(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、前記放射線検出器における蓄積時間毎および／または前記放射線検出器に対する放射線照射量毎にデータベースに記憶し、
前記放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中において、前記欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定し、
前記通常画像中の各欠陥画素について、前記放射線検出器における蓄積時間および／または前記放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、前記データベースから該当する前記欠陥画素情報を抽出し、
抽出した前記欠陥画素情報に基づいて前記通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うことを特徴とする放射線画像処理方法。
【請求項２】
放射線検出器と、
該放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、前記放射線検出器における蓄積時間毎および／または前記放射線検出器に対する放射線照射量毎に記憶するデータベースと、
前記放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中において、前記欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定する放射線量特定手段と、
前記通常画像中の各欠陥画素について、前記放射線検出器における蓄積時間および／または前記放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、前記データベースから該当する前記欠陥画素情報を抽出し、該欠陥画素情報に基づいて前記通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行う補正手段とを備えていることを特徴とする放射線画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線検出器で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行う放射線画像処理方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、医療分野などにおいて、被写体を透過した放射線の照射により被写体に関する放射線画像を記録する放射線検出器が各種提案、実用化されている。
【０００３】
上記放射線検出器としては、例えば特許文献１に記載されているように、放射線の照射により電荷を発生するアモルファスセレンなどの半導体を利用した放射線検出器があり、そのような放射線検出器として、いわゆる光読取方式のものやＴＦＴ読取方式のものが提案されている。
【０００４】
このような放射線検出器を用いれば、撮影により得られた画像情報をデジタルデータとして取得できるため、コンピューターを用いた診断支援装置等との親和性を高くすることができる。
【０００５】
上記のような放射線検出器には欠陥画素が含まれている場合があるため、例えば特許文献２に記載されているように、欠陥画素による画質の劣化を防止するために、予め欠陥画素の位置を測定により取得し、その欠陥画素により検出された画素値を補正することが行われている。このとき、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を取得し、この欠陥画素情報を用いて欠陥画素の補正が行われる。
【特許文献１】特開２０００−１０５２９７号公報
【特許文献２】特開２０００−０７９１０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上記のような放射線検出器において発生する欠陥画素について、特にアモルファスセレンを主成分とする光導電層を有する放射線検出器では、光導電層中のアモルファスセレンの一部に結晶化があると、放射線検出器における蓄積時間が長くなったり、放射線検出器に対する放射線照射量が多くなることにより、結晶化の部分を起点として欠陥画素として認識される欠陥画素群の領域が周囲に拡大する。
【０００７】
そのため、予め欠陥画素情報を取得しておき、放射線検出器で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行なおうとしても、実際に撮影を行なったときの放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量が、欠陥画素情報を取得したときの放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量と異なる場合には、正しく欠陥画素の補正を行うことができないという問題がある。
【０００８】
