(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の測定期間の間に光の強度の光電測定を行う方法であって、
電荷蓄積素子で蓄積される電荷のレベルが光センサに入射した光の強度に依存する充電速度で変化するように構成された電荷蓄積素子を提供するステップと、
充電レベルが予め決められた量だけ変化するのに費やされる時間である１つの測定時間間隔を決定するステップと、
該所定の測定期間の間中、該所定の測定期間の終わりまで、一連の測定時間間隔の間に該充電レベルを該予め定められた量だけ繰り返し変化させることで、該１つの時間間隔を決定するステップを繰り返し実行するステップであって、それによって、複数の測定時間間隔を生成するステップと、
該決定された複数の測定時間間隔のそれぞれの継続時間の累積に基づいて光電測定の測定値を取得するステップとを含み、決定された測定時間間隔の合計数は上記充電速度と共に変化し、
該測定時間間隔の始まりと終わりを検出するために比較器が使用され、該比較器は、該充電レベルをスレショールドレベルと比較するように動作可能であり、該光電測定を行う方法は、さらに、
該測定時間間隔の始まりを決定するための第１のレベルと該測定時間間隔の終わりを決定するための第２のレベルの間で該比較器に印加される該スレショールドレベルを変更するステップを含む方法。
【請求項２】
請求項１記載の方法において、各測定時間間隔は、前記電荷蓄積素子の各充電／放電サイクル中に得られる方法。
【請求項３】
請求項１又は２記載の方法において、前記測定量は、充電が変化している該複数の測定時間間隔中予め決められた速度でカウントすることによって得られる方法。
【請求項４】
請求項３記載の方法において、各測定時間間隔中のカウントは、充電又は放電動作の開始に続く遅延期間の後にスタートされる方法。
【請求項５】
請求項４記載の方法において、前記遅延期間は、異なる測定時間間隔ごとに異なっている方法。
【請求項６】
請求項１乃至５の何れか１項に記載の方法において、各測定量について、該決定された測定時間間隔の合計数は、上記測定期間における全ての測定時間間隔の合計数に対応している方法。
【請求項７】
請求項６記載の方法において、前記所定の測定期間は、スキャンされている物品に基づく予め決められた場所的スキャニング間隔に対応している方法。
【請求項８】
請求項１乃至６記載の方法において、前記所定の測定期間は、予め決められた時間に対応している方法。
【請求項９】
所定の測定期間の間に光の強度の光電測定を行う方法であって、
電荷蓄積素子で蓄積される電荷のレベルが光センサに入射した光の強度に依存する充電速度で変化するように構成された電荷蓄積素子を提供するステップと、
充電レベルが予め決められた量だけ変化するのに費やされる時間である１つの測定時間間隔を決定するステップと、
該所定の測定期間の間中、該所定の測定期間の終わりまで、一連の測定時間間隔の間に該充電レベルを該予め定められた量だけ繰り返し変化させることで、該１つの測定時間間隔を決定するステップを繰り返し実行するステップであって、それによって、複数の測定時間間隔を生成するステップと、
該決定された複数の測定時間間隔のそれぞれの継続時間の累積に基づいて光電測定の測定値を取得するステップとを含み、決定された測定時間間隔の数は上記充電速度と共に変化し、
上記測定時間間隔は、上記充電（又は放電）を開始し、（ｉ）続いて第１の予め決められたレベルに達する上記充電レベルと、（ｉｉ）次いで、第２の予め決められたレベルに達する上記充電レベルとの間隔を測定することによって決定され、
該測定時間間隔の始まりと終わりを検出するために比較器が使用され、該比較器は、該充電レベルをスレショールドレベルと比較するように動作可能であり、該光電測定を行う方法は、さらに、
該比較器に印加される該スレショールドレベルを、該測定時間間隔の始まりを決定するための第１のレベルと該測定時間間隔の終わりを決定するための第２のレベルの間で変更するステップを含む方法。
【請求項１０】
