(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象体に接続された一対のプローブ間に所定の直流電圧を印加したときに当該一対のプローブに流れる電流の電流値と前記直流電圧の電圧値とに基づいて当該検査対象体の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定方法であって、
前記検査対象体への未接続状態において前記一対のプローブ間に前記直流電圧を印加すると共に当該直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点での前記一対のプローブに流れる電流であって定常状態に達する前の電流の電流値を第１電流値として測定し、
前記検査対象体への接続状態において前記一対のプローブ間に前記直流電圧を印加すると共に当該直流電圧の印加開始から前記所定時間を経過した時点での前記一対のプローブに流れる電流の電流値を第２電流値として測定して前記第１電流値との差分値を算出し、かつ当該差分値と前記直流電圧の電圧値とに基づいて前記絶縁抵抗を算出する絶縁抵抗測定方法。
【請求項２】
前記絶縁抵抗の算出の各非実行時に前記第１電流値の測定を定期的に実行する請求項１記載の絶縁抵抗測定方法。
【請求項３】
所定時間間隔で前記第１電流値の測定を実行する請求項２記載の絶縁抵抗測定方法。
【請求項４】
所定数の前記検査対象体に対する前記絶縁抵抗の測定が完了する都度、前記第１電流値の測定を実行する請求項１記載の絶縁抵抗測定方法。
【請求項５】
検査対象体に接続される一対のプローブ間に所定の直流電圧を印加する電源部と、
前記直流電圧の印加状態において前記一対のプローブに流れる電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記測定された電流の電流値と前記直流電圧とに基づいて前記検査対象体の絶縁抵抗を測定する処理部とを備えた絶縁抵抗測定装置であって、
前記処理部は、前記検査対象体への未接続状態において前記電源部から前記一対のプローブ間に前記直流電圧が印加されたときの当該直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点での前記電流測定部で測定される前記一対のプローブに流れる電流であって定常状態に達する前の電流の電流値を第１電流値として記憶する電流値記憶処理と、前記検査対象体への接続状態において前記電源部から前記一対のプローブ間に前記直流電圧が印加されたときの当該直流電圧の印加開始から前記所定時間を経過した時点での前記電流測定部で測定される前記一対のプローブに流れる電流の電流値を第２電流値として取得すると共に当該第２電流値と前記第１電流値との差分値を算出し、かつ当該差分値と当該直流電圧とに基づいて前記絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理とを実行する絶縁抵抗測定装置。
【請求項６】
前記処理部は、電源投入直後の所定期間内に前記電流値記憶処理を実行する請求項５記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項７】
前記処理部は、前記抵抗算出処理の各非実行時に前記電流値記憶処理を定期的に実行する請求項５記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項８】
前記処理部は、所定時間間隔で前記電流値記憶処理を実行する請求項７記載の絶縁抵抗測定装置。
【請求項９】
