(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
局側光線路と前記局側光線路にその入力端が接続された１入力Ｎ出力のスターカプラーと、前記１入力Ｎ出力のスターカプラーの出力端にそれぞれ接続された複数の加入者側光線路とからなる分岐光線路の加入者側光線路を前記局側光線路から異なる波長のパルス試験光を導入することにより検査する分岐光線路の試験方法において、反射波長が互いに異なる反射フィルターを、前記複数の加入者側光線路の遠端に挿入し、前記反射フィルターの内一つの反射フィルターのみが反射するパルス試験光を局側光線路から導入し、前記一つの反射フィルターが反射したパルス試験光が前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路を逆進する間に発生する後方散乱光を、前記一つの反射フィルターで再度反射させ、その反射された後方散乱光を局側で受光することにより前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路の検査を行うことを特徴とする分岐光線路の試験方法
【請求項２】
前記反射フィルターの最大反射率が８０％以上であることを特徴とする請求項１に記載の分岐光線路の試験方法
【請求項３】
予め測定、記憶した各試験波長での後方散乱光波形と、測定した前記各試験波長での後方散乱光波形を比較し、その差を検出することを特徴とする請求項１ないし請求項２に記載の分岐光線路の試験方法
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、１入力Ｎ出力のスターカプラーを介して局側光伝送装置と加入者側光伝送装置を接続したパッシブオプティカルネットワーク型光伝送システムにおいて、個々の加入者側光線路の障害検出を可能とする分岐光線路の試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
１入力Ｎ出力のスターカプラーを介して局側光伝送装置と加入者側光伝送装置を接続したパッシブオプティカルネットワーク型光伝送システムにおいては、局側光伝送装置と１入力Ｎ出力のスターカプラー間が1本の局側光線路で構成されるので、光ファイバの使用量を節約でき、経済的な線路構成とすることが可能となる。
【０００３】
１入力Ｎ出力のスターカプラーを介して局側光伝送装置と加入者側光伝送装置を接続したパッシブオプティカルネットワーク型光伝送システムの加入者側光線路に障害が発生した場合の障害点の評定方法としては特開平６−２３２８１７号公報に記載された試験方法がある。
【０００４】
前記公報に示された光線路の試験方法を図６に示す。図６において、６６−１から６６−５はパルス試験光の波長が異なるＯＴＤＲであり、試験においてはそれぞれのＯＴＤＲが順に光カプラー６２を介して局側光伝送装置６１に接続された局側光線路６３に結合され、異なる波長のパルス試験光が順次局側光線路に送出される。局側光線路６３に入射した試験光は、１入力Ｎ出力のスターカプラー６４を介して加入者側線路６５−１から６５−５に分配入射する。６５−１から６５−５の加入者側光線路の終端には、加入者側光伝送装置６７と並列にカプラー６８を介して反射フィルター６９−１から６９−５がそれぞれ設置されている。反射フィルター６９−１から６９−５は、それぞれＯＴＤＲ６６−１から６６−５の試験光のみを選択的に反射する反射フィルターである。
【０００５】
図６の光線路試験方法の原理は下記に示す通りである。すなわち、ＯＴＤＲ６６−１を用いて試験を行った場合は、測定波長である１．６１μｍのパルス試験光は加入者光線路６５−１の終端に設けられた反射フィルター６９−１により反射されるが加入者側光線路に設けられた６９−１以外の反射フィルターは当該パルス試験光を反射しない。従って加入者側光線路６５−１に障害が発生し損失が増加した場合は、ＯＴＤＲ６６−１を用いて試験を行った場合、加入者側光線路６５−１の終端に設置された反射フィルター６９−１から反射される反射光の反射レベルが変化することとなり、障害を検出できることとなる。
【０００６】
