(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象画素についてキズ補正を実施するキズ補正手段と、
前記対象画素と、前記対象画素と同色用の画素であって前記対象画素の周辺に配置された複数の周辺画素と、についてノイズ低減処理を実施するノイズ低減処理手段と、
前記キズ補正手段による出力と前記ノイズ低減処理手段による出力との選択をする選択手段と、を有し、
前記キズ補正手段は、
前記複数の周辺画素の信号値の最大値及び最小値の間の数値幅と所定のコントラスト判定用閾値とを比較することによりコントラストの高低を判定するコントラスト判定手段と、
被写体の照度の高低を判定する照度判定手段と、
前記複数の周辺画素の信号値に対する平均化処理を実施する平均化手段と、
前記平均化処理を経た信号値を前記コントラストに応じて調整する調整手段と、を備え、
前記選択手段は、前記対象画素がキズであると判定された場合に前記キズ補正手段からの出力を選択し、
前記キズ補正手段は、前記コントラスト判定手段による判定に応じて、前記平均化処理を経た信号値である第１の補正値と、前記複数の周辺画素の信号値のうち前記対象画素の信号値に最も近い信号値である第２の補正値と、のいずれかを選択し、前記照度判定手段による判定に応じて、前記第１の補正値又は前記第２の補正値と、前記調整手段による調整を経た信号値である第３の補正値と、のいずれかを出力することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記キズ補正手段は、前記対象画素が白キズであると判定され、かつ前記照度判定手段において前記照度が所定の照度判定用閾値より低いと判定された場合に、前記第３の補正値を出力することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
対象画素についてキズ補正を実施するキズ補正手段と、
前記対象画素と、前記対象画素と同色用の画素であって前記対象画素の周辺に配置された複数の周辺画素と、についてノイズ低減処理を実施するノイズ低減処理手段と、
前記キズ補正手段による出力と前記ノイズ低減処理手段による出力との選択をする選択手段と、を有し、
前記キズ補正手段は、
前記複数の周辺画素の信号値の最大値及び最小値の間の数値幅と所定のコントラスト判定用閾値とを比較することによりコントラストの高低を判定するコントラスト判定手段と、
被写体の照度の高低を判定する照度判定手段と、
前記複数の周辺画素の信号値に対する平均化処理を実施する平均化手段と、
前記平均化処理を経た信号値を前記コントラストに応じて調整する調整手段と、を備え、
前記選択手段は、前記対象画素がキズであると判定された場合に前記キズ補正手段からの出力を選択し、
前記キズ補正手段は、前記コントラスト判定手段において前記数値幅が前記コントラスト判定用閾値より大きいと判定され、かつ前記照度判定手段において前記照度が所定の照度判定用閾値より低いと判定された場合に、前記対象画素と、前記複数の周辺画素の一つとが白キズであると判定して、前記調整手段による調整を経た補正値を出力することを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
前記キズ補正手段は、前記最大値及び前記最小値と、前記対象画素の信号値との差分に基づいてキズの有無を判定するキズ判定手段を有し、
前記キズ判定手段において前記対象画素がキズであると判定され、かつ前記コントラスト判定手段において前記数値幅が前記コントラスト判定用閾値より大きいと判定された場合、前記キズ補正手段は、前記複数の周辺画素の信号値のうち前記対象画素の信号値に最も近い値を補正値として出力することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記選択手段は、前記複数の周辺画素のいずれかがキズであると判定された場合に前記ノイズ低減処理手段からの出力を選択し、
