(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
流体の圧力差を検出する差圧センサと、この差圧センサが検出する流体の圧力差に応じた電気信号を所定のサンプリング周期毎に所定のサンプリング時間のあいだサンプリングするサンプリング手段と、このサンプリング手段によってサンプリングされた電気信号に少なくとも１次遅れ演算を含む演算処理を施して差圧の計測値を求める差圧計測値演算手段とを備えた差圧発信器において、
前記１次遅れ演算に際して用いられるダンピング時定数の設定変更をユーザの操作により可能とするダンピング時定数設定変更手段と、
前記サンプリング周期および前記サンプリング時間の少なくとも一方をサンプリング条件とし、前記ダンピング時定数に基づいて、前記演算処理のスピードが速くなる場合には短くなるように前記サンプリング条件を自動的に変更するサンプリング条件自動変更手段と
を備えることを特徴とする差圧発信器。
【請求項２】
請求項１に記載された差圧発信器において、
前記サンプリング条件自動変更手段は、前記ダンピング時定数が所定の閾値以下の場合に短くなるように前記サンプリング条件を自動的に変更する
ことを特徴とする差圧発信器。
【請求項３】
請求項２に記載された差圧発信器において、
前記ダンピング時定数および前記サンプリング条件の少なくとも一方を設定条件として表示する設定条件表示手段
を備えることを特徴とする差圧発信器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、差圧センサが検出する流体の圧力差に応じた電気信号に少なくとも１次遅れ演算を含む演算処理を施して差圧の計測値を求める差圧発信器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、流体の圧力差を検出し伝送する装置として、差圧発信器が用いられている（例えば、特許文献１参照）。この差圧発信器は、差圧センサと、Ａ／Ｄ変換器と、処理装置と、Ｄ／Ａ変換器とを備えており、差圧センサのセンサ部内には、圧力変形体である測定ダイヤフラムが設けられ、この測定ダイヤフラムの両面に圧力室Ａと圧力室Ｂとが設けられている。
【０００３】
この差圧発信器では、圧力室Ａに非圧縮性流体（シリコンオイル等）を介して流体圧力Ｐａを導く一方、圧力室Ｂに非圧縮性流体（シリコンオイル等）を介して流体圧力Ｐｂを導く。これにより、流体圧力の低い圧力室の側に測定ダイヤフラムが差圧｜Ｐａ−Ｐｂ｜に応じて撓み、この測定ダイヤフラムの撓み具合をひずみゲージで検出し、更に変換器で差圧に応じた電気信号（アナログ値）を発生させ、この発生した電気信号をＡ／Ｄ変換器に送り、デジタル値に変換する。
【０００４】
処理装置は、Ａ／Ｄ変換器でデジタル値に変換された電気信号を所定のサンプリング周期Ｔｓ毎に所定のサンプリング時間ｔｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算，一次遅れ演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器を介して出力する。
【０００５】
なお、上述において、一次遅れ演算はダンピング演算とも呼ばれ、出力のふらつきを抑制するために行われる。ダンピング演算に際しては、ダンピング時定数Ｄτが用いられる。ダンピング時定数Ｄτは設定変更可能とされ、ダンピング時定数Ｄτを大きくするほど、安定した出力が得られる。ただし、ダンピング演算を行うと演算処理のスピードは遅くなる。
【０００６】
また、上述において、サンプリング周期Ｔｓは、リニアライズ演算，開平演算，ダンピング演算などの様々な演算処理が全て行われた場合に掛かる最大演算時間ｔｍａｘを考慮して、サンプリング時間ｔｓ＋最大演算時間ｔｍａｘ以上の一定値として長めに定められている。また、Ａ／Ｄ変換器から安定的にサンプリング値を得るためにはサンプリング時間ｔｓを長くすることが有効であるから、サンプリング時間ｔｓは安定性を重視して長め（一定値）に定められている。
【０００７】
図１０にサンプリング周期Ｔｓ、サンプリング時間ｔｓ、最大演算時間ｔｍａｘの関係を示す。差圧の計測値ΔＰは、サンプリング周期Ｔｓ毎に、サンプリング時間ｔｓ＋最大演算時間ｔｍａｘ以上経過した後に得られる。
【０００８】
【特許文献１】特開平２−８８９２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上述した差圧発信器では、サンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓが長いと応答性が悪くなるというデメリットがあり、測定値の安定性と応答性は二律背反の関係にある。現実には、差圧発信器が用いられるアプリケーションでは、測定値の安定性と応答性の要求は様々であり、安定性が重視される場合もある一方で、応答性が重視される場合もある。
【００１０】
そこで、応答性が重視されるアプリケーションで差圧発信器を使用する場合は、ダンピング演算で用いるダンピング時定数Ｄτを小さくし、ダンピング演算を速く完了するようにして高速化を図ろうとする。しかしながら、従来においては、サンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓが一定値として長めに定められているので、高速応答性が要求されても抜本的に改善することができない。このため、ガスタービン発電の燃料制御等、高速応答性が要求されるアプリケーションに対応できないという問題があった。
