(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する装置であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射するための紫外線光源と、
上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットの撮影を行うカメラと、
該カメラと上記ステータの切断面との間に配置し、上記紫外線の照射を受けて上記ワニスが発光する光を透過させる一方、上記紫外線光源から上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射する性質を有する紫外線カットフィルタと、
該紫外線カットフィルタを透過して上記カメラに映った画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素を含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素を含む第２画素との２値化画像に変換する画像処理手段と、
上記２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定する判定手段と、
上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次上記カメラによる撮影位置まで移動させるインデックス手段とを有しており、
すべての上記スロットについて、上記カメラによって撮影を行い、上記画像処理手段によって上記２値化画像を形成すると共に上記判定手段によって上記ワニスの含浸状態の良否を判定するよう構成してあることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項２】
請求項１において、上記判定手段は、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第１画素の画素数の割合より、上記スロット内における上記ワニスの含浸率を求め、該ワニスの含浸率が基準の含浸率未満であれば含浸不良と判定するよう構成してあることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項３】
ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する装置であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射するための紫外線光源と、
上記ステータの切断面に可視光線を照射するための可視光線光源と、
上記ステータの切断面を撮影するためのカメラと、
該カメラと上記ステータの切断面との間に配置し、上記紫外線の照射を受けて上記ワニスが発光する光を透過させると共に、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射された可視光線のうち、上記コイル導体によって反射された可視光線を透過させる一方、上記紫外線光源から上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射する性質を有する紫外線カットフィルタと、
該紫外線カットフィルタを透過して上記カメラに映った画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映っていない画素とを含む第２画素との２値化画像に変換する画像処理手段と、
上記２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定する判定手段とを有していることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項４】
請求項３において、上記判定手段は、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第２画素の画素数の割合より、上記スロット内における空隙率を求め、該空隙率が基準の空隙率を超えていれば含浸不良と判定するよう構成してあることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項５】
請求項３又は４において、上記コイル導体は、銅線又は銅合金線から形成してあり、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、赤色の可視光線であることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項６】
請求項３又は４において、上記コイル導体は、アルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成してあり、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、青色の可視光線であることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項７】
請求項３〜６のいずれか一項において、上記カメラは、上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットの撮影を行うよう構成してあり、
上記ワニス含浸検査装置は、上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次上記カメラによる撮影位置まで移動させるインデックス手段を有しており、
すべての上記スロットについて、上記カメラによって撮影を行い、上記画像処理手段によって上記２値化画像を形成すると共に上記判定手段によって上記ワニスの含浸状態の良否を判定するよう構成してあることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか一項において、上記カメラは、モノクロカメラであることを特徴とするワニス含浸検査装置。
【請求項９】
ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する方法であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射して上記ワニスを発光させ、上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射して、上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットについて撮影を行い、
該撮影した画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素を含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素を含む第２画素との２値化画像に変換し、
該２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定し、
かつ上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次撮影位置まで移動させて、すべての上記スロットについて撮影を行い、上記２値化画像を形成すると共に上記ワニスの含浸状態の良否を判定することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１０】