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、放射線検出器で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行う放射線画像処理方法および装置において、放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量が変化した場合でも、適正に補正することが可能な放射線画像処理方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第１の放射線画像処理方法は、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、放射線検出器における蓄積時間毎および／または放射線検出器に対する放射線照射量毎にデータベースに記憶し、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中において、欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定し、通常画像中の各欠陥画素について、放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、データベースから該当する欠陥画素情報を抽出し、抽出した欠陥画素情報に基づいて通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うことを特徴とする方法である。
【００１０】
また、本発明の第２の放射線画像処理方法は、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、データベースに記憶し、データベースに記憶された欠陥画素情報中の各欠陥画素の領域を一律に拡大させた改正欠陥画素情報に基づいて、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うことを特徴とする方法である。
【００１１】
なお、一律に拡大させるとは、基準となる欠陥画素の周囲を１画素もしくは複数画素拡大させる処理を意味する。
【００１２】
また、本発明の第１の放射線画像処理装置は、放射線検出器と、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、放射線検出器における蓄積時間毎および／または放射線検出器に対する放射線照射量毎に記憶するデータベースと、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中において、欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定する放射線量特定手段と、通常画像中の各欠陥画素について、放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、データベースから該当する欠陥画素情報を抽出し、この欠陥画素情報に基づいて通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行う補正手段とを備えていることを特徴とするものである。
【００１３】
また、本発明の第２の放射線画像処理装置は、放射線検出器と、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を記憶するデータベースと、データベースに記憶された欠陥画素情報中の各欠陥画素の領域を一律に拡大させた改正欠陥画素情報に基づいて、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行う補正手段とを備えていることを特徴とするものである。
【００１４】
ここで、放射線検出器としては、入射した放射線を直接または一旦光に変換した後に電荷に変換し、この電荷を外部に出力させることにより、被写体に関する放射線画像を表す画像信号を得ることが可能な固体検出器を用いることができる。
【００１５】
この固体検出器には種々の方式のものがあり、例えば、放射線を電荷に変換する電荷生成プロセスの面からは、放射線が照射されることにより蛍光体から発せられた蛍光を光導電層で検出して得た信号電荷を蓄電部に一旦蓄積し、蓄積電荷を画像信号（電気信号）に変換して出力する光変換方式の固体検出器、あるいは、放射線が照射されることにより光導電層内で発生した信号電荷を電荷収集電極で集めて蓄電部に一旦蓄積し、蓄積電荷を電気信号に変換して出力する直接変換方式の固体検出器等、あるいは、蓄積された電荷を外部に読み出す電荷読出プロセスの面からは、蓄電部と接続されたＴＦＴ（薄膜トランジスタ）を走査駆動して読み出すＴＦＴ読出方式のものや、読取光（読取用の電磁波）を検出器に照射して読み出す光読出方式のもの等、さらには、前記直接変換方式と光読出方式を組み合わせた本願出願人による上記特許文献１において提案している改良型直接変換方式のもの等がある。
【００１６】
また、上記第１の放射線画像処理方法および装置において、データベースに記憶する欠陥画素情報については、放射線検出器における蓄積時間毎および／または放射線検出器に対する放射線照射量毎に、実際に撮影を行なうことにより取得する態様に限らず、ある欠陥画素情報を基準とし、蓄積時間や放射線照射量を考慮して基準となる欠陥画素の周囲を欠陥画素として拡大する処理や、上記のような欠陥画素領域の拡大を想定して蓄積時間や放射線照射量の変化毎に一律に欠陥画素領域を拡大する処理を行って、複数の欠陥画素情報を生成してもよい。
【００１７】
特に無曝射画像に基づいて欠陥画素情報を取得する場合には、蓄積時間に着目して、例えば蓄積時間１秒までは基準となる欠陥画素の周囲を１周拡大、以後１秒毎に１周ずつ拡大する処理等によって複数の欠陥画素情報を生成してもよい。(なお、１周拡大とは、基準となる欠陥画素の上下左右に１画素拡大、もしくは８方向に1画素拡大等、欠陥画素群の周囲を１画素拡大する処理を意味する。)
