(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の検知セル（１１６）の各々が対応する制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）によって対応するデータ線（１１８）に接続され、前記データ線（１１８）が順次に配置され、前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）の各々がその接続されたスキャン線（１１７）から制御されて対応する検知セル（１１６）からの信号を前記対応するデータ線（１１８）に選択的に通過させ、かつ前記データ線（１１８）の各々が複数の増幅器（１４６）のうちのそれぞれの１つに接続されるように構成されているマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネル（１５）において、前記複数の検知セル（１１６）により供給される撮像アレイ信号内の容量結合アーチファクトを補償する方法であって、
前記撮像パネル（１５）のスキャン線（１１７）に前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号の印加を停止し、前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を非導通状態にするステップと、
前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）が非導通状態にある間に、それぞれの誘導信号を前記増幅器（１４６）から読み取るステップと、
前記スキャン線（１１７）に前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号を印加するステップと、
前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）が導通状態にある間に、それぞれの撮像アレイ信号を前記増幅器（１４６）から読み取るステップと、
前記それぞれの撮像アレイ信号から前記それぞれの誘導信号を差し引いて、容量結合アーチファクトを補償したそれぞれの補正済み撮像アレイ信号を出力するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
前記それぞれの誘導信号が、指定された期間にわたって読み取られた複数の誘導信号の平均値である請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記それぞれの誘導信号が、指定された期間にわたって読み取られたＫ個の誘導信号の平均値であり、
ｋ／２個の誘導信号の読み取りが前記撮像アレイ信号の読み出しの前に実行され、残りのｋ／２個の読み取りが前記撮像アレイ信号の読み出しの後に実行される請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
複数の検知セル（１１６）の各々が対応する制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）によって対応するデータ線（１１８）に接続され、前記データ線（１１８）が順次に配置され、前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）の各々がその接続されたスキャン線（１１７）から作動可能に制御されて対応する検知セル（１１６）からの信号を前記対応するデータ線（１１８）に選択的に通過させ、前記スキャン線（１１７）はすべてその電圧が指定された方向であらかじめ決定した値に設定されており、かつ前記データ線（１１８）の各々が複数の増幅器（１４６）のうちのそれぞれの１つに接続されるように構成されているマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネル（１５）において、前記複数の検知セル（１１６）により供給される撮像アレイ信号内の容量結合アーチファクトを補償する方法であって、
撮像エネルギ源（１１０）から撮像エネルギを前記撮像パネル（１５）に印加するステップと、
撮像パネル（１５）のすべてのスキャン線（１１７）に前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号の印加を停止し、前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を非導通状態にするステップと、
