(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のリレーを試験する試験装置であって、
前記複数のリレーが直列に接続される出力端接続部と、
前記複数のリレーのそれぞれをオン状態またはオフ状態に遷移させる複数の制御素子が直列に接続される制御端接続部と、
直列に接続された複数の前記制御素子に、予め定められた駆動電流を供給する駆動部とを有し、試験対象の前記リレーを選択し、選択した前記リレーの前記制御素子により選択した前記リレーをオフ状態に制御し、他の前記制御素子により他の前記リレーをオン状態に制御するリレー制御部と、
直列に接続された前記複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、前記リレー制御部が選択する前記リレーのリーク電流を測定する測定部と、
前記測定部が測定した前記リーク電流に基づいて、前記複数のリレーの良否を判定する判定部と
を備える試験装置。
【請求項２】
前記リレー制御部は、それぞれの前記リレーを、試験対象として順次選択し、
前記測定部は、前記リレー制御部が順次選択する前記リレーのリーク電流を順次測定する
請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記リレー制御部は、
前記複数のリレーと一対一に対応して、それぞれ対応する前記リレーの制御素子に対して並列に設けられ、前記駆動電流をそれぞれ対応する前記リレーの制御素子に流すか、または、対応する前記リレーの制御素子に流さずに次段の前記リレーの制御素子にバイパスするかを切り替える複数のバイパス部と
を有する請求項２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記リレー制御部は、順次選択すべき前記リレーに対応する前記バイパス部に、前記駆動電流をバイパスさせる制御電力を順次供給する選択部を更に有する
請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記複数のリレーの両端に、前記測定部を接続するか、または、予め定められた負荷を有する負荷回路を接続するかを切り替える切替部を更に備える
請求項４に記載の試験装置。
【請求項６】
前記リレー制御部は、直列に接続された前記複数のリレーの両端に前記負荷回路が接続された場合、全ての前記リレーをオン状態に制御する
請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
前記制御端接続部は、予め定められた数ずつのグループに分割され、グループ内において前記リレーの制御素子を直列に接続する、
請求項４に記載の試験装置。
【請求項８】
前記リレーのスイッチ部は、与えられる光信号に応じて状態が遷移し、
前記リレーの前記制御素子は、与えられる電流に応じて発光して前記光信号を生成する発光ダイオードであり、
それぞれの前記バイパス部は、前記駆動電流をバイパスした場合に、対応する前記発光ダイオードに逆バイアスを印加する
請求項３に記載の試験装置。
【請求項９】
前記リレー制御部は、初段の前記発光ダイオードおよび前記駆動部の間に設けられ、初段の前記発光ダイオードに印加される電圧を、前記発光ダイオードの順方向電圧より大きい電圧で降圧させる降圧部を更に有し、
それぞれの前記バイパス部は、
前記発光ダイオードと並列に設けられる第１バイパスダイオードと、
前記発光ダイオードおよび前記第１バイパスダイオードに対して並列に設けられる第２バイパスダイオードと、
前記発光ダイオードの入力端および前記第１バイパスダイオードの入力端を、前記駆動電流をバイパスする場合に接続し、前記駆動電流を前記発光ダイオードに供給する場合に切り離す第１バイパススイッチと、
前記発光ダイオードの出力端および前記第２バイパスダイオードの出力端を、前記駆動電流をバイパスする場合に接続し、前記駆動電流を前記発光ダイオードに供給する場合に切り離す第２バイパススイッチと
を有し、
それぞれの前記第１バイパスダイオードは直列に接続され、
それぞれの前記第２バイパスダイオードは直列に接続され、
前記駆動部は、前記降圧部および初段の前記第２バイパスダイオードのそれぞれに、予め定められた駆動電流を供給する
請求項８に記載の試験装置。
【請求項１０】
前記リレー制御部は、全ての前記リレーをオフ状態にする場合に、前記降圧部に供給すべき駆動電流を、初段の前記第１バイパスダイオードに切り替えて供給する駆動電圧切替部を更に有する
請求項９に記載の試験装置。
【請求項１１】
前記試験装置は、前記複数のリレーがオフ状態からオン状態に遷移する遷移時間に更に基づいて前記複数のリレーを試験し、
前記遷移時間に基づいて前記複数のリレーの良否を判定する場合において、前記リレー制御部は、前記複数のリレーを、全てオフ状態から全てオン状態に同時に遷移させ、
前記測定部は、前記複数のリレーに流れる電流に基づいて、前記複数のリレーのそれぞれの前記遷移時間のうち、最大の前記遷移時間を検出し、
前記判定部は、前記測定部が検出した前記最大の遷移時間に基づいて、前記複数のリレーに不良品が含まれているか否かを判定する
