(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの試験装置であって、
前記各活線側導体に接触させ得る活線側接触部及び各非活線側導体に接触させ得る非活線側接触部を有するテストプラグ接続部と、
前記活線側接触部及び非活線側接触部にそれぞれ対応させて配設した第１の発光部、前記電源側及び負荷側で対応する同相の前記各活線側接触部及び非活線側接触部間の状態を表すように構成した第２の発光部、前記電源側の相間で隣接する前記活線側接触部間の状態を表すように構成した第３の発光部及び前記負荷側の相間で隣接する前記非活線側接触部間の状態を表すように構成した第４の発光部を有する表示手段と、
前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
前記絶縁異常信号を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように前記表示手段の発光状態を制御するとともに、前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、各活線側導体と各非活線側導体とにおける同一相の各活線側導体と各非活線側導体との間を導通アングルで導通して同一相の前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間に電流を供給する一方、前記電源側で隣接する各活線側導体の間を短絡片で短絡して前記電源側で隣接する各活線側導体の間に電流を供給してそれぞれの導通状態を検出し、この検出状態を表示するように前記表示手段の発光状態を制御する発光制御手段とを有するとともに、
前記テストプラグ接続部は、
前記各相の活線側導体又は非活線側導体にそれぞれ接触するよう筐体である本体から前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記活線側接触部又は非活線側接触部をそれぞれ有する第１の爪部材と、
前記各相の非活線側導体又は活線側導体にそれぞれ接触するよう前記本体に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記非活線側接触部又は活線側接触部をそれぞれ有する第２の爪部材とを有するものであることを特徴とするテストプラグの試験装置。
【請求項２】
請求項１に記載するテストプラグの試験装置において、
前記表示手段における前記第１乃至第４の発光部は液晶で構成したことを特徴とするテストプラグの試験装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載するテストプラグの試験装置において、
前記絶縁検出手段は、
隣接する異なる相間における前記活線側接触部同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記活線側接触部と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側接触部及び負荷側接触部にそれぞれ接続されている一対の測定端子を有することを特徴とするテストプラグの試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はテストプラグの試験装置に関し、特に電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの性能判定、すなわちこのテストプラグの各相間の導通試験や各相間の絶縁性能検査を行う場合に適用して有用なものである。
【背景技術】
【０００２】
電力系統の保護システムとして、例えば、図７に示すようなものがある。この保護システムでは、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂの各相に変流器（ＣＴ）５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂが設けられ、その一端側が中性点Ｎ（以下、変流器５１Ｒ乃至５１Ｂのそれぞれの相をＲ，Ｗ，Ｂ相，中性点Ｎに接続される相をＮ相と称す。）に接続されるとともに、他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂに接続されている。ここで、各過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設けられ、事故時の異常電流に基づき、例えば地絡過電流継電器５５が動作することで送出される信号に基づいて、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂと変圧器５７との間に設けられた遮断器５９を遮断制御するようになっている。
【０００３】
かかる保護システムでは、過電流継電器５３Ｒ乃至５３Ｂ、地絡過電流継電器５５と各変流器５１Ｒ乃至５１Ｂの間で配電盤にテストターミナル５を配設し、変流器側を短絡したテストプラグ３０をテストターミナル５に挿入後、計器、電流発生器等を備えた試験装置を接続して、線路５０Ｒ乃至５０Ｂを活線状態のまま、各過電流継電器５３Ｒ乃至５３Ｂと地絡過電流継電器５５の試験を行っている。
【０００４】
