(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行い、情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、
前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められた所定の前端パルスエッジ位置と、自己マーク長と後スペース長の組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエッジ位置とに基づいて、ランダムパターン信号を記録し（ａ）、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ）、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し（ｃ）、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、第１のテストパターン信号を記録し（ｄ）、
再生した前記第１のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し（ｅ）、
測定した前記エッジ間隔に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定する（ｆ）
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項２】
前記ステップ（ａ）に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記前端パルスエッジ位置と前記後端パルスエッジ位置とを所定の値に設定して、前記記録パワーを変化させながら第２のテストパターン信号を記録し、
前記第２のテストパターン信号を再生して測定したジッタまたはビットエラーレートの結果に基づき、記録パワーの適正値を決定した後、
前記ステップ（ａ）から（ｆ）を実行することを特徴とする請求項１記載の光学的情報記録方法。
【請求項３】
前記ステップ（ｆ）にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値を初期値として、前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ位置のうち少なくとも一つを変化させてランダムパターンを記録し（ａ−１）、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ−１）、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートの結果に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値とを補正して新たに決定する（ｃ−１）ことを特徴とする請求項２記載の光学的情報記録方法。
【請求項４】
前記ステップ（ａ−１）に先立って、
前記ステップ（ｆ）にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づいてランダムパターンを記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記ステップ（ａ−１）から（ｃ−１）を実行することを特徴とする請求項３記載の光学的情報記録方法。
【請求項５】
前記ステップ（ｃ−１）の後に、
補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、
前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、
測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項４記載の光学的情報記録方法。
【請求項６】
前記ステップ（ａ）に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、
前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、
測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項１記載の光学的情報記録方法。
【請求項７】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ位置を示す情報と、前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置とを決定することを特徴とする請求項１記載の光学的情報記録方法。
【請求項８】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録され
ており記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判定し、
判定した結果、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記録再生装置が略同一の場合、前端パルスエッジ位置を示す情報と後端パルスエッジ位置を示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴とする請求項７記載の光学的情報記録方法。
【請求項９】
前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項１記載の光学的情報記録方法。
【請求項１０】
テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項９記載の光学的情報記録方法。
【請求項１１】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている記録パワーを示す情報を読み込み、該情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することを特徴とする請求項２記載の光学的情報記録方法。
【請求項１２】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されており記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判定し、
判定した結果、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記録再生装置が略同一の場合、記録パワーを示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴とする請求項１１記載の光学的情報記録方法。
【請求項１３】
前記記録パワーの適正値を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項２記載の光学的情報記録方法。
【請求項１４】
テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項１３記載の光学的情報記録方法。
【請求項１５】
請求項１記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、
前記記録再生装置の調整時、前記記録再生装置の起動時、前記起動時から一定時間経過した時、光学的情報記録媒体の交換時、光学的情報記録媒体のビットエラーレートが所定の値を越えた時、前記光学的情報記録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイミングにおいて、テスト記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項１６】
書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行い、情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、
所定の前端パルスエッジ位置と所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記記録パワーを所定の値に設定して、第１のテストパターン信号を記録し、
前記第１のテストパターン信号を再生し、再生した前記第１のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し、測定した前記エッジ間隔に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定した後、
前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーでランダムパターン信号を記録し（ａ）、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ）、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し（ｃ）、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記記録パワーを変化させながら第２のテストパターン信号を記録し（ｄ）、
再生した前記第２のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートの測定結果に基づき、前記記録パワーの適正値を決定する（ｅ）
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項１７】
前記記録パワーを前記ステップ（ｅ）にて決定した前記適正値に設定し、前記第１のテストパターン信号を用いて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値を起点として、前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ位置のうち少なくとも一つを変化させてランダムパターンを記録し（ａ−１）、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ−１）、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートの結果に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値とを補正して新たに決定する（ｃ−１）ことを特徴とする請求項１６記載の光学的情報記録方法。
【請求項１８】
前記ステップ（ａ−１）に先立って、
前記ステップ（ｅ）にて決定した前記記録パワーの適正値に基づいてランダムパターンを記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、
判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記ステップ（ａ−１）から（ｃ−１）を実行することを特徴とする請求項１７記載の光学的情報記録方法。
【請求項１９】
前記ステップ（ｃ−１）の後に、
補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、
前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、
測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項１８記載の光学的情報記録方法。
【請求項２０】
前記ステップ（ａ）に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、
前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、
測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項１６記載の光学的情報記録方法。
【請求項２１】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記記録パワーを示す情報を読み込み、該情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することを特徴とする請求項１６に記載の光学的情報記録方法。
【請求項２２】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されており記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判定し、
判定した結果、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記録再生装置が略同一の場合、記録パワーを示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴とする請求項２１記載の光学的情報記録方法。
【請求項２３】
前記記録パワーの適正値を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項１６記載の光学的情報記録方法。
【請求項２４】
テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項２３記載の光学的情報記録方法。
【請求項２５】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ位置を示す情報と前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置とを決定することを特徴とする請求項１６記載の光学的情報記録方法。
【請求項２６】
あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されており記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判定し、
