(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク媒体にレーザ光を複数段のパワーで切り替えて変調した記録パルス列を照射してマークを形成し、前記マーク及びマーク間のスペースのエッジ位置情報として情報を記録する光記録方法であって、
記録データを符号化してマーク及びスペースの組み合わせである符号化データを作成するステップと、
前記符号化データのうち、前記マークについて、そのマーク長と前及び／又は後のスペース長との組み合わせによって分類するステップと、
前記マークを形成するための記録パルス列の始端を固定した状態で、前記記録パルス列の始端から２番目のパルスエッジの位置を前記分類結果に対応して変化させて前記記録パルス列を制御するステップと、
前記記録パルス列を光ディスク媒体に照射して前記マークを形成するステップと
を含むことを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
前記各マークについて分類するステップにおいて、前記マークのマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２（ｎ：正の整数）の少なくとも３種類に分類することを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】
前記各マークについて分類するステップにおいて、前記マークの前及び／又は後のスペース長をｎ、ｎ＋１（ｎ：正の整数）の少なくとも２種類に分類することを特徴とする請求項１又は２のいずれか一項に記載の光記録方法。
【請求項４】
前記記録パルス列を制御するステップにおいて、前記記録パルス列の後端を固定した状態で、前記記録パルス列の後端から２番目のパルスエッジの位置を前記分類結果に対応して変化させることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の光記録方法。
【請求項５】
前記記録パルス列を制御するステップにおいて、前記マークを形成するための記録パルス列のうち最終パルスの幅を、前記分類結果に対応して変化させて前記記録パルス列を制御することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の光記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク媒体にレーザ光を照射してマークを形成することによって情報を記録する光記録方法と光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディスクは、レーザ光を照射し加熱時のレーザパワーを制御することにより記録膜の冷却速度を変化させて、記録膜上にアモルファス領域のマークを形成した相変化ディスクである。これらの光ディスク媒体において記録再生時の情報転送速度を向上させるためには、記録線密度を上昇させるか、光スポットによる記録媒体の走査速度を上昇させる方法がある。記録線密度を上昇させるにはマーク、スペース長そのものを縮小するほかに、マーク長、スペース長の変化の刻みを短くしてマークエッジ位置を検出する時間幅を狭くとる方法がある。しかし、記録線密度を上昇させる方法では再生信号におけるＳ／Ｎ比が問題となり、大幅な記録線密度上昇は望めない。
【０００３】
記録密度を高めるために、記録するマーク、スペースの長さを短くする場合、特にスペース長が小さくなると、記録したマークの終端の熱がスペース部分を伝導して次のマークの始端の温度上昇に影響を与えたり、逆に次に記録したマークの始端の熱が前のマークの終端の冷却過程に影響を与えたりする熱干渉が生じる。従来の記録方法で熱干渉が生じると、マークエッジ位置が変動することになり、再生時の誤り率が増加するという問題があった。
【０００４】
また、ディスク上に正確な長さのマークおよびスペースが形成されていても、光スポットのサイズで決まる再生光学系の周波数特性が原因で再生時に検出される短いマークおよびスペースのエッジ位置が、理想値と異なって再生されるという問題が発生する。この検出エッジと理想値とのずれを一般に符号間干渉という。マークおよびスペースのサイズが光スポットに比べて小さくなると符号間干渉が顕著になり再生時のジッタを増大させて誤り率を増加するという問題があった。
【０００５】
そこで、レーザパワーを２値で駆動し、マークの始端部分の位置を記録するマーク長およびその前のスペース長に応じて変化させ、マークの終端部分の位置を記録するマーク長およびその後のスペース長に応じて変化させて記録する方法が開示されている（例えば、特許文献１参照。）。これによって、高密度記録時のマーク間の熱干渉および再生時の周波数特性による符号間干渉の発生を補償している。
【０００６】
また、レーザパワーを３値以上で駆動し、マークの始端部分の位置を記録するマーク長に応じて変化させ、マークの終端部分の位置を記録するマーク長に応じて変化させて記録する方法が開示されている（例えば、特許文献２参照。）。これによって、高密度記録時のマーク間の熱干渉および再生時の周波数特性による符号間干渉の発生を補償している。この場合、マーク終端部の終端位置を冷却パルスの幅を変えることで制御する方法が開示されている。
【０００７】
図１３（ａ）〜図１３（ｆ）は、従来発明装置における記録符号列のマーク、スペースと、それを記録する記録波形発生動作の一例を説明する図である。
【０００８】
図１３（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、Ｔｗの周期である。図１３（ｂ）は、記録データを符号器１１３でＮＲＺＩ変換した結果の記録符号列１２６を表している。また、Ｔｗは検出窓幅でもあり、記録符号列１２６におけるマーク長およびスペース長の基本単位である。図１３（ｃ）は、光ディスク上に実際に記録されるマークとスペースのイメージを示したものであり、レーザ光のスポットは図１３（ｃ）を左から右へ走査する。マーク３０１は記録符号列１２６中の”１”レベルに１対１で対応しており、その期間に比例した長さで形成される。図１３（ｄ）は、カウント信号２０５であり、マーク３０１およびスペース３０２の先頭からの時間をＴｗ単位で計時する。
【０００９】
図１３（ｆ）は、図１３（ｂ）の記録符号列１２６に対応した従来装置における記録波形の一例である。これらの記録波形３０３は、カウント信号２０５と記録符号列１２６とを参照して生成される。
【００１０】
図１４（ａ）〜（ｆ）は、従来装置における記録符号列のマーク，スペースと、それを記録する記録波形発生動作の一例を説明する図である。図１４（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、Ｔｗの周期である。図１４（ｂ）は、記録データを符号器１１３でＮＲＺＩ変換した結果の記録符号列１２６を表している。またＴｗは検出窓幅でもあり、記録符号列１２６におけるマーク長およびスペース長の基本単位である。図１４（ｃ）〜（ｆ）は、２Ｔ〜５Ｔのマーク長のマークの記録マーク形成時の記録パルス信号１２５の波形を示すタイミングチャートである。記録パルス信号１２５は、レベル変調されており、図１４（ｃ）の場合、最も高いレベルであるピークパワー（Ｐｗ）、中間レベルのイレーズパワー（Ｐｅ）、最も低いレベルであるボトムパワーレベル（Ｐｂ）の３値で変調されている。
【００１１】
従来の記録補償では、上述したように各先頭パルスの開始位置を基準時間信号からのシフトさせる量ｄＴｔｏｐを記録するマークのマーク長ごとに対応させて変化させて、記録するマークの始端位置を変化させている。また、冷却パルスの終了位置の基準時間信号からのシフト量ｄＴｅを記録するマークのマーク長ごとに対応させて変化させて、記録するマークの後端位置を変化させている。
【００１２】
【特許文献１】特許第２６７９５９６号公報
【特許文献２】特開２００４−１８５７９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上記第１の従来技術では、パワーを２値で変調するために、相変化型ディスクのように加熱部分の冷却速度によってマークの形成を制御する媒体に対してマルチ・パルス記録を行う場合には、加熱部分が十分に冷却されないうちに次の光パルスが照射されるため、正常なマーク形成が不可能となる。すなわち熱量の投入量が過大となりマーク形状が、涙型になり正しいマークが形成されないという問題があった。