テストターミナル５は、その縦断面図である図８に示すように、開口部であるプラグ挿入口７を形成した箱体６を有しており、この箱体６内には、４組の接点装置１０が上記Ｒ，Ｗ，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。各接点装置１０は、各相に対応する上下一対の可動接触板である電源側導体１１及び負荷側導体２１で構成されている。
【０００５】
一方、試験時においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ３０は、図９に示すように、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。
【０００６】
このテストプラグ３０は、変流器５１Ｒ乃至５１Ｂの２次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片３８により４個の端子３７間を連結接続して各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間を短絡するとともに、他の端子４７に試験装置６０を接続して所定の試験に供している。
【０００７】
テストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されていない状態において、テストターミナル５の電源側の端子１７と負荷側の端子２７間は、電源側導体１１及び負荷側導体２１が接触することにより閉路状態にあり、例えば、図７に示す変流器５１Ｒは、過電流継電器５３Ｒ及び地絡過電流継電器５５と閉回路を形成している。
【０００８】
一方、過電流継電器５３Ｒ乃至５３Ｂ、地絡過電流継電器５５の試験に際しては、プラグ挿入口７を介してテストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されると、各接点装置１０の電源側導体１１及び負荷側導体２１の間が開離される。この結果、例えば、変流器５１Ｒ、過電流継電器５３Ｒ間の接続が遮断されるとともに、短絡片３８により変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂの両端が短絡され、過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂおよび地絡過電流継電器５５が試験装置６０に接続される。
【０００９】
かかる保護システムは、図示はしないが、事故時における線路５０Ｒ乃至５０Ｂの異常な電圧降下を検出するための計器用変圧器（ＰＴ）も通常有しており、かかる計器用変圧器も、変流器５１Ｒ乃至５１Ｂの場合と同様に、配電盤に配設したテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。かくして、線路５０Ｒ乃至５０Ｂの異常電圧降下が検出された場合に、遮断器５９を遮断制御する。
【００１０】
そこで、前記計器用変圧器のテストターミナルに挿入して前記継電器の動作試験等を行うためのテストプラグも存在する。これは、間違ってＣＴ用のテストターミナル５に挿入するのを防止し得るような構造となっているが、図９に示すテストプラグ３０と同様に、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎが並設される等、基本的な構成はテストプラグ３０と同様である。
【００１１】
上述の如きテストプラグ３０は、テストターミナル５等に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。例えば活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎ間の所定の導通が取れていない場合には正確な動作試験ができず、短絡片３８により活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間が短絡されていない場合には、変流器５１Ｒ乃至５１Ｂの２次側が開放されてしまうという不都合を生起するからである。
【００１２】
また、テストプラグ３０の相間絶縁抵抗乃至極間絶縁抵抗の値が十分でない場合には短絡事故を生起するという不都合を生起する。ここで、テストプラグ３０の相間絶縁抵抗とは、電源側乃至負荷側で隣接する異なる相の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎの間の絶縁部材３３による絶縁抵抗（以下同じ）をいい、極間絶縁抵抗とは、同一の相における活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎと非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎとの間の絶縁部材３２による絶縁抵抗（以下同じ）をいう。
【００１３】
そこで、所定の試験に先立ちテストプラグ３０の健全性を確認するための試験装置が、従来より種々提案されている（特許文献１乃至特許文献４参照）。
【００１４】
【特許文献１】特開２００１−２３１１５３号公報
【特許文献２】特開平１０−１９９６１号公報
【特許文献３】特開平０９−１１３５７０号公報
【特許文献４】実開平０５−１７５７７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
