(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
マイコンと直流電圧供給源から供給された所定の値の電圧を所望の値の電圧に変換して電子素子に供給する内蔵電圧供給源を有し、前記内蔵電圧供給源は一端が接地された抵抗を接続することにより電子素子に供給する電圧の値を決定する機能を備えた電子装置において、
所定の固定電圧を供給するための第１の抵抗と、複数の可変電圧を供給するために各抵抗が並列に接続された抵抗器群と、
前記第１の抵抗を前記内蔵電圧供給源に接続するための第１のスイッチと、前記抵抗器群の各抵抗を前記内蔵電圧供給源に接続するための複数のスイッチと、
前記第１のスイッチのＯＮ／ＯＦＦを制御する第１のビットと、前記複数のスイッチの各スイッチのＯＮ／ＯＦＦを制御する複数のビットより構成されたレジスタを有し、
電源投入時には、前記第１のビットが自動的に‘１’に設定されることにより所定の固定電圧が電子素子に供給され、稼動中は、前記マイコンが前記第１のビットを‘０’に設定するとともに前記複数のビットの内の任意のビットを‘１’に設定することにより所望の値の電圧を電子素子に供給することができることを特徴とする電子装置。
【請求項２】
前記内蔵電圧供給源はレギュレータから成ることを特徴とする請求項１記載の電子装置。
【請求項３】
前記スイッチはＦＥＴから成ることを特徴とする請求項１記載の電子装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子装置に係り、特に、開発工程において直流電源で動作する電子装置のマージン試験をおこなうのに好適な電子装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
直流電源ラインからの供給電圧を可変することを必要とする電子装置における従来の電圧設定方式は、ハードウェアによる設定、または、ソフトウェアによる設定のいずれか一方の方式を使うものであった。
【０００３】
以下の特許文献１には、プロセッサの動作させる周波数に応じて、電圧を制御する方法が開示されている。
【０００４】
ところで、電子装置の開発および製造検査工程においては、ＬＳＩ等の電子素子の信頼性を確保するために電圧マージン試験を実施するのが一般的である。その場合に、電圧可変が必要な度にハードウェアの変更によって、設定変更をおこなうのは効率的ではなく、量産される電子装置の製造検査工程に適用することは望ましくないため、通常はソフトウェアによる電圧可変方式が採用されている。
【０００５】
また、ノートブックコンピュータ等においては、消費電力を低減するために段階的にソフトウェア設定を行うのが一般的である。例えば、ＡＣ入力駆動時／バッテリ入力駆動時で電圧設定を切り替えることが挙げられる。この場合、両者の電圧設定はソフトウェアで切り替える方式が一般的である。
【０００６】
この方式では、ハードウェアによる電圧設定固定値を持たないため、電圧設定プログラムが動作しない場合やプログラムが暴走し電圧設定が解除されてしまった場合には、電子装置の電源が断たれてしまうことになる。また、予期されない電圧値に設定変更されてしまった場合には、ＬＳＩ等の電子素子に過負荷を与えることも考えられ、電子装置の信頼性の低下につながることが問題として挙げられる。
【０００７】