判定した結果、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記録再生装置が略同一の場合、前端パルスエッジ位置を示す情報と後端パルスエッジ位置を示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴とする請求項２５記載の光学的情報記録方法。
【請求項２７】
前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項１６記載の光学的情報記録方法。
【請求項２８】
テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請求項２７記載の光学的情報記録方法。
【請求項２９】
請求項１６記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、
前記記録再生装置の調整時、前記記録再生装置の起動時、前記起動時から一定時間経過した時、光学的情報記録媒体の交換時、光学的情報記録媒体のビットエラーレートが所定の値を越えた時、前記光学的情報記録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイミングにおいて、テスト記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば光ディスク等の、光学的に情報を記録・再生する光学的情報記録媒体と、記録条件を最適化するために情報信号の記録に先立ってテスト記録を行う情報記録方法および情報記録装置とに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光学的に情報を記録する媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案、開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度に情報を記録・再生できる媒体として注目されている。
【０００３】
書き換え型光ディスクの一つの方式に、相変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクに用いる記録膜は、レーザ光による加熱条件および冷却条件によって、アモルファス状態および結晶状態のいずれかの状態になる。なお、アモルファス状態と結晶状態とには可逆性がある。上記のアモルファス状態と結晶状態とでは、記録膜の光学定数（屈折率および消衰係数）が異なる。相変化型光ディスクでは、情報信号に応じて選択的に２つの状態を記録膜に形成し、この結果として生じる光学的変化（透過率または反射率の変化）を利用して、情報信号の記録・再生を行う。
【０００４】
上記の２つの状態を得るために、以下のような方法で情報信号を記録する。光ヘッドにより集束させたレーザ光（パワーレベルＰp）を光ディスクの記録膜にパルス状に照射して（これを記録パルスと呼ぶ）、記録膜の温度を融点を越えて上昇させると溶融し、溶融部分は、レーザ光の通過とともに急速に冷却されてアモルファス状態の記録マーク（またはマークと呼ぶ）になる。なお、このパワーレベルＰpをピークパワーと呼ぶ。また、記録膜の温度を結晶化温度以上で融点以下の温度まで上昇させる程度の強度のレーザ光（パワーレベルＰb、なお、Ｐb＜Ｐp）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。なお、このパワーレベルＰbをバイアスパワーと呼ぶ。また、これらピークパワーおよびバイアスパワーを総称して記録パワーと呼ぶ。
【０００５】
このようにして、光ディスクのトラック上に、記録データ信号に対応したアモルファス領域からなる記録マークと、結晶領域からなる非マーク部（これをスペースと呼ぶ）との記録パターンが形成される。そして、結晶領域とアモルファス領域との光学的特性の相違を利用することにより、情報信号を再生することができる。
【０００６】
また最近では、マークポジション記録（ＰＰＭ記録ともいう）方式にかわって、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録ともいう）方式を用いることが多くなってきた。マークポジション記録では、記録マーク自身の位置のみに情報を持たせるのに対して、マークエッジ記録では、記録マークエッジの前端および後端の両方に情報を持たせるので、記録線密度が向上するというメリットがある。
【０００７】
特に、マークエッジ記録方式の場合には、長いマークを記録するときの記録パルスを複数の記録パルス列（これをマルチパルスという）に分解し、先頭のパルス（これを前端パルスと呼ぶ）の幅を中間のパルスの幅や最後のパルス（これを後端パルスと呼ぶ）の幅よりも大きくして記録する方法が用いられる。これは、マークの前部より伝わる余分な熱の影響を考慮して、マークの後部を記録するときには記録膜に与える熱量をマークの前部を記録するときよりも少なくすることにより、記録マーク形状の歪みを軽減してより精密にマークを記録するためである。
【０００８】
ところで、光ディスクは交換可能な記録媒体であるので、光ディスクの記録再生装置は、異なる複数の光ディスクに対して安定に記録再生が可能であることが要求される。しかし、同一の条件で製造された光ディスクでも、製造時のばらつきや経時変化により、熱的特性がばらつくために記録再生に最適な記録パワーが互いに異なることがある。また、光ディスクの基板表面の汚れや、記録再生装置の光学系の伝送効率の低下や動作状態の変動により、光ディスクの記録膜に到達するレーザ光のパワーが変動することもあり得る。
【０００９】
また、マークエッジ記録方式の場合には、光ディスクの熱的特性のばらつきが、記録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の程度に影響を及ぼす。すなわち、同じ記録パルス波形で記録しても形成される記録マークの形状はディスクごとに異なってくる。その結果、ディスクによっては記録マークエッジが理想的な位置からずれ、再生した信号の品質が低下することがあり得る。
【００１０】
そのため、各ディスクに対して記録パワーや前端パルスエッジ位置、後端パルスエッジ位置を最適に補正することにより、いずれのディスクに対しても記録マークが理想的なエッジ位置で記録できるようにする必要がある。
【００１１】
上記のように、レーザ光の最適パワーレベルや前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正して、情報信号を正確に記録再生する方法の例が、特許第２６７９５９６号公報で示されている。これは、記録マークの長さ（これを自己マーク長と呼ぶ）およびその前後のスペースの長さ（これらをそれぞれ前スペース長、後スペース長と呼ぶ）の組み合わせを組み合わせテーブルとし、組み合わせテーブル内の各々の要素について前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を補正するものである。
【００１２】
また、特開平９−６３０５６号公報には、ビットエラーレートのパワー依存性から最適な記録パワーを決定する方法が開示されている。また、特開平６−１９５７１３号公報には、記録再生装置の立ち上げ時や光ディスクの導入時に情報信号を記録するのに先立って、特定の周期を有するデータパターン（これをテストパターンと呼ぶ）によるテスト記録を行った後に、記録されたテスト信号を再生し、その再生信号を測定して記録マークエッジのずれ量を求めることにより、前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置を補正する方法が開示されている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の方法では、光ディスク導入時などに、どのような光ディスクに対しても常に一連の同じテスト記録工程を行うことになる。そのため、記録再生装置が初期値として有している記録パワーや前端パルスエッジ位置、後端パルスエッジ位置が導入した光ディスクに対して最適な場合には、実質的に余分なテスト記録工程を経ることになり、結果的に記録再生装置が実際に情報信号を記録可能な状態になるまでに時間がかかるという課題を有していた。特に、前端パルスエッジ位置や後端パルスエッジ位置を決定するには多くのテスト記録工程が必要になるので、情報信号を記録可能な状態になるまでに時間は無視できないものになる。
【００１４】
また、テストパターンを用いたテスト記録工程で前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正しても、実際に情報信号を記録したときにはこれらの補正したエッジ位置が十分に最適とはならない場合がある。その結果、テストパターンによるテスト記録だけでは、実際の情報信号の場合十分に正確な記録ができないという課題を有していた。
【００１５】
また、従来の方法で、情報信号のマークに応じた記録パルス列を発生させて情報を記録する場合、光ディスクの熱的特性のばらつきに起因して記録マークが前部と後部で非対称な形状に歪む場合があった。その結果、再生信号に歪みが生じ、テスト記録により前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を最適にしても十分に正確な情報信号の記録ができないという課題を有していた。
【００１６】
本発明は、これら従来の問題を解決するために、記録パワーや前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置、前端パルス幅および後端パルス幅といった記録条件を短時間のテスト記録により決定することが可能な光学的情報記録方法を提供することを目的とする。
【００１７】
また、本発明は、適切なテスト記録によってより精密に記録条件を決定することにより、正確な情報信号の記録が可能な光学的情報記録方法を提供することを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、本発明に係る第１の光学的情報記録方法は、書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行い、情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められた所定の前端パルスエッジ位置と、自己マーク長と後スペース長の組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエッジ位置とに基づいて、ランダムパターン信号を記録し（ａ）、再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ）、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し（ｃ）、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、第１のテストパターン信号を記録し（ｄ）、再生した前記第１のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し（ｅ）、測定した前記エッジ間隔に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定する（ｆ）ことを特徴とする。
【００１９】
この方法によれば、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を決定するのに要する時間を短縮することができる。
【００２０】
前記第１の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ）に先立って、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記前端パルスエッジ位置と前記後端パルスエッジ位置とを所定の値に設定して、前記記録パワーを変化させながら第２のテストパターン信号を記録し、前記第２のテストパターン信号を再生して測定したジッタまたはビットエラーレートの結果に基づき、記録パワーの適正値を決定した後、前記ステップ（ａ）から（ｆ）を実行することが好ましい。
【００２１】
この方法によれば、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置だけでなく、記録パワーについても最適に決定することができる。
【００２２】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｆ）にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値を初期値として、前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ位置のうち少なくとも一つを変化させてランダムパターンを記録し（ａ−１）、前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ−１）、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートの結果に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値とを補正して新たに決定する（ｃ−１）ことが好ましい。
【００２３】
