(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定対象物のいずれかの面を正面とし、この正面の測定空間を、センサを移動させながら前記被測定対象物から発生する信号を検出させて、該検出信号の信号レベルを前記センサの位置に対応する表示部の画面の区画に色別表示する放射信号可視化装置であって、
一定時間毎に前記測定空間を正面方向から撮影した撮像画像を記憶した撮影画像用の記憶手段と、
前記測定空間を奥行長と横幅長と縦長とからなる三次元座標で定義した解析立体空間モデルが、一定間隔でメッシュ状に区分けされ、この区分けされた各々の区画に、その区画の三次元座標と前記検出信号の中の最大となる信号レベルの色値とが割付けられて記憶された三次元メモリと、
前記撮影画像用の記憶手段に記憶されている前記撮影画像を前記表示部の画面に表示する手段と、
前記表示部に表示されている前記撮影画像に対応する方向の前記解析立体空間モデルにおけるメッシュ枠を解析結果表示用のメッシュ枠として前記撮像画像に重ね表示する手段と、
前記解析結果表示用のメッシュ枠とされた前記メッシュ枠を基準にして、前記被測定対象物からの距離に対応する奥行き座標を有するメッシュ枠を引き当て、このメッシュ枠に存在する区画を順次指定する手段と、
前記指定された区画毎に、この区画に割付けられている前記三次元座標を構成する二次元座標及び該区画に割付けられている前記色値を読込む手段と、
前記二次元座標に対応する前記画面の前記解析結果表示用のメッシュ枠の区画を、該読込んだ色値の色で表示する手段と
を有することを特徴とする放射信号可視化装置。
【請求項２】
前記三次元メモリの前記解析立体空間モデルの区画には、前記色値と共に前記一定時間毎の前記検出信号の内で最大の信号レベルがさらに割付けられており、
前記解析立体空間モデルから前記範囲の前記奥行長に対応する座標を有する前記解析立体空間モデルのメッシュ枠を全て検索する手段と、
前記検索された全てのメッシュ枠内の同一の二次元座標を有する複数の区画を区画群として順次検索する手段と、
前記検索された区画群毎に、この区画群内の各々の区画に割付けられている各々の前記最大となる信号レベルを読込み、これらの中で極大となる信号レベルを有する前記区画を前記解析立体空間モデルから順次検索し、これを前記指定された区画とする手段と
を有することを特徴とする請求項１記載の放射信号可視化装置。
【請求項３】
前記三次元メモリの前記解析立体空間モデルの区画には、前記一定時間毎の前記検出信号を識別する信号取込番号がさらに割付けられており、
前記一定時間毎の前記検出信号に、前記信号取込番号が関連付けられて記憶された信号用の記憶手段と、
前記解析立体空間モデルの区画の前記信号取込番号に関連付けられている前記検出信号を前記解析結果表示用のメッシュ枠と共に表示する手段と
を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の放射信号可視化装置。
【請求項４】
前記被測定対象物を前記測定空間の正面方向から撮影する第１のビデオカメラと、
前記被測定対象物を前記測定空間の側面方向から撮影する第２のビデオカメラと、
前記信号レベルと前記色値とが対応付けられた記憶された色値テーブルと、
前記第１のビデオカメラからの前記第１の撮影画像及び前記第２のビデオカメラからの前記第２の撮影画像を前記一定時間毎に取込み、これらを関連付けて前記撮像画像用の記憶手段に記憶する画像入力手段と、
前記第１の撮影画像又は前記第２のビデオカメラからの前記第２の撮影画像を前記正面方向の撮像画像として前記表示部に表示する手段と、
前記測定空間の前記横幅長、縦長で定義される枠を前記一定間隔でメッシュ化して前記解析結果表示用のメッシュ枠を生成し、これを前記奥行長まで連続させて前記解析立体空間モデルを前記三次元メモリに生成する手段と、
前記第１の撮影画像から前記センサの色情報を有する隣接するピクセルの塊を検出し、これを前記正面方向からの前記センサの形状画像とする手段と、
前記第２の撮影画像から前記センサの色情報を有する隣接するピクセルの塊を検出し、これを前記側面方向からの前記センサの形状画像とする手段と、
前記正面方向からのセンサの形状画像の中心位置と前記側面方向からのセンサの形状画像の中心位置とを前記解析立体空間モデルの区画に投影し、この区画を該解析立体空間モデルにおける前記センサの位置に対応する区画と定義する手段と、
前記解析立体空間モデルに前記センサの位置に対応する区画が定義される毎に、この区画に前記検出信号の内で前記最大となる信号レベルに対応する色値を前記色値テーブルから決定して前記定義された区画に割付ける手段と
を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の放射信号可視化装置。
【請求項５】
前記センサが周波数情報を含む信号を検出する周波数情報検出センサの場合は、
該周波数情報検出センサが検出した検出信号のスペクトラムデータを前記検出信号として算出する周波数分析手段と
を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の放射信号可視化装置。
【請求項６】
前記周波数情報検出センサは、周波数情報を含む信号を検出する電磁界検出センサ又は音検出センサであることを特徴とする請求項５に記載の放射信号可視化装置。
【請求項７】
前記センサは、放射能を検出し、この検出信号をデジタル化して前記検出信号として出力する放射線検出センサであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の放射信号可視化装置。
【請求項８】
前記センサは、温度を検出し、この検出信号をデジタル化して前記検出信号として出力する温度検出センサであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の放射信号可視化装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被測定対象物からどのような距離でどのような信号が発生しているかを詳細に知らせる放射信号可視化装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子・情報・通信・産業機器等から発生する不要な電磁界ノイズ（以下単にノイズという）は、他の電子装置に誤動作等の悪影響を及ぼすことが知られている。このため、電子機器に関しては、規制やガイドラインが世界的に定められている。
【０００３】
また、ノイズが人体などに何らかの影響を与えることも研究されている。
【０００４】
そこで、目に見えないノイズの発生源を特定するために、ノイズを可視化することが有効になってくる。このような不要なノイズを可視化する装置に関して以下に説明する特許文献1〜特許文献３がある。
【０００５】
特許文献１は、ノイズスキャニング部上に基板を装着し、この基板装着面の下から微小プローブをＸ、Ｙ軸方向に移動させてノイズを検出させる。そして、これをパソコンに出力すると共に、微小プローブの位置をエンコーダで検出し、かつ基板上に設けたＣＣＤカメラで基板を撮影する。
【０００６】
そして、基板の撮影画像上における微小プローブの位置に、その微小プローブが検出した電波強度を色別表示する。
【０００７】
特許文献２は、被測定対象物を一台のビデオカメラで正面から撮影し、かつ電磁界センサで被測定対象物を撮影し、この撮影画像上における電磁界センサの位置にその電磁界センサが検出した電界強度を色別表示する。
【０００８】
特許文献３は、被測定対象物を二台のカメラで撮影して、両画像の視差から発光素子付の電磁界プローブの位置を検出する。
【０００９】
そして、撮影対象物の各々の面に対して数点の基準点と、各々の面の奥行と、それぞれの面の格子間隔とを入力させる。
【００１０】
これらの入力データに基づいて各々の面の格子メッシュを作成し、これらの面に重ねている。
【００１１】
前述の各々の格子メッシュの生成に当たっては、電磁界プローブで検出したノイズが強いところではメッシュ間隔が小さなメッシュを生成して細かく測定させる。またノイズが弱い面ではメッシュサイズを粗くしている。
【００１２】
そして、２台のカメラの両方画像の視差から電磁プローブの位置（発光素子）を特定し、この位置に対応する格子メッシュに電磁界プローブで検出したノイズの電磁界強度を割付けて表示（等高線的な表示）する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特許第２７６９４７２号公報
【特許文献２】国際公開第２００９／０２８１８６号
【特許文献３】特開２００３−６６０７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、
（１）ノイズの影響というのは電磁界強度だけではない。周波数によっても他の機器に影響が生じる。
【００１５】
（２）また、ノイズを検出するセンサを人間が手で持って測定する場合は、そのセンサの方向は常に変化している。
【００１６】
（３）さらに、ノイズというのは、被測定対象物までの距離に応じてその電磁界強度が変化している。
【００１７】
一方、特許文献１、特許文献２は、二次元元平面にノイズの電磁界強度を単に色別表示するものである。また、引用文献３は、被測定対象物の各面（格子メッシュが設けられている）を重ねたものにおいて、各面（二次元平面）のメッシュに電磁界強度を色別表示するものである。
【００１８】
また、特許文献２はセンサの識別色を２台のカメラで検出してその位置を単に二次元平面上に得るものである。
【００１９】