【００１４】
また、マーク形成の過程で、微小なマークを形成する場合、最も短いマーク長の符号間干渉が増大する。これについて、再生光学系の周波数特性を補正するために電気的な周波数補正回路（イコライザ）を用いて、符号間干渉を低減することができるが、特に微小なマーク形成時にイコライザのブースト値が増大する。このようにイコライザのブースト値を増大させて、再生系の符号間干渉を取り除くと、高周波領域のノイズ成分を持ち上げるため、良好なジッタが得られなかった。
【００１５】
また、上記第２の従来技術では、マーク終端エッジを補償する際に、クーリングパルスと呼ばれる冷却パルスの後端位置を制御することによって、マーク終端部の再結晶化を促すことで記録マークの終端位置を制御していた。
【００１６】
しかし、例えば無機材料を用いた追記型の光記録媒体の場合、マークの形成が、不可逆特性なため、記録膜の再結晶化の過程を経ないため、冷却パルスの幅を制御することによってマーク終端位置を制御できない媒体がある。そのような媒体では、マークの終端位置のジッタが増大して、再生信号の誤り率を増大させる原因となった。
【００１７】
以上説明した通り、上記の各従来技術では高密度記録時に、マークを十分な精度で形成することができず、結果として十分な記録面密度と信頼性を実現することができなかった。
【００１８】
そこで、本発明の目的は、様々な光ディスク媒体について熱干渉や符号間干渉を精密に補償して記録できる光記録方法及び光記録装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明に係る光記録方法は、光ディスク媒体にレーザ光を複数段のパワーで切り替えて変調した記録パルス列を照射してマークを形成し、前記マーク及びマーク間のスペースのエッジ位置情報として情報を記録する光記録方法であって、
記録データを符号化してマーク及びスペースの組み合わせである符号化データを作成するステップと、
前記符号化データのうち、前記マークについて、そのマーク長と前及び／又は後のスペース長との組み合わせによって分類するステップと、
前記マークを形成するための記録パルス列の始端を固定した状態で、前記記録パルス列の始端から２番目のパルスエッジの位置を前記分類結果に対応して変化させて前記記録パルス列を制御するステップと、
前記記録パルス列を光ディスク媒体に照射して前記マークを形成するステップと
を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
以上説明したように、本発明に係る光記録方法によれば、記録する各マークについてそのマーク長とその前後のスペース長によって分類しておき、各マークを記録する記録パルス列の端部から２番目のパルスエッジの位置を上記分類結果に応じてエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２だけ変化させて記録パルス信号を制御している。これによって、光ディスク媒体に形成するマークの始端位置又は後端位置を精密に制御することができる。さらに、記録するマークのマーク長だけでなく前後のスペース長に応じてパルスエッジを制御するので、符号間干渉を考慮して、マークの始端位置や後端位置をさらに精密に制御できる。これにより記録／再生動作の高信頼化が図られ、同時に情報記録装置および記録媒体の小型化が実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態を説明する。本実施の形態では記録媒体として相変化光ディスクを例にとって説明するが、これは記録媒体を特に限定するものではなく、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは物理的性質の異なるマークを形成することによって情報を記録する記録媒体に共通の技術である。
【００２３】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光記録再生装置の構成を示すブロック図である。この光記録再生装置は、記録系として、符号器１１３と、基準時間発生器１１９と、カウンタ２００と、分類器２０１と、記録波形発生器１１２と、記録補償器１１８と、レーザ駆動回路１１１と、パワー設定器１１４と、レーザ１００と、対物レンズ１１６等の光学系とを備える。また、この光記録再生装置は、再生系として、検出レンズ１０６等の光学系と、光検出器１００と、プリアンプ１０１と、波形等化器１０３と、２値化器１０４と、復号器１０５と、再生シフト測定器１７０とを備える。なお、上記光学系には、対物レンズ１１６、検出レンズ１０６の他、コリメート・レンズ１０９、ハーフ・ミラー１０８を含む。
【００２４】
まず、この光記録再生装置の各構成部材について説明する。
符号器１１３では、記録される記録データ１２７を、光ディスク１１７上に形成されるマーク及びスペースのマーク長・スペース長およびその先頭位置情報である記録符号列（ＮＲＺＩ）１２６に変換する。記録符号列１２６は、分類器２０１と記録波形発生器１１２およびカウンタ２００に伝達される。
【００２５】
分類器２０１では、記録符号列１２６の各マークについて、そのマーク長（符号長）および前後のスペース長によって所定の規則にしたがって分類する。分類器２０１は、その結果を分類信号２０４として記録波形発生器１１２に入力する。
【００２６】
カウンタ２００は、記録符号列１２６を参照し、基準時間発生器１１９の発生する基準時間信号１２８を単位としてマーク先頭位置からの時間を計時し、カウント信号２０５を生成する。なお、符号器１１３，記録波形発生器１１２は、それぞれ基準時間信号１２８に同期して動作する。基準時間信号１２８は、ディスク１１７上のウォブルから読み出された信号にＰＬＬをかけて同期した信号から生成される。
【００２７】
記録補償器１１８は、ディスク上の特定の領域にあらかじめ記録されている情報を読み出し、各マーク長および前後のスペース長に応じて記録波形発生器で発生させる各記録パルス波形のパルス位置移動量である記録補償テーブルデータを保持しており、記録補償テーブルデータを記録波形発生器に送出する。
【００２８】
記録波形発生器１１２は、ＮＲＺＩ系列、分類信号、および記録補償テーブルデータに応じてパルス状の波形を時間軸上で補償する。これによって、記録波形に対応した記録パルス信号１２５に変換される。記録パルス信号１２５は、レーザパワーレベルに応じて３段階のレベルで構成されている。
【００２９】
記録補償器１１８は、後述するように記録パルス信号１２５の端部から２番目のパルスエッジの位置を変化させるエッジ変化量ｄＴＦ２及び／又はｄＴＥ２に関する記録補償テーブルを格納している。記録補償器１１８は、この記録補償テーブルを記録波形発生器１１２に送出し、上記分類信号に応じて各マーク長のパルスが分類され各記録パルスの位置および幅が補償された記録パルス信号１２５としてレーザ駆動回路に送出される。
【００３０】
レーザ駆動回路１１１では、パワー設定器１１４で設定されたパワーレベルで前記記録パルス信号１２５の３つのレベル（Ｐｗ、Ｐｅ、Ｐｂ）のそれぞれに応じたレーザパワーを設定し、レーザ駆動電流１２４によりレーザ１１０を駆動し光ディスク１１７上にパルス状の光を照射して記録マークを形成する。
【００３１】
次に、この光記録再生装置の記録系における光ディスク１１７への情報の記録方法について説明する。
記録パルス信号１２５は、レーザ駆動回路１１１に送出される。レーザ駆動回路１１１では、記録パルス信号１２５と、パワー設定器１１４で設定されたパワーとを参照して、記録パルス信号１２５のレベルに応じてレーザ駆動電流１２４を発生し、レーザ１１０を記録パルス信号１２５の所定の記録波形にしたがって発光させる。レーザ１１０から放出されたレーザ光１２３は、コリメート・レンズ１０９，ハーフ・ミラー１０８，対物レンズ１１６を通って光ディスク１１７上に集光され、記録膜を加熱してマーク、スペースを形成する。
【００３２】
次に、この光記録再生装置の再生系における再生方法について説明する。
