(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器の落下による対衝撃性の試験を行う落下試験装置において、
回転可能なドラムと、
前記ドラムに設けられ、当該ドラムと共に回転し、当該ドラムの内周面から突出可能な複数の可動式突起と、
を備え、
前記ドラム内に前記電子機器を入れた状態で当該ドラムを回転させ、前記可動式突起で当該電子機器を保持し、保持した状態で周方向に持ち上げた後にドラム内でランダムな方向に落下させて、落下した電子機器を前記可動式突起で保持し、前記落下と保持の動作を繰り返し行うことで、落下試験を繰り返し実行することを特徴とする落下試験装置。
【請求項２】
前記ドラムの外周に沿って、その一部の区間に設けられ、前記可動式突起の前記ドラムに対する回転を規制するガイドを備え、
前記可動式突起は、前記ドラムに対して回転可能に設けられ、前記ガイドが存在する区間では、前記ドラムに対する回転が規制されて当該ドラムの内周面からの突出が規制され、前記ガイドが存在しない区間では、前記ドラムに対して回転し、当該ドラムの内周面からその一部が突出することを特徴とする請求項１に記載の落下試験装置。
【請求項３】
前記可動式突起は、
前記ドラムの内周面から突出するピンと、
前記ドラムに形成された溝に設けられ、前記ピンを前記ドラムの内周側に付勢するスプリングと、
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の落下試験装置。
【請求項４】
前記ドラムを回転駆動する駆動機構を備えたことを特徴とする請求項１に記載の落下試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、落下試験装置に関し、詳細には、電子機器の繰り返し落下衝撃強度を評価するため、電子機器を繰り返し落下させる落下試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来，ノートパソコンの落下衝撃試験を行う場合，ノートパソコンの各面や各コーナーに対し、治具または手動により所定の高さから落下させて、落下衝撃試験を行っていた（非特許文献１）。
【０００３】
しかしながら、ユーザの使用環境化では、電子機器がどの方向から落下して衝撃が加わるか限定できない。従来の落下試験では、一定方向からの衝撃試験であるため、ユーザの使用環境化に近い落下衝撃試験ができないという問題がある。また、治具や手動でノートパソコンの落下角度を設定して落下させ、そのたびに人間の手でノートパソコンを拾い上げ、異なる落下角度を設定して落下を繰り返す方法では、労力や時間等の面で効率が悪いため，自動的に繰り返し落下試験を行う方法が望まれる。
【０００４】
【非特許文献１】http://www-06.ibm.com/jp/pc/think/quality
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、ユーザによる電子機器の使用環境に近い落下衝撃試験を簡易な方法で行うことが可能な落下試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、電子機器の落下による対衝撃性の試験を行う落下試験装置において、回転可能なドラムと、前記ドラムに設けられ、当該ドラムと共に回転し、当該ドラムの内周面から突出可能な複数の可動式突起と、を備え、前記ドラム内に前記電子機器を入れた状態で当該ドラムを回転させ、前記可動式突起で当該電子機器を保持し、保持した状態で周方向に持ち上げた後にドラム内でランダムな方向に落下させて、落下した電子機器を前記可動式突起で保持し、前記落下と保持の動作を繰り返し行うことで、落下試験を繰り返し実行することを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の好ましい態様によれば、前記ドラムの外周に沿って、その一部の区間に設けられ、前記可動式突起の前記ドラムに対する回転を規制するガイドを備え、前記可動式突起は、前記ドラムに対して回転可能に設けられ、前記ガイドが存在する区間では、前記ドラムに対する回転が規制されて当該ドラムの内周面からの突出が規制され、前記ガイドが存在しない区間では、前記ドラムに対して回転し、当該ドラムの内周面からその一部が突出することが望ましい。
【０００８】
また、本発明の好ましい態様によれば、前記可動式突起は、前記ドラムの内周面から突出するピンと、前記ドラムに形成された溝に設けられ、前記ピンを前記ドラムの半径方向に付勢するスプリングと、を備えたことが望ましい。
