(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するための極性の異なる第１テスト棒及び第２テスト棒と、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間にあらかじめ定められた一定電流を流すための定電流源とを備えた測定装置に装着される測定装置用アダプターであって、
前記第１テスト棒に電気的に接続される第１接続部と、
前記第２テスト棒に電気的に接続されるプローブ、および、前記第２テスト棒を前記プローブと電気的に接続可能に嵌挿するための被嵌挿口が設けられている棒受け、を備え、前記第２テスト棒に接続される第２接続部と、
前記第１接続部と導通可能な導線が接続されている端子と、
前記棒受けを、前記端子に接触させるように弾性力が作用する第１弾性体と、を備えており、
前記棒受けの前記被嵌挿口に対向する側には、前記プローブが設けられており、
前記棒受けは、導体で構成されており、
前記端子と前記棒受けとが接触している場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態となり、前記第１弾性体の弾性力に逆らって前記端子と前記棒受けとが分離された場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となることを特徴とする測定装置用アダプター。
【請求項２】
前記棒受けを、前記嵌挿方向に摺動可能に収容する筐体を備えていることを特徴とする請求項１に記載の測定装置用アダプター。
【請求項３】
前記第１弾性体は、前記筐体内において、前記棒受けの前記プローブが設けられている側を、前記端子に接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、
前記第２接続部は、
前記第２テスト棒を装着した場合に、前記第２テスト棒の先端と、前記棒受けに設けられた前記被嵌挿口の前記プローブ側の内面との間に隙間が生じるように構成されていることを特徴とする請求項２に記載の測定装置用アダプター。
【請求項４】
前記端子は、金属製の第２弾性体で構成されており、該第２弾性体は、前記隙間が無くなって前記第２テスト棒と前記棒受けとが接触する前に、弾性変形していない状態となることを特徴とする請求項３に記載の測定装置用アダプター。
【請求項５】
前記第１弾性体は、前記筐体内において、前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側を、前記端子に接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、
前記筐体は、絶縁体で構成されていると共に、前記プローブが軸方向に嵌挿される中空部が形成された筒状体を備えており、
前記中空部の軸方向の長さは、
前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側が、前記端子に接触しているときには、前記プローブが前記中空部内にあり、当該プローブの先端が前記中空部の前記測定対象側の出口に達したときには、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように設定されていることを特徴とする請求項２に記載の測定装置用アダプター。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するために測定装置に備えられたテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から電気回路や電気素子などの測定対象の電気的特性を計測するための測定装置としてテスターが広く使われている。
【０００３】
この「テスター」は、略称であり、正式には「回路計」といい、３種類以上の測定機能を持っている測定装置のことである。なお、電気的特性を計測するための測定装置としては、回路計のような複数の機能を持つものに限られず、測定対象の電気的特性である電圧、電流、及び電気抵抗のそれぞれを測定するための電圧計、電流計、及び抵抗計なども良く用いられている。
【０００４】
通常、測定対象は、テスターのテスト棒を直接接触させることによって、電圧、電流、及び電気抵抗などの電気的特性が計測される。しかしながら、このテスターを抵抗計として用いる場合には、一般には、測定対象に接触した一方のテスト棒から他方のテスト棒に向かっていきなり大きな電流（過電流）が流れてしまうという問題点がある。
【０００５】
特に、半導体などの信頼性を評価する場合、例えばＬＳＩ（large-scale integration）内部に使用されている「素の」トランジスタや配線を調べる必要がある。ここで、「素の」とは、過電圧保護回路などを備えていないものを指し、過電圧や過電流には脆弱な特性を持っている。
【０００６】
例えば、近年のＬＳＩに使用されているトランジスタは、１Ｖ近傍での動作を前提としているため、これに５Ｖ以上の電圧をいきなり印加すると、忽ち絶縁破壊を起こしてしまう。また、ＬＳＩ内部の配線、例えば、最大電流＝１０μＡを想定した配線に１０ｍＡの電流を流すと、当該配線は焼き切れてしまう（白熱灯の電球に寿命が存在するのと同じ原理で焼き切れてしまう）。
【０００７】
まず、このような問題点の本質について図５（ａ）〜図６（ｃ）に基づいて詳細に説明する。図５（ａ）は、テスターのテスト棒を直接ＩＣ（integrated circuit）等に接触させたときの様子を示す概要図である。また、図５（ｂ）は、図５（ａ）に示すテスターの電圧源をＶ＝９（Ｖ）として等価回路で置き換えた様子を示す回路図である。
【０００８】
図５（ｂ）に示すＩＣ等の抵抗値が９０Ωであったとすれば、テスターのテスト棒を直接接触させたときに消費する電力Ｐは、Ｐ＝Ｖ２／Ｒ＝０．９（Ｗ）となる。そうすると、ＩＣ等の試料の定格電力は０．０１Ｗに満たない場合が多くあるので、テスターのテスト棒を直接接触させると、ＩＣ等が壊れてしまうという問題点が生じる。
【０００９】
そこで、従来は、汎用のテスターを使用して電気的に脆弱な試料を測定する場合には、２つのワニグチクリップを接続したものを用い、テスターのテスト棒のそれぞれをワニグチクリップで挟むようにして、一時的に両方のテスト棒間の電位差を０Ｖにする治具回路を構成して測定を行なっていた。
【００１０】
ここで、図６（ａ）〜図６（ｃ）に基づき、テスターで半導体などの抵抗値を測定する際に、テスターの両方のテスト棒をあらかじめ短絡（電位差を０Ｖにする）しておくことの意義について説明する。まず、図６（ａ）は、テスターによって測定対象（被測定物）にもたらされる過電圧・過電流の問題について説明するためのテスターの等価回路図である。
【００１１】
図６（ａ）の等価回路に示すように、一般に、テスターは、回路全体に電力を供給するための電圧源、あらかじめ定められた一定の電流を流す定電流発生回路（定電流源とも言う）、及び電圧測定回路の組合せとして考えることができる。そうすると、テスターによる抵抗測定については、定電流発生回路を使用せざるを得ないことがわかる。
【００１２】
すなわち、抵抗値が未知の抵抗Ｒ（単位はオーム）とする測定対象に既知の定電流Ｉ（単位はアンペア）を流したときにその抵抗の両端に発生する電圧がＶ（単位は、ボルト）ならば、原理的には、オームの法則（Ｒ＝Ｖ／Ｉ）により、未知の抵抗Ｒを測定することができる。
【００１３】
ここで、定電流発生回路は、測定対象の抵抗値に関係なく、一定の電流を流す定電流源である。そうすると、抵抗Ｒが小さければ、電圧Ｖも小さいが、抵抗Ｒが大きければ、電圧Ｖも大きくなる。
【００１４】
テスターが抵抗Ｒと接続されていない状態は、抵抗Ｒが最も大きい無限大の極限と考えることができ、この場合のテスト棒の両端の電圧Ｖは、ほぼ、電圧源の電圧に等しくなる。
