(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録対象である光ディスクの記録感度変動の周期を取得し、取得した記録感度変動をもとに平均感度を取得し、前記平均感度よりも記録感度が高い第１の位置と、この第１の位置の記録感度と前記平均感度との差分だけ前記平均感度よりも記録感度が低い第２の位置を前記記録感度変動の周期をもとに特定し、前記特定された第１及び第２の位置に、同じパワーでテスト記録を行い、このテスト記録した位置の記録特性値の平均から最適記録パワーを求めることを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項２】
前記光ディスクに一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から、前記光ディスクの記録感度変動の周期を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項３】
サーボ用のエラー情報に基づいて、前記光ディスクの記録感度変動の周期を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項４】
前記光ディスクに、当該光ディスクの記録感度変動の周期の情報を埋め込んでおき、この情報を再生して、前記光ディスクの記録感度変動の周期を取得することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項５】
固定長のテスト記録パワー系列を繰り返し用いて、前記第１の位置および前記第２の位置に同じパワーの記録が行われるように、一巡目の前記テスト記録パワー系列と二巡目の前記テスト記録パワー系列との間に間隔を設けることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項６】
テスト記録パワー系列を繰り返し用いて、前記第１の位置および前記第２の位置に同じパワーの記録が行われるように、前記テスト記録パワー系列の長さを調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項７】
前記光ディスクの記録感度が平均感度となる基準位置をもとに、前記第１の位置および前記第２の位置を特定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項８】
前記光ディスクに一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から、前記基準位置を求めることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項９】
サーボ用のエラー情報に基づいて、前記基準位置を求めることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項１０】
前記光ディスクに、当該光ディスクの前記基準位置に関する情報を埋め込んでおき、この情報を再生して、前記光ディスクの前記基準位置を取得することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項１１】
固定長のテスト記録パワー系列を繰り返し用いて、前記第１の位置および前記第２の位置に同じパワーの記録が行われるように、一巡目の前記テスト記録パワー系列の順番を逆にした系列を二巡目の前記テスト記録パワー系列として用いることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項１２】
記録パワーを変更可能な光ピックアップと、
前記光ピックアップの情報から記録特性を測定する記録特性測定部と、
記録対象である光ディスクの記録感度変動の周期を取得し、取得した記録感度変動をもとに平均感度を取得し、前記平均感度よりも記録感度が高い第１の位置と、この第１の位置の記録感度と前記平均感度との差分だけ前記平均感度よりも記録感度が低い第２の位置を前記記録感度変動の周期をもとに特定し、前記特定された第１及び第２の位置に同じ発光パワーでテスト記録を行うように制御し、このテスト記録した位置に対して前記記録特性測定部にて測定された記録特性値の平均から前記光ピックアップの最適記録パワーを求める制御部と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザーによって記録を行う光ディスク記録装置に係り、特に光ディスクに対して最適な記録パワーを設定して記録を行う光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に光ディスク記録の最適記録発光パワー（以下Ｐｏ：Optimum Write Power）を決定し制御する手法（以下ＯＰＣ：Optimum Power Control）では、Ｐｏを得るのに適した記録パワー（以下Ｐｍ）の近傍の数点を選び、これらのパワーでテスト記録を行うことによって得られる記録特性値（例えば、記録時の反射率の変化、記録後のアシンメトリ、振幅、変調度、ジッター等）を演算処理することでＰｏを算出していた（この演算処理を以下Ｐｏ演算と記述する）。