この方法によれば、実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の補正ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【００２４】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ−１）に先立って、前記ステップ（ｆ）にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づいてランダムパターンを記録し、前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記ステップ（ａ−１）から（ｃ−１）を実行することが好ましい。
【００２５】
この方法によれば、第１のテストパターンの記録のみで前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置が十分に補正された光ディスクに対しては、実際に情報信号を記録できる状態になるまでの時間を短縮することができる。
【００２６】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｃ−１）の後に、補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
【００２７】
この方法によれば、実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の補正を行った後に、記録マークの歪を最小にできるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【００２８】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ）に先立って、前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
【００２９】
この方法によれば、記録マークの歪みを最小にしてから記録パルスのエッジ位置を決定できるので、再生信号の歪みが減少し、情報をより正確に記録することができる。
【００３０】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ位置を示す情報と、前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、それらの情報を初期値とし、前記情報に基づき、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置とを決定することが好ましい。
【００３１】
この方法によれば、読み込んだ情報を前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値とすることができ、テスト記録に要する時間を一層短縮することができる。
【００３２】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
【００３３】
この方法によれば、次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、これらの新たな前端パルスエッジ位置の適正値と後端パルスエッジ位置の適正値とを読み込んで初期値とすることができ、次回のテスト記録に要する時間を短縮することできる。
【００３４】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている記録パワーを示す情報を読み込み、該情報を初期値とし、前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することが好ましい。
【００３５】
この方法によれば、読み込んだ情報を記録パワーの初期値とすることができ、テスト記録に要する時間を一層短縮することができる。
【００３６】
また、前記第１の光学的情報記録方法において、前記記録パワーの適正値を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
【００３７】
この方法によれば、次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこの新たな記録パワー適正値を読み込んで初期値とすることができ、次回のテスト記録に要する時間を短縮することできる。
【００３８】
また、前記の目的を達成するために、本発明に係る第２の光学的情報記録方法は、書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行い、情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、所定の前端パルスエッジ位置と所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記記録パワーを所定の値に設定して、第１のテストパターン信号を記録し、前記第１のテストパターン信号を再生し、再生した前記第１のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し、測定した前記エッジ間隔に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定した後、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき、所定の記録パワーでランダムパターン信号を記録し（ａ）、再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ）、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し（ｃ）、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記記録パワーを変化させながら第２のテストパターン信号を記録し（ｄ）、再生した前記第２のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートの測定結果に基づき、前記記録パワーの適正値を決定する（ｅ）ことを特徴とする。
【００３９】
この方法によれば、記録パワーを決定するのに要する時間を短縮することができる。また、記録パワーだけでなく、前端パルスエッジ位置と後端パルスエッジ位置についても最適に決定することができる。
【００４０】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、前記記録パワーを前記ステップ（ｅ）にて決定した前記適正値に設定し、前記第１のテストパターン信号を用いて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値を起点として、前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ位置のうち少なくとも一つを変化させてランダムパターンを記録し（ａ−１）、前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｂ−１）、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートの結果に基づき、前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値とを補正して新たに決定する（ｃ−１）ことが好ましい。
【００４１】
この方法によれば、実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の補正ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【００４２】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ−１）に先立って、前記ステップ（ｅ）にて決定した前記記録パワーの適正値に基づいてランダムパターンを記録し、前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し、測定した前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上か否かを判定し、判定した結果、前記ジッタまたは前記ビットエラーレートが一定値以上の場合、前記ステップ（ａ−１）から（ｃ−１）を実行することが好ましい。
【００４３】
この方法によれば、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置が十分に補正された光ディスクに対しては、実際に情報信号を記録できる状態になるまでの時間を短縮することができる。
【００４４】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｃ−１）の後に、補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
【００４５】
この方法によれば、実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の補正を行った後に、記録マークの歪を最小にできるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【００４６】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ）に先立って、前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ位置に基づき第３のテストパターンを記録し、前記第３のテストパターン信号を再生し、再生した前記第３のテストパターン信号のジッタまたはビットエラーレートを測定し（ｇ）、前記前端パルスおよび／または前記後端パルスの幅を変更しながら前記ステップ（ｇ）を繰り返し、測定したジッタまたはビットエラーレートが最も小さくなるような前端パルスおよび後端パルスの幅を決定することで、前端パルス幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
【００４７】
この方法によれば、記録マークの歪みを最小にしてから記録パルスのエッジ位置を決定できるので、再生信号の歪みが減少し、情報をより正確に記録することができる。
【００４８】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記記録パワーを示す情報を読み込み、該情報を初期値とし、前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することが好ましい。
【００４９】
この方法によれば、読み込んだ情報を記録パワーの初期値とすることができ、テスト記録に要する時間を一層短縮することができる。
【００５０】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、前記記録パワーの適正値を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
【００５１】
この方法によれば、次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこの新たな記録パワー適正値を読み込んで初期値とすることができ、次回のテスト記録に要する時間を短縮することできる。
【００５２】
また、前記第２の光学的情報記録方法において、あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ位置を示す情報と前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、それらの情報を初期値とし、前記情報に基づき、前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置とを決定することが好ましい。
【００５３】
この方法によれば、読み込んだ情報を前端パルスエッジ位置と後端パルスエッジ位置の初期値とすることができ、記録パワー算出の誤差を少なくすることができる。
【００５４】
さらに、前記第２の光学的情報記録方法において、前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
【００５５】
この方法によれば、次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、これらの新たな前端パルスエッジ位置の適正値と後端パルスエッジ位置の適正値とを読み込んで初期値とすることができ、次回のテスト記録に要する時間を短縮することできる。
【００７０】
また、前記第１または第２の光学的情報記録方法において、テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
【００７１】
この方法によれば、次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、テスト記録を行った記録再生装置と略同一か否かを判別することができ、略同一の場合には次回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。
【００７２】
また、前記第１または第２の光学的情報記録方法において、あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されており記録再生装置を識別する情報を読み込み、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判定し、判定した結果、識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記録再生装置が略同一の場合、前端パルスエッジ位置と後端パルスエッジ位置を示す情報、前端パルス幅と後端パルス幅を示す情報、および記録パワーを示す情報の少なくともいずれか一つに関するテスト記録を省略することが好ましい。
【００７３】
