(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録層及び非記録層が積層された光ディスクの層数及び層種順を含む積層構造情報を入力しておき、レーザスポットの焦点が前記層を通過したときに発生するフォーカスエラー信号を用いて合焦点制御を行いながら記録層の初期化を行う光ディスク初期化装置であって、
前記レーザスポット焦点を光ディスクの複数層を通過するように移動させるレーザスポット移動手段と、
前記レーザスポットの光ディスクからの反射光を基に前記焦点が合うように前記レーザスポット移動手段を制御するフォーカス制御手段と、
前記レーザスポット移動手段の駆動電圧値を検出する駆動電圧検出手段と、
前記レーザスポット移動手段とフォーカス制御手段と駆動電圧検出手段とを制御する主制御手段とを備え、
該主制御手段は、
前記レーザスポット焦点をレーザスポット移動手段を用いて光ディスクの複数層を通過させる第１工程と、
該第１工程による複数層に対する前記レーザスポット焦点の通過過程において前記フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値を駆動電圧検出手段から取得する第２工程と、
前記入力した積層構造情報の層数及び層種順と、前記第２工程により取得したフォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値とを基に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いることにより、前記レーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号と判別する第３工程と、
該第３工程により判別した正フォーカスエラー信号を検出した記録層にレーザスポットを照射して該記録層の初期化を行う第４工程の制御を行うことを特徴とする光ディスク初期化装置。
【請求項２】
前記主制御手段は、前記第３工程において判別した記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値との間に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いてレーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号とを判別することを特徴とする請求項１記載の光ディスク初期化装置。
【請求項３】
前記主制御手段は、前記第３工程において、前記積層構造情報の層数及び層種順に、前記フォーカスエラー信号を検出したときの複数の駆動電圧値を当てはめたテーブル情報を閾値として設定し、該テーブル情報と駆動電圧値を用いることにより、記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号とを判別することを特徴とする請求項１記載の光ディスク初期化装置。
【請求項４】
記録層及び非記録層が積層された光ディスクの複数層を通過するようにレーザスポットを移動させるレーザスポット移動手段と、該レーザスポットの光ディスクからの反射光を基に前記焦点が合うように前記レーザスポット移動手段を制御するフォーカス制御手段と、前記レーザスポット移動手段の駆動電圧値を検出する駆動電圧検出手段と、前記レーザスポット移動手段とフォーカス制御手段と駆動電圧検出手段とを制御する主制御手段とを備え、光ディスクの層数及び層種順を含む積層構造情報を入力しておき、前記記録層にレーザスポットを照射して初期化を行う光ディスク初期化方法であって、
該主制御手段に、
前記レーザスポット焦点をレーザスポット移動手段を用いて光ディスクの複数層を通過させる第１工程と、
該第１工程による複数層に対する前記レーザスポット焦点の通過過程において前記フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値を駆動電圧検出手段から取得する第２工程と、
前記入力した積層構造情報の層数及び層種順と、前記第２工程により取得したフォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値とを基に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いることにより、前記レーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号と判別する第３工程と、
該第３工程により判別した正フォーカスエラー信号を検出した記録層にレーザスポットを照射して該記録層の初期化を行う第４工程とを行うように制御させることを特徴とする光ディスク初期化方法。
【請求項５】
前記主制御手段に、前記第３工程において判別した記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値との間に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いてレーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号とを判別させることを特徴とする請求項４記載の光ディスク初期化方法。
