(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線を測定器に接続する接続ステップと、
放電によってイオンを発生させるための電極に高電圧を印加することによって、前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーの、前記電線が挿通する開口部分に向けて、前記電極からイオンを放射する放射ステップと、
前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第１の電線と第２の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を前記測定器によって検出する検出ステップと、
を有することを特徴とするシール検査方法。
【請求項２】
前記放射ステップにて、前記絶縁体周囲において前記電極を移動させつつ、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する、
ことを特徴とする請求項１に記載のシール検査方法。
【請求項３】
高電圧発生装置に接続された、放電によってイオンを発生させるための電極と、
芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線に接続された測定器と、
前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーを備え、
を備え、
前記イオン飛散防止カバーは、前記絶縁体を内部に収容した際に、前記電線が挿通する開口部分を有し、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを、前記イオン飛散防止カバーの前記開口部分に向けて放射し、
前記測定器は、前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第１の電線と第２の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を検出する、
ことを特徴とするシール検査装置。
【請求項４】
前記絶縁体に向けて前記電極にイオンを放射させつつ、前記絶縁体周囲において該電極を可動にする移動治具をさらに備えた、
ことを特徴とする請求項３に記載のシール検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、芯線の露出した部分を絶縁体で被覆した電線に対するシール検査方法、及びそのシール検査方法を実施するシール検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
絶縁物の絶縁不良や耐電圧不良を判定させる方法として、例えば図５の従来の検査装置１００の構成図に示すような検査装置１００を用いたものが知られている。即ち、これは、検査対象の絶縁物である被検査品１０１を高電圧発生装置１０２に接続させた構成であり、被検査品１０１に高電圧を印加することによって、耐電圧の検査を行うものである。とくに、特許文献１には、直流高電圧を用いて、導電性を有する流動物や食品等の内容物が電気絶縁性被覆によって被包された密封包装物に対してピンホール検査を行うための検査方法について開示されている。
【０００３】
また、図６の従来の検査装置２００の構成図に示すような検査装置２００を用いたものも知られている。即ち、これは、電極２０１と、検査対象の絶縁物である被検査品２０２とを水中に配置するとともに、水上に設置した電圧発生装置２０３を電極２０１と被検査品２０２とにそれぞれ接続し、被検査品２０２に電圧を印加させて絶縁不良の検査を行うものである。
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−２１４１２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の検査方法では、例えば図５の検査装置１００による検査方法にあっては、耐電圧試験を行う際に被検査品１０１に直接高電圧を印加するので、被検査品１０１に電気的に大きなダメージを与える虞がある。
【０００６】
また、図６の検査装置２００による検査方法では、水を使用する必要があるため、非検査品２０２は、該非検査品２０２を構成する全ての部材が水に浸しても構わないものでなければ、検査装置２００による検査の対象にはならない。また、水を使用しての作業は作業者にとって負担が大きく、検査効率が低下するばかりか、作業者が感電する危険性もある。
【０００７】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うことができる、シール検査方法、及びシール検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査方法は、下記（１）を特徴としている。
（１）  芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線を測定器に接続する接続ステップと、
放電によってイオンを発生させるための電極に高電圧を印加することによって、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する放射ステップと、
前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第１の電線と第２の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を前記測定器によって検出する検出ステップと、
を有する。
【０００９】
