(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
抵抗性タッチスクリーン・システムであって、
第１導電性コーティングを有して成るカバーシート、
第２導電性コーティングを有して成る基板、および
コントローラーを有して成り、
前記基板および前記カバーシートが、前記第１導電性コーティングが前記第２導電性コーティングと面するように互いに隣接して設置され、
前記基板および前記カバーシートが、タッチがない状態では互いに電気的に接続されず、
前記コントローラーが、(ａ)前記基板および前記カバーシートが少なくとも２つのタッチ位置で互いに電気的に接続される際、多数のタッチ状態を同定し、（ｂ）複数の見掛けのタッチ座標を経時的に検知し、（ｃ１）前記見掛けのタッチ座標の少なくとも１つに関連する２つの予想されるＸ座標および２つの予想されるＹ座標を同定し、（ｃ２）前記見掛けのタッチ座標がライン・セグメントに沿って何時変わるか決定し、および(ｄ)前記見掛けのタッチ座標が線分に沿って変わる際のライン・セグメントに基づき、並びに前記２つの予想されるＸ座標および２つの予想されるＹ座標に基づき２つのタッチの座標位置を同定するために構成されている、抵抗性タッチスクリーン・システム。
【請求項２】
基板上に形成された電極の第１セットであって、第１方向に電圧勾配を形成するために設置された電極の第１セット、および
カバーシート上に形成された電極の第２セットであって、第１方向と方向が異なる第２方向に電圧勾配を形成するために設置された電極の第２セットを更に有して成る、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項３】
見掛けのタッチ座標間の違いを決定し、および見掛けのタッチ座標間の違いの一部が閾値よりも大きい際、見掛けのタッチ座標を処分するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項４】
多数のタッチ状態に関連するＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を検知し、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値に基づいて２つの予想されるＸ座標および２つの予想されるＹ座標並びに見掛けのタッチ座標を同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項５】
ライン・セグメントの傾きを決定し、該ライン・セグメントの傾きが経時的に変わる際、時計回りおよび反時計回りの回転動作の一方を同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項６】
多数のタッチ状態に関連するＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を経時的に検知するために、又、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の一方が低減し、その一方でＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の他方が増加する際、時計回りおよび反時計回りの回転動作の一方を同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項７】
多数のタッチ状態に関連するＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を検知するために、コントローラーが更に構成され、又、
見掛けのタッチ座標が中央座標位置に対して経時的に変わり、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値が共に経時的に増加し又は低減する際、２つのタッチが共に近づいて動くことと、更に離れて動くことの一方であることを同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項８】
多数のタッチ状態に関連するＸおよびＹのバイアス電流並びに多数のタッチ状態に関連するＸおよびＹの電圧を経時的に検知するために、コントローラーが更に構成され、ＸおよびＹのバイアス電流並びにＸおよびＹの電圧の高域フィルター化処理をするために、コントローラーが更に構成され、および高域フィルター化処理されたＸおよびＹのバイアス電流並びに高域フィルター化処理されたＸおよびＹの電圧に基づいて２つのタッチの座標位置を同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項９】
見掛けのタッチ座標の相対的な挙動に基づいて動作する複数のフレームを有して成る可動型座標系を決定するために、コントローラーが更に構成され、又、
可動型座標系に基づいて２つのタッチの座標位置を同定するために、コントローラーが更に構成されている、請求項１に記載のタッチスクリーン・システム。
【請求項１０】
抵抗性タッチスクリーン・システムの２つのタッチの座標位置を同定する方法であって、
ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の少なくとも一方の低減に基づいてタッチスクリーンにおける多数のタッチ状態を同定すること、
少なくともＮ個の連続的な見掛けのタッチ座標を同定すること、
少なくともＮ個の連続的な見掛けのタッチ座標がライン・セグメントに沿って何時変わるか決定すること、および
ライン・セグメントに沿って位置する２つのタッチの座標位置であって、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値、並びに見掛けのタッチ座標がライン・セグメントに沿って変わる際のライン・セグメントに基づき前記座標位置を同定すること
を含んで成る、抵抗性タッチスクリーン・システムの２つのタッチの座標位置を同定する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は一般的にタッチスクリーン・システムに関する。より具体的には、本発明は抵抗性タッチスクリーン・システムに関する。
【０００２】
抵抗性タッチスクリーンは、携帯電話および個人用携帯情報端末のような小型携帯アプリケーションを含む多くのアプリケーションに使用される。ユーザーが２本の指で抵抗性タッチスクリーンに触れて、２つのタッチ・ポイント又は２重のタッチを形成すると、標準的なシステムは、選択されたポイントとして２つのタッチ・ポイントの間のどこかにあるシングル・ポイントを報告する。あるシステムでは、多数のタッチに対する遷移は、最初の位置から新しい位置までの測定される座標における突然のシフトにより検知されてもよい。しかしながら、異なる位置へ単にすばやく動くか、多数のタッチ状態を生じさせるかどうかは曖昧であってよい。
【０００３】
