(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像認識手段における障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法であって、画像認識手段が少なくとも光シャッターアレイを有する撮像装置であり、該撮像装置がレンズ及び撮像素子を有し、又はさらにレンズを保護するための保護カバーを有し、レンズ又は保護カバーに付着した障害物や、レンズ又は保護カバーに発生する画質を損なう光学現象の検出を、光シャッターアレイにおける各光シャッターを順番に開いて撮像を行い、得られた複数の像を比較することによって行うとともに、該障害物や該光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じることを特徴とする障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法。
【請求項２】
画像認識手段における障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法であって、画像認識手段が少なくとも光シャッターアレイを有する撮像装置であり、該撮像装置がレンズ及び撮像素子を有し、又はさらにレンズを保護するための保護カバーを有し、レンズ又は保護カバーに付着した障害物や、レンズ又は保護カバーに発生する画質を損なう光学現象の検出を、レンズ又は保護カバーに光を照射し、その反射光によって行うとともに、該障害物や該光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じることを特徴とする障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像認識手段において、画像の認識を妨げる障害物や画質を損なう光学現象を回避し、高画質を得る方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
雨などの悪天候下において、又はごみが多数存在する悪条件下においてカメラを使用する場合、水滴やごみなどの障害物がレンズ又はその保護カバーに付着することがある。品質の高い画像を得るためには、これらの障害物を取り除くことが重要であり、例えばワイパーブレードなどで除去する方法がある（特許文献１参照）。この方法は障害物そのものを除去する方法であるため効果的であるが、ワイパーブレードが新たな障害物として画像中に現れるため、高い画像品質が要求される撮影においては不向きである。また、ワイパーブレードに隠れている部分の画像情報が欠落するという問題があり、さらにワイパーを作動させるための機構が必要であって、メンテナンスが必要となるという問題点もある。
また、レンズに撥水剤等を塗布し、水滴や汚れを除去する方法が提案されているが（特許文献２参照）、これらの方法は障害物を減少させることはできるが完全に除去することはできない。
【０００３】
一方、複数のカメラを用いて撮影し、水滴等の障害物の影響を受けていない画像を合成して、撮像の障害物を除去する方法がある。しかしながら、この方式は高額な設備費用と広い設置空間が必要であり、さらにこれらの装置を駆動させるための電源等が必要であるという問題点がある。
また、上下左右に首を振ることができる１台のカメラを用い、首を振りながら撮影した画像から水滴等のない領域を合成する方法がある。しかしながら、この方法においても上記と同様に、高額な設備費用と広い設置空間が必要であり、またこれらの装置を駆動させるための電源等が必要である。さらに、この方法では、結果として得られる障害物による影響が除去された画像が、リアルタイムで得られないという欠点もある。
【０００４】
また、撮影対象中に輝度の高い光源が含まれる場合、グレアと呼ばれる光学現象が発生する。グレアは光源の影響により対象が見えにくくなる現象のことで、肉眼・カメラ共に発生する現象である。
グレア除去についてはサングラス、偏光グラス、アンチグレアフィルターの着用や、高価な低グレアレンズを使うことでその影響を減少させることができるが、その程度は不十分であり、さらなる改良が望まれている。
【０００５】
【特許文献１】特開平６−３０３４７１号公報
【特許文献２】特開平５−２３２５６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は上記問題点に対し、画像認識手段において、画像の認識を妨げる障害物や画質を損なう光学現象を、該障害物や該光学現象を取り除くことなく、画像認識方法及び画像処理方法によって、障害物及び画質を損なう光学現象を回避し、高画質を得る方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者は、前記課題を達成するために鋭意研究を重ねた結果、画像認識手段に光シャッターアレイを配し、障害物や光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じるように制御することによって、上記課題を解決し得ることを見出した。本発明はかかる知見に基づき完成したものである。
