(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
最適な記録パルス条件を求める方法であって、
マークエッジ記録方式でデータ記録を行う場合に自己マーク長と前後スペース長の可能な複数の組合せに対し、前スペース長と自己マーク長の組合せによって定められた複数のマーク前端パルス条件と、自己マーク長と後スペース長の組合せによって定められた複数のマーク後端パルス条件について、2次元表現されたパルス位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、
マーク長の合計とスペース長の合計が同じで、1つの決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジと、最大のマーク長と最大のスペース長の組合せによって定められるマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジを含み、前記決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジ以外は固定された記録パタンを生成し、
前記記録パタンにより該記録パルス標準条件を用いて光ディスク上に試し書きを行い、
さらに、前記１つの決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件に所定量の変化を加え、それ以外のマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件を固定した前記記録パタンにより光ディスク上に複数の試し書きを行い、
すべての試し書きを再生し、再生信号から各ジッタを検出し、前記各ジッタを比較し、ジッタが少ない試し書きに用いた位置情報を選択する、
記録パルス条件を求める方法。
【請求項２】
最適な記録パルス条件を求める光ディスク装置であって、
マークエッジ記録方式でデータ記録を行う場合に自己マーク長と前後スペース長の可能な複数の組合せに対し、前スペース長と自己マーク長の組合せによって定められた複数のマーク前端パルス条件と、自己マーク長と後スペース長の組合せによって定められた複数のマーク後端パルス条件について、2次元表現されたパルス位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、
マーク長の合計とスペース長の合計が同じで、1つの決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジと、最大のマーク長と最大のスペース長の組合せによって定められるマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジを含み、前記決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件のマークエッジ以外は固定された記録パタンを生成し、
前記記録パタンにより該記録パルス標準条件を用いて光ディスク上に試し書きを行い、
さらに、前記１つの決定すべきマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件またはマーク後端パルス条件に所定量の変化を加え、それ以外のマーク長とスペース長の組合せによって定められたマーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件を固定した前記記録パタンにより光ディスク上に複数の試し書きを行う試し書き手段と、
前記各ジッタを比較し、ジッタが少ない試し書きに用いた位置情報を選択する選択手段とを有する、
光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録パルス条件を求める方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータが書換え可能な光ディスクの例としてＤＶＤＲＡＭ規格があり、相変化記録膜を用いた直径１２ｃｍの光ディスク片面に、マークエッジ記録方式で２．６ＧＢのデータが記録可能な装置がすでに実用化されている。発明者らは、より高密度な光ディスクを実用化するために、相変化光ディスクの高密度記録で問題となるマーク間の熱干渉によるマークエッジ位置のずれを小さくできるディスク記録方法（参考文献：特許第２６７９５９６号）を検討している。
【０００３】
前記ディスク記録方法は、ディスク上にデータをアモルファスのマークとしてマークエッジ記録する場合に、レーザ光をマルチパルスと呼ばれる複数のパルス列で構成して記録する。高密度記録では、記録するマークサイズおよびスペース（マーク間）の距離が小さいため、マークを形成するために加えたレーザ光の熱が自己マークのみならずスペースを伝わって前後のマークにまで到達し、自己マークおよび前後のマーク形状にひずみが発生する。これを回避するために、マークを形成するためのマルチパルスの先頭パルス位置を、自己マーク長と前スペース長の関係で、かつ、マークを形成するためのマルチパルスの最終パルス位置を、自己マーク長と後スペース長の関係で変化させることによって、マーク間の熱干渉分を予め補正して記録する。この記録パルス位置の制御は、一般に記録補償とよばれている。記録パルス条件（記録補償のパラメータ）にはマークスペースの組み合わせ毎に異なる値があり、例えば、図２に示すような表となる。表内の各値のマークとスペースの位置関係を図３に示す。
【０００４】
実際の光ディスク記録再生装置を実現するためには、記録補償をおこなうための記録パルス条件を、装置またはディスクに記憶しておく必要がある。特性の異なる、すなわち記録パルス条件が異なる複数のディスクを使用可能とするためには、この値をディスク上に予め記録しておき、使用するときに装置で読み出して設定すればよい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ディスクの記録再生装置を量産した時、使用部品の特性ばらつきや、環境変化などで、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。例えば、記録に関係のあるレーザ駆動手段とレーザを搭載したヘッドは、レーザ特性のばらつきを主要因として、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、パルス幅が変わる。個々の装置で常に同じ発光波形が得られるとは限らない。同様に光ディスク自体も量産時に、ある程度の特性ばらつきが発生し、同一の発光波形で記録しても個々のディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。
