(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線源、特にＸ線源、のＸ線照射制御のための装置の作動方法であって、
制御装置が、放射線源の少なくとも１つの第１の動作パラメータを放射線源の第２の動作パラメータに関連付ける複数の値の対によって形成される制御曲線に従って放射線源を制御し、
算術ユニットが、入射線量率が照射中にどの値の対に対しても超過されないよう照射条件に依存して前記制御曲線を補正し、
前記制御曲線及び少なくとも１つの核エネルギー収量曲線が第１の記憶装置に格納され、且つ
補正された制御曲線が第２の記憶装置に格納される、
方法。
【請求項２】
第１の動作パラメータはＸ線管電圧であり、第２の動作パラメータはＸ線管電流である、請求項１記載の方法。
【請求項３】
第１の動作パラメータはＸ線管電圧であり、第２の動作パラメータはＸ線管電流と照射時間の積である、請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記照射条件は、対象と前記放射線源との間の距離、その放射線核エネルギー収量、並びに、ビーム路中に配置されるフィルタによって定義される、請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記照射条件は、動作パラメータのうちの１つがＸ線の正規化された量に関連付けられる複数の値の対からなる核エネルギー収量曲線の形で定義される、請求項１記載の方法。
【請求項６】
請求項１乃至５のうちいずれか一項記載のＸ線照射制御のための装置の作動方法により作動する装置であって、
少なくとも１つの制御曲線及び少なくとも１つの核エネルギー収量曲線のための第１の記憶装置と、請求項１乃至５のうちいずれか一項記載の補正された制御曲線を計算するプログラム可能な算術ユニットと、前記補正された制御曲線を格納する第２の記憶装置とを含む装置。
【請求項７】
対象に当てられた測定された線量率と前記補正された制御曲線とに基づいてＸ線管用の電圧供給ユニットを制御する信号が発生される自動照射制御装置を含む、請求項６記載の装置。
【請求項８】
Ｘ線管用の電圧供給ユニット及び請求項７に記載の装置を含む、Ｘ線発生器。
【請求項９】
請求項８記載のＸ線発生器を含むＸ線システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、放射線源による対象の照射中、特にＸ線照射中に対象に当てられる放射線（入力線量率）を制限する方法及び装置に関する。本発明はまた、入力線量率を制限する方法又は装置を使用しつつＸ線照射制御を行う方法及び装置に関する。本発明はまた、上述の方法を実行するＸ線発生器、並びに、上述の装置を含む対応するＸ線設備又はＸ線システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
概して、Ｘ線設備又はＸ線システムは、Ｘ線を発生するＸ線管を具備した１以上のＸ線源と、本線に接続される部分を含みＸ線管の動作に必要な高電圧を供給する電圧供給部（高圧発生器）を具備したＸ線発生器とを含む。Ｘ線源及び高電圧を発生する構成要素が一体となった構造的なユニットを形成するよう組み合わされる場合、このようなユニットはシングル・タンク発生器とも称される。
【０００３】
照射された領域について最適な画質（輝度、コントラスト、信号対雑音比、及び鮮鋭度）を達成するために、当該の領域に入射するＸ線の強度が特に重要である。概して、画質は、Ｘ線線量が大きくなるほど良くなる。一方で、明らかに、患者は過度に高い線量率に曝されないことが確実とされるべきである。これに関する最大の値は、国ごとに公式な規則及び条例によって定められている。
【０００４】
患者又は対象が曝される照射線量は、本質的には、Ｘ線管に印加される電流及び電流の調整、Ｘ線管と対象の間の距離（ＳＳＤ、即ち、源−皮膚間距離）、及びＸ線管と対象の間のビーム路中に配置されうる任意のフィルタに依存する。
【０００５】
これらのパラメータは、一般的には自動照射装置によって制御されるか、検査中にユーザによって変更されうるため、患者が曝される定められた最大線量率を超過しないことを確実とするための特別な手段が講じられねばならない。
【０００６】
