(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
相対向する２つの主面およびこれら主面間を連結する４つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも１対の第１および第２の内部電極を備え、前記第１および第２の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第１および第２の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての構造欠陥の有無を判定する方法であって、
前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値に基づいて構造欠陥の有無を判定する、積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法。
【請求項２】
前記直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すことが行なわれる、請求項１に記載の積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法。
【請求項３】
相対向する２つの主面およびこれら主面間を連結する４つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも１対の第１および第２の内部電極を備え、前記第１および第２の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第１および第２の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての撓み限界を評価する方法であって、
前記積層コンデンサを基板上に実装し、前記基板に撓み負荷をかけかつ当該撓み負荷を次第に増大させることによって、前記積層コンデンサを次第に大きい撓み量で撓ませながら、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値が急激に変化した時点での撓み量をもって撓み限界と評価する、積層コンデンサの撓み限界評価方法。
【請求項４】
前記直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すことが行なわれる、請求項３に記載の積層コンデンサの撓み限界評価方法。
【請求項５】
相対向する２つの主面およびこれら主面間を連結する４つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備え、前記コンデンサ本体は、前記主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の前記誘電体層を介して互いに対向する少なくとも１対の第１および第２の内部電極を備え、前記第１および第２の内部電極は、それぞれ、前記側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、前記第１および第２の内部電極の少なくとも一方は、複数の前記引出し部を形成している複数引出し内部電極であり、前記引出し部が引き出された前記側面上には、各前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている、積層コンデンサについての構造欠陥が生じている箇所を推定する方法であって、
前記複数引出し内部電極に形成される複数の前記引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の前記外部端子電極のうち、１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって直流抵抗値または直流電流値を測定することを、前記外部端子電極の複数の組合せの各々について実施し、前記外部端子電極の複数の組合せの各々について測定された値を比較して、異常に高い値を示したものがある場合、この異常に高い値を示した組合せに関与する前記外部端子電極に接続される前記引出し部またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定する、積層コンデンサの構造欠陥箇所推定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、複数の引出し部を有する内部電極を備える積層コンデンサについての構造欠陥の有無を判定する方法、撓み限界を評価する方法および構造欠陥が生じている箇所を推定する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この発明にとって興味ある技術が、たとえば特開平７−１６１５７０号公報（特許文献１）に記載されている。特許文献１では、セラミック層と内部電極とが積層された構造を有する積層セラミックコンデンサの内部クラックを検出する方法が記載されている。この内部クラック検出方法は、内部クラックの有無を検出すべき積層セラミックコンデンサについて、静電容量および誘電損失の少なくとも一方を測定し、これを、同様の方法で測定した内部クラックの無い積層セラミックコンデンサの静電容量および誘電損失と比較することにより、内部クラックの有無を検出することを特徴としている。