前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）が非導通状態にある間に、それぞれの誘導信号を前記増幅器から読み取るステップと、
それぞれの平均値を作成するために前記それぞれの誘導信号の平均を取るステップと、
前記スキャン線（１１７）に前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号を印加するステップと、
前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）が導通状態にある間に、それぞれの撮像アレイ信号を前記増幅器（１４６）から読み取るステップと、
所定の最小値と所定の最大値の間の異なる無作為の数を取得するステップと、
前記異なる無作為の数を前記それぞれの撮像アレイ信号に加え、各ピクセルのデジタル値とするステップと、
前記各ピクセルのデジタル値から前記平均値を差し引くステップと、
前記平均値が差し引かれた前記各ピクセルのデジタル値に丸め処理を施し、容量結合アーチファクトを補償したそれぞれの補正済み撮像アレイ信号を作成するステップと、を含む方法。
【請求項５】
非導通状態にする前記ステップがすべてのスキャン線（１１７）で行われ、かつ導通状態にする前記ステップがすべてのスキャン線（１１７）で行われる、請求項２又は３に記載の方法。
【請求項６】
前記指定された期間が、約１ライン時間と約１６ライン時間の間の範囲である請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記それぞれの撮像アレイ信号及び、前記それぞれの誘導信号がディジタル形式の信号である請求項１乃至６のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
制御可能なスキャン線（１１７）を有するマトリックス・アドレス式センサ・パネル（１５）により発生される撮像アレイ信号を補正するためのシステムであって、
行列の形に配置された複数の検知セル（１１６）であって、その各々は、前記スキャン線（１１７）に制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号が印加された通電状態にあるときにはそれぞれの撮像アレイ信号を出力し、前記スキャン線（１１７）に前記制御スイッチ（７１、７２、８１、８２）を導通状態にさせる信号が印加されない非通電状態にあるときにはそれぞれの誘導信号を出力するように配置されている複数の検知セル（１１６）と、
各々が前記複数の検知セル（１１６）のうちの少なくとも１つと接続されていて、前記それぞれの撮像アレイ信号及び前記それぞれの誘導信号を前記検知セル（１１６）から受け取る複数の増幅器（１４６）と、
前記増幅器（１４６）に接続されていて、前記増幅器（１４６）をポーリングして、前記それぞれの撮像アレイ信号及び前記それぞれの誘導信号を読み取り、かつ前記それぞれの撮像アレイ信号から前記それぞれの誘導信号を差し引いて、容量結合アーチファクトを補償したそれぞれの補正済み撮像アレイ信号を生成し、前記それぞれの補正済み撮像アレイ信号を出力するプロセッサ（１５０）と、を備えるシステム。
【請求項９】
前記それぞれの誘導信号が、前記スキャン線が通電状態にあるとき以外の指定された期間にわたって読み取られるＫ個の誘導信号の平均値であり、
ｋ／２個の誘導信号の読み取りが前記撮像アレイ信号の読み出しの前に実行され、残りのｋ／２個の読み取りが前記撮像アレイ信号の読み出しの後に実行される請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記パネル（１５）から出力されるアナログ信号をディジタル・データに変換する、アナログ−ディジタル変換器（１６）を備え、
前記それぞれの撮像アレイ信号及び、前記それぞれの誘導信号がディジタル形式の信号であり、前記指定された期間が、約１ライン時間と約１６ライン時間の間の範囲である請求項９に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、全般的にはマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネルに関し、さらに詳細には、容量結合アーチファクトを補償しかつマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネルが発生させた画像信号を補正するための方法に関する。
