(57)【要約】光線路の障害探索システムは、センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する。光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）は、光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う。接続部は、前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続する。入射部は、前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射する。探索部は、前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する。
2005003714.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する光線路の障害探索方法であって、
光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）を準備し、
前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続し、
前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射し、
前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する光線路の障害探索方法。
【請求項２】
前記試験光の波長は、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長である請求の範囲１に従う光線路の障害探索方法。
【請求項３】
前記試験光の波長は、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値である請求の範囲２に従う光線路の障害探索方法。
【請求項４】
前記試験光の波長は、０．６μｍの近傍の値である請求の範囲３に従う光線路の障害探索方法。
【請求項５】
前記試験光の波長が、前記０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられる請求の範囲４に従う光線路の障害探索方法。
【請求項６】
前記ピークレベルが所定レベル以下の試験光は、そのピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている請求の範囲１に従う光線路の障害探索方法。
【請求項７】
センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する光線路の障害探索システムであって、
光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）と、
前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続する手段と、
前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射する手段と、
前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する手段と、
を具備する光線路の障害探索システム。
【請求項８】
前記試験光の波長は、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長である請求の範囲７に従う光線路の障害探索システム。
【請求項９】
前記試験光の波長は、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値である請求の範囲８に従う光線路の障害探索システム。
【請求項１０】
前記試験光の波長は、０．６μｍの近傍の値である請求の範囲９に従う光線路の障害探索システム。
【請求項１１】
前記試験光の波長が、前記０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられる請求の範囲１０に従う光線路の障害探索システム。
【請求項１２】
前記ピークレベルが所定レベル以下の試験光は、そのピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている請求の範囲７に従う光線路の障害探索システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  本発明は光線路の試験システムに係り、特に、センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由し、ユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害探索をユーザ光端末側から行う光線路の試験システムに関する。
【背景技術】  従来、上述したようなＰＯＮを経由する光線路の障害探索システムとして、非特許文献（荒木則幸他４名、幹線の信頼性向上への実験、ｏｎｌｉｎｅ、平成１１年６月、平成１５年６月３０日検索、インターネット＜ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ａｃｃｓ．ｏｒ．ｊｐ／ｒｅｐｏｒｔ／４０５ｓｅｃｔｉｏｎ．ｈｔｍ＞）に開示されているような１．６５μｍの波長の試験光を発生する光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）を用いてセンタ局側から光線路の障害の発生場所を特定するシステムが知られている。
