(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
型内に供給された溶融状態の成形材料が凝固して形成された成形品の撮影により得られた連続断面像の３次元データを記憶する記憶部と、
上記記憶部上の上記３次元データから上記成形品の複数の巣を抽出する巣抽出部と、
上記抽出された複数の巣をそれぞれの形状に基づいて巻き込み巣と引け巣に分別する巣分別部と、
上記巣分別部の分別結果に基づいて、上記巻き込み巣の総体積に相当する巻き込み巣量と上記引け巣の総体積に相当する引け巣量とを求める巣量求出部と、
上記巣量求出部により求められた巻き込み巣量及び引け巣量に基づいて、当該巻き込み巣量及び引け巣量が求められた上記成形品を形成したときの成形条件を変更して新たな成形条件を求める成形条件求出部と、
を有し、
上記成形条件求出部は、
上記巻き込み巣量と引け巣量との合計巣量が所定の許容範囲より大きいと判定した場合に、上記引け巣量が上記巻き込み巣量の所定の割合（１０割であってもよい）以上のときは、第１の鋳造条件変更方法を選択し、そうでないときは、第２の鋳造条件変更方法を選択し、
上記巻き込み巣量と引け巣量との合計巣量が上記許容範囲より小さいと判定した場合に、上記引け巣量が上記巻き込み巣量の所定の割合（１０割であってもよい）以上のときは、第３の鋳造条件変更方法を選択し、そうでないときは、第４の鋳造条件変更方法を選択し、
上記第１及び第２の鋳造条件変更方法は、上記合計巣量を小さくするように、上記巻き込み巣量及び引け巣量のいずれかに係る、成形条件を規定するパラメータの値を増加又は減少させるものであり、上記第３及び第４の鋳造条件変更方法は、上記合計巣量を大きくするように、上記パラメータの値を増加又は減少させるものであり、
上記第１及び第４の鋳造条件変更方法は、上記引け巣量に係るパラメータの値の変更を上記巻き込み巣量に係るパラメータの値の変更に優先させ、上記第２及び第３の鋳造条件変更方法は、上記巻き込み巣量に係るパラメータの値の変更を上記引け巣量に係るパラメータの値の変更に優先させる
成形支援装置。
【請求項２】
請求項１記載の成形支援装置において、
上記第１及び第２の鋳造条件変更方法は、上記パラメータについての値の変更が増加であるか減少であるかは互いに同一であり、いずれのパラメータの値を優先的に変更するかが互いに異なり、
上記第３及び第４の鋳造条件変更方法は、上記パラメータについての値の変更が増加であるか減少であるかは互いに同一であり、いずれのパラメータの値を優先的に変更するかが互いに異なり、
上記第１及び第２の鋳造条件変更方法と、上記第３及び第４の鋳造条件変更方法とでは、上記パラメータについての値の変更が増加であるか減少であるかが互いに異なる
成形支援装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載の成形支援装置において、
上記巣分別部は、所定の基準よりも球形に近似するときは巻き込み巣、上記基準よりも球形に近似しないときは引け巣とする推定に基づいて、上記抽出された複数の巣を巻き込み巣と引け巣に分別する
成形支援装置。
【請求項４】
請求項３記載の成形支援装置において、
上記巣分別部は、巣の体積Ｖｄと巣の表面積Ｓとから比Ｒ１＝Ｓ３／２／Ｖｄを求め、該求めた比Ｒ１が閾値ｔ１より大きい場合は引け巣、小さい場合は巻き込み巣と判定する
成形支援装置。
【請求項５】
請求項３記載の成形支援装置において、
上記巣分別部は、巣の体積Ｖｄと巣の最大幅Ｄｍａｘとから比Ｒ２＝Ｄｍａｘ３／Ｖｄを求め、該求めた比Ｒ２が閾値ｔ２より大きい場合は引け巣、小さい場合は巻き込み巣と判定する
成形支援装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の成形支援装置において、
上記成形品を撮影して上記３次元データを作成するＣＴ装置をさらに有する
成形支援装置。
【請求項７】
型内に供給された溶融状態の成形材料が凝固して形成された成形品の撮影により得られた連続断面像の３次元データから上記成形品の複数の巣を抽出するステップと、
上記抽出された複数の巣をそれぞれの形状に基づいて巻き込み巣と引け巣に分別するステップと、
その分別結果に基づいて、上記巻き込み巣の総体積に相当する巻き込み巣量と上記引け巣の総体積に相当する引け巣量とを求めるステップと、
求められた巻き込み巣量及び引け巣量に基づいて、当該巻き込み巣量及び引け巣量が求められた上記成形品を形成したときの成形条件を変更して新たな成形条件を求めるステップと、
を有し、
上記成形条件を求めるステップでは、
上記巻き込み巣量と引け巣量との合計巣量が所定の許容範囲より大きいと判定した場合に、上記引け巣量が上記巻き込み巣量の所定の割合（１０割であってもよい）以上のときは、第１の鋳造条件変更方法を選択し、そうでないときは、第２の鋳造条件変更方法を選択し、
上記巻き込み巣量と引け巣量との合計巣量が上記許容範囲より小さいと判定した場合に、上記引け巣量が上記巻き込み巣量の所定の割合（１０割であってもよい）以上のときは、第３の鋳造条件変更方法を選択し、そうでないときは、第４の鋳造条件変更方法を選択し、
上記第１及び第２の鋳造条件変更方法は、上記合計巣量を小さくするように、上記巻き込み巣量及び引け巣量のいずれかに係る、成形条件を規定するパラメータの値を増加又は減少させるものであり、上記第３及び第４の鋳造条件変更方法は、上記合計巣量を大きくするように、上記パラメータの値を増加又は減少させるものであり、
上記第１及び第４の鋳造条件変更方法は、上記引け巣量に係るパラメータの値の変更を上記巻き込み巣量に係るパラメータの値の変更に優先させ、上記第２及び第３の鋳造条件変更方法は、上記巻き込み巣量に係るパラメータの値の変更を上記引け巣量に係るパラメータの値の変更に優先させる
成形条件決定方法。
【請求項８】
請求項７に記載の成形条件決定方法において、
上記成形品の形成、上記抽出するステップ、上記分別するステップ、上記巻き込み巣量と引け巣量とを求めるステップ、及び、上記新たな成形条件を求めるステップを繰り返す
成形条件決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、成形品の撮影により得られる連続断面像の３次元データを用いて、成形を支援する成形支援装置に関する。また、成形品の撮影により得られる連続断面像の３次元データを用いて成形条件を決定する成形条件決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
