(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ処理装置を入出力回路を介して共通の伝送路に接続し、各データ処理装置間でデータを転送するデータ転送装置において、
各データ処理装置は、他のデータ処理装置からテスト信号を受信し、上記入出力回路がこれを正しく受信できたかどうかを判定する比較器と、
上記入出力回路に対し、信号入力時の基準となる参照電圧を与えるとともに、上記比較器の判定結果に応じて、正しく受信できるための最適な参照電圧を求めて記憶部に記憶する参照電圧制御回路と、
当該各データ処理装置固有のフラグ信号を発生するフラグ発生器を備え、
上記参照電圧制御回路は、データ送信元となるデータ処理装置毎に参照電圧の最適値を求めて上記記憶部に記憶し、
送信元のデータ処理装置は、上記フラグ発生器からのフラグ信号をデータに付加して転送し、
受信側のデータ処理装置は、上記参照電圧制御回路により受信したフラグ信号から送信元のデータ処理装置を識別し、上記記憶部から上記送信元のデータ処理装置に対する参照電圧最適値を読み取り設定することを特徴とするデータ転送装置。
【請求項２】
請求項１のデータ転送装置において、
前記参照電圧制御回路は、前記各データ処理装置から送信される前記テスト信号に対し、参照電圧を段階的に変化させ、該テスト信号を正しく受信できる動作マージンが最大となるように参照電圧の最適値を設定することを特徴とするデータ転送装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ転送装置に関し、特に複数の入出力回路の間でデータを誤りなく転送する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数のプロセッサを有する電算機などにおいて、プロセッサ間のデータ転送を誤りなく行わねばならない。そのために、各プロセッサには、入出力するデータ信号を処理する入出力回路を備えている。このようなデータ転送装置では、複数のプロセッサは入出力回路を介して共通の伝送路に接続される。そして、１つのプロセッサから他のプロセッサに対してデータを転送するとき、転送元のプロセッサの入出力回路は出力回路となり、転送先のプロセッサの入出力回路は入力回路となる。転送元と転送先のプロセッサが入れ替わると、入出力回路はそれに合わせて出力回路あるいは入力回路に切り替わる。
【０００３】
各入力回路では、入力されたデータ信号のレベルを予め設定された参照電圧（しきい値）と比較し、波形整形してプロセッサ内部の回路に転送する。この時の参照電圧の設定が不適当であると、データを誤って識別し転送エラーが生じることになる。よって参照電圧の値は、伝送信号の状況を考慮してより広いマージンが得られるように設定されるべきである。
【０００４】
例えば特許文献１には、入力信号に汎用性を持たせ、かつ識別判定のための最適点の設定を自動的に高精度に行うことを目的とする伝送装置が開示される。ここでは、入力信号に対して、電圧しきい値レベルとクロックの位相とを順次スイープさせ、アイパターンの有効領域内での最もエラー発生の低い識別点を自動測定し、その識別点を最適点に設定して再生制御するものである。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−１８１４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
データ転送速度が小さくまた伝送信号の振幅が大きければ、動作マージンは広く、参照電圧の設定が最適値から少々ずれていても、転送エラーを増加させるほどの問題にはならない。しかしながら、近年のプロセッサはその動作周波数の高速化に伴い、データ転送速度が高速化しており、これに伴い信号振幅も小さくなる傾向にある。このように動作マージンが狭くなると、参照電圧の設定をより高精度に適切に設定しないと、データの識別を誤り、プロセッサ内部に誤ったデータが転送されることになる。
