(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電気光学素子と、
前記各電気光学素子を駆動するための駆動用信号が入力される複数の実装端子と、
電気光学装置を検査するための検査用信号が入力される複数の検査用端子と、
前記複数の実装端子から供給される制御信号に基づいて、前記電気光学素子に供給される駆動電流の生成に利用される階調データ信号を生成する駆動用回路と
が基板上に配置された電気光学装置であって、
前記複数の電気光学素子が配置される領域と、前記複数の実装端子が配置される領域との間の領域であって、前記複数の電気光学素子の配列の両端間の区間と前記複数の実装端子の配列の両端間の区間とで挟まれた領域に、前記複数の検査用端子は配置され、
前記駆動用回路は、前記複数の電気光学素子が配置される領域と、前記複数の検査用端子が配置される領域との間に配置される
電気光学装置。
【請求項２】
前記検査用端子の数は、前記実装端子の数よりも少なく、前記実装端子から延びる配線は、前記検査用端子の間を通る
請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記実装端子および前記検査用端子は、共通の配線に接続される
請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記実装端子は、前記基板上に実装される実装部品が有する端子と電気的に接続される
請求項１から請求項３の何れかに記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記実装部品は、前記実装端子と電気的に接続される端子を有するプリント基板である
請求項４に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記実装部品は、前記実装端子と電気的に接続される端子を有する半導体集積回路である
請求項４に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記駆動用回路から供給される階調データ信号に応じた駆動電流を生成して前記複数の電気光学素子の各々に供給する画素回路
を具備する請求項１から請求項６の何れかの電気光学装置。
【請求項８】
請求項１から請求項７の何れかの電気光学装置を具備した電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学素子を利用した電気光学装置、及びそのような電気光学装置を備えた電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、有機ＥＬ（ElectroLuminescent）素子や発光ポリマー素子などと呼ばれる有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode、以下「ＯＬＥＤ」という）素子などの電気光学素子を用いた電気光学装置が各種提案されている。このような電気光学装置においては、製品出荷前の検査が必要不可欠である。例えば特許文献１には、プリント基板や半導体集積回路などの実装部品が基板上に実装される前の段階において、基板上に設けられた検査用端子に検査用の探針（プローブピン）を接触させ、その出力に基づいて配線間の断線や短絡などを調べるという技術が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−２５００７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ここで、特許文献１では、基板上において、各電気光学素子が配置される表示領域と、検査用端子が配置された領域との間の領域に、各電気光学素子を駆動するための駆動用信号が入力される実装端子が配置される。また、実装端子と電気的に接続される端子を有する実装部品が基板上に実装される。しかしながら、この構成では、実装部品を基板上に実装する際に短絡が起こり易いという問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、実装部品を基板上に実装する際に短絡が起こることを抑制するという課題の解決を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