すなわち、本発明は、
（１）画像認識手段における障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法であって、画像認識手段が少なくとも光シャッターアレイを有する撮像装置であり、該撮像装置がレンズ及び撮像素子を有し、又はさらにレンズを保護するための保護カバーを有し、レンズ又は保護カバーに付着した障害物や、レンズ又は保護カバーに発生する画質を損なう光学現象の検出を、光シャッターアレイにおける各光シャッターを順番に開いて撮像を行い、得られた複数の像を比較することによって行うとともに、該障害物や該光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じることを特徴とする障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法、及び
（２）画像認識手段における障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法であって、画像認識手段が少なくとも光シャッターアレイを有する撮像装置であり、該撮像装置がレンズ及び撮像素子を有し、又はさらにレンズを保護するための保護カバーを有し、レンズ又は保護カバーに付着した障害物や、レンズ又は保護カバーに発生する画質を損なう光学現象の検出を、レンズ又は保護カバーに光を照射し、その反射光によって行うとともに、該障害物や該光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じることを特徴とする障害物又は画質を損なう光学現象の回避方法、
を提供するものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の方法によれば、撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーに付着した障害物や撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーにより発生する光学現象により影響を受ける画像を、障害物や該光学現象自体を除去することなく、撮像方法及び画像処理によって、障害物や撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーにより発生する光学現象を回避することができる。また、この方法であれば、現在使用されているカメラなどの小さな設置空間でも簡単に実装でき、駆動のための電力量も小さくすることができ、高い品質の画像を得ることができる。さらに、眼鏡又はサングラスに応用することで、肉眼においても、目にまぶしい光を与える光学現象を回避することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明は、画像認識手段における障害物又は画質を損なう光学現象を回避する方法であり、画像認識手段は、少なくとも光シャッターアレイを有し、該障害物や該光学現象を検出するとともに、該障害物や該光学現象の影響を受ける部分の光シャッターを閉じることを特徴とする。
本発明においては、画像認識手段として、具体的には、撮像装置、肉眼などが該当する。以下、撮像装置及び肉眼について、それぞれ図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１０】
図１は本発明で用いる撮像装置の概念図を示したものである。図１〜図３に示すように、本発明に係る撮像装置は、レンズ１、撮像素子２、及び光シャッターアレイ３を有する。図１〜図３では、光シャッターアレイ３がレンズ１と撮像素子２の間に位置する態様を示しているが、本発明ではこの態様に限定されるものではなく、例えば、光シャッターアレイ３がレンズ１と被写体４の間に位置していてもよい。レンズ１は撮像素子２に焦点が合うように調整されている。
また、さらにレンズを保護するための保護カバーを、レンズ１の外側（図１ではレンズ１の右側）に有していてもよく（図示せず）、さらには光シャッターアレイ３を、保護カバーを兼用するようにレンズ１の外側に位置させることもできる。
被写体４の画像は、レンズ１を透過し、又は屈折して、撮像素子２上に結像される。レンズ１と撮像素子２の間には光シャッターアレイ３が配置され、いわゆるカメラのシャッターの役割を果たす。図１に示す例では光シャッターアレイ３は光シャッター３１〜３５により構成され、各シャッターはそれぞれ独立に開閉が制御される。開状態で光を通し、閉状態で光を遮断する。
【００１１】
