形状に光ビームを当てて反射光量を検出して再生されるだけなので、光ビームが第２の情報記録層を透過する時に第３のテスト領域３０４ｂの記録状態による強度変化を受けても、コントロールデータの再生信号品質に与える影響はほとんどない。
また、第３のテスト領域３０４ｂは、第１のテスト領域３０６ａと異なる半径に配置されているので、第１のテスト領域３０６ａに影響を与えることが無く、第１層の記録学習を正しく行うことができる。
【００１８】
第４のテスト領域３１５ｂは、第２のテスト領域３１５ａに向かい合うほぼ同じ半径位置に配置される。ほぼ同じ半径位置に配置できるのは、内周の第１のテスト領域３０６ａと第３のテスト領域３０４ｂとで記録学習を行った後であれば、外周の第２のテスト領域３１５ａと第４のテスト領域３１５ｂとでの記録学習は最適パワーに近いパワーで行われるので、透過率変化などで他層に与える影響は少ないからである。この配置により、外周でも記録学習を行うことができ、チルトなどによる外周での記録特性の変化を補償して、ディスク全面でよりよい記録品質を得ることができる。また、同じ半径に配置することができるので、ユーザデータの記録容量の減縮を少なくすることができる。
【００１９】
さらに、本実施の形態の光ディスクは２層ディスクであるが、この第１の情報記録層のみを有する単層光ディスクを考えた場合、そのような単層ディスクには第２の情報記録層は無いため、第２の情報記録層のテスト領域からの影響を避けるための領域は必要としない。本実施の形態の光ディスクでは、第３のテスト領域３０４ｂと重なる半径にコントロールデータ領域３０４ａを配置したことにより、第３のテスト領域３０４ｂに対向して第１の情報記録層に領域を追加する必要が無いので、上記のような単層光ディスクと同じ領域構成にする事ができる。例えばユーザデータ記録領域３１０ａおよび３１０ｂの最内周半径Ｒ０を単層光ディスクと同一にできるので、ユーザデータの記録容量を減縮する事もない。そのため、ユーザデータ記録領域の半径とアドレスが単層光ディスクと２層光ディスクとで変わらないので、光ディスク装置で記録再生する場合に光ビームのアクセスも容易になり、ユーザデータなどの記録容量の減縮を避けることができる。
【００２０】
また、コントロールデータ領域３０４ａと第１のテスト領域３０６ａとの間には、プロテクト領域３０５ａがあり、第１のテスト領域３０６ａの最内周半径Ｒ１と第３のテスト領域３０４ｂの最外周半径Ｒ２との差に相当する幅を有している。
プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）は、第１の情報記録層のトラックの偏芯量Δｅ１、第２の情報記録層のトラックの偏芯量Δｅ２、一方の情報記録層にレーザ光が収束されているときのもう一方の情報記録層におけるレーザ光のビーム半径Ｄ、第１の情報記録層のトラック始端の半径位置の公差Δｒ１、第２の情報記録層のトラック始端の半径位置の公差Δｒ２、などを考慮して設定される。より詳しくは、図５に示すように、それぞれの情報記録層のトラックがそれぞれΔｅ１，Δｅ２、だけ偏芯した場合でも、第１のテスト領域３０６ａと第３のテスト領域３０４ｂとが重ならない半径位置に配置されるように、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）が決定されている。すなわち、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）は、少なくともΔｅ１＋Δｅ２以上となるように決定されている。また、図６に示すように、それぞれの情報記録層のトラック始端の半径位置がそれぞれ公差Δｒ１，Δｒ２を有する場合でも、第１のテスト領域３０６ａと第３のテスト領域３０４ｂとが重ならない半径位置に配置されるように、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）が決定されている。すなわち、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）は、少なくともΔｒ１＋Δｒ２以上となるように決定されている。また、図７に示すように、一方の層のテスト領域にレーザ光が収束されているときに、他方の層のテスト領域にレーザ光が照射されないように、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）が決定されている。すなわち、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ１−Ｒ２）は、少なくともＤ以上となるように決定されている。