【特許文献１】特表２００３−５１４２９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記従来技術では、電子装置の試作機開発段階等でソフトウェアによる電圧設定機能に不具合があった場合には、電子装置を立ち上げることができないため、ハードウェアおよびソフトウェア（ファームウェア）のデバッグが一切できなくなる。そのため、第一に電圧可変プログラムを完成させることが必要になり、電圧可変プログラムを動作させられないときには、開発日程の遅延および開発工数の増加につながることが考えられる。また、一方では、量産される電子装置の開発および製造検査工程においては、工数削減のため、ＬＳＩ等の電子素子の信頼性を確保するための電圧マージン試験を効率よく実施しなければならないという要請がある。さらに、ソフトウェアによる電圧可変方式だけではプログラム暴走等による電圧設定解除による電子装置の電源断、または予期されない電圧値に設定変更されてしまった場合、ＬＳＩ等の電子素子に過負荷を与え電子装置の信頼性の低下につながることになる。
【０００９】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、その目的は、ソフトウェアによる電圧可変機能による効率化を維持しつつも、電圧可変プログラムが動作しないときであっても、固定的な電圧を供給することにより、電子装置の他の動作テストをおこなうことを可能にして、開発工程の促進をおこなうことのできる電子装置を提供することにある。
【００１０】
また、他の目的は、ノートブックコンピュータ等で動作している電子素子に対しても、電圧可変プログラムが動作しないときであっても、安定的に電圧を供給できる電子装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の電子装置は、内部の電子素子に内臓電圧供給源により直流電源の電圧を供給する電子装置であり、所定の固定電圧を供給する固定電圧供給と複数の電圧を供給しうる可変電圧供給とを切り替えるビットと合成抵抗の抵抗値を制御するビットとにより構成されたレジスタを有している。そして、固定電圧供給と可変電圧供給とを切り替えるビットが、可変電圧供給に設定されているときに、合成抵抗の抵抗値を制御するビットのＯＮ／ＯＦＦに従って合成抵抗を変更し、内部の電子素子に供給する電圧を可変にする。
【００１２】
これにより、電圧を可変にする必要がないときや電源投入時には、内部の電子素子に固定電圧のデフォルト値により電圧が供給される。
【００１３】
可変電圧供給にビットが設置されているときには、マイコン等からＩ２Ｃ等のインタフェースで制御できるレジスタに設定されたビット値に従って、抵抗の接地を変更することにより、回路に寄与する合成抵抗値を変化させ、もって内部の電子素子に供給する電圧を可変にする。
【００１４】
これによって、ソフトウェア電圧可変機能に加えてハードウェアによるデフォルト電圧を設定することによって、ソフトウェア電圧可変機能が働かない状況でも、内部の電子素子に対してデフォルト電圧を供給できるようにし、その電子装置の他の動作テストがおこなえるようにして、開発を促進する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、ソフトウェアによる電圧可変機能による効率化を維持しつつも、電圧可変プログラムが動作しないときであっても、ハードウェアにより固定的な電圧を供給することにより、他の動作試験をおこなえるようにして、開発工程の促進をおこなうことのできる電子装置を提供することができる。
【００１６】
また、本発明によれば、ノートブックコンピュータ等で動作している電子素子に対しても、電圧可変プログラムが動作しないときであっても、安定的に電圧を供給する電子装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図１ないし図１１を用いて本発明の各実施例を説明する。
【実施例１】
【００１８】
先ず、図１および図３を用いて本発明の第一の実施例に係る電子装置の構成について説明する。
【００１９】