別の標準的なシステムでは、シート・バイアス電流又はバイアス負荷抵抗性は、ワンタッチ状態から２つ又はそれよりも多いタッチ状態までの遷移を示すことに役立ってもよい。このシステムは生じたシングル・ポイントに位置する長方形の４つの角を同定する。しかし、このシステムは長方形の２つの対向する角のいずれが正確なタッチ座標を構成するか決定することはできない。又、このシステムは、２つよりも多いタッチがあるかどうか決定することができない。
【０００４】
２つ同時にタッチする際の位置の同定は様々なアプリケーションに役立つ。例えば、図や写真のような表示されるデータ又は音楽を聴く際のプログラムと相互作用するようなアプリケーションが挙げられる。例えば、２つ同時にタッチして拡大や回転のような２本の指のジェスチャーを行うことができることで、ユーザーと抵抗性タッチスクリーン・システムとの相乗効果が増えてもよい。
【０００５】
従って、２つ同時にタッチする位置を検知し、同定できるタッチスクリーン・システム
が必要とされる。
【発明の概要】
【０００６】
ある態様では、抵抗性タッチスクリーンは基板、カバーシートおよびコントローラーを有して成る。カバーシートは第１導電性コーティングを有して成り、基板は第２導電性コーティングを有して成る。第１導電性コーティングが第２導電性コーティングと接するように、基板およびカバーシートは互いに隣接して設置されている。又、基板およびカバーシートはタッチせずに互いに電気的に接続されない。基板およびカバーが少なくとも２点のタッチの位置で互いに電気的に接続される際、コントローラーは多数のタッチ状態を同定するために構成される。更に、複数の見掛けのタッチ座標を経時的に検知し、又、少なくとも１つの見掛けのタッチ座標に関係する２つの予想されるＸ座標および２つの予想されるＹ座標を同定するために、コントローラーは構成される。更に、コントローラーは見掛けのタッチ座標並びに２つの予想されるＸ座標および２つの予想されるＹ座標に基づいて２つのタッチの座標位置を同定するために構成される。
【０００７】
別の態様では、抵抗性タッチスクリーン・システムにある２つのタッチ座標位置を同定する方法は、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の少なくとも１つを低減させてタッチスクリーンの多数のタッチ状態を同定することを含んで成る。少なくともＮ個連続した見掛けのタッチ座標が同定される。少なくともＮ個連続した見掛けのタッチ座標を決定してライン・セグメント(又は線分；ｌｉｎｅ  ｓｅｇｍｅｎｔ)を一般的に規定すると、ライン・セグメントに沿って位置する２つのタッチの座標位置が同定される。座標位置はＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値並びに見掛けのタッチ座標に基づく。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は本発明の態様に従って形成された４本のワイヤー・抵抗性タッチスクリーン・システムを示す。
【図２】図２は本発明の態様に従って形成された図１のタッチスクリーンの断面側面図を示す。
【図３】図３は本発明の態様に従って形成されたタッチスクリーン上の２つ同時のタッチを示す。
【図４】図４は、２つのタッチが本発明の態様に従った図１のタッチスクリーンに存在する際、カバーシート上の電極間の電気的接続を表す等価回路を示す。
【図５】図５は本発明の態様に従ってタッチスクリーン・システムの２つ同時のタッチの座標位置を決定するための方法を示す。
【図６】図６は本発明の態様に従って２つ同時のタッチを有するタッチスクリーンを示す。
【図７】図７は図６のタッチスクリーンおよび本発明の態様に従った互いの２つのタッチの動作方向を示す。
【図８】図８は本発明の態様に従ったタッチスクリーン上のタッチの動作を反映する動く座標系を示す。
【図９】図９は本発明の態様に従った図８のタッチと共に動く座標系を示す。
【図１０】図１０は本発明の態様に従った生の検知されたバイアス電流データに対する高域フィルター化バイアス電流データを示す。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
前述の概要および下記の本発明のある態様の詳細な説明は、添付図面と組み合わせて読むと良く理解できるであろう。図が様々な態様の機能ブロックの略図を示す限りにおいては、機能ブロックは必ずしもハードウェア回路間の区画を示すものではない。すなわち、例えば、１つ又はそれよりも多い機能ブロック(例えば、プロセッサー又はメモリー)は、ハードウェア単体(例えば、汎用シグナルプロセッサー又はランダムなアクセス・メモリー、ハードディスク等)に実装されてもよい。同様に、プログラムはプログラム単独であってもよいし、操作システムでのサブルーチンとして組み込まれてもよいし、インストールされたソフトウェア・パッケージでの機能等であってもよい。様々な態様は図に示される配置および手段に限定されないと理解されるべきである。
【００１０】
本明細書に使用されるように、単数形で記載され、単語“ａ” 又は“ａｎ”で始まる要素又はステップは、明確に除外されていない限り、複数の前記要素又はステップを除外しないものとして理解されるべきである。更に、本発明の“ある態様”とは、列挙した特徴を組み入れる追加的な態様の存在を除外するものと解釈されるものではない。その上、明確に反対のものとして説明されない限り、特定の性質を有する要素又は複数の要素を“含んで成る”又は“有する”態様は、その性質を有しない追加的なそのような要素を含んでよい。
【００１１】
本発明の少なくとも１つの態様は、３本のワイヤー、４本のワイヤー、５本のワイヤー、７本のワイヤー、８本のワイヤーおよび９本のワイヤー抵抗性タッチスクリーン・センサーの少なくとも１つ、および/又は標準的な設計システムと互換性がある。４本のワイヤー・タッチスクリーンの多くが携帯デバイスに使用される。従って、４本のワイヤー・タッチスクリーンは主として下記に示される。
【００１２】
図１は４本のワイヤー抵抗性タッチスクリーン・システム１００を示す。タッチスクリーン・システム１００はカバーシート１０２を有し、カバーシート１０２は基板１０４とカバーシート１０２との間に狭い空隙をあけて基板１０４上にある。カバーシート１０２はポリエチレン・テレフタラート(ＰＥＴ)のようなポリマー・フィルムであってよいし、又、基板１０４はガラスを有して成ってよい。他の材料が使用されてもよい。タッチがない場合、スペーサー(図示していない)はカバーシート１０２と基板１０４との間の接触を防ぐ。
【００１３】