情報の再生時には、記録されたマークを破壊しない程度の低いパワーレベルのレーザ光１２３で光ディスク１１７上のマーク列を走査する。光ディスク１１７からの反射光は、対物レンズ１１６、ハーフ・ミラー１０８を通って、検出レンズ１０６に入射する。レーザ光は検出レンズ１０６を通って光検出器１００上に集光される。集光された光は、光検出器１００上の光強度分布の強弱に応じて、電気信号に変換される。電気信号は、各々の光検出器１００に設けられたプリアンプ１０１によって増幅され、光ディスク１１７上の走査位置におけるマークの有無に対応した再生信号１２０となる。再生信号１２０は、波形等化器１０３によって波形等化処理を受け、さらに２値化器１０４において”０”又は”１”の２値のデータにされＰＬＬによって同期がかけられて２値化再生信号１２１に変換される。さらに復号器１０５は、この２値化再生信号１２１に対して符号器１１３の逆変換を施して再生データ１２２を生成する。
【００３３】
ここで、例えば、基準時間信号の周波数は、６６ＭＨｚ、Ｔｗは約１５ｎｓｅｃである。ディスクは、線速度一定の４．９２ｍ／ｓｅｃで回転させる。レーザ光には、波長４０５ｎｍの半導体レーザを用いる。対物レンズのＮＡは、０．８５である。光ディスク媒体１１７としては、情報を記録できる記録面が単層の単層ディスクであってもよく、あるいは、情報を記録できる記録面が片側読み取り２層の２層ディスクであってもよい。また、光ディスク媒体１１７は、相変化記録材料を用いた書き換え型の光ディスク媒体の他に、１度だけ追記できるライトワンス型の光ディスク媒体であってもよい。符号化方式は、（１、７）変調のほかに１７ＰＰ変調、８―１６変調でもかまわない。（１、７）変調および１７ＰＰ変調では最短の符号長は２Ｔｗである。８−１６変調の場合は、最短の符号長は３Ｔｗとなるが、この場合、（１，７）変調を用いた本実施の形態に符号長を１足した例としてもよい。
【００３４】
図２（ａ）〜（ｆ）は、この光記録再生装置における記録符号列のマーク，スペースと、それを記録する記録波形発生動作の一例を説明する図である。
【００３５】
図２（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、Ｔｗの周期である。図２（ｂ）は、記録データを符号器１１３でＮＲＺＩ変換した結果の記録符号列１２６を表している。ここでＴｗは検出窓幅であり、記録符号列１２６におけるマーク長およびスペース長の変化量の最小単位である。図２（ｃ）は、光ディスク上に実際に記録されるマークとスペースのイメージを示したもので、レーザ光のスポットは、図２（ｃ）を左から右へ走査する。マーク３０１は、記録符号列１２６中の”１”レベルに１対１で対応しており、その期間に比例した長さで形成される。図２（ｄ）は、カウント信号２０５であり、マーク３０１およびスペース３０２の先頭からの時間をＴｗ単位で計時する。
【００３６】
図２（ｅ）は、この記録再生装置における分類信号２０４の模式図であり、本例では各マークのマーク長の値と、各マークの前後のスペース長との３つの値の組み合わせによって分類している。例えば、図２（ｅ）において「４−５−２」とは、マーク長が５Ｔｗのマークについて、その直前のスペース長が４Ｔｗ、その直後のマーク長が２Ｔｗであることを表している。なお、ｗを省略してそれぞれ４Ｔ、２Ｔとする場合がある。また、スペース長については４Ｔｓ、マーク長については２Ｔｍとする場合がある。
【００３７】
図２（ｆ）は、図２（ｂ）の記録符号列１２６に対応した記録パルス信号であり、実際に記録される光波形の一例である。これらの記録パルス信号１２５は、カウント信号２０５，記録符号列１２６、分類信号２０４および記録補償器１１８から送出される記録補償テーブルデータを参照して生成される。
【００３８】
次に、この光記録再生装置における記録補償方法について説明する。
図３（ａ）〜（ｆ）は、マークのマーク長と記録パルス信号１２５の記録波形との関係を示す概略図である。図３（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、Ｔｗの周期である。図３（ｂ）は、カウンタ２００によって発生するカウント信号２０５であり、マーク先頭からの時間を基準時間信号１２８の基準時間Ｔｗ単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。図３（ｃ）〜（ｆ）は、記録マーク形成時の記録パルス信号１２５である。記録パルス信号１２５は、レベル変調されており、最も高いレベルであるピークパワー（Ｐｗ）、中間レベルのイレーズパワー（Ｐｅ）、最も低いレベルであるボトムパワーレベル（Ｐｂ）の３値で変調されている。また、最終パルスの後、冷却パルスがボトムパワーレベルで形成される。
【００３９】
ただし、ここではパワーレベルを３値変調としたが、最終パルスの後の冷却パルスのボトムパワーレベルと中間パルスの間のボトムパワーレベルとを互いに異なるレベルとして、合計４値のパワー変調としてもよい。また、図３ではボトムパワーレベルをイレーズパワーレベルよりも低いパワーレベルとしているが、イレーズパワーレベルとピークパワーレベルの間のパワーレベルでもよい。また、図３（ｃ）〜（ｆ）では、４Ｔｗマークの記録パルス信号は中間パルスが１つであるが、５Ｔｗ、６Ｔｗとマーク長（符号長）が１Ｔｗずつ長くなるとそれに応じて中間パルスの個数が１つずつ増えていく。
【００４０】
この記録補償（適応補償）では、各マークについてそのマーク長とその前後のスペース長によって分類しておき、各マークを記録する記録パルス列の端部から２番目のパルスエッジの位置を上記分類結果に応じてエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２だけ変化させて記録パルス信号を制御し、光ディスク媒体に形成するマークの始端位置又は後端位置を精密に制御することができる。従来のように記録パルス列の始端ｄＴｔｏｐや後端ｄＴｅの位置を変化させる場合にはマークの始端位置や後端位置が大きく変化してしまうため、精密に制御することができなかった。上記のように、記録パルス信号の端部から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２分だけ変化させることによってマークの始端位置や後端位置をより精密に制御できる。さらに、記録するマークのマーク長だけでなく前後のスペース長に応じてパルスエッジを制御するので、符号間干渉を考慮して、マークの始端位置や後端位置をさらに精密に制御できる。
【００４１】
この光記録方法における記録補償方法について、図７のフローチャートを用いて説明する。
（ａ）まず、記録データを符号化してマーク及びスペースの組み合わせである符号化データを作成する（Ｓ０１）。この符号化データとしては、図２の（ｂ）の記録符号列１２６が対応する。
（ｂ）マークについて、そのマーク長と前後のスペース長との組み合わせとして分類する
（Ｓ０２）。図２の（ｅ）では、２Ｔマークについては「２−２−３」であり、３Ｔマークについては「３−３−４」であり、５Ｔマークについては「４−５−２」であり、６Ｔマークについては「２−６−２」である。それぞれ、「前スペース長」、「マーク長」、「後スペース長」の順で組み合わせている。
（ｃ）マークを形成するための記録パルス列の端部から２番目のパルスエッジの位置を分類結果に対応して変化させて記録パルス列を制御する（Ｓ０３）。例えば、図３の（ｃ）では、始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２だけ変化させる。図３（ｄ）では、始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及び後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる。
（ｄ）記録パルス列を光ディスク媒体１１７に照射してマークを形成する（Ｓ０４）。
【００４２】
