(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも第１のインクと、第１のインクと異なる第２のインクと、を吐出することが可能な記録ヘッドの往方向および復方向への交互の合計でＭ（Ｍは３以上の奇数）回の移動中に、各回の前記移動において記録媒体の単位領域に対して記録を許容する記録許容画素と記録を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記第１および第２のインクにそれぞれ対応する第１および第２のマスクパターンに基づいてインクを吐出することにより、前記記録媒体の前記単位領域に画像を記録することが可能なインクジェット記録装置であって、
前記第１のマスクパターンの少なくともある１回の偶数回目の前記移動における一部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンのある１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置と一致し、前記第１のマスクパターンの前記ある１回の偶数回目の前記移動における他部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンの他の回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置と一致することを特徴とするインクジェット記録装置。
【請求項２】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれにおいて、少なくとも１回の偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数が、少なくとも１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数より大きいことを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項３】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれは、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）と、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）と、の差が、１００／Ｍ（％）より小さくなるように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項１または２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項４】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれは、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）が、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）よりも大きくなるように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項５】
前記Ｍは３であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項６】
前記第１および第２のインクは互いに色相の異なるインクであることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項７】
前記第１のインクはシアンのインクであり、前記第２のインクはマゼンタのインクであることを特徴とする請求項６に記載のインクジェット記録装置。
【請求項８】
前記第１および第２のマスクパターンはそれぞれ、前記記録ヘッドの移動する方向に連続しないように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項９】
少なくとも第１のインクと、第１のインクと異なる第２のインクと、を吐出することが可能な記録ヘッドの往方向および復方向への交互の合計でＭ（Ｍは３以上の奇数）回の移動中に、各回の前記移動において記録媒体の単位領域に対して記録を許容する記録許容画素と記録を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記第１および第２のインクにそれぞれ対応する第１および第２のマスクパターンに基づいてインクを吐出することにより、前記記録媒体の前記単位領域に画像を記録することが可能なインクジェット記録方法であって、
前記第１のマスクパターンの少なくともある１回の偶数回目の前記移動における一部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンのある１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置に一致し、前記第１のマスクパターンの前記ある１回の偶数回目の前記移動における他部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンの他の回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置に一致することを特徴とするインクジェット記録方法。
【請求項１０】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれは、少なくとも１回の偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数が少なくとも１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数より大きいことを特徴とする請求項９に記載のインクジェット記録方法。
【請求項１１】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれは、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）と、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）と、の差が、１００／Ｍ（％）より小さくなるように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項９または１０に記載のインクジェット記録方法。
【請求項１２】
前記第１および第２のマスクパターンのそれぞれは、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）が、すべての前記移動における前記記録許容画素の数に対する偶数回目の前記移動における前記記録許容画素の数の割合（％）よりも大きくなるように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項９乃至１１のいずれかに記載のインクジェット記録方法。
【請求項１３】
前記Ｍは３であることを特徴とする請求項９乃至１２のいずれかに記載のインクジェット記録方法。
【請求項１４】
前記第１および第２のインクは互いに色相の異なるインクであることを特徴とする請求項９乃至１３のいずれかに記載のインクジェット記録方法。
【請求項１５】
前記第１のインクはシアンのインクであり、前記第２のインクはマゼンタのインクであることを特徴とする請求項１４に記載のインクジェット記録方法。
【請求項１６】
