(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定基体の平坦上面に凹溝を形成し、この凹溝は、底面がこの凹溝の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝の溝深さがこの凹溝の長さ方向一端から他端に向かって徐々に変化する底面が傾斜した凹溝とした構成として、この凹溝に試料を配設し、この試料を展延するべく凹溝にまたがるように測定基体の平坦上面に辺縁を押し当てたスクレーパをこの凹溝の長さ方向に動かした際、この凹溝内で展延した試料の粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することでこの試料の粒度を測定する粒度ゲージにおいて、金属製の前記測定基体の凹溝の金属製の底面に、酸化処理若しくはクロムメッキなどの皮膜形成手段により、黒色若しくは黒色に近い暗色で、且つ、平滑な皮膜若しくは表面層を形成することで、この凹溝の底面を前記黒色若しくは黒色に近い暗色とし、且つ前記黒色若しくは黒に近い暗色の皮膜若しくは表面層を前記測定基体の平坦上面及び凹溝の底面に形成した後、少なくとも前記凹溝の底面を残して他の平坦上面から前記皮膜若しくは表面層を除去することで、この平坦上面を露出若しくは表面仕上げ加工により平滑平面に形成して、前記測定基体の凹溝の底面を黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面よりも光反射率の低い暗色に設定したことを特徴とする粒度ゲージ。
【請求項２】
金属製の前記測定基体の平坦上面は、予めラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行った平滑平面として前記測定基体に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜を形成した後、これを除去することで前記平滑平面を露出させるか、または前記測定基体に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜若しくは表面層を形成した後、ラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行って平滑平面とすることで、この平坦上面を平滑平面に設定したことを特徴とする請求項１記載の粒度ゲージ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定基体の平坦上面に形成した凹溝に試料を配設してスクレーパによってこの試料を凹溝内に展延した際の試料の粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することでこの試料の粒度を測定する粒度ゲージに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
粒度ゲージは、例えば塗料や顔料などの小さな粒が散在する試料の粒度を測定する測定装置として従来から一般に使用されている。
【０００３】
この粒度ゲージは、例えばＪＩＳＫ５６００「砥粒一般試験法」に記載されているように、測定基体の平坦上面に凹溝を形成し、この凹溝は、底面がこの凹溝の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝の溝深さがこの凹溝の長さ方向一端から他端に向けて徐々に変化する（例えば、一端の溝深さが０で他端の溝深さが略１００μｍなど）形状の凹溝とし、この凹溝の溝が深い方の一端側に測定したい試料を盛り、この試料を展延するべく前記凹溝に略直交にまたがるように測定基体の平坦上面に辺縁を押し当てた刃板状のスクレーパを、凹溝の長さ方向にそって凹溝の溝が浅い方の他端側へと所定速度で（例えば、一端から他端まで１〜２秒間かけて）移動させてこの凹溝内に試料を展延すると、この試料の粒度に応じた前記凹溝の所定の溝深さ位置に粒や線模様が表されることから、凹溝内に展延したこの試料の痕跡（粒若しくは線模様の有無若しくは位置）を視認することでこの試料の粒度を測定し得る測定装置である。
【０００４】
ところで、この種の粒度ゲージは一般に、測定基体が例えば硬質特殊合金や焼入れした鋼などの硬度の高い金属製部材によって構成され、また、その平坦上面や凹溝内の底面は表面仕上げ作業によって非常に平滑な表面に設定されている。即ち、平坦上面に辺縁を押し当てたスクレーパを良好に滑動させられるように平坦上面は平滑な表面に設定され、このスクレーパで展延される試料が凹溝の底面を良好に展延できるようにこの底面は平滑な表面に設定されている。