請求項９において、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第１画素の画素数の割合より、上記スロット内における上記ワニスの含浸率を求め、該ワニスの含浸率が基準の含浸率未満であれば含浸不良と判定することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１１】
ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する方法であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射して上記ワニスを発光させると共に、上記ステータの切断面に可視光線を照射して該可視光線を上記コイル導体によって反射させ、上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射して、上記ステータの切断面を撮影し、
該撮影した画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映っていない画素とを含む第２画素との２値化画像に変換し、
該２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１２】
請求項１１において、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第２画素の画素数の割合より、上記スロット内における空隙率を求め、該空隙率が基準の空隙率を超えていれば含浸不良と判定することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１３】
請求項１１又は１２において、上記コイル導体は、銅線又は銅合金線から形成し、上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、赤色の可視光線とすることを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１４】
請求項１１又は１２において、上記コイル導体は、アルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成し、上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、青色の可視光線とすることを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１５】
請求項１１〜１４のいずれか一項において、上記ステータの切断面の撮影は、上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットについて行い、
上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次撮影位置まで移動させて、すべての上記スロットについて撮影を行い、上記２値化画像を形成すると共に上記ワニスの含浸状態の良否を判定することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【請求項１６】
請求項９〜１５のいずれか一項において、上記ステータの切断面は、モノクロ画像として撮影することを特徴とするワニス含浸検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ステータにおけるスロット内のワニスの含浸率を測定するワニス含浸検査装置及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
モータ等に用いるステータにおいては、通電時の電磁振動による絶縁破壊の防止、放熱性の向上、絶縁機能の補助等のために、ステータコアのスロット内に配置した絶縁紙及びコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着している。ステータの製造においては、コイル導体の一部がステータコアの軸方向端面から突出してなるコイルエンド部に、液状のワニスを滴下し、このワニスを、毛細管現象を利用して各スロット内へ浸透させ、その後、ワニスを熱硬化させている。
【０００３】
また、ステータの量産時にスロット内へのワニスの含浸度合いを管理するために、ワニスの滴下量、ステータコアへのワニスの付着量、滴下ノズルの位置、滴下時の周囲の温度等の製造条件によって代替管理を行っている。また、実際のスロット内へのワニスの含浸度合いを確認するために、ワニスの含浸を行ったステータを抜き打ちで取り出し、このステータを軸方向に直交する方向に切断して、この切断面を目視により検査している。
【０００４】
しかしながら、目視による検査を行う場合、コイル導体（マグネットワイヤ）同士の間の空隙は、微小であるためワニスの存在を判断し難いといった状況や、絶縁紙の色とワニスの色とが近いためにワニスの存在を確認し難いといった状況がある。
そのため、ワニスの含浸度合いを安定して検査することは難しく、熟練した技術を必要とする。
【０００５】
なお、特許文献１においては、紫外線による化学反応により硬化させた樹脂の塗布状態を光学画像認識により検査計測する方法において、検査対象物に近紫外光を照射し、樹脂を発光させて検査対象物の画像を取り込むことが開示されている。
しかしながら、特許文献１の技術を、そのままステータにおけるワニスの含浸度合いを検査する場合に適用することはできない。この場合には、ステータコア及びコイル導体が近紫外光を反射してしまい、ワニスの発光状態を検出することが困難である。
【０００６】
【特許文献１】特開平１１−２３７３４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので、特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができるワニス含浸検査装置及びワニス含浸検査方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１の発明は、ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する装置であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射するための紫外線光源と、
上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットの撮影を行うカメラと、
該カメラと上記ステータの切断面との間に配置し、上記紫外線の照射を受けて上記ワニスが発光する光を透過させる一方、上記紫外線光源から上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射する性質を有する紫外線カットフィルタと、
該紫外線カットフィルタを透過して上記カメラに映った画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素を含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素を含む第２画素との２値化画像に変換する画像処理手段と、
上記２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定する判定手段と、
上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次上記カメラによる撮影位置まで移動させるインデックス手段とを有しており、
