(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの起動時に検出された光ディスクの記録層とレーザ光の光軸との間のチルトに基づいて前記レーザ光の光軸を傾けるチルト補正を行うチルト補正手段と、前記光ディスクの起動時と前記光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差を検出する温度検出手段と、前記光ディスクの起動時のチルトの大きさに応じて前記チルトを更新する温度差を記憶する記憶手段と、前記検出した温度差が前記光ディスクの起動時のチルトの大きさに対応する温度差を超えた場合、前記チルト補正手段に前記チルトを更新させる制御手段と、を具備したことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、複数の温度差を記憶するチルトを有し、前記複数の温度差の間隔は前記チルト毎に異なることを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
【請求項３】
前記光ディスクは半径方向に複数のゾーンに分割され、前記記憶手段は、前記ゾーン毎に、前記光ディスクの起動時のチルトの大きさに応じて前記チルトを更新する温度差を記憶することを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
【請求項４】
前記光ディスクは半径方向に複数のゾーンに分割され、前記記憶手段は、前記光ディスクの起動時の前記ゾーン毎のチルトの中の最大チルトの大きさに応じて前記チルトを更新する温度差を記憶することを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
【請求項５】
前記光ディスクは半径方向に複数のゾーンに分割され、前記記憶手段は、前記光ディスクの起動時の前記ゾーン毎のチルトの中のいずれか２つのゾーンのチルトの差の大きさに応じて前記チルトを更新する温度差を記憶することを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
【請求項６】
前記記憶手段は、前記光ディスクの起動時の最内周側ゾーンと最外周側ゾーンとのチルトの差の大きさに応じて前記チルトを更新する温度差を記憶することを特徴とする請求項５記載の光ディスクドライブ装置。
【請求項７】
光ディスクの起動時に検出された光ディスクの記録層とレーザ光の光軸との間の第１チルトを検出し、また光ディスクの起動時の温度との温度差が所定の温度差となった時の第２チルトを検出するチルト検出手段と、前記第１チルトに基づいて前記レーザ光の光軸を傾けるチルト補正を行うチルト補正手段と、前記光ディスクの起動時と前記光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差を検出する温度検出手段と、前記第１チルトと前記第２チルトとの差異の大きさに応じて前記第１チルトを更新する温度差を記憶する記憶手段と、前記検出した温度差が前記光ディスクの起動時の前記第１チルトと前記第２チルトとの差異の大きさに対応する温度差を超えた場合、前記チルト補正手段に前記第１チルトを更新させる制御手段と、を具備したことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項８】
前記光ディスクは半径方向に複数のゾーンに分割され、前記記憶手段は、前記ゾーン毎に、前記光ディスクの起動時の前記第１チルトと前記第２チルトとの差異の大きさに応じて前記第１チルトを更新する温度差を記憶することを特徴とする請求項７記載の光ディスクドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクのデータ記録層とその光ディスクに照射されるレーザ光の光軸とが垂直になるように制御する光ディスクドライブ装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップから照射されるレーザ光の光軸とその光ディスクのデータ記録層とが常に垂直となる位置関係であれば、光ディスクのトラック上において記録再生のために形成されるレーザ光は、そのデータ記録面において正しく焦点が結ばれるため、コマ収差も発生せずレーザ光のビームスポット径はデータ記録層において最も小さくなるので、十分な読み書き品質が得られる。
【０００３】
しかしながら、光ディスクはその樹脂成形時における温度や圧力、冷却時間等の各種工程条件やその管理状態によっては、ひずみや反りが発生する場合があり、そのような光ディスクにあっては、光ピックアップから照射されるレーザ光の光軸とその光ディスクのデータ記録層とが垂直となる位置関係から外れるチルトの問題が発生して、その光ディスクドライブ装置に搭載された光ピックアップの許容できるチルト範囲を超えてしまうと、適正な読み書きができずに記録や再生の動作中においてエラーが発生し、読み書き品質が低下してしまうことがある。