以上の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、複数の電気光学素子と、各電気光学素子を駆動するための駆動用信号が入力される複数の実装端子と、電気光学装置を検査するための検査用信号が入力される複数の検査用端子と、複数の実装端子から供給される制御信号に基づいて、電気光学素子に供給される駆動電流の生成に利用される階調データ信号を生成する駆動用回路と、が基板上に配置された電気光学装置であって、複数の電気光学素子が配置される領域と、複数の実装端子が配置される領域との間の領域であって、複数の電気光学素子の配列の両端間の区間と複数の実装端子の配列の両端間の区間とで挟まれた領域に、複数の検査用端子は配置され、駆動用回路は、複数の電気光学素子が配置される領域と、複数の検査用端子が配置される領域との間に配置される。この態様においては、各電気光学素子が配置される領域と、実装端子が配置される領域との間の領域に検査用端子が配置されるから、実装端子から基板の周縁へ向かって延びる配線が検査用端子と接触したりすることはなく、検査用端子から電気光学素子へ向かって延びる配線が実装端子の間を通ることもない。従って、基板上において実装端子が配置される領域と基板の周縁との間の領域に検査用端子が配置される構成と比べて、実装部品を基板上に実装する際に短絡が起こることを抑制できる。
また、このような態様によれば、実装端子の大きさは検査用端子により左右されないため、検査用端子の面積は、実装端子の面積よりも大きくすることもできる。さらに、実装ピッチに合わせて、実装端子を所定の幅で所定の間隔で配置することができる
【０００５】
本発明に係る電気光学装置の好適な態様において、検査用端子の数は、実装端子の数よりも少なく、実装端子から延びる配線は、検査用端子の間を通る。この態様においては、検査用端子の数が実装端子の数より少ないため、検査用端子間の距離を実装端子間の距離よりも大きく設定できる。従って、検査用端子の間に、実装端子から延びる配線を通すためのスペースを十分に確保できるから、検査用端子と実装端子から延びる配線とが接触して短絡が起こることを防止できる。また、実装端子が配置される領域と基板の周縁との間の領域に検査用端子が配置される構成においては、検査用端子から電気光学素子へ向かって延びる配線は、実装端子の間を通るところ、この態様においては、各電気光学素子が配置される領域と、実装端子が配置される領域との間の領域に検査用端子が配置されるから、検査用端子から電気光学素子へ向かって延びる配線は実装端子の間を通らない。すなわち、検査用端子から延びる配線と実装端子とが接触して短絡が起こることがない。従って、この態様によれば、実装端子が配置される領域と基板の周縁との間の領域に検査用端子が配置される構成に比べて、実装の際に短絡が起こることを抑制できる。また、この態様によれば、検査用端子間に十分なスペースを確保できるため、例えば実装端子から延びる配線を検査用端子間に複数本通すこともできる。すなわち、実装端子から延びる配線のレイアウトについても設計自由度が向上する。
【０００６】
本発明に係る電気光学装置の好適な態様において、実装端子および検査用端子は、共通の配線に接続される。この態様によれば、実装端子から延びる配線と検査用端子から延びる配線とを別々に設ける必要が無いから、配線数を削減できる。従って、電気光学装置の配線レイアウトを簡素化できる。
【０００７】
本発明に係る電気光学装置の好適な態様において、実装端子は、基板上に実装される実装部品が有する端子と電気的に接続される。より具体的には、実装部品は、実装端子と電気的に接続される端子を有するプリント基板である。この態様においても、各電気光学素子が配置される領域と、実装端子が配置される領域との間の領域に検査用端子が配置されるから、実装端子と駆動用信号が供給される信号線が形成されたプリント基板とが接続されることで当該信号線が実装端子から基板の周縁へ向かって延びるような形態となる場合であっても、その信号線と検査端子とが接触することはない。従って、プリント基板を基板上に実装する際に短絡が起こることを抑制できる。
【０００８】
また、実装部品は、実装端子と電気的に接続される端子を有する半導体集積回路とすることもできる。この態様においても、各電気光学素子が配置される領域と、実装端子が配置される領域との間の領域に検査用端子が配置されるから、検査用端子から延びる配線が実装端子（半導体集積回路が有する端子）の間を通ることはない。従って、実装の際に短絡が起こることを抑制できる。また、この態様によれば、検査用端子から延びる配線が半導体集積回路の下を通ることもないから、実装後の半導体集積回路の駆動時に、半導体集積回路からの信号が検査用端子から延びる配線に重畳して誤動作を引き起こすことも防止できる。
【０００９】
本発明の好適な態様に係る電気光学装置は、駆動用回路から供給される階調データ信号に応じた駆動電流を生成して複数の電気光学素子の各々に供給する画素回路を具備する。
次に、本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置を備えることが好ましい。このような電子機器としては、プリンタ、複写機、ファクシミリ、あるいは、画像を表示する表示装置、パーソナルコンピュータ、携帯電話機等が該当する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置を露光装置（光ヘッド）として利用した画像形成装置の部分的な構成を示す斜視図である。同図に示すように、画像形成装置は電気光学装置１０と集光性レンズアレイ１２と感光体ドラム１４（像担持体）とを含む。電気光学装置１０は、基板１６の表面に直線状に配列された多数の電気光学素子（図１においては図示略）を含む。これらの電気光学素子は、用紙などの記録材に印刷されるべき画像の態様に応じて選択的に発光する。感光体ドラム１４は主走査方向（図１に示すＸ方向）に延在する回転軸に支持され、外周面を電気光学装置１０に対向させた状態で副走査方向（図１に示すＹ方向）に回転する。