前記処理部は、所定数の前記検査対象体に対する前記絶縁抵抗の測定が完了する都度、前記電流値記憶処理を実行する請求項５記載の絶縁抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象体に直流電圧を印加したときに流れる電流の電流値に基づいてこの検査対象体の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の絶縁抵抗を測定する装置として本願出願人は、絶縁検査を行う回路基板検査装置を下記の特許文献１において提案している。この回路基板検査装置は、検査対象としての一対の導体パターンの絶縁検査を行うものであって、一対の導体パターン間に検査電圧を印加する一対の検査用プローブと、複数の入力レンジを備えて切替制御された各入力レンジ毎の変換率で検査用プローブ間の電流を電圧変換するレンジ回路と、入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流用の入力レンジに切替制御する制御回路と、一対の導体パターン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路とを備えている。この回路基板検査装置では、制御回路が、各入力レンジの定格電流範囲内の下限値よりも低電流の基準値に達した時点で入力レンジを切替制御する。このため、電流が各入力レンジの定格電流範囲内の下限値に達した時点で入力レンジを切替制御する従来の絶縁検査装置と比較して、一対の導体パターン間の容量がより大電流の電流で、かつより長時間充電される。したがって、この回路基板検査装置によれば、従来の絶縁検査装置における電流特性と比較して、一対の導体パターン間の容量を素早く充電して、この充電のための電流の電流値をリーク電流程度の電流値に短時間で安定させることができるため、この安定した電流値（定常状態での電流値）に基づいて、より短時間で、かつ精度良く絶縁抵抗値を演算することが可能となっている。
【特許文献１】特開２００１−９１５６２号公報（第４−５頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、従来の絶縁検査装置は、複数の入力レンジを備えたレンジ回路を有して構成されている。しかしながら、このような入力レンジの切り替えを行うためのレンジ回路を備えていない絶縁抵抗測定装置、つまり入力レンジが１つに固定されている絶縁抵抗測定装置もあり、このような絶縁抵抗測定装置においても、絶縁抵抗の測定に要する時間を短縮したいという要請も多く存在している。また、上記した従来の絶縁検査装置（複数の入力レンジを備えた検査装置）においても、入力レンジの切替制御によって絶縁抵抗値の測定に適した低電流用入力レンジに達した以後は充電用の電流の電流値が小さくなるため、この部分でのさらなる時間短縮を行わない限り、絶縁抵抗の測定に要する時間のさらなる短縮を図ることが困難である。
【０００４】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、検査対象体の絶縁抵抗を短時間で測定し得る絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の絶縁抵抗測定方法は、検査対象体に接続された一対のプローブ間に所定の直流電圧を印加したときに当該一対のプローブに流れる電流の電流値と前記直流電圧の電圧値とに基づいて当該検査対象体の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定方法であって、前記検査対象体への未接続状態において前記一対のプローブ間に前記直流電圧を印加すると共に当該直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点での前記一対のプローブに流れる電流であって定常状態に達する前の電流の電流値を第１電流値として測定し、前記検査対象体への接続状態において前記一対のプローブ間に前記直流電圧を印加すると共に当該直流電圧の印加開始から前記所定時間を経過した時点での前記一対のプローブに流れる電流の電流値を第２電流値として測定して前記第１電流値との差分値を算出し、かつ当該差分値と前記直流電圧の電圧値とに基づいて前記絶縁抵抗を算出する。
