(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録可能な光ディスクに光を照射して記録する光源と、前記照射光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマークを形成するマルチパルス列生成手段とを備えている光ディスク装置において、
前記マルチパルス列によるマークの形成とは別のマークの形成に用いると共に記録状態の検出に用いる、単一の加熱パルスである検出用パルスを生成する検出用パルス生成手段と、
前記検出用パルスによる加熱パワーを前記マルチパルス列による加熱パワーより小さく設定する第１の加熱パワー設定手段と、
前記検出用パルスによる加熱パワーと前記マルチパルス列による加熱パワーとが所定の比になるように設定すると共に、前記検出用パルスの照射期間の反射光から得られる検出レベルである記録状態情報値と、記録状態の目標値とが等しくなるように前記検出用パルスの加熱パワーを増減して補正を行う補正手段と、を備えていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記第１の加熱パワー設定手段で設定された前記検出用パルスによる加熱パワーと所定の比になるように前記マルチパルス列による加熱パワーを設定する第２の加熱パワー設定手段を備えていることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
第２の加熱パワー設定手段は、前記マルチパルス列による加熱パワーに対する前記検出用パルスによる加熱パワーの前記比を０．６〜０．９としていることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記録の際の前記光ディスクでの反射光を受光する受光素子を備え、前記第１の加熱パワー設定手段は、前記受光素子の出力信号の値を前記光源の発光光量で正規化して求めた記録状態情報値に基づいて前記マルチパルス列による加熱パ
ワーを設定することを特徴とする請求項１〜３のいずれかの一に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記照射光を単一パルス列にして前記光ディスクにマークを形成する単一パルス列生成手段と、
前記光ディスクの種別を検出する種別検出手段と、この検出した光ディスクの種別に応じて前記マルチパルス列生成手段又は前記単一パルス列生成手段を選択して前記マークの形成を行う選択手段とを備え、
前記検出用パルス生成手段は、前記選択に応じて前記マルチパルス列の一部について前記検出用パルスへの置換を行うものであり、
前記第１の加熱パワー設定手段は、前記選択に応じて前記検出用パルスによる加熱パワーを変えるものである請求項１〜４のいずれかの一に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒの一般的な記録波形として、図４（ｃ）に示す光ディスクに照射されるレーザの光源であるＬＤ（Laser Diode）の発光波形のような単一パルス記録が用いられる。この記録方式は、記録パワーレベルを２値化し、あるいは、最短データ長の加熱パルスの後エッジを補正するなどして、マークエッジ（ＰＷＭ）記録を実現している。このようなＰＷＭ記録では記録マークの両エッジに情報を持たせている。
【０００３】
しかし、図４（ｃ）のような単一パルス記録をＤＶＤ−Ｒなどの大容量記録での記録波形として用いると、図４（ｄ）のマーク形状のように、蓄熱のため記録マークが涙状に歪を生じ、あるいは、データ長に応じたエッジシフトが顕著となるため、単パルス記録はジッタ特性を良好にすることが困難となる。
【０００４】
このため、通常は、図９（ｃ）に示す光ディスクに照射されるレーザの光源であるＬＤの発光波形のようなマルチパルス記録が用いられる。これにより加熱パルスのデューティ（Duty）を調整して、図９（ｄ）のマーク形状のように、適正な記録パワーを用いることができ、畜熱の影響を簡易に防止できて、記録マークの両エッジシフトが低減できる。