【０００２】
【発明の背景】
アモルファス・シリコンＴＦＴ及びフォトダイオード・アレイにより構成されるマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネルは、医療分野及び工業検査分野において多くの有益な利用法がある。典型的には、半導体撮像システムは２次元マトリックス、またはフォトダイオード・アレイを使用して、放射を入射放射線エネルギと比例する強度を有する画像に変換している。医学的応用で使用される放射線撮像システムでは、非侵襲性の生体画像化のために、患者の身体を透過する、すなわち患者の身体から出てくる放射線エネルギを用いる。こうした利用法のための高分解能の半導体放射線撮像システムの一例は、本出願人のゼネラル・エレクトリック・カンパニイに譲渡された米国特許第５，３４０，９８８号に示されている。さらに、ファントム・ノイズ及び画像アーチファクトを減少させて、こうした撮像システムにおける分解能を向上させるためのフラット・パネル式放射線デバイスは、同じくゼネラル・エレクトリック・カンパニイに譲渡された米国特許第５，６１０，４０４号に記載されている。
【０００３】
容量性結合として知られる望ましくない結合は、フリンジ(fringe)容量ともいい、フォトダイオード電極とデータ線との間に生じる。本明細書で使用する場合、フリンジ容量とは、あるコンポーネント内の静電容量、あるいはあるコンポーネントと１つまたは複数のコンデンサの静電容量以外の結線との間の静電容量と定義している。
【０００４】
この望ましくない容量性結合は、フラット・パネル式撮像デバイスのパフォーマンスを劣化させる。イメージャの幾つかの通常動作の間で、そのＸ線フラックスはピクセル読み出しの間はオンのままである。例えば、透視用イメージャ及び放射線治療と共に使用されるイメージャでは、その放射線源は与える放射線量を最大とさせるため常時オンとするか、あるいはパルス動作により周期的にオンとし、このため読み出し期間中に放射線が検出器アレイ上に入射する。イメージャに対するこの同時の励起と読み出しによって、画像アーチファクト、すなわち「ファントム(phantom) 」画像が生じる。このファントム画像は、それぞれのフォトダイオード電極と隣接するデータ線との間のフリンジ容量結合の結果として生じる。所与のデータ線に取り付けられた所与のフォトダイオードの読み出しの間、その他のフォトダイオード電極の電位、例えば、非読み取りピクセルに関連する電極の電位は、放射線束がイメージャに入射するのに伴い変化し続ける。読み出しされていないピクセルの電位の変化がこのデータ線内に容量性に結合され、これにより追加的な電荷が誘導され、この電荷がそのアドレス付けされたピクセルからの信号の一部として読み取られることになる。この影響により、クロストークまたは画像のコントラストの劣化を生じる。この影響は通常、ディスプレイ読み出しにおいて、輝線(bright line) または暗線(dark line) のいずれかとして確認できる（後者の方がその前者よりも「クロストーク」がより少ない）。
【０００５】
画像の品質を劣化させる追加的な電荷に起因するアーチファクトを、ソフトウェアによる補正アルゴリズムを使用して補正しようとする試みがなされてきた。
しかし、こうしたソフトウェアでは、各データ線上の全体の信号レベルが既知である必要がある。画像の任意の領域が飽和していることはしばしば起こることであり、この場合には、各データ線上の全体信号が既知ではなく、このソフトウェア補正技法は効果がより低くなる。
【０００６】
高品質画像を得るためには、フォトセンサ・アレイから得た生データに対して補正を施し、これらの影響に対する補償をすることが必要である。したがって、容量結合アーチファクトを生じさせるマトリックス・アドレス式撮像パネルが発生させた画像信号に対する補正を行うことが有利であることが分かる。
【０００７】
【発明の概要】
