(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物をスキャンしたスキャン画像を取得する手段と、
前記取得したスキャン画像の二値画像を生成するとともに、当該生成された二値画像から連結画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出した連結画素に対して設定した外接矩形の各辺において、前記連結画素との接点から当該接点の属する辺の一方の頂点へと至る線分上の複数の点から、前記接点の属する辺に対して垂直方向に走査してエッジ画素を検出するエッジ画素検出手段と、
前記エッジ画素検出手段により検出されたエッジ画素のうち前記外接矩形の対角線を超えて検出されるか、又は前記検出されたエッジ画素と前記辺との距離が前記連結画素との接点から前記一方の頂点に向かうに連れて小さくなるものを排除して、前記スキャン画像に写し出された前記対象物の輪郭部に位置する有効エッジ画素を選別する選別手段と、
前記有効エッジ画素に基づいて矩形領域を設定する矩形領域設定手段と、
前記矩形領域設定手段により設定された矩形領域から画像を抽出する手段と、
を含むことを特徴とする画像抽出装置。
【請求項２】
前記選別手段は、前記検出されたエッジ画素のうち、隣り合うエッジ画素との距離が閾値より大きいものをさらに排除して前記有効エッジ画素を選別する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像抽出装置。
【請求項３】
前記一方の頂点は、前記連結画素との接点が属する辺の頂点のうち、前記接点から遠い方の頂点とする、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像抽出装置。
【請求項４】
前記有効エッジ画素の位置座標に基づいて、前記有効エッジ画素が構成する少なくとも３以上の線分の傾きを算出する手段をさらに含み、
前記矩形領域設定手段は、前記算出された線分の傾きの整合性に基づいて前記矩形領域を設定する、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像抽出装置。
【請求項５】
前記検出された連結画素と前記外接矩形との傾きを検出する手段をさらに含み、
前記検出された傾きが所定の値よりも大きい場合に、前記エッジ画素検出手段、前記選別手段、及び前記矩形領域設定手段による各処理を実行する、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の画像抽出装置。
【請求項６】
前記対象物は、矩形の原稿画像である、
ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の画像抽出装置。
【請求項７】
コンピュータを、
対象物をスキャンしたスキャン画像を取得する手段と、
前記取得したスキャン画像の二値画像を生成するとともに、当該生成された二値画像から連結画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出した連結画素に対して設定した外接矩形の各辺において、前記連結画素との接点から当該接点の属する辺の一方の頂点へと至る線分上の複数の点から、前記接点の属する辺に対して垂直方向に走査してエッジ画素を検出するエッジ画素検出手段と、
前記エッジ画素検出手段により検出されたエッジ画素のうち前記外接矩形の対角線を超えて検出されるか、又は前記検出されたエッジ画素と前記辺との距離が前記連結画素との接点から前記一方の頂点に向かうに連れて小さくなるものを排除して、前記スキャン画像に写し出された前記対象物の輪郭部に位置する有効エッジ画素を選別する選別手段と、
前記有効エッジ画素に基づいて矩形領域を設定する矩形領域設定手段と、
前記矩形領域設定手段により設定された矩形領域から画像を抽出する手段として機能させるための画像抽出プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像抽出装置、及び画像抽出プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
１又は複数の原稿を同時にスキャンして得たスキャン画像の中から各原稿の画像を分離して抽出するための技術は数多く提案されている。例えば、下記の特許文献１には、ハフ変換により求めた直線の候補の組み合わせから矩形領域を設定し、その矩形領域から各原稿の画像を抽出する技術が開示されている。また、下記の特許文献２には、スキャン画像から検出したエッジに沿って矩形領域を検索し、検索された矩形領域から原稿画像を抽出する技術が開示されている。
