(57)【要約】それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニット（１０，２０）が、コネクタによって直列に接続されて相互に測定情報および信号の伝達が可能に構成され、１台の計測用電子機器ユニット（１０）が外部機器（５）と測定情報の送受信を行なう機能を有する親機である。その各計測用電子機器ユニット（１０，２０）の各制御部（２１，２２）にそれぞれ測定値を保存するメモリを備え、外部機器５から親機への要求に応じて、親機がトリガ線（４４）に測定値保存指令を送出し、自己も含む複数の各計測用電子機器ユニットの制御部（２１，２２）で同時に測定値をメモリに保存させる。
2004038340.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットが、コネクタによって直列に接続されて相互に測定情報および信号の伝達が可能に構成され、その複数の計測用電子機器ユニットのうちの１台が外部機器と測定情報および信号の送受信を行なう機能を有する親機である計測用電子機器システムであって、
前記複数の各計測用電子機器ユニットにそれぞれ測定値を保存するメモリを備え、前記親機が、前記外部機器からの要求に応じて自己も含む前記複数の計測用電子機器ユニットに測定値保存指令を発し、その各計測用電子機器ユニットで同時に前記各検出器による測定値を前記メモリに保存させる手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項２】
請求の範囲第１項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、外部からの測定値保存指令によっても、自己も含む直列に接続されている全ての計測用電子機器ユニットに、前記各検出器による測定値を前記メモリに保存させる手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項３】
請求の範囲第１項又は第２項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、他の計測用電子機器ユニットに接続する信号線の結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項４】
請求の範囲第１項乃至第３項のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機以外の各計測用電子機器ユニットは、互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項５】
請求の範囲第１項乃至第４項のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記複数の各計測用電子機器ユニットが、演算用のパラメータを記憶する手段と、該手段に記憶されたパラメータに基いて前記メモリに保存された測定値を演算する演算手段とを有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項６】
請求の範囲第５項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、前記複数の計測用電子機器ユニットのうちの指定された計測用電子機器ユニットにおける前記演算手段によって演算された個別演算結果の総和をとる総和演算手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項７】
請求の範囲第１項乃至第６項のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記複数の各計測用電子機器ユニットが、相互に直列に接続するためのコネクタおよび前記各手段を内蔵する本体と、該記本体に対して着脱可能な表示ユニットとからなり、該表示ユニットは測定値やパラメータを表示する表示器と操作用のキーとを備え、前記本体と表示ユニットとに、該表示ユニットが前記本体に装着されたときには両者を機械的および電気的に直結し、前記表示ユニットが前記本体から離脱されたときには、両者を接続線を介して電気的に接続可能にするコネクタを設けたことを特徴とする計測用電子機器システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  この発明は、外部機器と情報の送受信が可能な計測用電子機器ユニット（親機）と、それに直列に接続される複数の計測用電子機器ユニット（子機）とによって構成される計測用電子機器システムに関する。
【背景技術】  それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットを用い、それらを共通の制御機器（コントローラやパーソナルコンピュータなど）によって制御し、その各計測用電子機器ユニットによる測定結果を収集して処理することによって、所望の計測データを得るようなことが広く行なわれている。
例えば、自動車のエンジンの部品であるカムシャフトの形状を測定する場合、カムシャフトに設けられている各カムの回転角度に応じた変位を測定する必要がある。
その場合、従来は第２０図に示すように、複数の計測用電子機器ユニット１０１〜１０４にそれぞれ接続した各検出器１１１〜１１４の測定子を、カムシャフト１２０の各カム１２１〜１２４のカム面に個別に当接させ、各検出器１１１〜１１４をカムシャフト１２０の軸線に平行でその軸線から一定距離の線上に固定する。
そして、そのカムシャフト１２０を回転させるモータ１３０に取り付けたエンコーダ１４０から、カムシャフト１２０の一定回転角度ごとに発生されるパルス信号をコントローラ１５０に入力させると共に、各測定用電子機器ユニット１０１〜１０４によって検出される測定値を個別にコントローラ１５０に入力させ、そのコントローラ１５０がカムシャフト１２０の一定回転角度ごとの各カム１２１〜１２４に対する測定値（位置データ）を記憶して、その変化を見ることによって行なっている。
しかし、この場合、各計測用電子機器ユニット１０１〜１０４とコントローラ１５０との間で遅延が生じることと、コントローラ１５０では計測用電子機器ユニット１０１〜１０４の測定値を順次読み取るのが一般的であるので、そのために発生する遅延とにより同時性が損なわれる。
コントローラ１５０によって、全ての計測用電子機器ユニット１０１〜１０４による測定値を同時に読み取るようにするためには専用回路を設ける必要があり、システムが複雑になり、且つ高価になってしまうという問題がある。
そこで、別の手段としては、コントローラ１５０から全ての計測用電子機器ユニット１０１〜１０４に対し、測定データの一時保存指令を出して測定データが変化しないようにしてから、その測定データを順次読み取る方法もある。
しかし、この場合は、カムシャフト１２０の回転速度を高速にはできず、測定時間の高速化を図れないという問題がある。
また、例えば圧延された鉄板の厚さを一定時間ごとに測定し、鉄板の厚さが規定値以内であることを確認するような場合、測定の基準値を設けることが難しいため、２つの検出器を対向させて鉄板を挟み込むように配置し、２つの検出器の測定値の和を演算することによって厚さを測定することが一般的に行なわれている。
この場合、鉄板の圧延は連続的になされているため、測定値は絶えず変化している。さらに圧延された鉄板が上下に動くため、２つの検出器の測定値を個別に見れば、板厚の変化より大きく変化している場合が多い。
このように、測定対象物が動いている場合、２つの検出器の測定値を同時に測定することは重要であり、もし同時に測定しなければ測定値の不確かさが増すことになってしまう。
このように、複数の検出器による測定値を演算して所望の計測結果を得る場合、その複数の検出器による測定が同時に行なわれ、両者間に時間的な遅延がないことが、測定結果の信頼性を高めるために極めて重要である。
しかし、パソコンなどの外部機器によって、２個の計測用電子機器ユニットの測定値を読取ってその和を演算するシステムでは、測定値の読取りを２回行なうことになるが、その間の遅延により測定値の信頼性を落していた。
また例えば、１枚の鉄板に２本のピンが立てられている組立品において、２本のピンの倒れをそれぞれ測定する場合、１本のピンに対して２つの計測器を用いてその測定値の差を求める。そのため、２つの測定器の組合せが２組できる。その２組は、個別にマスターとなる位置合わせジグによって、ゼロリセットするなどして位置合わせを行なう。
これを自動化するには、外部機器からゼロリセット信号を入力するが、すべての電子機器ユニットと個別に結線することが一般的である。この場合配線が複雑になるという問題がある。
一方、ゼロリセット信号などの入力信号を、電子機器ユニット間で機械的および電気的に結合して結線する方法をとると、配線は簡略化されるが、前述した２本のピンの倒れを測定する例においては、１本のピンに対する２つの計測器のゼロリセットは同時に行なう必要がある。しかし、２組の計測器のゼロリセットは別々に行なう方が作業性がよい。そのため、ゼロリセットをいくつかの計測器の組ごとに指令できることが望ましい。
前述した鉄板の厚さを測定する例や、２本のピンの倒れを測定する例のように、２つの計測器の計測値を和差演算することや、さらには平面の平均高さや円盤状部品の平均外形を求める場合には、３つ以上の計測器の計測値を和差演算し、さらには除算をすることもある。また、レバー機構を用いて計測値を拡大縮小するような場合は、１つの測定値を乗算することもある。
これらの演算は、個々の計測器の測定値の表示を操作者が読み取って演算するか、外部機器によって個別の測定値を演算して求めるのが一般的である。
しかし、操作者が読み取る場合は、作業が煩雑になるだけでなく、演算ミスをおこす問題があった。また、外部機器で演算する場合は、外部機器の負担が大きくなり、また演算結果を目視確認することができなくなるため、特にメンテナンスをする場合にはその作業性を悪化させていた。
【発明の開示】
この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、複数の計測用電子機器ユニットによる測定の同時性を高め、信頼性の高い測定結果が得られるようにすることを目的とする。
また、複数組の計測用電子機器ユニットを用いて測定を行なう場合のゼロリセットによる位置合わせも容易にできるようにし、さらに複数の測定器で同時に計測した各測定値による演算処理も簡単にミスなく行なえるようにすることも目的とする。
この発明による計測用電子機器システムは、上記の目的を達成するため、それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットが、コネクタによって直列に接続されて相互に測定情報および信号の伝達が可能に構成され、その複数の計測用電子機器ユニットのうちの１台が外部機器と測定情報および信号の送受信を行なう機能を有する親機となっている。
そして、上記複数の各計測用電子機器ユニットにそれぞれ測定値を保存するメモリを備え、上記親機が、上記外部機器からの要求に応じて自己も含む上記複数の計測用電子機器ユニットに測定値保存指令を発し、その各計測用電子機器ユニットで同時に上記各検出器による測定値を上記メモリに保存させる手段を有する。
上記親機の計測用電子機器ユニットが、外部からの測定値保存指令によっても、自己も含む直列に接続されている全ての計測用電子機器ユニットに、上記各検出器による測定値を上記メモリに保存させる手段も有するとよい。
その場合、上記親機の計測用電子機器ユニットは、他の計測用電子機器ユニットに接続する信号線の結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段を有するようにするとよい。
上記親機以外の各計測用電子機器ユニットに、互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段を設けてもよい。
これらの計測用電子機器システムにおいて、上記複数の各計測用電子機器ユニットに、演算用のパラメータを記憶する手段と、該手段に記憶されたパラメータに基いて上記メモリに保存された測定値を演算する演算手段とを設けるとよい。
その場合、上記親機の計測用電子機器ユニットにはさらに、上記複数の計測用電子機器ユニットのうちの指定された計測用電子機器ユニットにおける上記演算手段によって演算された個別演算結果の総和をとる総和演算手段を設けるとよい。
また、これらの計測用電子機器システムにおいて、上記複数の各計測用電子機器ユニットを、相互に直列に接続するためのコネクタおよび上記各手段を内蔵する本体と、その本体に対して着脱可能な表示ユニットとによって構成し、その表示ユニットは測定値やパラメータを表示する表示器と操作用のキーとを備え、上記本体と表示ユニットとに、その表示ユニットが本体に装着されたときには両者を機械的および電気的に直結し、その表示ユニットが本体から離脱されたときには、両者を接続線を介して電気的に接続可能にするコネクタを設けるとよい。
【図面の簡単な説明】  第１図は、第２図に示す計測用電子機器システムにおける各計測用電子機器ユニットの接続状態の基本構成と各ユニットに記憶される演算用パラメータの例を示す図である。
第２図は、この発明による計測用電子機器システムの一実施形態の概略構成図である。
第３図は、第２図における親機の計測用電子機器ユニット１０の内部構成を示すブロックである。
第４図は、第２図における子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成を示すブロックである。
第５図は、第４図に示した計測用電子機器システムによる演算計測時の動作例を示すフローチャートである。
第６図は、この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成をサンプリングに係わる部分を主として示すブロック図である。
第７図は、第６図に示した親機と子機３台によって構成した計測用電子機器システムによる親機の外部機器インタフェース６０からのコマンドによるサンプリング動作を示すタイミングチャートである。
第８図は、同じくその外部機器インタフェース１７０からのコマンドによるサンプリング動作を示すタイミングチャートである。
第９図は、この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成を記憶計測値のリセットに係わる部分を主として示すブロック図である。
第１０図は、同じくその複数の子機のグループ化によるリセットの例を示す説明図である。
第１１図は、この発明による計測用電子機器システムの親機の外観例を示す斜視図である。
第１２図は、同じくその表示ユニットを本体から離脱した状態を示す斜視図である。
第１３図は、第１１図に示した親機を長手方向の反対側から見た斜視図である。
第１４図は、同じく子機の外観例を示す斜視図である。
第１５図は、この発明による計測用電子機器システムをＤＩＮレールを用いて基盤に取り付ける状態を示す斜視図である。
第１６図は、この発明による計測用電子機器システムを構成する複数の計測用電子機器ユニットの各表示ユニットを本体から離脱して支持板に取り付ける状態を示す斜視図である。