これにより、トラックの偏心や公差が存在した場合でも、第１のテスト領域３０６ａと第３のテスト領域３０４ｂが重ならないようにでき、記録学習を適切に行うことができる。一般に、トラック偏芯や公差は２つの層の間で逆方向になる場合があり、さらに同時に発生する場合もあるので、最悪の場合を想定すると、プロテクト領域３０５ａの幅（Ｒ２−Ｒ１）は、Δｅ１＋Δｅ２＋Δｒ１＋Δｒ２＋Ｄ以上となるように設定される。
【００２１】
さらに、本構造をとることにより、コントロールデータ領域３０４ａに第１の情報記録層と第２の情報記録層の両方の記録パルスなどメディア固有情報が格納されているので、まず第１の情報記録層にアクセスすればすべての識別情報が得られ、光ディスクドライブのスタートアップ動作が早くなるという利点がある。
また、本実施の形態の２層光ディスクにユーザデータを記録再生する光ディスク装置は、単層光ディスクに対してもユーザデータを記録再生することができるのが一般的である。本実施の形態の２層光ディスクは、単層光ディスクの情報記録層と光入射面に対して同じ位置にある第１の情報記録層にコントロールデータ領域３０４ａを配置しているので、本２層光ディスクを光ディスク装置にロードしたときに、光学的に同じ条件で光ビームをコントロールデータ領域３０４ａに照射することができる。これにより、識別情報の読みとりがスムーズになるという大きな効果がある。
【００２２】
（実施の形態２）
図８に本発明の別の実施の形態における光ディスクの領域の主要部の半径位置関係を示した配置図を示す。
同図において上部は第１の情報記録層のプロテクト領域５０３ａ、コントロールデータ領域５０４ａ、プロテクト領域５０５ａ、第１のテスト領域５０６ａ、バッファ領域５０７ａ、ドライブ管理情報領域５０８ａ、バッファ領域５０９ａ、ユーザデータ記録領域５１０ａ、第２のテスト領域５１５ａを示している。同図において下部は第２の情報記録層のプロテクト領域５０３ｂ、第３のテスト領域５０４ｂ、リザーブ領域５０５ｂ、プロテクト領域５０６ｂ、リザーブ領域５０７ｂ、バッファ領域５０８ｂ、リザーブ領域５０９ｂ、バッファ領域５１０ｂ、ユーザデータ記録領域５１１ｂ、第４のテスト領域５１５ｂを示している。その他の構造、並びに各領域の内容は図３に示した実施の形態１の２層光ディスクと実質的に同一であるので詳細な説明は省略する。
【００２３】
第３のテスト領域５０４ｂは、コントロールデータ領域５０４ａに向かい合う半径位置に配置され、その最内周半径Ｒ３がコントロールデータ領域５０４ａの最内周の半径Ｒ４と同じかもしくは大きな半径となっており、その最外周半径Ｒ５はコントロールデータ領域５０４ａの最外周半径より小さくなっている。コントロールデータ領域５０４ａのコントロールデータは、ピットやトラックのウォブル形状に光ビームを当てて反射光量を検出して再生されるだけなので、光ビームが第２の情報記録層を透過する時に第３のテスト領域５０４ｂの記録状態による強度変化を受けても、コントロールデータの再生信号品質に与える影響はほとんどない。
また、第３のテスト領域５０４ｂは、第１のテスト領域５０６ａと異なる半径に配置されているので、第１のテスト領域５０６ａに影響を与えることが無く、第１層の記録学習を正しく行うことができる。
【００２４】
第４のテスト領域５１５ｂは、第２のテスト領域５１５ａに向かい合うほぼ同じ半径位置に配置される。ほぼ同じ半径位置に配置できるのは、内周の第１のテスト領域５０６ａと第３のテスト領域５０４ｂとで記録学習を行った後であれば、外周の第２のテスト領域５１５ａと第４のテスト領域５１５ｂとでの記録学習は最適パワーに近いパワーで行われるので、透過率変化などで他層に与える影響は少ないからである。この配置により、外周でも記録学習を行うことができ、チルトなどによる外周での記録特性の変化を補償して、ディスク全面でよりよい記録品質を得ることができる。また、同じ半径に配置することができるので、ユーザデータの記録容量の減縮を少なくすることができる。