このシステムでは、本来の伝送信号光に影響を与えないようにするため、光線路の両端に試験光のみを遮断する光フィルタが挿入されている。
また、このシステムと同様に、ＯＴＤＲを用いる光線路の障害探索システムとして、特許文献（ＵＳＰ５，１７７，３５４）に開示されているようなセンタ局側から光線路の障害の発生場所を特定するシステムが知られている。
しかしながら、これらの光線路の障害探索システムは、いずれも光ファイバを提供する通信事業者側の所有するセンタ局側から光線路の障害の発生場所を特定する手法であるので、原理的に見てユーザ光端末側から光ファイバの障害の発生場所を特定することは極めて困難である。
一方、ＦＴＴＨ（Ｆｉｂｅｒ  ｔｏ  ｔｈｅ  Ｈｏｍｅ）では、光ファイバの敷設コストを低減する観点から、ユーザ光端末、及び光分岐器前後における光ファイバ同士の接続に、メカニカルスプライス工法が用いられているので、融着によって光ファイバ同士を接続した場合と比較して光ファイバの接続強度が弱いという問題点がある。
このため、ＦＴＴＨでは、ユーザ光端末内と、光分岐器との間に敷設された光ファイバに障害が発生する可能性が高くなっている。
したがって、今後、ＦＴＴＨに対する需要が増加した場合に、上述したような通信事業者側の所有するセンタ局から試験を行う光線路の障害探索システムだけでは、ユーザ光端末内と、光分岐器との間で発生すると予測される障害によって引き起こされる通信障害に対して有効に対応することができなくなる可能性がある。
このため、光ファイバを使用する通信事業者の間では、光ファイバの障害がユーザ光端末内と、光分岐器との間で発生した場合に、いち早くその障害が発生した場所を特定することができる技術を採用した光線路の障害探索システムの実現に対する要望が高まっている。
【発明の開示】
本発明の目的は、ユーザ光端末から光分岐器までの間に光線路として敷設された光ファイバの障害を、他のユーザ光端末及び伝送装置に影響を与えることなく、迅速に、ユーザ光端末側から検出することを可能にする光線路の障害探索システムを提供することにある。
本発明の主旨は、ユーザ光端末内における光線路の終端部に、ＯＴＤＲを接続し、このＯＴＤＲで使用する光の波長の値を、光線路でデータ伝送に使用される波長の値と異なる値、及び光パルスのピークレベルを所定のレベル以下に設定することの少なくとも一方を採用することにより、ユーザ光端末から光分岐器までの間に光線路として敷設された光ファイバの障害を、他のユーザ光端末及び伝送装置に影響を与えることなく、ユーザ光端末側から迅速に探索することを可能にすることにある。
なお、本明細書に記載のユーザ光端末は、光回線網終端装置（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ；ＯＮＵ）と呼んでもよい。
そして、以上のような本発明の主旨は、具体的には、以下のような態様を採用することにより実現される。
上記目的を達成するために、本発明の第１の態様によれば、センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する光線路の障害探索方法であって、
光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）を準備し、
前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続し、
前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射し、
前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する光線路の障害探索方法が提供される。
このような第１の態様により、前記ＯＴＤＲを接続する工程で、ユーザ光端末内の光線路の終端部がユーザ光端末内から取り外されると共に、前記ＯＴＤＲが前記光線路の終端部に接続され、前記試験光を入射する工程で前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方が入射され、前記光線路の障害を探索する工程で試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索するので、当該各ユーザ光端末から光分岐器までの間に前記光線路として敷設された光ファイバの障害を、他のユーザ光端末及びセンタ局側の伝送装置に影響を与えることなく、迅速に、ユーザ光端末側から探索することができる。
また、本発明の第２の態様によれば、前記試験光の波長は、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長である第１の態様に従う光線路の障害探索方法が提供される。
このような第２の態様により、前記試験光の波長が前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長であることを除いては上述した第１の態様と同様の作用を奏することができる。
また、本発明の第３の態様によれば、前記試験光の波長は、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値である第２の態様に従う光線路の障害探索方法が提供される。
このような第３の態様により、前記試験光の波長が前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長として、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値に特定されていることを除いては上述した第１の態様と同様の作用を奏することができる。