【特許文献１】米国特許第７０５８２２４号明細書
【特許文献２】米国特許第６２９８１５７号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記の従来技術では、スキャン画像において原稿の輪郭部のエッジが欠けていたり、エッジの並びに不規則な箇所が含まれていたりする等の雑音の影響により、原稿画像が写し出された矩形領域を抽出する精度が落ちてしまうことがあった。
【０００４】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、本発明の目的の一つは、スキャン画像から矩形画像を抽出する際の雑音耐性を強化した画像抽出装置及び画像抽出プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の画像抽出装置の発明は、対象物をスキャンしたスキャン画像を取得する手段と、前記取得したスキャン画像の二値画像を生成するとともに、当該生成された二値画像から連結画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出した連結画素に対して設定した外接矩形の各辺において、前記連結画素との接点から当該接点の属する辺の一方の頂点へと至る線分上の複数の点から、前記接点の属する辺に対して垂直方向に走査してエッジ画素を検出するエッジ画素検出手段と、前記エッジ画素検出手段により検出されたエッジ画素が前記スキャン画像に写し出された前記対象物の輪郭部に位置するか否かを判断する判断手段と、前記判断手段により前記対象物の輪郭部に位置すると判断されたエッジ画素に基づいて矩形領域を設定する矩形領域設定手段と、前記矩形領域設定手段により設定された矩形領域から画像を抽出する手段と、を含むことを特徴とする。
【０００６】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の画像抽出装置において、前記判断手段は、前記外接矩形の対角線を超えて検出されたエッジ画素は前記対象物の輪郭部に位置しないと判断する、ことを特徴とする。
【０００７】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の画像抽出装置において、前記判断手段は、前記検出されたエッジ画素のうち、隣り合うエッジ画素との距離が閾値より大きいエッジ画素については前記対象物の輪郭部に位置しないと判断する、ことを特徴とする。
【０００８】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像抽出装置において、前記判断手段は、前記検出されたエッジ画素と前記辺との距離が、前記連結画素との接点から前記一方の頂点に向かうに連れて小さくなるエッジ画素については、前記対象物の輪郭部に位置しないと判断する、ことを特徴とする。
【０００９】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４のいずれかに記載の画像抽出装置において、前記一方の頂点は、前記連結画素との接点が属する辺の頂点のうち、前記接点から遠い方の頂点とする、ことを特徴とする。
【００１０】
また、請求項６に記載の発明は、請求項１乃至５のいずれかに記載の画像抽出装置において、前記判断手段により前記対象物の輪郭部に位置する画素であると判断されたエッジ画素の位置座標に基づいて、前記エッジ画素が構成する少なくとも３以上の線分の傾きを算出する手段をさらに含み、前記矩形領域設定手段は、前記算出された線分の傾きの整合性に基づいて前記矩形領域を設定する、ことを特徴とする。
【００１１】
また、請求項７に記載の発明は、請求項１乃至６のいずれかに記載の画像抽出装置において、前記検出された連結画素と前記外接矩形との傾きを検出する手段をさらに含み、前記検出された傾きが所定の値よりも大きい場合に、前記エッジ画素検出手段、前記判断手段、及び前記矩形領域設定手段による各処理を実行する、ことを特徴とする。
【００１２】
また、請求項８に記載の発明は、請求項１乃至７のいずれかに記載の画像抽出装置において、前記対象物は、矩形の原稿画像である、ことを特徴とする。
【００１３】