【０００５】
このようなデータ記録を行うとき、単パルス記録では、図４（ｅ）に示す受光信号波形のように、記録中の単パルス区間における光ディスクからの反射光量を検出することで、記録中にマークの形成状態を知ることができる。よって、記録パワーが変動しながら記録されても、反射光量の変化を示す信号を得ることができ、この変化の状態により記録中のＬＤのパワー変動やチルトやメディア感度分布などによる記録パワーのずれを補正するように制御しながら、データ記録を行うことができる。このような制御方式を、一般にＲ−ＯＰＣ（Running-Optimum Power Control）と呼んでいる。
【０００６】
また、特公平２−１３３７２号公報には、光ディスクにデータの記録を行うとき、記録中の反射光をレーザに帰還させ、記録と同時に得られるレーザ光の検出信号の時間的変化に基づいて記録の正否を確認する技術が開示されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、大容量記録に適したマルチパルス記録では、図９（ｅ）の受光信号波形のように、記録パワーによる反射光量の変化を検出する前に、遮断パルスにより反射光量が急減し、再び加熱パルスで反射光量が急増するような変化を示すようになり、ＬＤの発光状態が短時間に切り替わるため、マークの形成状態を認識するために必要な一定パワーでの光量変化を検出することができず、Ｒ−ＯＰＣにより適正なパワーに制御しながら記録することが困難であった。
【０００８】
この発明の目的は、光ディスクにマルチパルス列を用いて記録を行っても、マークの形成状態を高感度に認識できるようにすることである。
【０００９】
この発明の目的は、前記の場合に低ジッタで安定した再生信号を得ることができるようにすることである。
【００１０】
この発明の目的は、検出パルスの加熱パワーをマルチパルス列の記録パワーから容易に算出して、マークの形成状態を高感度に認識することである。
【００１１】
この発明の目的は、前記の場合に、記録情報のデータを破壊しないようにしてジッタ特性を良好に維持できるようにすることである。
【００１２】
この発明の目的は、前記の場合に、単パルス列とマルチパルス列による記録方式の違いに応じて、いずれの種類の光ディスクにも対応できるようにすることである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、記録可能な光ディスクに光を照射して記録する光源と、前記照射光をマルチパルス列にして前記光ディスクにマークを形成するマルチパルス列生成手段とを備えている光ディスク装置において、前記マルチパルス列によるマークの形成とは別のマークの形成に用いると共に記録状態の検出に用いる、単一の加熱パルスである検出用パルスを生成する検出用パルス生成手段と、前記検出用パルスによる加熱パワーを前記マルチパルス列による加熱パワーより小さく設定する第１の加熱パワー設定手段と、前記検出用パルスによる加熱パワーと前記マルチパルス列による加熱パワーとが所定の比になるように設定すると共に、前記検出用パルスの照射期間の反射光から得られる検出レベルである記録状態情報値と、記録状態の目標値とが等しくなるように検出用パルスの加熱パワーを増減して補正を行う補正手段と、を備えていることを特徴とする光ディスク装置である。
【００１４】
したがって、光ディスクにマルチパルス列を用いて記録を行っても、記録中における反射光量を検出用パルスに基づく反射光で検出して、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００１５】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記第１の加熱パワー設定手段で設定された前記検出用パルスによる加熱パワーと所定の比になるように前記マルチパルス列による加熱パワーを設定する第２の加熱パワー設定手段を備えていることを特徴とする。
【００１６】
したがって、所望のマークの形成状態を維持するように通常の記録でのマルチパルス列と検出パルスとの加熱パワーをそれぞれ制御して、低ジッタで安定した再生信号を得ることができる。