【０００５】
従って、測定作業の際、凹溝内に展延した試料の粒または線模様の有無若しくは位置を視認する作業時において、この凹溝の底面が光を反射してちらつくためにこの試料の粒または線模様が非常に視認しにくく、よって、この測定作業において危惧される作業効率の低下を生ずるだけでなく、この試料の粒または線模様を視認する作業にもたつくと、それだけ粒若しくは線模様が変化してしまい（崩れてしまい）、測定誤差の原因となるという問題を有している。
【０００６】
特に、微小な粒子で構成されるファンデーションや乳液などの化粧品の製造開発においてこの粒度ゲージは重要な測定装置の一つであるが、化粧品のように薄い肌色や白に近い薄色の粒が散在する試料の測定時においては、粒や線模様の視認が尚更困難であり、従ってこの凹溝の底面のちらつきや光の高反射による見にくさ（測定しにくさ）は重要な問題である。
【０００７】
この凹溝の底面のちらつきや光の高反射を抑止する対策として、例えば、この凹溝の底面を、基体の平坦上面に比してやや表面粗さを荒く設定し、これによりこの凹溝の底面を平坦上面に比して光反射率を低く金属光沢を少なく設定してちらつきや光の高反射を抑止する方法があるが、凹溝の底面の表面粗さを粗く設定すると、それ自体が測定誤差の原因となってしまい測定精度に問題が生ずるため、結局、この凹溝の底面の表面粗さを粗く設定する方法では良好に底面のちらつきや光の高反射を抑止できない。
【０００８】
【非特許文献１】ＪＩＳ  Ｋ５６００  「砥粒一般試験方法」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、上記問題を鑑みて完成したもので、凹溝の底面の表面粗さを粗く設定したりせずに単に凹溝の底面を測定器体の平坦上面に比して光反射率の低い例えば黒色や黒色に近い暗色に設定したことで、測定作業の際、凹溝の底面のちらつきや光の高反射による見えにくさ（測定しにくさ）を確実に抑止でき、それだけ凹溝内に展延した試料の粒または線模様の有無若しくは位置を視認する作業を容易とし、これによりこの試料の粒または線模様の視認作業にもたつくことでこの試料の粒または線模様が変化して（崩れて）正確な測定値が得られない、といった問題も確実に抑止できるうえに、凹溝の底面の表面粗さを粗く設定する必要はないのでこの底面の表面粗さを粗くすることによって危惧される測定精度の問題も一切生じ得ず、従って、測定作業を簡易とし、しかも正確な測定値が得られる極めて実用性に秀れた画期的な粒度ゲージを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
添付図面を参照して本発明の要旨を説明する。
【００１１】
測定基体１の平坦上面１ａに凹溝２を形成し、この凹溝２は、底面２ａがこの凹溝２の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝２の溝深さがこの凹溝２の長さ方向一端から他端に向かって徐々に変化する底面２ａが傾斜した凹溝２とした構成として、この凹溝２に試料ａを配設し、この試料ａを展延するべく凹溝２にまたがるように測定基体１の平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３をこの凹溝２の長さ方向に動かした際、この凹溝２内で展延した試料ａの粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することでこの試料ａの粒度を測定する粒度ゲージにおいて、金属製の前記測定基体１の凹溝２の金属製の底面２ａに、酸化処理若しくはクロムメッキなどの皮膜形成手段により、黒色若しくは黒色に近い暗色で、且つ、平滑な皮膜４若しくは表面層４を形成することで、この凹溝２の底面２ａを前記黒色若しくは黒色に近い暗色とし、且つ前記黒色若しくは黒に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を前記測定基体１の平坦上面１ａ及び凹溝２の底面２ａに形成した後、少なくとも前記凹溝２の底面２ａを残して他の平坦上面１ａから前記皮膜４若しくは表面層４を除去することで、この平坦上面１ａを露出若しくは表面仕上げ加工により平滑平面に形成して、前記測定基体１の凹溝２の底面２ａを黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定したことを特徴とする粒度ゲージに係るものである。