前記ノイズ低減処理手段は、キズであると判定された周辺画素の信号値を前記対象画素の信号値に置き換えて、前記ノイズ低減処理を実施することを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、撮像装置には、正常に機能していない画素によるデジタル画像信号の欠損部分（以下、適宜「キズ」と称する）を補正するためのキズ補正手段を備えるものがある。一般に知られるキズ補正としては、例えば、製品出荷時などにキズの位置を予め記憶させ、キズ補正の対象となる対象画素に対し、周辺画素の情報を補間する方法（静的補正）や、撮像装置の動作中にキズの有無をチェックし、検知されたキズを補正する方法（動的補正）がある。
【０００３】
また、撮像装置には、ランダムノイズ等のノイズを低減させるためのノイズ低減処理手段を備えるものがある。キズ補正手段とノイズ低減処理手段とのそれぞれに専用のラインメモリを設ける構成とすると、双方のラインメモリを設ける分、回路規模が増大することとなる。共有のラインメモリを設け、キズ補正の結果をノイズ低減処理手段へフィードバックさせる場合、キズ補正手段において誤った判断がなされた場合に、それ以降の数画素に対するノイズ低減処理へ影響が及ぶことで画質が劣化することが懸念される。キズ補正とノイズ低減とを並列処理とする場合は、キズ補正がなされた画素に対してノイズ低減効果が得られなくなることが課題となる。
【０００４】
近年、画素の微細化による感度低下に対して、低照度下でのセンサ出力に対してゲインを大きくすることが多くなっている。通常は影響が少ないような微小なリーク電流（暗電流）であっても、ゲインを大きくすることで、他の画素とは異なる信号レベルの画素が生じる場合がある。この場合、キズである対象画素に対する補正値として、周辺画素のうち他とは性質の異なる画素の信号値が適用されることで、補正効果が少なくなるという問題が生じる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２５８９０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の一つの実施形態は、回路規模を抑制でき、キズ補正及びノイズ低減によって高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一つの実施形態によれば、画像処理装置は、キズ補正手段と、ノイズ低減処理手段と、選択手段と、を有する。前記キズ補正手段は、対象画素についてキズ補正を実施する。前記ノイズ低減処理手段は、前記対象画素と、複数の周辺画素とについてノイズ低減処理を実施する。前記複数の周辺画素は、前記対象画素と同色用の画素であって、前記対象画素の周辺に配置されている。前記選択手段は、前記キズ補正手段による出力と前記ノイズ低減処理手段による出力との選択をする。前記キズ補正手段は、コントラスト判定手段と、照度判定手段と、平均化手段と、調整手段と、を備える。前記コントラスト判定手段は、前記複数の周辺画素の信号値の最大値及び最小値の間の数値幅と所定のコントラスト判定用閾値とを比較することによりコントラストの高低を判定する。前記照度判定手段は、被写体の照度の高低を判定する。前記平均化手段は、前記複数の周辺画素の信号値に対する平均化処理を実施する。前記調整手段は、前記平均化処理を経た信号値の調整を実施する。前記選択手段は、前記対象画素がキズであると判定された場合に前記キズ補正手段からの出力を選択する。前記キズ補正手段は、前記コントラスト判定手段による判定に応じて、前記平均化処理を経た第１の補正値と、前記第１の補正値以外の第２の補正値と、のいずれかを出力する。前記キズ補正手段は、前記照度判定手段による判定に応じて、前記第１の補正値又は前記第２の補正値と、前記調整手段による調整を経た第３の補正値と、のいずれかを出力する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第１の実施形態の画像処理装置を適用したカメラモジュールのブロック図。
【図２】キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図。
