(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくともＲＡＳ機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段とを備え、
前記機能試験部で、前記試験環境設定手段により前記マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行することを特徴としたコンピュータ装置の試験方法。
【請求項２】
前記機能試験部で、前記試験環境設定手段により異なる種類の前記マージン環境を複合的に設定して試験を行うことを特徴とした請求項１記載のコンピュータ装置の試験方法。
【請求項３】
前記ＲＡＳ機能試験を停止するかどうかを決めるため、前記マージン環境と前記非マージン環境の判定を行う場合、その判定の値を外部から設定できるようにすることを特徴とした請求項１又は２記載のコンピュータ装置の試験方法。
【請求項４】
少なくともＲＡＳ機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段とを備え、
前記機能試験部は、前記試験環境設定手段により前記マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行することを特徴としたコンピュータ装置の試験装置。
【請求項５】
少なくともＲＡＳ機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段により、前記マージン環境が設定されている場合はＲＡＳ機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行する機能試験部として、
コンピュータを動作させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンピュータ装置であるコンピュータハードウェアシステムの設計検証・動作検証をソフトウェアで行う分野において、ＲＡＳ（Reliability Availability Serviceability ）機能検証をマージン環境と非マージン環境で装置立ち上げ直し・試験再起動することなく、連続走行できるようにしたコンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラムに関する。
【０００２】
ここで、マージン環境とは、コンピュータ装置試験の際、試験条件を装置に対して厳しくするために装置動作環境を動的に変化することを目的として環境を構築することである。動的に変化する装置動作環境としては、例えば、温度・電圧・湿度などがある。
【０００３】
ＲＡＳ試験とは、コンピュータ装置のＲＡＳ機能（異常処理）をターゲットに正しく機能しているかを試験する目的の試験である。例えば、コンピュータ装置の内部温度が上がり過ぎたら冷却ファンの回転数が上昇するか、或いは、アラーム出力等で装置がシャットダウンするか等の試験である。
【０００４】
マスク設定とは、ＲＡＳ機能を有効にするか、無効にするかの設定を変更させることである。
【背景技術】
【０００５】
従来のコンピュータ装置のＲＡＳ機能試験は、非マージン環境（通常使用される環境）で連続走行させることのできるシステムは存在していた（特許文献１参照）。すなわち、マージン環境で試験すると、ＲＡＳ機能が働いたままとなるため、通常は、装置の標準的な環境（例えば、通常使用される電圧、温度等の環境）で、内部的に（プログラム等で）擬似的に信号を与えＲＡＳ機能が動作するかどうかの試験を行っていた。
【特許文献１】特表平１０−５１０６５５
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の各種センサ・マイコン（センサの制御をするマイコン）やＯＳの一部であるカーネル（Kernel）すなわちドライバのＲＡＳ機能試験は、試験環境（温度・電圧など) が変化すると試験が行えないため、ランニング試験中を中断したり、コンピュータ装置の立ち上げ直し・試験の再起動など手間と時間を要していた（図５(1) 参照）。
【０００７】
ここで、ランニング試験とは、各種ハードウェア試験を動作させた状態で長時間試験を継続させて行う試験（ＲＡＳ機能試験を長時間行うことも含まれる）のことで、コンピュータ装置の安定性・耐久性を検証するものである。
【０００８】