【０００７】
また、データ転送装置では、複数の入出力回路において、それらの入出力特性は同一とは限らない。特に、入力回路として動作する際の参照電圧の最適値は同一であるとは限らない。なぜなら、各入出力回路の入力特性は、製造プロセスによるばらつき、電源電圧の変動及び温度変動等の影響を受け、それぞれの参照電圧の最適値が異なる場合が生じるからである。
【０００８】
さらには、複数のプロセッサ（複数の入出力回路）間でデータの転送を行う訳であるから、転送元と転送先となる入出力回路の組み合わせは幾通りも存在し、それらの伝送路の距離は一定していない。よって、入出力回路の組み合わせにより伝送路での信号劣化の状況も一様ではなく、各入出力回路の参照電圧の最適値をそれに合わせて設定しなければならない。
【０００９】
前記特許文献１では、１つの伝送系における再生制御の最適点の設定を行う技術が開示されるが、上記したような複数の入出力回路を含むデータ転送装置における問題については考慮されていない。
【００１０】
従来は、既に設定した参照電圧が適正であるか、また参照電圧の上限及び下限に対して余裕があるかを確認するために、動作マージン試験を行っていた。動作マージン試験の結果、参照電圧の設定が適切でないことが判明した場合、回路部品を交換するなどして参照電圧の補正を行っていた。このようなマージン試験や部品の交換は人手による作業となるため、効率が悪く改善が求められる。
【００１１】
本発明の目的は、上記した従来の課題を解決し、複数の入出力回路の間で高速のデータ信号を転送するデータ転送装置において、転送エラーの発生を低減することにある。さらには、各入出力回路の参照電圧を自動的に最適に設定することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、複数のデータ処理装置を入出力回路を介して共通の伝送路に接続し、各データ処理装置間でデータを転送するデータ転送装置であって、各データ処理装置は、他のデータ処理装置からテスト信号を受信し、入出力回路がこれを正しく受信できたかどうかを判定する比較器と、入出力回路に対し、信号入力時の基準となる参照電圧を与えるとともに、比較器の判定結果に応じて、正しく受信できるための最適な参照電圧を求めて記憶部に記憶する参照電圧制御回路とを備える。参照電圧制御回路は、データ送信元となるデータ処理装置毎に参照電圧の最適値を求めて記憶部に記憶する構成とする。
【００１３】
ここに参照電圧制御回路は、各データ処理装置から送信されるテスト信号に対し、参照電圧を段階的に変化させ、テスト信号を正しく受信できる動作マージンが最大となるように参照電圧の最適値を設定する。
【００１４】
また各データ処理装置は、当該装置固有のフラグ信号を発生するフラグ発生器を備え、送信元のデータ処理装置は、フラグ発生器からのフラグ信号をデータに付加して転送する。受信側のデータ処理装置は、参照電圧制御回路により受信したフラグ信号から送信元のデータ処理装置を識別し、記憶部から該送信元のデータ処理装置に対する参照電圧最適値を読み取り設定する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、複数の入出力回路の間で高速のデータ信号を転送する場合、各入出力回路の参照電圧を自動的に最適に設定し、転送エラーの発生を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