【０００６】
また、請求項２記載の絶縁抵抗測定方法は、請求項１記載の絶縁抵抗測定方法において、前記絶縁抵抗の算出の各非実行時に前記第１電流値の測定を定期的に実行する。
【０００７】
また、請求項３記載の絶縁抵抗測定方法は、請求項２記載の絶縁抵抗測定方法において、所定時間間隔で前記第１電流値の測定を実行する。
【０００８】
また、請求項４記載の絶縁抵抗測定方法は、請求項１記載の絶縁抵抗測定方法において、所定数の前記検査対象体に対する前記絶縁抵抗の測定が完了する都度、前記第１電流値の測定を実行する。
【０００９】
また、請求項５記載の絶縁抵抗測定装置は、検査対象体に接続される一対のプローブ間に所定の直流電圧を印加する電源部と、前記直流電圧の印加状態において前記一対のプローブに流れる電流の電流値を測定する電流測定部と、前記測定された電流の電流値と前記直流電圧とに基づいて前記検査対象体の絶縁抵抗を測定する処理部とを備えた絶縁抵抗測定装置であって、前記処理部は、前記検査対象体への未接続状態において前記電源部から前記一対のプローブ間に前記直流電圧が印加されたときの当該直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点での前記電流測定部で測定される前記一対のプローブに流れる電流であって定常状態に達する前の電流の電流値を第１電流値として記憶する電流値記憶処理と、前記検査対象体への接続状態において前記電源部から前記一対のプローブ間に前記直流電圧が印加されたときの当該直流電圧の印加開始から前記所定時間を経過した時点での前記電流測定部で測定される前記一対のプローブに流れる電流の電流値を第２電流値として取得すると共に当該第２電流値と前記第１電流値との差分値を算出し、かつ当該差分値と当該直流電圧とに基づいて前記絶縁抵抗を算出する抵抗算出処理とを実行する。
【００１０】
また、請求項６記載の絶縁抵抗測定装置は、請求項５記載の絶縁抵抗測定装置において、前記処理部は、電源投入直後の所定期間内に前記電流値記憶処理を実行する。
【００１１】
また、請求項７記載の絶縁抵抗測定装置は、請求項５記載の絶縁抵抗測定装置において、前記処理部は、前記抵抗算出処理の各非実行時に前記電流値記憶処理を定期的に実行する。
【００１２】
また、請求項８記載の絶縁抵抗測定装置は、請求項７記載の絶縁抵抗測定装置において、前記処理部は、所定時間間隔で前記電流値記憶処理を実行する。
【００１３】
また、請求項９記載の絶縁抵抗測定装置は、請求項５記載の絶縁抵抗測定装置において、前記処理部は、所定数の前記検査対象体に対する前記絶縁抵抗の測定が完了する都度、前記電流値記憶処理を実行する。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１記載の絶縁抵抗測定方法および請求項５記載の絶縁抵抗測定装置では、検査対象体への未接続状態において一対のプローブ間に直流電圧が印加されたときの直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点でのプローブに流れる電流であって定常状態に達する前の電流の電流値を第１電流値として測定し、検査対象体への接続状態において一対のプローブ間に直流電圧が印加されたときの直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点でのプローブに流れる電流の電流値を第２電流値として測定すると共に第２電流値と第１電流値との差分値を算出し、かつ差分値と直流電圧の電圧値とに基づいて絶縁抵抗を算出する。したがって、この絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置によれば、第１電流値を予め測定しておくことにより、プローブに流れる電流が定常状態に達するよりも前の時点であって、直流電圧の印加開始から所定時間を経過した時点で、検査対象体の絶縁抵抗を算出することができるため、絶縁抵抗の測定に要する時間を一層短縮することができる。また、この結果、絶縁抵抗に基づく検査対象体の絶縁検査についても検査時間を一層短縮することができる。