【０００４】
そのような不具合に対応するために、読み書き動作を始める前の起動時において、光ディスクの所定の領域のチルトを検出して、そのチルトに応じてレーザ光の光軸を傾けてそのチルトを補正するチルト補正が行われるという方法が用いられている。
【０００５】
また、光ディスクによっては、光ディスクドライブ装置内の温度上昇が原因となって、読み書き動作を始める前の起動時と比較してそのチルトが変化してしまうため、例えば図９の（特許文献１）に開示された温度変化に対応したチルト補正のフローチャートのように光ディスクドライブ装置内に設けられた温度センサによって逐一温度検出を行い、検出された温度の変化量が所定の閾値を超えたどうかを判断し（Ｓ１０１）、超えたことが確認された際には、フォーカス駆動信号の直流成分の検出を行い（Ｓ１０２）、その検出結果と半径位置の関係を数値データとしてメモリに記憶する（Ｓ１０３）。そして、記憶された数値データに基づいて反り関数及びチルト近似関数を再計算し更新して（Ｓ１０４）、さらに更新されたチルト近似関数を用いて、常に現在の半径位置におけるチルト駆動信号を生成し出力する（Ｓ１０５）技術があった（特許文献１）。
【０００６】
そして、出力されたチルト駆動信号により光ピックアップの対物レンズが傾き、光ディスクの記録層とレーザ光の光軸が垂直となり良好な記録や再生が実現できている。
【０００７】
つまり温度変化が生じた場合には再度チルトを検出して、その結果に基づいてチルト補正を適切に制御して良好な記録再生が実現できる方法が提案されている。
【０００８】
また、図示はしないが、他の従来の技術では、光ディスクをその半径方向に複数のゾーンに分け、それらのゾーン毎に記憶されている温度に対する記録再生中の温度の変化量が所定の閾値を超えたことが確認された際には、それぞれのゾーン毎に再度チルトを検出して、その結果に基づいてチルト補正を行う方法も提案されている（特許文献２）。
【０００９】
さらに、他の従来の技術では、読み書き動作を始める前の起動時においては、光ディスクの内周側の領域のみのチルトを検出してチルト補正を行うことにより、起動に要する時間を短縮することに加えて、所定の温度変化が生じたときに、エリア毎、温度毎に保存データの有無を確認して、チルトの検出が再度必要かどうかの判断を行いながら、より効率的にチルト補正を行うという方法も提案されている（特許文献３）。
【特許文献１】特開２００３−２８１７６１号公報（第３７頁、図２６）
【特許文献２】特開２００５−１２９１１９号公報（第１７頁、図２）
【特許文献３】特開２００６−４８８２４号公報（第１２頁、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記従来の技術では、光ディスクの品質が良好で反りやひずみが小さく、光ディスクドライブ装置内の温度の変化の影響を受けにくく、その光ディスクドライブ装置に搭載された光ピックアップの許容できるチルト範囲に収まるものについても、その温度の変化量が所定の閾値を超えた場合には、その都度所定の領域のチルトの検出とそのチルトに応じたチルト補正がなされるために、読み書き動作中において、記録再生の動作を一旦中止する中断処理を行う必要があるので、本来の記録再生動作に必要な処理が円滑に行われず、効率が悪くなってしまうという問題があった。
【００１１】
特に、光ディスクドライブ装置は、電源投入時から動作中には、スピンドルモータ、フィードモータ、レーザダイオード、さらには駆動回路等の各素子がその消費エネルギーのために、発熱してしまうため、その温度の時間的な変化が大きくなり、チルトの検出やチルト補正を行うために予め設定された温度閾値の幅が小さい場合においては、中断処理の時間が記録再生データを一時的に保存するバッファメモリの容量を超える程度に長くなると、記録再生の動作にも大きな影響がでてくるおそれがあった。
【００１２】
そこで、本発明は、このような従来の課題を解決するものであり、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる光ディスクドライブ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスクドライブ装置は、光ディスクの起動時に検出された光ディスクの記録層とレーザ光の光軸との間のチルトに基づいてレーザ光の光軸を傾けるチルト補正を行うチルト補正手段と、光ディスクの起動時と光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差を検出する温度検出手段と、光ディスクの起動時のチルトの大きさに応じてチルトを更新する温度差を記憶する記憶手段と、検出した温度差が光ディスクの起動時のチルトの大きさに対応する温度差を超えた場合、チルト補正手段にチルトを更新させる制御手段と、を具備している。
【発明の効果】
【００１４】