請求項１乃至９の何れか１項に記載の方法において、該決定された測定時間間隔のそれぞれの継続時間の累積を決定された測定時間間隔の合計数で除算することにより、光電測定の測定値を取得するステップをさらに含む方法。
【請求項１１】
貨幣の物品を確認する方法であって、請求項１乃至１０のうちの何れか１項に記載の方法を使用して貨幣物品から受けた光に基づいて複数回の光電測定を行うことからなる方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の方法において、
共通駆動信号を用いて複数の光源に同時にエネルギーを与えるステップと、
該光源から前記物品を介して受けた光を同時に測定するステップとを含む方法。
【請求項１３】
請求項１１又は１２に記載の方法において、異なるスペクトル領域の各々について連続する測定を行うステップを含む方法。
【請求項１４】
紙幣確認装置であって、
紙幣に光を照射する光源と、
該光源から放射された光を受光する１つの光センサと、
電荷蓄積素子で蓄積される電荷のレベルが該光センサに入射した光の強度に依存する充電速度で変化するように構成された電荷蓄積素子を含むセンサ回路と、
該光センサから信号を受信し、該信号から光電測定の測定値を生成する測定回路とを含み、該光電測定の測定値は、各々が１つの測定時間間隔の間に導出されると共に該電化蓄積素子の電荷のレベルが予め決められた量だけ変化するのに費やされる時間を表す複数の値に基づいており、該複数の測定時間間隔の数は充電速度と共に変化し、該紙幣確認装置は、さらに、
該測定時間間隔の始まりと終わりを検出する比較器を含み、該比較器は、該充電レベルをスレショールドレベルと比較するように動作可能であり、該測定時間間隔の始まりを決定するための第１のレベルと該測定時間間隔の終わりを決定するための第２のレベルの間で該比較器に印加される該スレショールドレベルを変更することが可能である紙幣確認装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光電測定を行う方法及び装置に関し、特に、しかし専用ではないが、貨幣物品、たとえば紙幣等の金銭的な価値がある物品から反射される、および／または物品中を伝導される光の測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の紙幣確認技術は、ＬＥＤ等の光源と光センサとを使用し、紙幣が、光源からセンサへの光路中に光を反射するかまたは光を伝導するかのどちらかになるように配置される、光電測定を行うことを含む。このような配置に対する問題は、光源と光センサの動作特性が、異なる部品間ばかりでなく部品のライフタイム内でも実質的に変わる傾向があることである。したがって、もし特別な処置が講ぜられなければ、部品の特性に依存して、特定の測定量は、たとえば１０ないし１２のファクタで変化し得る。この変化を補償するために校正技術を使用することができるが、それにもかかわらず、広いダイナミックレンジ要求は、量子化エラーになることがある。この問題は、紙幣の反射率および／または伝導率もたとえば約４０のファクタで実質的に変化することがあるという事実によって悪化し、これはダイナミックレンジ要求を大いに増し、結果的により多くの量子化エラーを生じる。
【０００３】
この問題を軽減する方法の１つは、部品性能の変化を補償するために電気的調整を行う回路を組み込むことである。たとえば、光源はデジタル／アナログ変換器を用いて駆動され、制御回路は、光源出力が一定レベルに維持されるのを保証するために、変換器に供給されるデジタル信号を変えるように整えられる。同様に、センサ出力は、センサの変化する応答特性を補償するように調整されるプログラマブルゲイン装置に供給される。これは、部品の変化の問題を処置するが、他の困難に導く。これは、別々の光源／センサペアを用いて、紙幣がスキャンされているときに同時にいくつかの異なる測定を行うのが望ましいという事実から起こる（たとえば、ＥＰ−Ａ−０  ５３７  ４３１を参照）。全ての光源に対して１個の駆動回路を使用するのが都合が良い。しかしながら、その回路がＬＥＤの特性に依存して調整を行うデジタル／アナログ変換器を含む場合は、もはや同時測定を行うことはできない。代わりに、各測定は、デジタル／アナログ変換器への入力が変化する期間、および、調整された信号を安定させる時間を見込むためのさらなる期間によって先行されなければならない。したがって、スキャニング速度が減少するか、または紙幣のより小さい割合がスキャンされるかのどちらかになる。
