(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１電極と複数の電極からなる第２電極群とを有する装置における第１電極と第２電極群との間の絶縁性の有無を検査する絶縁検査装置であって、
前記第１電極に接続可能な一対の接続部材からなり、該接続により該一対の接続部材間を電気的に接続可能な第１プローブと、
前記第２電極群の各電極に各々接続可能な一対の接続部材からなり、該接続により該一対の接続部材間を各々電気的に接続すると共に前記第２電極群の各電極を直列接続可能な第２プローブ群と、
前記第１電極と前記第２電極群の各電極とを直列接続および直列接続解除可能なスイッチと、
前記スイッチにより直列接続された状態において形成される直列回路によって、前記第１電極および前記第２電極群への前記第１プローブおよび前記第２プローブ群の接続を確認可能な接続確認回路と、
前記スイッチにより直列接続解除された状態において前記第１電極と前記直列接続された第２電極群の各電極との間の絶縁性の有無を検査可能な絶縁検査回路と、
前記スイッチと共に前記接続確認回路と前記絶縁検査回路とを切り替え可能な切り替えスイッチと
を備える絶縁検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の絶縁検査装置において、
前記絶縁検査装置によって前記第１電極と複数の電極からなる第２電極群とを有する装置の第１電極と第２電極群との間の絶縁性が確保されていることが確認された後に、前記スイッチおよび前記切り替えスイッチによって前記接続確認回路に再度接続して前記第１電極と前記第１プローブとの接続状態および前記第２電極群と前記第２プローブ群との接続状態を確認することを特徴とする絶縁検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、絶縁検査装置に関し、詳しくは、第１の電極と複数の電極からなる第２の電極群との間の絶縁性の有無を検査する絶縁検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数のラインを各々流れる複数種類の製品の良否を同時に検査しようとする場合、通常、各製品が流れるライン毎に検査装置を用意する、即ち、検査する製品の種類に応じた数の検査装置を用意する必要がある。例えば、複数種類のインバータを検査する場合におけるインバータ検査装置は、インバータに直流電力を供給する直流電源と、インバータのスイッチング素子のスイッチングにより直流電力から変換された交流電力を受けて駆動する負荷と、インバータの動作状態を計測する計測部と、インバータのスイッチング素子に対して制御信号を出力するインバータ制御信号発生器と、検査装置全体をコントロールする検査制御部とから構成されている。こうしたインバータ検査装置を構成する各ユニットは、比較的大きく複数種類のインバータに応じた数だけインバータ検査装置を用意しなければならないとすると、広い設置スペースが必要となる。また、各ユニットは、高価であり、設備投資が大きくなるという問題もある。
【０００３】
こうした問題を解決するためには、複数のラインを各々流れる複数種類のインバータを同時に接続可能な切り替え盤を設けて、逐次検査対象のインバータを切り替え盤によって切り替えることによって、一台のインバータ検査装置により複数種類のインバータの検査を行なうことが考えられる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、単純に切り替え盤によって複数種類のインバータの中から検査の対象を切り替えるだけでは、各ラインにおけるインバータの流れのリズムに狂い、即ち後の工程へ送られる製品の時間間隔にバラツキが生じて、後工程に影響を与えることになる結果、目標とする各インバータの生産台数を生産することができず、生産性が低下してしまう場合がある。
【０００５】
一方、インバータなどの製品の検査する装置として、例えば、三相交流により駆動するモータの三相コイルの各相やインバータに電力を供給する直流電源に接続するための複数の電極とアース電極との間で絶縁性の有無を検査する絶縁検査装置では、従来、複数の電極およびアース電極の各々の電極に対して一つずつプローブの接続確認を行なうと共に全ての接続確認が終了した段階で複数の電極の各々とアース電極との間の絶縁抵抗を計測を一つずつ行なっていた。しかしながら、一つずつプローブの接続確認を行なったり、一つずつ絶縁抵抗の計測を行なったりするものでは、一つの検査対象に対してその検査対象が備える複数の電極の数だけ検査（接続の確認と絶縁抵抗の測定）を繰り返す必要があるから、その分検査時間が大幅に長くなり、製品（インバータ）の生産性が低下してしまう問題があった。
【０００６】
本発明の絶縁検査装置は、製品の各電極間の絶縁検査をより効率よく行なって製品の生産性をより向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の絶縁検査装置は、
第１電極と複数の電極からなる第２電極群とを有する装置における第１電極と第２電極群との間の絶縁性の有無を検査する絶縁検査装置であって、
