(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別装置において、
前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定する外来光強度設定手段と、
前記移動部材の位置判別を行うに先立って、外部の異なる光の強度環境で少なくとも２回計測して、その計測結果が実質的に同じか否かを判断し、同じであると判断した場合、それを示す識別情報を設定する識別情報設定手段と、
この識別情報設定手段に識別情報が設定されている場合は、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号の大きさに従って、前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別し、前記識別情報設定手段に識別情報が設定されていない場合は、前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定し、さらに、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号と前記外来光の強度に従って、前記移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する位置判別手段と、
を有することを特徴とする貫通状態判別装置。
【請求項２】
前記識別情報設定手段は、
外界の光の強度環境を指定の強度環境にするよう外部に指示を出力する指示出力手段と、
指定された光強度環境になったことの通知を操作入力により受ける操作入力手段とを有し、
前記指示出力手段により外部に指示を出力した後に前記操作入力手段により操作入力があったことに基づいて前記受光素子により前記計測を行わせることを特徴とする請求項１記載の貫通状態判別装置。
【請求項３】
筐体に覆われてなり、発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が前記発光素子から前記受光素子へ光が進行する経路中の所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別装置において、
設定情報を記憶するための記憶手段と、
前記発光素子を駆動させずに前記受光素子に光を検出させ、この光の検出量に基づいて外部から前記筐体内に侵入した外来光が一定量以下か否かを判別し、この判別結果に応じた第一の情報または第二の情報を前記記憶手段に記憶させる記憶制御手段と、
この記憶制御手段の制御により第一の情報が記憶されている場合には前記発光素子を駆動させずに前記受光素子に光を検出させ、その後、前記発光素子を駆動させて前記受光素子に光を検出させ、これらの光の検出量の差異に基づいて前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する一方、前記記憶制御手段の制御により第二の情報が記憶されている場合には前記発光素子を駆動させて前記受光素子に光を検出させ、この光の検出量に基づいて前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する判別制御手段と、
を備えていることを特徴とする貫通状態判別装置。
【請求項４】
前記記憶制御手段は、
当該貫通状態判別装置が使用される通常時の外界の光環境よりも明るい前記第１光強度環境と、前記第１光強度環境よりも暗い第２光強度環境との少なくとも２つの光強度環境において、前記発光素子を駆動させずに前記受光素子に光を検出させ、これらの光の検出量がほぼ同一であった場合に、外部から前記筐体内に侵入する外来光が一定量以下であると判別することを特徴とする請求項３記載の貫通状態判別装置。
【請求項５】
前記記憶制御手段は、
外界の光強度環境を指定の光強度環境にするよう外部に指示を出力する指示出力手段と、
指定された光強度環境になったことの通知を操作入力により受ける操作入力手段とを有し、
前記指示出力手段により外部に指示を出力した後に前記操作入力手段により操作入力があったことに基づいて前記受光素子により前記計測を行わせることを特徴とする請求項３又は４に記載の貫通状態判別装置。
【請求項６】
請求項１〜５の何れか１項に記載の貫通状態判別装置と、
前記貫通状態判別装置の判別結果に基づいて複数の前記移動部材に連動して移動される複数の指針の位置を検出する針位置検出制御手段と、
を備えていることを特徴とする電子時計。
【請求項７】
発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別方法において、
前記移動部材の位置判別を行うに先立って、外部の異なる光の強度環境で少なくとも２回計測して、その計測結果が実質的に同じか否かを判断し、同じであると判断した場合、それを示す識別情報を設定し、
前記識別情報が設定されている場合は、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号の大きさに従って、前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する一方、
識別情報が設定されていない場合は、前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定し、さらに、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号と前記外来光の強度に従って、前記移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する
ことを特徴とする貫通状態判別方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、発光素子と受光素子とを用いて透過孔を有する移動部材が所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別装置およびその方法、並びに、アナログ表示部を有する電子時計に関する。
【背景技術】
【０００２】
標準電波を受信して、該標準電波の時刻コードに合わせて時刻のずれを自動的に修正するアナログ表示時計が知られている。また、操作ボタンを操作することで針を電気駆動により回転させて、例えばアラーム時刻の設定など種々の設定を行わせるようにした電子時計もある。このような針の回転駆動により得られる機能は、電子時計の制御部が針位置を認識した状態で、針を回転駆動することで実現されている。しかしながら、時計が強磁界に触れたり、時計に強い衝撃が加えられた場合、指針の駆動系に狂いが生じて、実際の針位置が制御部の認識している針位置からずれてしまうことがある。
【０００３】
このような現象があることから、従来の電子時計では、制御部が所定時刻ごとに針位置の確認を行って針位置がずれていないかを検出する機能を備えたものがある。このような機能は、例えば、指針と連動して回転する複数の歯車に透過孔を設け、この透過孔が所定位置で重なった状態をフォトインタラプタ等により検出することで、針位置が特定の時刻位置に来ていることを確認することにより実現されている（例えば特許文献１）。また、所定の時刻に歯車の透過孔が重なった状態を検出できなかったときには、針位置がずれていると判断して、針位置検出処理により実際の針位置を検出してから針位置のずれを修正する針位置自動修正機能を備えた電子時計もある。
【０００４】