この場合、前記ＯＴＤＲは、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満の波長を有する試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源を装備するＯＴＤＲであってもよい。
さらには、前記ＯＴＤＲは、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の波長の試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源を装備するＯＴＤＲであってもよい。
また、本発明の第４の態様によれば、前記試験光の波長は、０．６μｍの近傍の値である第３の態様に従う光線路の障害探索方法が提供される。
このような第４の態様により、前記試験光の波長が０．６μｍの近傍の値に特定されていることを除いては、上述した第３の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、０．６μｍの近傍の値の波長の試験光を用いた場合には、前記光線路として接続される光ファイバが０．６μｍの近傍の波長領域で大きい後方散乱係数を有していることにより、結果的に、光ファイバからの後方散乱光や戻り光を含むＯＴＤＲに入射される信号のレベルが高くなるので、可及的に短いデッドゾーンでの前記光線路に対する障害探索が可能になる。
また、０．６μｍの近傍の値の波長の試験光を用いた場合には、１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光を用いているセンタ局側の伝送装置等において用いられる受光素子に対してその受光感度が、１０ｄＢ以上低くなるので、センタ局側の伝送装置等に対する影響を低減化することができる。
また、本発明の第５の態様によれば、前記試験光の波長が、前記０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられる第４の態様に従う光線路の障害探索方法が提供される。
このような第５の態様により、前記試験光の波長が０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられていることを除いては上述した第４の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、このような特性を有するＳｉ系の受光素子を前記ＯＴＤＲの受光器として用いることにより、前記ＯＴＤＲの受光器が前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないため、試験光に対するデータ伝送光の影響を無くすことができる。
また、本発明の第６の態様によれば、前記ピークレベルが所定レベル以下の試験光は、そのピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ局側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている第１の態様に従う光線路の障害探索方法が提供される。
このような第６の態様により、前記試験光が、ＯＴＤＲを接続したユーザ光端末以外の、他のユーザ光端末またはセンタ側の伝送装置に影響を与えないようにする観点から、前記試験光のピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ局側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている試験光であることを除いては上述した第１の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、このように試験光となる光パルスのピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定する場合には、試験光の波長は、上述した０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍよりも大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値に関係なく任意の値に設定することができる。
また、本発明の第７の態様によれば、
センタ局側の伝送装置から光分岐器（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）を経由してユーザ光端末までの間でデータ伝送を行う光ファイバで接続された光線路の障害を探索する光線路の障害探索システムであって、
光ファイバに試験光を入射し、その光ファイバからの後方散乱光や戻り光に基づいて当該光ファイバに対する試験を行う光パルス試験器（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ：ＯＴＤＲ）と、
前記ユーザ光端末内の光線路の終端部を前記ユーザ光端末内から取り外し、当該光線路の終端部に前記ＯＴＤＲを接続する手段と、
前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でのデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方を入射する手段と、
前記試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索する手段と、
を具備する光線路の障害探索システムが提供される。