【０００４】
このような配置でさえ、紙幣の反射率または伝導率の変化に帰因するダイナミックレンジ要求による量子化エラーが残る。
【０００５】
本発明の一態様によれば、光電測定は、電荷蓄積素子を使用しセンサで受けられた光の強度に依存する速度で素子に蓄積される電荷を変更し、次いで、充電レベルが予め決められた量だけ変化するのに費やされる時間か、予め決められた期間後の充電レベルのどちらかを測定し、次いで、この測定量をいくつか累積することによって行われる。好適には、その数は充電速度に依存する。  センサで受けられた強度に依存する速度で電荷蓄積素子（たとえば、コンデンサ）を充電（または放電）することにより、予め決められた量だけ電荷を変更するのに費やされる時間から強度レベルを推定することができる。しかしながら、この強度が高ければ、電荷は早く変化し、そのため、予め決められた量だけ電荷が変化するのに費やされる時間の測定は、比較的低い分解能を示すだろう。
本発明は、可変できる回数だけ個々の測定を繰り返すことを意図し、その回数はより高い充電（または放電）速度（通常、高い強度と関連している）に対してより多くなる。最終測定量は、個々の測定量の累積に基づいている。したがって、高強度測定量は、予め決められた量だけ充電レベルを変化させるのに費やされる時間を複数回累積した量を知ることによって作られ、それにより分解能が改善される。
【０００６】
かけがえとして、個々の測定は、予め決められた期間内に電荷がどのくらい多く変化したかを判定することによって行われる。先行技術では、高強度測定は、充電レベルに大きな変化を起こし、その結果生じる充電レベルは、アナログ／デジタル変換を受けて、実質的にアナログ／デジタル変換器の最大値の読み取り値を与えるだろう。しかしながら、低強度測定に対しては、充電レベルは実質的により低い量だけ異なり、したがって、量子化エラーは比例してより大きな影響があるだろう。しかしながら、本発明の一態様によれば、測定が繰り返され、その結果が累積されて、精度が改善される。おのおのの個々の測定は予め決められた時間を費やしているので、この技術を用いて、測定回数は、利用可能な時間において可能な最大限まで容易に一致させることができ、したがって、強度にかかわりなく同じにすることができる。
【０００７】
予め決められた量だけ電荷が変化するのに費やされる時間を繰り返し測定することを含む前者の技術は、複数のアナログ／デジタル変換を含まないため好適である。
【０００８】
したがって、本発明の技術は、大きなダイナミックレンジ要求から生じる問題を解決または軽減する。その結果、センサ回路内で電気的調整を行う必要はもはや無く、そこで、デジタル／アナログ変換器およびプログラマブルゲイン装置のコストと、上述のさらなる問題とを避けることができる。
【０００９】
光センサ出力が、予め決められた量だけ電荷が変化するのに費やされる時間を判定することにより測定される先行技術の回路では、通常使用される技術は、充電（または放電）動作とタイミング動作を同時に開始し、次いで、充電レベルが予め決められたスレショールドに達した時タイミング動作を終了することにある。本発明の他の独立した態様によれば、充電／放電動作のスタートと、測定の始まりの間には遅れがある。これは、充電／放電動作を開始する部品内の伝搬遅延に起因するタイミング誤りの問題を軽減する。好適な実施例では、充電／放電動作が開始され、次いで、タイミング動作が、充電レベルが第１のスレショールドに達した時に始まり、次いで、測定が、第２のスレショールドが達せられたタイミングを判定することによって（または、予め決められた時間が測定された時の充電レベルを判定することによって）行われる。
【００１０】