【０００３】
しかし、ＯＰＣを行う前の段階ではＰｍの正確な値は不明なので、予想される広範囲の記録パワーでテスト記録を行い、得られた記録特性値からＰｍを選択し、その近傍の記録特性値を用いてＰｏ演算を行っていた。
【０００４】
従来のＯＰＣ手法の模式図を図１に示す。ここでは説明を簡略化するため、周期θｔの正弦波状の感度変動が在る例を示している。また、テスト記録を行うパワー個数（以下Ｎ）を６としているが、実際には様々な個数が用いられる。Ｐ（ｉ）はテスト記録パワー系列、Ｅ（ｉ）はＰ（ｉ）でテスト記録して得られる記録特性値系列である。説明を分かり易くするために、ここでは記録パワー系列Ｐ（ｉ）のパワーはｉが増えるに従って高くなるとするが、本発明はこれに限定されるものでは無い。
【０００５】
【数１】
0004556913.tif 000002
【０００６】
【数２】
0004556913.tif 000003
一般にＯＰＣでは、ディスクを回転させながらディスクの連続した特定位置に記録パワーを変えながらテスト記録を行う。図１はθsで示すテスト記録開始位置から記録パワーＰ（０）〜Ｐ（５）でテスト記録を行っている様子を示している。次に、得られた記録特性値Ｅ（ｉ）からＰｏ演算が行われるが、この例ではＰｍとして｛Ｐ（１）＋Ｐ（２）｝／２が選択され、その近傍の記録特性値Ｅ（１）、Ｅ（２）がＰｏ演算のために選ばれた様子を示している。ここで図示したような感度変動があるとＰｏ演算に使われる記録特性値Ｅ（１）、Ｅ（２）は記録感度の高い所での測定値なので、Ｐｏ演算によって得られるＰｏ値は記録感度が高い状態に対応した値となる。
【０００７】
テスト記録を行う時には感度変動とテスト記録開始位置θsの位相関係は毎回異なっている。この様子を図２に示す。このような位相関係でＯＰＣを行うと記録特性値Ｅ（１）、Ｅ（２）は記録感度の低い場所での測定値となるので得られるＰｏは記録感度が低い状態に対応した値となる。
【０００８】
図１および図２の例で示したように、従来のＯＰＣでは、感度変動とテスト記録開始位置との位相関係によって得られるＰｏ値が変動し、ＯＰＣ精度が低下する問題があった。
【０００９】
これまで、このような感度変動の影響を補償する手段として様々な方法が提案されている。しかしこれらの方法は予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり（例えば特許文献１、特許文献２を参照）、予めエリアの記録特性を整えたりする方法（例えば特許文献３を参照）であった。このような手法は記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になる欠点があった。また前処理としてテスト記録するエリアへの記録を要する手法は、例えばＣＤ−Ｒのような書き換え不可能な光ディスクには使えないという課題があった。
【特許文献１】特開２００４−２５３０１６号公報
【特許文献２】特開２００２−３１９１３５号公報
【特許文献３】特開２０００−２５１２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上記のように、従来のＯＰＣでは、光ディスクの感度変動とテスト記録開始位置との位相関係によって得られるＰｏ値が変動し、ＯＰＣ精度が低下するという問題があった。また、予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり、予めエリアの記録特性を整えたりする方法では、記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になり、また前処理としてテスト記録するエリアへの記録を要する手法は、例えばＣＤ−Ｒのような書き換え不可能なディスクには使えないという課題があった。
【００１１】
本発明はこのような事情を鑑み、光ディスクの記録感度変動の影響を低減して、記録パワー制御の精度を向上させることのできる光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法は、記録対象である光ディスクの平均感度よりも記録感度が高い第１の位置と、この第１の位置の記録感度と平均感度との差分だけ平均感度よりも記録感度が低い第２の位置に、同じパワーでテスト記録を行い、このテスト記録した位置の記録特性値の平均から最適記録パワーを求めることを特徴とする。
【００１３】
この発明によれば、光ディスクの記録感度変動の影響を低減した最適記録パワーを得ることができ、記録パワー制御の精度を向上させることができる。記録パワー制御の精度が向上すると、記録パワー誤差に対して性能余裕の少ない光ディスクでも所望の記録性能を得ることが可能となる。また、本発明は、同じ記録パワーで２回の記録を行うだけでよいので、単にＯＰＣを繰り返してＰｏの偏差を小さくするような従来の手法に比べて効率的であり、他の感度変動補償方法との併用も容易である。