本実施例は、三つの電圧可変回路４〜６を持つ例である。例えば、図１の上側の電圧可変回路４は、電子素子４ｄ、レギュレータ４ｃ、直流電源ライン４ｅ、ＦＥＴ４ｂ、抵抗器群４ａで構成されている。
【００２０】
レギュレータ４ｃは、直流電圧源７からの１２Ｖの電圧を受け電子素子４ｄに１．５Ｖの電圧を出力する。直流電源ライン４ｅは、レギュレータ４ｃに基準となる電圧を直流電圧供給源７から供給するラインである。ＦＥＴ（field effect transistor）４ｂは、ソフトウェアが動作していないときには、デフォルト電圧を設定するための抵抗のラインをＯＮ／ＯＦＦするための素子である。固定抵抗器群４ａは、ソフトウェアで電圧を設定するための各種の抵抗値の異なった固定抵抗の集まりである。
【００２１】
また、その下の電圧可変回路５は、同様に、電子素子５ｄ、レギュレータ５ｃ、直流電源ライン５ｅ、ＦＥＴ５ｂ、固定抵抗器群５ａで構成されている。
【００２２】
さらに、その下の電圧可変回路６、同様に、電子素子６ｄ、レギュレータ６ｃ、レ直流電源ライン６ｅ、ＦＥＴ６ｂ、固定抵抗器群６ａで構成されている。
【００２３】
固定抵抗器群４ａの各々のビットに接続されているライン毎の抵抗値は、下位ビット抵抗値が上位ビット抵抗値の約２倍の抵抗値に設定されている。さらに、ソフトウェアで電圧制御するために、固定抵抗器群４ａは、Ｉ／Ｏレジスタ２のそれぞれのビット０〜４に接続されており、Ｉ／Ｏレジスタ２は、図２に示すようにビットのＯＮ／ＯＦＦにしたがって、各々のラインの接地を操作するスイッチ機構を有している。
【００２４】
固定抵抗器群５ａの抵抗値も、同様な構成になっており、Ｉ／Ｏレジスタ２のそれぞれのビット５〜９に接続されている。また、固定抵抗器群６ａの抵抗値も、同様な構成であり、Ｉ／Ｏレジスタ２のそれぞれのビット１０〜１４に接続されている。
【００２５】
また、デフォルトのハードウェアによる電圧設定とソフトウェアによる電圧設定を切り替えるために、ＦＥＴ４ｂ、 ＦＥＴ５ｂ、 ＦＥＴ６ｂのＧａｔｅがＩ／Ｏレジスタ２のビット１５に接続されている。 Ｉ／Ｏレジスタ２の各ビットは、Ｉ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit）インタフェース３を介し、マイコン１によって制御される。
【００２６】
Ｉ／Ｏレジスタ２の詳細な構成は、図２または図３に示されるようになる。
【００２７】
図２（ａ）は、Ｂｉｔｎに接続された抵抗の接地のＯＮ／ＯＦＦを切り換える仕組みを詳細に示したものである。Ｂｉｔｎには、スイッチ機構２０４が接続されおり、 Ｂｉｔｎに接続された抵抗２１２のラインの接地のＯＮ／ＯＦＦを切り換えるようになっている。スイッチ機構２０４は、入力データレジスタ２０５、出力データレジスタ２０６、入出力制御レジスタ２０７と、ＦＥＴ２０９、ＦＥＴ２１０と、それらのＦＥＴを制御するＦＥＴ制御回路２０８よりなる。そして、スイッチ機構２０４は、マイコンインタフェース回路２０３に接続されている。
【００２８】
入力データレジスタ２０５は、レギュレータからの情報をマイコンインタフェース回路２０３に伝えるためのレジスタである。出力データレジスタ２０６は、ＦＥＴ制御回路を制御するためのデータを与えるレジスタであり、入出力制御レジスタ２０７は、スイッチ機構２０４の動作モードを切り換えるためのレジスタであり、その値が０のとき、出力データレジスタ２０６が有効であり、１のとき、入力データレジスタ２０５が有効であるものとする。
【００２９】
ここで、抵抗２１２のラインの接地のＯＮ／ＯＦＦに関わるのは、ＦＥＴ２１０であり、Ｂｉｔｎの値がＯＮのときに、ＦＥＴ２１０をＯＮにして抵抗２１２のラインが接地されるように動作する。具体的には、図２（ｂ）に示されるように、入出力制御レジスタ２０７の値が０（出力）、入力データレジスタ２０６の値が０（Ｌｏｗ）のときに、ＦＥＴ２１０をＯＮにして抵抗２１２のラインを接地するようにし、入出力制御レジスタ２０７の値が１（入力）のときには、ＦＥＴ２１０をＯＦＦにして抵抗２１２のラインを接地しない。