【０００６】
従って、標準的な特性を有する基準ディスクを用いて、標準的な特性を有する基準装置で決定された記録パルス標準条件を、特性のばらついた量産したディスクと装置でそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという課題があった。
【０００７】
更に、十分な品質管理の元で製造された特性ばらつきの小さいディスクであれば問題は少ないが、ディスク上に予め記録してある記録パルス標準条件が、ディスク性能と大きくずれている場合は、装置がディスクから読み出した記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディスクでは特性を発揮することができないという課題が発生する。
【０００８】
本発明は、上述の課題を解決するものであり、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録条件設定方法において、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる光ディスクの記録条件設定方法を提供することを第１の目的とする。また、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクの、光ディスク特性と記録パルス標準条件に差異がある場合でも良好な記録特性を実現しうる光ディスクの記録条件設定方法を提供することを第２の目的とする。また、前記第２の目的を達成するための光ディスクの記録条件設定方法より記録再生回数を少なくし時間短縮を図ることができる光ディスクの記録条件設定方法を提供することを第３の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の第１の目的を達成するために、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録条件設定方法において、前記記録パルス標準条件のうち、前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件すべてと、自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件すべてを、それぞれ一律に所定量時間シフトして、記録再生信号のジッタが許容値以下となるように標準条件から補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生をする。
【００１０】
また、上述の第２の目的を達成するために、前記記録パルス標準条件のうち、前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件各々と、自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件各々に対応した記録パタンを記録し、その再生信号のジッタが許容値以下となるように各標準条件をそれぞれ別々に補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生をする。
【００１１】
また、上述の第３の目的を達成するために、前記記録パルス標準条件のうち、選択された前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件各々と、選択された自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件各々に対応した記録パタンを記録し、その再生信号のジッタが許容値以下となるように各標準条件をそれぞれ別々に補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、選択されなかった記録パルス条件は前記選択された記録パルス条件の補正値から補間によって求めた値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生をする。
【００１２】
第１の観点による本発明は、マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて記録パルスの位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、該記録パルス標準条件を修正し、最適な記録パルス条件を求める方法であって、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報を用いて、光ディスク上に第１の試し書きを行い、
第１の試し書きを再生し、再生信号から第１ジッタを検出し、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報に一律に第１所定量の変化を加え、一律変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第２の試し書きを行い、
第２の試し書きを再生し、再生信号から第２ジッタを検出し、
第１ジッタと第２ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する記録パルス条件を求める方法である。
【００１３】
第２の観点による本発明は、さらに、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報に一律に第２所定量の変化を加え、一律変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第３の試し書きを行い、
第３の試し書きを再生し、再生信号から第３ジッタを検出し、
第１ジッタと第２ジッタと第３ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する第１の観点の記録パルス条件を求める方法である。
【００１４】
第３の観点による本発明は、マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて記録パルスの位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、該記録パルス標準条件を修正し、最適な記録パルス条件を求める方法であって、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、いずれか一つの組合せに対する位置情報を用いて、光ディスク上に第１の試し書きを行い、