すべての上記スロットについて、上記カメラによって撮影を行い、上記画像処理手段によって上記２値化画像を形成すると共に上記判定手段によって上記ワニスの含浸状態の良否を判定するよう構成してあることを特徴とするワニス含浸検査装置にある（請求項１）。
【０００９】
本発明のワニス含浸検査装置は、上記紫外線光源及びカメラを有する以外にも、上記紫外線カットフィルタを有している。この紫外線カットフィルタは、カメラとステータの切断面との間に配置してある。
ところで、ステータの切断面に紫外線が照射されたときには、紫外線の照射を受けてワニスが発光する一方、紫外線の多くは、ステータコア及びコイル導体の表面を反射する。このとき、カメラによってステータの切断面を撮影しようとすると、ワニスが発光する光と、ステータコア及びコイル導体を反射する紫外線とを識別することが困難になる。
【００１０】
これに対し、本発明においては、上記カメラによって撮影する光のうち、上記紫外線カットフィルタによって、ステータコア及びコイル導体を反射する紫外線を吸収又は反射させる。一方、ワニスが発光する光は、紫外線カットフィルタを透過させて、カメラへ導くことができる。これにより、ステータコア及びコイル導体を反射する紫外線がカメラに映ることがほとんどなく、カメラは、ワニスが発光する光を安定して撮影することができる。
【００１１】
そして、上記画像処理手段によってカメラに映った画像を上記２値化画像（２階調化画像）に変換する。このとき、カメラに映った複数の画素においては、ワニスが発光する光が映った画素と、ワニスが発光する光が映っていない画素とを容易に識別することができ、上記第１画素と上記第２画素との２値化画像を精度よく形成することができる。
その後、上記判定手段によって、この２値化画像に基づいて、スロット内におけるワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００１２】
それ故、本発明のワニス含浸検査装置によれば、特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００１３】
第２の発明は、ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する装置であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射するための紫外線光源と、
上記ステータの切断面に可視光線を照射するための可視光線光源と、
上記ステータの切断面を撮影するためのカメラと、
該カメラと上記ステータの切断面との間に配置し、上記紫外線の照射を受けて上記ワニスが発光する光を透過させると共に、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射された可視光線のうち、上記コイル導体によって反射された可視光線を透過させる一方、上記紫外線光源から上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射する性質を有する紫外線カットフィルタと、
該紫外線カットフィルタを透過して上記カメラに映った画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映っていない画素とを含む第２画素との２値化画像に変換する画像処理手段と、
上記２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定する判定手段とを有していることを特徴とするワニス含浸検査装置にある（請求項３）。
【００１４】
本発明のワニス含浸検査装置は、上記紫外線光源、カメラ及び紫外線カットフィルタを有する以外にも、上記可視光線光源を有している。そして、ステータの切断面には、紫外線と共に可視光線も照射され、ステータの切断面におけるコイル導体は、可視光線を反射させることができる。そして、コイル導体によって反射された可視光線は、ワニスが発光する光と共に紫外線カットフィルタを透過させて、カメラへ導くことができる。一方、ステータコア及びコイル導体を反射する紫外線は、紫外線カットフィルタによってカメラへ導かないようにすることができる。
これにより、ステータコア及びコイル導体を反射する紫外線がカメラに映ることがほとんどなく、カメラは、ワニスが発光する光と、コイル導体によって反射された可視光線とを安定して撮影することができる。
【００１５】
そして、上記画像処理手段によってカメラに映った画像を上記２値化画像に変換する。このとき、カメラに映った複数の画素においては、ワニスが発光する光が映った画素とコイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む第１画素と、ワニスが発光する光が映っていない画素とコイル導体を反射する可視光線が映っていない画素とを含む第２画素とに、容易に識別することができ、これらの２値化画像を精度よく形成することができる。
その後、上記判定手段によって、この２値化画像に基づいて、スロット内におけるワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００１６】
それ故、本発明のワニス含浸検査装置によっても、特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００１７】
第３の発明は、ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する方法であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射して上記ワニスを発光させ、上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射して、上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットについて撮影を行い、
該撮影した画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素を含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素を含む第２画素との２値化画像に変換し、
該２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定し、
かつ上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次撮影位置まで移動させて、すべての上記スロットについて撮影を行い、上記２値化画像を形成すると共に上記ワニスの含浸状態の良否を判定することを特徴とするワニス含浸検査方法にある（請求項９）。
【００１８】
本発明のワニス含浸検査方法においては、上記第１の発明のワニス含浸検査装置と同様に、上記２値化画像を精度よく形成することができ、スロット内におけるワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
それ故、本発明のワニス含浸検査方法によれば、特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００１９】
第４の発明は、ステータコアにおける複数のスロット内に絶縁紙を介して配置したコイル導体を、熱硬化性樹脂からなるワニスによって固着してなるステータについて、該ステータの軸方向に直交する切断面において、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態を検査する方法であって、