好適には、タイミング動作は、電荷がスレショールド入力に印加される信号で決定される第１のスレショールドレベルに達したことを比較器が検出した時に、開始される。次いで、この信号は第２のスレショールドレベルに対応するように変更され、次いで、タイミング動作は、電荷が第２のスレショールドレベルに達した時に終了する。第１および第２のスレショールドレベルをそれぞれ検出するために別々の比較器を使用することができる。しかしながら、タイミング誤りは、比較器内の伝搬遅延の差異に起因して、特に、この差異は充電レベルの変化率に依存し得るという事実に起因して起こり得る。１個の比較器を使用し、スレショールド入力に印加される信号を変化させることによって、このようなタイミング誤りを避けることができる。
【００１１】
本発明のこの態様は、最初に述べた態様と好適に結合され、その結果、おのおのの個々のセンサ測定は、充電または放電動作のスタート後に遅延期間に続いて開始される。好適には、この遅延期間は、異なる個々の測定に対して違っている。充電／放電動作の開始は、タイミングのために使用されるクロックパルスと同期して制御することができる。遅延期間を変えることによって、クロックパルスと個々の測定の開始との間にあるどんな同期も破壊することができ、その結果、測定に丸めエラーがある場合は、累積の代わりにこれらの平均が出される。
【００１２】
本発明の他の態様は、付随の請求項に示される。また、本発明は、本発明の方法の技術を使用した、貨幣確認装置等の装置にも及ぶ。
次に、本発明を実施した配置を例として添付図面を参照しながら説明する。
【００１３】
【実施例】
図１を参照すると、紙幣確認装置２は、センサアレイ６およびＬＥＤアレイ８に接続された回路４を備えている。アレイ８のＬＥＤは、紙幣１０が一対のローラー１２でその長さの方向Ａへ移動するときにセンサアレイ６でスキャンされるように、紙幣１０を照明するために配置されている。ローラ１２の１つは、適切なスキャン速度で駆動される。タコグラフセンサ１４は、紙幣が予め決められた距離だけスキャン方向に移動するたびに、パルスを発生する。
【００１４】
ＬＥＤアレイ８は、多数（図示の実施例では４個）の区分１６からなり、各区分は、異なる色を有する複数のＬＥＤ、たとえば、赤色ＬＥＤ１８、緑色ＬＥＤ２０および赤外線ＬＥＤ２２を含む。各区分１６内の同色のＬＥＤは直列に接続されており、駆動回路（図示しない）で同時に駆動することができる。駆動回路は、異なる色のＬＥＤを連続して駆動するように整えられている。
【００１５】
センサアレイ６は、複数の個別センサ２４を備えている。個別センサ２４はおのおの、ＬＥＤアレイ８の対応する区分１６におけるＬＥＤからの光を紙幣１０のある領域からの反射後に受けるためのものである。
【００１６】
確認装置４は、ＬＥＤを駆動する駆動回路と、センサ２４からの信号を受けて、それから測定量を得る測定回路とを含む。動作時、同色のすべてのＬＥＤは、共通の駆動信号を用いて同時に駆動され、測定量は、センサ２４の出力に基づいて同時に作られる。各ＬＥＤのために個別的に駆動電流を変える必要はないので、測定量を連続して作る必要はない。
【００１７】
測定量の１セットが作られた後、異なる色のＬＥＤが駆動され、その結果、それぞれ異なる色の測定量が連続して得られる。
【００１８】
図２は、センサ２４の１つのためのアナログ回路を示す。図２において、センサ２４は、可変電流シンクで表わされ、コンデンサ１０２に接続されている。コンデンサ１０２の他方の側は供給レールに接続されている。これは、コンデンサの電荷、したがってセンサ２４とコンデンサの接続点の電圧が、センサで受けられた光の強度に依存する速度で変わることを意味する。この接続点は、比較器１０６の第１の入力１０４に接続されている。比較器１０６は、スレショールド信号を受ける第２の入力１０８を有する。比較器の出力ＣＯは、端子１１０にて供給されている。
【００１９】
端子１０８のスレショールドレベルは、多数の部品および信号で決定される。一対の抵抗１１２および１１４は、信号がない時に予め決められたスレショールドレベルを与える分圧器を形成している。しかしながら、さらに、端子１１６のスレショールド切換信号ＴＳがインバータ１１８に供給され、その出力は、抵抗１２０によってスレショールド入力端子１０８に接続されている。したがって、スレショールド切換信号ＴＳがローならば、インバータ１１８の出力は、端子１０８のスレショールド電圧を増加させる。
