(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
成形物を製造するための、型工具（１、１０、１１）に配置される複数の型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料を、光への露光によって重合及び／又は架橋させて、離型可能な成形物を製造し、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の数及び配置に対応する数及び配置のセンサ（５１）を有する装置（５；５ａ）によって光の強さ（Ｉ）を計測する方法であって、成形物の製造中に光の強さ（Ｉ）の計測を実施する方法であり、
型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料が露光する位置に型を運び、出発原料の露光ののち、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）を再びこの位置から運び出し、光の強さ（Ｉ）の計測を、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料が露光する位置に型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）を運ぶ間又は型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）をこの位置から運び出す間に実施する、方法であり、
型工具（１、１０、１１）が、隙間（４０）を有するベースプレート（４）上に配置され、センサ（５１）が、光路に関してその隙間（４０）の後に配置され、型工具（１、１０、１１）が、型（１００、１１０）の中にある出発原料が露光する位置に運ばれるとき又は型工具（１、１０、１１）がその位置から運び出されるときに露光するセンサ（５１）を有する、方法。
【請求項２】
出発原料が配置されている型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）に、別個の供給ライン（３、３０、３１、３２、３３；３ａ）により、光を光源（２０；２０ａ）から運ぶ方法であって、
型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）に運ばれる光の強さ（Ｉ）を個々の供給ラインごとに別個に計測する、請求項１記載の方法。
【請求項３】
交流で作動する灯具を光源として使用し、強さの計測で偶数個の半期（ＴH）を計測し、それらの半期の時間にわたって強さの瞬間値（Ｉ（ｔ））を合計したのち、計測の合計時間で割る、請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
光の強さ（Ｉ）の計測に加えて、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料に作用する光の全量を測定する、請求項１〜３のいずれか１項記載の方法。
【請求項５】
成形物を製造するための、型工具（１、１０、１１）に配置される複数の型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）と、露光によって重合及び／又は架橋させることができる出発原料を型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）に投入するための装置と、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料を光に露光させて、離型可能な成形物が製造されるようにするための装置（２）と、光の強さ（Ｉ）を計測するための装置（５；５ａ）であって、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の数及び配置に対応する数及び配置のセンサ（５１）を有する装置（５；５ａ）とを含む装置であって、光の強さを計測するために、装置（５；５ａ）が、成形物の製造中に強さ計測を実施するような方法で設計され、設けられていることを特徴とする装置であって、
型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料に光が作用するような方法で型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）が配置される位置に型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）を運び、出発原料の露光ののち型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）をこの位置から運び出すための手段（４；１０１ａ、１０２ａ、１０３ａ）が設けられ、光の強さ（Ｉ）を計測するための装置（５；５ａ）が、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料が露光する位置に型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）を運ぶ間又は型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）をこの位置から運び出す間に強さ計測を実施するような方法で設計され、設けられている、装置であり、