請求項２に記載の試験装置。
【請求項１２】
前記試験装置は、前記複数のリレーに予め定められた電流を供給したときの、前記リレーの両端に発生する電圧に更に基づいて前記複数のリレーを試験し、
前記リレー制御部は、前記複数のリレーを、それぞれ同数の２つのグループに分割し、一方のグループに属する前記リレーをオン状態からオフ状態に遷移させ、他方のグループに属する前記リレーをオフ状態からオン状態に遷移させ、
前記測定部は、前記リレー制御部が前記リレーの状態を遷移させる前後における、前記複数のリレーの両端に発生する電圧を測定し、
前記判定部は、前記測定部が測定した電圧に基づいて、それぞれの前記グループに不良品が含まれているか否かを判定する
請求項２に記載の試験装置。
【請求項１３】
複数のリレーのリーク特性を測定する測定装置であって、
前記複数のリレーが直列に接続される出力端接続部と、
前記複数のリレーのそれぞれをオン状態またはオフ状態に遷移させる複数の制御素子が直列に接続される制御端接続部と、
直列に接続された複数の前記制御素子に、予め定められた駆動電流を供給する駆動部とを有し、前記リレーを選択し、選択した前記リレーの前記制御素子により選択した前記リレーをオフ状態に制御し、他の前記制御素子により他の前記リレーをオン状態に制御するリレー制御部と、
直列に接続された前記複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、前記リレー制御部が選択する前記リレーのリーク電流を測定する測定部と
を備える測定装置。
【請求項１４】
複数のリレーを試験する試験方法であって、
前記複数のリレーを直列に接続し、
前記リレーを選択し、選択した前記リレーをオフ状態に制御し、他の前記リレーをオン状態に制御し、
直列に接続された前記複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、選択した前記リレーのリーク電流を測定し、
測定した前記リーク電流に基づいて、前記複数のリレーの良否を判定する試験方法。
【請求項１５】
複数のリレーのリーク特性を測定する測定方法であって、
前記複数のリレーを直列に接続し、
前記リレーを選択し、選択した前記リレーをオフ状態に制御し、他の前記リレーをオン状態に制御し、
直列に接続された前記複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、選択した前記リレーのリーク電流を測定する測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置、測定装置、試験方法および測定方法に関する。特に本発明は、複数のリレーを試験する試験装置および試験方法、並びに、複数のリレーのリーク特性を測定する測定装置および測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
リレーのリーク特性を試験する試験装置が知られている（例えば、特許文献１参照。）。リレーのリーク特性を試験する試験装置は、一例として、リレーを所定時間動作させた後に、当該リレーのオフ時のリーク電流を測定して、当該リレーの良否を判定する。
【特許文献１】特開平８−１８４６２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
複数のリレーのリーク特性を並行して試験する場合、試験装置は、複数のリレーのそれぞれに測定器を接続して、リーク電流を測定しなければならなかった。従って、試験装置は、複数のリレーのそれぞれと測定器との接続を切り換える切換回路を備えなければならなく、回路構成が大きくなってしまっていた。
【０００４】
また、複数のリレーのリーク特性を並行して試験する場合、試験装置は、複数のリレーのそれぞれに対して、当該リレーの状態を遷移させるための駆動電流を供給しなければならない。従って、試験装置は、リレーの個数に応じた駆動電流を発生しなければならないので、多数（例えば数百個）のリレーのリーク特性を並行して試験することは困難であった。
【０００５】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置、測定装置、試験方法および測定方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、複数のリレーを試験する試験装置であって、複数のリレーが直列に接続される出力端接続部と、試験対象のリレーを選択し、選択したリレーをオフ状態に制御し、他のリレーをオン状態に制御するリレー制御部と、直列に接続された複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、リレー制御部が選択するリレーのリーク電流を測定する測定部と、測定部が測定したリーク電流に基づいて、複数のリレーの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
【０００７】