鋳造品の内部に生じる空隙状欠陥である鋳巣は製品の強度等に重大な影響を与える。このため、鋳造品の設計・製造工程においては、鋳巣を少なくしたり、影響が少ない部位に発生させたりする試みがされているが、近年、鋳造品はますます複雑形状になり、要求も高度になっている。
【０００３】
特許文献１においては、検査対象の鋳造品をＸ線ＣＴ撮影して実測モデル１を形成し、その後、この鋳造品に加熱処理をした後、同様にＸ線ＣＴ撮影して実測モデル１を形成する。実測モデル１と２を重ね合わせることによって、熱処理により形状の変化した鋳巣を巻き込み巣、形状変化の無い鋳巣を引け巣と判別している。そして、鋳造品の３次元画像上に巻き込み巣と引け巣を色分けして位置表示し、明確に視認できるようにしている。また、巣の種類による的確な対策を立案して、生産へ反映することができる。
【特許文献１】特開２００５−７７３２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１では巻き込み巣と引け巣を判別するのに、加熱処理をする前後でＸ線ＣＴ撮影して、得られる鋳巣の形状変化が在るか無いかで判別している。これは、加熱処理が必要で、かつ、２回のＸ線ＣＴ撮影が必要となり、検査時間が長くなる問題がある。また、加熱処理で、加熱条件が悪いと鋳造品が変形を起こしたり、巻き込み巣の変形が不十分であったりして、判定が不正確になる問題がある。
【０００５】
本発明の目的は、１回の撮影で巻き込み巣と引け巣とを判別することができる成形支援装置及び成形条件決定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の成形支援装置は、型内に供給された溶融状態の成形材料が凝固して形成された成形品の撮影により得られた連続断面像の３次元データを記憶する記憶部と、上記記憶部上の上記３次元データから上記成形品の複数の巣を抽出する巣抽出部と、上記抽出された複数の巣をそれぞれの形状に基づいて巻き込み巣と引け巣に分別する巣分別部と、を有する。
【０００７】
好適には、上記巣分別部は、所定の基準よりも球形に近似するときは巻き込み巣、上記基準よりも球形に近似しないときは引け巣とする推定に基づいて、上記抽出された複数の巣を巻き込み巣と引け巣に分別する。
【０００８】
好適には、上記巣分別部の分別結果に基づいて、上記巻き込み巣と引け巣それぞれの総体積に相当する巻き込み巣量と引け巣量を求める巣量求出部を有する。
【０００９】
好適には、上記巣量求出部により求められた巻き込み巣量及び引け巣量に基づいて、当該巻き込み巣量及び引け巣量が求められた上記成形品を形成したときの成形条件を変更して新たな成形条件を求める成形条件求出部を有する。
【００１０】
好適には、上記成形条件求出部は、上記巻き込み巣量と引け巣量との相対的な大きさに基づいて、成形条件を規定する複数のパラメータのうち、いずれのパラメータを優先的に変更するか決定し、当該決定に基づいて成形条件を変更して新たな成形条件を求める。
【００１１】
好適には、上記成形品を撮影して上記３次元データを作成するＣＴ装置をさらに有する。
【００１２】
本発明の成形条件決定方法は、型内に供給された溶融状態の成形材料が凝固して形成された成形品の撮影により得られた連続断面像の３次元データから上記成形品の複数の巣を抽出するステップと、上記抽出された複数の巣をそれぞれの形状に基づいて巻き込み巣と引け巣に分別するステップと、その分別結果に基づいて、当該分別結果が求められた上記成形品を成形したときの成形条件を変更して新たな成形条件を求めるステップと、を有する。
【００１３】
好適には、上記成形品の形成、上記抽出するステップ、及び、上記新たな成形条件を求めるステップを繰り返す。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、１回の撮影で巻き込み巣と引け巣とを判別することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
（本発明の第一の実施の形態の構成）
図１は本発明の実施形態に係る、鋳造装置５０の鋳造を支援する鋳造支援装置２及びＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置１の構成を示す図である。
【００１６】
鋳造装置５０は、例えば、コールドチャンバダイカストマシンにより構成されており、固定型５３及び移動型５５を含む鋳型５１の型開閉及び型締を行う不図示の型締装置、型締装置により型締された鋳型５１に形成されたキャビティＣａに成形材料としての溶湯（溶融状態の金属材料）を供給する射出装置５６、並びに、溶湯が固化して形成された鋳造品を固定型５３又は移動型５５から押し出す不図示の押出装置等を含んで構成されている。
【００１７】
射出装置５６は、例えば、キャビティＣａに連通するスリーブ５７と、スリーブ５７内を摺動可能な射出プランジャ５９と、射出プランジャ５９を駆動する不図示の駆動装置とを有している。スリーブ５７内に給湯口５７ａから溶湯が供給され、射出プランジャ５９がキャビティＣａ側に前進することにより、スリーブ５７内の溶湯はキャビティＣａ内へ射出・充填される。
【００１８】
ＣＴ装置１は、被検体１２（本願では鋳造品。以下、「鋳造品１２」ということがある。）の３次元領域に関する投影データを収集し、収集された投影データから連続した平行な複数枚の断面像を特定可能な３次元データを再構成するものである。
【００１９】
ＣＴ装置１は、例えば、ターンテーブル１１上に載置される被検体１２を挟むように放射線源１３と放射線検出器１４とが対向配置される。放射線源１３は、例えばＸ線源が使用され、コリメータを用いて、角錐状に成形されたＸ線ビームを被検体１２に向けて照射する。放射線検出器１４は、例えば角錐ビームに対応し、縦横に配列された複数のＸ線検出素子を有する２次元アレイ型が採用される。
【００２０】
放射線源１３及び放射線検出器１４と、ターンテーブル１１とは、複数の断面像の配列方向（例えば上下方向）および当該配列方向に延びる軸回り（例えば鉛直軸回り）に回転可能に配置され、放射線源１３から発生されたＸ線ビームを被検体１２の全周にわたって照射可能に構成されている。
【００２１】
さらに、放射線検出器１４の出力側には投影データ収集部１５及び再構成処理部１６が設けられている。
【００２２】
投影データ収集部１５は、放射線検出器１４からチャンネルごとに出力される信号をデジタル信号に変換し、投影データとして収集する。
【００２３】