前記第１電極に接続可能な一対の接続部材からなり、該接続により該一対の接続部材間を電気的に接続可能な第１プローブと、
前記第２電極群の各電極に各々接続可能な一対の接続部材からなり、該接続により該一対の接続部材間を各々電気的に接続すると共に前記第２電極群の各電極を直列接続可能な第２プローブ群と、
前記第１電極と前記第２電極群の各電極とを直列接続および直列接続解除可能なスイッチと、
前記スイッチにより直列接続された状態において形成される直列回路によって、前記第１電極および前記第２電極群への前記第１プローブおよび前記第２プローブ群の接続を確認可能な接続確認回路と、
前記スイッチにより直列接続解除された状態において前記第１電極と前記直列接続された第２電極群の各電極との間の絶縁性の有無を検査可能な絶縁検査回路と、
前記スイッチと共に前記接続確認回路と前記絶縁検査回路とを切り替え可能な切り替えスイッチと
を備えることを要旨とする。
【０００８】
本発明の絶縁検査装置において、前記絶縁検査装置によって前記第１電極と複数の電極からなる第２電極群とを有する装置の第１電極と第２電極群との間の絶縁性が確保されていることが確認された後に、前記スイッチおよび前記切り替えスイッチによって前記接続確認回路に再度接続して前記第１電極と前記第１プローブとの接続状態および前記第２電極群と前記第２プローブ群との接続状態を確認してもよい。
【発明の効果】
【０００９】
この本発明の絶縁検査装置では、第１電極および第２電極群に対する第１プローブおよび第２プローブ群の接続の確認を、第１電極と第２電極群の各々の電極とが直列接続される接続確認回路により、第１電極と第２電極群の各電極との絶縁性の有無の検査を、第１電極と、第２プローブ群により直列接続された第２電極群との間の絶縁性の有無を検査可能な絶縁検査回路により行なうから、より効率よく絶縁検査を行なうことができ、装置の生産性をより向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施例である絶縁検査装置１２０の構成の概略を示す構成図である。
【図２】実施例の絶縁検査装置１２０の制御装置１６０により実行される絶縁検査処理ルーチンの一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
次に、本発明の実施の形態を実施例を用いて説明する。図１は、本発明の一実施例である絶縁検査装置１２０の構成の概略を示す構成図である。実施例の絶縁検査装置１２０は、例えば、製品（例えばインバータなど）におけるアース電極１２２と複数の電極１３０群との間の絶縁状態の有無を検査するためのものであり、図示するように、アース電極１２２に接続可能な一対の接続ピン１２４，１２６からなりアース電極１２２との接続により一対の接続ピン１２４，１２６間を電気的に接続可能な第１プローブ１２８と、複数の電極１３０に各々接続可能な一対の接続ピン１３２，１３４からなり電極１３０との接続により一対の接続ピン１３２，１３４間を各々電気的に接続すると共に複数の電極１３０の各電極を直列接続可能な第２プローブ１３６群と、第１プローブ１２８の接続ピン１２４と第２プローブ１３６群の一端（図中左側）の接続ピン１３２とを電気的に接続および接続解除可能なリレー１３８と、リレー１３８のオン（接続）状態で一対の接続ピン１２４，１２６間および各接続ピン１３２，１３４間の電気的接続の有無によりアース電極１２２および複数の電極１３０群と第１プローブ１２８および第２プローブ１３６との接続を確認する接続確認回路１４０と、リレー１３８のオフ（開放）状態でアース電極１２２と複数の電極１３０群との間の絶縁抵抗を計測する絶縁検査回路１５０と、装置全体をコントロールする制御装置１６０とを備える。
【００１２】
接続確認回路１４０は、リレー１３８と、第１プローブ１２８の接続ピン１２６と第２プローブ１３６群の他端（図中右端）の接続ピン１３４とにリレー１４８，１４９を介して接続された直流電源１４２と、抵抗１４４と、抵抗１４４の端子間に設けられた電圧計１４６とを備える。第２プローブ１３６群が各電極１３０に接続されると、第２プローブ１３６群の各接続ピン１３４，１３６間は電気的に接続され電極１３０群は各々直列接続状態となるから、リレー１３８がオン（接続）している状態では、直列回路が形成され、抵抗１４４の端子間電圧を電圧計１４６で検出することにより、一度にアース電極１２２および電極１３０群に対する第１プローブ１２８および第２プローブ１３６群の接続を確認することができる。
【００１３】
絶縁検査回路１５０は、リレー１３８と、第１プローブ１２８の接続ピン１２４と第２プローブ１３６群の他端（図中右側）の接続ピン１３４とにリレー１５４，１５５を介して接続された絶縁抵抗計１５２を備える。第２プローブ１３６群が対応する各電極１３０に接続されると、電極１３０群は各々直列接続状態となるから、リレー１３８がオフ（開放）している状態でアース電極１２２と電極１３０群との間の絶縁抵抗を絶縁抵抗計１５２を用いて測定することにより、一度にアース電極１２２と電極１３０群間の絶縁状態の有無を判定することができる。
【００１４】
