(57)【要約】電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスが有する端子に対して試験信号を入力又は出力する信号入出力部と、チャネル選択情報を格納するチャネル選択メモリと、設定条件とチャネル選択メモリのアドレスとを対応づけて格納する設定条件メモリと、設定条件メモリから設定条件及びチャネル選択メモリのアドレスを抽出する設定条件抽出部と、抽出したチャネル選択メモリのアドレスに基づいて、チャネル選択メモリからチャネル選択情報を抽出する選択情報抽出部と、設定条件及びチャネル選択情報を信号入出力部に供給する設定条件供給部とを備え、信号入出力部は、供給されたチャネル選択情報によって当該信号入出力部が選択されている場合に、供給された設定条件に基づいて当該信号入出力部を設定する。
2004083879.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスが有する複数の端子のそれぞれに対して試験信号を入力又は出力する複数の信号入出力部と、
前記複数の信号入出力部のそれぞれが設定条件に基づいて設定を行うべきか否かを示すチャネル選択情報を複数格納するチャネル選択メモリと、
前記信号入出力部の前記設定条件を格納する設定条件メモリと、
前記複数の信号入出力部に設定条件を設定する設定指示を受けた場合に、前記設定指示に基づいて、前記設定条件メモリに格納された前記設定条件、及び前記チャネル選択メモリに格納された前記チャネル選択情報を抽出し、前記複数の信号入出力部に供給する制御手段と
を備え、
前記複数の信号入出力部のそれぞれは、前記制御手段から供給された前記チャネル選択情報によって当該信号入出力部が選択されている場合に、前記制御手段から供給された前記設定条件に基づいて当該信号入出力部を設定することを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記設定条件メモリは、前記信号入出力部の前記設定条件と前記チャネル選択メモリのアドレスとを対応づけて格納し、
前記制御手段は、
前記設定条件メモリから前記設定条件及び前記チャネル選択メモリの前記アドレスを抽出する設定条件抽出部と、
前記設定条件抽出部が抽出した前記チャネル選択メモリの前記アドレスに基づいて、前記チャネル選択メモリから前記チャネル選択情報を抽出する選択情報抽出部と、
前記設定条件抽出部が抽出した前記設定条件、及び前記選択情報抽出部が抽出した前記チャネル選択情報を前記複数の信号入出力部に供給する設定条件供給部と
を有することを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記設定条件抽出部は、前記設定条件メモリから複数の設定データを含む前記設定条件、及び前記複数の設定データ毎の複数の前記チャネル選択メモリの前記アドレスを抽出し、
前記選択情報抽出部は、前記設定条件抽出部が抽出した前記複数のチャネル選択メモリの前記アドレスに基づいて、前記チャネル選択メモリから複数の前記チャネル選択情報を抽出し、
前記設定条件供給部は、前記設定条件抽出部が抽出した前記複数の設定データ、及び前記選択情報抽出部が抽出した前記複数のチャネル選択情報を前記複数の信号入出力部に供給することを特徴とする請求項２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記設定条件メモリは、当該設定条件メモリのアドレスとサイズとを対応づけてさらに格納し、
前記設定条件抽出部は、前記設定条件メモリから前記設定条件メモリの前記アドレス及び前記サイズを抽出し、抽出した前記設定条件メモリの前記アドレスから、抽出した前記サイズで示される数の前記設定データ及び前記チャネル選択メモリの前記アドレスを抽出することを特徴とする請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記チャネル選択メモリは、設定を行うべき前記信号入出力部に対応づけてフラグ「１」が保持され、設定を行うべきでない前記信号入出力部に対応づけてフラグ「０」が保持された前記チャネル選択情報を格納し、
前記設定条件供給部は、前記選択情報抽出部が抽出した前記チャネル選択情報が保持する複数のフラグの論理和が「０」の場合、前記設定条件抽出部が抽出した前記設定条件を前記複数の信号入出力部に供給しないことを特徴とする請求項２に記載の試験装置。
【請求項６】