図４（ａ）〜（ｄ）は、マーク長が４Ｔのマーク３０１を記録する場合に、記録パルス列の始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２だけ変化させる場合について示す概略図である。図４（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２８であり、図４（ｂ）はカウンタ２００によって発生するカウント信号２０５である。図４（ｃ）は、記録パルス列１２５であり、始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２だけ変化させている。図４（ｄ）は、図４（ｃ）の記録パルス列によって記録されたマーク長４Ｔのマーク３０１のイメージを示す図であり、その始端位置を精密に制御できることを示している。このエッジ変化量ｄＴＦ２は、下記の表１に示すように、記録するマークのマーク長及び前スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。
【００４３】
【表１】
0004520413.tif 000002
【００４４】
このエッジ変化量ｄＴＦ２は、記録するマークのマーク長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３通りと、前スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計３×４＝１２通り（ａ１〜ａ１２）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＦ２について、マーク長について３通り、前スペース長について４通りの合計１２通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても４通りにして全体で１６通りに分類してもよい。あるいはマーク長について２通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、前スペース長について２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＦ２は、例えば、ａ１＝５ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００４５】
上述のように、記録パルス信号の始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２分だけ変化させることによってマークの始端位置をより精密に制御できる。さらに、記録するマークのマーク長だけでなく前スペース長に応じてパルスエッジを制御するので、符号間干渉を考慮して、マーク３０１の始端位置をさらに精密に制御できる。
【００４６】
図５（ａ）〜（ｄ）は、マーク長が４Ｔのマーク３０１を記録する場合に、記録パルス列の後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる場合について示す概略図である。図５（ａ）及び図５（ｂ）は、図４（ａ）及び図４（ｂ）と同じである。図５（ｃ）は、記録パルス列１２５であり、後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させている。図５（ｄ）は、図５（ｃ）の記録パルス列によって記録されたマーク長４Ｔのマーク３０１のイメージを示す図であり、その後端位置を精密に制御できることを示している。このエッジ変化量ｄＴＥ２は、下記の表２に示すように、記録するマークのマーク長及び後スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。
【００４７】
【表２】
0004520413.tif 000003
【００４８】
このエッジ変化量ｄＴＥ２は、記録するマークのマーク長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３通りと、後スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計３×４＝１２通り（ｂ１〜ｂ１２）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＥ２について、マーク長について３通り、後スペース長について４通りの合計１２通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても４通りにして全体で１６通りに分類してもよい。あるいはマーク長について２通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、後スペース長について２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＥ２は、例えば、ｂ４＝６ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００４９】
上述のように、記録パルス信号の後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２分だけ変化させることによってマークの後端位置をより精密に制御できる。さらに、記録するマークのマーク長だけでなく後スペース長に応じてパルスエッジを制御するので、符号間干渉を考慮して、マーク３０１の後端位置をさらに精密に制御できる。
【００５０】
なお、２Ｔマークの記録パルスでは、図３のようにｄＴＦ２、ｄＴＥ２が同一のパルスエッジ位置に重なっている。このように同一のパルスエッジ位置に２つのエッジ変化量が付与されている場合の設定方法について説明する。例えば、図２の（ｅ）で、２Ｔマークの前後のスペース長がそれぞれ３Ｔと４Ｔである「３−２−４」という並びの場合、表１の「ａ４」と表２の「ｂ７」とが選択される。この場合、「ａ４＋ｂ７」を２ＴマークのｄＴＦ２及びｄＴＥ２として設定する。以上のように組み合わせることによって、１つのパルスエッジに２つのエッジ変化量が付加されている場合、前スペースと後スペースの両方の組み合わせに応じてパルスエッジ位置を変化させることが可能である。
【００５１】
図６（ａ）〜（ｄ）は、マーク長が４Ｔのマーク３０１を記録する場合に、記録パルス列の始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２だけ変化させる場合（図４（ｃ））、後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる場合（図５（ｃ））に加えて、他のパルスエッジの位置を変化させる場合を示す概略図である。図６（ａ）及び図６（ｂ）は、図４（ａ）及び図４（ｂ）と同じである。図６（ｃ）は、記録パルス列１２５であり、始端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２だけ変化させる場合、後端から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる場合、始端のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させる場合、後端のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させる場合、始端から３番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ３だけ変化させる場合、後端から３番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ３だけ変化させる場合、のそれぞれを合わせて示している。図６（ｄ）は、図６（ｃ）の記録パルス列によって記録されたマーク長４Ｔのマーク３０１のイメージを示す図であり、その始端位置及び後端位置を精密に制御できることを示している。なお、上記エッジ変化量ｄＴＦ１は、下記の表３に示すように、記録するマークのマーク長及び前スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。また、上記エッジ変化量ｄＴＥ１は、下記の表４に示すように、記録するマークのマーク長及び後スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。さらに、上記エッジ変化量ｄＴＦ３は、下記の表５に示すように、記録するマークのマーク長及び前スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。上記エッジ変化量ｄＴＥ３は、下記の表６に示すように、記録するマークのマーク長及び後スペース長によって分類した結果に基づいて規定されている。