【００３０】
また、図３（ａ）は、Ｂｉｔｎに接続された抵抗の接地のＯＮ／ＯＦＦを切り換える他の仕組みを詳細に示したものである。
【００３１】
この構成によれば、Ｂｉｔｎには、図２（ａ）とは異なる構成のスイッチ機構２２４が接続されおり、Ｂｉｔｎに接続された抵抗２３０のラインの接地のＯＮ／ＯＦＦを切り換えるようになっている。
【００３２】
スイッチ機構２２４は、入力データレジスタ２２４、出力データレジスタ２２６と、 ＦＥＴ２２７と、そのＦＥＴを制御するＦＥＴ制御回路２２７よりなる。そして、スイッチ機構２２４は、マイコンインタフェース回路２０３に接続されている。そして、こにスイッチ機構２２４は、Ｂｉｔｎの値がＯＮのときに、ＦＥＴ２２８をＯＮにして抵抗２３０のラインが接地されるように動作する。具体的には、図３（ｂ）に示されるように、出力データレジスタ２２６の値が、００（Ｌｏｗ）のときには、ＦＥＴ２２８をＯＮにして抵抗２３０のラインを接地し、出力データレジスタ２２６の値が、０１（Ｈｉｇｈ−Ｚ）のときには、ＦＥＴ２２８をＯＦＦにして抵抗２３０のラインを接地しないようにする。
【００３３】
次に、図４および図５を用いてこの電子装置が電子素子に供給する電圧について説明する。
【００３４】
電圧可変回路４において、ソフトウェアによる電圧設定をおこなわずに、デフォルトで電圧を供給するときには、図４（ａ）と等価な回路により、電子素子４ｄに電圧が供給されることになる。すなわち、ＦＥＴ４ｂがＯＮになり、４．７Ｋの抵抗２５１と３Ｋの抵抗２５２が、レギュレータ４ｃのＶａｄｊｕｓｔ端子に並列に接続された構成となる。
【００３５】
一方、ソフトウェアによる電圧設定をおこなって、可変電圧を供給するときには、例えば、図４（ｂ）と等価な回路により、電子素子４ｄに電圧が供給されることになる。この図４（ｂ）の例は、ＦＥＴ４ｂをＯＦＦにして、Ｂｉｔ２、Ｂｉｔ３をＯＮにした例である。このとき、２０Ｋの抵抗２６１と１０Ｋの抵抗２６２と３Ｋの抵抗２５２が、レギュレータ４ｃのＶａｄｊｕｓｔ端子に並列に接続された構成となる。
【００３６】
また、電圧可変回路５において、ソフトウェアによる電圧設定をおこなわずに、デフォルトで電圧を供給するときには、図５（ａ）と等価な回路により、電子素子５ｄに電圧が供給されることになる。すなわち、ＦＥＴ５ｂがＯＮになり、３．９Ｋの抵抗２７１と３．９Ｋの抵抗２７２が、並列に接続され、それに１Ｋの抵抗２７３が直列になった回路が、電子素子５ｄとは並列にレギュレータ５ｃのＶｏｕｔ端子に接続された構成となる。
【００３７】
一方、ソフトウェアによる電圧設定をおこなって、可変電圧を供給するときには、例えば、図５（ｂ）と等価な回路により、電子素子５ｄに電圧が供給されることになる。この図５（ｂ）の例は、ＦＥＴ５ｂをＯＦＦにして、Ｂｉｔ７、Ｂｉｔ８をＯＮにした例である。このとき、２０Ｋの抵抗２８１と１０Ｋの抵抗２８２と３．９Ｋの抵抗２７２が、並列に接続され、それに１Ｋの抵抗２７３が直列になった回路が、電子素子５ｄとは並列にレギュレータ５ｃのＶｏｕｔ端子に接続された構成となる。
【００３８】
次に、本実施例のＩ／Ｏレジスタ２のビットアサイン例を示すと図６のようになる。
【００３９】
ビット１５は、ハードウェアによるデフォルト電圧設定とソフトウェアによる可変電圧設定を切り替えるためのビットであり、‘１’に設定した場合、デフォルト電圧値が設定され（ソフトウェアによる電圧設定は無効）、‘０’に設定した場合、ソフトウェアにより電圧値が設定される。Ｂｉｔ１４〜Ｂｉｔ１０は、レギュレータ６ｃ用の出力電圧設定用Ｂｉｔであり、各々のＢｉｔがＯＮのときには、図１に示されるように、各々のＢｉｔに対応する抵抗値を有するラインが接地される。