【００１１】
集光性レンズアレイ１２は電気光学装置１０と感光体ドラム１４との間隙に配置される。この集光性レンズアレイ１２は、各々の光軸を電気光学装置１０に向けた姿勢でアレイ状に配列された多数の屈折率分布型レンズを含む。このような集光性レンズアレイ１２としては、例えば日本板硝子株式会社から入手可能なＳＬＡ（セルフォック・レンズ・アレイ）がある（セルフォック／ＳＥＬＦＯＣは日本板硝子株式会社の登録商標）。
【００１２】
電気光学装置１０の各電気光学素子からの出射光は集光性レンズアレイ１２の各屈折率分布型レンズを透過したうえで感光体ドラム１４の表面に到達する。この露光によって感光体ドラム１４の表面には所望の画像に応じた潜像（静電潜像）が形成される。
【００１３】
図２は、電気光学装置１０の構成を示すブロック図である。図２に示すように、電気光学装置１０は、複数の電気光学素子２０と、画素回路３０と、駆動用回路４０と、複数の実装端子５０と、複数の検査用端子６０と、が基板１６上に配置された構造となっている。また、図２に示すように、実装部品であるフレキシブルプリント基板７０が基板１６上に実装される。
【００１４】
電気光学素子２０は、駆動電流に応じた輝度で発光する素子である。本実施形態における電気光学素子２０は、有機ＥＬ材料で形成された発光層が陽極と陰極との間隙に介在するОＬＥＤ素子であり、発光層に供給される駆動電流の電流値に応じた輝度で発光する。図２に示すように、電気光学素子２０はＸ方向に沿って複数配列される。基板１６上において電気光学素子２０が配置される領域を領域Ａと呼ぶ。
【００１５】
画素回路３０は、駆動用回路４０から各電気光学素子２０ごとに供給される階調データ信号に応じて駆動電流を生成する手段である。駆動用回路４０は、各電気光学素子２０に対応する階調データ信号を生成して画素回路２０へ供給する手段である。図２に示すように、駆動用回路４０は、制御信号が入力される実装端子５０からＹ方向の負方向に延びる配線５２と接続される。駆動用回路４０は、配線５２を介して供給される制御信号に基づいて階調データ信号を生成する。制御信号には、例えばクロック信号、スタートパルス信号、画像信号などが含まれる。
【００１６】
図２に示すように、実装端子５０は、画素回路３０および駆動用回路４０を挟んで領域Ａとは反対側の領域において、基板１６の周縁１６Ａに沿ってＸ方向に複数配置される。基板１６上において実装端子５０が配置される領域を領域Ｂと呼ぶ。図２に示すように、実装端子５０は、フレキシブルプリント基板７０が有する端子７２と電気的に接続される。フレキシブルプリント基板７０には、図示しない制御回路から制御信号が供給されるとともにＹ方向に延びる信号線７４が複数形成され、各信号線７４の延在方向端部には実装端子５０と接続される端子７２が形成される。図２に示すように、フレキシブルプリント基板７０が基板１６上に実装された状態において、複数の信号線７４の各々は、実装端子５０から基板１６の周縁１６Ａへ向かってＹ方向の正方向に延びる。
【００１７】
図２に示すように、検査用端子６０は、領域Ａと領域Ｂとの間の領域において、Ｘ方向に沿って複数配置される。さらに詳述すると、図２に示すように、検査用端子６０は、基板１６上において画素回路３０および駆動用回路４０が配置される領域と領域Ｂとの間の領域においてＸ方向に沿って複数配置される。図２に示すように、複数の検査用端子６０の各々からＹ方向の負方向に延びる配線６２が駆動用回路４０に接続される。また、図２に示すように、検査用端子６０の面積は、実装端子の面積よりも大きい。
【００１８】
図２に示す検査用端子６０には、検査用信号が入力される。さらに詳述すると、フレキシブルプリント基板７０の実装前において、検査用の探針（プローブピン）を検査用端子６０に接触させることで検査用信号を検査用端子６０に入力する。そして、検査用端子６０に入力された検査用信号が配線６２を介して駆動用回路４０へ供給されることにより、当該検査用信号に応じたデータ信号が駆動用回路４０から出力される。プローブピンを検査用端子６０に接触させて駆動用回路４０からの出力を調べることで、駆動用回路４０が正常に動作しているか否か、または電気光学素子２０の動作が正常であるか否か（点灯するか否か、あるいは目標の階調に制御されるか否か）を調べることができる。
【００１９】
ここで、実装前の検査においては、総ての電気光学素子２０を駆動する信号を駆動用回路４０に入力して検査を行う必要はなく、一部の電気光学素子２０のみを駆動する信号を駆動用回路４０に入力して検査を行うことで足りる。図２に示すように、本実施形態においては、検査用端子６０の数は実装端子５０の数よりも少なく、実装端子５０から延びる配線５２は、検査用端子６０の間を通って駆動用回路４０へ向かって延びる。