このような第７の態様により、前記ＯＴＤＲを接続する手段で、ユーザ光端末内の光線路の終端部がユーザ光端末内から取り外されると共に、前記ＯＴＤＲが前記光線路の終端部に接続され、前記試験光を入射する手段で前記ＯＴＤＲから前記光線路の終端部に、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長の試験光及びピークレベルが所定レベル以下の試験光のうちの少なくとも一方が入射され、前記光線路の障害を探索する手段で試験光の入射に基づいて得られる前記光線路からの後方散乱光や戻り光を前記ＯＴＤＲによって検出することにより、前記光線路の障害を前記ユーザ光端末側から探索するので、当該各ユーザ光端末から光分岐器までの間に前記光線路として敷設された光ファイバの障害を、他のユーザ光端末及びセンタ局側の伝送装置に影響を与えることなく、迅速に、ユーザ光端末側から探索することができる。
また、本発明の第８の態様によれば、前記試験光の波長は、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長である第７の態様に従う光線路の障害探索システムが提供される。
このような第８の態様により、前記試験光の波長が前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長であることを除いて上述した第７の態様と同様の作用を奏することができる。
また、本発明の第９の態様によれば、前記試験光の波長は、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値である第８の態様に従う光線路の障害探索システムが提供される。
このような第９の態様により、前記試験光の波長が前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる波長であるために、０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値に特定されていることを除いては上述した第７の態様と同様の作用を奏することができる。
この場合、前記ＯＴＤＲは、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満の波長を有する試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源を装備するＯＴＤＲであってもよい。
さらには、前記ＯＴＤＲは、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の波長の試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源を装備するＯＴＤＲであってもよい。
また、本発明の第１０の態様によれば、前記試験光の波長は、０．６μｍの近傍の値である第９の態様に従う光線路の障害探索システムが提供される。
このような第１０の態様により、前記試験光の波長が０．６μｍの近傍の値に特定されていることを除いては上述した第９の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、０．６μｍの近傍の値の波長の試験光を用いた光線路の障害探索システムは、前記光線路として接続される光ファイバが０．６μｍの近傍の波長領域で大きい後方散乱係数を有していることにより、結果的に、光ファイバからの後方散乱光や戻り光を含むＯＴＤＲに入射される信号のレベルが高くなるので、可及的に短いデッドゾーンでの前記光線路に対する障害探索が可能になる。
また、０．６μｍの近傍の値の波長の試験光を用いた光線路の障害探索システムは、１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光を用いているセンタ局側の伝送装置等において用いられる受光素子に対してその受光感度が、１０ｄＢ以上低くなるので、センタ局側の伝送装置等に対する影響を低減化することができる。
また、本発明の第１１の態様によれば、前記試験光の波長が、前記０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられる第１０の態様に従う光線路の障害探索システムが提供される。
このような第１１の態様により、前記試験光の波長が０．６μｍの近傍の値であるとき、前記ＯＴＤＲの受光器として前記０．６μｍ近傍の波長帯で受光感度を示すとともに、前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないＳｉ系の受光素子が用いられていることを除いては上述した第１０の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、このような特性を有するＳｉ系の受光素子を前記ＯＴＤＲの受光器として用いる光線路の障害探索システムは、前記ＯＴＤＲの受光器が前記データ伝送に用いられる１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないため、試験光に対するデータ伝送光の影響を無くすことができる。
また、本発明の第１２の態様によれば、前記ピークレベルが所定レベル以下の試験光は、そのピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ局側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている第７の態様に従う光線路の障害探索システムが提供される。
