(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定方法において、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備えたものを使用することを特徴とするカットオフ波長の測定方法。
【請求項２】
前記第２のマンドレルにも、前記側圧低減機構を備えたものを使用することを特徴とする請求項１に記載のカットオフ波長の測定方法。
【請求項３】
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面に形成したテーパ面で、マンドレルの外周面に巻き付けた光ファイバに基準以上の側圧が作用するとき、その側圧により光ファイバの巻き付け位置が直径の小さい側に滑る、または転がることにより側圧が低減されることを特徴とする請求項１又は２に記載のカットオフ波長の測定方法。
【請求項４】
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面の一部を規定の巻き付け径からその内側に変位可能にした外周面移動機構であり、光ファイバを巻き付けた後に、前記外周面移動機構によりマンドレル外周長を縮めることで、巻き付けた際に光ファイバに作用している側圧を低減することを特徴とする請求項１又は２に記載のカットオフ波長の測定方法。
【請求項５】
外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定装置であって、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備え、
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面に形成したテーパ面で、マンドレルの外周面に巻き付けた光ファイバに基準以上の側圧が作用するとき、その側圧により光ファイバの巻き付け位置が直径の小さい側に滑る、または転がることにより側圧が低減されることを特徴とするカットオフ波長の測定装置。
【請求項６】
外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定装置であって、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備え、
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面の一部を規定の巻き付け径からその内側に変位可能にした外周面移動機構であり、光ファイバを巻き付けた後に、前記外周面移動機構によりマンドレル外周長を縮めることで、巻き付けた際に光ファイバに作用している側圧を低減することを特徴とするカットオフ波長の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、曲げ法によるカットオフ波長の測定方法に関し、特にシングルモード光ファイバのカットオフ波長の測定方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
シングルモード光ファイバにおいて重要な特性であるカットオフ波長の測定方法は、現在 International Telecommunication Union-T（ＩＴＵ−Ｔ）にて次のような曲げ法を勧告している。
【０００３】
この曲げ法によるカットオフ波長の測定方法は、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするもので、上記の各マンドレルとして、外周面が規定の直径の円筒体を用いるものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開平０９−２２９８１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、従来の円筒体のマンドレルを使用する曲げ法によるカットオフ波長の測定方法では、マンドレルに巻き付ける際に光ファイバに付与する張力が大きくなると、マンドレルとの接触圧によって光ファイバが受ける側圧が大きくなってしまう。
そして、光ファイバが受ける側圧が一定以上に大きくなると、その光ファイバ内の伝送モードの一部が除外されて所定の励起状態とならない結果、測定精度が低下するという問題が生じた。
【０００６】
また、従来の場合、マンドレルに巻き付けた光ファイバの受ける側圧を一定以下に維持するには、測定者が光ファイバに付与する張力を加減するしかなく、測定者に高度な熟練がないと、張力を適正に加減できず、高精度な測定ができないという問題が生じた。