本発明の代表的な実施の一形態では、容量結合アーチファクトを補償し、かつマトリックス・アドレス式Ｘ線撮像パネルによって発生された画像信号の露出量を補正するためのシステムは、撮像パネル内でマトリックス・アドレス式アレイとして配置されたそれぞれのフォトセンサに接続された積分型読み出し増幅器に印加される容量性結合による信号に対するリアルタイムの計測値を提供する装置を備えている。スキャン線制御装置はそれぞれのセンサに付属する電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）スイッチを制御する（導通状態または非導通状態にする）ように構成されている。ＦＥＴスイッチが非通電状態にあるような状態では、読み取り回路は、各増幅器から読み取られた補正信号の平均値を読み取りかつ累積する。この補正信号はそれぞれのデータ線に対応すると共に、その増幅器に由来する増幅器オフセットと容量結合アーチファクトの総和を含んでいる。通常の画像処理の間に、スキャン線制御装置はスキャン線上にＦＥＴスイッチを導通状態にさせるような信号を印加し、各増幅器から撮像アレイ信号が読み出される。容量結合アーチファクト及び増幅器オフセットは、各増幅器に対して特異的な平均補正信号を当該の増幅器が発生させた撮像アレイ信号から差し引き、補正済み画像信号を発生するための算出回路によって、各撮像アレイ信号ごとに補償を受ける。
【０００８】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明によるディジタルＸ線撮像システム１０の簡略ブロック図である。Ｘ線源１２は、制御装置１３により制御されており、画像化しようとする被検体５００に向けてＸ線照射域Ｆを放出する。被検体５００に関し線源と反対側に位置するＸ線画像センサ１４は、被検体を透過するＸ線を検出する受光ピクセルからなる２次元フラット・パネル・アレイ１５を含んでいる。Ｘ線画像センサ１４は、典型的には、後述するセルからなる２次元マトリックスを有する半導体フラット・パネル１５を含んでいる。フラット・パネル１５から出力された画像信号は、Ａ／Ｄ（アナログ−ディジタル）変換器１６によってディジタル・データに変換される。この信号はＣＰＵ（中央処理ユニット）１８により処理され、次いで予め定めた算術演算処理に従ってフレーム・メモリ２０内に格納される。
再生された断層画像は、要求に応じてビデオ・メモリ２２に渡され、Ｄ／Ａ（ディジタル−アナログ）変換器２４によってアナログ信号に変換され、次いでＣＲＴ（陰極線管）ディスプレイ（表示装置）などの画像表示デバイス２６により表示される。
【０００９】
図２は、フラット・パネル１５のセル・マトリックスのすべてのセルに共通した特徴に関連付けて参照番号を付与した代表的なセル２００を表したものであり、その参照番号の一部は図３の参照番号と互いに関連付けてある。図示を明瞭にするため、これらの参照番号は図３から省略してあるが、図２及び図３では共に、実線により電導体にまたがる結線を図示し、破線により後述する誘導される結合を図示している。
【００１０】
代表的なセル２００は、フォトダイオード２１０が受け取った１つのピクセル（図示せず）の光を表す信号を発生する放射線検知素子を有するフォトダイオード２１０として示すフォトセンサ素子と、フォトダイオード素子２１０により発生された信号が接続されるデータ線２３０上に出現させるためのスイッチング素子２２０とを備えている。フォトダイオード２１０は、フォトダイオード２１０の全体にわたって配置されかつフォトダイオード２１０とは絶縁されている共通電極（図示せず）に接続されていることを示す接続点２４０を含んでいる。スイッチング用トランジスタ２２０はゲート電極２２２、ドレイン電極２２４及び（ソース電極としても知られる）読み出し電極２２６を有する電界効果薄膜トランジスタである。
【００１１】
スイッチング用トランジスタ２２０のゲート電極２２２はスキャン線２５０に接続されている。動作時には、スキャン線２５０を指定されたしきい値電位にするように印加される信号（例えば、電圧）によりスイッチング用トランジスタ２２０を導通状態にする。スイッチング用トランジスタ２２０が導通状態にあるときには、ドレイン電極Ｄ及び読み出し電極２２６を介してフォトダイオード２１０とデータ線２３０の間に導体経路が形成され、これによりフォトダイオード上に累積された電荷をデータ線２３０から読み出すことができる。イメージャ１０が動作中のときには、各フォトダイオードの共通電極接続点２４０は接地電位と異なるバイアスを提供する電圧バイアス源（図示せず）に接続されている。
【００１２】