さらに、特許文献３は、２台のカメラでセンサの位置を視差で求め、この位置を該当の面（二次元平面）上に得るものである。このとき、ノイズの電磁界強度が強い面については格子メッシュを細かくしている。
【００２０】
また、特許文献３は、センサが検出して信号の周波数解析を行い、この周波数に応じた等高線図を表示する機能を有している。
【００２１】
すなわち、特許文献１、２はノイズの電磁界強度を二次元平面に色別表示するものであるので被測定対象物からどの距離でどのような電磁界強度になっているのかを容易に知ることができないと共に、どのような周波数のノイズかを知ることができない。
【００２２】
また、特許文献３は、センサの位置を２台のカメラによる画像の視差で得るものであるから処理が複雑であるのでセンサの位置が常に変化している場合にはその位置に対応する格子メッシュに電磁界強度に応じた色を直ぐに表示させることができない。つまり、リアルタイムでセンサの移動に追従した電磁界強度を表示させることができない。
【００２３】
また、引用文献３は、電磁界強度が強い場合は格子メッシュを細かくするものであるが被測定対象物からどの距離でどのような電磁界強度になっているかを容易に知ることができないと共に、どのような周波数ノイズかを知ることができない。
【００２４】
また、引用文献３はセンサが検出した信号の周波数分析を行って等高線図を表示するだけであるから、各格子メッシュの信号はどのような周波数であるのかを知ることができない。
【００２５】
すなわち、各引用文献は被測定対象物からどのような距離でどのようなノイズが発生しているかを細かく知ることができない。
【００２６】
本発明は、以上の課題を解決するためになされたもので、被測定対象物からどのような距離でどのような信号が発生しているかを詳細に知らせると共に、その信号の発生箇所をリアルタイムで知らせることができる放射信号可視化装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
本発明は、被測定対象物のいずれかの面を正面とし、この正面の測定空間を、センサを移動させながら前記被測定対象物から発生する信号を検出させて、該検出信号の信号レベルを前記センサの位置に対応する表示部の画面の区画に色別表示する放射信号可視化装置である。
【００２８】
一定時間毎に前記測定空間を正面方向から撮影した撮像画像を記憶した撮影画像用の記憶手段と、
前記測定空間を奥行長と横幅長と縦長とからなる三次元座標で定義した解析立体空間モデルが、一定間隔でメッシュ状に区分けされ、この区分けされた各々の区画に、その区画の三次元座標と前記検出信号の中の最大となる信号レベルの色値とが割付けられて記憶された三次元メモリと、
前記撮影画像用の記憶手段に記憶されている前記撮影画像を前記表示部の画面に表示する手段と、
前記表示部に表示されている前記撮影画像に対応する方向の前記解析立体空間モデルにおけるメッシュ枠を解析結果表示用のメッシュ枠として前記撮像画像に重ね表示する手段と、
前記解析結果表示用のメッシュ枠とされた前記メッシュ枠を基準にして、前記被測定対象物からの距離に対応する奥行き座標を有するメッシュ枠を引き当て、このメッシュ枠に存在する区画を順次指定する手段と、
前記指定された区画毎に、この区画に割付けられている前記三次元座標を構成する二次元座標及び該区画に割付けられている前記色値を読込む手段と、
前記二次元座標に対応する前記画面の前記解析結果表示用のメッシュ枠の区画を、該読込んだ色値の色で表示する手段とを備えたことを要旨とする。
【発明の効果】
【００２９】
以上のように本発明によれば、被測定対象物の正面に設けた測定空間を、センサで前後、左右に移動させて測定した被測定対象物からの信号を、入力された距離においてどのようなレベルの信号かを色別表示する。
【００３０】
このため、被測定対象物のどの距離でどのような信号が発生しているかを直ちに知らせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本実施の形態の電磁界可視化装置の概略構成図である。
【図２】本実施の形態の具体的な接続構成図である。
【図３】センサ１１の説明図である。
【図４】正面画像ＡＧｉに重ね表示されるメッシュ枠の説明図である。
【図５】測定空間Ａｉの説明図である。
【図６】解析立体空間モデルＫＡＭｉの説明図である。
【図７】解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画の割付を説明する説明図である。
【図８】メモリ１１０ｂの説明図である。
【図９】補間部の処理を説明する説明図である。
【図１０】本実施の形態の電磁界可視化装置の概略動作を説明するフローチャートである。
【図１１】本実施の形態の解析結果の表示画面を説明する説明図である。
【図１２】立体メッシュ枠作成処理を説明するフローチャートである。
【図１３】センサ三次元位置算出処理を説明するフローチャートである。
【図１４】センサ三次元位置算出処理を説明するフローチャートである。
【図１５】正面画像ＡＧｉ、センサ横面画像Ｇｂｉの説明図である。
【図１６】重心の算出を説明する説明図である。
【図１７】解析立体空間モデルＫＡＭｉにおけるセンサの三次元位置の算出を説明する説明図である。
【図１８】電磁界情報割付部１１６の処理を説明するフローチャートである。
【図１９】色値テーブルを説明する説明図である。
【図２０】解析分布出力部の動作を説明するフローチャートである。
【図２１】解析分布出力部の概略構成図である。
【図２２】登録後のモード設定部の処理を説明するフローチャートである。
【図２３】登録後の解析分布出力部の動作を説明するフローチャートである。
【図２４】登録後の解析立体空間モデルＫＡＭｉのデータの出力を説明する説明図である。
【図２５】正面指定距離範囲強度解析表示モード処理を説明するフローチャートである。
【図２６】登録後の解析立体空間モデルＫＡＭｉのデータを用いた正面指定距離範囲強度解析表示モード処理の説明図である。
【図２７】スペクトラムデータ表示モードの処理を説明するフローチャートである。
【図２８】登録後の画面に表示される強度分布図の説明図である。
【図２９】スペクトラムデータ表示モードの処理（周波数範囲）を説明するフローチャートである。
【図３０】スペクトラムデータ表示モード処理の補足図である。
【図３１】周波数範囲のスペクトラムデータ表示モードの強度分布図の説明図である。
【図３２】３Ｄ表示画面を説明する説明図である。
【図３３】他の実施の形態の放射信号可視化装置の概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
本実施の形態は、被測定対象物は放射線を帯びた電子機器、建物、食品等であってもよいが、本実施の形態では被測定対象物はＩＣ基板、テレビジョンとし、このような被測定対象物からの信号に含まれる電磁界ノイズ（単にノイズともいう）の分布を信号レベルに応じて色別表示してどのようなノイズを可視化する放射信号可視化装置である。
【００３３】
本実施の形態では、電磁波可視化装置として説明する。
【００３４】
図１は本実施の形態の電磁界可視化装置の概略構成図である。図２は具体的な接続構成図である。
【００３５】
図１、図２に示すように、被測定対象物１０を正面から撮影する正面用ビデオカメラ１２（固定）と、被測定対象物１０から発生する電磁界信号を検出する電磁界検出センサ１１と、電磁界検出センサ１１を横から撮影する横面用ビデオカメラ１３（固定）と、スペクトラムアナライザ１５と、解析本体部１００（コンピュータ本体）等から構成されている。この解析本体部１００にはディスプレイ１２０が設けられている。
【００３６】
図１、図２に示すような構成とすることで、正面用ビデオカメラ１２が撮影した被測定対象物１０の正面画像をディスプレイ１２０に表示し、後述する解析立体空間モデルＫＡＭｉを構成するメッシュ化された区画を用いて測定空間Ａｉにおける電磁界検出センサ１１の位置を特定し、この特定された区画に電磁界検出センサ１１が検出したノイズの電磁界強度を割付ける。
【００３７】
そして、入力した距離に対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画の電磁界強度をディスプレイ１２０における画面メッシュ枠ＰＭｉの該当の画面区画Ｐｍｉに色別表示（強度分布図Ｑｉという）する。
【００３８】
つまり、どの距離にどのような電磁界強度のノイズが発生しているかを区画単位で詳細に知らせる。
【００３９】
電磁界検出センサ１１（以下センサ１１という：測定範囲は例えば数へルツから数メガ、数十メガ、数百メガ、数ギガ・・・が好ましい）は、図３に示すように、球状の筐体１１ａ（プラスチック：色は黄色、山吹色）の内部に、互いに直交（Ｘ方向、Ｙ方向、Ｚ方向）させたアンテナ１１ｂ（Ｚ方向）、１１ｃ（Ｙ方向）、１１ｄ（Ｘ方向）を設けて各々の方向の電磁界検出信号を出力する。
【００４０】
また、これらのアンテナには増幅アンプ、出力信号線、電力供給線が接続されているが本実施の形態では図示しない。筐体１１ａには人間が手で持つことができる所定の長さの棒１１ｅが接続されている。
【００４１】
前述のスペクトラムアナライザ１５は、図示しないＸ軸方向用ＦＦＴ、Ｙ軸方向用ＦＦＴ、Ｚ軸方向用ＦＦＴ、合成部等を備えている。Ｘ軸方向用ＦＦＴは、Ｘ軸方向の電磁界検出信号を離散化してサンプリングし、これらのデータからＸ軸方向のスペクトラムデータ（フーリエ係数）を出力する。
【００４２】
Ｙ軸方向用ＦＦＴは、センサ１１からのＹ軸方向の電磁界検出信号を離散化してサンプリングし、これらのデータからＹ軸方向のスペクトラムデータ（フーリエ係数）を出力する。