【００１５】
すなわち、テスターの電圧源が、９Ｖであれば、測定前のテスターは、テスト棒の両端の電圧Ｖが９Ｖの状態でスタンバイしていることになる。
【００１６】
よって、テスト棒をいきなり測定対象に接続すると、この９Ｖがそのまま測定対象にかかってしまい、過電圧・過電流のため、測定対象が破壊されてしまうことになる。
【００１７】
つぎに、図６（ｂ）及び図６（ｃ）に基づき、単三乾電池が２個、つまり３Ｖで動作する一般的なテスターを使用した場合について考察する。
【００１８】
図６（ｂ）は、テスターの両テスト棒を直接測定対象に接触させた状態を説明するための等価回路を示す回路図であり、図６（ｃ）は、テスターの両テスト棒を一端短絡させてから、測定対象に接触させた状態を説明するための等価回路を示す回路図である。
【００１９】
ここで、定電流発生回路は、一定電流１００μＡを流すものとし、測定対象の抵抗Ｒは、１０Ωとし、１０ｍＡ以上の電流が流れると、破壊されるものとする。
【００２０】
上述したテスト棒をいきなり測定対象に接続するような状況を等価回路で置き換えると、図６（ｂ）に示す、ＳＷ１つきの回路において「ＳＷ１が開いている状態からＳＷ１を閉じる」という操作に相当する。
【００２１】
そうすると、ＳＷ１を閉じた瞬間に流れる電流は、定電流発生回路の有無に関わらず、Ｉ＝Ｖ／Ｒ＝２１０＝０．３（Ａ）＝２００（ｍＡ）≧１０（ｍＡ）となり、電気的特性を調べる前に、過電流・過電圧により測定対象を破壊してしまうことになる。
【００２２】
ところで、「定電流発生回路（定電流源）」といってもそれは、定常状態での話であって、過渡的には、定電圧源のように振舞う。
【００２３】
そこで、一時的に両方のテスト棒間の電位差を０Ｖにするという状況を等価回路で置き換えると、図６（ｃ）に示す、ＳＷ１、及びＳＷ２つきの回路において「ＳＷ２を閉じ、ＳＷ１を開ける」という操作に相当する。このとき、ＳＷ２を含む経路には、定電流回路の動作により１００μＡの電流が流れるが、その両端は短絡されているため、その電位差は、０Ｖである。
【００２４】
さらに、この状態で、ＳＷ１を閉じたとしても、ＳＷ２の両端の電位差は０Ｖのままなので、抵抗Ｒには電流は流れない。
【００２５】
次に、ＳＷ１を閉じた状態で、ＳＷ２を開くと、抵抗Ｒに電流が流れ始めるが、初期条件としてＳＷ２の両端の電位差は０Ｖであるので、いきなり定電流源の１００μＡの電流が抵抗Ｒに流れることは無い。その後、過渡的に抵抗Ｒに流れる電流は１００μＡとなり定常状態に達する。
【００２６】
以上の考察から上記ワニグチクリップの治具回路と汎用のテスターを使用して電気的に脆弱な試料を測定する場合を考えると、２つのワニグチクリップを導線で接続したものを用い、テスターのテスト棒のそれぞれをワニグチクリップで挟むようにして、一時的に両方のテスト棒間の電位差を０Ｖにした状態が、図６（ｃ）に示す状態である。
【００２７】
この状態では、テスト棒間は短絡されているので、直接テスト棒を測定対象に接触させても（ＳＷ１を閉じても）、測定対象に電流が流れることは無い。
【００２８】
次に、ワニグチクリップの一方を取り外して（ＳＷ１を閉じた状態でＳＷ２を開いて）、テスト棒間の短絡状態を解除すると、測定対象には、０μＡから１００μＡまでの電流が、過渡的に流れることになるが、１００μＡを超える電流が流れることは無く、過電圧・過電流で測定対象が破壊されてしまうことは無いということがわかる。
【００２９】
しかしながら、測定の際にＳＷ１及びＳＷ２を開閉する作業やワニグチクリップを装着したり、取り外したりする作業は、非常に煩雑であるし、スイッチの開閉操作の順序を間違えてしまった場合には、結局、測定対象を破壊してしまう可能性があるという問題点がある。
【００３０】
このような、測定対象にテスト棒を接触させて測定対象の抵抗値を測定する従来の類似技術として、特許文献１に開示された絶縁抵抗計１００がある。図７は、この従来の絶縁抵抗計１００の構成を示す回路図である。
【００３１】
図７に示すように、絶縁抵抗計１００は、測定スイッチ１１１、及び測定回路１０２を内蔵した計器本体１０１、この計器本体１０１に接続ケーブル１０５を介して電気的に接続される測定極用のテスト棒１０３、接地極用リード線１０７、及びクリップ１０９から構成されている。
【００３２】
また、絶縁抵抗計１００の測定用テスト棒１０３の内部は、測定スイッチ（切り替えスイッチ）１１０が備えられており、測定スイッチ１１０の可動接点１１０ａを固定接点１１０ｂ側、及び固定接点１１０ｃ側に適宜移動させることにより、測定側と接地側とへの接続の切り替えが、手元のスイッチ操作で行なえるようになっている。
【特許文献１】実開平５−８１７４１号公報（平成５年１１月５日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３３】
ここで、特許文献１に開示された測定対象Ｍの電荷を放電させるという目的とは異なるものの、前記従来の絶縁抵抗計１００は、可動接点１１０ａを固定接点１１０ｂ側に切り替えた場合には、接続ケーブル１０５と接地極用リード線１０７とが短絡状態となるので、上述した、テスターのテスト棒のそれぞれをワニグチクリップで挟むようにして、一時的に両方のテスト棒間の電位差を０Ｖにした状態に相当する機能を有しているものと考えられる。
【００３４】
よって、絶縁抵抗計１００の構成を利用すれば、過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることは可能であると考えられる。
【００３５】
しかしながら、図５（ａ）に示すように、ＩＣ等が測定対象の場合には、最大でも５ｃｍとかなり小さいものであるので、前記従来の絶縁抵抗計１００では、手元のスイッチ操作とは言え、測定作業が非常に困難かつ煩雑となってしまうという問題点がある、また、特許文献１には開示されていないが、測定用テスト棒１０３のサイズによっては、測定作業自体が不可能となってしまう場合も考えられる。
【００３６】
また、複数の測定を繰り返す際に、測定の前段階でのスイッチ操作による短絡状態に切り替える作業を失念してしまった場合、結局、測定対象を破壊してしまうことになるという問題点もある。
【００３７】
なお、スイッチの開閉操作の順序を間違えるといった誤操作を防止する方法としては、スイッチの開閉操作のような短絡状態・非短絡状態の切り替えの面倒な手作業をなくす方法か、或いは、短絡状態から非短絡状態に切り替える作業を行わない限り、短絡状態を維持する方法が、考えられる。また、この手作業は、単純であることが好ましい。
【００３８】
本発明は、前記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３９】
本発明の測定装置用アダプターは、前記課題を解決するために、測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するための極性の異なる第１テスト棒及び第２テスト棒と、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間にあらかじめ定められた一定電流を流すための定電流源とを備えた測定装置に装着される測定装置用アダプターであって、前記第１テスト棒に電気的に接続される第１接続部と、前記第２テスト棒に接続される第２接続部とを備えており、前記第２接続部は、前記第２テスト棒に電気的に接続されるプローブを備えており、該プローブが、前記測定対象に接触していない場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態となり、前記プローブが、前記測定対象に接触した場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となることを特徴としている。