【００１１】
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、高速応答性の要求に応えることが可能な差圧発信器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
このような目的を達成するために本発明は、流体の圧力差を検出する差圧センサと、この差圧センサが検出する流体の圧力差に応じた電気信号を所定のサンプリング周期毎に所定のサンプリング時間のあいだサンプリングするサンプリング手段と、このサンプリング手段によってサンプリングされた電気信号に少なくとも１次遅れ演算を含む演算処理を施して差圧の計測値を求める差圧計測値演算手段とを備えた差圧発信器において、前記１次遅れ演算に際して用いられるダンピング時定数の設定変更をユーザの操作により可能とするダンピング時定数設定変更手段と、サンプリング周期およびサンプリング時間の少なくとも一方をサンプリング条件とし、前記ダンピング時定数に基づいて、前記演算処理のスピードが速くなる場合には短くなるようにサンプリング条件を自動的に変更するサンプリング条件自動変更手段を設けたものである。
【００１３】
この発明によれば、１次遅れ演算に際して用いられるダンピング時定数がユーザの操作により演算処理のスピードが速くなる方向に変更されると、サンプリング周期およびサンプリング時間の少なくとも一方が短くなるように自動的に変更される。
【００１４】
例えば、ダンピング時定数をＤτとし、ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプリング周期Ｔｓが１００ｍｓから５０ｍｓに、サンプリング時間ｔｓが６０ｍｓから３０ｍｓに自動的に変更されるようにする。
【００１５】
本発明では、サンプリング条件として、サンプリング周期のみを変更するようにしてもよいし、サンプリング時間のみを変更するようにしてもよい。また、サンプリング条件として、サンプリング周期とサンプリング時間の両方を変更するようにしてもよい。また、本発明において、ダンピング時定数およびサンプリング条件の少なくとも一方を設定条件として表示するようにすれば、現在の設定条件が分かり、また、ダンピング時定数やサンプリング条件を設定変更するときの参考にもなる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、サンプリング周期およびサンプリング時間の少なくとも一方をサンプリング条件とし、ダンピング時定数に基づいて、演算処理のスピードが速くなる場合には短くなるようにサンプリング条件を自動的に変更するようにしたので、応答性を重視してダンピング時定数が小さくされる場合には、サンプリング周期およびサンプリング時間の少なくとも一方を自動的に短くして、高速応答性の要求に応えることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。図１はこの発明に係る差圧発信器の一実施の形態の要部を示すブロック図である。同図において、１は差圧センサ、２はＡ／Ｄ変換器、３は処理装置（ＭＰＵ）、４はＤ／Ａ変換器、５は処理装置３において使用されるダンピング時定数Ｄτの設定をユーザからの操作に応じて変更可能とするダンピング時定数設定変更部である。
【００１８】
この差圧発信器１００において、差圧センサ１は流体の圧力差を検出し、この圧力差に応じた電気信号（アナログ値）をＡ／Ｄ変換器２に送る。Ａ／Ｄ変換器２は、電源電圧Ｖｃｃの供給を受けて常時動作し、差圧センサ１からの圧力差に応じた電気信号をデジタル値に変換する。
【００１９】
処理装置３は、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して処理装置としての各種機能を実現させるプログラムとによって実現され、本実施の形態特有の機能としてサンプリング条件自動変更機能を有している。以下、図２，図３，図４に示すフローチャートに従って、処理装置３が有するサンプリング条件自動変更機能の具体例について説明する。
【００２０】
〔実施の形態１：サンプリング周期を自動変更する例〕
処理装置３は、定期的に、現在設定されているダンピング時定数Ｄτをチェックする（図２：ステップＳ１０１）。ここで、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０であれば（ステップＳ１０１のＮＯ）、サンプルモードを標準モードとして（ステップＳ１０２）、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝１００ｍｓとする（ステップＳ１０３）。
【００２１】
これに対し、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０であれば（ステップＳ１０１のＹＥＳ）、サンプルモードを高速モードとして（ステップＳ１０４）、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝５０ｍｓとする（ステップＳ１０５）。
【００２２】
なお、この実施の形態１において、サンプリング時間ｔｓは、ダンピング時定数Ｄτに拘わらず、常に一定値（例えば、ｔｓ＝３０ｍｓ）とされるものとする。すなわち、ダンピング時定数Ｄτが変更されても、サンプリング時間ｔｓはｔｓ＝３０ｍｓを維持するものとする。
【００２３】