【００１７】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、第２の加熱パワー設定手段は、前記マルチパルス列による加熱パワーに対する前記検出用パルスによる加熱パワーの前記比を０．６〜０．９としていることを特徴とする。
【００１８】
したがって、検出パルスの加熱パワーを、マルチパルス列の記録パワーから容易に算出でき、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００１９】
請求項４に記載の発明は、請求項１〜３のいずれかの一に記載の光ディスク装置において、前記記録の際の前記光ディスクでの反射光を受光する受光素子を備え、前記第１の加熱パワー設定手段は、前記受光素子の出力信号の値を前記光源の発光光量で正規化して求めた記録状態情報値に基づいて前記マルチパルス列による加熱パワーを設定することを特徴とする。
【００２０】
したがって、マルチパルス列による記録であっても、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００２３】
請求項５に記載の発明は、請求項１〜４のいずれかの一に記載の光ディスク装置において、前記照射光を単一パルス列にして前記光ディスクにマークを形成する単一パルス列生成手段と、前記光ディスクの種別を検出する種別検出手段と、この検出した光ディスクの種別に応じて前記マルチパルス列生成手段又は前記単一パルス列生成手段を選択して前記マークの形成を行う選択手段とを備え、前記検出用パルス生成手段は、前記選択に応じて前記マルチパルス列の一部について前記検出用パルスへの置換を行うものであり、前記第１の加熱パワー設定手段は、前記選択に応じて前記検出用パルスによる加熱パワーを変えるものである。
【００２４】
したがって、ＣＤ−ＲとＤＶＤ−Ｒのように単パルス列とマルチパルス列による記録方式の違いに応じて、検出パルスの加熱パワーを異なる設定にしていずれの種類の光ディスクにも対応することができる。
【００２７】
【発明の実施の形態】
この発明の一実施の形態について説明する。
【００２８】
まず、発明の一実施の形態である光ディスク装置で行う情報記録方式について説明する。
【００２９】
この情報記録方式では、例えばＤＶＤ−ＲＯＭフォーマットのコードデータを、記録層に色素材料を用いたＤＶＤ−Ｒに対して記録する。データ変調方式として、図１（ｂ）の記録データのようなＥＦＭ Plus（Eight to Fourteen Modulation Plus）変調コードを用いて、マークエッジ（ＰＷＭ：Pulse Width Modulation）記録を行っており、形成されるマークとスペースのデータ長は３〜１４Ｔとなる。この実施の形態ではこのようなメディアと記録データを用いて、光源である半導体レーザ（ＬＤ：Laser Diode）をマルチパルス発光させて記録マークを形成することによりＤＶＤ−Ｒに情報の記録を行う。
【００３０】
色素系の光メディアに記録を行う場合の基本的な記録動作は、従来の技術で前記したとおりである。このときのマルチパルス列の最適な加熱パワーは、ＣＤ−Ｒで用いられる単一パルス列による記録波形の最適な加熱パワーよりも約２０〜３０％高いパワーが必要となる（図１（ｆ）参照）。また、図１（ａ）に示すように、記録チャネルクロック周期Ｔは約３８nsec、記録線速度は３．５ｍ／ｓである。
【００３１】
本例では、図１（ｆ）のＬＤ発光波形に示すように、マークデータ長が９Ｔ以上のとき、通常のマルチパルス列を７Ｔ長の単一パルス（検出用パルス）に置換して配置する。このような記録方式を色素系ＤＶＤ−Ｒに用いると、記録中のＤＶＤ−Ｒからの反射光としては、図１（ｈ）のような反射光量（ＲＦ検出）信号が得られる。この検出用パルスは前記したようなＣＤ−Ｒで用いられるＲ−ＯＰＣと同様に、マーク形成に伴う光量変化が現れる。しかしながら、ＤＶＤ−Ｒに用いられるマルチパルス列による記録中に、マルチパルス列と同一の加熱パワーを用いて単一パルスに置換すると、マーク形成状態は過大なパワーとなり、デフォーカスやチルトや加熱パワー変動などのドライブ装置の経時変化に対して感度が無くなってしまう。このことは、一般的に色素系光ディスクがマルチパルス列を用いても単一パルス列を用いてもマークの形成は可能であるが、それぞれに適正な記録パワーは異なっていることによる。