上記（１）の構成のシール検査方法によれば、検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うことができる。
【００１０】
また、上述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査方法は、下記（２）を特徴としている。
（２）  上記（１）の構成のシール検査方法において、
前記放射ステップにて、前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーの、前記電線が挿通する開口部分に向けて、前記電極からイオンを放射する、
ことを。
【００１１】
上記（２）の構成のシール検査方法によれば、イオン飛散防止カバーによってイオンを囲い込むことによって、絶縁体近傍をイオンが密な状態にすることができる。この結果、電線と絶縁体との密着性の検査及び電線が複数本絶縁体に装着されている場合の電線と電線との間の密着性、及び絶縁体内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【００１２】
また、上述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査方法は、下記（３）を特徴としている。
（３）  上記（１）の構成のシール検査方法において、
前記放射ステップにて、前記絶縁体周囲において前記電極を移動させつつ、前記絶縁体に向けて前記電極からイオンを放射する、
こと。
【００１３】
上記（３）の構成のシール検査方法によれば、電極を移動させることによって、絶縁体に対して均一に且つ満遍なくイオンを放射できる。その結果、電線と絶縁体との密着性及び電線が複数本絶縁体に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【００１４】
また、上述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査装置は、下記（４）を特徴としている。
（４）  高電圧発生装置に接続された、放電によってイオンを発生させるための電極と、
芯線の露出した部分を被覆するように絶縁体が装着された電線に接続された測定器と、を備え、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを前記絶縁体に向けて放射し、
前記測定器は、前記絶縁体のピンホールまたは前記絶縁体と前記電線との間の空隙及び前記電線が複数本前記絶縁体に装着されている場合の第１の電線と第２の電線との間の空隙を含む、前記電極と前記芯線との間の空間に存在するイオンを介して、前記電極から前記芯線へ流れる電流を検出する、
こと。
【００１５】
上記（４）の構成のシール検査装置によれば、検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うことができる。
【００１８】
また、上述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査方法は、下記（６）を特徴としている。
（６）  上記（４）の構成のシール検査装置において、
前記絶縁体を内部に収容するイオン飛散防止カバーをさらに備え、
前記イオン飛散防止カバーは、前記絶縁体を内部に収容した際に、前記電線が挿通する開口部分を有し、
前記電極は、前記高電圧発生装置による印加時に発生するイオンを、前記イオン飛散防止カバーの前記開口部に向けて放射する、
こと。
【００１９】
上記（６）の構成のシール検査装置によれば、イオン飛散防止カバーによってイオンを囲い込むことによって、絶縁体近傍をイオンが密な状態にすることができる。この結果、電線と絶縁体との密着性及び電線が複数本絶縁体に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【００２０】
また、上述した目的を達成するために、本発明に係るシール検査システムは、下記（７）を特徴としている。
（７）  上記（４）の構成のシール検査装置において、
前記絶縁体に向けて前記電極にイオンを放射させつつ、前記絶縁体周囲において該電極を可動にする移動治具をさらに備えた、
こと。
【００２１】
上記（７）の構成のシール検査装置によれば、電極を移動させることによって、絶縁体に対して均一に且つ満遍なくイオンを放射できる。その結果、電線と絶縁体との密着性及び電線が複数本絶縁体に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明のシール検査方法、及びシール検査装置によれば、検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態に係るシール検査装置について、図面に基づいて詳細に説明する。
【００２４】
（第１の実施形態）
図１は本発明の第１の実施形態に係るシール検査装置１０を示す構成図である。図１（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図１（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。シール検査システム１０は、芯線２の先端部２Ａを被覆するように絶縁体（例えば、電線用絶縁キャップ）３が装着された電線１を検査の対象としており、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を行うものである。本発明の実施の形態では、電線１と絶縁体３との密着性の検査及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性、及び絶縁体３内部の気密性の検査を総してシール検査と称する。シール検査システム１０は、シール検査装置１１と、高電圧発生装置１２と、を含んで構成される。シール検査装置１１は、検査室１１Ａと、電極１１Ｂと、測定器１３を備えている。