【００１４】
なお、本発明で言う記録パワーとは、例えば光学ピックアップにおけるレーザーの記録発光パワーであるが、本発明は、これに限定されるものではない。
【００１５】
本発明において、第１の位置および第２の位置は、光ディスクの記録感度変動の周期をもとに特定することが可能である。正弦波状の記録感度の変動周期が分かれば、どの位置からテスト記録を開始しても平均感度で記録した場合の記録特性値が得られる。また、光ディスクの記録感度変動の周期に関する情報が予め与えられている場合には、ＣＤ−Ｒのような上書き記録のできない光ディスクにも本発明は有効に適用され得る。
【００１６】
第１の位置および第２の位置を、光ディスクの記録感度変動の周期をもとに特定する具体的な方法としては、光ディスクに一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から、光ディスクの記録感度変動の周期を求める方法、サーボ用のエラー情報に基づいて、光ディスクの記録感度変動の周期を求める方法、光ディスクに、当該光ディスクの記録感度変動の周期の情報を埋め込んでおき、この情報を再生して、光ディスクの記録感度変動の周期を取得する方法などがある。
【００１７】
光ディスクに一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から、光ディスクの記録感度変動の周期を求める方法は、精度が確保できるならば１／４周期程度をカバーできる短い長さでもよく、テスト記録領域を節約できる利点がある。
【００１８】
また、本発明は、固定長のテスト記録パワー系列を繰り返し用いて、第１の位置および第２の位置に同じパワーの記録が行われるようにしてもよく、この場合には、一巡目のテスト記録パワー系列と二巡目のテスト記録パワー系列との間に間隔を設けて、双方の位置位相を合わせればよい。また、テスト記録パワー系列を繰り返し用いて、第１の位置および第２の位置に同じパワーの記録が行われるように、テスト記録パワー系列の長さを調整するようにしてもよい。
【００１９】
また、本発明において、第１の位置および第２の位置は、光ディスクの記録感度が平均感度となる基準位置をもとに特定することも可能である。より具体的な方法としては、光ディスクに一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から基準位置を求める方法、サーボ用のエラー情報に基づいて基準位置を求める方法、光ディスクに、当該光ディスクの基準位置に関する情報を埋め込んでおき、この情報を再生して基準位置を取得する方法などがある。
【００２０】
また、この場合にも、固定長のテスト記録パワー系列を繰り返し用いて、第１の位置および第２の位置に同じパワーの記録が行われるようにしてもよい。ただし、このとき、第１の位置および第２の位置に同じパワーの記録が行われるように、一巡目のテスト記録パワー系列の順番を逆にした系列を二巡目のテスト記録パワー系列として用いる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、記録型光ディスクにおける最適記録パワーを決定する手法において、光ディスクの記録感度変動の影響を低減して、記録パワー制御の精度向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００２３】
図３は本発明の実施の形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。同図において、１は光ディスク、２は光ディスク１を回転させるスピンドルモーターである。３は例えば半導体レーザーとその駆動回路、およびレンズ等の光学部品やアクチュエーターで構成される光学ピックアップである。４は光学ピックアップ３を光ディスク１の接線方向へ動かすスレッドモーターである。７は光学ピックアップ３から得られる信号から光ディスク１に記録されているデータ、位置情報、同期タイミング等を再生する再生装置である。５は光学ピックアップ３でモニターされる各種エラー情報や再生装置７から得られる同期タイミング等をもとにスピンドルモーター２、スレッドモーター４、および光学ピックアップ３のアクチュエーターを制御し、光ディスク１の回転数、光学ピックアップ３の位置および光学ピックアップ３から出力されるレーザー光の位置、光軸、チルト、フォーカス等を所望の状態に制御するサーボ装置である。６は光学ピックアップ３でモニターされる情報をもとに例えばレーザーの発光パワーなどを所望の値に制御するＡＰＣ（Automatic Power Control）装置である。８は光学ピックアップ３の情報から変調度、アシンメトリ、β値、ジッター等の記録特性値を測定する記録特性測定装置である。９は記録する情報をもとに光学ピックアップ３のレーザーの発光パワーを適切に変調する記録変調装置である。１０は各装置の制御装置で、シーケンサーや中央演算処理装置、メモリ等で構成される。
【００２４】
