(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｈｉ側の電流供給端子部とＨｉ側の電圧検出端子部と、Ｌｏ側の電流供給端子部とＬｏ側の電圧検出端子部との組み合わせで構成され、Ｈｉ側の前記電流供給端子部とＨｉ側の前記電圧検出端子部とは、絶縁材からなる一側基台部に対し相互を一定間隔引き離して配設することによりＨｉ側端子体に一体化し、Ｌｏ側の前記電圧検出端子部とＬｏ側の前記電流供給端子部とは、絶縁材からなる他側基台部に対し相互を一定間隔引き離して配設することによりＬｏ側端子体に一体化し、これらＨｉ側端子体とＬｏ側端子体とは、被測定物に対しＨｉ側の前記電圧検出端子部とＬｏ側の前記電圧検出端子部とが相互に対面する配置関係での配置を自在とするとともに、各電流供給端子部と各電圧検出端子部とのそれぞれは、略直方体状の大型導体からなる被測定物の長さ方向と直交する位置関係でその頂面上に載置される当接部と、該当接部から各別に垂設されて被測定物の長さ方向での両側面に各別に対面配置される一対の脇当て部とからなる断面略コ字形を呈する当接体により形成した四端子測定用のプローブユニットにおいて、
当接体における前記当接部には、あらかじめ押圧付勢された接触ピンをその下面側から突出させた測定プローブを配設したことを特徴とする四端子測定用のプローブユニット。
【請求項２】
前記当接体のそれぞれは、そのいずれもが被測定物に対し螺杆材を介して確実な固定を可能とした請求項１に記載の四端子測定用のプローブユニット。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、長尺な大型導体からなる被測定物に対し四端子測定法により抵抗測定を行う際に好適に用いることができる四端子測定用のプローブユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】
図４は、四端子測定法に適用させるため従来から使用されてきている測定プローブのうち、いわゆる同軸型タイプと称されるものの一例を用いて行われる測定時の配置関係を示すものである。
【０００３】
同図によれば、Ｈｉ側の測定プローブ１とＬｏ側の測定プローブ２とは、ともにプローブ本体３，４の先端から電圧検出接触子５，６と電流供給接触子７，８とを各別に突出させることにより形成されている。
【０００４】
そして、四端子測定を行う際には、一方の手でＨｉ側の測定プローブ１を持ち、他方の手でＬｏ側の測定プローブ２を持ち、被測定物５１に対し二つの測定ポイントにそれぞれの接触子側を各別に押し当てることにより測定が行われている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、Ｈｉ側の測定プローブ１は、電圧検出接触子５と電流供給接触子７とが、Ｌｏ側の測定プローブ２は、電圧検出接触子子６と電流供給接触子８とがともに近接している。このため、これを用いて大型導体からなる被測定物５１を測定しようとする場合には、電流が集中して流れる測定プローブ１，２のそれぞれの接触部位で電圧を測定することになる結果、図中に破線で電路を模式的にまるいちと、まるにとして示すように電流密度が変化しない中間位置での電圧測定ができずに正しい電圧が検出できなくなる不都合があった。
【０００６】
本発明は従来技術にみられた上記課題に鑑み、長尺な大型導体からなる被測定物に対し四端子測定法により抵抗測定を行う際に好適に用いることができる四端子測定用のプローブユニットを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成すべくなされたものであり、その構成上の特徴は、Ｈｉ側の電流供給端子部とＨｉ側の電圧検出端子部と、Ｌｏ側の電流供給端子部とＬｏ側の電圧検出端子部との組み合わせで構成され、Ｈｉ側の前記電流供給端子部とＨｉ側の前記電圧検出端子部とは、絶縁材からなる一側基台部に対し相互を一定間隔引き離して配設することによりＨｉ側端子体に一体化し、Ｌｏ側の前記電圧検出端子部とＬｏ側の前記電流供給端子部とは、絶縁材からなる他側基台部に対し相互を一定間隔引き離して配設することによりＬｏ側端子体に一体化し、これらＨｉ側端子体とＬｏ側端子体とは、被測定物に対しＨｉ側の前記電圧検出端子部とＬｏ側の前記電圧検出端子部とが相互に対面する配置関係での配置を自在とするとともに、各電流供給端子部と各電圧検出端子部とのそれぞれは、略直方体状の大型導体からなる被測定物の長さ方向と直交する位置関係でその頂面上に載置される当接部と、該当接部から各別に垂設されて被測定物の長さ方向での両側面に各別に対面配置される一対の脇当て部とからなる断面略コ字形を呈する当接体により形成した四端子測定用のプローブユニットにおいて、当接体における前記当接部には、あらかじめ押圧付勢された接触ピンをその下面側から突出させた測定プローブを配設したことにある。