次に、図２はレンズ１に障害物５として水滴が付着した場合を示す概念図である。この場合には、水滴によって光が散乱等され、撮像素子２において画像が乱れる。より具体的には、被写体４からの光が障害物５とレンズ１により屈折、反射、及び拡散して撮像素子２上の複数の点に入射されることになり、画像に乱れが生ずる。
本発明では、このような場合に、図３に示すように光シャッター３３を閉状態とすることで、画像を乱す要因となる光が撮像素子２に到達することを防ぐものである。そして、光シャッター３１、３２、３４及び３５を通過した光から画像を得ることで、障害物５の影響を受けずに、被写体４の画像が撮像素子２上に結像される。
【００１２】
図３に示す例では障害物５の影響を受けるのは光シャッター３３のみであるが、障害物５の影響を受ける部分が複数の光シャッターにかかる場合には、それら複数の光シャッターを閉じることで、本発明の効果を達成できる。例えば、障害物５が光シャッター３３と光シャッター３４の中間に位置し、両者に影響を与える場合には、光シャッター３３と光シャッター３４の両者を閉止することで障害物５の影響を完全に排除することができる。
一方、閉状態の光シャッターの数が多いほど、撮像素子２上での画像が暗くなるため、光量の点からは閉状態の光シャッターは少ない方がよい。従って、障害物５の影響を受ける部分が複数の光シャッターにかかる場合に、例えば、障害物５が光シャッター３３には大きな影響を与えるが、光シャッター３４に与える影響が小さい場合などは、必要とする画像の質及び必要とする光量に応じて、光シャッター３４を開状態とするか、閉状態とするかを制御することができる。すなわち、より障害物５の影響を減じたい場合には、光シャッター３３に加えて、光シャッター３４をも閉状態とし、一方、画像の質よりも光量を重視したい場合には、光シャッター３４を開状態とするものである。
【００１３】
次に、図４はレンズ１に、太陽光に代表される輝度の高い光源が照射されている場合を示す概念図である。このような場合に上述のグレアと呼ばれる光学現象が発生する。すなわち、図４−１に示すように、太陽光９などがカメラレンズ１の一部分で乱反射することにより対象を見えにくくしたり、図４−２に示すように、太陽光などが絞り１０を通過し、イメージセンサー２で乱反射することにより対象を見えにくくするものである。
【００１４】
本発明で用いる撮像装置におけるレンズ１としては特に制限はなく、光学ガラスレンズやアクリル樹脂などからなる樹脂レンズなどを使用することができる。レンズの形状としても特に制限はなく、両凸レンズ、平凸レンズ、凸メニスカスレンズ、非球面凸レンズなどの凸レンズ; 両凹レンズ、平凹レンズ、凹メニスカスレンズ、非球面凹レンズなどの凹レンズなどが挙げられ、通常、これらを組み合わせてレンズが構成される。また、屈折率については、用途に応じて種々のものが用いられ、特に制限はない。さらに該レンズはハードコートなどのコーティング処理が施されていてもよい。
【００１５】
次に、本発明で用いる撮像素子２としては、例えば、ＣＣＤイメージセンサー（Charge Coupled Device Image Sensor）やＣＭＯＳイメージセンサー(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などのイメージセンサー、従来のフィルムカメラに用いられる銀塩フィルムなどが挙げられるほか、双眼鏡、望遠鏡などに適用する場合には、肉眼も含まれる。
【００１６】
本発明で用いる光シャッター３０としては特に制限はないが、図５に示すような光シャッターが好ましい。図５に示す光シャッターは、集光マイクロレンズ３０１、マイクロシャッター３０２、遮光板３０３、光透過穴３０４、及び復光マイクロレンズ３０５からなる。すなわち、集光マイクロレンズ３０１と復光マイクロレンズ３０５の間に、マイクロシャッター３０２、及び遮光板３０３が設置され、遮光板には光透過穴３０４が設けられている。
遮光板３０３は、集光マイクロレンズ３０１からその焦点距離ｆだけ離して設置され、その焦点３０６の位置に光透過穴３０４が位置されるように設置される。また、復光マイクロレンズ３０５は遮光板３０３より焦点距離ｆ’だけ離して設置される。
【００１７】
集光マイクロレンズ３０１と復光マイクロレンズ３０５は同じマイクロレンズ（形状、屈折率、素材、焦点距離などが同一のもの）を用いてもよいし、異なっていてもよい。なお、集光マイクロレンズ３０１及び復光マイクロレンズ３０５として、異なるレンズを用いる場合には、光透過穴３０４に焦点３０６がくるように、焦点距離ｆ及びｆ’を調整する。
光シャッター３０は、光透過穴３０４の近傍に設置されるマイクロシャッター３０２が光透過穴３０４を開閉することで光の透過及び遮断を制御する。マイクロシャッター３０２の駆動方法については特に制限はなく、アクチュエーターや電磁石、化学反応などを用いることができる。なお、マイクロシャッター３０２は、図５に示されるように横方向にスライドする方式であってもよいし、角度９０度の方向に立ち上がるタイプのもの、又はカメラの機械絞りのような方法であってもよい。