また、請求項９に記載の画像抽出プログラムの発明は、コンピュータを、対象物をスキャンしたスキャン画像を取得する手段と、前記取得したスキャン画像の二値画像を生成するとともに、当該生成された二値画像から連結画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出した連結画素に対して設定した外接矩形の各辺において、前記連結画素との接点から当該接点の属する辺の一方の頂点へと至る線分上の複数の点から、前記接点の属する辺に対して垂直方向に走査してエッジ画素を検出するエッジ画素検出手段と、前記エッジ画素検出手段により検出されたエッジ画素が前記スキャン画像に写し出された前記対象物の輪郭部に位置するか否かを判断する判断手段と、前記判断手段により前記対象物の輪郭部に位置すると判断されたエッジ画素に基づいて矩形領域を設定する矩形領域設定手段と、前記矩形領域設定手段により設定された矩形領域から画像を抽出する手段として機能させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１に記載の発明によれば、スキャン画像に写し出された対象物の画像を抽出する際の雑音耐性を強化することができる。
【００１５】
請求項２に記載の発明によれば、対象物画像の輪郭部のエッジでない画素を排除することによりスキャン画像に写し出された対象物の画像を抽出する際の雑音耐性を強化することができる。
【００１６】
請求項３に記載の発明によれば、対象物画像の輪郭部のエッジでない画素を排除することによりスキャン画像に写し出された対象物の画像を抽出する際の雑音耐性を強化することができる。
【００１７】
請求項４に記載の発明によれば、対象物画像の輪郭部のエッジでない画素を排除することによりスキャン画像に写し出された対象物の画像を抽出する際の雑音耐性を強化することができる。
【００１８】
請求項５に記載の発明によれば、検出するエッジ画素の数が増加するため、スキャン画像にノイズが含まれていても画像抽出に与える悪影響を軽減させることができる。
【００１９】
請求項６に記載の発明によれば、エッジ画素により構成される各辺の傾きに基づいて対象物が写し出されていると推定される部分に矩形領域を設定することで、スキャン画像の中から対象物画像を抽出する精度を向上させることができる。
【００２０】
請求項７に記載の発明によれば、スキャン画像に対して傾いている対象物についてのみ処理対象とすることで、不要な処理を省略することができる。
【００２１】
請求項８に記載の発明によれば、スキャン画像に写し出された矩形の原稿画像を精度良く抽出することができる。
【００２２】
請求項９に記載の発明によれば、スキャン画像に写し出された対象物の画像を抽出する際の雑音耐性を強化するようにコンピュータを機能させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明を実施するための好適な実施の形態（以下、実施形態という）を、図面に従って説明する。
【００２４】
図１には、本実施形態に係る画像抽出装置１０の機能ブロック図を示す。本実施形態に係る画像抽出装置１０は、スキャン機能を備えたマルチファンクションプリンタ（複合機）に適用したものであるが、スキャナが接続されたパーソナルコンピュータ等の情報処理機器に適用することとしてもよい。本実施形態では、画像抽出装置１０は、１又は複数枚の原稿（例えば名刺やレター等）をスキャンして得たスキャン画像の中から、各原稿の画像を抽出する処理を行う。以下、画像抽出装置１０が備える各機能についての詳細を説明する。
【００２５】
図１に示されるように、画像抽出装置１０は、スキャン部１２、画像取得部１４、二値化処理部１６、外接矩形設定部１８、原稿傾き判断部２０、エッジ画素検出部２２、有効エッジ判断部２４、辺傾き算出部２６、抽出画像領域設定部２８、及び画像抽出部３０を含む。各部の機能は、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に格納された画像抽出プログラムが、図示しない媒体読取装置を用いてコンピュータシステムたる画像抽出装置１０に読み込まれ、画像抽出装置１０により実行されることで実現されるものとしてよい。なお、ここでは情報記憶媒体によってプログラムが画像抽出装置１０に供給されることとしたが、インターネット等のデータ通信ネットワークを介して遠隔地から画像抽出プログラムが画像抽出装置１０にダウンロードされてもよい。
【００２６】
スキャン部１２は、光学式読み取り装置を含み、光学式読み取り装置の所定の画像読み取り位置にセットされた原稿を光学処理により走査し、原稿のスキャン画像を生成する。スキャン画像に含まれる原稿の数は、１枚であってもよいし複数枚あってもよい。
【００２７】
画像取得部１４は、スキャン部１２により生成されたスキャン画像を取得する。スキャン部１２が外部装置として構成される場合には、画像取得部１４はＵＳＢ等のインターフェースを介してスキャン画像を取得する。
【００２８】