本発明の第２の形態においては、複数のリレーのリーク特性を測定する測定装置であって、複数のリレーが直列に接続される出力端接続部と、リレーを選択し、選択したリレーをオフ状態に制御し、他のリレーをオン状態に制御するリレー制御部と、直列に接続された複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、リレー制御部が選択するリレーのリーク電流を測定する測定部とを備える測定装置を提供する。
【０００８】
本発明の第３の形態においては、複数のリレーを試験する試験方法であって、複数のリレーを直列に接続し、リレーを選択し、選択したリレーをオフ状態に制御し、他のリレーをオン状態に制御し、直列に接続された複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、選択したリレーのリーク電流を測定し、測定したリーク電流に基づいて、複数のリレーの良否を判定する試験方法を提供する。
【０００９】
本発明の第４の形態においては、複数のリレーのリーク特性を測定する測定方法であって、複数のリレーを直列に接続し、リレーを選択し、選択したリレーをオフ状態に制御し、他のリレーをオン状態に制御し、直列に接続された複数のリレーの両端に予め定められた電圧を印加し、選択したリレーのリーク電流を測定する測定方法を提供する。
【００１０】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１２】
図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を、試験対象となる複数のリレー２００（２００−１〜２００−Ｎ）とともに示す。試験装置１０は、複数のリレー２００のそれぞれのリーク特性を試験する。本実施形態に係る試験装置１０は、複数のリレー２００を並行して所定時間動作させた後に、複数のリレー２００のそれぞれのリーク電流を測定して、複数のリレー２００のそれぞれの良否を判定する。
【００１３】
本実施形態において、複数のリレー２００のそれぞれは、フォトリレーであってよい。これに代えて、複数のリレー２００のそれぞれは、一例として、機械式リレーおよび他の半導体リレー等であってもよい。
【００１４】
複数のリレー２００のそれぞれは、一例として、スイッチ部２１０と、制御素子２２０とを有する。スイッチ部２１０は、２つの出力端子間を接続した状態（オン状態）または２つの出力端子間を非接続とした状態（オフ状態）に遷移する。本実施形態において、スイッチ部２１０は、与えられる光信号に応じて状態が遷移する光スイッチ（例えばフォトトランジスタ等）であってよい。
【００１５】
制御素子２２０は、与えられた電流に応じて、スイッチ部２１０をオン状態またはオフ状態に遷移させる。本実施形態において、制御素子２２０は、与えられる電流に応じて発光して光信号を生成する発光ダイオードであってよい。このようなリレー２００は、スイッチ部２１０がオン状態となることで、オン状態となり、スイッチ部２１０がオフ状態となることで、オフ状態となる。
【００１６】
試験装置１０は、リレー制御部２４と、出力端接続部２６と、測定部２８と、判定部３０と、負荷回路３２と、第１電源３４と、切替部３６とを備える。
【００１７】
リレー制御部２４は、リーク電流を測定する場合において、複数のリレー２００のうち試験対象の一のリレー２００を順次に選択する。そして、リレー制御部２４は、リーク電流を測定する場合において、選択したリレー２００をオフ状態に制御し、他のリレー２００をオン状態に制御する。また、リレー制御部２４は、複数のリレー２００に電流を通電する場合において、複数のリレー２００の全てをオン状態にする。
【００１８】
本実施形態において、リレー制御部２４は、制御端接続部４０と、駆動部４２と、第２電源４４と、複数のバイパス部４６と、選択部４８とを有する。制御端接続部４０は、複数のリレー２００のそれぞれの制御素子２２０が直列に接続される。制御端接続部４０は、一例として、発光ダイオードである制御素子２２０を、順方向に直列に接続する配線であってよい。
【００１９】
駆動部４２は、制御端接続部４０により直列に接続された複数の制御素子２２０に、予め定められた駆動電流を供給する。例えば、駆動部４２は、発光ダイオードである制御素子２２０が発光可能な電流量の順方向の駆動電流ＩＤを、直列に接続された複数の制御素子２２０に流して、制御素子２２０（発光ダイオード）を発光させる。このような駆動部４２は、直列に接続された複数の制御素子２２０に駆動電流を流すので、複数のリレー２００のそれぞれの状態を遷移させることができる。第２電源４４は、駆動部４２に電力を与える。
【００２０】
複数のバイパス部４６は、複数のリレー２００と一対一に対応して設けられる。複数のバイパス部４６のそれぞれは、対応するリレー２００の制御素子２２０に対して並列に設けられる。そして、複数のバイパス部４６のそれぞれは、駆動部４２から供給された駆動電流を対応するリレー２００の制御素子２２０に流すか、または、対応する制御素子２２０に流さずに次段の制御素子２２０にバイパスするかを切り替える。
【００２１】