【請求項６】
前記主制御手段に、前記第３工程において、前記積層構造情報の層数及び層種順に、前記フォーカスエラー信号を検出したときの複数の駆動電圧値を当てはめたテーブル情報を閾値として設定し、該テーブル情報と駆動電圧値を用いることにより、記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別させ、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号とを判別させることを特徴とする請求項４記載の光ディスク初期化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、カバー層付き光ディスクの記録層に焦点合わせを行って好適に初期化を行うことができる光ディスク初期化装置及び光ディスク初期化方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、書換え可能な大容量の光ディスクとして、相変化光ディスクが主流となっており、記録層を多層構造とした多層型の相変化光ディスクが採用されている。この相変化光ディスクの製造プロセスにおいては、記録層生成直後の非結晶状態な多層記録層を結晶状態へ変える初期化処理が必要である。
【０００３】
この初期化処理は、レーザを熱源としてディスクの記録層に長円状の初期化レーザスポットを照射し、このレーザスポットを良好な結晶状態が得られる所定のレーザスポット走査速度／レーザパワー／レーザスポットのデフォーカス量で隙間無く螺旋状に光ディスクを走査させることにより光ディスク全面を初期化させるものである。
【０００４】
従来技術による多層光ディスクの初期化に関する技術としては下記特許文献が挙げられ、この特許文献には、焦点ずれ校正領域にそれぞれ波長の異なるレーザ光を記録層毎に順次照射し、この反射光が合焦点となる位置に対応するフォーカスサーボの補正バイアス値を保持しておき、記録再生領域のアクセス時に、所定の波長のレーザ光を記録再生領域に照射して得られる反射光の焦点合わせの補正を補正バイアス値に基づいて行うことによって、焦点ずれを補正し、正確に焦点合わせを行う技術が記載されている。
【特許文献１】特開２００７−３０５２２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年の光ディスクは、記録層以外にカバー層を設けたものが提案されており、このカバー層を設けた光ディスクの初期化を行う際のフォーカスサーチ動作時に前記カバー層に誤って初期化用のレーザスポットを照射してしまうことや、このために次の記録層に対する初期化を行わないことや、多層型の光ディスクにおける他面の記録層へ誤層フォーカスサーボする現象が見られることがあるという不具合があった。
【０００６】
本発明の目的は、カバー層を含む多層の光ディスクにおいても目標とする記録層に初期化用レーザスポットを照射して初期化を行うことができる光ディスク初期化装置及び光ディスク初期化方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために本発明は、記録層及び非記録層が積層された光ディスクの層数及び層種順を含む積層構造情報を入力しておき、レーザスポットの焦点が前記層を通過したときに発生するフォーカスエラー信号を用いて合焦点制御を行いながら記録層の初期化を行う光ディスク初期化装置であって、
前記レーザスポット焦点を光ディスクの複数層を通過するように移動させるレーザスポット移動手段と、
前記レーザスポットの光ディスクからの反射光を基に前記焦点が合うように前記レーザスポット移動手段を制御するフォーカス制御手段と、
前記レーザスポット移動手段の駆動電圧値を検出する駆動電圧検出手段と、
前記レーザスポット移動手段とフォーカス制御手段と駆動電圧検出手段とを制御する主制御手段とを備え、
該主制御手段は、
前記レーザスポット焦点をレーザスポット移動手段を用いて光ディスクの複数層を通過させる第１工程と、
該第１工程による複数層に対する前記レーザスポット焦点の通過過程において前記フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値を駆動電圧検出手段から取得する第２工程と、
前記入力した積層構造情報の層数及び層種順と、前記第２工程により取得したフォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値とを基に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いることにより、前記レーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号と判別する第３工程と、