本発明はこのような従来の課題を解決し、ＲＡＳ機能試験を実施する・しないを、作業者が選択する必要がなく、一度の起動でマージン環境と非マージン環境での連続ランニング試験を行い、作業時間を短縮し、コストダウンを図ることを目的する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
図１は本発明の試験装置の説明図である。図１において、１は試験装置（診断システム）、２は試験対象装置であるコンピュータハードウェア装置（コンピュータ装置）、３はマージン環境（恒温槽などの試験環境設定手段）、１１はセンサ値監視プログラム、１２はＲＡＳ機能試験部（機能試験部）、１３はモニタ部、２１はメインボード（ＩＡ board）、２２はオプションカード、２３、２４はセンサ、２５はＣＰＵ（制御部）、２６はメモリ（ＭＥＭ）である。
【００１０】
本発明は、上記従来の課題を解決するため、次のように構成した。
【００１１】
（１）：少なくともＲＡＳ機能試験を含むコンピュータ装置２の試験を行う機能試験部１２と、試験条件を前記コンピュータ装置２に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段３とを備え、前記機能試験部１２で、前記試験環境設定手段３により前記マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を行う。このため、例えば、温度勾配や電圧勾配等を自動的に監視して、恒温槽などに試験設備に設置したままでＲＡＳ機能試験を実施できるため、ＲＡＳ機能試験を実施する・しないを、作業者が選択する必要がなく、一度の起動でマージン環境と非マージン環境での連続ランニング試験を行い、作業時間を短縮し、コストダウンを図ることができる。
【００１２】
（２）：前記（１）のコンピュータ装置の試験方法において、前記機能試験部１２で、前記試験環境設定手段３により異なる種類の前記マージン環境を複合的に設定して試験を行う。このため、例えば、温度、電圧等の異なる種類のマージン環境を複合的に設定して試験を行うことができ、ＲＡＳ機能試験の適用範囲が広がり、より試験の作業時間を短縮し、コストダウンを図ることができる。
【００１３】
（３）：前記（１）又は（２）のコンピュータ装置の試験方法において、前記ＲＡＳ機能試験を停止するかどうかを決めるため、前記マージン環境と前記非マージン環境の判定を行う場合、その判定の値を外部から設定できるようにする。このため、判定の値（勾配設定）をユーザが行えるため、恒温槽や可変電源などの設定（どの温度又は電圧でＲＡＳ機能試験を行うかの設定）に柔軟に対応することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば次のような効果がある。
【００１５】
（１）：機能試験部で、試験環境設定手段によりマージン環境が設定されている場合はＲＡＳ機能試験を停止し、非マージン環境が設定されている場合は前記ＲＡＳ機能試験を行うため、例えば、温度勾配や電圧勾配等を自動的に監視して、恒温槽などに試験設備に設置したままでＲＡＳ機能試験を実施できるため、ＲＡＳ機能試験を実施する・しないを、作業者が選択する必要がなく、一度の起動でマージン環境と非マージン環境での連続ランニング試験を行い、作業時間を短縮し、コストダウンを図ることができる。
【００１６】
（２）：機能試験部で、試験環境設定手段により異なる種類のマージン環境を複合的に設定して試験を行うため、例えば、温度、電圧等の異なる種類のマージン環境を複合的に設定して試験を行うことができ、ＲＡＳ機能試験の適用範囲が広がり、より試験の作業時間を短縮し、コストダウンを図ることができる。
【００１７】
（３）：ＲＡＳ機能試験を停止するかどうかを決めるため、マージン環境と非マージン環境の判定を行う場合、その判定の値を外部から設定できるようにする。このため、判定の値（勾配設定）をユーザが行えるため、恒温槽や可変電源などの設定（どの温度又は電圧でＲＡＳ機能試験を行うかの設定）に柔軟に対応することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明では、以下のようにＲＡＳ機能試験でのマージン・非マージンを判断し試験設定を自動で行うものである。
【００１９】
(1) 試験装置（診断システム）が連続試験指定された場合、ＲＡＳ機能試験も連続走行させる。
【００２０】