【００１５】
請求項２，３，４記載の絶縁抵抗測定方法および請求項７，８，９記載の絶縁抵抗測定装置によれば、検査対象体に対する絶縁抵抗の非実行時に第１電流値の測定を定期的に（例えば、絶縁抵抗の各測定の間で１回または複数回）実行したり、また所定時間間隔で第１電流値を測定したり、また所定数の検査対象体に対する絶縁抵抗の測定が完了する都度、第１電流値を測定したりすることにより、湿度などの周囲環境によって変化しやすい第１電流値について、刻々変化する周囲環境に対応させて測定することができるため、第１電流値を用いた絶縁抵抗の測定精度を一層向上させることができる。
【００１６】
請求項６記載の絶縁抵抗測定装置によれば、電源投入直後の所定期間内に処理部が電流値記憶処理を実行することにより、湿度などの周囲環境によって変化しやすい第１電流値について、実際に絶縁抵抗を測定するときの周囲環境に対応させて記憶部に記憶させることができる。このため、検査時間の短縮と共に絶縁抵抗の測定精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１８】
最初に、本発明に係る絶縁抵抗測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１９】
図１に示す絶縁抵抗測定装置１は、一対のプローブ２ａ，２ｂ、電源部３、本発明における電流測定部としての電流計４、処理部５、記憶部６、出力部７および操作部８を備え、検査対象体の絶縁抵抗Ｒｘを測定可能に構成されている。一対のプローブ２ａ，２ｂのうちの一方のプローブ２ａは電源部３の出力端子（図示せず）に接続され、他方のプローブ２ｂは電流計４に接続されている。また、各プローブ２ａ，２ｂは検査対象体に接触可能に構成されている。なお、同図において符号Ｃｓを付した静電容量は各プローブ２ａ，２ｂ間の浮遊容量（検査対象体が未接続の状態での静電容量。一例として約１００ｎＦ）を示し、符号Ｒｐを付した抵抗は各プローブ２ａ，２ｂ間の絶縁抵抗（検査対象体が未接続の状態での絶縁抵抗。一例として約１ＧΩ）を示している。電源部３は、処理部５によって制御されて、所定の直流電圧Ｖ１（グランド電位を基準とした電圧。一例として１００Ｖ）をその出力端子（図示せず）から出力する。なお、同図において符号３ａを付した抵抗は、電源部３の出力抵抗を示している。
【００２０】
電流計４は、図１に示すように、プローブ２ｂとグランドとの間に介装されている。また、電流計４は、一対のプローブ２ａ，２ｂ間に流れる漏れ電流（本発明における一対のプローブに流れる電流）ＩＬの電流値を所定のサンプリング周期で測定すると共に、測定の都度、測定した電流値を示すデータＤｉを出力する。処理部５は、一例としてＣＰＵで構成されて、検査対象体に対する絶縁抵抗測定処理を実行する。記憶部６は、半導体メモリで構成されて、絶縁抵抗測定処理の実行の際に処理部５で測定した第１電流値ＩＬ１および第２電流値ＩＬ２と、処理部５で算出された絶縁抵抗Ｒｘとを記憶する。また、記憶部６には、絶縁検査のための基準抵抗Ｒｒｅｆが予め記憶されている。出力部７は、一例として表示装置で構成されて、処理部５が測定した絶縁抵抗Ｒｘを表示する。操作部８は、処理部５に対する動作指示を入力する機能を備えている。
【００２１】
次に、絶縁抵抗測定装置１の動作と共に、絶縁抵抗測定処理（絶縁抵抗測定方法）について説明する。なお、回路基板に形成された２つの配線パターンを検査対象体として、この両配線パターン間の絶縁抵抗Ｒｘを測定する例を挙げて説明する。また、絶縁抵抗Ｒｘが１００ＭΩ以上のときに配線パターン１１ａ，１１ｂ間の絶縁が良好であると判別するため、この抵抗値（１００ＭΩ）が基準抵抗Ｒｒｅｆとして予め記憶されている。
【００２２】