前記複数の信号入出力部、前記チャネル選択メモリ、前記設定条件メモリ、前記設定条件抽出部、前記選択情報抽出部、及び前記設定条件供給部をそれぞれ有する複数のテストモジュールと、
前記複数の信号入出力部に設定条件を設定する前記設定指示を前記複数のテストモジュールに提供するテストプロセッサと
をさらに備え、
前記複数のテストモジュールがそれぞれ有する前記複数の前記設定条件メモリは、同一の前記アドレスの領域に異なる前記設定条件を格納しており、
前記複数の設定条件抽出部は、前記テストプロセッサから提供された前記設定指示が含む前記設定条件メモリの前記アドレスに基づいて、前記複数の設定条件メモリのそれぞれから異なる複数の前記設定条件をそれぞれ抽出し、
前記複数の設定条件供給部は、前記複数の設定条件抽出部がそれぞれ抽出した前記複数の設定条件を前記複数の信号入出力部にそれぞれ供給することを特徴とする請求項２に記載の試験装置。
【請求項７】
電子デバイスが有する複数の端子のそれぞれに対して試験信号を入力又は出力する複数の信号入出力部を備える試験装置において前記信号入出力部の設定条件を設定する設定方法であって、
前記信号入出力部の前記設定条件を設定条件メモリから抽出する段階と、
前記複数の信号入出力部のそれぞれが前記設定条件に基づいて設定を行うべきか否かを示すチャネル選択情報をチャネル選択メモリから抽出する段階と、
前記設定条件メモリから抽出した前記設定条件、及び前記チャネル選択メモリから抽出した前記チャネル選択情報を、前記複数の信号入出力部に供給する段階と、
前記複数の信号入出力部のそれぞれが、供給された前記チャネル選択情報によって当該信号入出力部が選択されている場合に、供給された前記設定条件に基づいて当該信号入出力部を設定する段階と
を備えることを特徴とする設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  本発明は、試験装置及び設定方法に関する。特に本発明は、電子デバイスを試験する試験装置、及び試験装置が備える信号入出力部を設定する設定方法に関する。また本出願は、下記の日本特許出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。
特願２００３−７４８９８      出願日  平成１５年３月１９日
【背景技術】  従来の試験装置では、試験制御ユニットが試験項目に対応する設定条件をディスク装置から読み出し、電子デバイスに接続されたチャネルに設定条件を転送して設定させている。このような試験装置では、同一種類の電子デバイスを多数繰り返し試験する場合であっても、その都度ディスク装置から設定条件を読み出し、システムバスを介してチャネルに設定条件を転送するので、ディスク装置からデータの読み出し、及びデータの転送に多くの時間を要している。
そこで、試験時間を短縮することを目的として、試験制御ユニットからの命令を解析してチャネルに条件を設定する命令解析ユニットを備える試験装置が提案されている（例えば、特開平７−２１８６０２号公報参照。）。特許文献１に開示された試験装置では、試験に先立ってディスク装置の設定条件を、システムバスを介して命令解析ユニットが有するメモリに転送して格納しておく。そして、試験制御ユニットは、システムバスを介して設定条件を命令解析ユニットに転送することにより、チャネルに設定条件を転送して設定させる。
しかしながら、特許文献１に開示された試験装置では、１つの命令解析ユニットに複数のチャネルを接続して設定する場合に、複数のチャネルに同一の設定条件を転送して設定させることしかできず、複数のチャネルに異なる設定条件を設定することができない。また、特許文献１に開示された試験装置では、試験項目に対する条件データの数を設定、変更することができない。
そこで本発明は、上記の課題を解決することができる試験装置を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【発明の開示】
このような目的を達成するために、本発明の第１の形態によれば、電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスが有する複数の端子のそれぞれに対して試験信号を入力又は出力する複数の信号入出力部と、複数の信号入出力部のそれぞれが設定条件に基づいて設定を行うべきか否かを示すチャネル選択情報を複数格納するチャネル選択メモリと、信号入出力部の設定条件を格納する設定条件メモリと、複数の信号入出力部に設定条件を設定する設定指示を受けた場合に、設定指示に基づいて、設定条件メモリに格納された設定条件、及びチャネル選択メモリに格納されたチャネル選択情報を抽出し、複数の信号入出力部に供給する制御手段とを備え、複数の信号入出力部のそれぞれは、制御手段から供給されたチャネル選択情報によって当該信号入出力部が選択されている場合に、制御手段から供給された設定条件に基づいて当該信号入出力部を設定する。