【００１２】
また、金属製の前記測定基体１の平坦上面１ａは、予めラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行った平滑平面として前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４を形成した後、これを除去することで前記平滑平面を露出させるか、または前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を形成した後、ラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行って平滑平面とすることで、この平坦上面１ａを平滑平面に設定したことを特徴とする請求項１記載の粒度ゲージに係るものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明は上述のように構成したから、凹溝の底面が測定基体の平坦上面に比して光反射率の低い例えば黒色や黒色に近い暗色に設定されているぶんだけ、この凹溝内に展延した試料の粒または線模様を視認する際に、この底面がちらついたり光を高反射することを抑止でき、この試料の粒または線模様が視認しにくくなることを確実に抑止でき、それだけ良好に試料の粒や線模様を視認し、測定値を求めることができる。
【００１４】
また、凹溝の底面を光反射率の低い暗色に設定することでこの底面の光反射率を低く設定している為、この凹溝の底面を従来例のように表面粗さを粗く設定することで光反射率の低い設定とする必要はなく、当然、この凹溝の底面の表面粗さを粗く設定することで危惧される測定精度の低下の問題も生じ得ないし、平坦上面は従来通りの平坦で平滑な表面に設定しているから、この平坦上面に辺縁を押し当てたスクレーパにより従来通りの操作感覚で移動操作できる。即ち、スクレーパを平坦上面に滑り動かす際の滑り具合が従来通りとなる為、スクレーパを従来通りの操作感覚で移動できる。
【００１５】
従って、本発明は、凹溝の底面のちらつきや光の高反射を抑止して効率良く良好に凹溝に展延した試料の粒または線模様の視認作業を進展でき、ひいては、底面がちらつきや光の高反射による視認しにくさによって読み違えや、視認作業のもたつきにより試料の粒または線模様が変化する（崩れる）といった測定誤差の原因も良好に排除することができ、更に、底面の表面粗さを粗く設定することで危惧される測定精度の劣化の問題も生じえず、極めて効率的に、しかも精度良く良好に測定作業を進展できる極めて画期的で作業性及び実用性に秀れた粒度ゲージとなる。
【００１６】
しかも、本発明においては、これまでは、凹溝の底面を、光反射率を低く設定するためには凹溝の底面の表面粗さを粗く設定していたため、それ自体が測定誤差の原因となってしまうという問題を有していたところを、本発明においては、凹溝の底面に光反射率の低い暗色の皮膜若しくは表面層を形成することでこの凹溝の底面の光反射率を低く設定したから、凹溝内に展延した試料の粒または線模様を視認する際の底面のちらつきや光の高反射による視認しにくさ（測定しにくさ）を確実に阻止でき良好に測定作業を進展できることは勿論、凹溝の底面の表面粗さを粗く設定したことにより危惧される測定精度の問題も生じ得ず、一層確実に、効率的に且つ精度良い測定が行える実用性に秀れた粒度ゲージとなる。
【００１７】
更に本発明においては、上記の秀れた作用効果を確実に発揮し得るだけでなく生産性にも秀れ、それだけ量産化が容易にしてコスト面においても秀れた一層実用性に秀れた粒度ゲージとなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
好適と考える本発明の実施形態（発明をどのように実施するか）を、図面に基づいて本発明の作用を示して簡単に説明する。
【００１９】
測定基体１の平坦上面１ａに形成した凹溝２に試料ａを配設する。
【００２０】
この凹溝２は、底面２ａがこの凹溝２の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝２の溝深さがこの凹溝２の長さ方向一端から他端に向けて徐々に変化する底面２ａが傾斜した凹溝２としている。