【００５２】
【表３】
0004520413.tif 000004
【００５３】
このエッジ変化量ｄＴＦ１は、記録するマークのマーク長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３通りと、前スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計３×４＝１２通り（ｃ１〜ｃ１２）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＦ１について、マーク長について３通り、前スペース長について４通りの合計１２通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても４通りにして全体で１６通りに分類してもよい。あるいはマーク長について２通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、前スペース長について１通り、２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＦ１は、例えば、ｃ６＝５ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００５４】
上述のように、記録パルス信号の端部から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２分だけ変化させると共に、始端のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させることによって、マーク３０１の始端位置をある程度大きな単位で制御しながらも、より精密に制御できる。
【００５５】
【表４】
0004520413.tif 000005
【００５６】
このエッジ変化量ｄＴＥ１は、記録するマークのマーク長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３通りと、後スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計３×４＝１２通り（ｄ１〜ｄ１２）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＥ１について、マーク長について３通り、後スペース長について４通りの合計１２通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても４通りにして全体で１６通りに分類してもよい。あるいはマーク長について２通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、後スペース長について１通り、２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＥ１は、例えば、ｄ５＝６ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００５７】
上述のように、記録パルス信号の端部から２番目のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２分だけ変化させると共に、後端のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることによって、マーク３０１の後端位置をある程度大きな単位で制御しながらも、より精密に制御できる。
【００５８】
【表５】
0004520413.tif 000006
【００５９】
このエッジ変化量ｄＴＦ３は、記録するマークのマーク長について、３Ｔ、４Ｔ以上の２通りと、前スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計２×４＝８通り（ｅ１〜ｅ８）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＦ３について、マーク長について２通り、前スペース長について４通りの合計８通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても、さらに３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の３通りにして全体で１２通りに分類してもよい。あるいはマーク長について４通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、前スペース長について１通り、２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。あるいは一定のエッジ変化量としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＦ３は、例えば、ｅ８＝６ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００６０】
【表６】
0004520413.tif 000007
【００６１】
このエッジ変化量ｄＴＥ３は、記録するマークのマーク長について、３Ｔ、４Ｔ以上の２通りと、後スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計２×４＝８通り（ｆ１〜ｆ８）に分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＥ３について、マーク長について２通り、後スペース長について４通りの合計８通りに分類しているが、この場合に限定されるものではない。例えば、マーク長についても、さらに３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の３通りにして全体で１２通りに分類してもよい。あるいはマーク長について４通り、５通り、又はそれ以上としてもよく、後スペース長について１通り、２通り、３通り、５通り、又はそれ以上としてもよい。あるいは一定のエッジ変化量としてもよい。このエッジ変化量ｄＴＥ３は、例えば、ｆ６＝５ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６の整数倍の値のように規定してもよい。
【００６２】
また、上述のように各エッジ変化量について、表７〜表１０のように前後のスペース長の分類を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りに簡略化してもよい。光ディスクにレーザ光を絞って高密度記録を行う場合には、最小の記録マーク及びスペースは光スポットと同じぐらい小さくなるため、光学的なＭＴＦの影響により最短マークと最短スペースとに関する信号が符号間干渉をおこして正確なエッジ位置に記録もしくは再生できないことが起こる。そのため、最も短い２Ｔのスペース長とそれ以外のスペース長とに分けるだけで符号間干渉を考慮した十分な記録特性が得ることが可能な場合には、上記のように簡略化して分類することで、記録補償テーブルを簡便化できるので装置を簡略化できるというメリットがある。
【００６３】
【表７】
0004520413.tif 000008
【００６４】
【表８】
0004520413.tif 000009
【００６５】
【表９】
0004520413.tif 000010
【００６６】
【表１０】
0004520413.tif 000011
【００６７】
また、さらに表１１〜表１４のようにマーク長が２Ｔの場合、スペース長が２Ｔの場合のそれぞれについてのエッジ変化量に限って３Ｔ以上のマーク長、スペース長の場合と異なるエッジ変化量とする簡略化も可能である。この場合は３Ｔｓ以上（３Ｔ以上のスペース）と３Ｔｍ以上（３Ｔ以上のマーク）の符号間干渉が特に少ない場合に効果的である。
【００６８】
【表１１】
0004520413.tif 000012
【００６９】
【表１２】
0004520413.tif 000013
【００７０】
【表１３】
0004520413.tif 000014
【００７１】
【表１４】
0004520413.tif 000015
【００７２】
さらに、上記各エッジ変化量に関する記録補償テーブルについて説明する。