同様に、加入者側光線路６５−２の試験は、ＯＴＤＲ６６−２の波長１．６２μｍの試験光を用いて行い、加入者側光線路６５−２の終端に設置された反射フィルター６９−２から反射される反射光の反射レベルが変化することにより障害の発生を検出できることとなる。
【０００７】
しかし、上記システムには、以下に述べる問題点がある。その第一は、加入者側光線路に発生した損失増加が反射フィルターの反射レベルを大きく変化させるような損失増加であれば前記反射レベルの変化により加入者側光線路に障害が発生したことを検知することが可能であるが、たとえば、０．５ｄＢ程度の微小な損失増加であれば、反射レベルの変化として検出することは困難である。
【０００８】
また、障害が発生した光線路が特定されたとして、当該光線路のどの位置で障害が発生したかを特定することは困難である。なぜなら、局側からＯＴＤＲ試験装置を用いて得られる波形は、１入力Ｎ出力のスターカプラーから加入者側においては、分岐した複数の光線路からの後方散乱光波形が重畳した波形が観測されるからである。たとえば８分岐のカプラーを用いた場合、その中の1心に１ｄＢの損失増加が生じた場合、他の７心の波形が重なって観測されるので、観測される波形上には０．１ｄＢ程度の損失増加しか現れない。そのため、損失増加を生じた個所を特定することは難しい。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、１入力Ｎ出力のスターカプラーを介して局側光伝送装置と加入者光伝送装置を接続したパッシブオプティカルネットワーク型光伝送システムを構成する分岐光線路において、個々の加入者側光線路の障害検出を障害点の位置の評定迄含め高精度で可能とする分岐光線路の試験方法を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、局側光線路と前記局側光線路にその入力端が接続された１入力Ｎ出力のスターカプラーと、前記１入力Ｎ出力のスターカプラーの出力端にそれぞれ接続された複数の加入者側光線路とからなる分岐光線路の加入者側光線路を前記局側光線路から異なる波長のパルス試験光を導入することにより検査する分岐光線路の試験方法において、反射波長が互いに異なる反射フィルターを、前記複数の加入者側光線路の遠端に挿入し、前記反射フィルターの内一つの反射フィルターのみが反射するパルス試験光を局側光線路から導入し、前記一つの反射フィルターが反射したパルス試験光が前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路を逆進する間に発生する後方散乱光を、前記一つの反射フィルターで再度反射させ、その反射された後方散乱光を局側で受光することにより前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路の検査を行うことを特徴とする分岐光線路の試験方法を提供する。
【００１１】
すなわち、本発明では、加入者側光線路の終端に置かれた反射フィルターの反射率を高く設定し、ＯＴＤＲからのパルス試験光をその反射フィルターで反射させ、その反射されたパルス試験光により加入者側光線路で発生した後方散乱光を再びその反射フィルターで反射させ、その反射された後方散乱光を受光することにより当該加入者側光線路の検査を行うことを特徴とする試験システムを提供する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
本発明にかかる光線路試験方法を示す構成を図１に示す。図１に於いて、１１は局側光伝送装置、１２は局側光線路、１３は１入力Ｎ出力のスターカプラー、１４−１、１４−２、１４−３、１４−４は加入者側光線路、１５は波長可変ＯＴＤＲ、１６はカプラー、１７−１，１７−２，１７−３、１７−４は反射波長の異なる反射フィルター、１８はすべての波長のパルス試験光を遮断する遮断フィルター、１９は加入者側光伝送装置である。
【００１３】