【００２０】
図３は、基板１６上において実装端子５０が配置される領域Ｂと基板１６の周縁１６Ａとの間の領域に検査用端子６０が配置される態様（以下「対比例」という）の構成を示すブロック図である。対比例の構成においては、実装端子５０から基板１６の周縁１６Ａへ向かってＹ方向の正方向に延びる信号線７４と検査用端子６０とが接触しないようにされるが、フレキシブルプリント基板７０を基板１６上に実装する際の取付誤差により、信号線７４と検査用端子６０とが接触して短絡が起こる可能性が高いという問題がある。また、対比例においては、図３に示すように、検査用端子６０からＹ方向の負方向に延びて駆動用回路４０と接続される配線６２は実装端子５０の間を通って延びる。そうすると、実装端子５０を基板１６上に形成する際の製作誤差により、配線６２と実装端子５０とが接触して短絡が起こる可能性が高いという問題もある。
【００２１】
図２に示すように、本実施形態においては、領域Ａと領域Ｂとの間に検査用端子６０が配置されるから、実装端子５０から基板１６の周縁１６Ａへ向かって延びる信号線７４が検査用端子６０と接触することはない。従って、フレキシブルプリント基板７０を基板１６上に実装する際に、信号線７４と検査用端子６０とが接触して短絡が起こることはない。
【００２２】
また、本実施形態においては、検査用端子６０の数は実装端子５０の数よりも少ないから、図２に示すように、検査用端子６０間におけるＸ方向の距離Ｐ１を、実装端子５０間におけるＸ方向の距離Ｐ２よりも大きく設定できる。従って、検査用端子６０間に、実装端子５０から延びる配線５２を通すためのスペースを十分確保できるから、実装端子５０から延びる配線５２と検査用端子６０とが接触して短絡が起こることを防止できる。また、
図３に示す対比例においては、検査用端子６０から延びる配線６２は、実装端子５０の間を通るところ、本実施形態においては、検査用端子６０から延びる配線６２は実装端子５０の間を通らずにそのまま駆動用回路４０へ向かって延びるため、配線６２と実装端子５０とが接触して短絡が起こることもない。すなわち、本実施形態の構成によれば、対比例に比べて、実装端子５０と検査用端子６０との間で短絡が起こることを抑制できる。また、本実施形態の構成によれば、検査用端子６０の間に十分なスペースを確保できるため、例えば実装端子５０から延びる配線５２を検査用端子６０間に複数本通すこともできる。すなわち、実装端子５０から延びる配線５２のレイアウトについても設計自由度が向上する。
【００２３】
また、本実施形態の構成によれば、実装端子５０から基板１６の周縁１６Ａへ向かって延びる信号線７４が検査用端子６０と接触することはないから、信号線７４のレイアウトについても設計自由度が向上するという利点がある。フレキシブルプリント基板７０には、信号線７４以外にも各種の回路や配線が形成されるところ、信号線７４のレイアウトの自由度が大きいと、これらの要素をフレキシブルプリント基板７０上に形成し易くなる。
【００２４】
また、本実施形態の構成によれば、実装端子５０の大きさは検査用端子６０により左右されないため、図２に示すように、検査用端子６０の面積を実装端子５０の面積よりも大きくできる。さらに、実装ピッチに合わせて、実装端子５０を所定の幅で所定の間隔で配置することができる。
【００２５】
また、図２に示すように、検査用端子６０は、フレキシブルプリント基板７０に覆われた領域と、基板１６上に露出した領域とを有する。検査用端子６０が基板１６上に露出した領域を有することで、実装後においても電気光学装置１０に何らかの不具合が発生した場合は、その露出した領域にプローブピンを接触させて検査を行うことができるという利点がある。
【００２６】
＜Ｂ：第２実施形態＞
図４は、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置１０の構成を示すブロック図である。図４に示すように、本実施形態においては、プリント基板７０の代わりに半導体集積回路８０がＣＯＧ（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ）技術によって基板１６上に実装される点で第１実施形態の構成と相違する。また、図４に示すように、領域Ａと、基板１６上において半導体集積回路８０および実装端子５０が配置される領域Ｂとの間の領域において、検査用端子６０がＸ方向に沿って複数配置される。その他の構成については、第１実施形態の構成と同じであるため、重複する部分については説明を省略する。図４に示すように、半導体集積回路８０が基板１６上に実装されることで、半導体集積回路８０の端子９０が実装端子５０と電気的に接続される。実装端子５０には半導体集積回路８０から駆動用信号が入力される。実装端子５０に入力された駆動用信号は実装端子５０から延びる配線５２を介して駆動用回路４０へ供給される。
【００２７】