再構成処理部１６は、投影データ収集部１５で収集された被検体の３次元領域に関する投影データから連続した平行な複数枚の断面像（以下３次元データと称する）を再構成し、ＬＡＮ３を介して鋳造支援装置２へ供給するか、鋳造支援装置２からのデータ要求に基づいて再構成された３次元データを送信する。
【００２４】
鋳造支援装置２は通常のコンピュータで、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ：中央演算ユニット）２３、バスライン２１，主メモリ２４、ディスク２５、ＤＶＤドライブ２６、ＬＡＮインターフェース２２、表示出力インターフェース２７、表示器３０、キーボード２８、ポインティングディバイス２９、等で構成されている。他に、筐体、電源等の構成があるが図示省略している。
【００２５】
ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）インターフェース２２は、ＣＴ装置１から送信されてくる３次元データを取り込み、または鋳造支援装置２からのデータ要求指示に基づいてＣＴ装置１から送信されてくる３次元データを取り込む機能を持っている。ＬＡＮインターフェース２２は、取り込んだ３次元データをディスク２５に記憶させる。また、ＬＡＮインターフェース２２は、鋳造装置５０と鋳造支援装置２との間のデータ（例えば鋳造条件を示すデータ）の送受信も仲介する。
【００２６】
主メモリ２４はＣＰＵ２３から高速にランダムアクセスできる揮発性のメモリである。ディスク２５はランダムアクセスできず、アクセス速度も遅い副メモリであるが、不揮発のメモリで、容量は主メモリ２４よりずっと大きい。ここで、ランダムアクセスとは任意の番地のデータをそこだけ取り出すことである。
【００２７】
ＤＶＤドライブ２６は大容量光ディスクであるＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）３１の読取りと書き出しを行なう機能を有し、例えばＣＴ装置１の再構成処理部１６で得られた３次元データをＤＶＤ３１に書き込んだ後、ＤＶＤ３１をＤＶＤドライブ２６に装填し、ＤＶＤ３１から３次元データを読み出して鋳造支援装置２内に取り込むことが可能である。
【００２８】
ＣＰＵ２３は各種のプログラムにしたがって演算処理をするユニットで、プログラムにしたがってキーボード２８やポインティングディバイス２９から情報を読み込み、また、処理の結果を表示出力インターフェース２７を介して表示器３０に表示する。各種プログラムはディスク２５に記憶されており、動作させるときは主メモリ２４に読み出され、ＣＰＵ２３がプログラムを順次読み出しながらこれを実行する。
【００２９】
キーボード２８やポインティングディバイス２９（マウスやトラックボールやタッチパッド）は、ＣＰＵ２３によって実行されるプログラムに従って各種の制御指示データを入力したり、位置指定や必要な選択指示を入力する機能を有する。
【００３０】
図２は鋳造支援装置２のＣＰＵ２３がプログラムを実行することにより構成される各種手段を示すブロック図である。鋳造支援装置２には、鋳巣抽出部４１、鋳巣分別部４２、巣量求出部４３、画像作成部４４、等が構成される。
【００３１】
鋳巣抽出部４１は、ディスク２５に記憶された３次元データを主メモリ２４に読み出して複数の鋳巣の抽出処理を行なう。３次元データの量が多く、すべてが主メモリ２４に記憶できない場合は、順次読み込んで処理を行なう。
【００３２】
鋳巣分別部４２は、抽出された複数の鋳巣それぞれについて、球に近い鋳巣を巻き込み巣、それ以外の鋳巣を引け巣として分別する。これには、球に近いかを示す形状のパラメータを計測し、計測したパラメータの値により鋳巣それぞれを巻き込み巣と引け巣に分ける。
【００３３】
巣量求出部４３は巻き込み巣と引け巣それぞれの体積の総和に相当する巻き込み巣量と引け巣量とを求める。
【００３４】
画像作成部４４は、３次元データを用いて被検体である対象鋳造品の半透明の投影像（３次元画像）を作成し、この３次元画像上に巻き込み巣と引け巣をそれぞれ異なる色で重ねる。
【００３５】
（本発明の第一の実施の形態の作用）
まず、試作した対象鋳造品をＣＴ装置１で撮影する。ＣＴ装置１は再構成した対象鋳造品の３次元データを鋳造支援装置２へ送信する。鋳造支援装置２の鋳巣抽出部４１は、２値化処理およびラベリング処理を用いて、３次元データから鋳巣を抽出する。この処理で複数の巣に対しそれぞれに番号が与えられ、この番号に所属するボクセルが決まる。
【００３６】
次に、鋳巣分別部４２は、抽出された複数の鋳巣それぞれについて、球に近い鋳巣を巻き込み巣、それ以外の鋳巣を引け巣として分別する。これには、球に近いかを示す形状のパラメータを計測し、計測したパラメータの値により鋳巣それぞれを巻き込み巣と引け巣に分ける。具体的には、鋳巣の体積と鋳巣の表面積との比較、あるいは鋳巣の体積と鋳巣の最大幅との比較、により巻き込み巣と引け巣とを分別する。
【００３７】
鋳巣の体積（相当値）と鋳巣の表面積（相当値）との比較で分別する場合は、
例えば、式、
鋳巣体積Ｖｄ＝ボクセル数×ボクセル体積                  ………（１）
鋳巣表面積Ｓ＝外表面ボクセル数×１ボクセル面積          ………（２）
比Ｒ１＝（Ｓ）３／２／Ｖｄ                                ………（３）
で鋳巣表面積Ｓの３／２乗と鋳巣体積Ｖｄとの比Ｒ１を求め、比Ｒ１が予め設定した閾値ｔ１より大きい場合は引け巣、小さい場合は巻き込み巣と判定する。ここで、Ｓを３／２乗して比Ｒ１を無次元化することで、比Ｒ１をサイズに依存しない形状だけのパラメータとしている。すなわち、比Ｒ１は相似形でサイズの違う鋳巣にたいし概略同じ値となる。なお、（２）式で、１ボクセル面積はボクセルの表面積に定数を掛けた値である。
【００３８】
鋳巣の体積（相当値）と鋳巣の最大幅（相当値）との比較で分別する場合は、例えば、鋳巣体積Ｖｄは式（１）で求め、最大幅Ｄｍａｘ（相当値）は式、
最大幅Ｄｍａｘ＝鋳巣に外接する直方体の対角線長さ        ………（４）
あるいは、
最大幅Ｄｍａｘ＝鋳巣内の２ボクセル間距離の最大値        ………（４'）
あるいは、
最大幅Ｄｍａｘ＝鋳巣に外接する円の直径                  ………（４''）
で求め、式、
比Ｒ２＝（Ｄｍａｘ）３／Ｖｄ                            ………（５）
で最大幅の３乗と体積の比Ｒ２を求め、比Ｒ２が予め設定した閾値ｔ２より大きい場合は引け巣、小さい場合は巻き込み巣と判定する。ここで、最大幅を３乗して比Ｒ２を無次元化することで、比Ｒ２をサイズに依存しない形状だけのパラメータとしている。すなわち、比Ｒ２は相似形でサイズの違う鋳巣にたいし概略同じ値となる。