【００１８】
光シャッターアレイ３としては、図６に示すように、光シャッターを平面状に並べることで容易に得ることができる。図６に示す例では、光シャッター３１〜３７を並べたものであり、光シャッター３１、３４、３６及び３７が開状態であって光を通過させるものである。この例では、光シャッター３２、３３及び３５が障害物５の影響を受ける部分であり、これらの光シャッターを閉状態とすることで、画像から障害物５の影響を排除することができる。
【００１９】
また、本発明の光シャッターとして、液晶シャッターも好適に用いることができる。液晶シャッターとしては特に限定されるものではなく、光学材料として通常用いられるものを使用することができる。より具体的には、狭い間隔を空けて配置された２枚の透明電極板と該電極板間に封入された液晶セルを２枚の偏光板で挟んだ構造となっており、電圧を印加しない状態においては閉じた状態であり、外部から電圧を印加することにより開いた状態となるノーマリーブラック液晶、またはその反対であるノーマリーホワイト液晶などがあげられる。また、液晶の配列方式(TN,STN等)も特に限定されるものではない。
【００２０】
本発明における撮像装置は、レンズを保護するための保護カバーを有する場合があり、該保護カバーに水滴等の障害物が付着した場合にも、レンズに付着した場合と同様に、その障害物を除去することなく、回避することで高画質の像が得られる。
該保護カバーとしては、透明性が高く、高強度であれば特に制限はなく、例えば、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂などの透明プラスチックなどが挙げられる。また、前述のように、光シャッターの位置によっては、光シャッターに保護カバーの機能を兼ねさせることが可能である。
【００２１】
次に、障害物５もしくは撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーにより発生する光学現象の位置（以下、単に「光学現象の位置」という。）を検出する手段について以下詳細に説明する。障害物５もしくは光学現象の位置を検出する手段としては、種々のものが考えられるが、例えば、以下のような手法が簡便かつ容易であり好ましい。
第１の手法は、光シャッターアレイにおける各光シャッターを順番に開いて撮像を行い、得られた複数の像を比較することによって、障害物もしくは光学現象の位置の検出を行う方法である。障害物を検出する場合を例として、以下具体的に説明する。
【００２２】
図７に示すように、閉状態の光シャッター３１〜３５を光シャッター３１から、一つずつ順番に開いていき、それぞれのシャッターが開いた状態で撮像を行う。こうして、得られた複数の画像（図７の例では５つの画像）を比較するものである。障害物５の影響を受ける画像は、前述のように、被写体４からの光が障害物５とレンズ１により屈折、反射、及び拡散し、イメージセンサー２上の複数の点に入射されるため、その画像に乱れが生ずる（図７の（７−３）参照）。図７に示す例では、（７−１）、（７−２）、（７−４）及び（７−５）はほぼ同一の画像が得られるのに対し、（７−３）だけは、異なる画像となるため、光シャッター３３を通過する光が影響を受ける位置に障害物５が存在することが把握される。
次いで、この障害物の位置情報を基に、光シャッター３３のみを閉状態のままとして、他の光シャッターによって被写体を撮影することにより、障害物の影響を受けない画像が得られる。
【００２３】
障害物５の位置を検出する第２の手法は、レンズ及び／又はレンズの保護カバーに強い光を照射し、その反射光を測定することで、障害物を検出する方法である。以下、図８を用いて詳細に説明する。
図８に示すように、この方法は、光源６からレンズ１に向けて強い光を照射した際に、その反射光がイメージセンサー２に入射することを利用するものである。すなわち、障害物のない部分では、光源６から発射される光はレンズ１を透過し、イメージセンサー２には何ら影響を及ぼさないのに対し、障害物５からの反射光のみがイメージセンサー２で検知されるため、光源６の位置とレンズ１の屈折率などの情報から、障害物５の位置を検出するものである。
光源６の位置としては、特に制限はないが、光源そのものが画像中に現れない位置であり、かつ撮影対象に影響を与えない位置であることが望ましい。光源の種類としては、障害物を検出し得るものであれば特に制限はないが、検出感度、消費電力等の観点から、高輝度・光反応速度を持つ高輝度ＬＥＤやカメラ用フラッシュライトなどが好ましい。
【００２４】