【００４３】
Ｚ軸方向用ＦＦＴは、センサ１１からのＺ軸方向の電磁界検出信号を離散化してサンプリングし、これらのデータからＺ軸方向のスペクトラムデータ（フーリエ係数）を出力する。
【００４４】
合成部は、これらの軸方向のスペクトラムデータを合成して出力する。いずれかの方向又は合成出力にするかは測定者が選択する。
【００４５】
解析本体部１００（コンピュータ本体）は、図１に示すように、カメラ画像入力部１０１と、スペクトラムデータ読込部１１４と、基準解析メッシュ作成部１０７と、解析立体空間作成部１０８と、画像出力部１０９と、センサ正面位置算出部１０４と、センサ横面位置算出部１０５と、センサ三次元位置算出部１０６と、スペクトラムデータ読込部１１４と、電磁界情報割付部１１６と、補間部１１８と、解析分布出力部１１９と、グラフィックアクセラレータ部１２１（以下三次元表示部１２１という：又は三次元ビューアーともいう）と、モード設定部１２４等を備えている。
【００４６】
また、三次元メモリ１１０ａの他に各種メモリを備えている。また、図示しないタイマーを備えている。
【００４７】
前述の解析立体空間モデルＫＡＭｉは三次元メモリ１１０ａに生成され、この解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画管理情報ＭＢｉはメモリ１１０ｂに生成される。
【００４８】
なお、前述のスペクトラムデータ読込部１１４と、基準解析メッシュ作成部１０７と、解析立体空間作成部１０８と、画像出力部１０９と、センサ正面位置算出部１０４と、センサ横面位置算出部１０５と、センサ三次元位置算出部１０６と、電磁界情報割付部１１６と、補間部１１８と、解析分布出力部１１９と、三次元表示部１２１と、モード設定部１２４等はＲＯＭに記憶されており、これらをプログラム実行用ＲＡＭに読み出して本処理を実行する。
【００４９】
カメラ画像入力部１０１は、ビデオキャプチャーボードと称されるものであり、正面用ビデオカメラ１２用と横面用ビデオカメラ１３用とを備えている。
【００５０】
カメラ画像入力部１０１は、測定開始指示の入力に伴って正面用ビデオカメラ１２からの映像信号を一定時間Ｔｉ毎（例えば１／３０ｓｅｃ）に取込んでデジタル変換し、これを正面画像ＡＧｉ（第１の撮影画像ともいう）として画像出力部１０９に出力すると共に、メモリ１０２に上書き保存する。
【００５１】
また、カメラ画像入力部１０１は、測定開始指示に伴って横面用ビデオカメラ１３からの映像信号を一定時間Ｔｉ毎（例えば１／３０ｓｅｃ）に取込んでデジタル変換し、これを横面画像ＢＧｉ（第２の撮影画像ともいう）として画像出力部１０９に出力すると共に、メモリ１０３に上書き保存する。
【００５２】
これらの撮像画像を総称して単に撮影画像とも称し、メモリ１０２及びメモリ１０３は総称して撮影画像用の記憶手段とも称する。このとき、撮影画像は、場所、対象物名、年月日等（総称してデータ識別情報Ｒｊｉという）を入力させてこれに関連付けて記憶するのが好ましい。
【００５３】
また、これらのメモリに記憶された撮影画像は後述する測定完了後の解析処理に用いるので測定中における解析処理とは区別するためにｒを付加する。
【００５４】
スペクトラムデータ読込部１１４は、測定開始指示の入力に伴って、スペクトラムアナライザ１５からのスペクトラムデータを一定時間Ｔｉ毎（例えば１／３０ｓｅｃ、１／６０ｓｅｃ又は１／１００ｓｅｃ・・）に読込んで、このスペクトラムデータの中から入力された周波数範囲のスペクトラムデータＨｉを取出して電磁界情報割付部１１６に出力すると共に、これを該当のメモリ１１５（１１５ａ、１１５ｂ・・・）に一定時間Ｔｉを識別できる番号ＨＦｉ（信号取込番号ともいう）を付加して順次記憶する。なお、メモリ１１５への記憶は、前述のデータ識別情報Ｒｊｉと番号ＨＦｉとを付加して記憶するのが好ましい。このメモリ１１５を信号用の記憶手段とも称する。
【００５５】
本実施の形態では、合成したスペクトラムデータＨｉはメモリ１１５ａに記憶し、Ｘ軸方向のスペクトラムデータＨｉはメモリ１１５ｂに記憶し、Ｙ軸方向のスペクトラムデータＨｉはメモリ１１５ｃに記憶し、Ｚ軸方向のスペクトラムデータＨｉはメモリ１１５ｄに記憶する。
【００５６】
なお、これらのメモリに記憶されたスペクトラムデータＨｉは、後述する測定完了後の解析処理に用いるので測定中における解析処理とは区別するためにｒを付加する。
【００５７】
画像出力部１０９は、測定開始中はカメラ画像入力部１０１からの正面画像ＡＧｉ又は横面画像ＢＧｉを三次元表示部１２１に出力して直ちにディスプレイ１２０に表示させる。本実施の形態では正面画像ＡＧｉとして説明する。
【００５８】
また、画像出力部１０９は、測定完了後の解析中は、入力されたデータ識別情報Ｒｊｉに対応するメモリ１０２の正面画像ＡＧｉを登録済正面画像ＡＧｉｒとして読込み、三次元表示部１２１に出力して直ちにディスプレイ１２０に表示させる（メモリ１０３の登録済横面画像ＢＧｉｒであってもよい）。
【００５９】
基準解析メッシュ作成部１０７は、解析立体空間モデルＫＡＭｉを作成するために、入力されたメッシュ枠の大きさ、メッシュ枠を構成する格子である区画のサイズｄｍｉ（例えばセンサの大きさに相当する１０ｃｍ程度が好ましい）を読込んで、図４に示すように、ディスプレイ１２０に画面メッシュ枠ＰＭｉとして正面画像ＡＧｉに重ね表示する。
【００６０】
本実施の形態ではディスプレイ１２０に表示されるメッシュ枠、区画等についてはＰを付加して説明する。
【００６１】
なお、三次元表示部１２１は、画面メッシュ枠ＰＭｉの区画には、解析立体空間モデルＫＡＭｉのＭｘ軸における区画の番号及びＭｙ軸における区画の番号を割付けて管理している。
【００６２】
また、三次元表示部１２１は、解析立体空間モデルＫＡＭｉの距離ｄｉのメッシュ枠ＫＭｉが画面メッシュ枠ＰＭｉとして表示された場合は、この画面メッシュ枠ＰＭｉの区画には解析立体空間モデルＫＡＭｉの距離ｄｉに対応する奥行き座標であるＭｚｉを割付けて管理している。
【００６３】
また、基準解析メッシュ作成部１０７は、測定者によって決定ボタン（図示せず）が押された場合は、画面メッシュ枠ＰＭｉを解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉとする。
【００６４】
解析立体空間作成部１０８は、解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉを三次元メモリ１１０ａに定義し、正面用ビデオカメラ１２から被測定対象物１０までの奥行の範囲において、解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉをサイズｄｍｉの間隔で組み合わせた解析立体空間モデルＫＡＭｉを生成する（図５、図６参照）。
【００６５】
前述の解析立体空間モデルＫＡＭｉの生成について図５、図６を用いて説明する。
【００６６】
図５は測定空間Ａｉを示している。この測定空間Ａｉは、四角形の立方体であり、正面用ビデオカメラ１２で測定空間Ａｉの被測定対象物１０の正面となる面を撮影し、被測定対象物１０の左側の側面を測定空間Ａｉの横面とし、この横面から横面用ビデオカメラ１３で撮影している。
【００６７】
この測定空間Ａｉは、被測定対象物１０の測定面（数センチ、数十センチ、数ｍ程度離れてあってもよい）を撮影する正面用ビデオカメラ１２までの範囲であり、奥行Ａｚｉ（例えば０．５ｍ、１ｍ又は２ｍ、・・）と横幅Ａｘｉ（例えば１ｍ）と高さＡｙｉ（例えば１ｍ）とで定義するのが好ましい。
【００６８】
なお、奥行Ａｚｉ、横幅Ａｘｉ、高さＡｙｉは、測定空間入力用の画面を開いて測定者がマウス、キーボードを操作して入力する。
【００６９】
また、被測定対象物１０の正面とは、測定者が正面とする面であり、被測定対象物１０の後ろの面、側面（左横面、右横面、下面、上面）であってもかまわない。つまり、測定者が決めた被測定対象物１０の測定面を正面とする。
【００７０】
また、横面用ビデオカメラ１３は測定空間Ａｉの側面（左横面、右横面、下面、上面）であればよい。
【００７１】
本実施の形態では、半導体、電子部品が設けられている被測定対象物１０の基板側を正面としている。
【００７２】
図６は解析立体空間モデルＫＡＭｉを示している。図６の解析立体空間モデルＫＡＭｉは三次元メモリ１１０ａに生成された測定空間Ａｉである。
【００７３】
図６に示すように、解析立体空間モデルＫＡＭｉはＸ軸をＭｘ、Ｙ軸をＭｙ、Ｚ軸をＭｚと定義して、各々の各区画ｍｉに三次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）を割付けている。
【００７４】
図６に示すように解析立体空間モデルＫＡＭｉは、メッシュ枠ＫＭｉを奥行Ａｚｉまで連続（ＫＭ１、ＫＭ２、・・・）させた解析立体空間モデルＫＡＭｉであり、図５に示す測定空間Ａｉに対応した解析立体空間モデルＫＡＭｉである。
【００７５】
なお、本実施の形態では、解析立体空間モデルＫＡＭｉのＭｘ−Ｍｙ面を正面とし、この面におけるメッシュ枠はＫＭｉを付加し、Ｍｙ−Ｍｚ面には横面を示すＹを付加して説明する。
【００７６】
センサ正面位置算出部１０４は、測定中はカメラ画像入力部１０１から正面画像ＡＧｉが入力する毎に、この正面画像ＡＧｉにおけるセンサ１１の色（例えば黄色）成分の塊をセンサ正面画像Ｇａｉとし、このセンサ正面画像Ｇａｉの重心ｇａｉ（ピクセル座標）を求める。
【００７７】
なお、センサ１１の色相・彩度及び／又は明度を求め、この色情報を用いて重心ｇａｉを求めてもかまわない。
【００７８】