【００３９】
次に、巣量求出部４３は巻き込み巣と引け巣それぞれの体積の総和に相当する巻き込み巣量Ｖｍと引け巣量Ｖｈとそれらの和である合計巣量Ｖｔを求める。ここで、Ｖｍ，Ｖｈ，Ｖｔはボクセル個数単位でも、ｍｍ２単位でもよく、また、対象鋳造品全体の体積に対する％値であってもよい。
【００４０】
また、巻き込み巣量Ｖｍと引け巣量Ｖｈと合計巣量Ｖｔを求める際、総和をとる領域は必ずしも対象鋳造品全体に限られず、重要部位に限って総和をとって求めても良く、複数部位に分けて部位ごとに重要度に応じた異なる重み係数を掛けて総和をとってもよい。また、合計巣量を求めるとき、巻き込み巣と引け巣それぞれの体積の単純加算でなく、巻き込み巣と引け巣でそれぞれ異なる重み係数を掛けて加算してもよい。
【００４１】
次に、画像作成部４４は、３次元データを用いて被検体である対象鋳造品の半透明の投影像（３次元画像）を作成し、この３次元画像上に巻き込み巣と引け巣をそれぞれ異なる色で重ねる。
次に、この半透明の投影像とＶｍ，Ｖｈ，Ｖｔの値が表示器３０に表示される。
【００４２】
操作者は、半透明の投影像を目視し、巻き込み巣と引け巣の分布状態を確認できる。また、操作者は、巻き込み巣量Ｖｍと引け巣量Ｖｈと合計巣量Ｖｔを反映させて鋳造条件を変更する。
【００４３】
ここで、鋳造条件には、例えば下記の４つのパラメータがある。
１．高速区間長：鋳造時、スリーブ５７に収めた溶湯を射出プランジャ５９で押し出して鋳型５１の中へ射出するが、射出プランジャ５９は、前半は、空気若しくは不活性ガスの巻き込みを防止するために低速で、後半は、サイクルタイム短縮等の目的から高速で押し出される。このときの後半の移動区間の長さを高速区間長という。
２．高速速度：射出プランジャ５９の高速区間での移動速さである。
３．鋳造圧力：鋳型５１に溶湯が完全に充填された後、さらに射出プランジャ５９で押し付けて圧力を掛けながら溶湯を凝固させるが、このときの圧力を鋳造圧力（終圧）という。
４．昇圧時間：溶湯に圧力を掛ける時、徐々に圧力を上げ鋳造圧力に収束させるが、その鋳造圧力に上げるまでの時間を昇圧時間という。なお、昇圧時間の開始時点は、例えば、射出プランジャ５９の減速開始時点、減速開始直後（鋳造圧力に到達する前）のサージ圧力発生時点、増圧機構を有している場合にその増圧機構の駆動開始時点である。
【００４４】
鋳造条件の変更は、まず、合計巣量Ｖｔが許容範囲（の上限値）よりも大きい場合、巣量を減らすため、次の変更を行う。
【００４５】
引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍの場合：次の優先度でパラメータ変更をする。
１．昇圧時間を下げる（昇圧時における圧力の増加率を大きくする）
２．鋳造圧力を上げる
３．高速速度を上げる
４．高速区間長を下げる（低速から高速への切換位置をキャビティ側へ移動させる）
【００４６】
引け巣量Ｖｈ＜巻き込み巣量Ｖｍの場合：次の優先度でパラメータ変更をする。
１．高速区間長を下げる
２．高速速度を上げる
３．昇圧時間を下げる
４．鋳造圧力を上げる
【００４７】
他方、合計巣量Ｖｔが許容範囲（の下限値）よりも小さい場合、射出プランジャ５９や射出プランジャ５９を駆動する駆動装置（例えば油圧シリンダ）などの鋳造装置５０の構成部品や鋳型５１の負荷を低減させるため、次の変更を行なう。
【００４８】
引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍの場合：次の優先度でパラメータ変更をする。
１．鋳造圧力を下げる
２．高速速度を下げる
３．高速区間長を上げる
【００４９】
引け巣量Ｖｈ＜巻き込み巣量Ｖｍの場合：次の優先度でパラメータ変更をする。
１．高速区間長を上げる
２．鋳造圧力を下げる
３．高速速度を下げる
【００５０】
以上のパラメータ変更で各パラメータには上限と下限が設けられる。パラメータ変更における優先度の具体的施行としては、例えば、優先度の一番高いパラメータのみを変更し、一番優先度の高いパラメータがすでに上限あるいは下限に達していた場合、次に優先度の高いパラメータを変更する、というように、限度に達していない最高優先度のパラメータのみを変更する。また、限度に達していない最高優先度のパラメータの変更度を大きく、限度に達していない２番目の優先度のパラメータの変更度を小さくして変更するような方法でも良い。
【００５１】
このように鋳造条件を変更し再度鋳造を行なう。再度鋳造された対象鋳造品を再度ＣＴ装置１で撮影し、以上の作用を繰り返す。これにより、巻き込み巣量と引け巣量を減らす最適な鋳造条件を決定することができる。
【００５２】
なお、合計巣量Ｖｔが許容範囲よりも大きい場合は合計巣量Ｖｔが小さくなるように、合計巣量Ｖｔが許容範囲よりも小さい場合は合計巣量Ｖｔが大きくなるようにパラメータ変更を行うのであるから、合計巣量Ｖｔは許容範囲に収束していく。すなわち、上記の例では、許容範囲は目標値としても捉えられる。
【００５３】
（第一の実施の形態の効果）
第一の実施の形態によれば、球に近い鋳巣を巻き込み巣、それ以外の鋳巣を引け巣として分別するので、加熱処理が不要で、１回のＸ線ＣＴ撮影で巻き込み巣と引け巣を判別することができる。
【００５４】
また、巻き込み巣量と引け巣量を反映させて次の鋳造条件を設定できるので、少ない繰り返し回数で巻き込み巣量と引け巣量の少ない最適な鋳造条件を決定できる。
【００５５】
（第一の実施の形態のフローチャートの例示）
図３は、第一の実施の形態における、鋳造条件が最終的に決定されるまでの処理の手順を示すフローチャートを例示している。このフローチャートは、鋳造装置５０、鋳造支援装置２、ＣＴ装置１及び操作者により行われる処理の手順を示している。
【００５６】
ステップＳ１では、鋳造装置５０は、自己の不図示の制御装置に設定されている鋳造条件に従って鋳造を行い、鋳造品１２を形成する。その鋳造品１２は、操作者により、若しくは、自動制御で動作する搬送装置により、ＣＴ装置１のターンテーブル１１に載置される。そして、ステップＳ２では、ＣＴ装置１により、鋳造品１２が撮影されて３次元データが再構成され、鋳造支援装置２へ送信される。
【００５７】
鋳造支援装置２は、ＣＴ装置１から送信された３次元データに基づいて、巣量Ｖｍ、Ｖｈ、Ｖｔを算出し（ステップＳ３）、半透明の投影像を作成し（ステップＳ４）、表示器３０に巣量Ｖｍ、Ｖｈ、Ｖｔ及び半透明の投影像を表示する（ステップＳ５）。