第１の試し書きを再生し、再生信号から第１ジッタを検出し、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、上記いずれか一つの組合せに対する位置情報に第１所定量の変化を加え、変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第２の試し書きを行い、
第２の試し書きを再生し、再生信号から第２ジッタを検出し、
第１ジッタと第２ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する記録パルス条件を求める方法である。
【００１５】
第４の観点による本発明は、さらに、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、上記いずれか一つの組合せに対する位置情報に第２所定量の変化を加え、変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第３の試し書きを行い、
第３の試し書きを再生し、再生信号から第３ジッタを検出し、
第１ジッタと第２ジッタと第３ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する第３の観点の記録パルス条件を求める方法である。
【００１６】
第５の観点による本発明は、いずれか一つの組合せに対し選択した第１の位置情報と、別の組合せに対し選択した第２の位置情報がある場合、２つの組合せの中間にある位置情報は、第１の位置情報と，第２の位置情報の補間により求める第３の観点の記録パルス条件を求める方法である。
【００１７】
第６の観点による本発明は、マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて記録パルスの位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、該記録パルス標準条件を修正し、最適な記録パルス条件を求める装置であって、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報を用いて、光ディスク上に第１の試し書きを行う試し書き手段と、
第１の試し書きを再生し、再生信号から第１ジッタを検出するジッタ検出手段とを有し、
上記試し書き手段は、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報に一律に第１所定量の変化を加え、一律変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第２の試し書きを行い、
上記ジッタ検出手段は、上記第２の試し書きを再生し、再生信号から第２ジッタを検出し、
さらに、第１ジッタと第２ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する選択手段を有する記録パルス条件を求める装置である。
【００１８】
第７の観点による本発明は、さらに、上記試し書き手段は、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せに対する位置情報に一律に第２所定量の変化を加え、一律変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第３の試し書きを行い、
上記ジッタ検出手段は、第３の試し書きを再生し、再生信号から第３ジッタを検出し、
上記選択手段は、第１ジッタと第２ジッタと第３ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する第６の観点の記録パルス条件を求める装置である。
【００１９】
第８の観点による本発明は、マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて記録パルスの位置情報を特定した記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから該記録パルス標準条件を読み出し、該記録パルス標準条件を修正し、最適な記録パルス条件を求める装置であって、
該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、いずれか一つの組合せに対する位置情報を用いて、光ディスク上に第１の試し書きを行う試し書き手段と、
第１の試し書きを再生し、再生信号から第１ジッタを検出するジッタ検出手段とを有し、
上記試し書き手段は、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、上記いずれか一つの組合せに対する位置情報に第１所定量の変化を加え、変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第２の試し書きを行い、
上記ジッタ検出手段は、上記第２の試し書きを再生し、再生信号から第２ジッタを検出し、
さらに、第１ジッタと第２ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する選択手段を有する記録パルス条件を求める装置である。
【００２０】
第９の観点による本発明は、さらに、上記試し書き手段は、該記録パルス標準条件にある全てのマーク長とスペース長の組合せの内、上記いずれか一つの組合せに対する位置情報に第２所定量の変化を加え、変化した位置情報を用いて、光ディスク上に第３の試し書きを行い、
上記ジッタ検出手段は、第３の試し書きを再生し、再生信号から第３ジッタを検出し、
上記選択手段は、第１ジッタと第２ジッタと第３ジッタを比較し、ジッタが少ない方の試し書きに用いた位置情報を選択する第８の観点の記録パルス条件を求める装置である。
【００２１】
第１０の観点による本発明は、いずれか一つの組合せに対し選択した第１の位置情報と、別の組合せに対し選択した第２の位置情報がある場合、２つの組合せの中間にある位置情報は、第１の位置情報と，第２の位置情報の補間により求める第８の観点の記録パルス条件を求める装置である。
【発明の効果】
【００２２】
以上のように、本発明の光ディスクの記録条件設定方法によれば、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録条件設定方法において、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。また、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクの、光ディスク特性と記録パルス標準条件に差異ある場合でも良好な記録特性を実現することができる。したがって、光ディスクおよび記録再生装置の大量生産時の歩留まりが向上し、製品の品質向上とコスト削減に効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の好ましい実施の形態として、具体的な光ディスクと記録再生装置を用いて３通りの実施の形態について説明する。