上記従来技術に係るテストプラグの試験装置は、試験結果を視覚的に表示する表示部を備えていないか、又は備えていても不十分なものである。すなわち、導通状態乃至絶縁状態を表示する機能を有する場合でも、何れの部分の導通状態が不十分であるのかを一目で視認できるような構造となっていないので、試験結果の迅速な確認という点で難がある。
【００１６】
本発明は、上記従来技術に鑑み、上述の如きテストプラグの試験結果を一見して視認し得る表示部を有するテストプラグの試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの試験装置であって、
前記各活線側導体に接触させ得る活線側接触部及び各非活線側導体に接触させ得る非活線側接触部を有するテストプラグ接続部と、
前記活線側接触部及び非活線側接触部にそれぞれ対応させて配設した第１の発光部、前記電源側及び負荷側で対応する同相の前記各活線側接触部及び非活線側接触部間の状態を表すように構成した第２の発光部、前記電源側の相間で隣接する前記活線側接触部間の状態を表すように構成した第３の発光部及び前記負荷側の相間で隣接する前記非活線側接触部間の状態を表すように構成した第４の発光部を有する表示手段と、
前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗、並びに前記各活線側導体の間及び前記各非活線側導体の間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号を送出する絶縁検出手段と、
前記絶縁異常信号を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように前記表示手段の発光状態を制御するとともに、前記テストプラグ接続部に前記テストプラグを接続した状態で、各活線側導体と各非活線側導体とにおける同一相の各活線側導体と各非活線側導体との間を導通アングルで導通して同一相の前記各活線側導体と前記各非活線側導体との間に電流を供給する一方、前記電源側で隣接する各活線側導体の間を短絡片で短絡して前記電源側で隣接する各活線側導体の間に電流を供給してそれぞれの導通状態を検出し、この検出状態を表示するように前記表示手段の発光状態を制御する発光制御手段とを有するとともに、
前記テストプラグ接続部は、
前記各相の活線側導体又は非活線側導体にそれぞれ接触するよう筐体である本体から前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記活線側接触部又は非活線側接触部をそれぞれ有する第１の爪部材と、
前記各相の非活線側導体又は活線側導体にそれぞれ接触するよう前記本体に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた先端面に前記非活線側接触部又は活線側接触部をそれぞれ有する第２の爪部材とを有するものであることを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
【００１９】
本発明の第２の態様は、
第１の態様に記載するテストプラグの試験装置において、
前記表示手段における前記第１乃至第４の発光部は液晶で構成したことを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
【００２０】
本発明の第３の態様は、
第１又は第２の態様に記載するテストプラグの試験装置において、
前記絶縁検出手段は、
隣接する異なる相間における前記活線側接触部同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記活線側接触部と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側接触部及び負荷側接触部にそれぞれ接続されている一対の測定端子を有することを特徴とするテストプラグの試験装置にある。
【発明の効果】
【００２１】
上記構成の本発明によれば、実際のテストプラグの活線側導体に接触する活線側接触部及び非活線側導体に接触する非活線側接触部とともに、これらの間の部分を位置的に模擬した第１乃至第４の発光部を表示手段が備えており、しかも第１乃至第４の発光部では発光制御手段の制御により所定の導通乃至絶縁状態を視覚的に反映させることができる。この結果、所定の試験結果を容易且つ迅速に視認し得る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
【００２３】
図１は本発明の実施の形態に係るテストプラグの試験装置の全体を示すブロック線図である。同図に示すように、テストプラグ接続部１は、図８に示すテストターミナル５の機能、すなわちテストプラグ３０（図９参照；以下同じ）の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ（図９参照；以下同じ）及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎ（図９参照；以下同じ）とそれぞれ接触して、各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎに試験用の電圧／電流を供給し得るように構成してある。このため、テストプラグ接続部１は、各相の活線側導体１１に接触させ得る活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ及び各非活線側導体２１に接触させ得る非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎを有している。