【００２０】
また、スレショールド電圧は、演算増幅器１２２より供給される変調信号Ｍによって影響を及ぼされる。演算増幅器１２２の動作は後で説明される。
【００２１】
図３を参照すると、確認装置の制御回路２００は、タコメータセンサ１４から得られるサイクルイネーブル信号ＣＥと、比較器出力ＣＯとに応答して、カウンタリセット信号ＣＲ、データラッチ信号ＤＬ、整数クロックＩＣ、図２の回路へ送られるスレショールド切換信号ＴＳおよび同様に図２の回路へ送られるコンデンサダンプ信号ＣＤを含む多数のタイミング信号を供給する。また、確認装置回路は、２つのカウンタ、すなわち期間カウンタ２０２および整数カウンタ２０４と、１６ビットラッチ２０６および２０８と１２ビットラッチ２１０からなる３つのラッチも含む。この回路は、システムクロック信号ＣＬに応答する。
【００２２】
この回路の動作は、図２および図３と図４のタイミング図を参照して以下に説明される。
【００２３】
サイクルイネーブル信号ＣＥの受信に基づき、制御回路２００は、コンデンサダンプ信号ＣＤおよびデータラッチ信号ＤＬを発生し、両信号は短時間の間持続する。データラッチ信号は、ラッチ回路２０８および２１０のラッチ入力２１２および２１４にそれぞれ送られ、それにより、これらのラッチ回路に、それぞれラッチ２０６およびカウンタ２０４の電流内容に対応する値を記憶させる。ラッチ回路２０８および２１０の出力２１６および２１８は、以下に述べることから明らかになるように、先行する測定サイクルのセンサ測定量を表わす。
【００２４】
コンデンサダンプ信号ＣＤは、図２の回路の端子１４０に送られ、トランジスタ１２４をオンにする。これは、電源電圧と、コンデンサ１０２およびセンサ２４の接続点との間に接続され、この接続点を実質的に電源電圧に導き、それにより、コンデンサ１０２で蓄積された電荷をすべて実質的に除去する。それに応じて、比較器１０６の第１の入力１０４に印加される電圧は、実質的に電源電圧に等しくなる。
【００２５】
データラッチ信号が終わるやいなや、制御回路２００は、短時間のカウンタリセット信号ＣＲを発生し、この信号は、カウンタ２０２および２０４とラッチ２０６のリセット端子２２０，２２２および２２４に送られ、これらすべての内容をゼロにリセットする。
【００２６】
コンデンサダンプ信号ＣＤの終わりにおいて、トランジスタ１２４はオフになり、その結果、コンデンサ１０２とセンサ２４の接続点の電圧は、コンデンサ１０２がセンサで受けられる光の強度に依存する速度で充電するにつれて減少し始める。その結果生じるランプ信号Ｒは図４に示される。
【００２７】
ランプ信号Ｒが、分圧器１１２および１１４で決定されるスレショールドレベルまで下がると、比較器出力信号ＣＯは、図４に示されるようにローになる。これが起こるやいなや、制御回路２００は、スレショールド切換信号ＴＳを発生する。スレショールド切換信号ＴＳは、インバータ１１８に印加され、端子１０８に印加されるスレショールド電圧を、前の高レベルＶｈから低レベルＶｌに下げさせる。そこで、比較器出力は、図４に示されるように、再びハイになる。
【００２８】
また、スレショールド切換信号ＴＳは、カウンタ２０２のイネーブル入力２２６にも送られる。そこで、カウンタ２０２は、クロックパルスＣＬの速度でカウントし始める。
【００２９】
ランプ電圧Ｒは、減少し続け、ついには低スレショールドＶｌに達する。この時点で、比較器出力は、再びローになる。
【００３０】
スレショールド電圧は、スレショールドが交差した時のランプ電圧Ｒと同じ方向に変化するという事実に起因して起こり得る多重切り換えという問題を避けるために、比較器出力が変化する時間から少し遅れて、スレショールドレベルの変化がある。この遅れは、最小サイクル期間を定義する。
【００３１】
明細書を通して、用語“光”は、可視光ばかりでなく、他の波長の電磁放射線、たとえば赤外線や紫外線、もカバーするように使用されている。
【００３２】
