(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される測定装置が搭載された信号入力回路であって、
前記測定装置の内部に設けられると共に、測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、
一端が前記測定経路に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、
前記測定装置内部に設けられ、前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通，遮断する検査スイッチと、
前記測定装置内部に設けられ、前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記測定装置内部に設けられ、前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、
前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項２】
請求項１に記載の信号入力回路において、
前記制御部は、前記端子検査電圧値を第１端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理と、前記端子検査電圧値を、該第１検査電圧値とは異なる第２端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項３】
請求項１に記載の信号入力回路において、
前記測定時異常検出処理における前記端子検査電圧値は、該測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理の対象となる前記入力信号を対象として、直前に実行された前記測定処理にて測定された電圧値である前回値に基づき設定されること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項４】
請求項３に記載の信号入力回路において、
前記変動範囲内の電圧値である閾値が設定されていると共に、前記変動範囲内の電圧値であって、前記閾値を越える電圧値である第１端子検査電圧値と、前記変動範囲内の電圧値であって、前記閾値を下回る電圧値である第２端子検査電圧値とが設定されており、
前記制御部は、前記前回値が前記閾値を越える場合には、前記端子検査電圧値を前記第２端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理を実行し、該前回値が前記閾値を下回る場合には、前記端子検査電圧値を前記第１端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理を実行すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項５】
請求項１から請求項４のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記検査コンデンサは、前記測定装置の外部に設けられていること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項６】
請求項１から請求項５のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記検査コンデンサの容量は、前記測定装置内部に生じる寄生容量よりも十分大きいこと、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項７】
請求項１から請求項６のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
一端が前記信号入力端子に接続されると共に、他端が基準電位に接続された入力側コンデンサをさらに備えること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項８】
請求項７に記載の信号入力回路において、
前記入力側コンデンサの容量は、前記検査コンデンサの容量よりも大きいこと、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項９】
請求項７または請求項８に記載の信号入力回路において、
予め定められた期間において、前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知部をさらに備え、
前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、さらに、前記電圧変化検知部により、前記導通手順が行われる前の第１時点から、該導通手順が行われた後の第２時点にかけて、前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知し、該測定時異常検出処理にて検知された前記測定経路の電圧値の変化に基づき、当該測定時異常検出処理にて検出される前記端子異常に係る前記信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサについての異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１０】
請求項９に記載の信号入力回路において、
前記電圧変化検知部は、
前記測定経路の電圧値を保持する電圧値保持回路と、
前記測定経路の電圧値と、前記電圧値保持回路に保持された電圧値との差分を検知し、該差分を保持する差分保持回路と、
を備え、
前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、前記電圧値保持回路により前記第１時点の前記測定経路の電圧値を保持させると共に、前記差分保持回路により、前記電圧値保持回路に保持された電圧値と、前記第２時点の前記測定経路の電圧値の差分を保持させることで、前記第１時点と前記第２時点との間で前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１１】
請求項２を引用する請求項９または請求項１０に記載の信号入力回路において、
前記制御部は、前記第１端子検査電圧値での前記電圧印加を伴う前記測定時異常検出処理において検知された前記測定経路の電圧値の変化と、前記第２端子検査電圧値での前記電圧印加を伴う前記測定時異常検出処理において検知された前記測定経路の電圧値の変化とに基づき、前記入力側コンデンサについての異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１２】
請求項１から請求項１１のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記測定装置には、異なる前記入力信号が入力される複数の前記信号入力端子が設けられており、
それぞれの前記信号入力端子と前記測定経路との間を導通，遮断する選択スイッチをさらに備え、
前記測定部は、いずれか一つの前記信号入力端子から入力された前記入力信号を測定対象とし、前記選択スイッチにより、該測定対象の前記入力信号が入力される前記信号入力端子と前記測定経路との間が導通されると共に、他の前記信号入力端子と前記測定経路との間が遮断された状態で、前記測定処理を実行し、
前記制御部は、前記測定対象の前記入力信号が入力される前記信号入力端子についての前記測定時異常検出処理を実行すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１３】
請求項７を引用する請求項１２に記載の信号入力回路において、
前記信号入力端子に接続され、該信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサと共にフィルタ回路をなす入力側抵抗をさらに備え、
前記制御部は、
いずれか一つの前記信号入力端子に接続された前記入力側抵抗を検査対象として、該入力側抵抗についての異常である抵抗異常を検出するための抵抗異常検出処理をさらに実行し、
前記抵抗異常検出処理において、前記検査スイッチと前記選択スイッチとにより、前記検査コンデンサと、検査対象の前記入力側抵抗に接続される前記信号入力端子との間を遮断させた後、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた抵抗検査電圧値に設定し、その後、前記選択スイッチ及び前記検査スイッチにより、前記検査コンデンサと該信号入力端子との間を導通させる手順を複数回にわたり行い、
同一の前記入力側抵抗を検査対象として、前記抵抗検査電圧値を第１抵抗検査電圧値とした前記抵抗異常検出処理と、前記抵抗検査電圧値を、前記第１抵抗検査電圧値とは異なる第２抵抗検査電圧値とした前記抵抗異常検出処理とを実行し、各抵抗異常検出処理を実行した後に前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記抵抗異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１４】
請求項１２または請求項１３に記載の信号入力回路において、
前記制御部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させた後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、前記測定部に前記測定処理を実行させる検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理での前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記検査スイッチの異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１５】
請求項１２から請求項１４のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記制御部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断した状態で、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、前記選択スイッチにより全ての前記信号入力端子と前記測定経路との間を遮断させた状態で、前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させ、さらにその後、前記測定部に前記測定処理を実行させる充放電部異常検出処理をさらに実行し、
該充放電部異常検出処理での前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記充放電部と、前記選択スイッチと、前記検査スイッチと、前記検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１６】
請求項１から請求項１５のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記測定装置を二つ備えると共に、
前記測定装置での前記測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う処理装置をさらに備え、
前記処理装置は、いずれか一方の前記測定装置にて実行された前記異常検出処理にて異常が検出された場合には、他方の前記測定装置での前記測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行うこと、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１７】
請求項１から請求項１６のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記測定装置内部に設けられ、前記測定処理にて生成された前記測定値データと、該測定処理と並行して実行された前記測定時異常検出処理にて検出された異常を示すデータとを並行して送信する送信部をさらに備えること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１８】
請求項１から請求項１６のうちのいずれか１項に記載の信号入力回路において、
前記測定値データと、該測定値データを生成した前記測定処理と並行して実行された前記測定時異常検出処理にて検出された前記端子異常の有無を示すデータとを保存する保存部をさらに備えること、
を特徴とする信号入力回路。
【請求項１９】
予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、
測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、