【００３２】
より具体的には、図２に示すように、代表的なＤＶＤ−Ｒにマルチパルス列を用いて、その最適な加熱パワーで記録すると、加熱パワーＰｗ１（マルチパルス列の加熱パワー）の最適値は１２ｍＷ程度であり、このパワーでの１４Ｔ変調度は６５％程度となっており、最も良好なジッタ特性が得られる。
【００３３】
したがって、この場合は、検出用パルスで良好な加熱パワーＰｗ２は、マルチパルス列の加熱パワーＰｗ１に０．７５という係数αを乗じることで、“Ｐｗ２＝α×Ｐｗ１”に近似することができる。そして、このときの加熱パワーＰｗ２は加熱パワーＰｗ１より小さな値に設定される。すなわち、Ｒ−ＯＰＣで用いる検出用パルスも単一パルスであるため、この係数“α＝０．７５”を乗じることで記録状態の良好なパワーを検出することができる。
【００３４】
次に、Ｒ−ＯＰＣ動作で用いる光ディスクの記録状態の情報は、前記の検出パルスの期間における先端から３Ｔ後以降の領域で反射信号ＲＦの受光量が安定しているので、このレベルをサンプルホールド回路でサンプリングし、Ａ／ＤコンバータによりＲＦsmp値（反射信号ＲＦのサンプル値）を得ることで取得するようにする。この値は光ディスクからの反射光の光量を示すものであるため、出射光量を示す加熱パワーＰｗ２で正規化して、光ディスクの記録状態を示す記録状態情報“ＲＦopc＝ＲＦsmp／Ｐｗ２”を求める。
【００３５】
図３に示すように、単一パルスによる記録状態情報ＲＦopcは、前記の係数αによって求められた“Ｐｗ２＝９ｍＷ”近傍もしくはそれ未満で、大きな負の傾きを示しており、各種のドライブ変動に対して高感度に変化を示すようになる。したがって、マルチパルス列での最適な加熱パワーＰｗ１と同一のパワーを用いて検出用パルスによるＲＦsmp値を取得すると、図１（ｈ）に点線で示すように、記録パルスの差異によりマークは過大に形成され、１４Ｔ変調度も、検出パルスの期間のＲＦ受光量も、その変化が飽和してしまい、加熱パワーＰｗ２の増減によってほとんど変化を示さなくなる。
【００３６】
このように、マルチパルス列による通常の記録での加熱パワーＰｗ１と、単一パルスである検出パルスによる加熱パワーＰｗ２を、その比が一定となるように係数αを設定する。この検出用パルスの前半５Ｔ付近の位置で反射光量の検出信号をサンプリングすると、この時点におけるマークの形成状況を把握することができる。詳細には、図４（ｅ）に示すように、記録パワーが適正から過大となるように変動すると、検出用パルス部分のように反射光量の検出信号がより大きな勾配で変化をするため、マークの形成が進みすぎていると判断できる。逆に、記録パワーが適正から過小となるように変動すると、検出信号の変化は小さくなりマークの形成が不十分であると判断できる。
【００３７】
また、通常の記録開始の前（Ｒ−ＯＰＣ動作の前）に、記録開始の準備として試し書き（ＯＰＣ）を行う。これは、図５に示すように、加熱パワーの大きさを複数段階に変化させながら、それぞれの加熱パワーで小サイズの記録を行い、記録後の再生信号の対称性（Asymmetry）から、最適な加熱パワーＰｗｏ(optimum)と、そのときの記録状態情報値“ＲＦopco＝ＲＦsmp／Ｐｗo”をあらかじめ算出しておく。この目標値ＲＦopcoに対して、Ｒ−ＯＰＣ動作で取得したＲＦopcの値が大きい場合、ＬＤの発光パワーを大きく制御し、ＲＦopc値が小さい場合、ＬＤの発光パワーを小さく制御する。すなわち、目標値ＲＦopcoと一致した記録状態となるように、検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を制御する。したがって、マークの形成状態に基づいてＬＤの発光パワーの制御を行なうことができ、記録中の主要なドライブ変動に対して、常に一定の記録マークを形成することが可能となる。