また、本願の発明に関連する従来技術として、次のような技術の開示があった。例えば、特許文献２には、針位置を検出するフォトセンサに外光が入射することで誤検出されないように、フォトインタラプタの受光素子を外光の入射されにくい文字板側に配置し、発光素子を腕時計の裏蓋側に配置した技術が開示されている。また、引用文献３には、火災を光センサで検知して報知を行う火災検知器において、試験時に外来光が大きかった場合にその試験を無効化する技術が開示されている。また、特許文献４には、リモコン装置の受光部において２個の受光センサを設けて外乱光を検出させ、外乱光の影響が小さくなるように２個の受光センサのセンサ信号に重み付けを行ってリモコン信号の受信を行う技術が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−１６２３３６号公報
【特許文献２】特開２００７−４０８６３号公報
【特許文献３】特開２００２−４２２６２号公報
【特許文献４】特開平０５−１９９１７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
フォトインタラプタにより歯車の透過孔を検出することで針位置を検出する構造では、その受光素子に外来光が入射した場合に誤検出となる可能性がある。すなわち、外来光の入射によってフォトインタラプタの受光強度が大きくなると、透過孔が検出位置に達していないのにしきい値を超えて、透過孔の検出と誤って判別されてしまう可能性がある。
【０００６】
外来光は、文字板中央の針穴から時計内部に侵入することが多いが、時計の多機能化に伴って文字板を液晶パネルやソーラーパネルにより形成することがあり、このような場合、針穴の寸法精度がやや落ちて、時計内部に侵入する外来光の量にバラツキが生じることがある。
【０００７】
そこで、本出願人は、一旦、フォトインタラプタの発光手段を非発光状態にして受光手段により受光量の検出すなわちケース内に侵入した外来光の強度を測定し、次に、上記発光手段を発光させて受光手段により受光量の測定を行って、これら２回の受光量の大きさの差により透過孔の有無の判別を行う技術について開発した。すなわち、１回の透過孔の判別を行うのに発光手段を非発光とした状態と発光させた状態との２つの状態で受光手段により受光量を検出させることで、外来光の影響を排して正確な透過孔の検出を行うことが可能となる。
【０００８】
しかしながら、このような針位置検出機構を備える電子時計の全般で外来光の侵入があるわけではない。電子時計の機種によっては加工精度が高くて外来光の侵入がほとんど生じないものもあるし、また、同一機種であっても、個体差によって外来光の侵入がほとんど生じないものもある。しかしながら、このように外来光の侵入がない電子時計においても、上記のように１回の透過孔の有無の判別に２回の受光処理を行っていたのでは、そのうち１回の受光処理は冗長な処理となってしまう。そして、このような冗長な処理により、トータルの針位置検出にかかる時間が長くなると云った課題や、処理時間が長くなることによりこの処理にかかる消費電力も余分にかかるという課題が生じる。
【０００９】
また、このような課題は、電子時計の針位置検出に用いる貫通状態判別装置に限られず、透過孔を有する移動部材の位置をフォトインタラプタにより検出する構造を有した種々の装置において同様に生じるものである。
【００１０】
この発明の目的は、外来光による影響を排して正確な部材位置の検出が可能であるとともに、外来光の侵入がほとんど生じない場合には冗長な処理を排して処理の高速化と消費電力の低減とを図れる貫通状態判別装置、並びに、このような貫通状態判別装置によって針位置検出を行う電子時計を提供することにある。また、このような電子時計の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１記載の発明は、
発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別装置において、
前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定する外来光強度設定手段と、
前記移動部材の位置判別を行うに先立って、外部の異なる光の強度環境で少なくとも２回計測して、その計測結果が実質的に同じか否かを判断し、同じであると判断した場合、それを示す識別情報を設定する識別情報設定手段と、
この識別情報設定手段に識別情報が設定されている場合は、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号の大きさに従って、前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別し、前記識別情報設定手段に識別情報が設定されていない場合は、前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定し、さらに、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号と前記外来光の強度に従って、前記移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する位置判別手段と、
を有することを特徴としている。
【００１４】
請求項３記載の発明は、
筐体に覆われてなり、発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が前記発光素子から前記受光素子へ光が進行する経路中の所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別装置において、
設定情報を記憶するための記憶手段と、
前記発光素子を駆動させずに前記受光素子に光を検出させ、この光の検出量に基づいて外部から前記筐体内に侵入した外来光が一定量以下か否かを判別し、この判別結果に応じた第一の情報または第二の情報を前記記憶手段に記憶させる記憶制御手段と、
この記憶制御手段の制御により第一の情報が記憶されている場合には前記発光素子を駆動させずに前記受光素子に光を検出させ、その後、前記発光素子を駆動させて前記受光素子に光を検出させ、これらの光の検出量の差異に基づいて前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する一方、前記記憶制御手段の制御により第二の情報が記憶されている場合には前記発光素子を駆動させて前記受光素子に光を検出させ、この光の検出量に基づいて前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する判別制御手段と、
を備えていることを特徴としている。
【００１９】
請求項７記載の発明は、
発光素子と受光素子とを用いて、透過孔を有する移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する貫通状態判別方法において、
前記移動部材の位置判別を行うに先立って、外部の異なる光の強度環境で少なくとも２回計測して、その計測結果が実質的に同じか否かを判断し、同じであると判断した場合、それを示す識別情報を設定し、
前記識別情報が設定されている場合は、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号の大きさに従って、前記移動部材が所定位置にあるか否かを判別する一方、
識別情報が設定されていない場合は、前記発光素子が非発光状態のときに前記受光素子から出力される検出信号を取り込んでこの検出信号の大きさを外来光の強度として設定し、さらに、前記発光素子を発光状態とし前記受光素子から出力される検出信号を検出し、この検出された検出信号と前記外来光の強度に従って、前記移動部材が予め定められている所定位置にあるか否かを判別する