【００４０】
同様に、Ｂｉｔ９〜Ｂｉｔ５は、レギュレータ５ｃ用の出力電圧設定用Ｂｉｔであり、Ｂｉｔ４〜Ｂｉｔ０は、レギュレータ４ｃ用の出力電圧設定用Ｂｉｔである。
【００４１】
そして、このビット構成に従った設定値と、合成抵抗値、レギュレータ４ｃの出力電圧の関係は、電圧可変回路４の場合は、図７になり、電圧可変回路５は、図８になり、電圧可変回路６は、図９に示されるようになる。
【００４２】
次に、図７を用いて本実施例により電子装置のマージン試験をおこなう際の処理手順について説明する。
【００４３】
電圧マージン試験とは、電子装置に供給する標準電圧の±数％の電圧をＬＳＩ等の電子素子へ供給した場合でも電子装置が誤動作しないことを確認するための試験である。
先ず、図１の電子装置は電源投入された直後、補助電源がオンとなる（手順５００）。
【００４４】
次に、Ｉ／Ｏレジスタ２のビット１５（ＤＩＳＡＤＪ）が‘１’に設定される（手順５０１）。そして、ＦＥＴ４ｂ、５ｂ、６ｂがオンとなる（手順５０２）。
【００４５】
ここまでは、ハードウェアにて自動的に設定される。すなわち、ソフトウェアによる電圧設定に関係なく、ハードウェアによるデフォルト値が設定される。
【００４６】
ここで、このまま設定変更をしないでパワーオンを実施して、直流電圧供給源により電圧を供給すると（手順５０３：Ｙｅｓ）、レギュレータ４ｃの出力電圧は、デフォルト値となる（手順５０４）。このデフォルト値は、図７の３００によると、１．５３９Ｖであり、この電圧が電子素子４ｄに供給される。また、手順５０５にて、レギュレータ５ｃ出力電圧は、デフォルト値となる。このデフォルト値は、図８の４００によると、１．８７６Ｖであり、この電圧が電子素子５ｄに供給される。
【００４７】
同様に、レギュレータ６ｃの出力電圧は、デフォルト値となる（手順５０６）。このデフォルト値は、図９の４５０によると、２．６１９Ｖであり、この電圧が電子素子６ｄに供給される。
【００４８】
以上のようにして本実施形態の電圧可変回路においては、ソフトウェアによる設定に頼ることなく電子装置のパワーオンが可能であるので、ソフトウェア電圧設定プログラムの完成を待たずに、直ちにその電子装置に関するハードウェアおよびソフトウェア（ファームウェア）のデバッグが開始できる。
【００４９】
一方、電子装置の製造検査工程等で電圧マージン試験を実施する場合、すなわち、設定変更してパワーオンにして直流電圧供給源７により電圧を供給する場合（手順５０３：Ｎｏ）は、先ず、Ｉ／Ｏレジスタ２のビット１５（ＤＩＳＡＤＪ）を ‘０’に設定する（手順５０７）。
【００５０】
そして、図７〜図９の対応表に従って、Ｉ／Ｏレジスタ２の各ビットを設定して、各レギュレータに対し所望の出力電圧を得られるようにする。
【００５１】
図７に示される例では、レギュレータ４ｃの出力電圧が１．５Ｖの＋５．５％（１．５８３Ｖ）になるように設定する（手順５０８）。図７の３０１によると、レギュレータ４ｃ＜４−０＞を‘０Ｃ’（図６：ビット４＝‘０’、ビット３＝‘１’、ビット２＝‘１’、ビット１＝‘０’、ビット０＝‘０’）に設定すれば良い。また、レギュレータ５ｃの出力電圧が１．８Ｖの＋３．０％（１．８５４Ｖ）になるように設定する（手順５０９）。図８の４０１によると、レギュレータ５ｃ＜４−０＞を‘０Ｄ’（図６： ビット９＝‘０’、ビット８＝‘１’、ビット７＝‘１’、ビット６＝‘０’、ビット５＝‘１’）に設定すれば良い。
【００５２】
さらに、レギュレータ６ｃの出力電圧が２．５Ｖの＋５．８％（２．６４４Ｖ）になるように設定する（手順５１０）。図９の４５１によると、レギュレータ６ｃ＜４−０＞を‘０Ｅ’（図６： ビット１４＝‘０’、ビット１３＝‘１’、ビット１２＝‘１’、ビット１１＝‘１’、ビット１０＝‘０’）に設定すれば良い。
