(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
変調度に基づいて記録パワーを最適化する光ディスク装置であって、
複数の光ディスク装置において記録パワーを変化させて光ディスクにテストデータを試し書きし、該テストデータを再生してその変調度を測定することで得られる記録パワーと前記変調度の基準関係における、ピークパワーＰｃに対して所望の記録品質が確保できる下限パワーと上限パワーを算出することで得られるパワーマージンに基づき設定された変調度変化の許容範囲を記憶する記憶手段と、
光ディスクのテストエリアに記録パワーを変化させて所定ストラテジでテストデータを試し書きし、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれるか否かを判別する判別手段と、
前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれる場合に前記所定ストラテジで記録パワー最適化し、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれない場合に前記所定ストラテジのパルス幅を変化させた上で記録パワーを最適化する最適化手段と、
を有し、
前記変調度変化の許容範囲は、
前記基準関係における所定の第１変調度ｍ１に対応する第１パワーＰｃ１と前記ピークパワーＰｃの比を前記下限パワーに乗じることで前記第１変調度ｍ１における前記下限パワーに対応するパワーＰ１を算出し、第１パワーＰｃ１と前記ピークパワーＰｃの比を前記上限パワーに乗じることで前記第１変調度ｍ１における前記上限パワーに対応するパワーＰ２を算出し、
前記基準関係における所定の第２変調度ｍ２（但し、ｍ１＜ｍ２）に対応する第２パワーＰｃ２と前記ピークパワーＰｃの比を前記下限パワーに乗じることで前記第２変調度ｍ２における前記下限パワーに対応するパワーＰ３を算出し、第２パワーＰｃ２と前記ピークパワーＰｃの比を前記上限パワーに乗じることで前記第２変調度ｍ２における前記上限パワーに対応するパワーＰ４を算出し、
（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ３−Ｐ１）を変調度変化の上限、（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ４―Ｐ２）を変調度変化の下限として設定される
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記最適化手段は、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれない場合に前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれるまで前記所定ストラテジを変化させて前記テストデータを試し書きする処理を繰り返し実行することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の装置において、
前記所定ストラテジはマルチパルスのパルス幅を含み、
前記最適化手段は、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲よりも小さい場合に前記マルチパルスのパルス幅を増大させ、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲よりも大きい場合に前記マルチパルスのパルス幅を低減することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、特に記録パワーの最適化に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクの最適記録パワーを求める方法には、光ディスクのテストエリアに記録パワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータを再生して得られる変調度の変化に基づき、変調度の変化が所定値となる記録パワーに所定のパワー係数を乗じて算出する、あるいは変調度の変化に基づき、変調度が０となる記録パワーを外挿して求め、得られた記録パワーに所定のパワー係数を乗じて算出する方法などがある。ここに、変調度ｍは、再生ＲＦ信号の最長データ長（例えば１１Ｔ）のピークレベルをＣ、ボトムレベルをＤとすると、ｍ＝（Ｃ−Ｄ）／Ｃで定義される。
【０００３】