ことを特徴としている。
【発明の効果】
【００２０】
請求項１，２，７に記載の発明に従うと、例えば工場出荷前、或いは、メンテナンス時等において、異なる光の強度環境下で装置内部の光の計測値が実質的に同一であるか否か（すなわち、外来光の侵入がほとんど無いか否か）を判別する試験を行い、その試験結果に基づいて、外来光の侵入のある装置とない装置とで、それぞれに応じた移動部材の位置の判別処理を行わせることができるという効果がある。
【００２１】
請求項３〜５に記載の発明に従うと、例えば工場出荷前、或いは、メンテナンス時などにおいて、上記の記憶制御手段により、外来光の侵入の有無に関する第一の情報または第二の情報を記憶手段に設定しておくことで、外来光の侵入のある装置とない装置とで、それぞれに応じた処理を行わせることができる。それにより、外来光の侵入がある場合にはその影響を排した精度の高い透過孔の検出処理を行ったり、外来光の侵入がない場合には冗長な処理を省いて高速で消費電力の少ない透過孔の検出処理を行わせることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００２３】
図１は、本発明の実施の形態の時計モジュールを示す正面図、図２は、その矢印Ａ−Ａ線断面図、図３は針を回転させる歯車を裏蓋側からみた背面図である。
【００２４】
この実施の形態の時計モジュール１は、例えば電子制御によって針を回転させて時刻を表示するアナログ表示部を有する電子時計の本体となるものである。図１および図２に示すように、時計モジュール１の正面側には風防ガラスの下側に文字板５およびソーラーパネル９が設けられ、これら文字板５とソーラーパネル９によって正面側が覆われて、かつ、周囲がケーシングＴＫに囲まれて内部機構が外光に対して遮光されている。文字板５やソーラーパネル９の中央には、秒針軸２０ａ、分針軸２５ａ、時針軸２７ａを内部機構から前面側に通過させる貫通孔５ａ，９ａが設けられ、これら軸２０ａ，２５ａ，２７ａの突出した部位に秒針２と分針３と時針４とがそれぞれ固定されている。そして、各軸２０ａ，２５ａ，２７ａが回転することで、文字板５上で秒針２と分針３と時針４とが回転し、時刻が表示されるようになっている。
【００２５】
図２に示すように、時針４が固定される時針軸２７ａと、分針３が固定される分針軸２５ａとは、中空管状の軸であり、時針軸２７ａの中に分針軸２５ａが通され、分針軸２５ａの中に秒針軸２０ａが通されて、これら秒針軸２０ａ、分針軸２５ａおよび時針軸２７ａが同一の回転軸を中心に回転可能な状態にされている。
【００２６】
これら秒針軸２０ａ、分針軸２５ａおよび時針軸２７ａは、文字板５の裏面側で互いに重なるように配置された３つの歯車、すなわち、秒針車２０、分針車２５および時針車２７の回転中心にそれぞれ固着されている。そして、これら秒針車２０、分針車２５および時針車２７は、互いに同一の回転軸を中心に回転可能な状態にされている。図３において、分針車２５と時針車２７とは秒針車２０とその同心上に重なって隠れた状態となっている。
【００２７】
この時計モジュール１の駆動系は、図３に示すように、秒針２を回転駆動する第１駆動系１１と、時針４と分針３を連動させて回転駆動する第２駆動系１２とに別れ、これら２系統の駆動系１１，１２がそれぞれ独立的に駆動可能にされている。第１駆動系１１は、第１ステッピングモータ１７と、五番車１８と、秒針車２０とからなり、第１ステッピングモータ１７のロータ１７ｃの運動がロータカナ１７ｄ、五番車１８、五番車カナ１８ａ、秒針車２０と伝達されて、秒針車２０および秒針２を回転するように構成されている。
【００２８】
第２駆動系１２は、第２ステッピングモータ２２、中間車２３、三番車２４、分針車２５、図示略の日の裏車、秒針車２０と同軸の時針車２７等から構成され、第２ステッピングモータ２２のロータ２２ｃの運動がロータカナ２２ｄ、三番車２４、三番車カナ２４ａ、中間車２３、中間車カナ２３ａ、分針車２５（図３中、秒針車２０の裏に隠れている）と伝達され、さらに、分針車２５のカナ２５ｂから日の裏車、日の裏車のカナ２６ａ（図２参照）、時針車２７と伝達されて、分針車２５および分針３と時針車２７および時針４とが連動して回転するようになっている。
【００２９】
なお、図２中、６は上部ハウジング、７は下部ハウジング、１０は回路基板、１４〜１６は各歯車の軸を保持する軸受板、１７ａは第１ステッピングモータ１７のコイルブロック、１７ｂは第１ステッピングモータ１７のステータ、２２ａは第２ステッピングモータ２２のコイルブロック、２２ｂは第２ステッピングモータ２２のステータである。
【００３０】
また、この時計モジュール１には、複数の歯車（時針車２７、分針車２５、秒針車２０、中間車２３）に設けられた透過孔の重なり状態を検出する検出部１３が設けられている。検出部１３は、電気的な駆動によって光を発光する発光部３１と、光を受光して検出信号を出力する受光部３２とを備えている。詳細は後述するが、発光部３１は例えば発光ダイオードなど有し、受光部３２は例えばフォトトランジスタなどを有する構成である。この実施形態では、発光部３１と受光部３２とは、上述した複数の歯車を挟んで対向するように配置されている。そして、上記複数の歯車に形成された透過孔が検出位置Ｐで重なると、発光部３１の光が透過孔を通過して受光部３２に届き、透過孔の有ることが検出されるようになっている。また、歯車に形成された透過孔が検出位置Ｐで重なっていなければ、発光部３１の光は歯車に遮られて受光部３２へあまり届かず、透過孔の無いことが検出されるようになっている。
【００３１】
図４〜図６には、秒針車２０、分針車２５および中間車２３、時針車２７に形成された透過孔を表わした正面図を示す。
【００３２】
図４に示すように、秒針車２０には、例えば秒針２と重なる位置に円形の第１透過孔２１ａが形成され、この第１透過孔２１ａと同一半径上、周方向に沿って長い２つの第２長孔２１ｂと第３長孔２１ｃとが形成されている。第１透過孔２１と第２長孔２１ｂとの間は第１遮光部２１ｄ、第１透過孔２１と第３長孔２１ｅとの間は第２遮光部２１ｅとなっており、これら第１遮光部２１ｄと第２遮光部２１ｅとは異なる長さに設定されている。また、第２長孔２１ｂと第３長孔２１ｃとの間の第３遮光部２１ｆは、第１透過孔２１ａの位置から１８０度の位置に設定されている。
【００３３】
分針車２５には、図５に示すように、例えば分針３と重なる位置に円形状の１個の第２透過孔２８が形成されている。この第２透過孔２８は、図４に示す秒針車２０の第１透過孔２１ａと同一半径上に形成されている。また、中間車２３には円形状の１個の第４透過孔３０が形成されている。この第４透過孔３０は、分針車２５の第２透過孔２８の半径位置と重なる中間車２３の半径位置に形成されている。
【００３４】
時針車２７には、図６に示すように、例えば、時針４と重なる位置、および、これと同一半径上で３０度ごとに分割された位置に１１個の第３透過孔２９が設けられている。第３透過孔２９はそれぞれ円形孔である。時針４が１１時を指し示すときに０時の位置に来る部位には、円形孔が設けられず、第４遮光部２９ａとなっている。これら第３透過孔２９も、秒針車２０の第１透過孔２１ａ、分針車２５の第２透過孔２８と同一半径位置に形成されている。
【００３５】