特許文献１は、Ｘ線源と対象の間の距離又はＸ線源と画像捕捉装置の間の距離の変化によって当該の対象が幾何学的に拡大された場合に対象上の放射線量が一定に保たれたときの信号対雑音比に関する問題を解決するための放射線イメージングシステムにおける照射制御のための方法及び装置を開示している。特許文献１の方法及び装置では、入力線量は、適当な等しい線量が対象面において一定に保たれるよう上記の２つの距離に依存して変更される。
【０００７】
【特許文献１】
欧州特許公開第１０３５４２０号明細書
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、放射線源を動作させるためにユーザによって選択される制御曲線とは無関係に、また、例えば、対象と放射線源の間の距離、放射線核エネルギー収量（radiation yield）、ビーム路中に配置されたフィルタといった照射条件とは無関係に、検査されるべき対象に当てられる（Ｘ線）放射線量率（入力線量率）が選択可能な最大の値に制限されうる方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００８】
更に、本発明は、制御曲線及び照射条件とは無関係に、即ち、自動照射装置が使用されている場合に、選択可能な入力線量率を超過しないＸ線照射制御のための方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００９】
本発明はまた、上記のパラメータとは無関係に選択可能な最大入力線量率が超過されることがなく、透視法、並びに、連続的な照射（個々の画像）に使用されうるＸ線照射制御のための方法及び装置を提供することを目的とする。
【００１０】
また、本発明は、上述の方法のうちの１つを実行する装置を含むＸ線発生器を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、放射線源、特にＸ線源による対象の照射中に対象に当てられる放射線（入力線量率）を制限する方法であって、放射線源は、放射線源の少なくとも１つの第１の動作パラメータを放射線源の第２の動作パラメータに関連付ける複数の値の対によって形成される制御曲線によって制御され、制御曲線は、入射線量率が照射中にどの値の対に対しても超過されないよう照射条件に依存して補正される方法によって達成される。
【００１２】
上記目的は、上記方法を実行するための装置であって、少なくとも１つの制御曲線及び少なくとも１つの核エネルギー収量曲線のための第１の記憶装置と、補正された制御曲線を計算するプログラム可能な算術ユニットと、補正された制御値を格納する第２の記憶装置とを含む装置によって達成される。
【００１３】
これらの解決策の特別な利点は、最大入力線量率を超過する危険性を生ずることなく、所望の管のパラメータ（管電圧、管電流、又は負荷）の調整、及び、画質の最適化のためにその長さ全体が使用されうる補正された制御曲線が利用可能であることである。
【００１４】
従属項は、本発明の更なる有利な実施例に関連する。
【００１５】
請求項２及び請求項３は望ましい制御曲線について記載し、請求項４及び請求項５は望ましい照射条件及びかかる条件を考慮する方法について記載している。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の更なる詳細、特徴、及び利点については、図面を参照として、例として与えられる望ましい実施例について図面を参照として説明する以下の説明から明らかとなろう。図１は、本発明によるＸ線システムを示すブロック図である。システムは、検査されるべき対象８（患者）へＸ線を当てるＸ線管１の形のＸ線源を含む。Ｘ線管の焦点と対象の入射面との間の距離（ＳＳＤ、即ち、源−皮膚間距離）は、距離測定装置１１によって測定される。所定の検査のためには、Ｘ線源１と検査されるべき対象８の間にフィルタ２が配置されうる。使用されているフィルタの種類は、フィルタセンサ装置２１によって検出される。
【００１７】
検査されるべき対象８を横切った放射線は、カメラ４によって対応する画像信号へ変換されるよう、例えば２次電子増倍管（イメージインテンシファイア）といった検出器３によって検出される。画像信号は、続いて、線量率センサ９を有するビームスプリッタを介して導かれ、それにより対象の後ろ側の線量率が測定され、対応する線量率信号（１０）が発生される。画像信号は、続いてビデオ増幅器５において処理され、その後、モニタ６上で表示される。
【００１８】
Ｘ線管１の動作のため、本質的には、制御装置７０と、Ｘ線発生器の一部として形成されるか別個のユニットとされ制御装置７０によって制御されるＸ線管１用の電圧供給ユニット８０とを含むＸ線発生器７が設けられる。