下記の特許文献には、変調度変化の変曲点における記録パワーＰｗｔを求め、この記録パワーＰｗｔにパラメータｚ１を乗じて最適記録パワーＰｗｏを算出することが開示されている（図７参照）。また、変調度がゼロとなる記録パワーＰｗｔを外挿により求め、この記録パワーＰｗｔにパラメータｚ２を乗じて最適記録パワーＰｗｏを算出することが開示されている（図８参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−６７９２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記のいずれの方法においても、係数を乗じて最適記録パワーを算出しているため、変調度ｍの検出誤差に対して係数倍だけ誤差が拡大してしまい、最適記録パワー算出の精度に影響を及ぼす。また、仮に変調度の測定精度に問題がない場合でも、光学的もしくは機械的な組み付け等の影響がドライブの個体差となって現れ、全く同じディスクであっても必ずしも同じ結果が得られない問題がある。具体的には、光ピックアップ（ＯＰＵ）から射出されるレーザパルスの立上がり及び立下がり特性（Ｔｒ／Ｔｆ特性）はドライブ毎にバラツキがあり、このバラツキの影響で同一ディスクであっても記録パワーと変調度との関係にバラツキが生じてしまう。すなわち、あるドライブでは記録パワーに対する変調度の傾きが標準的なドライブに対してより急峻な特性となり、別のドライブでは記録パワーに対する変調度の傾きが標準的なドライブに対してより緩慢となってしまう。変調度の変化から記録パワーを求め、求めた記録パワーに係数を乗じて最適記録パワーを算出しても、変調度の変化自体にドライブ毎のバラツキが生じていたのでは、最適な記録パワーであることを保証し得ない結果となる。上記のことは、変調度ｍの変化ではなく、変調度の微分であるγ値の変化を用いた場合も同様である。
【０００６】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、ドライブ毎に光ピックアップの特性にバラツキが生じていても、高精度に最適記録パワーを設定することができる装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、変調度に基づいて記録パワーを最適化する光ディスク装置であって、複数の光ディスク装置において記録パワーを変化させて光ディスクにテストデータを試し書きし、該テストデータを再生してその変調度を測定することで得られる記録パワーと前記変調度の基準関係における、ピークパワーＰｃに対して所望の記録品質が確保できる下限パワーと上限パワーを算出することで得られるパワーマージンに基づき設定された変調度変化の許容範囲を記憶する記憶手段と、光ディスクのテストエリアに記録パワーを変化させて所定ストラテジでテストデータを試し書きし、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれるか否かを判別する判別手段と、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれる場合に前記所定ストラテジで記録パワー最適化し、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれない場合に前記所定ストラテジのパルス幅を変化させた上で記録パワーを最適化する最適化手段とを有し、前記変調度変化の許容範囲は、前記基準関係における所定の第１変調度ｍ１に対応する第１パワーＰｃ１と前記ピークパワーＰｃの比を前記下限パワーに乗じることで前記第１変調度ｍ１における前記下限パワーに対応するパワーＰ１を算出し、第１パワーＰｃ１と前記ピークパワーＰｃの比を前記上限パワーに乗じることで前記第１変調度ｍ１における前記上限パワーに対応するパワーＰ２を算出し、前記基準関係における所定の第２変調度ｍ２（但し、ｍ１＜ｍ２）に対応する第２パワーＰｃ２と前記ピークパワーＰｃの比を前記下限パワーに乗じることで前記第２変調度ｍ２における前記下限パワーに対応するパワーＰ３を算出し、第２パワーＰｃ２と前記ピークパワーＰｃの比を前記上限パワーに乗じることで前記第２変調度ｍ２における前記上限パワーに対応するパワーＰ４を算出し、（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ３−Ｐ１）を変調度変化の上限、（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ４―Ｐ２）を変調度変化の下限として設定されることを特徴とする。
【０００８】
本発明の１つの実施形態では、前記最適化手段は、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれない場合に前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲に含まれるまで前記所定ストラテジを変化させて前記テストデータを試し書きする処理を繰り返し実行する。