さらに、図２では代表的セル２００内の導電性コンポーネント間の容量性結合の幾つかの発生源を図示している。図示の目的のため、図２及び図３では、破線で接続されたコンデンサ記号によってファントムとしての容量性結合を表しており、単体コンポーネントとしてのコンデンサがアレイ内にあることを表すものではない。例えば、データ線２３２と、フォトダイオード電極２１５とスイッチング用トランジスタ２２０のドレイン電極２２４の間の隣接する結合点との間には容量性結合２６０が存在する。さらに、データ線２３０と電極２１５の上記結合点の間には容量性結合２６５が存在する。（図面においてファントムであるとした表現は図示の目的によるものであり、単体コンポーネントのコンデンサが有ることを示すものではない。）本明細書で使用する場合、「隣接する」導電性コンポーネントとは、互いに空間的に近傍にあるが直接物理的な接触はしておらず、この２つのコンポーネントの間には直接の導体経路（すなわち、短絡回路）は存在しないことを意味する。フォトセンサ共通端子２４０と任意のデータ線の間、並びにフォトセンサ共通端子２４０とフォトセンサ端子２１５との間の静電容量を含め、容量性結合のその他の発生源が２６０及び２６５に対して寄与を与える。隣接するセル間の容量性結合によって、スキャン線及びデータ線の電位が様々に変化するのに伴い、これらの影響はより複雑となる。
【００１３】
図３は、その各々が図２に示すセル２００の一般的表現形を有するアレイ１５のセルの一部分を示したものである。限定的ではなく例示的には、あるアレイ１５は、１０インチ×１０インチの基板上に製作された約１０００×１０００ピクセルのマトリックスを備えている。ピクセル及び付属のセルからなる典型的なアレイはＭ個の列とＮ個の行を備えており、パネルにより作成される画像は、スキャン線を順次起動させることにより制御して、そのセルのすべての出力を組み合わせることにより得られることを理解されたい。
【００１４】
スキャン線５１及び５２は、図２のスキャン線２５０及び２５２に対応し、データ線２３２及び２３０はデータ線６１及び６２に対応し、フォトダイオード３１、３２．．．、４１、４２．．．、等はフォトダイオード２１０に対応し、さらにトランジスタ７１、７２．．．、８１、８２．．．、等はトランジスタ２２０に対応する。図３中でドット記号付きの参照番号で示すように、すべてのセルのコンポーネント、スキャン線及びデータ線は、アレイ１５のサイズに適合させてその数を拡張することができる。
【００１５】
図３中で同じ行（例えば、最上行）に接続するように示したトランジスタ７１、７２．．．では、それぞれのゲート電極２２２（図２）はスキャン線５１に接続されている。同様に、別の行のトランジスタ８１、８２．．．では、それぞれのゲート電極２２２（図２）はスキャン線５２に接続されている。トランジスタ７１、７２では、それぞれのドレイン電極２２４（図２）の各々はそれぞれのフォトダイオード３１、３２．．．等の端子２１５（図２）に接続されている。同じ列のトランジスタ７１、８１．．．では、それぞれの読み出し電極２２６（図２）はデータ線６１に接続され、また別の列のトランジスタ７２、８２では、それぞれの読み出し電極２２６（図２）はデータ線６２に接続されている、等々となっている。
【００１６】
スキャン線５１、５２．．．は（スイッチング用トランジスタ７１、７２．．．、８１、８２．．．、等に接続されると共に）、スキャン線制御装置１４５にも接続されている。データ線６１、６２．．．はそれぞれの増幅器１４６に接続され、この増幅器１４６は回路１４７により読み取られかつリセットされる。ピクセルに対する連続するスキャンは、スキャン線制御装置１４５の制御の下にスキャン線の電位を変化させることにより、スイッチング用トランジスタ７１、７２．．．、８１、８２．．．、等のそれぞれの行をオン・オフすることにより実行される。１つのピクセルを表す信号は、閉じられたそれぞれのスイッチング用トランジスタによって、それぞれの読み出し増幅器１４６に接続された対応するデータ線に導かれる。
【００１７】
読み出し増幅器１４６から得られる信号は、それぞれの増幅器の回路コンポーネントの具体的な電気特性に起因するそれぞれの増幅器オフセットを含み、またさらに、画像パネルの各コンポーネント、スキャン線、それぞれの増幅器と結合されたデータ線の間のすべての容量性結合の複合された影響を含んでいる。制御スイッチ７１、７２．．．、８１、８２．．．のうちの任意の１つがオンのときには、オフセット及び容量結合アーチファクトは画像信号と複合され、それぞれのデータ線によってそれぞれの増幅器１４６に導かれる。制御スイッチ７１、７２．．．、８１、８２．．．のすべてがオフのときには、オフセット及び容量結合アーチファクトのみが現れ、スイッチ・オフの誘導信号が形成され、この信号はそれぞれのデータ線によってそれぞれの増幅器１４６に導かれる。
【００１８】