【００５８】
ステップＳ６では、操作者により、合計巣量Ｖｔが許容範囲内にあるか否か、換言すれば、合計巣量Ｖｔが許容範囲に収束したか否か判断される。合計巣量Ｖｔが許容範囲に収束したと判定された場合は、処理が終了する。そうでない場合は、ステップＳ７において、操作者により、ステップＳ１で用いられた鋳造条件を変更するか否かが判断される。
【００５９】
鋳造条件を変更しないと判断された場合は、処理が終了する。そして、基本的には、ステップＳ１において使用された鋳造条件が最終的な鋳造条件として決定される。鋳造条件を変更すると判断された場合は、操作者により、上述のように、巻き込み巣量及び引け巣量に基づいた優先度等を考慮した鋳造条件の変更が、ステップＳ１において用いられた鋳造条件に対して行われ、鋳造装置５０に入力される（ステップＳ８）。そして、変更された鋳造条件に基づいて、再度、ステップＳ１から処理が実行される。なお、ステップＳ７は、操作者によって行われるから、合計巣量Ｖｔが許容範囲内にない場合であっても、鋳造条件を変更せずに処理を終了することが可能である。
【００６０】
図４は、鋳造支援装置２が実行する巣量の算出処理（図３のステップＳ３）の手順を示すフローチャートである。
【００６１】
鋳造支援装置２は、鋳巣抽出部４１において鋳巣を抽出し（ステップＳ１１）、その抽出された鋳巣を鋳巣分別部４２において巻き込み巣と引け巣に分別し（ステップＳ１２）、その分別結果に基づいて巣量求出部４３において巻き込み巣量Ｖｍ、引け巣量Ｖｔを算出し、また、合計巣量Ｖｔも算出する（ステップＳ１３）。
【００６２】
なお、上述のステップＳ４（図３）や投影像の表示（ステップＳ５の一部）は、ステップＳ１３を前提としないから、ステップＳ５や投影像の表示は、ステップＳ１３の前に行われるなどしてもよい。
【００６３】
（第一の実施の形態の変形例）
第一の実施の形態の鋳造支援装置２は巣量Ｖｍ，Ｖｈ，Ｖｔを表示し、操作者がこれを見て鋳造条件を変更しているが、上述したような操作者が行なう判断過程をコンピュータプログラム化して、巻き込み巣量と引け巣量を反映させて変更した鋳造条件を求める鋳造条件求出部を鋳造支援装置２に組み込むことができる。これにより、鋳造支援装置２自体が、変更した鋳造条件を出力することができる。さらに、この出力を鋳型５１に溶湯を鋳込む鋳造装置５０に出力し自動的に鋳造条件を変更して鋳造することもできる。
【００６４】
（第一の実施の形態の変形例のフローチャートの例示）
図５は、第一の実施の形態の変形例、すなわち、操作者の動作（図３のステップＳ６、Ｓ７、Ｓ８）を自動化した場合における、鋳造条件が最終的に決定されるまでのフローチャートを例示している。このフローチャートは、鋳造装置５０、鋳造支援装置２及びＣＴ装置１により行われる処理の手順を示している。
【００６５】
ステップＳ２１では、鋳造支援装置２は、主メモリ２４に値が記憶される変数であるフラグＦＬＧに０をセットする。上述のように、本発明の実施形態等では、鋳造条件を規定する複数のパラメータのうちいずれを優先的に変化させるか、パラメータを上げるのか下げるのか等により、複数の鋳造条件変更方法が存在するところ、フラグＦＬＧは、いずれの鋳造条件変更方法を用いるかを示す変数である。そして、フラグＦＬＧ＝０は、鋳造条件変更方法が未選択であることを示している。
【００６６】
ステップＳ２２〜Ｓ２６は、図３のステップＳ１〜Ｓ５までと同様である。なお、図５に示す処理は、自動的に鋳造条件を変更するものであるから、鋳造条件の変更に係るステップＳ２７以降の処理は、分別した鋳巣をユーザに視認させるためのステップＳ２５及びＳ２６を前提としておらず、ステップＳ２５及びＳ２６の完了を待たずに行われる。ステップＳ２５及びＳ２６は省略されてもよい。
【００６７】
ステップＳ２７では、鋳造支援装置２により、合計鋳巣Ｖｔが許容範囲内にあるか否かが判定される。合計鋳巣Ｖｔが許容範囲内にあると判定された場合は、処理が終了する。そして、基本的には、ステップＳ１で用いられた鋳造条件が最終的な鋳造条件として決定される。
【００６８】
合計鋳巣Ｖｔが許容範囲内にないと判定された場合は、鋳造支援装置２の不図示の鋳造条件求出部において、ステップＳ１で用いられた鋳造条件を変更するための鋳造条件変更処理が実行される（ステップＳ２８）。鋳造支援装置２は、ステップＳ１で鋳造装置５０に用いられた鋳造条件と同一の鋳造条件を記憶しており、ステップＳ２８では、その鋳造支援装置２が記憶している鋳造条件に対して変更が加えられる。
【００６９】
ここで、ステップＳ２８では、鋳造条件を規定するパラメータを上限値と下限値との間で変更可能か否かの判定も行われ、鋳造条件を規定するパラメータを上限値と下限値との間で変更不可能である場合には、アラームがセットされる。
【００７０】
そして、ステップＳ２９においてアラームの有無が判定される。アラームがセットされていると判定された場合には、処理が終了する。アラームがセットされていないと判定された場合は、ステップＳ２８において変更した鋳造条件が、鋳造支援装置２から鋳造装置５０に出力され（ステップＳ３１）、その鋳造条件を新たな鋳造条件として、再度、ステップＳ２２から実行される。
【００７１】
なお、最初の鋳造は、鋳造装置５０において記録されていた又は入力された鋳造条件に従って行われてもよいし、鋳造支援装置２において記録されていた又は入力された鋳造条件が鋳造装置５０に出力されて行われてもよい。また、ステップＳ２８において変更される、鋳造支援装置２において記憶されている鋳造条件は、鋳造装置５０から鋳造支援装置２に取り込まれるものであってもよいし、鋳造支援装置２が継続的に保持しているものであってもよい。例えば、最初の鋳造が、鋳造装置５０において記録されていた又は入力された鋳造条件に従って行われる場合に、最初の鋳造条件のみ鋳造装置５０から鋳造支援装置２に取り込まれ、その後は、ステップＳ２８において変更された鋳造条件がそのまま鋳造支援装置２に保持されて次回の変更対象とされてもよいし、鋳造毎に鋳造装置５０から鋳造支援装置２に鋳造条件が取り込まれてもよい。
【００７２】
図６は、鋳造支援装置２が実行する鋳造条件変更処理（図５のステップＳ２８）の手順を示すフローチャートである。
【００７３】
ステップＳ４１では、フラグＦＬＧ＝０であるか否かが判定される。最初に図６の処理が実行されたときには、図５のステップＳ２１においてフラグＦＬＧは０にセットされているから、フラグＦＬＧ＝０であり、ステップＳ４２に進む。
【００７４】