一端が前記測定経路に接続されると共に他端が基準電位に接続された状態で当該集積回路の外部に設けられた検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通，遮断する検査スイッチと、
前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、
前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、
を特徴とする集積回路。
【請求項２０】
予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、
測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、
一端が前記測定経路に接続されると共に他端が基準電位に接続された検査コンデンサと、
前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通，遮断する検査スイッチと、
前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、
前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、
を特徴とする集積回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外部から入力された入力信号に応じて処理を行う信号入力回路等に関する。
【背景技術】
【０００２】
エンジンの内部の温度を測定する温度センサや、スロットル開度を検知するスロットルセンサ等、車両には多くのセンサが搭載されており、車載装置では、このようなセンサからの入力信号の電圧レベルをＡＤ変換により検知する等して各種測定が行われる。このような車載装置では、従来から、ＡＤ変換により検知された入力信号の電圧レベルに基づき、センサの故障検出が行われていた。なお、車載用途では、外来ノイズの影響を受け易い環境にあることから、センサのダイナミックレンジを広く取り、外来ノイズの影響を最小限にする必要がある。一方、ＡＤ変換を行うＩＣにおける入力信号の入力端子のオープンが生じた際には、ＩＣ内部に生成される寄生容量によりＡＤ変換回路への入力電圧レベルが不定となってしまい、ＡＤ変換の結果から入力端子のオープンを検出することはできなかった。入力端子オープン等を検出する方法として、複数のセンサ、複数の入力回路、複数のＡＤコンバータで多重化した上で、複数のＡＤ変換結果の関係性から判定する方法があるが、当然ながらコストアップしてしまう。
【０００３】
そこで、特許文献１には、センサ等から入力信号が入力される入力端子と、信号ラインにより入力端子に接続されたＡＤコンバータと、信号ラインと他のラインとの間に設けられたコンデンサと、コンデンサと入力端子との間の接続状態を制御するために信号ライン上に設けられたＳＷとを有する断線検出装置について記載されている。この断線検出装置は、ＡＤ変換を行わない期間に、ＳＷによりコンデンサと入力端子との間が遮断されると共に、コンデンサが負電源に接続され、コンデンサの両端は、入力信号の電圧の変動範囲外となる負の電圧に設定される。そして、ＡＤ変換を行う際には、ＳＷによりコンデンサと入力端子とＡＤコンバータとが互いに接続され、ＡＤ変換では、正常時には入力端子の電圧値が検知されると共に、入力端子のオープン発生時にはコンデンサにより生成される負の電圧が検知される。ゆえに特許文献１に記載の発明では、ＡＤコンバータを入力信号の変動範囲よりも広範囲の電圧を検知可能な構成とする必要があり、ＡＤコンバータの構成が複雑化、大型化してしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−５５９６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の断線検出装置によれば、入力端子のオープンの検出が可能となるが、一定期間にわたりコンデンサに負の電圧を印加して該コンデンサに負の電圧を設定した後にＡＤ変換を開始する必要があり、入力信号の電圧値の検知が遅延してしまう。
【０００６】
本願発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、入力信号の電圧値の検知を遅延させること無く、入力信号が入力される信号入力端子のオープンや、入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を検出することができる信号入力回路等を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題に鑑みてなされた請求項１に記載の発明は、予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される測定装置が搭載された信号入力回路に関するものである。この信号入力回路は、測定装置の内部に設けられると共に、測定経路を介して信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された入力信号の電圧値を測定する測定部と、一端が測定経路に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、測定装置内部に設けられ、検査コンデンサと測定経路とを結ぶ検査経路を導通，遮断する検査スイッチと、を備える。また、測定装置内部に設けられ、検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、測定装置内部に設けられ、測定部による測定処理に並行して、信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、を備える。
【０００８】
そして、制御部は、測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される測定処理の開始後から読取手順が終了するまでの間において、検査スイッチにより検査経路を遮断させ、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の読取手順の終了前に検査スイッチにより検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。
【０００９】
なお、端子異常とは、例えば、信号入力端子のオープンや、測定経路や検査経路等といった、該入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を意味する。
まず、端子異常の検出について説明する。請求項１に記載の測定時異常検出処理では、充放電手順にて検査コンデンサが端子検査電圧値に設定され、その後、導通手順により、検査コンデンサと信号入力端子との間が導通される。このとき、端子異常が生じている場合には、検査コンデンサは測定装置の外部に導通されず、検査コンデンサの充放電が行われないため、測定経路の電圧値は、検査コンデンサにより生成される端子検査電圧値、或いはその付近の電圧値となる。一方、端子異常が生じていない場合には、検査コンデンサの充放電が行われ、測定経路の電圧値は、一時的に検査コンデンサにより生成される端子検査電圧値付近の値となるが、その後、入力信号の電圧値となる。したがって、測定部により測定された電圧値が端子検査電圧値或いはその付近の値かどうかを判定することで、端子異常の発生を検出することができる。
【００１０】
なお、導通手順を行った後の測定経路の電圧値が端子検査電圧値周辺である場合には、端子異常が生じているとみなすことができる。このため、仮に、測定処理にて逐次変換方式のＡＤ変換により電圧値が測定されている場合には、測定値データの生成の完了を待つ必要は無く、ＡＤ変換の途中で得られる所定ビット数分のデータに基づき端子異常の有無について判定することができる。したがって、端子異常の検出に係るデータとは、測定処理にて生成された測定値データ、或いは、ＡＤ変換の途中で得られる所定ビット数分のデータを意味し、該所定ビット数分のデータを用いることで、ＡＤ変換の完了を待つことなく、早期に端子異常を検出することができる。
【００１１】
また、請求項１に記載の信号入力回路では、測定部と信号入力端子とが測定経路を介して接続されていると共に、検査コンデンサは検査経路を介して測定経路に接続されており、検査経路は検査スイッチにより導通，遮断される。このため、測定部と信号入力端子との間の接続状態を維持したまま検査経路を導通，遮断することができ、信号入力端子，測定経路を介して測定部に入力信号を入力させつつ、検査コンデンサの充放電を行うことができる。すなわち、測定処理の読取手順による入力信号の電圧の読み取りと、検査コンデンサの電圧の設定との同時進行が可能な構成となっており、制御部は、遅くとも読取手順の完了までに、検査コンデンサを端子検査電圧値に設定して検査コンデンサと測定経路とを導通させることで、測定処理と測定時異常検出処理とを並行して実行するのである。
【００１２】
このように、請求項１に記載の信号入力回路では、入力信号の電圧値を測定する測定処理と並行して、端子異常を検出する測定時異常処理が実行される。したがって、該信号入力回路によれば、入力信号の電圧値の検知を遅延させること無く、信号入力端子のオープンや、該入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を検出することができる。
【００１３】
一方、仮に入力信号の電圧値が端子検査電圧値付近である場合には、端子異常が発生していなくても、測定時異常検出処理の導通手順を経た後の測定経路の電圧値は端子検査電圧値付近となる。
【００１４】
そこで、請求項２に記載の信号入力回路では、制御部は、端子検査電圧値を第１端子検査電圧値とした測定時異常検出処理と、端子検査電圧値を、該第１検査電圧値とは異なる第２端子検査電圧値とした測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。
【００１５】
こうすることにより、第１端子検査電圧値での測定時異常検出処理を実行した後の測定経路の電圧値が第１端子検査電圧値の付近であり、尚且つ、第２端子検査電圧値での測定時異常検出処理を実行した後の測定経路の電圧値が第２端子検査電圧値の付近である場合に、端子異常が生じているとみなすことができる。このため、仮に、端子異常が生じていない場合に、入力信号の電圧値が第１端子検査電圧値付近、或いは第２端子検査電圧値付近となっていたとしても、端子異常が誤検出されてしまうことを防ぐことができる。
【００１６】
また、入力信号の電圧値が緩やかに変動する場合には、現在の入力信号の電圧値を、直前の入力信号の測定値付近とみなすことができる。
そこで、請求項３に記載の信号入力回路では、制御部は、端子検査電圧値を第１端子検査電圧値とした測定時異常検出処理と、端子検査電圧値を、該第１検査電圧値とは異なる第２端子検査電圧値とした測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。
【００１７】
こうすることにより、現在の入力信号の電圧値と端子検査電圧値との差分を十分な大きさにすることができ、１回の測定時異常検出処理で端子異常を検出することができる。
なお、具体的には、請求項４に記載されているように、変動範囲内の電圧値である閾値が設定されていると共に、変動範囲内の電圧値であって、閾値を越える電圧値である第１端子検査電圧値と、変動範囲内の電圧値であって、閾値を下回る電圧値である第２端子検査電圧値とが設定されていても良い。そして、制御部は、前回値が閾値を越える場合には、端子検査電圧値を第２端子検査電圧値とした測定時異常検出処理を実行し、該前回値が閾値を下回る場合には、端子検査電圧値を第１端子検査電圧値とした測定時異常検出処理を実行しても良い。
【００１８】
こうすることにより、現在の入力信号の電圧値と端子検査電圧値との差分を、確実に十分な大きさにすることができる。
なお、請求項５に記載されているように、検査コンデンサは、測定装置の外部に設けられていても良い。
【００１９】
こうすることにより、測定装置内部の寄生容量等に応じて、検査コンデンサの容量を容易に変更することができる。
また、請求項６に記載されているように、検査コンデンサの容量は、測定装置内部に生じる寄生容量よりも十分大きくても良い。
【００２０】
こうすることにより、端子検査電圧値が設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させるに際して、寄生容量の影響による測定経路の電圧値の変化を抑えることができる。このため、端子異常が生じた場合に、測定時異常検出処理の導通手順により高い精度で測定経路を端子検査電圧値にすることができ、端子異常の検出精度を高めることができる。