【０００３】
上記特許文献１では、内部クラックの有無の検出の対象となる積層セラミックコンデンサは、１つの内部電極について１つの引出し部を有している、最も一般的な構造のものである。これに対して、たとえば特開平１１−１４４９９６号公報（特許文献２）に記載されるような積層コンデンサについては、特許文献１に記載された内部クラック検出方法を適用しても、内部クラックを確実に検出できないことがある。
【０００４】
特許文献２では、多数の外部端子電極を備え、１つの内部電極について、複数の引出し部を有し、各引出し部にそれぞれ外部端子電極が電気的に接続された構造を有する、等価直列インダクタンス（ＥＳＬ）の低減が図られた積層コンデンサが記載されている。このような積層コンデンサにおいて、１つの内部電極から引き出された複数の引出し部のうち、たとえば１つの引出し部を分断するようなクラックが発生していたとしても、測定に用いる外部端子電極の組合せによっては、静電容量あるいは誘電損失の測定値に異常が無く、内部クラックが無いと判定してしまうことがある。
【特許文献１】特開平７−１６１５７０号公報
【特許文献２】特開平１１−１４４９９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、この発明の目的は、複数の引出し部を有する内部電極を備える積層コンデンサについて、クラックのような構造欠陥の有無を、高い信頼性をもって判定できる方法を提供しようとすることである。
【０００６】
上述した構造欠陥有無判定方法は、これを、積層コンデンサに撓み負荷をかけながら実施し、積層コンデンサについての撓み限界を評価する場合にも適用できる。そこで、この発明の他の目的は、信頼性の高い、積層コンデンサの撓み限界評価方法を提供しようとすることである。
【０００７】
また、上述した構造欠陥有無判定方法は、接続されるべき外部端子電極を選ぶことにより、これを、積層コンデンサについての構造欠陥が生じている箇所を推定する方法にも適用することができる。そこで、この発明のさらに他の目的は、信頼性の高い、積層コンデンサの構造欠陥箇所推定方法を提供しようとすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明は、次のような構成を備える積層コンデンサに対して適用される。
【０００９】
すなわち、積層コンデンサは、相対向する２つの主面およびこれら主面間を連結する４つの側面を有する直方体状のコンデンサ本体を備えている。コンデンサ本体は、主面の方向に延びる複数の誘電体層、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の誘電体層を介して互いに対向する少なくとも１対の第１および第２の内部電極を備えている。第１および第２の内部電極は、それぞれ、側面のいずれか上にまで引き出される引出し部を形成しており、第１および第２の内部電極の少なくとも一方は、複数の引出し部を形成している複数引出し内部電極である。引出し部が引き出されたコンデンサ本体の側面上には、各引出し部にそれぞれ電気的に接続される外部端子電極が設けられている。
【００１０】
このような構成の積層コンデンサを対象としながら、この発明に係る構造欠陥有無判定方法は、複数引出し内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値に基づいて構造欠陥の有無を判定することを特徴としている。
【００１１】
上述の構造欠陥有無判定方法において、直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、複数引出し内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すようにすることが好ましい。
【００１２】
この発明に係る積層コンデンサの撓み限界評価方法は、前述した構成の積層コンデンサを対象としながら、積層コンデンサを基板上に実装し、基板に撓み負荷をかけかつ当該撓み負荷を次第に増大させることによって、積層コンデンサを次第に大きい撓み量で撓ませながら、複数引出し内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極のうち、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値が急激に変化した時点での撓み量をもって撓み限界と評価することを特徴としている。
【００１３】
上述した撓み限界評価方法においても、直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、複数引出し内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極のうち、少なくとも１つの外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すようにすることが好ましい。