【０００９】
また、本発明の好ましい態様によれば、前記ドラムを回転駆動する駆動機構を備えたことが望ましい。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、電子機器の落下による対衝撃性の試験を行う落下試験装置において、
駆動機構または手動により、回転可能なドラムと、前記ドラムに設けられ、当該ドラムの内周面から突出可能な複数の可動式突起と、を備え、前記ドラム内に前記電子機器を入れた状態で当該ドラムを回転させ、前記可動式突起で当該電子機器を保持し、保持した状態で周方向に持ち上げた後にドラム内でランダムな方向に落下させて、落下した電子機器を前記可動式突起で保持し、この動作を繰り返し行うことで、落下試験を繰り返し実行することとしたので、ユーザによる電子機器の使用環境化に近い落下衝撃試験を簡易な方法で行うことが可能な落下試験装置を提供することが可能となるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下に、この発明につき図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるものまたは実質的に同一のものが含まれる。
【実施例】
【００１２】
図１−１は、本発明の実施例に係る落下試験装置の概略の正面図、図１−２は、図１−１とドラムの回転位置が異なる場合の概略の正面図、図２は、本発明の実施例に係る落下試験装置の概略の側面図、図３は、図１−１のポジションＰ１の可動式突起の概略の断面構成（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図、図４は、図１−１のポジションＰ２の可動式突起の概略の断面構成（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図、図５は、図１−２のポジションＰ３の可動式突起の概略の断面構成（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図、図６は、本発明の実施例に係る落下試験装置の試験方法を説明するための模式図を示している。
【００１３】
本発明の実施例に係る落下試験装置は、ドラム回転式の落下試験装置であり、ドラムに複数の可動式突起を設けたものである。このドラム内に電子機器を入れた状態でドラムを回転させ、可動式突起で電子機器を保持し、当該電子機器を保持した状態でドラムの回転により周方向に持ち上げ、この持ち上げる過程で電子機器はその重心バランスによりドラム内のランダムな方向に落下し、落下した電子機器を可動式突起で保持し、この動作を繰り返し行うことで、ランダムな落下試験を繰り返し実行する。
【００１４】
図１−１、図１−２、および図２において、１０は、回転可能に支持され、被試験対象である電子機器がセットされるドラム、２０は、ドラム１０の外周に設けられ、ドラム１０と共に回転し、かつ、支持棒３０を軸としてドラム１０に対して回転可能に設けられ、ドラム１０の内周面１１から突出可能な複数の可動式突起、３０は、可動式突起２０を回転可能に支持する複数の支持棒、４０は、ドラム１０の外周に固定されており、複数の支持棒３０をその両端から固定する一対の固定部材、５０は、ドラム１０の外周に沿って、ドラム１０の略半周分に渡って延在し、可動式突起２０の支持棒３０を軸とする回転を規制する不回転部材であるガイド、６０はドラム１０を摺動回転させる駆動ローラ、７０は、ドラム１０の回転に従動して回転する従動ローラ、８０は駆動ローラ６０を回転させる回転駆動機構を示している。
【００１５】
回転駆動機構８０は、モータ（不図示）、モータ軸に接続され、モータ軸の回転を減速して駆動シャフト８１に動力を伝達する減速機構（不図示）、駆動ローラ６０に連結して、駆動ローラ６０を回転させる駆動シャフト８１、およびモータを駆動する駆動回路（不図示）等で構成されている。上記構成の落下試験装置は、ドラム１０、駆動ローラ６０，および従動ローラ７０が回転可能に支持台（不図示）で支持されている。
【００１６】