型工具（１、１０、１１）が、隙間（４０）を有するベースプレート（４）上に配置され、センサ（５１）が、光路に関してその隙間（４０）の後に配置され、型工具（１、１０、１１）が、型（１００、１１０）の中にある出発原料が露光する位置に運ばれるとき又は型工具（１、１０、１１）がその位置から運び出されるときに露光するセンサ（５１）を有する、装置。
【請求項６】
光源（２０；２０ａ）と、出発原料が配置された型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）に光源（２０；２０ａ）からの光を運ぶ別個の供給ライン（３、３０、３１、３２、３３；３ａ）とを有する装置であって、
光の強さ（Ｉ）を計測するための装置（５）が、各々の型（１００、１１０）に運ばれる光の強さ（Ｉ）を別個に計測するための、個々の供給ラインごとのセンサ（５１）を含む、請求項５記載の装置。
【請求項７】
複数のステーションと、クロックパルス制御下で型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）を次のステーションに各々運んで、成形物が同期化製造プロセスで製造されるようにするクロックパルス制御駆動装置とを有し、少なくとも二つのステーション（Ｓ３、Ｓ４）が設けられ、各ステーションが、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料を露光させるための装置（２）を含み、各ステーションで、型（１００、１１０；１００ａ、１１０ａ）の中にある出発原料がサイクル内で所定時間だけ露光する、請求項５又は６記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、独立請求項の特徴部分に係わる成形物、特に眼科用レンズ、たとえばコンタクトレンズを製造する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
成形物を製造する多くの方法では、たとえば化学反応を開始させるために光を使用する。これは特に（ただし排他的ではない）、コンタクトレンズの製造、特に、その名が示すとおり一度しか装用されず、装用後は捨てられる「使い捨てコンタクトレンズ」として知られるものの製造に当てはまる。こららの使い捨てコンタクトレンズは、高度に自動化された製造プロセスで、多少なりとも全自動的に製造される。このような製造プロセスの原理は、たとえばＷＯ−Ａ−９８／４２４９７に記載されている。
【０００３】
製造プロセスのうち本発明にとって特に有意である部分では、型又は多数の型が設けられている型工具を閉じたのち、各々のコンタクトレンズ型―普通はメス側の型―に予め投入しておいた出発原料（たとえばプレポリマー及び光開始剤を含む）を、出発原料の重合及び／又は架橋が起こるような特定の強さのＵＶ光に特定の時間だけ露光させ、その後、型が、型の適切な形状を付されているため仕上げ処理を受ける必要がないコンタクトレンズを含むようにする。ここでは、出発原料に作用するＵＶ光の強さ及び全量が、製造されるコンタクトレンズの高い品質に関して根本的に重要である。
【０００４】
たとえばＷＯ−Ａ−０１／００３９３によると、光源、たとえば水銀ＵＶ灯によって発せられるＵＶ光は、導光体によって個々の型に誘導される。ここで具体的に使用されているものは、ＵＶ光の透過及び使用可能な断面積及び発するＵＶ光の均一な強さ分布に関して、同じ直径の石英導光体と比較して特に良好な性質を有する液状導光体である。この場合、好ましくは、各型には別個の導光体が割り当てられる。灯具に近接するこのようなＵＶ灯の温度はしばしば液状導光体にとって耐えられないほど高くなるため、灯具から出たＵＶ光はまず、灯具の周囲の空間を介して石英ロッドに結合され、その結果、石英ロッドがたとえば気流によって冷却される。光が光路に沿って進むと、石英ロッドから発するＵＶ光はフィルタに当たり、このフィルタが、低カットオフ周波数よりも低い光の成分を遮断する。この手法は、一方で、遮断される短い波長が液状導光体のエージング促進を招くおそれがあり、他方で、短い波長を遮断することによりフィルタがレンズ材料のポリマー分解を防ぐため、有利である。フィルタの下流側の光路には、たとえばモータ作動式の調節可能なダイアフラムが設けられ、これにより、ダイアフラムよりも下流の光路中に設けられた液状導光体に結合される光の量を制御する、すなわち、より多量又は少量の光を導光体に結合することが可能である。液状導光体が、ろ波された光を型に面する側のその端部に運び、この端部から光が出て、集光器によって、型又はその中にある出発原料に作用する。
【０００５】
上述した要素のいくつか、たとえばフィルタ、導光体及びＵＶ灯は、エージング過程を経るものであり、その結果、それらの性質は、時間とともに、ときには相当に変化する。個々の要素又は複数の要素の性質が変化するならば、型の中の出発原料に作用するＵＶ光の強さもまた変化するかもしれない。しかし、他方で、コンタクトレンズの均一に高い品質のためには、すでに説明したように、型の中の出発原料に作用するＵＶ光の強さ及び全量の両方が一定範囲内にあることが重要である。出発原料が露光されるＵＶ光の全量は、出発原料がＵＶ光に露光される時間の強さを積分することによって得られる。