【００４０】
ここで、測定装置用アダプターが装着される測定装置は、測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するための極性の異なる第１テスト棒及び第２テスト棒と、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間にあらかじめ定められた一定電流を流すための定電流源とを備えるものである。
【００４１】
よって、第１テスト棒及び前記第２テスト棒を測定対象に接続した定常状態では、定電流源の動作により、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間にあらかじめ定められた一定電流が流れる。したがって、測定対象に流れる一定電流を、あらかじめ測定対象の定格電流以下に設定しておけば、測定対象を破壊しないようにすることが可能である。
【００４２】
ここで、定電流源は、測定対象の抵抗に関係なく、一定の電流を流す機能を持つものである。そうすると、抵抗が小さければ、電圧も小さいが、抵抗が大きければ、電圧も大きくなる。測定装置が測定対象と接続されていない状態は、無限大の抵抗を持つ測定対象に接続されていると看做すことができ、この場合のテスト棒の両端の電圧は、ほぼ、測定装置の電圧源の電圧に等しくなってしまう。
【００４３】
そこで、本発明の測定装置用アダプターは、前記第１テスト棒に電気的に接続される第１接続部と、前記第２テスト棒に接続される第２接続部とを備えており、前記第２接続部は、前記プローブが、前記測定対象に接触していない場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態（以下、「短絡状態」とも言う）となり、前記プローブが、前記測定対象に接触した場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態（以下、「非短絡状態」とも言う）となるように構成されている。
【００４４】
ここで、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒を本発明の測定装置用アダプターに装着した場合に、前記第１接続部は、前記第１テスト棒に電気的に接続され、前記プローブは、前記第２テスト棒に電気的に接続されるようになっている。
【００４５】
なお、前記第１接続部の構成としては、ネジ止め式、クリップ式、及び差し込み式など、前記第１テスト棒と前記第１接続部とを常時接続するものでも良い。この場合、測定の際に、測定対象に接触させるのは、第１接続部及び前記プローブ、又は前記第１接続部が接続された前記第１テスト棒及び前記プローブのいずれかとなる。
【００４６】
以上説明したように、本発明の測定装置用アダプターは、測定前は、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記第２接続部の前記プローブが、前記測定対象に接触していない場合であり、この場合には、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態なので、前記第１接続部及び前記プローブ間（前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間）の電位差は０Ｖに保持されている。
【００４７】
また、測定の際には、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記第２接続部の前記プローブが、前記測定対象に接触した場合であり、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように構成されている。
【００４８】
よって、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブを測定対象に接触させた瞬間の前記第１接続部及び前記プローブ間（第１テスト棒及び第２テスト棒間）の電位差の初期条件は０Ｖであるため前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間を流れる電流も０Ａであり、前記第１接続部及び前記プローブ間が、導通していない状態になると、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間に流れる電流は過渡的に増加し、最終的に定電流源の一定電流まで上昇し、定常状態に達する。
【００４９】
ここで、「該プローブが、前記測定対象に接触していない場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態となり」については、本発明の所期の目的を達成するような使用に際しては、前記第２接続部の前記プローブ及び前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）の両方を測定対象に接触させる必要があるが、機能的には、前記第２プローブが測定対象に接触すると、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように構成されていれば十分であることを意味する。
【００５０】
よって、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブをいきなり測定対象に接触させたとしても上記定格電流以上の電流が測定対象に流れることは無いので、過電圧・過電流で測定対象が破壊されることは無い。
【００５１】
また、前記プローブが、前記測定対象に接触している場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように構成されているので、測定装置の第１テスト棒及び第２テスト棒間の短絡・非短絡状態の切り替えをスイッチ操作などの面倒な手作業で行なう必要がなく、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができる。
【００５２】
以上より、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターを提供することができる。
【００５３】
また、本発明の測定装置用アダプターは、前記構成に加えて、前記第２接続部は、前記第２テスト棒を、前記プローブと電気的に接続可能に嵌挿するための被嵌挿口が設けられている棒受けを備えており、前記棒受けの前記被嵌挿口に対向する側には、前記プローブが設けられており、前記棒受けは、導体で構成されており、前記第１接続部と導通可能な導線が接続されている端子と、前記棒受けを、前記嵌挿方向に摺動可能に収容する筐体と、前記棒受けを、前記端子に接触させるように弾性力が作用する第１弾性体とを備えていても良い。
【００５４】
前記構成によれば、本発明の測定装置用アダプターは、前記第２テスト棒を、前記プローブと電気的に接続可能に嵌挿するための被嵌挿口が設けられている棒受けを備えている。また、前記棒受けの前記被嵌挿口に対向する側には、前記プローブが設けられている。なお、棒受けは導体で構成されている。
【００５５】
また、本発明の測定装置用アダプターは、前記第１接続部と導通可能な導線が接続されている端子と、前記棒受けを、前記嵌挿方向に摺動可能に収容する筐体と、前記棒受けを、前記端子に接触させるように弾性力が作用する第１弾性体とを備えている。
【００５６】
よって、前記第２テスト棒を前記棒受けの被嵌挿口に嵌挿し、測定装置用アダプターを測定装置に装着しただけで、前記プローブと、前記第１接続部とを導通した状態にすることができる。
【００５７】