【００２１】
また、請求項７に記載されているように、一端が信号入力端子に接続されると共に、他端が基準電位に接続された入力側コンデンサをさらに備えていても良い。
こうすることにより、端子異常が生じていない場合において、測定経路と基準電位との間の容量を大きくすることができ、導通手順を行うことによる測定経路の電圧値の変動を抑えることができる。このため、測定時異常検出処理の影響による入力信号の電圧値の測定誤差を抑えることができる。
【００２２】
なお、請求項８に記載されているように、入力側コンデンサの容量は、検査コンデンサの容量よりも大きくても良い。
こうすることにより、信号入力端子の電圧値の変化を抑えることができ、測定時異常検出処理の影響による入力信号の電圧値の変動を抑えることができる。
【００２３】
ところで、入力側コンデンサが設けられていない場合には、端子検査電圧値に設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させることで、測定経路の電圧値は一時的に端子検査電圧値付近まで変動する。一方、入力側コンデンサが設けられている場合には、測定経路と基準電位との間の容量が大きくなり、端子検査電圧値に設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させた際の測定経路の電圧値の変動幅は、入力側コンデンサが設けられていない場合に比べ小さくなる。
【００２４】
そこで、請求項９に記載の信号入力回路は、予め定められた期間において、測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知部をさらに備える。そして、制御部は、測定時異常検出処理において、さらに、電圧変化検知部により、導通手順が行われる前の第１時点から、該導通手順が行われた後の第２時点にかけて、測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知し、該測定時異常検出処理にて検知された測定経路の電圧値の変化に基づき、当該測定時異常検出処理にて検出される端子異常に係る信号入力端子に接続された入力側コンデンサについての異常を検出する。
【００２５】
なお、測定経路の変動幅を検知する電圧変化検知部は、次のように構成されていても良い。
すなわち、請求項１０に記載されているように、電圧変化検知部は、測定経路の電圧値を保持する電圧値保持回路と、測定経路の電圧値と、電圧値保持回路に保持された電圧値との差分を検知し、該差分を保持する差分保持回路と、を備えても良い。そして、制御部は、測定時異常検出処理において、電圧値保持回路により第１時点の測定経路の電圧値を保持させると共に、差分保持回路により、電圧値保持回路に保持された電圧値と、第２時点の測定経路の電圧値の差分を保持させることで、第１時点と第２時点との間で測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知しても良い。
【００２６】
こうすることにより、導通手順の前後で測定経路の電圧値がどの程度変動するかを検知すると共に、検知された変動幅が一定値以上である場合には入力側コンデンサの端子のオープンが生じているとみなすことができ、測定処理に並行して入力側コンデンサのオープンを検出することができる。
【００２７】
しかしながら、入力信号の電圧値が端子検査電圧値に近い値である場合には、入力側コンデンサのオープンが生じていても、導通手順の前後で測定経路の電圧値が十分に変動せず、入力側コンデンサのオープンを検出することができない。
【００２８】
そこで、請求項１１に記載の信号入力回路では、制御部は、第１端子検査電圧値での電圧印加を伴う測定時異常検出処理において検知された測定経路の電圧値の変化と、第２端子検査電圧値での電圧印加を伴う測定時異常検出処理において検知された測定経路の電圧値の変化とに基づき、入力側コンデンサについての異常を検出する。
【００２９】
こうすることにより、第１端子検査電圧値と第２端子検査電圧値のうちの一方については、入力信号の電圧値との差分を十分なものとすることができる。このため、入力側コンデンサのオープンが生じている場合には、第１端子検査電圧値での測定時異常検出処理と、第２端子検査電圧値での測定時異常検出処理のうちの少なくとも一方の導通手順の前後で、測定経路の電圧値を十分に変動させることができる。したがって、これらの測定時異常検出処理により検知された測定経路の電圧値の変化に基づき入力側コンデンサのオープンが生じているかについて判定することで、確実に入力側コンデンサのオープンを検出することができる。
【００３０】
また、信号入力回路は、複数の入力信号が入力される多チャンネルの回路として構成されていても良い。
すなわち、請求項１２に記載されているように、測定装置には、異なる入力信号が入力される複数の信号入力端子が設けられており、それぞれの信号入力端子と測定経路との間を導通，遮断する選択スイッチをさらに備えても良い。そして、測定部は、いずれか一つの信号入力端子から入力された入力信号を測定対象とし、選択スイッチにより、該測定対象の入力信号が入力される信号入力端子と測定経路との間が導通されると共に、他の信号入力端子と測定経路との間が遮断された状態で、測定処理を実行し、制御部は、測定対象の入力信号が入力される信号入力端子についての測定時異常検出処理を実行しても良い。
【００３１】
こうすることにより、測定装置に設けられた各信号入力端子についての端子異常等を検出することができる。
ところで、検査コンデンサの電圧値を予め定められた検査電圧値に設定した後に、いずれかの信号入力端子と検査コンデンサとの間を導通させると、該信号入力端子に設けられた入力側コンデンサと検査コンデンサとの間で電荷の移動が生じ、該信号入力端子の電圧変化が生じる。ここで、測定装置の各信号入力端子には、入力側コンデンサと共にフィルタ回路を構成する入力側抵抗が設けられていても良く、このような入力側抵抗のオープンが生じていない場合には、検査コンデンサや入力側コンデンサと外部との間で電荷が移動するため、上記電圧変化が生じた後、信号入力端子の電圧値は入力信号の電圧値に戻る。これに対し、入力側抵抗のオープンが生じている場合には、外部との間で電荷の移動が生じず、変化後の電圧が維持される。このため、入力側抵抗のオープンが生じている場合に、検査コンデンサに検査電圧値を設定する処理と、該検査コンデンサといずれかの信号入力端子との間を導通させる処理とを繰り返すと、該信号入力端子の電圧が段階的に変化し、検査電圧値に近づく。したがって、これらの処理を繰り返した後の信号入力端子の電圧値を検知することで、入力側抵抗のオープンを検出することができる。
【００３２】
しかしながら、入力信号の電圧値が検査電圧値付近である場合には、入力側抵抗のオープンが生じていない場合であっても、上記処理を繰り返した後には、信号入力端子は検査電圧値付近の電圧値となる。
【００３３】
そこで、請求項１３に記載の信号入力装置は、信号入力端子に接続され、該信号入力端子に接続された入力側コンデンサと共にフィルタ回路をなす入力側抵抗をさらに備え、制御部は、いずれか一つの信号入力端子に接続された入力側抵抗を検査対象として、該入力側抵抗についての異常である抵抗異常を検出するための抵抗異常検出処理をさらに実行する。そして、制御部は、抵抗異常検出処理において、検査スイッチと選択スイッチとにより、検査コンデンサと、検査対象の入力側抵抗に接続される信号入力端子との間を遮断させた後、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた抵抗検査電圧値に設定し、その後、選択スイッチ及び検査スイッチにより、検査コンデンサと該信号入力端子との間を導通させる手順を複数回にわたり行う。さらに、制御部は、同一の入力側抵抗を検査対象として、抵抗検査電圧値を第１抵抗検査電圧値とした抵抗異常検出処理と、抵抗検査電圧値を、第１抵抗検査電圧値とは異なる第２抵抗検査電圧値とした抵抗異常検出処理とを実行し、各抵抗異常検出処理を実行した後に測定処理により測定された電圧値に基づき、抵抗異常を検出する。
【００３４】
こうすることにより、第１抵抗検査電圧値での抵抗異常検出処理を実行した後の信号入力端子の電圧値が第１抵抗検査電圧値の付近であり、尚且つ、第２抵抗検査電圧値での抵抗異常検出処理を実行した後の信号入力端子の電圧値が第２抵抗検査電圧値の付近である場合に、入力側抵抗のオープンが生じているとみなすことができる。このため、仮に入力信号の電圧値が第１抵抗検査電圧値付近、或いは第２抵抗検査電圧値付近であったとしても、入力側抵抗のオープンが誤検出されてしまうことを防ぐことができる。
【００３５】
ところで、検査スイッチのＯＮ固着が生じている場合には、検査コンデンサと検査経路とは同じ電圧値となる。
そこで、請求項１４に記載の信号入力回路では、制御部は、検査スイッチにより検査経路を遮断させた後に、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、測定部に測定処理を実行させる検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理での測定処理により測定された電圧値に基づき、検査スイッチの異常を検出する。
【００３６】
こうすることにより、検査スイッチのＯＮ固着の検出が可能となる。
また、請求項１５に記載の信号入力回路では、制御部は、検査スイッチにより検査経路を遮断した状態で、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、選択スイッチにより全ての信号入力端子と測定経路との間を遮断させた状態で、検査スイッチにより検査経路を導通させ、さらにその後、測定部に測定処理を実行させる充放電部異常検出処理をさらに実行する。そして、充放電部異常検出処理での測定処理により測定された電圧値に基づき、充放電部と、選択スイッチと、検査スイッチと、検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出する。
【００３７】
すなわち、充放電部異常検出処理により検査経路が導通されると、正常時には、測定経路は検査電圧値となる。しかしながら、そもそも検査コンデンサに検査電圧値が設定されていない場合（すなわち、充放電部や検査コンデンサに異常が生じている場合）や、測定経路と外部入力端子とが導通されており、測定経路に入力信号が入力されている場合（すなわち、選択スイッチのＯＮ固着が生じている場合）には、測定経路は検査電圧値とならない。また、検査スイッチのＯＦＦ固着により検査コンデンサと測定経路とが導通されない場合においても、測定経路は検査電圧値とならない。
【００３８】
このため、請求項１５に記載の信号入力回路によれば、充放電部異常検出処理での測定処理により測定された電圧値と検査電圧値とを比較する等して、充放電部と、選択スイッチと、検査スイッチと、検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出することができる。
【００３９】
また、端子異常等の検出機能を備えていない従来のＡＤコンバータにより入力信号の電圧を高精度で測定するためには、例えば、一つの入力信号を少なくとも３つのＡＤコンバータに入力して同時に３つ以上の測定値を取得し、これらの測定値から乖離した測定値を除くと共に、残った測定値の平均値を算出する等といった方法を採る必要がある。しかしながら、請求項１等に記載の測定装置によれば、端子異常等の検出結果に基づき、測定処理により得られた入力信号の電圧値が正確かどうかを判定することができる。
【００４０】
そこで、請求項１６に記載の信号入力回路は、測定装置を二つ備えると共に、測定装置での測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う処理装置をさらに備え、処理装置は、いずれか一方の測定装置にて実行された異常検出処理にて異常が検出された場合には、他方の測定装置での測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う。
【００４１】
こうすることにより、一方の測定装置にて端子異常等が生じ、入力信号の電圧の正確な測定ができなくなった場合には、他方の測定装置から測定値を得ることができ、入力信号の電圧値を測定する装置の数を減らしつつ、高精度に入力信号の測定を行うことができる。
【００４２】
また、請求項１７に記載されているように、信号入力回路は、測定装置内部に設けられ、測定処理にて生成された測定値データと、該測定処理と並行して実行された測定時異常検出処理にて検出された異常を示すデータとを並行して送信する送信部をさらに備えていても良い。
【００４３】