複数のバイパス部４６のそれぞれは、一例として、発光ダイオードである制御素子２２０のアノードとカソードとの間を接続または非接続とする、リレーであってよい。この場合において、複数のバイパス部４６のそれぞれは、駆動電流を対応するリレー２００の制御素子２２０に流す場合には、制御素子２２０（発光ダイオード）のアノードとカソードとの間を開放する。また、複数のバイパス部４６のそれぞれは、駆動電流を対応するリレー２００の制御素子２２０に流さずに次段の制御素子２２０にバイパスする場合には、制御素子２２０（発光ダイオード）のアノードとカソードとの間を短絡する。
【００２２】
本実施形態において、複数のバイパス部４６のそれぞれは、バイパス用光スイッチ５２と、バイパス用フォトダイオード５４とを有するフォトリレーであってよい。バイパス用光スイッチ５２は、与えられる光信号に応じて、２つの出力端子間を接続した状態（オン状態）または２つの出力端子間を非接続とした状態（オフ状態）に遷移する。バイパス用フォトダイオード５４は、与えられた電流に応じて光信号を発生して、バイパス用光スイッチ５２をオン状態またはオフ状態に遷移させる。
【００２３】
このような複数のバイパス部４６のそれぞれは、バイパス用光スイッチ５２がオン状態の場合において、駆動電流を対応する制御素子２２０（発光ダイオード）に流さずに次段の制御素子２２０（発光ダイオード）にバイパスすることができる。そして、複数のバイパス部４６のそれぞれは、バイパス用光スイッチ５２がオフ状態の場合において、駆動電流を対応する制御素子２２０（発光ダイオード）に流すことができる。
【００２４】
選択部４８は、リーク電流を測定する場合において、順次選択すべきリレー２００に対応するバイパス部４６に、駆動電流をバイパスさせる制御電力を順次供給する。また、選択部４８は、複数のリレー２００に電流を通電する場合において、複数のリレー２００の全てに対応するバイパス部４６に、駆動電流をバイパスさせない制御電力を供給する。
【００２５】
出力端接続部２６は、複数のリレー２００が直列に接続される。出力端接続部２６は、一例として、複数のリレー２００のそれぞれのスイッチ部２１０を直列に接続する配線であってよい。
【００２６】
測定部２８は、リーク電流を測定する場合において、直列に接続された複数のリレー２００の両端に予め定められた電圧を印加する。そして、測定部２８は、リーク電流を測定する場合において、直列に接続された複数のリレー２００の両端に予め定められた電圧を印加した状態で、リレー制御部２４が順次選択するリレー２００のそれぞれのリーク電流を、順次測定する。
【００２７】
すなわち、測定部２８は、リレー制御部２４により選択されたリレー２００がオフとされ、他のリレー２００がオンとされた各状態で、直列に接続された複数のリレー２００に流れる電流を測定する。これにより、測定部２８は、リレー制御部２４により選択されたリレー２００のオフ時のリーク電流を測定することができる。
【００２８】
判定部３０は、測定部２８が順次測定したリーク電流に基づいて、複数のリレー２００の良否を判定する。判定部３０は、一例として、リーク電流が予め定められた値より大きいリレー２００を不良と判定してよい。
【００２９】
負荷回路３２は、予め定められた負荷を有する。第１電源３４は、負荷回路３２に対して直列に接続され、予め定められた電圧を発生する。
【００３０】
切替部３６は、直列に接続された複数のリレー２００の両端に、測定部２８を接続するか、または、直列に接続された負荷回路３２および第１電源３４を接続するかを切り替える。より詳しくは、切替部３６は、リーク電流を測定する場合において、直列に接続された複数のリレー２００の両端に、測定部２８を接続する。また、切替部３６は、複数のリレー２００に電流を通電する場合において、直列に接続された複数のリレー２００の両端に、負荷回路３２および第１電源３４を接続する。
【００３１】
図２は、本実施形態に係る試験装置１０の動作フローを示す。まず、試験装置１０は、複数のリレー２００を出力端接続部２６および制御端接続部４０が設けられたボート等に装着して、複数のリレー２００のそれぞれのスイッチ部２１０を直列に接続するとともに複数のリレー２００のそれぞれの制御素子２２０を直列に接続する。
【００３２】
次に、試験装置１０は、複数のリレー２００の全てに所定の電流を流した状態（動作状態）とする（Ｓ１２）。より詳しくは、ステップＳ１２において、リレー制御部２４は、複数のリレー２００の全てをオン状態にする。さらに、切替部３６は、直列に接続された複数のリレー２００の両端に、負荷回路３２および第１電源３４を接続する。
【００３３】
次に、複数のリレー２００が動作状態とされてから所定時間経過後、試験装置１０は、複数のリレー２００のそれぞれのリーク電流の測定処理を開始する（Ｓ１３）。より詳しくは、切替部３６は、直列に接続された複数のリレー２００の両端に、測定部２８を接続する。
【００３４】
リーク電流の測定処理が開始されると、リレー制御部２４は、複数のリレー２００のうちから順次に一つのリレー２００を選択する。そして、リレー制御部２４は、リレー２００を選択する毎に、次のステップＳ１５およびＳ１６の処理を実行する（Ｓ１４、Ｓ１７）。
【００３５】