図１は、本発明によるデータ転送装置の一実施例を示す構成ブロック図である。本実施例のデータ転送装置１は、ｎ個のデータ処理装置（プロセッサ）１０−１，１０−２，・・・，１０−ｎを備え、これらをそれぞれの入出力回路１０１−１，１０１−２，・・・，１０１−ｎを介して共通の伝送路（配線）１３０に接続している。各入出力回路は、各データ処理装置で生成したデータを他のデータ処理装置へ転送する出力回路として動作するとともに、他のデータ処理装置から転送されたデータを入力する入力回路として動作する。以下、これらの動作モードを出力モード、入力モードと呼び、そのような動作状態の入出力回路を出力回路、入力回路と呼ぶ。なお、装置間のデータ転送時には、ｎ個のデータ処理装置（入出力回路）のうち、１個のデータ処理装置（入出力回路）を出力モードに選択し、他のデータ処理装置（入出力回路）は入力モードとして動作させる。入力モードの場合には、入力信号のレベルを参照電圧Ｖｒｅｆと比較して波形を整形する。その際、各参照電圧制御回路１０２は、各入出力回路（入力回路）１０１に対し参照電圧Ｖｒｅｆを設定する。システム制御回路１２０は、装置間の入出力切り替え制御を行うとともに、各データ処理装置１０内の各回路の動作モードを切り替え制御する。
【００１７】
各データ処理装置１０は、以下の構成である（符号の説明では、装置毎の添字を省略する）。入出力制御回路１０３は、入出力回路１０１を出力モードにするか、あるいは入力モードにするかを切り替え制御する。
【００１８】
出力モードであってテスト送信の場合には、テストパターン発生器１０６からテスト信号Ｖｔｅｓｔを発生する。テスト信号は、他の各データ処理装置１０において入出力回路１０１の参照電圧Ｖｒｅｆの最適値を決定するために利用するもので、各データ処理装置１０には共通の信号を発生するそれぞれのテストパターン発生器１０６を有している。また通常データ送信の場合には、通常のデータパス１０５からは、当該データ処理装置１０にて演算し生成したデータＶｄａｔａを出力する。さらに出力フラグ発生器１０４は、当該データ処理装置１０を識別する固有のフラグ信号Ｖｆｌａｇを発生する。選択器１０７，１０８は、テスト送信であるか通常データ送信であるかに応じて、上記の信号源を切り替え、入出力回路１０１へ送る。
【００１９】
入力モードであってテスト受信の場合には、他のデータ処理装置からのテスト信号Ｖｔｅｓｔを入出力回路１０１にて受信する。その時、参照電圧制御回路１０２にて参照電圧Ｖｒｅｆを変化させながら受信する。そして、入出力回路１０１を通過した信号と、当該データ処理装置のテストパターン発生器１０６で発生したテスト信号とを比較器１１０にて比較し、信号のパターンが一致するかどうか判定する。判定の結果、正しく受信できる参照電圧Ｖｒｅｆの動作マージンを求め、最適値を決定して記憶する。なお、比較判定する際、両者の信号には時間差が生じるので、遅延回路１０９にてタイミング合わせを行う。入力モードが通常データ受信であれば、受信するフラグ信号Ｖｆｌａｇから送信元がいずれのデータ処理装置かを識別し、送信元に応じて参照電圧Ｖｒｅｆを最適に設定する。続いて、入出力回路１０１を通過したデータ信号Ｖｄａｔａを通常のデータパス１１１へ送る。
【００２０】
本実施例では、１個のデータ処理装置のテストパターン発生器１０６からテスト信号Ｖｔｅｓｔを送信し、他のデータ処理装置でこれを正しく受信できたかどうかを比較器１１０で判定する。その際、入出力回路（入力回路）１０１の参照電圧Ｖｒｅｆを変化させて、テスト信号を正しく受信できる参照電圧の動作マージンを求め、これから受信側の各入力回路毎に参照電圧の最適値Ｖｒｏｐｔを決定する。次に、送信側のデータ処理装置を他の装置に切り替えてテスト信号を送信し、同様に受信側の各入力回路毎に参照電圧の最適値Ｖｒｏｐｔを決定する。このようにして、送信側のデータ処理装置（すなわち出力回路）毎に参照電圧の最適値Ｖｒｏｐｔを決定する。そして、実際のデータ受信の際は、送信されるフラグ信号から送信元のデータ処理装置（出力回路）を識別して、これに合わせて参照電圧を最適値Ｖｒｏｐｔに設定する。
【００２１】