二値化処理部１６は、画像取得部１４により取得されたスキャン画像に二値化処理を施して、スキャン画像の二値画像を生成する。二値化処理部１６では、スキャン画像のエッジを強調した二値化処理を行うことにより、よりスキャン画像に含まれる原稿の輪郭部が抽出されやすくしている。
【００２９】
外接矩形設定部１８は、二値化処理部１６により生成された二値画像に含まれる黒画素の連結画素毎にラベルを付与し（ラベリング処理）、ラベルが付与された各連結画素に外接矩形を設定する。以下、図２を参照しながら外接矩形設定部１８の処理を具体的に説明する。
【００３０】
図２には、外接矩形設定部１８によりスキャン画像の二値画像に含まれる各連結画素に設定された外接矩形の一例を示す。図２に示した例では、二値画像４０内に３つの原稿画像が含まれている。ここで、外接矩形設定部１８は、二値画像４０の中に含まれる各原稿画像の輪郭エッジを表す連結画素４２，４４，４６のそれぞれについて外接矩形５２，５４，５６を設定する。
【００３１】
原稿傾き判断部２０は、外接矩形設定部１８により各連結画素について設定された外接矩形の領域内に含まれている連結画素（原稿画像）が、設定された外接矩形に対して傾いているか否かを判断する。原稿傾き判断部２０により外接矩形に対して傾いていないと判断された原稿画像については、そのままその外接矩形の領域を原稿画像が含まれる画像領域として設定することとしてよい。一方で、外接矩形に対して傾いていると判断された原稿画像については、以下に説明するように外接矩形の中から原稿画像の輪郭部を検出して原稿画像の輪郭に沿った領域を原稿画像の抽出画像領域として設定する。この傾いた原稿画像の抽出画像領域の設定処理の詳細については後述する。
【００３２】
ここで、図３を参照しつつ、原稿傾き判断部２０において用いられる、原稿画像が傾いているか否かの判断基準の一例を説明する。図３に示されるように、原稿傾き判断部２０は、外接矩形５２の各辺において、外接矩形５２の１辺から、当該辺に近接する連結画素４２により構成される１辺が所定の距離（Ｔｈ）内に収まっている場合に、外接矩形に含まれる原稿画像が傾いていないと判断する。上記の条件に合致しないものは原稿画像が傾いてスキャン画像に含まれているものと判断される。上記Ｔｈの値は辺の長さ毎に予め定めておくこととしてもよい。
【００３３】
エッジ画素検出部２２は、外接矩形設定部１８により設定された各外接矩形内の画像領域から、以下説明する規則に従って原稿画像のエッジ画素を検出する。すなわちエッジ画素検出部２２は、まず外接矩形の１つの辺を処理対象として選択し、当該辺において連結画素と接する点から、当該辺の遠い方の頂点へと至る線分上の複数の各点から、当該辺に対して垂直方向に走査して最初に検出される画素をエッジ画素として検出する。上記複数の各点は、例えば線分上の１画素毎に取ることとしてもよいし、所定の間隔毎に取ることとしてもよい。
【００３４】
図４を参照しつつエッジ画素検出部２２による処理を具体的に説明すると、まずエッジ画素検出部２２は、外接矩形５４の上辺５４−１に対して、連結画素４４との接点４４−Ａを起点とし、４４−Ａから遠い方の頂点、すなわち５４−Ｂに至るまで以下の処理を行う。まずエッジ画素検出部２２は、起点とした接点４４−Ａとの接点の位置座標を記録し、次に５４−Ｂの方向に所定の画素数（例えば１画素）移動して、その点から上辺５４−１に対して垂直方向に走査して黒画素を検出し、検出した黒画素の位置座標を記録する。こうして検出された黒画素をエッジ画素とする。エッジ画素検出部２２は、上記の処理を接点４４−Ａから頂点５４−Ｂに至るまで繰り返し行う。そして、同様の処理を各辺５４−２，３，４についても行い、各辺においてエッジ画素の位置座標を得る。なお、スキャン画像にはノイズが含まれることがあるため、上記検出されたエッジ画素は必ずしも原稿画像の輪郭部を構成するとはいえない。そこで、本実施形態では以下説明する機能を設け、エッジ画素のうち輪郭部を構成する蓋然性が高いものを選別して画像抽出精度を向上させることとしている。
【００３５】
有効エッジ判断部２４は、エッジ画素検出部２２により検出されたエッジ画素が原稿画像の輪郭部に位置する画素であるか否かを判断する。有効エッジ判断部２４により原稿画像の輪郭部に位置すると判断されたエッジ画素を有効エッジ画素とする。有効エッジ判断部２４は、以下の３つの判断基準のいずれかに合致するエッジ画素は原稿画像の輪郭部に位置しない、すなわち有効エッジ画素でないと判断し、いずれの判断基準にも合致しないエッジ画素を有効エッジ画素であると判断する。
【００３６】