こうすることにより、測定値データを受け取る装置は、測定装置にて端子異常等が生じているかを把握することができ、端子異常等の発生の有無に基づき、受け取った測定値データが示す電圧値が正確かどうかを判定することができる。
【００４４】
また、請求項１８に記載されているように、信号入力回路は、測定値データと、該測定値データを生成した測定処理と並行して実行された測定時異常検出処理にて検出された端子異常の有無を示すデータとを保存する保存部をさらに備えていても良い。
【００４５】
このような構成であっても、端子異常等の発生の有無に基づき、測定値データが示す電圧値が正確かどうかを判定することができる。
なお、請求項５等に記載の信号入力回路に搭載された測定装置を集積回路として構成し、流通させても良い（請求項１９）し、検査コンデンサが内蔵された請求項１等に記載の測定装置を集積回路として構成し、流通させても良い（請求項２０）。このような集積回路を用いた場合であっても、同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】センサ信号入力回路の構成を示すブロック図である。
【図２】センサ信号入力回路におけるＡＤ変換ＩＣ等の構成を示すブロック図である。
【図３】第１実施形態におけるマイコン−ＡＤ変換ＩＣ間の通信についてのタイミングチャートである。
【図４】第１実施形態におけるＡＤ変換等の実行タイミングと、応答データの送信タイミングについてのタイミングチャートである。
【図５】第１実施形態における第１測定時異常検出処理についてのタイミングチャートである。
【図６】第１実施形態における第２測定時異常検出処理についてのタイミングチャートである。
【図７】第１実施形態における５Ｖチャージ処理のフローチャートと、０Ｖチャージ処理のフローチャートである。
【図８】第１実施形態における第１測定時異常検出処理のフローチャートと、第２測定時異常検出処理のフローチャートである。
【図９】第１実施形態におけるＳＷ等異常検出処理のフローチャートである。
【図１０】第１実施形態における入力側抵抗異常検出処理のフローチャートである。
【図１１】第２実施形態におけるＡＤ変換等の実行タイミングと、応答データの送信タイミングについてのタイミングチャートである。
【図１２】第２実施形態における測定時異常検出処理についてのタイミングチャートである。
【図１３】第２実施形態における測定時異常検出処理のフローチャートである。
【図１４】第３実施形態におけるマイコン−ＡＤ変換ＩＣ間の通信についてのタイミングチャートである。
【図１５】第３実施形態におけるＡＤ変換等の実行タイミングと、応答データの送信タイミングについてのタイミングチャートである。
【図１６】他の実施形態のセンサ信号入力回路の構成を示すブロック図である。
【図１７】ＡＤ変換結果取得処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００４７】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明の実施の形態は、下記の実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採りうる。
【００４８】
［構成の説明］
図１は、本実施形態のセンサ信号入力回路１００の構成を示すブロック図である。このセンサ信号入力回路１００には、温度センサや車両のアクセルの操作状態を検知するスロットルセンサ等のように、測定対象の状態やユーザの操作に応じて０Ｖ〜５Ｖの範囲で電圧値が変化するセンサ信号を生成する複数の第１〜第Ｎセンサ２００ａ〜２００ｃが接続されている。そして、センサ信号入力回路１００は、これらのセンサから入力されたセンサ信号の電圧値をＡＤ変換により検知すると共に、該電圧値に応じて当該回路に接続された外部装置２５０に各種信号を送信し、これらを制御するよう構成されている。
【００４９】
具体的には、センサ信号入力回路１００は、第１〜第Ｎセンサ２００ａ〜２００ｃや外部装置２５０を接続するコネクタ１２０と、コネクタ１２０を介して第１〜第Ｎセンサ２００ａ〜２００ｃから入力されたセンサ信号のノイズを除去するための第１〜第Ｎフィルタ回路１４０ａ〜１４０ｃと、センサ信号のＡＤ変換を行うＡＤ変換ＩＣ１１０と、を備える。また、センサ信号入力回路１００は、ＡＤ変換ＩＣ１１０からシリアルバス１７０を介してセンサ信号の電圧値を取得し、該電圧値に基づき各種処理を実行するマイコン１６０と、マイコン１６０により生成された各種信号を外部装置２５０に送信するための出力ドライバ１８０とを備える。
【００５０】
次に、図２のブロック図により、ＡＤ変換ＩＣ１１０周辺の構成や、ＡＤ変換ＩＣ１１０内部の構成について説明する。センサ信号入力回路１００のコネクタ１２０には、第１〜第Ｎセンサ２００ａ〜２００ｃにそれぞれ接続された第１〜第Ｎ外部入力端子１２０ａ〜１２０ｃが設けられていると共に、ＡＤ変換ＩＣ１１０には、第１〜第Ｎ外部入力端子１２０ａ〜１２０ｃにそれぞれ接続された第１〜第Ｎ信号入力端子１１１ａ〜１１１ｃが設けられており、これらの端子を介してＡＤ変換ＩＣ１１０にセンサ信号が入力される。
【００５１】
また、第１フィルタ回路１４０ａは、第１外部入力端子１２０ａと第１信号入力端子１１１ａとを結ぶライン上に設けられた入力側抵抗１４０ａ−１と、第１信号入力端子１１１ａと基準電位との間に設けられた入力側コンデンサ１４０ａ−２を有しており、他のフィルタ回路もこれと同様に構成されている。なお、第１〜第Ｎ外部入力端子１２０ａ〜１２０ｃに接続された入力側コンデンサ，入力側抵抗を、それぞれ、Ｃ１ｘ（或いは、Ｃ１１〜Ｃ１Ｎ），Ｒ２ｘ（或いは、Ｒ２１〜Ｒ２Ｎ）とも記載する。
【００５２】
また、センサ信号入力回路１００は、一端がＡＤ変換ＩＣ１１０の端子に、他端が基準電位に接続され、第１〜第Ｎ信号入力端子１１１ａ〜１１１ｃ等の検査（詳細については後述する）に用いられる検査コンデンサ１５０を有している。
【００５３】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、第１〜第Ｎ信号入力端子１１１ａ〜１１１ｃと信号ライン１１９ｄとの接続状態をそれぞれ制御する第１〜第Ｎスイッチ１１４ａ〜１１４ｃ等から構成されるマルチプレクサ１１４（ＭＰＸとも記載）と、ＡＤ変換により０〜５Ｖの範囲で信号ライン１１９ｄの電圧値を検知するＡＤコンバータ１１６と、を有している。なお、ＡＤコンバータ１１６には、信号ライン１１９ｄに接続されるサンプリングコンデンサ（図示なし）が設けられており、信号ライン１１９ｄを伝達する信号によりチャージされたサンプリングコンデンサの電圧値を逐次変換方式のＡＤ変換により検知することで、信号ライン１１９ｄの電圧値が検知される。
【００５４】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、サージ電流から回路を保護するため、第１信号入力端子１１１ａとマルチプレクサ１１４との間に設けられた第１サージ保護回路１１９ａ−１を有している。第１サージ保護回路１１９ａ−１は、第１信号入力端子１１１ａとマルチプレクサ１１４とを結ぶ第１入力ライン１１９ａにアノードが接続され、５Ｖ電源にカソードが接続されたダイオードと、第１入力ライン１１９ａにカソードが接続され、基準電位にアノードが接続されたダイオードとから構成されている。また、他の信号入力端子とマルチプレクサ１１４との間にも、同様に構成されたサージ保護回路が設けられている。
【００５５】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、信号ライン１１９ｄと上述の検査コンデンサ１５０とを結ぶ検査ライン１１９ｅ上に設けられ、該検査ライン１１９ｅを導通，遮断する検査スイッチ１１８と、検査コンデンサ１５０に電圧を印加する検査用電源１１７と、所定期間において信号ライン１１９ｄで電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知回路１１２と、マルチプレクサ１１４，ＡＤコンバータ１１６，検査用電源１１７，検査スイッチ１１８，電圧変化検知回路１１２を制御する制御回路１１５とを有している。
【００５６】
なお、検査用電源１１７は、５Ｖ電源との接続状態を設定する５Ｖスイッチ１１７ａと、基準電位との接続状態を設定する０Ｖスイッチ１１７ｂとから構成されており、これらのスイッチの一方をＯＮすることで、５Ｖ或いは０Ｖの電圧が検査コンデンサ１５０に印加される。
【００５７】
また、電圧変化検知回路１１２は、制御回路１１５からの判定電圧保持信号に応じて信号ライン１１９ｄの電圧値を保持するラッチ回路として構成された判定電圧保持回路１１２ａと、判定電圧保持回路１１２ａに保持された電圧値と信号ライン１１９ｄの電圧値との差分を検知する判定回路１１２ｂと、制御回路１１５からの判定結果保持信号に応じて判定回路１１２ｂにより検知された差分を判定結果保持値として保持する判定結果保持回路１１２ｃとを有している。
【００５８】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、シリアルバス１７０を介してマイコン１６０と通信を行う通信部１１３が設けられている。通信部１１３は、ＡＤコンバータにより検知されたセンサ信号の電圧値や、制御回路１１５により検出された各種異常（詳細は後述する）をマイコン１６０に送信する。
【００５９】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０の内部では、第１〜第Ｎ信号入力端子１１１ａ〜１１１ｃと基準電位との間や、信号ライン１１９ｄと基準電位との間等に、５ｐＦ程度の容量の寄生容量１１０ａ〜１１０ｄが生成される。なお、各信号入力端子に設けられた入力側コンデンサの容量は検査コンデンサ１５０の容量よりも大きく、一例として、入力側コンデンサの容量が０．１μＦ、検査コンデンサ１５０の容量が０．０１μＦであっても良い。
【００６０】
また、第１〜第Ｎ信号入力端子１１１ａ〜１１１ｃをｃｈ１〜ｃｈＮとも記載する。
［動作の説明］
［第１実施形態］
次に、第１実施形態におけるセンサ信号入力回路１００のＡＤ変換ＩＣ１１０の動作について説明する。
【００６１】
（１）概要について
ＡＤ変換ＩＣ１１０は、マイコン１６０からの指示に応じてｃｈ１〜ｃｈＮに入力されたセンサ信号の電圧値をＡＤ変換により測定し、得られた測定値をマイコン１６０に送信するよう構成されている。
【００６２】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、マイコン１６０からの指示に応じて行われるＡＤ変換に並行して、ＡＤ変換の対象となるｃｈ（信号入力端子）のオープン、或いは該ｃｈから検査スイッチ１１８までの経路上の断線である端子異常の検出や、該ｃｈに設けられた入力側コンデンサのオープン（Ｃ１ｘ異常）を検出するよう構成されている。また、ＡＤ変換の開始前や終了後に、マルチプレクサ１１４，検査用電源１１７，検査スイッチ１１８，基準電位，５Ｖ電源の異常（ＳＷ等異常）や、入力側抵抗のオープン（Ｒ２ｘ異常）を検出するよう構成されている。
【００６３】
以下では、これらの異常を検出する処理について説明する。
（２）マイコン−ＡＤ変換ＩＣ間の通信について
まず、図３に記載のタイミングチャートを用いて、マイコン１６０とＡＤ変換ＩＣ１１０との間の通信処理について説明する。
【００６４】
図３のタイミングチャートは、ＡＤ変換ＩＣ１１０が、マイコン１６０から、ＡＤ変換等を指示するコマンド３０１を受信するタイミングと、ＡＤ変換ＩＣ１１０がこれらのコマンドに応じてＡＤ変換等の処理３０２を実行するタイミングと、ＡＤ変換ＩＣ１１０からマイコン１６０に対し、ＡＤ変換で得られた測定値等を示す応答データ３０３を送信するタイミングとを示している。
【００６５】
マイコン１６０は、ＡＤ変換ＩＣ１１０に対し、ｃｈ１〜ｃｈＮについてのＡＤ変換を要求すると共に、Ｒ２ｘ異常の検出を指示するコマンド３０１を４ｍｓ周期で送信する。なお、マイコン１６０は、各コマンド３０１においていずれか一つの入力側抵抗についてのＲ２ｘ異常の検出を指示し、対象となる入力側抵抗は、Ｒ２１〜Ｒ２Ｎの順に循環的に切り替えられる。また、一例として、図３に記載されているように、Ｒ２１異常の検出を指示するコマンド３０１ａは、ｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換を指示する測定指示コードからなるブロック３０１ａ−１と、Ｒ２１異常の検出を指示するＲ２ｘ異常検出指示コード３０１ａ−２から構成されており、他のコマンドもこれと同様に構成されている。