ステップＳ１５において、リレー制御部２４は、選択した一つのリレー２００をオフ状態に制御し、他のリレー２００をオン状態に制御する。ステップＳ１６において、測定部２８は、複数のリレー２００の両端に予め定められた電圧を印加した状態で、直列に接続された複数のリレー２００の両端に流れる電流を測定する。これにより、測定部２８は、リレー制御部２４により選択されたリレー２００のオフ時のリーク電流を測定することができる。
【００３６】
全てのリレー２００についてステップＳ１５およびＳ１６の処理を完了すると（Ｓ１７）、判定部３０は、複数のリレー２００のそれぞれのリーク電流に基づいて、複数のリレー２００のそれぞれの良否を判定する（Ｓ１８）。判定を終えると、試験装置１０は、当該動作フローを終了する。
【００３７】
このような試験装置１０によれば、複数のリレー２００のそれぞれと測定部２８との接続を切り換える切換回路を備えなくてよいので、回路構成を小さくすることができる。更に、このような試験装置１０によれば、１つのリレー２００に供給すべき駆動電流で、複数のリレー２００を制御することができる。従って、試験装置１０によれば、多数（例えば、数百個）のリレー２００のリーク特性を並行して試験することができる。
【００３８】
図３は、選択部４８が複数のバイパス部４６に与える制御電流の一例を示す。バイパス部４６がリレーである場合、選択部４８は、複数のバイパス部４６のそれぞれに対して制御電流を与えることにより、複数のバイパス部４６のそれぞれをオン状態またはオフ状態に切り換える。
【００３９】
ここで、複数のリレー２００が常開（ノーマリーオープン）且つ複数のバイパス部４６（リレー）が常開の場合、選択部４８は、リーク電流の測定対象となる一のリレー２００に対応するバイパス部４６をオン且つ他のバイパス部４６をオフとすれば、当該一のリレー２００をオフ且つ他のリレー２００をオンとすることができる。すなわち、選択部４８は、測定対象となるリレー２００に対応するバイパス部４６に対して制御電流を供給すれば、他のバイパス部４６に制御電流を供給しなくても、当該一のリレー２００をオフ且つ他のリレー２００をオンとすることができる。
【００４０】
従って、試験対象となる複数のリレー２００が常開である場合、複数のバイパス部４６を常開とすると、選択部４８は、１つのリレーに対して供給すべき電流量で、複数のリレー２００を目的の状態に制御することができ、総電流量を減らすことができる。なお、同様に、試験対象となる複数のリレー２００が常閉（ノーマリークローズ）である場合、複数のバイパス部４６を常閉とすれば、選択部４８は、１つのリレーに対して供給すべき電流量で、複数のリレー２００を目的の状態に制御することができ、総電流量を減らすことができる。
【００４１】
図４は、本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、複数のリレー２００とともに示す。本変形例に係る試験装置１０は、図１に示された試験装置１０と略同一の構成および機能を採るので、図１に示された試験装置１０が備える部材と略同一の構成および機能の部材については図中に同一の符号を付けて、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４２】
本変形例において、制御端接続部４０、駆動部４２および第２電源４４は、予め定められた数ずつ（例えば、２以上ずつ）のグループに分割される。各制御端接続部４０は、グループ内において複数のリレー２００の制御素子２２０を直列に接続する。各駆動部４２は、対応するグループの制御端接続部４０により直列に接続された複数の制御素子２２０に、予め定められた駆動電流を供給する。各第２電源４４は、対応するグループの駆動部４２に電力を与える。
【００４３】
このような試験装置１０によれば、リレー２００の制御素子２２０をグループ毎に分割して直列に接続するので、例えば、制御端接続部４０、駆動部４２、第２電源４４およびバイパス部４６が設けられるボードを複数分割して筐体内等に配置することができる。なお、駆動部４２および第２電源４４は、一例として、複数のグループに共通して設けられる構成であってもよい。
【００４４】
図５は、本実施形態の第２変形例に係るリレー制御部２４の部分構成を、複数の発光ダイオード３２０とともに示す。本変形例に係る試験装置１０は、図１に示された試験装置１０と略同一の構成および機能を採るので、図１に示された試験装置１０が備える部材と略同一の構成および機能の部材については図中に同一の符号を付けて、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４５】
本変形例に係る試験装置１０は、制御素子２２０が発光ダイオード３２０であるリレー２００を試験する。本変形例に係るリレー制御部２４は、降圧部６０と、駆動電圧切替部７０とを更に有する。更に、それぞれのバイパス部４６は、第１バイパスダイオード６２と、第２バイパスダイオード６４と、第１バイパススイッチ６６と、第２バイパススイッチ６８とを含む。
【００４６】