また、測定の際には、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記第２接続部の前記プローブを、前記測定対象に接触させて、前記第１弾性体の弾性力に逆らって、前記端子と前記棒受けとを分離させれば、前記第１接続部及び前記プローブ間の導通状態を解除できる。
【００５８】
本発明の測定装置用アダプターは、前記構成に加えて、前記第１弾性体は、前記筐体内において、前記棒受けの前記プローブが設けられている側を、前記端子に接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、前記第２接続部は、前記第２テスト棒を装着した場合に、前記第２テスト棒の先端と、前記棒受けに設けられた前記被嵌挿口の前記プローブ側の内面との間に隙間が生じるように構成されていても良い。
【００５９】
以上の構成によれば、本発明の測定装置用アダプターを測定装置に装着した状態（測定前）では、第１弾性体の弾性力の作用により前記棒受けの前記プローブが設けられている側が、前記端子に接触している状態であり、また、上述したように、前記端子には、前記第１接続部と導通可能な導線が接続されている。これにより、前記第１接続部と前記プローブとを短絡状態とすることが可能となる。
【００６０】
また、本発明の測定装置用アダプターは、前記第１弾性体は、前記筐体内において、前記棒受けの前記プローブが設けられている側を、前記端子に接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、前記第２接続部は、前記第２テスト棒を装着した場合に、前記第２テスト棒の先端と、前記棒受けに設けられた前記被嵌挿口の前記プローブ側の内面との間に隙間が生じるように構成されていている。
【００６１】
このため、測定の際には、前記第１テスト棒及び第２テスト棒を手に持って、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブを測定対象に接触させ、前記筐体内で、前記第１弾性体の弾性力にさからって、前記隙間が埋まるように、前記棒受けを前記第２テスト棒側に摺動させることで、前記棒受けの前記プローブが設けられている側を、前記端子に接触してない状態にすることができる。
【００６２】
これにより、前記第１接続部と前記プローブと（前記第１テスト棒と前記第２テスト棒と）が非短絡状態となる。なお、第１弾性体は、つるまきばね、板バネなどの金属性のバネであっても良く、ゴムなどの非金属の弾性体であっても良い。
【００６３】
以上より、本発明の測定装置用アダプターを測定装置に装着すれば、第１弾性体の弾性力の作用により、測定前は、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒（前記第１接続部及び前記プローブ）間の短絡状態を保持し、測定の際に、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブを測定対象に接触させ、前記筐体内で、前記第１弾性体の弾性力にさからって、前記隙間が埋まるように、前記棒受けを前記第２テスト棒側に摺動させるという簡単な作業で、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒（前記第１接続部及び前記プローブ）間を非短絡状態にすることができる。
【００６４】
本発明の測定装置用アダプターは、前記構成に加えて、前記端子は、金属製の第２弾性体で構成されており、該第２弾性体は、前記隙間が無くなって前記第２テスト棒と前記棒受けとが接触する前に、弾性変形していない状態となることが好ましい。
【００６５】
前記構成によれば、前記隙間が無くなって前記第２テスト棒と前記棒受けとが接触する前において、前記第２弾性体が、弾性変形している間は、前記棒受けの前記プローブが設けられている側と前記端子とは、接触した状態が維持される。
【００６６】
従って、前記第２弾性体が、弾性変形している間は、前記棒受けの前記プローブが設けられている側と前記端子との接触状態が保持される。
【００６７】
よって、前記棒受けの前記プローブが設けられている側と前記端子とが接触している状態から分離した状態となるまでの間に所定の猶予期間を設けることができる。
【００６８】
この所定の猶予期間は、前記端子を構成する第２弾性体の弾性変形の程度によって適宜調整することが可能である。
【００６９】
以上によれば、前記第１接続部及び前記プローブ間が短絡状態から非短絡状態となるまでの間に所定の猶予期間を設けることができ、当該猶予期間中は短絡状態を解除できないため、前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブ間の電圧が測定装置の電圧源の電圧レベル程度に戻ってしまった状態で前記第１接続部（又は前記第１テスト棒）及び前記プローブが前記測定対象に接触して過電圧・過電流が生じてしまうといった誤動作を防止することができる。
【００７０】
本発明の測定装置用アダプターは、前記構成に加えて、前記第１弾性体は、前記筐体内において、前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側を、前記端子に接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、前記筐体は、絶縁体で構成されていると共に、前記プローブが軸方向に嵌挿される中空部が形成された筒状体を備えており、前記中空部の軸方向の長さは、前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側が、前記端子に接触しているときには、前記プローブが前記中空部内にあり、当該プローブの先端が前記中空部の前記測定対象側の出口に達したときには、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように設定されていても良い。
【００７１】
以上の構成によれば、本発明の測定装置用アダプターを測定装置に装着した状態（測定前）では、第１弾性体の弾性力の作用により前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側が、前記端子に接触している状態であり、また、上述したように、前記端子には、前記第１接続部と導通可能な導線が接続されている。これにより、前記第１接続部と前記プローブとを短絡状態とすることが可能となる。
【００７２】
また、前記筐体は、絶縁体で構成されていると共に、前記プローブが軸方向に嵌挿される中空部が形成された筒状体を備えている。
【００７３】
また、前記中空部の軸方向の長さは、前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側が、前記端子に接触しているときには、前記プローブが前記中空部内にあり、当該プローブの先端が前記中空部の前記測定対象側の出口に達したときには、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるように設定する。
【００７４】
よって、前記棒受けの前記被嵌挿口が設けられている側が、前記端子に接触しているときには、前記プローブが前記中空部内にあり、前記第１接続部と前記プローブとが短絡状態となる。
【００７５】
ここで、「前記プローブが前記中空部内にある」とは、前記中空部の前記プローブが嵌挿される側を「入口」とし、前記中空部の「入口」と対向する側を「出口」（前記中空部の前記測定対象側の出口）としたとき、前記プローブが「入口」から嵌挿されており、かつ前記プローブの先端が出口に達していない状態を意味する。すなわち、「出口」と、前記プローブの先端とが所定距離だけ離れていることを意味する。
【００７６】
一方、当該プローブの先端が前記中空部の前記測定対象側の出口に達したときには、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態（非短絡状態）となる。