上記のような第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０の構成により、各時間の所定分のうち１時間分を除く所定分（例えば０時００分、１時００分、…、１０時００分）となったときに分針車２５の第２透過孔２８と、時針車２７の第３透過孔２９と、中間車２３の第４透過孔３０とが、検出位置Ｐにおいて重なるようになっている。また、残りの１時間の所定分（例えば１１時００分）になったときには、時針車２７の第４遮光部２９ａが検出位置Ｐに来て、孔が閉じた状態にされるようになっている。このような各歯車（２０，２３，２５，２７）とその透過孔の構成により、秒針車２０の長孔２１ｂ，２１ｃが検出位置Ｐに来るようにした状態で、分針３と時針４とを１２時間分回転させつつその回転量をカウントしながら検出部１３で透過孔の開閉状態を判別していくことで、一時間の回転ごとに第２〜第４透過孔２８，２９，３０の重なりが検出されて、それにより分針３の位置を検出することができるとともに、そのうち一時間分だけ第２〜第４透過孔２８，２９，３０の重なりが検出されず、それにより時針４の位置を検出することができるようになっている。
【００３６】
また、第２〜第４透過孔２８〜３０を検出位置Ｐに重ねた状態にして、秒針２を６０秒分回転させ、その回転量をカウントしながら検出部１３で孔の開閉状態を判別していくことで、秒針車２０の第１透過孔２１ａ、第１遮光部２１ｄ、第２長孔２１ｂ、第３遮光部２１ｆ、第３長孔２１ｃ、第２遮光部２１ｅの検出パターンを得ることができ、それにより秒針２の位置を検出することができるようになっている。
【００３７】
図７は、時計モジュールの回路構成を示すブロック図である。
【００３８】
時計モジュール１には、次のような回路構成が備わっている。すなわち、上記の第１ステッピングモータ１７と第２ステッピングモータ２２とを含みアナログ表示時計の針２〜４の駆動を行う時計ムーブメント８と、歯車（秒針車２０、分針車２５、中間車２３、時針車２７）の透過孔の重なり状態を検出する上述の検出部１３と、この検出部１３の受光部３２により出力される検出信号をデジタル化して取り込むＡＤコンバータ３４と、ＣＰＵ（中央演算処理装置）を内蔵し装置の全体的な制御を行うマイクロコンピュータ３５と、制御プログラムや制御データを格納したＲＯＭ（Read Only Memory）３６と、ＣＰＵに作業用のメモリ空間を提供するＲＡＭ（Random Access Memory）３７と、時刻を計時するためのクロックを形成する発振回路３８および分周回路３９と、電池電圧から各部の電源を生成し供給する電源部４０と、時刻コードの含まれる標準電波を受信して取り込むアンテナ４１および検波回路４２と、時計表示部を照らす照明部４３および照明駆動回路４４と、アラーム出力を行うスピーカ４５およびブザー回路４６と、複数の操作ボタンからなる操作部４７等が設けられている。
【００３９】
マイクロコンピュータ３５には、日付や時刻を計時する時刻カウンタが設けられ、この時刻カウンタが分周回路３９からのクロックによりカウントアップされて現在日時の計時が行われるようになっている。検波回路４２により標準電波を受信した場合には、ＣＰＵが時刻コードに応じて時刻カウンタの値を修正し、それにより内部時計が現在時刻に同期するようになっている。また、マイクロコンピュータ３５には、秒針２、分針３、時針４の位置を計数する針位置カウンタが設けられ、時計ムーブメント８が第１ステッピングモータ１７や第２ステッピングモータ２２を作動させるごとに、この針位置カウンタの値がカウントアップされて、３つの針位置とその値とが同期するようになっている。また、時刻カウンタと針位置カウンタの値とが同期するように時計ムーブメント８が制御されることで、現在時刻がアナログ表示部の秒針２、分針３、時針４により示されるようになっている。
【００４０】
また、マイクロコンピュータ３５には、電源供給が絶たれても記憶データが消去されないＥＥＰＲＯＭ（電気的消去型プログラマブルＲＯＭ）３５ａが設けられ、ここに各種の設定データが保存されるようになっている。また、このＥＥＰＲＯＭ３５ａには、後述するＡＤ省略フラグの値（識別情報、第一の情報又は第二の情報）が記憶されるＡＤ省略フラグ設定部３５ｂが設定されている。
【００４１】
また、ＲＯＭ３６には、後述する量産工程処理（図１８）、針位置検出処理（図１０）、第１孔有無検出処理（図１１）、第２孔有無検出処理（図１２）、針位置自動修正処理（図１５）の各処理プログラム３６ａ〜３６ｅが格納されている。
【００４２】
時計モジュール１においては、メインフローの他、時計モジュール１が強磁界に触れたときや強い衝撃が加わった場合に、駆動パルスが出力されているのにも拘らず、ステッピングモータ１７，２２のロータ１７ｃ，２２ｃが回転しなかったり、駆動パルスの出力以上にロータ１７ｃ，２２ｃが回転してしまったりして、実際の針位置と針位置カウンタの値とがずれてしまう場合がある。そこで、この実施形態の時計モジュール１では、所定時刻ごとに検出部１３を作動させて歯車（秒針車２０、中間車２３、分針車２５、時針車２７）の透過孔の重なり状態を検出して、実際の針位置と針位置カウンタの値とが間違ったものになっていないか確認する針位置検出処理が行われるようになっている。そして、針位置検出処理において針位置カウンタの値が間違っていると判断した場合には、秒針２、分針３、時針４を高速回転させつつ検出部１３によって連続的に透過孔の重なり状態の検出を行うことで、実際の針位置を検出して、実際の針位置と針位置カウンタの値とが等しくなるように修正処理を行うようになっている。
【００４３】
図８には、図７の検出部１３とその周辺部分を詳細に表わした回路構成図を示す。
【００４４】
検出部１３の発光部３１は、駆動電流を受けて光を出力する発光ダイオードＤ１と、発光ダイオードＤ１に所定の電流を出力する定電流回路３１１と、電流制御用の検出抵抗Ｒ１等から構成される。そして、マイクロコンピュータ３５から出力される電流スタート信号ＩＳがアサートとなった場合に、定電流回路３１１から電流が出力されて発光ダイオードＤ１が発光するようになっている。
【００４５】
受光部３２は、光を受けてその強度に応じた電流を流すフォトトランジスタＴｒ１と、この電流を電圧信号に変換する抵抗Ｒ２と、フォトトランジスタＴｒ１に定電圧ＶＣＣを供給する定電圧回路３２１等から構成される。そして、マイクロコンピュータ３５から出力される電圧スタート信号ＶＳがアサートとなったら、定電圧回路３２１から電圧出力がなされてフォトトランジスタＴｒ１が駆動されるようになっている。
【００４６】
ＡＤコンバータ３４は、逐次比較タイプのもので、例えば、マイクロコンピュータ３５に外付けされる形態で、アナログコンパレータ３４１と、例えば４ビットのＤＡコンバータ３４２とを有するものである。また、図示は省略するが、ＡＤ変換する際に、コンパレータ３４１の出力の記憶を行う逐次比較レジスタや、ＤＡコンバータ３４２の出力制御を行う論理回路等は、マイクロコンピュータ３５の内部に設けられているものである。ＤＡコンバータ３４２は、定電圧ＶＣＣを４ビット諧調で分割し、そのうち論理回路の出力データＤＯに応じた電圧を比較参照電圧としてコンパレータ３４１の反転入力端子へ出力する。コンパレータ３４１はこの比較参照電圧と入力電圧とを比較して、その比較結果を示す出力結果ＤＩを逐次比較レジスタに出力するようになっている。そして、このような比較を４回繰り返すことで、４ビット諧調のＡＤ変換値が逐次比較レジスタに書き込まれるようになっている。
【００４７】
このＡＤコンバータ３４においては、上記の通常のＡＤ変換処理に加えて、マイクロコンピュータ３５のＣＰＵの制御によって論理回路や逐次比較レジスタの動作を切り換えることで、ＤＡコンバータ３４２に任意のデジタルデータＤＯを出力して、コンパレータ３４１の比較参照電圧（反転入力端子の電圧）をＣＰＵが直接的に制御することが可能になっている。また、その際のコンパレータ３４１の出力結果ＤＩを１ビットデータの状態でＣＰＵが直接的に読み込むことが可能なように構成されている。