〔標準モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０で、標準モードとされている場合、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図５（ａ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング時定数Ｄτを使用して、ダンピング演算を実行する。
【００２４】
〔高速モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数設定変更部５からのユーザの操作によって、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプルモードを標準モードから高速モードに移行する。この場合、処理装置３は、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝５０ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図５（ｂ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング演算を実行しない。
【００２５】
図５（ｃ）に、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝１００ｍｓとしたままで、ダンピング演算のみを実行しないようにした場合のタイムチャートを示す。
【００２６】
図５（ｂ）と図５（ｃ）のタイムチャートを比較して分かるように、サンプリング周期Ｔｓを１００ｍｓから５０ｍｓに変更すると（図５（ｂ））、短周期で差圧の計測値ΔＰが得られるようになり、高速応答性の要求に応えることができるようになる。
【００２７】
〔実施の形態２：サンプリング時間を自動変更する例〕
処理装置３は、定期的に、現在設定されているダンピング時定数Ｄτをチェックする（図３：ステップＳ２０１）。ここで、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０であれば（ステップＳ２０１のＮＯ）、サンプルモードを標準モードとして（ステップＳ２０２）、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝６０ｍｓとする（ステップＳ２０３）。
【００２８】
これに対し、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０であれば（ステップＳ２０１のＹＥＳ）、サンプルモードを高速モードとして（ステップＳ２０４）、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝３０ｍｓとする（ステップＳ２０５）。
【００２９】
なお、この実施の形態２において、サンプリング周期Ｔｓは、ダンピング時定数Ｄτに拘わらず、常に一定値（例えば、Ｔｓ＝１００ｍｓ）とされるものとする。すなわち、ダンピング時定数Ｄτが変更されても、サンプリング周期ＴｓはＴｓ＝１００ｍｓを維持するものとする。
【００３０】
〔標準モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０で、標準モードとされている場合、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝６０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図６（ａ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング時定数Ｄτを使用して、ダンピング演算を実行する。
【００３１】
〔高速モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数設定変更部５からのユーザの操作によって、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプルモードを標準モードから高速モードに移行する。この場合、処理装置３は、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図６（ｂ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング演算を実行しない。
【００３２】
図６（ｃ）に、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝６０ｍｓとしたままで、ダンピング演算のみを実行しないようにした場合のタイムチャートを示す。
【００３３】
図６（ｂ）と図６（ｃ）のタイムチャートを比較して分かるように、サンプリング時間ｔｓを６０ｍｓから３０ｍｓに変更すると（図６（ｂ））、サンプリング周期Ｔｓの開始後、短時間で差圧の計測値ΔＰが得られるようになり、高速応答性の要求に応えることができるようになる。
【００３４】
〔実施の形態３：サンプリング周期およびサンプリング時間を自動変更する例〕
処理装置３は、定期的に、現在設定されているダンピング時定数Ｄτをチェックする（図４：ステップＳ３０１）。ここで、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０であれば（ステップＳ３０１のＮＯ）、サンプルモードを標準モードとして（ステップＳ３０２）、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝１００ｍｓとし（ステップＳ３０３）、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝６０ｍｓとする（ステップＳ３０４）。