【０００７】
本発明の目的は、上記課題を解消することに係り、測定者の熟練度に拘わらず、マンドレルとの接触圧によって光ファイバが受ける側圧を一定以下に抑えて、測定精度を向上させることのできる曲げ法によるカットオフ波長の測定方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）上記した課題を解決するために、本発明によるカットオフ波長の測定方法は、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定方法において、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備えたものを使用することを特徴とする。
【０００９】
（２）また、上記（１）に記載のカットオフ波長の測定方法は、前記第２のマンドレルにも、前記側圧低減機構を備えたものを使用することを特徴としても良い。
【００１０】
（３）また、上記（１）又は（２）に記載のカットオフ波長の測定方法は、前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面に形成したテーパ面で、マンドレルの外周面に巻き付けた光ファイバに基準以上の側圧が作用するとき、その側圧により光ファイバの巻き付け位置が直径の小さい側に滑る、または転がることにより側圧が低減されることを特徴としても良い。
【００１１】
（４）また、上記（１）又は（２）に記載のカットオフ波長の測定方法は、前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面の一部を規定の巻き付け径からその内側に変位可能にした外周面移動機構であり、光ファイバを巻き付けた後に、前記外周面移動機構によりマンドレル外周長を縮めることで、巻き付けた際に光ファイバに作用している側圧を低減することを特徴としても良い。
【００１２】
（５）上記した課題を解決するために、本発明によるカットオフ波長の測定装置は、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定装置であって、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備え、
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面に形成したテーパ面で、マンドレルの外周面に巻き付けた光ファイバに基準以上の側圧が作用するとき、その側圧により光ファイバの巻き付け位置が直径の小さい側に滑る、または転がることにより側圧が低減されることを特徴とする。 
【００１３】
（６）上記した課題を解決するために、本発明によるカットオフ波長の測定装置は、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレルと、外周に光ファイバを巻き付けることで該光ファイバに直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレルとを用いて、所定長の光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１と、前記光ファイバに直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとするカットオフ波長の測定装置であって、
前記第１及び第２のマンドレルの内、少なくとも第１のマンドレルには、巻き付けた時に光ファイバに作用する側圧を低減する側圧低減機構を備え、
前記側圧低減機構が、光ファイバが巻き付けられるマンドレルの外周面の一部を規定の巻き付け径からその内側に変位可能にした外周面移動機構であり、光ファイバを巻き付けた後に、前記外周面移動機構によりマンドレル外周長を縮めることで、巻き付けた際に光ファイバに作用している側圧を低減することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によるカットオフ波長の測定方法および装置によれば、曲げ法による測定のために、光ファイバを第１のマンドレル及び第２のマンドレルに巻き付ける際に、測定者の熟練度等の影響で光ファイバに付与する張力が変わることで、マンドレルとの接触圧によって光ファイバが受ける側圧にばらつきが発生しても、側圧低減機構により発生している側圧を低減できるため、光ファイバが受ける側圧が一定以上に大きくなることを防止できる。