図４は、図６及び図７に示す画像システム１００に適用される、本発明による方法を示した流れ図である。本方法は、上記の誘導信号が各増幅器から読み取り可能であるということを利用している。本方法は、その一部として予備的な決定を行い、画像システム１００の各読み取りサイクルの全読み取り時間に全体でさらにＫ回のライン時間を追加して、スキャン線が非通電状態にある間に画像システム１００内の各増幅器１４６から反復して読み取られる画像信号の平均を決定する。これらのＫ回の追加的な読み取りに対しては、いずれのスキャン線もオンにしない、したがって、各増幅器で読み取られる信号は容量性結合による電荷及び当該の増幅器に関する増幅器オフセットのみである。Ｘ線照射率がＮ＋Ｋ回（Ｎはピクセルの行数に等しい）の読み取り（典型的には２０〜２０００ミリ秒）にわたって一定であり、かつ増幅器オフセットが既知である、すなわち、事前に計測されていると仮定すると、本方法により容量結合アーチファクトの影響を数値化して画像信号から差し引くことが可能となる。Ｋ回のライン時間間隔の間に各増幅器から得られる平均信号値は格納され、画像システム１００の通常動作の間に当該の増幅器からの読み出し値として得られるすべての画像信号から順次差し引かれる。
【００１９】
全体でＫ回の追加的なライン時間が事前に設定されている場合、本方法のシーケンスは、すべてのスキャン線を非通電状態にするステップＳ１で開始される。
ステップＳ２において、カウンタｋは１に等しくセットされる。ステップＳ３において、各増幅器出力は読み取られ、かつそれぞれの信号値はスキャン線が非通電状態のままである間に累積される。ステップＳ４及びＳ５において、カウンタｋはＫ回の読み取りがすべて完了するまで１ずつ繰り上げられる。Ｋに対して任意の値を割り当てることができるが、Ｋの値は約１と約１６の間の範囲であることが好ましい。この上限値はサブカウント精度を提供し電子ノイズの影響を平均化するために使用される。読み出し手順中のＸ線強度のドリフトの影響を最小限とするために、イメージャ読み出しの前にｋ／２個の較正読み取りを実行し、イメージャ読み出しの後で残りのｋ／２個の較正読み取りを実行する。ステップＳ６において、増幅器出力値は個々に平均化され、容量性結合による平均電荷及びそれぞれの増幅器の各々に対する増幅器オフセットを表す、格納される補正値が形成される。ステップＳ７において、非通電状態になっているスキャン線のすべてが通電状態にされ、ステップＳ８において、画像システム１００などの画像システムが図６及び図７に示すように被検体５００を照射する間に、各ピクセルのディジタル値を関連する増幅器から読み取ることができる。
【００２０】
ステップＳ９において、個別の増幅器の各々に関連する格納された補正値を、当該のそれぞれの増幅器から読み取られた各ピクセルのディジタル値から差し引き、画像化される被検体を正確に表した画像信号が得られる。ステップＳ１０において、この結果を丸め処理し、容量結合アーチファクト及び増幅器オフセットが補償され、かつよく知られた方法により視覚的に表示するのに適した、最終的な補正済み画像信号を表すディジタル・カウントを得る。
【００２１】
ピクセル読み出しデータをすでにディジタル化した後に補正を実施するため、容量結合アーチファクトに対するディジタル補正では潜在的な問題を伴うことを理解されたい。数値化された補正（すなわち、１カウント、２カウントなどの補正）のみが実施可能である。このことは個々のピクセルでは問題とならないが、本状況ではデータ線などの空間的に関連づけられた構造に対しては潜在的な問題を伴う。あるデータ線上のすべてのピクセルの値が隣接するデータ線に対して０．５カウントだけ高すぎる場合、その影響は明らかに目に見えることになる。したがって、容量結合アーチファクトを補正するための方法は、アーチファクトを十分に抑制するために１カウントの端数、例えば、１／１０カウント未満まで正確である必要がある。この基準はもっと複雑な画像処理アルゴリズムを通じて達成させることができる。
【００２２】
図５は、図４に示す方法の別の実施形態を示したものであり、この実施形態では、ステップＳ９がステップＳ９Ａ〜Ｓ９Ｃに置き換えられている。ステップＳ９Ａ及びＳ９Ｂにおいて、指定された値の間、例えば、−０．５と＋０．５の間の異なる無作為の数を取得し、次いでこれに各ピクセルのディジタル値を加える。次いで、ステップＳ９Ｃにおいて、Ｋ回の読み取りの平均化手順によりすでにサブカウント精度を有している補正値を、各ピクセルのディジタル値から差し引く。最後に、ステップＳ１０において、このデータは丸め処理され、最終の補正済み画像信号に対する補正ディジタル・カウントが提供される。
【００２３】