(2) 診断システムは、予めセンサ値監視プログラムを常駐させ、電圧や温度勾配の情報を各種センサより定期的に情報を読み取り、試験環境設定ファイルを更新する。
【００２１】
(3) ＲＡＳ機能試験は、試験開始時に試験環境設定ファイルの情報を読み取り、センサ試験やイベント試験を行って良いか判断する。その際、ユーザが設定した勾配設定、ファイルの基準値を考慮する。
【００２２】
マージン環境のままでＲＡＳ試験を行ってはいけない場合は、センサマスクを行いＲＡＳ機能試験は自動的にスキップされる。マージン環境が解除された状態の場合は、センサマスクを解除しＲＡＳ機能試験を自動的に実施する。
【００２３】
ここで、イベント試験とは、あるＲＡＳ機能を狙った試験で、例えば温度ＲＡＳイベント試験では３０℃でＲＡＳ機能で装置が警告を発するはずであれば、センサのマイコンが本来の閾値（３０℃）を一時的に現在の室温などに下げ（ＲＡＳ機能が現在の室温で動作するように）て、故意にＲＡＳ機能を動作させて、ＲＡＳ機能が動作（イベント）するか試験することである。センサマスクとは、ＲＡＳ機能を動作しないように設定することである。  
【００２４】
（電圧を変動させたマージン環境の場合）
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、電圧を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動で行い環境の違いを意識せず連続ＲＡＳ試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
【００２５】
（温度を変動させたマージン環境の場合）
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、温度を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動に行い環境の違いを意識せず連続ＲＡＳ試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
【００２６】
（複合的に変動させたマージン環境の場合）
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、装置試験動作環境を複合的（例えば、温度と電圧）に変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動に行い環境の違いを意識せず連続ＲＡＳ試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
【００２７】
（変動勾配の割合を外部設定する場合）
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、装置の試験動作環境を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を判定する際、動作環境変動勾配の割合を外部設定し、その基準に従ってマスク設定を自動で行えるようにしたソフトウェアとする。
【００２８】
これにより、(1) ＲＡＳ機能試験を実施する・しないを意識しなくて良いため、作業者が試験の選択をする必要がなく、一度の起動でマージン環境と非マージン環境での連続ランニングが可能である。このため、作業時間短縮ができコストダウンとなる。(2) 温度マージンや電圧マージンなど様々な用途に使えるため、ＲＡＳ機能試験の適用範囲が広がる。このため、チェックする部品の試験カバレージが拡大し、品質向上に役立つ。(3) 電圧勾配（変化）・温度勾配等を自動的に監視しているため、恒温槽などの試験設備に設置したままＲＡＳ機能試験を実施できるため、コンピュータ装置の電源の遮断（電断）や装置移動などの手間が省ける。このため、作業時間短縮ができ、コストダウンとなる。(4) 勾配設定（勾配設定ファイル）をユーザが行えるため、恒温槽や可変電源などの設定に柔軟に対応できるようになる等の効果がある。
【００２９】
（１）：コンピュータ装置の試験装置の説明
図１は本発明の試験装置の説明図である。図１において、試験装置（診断システム）１は、恒温槽などのマージン環境３に設置されたコンピュータハードウェア装置（コンピュータ装置）２の診断を行うものである。試験装置（診断システム）１には、センサ値監視プログラム１１、ＲＡＳ機能試験部（機能試験部）１２、モニタ部１３が設けてある。コンピュータハードウェア装置（コンピュータ装置）２には、メインボード（ＩＡ board）２１、オプションカード２２が設けてある。メインボード２１には、センサ２３、ＣＰＵ（制御部）２５、メモリ（ＭＥＭ）２６が設けてある。オプションカード２２には、センサ２４が設けてある。