【０００８】
この場合、前記当接体のそれぞれは、そのいずれもが被測定物に対し螺杆材を介して確実な固定を可能に形成することもできる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の一例を被測定物との関係で示す平面図であり、図２は同側面図である。
【００１０】
これらの図によれば、本発明に係る四端子測定用のプローブユニットは、Ｈｉ側の電流供給端子部１２とＨｉ側の電圧検出端子部２２とを組み合わせたＨｉ側端子体１１と、Ｌｏ側の電流供給端子部３２とＬｏ側の電圧検出端子部４２とを組み合わせたＬｏ側端子体３１とで構成されている。
【００１１】
このうち、Ｈｉ側端子体１１は、電流供給端子部１２と電圧検出端子部２２とを合成樹脂等の絶縁材からなる一側基台部２１に対し相互を一定間隔引き離した状態で配設することにより一体的となって形成されている。
【００１２】
また、Ｌｏ側端子体３１は、電流供給端子部３２と電圧検出端子部４２とを合成樹脂等の絶縁材からなる他側基台部４１に対し相互を一定間隔引き離した状態で配設することにより一体的となって形成されている。
【００１３】
これを被測定物５１が略直方体形状を呈する大型導体である場合を例により詳しく説明すれば、Ｈｉ側の電流供給端子部１２は、被測定物５１の長さ方向と直交する位置関係でその頂面５２上に載置される当接部１４と、該当接部１４から各別に垂設されて被測定物５１の長さ方向での両側面５３に各別に対面配置される一対の脇当て部１５，１５とからなる断面略コ字形を呈する導電性の当接体１３により形成されている。なお、Ｌｏ側の電流供給端子部３２も同様に当接部３４と一対の脇当て部３５，３５とからなる導電性の当接体３３により形成されている。
【００１４】
また、Ｈｉ側の電圧検出端子部２２は、被測定物５１の長さ方向と直交する位置関係でその頂面５２上に載置される当接部２４と、該当接部２４から各別に垂設されて被測定物５１の長さ方向での両側面５３に各別に対面配置される一対の脇当て部２５，２５とからなる断面略コ字形を呈する導電性の当接体２３により形成されている。なお、Ｌｏ側の電圧検出端子部４２も同様に当接部４４と一対の脇当て部４５，４５とからなる導電性の当接体４３により形成されている。
【００１５】
さらに、図示は省略してあるが、上記当接体１３，２３，３３，４３のそれぞれは、そのいずれもが被測定物５１に対し螺杆材を介して確実に固定できる構造を備えたものとしておくこともできる。
【００１６】
図３は図１に示す本発明の一例につきＨｉ側端子体の側を斜め下方から仰ぎ見みた状態での要部斜視図である。なお、図３中にて図１に示す符号と同一の符号が付されている部材は同一部材であることを示し、その詳しい説明は省略する。
【００１７】
すなわち、Ｈｉ側端子体１１は、Ｈｉ側の電流供給端子部１２とＨｉ側の電圧検出端子部２２とを一側基台部２１に対し相互を一定間隔引き離した状態で配設することにより一体的となって形成されている。
【００１８】
このうち、Ｈｉ側の電流供給端子部１２は、当接部１４と一対の脇当て部１５，１５とで略コ字形を呈してなる当接体１３と、該当接体１３における当接部１４に対しあらかじめ押圧付勢された接触ピン１８をその下面１４ａ側から突出させた状態のもとで配設された測定プローブ１７とで形成されている。
【００１９】
また、Ｈｉ側の電圧検出端子部２２も同様に、当接部２４と一対の脇当て部２５，２５とで略コ字形を呈してなる当接体２３と、該当接体２３における当接部２４に対しあらかじめ押圧付勢された接触ピン２８をその下面２４ａ側から突出させた状態のもとで配設された測定プローブ２７とで形成されている。なお、図示は省略してあるが、Ｌｏ側端子体３１の側も同一の構造を備えたＬｏ側の電流供給端子部３２とＬｏ側の電圧検出端子部４２とで形成されている。なお、この場合における当接体１３，３３，２３，４３は、導電材と絶縁材とのいずれを用いて形成してもよい。
【００２０】
次に、本発明の作用・効果を説明すれば、被測定物５１に対し四端子測定法により抵抗を測定するに際しては、まず、被測定物５１に対し、Ｈｉ側端子体１１とＬｏ側端子体３１とを設置する。
【００２１】