【０００９】
また、本発明の１つの実施形態では、前記所定ストラテジはマルチパルスのパルス幅を含み、前記最適化手段は、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲よりも小さい場合に前記マルチパルスのパルス幅を増大させ、前記テストデータの変調度変化が前記許容範囲よりも大きい場合に前記マルチパルスのパルス幅を低減する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、テストデータの変調度変化が予め設定された許容範囲を超える場合に所定ストラテジを変化させて許容範囲内に収束させるので、変調度変化に基づき高精度に記録パワーを最適化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１２】
図１に、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の記録可能な光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１３】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりＬＤの発光量を制御する。図ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。
【００１４】
光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。
【００１５】
アドレス信号の１つの例はウォブル信号であり、光ディスク１０の絶対アドレスを示す時間情報の変調信号で光ディスク１０のトラックをウォブルさせ、このウォブル信号を再生信号から抽出しデコードすることでアドレスデータ（ＡＴＩＰ）を得ることができる。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００１６】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは記録品質に影響することから、データ記録に先立って最適化が行われる。すなわち、光ディスク１０の所定のテストエリアにおいて記録ストラテジを種々変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してその信号品質を評価する。そして、評価結果に基づいて最適な記録ストラテジが選択される。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に記憶されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは交替処理を実行するかを決定する。
【００１７】
システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、特に記録に先立つＯＰＣ（Optimum Power Control：記録パワーの最適化）を実行する。ＯＰＣでは、光ディスク１０のテストエリアに記録パワーを階段状に変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生して変調度を測定する。そして、変調度の変化に基づき最適記録パワーＰｏを設定する。システムコントローラ３２は、選択した記録パワーＰｏとなるようにドライバ２２を制御する。
【００１８】
このような構成において、基本的にはシステムコントローラ３２は図７あるいは図８に示す従来技術と同様に、ＯＰＣにおいて変調度ｍを測定し、変調度ｍの変化の傾きが急峻な領域に基づき最適記録パワーを決定する。例えば、変調度ｍの変化の変曲点に対応する記録パワーＰｗｔを求め、この記録パワーＰｗｔを所定の係数αだけ定数倍して最適記録パワーＰｏに設定するが、記録パワーに対する変調度の傾きはドライブ毎の個体差が存在するため、この個体差を補償して最適記録パワーＰｏを高精度に算出する。
【００１９】