【００２４】
まず、本実施の形態で用いる記録方式について述べる。光ディスクにデータを書き込む場合にマルチパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報としてディスクに書き込む。また、マークの長さが、３Ｔから１４Ｔ（Ｔはクロック１周期分の時間）、スペースの長さが、３Ｔから１４Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を使うものとする。さらに、本実施の形態では、長さが３Ｔと４Ｔと５Ｔ以上のマーク（３Ｔｍ、４Ｔｍ、５Ｔｍと略す。）と長さが３Ｔと４Ｔと５Ｔ以上のスペース（３Ｔｓ、４Ｔｓ、５Ｔｓと略す。）の組合せにおいて、マークとスペースの境界部分で、マーク形状のひずみやマーク間熱干渉が発生すると仮定する。ひとつのマークについて、スペースと隣接する部分は、マークの前端と後端の２箇所ある。したがって、記録時に用いる記録パルスのエッジ位置を、これらの組み合わせで記録補償することで正しいマーク長の記録状態が達成される。５Ｔｍ以上と５Ｔｓ以上の組み合わせを一つの組合せとすると、マーク前端パルス条件は３×３の９通り、マーク後端パルス条件も３×３の９通りの組み合わせがあり、それぞれ異なる値の条件を設定することが出来、合計１８の条件の設定値を持つ。図２は、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件の値の表である。たとえば、図２の表（Ａ）において、左上の「５Ｔｓ５Ｔｍ」は、５Ｔ以上のスペースとそれに続く５Ｔ以上のマークとの境界におけるマーク前端パルスの条件が入っていることを示す。図２の表（Ｂ）において、右上の「３Ｔｍ５Ｔｓ」は、３Ｔのマークとそれに続く５Ｔ以上のスペースとの境界におけるマーク後端パルスの条件が入っていることを示す。
【００２５】
図３に示すように、図２の表の「５Ｔｓ５Ｔｍ」（Ｔｓが先で、Ｔｍが後）等は、光ディスクに記録したい記録パタンの先端エッジと、実際にレーザを駆動するための連続した記録パルスの先頭パルスとの位置関係を示し、「５Ｔｍ５Ｔｓ」（Ｔｍが先で、Ｔｓが後）等は、光ディスクに記録したい記録パタンの終端エッジと、実際にレーザを駆動するための連続した記録パルスの末尾パルスとの位置関係を示す。すなわち、図３は、これらの値について、ディスク上のマークスペースと記録パルスとの関係を示している。
【００２６】
例えば、図２のマーク前端パルス条件が３Ｔｓ５Ｔｍであれば、自己マーク長が５Ｔｍ以上であり、その直前のスペース長が３Ｔｓの時の条件を定めている。このときの条件とは、図３の左下に示すように、３Ｔスペースの次に５Ｔ以上のマークを記録するときに、記録パルスの前端位置を記録パタンの先端エッジ（すなわち、スペースとマークの境界）から値３Ｔｓ５Ｔｍだけ後に時間をずらしてレーザ記録することである。
【００２７】
特性の基準となる代表ディスクと、基準となる代表記録再生装置を用いて図２に示す１８個の条件を決定する。決定された記録パルス条件を、記録パルス標準条件として、ディスク上の特定領域に予め記録しておくものとする。なお、記録パルス標準条件には他の項目もあり、例えば、記録パルスの先頭パルスの幅、中間パルスの幅、最終パルスの幅、最終パルスの後ろに付ける冷却パルスの幅などがある。本実施の形態では、一例として、記録するマークとスペースの組み合わせパタンによって適応的に値が変わるパルス条件を対象として説明する。
【００２８】
（実施の形態１）
図１は、本発明の光ディスクの記録条件設定方法を実現する光ディスクの記録再生装置のブロック図である。まず、構成要素および信号の説明をする。１はデータを書き込み可能な相変化型の光ディスク、２は光ディスク１を回転させるモータ、３は回転する光ディスク１から記録されているデータを読みとり、再生信号４を得るヘッド、５は再生信号４の周波数特性を補正した後、デューティフィードバックスライス法によりアナログの再生信号からディジタルの２値化信号６を得るイコライザ２値化手段、７は２値化信号６のエッジを検出して、これに同期した再生クロックを生成し２値化信号６を再生クロックに同期化したデータ８に変換するとともに、前記再生クロックのエッジと２値化信号６のエッジの時間ずれ量を位相誤差パルス１１として出力するＰＬＬ手段、９はデータ８から記録パルス標準条件１０を検出する記録パルス標準条件復調手段、１２は位相誤差パルス１１を２値化信号６のＨｉまたはＬｏによって分別し、それぞれパルス幅の平均値を電圧に変換し、マーク前端ジッタ電圧１３とマーク後端ジッタ電圧１４を出力するジッタ測定手段、２２はマーク前端ジッタ電圧１３とマーク後端ジッタ電圧１４の過去の値を記憶し、所定の許容値との大小関係によって補正値２３を出力する記録再生制御手段、２５は、記録パルス標準条件１０の値に加える変化量を生成し、変化量を補正値２３として出力する変化手段、２４は記録パルス標準条件１０の値に変化量である補正値２３を加えた値を記録パルス条件設定値１８として出力する記録パルス条件補正手段、１５は記録パルス条件を決定するために使用する記録パタン１６を発生させるパタン発生手段、１７は記録パルス条件設定値１８に基づいて記録パタン１６をマルチパルスデータ１９に変換する記録補償手段、２０はマルチパルスデータ１９に従って所定の電流でヘッド３に搭載されたレーザを駆動するレーザ駆動手段である。ヘッド３はレーザ駆動手段２０から供給される電流２１でレーザ光を出射し、光ディスク１に記録を行う。
【００２９】
ジッタ測定手段１２は、次のようにして測定する。
【００３０】