【００３８】
なお、前記の例ではマルチパルス列の加熱パワーＰｗ１に乗じる係数αを０．７５としたが、色素系光ディスクの色素材料や記録線速度やマルチパルス幅設定の差異に応じて、係数αは異なる値を選択する。これらの差異について考察の結果、種々の組み合わせに対して取り得る係数αの範囲は０．６〜０．９であり、この範囲内で係数αを選択することで高感度な記録状態情報値ＲＦopcが算出可能である。
【００３９】
また、検出用パルスは、マルチパルス列による記録におけるマークデータに相当する部分を置換するように挿入している。検出用パルスとしての単一パルスの長さは、形成されるマーク長が本来マルチパルス列で記録されるべき長さと一致するように、マーク長ｎに対し（ｎ−２）Ｔ程度としている。この単一パルスの長さも、光ディスクの色素材料や記録線速度に応じて、適宜、最適な長さに設定すればよい。サンプリング位置については、マーク形成に伴う反射信号ＲＦの変化が十分安定する時間を目安にして、かつ、サンプリング回路のアクイジション時間を考慮して長短を設定すればよい。また、サンプリング後の区間については、サンプリング回路のアパーチャ遅延を考慮して長短を設定すればよく、安価な回路で実現でき安定な動作が期待できる。よって、本例によれば、マルチパルス列による記録を行なう場合であっても、検出用パルスによってマルチパルス列を置換し、その加熱パワーＰｗ２が小さくなるように係数を乗じることで、記録中のマーク形成の状態を取得することが可能となる。
【００４０】
以上のような情報記録方式を実現する光ディスク装置について説明する。
【００４１】
図６，図７は、この発明の一実施の形態である光ディスク装置の回路構成を示すブロック図である。この光ディスク装置１は、光ディスク２への記録用の光源であるＬＤ（図示せず）を備えたピックアップ３と、記録データを生成するＥＦＭ plusエンコーダ４と、記録データに基づきＬＤの出射光を変調するための記録パルス列制御部５と、その記録パルス列制御部５が出力する記録パルス列制御信号に基づいてＬＤを所望の発光波形に発光させるＬＤ制御回路６とを備えている。
【００４２】
記録パルス列制御部５はＥＦＭ plusエンコーダ４が出力する記録データからＬＤを駆動するためのＬＤ制御信号を生成する。この記録パルス列制御部５は記録パルス列生成部７を備えており、記録パルス列生成部７はマルチパルス列を生成する。記録パルス列制御部５には、Ｒ−ＯＰＣ動作のための単一パルスからなる検出用パルスを生成する検出用パルス生成部８も設けられ、記録パルス列に含める検出用パルスを生成する。このようにして検出用パルスを含んだマルチパルス列としてＬＤ制御信号が生成され、そのＬＤ制御信号はＬＤ制御回路６に入力される。
【００４３】
次に、ＬＤ制御回路６は、ＬＤを駆動する電流源となるＬＤ駆動電流源９，１０，１１を備えている。ＬＤ駆動電流源９はマルチパルス列のパルスがＯＮのときの加熱パワーを出力し、ＬＤ駆動電流源１０はＲ−ＯＰＣ動作のための検出用パルスの加熱パワーを出力し、ＬＤ駆動電流源１１はパルスがＯＦＦのときのボトムパワーを設定するボトムパワーを出力する。ＬＤ制御回路６はＬＤ制御信号に基づいてＬＤ駆動電流源９又は１０とＬＤ駆動電流源１１との出力をスイッチングするか又は加算してＬＤに出力し、検出用パルスを含むマルチパルス列のＬＤ発光波形（図１（ｆ））にしている。記録パルス列生成部７及びＬＤ駆動電流源９によりマルチパルス列生成手段を実現し、検出用パルス生成部８及びＬＤ駆動電流源１０により検出用パルス生成手段を実現している。
【００４４】
ピックアップ３に設けられた受光素子（図示せず）は、光ディスク２の反射光を受光し、反射信号ＲＦを出力する。記録パルス列中の検出用パルスは、サンプリング回路１３においてサンプリング信号の検出位置にて反射信号ＲＦをサンプルホールドされ、図示しないＡ／ＤコンバータでＡ／Ｄ変換することで、反射光量のサンプルレベルを示す信号ＲＦsmpを取得する。
【００４５】