すなわち、変調度変化にはドライブ毎の個体差があることを前提とし、この個体差あるいはバラツキが所定の許容範囲内にあるか否かを判定する。ここに、許容範囲は、標準的なドライブにおける変調度変化に基づき設定される。標準的なドライブは理想的なドライブでもよく、あるいは実際に存在する複数のドライブの統計的平均値であってもよい。そして、実際のドライブにおいて光ディスクのテストエリアにテストデータを試し書きして得られる変調度変化が許容範囲に含まれるか否かを判別する。テストデータの変調度変化が許容範囲に含まれる場合には、ドライブの個体差は大きくなく標準ドライブと略同一特性であるとして、従来技術と同様に変調度変化の変曲点に対応する記録パワーをα倍して最適記録パワーＰｏを算出する。一方、テストデータの変調度変化が許容範囲に含まれない場合には、ドライブの個体差が大きく無視できないとして、そのときの変調度変化を採用せず、変調度変化が許容範囲に含まれるような条件に変更する。具体的には、変調度は記録深さあるいはピット形成度合いを示しており、記録ストラテジと密接な関係にある。ＤＶＤではマルチパルスあるいはパルストレーンでデータを記録するが、マルチパルスのパルス幅を増減すると変調度も変化する。本実施形態ではこの点に着目し、変調度変化が許容範囲に含まれない場合には、変調度変化が許容範囲に含まれるようになるまでマルチパルスのパルス幅を増減調整する。パルス幅を増減調整することで変調度変化が許容範囲内に含まれるようになれば、標準ドライブと略同一特性とみなせるから、変調度変化の変曲点に対応する記録パワーをα倍することで最適記録パワーＰｏを算出することができる。
【００２０】
図２に、本実施形態の処理フローチャートを示す。光ディスク装置（ドライブ）設計時の処理である。まず、所定ストラテジとして記録パルストレインを設計する（Ｓ１０１）。すなわち、マルチパルスで記録する場合の、先頭パルスのパルス幅や後続パルスのパルス幅Ｔｍｐ、あるいはクーリングパルスのパルス幅Ｔｃｌを設定する。また、変調度変化からの最適記録パワーの算出方法も設計する。例えば、変調度変化の変曲点に対応する記録パワーから最適記録パワーを算出する場合の係数（パワー係数）αを設定する。変調度がゼロとなる記録パワーから最適記録パワーを算出するとした場合には、そのときの係数を設定する。また、予め定められた目標変調度に対応する記録パワーから最適記録パワーを算出するとした場合にも、その時の係数を設定する。
【００２１】
次に、設計したパワートレインで標準ドライブを想定した場合の、記録パワーと変調度との関係（変調度変化）を算出する（Ｓ１０２）。図３に、標準ドライブにおける記録パワーと変調度との関係の一例を示す。図において、横軸は記録パワー、縦軸は変調度である。標準ドライブにディスクを挿入し、記録パワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータを再生してその変調度を測定することで得られる。複数のドライブでテストデータを試し書きして得られる変調度の平均値をもって標準ドライブにおける変調度としてもよい。標準ドライブにおける記録パワーと変調度との関係を基準変調度変化特性１００とする。
【００２２】
次に、基準変調度変化特性１００を用いて、記録品質からピークパワー（記録パワー）の許容範囲（パワーマージン）を算出する（Ｓ１０３）。例えば、図３において、ピークパワーＰｃに対して記録品質、具体的にはエラーレートがしきい値以下を確保できる下限パワーＰｍｉｎ及び上限パワーＰｍａｘを算出する。エラーレート以外にβ値を用いてもよい。
【００２３】
所望の記録品質が得られるパワーマージンを設定した後、パワーマージンからパワー係数αを用いて所定の変調度である第１変調度ｍ１、及び第２変調度ｍ２における許容パワー範囲を算出する（Ｓ１０４）。そして、変調度ｍ１、ｍ２における許容パワー範囲から、変調度変化の許容範囲を算出する（Ｓ１０５）。
【００２４】
図４に、変調度変化の許容範囲の算出説明図を示す。Ｐｍｉｎ及びＰｍａｘが得られると、変調度ｍ１におけるパワー範囲が得られる。すなわち、基準変調度変化特性１００における変調度ｍ１に対応する記録パワーをＰｃ１とすると、パワー係数はＰｃ／Ｐｃ１であり、下限記録パワーＰｍｉｎからＰｍｉｎ・Ｐｃ１／Ｐｃにより変調度ｍ１における下限記録パワーＰｍｉｎに対応する記録パワーＰ１が得られる。また、上限記録パワーＰｍａｘからＰｍａｘ・Ｐｃ１／Ｐｃにより変調度ｍ１における上限記録パワーＰｍａｘに対応する記録パワーＰ２が得られる。所定の変調度ｍ２（ｍ１＜ｍ２）においても同様であり、基準変調度変化特性１００における変調度ｍ２に対応する記録パワーをＰｃ２とすると、パワー係数はＰｃ／Ｐｃ２であり、下限記録パワーＰｍｉｎからＰｍｉｎ・Ｐｃ２／Ｐｃにより変調度ｍ２における下限記録パワーＰｍｉｎに対応する記録パワーＰ３が得られる。また、上限記録パワーＰｍａｘからＰｍａｘ・Ｐｃ２／Ｐｃにより変調度ｍ２における上限記録パワーＰｍａｘに対応する記録パワーＰ４が得られる。以上のようにして変調度ｍ１における下限記録パワーＰ１と上限記録パワーＰ２、変調度ｍ２における下限記録パワーＰ３と上限記録パワーＰ４を算出すると、記録パワーＰ１における変調度ｍ１と記録パワーＰ３における変調度ｍ２から、（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ３−Ｐ１）により変調度変化の上限傾きが算出できる。