降圧部６０は、直列に接続された複数の発光ダイオード３２０のうち初段の発光ダイオード３２０および駆動部４２の間に設けられる。降圧部６０は、初段の発光ダイオード３２０に印加される電圧を、発光ダイオード３２０の順方向電圧より大きい電圧で降圧させる。
【００４７】
第１バイパスダイオード６２は、対応する発光ダイオード３２０と並列に設けられる。第１バイパスダイオード６２は、発光ダイオード３２０とほぼ同一の順方向電圧を発生する。
【００４８】
第２バイパスダイオード６４は、対応する発光ダイオード３２０および第１バイパスダイオード６２に対して並列に設けられる。第２バイパスダイオード６４は、発光ダイオード３２０とほぼ同一の順方向電圧を発生する。
【００４９】
第１バイパススイッチ６６は、対応する発光ダイオード３２０の入力端（アノード）および第１バイパスダイオード６２の入力端（アノード）を、駆動電流をバイパスする場合に接続する。また、第１バイパススイッチ６６は、駆動電流を発光ダイオード３２０に供給する場合に、対応する発光ダイオード３２０の入力端（アノード）および第１バイパスダイオード６２の入力端（アノード）を、切り離す。
【００５０】
第２バイパススイッチ６８は、対応する発光ダイオード３２０の出力端（カソード）および第２バイパスダイオード６４の出力端（カソード）を、駆動電流をバイパスする場合に接続する。また、第２バイパススイッチ６８は、駆動電流を発光ダイオード３２０に供給する場合に、対応する発光ダイオード３２０の出力端（カソード）および第２バイパスダイオード６４の出力端（カソード）を、切り離す。
【００５１】
さらに、それぞれの第１バイパスダイオード６２は、直列に接続される。さらに、それぞれの第２バイパスダイオード６４は、直列に接続される。すなわち、それぞれの第１バイパスダイオード６２および第２バイパスダイオード６４のカソードは、次段の第１バイパスダイオード６２および第２バイパスダイオード６４のアノードに接続される。また、最終段の第１バイパスダイオード６２のカソードは、一例として、第２電源４４に接続される。
【００５２】
本変形例において、駆動部４２は、降圧部６０および初段の第２バイパスダイオード６４のそれぞれに、予め定められた駆動電流供給する。例えば、駆動部４２は、発光ダイオード３２０が発光可能な電流量の２倍の駆動電流２×ＩＤを発生して、降圧部６０および初段の第２バイパスダイオード６４のそれぞれに駆動電流ＩＤを供給する。
【００５３】
駆動電圧切替部７０は、全てのリレー２００をオフ状態にする場合に、降圧部６０に供給すべき駆動電流を、初段の第１バイパスダイオード６２に切り替えて供給する。このような駆動電圧切替部７０は、全てのリレー２００がオフ状態の場合、第２バイパスダイオード６４側に過電流が流れることを防止することができる。
【００５４】
図６は、図５に示したリレー制御部２４において、一の発光ダイオード３２０（例えば発光ダイオード３２０−４）に流すべき駆動電流をバイパスした場合の、駆動電流の流れの一例を示す。一の発光ダイオード３２０（例えば発光ダイオード３２０−４）に流すべき駆動電流をバイパスする場合、選択部４８は、当該一の発光ダイオード３２０に対応するバイパス部４６（例えばバイパス部４６−４）に含まれる第１バイパススイッチ６６および第２バイパススイッチ６８をオン状態とする。また、この場合、選択部４８は、他のバイパス部４６に含まれる第１バイパススイッチ６６および第２バイパススイッチ６８をオフ状態とする。
【００５５】
この結果、当該一の発光ダイオード３２０−４に対応するバイパス部４６−４に含まれる第１バイパススイッチ６６は、図６のＡに示されるように、初段の発光ダイオード３２０−１から前段の発光ダイオード３２０−３までに流れた駆動電流を、当該バイパス部４６−４の第１バイパスダイオード６２に供給する。また、当該一の発光ダイオード３２０−４に対応するバイパス部４６−４に含まれる第２バイパススイッチ６８は、図６のＢに示されるように、初段の第２バイパスダイオード６４から当該バイパス部４６−４に含まれる第２バイパスダイオード６４までに流れた駆動電流を、次段の発光ダイオード３２０−５に供給する。
【００５６】
ここで、降圧部６０は、発光ダイオード３２０の順方向電圧より大きい電圧で降圧する。従って、当該一の発光ダイオード３２０−４のアノードの電位は、当該一の発光ダイオード３２０−４のカソードの電位より低くなる。
【００５７】
このように、本変形例に係るそれぞれのバイパス部４６は、対応するリレー２００の発光ダイオード３２０に流すべき駆動電流をバイパスした場合に、対応するリレー２００の発光ダイオード３２０に逆バイアスを印加する。これにより、それぞれのバイパス部４６は、対応するリレー２００の発光ダイオード３２０の発光を確実に停止して、リレー２００を確実にオフ状態にすることができる。従って、試験装置１０は、より正確にリーク電流を測定することができる。
【００５８】
図７は、本実施形態の第３変形例に係るリレー制御部２４の部分構成を、複数の発光ダイオード３２０とともに示す。本変形例に係る試験装置１０は、図１に示された試験装置１０と略同一の構成および機能を採るので、図１に示された試験装置１０が備える部材と略同一の構成および機能の部材については図中に同一の符号を付けて、以下相違点を除き説明を省略する。