第１７図は、同じくその表示ユニットの背面に取付用アタッチメントを固着した状態を示す背面図である。
第１８図は、同じくその表示ユニットを支持板に取り付けた状態を支持板とナットを断面にして示す側面図である。
第１９図は、この発明による電子機器システムを使用してカムシャフトの各カム形状を測定する場合の例を示す構成図である。
第２０図は、カムシャフトの各カム形状を測定するための従来の計測用電子機器システムの一例を示す構成図である。
【発明を実施するための最良の形態】  この発明をより詳細に説明するために、添付図面にしたがって、この発明の好ましい実施の形態を説明する。
まず、第２図によってこの発明による計測用電子機器システムの一実施形態の概略構成を説明する。
この計測用電子機器システムは、４個の計測用電子機器ユニットによって構成されている。そのうちの計測用電子機器ユニット１０が親機であり、情報処理機能を有する外部機器５と接続するための雌コネクタ（外部機器インタフェース用）６と、他の電子機器ユニット（子機）と接続するための雌コネクタ（下流機インタフェース用）７とを備え、外部機器５と情報および信号の送受信を行なう機能を有する。
他の計測用電子機器ユニット２０は子機であり、それぞれ他の計測用電子機器ユニットと接続するためのコネクタを２個備えている。この例では薄型の直方体のケースの他の面より面積が大きい平行な２面の一方に雄コネクタ（上流機インタフェース用）８を、他方に雌コネクタ（下流機インタフェース用）７を設けている。
そして、親機の計測用電子機器ユニット１０に直列に３台の子機の計測用電子機器ユニット２０を順次その各コネクタ７と８の嵌合によって機械的及び電気的に接続して、計測用電子機器システム４を構成している。
この計測用電子機器システム４を使用する際には、親機の計測用電子機器ユニット１にパーソナルコンピュータやコントローラなどの外部機器をＲＳ−２３２Ｃインタフェースケーブル１６で雌コネクタ６に接続し、各計測用電子機器ユニット１０，２０の側面に設けられたコネクタ（検出器インタフェース用）９にそれぞれ検出器１１〜１４を接続する。その検出器１１〜１４は、前述の第２０図に示した検出器１１１〜１１４と同様な変位測定用の検出器とすることができるが、その他の電圧、抵抗値、温度、圧力、光量、音量、歪量などを検出する種々の検出器を接続することができる。
各計測用電子機器ユニット１０，２０はその接続する検出器に対応する回路等を備えたものであり、計測用電子機器ユニットごとに異なる種類の検出器を接続するようにしてもよいが、ここでは３台の子機の計測用電子機器ユニット２０は全く同じ構成のものとする。
この計測用電子機器システム４を構成する各計測用電子機器ユニットのうち、親機である計測用電子機器ユニット１０は、外部機器５と直接測定情報の送受信ができ、子機である測定用電子機器ユニット２０はその親機あるいは親機と他の子機を介して外部機器５と測定情報の送受信が可能である。
なお、電源は外部機器５から電源ケーブルを通して親機の測定用電子機器ユニット１０に供給され、それがコネクタ７，８内の電源端子と各子機内の電源ラインを通してすべての子機の測定用電子機器ユニット２０にも供給される。
ところで、外部機器５が各測定用電子機器ユニット１０，２０と情報の送受信をするためには、どの測定用電子機器ユニットへ情報を送信するのか、あるいはどの測定用電子機器ユニットからの情報を受信したのかを識別できるように、各電子機器ユニットにそれぞれ識別コード（ＩＤ）を設定する必要がある。
このような複数の電子機器ユニットにＩＤを設定する方法としては、各電子機器ユニットにディップスイッチなどのハード的な設定手段を設けて人手によって設定したり、キー入力などによって操作者がソフト的にＩＤを設定する方法などが一般にとられている。
この発明による計測用電子機器システムにおいても、そのような従来の方法で各測定用電子機器ユニットにＩＤを設定してもよいが、この計測用電子機器システム４に電源が投入されたときに、親機の計測用電子機器ユニット１０が順次ＩＤを発生して、まず自己のＩＤを「１」に設定した後、直列に接続されている各計測用電子機器ユニット２０が、親機に近い順に「２」，「３」，「４」とＩＤを自動的に設定することもできる。
次に、親機の計測用電子機器ユニッ１０と子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成の詳細を第３図および第４図によって説明する。
第３図は親機の計測用電子機器ユニット１０の内部構成を示すブロックである。
この計測用電子機器ユニット１０は、本体１０Ａとその本体１０Ａに着脱可能な表示ユニット１０Ｂとからなる。
本体１０Ａの外周には、それぞれ前述した雌コネクタ６、雌コネクタ７、コネクタ９，１７と後述するコネクタ１８に対応する外部機器インタフェース６０、下流機インタフェース７０、検出器インタフェース９０、外部機器インタフェース１７０、表示ユニットインタフェース１８０が設けられている。
外部機器インタフェース６０は外部機器５とＲＳ−２３２Ｃインタフェースケーブルで接続する。下流機インタフェース７０は最初に接続する子機の計測用電子機器ユニット２０の後述する上流機インタフェース８０と接続し、トリガ線４４、ＲＳ４８５線４５、ＤＬ−ＯＵＴ線、リセット線、サンプリング線等の各信号線を接続し、図示は省略しているが電源線も接続する。
検出器インタフェース９０は計測用の検出器１１を接続する。外部機器インタフェース１７０は、外部機器５あるいは他の外部機器からリセット信号とサンプリング信号を入力することができる。表示ユニットインタフェース１８０は、表示ユニット１０Ｂ側の表示ユニットインタフェース１９０と接続する。
この本体１０Ａ内には、この計測用電子機器ユニット１０全体の制御を司るＣＰＵ３１、ＣＰＵ３１のワーキングメモリとデータメモリの役目をもつＲＡＭ３２、記憶容量の大きいデータ記録用ＲＡＭ３３、ＣＰＵ３１の動作プログラム等を格納したＲＯＭ３４、および内部で測定値保存指令を発生したりするためのタイマ３５が、ＣＰＵバス４３によって相互に接続されており、マイクロコンピュータを構成している。
データ記録用ＲＡＭ３３には、後述する一時記憶メモリ３７に一時的に保存された測定値のデータをＣＰＵ３１が転送して、順次蓄積して記憶させることがきる。
さらに、検出器１１による計測動作を制御する計数制御部３６、測定値を一時記憶（保存）する一時記憶メモリ３７、外部機器５との間でコマンドや計測情報の送受信を行なうＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８、子機との間のでのコマンドや計測情報のやり取りをするＲＳ４８５入出力制御部３９、各信号線の接続や切り替えなどを行なったり、リセット信号およびサンプリング信号の送出も制御するメインの入出力制御部４０、および表示とキー入力の制御をする入出力制御部４２も、すべてＣＰＵバス４３に接続されており、ＣＰＵ３１によって制御可能になっている。トリガ線４４は入出力制御部４０に、ＲＳ４８５線４５はＲＳ４８５入出力制御部３９に、それぞれ接続されている。
さらに、外部機器から後述する電源コネクタを通して電源が供給され、それを各部に供給する電源回路１５も設けられているが、その給電線は図示を省略している。
表示ユニット１０Ｂには、その上面に液晶表示パネル等の表示器５０と４個のキー５１〜５４が配置され、下部に表示ユニットインタフェース１９０が設けられている。そして、内部には表示制御部５５、キー入力制御部５６、および入出力制御部５７が設けられている。この表示ユニット１０Ｂを本体１０Ａに装着したときには、図示のように表示ユニットインタフェース１８０と１９０とが、密着して接続される。
第４図は子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成を示すブロックである。これも親機の計測用電子機器ユニット１０と殆ど同じ構成であり、第３図の各部と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
この計測用電子機器ユニット２０も、本体２０Ａとそれに着脱可能な表示ユニット２０Ｂとからなっている。表示ユニット２０Ｂの構成は計測用電子機器ユニット１０の表示ユニット１０Ｂと全く同じである。
本体２０Ａにおいて、計測用電子機器ユニット１０の本体１０Ａと相違する点は、外部機器５と接続するための外部機器インタフェース６０の代りに、第２図に示した雄コネクタ８に対応する上流機インタフェース８０が設けられ、外部機器と通信するためのＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８は設けられていない点である。各種の信号線のうちトリガ線４４とＲＳ４８５線４５は、それぞれ上流機インタフェース８０と下流機インタフェース７０との間を直結している。
ここで、親機を先頭に複数の子機が直列的に連結されたとき、親機側を上流といい、その反対側を下流という。
ＲＳ４８５入出力制御部３９は、親機又は上流側の子機および下流側の子機との間でコマンドや計測情報のやり取りをする。
入出力制御部４１および電源回路２５も、親機の本体１０Ａにおける入出力制御部４０および電源回路１５と若干異なっているので、異なる符号を付している。電源回路２５は電源回路１５から第２図に示した雌コネクタ７と雄コネクタ８の電源ピンを介して供給される電圧を各部に供給する。
これらの各本体１０Ａ，２０Ａ内の各部によって、後述するこの発明に特有の機能である各計測用電子機器ユニットによる測定値の同時保存、測定保存指令の切り替え、保存した各測定値による演算処理、グループ別同時リセットなどを実行する。
次に、第２図に示した計測用電子機器システムにおける各計測用電子機器ユニットの接続状態の基本構成とその機能を第１図によって説明する。
第３図に示した親機の計測用電子機器ユニット１０と、３台の第４図に示した子機の計測用電子機器ユニット２０を、その各雌コネクタ（下流機インタフェース７０）と雄コネクタ８（上流機インタフェース８０）との接続によって直列に接続して、計測用電子機器システム４を構成した接続状態の概略を第１図に示す。
この第１図において、２１は親機の計測用電子機器ユニット１０の制御部、２２は子機の計測用電子機器ユニット２０の制御部であり、それぞれ第３図又は第４図に示した本体１０Ａ，２０Ａ内のＣＰＵ３１をはじめ、入出力制御部４０又は４１を含む制御に係わるすべての回路を総称している。そして、第３図および第４図に示した表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂ、各インタフェース、検出器１１〜１４などは図示を省略している。
なお、以下の説明では、計測用電子機器ユニット１０を単に「親機」と称し、３台の計測用電子機器ユニット２０を親機側から順に「子機１」、「子機２」、「子機３」と称す。
この第１図に示すように、親機と３台の子機１〜３の各計測用電子機器ユニットは、その各信号線であるトリガ線（Ｔｒｉｇｇｅｒ  ｌｉｎｅ）４４とＲＳ４８５線４５がそれぞれ串刺し状に連結して、共通のリトガ線とコマンド線を形成している。また、親機の制御部２１から子機１の制御部２２へ、各子機の制御部２２から下流側の子機の制御部２２へ、それぞれ制御部２１又は制御部２２のＣＰＵ３１の判断によって信号を伝えるＤＬ−ＯＵＴ線が接続されている。その他に後述するサンプリング信号を伝送するサンプリング線およびリセット信号を伝送するリセット線や、電源を供給する電源線なども相互に接続されているが、ここでは図示を省略している。
トリガ線４４は、親機の制御部２１からの指令を各子機１〜３の制御部２２に同時に伝えると共に自己の制御部２１にも伝えるために使用される信号線である。ＲＳ４８５線５５は、親機の制御部２１と子機の制御部２２との間で相互にコマンドやデータのやり取りを行なうために使用される信号線である。
この第１図の親機および子機１〜３の下方にそれぞれＭ０〜Ｍ３で示しているのは、それぞれ各計測用電子機器ユニットのメモリに設定記憶された識別コード（ＩＤ）と、その測定値を演算する際のパラメータである。
親機および子機１〜３は、その各制御部２１又は２２内のメモリ（ＲＡＭ３２等）に、設定されたＩＤと、検出器の被検体に対する当接方向による方向（±）、乗算値および除算値の演算用パラメータを記憶している。親機の場合はさらに、演算するユニットの数（演算数）、および演算対象とするユニットのＩＤ（演算ＩＤ）を同じメモリ内に記憶している。これらのパラメータは、第３図および第４図にそれぞれ示した表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂのキー５１〜５４によって設定するが、その操作方法については後述する。
ここで、この計測用電子機器システム４による演算計測時の動作例を、第５図のフローチャートによって説明する。
第１図に示した計測用電子機器システム４が第５図に示す処理を開始し、親機が外部機器５から演算計測要求を入力すると、親機はトリガ線４４から計測要求（測定値保存指令）を各子機１〜３の制御部２２に送ると同時に、自己の制御部２１にも戻して入力する。それによって、親機と子機１〜３が同時に、第２図に示した検出器１１〜１４による測定値を、第３図および第４図に示した計数制御部３６から一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存する。
親機はその後、メモリに記憶している演算用パラメータの内の演算数と演算ＩＤに従って、演算ＩＤ＋計測値要求をコマンド線（ＲＳ４８５線）４５によって順番に送信する。すると、その演算ＩＤで指定された子機（演算ＩＤと一致するＩＤの子機）は、計測要求によって一時記憶した計測値を、メモリに記憶している演算パラメータ（方向の±、乗算値および除算値）によって個別の演算を行なって、その計測値をコマンド線（ＲＳ４８５線）４５によって親機に送信する。
親機がその計測値を受信すると、演算数だけ終了したか否かを判断し、終了していなければ演算ＩＤ＋計測値要求を送信の処理に戻って、次の演算ＩＤ＋計測値要求をコマンド線４５で送信し、上述の処理を繰り返す。
親機が記憶している演算数の計測値を受信すると演算数終了と判断し、親機は受信した計測値（親機も演算対象になっている場合は親機も測定値の個別演算をしており、その計測値も含む）の総和を計算する。そして、その演算結果を、第３図に示したＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８から外部機器インタフェース６０を通して外部機器５へ出力して処理を終了する。
なお、親機と外部機器５との通信は、ＲＳ−２３２Ｃによるものに限らず、ＲＳ−４２２、ＲＳ４８５、ＵＳＢなどによるシリアル通信でも、あるいはパラレル通信でもよい。
また、第３図に示した親機の外部機器インタフェース６０と、第４図に示した子機の上流機インタフェース８０として、共用できる（同一構造の）インタフェースを用いた構成としてもよい。