本発明の光ディスクドライブ装置は、光ディスクの起動時と光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差が光ディスクの起動時のチルトの大きさに対応する所定の温度差を超えた場合にチルトを更新することにより、光ディスクの起動後の温度上昇を考慮したチルト補正ができるので、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の請求項１記載の発明によれば、光ディスクの起動時と光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差が光ディスクの起動時のチルトの大きさに対応する所定の温度差を超えた場合にチルトを更新することにより、光ディスクの起動後の温度上昇を考慮したチルト補正ができるので、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる。
【００１６】
本発明の請求項２記載の発明によれば、記憶手段に、複数の温度差を記憶するチルトを記憶させ、その複数の温度差の間隔はチルト毎に異ならせることにより、光ディスクの起動時に検出されたチルトの大小に応じてチルトを更新する温度差の間隔を可変するので、反りやひずみが小さく品質の良好な光ディスクについては、チルトの更新する温度差の間隔を大きくでき、記録再生を中断するチルト検出やチルト補正のための時間が短縮できる。
【００１７】
また、反りやひずみが大きく品質の悪い光ディスクについては、チルトを更新する温度差の間隔を小さくでき、より細かく反りやひずみの温度変化に追従した制御ができる。その結果、光ディスクの品質に応じたチルト補正ができる。
【００１８】
本発明の請求項３記載の発明によれば、光ディスクを半径方向に複数のゾーンに分割し、記憶手段に、それらのゾーン毎に、光ディスクの起動時におけるチルトの大きさに応じてチルトを更新する温度差を記憶することにより、温度上昇によるチルト変化が大きいと予測されるゾーンについては、チルトを更新する温度差の間隔を狭くすることができるので、きめ細かいチルト補正ができる。
【００１９】
本発明の請求項４記載の発明によれば、光ディスクを半径方向に複数のゾーンに分割し、記憶手段に、光ディスクの起動時におけるゾーン毎のチルトの中の最大チルトの大きさに応じてチルトを更新する温度差を記憶させることにより、直線的な反りでなく、波形形状の反りの大きな光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対してもよりきめ細かいチルト補正ができる。
【００２０】
本発明の請求項５記載の発明によれば、光ディスクを半径方向に複数のゾーンに分割し、記憶手段に、光ディスクの起動時におけるゾーン毎のチルトの中のいずれか２つのゾーンのチルトの差の大きさに応じてチルトを更新する温度差を記憶させることにより、直線的な反りではなく、途中から大きく折れ曲がった形状の反りが大きな光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対してもより細かいチルト補正ができる。
【００２１】
本発明の請求項６記載の発明によれば、記憶手段に、光ディスクの起動時の最内周側ゾーンと最外周側ゾーンとのチルトの差の大きさに応じてチルトを更新する温度差を記憶させることにより、直線的な反りではなく、内周側又は外周側のいずれか一方のみで反りが大きな形状の光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対しても細かいチルト補正ができる。
【００２２】
本発明の請求項７記載の発明によれば、光ディスクの起動時と光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差が所定の温度差を超えた場合に第１チルトを更新することにより、光ディスクの起動後の温度上昇によるチルト変化に応じたチルト補正ができるので、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、より適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる。
【００２３】
本発明の請求項８記載の発明によれば、光ディスクを半径方向に複数のゾーンに分割し、それらのゾーン毎に、光ディスクの起動時の第１チルトと第２チルトとの差異の大きさに応じて第１チルトを更新する温度差を記憶することにより、ゾーン毎に起動後の温度上昇によるチルト変化に応じて、第１チルトを更新する温度差の間隔を狭くすることができるので、よりきめ細かいチルト補正ができる。
【００２４】
以下本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００２５】
（実施の形態１）