また、上記第１の放射線画像処理方法および装置では、通常画像中において、欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定し、通常画像中の各欠陥画素について、放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、データベースから該当する欠陥画素情報を抽出し、抽出した欠陥画素情報に基づいて通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うが、蓄積時間や特定した放射線照射量に完全に一致した欠陥画素情報をデータベースから抽出する態様に限らず、ある欠陥画素情報（例えば蓄積時間や特定した放射線照射量が近い欠陥画素情報）を抽出し、画像データの補正の段階で抽出した欠陥画素情報に基づいてさらに上記のように蓄積時間や放射線照射量を考慮して基準となる欠陥画素の周囲を欠陥画素として拡大する処理や、上記のような欠陥画素領域の拡大を想定して蓄積時間や放射線照射量の変化毎に一律に欠陥画素領域を拡大する処理を施して、補正領域を調整するようにしてもよい。
【００１８】
また、欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量の特定については、例えば通常画像中の欠陥画素の周辺の画素の放射線検出量等に基づいて推定により特定してもよいし、放射線強度や蓄積時間等の撮影条件から一律に特定してもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の第１の放射線画像処理方法および装置によれば、放射線検出器で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行う放射線画像処理方法および装置において、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、放射線検出器における蓄積時間毎および／または放射線検出器に対する放射線照射量毎にデータベースに記憶し、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中において、欠陥画素情報の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定し、通常画像中の各欠陥画素について、放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量に基づいて、データベースから該当する欠陥画素情報を抽出し、抽出した欠陥画素情報に基づいて通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うようにしたので、実際に撮影を行なったときの放射線検出器における蓄積時間および／または放射線検出器に対する放射線照射量に対応して適性に欠陥画素の補正を行うことが可能となる。
【００２０】
また、本発明の第２の放射線画像処理方法および装置によれば、放射線検出器で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行う放射線画像処理方法および装置において、放射線検出器に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像、または無曝射画像に基づいた欠陥画素情報を、データベースに記憶し、データベースに記憶された欠陥画素情報中の各欠陥画素の領域を一律に拡大させた改正欠陥画素情報に基づいて、放射線検出器を用いて被写体を透過した放射線を検出することにより取得された通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行うようにして、補正領域を拡大するようにしたため、上記のように放射線検出器における蓄積時間や放射線検出器に対する放射線照射量の変化等により欠陥画素として認識される欠陥画素群の領域が周囲に拡大した場合でも、適性に欠陥画素の補正を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。図１は本発明の好ましい実施の形態の一例である放射線画像撮像システムを示す概略側面図、図２は上記システムの放射線撮影装置に用いている固体検出器の概略図である。
【００２２】
この放射線画像撮像システム１は、放射線源等を備えた放射線照射装置２と、放射線を検出するための固体検出器２０（放射線検出器）等を備えた放射線撮影装置３と、放射線照射装置２および放射線撮影装置３に接続されたコンピューター４と、コンピューター４に接続されたモニター５とから構成されている。
【００２３】
放射線照射装置２は、基台１０と、この基台１０に固定された支柱１１と、内部に放射線源を収容した放射線照射部１２とから構成されており、放射線照射部１２は支柱１１の長手方向（図１中上下方向）に移動可能に取り付けられている。
【００２４】
この放射線照射装置２において、上記の放射線源の動作と、放射線照射部１２の移動動作等は、いずれも不図示の制御手段により統合制御されるものである。
【００２５】
