(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
計量皿を囲む開閉可能な扉を備えた風防を有すると共に、
荷重信号を平均化時間もしくは平均化データ個数で平均化し、それに基づいて計量値を得る電子天びんにおいて、
扉の開閉を検出する扉開閉検出手段と、
はかり取り測定において計量皿に載せられる試料の最小はかり取り重量を設定するはかり取り重量設定手段と、
該最小はかり取り重量を設定するはかり取り重量設定手段と、
前記計量皿に載せた試料の重量が該最小はかり取り重量より大きいとき、かつ、前記扉開閉検出手段で扉が開かれていることを検出したとき、前記平均化時間若しくは平均化データ個数を予め設定したはかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数とする選択手段とを具備し、
該選択された平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化処理されることを特徴とする電子天びん。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、はかり取り測定に利用されることに好適な電子天びんに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子天びんの使用目的（方法）には、一つ（又は複数）の塊の重さをはかる方法（以後、「通常測定」という）に対し、粉、液体などのあらかじめ決められた量をはかりとる方法（以後、「はかり取り」という）がある。【０００３】
はかり取りモードは、一般的に、はかり取る重量は天びんの精度より粗くても良いが、測定時間を短くする必要がある。しかし、はかり取った後に重量を通常測定モードではかるときは、測定時間を短くすることよりも測定の正確さを重要視する。
【特許文献１】特開平１０−１９６４２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の電子天びんでは、計量値を安定させて表示するために、刻々と得られる測定データを所定時間で平均化して表示しているが、上記モードに応じて、単に応答を速くするか遅くするかなかった。すなわち、測定に応じて、はかり取り精度や最小はかり取り重量を設定することができず、最適な測定を行うことができなかった。【０００５】
そこで、本発明は、事前にはかり取り重量の精度や最小はかり取り重量を設定することで、設定条件に基づいてはかり取り測定を行うとともに、はかり取り測定の精度を向上することのできる電子天びんを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記した課題を解決するため、本願は、以下の発明を含む。  第１発明は、計量皿を囲む開閉可能な扉を備えた風防を有すると共に、荷重信号を平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化し、それに基づいて計量値を得る電子天びんにおいて、扉の開閉を検出する扉開閉検出手段と、はかり取り精度を設定するはかり取り精度設定手段と、該はかり取り精度を満たすはかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数を計算する計算手段と、該扉開閉検出手段で扉が開かれていることを検出したとき前記はかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数とし、扉が閉じられていることを検出したとき通常測定の平均化時間若しくは平均化データ個数とする選択手段とを具備し、該選択された平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化処理されることを特徴とする。【０００７】
第２発明は、計量皿を囲む開閉可能な扉を備えた風防を有すると共に、荷重信号を平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化し、それに基づいて計量値を得る電子天びんにおいて、扉の開閉を検出する扉開閉検出手段と、はかり取り測定において計量皿に載せられる試料の最小はかり取り重量を設定するはかり取り重量設定手段と、前記計量皿に載せた試料の重量が該最小はかり取り重量より大きいとき、かつ、前記扉開閉検出手段で扉が開かれていることを検出したとき、前記平均化時間若しくは平均化データ個数を予め設定したはかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数とする選択手段とを具備し、該選択された平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化処理されることを特徴とする。【０００８】