第１および第２導電性コーティング１０６および１０８は、各々空隙にさらされたカバーシート１０２および基板１０４の接面に形成される。第１および第２導電性コーティング１０６および１０８は薄くてもよく、又、インジウムスズ酸化物(ＩＴＯ)、金属薄膜、カーボン・ナノチューブ含有フィルム、導電性ポリマー又は他の導電性材料のような材料から形成されてもよい。第１導電性コーティング１０６の左右側面(又は対向側面)では、電極１１０および１１２の第１セットが供される。同様に、第２導電性コーティング１０８は、電極１１０および１１２の第１セットに対して垂直に位置を定めた電極１２０および１２２の第２セットを供する。別の態様では、電極の第１および第２セットは互いに他の角度で設置されてよい。第１および第２導電性コーティング１０６および１０８の各々は各々の電極間に測定される関連抵抗を有する。例えば、第１セットの電極１１０と１１２との間の第１導電性コーティング１０６に関連する抵抗が測定されてもよい。第２セットの電極１２０と１２２との間の第２導電性コーティング１０８に関連する抵抗が測定されてもよい。第１セットの電極１１０と１１２との間の抵抗および第２セットの電極１２０と１２２との間の抵抗は“バイアス負荷抵抗”と呼んでもよい。何故なら、抵抗が座標測定のための電圧勾配を形成するためにバイアス電圧を用いる負荷抵抗であるからである。
【００１４】
タッチされない場合、カバーシート１０２の第１導電性コーティング１０６および基板１０４の第２導電性コーティング１０８は互いに電気的に接続されていない。導電性コーティングに関連するバイアス負荷抵抗は、導電性コーティングの抵抗を構成する基準値である。ある態様では、第１および第２導電性コーティング１０６および１０８の抵抗は、４００〜６００オームの範囲であってよく、又、第１および第２導電性コーティング１０６および１０８の抵抗は、コーティング抵抗率とタッチ・エリア・アスペクト比との違いによりカバーシート１０２および基板１０４で異なっていてもよい。別の態様では、異なる材料又は同じ材料の異なる厚さを使用して、異なる抵抗値を生じてもよい第１および第２導電性コーティング１０６および１０８を形成してもよい。
【００１５】
タッチ１４８又はタッチ１５０のようなワンタッチに関連するＸ座標を示すために、コントローラー１３８は、カバーシート１０２の第１導電性コーティング１０６の第１セットの電極１１０および１１２の電圧差を用いる。例えば、電極１１２をアースする間、負の電圧を電極１１０に適用してもよい、すなわち、第１方向１１８に電圧勾配を形成してもよい。別の態様では、異なる電圧レベルを電極１１０および１１２に適用してもよい。タッチの箇所(例えば、タッチ１４８)での第１導電性コーティング１０６の電圧は、第２導電性コーティング１０８へ伝えられ、その後電極１２０および１２２に伝えられる。コントローラー１３８は、電極１２０又は１２２のいずれか一方での電圧を測定することによりＸ座標を測定する。この場合、Ｘ座標測定のため、電極１１０と１１２との間の抵抗は第１導電性コーティング１０６にバイアスをかけるために適用される電圧の負荷抵抗である。したがって、電極１１０と１１２との間の抵抗は“Ｘバイアス負荷抵抗”と呼んでもよい。
【００１６】
（例えば、タッチ１４８のような）ワンタッチに関連するＹ座標を示すために、コントローラー１３８は、基板１０４の第２導電性コーティング１０８の第２セットの電極１２０および１２２の電圧差を用いる、すなわち、第２方向１２６に電圧勾配を形成する。タッチの箇所(例えば、タッチ１４８)での第２導電性コーティング１０８の電圧は、第１導電性コーティング１０６へ伝えられ、その後電極１１０および１１２に伝えられる。コントローラー１３８は、電極１１０又は１１２のいずれか一方での電圧を測定することによりＹ座標を測定する。図１に示すように、電極１２０と１２２との間の抵抗は“Ｙバイアス負荷抵抗”と呼んでもよい。
【００１７】
操作中、コントローラー１３８は、第１サイクルで第１セットの電極１１０および１１２に、又、第２サイクルで第２セットの電極１２０および１２２にバイアスをかけてもよい。タッチによりカバーシート１０２が基板１０４に偏向され、接触する。すなわち、第１導電性コーティング１０６と第２導電性コーティング１０８との間で局所的な電気接続をする。コントローラー１３８は、第１サイクルである方向におけるある電圧を測定し、第２サイクルで他の方向における別の電圧を測定する。これら２つの電圧は生のタッチ(ｘ、ｙ)座標データである。様々な較正および補正方法を適用して、タッチセンサー領域１１６および１２４内の実際の（Ｘ、Ｙ）表示位置を同定してもよい。例えば、補正は直線および/又は非直線歪みを補正するために使用されてよい。
【００１８】
図２は、２つ同時に行われるタッチと本明細書で呼んでいる２つのタッチ１４８および１５０が同時に存在する態様を示す。２つ同時に行われるタッチはそのうちに同じポイントに存在するが、必ずしも同時に起きる必要はない。したがって、第２タッチがある前に第１タッチがあってもよい。例えば、同時にタッチ１４８および１５０であるように、第１導電性コーティング１０６と第２導電性コーティング１０８との間の２箇所で、接触があった際に２つ同時にあるタッチが生じる。（タッチ１４８又は１５０のいずれか一方のような１箇所で第１導電性コーティング１０６と第２導電性コーティング１０８との間で接触がある際にシングル・タッチが起こる。２つ又はそれよりも多い箇所で、第１導電性コーティング１０６と第２導電性コーティング１０８との間で接触がある際に多数のタッチ状態が生じる。)
【００１９】
第１導電性コーティング１０６と接触する電極１１０および１１２が偏向している間、第２導電性コーティング１０８の電極１２０および１２２に伝わる電圧は、タッチ１４８と１５０との間に位置する第１導電性コーティング１０６上の座標を示す電圧の中間である。例えば、上記の伝送電圧は電極１２０又は電極１２２で測定されてもよいし、又は、電圧が測定される際に電極１２０および電極１２２は電気的に接続されてもよい。すなわち、結果として測定されたＸ座標は、タッチ１４８の座標位置とタッチ１５０の座標位置との間の中間値である。同様に、２つのタッチがある際、測定されたＹ座標は、個々の各タッチのため測定された座標位置間の中間値である。例えば、２つの同時に発生するタッチにより、２つの実際のタッチ位置間のライン・セグメントに位置する測定された(Ｘ、Ｙ)座標が生じる。
【００２０】
図３は、タッチスクリーン３００で２つ同時に発生するタッチを示す。第１サイクルは位置(Ｘ１、Ｙ１)での第１タッチ３０２を示し、第２サイクルは位置(Ｘ２、Ｙ２)での第２タッチ３０４を示す。立体状のドットはライン・セグメント３１０に沿って位置する第１タッチと第２タッチとの間の中心点又は重心３０６を示す。見掛けのタッチ座標３０８は“ｘ”により示され、又、ライン・セグメント３１０に沿って位置する。
【００２１】
例えば、タッチスクリーン３００上に同じ接触域および同じ圧力を有し、それによって同じ接触抵抗を有するような、２つのタッチ３０２および３０４を形成する状況が同じである場合、２つのタッチ３０２および３０４は同じ電気誘導を有する。それ故、見掛けの
タッチ座標３０８は図３に示されるように２つのタッチ３０２と３０４との間のライン・セグメント３１０の重心３０６に等しい又は近い。接触域および圧力量以外の因子はタッチ３０２と３０４との間の接触抵抗に違いを形成してもよいとわかる。
【００２２】