上記ステータの切断面に紫外線を照射して上記ワニスを発光させると共に、上記ステータの切断面に可視光線を照射して該可視光線を上記コイル導体によって反射させ、上記ステータの切断面に照射された紫外線のうち、上記ステータコア及び上記コイル導体によって反射された紫外線を吸収又は反射して、上記ステータの切断面を撮影し、
該撮影した画像を、上記ワニスが発光する光が映った画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む第１画素と、上記ワニスが発光する光が映っていない画素と上記コイル導体を反射する可視光線が映っていない画素とを含む第２画素との２値化画像に変換し、
該２値化画像に基づいて、上記スロット内における上記ワニスの含浸状態の良否を判定することを特徴とするワニス含浸検査方法にある（請求項１１）。
【００２０】
本発明のワニス含浸検査方法においては、上記第２の発明のワニス含浸検査装置と同様に、上記２値化画像を精度よく形成することができ、スロット内におけるワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
それ故、本発明のワニス含浸検査方法によっても、特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
上述した第１〜第４の発明における好ましい実施の形態につき説明する。
第１〜第４の発明において、上記紫外線光源等によって上記ステータの切断面に照射する紫外線は、３１５〜４０５ｎｍの波長に光強度のピークを有するものとすることができる。
上記紫外線カットフィルタは、例えば、紫外線の波長以下（紫外線の波長領域及び紫外線よりも短い波長領域）の光を吸収するものとすることができる。紫外線カットフィルタとしては、例えば、シャープカットフィルタ、ＵＶフィルタ、ＵＶカットフィルム等を用いることができる。
【００２２】
また、上記ワニスを構成する熱硬化性樹脂は、炭素等の二重結合のあるベンゼン環、イミド基等を含有する樹脂とすることができる。この場合には、紫外線を照射すると、励起して良好に発光することができる。また、上記ワニスが発光する光は、可視光線と考えられる。
また、上記ステータは、モータ、ジェネレータ、モータジェネレータ等のステータとして用いることができる。
【００２３】
また、上記ステータの切断面は、上記ステータの軸方向中心位置の切断面とすることが好ましい。この場合には、ステータにおける軸方向両側のコイルエンド部に滴下して、各スロット内に浸透させてワニス含浸を行った際に、ワニスが最も含浸され難いステータの軸方向中心位置について、ワニスの含浸状態の良否を判定することができる。
【００２４】
また、第１の発明においては、上記判定手段は、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第１画素の画素数の割合より、上記スロット内における上記ワニスの含浸率を求め、該ワニスの含浸率が基準の含浸率未満であれば含浸不良と判定するよう構成することが好ましい（請求項２）。第３の発明においては、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第１画素の画素数の割合より、上記スロット内における上記ワニスの含浸率を求め、該ワニスの含浸率が基準の含浸率未満であれば含浸不良と判定することが好ましい（請求項１０）。
これらの場合には、スロット内におけるワニスの含浸率を安定して求めることができ、ワニスの含浸状態の良否の判定を安定して行うことができる。
【００２５】
また、第１、第３の発明において、上記判定手段等は、上記含浸率を求める代わりに、以下の構成によってもスロットにおけるワニスの含浸状態の良否を判定することができる。
例えば、ステータを量産する際には、ステータ及びスロットのサイズが一定であるため、上記判定手段等は、上記第１画素の画素数が、良否判定の基準となる画素数未満であるときに、含浸不良と判定することができる。この場合には、含浸不良となる閾値の含浸率のときの第１画素の画素数を認定しておくことができる。また、第１画素の画素数と含浸率との関係を予め求めておくことにより、第１画素の画素数を求めることによって、含浸率を求めることができる。
【００２６】
また、第２の発明においては、上記判定手段は、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第２画素の画素数の割合より、上記スロット内における空隙率を求め、該空隙率が基準の空隙率を超えていれば含浸不良と判定するよう構成することが好ましい（請求項４）。第４の発明においては、上記スロット内の有効断面積を示す画素数から上記コイル導体及び上記絶縁紙が占有する断面積を示す画素数を差し引いた理論隙間画素数に対する、上記第２画素の画素数の割合より、上記スロット内における空隙率を求め、該空隙率が基準の空隙率を超えていれば含浸不良と判定することが好ましい（請求項１２）。
【００２７】
これらの場合には、スロット内における空隙率を安定して求めることができ、ワニスの含浸状態の良否の判定を安定して行うことができる。なお、上記空隙率は、１００％（又は１）から上記含浸率を差し引いた値を示す。そのため、空隙率を求めることは含浸率を求めることと等価である。
【００２８】
また、第２、第４の発明において、上記判定手段等は、上記空隙率を求める代わりに、以下の構成によってもスロットにおけるワニスの含浸状態の良否を判定することができる。
例えば、ステータを量産する際には、ステータ及びスロットのサイズが一定であるため、上記判定手段等は、上記第２画素の画素数が、良否判定の基準となる画素数を超えているときに、含浸不良と判定することができる。この場合には、含浸不良となる閾値の含浸率のときの第２画素の画素数を認定しておくことができる。また、第２画素の画素数と空隙率との関係を予め求めておくことにより、第２画素の画素数を求めることによって、空隙率を求めることができる。
【００２９】
また、第２の発明においては、上記コイル導体は、銅線又は銅合金線から形成してあり、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、赤色の可視光線であることが好ましい（請求項５）。第４の発明においては、上記コイル導体は、銅線又は銅合金線から形成し、上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、赤色の可視光線とすることが好ましい（請求項１３）。
【００３０】
ところで、銅は赤色の可視光線を反射し易い性質を有している。そして、これらの場合には、赤色の可視光線を、銅線又は銅合金線から形成したコイル導体によって一層安定して反射させることができる。そのため、ワニスが発光する光が映った画素とコイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む上記第１画素を一層精度よく形成することができる。
【００３１】
また、第２の発明においては、上記コイル導体は、アルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成してあり、上記可視光線光源から上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、青色の可視光線であることが好ましい（請求項６）。第４の発明においては、上記コイル導体は、アルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成し、上記ステータの切断面に照射する上記可視光線は、青色の可視光線とすることが好ましい（請求項１４）。