前記第１および第２のマスクパターンはそれぞれ、前記記録ヘッドの移動する方向に連続しないように前記記録許容画素が配列されていることを特徴とする請求項９乃至１５のいずれかに記載のインクジェット記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、インクジェット記録装置およびインクジェット記録方法に関する。特に、シリアル型の記録装置における奇数パスの双方向マルチパス記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、比較的低廉なパーソナルコンピュータやワードプロセッサ等のＯＡ機器が広く普及しており、これら機器で入力した情報を出力する様々な記録装置や該装置の高速化技術、高画質化技術が急速に開発されてきている。中でも、シリアル型のインクジェット記録装置は、低コストで高速ないしは高画質のプリントを実現可能な比較的小型な記録装置として注目されている。このようなシリアル型のインクジェット記録装置では、画像を高速に出力するために双方向記録を行なったり、画像を高画質に出力するためにマルチパス記録を行ったりすることが出来る。以下に、シリアル型のインクジェット記録装置における双方向記録およびマルチパス記録について簡単に説明する。
【０００３】
（双方向記録）
シリアル型のインクジェット記録装置では、インクを滴として吐出するノズルを集積配列した記録ヘッドが、記録装置内を主走査方向に移動するキャリッジに搭載されている。そして、キャリッジを移動させながら個々の吐出口より画像データに応じたインクの吐出を行うことにより、１バンド分の画像が形成される。このような１バンド分の記録主走査と１バンド幅に応じた記録媒体の搬送動作を交互に行うことにより、記録媒体に順次画像が形成される仕組みになっている。
【０００４】
双方向記録とは、往路方向の記録主走査が終了し搬送動作を行った後、復路方向での記録主走査を行う記録方法である。すなわち、記録を行わない復路走査を行った後に再び往路方向の記録主走査を繰り返す片方向記録に比べて、上記双方向記録は記録時間を短縮することが出来る。例えば、記録媒体の搬送方向に３６０ｄｐｉ（ドット／インチ）の密度で６４個のノズルが配置された記録ヘッドを用いてＡ４サイズの記録媒体全体に記録を行うとき、約６０回の記録主走査が必要となる。この場合、片方向記録では記録を行わない復路走査も合わせて約６０回の往復走査が要されるが、双方向記録では約３０回の往復走査で記録が完了する。すなわち、双方向記録は、片方向記録に比べて、２倍近い速度で画像を出力することが出来る。
【０００５】
（マルチパス記録）
複数のノズルを有する記録ヘッドを用いて記録を行う場合、出力される画像の品位は個々のノズルの吐出特性に影響を受ける。記録ヘッドのノズル製造工程においては、ノズル内部に備えられ吐出エネルギを発生する電気熱変換体（ヒータ）の発熱特性や、吐出口の形状などにどうしてもある程度のばらつきが含まれる。そして、これらばらつきが、ノズルから吐出されるインクの吐出量や吐出方向に影響を及ぼし、記録媒体に形成される画像に濃度むらやスジを生じさせる。
【０００６】
図１（ａ）〜（ｃ）は、吐出特性にばらつきが含まれていない記録ヘッドの記録状態を説明するための図である。図において、２０１は記録ヘッドであり、ここでは簡単のため８個のノズル２０２を有しているものとする。図１（ａ）のように、個々のノズルから吐出されるインク滴２０３の大きさや吐出方向が揃っている場合、記録媒体で形成されるドット配置は図１（ｂ）のようになり、ノズル並び方向における濃度分布も図１（ｃ）に示すように一様になる。
【０００７】
図２（ａ）〜（ｃ）は、吐出特性にばらつきが含まれている記録ヘッドの記録状態を説明するための図である。個々のノズル２０２から吐出されるインク滴の大きさや吐出方向は、図２（ａ）のようなばらつきが含まれており、記録媒体でのドット配置も図２（ｂ）のように一様ではなくなる。必要以上にドット同士が重なる領域もあれば、エリアファクタが１００％に満たない白紙領域も確認される。結果、ノズル並び方向における濃度分布は、図１（ｃ）に示すような不均一な状態になり、このような領域が副走査方向に繰り返されると、濃度むらとして認識される。
【０００８】
図３（ａ）〜（ｃ）は、図２（ａ）〜（ｃ）で示した記録ヘッドを用いてマルチパス記録を行った場合の記録状態を説明するための図である。図３（ａ）で示すように、マルチパス記録では、１回の記録走査で記録を完了させることが出来る領域を複数回の記録走査に分割して記録している。ここでは、２パスのマルチパス記録方法が示されている。
【０００９】
図４（ａ）〜（ｃ）は、連続する３回の記録走査における、個々のノズルが記録を許容するドットの配置を示すための図である。図４（ａ）は１回目の記録走査で記録を許容するドットが示されており、ここでは縦横ともに１画素おきに配置する約半数のドットが示されている。１回の記録走査が終了すると、記録媒体は記録ヘッドの記録幅の半分（ここでは４ドット分）だけ副走査方向に搬送され、続く２回目の記録走査で再び１画素おきに配置する約半数のドットが記録される（図４（ｂ））。但し、このときの記録位置は、１回目の記録走査でドットが記録されていない補完の位置となっている。更に４ドット分の搬送動作が行われた後、再び上記２回目の記録走査で記録されたドットと補完関係になる位置に、約半数のドットが３回目の記録走査で記録される（図４（ｃ））。以上のような記録走査と搬送動作とを交互に繰り返すことにより、記録媒体の同一画像領域（単位領域）は、記録ヘッドの異なる領域による２回の記録走査によって画像が形成される。
【００１０】
このようなマルチパス記録を行うと、１つのノズルによって記録されるドットが図２（ｂ）のように主走査方向に連なることがなくなる。すなわち、図２（ａ）で示した記録ヘッド２０１と等しい記録ヘッドを使用しても、各ノズルのばらつきによる影響が記録媒体上で半減され、図３（ｂ）のようなドット配置となる。結果、ノズル並び方向における濃度分布も、図３（ｃ）に示すようなほぼ均一な状態となる。
【００１１】
図２３は、図４（ａ）〜（ｃ）で説明した２パス記録に用いるマスクとその補完関係を概念的に説明する模式図である。Ｐ０００１は、同色インクを吐出するための８個のノズルからなるノズル群を示している。ノズル群は、第１および第２の２つのブロックに分割され、各ノズルブロックにはそれぞれ４つのノズルが含まれる。Ｐ０００２ＡおよびＰ０００２Ｂは、この第１および第２ブロックそれぞれに対応したマスクパターンを示しており、４画素×４画素のサイズを有している。Ｐ０００２Ａは第１走査で用いるマスクパターン（同図中、下側のパターン）であり、Ｐ０００２Ｂは第２走査で用いるマスクパターン（同図中、上側のパターン）である。それぞれのマスクパターン（Ｐ０００２ＡおよびＰ０００２Ｂ）は、黒で示された記録許容画素と白で示された非記録許容画素の配列によって構成される。第１走査用のマスクパターンＰ０００２Ａと第２走査用のマスクパターンＰ０００２Ｂは互いに補完関係にあり、従って、これらを重ね合わせると記録許容画素が４×４のエリアを総て埋めるパターンとなって、これにより最大で１００％記録が可能となる。そして、このような４画素×４画素のサイズのマスクパターンを主走査方向に繰り返し用いることによって、ヘッドの走査領域全域に対して２パス記録が可能となる。
【００１２】
ここで、マスクパターンにおける「記録許容画素」と「非記録許容画素」について説明する。「記録許容画素」とは、インクの吐出（ドットの記録）を許容する画素のことである。すなわち、この記録許容画素に対応する２値の画像データがインク吐出を示すデータであればドット記録が行われ、非吐出を示すデータならばドット記録は行われない。一方、「非記録許容画素」とは、２値の画像データに関わらず記録を許容しない画素のことである。従って、仮に、この非記録許容画素に対応する２値の画像データがインク吐出を示すデータであっても記録は行われない。
【００１３】
Ｐ０００３およびＰ０００４は、２パス記録によって完成される画像のドット配置を示している。第１走査では、マスクパターンＰ０００２Ａを用いて生成された２値の画像データが第１ブロックによって記録される。その後、記録媒体は図の矢印の方向に１つのノズルブロックの幅分ずつ搬送される。次の第２走査では、同じくマスクパターンＰ０００２Ａを用いて生成された２値の画像データが第１ブロックによって記録される。それと共に、第２走査では、マスクパターンＰ０００２Ｂを用いて生成された２値の画像データが第２ブロックによって記録される。このようにして、２パス記録モードで使用可能なノズルの配列範囲の１／２に対応した幅を有する領域（同一画像領域）に対する記録が２回の記録走査によって完了する。