【００２１】
この凹溝２にまたがるように測定基体１の平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３をこの凹溝２の長さ方向に動かし、前記試料ａをこの凹溝２に展延すると、この試料ａの粒度に応じて、凹溝２の所定溝深さの位置に、粒または線模様が表され、この粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することにより、この試料ａの粒度を測定する。
【００２２】
ここで、前記凹溝２の底面２ａは、黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定しているため、それだけ凹溝２の底面２ａが光を反射しにくく、よって、この凹溝２内に展延した前記試料ａの粒または線模様を視認したり測定したりする作業（以下、視認作業）時に凹溝２の底面２ａが光を反射してちらついたりして視認しにくくなってしまうことを抑止できる。
【００２３】
従って、これまでは、測定時において凹溝２内に展延した前記試料ａの粒または線模様の視認作業の際に、この凹溝２の底面２ａのちらつきや光の高反射により視認しにくく、しかもこの視認作業にもたつく間に試料ａの粒または線模様が変化して（崩れて）しまい測定誤差の原因となるなどの問題を有したところを、本発明においては、凹溝２の底面２ａが光反射率の低い例えば黒色などの暗色としている為に、それだけ光の反射によるちらつきや光の高反射による視認しにくさを確実に抑止できるからこのような問題が生ずる心配がない。
【００２４】
即ち、凹溝２の底面２ａが光反射率の低い暗色のために、それだけ確実に底面２ａのちらつきや光の高反射による見えにくさが抑止されてそれだけはっきりと正確に試料ａの粒または線模様が視認できるから、効率良く、しかも読み違いなく正確に視認作業を進展できる。
【００２５】
また、従来例のように、凹溝２の底面２ａの表面粗さを粗く設定することで光反射率を低く設定するのではなく、この底面２ａを光反射率の低い暗色に設定した構成のため、従来のように凹溝２の底面２ａの光反射率を低く設定するために凹溝２の底面２ａの表面粗さを粗く設定する必要はない。
【００２６】
即ち、例えば、この凹溝２の底面２ａに、前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を形成することで、この凹溝２の底面２ａを前記黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定すれば良い。
【００２７】
この際、例えば、金属製の前記測定基体１の凹溝２の金属製の底面２ａに、酸化処理若しくはクロムメッキなどの既存の皮膜形成手段により、黒色若しくは黒色に近い暗色な皮膜４若しくは表面層４を簡単に形成できるうえに、この皮膜４若しくは表面層４自体が光反射率の低い暗色であるため、この皮膜４若しくは表面層４を平滑な表面に仕上ても良好に光反射を抑止できる。
【００２８】
従って、これまでのように凹溝２の底面２ａの光反射率を低くするためにこの底面２ａの表面粗さを粗く設定する必要がないため、底面２ａの表面粗さを粗く設定することによって危惧される測定精度の劣化の問題も生ずることなく、良好にしかも確実にこの底面２ａのちらつきを抑止できる。
【００２９】
また、この凹溝２の底面２ａだけを、前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定している、即ち、平坦上面１ａは何ら光反射率の低い暗色に設定されている必要はないので、この平坦上面１ａは従来通りの平坦でスクレーパ３を良好に滑動できる平滑な表面の平坦上面１ａとし、この平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３を従来通りの操作感覚で移動（この平坦上面１ａ上を滑動）させることができ、測定作業の熟練者が従来通りの操作感覚でそれだけ正確に測定を行える。
【００３０】