【００６６】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、コマンド３０１の受信を開始すると、最初にＳＷ等異常を検出するＳＷ等異常検出処理を実行する（図中では「ＳＷ等ｃｈｅｃｋ」と記載）。そして、各ｃｈについての測定指示コードを順次受信すると、受信した測定指示コードに対応するｃｈのＡＤ変換を行う（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）と共に、該ＡＤ変換に並行して、該ｃｈについての端子異常と、該ｃｈに設けられた入力側コンデンサについてのＣ１ｘ異常を検出する測定時異常検出処理を実行する。さらに、ｃｈＮのＡＤ変換が終了すると、受信したＲ２ｘ異常検出指示コードにて指示された入力側抵抗についてのＲ２ｘ異常を検出する入力側抵抗異常検出処理を実行する。なお、ＳＷ等異常検出処理，測定時異常検出処理，入力側抵抗異常検出処理の詳細は後述する。
【００６７】
そして、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、各ｃｈについてのＡＤ変換を終える度に、該ｃｈについての測定値データ等から構成される２バイトの測定データ（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）を生成し、ｃｈ１〜ｃｈＮの測定データを、応答データ３０３としてマイコン１６０に送信する。各測定データには、対応するｃｈについての端子異常の有無とＣ１ｘ異常の有無を示すデータが含まれると共に、ＡＤ変換の開始前に検出されたＳＷ等異常の有無を示すデータと、以前に受信したコマンドに応じて実行された入力側抵抗異常検出処理で検出された該ｃｈについてのＲ２ｘ異常の有無を示すデータが含まれている。また、今回受信したコマンドにより検出されたＲ２ｘ異常の有無については、次に受信するコマンドに応じて送信される測定データに反映される。
【００６８】
なお、一例として、応答データ３０３ａにおけるｃｈ１に対応する測定データは、１２ビットの測定値データ３０３ａ−１を有すると共に、ｃｈ１についての端子異常の有無を示す端子異常ビット３０３ａ−２と、Ｃ１１異常の有無を示すＣ１１異常ビット３０３ａ−３とを有する。また、ＳＷ等異常の有無を示すＳＷ等異常ビット３０３ａ−５と、以前に受信したコマンドに応じて検出されたＲ２１異常の有無を示すＲ２１異常ビット３０３ａ−４とを有する。そして、他のｃｈの測定データや、他の応答データを構成する測定データもまた、これと同様に構成されている。
【００６９】
（３）端子異常及びＣ１ｘ異常の検出について
次に、第１実施形態における端子異常とＣ１ｘ異常の検出について説明する。
検査コンデンサ１５０を全てのｃｈから遮断した状態で、検査コンデンサ１５０に対し、センサ信号の変動範囲内の検査電圧値を印加し、検査コンデンサ１５０の両端を検査電圧値に設定した（チャージ処理と記載）後に、検査コンデンサ１５０といずれかのｃｈとを導通状態とする。このとき、信号ライン１１９ｄの電圧値が、検査コンデンサ１５０により生成される検査電圧値付近で保持される場合には、検査コンデンサ１５０の充放電が行われておらず、端子異常が生じていると考えられる。
【００７０】
しかしながら、センサ信号自体が検査電圧値付近である場合には、端子異常が生じていなくても信号ライン１１９ｄが検査電圧値付近となるため、端子異常と断定することはできない。そこで、第１実施形態では、５Ｖと０Ｖの２種類の電圧値にてチャージ処理を実行した後に、検査コンデンサ１５０といずれかの対象ｃｈを導通状態とし、信号ライン１１９ｄの電圧値を検知する。そして、５Ｖでのチャージ処理の後と、０Ｖでのチャージ処理の後の双方において、信号ライン１１９ｄが検査電圧値となった場合には、端子異常が生じたものとみなすのである。
【００７１】
また、チャージ処理の実行後に、検査コンデンサ１５０と対象ｃｈとを導通状態とすると、検査コンデンサ１５０の電荷の充放電が生じ、対象ｃｈの電圧が一時的に変動する。そして、Ｃ１ｘのオープンが生じている時には、正常時に比べて対象ｃｈの電圧の変動幅が大きくなるため、該変動幅に基づきＣ１ｘ異常を検出することができる。
【００７２】
しかしながら、センサ信号の電圧値が検査電圧値に近い場合には、Ｃ１ｘのオープンが生じていても十分な変動が生じず、Ｃ１ｘ異常を検出することができない。そこで、第１実施形態では、５Ｖと０Ｖの２種類の電圧値にてチャージ処理を実行すると共に、各チャージ処理の実行後に、検査コンデンサ１５０と対象ｃｈを導通状態に設定し、該設定の前後における信号ライン１１９ｄの電圧値の変動幅を検出する。そして、変動幅が閾値を超える場合には、Ｃ１ｘ異常が生じたものとみなすのである。
【００７３】
既に述べたように、第１実施形態のＡＤ変換ＩＣ１１０では、上述の端子異常の検出とＣ１ｘ異常の検出を、ＡＤ変換と並行して実行する。図４に記載のタイミングチャートが示すように、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、マイコン１６０からのコマンドの受信開始後、最初にＳＷ等異常検出処理（図中では「ＳＷ等ｃｈｅｃｋ」と記載）を実行する。その後、ｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）を順次行うと共に、ＡＤ変換に並行して、対象ｃｈについての端子異常とＣ１ｘ異常を検出する測定時異常検出処理を実行する。第１実施形態では、この測定時異常検出処理として、５Ｖのチャージ処理を伴う第１測定時異常検出処理と、０Ｖのチャージ処理を伴う第２測定時異常検出処理とが実行される。ＡＤ変換ＩＣ１１０は、コマンド３０１を新たに受信する度に、第１測定時異常検出処理と第２測定時異常検出処理とを交互に切り替え、ｃｈ１〜ｃｈＮについての端子異常とＣ１ｘ異常を検出する。そして、第１，第２測定時異常検出処理により２回連続して端子異常の可能性ありと判定された場合には、端子異常が生じているとみなす。一方、Ｃ１ｘ異常に関しては、１回の測定時異常検出処理により検出される。
【００７４】
（４）測定時異常検出処理について
（４−１）概要について
次に、第１，第２測定時異常検出処理の概要について、図５，６に記載のタイミングチャートを用いて説明する。
【００７５】
図５には、第１測定時異常検出処理についてのタイミングチャートが記載されている。ＡＤ変換ＩＣ１１０は、マイコン１６０からのコマンドを受信すると、ＡＤコンバータ１１６によりｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換を行う。ＡＤ変換は、ＡＤコンバータ１１６の内部に設けられたサンプリングコンデンサの電圧を０Ｖに設定する初期化と、マルチプレクサ１１４によりＡＤ変換の対象ｃｈとサンプリングコンデンサを導通させ、サンプリングコンデンサを対象ｃｈの電圧値に設定するサンプリングと、逐次変換方式によりサンプリングコンデンサの電圧値を示す測定値データ（１２ビット）を生成する比較の三つの手順により行われる。
【００７６】
第１測定時異常検出処理では、ＡＤ変換における初期化の開始と共に一定期間にわたり検査用電源１１７の５Ｖスイッチ１１７ａがＯＮされ、検査コンデンサ１５０に５Ｖの電圧を印加する５Ｖチャージ処理が実行される（詳細は後述する）。
【００７７】
そして、マルチプレクサ１１４における対象ｃｈに対応するスイッチがＯＮされ、サンプリングが開始されると、その後、検査スイッチ１１８がＯＮされ、検査コンデンサ１５０と信号ライン１１９ｄが導通される。さらに、サンプリングの終了と共に検査スイッチ１１８がＯＦＦされ、検査コンデンサ１５０と信号ライン１１９ｄとが遮断される。
【００７８】
ここで、端子異常が生じていない場合には、検査スイッチ１１８のＯＮにより、検査コンデンサ１５０の電荷が放電されて信号ライン１１９ｄの電圧が一時的に上昇し、その後、該電圧は対象ｃｈから入力されるセンサ信号の電圧値となる。このため、サンプリングコンデンサは、センサ信号の電圧値となる。一方、端子異常が生じている場合には、検査コンデンサ１５０により信号ライン１１９ｄの電圧値は５Ｖ或いは５Ｖ付近となり、サンプリングコンデンサは５Ｖ或いは５Ｖ付近に設定される。
【００７９】
このため、比較において５Ｖ或いは５Ｖ付近の電圧値が検知された場合には、端子異常の可能性有りと判定し、対象ｃｈについて直前に実行された第２測定時異常検出処理において既に端子異常の可能性有りと判定されている場合には、端子異常が生じているものとみなされる。
【００８０】
なお、端子異常の有無について判定する上では、サンプリングコンデンサの電圧値が少なくとも５Ｖ近辺であることを検知すれば良い。このため、比較により１２ビット分の測定値データが生成されるのを待つ必要は無く、６ビット分の測定値データが生成された時点で端子異常の可能性について判定される。
【００８１】
一方、検査スイッチ１１８がＯＮされる直前に、制御回路１１５から電圧変化検知回路１１２に対し判定電圧保持信号が出力されると共に、検査スイッチ１１８がＯＮされた直後に、制御回路１１５から電圧変化検知回路１１２に対し判定結果保持信号が出力され、電圧変化検知回路１１２により、検査スイッチ１１８がＯＮされる前後で変化した信号ライン１１９ｄの電圧値（判定結果保持値）が検知される。そして、この判定結果保持値が閾値（一例として２．５Ｖ）を超えるか否かにより、対象ｃｈについてのＣ１ｘ異常が検出される。
【００８２】
また、図６には、第２測定時異常検出処理についてのタイミングチャートが記載されている。第２測定時異常検出処理では、ＡＤ変換の初期化の開始と共に一定期間にわたり検査用電源１１７の０ＶＳＷ１１７ｂがＯＮされ、検査コンデンサ１５０に０Ｖの電圧を印加する０Ｖチャージ処理が実行される。その後、同様にして端子異常の可能性について判定されると共に、第１測定時異常検出処理と同様にしてＣ１ｘ異常が検出される。
【００８３】
（４−２）詳細について
まず、検査コンデンサ１５０に５Ｖ或いは０Ｖの電圧を印加することで、検査コンデンサ１５０の電圧値を５Ｖ或いは０Ｖに設定する５Ｖチャージ処理，０Ｖチャージ処理について、図７（ａ），（ｂ）に記載のフローチャートを用いて説明する。これらの処理は、異常検出を行う際にＡＤ変換ＩＣ１１０の制御回路１１５により実行される処理である。
【００８４】
（ａ）５Ｖチャージ処理について
Ｓ３０５では、ＡＤ変換ＩＣ１１０の制御回路１１５は、マルチプレクサ１１４のスイッチを全てＯＦＦとし、全ｃｈと信号ライン１１９ｄとの間の接続状態を遮断状態に設定する。そして、Ｓ３１０に処理を移行する。
【００８５】
Ｓ３１０では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＦＦとし、信号ライン１１９ｄと検査コンデンサ１５０との間の接続状態を遮断状態に設定する。そして、Ｓ３１５に処理を移行する。
【００８６】
Ｓ３１５では、制御回路１１５は、検査用電源１１７の５Ｖスイッチ１１７ａをＯＮ、０Ｖスイッチ１１７ｂをＯＦＦとし、検査コンデンサ１５０に５Ｖの電圧を印加する。そして、Ｓ３２０に処理を移行する。
【００８７】
Ｓ３２０では、制御回路１１５は、電圧の印加の開始後、所定時間が経過したか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ３２０：Ｙｅｓ）、Ｓ３２５に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ３２０：Ｎｏ）、Ｓ３２０に処理を移行する。
【００８８】
Ｓ３２５では、制御回路１１５は、５Ｖスイッチ１１７ａをＯＦＦとして検査コンデンサ１５０への電圧の印加を終了し、本処理を終了する。
（ｂ）０Ｖチャージ処理について
０Ｖチャージ処理は５Ｖチャージ処理と類似した処理であるので、５Ｖチャージ処理との相違点を中心に説明する。
【００８９】
０Ｖチャージ処理では、５Ｖチャージ処理のＳ３０５〜Ｓ３２５にそれぞれ相当するＳ３３０〜Ｓ３５０が行われる。
５Ｖチャージ処理のＳ３１５に相当するＳ３４０では、制御回路１１５は、検査用電源１１７の５Ｖスイッチ１１７ａをＯＦＦ、０Ｖスイッチ１１７ｂをＯＮとし、検査コンデンサ１５０に０Ｖの電圧を印加する。そして、Ｓ３４５に処理を移行する。
【００９０】
また、５Ｖチャージ処理のＳ３２５に相当するＳ３５０では、制御回路１１５は、０Ｖスイッチ１１７ｂをＯＦＦとして検査コンデンサ１５０への電圧の印加を終了し、本処理を終了する。
【００９１】
なお、Ｓ３４０，Ｓ３５０以外では、５Ｖチャージ処理における対応するステップと同様の処理が行われる。
（ｃ）第１測定時異常検出処理の詳細について
次に、第１測定時異常検出処理の詳細について、図８（ａ）に記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、ＡＤ変換に並行して制御回路１１５により実行される処理である。
【００９２】
Ｓ４０１では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理を実行して検査コンデンサ１５０の電圧を５Ｖに設定する。なお、本ステップは、ＡＤ変換の初期化の開始時に行われる。そして、Ｓ４０２に処理を移行する。