【００１４】
以上の説明では、各記録走査で縦横共に１画素おきにドットが配置される構成としたが、マルチパス記録はこのようなドット配置に限定されるものではない。各記録走査でドットが記録される位置は、一般に、上述したマスクパターンにおける記録許容画素の配置によって決められる。よって、マスクパターンにおける記録許容画素の配置や割合を様々に変えることにより、ドットの配置や記録許容率を調整することが出来る。なお、マスクパターンによって定められる記録許容率とは、マスクパターンを構成する記録許容画素と非記録許容画素の総数（全画素数）に対する記録許容画素の数の割合である。
【００１５】
また、以上では２パスのマルチパス記録について説明したが、マルチパス記録はマルチパス数を３パス、４パス、５パスと、より多く設定することにより、画像の一様性を一層高めることが出来る。但し、マルチパス数を多くするほど記録速度も低下するので、多くの記録装置では、画像品位を重視する記録モードや記録速度を重視する記録モードのように、マルチパス数の異なる複数の記録モードを予め用意している。この際、先に説明した双方向記録を併用することで、画像品位と記録速度のバランスにおいて、より適切な記録モードを設定することが可能となる。ただし、マルチパス記録を双方向の奇数パス記録で行った場合には、偶数パス記録では現れない新たな問題が提起される。
【００１６】
図５（ａ）および（ｂ）は、偶数のマルチパス記録（４パス）と奇数のマルチパス記録（３パス）の違いを説明するための模式図である。
【００１７】
双方向記録では、往路走査と復路走査の双方で記録を行うが、複数のインク色に対応する記録ヘッドが主走査方向に並列に配置している場合、記録媒体にインクを付与する順序は、往路走査と復路走査で逆転する。例えば、往路走査でブラック、シアン、マゼンタ、イエローの順にインクが付与される場合、復路走査ではイエロー、マゼンタ、シアン、ブラックの順序にインクが付与される。この際、同じ色相を表現するために同じ割合で複数のインク色を記録しても、往路で記録した画像と復路で記録した画像とでは、多少の色差がどうしても発生する。また、単色で記録する場合や、複数のインク色に対応する記録ヘッドが副走査方向に配置している場合であっても、往路走査と復路走査においては例えば後述するサテライトの着弾位置に起因するドット形状の違いのような、何らかの記録特性の違いが現れる。結果、往路で記録した画像と復路で記録した画像とでは、多少の濃度差が発生する。
【００１８】
従って、マルチパス記録を行う場合であっても、往路走査で記録できるドットと復路走査で記録できるドットの数には、出来るだけ偏りがないことが望まれる。例えば、図５（ａ）を参照するに、４パスのような偶数のマルチパスの場合、記録媒体の同一画像領域（パスとパスの間に行われる記録媒体の搬送の量に対応する幅を有する単位領域）に対し往路走査と復路走査は２回ずつ行われる。よって、同一画像領域に対する各記録走査での記録許容率が均等に２５％になっていれば、往路走査で記録できるドットの割合と復路走査で記録できるドットの割合は、共に５０％となる。
【００１９】
しかし、図５（ｂ）に示す３パスのマルチパス記録の場合、記録媒体の同一画像領域（単位領域）に対し往路走査と復路走査は同数ずつ行われない。往路走査が２回、復路走査が１回行われる同一画像領域（単位領域）と、往路走査が１回、復路走査が２回行われる同一画像領域（単位領域）とが副走査方向に交互に配列される。すなわち、各記録走査での記録許容率を３３．３％と均等にすると、往路走査で記録されるドットが３３．３％多い往路走査の記録特性が強い画像領域と、復路走査で記録されるドットが３３．３％多い復路走査の記録特性が強い画像領域とが交互に現れる。これら２種類の画像領域では、上述したように色味や濃度が異なることが想定されるので、色むら、濃度むらといった画像弊害が招致される場合がある。
【００２０】
以上説明したような奇数パスの双方向記録における画像弊害は、パス数が少ないほど顕著に現れる。すなわち、往路走査の和と復路走査の和の差が３３．３％となる３パスが最も目立ちやすい。各記録走査での記録許容率を均等にしても、５パス、７パスとパス数が多くなるほど記録許容率の差も２０％、１４．３％と少なく抑えられていくので、上記弊害も目立ち難くなるのである。
【００２１】
このような奇数パスの双方向記録に関し、例えば特許文献１には、記録ヘッドのノズル位置に応じて記録許容率を異ならせることにより、往路走査での記録許容率の和と復路走査での記録許容率の和を等しくする構成が開示されている。
【００２２】
図６は、特許文献１に開示されている３パスのマルチパス記録における往路走査および復路走査の記録許容率を説明するための模式図である。特許文献１によれば、記録ヘッドのノズル列を３つのブロックに分割し、両端部ブロックの記録許容率は２５％ずつ、中央部ブロックの記録許容率は５０％としている。これにより、往路走査→復路走査→往路走査の順に記録される領域も、復路走査→往路走査→復路走査の順に記録される領域も、往路走査によって記録できるドット数と復路走査によって記録できるドット数を略均等に揃えることが出来る。一方、図６のように、完全に揃えることが出来なくても、上記画像弊害が現れない程度に、往路走査によって記録されるドット数と復路走査によって記録されるドット数の差をなるべく抑えるように記録許容率を定めることも出来る。
【００２３】
図７は、記録ヘッドのノズル列を３つのブロックに分割し、両端部ブロックの記録許容率を３０％、中央部ブロックの記録許容率を４０％とした例を示した模式図である。このようにすれば、往路走査と復路走査の記録許容率の差は０％にはならないが２０％程度に抑えられる。中央部と端部の記録許容率があまり大きいマスクを採用すると、「個々のノズルの吐出特性が画像上で目立ってしまうのを緩和する」という本来のマルチパス記録の効果を損なわせてしまう。また、記録ヘッドの寿命が吐出頻度の大きいノズルの寿命に合わせて短くなるという懸念も生じる。よって、往路走査と復路走査の記録許容率の差に起因する画像弊害が目立たない程度で、且つ、なるべく記録許容率の差を小さく抑えるような、上記のようなマスクが好ましく使用される。つまり、上述したマルチパス効果やヘッドの長寿命化効果を得るには、往復の記録許容率差が小さい図７のマスクパターンの方が、往復の記録許容率差が大きい図６のマスクパターンよりも有利である。
【００２４】
以後、上述したような、複数回の走査のうち少なくとも１回の走査の記録許容率が他の走査の記録許容率とは異なるようなマスクを、本明細書では段差マスクと定義する。要するに、段差マスクとは、各走査の記録許容率が均等でないマスクである。これに対し、各走査の記録許容率が等しく設定された従来の一般的なマスクを、本明細書ではフラットマスクと定義する。
【００２５】
ところで、記録ヘッドからインクを吐出して画像を記録するインクジェット記録装置においては、ノズルから吐出されるインク滴の分離状態は常に安定しているわけではない。吐出口からインクが滴として吐出される際には、相対的に大きな量の主滴に続いて、これよりも小さく速度も遅い副滴が吐出されることが多い。記録ヘッドは、記録媒体に対して移動しながら吐出動作を行うので、主滴よりも速度の遅い副滴は、主滴よりも主走査の進行方向にずれた位置に着弾し、サテライトと呼ばれる小さなドットを形成する。
【００２６】
図８は、記録媒体における、主滴によって形成されるメインドットと副滴によって形成されるサテライトとの位置関係を説明するための模式図である。図によれば、メインドットに対するサテライトの位置が、往路走査と復路走査で逆転していることが分かる。つまり、双方向のマルチパス記録を実行した場合には、往路方向で記録されるドットと復路方向で記録されるドットが、同じ画像領域（例えば、同一画素、同一画素ライン、Ｍ×Ｎの画素領域）で混在する状況が生じる。
【００２７】
このようなサテライトは、たとえ発生しても、メインドットと同じ位置に記録されるか、あるいはメインドットに比べて充分小さければ、画像上は然程問題にならない。しかし、近年開発されているような、高精細で小液滴なインクを吐出する記録ヘッドの場合には、メインドット自体のドット径も小さくなりサテライトの存在も無視できない状況になっている。特に、２種類のインクを重ねて２次色を表現する場合には、問題がより大きくなる。