しかしながら、第２タッチ３０４に適用される電気的接触又は圧力領域が第１タッチ３０２と異なる場合、２つのタッチの接触抵抗は異なるであろう。例えば、第２タッチ３０４の電気的接触の領域が第１タッチ３０２での電気的接触領域より小さい場合、各大きな接触抵抗は第２タッチ３０４に生じる。第２タッチ３０４はそれ故第１タッチ３０２より電気誘導が少なく、見掛けのタッチ座標３０８はライン・セグメント３１０に沿って第２タッチ３０４より第１タッチ３０２に近くに位置する。したがって、第１タッチ３０２又は第２タッチ３０４のいずれか一方の接触抵抗の変化により、ライン・セグメント３１０に沿ってわずかに見掛けのタッチ座標３０８を変え、又はライン・セグメント３１０に沿ってジッターを生じるであろう。又、このバリアンス(又は分散；ｖａｒｉａｎｃｅ)又はジッターは散乱 (又はスキャッター；ｓｃａｔｔｅｒ)と呼んでもよい。
【００２３】
見掛けのタッチ座標３０８があり、タッチ３０２および３０４が同時に存在する場合、実際の、すなわち正確な又は現実のタッチがタッチ３０２および３０４に又は座標位置３１２および３１４に位置しているかどうかタッチスクリーン・システムは分かっていない。ある態様では、座標位置３１２および３１４はゴースト・タッチ位置と呼んでもよい。ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値は２つのタッチ間の分離量を示すが、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値はタッチが見掛けのタッチ座標３０８に対して位置する方向(例えば、正又は負のＸおよびＹの座標方向)を同定するものではない。したがって、タッチスクリーン・システムは正確なタッチ座標を正しく同定するために曖昧さを解決する必要がある。
【００２４】
例えば、タッチスクリーン３００は原点３１６を有してもよい。原点の位置は例にすぎないと理解されよう。ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値および見掛けのタッチ座標３０８に基づき、コントローラー１３８は原点３１６に対して予想されるＸおよびＹ座標を決定してもよい。例えば、ある予想されるＸ座標３１８は第１タッチ３０２および座標位置３１２を通る直線に沿って位置してもよい。又、別の予想されるＸ座標３２０は第２タッチ３０４と座標位置３１４を通る直線に沿って位置してもよい。同様に、一方の予想されるＹ座標３２２は第２タッチ３０４と座標位置３１２を通る直線に沿って位置してもよい。又、別の予想されるＹ座標３２４は第１タッチ３０２と座標位置３１４を通る直線に沿って位置してもよいことをコントローラー１３８は決定してもよい。したがって、２つの予想されるＸ座標３１８および３２０並びに２つの予想されるＹ座標３２２および３２４は、見掛けのタッチ座標３０８に基づき決定されてもよい。ある態様では、追加の予想されるＸおよびＹ座標は追加の見掛けのタッチ座標に基づき決定されてもよい。
【００２５】
図４は図１および図２のタッチスクリーンの典型的な等価回路を示す。２つのタッチ１４８および１５０により、図２に示すようにカバーシート１０２の第１導電性コーティング１０６と基板１０４の第２導電性コーティング１０８との間に電気的接触の２つのポイント又は位置をもたらす。接触抵抗１１４８は図４に示すように等価回路でタッチ１４８と関連し、又、同様に接触抵抗１１５０はタッチ１５０に関連する。更に、タッチ１４８と１５０との間に第２導電性コーティング１０８の抵抗１１０８と、２つのタッチ１４８と１５０との間の第１導電性コーティング１０６の抵抗１１０６Ａがある。
【００２６】
カバーシート１０２にタッチがない場合、(図４に回路ノード１１１０および１１１２として示されるように)第１導電性コーティング１０６の電極１１０と１１２との間に抵抗１１０６がある。タッチ１４８および１５０がある場合、抵抗１１０６Ａを通る電流路と平行に抵抗１１０８を通る電流路並びに接触抵抗１１４８および１１５０が加えられるので、電極１１０と１１２との間の抵抗は変わる。平行な付加抵抗は電極１１０と１１２との間のネット抵抗を減らす。例えば、タッチ１４８又は１５０のいずれか一方のタッチのみがあるならば、平行な抵抗路は形成されず、電極１１０と１１２との間の抵抗はタッチがない場合と同じである。第２導電性コーティング１０８の電極１２０および１２２は高いインピーダンス電圧検出回路上にあり、又は接続されていることがわかる。それ故、良好な近似はいかなる電流を引かず、又は発しない。すなわち、電極１１０と１１２との間の抵抗のドロップは、ゼロ又はワンタッチの状態から２つ又はそれよりも多いタッチを有する多数のタッチ状態への遷移の信号を送る。換言すれば、電極１１０と１１２との間のカバーシートのバイアス負荷抵抗のドロップは多数のタッチ状態へ遷移の信号を送る。図１の構造に示すように、カバーシート・バイアス負荷抵抗はＸバイアス負荷抵抗である。
【００２７】
同様に、又基板バイアス負荷抵抗(例えば、Ｙバイアス負荷抵抗)のドロップは多数のタッチ状態に遷移の信号を送る。“基板バイアス負荷抵抗”とはカバーシート電極１１０および１１２が高いインピーダンス電圧検出回路上にあり、又は接続されている場合、基板１０４上の電極１２０と１２２との間の抵抗である。ある態様では、基板およびカバーシート・バイアス負荷抵抗の両方を測定することにより、多数のタッチ状態への遷移を検知することが望ましい。図２を参照すると、タッチ１４８およびタッチ１５０での電圧が同じならば、負荷抵抗路を通じて電流を流すための電圧の違いはなく、それ故にバイアス負荷抵抗に変化はない。この状況により、タッチ１４８および１５０が同じＸ座標を有する際、Ｘバイアス負荷抵抗を生じ、又、タッチ１４８および１５０が同じＹ座標を有する際、Ｙバイアス負荷抵抗を生じる。しかしながら、２つの異なるタッチ１４８および１５０は同時に同じＸ座標およびＹ座標を有することはできず、それ故に２つのバイアス負荷抵抗の少なくとも１つにドロップがある。したがって、測定している両ＸおよびＹバイアス負荷抵抗は、シングル・タッチ状態(又はタッチがない)と多数のタッチ状態との間を確実に区別する。
【００２８】
図３で説明するように、例えば電気的接触圧力又は領域が変化するような接触抵抗１１４８および１１５０のいずれか一方の変化により、電極１１０および１１２と電極１２０および１２２との間で測定されるＸおよびＹバイアス負荷抵抗値が変わるであろう。これらの変化により見掛けのタッチ座標３０８の変動又はジッターを生じる。
【００２９】
バイアス負荷抵抗は多くの方法で測定されてもよい。オームの法則とは抵抗と交わる電圧差“Ｖ”が抵抗“Ｒ”と抵抗を通る電流“Ｉ”との積に等しい、すなわちＶ＝ＩＲで表されるものである。又、オームの法則とはＲ＝Ｖ/Ｉ、すなわち、抵抗を通る電圧および電流が分かっているならば、抵抗が分かる。例えば、既知の電圧がバイアス負荷抵抗と交差して適用されるならば、生じる電流流れ測定はバイアス負荷抵抗値の測定を構成する。
したがって、多数のタッチ状態への遷移はＸおよびＹの電流値を測定し、又、ＸおよびＹの電流値の１つ又は両方が増えることを同定することにより検知される。
【００３０】