【００１４】
この発明に係る構造欠陥箇所推定方法は、前述したような構成の積層コンデンサを対象としながら、複数引出し内部電極に形成される複数の引出し部にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極のうち、１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって直流抵抗値または直流電流値を測定することを、外部端子電極の複数の組合せの各々について実施し、外部端子電極の複数の組合せの各々について測定された値を比較して、異常に高い値を示したものがある場合、この異常に高い値を示した組合せに関与する外部端子電極に接続される引出し部またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１５】
この発明に係る積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法によれば、複数引出し内部電極について、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値に基づいて構造欠陥の有無を判定するようにしているので、静電容量や誘電損失の測定による場合に比べて、信頼性の高い判定が可能である。
【００１６】
上述した直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すようにすれば、すべての引出し部が関与した状態で直流抵抗値または直流電流値を測定することができるため、１回の測定により、構造欠陥の有無を確実に判定することができるようになる。
【００１７】
この発明に係る積層コンデンサの撓み限界評価方法によれば、積層コンデンサを次第に大きい撓み量で撓ませながら、複数引出し内部電極について、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値または直流電流値を測定し、その値が急激に変化した時点での撓み量をもって撓み限界と評価するようにしているので、たとえば静電容量や誘電損失を測定する場合に比べて、信頼性の高い評価が可能である。
【００１８】
上述した撓み限界評価方法において、直流抵抗値または直流電流値を測定するとき、少なくとも１つの第１の外部端子電極から残りのすべての第２の外部端子電極へと直流電流を流すようにすれば、すべての引出し部が関与した状態で直流抵抗値または直流電流値を測定することができるので、１回の測定によって撓み限界を確実に評価することができるようになる。
【００１９】
この発明に係る積層コンデンサの構造欠陥箇所推定方法によれば、複数引出し内部電極について、１つの第１の外部端子電極から残りの少なくとも１つの第２の外部端子電極へと直流電流を流すことによって直流抵抗値または直流電流値を測定することを、外部端子電極の複数の組合せの各々について実施し、これら組合せの各々について測定された直流抵抗値または直流電流値を比較して、異常に高い値を示したものがある場合、この異常に高い値を示した組合せに関与する外部端子電極に接続される引出し部またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定するようにしているので、高い信頼性をもって、構造欠陥が生じている箇所を推定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
図１には、この発明の対象となる積層コンデンサの一例が示されている。ここで、図１（ａ）は、積層コンデンサ１の外観を示す平面図であり、同（ｂ）は、積層コンデンサ１の内部構造を第１の断面をもって示す平面図であり、同（ｃ）は、積層コンデンサ１の内部構造を第１の断面とは異なる第２の断面をもって示す平面図である。
【００２１】
積層コンデンサ１は、相対向する２つの主面２および３ならびにこれら主面２および３間を連結する４つの側面４、５、６および７を有する直方体状のコンデンサ本体８を備えている。コンデンサ本体８は、主面２および３の方向に延びる、たとえば誘電体セラミックからなる複数の誘電体層９、ならびにコンデンサユニットを形成するように特定の誘電体層９を介して互いに対向する少なくとも１対の第１および第２の内部電極１０および１１を備えている。
【００２２】
第１の内部電極１０が図１（ｂ）に示されているように、図１（ｂ）は、第１の内部電極１０が通る断面を示している。また、第２の内部電極１１が図１（ｃ）に示されているように、図１（ｃ）は、第２の内部電極１１が通る断面を示している。
【００２３】
第１の内部電極１０は、相対向する２つの側面４および６の各々上にまでそれぞれ引き出される４つの引出し部１２、１３、１４および１５を形成している。これら引出し部１２〜１５が引き出された側面４および６の各々上には、引出し部１２〜１５に電気的に接続される外部端子電極１６、１７、１８および１９がそれぞれ設けられている。