この方法によれば、略同一の記録再生装置の場合には、次回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。
【００７４】
さらに、前記の目的を達成するために、本発明に係る光学的情報記録装置は、前記第１または第２の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、前記記録再生装置の調整時、前記記録再生装置の起動時、前記起動時から一定時間経過した時、光学的情報記録媒体の交換時、光学的情報記録媒体のビットエラーレートが所定の値を越えた時、前記光学的情報記録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイミングにおいて、テスト記録を行うことを特徴とする。
【００７５】
この構成によれば、記録再生装置の調整時にテスト記録を行うことにより、光学的情報記録装置間の変動要素を補償できる。また、光学的情報記録装置の起動時、および前記起動時から一定時間経過した時にテスト記録を行うことにより、光学的情報記録装置自身の変動要素を補償することができる。また、光学的情報記録媒体の交換時にテスト記録を行うことにより、光学的情報記録媒体間の変動要素を補償することができる。また、光学的情報記録媒体のビットエラーレートが所定の値を越えた時にテスト記録を行うことにより、光学的情報記録媒体自身の変動要素を補償することができる。さらに、使用環境の温度が変化した時にテスト記録を行うことにより、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体の温度依存性に起因する変動要素を補償することができる。
【００７６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００７７】
（第１の実施形態）
本実施形態は、まずランダムパターン信号を記録し、再生した情報のビットエラーレートが所定の値よりも高いときのみ、記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号（第１のテストパターン信号）に基づいてテスト記録する方法をとることにより、エッジ位置の初期値が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。
【００７８】
図１は、この第１の実施形態を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。
【００７９】
本記録再生装置は、光ディスク１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１１と、レーザ光源(図示せず)を備えて光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド１０とを備えている。この記録再生装置全体の動作は、システム制御回路２によって制御される。このシステム制御回路２の内部には、自己マークと前スペースの組み合わせに対する前端パルスエッジ位置、および自己マークと後スペースの組み合わせに対する後端パルスエッジ位置を補正するために、組み合わせテーブルの情報を各要素ごとに登録しておくテーブル登録メモリ２ａを有している。またシステム制御回路２の内部には、前端パルスエッジ位置と後端パルスエッジ位置の補正量を求めるために、測定したマークエッジ間隔を蓄積しておくエッジ間隔蓄積メモリ２ｂを有している。
【００８０】
この記録再生装置は、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を決定するために、特定の周期を有する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号を生成するテストパターン信号生成回路４と、ジッタまたはビットエラーレートを測定するために、変調則に基づくほぼすべてのパターンを含むランダムパターン信号を生成するランダムパターン信号生成回路３と、記録する情報信号に対応した記録データ信号を発生させる変調回路５とを備えている。
【００８１】
この記録再生装置は、記録モードに応じて送出する３種の記録データ信号を切り替える選択回路６と、記録データ信号に応じてレーザを駆動するための記録パルス列を発生させる記録信号生成回路７と、この記録信号生成回路７が出力する記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整回路８とを備えている。この記録パルスエッジ調整回路８は、前端パルスおよび後端パルスそのものの位置を変化させてエッジ位置を調整する回路であってもよいし、前端パルスの前端エッジ位置および後端パルスの後端エッジ位置を変化させて（この場合、それぞれ前端パルスの幅および後端パルスの幅が変化する）エッジ位置を調整する回路であってもよい。
【００８２】
さらに、記録パルスエッジ調整回路８が出力する記録パルスに応じて、光ヘッド１０内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路９が設けられている。
【００８３】
また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行う再生手段として、光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路１２と、再生信号のエッジのタイミングを検出するエッジタイミング検出回路１３と、再生情報を得るための復調回路１５と、ビットエラーレート（図中、ＢＥＲと略記する）測定回路１４と、ビットエラーレートの大小を判定する判定回路１６とを備えている。
【００８４】
次に、図２のフローチャート、および図３の動作図を用いて、本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【００８５】
図２は本実施形態の動作を示すフローチャートである。図３は本実施形態の一部分の例である、前スペース長５Ｔ−自己マーク長３Ｔの組み合わせ（すなわち組み合わせテーブルの一要素）での前端パルスエッジ位置の補正量を求める動作を説明する図である。ここでＴはチャネルクロック周期を表す。図３（ａ）は記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号（記録データ信号）波形、図３（ｂ）はレーザを駆動する記録パルス波形、図３（ｃ）は上記記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号が記録された後のトラック３０７の状態、図３（ｄ）は上記トラックを再生したときの再生信号波形、図３（ｅ）は再生信号の２値化信号波形を示す図である。なお、図３において、３Ｔ、１０Ｔの後に付記する「Ｍ」はマークを、５Ｔ、１０Ｔの後に付記する「Ｓ」はスペースを、「ＦＥＰ」は前端パルスエッジ位置を、「ＢＥＰ」は後端パルスエッジ位置を示す。
【００８６】
テスト記録時には、まず、シーク動作工程ステップ２０１（以下、Ｓ２０１のように略記する）により、システム制御回路２の命令に基づいて光ヘッド１０が光ディスク１上の所定のテストトラックにシークする。エッジ位置設定工程Ｓ２０２により、システム制御回路２は前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値（すなわち、記録再生装置があらかじめ備える値）を記録パルスエッジ調整回路８に設定し、パワー設定工程Ｓ２０３により、レーザ駆動回路９に対して記録パワーを設定する。
【００８７】
そしてランダムパターン信号送出工程Ｓ２０４により、選択回路６を切り換えてランダムパターン信号生成回路３からのランダムパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。
【００８８】
記録動作工程Ｓ２０５では、記録信号生成回路７は、記録データ信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出し、記録マークの長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルス列を所定のタイミングで発生する。そして記録パルスエッジ調整回路８にて、記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置は設定値に調整される。レーザ駆動回路９は、記録パルスに応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、該当トラックへの記録を行う。トラック上にはランダムパターン信号の波形に応じてマークが記録される。
【００８９】
ランダムパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ２０６により、光ヘッド１０が該当のトラックを再生し、再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。ＢＥＲ測定工程Ｓ２０７により、ビットエラーレート測定回路１４が、この２値化信号波形をもとにしてテスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較し、ビットエラーレートを測定する。
【００９０】
そしてＢＥＲ判定工程Ｓ２０８により、判定回路１６にてビットエラーレートとＢＥＲ規定値とを比較し、判定結果を示す情報をシステム制御回路２に送る。ここでＢＥＲ規定値とは再生した情報のビットエラーレートが使用可能なレベルである値を示す。この値は、記録再生装置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。
【００９１】
測定値がＢＥＲ規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。これにより、光ディスク上にあらかじめ記録されているエッジ位置が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一のディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一のディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。
【００９２】
測定したビットエラーレートがＢＥＲ規定値よりも高い場合には、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正するために以下の工程を経る。
【００９３】
テストパターン信号送出工程Ｓ２０９により、選択回路６を切り換えてテストパターン信号生成回路４からの記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号を記録信号生成回路７へ送出する。記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号は組み合わせテーブル上の各要素の調整に対応した特定の周期を有する記録データ信号である。この信号波形が図３（ａ）に相当する。
【００９４】
記録動作工程Ｓ２１０により、記録信号生成回路７は、この記録データ信号を記録パルス列に変換する。レーザ駆動回路９は、記録パルスエッジ調整回路８を経た、図３（ｂ）のような記録パルス列に基づいてレーザの駆動電流を変調することにより、テスト記録を該当トラックへ行う。記録後、トラックの状態は図３（ｃ）に示すようになる。
【００９５】
記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ２１１により、光ヘッド１０で該当トラックを再生する。再生信号の波形は図３（ｄ）に示すようになる。再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。２値化後の波形は図３（ｅ）に示すようになる。そしてタイミング測定工程Ｓ２１２により、エッジタイミング検出回路１３が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出して、記録マークエッジ間隔を測定する。図３に示す例では、同図（ｅ）に示す２値化信号の立ち上がりタイミングの間隔ｘを測定する。測定された記録マークエッジ間隔は、システム制御回路２内のエッジ間隔蓄積メモリ２ｂに蓄積される。システム制御回路２が、このメモリに蓄積されているマークエッジ間隔の測定値の平均を算出する。
【００９６】
差分算出工程Ｓ２１３によりマークエッジ間隔の平均値と記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号のエッジ間隔（すなわち、記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号の信号反転間隔）との差分（すなわちマークエッジのずれ量）を求める。図３の例では、理想的な信号反転間隔時間である１５Ｔとｘとの差分を算出する。差分判定工程Ｓ２１４により、その差分が一定値より小さいか否かを判断する。この場合の一定値には、例えば記録パルスエッジ調整回路８における前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置の調整単位時間（すなわち、調整ステップ）を用いる。
【００９７】
差分が一定値より大きい場合には、エッジ位置再設定工程Ｓ２１５により、上記の差分をもとに前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を決定し、その決定したエッジ位置を記録パルスエッジ調整回路８に設定する。図３の例では、３Ｔの記録パルス３０１の前端エッジ位置を決定する（なお、この例では３Ｔの記録パルスは前端パルスと後端パルスを重ねて単一のパルスで記録する形態となっている）。そして再度Ｓ２０９からの工程を繰り返す。
【００９８】