【００１９】
制御装置７０は、距離測定装置１１によって形成される距離信号と、フィルタセンサ装置２１によって形成されるフィルタ信号と、線量率センサ９によって形成される線量率信号（１０）とを受信する。
【００２０】
更に、ユーザは、制御ユニット７０について様々な調整又は選択を行いうる。これらの活動は、本質的には、当該の検査のための適当な制御曲線の選択（７１）、検査中に超過されてはならない検査されるべき対象上の最大の線量率（入力線量率）の調整（７２）、自動照射装置がそれに基づいて照射の制御を行う管電圧及び／又は管電流の初期値の調整（７３）、並びに、連続した照射（個々に照射された静的な画像）の場合は管電圧のためのパルス繰返し周波数の調整（７４）である。
【００２１】
制御装置７０は、本質的に、Ｘ線管の動作のための複数の制御曲線のための第１の記憶装置７５を含む。制御曲線は、Ｘ線管の第１の動作パラメータをＸ線管の第２の動作パラメータに関連付ける、例えば管電圧を管電流又は負荷に関連付ける複数の値の対によって形成される。
【００２２】
複数の制御曲線は、最適の画質を達成するよう検査の種類の関数としてシステムのユーザによって選択されうる異なる制御プロファイルを実施する。
【００２３】
第１の記憶装置７５はまた、多数の第１又は第２の動作パラメータを、それによって達成されえ管電流及びＸ線管からの距離に対して正規化される線量率に関連付ける複数の値の対によって形成される複数の核エネルギー収量曲線を記憶するために用いられる。
【００２４】
制御装置７０はまた、使用されるＸ線管の種類の関数として、また、印加される信号（特にフィルタ信号）及び行われる調整の関数として適当な核エネルギー収量曲線を選択し、ユーザによって選択された制御曲線を算術的に補正する算術ユニット７６と、補正された制御値を格納する第２の記憶装置７７とを含む。
【００２５】
自動照射装置（図示せず）は、線量率センサ９によって発生される線量率信号（１０）に依存して、最適照射に適した第１の動作パラメータの値を決定する。第１の動作パラメータの値に関連付けられる第２の動作パラメータの値は、補正された制御値に基づいて決定される。この対の値は、電圧供給ユニット８０に印加される。
【００２６】
最後に、電圧供給ユニット８０は、Ｘ線管１に接続され、受信された対の値に従って、Ｘ線管１の動作に必要な電圧及び電流を発生し、連続する照射の場合は時間的な適当な変化を示す（例えば方形波パルス形状）。
【００２７】
Ｘ線検査を行うために、Ｘ線管１及び検査されるべき対象８は、互いに対して検査されるべき領域のイメージングに最適な位置に移動されねばならない。
【００２８】
Ｘ線ビームの方向上の相対的な動きのため、線量率は検査されるべき対象の入射の領域において増加又は減少される。Ｘ線ビームに対して垂直方向の相対的な動きの場合、ビームは一般的に検査されるべき対象の異なる吸収性質を有する領域を横切る。両方の動きの方向により、このように、イメージインテンシファイア３の線量率の変化、及び、モニタ６上に表示された画像の輝度の変化が生ずる。
【００２９】
取られる線量率の減少は画質に影響を与えるため、線量率が減少したときは、Ｘ線管１に印加される電圧及び／又は電流は、自動照射装置によって比例して自動的又は手動で増加される。しかしながら、その場合、線量率を過剰に増加させれば形成される画像中の細部に過剰な照射が生じうることを考慮に入れねばならない。また、もちろん健康についての理由により、患者に対する放射線負荷を出来る限り小さく保つ必要があり、患者に対する所定の最大の入力線量率を超えてはならない。
【００３０】
Ｘ線管と患者の間の距離が変化した場合、又はビーム路に異なるフィルタが挿入されたときは、入力線量率がかなり増加する可能性があるため、注意が必要である。
【００３１】
制御装置７０は、自動照射装置の制御範囲のどこでも、最大入力線量率を超過しないようにすることが考えられる。これについては、例を参照して以下詳述する。
【００３２】
更に特定的には、上述のように、制御装置７０は透視法のための複数の第１の制御曲線を格納し、それにより様々な管電圧Ｕが夫々対応する管電流Ｉと関連付けられる。更に、制御装置は、一連の照射のための複数の第２の制御曲線を格納し、それにより対応する負荷値Ｑは夫々異なる管電圧Ｕに関連付けられる。図２は、例として第１の制御曲線（I）のうちの一つを示し、図３は第２の制御曲線（II）のうちの一つを示す。