【００５９】
本変形例において、制御端接続部４０は、複数のバイパス部４６を直列に接続して、直列に接続された複数のバイパス部４６に、駆動部４２から供給された駆動電流ＩＤを流す。それぞれのバイパス部４６は、入力端７２から駆動電流を流入して、出力端７４から駆動電流を次段に流し出す。
【００６０】
それぞれのバイパス部４６は、第３バイパスダイオード７６と、反転スイッチ回路７８とを含む。第３バイパスダイオード７６は、対応する発光ダイオード３２０に、逆方向且つ並列に接続される。すなわち、第３バイパスダイオード７６は、アノードが対応する発光ダイオード３２０のカソードに接続され、カソードが対応する発光ダイオード３２０のアノードに接続される。
【００６１】
反転スイッチ回路７８は、駆動電流を対応する発光ダイオード３２０に流す場合、入力端７２と出力端７４との間に、発光ダイオード３２０を順方向に接続し且つ第３バイパスダイオード７６を逆方向に接続する。また、反転スイッチ回路７８は、駆動電流を対応する発光ダイオード３２０に流さずに次段の発光ダイオード３２０にバイパスする場合、入力端７２と出力端７４との間に、発光ダイオード３２０を逆方向に接続し且つ第３バイパスダイオード７６を順方向に接続する。
【００６２】
このような本変形例に係るそれぞれのバイパス部４６は、対応するリレー２００の発光ダイオード３２０に流すべき駆動電流をバイパスした場合に、当該発光ダイオード３２０に逆バイアスを印加することができる。これにより、それぞれのバイパス部４６は、対応するリレー２００の発光ダイオード３２０の発光を確実に停止して、リレー２００を確実にオフ状態にすることができる。従って、バイパス部４６がこのような構成な場合、試験装置１０は、より正確にリーク電流を測定することができる。
【００６３】
図８および図９は、本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、複数のリレー２００とともに示す。図８は、第１グループのリレー２００をオンおよび第２グループのリレー２００をオフとした状態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を示す。図９は、第１グループのリレー２００をオフおよび第２グループのリレー２００をオンとした状態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を示す。なお、本変形例に係る試験装置１０は、図１に示された試験装置１０と略同一の構成および機能を採るので、図１に示された試験装置１０が備える部材と略同一の構成および機能の部材については図中に同一の符号を付けて、以下相違点を除き説明を省略する。
【００６４】
本変形例に係る試験装置１０は、複数のリレー２００に予め定められた電流を供給したときの、リレー２００の両端に発生する電圧に更に基づいて複数のリレー２００を試験する。試験装置１０は、一例として、定電流源８０を更に備える。定電流源８０は、一例として、リレー２００に流れるオフ時のリーク電流以下の微小な電流を流してよい。
【００６５】
リレー制御部２４は、複数のリレー２００を、それぞれ同数（例えば２以上）の２つのグループに分割する。そして、リレー制御部２４は、一方のグループに属するリレー２００をオン状態からオフ状態に遷移させ、他方のグループに属するリレー２００をオフ状態からオン状態に遷移させる。
【００６６】
測定部２８は、リレー制御部２４がリレー２００の状態を遷移させる前後における、複数のリレー２００の両端に発生する電圧を測定する。測定部２８は、一例として、図８に示されるように、第１グループのリレー２００をオンおよび第２グループのリレー２００をオフとした状態において、複数のリレー２００の両端に発生する第１の電圧を測定する。続いて、測定部２８は、一例として、図９に示されるように、第１グループのリレー２００をオフおよび第２グループのリレー２００をオンとした状態において、複数のリレー２００の両端に発生する第２の電圧を測定する。
【００６７】
判定部３０は、測定部２８が測定した電圧に基づいて、それぞれのグループに不良品が含まれているか否かを判定する。判定部３０は、一例として、第１の電圧および第２の電圧のそれぞれをグループ内のリレー２００の個数に応じて定まる電圧と比較して、それぞれのグループに不良品が含まれているか否かを判定してよい。
【００６８】
ここで、オン状態とされたリレー２００に対して予め定められた電流を流した場合、当該リレー２００の両端に発生する電圧は、ほぼ０となる。また、オフ状態とされたリレー２００に対して予め定められた電流を流した場合、当該リレー２００の両端に発生する電圧は、リレー２００のオフ抵抗と予め定められた電流とを乗じた所定電圧（例えば、Ｖａ）となる。従って、オフ状態とされたグループ内のリレー２００が全て良品である場合、複数のリレー２００の両端に発生する電圧は、予め定められた電圧（例えばＭ×Ｖａ（Ｍはグループ内のリレー２００の個数））となる。
【００６９】