【００３０】
マージン環境３は、被試験装置であるコンピュータハードウェア装置（コンピュータ装置）２をマージン環境（例えば、高温、高湿、高電圧等の環境）とするためマージン環境付与する試験環境設定手段である。センサ値監視プログラム１１は、コンピュータハードウェア装置２のセンサ２３、２４の値を監視するプログラムで格納手段に格納されるものである。ＲＡＳ機能試験部（機能試験部）１２は、少なくともコンピュータハードウェア装置２の動作・カーネル（Kernel）などのＲＡＳ機能について試験を行う機能試験手段である。モニタ部１３は、試験結果などの表示・試験条件（試験時間・ループ指定など）を管理するものである。また、図示しない格納手段には、勾配設定ファイル、ＲＡＳ試験結果格納ファイル、試験環境設定ファイル等が設けられる。
【００３１】
メインボード２１は、コンピュータの主機能を担う部品が装着させる基板である。オプションカード２２は、例えば、ＲＡＮカード、暗号処理のカード等の選択機能が装着される基板である。センサ２３、２４は、温度、電圧、回転数等を検出するセンサである。ＣＰＵ２５は、コンピュータハードウェア装置２の制御を行う制御部（制御手段）である。メモリ（ＭＥＭ）２６は、センサ２３、２４からの情報等を格納する格納手段である。
【００３２】
このコンピュータ装置の試験装置である診断システム１は、センサ値監視プログラム１１で、コンピュータ装置のセンサ２３、２４からＣＰＵ２５に情報が転送され、それを中継して値を読み込む。そして、ＲＡＳ機能試験部１２は、コンピュータハードウェア装置２のセンサの動作・KernelなどのＲＡＳ機能について試験を行う。モニタ部１３は、試験結果などの表示・試験条件（試験時間・ループ指定（試験回数）など) を管理するためのものである。
【００３３】
（２）：試験の実行タイミングの説明
図２は試験環境、センサ値監視プログラム、ＲＡＳ機能試験部のそれぞれの実行タイミングの説明図である。図２において、動作状況を時間軸（時間矢印参照）に試験環境、センサ値監視プログラム、ＲＡＳ機能試験部のそれぞれの実行タイミングを示している。試験環境３は、時間軸に対して、マージン環境（実線）、非マージン環境（点線）、マージン環境（実線）、非マージン環境（点線）の環境が順に設定されている。なお、このマージン環境（実線）と非マージン環境（点線）の組み合わせは、上が電圧、下が温度等の異なる種類の前記マージン環境を複合的に組み合わせて変動させた環境とすることもできる。センサ値監視プログラム１１は、定期的にセンサ２３、２４の値を読み取り、試験環境設定ファイル１６に状況を書き込む（更新する）ものである。ＲＡＳ機能試験部１２は、ＲＡＳ試験の実施・キャンセル（停止）を決める機能試験部（手段）である。勾配設定ファイル１４は、ユーザがキーボード１９等によりＲＡＳ試験を実施する環境を決定するための設定ファイルである。
【００３４】
センサ値監視プログラム１１では、試験環境３をコンピュータハードウェア装置２のセンサ２３、２４より取得し、どういう環境であるか判断し、試験環境設定ファイル１６に状況を書き込む。ＲＡＳ機能試験部１２では、試験開始時に試験環境設定ファイル１６の値と勾配設定ファイル１４の内容を判断し、ＲＡＳ試験の実施（実線）・キャンセル（点線）を決める。勾配設定ファイル１４は、ユーザにより自在に、例えば、キーボード１９等の入力部により設定することが可能である。なお、ＲＡＳ試験のキャンセル（点線）時でも、耐久試験等の他の試験（ランニング試験）は行われるものである。
【００３５】
（３）：コンピュータ装置の試験装置の説明
図３はコンピュータ装置の試験装置の説明図である。図３において、コンピュータ装置の試験装置である診断システムには、センサ値監視プログラム１１、ＲＡＳ機能試験部（機能試験部）１２、モニタ部１３、勾配設定ファイル１４、ＲＡＳ試験結果格納ファイル１５、試験環境設定ファイル１６、ＯＳ（Kernel）１７、ドライバ部１８が設けてある。ここでセンサ値監視プログラム１１、勾配設定ファイル１４、ＲＡＳ試験結果格納ファイル１５、試験環境設定ファイル１６、ＯＳ（Kernel）１７、ドライバ部１８等は、メモリ（格納手段）に格納されるものである。
【００３６】