【００２８】
図９（ａ）および（ｂ）は、シアンとマゼンタのドットを重ね合わせて、ブルーを表現する場合を示す図である。図９（ａ）は、矢印で示す往路方向にキャリッジを移動させながら、２×２画素領域に２つのブルードットを記録する状態を示している。図９（ｂ）は、矢印で示す復路方向にキャリッジを移動させながら、２×２画素領域に２つのブルードットを記録する状態を示している。ここでは、シアンとマゼンタの２つの記録ヘッドにおいて、サテライトの発生条件も同等であるとしている。結果、主滴によって形成されたブルードット（２次色メインドット）の脇に、２色のドットが重なったサテライト（２次色サテライト）が形成されている。このような２次色サテライトは、１次色サテライトよりも更に目立ちやすく、画像にも影響を与えやすい。また、図９（ａ）および（ｂ）に示される各画素では、２次色サテライトがメインドットの片側に発生しており、サテライトの偏りが生じている。このようにサテライトが不均一に発生した画像では、粒状感が増し、一様性が損なわれ、画像品位が低下する。
【００２９】
このようなサテライトの不均一を解消する技術が特許文献２に開示されている。特許文献２には、同一画素に記録される２種類のインク（シアンとマゼンタ）について、これらのサテライトがメインドットに対して対称的に配置されるように記録する構成が開示されている。
【００３０】
【特許文献１】特開２０００−１０８３２２号公報
【特許文献２】特開２００７−３８６７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３１】
しかしながら、特許文献２には、奇数パスの双方向記録で用いる好適なマスクの具体的形態については言及されていない。このように従来の奇数パス用マスクでは、同じ画素に記録される複数種ドットのサテライトの位置まで配慮されているものはなかった。
【００３２】
図１０は、シアンおよびマゼンタの両方に同じ段差マスクを使用した例を示した模式図である。同一画像領域に注目すると、シアンおよびマゼンタのインクは、１回目の走査で３０％の記録が行われ、１回目とは反対方向の２回目の走査で４０％の記録が行われ、更に１回目と同じ方向の３回目の走査で３０％の記録が行われる。この際、シアンとマゼンタとでは同じマスクが使用されるので、同じ画素に着弾するシアンドットとマゼンタドットは同じ走査方向で記録されることなる。すると、ブルー画像は図９（ａ）あるいは（ｂ）に示される画素で構成されることになるので、サテライト配置に大きな偏りが発生し、これが画像弊害に繋がる場合がある。
【００３３】
このように従来では、奇数パスのマルチパス記録において、サテライトの着弾位置を一様に分散させる構成を実現できていなかった。結果、奇数パスのマルチパス記録においては、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害を解決することができていなかった。また、往路走査と復路走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを、同時に解決することもできていなかった。
【００３４】
本発明は、上記問題点を解決するために成されたものであって、その目的とするところは、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害を抑制することにある。また、本発明の別の目的は、往路走査と復路走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを、同時に解決することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３５】
そのために本発明においては、少なくとも第１のインクと、第１のインクと異なる第２のインクと、を吐出することが可能な記録ヘッドの往方向および復方向への交互の合計でＭ（Ｍは３以上の奇数）回の移動中に、各回の前記移動において記録媒体の単位領域に対して記録を許容する記録許容画素と記録を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記第１および第２のインクにそれぞれ対応する第１および第２のマスクパターンに基づいてインクを吐出することにより、前記記録媒体の前記単位領域に画像を記録することが可能なインクジェット記録装置であって、前記第１のマスクパターンの少なくともある１回の偶数回目の前記移動における一部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンのある１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置と一致し、前記第１のマスクパターンの前記ある１回の偶数回目の前記移動における他部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンの他の回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置と一致することを特徴とする。
【００３６】
また、少なくとも第１のインクと、第１のインクと異なる第２のインクと、を吐出することが可能な記録ヘッドの往方向および復方向への交互の合計でＭ（Ｍは３以上の奇数）回の移動中に、各回の前記移動において記録媒体の単位領域に対して記録を許容する記録許容画素と記録を許容しない非記録許容画素とが配置された、前記第１および第２のインクにそれぞれ対応する第１および第２のマスクパターンに基づいてインクを吐出することにより、前記記録媒体の前記単位領域に画像を記録することが可能なインクジェット記録方法であって、前記第１のマスクパターンの少なくともある１回の偶数回目の前記移動における一部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンのある１回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置に一致し、前記第１のマスクパターンの前記ある１回の偶数回目の前記移動における他部の前記記録許容画素の位置は、前記第２のマスクパターンの他の回の奇数回目の前記移動における前記記録許容画素の位置に一致することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３９】
本発明によれば、往路方向の走査と復路方向の走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを、より効果的に抑制しながらも、個々のノズルの駆動周波数を実質的に低減することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００４１】
図１１は、本実施形態の記録装置２００と情報処理装置（ホストコンピュータ）１００とを含む記録システムの制御構成を示す図である。２００は記録ヘッドによりインクを吐出して記録を行う記録装置、１００は記録装置２００に画像データを供給する役割や記録装置２００を制御する役割を担う情報処理装置を示している。記録装置２００と情報処理装置１００は、既知の通信手段で接続されており相互に通信が可能である。ユーザは、情報処理装置１００にアクセスすることにより、記録装置２００に記録させるための画像データを生成したり、当該画像データを記録装置２００に記録させたり出来る。また、情報処理１００では、記録装置２００において実行可能な複数の記録モードの中から１つの記録モードを選択的に指定可能になっている。詳しくは、ユーザによって指定された「記録媒体の種類」と「記録品位」の組み合わせによって、複数の記録モードの中から１つの記録モードが選択的に指定される構成となっている。こうして情報処理装置１００において指定された記録モードに関する情報は記録装置２００へ送信される。記録装置２００では、この送信された情報に基づいて、実行すべき記録モードを設定することになる。
【００４２】