図５は、半導体集積回路８０が基板１６上に実装されるとともに、基板１６上において半導体集積回路８０および実装端子５０が配置される領域Ｂと、基板１６の周縁１６Ａとの間の領域に検査用端子６０が配置される構成（以下「対比例２」という）を示すブロック図である。図５に示すように、対比例２においては、検査用端子６０から延びる配線６２は半導体集積回路８０の下を通るとともに実装端子５０の間（半導体集積回路８０の端子９０の間）を通って駆動用回路４０へ向かって延びる。従って、対比例２の構成では、実装端子５０を基板１６上に形成する際の製作誤差によって検査用端子６０から延びる配線６２と実装端子５０とが接触したり、半導体集積回路８０を基板１６上に実装する際の取付誤差によって検査用端子６０から延びる配線６２と半導体集積回路８０の端子９０とが接触したりして短絡が起こる可能性が高いという問題がある。
【００２８】
本実施形態においては、図４に示すように、領域Ａと領域Ｂとの間の領域に検査用端子６０が配置されるから、検査用端子６０から延びる配線６２が実装端子５０の間（半導体集積回路８０の端子９０の間）を通ることはない。従って、検査用端子６０から延びる配線６２と実装端子５０（半導体集積回路８０の端子９０）とが接触して短絡が起こることはない。また、本実施形態においては、第１実施形態と同様に、検査用端子６０の数は実装端子５０の数よりも少ないから、検査用端子６０間におけるＸ方向の距離Ｐ１を、実装端子５０間におけるＸ方向の距離Ｐ２よりも大きく設定できる。従って、実装端子５０から延びる配線５２と検査用端子６０とが接触して短絡が起こることも防止できる。すなわち、本実施形態の構成によれば、対比例２と比べて、実装端子５０と検査用端子６０との間で短絡が起こることも抑制できる。
【００２９】
また、図５に示す対比例２においては、実装後に半導体集積回路８０が駆動すると、半導体集積回路８０からの信号が、検査用端子６０から半導体集積回路８０の下を通って延びる配線６２に重畳して駆動用回路４０へ供給されることにより、意図せず検査時の動作が行われるおそれがある。これに対して、本実施形態においては、図４に示すように、領域Ａと領域Ｂとの間の領域に検査用端子６０が配置されるから、検査用端子６０から延びる配線６２が半導体集積回路８０の下を通ることはない。従って、本実施形態の構成によれば、実装後の半導体集積回路８０の駆動時に、半導体駆動回路８０からの信号が検査用端子６０から延びる配線６２に重畳して誤動作を引き起こすことはないという利点がある。
【００３０】
＜Ｃ：変形例＞
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下の変形が可能である。また、以下に示す変形例のうちの２以上の変形例を組み合わせることもできる。
【００３１】
（１）変形例１
上述の各実施形態においては、実装端子５０から駆動用回路４０へ向かって延びる配線５２と、検査用端子６０から駆動用回路４０へ向かって延びる配線６２とは別々の配線で構成されているが、これに限らず、実装端子５０および検査用端子６０が共通の配線に接続される構成とすることもできる。
【００３２】
図６は、上述の第１実施形態において、実装端子５０および検査用端子６０が共通の配線Ｚに接続される場合の構成を示すブロック図である。図６に示す構成においては、実装端子５０および検査用端子６０に入力される信号が共通の信号である場合（例えば図示しない電源回路から供給される電源電位等）は、実装端子５０および検査用端子６０を共通の配線Ｚで接続する。図６に示す構成によれば、実装端子５０から延びる配線５２と検査用端子６０から延びる配線６２とを別々に設けなくて済むから、配線数を削減できる。従って、電気光学装置１０における配線のレイアウトを簡素化できるという利点がある。なお、上述の第２実施形態においても同様に、実装端子５０および検査用端子６０に入力される信号が共通の信号である場合は、実装端子５０および検査用端子６０を共通の配線に接続することができる。
【００３３】
（２）変形例２
上述の各実施形態においては、フレキシブルプリント基板７０が基板１６上に実装される構成、および、半導体集積回路８０が基板１６上に実装される構成について例示されているが、基板１６上に実装される実装部品の種類については任意である。要するに、基板上に実装される実装部品が有する端子と実装端子５０とが電気的に接続される態様であればよい。
【００３４】
（３）変形例３
上述の第１実施形態は、図２に示すように、基板１６上において検査用端子６０が配置される領域と領域Ａとの間の領域に駆動用回路４０が配置される態様であるが、例えば駆動用回路４０を基板１６上に配置せずに、フレキシブルプリント基板７０上に形成することもできる。この場合、フレキシブルプリント基板７０上の駆動用回路４０から出力される階調データ信号は実装端子５０を介して画素回路３０へ供給される。また、画素回路３０を基板１６上に配置せずに、フレキシブルプリント基板７０上に形成することもできる。この場合、画素回路３０から出力される駆動電流は実装端子５０を介して各電気光学素子２０へ供給される。第２実施形態においても同様に、駆動用回路４０を基板１６上に配置せずに、半導体集積回路８０が駆動用回路４０の機能を有する構成とすることもできる。この場合、半導体集積回路８０から出力される階調データ信号は実装端子５０を介して画素回路３０へ供給される。