図１〜図６において、図１は本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置のブロック図で、図２は本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置のチルト補正を行う手順を示したフローチャートで、図３は本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置の起動時のチルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図で、図４は光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎の起動時のチルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図で、図５（ａ）は光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎のチルトの中の最大チルトを示した表を示す図で、図５（ｂ）は最大チルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図で、図６（ａ）は光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎のチルトを示した表を示す図で、図６（ｂ）はゾーン１とゾーン４とのチルトの差の大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図である。
【００２６】
まず、図１で示したように、記録層を有し、記録または再生可能な光ディスク１の下方にはピックアップモジュール２が配置され、そのピックアップモジュール２には、光ディスク１を可変的に回転させたり、あるいは一定の速度で回転させたりする回転駆動力を与えるスピンドルモータ３が搭載されている。
【００２７】
また、光ピックアップモジュール２を構成し対物レンズを有する光ピックアップ４は、その光ディスク１にレーザ光を照射することで光ディスク１の所定の領域に情報を書込み（記録）したり、あるいは照射したレーザ光の反射光を元に情報を読込み（再生）したりするためにキャリッジ５に搭載され、そのキャリッジ５はフィード部６によって駆動され、光ディスク１の半径方向に往復移動している。
【００２８】
そして、フィード部６には、キャリッジ５を駆動するためのフィードモータ７や、ギア（図示せず）、スクリューシャフト（図示せず）等が配置されていて、フィードモータ７を回転させることによってキャリッジ５が光ディスク１の半径方向である内周側から外周側に渡って往復移動ができるように構成となっている。
【００２９】
つまり、以上のような主要な構成要素によって、小型／薄型の光ディスクドライブ装置のピックアップモジュール２が構成されている。
【００３０】
また、アナログ信号処理部８は、ピックアップモジュール２の内部のキャリッジ５に搭載された光ピックアップ４の内部のフォトセンサ（図示せず）からの出力信号を基に、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成して、光ピックアップ４の３軸アクチュエータを駆動するサーボ処理部９に出力する。
【００３１】
また、サーボ処理部９は、アナログ信号処理部８から送られてきたアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、そのＡ／Ｄ変換器で変換されたデジタル信号を一時的に記憶するメモリ、メモリに記憶されたデジタル信号あるいはＡ／Ｄ変換器から送られてきたデジタル信号を所定の方法で演算する演算回路、その演算回路にて演算されたデジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器等によって構成されており、光ディスク１のデータ記録層に形成されるレーザ光のビームスポットが光ディスク１の情報トラックに精度よく追従するように、フィルタ信号処理や各種演算処理をデジタル演算によって行っている。
【００３２】
そして、サーボ処理部９は、モータ駆動部１０を介して光ピックアップ４に搭載されている対物レンズ（図示せず）をフォーカス方向やトラッキング方向に移動させたりする制御やチルト方向に傾けたりする制御を行うのに加えて、フィード部６の移送制御やスピンドルモータ３の回転制御等を行う。
【００３３】
さらに、サーボ処理部９では、コントローラ１３からの制御に関する指令によっていろいろなパラメータ設定やシーケンス制御がフレキシブルに行われている。
【００３４】
そして、再生動作時には、光ディスク１に光ピックアップ４からレーザ光を照射し、その光ディスク１からの反射光を図示していないフォトセンサで受光し、その受光した反射光に応じて再生信号としてアナログ信号処理部８を介して、データスライサ、データＰＬＬ回路、ジッタ測定回路、エラー訂正部、変／復調部／バッファメモリ／レーザ制御部等から構成されたデジタル信号処理部１１に送り込まれ、さらにそのデジタル信号処理部１１から出力された信号は、ホスト（図１中のＨＯＳＴ）側へ有効な再生用のデータとして転送される。