図１１において、波形（Ａ）は、パタン発生手段１５から発生される記録パタン、波形（Ｂ）は、レーザ駆動手段２０から発生される記録パルス、波形（Ｃ）は、記録マーク、波形（Ｄ）は、ヘッド３から得られる再生信号４、波形（Ｅ）は、イコライザ２値化手段５から得られる２値化信号、波形（Ｆ）は、ＰＬＬ手段７内で生成される再生クロックを示す。波形（Ｇ），（Ｈ），（Ｉ）は、それぞれ異なった場合のジッタの測定値を示す。図１１の波形（Ｇ），（Ｈ），（Ｉ）のいずれの場合においても、記録パタンが８Ｔｍパルスの先端エッジに対応する位置では、２値化信号の先端エッジと、再生クロックのエッジが同期してるので、同期している点を中心にジッタ分布がある。図１１において記録パタンが４Ｔｍパルスの先端エッジに対応する位置では、２値化信号の先端エッジが、再生クロックのエッジに対し、進んでいる場合（波形（Ｇ））、同期している場合（波形（Ｈ））、および遅れている場合（波形（Ｉ））が示されている。進んでいる場合は、進んでいる点を中心にジッタ分布がある。同期している場合は、同期している点を中心にジッタ分布があり、遅れている場合は、遅れている点を中心にジッタ分布がある。このようなジッタ分布を時間軸上で集め、重ね合わせたものが波形（Ｇ）、（Ｈ）、（Ｉ）の右端に示されている。同期している場合（波形（Ｈ））が多ければ、重ね合わされたジッタ分布の広がり幅は狭い。進んでいる場合（波形（Ｇ））や、遅れている場合（波形（Ｉ））が含まれると、重ね合わされたジッタ分布の広がり幅は広くなる。このようにして、一定時間毎に、マーク前端ジッタに対するジッタ分布を集め、重ね合わせた結果が信号１３として出力される。また、マーク後端ジッタに対するジッタ分布を集め、重ね合わせた結果が信号１４として出力される。これら信号１３，１４がジッタの程度を表し、測定結果として記録再生制御手段２２に送られる。
【００３１】
パタン発生手段１５には、ランダムパタンを発生するランダムパタン発生器１５ａと、予め決められた所定のパタンを発生する所定パタン発生器１５ｂが含まれている。第１の実施の形態においてはランダムパタン発生器１５ａが用いられ、第２の実施の形態においては所定パタン発生器１５ｂが用いられる。
【００３２】
変化手段２５には、記録パルス標準条件にある９個のデフォルト値全体を一律に変化させる一律変化器２５ａと、９個のデフォルト値をひとつづつ個別に変化させる個別変化器２５ｂが含まれている。
【００３３】
次に、本実施の形態の動作ステップについて説明する。まず第１のステップは、光ディスク１にあらかじめ記録されている記録パルス標準条件を読み出す。このために、ヘッド３が回転する光ディスク１の特定領域にスポットを移動させ、予め記録されている記録パルス標準条件のトラックをトレースする。この時の再生信号４をイコライザ２値化手段５で２値化信号６に変換し、ＰＬＬ手段７で同期化されたデータ８を得る。次に、記録パルス標準条件復調手段９によってデータ８から記録パルス標準条件１０を抽出する。記録パルス標準条件１０の具体的な一例として、図６の表（Ｂ）、（Ｅ）がある。表（Ｂ）には、マーク前端パルス条件としてマーク先端における全ての組合せに対するデフォルト値が設定されており、表（Ｅ）には、マーク後端パルス条件としてマーク終端における全ての組合せに対するデフォルト値が設定されている。表の中に示されている数値２、４、６等の単位はナノセカンドであり、記録クロック周期Ｔを１７ナノセカンドとする。
【００３４】
第２のステップは、記録パルス標準条件で光ディスクにデータを試し書きする。このために、まず、ヘッド３のレーザスポットを光ディスク１の書き込み可能なトラックに移動させる。パタン発生手段１５において記録パタンとしてランダムパタン発生器１５ａからランダム信号１６を発生する。前述の記録パルス標準条件１０を記録パルス条件補正手段２４において補正せずにそのまま記録パルス条件設定値１８として出力する。記録補償手段１７において、ランダム信号１６を記録パルス条件設定値に基づいてマルチパルスデータ１９に変換する。たとえば、図８に示すように、ランダム信号１６に６Ｔｓ４Ｔｍ（６Ｔスペースに続く４Ｔマーク）の信号が含まれていた場合、４Ｔマークに対する記録パルスの先頭エッジは、図６の表（Ｂ）から＋４ナノセカンド時間軸方向にシフトされる。また、図８に示すように、ランダム信号１６に４Ｔｍ６Ｔｓ（４Ｔマークに続く６Ｔマーク）の信号が含まれていた場合、４Ｔマークに対する記録パルスの末尾パルスのエッジは、図６の表（Ｅ）から−２５ナノセカンド時間軸方向にシフトされる。先端パルスや末尾パルスのシフトは、パルス全体がシフトされるようにしてもよいし、各パルスの先端エッジがシフトされるようにしてもよい。このように先端パルスと末尾パルスがシフトされたマルチパルスデータ１９は、レーザ駆動手段２０においてレーザを駆動するための電流２１に変換されてヘッド３に供給される。ヘッド３は、前記書き込み可能なトラック上に記録を行う。
【００３５】
第３のステップは、記録パルス標準条件でパルスがシフトされたマルチパルスデータ１９を用いて試し書きしたランダムデータを再生し、再生信号のジッタを測定する。このために、第２のステップで記録したトラックをヘッド３で再生し、イコライザ２値化手段５により２値化信号６を得る。２値化信号６からＰＬＬ手段７で再生クロックを生成し、再生クロックと２値化信号の位相誤差パルス１１が出力される。ジッタ測定手段１２において、マーク前端ジッタ電圧１３とマーク後端ジッタ電圧１４を別々に検出する。検出された結果であるマーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（０）とマーク後端ジッタ電圧Ｖｒ（０）を記録再生制御手段２２に記憶する。ここでカッコ内の０は、標準条件であることを示す。ジッタ電圧Ｖｆ（０）、Ｖｒ（０）の記録が行われれば、変化手段２５にその旨を伝え、続いて第4のステップが行われる。
【００３６】
第４のステップは、変化手段２５に含まれる一律変化器２５ａにより、記録パルス標準条件復調手段９から送られてくる記録パルス標準条件１０を一律に変化、すなわち時間シフトさせて光ディスクにデータを試し書きする。図５の表（Ｂ），（Ｅ）に記録パルス標準条件示されており、これらの表（Ｂ），（Ｅ）が一律に変化された一例が表（Ａ），（Ｄ）に示されている。図５において、中央上下２つの表（Ｂ），（Ｅ）がディスクから読み出した記録パルス標準条件である。左側の表（Ａ）は、マーク前端パルスの記録パルス標準条件の値に一律に１を加えた補正値を示している。また、左側の表（Ｄ）は、マーク後端パルスの記録パルス標準条件の値に一律に−１を加えた補正値を示している。同様に、右側の表（Ｃ）は、マーク前端パルスの記録パルス標準条件の値に一律に−１を加えた補正値を示し、右側の表（Ｆ）は、マーク後端パルスの記録パスル条件の値に一律に１を加えた補正値を示している。図５の表（Ａ）から（Ｆ）の具体的な数値の一例は、図６の表（Ａ）から（Ｆ）にそれぞれ示されている。
【００３７】
第4のステップでは、前端＋１である表（Ａ）と、後端−１である表（Ｄ）の補正値を用いて試し書きするものとする。一律変化器２５ａが、補正値２３として、マーク前端パルス条件に対して＋１を、マーク後端パルス条件に対して−１を出力する。記録パルス条件補正手段２４において、記録パルス標準条件１０に補正値２３を加えて記録パルス条件設定値１８を出力する。以下、第２のステップと同様に、ランダム信号を光ディスク１に記録する。