放射線撮影装置３は、基台１３と、この基台１３に固定された支柱１４と、内部に固体検出器２０を収容した放射線画像撮影部１５と、この放射線画像撮影部１５と被験者との間に配される衝立１６と、基台１３に固定された手すり１７から構成されており、放射線画像撮影部１５は支柱１４の長手方向（図１中上下方向）に移動可能に取り付けられている。
【００２６】
本実施の形態のシステムは、通常撮影（一回の撮影のみ）と長尺撮影（複数回の撮影を行なったのち画像合成）の２種類の撮影を行なうことができるものであり、衝立１６は基台１３に対して着脱可能に構成され、長尺撮影を行なう場合は衝立１６を取り付けて撮影を行い、長尺撮影を行なわない場合は衝立１６を取り外して撮影を行う。また、基台１３には、衝立１６の着脱状態を検出するセンサが取り付けられている。
【００２７】
固体検出器２０は、その放射線検出面が、放射線画像撮影部１５の放射線入射面と平行になるように放射線画像撮影部１５の内部に配されている。
【００２８】
図２に示すように、固体検出器２０は、ガラス基板２５上に、ａ−ｓｉ  ＴＦＴからなる第１の導電層２４、放射線の照射を受けることにより電荷を発生して導電性を呈する光導電層２３、第２の導電層２２、絶縁層２１がこの順に積層されたものである。
【００２９】
第１の導電層２４は、各画素毎に対応してＴＦＴが形成されており、各ＴＦＴの出力はＩＣチップ２６に接続され、ＩＣチップ２６はプリント基板２７上の不図示の画像信号処理部に接続されている。
【００３０】
固体検出器２０は、第１の導電層２４と第２の導電層２２との間に電界を形成している際に、光導電層２３に放射線が照射されると、光導電層２３内に電荷対が発生し、この電荷対の量に応じた潜像電荷が第１の導電層２４内に蓄積されるものである。蓄積された潜像電荷を読み取る際には、第１の導電層２４のＴＦＴを順次駆動して、各画素に対応した潜像電荷に対応するアナログ信号を出力させ、このアナログ信号を画像信号処理部において各画素毎に検出し、各画素毎に検出したアナログ信号を画素の配列順に複合する。そして、この複合したアナログ信号を不図示のＡＤ変換部によりＡＤ変換してデジタル画像信号を生成する。生成されたデジタル画像信号は画像信号処理部からメモリを経由してコンピューター４に送信される。
【００３１】
放射線撮影装置３において、上記の固体検出器２０の動作や、放射線画像撮影部１５の移動動作等は、いずれも不図示の制御手段により統合制御されるものである。また、この制御手段は、基台１３における衝立１６の着脱状態をコンピューター４に通知する機能も有する。
【００３２】
コンピューター４は、固体検出器２０に対して放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像に基づいた欠陥画素情報を、固体検出器２０における蓄積時間毎および固体検出器２０に対する放射線照射量毎に記憶するデータベースＤＢを備え、さらに、通常画像中において、欠陥画素情報中の欠陥画素位置に対応する位置における放射線照射量を特定する放射線量特定手段としての機能や、通常画像中の各欠陥画素について、固体検出器２０における蓄積時間および固体検出器２０に対する放射線照射量に基づいて、データベースＤＢから該当する欠陥画素情報を抽出し、抽出した欠陥画素情報に基づいて通常画像中の各欠陥画素に対応する画像データの補正を行う補正手段としての機能を備える。
【００３３】
ここで、上記データベースＤＢについて図面を用いて詳細に説明する。図３は固体検出器により撮影された画像中の欠陥画素群のサイズが固体検出器における蓄積時間および固体検出器に対する放射線照射量により変化する様子を示す図、図４は上記データベースの管理構造を示す図、図５は上記データベースに記憶される欠陥画素情報の一例を示す図である。
【００３４】
固体検出器２０で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行う際に必要な欠陥画素情報は、固体検出器２０に一様な放射線を照射して取得された一様照射画像中の各画素値を画像中の平均画素値や周辺画像領域中の画素の中間値・平均値と比較して、画素値がある閾値を超えたときに欠陥画素として認識する。
【００３５】
なお、上記データベースに記憶する欠陥画素情報は、放射線を一様に照射することにより取得された一様照射画像に基づいたものに限らず、無曝射画像に基づいたものとしてもよい。
【００３６】
図３に示すように、本実施の形態で用いているような固体検出器２０において発生する欠陥画素については、固体検出器２０における蓄積時間が長くなったり、固体検出器２０に対する放射線照射量が多くなることにより、欠陥画素として認識される領域が周囲に拡大する。なお、図３では横方向に放射線検出器における蓄積時間の変化、縦方向に固体検出器２０に対する放射線照射量変化を示している。
【００３７】
そのため、予め欠陥画素情報を取得して固体検出器２０で撮影された画像中の欠陥画素について補正を行なおうとしても、実際に撮影を行なったときの固体検出器２０における蓄積時間および／または固体検出器２０に対する放射線照射量が、欠陥画素情報を取得したときの固体検出器２０における蓄積時間および／または固体検出器２０に対する放射線照射量と異なる場合には、正しく欠陥画素の補正を行うことができないという問題がある。
【００３８】