【００３５】
これに対し、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０であれば（ステップＳ３０１のＹＥＳ）、サンプルモードを高速モードとして（ステップＳ３０５）、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝５０ｍｓとし（ステップＳ３０６）、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝３０ｍｓとする（ステップＳ３０７）。
【００３６】
〔標準モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数ＤτがＤτ≠０で、標準モードとされている場合、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝６０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図７（ａ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング時定数Ｄτを使用して、ダンピング演算を実行する。
【００３７】
〔高速モード〕
処理装置３は、ダンピング時定数設定変更部５からのユーザの操作によって、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプルモードを標準モードから高速モードに移行する。この場合、処理装置３は、Ａ／Ｄ変換器２でデジタル値に変換された電気信号をサンプリング周期Ｔｓ＝５０ｍｓ毎にサンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓのあいだサンプリングし、このサンプリングした電気信号にリニアライズ演算，開平演算などの様々な演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求め、この求めた差圧の計測値ΔＰをＤ／Ａ変換器４を介して出力する（図７（ｂ）参照）。この演算処理において、処理装置３は、ダンピング演算を実行しない。
【００３８】
図７（ｃ）に、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０に変更された場合、サンプリング周期ＴｓをＴｓ＝１００ｍｓ、サンプリング時間ｔｓをｔｓ＝６０ｍｓとしたままで、ダンピング演算のみを実行しないようにした場合のタイムチャートを示す。
【００３９】
図７（ｂ）と図７（ｃ）のタイムチャートを比較して分かるように、サンプリング周期Ｔｓを１００ｍｓから５０ｍｓに変更し、サンプリング時間ｔｓを６０ｍｓから３０ｍｓに変更すると（図７（ｂ））、短周期で差圧の計測値ΔＰが得られるようになり、また、サンプリング周期Ｔｓの開始後、短時間で差圧の計測値ΔＰが得られるようになり、高速応答性の要求に応えることができるようになる。
【００４０】
この実施の形態３では、サンプリング時間ｔｓとサンプリング周期Ｔｓがともに短くなり、差圧の計測値ΔＰが求められるタイミングが速まるので、標準モードに比べ、より高速化を実現することができる。
【００４１】
また、上述した実施の形態１〜３のように、ダンピング時定数Ｄτに基づいてサンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓを自動的に変更することで、ユーザはサンプリング周期やサンプリング時間を意識することなく、高速応答性を実現できるようになる。また、１台の差圧発信器で様々なアプリケーションに対応できるので、顧客での予備品の低減にも大きく貢献できる。
【００４２】
なお、上述した実施の形態１〜３では、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０とされた場合を高速モードとし、サンプリング周期Ｔｓを１００ｍｓから５０ｍｓに自動的に変更したり、サンプリング時間ｔｓを６０ｍｓから３０ｍｓに自動的に変更するようにしたが、高速モードへの変更を判断するための閾値はＤτ＝０に限られるものではない。例えば、Ｄτ＝１ｓを閾値とし、Ｄτ≦１ｓではダンピング時定数Ｄτを使用してダンピング演算を行う一方、サンプリング周期Ｔｓを１００ｍｓから５０ｍｓに自動的に変更したり、サンプリング時間ｔｓを６０ｍｓから３０ｍｓに自動的に変更したりして、高速応答性の要求に応えるようにしてもよい。
【００４３】
また、上述した実施の形態１〜３では、標準モードでのサンプリング周期Ｔｓを１００ｍｓ、高速モードでのサンプリング周期Ｔｓを５０ｍｓとしたり、標準モードでのサンプリング時間ｔｓをｔｓ＝６０ｍｓ、高速モードでのサンプリング時間ｔｓを３０ｍｓとしたりするようにしたが、標準モードや高速モードでのサンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓはこれらの値に限られるものでないことは言うまでもない。
【００４４】