【００３３】
やはり格納されそのうちの一つが図４に示される核エネルギー収量曲線（III）は、夫々がＸ線管に印加される管電圧Ｕと、ビーム路に即ち１メートルに正規化したＸ線管からの距離に挿入される可能性のあるフィルタを考慮に入れつつ、電流のｍＡ当たりに得られる線量率Ｙ（核エネルギー収量）との関係を示す。各Ｘ線照射は、このようにフィルタ及び使用されるＸ線管に関連付けられる核エネルギー収量曲線に基づく。
【００３４】
ユーザによって調整又は選択されうる１以上のパラメータ（特に、Ｘ線管と検査されるべき対象の間の距離、管電圧、管電流、管の種類、フィルタの種類、パルスレート）が変化した場合に対象に当てられるＸ線の所定の最大線量率を超過しないよう、制御曲線は、この最大入力線量率を考慮にいれつつ補正される。
【００３５】
これに関して、透視法のための第１の制御曲線（I）の補正と連続した照射のための第２の制御曲線（II）の補正は区別されるべきである。
【００３６】
透視法の場合、ユーザによって選択される第１の制御曲線は、まず、図２の表現中の曲線の右上の端、即ち、管電圧の最高値と、この電圧値に関連付けられる管電流の値を決定するために、まず算術的に解析される。例えば、図２の例では、最大電圧１５０ｋＶに対して９ｍＡの電流が得られる。
【００３７】
更に、使用されるフィルタ（及びＸ線管）に従って選択される核エネルギー収量曲線に基づいて、この最大電圧に対する核エネルギー収量が決定される。図４に示す例では、最大電圧１５０ｋＶに対して約９６．４μＧｙ／ｍＡｓの核エネルギー収量が得られる。
【００３８】
最大管電圧の場合にＸ線管から１メートルの距離において生ずる最大線量率は、この核エネルギー収量と決定された最大電流とを乗算することによって得られる。上述の例では、この最大線量率は約８６７．６μＧｙ／ｓとなる。
【００３９】
続いて、検査されるべき対象に入射する最大線量率は、この値にＸ線管と検査されるべき対象の間の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定される。この例では、距離測定装置１１によって決定される０．８ｍの距離に対して、約１３５５．６３μＧ／ｓの値が得られる。
【００４０】
この値は、最大入力線量率の選択された値（例えば６００μＧｙ／ｓ）と比較される。この最大値を計算された値によって割り算することにより、換算係数（本例では約０．４４２６）が得られ、これと最も高い管電圧に関連付けられる電流値（本例では９ｍＡ）とが乗算される。これにより、最大管電圧に対して換算された電流値（本例では約３．９８３４ｍＡ）、従って、換算された最大電力約５９７．５１Ｗが得られる。
【００４１】
この一対の値（換算された電流値、最大電圧）は、増加する電圧の方向の情報の（最後の）対の値であり、従って補正された制御曲線の端であると定義される。制御曲線の変化は、計算され換算された最大電力、従って所定の最大の入力線量率がどの位置でも超過されないようこの上側の端に基づいて補正される。
【００４２】
これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々の換算された電流値に関連付けられその積が夫々換算された最大電力以下の電力を生じさせる、新しい（上側）曲線セグメント（２）を定義することによって達成される。新しい曲線セグメント（２）は、このように元の制御曲線の方向にこの曲線に交わるまで延び、これらの２つの曲線の交点（この場合は１０２．５ｋＶ）の上に位置する元の制御曲線の部分（１）を置き換える。補正された制御曲線は、このように、元の変化に対応する第１の下側のセグメントと、新しい第２の上側のセグメント（２）とから構成される。
【００４３】
もちろん、第２の上側のセグメントの変化は、上側の対の値から開始して、管電圧と関連する電流値の積が元の曲線の方向に換算され、より低い値においてのみ交点に達するようなものでありうる。
【００４４】
方法は、望ましくは算術ユニット７６によって実行されるプログラムの形式で実施される。プログラムの実行については、図５のフローチャートを参照して説明する。
【００４５】
プログラムの開始１００の後、第１の段階１０１において、フィルタ２及び／又はＸ線管１が以前に実行された曲線補正よりも後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第２の段階１０２において、この新しい管／フィルタの組合せに関連付けられる核エネルギー収量曲線が選択され、第７の段階１０７へ進む。