【００２４】
表示部２は、第１の発光部２Ａ、第２の発光部２Ｂ、第３の発光部２Ｃ及び第４の発光部２Ｄを有している。これらのうち、第１の発光部２Ａは、活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ、１Ｎ及び非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎにそれぞれ対応させて配設したものである。第２の発光部２Ｂは、電源側及び負荷側で対応する同相の各活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ及び非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎ間の状態を表すように構成したものである。第３の発光部２Ｃは、電源側の相間で隣接する活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ間の状態を表すように構成したものである。第４の発光部２Ｄは、負荷側の相間で隣接する非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎの状態を表すように構成したものである。また、第１乃至第４の発光部２Ａ乃至２Ｄは液晶で好適に構成することができる。
【００２５】
絶縁検出部３は、テストプラグ接続部１にテストプラグ３０を接続した状態で、各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎと各非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎとの間の絶縁抵抗である極間絶縁抵抗、並びに各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎの間及び各非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎの間の絶縁抵抗である相間絶縁抵抗を検出し、これらが異常であった場合に絶縁異常信号Ｓ４を送出する。かかる絶縁検出部３の具体的な構成は後で説明する。
【００２６】
発光制御部４は、絶縁異常信号Ｓ４を入力した場合、絶縁異常であることを表示するように表示部２の発光状態を制御する。同時に、この発光制御部４は、後述する各試験モードに基づきテストプラグ接続部１にテストプラグ３０を接続した状態で、表示部２の発光状態を制御する。制御の具体的な態様に関しては後に詳述する。
【００２７】
ここで、図２に基づき試験モードに関して説明しておく。図２（ａ）乃至図２（ｄ）は第１乃至第４のモードにそれぞれ対応する正常な状態の表示部２の表示態様である。同図中、網点部分が点灯されていることを表している。
【００２８】
図２（ａ）に示す第１のモードは、所定の試験に先立ち、表示部２の健全性を確認するためのモードであり、非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎ及び各活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎを所定の治具（例えば図３に示す短絡キャップ１６）で短絡した状態で電源釦スイッチ８を押すことにより選択される。電源釦スイッチ８を押すことにより、第１乃至第４の発光部２Ａが全て点灯された場合、表示部２は健全であると判断することができ、点灯しない部分が存在する場合は、その部分が不良であると判断することができるように構成してある。
【００２９】
図２（ｂ）に示す第２のモードは、モード選択釦９を押すことにより第２のモード選択信号Ｓ２により選択される。この第２のモードは、同一相の各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎと各非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎとの間の導通を検出するモードであり、テストプラグ３０の各端子３７，４７間（図９参照；以下同じ）をコ字状の導通アングル（図示せず）で接続した状態で当該テストプラグ３０をテストターミナル５（図８参照；以下同じ）に挿入してＰＴ回路の電圧を測定する場合等に先立って行なう試験である。この第２のモードでは、図２（ｂ）に示すように、各第１の発光部２Ａと各第２の発光部２Ｂとが点灯された場合に、各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎと各非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎとの間の導通が正常に確保されていると判断でき、点灯しない第２の発光部２Ｂが存在する場合は、その部分が不良であると判断することができる。
【００３０】