このような第１２の態様により、前記試験光が、ＯＴＤＲを接続したユーザ光端末以外の、他のユーザ光端末またはセンタ側の伝送装置に影響を与えないようにする観点から、前記試験光のピークレベルが他のユーザ光端末または前記センタ局側の伝送装置の受光部における当該試験光の信号レベルとして−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下となるように設定されている試験光であることを除いては上述した第７の態様と同様の作用を奏することができる。
そして、このように試験光となる光パルスのピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定する場合には、試験光の波長は、上述した０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍよりも大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値に関係なく任意の値に設定することができる。
【図面の簡単な説明】  図１は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象であるＦＴＴＨ１の一例を説明するために示す模式図であり；
図２は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象であるユーザ光端末の一例を説明するために示す模式図であり；
図３は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態に使用するＯＴＤＲの構成を説明するために示す機能ブロック図であり；
図４は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態及び他の実施の形態の動作を説明するために示すフローチャートであり；
図５は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態に使用するＯＴＤＲの受光器に用いられる受光素子の受光感度を説明するために示す特性図であり；ａｎｄ
図６は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象であるＦＴＴＨ１網に用いられる受光素子の受光感度を説明するために示す特性図である。
【発明を実施するための最良の形態】  以下、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態に関し、図面を参照して説明する。
図１は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象であるＦＴＴＨ１の一例を説明するために示す模式図である。
本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象は、図１に示すようなＰＯＮ方式によるＦＴＴＨ１である。
このＦＴＴＨ１は、互いに光ファイバ２で接続された、通信事業者側にあるセンタ局３と、第１の光分岐器４と、この第１の光分岐器４に接続された８台の第２の光分岐器５１，５２，…，５８と、各第２の光分岐器５１，５２，…，５８毎に４台ずつ接続された合計３２台のユーザ光端末とから構成される。
なお、図１では、説明の簡略化を図る観点から、上から５番目の第２の光分岐器５５に接続されたユーザ光端末６１７，６１８，６１９，６２０以外のユーザ光端末に関しては図示を省略している。
このＦＴＴＨ１では、上り方向における光信号としては、１．３１μｍの波長の光が用いられ、下り方向における光信号としては、１．５５μｍの波長の光が用いられている。
ここで、上り方向とは、各ユーザ光端末６１７，６１８，６１９，６２０からセンタ局３に向かう向きを意味する。
一方、下り方向とは、センタ局３から各ユーザ光端末６１７，６１８，６１９，６２０に向かう向きを意味する。
センタ局３は、１．５５μｍの波長の下り方向における光信号を第１の光分岐器４に出力すると共に、第１の光分岐器４から出力された１．３１μｍの波長の上り方向における光信号を受け取る。
第１の光分岐器４は、センタ局３から送信された１．５５μｍの波長の光信号を受け取ると共に、受け取った光信号を８分岐して各第２の光分岐器５１，５２，…，５８に出力する。
また、この第１の光分岐器４は、各第２の光分岐器５１，５２，…，５８から出力された１．３１μｍの波長の光信号を受け取ると共に、受け取った１．３１μｍの波長の光信号をセンタ局３に出力する。
各第２の光分岐器５１，５２，…，５８は、各ユーザ宅の近傍、例えば、電柱等に設けられており、第１の分岐器４から出力された１．５５μｍの波長の光信号を４分岐して、各ユーザ側に設けられた各ユーザ光端末６１７，６１８，６１９，６２０に出力する。
また、これらの第２の光分岐器５１，５２，…，５８は、各ユーザ光端末６１７，６１８，６１９，６２０から出力された１．３１μｍの波長の光信号を受け取ると共に、受け取った１．３１μｍの波長の光信号を第１の光分岐器４に出力する。
この場合、合計３２台の各ユーザ光端末は、それぞれ、各ユーザ宅内に設置されており、各第２の光分岐器５１，５２，…，５８から出力された１．５５μｍの波長の光信号を受け取ると共に、受け取った光信号を光電変換して、光電変換の結果、得られたディジタル信号を図示しない各ユーザのコンピュータ（ＰＣ）に出力する。
また、各ユーザ光端末は、図示しない各ユーザのコンピュータ（ＰＣ）から送信されたディジタル信号を１．３１μｍの波長の光信号に変換し、この１．３１μｍの波長の光信号を、第２の光分岐器５１，５２，…，５８に出力する。
