(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、
溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状態で昇降せしめる昇降装置とから成り、
プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベルセンサーとを設け、第一及び第二レベルセンサーの出力信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、
前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ラインに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成されて成ることを特徴とする溶融金属のレベル測定装置。
【請求項２】
上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、
溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状態で昇降せしめる昇降装置とから成り、
プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベルセンサーと、第一及び第二レベルセンサーの出力信号をデジタル処理する検出手段とを設け、検出手段の検出信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、
前記検出手段は、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーの離間距離を予め記憶し、該離間距離データに基づいて、第一レベルセンサーによる溶融スラグ層の湯面レベル検知データと第二レベルセンサーによる溶融金属層の湯面レベル検知データとから溶融スラグ層の厚さを測定するためのデータとなる検出信号を出力するように構成されており、
前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ラインに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成されて成ることを特徴とする溶融金属のレベル測定装置。
【請求項３】
第一レベルセンサーが電気抵抗の変動を検知する一対の電極を備えた電極式センサーから成り、第二レベルセンサーが磁界の変動を検知するコイルを備えた磁気式センサーから成り、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーを直列回路により接続して成ることを特徴とする請求項１又は２に記載の溶融金属のレベル測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置であり、特に、１回のテストで溶融スラグ層の湯面レベルと溶融金属層の湯面レベルを検出することにより、溶融スラグ層の厚さを測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、サブランス等の昇降装置により溶融金属に浸漬された後に引き上げられる構成のプローブは、溶融金属の試料を採取するサンプリング容器を備え、試料の凝固温度から試料中の炭素量を測定するための測温センサーをサンプリング容器内に設け、溶融金属浴の温度を測定するための測温センサーをプローブ本体の先端に設けた試料分析用プローブが公知である。
【０００３】
そこで、測温センサーにより検出された温度信号は、プローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて出力され、外部のコンピュータ等により信号を処理される。前述のようにプローブ本体は、尾端を昇降装置に対して着脱自在に保持される構成であるため、着脱手段には電気的接続部を有するコネクタが設けられ、電気的接続部は接触式の接点により構成されている。
【０００４】
その一方において、従来より、溶融スラグ層の厚さを測定するためのプローブとして、電極による電気抵抗の変動により溶融スラグ層の湯面を検知する第一レベルセンサーと、磁界の変動により溶融金属層の湯面を検知する第二レベルセンサーとを備えたレベル測定用プローブが公知である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
前述の試料測定用プローブと昇降装置との間に設けられたコネクタにおける接点の数は、従来、昇降装置側の電気的接続との取り合いの制限から６個所に限られている。そこで、試料測定用プローブに前述のような第一及び第二レベルセンサーを設け、レベル測定用プローブとして兼用せしめようとすると、接点の数が不足することになる。このため、従来においては、試料測定用プローブとレベル測定用プローブを別々のものとして二種類製作せざるを得ない問題がある。
【０００６】
また、従来技術では、コネクタの電気的接続部が全て接触式の接点により構成されているため、接点の摩耗やヤニ付きによる接続不良が発生し、多くのトラブルを頻発する虞れがあり、接続部の保守作業を欠かせないという問題がある。
【０００７】