光ディスク１からデータを再生する際は、光学ピックアップ３から適切な光スポットを光ディスク１に照射し、サーボ装置５が光ディスク１を適切に回転させ、光学ピックアップ３を所望の位置に移動し、さらにアクチュエーター等を制御し、光スポットを光ディスク１上の記録トラックに走査させる。この状態で再生装置７が光ディスク１に記録されているデータを再生する。
【００２５】
光ディスク１にデータを記録する際は、前述のデータを再生している状態から記録変調装置９が光学ピックアップ３の発光波形を適切に変調して光ディスク１にデータを記録する。この時に必要な発光パワー情報は、この前にＯＰＣを行うことによって取得される。
【００２６】
ＯＰＣに影響を与える感度変動要因には、記録膜の特性変動の他に、光ディスクの傾きや反りによって生じる記録光の相対的なチルトや光スポットの記録トラックからのズレ等による見かけ上の変動もある。こうした感度変動は光ディスクの物理的な位置に依存する。従って光スポットが回転する光ディスク上を走査すると、感度変動は光ディスクの物理的位置関係に依存した周期性のある変動として観測される。例えば、光ディスクの回転周期、光ディスクの記録トラックに刻まれた案内溝（Groove）の形状やその蛇行（Wobble）の周期、またはそれらの整数分の1の周期を持った感度変動が発生する。
【００２７】
この感度変動は、近似的には単一か複数の正弦波の組み合わせで表現できる場合が多く、その周期はサーボ装置で得られるエラー情報や事前に測定したデータから算出することが可能である。
【００２８】
本発明は、この感度変動が正弦波状の周期性を持つことに着目し、テスト記録時に、同じ記録パワーでの記録を、対象光ディスクの平均感度よりも高い第１の位置と、この第１の位置の記録感度と平均感度との差分だけ平均感度よりも記録感度が低い第２の位置に同じパワーで行い、このテスト記録した位置の記録特性値の平均からＰｏを求めることによって、光ディスクの感度変動の影響の低減を図るものである。
【００２９】
記録特性値の平均を求めるためにテスト記録を行う２つの位置を特定する方法としては、例えば正弦波の周期性や対称性を利用する方法がある。
【００３０】
図４は正弦波の周期性を利用した本発明の最適記録パワー決定方法の第１の原理を示す図である。ここでは説明を簡単化するために単一の正弦波状の感度変動に対する例を示す。複数の正弦波の組み合わせで近似される感度変動は、単一の正弦波状の感度変動の組み合わせとして対応できる。
【００３１】
図４において、縦軸は光ディスクの記録感度、横軸は記録トラック方向（円周方向）の位置を極座標表現した角度である。ここで位置θにおける記録感度Ｓ（θ）は近似的に次式で表現できるとする。
【００３２】
【数３】
0004556913.tif 000004
Ａ、Ｓｖ、θｔはそれぞれ感度変動の振幅、平均、周期である。
【００３３】
第１の原理の方式では、あるパワーＰで位置θａと、そこからｋ・θｔ／２（ｋは奇数）だけ離れた位置θｂに記録を行う。この２つの位置は間隔が正しければ場所は何処でも構わない。
【００３４】
θａ、θｂでの記録感度をそれぞれＳａ、Ｓｂとすると、式(4)の正弦波の性質から、式(5)、(6)の関係が成り立つ。
【００３５】
【数４】
0004556913.tif 000005
【００３６】
【数５】
0004556913.tif 000006
【００３７】
【数６】
0004556913.tif 000007
図４ではｋ＝１として一つの正弦波の中にθａとθｂを配置したが、例えばｋ＝３、またはそれ以上の奇数を用いて、θａとθｂを複数の正弦波に跨って配置しても構わない。
【００３８】
さて、ここで発光パワーＰにて記録した時の記録特性値を感度の関数Ｅｓ（Ｓ）と表す。通常は感度変動によるＥｓ（Ｓ）の変化量は小さいので、近似的にＥｓ（Ｓ）の変化はＳに対して直線と見なせる。この様子を図５に示す。ここでＥｓ（Ｓａ）、Ｅｓ（Ｓｂ）は記録トラック上の位置θａ、θｂで記録した記録特性値で、Ｅｓ（Ｓｖ）は平均感度Ｓｖの場所に記録した場合の記録特性値である。ＯＰＣに使う記録特性値としては平均感度Ｓｖでの記録特性値Ｅｓ（Ｓｖ）を用いることが望ましいが、本方式では式(6)から導かれる次式で簡単に算出することができる。
【００３９】
【数７】
0004556913.tif 000008
本方式は正弦波状の記録感度の変動周期が分かれば、どの位置からテスト記録を開始しても平均感度で記録した場合の記録特性値が得られるという利点がある。
【００４０】
一方、感度変動の位相を把握して正弦波の対称性を利用する方法もある。図６に対称性を利用した本発明の第２の原理を示す。θｖはＳ（θ）＝Ｓｖとなる本方式の基準位置で、図６ではθｖ＝θｔ／２としているが０でもθｔでも構わない。その他の図５と同じ記号は前述の説明と同じ内容を示している。
【００４１】
本方式はθｖを中心にそこから前後に同じ距離θｇだけ離れた２点にθａとθｂを配置する。
【００４２】
この様にすると正弦波の対称性から式(5)、(6)の関係が成立し、結果として式(7)から平均感度Ｓｖで記録した場合の記録特性値Ｅｓ(Ｓｖ)が得られる。