ステップＳ４２では、合計巣量Ｖｔが許容範囲よりも大きいか否か判定される。合計巣量Ｖｔが許容範囲よりも大きいと判定された場合は、引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍか否かが判定される（ステップＳ４３）。引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍと判定された場合は、フラグＦＬＧに１がセットされ（ステップＳ４４）、引け巣量Ｖｈを優先的に低減することにより合計巣量Ｖｔを低減するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更１の処理が実行され（ステップＳ４５）、引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍではないと判定された場合は、フラグＦＬＧに２がセットされ（ステップＳ４６）、巻き込み巣Ｖｍを優先的に低減することにより合計巣量Ｖｔを低減するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更２の処理が実行される（ステップＳ４７）。
【００７５】
ステップＳ４２において、合計巣量Ｖｔが許容範囲よりも大きくないと判定された場合も、引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍか否かが判定される（ステップＳ４８）。そして、引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍと判定された場合は、フラグＦＬＧに３がセットされ（ステップＳ４９）、装置の負荷を低減するために巻き込み巣量Ｖｍの増加を優先的に許容することにより合計巣量Ｖｔの増加を許容するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更３の処理が実行され（ステップＳ５０）、引け巣量Ｖｈ＞＝巻き込み巣量Ｖｍではないと判定された場合は、フラグＦＬＧに４がセットされ（ステップＳ５１）、装置の負荷を低減するために引け巣量Ｖｈの増加を優先的に許容することにより合計巣量Ｖｔの増加を許容するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更４の処理が実行される（ステップＳ５２）。
【００７６】
２回目以降の図５の処理では、フラグＦＬＧには、１〜４のいずれかがセットされているから、ステップＳ４１の次にステップＳ５３〜Ｓ５５が実行される。ステップＳ５３〜Ｓ５５では、フラグＦＬＧに１〜４のいずれがセットされているかが判別され、その判別結果に基づいて、前回と同一の鋳造条件変更が行われるように、ステップＳ４５、Ｓ４７、Ｓ５０、Ｓ５２のいずれかが行われるように処理が進む。このように、同一の鋳造条件変更方法が繰り返し行われるようにすることにより、巣量が許容範囲に収束しやすくなる。
【００７７】
図７は、鋳造支援装置２が実行する、引け巣量Ｖｈを優先的に低減することにより合計巣量Ｖｔを低減するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更１（図６のステップＳ４５）の処理の手順を示すフローチャートである。
【００７８】
ステップＳ６１では、鋳造条件として設定されている昇圧時間が下限か否か判定される。昇圧時間が下限ではないと判定された場合は、昇圧時間が短くされ（ステップＳ６２）、処理が終了する。昇圧時間が下限であると判定された場合は、ステップＳ６３に進む。
【００７９】
ステップＳ６３では、鋳造条件として設定されている鋳造圧力が上限か否か判定される。鋳造圧力が上限ではないと判定された場合は、鋳造圧力が上げられ（ステップＳ６４）、処理が終了する。鋳造圧力が上限であると判定された場合は、ステップＳ６５に進む。
【００８０】
ステップＳ６５では、鋳造条件として設定されている高速速度が上限か否か判定される。高速速度が上限ではないと判定された場合は、高速速度が上げられ（ステップＳ６６）、処理が終了する。高速速度が上限であると判定された場合は、ステップＳ６７に進む。
【００８１】
ステップＳ６７では、鋳造条件として設定されている高速区間長さが下限か否か判定される。高速区間長さが下限ではないと判定された場合は、高速区間長さが短くされ（ステップＳ６８）、処理が終了する。高速区間長さが下限であると判定された場合は、ステップＳ６９に進む。
【００８２】
ステップＳ６９では、全てのパラメータが上限又は下限に到達したことを示すアラームがセットされる。そして、処理が終了する。
【００８３】
図８は、鋳造支援装置２が実行する、巻き込み巣量Ｖｍを優先的に低減することにより合計巣量Ｖｔを低減するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更２（図６のステップＳ４７）の処理の手順を示すフローチャートである。
【００８４】
ステップＳ７１では、鋳造条件として設定されている高速区間長さが下限か否か判定される。高速区間長さが下限ではないと判定された場合は、高速区間長さが短くされ（ステップＳ７２）、処理が終了する。高速区間長さが下限であると判定された場合は、ステップＳ７３に進む。
【００８５】
ステップＳ７３では、鋳造条件として設定されている高速速度が上限か否か判定される。高速速度が上限ではないと判定された場合は、高速速度が上げられ（ステップＳ７４）、処理が終了する。高速速度が上限であると判定された場合は、ステップＳ７５に進む。
【００８６】
ステップＳ７５では、鋳造条件として設定されている昇圧時間が下限か否か判定される。昇圧時間が下限ではないと判定された場合は、昇圧時間が短くされ（ステップＳ７６）、処理が終了する。昇圧時間が下限であると判定された場合は、ステップＳ７７に進む。
【００８７】
ステップＳ７７では、鋳造条件として設定されている鋳造圧力が上限か否か判定される。鋳造圧力が上限ではないと判定された場合は、鋳造圧力が上げられ（ステップＳ７８）、処理が終了する。鋳造圧力が上限であると判定された場合は、ステップＳ７９に進む。
【００８８】
ステップＳ７９では、全てのパラメータが上限又は下限に到達したことを示すアラームがセットされる。そして、処理が終了する。
【００８９】
図９は、鋳造支援装置２が実行する、装置の負荷を低減するために巻き込み巣量Ｖｍの増加を優先的に許容することにより合計巣量Ｖｔの増加を許容するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更３（図６のステップＳ５０）の処理の手順を示すフローチャートである。