【００４８】
次に、上記構成の時計モジュール１における制御処理についてフローチャートを参照しながら説明する。
【００４９】
図９は、時計モジュールのＣＰＵにより実行されるメイン制御処理のフローチャートである。
【００５０】
この実施形態の時計モジュール１においては、マイクロコンピュータ３５のＣＰＵにより電源投入時において図９のメイン制御処理が開始され、その後、このメイン制御処理のステップＳ２〜Ｓ４のループ処理が繰り返し実行されるようになっている。このメイン制御処理が開始されると、まず、機器の設定処理として量産工程処理（ステップＳ１）が行われる。この量産工程処理は、時計モジュール１の製造工程において、例えば、ケーシングＴＫに部品を組み付ける組付工程の後、工場出荷前に機器設定者により実行される設定工程の一つの処理である。この量産工程処理は、詳細は後述するが、時計モジュール１の内部機構への外来光の侵入があるか否かを試験し、その試験結果をＥＥＰＲＯＭ３５ａのＡＤ省略フラグ設定部３５ｂに設定する処理であり、外来光の侵入がないと判断した場合には、ＡＤ省略フラグ設定部３５ｂに有効値を設定し、外来光の侵入があると判断した場合には、ＡＤ省略フラグ設定部３５ｂに無効値を設定するようになっている。
【００５１】
この量産工程処理が済んだら、操作部４７のスイッチ信号を入力してこの入力に応じて各種処理を行うＳＷ処理（ステップＳ２）と、計時カウンタを適宜更新する計時処理（ステップＳ３）と、針位置が狂っていないか検出を行う針位置検出処理（ステップＳ４）と、電波受信処理や各種エラー処理などのその他の機能処理（ステップＳ５）とからなるループ処理が繰り返し実行される。
【００５２】
なお、上記の量産工程処理（ステップＳ１）は、電源投入時にのみ実行可能とするのではなく、例えば、ステップＳ２のＳＷ処理において、時計モジュール１の操作部４７を特殊な方法で操作することで、再度、実行可能なように構成しても良い。それにより、メンテナンス時などに、再度、量産工程処理を実行して、外来光の侵入があるか否かの試験とＡＤ省略フラグ設定部３５ｂへの設定処理とを実行することが可能となる。
【００５３】
図１０には、図９のステップＳ４で実行される針位置検出処理のフローチャートを示す。
【００５４】
針位置検出処理は、複数の歯車（時針車２７、分針車２５、秒針車２０、中間車２３）に形成された第１〜第４の透過孔２１ａ，２８，２９，３０が所定時刻で正しく重なった状態となっているか否かを確認する処理である。また、所定時刻に正しく重なった状態となっていないと確認された場合には、針位置がずれていると判断して針位置を正しい位置に修正する針位置自動修正処理も行うようになっている。
【００５５】
針位置検出処理に移行すると、先ず、予め設定された孔検出時刻か判別し（ステップＳ１１で）、検出時刻でなければそのままこの針位置検出処理を終了してメイン制御処理に戻るが、孔検出時刻（例えば、０時００分，１時００分、…、１０時００分など、第１〜第４透過孔２１ａ，２８〜２９が検出位置Ｐで重なる時刻）であれば、次のステップ１２に移行する。
【００５６】
ステップＳ１２（判別方式選択制御手段）では、ＥＥＰＲＯＭ３５ａのＡＤ省略フラグ設定部３５ｂから値を読み出して、このフラグ値に応じた分岐を行う。そして、このフラグ値が外来光の侵入ありを示す無効値であればステップＳ１３に移行して第１孔有無検出処理を実行し、フラグ値が外来光の侵入なしを示す有効値であればステップＳ１４に移行して第２孔有無検出処理を実行する。そして、これらの何れかの処理によって、検出部１３が動作されて第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０が重なった状態（すなわち孔有りの状態）になっているか否かの検出を行う。
【００５７】
続いて、これらの検出処理の結果を判別し（ステップＳ１５）、孔有りと判別されれば、針位置に異常はないとしてこのまま針位置検出処理を終了するが、孔無しと判別されれば、針位置を修正する針位置自動修正処理（ステップＳ１５）を実行してから、この針位置検出処理を終了する。
【００５８】
図１１には、図１０のステップＳ１３で実行される第１孔有無検出処理のフローチャートを、また、図１３には、第１孔有無検出処理における検出部１３の動作を説明するタイムチャートを、それぞれ示す。
【００５９】
第１孔有無検出処理は、外来光の影響を排するための処理を行って、検出位置Ｐで第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０が重なった状態となっているか否かを判別する処理である。
【００６０】
第１孔有無検出処理に移行されると、図１１に示すように、先ず、マイクロコンピュータ３５のＣＰＵはＤＡコンバータ３４２とコンパレータ３４１の動作電源をオンにし（ステップＳ２１）、次いで、電圧スタート信号ＶＳをアサートしてフォトトランジスタＴｒ１にコレクタ電圧を供給する（ステップＳ２２）。
【００６１】
フォトトランジスタＴｒ１を駆動したら、フォトトランジスタＴｒ１の出力が安定するまで所定秒（例えば１．４ｍｓ）待機した後（ステップＳ２３）、ＡＤコンバータ３４によりＡＤ変換処理を開始させる（ステップＳ２４）。そして、ＡＤ変換処理にかかる時間（例えば４ビット諧調であれば４回の比較にかかる時間：６５０μｓ）を待機し（ステップＳ２５）、この待機後にＡＤコンバータ３４からＡＤ変換値を読み込んで変数Ｎにセットする（ステップＳ２６）。
【００６２】
つまり、これらのステップＳ２１〜Ｓ２６の処理により、発光部３１を駆動してないときの受光部３２の出力値が変数Ｎに格納されるようになっている。すなわち、この変数Ｎの値が、外部から侵入した外来光の受光強度を表わすこととなり、これらの処理により外来光強度設定手段が構成されている。
【００６３】
変数Ｎをセットしたら、次にこの変数Ｎの値がエラー値（例えば「４」より小さい値）か否かを判別し（ステップＳ２７）、エラー値であればＮＧの値を戻してこの孔有無検出処理を終了し、元のフローに戻る。ここで、エラー値とは、外来光の強度が過大であることを示す値である。外来光の強度が大き過ぎると、さらに発光ダイオードＤ１の光が追加されたときに、フォトトランジスタＴｒ１の出力が飽和してしまい、透過孔が無しのときと有りのときとでフォトトランジスタＴｒ１の出力差が小さくなる。そのため、他の出力ばらつきの要因も加わって、透過孔の有無の判別が困難となるものである。したがって、外来光の受光強度が所定値より大きい場合には、その後の処理を省略してエラーとして処理するためのものである。
【００６４】
一方、ステップＳ２７の判別処理で、変数Ｎの値が正常値であると判別された場合には、次の処理に移行して透過孔の有無を判別するための処理を行う。すなわち、先ず、電流スタート信号ＩＳをアサートして発光ダイオードＤ１を点灯させる（ステップＳ２８）。
【００６５】
次に、透過孔の有無を判別するのに予め設定されたしきい値に外来光の影響分のオフセットをかけて新たなしきい値を生成する（ステップＳ２９）。すなわち、外来光がない場合のしきい値が“８”であれば、ステップＳ２６で得た変数Ｎの値だけオフセットして今回のしきい値“８＋Ｎ”とする。そして、このしきい値“８＋Ｎ”をＤＡコンバータ３４２へ出力するデータＤ０として設定する（ステップＳ３０）。
【００６６】
出力データＤ０を設定したら、発光ダイオードＤ１を点灯させたタイミングからフォトトランジスタＴｒ１の出力が安定するタイミングまで（例えば１．４ｍｓ）待機する（ステップＳ３１）。続いて、フォトトランジスタＴｒ１の出力が安定したら、コンパレータ３４１の出力ＤＩを直接的に読み込む（ステップＳ３２）。