ここで一例として、データ処理装置１０−１から他のデータ処理装置１０−２，・・・，１０−ｎへテスト信号Ｖｔｅｓｔを送信し、各入力回路の参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを決定する場合を説明する。
【００２２】
まず、入出力制御回路１０３−１は入出力回路１０１−１を出力回路に設定し、入出力制御回路１０３−２，・・・，１０３−ｎは入出力回路１０１−２，・・・，１０１−ｎを入力回路に設定する。データ処理装置１０−１はテストパターン発生器１０６−１からテスト信号Ｖｔｅｓｔを出力し、選択器１０８−１はこれを選択する。テスト信号は入出力回路（出力回路）１０１−１を通過して、伝送路１３０に送信される。送信されたテスト信号は、各データ処理装置の入出力回路（入力回路）１０１−２，・・・，１０１−ｎにて受信される。
【００２３】
ここで、データ処理装置１０−２に着目する。テスト信号Ｖｔｅｓｔは入力回路１０１−２で受信し、設定されている参照電圧Ｖｒｅｆを基準に波形整形を行い、テスト信号Ｖｔｅｓｔ’を得る。テスト信号Ｖｔｅｓｔ’は比較器１１０−２に送られる。比較器１１０−２では、受信したテスト信号Ｖｔｅｓｔ’とテストパターン発生器１０６−２からのテスト信号Ｖｔｅｓｔを比較する。ここで、テストパターン発生器１０６−２は送信元のテストパターン発生器１０６−１と同一のテスト信号を出力するので、これを比較の基準として用いることができる。遅延回路１０９−２は、テストパターン発生器１０６−２からのテスト信号Ｖｔｅｓｔを遅延させ、入力回路１０１−２を通過したテスト信号Ｖｔｅｓｔ’のタイミングと一致させる。比較器１１０−２により、両者のテスト信号Ｖｔｅｓｔ’およびＶｔｅｓｔのパターンが一致することが確認されれば、入力回路１０１−２はテスト信号を正しく取り込んだと判断し、現在の参照電圧Ｖｒｅｆの設定は問題なしと判定する。他の入力回路１０１−３、・・・、１０１−ｎにおいても、同様に参照電圧Ｖｒｅｆの設定に問題ないかどうかを判定する。
【００２４】
以後、各入力回路１０１において参照電圧Ｖｒｅｆを変化させて設定し、テスト信号を正しく取り込んだかどうかを判定する。このようにして、テスト信号を正しく受信できる参照電圧の動作マージンを求め、各入力回路の参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを決定する。さらに、テスト信号を送信するデータ処理装置を他の装置に切り替えて、送信側のデータ処理装置毎に参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを決定する。
【００２５】
次に、参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを求めた後、通常のデータ転送が実行される。一例として、データ処理装置１０−１から他のデータ処理装置１０−２，・・・，１０−ｎへデータを送信する場合を説明する。
【００２６】
データ処理装置１０−１において、出力フラグ発生器１０４−１は装置１０−１に固有のフラグ信号Ｖｆｌａｇを発生する。また、データパス１０５−１は装置１０−１で生成したデータ信号Ｖｄａｔａを出力する。選択器１０７−１では、両者の信号を合成し（例えば、データ信号Ｖｄａｔａのヘッダ部にフラグ信号Ｖｆｌａｇを付加する）、選択器１０８−１を経由して出力回路１０１−１へ送る。出力回路１０１−１では必要に応じて信号レベルの調整を行い、伝送路１３０へ送信する。
【００２７】