該第３工程により判別した正フォーカスエラー信号を検出した記録層にレーザスポットを照射して該記録層の初期化を行う第４工程の制御を行うことを第１の特徴とする。
【０００８】
また本発明は、前記第１の特徴の初期化装置において、前記主制御手段は、前記第３工程において判別した記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値との間に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いてレーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号とを判別することを第２の特徴とする。
【０００９】
また本発明は、前記第１の特徴の初期化装置において、前記主制御手段は、前記第３工程において、前記積層構造情報の層数及び層種順に、前記フォーカスエラー信号を検出したときの複数の駆動電圧値を当てはめたテーブル情報を閾値として設定し、該テーブル情報と駆動電圧値を用いることにより、記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号とを判別することを第３の特徴とする。
【００１０】
更に本発明は、記録層及び非記録層が積層された光ディスクの複数層を通過するようにレーザスポットを移動させるレーザスポット移動手段と、該レーザスポットの光ディスクからの反射光を基に前記焦点が合うように前記レーザスポット移動手段を制御するフォーカス制御手段と、前記レーザスポット移動手段の駆動電圧値を検出する駆動電圧検出手段と、前記レーザスポット移動手段とフォーカス制御手段と駆動電圧検出手段とを制御する主制御手段とを備え、光ディスクの層数及び層種順を含む積層構造情報を入力しておき、前記記録層にレーザスポットを照射して初期化を行う光ディスク初期化方法であって、
該主制御手段に、
前記レーザスポット焦点をレーザスポット移動手段を用いて光ディスクの複数層を通過させる第１工程と、
該第１工程による複数層に対する前記レーザスポット焦点の通過過程において前記フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値を駆動電圧検出手段から取得する第２工程と、
前記入力した積層構造情報の層数及び層種順と、前記第２工程により取得したフォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値とを基に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いることにより、前記レーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別し、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号と判別する第３工程と、
該第３工程により判別した正フォーカスエラー信号を検出した記録層にレーザスポットを照射して該記録層の初期化を行う第４工程とを行うように制御させることを第４の特徴とする。
【００１１】
また本発明は、前記第４の特徴の初期化方法において、前記主制御手段に、前記第３工程において判別した記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号を検出したときの駆動電圧値との間に閾値を設定し、該閾値と駆動電圧値を用いてレーザスポット焦点が記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号とを判別させることを第５の特徴とする。
【００１２】
また本発明は、前記第４の特徴の初期化方法において、前記主制御手段に、前記第３工程において、前記積層構造情報の層数及び層種順に、前記フォーカスエラー信号を検出したときの複数の駆動電圧値を当てはめたテーブル情報を閾値として設定し、該テーブル情報と駆動電圧値を用いることにより、記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を正フォーカスエラー信号と判別させ、非記録層を通過したときに発生したフォーカスエラー信号を誤フォーカスエラー信号とを判別させることを第６の特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明による光ディスク初期化装置及び光ディスク初期化方法は、予め判明している光ディスクの層数及び層順を含む層構造情報と、光ディスクの記録層をレーザスポットを通過させる過程においてフォーカスエラー信号発生が発生したレーザスポット移動手段の駆動電圧値とを基に、記録層を通過したときに発生した正フォーカスエラー信号と非記録層を通過したときに発生した誤フォーカスエラー信号とを判別し、正フォーカスエラー信号を検出した記録層にレーザスポットを照射して初期化を行うことによって、非記録層に対する初期化及び記録層の非初期化を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明による光ディスク初期化方法を適用した光ディスク初期化装置の一実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図１は本実施形態による光ディスク初期化装置の構成を示す図、図２は本実施形態によるフォーカスサーボを説明するための図、図３は本実施形態による光ディスク初期化装置の動作を説明するための図、図４は一般のカバー層付き光ディスクの初期化動作を説明するための図、図５は光ディスクの構造を示す一部断面図、図６は図４に示した初期化装置による誤フォーカスを説明するための図である。