一方、コネクタの接点を増設した場合、試料測定用プローブとレベル測定用プローブを合体した１本のプローブを提供することが理論的には可能であるが、この場合でも、従来のレベル測定用プローブの技術では、第一レベルセンサーにより溶融スラグ層の湯面を検知し、第二レベルセンサーにより溶融金属層の湯面を検知することにより得られたデータに基づいて溶融スラグ層の厚さを測定するに際しては、設備側におけるコンピュータ等の測定機器に対して、個々の第一レベルセンサーと第二レベルセンサーが有する離間距離を入力できないために計測誤差に大きく影響を及ぼしているという問題があった。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決した溶融金属のレベル測定装置を提供することを目的とするものである。
【０００９】
そこで、本発明が第一の手段として構成したところは、上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状態で昇降せしめる昇降装置とから成り、プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベルセンサーとを設け、第一及び第二レベルセンサーの出力信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ラインに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成されて成る点にある。
【００１０】
また、本発明が第二の手段として構成したところは、上から順に溶融スラグ層と溶融金属層を成層せしめた溶融金属のレベルを測定する装置において、溶融金属に浸漬された後に引き上げられるプローブ本体と、プローブ本体の尾端を着脱手段を介して保持した状態で昇降せしめる昇降装置とから成り、プローブ本体に、溶融スラグ層の湯面レベルを検知する第一レベルセンサーと、溶融金属層の湯面レベルを検知する第二レベルセンサーと、第一及び第二レベルセンサーの出力信号をデジタル処理する検出手段とを設け、検出手段の検出信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて前記着脱手段に設けたコネクタの電気的接続部を介して出力せしめる構成であり、前記検出手段は、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーの離間距離を予め記憶し、該離間距離データに基づいて、第一レベルセンサーによる溶融スラグ層の湯面レベル検知データと第二レベルセンサーによる溶融金属層の湯面レベル検知データとから溶融スラグ層の厚さを測定するためのデータとなる検出信号を出力するように構成されており、前記コネクタの電気的接続部は、プローブ側の信号ラインに設けた一次コイルと、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイルとから成る相互誘導回路により構成されて成る点にある。
【００１１】
本発明において、第一レベルセンサーは電気抵抗の変動を検知する一対の電極を備えた電極式センサーから成り、第二レベルセンサーは磁界の変動を検知するコイルを備えた磁気式センサーから成り、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーは、直列回路により接続されている。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下図面に基づいて本発明の好ましい実施形態を詳述する。
【００１３】
（全体構成）
図１及び図２は、本発明の目的に基づいて試料測定用プローブとレベル測定用プローブを合体し兼用せしめたプローブ本体１と、該プローブ本体１の尾端を着脱自在手段を介して保持した状態で昇降せしめるサブランス等の昇降装置２を示している。溶湯鍋等の鍋３における溶融金属は、上から順に溶融スラグ層４と溶融金属層５を成層せしめている。昇降装置２を昇降駆動することにより、プローブ本体１は、下降により上部雰囲気から溶融スラグ層４を経て溶融金属層５に浸漬された後、上昇により溶融金属層５から溶融スラグ層４を経て上部雰囲気に引き上げられる。
【００１４】
プローブ本体１は、溶融金属層５に浸漬されたとき溶融金属試料を採取するためのサンプリング容器６を内装すると共に、試料中の炭素量を測定する目的で採取試料の凝固温度を測定するための内部測温センサー７をサンプリング容器６の内部に設けている。また、溶融金属層５の温度を測定するための外部測温センサー８をプローブ本体１の先端に設けており、これにより試料測定用プローブとしての機能を具備している。
【００１５】
また、プローブ本体１は、電極による電気抵抗の変動により溶融スラグ層４の湯面４ａを検知する第一レベルセンサー９をプローブ本体１の先端に設けると共に、磁界の変動により溶融金属層５の湯面５ａを検知する第二レベルセンサー１０をプローブ本体１に内装しており、これによりレベル測定用プローブとしての機能を具備している。
【００１６】
プローブ本体１の尾端部と昇降装置２の先端部は、雄雌嵌合による着脱手段１１を構成している。図例の場合、図２に示すように、プローブ本体１の尾端部には、尾端の開口部から軸方向に細長く延びる孔１２が設けられ、昇降装置２の先端部には、軸方向に細長く延びるロッド１３が設けられており、ロッド１３を孔１２に挿脱自在に嵌入せしめる構成とされている。
【００１７】