【００９３】
Ｓ４０２では、制御回路１１５は、本処理と並行して行われるＡＤ変換の対象ｃｈに接続されたマルチプレクサ１１４のスイッチをＯＮとして対象ｃｈと信号ライン１１９ｄとの間の接続状態を導通状態に設定し、ＡＤ変換におけるサンプリングが開始される。そして、Ｓ４０３に処理を移行する。
【００９４】
Ｓ４０３では、制御回路１１５は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路１１２ａに信号ライン１１９ｄの電圧値を保持させる。そして、Ｓ４０４に処理を移行する。
Ｓ４０４では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ４０５に処理を移行する。
【００９５】
Ｓ４０５では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路１１２ｂにより検知された信号ライン１１９ｄの電圧値と判定電圧保持回路１１２ａに保持された電圧値との差分（判定結果保持値）を、判定結果保持回路１１２ｃに保持させる。そして、Ｓ４０６に処理を移行する。
【００９６】
Ｓ４０６では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４０６：Ｙｅｓ）、Ｓ４０７に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ４０６：Ｎｏ）、Ｓ４０８に処理を移行する。
【００９７】
Ｓ４０７では、制御回路１１５は、対象ｃｈのＣ１ｘのオープンが生じているとみなし、Ｓ４０８に処理を移行する。
Ｓ４０８では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８，マルチプレクサ１１４の全スイッチをＯＦＦし、Ｓ４０９に処理を移行する。なお、本処理は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。
【００９８】
Ｓ４０９では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換の比較において、６ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４０９：Ｙｅｓ）、Ｓ４１０に処理を移行し、否定判定が得られた場合に（Ｓ４０９：Ｎｏ）、Ｓ４０９に処理を移行する。
【００９９】
Ｓ４１０では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６から６ビット分の測定値データを取得し、Ｓ４１１に処理を移行する。
Ｓ４１１では、制御回路１１５は、取得した測定値データに基づき、信号ライン１１９ｄの電圧値が５Ｖ付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４１１：Ｙｅｓ）、対象ｃｈについての端子異常の可能性有りとみなし、Ｓ４１２に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ４１１：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１００】
Ｓ４１２では、制御回路１１５は、直前に実行された対象ｃｈについての第２測定時異常検出処理において、端子異常の可能性有りと判定されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４１２：Ｙｅｓ）、Ｓ４１３に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ４１２：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１０１】
Ｓ４１３では、制御回路１１５は、端子異常、或いは、対象ｃｈに接続されるマルチプレクサ１１４のスイッチのＯＦＦ固着が発生したものとみなし、本処理を終了する。
（ｄ）第２測定時異常検出処理の詳細について
次に、第２測定時異常検出処理の詳細について説明する。第２測定時異常検出処理は、図８（ｂ）に記載のフローチャートが示すように、第１測定時異常検出処理とほぼ同様の処理となっているため、相違点を中心に説明する。
【０１０２】
第２測定時異常検出処理では、第１測定時異常検出処理のＳ４０１〜Ｓ４１３にそれぞれ相当するＳ４２１〜Ｓ４３３が行われる。
第１測定時異常検出処理のＳ４０１に相当するＳ４２１では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行して検査コンデンサ１５０の電圧を０Ｖに設定する。なお、本ステップは、ＡＤ変換の初期化の開始時に行われる。そして、Ｓ４２２に処理を移行する。
【０１０３】
第１測定時異常検出処理のＳ４１１に相当するＳ４３１では、制御回路１１５は、取得した測定値データに基づき、信号ライン１１９ｄの電圧値が０Ｖ付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４３１：Ｙｅｓ）、対象ｃｈについての端子異常の可能性有りとみなし、Ｓ４３２に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ４３１：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１０４】
第１測定時異常検出処理のＳ４１２に相当するＳ４３２では、制御回路１１５は、直前に実行された対象ｃｈについての第１測定時異常検出処理において、端子異常の可能性有りと判定されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ４３２：Ｙｅｓ）、Ｓ４３３に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ４３２：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１０５】
（５）ＳＷ等異常検出処理について
次に、マルチプレクサ１１４，検査用電源１１７，検査スイッチ１１８，基準電位，５Ｖ電源の異常であるＳＷ等異常を検出するＳＷ等異常検出処理について、図９に記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、マイコン１６０からのコマンドを受信した後に、ＡＤ変換ＩＣ１１０の制御回路１１５により実行される処理である。
【０１０６】
Ｓ５０１では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ５０２に処理を移行する。
Ｓ５０２では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ５０３に処理を移行する。
【０１０７】
Ｓ５０３では、制御回路１１５は、検知した電圧値が５Ｖ或いは５Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ５０３：Ｙｅｓ）、Ｓ５０４に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ５０３：Ｎｏ）、Ｓ５０８に処理を移行する。
【０１０８】
Ｓ５０４では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ５０５に処理を移行する。
Ｓ５０５では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ５０６に処理を移行する。
【０１０９】
Ｓ５０６では、制御回路１１５は、検知した電圧値が０Ｖ或いは０Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ５０６：Ｙｅｓ）、Ｓ５０７に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ５０６：Ｎｏ）、Ｓ５０８に処理を移行する。
【０１１０】
Ｓ５０７では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８のＯＮ固着が生じているとみなし、本処理を終了する。
Ｓ５０８では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ５０９に処理を移行する。
【０１１１】
Ｓ５０９では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ５１０に処理を移行する。
Ｓ５１０では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ５１１に処理を移行する。
【０１１２】
Ｓ５１１では、制御回路１１５は、検知した電圧値が５Ｖ或いは５Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ５１１：Ｙｅｓ）、Ｓ５１２に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ５１１：Ｎｏ）、Ｓ５１７に処理を移行する。
【０１１３】
Ｓ５１２では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ５１３に処理を移行する。
Ｓ５１３では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ５１４に処理を移行する。
【０１１４】
Ｓ５１４では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ５１５に処理を移行する。
Ｓ５１５では、制御回路１１５は、検知した電圧値が０Ｖ或いは０Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ５１５：Ｙｅｓ）、本処理を終了し、否定判定が得られた場合には（Ｓ５１５：Ｎｏ）、Ｓ５１６に処理を移行する。
【０１１５】
Ｓ５１６では、制御回路１１５は、検査用電源１１７の異常（５Ｖスイッチ１１７ａのＯＮ固着，０Ｖスイッチ１１７ｂのＯＦＦ固着，基準電位の異常のうちの少なくとも一つ）が生じているとみなし、本処理を終了する。
【０１１６】
Ｓ５１１にて否定判定が得られた場合に移行するＳ５１７では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ５１８に処理を移行する。
Ｓ５１８では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ５１９に処理を移行する。
【０１１７】
Ｓ５１９では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ５２０に処理を移行する。
Ｓ５２０では、制御回路１１５は、検知した電圧値が０Ｖ或いは０Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ５２０：Ｙｅｓ）、Ｓ５２１に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ５２０：Ｎｏ）、Ｓ５２２に処理を移行する。
【０１１８】
Ｓ５２１では、制御回路１１５は、検査用電源１１７の異常（５Ｖスイッチ１１７ａのＯＦＦ固着，０Ｖスイッチ１１７ｂのＯＮ固着，５Ｖ電源の異常のうちの少なくとも一つ）が生じているとみなし、本処理を終了する。
【０１１９】
一方、Ｓ５２２では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８のＯＦＦ固着，検査コンデンサ１５０のオープン，マルチプレクサ１１４のスイッチのＯＮ固着のうちの少なくとも一つが生じているとみなし、本処理を終了する。
【０１２０】
（６）入力側抵抗異常検出処理について
次に、入力側抵抗のオープン（Ｒ２ｘ異常）を検出する入力側抵抗異常検出処理について説明する。
【０１２１】
センサ信号入力回路１００のＡＤ変換ＩＣ１１０では、５Ｖチャージ処理或いは０Ｖチャージ処理を実行した後に、いずれかのｃｈと検査コンデンサ１５０との間を導通状態に設定する処理（導通処理と記載）が実行されると、該ｃｈに接続されたＣ１ｘと検査コンデンサ１５０との間で電荷の移動が生じ、該ｃｈの電圧が変化する。そして、正常時にはセンサ信号入力回路１００の外部との間で電荷が移動するため、該ｃｈの電圧値はセンサ信号の電圧値となるが、Ｒ２ｘ異常が生じている場合には、外部との間で電荷の移動が生じず、変化後の電圧が維持される。このため、Ｒ２ｘ異常が生じている場合に５Ｖチャージ処理等と導通処理とを繰り返すと、ｃｈの電圧値が段階的に変化し、５Ｖ或いは０Ｖに近づく。
【０１２２】