制御回路２００は、スレショールド切換信号ＴＳの終了によってローになる信号ＣＯに応答し、したがって、カウンタ２０２のカウントを停止させ、入力１０８の高スレショールドをリセットする。制御切換信号ＴＳの終わりにおいて、制御回路は、短時間の整数クロックパルスＩＣを発生し、これは、１２ビット整数カウンタ２０４のカウント入力２２８に送られ、それに記憶されている値をインクリメントする。また整数クロック信号ＩＣは、１６ビットラッチ２０６のラッチ入力にも送られ、これは、カウンタ２０２の内容をラッチ２０６に転送せしめる。
【００３３】
したがって、ラッチ２０６の内容は、ランプ信号が第１のスレショールドレベルＶｈから第２のスレショールドレベルＶｌまで進のに費やされる時間を表わし、したがって、センサ２４で受けられる光の強度を表わす。
【００３４】
制御回路２００は、スレショールド切換信号ＴＳがローになった後、短い間新たなコンデンサダンプ信号ＣＤを発生するように整えられる。これは、コンデンサをトランジスタ１２４を介して急速に放電させ、したがって、ランプ電圧を増加させ、その結果、２回目の充電動作が起こる。
【００３５】
したがって、この動作が繰り返され、この２回目の充電動作の終わりにおいて、カウンタ２０２からラッチ２０６へ転送された内容は、２サイクルの間にランプ電圧が高スレショールドから低スレショールドへ減少するのに必要とされる時間のトータル量を表わす。整数カウンタ２０４で記憶される内容は、２、すなわち完了サイクルの合計数に等しくなる。
【００３６】
このプロセスは、他のサイクルイネーブル信号が検出器１４からのパルスに応じて発生するまで繰り返す。その時点で、ラッチ２０６とカウンタ２０４の内容は、上述したように、ラッチ２０８および２１０に転送される。現在の完了していない充電動作に応じてカウンタ２０２で実行されるカウントはすべて無視される。なぜなら、これは、まだラッチ２０６に転送されていなかったからである。
【００３７】
センサに流れる電流は、光の強度に正比例し、コンデンサの電圧がＶｈからＶｌへ変化するのに費やされる時間に反比例する。この時間、したがって光強度の正確な測定量は、完了サイクルの間に費やされたトータル時間、すなわちラッチ２０８の内容Ｐを、ラッチ２１０で記憶されている通りの完了サイクルの数Ｉで割ることによって引き出すことができる。この測定量の分解能は、光強度によって余り影響を及ぼされないが、値Ｉはこれに強く依存している。
【００３８】
上記に説明した動作は、変調信号Ｍの影響を無視している。次に、これの目的を説明する。
【００３９】
おのおのの個々のタイミング測定量は、クロック信号ＣＬの周波数で決定される精度を有する。コンデンサダンプ信号ＣＤはクロック信号と同期されていると仮定すれば、不変のセンサ出力は、クロック期間内の一致地点における比較器出力変化になる。スレショールド間を通るのに費やされる時間が正確な複数のクロック期間でなければ、クロック期間の端数は無視される。この影響は累積され、最終的な測定量はわずかに不正確なものになるが、それにもかかわらず実質的に正確で高分解能なものになるだろう。
【００４０】
これを処置するために、サイクルイネーブル信号ＣＥが図２の回路の端子１２６に送られ、その結果、トランジスタ１３８がオンになり、コンデンサ１３０を放電させることになる。サイクルイネーブル信号がハイになった後、トランジスタ１３８はオフになり、コンデンサ１３０は抵抗１３２を介して充電し始め、その結果、演算増幅器１２２に送られるコンデンサの電圧は徐々に減少する。これは、変調信号Ｍを発生する。変調信号Ｍは、図４に示されるようにハイで始まるが、測定量が作られかつコンデンサ１０２が繰り返し充放電されている期間にわたって徐々に下がる。変調信号Ｍは、比較器１０６の端子１０８に印加されるスレショールドレベルをわずかに増加させ、そのため、測定期間の進行中、両スレショールドレベルＶｈ及びＶｌはわずかに減少する傾向がある。この結果、クロック信号と、比較器出力が変化する時点との同期が乱れることになり、そのため、たとえば、コンデンサダンプ信号と続いてスレショールドレベルＶｈが達せられる間の時間ｔ１は、後続のサイクルにおける対応するｔ２と同じにならない。したがって、充電サイクル中に達せられるカウントの端数エラーはすべて、測定期間の進行にわたって平均が取られる。変調信号Ｍの傾斜は、傾斜のどんな非直線性からも余りエラーが起こらないように、十分になだらかになっている。