図２は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象の１つであるユーザ光端末の一例を説明するために示す模式図である。
本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態としての適用対象である合計３２台の各ユーザ光端末は、それぞれ、４台毎に第２の光分岐器５１，５２，…，５８に接続された光ファイバ２を内部に挿通している。
なお、以下の説明では、説明の簡略化を図る観点から、ユーザ光端末６１７に関してのみ説明を行うが、他のユーザ光端末に関しても同様の構成であることはいうまでもない。
ユーザ光端末６１７は、略直方体形状の筐体６１７Ａと、基端部が図１の第２の光分岐器５５に接続された光ファイバ２と、メカニカルスプライス６１７Ｂと、光ファイバ２の終端部に接続されたコネクタ６１７Ｃと、光送受信部６１７Ｄと、インターフェース回路６１７Ｅとから構成される。
ここで、筐体６１７Ａは、内部に、光送受信部６１７Ｄと、インターフェース回路６１７Ｅとを収容すると共に、光ファイバ２を巻回して収容するためのものである。
光ファイバ２は、基端部が図１の第２の光分岐器５５に接続されており、その終端部が筐体６１７Ａ内部に巻回して収容されている。
メカニカルスプライス６１７Ｂは、ユーザ光端末６１７の筐体６１７Ａ内で２つの光ファイバａ，ｂの各端部間を機械的に挟み込むようにして接合するための部材である。
コネクタ６１７Ｃは、ユーザ光端末６１７内における光ファイバ２の終端部に接続され、光送受信部６１７Ｄに接続されている。
このコネクタ６１７Ｃには、センタ局３側から実施される光ファイバ２の伝送試験の際に、使用される１．６５μｍの波長の光を除去するための図示しないフィルタが内蔵されている。
光送受信部６１７Ｄは、光ファイバ２の終端部に接続されたコネクタ６１７Ｃに接続されており、光ファイバ２内を伝播した光をディジタル信号に変換すると共に、変換されたディジタル信号をインターフェース回路６１７Ｅを介して外部の図示しないユーザのコンピュータ（ＰＣ）に出力する。
また、光送受信部６１７Ｄは、インターフェース回路６１７Ｅを介して外部の図示しないユーザのコンピュータ（ＰＣ）から送信されるデータ信号を光信号に変換すると共に、変換された光信号をコネクタ６１７Ｃ及び光ファイバ２を介して図１の第２の光分岐器５５に出力する。
インターフェース回路６１７Ｅは、光送受信部６１７Ｄから出力されたディジタル信号を図示しないＬＡＮを介して接続されたユーザ側の図示しないパーソナルコンピュータ（ＰＣ）に出力する。
また、インターフェース回路６１７Ｅは、ユーザ側の図示しないパーソナルコンピュータ（ＰＣ）出力されたデータ信号を光送受信部６１７Ｄに出力する。
なお、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態に用いられる後述する図３のＯＴＤＲ７は、図示破線で示すように、光送受信部６１７Ｄから取り外されたコネクタ６１７Ｃに接続される。
図３は、本発明に係る光線路の障害探索システムの一実施の形態に使用されるＯＴＤＲ７の構成を説明するために示す機能ブロック図である。
このＯＴＤＲ７は、操作部７１と、この操作部７１に接続されるタイミング発生器７２と、このタイミング発生器７２に接続される光源７３と、この光源７３に接続される光結合器７４と、この光結合器７４に接続される受光器７５と、この受光器７５に接続される増幅器７６と、この増幅器７６に接続されるアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器７７と、このＡ／Ｄ変換器７７及び前記タイミング発生器７２に接続される処理部７８と、この処理部７８に接続される表示部７９とから構成される。
ここで、操作部７１は、操作者の操作により、光源７３から出射される光パルスの波長を所望の値に設定すると共に、その繰り返し周期に関するデータが入力される。
なお、本実施の形態に係るＯＴＤＲ７では、操作部７１は、操作者の操作により、光源７３から出射される光パルスの波長及びパルス幅を所望の値に設定すると共に、その繰り返し周期を所望の値に設定するためのデータが入力されるような機能を有しているものする。
しかるに、これに限らず、操作部７１は、操作者の操作により、光源７３から出射される光パルスのピークレベルを所定レベル以下に抑えるように設定するデータが入力されるような機能を有しているものとしてもよい。
また、タイミング発生器７２は、操作部７１から入力された設定に関するデータに基づいて、光源７３から所定の波長及びパルス幅を有した光パルスが所定の繰り返し周期で発生されるように、タイミング信号を光源７３に送出する。
例えば、レーザダイオードからなる光源７３は、入力された波長及びパルス幅を設定するデータに対応する波長及びパルス幅を有する光パルスを、入力された繰り返し周期を設定するデータに対応する繰り返し周期で発生して、光結合器７４を介して光ファイバ２の一端に試験光として出力する。
この試験光としての光パルスの波長は、実際の光通信システムで使用される伝送光の波長とは異なる値、例えば０．６μｍに設定されている。
なお、本実施の形態では、光源７３から出力される試験光としての光パルスの波長は、０．６μｍに設定されているが、これに限らない。
すなわち、光源７３から出力される試験光としての光パルスの波長は、１．３１μｍよりも大きい値、例えば１．４５μｍであってもよい。
この場合、前述した通信事業者が所有するセンタ局３内に、１．４５μｍの波長の光パルスを除去するフィルタを別途設ける構成とする。