従って、測定者の熟練度に拘わらず、マンドレルとの接触圧によって光ファイバが受ける側圧を一定以下に抑えて、側圧の影響によりその光ファイバ内の伝送モードの一部が除外されて励起状態が不安定になるという不都合の発生を防止でき、測定精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明に係るカットオフ波長の測定方法および装置の好適な実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明に係る光ファイバの曲げ法によるカットオフ波長の測定方法を実施する測定装置の概略図を示したもので、図１（ａ）は光ファイバに直径２８０ｍｍの曲げと直径６０ｍｍの曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの、図１（ｂ）は光ファイバに直径２８０ｍｍの曲げを１ターン加えたときの状態を示したものである。また、図２は図１の測定方法で測定されたカットオフ波長の測定波形図であり、図３は図１の測定方法で使用する本発明に関わる第１のマンドレルの外観斜視図である。
【００１６】
図１に示した一実施の形態のカットオフ波長の測定装置２１は、所謂曲げ法によるカットオフ波長の測定方法によって光ファイバ１のカットオフ波長の測定を行うもので、図１（ａ），（ｂ）に示すように、外周に光ファイバ１を巻き付けることで該光ファイバ１に直径２８０ｍｍの円周形の曲げを付与する第１のマンドレル３と、外周に光ファイバ１を巻き付けることで該光ファイバ１に直径６０ｍｍの円周形の曲げを付与する第２のマンドレル５と、これらのマンドレル３，５に巻き付けた光ファイバ１の両端を弛みが生じないように保持する一対の保持部７，８と、一方の保持部７に保持された光ファイバ端に規定の測定光を入射させる光源１１と、他方の保持部８に保持された光ファイバ端から出射される透過光パワーを検出する受光部１３とを備えている。
【００１７】
一実施の形態のカットオフ波長の測定装置２１により実施されるカットオフ波長の測定方法は、具体的には、図１（ａ）に示すように、所定長（例えば２ｍ）の光ファイバ１に第１のマンドレル３及び第２のマンドレル５により直径２８０ｍｍの円周形の曲げと直径６０ｍｍの円周形の曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの透過光パワーＰ１を受光部１３により測定する。
更に、同じ光ファイバ１について、図１（ｂ）に示すように、第１のマンドレル３により直径２８０ｍｍの円周形の曲げのみを１ターンだけ加えたときの透過光パワーＰ２を受光部１３により測定する。
【００１８】
そして、図２に示すように、測定した透過光パワーＰ１，Ｐ２相互のパワー比の波形Ｇｆを求め、パワー比が０．１ｄＢとなる最長の波長をカットオフ波長λｃとする。
【００１９】
但し、本実施の形態の場合、第１のマンドレル３には、巻き付けた時に光ファイバ１に作用する側圧を低減する側圧低減機構２１を備えたものを使用している。
そして、本実施の形態の場合、第１のマンドレル３に備えた側圧低減機構２１は、光ファイバ１が巻き付けられるマンドレルの外周面に形成したテーパ面３１である。
【００２０】
このテーパ面３１は、下端が直径２８０ｍｍ、上端が直径２６０ｍｍとなるテーパで、下端が光ファイバ１を巻き付ける基準直径に設定されている。なお、下端から上端までの高さｈは、テーパ面３１の傾きを決定する重要な要素となる。前記高さｈは、テーパ面３１の下端に巻き付けた光ファイバ１に作用する側圧が一定以下の時には不用意に上方に滑らない程度の傾きとなるように、適宜値に選定される。
換言すると、テーパ面３１の傾きは、その下端に巻き付けた光ファイバ１に基準以上の側圧が作用するとき、その側圧により光ファイバ１の巻き付け位置が直径の小さい側に滑る、または転がることにより側圧が低減されるように設定される。
【００２１】
テーパ面３１の高さｈの具体例として、例えば、ｈ＝２３ｍｍに設定する。
これにより、テーパ面３１のテーパ角度（内径側から外径側への傾斜角）θは、２３．５度になる。
【００２２】
以上に説明した本実施の形態のカットオフ波長の測定方法によれば、曲げ法による測定のために、光ファイバ１を第１のマンドレル３に巻き付ける際に、測定者の熟練度等の影響で光ファイバ１に付与する張力が変わることで、マンドレル３との接触圧によって光ファイバ１が受ける側圧にばらつきが発生しても、側圧低減機構２１により発生している側圧を低減できるため、光ファイバ１が受ける側圧が一定以上に大きくなることを防止できる。