また、センサ正面位置算出部１０４は、測定完了後の解析表示においては入力されたデータ識別情報Ｒｊｉに対応するメモリ１０２の正面画像を登録済横面画像ＢＧｉｒとし、この登録済正面画像ＡＧｉｒにおけるセンサ１１の色成分（例えば黄色）の塊をセンサ正面画像Ｇａｉとし、このセンサ正面画像Ｇａｉの重心ｇａｉ（ピクセル座標）を求める。
【００７９】
センサ横面位置算出部１０５は、測定中はカメラ画像入力部１０１からカメラ画像入力部１０１から横面画像ＢＧｉが入力する毎に、この横面画像ＢＧｉにおけるセンサ１１の色（例えば黄色）の塊をセンサ横面画像Ｇｂｉとし、このセンサ横面画像Ｇｂｉの中心を重心ｇｂｉ（ピクセル座標）として求める。
【００８０】
また、センサ横面位置算出部１０５は、測定完了後の解析表示においては入力されたデータ識別情報Ｒｊｉに対応するメモリ１０３の横面画像を登録済横面画像ＢＧｉｒとし、この登録済横面画像ＢＧｉｒにおけるセンサ１１の色成分（例えば黄色）の塊をセンサ横面画像Ｇｂｉとし、このセンサ横面画像Ｇｂｉの重心ｇａｉ（ピクセル座標）を求める。
【００８１】
なお、センサ１１の色相・彩度及び／又は明度を求め、この色情報を用いて重心ｇａｉを求めている。なお、中心に代えて重心でもかまわない。
【００８２】
センサ三次元位置算出部１０６は、測定中はセンサ正面画像Ｇａｉの重心ｇａｉとセンサ横面画像Ｇｂｉの重心ｇｂｉとの交点を有する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉを決定し、この決定した区画の三次元座標をセンサ三次元区画座標Ｗｍｉとして電磁界情報割付部１１６に出力する。
【００８３】
また、センサ三次元位置算出部１０６は、測定完了後の解析表示においては、登録済正面画像ＡＧｉｒに基づくセンサ正面画像Ｇａｉの重心ｇａｉと登録済横面画像ＢＧｉｒに基づくセンサ横面画像Ｇｂｉの重心ｇｂｉとの交点を有する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉを決定し、この決定した区画の三次元座標をセンサ三次元区画座標Ｗｍｉとして電磁界情報割付部１１６に出力する。
【００８４】
電磁界情報割付部１１６は、測定中は一定時間Ｔｉ毎にセンサ三次元位置算出部１０６からのセンサ三次元区画座標Ｗｍｉを現在のセンサ１１の測定空間Ａｉにおける解析立体空間モデルＫＡＭＩｉにおける位置とする。そして、このセンサ三次元区画座標Ｗｍｉの解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに、メモリ１１５ａのスペクトラムデータＨｉの番号ＨＦｉ（信号取込番号）と、スペクトラムデータＨｉ内で最大となる電磁界強度とを割付けると共に、この電磁界強度の色値Ｃｉを色値テーブル１１７に基づいて割付ける（総称して解析表示用データＬｉという）。具体的には、解析表示用データＬｉは区画ｍｉの三次元座標、データ識別情報Ｒｊｉ等に関連付けられて区画管理情報ＭＢｉとしてメモリ１１０ｂに格納される。
【００８５】
つまり、センサ１１の移動に伴う解析表示用データＬｉをセンサ１１のサイズ単位で解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画に割付けて区画管理情報ＭＢｉを生成している。
【００８６】
前述の区画管理情報ＭＢｉについて図７、図８を用いて以下に説明する。
【００８７】
図７（ａ）はスペクトラムデータ読込部１１４が１／３０ｓｅｃ毎に取得したスペクトラムデータＨｉであり、図７（ｂ）はスペクトラムデータＨｉの実際の波形（ｈｉ）である。また、図７（ａ）は、センサ１１で検出した２００〜１２００ＭＨｚの範囲のスペクトラムデータを示している。
【００８８】
図７（ａ）に示すスペクトラムデータＨｉは、２００〜１２００ＭＨｚの範囲を５００個のデータにして、その電磁界強度（以下単に強度Ｅｉという）とサンプリング番号（ＮＯ）とを対応付けたリストとして示している。そして、この５００個のデータを番号ＨＦｉで区別している。
【００８９】
また、図７（ｃ）には後述する解析立体空間モデルＫＡＭｉを記載し、図７（ｄ）にはこの解析立体空間モデルＫＡＭｉの各メッシュ枠ＫＭｉの各区画ｍｉに割付けられている解析表示用データＬｉを示している。
【００９０】
この解析表示用データＬｉは、図７（ｄ）はメモリ１１０ｂに記憶されているメッシュ枠ＫＭｉに存在する区画ｍｉ毎の区画管理情報ＭＢｉに含まれるものである。
【００９１】
区画ｍｉの三次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）は、Ｍｘ軸における区画ｍｉの番号、Ｍｙ軸における区画ｍｉの番号及びＭｚ軸における区画ｍｉの番号で構成している。本実施の形態では、単に区画ｍｉと称する。
【００９２】
また、前述の色値Ｃｉは色値テーブル１１７（ｘｘ強度〜××強度＝赤、ｘｘ×強度〜×××強度＝青、・・）から決定している。
【００９３】
そして、区画管理情報ＭＢｉは、図８に示すように、区画ｍｉ（番号）、区画ｍｉの三次元座標及び解析表示用データＬｉ等を関連付けて構成してメモリ１１０ｂに記憶する。
【００９４】
補間部１１８は、解析立体空間モデルＫＡＭｉの各メッシュ枠ＫＭｉの区画ｍｉに解析表示用データＬｉが割付けられているかどうかを判断し、割付けられていない区画ｍｉに対しては、前後のメッシュ枠ＫＭｉのｍｉに割付けられている区画ｍｉ毎の解析表示用データＬｉの最大強度Ｅｉｍａｘから、そのメッシュ枠の区画ｍｉの最大強度Ｅｉｍａｘを補間する。
【００９５】
例えば、図９（ａ）に示すように、時刻Ｔ１においてメッシュ枠ＫＭ１のｍ５にスペクトラムデータＨｉが「１０：例えば強度」と割付けられていて、時刻Ｔ２においてメッシュ枠ＫＭ２のｍ５にスペクトラムデータＨｉがない場合で、時刻Ｔ３においてメッシュ枠ＫＭ３のｍ５にスペクトラムデータＨｉが「８：例えば強度」と割付けられていて場合は、図９（ｂ）に示すように、時刻Ｔ２のメッシュ枠ＫＭ２のｍ５に「８」を割付ける。
【００９６】
なお、補間部１１８というのは必須な構成要件ではない。補間指示があって起動するものとする。
【００９７】
また、補間部１１８は、ｍａｘ処理で決定してもかまわない。例えば、電磁界情報割付部１１６で求められた時刻Ｔ３での今回の最大強度Ｅｉｍａｘと時刻Ｔ２での前回の最大強度Ｅｉｍａｘとを比較して、大きい方を今回の区画の最大強度Ｅｉｍａｘとする。
【００９８】
解析分布出力部１１９は、測定中は一定時間Ｔｉ毎に電磁界情報割付部１１６によって区画管理情報ＭＢｉが解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに関連付けられる毎に、この区画管理情報ＭＢｉの解析表示用データＬｉの最大強度Ｅｉｍａｘの色値Ｃｉと区画管理情報ＭＢｉの二次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ）とを三次元表示部１２１に出力する。
【００９９】
また、色値Ｃｉは区画ｍｉに必ずしも割付ける必要はない。最大強度Ｅｉｍａｘに対応する色値Ｃｉを色値テーブル１１７から決定して三次元表示部１２１に出力してもかまわない。
【０１００】
これによって、画面の該当の画面区画Ｐｍｉが最大強度Ｅｉｍａｘに対応した色で直ちに色別表示される。
【０１０１】
また、解析分布出力部１１９は、測定完了後の解析表示においては、メモリ１０２の登録済正面画像ＡＧｉｒ又はメモリ１０２の登録済横面画像ＢＧｉｒをディスプレイ１２０に表示させる。本実施の形態では登録済正面画像ＡＧｉｒを表示させる。
【０１０２】
そして、入力された距離ｄｉに対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉのメッシュ枠を検索し、これを画面メッシュ枠ＰＭｉとして登録済正面画像ＡＧｉｒに重ね表示する。そして、このメッシュ枠の区画に割付けられている色値Ｃｉ及び二次元座標を三次元表示部１２１に出力して、画面メッシュ枠ＰＭｉの該当する画面区画Ｐｍｉを色値Ｃｉの色で表示する。
【０１０３】
さらに、解析分布出力部１１９は、測定完了後の解析表示においては、入力された距離範囲に対応する区画を区画群Ｍｚｉｉとして解析立体空間モデルＫＡＭｉから検索し、この区画群Ｍｚｉｉの内で極大となる最大強度Ｅｉｍａｘを検索し、検索した最大強度Ｅｉｍａｘを区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘとし、この区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘに関連付けられている色値Ｃｉ及び二次元座標を三次元表示部１２１に出力して、画面メッシュ枠ＰＭｉの該当の画面区画Ｐｍｉを色値Ｃｉで表示する。
【０１０４】
また、解析分布出力部１１９は、区画ｍｉに割付けられている区画管理情報ＭＢｉに含まれている番号ＨＦｉに対応する登録済スペクトラムデータＨｉｒをメモリ１１５ａから引き当て、この登録済スペクトラムデータＨｉｒを表示する。
【０１０５】
三次元表示部１２１は、内部に画像メモリを備え、モード設定部１２４の指示モードに基づいてメモリ１２２の表示フォーマットを画像メモリに読み出してディスプレイ１２０に表示する。この表示フォーマットというのは、例えば上に正面画像表示領域１２０ａ、スペクトラム表示領域１２０ｂ等からなるフォーマットである。
【０１０６】
また、画像出力部１０９からの正面画像ＡＧｉを画像メモリに読み出して、表示フォーマットの正面画像表示領域１２０ａに表示すると共に、周波数成分のスペクトラムデータをスペクトラム表示領域１２０ｂに表示する。また、三次元表示部１２１は、色付け機能（色パレット）を有し、入力した色値に基づく色で表示する。