また、記録パワーＰ２における変調度ｍ１と記録パワーＰ４における変調度ｍ２から、（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ４−Ｐ２）により変調度変化の下限傾きが算出できる。図中、基準変調度変化特性１００に対し、上限変調度変化特性２００及び下限変調度変化特性３００を示す。上限変調度変化特性２００と下限変調変化特性３００との間の変調度変化は、エラーレート等の記録品質が確保できる許容範囲となる。換言すれば、変調度変化の急峻な領域に基づいて決定された記録パワー（Ｐｗｔに所定の係数αだけ定数倍して設定された記録パワー）で記録しても記録品質が保てる範囲である。
実際のドライブの変調度変化がこの許容範囲内に含まれていれば記録品質を確保できる最適記録パワーを設定できることになる。上限変調度変化特性２００及び下限変調度変化特性３００は、システムコントローラ３２のメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）にファームウェアとして記憶される。記憶の態様は任意であり、上限変調度変化特性２００及び下限変調度変化特性３００を関数として記憶してもよくあるいはマップとして記憶してもよい。さらには、上記の上限傾きＫ１＝（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ３−Ｐ１）、及び下限傾きＫ２＝（ｍ２−ｍ１）／（Ｐ４−Ｐ２）として数値で記憶してもよい。この場合、許容範囲はテストデータの変調度変化の傾きをＫとしてＫ１≧Ｋ≧Ｋ２として表現される。
【００２５】
変調度変化の許容範囲、より特定的には変調度変化の傾きの許容範囲をメモリに格納した後、ドライブ設計時の処理は終了し、以後はユーザによる記録動作段階の処理に移行する。まず、システムコントローラ３２は記録パワーを最適化するＯＰＣを実行する。すなわち、記録すべき光ディスクのテストエリアに記録パワーを階段状に変化させながらテストデータを試し書きし、テストデータを再生して各記録パワーにおける変調度を測定する。そして、変調度がｍ１及びｍ２となる記録パワーＰｒ１、Ｐｒ２を算出する（Ｓ１０６）。測定して得られたテストデータの変調度がｍ１の前後である場合には、これらを内挿してｍ１に対応する記録パワーＰｒ１を算出する。変調度ｍ２についても同様である。
【００２６】
テストデータについて変調度ｍ１、ｍ２が得られる記録パワーＰｒ１、Ｐｒ２を算出した後、これらを用いてテストデータの変調度変化の傾きＫ＝（ｍ２−ｍ１）／（Ｐｒ２−Ｐｒ１）を算出する（Ｓ１０７）。そして、システムコントローラ３２は、算出した傾きＫが予めメモリに記憶された許容範囲に含まれるか否か、すなわちＫ１≧Ｋ≧Ｋ２を満たすか否かを判別する（Ｓ１０８）。テストデータの変調度変化の傾きＫが許容範囲内である場合には、当該ドライブは標準ドライブと略同一の特性を有するものとしてそのまま最適記録パワーを算出する。具体的には、変調度変化の変曲点に対応する記録パワーをα倍して最適記録パワーを算出し、データの記録を開始する（Ｓ１０９）。なお、予め定められた目標変調度に対応する記録パワーを定数倍して最適記録パワーを算出してもよい。要は、変調度変化の急峻な領域に基づき決定される最適記録パワーである。
【００２７】
一方、テストデータの変調度変化の傾きＫが許容範囲に含まれない場合、すなわちＫ＞Ｋ１であるか、あるいはＫ２＞Ｋである場合、当該ドライブの個体差が大きく標準ドライブから乖離した特性を有しているものとして、そのままで変調度変化から最適記録パワーを高精度に算出することができないので、記録ストラテジを変更する。記録ストラテジの変更に際しては、まず傾きＫが許容範囲に対して大きいか小さいかを判別する（Ｓ１１０）。すなわち、Ｋ＞Ｋ１であるか、あるいはＫ２＞Ｋであるかを判別する。そして、傾きＫと許容範囲の大小関係に応じて記録ストラテジを構成するパルス幅のうち後続パルスのパルス幅Ｔｍｐを増減調整する（Ｓ１１１）。
【００２８】