【００５３】
そして、電子装置をパワーオンにすると（手順５１１）、レギュレータ４ｃの電圧出力値は１．５８３Ｖとなり電子素子４ｄに供給され（手順５１２）、レギュレータ５ｃの電圧出力値は１．８５４Ｖとなり電子素子５ｄに供給され（手順５１３）、レギュレータ６ｃの電圧出力値は２．６４４Ｖとなり電子素子６ｄに供給され（手順５１４）。
。  このようにして、本発明ではハードウェアによるデフォルト設定値を持ちつつ、ソフトウェア制御により、供給電圧を可変にすることを実現する。
【００５４】
なお、図１０の手順５０７〜５１４はソフトウェア制御であるため、自動化可能あり、電子装置の製造検査工程等で実施される電圧マージン試験を効率よく実施することが可能である。
【００５５】
従来のソフトウェア設定方式では、最初に電圧設定プログラムを完成させないと電子装置が動作しないため効率的でなかったが、以上のように、本発明の第一の実施例によれば、製品開発初期段階よりハードウェアによりデフォルトで電圧設定しているため、電圧設定プログラム以外のデバッグを直ちに開始する事ができる。
【００５６】
また、電子装置の開発段階ではＬＳＩ等の電子部品に最適な電圧設定をするため、電圧マージン限界テストを実施する。そのときに、本実施例によれば、ソフトウェアで容易にＬＳＩ等の電子部品への供給電圧を変更できるため、効率よく最適電圧を模索することが可能である。また、最適電圧が決まったところでハードウェアを（抵抗値を変更）変更するのも容易である。
【００５７】
さらに、量産される電子装置の製造工程では、電子装置の信頼性を確保するため電圧マージン試験を実施する。本実施例では、電圧設定をソフトウェア制御できるため、この電圧マージン試験を容易に実施することが可能である。
【００５８】
このように電圧ソフトウェアが動作していなくとも、電子装置の他の動作にテストがおこなえ、さらに、電圧ソフトウェア動作時には、効率的にマージン試験がおこなえるため、開発工程の遅延を防止し開発を推進することができる。
【実施例２】
【００５９】
次に、図１１を用いて本発明の第二の実施例を説明する。
【００６０】
本実施例は、図１の構成を持つような電子装置を、ノートブックコンピュータ等の用途に利用して、消費電力を低減する処理の手順を示したものである。
先ず、図１に示された電子装置は電源投入された直後、補助電源がオンとなる（手順６００）。
【００６１】
次に、Ｉ／Ｏレジスタ２のビット１５（ＤＩＳＡＤＪ）が‘１’に設定され（手順６０２）、ＦＥＴ４ｂ、５ｂ、６ｂがオンとなる（手順６０１）。
【００６２】
そして、パワーオンを実施して、直流電圧供給源から電圧を供給すると（手順６０３）、レギュレータ４ｃの出力電圧は、デフォルト値となる（手順６０４）。このデフォルト値は、図７の３００によると、１．５３９Ｖであり、この電圧が電子素子４ｄに供給される。
【００６３】
また、レギュレータ５ｃ出力電圧は、デフォルト値となる（手順６０５）。このデフォルト値は、図８の４００によると、１．８７６Ｖであり、この電圧が電子素子５ｄに供給される。
【００６４】
さらに、レギュレータ６ｃ出力電圧は、デフォルト値となる（手順６０６）。このデフォルト値は、図９の４５０によると、２．６１９Ｖであり、この電圧が電子素子６ｄに供給される。
【００６５】
ここまでは、図１０に示された第一の実施例の設定変更をしないでパワーオンする場合と同様である。
【００６６】
その後、低消費電力モードオンの要求があった場合（手順６０７：Ｙｅｓ）、Ｉ／Ｏレジスタ２のビット１５（ＤＩＳＡＤＪ）を ‘０’に設定する（手順６０８）。
【００６７】
そして、図７〜図９の対応表に従って、Ｉ／Ｏレジスタ２の各ビットを設定して、各レギュレータに対し所望の出力電圧を得られるようにする。