ある態様では、オームの単位でバイアス負荷抵抗値を決定する必要がない。したがって、バイアス負荷抵抗の測定は広く解釈することができ、様々な方法を使用して達成されてもよい。例えば、バイアス負荷抵抗の測定例として、電流測定回路(図示していない)で電流値を測定すること、又バイアス負荷抵抗と交差する電圧降下を測定することがある。
【００３１】
図５は、２つ同時のタッチが検知された場合のタッチスクリーン・システム１００の実際のタッチの座標位置を決定する方法を示す。図６は、２つ同時にタッチするタッチスクリーン６００を示す。図５および図６について共に説明する。
【００３２】
５００では、コントローラー１３８はＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を検知し、又は測定する。他の態様では、上記に説明するように、コントローラー１３８はＸおよびＹの電流値又はＸおよびＹの電圧値を検知してもよい。５０２では、コントローラー１３８はＸおよびＹの少なくとも１つのバイアス負荷抵抗値が減るかどうか、すなわち基板１０４およびカバーシート１０２が一連の座標位置で互いに電気的に接続されているかどうかを決定する。ある態様では、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値は閾値と比較してもよい。ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値が閾値を下回るならば、多数のタッチ状態が生じる。ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値が閾値を下回る場合、多数のタッチ状態が生じ、手法は５０４に進む。別の態様では、例えば閾値よりも高くＸおよびＹの電流値の少なくとも１つが増えたならば、コントローラー１３８は多数のタッチ状態が生じていることを決定する。
【００３３】
５０４では、例えば、標準電圧検出方法に基づき、(図６にある記号“ｘ”に示されるように)見掛けのタッチ座標６０２の位置を、コントローラー１３８は決定する。他の方法が使用されてもよい。５０６では、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値および見掛けのタッチ座標６０２に基づいて正確なタッチの４つの予想される座標位置を、コントローラー１３８は決定する。前記で説明するように、多数のタッチ状態では、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値は実際のタッチ・ポイントの分離を示す。例えば、座標位置６０８および６１０では、並びに座標位置６１２および６１４では、２対のタッチが決定されてもよい。
【００３４】
５０８では、コントローラー１３８は再度ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を検知又は測定し、次の見掛けのタッチ座標６０４を決定する。５１０では、少なくともＮ個の見掛けのタッチ座標が検知されているかどうかを、コントローラー１３８は決定する。ある態様では、Ｎ個は少なくとも２つであってよい。別の態様では、コントローラー１３８は最小の時間で見掛けのタッチ座標を検知してもよい。例えば、見掛けのタッチ座標はミリセカンドで測定されてよい。ある態様では、見掛けのタッチ座標は１秒につき略１０回検知されてよい。又、見掛けのタッチ座標は連続した見掛けのタッチ座標と呼んでもよい。より多くの見掛けのタッチ座標を検知することができるならば、その方法は５０８に戻る。ある態様では、その方法は５０６に戻ってもよく、別の態様では、又、その方法は５００および５０２で遂行されるように、多数のタッチ状態が生じていることを連続的にチェックしてもよい。少なくともＮ個の見掛けのタッチ座標が検知されるならば、コントローラー１３８が互いに連続的に獲得した見掛けのタッチ座標をプロットしおよび/又は比較する５１０から５１２までをその方法は通り越してもよい。
【００３５】
例えば、図６は見掛けのタッチ座標６０２、６０４および６０６を示す。最初に見掛けのタッチ座標６０２、次いで見掛けのタッチ座標６０４、次いで見掛けのタッチ座標６０６が検知されてもよい。ある態様では、見掛けのタッチ座標６０２、６０４および６０６は互いに連続的に得られる。ユーザーがタッチスクリーン６００をタッチする際、各タッチによるタッチ圧の小さな変化が接触抵抗に影響を与える。接触抵抗の小さな変化により、対応する見掛けのタッチ座標６０２、６０４および６０６に小さな変化を生じさせる。
【００３６】
５１４では、例えば見掛けのタッチ座標６０２〜６０６が４つの予想される座標位置６０８、６１０、６１２および６１４の２つと接続し又は向くライン・セグメント６１６に沿って変わり、又は一般的に規定する見掛けのタッチ座標かどうかコントローラー１３８が決定する。ライン・セグメント６１６は、例えば多くのピクセル又は座標により規定され又は測定されてもよい幅又は厚さ６１８を有してもよく、または、ライン・セグメント６１６は遠方で測定されてもよい他の適当な目盛りつきの座標を有してもよい。ある態様では、厚さ６１８は、例えば２つの座標位置６０８と６１０との間の長さのような２つのポイント間の長さとして機能してもよい。例えば、電気ノイズ又は小さな運動量によるユーザーがカバーシート１０２を押す際の見掛けのタッチ座標の座標位置の小さな変化に、厚さ６１８は対応する。
【００３７】
見掛けのタッチ座標が一般的にライン・セグメント６１６を規定するならば、５１６でコントローラー１３８は真の、すなわち実際のタッチを同定する。図６の例では、真のタッチは２つの座標位置６０８および６１０に対応する。次いで、コントローラー１３８はボタンを作動し、又は同定された真のタッチ座標位置に関連する様々な働きを遂行してよい。ある態様では、コントローラー１３８は、別のコントローラー、プロセッサー、操作システム、システム・インターフェースなど(全ては示していない)に対して２つのタッチの各々のＸおよびＹ座標の情報を送信し、伝え、報告し、又は供してもよく、次いでさらにＸおよびＹ座標に基づき操作し始めてもよい。別の態様では、ディスプレイ・コントローラー(図示されていない)はコントローラー１３８から２つのタッチの位置を同定した情報を受容してもよい。例えば、タッチスクリーン６００の後方に位置し、又はタッチスクリーン６００から離れたディスプレイにドット６３０および６３２又は他の印を表示して真のタッチ座標位置を、ディスプレイ・コントローラーは示してもよい。コントローラー１３８は、多数のタッチ状態が生じているかどうか決定し続け、および/又はライン・セグメント６１６に沿って見掛けのタッチ座標が変わり続けることを確認してもよい。
【００３８】