【図３】対象画素及び周辺画素を説明する図。
【図４】キズ補正回路の詳細を示すブロック図。
【図５】キズ判定手段により対象画素がキズであると判定される場合について説明する概念図。
【図６】キズ判定手段により周辺画素のいずれかがキズであると判定される場合について説明する概念図。
【図７】調整手段による調整を経た補正値を選択する場合について説明する概念図。
【図８】第２の実施形態の画像処理装置のうち、キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図。
【図９】調整手段による調整を経た補正値を選択する場合について説明する概念図。
【図１０】第３の実施形態の画像処理装置のうち、キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる画像処理装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【００１０】
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態の画像処理装置を適用したカメラモジュールのブロック図である。カメラモジュールは、画像処理装置１、撮像レンズ２、センサ部３及びＡＤ変換部４を備える。撮像レンズ２は、被写体からの光を取り込み、センサ部３に被写体像を結像させる。
【００１１】
センサ部３は、被写体からの光を信号電荷に変換することにより、被写体像を撮像する。センサ部３は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の信号値をベイヤー配列に対応する順序で取り込み、アナログ信号を生成する。ＡＤ変換部４は、センサ部３からのアナログ信号をデジタル信号に変換（ＡＤ変換）する。
【００１２】
画像処理装置１は、ＡＤ変換部４からのデジタル画像信号に対して、以下に説明する種々の画像処理を施す。キズ補正回路（キズ補正手段）１１は、センサ部３において正常に機能していない画素によるデジタル画像信号の欠損部分（キズ）を補正するためのキズ補正を実施する。ノイズ低減回路（ノイズ低減処理手段）１２は、ノイズを低減させるためのノイズ低減処理を実施する。
【００１３】
ＡＥ／ＡＷＢ演算回路１４は、ＡＥ（Ａｕｔｏ  Ｅｘｐｏｓｕｒｅ）、ＡＷＢ（Ａｕｔｏ  Ｗｈｉｔｅ  Ｂａｌａｎｃｅ）のための各係数を算出する。デジタルＡＭＰ係数回路１３は、ＡＥ／ＡＷＢ演算回路１４で算出された係数と、レンズシェーディング補正係数とを基にしてデジタルＡＭＰ係数を算出する。また、ＡＥ／ＡＷＢ演算回路１４は、露光時間（ＥＳ）及びアナログゲイン（ＡＧ）を、キズ補正回路１１及びノイズ低減回路１２からなるブロックと、センサ部３とへ出力する。
【００１４】
画素補間処理部１６は、ベイヤー配列の順序で伝達されてくるデジタル画像信号に対して、補間処理（デモザイク処理）を実施し、不足色成分の信号値を生成する。カラーマトリックス処理部１７は、色再現性を得るためのカラーマトリックス演算処理（色再現性処理）を実施する。輪郭処理部１８は、センサ部３における撮像条件及び各画素の位置に基づいて算出した補正係数を用いて、輪郭強調処理を実施する。ガンマ補正部１９は、画像の階調を補正するためのガンマ補正を実施する。
【００１５】
ＲＧＢ／ＹＵＶ変換部２０は、Ｒ、Ｇ、Ｂの感度信号から輝度（Ｙ）信号及び色差（ＵＶ）信号を生成することにより、画像信号をＲＧＢ形式からＹＵＶ形式（例えば、ＹＵＶ４２２など）へ変換する。エッジ抽出部２１は、ラインメモリ１５に格納された画像信号に対してエッジ抽出を実施し、抽出結果をＲＧＢ／ＹＵＶ変換部２０へ出力する。
【００１６】
ラインメモリ１０は、ＡＤ変換部４からのデジタル画像信号を一時的に貯える。キズ補正回路１１及びノイズ低減回路１２は、ラインメモリ１０を共用する。ラインメモリ１５は、デジタルＡＭＰ係数回路１３によるデジタルゲインＡＭＰ処理を経たデジタル画像信号を一時的に貯える。
【００１７】