伝送路１３０に送信されたデータ信号Ｖｄａｔａは、各データ処理装置１０−２，・・・，１０−ｎの入力回路１０１−２，・・・，１０１−ｎにて受信する。例えば入力回路１０１−２では、入力されたデータ信号からこれに付加されているフラグ信号Ｖｆｌａｇを抽出し、参照電圧制御回路１０２−２へ送る。参照電圧制御回路１０２−２では、受け取ったフラグ信号Ｖｆｌａｇから送信元がデータ処理装置１０−１であることを識別し、データ処理装置１０−１に適した参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを設定する。そして、入力回路１０１−２からデータ信号Ｖｄａｔａを受信し、通常のデータパス１１１−２へ送り、データ処理装置１０−２はこれを処理する。他のデータ処理装置１０−ｎにおいても同様に受信する。
【００２８】
このようにして、各入力回路はその入力特性に応じて参照電圧の最適値を設定するだけでなく、データの送信元の装置（出力回路）に合わせて参照電圧の最適値に設定することができる。よって、データ転送装置内の各入力回路、各出力回路、及び伝送路の特性が異なっていても、常に最適な状態で信号を受信し、転送エラーを低減することができる。また、参照電圧の設定のための動作マージン試験と参照電圧の最適設定を自動化しているので、作業効率が大幅に向上できる。
【００２９】
図２は、図１のデータ転送装置における入力回路と参照電圧制御回路の内部構成を示す図である。入力回路２０６の比較器２０７には入力データＶｉｎ（テスト信号Ｖｔｅｓｔや通常のデータＶｄａｔａ）が入力し、参照電圧Ｖｒｅｆをしきい値としてレベル判定し、波形整形して出力データＶｏｕｔを出力する。参照電圧Ｖｒｅｆは、直流電圧２０１を可変抵抗２０２，２０３にて分圧して与えるが、参照電圧制御回路２０５は、可変抵抗２０２，２０３の抵抗値を制御することで、参照電圧Ｖｒｅｆを変化させる。可変抵抗２０２，２０３としては、例えば複数の抵抗を並列接続し、各抵抗に直列に接続したスイッチで切り替えてもよい。記憶部２０８には参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを送信元の出力回路毎に記憶するが、可変抵抗２０２，２０３の抵抗値として記憶してもよい。
【００３０】
図２に示す回路を使用することにより、参照電圧のマージン試験を行い最適値に設定することができる。入力データＶｉｎとしてテスト信号Ｖｔｅｓｔを供給して、参照電圧制御回路２０５により可変抵抗２０２，２０３を制御して参照電圧Ｖｒｅｆを変化させて設定し、入力回路２０６を通過したテスト信号Ｖｔｅｓｔ’を判定する。判定の結果、信号Ｖｔｅｓｔ’が正しければ、設定された参照電圧は問題ない。このようにして、許容できる参照電圧の動作マージン（最大値と最小値）から最適値を決定し、記憶部２０８に記憶する。その後通常データ受信時には、参照電圧制御回路２０５は、フラグ信号Ｖｆｌａｇから送信元である装置を識別し、記憶部２０８から送信元毎に記憶している最適値Ｖｒｏｐｔを読み出して、参照電圧Ｖｒｅｆとして設定する。
【００３１】
図３は、入力回路における波形整形動作を示す模式図である。入力電圧Ｖｉｎを参照電圧Ｖｒｅｆと比較し、波形整形して出力電圧Ｖｏｕｔとする。入力電圧Ｖｉｎの振幅が大きければ（Ｖｉｎ１の場合）、出力電圧Ｖｏｕｔ１にはデータ周期のずれは生じない。しかし、入力電圧Ｖｉｎのデータ転送速度が大きくなり、また信号振幅が小さくなると、入力電圧に対する参照電圧Ｖｒｅｆは適切値からずれてしまう（Ｖｉｎ２の場合）。その結果、出力電圧Ｖｏｕｔ２のデータ周期は変動し、転送データにエラーが発生する確率が高くなる。
【００３２】
入力回路の入力特性は、製造プロセスによるばらつき、電源電圧の変動及び温度変動等の影響を受ける。よって、複数の入力回路を含む場合、それぞれに適した参照電圧の最適値を設定しなければならない。さらには入力信号の品質は、信号送信元の状況や伝送路の状況（距離）により劣化の程度が異なる。よって、複数の送信元からの信号を受信する場合には、送信元毎に参照電圧の最適値を設定しなければならない。
【００３３】