この絶縁抵抗測定処理では、まず、各プローブ２ａ，２ｂを配線パターン１１ａ，１１ｂに接続する前（未接続状態のとき）に、絶縁抵抗測定装置１を作動させて、操作部８から処理部５に対して電流値記憶処理を実行する旨の動作指示を入力する。本例では一例として、絶縁抵抗測定装置１の電源投入後のウォームアップ期間（電源投入直後の所定期間）に動作指示を入力して、処理部５に電流値記憶処理を実行させる。この電流値記憶処理では、最初に、処理部５は、電源部３に対する制御を実行して、電源部３から直流電圧Ｖ１をステップ状に出力させる。この直流電圧Ｖ１はプローブ２ａ，２ｂ間に印加され、これにより、漏れ電流ＩＬが各プローブ２ａ，２ｂおよび電流計４を介してグランドに流れる。この場合、漏れ電流ＩＬは、電源部３の出力抵抗３ａおよび各プローブ２ａ，２ｂ間に存在している浮遊容量Ｃｓを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＣと、この出力抵抗３ａおよび各プローブ２ａ，２ｂ間に存在している絶縁抵抗Ｒｐを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＲｐ（一定）との合成電流となる。具体的には、この漏れ電流ＩＬの波形は、図２において破線で示すような過渡応答波形となる。すなわち、漏れ電流ＩＬは、直流電圧Ｖ１の印加直後に電流値が一旦大きくなり、その後は浮遊容量Ｃｓへの充電が進むにつれて（時間の経過に伴い）電流値が次第に低下し、浮遊容量Ｃｓの充電が完了した時点（直流電圧Ｖ１の印加からの経過時間が時間ｔ１となった時点）で漏れ電流ＩＬＲｐ（＝０．１μＡ（＝１００Ｖ／１ＧΩ）のみ）となる。
【００２３】
電流計４は漏れ電流ＩＬを所定のサンプリング周期で測定して、その電流値を示すデータＤｉを出力している。処理部５は、電源部３からの直流電圧Ｖ１の出力開始（プローブ２ａ，２ｂ間への直流電圧Ｖ１の印加開始）から所定時間ｔ２（＜ｔ１）を経過した時点でのデータＤｉを入力して、このデータＤｉから漏れ電流ＩＬの電流値を検出し、この電流値を第１電流値ＩＬ１として記憶部６に記憶させる。この場合、第１電流値ＩＬ１は、漏れ電流ＩＬが定常状態に達する前の、つまり過渡応答時の漏れ電流ＩＬの電流値である。最後に、処理部５は、電源部３に対する制御を行い、直流電圧Ｖ１の出力を停止させる。これにより、電流値記憶処理が完了する。これにより、絶縁抵抗測定装置１の起動の度に、起動時の周囲環境に対応した第１電流値ＩＬ１が記憶部６に記憶される。
【００２４】
次いで、プローブ２ａが配線パターン１１ａに接続され、かつプローブ２ｂが配線パターン１１ｂに接続された状態（接続状態）において、操作部８から処理部５に対して抵抗算出処理を実行する旨の動作指示を入力する。
【００２５】
この抵抗算出処理では、処理部５は、まず、電源部３に対する制御を再度実行して、直流電圧Ｖ１をステップ状に出力させる。この直流電圧Ｖ１はプローブ２ａ，２ｂ間と配線パターン１１ａ，１１ｂ間とに印加され、これにより、漏れ電流ＩＬが、各プローブ２ａ，２ｂ、配線パターン１１ａ，１１ｂおよび電流計４を介してグランドに流れる。この場合、漏れ電流ＩＬは、浮遊容量Ｃｓを介してグランドに流れる上記の漏れ電流ＩＬＣと、絶縁抵抗Ｒｐを介してグランドに流れる上記の漏れ電流ＩＬＲｐ（一定）と、出力抵抗３ａおよび各配線パターン１１ａ，１１ｂ間の絶縁抵抗Ｒｘを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＲｘ（一定：（＝０．２μＡ（＝１００Ｖ／５００ＭΩ）））との合成電流となる。具体的には、漏れ電流ＩＬの波形は、図２において実線で示すような過渡応答波形（すなわち、直流電圧Ｖ１の印加直後に電流値が一旦大きくなり、その後は浮遊容量Ｃｓへの充電が進むにつれて（時間の経過に伴い）電流値が次第に低下し、浮遊容量Ｃｓの充電が完了した時点（時間ｔ１）で漏れ電流ＩＬＲｐおよび漏れ電流ＩＬＲｘの合成電流（一定）のみとなる波形）となる。なお、実際には配線パターン１１ａ，１１ｂ間にも若干の浮遊容量が存在するが、プローブ２ａ，２ｂよりも配線パターン１１ａ，１１ｂは十分に短いため、この浮遊容量はプローブ２ａ，２ｂ間の浮遊容量Ｃｓと比較して極めて小さい。このため、配線パターン１１ａ，１１ｂ間の浮遊容量については、発明の理解を容易にするために考慮しないものとする。