ここで図６を参照すると、例示的システム１００は、被検体を照射するために制御装置１１２により制御受けるＸ線放射源１１０、図３に示した撮像パネル１５と同じ撮像パネル１５、増幅器１４６、スキャン線制御装置１４５、並びにプログラム可能なプロセッサ１５０を含むものとして図示してある。
【００２４】
撮像パネル１５はスキャン線１１７に接続された制御装置１４５により制御を受けるフォトセンサ１１６と、同様にデータ線１１８によって読み出し増幅器１４６に接続されているフォトセンサ１１６とを備えており、この読み出し増幅器１４６は、図３に示すように配置されかつ接続されている。各フォトセンサ１１６は、スキャン線制御装置１４５に接続されたスキャン線１１７に接続された形態で作動的に制御され、センサ１１６からの信号を対応するデータ線１１８に選択的に通過させる。フォトセンサの列はそれぞれのデータ線１１８によってそれぞれの増幅器１４６に接続されている。増幅器１４６はプロセッサ１５０に接続されている。プロセッサ１５０はプログラム式コンピュータ・メモリであると共に、増幅器１４６、計算器１２６及び１２８、並びにメモリ１２２及び１２４をポーリングするための増幅器信号プロセッサ１２０を含むことが好ましい。増幅器１４６は、画像信号と、データ線１１８から各増幅器１４６に印加される誘導信号との両方を読み取るために増幅器信号プロセッサ１２０に接続されている。
増幅器信号プロセッサ１２０は、第１の出力と第２の出力とを有する。第１の出力は、スキャン線が非通電状態にあるときにそれぞれの増幅器から読み取られた誘導信号を個別に格納するための誘導信号メモリ１２２に接続されている。この誘導信号メモリ１２２に接続された平均値計算器１２６により、格納された累積の誘導信号値の平均を取り、各増幅器に対する平均補正値を求める。この平均補正値は平均値メモリ１２４内に格納される。増幅器信号プロセッサ１２０の第２の出力は補正済み画像信号値計算器１２８に接続されており、この補正済み画像信号値計算器１２８はさらに平均値メモリ１２４に接続されている。補正済み画像信号値計算器１２８は、平均値メモリ１２４から受け取った当該の増幅器の対応する格納された平均値を、増幅器信号プロセッサ１２０から受け取った撮像アレイ信号から差し引くことによって、増幅器信号プロセッサ１２０によりポーリングを受ける所与の増幅器から読み取られた画像信号のすべてに対して補正された値を算出する。この結果はビデオ処理／ディスプレイ１３２に対する整数出力として提供される。
【００２５】
図７に示す別の実施形態では、指定された値の間、例えば、−０．５と＋０．５の間で無作為の数を発生する無作為数発生器１３０が、補正済み画像信号計算器１２８に接続されており、この補正済み画像信号計算器１２８は発生器１３０が発生させた異なる無作為の数を格納された撮像アレイ信号の各々に加算し、次いでこの合計からその撮像アレイ信号が読み取られた増幅器に対して算出された平均補正値を差し引く。整数の形態をした補正済み信号はビデオ処理／ディスプレイ１３２に出力される。
【００２６】
本明細書では、本発明のある一定の特徴についてのみ図示し記載してきたが、当業者では多くの修正及び変更が生じることであろう。したがって、添付の特許請求の範囲により、本発明の真の精神の範囲内にあるような修正及び変更のすべてを包含させる意図であることを理解されたい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線撮像システムの簡略ブロック図である。
【図２】本発明による代表的なセル内のフォトダイオード結線の略図である。
【図３】本発明によるセルの交差及び関連するセル制御回路を表した、図２に示す複数のセルの略図である。
【図４】リアルタイムの計測及び本発明による容量結合アーチファクト補正の利用を表した流れ図である。
【図５】本発明による図４に示す方法の別の実施形態を表した流れ図である。
【図６】本発明による容量結合アーチファクトを補正するための方法を実行させるための代表的なシステムを表した略図である。
【図７】図６のシステムに本発明による信号補正計算器に接続された無作為数発生器を含ませたシステムの略図である。
【図１】
0004575564.tif 000002
【図２】
0004575564.tif 000003
【図３】
0004575564.tif 000004
【図４】
0004575564.tif 000005
【図５】
0004575564.tif 000006
【図６】
0004575564.tif 000007
【図７】
0004575564.tif 000008