このような問題を解消するために、本実施の形態では、図４に示すように、固体検出器２０における蓄積時間と固体検出器２０に対する放射線照射量とを各々変化させて撮影した一様照射画像に基づく複数の欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を取得し、コンピューター４内のデータベースＤＢに記憶しておく。
【００３９】
この欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）の一例を示すと、固体検出器２０における蓄積時間を１００ｍｓ、固体検出器２０に対する放射線照射量を０．１ｍＲとして撮影した一様照射画像に基づく欠陥画素情報ＲＤ（１，１）は、図５（Ａ）に示すようになる。欠陥画素情報ＲＤ（１，１）中には３つの欠陥画素群ＤＰａ（１，１）、ＤＰｂ（１，１）、ＤＰｃ（１，１）がある。
【００４０】
固体検出器２０における蓄積時間を１００ｍｓ、固体検出器２０に対する放射線照射量を０．５ｍＲとして撮影した一様照射画像に基づく欠陥画素情報ＲＤ（１，２）は、図５（Ｂ）に示すようになる。欠陥画素情報ＲＤ（１，２）中には欠陥画素情報ＲＤ（１，１）と同じ位置に３つの欠陥画素群ＤＰａ（１，２）、ＤＰｂ（１，２）、ＤＰｃ（１，２）があるが、これらの欠陥画素群は欠陥画素情報ＲＤ（１，１）中の欠陥画素群と比較して欠陥画素として認識される領域が周囲に拡大している。
【００４１】
固体検出器２０における蓄積時間を１００ｍｓ、固体検出器２０に対する放射線照射量を１．０ｍＲとして撮影した一様照射画像に基づく欠陥画素情報ＲＤ（１，３）は、図５（Ｃ）に示すようになる。欠陥画素情報ＲＤ（１，３）中にはやはり欠陥画素情報ＲＤ（１，１）と同じ位置に３つの欠陥画素群ＤＰａ（１，３）、ＤＰｂ（１，３）、ＤＰｃ（１，３）があるが、これらの欠陥画素群は欠陥画素情報ＲＤ（１，２）中の欠陥画素群と比較して欠陥画素として認識される領域がさらに周囲に拡大している。
【００４２】
本実施の形態のデータベースＤＢでは、固体検出器２０における蓄積時間を１００ｍｓ、５００ｍｓ、１０００ｍｓ、１５００ｍｓと変化させ、各蓄積時間毎にさらに固体検出器２０に対する放射線照射量を０．１ｍＲ、０．５ｍＲ、１．０ｍＲ、５．０ｍＲ、１０ｍＲと変化させて、合計２０枚の欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を取得している。
【００４３】
次いで、このように構成される放射線画像撮像システム１の動作について説明する。図６は本システムにより撮影された画像の一例を示す図である。
【００４４】
まず、一様照射画像に基づく欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を取得する際は、撮影者は、所定の照射放射線強度や時間等を指定し、不図示の放射線曝射スイッチを押下すると撮影が開始される。
【００４５】
撮影が開始されると、放射線照射部１２から放射線画像撮影部１５へ向けて放射線が照射され撮影が行なわれる。
【００４６】
放射線が照射されると固体検出器２０内においては、放射線画像情報を担持する潜像電荷が蓄積される。この蓄積された潜像電荷の量は被験者を透過した放射線量に略比例するので、この潜像電荷が静電潜像を担持することとなる。
【００４７】
所定時間経過後に固体検出器２０に対する記録を停止させて撮影を終了した後、固体検出器２０から潜像電荷に対応するアナログ信号を出力させ、画像信号処理部においてＡＤ変換して得られた画像をもとに検出した欠陥画素情報信号ＲＤ（ｍ，ｎ）を生成させる。生成された欠陥画素情報信号ＲＤ（ｍ，ｎ）は画像信号処理部からメモリを経由してコンピューター４に送信される。
【００４８】
コンピューター４は、放射線撮影装置３からデジタル欠陥画素情報信号ＲＤ（ｍ，ｎ）を受信すると、固体検出器２０における蓄積時間毎および固体検出器２０に対する放射線照射量毎に上記のデータベースＤＢに記憶し、撮影を終了する。
【００４９】
なお、本実施の形態では２０枚の欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を取得する必要があるが、この動作は自動で行なうようにすることが好ましい。
【００５０】
データベースＤＢに必要な欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）が記憶された状態で、撮影者は、被験者を所定の撮影位置に立たせた後、照射放射線強度や時間等を指定し、不図示の放射線曝射スイッチを押下すると撮影が開始される。
【００５１】
撮影は上記と同様に行なわれ、所定時間経過後に固体検出器２０に対する記録を停止させて撮影を終了した後、固体検出器２０から潜像電荷に対応するアナログ信号を出力させ、画像信号処理部においてＡＤ変換して通常画像信号ＮＤを生成させる。生成された通常画像信号ＮＤは画像信号処理部からメモリを経由してコンピューター４に送信される。
【００５２】
コンピューター４は、放射線撮影装置３から通常像信号ＮＤを受信すると、この通常像信号ＮＤ中の欠陥画素について補正を行う。
【００５３】
ここで、この補正処理について詳細に説明する。
【００５４】
データベースＤＢ中では、固体検出器２０における蓄積時間と固体検出器２０に対する放射線照射量が最も小さい欠陥画素情報ＲＤ（１，１）が、最も欠陥画素群が小さく写り欠陥画素群の中心位置を特定しやすいため、まずこの欠陥画素情報ＲＤ（１，１）に基づいて画像中の欠陥画素群の中心の座標位置を特定する。