第１の判断基準は、走査の開始点たる外接矩形の辺から外接矩形の対角線を超えて検出されたエッジ画素は有効エッジ画素としないとするものである。これは、矩形の原稿画像の４辺がスキャン画像中に正しく写し出されているのであれば、対角線を越えて原稿画像の辺が検出されることはないことによる。
【００３７】
第２の判断基準は、隣り合ったエッジ画素との位置の差が所定正値よりも大きいエッジ画素は有効エッジ画素としないとするものである。これは、本実施形態では外接矩形と原稿画像とのそれぞれの辺とがなだらかな傾斜対の関係にあるため、急激な位置の差があるような場合にはノイズである可能性が高いと判断されることによる。
【００３８】
第３の判断基準は、エッジ画素が接点側に隣接するエッジ画素よりも外接矩形の辺に近づく場合には、そのエッジ画素は有効エッジ画素としないとするものである。これは、本実施形態では、外接矩形の辺における接点から頂点へと至るにつれて検出されるエッジ画素は外接矩形の辺から遠くなるはずであるため、逆に外接矩形の辺に近づくエッジ画素はノイズである可能性が高いと判断されることによる。
【００３９】
ここで図５に示した例を参照しつつ、上記の各判断基準により、スキャン画像に各種のノイズが含まれていた場合に、原稿画像の領域を特定する際のノイズ耐性が強化されることについて説明する。
【００４０】
図５（Ａ）に示された例では、原稿画像の上部のエッジが欠けているとする。このとき、外接矩形の上辺に対応して検出されるエッジ画素は、６０−Ａ及び６０−Ｂとなる。ただし、６０−Ａのエッジ画素は、対角線６１を超えて検出されたため第１の判断基準により、そして６０−Ｂのエッジ画素は頂点５６−Ａに近づくにつれて上辺に近づくため第３の判断基準により有効エッジ画素とは判断されない。
【００４１】
図５（Ｂ）に示された例では、原稿画像の辺の一部に突起４８−Ａ，Ｂがノイズとして付加されているとする。このとき、突起４８−Ａ，Ｂはそれぞれエッジ画素として検出されるが、突起４８−Ａ，Ｂはそれぞれ隣り合うエッジ画素との位置の差が大きく、また、頂点５６−Ｂ側で検出されたエッジ画素に比べて上辺に近いため、第２又は第３の判断基準により有効エッジ画素とは判断されない。
【００４２】
図５（Ｃ）に示された例では、二値化処理の際に原稿画像の内部がエッジとされてしまったとする。このとき、原稿画像の内部に入り込んだエッジ画素の一部は、大きく位置が変動し、また頂点５６−Ａに向かうにつれて上辺に近づくものであるため、第２及び第３の判断基準により有効エッジ画素とは判断されない。
【００４３】
以上説明したように、上記の第１乃至第３の基準に基づいて、エッジ画素として検出されたもののうち、原稿画像の輪郭部には位置しないエッジ画素を排除して、原稿画像の輪郭部に位置するエッジ画素を有効エッジ画素として選別することができる。
【００４４】
辺傾き算出部２６は、有効エッジ判断部２４により有効エッジ画素であると判断された黒画素の位置座標に基づいて、これらの有効エッジ画素により構成される各辺の傾きを算出する。辺傾き算出部２６は、外接矩形の辺に対応して取得された有効エッジ画素を１つのグループとして、各グループについて例えば最小二乗法により線分を特定し、特定した各線分と対応する外接矩形の辺との傾きを算出する。
【００４５】
抽出画像領域設定部２８は、有効エッジ画素により構成される辺の座標と、辺傾き算出部２６で算出された有効エッジ画素により構成される各辺の傾きの整合性とに基づいて、原稿画像が写し出されている矩形領域たる抽出画像領域を設定する。ここで、抽出画像領域は外接矩形設定部１８により設定された外接矩形の内部に限定されるものではなく、外接矩形の外部にまで拡張してもよい。ここで図６を参照しつつ上記の拡張された抽出画像領域の設定処理を説明する。
【００４６】
図６（Ａ）には、一部の輪郭が欠けた二値画像（頂点７０−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅの各点を連結してなる連結画素）について外接矩形（頂点７２−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより表される矩形）が設定された様子が描かれている。ここで、外接矩形の画像に対して上述した処理を行い有効エッジ画素を取得する。ここで、各辺の傾きの整合性が確認されると、図６（Ｂ）に示されるように、対向する辺について長い方の辺の長さに合うように連結画素を拡張して、抽出画像領域（頂点７０−Ａ，Ｂ，Ｆ，Ｄを結んでなる矩形領域）を設定する。
【００４７】
画像抽出部３０は、抽出画像領域設定部２８により設定された矩形の抽出画像領域から画像を抽出する。
【００４８】