【００１５】
［原理説明］
本願発明の理解を容易にするため、本願発明の原理を説明する。まず本発明の対象となるカバー層付きの光ディスクの初期化について説明する。まず一般の光ディスク初期化装置は、図４に示す如く、光ディスク３を矢印方向に回転させた状態において、対物レンズ１を介して対物レンズ焦点４が合わされたレーザスポット２を光ディスク３の半径内方から外方、もしくは半径外方から内方に向かう移動方向６に移動させることによって、カバー層７を介した記録層８の初期化を行うように構成されている。尚、図４は光ディスク３の初期化途中の状態を示し、符号９が初期化済領域、符号１０が未初期化領域を表している。
【００１６】
前記初期化の対象となる光ディスクとしては、例えば図５（ａ）に示す如く、基板１３上に第１の記録層１２と該第１の記録層を覆うカバー層１１を設けたカバー構造の光ディスクと、同図（ｂ）に示す如く、基板１７上に第１の記録層１６と該第１の記録層１６上に中間層を介して配置された第２の記録層１５と該第２の記録層１５上に設けられた透明な基板１４とを設けた多層構造の光ディスクが挙げられる。
【００１７】
ここで、例えばカバー層構造の光ディスクの記録層を初期化する際には、ディスクを円周方向に回転させた状態で、レンズアクチュエータ５の駆動により対物レンズ焦点４を記録層８にフォーカスサーボさせてからレーザパワーを初期化パワー可能出力に調整し、この光ディスク３上のレーザスポット２をディスク１回転当たりのレーザスポット移動方向６に移動させることで初期化が行われている。
【００１８】
このようなディスク記録層以外のカバー層を有する光ディスクを初期化する際、フォーカスサーチ動作時に対象としている第１の記録層１２ではなく、カバー層１１へ誤層フォーカスサーボする現象が見られることがある。前記多層構造の光ディスクにおいても同様に他の記録層に対して誤層フォーカスサーボする現象が見られることがある。
前記フォーカスサーチ動作時に、レンズアクチュエータの駆動により対物レンズ焦点位置をディスク記録層の上下方向に移動通過させることで得られるフォーカスエラー（ＦＥ）信号の数をディスク構造（層数及び層種順を含む積層構造情報）と照らし合わせることにより各記録層へフォーカスサーボしている。
【００１９】
発明者らは、この誤層フォーカスサーボ現象を検討した結果、この現象は、フォーカスサーチ制御を、前記フォーカスエラー（ＦＥ）信号の数をディスク構造（層数及び層種順を含む積層構造情報）と照らし合わせることにより各記録層へフォーカスサーボしていること、初期化対象とする光ディスクが製造直後においては記録層の反射率が低目なこと、記録層の状態によってはＳ／Ｎ比の良好な記録層からのフォーカスエラー信号を得ることが困難であること、カバー層から検出されるフォーカスエラー信号レベルが記録層からのフォーカスエラー信号レベルより大きいことにより、検出したフォーカスエラー信号数とディスク構造の照合が合わないことが原因であることを発見した。
【００２０】
これを具体的に説明すると、図６（ａ）に示す如く、例えば第１の記録層２５と第２の記録層２４とカバー層２３とを備える光ディスクの初期化を行う際、対物レンズ焦点位置２６が各層を順次上下方向に移動通過し、図６（ａ）に示す如く、対物レンズ焦点位置１８が図示の右上方向に移動し、各層を焦点位置２６が層を通過する前後（手前及び奥方向）においてフォーカスエラー（ＦＥ）信号のピーク波形１９〜２１が生じ、このピーク波形１９〜２１の数を計数することによって各記録層へのフォーカスサーボ制御を行い且つ製造直後の記録層の反射率が低目のために、カバー層が誤って記録層と検出されてしまい、誤層フォーカスサーボ現象が発生することを発見した。
【００２１】
そこで、発明者らは、フォーカスエラー（ＦＥ）信号が、レーザスポット焦点が各層を通過したときに得られる信号であり、このレンズアクチュエータの駆動電圧は安定した電圧信号且つ光ディスクの層構造に対する対物レンズ焦点上下位置に比例していることに着目し、予め各層を通過してフォーカスエラー信号が発生したときのレンズアクチュエータの駆動電圧値を検出しておき、この電圧値がデータ化されたフォーカスサーボ対象層以外の層により検出されたときには、フォーカスサーボ非対象層への誤層フォーカスサーボ動作としてエラーと判定することにより、誤層フォーカスサーボを防ぐ本願発明を成したものである。