このとき、Ｈｉ側端子体１１は、一側基台部２１に一定間隔引き離された状態で取り付けられている電流供給端子部１２と電圧検出端子部２２とを備えているので、被測定物５１の長さ方向での一方の側の外側に電流供給端子部１２が位置する配置関係のもとで被測定物５１に設置する。
【００２２】
また、Ｌｏ側端子体３１は、他側基台部４１に一定間隔引き離された状態で取り付けられている電流供給端子部３２と電圧検出端子部４２とを備えているので、被測定物５１の長さ方向での他方の側の外側に電流供給端子部３２が位置する配置関係のもとで被測定物５１に設置する。
【００２３】
この場合、各電流供給端子部１２，３２と各電圧検出端子部２２，４２とのそれぞれは、当接体１３，３３，２３，４３により形成されているので、略直方体状の大型導体からなる被測定物５１に単に載置するだけでその設置を終えることができ、測定作業をより円滑に遂行することができる。しかも、当接体１３，３３，２３，４３のそれぞれは、例えば図３に示すように測定プローブ（一例として測定プローブ１７，２７）を備えているので、該測定プローブを介して被測定物５１に対しより確実に導通接触させることができる。
【００２４】
このようにしてＨｉ側端子体１１とＬｏ側端子体３１とを被測定物５１に設置した後は、Ｈｉ側の電流供給端子部１２と電圧検出端子部２２とから各別に引き出されているケーブルＣ1 ，Ｃ2 と、Ｌｏ側の電流供給端子部３２と電圧検出端子部４２とから各別に引き出されているケーブルＣ3 ，Ｃ4 との計４本のうち、電流供給端子部１２，３２相互間に電流を流すことにより、測定器５５を介してＨｉ側端子体１１とＬｏ側端子体３１との間の抵抗を測定することができる。
【００２５】
しかも、Ｈｉ側端子体１１が備える電流供給端子部１２と電圧検出端子部２２とは、一側基台部２１に一定間隔引き離された非導通状態で取り付けられており、同様にＬｏ側端子体３１が備える電流供給端子部３２と電圧検出端子部４２とも引き離されているので、電圧検出端子部２２と電圧検出端子部４２とは、電流密度の変化の割合が低い測定ポイントで電圧を検出できる。
【００２６】
したがって、本発明によれば、被測定物５１が大型導体であっても測定値に及ぼされる影響を軽減してより正確な抵抗測定ができることになる。
【００２７】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、引き離されて配設されたＨｉ側の電流供給端子部と電圧検出端子部とを備えたＨｉ側端子体と、引き離されて配設されたＬｏ側の電流供給端子部と電圧検出端子部とを備えたＬｏ側端子体とを正しい配置関係のもとで被測定物に設置できるので、電流密度の変化の割合が低い測定ポイントで電圧を検出できる。
【００２８】
また、各電流供給端子部と各電圧検出端子部とのそれぞれが当接体により形成されているので、例えば略直方体状の大型導体からなる被測定物に単に載置するだけでその設置を終えることができ、測定作業をより円滑に遂行することができる。しかも、当接体のそれぞれは、測定プローブを備えているので、被測定物に対しより確実に導通接触させることができる。さらに、当接体のそれぞれが、いずれも被測定物に対し螺杆材を介して確実に固定できる構造を備えている場合には、該螺杆材を介して確実に位置固定させておくことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一例を被測定物との関係で示す平面図。
【図２】同側面図。
【図３】Ｈｉ側端子体の側を斜め下方から仰ぎ見た状態で要部斜視図。
【図４】従来からある同軸型タイプの測定プローブを用いて行われる四端子測定時における配置関係を示す説明図。
【符号の説明】
１１  Ｈｉ側端子体
１２，３２  電流供給端子部
２２，４２  電圧検出端子部
１３，２３，３３，４３  当接体
１４，２４，３４，４４  当接体
１４ａ，２４ａ  下面
１５，２５，３５，４５  脇当て部
１７，２７  測定プローブ
１８，２８  接触ピン
２１  一側基台部
３１ Ｌｏ側端子体
４１  他側基台部
５１  被測定物
５２  頂面
５３  側面
５５  測定器
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４  ケーブル
【図１】
0004413373.tif 000002
【図２】
0004413373.tif 000003
【図３】
0004413373.tif 000004
【図４】
0004413373.tif 000005