(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、
Ｘ線検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収集手段と、
データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ蓄積手段とを備え、
前記データ収集手段は１ビュー毎の投影データを識別可能なビューゲート信号に基づいて、各ビューの開始信号又は終了信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段は受信した前記各ビューの開始信号又は終了信号に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置において、
Ｘ線検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収集手段と、
データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ蓄積手段とを備え、
前記データ収集手段は１ビュー当たりの投影データを識別可能なビューゲート信号に基づいて、各ビューの開始信号又は終了信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段は受信した前記各ビューの開始信号又は終了信号に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新することを特徴とするＸ線透視検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＸ線ＣＴ装置及びＸ線透視検査装置に関し、更に詳しくは、被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置並びに同投影データに基づき被検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置に関する。
【０００２】
Ｘ線ＣＴ装置は、被検体の断層面をＸ線透視した全方向（全ビュー）からの各投影データ（ラインデータ）を注目する各点につき全方向から重ね合わせる（バックプロジェクションする）ことでＣＴ断層像を再構成する基本原理に基づいている。従って、画像再構成の際には全ビューのラインデータを全方向から正確にバックプロジェクションする必要がある。
【０００３】
また、ラインセンサ型のＸ線透視検査装置（ラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置等）では、ラインセンサで得た各投影データ（ラインデータ）を２次元的に並べて透視画像の２次元解析を行なっており、もし１ライン（１ビュー）でも投影データがずれると、画像が検出器ラインと垂直な方向に不連続となり、自動画像認識を行なっている場合は、欠陥部誤検出の恐れがある。従って、上記いずれの場合もラインデータが正確に収集され、かつ蓄積される必要がある。
【０００４】
【従来の技術】
図７，図８は従来技術を説明する図（１），（２）で、図７は従来のＸ線ＣＴ装置の要部構成図を示している。図において、３０はＸ線ファンビームにより被検体のアキシャル（Ａxial）／ヘリカル（Ｈerical）スキャン・読取を行う走査ガントリ、４０は回転陽極型のＸ線管、５０はＸ線の体（ｚ）軸方向の曝射範囲を制限するコリメータ、１００は被検体、２０は被検体１００を載せて体軸方向に移動させる撮影テーブル、７０は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器素子が円弧状の例えば一列に配列されているＸ線検出器（シングルディテクタ）、８０'はＸ線検出器７０の検出信号から投影データを生成・収集するデータ収集部（ＤＡＳ）、１０はユーザが操作する遠隔の操作コンソール、１５’はデータ収集部８０’からの投影データを蓄積するデータ収集バッファ、１１はＸ線ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う中央処理装置である。なお、図中の（ｘ，ｙ，ｚ）は装置に固定された直交座標系、（Ｘ，Ｙ，Ｚ）はＸ線検出系（走査ガントリ３０）に固定された直交座標系を夫々表す。ここで、ｚ＝Ｚである。
【０００５】
動作の概要を言うと、Ｘ線管４０からのＸ線ファンビームは被検体１００を透過して対向するＸ線検出器７０に一斉に入射する。データ収集部８０’はＸ線検出器７０の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投影データｇ(Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここで、ＸはＸ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標（１〜ｎ）、θは走査ガントリ３０の回転角（ビュー角）を夫々表す。更に、走査ガントリ３０が僅かに回転した各ビューで上記同様の投影を行い、こうして走査ガントリ１回転分（１０００ビュー程度）の投影データを収集し、これらをケーブル２２を介して遠隔のデータ収集バッファ１５’に蓄積する。更に、アキシャル／ヘリカルスキャン方式に従って撮影テーブル２０を体軸方向に間欠的／連続的に移動させ、こうして所要撮像領域についての全投影データを収集し、蓄積する。そして、中央処理装置１１は、得られた全投影データに基づき被検体１００のＣＴ断層像を再構成（Back Projection）し、不図示の表示装置に表示する。