【００２６】
次いで、処理部５は、電源部３からの直流電圧Ｖ１の出力開始（プローブ２ａ，２ｂ間への直流電圧Ｖ１の印加開始）から所定時間ｔ２（＜ｔ１）を経過した時点で、この時点でのデータＤｉを入力すると共に、このデータＤｉから漏れ電流ＩＬの電流値を検出して第２電流値ＩＬ２として記憶部６に記憶させる。続いて処理部５は、記憶部６に記憶されている第１電流値ＩＬ１と第２電流値ＩＬ２とを読み出して、両者の差分値ΔＩＬ（＝ＩＬ２−ＩＬ１）を算出する。この場合、上記したように第１電流値ＩＬ１は、浮遊容量Ｃｓを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＣと、各プローブ２ａ，２ｂ間に存在している絶縁抵抗Ｒｐを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＲｐとの和であり、第２電流値ＩＬ２は、漏れ電流ＩＬＣおよび漏れ電流ＩＬＲｐと、各配線パターン１１ａ，１１ｂ間の絶縁抵抗Ｒｘを介してグランドに流れる漏れ電流ＩＬＲｘとの和であるため、差分値ΔＩＬは漏れ電流ＩＬＲｘを示すものとなる。
【００２７】
次いで、処理部５は、算出した差分値ΔＩＬと直流電圧Ｖ１とに基づいて絶縁抵抗Ｒｘ（＝Ｖ１／ΔＩＬ）を算出する。この場合、差分値ΔＩＬは漏れ電流ＩＬＲｘを示すものであるため、直流電圧Ｖ１を差分値ΔＩＬで除算することにより、プローブ２ａ，２ｂ間の絶縁抵抗Ｒｘが算出される。また、処理部５は、算出した絶縁抵抗Ｒｘを記憶部６に記憶されている基準抵抗Ｒｒｅｆと比較することにより、配線パターン１１ａ，１１ｂ間の絶縁状態を判別（検査）する。具体的には、絶縁抵抗Ｒｘが基準抵抗Ｒｒｅｆ以上であれば、絶縁状態は良好であり、他方、絶縁抵抗Ｒｘが基準抵抗Ｒｒｅｆ未満であれば、絶縁状態は不良であると判別する。最後に、処理部５は、算出した絶縁抵抗Ｒｘおよび絶縁状態の判別結果を記憶部６に記憶させると共に出力部７に表示させる。これにより、抵抗値算出処理が完了する。また、併せて絶縁抵抗測定処理も完了する。この絶縁抵抗測定処理では、図２，３に示すように、漏れ電流ＩＬが定常状態に達する時間ｔ１よりも前の時点（直流電圧Ｖ１の印加から所定時間ｔ２を経過した時点）で第２電流値ＩＬ２を測定し、この第２電流値ＩＬ２と同じタイミングで予め測定してある第１電流値ＩＬ１とこの第２電流値ＩＬ２とに基づいて絶縁抵抗Ｒｘを算出するため、漏れ電流ＩＬが安定するまで待って絶縁抵抗値を測定する従来の方法と比較して、絶縁抵抗Ｒｘの算出までの時間が短縮される。
【００２８】
このように、この絶縁抵抗測定処理および絶縁抵抗測定装置１では、処理部５が、配線パターン１１ａ，１１ｂへの未接続状態において各プローブ２ａ，２ｂ間に直流電圧Ｖ１が印加されたときの直流電圧Ｖ１の印加開始から所定時間ｔ２を経過した時点での電流計４で測定される漏れ電流ＩＬであって定常状態に達する前の漏れ電流ＩＬの電流値を第１電流値ＩＬ１として記憶し、配線パターン１１ａ，１１ｂへの接続状態において電源部３から一対のプローブ２ａ，２ｂ間に直流電圧Ｖ１が印加されたときの直流電圧Ｖ１の印加開始から所定時間ｔ２を経過した時点での電流計４で測定される漏れ電流ＩＬの電流値を第２電流値ＩＬ２として取得すると共に第２電流値ＩＬ２と第１電流値ＩＬ１との差分値ΔＩＬを算出し、かつ差分値ΔＩＬと直流電圧Ｖ１の電圧値とに基づいて絶縁抵抗Ｒｘを算出する。したがって、この絶縁抵抗測定処理および絶縁抵抗測定装置１によれば、第１電流値ＩＬ１を予め測定して記憶させておくことにより、漏れ電流ＩＬが定常状態に達するよりも前の時点であって、直流電圧Ｖ１の印加開始から所定時間ｔ２を経過した時点で、配線パターン１１ａ，１１ｂの絶縁抵抗Ｒｘを算出することができるため、絶縁抵抗Ｒｘの測定に要する時間を一層短縮することができる。また、この結果、絶縁抵抗Ｒｘに基づく配線パターン１１ａ，１１ｂの絶縁検査についても検査時間を一層短縮することができる。