設定条件メモリは、信号入出力部の設定条件とチャネル選択メモリのアドレスとを対応づけて格納し、制御手段は、設定条件メモリから設定条件及びチャネル選択メモリのアドレスを抽出する設定条件抽出部と、設定条件抽出部が抽出したチャネル選択メモリのアドレスに基づいて、チャネル選択メモリからチャネル選択情報を抽出する選択情報抽出部と、設定条件抽出部が抽出した設定条件、及び選択情報抽出部が抽出したチャネル選択情報を複数の信号入出力部に供給する設定条件供給部とを有してもよい。
設定条件抽出部は、設定条件メモリから複数の設定データを含む設定条件、及び複数の設定データ毎の複数のチャネル選択メモリのアドレスを抽出し、選択情報抽出部は、設定条件抽出部が抽出した複数のチャネル選択メモリのアドレスに基づいて、チャネル選択メモリから複数のチャネル選択情報を抽出し、設定条件供給部は、設定条件抽出部が抽出した複数の設定データ、及び選択情報抽出部が抽出した複数のチャネル選択情報を複数の信号入出力部に供給してもよい。
設定条件メモリは、当該設定条件メモリのアドレスとサイズとを対応づけてさらに格納し、設定条件抽出部は、設定条件メモリから設定条件メモリのアドレス及びサイズを抽出し、抽出した設定条件メモリのアドレスから、抽出したサイズで示される数の設定データ及びチャネル選択メモリのアドレスを抽出してもよい。
チャネル選択メモリは、設定を行うべき信号入出力部に対応づけてフラグ「１」が保持され、設定を行うべきでない信号入出力部に対応づけてフラグ「０」が保持されたチャネル選択情報を格納し、設定条件供給部は、選択情報抽出部が抽出したチャネル選択情報が保持する複数のフラグの論理和が「０」の場合、設定条件抽出部が抽出した設定条件を複数の信号入出力部に供給しなくてもよい。
複数の信号入出力部、チャネル選択メモリ、設定条件メモリ、設定条件抽出部、選択情報抽出部、及び設定条件供給部をそれぞれ有する複数のテストモジュールと、複数の信号入出力部に設定条件を設定する設定指示を複数のテストモジュールに提供するテストプロセッサとをさらに備え、複数のテストモジュールがそれぞれ有する複数の設定条件メモリは、同一のアドレスの領域に異なる設定条件を格納しており、複数の設定条件抽出部は、テストプロセッサから提供された設定指示が含む設定条件メモリのアドレスに基づいて、複数の設定条件メモリのそれぞれから異なる複数の設定条件をそれぞれ抽出し、複数の設定条件供給部は、複数の設定条件抽出部がそれぞれ抽出した複数の設定条件を複数の信号入出力部にそれぞれ供給してもよい。
本発明の第２の形態によれば、電子デバイスが有する複数の端子のそれぞれに対して試験信号を入力又は出力する複数の信号入出力部を備える試験装置において信号入出力部の設定条件を設定する設定方法であって、信号入出力部の設定条件を設定条件メモリから抽出する段階と、複数の信号入出力部のそれぞれが設定条件に基づいて設定を行うべきか否かを示すチャネル選択情報をチャネル選択メモリから抽出する段階と、設定条件メモリから抽出した設定条件、及びチャネル選択メモリから抽出したチャネル選択情報を、複数の信号入出力部に供給する段階と、複数の信号入出力部のそれぞれが、供給されたチャネル選択情報によって当該信号入出力部が選択されている場合に、供給された設定条件に基づいて当該信号入出力部を設定する段階とを備える。
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた発明となりうる。
【図面の簡単な説明】    図１は、本発明の一実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。
図２は、設定条件メモリ１１８及びチャネル選択メモリ１１６のデータ構成の一例を示す図である。
図３は、チャネル選択メモリ１１６が格納する選択ビット列の一例を示す図である。