【００３２】
ところで、アルミニウムは青色の可視光線を反射し易い性質を有している。そして、これらの場合には、青色の可視光線を、アルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成したコイル導体によって一層安定して反射させることができる。そのため、ワニスが発光する光が映った画素とコイル導体を反射する可視光線が映った画素とを含む上記第１画素を一層精度よく形成することができる。
【００３３】
また、第１、第２の発明においては、上記カメラは、モノクロカメラであることが好ましい（請求項８）。第３、第４の発明においては、上記ステータの切断面は、モノクロ画像として撮影することが好ましい（請求項１６）。
これらの場合には、モノクロカメラに映った画像又はモノクロ画像において、白色と黒色との２色の階調によって、ワニスが発光する光が映った画素（及びコイル導体を反射する可視光線が映った画素）と、ワニスが発光する光が映っていない画素とを識別することができる。そのため、２値化画像を一層精度よく形成することができ、スロット内におけるワニスの含浸状態の良否を一層精度よく判定することができる。
【００３４】
なお、モノクロカメラ又はモノクロ画像においては、ワニスが発光する光が映った画素（及びコイル導体を反射する可視光線が映った画素）を白色に近い階調として認識する一方、ワニスが発光する光が映っていない画素を黒色に近い階調として認識することができる。
また、上記カメラは、カラーカメラとすることもでき、上記ステータの切断面は、カラー画像として撮影することもできる。この場合にも、撮影を行った画像を、上記画像処理手段等によって２値化画像に変換することにより、上記判定手段等によって、上記２値化画像に基づいてスロット内におけるワニスの含浸状態の良否の判定することができる。
【００３５】
また、第２の発明においては、上記カメラは、上記ステータの切断面における上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットの撮影を行うよう構成してあり、上記ワニス含浸検査装置は、上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次上記カメラによる撮影位置まで移動させるインデックス手段を有しており、かつ、すべての上記スロットについて、上記カメラによって撮影を行い、上記画像処理手段によって上記２値化画像を形成すると共に上記判定手段によって上記ワニスの含浸状態の良否を判定するよう構成することが好ましい（請求項７）。第４の発明において、上記ステータの切断面の撮影は、上記複数のスロットのうちのいずれか１つのスロットについて行い、上記ステータを中心軸線回りに回動させ、上記複数のスロットを順次撮影位置まで移動させて、すべての上記スロットについて撮影を行い、上記２値化画像を形成すると共に上記ワニスの含浸状態の良否を判定することが好ましい（請求項１５）。
これらの場合には、ステータにおけるすべてのスロットについて、効率よくワニスの含浸状態の良否を判定することができる。
【実施例】
【００３６】
以下に、本発明のワニス含浸検査装置及びワニス含浸検査方法にかかる実施例１、２につき、図面と共に説明する。
（実施例１）
本例のワニス含浸検査装置１は、図１〜図３に示すごとく、ステータコア７１における複数のスロット７２内に絶縁紙７４を介して配置したコイル導体７３を、熱硬化性樹脂からなるワニス７５によって固着してなるステータ７について、ステータ７の軸方向Ｌに直交する切断面７０１において、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態を検査する装置である。ワニス含浸検査装置１は、ステータ７の切断面７０１に紫外線Ｕを照射するための紫外線光源３１と、ステータ７の切断面７０１を撮影するためのカメラ２と、カメラ２とステータ７の切断面７０１との間に配置し、紫外線Ｕをカットする（吸収する）紫外線カットフィルタ２１とを有している。
【００３７】
図２に示すごとく、紫外線カットフィルタ２１は、紫外線Ｕの照射を受けてワニス７５が発光する光Ｔを透過させる一方、紫外線光源３１からステータ７の切断面７０１に照射された紫外線Ｕのうち、ステータコア７１及びコイル導体７３によって反射された紫外線Ｕを吸収又は反射する性質を有している。
なお、図２は、ステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影する際の光（紫外線、可視光線等）の透過、反射、吸収の状態を概略的に示す図である。
【００３８】
また、図１に示すごとく、ワニス含浸検査装置１は、紫外線カットフィルタ２１を透過してカメラ２に映った画像Ｃ（図５参照）を、２値化画像（２階調化画像）Ｐ（図６参照）に変換する画像処理手段４と、２値化画像Ｐに基づいて、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を判定する判定手段５とを有している。画像処理手段４は、ワニス７５が発光する光Ｔが映った画素の階調と、ワニス７５が発光する光Ｔが映っていない画素の階調との間に設定した閾値の階調によって、図５、図６に示すごとく、ワニス７５が発光する光Ｔが映った画素を含む第１画素Ｐ１と、ワニス７５が発光する光Ｔが映っていない画素を含む第２画素Ｐ２との２値化画像Ｐを形成するよう構成してある。
【００３９】
以下に、本例のワニス含浸検査装置１及びワニス含浸検査方法につき、図１〜図６と共に詳説する。
図１、図２に示すごとく、本例のワニス含浸検査装置１は、カメラ２によって、ステータ７の切断面７０１におけるスロット７２の撮影をし、コンピュータから構成した画像処理手段４及び判定手段５によって、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を判定することができるものである。
【００４０】
本例のカメラ２は、ステータ７の切断面７０１における複数のスロット７２のうちのいずれか１つのスロット７２である測定用スロット７２の撮影を行うよう構成してある。また、本例のカメラ２は、デジタル式のモノクロカメラ２であり、図５に示すごとく、白色と黒色とを用いた複数の階調によるモノクロ画像Ｃとして、被写体を撮影するものである。同図に示すごとく、モノクロカメラ２は、ステータ７の切断面７０１のスロット７２内において輝度が高い部分（被写体部分）を、白色に近い階調として認識する一方、ステータ７の切断面７０１のスロット７２内において輝度が低い部分（被写体部分）を、黒色に近い階調として認識することができる。また、本例のモノクロカメラ２は、８ビットのデータによる２５６階調で、白色から黒色までの階調（色調）を表すことができる。
【００４１】
図２に示すごとく、ワニス含浸検査装置１において、モノクロカメラ２は、そのレンズ面を、ステータ７の切断面７０１における１つのスロット７２である測定用スロット７２に正対する状態で（スロット７２の切断面７０１に対して垂直な状態で）配設してある。ワニス含浸検査装置１において、紫外線光源３１は、モノクロカメラ２による撮影位置（モノクロカメラ２と測定用スロット７２の切断面７０１との対向位置）を避けて、測定用スロット７２の切断面７０１に紫外線Ｕを照射できる状態で配設してある。
【００４２】