このように、この計測用電子機器システム４によれば、親機とそれに連結されているすべての子機が、親機からの一度の計測要求（測定値保存指令）によって同時に個々の検出器による測定値を一時記憶メモリ３７に記憶して保存するので、計測の同時性が高い（測定タイミングの誤差は１００μｓｅｃ以下）。そして、その測定値の演算も、各ユニット内で必要な個別演算を行ない、その各演算結果の計測値を親機で総和をとるだけ行なうので、簡単かつ迅速に行なえる。
トリガ線４４による計測要求（測定値保存指令）を個々の計測用電子機器ユニット１０，２０が割り込み処理することもでき、その場合はさらに計測の同時性が増す。
例えば、前述したように圧延された鉄板の厚さを、２個の検出器をその鉄板を挟んで対向させて計測を行ない、その各検出器による測定値の和によって求めるような場合、測定値は常に変化しているため、計測の同時性は特に重要である。
この発明の計測用電子機器システムを使用すれば、親機と子機１台の構成で、演算用パラメータを表１のように設定することによって、鉄板を挟んで対向する１対の検出器を接続した親機と子機１による測定値の和による板厚を、親機による演算結果として得ることができる。
【表１】
2004038340.tif 000003
この表１に示す例では、親機による測定値が１２．８で子機１による測定値が１３．２であり、乗算値および除算値はいずれも「１」であるから、個別演算による計測値は、測定値に１を乗じて１で徐すので測定値と同じである。そして、演算結果は親機によってその各計測値の総和をとった値なので、１２．８＋１３．２＝２６．０である。
別の例として、高さの測定において、３個の検出器によって被検出体を測定した高さ位置の測定値を平均してその高さを求める場合には、この発明による計測用電子機器システム４の親機と子機１および子機２に各検出器を接続して計測し、その各制御部のメモリに表２のような演算用のパラメータを設定して記憶させておけばよい。
【表２】
2004038340.tif 000004
この表２に示す例では、親機による測定値が１２．８で子機１による測定値が１３．２、子機２による測定値が１３．３であり、乗算値はいずれも「１」で、除算値はいずれも「３」であるから、個別演算による計測値は、測定値に１を乗じて３で徐す。したがって、親機の個別演算値は１２．８×１／３＝４．２７、子機１の個別演算値は１３．２×１／３＝４．４０、子機２の個別演算値は１３．３×１／３＝４．４３である。そして、演算結果は親機によってその各個別演算値の総和をとった値なので、４．２７＋４．４０＋４．４３＝１３．１である。
このようにして、複数の測定値に対する各種の四則演算を簡単に行なうことができる。
次に、この発明の計測用電子機器システムによる計測処理の他の例について、第６図〜第８図によって説明する。
第６図は親機と子機１の内部構成をサンプリングに係わる部分を主として示すブロック図であり、表示ユニット等は図示を省略している。この第６図において、第３図および第４図と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
この例では、親機と子機１内のサンプリング線４６が親機の下流機インタフェース７０と子機１の上流機インタフェース８０との接続によって連結され、その子機１内の入出力制御部４１を介して下流機インタフェース７０に接続されており、図示していない子機内のサンプリング線もその子機が子機１に直列に連結されていれば、すべてのサンプリング線が各子機内の入出力制御部４１を介して順次直列に接続される。
そして、親機の入出力制御部４０の出力側のサンプリング線４６は、検出器１１による測定値の一時記憶等を司る計数制御部３６に接続され、子機１の入出制御部４１の出力側のサンプリング線４６も検出器１２による測定値の一時記憶等を司る計数制御部３６に接続されている。図示しない他の子機内のサンプリング線４６も同様に、入出力制御部４１の出力側が計数制御部３６に接続されている。
また、親機の入出力制御部４０内には電子的な切替スイッチＳＷ１が設けられており、その可動接点ｃはサンプリング線４６に接続され、一方の固定接点ａは外部機器インタフェース１７０から入力するサンプリング信号の入力線と共に、入出力制御部４０のＣＰＵバス４３との入出力ポートであるＩ／Ｏ４０ａの外部サンプリング信号入力ポートに接続されている。他方の固定接点ｂはＩ／Ｏ４０ａの内部サンプリング信号出力ポートに接続されている。
この切替スイッチＳＷ１は、図示しない表示ユニットのキー操作あるいは図示しないディップスイッチの操作を検出して、ＣＰＵ３１が指令する信号によりＩ／Ｏ４０ａを通して切替制御される。なお、ディプスイッチによって直接切替操作するようにしてもよい。その場合は、この切替スイッチＳＷ１を入出力制御部４０の外に設けてもよい。
一方、子機１の入出力制御部４１内にも切替スイッチＳＷ２が設けられている。その可動接点ｃはやはりサンプリング線４６に接続されており、一方の固定接点ａは外部機器インタフェース１７０から入力するサンプリング信号の入力線と共に、入出力制御部４１のＣＰＵバス４３との入出力ポートであるＩ／Ｏ４０ａの外部サンプリング信号入力ポートに接続されている。他方の固定接点ｂは上流機インタフェース８０側のサンプリング線４６に接続されている。
この切替スイッチＳＷ２は手動で切り替えられるディップスイッチでよいが、ＣＰＵ３１からの信号によって切り替えられる電子的な切替スイッチでもよい。
この第６図に示す親機の切替スイッチＳＷ１が、他の計測用電子機器ユニットである子機への結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段である。
また、子機の切替スイッチＳＷ２が、親機以外の各計測用電子機器ユニットの互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段である。
ここで、この第６図に示す親機の計測用電子機器ユニット１０に、子機１の計測用電子機器ユニット２０と同じ構成の子機が３台（子機１，子機２，子機３とする）直列に連結された計測用電子機器システムによる種々の計測値記憶モードについて、第７図および第８図によって説明する。以下の説明におけるサンプリング指令およびサンプリング信号は、前述の例における測定値保存指令に相当する。また、「計測値記憶」は、親機および各子機における検出器による測定値を計数制御部３６によって一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存することを意味する。
まず、第３図に示した親機の外部機器インタフェース６０からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に入力する外部機器５からのコマンドによるサンプリング動作について、第７図によって説明する。
第６図に示した親機内の切替スイッチＳＷ１は、図示のように固定接点ｂ側（第７図ではＣＰＵ側）に切り替わっており、子機１〜３内の切替スイッチＳＷ２はすべて第６図に示すように固定接点ｂ側に切り替わっていて、子機１〜３内のサンプリング線４６がすべて直結して親機内のサンプリング線４６を通して入出力制御部４０内のＩ／Ｏ４０ａの内部サンプリング信号出力ポートに接続されている。
ここで、外部機器５から親機の外部機器インタフェース６０を通してＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に記憶要求のコマンドが入力されると、それをＣＰＵ３１が解釈して、タイマ３５によって計測する一定パルス幅のサンプリング指令を発生し、Ｉ／Ｏ４０ａおよび切替スイッチＳＷ１を介してサンプリング線４６に出力する。それによって、親機の計数制御部３６およびサンプリング線４６が直結されている子機１〜３のすべての計数制御部３６に同時にサンプリング指令が入力する。そのため、親機および子機１〜３でそのサンプリング指令の立上り時点から同時に計測値記憶の処理を開始する。
ＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に記憶要求コマンドが入力するたびに、上述の動作が繰り返されて、親機および各子機１〜３で計測値記憶が実行される。
第７図の右半分は別の計測値記憶モードの場合を示し、外部機器５からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に計測開始のコマンドが入力されると、ＣＰＵ３１がそれを解釈して、タイマ３５によって計測する一定パルス幅のサンプリング指令を所定の周期で発生し、Ｉ／Ｏ４０ａおよび切替スイッチＳＷ１を介してサンプリング線４６に出力する。それによって、上述の場合と同様に親機および子機１〜３のすべてにおいて各サンプリング指令の立上り時点から計測値記憶の処理を実行する。
その後、外部機器５からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に計測終了のコマンドが入力されると、ＣＰＵ３１がそれを解釈してサンプリング指令の発生を停止する。したがって、それ以後は親機および子機１〜３がすべて計測値記憶の処理を行なわない。
次に、第６図に示した親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に入力する外部機器からのサンプリング信号によるサンプリング動作モードについて、第８図によって説明する。
この場合も、各子機１の切替スイッチＳＷ２は第６図に示すように固定接点ｂ側に切り替わっていて、すべてのサンプリング線４６が直結されているものとする。
そして、親機の切替スイッチＳＷ１が固定接点ｂ側（第８図では外部入出力側）に切り替わっている場合には、第８図の左半分に示すように、親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に外部機器からサンプリング信号が入力する度に、それがサンプリング線４６を通して親機および各子機１〜３の計数制御部３６に入力し、そのサンプリング信号の立上り時点から同時に計測値記憶の処理を実行する。
親機の切替スイッチＳＷ１が固定接点ａ側（第８図ではＣＰＵ側）に切り替わっている場合には、第８図の右半分に示すように、親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に外部機器からのサンプリング信号がが連続して入力している間だけ、それがＩ／Ｏ４０ａからＣＰＵ３１に認識され、ＣＰＵ３１がタイマ３５を使用して、第７図によって前述した計測開始コマンドを受けた場合と同様に、一定パルス幅のサンプリング指令を所定の周期で入出力制御部４０のＩ／Ｏに出力し、そのサンプリング信号出力ポートから切替スイッチＳＷ１およびサンプリング線４６を通して、親機および各子機１〜３の計数制御部３６にそのサンプリング指令が入力する。したがって、その各サンプリング指令の立上り時点から親機および各子機１〜３で同時に計測値記憶の処理を実行する。
また、いずれかの子機の切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側（外部入出力側）に切り替えると、サンプリング線４６がそこで切断されて、それ以降のサンプリング線４６は外部インタフェース１７０から外部機器のサンプリング信号を入力する信号線に接続されることになる。
そのため、親機と、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機の上流側の子機までは、親機に入力される外部機器からのサンプリング信号あるいは親機の内部で発生するサンプリング指令に同期して計測値記憶の処理を実行し、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機およびその下流側の子機は、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機に入力する外部機器からのサンプリング信号に同期して計測値記憶の処理を実行する。
このように、親機およびそれに連結された複数の子機をグループ分けして、その親機と一部の子機だけを使用して計測値記憶の処理を実行させたり、グループごとに異なるタイミングで計測値記憶の処理を実行させたりすることができる。
この発明による計測用電子機器システムは、このように種々のモードで計測値記憶の処理を実行させることができるので、用途に応じてそれを選択して使用でき、汎用性の高いものである。
ここで、この発明による計測用電子機器システムを使用して第２０図に示した従来例と同様にカムシャフトの各カム形状を測定する場合の構成例を第１９図に示す。この場合、親機の計測用電子機器ユニット１０と３台の子機の計測用電子機器ユニット２０とを直列に接続して構成した計測用電子機器システム４を使用し、親機の計測用電子機器ユニット２０内の第６図に示した切替スイッチＳＷ１は固定接点ａ側（外部入出力側）に切り替わっており、すべての子機の計測用電子機器ユニット２０内の切替スイッチＳＷ２は、固定接点ｂ側（サンプリング線４６を直結する側）に切り替わっている。
そして、モータ１３０によりカムシャフト１２０が一定角度回転するごとにエンコダ１４０から発生するパルス信号を、サンプリング信号として親機の外部機器インタフェース１７０に入力させる。それによって、エンコーダ１４０からパルス信号が入力する度に、それがサンプリング線４６を通して親機および３台の子機のすべての制御部に入力され、その立上り時点において同時に各検出器１１〜１４による各カムの形状に応じた位置の測定値をそれぞれ一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存する。その測定値を順次図６のＲＡＭ３２又は第３図および第４図に示したデータ記録用ＲＡＭ３３に転送して蓄積記憶させることができる。
このようにして、カムシャフと１２０を１回転以上回転させた後、親機の計測用電子機器ユニット１０が、第１図に示したＲＳ４８５線を使用して各子機の計測用電子機器ユニット２０からそこに記憶されている計測値を転送させ、それを外部機器インタフェース６０に接続された外部機器（この場合はコントローラ）５へ送信する。コントローラ５は、親機および各子機ごとに計測された、カムシャフとの所定回転角度ごとの同時性の高い計測値のデータ得ることができ、各カムの形状とその各カムの相対関係のデータを正確に得ることができる。
次に、第９図および第１０図によって、この発明による計測用電子機器システムによるゼロリセットのグループ化について説明する。
第９図は、この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成を記憶計測値のリセットに係わる部分を主として示すブロック図であり、表示ユニット等は図示を省略している。この第９図において、第３図，第４図，および第６図と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
この例では、親機と子機１内のリセット線４７が親機の下流機インタフェース７０と子機１の上流機インタフェース８０との接続によって連結され、その子機１の入出力制御部４１を介して下流機インタフェース７０に接続されており、図示していない他の子機内のリセット線もその子機が子機１に直列に連結されていれば、すべてのリセット線が各子機内の入出力制御部４１を介して順次直列に接続される。