【００２２】
尚、前記フォーカス制御は、光ディスクからの反射光をフォトディテクタの複数検出素子により受光し、この受光した受光量の差分値を算出することによって、ＦＥ信号がゼロの時は合焦点、ＦＥ信号が正の値のときは奥向きにフォーカスがずれていること、ＦＥ信号が負の値のときは手前にフォーカスがずれていることを判定することができ、該集光した焦点が層の奥及び手前位置に達したときに前述した図６に示した如き波形として出力される。
【００２３】
［構成］
本実施形態による光ディスク初期化方法を採用した光ディスク初期化装置は、基板１３上に設けられたカバー層１１及び第１記録層１２を有するカバー層構造の光ディスク４１にレーザスポット２を照射して記録層の初期化を行うものであって、レーザ光を発生する半導体レーザ素子部３３と、該半導体レーザ素子部３３から発生したレーザ光を集光したレーザスポット２を形成する対物レンズ１と、前記レーザスポット２の光ディスク４１からの反射光を入射し、焦点合わせのために該反射光の強度を電気信号に変換するフォーカス用光学系３４と、該フォーカス用光学系３４により検出したフォーカス検出信号及び半導体レーザ素子部３３からの素子駆動信号とを基に前記対物レンズ１の駆動制御を行う２層フォーカス制御回路３５と、該フォーカス制御回路３５からの制御信号を基に対物レンズを駆動するＶＣＭ（ボイスコイルモータ）５０を駆動するＶＣＭ駆動電圧を出力するＶＣＭドライバ３８と、前記ＶＣＭドライバ３８から出力されたＶＣＭ駆動電圧を検出するレンズアクチュエータ駆動信号検出回路３６と、後述する所定の閾値であるスライスレベルを設定するためのスライスレベル設定回路３７と、該スライスレベル設定回路３７からのスライスレベル信号及びレンズアクチュエータ駆動信号検出回路３６からの検出信号とを比較する比較器３９と、該比較器３９による比較結果を入力し、前記各回路を制御する主制御部であるＭＰＵ４０とから構成される。
【００２４】
尚、本実施形態においてはカバー層と第１記録層を有する光ディスクを初期化対象とする例を示すが、図５（ｂ）に示す２層以上の多層構造光ディスクであっても良い。
【００２５】
［動作］
この様に構成された光ディスクの初期化装置は、光ディスク４１を回転し、半導体レーザ素子部３３からのレーザ光を対物レンズ１を用いて集光したレーザスポット２の焦点を初期化対象の記録層１２に照射し、該レーザスポット２の焦点を光ディスク半径方向に所定速度で移動させることによって、第１の記録層１２の面振れや歪みに焦点４を追従させながら記録層表面に高出力半導体レーザ３３を用いて初期化を行うように動作するものである。
【００２６】
本実施形態によるフォーカス制御動作は、フォーカスエラー信号が、レンズアクチュエータを上下移動させて各層位置を対物レンズ焦点が通過したときに得られる信号であり、このレンズアクチュエータの駆動信号（電圧）が安定した電圧信号であり且つ光ディスクの層構造に対しての対物レンズ焦点上下位置に比例することを利用し、レンズアクチュエータ駆動信号が所定の閾値（スライスレベル）以上の範囲において発生したフォーカスエラー信号は記録層に対するフォーカスエラー信号ではない誤フォーカスエラー信号と判定することによって、初期化時の誤層フォーカスを防止するように動作する。
【００２７】
これを具体的に説明すると、図２（ａ）に示す如きカバー層に誤フォーカスサーボした場合と図２（ｂ）に示す如き記録層に正フォーカスサーボした場合とでは、フォーカスサーボ時の焦点位置が異なることに起因するレンズアクチュエータ駆動電圧も明らかに異なるレベルとなることを利用し、前記スライスレベル設定回路３７に設定する閾値を、カバー層に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以下、且つ第１記録層に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以上の間の値に設定することによって、誤層フォーカスを防止する。尚、前記閾値の範囲は、例えば光ディスクが、図５（ｂ）に示した第１記録層及び第２記録層を有する記録媒体の場合、閾値を、基板１４の表面に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以下、且つ第２記録層に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以上の間の値、もしくは第２の記録層に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以下、且つ第１の記録層に焦点が位置するときのレンズアクチュエータ駆動電圧以上の間の値に設定する。即ち、本実施形態による前記閾値の設定は、誤って記録層と検出してしまう可能性がある層カバー層や基板表面や他の記録層にレーザスポット２の焦点が通過したときの正アクチュエータ駆動電圧値を予め設定しておき、この設定した範囲の駆動電圧時に検出された誤フォーカスエラー信号を計数しないことによって誤フォーカスを防止して記録層の初期化を行うことができる。