図４は、各入力回路における最適な参照電圧を求める手順を示すフローチャート図である。入出力回路の総数をｎとし、１個の入出力回路（出力回路）から他の入出力回路（入力回路）に対してテスト信号（テストパターン）を送信する。各入力回路は、参照電圧Ｖｒｅｆを段階的に変化させてテスト信号を正しく受信できる参照電圧の動作マージンを求め、これから参照電圧の最適値Ｖｒｏｐｔを決定するものである。ｍは入出力回路の番号で、ｍ＝１、２、・・・、ｎとする。参照電圧Ｖｒｅｆは、初期値をＶｒｏとし、これにＶ（ｋ）（ｋは整数）を加算して変化させる。ここでＶ（０）＝０，・・・＜Ｖ（−２）＜Ｖ（−１）＜Ｖ（０）＜Ｖ（１）＜Ｖ（２）＜・・・とする。
【００３４】
テスト開始指令により（Ｓ４０１）、初期値としてｍ＝１，ｋ＝０とおく（Ｓ４０２）。入出力制御回路１０３は、ｍ番目の入出力回路を出力回路とし、他の入出力回路を入力回路に設定する（Ｓ４０３）。各入力回路の参照電圧制御回路１０２（２０５）は、参照電圧ＶｒｅｆをＶｒｏ＋Ｖ（ｋ）に設定する（Ｓ４０４）。次に、出力回路ｍからテストパターンを送信し、各入力回路で受信する（Ｓ４０５）。各入力回路では入力したテストパターンを参照電圧Ｖｒｅｆを基準に波形整形する。そして、比較器１１０にて、テストパターン発生器１０６からのテストパターンと比較して、これらが一致すれば正しく受信できたものと判定する（Ｓ４０６）。
【００３５】
正しく受信できた入力回路があれば（Ｓ４０７でＹｅｓ）、その入力回路の参照電圧の最大値Ｖｒｍａｘを現在値Ｖｒｏ＋Ｖ（ｋ）で更新して記憶部２０８にて記憶する（Ｓ４０８）。その後ｋをｋ＋１に更新し（Ｓ４０９）、Ｓ４０４に戻る。引き続き、参照電圧を次の値Ｖｒｏ＋Ｖ（ｋ＋１）に増加して同様に正しく受信できるかどうかを調べ、正しく受信できた入力回路では参照電圧最大値Ｖｒｍａｘを更新する。このように参照電圧を増加させながら、全ての入力回路で正しく受信できなくなるまで繰り返す。その結果、記憶部２０８には各入力回路の参照電圧最大値Ｖｒｍａｘが記憶される。
【００３６】
全入力回路で正しく受信できなくなったら（Ｓ４０７でＮｏ）、ｋ＝−１とする（Ｓ４１０）。今度は、参照電圧を初期値Ｖｒｏから減少させて設定し（Ｓ４１１）、出力回路ｍからのテストパターンを受信し（Ｓ４１２）、各入力回路で正しく受信できたかどうか調べる（Ｓ４１３）。
【００３７】
正しく受信できた入力回路があれば（Ｓ４１４でＹｅｓ）、その入力回路の参照電圧の最小値Ｖｒｍｉｎを現在値Ｖｒｏ＋Ｖ（ｋ）に更新し記憶する（Ｓ４１５）。その後ｋをｋ−１に更新し（Ｓ４１６）、Ｓ４１１に戻る。引き続き、参照電圧を次の値Ｖｒｏ＋Ｖ（ｋ−１）に減少して同様に正しく受信できるかどうかを調べ、正しく受信できた入力回路では参照電圧最小値Ｖｒｍｉｎを更新する。このように参照電圧を減少させながら、全ての入力回路で正しく受信できなくなるまで繰り返す。その結果、記憶部２０８には各入力回路の参照電圧最小値Ｖｒｍｉｎが記憶される。
【００３８】
全入力回路で正しく受信できなくなったら（Ｓ４１４でＮｏ）、出力回路ｍからのテストパターンの受信を終了する。ここまでに参照電圧の最大値Ｖｒｍａｘと最小値Ｖｒｍｉｎが求まらなかった入力回路があれば（Ｓ４１７でＮｏ）、その入力回路は不良と判定する（Ｓ４１８）。各入力回路において、参照電圧の最大値Ｖｒｍａｘと最小値Ｖｒｍｉｎの平均値を参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔとし、この値を記憶部２０８に記憶する（Ｓ４１９）。
【００３９】
以上を完了後、ｍ＝ｍ＋１に更新して（Ｓ４２１）、Ｓ４０３に戻る。そして、次の入出力回路（ｍ＋１）を出力回路とし、これに対する各入出力回路の参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを求める。このようにして全ての入出力回路が出力回路となるまでテストを繰り返し、ｍ＝ｎとなったらテストを終了する（Ｓ４２０、Ｓ４２２）。