【００４６】
第１の段階１０１において、変更されていないと判定されれば、第３の段階１０３において、制御曲線が最後の補正よりも後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第７の段階１０７へ進む。変更されていなければ、第４の段階１０４において、Ｘ線管と検査されるべき対象８の間の距離が最後の補正の後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第７の段階１０７へ進み、変更されていなければ、第５の段階１０５において、選択された最大入力線量率が最後の補正の後に変更されているか否か調べられる。変更されていれば、第７の段階１０７へ進み、変更されていなければ、方法は第９の段階１０９によって終了する。
【００４７】
第７の段階１０７において、図２に示す第１の制御曲線が、検査されるべき対象上の選択される最大入力線量が超過されうる値の対を含むか否か調べられる。含む場合、第８の段階１０８において制御曲線は、第２の記憶装置７７に記憶されるべく補正される。第７の段階１０７における判定結果が否定的な場合と同様に、プログラムは第９の段階１０９において終了する。
【００４８】
第７の段階１０７及び第８の段階１０８は、上述のように、第１の制御装置の補正に関連して実行される。
【００４９】
第２の制御曲線（図３）をＸ線管がパルス化されたモードで動作する連続照射について補正するために、入力線量率の所定の最大値（例えば８００μＧｙ／ｓ）は一秒当たりの照射間隔の数（即ち、パルス繰返し周波数、例えば２／ｓ）で割り算されねばならない。このようにして、単一のパルス（１照射間隔）に対する最大線量値が得られ、これに基づき更なる説明が行われ、その値は本例では４００μＧｙである。
【００５０】
ユーザによって選択される第２の制御曲線の解析は、最大管電圧に対して得られる負荷を決定することから始まる。図３に示す曲線は、最大電圧１３０ｋＶに対して約５．１７ｍＡｓの負荷を生じさせる。
【００５１】
最大電圧に対する核エネルギー収量は、使用されるフィルタに従って選択される核エネルギー収量曲線に基づいて決定される。図４に示す例では、最大電圧１３０ｋＶに対して約６７μＧｙ／ｍＡｓの核エネルギー収量が得られる。
【００５２】
Ｘ線管から１メートルの距離において最大管電圧に対して生ずる最大線量は、この核エネルギー収量を決定された最大負荷によって乗算することによって得られる。この線量は本例では約３４６．４μＧｙとなる。
【００５３】
続いて、検査されるべき対象に入射する最大線量は、この値に、Ｘ線管と検査されるべき対象の間の実際の距離の逆二乗を乗算することによって決定される。距離測定装置１１によって測定される距離が０．８ｍの場合、本例では約５４１．２５μＧｙの値が得られる。
【００５４】
この値は、１パルスに対する以前に計算された最大の線量の値（本例では４００μＧｙ）と比較される。この最大値を計算された値によって割り算することにより換算係数（本例では約０．７４）が得られ、制御曲線によって計算された負荷値（本例では約５．１７ｍＡｓ）は、この換算係数によって乗算される。これにより１３０ｋＶの最大管電圧に対する換算された負荷値（本例では約３．８２７ｍＡｓ）が得られ、約４９５．５１Ｗｓの換算された最大エネルギーが得られる。
【００５５】
この対の値（換算された負荷値、最大電圧）は、増加する電圧方向の上側の（最後の）対、従って補正された制御曲線の端として定義される。制御曲線の変化は、この上側の端に基づいて、即ち計算された換算された最大エネルギー、従って所与のパルス繰返し周波数に対する所定の最大の入力線量率がどの位置でも超過されないよう補正される。
【００５６】
これは、最大電圧値を下回る電圧値が夫々その積が最大エネルギー以下のエネルギーを生じさせる換算された負荷値と関連付けられる新しい（上側）曲線セグメント（２）を定義することによって達成される。新しい曲線セグメントは、元の制御曲線の方向にこの曲線と交わるまで延び、これらの２つの曲線の交点（本例では約８１．２ｋＶ）より上に位置する元の制御曲線の部分（１）を置き換える。補正された制御曲線は、このように、元の変化に対応する第１の下側のセグメントと新しい第２の上側のセグメント（２）とから構成される。
【００５７】