本例の紫外線光源３１は、３１５〜４０５ｎｍの波長領域に光強度のピークを有する紫外線発光ダイオード（ＬＥＤ）である。
本例の紫外線カットフィルタ２１は、レンズ等のガラス光学部品の表面層に金属イオンを着色させてなるものから構成してあり、紫外線の波長以下（例えば、４０５ｎｍ以下）の光を吸収する一方、紫外線の波長を超える光（可視光線等）を透過させることができるものである。また、本例の紫外線カットフィルタ２１は、モノクロカメラ２のレンズ面を覆う状態で配置してある。
【００４３】
図１に示すごとく、本例のワニス含浸検査装置１は、ステータ７を中心軸線回りに回動させ、複数のスロット７２を、測定用スロット７２としてカメラ２による撮影位置まで順次移動させるインデックス手段６を有している。本例のインデックス手段６は、切断した状態のステータ７を、その切断面７０１を上方に向けた状態で保持し、ステータ７を、スロット７２同士の間隔分だけ周方向に回動させるよう構成してある。また、インデックス手段６は、軸受等を用いてステータ７を保持する回転テーブル６１を構成し、所定の角度ずつ回動するよう構成することができる。また、回転テーブル６１の回動は、作業者の手動操作によって行うことができ、モータ等の回転用アクチュエータを用いた電動操作等によって行うこともできる。
また、上記モノクロカメラ２は、そのレンズ面を下方に向けて、測定用スロット７２の切断面７０１の上方に配設してある。
【００４４】
図３は、スロット７２の切断面７０１を模式的に示す図であり、図４は、スロット７２内における理論隙間断面積（ワニス７５が充填され得る理論上の断面積）Ｄを模式的に示す図である。
両図に示すごとく、スロット７２内の有効断面積をＡ（ｍｍ2）、コイル導体７３が占有する断面積をＢ（ｍｍ2）、絶縁紙７４が占有する断面積をＣ（ｍｍ2）としたとき、スロット７２内における理論隙間断面積（ワニス７５が充填され得る理論上の断面積）Ｄ（ｍｍ2）は、Ｄ＝Ａ−（Ｂ＋Ｃ）で表される。そして、スロット７２内におけるワニス７５の含浸率α（％）は、理論隙間断面積Ｄ（ｍｍ2）に対するワニス７５の充填部分（含浸部分）の断面積Ｅ（ｍｍ2）の割合として、α＝Ｅ／Ｄ×１００（％）によって表される値である。
【００４５】
また、スロット７２内の有効断面積Ａ、コイル導体７３が占有する断面積Ｂ、絶縁紙７４が占有する断面積Ｃ、及びスロット７２内における理論隙間断面積Ｄは、デジタル化されて、モノクロカメラ２における画素数として表され、図６に示すごとく、ワニス７５の充填部分の断面積Ｅは、２値化画像Ｐにおける第１画素Ｐ１の画素数として表される。
こうして、理論隙間断面積Ｄの画素数に対する第１画素Ｐ１の画素数の割合より、スロット７２内におけるワニス７５の含浸率を求めることができる。
【００４６】
また、図４、図６に示すごとく、本例の判定手段５は、スロット７２内の有効断面積Ａを示す画素数からコイル導体７３及び絶縁紙７４が占有する断面積Ｂ＋Ｃを示す画素数を差し引いた理論隙間画素数ｄ（図４参照）に対する、第１画素Ｐ１の画素数ｅ（図６参照）の割合より、スロット７２内におけるワニス７５の含浸率を求めるものである。そして、判定手段５は、ワニス７５の含浸率が基準の含浸率以上であれば含浸良好と判定する一方、ワニス７５の含浸率が基準の含浸率未満であれば含浸不良と判定するよう構成してある。
【００４７】
また、図３に示すごとく、ステータ７において、コイル導体７３は、複数本がスロット７２内に配置されており、銅線に絶縁被膜を形成したマグネットワイヤからなる。また、絶縁紙７４は、樹脂のフィルム等からなる。また、ステータコア７１は、その軸方向Ｌに複数の電磁鋼板（鉄に珪素を含有させた珪素鋼板等）を積層して形成されている。
【００４８】
本例のワニス含浸検査方法においては、上記ワニス含浸検査装置１を用いて、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を判定する。
本例において、ワニス７５の含浸率の測定を行うステータ７の切断面７０１は、ステータ７の軸方向Ｌの中心位置の切断面７０１とする。本例のステータ７は、その軸方向Ｌの両側のコイルエンド部にワニス７５を滴下し、このワニス７５を各スロット７２内に浸透させて、ワニス含浸を行ったものであり、本例のワニス含浸検査方法においては、ワニス７５が最も含浸され難いステータ７の軸方向Ｌの中心位置の切断面７０１について、ワニス７５の含浸状態の良否を判定する。
【００４９】
図１に示すごとく、ワニス７５の含浸率を測定するに当たっては、まず、インデックス手段６に切断を行った状態のステータ７を保持する。そして、複数のスロット７２のうちの１つを測定用スロット７２として、モノクロカメラ２の直下位置に位置させる。また、ステータ７を暗幕内等に配置し、ステータ７の切断面７０１に、工場内の蛍光灯等による可視光線が照射されないようにする。
次いで、図２に示すごとく、紫外線光源３１から、ステータ７の切断面７０１における測定用スロット７２に向けて紫外線Ｕを照射し、モノクロカメラ２によって、測定用スロット７２を撮影する。このとき、測定用スロット７２内におけるワニス７５は、紫外線Ｕを受けて、光としての可視光線Ｔを発光する。また、ステータコア７１及びコイル導体７３に照射された紫外線Ｕの多くは、これらの表面を反射する。
【００５０】
そして、本例のモノクロカメラ２のレンズ面には、紫外線カットフィルタ２１が配置してある。これにより、図２に示すごとく、ワニス７５が発光する可視光線Ｔのほとんどは、紫外線カットフィルタ２１を透過させて、モノクロカメラ２へ導くことができる一方、ステータコア７１及びコイル導体７３を反射する紫外線Ｕのほとんどを吸収することができる。これにより、ステータコア７１及びコイル導体７３を反射する紫外線Ｕがモノクロカメラ２に映ることがほとんどなく、モノクロカメラ２は、ワニス７５が発光する可視光線Ｔを安定して撮影することができる。
【００５１】
そして、図１に示すごとく、モノクロカメラ２によって撮影を行ったモノクロ画像Ｃを、画像処理手段４に取り込む。そして、画像処理手段４においては、モノクロ画像Ｃを、白色と黒色との２値化画像Ｐに変換する。このとき、画像処理手段４においては、測定用スロット７２の切断面７０１において、輝度が高い部分を純粋な白色に近い階調として認識し、輝度が低い部分を純粋な黒色に近い階調として認識する。
そして、図５に示すごとく、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映った画素は、白色に近い階調として認識され、ワニス７５が発光する光Ｔが映っていない画素は、黒色に近い階調として認識される。
【００５２】
また、図６に示すごとく、本例においては、白色と黒色との間に設定した閾値の階調によって、モノクロ画像Ｃにおける画素を、第１画素Ｐ１と第２画素Ｐ２とに２値化（２階調化）する。なお、本例においては、２値化を行うときに、第１画素Ｐ１を黒色、第２画素Ｐ２を白色にして白黒反転させている。これに対し、２値化を行うときに、第１画素Ｐ１を白色、第２画素Ｐ２を黒色とすることもできる。
【００５３】
また、同図に示すごとく、本例においては、測定用スロット７２内における絶縁紙７４の部分を除外して（絶縁紙７４の内側とワニス７５との境界線に沿って）、２値化処理を行うための変換用枠Ｘを設定する。この変換用枠Ｘ内には、コイル導体７３による断面積Ｂと上記理論隙間断面積Ｄ（スロット７２内の有効断面積Ａからコイル導体７３及び絶縁紙７４の断面積Ｂ＋Ｃを差し引いたもの）とが含まれる。