また、前記測定基体１の平坦上面１ａ及び凹溝２の底面２ａに前記黒色若しくは黒に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を形成した後、少なくとも前記凹溝２の底面２ａを残して他の平坦上面１ａから前記皮膜４若しくは表面層４を除去することで、この凹溝２の底面２ａを前記黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定した構成としたから、例えば、平坦上面１ａをマスキングしてこの平坦上面１ａには皮膜４若しくは表面層４を形成することなく前記凹溝２の底面２ａに皮膜４若しくは表面層４を形成する場合、この凹溝２の底面２ａだけに正確にきれいにムラのない皮膜４若しくは表面層４を形成するのは困難性を有するが、本発明のように、先ず平坦上面１ａにも凹溝２の底面２ａにも（例えば測定基体１の上面略全面に）皮膜４若しくは表面層４を形成する場合には、平滑でムラのない皮膜４若しくは表面層４を簡単に形成できるし、その後、凹溝２の底面２ａを除く不要な箇所から前記皮膜４若しくは表面層４を除去すれば、例えば平坦上面１ａには皮膜４若しくは表面層４が一切形成されておらず凹溝２の底面２ａには正確にきれいにムラのない皮膜４若しくは表面層４が形成され本発明の秀れた作用効果を確実に発揮し得る構成を簡易に実現でき、生産が容易にして量産性に秀れることとなる。
【００３１】
また、例えば、金属製の前記測定基体１の平坦上面１ａは、予めラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行った平滑平面として前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４を形成した後、これを除去することで前記平滑平面を露出させるか、または前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を形成した後、ラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行って平滑平面とすることで、この平坦上面１ａを平滑平面に設定した場合には、この従来と同様な平滑平面である平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３を移動させる際に、このスクレーパ３と平坦上面１ａとの摩擦が従来のものと同等であるから、必然的に、従来通りの操作感覚でこのスクレーパ３を移動操作（この平坦上面１ａ上を滑動）でき、例えば、測定作業の熟練者が従来通りの操作感覚により正確な測定を行えることとなる。
【００３２】
また、特に前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４若しくは表面層４を形成した後、ラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行う場合には、この平坦上面１ａから前記皮膜４若しくは表面層４を除去する研磨作業と、この平坦上面１ａの表面仕上げ作業との双方の作業を同時に行え、それだけ一層量産性に秀れることとなる。
【実施例】
【００３３】
本発明の具体的な実施例について図面に基づいて説明する。
【００３４】
本実施例は、測定基体１の平坦上面１ａに凹溝２を形成し、この凹溝２は、底面２ａがこの凹溝２の長さ方向に傾斜した傾斜面に形成してこの凹溝２の溝深さがこの凹溝２の長さ方向一端から他端に向かって徐々に変化する底面２ａが傾斜した凹溝２とした構成として、この凹溝２に試料ａを配設し、この試料ａを展延するべく凹溝２にまたがるように測定基体１の平坦上面１ａに辺縁を押し当てたスクレーパ３をこの凹溝２の長さ方向に動かした際、この凹溝２内で展延した試料ａの粒または線模様の有無若しくは位置を視認若しくは測定することでこの試料ａの粒度を測定する粒度ゲージにおいて、前記測定基体１の凹溝２の底面２ａを黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定したものである。
【００３５】
測定基体１は、焼入れをした鋼製の部材で構成しており、図１に図示したように、具体的には、図１に図示したように、長方形のブロック状に形成している。尚、この測定基体１は、焼入れした鋼製の部材のほかにも、例えば硬化特殊合金製の部材などのこの種の粒度ゲージに使用される一般的な部材であれば良い。
【００３６】
この測定基体１の平坦上面１ａは、後述の表面研磨手段（本実施例においては、既存のラッピング装置）により、この平坦上面１ａに縁辺を押し当てた前記スクレーパ３を良好に滑動させられるように、平坦で平滑な表面に設定している。
【００３７】
また、この測定基体１の平坦上面１ａの長さ方向一端側乃至他端に向けて並設状態に二つの前記凹溝２を形成している。
【００３８】