記録補償器１１８内に保持されている記録補償テーブルは、第１に、光ディスク１１７のリードインエリアとよばれる領域にディスク製造時あるいはその後にあらかじめ記録してある情報を読み出した記録補償テーブルの場合と、第２に、光ディスク１１７上の試し書き領域で実際に所定の記録パルス信号による試し記録をおこなって、その試し書きされたマーク及びスペースを再生してエッジシフト量を測定し、最も信号品質が良好な条件を探索する過程で求まる学習結果によって得られる記録補償テーブルの場合のいずれであってもよい。
【００７３】
まず、第１の方法では、光ディスク１１７の所定領域に記録された記録補償テーブルは、再生データとして得られ、記録補償器１１８に格納される。
【００７４】
次に、第２の方法において、光ディスク１１７に所定の記録符号列の試し書きを行って、記録補償テーブルを作成する方法について図８のフローチャートを用いて説明する。
（ａ）マークについて前記マーク長と前後のスペース長の組み合わせによって分類し、その分類されたマークの試し書きを行う（Ｓ１１）。
（ｂ）試し書きしたマーク及びスペースを再生して再生信号を得る（Ｓ１２）。
（ｃ）再生信号に基づいて、マークのマーク長と前後のスペース長の組み合わせに対応するパルスエッジ変化量のテーブルを作成する（Ｓ１３）。プリアンプ１０１で増幅され再生信号１２０となり、波形等化器１０３、２値化器１０４を経て２値化再生信号１２１となる。得られた２値化再生信号１２１は、再生シフト測定器１７０にも送られる。再生シフト測定器１７０では、ＰＬＬによって同期化された２値化信号と、同期化される前の２値化信号を比較して、各マークおよびスペースごとのシフト量を測定し、測定結果を記録補償器１１８へ送信する。
【００７５】
なお、このように光ディスク１１７上の試し書き領域での試し記録を行う場合には、測定されたエッジシフト量に応じて記録補償テーブルデータを随時更新し、再度前述の記録動作を行い、再生時のＰＬＬクロックと２値化再生信号のエッジシフトを低減するような記録補償テーブルを探索すべく記録を繰り返し行ってもよい。
【００７６】
（実施の形態２）
図９は、本発明の実施の形態２に係る光記録方法における記録するマークのマーク長と記録パルス信号１２５との関係を示すタイミングチャートである。この光記録方法は、実施の形態１に係る光記録方法と比較すると、ピークパワーレベル（Ｐｗ）の最終パルスの幅Ｔｌｐを、マークのマーク長及び後スペース長の組み合わせで分類した分類結果に応じて制御する点で相違する。この最終パルスの幅Ｔｌｐは、下記表１５に示すように記録するマークのマーク長について、３Ｔ、４Ｔ以上の２通りと、前スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのそれぞれについて合計２×４＝８通り（ｏ１〜ｏ８）に分類して規定している。
【００７７】
【表１５】
0004520413.tif 000016
【００７８】
上述のように、ｄＴＥ１を後スペース長毎に分類する代わりにＴｌｐを後スペース長毎に分類することで、特に追記型記録媒体の場合には、マーク終端位置を正確にコントロールすることが可能である。
【００７９】
（実施の形態３）
図１０は、本発明の実施の形態３に係る光記録方法における記録するマークのマーク長と記録パルス信号１２５の関係を示すタイミングチャートである。この光記録方法では、実施の形態１に係る光記録方法と比較すると、記録パルス信号１２５は、中間パルスの数がマーク長の数に比例しないような波形を有する点で相違する。この光記録方法では、図１０の（ｃ）〜（ｊ）に示すように、２Ｔｗ、３Ｔｗ、４Ｔｗのマーク長のマークについての記録パルス信号ではピークパワーレベルを持つパルスの数が１つである。また、５Ｔｗ、６Ｔｗのマーク長のマークについての記録パルス信号１２５ではピークパワーレベルを持つパルスの数が２つである。また、７Ｔｗ、８Ｔｗのマーク長のマークについての記録パルス信号１２５ではピークパワーレベルを持つパルスの数が３つである。さらに、９Ｔｗのマーク長のマークについての記録パルス信号１２５ではピークパワーレベルを持つパルスの数が４つである。
【００８０】
なお、１つの光ディスク媒体に異なる記録レートで記録可能な場合には、記録転送速度に応じて図３の記録パルス信号と図１０の記録パルス信号とを切り替えて用いてもよい。例えば、遅い記録転送速度の場合には、図３の記録パルス信号で記録し、速い転送レートで記録する場合には、図１０の記録パルス信号で記録してもよい。
【００８１】
図１０の記録パルス信号において、各ピークパワーレベルのパルス幅、ボトムパワーレベルのパルス幅は、概略１Ｔｗとなるように示されているが、前記記録補償を行った後に各マーク長の各パルス幅を少なくとも０．５Ｔｗ以上とすることが望ましい。この場合レーザの応答速度の影響を受けにくく、記録条件を緩和することができる。
【００８２】
以上の一連の動作で本実施の形態の光ディスク記録方法によれば、マーク始端部分の位置と終端部分の位置を、記録するマーク長およびその前後のスペース長に応じて、記録パルスの先頭パルスと最終パルスの位置および幅を随時変化させることで、再生時の符号間干渉を低減して、良好な信号品質を得ることができる。
【００８３】
（実施の形態４）
本発明に係る光記録再生装置による再生方法について説明する。この再生方法では、図１２に示す周波数特性を有する波形等化を行うことを特徴とする。
【００８４】
この再生方法では、光ディスク１１７に記録されたマークがレーザ光で読み取られ、検出レンズ１０６、光検出器１００、及びプリアンプ１０１を用いて再生信号１２０が生成される。この再生信号１２０は、波形等化器１０３で周波数特性を補正した信号となる。さらに、２値化器１０４で２値化再生信号１２１に変換され、復号器１０５によって逆変換を施して再生データ１２２が生成される。
【００８５】
２Ｔｗ信号、３Ｔｗ信号、４Ｔｗ信号、８Ｔｗ信号等の中で、２Ｔｗ信号など周波数の高い信号ほど小さなマークであるため再生される振幅が小さくなるという周波数に依存する光学的出力の減衰が観測される。そこで、このような出力の減衰を補正するために、この再生方法では、周波数の高い信号ほど出力振幅を大きくするようにイコライザ特性を設定する。
【００８６】
図１２は、波形等化器１０３（イコライザ）の周波数特性を模式的に示す図であり、入力信号に対する出力信号の振幅比を表すものである。図で、横軸は信号周波数であり、２Ｔｗ信号、３Ｔｗ信号、４Ｔｗ信号、８Ｔｗ信号の周波数を模式的に示す。縦軸は、波形等化器１０３の出力振幅の対数表示である。この波形等化器１０３としては、高域通過型のフィルター（High  Pass  Filter）や２Ｔｗより少し高い周波数にピークを持たせたバンドパスフィルター（Band  Pass  Filter）またはそれらと増幅器を組み合わせたものを用いることができる。
【００８７】
従ってマークやスペースが２Ｔｗ信号のような周波数の高い信号の場合の出力振幅と、８Ｔｗのような周波数の低い信号の場合の出力振幅の差、すなわち特性曲線の傾きは、最短マーク長が短くなるほど大きくなる。それに伴い、例えば４Ｔｗ信号の周波数における出力振幅と、８Ｔｗ信号の周波数における出力振幅の差も大きくなる。
【００８８】
そこで、再生周波数特性のピークシフトを防止し、ノイズの周波数分布を変化させ再生信号のＳＮＲ（信号対雑音比）を良くし、再生信号のエラーレートを改善できる特性にすることが望ましい。
【００８９】
図１１は、マーク形状の違いによる再生信号特性の違いを示す概略図である。図１１（ａ）と（ｃ）は光スポットが左から右へ走査し、記録マークが形成された後のマーク形状の模式図である。図１１（ｂ）と（ｄ）はそれぞれのマーク形状が形成された後、記録したマークを消去しない程度の強さの光で前記マークを読み出した後の再生信号を示す。
【００９０】
図１１（ａ）は、相変化を利用した書き換え型媒体の代表的なマーク形状を示す概略図である。最も小さい２Ｔｗマーク１００１がイチョウ型のマークとして形成されている。これは、冷却パルスによってマーク終端部が後から再結晶化されることによってイチョウ型マーク形状となっている。図１１（ｂ）は、図１１(ａ）のマークを再生した時の再生信号である。図のように２Ｔｗマークと２Ｔｗスペースが隣接している場合、最も再生信号振幅が小さくなる。この場合Ｉ２が最小振幅となる。