また、上述した実施の形態１〜３において、ダンピング時定数Ｄτに従っていくつかの領域に分けてサンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓを変更し、サンプルモードを増やすようにしてもよい。例えば、（１）高速モード（差圧発信器の応答性を特に重視するアプリケーション向け）、（２）標準モード（ある程度の応答性は保ちつつ、外来ノイズ（例えば、商用ノイズ）は除去したいアプリケーション向け）、(３)高安定モード（低速モード：差圧発信器の出力の安定性を重視され、標準モードの外来ノイズに加え、プロセス入力のふらつきを押さえたアプリケーション向け）というような３つのモードを準備し、Ｄτ＝０の場合を高速モード（サンプリング周期Ｔｓ＝５０ｍｓ、サンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓ）、Ｄτ≦１ｓの場合を標準モード（サンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ、サンプリング時間ｔｓ＝６０ｍｓ）、Ｄτ＞１ｓの場合を高安定モード（サンプリング周期Ｔｓ＝２００ｍｓ、サンプリング時間ｔｓ＝１２０ｍｓ）というように、ダンピング時定数Ｄτの値によってモードを切り換えるようにすることも可能である。
【００４５】
また、回路は複雑になるが、ダンピング時定数Ｄτの値により、Ａ／Ｄ変換器２へ電気信号を入力する際のＡ／Ｄフィルタ定数（抵抗、コンデンサ）、Ｄ／Ａ変換器４から電気信号を出力する際のＤ／Ａフィルタ定数（抵抗、コンデンサ）を切り換えるような機能を追加すれば、更なる高速化や安定化を図ることが可能になる。例えば、Ｄτ＝０のとき、サンプリング周期Ｔｓ＝５０ｍｓ、サンプリング時間ｔｓ＝３０ｍｓとし、Ａ／Ｄフィルタ定数およびＤ／Ａフィルタ定数を小さくする。Ｄτ＞１ｓのとき、サンプリング周期Ｔｓ＝１００ｍｓ、サンプリング時間ｔｓ＝６０ｍｓとし、Ａ／Ｄフィルタ定数およびＤ／Ａフィルタ定数を大きくする。このような機能を追加することによって、更なる高速化や安定化を図ることが可能となる。
【００４６】
また、上述した実施の形態１〜３において、図８に示すように表示部６を設け、処理装置３で使用するダンピング時定数Ｄτやサンプリング条件（サンプリング周期Ｔｓ、サンプリング時間ｔｓ）を設定条件として表示部６に表示するようにしてもよい。これにより、現在の設定条件が分かり、また、ダンピング時定数Ｄτやサンプリング条件を設定変更するときの参考にもなる。
【００４８】
図９に上述した差圧発信器１００の処理装置３内の機能ブロック図を示す。差圧発信器１００において、処理装置３は、サンプリング手段３Ａと、差圧計測値演算手段３Ｂと、サンプリング条件自動変更手段３Ｃとを備えている。サンプリング手段３Ａは、差圧センサ１が検出する流体の圧力差に応じた電気信号をサンプリング周期Ｔｓ毎にサンプリング時間ｔｓのあいだサンプリングする。差圧計測値演算手段３Ｂは、サンプリング手段３Ａによってサンプリングされた電気信号に少なくともダンピング演算を含む演算処理を施して差圧の計測値ΔＰを求める。サンプリング条件自動変更手段３Ｃは、現在設定されているダンピング時定数Ｄτに基づき、ダンピング時定数ＤτがＤτ＝０とされた場合には短くなるように、サンプリング手段３Ａにおけるサンプリング周期Ｔｓやサンプリング時間ｔｓを自動的に変更する。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明に係る差圧発信器の一実施の形態の要部を示すブロック図である。
【図２】この差圧発信器の処理装置が有するサンプリング条件自動変更機能に従う処理動作の一例（実施の形態１）を示すフローチャートである。
【図３】この差圧発信器の処理装置が有するサンプリング条件自動変更機能に従う処理動作の他の例（実施の形態２）を示すフローチャートである。
【図４】この差圧発信器の処理装置が有するサンプリング条件自動変更機能に従う処理動作の他の例（実施の形態３）を示すフローチャートである。
【図５】実施の形態１における標準モード時および高速モード時のサンプリング動作を説明するためのタイムチャートである。
【図６】実施の形態２における標準モード時および高速モード時のサンプリング動作を説明するためのタイムチャートである。
【図７】実施の形態３における標準モード時および高速モード時のサンプリング動作を説明するためのタイムチャートである。
【図８】処理装置で使用するダンピング時定数やサンプリング条件（サンプリング周期、サンプリング時間）を設定条件として表示する表示部を設けた例を示す図である。
【図９】差圧発信器における処理装置内の機能ブロック図である。
【図１０】従来の差圧発信器におけるサンプリング動作を説明するためのタイムチャートである。
【符号の説明】
【００５０】
１…差圧発信器、２…Ａ／Ｄ変換器、３…処理装置（ＭＰＵ）、３Ａ…サンプリング手段、３Ｂ…差圧計測値演算手段、３Ｃ…サンプリング条件自動変更手段、４…Ｄ／Ａ変換器、５…ダンピング時定数設定変更部、６…表示部、Ｔｓ…サンプリング周期、ｔｓ…サンプリング時間、Ｄτ…ダンピング時定数。
【図１】
0005330703.tif 000002
【図２】
0005330703.tif 000003
【図３】
0005330703.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
0005330703.tif 000009
【図９】
0005330703.tif 000010
【図１０】
0005330703.tif 000011