この反射光量レベルは、その時点でのＬＤの出射光量によってレベルが異なるため、記録状態情報演算回路２３によって検出用パルスの加熱パワーで反射光量レベルを除して正規化することにより、記録マークの形成状態が反映された記録状態情報値を算出する。すなわち、除算回路２５で、ＬＤの出射光量レベルＰｗ２で除算して正規化する。
【００４６】
次に、マークの形成状態が反映された記録状態情報値ＲＦopcが算出される。この記録状態情報値ＲＦopcは目標値ＲＦopcoとして、例えばシステムコントローラ１２のＲＡＭなどに記憶される。そして、通常の記録を開始した直後からＲ−ＯＰＣ動作をスタートさせ、所望の間隔で前記と同様に記録状態情報値ＲＦopcを算出する。次に、比較器２４で前記の目標値ＲＦopcoと比較し、記録中の記録状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより大きい場合は、記録マークが理想的な大きさより小さくなっているため、加熱パワー補正回路１９の第１の加熱パワー補正回路２０でＬＤ駆動電流源９を制御することで、検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を大きくするように補正する。逆に、記録中の記録状態情報値ＲＦopcが目標値ＲＦopcoより小さい場合は、記録マークが理想的な大きさより大きくなっているため、検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を小さくなるように補正する。比較器２４及び第１の加熱パワー補正回路２０により第１の加熱パワー設定手段を実現している。
【００４７】
これだけでは、検出用パルスだけがマーク形成の状態を適正に制御しているので、第２の加熱パワー補正回路２１にて、補正された検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を、前記した所定の係数αで除することで、通常のマルチパルス列の加熱パワーＰｗ１も補正する。第２の加熱パワー補正回路２１により第２の加熱パワー設定手段を実現している。
【００４８】
以上のＲ−ＯＰＣの一連の動作を実施することにより、通常のマルチパルス列と検出用パルスの加熱パワーＰｗ１，Ｐｗ２は、所定の係数αによってその比が一定に保たれるように制御される。
【００４９】
したがって、それぞれの加熱パワーＰｗ１，Ｐｗ２に対するマーク形成状態は常に最適な記録状態に維持されるので、記録中のドライブ変動が生じたとしても、良好なジッタ特性が得られるようになる。
【００５０】
なお、サンプリング回路１３、記録状態情報演算回路２３及び加熱パワー補正回路１９などの全部又は一部の機能をシステムコントローラ１２などのマイコンが行う処理で実施してもよい。
【００５１】
次に、図８のフローチャートを参照して、試し書き及びその後の通常の記録動作について整理して説明する。図８に示すように、まず、光ディスク２のプリフォーマットから、マルチパルス列のパルス幅設定情報および推奨加熱パワー値を読み出し（ステップＳ１）、所定の係数αを決定し（ステップＳ２）、検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を算出する（ステップＳ３）。次に、実際の加熱パワーはドライブ毎に誤差をもつため、前記のように試し書きにより最適な記録パワーＰｗｏを検出して（ステップＳ４）、記録状態情報値ＲＦopcの目標値ＲＦopcoを算出する（ステップＳ５）。
【００５２】
そして、通常の記録（Ｒ−ＯＰＣ動作）を開始し（ステップＳ６）、ステップＳ７〜Ｓ１０の処理を行う。すなわち、前記のようにマルチパルス列を検出用パルスに置換し、記録状態情報値ＲＦopcを除算回路２５で算出して（ステップＳ７）、その記録状態情報値ＲＦopcと目標値ＲＦopcoとを比較器２４で比較する（ステップＳ８）。そして、両者が等しくないときは、第１の加熱パワー補正回路２０で検出用パルスの加熱パワーＰｗ２を増減してＰｗ２'に補正し（ステップＳ９）、第２の加熱パワー補正回路２１でＰｗ２'の値を係数αで除算してＰｗ１'を算出し、マルチパルス列の加熱パワーＰｗ１をＰｗ１'に設定する（ステップＳ１０）。ステップＳ７〜Ｓ１０の処理は記録データの終了アドレスに達するまで行う（ステップＳ１１のＮ）。このように、Ｒ−ＯＰＣ動作中では検出パルスの加熱パワーＰｗ２'に補正するが、その補正のたびに所定の係数αで除して通常のマルチパルス列の加熱パワーも“Ｐｗ１'＝Ｐｗ２'／α”に補正しており、これらの加熱パワーＰｗ１とＰｗ２は常に一定の比に保たれる。