測定対象の光ファイバ２に入射された試験光としての光パルスは、この光ファイバ２内を第２の光分岐器５５に向けて伝播されていく。
この試験光としての光パルスの伝播過程で、光ファイバ２内部では、後方散乱やフレネル反射に起因する、試験光としての光パルスとは進行方向が逆方向の後方散乱光や戻り光が発生する。
この後方散乱光や戻り光は、光ファイバ２内を伝播して、光ファイバ２の一端からＯＴＤＲ７内に入射される。
ＯＴＤＲ７内の光結合器７４は、ＯＴＤＲ７内に入射される後方散乱光や戻り光を受光器７５に出力する。
受光器７５は、光ファイバ２から戻ってきた後方散乱光や戻り光を受け取り、受け取った後方散乱光や戻り光を電気信号に変換し、変換した電気信号を増幅器７６に出力する。
なお、本実施の形態に係るＯＴＤＲ７の受光器７５に用いられる受光素子としては、試験光として０．６μｍ（０．６３μｍ，０．６５μｍでも可）の波長の光パルスを用いる場合には、例えば、図５に示すように、０．６μｍ近傍（約０．４μｍ乃至約０．９５μｍ）の波長帯で良好な受光感度を示すＳｉ系の受光素子であるＳｉ−ＰＩＮフォトダイオード等を用いるものとする。
このような特性を有する受光素子を用いる受光器７５は、ＦＴＴＨ１において用いられている１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光に対しては、殆ど受光感度を示さないため、試験光に対するデータ伝送光の影響はない。
そして、増幅器７６は、受光器７５から出力された電気信号を増幅すると共に、その増幅した電気信号をＡ／Ｄ変換器７７に出力する。
Ａ／Ｄ変換器７７は、増幅器７６から出力された電気信号をＡ／Ｄ変換すると共に、そのＡ／Ｄ変換した電気信号を処理部７８に出力する。
処理部７８は、タイミング発生器７２から入力されたパルスに同期するトリガを受け取り、Ａ／Ｄ変換部７７から出力された電気信号に含まれる測定データを平均化する処理を行った後、対数変換し、試験光に対する光ファイバ２の伝送特性を算出する機能と、算出した光ファイバ２の伝送特性を表示部７９に表示させる機能とを有している。
表示部７９は、処理部７８によって算出された光ファイバ２の伝送特性を表示する。
次に、以上のように構成されたＯＴＤＲ７を用いた光ファイバ２の障害探索システムの動作に関し、図４に示すフローチャートを参照して説明する。
図４は、本実施の形態に係る光線路の障害探索システムの動作を説明するために示すフローチャートである。
始めに、操作者は、図２に破線で示したように、ユーザ光端末内６１７の光ファイバ２の終端部と、光送受信部６１７Ｄとを接続するコネクタ６１７Ｃを光送受信部６１７Ｄから取り外す（ステップＳＴ１）。
次に、操作者は、光送受信部６１７Ｄから取り外したコネクタ６１７ＣにＯＴＤＲ７を接続することにより、ユーザ光端末６１７内の光ファイバ２の終端部にＯＴＤＲ７を接続する（ステップＳＴ２）。
なお、本実施の形態では、ＯＴＤＲ７をユーザ光端末６１７内の光ファイバ２の終端部に接続するようにしているが、これに限らない。
例えば、ユーザ光端末６１７内で光ファイバ２を接合するメカニカルスプライス６１７Ｂを取り外して、このメカニカルスプライス６１７Ｂを取り外した光ファイバ２の一端ａにＯＴＤＲ７を接続するようにしてもよい。
なお、この場合、ＯＴＤＲ７で用いる試験光の波長は、センタ局３側から光ファイバ２の障害検出時に入射させる場合の試験光の波長と同様の１．６５μｍであってもよい。
すなわち、この場合には、コネクタ６１７Ｃを用いないで光ファイバ２に試験光を入射させる構成なので、コネクタ６１７Ｃに内蔵されているセンタ局３側から実施される光ファイバ２の伝送試験の際に使用される１．６５μｍの波長の光を除去するためのフィルタの影響を受けないためである。
次に、操作者は、ＯＴＤＲ７で使用する試験光の波長を、伝送に用いられている１．３１μｍ及び１．５５μｍとは異なる任意の値、例えば０．６μｍに設定する（ステップＳＴ３）。
なお、本実施の形態では、ＯＴＤＲ７で使用する試験光の波長を０．６μｍに設定するようにしているが、これに限らない。
例えば、ＯＴＤＲ７に設定する試験光の波長は、０．６３μｍあるいは０．６５μｍであってもよく、全体としては０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍよりも大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値であることがより好ましい。
これは、波長１．３１μｍ及び１．５５μｍの伝送光が用いられている他のユーザ光端末に影響を与えない観点からであるとともに、センタ局３側から光ファイバ２の障害検出時に用いられる場合の試験光の波長１．６５μｍを避けるためである。
なお、前記ＯＴＤＲ７に装備される光源７３としては、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満の波長を有する試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源であってもよい。
また、前記ＯＴＤＲ７に装備される光源７３としては、前記光線路でデータ伝送に用いられる光の波長と異なる波長で且つセンタ局側からの光線路の試験に用いられる波長と異なる０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の波長の試験光をユーザの設定に応じて選択的に発生する可変または複数の波長光源あるいはそのうちの一つの波長を有する試験光のみ発生する単一の光源であってもよい。