その各子機の入出力制御部４１内には、切替スイッチＳＷ３が設けられており、その可動接点ｃが固定接点ｂ側に切り替わっていれば、上流機インタフェース８０側のリセット線４７と下流機インタフェース７０側のリセット線４７とが接続される。この切替スイッチＳＷ３の可動接点ｃが固定接点ａ側に切り替わると、リセット線がそこで切断され、下流機インタフェース７０側のリセット線４７は、外部機器インタフェース１７０からの外部機器によるリセット信号を入力する信号線に接続される。
したがって、この子機内の切替スイッチＳＷ３も、親機以外の各計測用電子機器ユニット２０の互いに連結する信号線（この場合はリセット線）を切断して外部からの信号線に切り替える手段である。この切替スイッチＳＷ３は、手動で切替操作するディップスイッチでよいが、ＣＰＵ３１からの信号によって切り替えられる電子スイッチであってもよい。
親機の外部機器インタフェース１７０からの外部機器によるリセット信号を入力する信号線は、入出力制御部４０のＩ／Ｏ４０ａのリセット信号入力ポートに接続されると共に、リセット線４７にも接続されている。また、子機の下流機インタフェース７０側のリセット線４７も、入出力制御部４１のＩ／Ｏ４０ａのリセット信号入力ポートに接続されている。
この子機１内の切替スイッチＳＷ３が図９に示す切替状態にあるときには、親機の外部機器インタフェース１７０にリセット信号が入力すると、親機のＩ／Ｏ４０ａおよびリセット線４７を通して各子機のＩ／Ｏ４０ａに同時にリセット信号が入力する。それを各ユニットのＣＰＵ３１が認識して、各ユニットの一時記憶メモリ３７およびＲＡＭ３２又はデータ記録用ＲＡＭ３３に記憶されている計測値の記憶をリセット（クリア）する。
いずれかの子機の切替スイッチＳＷ３が固定接点ａ側に切り替わると、リセット線４６が切断されて、その上流側のユニットまでのリセット線と、その子機以降のユニットのリセット線にグループ分けされ、各グループごとに外部機器からの異なるリセット信号によって計測記憶値のリセット処理を行うことになる。
そのようなグループ化の例を第１０図に示す。この例では、５台の子機の計測用電子機器ユニット２０が、それぞれ内部の互いに接続される信号線（この場合はリセット線４７）を切断して外部からの信号線に切り替える切替スイッチＳＷを備えており、その左端の子機の切替スイッチＳＷと、右から２番目の子機の切替スイッチが、外部からの信号線に切り替えられている。
そのため、左側３台の計測用電子機器ユニット２０と、右側２台の計測用電子機器ユニット２０とにグループ化され、そのグループごとに外部からの異なるリセット信号によって、測定値の記憶をリセット（クリア）する。
このようにすれば、前述した２本のピンの倒れを測定する場合のように、１本のピンに対する２つの計測器のゼロリセットは同時に行ない、２組の計測器のゼロリセットは別々に行ないたい場合、計測用電子機器ユニットを検出器の組ごとにグループ化して、それぞれ別のリセット信号によりゼロリセットを行なうようにすることにより、容易にそれを実現することができる。
このリセット線に代えて、ピーククリアやホールドの信号線が相互に接続される場合には、各計測用電子機器ユニット２０内その信号線に切替スイッチＳＷを設けることによって、その信号線のグループ化を行なうことができる。
また、第１図に示したトリガ線４４に対して各子機内に切替スイッチＳＷを設けることにより、サンプリング、リセット、ピークホールド、ピーククリアなどの処理をグループ化して実行することもできる。
この実施形態の計測用電子機器システムを構成する各計測用電子機器ユニット１０，２０内の制御部２１，２２は、順次計測される測定値のピーク値を保持するピークホールド機能、およびその保持されているピーク値をクリアするピーククリア機能も有している。
次に、この発明による計測用電子機器システムを構成する親機と子機の計測用電子機器ユニットの外観例を第１１図乃至第１４図に示す。
第１１図はその親機の計測用電子機器ユニット１０の外観例を示す斜視図、第１２図はその表示ユニットを本体から離脱した状態を示す斜視図、第１３図は第１１図に示した親機を長手方向の反対側から見た斜視図である。第１４図は子機の計測用電子機器ユニット２０の外観を親機と連結される方の側から見た斜視図である。
これらの図において、これまでに説明した各部についてはそれと同じ符号を付してあり、その説明は簡単にするか省略する。また、親機と子機の形状および構造は殆ど同じであるので、共通点についてはまとめて説明する。
親機も子機もは本体１０Ａ又は２０Ａと表示ユニット１０Ｂ又は２０Ｂとからなり、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂは、本体１０Ａ，２０Ａに対して着脱可能である。親機も子機も本体１０Ａ，２０Ａは、それぞれ上部ユニット１０ａ，２０ａと下部ユニット１０ｂ，２０ｂとが一体的に嵌合されて構成されている。
その下部ユニット１０ｂ，２０ｂの上部には前面および後面に沿って一対ずつの係止爪６１が立設しており、それぞれ上部ユニット１０ａ，２０ａの前面および後面に一対ずつ形成された係止孔６２に係合して、上部ユニット１０ａ，２０ａと下部ユニット１０ｂ，２０ｂを一体に保持している。
その下部ユニット１０ｂ，２０ｂの下面には、その幅方向に貫通する取付用溝６０と、長手方向に貫通する取付用溝６７とが形成されており、取付用溝６０の両内側面には、図示されていないがその下縁に沿って後述するＤＩＮレールのレール部をくわえるための突起が設けられ、その一方はスプリングによって突出方向に付勢されており、その付勢力に抗して押し込み可能になっている。
また、特に第１２図によく示されているように、本体１０Ａ，２０Ａの上部ユニット１０ａ，２０ａの上部にも、その前面および後面に沿って一対ずつの係止爪６３が立設しており、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの前面および後面にもそれに対応する位置に一対ずつの係止孔６４が形成されている。また、上部ユニット１０ａ，２０ａの上面の周縁部に沿って、嵌合枠６６が形成されている。
そして、第１２図を除く各図に示すように、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａに装着したとき、その表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの外周下縁部が１０ａ，２０ａの嵌合枠６６に嵌合し、上部ユニット１０ａ，２０ａの各係止爪６３が表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの各係止孔６４に係合して両者を一体に保持する。その上部ユニット１０ａ，２０ａの筐体面の周囲には通風用のスリット６５が多数形成されている。
第１２図に示すように、本体１０Ａ，２０Ａの上部ユニット１０ａ，２０ａの上面には、第３図および第４図に示した表示ユニットインタフェース１８０に対応するコネクタ１８が設けられ（ピンや端子孔は図示を省略している）、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの下面には、同じく表示ユニットインタフェース１９０に対応するコネクタ（図１７に示すコネクタ１９）が設けられている。そして、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａに装着したとき、そのコネクタ１８と１９が嵌合し、表示ユニットインタフェース１８０と１９０が結合する。
また、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａから離脱させた状態でも、その各コネクタ１８，１９間に接続線（ケーブル）を接続することによって、両コネクタ１８，１９を電気的に接続し、本体側の表示ユニットインタフェース１８０とと表示ユニット側の表示ユニットインタフェース１９０とを接続することができる。
そして、親機の本体１０Ａの前面（面積の大きい２面のうち子機を連結しない方の面を前面と称し、子機を連結する方の面を後面と称す）には、第１３図に示すように外部機器インタフェース６０に対応する雌コネクタ６が設けられ、後面には第１２図に示すように、下流機インタフェース７０に対応する雌コネクタ７が設けられている。
さらに、その親機の本体１０Ａの一側面には図１１，１２に示すように、外部機器インタフェース１７０に対応する雌コネクタ１７と、電源線を接続するための電源コネクタ３０とが設けられ、その反対側の側面には第１３図に示すように、検出器インタフェース９０に相当するコネクタ９が設けられている。
一方、子機の本体２０Ａの場合は、親機に連結されるか上流の子機に連結される側の面を前面、その反対側の面を後面とすると、その後面と両側面には親機の本体１０Ａと同じに、それぞれ下流機用の雌コネクタ７、および外部機器用の雌コネクタ１７と検出器用のコネクタ９が設けられているが、電源コネクタ３０は設けられていない（第１４図参照）。そして前面には、第１４図に示すように上流機インタフェース８０に対応する雄コネクタ８が設けられている。
表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの上面には、第１１図乃至第１４図の各図に示されているように、液晶による表示パネル５０と、操作用のキー５１〜５４が設けられている。その表示パネル５０による表示モードは、測定値（計測値）を表示するデータ表示モードと、第１図に示した演算用パラメータの乗算値や除算値等の設定値を入力するための画面を表示するパラメータ入力モードとがある。
キー５１〜５４については、第１４図が見易いのでこれによって説明する。キー５１（ＰＲＭと表示されている）は表示モード切り替え用のキーで、このキー５１を押すごとに、表示モードがデータ表示モードとパラメタ入力モードとを交互に切り替わる。キー５２（ＳＥＴと表示されている）はパラメタ入力モードのときに入力された値をセット（設定）するためのキーである。
キー５３（ＰＥＡＫ  ＣＬＥＡＲと上向きの矢印が表示されている）とキー５４（ＲＥＳＥＴと右向きの矢印が表示されている）は２種類の機能を持つキーであり、データ表示モードのときは、キー５３はピークホールド値をクリアするためのキーであり、キー５４は測定値の記憶をすべてクリアしてリセットするためのキーである。一方、パラメタ入力モードのときは、キー５３を押すごとに数値が増加し、一巡すると元の数値に戻る。キー５４は押すごとに入力する数値の桁を移動する。
したがって、演算用パラメータを設定するときには、キー５１によってパラメータ入力モードにして、表示パネル５０にパラメータ入力用の画面を表示させ、キー５３，５４によって必要な数値を入力して、キー５２を押せばその数値が設定される。
次に、この発明による計測用電子機器システム取付方法について説明する。
第１５図は、この発明による計測用電子機器システムをＤＩＮレールを用いて基盤に取り付ける状態を示す斜視図である。
ＤＩＮリール７０は、金属板をプレス加工して形成した細長いチャンネル状の部材であり、底面部７１の両側部が直角に立上ってその上部が再び直角に外方へ折れ曲って底面部７１と平行な一対のレール部７３，７３を形成している。その底面部の中央部には長手方向に沿って所定の間隔で複数の長孔７２が形成されている。
そのＤＩＮレール７０を長孔７２に取付ねじを挿入して図示していない基盤にねじ止めして固着する。そして第１５図に示すように親機の計測用電子機器ユニット１０と複数の子機の計測用電子機器ユニット２０を直列に連結した計測用電子機器システム４を、その各ユニットの取付用溝６０をＤＩＮレール７０の一方のレール部７３に係合させて、その取付用溝６０の一方内側面に設けられた突起をスプリングの付勢力に抗して押し込みながら嵌入させて、ＤＩＮレール７０の他方のレール部７３にも係合させることにより、図示のように簡単に取り付けることができる。連結する子機の計測用電子機器ユニット２０の数は任意に増減できる。
第１６図は、この発明による計測用電子機器システムを構成する複数の計測用電子機器ユニットの各表示ユニットを本体から離脱して支持板に取り付ける状態を示す斜視図である。
この場合も、計測用電子機器システム４を構成する親機の計測用電子機器ユニット１０の本体１０Ａと、それらに連結された複数の子機の計測用電子機器ユニット２０の各本体２０Ａは、第１５図に示した取付例とと同様にＤＩＮレール７０を用いて基盤に取付られる。
そして、各ユニットの本体１０Ａ，２０Ａから表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを分離し、例えば鉄板による支持板８０上に複数列に並べて取り付ける。支持板８０には多数の取付用窓孔８１が整列して形成されており、この取付用窓孔８１を利用して、第１７図および第１８図に示すアタッチメントとナットによって、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを支持板８０に取り付ける。
第１７図に示すように、表示ユニット１０Ｂの背面（第１１図〜第１４図では下面）に、ねじ部５９を一体に設けたアタッチメント基板５８を図示しないねじ止め等によって固着する。ねじ部５９は円筒状でその外周面に雄ねじが形成されており、内部は表示ユニット１０Ｂの背面の中央部に設けられているコネクタ１９を避けており、そのコネクタ１９に本体１０Ａとの接続線のコネクタを装着できるようにしている。
そして、このアタッチメント基板５８を固着した表示ユニット１０Ｂを、第１８図に示すように、支持板８０の表側からねじ部５９を取付用窓孔８１に挿入し、支持板８０の裏面に突出したねじ部５９に、ナット９０をねじ込んで締め付け固定する。子機の表示ユニット２０Ｂについてもこれと全く同様にして支持板８０に取り付ける。
そして、各表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂのコネクタ１９と、本体１０Ａ，２０Ａのコネクタ１８（図１２参照）との間を接続線でそれぞれ接続すれば、本体１０Ａ，２０Ａに表示ユニット１０Ａ，２０Ａが一体的に装着されている場合と同等に機能する。しかも各ユニットの表示を見易く、キー操作による演算用パラメータの設定などもやり易いという利点がある。
しかし、これらの外観形状や取り付け方法は一例を示しただけであり、種々に変更し得ることは勿論である。
【産業上の利用可能性】  以上説明してきたように、この発明による計測用電子機器システムを使用すれば、複数の計測用電子機器ユニットの検出器によって、変化している物体を計測する際の測定の同時性を高め、信頼性の高い測定結果を得ることができる。
また、複数組の計測用電子機器ユニットを用いて測定を行なう場合のゼロリセットによる位置合わせも容易にすることが可能になる。さらに、複数の測定器で同時に計測した各測定値による演算処理も簡単にミスなく行なうことも可能になる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【手続補正書】