【００４３】
この方式は記録感度変動が平均感度となる位置が分かれば、感度変動がどのような周期であっても平均感度で記録した場合の記録特性値が得られるという利点がある。
【００４４】
以上、記録特性値の平均を求めるためにテスト記録を行う２つの位置を特定する方法として例えば正弦波の周期性や対称性を利用する方法を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えばテスト記録の前に一定パワーで記録を行い、その記録特性値の変動から感度の高い場所と低い場所を特定してテスト記録を行ってもよい。
【００４５】
図７は正弦波の周期性を利用した本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１１は第１の実施形態におけるｋ＝１の場合のテスト記録、図１２はｋ＝３の場合のテスト記録に関する図である。ここで、Ｌｂはテスト記録で発光パワーＰ（ｉ）で記録する光ディスクの記録トラック上の距離である（以下、ブロック長）。またＬｇは１巡目のＰ（ｉ）系列と２巡目のＰ（ｉ）系列の位置位相を合わせるために設ける間隔（以下Ｇａｐ）の距離である。図１１、図１２ではＰ（ｉ）系列の個数Ｎを６としたが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００４６】
第１の実施形態では、各光ディスクの感度変動周期θｔを予め測定等により求めておき、データーベースとして光ディスク記録装置のメモリに保存している。
【００４７】
以下に第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を説明する。
【００４８】
（ステップＳ１０１）まず、制御装置１０は、自身のメモリに保存されているデーターベースから対象光ディスクの感度周期θｔを取得する。
【００４９】
（ステップＳ１０２）制御装置１０は、取得した感度周期θｔ、ブロック長Ｌｂ、Ｐ（ｉ）系列数Ｎから次の条件を満たすｋを決定する。
【００５０】
条件１：正の奇数
【００５１】
【数８】
0004556913.tif 000009
ｋとしては大きい値を使っても構わないが、テスト記録に使うトラック長が長くなるので通常は上の条件を満たす一番小さい値がよい。
【００５２】
（ステップＳ１０３）次に、制御装置１０は、１巡目と２巡目のテスト記録の位置位相を合わせるために必要なＧａｐ長Ｌｇを次式で算出する。
【００５３】
【数９】
0004556913.tif 000010
（ステップＳ１０４）制御装置１０は、これまでに得た条件をもとに例として図１１、図１２に示したようにテスト記録を行う。Ｇａｐの部分は適切な発光パワーで記録しても、記録しなくても構わない。また１巡目の記録と２巡目の記録は一連で行っても２回に分けて記録してもよい。
【００５４】
（ステップＳ１０５）制御装置１０は、テスト記録した場所から記録特性値Ｅａ（ｉ）とＥｂ（ｉ）を測定する。
【００５５】
（ステップＳ１０６）制御装置１０は、式(7)を用いて平均記録感度での記録特性値Ｅ（ｉ）を算出する。
【００５６】
（ステップＳ１０７）制御装置１０は、最適記録発光パワーＰｏを得るための演算を行う。この演算方法は様々な手法が提案されているが本発明は特定の手法に限定されるものではない。
【００５７】
（ステップＳ１０８）以上により、記録感度変動影響の軽減された最適記録発光パワーＰｏが得られる。
【００５８】
前述のように記録感度変動の要因は様々なものがあるが、例えば相対的な光スポットのチルトや記録トラックとのズレ(以下デトラック)、フォーカスのズレ（以下デフォーカス）の周期変動分だけでも低減すればＯＰＣの精度を向上させることができる。これらのエラー情報はサーボ装置から取得可能である。
【００５９】
図８は、このサーボ装置より取得される記録感度変動の情報を用いた、本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００６０】
（ステップＳ２０１）制御装置１０は、サーボ装置５からチルト、デトラック、デフォーカス等の変動をそれらのエラー情報より測定する。長時間測定すればθｔの測定精度が向上するが、精度が確保できるならば例えば１／４周期分をカバーできる程度の短い期間でも構わない。
【００６１】
（ステップＳ２０２）制御装置１０は、ステップＳ２０１で得た情報から、記録感度変動周期θｔを算出する。以下の処理（ステップＳ１０２）〜（ステップＳ１０８）は第１の実施形態と同様である。
【００６２】
光ディスクの記録膜の特性変動や反射膜、カバー膜等の特性による感度変動は光ディスクを製造する過程で把握できる場合も多い。一般の記録型光ディスクは物理位置（以下アドレス）を示すためにGroove構造をWobble変調したり、ピットを設ける等の処理によって光ディスク内にアドレス情報を埋め込んでいるが、例えばここに光ディスクの感度変動周期情報を埋め込む方法も有効である。
【００６３】