【００３５】
要するに、本発明の具体的な形態においては、基板１６上において電気光学素子２０が配置された領域Ａと、実装端子５０が配置された領域Ｂとの間の領域に検査用端子６０が配置される構成であればよく、実装端子５０には各電気光学素子２０を駆動するための駆動用信号が入力されればよい。ここで、上述の各実施形態のように、基板１６上において画素回路３０および駆動用回路４０が配置された領域と領域Ｂとの間の領域に検査用端子６０が配置される場合は、実装端子５０に入力される駆動用信号は上述の制御信号である。また、駆動用回路４０が基板１６上に配置されずに、フレキシブルプリント基板７０上に形成されたり、半導体集積回路８０が駆動用回路８０の役割を果たす場合は、実装端子５０に入力される駆動用信号は、駆動用回路４０から出力される階調データ信号である。さらに、画素回路３０が基板１６上に配置されずに、フレキシブルプリント基板７０上に形成される場合は、実装端子５０に入力される駆動用信号は駆動電流である。
【００３６】
（４）変形例４
上述の第１実施形態においては、検査用端子６０の一部が基板１６上に露出する態様であるが、これに限らず、例えば検査用端子６０が基板１６上に完全に露出する態様とすることもできる。また、実装後における検査が不要である場合は、検査用端子６０がフレキシブルプリント基板７０で完全に覆われる態様とすることもできる。
【００３７】
（５）変形例５
上述の各実施形態においては、電気光学素子２０の一例として、ＯＬＥＤ素子を取り上げたが、無機発光ダイオードやＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）であってもよい。要は、駆動電流に応じた発光輝度で発光するのであれば、どのような素子であってもよい。
【００３８】
＜Ｄ：電子機器＞
次に、図７を参照して、本発明に係る電子機器のひとつの態様である画像形成装置について説明する。この画像形成装置は、ベルト中間転写体方式を利用したタンデム型のフルカラー画像形成装置である。
【００３９】
この画像形成装置では、各々が同様の構成である４個の電気光学装置１０Ｋ，１０Ｃ，１０Ｍ，１０Ｙが、各々の構成が同様である４個の感光体ドラム（像担持体）１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙの像形成面１１０に対向する位置にそれぞれ配置されている。発光装置１０Ｋ，１０Ｃ，１０Ｍ，１０Ｙは、上記の各形態に係る電気光学装置１０と同様の構成である。
【００４０】
図７に示すように、この画像形成装置には、駆動ローラ１２１と従動ローラ１２２とが設けられており、これらのローラ１２１，１２２には無端の中間転写ベルト１２０が巻回されて、矢印に示すようにローラ１２１，１２２の周囲を回転させられる。図示しないが、中間転写ベルト１２０に張力を与えるテンションローラなどの張力付与手段を設けてもよい。
【００４１】
この中間転写ベルト１２０の周囲には、外周面に感光層を有する４個の感光体ドラム１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙが互いに所定の間隔をおいて配置される。添字「Ｋ」，「Ｃ」，「Ｍ」，「Ｙ」はそれぞれ黒、シアン、マゼンタ、イエローの顕像を形成するために使用されることを意味している。他の部材についても同様である。感光体ドラム１１０Ｋ，１１０Ｃ，１１０Ｍ，１１０Ｙは、中間転写ベルト１２０の駆動と同期して回転駆動される。
【００４２】
各感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の周囲には、コロナ帯電器１１１（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）と、電気光学装置１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）と、現像器１１４（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）とが配置されている。コロナ帯電器１１１（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、これに対応する感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の像形成面１１０Ａ（外周面）を一様に帯電させる。発光装置１０Ａ（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、各感光体ドラムの帯電した像形成面１１０Ａに静電潜像を書き込む。