【００５３】
なお、次のように、光ディスク装置１をＣＤ−ＲとＤＶＤ−Ｒを選択していずれの光ディスクにも記録できるように構成してもよい。すなわち、通常、ＣＤ系とＤＶＤ系がいずれも記録再生できる光ディスク装置の場合、ピックアップの光学系と信号処理系はディスク種類を認識した後にそれぞれＣＤ系とＤＶＤ系に対応するように切り替えている。
【００５４】
そこで、記録パルス列についても、ＣＤ−ＲなのかＤＶＤ−Ｒなのか種別を認識し（これは、ステップＳ１のプリフォーマットの読み出しにより認識することができる）（これにより種別検出手段を実現する）、その結果に基づいて切り替えるようにする（これにより選択手段を実現する）。記録パルス列は光ディスクがＣＤ−Ｒのときは単一パルス列が選択され、単一パルス列で記録を行う（これにより単一パルス列生成手段を実現する）。ＤＶＤ−Ｒのときマルチパルス列が選択される、マルチパルス列で記録を行う。
【００５５】
そして、それぞれの光ディスクの種別とその記録パルス列に応じて、Ｒ−ＯＰＣを動作するときの検出用パルスの加熱パワーを切り替えるようにする。すなわち、ＣＤ−Ｒのときは単一パルス列による通常の加熱パワーと検出用パルスの加熱パワーを一致させ、ＤＶＤ−Ｒのときはマルチパルス列による通常の加熱パワーに所定の係数を乗じて、そのマルチパルス列による通常の加熱パワーより検出用パルスの加熱パワーが小さくなるように設定するように切り替える。
【００５６】
また、ＣＤ−Ｒにマルチパルス列を用いて通常の記録をする場合や、ＤＶＤ−Ｒに単一パルス列を用いて通常の記録をする場合においては、光ディスクの種類ではなく、記録パルス列の種類に応じて検出用パルスの加熱パワーとして記録パルス列の加熱パワーに所定の係数を乗ずるか否かを決める。
【００５７】
このような切替えを行うことで光ディスクの種類と記録パルス列の種類に応じて、高感度に記録状態を検出できるようになり記録中のドライブ変動によるジッタ悪化を補正するように加熱パワーを修正することが可能となる。
【００５８】
次に、本実施の形態に好適な光ディスク２の構成について説明し、また、マーク形成の状態を高精度に検出する方式について説明する。
【００５９】
まず、記録層はレーザ光照射による熱分解やそれに伴う基板変形による光学的変化を生じさせ、その変化によりマークを形成することで記録される原理のものがある。このようなヒートモードによりマークが形成される光ディスクに記録を行なう場合、記録中の反射光量の変化は非常に感度が高く、本実施の形態に好適である。
【００６０】
代表的には、有機色素が用いられ、その例としては、ポリメチン色素、ナフタロシアニン系、フタロシアニン系、スクアリリウム系、クロコニウム系、ピリリウム系、ナフトキノン系、アントラキノン系(インダンスレン系)、キサンテン系、トリフェニルメタン系、アズレン系、テトラヒドロコリン系、フェナンスレン系、トリフェノチアジン系染料及び金属錯体化合物などが挙げられる。これらの色素は光学特性、記録感度、信号特性などの向上の目的で、他の有機色素及び金属、金属化合物と混合又は積層化して用いてもよい。また、金属、金属化合物の例としてはＩｎ、Ｔｅ、Ｂｉ、Ｓｅ、Ｓｂ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ａｌ、Ｂｅ、ＴｅＯ２、ＳｎＯ、Ａｓ，Ｃｄ、などが挙げられ、それぞれを分散混合あるいは積層の形態で用いることができる。
【００６１】