ドラム１０には、図１−１および図１−２に示すように、可動式突起２０をドラム１０の内周面１１から突出させるための開口部１２が形成されている。可動式突起２０は、図２に示すように、ドラム１０の外周面に縦方向および横方向に交互に所定間隔で配置されている。また、可動式突起２０は、図１−１および図１−２に示すように、２つのエリア（内周面の２／４のエリア）に配置され、各エリアは、略９０°離間している。なお、本発明では、可動式突起２０の数および配置するエリアは本実施例に限られるものではなく、可動式突起２０の数および配置するエリアは任意である。また、本実施例では、駆動ローラ６０、従動ローラ７０，および回転駆動機構８０でドラム１０を回転させることとしたが、手動で回転させる構成としてもよい。
【００１７】
つぎに、上記図１−１、図１−２，図３〜図５を参照して、ドラム１０の回転に伴う可動式突起２０の動作を説明する。図３〜図５に示すように、可動式突起２０は、重し部２１と、支持棒３０が挿通する挿通孔２２を有し、支持棒３０を軸として回転可能に設けられた回転部２３と、側面視略Ｌ字形状を呈する突起部２４を備えている。可動式突起２０は、回転部２３の回転軸に対して、重し部２１側が突起部２４側に比して重く構成されている。
【００１８】
可動式突起２０は、図３に示すように、ガイド５０が存在する区間（Ｐ１）では、回転部２３の回転がガイド５０により規制されて回転しないため、突起部２４がドラム１０の内周面１１から突出せず、ドラム１０外に収納される。つぎに、可動式突起２０は、図４に示すように、ガイド５０が存在する区間を過ぎて最下点を通過すると（Ｐ２）、重し部２１の重さで、矢印Ａ方向に回転し、突起部２４がドラム１０の内周面１１から突出する。ドラム１０の内周面１１から突出した可動式突起２０の突起部２４で、電子機器の姿勢を保持する。さらに、図５に示すように、ドラム１０の回転が進むと（Ｐ３）、可動式突起２０は、重力により矢印Ｂ方向に回転し、その後、ドラム１０外に収納され、ガイド５０が存在する区間に至る。
【００１９】
つぎに、図６を参照して、落下試験装置の試験方法を説明する。同図においては、ドラム１０の内周面１１から突出している可動式突起２０のみを示している。回動駆動機構８０は、ドラム１０の回転速度を設定して、電子機器が落下する高さおよび落下位置を設定し、また、ドラム１０の回転回数を設定して、落下試験の繰り返し回数を設定する。
【００２０】
まず、ドラム１０内に、電子機器（例えば、ノートパソコン）１００をセットし、回転機構８０により駆動ローラ６０を回転させると、ドラム１０が矢印方向に摺動して回転する。電子機器１００は、可動式突起２０の突起部２４に引っかかって保持され（Ａ）、ドラム１０の周方向に持ち上げられる（Ｂ）。ここで、電子機器１００が持ち上げられる向き（姿勢）は、可動式突起２０と電子機器１００の向きの関係で決定され、ランダムな配置となる。可動式突起２０の突起部２４に保持されて持ち上げられた電子機器１００は、その重心位置が可動式突起２０で支えられている位置よりも外に移動した時に落下する（Ｃ）。
【００２１】
電子機器が落下する高さは、ドラム１０の回転速度で調整することができる。電子機器１００が持ち上げられる向きがランダムな配置となるので、落下する向きもランダムとなる。その結果、落下した衝撃を受ける箇所もランダムとなり、ランダムな衝撃試験を行うことが可能となる。落下した電子機器１００は、再び、可動式突起２０で落下した向き、または、落下して滑り落ちた向きが保持され、再び持ち上げられて落下する。この動作を繰り返し行うことで、ランダムな方向の衝撃落下試験を繰り返し実行する。すなわち、ドラム１０の回転回数分のランダムな落下衝撃試験を繰り返し行うことが可能となる。例えば、ドラム１０を１０回転させた場合は、１０回の落下衝撃試験を行うことができる。
【００２２】
以上説明したように、本実施例によれば、電子機器１００の落下による対衝撃性の試験を行う落下試験装置において、回転可能なドラム１０と、ドラム１０に設けられてドラム１０と共に回転し、当該ドラムの内周面から突出可能な複数の可動式突起２０とを備え、ドラム１０内に電子機器１００を入れた状態でドラム１０を回転させ、可動式突起２０で電子機器１００を保持し、保持した状態で周方向に持ち上げた後にドラム１０内でランダムな方向に落下させて、落下した電子機器１００を可動式突起２０で保持し、保持と落下の動作を繰り返し行うことで、落下試験を繰り返し実行することとしたので、電子機器をランダムな角度で落下させる落下衝撃試験を繰り返し行うことができ、ユーザによる電子機器の使用環境に近い落下衝撃試験を簡易な方法で行うことが可能となる。
【００２３】