なお、前記ＯＴＤＲ７に装備される光源７３として、前記０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍより大きく２．０μｍ以下の波長のうちの一つの波長を有する波長の試験光のみを発生する単一の光源である場合には、当然ながら前記試験光の波長を設定する工程（ステップＳＴ３）を省略することができる。
なお、本実施の形態では、ステップＳＴ３において、ＯＴＤＲ７に設定する試験光の波長として、伝送光に用いられている１．３１μｍ及び１．５５μｍとは異なる任意の値、例えば、０．６μｍに設定するようにしているが、これに限らない。
このステップＳＴ３における試験光の波長を設定する工程は、試験光となる光パルスのピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定する工程に代えてもよい。
これは、本実施の形態に係る試験光が、ＯＴＤＲ７を接続したユーザ光端末６１７以外の、ＦＴＴＨ１内の他のユーザ光端末またはセンタ側の伝送装置に影響を与えない観点から、試験光となる光パルスのピークレベルを他のユーザ光端末またはセンタ側の伝送装置の受光部における試験光の信号レベルが−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ以下の範囲の値であることが保守現場での実際的な経験値からして最も好ましいからである。
そして、このように試験光となる光パルスのピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定する場合には、試験光の波長は、上述した０．３μｍ以上１．３μｍ未満、又は１．６５μｍよりも大きく２．０μｍ以下の何れか一方の範囲に含まれる値に関係なく任意の値に設定することができる。
また、試験光の波長を、伝送光に用いられている１．３１μｍ及び１．５５μｍとは異なる任意の値に設定する工程（ステップＳＴ３）の前後の何れか一方に、図４に破線で示したように、試験光となる光パルスのピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定する工程を付加してもよい。
次に、操作者は、ＯＴＤＲ７を用いて、光ファイバ２の終端部に接続されているコネクタ６１７Ｃから、例えば、０．６μｍに波長を設定した試験光を入射させて光ファイバ２の障害の探索を行う（ステップＳＴ４）。
以上のような一連の工程により、ユーザ光端末６１７側からの光ファイバ２に対する障害の探索試験が終了する。
上述したように、本実施の形態によれば、ユーザ光端末６１７内の光ファイバ２の終端部に設けられたコネクタ６１７Ｃを光送受信部６１７Ｄから取り外し、この取り外したコネクタ６１７Ｃに、ＯＴＤＲ７を接続して、データ伝送に用いる光の波長とは異なる値に設定した試験光及びピークレベルを所定レベル（−４０ｄＢｍ乃至−５０ｄＢｍ）以下に抑えるように設定した試験光のうちの少なくとも一方をコネクタ６１７Ｃを介して光ファイバ２内に入射させるようにしているので、ユーザ光端末６１７から第２の光分岐器５５までの間に光線路として敷設された光ファイバ２の障害を、他のユーザ光端末及びセンタ局側の伝送装置に影響を与えることなく、ユーザ光端末６１７側から迅速に且つ確実に探索することができる。
そして、本実施の形態において、試験光として０．６μｍ（０．６３μｍ，０．６５μｍでも可）の波長の光パルスを用いた場合には、光ファイバがこの波長領域で大きい後方散乱係数を有していることにより、結果的に、光ファイバ２からの後方散乱光や戻り光を含むＯＴＤＲ７に入射される信号のレベルが高くなるので、可及的に短いデッドゾーンでの光ファイバ２に対する障害探索が可能になる。
ところで、ＰＯＮ方式によるＦＴＴＨ１において用いられる受光素子としては、このＦＴＴＨ１において１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光を用いているため、例えば、図６に示すように、約１．０μｍ乃至約１．６５μｍ近傍の波長帯で良好な受光感度を示すＩｎＧａＡｓを材料とするＩｎＧａＡｓ−ＰＩＮフォトダイオード等が用いられている。
本実施の形態で０．６μｍ近傍（０．６μｍ以外に０．６３μｍ，０．６５μｍでも可）の波長の試験光を用いた場合には、１．３１μｍ及び１．５５μｍの波長のデータ伝送光を用いているＦＴＴＨ１網において用いられる受光素子に対する０．６μｍ近傍の波長の試験光の受光感度が、図６に示すように、１０ｄＢ以上低くなるので、ＦＴＴＨ１網に対する影響を低減化することができる。
なお、この発明は、上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階では、その要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができるとともに、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を抽出して形成することができる。
例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよいと共に、更に、異なる実施の形態に亘る構成要素を適宜組み合せるようにしてもよい。
以上、詳述したように、本発明によれば、ユーザ光端末から光分岐器までの間に光線路として敷設された光ファイバの障害を、ユーザ光端末側から迅速に探索することを可能にする光線路の障害探索システムを提供することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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