波長可変ＯＴＤＲは、λ１、λ２、λ３、λ４の異なる波長のパルス試験光を選択的に送出する。一方、反射フィルター１７−１は波長λ１の試験光を反射するがλ２、λ３、λ４の試験光は透過する特性を有する。反射フィルター１７−２は波長λ２の試験光を反射するがλ１、λ３、λ４の試験光は透過する特性を有する。反射フィルター１７−３，１７−４についても同様である。遮断フィルター１８は前記λ１、λ２、λ３、λ４のすべての波長の試験光を遮断する機能を有している。遮断フィルターはλ１、λ２、λ３、λ４の波長の試験光を反射する機能は有していない。他方、反射フィルター１７−１，１７−２、１７−３，１７−４、遮断フィルター１８はいずれも通信光の波長の光信号を透過する特性を有する。
【００１４】
具体的には、通信光の波長が１．５５μｍであり、パルス試験光の波長が１．６１μｍ、１．６２μｍ、１．６３μｍ、１．６４μｍである場合、反射フィルター１７−１，１７−２、１７−３，１７−４はそれぞれ１．６１μｍ、１．６２μｍ、１．６３μｍ、１．６４μｍの波長のパルス試験光のみ反射する特性を有し、他の波長のパルス試験光を透過する特性を有する。遮断フィルター１８は、波長１．６１μｍから１．６４μｍの信号光を遮断し、波長１．５５μｍの信号光は透過する特性を有する。
【００１５】
本発明に係る分岐光線路の試験方法は以下に示す通りである。
ここで、加入者側光線路の長さは、１４−３，１４−２，１４−４，１４−１の順に長くなるものとする。
【００１６】
最長の加入者側光線路１４−１の試験方法は以下に示す通りである。波長可変ＯＴＤＲ１５はλ１のパルス試験光を送出する。パルス試験光はカプラー１６を経由して局側光線路１２に入射し、スターカプラー１３を経て４分岐され、それぞれ加入者側光線路１４−１，１４−２，１４−３，１４−４に入射する。これらの試験光はそれぞれの加入者側光線路でレーリー散乱を受け、その後方散乱光が１入力Ｎ出力のスターカプラー１３、局側光線路１２を経てカプラー１６で分岐された後、波長可変ＯＴＤＲ１５に内蔵された検出器により受光される。
【００１７】
加入者側光線路１４−２，１４−３，１４−４の終端に到達した試験光は、反射波長の異なる反射フィルター１７−２，１７−３，１７−４を透過し、遮断フィルター１８により遮断される。他方、加入者側光線路１４−１の終端に到達した試験光は、反射フィルター１７−１により反射され、加入者側光線路１４−１を逆進する。この加入者側光線路１４−１を逆進する反射パルス試験光は、加入者側光線路１４−１でレーリー散乱を受け、その後方散乱光は、再度、加入者側光線路１４−１の終端の方向に進行し、反射フィルター１７−１で再度反射され、加入者側光線路１４−１、１入力Ｎ出力のスターカプラー１３、局側光線路１２、カプラー１６を経由して波長可変ＯＴＤＲ１５内に内蔵された受光器で検出される。
【００１８】
以上により、波長λ１のパルス試験光は、加入者側光線路の終端に配置された反射フィルター１７−１で反射されることにより、あたかも反射フィルター１７−１が二次光源として機能する。また、この二次光源は加入者側光線路を終端側から検査することとなる。
【００１９】
波長λ１の試験光を用いた場合に波長可変ＯＴＤＲ１５に内蔵された受光器で検出される波形を模式的に描くと、図２の如くなる。図２においては、加入者側光線路１４−２，１４−３，１４−４の終端の反射光は検出されないが、終端位置より遠方においては後方散乱光が検出されないので、観測される波形上はそれぞれの加入者側光線路長に応じた終端位置で段差を生じる。
【００２０】
一方加入者側光線路１４−１においては、反射フィルター１７−１は当該パルス試験光を反射するので、加入者側光線路１４−１の遠端の反射フィルター１７−１に起因する反射パルス波形が検出される。加入者側光線路１４−１の終端の反射フィルター１７−１に起因する反射パルス波形の更に遠方には、反射フィルター１７−１で反射された試験光があたかも二次光源として機能することによる後方散乱光波形が観測される。この後方散乱光波形は、加入者側光線路を終端から逆方向に試験することとなるので、観測される後方散乱光波形は反射フィルター１７−１の反射に起因するパルス波形の位置を基点として折り返した形状となる。
【００２１】