記録装置２００で実行可能な複数の記録モードには、３パス、５パス、７パス等のＭ（Ｍは３以上の奇数）パスの双方向記録モードが含まれている。Ｍパスの双方向記録モードとは、使用可能なノズルの配列範囲の幅より小なる量の記録媒体の搬送を介在した記録ヘッドのＭ回の走査によって、記録媒体の搬送の量に対応した幅を有する領域に対して双方向記録を実行するモードを指す。例えば、３パスの記録モードでは、３パスモードで使用可能なノズルの配列範囲の１／３の幅に対応した量の記録媒体の搬送を介在した記録ヘッドの３回の走査によって、上記１／３の幅を有する領域に対して画像が記録される。
【００４３】
記録装置２００には、コントローラ２１３、記録ヘッド２１、ヘッド駆動回路２０２、キャリッジ２、キャリッジモータ２０４、搬送ローラ１４、搬送モータ２０６等が設けられている。ヘッド駆動回路２０２は記録ヘッド２１の駆動を行うための回路で、ヘッド駆動回路２０２によって記録ヘッド２１が駆動されてインクが吐出される。キャリッジモータ２０４は、記録ヘッド２１を搭載するためのキャリッジ２を往復移動させるためのモータである。搬送モータ２０６は、記録媒体を搬送するための搬送ローラ１４を搬送するためのモータである。装置全体を制御するためのコントローラ２１３には、マイクロプロセッサ形態のＣＰＵ２１０、制御プログラムが収納されているＲＯＭ２１１、ＣＰＵが画像データの処理等を行う際に使用するＲＡＭ２１２等が設けられている。ＲＯＭ２１１には、各記録モードに対応する複数種類のマスクパターン（例えば、図１６や図２１に示されるマスクパターン）やマルチパス記録を制御するための制御プログラム等が格納されている。コントローラ２１３は、情報処理装置１００から送信された記録モードに関する情報に基づいて、実行すべき記録モードを設定する。また、コントローラ２１３はマルチパス記録を実行するために、ヘッド駆動回路２０２、キャリッジモータ２０４、搬送モータ２０６を制御する他、マルチパス記録の各走査に対応した画像データを生成する。詳しくは、コントローラ２１３は、制御プログラムに従って、ＲＯＭ２１１から読み出したこのマスクパターンを用いて、同一画像領域（所定領域）に対応する画像データを分割して各走査に対応した画像データを生成する。具体的には、同一画像領域に対応する画像データをマスクパターンに従って間引くことにより、各走査に対応した間引き画像データを生成する。各走査では、これら間引き画像データに従って間引き画像が記録され、これにより、同一画像領域に対する記録が完成する。更に、コントローラ２００は、この間引き画像データに従って記録ヘッド２１からインクが吐出されるようにヘッド駆動回路２０２を制御する。
【００４４】
図１２は、本発明に使用可能なインクジェット記録装置の内部構造を説明するための斜視図である。図において、１０００は交換式のヘッドカートリッジであり、インクを吐出するための記録ヘッド２１とこれにインクを供給するインクタンクとから構成されている。２はヘッドカートリッジ１０００を着脱自在に保持するキャリッジである。３はヘッドカートリッジ１０００をキャリッジ２に固定するためのホルダである。ヘッドカートリッジ１０００をキャリッジ２内に装着してからカートリッジ固定レバー４を操作すると、これに連動してヘッドカートリッジ１０００がキャリッジ２に圧接される。当該圧接によってヘッドカートリッジ１０００の位置決めが行われると同時に、キャリッジ２に設けられた所要の信号伝達用の電気接点とヘッドカートリッジ１０００側の電気接点とのコンタクトがなされる。５は、電気信号をキャリッジ２に伝えるためのフレキシブルケーブルである。
【００４５】
６は、キャリッジ２を主走査方向（第１の方向）に往復移動させるための駆動源をなすキャリッジモータに連動したプーリ、７は当該駆動力をキャリッジユニット２に伝達するキャリッジベルトである。８は主走査方向に延在してキャリッジ２の支持を行うとともにその移動を案内するガイドシャフトである。
【００４６】
９はキャリッジ２に取り付けられた透過型のフォトカプラ、１０はホームポジション付近に設けられた遮光板である。キャリッジユニット２がホームポジションに至ったとき、遮光板１０がフォトカプラ９の光軸を遮り、キャリッジ２がホームポジションにあることが検出される。１２は記録ヘッドの前面をキャップするキャップ部材やこのキャップ内を吸引する吸引手段、さらにはヘッド前面のワイピングを行う部材などの回復系を含むホームポジションユニットである。
【００４７】
１４は搬送ローラであり、主走査方向と交差する副走査方向（第２の方向）へ記録媒体を所定量搬送する。記録ヘッド２１からインクを吐出しながらヘッドカートリッジ１０００を搭載したキャリッジを移動させる動作と、搬送ローラ１４による記録媒体の所定量の搬送動作を繰り返すことにより、記録媒体に段階的に画像が記録されていく。
【００４８】
１３は、記録媒体を排出するための排出ローラであり、不図示の拍車状ローラと協動して記録媒体を挟み込み、これを記録装置外へと排出する。
【００４９】
図１３は、ヘッドカートリッジ１０００の詳細を説明するための斜視図である。図１３において、１５はＢｋ（ブラック）インクを貯溜する交換可能なインクタンク、１６はＣ（シアン）、Ｍ（マゼンタ）およびＹ（イエロー）のインクを貯溜する交換可能なインクタンクである。１７はヘッドカートリッジ１０００と連結してインクを供給する部分となるインクタンク１６のインク供給口、１８は同様にインクタンク１５のインク供給口である。インク供給口１７および１８は、供給管２０に連結されて記録ヘッド２１にインクを供給するように構成されている。１９は前述のフレキシブルケーブル５と接続され、記録データに基づく信号を記録ヘッド２１に伝えるための電気コンタクトである。
【００５０】
また、図１３において、記録ヘッド２１の前面に図示されている複数列の線は各々、インクを吐出するノズルが複数配列したノズル列である。４つのノズル列のそれぞれから、互いに色相の異なるＢｋ（ブラック）インク、Ｃ（シアン）インク、Ｍ（マゼンタ）インク、Ｙ（イエロー）インクが吐出される。
【００５１】
図１４は、記録ヘッド２１のノズル構造を説明するための模式的側断面図である。５１０２、５１０４、５１０６および５１０８は、夫々の種類のインクを受容する共通液室であり、この順番にブラック、シアン、マゼンタ、イエローのインクに対応している。これら共通液室５１０２〜５１０８は、ヒータボード４００１および４００２の半導体プロセスが施された面の裏面から、異方性エッチングによって形成される。また、共通液室５１０２〜５１０８は、吐出用のヒータ群（５００３や５００５）に対応した液路群（５００４や５００６）に連通している。個々の液路に供給されたインク中には、記録信号に基づいたヒータの急激な発熱によって発泡が生じ、この発泡エネルギによって所定量のインクが滴として吐出口から記録媒体Ｐに向けて吐出される。本明細書においては、１つのヒータと１つの液路および１つの吐出口によって構成される単位を１つのノズルと定義する。
【００５２】
図１３では、記録ヘッド２１上に４列のノズル列が配備されたように示しているが、実際の本実施形態の記録ヘッドでは、Ｆｉｇ．１４に見るように、１つの共通液室から、その両側に配備された２列のノズル列に同色のインクが供給される構成になっている。ここでは、図１４に向かって左側のノズル列すなわち５００４を偶ノズル、右側のノズル列すなわち５００６を奇ノズルと呼称する。なお、他色の共通液室とノズル列についても同様の構成を有するものとする。但し、このような構成は本発明を特徴付けるものではない。各色インクが１列ずつのノズル列から吐出される構成であっても構わない。
【００５３】
５１０１、５１０３、５１０５および５１０７は、ベースプレート４０００に形成され、共通液室５１０２、５１０４、５１０６、及び５１０８と共に共通液室を構成する。５００１および５００２は、各ノズルを形成したオリフィスプレートであり、通常は耐熱性の樹脂で構成されている。
【００５４】
（第１の実施形態）  
以下、本実施形態における特徴的な構成を説明する。本実施形態は、Ｍ回（Ｍは３以上の奇数回）の走査の双方向記録において使用される段差マスクの構造（記録許容画素の配置）に特徴を持たせるものである。
【００５５】