【００４０】
図５は、テスト信号受信の結果得られた各入力回路の参照電圧値を示す図である。各入力回路の記憶部２０８には、送信元の出力回路毎に、動作マージンである参照電圧最大値Ｖｒｍａｘ、参照電圧最小値Ｖｒｍｉｎ、及びこれらの平均値として求めた参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを記憶する。そして、記憶部２０８に記憶されている参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔは、通常データ受信の際に設定する参照電圧として用いられる。なお、参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔは簡単のために参照電圧最大値Ｖｒｍａｘと最小値Ｖｒｍｉｎの平均値としたが、これに限らず、重み付け平均など、適宜算出すればよい。
【００４１】
図６は、通常データ転送時の手順を示すフローチャート図である。データ転送を開始する際（Ｓ６０１）、ｎ個のデータ処理装置（入出力回路）のうち送信元の装置（出力回路）から他の装置（入力回路）に対し、フラグ信号Ｖｆｌａｇを送信する（Ｓ６０２）。各入力回路は、受信したフラグ信号Ｖｆｌａｇにより送信元の出力回路がどれであるかを識別する（Ｓ６０３）。そして、記憶部２０８に記憶している参照電圧値（図５に示す）から、識別した出力回路に対する参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを読み出して設定する（Ｓ６０４）。そして、出力回路から各入力回路へデータＶｄａｔａが転送される（Ｓ６０５）。データ転送後、異なる出力回路からの次のデータ転送があれば（Ｓ６０６でＹｅｓ）、Ｓ６０２に戻り上記動作を繰り返す。すなわち、次に出力回路となる１個から他の入力回路に対してフラグ信号Ｖｆｌａｇを送信する。各入力回路は、新たな参照電圧最適値Ｖｒｏｐｔを設定して、データ受信を行う。この手順により、どの入出力回路が出力回路になっても、他の入力回路は自動的に最適な参照電圧を設定してデータの受信を可能にする。
【００４２】
上記実施例に加え、電源電圧可変回路、周波数可変回路及び温度可変装置を取り付けることにより、データ転送装置における参照電圧、電源電圧、周波数及び温度に対する動作マージン試験が同時に可能となる。そして、電源電圧、周波数及び温度をそれぞれ変更しながら行うことにより、精度の高いマージン試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明によるデータ転送装置の一実施例を示す構成ブロック図。
【図２】図１における入力回路と参照電圧制御回路の内部構成を示す図。
【図３】入力回路における波形整形動作を示す模式図。
【図４】各入力回路における最適な参照電圧を求める手順を示すフローチャート図。
【図５】テスト信号受信の結果得られた各入力回路の参照電圧値を示す図。
【図６】通常データ転送時の手順を示すフローチャート図。
【符号の説明】
【００４４】
１…データ転送装置
１０…データ処理装置
１０１…入出力回路
１０２，２０５…参照電圧制御回路
１２０…システム制御回路
１０３…入出力制御回路
１０６…テストパターン発生器
１０４…出力フラグ発生器
１１０…比較器
１３０…伝送路
２０６…入力回路
２０８…記憶部
Ｖｒｅｆ…参照電圧
Ｖｒｏｐｔ…参照電圧最適値
Ｖｔｅｓｔ…テスト信号
Ｖｆｌａｇ…フラグ信号。
【図１】
0005203578.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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