【００２９】
また、この絶縁抵抗測定装置１によれば、絶縁抵抗測定装置１の電源投入後のウォームアップ期間（電源投入直後の所定期間）に処理部５が電流値記憶処理を実行することにより、湿度などの周囲環境によって変化しやすい漏れ電流ＩＬの第１電流値ＩＬ１について、絶縁抵抗測定装置１の起動の度に、起動時の周囲環境に対応した新たな第１電流値ＩＬ１を記憶部６に記憶させることができるため、この第１電流値ＩＬ１を用いて絶縁抵抗の測定精度を向上させることができる。
【００３０】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、複数（３以上）のプローブを備えた治具式の絶縁抵抗測定装置（複数の検査対象体に対応して複数のプローブを備えて、複数の検査対象体に対する絶縁抵抗測定処理を連続して実行する絶縁抵抗測定装置）に適用できるのは勿論である。また、検査対象体として回路基板に形成された配線パターン１１ａ，１１ｂを例に挙げて説明したが、検査対象体はこれに限らず、様々なものについての絶縁抵抗を検査することができる。また、電流値記憶処理の実行について、絶縁抵抗測定装置１の電源投入後のウォームアップ期間に実行する例について上記したが、これに限定されず、絶縁抵抗測定装置１が絶縁抵抗の測定を行っていない期間（本発明における抵抗算出処理の非実行時。例えば、回路基板が絶縁抵抗測定装置１に搬送されて来るまでの空き時間や、抵抗算出処理と抵抗算出処理との合間）において定期的に実行（１回以上の処理の実行や所定時間間隔での実行）したり、所定数の回路基板に対する測定が完了する都度実行したり、先の電流値記憶処理の実行から所定時間が経過する都度（または、予め決められた時刻が到来する都度）実行したりして、第１電流値ＩＬ１を測定することもできる。これにより、湿度などの周囲環境によって変化しやすい第１電流値ＩＬ１について、刻々変化する周囲環境に対応させて記憶部６に記憶させることができるため、第１電流値ＩＬ１を用いた絶縁抵抗の測定精度を一層向上させることができる。
【００３１】
また、操作部８から処理部５に対して動作指示を入力する構成について上記したが、処理部５が、電源投入直後のウォームアップ期間であるか否か、または回路基板に対する絶縁抵抗測定処理の空き時間であるか否か、または所定数の回路基板に対する測定が完了したか否か、または先の電流値記憶処理の実行から所定時間が経過したか否かを判別して、電流値記憶処理を自動的に実行する構成を採用することもできる。この構成によれば、記憶部６に記憶されている第１電流値ＩＬ１を周囲環境の変化に対応させて自動的に更新することができるため、絶縁抵抗の測定精度を確実に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】絶縁抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】各プローブ２ａ，２ｂ間に流れる漏れ電流ＩＬの波形図である。
【図３】漏れ電流ＩＬの時間ｔ２付近での拡大波形図である。
【符号の説明】
【００３３】
１  絶縁抵抗測定装置
２ａ，２ｂ  プローブ
３  電源部
４  電流計
５  処理部
６  記憶部
１１ａ，１１ｂ  配線パターン
ＩＬ  漏れ電流
ＩＬ１  第１電流値
ＩＬ２  第２電流値
Ｒｘ  絶縁抵抗
Ｖ１  直流電圧
ΔＩＬ  差分値
【図１】
0005225731.tif 000002
【図２】
0005225731.tif 000003
【図３】
0005225731.tif 000004