【００７７】
なお、第１弾性体は、つるまきばね、板バネなどの金属性のバネであっても良く、ゴムなどの非金属の弾性体であっても良い。
【００７８】
以上より、本発明の測定装置用アダプターを測定装置に装着すれば、第１弾性体の弾性力の作用により、測定前は、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒（前記第１接続部及び前記プローブ）間の短絡状態を保持し、測定の際に、当該プローブの先端が前記中空部の前記測定対象側の出口に達して、前記測定対象に接触するようにするという単純な作業で、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒（前記第１接続部及び前記プローブ）間を非短絡状態にすることができる。
【００７９】
以上より、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターを提供することができる。
【発明の効果】
【００８０】
本発明の測定装置用アダプターは、以上のように、前記第１テスト棒に電気的に接続される第１接続部と、前記第２テスト棒に接続される第２接続部とを備えており、前記第２接続部は、前記第２テスト棒に電気的に接続されるプローブを備えており、該プローブが、前記測定対象に接触していない場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通している状態となり、前記プローブが、前記測定対象に接触した場合に、前記第１接続部及び前記プローブ間が導通していない状態となるものである。
【００８１】
それゆえ、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターを提供するという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００８２】
本発明の一実施形態について図１〜図４（ｄ）及び図６（ａ）に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００８３】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態であるテスター用アダプター（測定装置用アダプター）１０について図１、図２、及び図６（ａ）を参照して説明すれば、以下の通りである。
【００８４】
まず、図１及び図２に基づき、本発明の一実施形態であるテスター用アダプター１０の構成について説明する。
【００８５】
図１は、テスター用アダプター１０がテスターなどの測定装置（図示せず）に装着された時の状態を示す横断面図である。ここでは、紙面に向かって右側の測定対象に接触させる前の状態を示している。
【００８６】
前提として、テスター用アダプター１０が装着されるテスターは、測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するための極性の異なるテスターリード（第１テスト棒）ＴＬ−ａと、テスターリード（第２テスト棒）ＴＬ−ｂと、テスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間にあらかじめ定められた一定電流を流すための定電流源（図６（ａ）など参照）とを備えるものである。
【００８７】
よって、テスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂを測定対象に接続した定常状態では、定電流源の動作により、テスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間にあらかじめ定められた一定電流が流れる。したがって、測定対象に流れる一定電流を、あらかじめ測定対象の定格電流以下に設定しておけば、測定対象を破壊しないようにすることが可能である。
【００８８】
ここで、定電流源は、測定対象の抵抗に関係なく、一定の電流を流す機能を持つものである。そうすると、抵抗が小さければ、電圧も小さいが、抵抗が大きければ、電圧も大きくなる。測定装置が測定対象と接続されていない状態は、無限大の抵抗を持つ測定対象に接続されていると看做すことができ、この場合のテスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間の電圧は、ほぼ、測定装置の電圧源の電圧に等しくなってしまう。
【００８９】
以上のような問題点を解決するための本実施形態のテスター用アダプター１０は、図１に示すように、テスターリードＴＬ−ａに電気的に接続されるアダプター（第１接続部）１０ａ、及びテスターリードＴＬ−ｂに電気的に接続されるアダプター（第２接続部）１０ｂ、及び導線９を備える構成である。
【００９０】
また、アダプター１０ａは、テスターリード受け（棒受け）１a、探針（プローブ）２ａ、コイルスプリング（第１弾性体）４ａ、カバー（筐体）５ａ、板バネ６ａ、端子７ａ、及び引き出し部（端子）８ａを備える構成である。
【００９１】
また、アダプター１０ｂは、テスターリード受け（棒受け）１ｂ、探針（プローブ）２ｂ、コイルスプリング（第１弾性体）４ｂ、板バネ（端子、第２弾性体）４ｃ（図２参照）、カバー（筐体）５ｂ、板バネ６ｂ、端子７ｂ、及び引き出し部（端子）８ｂを備える構成である。なお、本実施の形態においては、板バネ４ｃを設ける構成としているが、板バネ４ｃを設けない構成を採用しても構わない。
【００９２】
ここで、以下で説明するように、アダプター１０ｂは、テスターリードＴＬ−ｂに電気的に接続される探針２ｂを備えており、探針２ｂが、測定対象に接触していない場合に、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が導通している状態（以下、「短絡状態」とも言う）となり、探針２ｂが、測定対象に接触した場合に、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が導通していない状態（以下、「非短絡状態」とも言う）となるように構成されているものである。
【００９３】
まず、アダプター１０ａの各構成要素について説明し、次に、アダプター１０ｂの各構成要素について説明する。
【００９４】
テスターリード受け１ａは、図１に示すように、テスターリードＴＬ−ａを、探針２ａと電気的に接続可能に嵌挿するための被嵌挿口（図１の紙面に向かって左側）が設けられている。また、テスターリード受け１ａの被嵌挿口に対向する側（図１の紙面に向かって右側）には、探針２ａが設けられており、さらに、テスターリード受け１ａは、導体で構成されている。
【００９５】
よって、テスターリードＴＬ−ａをテスターリード受け１ａの被嵌挿口に嵌挿して、テスター用アダプター１０をテスターに装着することにより、探針２ａとテスターリードＴＬ−ａとを電気的に接続することができる。
【００９６】
なお、被嵌挿口の形状としては、筒型の穴であれば良く、例えば、円柱を取り除いて形成された円筒状の穴や、直方体などを取り除いて形成された角筒状の穴などが考えられる。
【００９７】
探針２ａは、測定対象の電気的特性を調べるために測定対象に接触させるものである。
【００９８】
コイルスプリング４ａは、端子７ａと当接している。なお、コイルスプリング４ａは、端子７ａに当接させても良いし、接着、溶着等させても良い。これにより、本実施形態では、コイルスプリング４ａを介してテスターリード受け１ａと端子７ａとが常時接続された状態となる。
【００９９】
なお、本実施形態では、アダプター１０ａとアダプター１０ｂとの部品の共通化の観点から、コイルスプリング４ａを有する構成としているが、コイルスプリング４ａを設けず、テスターリード受け１ａと端子７ａとを直接接続する構成を採用しても良い。