【００９１】
一方、図１１（ｃ）は、相変化を利用した追記型ディスクにおいて形成されるマーク形状の一例を示す概略図である。追記型ディスクでは、冷却パルスによる再結晶化を経ないでマーク形成が行われる。そのため、２Ｔｗマーク１００３が、円形であって、他の長いマークに比べて幅方向に細く形成されることがある。このように２Ｔｗマークの大きさが他のマークの大きさに比べて、幅方向に小さく形成される場合、図１１（ｄ）の再生信号の最小振幅Ｉ２は、ＭＴＦの影響を受けて図１１（ｂ）における最小振幅よりも小さくなるため、２Ｔｗマークの符号間干渉が増大し、再生ピークシフトが生じる。
【００９２】
図１２に示す波形等化器の再生周波数特性においてピークブースト値（Ｂｐ）を大きくすると、再生信号の振幅を大きくするのと同時にノイズを増大させることとなる。特に過ブーストとなると、信号帯域よりも高域側のノイズを増大させることとなり、この場合、再生信号のＳ／Ｎが悪くなるという弊害がある。また、過ブースト状態では、信号成分のうち低域側（４Ｔｗ〜８Ｔｗ）の符号間干渉を増大させるため、かえって再生特性を悪くしてしまう。このように２Ｔｗマークなどの記録マークが他のマークに比べ特に小さくかかれる場合、マーク長のみの記録補償では、２Ｔのマークの符号間干渉を補償することができるが、スペースに関する符号間干渉が残ってしまい再生信号の特性を悪くする。そこで、上述の実施の形態で説明したように、マーク記録時において、特に２Ｔｗスペースを考慮して、記録パルス信号の端部から２番目のパルスエッジをマーク長とその前後のスペース長に応じたエッジ変化量ｄＴＦ２又は／及びｄＴＥ２だけ変化させ、さらに記録パルス信号の始端又は終端エッジを補償することで、特に２Ｔｗスペースで生じていた符号間干渉を低減でき、低いブースト値でも再生信号の特性を向上させることができる。
【００９３】
また、ここで記録補償を行うときのターゲットブースト値は、追記型記録媒体など図１１（ｃ）のような記録マークが形成される光記録媒体にデータ記録する場合、記録補償の補償精度にも依存し、例えばＴｗ／１６程度の補償精度で記録補償を行う場合は、ブースト値を１ｄＢ〜２ｄＢ程度増加させて記録することが望ましい。また、試し書きの際、初めにスペース補償をしない状態で記録を行い、ジッタやエラー率などの再生信号特性が基準値を満たしていない場合に限り、スペース補償を含めた記録動作を行ってもよい。
【００９４】
また、あらかじめ記録する信号を最短マーク長を除いた符号系列で第１の試し書きを行い、マーク長が３Ｔ以上の符号長の記録補償テーブルを作成した後、第２の試し書きを２Ｔｗ信号を含んだ符号系列で試し書きを行って、２Ｔｗ信号を含めた記録補償テーブルを作成してもよい。図１１（ｄ）のように再生信号振幅が極めて小さい場合、２Ｔｗ信号の記録マーク位置が正しくない場合、３Ｔｗ以上の長いマーク・スペースの位置を正しく合わせるのが困難な場合がある。前述のような非常に符号間干渉の大きい信号を再生する場合、初めに３Ｔｗ以上の符号長のマークを記録し、３Ｔｗ以上のマーク・スペースのエッジ位置を正確に記録補償しておき、その後２Ｔｗ信号を含む信号を記録して、２Ｔｗのマークとスペースの記録位置を正確に補償することで、より正確にかつ効率よく記録することができ、再生信号品質を向上させることができる。
【００９５】
また、上記のように３Ｔｗ以上の符号長の信号を記録する際には、再生イコライザのブースト値を２Ｔｗ信号を含んだ通常の記録符号列を記録するときに比べて１ｄＢから２ｄＢ下げて、記録補償を行ってもよい。この場合、２Ｔｗ信号を含まないため、再生信号の振幅は比較的大きく符号間干渉の発生はゆるやかであるため、通常のブースト値よりもやや低めのブースト値で、長マークのエッジ位置を調整することで、エッジシフトの少ない信号を記録できる。
【００９６】
また、本発明の各実施の形態では、記録パワーを３値のレーザパワーレベルで変調する場合の例で説明したが、冷却パルスのパワーレベルを中間パルス内のボトムパワーのレベルと違えた４値のパワーレベル変調にしたときにも同様の効果が得られることは言うまでもない。
【００９７】
なお、本発明は、様々な実施の形態に示されている以下の構成をとることができる。第１の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、光ディスク媒体に複数のパワーでレーザ光を切り替えて照射し、情報を複数の長さのマークおよびスペースのエッジ位置情報として記録する光記録方法であって、記録マーク形成時にレーザパワーを第１のパワー＞第２のパワー＞第３のパワーと少なくとも３値以上のパルス状に変調し、記録符号列中のマーク長（符号長）および前後のスペース長を参照して所定の規則にしたがって分類し、変調パルスの第１のパワーをもつ区間の先頭パルスの幅あるいは開始位置と、変調パルスの第１のパワーをもつ区間の最終パルスの幅あるいは終了位置を、前記符号長の分類にしたがって、随時変化させ記録することにより、記録マークの始端部分の位置および終端部分の位置を変化させて記録することを特徴とする。
【００９８】
第２の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、前記記録マークの終端部分の位置を、前記パルス状に変調された前記第１のパワーをもつ区間の最終パルスの幅あるいは終了位置を、記録するマーク長および前記マークの直後のスペース長に応じて随時変化させて記録することを特徴とする。
【００９９】
第３の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、前記記録マークの始端部分の位置を、前記パルス状に変調された前記第１のパワーをもつ第１パルスの幅あるいは開始位置を、記録するマーク長および前記マークの直前のスペース長に応じて随時変化させて記録することを特徴とする。
【０１００】
第４の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長（ｎ：正の整数）の少なくとも３種類に分類し、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１以上の符号長の少なくとも２種類に分類することを特徴とする。
【０１０１】
第５の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上符号長の少なくとも３種類に分類し、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類することを特徴とする。
【０１０２】
第６の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長ごとの少なくとも３種類に分類し、前記記録符号列中のマーク長がｎの場合、前記マーク長（ｎ）の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類し、前記記録符号列中のマーク長がｎ＋１、ｎ＋２以上の場合、前記マーク長（ｎ＋１、ｎ＋２以上）の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１以上の符号長の少なくとも２種類に分類することを特徴とする。
【０１０３】
第７の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長ごとの少なくとも３種類に分類した状態で第１の試し書きを行い、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類した状態で第２の試し書きを行うことを特徴とする。
【０１０４】
第８の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、前記第１の試し書き時に、符号長ｎ＋１以上の符号列含む記録符号列を記録し、前記第２の試し書き時に、符号長ｎ以上の符号列を含む記録符号列を記録することを特徴とする。
【０１０５】
第９の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、前記第２の試し書き後の再生時に、前記第１の試し書き後の再生時に比べて、再生イコライザのブースト値をことならせることを特徴とする。