【０１０７】
さらに、三次元表示部１２１は、基準解析メッシュ作成部１０７で生成されたメッシュ枠をディスプレイ１２０に表示し、この画面メッシュ枠ＰＭｉの各々の画面区画Ｐｍｉをその番号とその二次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ）とを関連付けて管理している。
【０１０８】
また、三次元表示部１２１は、解析分布出力部１１９から画面区画Ｐｍｉの二次元座標が知らせられた場合は、この二次元座標に対応する画面区画Ｐｍｉを色別表示する。
【０１０９】
モード設定部１２４は、測定開始又は測定完了後の解析表示を入力させるための画面を表示させて、入力した指示に基づいて各部を起動させる。このモード設定部１２４については後述する。
【０１１０】
（動作説明）
上記のように構成された電磁界可視化装置について以下に動作を説明する。
【０１１１】
初めに測定中の概略動作を図１０のフローチャートを用いて説明する。なお、図１０においては、既に解析立体空間モデルＫＡＭｉが生成されているとする。
【０１１２】
測定者は図５に示すように、センサ１１を手で持って、被測定対象物１０と正面用ビデオカメラ１２と横面用ビデオカメラ１３とで構成される測定空間Ａｉにセンサ１１を移動させる（Ｓ１）。このとき、測定空間Ａｉにおいて上下、左右、前後に走査（移動）する。
【０１１３】
この移動に伴って解析本体部１００は図１０に示す並列的な処理を実行している。
【０１１４】
正面用ビデオカメラ１２は正面から測定空間Ａｉを撮影すると共に、横面用ビデオカメラ１３は測定空間Ａｉを横面から撮影する。これらの撮影画像をカメラ画像入力部１０１が取込んで、画像出力部１０９が正面画像ＡＧｉを選択してこれをディスプレイ１２０の正面画像表示領域１２０ａに表示する（Ｓ２）。
【０１１５】
ステップＳ２の具体的処理は、カメラ画像入力部１０１は、一定時間毎（例えば１／３０ｓｅｃ）に正面用ビデオカメラ１２からの映像信号をデジタル変換し、この正面画像ＡＧｉをメモリ１０２に記憶すると共に、横面用ビデオカメラ１３からの映像信号をデジタル変換し、この横面画像ＢＧｉをメモリ１０３に記憶する。
【０１１６】
次に、センサ正面位置算出部１０４が正面画像ＡＧｉからセンサ１１の色相、彩度、明度の色情報（例えば黄色）を抽出すると共に、センサ横面位置算出部１０５が横面画像ＢＧｉからセンサ１１の色相、彩度、明度の色情報（例えば黄色）を抽出して（Ｓ３）、センサ正面画像Ｇａｉの中心を重心（ｇａｉ）として求めると共にセンサ横面画像Ｇｂｉの中心を重心ｇｂｉとして求める（Ｓ４）。
【０１１７】
そして、センサ三次元位置算出部１０６がこれらの重心（中心）を用いて解析立体空間モデルＫＡＭｉにおける区画ｍｉを定義する（Ｓ６）。
【０１１８】
一方、スペクトラムアナライザ１５は、センサ１１が検出した電磁界検出信号を取込み（Ｓ７）、これらの周波数を分析する（Ｓ８）。
【０１１９】
そして、スペクトラムデータ読込部１１４がスペクトラムアナライザ１５からスペクトラムデータの内で、入力された周波数範囲（周波数帯域）のスペクトラムデータＨｉを電磁界情報割付部１１６に出力すると共に、メモリ１１５ａに記憶する（Ｓ９）。
【０１２０】
このとき、ユニークな番号ＨＦｉを乱数発生器（図示せず）等で生成して、この番号ＨＦｉを付加して記憶する。
【０１２１】
次に、電磁界情報割付部１１６がスペクトラムデータ読込部１１４からのスペクトラムデータＨｉの最大強度Ｅｉｍａｘを読込み、この最大強度Ｅｉｍａｘを色値テーブル１１７の値に基づいて色値Ｃｉを決定する（Ｓ１０）。
【０１２２】
そして、電磁界情報割付部１１６は、ステップＳ６で定義された最大強度Ｅｉｍａｘ、色値Ｃｉ及びスペクトラムデータＨｉの番号ＨＦｉを解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに割付ける解析表示用データＬｉとして得る（１１ａ）。
【０１２３】
次に、スペクトラムデータＨｉの番号ＨＦｉと最大強度Ｅｉｍａｘと色値Ｃｉ等からなる解析表示用データＬｉを定義された区画ｍｉに割付ける（Ｓ１１ｂ）。
【０１２４】
次に、解析分布出力部１１９が区画ｍｉの解析表示用データＬｉの色値Ｃｉと区画ｍｉに割付けられている二次元座標とを三次元表示部１２１に出力して画面メッシュ枠ＰＭｉの該当の区画ｍｉを色値Ｃｉの色で表示させて再びステップＳ１に処理を戻す（Ｓ１２）。
【０１２５】
すなわち、強度分布図（図１１参照）が正面画像ＡＧｉ上に重ね表示されることになる。
【０１２６】
次に、各部の処理について詳細に説明する。
【０１２７】
＜詳細説明＞
（立体メッシュ枠作成処理）
図１２は基準解析メッシュ作成部１０７と解析立体空間作成部１０８の処理（総称して立体メッシュ枠作成処理ともいう）を説明するフローチャートである。
【０１２８】
基準解析メッシュ作成部１０７は、図示しないメッシュ枠設定画面をディスプレイ１２０の画面に表示させて、メッシュ枠設定画面に入力された解析立体空間モデルＫＡＭｉを生成するための測定空間Ａｉの高さＡｙｉと測定空間Ａｉの奥行Ａｚｉと横幅Ａｘｉとメッシュ枠ＫＭｉの区画のサイズｄｍｉとを読込む（Ｓ２０）。
【０１２９】
次に、高さＡｙｉと横幅Ａｘｉと区画のサイズｄｍｉとを用いて画面メッシュ枠ＰＭｉを作成し、これを三次元表示部１２１に出力して図４に示すように正面画像ＡＧｉに重ね表示させる（Ｓ２１）。
【０１３０】
このとき、メッシュ枠設定の確定変更入力画面（図示せず）を表示する（例えば右端）。メッシュ枠設定の確定変更入力画面は、例えば区画のサイズｄｍｉ、縦幅Ａｙｉ、横幅Ａｘｉ、確定ボタン、変更ボタンのボックス等からなる。
【０１３１】
前述の画面メッシュ枠ＰＭｉは画面区画Ｐｍｉのサイズｄｍｉを基準にして作成するので、必ずしも縦幅Ａｙｉ、横幅Ａｘｉを満たさないメッシュ枠となる場合もある。
【０１３２】
次に、画面メッシュ枠ＰＭｉの確定ボタンの入力かどうかを判断する（Ｓ２３）。ステップＳ２３で変更ボタンが入力したと判定したときは、ディスプレイ１２０に表示した画面メッシュ枠ＰＭｉを三次元表示部１２１によって消去させて処理をステップＳ１に戻す（Ｓ２４）。
【０１３３】
ステップＳ２３において、確定ボタンの入力と判断した場合は、表示された画面メッシュ枠ＰＭｉを解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉとして、この解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉの二次元座標及び画面区画Ｐｍｉのサイズｄｍｉ並びにステップＳ２０で読込んだ奥行Ａｚｉを解析立体空間作成部１０８に出力する（Ｓ２５）。
【０１３４】
次に、解析立体空間作成部１０８は、基準解析メッシュ作成部１０７からの解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉの二次元座標及び画面区画Ｐｍｉのサイズ並びに奥行Ａｚｉを用いて図６に示す解析立体空間モデルＫＡＭｉを三次元メモリ１１０ａに生成する（Ｓ２６）。
【０１３５】
また、ステップＳ２６では、メモリ１１０ｂにメッシュ枠ＫＭｉの番号と区画ｍｉの三次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）とを関連付けた区画管理情報ＭＢｉ（ＭＢ１、ＭＢ２・・・）を生成している（図８参照）。
【０１３６】
前述の三次元座標は、区画ｍｉの最小点の座標（Ｍｘｉｍｉｎ，ＭｙｉＹｍｉｎ，Ｍｉｚｍｉｎ）と最大点の座標（Ｍｘｉｍａｘ，ＭｙｉＹｍａｘ，Ｍｉｚｍａｘ）とで構築してもかまわない。
【０１３７】
なお、三次元メモリ１１０ａとメモリ１１０ｂとは一つのメモリとしてもかまわない。
【０１３８】
このような準備が終わって以後の処理を行う。
【０１３９】
（センサ三次元位置算出処理）
図１３、図１４はセンサ三次元位置算出処理を説明するフローチャートである。
【０１４０】
なお、測定者は画面に表示した測定開始ボタン（図示せず）を選択して正面用ビデオカメラ１２及び横面用ビデオカメラ１３を起動させる。そして、センサ１１を手で持って、被測定対象物１０と正面用ビデオカメラ１２と横面用ビデオカメラ１３とで定義される測定空間Ａｉを上下、左右、前後に走査（移動）する。
【０１４１】
センサ正面位置算出部１０４は、測定開始ボタンの選択に伴って、メモリ１０２に記憶された正面画像ＡＧｉを読込み、かつセンサ横面位置算出部１０５はメモリ１０３の横面画像ＢＧｉを読込む（Ｓ３１：図１５（ａ）、（ｂ）参照）。
【０１４２】
次に、センサ正面位置算出部１０４は、正面画像ＡＧｉの中で黄色（イエロー）の色情報（色相、再度又は明度）を有するピクセル群の塊をセンサ正面画像Ｇａｉとし、このセンサ正面画像Ｇａｉの中心を重心ｇａｉとして求める（Ｓ３２：図１６（ａ）参照）。
【０１４３】
次に、センサ横面位置算出部１０５は、横面画像ＢＧｉの中で例えば黄色の色情報（色相、再度又は明度）の塊をセンサ横面画像Ｇｂｉとし、このセンサ横面画像Ｇｂｉの中心を重心ｇｂｉとして求める（Ｓ３３：図１５（ｂ）参照））。
【０１４４】
そして、センサ三次元位置算出部１０６が解析立体空間モデルＫＡＭｉの先頭のメッシュ枠ＫＭｉを正面先頭メッシュ枠ＫＭ１とし、この正面先頭メッシュ枠ＫＭ１にセンサ正面画像Ｇａｉの重心ｇａｉを投影し（図１７（ａ）参照）、この投影された正面先頭メッシュ枠ＫＭ１の区画を、先頭正面メッシュ枠ＫＭ１における区画ｍｉ（ｍｉａ）とする（Ｓ３４：図１７（ｂ）参照）。
【０１４５】