これに対して、不良によってオフ抵抗が小さくなったリレー２００に対して予め定められた電流を流した場合、当該リレー２００の両端に発生する電圧は、小さくなる。従って、オフ状態とされたグループに不良のリレー２００が含まれる場合、複数のリレー２００の両端に発生する電圧は、予め定められた電圧（例えばＭ×Ｖａ）より小さくなる。従って、判定部３０は、第１の電圧および第２の電圧のそれぞれを予め定められた電圧（例えばＭ×Ｖａ）と比較して、それぞれのグループに不良品が含まれているか否かを判定することができる。
【００７０】
このように本変形例に係る試験装置１０によれば、２回の測定で、複数のリレー２００に不良品が含まれるか否かを判定することができる。従って、試験装置１０は、試験時間を短縮化することができる。
【００７１】
また、他の変形例として、試験装置１０は、複数のリレー２００がオフ状態からオン状態に遷移する遷移時間に更に基づいて複数のリレー２００を試験してもよい。この場合において、リレー制御部２４は、直列に接続された複数のリレー２００に予め定められた電圧を印加した状態で、複数のリレー２００を、全てオフ状態から全てオン状態に同時に遷移させる。
【００７２】
さらに、測定部２８は、複数のリレー２００に流れる電流に基づいて、複数のリレー２００のそれぞれの遷移時間のうち、最大の遷移時間を検出する。測定部２８は、一例として、リレー２００をオフ状態から全てオン状態に遷移させたタイミングから、リレー２００に流れる電流が所定値に達したタイミングまでを計測する。そして、測定部２８は、計測結果を、複数のリレー２００のそれぞれの遷移時間のうち最大の遷移時間としてよい。
【００７３】
そして、判定部３０は、測定部２８が検出した最大の遷移時間に基づいて、複数のリレー２００に不良品が含まれているか否かを判定する。判定部３０は、一例として、測定部２８が検出した最大の遷移時間と、予め定められた時間とを比較して、複数のリレー２００に不良品が含まれているか否かを判定してよい。このような他の変形例に係る試験装置１０によれば、複数のリレー２００の中に、オフ状態からオン状態へ遷移する動作に異常を有するリレー２００が含まれているか否かを、試験することができる。
【００７４】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を、試験対象となる複数のリレー２００（２００−１〜２００−Ｎ）とともに示す。
【図２】図２は、本実施形態に係る試験装置１０の動作フローを示す。
【図３】図３は、選択部４８が複数のバイパス部４６に与える制御電流の一例を示す。
【図４】図４は、本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、複数のリレー２００とともに示す。
【図５】図５は、本実施形態の第２変形例に係るリレー制御部２４の部分構成を、複数の発光ダイオード３２０とともに示す。
【図６】図６は、図５に示したリレー制御部２４において、一の発光ダイオード３２０（例えば発光ダイオード３２０−４）に流すべき駆動電流をバイパスした場合の、駆動電流の流れの一例を示す。
【図７】図７は、本実施形態の第３変形例に係るリレー制御部２４の部分構成を、複数の発光ダイオード３２０とともに示す。
【図８】図８は、第１グループのリレー２００をオンおよび第２グループのリレー２００をオフとした状態の本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、複数のリレー２００とともに示す。
【図９】図９は、第１グループのリレー２００をオフおよび第２グループのリレー２００をオンとした状態の本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、複数のリレー２００とともに示す。
【符号の説明】
【００７６】
１０  試験装置
２４  リレー制御部
２６  出力端接続部
２８  測定部
３０  判定部
３２  負荷回路
３４  第１電源
３６  切替部
４０  制御端接続部
４２  駆動部
４４  第２電源
４６  バイパス部
４８  選択部
５２  バイパス用光スイッチ
５４  バイパス用フォトダイオード
６０  降圧部
６２  第１バイパスダイオード
６４  第２バイパスダイオード
６６  第１バイパススイッチ
６８  第２バイパススイッチ
７０  駆動電圧切替部
７２  入力端
７４  出力端
７６  第３バイパスダイオード
７８  反転スイッチ回路
８０  定電流源
２００  リレー
２１０  スイッチ部
２２０  制御素子
３２０  発光ダイオード
【図１】
0005201986.tif 000002
【図２】
0005201986.tif 000003
【図３】
0005201986.tif 000004
【図４】
0005201986.tif 000005
【図５】
0005201986.tif 000006
【図６】
0005201986.tif 000007
【図７】
0005201986.tif 000008
【図８】
0005201986.tif 000009
【図９】
0005201986.tif 000010