【０００６】
図８（Ａ）に上記投影処理のイメージ図を示す。今、走査ガントリ３０の回転角＝θiとすると、被検体１００のＸ線吸収係数分布ｆ(ｘ，ｙ）についての投影データg(Ｘ，θi)は（１）式で与えられる。
【０００７】
【数１】
0004549522.tif 000002
【０００８】
走査ガントリ３０の回転角＝θjとする時の投影データg(Ｘ，θj)についても同様である。
【０００９】
図８（Ｂ）に上記逆投影処理のイメージ図を示す。逆投影処理は、被検体１００上の着目点(ｘ，ｙ)を通過する全投影データg(Ｘ，θ)を全方向から逆投影し、これらを重ね合わせることでＸ線吸収係数分布ｐ(ｘ，ｙ）｛≒ｆ(ｘ，ｙ）｝を推定する。即ち、この逆投影法により再構成される着目点(ｘ，ｙ)の断層像は（２）式で与えられる。
【００１０】
【数２】
0004549522.tif 000003
【００１１】
従って、正しい再構成画像を得るためには、全ビューのラインデータg(Ｘ，θ)を全方向から正確にバックプロジェクションする必要がある。
【００１２】
図７に戻り、挿入図（ａ）に従来のデータ収集部８０’とデータ収集バッファ１５’間におけるデータ転送・蓄積方式のタイミングチャートを示す。従来は、１トータルスキャン分又はガントリ１回転分の全投影データＳＤＴをクロック信号ＤＣＫに同期させて一挙（バースト的）に転送していた。
【００１３】
挿入図（ｂ）にデータ収集バッファ１５’における投影データＳＤＴの記憶態様を示す。上記データ転送・蓄積が正しく行われた場合は、図示の如く、中央処理装置１１は１ライン（１ビュー）当たりのアドレス間隔から各ラインデータｉ，ｊ等の先頭アドレスを正しく認識可能であり、よって全ラインデータを全方向から正しくバックプロジェクションできる。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかるに、高エネルギーのＸ線を曝射するようなＸ線ＣＴ装置では、所謂Ｘ線放電等によるノイズの発生も少なくなく、このために上記データ収集・蓄積動作に少なからず悪影響を与える。
【００１５】
挿入図（ｃ）はデータ転送途中のクロック信号ＤＣＫの一部がノイズ等により失われた場合を示している。例えばビューｋのクロック信号ＤＣＫの一部が途中で失われると、続くビュー（ｋ＋１）以降の各ラインデータは図示の如く夫々詰まった位相で蓄積されてしまい、この場合の中央処理装置１１は、位相のずれたラインデータを抽出して全方向からバックプロジェクションを行うことになる。
その結果、図８（Ｂ）に示す如く、例えばビューｊの投影データｇ（Ｘ，θj）はＸ軸（矢印ａ）方向にずれた位相で逆投影されることとなり、アーチファクトの原因（最悪の場合は撮影のやり直し）となっていた。また、図示しないが、逆にクロック信号ＤＣＫの一部がノイズ等により増える場合もあり、この場合も上記同様の結果となっていた。
【００１６】
なお、上記の問題は、ラインセンサ型のＸ線透視検査装置でも同様に発生し、もし途中で１ライン（１ビュー）でも投影データがずれると、各ラインデータの並び方は、例えば図７（ｃ）に示す如くなってしまい、画像の２次元解析を誤ってしまうことになる。
【００１７】
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなされたもので、その目的とする所は、被検体の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能なＸ線ＣＴ装置及びＸ線透視検査装置を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
上記の課題は例えば図１の構成により解決される。即ち、本発明（１）のＸ線ＣＴ装置は、被検体１００を挟んで相対向するＸ線管４０及びＸ線検出器７０を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器７０の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収集手段１と、データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ蓄積手段２とを備え、前記データ収集手段１は１ビュー毎の投影データ（ラインデータ）を識別可能なビューゲート信号に基づいて、各ビューの開始信号又は終了信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段２は受信した前記各ビューの開始信号又は終了信号に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新するものである。
【００１９】
図１において、データ収集手段１は１ビュー当たりの各投影データ（ラインデータ）を識別可能なタイミング信号ＶＧを送出すると共に、データ蓄積手段２は受信したタイミング信号ＶＧ（例えばＶＧの各立ち上がり）に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを各所定のアドレスＶＡＤ１，ＶＡＤ２，ＶＡＤ３，…等に更新する。
【００２０】
従って、例えばビュー２のデータ転送途中にクロック信号ＤＣＫの一部が失われたとしても、続くビュー３の投影データは、これとは関係無く該ビュー３の記憶開始アドレスＶＡＤ３からデータ書込を開始されるため、従来のような蓄積投影データの位相ずれは生じ得ない。又はビュー２のデータ転送途中にクロック信号ＤＣＫの一部が増えたとしても、続くビュー３の投影データは、これとは関係無く該ビュー３の記憶開始アドレスＶＡＤ３から上書きされるため、従来のような蓄積投影データの位相ずれは生じ得ない。従って、本発明（１）によれば、被検体の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となる。