さらに、本実施の形態の光ディスクは２層ディスクであるが、この第１の情報記録層のみを有する単層光ディスクを考えた場合、そのような単層ディスクには第２の情報記録層は無いため、第２の情報記録層のテスト領域からの影響を避けるための領域は必要としない。本実施の形態の光ディスクでは、第３のテスト領域５０４ｂと重なる半径にコントロールデータ領域５０４ａを配置したことにより、第３のテスト領域５０４ｂに対向して第１の情報記録層に領域を追加する必要が無いので、上記のような単層光ディスクと同じ領域構成にする事ができる。例えばユーザデータ記録領域５１０ａおよび５１１ｂの最内周半径Ｒ０を単層光ディスクと同一にできるので、ユーザデータの記録容量を減縮する事もない。そのため、ユーザデータ記録領域の半径とアドレスが単層光ディスクと２層光ディスクとで変わらないので、光ディスク装置で記録再生する場合に光ビームのアクセスも容易になる。
【００２５】
また、第３のテスト領域５０４ｂの外隣にはリザーブ領域５０５ｂが配置され、プロテクト領域５０６ｂと合わせると、第１のテスト領域５０６ａの最内周半径Ｒ１と第３のテスト領域５０４ｂの最外周半径Ｒ５の間に間隔（Ｒ１−Ｒ５）が設けられている。この間隔（Ｒ１−Ｒ５）は、第１の情報記録層のトラックの偏芯量Δｅ１、第２の情報記録層のトラックの偏芯量Δｅ２、一方の情報記録層にレーザ光が収束されているときのもう一方の情報記録層におけるレーザ光のビーム半径Ｄ、第１の情報記録層のトラック始端の半径位置の公差Δｒ１、第２の情報記録層のトラック始端の半径位置の公差Δｒ２、などを考慮して設定される。詳しくは、実施の形態１で記載したのと同様に、間隔（Ｒ１−Ｒ５）は、少なくともΔｅ１＋Δｅ２以上、Δｒ１＋Δｒ２以上またはＤ以上となるように決定されている。
これにより、トラックの偏心や公差が存在した場合でも、第１のテスト領域５０６ａと第３のテスト領域５０４ｂが重ならないようにでき、記録学習を適切に行うことができる。一般に、トラック偏芯や公差は２つの層の間で逆方向になる場合があり、さらに同時に発生する場合もあるので、最悪の場合を想定すると、間隔（Ｒ１−Ｒ５）は、Δｅ１＋Δｅ２＋Δｒ１＋Δｒ２＋Ｄ以上となるように設定される。
【００２６】
しかも、本実施の形態の光ディスクでは、プロテクト領域５０６ｂだけでなく、リザーブ領域５０５ｂも使って、２つのテスト領域の間に所望の間隙を設けることができる。その分プロテクト領域５０５ａおよびプロテクト領域５０６ｂの幅を小さくできるので、ユーザデータなどの記録容量の減縮をいっそう抑えることができる。
さらに、本構造をとることにより、コントロールデータ領域５０４ａに第１の情報記録層と第２の情報記録層の両方の記録パルスなどメディア固有情報が格納されているので、まず第１の情報記録層にアクセスすればすべての識別情報が得られ、光ディスクドライブのスタートアップ動作が早くなるという利点がある。
【００２７】
なお、実施の形態１および２で示した光ディスクでは、図３の矢印３１６ａと３１６ｂとで示したように記録再生の方向を定め、第１の情報記録層では内周側から外周側へ連続してユーザデータを記録し、第１の情報記録層のユーザデータ記録領域が一杯になれば、第２の情報記録層の外周から内周側へ向かってユーザデータを記録するようにしても良い。この場合、第１の情報記録層にユーザデータを記録するときに光ビームが透過する第２の情報記録層は全て未記録状態である。このため、最適記録パワーＰｗｏ１であっても未記録状態に対して透過光が影響を受けるような記録材料を用いることができ、第２の情報記録層の材料の選択範囲が広がる。そのような記録材料を用いても、本構成にすれば第１のテスト領域５０６ａと第３のテスト領域５０４ｂは、前述したように重なることが無いため、記録学習が適切に行われることはいうまでもない。特に、１回記録のみ可能なＷｒｉｔｅ−ｏｎｃｅ型（追記型）の光ディスクにおいては、上述したように内周から外周もしくは外周から内周へと連続に記録することが一般的であるので、本構成を適用する効果が大きい。
また、少なくとも各テスト領域への書き込みの方向を、内周側から外周側へ、もしくは外周側から内周側へ行うように規定してもよい。こうすることで、特に追記型の光ディスクにおいて各テスト領域の空き領域が認識しやすいという利点がある。もちろん、記録再生の方向を決めずにディスク全体をランダムに使用してもよい。
【００２８】