【００３５】
一方、記録動作時には、デジタル信号処理部１１によってホストから送られてきたデータを変調し、レーザ駆動部１２を介して光ピックアップ４内に搭載されたレーザ（図示せず）等の光源に所定の駆動電流を供給し、その光源を例えばパルス状に発光させて、光ディスク１の情報トラックに記録を行う。
【００３６】
さらに、キャリッジ５に搭載された温度センサ１４は、光ディスクドライブ内の温度を検出するためのもので、光ディスク１が光ディスクドライブ装置内に挿入された後の光ディスク１に情報の記録又は再生を行う前、すなわち起動時における温度、あるいは記録再生動作時の温度を検出している。
【００３７】
そして、その温度センサ１４からのアナログ出力は、Ａ／Ｄ変換回路部１５においてＡ／Ｄ変換されて、コントローラ１３に出力されているが、コントローラ１３は、その出力に応じて後述するチルト検出やチルト補正を行っている。
【００３８】
つまり、コントローラ１３は、以上のように構成された光ディスクドライブ装置全体の制御を行うものである。
【００３９】
次に、図２を用いて説明する。
【００４０】
まず、光ディスクドライブ装置に光ディスク１が装着され、その光ディスクドライブ装置の電源がＯＮされると直ちに起動し（Ｓ１）、前述した温度センサ１４によって光ディスクドライブ装置内の起動時の温度が検出され、その値が起動時の温度としてメモリに記憶される（Ｓ２）。
【００４１】
次に、光ディスク１はスピンドルモータ３によって所定の回転速度で回転駆動され、その光ディスク１の所定の領域に対して光ピックアップがシークして、少なくとも２点のポイントにおいて、フォーカス制御だけを動作させたフリーランニング状態で光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光を受光したフォトセンサからの出力信号を基にフォーカス駆動信号を用いて、その領域におけるチルトが検出される（Ｓ３）。
【００４２】
そして、その検出されたチルトの大きさを予め設定された閾値と比較することによってチルト補正が必要かどうかを判断し（Ｓ４）、その閾値を超える場合にはチルト更新処理（Ｓ５）をした後にチルト補正（Ｓ６）を行った後、検出したチルトに対応して、予め記憶されたチルト補正を行う温度差の閾値を設定する（Ｓ７）。
【００４３】
一方、検出されたチルトの大きさを予め設定された閾値と比較して、その閾値を超えない場合には、チルト更新処理（Ｓ５）やチルト補正（Ｓ６）を行わずに、検出したチルトに応じて、予め記憶されたチルト補正を行う温度差の閾値を設定する（Ｓ７）。
【００４４】
次に、起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断をして（Ｓ８）、その温度差の閾値を超える場合には、一旦記録中断処理を行い（Ｓ９）、再度光ディスクの所定の領域のチルトが検出される（Ｓ１０）。
【００４５】
そして、その検出されたチルトの大きさを予め設定された閾値と比較することによってチルト補正が必要かどうかを判断し（Ｓ１１）、その閾値を超える場合にはチルト更新処理（Ｓ１２）をした後にチルト補正（Ｓ１３）を行い、記録再開処理（Ｓ１４）を行った後に、記録を終了するかどうかの判断（Ｓ１５）を行う。
【００４６】
一方、起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断をして（Ｓ８）、その温度差の閾値を超えない場合には、前記のようなＳ９〜Ｓ１４の処理を行わず記録を終了するかどうかの判断（Ｓ１５）を行う。
【００４７】
ここで、記録を終了するかどうかの判断（Ｓ１５）の結果、終了しないということであれば、再度起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断（Ｓ８）に戻り、前述したようなＳ８〜Ｓ１５の処理を繰り返す。
【００４８】
また、その処理中に記録を終了するという判断がなされれば、正常に終了する（Ｓ１６）。
【００４９】
次に、図３を用いて、前述した予め記憶されたチルト補正を行う温度差の閾値について説明する。
【００５０】
図３で分かるように、Ｓ３の光ディスクの所定の領域で検出された起動時のチルトの大きさによって、チルトを更新する温度差、つまり光ディスクの起動時と光ディスクに情報を記録する際の温度差によってチルトを更新する温度差の閾値が、チルトの大小に応じた３つの範囲で区分され記憶されている。
【００５１】
ここで、起動時のチルトの大きさが０．１より小さい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が５０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．１〜０．３の範囲にある場合には、チルトを更新する温度差の閾値が２０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．３より大きい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が１０℃ステップで設定されている。