【００９０】
ステップＳ８１では、鋳造条件として設定されている鋳造圧力が下限か否か判定される。鋳造圧力が下限ではないと判定された場合は、鋳造圧力が下げられ（ステップＳ８２）、処理が終了する。鋳造圧力が下限であると判定された場合は、ステップＳ８３に進む。
【００９１】
ステップＳ８３では、鋳造条件として設定されている高速速度が下限か否か判定される。高速速度が下限ではないと判定された場合は、高速速度が下げられ（ステップＳ８４）、処理が終了する。高速速度が下限であると判定された場合は、ステップＳ８５に進む。
【００９２】
ステップＳ８５では、鋳造条件として設定されている高速区間長さが上限か否か判定される。高速区間長さが上限ではないと判定された場合は、高速区間長さが長くされ（ステップＳ８６）、処理が終了する。高速区間長さが上限であると判定された場合は、ステップＳ８７に進む。
【００９３】
ステップＳ８７では、全てのパラメータが上限又は下限に到達したことを示すアラームがセットされる。そして、処理が終了する。
【００９４】
図１０は、鋳造支援装置２が実行する、装置の負荷を低減するために引け巣量Ｖｈの増加を優先的に許容することにより合計巣量Ｖｔの増加を許容するように鋳造条件を変更するための鋳造条件変更４（図６のステップＳ５２）の処理の手順を示すフローチャートである。
【００９５】
ステップＳ９１では、鋳造条件として設定されている高速区間長さが上限か否か判定される。高速区間長さが上限ではないと判定された場合は、高速区間長さが長くされ（ステップＳ９２）、処理が終了する。高速区間長さが上限であると判定された場合は、ステップＳ９３に進む。
【００９６】
ステップＳ９３では、鋳造条件として設定されている鋳造圧力が下限か否か判定される。鋳造圧力が下限ではないと判定された場合は、鋳造圧力が下げられ（ステップＳ９４）、処理が終了する。鋳造圧力が下限であると判定された場合は、ステップＳ９５に進む。
【００９７】
ステップＳ９５では、鋳造条件として設定されている高速速度が下限か否か判定される。高速速度が下限ではないと判定された場合は、高速速度が下げられ（ステップＳ９６）、処理が終了する。高速速度が下限であると判定された場合は、ステップＳ９７に進む。
【００９８】
ステップＳ９７では、全てのパラメータが上限又は下限に到達したことを示すアラームがセットされる。そして、処理が終了する。
【００９９】
なお、図７〜図１０の処理等において、各パラメータの上下限値は、例えば経験的に適宜に設定される。各パラメータの１回の変更量は、合計巣量Ｖｔの許容範囲への追従性やフィードバックの安定性等を考慮して経験的に適宜に設定されてよいが、例えば、上限値と下限値との間の１０％の大きさに設定される。
【０１００】
パラメータの上下限値及び１回の変更量は、鋳造支援装置２において入力や稼動停止後の保持が行われてもよいし、鋳造装置５０において入力や稼動停止後の保持が行われ、鋳造装置５０から鋳造支援装置２に取り込まれてもよい。
【０１０１】
なお、以上の実施形態及び変形例において、鋳型５１は本発明の型の一例であり、溶湯は溶融状態の成形材料の一例であり、鋳造支援装置２は本発明の成形支援装置の一例であり、鋳造品は成形品の一例であり、主メモリ２４及び／又はディスク２５は本発明の記憶部の一例であり、鋳巣抽出部４１は本発明の巣抽出部の一例であり、鋳巣分別部４２は本発明の巣分別部の一例であり、鋳造条件求出部は本発明の成形条件求出部の一例である。
【０１０２】
本発明は、以上の実施形態や変形例に限定されず、種々の態様で実施されてよい。
【０１０３】
成形支援装置（実施形態では鋳造支援装置２）は、成形品の撮影を行って３次元データを生成する撮影装置（実施形態ではＣＴ装置１）を含む装置として概念化されてもよいし、当該撮影装置を含まない装置として概念化されてもよい。また、成形支援装置は、成形機（実施形態では鋳造装置５０）の一部として概念化されてもよいし、成形機とは別個の装置として概念化されてもよい。また、成形支援装置は、その一部又は全部の構成要素が、成形機及び／又は撮影装置に含まれて構成されるものであってもよい。
【０１０４】
成形材料が凝固して形成される成形品は、溶湯が凝固して形成された鋳造品に限定されない。例えば、樹脂が凝固した成形品であってもよい。換言すれば、成形支援装置により支援される成形は、鋳造に限定されず、射出成形であってもよい。また、鋳造法は、アルミダイカスト鋳造に限定されず、他の鋳造法であってもよい。ダイカストマシンは、コールドチャンバダイカストマシンに限定されず、例えば、ホットチャンバダイカストマシンであってもよい。
【０１０５】
成形品の撮影により連続断面像の３次元データを取得する装置は、ＣＴ装置に限定されない。例えば、超音波により連続断面像を撮影する超音波撮影装置であってもよいし、磁気共鳴により連続断面像を撮影するＭＲＩ装置であってもよい。連続断面像は、通常は、断面像の配列方向において、成形品の厚さよりも薄いスライス厚でスキャンが順次行われることにより得られるが、連続断面像の配列方向においてスキャンが順次行われずに連続断面像が得られてもよい。例えば、ＣＴ装置において、成形品の厚さよりもスライス厚が厚くなるような２次元アレイの検出素子が用いられることにより、連続断面像の配列方向においては、成形品と、放射線源及び放射線検出器とが相対移動せずに、連続断面像が得られてもよい。３次元データは、ＣＴ装置等の撮影装置により生成されたままのデータであってもよいし、データ補間、データの間引き、データ形式の変換等の加工が施されたものであってもよい。
【０１０６】
複数の巣を巻き込み巣と引け巣に分別する動作は、複数の巣を二者択一的に巻き込み巣と引け巣とに分別する動作に限定されない。例えば、抽出された複数の巣は、巻き込み巣及び引け巣の他に、成形材料の凝固時に成形材料から放出される気体による巣に分別されてもよい。
【０１０７】
なお、分別する動作は、抽出された巣がいずれの種類の巣であるかを判定する動作であり、当該判定が行われれば、抽出された巣の情報と巣の種類の情報とが対応付けられて記憶されたり、抽出された巣が巣の種類に応じた色で表示されたりしなくても、分別が行われていることになる。また、複数の巣について巻き込み巣であるか否かを判定する動作は、複数の巣を、巻き込み巣と、引け巣を含む他の巣とに分別しているから、複数の巣を巻き込み巣と引け巣に分別する動作に含まれる。複数の巣について引け巣であるか否かを判定する動作も同様である。
【０１０８】