【００２１】
また本発明（２）のＸ線透視検査装置は、被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、該Ｘ線検出器から収集した投影データに基づき被検体の透視検査を行なうＸ線透視検査装置において、Ｘ線検出器の各検出信号を積分・Ａ／Ｄ変換して各対応する投影データを生成し、これらを収集・送出するデータ収集手段と、データ収集手段から送られる投影データをメモリに記憶するデータ蓄積手段とを備え、前記データ収集手段は１ビュー当たりの投影データを識別可能なビューゲート信号に基づいて、各ビューの開始信号又は終了信号を送出すると共に、前記データ蓄積手段は受信した前記各ビューの開始信号又は終了信号に基づきメモリの次の記憶開始アドレスを所定のアドレスに更新するものである。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に従って本発明に好適なる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図２は実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図で、本発明に係るラインデータ収集・蓄積方式のＸ線ＣＴ装置への適用例を示している。図において、１０は操作コンソール、２０は撮影テーブル、３０は走査ガントリである。
【００２３】
走査ガントリ３０において、４０は回転陽極型のＸ線管、４１はＸ線管４０の管電圧ｋＶ，管電流ｍＡ，曝射時間Ｓｅｃ等を制御するＸ線制御部、５０はＸ線の体軸方向の曝射範囲を制限するコリメータ、５１はコリメータ制御部、７０は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器が円弧状の例えば一列に配列されているＸ線検出器、８０はＸ線検出器の検出データ（投影データ）を生成・収集するデータ収集部（図１のデータ収集手段１に相当）、６０は走査ガントリ３０を被検体体軸の回りに回転させる回転制御部である。
【００２４】
操作コンソール１０において、１１はＸ線ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン計画処理，スキャン制御，ＣＴ断層像再構成処理等）を行う中央処理装置、１１ａはそのＣＰＵ、１１ｂはＣＰＵ１１ａが使用する主メモリ（ＭＥＭ）、１２はキーボードやマウス等を含む入力装置、１３はスキャン計画画面やスキャン結果のＣＴ断層像等を表示するための表示装置（ＣＲＴ）、１４はＣＰＵ１１ａと走査ガントリ３０や撮影テーブル２０との間で制御信号Ｃやモニタ信号ＳＤのやり取りを行う制御インタフェース、１５はデータ収集部８０からの投影データを蓄積するデータ収集バッファ（図１のデータ蓄積手段２に相当）、１６はＸ線ＣＴ装置の運用に必要な各種データやアプリケーションプログラム等を記憶している二次記憶装置（ディスク等）、１７はＣＰＵ１１ａの共通バス（ＣＢ）である。
【００２５】
図３は実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の構成を示す図で、図において、８０はデータ収集部、８１1〜８１ｎはミラータイプの積分器、ＳＨ１〜ＳＨｎはサンプルホールド回路、８２は信号マルチプレクサ（ＭＰＸ）、８３はＡ／Ｄ変換器、８４はタイミング生成部（ＴＧ）、８５は後述のデータ収集バッファ１５に接続するインタフェース（ＤＡＳＩＦ）、２２は接続ケーブル、１５はデータ収集バッファ、９１は投影データを一時的に記憶するためのＲＡＭ、９２は後述のビューカウンタＶＣＴＲのビュー番号をＲＡＭ９１の記憶開始アドレス（上位ビット）に変換するためのＲＯＭ、９３はの加算器、９４はＣＰＵ１１ａの共通バスＣＢに接続するインタフェース（ＣＢＩＦ）、ＥＤはエッジ検出部、ＦＦはフリップフロップ、ＡはＡＮＤゲート回路、ＶＣＴＲはビューカウンタ、ＤＣＴＲはデータカウンタである。
【００２６】
データ収集部８０において、不図示のＸ線管４０からのファンビームは被検体１００を透過してＸ線検出器７０に一斉に入射する。今、チャネルＣＨ１の信号検出処理に着目すると、Ｘ線検出器は入射Ｘ線ビーム強度に応じた電流信号を出力し、積分器８１1 は入力の電流信号を所定時間積分し、サンプルホールド回路ＳＨ１はその出力を所定のタイミングでサンプルホールドする。他のチャネルＣＨ２〜ＣＨｎの各信号検出処理についても同様である。
【００２７】
更に、信号マルチプレクサ８２はサンプルホールド回路ＳＨ１〜ＳＨｎの各サンプル出力を高速でスキャンし、Ａ／Ｄ変換器８３は信号マルチプレクサ８２の各出力を高速でＡ／Ｄ変換する。こうして得られた一連の投影データは所定のフレーム転送フォーマットでデータ収集バッファ１５に転送される。
【００２８】
図４に一例のフレーム転送フォーマットを示す。ここで、信号ＳＧはスキャンゲート信号であり、被検体１００の全投影データを転送する間（例えばスキャン開始からスキャン終了までの間）ＯＮの信号である。また信号ＶＧはビューゲート信号であり、ビュー毎の投影データ転送に同期してＯＮとなる信号である。ビュー毎とは、アキシャル／ヘリカルスキャンの場合は走査ガントリ３０の単位回転角度（即ち、ラインデータ）毎を意味し、また走査ガントリ３０の回転を固定して行うスカウトスキャンでは体軸方向の単位ピッチ（即ち、ラインデータ）毎を意味する。更に、信号ＳＤＴは投影データの信号、また信号ＣＬＫは投影データをサンプリングするためのクロック信号である。