【０００６】
同期化製造プロセスの場合、ＵＶ光が常にサイクル内の一定時間で出発原料を露光する。そのような場合、強さの変化が常に、出発原料に作用するＵＶ光の全量の変化を自動的に生じさせ、それが、すでに上述した結果をもたらすことができる。
【０００７】
比較的大きなロットのコンタクトレンズを製造する場合、これまで、ロットの製造を開始する前及び完了した後、センサを導光体の下に通過させ、導光体から出るＵＶ光の強さを計測し、必要ならば設定することが実践されてきた。この処置には数分間を要することがあり、この数分間は、その間に設備を停止しなければならないため、製造に利用することはできない。しかも、特に高い強さで比較的長時間露光させる場合、センサが相当な負荷を受け、その結果、この処理を実施すると、センサが作動不能になったり、その感度が変化したりすることもある。その場合、新たなセンサを使用しなければならないか、センサを較正し直さなければならない。計測及び設定を繰り返さなければならず、それにさらなる時間を要する。これらの欠点を無視するとしても、この手法はなおもさらなる欠点を抱えている。すなわち、ロットの製造を完了したのちに、計測中に強さが許容可能な範囲を有意に下回っているかまたは超えているかがわかったならば、コンタクトレンズのロット全体が不合格にされてきた。製造開始時に強さを注意深く設定するならばコンタクトレンズのロット全体のこのような不合格はそれほど頻繁には起こらないが、ときおりしか起こらないとしても、ロット全体のそのような不合格は、製造プロセスの効率の相当な低下となる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明の目的は、このような製造プロセスの効率を高めるために使用することができる手段を提案することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この目的は、各々の独立請求項の特徴によって特定される本発明の方法及び装置によって達成される。特に有利な方法の改良及び装置の態様は、従属項の特徴から明らかになる。
【００１０】
具体的には、方法の場合、型の中にある出発原料を、光、具体的にはＵＶ光への露光によって重合及び／又は架橋させて、離型可能な成形物を製造する。成形物、たとえば眼科用レンズ又はコンタクトレンズの製造中に光の強さの計測を実施する。その結果、重合及び／又は架橋を生じさせる光の強さを実質的に「インプロセス」で、すなわちコンタクトレンズの製造の間に（いわば、ほぼ「オンライン」で）監視して、必要があるならば製造工程中に介入を実施することができ、コンタクトレンズのロットの製造中に強さが変化するとしても、ロット全体を不合格にする必要がないようにする。特に、強さを許容可能範囲に戻すための適切な措置を製造プロセス中に講じることができる。
【００１１】
方法の有利な態様の場合、型がある位置に運ばれ、その位置で型の中にある出発原料が露光される。出発原料の露光ののち、型を再びこの位置から運び出す。光の強さの計測は、型の中にある出発原料が露光される位置に型を運ぶ間又は型をこの位置から運び出す間のいずれかで実施する。これは、製造プロセスを中断する必要がないにもかかわらず、特定の時点の光の強さを計測することができる効率的な方法である。
【００１２】
方法のさらなる有利な態様の場合、複数の型を同時に使用し、これらの型の中にある出発原料を同時に露光させる。強さの計測は、出発原料の露光の前又は後で、ただし、さらなる型の中の出発原料が露光する前又は後で実施する。この変形は効率が顕著である。
【００１３】
方法のこの態様を発展させる場合、列状に並べられた指定数の型を使用し、それらの型の数及び配置に対応する数及び配置のセンサを有する計測装置を使用する。このようにして、同時に製造することができる成形物、たとえばコンタクトレンズの数を固定することができ、さらに労することなく、露光の直後又は直前に光の強さを測定することができる。
【００１４】
方法のさらなる有利な態様の場合、複数の型が設けられている型工具を使用する。重合及び／又は架橋のためには、型工具に設けられたすべての型の中で出発原料を同時に露光させる。この態様は、比較的多数の成形物、たとえば冒頭で述べた使い捨てコンタクトレンズの効率的な製造に関して同様に有利である。理由は、このようにして、比較的多数のコンタクトレンズを同時にそして高い品質で製造することができるからである。
【００１５】
方法のこの態様を発展させる場合、ベースプレート上に隙間をもって配置される型工具を使用する。この隙間を通して、型工具又はベースプレートが、型の中にある出発原料が露光する位置に運ばれる間又は型工具又はベースプレートがこの位置から運び出される間に光の強さを計測する。したがって、型工具又はベースプレートが当該位置に運ばれるか、その位置から運び出される間に効率的な強さ計測を実施し、型工具の輸送方向におけるこの隙間の寸法決定及び輸送速度によって、強さを計測することができる時間を固定することが可能である。
【００１６】