図２（ｃ）に示す第３のモードは、モード選択釦９を押すことにより第３のモード選択信号Ｓ３により選択される。この第３のモードは、隣接する活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間の導通を検出するモードであり、変流器５１Ｒ乃至５１Ｂ（図７参照）の２次側が開放されるのを防止してテストプラグ３０の各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間を短絡片３８（図９参照；以下同じ）で短絡し、非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎを介して負荷に電流を供給する場合に先立って行なう試験である。この第３のモードでは、図２（ｃ）に示すように、各第１の発光部２Ａと各第３の発光部２Ｃとが点灯された場合に、各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間が正常に導通されていると判断でき、点灯しない第３の発光部２Ｃが存在する場合は、その部分が不良であると判断することができる。
【００３１】
図２（ｄ）に示す第４のモードは、相間及び極間絶縁抵抗を検出するモードで、前記相間及び極間絶縁抵抗の健全性を検出するための試験を行うモードである。この第４のモードでは、図２（ｄ）に示すように、第１乃至第４の全ての発光部２Ａ乃至２Ｄが点灯されない場合に、テストプラグ３０の相間及び極間絶縁抵抗が正常であると判断でき、何れかの部分の絶縁抵抗が不良の場合には第１乃至第４の発光部４Ａ乃至４Ｄの全てが点灯されるようになっており、このことにより何れかの部分における絶縁抵抗が不良であると判断することができる。ここで、第４のモードにおいて絶縁抵抗の不良が検出されると第１乃至第４の全ての発光部４Ａ乃至４Ｄが発光するので、第１のモードで正常である場合（この場合も全ての発光部４Ａ乃至４Ｄが発光する）と区別する必要がある。かかる区別は、第４のモードにおいて絶縁不良が検出された場合、発光部４Ａ乃至４Ｄを点滅させることにより容易に実現し得る。
【００３２】
図３は本形態に係る試験装置の外観をテストプラグとともに示す斜視図である。同図に示すように、本形態におけるテストプラグ接続部１は、筐体である本体１２から前方に伸ばして屈曲させた第１の爪部材１３と、ヒンジ部１５を介して本体１２に基端部を回動可能に支持されるとともに前方に伸ばして屈曲させた第２の爪部材１４とを有する。ここで、第１の爪部材１３は、全体は絶縁部材で構成してあるが、それぞれの先端面には導電部である非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎ（図３には図示せず）が固着されているおり、各非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎを介して各相の非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎにそれぞれ接触するようになっている。同様に、第２の爪部材１４も、全体は絶縁部材で構成してあるが、それぞれの先端面には導電部である活線側接触部１Ｒ乃至１Ｎが固着されており、各活線側接触部１Ｒ乃至１Ｎを介して各相の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎにそれぞれ接触するようになっている。
【００３３】
表示部２、電源釦スイッチ８及びモード選択釦９は本体１２の表面に配設してある。また、第１の爪部材１３及び第２の爪部材１４の間には、非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎ及び活線側接触部１Ｒ乃至１Ｎに接触して全体を短絡するための導電部材１６ａで形成した短絡キャップ１６を噛ませてある。かかる状態で、電源釦スイッチ８を押せば表示部２の健全性を調べることができる。なお、導電部材１６ａの周囲には感電防止のための絶縁物で周囲を囲んだ絶縁壁１６ｂが設けられている。
【００３４】
かかる本形態においては、ヒンジ部１５を回動中心として第２の爪部材１４を、図中に一点鎖線で示すように回動することによりその先端部を開き、かかる状態でテストプラグ３０の非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎ及び活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎを第１の爪部材１３と第２の爪部材１４との間で把持することによりテストプラグ３０の所定の検査の準備が完了する。
【００３５】
図４は本形態に係る試験装置の表示部の詳細な構成を示す回路図である。図４中において各発光部２Ａ，２Ｂ，２Ｃ，２Ｄは網点を付して示した部分で、液晶で形成してある。ここで、第１の発光部２Ａは、図４中で上段の左側から順に非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎ側のＲ相，Ｗ相，Ｂ相，Ｎ相をそれぞれ表わしており、下段の左側から順に活線側接触部１Ｒ乃至１Ｎ側のＲ相，Ｗ相，Ｂ相，Ｎ相をそれぞれ表わしている。第２の発光部２Ｂは左側から順にＲ相，Ｗ相，Ｂ相，Ｎ相の非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎと活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎとの間のものであることを表している。同様に、第３の発光部２Ｃ及び第４の発光部２Ｄは、左側から順に活線側接触部１Ｒ乃至１Ｎ側におけるＲ相−Ｗ相間，Ｗ−Ｂ相間，Ｂ−Ｎ相間及び非活線側接触部１´Ｒ乃至１´Ｎ側におけるＲ相−Ｗ相間，Ｗ−Ｂ相間，Ｂ−Ｎ相間のものであることを表している。