【００３８】
第５のステップは、第４のステップで記録されたランダムデータを再生し、再生信号のジッタを測定する。第３のステップと同様にして、マーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（＋１）とマーク後端ジッタ電圧Ｖｒ（−１）を記録再生制御手段２２に記憶する。ここでカッコ内の数値は、標準条件からの変化量を示す。
【００３９】
さらに、第４と第５のステップを、補正値２３を変えながら繰り返し行い、ジッタ電圧を収集する。たとえば図４に示すように、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件の補正値２３は、対となって、（＋１、−１）、（＋２、−２）、（−１、＋１）、（−２、＋２）と変化する。（＋１、−１）と変化させた例が図５の表（Ａ）、（Ｄ）に示され、さらにその具体的数値が図６の表（Ａ）、（Ｄ）に示されている。この実施の形態においては、変化量＋１は、＋１ナノセカンドの変化を表している。このように補正値２３で記録パルス標準条件を一律変化させ、図４に示すようなプロットされた点が、記録再生制御装置２２に記録される。
【００４０】
図４には、上述のように補正値２３を一律変化させて得られたジッタ電圧Ｖｆ，Ｖｒの測定結果の例が２つ示されている。ジッタ電圧が許容値以下または最も低い場合のマーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件の対を採用する。使用している光ディスクの特性と、予め書き込まれている記録パルス標準条件と、記録再生装置の特性が適合していれば、図４（Ａ）のように補正値が０のときに、マーク前端におけるジッタ電圧Ｖｆとマーク後端におけるジッタ電圧Ｖｒの両方が最小または許容値より小さくなる。一方、使用している光ディスクの特性と、予め書き込まれている記録パルス標準条件と、記録再生装置の特性が適合していない場合は、図４（Ｂ）に示すように、マーク後端のジッタ電圧は、補正値が０の場合は許容値を上回り、補正値が０でないときにジッタが最小または許容値以下となる。
【００４１】
本発明の実施の形態は、この記録パルス条件の一律補正と再生ジッタの変化に着目した記録条件設定方法であり、各条件で試し書きして得られたマーク前端ジッタとマーク後端ジッタの組み合わせうち、前端と後端ジッタの大きい方が最小値または許容値以下となる組み合わせを装置の最適記録条件として用いることを特徴とする。
【００４２】
第６のステップは、第４第５のステップで収集されたジッタ電圧により、以後記録再生装置で使用する記録パルス条件設定値を決定する。図１の記録再生制御手段２４において、各補正値に対するマーク前端ジッタ電圧とマーク後端ジッタ電圧のセットの中から、前端と後端ジッタ電圧の大きい方が許容値以下となる補正値を選択し、以後の記録再生装置の記録条件として用いる。
【００４３】
許容値以下を採用条件とすれば、図４（Ｂ）の場合は、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件の補正値が（−１、＋１）である対を採用してもよいし、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件の補正値が（０、＋１）である対を採用してもよい。
【００４４】
採用された補正値は、現在、記録再生装置にローディングされている光ディスクを記録する際に利用する。
【００４５】
以上のステップによって、本発明の実施の形態は、光ディスクに予め記録されている記録パルス標準条件を読み出して、この記録パルス標準条件のうち、前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件すべてと、自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件すべてを、それぞれ一律に一定量時間シフトして、記録再生信号のジッタが許容値以下となるように標準条件から補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生をする。本方法によって、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、常に最適な光ディスクの記録再生状態を実現することができる。
【００４６】
なお、本実施の形態では、補正値２３として、マーク前端パルス条件をプラス１したときにマーク後端パルス条件をマイナス１する方法で説明したが、この数値に限るものではなく、前端と後端の各条件を一律に補正する範囲において、様々な組み合わせが存在し、他の補正数値であってもジッタを最小化する本発明の効果を発揮できる。
【００４７】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２では、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクの、光ディスク特性と記録パルス標準条件に差異がある場合でも良好な記録特性を実現しうる光ディスクの記録条件設定方法を具体的に述べる。実施の形態２においても図１を用いて説明する。実施の形態１と異なる部分について説明し、同じ部分は省略する。本実施の形態では、１８個の記録パルス条件のうち、５Ｔｓ５Ｔｍと５Ｔｍ５Ｔｓの２つの値は記録パルス標準条件をそのまま使うものとする。さらに、残り１６個の記録パルス条件を決定するために、それぞれに対応した１２種類の記録パタンを用いる。このような１２種類の記録パタンは、パタン発生手段１５の所定パタン発生器１５ｂにより生成される。
【００４８】
各記録パルス条件と使用する記録パタンの関係を図７に示す。
【００４９】
例えば、自己マーク長４Ｔｍで前マーク長５Ｔｓ以上のマーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍを決定するため、図７（Ａ）に示す記録パタン（１）を使用する。記録パタン（１）は８Ｔｍ、６Ｔｓ、４Ｔｍ、６Ｔｓの繰り返し信号である。すべての記録パタンは、マーク長の合計とスペース長の合計が同じで、かつ、マークとスペースを２個ずつ含み、決定すべきのエッジを変化させ、他の３つのエッジは固定して使用することを特徴とする。図７においては、変化させるマーク前端エッジを○、変化させるマーク後端エッジを☆で表現している。残りは全て固定エッジである。
【００５０】