【提出日】平成17年5月19日(2005.5.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットが、コネクタによって直列に接続されて相互に測定情報および信号の伝達が可能に構成され、その複数の計測用電子機器ユニットのうちの１台が外部機器と測定情報および信号の送受信を行なう機能を有する親機である計測用電子機器システムであって、
前記複数の各計測用電子機器ユニットにそれぞれ測定値を保存するメモリを備え、前記親機が、前記外部機器からの要求に応じて自己も含む前記複数の計測用電子機器ユニットに測定値保存指令を発し、その各計測用電子機器ユニットで同時に前記各検出器による測定値を前記メモリに保存させる手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項２】
請求項１記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、外部からの測定値保存指令によっても、自己も含む直列に接続されている全ての計測用電子機器ユニットに、前記各検出器による測定値を前記メモリに保存させる手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項３】
請求項１又は２記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、他の計測用電子機器ユニットに接続する信号線の結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機以外の各計測用電子機器ユニットは、互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記複数の各計測用電子機器ユニットが、演算用のパラメータを記憶する手段と、該手段に記憶されたパラメータに基いて前記メモリに保存された測定値を演算する演算手段とを有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項６】
請求項５記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記親機の計測用電子機器ユニットは、前記複数の計測用電子機器ユニットのうちの指定された計測用電子機器ユニットにおける前記演算手段によって演算された個別演算結果の総和をとる総和演算手段を有することを特徴とする計測用電子機器システム。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の計測用電子機器システムにおいて、
前記複数の各計測用電子機器ユニットが、相互に直列に接続するためのコネクタおよび前記各手段を内蔵する本体と、該記本体に対して着脱可能な表示ユニットとからなり、該表示ユニットは測定値やパラメータを表示する表示器と操作用のキーとを備え、前記本体と表示ユニットとに、該表示ユニットが前記本体に装着されたときには両者を機械的および電気的に直結し、前記表示ユニットが前記本体から離脱されたときには、両者を接続線を介して電気的に接続可能にするコネクタを設けたことを特徴とする計測用電子機器システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】      明細書
【技術分野】
【０００１】
この発明は、外部機器と情報の送受信が可能な計測用電子機器ユニット（親機）と、それに直列に接続される複数の計測用電子機器ユニット（子機）とによって構成される計測用電子機器システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットを用い、それらを共通の制御機器（コントローラやパーソナルコンピュータなど）によって制御し、その各計測用電子機器ユニットによる測定結果を収集して処理することによって、所望の計測データを得るようなことが広く行なわれている。
例えば、自動車のエンジンの部品であるカムシャフトの形状を測定する場合、カムシャフトに設けられている各カムの回転角度に応じた変位を測定する必要がある。
【０００３】
その場合、従来は図２０に示すように、複数の計測用電子機器ユニット１０１〜１０４にそれぞれ接続した各検出器１１１〜１１４の測定子を、カムシャフト１２０の各カム１２１〜１２４のカム面に個別に当接させ、各検出器１１１〜１１４をカムシャフト１２０の軸線に平行でその軸線から一定距離の線上に固定する。
【０００４】
そして、そのカムシャフト１２０を回転させるモータ１３０に取り付けたエンコーダ１４０から、カムシャフト１２０の一定回転角度ごとに発生されるパルス信号をコントローラ１５０に入力させると共に、各測定用電子機器ユニット１０１〜１０４によって検出される測定値を個別にコントローラ１５０に入力させ、そのコントローラ１５０がカムシャフト１２０の一定回転角度ごとの各カム１２１〜１２４に対する測定値（位置データ）を記憶して、その変化を見ることによって行なっている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、この場合、各計測用電子機器ユニット１０１〜１０４とコントローラ１５０との間で遅延が生じることと、コントローラ１５０では計測用電子機器ユニット１０１〜１０４の測定値を順次読み取るのが一般的であるので、そのために発生する遅延とにより同時性が損なわれる。
コントローラ１５０によって、全ての計測用電子機器ユニット１０１〜１０４による測定値を同時に読み取るようにするためには専用回路を設ける必要があり、システムが複雑になり、且つ高価になってしまうという問題がある。
【０００６】
そこで、別の手段としては、コントローラ１５０から全ての計測用電子機器ユニット１０１〜１０４に対し、測定データの一時保存指令を出して測定データが変化しないようにしてから、その測定データを順次読み取る方法もある。
しかし、この場合は、カムシャフト１２０の回転速度を高速にはできず、測定時間の高速化を図れないという問題がある。
【０００７】
また、例えば圧延された鉄板の厚さを一定時間ごとに測定し、鉄板の厚さが規定値以内であることを確認するような場合、測定の基準値を設けることが難しいため、２つの検出器を対向させて鉄板を挟み込むように配置し、２つの検出器の測定値の和を演算することによって厚さを測定することが一般的に行なわれている。
この場合、鉄板の圧延は連続的になされているため、測定値は絶えず変化している。さらに圧延された鉄板が上下に動くため、２つの検出器の測定値を個別に見れば、板厚の変化より大きく変化している場合が多い。
【０００８】
測定対象物が動いている場合、２つの検出器の測定値を同時に測定することは重要であり、もし同時に測定しなければ測定値の不確かさが増すことになってしまう。
このように、複数の検出器による測定値を演算して所望の計測結果を得る場合、その複数の検出器による測定が同時に行なわれ、両者間に時間的な遅延がないことが、測定結果の信頼性を高めるために極めて重要である。
しかし、パソコンなどの外部機器によって、２個の計測用電子機器ユニットの測定値を読取ってその和を演算するシステムでは、測定値の読取りを２回行なうことになるが、その間の遅延により測定値の信頼性を落していた。
【０００９】
また例えば、１枚の鉄板に２本のピンが立てられている組立品において、２本のピンの倒れをそれぞれ測定する場合、１本のピンに対して２つの計測器を用いてその測定値の差を求める。そのため、２つの測定器の組合せが２組できる。その２組は、個別にマスターとなる位置合わせジグによって、ゼロリセットするなどして位置合わせを行なう。
これを自動化するには、外部機器からゼロリセット信号を入力するが、すべての電子機器ユニットと個別に結線することが一般的である。この場合配線が複雑になるという問題がある。
【００１０】
一方、ゼロリセット信号などの入力信号を、電子機器ユニット間で機械的および電気的に結合して結線する方法をとると、配線は簡略化されるが、前述した２本のピンの倒れを測定する例においては、１本のピンに対する２つの計測器のゼロリセットは同時に行なう必要がある。しかし、２組の計測器のゼロリセットは別々に行なう方が作業性がよい。そのため、ゼロリセットをいくつかの計測器の組ごとに指令できることが望ましい。
【００１１】
前述した鉄板の厚さを測定する例や、２本のピンの倒れを測定する例のように、２つの計測器の計測値を和差演算することや、さらには平面の平均高さや円盤状部品の平均外形を求める場合には、３つ以上の計測器の計測値を和差演算し、さらには除算をすることもある。また、レバー機構を用いて計測値を拡大縮小するような場合は、１つの測定値を乗算することもある。
【００１２】
これらの演算は、個々の計測器の測定値の表示を操作者が読み取って演算するか、外部機器によって個別の測定値を演算して求めるのが一般的である。
しかし、操作者が読み取る場合は、作業が煩雑になるだけでなく、演算ミスをおこす問題があった。また、外部機器で演算する場合は、外部機器の負担が大きくなり、また演算結果を目視確認することができなくなるため、特にメンテナンスをする場合にはその作業性を悪化させていた。
【００１３】
この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、複数の計測用電子機器ユニットによる測定の同時性を高め、信頼性の高い測定結果が得られるようにすることを目的とする。
また、複数組の計測用電子機器ユニットを用いて測定を行なう場合のゼロリセットによる位置合わせも容易にできるようにし、さらに複数の測定器で同時に計測した各測定値による演算処理も簡単にミスなく行なえるようにすることも目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この発明による計測用電子機器システムは、上記の目的を達成するため、それぞれ計測用の検出器を接続して測定を行なう機能を持つ複数の計測用電子機器ユニットが、コネクタによって直列に接続されて相互に測定情報および信号の伝達が可能に構成され、その複数の計測用電子機器ユニットのうちの１台が外部機器と測定情報および信号の送受信を行なう機能を有する親機となっている。
そして、上記複数の各計測用電子機器ユニットにそれぞれ測定値を保存するメモリを備え、上記親機が、上記外部機器からの要求に応じて自己も含む上記複数の計測用電子機器ユニットに測定値保存指令を発し、その各計測用電子機器ユニットで同時に上記各検出器による測定値を上記メモリに保存させる手段を有する。
【００１５】
上記親機の計測用電子機器ユニットが、外部からの測定値保存指令によっても、自己も含む直列に接続されている全ての計測用電子機器ユニットに、上記各検出器による測定値を上記メモリに保存させる手段も有するとよい。
その場合、上記親機の計測用電子機器ユニットは、他の計測用電子機器ユニットに接続する信号線の結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段を有するようにするとよい。
上記親機以外の各計測用電子機器ユニットに、互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段を設けてもよい。
【００１６】
これらの計測用電子機器システムにおいて、上記複数の各計測用電子機器ユニットに、演算用のパラメータを記憶する手段と、該手段に記憶されたパラメータに基いて上記メモリに保存された測定値を演算する演算手段とを設けるとよい。
その場合、上記親機の計測用電子機器ユニットにはさらに、上記複数の計測用電子機器ユニットのうちの指定された計測用電子機器ユニットにおける上記演算手段によって演算された個別演算結果の総和をとる総和演算手段を設けるとよい。
【００１７】
また、これらの計測用電子機器システムにおいて、上記複数の各計測用電子機器ユニットを、相互に直列に接続するためのコネクタおよび上記各手段を内蔵する本体と、その本体に対して着脱可能な表示ユニットとによって構成し、その表示ユニットは測定値やパラメータを表示する表示器と操作用のキーとを備え、上記本体と表示ユニットとに、その表示ユニットが本体に装着されたときには両者を機械的および電気的に直結し、その表示ユニットが本体から離脱されたときには、両者を接続線を介して電気的に接続可能にするコネクタを設けるとよい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
この発明をより詳細に説明するために、添付図面にしたがって、この発明の好ましい実施の形態を説明する。
まず、図２によってこの発明による計測用電子機器システムの一実施形態の概略構成を説明する。
この計測用電子機器システムは、４個の計測用電子機器ユニットによって構成されている。そのうちの計測用電子機器ユニット１０が親機であり、情報処理機能を有する外部機器５と接続するための雌コネクタ（外部機器インタフェース用）６と、他の電子機器ユニット（子機）と接続するための雌コネクタ（下流機インタフェース用）７とを備え、外部機器５と情報および信号の送受信を行なう機能を有する。
【００１９】
他の計測用電子機器ユニット２０は子機であり、それぞれ他の計測用電子機器ユニットと接続するためのコネクタを２個備えている。この例では薄型の直方体のケースの他の面より面積が大きい平行な２面の一方に雄コネクタ（上流機インタフェース用）８を、他方に雌コネクタ（下流機インタフェース用）７を設けている。
そして、親機の計測用電子機器ユニット１０に直列に３台の子機の計測用電子機器ユニット２０を順次その各コネクタ７と８の嵌合によって機械的及び電気的に接続して、計測用電子機器システム４を構成している。
【００２０】
この計測用電子機器システム４を使用する際には、親機の計測用電子機器ユニット１にパーソナルコンピュータやコントローラなどの外部機器をＲＳ−２３２Ｃインタフェースケーブル１６で雌コネクタ６に接続し、各計測用電子機器ユニット１０，２０の側面に設けられたコネクタ（検出器インタフェース用）９にそれぞれ検出器１１〜１４を接続する。その検出器１１〜１４は、前述の図２０に示した検出器１１１〜１１４と同様な変位測定用の検出器とすることができるが、その他の電圧、抵抗値、温度、圧力、光量、音量、歪量などを検出する種々の検出器を接続することができる。
【００２１】
各計測用電子機器ユニット１０，２０はその接続する検出器に対応する回路等を備えたものであり、計測用電子機器ユニットごとに異なる種類の検出器を接続するようにしてもよいが、ここでは３台の子機の計測用電子機器ユニット２０は全く同じ構成のものとする。
この計測用電子機器システム４を構成する各計測用電子機器ユニットのうち、親機である計測用電子機器ユニット１０は、外部機器５と直接測定情報の送受信ができ、子機である測定用電子機器ユニット２０はその親機あるいは親機と他の子機を介して外部機器５と測定情報の送受信が可能である。
【００２２】
なお、電源は外部機器５から電源ケーブルを通して親機の測定用電子機器ユニット１０に供給され、それがコネクタ７，８内の電源端子と各子機内の電源ラインを通してすべての子機の測定用電子機器ユニット２０にも供給される。