図４は、テストプロセッサ１０２が発生する設定条件メモリ１１８の共通条件記録部へ書込命令のデータ構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】  以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図１は、本発明の一実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す。試験装置１００は、電子デバイスに試験信号を入力して電子デバイスの良否を判定することにより試験する。試験装置１００は、複数の種類の試験を行うために、それぞれの試験条件に合わせて波形発生器や波形比較器の環境設定を変更する必要がある。そこで、本実施形態の試験装置１００は、試験条件の設定時間を短縮することを目的とする。
試験装置１００は、所定の設定条件に設定する旨の設定指示を発生するテストプロセッサ１０２と、テストプロセッサ１０２が発生した設定指示に基づいて設定条件の設定を行う複数のテストモジュール１０４とを備える。テストプロセッサ１０２は、同報機能を有するシステムバス１０６を介して複数のテストモジュール１０４に設定指示を提供する。
テストモジュール１０４は、電子デバイスが有する複数の端子のそれぞれに対して試験信号を入力又は出力する複数の信号入出力部１０８と、複数の信号入出力部１０８のそれぞれが設定条件に基づいて設定を行うべきか否かを示すチャネル選択情報を複数格納するチャネル選択メモリ１１６と、信号入出力部１０８の設定条件とチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスとを対応づけて格納する設定条件メモリ１１８と、テストプロセッサ１０２から供給された設定指示に基づいてチャネル選択情報及び設定条件を抽出して信号入出力部１０８に供給する制御回路１２０とを備える。制御回路１２０は、本発明の制御手段の一例であり、複数の信号入出力部１０８に設定条件を設定する設定指示を受けた場合に、設定指示に基づいて、設定条件メモリ１１８に格納された設定条件、及びチャネル選択メモリ１１６に格納されたチャネル選択情報を抽出し、内部バス１０９を介して複数の信号入出力部１０８に供給する。
信号入出力部１０８は、電子デバイスに入力する試験信号を発生する波形発生部１１０と、入力した試験信号に対応して電子デバイスから出力された信号を期待値と比較する波形比較器１１２と、電子デバイスに印加するＤＣ電圧、又は電子デバイスが出力するＤＣ電圧を測定するＤＣ印加測定器１１４とを備える。また、制御回路１２０は、設定条件メモリ１１８から設定条件を抽出する設定条件抽出部１２２と、チャネル選択メモリ１１６からチャネル選択情報を抽出する選択情報抽出部１２４と、設定条件抽出部１２２が抽出した設定条件、及び選択情報抽出部１２４が抽出したチャネル選択情報を複数の信号入出力部１０８に供給する設定条件供給部１２６とを備える。
テストプロセッサ１０２は、複数の信号入出力部１０８に設定条件を設定する設定指示を複数のテストモジュール１０４に提供する。設定条件抽出部１２２は、設定条件メモリ１１８の論理アドレスを含む設定指示をテストプロセッサ１０２から受ける。設定条件抽出部１２２は、設定指示を受けた場合に、テストプロセッサ１０２から提供された設定条件メモリ１１８の論理アドレスに基づいて、設定条件メモリ１１８から設定条件及びチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスを抽出する。そして、選択情報抽出部１２４は、設定条件抽出部１２２が抽出したチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスに基づいて、チャネル選択メモリ１１６からチャネル選択情報を抽出する。そして、設定条件供給部１２６は、設定条件抽出部１２２が抽出した設定条件、及び選択情報抽出部１２４が抽出したチャネル選択情報を複数の信号入出力部１０８に供給する。
複数の信号入出力部１０８のそれぞれは、設定条件供給部１２６から供給されたチャネル選択情報によって当該信号入出力部１０８が選択されているか否かを判断する。そして、複数の信号入出力部１０８のそれぞれは、当該信号入出力部１０８がチャネル選択情報によって選択されている場合に、設定条件供給部１２６から供給された設定条件に基づいて当該信号入出力部１０８を設定する。具体的には、印加電圧値、試験モード設定、試験環境設定等を行う。
図２は、設定条件メモリ１１８及びチャネル選択メモリ１１６のデータ構成の一例を示す。設定条件メモリ１１８は、設定条件の格納位置を規定する条件グループ指定部（ｂ１、ｂ２、ｂ３、ｂ４・・・）と、複数のテストモジュール１０４に対して共通の設定条件を格納する共通条件記録部（ｂ２１、ｂ２２、ｂ２３、ｂ２４・・・）と、複数のテストモジュール１０４に対して異なる設定条件を格納する固有条件記録部（ｂ４１、ｂ４２、ｂ４３、ｂ４４・・・）とを有する。