差分が一定値より小さい場合には、記録パルスエッジ調整回路８で設定している前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置が、所望の位置に最も近いことに相当する。したがって、エッジ位置登録工程Ｓ２１６により、システム制御回路２は設定中のエッジ位置（図３の例では前スペース長５Ｔ−自己マーク長３Ｔの組み合わせテーブルでの前端パルスエッジ位置の要素）をエッジ位置情報としてシステム制御回路２内のテーブル登録メモリ２ａに登録し、この組み合わせテーブルの要素に対するテスト記録を終了する。テストパターン切り換え工程Ｓ２１８により、次の組み合わせテーブルの要素に対応する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号に切り替えて、再度Ｓ２０９からの工程を繰り返す。テーブル要素判定工程Ｓ２１７により、すべての組み合わせテーブルの要素に対してＳ２０９からＳ２１８までを繰り返したか否かを判断し、すべての要素についてエッジ位置の設定と登録が終了した後テスト記録を終了する。
【００９９】
以降、実際に情報信号を記録するときには、選択回路６を変調回路５に接続するように切り換えて、変調回路５を経た情報信号に基づいて、記録パルスを生成する。そして記録パルスエッジ調整回路８で設定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置に従って記録を行うので、理想的なエッジ位置に記録マークを形成できる。
【０１００】
以上のような方法をとるのは、ランダムパターン信号を記録した場合にはビットエラーレートの大小だけでテーブル上のどの要素のエッジ位置をどれだけ補正するべきかを容易に知ることができず、一方、特定の周期を有する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号を記録した場合には実際に情報を正確に記録できるかどうかが、すべてのテストパターン信号に対するエッジ位置のずれ量を測定するまで知ることができないからである。
【０１０１】
すなわち、ランダムパターン信号には変調則に基づくほぼすべてのパターンの信号が含まれているので、特定の自己マーク長および前スペース長、後スペース長の組み合わせに対する記録マークエッジのずれ量を求めることが困難であるが、実際に情報を正確に記録できるかどうかについてはジッタまたはビットエラーレートを測定することにより容易に知ることができる。これに対し、特定の周期を有するテストパターンを用いてテスト記録を行うと、再生信号を測定して求めた記録マークエッジのずれ量から前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の適正値を知ることができるが、実際に情報を正確に記録できるかどうかについては、一連のテストパターンを記録してすべての組み合わせテーブルの要素に対する記録マークエッジのずれ量を測定するまで知ることができないからである。
【０１０２】
このように本実施形態では、まずランダムパターン信号を記録し、再生した情報のビットエラーレートが一定値よりも高いときのみ、記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録することにより、記録再生装置が有する前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一の光ディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一の光ディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。実際には、個々の記録再生装置に対して特定の光ディスクを高い頻度で使用することが多いため、本実施形態を用いることにより、テスト記録時間が短縮できる点で特に大きな効果を得ることができる。
【０１０３】
なお、本実施形態において、あらかじめ前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の情報に基づき初期値を設定することができるので、テスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１０４】
また、本実施形態において、終了後に決定した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１０５】
また、本実施形態において、あらかじめ記録パワーを示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、記録パワーの初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する記録パワーの情報に基づき初期値を設定することができるので、記録パワーを決定するテスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１０６】
また、ランダムパターン信号の送出については、システム制御回路２にあらかじめランダムな記録情報を持たせ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成とすれば、ランダムパターン信号生成回路３を省略することができ、記録再生装置の構成を簡略化できるという点でより好ましい。あるいは、本記録再生装置に接続された外部装置（例えばコンピュータなど）からランダムな記録情報をシステム制御回路２に送出させ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成としても、同様の効果が得られる。
【０１０７】
（第２の実施形態）
以下、本発明の第２の実施形態について説明する。本実施形態は、まずランダムパターン信号を記録し、再生した情報のビットエラーレートが所定の値よりも高いときのみ、記録パワー決定用テストパターン信号（第２のテストパターン信号）に基づいてテスト記録する方法をとることにより、記録パワーの初期値が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。
【０１０８】
図４は、このような第２の実施形態を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。本実施形態の記録再生装置は、システム制御回路４０１内にてテーブル登録メモリ２ａとエッジ間隔蓄積メモリ２ｂの代わりに、決定した記録パワーを登録するための記録パワー登録メモリ４０１ａを設け、エッジタイミング検出回路１３を設けないことを除いて図１に示した第１の実施形態における記録再生装置と同様のものである。図５のフローチャートを用いて、システム制御回路３０１によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【０１０９】
テスト記録時には、まず、シーク動作工程Ｓ５０１により、システム制御回路２の命令に基づいて光ヘッド１０が光ディスク１上の所定のテストトラックにシークする。エッジ位置設定工程Ｓ５０２により、システム制御回路４０１は前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値（すなわち、記録再生装置があらかじめ備える値）を記録パルスエッジ調整回路８に設定し、パワー設定工程Ｓ５０３により、レーザ駆動回路９に対して記録パワーの初期値を設定する。そしてランダムパターン信号送出工程Ｓ５０４により、選択回路６を切り換えてランダムパターン信号生成回路３からのランダムパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。
【０１１０】
記録動作工程Ｓ５０５により、記録信号生成回路７は、記録データ信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出し、記録マークの長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルス列を所定のタイミングで発生する。そして記録パルスエッジ調整回路８にて、記録パルス列の前端パルス・後端パルスのエッジ位置は設定値に調整される。レーザ駆動回路９は、記録パルスに応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、該当トラックへの記録を行う。トラック上にはランダムパターン信号の波形に応じてマークが記録される。
【０１１１】
ランダムパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ５０６により、光ヘッド１０が該当のトラックを再生し、再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。ＢＥＲ測定工程Ｓ５０７により、ビットエラーレート測定回路１４が、この２値化信号波形をもとにしてテスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較し、ビットエラーレートを測定する。
【０１１２】
そしてＢＥＲ判定工程Ｓ５０８により、判定回路１６にてビットエラーレートとＢＥＲ規定値とを比較し、判定結果を示す情報をシステム制御回路４０１に送る。ここでＢＥＲ規定値とは再生した情報のビットエラーレートが使用可能なレベルである値を示す。この値は、記録再生装置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。
【０１１３】
測定値がＢＥＲ規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。これにより、光ディスク上にあらかじめ記録されている記録パワーが最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一のディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一のディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。ここまでは第１の実施形態と同様である。
【０１１４】
測定したビットエラーレートがＢＥＲ規定値よりも高い場合には、新たに記録パワーを決定するためのテスト記録工程を経る。この工程では、低い記録パワーから高い記録パワーへと変化させて記録パワー決定用テスト信号を記録し、再生したテスト信号のＢＥＲが一定値以下となるしきい値を求めることにより記録パワーを決定している。以下、記録パワーを決定するためのテスト記録工程について具体的に説明する。
【０１１５】
パワー設定工程Ｓ５０９により、記録パワーをパワー調整範囲の最小に設定するよう、システム制御回路４０１からレーザ駆動回路９へ命令が送られる。テストパターン信号送出工程Ｓ５１０により、選択回路６を切り換えて、テストパターン信号生成回路４からの記録パワー決定用テストパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。
【０１１６】
記録動作工程Ｓ５１１により、記録信号生成回路７は、この記録データ信号を記録パルス列に変換する。レーザ駆動回路９は、記録パルスエッジ調整回路８を経た記録パルス列に基づいてレーザの駆動電流を変調することにより、テスト記録を該当トラックへ行う。
【０１１７】
記録パワー決定用テストパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ５１２により、光ヘッド１０で該当トラックを再生する。再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。そしてＢＥＲ測定工程Ｓ５１３により、ＢＥＲ測定工程Ｓ２０７により、ビットエラーレート測定回路１４が、この２値化信号波形をもとにしてテスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較し、ビットエラーレートを測定する。
【０１１８】
そしてしきい値判定工程Ｓ５１４により、判定回路１６にてビットエラーレートとＢＥＲしきい値とを比較し、判定結果を示す情報をシステム制御回路４０１に送る。ここでＢＥＲしきい値とは最適な記録パワーを算出するための基準となる値を示す。この値は、記録再生装置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。
【０１１９】
ＢＥＲがしきい値より大きい場合には、記録パワー再設定工程Ｓ５１５により、システム制御回路４０１が所定分増加させた記録パワーをレーザ駆動回路９に対して設定する。そして再度Ｓ５１０からの工程を繰り返す。
【０１２０】
ＢＥＲがしきい値を下回った場合には、記録パワー算出工程Ｓ５１６により、システム制御回路４０１は設定中の記録パワーから最適な記録パワーを算出する。通常、この算出には、ＢＥＲがしきい値を下回った記録パワーに一定値を乗じて最適な記録パワーとする方法が用いられる。そして、最適な記録パワーを記録パワー情報としてシステム制御回路２内の記録パワー登録メモリ４０１ａに登録し、記録パワーに対するテスト記録を終了する。
【０１２１】
以降、実際に情報信号を記録するときには、選択回路６により変調回路５に接続するように切り換えて、変調回路５を経た情報信号に基づいて、記録パルスを生成する。記録パワー登録メモリ４０１ａに登録された記録パワーに基づき、システム制御回路４０１がレーザ駆動回路９に設定した記録パワーに従って記録を行うので、理想的な記録パワーで情報の記録ができることになる。
【０１２２】