前述のような試料測定用プローブを構成する内部測温センサー７及び外部測温センサー８並びにその他の電気機器のため、着脱手段１１には電気的接続部を有するコネクタ１４が設けられている。図例の場合、図２に示すように、プローブ本体１の孔１２には、同心状に配置され軸方向に細長く延びるプラグ１５が設けられ、昇降装置２のロッド１３には、先端の開口部から軸方向に細長く延びるソケット１６が設けられており、プラグ１５をソケット１６に挿脱自在に嵌入せしめる構成とされている。コネクタ１４は、内部測温センサー７及び外部測温センサー８並びにその他の電気機器等、試料測定用プローブとしての機能に関する限り、プローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて信号を出力するための電気的接続部を接触式の接点により構成している。即ち、プラグ１５の外周に設けた６個の接点１５ａ〜１５ｆと、これに対応してソケット１６の内周に設けた６個の接点１６ａ〜１６ｆとにより、従来技術と同様の接触式の接続部を構成している。
【００１８】
（比較例の構成）
本発明の実施形態を詳述する前に、理解の便宜のため本発明と対比すべき比較例を説明する。
【００１９】
図７に示すように、比較例において、レベル測定用プローブを構成するための第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０は、直列回路１７により接続されている。即ち、第一レベルセンサー９を構成する一対の電極９ａ、９ｂからコネクタ１４に延びるプローブ側の信号ライン１ａ、１ｂのうち、一方の信号ライン１ｂにより第二レベルセンサー１０のコイル１０ａに対する直列回路を構成している。従って、プローブ側の信号ライン１ａ、１ｂと、これにコネクタ１４を介して接続される昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂが、それぞれ２本で足り、従って、それぞれを接続する接点も、プローブ側の信号ライン１ａ、１ｂの接点１５ｇ、１５ｈと、昇降装置側の信号ライン１ａ、２ｂの接点１６ｇ、１６ｈとの２組で足りるという利点がある。
【００２０】
このように構成したレベル測定用プローブによるレベル測定方法を図８に示している。図８（Ａ）は、ｘ軸方向に経過時間、ｙ軸方向に溶融金属の高さを示しており、上部雰囲気から下降したプローブ本体が溶融スラグ層４を経て溶融金属層５に浸漬された後、溶融金属層５から溶融スラグ層４を経て上部雰囲気に引き上げられるまでの経過を矢印で示している。
【００２１】
図７に示す構成としたレベル測定用プローブは、プローブ本体１が上部雰囲気に位置するときは、第一レベルセンサー９の一対の電極９ａ、９ｂを開放しているので抵抗は無限大（Ｒｓ≒∞）となる。そこで、プローブ本体１が昇降装置２により下降せしめられ、第一レベルセンサー９が溶融スラグ層４の湯面４ａに接すると、一対の電極９ａ、９ｂを短絡するので抵抗が急降下し（Ｒｓ≒０）、これにより溶融スラグ層４の湯面４ａを検知する。このとき第二レベルセンサー１０のコイル１０ａはインダクタンス（Ｌｓ）である。更にプローブ本体１が下降し、第二レベルセンサー１０が溶融金属層５に達すると、コイル１０ａのインダクタンス（Ｌｓ）が急変し、これにより溶融金属層５の湯面５ａを検知する。そこで、溶融スラグ層４の湯面４ａと溶融金属層５の湯面５ａを検知したタイミングと、プローブ本体１の下降速度と、第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０の離間距離とに基づいて、溶融スラグ層４の厚さ（ｔ）が算出される。
【００２２】
図８（Ｂ）及び図８（Ｃ）は、第一レベルセンサー９及び第二レベルセンサー１０の検出信号を出力するようにした構成の二つの例を示している。
【００２３】
図８（Ｂ）は、検出信号をＯＦＦ−ＯＮの間で変化する接点信号として出力する例を示しており、プローブ本体１が上部雰囲気に位置するとき、検出信号は待機状態としてＯＦＦの状態にある。第一レベルセンサー９が溶融スラグ層４の湯面４ａを検知すると、検出信号はＯＮとなり、これにより湯面４ａのレベルを検出する。次いで、第二レベルセンサー１０が溶融金属層５の湯面５ａを検知すると、検出信号はＯＦＦとなり、これにより湯面５ａのレベルを検出する。そこで、検出信号のＯＮ状態の長さ（時間）から、溶融スラグ層４の厚さ（ｔ）を測定することができる。
【００２４】
図８（Ｃ）は、検出信号を電圧変化に基づいて段階的に上昇する波形として出力する例を示しており、プローブ本体１が上部雰囲気に位置するとき、検出信号は待機状態として出力が零又は低の状態にある。第一レベルセンサー９が溶融スラグ層４の湯面４ａを検知すると、電圧の増加により出力が上がり、これにより湯面４ａのレベルを検出する。次いで、第二レベルセンサー１０が溶融金属層５の湯面５ａを検知すると、更に電圧が増加して出力を上げ、これにより湯面５ａのレベルを検出する。そこで、最初の湯面４ａの検出タイミングと次の湯面５ａの検出タイミングとの差（時間）から、溶融スラグ層４の厚さ（ｔ）を測定することができる。
【００２５】
（本発明の第１実施形態）
図３（Ａ）は、図７に示した比較例に対する本発明の第１実施形態を示している。この第１実施形態は、第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０を直列回路１７により接続することにより、プローブ側の信号ライン１ａ、１ｂと、これにコネクタ１４を介して接続される昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂをそれぞれ２本で足りるように構成した点においては、上記比較例と同様であるが、コネクタ１４の電気的接続部を非接触に構成しており、プローブ側の信号ライン１ａ、１ｂに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回路２１により構成している。