【００２９】
図３に戻り、上記各信号はケーブル２２を介し、遠隔のデータ収集バッファ１５に転送される。データ収集バッファ１５において、エッジ検出部ＥＤ１はスキャンゲート信号ＳＧの立ち上がりを検出してスキャン開始パルスＳＰを生成し、またエッジ検出部ＥＤ２は各ビューゲート信号ＶＧの立ち上がりを検出してビュー開始パルスＶＰを生成する。
【００３０】
更に、ビューカウンタＶＣＴＲはスキャン開始パルスＳＰによりリセット（初期化）され、その後は各ビュー開始パルスＶＰによりカウントアップされる。そして、そのカウント出力はＲＯＭ９２で各ビュー番号対応のデータ書込開始上位アドレスＶＡＤに変換される。一方、データカウンタＤＣＴＲは各ビュー開始パルスＶＰによりリセット（初期化）され、その後は各クロック信号ＤＣＫによりカウントアップされ、データ書込のための下位アドレスＤＡＤを生成する。上記上位アドレスＶＡＤと下位アドレスＤＡＤとは加算器９３で加算され、ＲＡＭ９１のアドレス端子ＷＡＤに加えられる。そして、入力の各投影データＳＤＴは入力の各クロック信号ＤＣＫによりＲＡＭ９１に順次書き込まれる。更に、このＲＡＭ９１の蓄積データは、インタフェース９４を介してＣＰＵ１１ａにより読み出される。
【００３１】
図４は実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の動作タイミングチャートで、上記図３の構成に対応する動作を示している。ビューカウンタＶＣＴＲはスキャン開始パルスＳＰによりＶＣＴＲ＝０にリセットされ、その後は各ビュー開始パルスＶＰによりＶＣＴＲ＝１〜ｍとカウントアップされる。これに伴いデータ書込開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜ＶＡＤｍに更新される。
【００３２】
この場合に、今、ビュー２でクロック信号ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡＤ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得ない。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰによりＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ３＋０）から正しくデータ書込開始される。
【００３３】
又は、ビュー２でクロック信号ＤＣＫｂの一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋ＤＡＤ）は次のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号ＤＣＫｂとは関係無く、ビュー３の開始パルスＶＰによりＶＡＤ３に更新（初期化）される結果、ビュー３のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ３＋０）から正しく上書きされる。
【００３４】
図５は他の実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の動作タイミングチャートで、各ビューのデータ書込開始上位アドレスＶＡＤをビューゲート信号ＶＧの各立下りエッジに同期して更新する場合を示している。なお、その構成を図示しないが、図５のタイミングチャートから容易に実現できる。図５において、ビューカウンタＶＣＴＲはスキャン開始パルスＳＰによりＶＣＴＲ＝０にリセットされ、その後はビューゲート信号ＶＧの各立下りエッジを検出した各ビュー終了パルスＶＰによりＶＣＴＲ＝１〜ｍとカウントアップされる。これに伴いデータ書込開始上位アドレスＶＡＤ＝ＶＡＤ０〜ＶＡＤｍに更新される。
【００３５】
この場合に、今、ビュー２でクロック信号ＤＣＫａの一部が図示の如く欠けたとすると、データカウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがショートする結果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡＤ）はビュー２の最終書込アドレスにまで到達し得ない。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号ＤＣＫａとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰによりＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋０）から正しくデータ書込開始される。
【００３６】
又は、ビュー２でクロック信号ＤＣＫｂの一部が図示の如く増加したとすると、データカウンタＤＣＴＲのカウント出力ＤＡＤがオーバーする結果、そのデータ書込アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ１＋ＤＡＤ）は次のビュー３の書込アドレスにまで食い込んでしまう。しかし、本実施の形態によれば、続くビュー３の書込開始上位アドレスは、このような障害のあるクロック信号ＤＣＫｂとは関係無く、ビュー２の終了パルスＶＰによりＶＡＤ２に更新（初期化）される結果、ビュー３のデータは該ビュー３の書込開始アドレスＷＡＤ（＝ＶＡＤ２＋０）から正しく上書きされる。従って、本実施の形態によれば、被検体１００の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となる。