ところで、外部機器５が各測定用電子機器ユニット１０，２０と情報の送受信をするためには、どの測定用電子機器ユニットへ情報を送信するのか、あるいはどの測定用電子機器ユニットからの情報を受信したのかを識別できるように、各電子機器ユニットにそれぞれ識別コード（ＩＤ）を設定する必要がある。
【００２３】
このような複数の電子機器ユニットにＩＤを設定する方法としては、各電子機器ユニットにディップスイッチなどのハード的な設定手段を設けて人手によって設定したり、キー入力などによって操作者がソフト的にＩＤを設定する方法などが一般にとられている。
この発明による計測用電子機器システムにおいても、そのような従来の方法で各測定用電子機器ユニットにＩＤを設定してもよいが、この計測用電子機器システム４に電源が投入されたときに、親機の計測用電子機器ユニット１０が順次ＩＤを発生して、まず自己のＩＤを「１」に設定した後、直列に接続されている各計測用電子機器ユニット２０が、親機に近い順に「２」，「３」，「４」とＩＤを自動的に設定することもできる。
【００２４】
次に、親機の計測用電子機器ユニッ１０と子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成の詳細を図３および図４によって説明する。
図３は親機の計測用電子機器ユニット１０の内部構成を示すブロックである。
この計測用電子機器ユニット１０は、本体１０Ａとその本体１０Ａに着脱可能な表示ユニット１０Ｂとからなる。
【００２５】
本体１０Ａの外周には、それぞれ前述した雌コネクタ６、雌コネクタ７、コネクタ９，１７と後述するコネクタ１８に対応する外部機器インタフェース６０、下流機インタフェース７０、検出器インタフェース９０、外部機器インタフェース１７０、表示ユニットインタフェース１８０が設けられている。
外部機器インタフェース６０は外部機器５とＲＳ−２３２Ｃインタフェースケーブルで接続する。下流機インタフェース７０は最初に接続する子機の計測用電子機器ユニット２０の後述する上流機インタフェース８０と接続し、トリガ線４４、ＲＳ４８５線４５、ＤＬ−ＯＵＴ線、リセット線、サンプリング線等の各信号線を接続し、図示は省略しているが電源線も接続する。
【００２６】
検出器インタフェース９０は計測用の検出器１１を接続する。外部機器インタフェース１７０は、外部機器５あるいは他の外部機器からリセット信号とサンプリング信号を入力することができる。表示ユニットインタフェース１８０は、表示ユニット１０Ｂ側の表示ユニットインタフェース１９０と接続する。
この本体１０Ａ内には、この計測用電子機器ユニット１０全体の制御を司るＣＰＵ３１、ＣＰＵ３１のワーキングメモリとデータメモリの役目をもつＲＡＭ３２、記憶容量の大きいデータ記録用ＲＡＭ３３、ＣＰＵ３１の動作プログラム等を格納したＲＯＭ３４、および内部で測定値保存指令を発生したりするためのタイマ３５が、ＣＰＵバス４３によって相互に接続されており、マイクロコンピュータを構成している。
【００２７】
データ記録用ＲＡＭ３３には、後述する一時記憶メモリ３７に一時的に保存された測定値のデータをＣＰＵ３１が転送して、順次蓄積して記憶させることがきる。
さらに、検出器１１による計測動作を制御する計数制御部３６、測定値を一時記憶（保存）する一時記憶メモリ３７、外部機器５との間でコマンドや計測情報の送受信を行なうＲＳ―２３２Ｃ入出力制御部３８、子機との間のでのコマンドや計測情報のやり取りをするＲＳ４８５入出力制御部３９、各信号線の接続や切り替えなどを行なったり、リセット信号およびサンプリング信号の送出も制御するメインの入出力制御部４０、および表示とキー入力の制御をする入出力制御部４２も、すべてＣＰＵバス４３に接続されており、ＣＰＵ３１によって制御可能になっている。トリガ線４４は入出力制御部４０に、ＲＳ４８５線４５はＲＳ４８５入出力制御部３９に、それぞれ接続されている。
【００２８】
さらに、外部機器から後述する電源コネクタを通して電源が供給され、それを各部に供給する電源回路１５も設けられているが、その給電線は図示を省略している。
表示ユニット１０Ｂには、その上面に液晶表示パネル等の表示器５０と４個のキー５１〜５４が配置され、下部に表示ユニットインタフェース１９０が設けられている。そして、内部には表示制御部５５、キー入力制御部５６、および入出力制御部５７が設けられている。この表示ユニット１０Ｂを本体１０Ａに装着したときには、図示のように表示ユニットインタフェース１８０と１９０とが、密着して接続される。
【００２９】
図４は子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成を示すブロックである。これも親機の計測用電子機器ユニット１０と殆ど同じ構成であり、図３の各部と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
この計測用電子機器ユニット２０も、本体２０Ａとそれに着脱可能な表示ユニット２０Ｂとからなっている。表示ユニット２０Ｂの構成は計測用電子機器ユニット１０の表示ユニット１０Ｂと全く同じである。
【００３０】
本体２０Ａにおいて、計測用電子機器ユニット１０の本体１０Ａと相違する点は、外部機器５と接続するための外部機器インタフェース６０の代りに、図２に示した雄コネクタ８に対応する上流機インタフェース８０が設けられ、外部機器と通信するためのＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８は設けられていない点である。各種の信号線のうちトリガ線４４とＲＳ４８５線４５は、それぞれ上流機インタフェース８０と下流機インタフェース７０との間を直結している。
【００３１】
ここで、親機を先頭に複数の子機が直列的に連結されたとき、親機側を上流といい、その反対側を下流という。
ＲＳ４８５入出力制御部３９は、親機又は上流側の子機および下流側の子機との間でコマンドや計測情報のやり取りをする。
入出力制御部４１および電源回路２５も、親機の本体１０Ａにおける入出力制御部４０および電源回路１５と若干異なっているので、異なる符号を付している。電源回路２５は電源回路１５から図２に示した雌コネクタ７と雄コネクタ８の電源ピンを介して供給される電圧を各部に供給する。
【００３２】
これらの各本体１０Ａ，２０Ａ内の各部によって、後述するこの発明に特有の機能である各計測用電子機器ユニットによる測定値の同時保存、測定保存指令の切り替え、保存した各測定値による演算処理、グループ別同時リセットなどを実行する。
次に、図２に示した計測用電子機器システムにおける各計測用電子機器ユニットの接続状態の基本構成とその機能を図１によって説明する。
【００３３】
図３に示した親機の計測用電子機器ユニット１０と、３台の図４に示した子機の計測用電子機器ユニット２０を、その各雌コネクタ（下流機インタフェース７０）と雄コネクタ８（上流機インタフェース８０）との接続によって直列に接続して、計測用電子機器システム４を構成した接続状態の概略を図１に示す。
【００３４】
この図１において、２１は親機の計測用電子機器ユニット１０の制御部、２２は子機の計測用電子機器ユニット２０の制御部であり、それぞれ図３又は図４に示した本体１０Ａ，２０Ａ内のＣＰＵ３１をはじめ、入出力制御部４０又は４１を含む制御に係わるすべての回路を総称している。そして、図３および図４に示した表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂ、各インタフェース、検出器１１〜１４などは図示を省略している。
なお、以下の説明では、計測用電子機器ユニット１０を単に「親機」と称し、３台の計測用電子機器ユニット２０を親機側から順に「子機１」、「子機２」、「子機３」と称す。
【００３５】
この図１に示すように、親機と３台の子機１〜３の各計測用電子機器ユニットは、その各信号線であるトリガ線（Trigger line）４４とＲＳ４８５線４５がそれぞれ串刺し状に連結して、共通のトリガ線とコマンド線を形成している。また、親機の制御部２１から子機１の制御部２２へ、各子機の制御部２２から下流側の子機の制御部２２へ、それぞれ制御部２１又は制御部２２のＣＰＵ３１の判断によって信号を伝えるＤＬ−ＯＵＴ線が接続されている。その他に後述するサンプリング信号を伝送するサンプリング線およびリセット信号を伝送するリセット線や、電源を供給する電源線なども相互に接続されているが、ここでは図示を省略している。
【００３６】
トリガ線４４は、親機の制御部２１からの指令を各子機１〜３の制御部２２に同時に伝えると共に自己の制御部２１にも伝えるために使用される信号線である。ＲＳ４８５線５５は、親機の制御部２１と子機の制御部２２との間で相互にコマンドやデータのやり取りを行なうために使用される信号線である。
この図１の親機および子機１〜３の下方にそれぞれＭ０〜Ｍ３で示しているのは、それぞれ各計測用電子機器ユニットのメモリに設定記憶された識別コード（ＩＤ）と、その測定値を演算する際のパラメータである。
【００３７】
親機および子機１〜３は、その各制御部２１又は２２内のメモリ（ＲＡＭ３２等）に、設定されたＩＤと、検出器の被検体に対する当接方向による方向（±）、乗算値および除算値の演算用パラメータを記憶している。親機の場合はさらに、演算するユニットの数（演算数）、および演算対象とするユニットのＩＤ（演算ＩＤ）を同じメモリ内に記憶している。これらのパラメータは、図３および図４にそれぞれ示した表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂのキー５１〜５４によって設定するが、その操作方法については後述する。
ここで、この計測用電子機器システム４による演算計測時の動作例を、図５のフローチャートによって説明する。
【００３８】
図１に示した計測用電子機器システム４が図５に示す処理を開始し、親機が外部機器５から演算計測要求を入力すると、親機はトリガ線４４から計測要求（測定値保存指令）を各子機１〜３の制御部２２に送ると同時に、自己の制御部２１にも戻して入力する。それによって、親機と子機１〜３が同時に、図２に示した検出器１１〜１４による測定値を、図３および図４に示した計数制御部３６から一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存する。
【００４０】
親機はその後、メモリに記憶している演算用パラメータの内の演算数と演算ＩＤに従って、演算ＩＤ＋計測値要求をコマンド線（ＲＳ４８５線）４５によって順番に送信する。すると、その演算ＩＤで指定された子機（演算ＩＤと一致するＩＤの子機）は、計測要求によって一時記憶した計測値を、メモリに記憶している演算パラメータ（方向の±、乗算値および除算値）によって個別の演算を行なって、その計測値をコマンド線（ＲＳ４８５線）４５によって親機に送信する。
【００４１】
親機がその計測値を受信すると、演算数だけ終了したか否かを判断し、終了していなければ演算ＩＤ＋計測値要求を送信の処理に戻って、次の演算ＩＤ＋計測値要求をコマンド線４５で送信し、上述の処理を繰り返す。
親機が記憶している演算数の計測値を受信すると演算数終了と判断し、親機は受信した計測値（親機も演算対象になっている場合は親機も測定値の個別演算をしており、その計測値も含む）の総和を計算する。そして、その演算結果を、図３に示したＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８から外部機器インタフェース６０を通して外部機器５へ出力して処理を終了する。
【００４２】
なお、親機と外部機器５との通信は、ＲＳ−２３２Ｃによるものに限らず、ＲＳ−４２２、ＲＳ４８５、ＵＳＢなどによるシリアル通信でも、あるいはパラレル通信でもよい。
また、図３に示した親機の外部機器インタフェース６０と、図４に示した子機の上流機インタフェース８０として、共用できる（同一構造の）インタフェースを用いた構成としてもよい。
【００４３】
このように、この計測用電子機器システム４によれば、親機とそれに連結されているすべての子機が、親機からの一度の計測要求（測定値保存指令）によって同時に個々の検出器による測定値を一時記憶メモリ３７に記憶して保存するので、計測の同時性が高い（測定タイミングの誤差は１００μsec以下）。そして、その測定値の演算も、各ユニット内で必要な個別演算を行ない、その各演算結果の計測値を親機で総和をとるだけ行なうので、簡単かつ迅速に行なえる。
【００４４】
トリガ線４４による計測要求（測定値保存指令）を個々の計測用電子機器ユニット１０，２０が割り込み処理することもでき、その場合はさらに計測の同時性が増す。
例えば、前述したように圧延された鉄板の厚さを、２個の検出器をその鉄板を挟んで対向させて計測を行ない、その各検出器による測定値の和によって求めるような場合、測定値は常に変化しているため、計測の同時性は特に重要である。
この発明の計測用電子機器システムを使用すれば、親機と子機１台の構成で、演算用パラメータを表１のように設定することによって、鉄板を挟んで対向する１対の検出器を接続した親機と子機１による測定値の和による板厚を、親機による演算結果として得ることができる。
【００４５】
【表１】
2004038340.tif 000025
【００４６】
この表１に示す例では、親機による測定値が１２．８で子機１による測定値が１３．２であり、乗算値および除算値はいずれも「１」であるから、個別演算による計測値は、測定値に１を乗じて１で徐すので測定値と同じである。そして、演算結果は親機によってその各計測値の総和をとった値なので、１２．８＋１３．２＝２６．０である。
別の例として、高さの測定において、３個の検出器によって被検出体を測定した高さ位置の測定値を平均してその高さを求める場合には、この発明による計測用電子機器システム４の親機と子機１および子機２に各検出器を接続して計測し、その各制御部のメモリに表２のような演算用のパラメータを設定して記憶させておけばよい。
【００４７】
【表２】
2004038340.tif 000026
【００４８】
この表２に示す例では、親機による測定値が１２．８で子機１による測定値が１３．２、子機２による測定値が１３．３であり、乗算値はいずれも「１」で、除算値はいずれも「３」であるから、個別演算による計測値は、測定値に１を乗じて３で徐す。したがって、親機の個別演算値は１２．８×１／３＝４．２７、子機１の個別演算値は１３．２×１／３＝４．４０、子機２の個別演算値は１３．３×１／３＝４．４３である。そして、演算結果は親機によってその各個別演算値の総和をとった値なので、４．２７＋４．４０＋４．４３＝１３．１である。
このようにして、複数の測定値に対する各種の四則演算を簡単に行なうことができる。
【００４９】
次に、この発明の計測用電子機器システムによる計測処理の他の例について、図６〜図８によって説明する。
図６は親機と子機１の内部構成をサンプリングに係わる部分を主として示すブロック図であり、表示ユニット等は図示を省略している。この図６において、図３および図４と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
【００５０】