図１及び図２に図示したように、この二つの凹溝２はいずれも測定基体１の平坦上面１ａの長さ方向一端側（図２中、左側）から他端（図２中、右端）に向けて底面２ａが下り傾斜した形状としている。
【００３９】
この各凹溝２の底面２ａの傾斜度合いは、この種の一般的な粒度ゲージと同様、例えば、その凹溝２の溝深さの浅い側の一端を深さ０とし、溝深さの深い側の他端を深さ１５μｍ〜１００μｍとして均一に傾斜付けられており、本実施例においては、各凹溝２の溝深さの浅い側の一端を深さが０とし、溝深さの深い側の他端を深さ５０μｍとなるようにこの各凹溝２の底面２ａの傾斜度合いを設定している。尚、測定基体１の平坦上面１ａの前記二つの凹溝２間には、この二つの凹溝２の溝深さに対応する位置に夫々目盛りを設けている。
【００４０】
また、この各凹溝２の底面２ａには、黒色若しくは黒色に近い暗色（本実施例においては、黒色）の皮膜４若しくは表面層４を形成している。具体的には、金属製の前記測定基体１の凹溝２の金属製の底面２ａに、酸化処理若しくはクロムメッキなどの皮膜形成手段により、黒色若しくは黒色に近い暗色で、且つ、平滑な皮膜４若しくは表面層４を形成することで、この凹溝２の底面２ａを前記黒色若しくは黒色に近い暗色として前記平坦上面１ａよりも光反射率の低い暗色に設定している。
【００４１】
更に具体的には、本実施例では、既存の黒色酸化処理によってこの凹溝２の底面２ａに黒色の表面層４を形成した構成である。尚、本実施例に限らず、例えば、既存の黒色クロムメッキ処理（レーデント）により前記凹溝２の底面２ａに黒色の皮膜４を形成した構成としても良いし、他にも、例えば黒色ペンキなどを塗布して前記表面層４として黒色の塗料層を形成した構成など、本実施例と同様の作用効果を発揮する構成とすれば良い。
【００４２】
従って、この凹溝２の前記表面層４が形成された底面２ａは、単に焼入れをした鋼の表面を平滑に表面研磨したものに比して、金属特有の光沢も少なく光反射率が良好に低められた構成となる。また、この底面２ａである前記表面層４は、試料ａを良好に展延できるように平滑に表面処理するが、測定に支障（試料ａが円滑に展延できなかったり）がない程度に僅かに表面を荒らしても良く、その場合には更に光反射率を低く設定できる。
【００４３】
また、本実施例においては、図４に図示したように、前記測定基体１の平坦上面１ａ及び凹溝２の底面２ａに前記黒色の表面層４（黒色酸化処理による。）を形成している。
【００４４】
具体的には、測定基体１の上面全面に一旦、黒色酸化処理によって黒色の表面層４を形成し、その後、ラッピング装置による研磨（ラップ仕上げ）により測定基体１の平滑上面１ａに形成した表面層４のみを除去して構成している。
【００４５】
従って、例えば、凹溝２の底面２ａだけを正確に狙って黒色酸化処理などの皮膜形成手段により黒色の皮膜４若しくは表面層４を形成すると、例えば、凹溝２の底面２ａ以外の部位にマスキングしたうえで皮膜形成手段により凹溝２の底面２ａだけに慎重に前記黒色酸化処理を施すなどの厄介な作業を要するうえに、マスキングした余分な部位にも結局表面層４が形成されてしまったり、狙った箇所（凹溝２の底面２ａ）だけにきれいにムラなく表面層４を形成することが困難であったりすることから、非常に作業効率が悪く生産性が悪いが、この点、本実施例のように一旦測定基体１の上面全面に黒色酸化処理を施せば、簡易にしてキレイでムラ無く良好な表面層４を凹溝２の底面２ａに形成できるものである。
【００４６】
また、前記測定基体１の上面全面に前記黒色の表面層４を形成した後、表面研磨手段（本実施例においては、ラッピング装置）によって表面仕上げ加工を行って平滑平面としている。
【００４７】
従って、本実施例は、測定基体１の平坦上面１ａに形成した表面層４を除去する作業と、この平坦上面１ａを平滑に表面仕上げする作業とを、同時に行うため、極めて効率的に生産できる。尚、金属製の前記測定基体１の平坦上面１ａは、予めラッピングなどの表面研磨手段によって表面仕上げ加工を行った平滑平面として前記測定基体１に前記黒色若しくは黒色に近い暗色の皮膜４を形成した後、これを除去することで前記平滑平面を露出させることでこの平坦上面１ａを平滑平面としても良い。
【００４８】
スクレーパ３は、焼入れをした鋼製の部材で構成され、図３に図示したように、上端及び他端の辺縁が刃縁である刃板状に形成したものである。
【００４９】