本実施形態では、２種類のインクの記録が反対方向の走査で許容される画素の割合が２種類のインクの記録が同方向の走査で許容される画素の割合よりも高くなるように、記録許容画素と非記録許容画素が配列された段差マスクを用いる。これにより、図１９（ａ）および（ｂ）で示されるような、２次色メインドットの両側に１次色サテライトが現れる画素の割合を、図９で説明したような、２次色メインドットの片側に２次色サテライトが現れる画素の割合よりも高くできる。
【００５６】
図１９（ａ）および（ｂ）は、同じ画素に対してシアンドット（第１の色のドット）とマゼンタドット（第２の色のドット）が反対方向の走査で記録される画素におけるメインドットとサテライトの関係を示したものである。図１９（ａ）および（ｂ）に示されるように、シアンのサテライト（１次色サテライト）とマゼンタのサテライト（１次色サテライト）がブルードット（２次色メインドット）の両側に分かれて着弾する。すると、メインドットに対するサテライトの分布は一様になるため、サテライトの偏りによる画像弊害は生じない。また、個々のサテライトは１次色であるため、図９（ａ）および（ｂ）のような２次色サテライトが生じる画素に比べて、サテライト自体が目立ちにくくなる。従って、図１９（ａ）および（ｂ）のような画素の割合を図９（ａ）および（ｂ）のような画素の割合よりも多くすることで、より高品位な画像を得ることが可能となる。
【００５７】
また、本実施形態の段差マスクでは、フラットマスクに比べて、往路走査と復路走査の記録許容率の差を小さくしている。すなわち、Ｍ（Ｍは３以上の奇数）回の走査の双方向記録モードで使用されるフラットマスクでは、往路走査と復路走査の記録許容率の差は１００／Ｍ（％）となる。上述したように、往復の記録許容率差が１００／Ｍ（％）の場合、色むらや濃度むらが目立つ場合がある。そこで、本実施形態では、往復の記録許容率差（つまり、往方向への移動中に記録可能な画素の割合と復方向への移動中に記録可能な画素の割合との差）が１００／Ｍ（％）より小さい段差マスクを用いる。Ｍ（Ｍは３以上の奇数）回の走査を行う場合、往方向と復方向のうちの一方の方向への走査が{（Ｍ−１）／２}回行われ、他方の方向への走査が{（Ｍ＋１）／２}回行われる。従って、一方の方向への{（Ｍ−１）／２}回の走査での記録許容率の和と他方の方向への{（Ｍ＋１）／２}回の記録許容率の和の差が１００／Ｍ（％）より小さくなるように、マスクパターンの記録許容画素を配置すればよい。これにより、フラットマスクを用いる場合よりも、色むらや濃度ムラを軽減することができる。
【００５８】
以下、本実施形態で用いる段差マスクの構成について具体的に説明する。図１５は、本実施形態で採用するＭ＝３パス用のマスクの構造を、シアン用のノズル列１５０１とマゼンタ用のノズル列１５０２に分けて説明するための模式図である。ここでは簡単のため、シアンおよびマゼンタの各ノズル列は１９２個ずつのノズルを備えているものとする。シアン用のノズル列１５０１は、６４ノズルずつの３つのブロックＡ〜Ｃに分割（３分割）される。そして、個々のブロックでは、ノズル並び方向（副走査方向）が１６画素×主走査方向が３２画素の領域を有するマスクパターンが使用される。これらマスクパターンが、同一画像領域に対応したシアンの画像データを記録ヘッドの３回の走査夫々で記録するための画像データに分割するための画像データ分割手段として機能する。例えば、Ａブロック用のマスクパターンは、マスクパターンＡ１０がノズル並び方向に４つ配置されて構成されている。同様に、Ｂブロック用のマスクパターンは４つのマスクパターンＢ１０、Ｃブロック用のマスクパターンは４つのマスクパターンＣ１０で、それぞれ構成されている。また、同一画像領域に対する３パスのうち、１パス目ではマスクパターンＣ１０が使用され、２パス目ではマスクパターンＢ１０が使用されなお、３パス目ではマスクパターンＡ１０が使用される。
【００５９】
一方、マゼンタのノズル列１５０２は、ノズル並び方向にＤ〜Ｆの３つのブロックに分割され、夫々のブロックではマスクパターンＤ１０、Ｅ１０およびＦ１０がそれぞれ使用される。また、同一画像領域に対する３パスのうち、１パス目ではマスクパターンＦ１０が使用され、２パス目ではマスクパターンＥ１０が使用されなお、３パス目ではマスクパターンＤ１０が使用される。
【００６０】
図１６は、本実施形態で使用するマスクパターンＡ１０〜Ｆ１０の内容を説明するための図である。副走査方向が１６画素×主走査方向が３２画素の領域からなるマスクパターンは、記録許容画素（黒で示される画素）あるいは非記録許容画素（白で示される画素）の配列によって構成されている。３種類のマスクパターンＡ１０、Ｂ１０およびＣ１０は互いに補完の関係を有し、これらを重ね合わせることによって、１６画素×３２画素の領域に含まれる全ての画素それぞれに対し、１回ずつ記録が許容される。すなわち、シアンのノズル列１５０１の記録走査と、６４画素の紙送り（副走査）を交互に繰り返すことにより、記録媒体の同一画像領域には、３回の記録走査夫々でマスクパターンに従った間引き画像が形成される。これにより、同一画像領域には１００％のシアン画像が記録可能となる。
【００６１】
マゼンタについても同様の関係が成り立つ。すなわち、マスクパターンＤ１０、Ｅ１０およびＦ１０は互いに補完の関係を有し、これらを重ね合わせることによって、画像データに基づいた１００％のマゼンタ画像が記録される。
【００６２】
本実施形態では、シアン用のマスクパターンＡ１０〜Ｃ１０とマゼンタ用のマスクパターンＤ１０〜Ｆ１０との間に、以下に示す特別な関係を持たせることを特徴とする。
（１）マスクパターンＡおよびマスクパターンＤの記録許容率は３０％である。
（２）マスクパターンＢおよびマスクパターンＥの記録許容率は４０％である。
（３）マスクパターンＣおよびマスクパターンＦの記録許容率は３０％である。
（４）マスクパターンＡ１０⊆マスクパターンＥ１０
すなわち、マスクパターンＡ１０の記録許容画素の全てが、マスクパターンＥ１０の記録許容画素になっている。つまり、マゼンタドットとシアンドットが記録される画素のうち、３パス目でシアンドットが記録される画素には、３パス目とは走査方向が逆の２パス目でマゼンタドットが記録されることになる。
（５）マスクパターンＦ１０⊆マスクパターンＢ１０
すなわち、マスクパターンＦ１０の記録許容画素の全てが、マスクパターンＢ１０の記録許容画素になっている。つまり、マゼンタドットとシアンドットが記録される画素のうち、１パス目でマゼンタドットが記録される画素には、１パス目とは走査方向が逆の２パス目でシアンドットが記録されることなる。
（６）マスクパターンＡ１０とマスクパターンＤ１０は記録許容画素が互いに排他の関係にある。つまり、３パス目ではシアンドットとマゼンタドットが同じ画素に記録されることはない。
（７）マスクパターンＢ１０とマスクパターンＥ１０は記録許容画素が互いに排他の関係にある。つまり、２パス目ではシアンドットとマゼンタドットが同じ画素に記録されることはない。
（８）マスクパターンＣ１０とマスクパターンＦ１０は記録許容画素が互いに排他の関係にある。つまり、１パス目ではシアンドットとマゼンタドットが同じ画素に記録されることはない。
【００６３】
図１７は、上記８つの条件を全て満たした場合の、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。図１７を参照しながら、上記条件を満たす本実施形態の効果を説明するために、シアンのノズル列１５０１の各ブロックでシアンドットが記録される画素に対するマゼンタドットの記録方向を考える。
【００６４】
まず、ブロックＡでシアンドットが記録される画素群に着目すると、条件（４）によりこれら全ての画素群はブロックＥによって記録される。すなわち、ブロックＡで記録許容されるシアン３０％の全てに対し、反対方向の記録走査でマゼンタが記録される。
【００６５】
次に、ブロックＢでシアンドットが記録される画素群に着目すると、条件（７）によりこれら全ての画素群はブロックＥによって記録されることはない。すなわち、ブロックＢで記録許容されるシアン４０％の全てに対し、ブロックＤまたはブロックＦのいずれかによって、反対方向の記録走査でマゼンタが記録される。