さらなる有利な態様の場合、光源からの光を別個の供給ラインによって出発原料が配置された型に運ぶ。１個の型だけを露光させるのか、上記のように複数の型を同時に露光させるのかに依存して、その型に又は型ごとに別個の供給ラインが設けられる。したがって、光のための各「経路」は互いに独立し、その結果、必要ならば、他の経路から独立して各経路中の光の強さに影響を加えることができる。
【００１７】
導光体から発する光が型の中にある出発原料に作用するような方法で発光端が配置されている導光体を有する供給ラインが好ましい。導光体は、特に、方法の実施態様に場合に好ましくは使用されるＵＶ光の伝導に関して良好な性質が顕著な液状導光体であることができる。
【００１８】
型に運ばれる光の強さを個々の供給ラインごとに別個に計測し、それにより、すでに説明したように、各経路を別個に監視し、個々の経路中の強さを別個に制御することができることが特に好ましい。
【００１９】
方法のさらなる態様の場合、交流で作動する灯具、好ましくは水銀ＵＶ灯を光源として使用する。このようにして作動する灯具の強さは半期によって表わされ、半期の特性及び振幅が非常に異なることがあるため、強さの計測では偶数個の半期を考慮に入れる。考慮される偶数個の半期の時間で強さの瞬間値を合計したのち、この時間で割る。その結果、比較的大きな時間セグメントで、型及びその中にある出発原料に作用する光の平均強さ値を得る。異なる経路があるならば、この計測を経路ごとに実施し、他の経路の強さから独立して経路ごとに光の強さに影響を加えることができる。
【００２０】
さらなる有利な態様の場合、光の強さの計測に加えて、型の中にある出発原料に作用する光の全量を測定する。すでに冒頭で説明したように、出発原料が露光される強さだけでなく、型の中の出発原料に作用する面積に関連した光の全量もまた、しばしば重要な変数である。ひとたび強さが測定されたならば、その強さに出発原料が露光される時間を乗じることにより、型の中の出発原料に作用する面積に関連した光の全量を簡単な方法で測定することができる。
【００２１】
さらなる有利な態様の場合、計測された強さ及び／又は光の指定全量が第一の上限しきい値を超えるか、第一の下限しきい値を下回ると、警告信号が発される。計測された強さ及び／又は光の指定全量が第二の上限しきい値を超えるか、第二の下限しきい値を下回るならば、障害信号が発される。警告信号及び／又は障害信号が発生するならば、適切な措置が開始される。警告信号が発生するならば、これはまず、経路が複数ある場合、当該経路を短時間、より詳細に監視し、強さが変わらないならば、たとえば、強さ及び／又は光の全量がその第一のしきい値を下回ったのか超えたのかに依存して強さを増減することで、是正の介入をこの経路に実施することを意味することができる。障害信号が発生するならば、これは、装置を停止しなければならないか、障害のある経路で製造されたコンタクトレンズを、障害が是正されるまで、他から隔離しておかなければならないことを意味することができる。
【００２２】
さらなる有利な構造的態様の場合、型（正確には両側の型）は、光に対して透過性であり、架橋中に型を透過する光が受けられ、型における汚染又は変化の場合を特定する目的に使用されるように、型が形成されている。出発原料と型とで光透過性が異なるため、透過光は、強さの計測には十分に利用することはできないが、型における汚染又は機械的変化の場合を特定するための使用には非常に適している。
【００２３】
最後に、さらなる有利な態様の場合、同期化製造プロセスで成形物を製造する。同期化製造プロセスでは、少なくとも二つの工程が設けられ、各工程で、型の中にある出発原料をサイクル内で所定の時間だけ露光させる。その結果、特に、全露光時間が他のステーションに求められるサイクル時間よりも有意に長いならば、サイクル時間を減らすことができる。理由は、最長のサイクル時間がシステム全体のサイクル時間を決定するか、特別な他の措置を講じなければならない（バッファを設けるなど）からである。
【００２４】
特に、成形物、特に眼科用レンズ、たとえばコンタクトレンズを製造するための本発明の装置は、型と、露光によって重合及び／又は架橋させることができる出発原料を型に投入するための装置とを含む。さらには、装置は、型の中にある出発原料を光、特にＵＶ光に露光させて、離型可能な成形物が製造されるようにするための装置と、光の強さを計測するための装置とを含む。光の強さを計測するために、装置は、強さ計測が成形物の製造中に行われるような方法で設計され、設けられている。
【００２５】
装置の実施態様の場合には、型の中にある出発原料に光が作用するような方法で型が配置される位置に型を運び、出発原料の露光ののち型をこの位置から運び出すための手段が設けられる。光の強さを計測するための装置は、型の中にある出発原料が露光する位置に型を運ぶ間又は型をこの位置から運び出す間に強さ計測が起こるような方法で設計され、設けられている。
【００２６】
装置のさらなる実施態様は、複数の型を同時に露光させるための手段を含む。光の強さを計測するための装置は、複数の型の数及び配置に対応する数及び配置のセンサを有する。この実施態様は効率が顕著である。光の強さは、さらに労することなく、露光の直後又は直前に測定することができる。
【００２７】
さらなる実施態様の場合、複数の型を同時に露光させるための手段は、複数の型が設けられている型工具を含む。出発原料を露光させるための装置は、型工具に設けられたすべての型の中で重合及び／又は架橋のために出発原料を同時に露光するような方法で設計されている。