また、本実施例によれば、ドラム１０の外周に沿って、その一部の区間に設けられ、前記ドラム１０に対する可動式突起２０の回転を規制するガイド５０を備え、可動式突起２０は、重し部２１と、支持棒３０が挿通する挿通孔２２を有し、支持棒３０を軸として回転可能に設けられた回転部２３と、側面視略Ｌ字形状を呈する突起部２４とを備え、当該可動式突起２０は、ガイド５０が存在する区間では、支持棒３０を軸としての回転が規制されて、ドラム１０の内周面１１から突出せず、ガイド５０が存在しない区間では、支持棒３０を軸として回転し、ドラム１０の内周面１１からその一部が突出することとしたので、簡単な構成で電子機器の姿勢を保持することが可能となる。
【００２４】
また、本実施例によれば、ドラム１０を回転駆動する駆動機構（駆動ローラ６０，回転駆動機構８０、従動ローラ７０）を備えているので、自動的に落下衝撃試験を繰り返し行うことが可能となる。なお、本実施例では、駆動機構（駆動ローラ６０，回転駆動機構８０、従動ローラ７０）でドラム１０を回転させることとしたが、手動でドラム１０を回転させる構成としてもよい。
【００２５】
（変形例）
上記実施例では、可動式突起２０を回転式の可動式突起としたが、本発明はこれに限られるものではなく、突起が可動式で、電子機器の落下した向き、または、落下して滑り落ちた向きを保持することができる構成であれば、如何なる構成としてもよい。図７は、変形例に係る可動式突起の概略の断面図を示している。
【００２６】
変形例に係る可動式突起１１０は、図７に示すように、ドラム１０に形成された溝１３に嵌合するホルダ１１１、ホルダ１１１に収納され、その一端側がホルダ１１１の底面に固定され、その他端側がピン１１２をドラム１０の内周側に付勢するスプリング１１３と、断面視Ｔ字形状を呈しており、ドラム１０の内周側に形成された開口部１４を挿通して、その先端側がドラム１０の内周面１１から突出し、その底面がスプリング１１３によりドラム１０の内周側に付勢され、上下方向に可動なピン１１２とを備えている。可動式突起１１０の数および配置するエリアは、例えば、上記実施例の可動式突起２０と同様にすることができる。
【００２７】
かかる構成の可動式突起１１０は、電子機器が上に載るとピン１１２が、外周側に付勢されて内周面１１から引っ込み、電子機器の回りに配置されている可動式突起１１０が当該電子機器を保持する。
【００２８】
変形例に係る可動式突起１１０は、ドラム１０の内周面１１から突出するピン１１２と、ドラム１０に形成された溝１３に設けられ、ピン１１２をドラム１０の内周面１１側に付勢するスプリング１１３とを備えているので、簡単な構成で電子機器の姿勢を保持することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００２９】
本発明に係る落下試験装置は、ノートパソコンや携帯電話等の各種電子機器の落下衝撃試験を行う場合に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１−１】本発明の実施例に係る落下試験装置の概略の側面図である。
【図１−２】図１−１とドラムの回転位置が異なる場合の概略の側面図である。
【図２】本発明の実施例に係る落下試験装置の概略の側面図である。
【図３】図１−１のポジションＰ１の可動式突起の概略の断面（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図である。
【図４】図１−１のポジションＰ２の可動式突起の概略の断面（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図である。
【図５】図１−２のポジションＰ３の可動式突起の概略の断面（Ａ）および平面構成（Ｂ）を示す図である。
【図６】本発明の実施例に係る落下試験装置の試験方法を説明するための模式図である。
【図７】変形例に係る可動式突起の概略の断面図である。
【符号の説明】
【００３１】
１０  ドラム
１１  内周面
１２  開口部
１３  溝
１４  開口部
２０  可動式突起
２１  重し部
２２  挿通孔
２３  回転部
２４  突起部
３０  支持棒
４０  固定部材
５０  ガイド
６０  駆動ローラ
７０  従動ローラ
８０  回転駆動機構
１００  電子機器
１１０  可動式突起
１１１  ホルダ
１１２  ピン
１１３  スプリング
【図１−１】
0004473295.tif 000002
【図１−２】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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