５１４に戻ると、見掛けのタッチ座標がライン・セグメント６１６に沿って変わるよりもむしろランダムに変わることを、コントローラー１３８は決定してもよい。例えば、図６に示すように見掛けのタッチ座標６２０は、ライン・セグメント６１６に沿って変わらず、すなわちライン・セグメント６１６を一般的に規定しない。ある態様では、コントローラー１３８は、閾値までの見掛けのタッチ座標間の違い(例えば、ピクセル又は目盛り付の座標バージョン)を比べてもよい。違いの少なくとも１つが閾値を上回っているならば、その際見掛けのタッチ座標の少なくとも１つはライン・セグメント６１６をこえて変わる。これは、例えば座標位置６２２のような１つ又はそれよりも多い追加のタッチを示すものであってよい。したがって、５１８では、コントローラー１３８は２つよりも多いタッチがあることを決定してもよい。ある態様では、コントローラー１３８はエラーが生じるタッチ情報又は報告を処分してもよい。
【００３９】
図５にある方法は、互いに見掛けのタッチ座標を連続的に決定し、プロットし、および/又は見掛けのタッチ座標間の違いを同定するために繰り返されてもよいと理解される。前記結果を確かめるために、追加のデータおよび再テストを求めるループのような合理的な方法の変化が考慮される。任意には、図５にある方法は、タッチの正しいタッチ割当がされていることを反復してチェック又は追跡してもよい。
【００４０】
一旦、ライン・セグメント６１６および真のタッチの座標位置６０８および６１０が決定されると、コントローラー１３８は、見掛けのタッチ座標並びにＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値を測定して、各時計回り（ＣＷ）および反時計回り（ＣＣＷ）の回転行為に対応する、座標位置６０８および６１０のＣＷおよびＣＣＷの回転運動を同定してもよい。例えば、コントローラー１３８はライン・セグメント６１６の傾きを決定してもよい。ある態様では、傾きはタッチスクリーン６００の一側面に対する角度として決定されてもよい。図６を参照すると、点線６２４はタッチスクリーン６００のＸ軸６２６に平行に示される。すなわち、コントローラー１３８は角度６２８をライン・セグメント６１６と点線６２４との間の角度と決定してもよい。ライン・セグメント６１６の傾きを決定し、又は見掛けのタッチ座標の変化の方向を決定する他の方法が使用されてもよいと理解される。
【００４１】
コントローラー１３８はライン・セグメント６１６の傾き又は方向を測定して、傾きの変化を経時的に決定してもよい。例えば、傾きの変化は、ある方向での動作傾向を示す角度６２８の連続的な増加又は低減により示されてよい。又、コントローラー１３８はＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の変化を測定する。例えば、他のバイアス負荷抵抗値が経時的に減る間に、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の１つが増えるならば、ユーザーがＣＷ又はＣＣＷの回転ジェスチャーを行うかどうか決定するために、コントローラー１３８はこの情報を傾きの変化の傾向を考慮する情報と結び付けてもよい。
【００４２】
例えば、ユーザーがＣＷ回転ジェスチャーを行うならば、ユーザーがカバーシート１０２に沿って指を動かす際に、各々の２つのタッチでの接触抵抗は変わる。それによってある方向に変化する傾きを有するライン・セグメントに沿って、見掛けのタッチ座標に変化又はジッターが生じる。図６を参照すると、コントローラー１３８は角度６２８が経時的に低減することを検知してもよい。同時に、連続的に検知されたＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値の１つは、他のＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値が経時的に増える間に、経時的に低減している。角度６２８はＸおよびＹのバイアス負荷抵抗の変化を低減し、又、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗の変化に基づいているので、座標位置６０８でのタッチが一般的に矢印Ａの方向に動き、座標位置６１０でのタッチが一般的に矢印Ｂの方向に動くことをコントローラー１３８は決定することができる、すなわち、ＣＷ回転ジェスチャーを同定する。次いで、コントローラー１３８は、例えば回転する図又は絵が容易に表示されるように、ＣＷ回転ジェスチャーに基づいていくつかの動きを作動してもよい。
【００４３】
別の態様では、コントローラー１３８は、１つよりも多いタッチがある確証と結合したライン・セグメント６１６の傾きの変化に基づいて回転ジェスチャーを同定してもよい。例えば、あるアプリケーションでは、一旦タッチの初期の座標位置が同定されると、タッチスクリーン６００のタッチの正確な位置を追跡する必要はなくてよい。したがって、コントローラー１３８はライン・セグメント６１６の傾きの変化に基づいてＣＷ又はＣＣＷの回転コマンドを作動させてもよい。
【００４４】
また、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗に基づき、又見掛けのタッチ座標に基づきタッチが互いに内側に又は外側に動いていることを、コントローラー１３８は同定してもよい。ユーザーが２本の指を互いに向かい合わせたり又は離したりして動かす際に、これらのジェスチャーが生じてもよい。図７は、タッチスクリーン６００並びに座標位置６０８および６１０でのタッチを示す。コントローラー１３８は、ドットにより表示された中央座標位置７１０の周りで変化する記号“ｘ”で各々示された見掛けのタッチ座標７００、７０２、７０４、７０６および７０８を検知してもよい。ある態様では、中央座標位置７１０は、所定の多くの連続的な見掛けのタッチ座標に基づき標準的な座標位置として決定してもよい。又、見掛けのタッチ座標７００〜７０８はライン・セグメント７１２に沿って変わる。
【００４５】
ある態様では、見掛けのタッチ座標７００〜７０８がジッターし、又はＸおよびＹのバイアス負荷抵抗が共に経時的に連続的に又は略連続的に増える間に、見掛けのタッチ座標７００〜７０８が同じライン・セグメント７１２に沿って経時的に変わり、そして同じ中央座標位置７１０に対して経時的に変わるならば、座標位置６０８でのタッチは矢印Ｃの方向に動き、座標位置６１０でのタッチは矢印Ｄの方向に動く。したがって、２つのタッチが動き、そして互いに近づいて動く。
【００４６】
別の態様では、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗が共に連続的に又は略連続的に経時的に低減する間に、見掛けのタッチ座標７００〜７０８が同じライン・セグメント７１２に沿って経時的に変わり、同じ中央座標位置７１０に対して経時的に変わるならば、座標位置６０８でのタッチは矢印Ｄの方向に動き、座標位置６１０でのタッチは矢印Ｃの方向に動く。したがって、２つのタッチが動き、さらに互いに離れて動く。
【００４７】