第３発明は、第１発明において、はかり取り精度を設定するはかり取り精度設定手段と、該はかり取り精度を満たすはかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数を計算する計算手段とを具備し、前記はかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数は、前記計算手段により計算されることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明が提供する電子天びんは以上のとおりであるから、事前にはかり取り重量の精度や最小はかり取り重量を設定することで、設定条件に基づいてはかり取り測定を行うとともに、はかり取り測定の精度を向上することのできる電子天びんを提供することができる。したがって、はかり取り測定において、所望の精度が得られると共に、不要な平均化処理のための時間を費やすことなく作業効率の向上にも寄与する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明による風防付き電子天びんの概略外形図である。
【図２】本発明による風防付き電子天びんの概略構成図である。
【図３】本発明による風防付き電子天びんの処理機能構成図である。
【図４】本発明による風防付き電子天びんの処理のフローチャートである。
【符号の説明】
【００１１】
３  扉開閉検知センサ
５１  風防
５２  扉
５３  計量皿
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明が提供する電子天びんを図１〜４に示す実施例にしたがって説明する。図１は本発明による電子天びんの概略外形図、図２は本発明による電子天びんの概略構成図、図３は本発明による電子天びんの処理機能構成図、図４は本発明による電子天びんの処理のフローチャートである。【００１３】
図１、２を用いて、電子天びんの概略構成を説明すると、荷重検出部１に設けられ、試料を載せる計量皿５３が風防５１に収容される。風防５１には、扉５２が設けられ、６は計量値を表示する表示器である。【００１４】
荷重検出部１は処理装置２に接続されると共に、処理装置２に接続されているキースイッチやパソコンや外部キーボードなどの外部入力機器等の入力装置４から、はかり取り精度（例えば、１ｍｇ、０．１ｍｇ、０．０１ｍｇ等の重量値や、正確に読取を行いたい重量桁など）や最小はかり取り重量（例えば、常にはかり取り重量が２ｍｇ以上など）を入力し、処理装置２を介して記憶装置５へ記憶させる。表示器６には荷重検出部１で検出された荷重を重量値で換算した計量値が表示される。はかり取り精度及び最小はかり取り重量は両方、又はいずれか一方を入力、設定可能に構成することができる。【００１５】
次に、本実施例の動作を図３、４を用いて説明する。最初に、はかり取り作業において必要なはかり取り精度を入力装置４から測定者が入力する。また、最小はかり取り重量を同様に入力する。これらの値の入力はどちらか一方、もしくは双方となっても構わない。これらの入力データは入力処理機能２９を介してはかり取り精度／量入力判断機能２８で数値化され、平均時間演算・決定機能２７へ渡される。また、記憶装置入出力機能２ａを介して記憶装置５へ記憶させる。【００１６】
平均時間演算・決定機能２７では、必要なはかり取り精度を得るための平均化データ個数や平均化時間が演算され決定される。この平均化データの個数や平均化時間を記憶装置入出力機能２ａを介して記憶装置５へ記憶させることも可能である。【００１７】
実際のはかり取り作業を行う場合、風防５１の扉５２を開けて作業を行う。このとき、扉５２は開いたままの状態で作業を行う。扉５２が開いたことを扉開閉判断機能２６で判断したときはかり取り測定モードとなり、はかり取り精度が低い場合は、平均時間演算・決定機能２７で決定され相対的に短い平均化時間で表示応答を速くする。一方、はかり取り精度が高い場合は平均時間演算・決定機能２７で決定され相対的に長い平均化時間で表示を安定させる。【００１８】
さらに、平均化処理機能２２による平均化処理の後、補正機能２３によるスパン補正等が行われ、重量換算機能２４による計量値への換算が行われ、換算後の計量値が表示処理機能２５により表示器６へ出力される。【００１９】
はかり取り作業を終え、風防５１の扉５２が閉じたことを扉開閉判断機能２６で判断した場合、はかり取り精度に関係なく平均化時間を長くし表示を安定させて信頼性の高い測定値を測定者へ知らせる。【００２０】
また、扉５２が開いた状態で、最小はかり取り重量の設定値よりも大きな荷重が計量皿５３上に載せられた場合には、はかり取り測定モードとなり、予め設定されたり、また平均時間演算・決定機能２７で決定されたはかり取り測定用平均化時間若しくは平均化データ個数で平均化処理し、相対的に素早く表示を応答させる。扉５２が閉じられたときはかり取り測定モードを解除し平均化時間を長くし、表示を安定させて信頼性の高い測定値を測定者へ知らせる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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