【００２４】
他方、第２の内部電極１１は、相対向する２つの側面４および６の各々上までそれぞれ引き出される４つの引出し部２０、２１、２２および２３を形成している。これら引出し部２０〜２３は、上述した引出し部１２〜１５が引き出された位置とは異なる位置にまで引き出されている。また、引出し部２０〜２３が引き出された側面４および６の各々上には、引出し部２０〜２３に電気的に接続される外部端子電極２４、２５、２６および２７がそれぞれ設けられている。
【００２５】
外部端子電極２４〜２７は、前述した外部端子電極１６〜１９がそれぞれ設けられた位置とは異なる位置に位置していて、複数の外部端子電極１６〜１９と複数の外部端子電極２４〜２７とは、交互に隣り合うように配置されている。
【００２６】
なお、積層コンデンサ１がより大きな静電容量を与え得るようにするため、第１の内部電極１０と第２の内部電極１１とが対向する部分の数は複数とされ、複数のコンデンサユニットを形成するようにされる。たとえば、第１および第２の内部電極１０および１１の組の数が複数とされる。
【００２７】
このような積層コンデンサ１において、内部電極１０および１１の各々が複数の引出し部１２〜１５および２０〜２３を備え、これら引出し部１２〜１５および２０〜２３の各々にそれぞれ電気的に接続されるように、外部端子電極１６〜１９および２４〜２７が設けられているので、内部電極１０および１１に流れる電流を種々の方向に向けることができる。そのため、電流によって誘起される磁束が相殺され、自己インダクタンスの発生が抑制され、その結果、等価直列インダクタンス（ＥＳＬ）の低減が図られる。
【００２８】
上記の積層コンデンサ１について、その構造欠陥の有無を判定する方法について説明する。
【００２９】
この構造欠陥有無判定方法では、積層コンデンサに備える内部電極のうち、複数の引出し部を形成している内部電極、すなわち複数引出し内部電極に注目される。図１に示した積層コンデンサ１については、第１および第２の内部電極１０および１１が双方とも複数引出し内部電極であるので、構造欠陥有無判定方法を実施するにあたっては、第１および第２の内部電極１０および１１の一方または双方が注目される。
【００３０】
図２は、構造欠陥有無判定方法を実施している際の結線状態の一例を示す図である。図２において、図１（ａ）に示した積層コンデンサ１が示され、図１（ａ）に示した要素に相当の要素には同様の参照符号が付されている。
【００３１】
図１（ｂ）に示すように、第１の内部電極１０に形成される複数の引出し部１２〜１５にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極１６〜１９は、２つのグループに分けられる。この実施形態では、外部端子電極１６および１７からなる第１グループと外部端子電極１８および１９からなる第２グループとに分けられる。そして、第１グループの外部端子電極１６および１７が共通に直流電源３１の一方端に接続され、第２グループの外部端子電極１８および１９が共通に直流電源３１の他方端に接続される。
【００３２】
この状態で、第１のグループの外部端子電極１６および１７から第２のグループの外部端子電極１８および１９へと直流電流を流すことによって、直流抵抗値が測定される。この直流抵抗値に関して、引出し部１２〜１５のいずれかまたはその近傍においてクラック等の構造欠陥が生じていて、これが引出し部１２〜１５のいずれかを分断している場合には、測定された直流抵抗値が異常に高くなる。このことから、測定された直流抵抗値に基づいて構造欠陥の有無を判定することができる。
【００３３】
上述した実施形態では、直流電源３１の一方端に外部端子電極１６および１７が接続され、直流電源３１の他方端に外部端子電極１８および１９が接続されたが、たとえば、直流電源３１の一方端に外部端子電極１６のみが接続され、直流電源３１の他方端に外部端子電極１７〜１９が接続されるというように、直流電源３１の一方端および他方端にそれぞれ接続される外部端子電極１６〜１９の各グループは互いに同数でなくてもよい。
【００３４】
また、上述した実施形態では、直流電源３１の一方端に外部端子電極１６および１７が接続されたとき、直流電源３１の他方端には残りのすべての外部端子電極である外部端子電極１８および１９が接続されたが、構造欠陥有無判定方法の信頼性が低下することが許容されるならば、たとえば、直流電源３１の一方端に外部端子電極１６のみが接続され、直流電源３１の他方端に外部端子電極１８のみが接続されてもよい。
【００３５】
また、図１（ｃ）に示すように、第２の内部電極１１に形成される複数の引出し部２０〜２３にそれぞれ電気的に接続される複数の外部端子電極２４〜２７についても、図２に示すように、直流電源３２に接続して、直流抵抗値を測定し、当該直流抵抗値に基づいて構造欠陥の有無を判定するようにしてもよい。
【００３６】
前述した直流電源３１による直流抵抗値の測定と上述の直流電源３２による直流抵抗値の測定とは、これら両者を実施すれば、構造欠陥有無判定に関してより高い信頼性が得られるが、このような利点を望まないならば、いずれか一方のみが実施されてもよい。