更に、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗に基づき、又見掛けのタッチ座標を追跡することによりタッチの一方のみがもう一方のタッチに近づいたり、又はもう一方のタッチから離れて動くことを、コントローラー１３８は同定してもよい。この例では、ユーザーは他の指を適所に保って１本の指のみを動かしてもよい。座標位置６０８に対応するタッチが同じ座標位置にある間、座標位置６１０に対応するタッチが矢印Ｄの方向に動くならば、見掛けのタッチ座標は同じライン・セグメント７１２に沿ってジッターし又は変わるであろう。しかしながら、見掛けのタッチ座標は座標位置６０８に近接して動いている中央座標位置付近に変わるであろう。
【００４８】
例えば、見掛けのタッチ座標７００〜７０８は中央座標位置７１０付近に変わってもよい。座標位置６１０でのタッチは矢印Ｄの方向に動くので、見掛けのタッチ座標７１４、７１６および７１８が検知され、ライン・セグメント７１２に沿って変わると共に中央座標位置７２０付近で変わる。経時的に、見掛けのタッチ座標７２２、７２４および７２６が検知され、中央座標位置７３０付近で変わる。同時に、ＸおよびＹバイアス負荷抵抗が共に連続的に、又は略連続的に増えることを、コントローラー１３８は検知するであろう。
【００４９】
別の態様では、ユーザーが同じ場所で座標位置６０８に対応するタッチを保持すると共に、矢印Ｃの方向に座標位置６１０に対応するタッチを動かすならば、見掛けのタッチ座標はライン・セグメント７１２に沿って変わり、又、座標位置６１０の方向に動く中央座標位置付近で変わるであろう。この場合、コントローラー１３８は、ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗が共に連続的に、又は略連続的に低減することを検知するであろう。
【００５０】
一旦、タッチの座標位置６０８および６１０が決定されると、座標位置６０８および６１０をすばやい(ＸおよびＹのバイアス負荷抵抗値に変化を生じさせる)接触抵抗の変化に基づく動きから防ぐことが望ましい。しかしながら、カバーシート１０２に沿って実際のタッチの動きを反映するために、座標位置６０８および６１０を適応させる必要があってもよい。
【００５１】
例えば、１つ又は２つのタッチが動く際、タッチの動きの一般的な傾向は、ジッター又はバリアンス(例えば、連続的な見掛けのタッチ座標間のランダムな変化)と重ね合わさって又は結合する。タッチスクリーン６００のワンタッチ又は２つのタッチの動きを反映する見掛けのタッチ座標に対する変化と比較して、接触抵抗の変化に関連するバリアンスは大きい。したがって、バリアンスが閾値よりも大きい際に、タッチの座標位置６０８および６１０に対する変化をコントローラー１３８は除外してもよい。ある態様では、閾値より大きい変化の除外はロー・パス・フィルター・リングと呼んでよい。ある態様では、閾値はピクセル、ミリメーター、マイクロメーター、任意の目盛り付き幾何学的座標又は長さ等で測定されてよい。したがって、コントローラー１３８は、接触抵抗の変化に基づきタッチの座標位置６０８および６１０が変化することを防いでもよい。その一方で、タッチの実際の座標変化に基づきタッチの座標位置６０８および６１０は変化することができる。すなわち、タッチの座標位置６０８および６１０は、ユーザーにより行われるタッチスクリーンに沿った動きを反映し、指の圧力および/又は接触面積の変化を反映しない。
【００５２】
ある場合では、図５のステップ５１２で解析された見掛けのタッチ座標のバリアンス又は散乱は接触抵抗ノイズにより影響を受ける。図６は、見掛けのタッチ座標６０２、６０４および６０６がステップ５０８および５１０の間、タッチ座標位置６０８および６１０の位置の変化によりほとんど影響されないという事を示している。対して、指が任意の方向にすばやく動いてもよい、又は接触抵抗ノイズが相対的に小さくてもよいあるアプリケーションでは、見掛けのタッチ座標の散乱に対する重要な又は主要な寄与は、ステップ５０８と５１０との間で指の系統的な動きによるものであってよい。しかしながら、適当なアルゴリズムで前述の動きによる場合に対して下記に説明するように、正確なタッチ位置は見掛けのタッチ座標の散乱又はバリアンスから得られてよい。
【００５３】
図８は、タッチスクリーン６００で同時に２つのタッチ８００および８０２が共に右に４５度の角度で平行に、又下向きの方向８０４および８０６にすばやく動いている例を示す。並進運動が典型的であって、追加の回転要素が考慮される。重心８０８、８１０、８１２、８１４および８１６は、タッチ８００と８０２との間の中心点に位置する立体状のドットとして示され、接触抵抗がない場合に見掛けのタッチ座標を表すであろう。しかしながら、接触抵抗は前述で説明するように変わるので、ジッター又はバリアンスを有する測定された見掛けのタッチ座標８１８、８２０、８２２、８２４および８２６が検知される。
【００５４】
又、図３で説明した座標位置３１２および３１４と同様に、ゴースト・タッチ位置８２８および８３０が示される。この例では、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６のバリアンスは、直接的には曖昧さを解決せず、又、実際のタッチ８００および８０２を同定せず、それ故、補足的な運動系アルゴリズムが前記で説明したアルゴリズムおよび/又は方法に加えて使用されてもよい。
【００５５】
おおよそ３つの座標が使用されてよいが、複数の見掛けのタッチ座標、例えば５つの見掛けのタッチ座標８１８〜８２６が経時的に検知される。見掛けのタッチ座標８１８〜８２６は８１８、８２０、８２２、８２４および８２６の順に検知されてよい。見掛けのタッチ座標８１８、８２０、８２２、８２４および８２６の各々は、それぞれフレーム８３４、８３６、８３８、８４０および８４２内で検知される。したがって、図８は、タッチスクリーン座標系での見掛けのタッチ座標８１８〜８２６を示し、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６は、図に示すように互いにタッチスクリーン６００に実際に位置している。
【００５６】
一旦、見掛けのタッチ座標の最小数が検知されると、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６は例えば最小二乗適合アルゴリズムを使用することで処理をして、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６を、例えば重心８０８〜８１６(重心８０８〜８１６は参考としてのみであって、直接的に測定できるものではない)を通って略延在する図８に示される直線８３２のような直線に合わせてよいかどうか決定してもよい。直線８３２は時間が経つにつれての一般的な傾向を示し、一方で直線８３２に関する見掛けのタッチ座標８１８〜８２６のバリアンスはノイズを示す。
【００５７】
次いで、直線８３２に対する見掛けのタッチ座標８１８〜８２６の一般的な傾向および関係を示す直線８３２は、例えば真の中心および２つのタッチ８００と８０２との間の移動方向のような近似パラメーターに使用されてよく、次いで運動系を規定するために使用されてもよい。換言すれば、動作の近似方向および速度が２つのタッチ８００および８０２の各々のため算出されてもよい。