【００６６】
さらに、ブロックＣでシアンドットが記録される画素群に着目すると、図１７を参照するに、これら画素群のうち２０％はブロックＤによって、１０％はブロックＥによってマゼンタドットが記録される。すなわち、ブロックＡで記録許容されるシアン３０％のうち、１０％がブロックＥによって反対方向の記録走査でマゼンタが記録される。
【００６７】
すなわち、シアンドットとマゼンタドットが、反対方向の記録走査で記録される画素の割合（確率）は３０％＋４０％＋１０％＝８０％となり、同じ方向の記録走査で記録される画素の割合（２０％）に比べてはるかに高い値となる。従って、図１９で説明したような、２次色メインドットの両側に１次色サテライトが現れる画素の割合を、図９で説明したような、２次色メインドットの片側に２次色サテライトが現れる画素の割合よりも高くできる。これにより、サテライトの偏りが抑制され、且つサテライト自体が視認されにくい、高品位画像を得ることが可能となる。
【００６８】
図１６に示したＡ１０〜Ｆ１０のマスクパターンは、上記８つの条件を全て満たしている。但し、１６画素×３２画素という限られた領域では、記録許容率を正確に３０％や４０％に設定することは出来ないので、各パターン同士の記録許容画素の重複率は厳密には図１７のようにはならない。図１８は、図１６に示したＡ１０〜Ｆ１０のマスクパターンを実際に採用した場合の、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。個々の重複率に多少の端数は生じているが、図１７に示した値に近いことが確認できる。
【００６９】
以上説明したように本実施形態によれば、上記（１）〜（３）に加え（４）〜（８）の条件を満たすように、シアン用のノズル列に対するマスクパターンと、マゼンタ用のノズル列に対するマスクパターンを用意する。そして、これらマスクパターンに基づいて奇数回走査のマルチパス記録を行う。これにより、シアンドットとマゼンタドットを異なる方向の走査で記録可能な画素の割合（確率）が、シアンドットとマゼンタドットを同じ方向の走査で記録な画素の割合よりも高くなる。また、本実施形態の段差マスクでは、往復の記録許容率差が２０％となるので、フラットマスクを用いた場合の往復の記録許容率差（１００／３％）よりも小さくなる。結果、往路方向の走査と復路方向の走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを、より効果的に抑制することが可能になる。
【００７０】
（第２の実施形態）
図２０は、本実施形態で採用するマスクの構造を、シアン用のノズル列１５０１とマゼンタ用のノズル列１５０２に分けて説明するための模式図である。本実施形態においても第１の実施形態と同様、各ノズル列は１９２個ずつのノズルを備え、それぞれが６４ノズルずつの３つのブロックＡ〜ＣおよびＤ〜Ｆに分割される。本実施形態においても、個々のブロックでは、ノズル並び方向（副走査方向）が１６画素×主走査方向が３２画素の領域を有するマスクパターン（Ａ１２〜Ｆ１２）が使用される。
【００７１】
図２１は、本実施例で使用するマスクパターンＡ１２〜Ｆ１２の内容を説明するための図である。副走査方向が１６画素×主走査方向が３２画素の領域からなるマスクパターンは、記録許容画素および非許容画素の配列によって構成されている。第１の実施形態と同様、マスクパターンＡ１２、Ｂ１２およびＣ１２は互いに補完の関係を有し、これらを重ね合わせることによって、１６画素×３２画素に含まれる全ての画素それぞれに対し、１回ずつ記録が許容される。マスクパターンＤ１２、Ｅ１２およびＦ１２の関係についても同様である。
【００７２】
本実施形態のマスクパターンにおいては、シアン用のマスクパターンＡ１２〜Ｃ１２とマゼンタ用のマスクパターンＤ１２〜Ｆ１２の間に以下に示す特別な関係を持たせることを特徴とする。
（１）マスクパターンＡおよびマスクパターンＤの記録許容率は３０％である。
（２）マスクパターンＢおよびマスクパターンＥの記録許容率は４０％である。
（３）マスクパターンＣおよびマスクパターンＦの記録許容率は３０％である。
（４）マスクパターンＡ１２の記録許容画素の大部分が、マスクパターンＥ１２の記録許容画素になっている。
（５）マスクパターンＦ１２の記録許容画素の大部分が、マスクパターンＢ１２の記録許容画素になっている。
（６）マスクパターンＡ１２とマスクパターンＤ１２は記録許容画素の大部分が互いに排他の関係にある。
（７）マスクパターンＢ１２とマスクパターンＥ１２は記録許容画素の大部分が互いに排他の関係にある。
（８）マスクパターンＣ１２とマスクパターンＦ１２は記録許容画素の大部分が互いに排他の関係にある。
（９）全てのマスクパターンにおいて、記録許容画素（黒）は主走査方向に隣接しないように配置されている。
【００７３】
本実施例において、（９）の条件は、個々の記録素子の駆動周波数を実質的に低減するために、個々の記録素子の連続した吐出動作を回避するように加えた条件である。そして、この条件を加える変わりに、（４）〜（８）の条件については第１の実施形態に比べて多少の猶予を与えている。すなわち、この第２の実施形態のマスクパターンにおいては、（９）の条件を最優先に満足させながらも、（４）〜（８）の条件が極力満たされるように記録許容画素が配置されている。
【００７４】
図２２は、上記９つの条件を全て満たすように本発明者らが作成したマスクパターンについて、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。図２２を参照しながら、本実施形態のシアンドットが記録される画素に対するマゼンタドットの記録方向を考えると以下のようになる。
【００７５】
まず、ブロックＡでシアンドットが記録されブロックＥでマゼンタドットが記録される割合、すなわちパターンＡ１２とパターンＥ１２の重複率は、２６．３％となる。また、ブロックＢでシアンドットが記録されブロックＤまたはＦでマゼンタドットが記録される割合、すなわちパターンＢとパターンＤの重複率およびパターンＢとパターンＦの重複率の和は、５．０８％＋３１．２５％＝３６．３３％となる。さらに、ブロックＣでシアンドットが記録されブロックＥでマゼンタドットが記録される割合、すなわちパターンＣ１２とパターンＥ１２の重複率は、９．３８％となる。以上より、シアンドットとマゼンタドットが、互いに異なる方向の記録走査で記録される画素の割合（確率）は２６．３％＋３６．３３％＋９．３８％＝７２．０２％となる。従って、反対方向で記録される画素の割合（７２．０２％）は、同じ方向の記録走査で記録される画素の割合（１７．９８％）に比べてはるかに高い値となる。よって、図１９（ａ）および（ｂ）で説明したような、２次色メインドットの両側に１次色サテライトが現れる画素の割合を、Ｆｉｇ．９（ａ）および（ｂ）で説明したような、２次色メインドットの片側に２次色サテライトが現れる画素の割合よりも高くできる。これにより、サテライトの偏りが抑制され、且つサテライト自体が視認されにくい、高品位画像を得ることが可能となる。
【００７６】
以上説明したように本実施形態によれば、上記（１）〜（３）に加え（４）〜（９）の条件を満たすように、シアン用のノズル列に対するマスクパターンと、マゼンタ用のノズル列に対するマスクパターンを用意する。そして、これらマスクパターンに基づいて奇数回走査のマルチパス記録を行う。これにより、シアンドットとマゼンタドットが互いに異なる方向の記録走査で記録される画素の割合（確率）を、同じ方向の記録走査で記録される画素の割合よりも高くできる。また、本実施形態の段差マスクでは、往復の記録許容率差が２０％となるので、フラットマスクを用いた場合の往復の記録許容率差（１００／３％）よりも小さくなる。結果、往路方向の走査と復路方向の走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを、より効果的に抑制しながらも、個々のノズルの駆動周波数を実質的に低減することが可能になる。
【００７７】
（その他の実施形態）