【００２８】
本実施形態による光ディスク初期化装置の具体的動作は、図３に示す如く、ＭＰＵ４０が、光ディスク４１を回転した状態で半導体レーザ素子部３３からフォーカス検知用パワーのレーザ光を発光させ、図２（ａ）に示したカバー層フォーカスエラー信号２７及び記録層フォーカスエラー信号２９を検出し、予め初期化対象となる光ディスクがカバー層と第１記録層を有するカバー層構造である層構造情報（層数及び層種順）を基に前記エラー信号２７が初期化対象ではないカバー層であること（非記録層であること）を判定し、このカバー層フォーカスエラー信号２７検出時のアクチュエータ駆動電圧値を検出するステップＳ６０と、該検出した駆動電圧未満且つ記録層フォーカスエラー信号２９検出時の駆動電圧値以上の範囲の駆動電圧値をスライスレベルである閾値Ｌとして設定するステップＳ６１と、ＶＣＭ５０を用いて対物レンズ焦点４を上又は下方向に移動させることによってフォーカスエラー信号２７及び２９を検出するフォーカスサーチ動作を実施するステップＳ６２と、前記ステップＳ６２時におけるフォーカスエラー信号２７及び２９を検出したときのアクチュエータ駆動電圧値を検出するステップＳ６３と、該ステップＳ６３において検出した駆動電圧値が前記ステップＳ６１にて設定した閾値（スライスレベル）以下か否かを判定し、閾値以下のときに前記ステップＳ６２に戻るステップＳ６４と、該ステップＳ６４において閾値以下と判定したときに記録層の初期化動作を開始するためにレーザパワーを初期化用に変更して初期化を行うステップＳ６５とを実行することによって、第１記録層１２のみを初期化することができる。
【００２９】
このように本実施形態においては、カバー層等の初期化対象外の層によるフォーカスエラー信号と記録層によるフォーカスエラー信号とを該フォーカスエラー信号検出時のアクチュエータ駆動信号により判定し、初期化対象外の非記録層を除外することによって記録層に対するフォーカス位置を判定し、記録層に対する初期化を行うことができる。更に本実施形態においては、通常の相変化型光ディスクは初期化前後で反射率が異なり、記録層の判別が困難なものであるが、ディスク反射率の影響を受けずに記録層を判定して初期化を行うことができる。
【００３０】
尚、本実施形態においては、カバー層と第１記録層を有する光ディスクを初期化対象とする例を示すが、記録層を多層に形成した光ディスクを対象としても良く、この場合、ＭＰＵ４０は、予め入力された光ディスクの種類の情報とフォーカスサーチを行った際のフォーカスエラー信号とを基に初期化対象でない層に応じて前記閾値を設定することによっても本発明を実施することができる。また前記実施形態においては、閾値を設定する例を説明したが、本発明はこれに限られるものではなく、光ディスクの種類に応じて、記録層やカバー層検出電圧の範囲を面揺れを考慮してデータ化してメモリに記憶し、該メモリに設定したデータ（駆動電圧値）範囲に応じて記録層以外のフォーカスエラー信号を弁別するように構成しても良い。即ち、光ディスクの積層構造情報に含まれる記録層及び非記録層の数及び順番に、フォーカスエラー信号を検出したときのアクチュエータ駆動電圧の値を当てはめたテーブル情報を生成し、このテーブル情報を用いてフォーカスエラー信号を弁別し、記録層のみに初期化を行うように動作しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本実施形態による光ディスク初期化装置の構成を示す図。
【図２】本実施形態によるフォーカスサーボを説明するための図。
【図３】本光ディスク初期化装置の動作を説明するための図。
【図４】一般のカバー層付き光ディスクの初期化動作を説明するための図。
【図５】光ディスクの構造を示す一部断面図。
【図６】図４に示した初期化装置による誤フォーカスを説明するための図。
【符号の説明】
【００３２】
１：対物レンズ、２：レーザスポット、３：相変化型光ディスク、４：対物レンズ焦点、５：レンズアクチュエータ、６：レーザスポット移動方向、７：カバー層、８：記録層、１１：カバー層、１２：記録層、１３：基板、１４：基板、１５：記録層、１６：記録層、１７：基板、１８：対物レンズ焦点位置、２３：カバー層、２４：記録層、２５：記録層、２６：対物レンズ焦点位置、２７：カバー層フォーカスエラー信号、２９：記録層フォーカスエラー信号、３３：半導体レーザ素子部、３４：フォーカス用光学系、３５：２層フォーカス制御回路、３６：レンズアクチュエータ駆動信号検出回路、３７：スライスレベル設定回路、３８：ＶＣＭドライバ、３９：比較器、４１：カバー層構造ディスク。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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