【００５８】
図９は、タッチ８００および８０２で動く座標系からどのようにして現れるのかを示す。この例での動く座標系は５つのフレーム８３４、８３６、８３８、８４０および８４２の編集を示す。すなわち、図９は、図８に示される動作の一般的な傾向よりもむしろ散乱を示す。バリアンス又は散乱はタッチ８００と８０２との間で延在するライン・セグメント８５０に沿う。対して、ゴースト・タッチ位置８２８と８３０との間で延在するライン・セグメント８５２の許容誤差又は幅と比較するならば、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６は、前述の図５の５１４で説明するように直線８５２の許容誤差外であってもよい。したがって、２つのタッチ８００と８０２との間のライン・セグメント８５０に沿って運動系のバリアンスが変わるならば、運動系アルゴリズムは曖昧さを解決し、座標対のいずれが真のタッチを示しているか決定してもよい。したがって、例えば、見掛けのタッチ座標８１８〜８２６の相対的な動作に基づき動くフレーム８３４〜８４２のような複数のフレームを含んで成る動く座標系が、２つのタッチ８００および８０２の座標位置を同定するために使用されてもよい。
【００５９】
別の態様では、バイアス電流を見掛けのタッチ座標８１８〜８２６に追加して使用することで、２つのタッチ８００および８０２の近似位置を再構成してもよい。これにより、並進する運動系の同定を可能とし、ある態様では、回転し又は同時に並進し、回転してもよい。
【００６０】
別の態様では、経時的に変化するバリアンスを使用して、タッチの動きに関係なく曖昧さを解決し、また真のタッチを同定してもよい。前記で説明するように、バリアンスが所定の閾値よりも大きい際、バリアンスの変化はタッチの座標変化よりもむしろ接触抵抗での変化に関係してもよい。換言すれば、バイアス電流での相対的にゆっくりとした変化又は低周波の変化は指の動きのジェスチャー又は動きによってもよい。一方で、バイアス電流での相対的に高周波の変動は接触抵抗の変動によってもよい。更に、バイアス電流の高域フィルター・ノイズは、測定されたＸおよびＹの電圧(例えば、生のタッチ(ｘ、ｙ)座標データ)の高域フィルター・ノイズと関連している。何故なら、共に同じ事、すなわち接触抵抗の変動により生じるからである。
【００６１】
図１０は、生の検知されたバイアス電流データに対する低域および高域フィルター・バイアス電流データの例を示す。この例では、Ｘ又はＹの一方のバイアス電流が経時的にプロットされる。しかしながら、下記の事項が、経時的に電圧座標データを測定するＸおよびＹの検出およびプロットに等しく適用される。
【００６２】
生のデータ７５０は経時的にプロットされるバイアス電流を示す。高域フィルター化処理したデータ７５２は、生のデータ７５０が高域フィルターを通るかどうかの結果を示す。それによって、周波数の閾値よりも大きな周波数変動が同定される。低域フィルター化処理したデータ７５４は、生のデータ７５０が低域フィルターを通るかどうかの結果(例えば、時間領域、すなわち、データが処理中集められる時間長さからの情報に基づいてよい、周波数の閾値よりも小さな周波数変動)を示す。次いで、そのデータは例えば最小二乗法を使用して直線に合わせられる。周波数のフィルター・リングは、デジタル信号処理又はフィルター・リング、例えばＲＣ低域処理したフィルターのデジタル・フィルター等価を使用する時間領域で行われてもよい。選択態様では、図５のステップ５１２で、生データ７５０に対する最小二乗適合を行って、低域フィルター化処理したデータ７５４を決定する。低域フィルター化処理したデータ７５４が決定された後、高域フィルター化処理したデータ７５２が生のデータ７５０と低域フィルター化処理したデータ７５４との差として決定されてもよい。
【００６３】
高域フィルター化処理したデータ７５２での変動を使用して、何れの予想されるタッチ位置が実際のタッチに対応するかどうかに関する曖昧さを解決してもよい。下記の方程式では、時間ｔｉの関数として、ΔＩＸ(ｔｉ)およびΔＩＹ(ｔｉ)を高域フィルター化処理したＸおよびＹのバイアス電流データとし、ΔＸ(ｔｉ)およびΔＹ(ｔｉ)を高域フィルター化処理した測定された座標データ又はＸおよびＹの電圧とする。４つの関数の積が経時的に合計される。
0005280551.tif 000002
【００６４】
ある態様では、１０個のサンプルの電圧およびバイアス電流の各々が経時的に検知されてよい。当然に１０個よりも多い又は１０個未満のサンプルが使用されてよいことは理解されよう。例えば、４つの相関関数の合計が正である場合、その際ワンタッチのＸおよびＹ座標は、他のタッチのＸおよびＹ座標よりも共に大きい。しかしながら、４つの相関関数の合計が負である場合、その時ワンタッチのＸ座標は他のタッチのＸ座標よりも大きく、ワンタッチのＹ座標は他のタッチのＹ座標よりも小さい。したがって、４つの予想されるタッチ位置のいずれが実際のタッチであるか決定する際の曖昧さが解決されてもよい。
【００６５】
又、図５〜図１０に示される方法は３本のワイヤー、５本のワイヤー、７本のワイヤー、８本のワイヤーおよび９本のワイヤー・抵抗性タッチスクリーン・センサーを用いる。したがって、タッチスクリーンは見掛けのタッチ座標を検知し、また、バイアス抵抗値、バイアス電流、電圧等を追跡し、測定することができるので、２つ同時のタッチを検知する際に生じる曖昧さはこれらタッチスクリーンの形態のいずれかにより解決されてもよい。
【００６６】
上記の説明は例示目的であって、これに限定されるものではないと理解されよう。例えば、上記の説明した形態(および/又は上記の説明した態様)は互いに組み合せて使用されてもよい。更に、発明の範囲から逸脱することなく発明の教示において特定の状況又は材料が多く変更されてよい。本明細書で説明される材料の次元およびタイプは、本発明のパラメーターを規定することを目的とするが、決して制限されるものではなく例示態様に過ぎない。多くの他の態様は、上記説明をレビューする当業者にとって自明であろう。したがって、発明の範囲は、権利化される範囲と同等の最大限の範囲に沿って、補正クレームを基準にして決定される。補正クレームでは、用語“ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ”および“ｉｎ  ｗｈｉｃｈ”は、分かり易く言えば各用語“ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ”および“ｗｈｅｒｅｉｎ”と同等のものとして使用される。その上、下記のクレームでは、用語“第１”、“第２”および“第３”等は単に標記として使用されており、これらの対象物に数的要件は課されない。  
【図１】
0005280551.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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