記録層の形成手段としては、蒸着、スパッタリング、ＣＶＤまたは溶剤塗布などの周知の手段によって行うことができる。塗布法を用いる場合には、上記染料などを有機溶剤に溶解して、スプレー、ローラーコーティグ、ディピング及び、スピンコーティングなどの慣用のコーティング法によって行うことができる。このような光ディスクは、単一パルスによる検出用パルスによって記録中の反射光量の変化が十分高感度に現われる。したがって、前記の光ディスクを本実施の形態に用いることで、デフォーカスやチルトおよびＬＤ出力の温度特性などのドライブ変動に応じた加熱パワーの補正が可能となり、ディスク全面に渡ってジッタ特性の良好な記録が可能となる。
【００６２】
また、前記の記録材料の種類や、記録層の膜厚などによって、記録時のマーク形成にともなう光学的変化の速度が異なるが、検出用パルス期間における反射光量の検出位置を上記検出光量の変化速度に応じて所望の検出位置に設定することで、マーク形成の状態を高感度に得ることが可能となる。
【００６３】
なお、ヒートモードによりマーク形成がなされる他の記録材料においても、記録中の反射光量の変化は基本的に同様の傾向を示すため、本発明が有効であることは言うまでもない。
【００６４】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明は、光ディスクにマルチパルス列を用いて記録を行っても、記録中における反射光量を検出用パルスに基づく反射光で検出して、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００６５】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、所望のマークの形成状態を維持するように通常の記録でのマルチパルス列と検出パルスとの加熱パワーをそれぞれ制御して、低ジッタで安定した再生信号を得ることができる。
【００６６】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、検出パルスの加熱パワーを、マルチパルス列の記録パワーから容易に算出でき、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００６７】
請求項４に記載の発明は、請求項１〜３のいずれかの一に記載の光ディスク装置において、マルチパルス列による記録であっても、マークの形成状態を高感度に認識することができる。
【００６９】
請求項５に記載の発明は、請求項１〜４のいずれかの一に記載の光ディスク装置において、ＣＤ−ＲとＤＶＤ−Ｒのように単パルス列とマルチパルス列による記録方式の違いに応じて、検出パルスの加熱パワーを異なる設定にしていずれの種類の光ディスクにも対応することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施の形態である光ディスク装置に関する各信号などのタイミングチャートである。
【図２】ＲＦ信号と加熱パワーとの関係を説明するグラフである。
【図３】記録状態情報値と加熱パワーとの関係などを説明するグラフである。
【図４】前記光ディスク装置に関する各信号などのタイミングチャートである。
【図５】前記光ディスク装置が行う試し書き（ＯＰＣ）を説明するグラフである。
【図６】前記光ディスク装置の回路構成を説明するブロック図である。
【図７】同ブロック図である。
【図８】前記光ディスク装置が行う試し書き及びその後の通常の記録動作について整理して説明するフローチャートである。
【図９】従来のマルチパルス列と検出用パルスとを併用した記録マークの形成を説明するタイミングチャートである。
【符号の説明】
１      光ディスク装置
２      光ディスク
７      マルチパルス列生成手段
８      検出用パルス列生成手段
９      検出用パルス列生成手段
１０    マルチパルス列生成手段
２０    第１の加熱パワー設定手段
２１    第２の加熱パワー設定手段
２４    第１の加熱パワー設定手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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