画像処理装置１は、ラインメモリ１０に格納された画像信号に対して、キズ補正回路１１によるキズ補正、ノイズ低減回路１２によるノイズ低減を並列処理する。画像処理装置１は、キズ補正回路１１とノイズ低減回路１２とでラインメモリ１０を共有する構成とすることで、それぞれに対してラインメモリを設ける場合に比べて回路規模を抑制させることができる。キズ補正回路１１、ノイズ低減回路１２からの画像信号に対しては、デジタルＡＭＰ係数回路１３からのデジタルＡＭＰ係数により、ＡＥ、ＡＷＢ、及びレンズシェーディング補正のためのデジタルゲインＡＭＰ処理を行う。デジタルゲインＡＭＰ処理が施された画像信号は、ラインメモリ１５に格納される。
【００１８】
画像処理装置１は、ラインメモリ１５に格納された画像信号に対して、画素補間処理部１６からＲＧＢ／ＹＵＶ変換部２０までの各処理を順次実行し、ＲＧＢ／ＹＵＶ変換部２０でＹＵＶ形式へ変換された画像信号を出力する。なお、本実施の形態で説明する画像処理装置１の構成は一例であって、他の処理のための要素の追加や、省略可能な要素を省略するなどの変更を適宜しても良い。
【００１９】
図２は、キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図である。ラインメモリ１０は、４ライン分のデジタル画像信号を保持する（４Ｈ）。キズ補正回路１１には、ラインメモリ１０に保持された４ラインと、ラインメモリ１０へ入力される直前の１ラインと、の計５ラインのデータが入力される。セレクタ２３は、キズ補正回路１１による出力とノイズ低減回路１２による出力との選択をする選択手段として機能する。ＡＥ演算回路２４は、図１に示すＡＥ／ＡＷＢ演算部１８に含まれる。ＡＥ演算回路２４での演算結果であるＥＳ及びＡＧは、キズ補正回路１１及びノイズ低減回路１２からなるブロックへ入力される。
【００２０】
図３は、対象画素及び周辺画素を説明する図である。各画素は、互いに垂直なＨ方向及びＶ方向を含む二次元方向に並列されているとする。対象画素及び周辺画素は、Ｈ方向及びＶ方向においてベイヤー配列された画素のうちＨ方向及びＶ方向への５個の画素のマトリックスに含まれる。
【００２１】
対象画素は、５×５のマトリックスの中心に位置する画素である（図中の網掛け部分）。周辺画素は、対象画素に対して１画素を置いて上下左右斜めの各方向に位置する８個の画素である（図中の斜線部分）。対象画素がＲＧＢのいずれの場合も、対象画素と周辺画素とは同色用の画素となる。対象画素及び周辺画素の信号値は、Ｈ方向へ対象画素が移されるごとに順次入力され、１ラインについての入力を終えると、Ｖ方向へ１ライン移され、次の１ラインについての入力が開始される。
【００２２】
図４は、キズ補正回路の詳細を示すブロック図である。キズ補正回路１１は、最大値最小値検索手段３１、キズ判定手段３２、コントラスト判定手段３３、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）３４、照度判定手段３５、調整手段３６及びセレクタ３７、３８、３９を備える。
【００２３】
キズ補正回路１１には、対象画素及び周辺画素を合わせた９画素の信号値が入力される。最大値最小値検索手段３１は、８つの周辺画素の信号値の最大値及び最小値を検索する。キズ判定手段３２は、対象画素及び周辺画素におけるキズの有無を判定する。コントラスト判定手段３３は、コントラストの高低を判定する。ＬＰＦ３４は、信号値の平均化処理を実行する平均化手段として機能する。照度判定手段３５は、被写体の照度の高低を判定する。
【００２４】
調整手段３６は、ＬＰＦ３４における平均化処理を経た信号値の調整を実施する。セレクタ３７は、対象画素が黒キズである場合に、コントラスト判定手段３３による判定に応じて補正値を選択する。セレクタ３８は、対象画素が白キズである場合に、コントラスト判定手段３３による判定に応じて補正値を選択する。セレクタ３９は、対象画素が白キズである場合に、照度判定手段３５による判定に応じて補正値を選択する。
【００２５】