ところで、パルス試験光が反射フィルター１７−１で反射されることにより生成する二次光源による後方散乱光波形は、加入者側光線路１４−１の長さが最も長いので、他の加入者側光線路１４−２，１４−３，１４−４に基づく後方散乱光波形と重畳することはなく、従って他の加入者側光線路の後方散乱光の影響を受けることなく加入者側光線路１４−１の試験が可能である。
【００２２】
従って、本方法により高精度の測定を実施するには、試験光が加入者側光線路の終端の反射フィルターにより反射されることにより生成する二次光源の強度を増すことが重要であり、この点から、反射フィルターの反射率は８０％以上であることが望ましい。
【００２３】
加入者側光線路１４−１上に光ファイバに曲げが加わる等して損失が増加した場合、観測される後方散乱光波形には、段差が観測される。この段差の位置は、前述したように加入者側光線路の終端に位置する反射フィルター１７−１に起因する反射パルス波形の位置を基準として、対象な位置に観測される。図３に観測される波形を例示する。
【００２４】
この損失増加に起因する段差波形のうち、反射フィルター１７−１の反射に起因するパルス波形の左側に観測される波形は、１入力Ｎ出力のスターカプラーから損失増加点までの距離が、他の加入者側光線路の線路長のいずれに対しても長くない限り他の加入者側光線路からの後方散乱光波形と重畳して観測され、微小な損失増加を評定することは困難である。
【００２５】
他方、上記損失増加に起因する段差波形のうち、反射フィルター１７−１に起因する反射パルス波形の右側に観測される波形、すなわち、パルス試験光が反射フィルター１７−１で反射されることにより二次光源を形成し、その二次光源に基づく後方散乱光波形は、加入者側光線路１４−１の長さをＬ１とするとＬ１からＬ１×２の区間に観測されるので、前記段差波形は他の加入者側光線路に起因する後方散乱光波形と重畳することはなく、明瞭に観測することが可能である。
すなわち、他の加入者側線路の影響を受けることなく、高精度な障害点の評定が可能となる。
【００２６】
波長λ２の試験光を用いて試験を行った場合の観測波形は図４に示すようになる。この場合波長λ２のパルス試験光で試験する加入者側光線路１４−２は加入者側光線路の中で最長の線路ではないので、λ２の試験光が反射フィルター１７−２により反射されることにより観測される反射バルス波形の遠方に他の加入者線路に起因する後方散乱光波形が存在する。
【００２７】
上記線路を構成する光ファイバに曲げが印加され、損失増加が発生した場合の観測波形を図５に例示する。観測波形上は反射フィルター１７−２により試験光が反射されることに起因するパルス波形を基準点として、対称な位置に段差波形が観測されることとなる。
【００２８】
ところで、加入者側光線路１４−２の長さをＬ２、反射フィルターから障害点までの距離をＬＸとする。
これらの間に、一例として
Ｌ２＋ＬＸ≦Ｌ１
の関係があれば、加入者光線路１４−２の損失増加に起因する段差は、一次光源に起因する段差だけでなく、二次光源に起因する段差も加入者側光線路１４−１の後方散乱光と重畳して観測され、最長の加入者側光線路１４−１に損失増加を生じた場合のように二次光源に起因する後方散乱光波形が他の加入者側光線路の後方散乱光波形と分離して観測されるという利点はない。
【００２９】
しかし、
Ｌ２×２＞Ｌ１
であれば、前記二次光源に起因する加入者側光線路１４−２の１入力Ｎ出力スターカプラー１３側の始端の後方散乱光レベルは他の加入者側光線路の後方散乱光と重畳することなく観測が可能である。
従って、加入者側光線路１４−２の１入力Ｎ出力のスターカプラー１３側の後方散乱光レベルを監視することにより、障害が発生した加入者側光線路の特定を確実に行うことが可能である。
【００３０】
以上より、加入者側光線路の最大線路長と最小線路長の差が最小線路長を超えない場合に於いては、換言すれば最大線路長が最小線路長の２倍以内であれば、二次光源に基づく後方散乱光の加入者側光線路のスターカプラー側の始端におけるレベルを、従ってその変化量を正確に把握することが可能であるので、正常時の測定値を予め記憶しておき、それを定期試験等における測定値と比較することにより、異常の発生の有無を検知することが可能である。
【００３１】
【発明の効果】