【００４１】
この実施例では、測定期間全体は、紙幣が一定速度で駆動されると仮定すれば、紙幣上の予め決められた場所的間隔と、好適には予め決められた時間間隔、とを表わす。しかしながら、本発明は、速度が一定か否かに関係なく分解能を最大限にする方法を提供する。しかしながら、本発明は、各測定期間をトリガするためにタイマーが使用されることにより測定期間が一定間隔で起こる配置にも適用可能である。
【００４２】
上記に説明した好適な実施例では、各測定量は、それぞれの充電／放電サイクル中に発生する個々の測定量の累積から形成される。個々の測定量は、（センサで制御されるべき放電速度のために整えることによってコンデンサが放電している時だけ等しく良好に作られるけれども）コンデンサが充電している時だけ作られる。他の実施例では、電荷蓄積素子は、センサに依存する速度で充電および放電が共に行われ、そのため、のこぎり波が発生し、個々の測定量は、サイクルの充電部分と放電部分の両方の間に取られる。
【００４３】
さらに他の実施例では、大容量電荷蓄積素子が使用され、比較器配置は、素子が充電（または放電）されるにしたがって、複数のスレショールドが達せられることを検出するように整えられる。充電速度は、蓄積素子が測定されるべき最高値信号に対してさえ完全には充電（または放電）されないほどになっている。そこで、測定量は、充電レベルが２つの隣接するスレショールド間を通るのに必要な期間を定め、次いで、これを、スレショールドの他のペアの不定数（この数は充電速度に依存する）間を通るのに必要な時間に加えることによって作られる。
【００４４】
比較器１０６に印加されるスレショールド値を変調する代わりに、比較器の他の入力１０４に印加される信号に変調された電流を加えることができるだろう。
【００４５】
この実施例は、電気的調整の必要性と、調整中に使用される電気部品のコストを避ける。したがって、測定量が作られる時間をより多くすることができ、その結果、より遅くかつ費用がかからないアナログ／デジタル変換器を使用することができる。また、より遅い変換器は、ノイズ問題も軽減する。また、本発明は、部品の悪化から生じる問題にそんなにさらされないので、機器のライフタイムを増やすことができる。
【００４６】
上記に説明した実施例は、各測定期間中に１個の測定量を発生する。代わりに、おのおのの個々の充電／放電サイクル中にカウンタ２０２で達せられるカウントの移動平均に基づき、連続的な測定量を持つことができる。移動平均が、予め決められてた間隔にわたって作られた個々の測定量に基づいている場合は、その結果に寄与する測定量の数は、充電速度にしたがって変わるだろう。
【００４７】
特定の実施例が、紙幣から反射される光を検出する配置に関して説明されたが、光が紙幣中を伝導する配置にも同様に適用可能である。確かに、このような配置ではさらなる利点がある。なぜなら、校正または正規化の目的で、紙幣の存在なくして、ダイレクトな測定を行う必要がしばしばあるからである。この場合には、受けられる光強度は、紙幣が存在する場合よりはるかに高く、そこで、大きなダイナミックレンジのためのより多くの要求がある。
【００４８】
この実施例では、コンデンサの充電または放電速度は、コンデンサが充電または放電される速度に、したがって測定期間中に作られる測定量の数に実質的に比例する。測定量の数は充電速度と共に増加するのが好適であるが、互いに比例する必要はない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にしたがう紙幣確認装置におけるセンサ配置を概略的に示す。
【図２】確認装置の確認回路のアナログ部の回路図である。
【図３】回路の制御および計数部のブロック図である。
【図４】回路のタイミング図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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