そして、変換用枠Ｘ内のモノクロ画像Ｃにおける画素を、第１画素Ｐ１と第２画素Ｐ２との２値化画像Ｐに変換する。このとき、第１画素Ｐ１には、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映った画素のほとんどが含まれ、第２画素Ｐ２には、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映っていない画素、すなわちコイル導体７３と、ワニス７５の未充填空間としての空隙Ｓとが映った画素のほとんどが含まれる。
【００５４】
そして、上記紫外線カットフィルタ２１によってステータコア７１及びコイル導体７３を反射する紫外線Ｕのほとんどを吸収していることにより、ワニス７５が発光する可視光線Ｔを含む画素の識別が容易であり、２値化画像Ｐを精度よく形成することができる。
次いで、画像処理手段４によって形成された２値化画像Ｐは、判定手段５に取り込まれる。そして、判定手段５においては、２値化画像Ｐに基づいて、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を判定する。
このとき、判定手段５は、スロット７２内におけるワニス７５の含浸率α（％）を、予め求めておいたスロット７２内における理論隙間断面積Ｄ（ｍｍ2）の画素数ｄに対する（図４参照）、実際のワニス７５の充填部分の断面積Ｅ（ｍｍ2）の画素数を示す変換用枠Ｘ内の第１画素Ｐ１の画素数ｅの割合として（図６参照）、α＝ｅ／ｄ×１００（％）より求めることができる。
【００５５】
そして、判定手段５は、ワニス７５の含浸率αが、基準の含浸率を超えている場合には含浸良好と判定し、基準の含浸率未満である場合には含浸不良と判定する。
また、インデックス手段６によって、各スロット７２を、測定用スロット７２としてモノクロカメラ２による撮影位置まで順次移動させ、すべてのスロット７２についてモノクロカメラ２によって撮影を行い、画像処理手段４によって２値化画像Ｐを形成すると共に、判定手段５によってワニス７５の含浸率を求め良否を判定する。
こうして、本例においては、判定手段５によって、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００５６】
それ故、本例のワニス含浸検査装置１及びワニス含浸検査方法によれば、特別に熟練した技術がなくても、ワニス７５の含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
【００５７】
（実施例２）
本例は、図７に示すごとく、実施例１に示したワニス含浸検査装置１において、ステータ７の切断面７０１に可視光線Ｖを照射するための可視光線光源３２を付加した例である。
本例の紫外線カットフィルタ２１は、実施例１と同様、レンズ等のガラス光学部品の表面層に金属イオンを着色させてなるものから構成してあり、紫外線の波長以下（例えば、４０５ｎｍ以下）の光を吸収する一方、紫外線の波長を超える光（可視光線等）を透過させることができるものである。
【００５８】
また、本例のコイル導体７３は、銅線（銅線に絶縁被膜を形成したマグネットワイヤ）から構成されており、本例の可視光線光源３２は、可視光線Ｖを照射する赤色発光ダイオード（ＬＥＤ）である。赤色発光ダイオードは、約６００〜７００ｎｍの波長領域に光強度のピークを有している。
【００５９】
本例においては、図７に示すごとく、ステータ７の切断面７０１には、紫外線Ｕと共に可視光線Ｖも照射する。そして、ステータ７の切断面７０１におけるコイル導体７３は、可視光線光源３２から照射された可視光線Ｖを反射させることができる。そして、コイル導体７３によって反射された可視光線Ｖは、ワニス７５が発光する可視光線Ｔと共に紫外線カットフィルタ２１を透過させて、カメラ２へ導くことができる。一方、ステータコア７１及びコイル導体７３を反射する紫外線Ｕは、紫外線カットフィルタ２１によってカメラ２へ導かないようにすることができる。
これにより、ステータコア７１及びコイル導体７３を反射する紫外線Ｕがモノクロカメラ２に映ることがほとんどなく、モノクロカメラ２は、ワニス７５が発光する可視光線Ｔと、コイル導体７３によって反射された可視光線Ｖとを安定して撮影することができる。
【００６０】
図８に示すごとく、本例のモノクロカメラ２によって撮影を行ったモノクロ画像Ｃにおいては、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映った画素と、コイル導体７３によって反射された可視光線Ｖが映った画素とは、白色に近い階調として認識され、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映っていない画素、すなわちワニス７５の未充填空間である空隙Ｓが映った画素は、黒色に近い階調として認識される。
【００６１】
そして、モノクロ画像Ｃを画像処理手段４に取り込み、画像処理手段４において、図９に示すごとく、白色と黒色との間に設定した閾値の階調によって、モノクロ画像Ｃにおける画素を、第１画素Ｐ１と第２画素Ｐ２とに２値化（２階調化）する。このとき、第１画素Ｐ１には、ワニス７５が発光する可視光線Ｔが映った画素とコイル導体７３によって反射された可視光線Ｖが映った画素とが含まれる。また、第２画素Ｐ２には、ワニス７５の未充填空間である空隙Ｓが映った画素が含まれる。
また、本例においても、測定用スロット７２内における絶縁紙７４の部分を除外して（絶縁紙７４の内側の境界線に沿って）、変換用枠Ｘを設定し、画像処理手段４は、変換用枠Ｘ内の２値化処理を行う。
【００６２】
次いで、２値化画像Ｐを判定手段５に取り込み、判定手段５において、スロット７２内における空隙率β（％）を求める。この空隙率β（％）は、予め求めておいたスロット７２内における理論隙間断面積Ｄ（ｍｍ2）の画素数ｄに対する（図４参照）、実際のワニス７５の未充填部分の断面積（ｍｍ2）の画素数を示す変換用枠Ｘ内の第２画素Ｐ２の画素数ｆの割合として（図９参照）、β＝ｆ／ｄ×１００（％）より求めることができる。なお、空隙率βを求めることにより、含浸率αを、α＝１００（％）−βから求めることができる。
【００６３】
そして、判定手段５は、ワニス７５の空隙率βが、基準の空隙率未満である場合には含浸良好と判定し、基準の空隙率を超えている場合には含浸不良と判定する。
こうして、本例においても、スロット７２内におけるワニス７５の含浸状態の良否を精度よく判定することができる。
本例においても、その他の構成は上記実施例１と同様であり、上記実施例１と同様の作用効果を得ることができる。
【００６４】
なお、詳細は省略するが、コイル導体７３をアルミニウム線又はアルミニウム合金線から形成した場合には、可視光線光源３２からステータ７の切断面７０１に照射する可視光線は、青色の可視光線（例えば、約４００〜５００ｎｍの波長領域に光強度のピークを有する可視光線）とすることができる。
【００６５】
（撮影例）
本撮影例においては、上記実施例１、２に示したワニス含浸検査装置１のモノクロカメラ２によって撮影したステータ７の切断面７０１を示す。
なお、本撮影例に用いたコイル導体７３は、いずれも銅線に絶縁被膜を設けたマグネットワイヤである。
図１０は、実施例１の構成、すなわちステータ７の切断面７０１に紫外線Ｕのみを照射し、紫外線カットフィルタ２１を介してモノクロカメラ２によってステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影したモノクロ画像Ｃを示す図である。同図において、スロット７２内の白く見える部分は、紫外線Ｕの照射を受けてスロット７２内のワニス７５が発光している部分であり、スロット７２内の黒く見える部分は、コイル導体７３の部分と空隙Ｓの部分とである。また、ステータコア７１は黒く見え、絶縁紙７４は、多くは白と黒の中間の色に見える。