本実施の形態の動作ステップについて説明する。以下、自己マーク長４Ｔｍで前マーク長５Ｔｓ以上のマーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍを決定するために記録パタン（１）を使用する例を詳しく説明するが、他の記録パルス条件を決定するステップは、記録パタンが異なる点をのぞけば同様である。
【００５１】
まず、第１のステップは、光ディスク１にあらかじめ記録されている記録パルス標準条件を読み出す。このステップは実施の形態１と同じである。
【００５２】
第２のステップは、記録パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍを決定するために所定記録パタン（１）を光ディスクに試し書きする。５Ｔｓ４Ｔｍの記録パルス標準条件をそのまま記録パルス条件設定値１８として出力し、記録補償手段１８において、記録パタン（１）を記録パルス条件設定値に基づいてマルチパルスデータ１９に変換する。マルチパルスデータ１９は、レーザ駆動手段２０においてレーザを駆動するための電流２１に変換されてヘッド３に供給される。ヘッド３は、前記書き込み可能なトラック上に記録を行う。
【００５３】
第３ステップは、試し書きした記録パタン（１）を再生し、再生信号のジッタを測定する。このために、第２のステップで記録したトラックをヘッド３で再生し、イコライザ２値化手段５により２値化信号６を得る。２値化信号６からＰＬＬ手段７で再生クロックを生成し、再生クロックと２値化信号の位相誤差パルス１１が出力される。ジッタ測定手段１２において、位相誤差パルス１１の幅の平均値をジッタ電圧としてマーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（０）を表す信号１３を出力する。ここで、カッコ内の０は、記録パタン（１）の変化させるエッジに対する記録パルスの変化量が０であること、すなわち記録パルス標準条件１０からのデフォルト値４（図６の表（Ｂ）内の５Ｔｓ４Ｔｍに対応する個所の値）がそのまま用いられた結果得られたジッタ電圧であることを示す。なお、本ステップはマーク前端パルス条件をもとめる場合であるので、マーク前端ジッタ電圧Ｖｆのみを検出する。反対に、マーク後端パルス条件を求める場合には、マーク後端ジッタ電圧Ｖｒのみを検出する。検出したマーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（０）を記録再生制御手段２２に記憶する。ジッタ電圧Ｖｆ（０）の記録が行われれば、変化手段２５にその旨を伝え、続いて第4のステップが行われる。
【００５４】
第４のステップでは、まず変化手段２５にある個別変化器２５ｂから、マーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍのデフォルト値４に対する補正値２３として、例えば＋１を出力する。記録パルス条件補正手段２４は、記録パルス標準条件１０に含まれる５Ｔｓ４Ｔｍのデフォルト値４に補正値２３である＋１を加えた値５を、記録パルス条件設定値１８として出力する。以下、第２のステップと同様に、記録パタン（１）を光ディスク１に記録する。
【００５５】
第５のステップは、第４のステップで記録された記録パタン（１）を再生し、再生信号のジッタを測定する。第３のステップと同様にして、マーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（１）を記録再生制御手段２２に記憶する。さらに、第４と第５のステップを補正値２３を変えながら繰り返し行い、ジッタ電圧を収集する。
【００５６】
ここで、記録パタン（１）を用いて記録パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍの補正値２３を＋１、＋２、＋３と変化させたときの記録再生波形をそれぞれ図８、図９，図１０に示す。
【００５７】
図８（Ｂ）の５Ｔｓ４Ｔｍは、＋１で補正されており、この条件で記録した場合、図８（Ｃ）に示すように、記録された４Ｔマークの前端エッジ位置が、理想的な位置に比べて左方向にずれている。従って、再生信号（図８（Ｄ））を２値化した２値化信号（図８（Ｅ））と、再生クロック（図８（Ｆ））の位相ずれを表す位相誤差パルス（図８（Ｇ））は、４Ｔマーク前端エッジ部分で幅が太くなっている。従って、位相誤差パルスの幅の平均値を示すジッタ電圧Ｖｆ（＋１）は大きい。
【００５８】
また、図９（Ｂ）の５Ｔｓ４Ｔｍは、＋２で補正されており、この条件で記録した場合、図９（Ｃ）に示すように、記録された４Ｔマークの前端エッジは理想的な位置である。従って、再生信号（図９（Ｄ））を２値化した２値化信号（図９（Ｅ））と、再生クロック（図９（Ｆ））の位相ずれを表す位相誤差パルス（図９（Ｇ））はすべて幅が細い。従って、位相誤差パルスの幅の平均値を示すジッタ電圧Ｖｆ（＋２）は小さい。
【００５９】
さらに、図１０（Ｂ）の５Ｔｓ４Ｔｍは、＋３で補正されており、この条件で記録した場合、図１０（Ｃ）に示すように、記録された４Ｔマークの前端エッジ位置が、理想的な位置に比べて右方向にずれている。従って、再生信号（図１０（Ｄ））を２値化した２値化信号（図１０（Ｅ））と、再生クロック（図１０（Ｆ））の位相ずれを表す位相誤差パルス（図１０（Ｇ））は、４Ｔマーク前端エッジ部分で幅が太くなる。従って、位相誤差パルスの幅の平均値を示すジッタ電圧Ｖｆ（＋３）は大きい。
【００６０】
本発明の実施の形態は、この記録パルス条件の補正条件と再生ジッタ電圧の変化に着目した記録条件設定方法であり、各条件で試し書きして得られたマーク前端ジッタが許容値以下または最小となる補正値を装置の最適記録条件として用いることを特徴とする。
【００６１】
第６のステップは、第４、第５のステップで収集されたジッタ電圧Ｖｆにより、以後、記録再生装置で使用する記録パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍの設定値を決定する。すなわち、複数回の試し書きおよびその読み取りの結果から、ジッタ電圧Ｖｆが最低値または許容値以下の場合を求め、その場合の補正値を採用する。図８、図９、図１０で示した例の場合であれば、マーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍの補正値は＋２が採用されることになる。このようにして、図１の記録再生制御手段２４において、各補正値に対するマーク前端ジッタ電圧が許容値以下または最小となる補正値を選択し、以後の記録再生装置のマーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍの値として用いる。