【００３７】
図６は実施の形態によるラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置（Ｘ線透視検査装置）の要部構成図で、本発明に係るラインデータ収集・蓄積方式のラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置への適用例を示している。図において、Ｘ線管４０からのＸ線ファンビームＸＬＦＢはベルトコンベア２００等により一定速度で搬送される検査対象物（被検体）１００’を透過して対向するＸ線検出器７０に一斉に入射する。データ収集部８０はＸ線検出器７０の各検出信号を積分及びＡ／Ｄ変換して投影データｇ（Ｘ，θ)を生成し、これらを収集する。ここで、ＸはＸ線検出器７０のチャネル（ＣＨ）方向の座標、θはビュー角（撮影中は固定）を夫々表す。更に、被検体１００’が僅かに搬送された各ビューで上記同様の投影を行い、こうして被検体１００’についての各ラインデータを収集し、これらをデータ収集バッファ１５に蓄積する。
【００３８】
このデータ収集部８０及びデータ収集バッファ１５は、例えば上記図３に示した如く構成されており、よってＸ線曝射に起因する放電ノイズ等が発生しても、データ収集バッファ１５における各蓄積ラインデータの間に位相のずれは生じ得ない。従って、本実施の形態においても、検査対象物（被検体）１００’の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となる。
【００３９】
更に、ＣＰＵ（不図示）により構成される画像処理装置１１０は、データ収集バッファ１５の蓄積データをもとに被検体１００’の透視映像をＴＶモニタ１１１に表示すると共に、該蓄積データをもとに透視映像の画像解析をリアルタイムに行う。そして、自動判定部１１２は、画像処理装置１１０による画像解析結果の特徴情報と本装置が予め保持する欠陥部等の特徴情報とを比較し、欠陥の存在が認識された場合は、その旨を警報発生部１１３にリアルタイムで出力する。
【００４０】
なお、上記実施の形態ではＸ線の一列検出器７０を備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置への適用例を述べたが、これに限らない。本発明は多数のＸ線検出器が円弧状の複数列に配列されている多列検出器を備えるＸ線ＣＴ装置やＸ線透視検査装置にも適用できる。
【００４１】
また、上記実施の形態において、ケーブル２２に転送されるデータＳＤＴはビットシリアルでも、ビットパラレルでも良い。いずれにしても、必要ならシリアル−パラレル変換器、パラレルーシリアル変換器が設けられる。またケーブル２２の素材は、ツイスト線や同軸ケーブルの他、光ファイバでも良い。
【００４２】
また、上記本発明に好適なる複数の実施の形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部の構成、制御、処理及びこれらの組み合わせの様々な変更が行えることは言うまでも無い。
【００４３】
【発明の効果】
以上述べた如く本発明によれば、被検体の投影データを高信頼性で収集・蓄積可能となり、よって被検体のＣＴ断層像を正しく再生できる。又は被検体（検査対象物）の透視検査（画像解析）を正しく行える。従って、Ｘ線ＣＴ装置並びにＸ線透視検査装置の信頼性向上に寄与するところが極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理を説明する図である。
【図２】実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図である。
【図３】実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の構成を示す図である。
【図４】実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の動作タイミングチャートである。
【図５】他の実施の形態によるデータ収集・蓄積方式の動作タイミングチャートである。
【図６】実施の形態によるラインセンサ型Ｘ線ＴＶ装置の要部構成図である。
【図７】従来技術を説明する図（１）である。
【図８】従来技術を説明する図（２）である。
【符号の説明】
１５  データ収集バッファ
２２  接続ケーブル
８０  データ収集部（ＤＡＳ）
８１1〜８１ｎ  積分器
８２  信号マルチプレクサ（ＭＰＸ）
８３  Ａ／Ｄ変換器
８４  タイミング生成部（ＴＧ）
８５  インタフェース（ＤＡＳＩＦ）
９１  ＲＡＭ
９２  ＲＯＭ
９３  加算器
９４  インタフェース（ＣＢＩＦ）
Ａ  ＡＮＤゲート回路
ＤＣＴＲ  データカウンタ
ＥＤ  エッジ検出部
ＦＦ  フリップフロップ
ＳＨ１〜ＳＨｎ  サンプルホールド回路
ＶＣＴＲ  ビューカウンタ
【図１】
0004549522.tif 000004
【図２】
0004549522.tif 000005
【図３】
0004549522.tif 000006
【図４】
0004549522.tif 000007
【図５】
0004549522.tif 000008
【図６】
0004549522.tif 000009
【図７】
0004549522.tif 000010
【図８】
0004549522.tif 000011