制御装置１６０は、ＣＰＵ１６２を中心としたマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムを記憶したＲＯＭ１６４と、一時的にデータを記憶するＲＡＭ１６６と、入出力ポート（図示せず）とを備える。この制御装置１６０には、抵抗１４４の端子間電圧を検出する電圧計１４６からの電圧Ｖやアース電極１２２と電極１３０群との間の絶縁抵抗を検出する絶縁抵抗計１５２からの絶縁抵抗Ωなどが入力ポートを介して入力されている。また、制御装置１６０からは、接続確認回路１４０と絶縁検査回路１５０とを切り替えるリレー１３８，１４８，１４９，１５４，１５５へのオンオフ信号や絶縁検査の結果を表示するディスプレイ装置１７０への出力信号などが出力ポートを介して出力されている。
【００１５】
こうして構成された実施例の絶縁検査装置１２０の動作について説明する。図２は、制御装置１６０のＣＰＵ１６２により実行される絶縁検査処理ルーチンの一例を示すフローチャートである。このルーチンは、検査開始の指示がなされたときに実行される。
【００１６】
絶縁検査処理ルーチンが実行されると、制御装置１６０のＣＰＵ１６２は、まず、接続確認回路１４０への切り替えを行う（ステップＳ２００）。この接続確認回路１４０への切り替えは、リレー１３８をオン（接続）すると共にリレー１４８，１４９をオン（接続）し、更にリレー１５４，１５５をオフ（開放）することにより行われる。そして、切り替えられた接続確認回路１４０により第１プローブ１２８および第２プローブ１３６群がそれぞれアース電極１２２および電極１３０群に接続されているか否かを判定する（ステップＳ２０２）。この判定は、実施例では、電圧計１４６により検出された電圧Ｖが閾値Ｖｒｅｆ以上であるか否かを判定することにより行われる。勿論、電流計を用いて接続確認回路１４０に所定以上の電流が流れているか否かを判定するものとしても構わない。接続が確認されていないときには、ステップＳ２０２に戻って接続が確認されるまで待つ処理を行なう。
【００１７】
一方、第１プローブ１２８および第２プローブ１３６群の接続が確認されると、絶縁検査回路１５０への切り替えを行う（ステップＳ２０４）。この絶縁検査回路１５０への切り替えは、リレー１３８をオフ（開放）すると共にリレー１４８，１４９をオフ（開放）し、更にリレー１５４，１５５をオン（接続）することにより行われる。そして、切り替えられた絶縁検査回路１５０によりアース電極１２２と複数の電極１３０群との間の絶縁状態の有無を判定する（ステップＳ２０６）。この判定は、実施例では、絶縁抵抗計１５２により検出された絶縁抵抗Ωが閾値Ωｒｅｆ以上であるか否かを判定することにより行われる。絶縁抵抗Ωが閾値Ωｒｅｆ未満であるときには、絶縁性が確保されていないと判断して、ディスプレイ装置１７０に絶縁不良の出力を行って（ステップＳ２０８）本ルーチンを終了する。
【００１８】
絶縁抵抗Ωが閾値Ωｒｅｆ以上であり、絶縁性が確保されていると判断されたときには、再び接続確認回路１４０への切り替えを行い（ステップＳ２１０）、第１プローブ１２８および第２プローブ１３６群がそれぞれアース電極１２２および電極１３０群に接続されているか否かを判定する（ステップＳ２１２）。この判定を行うのは、絶縁検査回路１５０による絶縁検査中に第１プローブ１２８および第２プローブ１３６群とアース電極１２２および電極１３０群との接続が解除されていないかを確認するためである。接続されていると判定されたときには、アース電極１２２と電極１３０群とは絶縁性が確保されており、検査も正常に行なわれたものと判断し、ディスプレイ装置１７０に絶縁良好の出力を行って（ステップＳ２１４）本ルーチンを終了する。ステップＳ２１２で接続されていないと判定されたときには、絶縁検査回路１５０による絶縁検査中に第１プローブ１２８または第２プローブ１３６群の接続が解除されており、検査が正常に行われなかったと判断し、ディスプレイ装置１７０に検査異常の出力を行って（ステップＳ２１６）本ルーチンを終了する。
【００１９】
以上説明した実施例の絶縁検査装置１２０によれば、アース電極１２２と複数の電極１３０群との間の絶縁性の有無の検査を一度に行うことができるから、アース電極１２２に対して複数の電極１３０群を一つずつ検査するのに比して検査時間を大幅に短縮することができ、製品の生産性をより向上させることができる。
【００２０】
以上、本発明の実施の形態について実施例を用いて説明したが、本発明のこうした実施例に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、種々なる形態で実施し得ることは勿論である。
【符号の説明】
【００２１】
１２０  絶縁検査装置、１２２  アース電極、１２４，１２６  接続ピン、１２８  第１プローブ、１３０  電極、１３２，１３４  接続ピン、１３６  第２プローブ、１３８  リレー、１４０  接続確認回路、１４２  直流電源、１４４  抵抗、１４６  電圧計、１４８，１４９  リレー、１５０  絶縁検査回路、１５２  絶縁抵抗計、１５４，１５５  リレー、１６０  制御装置、１６２  ＣＰＵ、１６４  ＲＯＭ、１６６  ＲＡＭ、１７０  ディスプレイ装置。
【図１】
0005170006.tif 000002
【図２】
0005170006.tif 000003