各電気光学装置１０Ａ（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）においては、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の母線（主走査方向）に沿って複数の電気光学素子２０が配列する。静電潜像の書き込みは、複数の電気光学素子２０によって感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）に光を照射することにより行う。現像器１１４（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、静電潜像に現像剤としてのトナーを付着させることにより感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）に顕像（すなわち可視像）を形成する。
【００４３】
このような４色の単色顕像形成ステーションにより形成された黒、シアン、マゼンタ、イエローの各顕像は、中間転写ベルト１２０上に順次に一次転写されることによって中間転写ベルト１２０上で重ね合わされ、この結果としてフルカラーの顕像が形成される。中間転写ベルト１２０の内側には、４つの一次転写コロトロン（転写器）１１２（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）が配置されている。一次転写コロトロン１１２（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）は、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）の近傍にそれぞれ配置されており、感光体ドラム１１０（Ｋ，Ｃ，Ｍ，Ｙ）から顕像を静電的に吸引することにより、感光体ドラムと一次転写コロトロンの間を通過する中間転写ベルト１２０に顕像を転写する。
【００４４】
最終的に画像を形成する対象（記録材）としてのシート１０２は、ピックアップローラ１０３によって、給紙カセット１０１から１枚ずつ給送されて、駆動ローラ１２１に接した中間転写ベルト１２０と二次転写ローラ１２６の間のニップに送られる。中間転写ベルト１２０上のフルカラーの顕像は、二次転写ローラ１２６によってシート１０２の片面に一括して二次転写され、定着部である定着ローラ対１２７を通ることでシート１０２上に定着される。この後、シート１０２は、排紙ローラ対１２８によって、装置上部に形成された排紙カセット上へ排出される。
【００４５】
次に、図８を参照して、本発明に係る画像形成装置の他の形態について説明する。この画像形成装置は、ベルト中間転写体方式を利用したロータリ現像式のフルカラー画像形成装置である。図１５に示すように、感光体ドラム１１０の周囲には、コロナ帯電器１６８と、ロータリ式の現像ユニット１６１と、上記の実施形態に係る電気光学装置１０と、中間転写ベルト１６９とが設けられている。
【００４６】
コロナ帯電器１６８は、感光体ドラム１１０の外周面を一様に帯電させる。電気光学装置１０は、感光体ドラム１１０の帯電させられた像形成面（外周面）に静電潜像を書き込む。この電気光学装置１０においては、感光体ドラム１１０の母線（主走査方向）に沿って複数の電気光学素子２０が配列する。静電潜像の書き込みは、これらの電気光学素子２０から感光体ドラム１１０に光を照射することにより行う。
【００４７】
現像ユニット１６１は、４つの現像器１６３Ｙ，１６３Ｃ，１６３Ｍ，１６３Ｋが９０°の角間隔をおいて配置されたドラムであり、軸１６１ａを中心にして反時計回りに回転可能である。現像器１６３Ｙ，１６３Ｃ，１６３Ｍ，１６３Ｋは、それぞれイエロー、シアン、マゼンタ、黒のトナーを感光体ドラム１１０に供給して、静電潜像に現像剤としてのトナーを付着させることにより感光体ドラム１１０に顕像（すなわち可視像）を形成する。
【００４８】
無端の中間転写ベルト１６９は、駆動ローラ１７０ａ、従動ローラ１７０ｂ、一次転写ローラ１６６およびテンションローラに巻回されて、これらのローラの周囲を矢印に示す向きに回転させられる。一次転写ローラ１６６は、感光体ドラム１１０から顕像を静電的に吸引することにより、感光体ドラム１１０と一次転写ローラ１６６の間を通過する中間転写ベルト１６９に顕像を転写する。
【００４９】
具体的には、感光体ドラム１１０の最初の１回転で、電気光学装置１０によりイエロー（Ｙ）像のための静電潜像が書き込まれて現像器１６３Ｙにより同色の顕像が形成され、さらに中間転写ベルト１６９に転写される。また、次の１回転で、電気光学装置１０Ａによりシアン（Ｃ）像のための静電潜像が書き込まれて現像器１６３Ｃにより同色の顕像が形成され、イエローの顕像に重なり合うように中間転写ベルト１６９に転写される。そして、このようにして感光体ドラム１１０が４回転する間に、イエロー、シアン、マゼンタ、黒の顕像が中間転写ベルト１６９に順次に重ね合わせられ、この結果としてフルカラーの顕像が転写ベルト１６９上に形成される。最終的に画像を形成する対象としてのシートの両面に画像を形成する場合には、中間転写ベルト１６９に表面と裏面の同色の顕像を転写し、次に中間転写ベルト１６９に表面と裏面の次の色の顕像を転写する形式で、フルカラーの顕像を中間転写ベルト１６９上に形成する。