ここで、センサ信号の電圧値が５Ｖ付近或いは０Ｖ付近である場合には、Ｒ２ｘ異常が生じていない場合であっても、上記処理を繰り返した後のｃｈの電圧値は、５Ｖ付近或いは０Ｖ付近となる。
【０１２３】
そこで、センサ信号入力回路１００は、５Ｖチャージ処理と導通処理とを複数回にわたり実行した後の信号入力端子の電圧値が５Ｖ付近であり、尚且つ、０Ｖチャージ処理と導通処理とを複数回にわたり実行した後に信号入力端子の電圧値が０Ｖ付近である場合に、Ｒ２ｘ異常が発生したものとみなす入力側抵抗異常検出処理を実行する。
【０１２４】
次に、入力側抵抗異常検出処理の詳細について、図１０に記載のフローチャートを用いて説明する。なお、既に述べたように、本処理は、マイコン１６０からのコマンドに応じてｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換が行われた後に、該コマンドにより指定された入力側抵抗を検査対象としてＡＤ変換ＩＣ１１０の制御回路１１５により実行される処理である。
【０１２５】
Ｓ６０５では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ６１０に処理を移行する。
Ｓ６１０では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ６１５に処理を移行する。
【０１２６】
Ｓ６１５では、制御回路１１５は、検査対象の入力側抵抗に繋がるｃｈに接続されたマルチプレクサ１１４のスイッチをＯＮとし、Ｓ６２０に処理を移行する。
Ｓ６２０では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ６２０：Ｙｅｓ）、Ｓ６２５に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ６２０：Ｎｏ）、Ｓ６０５に処理を移行する。
【０１２７】
Ｓ６２５では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ６３０に処理を移行する。
Ｓ６３０では、制御回路１１５は、検知した電圧値が５Ｖ或いは５Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ６３０：Ｙｅｓ）、Ｓ６３５に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ６３０：Ｎｏ）、Ｓ６７０に処理を移行する。
【０１２８】
Ｓ６３５では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行し、Ｓ６４０に処理を移行する。
Ｓ６４０では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ６４５に処理を移行する。
【０１２９】
Ｓ６４５では、制御回路１１５は、検査対象の入力側抵抗に繋がるｃｈに接続されたマルチプレクサ１１４のスイッチをＯＮとし、Ｓ６５０に処理を移行する。
Ｓ６５０では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ６５０：Ｙｅｓ）、Ｓ６５５に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ６５０：Ｎｏ）、Ｓ６３５に処理を移行する。
【０１３０】
Ｓ６５５では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６にＡＤ変換を行わせ、信号ライン１１９ｄの電圧を検知する。そして、Ｓ６６０に処理を移行する。
Ｓ６６０では、制御回路１１５は、検知した電圧値が０Ｖ或いは０Ｖ付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ６６０：Ｙｅｓ）、Ｓ６６５に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ６６０：Ｎｏ）、Ｓ６７０に処理を移行する。
【０１３１】
Ｓ６６５では、制御回路１１５は、検査対象の入力側抵抗のオープン（Ｒ２ｘ異常）が生じているとみなし、本処理を終了する。
一方、Ｓ６７０では、制御回路１１５は、検査対象の入力側抵抗の異常は無いものとみなし、本処理を終了する。
【０１３２】
［第２実施形態］
次に、第２実施形態におけるセンサ信号入力回路１００のＡＤ変換ＩＣ１１０の動作について説明する。
【０１３３】
（１）概要について
まず、第２実施形態におけるＡＤ変換ＩＣ１１０の動作の概要について、図１１に記載のタイミングチャートを用いて説明する。
【０１３４】
第２実施形態においても、マイコン１６０は、ＡＤ変換ＩＣ１１０に対し、４ｍｓ周期で第１実施形態と同様のコマンドを送信する。そして、コマンドを受信したＡＤ変換ＩＣ１１０は、第１実施形態と同様に、最初にＳＷ等異常検出処理を実行し（図中では「ＳＷ等ｃｈｅｃｋ」と記載）、その後、各ｃｈについての測定指示コードを順次受信すると、対応するｃｈのＡＤ変換を行う（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）する。そして、ｃｈＮのＡＤ変換が終了すると、コマンドの一部を構成するＲ２ｘ異常検出指示コードにて指定された入力側抵抗についての入力側抵抗異常検出処理を実行する。なお、ＳＷ等異常検出処理，入力側抵抗異常検出処理は、第１実施形態と同様の処理となっており、詳細な説明は省略する。
【０１３５】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０では、第１実施形態と同様、またｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換に並行して、ＡＤ変換の対象ｃｈについての端子異常と、対象ｃｈに設けられた入力側コンデンサについてのＣ１ｘ異常を検出する測定時異常検出処理が実行されるが、第２実施形態の測定時異常検出処理は、第１実施形態と相違点を有している。
【０１３６】
第１実施形態では、センサ信号の電圧値が、５Ｖチャージ処理等により検査コンデンサ１５０に設定される電圧値付近である場合に端子異常が誤検出されるのを防ぐため、５Ｖチャージ処理を伴う第１測定時異常検出処理と、０Ｖチャージ処理を伴う第２測定時異常検出処理とが交互に実行されていた。そして、２回連続して端子異常の可能性ありと判定された場合に端子異常が生じたものとみなされていた。
【０１３７】
これに対し、第２実施形態では、現在のセンサ信号は、直前に実行された対象ｃｈについてのＡＤ変換で得られた測定値（前回値）近辺の電圧値を有しているとみなし、前回値とは異なる電圧値を検査コンデンサ１５０に設定することで、１回の測定時異常検出処理で端子異常を検出しており、この点において第１実施形態と相違している。
【０１３８】
（２）測定時異常検出処理について
（ａ）概要について
第２実施形態の測定時異常検出処理の概要について、図１２に記載のタイミングチャートを用いて説明する。第２実施形態では、既に述べたように、直前に行われたＡＤ変換で得られた対象ｃｈの測定値に応じて、５Ｖチャージ処理或いは０Ｖチャージ処理の一方が実行され、１回の測定時異常検出処理により端子異常が検出される。
【０１３９】
すなわち、第２実施形態の測定時異常検出処理は、第１実施形態と同様のＡＤ変換に並行して実行され、第１実施形態と同様のタイミングで、マルチプレクサ１１４，検査スイッチ１１８が設定される。また、５Ｖスイッチ１１７ａと０Ｖスイッチ１１７ｂの一方が第１実施形態と同様に初期化の開始タイミングでＯＮされ、比較で生成された測定値データに基づき、対象ｃｈの端子異常が検出される。
【０１４０】
ここで、第２実施形態では、直前に実行された対象ｃｈのＡＤ変換での測定値（前回値）が２．５Ｖ未満である場合には、５Ｖスイッチ１１７ａがＯＮされる（すなわち、５Ｖチャージ処理が実行される）と共に、前回値が２．５Ｖ以上である場合には、０Ｖスイッチ１１７ｂが選択される（すなわち、０Ｖチャージ処理が実行される）。つまり、現在のセンサ信号の電圧値は前回値付近であるとみなし、前回値との間に十分な差分を有する電圧値を検査コンデンサ１５０に設定することで、１回の測定時異常検出処理による端子異常の検出を可能としたのである。
【０１４１】
また、これにより、現在のセンサ信号の電圧値と検査コンデンサ１５０に設定される電圧値との差分が２．５Ｖ以上となるため、Ｃ１ｘのオープンが生じている際には、検査スイッチ１１８をＯＮした際に信号ライン１１９ｄの電圧値が十分に変動する。このため、第１実施形態と同様にして、検査スイッチ１１８をＯＮする前後の信号ライン１１９ｄの電圧値の変化が閾値以上である場合に、Ｃ１ｘ異常が生じたとみなされる。
【０１４２】
（ｂ）詳細について
次に、第２実施形態の測定時異常検出処理の詳細について、図１３に記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、ＡＤ変換に並行して制御回路１１５により実行される処理である。
【０１４３】
Ｓ７０１では、制御回路１１５は、ＡＤ変換の対象ｃｈに関して、前回値が２．５Ｖ未満か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７０１：Ｙｅｓ）、Ｓ７０２に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７０１：Ｎｏ）、Ｓ７２２に処理を移行する。
【０１４４】
Ｓ７０２では、制御回路１１５は、５Ｖチャージ処理を実行する。なお、本ステップは、ＡＤ変換の初期化の開始時に行われる。そして、Ｓ７０３に処理を移行する。
Ｓ７０３では、制御回路１１５は、ＡＤ変換の対象ｃｈに接続されたマルチプレクサ１１４のスイッチをＯＮとし、ＡＤ変換におけるサンプリングが開始される。そして、Ｓ７０４に処理を移行する。
【０１４５】
Ｓ７０４では、制御回路１１５は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路１１２ａに信号ライン１１９ｄの電圧値を保持させる。そして、Ｓ７０５に処理を移行する。
Ｓ７０５では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ７０６に処理を移行する。
【０１４６】
Ｓ７０６では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路１１２ｂにより検知された信号ライン１１９ｄの電圧値と判定電圧保持回路１１２ａに保持された電圧値との差分（判定結果保持値）を、判定結果保持回路１１２ｃに保持させる。そして、Ｓ７０７に処理を移行する。
【０１４７】
Ｓ７０７では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７０７：Ｙｅｓ）、Ｓ７０８に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７０７：Ｎｏ）、Ｓ７０９に処理を移行する。
【０１４８】
Ｓ７０８では、制御回路１１５は、対象ｃｈの入力側コンデンサのオープン（Ｃ１ｘ異常）が生じているとみなし、Ｓ７０９に処理を移行する。
Ｓ７０９では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８，マルチプレクサ１１４の全スイッチをＯＦＦし、Ｓ７１０に処理を移行する。なお、本処理は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。
【０１４９】
Ｓ７１０では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換の比較において、６ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７１０：Ｙｅｓ）、Ｓ７１１に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７１０：Ｎｏ）、Ｓ７１０に処理を移行する。
【０１５０】
Ｓ７１１では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６から６ビット分の測定値データを取得し、Ｓ７１２に処理を移行する。
Ｓ７１２では、制御回路１１５は、取得した測定値データに基づき、信号ライン１１９ｄの電圧値が５Ｖ付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７１２：Ｙｅｓ）、Ｓ７１３に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７１２：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１５１】
Ｓ７１３では、制御回路１１５は、対象ｃｈについての端子異常、或いは、対象ｃｈに接続されるマルチプレクサ１１４のスイッチのＯＦＦ固着が発生したものとみなし、本処理を終了する。