【００３６】
第１乃至第４の発光部２Ａ乃至２Ｄはａ接点ａ１乃至ａ１８の閉成により選択的に点灯される。したがって、ａ接点ａ１乃至ａ１８の開閉を発光制御部４の接点制御部（図示せず）で適宜制御すれば、図２に示すような各モードにおける表示部２の表示状態を構築することができる。
【００３７】
図５は本形態に係る試験装置における発光制御部の詳細な構成を示す回路図である。図２（ａ）に示す第１のモードにおいては、電源釦スイッチ８を押すが、このことによりリレーＲ０が電源１８に接続される結果、このリレーＲ０が付勢される。この場合には、接点制御部（図示せず）を介して図４の全てのａ接点ａ１乃至ａ１８を閉成するように構成してある。したがって、正常時には図２（ａ）に示すような表示となる。一方、点灯されない発光部２Ａ乃至２Ｄがあればその部分で表示部２の不良を生起していることを視認し得る。
【００３８】
図２（ｂ）に示す第２のモードでは、第１の爪部材１３と第２の爪部材１４との間にテストプラグ３０の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎを把持した状態でモード選択釦９の操作により第２のモード選択信号Ｓ２を送出する。ここで、テストプラグ３０の端子３７，４７間はコ字状金属で電源側と負荷側とが接続されているので、第２のモード選択信号Ｓ２により接点ａ２０が閉成されると同時に、他からの制御により接点ａ２１乃至ａ２４が閉成されると、所定通り同相の電源側と負荷側とが接続されている場合には、リレーＲ１乃至Ｒ４が動作する。この結果、接点制御部を介してａ接点ａ１乃至ａ１８が選択的に閉成されて、正常時には図２（ｂ）に示すような表示となる。一方、電源側と負荷側とが何らかの原因で接続されていない場合には、対応する相のリレーＲ１乃至Ｒ４は動作しない。そこで、この状態を反映すべく何れかの発光部２Ｂを発光させないことで不良部分を視認し得る。
【００３９】
図２（ｃ）に示す第３のモードでは、第１の爪部材１３と第２の爪部材１４との間にテストプラグ３０の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎを把持した状態でモード選択釦９の操作により第３のモード選択信号Ｓ３を送出する。第３のモードでは、テストプラグ３０の電源側の端子４７間が短絡片３８により短絡されている。そこで、第３のモード選択信号Ｓ３により接点ａ３０を閉成するとともに、他からの次のような制御により各接点の開閉を制御する。
【００４０】
１）  接点ａ２４を閉成する。このとき、リレーＲ４が動作すれば、正常であるので、表示部２は図２（ｃ）に示すように点灯される。
２）  １）でリレーＲ４が動作しなかった場合には、接点ａ２２を閉成する。この結果、リレーＲ２が動作すれば活線側接触部１Ｒ，１Ｗ間は正常である。
３）  ２）でリレーＲ２が動作した後、接点ａ２３を閉成する。この結果、リレーＲ３が動作すれば活線側接触部１Ｗ，１Ｂ間は正常である。したがって、活線側接触部１Ｂ，１Ｎ間が異常ということになる。
４）  ２）でリレーＲ２が動作しなかった場合には、活線側接触部１Ｒ，１Ｗ間が異常である反面、活線側接触部１Ｗ，１Ｂ及び活線側接触部１Ｂ，１Ｎ間の正常乃至異常は不明である。そこで、次の２つの手順により活線側接触部１Ｗ，１Ｂ及び活線側接触部１Ｂ，１Ｎ間の状態を検出する。
５）  接点ａ３１，ａ２３を閉成したとき、リレーＲ３が動作すれば、活線側接触部１Ｗ，１Ｂは正常であり、そうでなければ異常である。
６）  接点ａ３１，ａ３２及びａ２４を閉成したとき、リレーＲ４が動作すれば、活線側接触部１Ｂ，１Ｎは正常であり、そうでなければ異常である。
７）  以上の１）乃至６）の処理結果に基づいて接点制御部が発光部２Ａ，２Ｃの点灯を制御する。この結果、全てが正常な場合には、図２（ｃ）のような表示となる。一方、不良箇所に対応する発光部２Ｃは点灯されないので、不良箇所を視認し得る。
【００４１】
図２（ｄ）に示す第４のモードでは、第１の爪部材１３と第２の爪部材１４との間にテストプラグ３０の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎを把持した状態で相間及び極間の絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗が設定値よりも小さい場合には絶縁異常信号Ｓ４で接点ａ４０を閉成する。このとき接点ａ４０をフリッカリレーの接点で形成すればリレーＲ０をフリッカ動作させることができる。この結果、全発光部２Ａ乃至２Ｄが点滅して、絶縁不良部分があることを警告することができる。一方、十分な絶縁抵抗が確保されている場合には発光部２Ａ乃至２Ｄの全てが発光しない。
【００４２】
ここで、第２のモード乃至第４のモードは自動的に遷移する。したがって、表示部２の状態が実施している試験に対応する図２（ｂ）乃至図２（ｄ）に示すような、健全な表示部２となっているか否かを視認すれば良い。
【００４３】