【００３７】
次に、この発明に係る構造欠陥有無判定方法による判定の信頼性を確認するために実施した実験例について説明する。
【００３８】
この実験例では、図１に示すような構造の積層コンデンサ１であって、良品の場合には、静電容量が１０ｎＦであり、図２に示すような結線状態で測定した直流抵抗値が３２ｍΩのものを用いた。
【００３９】
実施例では、図２に示した結線状態によって直流抵抗値を測定し、それが４０ｍΩを越えたものを構造欠陥がある、すなわち不良と判定した。
【００４０】
比較例１では、特許文献１に記載の方法に基づいて、静電容量が９ｎＦ未満となったものを不良と判定した。
【００４１】
比較例２では、超音波探傷装置によって構造欠陥が確認されたものを不良とした。
【００４２】
これら実施例、比較例１および比較例２の各々において、不良として検出された試料数が、表１の「検出した初期不良数」の欄に示されている。
【００４３】
次いで、実施例、比較例１および比較例２の各々について、不良として検出されなかった試料について、信頼性試験を実施し、その結果、不良となった試料数を求めた。この結果が、表１の「信頼性試験後の不良数」の欄に示されている。
【００４４】
【表１】
0004529833.tif 000002
【００４５】
表１に示すように、比較例１および比較例２では、「信頼性試験後の不良数」が比較的多いのに対し、実施例では、これが０個となっている。このことから、実施例による構造欠陥有無判定方法は、高い信頼性を有していることがわかる。
【００４６】
次に、図１に示した積層コンデンサ１について、その撓み限界を評価する方法について説明する。
【００４７】
撓み限界評価方法では、積層コンデンサ１を基板上に実装し、基板に撓み負荷をかけかつ当該撓み負荷を次第に増大させることによって、積層コンデンサ１を次第に大きい撓み量で撓ませることを除けば、前述した構造欠陥有無判定方法の場合と同様の結線状態が適用される。すなわち、図２に示した結線状態は、撓み限界評価方法においても採用される。
【００４８】
図２を参照して、外部端子電極１６および１７が共通に直流電源３１の一方端に接続され、外部端子電極１８および１９が共通に直流電源３２の他方端に接続されることによって、外部端子電極１６および１７から外部端子電極１８および１９へと直流電流が流され、直流抵抗値が測定される。
【００４９】
また、外部端子電極２４および２５が共通に直流電源３２の一方端に接続され、外部端子電極２６および２７が共通に直流電源３２の他方端に接続されることによって、外部端子電極２４および２５から外部端子電極２６および２７へと直流電源が流され、直流抵抗値が測定される。
【００５０】
上述のような直流抵抗値の測定は、前述したように、積層コンデンサ１を次第に大きい撓み量で撓ませながら実施される。そして、測定されている直流抵抗値が急激に変化した時点での撓み量をもって撓み限界と評価される。
【００５１】
この撓み限界評価方法においても、前述した構造欠陥有無判定方法の場合と同様、図２に一例を示した結線状態に関して、種々の変形が可能である。
【００５２】
次に、上述した撓み限界評価方法を具体的に実施した実験例について説明する。
【００５３】
【表２】
0004529833.tif 000003
【００５４】
表２には、ＪＩＳ  Ｃ  ５１０１−１０：１９９９「電子機器用固定コンデンサ−第１０部：品種別通則：固定積層磁器チップコンデンサ」における「耐プリント板曲げ性」に準じた方法で、撓み量を次第に大きくしながら測定した直流抵抗の測定値が示されている。表２において、「第１の直流抵抗」は、図２における直流電源３１からの直流電流による直流抵抗値の測定結果であり、「第２の直流抵抗」は、直流電源３２からの直流電流による直流抵抗値の測定結果であり、これら「第１の直流抵抗」および「第２の直流抵抗」は同時に測定されたものである。
【００５５】
表２に示すように、撓み量が増加しても、それが４．２ｍｍに達するまでは、第１および第２の直流抵抗値の各々は、３５〜３６ｍΩ近辺に留まっている。しかしながら、撓み量が４．２ｍｍに達したとき、第１および第２の直流抵抗値は、ともに、５４ｍΩ前後にまで急激に大きくなっている。このことから積層コンデンサ１の撓み限界は、４．２ｍｍであると評価することができる。
【００５６】
なお、撓み量が４．２ｍｍに達し、直流抵抗値が急激に増大した試料について、研磨を行ない、クラックの有無を評価したところ、クラックの存在が認められた。
【００５７】
次に、図１に示した積層コンデンサ１について、その構造欠陥が生じている箇所を推定する方法について説明する。
【００５８】
構造欠陥箇所推定方法においても、複数引出し内部電極に注目される。図３は、構造欠陥箇所推定方法を実施している際の結線状態の一例を示す図である。図３には、図１（ａ）に示した積層コンデンサ１が示され、図１に示した要素に相当する要素には同様の参照符号が付されている。
【００５９】
図３に示した実施形態では、上述の複数引出し内部電極として、図１（ｂ）に示した第１の内部電極１０が選択される。第１の内部電極１０には、複数の引出し部１２〜１５が形成され、これら引出し部１２〜１５にそれぞれ外部端子電極１６〜１９が電気的に接続されている。