この例では、親機と子機１内のサンプリング線４６が親機の下流機インタフェース７０と子機１の上流機インタフェース８０との接続によって連結され、その子機１内の入出力制御部４１を介して下流機インタフェース７０に接続されており、図示していない子機内のサンプリング線もその子機が子機１に直列に連結されていれば、すべてのサンプリング線が各子機内の入出力制御部４１を介して順次直列に接続される。
【００５１】
そして、親機の入出力制御部４０の出力側のサンプリング線４６は、検出器１１による測定値の一時記憶等を司る計数制御部３６に接続され、子機１の入出制御部４１の出力側のサンプリング線４６も検出器１２による測定値の一時記憶等を司る計数制御部３６に接続されている。図示しない他の子機内のサンプリング線４６も同様に、入出力制御部４１の出力側が計数制御部３６に接続されている。
【００５２】
また、親機の入出力制御部４０内には電子的な切替スイッチＳＷ１が設けられており、その可動接点ｃはサンプリング線４６に接続され、一方の固定接点ａは外部機器インタフェース１７０から入力するサンプリング信号の入力線と共に、入出力制御部４０のＣＰＵバス４３との入出力ポートであるＩ／Ｏ４０ａの外部サンプリング信号入力ポートに接続されている。他方の固定接点ｂはＩ／Ｏ４０ａの内部サンプリング信号出力ポートに接続されている。
【００５３】
この切替スイッチＳＷ１は、図示しない表示ユニットのキー操作あるいは図示しないディップスイッチの操作を検出して、ＣＰＵ３１が指令する信号によりＩ／Ｏ４０ａを通して切替制御される。なお、ディプスイッチによって直接切替操作するようにしてもよい。その場合は、この切替スイッチＳＷ１を入出力制御部４０の外に設けてもよい。
【００５４】
一方、子機１の入出力制御部４１内にも切替スイッチＳＷ２が設けられている。その可動接点ｃはやはりサンプリング線４６に接続されており、一方の固定接点ａは外部機器インタフェース１７０から入力するサンプリング信号の入力線と共に、入出力制御部４１のＣＰＵバス４３との入出力ポートであるＩ／Ｏ４０ａの外部サンプリング信号入力ポートに接続されている。他方の固定接点ｂは上流機インタフェース８０側のサンプリング線４６に接続されている。
【００５５】
この切替スイッチＳＷ２は手動で切り替えられるディップスイッチでよいが、ＣＰＵ３１からの信号によって切り替えられる電子的な切替スイッチでもよい。
この図６に示す親機の切替スイッチＳＷ１が、他の計測用電子機器ユニットである子機への結線を、外部機器からの信号線と内部出力の信号線とに選択的に切り替える手段である。
また、子機の切替スイッチＳＷ２が、親機以外の各計測用電子機器ユニットの互いに連結する信号線を切断して外部からの信号線に切り替える手段である。
【００５６】
ここで、この図６に示す親機の計測用電子機器ユニット１０に、子機１の計測用電子機器ユニット２０と同じ構成の子機が３台（子機１，子機２，子機３とする）直列に連結された計測用電子機器システムによる種々の計測値記憶モードについて、図７および図８によって説明する。以下の説明におけるサンプリング指令およびサンプリング信号は、前述の例における測定値保存指令に相当する。また、「計測値記憶」は、親機および各子機における検出器による測定値を計数制御部３６によって一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存することを意味する。
【００５７】
まず、図３に示した親機の外部機器インタフェース６０からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に入力する外部機器５からのコマンドによるサンプリング動作について、図７によって説明する。
図６に示した親機内の切替スイッチＳＷ１は、図示のように固定接点ｂ側（図７ではＣＰＵ側）に切り替わっており、子機１〜３内の切替スイッチＳＷ２はすべて図６に示すように固定接点ｂ側に切り替わっていて、子機１〜３内のサンプリング線４６がすべて直結して親機内のサンプリング線４６を通して入出力制御部４０内のＩ／Ｏ４０ａの内部サンプリング信号出力ポートに接続されている。
【００５８】
ここで、外部機器５から親機の外部機器インタフェース６０を通してＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に記憶要求のコマンドが入力されると、それをＣＰＵ３１が解釈して、タイマ３５によって計測する一定パルス幅のサンプリング指令を発生し、Ｉ／Ｏ４０ａおよび切替スイッチＳＷ１を介してサンプリング線４６に出力する。それによって、親機の計数制御部３６およびサンプリング線４６が直結されている子機１〜３のすべての計数制御部３６に同時にサンプリング指令が入力する。そのため、親機および子機１〜３でそのサンプリング指令の立上り時点から同時に計測値記憶の処理を開始する。
【００５９】
ＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に記憶要求コマンドが入力するたびに、上述の動作が繰り返されて、親機および各子機１〜３で計測値記憶が実行される。
図７の右半分は別の計測値記憶モードの場合を示し、外部機器５からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に計測開始のコマンドが入力されると、ＣＰＵ３１がそれを解釈して、タイマ３５によって計測する一定パルス幅のサンプリング指令を所定の周期で発生し、Ｉ／Ｏ４０ａおよび切替スイッチＳＷ１を介してサンプリング線４６に出力する。それによって、上述の場合と同様に親機および子機１〜３のすべてにおいて各サンプリング指令の立上り時点から計測値記憶の処理を実行する。
【００６０】
その後、外部機器５からＲＳ−２３２Ｃ入出力制御部３８に計測終了のコマンドが入力されると、ＣＰＵ３１がそれを解釈してサンプリング指令の発生を停止する。したがって、それ以後は親機および子機１〜３がすべて計測値記憶の処理を行なわない。
次に、図６に示した親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に入力する外部機器からのサンプリング信号によるサンプリング動作モードについて、図８によって説明する。
【００６１】
この場合も、各子機１の切替スイッチＳＷ２は図６に示すように固定接点ｂ側に切り替わっていて、すべてのサンプリング線４６が直結されているものとする。
そして、親機の切替スイッチＳＷ１が固定接点ｂ側（図８では外部入出力側）に切り替わっている場合には、図８の左半分に示すように、親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に外部機器からサンプリング信号が入力する度に、それがサンプリング線４６を通して親機および各子機１〜３の計数制御部３６に入力し、そのサンプリング信号の立上り時点から同時に計測値記憶の処理を実行する。
【００６２】
親機の切替スイッチＳＷ１が固定接点ａ側（図８ではＣＰＵ側）に切り替わっている場合には、図８の右半分に示すように、親機の外部機器インタフェース１７０から入出力制御部４０に外部機器からのサンプリング信号がが連続して入力している間だけ、それがＩ／Ｏ４０ａからＣＰＵ３１に認識され、ＣＰＵ３１がタイマ３５を使用して、図７によって前述した計測開始コマンドを受けた場合と同様に、一定パルス幅のサンプリング指令を所定の周期で入出力制御部４０のＩ／Ｏに出力し、そのサンプリング信号出力ポートから切替スイッチＳＷ１およびサンプリング線４６を通して、親機および各子機１〜３の計数制御部３６にそのサンプリング指令が入力する。したがって、その各サンプリング指令の立上り時点から親機および各子機１〜３で同時に計測値記憶の処理を実行する。
【００６３】
また、いずれかの子機の切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側（外部入出力側）に切り替えると、サンプリング線４６がそこで切断されて、それ以降のサンプリング線４６は外部インタフェース１７０から外部機器のサンプリング信号を入力する信号線に接続されることになる。
そのため、親機と、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機の上流側の子機までは、親機に入力される外部機器からのサンプリング信号あるいは親機の内部で発生するサンプリング指令に同期して計測値記憶の処理を実行し、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機およびその下流側の子機は、切替スイッチＳＷ２を固定接点ａ側に切り替えた子機に入力する外部機器からのサンプリング信号に同期して計測値記憶の処理を実行する。
【００６４】
このように、親機およびそれに連結された複数の子機をグループ分けして、その親機と一部の子機だけを使用して計測値記憶の処理を実行させたり、グループごとに異なるタイミングで計測値記憶の処理を実行させたりすることができる。
この発明による計測用電子機器システムは、このように種々のモードで計測値記憶の処理を実行させることができるので、用途に応じてそれを選択して使用でき、汎用性の高いものである。
【００６５】
ここで、この発明による計測用電子機器システムを使用して図２０に示した従来例と同様にカムシャフトの各カム形状を測定する場合の構成例を図１９に示す。この場合、親機の計測用電子機器ユニット１０と３台の子機の計測用電子機器ユニット２０とを直列に接続して構成した計測用電子機器システム４を使用し、親機の計測用電子機器ユニット１０内の図６に示した切替スイッチＳＷ１は固定接点ａ側（外部入出力側）に切り替わっており、すべての子機の計測用電子機器ユニット２０内の切替スイッチＳＷ２は、固定接点ｂ側（サンプリング線４６を直結する側）に切り替わっている。
【００６６】
そして、モータ１３０によりカムシャフト１２０が一定角度回転するごとにエンコダ１４０から発生するパルス信号を、サンプリング信号として親機の外部機器インタフェース１７０に入力させる。それによって、エンコーダ１４０からパルス信号が入力する度に、それがサンプリング線４６を通して親機および３台の子機のすべての制御部に入力され、その立上り時点において同時に各検出器１１〜１４による各カムの形状に応じた位置の測定値をそれぞれ一時記憶メモリ３７に一時記憶させて保存する。その測定値を順次図６のＲＡＭ３２又は図３および図４に示したデータ記録用ＲＡＭ３３に転送して蓄積記憶させることができる。
【００６７】
このようにして、カムシャフと１２０を１回転以上回転させた後、親機の計測用電子機器ユニット１０が、図１に示したＲＳ４８５線を使用して各子機の計測用電子機器ユニット２０からそこに記憶されている計測値を転送させ、それを外部機器インタフェース６０に接続された外部機器（この場合はコントローラ）５へ送信する。コントローラ５は、親機および各子機ごとに計測された、カムシャフとの所定回転角度ごとの同時性の高い計測値のデータ得ることができ、各カムの形状とその各カムの相対関係のデータを正確に得ることができる。
【００６８】
次に、図９および図１０によって、この発明による計測用電子機器システムによるゼロリセットのグループ化について説明する。
図９は、この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成を記憶計測値のリセットに係わる部分を主として示すブロック図であり、表示ユニット等は図示を省略している。この図９において、図３，図４，および図６と同じ部分には同一の符号を付してあり、それらの説明は省略する。
【００６９】
この例では、親機と子機１内のリセット線４７が親機の下流機インタフェース７０と子機１の上流機インタフェース８０との接続によって連結され、その子機１の入出力制御部４１を介して下流機インタフェース７０に接続されており、図示していない他の子機内のリセット線もその子機が子機１に直列に連結されていれば、すべてのリセット線が各子機内の入出力制御部４１を介して順次直列に接続される。
【００７０】
その各子機の入出力制御部４１内には、切替スイッチＳＷ３が設けられており、その可動接点ｃが固定接点ｂ側に切り替わっていれば、上流機インタフェース８０側のリセット線４７と下流機インタフェース７０側のリセット線４７とが接続される。この切替スイッチＳＷ３の可動接点ｃが固定接点ａ側に切り替わると、リセット線がそこで切断され、下流機インタフェース７０側のリセット線４７は、外部機器インタフェース１７０からの外部機器によるリセット信号を入力する信号線に接続される。
【００７１】
したがって、この子機内の切替スイッチＳＷ３も、親機以外の各計測用電子機器ユニット２０の互いに連結する信号線（この場合はリセット線）を切断して外部からの信号線に切り替える手段である。この切替スイッチＳＷ３は、手動で切替操作するディップスイッチでよいが、ＣＰＵ３１からの信号によって切り替えられる電子スイッチであってもよい。
親機の外部機器インタフェース１７０からの外部機器によるリセット信号を入力する信号線は、入出力制御部４０のＩ／Ｏ４０ａのリセット信号入力ポートに接続されると共に、リセット線４７にも接続されている。また、子機の下流機インタフェース７０側のリセット線４７も、入出力制御部４１のＩ／Ｏ４０ａのリセット信号入力ポートに接続されている。
【００７２】
この子機１内の切替スイッチＳＷ３が図９に示す切替状態にあるときには、親機の外部機器インタフェース１７０にリセット信号が入力すると、親機のＩ／Ｏ４０ａおよびリセット線４７を通して各子機のＩ／Ｏ４０ａに同時にリセット信号が入力する。それを各ユニットのＣＰＵ３１が認識して、各ユニットの一時記憶メモリ３７およびＲＡＭ３２又はデータ記録用ＲＡＭ３３に記憶されている計測値の記憶をリセット（クリア）する。
【００７３】
いずれかの子機の切替スイッチＳＷ３が固定接点ａ側に切り替わると、リセット線４７が切断されて、その上流側のユニットまでのリセット線と、その子機以降のユニットのリセット線にグループ分けされ、各グループごとに外部機器からの異なるリセット信号によって計測記憶値のリセット処理を行うことになる。
そのようなグループ化の例を図１０に示す。この例では、５台の子機の計測用電子機器ユニット２０が、それぞれ内部の互いに接続される信号線（この場合はリセット線４７）を切断して外部からの信号線に切り替える切替スイッチＳＷを備えており、その左端の子機の切替スイッチＳＷと、右から２番目の子機の切替スイッチが、外部からの信号線に切り替えられている。
【００７４】
そのため、左側３台の計測用電子機器ユニット２０と、右側２台の計測用電子機器ユニット２０とにグループ化され、そのグループごとに外部からの異なるリセット信号によって、測定値の記憶をリセット（クリア）する。
このようにすれば、前述した２本のピンの倒れを測定する場合のように、１本のピンに対する２つの計測器のゼロリセットは同時に行ない、２組の計測器のゼロリセットは別々に行ないたい場合、計測用電子機器ユニットを検出器の組ごとにグループ化して、それぞれ別のリセット信号によりゼロリセットを行なうようにすることにより、容易にそれを実現することができる。
【００７５】