【００２５】
電線１は、その一端（先端部２Ａ）では芯線２が露出しており、その露出した芯線２を被覆するように絶縁体３が装着されている。また、電線１は、その他端が雄雌いずれかの形状のコネクタ４が取り付けられている。一方、測定器１３は、一端には、コネクタ４とは逆の雄雌いずれかの形状のコネクタ５が取り付けられており、他端がアースに接続されている。このため、電線１は、コネクタ４、コネクタ５及び測定器１３を介してアースに接続されていることになる。
【００２６】
電線１と測定器１３とがコネクタ４、５を介して接続される構成としたのは、測定器１３に接続する電線１の取り替えを容易にするためであり、これにより、電線１複数本に対してシール検査を行う場合の検査効率を高めることができる。
【００２７】
検査室１１Ａは、所定の大きさの空間領域を囲む室内を構成するものであり、放電、例えば後述するコロナ放電、によって発生したイオンの外部への散逸を防止し、イオンを検査室内（被検査物である絶縁体３の周辺に）充満させる。検査室１１Ａは、その内壁が非導電性（絶縁性）の材料で形成された中空略箱型形状を有するものであって、電極１１Ｂ及び絶縁体３近傍の所定の空間領域を取り囲むように設けてある。なお、検査室１１Ａは、イオンを充満させておくことができるものであれば、その形状は問わない。また、検査室１１Ａは、電線１に装着された絶縁体３が電極１１Ｂの真下に位置するように、且つ電線１が該検査室１１Ａを貫通させた状態で該電線１を固定する構造を備えている。
【００２８】
電極１１Ｂは、イオンの放射方向に指向性を持たせるために先端が尖った金属導体で形成されているとともに、高電圧を発生させる高電圧発生装置１２の出力と接続されている。電極１１Ｂは、高電圧発生装置１２からの高電圧が印加されることでコロナ放電が生じ、電極１１Ｂの周辺の気中に向けてイオンが放射される。
【００２９】
ところで、このコロナ放電とは、図２のコロナ放電の現象を示す説明図に示すように、電極１１Ｂへ高電圧を印加することで電極１１Ｂから多数の電子（ｅ＋）が放出される放電現象の一種であって、その放出された電子（ｅ＋）は、空気中の気体分子（Ｍ）と衝突し、正電荷を帯びたイオン分子 (ｉ；イオン)と電子とに電離する。このような電離現象を連鎖的に繰り返すことによって、加速度的(雪崩現象的)にイオンが増大し、電極１１Ｂと絶縁体３との間にイオン流が発生する。なお、第１の実施形態では、電極１１Ｂに正の高電圧を印加することを考慮して正イオンが発生する場合について説明するが、負の高電圧を印加することを考慮して負イオンを発生する構成であってもよい。
【００３０】
電極１１Ｂによるコロナ放電によって検査室１１Ａ内部にイオンが充満すると、絶縁体３にピンホールが存在する場合や、絶縁体３が電線１に密着した状態で装着されておらず、絶縁体３と電線１との間に空隙及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間に空隙が存在している場合に、そのピンホールや空隙にもイオン流が発生する。ピンホールや空隙にもイオン流が発生した結果、電極１１Ｂと芯線２との間にかけてイオン流が発生していることになる。この場合には、イオン流を介して電極１１Ｂから芯線２へ通電することになる。
【００３１】
高電圧発生装置１２は、電極１１Ｂに放電を行わせるために、前述したように高電圧、例えば第１の実施形態では５０Ｖ以上の電圧を電極１１Ｂに印加する。
【００３２】
測定器１３は、芯線２に流れる電流の値を計測するものであり、一端側がコネクタ５を介して電線１側のコネクタ４に接続されているとともに、他端側が地面へアースされている。測定器１３は、電極１１Ｂから芯線２へ通電した場合に芯線２に流れる通電電流Ｌを検出する。
【００３３】
第１の実施形態では、絶縁体３にピンホールが存在している場合や、絶縁体３が電線１に密着した状態で装着されておらず、絶縁体３と電線１との間に空隙及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間に空隙が存在していた場合には、検査室１１Ａに充満するイオンを順々に伝って、電極１１Ｂと絶縁体（非絶縁物）３内部の芯線２とが通電し、通電電流Ｌが流れる。この結果、小さな電流値（例えば、数ｍＡ程度以下の電流値）ではあるが通電電流Ｌが芯線２に流れるので、測定器１３はその小電流を検知する。尚、検出する電流が微弱な場合には、測定器１３として例えばガルバノメータなどを用いてもよい。
【００３４】
測定器１３によって計測した電流値Ｉに基づき、シール検査を行う。例えば、その電流値Ｉが予め設定された基準値Ｉ０よりも小さければ、シール検査の結果は良好との判定がなされる。
【００３５】
次に、本発明の第１の本実施形態に係るシール検査システム１０によるシール検査方法について、説明する。
【００３６】
第１の実施形態に係るシール検査方法は、
まず、芯線２の露出した部分を被覆するように絶縁体３が装着された電線１を、一端がアースに接続された測定器１３の他端に接続する（接続ステップ）。
続いて、高電圧発生装置１２によって電極１１Ｂに印加することによって、電極１１Ｂから絶縁体３に向けてイオンを放射する（放射ステップ）。
続いて、絶縁体３のピンホールまたは絶縁体３と電線１との間の空隙及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極１１Ｂと芯線２との間に存在するイオンを介して、電極１１Ｂから芯線２へ流れる電流を測定器１３によって検出する（検出ステップ）。
【００３７】