以上に述べたように本実施形態では、まずランダムパターン信号を記録し、再生した情報のビットエラーレートが一定値よりも高いときのみ、記録パワー決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録することにより、記録再生装置が有する記録パワーの初期値が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一の光ディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一の光ディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。実際には、個々の記録再生装置に対して特定の光ディスクを高い頻度で使用することが多いため、本実施形態を用いることにより、テスト記録時間が短縮できる点で特に大きな効果を得ることができる。
【０１２３】
また、本実施形態において、あらかじめ前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の情報に基づき初期値を設定することができる。そのため、記録再生装置の有するエッジ位置情報の初期値よりも適正値に近いエッジ位置で、記録パワー決定用のテスト記録を行うことができる。したがって、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置が適正値からずれることによる記録パワー算出の誤差を少なくすることができる。
【０１２４】
また、本実施形態において、あらかじめ記録パワーを示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、記録パワーの初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する記録パワーの情報に基づき初期値を設定することができるので、記録パワーを決定するテスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１２５】
また、本実施形態において、終了後に決定した記録パワーを光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された記録パワーを初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１２６】
また、ランダムパターン信号の送出については、システム制御回路２にあらかじめランダムな記録情報を持たせ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成とすれば、ランダムパターン信号生成回路３を省略することができ、記録再生装置の構成を簡略化できるという点でより好ましい。あるいは、本記録再生装置に接続された外部装置（例えばコンピュータなど）からランダムな記録情報をシステム制御回路２に送出させ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成としても、同様の効果が得られる。
【０１２７】
（第３の実施形態）
以下、本発明の第３の実施形態について説明する。図６は、第３の実施形態を実現するための記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。本実施形態の記録再生装置は、システム制御回路４０１内に仮補正値メモリ６０１ａを有し、判定回路の代わりに、ＢＥＲ暫定値メモリ６０２ａと比較器６０２ｂを持つＢＥＲ比較回路６０２を有することを除いて図１に示した第１の実施形態における記録再生装置と同様のものである。図７のフローチャートを用いて、システム制御回路２によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【０１２８】
テスト記録時には、まず、第１のテスト記録動作工程Ｓ７０１により、第１の実施形態で述べた方法で前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を決定し、記録パルスエッジ調整回路８に対し決定したエッジ位置を設定する。ここまでは、第１の実施形態のＳ２０１〜Ｓ２１９と同様である。Ｓ７０１の終了時点では、テストパターンによるエッジ位置の補正は、テストパターンに含まれる特定のマーク長・スペース長の組み合わせに対して最適となっている。
【０１２９】
しかしながら、実際の情報信号は変調則に基づいたあらゆるパターンの信号（すなわち、ランダムパターンとほぼ同等の信号）から構成されており、テストパターンによって決定したエッジ位置とわずかに異なる場合があることがわかった。これを、図３を用いて具体的に説明する。
【０１３０】
図３の場合には、５Ｔスペース−３Ｔマークの組み合わせにおける３Ｔ記録パルス３０１（この例では３Ｔの記録パルスは前端パルスと後端パルスを重ねて単一のパルスで記録する形態となっている）のエッジ位置は、１０Ｔスペース−１０Ｔマーク−５Ｔスペース−３Ｔマーク−５Ｔスペース−１０Ｔマーク−…という特定のマーク・スペースの配列の場合のみに対して補正される。しかし、実際の情報信号では、変調則に基づいたすべてのマーク・スペースの配列が存在しうる。例えばエッジ位置を補正したい３Ｔマーク３０２の前にあるマーク３０３や後ろにあるマーク３０４は１０Ｔ以外の場合もあり得るし、３Ｔマーク３０２の後にあるスペース３０５は５Ｔ以外の場合もあり得る。そして、これらマーク３０３、３０４やスペース３０５の変動のために、３Ｔマーク３０２自身に与えられる熱的な影響もわずかに変動する。その結果、実際の情報信号で最適な前端パルスエッジ位置はテストパターンによって決定したエッジ位置とは異なる場合が生じてくることになる。これを実際の情報信号の記録に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置に調整するために、以下の工程を実行する。
【０１３１】
ランダムパターン信号送出工程Ｓ７０２により、選択回路６を切り換えてランダムパターン信号生成回路３からのランダムパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。
【０１３２】
記録動作工程Ｓ７０３により、記録信号生成回路７は、記録データ信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出する。そして、記録マークの長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルス列を所定のタイミングで発生する。記録パルスエッジ調整回路８にて、記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置は設定値に調整される。レーザ駆動回路９は、記録パルス列に応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、該当トラックへの記録を行う。
【０１３３】
ランダムパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ７０４により、光ヘッド１０９が該当のトラックを再生し、再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。ＢＥＲ測定工程Ｓ７０５により、ビットエラーレート測定回路１１４が、テスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較してビットエラーレートを測定する。そして、暫定値記憶工程Ｓ７０６により、測定したビットエラーレートをＢＥＲ比較回路６０２内のＢＥＲ暫定値メモリ６０２ａに暫定値として記憶しておく。
【０１３４】
次に、エッジ位置変更工程Ｓ７０７により、自己マーク長および前スペース長、後スペース長の組み合わせからなる組み合わせテーブルの一要素について前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を変更し、記録パルスエッジ調整回路８に対して変更したエッジ位置を設定する。
【０１３５】
ランダムパターン信号送出工程Ｓ７０８により、選択回路６を切り換えてランダムパターン信号生成回路３からのランダムパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。記録動作工程Ｓ７０９により、上述と同様にして記録データ信号をもとにレーザ光源を駆動し、該当トラックへの記録を行う。
【０１３６】
記録後、再生動作工程Ｓ７１０により光ヘッド１０９が該当のトラックを再生し、再生信号処理を行う。ＢＥＲ測定工程Ｓ７１１によりビットエラーレートを測定する。
【０１３７】
ここで、ＢＥＲ判定工程Ｓ７１２により、ＢＥＲ比較回路６０２内の比較器６０２ｂにて、測定したビットエラーレートをＳ７０６で記憶したＢＥＲ暫定値メモリ６０２ａ内の暫定値より低いか否かを判定する。暫定値より低い場合は、変更後の前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）の方が変更前のエッジ位置よりも実際の情報信号（これは、ランダムパターン信号と同等）の記録にはより適していることになるので、仮補正値記憶工程Ｓ４１３により、この前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）を仮の補正値としてシステム制御回路６０１内の仮補正値メモリ６０１ａに記録しておく。また、ＢＥＲ暫定値記憶工程Ｓ７１４により、このとき測定したビットエラーレートを新たな暫定値として、Ｓ７０７で記憶した暫定値に代えて、ＢＥＲ暫定値メモリ６０２ａに記憶する。測定したビットエラーレートが暫定値よりも高い場合にはＳ７１３およびＳ７１４のステップは行わない。
【０１３８】
微調範囲判定工程Ｓ７１５により、Ｓ７０７〜Ｓ７１４までのステップを該当要素の調整範囲で前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）を変化させて繰り返す。調整範囲をすべて試した後、エッジ位置登録工程Ｓ７１６により、Ｓ７１３にて仮補正値メモリ６０１ａに記憶した仮の補正値を新たな前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）として決定し、システム制御回路３０１内のテーブル登録メモリ２ａに登録する。これは、ビットエラーレートが最も小さくなるように該当要素の前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）を設定することに相当する。Ｓ７１４で記憶したビットエラーレート値はそのまま保持する。そして、テーブル要素切り換え工程Ｓ７１８にてエッジ位置を変更する対象を別のテーブル要素に切り替えて、同様にＳ７０８〜Ｓ７１６間でのステップを繰り返す。そしてテーブル要素判定工程Ｓ７１７により、すべてのテーブル要素に対して前端パルスエッジ位置（または後端パルスエッジ位置）の調整を行ったか否かを判定し、すべてのテーブル要素について前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を設定および登録した後テスト記録を終了する。
【０１３９】
以降、実際に情報信号を記録するときには、選択回路６を、変調回路５を接続するように切り換えて、変調回路５を経た情報信号に基づいて、記録パルスを生成する。そして記録パルスエッジ調整回路８で設定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置に従って記録を行うので、理想的なエッジ位置に記録マークを形成できる。
【０１４０】
以上に述べたように本実施形態では、テストパターン記録による前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の決定後に、さらにランダムパターン信号を記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正することにより、実際の情報信号に即したエッジ位置の設定ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【０１４１】
なお、本実施形態では、第１のテスト記録工程Ｓ７０１の後に必ずランダムパターン信号を記録してＳ７０７以降のエッジ位置の調整を行ったが、ＢＥＲ測定工程Ｓ７０５の後でＢＥＲ比較回路６０２がビットエラーレートとＢＥＲ規定値とを比較し、判定結果を示す情報をシステム制御回路２に送るようにしてＳ７０７以降を実行するか否かを決定してもよい。ここでＢＥＲ規定値とは再生した情報のビットエラーレートが使用可能なレベルである値を示す。この値は、記録再生装置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。判定結果に基づき、測定値がＢＥＲ規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。この方法にすることにより、第１のテスト記録工程Ｓ７０１のみで十分ＢＥＲが低い場合にはＳ７０７以降の工程が省略できるのでテスト記録に要する時間を短縮することができる。
【０１４２】
また、本実施形態において、第１のテスト記録工程Ｓ７０１を実行しない代わりに、あらかじめ前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、Ｓ７０２以降で前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正する場合の初期値を記録パルスエッジ調整回路８に与えるようにしてもよい。この方法は、各々の光ディスクに対する前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の情報が比較的適正値に近い場合（すなわち記録再生装置のばらつきが少ない場合）には、第１のテストパターンによるテスト記録工程を省略できるので、テスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１４３】