次に、センサ三次元位置算出部１０６は、解析立体空間モデルＫＡＭｉにおける横面の先頭のメッシュ枠を横面先頭メッシュ枠ＹＫＭ１とし、この横面先頭メッシュ枠ＹＫＭ１にセンサ横面画像Ｇｂｉの重心ｇｂｉを投影し（図１７（ａ）参照）、この投影された横面先頭メッシュ枠ＹＫＭ１の区画を横面先頭メッシュ枠ＹＫＭｉの区画ｍｉ（ｍｉｂ）とする（Ｓ３５；図１７（ｂ）参照）。
【０１４６】
次に、求めた先頭正面メッシュ枠ＫＭ１における区画ｍｉ（ｍｉａ）と横面先頭メッシュ枠ＹＫＭｉの区画ｍｉ（ｍｉｂ）との交点となる区画ｍｉ（ｍｉｋ）を求め、これをセンサ１１の位置に対応する区画と決定する（Ｓ３６：図１７（ｂ））。
【０１４７】
そして、図１４に示すように、決定された解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉを読込み（Ｓ３７）、この区画ｍｉに割付けられている三次元座標（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）をセンサ三次元区画座標Ｗｍｉとして電磁界情報割付部１１６に出力する（Ｓ３８）。
【０１４８】
次に、終了かどうかを判断する（Ｓ３９）、終了でない場合は一定時間Ｔｉ（１／３０ｓｅｃ）が経過したかどうかを判断し、一定時間Ｔｉを経過していない場合は処理を図１３のステップＳ３１に戻す（Ｓ４０）。
【０１４９】
すなわち、一定時間Ｔｉ毎に、センサ１１が測定空間Ａｉを上下、左右、前後に走査（移動）したときの解析立体空間モデルＫＡＭｉにおけるセンサ三次元区画座標Ｗｍｉを電磁界情報割付部１１６に知らせている。
【０１５０】
（電磁界情報割付処理）
次に電磁界情報割付部１１６の処理を図１８のフローチャートを用いて説明する。但し、本実施の形態ではスペクトラムデータ読込部１１４が測定開始指示の入力に伴って、スペクトラムアナライザ１５からのスペクトラムデータの内で、設定されている周波数範囲Ｆｆｉ（例えば２００〜１２００ＭＨｚ）のスペクトラムデータＨｉ（図１８参照）を一定時間Ｔｉ毎に番号ＨＦｉを付加してメモリ１１５ａに記憶しているとする。
【０１５１】
電磁界情報割付部１１６は、測定開始指示の入力に伴って、センサ三次元区画座標Ｗｍｉ（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）が入力したかどうかを判断する（Ｓ５１）。
【０１５２】
ステップＳ５１において、センサ三次元区画座標Ｗｍｉ（Ｍｘｉ，Ｍｙｉ，Ｍｚｉ）が入力したと判定したときは、スペクトラムデータＨｉを読込む（Ｓ５２）。
【０１５３】
そして、電磁界情報割付部１１６は、このスペクトラムデータＨｉの内で最大強度Ｅｉｍａｘを読込む（Ｓ５３）。
【０１５４】
次に、このスペクトラムデータＨｉの最大強度Ｅｉｍａｘに対応する色値Ｃｉを色値テーブル１１７（図１９参照）から決定する（Ｓ５４）。
【０１５５】
次に、入力したセンサ三次元区画座標Ｗｍｉが示す解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉにスペクトラムデータＨｉの番号ＨＦｉと最大強度Ｅｉｍａｘと色値Ｃｉとを解析表示用データＬｉとして割付ける（Ｓ５５）。具体的にはメモリ１１０ｂのメッシュ枠ＫＭｉ、区画ｍｉに解析表示用データＬｉを関連させた区画管理情報ＭＢｉとして記憶する（図８参照）。
【０１５６】
次に、測定終了かどうかを判断し、終了でないときは処理をステップＳ５１に戻して（Ｓ５６）、次のセンサ１１の位置に対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに解析表示用データＬｉを割付けて行く。
【０１５７】
従って、センサ１１を上下、左右、前後に測定空間Ａｉを走査（移動）したときの一定時間ＴｉにおけるスペクトラムデータＨｉが解析立体空間モデルＫＡＭｉの各区画ｍｉ（ｍ１、ｍ２・・）に順次割付けられていくことになる。
【０１５８】
そして、以下に説明する解析分布出力部の処理によってリアルタイムで解析表示している。
【０１５９】
（解析分布出力部の処理）
図２０は解析分布出力部の動作を説明するフローチャートである。
【０１６０】
解析分布出力部１１９は、図２０に示すように測定中表示指示の入力に伴って、この指示に含まれている表示方向（正面又は側面）を三次元表示部１２１に設定する。例えば表示方向を解析立体空間モデルＫＡＭｉの正面とする（Ｓ６１）。
【０１６１】
次に、解析分布出力部１１９は、解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに解析表示用データＬｉ（スペクトラムデータＨｉの番号ＨＦｉ、色値Ｃｉ、最大強度Ｅｉｍａｘ）が割付けられたかどうかを判断する（Ｓ６２）。
【０１６２】
ステップＳ６２において、解析表示用データＬｉが割付けられたと判定したときは、この解析表示用データＬｉが割付けられた区画ｍｉを有する解析立体空間モデルＫＡＭｉのメッシュ枠ＫＭｉを引き当てる（Ｓ６３）。
【０１６３】
そして、このメッシュ枠ＫＭｉの区画ｍｉの二次元座標を読込む（Ｓ６４）。次に、区画ｍｉに割付けられている色値Ｃｉと二次元座標とを三次元表示部１２１に出力して該当の画面区画Ｐｍｉを色値Ｃｉの色で表示させる（Ｓ６５）。
【０１６４】
具体的には、三次元メモリ１１０ａの解析立体空間モデルＫＡＭｉのメッシュ枠ＫＭｉの区画ｍｉを有するメモリ１１０ｂの区画管理情報ＭＢｉを引き当て、その色値Ｃｉと二次元座標とを出力する。
【０１６５】
三次元表示部１２１は、入力した二次元座標（Ｍｘ，Ｍｙ）に対応する画面区画Ｐｍｉを色値Ｃｉの色で表示する。
【０１６６】
すなわち、リアルタイムで図１１に示すような最大強度Ｅｉｍａｘに応じた強度分布図Ｑｉがディスプレイ１２０に表示されるので、この画面を見ながら測定者はもれがないようにスペクトラムデータを取得することが可能となる。
【０１６７】
次に、終了かどうかを判断し、終了でないときは、処理をステップＳ６２に戻して次のセンサ１１の位置に対応する画面区画Ｐｍｉにセンサ１１で検出した最大強度Ｅｉｍａｘを色表示させる。
【０１６８】
従って、測定者は、この画面を見てどの領域に電磁界強度が高いノイズが発生しているかが一目で分かる。
【０１６９】
ここまでが、測定時における登録前処理である。
【０１７０】
（登録後の実際の運用処理）
以下に登録後の実際の運用処理を以下に説明する。
【０１７１】
図２１は解析分布出力部が有する概略構成図である。
【０１７２】
また、図２１においては、三次元表示部１２１の概略構成も示している。三次元表示部１２１は、画像メモリとして、メッシュ枠表示用のメモリ３０４と、カメラ画像表示用のメモリ３０５と、スペクトラム波形表示用のメモリ３０６と備えている。また、色値に対応した色パレット３０１を備えている。
【０１７３】
なお、撮影画像（正面画像ＡＧｉ、横面画像ＢＧｉ）のメモリ１０２、１０３への登録に当たっては、センサ１１を測定空間Ａｉからはずして登録するのが好ましい。
【０１７４】
また、撮像画像及びスペクトラムデータＨｉの登録に当たっては、測定者によって入力されたデータ識別情報Ｒｊｉ（年月日、測定者、時刻、場所、対象機器等を含む）を関連付けて登録するのが好ましい。
【０１７５】
また、三次元表示部１２１は、メッシュ枠表示用のメモリ３０４、カメラ画像表示用のメモリ３０５、スペクトラム波形表示用のメモリ３０６を定期的に読込んで、これらを該当の領域（正面画像表示領域１２０ａ、スペクトラム表示領域１２０ｂ）に表示させている。
【０１７６】
さらに、三次元表示部１２１には表示メッシュ枠サイズ決定部３１０を接続している。
【０１７７】
表示メッシュ枠サイズ決定部３１０は、画面メッシュ枠ＰＭｉのサイズを変更する。例えば、被測定対象物１０の上で希望のエリアだけの強度分布を表示させるために、画面メッシュ枠ＰＭｉのサイズを変更する。
【０１７８】
さらに、解析分布出力部１１９は、図２１に示すように、強度分布図作成部２５４とスペクトラムデータ決定部２５６等を備えている。これらはフローチャートを用いて説明する。
【０１７９】
次にモード設定部１２４の処理を図２２のフローチャートを用いて説明する。
【０１８０】
モード設定部１２４は、解析種類Ｋｉ（正面、側面、強度、周波数、距離指定等）を読込む（Ｓ８１）。
【０１８１】
次に、この解析種類Ｋｉが正面表示を示しているかどうかを判定する（Ｓ８２）。
【０１８２】
次に、ステップＳ８２において、解析種類Ｋｉが正面表示を示していると判定した場合は、強度表示を示しているかどうかを判断する（Ｓ８４）。
【０１８３】
ステップＳ８４において、強度表示を示していると判定した場合は、解析種類Ｋｉの距離指定が距離範囲（ｄａｉ〜ｄｊｉ）を示しているかどうかを判断する（Ｓ８５）。
【０１８４】
ステップＳ８５において、距離指定が一つの距離（例えば距離「０」又は距離１ｍ、若しくは距離２ｍ・・）を示していると判断した場合は、正面単一距離解析表示モード（通常強度解析モードともいう）と判定する（Ｓ８６）。
【０１８５】
そして、終了かどうかを判断し、終了でない場合は処理をステップＳ８１に戻す（Ｓ８７）。
【０１８６】
また、ステップＳ８５において、距離指定が距離範囲（例えば１ｍから１．５ｍ）と判断した場合は、正面指定距離範囲強度解析表示モードと判定して処理をステップＳ８７に移す（Ｓ８８）。
【０１８７】
また、ステップＳ８４において解析種類Ｋｉが周波数を示していると判定した場合は、指定ポイントのスペクトラムデータ表示モードと判定する（Ｓ８９）。
【０１８８】
さらに、ステップＳ８２において解析種類Ｋｉが正面ではないと判定した場合は、横側解析表示モードと判定して処理をステップＳ８７に移す（Ｓ９１）。
【０１８９】