黒キズは、画素が正常に機能する場合に比べて低い輝度が検出されるキズとする。白キズは、画素が正常に機能する場合に比べて高い輝度が検出されるキズとする。なお、以下の説明において、「最大値」とは８つの周辺画素の信号値の最大値、「最小値」とは８つの周辺画素の信号値の最小値をそれぞれ指すものとする。
【００２６】
キズ補正回路１１には、キズ判定手段３２によるキズ判定のための白キズ判定用閾値及び黒キズ判定用閾値、コントラスト判定手段３３によるコントラスト判定のためのコントラスト判定用閾値、照度判定手段３５による照度判定のための照度判定用閾値が設定されている。黒キズ判定用閾値、白キズ判定用閾値、コントラスト判定用閾値は、ＡＥ演算回路２４で算出されたＡＧに連動させて数値を変化させることとしても良い。
【００２７】
キズ判定手段３２は、対象画素の画素値及び最小値の差分と黒キズ判定用閾値との比較により、対象画素が黒キズであるか否か、周辺画素に黒キズがあるか否かを判定する。また、キズ判定手段３２は、対象画素の画素値及び最大値の差分と白キズ判定用閾値との比較により、対象画素が白キズであるか否か、周辺画素に白キズがあるか否かを判定する。
【００２８】
図５は、キズ判定手段により対象画素がキズであると判定される場合について説明する概念図である。図６は、キズ判定手段により周辺画素のいずれかがキズであると判定される場合について説明する概念図である。図５及び図６のいずれも、縦軸が信号値のレベルを表している。網掛けを付した四角形のうち縦軸方向中心が対象画素の信号値、ハッチングを付した四角形のうち縦軸方向中心が周辺画素の信号値をそれぞれ表している。
【００２９】
図５は、低照度とは判定されず、かつ最大値及び最小値が他の周辺画素の信号値範囲と比べて比較的離れていない場合を表している。この場合において、（対象画素の信号値−最大値）の演算結果が正であり、かつその絶対値が白キズ判定用閾値より大きい場合、キズ判定手段３２は、対象画素が白キズであると判定する。（最小値−対象画素の信号値）の演算結果が正であり、かつその絶対値が黒キズ判定用閾値より大きい場合、キズ判定手段３２は、対象画素が黒キズであると判定する。
【００３０】
（対象画素の信号値−最大値）の演算結果が負であり、かつその絶対値が白キズ判定用閾値より大きい場合、キズ判定手段３２は、周辺画素のうち最大値を示す一つが白キズであると判定する。（最小値−対象画素の信号値）の演算結果が負であり、かつその絶対値が黒キズ判定用閾値より大きい場合、キズ判定手段３２は、周辺画素のうち最小値を示す一つが黒キズであると判定する。
【００３１】
（対象画素の信号値−最大値）の演算結果の絶対値が白キズ判定用閾値以下である場合、（最小値−対象画素の信号値）の演算結果の絶対値が黒キズ判定用閾値以下である場合、キズ判定手段３２は、対象画素及び周辺画素のいずれもキズではないと判定する。なお、キズ判定と演算結果の正負との関係は、減算の順序に応じて適宜設定されるものとする。
【００３２】
コントラスト判定手段３３は、最大値及び最小値の間の数値幅とコントラスト判定用閾値とを比較することにより、コントラストの高低を判定する。数値幅がコントラスト判定用閾値より大きい場合、コントラスト判定手段３３は、被写体像のうち対象画素及び周辺画素に相当する部分が高コントラストであると判定する。数値幅がコントラスト判定用閾値以下である場合、コントラスト判定手段３３は、被写体像のうち対象画素及び周辺画素に相当する部分が低コントラストであると判定する。
【００３３】
ＬＰＦ３４は、周辺画素の信号値に対する平均化処理を実施する。コントラスト判定手段３３により低コントラストであると判定された場合、セレクタ３７は、黒キズ補正のための補正値として、ＬＰＦ３４から出力された平均化データを選択する（第１の補正値）。また、セレクタ３８は、白キズ補正のための補正値として、ＬＰＦ３４から出力された平均化データを選択する（第１の補正値）。キズ補正回路１１は、低コントラストなシーンに対しては、８つの周辺画素の平均化データを補正値として選択することで、ノイズ低減の効果を重視している。
【００３４】