また、本実施形態において、終了後に決定した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１４４】
また、必ずしもすべての組み合わせテーブル要素についてランダムパターン信号を記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を調整しなくともよい。たとえば、自己マークと短い前スペースの組み合わせで定められる組み合わせテーブル要素での前端パルスエッジ位置は特に前マークを記録するときの熱干渉の影響を受けやすい。また、自己マークと短い後スペースの組み合わせで定められる組み合わせテーブル要素での後端パルスエッジ位置は特に後マークを記録するときの熱干渉の影響を受けやすい。したがって、テーブル中のこれら一部の要素についてのみ、ランダムパターン信号の記録により前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を調整しても、実際の情報信号に即したエッジ位置の設定ができるという効果を得られる。
【０１４５】
また、本実施形態を、同時に複数の要素に対する前端パルスエッジ位置および／または後端パルスエッジ位置を調整する方法としてもよい。ただし、同時に複数の要素を調整すると調整の組み合わせ数が増加するので、組み合わせテーブル中の各要素の一つずつに対する前端パルスエッジ位置または後端パルスエッジ位置を一定範囲で変化させて調整する方法のほうが、テスト記録に要する時間を短くできる点で好ましい。
【０１４６】
（第４の実施形態）
図８は、本発明の第４の実施形態における記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。本実施形態の記録再生装置は、ランダムパターン信号生成回路３を設けず、システム制御回路８０１内にパルス幅登録メモリ８０１ａおよび仮補正値メモリ８０１ｂを備え、記録信号生成回路７の後に記録パルス幅調整回路８０２を設け、ＢＥＲ測定回路１１４の代わりにジッタ測定回路８０３を用い、判定回路の代わりにジッタ暫定値メモリ８０４ａおよび比較器８０４ｂを持つジッタ比較回路８０４を備えていることを除いて図１に示した第１の実施形態における記録再生装置と同様のものである。
【０１４７】
従来のテスト記録では、前端パルスの幅および後端パルスの幅を調整しない状態でエッジ位置が調整されていた。しかし、ディスクの熱的特性のばらつきにより、同じ前端パルスの幅および同じ後端パルス幅で記録しても、ディスクによっては記録マークが前部と後部で非対称な形状に歪む場合があることがわかった。これについて図９を用いて具体的に説明する。
【０１４８】
図９は従来の記録再生方法における、記録パルス波形と記録マークの関連を示す図である。図９（ａ）は記録パルス波形、図９（ｂ）は最適なマーク形状で記録された場合のトラック上の記録マーク９０４、図９（ｃ）および図９（ｄ）は、それぞれ、歪んだ形状で記録された場合のトラック上の記録マーク９０５および９０６を示す。
【０１４９】
図９（ｂ）に示すようなマーク９０４の形状で記録するために、記録パルス列９０３の前端パルス９０１の幅を太く、中間のパルスの幅および後端パルス９０２の幅は細くする方法が従来から用いられている。しかし、マークの形状が歪まないパルス幅はディスクの熱的特性によって異なる。そのため、どのようなディスクに対しても同じ前端パルス幅９０１・後端パルス幅９０２で記録すると、ディスクによって記録されたマークの歪みかたが異なってくる。たとえば、トラック方向の熱伝導率が高いディスクに記録した場合には、図９（ｃ）に示すようにマーク９０５の後部が大きくなる。逆に、トラック方向の熱伝導率が低いディスクに記録した場合には、図９（ｄ）に示すようにマーク９０６の前部が大きくなる。図９（ｃ）や図９（ｄ）に示すような、歪みの大きなマークで記録されるディスクでは再生信号のジッタが増大する原因となる。本実施形態では、これを回避するために以下に述べる方法を用いる。
【０１５０】
以下、図１０のフローチャートを用いて、システム制御回路８０１によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【０１５１】
テスト記録時には、まず、シーク動作工程Ｓ１００１により、光ヘッド１０が光ディスク１上の所定のテストトラックにシークする。パワー設定動作Ｓ１００２により、システム制御回路８０１はレーザ駆動回路９に対して記録パワーを設定し、パルス幅設定動作Ｓ１００３により、前端パルスおよび後端パルス幅の初期値（すなわち、記録再生装置があらかじめ備える値）を記録パルス幅調整回路８０２に設定する。エッジ位置設定工程Ｓ１００４により、システム制御回路２はエッジ位置の初期値を記録パルスエッジ調整回路８に設定する。次に、テストパターン信号送出工程Ｓ１００５により、テストパターン信号生成回路４がパルス幅決定用テストパターン信号（第３のテストパターン信号）を生成し、記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。このパルス幅決定用テストパターンは単一周期のパターンであることが、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の適正値からのずれによるジッタ増加の影響を受けずに記録パルス幅を決定することができる点からより好ましい。
【０１５２】
記録動作工程Ｓ１００６により、記録信号生成回路７は、記録データ信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出する。そして、記録マークの長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルスを所定のタイミングで発生する。記録パルス幅調整回路８０２にて、記録パルス列の前端パルス・後端パルスの幅が初期値に設定され、記録パルスエッジ調整回路８にて、記録パルス列の前端パルス・後端パルスのエッジ位置が初期値に設定される。レーザ駆動回路９は、記録パルスに応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、該当トラックへの記録を行う。
【０１５３】
テストパターン信号の記録後は、再生動作工程Ｓ１００７により、光ヘッド１０９が該当のトラックを再生し、再生信号処理回路１２が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。ジッタ測定工程Ｓ１００８により、ジッタ測定回路８０３が、再生信号のマーク前端間エッジのジッタとマーク後端間エッジのジッタを測定する。そして、ジッタ暫定値記憶工程Ｓ１００９により、測定したジッタをジッタ比較回路８０４内のジッタ暫定値メモリ８０４ａに暫定値として記憶しておく。
【０１５４】
次に、パルス幅変更工程Ｓ１０１０にて、システム制御回路８０１が前端パルスおよび／または後端パルスの幅を変更して、記録パルス幅調整回路８０２に対しパルス幅を設定する。テストパターン信号送出工程Ｓ１０１１により、選択回路６を切り換えてテストパターン信号生成回路４からのパルス幅決定用テストパターン信号を記録信号生成回路７へ記録データ信号として送出する。記録動作工程Ｓ１０１２により、上述と同様にして記録データ信号をもとにレーザ光源を駆動し、該当トラックへの記録を行う。
【０１５５】
記録後、再生動作工程Ｓ１０１３により、光ヘッド１０９が該当のトラックを再生し、再生信号処理を行ってからジッタ測定工程Ｓ１０１４によりジッタを測定する。ここでジッタ判定工程Ｓ１０１５により、ジッタ比較回路８０４内の比較器８０４ｂにて、測定したジッタをＳ１００８でジッタ暫定値メモリ８０４ａに記憶した暫定値より低いか否かを判定する。暫定値より低い場合は、変更後のパルス幅の方が変更前のパルス幅よりも適していることになるので、このパルス幅を仮のパルス幅としてシステム制御回路８０１内の仮補正値メモリ８０１ｂに記録しておく。また、ジッタ暫定値記憶工程Ｓ１０１７により、このとき測定したジッタの値をを新たな暫定値として、Ｓ１００７にて仮補正値メモリに記憶した暫定値に代えてジッタ暫定値メモリ８０４ａに記憶する。測定したジッタが暫定値よりも高い場合にはＳ１０１６およびＳ１０１７のステップは行わない。
【０１５６】
Ｓ１０１０〜Ｓ１０１７までのステップを該当要素の調整範囲でパルス幅を変化させて繰り返す。設定範囲判定工程Ｓ１０１８により、調整範囲をすべて試したか否かを判定する。そして調整範囲をすべて試した後、Ｓ１０１６にて記憶した仮のパルス幅を新たなパルス幅として決定する。これは、テストパターン信号に対しジッタが最も小さくなるように前端パルスおよび後端パルスの幅を設定することに相当する。これを、図１１を用いて具体的に説明する。
【０１５７】
図１１（ａ）は、前端パルスの幅（ＦＰＷ）と再生信号の前端間エッジとのジッタ（ＬＥＪ）の関係を示す図である。図１１（ａ）のように前端パルスの幅を変化させると、記録マーク前部の形状が変化するので前端間ジッタが変化する。前端パルスの幅を小さくすると記録マーク前部に与えられる熱量が減少するために記録マーク前部が後部に比べて小さくなり、記録マークの形状が歪んでジッタが増加する（すなわち、記録マーク前部が安定に記録できなくなる）。前端パルスの幅を大きくすると記録マーク前部に与えられる熱量が増加するために記録マーク前部が後部に比べて大きくなり、記録マークの形状が歪んでジッタが増加する（すなわち、記録マーク前部を過剰な記録パワーで記録しているのと等価である）。したがって、ジッタが最小となるように前端パルスの幅をｙ１に調整すれば、記録マーク前部の形状を最適にすることができる。
【０１５８】
図１１（ｂ）は後端パルス幅（ＬＰＷ）と再生信号の後端間エッジとのジッタ（ＴＥＪ）の関係を示す図である。前端パルスの場合と同様にして、ジッタが最小となるように後端パルスの幅をｙ２に調整すれば、記録マーク後部の形状を最適にすることができる。このように再生信号の前端間ジッタおよび後端間ジッタを測定することにより、前端パルスおよび後端パルスの幅の影響をほぼ独立に測定できるため、それぞれのパルス幅を容易に決定することができるのでより好ましい。
【０１５９】
この後は、第１のテスト記録動作工程Ｓ１０２０により、第１の実施形態で述べた方法で前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を設定し、登録する。これは、第１の実施形態のＳ２０１〜Ｓ２１９と同様である。そしてテスト記録を終了する。
【０１６０】
以降、実際に情報信号を記録するときには記録パルス幅調整回路８０２で設定した前端パルス幅・後端パルス幅および記録パルスエッジ調整回路８で設定した前端パルスエッジ位置・後端パルスエッジ位置に従って記録を行うので、実際の情報信号の記録において理想的なエッジ位置に歪みのない記録マークを形成できる。
【０１６１】
以上に述べたように本実施形態では、テストパターン記録による記録パルスのエッジ位置の決定に先だって、テストパターンを記録して前端パルス幅及び後端パルス幅を調整することにより、光ディスクの熱的特性の相違に対応した記録パルス幅の設定ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【０１６２】
また、本実施形態において、あらかじめ前端パルス幅および後端パルス幅を示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、前端パルス幅および後端パルス幅の初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する前端パルス幅および後端パルス幅の情報に基づき初期値を設定することができるので、テスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１６３】
また、本実施形態において、終了後に決定した前端パルス幅および後端パルス幅を光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルス幅および後端パルス幅を初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１６４】
また、本実施形態において、あらかじめ前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、システム制御回路２が再生した情報をもとにして、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を設定することがより好ましい。この方法にすることにより、各々の光ディスクに対する前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の情報に基づき初期値を設定することができるので、テスト記録に要する時間を一層短縮できる。
【０１６５】
また、本実施形態において、終了後に決定した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１６６】
なお、前記第１の実施形態に先立って、さらに第２の実施形態のように、まずランダムパターン信号を記録して、再生した情報のビットエラーレートが一定値よりも高いときのみ記録パワー決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録して記録パワーを決定することが、記録パワーについても最適に決定できる点でより好ましい。このとき、終了後に、決定した記録パワーを光ディスク１上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された記録パワーを初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１６７】