すなわち、モード設定部１２４は、通常強度解析モード、正面指定距離範囲強度解析表示モード、スペクトラムデータ表示モード、横側解析表示モードかどうかを判断している。
【０１９０】
強度分布図作成部２５４は、以下の処理を行う。
【０１９１】
一方、強度分布図作成部２５４は、以下の処理を行う。
【０１９２】
図２３は強度分布図作成部２５４の処理を説明するフローチャートである。
【０１９３】
強度分布図作成部２５４は、モード設定部１２４が正面表示又は側面表示（横面）と判断したかどうかを判定する（Ｓ１１１）。
【０１９４】
ステップＳ１１１において、正面表示と判定した場合は、三次元表示部１２１に対して正面解析表示モードであることを知らせる（Ｓ１１２）。三次元表示部１２１は、正面解析表示モードであることが知らせられると、解析立体空間モデルＫＡＭｉのＭｘ−Ｍｙ面を視野方向とする。
【０１９５】
次に、強度分布図作成部２５４は、画像出力部１０９に対して正面であることを知らせると共に、測定者によって入力されたデータ識別情報Ｒｊｉ（年月日、測定者、時刻、場所、対象機器等を含む）を検索条件として知らせて、メモリ１０２に登録されている該当の登録済正面画像ＡＧｉｒを三次元表示部１２１のカメラ画像用のメモリ３０５に読み出して表示させる（Ｓ１１３）。
【０１９６】
次に、強度分布図作成部２５４は、三次元メモリ１１０ａに登録されている解析立体空間モデルＫＡＭｉの先頭正面メッシュ枠ＫＭ１（Ｍｚ−Ｍｘ面）を解析結果表示用メッシュ枠ＫＬｉ（ＫＭ１）とし、三次元表示部１２１のメッシュ枠表示用のメモリ３０４に投影して正面画像ＡＧｉに重ね表示させる（Ｓ１１４）。
【０１９７】
そして、強度分布図作成部２５４は、入力された解析種類Ｋｉの距離ｄｉ（例えば対象物から５０ｃｍ）を読込む（Ｓ１１５）。
【０１９８】
次に、強度分布図作成部２５４は、入力された距離ｄｉを解析立体空間モデルＫＡＭｉの座標Ｍｚｉに変換する（Ｓ１１６）。この変換された距離の座標をｄＭｚｉと称する。
【０１９９】
そして、解析立体空間モデルＫＡＭｉのこの座標ｄＭｚｉに該当するメッシュ枠ＫＭｉを引き当てる（Ｓ１１７）。このとき、強度分布図作成部２５４は、座標ｄＭｚｉを図示しないメモリに記憶している。
【０２００】
例えば、図２４（ａ）に示す先頭正面メッシュ枠ＫＭ１を座標ｄＭｚｉに対応するメッシュ枠ＫＭ１として引き当てる。
【０２０１】
次に、この引き当てたメッシュ枠ＫＭｉの区画ｍｉを指定する（Ｓ１１８）。初めは図２４（ａ）に示すように先頭の区画ｍ１を指定する。
【０２０２】
次に、この指定した区画ｍｉに割付けられている色値Ｃｉを読込み、この色値Ｃｉと区画ｍｉの二次元座標と共に三次元表示部１２１に出力して、該当の画面区画Ｐｍｉをその色で表示させる（Ｓ１２０）。
【０２０３】
次に、メッシュ枠ＫＭｉに区画ｍｉが他にあるかどうかを判断する（Ｓ１２１）。ステップＳ１２１において、メッシュ枠ＫＭｉに区画ｍｉが他にあると判定した場合は、区画ｍｉを次の区画ｍｉに更新して処理をステップＳ１１８に戻す（Ｓ１２２）。
【０２０４】
つまり、強度分布図作成部２５４は、図２４（ａ）に示すように、解析立体空間モデルＫＡＭｉの先頭正面メッシュ枠ＫＭ１の区画ｍ２、区画ｍ３、・・・の順で指定する。そして、指定された区画に対応する画面区画Ｐｍｉを色別表示させて上記の図１１と同様な強度分布図Ｑｉを表示させている。
【０２０５】
また、ステップＳ１２１において、メッシュ枠ＫＭｉに区画ｍｉが他にないと判定した場合は、終了かどうかを判断し、終了でない場合は処理をステップＳ１１１に戻す（Ｓ１２３）。
【０２０６】
さらに、ステップＳ１１１において正面ではないと判定した場合は、三次元表示部１２１に視野方向が横面表示（横側解析表示モード）であることを知らせる（Ｓ１３１）。
【０２０７】
そして、測定者によって入力されたデータ識別情報Ｒｊｉを検索条件として画像出力部１０９に知らせて、メモリ１０３に登録されている該当の登録済横面画像ＢＧｉｒを三次元表示部１２１の正面画像用のメモリ３０５に読み出して表示させる（Ｓ１３２）。
【０２０８】
次に、解析立体空間モデルＫＡＭｉの先頭横面メッシュ枠ＹＫＭ１を三次元表示部１２１のメッシュ枠表示用のメモリ３０４に投影して登録済横面画像ＢＧｉｒに重ね表示させて、処理をステップＳ１１５に戻す（Ｓ１３４）。
【０２０９】
（正面指定距離範囲強度解析表示モード）
距離範囲強度解析表示モードは、側面においても処理は同様であるから正面を一例として説明する。
【０２１０】
強度分布図作成部２５４は、モード設定部１２４から正面指定距離範囲強度解析表示モードであることが知らせられると、以下の処理を行う。
【０２１１】
図２５は強度分布図作成部２５４の正面指定距離範囲強度解析表示モード処理を説明するフローチャートである。
【０２１２】
強度分布図作成部２５４は、解析種類Ｋｉに含まれている指定距離範囲Ｒｄｍｉ（例えば、被測定対象物１０の正面１ｃｍ〜５０ｃｍ）を読む（Ｓ１４１）。
【０２１３】
そして、この指定距離範囲Ｒｄｍｉ（例えば、対象物の正面１ｃｍ〜５０ｃｍ：Ｒｍｐｂ〜Ｒｍｐｊ）に相当する解析立体空間モデルＫＡＭｉのメッシュ枠ＫＭｉを全て引き当てる（Ｓ１４２）。
【０２１４】
この引き当てられたメッシュ枠ＫＭｉを図２６（ａ）では、ＫＭｚｉｉ（例えばＫＭ１〜ＫＭ１０）として示している。
【０２１５】
次に、先頭の区画ｍｉ（ｍ１）を指定する（Ｓ１４３）。そして、引き当てたメッシュ枠範囲ＫＭｚｉｉ（例えばＫＭ１〜ＫＭ１０）において、指定された全ての区画ｍｉ（ｍ１、ｍ１・・・：総称して区画群Ｍｚｉｉという）の各々の解析表示用データＬｉの各最大強度Ｅｉｍａｘを読込む（Ｓ１４４）。
【０２１６】
そして、これらの中から最も極大となる最大強度Ｅｉｍａｘを決定する（Ｓ１４５）。本実施の形態では、決定された最も極大となる最大強度Ｅｉｍａｘを区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘと称する。なお、各々の最大強度Ｅｉｍａｘの平均であってもかまわない。
【０２１７】
次に、この区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘに対応する色値Ｃｉを読込み（Ｓ１４６）、この色値Ｃｉと区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘを有する区画ｍｉの二次元座標と共に三次元表示部１２１に出力して、画面の対応する画面区画Ｐｍｉに表示させる（Ｓ１４７）。
【０２１８】
次に、区画ｍｉが他にあるかどうかを判断する（Ｓ１４８）。
【０２１９】
ステップＳ１４８において、区画ｍｉが他にあると判断した場合は、区画ｍｉを次の区画に更新して処理をステップＳ１４３に戻し、次の区画群Ｍｚｉｉ内の区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘを読込んで、その強度に応じて色別表示させる（Ｓ１４９）。
【０２２０】
すなわち、図２６に示すように、メッシュ枠範囲ＫＭｚｉｉ（例えばＫＭ１〜ＫＭ１０）の範囲において、この範囲内の区画（ｍ１〜ｍ１０）の各々の解析表示用データＬｉ（色値Ｃｉ、最大強度Ｅｉｍａｘ、登録済スペクトラムデータＨｉｒの番号ＨＦｉ）が引き当てられる（図２６（ｂ））。
【０２２１】
そして、これらの内で最大強度Ｅｉｍａｘが読込まれて、これを区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘとし、この区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘに対応する色値Ｃｉを色値テーブル１１７から決定し、この色値Ｃｉと区画群内最大強度ＭｚＥｉｍａｘを有する区画の二次元座標とを三次元表示部１２１に出力している。
【０２２２】
従って、指定距離範囲において影響が出るノイズがあるかどうかが画面上から分かると共に、そのノイズのレベルが分かる。
【０２２３】
（スペクトラムデータ決定部の説明）
図２７はスペクトラムデータ表示モードの処理を説明するフローチャートである。
【０２２４】
スペクトラムデータ決定部２５６は、モード設定部１２４がスペクトラムデータ表示モードと判定した場合は、画面区画Ｐｍｉが指定されたかどうかを判定する（Ｓ１５１）。
【０２２５】
画面区画Ｐｍｉが指定されたと判定した場合は、この画面区画Ｐｍｉの二次元座標を読む（Ｓ１５２）。
【０２２６】
そして、ステップＳ１１７で記憶した現在の画面メッシュ枠ＰＭｉの座標ｄＭｚｉをメモリから読込み、この座標ｄＭｚｉに対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉのメッシュ枠ＫＭｉを引き当てる（Ｓ１５３）。
【０２２７】
次に、このメッシュ枠ＫＭｉに存在する画面区画Ｐｍｉの二次元元座標を有する区画ｍｉを引き当てる（Ｓ１５４）。
【０２２８】
そして、この区画ｍｉに割付けられている解析表示用データＬｉをメモリ１１０ｂから読込む（Ｓ１５５）。
【０２２９】
次に、この解析表示用データＬｉに含まれている登録済スペクトラムデータＨｉｒの番号ＨＦｉに対応する登録済スペクトラムデータＨｉｒをメモリ１１５ａから読込み（Ｓ１５７）、これを波形変換して（Ｓ１５７）、三次元表示部１２１によって表示させる（Ｓ１５８）。
【０２３０】
そして、図２８に示すように画面のスペクトラム波形の最大ピークに縦カーソルＣＰｉを三次元表示部１２１によって表示する（Ｓ１５９）。
【０２３１】
次に、終了かどうかを判断し、終了でない場合は処理をステップＳ１５１に戻す（Ｓ１６０）。
【０２３２】