【００５０】
画像形成装置には、シートが通過させられるシート搬送路１７４が設けられている。シートは、給紙カセット１７８から、ピックアップローラ１７９によって１枚ずつ取り出され、搬送ローラによってシート搬送路１７４を進行させられ、駆動ローラ１７０ａに接した中間転写ベルト１６９と二次転写ローラ１７１の間のニップを通過する。二次転写ローラ１７１は、中間転写ベルト１６９からフルカラーの顕像を一括して静電的に吸引することにより、シートの片面に顕像を転写する。二次転写ローラ１７１は、図示しないクラッチにより中間転写ベルト１６９に接近および離間させられるようになっている。そして、シートにフルカラーの顕像を転写する時に二次転写ローラ１７１は中間転写ベルト１６９に当接させられ、中間転写ベルト１６９に顕像を重ねている間は二次転写ローラ１７１から離される。
【００５１】
以上のようにして画像が転写されたシートは定着器１７２に搬送され、定着器１７２の加熱ローラ１７２ａと加圧ローラ１７２ｂの間を通過させられることにより、シート上の顕像が定着する。定着処理後のシートは、排紙ローラ対１７６に引き込まれて矢印Ｆの向きに進行する。両面印刷の場合には、シートの大部分が排紙ローラ対１７６を通過した後、排紙ローラ対１７６が逆方向に回転させられ、矢印Ｇで示すように両面印刷用搬送路１７５に導入される。そして、二次転写ローラ１７１により顕像がシートの他面に転写され、再び定着器１７２で定着処理が行われた後、排紙ローラ対１７６でシートが排出される。
【００５２】
図７および図８に例示した画像形成装置は、ＯＬＥＤ素子を電気光学素子２０として採用した光源（露光手段）を利用しているので、レーザ走査光学系を用いた場合よりも装置が小型化される。なお、以上に例示した以外の電子写真方式の画像形成装置にも本発明の電気光学装置１０を採用することができる。例えば、中間転写ベルトを使用せずに感光体ドラムからシートに対して直接的に顕像を転写するタイプの画像形成装置や、モノクロの画像を形成する画像形成装置にも本発明に係る電気光学装置１０を応用することが可能である。
【００５３】
本発明に係る電気光学装置の用途は感光体の露光に限定されない。例えば、本発明の電気光学装置は、原稿などの読取対象に光を照射するライン型の光ヘッド（照明装置）としてスキャナなどの画像読取装置に採用される。この種の画像読取装置としては、スキャナ、複写機やファクシミリの読取部分、バーコードリーダ、あるいはＱＲコード（登録商標）のような二次元画像コードを読む二次元画像コードリーダがある。また、複数の電気光学素子を面状に配列した発光装置は、液晶パネルの背面側に配置されるバックライトユニットとしても採用される。また、複数の単位回路を行列状に配列した電気光学装置は各種の電子機器の表示装置として採用される。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】第１実施形態に係る画像形成装置の部分的な構成を示す斜視図である。
【図２】第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図３】対比例の構成を示すブロック図である。
【図４】第２実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図５】対比例２の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の変形例１に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図７】本発明に係る電子機器の具体例（画像形成装置）を示す斜視図である。
【図８】本発明に係る電子機器の具体例（画像形成装置）を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００５５】
１０……電気光学装置、１６……基板、２０……電気光学素子、３０……画素回路、４０……駆動用回路、５０……実装端子、５２……配線、６０……検査用端子、６２……配線、７０……プリント基板、７２……端子、７４……信号線、８０……半導体集積回路、９０……端子、Ａ……領域、Ｂ……領域、Ｚ……配線。
【図１】
0005315714.tif 000002
【図２】
0005315714.tif 000003
【図３】
0005315714.tif 000004
【図４】
0005315714.tif 000005
【図５】
0005315714.tif 000006
【図６】
0005315714.tif 000007
【図７】
0005315714.tif 000008
【図８】
0005315714.tif 000009