【００５２】
したがって、それぞれの区分範囲によって複数の温度差の間隔は異なり、光ディスクの起動時に検出されたチルトの大小に応じてチルトを更新する温度差の間隔を可変するので、反りやひずみが小さく品質の良好な光ディスクについては、チルトの更新する温度差の間隔を大きくでき、記録再生を中断するチルト検出やチルト補正のための時間が短縮できる。
【００５３】
また、反りやひずみが大きく品質の悪い光ディスクについては、チルトを更新する温度差の間隔を小さくでき、より細かく反りやひずみの温度変化に追従した制御ができる。その結果、光ディスクの品質に応じたチルト補正ができる。
【００５４】
つまり、光ディスクの起動時と光ディスクに情報の書込み又は読込みを行う際との温度差が光ディスクの起動時のチルトの大きさに対応する所定の温度差を超えた場合にチルトを更新することにより、光ディスクの起動後の温度上昇を考慮したチルト補正ができるので、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる。
【００５５】
図４で分かるように、光ディスクはゾーン１からゾーン３まで半径方向に３つのゾーンに分割され、それぞれのゾーン毎に検出された起動時のチルトの大きさによって、チルトを更新する温度差、つまり光ディスクの起動時と光ディスクに情報を記録する際の温度差によってチルトを更新する温度差の閾値がゾーン毎に３つの区分範囲が記憶されている。
【００５６】
ここで、ゾーン１については、起動時のチルトの大きさが０．１より小さい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が５０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．１〜０．３の範囲にある場合には、チルトを更新する温度差の閾値が２０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．３より大きい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が１０℃ステップで設定されている。
【００５７】
また、ゾーン２については、起動時のチルトの大きさが０．２より小さい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が５０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．２〜０．４の範囲にある場合には、チルトを更新する温度差の閾値が２０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．４より大きい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が１０℃ステップで設定されている。
【００５８】
さらに、ゾーン３については、起動時のチルトの大きさが０．３より小さい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が５０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．３〜０．５の範囲にある場合には、チルトを更新する温度差の閾値が２０℃ステップで設定され、起動時のチルトの大きさが０．５より大きい場合には、チルトを更新する温度差の閾値が１０℃ステップで設定されている。
【００５９】
したがって、それぞれのゾーン毎の区分範囲によって複数の温度差の間隔は異なり、光ディスクの起動時に検出されたチルトの大小に応じてゾーン毎にチルトを更新する温度差の間隔を可変することにより、温度上昇によるチルト変化が大きいと予測されるゾーンについては、チルトを更新する温度差の間隔を狭くすることができるので、きめ細かいチルト補正ができる。
【００６０】
図５（ａ）は、光ディスクはゾーン１からゾーン４まで半径方向に４つのゾーンに分割され、それぞれのゾーン毎に検出された起動時のチルトを示していて、その中の最大チルトは、ゾーン３の０．２であることが分かる。
【００６１】
また、図５（ｂ）で分かるように、起動時のチルトの大きさによって、チルトを更新する温度差、つまり光ディスクの起動時と光ディスクに情報を記録する際の温度差によってチルトを更新する温度差の閾値が、最大チルトの大小に応じた３つの範囲で区分され記憶されている。
【００６２】
したがって、それぞれの最大チルトの区分範囲によって複数の温度差の間隔は異なり、光ディスクの起動時に検出された最大チルトの大小に応じてチルトを更新する温度差の間隔を可変することにより、直線的な反りでなく、波形形状の反りの大きな光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対してもよりきめ細かいチルト補正ができる。