【００６２】
以降同様に、マーク後端パルス条件４Ｔｍ５Ｔｓを決定するために記録パタン（１）を使用して試し書きを行い、マーク後端ジッタ電圧Ｖｒが許容値以下または最小となる補正値を選択し、以後の記録再生装置のマーク後端パルス条件４Ｔｍ５Ｔｓの値として用いる。次は、マーク前端パルス条件４Ｔｓ５Ｔｍを決定するために記録パタン（２）を使用して試し書きを行い、マーク前端ジッタ電圧Ｖｆが許容値以下または最小となる補正値を選択し、以後の記録再生装置のマーク前端パルス条件４Ｔｓ５Ｔｍの値として用いる。このようにして、記録パタンを変えながら第２のステップから第６のステップを繰り返す。
【００６３】
以上のステップによって、本発明の実施の形態は、光ディスクに予め記録されている記録パルス標準条件を読み出して、この記録パルス標準条件のうち、前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件各々と、自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件各々とに対応した記録パタン（図７（Ａ）から（Ｐ））を記録し、その再生信号のジッタが許容値以下または最小となるように各標準条件をそれそれ別々に補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定しデータの記録再生をする。本方法によって、書き込み可能な光ディスクの特性と記録パルス標準条件に差異がある場合でも、記録パルス条件の各値を、使用する光ディスクと記録再生装置の組み合わせで最適な値に補正することができるので、常に良好な光ディスクの記録再生状態を実現することができる。
【００６４】
（実施の形態３）
次に、実施の形態２のステップより記録再生回数を少なくし時間短縮を図る方法について具体例を説明する。図２において、マーク前端パルス条件が５Ｔｓ３Ｔｍである場合、図７の記録パタン（３）を用いて上述の実施の形態２に従い決定する。図２において、マーク前端パルス条件が３Ｔｓ３Ｔｍである場合、図７の記録パタン（１１）を用いて決定する。ここで、マーク前端パルス条件が４Ｔｓ３Ｔｍである場合を決定するためには、記録パタン（７）を用いて決定するのではなく、求めた５Ｔｓ３Ｔｍの補正値と、標準条件の５Ｔｓ３Ｔｍの値と、求めた３Ｔｓ３Ｔｍの補正値と、標準条件の３Ｔｓ３Ｔｍの値と、標準条件の４Ｔｓ３Ｔｍの値の関係から、４Ｔｓ３Ｔｍの補正値を補間などの計算で求める。この４Ｔｓ３Ｔｍの補正値を決定する動作は電気的な計算演算であるので、記録パタン（７）を実際に記録再生する場合に比較して、所要時間がはるかに小さい。
【００６５】
すなわち、本発明の実施形態は、全記録パルス条件を、対応した各記録パタンの記録再生によって決定するのではなく、一部の条件は、他の条件から演算によって補間する事を特徴とする。
【００６６】
このために、図１の光ディスクの記録再生装置において、記録パルス標準条件のうち、選択された前スペース長と自己マーク長の組み合わせによって定められた複数のマーク前端パルス条件各々と、選択された自己マーク長と後スペース長の組み合わせによって定められた複数のマーク後端パルス条件各々に対応した記録パタンを記録し、その再生信号のジッタが許容値以下となるように各標準条件をそれぞれ別々に補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定する（以上、一部、実施の形態２のステップと同様）。記録再生制御手段２４において、選択されなかった記録パルス条件は、前記選択された記録パルス条件の補正値から補間によって求めた値を記録再生装置の記録パルス条件として設定し、データの記録再生をする。これによって、すべての記録パルス条件を設定し終わるまでの時間が大幅に短縮できる。
【００６７】
なお、本実施の形態では、記録パルス条件のうち５Ｔｓ５Ｔｍと５Ｔｍ５Ｔｓは、光ディスクから読み出した記録パルス標準条件をそのまま使用した例を示したが、これに限るものではなく、例えば、６Ｔｍ６Ｔｓの繰り返し信号を記録してアシンメトリまたはデューティーを検出する方法等で補正を行ってから本発明の記録条件設定方法を適用してもよい。さらに、記録パタンとして、図７に示すパタンを用いたが、マーク長の合計とスペース長の合計が同じで、かつ、マークとスペースを２個ずつ含み、少なくとも１つの決定すべき属性のエッジを含むパタンであれば、ジッタ検出が可能である。
【００６８】
また、実施の形態１と実施の形態２で、記録波形を２値パワーの例で説明したが、パワーが多値の場合であっても同様の効果が得られる。さらに、記録パルス条件が３×３×２の１８個の場合で説明したが、４×４×２などパラメータ数が増えても同様に実施することができる。ただし、実施の形態２において使用する記録パタンはパラメータ数に応じて増やす必要がある。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスクの記録再生装置のブロック図
【図２】記録パルス条件を示す表
【図３】記録パルス条件の説明図
【図４】実施の形態１におけるジッタ測定結果を示す特性グラフ
【図５】実施の形態１における一律時間シフトの表
【図６】一律時間シフトについて具体的数値を示した表
【図７】実施の形態２における記録パタン波形図
【図８】実施の形態２における記録再生動作を示す波形図
【図９】実施の形態２における記録再生動作を示す波形図
【図１０】実施の形態２における記録再生動作を示す波形図
【図１１】ジッタ測定の方法を示す波形図
【符号の説明】
【００７０】
１  光ディスク
２  モータ
３  ヘッド
４  再生信号
５  イコライザ２値化手段
６  ２値化信号
７  ＰＬＬ手段
８  データ
９  記録パルス標準条件復調手段
１０  記録パルス標準条件
１１  位相誤差パルス
１２  ジッタ測定手段
１３  マーク前端ジッタ電圧
１４  マーク後端ジッタ電圧
１５  パタン発生手段
１６  記録パタン
１７  記録補償手段
１８  記録パルス条件設定値
１９  マルチパルスデータ
２０  レーザ駆動手段
２１  記録電流
２２  記録再生制御手段
２３  補正値
２４  記録パルス条件補正手段
２５  変化手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
0004553968.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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