次に、光学現象の位置を検出する手段としては、上記した第１の手法を用いることができる。すなわち、光シャッターアレイにおける各光シャッターを順番に開いて撮像を行い、得られた複数の像を比較することによって、光学現象の位置の検出を行う方法である。具体的には、例えば図９に示すように、閉状態の光シャッター３１〜３５を光シャッター３１から、一つずつ順番に開いていき、それぞれのシャッターが開いた状態で撮像を行う。こうして、得られた複数の画像（図９の例では５つの画像）を比較するものである。光学現象の影響を受ける画像は、前述のように、太陽光などの輝度の高い光源が照射され、レンズ１又はイメージセンサー２で乱反射し、画像に乱れが生ずる（図９の（９−３）参照）。図９に示す例では、（９−１）、（９−２）、（９−４）及び（９−５）はほぼ同一の画像が得られるのに対し、（９−３）だけは、異なる画像となるため、光シャッター３３を通過する光が影響を受ける位置に光学現象が存在することが把握される。
次いで、この障害物の位置情報を基に、光シャッター３３のみを閉状態のままとして、他の光シャッターによって被写体を撮影することにより、光学現象の影響を受けない画像が得られる。
【００２５】
次に、画像認識手段が眼鏡又はサングラスを介しての肉眼であり、眼鏡又はサングラスが光シャッターアレイを有する態様も本発明に包含される。眼鏡及びサングラスにおいては、直接付着する障害物を取り除くことは容易であるが、肉眼にまぶしさを与える光学現象については、これを取り除くことは困難であり、本発明が極めて有効である。すなわち、本態様においては、画質を損なう光学現象とは、肉眼において、目を眩ませるなどして前方を視認できなくする太陽光や強い照明などを意味する。
【００２６】
本発明を眼鏡又はサングラスに適用した態様について、図１０及び図１１を用いて説明する。図１０は眼鏡又はサングラスの外側（肉眼と反対側）に光シャッターアレイを設けた例である。図１０に示すように、太陽光などの強い光が照射された際に、その位置情報を検出し、該光学現象によって影響を受ける部分の光シャッターを閉じることで、肉眼に対して眩惑させる光を遮断するものである。
この態様では、光シャッターアレイは、眼鏡やサングラスに留め金等で留めることで設置してもよく、必要に応じて取り外しを可能とすることもできる。このような態様であれば、例えば、自動車の運転時に、逆光で運転しずらい場合など、光シャッターアレイを取り付けて安全に運転することができる。また、夜間の運転において、光シャッターアレイを設けた眼鏡をすることで、対向車のヘッドライトによって、眩惑されることを防止することができ、早期に歩行者の発見ができるなど、安全性を高めることができる。
また、図１１に示すように、レンズ自体に光シャッター機能を持たせることでも、本発明の効果を達成できる。
【００２７】
上記態様において、光学現象の検出方法について、特に制限はないが、例えば、眼鏡又はサングラスに小型カメラ１３を設けており、該小型カメラの撮影により、肉眼を眩惑させる光源の位置を特定し、その位置から閉じるべき光シャッターを特定する方法が挙げられる。
【実施例】
【００２８】
次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、これらの例によってなんら限定されるものではない。
【００２９】
実施例１
図１２に示すような構成の装置を作製した。すなわち、まず、レンズ１（キャノン（株）製「Canon EFレンズ 50mm F1.8 II」）を用意した。このレンズの焦点位置にイメージセンサー２（キャノン（株）製「Canon EOS Kiss Digital X」）を配した。次いで、光シャッターを５つ組み合わせて、厚さ２ｍｍの光シャッターアレイ３を作製し、図１２に示すように配した。また、光シャッターアレイ３の外側に近接して、２ｍｍ厚のアクリル板で構成される保護カバー８を配した。
次いで、該保護カバー８の中心部に水を付着させ、直径約３ｍｍの水滴を形成させた。次に、５つの光シャッター（光シャッター３１〜３５）を順に開いて被写体を撮影した。結果を図１３に示す。図１３−１〜図１３−５は、それぞれ光シャッター３１〜３５を順に開いて撮影した結果である。図１３に示すように、光シャッター３３を開いて撮影した画像（図１３−３）のみが、明らかに他の画像と異なっており、光シャッター３３を通過する光に障害物が影響を及ぼしていることが確認された。
次に、光シャッター３３を閉状態とし、光シャッター３３以外の４つのシャッターを用いて、被写体４を撮影した結果を図１４に示す。また、参考として、水滴を形成させずに、５つの光シャッターを用いて、同一の被写体を撮影した画像を図１５に示す。図１４と図１５の比較から、本発明の方法により撮影した画像（図１４）は障害物の影響が完全に排除されており、高品質の画像であることがわかる。
【００３０】
比較例１
光シャッター３３を閉状態とせず、５つの光シャッターを用いたこと以外は実施例１と同様にして撮影した。結果を図１６に示す。画像に乱れが見られ、実施例１と比較して、画像の質が低下していることがわかる。
【００３１】