以上、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システムによれば、絶縁物近傍を流れる通電電流の値は小さいため、検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対してダメージを与えることなく、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を行うことができる。
【００３８】
また、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システムによれば、シール検査不良時に、電線１に流れる通電電流Ｌは極めて微弱であるため、電線を取り替える検査作業中の作業者が誤って感電したとしても、人体へ与える影響は軽微である。このため、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システムを利用したシール検査は、検査作業者にとって安全である。
【００３９】
また、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システムによれば、水を使用しないため、作業効率の向上を図ることができる。また、電線の製造ラインでのシール検査への適用も容易である。
【００４０】
また、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システム１０によれば、検査室１１Ａによってイオンを囲い込むことによって、絶縁体３近傍をイオンが密な状態にすることができる。この結果、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【００４１】
また、本発明の第１の実施形態に係るシール検査システムによれば、一つの電極からのイオンの放射を利用したシール検査であるため、複数の電極を利用する場合（例えば、欧州特許出願公開第１１８６８８４号明細書）と比較して、シール検査装置の小型化を図ることができる。
【００４２】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態に係るシール検査システム２０について、詳細に説明する。尚、第２の実施形態において、第１の実施形態と同一部分には同一符号を付して重複説明を避ける。
【００４３】
図３は、本発明の第２の実施形態に係るシール検査システム２０を示す構成図である。図３（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図３（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。シール検査システム２０でも、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を行うものであり、シール検査装置２１と、高電圧発生装置１２と、を含んで構成される。
【００４４】
シール検査装置２１は、第１の実施形態にて説明した検査室１１Ａの代わりに、絶縁物３を囲み、且つ電線１が挿通する部分（開口部分）が開口したイオン飛散防止カバー２１Ａを用いている。イオン飛散防止カバー２１Ａは、その内壁が非導電性の材料で形成される。また、電極が単一ではなく複数の電極（１対の電極）２１Ｂから構成されている。一対の電極２１Ｂはそれぞれ、イオン飛散防止カバー２１Ａの開口部分付近に設けられた固定部２１Ｃによって、電極２１Ｂの先端が該開口部分に向くように固定されるとともに（好適には、電極２１Ｂの先端が該開口部分に向くように、且つ絶縁体３へも向くように固定される。）、高電圧発生装置１２の出力に電気的に接続される。また、固定部２１Ｃは、電線１に装着された絶縁体３が電極１１Ｂの真下に位置するように、電線１を固定する役割も果たす。
【００４５】
この固定部２１Ｃでは、検査対象となる電線１を着脱可能に固定させて配置させているとともに、１対の電極２１Ｂを互いに先端側が固有の角度で交差するような姿勢で固定させている。つまり、これらの電極２１Ｂは、先端部の延長線上に、絶縁体（被検査物）３の特に芯線２の先端部２Ａが位置するような状態で設置されている。
【００４６】
次に、本発明の第２の本実施形態に係るシール検査システム２０によるシール検査方法について、説明する。
【００４７】
第２の実施形態に係るシール検査方法は、
まず、芯線２の露出した部分を被覆するように絶縁体３が装着された電線１を、一端がアースに接続された測定器１３の他端に接続する（接続ステップ）。
続いて、高電圧発生装置１２によって電極２１Ｂに印加することによって、絶縁体３を内部に収容するイオン飛散防止カバー２１Ａの、電線１が挿通する開口部分に向けて、電極２１Ｂからイオンを放射する（放射ステップ）。
続いて、絶縁体３のピンホールまたは絶縁体３と電線１との間の空隙及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極２１Ｂと芯線２との間に存在するイオンを介して、電極２１Ｂから芯線２へ流れる電流を測定器１３によって検出する（検出ステップ）。
【００４８】
従って、本発明の第２の実施形態に係るシール検査システム２０によれば、イオン飛散防止カバー２１Ａによってイオンを囲い込むことによって、絶縁体３近傍をイオンが密な状態にすることができる。また、２つの電極２１Ｂからより多くの電子を放出することによって、第１の実施形態の単一の電極１１Ｂを用いたシール検査システム１０に比べて、短期間で絶縁体３近傍をイオンが密な状態にすることができる。この結果、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を精度良く、且つ短期間で行うことができる。
【００４９】