【００２６】
図３（Ｂ）は、第１実施形態の接続部を具体化した第１実施例を示しており、一次コイル１９をプラグ１５の内部において軸線上に巻回されたコイルにより構成し、二次コイル２０をソケット１６の周壁において軸線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラグ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル１９の外周を二次コイル２０により取り囲むように構成している。従って、試料測定用プローブのための接点１５ａ〜１５ｆ並びに１６ａ〜１６ｆを設けたプラグ１５及びソケット１６の狭小なスペースにおいても、相互誘導回路２１を好適に設けることができる。
【００２７】
図３（Ｃ）は、接続部の第２実施例を示しており、一次コイル１９をプラグ１５の端部において軸線と交差する線上に巻回されたコイルにより構成し、二次コイル２０をソケット１６の底壁において軸線と交差する線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラグ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル１９と二次コイル２０が並設されるように構成している。この場合も、プラグ１５及びソケット１６の狭小なスペースに相互誘導回路２１を好適に設けることができる。
【００２８】
図３（Ａ）に示すように、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂには検出手段２２が設けられている。検出手段２２は、上述したような第一レベルセンサー９及び第二レベルセンサー１０の検出信号Ｓを出力ライン２３から出力するように構成されており、電源２４から電力の供給を受ける。
【００２９】
（本発明の第２実施形態）
図４は、本発明の第２実施形態を示しており、検出手段２２及び電源２４をプローブ側の信号ライン１ａ、１ｂに設けている。従って、コネクタ１４に設けられた非接触式の電気的接続部は、検出手段２２からの出力ライン２３ａ、２３ｂに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回路２１により構成されている。
【００３０】
検出手段２２は、プローブ本体１の実施製品毎に定められる第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０の離間距離を予め記憶するメモリを備えると共に、該離間距離データに基づいて、第一レベルセンサー９による溶融スラグ層４の湯面レベル検知データと、第二レベルセンサー１０による溶融金属層５の湯面レベル検知データとから、溶融スラグ層の厚さ（ｔ）を測定するための検出信号Ｓを出力する。従って、従来技術では、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーが有する離間距離を入力できないために測定誤差が発生していたのに対し、プローブごとに固有差のある離間距離の入力を行えるという利点がある。
【００３１】
更に、検出手段２２は、信号ライン２ａ、２ｂを構成する導線の温度変化又は劣化による抵抗値の変化や、静電容量変化に起因する測定誤差の影響を受けないので、これにより検出信号Ｓは誤差のない精度の高いものとなる。
【００３２】
（本発明の第３実施形態）
図５（Ａ）は、本発明の第３実施形態を示しており、図４に示した第２実施形態と同様に検出手段２２をプローブ側の信号ライン１ａ、１ｂに設けた構成において、電力の供給を昇降装置側の電源２４から受けるように構成している。コネクタ１４には電力供給ラインのための非接触式の電気的接続部が設けられ、該接続部は、電源２４の供給ライン２４ａ、２４ｂに設けた一次コイル２５と、検出手段２２の被供給ライン２２ａ、２２ｂに設けた二次コイル２６とから成る相互誘導回路２７により構成されている。
【００３３】
図５（Ｂ）は、接続部の実施例を示しており、検出手段２２のための信号ラインの接続部を構成するように、検出手段２２からの出力ライン２３ａ、２３ｂに設けた一次コイル１９をプラグ１５の内部において軸線上に巻回されたコイルにより構成し、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０をソケット１６の周壁において軸線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラグ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル１９の外周を二次コイル２０により取り囲むように構成している。そして、このような信号ラインの接続部に対して電源２４のための供給ラインの接続部を並設しており、電源２４の供給ライン２４ａ、２４ｂに設けた一次コイル２５をソケット１６の周壁において軸線上に巻回されたコイルにより構成し、検出手段２２の被供給ライン２２ａ、２２ｂに設けた二次コイル２６をプラグ１５の内部において軸線上に巻回されたコイルにより構成しており、プラグ１５をソケット１６に嵌入した状態で、一次コイル２５の外周を二次コイル２６により取り囲むように構成している。