また、以上の実施の形態１および２ではプリレコード領域、特にコントロールデータ領域３０４ａおよび５０４ａでの識別情報の再生を安定させるため、トラックピッチを記録可能領域に比べて広くしても良い。この場合、第２の情報記録層においては、プリレコード領域はプロテクト領域３０３ｂおよび５０３ｂだけなので、プロテクト領域３０３ｂおよび５０３ｂのトラックピッチを記録可能領域と同一にしてもよい。
また、以上の実施の形態１および２において、テスト領域内にバッファ領域を設けてもよい。また、プロテクト領域、リザーブ領域、バッファ領域に何らかのデータを書き込んでもよい。
【００２９】
（実施の形態３）
図９および図１０を用いて、実施の形態１または２で説明した光ディスクに対する記録を行う光ディスク装置について説明する。
図９は、光ディスク装置６００の概要を示すブロック図である。
図９において、６０１は光ディスクである。光ディスク６０１は、実施の形態１または２で説明した構造を有している。ただし、光ディスク装置６００は、従来の構造を有する光ディスク、例えば単層光ディスクに対する記録を行うことができてもよい。
さらに、６０２は半導体レーザー、６０３はコリメートレンズ、６０４はビームスプリッタ、６０５は収束手段、６０６は集光レンズ、６０７は光検出手段、６０８は再生信号演算手段、６０９はフォーカス制御手段、６１０はトラッキング制御手段、６１１はアクチュエータ、６１２はコントローラ、６１３はレーザー駆動手段、６１５は信号処理部である。
ここで、半導体レーザー６０２、コリメートレンズ６０３、ビームスプリッタ６０４、収束手段６０５、集光レンズ６０６、光検出手段６０７、アクチュエータ６１１などにより、光ヘッドが構成されている。また、フォーカス制御手段６０９、トラッキング制御手段６１０、レーザー駆動手段６１３などにより、光ヘッド駆動手段が構成されている。また、再生信号演算手段６０８、コントローラ６１２などにより、制御手段が構成されている。
【００３０】
次に、再生動作の説明をする。
光ディスク６０１は、例えば２つの情報面を持った光ディスクであり、光スポットは光ディスク６０１の２つの情報面のうちのいずれか一方に収束されて情報を読み出す。
半導体レーザー６０２から出射された光ビームは、コリメートレンズ６０３、ビームスプリッタ６０４、収束手段６０５を通って、光ディスク６０１上の２つの情報面のうちの一方に集光される。集光された光スポットは、光ディスク６０１上で反射回折され、収束手段６０５、ビームスプリッタ６０４、集光レンズ６０６を通って、光検出手段６０７に集光される。集光された光は、光検出手段上の各受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの光量に応じた電圧信号を出力し、再生信号演算手段（再生信号演算回路）６０８で、前記電圧信号を演算する。
【００３１】
再生信号演算手段６０８の出力であるＦＥ信号は、フォーカス制御手段６０９に送信される。再生信号演算手段６０８の出力であるＴＥ信号はトラッキング制御手段６１０に送信される。再生信号演算手段６０８の出力であるＲＦ信号は、コントローラ６１２に送信される。
フォーカス制御手段６０９はＦＥ信号に応じた電圧出力によって、アクチュエータ６１１を駆動し、光スポットを光ディスク６０１の２つの情報面のうちのいずれか一方の面上に焦点位置制御する。
トラッキング制御手段６１０はＴＥ信号に応じた電圧出力によって、アクチュエータ６１１を駆動し、光スポットを光ディスク６０１の２つの情報面のうちのいずれか一方の面上の所望のトラック位置にトラッキング位置制御する。フォーカス位置制御およびトラッキング位置制御された光スポットによって、光ディスク上の凹凸のプリピットあるいは、相変化光ディスクの反射率の異なる濃淡のマークとスペースとを読み出すことによって、光ディスク上に記録された情報を読み出す。
コントローラ６１２は、ＲＦ信号に応じて、光スポットが光ディスク６０１上の２つの情報面のうちいずれの面に収束されているかを検出する。より具体的には、コントローラ６１２は、アドレス値によっていずれの面に収束されているかを検出する。コントローラ６１２は、フォーカス制御手段６０９、トラッキング制御手段６１０、レーザー駆動手段６１３を制御する。
【００３２】
記録条件学習のステップを図１０で説明する。