【００６３】
ここで、図６（ａ）は、光ディスクはゾーン１からゾーン４まで半径方向に４つのゾーンに分割され、それぞれのゾーン毎に検出された起動時のチルトを示していて、ゾーン１とゾーン４とのチルトの差の大きさは０．２であることが分かる。
【００６４】
また、図６（ｂ）で分かるように、起動時におけるゾーン１とゾーン４とのチルトの差の大きさによって、チルトを更新する温度差、つまり光ディスクの起動時と光ディスクに情報を記録する際の温度差によってチルトを更新する温度差の閾値が、ゾーン１とゾーン４とのチルトの差の大小に応じた３つの範囲で区分され記憶されている。
【００６５】
したがって、それぞれのゾーン１とゾーン４とのチルトの差の区分範囲によって複数の温度差の間隔は異なり、光ディスクの起動時に検出されたゾーン１とゾーン４のチルトの差の大きさに応じてチルトを更新する温度差の間隔を可変することにより、直線的な反りではなく、途中から大きく折れ曲がった形状の反りが大きな光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対してもより細かいチルト補正ができる。
【００６６】
特に、この場合において、ゾーン１が光ディスクの起動時の最内周側ゾーンとし、ゾーン４が最外周側ゾーンとすれば、直線的な反りではなく、内周側又は外周側のいずれか一方のみで反りが大きな形状の光ディスクを検出し易くなるので、そのような光ディスクに対しても細かいチルト補正ができる。
【００６７】
（実施の形態２）
以下の説明では、ブロック図は、実施の形態１の場合と同様なので省略したが、図７〜図８において、図７は本発明の実施の形態２に係わる光ディスクドライブ装置のチルト補正を行う手順を示したフローチャートで、図８（ａ）は本発明の実施の形態２に係わる光ディスクドライブ装置の起動時におけるゾーン毎の第１チルトと第２チルトとの差異の大きさを示した表を示す図、図８（ｂ）は第１チルトと第２チルトの差異の大きさに応じて第１チルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図である。
【００６８】
ここで、図７を用いて説明する。
【００６９】
まず、光ディスクドライブ装置に光ディスク１が装着され、その光ディスクドライブ装置の電源がＯＮされると直ちに起動し（Ｓ５１）、前述した温度センサ１４によって光ディスクドライブ装置内の起動時の温度が検出され、その値が起動時の温度としてメモリに記憶される（Ｓ５２）。
【００７０】
次に、光ディスク１はスピンドルモータ３によって所定の回転速度で回転駆動され、その光ディスク１の所定の領域に対して光ピックアップ４がシークして、少なくとも２点のポイントにおいて、フォーカス制御だけを動作させたフリーランニング状態で光ディスク１にレーザ光を照射し、その反射光を受光したフォトセンサからの出力信号を基にフォーカス駆動信号を用いて、その領域における第１チルトが検出される（Ｓ５３）。
【００７１】
そして、光ディスクの起動時の温度との温度差が所定の温度差になった時に、同じ領域において第２チルトが検出される（Ｓ５４）。
【００７２】
次に、その検出された第１チルトの大きさを予め設定された閾値と比較することによってチルト補正が必要かどうかを判断し（Ｓ５５）、その閾値を超える場合には第１チルト更新処理（Ｓ５６）をした後にチルト補正（Ｓ５７）を行った後、第１チルトと第２チルトとの差異の大きさに応じて、予め記憶されたチルト補正を行う温度差の閾値を設定する（Ｓ５８）。
【００７３】
一方、検出された第１チルトの大きさを予め設定された閾値と比較して、その閾値を超えない場合には、第１チルト更新処理（Ｓ５６）やチルト補正（Ｓ５７）を行わずに、第１チルトと第２チルトとの差異の大きさに応じて、予め記憶されたチルト補正を行う温度差の閾値を設定する（Ｓ５８）。
【００７４】
次に、起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断をして（Ｓ５９）、その温度差の閾値を超える場合には、一旦記録中断処理を行い（Ｓ６０）、再度光ディスクの所定の領域のチルトが検出される（Ｓ６１）。
【００７５】
そして、その検出されたチルトの大きさを予め設定された閾値と比較することによってチルト補正が必要かどうかを判断し（Ｓ６２）、その閾値を超える場合には第１チルト更新処理（Ｓ６３）をした後にチルト補正（Ｓ６４）を行い、記録再開処理（Ｓ６５）を行った後に、記録を終了するかどうかの判断（Ｓ６６）を行う。
【００７６】
一方、起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断をして（Ｓ５９）、その温度差の閾値を超えない場合には、前記のようなＳ６０〜Ｓ６５の処理を行わず記録を終了するかどうかの判断（Ｓ６６）を行う。
【００７７】