【００２８】
この実施態様を発展させる場合、型工具は、隙間を有するベースプレート上に配置され、強さを計測するための装置は、光路に関して隙間の後に配置され、型工具もしくはベースプレートが、型の中にある出発原料が露光する位置に運ばれるとき、又は型工具もしくはベースプレートが、その位置から運び出されるときに露光するセンサを有する。
【００２９】
さらなる実施態様の場合、装置は、光源と、光源からの光を出発原料が配置された型に運ぶ別個の供給ラインとを有する。
【００３０】
ある態様の場合、供給ラインは、導光体から発する光が型の中にある出発原料に作用するような方法で発光端が配置されている導光体を含む。
【００３１】
代わって、ある態様の場合、光の強さを計測するための装置は、型に運ばれる光の強さを別個に計測するための、個々の供給ラインごとのセンサを含む。
【００３２】
さらなる実施態様の場合、装置は、光源として、交流で作動する灯具、好ましくは水銀ＵＶ灯を含む。強さを計測するための装置は、強さの計測で偶数個の半期が考慮に入れられ、それらの半期の時間で強さの瞬間値が合計されたのち、この時間で割られような方法で設計されている。
【００３３】
さらなる有利な変形の場合、強さを計測するための装置は、光の強さの計測に加えて、型の中にある出発原料に作用する光の全量をも計測するような方法で設計されている。
【００３４】
代わって、さらなる実施態様の場合、強さを計測するための装置は、計測された強さ及び／又は光の指定全量が第一の上限しきい値を超えるか、第一の下限しきい値を下回ると、警告信号を発する。装置はまた、計測された強さ及び／又は光の指定全量が第二の上限しきい値を超えるか、第二の下限しきい値を下回ると、障害信号を発する。
【００３５】
さらなる実施態様の場合、装置は、複数のステーションと、クロックパルス制御下で型を次のステーションに運んで、成形物が同期化製造プロセスで製造されるようにするクロックパルス制御駆動装置とを含む。この場合、少なくとも二つのステーションが設けられ、各ステーションが、型の中にある出発原料を露光させるための装置を含み、各ステーションで、型の中にある出発原料がサイクル内で所定時間だけ露光する。
【００３６】
上記装置の個々の実施態様の利点は、対応する方法の態様に関してすでに上述した利点に対応する。さらなる利点は、図面に基づいて以下に記載する実施態様又は変形態様から明らかになる。
【００３７】
【発明の実施の形態】
図１には、コンタクトレンズ製造のための循環同期化プロセスの実施態様を見ることができる。この循環同期化プロセスの第一の工程Ｓ１で、出発原料、たとえばすでに冒頭で述べたプレポリマーをメス側の型又は複数のメス側の型に分与する。たとえば、図２に示すような、２個の型工具片１０及び１１をもつ型工具１を使用することができる。一方の型工具片１０には、多数の、たとえば１０個のメス側の型１００が設けられている。他方の型工具片１１には、メス側の型１００の数と合致する数、この場合は１０個のオス側の型１１０が設けられている。
【００３８】
次の工程Ｓ２で、型工具１を閉じる。この閉鎖は、まず、図３の矢印１３によって示すように軸１２を中心に型工具片１１を回動させ、次いで、図３の矢印１４によって示すようにまっすぐ動かすことによって実施する。すると、型工具１は、図４に示すような閉じた状態になる。
【００３９】
オス側の型１１０及びメス側の型１００又はそれらに該当する部分は、ＵＶ光に対して透過性である。第三の工程Ｓ３で、キャビティ、すなわち、オス側の型１１０とメス側の型１００との間の空間の中にある出発原料をＵＶ光に露光させると、その結果、出発原料の重合及び／又は架橋が起こる。第四の工程Ｓ４で、同じプロセスを再び繰り返す。二回の露光工程Ｓ３及びＳ４又は露光ステーションを選択する主な理由は、この措置によって循環プロセスのサイクル時間を短縮することができるからである。これは、原則的に、もっとも遅い工程がサイクル時間を決定するからである。他方、出発原料の十分な重合及び／又は架橋を保証するためには、出発原料を特定の強さのＵＶ光に特定の時間だけ露光させる必要がある。
【００４０】
続く工程Ｓ５では、型工具１がまだ閉じた状態で、型の中にあるコンタクトレンズの最初の検査を実施する。この工程Ｓ５で、たとえば、コンタクトレンズの中央領域を、介在物又は他の比較的光沢のある容易に見つけられる欠陥がないか検査してもよい。
【００４１】
次に続く工程Ｓ６で、型工具１を再び開ける。これは、工程Ｓ２で記載した、型を閉じる操作とは逆の手順で実施する。
【００４２】
次の工程Ｓ７で、オス側及びメス側の型１１０、１００にたとえば水を吹き付けて、コンタクトレンズの離型を実施し、またその一方で、コンタクトレンズ及び／又は型から過剰な非架橋のプレポリマーを洗い落とす。
【００４３】
続く工程Ｓ８で、オス側の型１１０からメス側の型１００へのコンタクトレンズの自動移動が起こる。多くの場合、型工具１を開けたときコンタクトレンズはすでにメス側の型１００の中にあるが、大部分の場合、オス側の型１１０に付着したままである。しかし、後続する自動化工程のために、コンタクトレンズがメス側の型１００の中にあることを保証しなければならないため、オス側の型からメス側の型へのコンタクトレンズの自動移動を工程Ｓ８で実施する。コンタクトレンズがすでにメス側の型の中にある場合、移動を試みるとしても、これらの場合にはコンタクトレンズがすでにメス側の型の中にあるため、移動は起こらない。工程Ｓ８ののち、いずれにしてもコンタクトレンズがメス側の型の中にあることが保証される。