実施例２
実施例１において、障害物の検出方法として、以下のような方法を用いたこと以外は実施例１と同様の方法で撮影した。
（障害物の検出方法）
光源６として赤色の光源を用い、図１７に示すように、保護カバー８の中心点との距離ｘを６ｃｍ、保護カバー８の中心点とイメージセンサー２の中心点を結ぶ直線と、保護カバー８の中心点と光源を結ぶ直線のなす角度θが３０度となる位置に光源６を配置した。光を照射した際の反射光を、イメージセンサー２（キヤノン社製「Canon EOS Kiss Digital X」）を用いて撮影した結果を図１８に示す。図１８−１は障害物がない状態で撮影したもの、図１８−２は障害物（水滴）が付着した状態で撮影したものである。図１８に示すように、光を照射することで障害物が赤く浮かび上がり、障害物の位置が確認された。
【００３２】
実施例３
実施例１において、保護カバー８の中心部に水を付着させる代わりに、２ヶ所から強い光が撮像装置に照射されている条件下で撮影をしたこと以外は、実施例１と同様にして撮影した。結果を図１９に示す。１９−１は５つの光シャッターをすべて開の状態で撮影したもの、１９−２は５つの光シャッターのうち、光学現象によって影響を受ける光シャッターを２ヶ所閉じた状態で撮影したものである。１９−２は１９−１に比較して、光量が少ないために全体的には暗くなるが、画質を損なう光学現象の影響を回避することが可能であることがわかる。
【産業上の利用可能性】
【００３３】
本発明の方法によれば、撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーに付着した障害物や撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーにより発生する光学現象により影響を受ける画像を、障害物や該光学現象自体を除去することなく、撮像方法及び画像処理によって障害物や該光学現象を回避することができ、高い品質の画像を得ることができる。また、この方法は小さな設置空間でも簡単に実装でき、駆動のための電力量も小さいため、現在使用されている一般消費者向けカメラに適用が可能である。さらには、人工衛星、原子力プラント、高所に設置するカメラなど、レンズや保護カバーの清掃が困難な場所に設置されたカメラに好適である。また、監視カメラ、放送用カメラの他、自動車、船舶、飛行機などのオンボードカメラなどに好適に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明で用いる撮像装置の概念図である。
【図２】レンズに障害物が付着した場合を示す概念図である。
【図３】光シャッターの一部を閉状態とした場合の概念図である。
【図４】レンズに輝度の高い光源が照射された場合を示す概念図である。
【図５】光シャッターの一例を示す概念図である。
【図６】光シャッターアレイの一例を示す概念図である。
【図７】障害物の検出方法の一例を示す概念図である。
【図８】障害物の検出方法の他の一例を示す概念図である。
【図９】撮像装置のレンズ又は該レンズの保護カバーにより発生する光学現象の位置の検出方法の一例を示す概念図である。
【図１０】本発明で用いる眼鏡又はサングラスの概念図である。
【図１１】本発明で用いる眼鏡又はサングラスの概念図である。
【図１２】実施例１における撮像装置を示す概念図である。
【図１３】実施例１における障害物の検出結果を示す図である。
【図１４】実施例１の方法で被写体を撮影した結果を示す図である。
【図１５】水滴を形成させずに被写体を撮影した結果を示す図である。
【図１６】比較例１の方法で被写体を撮影した結果を示す図である。
【図１７】実施例２における障害物の検出方法を示す概念図である。
【図１８】実施例２における障害物の検出結果を示す図である。
【図１９】実施例３における被写体を撮影した結果を示す図である。
【符号の説明】
【００３５】
１  レンズ
２  撮像素子（イメージセンサー）
３  光シャッターアレイ
３０、３１、３２、３３、３４、３５、３６、３７  光シャッター
３０１  集光マイクロレンズ
３０２  マイクロシャッター
３０３  遮光板
３０４  光透過穴
３０５  復光マイクロレンズ
３０６  焦点
３０７  光経路
４  被写体
５  障害物
６  光源
７  カメラボディー
８  保護カバー
９  太陽光（強い光）
１０  絞り
ｆ、ｆ’  焦点距離
ｘ  光源とレンズの中心点との距離
θ  レンズの中心点とイメージセンサーを結ぶ直線と、レンズの中心点と光源を結ぶ直線のなす角度
１１  眼鏡又はサングラス
１２  眼鏡レンズ又はサングラスのガラス部分
１３  小型カメラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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