従って、測定者の熟練度に拘わらず、マンドレル３との接触圧によって光ファイバ１が受ける側圧を一定以下に抑えて、側圧の影響によりその光ファイバ１内の伝送モードの一部が除外されて所定の励起状態での測定ができないという不都合の発生を防止でき、測定精度を向上させることができる。
【００２３】
本願発明者等は、図３のテーパ状マンドレルの作用効果を確認するために、図３のテーパ状マンドレルを使った上記実施の形態の測定方法と、光ファイバの直径２８０ｍｍの曲げを単純な円筒への巻き付けにより形成する従来の測定方法とで、三種のサンプル光ファイバ（サンプル１，２，３）に対して、それぞれ１０回ずつ透過光パワーの波形測定を繰り返す実験を行った。
【００２４】
そして、上記の実験において、各サンプルのカットオフ波長（λｃ）及びピークレベルについては、次の表１に示すように、平均値と、偏差(σ)とを算出して、比較した。
【００２５】
【表１】
0005151436.tif 000002
【００２６】
また、上記の実験において測定した各サンプルの測定波形は、本実施の形態の測定方法で測定した波形と、従来の測定方法で測定した波形とに分けて、それぞれ一枚の用紙状に重ねて描くことで、ピーク位置のばらつきを調べた。
図４は、上記の実験において、テーパ状マンドレルを使う上記実施の形態の測定方法で測定した各サンプルの測定波形を一枚の用紙上に重ねて描いてピーク位置のばらつきを示したグラフである。
また、図５は、上記の実験において、従来の円筒体のマンドレルを用いて測定した各サンプルの測定波形を一枚の用紙上に重ねて描いてピーク位置のばらつきを示したグラフである。
【００２７】
上記の表１、及び図４，５から、次のような傾向が伺える。
つまり、テーパ状マンドレルを使う上記実施の形態の測定方法と、従来のマンドレルを使う従来の測定方法とでは、カットオフ波長の測定においては顕著な差異はみられないものの、テーパ状マンドレルを使った本実施の形態の測定方法では、受光部１３で検出する透過光パワーのピーク値が、従来の測定方法の場合よりもより大きく、且つ、ピークのばらつきが低減された形（ピーク波長が安定した形）で検出される傾向が伺える。
これにより、側圧の影響によりその光ファイバ内の伝送モードの一部が除外されて所定の励起状態での測定ができないという不都合が解消されていることが推察された。
なお、本実施形態の測定方法では従来の測定方法に比べ再現性が高い傾向が見られることから、測定者の熟練度に関係なく、測定精度の向上を図ることができるといえる。
【００２８】
なお、本発明において、第１のマンドレルに装備する側圧低減機構の具体的な構成は、上記の一実施の形態の構造に限らない。
図６は、図１の測定方法で使用する本発明に関わる第１のマンドレル３の他の実施の形態の説明図で、（ａ）は外観斜視図、（ｂ）は断面図である。
【００２９】
図６に示した第１のマンドレル３は、円筒形の外周面４１に形成した溝４３に光ファイバ１を巻き付ける構造であるが、溝４３を形成した外周面４１が、円筒体を直径位置で２つに縦割りした２つの半割れマンドレル４５，４６から構成されている。
【００３０】
２つの半割れマンドレル４５，４６は、直径方向の一端部が互いに回動可能にヒンジ結合され、他端側は開閉可能になっている。そして、これらの２つの半割れマンドレル４５，４６は、他端側が所定の隙間Ｓで離間した状態の時に、図６（ｂ）に示すように、溝４３が規定の直径２８０ｍｍになるように設定されている。
なお、上記の隙間Ｓの値は、０．５〜２ｍｍ程度に設定しておくのが好ましい。
【００３１】
２つの半割れマンドレル４５，４６は、他端側の隙間が最大値Ｓから縮む方向に可動に、不図示の外周面移動機構により連結されており、これが、溝４３に巻き付けた光ファイバ１の側圧を低減させる側圧低減機構として機能する。
即ち、図６に示した第１のマンドレル３における側圧低減機構は、光ファイバ１が巻き付けられるマンドレル３の外周面の一部を規定の巻き付け径からその内側に変位可能にした外周面移動機構であり、光ファイバ１を巻き付けた後に、外周面移動機構によりマンドレル外周長を縮めることで、巻き付けた際に光ファイバ１に作用している側圧を低減する。
【００３２】
この図６に示した第１のマンドレル３の場合も、測定者の熟練度に拘わらず、巻き付けた光ファイバ１の側圧が一定以上になることを防止することができる。そして、マンドレル３との接触圧によって光ファイバ１が受ける側圧を一定以下に抑えて、側圧の影響によりその光ファイバ１内の伝送モードの一部が除外されて所定の励起状態での測定ができないという不都合の発生を防止でき、測定精度を向上させることができる。
【００３３】