【００３４】
（本発明の第４実施形態）
図６は、本発明の第４実施形態を示しており、レベル測定用プローブを構成するための第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０は、それぞれ独立した回路を有し、それぞれの出力信号を個別に処理する検出手段２２Ａ、２２Ｂを設けると共に、両検出手段２２Ａ、２２Ｂからの検出信号を合成することにより検出信号を出力する合成手段２８を設けている。
【００３５】
そして、コネクタ１４に設けられた非接触式の電気的接続部は、合成手段２８からの出力ライン２８ａ、２８ｂに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ライン２ａ、２ｂに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回路２１により構成されている。尚、図例において、電源２４はプローブ側に設けているが、図５（Ａ）に示した例と同様に昇降装置側に設けても良い。
【００３６】
【発明の効果】
本発明によれば、プローブ本体１に溶融スラグ層４の湯面レベルを検知する第一レベルセンサー９と、溶融金属層５の湯面レベルを検知する第二レベルセンサー１０とを設け、第一及び第二レベルセンサー９、１０の検出信号をプローブ側の信号ラインから昇降装置側の信号ラインに向けて着脱手段１１に設けたコネクタ１４の電気的接続部を介して出力せしめる構成において、コネクタの電気的接続部を、プローブ側の信号ラインに設けた一次コイル１９と、昇降装置側の信号ラインに設けた二次コイル２０とから成る相互誘導回路２１により構成したものであるから、プラグ１５とソケット１６から成るコネクタ１４の接触スペースが狭小であっても容易に接続部を設けることができる。その結果、既に接触式の接点１５ａ〜１５ｆ並びに１６ａ〜１６ｆを設けた従来の試料測定用プローブに対してレベル測定用プローブとしての機能を兼備せしめることが容易となり、１本のプローブによる１回のテストで試料測定とレベル測定を同時に行うことが可能になるという利点がある。
【００３７】
しかも、相互誘導回路２１により非接触の接続部を構成しているので、従来の接触式の接点のような摩耗やヤニ付きによる接続不良の発生を生じることはなく、メンテナンスフリーによる利点を享受できる。
【００３８】
また、本発明によれば、個々のプローブごとに第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０の離間距離を予め記憶し、該離間距離データを出力すると共に、第一レベルセンサー９による溶融スラグ層４の湯面レベル検知データと第二レベルセンサー１０による溶融金属層５の湯面レベル検知データとから溶融スラグ層の厚さ（ｔ）を測定するためのデータとなる検出信号Ｓを出力する検出手段２２を設けた構成であるから、従来技術のように、第一レベルセンサーと第二レベルセンサーの離間距離を固有値として入力することができないことによる測定誤差がなくなるという効果がある。
【００３９】
更に、本発明によれば、第一レベルセンサー９と第二レベルセンサー１０を直列回路１７により接続した構成であるから、配線数が少なくて済むばかりか、これにより接続部を相互誘導回路２１により構成可能としたという実益がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係る装置の使用状態を示す正面図である。
【図２】本発明の実施形態に係る装置の要部を示す断面図である。
【図３】本発明の第１実施形態を示しており、（Ａ）はレベル測定装置を示す回路図、（Ｂ）は接続部の第１実施例を示す断面図、（Ｃ）は接続部の第２実施例を示す断面図である。
【図４】本発明の第２実施形態を示す回路図である。
【図５】本発明の第３実施形態を示しており、（Ａ）はレベル測定装置を示す回路図、（Ｂ）は接続部の実施例を示す断面図である。
【図６】本発明の第４実施形態を示す回路図である。
【図７】本発明の実施形態に対する比較例を示す回路図である。
【図８】比較例並びに本発明の実施形態に係るレベル測定装置によるレベル測定方法を示しており、（Ａ）は溶融スラグ層及び溶融金属層に対するプローブの浸漬経路を示す説明図、（Ｂ）は検出信号の１例を示す波形図、（Ｃ）は検出信号の他例を示す波形図である。
【符号の説明】
１    プローブ本体
１ａ、１ｂ  プローブ側の信号ライン
２    昇降装置
２ａ、２ｂ  昇降装置側の信号ライン
４    溶融スラグ層
５    溶融金属層
９    第一レベルセンサー
９ａ、９ｂ  電極
１０    第二レベルセンサー
１０ａ  コイル
１１    着脱手段
１４    コネクタ
１５    プラグ
１６    ソケット
１７    直列回路
１９    一次コイル
２０    二次コイル
２１    相互誘導回路
２２、２２Ａ、２２Ｂ  検出手段
２３、２３ａ、２３ｂ  出力ライン
２４    電源
【図１】
0004593030.tif 000002
【図２】
0004593030.tif 000003
【図３】
0004593030.tif 000004
【図４】
0004593030.tif 000005
【図５】
0004593030.tif 000006
【図６】
0004593030.tif 000007
【図７】
0004593030.tif 000008
【図８】
0004593030.tif 000009