診断システムは、ＲＡＳ機能試験だけではなく様々な機能試験（例えば、ハードディスクの試験、メモリの試験等）を行うが、本発明に関連するＲＡＳ機能試験をターゲットに構成を説明する。
【００３７】
先ず、診断システムを起動すると、ユーザインターフェース（ＵＩ）となるシステムモニタがモニタ部１３に表示され、ユーザはコンピュータハードウェア装置２に適合した試験を行うことができる。その試験の一部であるＲＡＳ機能試験部１２は、様々なイベント試験、センサ試験を行い、コンピュータハードウェア装置２のＲＡＳ機能を検証・保証するものである。本発明のメインであるセンサ値監視プログラム１１は、診断システム起動時にバックグラウンドで起動され、常時各センサ（温度・電圧・ファン（FAN ）回転など) を一定時間間隔で読み取り、読み取った結果を試験環境設定ファイル１６に反映する。センサ値監視プログラム１１は、ＯＳ１７の機能の一部であるドライバ部１８よりセンサ値を取得できる。
【００３８】
ＲＡＳ機能試験部１２は、センサ値監視プログラム１１から出力された試験環境設定ファイル１６とユーザが任意に設定した勾配設定ファイル１４からイベント発生を行わせる（アン・マスク) か、行わせないか（マスク) を試験開始時に設定し、診断結果をＲＡＳ試験結果格納ファイル１５に出力する（試験結果がＯＫか否か）。
【００３９】
（４）：マスク設定の説明
図４はＲＡＳ機能試験部のマスク設定動作のフローチャートである。以下、図４のマスク設定動作を処理Ｓ１〜Ｓ８に従って説明する。
【００４０】
Ｓ１：ＲＡＳ機能試験部１２は、先ず初期処理で、試験環境設定ファイル１６を読み込み、処理Ｓ２に移る。
【００４１】
Ｓ２：ＲＡＳ機能試験部１２は、各センサ値を読み込み、処理Ｓ３に移る。
【００４２】
Ｓ３：ＲＡＳ機能試験部１２は、各センサ値が通常値（非マージン環境）であるかマージン設定されているマージン環境かを判断する。この判断で、マージン環境の場合は処理Ｓ４に移り、通常値（非マージン環境）の場合は処理Ｓ７に移る。
【００４３】
Ｓ４：ＲＡＳ機能試験部１２は、マージン環境と判断した場合は、ユーザが設定した勾配設定ファイル１４をプログラム内部に読み込み、処理Ｓ５に移る。
【００４４】
Ｓ５：ＲＡＳ機能試験部１２は、センサ値が勾配設定ファイル１４内の設定値範囲内かどうかを判断する。この判断で、センサ値が勾配設定ファイル１４内の設定値範囲内の場合は処理Ｓ７に移り、設定値範囲内でない場合は処理Ｓ６に移る。
【００４５】
Ｓ６：ＲＡＳ機能試験部１２は、勾配設定ファイル１４内の設定値範囲外である場合、ＲＡＳ機能試験を行うとイベントが発生して装置が停止する可能性があるため、センサマスクをドライバ部１８経由で設定（試験停止）し、この処理を終了する。
【００４６】
Ｓ７：ＲＡＳ機能試験部１２は、センサ値がマージン環境と判断されない範囲か、勾配設定範囲内であった場合は、ＲＡＳ機能試験でイベントが発生することの確認が必要なため、センサマスクを解除し、処理Ｓ８に移る。
【００４７】
Ｓ８：ＲＡＳ機能試験部１２は、センサマスクが解除された場合は、ＲＡＳ機能試験の各種センサイベント試験を行い、この処理を終了する。
【００４８】
（５）：量産試験工程の説明
図５は量産試験工程でのランニング試験の説明図である。図５において、時間的流れ（工程）と作業を示しており、本発明を使用した場合の時間的なメリットを表している。
【００４９】
上段の(1) 従来の試験工程は、従来の量産工場におけるコンピュータ装置試験工程の時間的な流れと作業を示している。この従来の試験工程の場合は、恒温槽によるマージン試験後温度が安定するまでの環境勾配と、コンピュータ装置試験を再設定・再起動するための作業時間やコンピュータ装置再設定・移動などの時間〔Ａ〕が必要であった。
【００５０】
下段の(2) の本発明を適応後の試験工程は、コンピュータ装置試験自体は連続的に行われており、環境勾配〔Ｂ〕中もセンサ値監視プログラム１１が動作しているため自動的にマージン・非マージンを判断している。このためユーザは意識・操作することなく、またコンピュータ装置の再設定・移動もなくなることからコストダウン〔Ｃ〕分の時間を節約することができる。
【００５１】
（６）：試験環境設定ファイルの説明