図９は、この光ディスクに埋め込まれた感度変動周期情報を用いた、本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００６４】
（ステップＳ３０１）制御装置１０は、光ディスクに埋め込まれた情報から記録感度周期θｔを取得する。以下の処理（ステップＳ１０２）〜（ステップＳ１０８）は第１の実施形態と同様である。
【００６５】
直接光ディスクに記録を行い記録特性値の変動から感度変動周期を得てもよい。精度が確保できるならば１／４周期程度をカバーできる短い長さでもよく、他の発明と比較してテスト記録領域を節約できる利点がある。また本発明は周期が分かればよいので、ＣＤ−Ｒのような上書き記録のできない光ディスクにも用いることができる。テスト記録を行う場所は、上書き記録のできない光ディスクでは他の空いている場所を用いることになるが、上書き記録の可能な光ディスクでは同じ場所を用いても構わない。
【００６６】
図１０は、光ディスクに一定パワーで記録を行って記録特性値の変動周期を得ることを利用した、本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００６７】
（ステップＳ４０１）まず、光ディスクに一定の記録発光パワーＰで記録を行う。
【００６８】
（ステップＳ４０２）制御装置１０は、ステップＳ４０１で記録した箇所の記録特性値を測定し、記録感度変動周期θｔを取得する。以下の処理（ステップＳ１０２）〜（ステップＳ１０８）は第１の実施形態と同様である。
【００６９】
以上の第１の実施形態から第４の実施形態では、Ｇａｐを設けることで１巡目と２巡目のＰ（ｉ）系列の位置位相を合わせたが、記録ブロック長を変えて位相を合わせてもよい。すなわち１巡目と２巡目のテスト記録の長さが、それぞれθｔ／２となるようにブロック長を調整する。但し、一般に記録ブロック長が短いと記録特性値の精度が悪くなるので、この場合はｋの値を適切に調整する。
【００７０】
図１３は記録ブロック長を変えて１巡目と２巡目のＰ（ｉ）系列の位置位相を合わせることを用いた、本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図１７は第５の実施形態におけるｋ＝１の場合のテスト記録、図１８はｋ＝３の場合のテスト記録に関する図である。
【００７１】
（ステップＳ５０１）まず、制御装置１０は、自身のメモリに保存されているデーターベースから対象光ディスクの感度周期θｔを取得する。
【００７２】
（ステップＳ５０２）次に、制御装置１０は、取得した感度周期θｔ、ブロック長Ｌｂ、Ｐ（ｉ）系列数Ｎから次の条件を満たすｋを決定する。
【００７３】
【数１０】
0004556913.tif 000011
但しｋは正の奇数。
【００７４】
ｋの値は１でも構わないが、所望の記録特性精度に対してＬｂが短すぎる場合は適当に大きな正の奇数を選択する。
【００７５】
（ステップＳ５０３）次に、制御装置１０は、これまで得た情報から例えば図１７や図１８に示したようにテスト記録を行う。この際、第１の実施形態で用いたようなＧａｐは不要である。以下の処理（ステップＳ１０５）〜（ステップＳ１０８）は第１の実施形態と同様である。
【００７６】
ステップＳ５０１で周期θｔを取得する方法としては、第２の実施形態から第４の実施形態と同様に、例えばサーボ装置５からのエラー情報、光ディスクに情報を埋め込む方法、一定の記録発光パワーＰで記録する方法等がある。これらの実施形態の最適記録パワー決定方法を、それぞれ第６の実施形態、第７の実施形態、第８の実施形態として図１４、図１５、図１６に示す。周期θｔを取得した後の手順は第５の実施形態と同様である。
【００７７】
図１９は、感度変動の対称性を利用した本発明の第９の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。図２２はこの第９の実施形態のテスト記録の様子を示す図である。ここでθｖはテスト記録を行おうとする領域で記録感度Ｓ（θ）が平均感度Ｓｖとなる基準位置である。
【００７８】
（ステップＳ９０１）制御装置１０は、サーボ装置５からチルト、デトラック、デフォーカス等の変動をエラー情報をもとに測定する。長時間測定すればθｖの測定精度が向上するが、精度が得られるならば例えば１／４周期分をカバーできる程度の短い測定からθｖを算出しても構わない。
【００７９】
（ステップＳ９０２）制御装置１０は、ステップＳ９０１で得た情報から、記録感度変動を推定し、これが平均記録感度Ｓｖとなる基準位置θｖを取得する。Ｓ（θ）＝Ｓｖとなる位置であれば０でもθｔ／２やθｔでも構わない。
【００８０】
（ステップＳ９０３）制御装置１０は、次式でテスト記録の開始位置θｓを算出する。
【００８１】
【数１１】
0004556913.tif 000012
ここでＬｂは記録ブロック長、ＮはＰ（ｉ）系列数である。
【００８２】
（ステップＳ９０４）制御装置１０は、１巡目と２巡目のＰ（ｉ）系列の順番が基準位置θｖに対して線対称となるようにテスト記録を行う。すなわち図２２に示したように、２巡目のＰ（ｉ）系列が１巡目の順番と逆になるよう記録発光パワーを配置する。