【００４４】
工程Ｓ９で、メス側の型１００をたとえば水で濡らし、コンタクトレンズをメス側の型１００の中央に位置づけしやすくする。理由は、このことが、コンタクトレンズをメス側の型１００の中央に滑り込ませやすくするからである。レンズを中央に位置させることは、一方で後続の工程Ｓ１０にとって有意義である。理由は、この工程で、コンタクトレンズをメス側の型から把持するからである。
【００４５】
工程Ｓ１０で把持を実施したのち、工程Ｓ１１で、把持したコンタクトレンズを、循環（二次）プロセスで、特にコンタクトレンズの縁が満足であるかどうかのチェックを含めて検査し、工程Ｓ１３で、満足なコンタクトレンズを、必要ならば保存溶液（たとえば食塩水）を含むことができるパッケージに入れる。他方、満足ではないコンタクトレンズは工程Ｓ１２で廃棄される。
【００４６】
工程Ｓ１０で、ひとたびコンタクトレンズをメス側の型１００から取り出したならば、工程Ｓ１４の循環（主）プロセスで、型工具１、すなわち型工具片１０及び１１に設けられた型１００及び１１０をたとえば水で洗浄することができ、それに続き、循環（主）プロセスは、工程Ｓ１、すなわちメス側の型１００へのプレポリマーの分与から新たなサイクルを再開することができる。
【００４７】
図７は、前記製造プロセスで出発原料の重合及び／又は架橋のために工程Ｓ３及びＳ４で出発原料をＵＶ光に露光させるための使用することができる、型の中にある出発原料をＵＶ光に露光させるための装置２を示す。装置２は、ハウジング２１の中に配置されたＵＶ灯２０（交流電圧又は交流電流で作動）を含む。複数の、ここではたとえば１０個の導光体３が設けられ、それぞれのホルダー３０によってＵＶ灯２０の周囲に配置され、灯具２０によって発された光を個々の型に運ぶ。型は、全体をより明確に示すため、互いに並べて配置した状態で示す。以下、導光体３をいくらかより詳細に説明する。
【００４８】
図７はまた、ＵＶ灯２０の表面の近くの温度を計測し、指定温度よりも高くなるならば、冷気２４を吸い込み、それをハウジング２１に通すファン２３を起動する温度センサ２２をさらに示す。さらには、ＵＶ光の強さを計測するためのセンサ２５を設けてもよく、このセンサが、対応する信号を制御装置２６に送り、この制御装置が、ＵＶ光の指定の所望の強さが一般的な設定値の選択として提供されるような方法でＵＶ灯２０をセットする。
【００４９】
図５に示すものは、ＵＶ灯２０からの光を、ＵＶ光を各々の型に誘導する導光体３の光進入端３００に結合する方法の実施態様である。ＵＶ灯２０からのＵＶ光を運ぶための完全な供給ラインは、実際の導光体３だけでなく、石英ロッド３１、フィルタ３２及びモータ作動調節式ダイアフラム３３をも含む。ダイアフラムの開口３３０のサイズは、この場合モータ３３１及び可撓性の継手３３２によって調節可能である。ダイアフラム３３の下流の光路中には、ここでは液状導光体として設計されている導光体３が配置されている。液状導光体は、ＵＶ光を誘導するのに特に適しているが、ＵＶ灯２０のすぐ近くで行き渡るような高い温度には耐えられない。この理由のため、可撓性ではないが、ＵＶ灯２０のすぐ近くの温度に耐え、ＵＶ光を十分に伝導する石英ロッド３１が設けられている。その結果、導光体３へのＵＶ光の前記結合がホルダー３０中で起こり、すると前記導光体がＵＶ光を各々の型に誘導する。この場合はフィルタ３２が低カットオフ波長未満の光成分を遮断する。このようなフィルタ３２は、一つには、遮断される短い波長が液状導光体３のエージングの促進を招くおそれがあり、他には、短い波長を遮断することにより、フィルタ３２がコンタクトレンズ材料のポリマー分解を防ぐため、有利である。
【００５０】
図６は、ＵＶ光が導光体３から発せられて型に作用する方法の実施態様を示す。導光体３の発光端３０１から発せられるＵＶ光は、ここでは集光器３４を介して、型の中でオス側の型１１０とメス側の型１００との間にある出発原料に作用し、その結果、図６で点線で示すコンタクトレンズが形成する。
【００５１】
図８は、型工具１を導光体３の発光端の下に運ぶためのベースプレート４上の型工具片１０及び１１ならびに導光体３から発せられるＵＶ光の強さを計測するための対応する計測装置５を有する閉じた型工具１の実施態様を示す。導光体３は、サイクル内のベースプレート４の休止位置で、発せられるＵＶ光が型工具片１１に設けられたオス側の型１１０を透過して出発原料に作用するような方法で配置されている。露光後、ベースプレート４を型工具１とともに運び出す間、ベースプレート４に設けられたギャップ４０が、導光体３と計測装置５との間に位置するようになる（当然、これは、ベースプレート４の適切な構造、ギャップ４０の配置を与えられるならば、露光位置に運ばれる間に行うこともできる）。すると、導光体３の発光端３０１から発せられるＵＶ光は、減衰器５０を介して、検出板５２に配置された感光性センサ５１に作用する。