【０１５２】
一方、Ｓ７０１にて否定判定が得られた場合に移行するＳ７２２では、制御回路１１５は、０Ｖチャージ処理を実行する。なお、本ステップは、ＡＤ変換の初期化の開始時に行われる。そして、Ｓ７２３に処理を移行する。
【０１５３】
Ｓ７２３では、制御回路１１５は、ＡＤ変換の対象ｃｈに接続されたマルチプレクサ１１４のスイッチをＯＮとし、ＡＤ変換におけるサンプリングが開始される。そして、Ｓ７２４に処理を移行する。
【０１５４】
Ｓ７２４では、制御回路１１５は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路１１２ａに信号ライン１１９ｄの電圧値を保持させる。そして、Ｓ７２５に処理を移行する。
Ｓ７２５では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８をＯＮとし、Ｓ７２６に処理を移行する。
【０１５５】
Ｓ７２６では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路１１２ｂにより検知された信号ライン１１９ｄの電圧値と判定電圧保持回路１１２ａに保持された電圧値との差分（判定結果保持値）を、判定結果保持回路１１２ｃに保持させる。そして、Ｓ７２７に処理を移行する。
【０１５６】
Ｓ７２７では、制御回路１１５は、判定結果保持回路１１２ｃに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７２７：Ｙｅｓ）、Ｓ７２８に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７２７：Ｎｏ）、Ｓ７２９に処理を移行する。
【０１５７】
Ｓ７２８では、制御回路１１５は、対象ｃｈの入力側コンデンサのオープン（Ｃ１ｘ異常）が生じているとみなし、Ｓ７２９に処理を移行する。
Ｓ７２９では、制御回路１１５は、検査スイッチ１１８，マルチプレクサ１１４の全スイッチをＯＦＦし、Ｓ７３０に処理を移行する。なお、本処理は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。
【０１５８】
Ｓ７３０では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６でのＡＤ変換の比較において、６ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７３０：Ｙｅｓ）、Ｓ７３１に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７３０：Ｎｏ）、Ｓ７３０に処理を移行する。
【０１５９】
Ｓ７３１では、制御回路１１５は、ＡＤコンバータ１１６から６ビット分の測定値データを取得し、Ｓ７３２に処理を移行する。
Ｓ７３２では、制御回路１１５は、取得した測定値データに基づき、信号ライン１１９ｄの電圧値が０Ｖ付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には（Ｓ７３２：Ｙｅｓ）、Ｓ７３３に処理を移行し、否定判定が得られた場合には（Ｓ７３２：Ｎｏ）、本処理を終了する。
【０１６０】
Ｓ７３３では、制御回路１１５は、対象ｃｈについての端子異常が発生したものとみなし、本処理を終了する。
［第３実施形態］
次に、第３実施形態におけるセンサ信号入力回路１００のＡＤ変換ＩＣ１１０の動作について、図１４，１５に記載のタイミングチャートを用いて説明する。
【０１６１】
第３実施形態においても、マイコン１６０は、ＡＤ変換ＩＣ１１０に対し、４ｍｓ周期でコマンド３１１を送信する。図１４に記載されているように、第３実施形態のコマンド３１１は、第１，第２実施形態とは異なり、ｃｈ１〜ｃｈＮのＡＤ変換を指示する測定指示コード（図中では「ｃｈｘ要求」と記載）から構成されている。
【０１６２】
そして、コマンド３１１を受信したＡＤ変換ＩＣ１１０は、処理３１２を実行する。具体的には、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、第１，第２実施形態と同様に、最初にＳＷ等異常検出処理を実行し（図中では「ＳＷ等ｃｈｅｃｋ」と記載）、その後、各ｃｈについての測定指示コードを順次受信すると、対応するｃｈのＡＤ変換を行う（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）。そして、第１実施形態と同様に、ＡＤ変換に並行して第１測定時異常検出処理と第２測定時異常検出処理とを交互に実行すると共に、第１実施形態とは異なり、測定時異常検出処理の終了後に、ＡＤ変換の対象ｃｈについての入力側抵抗異常検出処理を実行する（図１５参照）。なお、第１測定時異常検出処理，第２測定時異常検出処理，ＳＷ等異常検出処理，入力側抵抗異常検出処理は、第１実施形態と同様の処理となっており、詳細な説明は省略する。
【０１６３】
また、ＡＤ変換ＩＣ１１０は、ＡＤ変換及び測定時異常検出処理と、対象ｃｈについての入力側抵抗異常検出処理を終えると、対象ｃｈについての測定値データ等から構成される２バイトの測定データ（図中では「ｃｈｘ測定」と記載）を生成し、ｃｈ１〜ｃｈＮの測定データを、応答データ３１３としてマイコン１６０に送信する。各測定データには、対応するｃｈについての端子異常の有無，Ｃ１ｘ異常の有無，Ｒ２ｘ異常の有無を示すデータが含まれると共に、ＡＤ変換の開始前に検出されたＳＷ等異常の有無を示すデータが含まれている。
【０１６４】
なお、一例として、応答データ３１３ａにおけるｃｈ１に対応する測定データは、１２ビットの測定値データ３１３ａ−１を有する。また、ｃｈ１についての端子異常の有無を示す端子異常ビット３１３ａ−２と、Ｃ１１異常の有無を示すＣ１１異常ビット３１３ａ−３と、Ｒ２１異常の有無を示すＲ２１異常ビット３１３ａ−４を有している。また、ＡＤ変換の開始前に検出されたＳＷ等異常の有無を示すＳＷ等異常ビット３１３ａ−５を有する。そして、他のｃｈの測定データや、他の応答データを構成する測定データもまた、これと同様に構成されている。
【０１６５】
［効果］
本実施形態のセンサ信号入力回路１００に搭載されたＡＤ変換ＩＣ１１０によれば、ＡＤ変換と測定時異常検出処理とが並行して実行され、センサ信号の電圧の測定と、端子異常やＣ１ｘ異常の検出とが同時に行われる。したがって、本実施形態のセンサ信号入力回路１００によれば、センサ信号の電圧値の検知を遅延させること無く、端子異常やＣ１ｘ異常を検出することができる。
【０１６６】
［他の実施形態］
（１）第１〜第３実施形態では、測定時異常検出処理において、ＡＤ変換の初期化の期間中に５Ｖチャージ処理或いは０Ｖチャージ処理が実行されるが、５Ｖチャージ処理等の実行タイミングは、これに限定されることは無く、サンプリングの開始時期をまたいで５Ｖチャージ処理等を実行しても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。
【０１６７】
（２）第１〜第３実施形態では、検査コンデンサ１５０がＡＤ変換ＩＣ１１０の外部に設けられているが、検査コンデンサ１５０をＡＤ変換ＩＣ１１０に内蔵させた場合であっても、同様の効果を得ることができる。また、異常検出を行うために検査コンデンサ１５０に設定される電圧は０Ｖ或いは５Ｖとなっているが、これに限定されることは無く、センサ信号の変動範囲内で変更することができる。また、Ｃ１ｘの容量は０．１μＦ、検査コンデンサ１５０の容量は０．０１μＦとなっているが、これに限定されることは無く、異なる値が設定されている場合であっても同様の効果を得ることができる。
【０１６８】
（３）また、第１〜第３実施形態では、Ｎ個のセンサ信号が入力される多チャンネルの構成となっているが、これに限定されることは無く、一つの信号が入力されるよう構成されていても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。
【０１６９】
（４）端子異常等の検出機能を備えていない従来のＡＤコンバータを用いる場合には、正確な測定値を得るためには、例えば、一つのセンサ信号を少なくとも３つのＡＤコンバータに入力して該センサ信号について同時に三つの測定値を得ると共に、得られた測定値から乖離した測定値を除き、残った測定値の平均値を算出する等といった方法を採る必要がある。
【０１７０】
しかしながら、本実施形態のＡＤ変換ＩＣ１１０によれば、端子異常等の検出結果に基づき、正確な測定値が得られたかどうかを判定することができる。このため、図１６のブロック図に記載されているように、第１〜第３実施形態と同様のＡＤ変換ＩＣ１１０を二つ備えると共に、これらのＡＤ変換ＩＣに接続された一つのマイコン１６０とを備えるセンサ信号入力回路１００を構成し、マイコン１６０にて端子異常等が生じているＡＤ変換ＩＣ１１０から得た測定値を破棄しても良い。こうすることにより、ＡＤコンバータの数を減らしつつ、センサ信号の正確な電圧値を得ることができる。
【０１７１】
（５）また、第１〜第３実施形態では、ＡＤ変換ＩＣ１１０を例に挙げて説明したが、同様の構成をマイコン等に適用しても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。
【０１７２】
また、一例として、第１〜第３実施形態と同様の構成をマイコンに適用した場合には、ｃｈ１〜ｃｈＮについてのＡＤ変換により得られた測定値データと、各測定値データの生成の際に検出された端子異常，Ｃ１ｘ異常，ＳＷ等異常，Ｒ２ｘ異常の有無を示すデータとを関連付けてレジスタ(請求項１８の保存部に相当）に保存しても良い。そして、図１７のフローチャートに記載されているように、該マイコンのＣＰＵは、特定のｃｈの測定値データを取得するＡＤ変換結果取得処理において、レジスタを参照して該ｃｈに対応する端子異常等の有無を判定し（Ｓ８０５）、端子異常等が発生していない場合には、測定値データをレジスタから読み出すと共に（Ｓ８１５）、端子異常等が発生している場合には、フェールセーフ処理を実行しても良い（Ｓ８１０）。こうすることにより、第１〜第３実施形態と同様の構成をマイコンに適用した場合に、確実に端子異常等に対処することが可能となる。
【０１７３】
［特許請求の範囲との対応］
上記実施形態の説明で用いた用語と、特許請求の範囲の記載に用いた用語との対応を示す。
【０１７４】
センサ信号入力回路１００が信号入力回路に、ＡＤ変換ＩＣ１１０が測定装置，集積回路に、ＡＤコンバータ１１６が測定部に、制御回路１１５が制御部に、検査用電源１１７が充放電部に、マルチプレクサ１１４が選択スイッチに、マイコン１６０が処理装置に、通信部１１３が送信部に相当する。また、電圧変化検知回路１１２が電圧変化検知部に相当すると共に、判定電圧保持回路１１２ａが電圧値保持回路に、判定回路１１２ｂ及び判定結果保持回路１１２ｃが差分保持回路に相当する。また、信号ライン１１９ｄが測定経路に、検査ライン１１９ｅが検査経路に、センサ信号が入力信号に相当する。
【０１７５】
また、ＡＤ変換が測定処理に、ＡＤ変換における初期化，サンプリングが読取手順に、比較が生成手順に相当する。
また、第１実施形態における第１測定時異常検出処理のＳ４０１，第２測定時異常検出処理のＳ４２１，第２実施形態における測定時異常検出処理のＳ７０２，Ｓ７２２が、充放電手順に相当する。
【０１７６】
また、第１実施形態における第１測定時異常検出処理のＳ４０４，第２測定時異常検出処理のＳ４２４，第２実施形態における測定時異常検出処理のＳ７０５，Ｓ７２５が、導通手順に相当する。
【０１７７】
また、入力側抵抗異常検出処理が抵抗異常検出処理に相当する。
また、ＳＷ等異常検出処理Ｓ５０１〜Ｓ５０７が検査スイッチ異常検出処理に、Ｓ５０８〜Ｓ５２２が充放電部異常検出処理に相当する。
【０１７８】
また、Ｃ１ｘ異常が入力側コンデンサについての異常に、Ｒ２ｘ異常が抵抗異常に相当する。
【符号の説明】
【０１７９】
１００…センサ信号入力回路、１１０…ＡＤ変換ＩＣ、１１１…信号入力端子、１１２…電圧変化検知回路、１１２ａ…判定電圧保持回路、１１２ｂ…判定回路、１１２ｃ…判定結果保持回路、１１３…通信部、１１４…マルチプレクサ、１１５…制御回路、１１６…ＡＤコンバータ、１１７…検査用電源、１１７ａ…５Ｖスイッチ、１１７ｂ…０Ｖスイッチ、１１８…検査スイッチ、１１９ｄ…信号ライン、１１９ｅ…検査ライン、１２０…コネクタ、１４０…フィルタ回路、１５０…検査コンデンサ、１６０…マイコン、１７０…シリアルバス、１８０…出力ドライバ、２００…センサ、２５０…外部装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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