【０１００】
また、テスターリードＴＬ−ａと、端子７ａを常時接続できればよいので、アダプター１０ａのようなプローブ付きアダプターという構成を採用する必要はない。このような、観点から、以下の実施の形態３では、プローブ付きアダプターでない形態について説明している。
【０１０１】
カバー５ａは、絶縁体で構成されたケースであり、テスターリード受け１ａを、テスターリードＴＬ−ａの嵌挿方向（紙面に向かって左右方向）に動かない（テスターリードＴＬ−ａと端子７ａとが分離しない）ように固定できれば、どのような構成を採用しても良い。
【０１０２】
板バネ６ａは、テスターリード受け１ａの被嵌挿口の内周側側面の突起部を形成しており、テスターリードＴＬ−ａを圧接して固定するために弾性変形可能となっている。本実施の形態では、板バネ６ａは、３つ設けられているが、１つ以上設けられていれば良い。
【０１０３】
これにより、テスター用アダプター１０を、テスターリードＴＬ−ａに装着すると、テスターリード受け１ａの被嵌挿口の内周側側面に設けらた弾性変形可能な板バネ６ａが、弾性力の作用により、装着されたテスターリードＴＬ−ａを圧接して固定するため、テスター用アダプター１０と測定装置との装着状態が簡単に解除されることを防止できる。また、テスターリードＴＬ−ａと探針２ａとの電気的接続状態をより良くすることができる。
【０１０４】
端子７ａ及び引き出し部８ａは、互いに電気的に接続されており、さらに、引き出し部８ａには、探針２ｂと導通可能な導線９が接続されている。
【０１０５】
次に、テスター用アダプター１０において、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）を短絡状態にしたり、非短絡状態にする機能の主要部分であるアダプター１０ｂの各構成要素について説明する。
【０１０６】
テスターリード受け１ｂには、図１に示すように、テスターリードＴＬ−ｂを、探針２ｂと電気的に接続可能に嵌挿するための被嵌挿口（図１の紙面に向かって左側）が設けられている。
【０１０７】
また、テスターリード受け１ｂの被嵌挿口に対向する側（図１の紙面に向かって右側）には、探針２ｂが設けられており、さらに、テスターリード受け１ｂは、導体で構成されている。
【０１０８】
探針２ｂは、測定対象の電気的特性を調べるために測定対象に接触させるものである。
【０１０９】
コイルスプリング４ｂは、カバー５ｂ内で、テスターリード受け１ｂの被嵌挿口側（紙面に向かって左側）に当接しており、端子７ｂとテスターリード受け１ｂとを接触させるように弾性力が作用するようになっている。
【０１１０】
また、コイルスプリング４ｂは、押しバネであり、バネの一端側から（紙面に向かって左側から右側に）押したときに元に戻ろうとする力、すなわち、コイルスプリング４ｂの弾性力を利用して、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側（紙面に向かって右側）を端子７ｂに接触させるように弾性力が作用するようになっている。
【０１１１】
コイルスプリング４ｂは、このテスターリード受け１ｂを紙面に向かって右側に押し戻そうとするバネである。なお、本実施形態では、コイルスプリング４ｂを用いて弾性体を構成したが、弾性体は、つるまきばね、板バネなどの金属性のバネであっても良く、ゴムなどの非金属の弾性体であっても良い。
【０１１２】
テスターリード受け１ｂとコイルスプリング４ｂとは、接着させていても良いし、互いに当接させた状態としていても良い。但し、測定前において端子７ｂとテスターリード受け１ｂとの導通が確保されることが条件である。
【０１１３】
カバー５ｂは、絶縁体で構成されたケースであり、テスターリード受け１ｂを、テスターリードＴＬ−ｂの嵌挿方向（紙面に対して左右方向）に、摺動可能に収容するものである。
【０１１４】
板バネ６ｂは、テスターリード受け１ｂの被嵌挿口の内周側側面の突起部を形成しており、テスターリードＴＬ−ｂを圧接して固定するために弾性変形可能となっている。本実施形態では、３つの板バネ６ｂが設けられているが、１つ以上設けていれば良い。
【０１１５】
これにより、テスター用アダプター１０を、テスターリードＴＬ−ｂに装着すると、テスターリード受け１ｂの被嵌挿口の内周側側面に設けらた弾性変形可能な板バネ６ｂが、弾性力の作用により、装着されたテスト棒を圧接して固定するため、テスター用アダプター１０とテスターリードＴＬ−ｂとの装着状態が簡単に解除されることを防止できる。また、テスターリードＴＬ−ｂと探針２ｂとの電気的接続状態をより良くすることができる。
【０１１６】
端子７ｂ、及び引き出し部８ｂは、互いに電気的に接続されており、さらに、引き出し部８ｂには、探針２ａと導通可能な導線９が接続されている。本実施形態では、コイルスプリング４ｂの弾性力により、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側（紙面に対して右側）が、端子７ｂに当接（接触）する状態が保持されている。
【０１１７】
また、テスターリードＴＬ−ｂをアダプター１０ｂに装着した状態では、テスターリードＴＬ−ｂの先端と、テスターリード受け１ｂの右端の内面との間に隙間Ａが存在している。
【０１１８】
以上の構成によれば、テスター用アダプター１０を測定装置に装着した状態（測定前）では、コイルスプリング４ｂの弾性力の作用によりテスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側が、端子７ｂに接触（当接）している状態であり、また、上述したように、端子７ｂには、アダプター１０ａと導通可能な導線９が接続されている。
【０１１９】
これにより、テスターリードＴＬ−ｂをテスターリード受け１ｂの被嵌挿口に嵌挿し、テスター用アダプター１０を測定装置に装着しただけで、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間を導通した状態にすることができる。
【０１２０】
また、測定の際には、アダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂを、測定対象に接触させて、コイルスプリング４ｂの弾性力に逆らって、端子７ｂとテスターリード受け１ｂとを分離させれば、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間の導通状態を解除できる。
【０１２１】
ここで、コイルスプリング４ｂは、図１に示すように、カバー５ｂ内において、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側を、端子７ｂに接触させるように弾性力が作用する位置に設けられており、アダプター１０ｂは、テスターリードＴＬ−ｂを装着した場合に、テスターリードＴＬ−ｂの先端と、テスターリード受け１ｂに設けられた被嵌挿口の端子７ｂ側の内面との間に隙間Ａが生じるように構成されている。
【０１２２】
このため、測定の際には、テスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂを手に持って、探針２ａ及び探針２ｂを測定対象に接触させ、カバー５ｂ内で、コイルスプリング４ｂにさからって、隙間Ａが埋まるように、テスターリード受け１ｂをテスターリードＴＬ−ｂ側に摺動させることで、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側を、端子７ｂに接触してない状態にすることができる。これにより、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が非短絡状態となる。