また、前記第２の実施形態に先立って、さらに第１の実施形態のように、まずランダムパターン信号を記録して、再生した情報のビットエラーレートが一定値よりも高いときのみ、エッジ位置決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録して、前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を決定することが、各エッジ位置についても最適に決定できる点でより好ましい。この方法にすることにより、次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を初期値として用いることができ、テスト記録に要する時間を短縮できる。
【０１６８】
また、前記第１または第２の実施形態の後に、さらに第３の実施形態のように、ランダムパターン信号を記録してビットエラーレートを測定し、その結果に基づいて前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正することにより、実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の決定ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。さらに、これらの実施形態の後に、第４の実施形態のように、パルス幅決定用テストパターン信号を記録してその再生結果に基づき前端パルス幅および後端パルス幅を調整すれば、光ディスクの熱的特性のばらつきに対応してさらに正確に情報信号を記録できる点でより好ましい。
【０１６９】
また、前記第１の実施形態においてエッジ位置決定用テストパターン信号を記録する前に、さらに第４の実施形態のように、パルス幅決定用テストパターン信号を記録してその再生結果に基づき前端パルス幅および後端パルス幅を調整することで、光ディスクの熱的特性のばらつきに対応した記録パルス幅の設定ができ、より正確に情報信号を記録できる点でより好ましい。さらにこれらの実施形態に先だって第２の実施形態を行い、これらの実施形態の後に第３の実施形態を行えば、ほぼ完全に記録条件を求めることができる。
【０１７０】
また、前記第２の実施形態においてエッジ位置決定用テストパターン信号を記録する前に、さらに第４の実施形態のように、パルス幅決定用テストパターン信号を記録してその再生結果に基づき前端パルス幅および後端パルス幅を調整することで、光ディスクの熱的特性のばらつきに対応した記録パルス幅の設定ができ、より正確に情報信号を記録できる点でより好ましい。さらにこれらの実施形態に先だって第１の実施形態を行い、これらの実施形態の後に第３の実施形態を行えば、ほぼ完全に記録条件を求めることができる。
【０１７１】
なお、前記第１ないし第４の実施形態において、テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、光ディスク上のディスク管理領域等の所定の領域に情報として記録することがより好ましい。この方法により、次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、テスト記録を行った記録再生装置と略同一か否かを判別することができ、略同一の場合には次回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。ここで略同一とは、同一の記録再生装置または同等の記録再生装置（製造者が同一など）を意味する。
【０１７２】
また、前記第１から第４の実施形態において、あらかじめ光ディスク上のディスク管理領域等の所定の領域に記録されている、記録再生装置を識別する情報を読み込み、識別した記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一か否かを判別し、識別した記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一の場合には前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報、前端パルス幅および後端パルス幅を示す情報、記録パワーを示す情報の少なくともいずれか一つのテスト記録を省略することがより好ましい。この方法により、略同一の記録再生装置の場合には、光ディスクから読み出した前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を示す情報、前端パルス幅および後端パルス幅を示す情報、記録パワーを示す情報をそのまま適正値として用いることにより、次回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。
【０１７３】
なお、前記第１から第４の実施形態において、テスト記録を行うのが望ましいタイミングは、少なくとも、記録再生装置の調整時、記録再生装置の起動時、前記起動時から一定時間経過した時、光ディスクの交換時、光ディスクのビットエラーレートが所定の値を越えた時、使用環境の温度が変化した時である。
【０１７４】
記録再生装置の調整時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置間の変動要素を補償できる。また、記録再生装置の起動時、および前記起動時から一定時間経過した時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置自身の変動要素を補償できる。また、光ディスクの交換時にテスト記録を行うことにより、光ディスク間の変動要素を補償できる。また、光ディスクのビットエラーレートが所定の値を越えた時にテスト記録を行うことにより、光ディスク自身の変動要素を補償できる。また、使用環境の温度が変化した時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置および光ディスクの温度依存性に起因する変動要素を補償できる。
【０１７５】
また、前記第１または第３、第４の実施形態においては、記録パルスのエッジ位置を決定するために、ある特定のテスト信号を記録して測定した記録マークのエッジ間隔と最適なエッジ間隔との差分をエッジ位置調整回路で補正する方法とした。しかし、記録パルスのエッジ位置を段階的に変化させた複数種類のテスト信号を記録してそれぞれのテスト信号について記録マークのエッジ間隔を測定し、最もずれ量の小さいエッジ間隔が得られたテスト信号における記録パルスのエッジ位置を、最適値としてエッジ位置調整回路に設定する方法でも同様の効果が得られる。
【０１７６】
また、前記第１から第４の実施形態においては、記録マークのエッジ間隔の測定をエッジタイミング検出回路で行い、測定したエッジ間隔の蓄積および平均値の算出をシステム制御回路にて行ったが、これらの処理を、例えばタイムインターバルアナライザ等の、本記録再生装置の外部の測定器にて行ってもよい。
【０１７７】
また、前記第１から第３の実施形態においては、パルスエッジ位置決定用テストパターン信号、記録パワー決定用テストパターン信号、およびパルス幅決定用テストパターン信号を発生させるために、それらのテストパターン信号を格納したＲＯＭ等からなるテスト信号生成回路４を設けたが、システム制御回路から特定の情報信号を発生させて変調した信号をテストパターン信号としても良い。これにより、テスト信号生成回路を別途設ける必要がなくなるので、装置の小型化を図れる。さらに、このテストパターン信号にエラー訂正符号の付加やインターリーブ処理が行われたものでもよく、ビットエラーレートは、復調およびエラー訂正後に測定されるものであってもよい。
【０１７８】
また、上記の光ディスクは相変化材料、光磁気材料や色素材料等、記録マークと非マーク部（スペース部）で光学的特性の異なる媒体であればいずれも上記の方法を適用することができる。
【０１７９】
また、上記の変調方式、各パルスの長さ・位置、テストパターン信号の周期等は本実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能なことは言うまでもない。さらに、ビットエラーレートの測定はジッタの測定に置き換えてもよく、ジッタの測定はビットエラーレートの測定に置き換えてもよい。
【０１８０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、以下に列記する効果を奏する。
【０１８１】
（１）ランダムパターンを記録し、再生した情報のビットエラーレートが所定の値よりも高いときのみ、エッジ位置決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録することにより、光ディスク上にあらかじめ記録されている前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置が最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一のディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一のディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。
【０１８２】
（２）まずランダムパターン信号を記録し、再生した情報のビットエラーレートが一定値よりも高いときのみ、記録パワー決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録することにより、光ディスク上にあらかじめ記録されている記録パワーが最適な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。そのため、同一のディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、あるいは同一のディスクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時間を短縮することが可能となる。
【０１８３】
（３）エッジ位置決定用テストパターン信号の記録による前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の決定後に、さらにランダムパターンを記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を調整することにより、実際の情報信号に即した記録パルス条件の設定ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【０１８４】
（４）エッジ位置決定用テストパターン信号の記録による前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の決定に先だって、パルス幅決定用テストパターンを記録して前端パルス幅及び後端パルス幅を調整することにより、光ディスクの熱的特性の相違に対応したパルス幅の設定ができるので、より正確に情報信号を記録することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図２】  第１の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【図３】  記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号波形（ａ）、レーザを駆動する記録パルス波形（ｂ）、記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号記録後のトラック３０７の状態（ｃ）、該トラックからの再生信号波形（ｄ）、および該再生信号の２値化信号波形（ｅ）を示す図
【図４】  本発明の第２の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図５】  第２の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【図６】  本発明の第３の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図７】  第３の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【図８】  本発明の第４の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図９】  記録パルス波形（ａ）、最適な記録マーク（ｂ）、トラック方向の熱伝導率が高い場合に歪んだ記録マーク（ｃ）、およびトラック方向の熱伝導率が低い場合に歪んだ記録マーク（ｄ）を示す図
【図１０】  第４の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【図１１】  第４の実施形態に係る記録再生方法において、それぞれ、前端パルス幅（ＦＰＷ）と前端間ジッタ（ＬＥＪ）の関係（ａ）、および後端パルス幅（ＬＰＷ）と後端間ジッタ（ＴＥＪ）の関係（ｂ）を示すグラフ
【符号の説明】
１  光ディスク
２，４０１，６０１，８０１  システム制御回路
３  ランダムパターン信号生成回路
４  テストパターン信号生成回路
５  変調回路
６  選択回路
７  記録信号生成回路
８  記録パルスエッジ調整回路
９  レーザ駆動回路
１０  光ヘッド
１１  スピンドルモーター
１２  再生信号処理回路
１３  エッジタイミング検出回路
１４  ＢＥＲ測定回路
１５  復調回路
１６  判定回路
６０２  ＢＥＲ比較回路
８０２  記録パルス幅調整回路
８０３  ジッタ測定回路
８０４  ジッタ比較回路
９０１  前端パルス
９０２  後端パルス
９０３  記録パルス列
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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