すなわち、図２８に示すように、画面区画Ｐｍｉの指定ポイントＰｉが指定されると、この指定ポイントＰｉに対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉを検索し、この区画ｍｉに関連付けられている登録済スペクトラムデータＨｉｒが波形変換されて表示され、かつ最大強度のピーク波形に縦カーソルＣＰｉが表示される。
【０２３３】
従って、指定ポイントＰｉの画面区画Ｐｍｉは、どのような周波数のものが最大となっているかを把握できることになる。
【０２３４】
一方、スペクトラムデータ決定部２５６は、モード設定部１２４がスペクトラムデータ表示モードにおいて画面区画Ｐｍｉが指定されて、かつ周波数範囲（例えば４００〜６００ＭＨｚ）が入力した場合は以下に説明する処理を行っている。
【０２３５】
つまり、指定された周波数範囲の中で最大強度を求め、この最大強度を画面区画Ｐｍｉに色別表示させる（周波数範囲指定強度分布図処理）。
【０２３６】
図２９は周波数範囲指定強度分布図処理を説明するフローチャートである。図３０は図２９の補足図である。図３１は画面に表示された周波数範囲指定強度分布図の説明図である。
【０２３７】
図３０（ａ）には解析立体空間モデルＫＡＭｉを示し、図３０（ｂ）には、メモリ１１５ａに登録されている登録済スペクトラムデータＨｉｒを示している。この登録済スペクトラムデータＨｉｒは、図３０（ｂ）に示すように、一定時間毎（例えば１／３０ｓｅｃ）の周波数帯域を１つの塊のリストとして記憶されており、この各々のリストに番号ＨＦｉ（ＨＦ１、ＨＦ２・・）が関連付けられている。
【０２３８】
また、図３０（ｃ）には、解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに割付けられている解析表示用データＬｉを示している。
【０２３９】
スペクトラムデータ決定部２５６は、周波数範囲（例えば４００〜６００ＭＨｚ）が指定された場合は、現在画面に表示されている強度分布図Ｑｉ（図３１参照）の距離ｄｉを読込む（Ｓ１６１）。具体的には、現在表示している画面メッシュ枠ＰＭｉの座標ｄＭｚｉ（奥行きを示す）をメモリ（図示せず）から読込み、この座標ｄＭｚｉを強度分布図Ｑｉの距離ｄｉとして読込む。
【０２４０】
次に、スペクトラムデータ決定部２５６は、指定された周波数範囲Ｆｆｉ（例えば４００〜６００ＭＨｚ）を読込み（Ｓ１６２）、図３１に示すように画面のスペクトラム波形の該当の周波数範囲を色別表示する（Ｓ１６３）。図３１においては、この色別表示された周波数範囲をカタカナの（ア）で示している。
【０２４１】
次に、解析立体空間モデルＫＡＭｉの中から距離ｄｉに対応するメッシュ枠ＫＭｉを引き当てる（Ｓ１６４）。本実施の形態ではメッシュ枠ＫＭ１が指定された距離ｄｉに対応するとして説明する。
【０２４２】
次に、このメッシュ枠ＫＭ１における画面の指定ポイントＰｉに対応する解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉを指定する（Ｓ１６５）。
【０２４３】
次に、この区画ｍｉに割付けられている登録済スペクトラムデータＨｉｒの番号ＨＦｉを読込む（Ｓ１６６）。
【０２４４】
本実施の形態では解析表示用データＬｉの登録済スペクトラムデータＨｉｒの番号ＨＦｉは例えばＨＦ１とする。
【０２４５】
そして、この番号ＨＦｉ（ＨＦ１）の登録済スペクトラムデータＨｉｒの周波数範囲Ｆｆｉ（例えば４００〜６００ＭＨｚ）の部分を指定範囲スペクトラムデータＨｆｆｉとしてメモリ１１５ａから読込む（Ｓ１６７）。
【０２４６】
例えば、図３０（ｂ）に示すように、指定範囲スペクトラムデータＨｆｆｉの４００〜６００ＭＨｚの部分を読込む。
【０２４７】
次に、この指定範囲スペクトラムデータＨｆｆ１（４００〜６００ＭＨｚ）の中から最大強度Ｅｉｍａｘを読込む（Ｓ１６８）。
【０２４８】
図３０（ｂ）においては、「７７」が指定周波数範囲最大強度ＲｆＥｉｍａｘとして読込まれる。
【０２４９】
そして、この指定周波数範囲最大強度ＲｆＥｉｍａｘに対応する色値Ｃｉを色値テーブル１１７から決定する（Ｓ１６９）。
【０２５０】
そして、区画ｍｉに割付けられている二次元座標と決定した色値Ｃｉとを三次元表示部１２１に出力して（Ｓ１７０）、画面の指定ポイントＰｉの画面区画Ｐｍｉを色別表示する（図３１参照）。
【０２５１】
そして、終了かどうかを判断する（Ｓ１７１）。終了の場合は区画ｍｉを次の区画ｍｉに更新して処理をステップＳ１６５に処理を戻す（Ｓ１７２）。
【０２５２】
従って、指定ポイントＰｉ（区画）において、指定した周波数範囲ではどの周波数が支配的かを把握できる。
【０２５３】
なお、解析分布出力部１１９は、モード設定部１２４から３Ｄ表示（立体）のコマンドが出力された場合は、解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画に割付けられている最大強度を組み合わせてサーフェースモデルを構築して、これを三次元表示部１２１に出力して、入力された視角で３Ｄ表示させてもよい（図３２参照）。
【０２５４】
＜他の実施の形態＞
図３３は他の実施の形態の放射信号可視化装置の概略構成図である。図３３においては図１と同様なものについては説明を省略する。
【０２５５】
本実施の形態は、センサは放射線検出センサ２０２を用いる。
【０２５６】
そして、本体部２００には、放射線強度読込部２０１を備える。また、情報割付部１１６ａを備える。この情報割付部１１６ａは、電磁界情報割付部１１６と同様なものである。
【０２５７】
放射線強度読込部２０１は、一定時間Ｔｉ毎に放射線検出センサ２０２からの検出値（デジタル値：放射線量値）をメモリ２０３に記憶する。例えば、予め設定された年月日、場所、対象物名等にタイマーの時刻情報を関連付けて放射線の検出値を記憶する。
【０２５８】
また、人物又は対象物の上に測定空間Ａｉを定義して、上記の解析立体空間モデルＫＡＭｉを三次元メモリ１１０ａに生成する。
【０２５９】
そして、前述放射線検出センサ２０２を手で持って測定空間Ａｉを上下、左右、前後に走査（移動）させながら放射線検出センサ２０２の位置を、センサ正面位置算出部１０４、センサ横面位置算出部１０５及びセンサ三次元位置算出部１０６等を用いて解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画に定義する。
【０２６０】
そして、情報割付部１１６ａは放射線検出センサ２０２が検出した放射線量値を解析立体空間モデルＫＡＭｉの該当の区画ｍｉに割付ける。
【０２６１】
また、解析分布出力部１１９は、正面画像ＡＧｉ（又は登録済正面画像ＡＧｉｒ）を表示させて、入力された解析種類Ｋｉに応じて、ディスプレイ１２０の画面区画Ｐｍｉを放射線量値に対応する色で表示する。
【０２６２】
従って、解析担当者は、このディスプレイ１２０の画面を見てどの領域に高い放射線が発生しているかを一目で分かる。
【０２６３】
なお、上記実施の形態ではスペクトラムアナライザ１５（周波数分析手段）を本体部の外部に設けたがこのスペクトラムアナライザ１５の機能を本体部内に設けてもよい。
【０２６４】
また、上記実施の形態では、電子機器のノイズ又は被測定対象物の放射線量を検出するセンサとして説明したが、音量を検出するセンサを用いて、その音量を解析立体空間モデルＫＡＭｉに定義して、距離に応じて区画を色別表示してもかまわない。
【０２６５】
また、センサは温度センサであってもかまわない。
【０２６６】
さらに、上記実施の形態では、解析分布出力部１１９が解析立体空間モデルＫＡＭｉの区画ｍｉに割付けられている二次元座標を三次元表示部１２１に出力するとして説明したが、三次元表示部１２１が三次元座標の中から二次元座標のみを取り出す場合は、三次元座標を出力して該当の画面区画Ｐｍｉを色別表示させてもよい。
【０２６７】
さらに、スペクトラムアナライザ１５の出力がアナログデータの場合は、スペクトラムデータ読込部１１４にＡ／Ｄ変換器を設けて、一定時間Ｔｉ毎に、入力された周波数範囲のアナログのスペクトラムデータを取込んでデジタル化し、これを上記のスペクトラムデータＨｉとしてもよい。
【符号の説明】
【０２６８】
１０  被測定対象物
１２  正面用ビデオカメラ
１１  電磁界検出センサ
１３  横面用ビデオカメラ
１５  スペクトラムアナライザ
１００  解析本体部
１０１  カメラ画像入力部
１０７  基準解析メッシュ作成部
１０８  解析立体空間作成部
１０９  画像出力部
１０４  センサ正面位置算出部
１０５  センサ横面位置算出部
１０６  センサ三次元位置算出部
１１４  スペクトラムデータ読込部
１１６  電磁界情報割付部
１１９  解析分布出力部
【要約】
【課題】被測定対象物からどのような距離でどのような信号が発生しているかを詳細に知らせる放射信号可視化装置を得る。
【解決手段】被測定対象物１０を正面から撮影する正面用ビデオカメラ１２（固定）と、被測定対象物１０から発生する電磁界を検出する電磁界検出センサ１１と、電磁界検出センサ１１を横から撮影する横面用ビデオカメラ１３（固定）と、スペクトラムアナライザ１５と、解析本体部１００（コンピュータ本体）等から構成して、電磁界検出センサ１１の三次元位置に対応する画面の区画を、電磁界の強度に応じた色で表示する。
【選択図】図１【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
0005205547.tif 000029
【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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