上記実施形態では、図１１を用いて、ユーザが直接アクセスする情報処理装置１００と記録装置２００とを連結した記録システムとして説明してきたが、本発明はこのような構成に限定されるものではない。ユーザが、直接記録装置にアクセスして記録モードを設定する構成であってもよい。この場合、記録装置の操作パネルにおいてユーザが複数の記録モードの中から実行すべき１つの記録モードを選択し、選択された記録モードが記録装置２００において設定されることになる。また、上記実施形態で使用したマスクパターンは、記録装置２００のメモリ（ＲＯＭ２１１）に格納されていてもよいが、情報処理装置１００のメモリに格納されている形態であっても構わない。この場合、画像データと共に記録モードに対応したマスクパターンが記録装置に転送されたり、あるいはマスクパターンによって処理された画像データが個々の記録走査における記録信号として記録装置に転送されたりすればよい。
【００７８】
また、上述した実施形態では、シアンとマゼンタの２種類のインクを例に挙げて説明したが、本発明を適用できる２種類のインクはシアンおよびマゼンタのインクに限られるものではない。例えば、イエローとマゼンタの２種類のインクに対して上述したマスクパターンを適用することもできる。また、上記の実施形態では、２種類のインク（シアン、マゼンタ）に対応した２種類のマスクパターンの記録許容率の分布はどちらも同じになっているが、２種類のインク間で記録許容率の分布を異ならせても構わない。例えば、一方のインク（例えば、シアン）の記録許容率は１〜３パス目で夫々３０％、４０％、３０％とし、他方のインク（例えば、マゼンタ）の記録許容率は１〜３パス目で夫々２８％、４４％、２８％としてもよい。但し、２種類のインクの記録が異なる方向の移動で許容される画素の割合が２種類のインクの記録が同じ方向の移動で許容される画素の割合よりも高くなるように、２種類のマスクパターンの記録許容画素が配列されている必要がある。
【００７９】
また、上記の実施形態では、Ｍ（Ｍは３以上の奇数）パスの双方向記録モードにおいて、往復の記録許容率差が１００／Ｍ（％）より小さい段差マスクを用いているが、本発明はこれに限られるものではない。サテライトの配置偏りに起因する画像弊害を抑制するには、所定の２種類のインクが異なる方向の走査で記録される画素の割合を、所定の２種類のインクが同じ方向の走査で記録される画素の割合よりも高くすればよい。従って、この条件を満たすマスクを用いれば、本発明の第１の目的は達成されるので、往復の記録許容率の差が１００／Ｍ（％）より小さい段差マスクを用いることは必須ではない。しかし、往復の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りに起因する画像弊害とを同時に解決するには、往復の記録許容率の差が１００／Ｍ（％）より小さい段差マスクを用いることが好適である。なお、往復の記録許容率の差とは、往方向への移動中に記録可能な画素の割合と復方向への移動中に記録可能な画素の割合との差である。
【００８０】
また、上記第１および第２の実施形態では、Ｍ（Ｍは３以上の奇数）パスの双方向記録モードとして、３パスモードについて説明したが、本発明は５パス、７パス等の奇数パスモードに広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】（ａ）〜（ｃ）は、吐出特性にばらつきが含まれていない記録ヘッドの記録状態を説明するための図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）は、吐出特性にばらつきが含まれている記録ヘッドの記録状態を説明するための図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は、図２（ａ）〜（ｃ）で示したような記録ヘッドを用いてマルチパス記録を行った場合の記録状態を説明するための図である。
【図４】（ａ）〜（ｃ）は、連続する３回の記録走査における、個々のノズルが記録するドットの配置を示すための図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）は、偶数のマルチパス記録（４パス）と奇数のマルチパス記録（３パス）の違いを説明するための模式図である。
【図６】３パスのマルチパス記録における往路走査および復路走査の記録許容率を説明するための模式図である。
【図７】記録ヘッドのノズル列を３つのブロックに分割し、両端部ブロックの記録許容率を３０％、中央部ブロックの記録許容率を４０％とした例を示した模式図である。
【図８】記録媒体における主滴によって形成されるメインドットとサテライトとの位置関係を説明するための模式図である。
【図９】（ａ）および（ｂ）は、シアンとマゼンタのドットを重ね合わせてブルーを表現する場合を示す図である。
【図１０】記録ヘッドのノズル列を３つのブロックに分割し、両端部ブロックの記録許容率を３０％、中央部ブロックの記録許容率を４０％としたマスクを、シアンおよびマゼンタの両方に使用した例を示した模式図である。
【図１１】本発明の実施形態に適用可能な記録装置本体と情報処理装置（ホストコンピュータ）とを含む記録システムの制御構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明に適用可能なインクジェット記録装置の内部構造を説明するための斜視図である。
【図１３】ヘッドカートリッジ１０００の詳細を説明するための斜視図である。
【図１４】記録ヘッドのノズル構造を説明するための模式的側断面図である。
【図１５】第１の実施形態で採用するマスクの構造を、シアン用のノズル列１５０１とマゼンタ用のノズル列１５０２に分けて説明するための模式図である。
【図１６】第１の実施形態で使用するマスクパターンＡ１０〜Ｆ１０の内容を説明するための図である。
【図１７】第１の実施形態の条件を全て満たした場合の、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。
【図１８】Ａ１０〜Ｆ１０のマスクパターンを実際に採用した場合の、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。
【図１９】同じ画素に対してシアンドットとマゼンタドットが反対方向の走査で記録される画素におけるメインドットとサテライトの関係を示した図である。
【図２０】第２の実施形態で採用するマスクの構造を、シアン用のノズル列１５０１とマゼンタ用のノズル列１５０２に分けて説明するための模式図である。
【図２１】第２の実施形態で使用するマスクパターンＡ１２〜Ｆ１２の内容を説明するための図である。
【図２２】第２の実施形態の条件を満たすように本発明者らが作成したマスクパターンについて、各パターン同士の記録許容画素の重複率を示した図である。
【図２３】２パス記録で用いるマスクパターンを説明するための図である。
【符号の説明】
【００８２】
２      キャリッジユニット
３      ホルダ
４      カートリッジ固定レバー
５      フレキシブルケーブル
６      プーリ
７      キャリッジベルト
８      ガイドシャフト
９      フォトカプラ
１０      遮光板
１２      ホームポジションユニット
１３      排出ローラ
１４      ラインフィードユニット
１５      インクタンク
１６      インクタンク
１７      インク供給口
１８      インク供給口
１９      電気コンタクト
２０      供給管
２１      記録ヘッド
１００    情報処理装置
２００    記録装置
２０２    ヘッド駆動回路
２０４    キャリッジモータ
２０６    搬送モータ
２１０    ＣＰＵ
２１１    ＲＯＭ
２１２    ＲＡＭ
２１３    コントローラ
１０００  ヘッドカートリッジ
１４０３  主滴
１４０４  副滴
１５０１  シアンノズル列
１５０２  マゼンタノズル列
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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