【００６０】
図３に示した結線状態では、上述した外部端子電極１６〜１９のうち、１つの外部端子電極１６が直流電源４１の一方端に接続され、残りの３つの外部端子電極１７〜１９が共通して直流電源４１の他方端に接続されている。したがって、図３に示した結線状態では、外部端子電極１６から外部端子電極１７〜１９へと直流電源が流され、それによって直流抵抗値が測定される。
【００６１】
次に、結線状態が変更され、外部端子電極１７から外部端子電極１６、１８および１９へと直流電源が流れるようにされ、その状態で直流抵抗値が測定され、次いで、外部端子電極１８から外部端子電極１６、１７および１９へと直流電流が流れるようにされ、その状態で直流抵抗値が測定され、次いで、外部端子電極１９から外部端子電極１６〜１８へと直流電流が流れるようにされ、その状態で直流抵抗値が測定される。
【００６２】
このように外部端子電極１６〜１９の複数の組合せの各々について直流抵抗値の測定を行ない、これら直流抵抗値を比較して、異常に高い値を示したものがあるかどうかが確認され、異常に高い値を示したものがある場合には、この異常に高い値を示した組合せに関与する外部端子電極に接続される引出し部またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定される。
【００６３】
一例について、表３を参照して説明する。
【００６４】
【表３】
0004529833.tif 000004
【００６５】
表３には、外部端子電極の組合せが、外部端子電極を示す参照符号「１６」〜「１９」をもって示されている。表３に示した結果によれば、外部端子電極の組合せに関して、「１８」と「１６＋１７＋１９」との組合せ、より詳細には、外部端子電極１８から外部端子電極１６、１７および１９へと直流電流を流すような組合せにおいて、直流抵抗値が異常に高い値を示している。このことから、外部端子電極１８に接続される引出し部１４（図１（ｂ）参照）またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定することができる。
【００６６】
上述した外部端子電極１６〜１９の組合せは、１つの外部端子電極と他の１つの外部端子電極との組合せであってもよい。表４には、このような組合せの例が示されている。
【００６７】
【表４】
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【００６８】
表４では、外部端子電極１６から外部端子電極１８へと直流電流を流したとき、外部端子電極１７から外部端子電極１８へと直流電流を流したとき、および外部端子電極１８から外部端子電極１９へと直流電流を流したとき、直流抵抗値が異常に高い値を示している。このことから、外部端子電極１８が直流抵抗値を異常に高くしたことに関与していることがわかり、この外部端子電極１８に接続される引出し部１４またはその近傍において構造欠陥が生じていると推定できる。
【００６９】
上述したような構造欠陥箇所推定方法は、第２の内部電極１４に関連して実施されてもよく、第１および第２の内部電極１０および１１の双方について実施されてもよい。
【００７０】
以上、この発明に係る積層コンデンサの構造欠陥有無判定方法、撓み限界評価方法および構造欠陥箇所推定方法の各々の好ましい実施形態について説明したが、この発明は、これら実施形態に限定されるものではない。たとえば、適用される積層コンデンサに関しては、内部電極の引出し部の数、引出し部の位置等に関して、種々に変更することができる。
【００７１】
また、上記実施形態では、直流抵抗値で比較したが、これに代えて、直流電流値を用いても同様の結果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】この発明が適用される積層コンデンサの一例を示すもので、（ａ）は、積層コンデンサ１の外観を示す平面図であり、（ｂ）は、積層コンデンサ１の内部構造を第１の内部電極１０が通る断面をもって示す平面図であり、（ｃ）は、積層コンデンサ１の内部構造を第２の内部電極１１が通る断面をもって示す平面図である。
【図２】この発明による構造欠陥有無判定方法および撓み限界評価方法を実施している際の結線状態の一例を示す図である。
【図３】この発明による構造欠陥箇所推定方法を実施している際の結線状態の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００７３】
１  積層コンデンサ
２，３  主面
４〜７  側面
８  コンデンサ本体
９  誘電体層
１０，１１  内部電極
１２〜１５，２０〜２３  引出し部
１６〜１９，２４〜２７  外部端子電極
３１，３２，４１  直流電源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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