設定条件メモリ１１８は、条件グループ指定部に、設定条件メモリ１１８の論理アドレスとデータサイズとを対応づけて格納する。論理アドレスとデータサイズとの組み合わせは、設定条件毎に用意されている。具体的には、設定条件メモリ１１８は、「条件１−論理アドレス」と「条件１−データサイズ」とを対で、また「条件２−論理アドレス」と「条件２−データサイズ」とを対で格納する。
また、設定条件メモリ１１８は、共通条件記録部に、「実アドレス」と「実データ」とを対応づけて格納する。「実アドレス」は、チャネル選択メモリ１１６の論理アドレス、及び信号入出力部１０８内の設定箇所の設定アドレスを含み、「実データ」は、設定条件を示す設定データである。信号入出力部１０８内の設定箇所の設定アドレスとは、例えばＤＣ印加測定器の識別情報であり、設定条件を示す設定データとは、例えば印加電圧値である。複数のテストモジュール１０４がそれぞれ有する複数の設定条件メモリ１１８は、同一の論理アドレスの領域に、共通の設定条件を「実アドレス」及び「実データ」として格納する。
また、設定条件メモリ１１８は、固有条件記録部に、「補正用実アドレス」と「補正用実データ」とを対応づけて格納する。「補正用実アドレス」は、チャネル選択メモリ１１６の論理アドレス、及び信号入出力部１０８内の設定箇所の設定アドレスを含み、「補正用実データ」は、設定条件を示す設定データである。複数のテストモジュール１０４がそれぞれ有する複数の設定条件メモリ１１８は、同一の論理アドレスの領域に、複数のテストモジュール１０４が有する信号入出力部１０８の個々の特性等によって異なる個別の設定条件を「補正用実アドレス」及び「補正用実データ」として格納する。
設定条件抽出部１２２は、設定条件メモリ１１８から設定条件メモリ１１８の論理アドレス及びデータサイズを抽出する。例えば、「条件１−論理アドレス」及び「条件１−データサイズ」を抽出する。そして、設定条件抽出部１２２は、設定条件メモリ１１８から複数の設定データを含む設定条件、及び複数の設定データ毎の複数のチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスを抽出する。具体的には、設定条件抽出部１２２は、抽出した設定条件メモリ１１８の論理アドレスから、抽出したデータサイズで示される数の「実アドレス」及び「実データ」を抽出する。例えば、「条件１−データサイズ」が「４」である場合、「実アドレス（１−１）」、「実データ（１−１）」、「実アドレス（１−２）」、及び「実データ（１−２）」を抽出する。
次に、選択情報抽出部１２４は、設定条件抽出部１２２が抽出した複数の実アドレスにそれぞれ含まれる複数のチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスに基づいて、チャネル選択メモリ１１６から複数のチャネル選択情報を抽出する。例えば、「実アドレス（１−１）」が含むチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスが「ａ１」の場合、チャネル選択情報である「選択ビット列１」を抽出し、「実アドレス（１−２）」が含むチャネル選択メモリ１１６の論理アドレスが「ａ２」の場合、チャネル選択情報である「選択ビット列２」を抽出する。
次に、設定条件供給部１２６は、設定条件抽出部１２２が抽出した複数の設定データ、及び選択情報抽出部１２４が抽出した複数のチャネル選択情報を複数の信号入出力部１０８に供給する。例えば、「実アドレス（１−１）」、「実データ（１−１）」、及び「選択ビット列１」、並びに「実アドレス（１−２）」、「実データ（１−２）」、及び「選択ビット列２」を信号入出力部１０８に供給する。複数の信号入出力部１０８は、「選択ビット列１」によって当該信号入出力部１０８が選択されている場合に、「実アドレス（１−１）」が含む設定アドレスで指定される設定箇所を、「実データ（１−１）」に基づいて設定する。
なお、複数の設定条件抽出部１２２は、テストプロセッサ１０２から提供された設定指示が含む設定条件メモリ１１８の論理アドレスに基づいて、複数の設定条件メモリ１１８のそれぞれから異なる複数の設定条件である「補正用実アドレス」及び「補正用実データ」をそれぞれ抽出してもよい。そして、複数の設定条件供給部１２６は、複数の設定条件抽出部１２２がそれぞれ抽出した複数の設定条件である「補正用実アドレス」及び「補正用実データ」を複数の信号入出力部１０８にそれぞれ供給してもよい。このように、複数の設定条件メモリ１１８が信号入出力部１０８の特定毎に異なる設定条件を格納することができるので、メモリの使用効率を改善することができる。