【００５５】
図６に示すように、上記で特定した座標では、通常画像ＮＤ中においても欠陥画素となるため、この欠陥画素部分について補正を行う。
【００５６】
通常画像ＮＤ中では、欠陥画素情報ＲＤ（１，１）と同じく３つの欠陥画素群ＤＰａＮ、ＤＰｂＮ、ＤＰｃＮが存在するため、これらの欠陥画素群の各々について個別に補正を行う。
【００５７】
上述の通り、固体検出器２０における蓄積時間および／または固体検出器２０に対する放射線照射量が異なると欠陥画素群の領域も変化するため、これらに対応する欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を用いて補正を行う必要があるが、このうち固体検出器２０における蓄積時間は、コンピューター４により認識されており、さらに同一画面中の欠陥画素群は当然全て同じ蓄積時間で撮影されていることになる。
【００５８】
ところが、固体検出器２０において、通常画像ＮＤ中の欠陥画素群ＤＰａＮ、ＤＰｂＮ、ＤＰｃＮ部分に対応する部分への放射線照射量は被写体の状態によって変化するため、各欠陥画素群ＤＰａＮ、ＤＰｂＮ、ＤＰｃＮ部分に対応する部分について、撮影時にどの程度の放射線照射量であったかを特定する必要がある。
【００５９】
この放射線照射量の特定については、通常画像ＮＤ中の各欠陥画素群の中心から、想定される最大サイズの欠陥画素領域を除いた近傍の画素値に基づいて、欠陥画素群の中心部がどの程度の放射線照射量であったかを推定すればよい。ここで、想定される最大サイズの欠陥画素領域は、データベースＤＢ中で各蓄積時間毎に最も放射線照射量が大きい部分を参照すればよい。例えば、固体検出器２０における蓄積時間を１００ｍｓとした場合には、その中で最も固体検出器２０に対する放射線照射量が大きい欠陥画素情報ＲＤ（１，５）に基づいて判断すればよい。
【００６０】
なお、放射線照射量の特定については、上記の方法に限定されるものではなく、例えば、各欠陥画素群の中心から外側に向けて各画素の画素値を判定していき、中心から最も近くて飽和していない画素（最大値でない画素）に基づいて放射線照射量の推定を行なったり、周囲画素領域の中間値や平均値に基づいて推定を行ったりする他、照射放射線強度や蓄積時間等の撮影条件から一律に特定する等、どのような方法を用いてもよい。
【００６１】
このようにして、通常画像ＮＤ中の３つの欠陥画素群ＤＰａＮ、ＤＰｂＮ、ＤＰｃＮについて各々放射線照射量を特定し、対応する欠陥画素情報ＲＤ（ｍ，ｎ）を参照する。そして各欠陥画素群について、補正する領域を特定した後、所定の画像処理方法にて欠陥画素部分に対して画像補正を行う。なお、欠陥画素部分を補正するための画像処理方法については特に限定するものではなく、例えば周囲の正常画素に基づいて補完処理を行う等、どのような方法でもよい。
【００６２】
このような態様とすることにより欠陥画素補正範囲を正確に判断することができるため、補正精度を向上させることができる。
【００６３】
上記の処理が終了した後、コンピューター４は、欠陥画素を補正した通常画像ＮＤ´をモニター５上に表示させ、一連の処理を終了する。
【００６４】
以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明における通常画像中の欠陥画素の補正については、上記のように通常画像中の欠陥画素群毎にデータベースから適切に抽出した欠陥画素情報に基づいて補正を行う態様に限らず、一つの欠陥画素情報を用いて、補正の際に欠陥画素情報中の各欠陥画素の領域を一律に拡大させた改正欠陥画素情報に基づいて補正を行う態様としてもよい。
【００６５】
また、本発明は上記放射線画像撮像システムに限らず、例えば乳房用画像撮像システム等、どのような撮影システムに応用してもよい。
【００６６】
また、固体検出器には、ＴＦＴ読出方式のものを使用しているが、光読出方式等他の方式の固体検出器であっても同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明による放射線画像撮像システムを示す概略図
【図２】上記システムの放射線撮影装置に用いている固体検出器の概略図
【図３】上記システムの固体検出器により撮影された画像中の欠陥画素群のサイズが固体検出器における蓄積時間および固体検出器に対する放射線照射量により変化する様子を示す図
【図４】上記システムのデータベースの管理構造を示す図
【図５】上記システムのデータベースに記憶される欠陥画素情報の一例を示す図
【図６】上記システムにより撮影された画像の一例を示す図
【符号の説明】
【００６８】
１    放射線画像撮像システム
２    放射線照射装置
３    放射線撮影装置
４    コンピューター
５    モニター
１０    基台
１１    支柱
１２    放射線照射部
１３    基台
１４    支柱
１５    放射線画像撮影部
１６    衝立
１７    手すり
２０    固体検出器
【図１】
0005152979.tif 000002
【図２】
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【図４】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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