ベースプレート４が休止位置にある間、すなわち、型の中の出発原料がサイクル内でＵＶ光に露光する間、型工具片１０に設けられたメス側の型１００を透過するＵＶ光も同様に、計測装置５によって受けられる。しかし、この透過光は、強さ計測には限られた程度にしか適さないため、たとえば、型の汚染などの場合に関してチェックするために使用することができる。さらには、計測装置５はまた、主プリント回路板５３、処理用プリント回路板５４及びアナログ／デジタルプリント回路板５５が設けられている電子部品を含む。フロントパネル５６には、特にネットワーク接続５６０（図１３を参照、たとえばEthernet）、シリアルインタフェース５６１（図１３を参照、たとえばＲＳ２３２）及び電圧源のための接続５６２（図１３を参照）ならびにシステムプロセス制御装置（ＳＰＳ）へのデータ伝送のためのインタフェース及びユニットの状態インジケータを設けることができる。
【００５２】
図１１は、このような計測装置５の平面図である。二つの列及び五つの行があり、そのそれぞれに、減衰器５０及び、それから下流の光路中に、対応するセンサ５１（図示せず）が設けられている。このような減衰器５０は、図９に関連して示され、図１０には分解図で示されている。これは、ベース本体５００と、センサに作用する光ビームを幾何学的に画定するための複数の有孔円盤５０１と、光を減衰するためのダイアフラム５０２と、ダイアフラムホルダー５０３と、複数のスペーサリング５０４と、光を減衰するための金属ゲージ板５０５と、光の波長を制限するためのフィルタ５０７のための受け座５０６と、カバー５０８とを含む。
【００５３】
導光体３（図１１には示さず）の発光端３０１は、減衰器５０の上に正確に配置される。ベースプレートの休止位置では、導光体３から発するＵＶ光が型の中にある出発原料に作用するよう、導光体３の発光端３０１が各々のオス側の型１１０の中央の上に正確に位置する、あるいは、各々のオス側の型１１０が導光体３の中央の下に正確に位置する。この露光が起こったのち、ベースプレート４は運び出され、ベースプレート４がこのように運び出される間、光が、ベースプレート４中のギャップ４０を通って特定の時間（「タイムウィンドウ」）だけ減衰器５０（図８を参照）に当たる。
【００５４】
この「タイムウィンドウ」又は、ベースプレート４が運ばれる速度及びギャップ４０の幾何学的寸法によって決まる、このタイムウィンドウからのセグメントＴmeansは、導光体３の発光端３０１から発せられるＵＶ光の強さＩを計測するために使用される。時間ｔにおける強さＩ（ｔ）の非常に理想的な時間特性が図１２に示されている。
【００５５】
これに関して、ＵＶ灯２０（図７）が交流（たとえば５０Hzの幹線周波数）によって起動されることに注目すべきである。５０Hzの周波数での半期の時間ＴHは、相応に１０msである。加えて、個々の半期の振幅が実際には図１２に示すほど均一ではないことが多く、一つ置きの半期の振幅が各々の第一の半期の振幅よりも小さい、換言するならば、ＵＶ灯２０が「対称には光らない」ということに注目すべきである。導光体３から出るＵＶ光の強さＩを測定するためには、強さＩ（ｔ）の特定の時点における特性を２０kHzの周波数（時間間隔５０μmに相当）でサンプリングし、偶数個の半期で合計したのち（いわば積分に相当するが、時間制限された分解能で）、記録した偶数個の期間の時間で割って、時間的な平均値を強さＩとして得ると、それが、導光体３の発光端３０１から出るＵＶ光の強さを表す。十分に大きな数の半期を記録するならば、強さが、導光体３から出るＵＶ光に非常に典型的な値を実際に表すよう、強さの測定で振幅の変動をも十分に考慮に入れる。したがって、導光体３から発せられるＵＶ光の強さを参照すると、これは、上記のように測定される平均強さを意味し、所望の時点における強さＩ（ｔ）の個々の時間的瞬間値を意味するのではないと理解される。
【００５６】
図１に基づいて冒頭で記載した循環プロセスの場合、サイクル時間を短縮するために出発原料へのＵＶ光の露光を工程Ｓ３及び工程Ｓ４の両方で行うため、そのような計測装置５が二つ設けられる。すなわち、上記のように実施することができる強さの適切な計測が相応に工程Ｓ３及びＳ４の両方で必要である。
【００５７】
図１３に詳細として示すものは、たとえば工程Ｓ３及びＳ４（図１）で設けることができるような二つの計測装置５の通信モデルの実施態様である。計測装置５は、各々計測した強さをシステムプロセス制御装置ＳＰＳ（矢印でのみ表す）に送ることができ、また、画面６０上でのグラフィック表現のために個々の経路の強さをネットワーク接続５６０（たとえばEthernet）を介して送ることができる。計測装置５の機器構成又は較正は、シリアルインタフェース５６１（たとえばＲＳ２３２）を介して実施することができる。さらには、たとえば障害データを入力することができるデータベースにプロセスデータマネージャＰＤＢが設けられている。強さ制御装置ＩＣのおかげで、必要ならば、強さを制御する（たとえば個々の経路で）ことが可能である。図示するコンピュータＰＣは、解析、診断及び点検のために使用することができる。最後に、それぞれの電圧源５６２を見ることができる。
【００５８】