図６は試験環境設定ファイルの内容の説明図である。図６において、試験環境設定ファイル１６は、センサ値監視プログラム１１がドライバ１８を経由して各センサより読み取ったセンサ値を書き込むためのファイルである。このファイルの内容(a) は、各センサ値の名称(b) と値(c) をテキスト形式で出力されたものである。例えば、名称(b) Intake Therm（吸気温度）の値(c) は２０．５℃、名称(b) Output Therm（排気温度）の値(c) は２５．６℃、名称(b) FUN1 rpm（ファン１の回転数）の値(c) は３４５６rpm 、名称(b) Volt3.3V（電源電圧3.3 ボルト）の値(c) は３．２９Ｖであることを示している。
【００５２】
（７）：勾配設定ファイルの説明
図７は勾配設定ファイルの設定基準と内容の説明図である。図７(1) は温度マージンを例に環境勾配を図式化したものである。図７(1) において、Ｘ℃をマージン温度、Ｙ℃を常温環境（非マージン温度）とし、ユーザはＸ、Ｙと許容率範囲（Capa-rate ）ａを指定する。基準値Ｚ（ここでは中間の値）はプログラム（演算装置により）が以下の式で計算する。
【００５３】
Ｚ＝（Ｘ−Ｙ）／２＋Ｙ
常温判断値Ａは、次の式で計算する。
【００５４】
Ａ＝（１００−ａ）／１００×Ｚ
なお、許容率範囲ａは、基準値Ｚよりどの程度許容できるかの範囲であり、上記では基準値Ｚより下に設定する説明をしたが、基準値Ｚより上に設定することも可能である。
【００５５】
図７(2) はユーザが端末（キーボード１９等）よりテキストエディタなどで作成した勾配設定ファイル１４である。右の(a) はそのファイルの内容を展開したものである。ファイルの内容(a) は、各ファクタ名(b) と各ファクタ値(c) を示している。例えば、ファクタ名(b) Margin Therm（マージン温度）のファクタ値(c) は３０℃、ファクタ名(b) Normal Therm（常温環境）のファクタ値(c) は２０℃、ファクタ名(b) Capa-rate （許容率範囲）のファクタ値(c) は５％と設定されている。
【００５６】
（８）：プログラムインストールの説明
センサ値監視プログラム１１、ＲＡＳ機能試験部（機能試験部）１２、モニタ部１３、勾配設定ファイル１４、ＲＡＳ試験結果格納ファイル１５、試験環境設定ファイル１６、ＯＳ１７、ドライバ部１８等はプログラムで構成でき、主制御部（ＣＰＵ）が実行するものであり、主記憶に格納されているものである。このプログラムは、コンピュータ（情報処理装置）で処理されるものである。このコンピュータは、主制御部、主記憶、ファイル装置、表示装置等の出力装置、入力装置などのハードウェアで構成されている。
【００５７】
このコンピュータに、本発明のプログラムをインストールする。このインストールは、フロッピィ、光磁気ディスク等の可搬型の記録（記憶）媒体に、これらのプログラムを記憶させておき、コンピュータが備えている記録媒体に対して、アクセスするためのドライブ装置を介して、或いは、ＬＡＮ等のネットワークを介して、コンピュータに設けられたファイル装置にインストールされる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の試験装置の説明図である。
【図２】本発明の試験環境、センサ値監視プログラム、ＲＡＳ機能試験部のそれぞれの実行タイミングの説明図である。
【図３】本発明のコンピュータ装置の試験装置の説明図である。
【図４】本発明のＲＡＳ機能試験部のマスク設定動作のフローチャートである。
【図５】本発明の量産試験工程でのランニング試験の説明図である。
【図６】本発明の試験環境設定ファイルの内容の説明図である。
【図７】本発明の勾配設定ファイルの設定基準と内容の説明図である。
【符号の説明】
【００５９】
１  試験装置（診断システム）
２  コンピュータハードウェア装置（コンピュータ装置）
３  マージン環境（試験環境設定手段）
１１  センサ値監視プログラム
１２  ＲＡＳ機能試験部（機能試験部）
１３  モニタ部
２１  メインボード（ＩＡ board）
２２  オプションカード
２３、２４  センサ
２５  ＣＰＵ（制御部）
２６  メモリ（ＭＥＭ）
【図１】
0005262002.tif 000002
【図２】
0005262002.tif 000003
【図３】
0005262002.tif 000004
【図４】
0005262002.tif 000005
【図５】
0005262002.tif 000006
【図６】
0005262002.tif 000007
【図７】
0005262002.tif 000008