次に、図７に示されたフローチャートを参照しながら、本実施形態に係る画像抽出装置１０により行われる画像抽出処理の流れを説明する。
【００４９】
図７に示されるように、画像抽出装置１０は、画像読み取り部にセットされた１又は複数枚の原稿を読み取りスキャン画像を生成して取得する（Ｓ１０１）。画像抽出装置１０は、取得したスキャン画像に対してエッジを強調した二値化処理を施して、二値画像を生成する（Ｓ１０２）。画像抽出装置１０は、生成した二値画像に含まれる連結画素毎にラベルを付与して（Ｓ１０３）、ラベルが付与された連結画素毎に外接矩形を設定する（Ｓ１０４）。
【００５０】
画像抽出装置１０は、設定された外接矩形に対して、その外接矩形に含まれる連結画素が外接矩形に対して傾いているか否かを判断する（Ｓ１０５）。ここで、傾いていないと判断された外接矩形についてはその外接矩形を抽出画像領域として設定する（Ｓ１０９）。一方で、傾いていると判断された外接矩形については以下の処理を行う。
【００５１】
画像抽出装置１０は、外接矩形の各辺において、連結画素との接点から当該接点から遠い方の頂点へと至る線上の各点から、当該辺に対して垂直方向に走査してエッジ画素を検出する（Ｓ１０６）。画像抽出装置１０は検出されたエッジ画素の中から原稿画像の輪郭部を構成する有効エッジ画素を選択する（Ｓ１０７）。
【００５２】
画像抽出装置１０は、外接矩形の各辺において上記の有効エッジ画素の検出処理を行い、得られた有効エッジ画素により形成される各辺の傾きを算出する（Ｓ１０８）。そして、画像抽出装置１０は有効エッジ画素により形成される辺と、各辺について算出された傾きとの整合性に基づいて矩形の抽出画像領域を設定する（Ｓ１０９）。画像抽出装置１０は、外接矩形のそれぞれについて上記の各処理を行い、設定された矩形領域について画像を抽出する（Ｓ１１０）。こうして、スキャン画像に写し出された各原稿画像を抽出するものである。
【００５３】
以上説明したように、本実施形態に係る画像抽出装置１０によれば、スキャン画像から矩形原稿等の矩形画像を抽出する際の雑音耐性を強化することができる。
【００５４】
なお、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、この分野の通常の知識を有する当業者によって多様な変更、変形又は置換が可能であることはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本実施形態に係る画像抽出装置１０の機能ブロック図である。
【図２】二値画像に含まれる各連結画素に設定された外接矩形の一例を示す図である。
【図３】原稿画像が傾いているか否かの判断基準の一例を説明する図である。
【図４】連結画素と外接矩形の一例を示す図である。
【図５】原稿画像の領域を特定する際のノイズ耐性の強化について説明する図である。
【図６】拡張された抽出画像領域の設定処理を説明する図である。
【図７】画像抽出装置１０により行われる画像抽出処理の流れを示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００５６】
１０  画像抽出装置、１２  スキャン部、１４  画像取得部、１６  二値化処理部、１８  外接矩形設定部、２０  原稿傾き判断部、２２  エッジ画素検出部、２４  有効エッジ判断部、２６  辺傾き算出部、２８  抽出画像領域設定部、３０  画像抽出部、４０  二値画像、４２，４４，４６  連結画素、５２，５４，５６  外接矩形、４４−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ  接点、５４−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ  頂点、５４−１，２，３，４  辺、４６−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ  接点、４８−Ａ，Ｂ  突起、５６−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ  頂点、６１  対角線、７０−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ  点、７２−Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ  点。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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