図６は本形態に係る試験装置における絶縁検出部の具体的な構成例を概念的に示す説明図である。本形態における絶縁検出部３は、隣接する異なる相間における活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ同士と非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎ同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎと非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎとがそれぞれ異なる極となるように活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎにそれぞれ接続されている一対の測定端子１９，２０を有している。かかる接続状態は、図示はしないがスイッチ手段の切り替えにより実現できる構造となっている。
【００４４】
さらに詳言すると、＋極となる測定端子１９には、活線側接触部１Ｗ，１Ｎと非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｂとがそれぞれ接続してあり、−極となる測定端子２０には活線側接触部１Ｒ，１Ｂと非活線側接触部１´Ｗ，１´Ｎとがそれぞれ接続してある。この結果、隣接する異なる相間における活線側接触部１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ同士と非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎ同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している活線側接触部１Ｒと非活線側接触部１´Ｒ、活線側接触部１Ｗと非活線側接触部１´Ｗ、活線側接触部１Ｂと非活線側接触部１´Ｂ、活線側接触部１Ｎと非活線側接触部１´Ｎとがそれぞれ異なる極となる。すなわち、＋極となる活線側接触部１Ｗ，１Ｎ及び非活線側接触部１´Ｒ，１´Ｂと、−極となる活線側接触部１Ｒ，１Ｂ及び非活線側接触部１´Ｗ，１´Ｎとは電源側と負荷側とで千鳥状になるように配設してある。
【００４５】
この結果、測定端子１９，２０間にメガーで所定の高電圧を印加すれば、図中に点線で接続したように、異なる相間であれ、同一相間であれ、第１乃至第２の爪部材１３，１４間に把持するテストプラグ３０の活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎ間及び非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎ間並びに相対向する活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎと非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎ間には、所定の高電圧が印加される。この結果、所定の絶縁抵抗を一度に測定することができる。この結果、絶縁抵抗に異常がなければ図５の接点ａ４０が開放されたままであるので、表示部２が発光することはない。異常時のみ接点ａ４０の閉成により発光部２Ａ乃至２Ｄが点滅する。
【００４６】
なお、かかる絶縁測定は、第１のモードのセルフチェックが終了した直後に、第２乃至第３のモードの検査に先立って行なう。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明は電力機器を製造販売する産業分野や、電力設備を保守・点検する産業分野で利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施の形態に係るテストプラグの試験装置の全体を示すブロック線図である。
【図２】図１に示す試験装置の表示部の表示態様を各モード毎に示す説明図である。
【図３】図１に示す試験装置の外観をテストプラグとともに示す斜視図である。
【図４】図１に示す試験装置の表示部の詳細な構成を示す回路図である。
【図５】図１に示す試験装置における発光制御部の詳細な構成を示す回路図である。
【図６】図１に示す試験装置における絶縁検出部の具体的な構成例を概念的に示す説明図である。
【図７】挿入式のテストプラグ及びテストターミナルを有する電力系統の保護システムを示す回路図である。
【図８】テストターミナルを示す縦断面図である。
【図９】テストプラグを示す斜視図である。
【符号の説明】
【００４９】
１              テストプラグ接続部
１Ｒ，１Ｗ，１Ｂ，１Ｎ  活線側接触部
１´Ｒ，１´Ｗ，１´Ｂ，１´Ｎ  非活線側接触部
２              表示部
２Ａ乃至２Ｄ    発光部
３              絶縁検出部
４              発光制御部
８              電源釦スイッチ
９              モード選択釦
１２              本体
１３              第１の爪部材
１４              第２の爪部材
１５              ヒンジ部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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