【０１２３】
以上より、テスター用アダプター１０を測定装置に装着すれば、コイルスプリング４ｂの弾性力の作用により、測定前は、テスターリードＴＬ−ａ（探針２ａ）及びテスターリードＴＬ−ｂ（探針２ｂ）間の短絡状態を保持し、測定の際に、探針２ａ及び探針２ｂを測定対象に接触させ、カバー５ｂ内で、コイルスプリング４ｂにさからって、隙間Ａが埋まるように、テスターリード受け１ｂをテスターリードＴＬ−ｂ側に摺動させるという簡単な作業で、テスターリードＴＬ−ａ（探針２ａ）及びテスターリードＴＬ−ｂ（探針２ｂ）間を非短絡状態にすることができる。
【０１２４】
ここで、図２に示すように、金属製の弾性体で構成された板バネ４ｃ（端子、第２弾性体）を設け、板バネ４ｃが、隙間Ａが無くなってテスターリードＴＬ−ｂとテスターリード受け１ｂとが接触する前に、弾性変形していない状態となるように構成することが好ましい。
【０１２５】
以上の構成によれば、隙間Ａが無くなってテスターリードＴＬ−ｂとテスターリード受け１ｂとが接触する前において、板バネ４ｃが、弾性変形している間は、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側と板バネ４ｃとは、接触した状態が維持される。
【０１２６】
従って、板バネ４ｃが、弾性変形している間は、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側と板バネ４ｃ（従って端子７ｂ）との接触状態が保持される。
【０１２７】
よって、テスターリード受け１ｂの探針２ｂが設けられている側と板バネ４ｃとが接触している状態から分離した状態となるまでの間に所定の猶予期間を設けることができる。
【０１２８】
この所定の猶予期間は、板バネ４ｃの弾性変形の程度によって適宜調整することが可能である。
【０１２９】
以上によれば、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が短絡状態から非短絡状態となるまでの間に所定の猶予期間を設けることができ、当該猶予期間中には、短絡状態を解除できないため、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間の電圧が測定装置の電圧源の電圧レベル程度に戻ってしまった状態でアダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂが測定対象に接触して過電圧・過電流が生じてしまうといった誤動作を防止することができる。
【０１３０】
なお、本実施形態のテスター用アダプター１０のようなプローブ式のアダプターの場合、アダプター１０ａとアダプター１０ｂとはなるべく同一の部品から構成されるようにすることが好ましい。この場合、アダプター１０ａと、アダプター１０ｂとで部品の共通化を図れるので、生産コストを低減させることが可能となる。
【０１３１】
以上説明したように、テスター用アダプター１０は、測定前は、アダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂが、測定対象に接触していない場合であり、この場合には、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が導通している状態なので、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間の電位差は０Ｖに保持されている。
【０１３２】
また、測定の際には、アダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂが、測定対象に接触した場合であり、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が導通していない状態となるように構成されている。
【０１３３】
よって、アダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂを測定対象に接触させた瞬間のアダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間の電位差の初期条件は０ＶであるためテスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間を流れる電流も０Ａであり、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が、導通していない状態になると、テスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間に流れる電流は過渡的に増加し、最終的に定電流源の一定電流まで上昇し、定常状態に達する。
【０１３４】
よって、アダプター１０ａの探針２ａ及びアダプター１０ｂの探針２ｂをいきなり測定対象に接触させたとしても上記定格電流以上の電流が測定対象に流れることは無いので、過電圧・過電流で測定対象が破壊されることは無い。
【０１３５】
また、探針２ｂが、測定対象に接触している場合に、アダプター１０ａの探針２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター１０ｂの探針２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間が導通していない状態となるように構成されているので、測定装置のテスターリードＴＬ−ａ及びテスターリードＴＬ−ｂ間の短絡・非短絡状態の切り替えを、スイッチ操作などの面倒な手作業で行なう必要がなく、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができる。
【０１３６】
以上より、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能なテスター用アダプター１０を提供することができる。
【０１３７】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施形態であるテスター用アダプター（測定装置用アダプター）２０について図３（ａ）及び図３（ｂ）を参照して説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、その説明を省略する。
【０１３８】
なお、ここでは、アダプター（第１接続部）２０ａ（不図示）及びアダプター（第２接続部）２０ｂ間の短絡状態・非短絡状態の切り替えにおいて重要な、アダプター２０ｂについてのみ説明する。
【０１３９】
図３（ａ）は、アダプター２０ｂに関し、テスター用アダプター２０に測定装置が装着される前の状態を示す横断面図であり、図３（ｂ）は、探針２２ｂを測定対象に接触させたときの状態を示す横断面図である。
【０１４０】
図３（ａ）及び図３（ｂ）に示すように、アダプター２０ｂのコイルスプリング２４ｂは、カバー２５ｂ内において、テスターリード受け２１ｂの被嵌挿口が設けられている側を、端子２７ｂに接触させるように弾性力が作用する位置に設けられている。
【０１４１】
また、図３（ａ）に示すように、カバー２５ｂは、絶縁体で構成されていると共に、探針２２ｂが、軸方向に嵌挿される中空部が形成された筒状体を備えている。
【０１４２】
また、前記中空部の軸方向の長さは、図３（ａ）に示すように、テスターリード受け２１ｂの被嵌挿口が設けられている側が、端子２７ｂに接触しているときには、探針２２ｂが前記中空部内にあり、図３（ｂ）に示すように、探針２２ｂの先端が前記中空部の測定対象側の出口に達したときには、テスターリードＴＬ−ａ（探針２２ａ：不図示）及びテスターリードＴＬ−ｂ（探針２２ｂ）間が導通していない状態となるように設定する。
【０１４３】