【０１０６】
第１０の構成によれば、本発明の光記録再生方法は、前記第２の試し書き後の再生時に、前記第１の試し書き後の再生時に比べて、再生イコライザのブースト値を概略１ｄＢ上げることを特徴とする。
【０１０７】
第１１の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、光ディスク媒体に複数のパワーでレーザ光を切り替えて照射して未記録部とは物理的性質の異なるマークを形成することによって情報を記録する光記録装置において、
レーザ光のパワーを変調するレーザ駆動手段と、情報を記録符号列に変換する符号化手段と、
前記記録符号列中のマーク長（符号長）および前後のスペース長を参照して所定の規則にしたがって分類する分類手段を有し、変調パルスの第１のパワーをもつ区間の先頭パルスの幅あるいは開始位置と、変調パルスの第１のパワーをもつ区間の最終パルスの幅あるいは終了位置を変化させる記録波形発生手段を有し、前記分類手段の分類にしたがって、記録マークの始端部分の位置および終端部分の位置を変化させて記録することを特徴とする。
【０１０８】
第１２の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記記録マークの終端部分の位置を、前記パルス状に変調された前記第１のパワーをもつ区間の最終パルスの幅あるいは終了位置を、記録するマーク長および前記マークの直後のスペース長に応じて随時変化させてレーザを駆動させる駆動手段を有することを特徴とする。
【０１０９】
第１３の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記記録マークの始端部分の位置を、前記パルス状に変調された前記第１のパワーをもつ第１パルスの幅あるいは開始位置を、記録するマーク長および前記マークの直前のスペース長に応じて随時変化させてレーザを駆動させる駆動手段を有することを特徴とする。
【０１１０】
第１４の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記分類手段は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長（ｎ：正の整数）の少なくとも３種類に分類し、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１以上の符号長の少なくとも２種類に分類することを特徴とする。
【０１１１】
第１５の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記分類手段は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上符号長の少なくとも３種類に分類し、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類することを特徴とする。
【０１１２】
第１６の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記分類手段は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長ごとの少なくとも３種類に分類し、前記記録符号列中のマーク長がｎの場合、前記マーク長（ｎ）の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類し、前記記録符号列中のマーク長がｎ＋１、ｎ＋２以上の場合、前記マーク長（ｎ＋１、ｎ＋２以上）の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１以上の符号長の少なくとも２種類に分類することを特徴とする。
【０１１３】
第１７の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、記録符号列中のマーク長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２以上の符号長ごとの少なくとも３種類に分類した状態で第１の試し書きを行い、前記マーク長の前後の記録符号列中のスペース長をｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３以上の符号長の少なくとも４種類に分類した状態で第２の試し書きをおこなうことを特徴とする。
【０１１４】
第１８の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記第１の試し書き時に、符号長ｎ＋１以上の符号列含む記録符号列を記録し、前記第２の試し書き時に、符号長ｎ以上の符号列を含む記録符号列を記録することを特徴とする。
【０１１５】
第１９の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記第２の試し書き後の再生時に、前記第１の試し書き後の再生時に比べて、再生イコライザのブースト値を異ならせることを特徴とする。
【０１１６】
第２０の構成によれば、本発明の光記録再生装置は、前記第２の試し書き後の再生時に、前記第１の試し書き後の再生時に比べて、再生イコライザのブースト値を概略１ｄＢ上げることを特徴とする。
【産業上の利用可能性】
【０１１７】
本発明の光ディスク媒体への光記録方法および光記録装置は、デジタル家電機器、情報処理装置を含む電気機器産業等に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１１８】
【図１】本発明の実施の形態１に係る光記録装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係る光記録方法におけるタイミングチャートである。
【図３】本発明の実施の形態１に係る光記録方法におけるマーク長と記録パルス列の記録波形との関係を示すタイミングチャートである。
【図４】本発明の実施の形態１に係る光記録方法における記録パルス列の制御の例を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態１に係る光記録方法における記録パルス列の制御の他の例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態１に係る光記録方法における記録パルス列の制御のさらに他の例を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態１に係る光記録方法のフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態１に係る光記録方法における記録補償テーブルを作成する方法のフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態２に係る光記録方法におけるマーク長と記録パルス列の波形との関係を示すタイミングチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態３に係る光記録方法におけるマーク長と記録パルス列の波形との関係を示すタイミングチャートである。
【図１１】本発明の実施の形態４に係る再生方法における再生信号波形を示す概略図である。
【図１２】本発明の実施の形態４に係る再生方法における波形等化特性を示す図である。
【図１３】従来技術の光記録方法におけるタイミングチャートである。
【図１４】従来技術の光記録方法におけるマーク長と記録パルス列の記録波形との関係を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
【０１１９】
１１０  レーザ
１１１  レーザ駆動回路
１１２  記録波形発生回路
１１３  符号器
１１７  光ディスク
１１９  基準時間発生器
１２２  再生データ
１２６  記録符号列
１２７  記録データ
１２８  基準時間信号
２００  カウンタ
２０１  分類器
２０２  記録波形テーブル
２０４  分類信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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