記録条件学習が必要になると、コントローラ６１２は、フォーカス制御手段６０９とトラッキング制御手段６１０とに指示をして、第１の情報記録層の第１のテスト領域にアクセスする（ステップ７０１）。
次に、コントローラ６１２は、レーザー駆動手段６１３、フォーカス制御手段６０９、トラッキング制御手段６１０に指示を出して、第１のテスト領域で記録条件を学習する。例えば、レーザー駆動手段６１３に指示を出して、いろいろな記録パワーで、試し記録し、最適記録パワーを求めること、あるいは、フォーカス制御手段６０９に指示を出して、いろいろなフォーカス位置で、試し記録を行い最適フォーカス位置を求めること、あるいは、トラッキング制御手段６１０に指示を出して、いろいろなトラッキング位置で、試し記録を行い最適トラッキング位置を求めること、などが行われる（ステップ７０２）。
【００３３】
次にコントローラ６１２は、フォーカス制御手段６０９とトラッキング制御手段６１０とに指示をして、第２の情報記録層の第３のテスト領域にアクセスする（ステップ７０３）。
次に、コントローラ６１２は、レーザー駆動手段６１３、フォーカス制御手段６０９、トラッキング制御手段６１０に指示を出して、第３のテスト領域で記録条件を学習する。例えば、レーザー駆動手段６１３に指示を出して、いろいろな記録パワーで、試し記録し、最適記録パワーを求めること、あるいは、フォーカス制御手段６０９に指示を出して、いろいろなフォーカス位置で、試し記録を行い最適フォーカス位置を求めること、あるいは、トラッキング制御手段６１０に指示を出して、いろいろなトラッキング位置で、試し記録を行い最適トラッキング位置を求めること、などが行われる（ステップ７０４）。
図１０の記録条件学習のステップは、記録条件学習が必要になったときには、いつでも行われてもよい。
【００３４】
（その他）
以上のように、本発明の好ましい実施の形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施の形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみ、その範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施の形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明は、記録可能な２層光ディスクにおいて、どちらの層においても精度の良い記録学習が可能な光ディスクを提供することが求められる分野において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施の形態１の光ディスク１０１の構造を示す概略図である。
【図２】本発明の実施の形態１の２層光ディスクの構造を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態１の２層光ディスクの領域構造を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１の光ディスクの領域の主要部の半径位置関係を示した配置図である。
【図５】トラックの偏芯量と（Ｒ１−Ｒ２）との関係を示す図である。
【図６】トラック始端位置の公差と（Ｒ１−Ｒ２）との関係を示す図である。
【図７】レーザ光のビーム半径と（Ｒ１−Ｒ２）との関係を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態２の光ディスクの領域の主要部の半径位置関係を示した配置図である。
【図９】光ディスク装置の概要を示すブロック図である。
【図１０】記録学習について説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００３７】
１０１  光ディスク
１０２  トラック
２０１  基板
２０２  第１の情報記録層
２０３  スペース層
２０４  第２の情報記録層
２０５  光透過層
３０４ａ  コントロールデータ領域
３０６ａ  第１のテスト領域
３０４ｂ  第３のテスト領域
３１５ａ  第２のテスト領域
３１５ｂ  第４のテスト領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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