図５に、記録データに対応する記録ストラテジの一例を示す。記録データはデータ長８Ｔとして示している。記録ストラテジは、上記のように先頭パルスのパルス幅ｎＴｔｏｐ、後続パルスのパルス幅Ｔｍｐ、クーリングパルスのパルス幅Ｔｃｌ、後続パルスのパルス周期Ｔ、ベースパワーＰｂ、イレースパワーＰｅ、ピークパワー（記録パワー）Ｐｏから構成される。これら記録ストラテジを構成する各パラメータのうち、本実施形態では後続パルスのパルス幅Ｔｍｐを増減することで記録ストラテジを変更する。パルス幅Ｔｍｐを増大させるとその分だけ深くピットが形成されるので変調度変化の傾きが増大し、逆にパルス幅Ｔｍｐを減少させるとその分だけ浅くピットが形成されるので変調度変化の傾きは小さくなる。図５に、Ｔｍｐの大小とピット深さとの関係も示す。Ｔｍｐが大きくなるとピット深さも大きくなることを示す。図６に、Ｔｍｐの大小と変調度変化の傾きとの関係を示す。Ｔｍｐが増大すると変調度変化の傾きが増大（急峻化）し、Ｔｍｐが減少すると変調度変化の傾きが低減（緩慢化）する。したがって、変調度変化の傾きＫがＫ＞Ｋ１である場合には、傾きＫが小さくなるようにパルス幅Ｔｍｐを減少させ、逆に傾きＫがＫ２＞Ｋである場合には、傾きＫが大きくなるようにパルス幅Ｔｍｐを増大させればよい。
【００２９】
以上のように、傾きＫと許容範囲の大小関係に応じてパルス幅Ｔｍｐを増減調整し、再びテストデータを試し書きして変調度を測定する。そして変調度変化の傾きが許容範囲内に含まれるか否かを再度判別する（Ｓ１０６〜Ｓ１０８）。パルス幅Ｔｍｐを増減調整した結果、変調度変化の傾きＫが許容範囲内に含まれるようになった場合には、Ｓ１０９で最適記録パワーを算出し、変更後の記録ストラテジでデータ記録を開始する。一方、パルス幅Ｔｍｐを増減調整してもなお変調度変化の傾きＫが許容範囲内に含まれない場合には、許容範囲内に含まれるまでパルス幅Ｔｍｐの増減調整及びテストデータの試し書きを繰り返す。なお、パルス幅Ｔｍｐの増減調整の回数を一定回数に制限し、一定回数を超えても未だ許容範囲内に含まれない場合には処理を中断して所定のエラー処理を実行してもよい。
【００３０】
なお、本実施形態では変調度変化の傾きが許容範囲に含まれない場合にパルス幅Ｔｍｐを増減調整しているが、パルス幅Ｔｍｐではなく先頭パルスのパルス幅ｎＴｔｏｐを増減調整してもよく、あるいはパルス幅ＴｍｐとｎＴｔｏｐをともに増減してもよい（Ｔｍｐの増減に連動させてｎＴｔｏｐを増減する）。要するに、マルチパルスでデータを記録する場合の少なくともいずれかのパルス幅を増減すればよい。
【００３１】
また、本実施形態では、変調度変化の傾きを用いて最適記録パワーを算出する場合を例示したが、変調度変化の微分値を含むγ値を用いてもよい。γ値を用いる場合にも変調度変化を用いて最適記録パワーを算出することに変わりなく、本願発明に含まれる。
【００３２】
さらに、本実施形態では、ＯＰＣ実行時に変調度変化の傾きが許容範囲内に含まれるか否かを判別して記録ストラテジを変更しているが、ＯＰＣ実行時に判別することなく最適記録パワーを仮設定し、実際のデータ記録を開始した後の記録品質を評価して記録ストラテジを変更してもよい。すなわち、ＯＰＣ実行時にテストデータの試し書きから変調度変化を算出し、この変調度変化から最適記録パワーを仮設定する。そして、仮設定された最適記録パワーでデータを記録する。記録されたデータを再生してそのエラーレートを検出し、エラーレートが所定のしきい値を超えた場合に、テストデータの試し書きで得られた変調度変化の傾きを許容値と比較する。そして、変調度変化の傾きが許容値より大きい場合には現在の記録ストラテジにおけるパルス幅Ｔｍｐを減少調整し、逆に変調度変化の傾きが許容値より小さい場合にはパルス幅Ｔｍｐを増大調整すればよい。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】実施形態における光ディスク装置の構成ブロック図である。
【図２】実施形態の処理フローチャートである。
【図３】基準変調度変化特性を示すグラフ図である。
【図４】上限変調度変化特性及び下限変調度変化特性を示すグラフ図である。
【図５】記録ストラテジの説明図である。
【図６】パルス幅Ｔｍｐと変調度変化の傾きとの関係を示すグラフ図である。
【図７】変調度変化の傾きから最適記録パワーを算出する説明図（その１）である。
【図８】変調度変化の傾きから最適記録パワーを算出する説明図（その２）である。
【符号の説明】
【００３４】
１０  光ディスク、１６  光ピックアップ、３２  システムコントローラ、１００  基準変調度変化特性、２００  上限変調度変化特性、３００  下限変調度変化特性。
【図１】
0004501895.tif 000002
【図２】
0004501895.tif 000003
【図３】
0004501895.tif 000004
【図４】
0004501895.tif 000005
【図５】
0004501895.tif 000006
【図６】
0004501895.tif 000007
【図７】
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【図８】
0004501895.tif 000009