【００６７】
このステップＳ３２のタイミングにおいては、コンパレータ３４１の反転入力端子には上記オフセットされたしきい値のＤＡ変換された電圧が入力され、非反転入力端子にはフォトトランジスタＴｒ１の出力電圧が入力されている。したがって、このコンパレータ３４１の出力ＤＩにより、発光ダイオードＤ１が点灯したときのフォトトランジスタＴｒ１の出力と、上記オフセットされたしきい値との比較結果が示される。
【００６８】
そして、上記出力ＤＩに応じた分岐処理を行って（ステップＳ３３）、出力ＤＩがハイレベルであれば孔有りと判別し（ステップＳ３４）、ローレベルであれば孔無しと判別する（ステップＳ３５）。判別がなされたら、スタート信号ＶＳ，ＩＳをネゲートして、発光ダイオードＤ１とフォトトランジスタＴｒ１の駆動を停止し、さらに、ＤＡコンバータ３４２とコンパレータへ供給する電源もオフして、この孔有無判別処理を終了する（ステップＳ３６）。
【００６９】
この第１孔有無検出処理においては、図１３のＡＤＣの動作タイミング（ｃ）に示すように、発光部３１を駆動させて検出処理を行う前に、外来光の強度を検出するために発光部３１を駆動させずに受光部３２の信号をＡＤ変換しているので、１回の検出処理に、受光部３２が安定するのに必要な待機時間（例えば１．４ｍｓ）が２回分と、１回のＡＤ変換の時間（例えば６５０μｓ）と、１回のコンパレート処理の時間（例えば１２２μｓ）とを要している。
【００７０】
図１２には、図１０のステップＳ１４で実行される第２孔有無検出処理のフローチャートを、また、図１４には、第２孔有無検出処理における検出部１３の動作を説明するタイムチャートを、それぞれ示す。
【００７１】
第２孔有無検出処理は、外来光の影響を排するための処理を省略して、検出位置Ｐで第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０が重なった状態となっているか否かを判別する処理である。
【００７２】
図１１と図１２を比べて分かるように、この第２孔有無検出処理は、外来光の光量を検出して変数Ｎに代入する処理（図１１のステップＳ２３〜２７）の代わりに、外来光の侵入はないものとみなして変数Ｎに予め「０」を代入しておく処理（ステップＳ４１）を追加したもので、その他の処理は第１孔有無検出処理と同様のものである。なので、同一のステップには同一符号を付して説明は省略する。
【００７３】
図１４に示すように、この第２孔有無検出処理においては、１回の検出処理に、受光部３２の動作が安定するのに必要な待機時間（例えば１．４ｍｓ）と、１回のコンパレート処理の時間（例えば１２２μｓ）を要するものとなっており、図１３の第１孔有無検出処理と比較して、処理時間が半分以下に短縮されているのが分かる。
【００７４】
図１５には、図１０のステップＳ１６で実行される針位置自動修正処理のフローチャートを示す。
【００７５】
針位置自動修正処理は、先ず、分針３と時針４について、次いで秒針２について、それぞれ針を高速に回転させながら、１ステップの回転ごとに複数の歯車の透過孔が検出位置Ｐで重なった状態になったか否かを検出し、それにより分針３、時針４および秒針２の実際の位置を割り出すとともに、現在時刻に合わせて針位置の修正を行うものである。
【００７６】
針位置自動修正処理に移行すると、図１５に示すように、まず、所定の指針を１ステップ運針し（ステップＳ５１）、次いで、ＥＥＰＲＯＭ３５ａのＡＤ省略フラグ設定部３５ｂから設定値を読み出し、このフラグ値に応じた分岐処理を行う（ステップＳ５２）。
【００７７】
そして、このフラグ値が外来光の侵入なしを示す有効値でなければステップＳ５３に移行して第１孔有無検出処理を実行し、フラグ値が外来光の侵入なしを示す有効値であればステップＳ１４に移行して第２孔有無検出処理を実行する。そして、これらの何れかの孔有無検出処理によって、検出部１３が動作して第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０が重なった状態になっているか否かの検出処理が行われる。
【００７８】
続いて、上記の検出結果を判別して（ステップＳ５５）、検出結果が孔有りであればそのタイミングをＲＡＭ３７に格納し（ステップＳ５６）、検出結果が孔無しであればそのタイミングをＲＡＭ３７に格納する（ステップＳ５７）。そして、これらの格納データから所定の演算処理により針位置を割り出す処理を行う（ステップＳ５８）。すなわち、分針３と時針４を回転させている場合なら、１時間ごとの孔有りの検出により、分針３の針位置が００分の位置であると割り出し、それらの内、次の１時間のタイミングで孔無しの検出がなされた場合に、時針４の針位置が１１時の位置であると割り出す。また、秒針２を回転させている場合なら、１分間分の回転で第１透過孔２１ａ、第２長孔２１ｂ、第３長孔２１ｃ、第１遮光部２１ｄ、第２遮光部２１ｅ、第３遮光部２１ｆの検出パターンが表われることにより、それらから秒針２の針位置を割り出す。
【００７９】
続いて、秒針２、分針３、時針４の全ての針位置が検出できたか確認し（ステップＳ５９）、未だであればステップＳ５１に戻って、ステップＳ５１〜Ｓ５７の処理を再度実行する。また、全ての針位置を検出したのであれば、マイクロコンピュータ３５内の針位置カウンタを検出した針位置の値にリセットする（ステップＳ６０）。これにより、マイクロコンピュータ３５により認識される針位置と実際の針位置とが合致する。また、その後、マイクロコンピュータ３５内の時刻カウンタの位置まで指針を運針し、指針の位置を現在時刻に合わせる（ステップＳ６１）。そして、この針位置自動修正処理を終了する。
【００８０】
図１６と図１７には、上記の針位置自動修正処理の動作の流れを説明する図を示す。図１６はＡＤ省略フラグが無効値の場合のもの、図１７はＡＤ省略フラグが有効値の場合のものである。
【００８１】
上記のような針位置自動修正処理においては、図１６と図１７に示すように、１回の運針処理（ステップＪ３）ごとに、歯車の透過孔の重なり状態を検出する処理（ステップＪ１，Ｊ２又はステップＪ２）が繰り返し連続的に実行されていくようになっている。また、ＡＤ省略フラグが無効値である場合には、外来光の影響を排除するために外来光を測定するＡＤ変換処理（ステップＪ２）と、透過孔の有無を検出するコンパレート処理（ステップＪ３）とが繰り返し実行される一方、ＡＤ省略フラグが有効値である場合には、外来光を測定するＡＤ変換処理が省かれて、透過孔の有無を検出するコンパレート処理（ステップＳＪ３）が繰り返し実行されるようになっている。従って、時計モジュール１の内部に外来光の侵入がほとんどないことが確認されている場合には、針位置自動修正処理にかかるトータルの処理時間が大幅に削減され、また、処理時間が短くなることでトータルの消費電力が低減されるようになっている。
【００８２】
なお、上記の針位置自動修正処理においてＡＤ省略フラグが無効値である場合には、１回の運針処理（ステップＪ３）ごとに外来光を測定するＡＤ変換処理（ステップＪ１）と透過孔の有無を検出するコンパレート処理（ステップＪ２）とが行われるように説明したが、外来光の強度が短時間に急激に変化することは稀であることを利用して、外来光を測定するＡＤ変換処理（ステップＪ２）を何回か間引いて行うように構成しても良い。この場合でも、ＡＤ変換処理（ステップＪ２）が間引かれた期間には、直前のＡＤ変換処理（ステップＳＪ２）で測定された値を外来光の強度としてしきい値をオフセットし、透過孔の検出処理を行うようにすれば良い。