コントラスト判定手段３３により高コントラストであると判定された場合、セレクタ３７は、黒キズ補正のための補正値として最大値を選択する（第２の補正値）。また、セレクタ３８は、白キズ補正のための補正値として最小値を選択する（第２の補正値）。第２の補正値は、周辺画素の信号値のうち対象画素の信号値に最も近い値に相当する。キズ補正回路１１は、高コントラストなシーンに対しては、周辺画素の信号値のうち対象画素の信号値に最も近い値を補正値として採用することとして、適切でないキズ補正があった場合における画像へのダメージをできるだけ抑制させることを重視している。
【００３５】
調整手段３６は、ＬＰＦ３４から出力された平均化データをコントラストに応じて調整する。調整手段３６は、例えば、ＬＰＦ３４による平均化データから（最大値―最小値）／８を減算する。これにより、キズ補正回路１１は、リーク電流の影響による平均化データのずれを調整する。なお、調整手段３６による調整は、コントラストに応じたものであればいずれの方法によるものであっても良く、適宜変更しても良い。
【００３６】
図７は、調整手段による調整を経た補正値を選択する場合について説明する概念図である。低照度であって対象画素が白キズである状況において、最大値は、他の周辺画素の信号値範囲に比べて高レベル側に大きく離れている。この場合、仮に対象画素の信号値を最大値と置き換えたとすると、白キズに近い階調の２つの画素がキズ補正によって残存することとなる。
【００３７】
照度判定手段３５は、ＡＥ演算回路２４での演算結果であるＡＧと照度判定用閾値とを比較することにより、照度の高低を判定する。照度判定手段３５により低照度であると判定された場合、セレクタ３９は、白キズ補正のための補正値として、調整手段３６による調整を経た値を選択する（第３の補正値）。また、照度判定手段３５により低照度ではないと判定された場合、セレクタ３９は、白キズ補正のための補正値として、セレクタ３８からの出力（第１の補正値又は第２の補正値）を選択する。
【００３８】
キズ補正回路１１は、ＡＧを大きくすることによってコントラストが高くなるような場合であっても、周辺画素のうち白キズに近いような画素との信号値の置き換えによる補正効果の低下を、調整手段３６によって抑制することができる。また、コントラスト判定用閾値を単に上げる場合に比べて、ＬＰＦ３４による平均化処理の効果を維持することができる。
【００３９】
ノイズ低減回路１２は、対象画素及び周辺画素について、ノイズ低減処理を実施する。周辺画素に黒キズ及び白キズのいずれかが含まれるとキズ判定手段３２が判定した場合、ノイズ低減回路１２は、周辺画素のうち白キズ或いは黒キズと判定されたものの信号値を対象画素の信号値に置き換えて、ノイズ低減処理を実施する。これにより、ノイズ低減回路１２は、キズの影響を除外してノイズ低減処理を行うことが可能となる。
【００４０】
対象画素が黒キズであるとキズ判定手段３２が判定した場合、セレクタ２３は、セレクタ３７から出力される黒キズ補正のための補正値を選択する。対象画素が白キズであるとキズ判定手段３２が判定した場合、セレクタ２３は、セレクタ３９から出力される白キズ補正のための補正値を選択する。さらに、対象画素が黒キズ及び白キズのいずれにも該当しないとキズ判定手段３２が判定した場合、セレクタ２３は、ノイズ低減回路１２からの出力を選択する。
【００４１】
このようにして、画像処理装置１は、キズ補正回路１１とノイズ低減回路１２とでラインメモリ１０を共有し、キズ補正処理及びノイズ低減処理の切り換えを適宜実施することで、ラインメモリの削減と、キズの影響の抑制及びノイズ低減が可能となる。また、画像処理装置１は、低照度である場合に白キズ補正のための補正値を調整することで、キズ補正におけるリーク電流の影響を抑制することが可能となる。これにより、画像処理装置１の回路規模を抑制でき、キズ補正及びノイズ低減によって高品質な画像を得られるという効果を奏する。
【００４２】
なお、画像処理装置１は、周辺画素にキズがある旨の判定に対して、対象画素との信号値の置き換えをしてからノイズ低減処理を実施する場合に限られない。例えば、キズであると判定された画素を除いてノイズ低減処理を実施することとしても良い。この場合も、ノイズ低減処理へのキズの影響を除外することができる。