以上述べたように、局側光線路と前記局側光線路にその入力端が接続された１入力Ｎ出力のスターカプラーと、前記１入力Ｎ出力のスターカプラーの出力端にそれぞれ接続された複数の加入者側光線路とからなる分岐光線路の加入者側光線路を前記局側光線路から異なる波長のパルス試験光を導入することにより検査する分岐光線路の試験方法において、反射波長が互いに異なる反射フィルターを、前記複数の加入者側光線路の遠端に挿入し、前記反射フィルターの内一つの反射フィルターのみが反射するパルス試験光を局側光線路から導入し、前記一つの反射フィルターが反射したパルス試験光が前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路を逆進する間に発生する後方散乱光を、前記一つの反射フィルターで再度反射させ、その反射された後方散乱光を局側で受光することにより前記一つの反射フィルターを設置した加入者側光線路の検査を行うことをにより、他の加入者側光線路における後方散乱光の影響を受けない当該試験対象となった加入者側光線路の後方散乱光の測定、従ってその変化量の検出による当該加入者側光線路の異常の発生の有無を検知することが可能である。
【００３２】
本発明においては、測定対象となる加入者側光線路の最大長が最小長の２倍以内であれば、当該障害点の発生個所が他の加入者側光線路の後方散乱光と重畳して観測される場合に於いても、前記反射フィルターで反射したパルス試験光を二次光源とする加入者側光線路のスターカプラー側の始端における後方散乱光レベルは他の加入者側光線路からの後方散乱光と分離して観測されるされるので、正常時におけるそのレベルを予め測定、記憶しておき、定期検査等における測定値をそれと比較することにより、当該加入者側光線路における異常の発生の有無を検知することが可能である。
【００３３】
なお、通常のパッシブオプティカルネットワークに於いては、加入者側各線路の送受信のレベル差をほぼ同一とすることが、システム設計上望ましい。この点から、実際上は加入者側光線路の長さのばらつきは小さく、加入者側光線路の最大長が加入者側光線路の最小長の２倍以上となることはほとんどない。従って、測定対象となる加入者側光線路の損失増加部の後方散乱光波形、または少なくとも測定対象となっている加入者側光線路のスターカプラー側の始端における後方散乱光レベルは他の加入者側光線路の後方散乱光波形と重畳することなく検出可能である。
【００３４】
また、測定対象となる加入者側光線路の長さの２倍以上の加入者側光線路が存在する場合に於いても、試験光を反射フィルターで反射することにより形成した二次光源を用いた後方散乱光波形に対しては他の加入者側光線路からの後方散乱光の重畳の程度が相対的に少ないので、従来よりも高精度な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る分岐光線路の試験方法の構成を示す図である。
【図２】本発明に係る試験方法を用いた場合の、測定データの一例を示す図である。
【図３】本発明に係る試験方法を用いた場合の、測定データの一例を示す図である。
【図４】本発明に係る試験方法を用いた場合の、測定データの一例を示す図である。
【図５】本発明に係る試験方法を用いた場合の、測定データの一例を示す図である。
【図６】従来技術による分岐光線路の試験方法の構成を示す図である。
【符号の説明】
１１：局側光伝送装置
１２：局側光線路
１３：１入力Ｎ出力のスターカプラー
１４−１，１４−２，１４−３，１４−４：加入者側光線路
１５：波長可変ＯＴＤＲ
１６：カプラー
１７−１，１７−２，１７−３，１７−４：反射フィルター
１８−１，１８−２，１８−３，１８−４：遮断フィルター
１９：加入者側光伝送装置
６１：局側光伝送装置
６２：光カプラー
６３：局側光線路
６４：１入力Ｎ出力のスターカプラー
６５−１、６５−２、６５−５：加入者側光線路
６６−１、６６−２、６６−５：ＯＴＤＲ
６７：加入者側光伝送装置
６８：カプラー
６９−１、６９−２、６９−５：反射フィルター
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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