図３は、チャネル選択メモリ１１６が格納する選択ビット列の一例を示す。チャネル選択情報メモリ１１６は、複数の信号入出力部１０８のそれぞれに対応づけて、それぞれの信号入出力部１０８の設定を行うべきか否かを示す情報を格納する。具体的には、チャネル選択メモリ１１６は、設定を行うべき信号入出力部１０８に対応づけてフラグ「１」が保持され、設定を行うべきでない信号入出力部１０８に対応づけてフラグ「０」が保持されたチャネル選択情報を格納する。
設定条件供給部１２６は、選択情報抽出部１２４が抽出したチャネル選択情報が保持する複数のフラグの論理和を算出する。そして、設定条件供給部１２６は、算出した論理和が「１」の場合、設定条件及びチャネル選択情報を複数の信号入出力部１０８に供給する。また、設定条件供給部１２６は、算出した論理和が「０」の場合、設定条件及びチャネル選択情報を複数の信号入出力部１０８に供給しない。このように、信号入出力部１０８において使用されずに破棄される設定条件を設定条件供給部１２６において予め破棄することによって、内部バス１０９におけるデータ伝送量を低減させることができる。
図４は、テストプロセッサ１０２が発生する設定条件メモリ１１８の共通条件記録部への書込命令のデータ構成の一例を示す。テストプロセッサ１０２は、電子デバイスの試験を開始する前に、複数のテストモジュール１０４の設定条件メモリ１１８に対して書込命令を発生し、ハードディスク等のディスク装置に格納された設定条件を、複数のテストモジュール１０４がそれぞれ有する設定条件メモリ１１８の共通条件記録部に書き込む。
テストプロセッサ１０２は、図４（ａ）に示すような、テストモジュール１０４の物理アドレス及び設定条件メモリ１１８の論理アドレスがアドレス部に、チャネル選択メモリ１１６の論理アドレス及び信号入出力部１０８内の設定箇所の設定アドレスを含む実アドレスがデータ部に保持された書込命令を、設定条件抽出部１２２を介して設定条件メモリ１１８に供給する。また、テストプロセッサ１０２は、図４（ｂ）に示すような、テストモジュール１０４の物理アドレス及び設定条件メモリ１１８の論理アドレスがアドレス部に、設定条件を示す設定データである実データがデータ部に保持された書込命令を、設定条件抽出部１２２を介して設定条件メモリ１１８に供給する。設定条件メモリ１１８は、図４（ａ）に示すアドレス部において指定されたテストモジュール１０４の設定条件メモリ１１８の論理アドレスの領域に、チャネル選択メモリ１１６の論理アドレス及び信号入出力部１０８内の設定箇所の設定アドレスを含む「実アドレス」を保持する。また、設定条件メモリ１１８は、図４（ｂ）に示すアドレス部において指定されたテストモジュール１０４の設定条件メモリ１１８の論理アドレスの領域に、設定条件を示す設定データである「実データ」を保持する。
以上のように、複数のテストモジュール１０４がそれぞれ有する複数の設定条件メモリ１１８に設定条件を予め格納しておくことにより、テストプロセッサ１０２が書込命令を発生する時間、及び設定条件の書込によるシステムバス１０６における伝送時間のオーバーヘッドを削減できる。そのため、全体の試験時間を短縮することができる。
また、設定条件メモリ１１８から信号入出力部１０８に設定条件を供給して信号入出力部１０８を設定している間、テストプロセッサ１０２には試験結果の解析等の他のタスクを実行することができる。そのため、試験における処理の並列度が上がり、全体の試験時間を短縮することができる。
以上発明の実施形態を説明したが、本出願に係る発明の技術的範囲は上記の実施形態に限定されるものではない。上記実施形態に種々の変更を加えて、請求の範囲に記載の発明を実施することができる。そのような発明が本出願に係る発明の技術的範囲に属することもまた請求の範囲の記載から明らかである。
【産業上の利用可能性】  以上の説明から明らかなように、本発明に係る試験装置によれば、試験時間を短縮でき、かつチャネル毎に異なる設定条件に設定することができる。
【図１】
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【図２】
2004083879.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
2004083879.tif 000007
2004083879.tif 000008