第２の上側のセグメントの変化は、上側の対の値から始まって、管電圧と関連する負荷値の積が元の曲線の方向に換算され、低い電圧値においてのみ交点に達するようにされうる。
【００５８】
望ましくは、方法は算術ユニット７６によって実行されるプログラムの形で実施される。
【００５９】
図６はそのようなプログラムの本質的な段階を示す図である。プログラムの実行は、第５の段階１０５の後に最後の補正の後にパルス繰返し周波数が変更されているか否かを調べる第６の段階１０６が挿入されている点で図５に示すプログラムとは異なる。この場合、段階１０１乃至１０５における判定結果が肯定的である場合のように、第７の段階１０７へ進み、第７の段階１０７において、図３に示す第２の制御曲線が選択された最大入力線量が超過されうる対の値を含むか否か判定される。この判定結果が肯定的であれば、第８の段階において制御曲線が補正され、補正された制御曲線は第２の記憶装置７７に格納される。
【００６０】
上述の説明と同様に、第７の段階１０７及び第８の段階１０８は、第２の制御曲線の補正に関連して実行される。
【００６１】
制御曲線はまた、新しい上側の曲線のセグメント（２）が決定されないが、第１の下側のセグメントのみが使用されるよう補正されてもよい。これは、補正された制御曲線が、最大の所定の入力線量率が得られる対の値が位置する点までは元の制御曲線に従って変化することを意味する。しかしながら、本発明の格別な利点のうちの１つは、幾つかの例外を除き、これが必要でない点である。
【００６２】
図２及び図３に示す曲線の代わりに他の制御曲線が使用されうる。
【００６３】
他の制御曲線の１つは、例えば図２及び図３中のｘ軸及びｙ軸に夫々プロットされる第１及び第２の動作パラメータが入れ替えられた制御曲線を使用するものである。
【００６４】
例えば、Ｘ線管がパルス化されたモードで動作するとき、第１の動作パラメータを管電圧又は管電流のパルス幅の形に変えることも可能である。すると、最大入力線量率は、超過されてはならない最大パルス幅に対応する。
【００６５】
更なる他の制御曲線は、１つの動作パラメータが調整され、制御曲線が一方又は両方の他の動作パラメータの上述の計算によって補正される、３つの動作パラメータを用いた３次元制御曲線を定義するものである。これらのパラメータは、例えば、パルス繰返し周波数、並びに、管電圧及び管電流でありうる。
【００６６】
本発明による原理は、このように、２以上の動作パラメータの実際的に任意の組合せに拡張されえ、これらのパラメータはまず管電圧、管電流、パルス化されたモードではこれらの変数のパルス幅、及び、これらの変数のパルス繰返し周波数である。Ｘ線管と検査されるべき対象の間の距離の変化と、異なる放射線吸収率を有するフィルタの交換もまたこの点で可能である。
【００６７】
最後に、本発明による方法は、写真の単一の露出のためにも使用されうる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線システムを示すブロック図である。
【図２】Ｘ線管の第１の制御曲線を示す図である。
【図３】Ｘ線管の第２の制御曲線を示す図である。
【図４】Ｘ線管の核エネルギー収量曲線をＸ線管に印加される電圧の関数として示す図である。
【図５】本発明による第１の方法を示すフローチャートである。
【図６】本発明による第２の方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１    Ｘ線源
２    フィルタ
３    検出器
４    カメラ
５    ビデオ増幅器
６    モニタ
７    Ｘ線発生器
８    対象
９    線量率センサ
１０    線量率信号
１１    距離測定装置
２１    フィルタセンサ装置
７０    制御装置
７１    制御曲線の選択
７２    最大線量率の調整
７３    管電圧・管電流の初期値の調整
７４    パルス繰返し周波数の調整
７５    第１の記憶装置
７６    算術ユニット
７７    第２の記憶装置
８０    電圧供給ユニット
【図１】
0004406533.tif 000002
【図２】
0004406533.tif 000003
【図３】
0004406533.tif 000004
【図４】
0004406533.tif 000005
【図５】
0004406533.tif 000006
【図６】
0004406533.tif 000007