このスクレーパ３は、この種の粒度ゲージのスクレーパ３と同様に、このスクレーパ３の刃縁が正確に直線状に形成されており、その刃先は半径２５０μｍの丸みを帯びた形状である。
【００５０】
以上のように構成した本実施例の測定方法を説明する。
【００５１】
図３に図示したように、先ず、測定したい試料ａを測定基体１に形成した各凹溝２の溝深さが深い側の端部に盛る（この試料ａの盛り量は、各凹溝２を丁度満たす量よりやや多い量を盛る。）。
【００５２】
次いで、この凹溝２に略直交にまたがるようにして測定基体１の平坦上面１ａにスクレーパ３の辺縁（刃縁）を押し当てて、図３に図示したように凹溝２の長さ方向に沿ってこの凹溝２の溝深さの浅い側に向けて所定の速さ（例えば、この凹溝２の一端から他端間を１〜２秒かけて一定の速さ）でこのスクレーパ３を滑動し、このスクレーパ３によって前記凹溝２内に前記試料ａを展延する。
【００５３】
次いで、試料ａの粒度に応じて、図５に図示したように、凹溝２の所定の溝深さ位置の底面２ａに表される前記試料ａの粒を視認し、その有無や位置を視認することによって前記試料ａの粒度を得る。
【００５４】
尚、例えば、凹溝２内に展延した試料ａが粒でなく線模様を表し、この線模様の有無や数，位置を視認することで測定するものもあるが、これらはいずれも従来の粒度ゲージを用いた慣例通りの測定方法と同様であるため、具体的詳述は省略する。
【００５５】
本実施例は、上述のように構成したから、測定時に、前記凹溝２内に展延した試料ａの粒の有無や位置を視認する際に、この凹溝２の底面２ａが、平坦上面１ａに比して光反射率の低い黒色に設定されている（底面２ａに黒色の表面層４が形成されている）から、従来においては、図６に図示したように、凹溝２の底面２ａがちらついたり光を高反射して試料ａの粒が非常に視認しにくく、これが測定作業効率を妨げるだけでなく、測定値の読み違いや、視認作業の遅れにより試料ａの粒の位置が変化したりして正確な測定値が得られず測定誤差の原因となっていたところを、本実施例においては、凹溝２の底面２ａのちらつきや光の高反射による視認しにくさを確実に抑止でき、よって、効率良く良好に凹溝２に展延した試料ａの粒または線模様の視認作業を進展でき、ひいては、底面２ａのちらつきや光の高反射による視認しにくさによって読み違えや、視認作業のもたつきにより試料ａの粒または線模様が変化する（崩れる）といった測定誤差の原因も良好に排除することができることとなる。
【００５６】
また、従来例のように、凹溝２の底面２ａの光反射率をさげるために表面粗さを粗く設定するのではなく、単に底面２ａに黒色の表面層４を形成する構成で、底面２ａの表面粗さを粗く設定する必要がないため、底面２ａの表面粗さを粗く設定することで危惧される測定精度の劣化の問題も一切生じ得ず、よって、極めて効率的に、しかも精度良く良好に測定作業を進展でき、更に生産性に秀れ量産性にも秀れた極めて画期的で実用性に秀れた商品価値の高い粒度ゲージとなる。
【００５７】
また、特に、従来では、化粧品のように試料ａの粒が薄い肌色や白色などの薄色であった場合には極めて試料ａの粒が視認しにくく測定が極めて厄介であったが、本実施例においては、図５に図示したように、試料ａが薄色であった場合でも極めて良好にこの試料ａの粒を視認でき、化粧品などの薄色の試料の粒度測定に極めて有効な、極めて実用性に秀れた粒度ゲージとなる。
【００５８】
尚、本発明は、本実施例に限られるものではなく、各構成要件の具体的構成は適宜設計し得るものである。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本実施例に係る粒度ゲージの説明斜視図である。
【図２】本実施例に係る粒度ゲージの説明正面図である。
【図３】本実施例に係る粒度ゲージの使用状態説明図である。
【図４】本実施例に係る粒度ゲージの凹溝２の底面２ａに皮膜４を形成する手順を示す図である。
【図５】本実施例に係る粒度ゲージの測定手順を示す図である。
【図６】従来例を示す図である。
【符号の説明】
【００６０】
１  測定基体
１ａ  平坦上面
２  凹溝
３  スクレーパ
４  皮膜，表面層
ａ  試料
【図１】
0004448483.tif 000002
【図２】
0004448483.tif 000003
【図３】
0004448483.tif 000004
【図４】
0004448483.tif 000005
【図５】
0004448483.tif 000006
【図６】
0004448483.tif 000007