ここで、記録を終了するかどうかの判断（Ｓ６６）の結果、終了しないということであれば、再度起動時との温度差が、設定されたチルト補正を行う温度差の閾値を超えるかどうかの判断（Ｓ５９）に戻り、前述したようなＳ６０〜Ｓ６５の処理を繰り返す。
【００７８】
また、その処理中に記録を終了するという判断がなされれば、正常に終了する（Ｓ６７）。
【００７９】
図８で分かるように、第１チルトと第２チルトの差異の大きさによって、第１チルトを更新する温度差、つまり光ディスクの起動時と光ディスクに情報を記録する際の温度差によって第１チルトを更新する温度差の閾値が、第１チルトと第２チルトの差異の大小に応じた３つの範囲で区分され記憶されている。
【００８０】
ここで、第１チルトと第２チルトの差異の大きさが０．１より小さい場合には、第１チルトを更新する温度差の閾値が５０℃ステップで設定され、第１チルトと第２チルトの差異の大きさが０．１〜０．３の範囲にある場合には、第１チルトを更新する温度差の閾値が２０℃ステップで設定され、第１チルトと第２チルトの差異の大きさが０．３より大きい場合には、第１チルトを更新する温度差の閾値が１０℃ステップで設定されている。
【００８１】
したがって、それぞれの区分範囲によって複数の温度差の間隔は異なり、光ディスクの起動時の第１チルトと第２チルトとの差異の大きさに応じて第１チルトを更新する温度差の間隔を可変するので、光ディスクの起動後の温度上昇により光ディスクの反りやひずみが増加した場合であっても、より適正な角度にレーザ光の光軸を傾けたチルト補正を実現できる。
【００８２】
また、この場合、光ディスクを半径方向に複数のゾーンに分割し、それらのゾーン毎に、光ディスクの起動時の第１チルトと第２チルトとの差異の大きさに応じて第１チルトを更新する温度差を記憶することにより、ゾーン毎に起動後の温度上昇によるチルト変化に応じて、第１チルトを更新する温度差の間隔を狭くすることができるので、よりきめ細かいチルト補正ができる。
【００８３】
なお、以上の実施の形態の説明において、光ディスクへの情報の書込み（記録）する場合について説明したが、光ディスクから情報を読込み（再生）する場合についても、同様の手順で処理できるのは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００８４】
本発明は、装着される光ディスクの反りやひずみに関係する品質に応じたチルト補正ができ、より細かく反りやひずみの温度変化に追従したチルト補正の制御が可能な光ディスクドライブ装置に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置のチルト補正を行う手順を示したフローチャート
【図３】本発明の実施の形態１に係わる光ディスクドライブ装置の起動時のチルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図
【図４】光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎の起動時のチルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図
【図５】（ａ）光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎のチルトの中の最大チルトを示した表を示す図、（ｂ）最大チルトの大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図
【図６】（ａ）光ディスクの半径方向に分割されたゾーン毎のチルトを示した表を示す図、（ｂ）ゾーン１とゾーン４とのチルトの差の大きさに応じてチルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図
【図７】本発明の実施の形態２に係わる光ディスクドライブ装置のチルト補正を行う手順を示したフローチャート
【図８】（ａ）本発明の実施の形態２に係わる光ディスクドライブ装置の起動時におけるゾーン毎の第１チルトと第２チルトとの差異の大きさを示した表を示す図、（ｂ）第１チルトと第２チルトの差異の大きさに応じて第１チルトの更新を行う温度差の閾値を示した表を示す図
【図９】（特許文献１）に開示された温度変化に対応したチルト補正のフローチャート
【符号の説明】
【００８６】
１    光ディスク
２    ピックアップモジュール
３    スピンドルモータ
４    光ピックアップ
５    キャリッジ
６    フィード部
７    フィードモータ
８    アナログ信号処理部
９    サーボ処理部
１０    モータ駆動部
１１    デジタル信号処理部
１２    レーザ駆動部
１３    コントローラ
１４    温度センサ
１５    Ａ／Ｄ変換回路部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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