このリセット線に代えて、ピーククリアやホールドの信号線が相互に接続される場合には、各計測用電子機器ユニット２０内その信号線に切替スイッチＳＷを設けることによって、その信号線のグループ化を行なうことができる。
また、図１に示したトリガ線４４に対して各子機内に切替スイッチＳＷを設けることにより、サンプリング、リセット、ピークホールド、ピーククリアなどの処理をグループ化して実行することもできる。
【００７６】
この実施形態の計測用電子機器システムを構成する各計測用電子機器ユニット１０，２０内の制御部２１，２２は、順次計測される測定値のピーク値を保持するピークホールド機能、およびその保持されているピーク値をクリアするピーククリア機能も有している。
次に、この発明による計測用電子機器システムを構成する親機と子機の計測用電子機器ユニットの外観例を図１１乃至図１４に示す。
【００７７】
図１１はその親機の計測用電子機器ユニット１０の外観例を示す斜視図、図１２はその表示ユニットを本体から離脱した状態を示す斜視図、図１３は図１１に示した親機を長手方向の反対側から見た斜視図である。図１４は子機の計測用電子機器ユニット２０の外観を親機と連結される方の側から見た斜視図である。
これらの図において、これまでに説明した各部についてはそれと同じ符号を付してあり、その説明は簡単にするか省略する。また、親機と子機の形状および構造は殆ど同じであるので、共通点についてはまとめて説明する。
【００７８】
親機も子機もは本体１０Ａ又は２０Ａと表示ユニット１０Ｂ又は２０Ｂとからなり、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂは、本体１０Ａ，２０Ａに対して着脱可能である。親機も子機も本体１０Ａ，２０Ａは、それぞれ上部ユニット１０ａ，２０ａと下部ユニット１０ｂ，２０ｂとが一体的に嵌合されて構成されている。
その下部ユニット１０ｂ，２０ｂの上部には前面および後面に沿って一対ずつの係止爪６１が立設しており、それぞれ上部ユニット１０ａ，２０ａの前面および後面に一対ずつ形成された係止孔６２に係合して、上部ユニット１０ａ，２０ａと下部ユニット１０ｂ，２０ｂを一体に保持している。
【００７９】
その下部ユニット１０ｂ，２０ｂの下面には、その幅方向に貫通する取付用溝６０と、長手方向に貫通する取付用溝６７とが形成されており、取付用溝６０の両内側面には、図示されていないがその下縁に沿って後述するＤＩＮレールのレール部をくわえるための突起が設けられ、その一方はスプリングによって突出方向に付勢されており、その付勢力に抗して押し込み可能になっている。
【００８０】
また、特に図１２によく示されているように、本体１０Ａ，２０Ａの上部ユニット１０ａ，２０ａの上部にも、その前面および後面に沿って一対ずつの係止爪６３が立設しており、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの前面および後面にもそれに対応する位置に一対ずつの係止孔６４が形成されている。また、上部ユニット１０ａ，２０ａの上面の周縁部に沿って、嵌合枠６６が形成されている。
【００８１】
そして、図１２を除く各図に示すように、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａに装着したとき、その表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの外周下縁部が１０ａ，２０ａの嵌合枠６６に嵌合し、上部ユニット１０ａ，２０ａの各係止爪６３が表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの各係止孔６４に係合して両者を一体に保持する。その上部ユニット１０ａ，２０ａの筐体面の周囲には通風用のスリット６５が多数形成されている。
【００８２】
図１２に示すように、本体１０Ａ，２０Ａの上部ユニット１０ａ，２０ａの上面には、図３および図４に示した表示ユニットインタフェース１８０に対応するコネクタ１８が設けられ（ピンや端子孔は図示を省略している）、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの下面には、同じく表示ユニットインタフェース１９０に対応するコネクタ（図１７に示すコネクタ１９）が設けられている。そして、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａに装着したとき、そのコネクタ１８と１９が嵌合し、表示ユニットインタフェース１８０と１９０が結合する。
【００８３】
また、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを本体１０Ａ，２０Ａから離脱させた状態でも、その各コネクタ１８，１９間に接続線（ケーブル）を接続することによって、両コネクタ１８，１９を電気的に接続し、本体側の表示ユニットインタフェース１８０とと表示ユニット側の表示ユニットインタフェース１９０とを接続することができる。
そして、親機の本体１０Ａの前面（面積の大きい２面のうち子機を連結しない方の面を前面と称し、子機を連結する方の面を後面と称す）には、図１３に示すように外部機器インタフェース６０に対応する雌コネクタ６が設けられ、後面には図１２に示すように、下流機インタフェース７０に対応する雌コネクタ７が設けられている。
【００８４】
さらに、その親機の本体１０Ａの一側面には図１１，１２に示すように、外部機器インタフェース１７０に対応する雌コネクタ１７と、電源線を接続するための電源コネクタ３０とが設けられ、その反対側の側面には図１３に示すように、検出器インタフェース９０に相当するコネクタ９が設けられている。
【００８５】
一方、子機の本体２０Ａの場合は、親機に連結されるか上流の子機に連結される側の面を前面、その反対側の面を後面とすると、その後面と両側面には親機の本体１０Ａと同じに、それぞれ下流機用の雌コネクタ７、および外部機器用の雌コネクタ１７と検出器用のコネクタ９が設けられているが、電源コネクタ３０は設けられていない（図１４参照）。そして前面には、図１４に示すように上流機インタフェース８０に対応する雄コネクタ８が設けられている。
【００８６】
表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂの上面には、図１１乃至図１４の各図に示されているように、液晶による表示パネル５０と、操作用のキー５１〜５４が設けられている。その表示パネル５０による表示モードは、測定値（計測値）を表示するデータ表示モードと、図１に示した演算用パラメータの乗算値や除算値等の設定値を入力するための画面を表示するパラメータ入力モードとがある。
【００８７】
キー５１〜５４については、図１４が見易いのでこれによって説明する。キー５１（ＰＲＭと表示されている）は表示モード切り替え用のキーで、このキー５１を押すごとに、表示モードがデータ表示モードとパラメタ入力モードとを交互に切り替わる。キー５２（ＳＥＴと表示されている）はパラメタ入力モードのときに入力された値をセット（設定）するためのキーである。
【００８８】
キー５３（ＰＥＡＫ  ＣＬＥＡＲと上向きの矢印が表示されている）とキー５４（ＲＥＳＥＴと右向きの矢印が表示されている）は２種類の機能を持つキーであり、データ表示モードのときは、キー５３はピークホールド値をクリアするためのキーであり、キー５４は測定値の記憶をすべてクリアしてリセットするためのキーである。一方、パラメタ入力モードのときは、キー５３を押すごとに数値が増加し、一巡すると元の数値に戻る。キー５４は押すごとに入力する数値の桁を移動する。
【００８９】
したがって、演算用パラメータを設定するときには、キー５１によってパラメータ入力モードにして、表示パネル５０にパラメータ入力用の画面を表示させ、キー５３，５４によって必要な数値を入力して、キー５２を押せばその数値が設定される。
次に、この発明による計測用電子機器システム取付方法について説明する。
図１５は、この発明による計測用電子機器システムをＤＩＮレールを用いて基盤に取り付ける状態を示す斜視図である。
【００９０】
ＤＩＮレール７０は、金属板をプレス加工して形成した細長いチャンネル状の部材であり、底面部７１の両側部が直角に立上ってその上部が再び直角に外方へ折れ曲って底面部７１と平行な一対のレール部７３，７３を形成している。その底面部の中央部には長手方向に沿って所定の間隔で複数の長孔７２が形成されている。
【００９１】
そのＤＩＮレール７０を長孔７２に取付ねじを挿入して図示していない基盤にねじ止めして固着する。そして図１５に示すように親機の計測用電子機器ユニット１０と複数の子機の計測用電子機器ユニット２０を直列に連結した計測用電子機器システム４を、その各ユニットの取付用溝６０をＤＩＮレール７０の一方のレール部７３に係合させて、その取付用溝６０の一方内側面に設けられた突起をスプリングの付勢力に抗して押し込みながら嵌入させて、ＤＩＮレール７０の他方のレール部７３にも係合させることにより、図示のように簡単に取り付けることができる。連結する子機の計測用電子機器ユニット２０の数は任意に増減できる。
【００９２】
図１６は、この発明による計測用電子機器システムを構成する複数の計測用電子機器ユニットの各表示ユニットを本体から離脱して支持板に取り付ける状態を示す斜視図である。
この場合も、計測用電子機器システム４を構成する親機の計測用電子機器ユニット１０の本体１０Ａと、それらに連結された複数の子機の計測用電子機器ユニット２０の各本体２０Ａは図１５に示した取付例とと同様にＤＩＮレール７０を用いて基盤に取付られる。
【００９３】
そして、各ユニットの本体１０Ａ，２０Ａから表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを分離し、例えば鉄板による支持板８０上に複数列に並べて取り付ける。支持板８０には多数の取付用窓孔８１が整列して形成されており、この取付用窓孔８１を利用して、図１７および図１８に示すアタッチメントとナットによって、表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂを支持板８０に取り付ける。
【００９４】
図１７に示すように、表示ユニット１０Ｂの背面（図１１〜図１４では下面）に、ねじ部５９を一体に設けたアタッチメント基板５８を図示しないねじ止め等によって固着する。ねじ部５９は円筒状でその外周面に雄ねじが形成されており、内部は表示ユニット１０Ｂの背面の中央部に設けられているコネクタ１９を避けており、そのコネクタ１９に本体１０Ａとの接続線のコネクタを装着できるようにしている。
【００９５】
そして、このアタッチメント基板５８を固着した表示ユニット１０Ｂを、図１８に示すように、支持板８０の表側からねじ部５９を取付用窓孔８１に挿入し、支持板８０の裏面に突出したねじ部５９に、ナット９０をねじ込んで締め付け固定する。子機の表示ユニット２０Ｂについてもこれと全く同様にして支持板８０に取り付ける。
【００９６】
そして、各表示ユニット１０Ｂ，２０Ｂのコネクタ１９と、本体１０Ａ，２０Ａのコネクタ１８（図１２参照）との間を接続線でそれぞれ接続すれば、本体１０Ａ，２０Ａに表示ユニット１０Ａ，２０Ａが一体的に装着されている場合と同等に機能する。しかも各ユニットの表示を見易く、キー操作による演算用パラメータの設定などもやり易いという利点がある。
しかし、これらの外観形状や取り付け方法は一例を示しただけであり、種々に変更し得ることは勿論である。
【産業上の利用可能性】
【００９７】
以上説明してきたように、この発明による計測用電子機器システムを使用すれば、複数の計測用電子機器ユニットの検出器によって、変化している物体を計測する際の測定の同時性を高め、信頼性の高い測定結果を得ることができる。
また、複数組の計測用電子機器ユニットを用いて測定を行なう場合のゼロリセットによる位置合わせも容易にすることが可能になる。さらに、複数の測定器で同時に計測した各測定値による演算処理も簡単にミスなく行なうことも可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】図２に示す計測用電子機器システムにおける各計測用電子機器ユニットの接続状態の基本構成と各ユニットに記憶される演算用パラメータの例を示す図である。
【図２】この発明による計測用電子機器システムの一実施形態の概略構成図である。
【図３】図２における親機の計測用電子機器ユニット１０の内部構成を示すブロックである。
【図４】図２における子機の計測用電子機器ユニット２０の内部構成を示すブロックである。
【図５】図４に示した計測用電子機器システムによる演算計測時の動作例を示すフローチャートである。
【００９９】
【図６】この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成をサンプリングに係わる部分を主として示すブロック図である。
【図７】図６に示した親機と子機３台によって構成した計測用電子機器システムによる親機の外部機器インタフェース６０からのコマンドによるサンプリング動作を示すタイミングチャートである。
【図８】同じくその外部機器インタフェース１７０からのコマンドによるサンプリング動作を示すタイミングチャートである。
【図９】この発明による計測用電子機器システムの親機と子機１の内部構成を記憶計測値のリセットに係わる部分を主として示すブロック図である。
【図１０】同じくその複数の子機のグループ化によるリセットの例を示す説明図である。
【０１００】
【図１１】この発明による計測用電子機器システムの親機の外観例を示す斜視図である。
【図１２】同じくその表示ユニットを本体から離脱した状態を示す斜視図である。
【図１３】図１１に示した親機を長手方向の反対側から見た斜視図である。
【図１４】同じく子機の外観例を示す斜視図である。
【図１５】この発明による計測用電子機器システムをＤＩＮレールを用いて基盤に取り付ける状態を示す斜視図である。
【０１０１】
【図１６】この発明による計測用電子機器システムを構成する複数の計測用電子機器ユニットの各表示ユニットを本体から離脱して支持板に取り付ける状態を示す斜視図である。
【図１７】同じくその表示ユニットの背面に取付用アタッチメントを固着した状態を示す背面図である。
【図１８】同じくその表示ユニットを支持板に取り付けた状態を支持板とナットを断面にして示す側面図である。
【図１９】この発明による電子機器システムを使用してカムシャフトの各カム形状を測定する場合の例を示す構成図である。
【図２０】カムシャフトの各カム形状を測定するための従来の計測用電子機器システムの一例を示す構成図である。
【符号の説明】
【０１０２】
４：計測用電子機器システム    ５：外部機器
６：雌コネクタ（外部機器インタフェース用）
７：雌コネクタ（下流機インタフェース用）
８：雄コネクタ（上流機インタフェース用）
９：コネクタ（検出器インタフェース用）
１０：計測用電子機器ユニット（親機）
１１〜１４：検出器
１６：ＲＳ−２３２Ｃインタフェースケーブル
２０：他の計測用電子機器ユニット（子機）
【国際調査報告】
2004038340.tif 000027
2004038340.tif 000028