【００８３】
図１８には、図９のステップＳ１において実行される量産工程処理のフローチャートを示す。また、図１９〜図２１には、図１８の量産工程処理中のステップＳ７１，Ｓ７２，Ｓ７４，Ｓ７５で実行される第１試験モード処理、第２試験モード処理、検出値取込処理の各サブルーチン処理のフローチャートを示す。
【００８４】
また、図２２には、この量産工程処理で得られる２回分の検出値（ＡＤコンバータ３４の出力値）の一例を表わしたグラフを示す。
【００８５】
量産工程処理は、時計モジュール１に一定量以上の外来光の侵入が有るか否かを試験して、この試験結果に基づきＥＥＰＲＯＭ３５ａのＡＤ省略フラグ設定部３５ｂにその値を設定する処理である。
【００８６】
この量産工程処理では、先ず、暗室での試験に移行させる第１試験モード処理を行い（ステップＳ７１）、暗室に移動したことの通知がなされた外来光の検出値を取り込む検出値取込み処理を行う（ステップＳ７２）。暗室で外来光の検出を行うのは、時計モジュール１の密閉度に関係なく、時計モジュール１に外来光の侵入が全く生じない状態で受光部３２の検出値を取得するためである。
【００８７】
具体的には、上記の第１試験モード処理（ステップＳ７１）に移行したら、図２０に示すように、先ず、操作部４７から所定操作（例えば、第１スイッチＳＷ１，第２スイッチＳＷ２の同時押し及びそのホールド操作）の入力処理を行い（ステップＳ９１）、この操作入力に基づき試験スタンバイの状態に移行するとともに、暗室へ時計モジュール１を移動させるよう作業者に指示する出力を行う（ステップＳ９２）。指示の出力は、ブザー音などの音響出力であっても良いし、表示部があれば表示出力としても良い。ここで、作業者は時計モジュール１を暗室に移動させる。そして、操作部４７から処理をスタートさせる所定操作（例えば、第３スイッチＳＷ３のオン操作）を入力する処理（ステップＳ９３）を行って、この操作入力があったら、次の検出値取込み処理（ステップＳ７２）へ移行する。
【００８８】
検出値取込み処理（ステップＳ７２）に移行したら、図１９に示すように、ＤＡコンバータ３４２とコンパレータ３４１の動作電源をオンし（ステップＳ８１）、次いで、電圧スタート信号ＶＳをアサートしてフォトトランジスタＴｒ１にコレクタ電圧を供給する（ステップＳ８２）。次いで、フォトトランジスタＴｒ１の出力が安定するのに所定秒（例えば１．４ｍｓ）待機した後（ステップＳ８３）、ＡＤコンバータ３４によりＡＤ変換処理を開始させる（ステップＳ８４）。そして、ＡＤ変換処理にかかる時間（例えば６５０μｓ）を待機し（ステップＳ８５）、この待機後にＡＤコンバータ３４からＡＤ変換値を読み込んで変数Ｎにセットする（ステップＳ８６）。そして、この変数Ｎの値が異常値（例えばＮ≧４）でないか確認して（ステップＳ８７）、異常値でなければ正常処理を示して元のフローに戻り、異常値であれば図示略のエラー処理を行うべく異常完了を示して元のフローに戻る。
【００８９】
図２２の“暗室時”のグラフに示されるように、暗室では時計モジュール１の密閉度に関係なく、受光部３２には何も光が入射されない状態であるので、ＡＤコンバータ３４の出力値は“０”となる。すなわち、受光部３２のフォトトランジスタＴｒ１には全く電流が流れないか、或いは、僅かなオフセット電流が流れる程度で、ＡＤコンバータ３４に入力される電圧はデジタル値“０”とデジタル値“１”の間の電圧となる。
【００９０】
上記の検出値取込み処理（ステップＳ７２）が完了したら、続いて、上記変数Ｎに取り込んだ検出値を変数Ａに代入し（ステップＳ７３）、次に、通常使用時よりも明るい状態（例えば１０万ルクス照射状態）での試験に移行させる第２試験モード処理（ステップＳ７４）を実行する。そして、明るい状態に移行したことが通知されたら外来光を検出する検出値取込み処理を実行する（ステップＳ７５）。
【００９１】
具体的には、図２１に示すように、上記の第２試験モード処理（ステップＳ７４）に移行したら、先ず、操作部４７から特殊な操作（例えば、第１スイッチＳＷ１，第２スイッチＳＷ２の同時押し及びそのホールド操作）の入力処理を行い（ステップＳ９５）、この操作入力に基づき試験スタンバイの状態になるとともに、明るい状態に時計モジュール１を移行させるよう作業者に指示する音響出力（表示部があれば表示出力でも良い）を行う（ステップＳ９６）。ここで、作業者は時計モジュール１に１０万ルクス程度の光を照射した状態にする。そして、操作部４７から処理スタートの操作（例えば、第４スイッチＳＷ４のオン操作）の入力処理（ステップＳ９７）を行って、この操作入力があったら、次の検出値取込み処理（ステップＳ７４）へ移行する。
【００９２】
ステップＳ７４の検出値取込み処理は、ステップＳ７２のものと同様である。
【００９３】
ここで、時計モジュール１の光侵入に対する密閉度が高く、外来光の侵入かほとんどない場合には、図２２の“１０万ルクス照射時”のグラフに示されるように、受光部３２にはほとんど光が入射されずにＡＤコンバータ３４の出力値は“０”となる。すなわち、受光部３２のフォトトランジスタＴｒ１には全く電流が流れないか、或いは、僅かな外来光の入射等によって僅かに電流が流れる程度で、ＡＤコンバータ３４に入力される電圧はデジタル値 “０”とデジタル値“１”の間の電圧となる。
【００９４】
一方、時計モジュール１の密閉度が低く外来光の侵入が比較的多くある場合には、通常使用時よりも明るい状態に晒されることで比較的多くの外来光が入射され、それにより受光部３２のフォトトランジスタＴｒ１に電流が流れて、ＡＤコンバータ３４の出力値は“１”以上となる。
【００９５】
そして、上記のように暗室での検出値と明るい状態での検出値とを取り込んだら、両方の検出値を比較して（ステップＳ７６：図１８）、両検出値が一致していればＡＤ省略フラグを有効値にセットし（ステップＳ７７）、両検出値が不一致であればＡＤ省略フラグを無効値のままにしてこの量産工程を終了する。
【００９６】
ここで、ＡＤ省略フラグが有効値にセットされる条件について詳細に説明する。上記のステップＳ７６の比較処理は、受光部３２からの出力値（光のアナログ検出値）をそのまま比較しているのではなく、受光部３２からの出力をＡＤコンバータ３４によりＡＤ変換した後のデジタル値を比較している。従って、受光部３２から出力される上記２回分の出力値がＡＤコンバータ３４の分解能の最小単位分の範囲で差異がある場合でも、両方の出力値は等しいものとされＡＤ省力フラグは有効値にセットされる。
【００９７】
また、ＡＤコンバータ３４としては、複数の歯車２０，２３，２５，２７の第１〜第４透過孔２１ａ，２８，２９，３０の重なり状態を検出するのに、必要以上に高くない分解能（例えば４ビットの分解能）を有するものが適用されている。つまり、検出対象を識別するのに適度な分解能を有するＡＤコンバータの分解能を基準に、この分解能の最小単位分の範囲を許容値といて暗室時の光検出値と明るい状態時の光検出値とが同値となる場合に、ＡＤ省略フラグが有効値にセットされるようになっている。言い換えれば、暗室時での受光部３２の検出値と明るい状態時での受光部３２の検出値との差が、検出対象を識別するのに実質的に影響を与えない大きさである場合、すなわち、実質的に同じ値である場合にＡＤ省略フラグが有効値にセットされるようになっている。
【００９８】
従って、ＡＤコンバータとして必要以上に高分解能のものを使用した場合には、ＡＤ変換後のデジタル値が上記許容値の範囲で異なる値となったときでも、実質的に同値であるとして、ＡＤ省略フラグを有効値にセットするように構成することもできる。
【００９９】