【００６８】
本実施例の図１１に示される例では、レギュレータ４ｃの出力電圧が１．５Ｖの−５．２％（１．４２１Ｖ）になるように設定する（手順６０９）。図７の３０２によると、レギュレータ４ｃ＜４−０＞を‘１６’（図６： ビット４＝‘１’、ビット３＝‘０’、ビット２＝‘１’、ビット１＝‘１’、ビット０＝‘０’）に設定すれば良い。また、レギュレータ５ｃの出力電圧が１．８Ｖの−４．８％（１．７１４Ｖ）になるように設定する（手順６１０）。図８の４０２によると、レギュレータ５ｃ＜４−０＞を‘１５’（図６：ビット９＝‘１’、ビット８＝‘０’、ビット７＝‘１’、ビット６＝‘０’、ビット５＝‘１’）に設定すれば良い。
【００６９】
さらに、レギュレータ６ｃの出力電圧が２．５Ｖの−５．８％（２．３５６Ｖ）になるように設定する（手順６１１）。図９の４５２によると、レギュレータ５ｃ＜４−０＞を‘１９’（図６：ビット１４＝‘１’、ビット１３＝‘１’、ビット１２＝‘０’、ビット１１＝‘０’、ビット１０＝‘１’）に設定すれば良い。
【００７０】
その後、レギュレータ４ｃの電圧出力値は１．４２１Ｖとなり電子素子４ｄに供給され（手順６１２）、レギュレータ５ｃの電圧出力値は１．７１４Ｖとなり電子素子５ｄに供給され（手順６１３）、レギュレータ６ｃの電圧出力値は２．３５６Ｖとなり電子素子６ｄに供給され（手順６１４）。  
このように本実施形態によれば、電子装置稼動中においても低消費電力モード等のために、ソフトウェアにて電圧を可変にすることが可能であり、ノートブックコンピュータ等において、消費電力を低減するためにＡＣ入力駆動時／バッテリ入力駆動時で電圧設定を切り替えたい場合、 ＡＣ入力駆動時には、ハードウェアで電圧設定をおこない、低消費電力で駆動したいバッテリ入力時には、ソフトウェアにて電圧設定することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明に係る電子装置の構成を示すブロック図である。
【図２】Ｉ／Ｏレジスタ２のビット毎のスイッチ機能を説明するための図である（その一）。
【図３】Ｉ／Ｏレジスタ２のビット毎のスイッチ機能を説明するための図である（その二）。
【図４】デフォルト電圧のときと可変電圧のときで対比して示した電圧化変回路４ｃの等価回路図である。
【図５】デフォルト電圧のときと可変電圧のときで対比して示した電圧化変回路５ｃの等価回路図である。
【図６】Ｉ／Ｏレジスタ２のビットアサインの一例を示す図である。
【図７】電圧可変回路４におけるレジスタ２の設定値とレギュレータ４ｃの出力電圧との対応表である。
【図８】電圧可変回路５におけるレジスタ２の設定値とレギュレータ５ｃの出力電圧との対応表である。
【図９】電圧可変回路５におけるレジスタ２の設定値とレギュレータ６ｃの出力電圧との対応表である。
【図１０】電子装置のマージン試験をおこなう際の処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】ノートブックコンピュータ等において、消費電力を低減する処理の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７２】
１…マイコン
２…レジスタ（スイッチ）
３…Ｉ２Ｃインタフェース
４…電圧可変回路
４ａ，５ａ，６ａ …固定抵抗器群
４ｂ，５ｂ，６ｂ…ＦＥＴ
４ｃ，５ｃ，６ｃ …レギュレータ
４ｄ，５ｄ，６ｄ …電子素子
４ｅ，５ｅ，６ｅ …直流電源ライン
７…直流電圧供給源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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