巣の形状に基づく分別は、巣の形状に関する判定に、他の判定が併用されて行われてもよい。例えば、抽出された巣が、巣の形状に関する判定のみからは巻き込み巣及び引け巣の一方に分別されるときであっても、その抽出された巣が、型のキャビティやランナ等の形状から、経験的に巻き込み巣及び引け巣の上記一方が生じ難い位置に生じている場合については、その抽出された巣は、巻き込み巣及び引け巣の他方に分別されてもよい。同様に、所定の基準よりも球形に近似するときは巻き込み巣、上記基準よりも球形に近似しないときは引け巣とする推定に基づく分別も、球形に近似するか否かの判定以外に、他の判定が併用されて行われてよい。
【０１０９】
また、巣の形状に基づく分別は、所定の基準よりも球形に近似するか否かの判定に基づくものに限定されない。例えば、予め記録された巻き込み巣又は引け巣の形状と、抽出された巣の形状とのパターンマッチングにより分別がなされてもよい。また、例えば、抽出された巣に、巻き込み巣及び引け巣の一方においては生じえない形状が確認されたときに他方に分別されてもよい。なお、パターンマッチング等においても、例えば、球形、球形に近い楕円体、立方体へのパターンマッチングを行う場合など、所定の基準よりも球形に近似するか否かの判定をしているといえる場合がある。
【０１１０】
所定の基準よりも球形に近似するか否かの判定に基づいて複数の巣を巻き込み巣と引け巣に分別する場合、その分別は、球形への近似度を示すパラメータが閾値を超えたか否かの判定に限定されない。例えば、球形への近似度を示す複数種類のパラメータについて閾値を超えたか否か判定し、閾値を超えたパラメータの数が所定の基準値を超えたときに球形に近似すると判定してもよい。なお、閾値を超えたパラメータの数をパラメータと捉えることもできる。球形への近似度を示すパラメータは、巣の体積と表面積とを比較するパラメータや巣の体積と最大幅とを比較するパラメータに限定されない。例えば、球形と巣とのパターンマッチングを行ったときの一致度を示すパラメータであってもよい。
【０１１１】
成形条件の変更は、成形条件を規定するいずれのパラメータの変更によって行われてもよく、実施形態において例示したパラメータの変更によるものに限定されない。例えば、低速射出速度が変更されてもよい。
【０１１２】
分別結果に基づく成形条件の変更は、分別結果以外の情報も勘案して行われてよい。また、直前の一回の成形における分別結果等の情報だけでなく、複数回における成形における分別結果等の情報が用いられてもよい。
【０１１３】
また、各パラメータ１回の変更量は、予め設定された値でなく、合計巣量、巻き込み巣量、若しくは、引け巣量の値が反映されて決められてもよい。例えば、合計巣量と許容範囲との差に比例させてパラメータの変更量を大きくしてもよい。
【０１１４】
また、分別結果に基づく成形条件の変更において、巣量の算出は必須ではない。例えば、小さい巣が群をなして分布しているような場合に、個々の巣の体積を算出せずに、巣の分別結果及び巣の分布状況（位置及び個数）に基づいて射出条件を変更してもよい。なお、群をなして分布している複数の巣の個数の特定は、体積の算出と捉えることもできる。
【０１１５】
巻き込み巣量及び引け巣量に基づく成形条件の変更は、巻き込み巣量と引け巣量との相対的な大きさ（巻き込み巣量と引け巣量との比較）に基づくものに限定されない。例えば、巻き込み巣量及び引け巣量の各々を一定値以下にするように各種のパラメータの変更量が算出されてもよい。
【０１１６】
巻き込み巣量と引け巣量との相対的な大きさに基づく、成形条件の変更方法の決定（例えばパラメータの優先度の決定）は、巻き込み巣量及び引け巣量の一方が他方より大きいか否かの判定に基づくものに限定されない。例えば、巻き込み巣量が引け巣量の所定の割合以上か否かの判定に基づいて成形条件の変更方法が決定されてもよい。また、巻き込み巣量と引け巣量との相対的な大きさ以外の情報も勘案して成形条件の変更方法の決定がなされてもよい。
【０１１７】
変形例の具体的なフローチャート（図５及び図６）では、複数の成形サイクルに対して同一の変更方法が適用される場合を例示したが、成形サイクル毎に変更方法が変化してもよい。また、当該フローチャートでは、巣量が許容範囲（目標値）よりも小さい場合にも装置の負担を軽減するために成形条件を変更したが、巣量が許容範囲（又は許容値）を超えるときのみ成形条件を変更して、巣量が許容範囲（又は許容値）を下回ったときに処理を終了するようにしてもよい。
【０１１８】
成形支援装置及び成形条件決定方法は、製品としての成形品の成形において利用されてもよいし、製品としての成形品を成形する前のトライアルの成形において利用されてもよい。例えば、成形支援装置及び成形条件決定方法は、製品としての成形品の品質管理に利用されてもよいし、製品としての成形品を成形しているときの成形機のフィードバック制御に利用されてもよいし、トライアルの成形において製品としての成形品を成形するときの成形条件を決定するために利用されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１１９】
【図１】本発明の実施形態に係る鋳造支援装置の構成を示す図。
【図２】図１に示す鋳造支援装置の機能ブロック図。
【図３】本発明の実施形態における鋳造条件を決定する処理の手順を示すフローチャートの例。
【図４】図３の処理において実行される巣量の算出処理の手順を示すフローチャート。
【図５】本発明の実施形態の変形例における鋳造条件を決定する処理の手順を示すフローチャートの例。
【図６】図５の処理において実行される鋳造条件変更処理の手順を示すフローチャート。
【図７】図６の処理において実行される鋳造条件変更１の処理の手順を示すフローチャート。
【図８】図６の処理において実行される鋳造条件変更２の処理の手順を示すフローチャート。
【図９】図６の処理において実行される鋳造条件変更３の処理の手順を示すフローチャート。
【図１０】図６の処理において実行される鋳造条件変更４の処理の手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
【０１２０】
２…鋳造支援装置（成形支援装置）、５１…鋳型（型）、１２…鋳造品（成形品）、２４…主メモリ（記憶部）、２５…ディスク（記憶部）、４１…鋳巣抽出部（巣抽出部）、４２…鋳巣分別部（巣分別部）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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