上記のような量産工程処理により、時計モジュール１を明るいところに置いたときに外来光の侵入によって針位置検出に影響が生じるか、或いは、針位置検出に影響が生じるほど外来光の侵入がないかの判別試験がなされて、この試験結果を表わす設定値がＥＥＰＲＯＭ３５ａのＡＤ省略フラグ設定部３５ｂに設定されるようになっている。そして、このＡＤ省力フラグの設定値に応じた透過孔の検出処理がなされることで、外来光の侵入がある場合にはその影響を排して正確な透過孔の検出処理が実行されるし、外来光の侵入が生じないものでは、外来光の測定処理を省いて正確な透過孔の検出を行いつつ処理の高速性や消費電力の低減を図ることが可能となっている。
【０１００】
以上のように、この実施の形態の時計モジュール１によれば、上記の量産工程処理によって、工場出荷前などに時計モジュール１に外来光の侵入が生じるか否かについて試験し、この試験結果をＡＤ省略フラグの値として装置内部に設定することができる。そして、このＡＤ省略フラグにより、透過孔の検出方式として外来光の測定により外来光の影響を排した第１孔有無検出処理が選択されたり、或いは、外来光の測定処理を省いた第２孔有無検出処理が選択されるようになっている。そして、これにより、時計モジュール１の状態に応じて正確な透過孔の検出を行ったり、正確な透過孔の検出を行いつつ処理の高速性や消費電力の低減が図られるようになっている。
【０１０１】
また、量産工程処理の際には、暗室時と非常に明るい状態時との２つの光の強度環境で受光部３２の出力値を取り込み、これらの比較によって外来光の侵入が生じるか否かの判別を行っているので、外来光の侵入有無の判別を正確に行うことができる。例えば、受光部３２の構成回路に素子バラツキなどがあって、受光部３２に入射する光がゼロのときであっても比較的大きなオフセット電圧が生じるような場合、暗室時の出力と非常に明るい状態時の出力とを比較することで、オフセット電圧の影響を排除することが出来る。
【０１０２】
また、暗室時の試験を行う際と、非常に明るい状態時の試験を行う際とで、各光の強度環境へ移動させるように指示出力が行われ、その後、所定の操作入力を行った場合に、各光の強度環境で受光部３２の検出値の取り込み処理が行われるので、簡単な操作で確実で間違いのない試験処理を実施することができる。
【０１０３】
また、上記の量産工程処理を部品組付工程の後の設定工程において行うことで、工場出荷時において上記効果を有する電子時計を提供することができるという効果がある。
【０１０４】
なお、本発明は、上記実施の形態に限られるものではなく、様々な変更が可能である。例えば、上記実施形態では、暗室時での光の検出値と非常に明るい状態時での光の検出値とを比較することで装置内に外来光の侵入があるか否かを判別するようにしているが、例えば、非常に明るい状態時での光の検出処理のみを行って、このときの光の検出値が所定値以下（例えばＡＤ変換値がゼロ）である場合に、装置内に外来光の侵入がないと判別するように構成しても良い。
【０１０５】
さらに、量産工程処理は、その実行方法をユーザに開放して、ユーザが適宜実施できるようにしても良い。
【０１０６】
また、量産工程処理において、暗室時と非常に明るい状態時との２つの光の強度環境で受光部３２の出力値を取り込むようにしているが、例えば、非常に明るい状態時と、少しの明るい状態時との光の強度環境で受光部３２の出力値を取り込み、これらの比較によって、外来光の侵入が生じるか否かの判別を行うようにしても良い。
【０１０７】
その他、実施の形態で示した細部等は発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】本発明の実施の形態の時計モジュールを示す正面図である。
【図２】図１の時計モジュールの矢印Ａ−Ａ線断面図である。
【図３】針を回転させる歯車の構成を裏蓋側からみた背面図である。
【図４】秒針車に形成された透過孔を表わした正面図である。
【図５】分針車と中間車に形成された透過孔を表わした正面図である。
【図６】時針車に形成された透過孔を表わした正面図である。
【図７】時計モジュールの回路構成を示すブロック図である。
【図８】貫通状態判別装置として機能する図７の検出部とその周辺部分を詳細に示した回路構成図である。
【図９】時計モジュールのＣＰＵにより実行されるメイン制御処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１０】メイン制御処理のステップＳ４の針位置検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】図１０のステップＳ１３で実行される第１孔有無検出処理の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
【図１２】図１０のステップＳ１４で実行される第２孔有無検出処理の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】第１孔有無検出処理における検出部１３の動作を説明するタイムチャートである。
【図１４】第２孔有無検出処理における検出部１３の動作を説明するタイムチャートである。
【図１５】図１０のステップＳ１６で実行される針位置自動修正処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１６】ＡＤ省略フラグが無効値の場合における針位置自動修正処理の動作の流れを説明する図である。
【図１７】ＡＤ省略フラグが有効値の場合における針位置自動修正処理の動作の流れを説明する図である。
【図１８】図９のステップＳ１において実行される量産工程処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１９】図１８のステップＳ７２，Ｓ７５において実行される検出値取込み処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図２０】図１８のステップＳ７１において実行される第１試験モード処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図２１】図１８のステップＳ７４において実行される第２試験モード処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図２２】量産工程処理で得られる２回分の検出値の一例を表わしたグラフである。
【符号の説明】
【０１０９】
１    時計モジュール（電子時計）
２    秒針
３    分針
４    時針
１３  検出部
２０  秒針車（移動部材）
２１ａ  第１透過孔
２５  分針車（移動部材）
２８  第２透過孔
２７  時針車（移動部材）
２９  第３透過孔
３１  発光部
３２  受光部
３４  ＡＤコンバータ
３５  マイクロコンピュータ
３５ａ  ＥＥＰＲＯＭ
３５ｂ  ＡＤ省略フラグ設定部（設定情報記憶手段）
３６  ＲＯＭ
３６ａ  量産工程処理プログラム（識別情報設定手段）
３６ｂ  針位置検出処理プログラム（針位置検出制御手段）
３６ｃ  第１孔有無検出処理プログラム（第１透過孔判別制御手段、位置判別手段）
３６ｄ  第２孔有無検出処理プログラム（第２透過孔判別制御手段、位置判別手段）
３１１  定電流回路
３２１  定電圧回路
Ｄ１    発光ダイオード
Ｔｒ１  フォトトランジスタ
３４１  コンパレータ
３４２  ＤＡコンバータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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