【００８３】
以下の処理（ステップＳ１０５）〜（ステップＳ１０８）は、第１の実施形態と同様である。
【００８４】
ステップＳ９０１およびステップＳ９０２で基準位置θｖを取得する方法としては、第３の実施形態、第４の実施形態と同様に、例えば光ディスクに情報を埋め込む方法や、一定の記録発光パワーＰで記録する方法等がある。これらの実施形態をそれぞれ第１０の実施形態、第１１の実施形態として図２０、図２１に示す。
【００８５】
第１０の実施形態に関しては、光ディスクの記録位置情報（以下アドレス情報）とθｖの関係を予めデーターベース化しておき、ＯＰＣ時にアドレス情報からθｖを算出してもよい。
【００８６】
第１１の実施形態は、第４の実施形態と同様に、１／４周期程度の記録からθｖを得ることが可能で、上書き記録のできない光ディスクでも対応できるメリットがある。基準位置θｖを取得した後の手順は第９の実施形態と同様である。
【００８７】
なお、本発明は、上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】従来のＯＰＣ手法について説明するための図である。
【図２】従来のＯＰＣ手法の課題を説明するための図である。
【図３】本発明にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図４】正弦波の周期性を利用した本発明にかかる最適記録パワー決定方法の第１の原理を示す図である。
【図５】第１の原理の記録感度と記録特性値との関係を示す図である。
【図６】正弦波の対称性を利用した本発明にかかる最適記録パワー決定方法の第２の原理を示す図である。
【図７】本発明の第１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の第４の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１１】第１の実施形態におけるｋ＝１の場合のテスト記録に関する図である。
【図１２】第１の実施形態におけるｋ＝３の場合のテスト記録に関する図である。
【図１３】本発明の第５の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の第６の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の第７の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１６】本発明の第８の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図１７】第５の実施形態におけるｋ＝１の場合のテスト記録に関する図である。
【図１８】第５の実施形態におけるｋ＝３の場合のテスト記録に関する図である。
【図１９】本発明の第９の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図２０】本発明の第１０の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図２１】本発明の第１１の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図２２】第９の実施形態のテスト記録の様子を示す図である。
【符号の説明】
【００８９】
１      光ディスク
２      スピンドルモーター
３      光学ピックアップ
４      スレッドモーター
５      サーボ装置
６      ＡＰＣ装置
７      再生装置
８      記録特性測定装置
９      記録変調装置
１０      制御装置
【図１】
0004556913.tif 000013
【図２】
0004556913.tif 000014
【図３】
0004556913.tif 000015
【図４】
0004556913.tif 000016
【図５】
0004556913.tif 000017
【図６】
0004556913.tif 000018
【図７】
0004556913.tif 000019
【図８】
0004556913.tif 000020
【図９】
0004556913.tif 000021
【図１０】
0004556913.tif 000022
【図１１】
0004556913.tif 000023
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
0004556913.tif 000028
【図１７】
0004556913.tif 000029
【図１８】
0004556913.tif 000030
【図１９】
0004556913.tif 000031
【図２０】
0004556913.tif 000032
【図２１】
0004556913.tif 000033
【図２２】
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