また、本発明の第２の実施形態に係るシール検査システム２０によれば、イオン飛散防止カバー２１Ａの一部が開口し、その開口部分に電線１が挿通する構成によって、電線１の取り外しが容易である。この結果、シール検査の作業効率の向上を図ることができる。
【００５０】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態について詳細に説明する。尚、第３の実施形態において、第１、第２の実施形態と同一部分には同一符号を付して重複説明を避ける。
【００５１】
図４は、本発明の第３の実施形態に係るシール検査システム３０を示す構成図である。図４（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図４（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。第３の実施形態のシール検査システム３０もまた、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を行うものであり、シール検査装置３１と、高電圧発生装置１２と、含んで構成される。
【００５２】
２つの電極３１Ｂは、電極が単一ではなく複数の電極（１対の電極）２１Ｂから構成されており、どちらの電極３１Ｂもスライダー３２に沿って電線１の長手方向にスライドすることができるように構成されている。また、２つの電極３１Ｂはそれぞれ、高電圧発生装置１２の出力に接続されている。
【００５３】
スライダー３２は、電極３１Ｂを電線１の長手方向に上下に移動させるものである。このように電極３１Ｂが移動する結果、絶縁体３の周囲に均一に且つ満遍なくイオンを充満させることができる。スライダー３２の機構の一例としては、ラックアンドピニオン機構や、ボールねじ機構（いずれも図示しない）などを採用することができる。さらに、第３の実施形態では、電極３１Ｂをスライドさせたが、逆に電極３１Ｂを固定し、電線１を上下にスライドさせる構成であっても構わない。
【００５４】
また、なお、第３の実施形態では、２つの電極３１Ｂが電線１の長手方向にスライドする構成について説明したが、これに限るものではない。絶縁物３の周囲における２つの電極３１Ｂのあらゆる移動のさせ方が、本発明に適用可能である。例えば、図３に示す第２の実施形態のような構成の場合には、固定部２１Ｃの電極２１Ｂ部分のみを電線１を中心にして回転させるような構成などであってよい。また、固定部２１Ｃの電極２１Ｂ側を固定させ、電線１側を回転させるような構成としてもよい。
【００５５】
次に、本発明の第３の本実施形態に係るシール検査システム３０によるシール検査方法について、説明する。
【００５６】
第３の実施形態に係るシール検査方法は、
まず、芯線２の露出した部分を被覆するように絶縁体３が装着された電線１を、一端がアースに接続された測定器１３の他端に接続する（接続ステップ）。
続いて、絶縁体３周囲において電極３１Ｂをスライダー３２に沿って移動させつつ、高電圧発生装置１２によって電極３１Ｂに印加することによって、電極３１Ｂから絶縁体３に向けてイオンを放射する（放射ステップ）。
続いて、絶縁体３のピンホールまたは絶縁体３と電線１との間の空隙及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の空隙を含む、電極３１Ｂと芯線２との間に存在するイオンを介して、電極３１Ｂから芯線２へ流れる電流を測定器１３によって検出する（検出ステップ）。
【００５７】
従って、第３の本実施形態によれば、２つの電極３１Ｂから多数の電子を放射させるとともに、電極３１Ｂのスライド動作を行うので、絶縁体３に対して均一に且つ満遍なくイオンを放射できる。その結果、電線１と絶縁体３との密着性及び電線１が複数本絶縁体３に装着されている場合の電線と電線との間の密着性の検査、及び絶縁体３内部の気密性の検査を精度良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るシール検査装置を示す構成図であって、図１（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図１（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。
【図２】コロナ放電の現象を示す説明図
【図３】本発明の第２の実施形態に係るシール検査システムを示す構成図であって、図３（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図３（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。
【図４】図４は、本発明の第３の実施形態に係るシール検査システムを示す構成図であって、図４（ａ）は通電電流Ｌが未発生時の構成図であり、図４（ｂ）は通電電流Ｌが発生時の構成図である。
【図５】従来の検査装置の構成図
【図６】従来の検査装置の構成図
【符号の説明】
【００５９】
１  電線
２  芯線
２Ａ  先端部
３  絶縁体（被検査物）
４、５  コネクタ
１０、２０、３０  シール検査システム
１１、２１、３１  シール検査装置
１１Ａ  検査室（包囲手段）
１１Ｂ、２１Ｂ、３１Ｂ  電極
１２  高電圧発生装置
１３  測定器
２１Ａ  イオン飛散防止カバー（包囲手段）
２１Ｃ  固定部
３２  スライダー
ｅ  電子
ｉ  イオン分子
Ｌ  通電電流
【図１】
0005213479.tif 000002
【図２】
0005213479.tif 000003
【図３】
0005213479.tif 000004
【図４】
0005213479.tif 000005
【図５】
0005213479.tif 000006
【図６】
0005213479.tif 000007