【００６６】
また、コイル導体７３及びステータコア７１は、紫外線Ｕを反射するため、紫外線カットフィルタ２１がなければ、白に近い色で見えるところ、紫外線カットフィルタ２１による紫外線カット効果によって、黒く見える。
そして、絶縁紙７４の内側とワニス７５との境界線に沿った変換用枠Ｘ内の２値化処理を行うことによって、スロット７２内におけるワニス７５の部分と、スロット７２内におけるコイル導体７３及び空隙Ｓの部分とを精度よく識別することができ、含浸不良の判定精度を向上できることがわかる。
【００６７】
図１１は、実施例２の構成、すなわちステータ７の切断面７０１に紫外線Ｕ及び赤色の可視光線Ｖを照射し、紫外線カットフィルタ２１を介してモノクロカメラ２によってステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影したモノクロ画像Ｃを示す図である。同図において、スロット７２内の白く見える部分は、紫外線Ｕの照射を受けてスロット７２内のワニス７５が発光している部分と、コイル導体７３の部分と、ステータコア７１の部分と、絶縁紙７４の部分とである。また、スロット７２内の黒く見える部分は、空隙Ｓの部分である。
【００６８】
ワニス７５の部分が白く見えるのは、可視光線Ｔを発光しているためであり、コイル導体７３及びステータコア７１の部分が白く見えるのは、可視光線Ｖを反射しているためである。また、絶縁紙７４が白く見えるのは、絶縁紙７４を構成する樹脂が可視光線Ｔを発光しているためと考える。
図１２は、図１１の撮影例について、絶縁紙７４の内側とワニス７５との境界線に沿った変換用枠Ｘ内の２値化処理を行った２値化画像Ｐを示す図である。同図においては、白黒の反転処理をしており、黒く見える部分が、ワニス７５及びコイル導体７３が映った画素が含まれる第１画素Ｐ１であり、白く見える部分が、空隙Ｓが映った画素が含まれる第２画素Ｐ２である。このように、変換用枠Ｘ内の２値化処理を行うことによって、スロット７２内におけるワニス７５及びコイル導体７３の部分と、スロット７２内における空隙Ｓの部分とを精度よく識別することができ、含浸不良の判定精度を向上できることがわかる。
【００６９】
また、比較のために、図１３には、ステータ７の切断面７０１に紫外線Ｕのみを照射し、紫外線カットフィルタ２１を介さずにカラーカメラによってステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影したカラー画像Ｃ’を示す。同図において、コイル導体７３の部分及びステータコア７１の部分は、紫外線Ｕを反射してより白に近い色で見え、スロット７２内の空隙Ｓの部分が黒に近い色で見えるものの、ワニス７５の部分が、白と黒の中間の色で見える。そのため、空隙Ｓの部分とワニス７５の部分との識別が難しくなり、含浸不良の判定精度を向上させるのが困難であることがわかる。なお、この場合において、カラーカメラをモノクロカメラ２に変更しても、撮影した画像に大差はなかった。
【００７０】
また、比較のために、図１４には、ステータ７の切断面７０１に赤色の可視光線Ｖのみを照射し、紫外線カットフィルタ２１を介してモノクロカメラ２によってステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影したモノクロ画像Ｃを示す。同図において、コイル導体７３の部分、絶縁紙７４の部分及びステータコア７１の部分は、赤色の可視光線Ｖを反射してより白に近い色で見え、スロット７２内の空隙Ｓの部分が黒に近い色で見えるものの、ワニス７５の部分が、白と黒の中間の色で見える。そのため、空隙Ｓの部分とワニス７５の部分との識別が難しくなり、含浸不良の判定精度を向上させるのが困難であることがわかる。
【００７１】
また、比較のために、図１５には、ステータ７の切断面７０１に紫外線Ｕ及び青色の可視光線Ｖを照射し、紫外線カットフィルタ２１を介してモノクロカメラ２によってステータ７の切断面７０１におけるスロット７２を撮影したモノクロ画像Ｃを示す。同図において、絶縁紙７４の部分は、青色の可視光線Ｖを反射してより白に近い色で見え、スロット７２内の空隙Ｓの部分が黒に近い色で見えるものの、ワニス７５の部分及びコイル導体７３の部分が、白と黒の中間の色で見える。そのため、空隙Ｓの部分とワニス７５の部分との識別が難しくなり、含浸不良の判定精度を向上させるのが困難であることがわかる。
【００７２】
以上のように、実施例１、２のワニス含浸検査装置１の構成によれば、ワニスの含浸不良の判定精度を向上できる一方、比較した構成のワニス含浸検査装置によっては、ワニスの含浸不良の判定精度を向上させることが困難であることがわかる。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】実施例１における、ワニス含浸検査装置の構成を示す説明図。
【図２】実施例１における、ステータの切断面におけるスロットを撮影する際の光の透過、反射、吸収の状態を概略的に示す説明図。
【図３】実施例１における、ステータの切断面におけるスロットを模式的に示す断面説明図。
【図４】実施例１における、ステータの切断面のスロット内における理論隙間断面積を模式的に示す説明図。
【図５】実施例１における、カメラによって撮影したモノクロ画像を模式的に示す説明図。
【図６】実施例１における、画像処理を行った２値化画像を模式的に示す説明図。
【図７】実施例２における、ステータの切断面におけるスロットを撮影する際の光の透過、反射、吸収の状態を概略的に示す説明図。
【図８】実施例２における、カメラによって撮影したモノクロ画像を模式的に示す説明図。
【図９】実施例２における、画像処理を行った２値化画像を模式的に示す説明図。
【図１０】撮影例における、実施例１の構成により撮影したモノクロ画像の写真。
【図１１】撮影例における、実施例２の構成により撮影したモノクロ画像の写真。
【図１２】撮影例における、実施例２の構成により撮影したモノクロ画像を変換した２値化画像の写真のトレース図。
【図１３】撮影例における、比較のためのモノクロ画像の写真。
【図１４】撮影例における、比較のためのモノクロ画像の写真。
【図１５】撮影例における、比較のためのモノクロ画像の写真。
【符号の説明】
【００７４】
１  ワニス含浸検査装置
２  カメラ
２１  紫外線カットフィルタ
３１  紫外線光源
３２  可視光線光源
４  画像処理手段
５  判定手段
６  インデックス手段
７  ステータ
７０１  切断面
７１  ステータコア
７２  スロット
７３  コイル導体
７４  絶縁紙
７５  ワニス
Ｓ  空隙
Ｌ  軸方向
Ｕ  紫外線
Ｖ  可視光線
Ｔ  ワニスが発光した可視光線
Ｃ  モノクロ画像
Ｐ  ２値化画像
Ｐ１  第１画素
Ｐ２  第２画素
【図１】
0005181604.tif 000002
【図２】
0005181604.tif 000003
【図３】
0005181604.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１２】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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