各々の強さＩは個々の計測装置で経路ごとに測定されるが、さらに、個々の露光ステーションにおける光の量及び二つの個々の露光ステーションで出発原料に作用するＵＶ光の全量が経路ごとに測定される。光の全量を測定するためには、光の個々の量を同様に経路ごとに合計する。個々の露光ステーションで出発原料に作用する各々の光の量は、計測装置５によって計測された強さＩに、各々の露光ステーションで出発原料がＵＶ光に露光する時間を乗じることによって測定される。
【００５９】
個々の計測装置５の個々の経路で計測された強さＩが強さの第一の上限しきい値を超えるか、第一の下限しきい値を下回るならば、警告信号が発される。警告信号はまた、ＵＶ光の全量がＵＶ光の全量の第一の上限しきい値を超えるか、第一の下限しきい値を下回る場合にも発される。強さＩが第二のしきい値を超えるか、第二のしきい値を下回るならば、障害信号が発され、適切な措置が開始される。光の全量にも同じことが当てはまる。
【００６０】
これに関して、適切な措置は、製造が継続する間、たとえば障害が一つの経路だけで起こるため、この経路で製造されたコンタクトレンズが捨てられ、同時に、強さが、強さ又は光の全量がそれぞれの所望の範囲内に入るような方法で制御されることである。他方、比較的多数の経路で障害が発生するならば、適切な措置は、製造プロセスを停止し、障害を是正したのち製造を再開することであるかもしれない。適切な措置を構成するものに関してそれぞれの方策を規定することが好ましい。
【００６１】
図１４に示すものは、たとえばコンタクトレンズの製造に使用することができるようなさらなる構造的変形である。図１４は、ＵＶ灯２０ａと、ＵＶ灯２０ａから出るＵＶ光を、集光板３００ａに配置された導光体３ａの発光端に誘導する導光体３ａとを含む構造を示す図である。ＵＶ光は、導光体３ａのこれらの発光端から出て、オス側の型１１０ａを透過して、コンタクトレンズの各々の型の中にある出発原料に作用し、それにより、所望の重合及び／又は架橋を生じさせる。出発原料は、たとえば、型を閉じる前に、適切に計量された量でメス側の型１００ａに投入されている。
【００６２】
計測装置５ａは、原則的に、すでに上記した計測装置５と同じ方法で設計することができる。型は並んで順次に運ばれるため（たとえば図の紙面から飛び出す方向に）、輸送ラインに対して横方向に平行な計測装置５ａの配置が可能である。
【００６３】
導光体３ａの発光端から発せられる光の強さを計測するためには、導光体３ａの発光端が配置される集光板３００ａを、コンタクトレンズのための型の中にある出発原料がＵＶ光に露光する露光位置から横方向（矢印Ｍ）に計測位置へと動かし、それにより、導光体３ａの発光端が計測装置５ａの減衰器５０ａの上に正確に配置されるようにする。すると、この計測位置で、強さ計測を実施し、すでに上記で十分に説明した方法と同様に実施することが可能である。強さ計測ののち、集光板３００ａを再び露光位置に戻す（矢印Ｍ）。
【００６４】
同期化輸送の場合、型の輸送の間に集光板を横方向に動かして、導光体３ａの発光端が計測装置５ａの減衰器５０ａの上に配置され、強さ計測が起こるようにすることができる。強さ計測ののち、集光板３００ａは、再びその開始位置に戻され、その結果、新たな型の露光のために利用可能になる。
【００６５】
さらなる構造的変形では、２個以上の型の群をいっしょに運ぶことができる。輸送線に対して横方向に平行のそのような群の中の型の数に応じて、対応する数のセンサ（ここでは図示せず）、減衰器５０ａなどがあり、及び強さ計測のために対応する数の導光体３ａを側方に動かす。輸送速度が同じであるならば、輸送時間は、輸送群中の型の数の増加とともに増し、型を１個ずつ輸送する場合に比較してより長い計測時間が利用可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】コンタクトレンズ製造のための循環同期化プロセスの実施態様を示す図である。
【図２】コンタクトレンズを製造するための型工具の実施態様を開放状態で示す図である。
【図３】コンタクトレンズを製造するための型工具の実施態様を開放状態で示す図である。
【図４】コンタクトレンズを製造するための型工具の実施態様を閉じた状態で示す図である。
【図５】ＵＶ灯からの光を導光体に結合する方法の実施態様を示す図である。
【図６】光が導光体から出て、型に作用する方法の実施態様を示す図である。
【図７】型の中にある出発原料をＵＶ光に露光させるための装置の実施態様を示す図である。
【図８】型工具を導光体の発光端の下で運ぶためのベースプレート上の閉じた型工具及び導光体から出るＵＶ光の強さを計測するための対応する計測装置の実施態様を示す図である。
【図９】ＵＶ光を計測するための計測装置の減衰器の実施態様を示す図である。
【図１０】図９の減衰器の分解図である。
【図１１】ＵＶ光を計測するための計測装置の実施態様の平面図である。
【図１２】強さが計測されるタイムウィンドウ内のＵＶ光の強さの時間特性の詳細を示すグラフである。
【図１３】ＵＶ光を計測するための計測装置の通信モデルの略図である。
【図１４】型の中にある出発原料をＵＶ光に露光させるための導光体及び導光体から出るＵＶ光を計測するための装置を有する構成のさらなる構造的変形を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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