本願出願人等は、図６の半割れマンドレルの作用効果を確認するために、図６の半割れマンドレルを使った測定方法と、従来の測定方法とで、三種のサンプル光ファイバ（サンプル１，２，３）に対して、それぞれ５回ずつ透過光パワーの波形測定を繰り返す実験を行い、各サンプルのカットオフ波長（λｃ）及びピークレベルについては、平均値と、偏差(σ)とを算出して、比較した。次の表２は、その実験結果をまとめたものである。
なお、サンプル１，２，３には、表１の実験のときのサンプル１，２，３と同一または同一種の光ファイバを使用している。
また、図６に示したマンドレル３としては、２つの半割れマンドレル４５，４６間の隙間Ｓ＝０．５ｍｍのもの（即ち、マンドレル外周は、２７９．５〜２８０ｍｍの範囲で変化可能）を使用した。
【００３４】
【表２】
0005151436.tif 000003
【００３５】
表２のデータの場合、半割れマンドレルを使う上記実施の形態の測定方法と、従来のマンドレルを使う従来の測定方法とでは、カットオフ波長の平均値においてはほとんど差異がみられなかったが、カットオフ波長のばらつき（偏差σ）においては、半割れマンドレルを使用した測定方法の方が従来の測定方法の場合より、小さくなる傾向が見られた。
さらに詳述すると、カットオフ波長のばらつき（偏差σ）においては、測定サンプルの１／３では略同等であったが、測定サンプルの２／３においては半割れマンドレルを使用した測定方法の測定値が従来の測定方法による測定値の１／２以下となっており、ばらつきが小さくなる傾向が確認できた。
従って、図６に示した半割れマンドレルを使用すれば、従来の測定方法と比較して、大半においては、カットオフ波長のばらつきが小さくなり、測定者の熟練度に関係なく、測定再現性が向上し、測定の信頼性が向上すると共に、測定精度が向上する。
【００３６】
なお、光ファイバ１に作用する側圧を低減するために、マンドレル外周長を拡縮可能にする具体的な構成は、図６に示した第１のマンドレル３の構成に限らない。例えば、２つの半割れマンドレル４５，４６は、一端側をヒンジ結合して他端側が開閉する構造ではなく、２つの半割れマンドレル４５，４６相互を互いに接近する方向に平行移動するように連結して、平行移動動作によりマンドレル外周長を縮めるように構成することも考えられる。
【００３７】
さらに、上記の各実施の形態では、曲げ法に使用する直径２８０ｍｍの第１のマンドレルと、直径６０ｍｍの第２のマンドレルとの内、第１のマンドレルにのみ側圧低減機構を装備したが、第２のマンドレル５にも側圧低減機構２１を備えたものを使用するとよい。
このように、第１及び第２のマンドレルのいずれにも側圧低減機構を備えた構成とすることにより、マンドレルに巻き付けた光ファイバに作用する側圧の低減をさらに徹底することができ、上記実施の形態よりも更に、測定の信頼性の向上、測定精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明に係る光ファイバの曲げ法によるカットオフ波長の測定方法を実施する測定装置の概略図を示したもので、（ａ）は光ファイバに直径２８０ｍｍの曲げと直径６０ｍｍの曲げとをそれぞれ１ターンずつ加えたときの、（ｂ）は光ファイバに直径２８０ｍｍの曲げを１ターン加えたときの状態を示したものである。
【図２】図１の測定方法で測定されたカットオフ波長の測定波形図である。
【図３】図１の測定方法で使用する本発明に関わる第１のマンドレルの外観斜視図である。
【図４】本発明の一実施の形態のテーパ状マンドレルを用いて複数のサンプルに対する波形測定を実施し、測定した波形を重ねてピーク位置のばらつきを示したグラフである。
【図５】従来の円筒体のマンドレルを用いて複数のサンプルに対する波形測定を実施し、測定した波形を重ねてピーク位置のばらつきを示したグラフである。
【図６】図１の測定方法で使用する本発明に関わる第１のマンドレルの他の実施の形態の説明図で、（ａ）は外観斜視図、（ｂ）は断面図である。
【符号の説明】
【００３９】
１  光ファイバ
３  第１のマンドレル
５  第２のマンドレル
７，８  保持部
１１  光源
１３  受光部
２１  カットオフ波長の測定装置
３１  テーパ面
４１  外周面
４３  溝
４５，４６  半割れマンドレル
【図１】
0005151436.tif 000004
【図２】
0005151436.tif 000005
【図３】
0005151436.tif 000006
【図４】
0005151436.tif 000007
【図５】
0005151436.tif 000008
【図６】
0005151436.tif 000009