【００４３】
（第２の実施形態）
図８は、第２の実施形態の画像処理装置のうち、キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図である。第１の実施形態と同一の部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００４４】
キズ補正回路４０は、最大値最小値検索手段３１、キズ判定手段３２、コントラスト判定手段３３、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）３４、照度判定手段３５、調整手段３６及びセレクタ４１を備える。セレクタ４１は、キズ判定手段３２によるキズ判定、コントラスト判定手段３３によるコントラスト判定、及び照度判定手段３５による照度判定に応じて、補正値を選択する。
【００４５】
図９は、調整手段による調整を経た補正値を選択する場合について説明する概念図である。低照度であって、対象画素と周辺画素の１つとが白キズである状況において、その周辺画素の信号値である最大値は、他の周辺画素の信号値範囲に比べて高レベル側に大きく離れている。このケースでは、キズ判定手段３２では白キズ判定がなされないにもかかわらず、高コントラストであると判定されることになる。この場合、仮に対象画素の信号値を最大値と置き換えたとすると、２つの白キズが残存することとなる。
【００４６】
セレクタ４１は、キズ判定手段３２において白キズ判定がなされておらず、高コントラストかつ低照度と判定された場合に、補正値として、調整手段３６による調整を経た値を選択する（第３の補正値）。実施形態１と同様に、調整手段３６は、ＬＰＦ３４から出力された平均化データをコントラストに応じて調整する。調整手段３６は、例えば、ＬＰＦ３４による平均化データから（最大値―最小値）／８を減算する。
【００４７】
画像処理装置は、本実施形態の場合も第１の実施形態と同様に、ラインメモリの削減と、キズの影響の抑制及びノイズ低減が可能となる。また、画像処理装置は、低照度での２画素の白キズに対処する補正が可能となる。なお、対象画素が白キズではなく周辺画素に白キズが存在する場合も、キズ判定手段３２において白キズ判定がなされないにもかかわらず、高コントラストであると判定される場合がある。この場合は、第１の実施形態の場合と同様、ノイズ低減回路１２でのノイズ低減処理によって対処することができる。
【００４８】
（第３の実施形態）
図１０は、第３の実施形態の画像処理装置のうち、キズ補正及びノイズ低減処理のための構成を示すブロック図である。本実施形態のキズ補正回路５０は、第１の実施形態のキズ補正回路１１の構成要素と、第２の実施形態のキズ補正回路４０の構成要素とを併せ持つ。キズ判定手段３２によるキズ判定、コントラスト判定手段３３によるコントラスト判定、及び照度判定手段３５による照度判定に応じて、調整手段３６からの出力と、ノイズ低減回路１２からの出力とのいずれかを選択する。
【００４９】
２画素の白キズの場合は、セレクタ２３により、信号Ｂ（セレクタ３９からの出力）及び信号Ｃ（セレクタ４１からの出力）のいずれかが選択される。画像処理装置は、第１の実施形態と同様にラインメモリの削減、キズの影響の抑制及びノイズ低減と、第２の実施形態と同様に２画素の白キズに対処する補正とが可能となる。
【００５０】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５１】
１  画像処理装置、１１、４０、５０  キズ補正回路、１２  ノイズ低減回路、２３  セレクタ、３１  最大値最小値検索手段、３２  キズ判定手段、３３  コントラスト判定手段、３４  ＬＰＦ、３５  照度判定手段、３６  調整手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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