よって、テスターリード受け２１ｂの前記被嵌挿口が設けられている側が、端子２７ｂに接触しているときには、探針２２ｂが前記中空部内にあり、テスターリードＴＬ−ａ（探針２２ａ）及びテスターリードＴＬ−ｂ（探針２２ｂ）が短絡状態となる。
【０１４４】
ここで、「探針２２ｂが前記中空部内ににある」とは、前記中空部の探針２２ｂが嵌挿される側を「入口」とし、前記中空部の「入口」と対向する側を「出口」としたとき、探針２２ｂが「入口」から嵌挿されており、かつ探針２２ｂの先端が出口に達していない状態を意味する。すなわち、「出口」（前記中空部の測定対象側の出口）と、探針２２ｂの先端とが所定距離だけ離れていることを意味する。
【０１４５】
一方、探針２２ｂの先端が前記中空部の測定対象側の出口に達したときには、テスターリードＴＬ−ａ（探針２２ａ）及びテスターリードＴＬ−ｂ（探針２２ｂ）間が導通していない状態（非短絡状態）となる。
【０１４６】
なお、コイルスプリング２４ｂは、つるまきばね、板バネなどの金属性のバネであっても良く、ゴムなどの非金属の弾性体であっても良い。
【０１４７】
以上より、本発明の測定装置用アダプターを測定装置に装着すれば、コイルスプリング２４ｂの弾性力の作用により、測定前は、アダプター２０ａの探針２２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター２０ｂの探針２２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間の短絡状態を保持し、測定の際に、探針２２ｂの先端が前記中空部の測定対象側の出口に達して、測定対象に接触するようにするという単純な作業で、アダプター２０ａの探針２２ａ（テスターリードＴＬ−ａ）及びアダプター２０ｂの探針２２ｂ（テスターリードＴＬ−ｂ）間を非短絡状態にすることができる。
【０１４８】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施形態であるテスター用アダプターについて図４（ａ）〜図４（ｄ）を参照して説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１及び２と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１及び２の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、その説明を省略する。
【０１４９】
ここでは、短絡状態・非短絡状態の切り替えを行なわない、テスターリードＴＬ−ａに装着される第１接続部の別の構成例について説明する。
【０１５０】
図４（ａ）は、測定装置用アダプターにおける第１接続部を差込式とした場合の構成例を示す模式図であり、図４（ｂ）は、前記第１接続部をネジ止め式とした場合の構成例を示す模式図であり、図４（ｃ）は、前記第１接続部をクリップ式とした場合の構成例を示す模式図であり、図４（ｄ）は、前記第１接続部をＵ字型接続部とした場合の構成例を示す模式図である。
【０１５１】
上述したように、テスターリードＴＬ−ａに装着される第１接続部は、プローブ式のアダプター１０ｂなどと同様の短絡状態・非短絡状態解除機能を持たせる必要はなく、第２接続部からの導線とテスターリードＴＬ−ａとが常時接続されていても良い。
【０１５２】
したがって、このような第１接続部については、様々な構成例を考えることができる。
【０１５３】
例えば、図４（ａ）に示すように、差込部３０ａ、引き出し部３８ａ、及び導線３９から構成される第１接続部が考えられる。差込部３０ａは、テスターリードＴＬ−ａを差し込むための孔が設けられていれば、どのような形状を採用しても良い。ただし、利便性の観点からは、差込部３０ａのサイズはなるべく小さいほうが好ましい。以下同様のサイズに関する説明は省略する。
【０１５４】
他の例としては、図４（ｂ）に示すように、雌ネジ４０ａ、雄ネジ４８ａ、及び導線４９から構成される第１接続部も考えられる。
【０１５５】
また、さらに他の例としては、図４（ｃ）に示すように、クリップ５０ａ及び導線５９から構成される第１接続部が考えられ、また、図４（ｄ）は、テスターのテスターリードの先端部のテスト棒は、ネジ止め式になっている場合が多い点に鑑み、Ｕ字型接続部６０ａと導線６９とからなる第１接続部を構成した例を示している。
【０１５６】
なお、第１接続部の形態は、以上の構成例に限られる訳ではなく、第２接続部からの導線とテスターリードＴＬ−ａとが常時接続できる構成であれば、どのような構成を採用しても良い。
【０１５７】
以上の各実施形態で説明した構成によれば、測定装置のテスト棒に装着するだけで、測定装置のテスト棒間を短絡状態にすることができ、非短絡状態への切り替えが簡単に行えると共に、確実に過電圧・過電流で測定対象が破壊されないようにすることができるテスト棒に装着可能な測定装置用アダプターを提供することができる。
【０１５８】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１５９】
本発明は、測定対象に接触させて、その電気的特性を計測するための極性の異なる第１テスト棒及び第２テスト棒と、前記第１テスト棒及び前記第２テスト棒間にあらかじめ定められた一定電流を流すための定電流源とを備えた測定装置であれば、どのような装置に対しても適用可能なアダプターである。
【図面の簡単な説明】
【０１６０】
【図１】本発明における測定装置用アダプターの一実施形態に関し、測定装置に装着したときの状態を示す横断面図である。
【図２】前記測定装置用アダプターにおける測定対象に接触させたときの状態を示す横断面図である。
【図３】（ａ）は、本発明における測定装置用アダプターの他の実施形態に関し、前記測定装置用アダプターに測定装置が装着される前の状態を示す横断面図であり、（ｂ）は、前記測定装置用アダプターに測定装置が装着された後で、プローブを測定対象に接触させたときの状態を示す横断面図である。
【図４】（ａ）は、前記測定装置用アダプターにおける第１接続部の一構成例を示す模式図であり、（ｂ）は、前記第１接続部の他の構成例を示す模式図であり、（ｃ）は、前記第１接続部のさらに他の構成例を示す模式図であり、（ｄ）は、前記第１接続部のさらに他の構成例を示す模式図である。
【図５】（ａ）は、テスターによりＩＣ等の試料の電気的特性を測定する場合の様子を示す概略図であり、（ｂ）は、その等価回路を示す図である。
【図６】（ａ）は、テスターによりＩＣ等の試料の電気的特性を測定する場合の問題点を説明するための回路図であり、（ｂ）は、テスターの両テスト棒を直接測定対象に接触させた状態を説明するための等価回路を示す回路図であり、（ｃ）は、テスターの両テスト棒を一端短絡させてから、測定対象に接触させた状態を説明するための等価回路を示す回路図である。
【図７】従来の絶縁抵抗計の構成を示す回路図である。
【符号の説明】
【０１６１】
１ａ  テスターリード受け（棒受け）
１ｂ，２１ｂ  テスターリード受け（棒受け）
２ａ  探針（プローブ）
２ｂ，２２ｂ  探針（プローブ）
４ａ  コイルスプリング（第１弾性体）
４ｂ，２４ｂ  コイルスプリング（第１弾性体）
５ａ  カバー（筐体）
５ｂ，２５ｂ  カバー（筐体）
６ａ  板バネ
６ｂ，２６ｂ  板バネ
７ａ  端子
７ｂ，２７ｂ  端子
８ａ  引き出し部（端子）
８ｂ，２８ｂ  引き出し部（端子）
４ｃ  板バネ（端子、第２弾性体）
９，２９，３９，４９，５９，６９  導線
１０，２０  テスター用アダプター（測定装置用アダプター）
１０ａ  アダプター（第１接続部）
１０ｂ，２０ｂ  アダプター（第２接続部）
３０ａ  差込部（第１接続部）
４０ａ  雌ネジ（第１接続部）
４８ａ  雄ネジ（第１接続部）
５０ａ  クリップ（第１接続部）
６０ａ  Ｕ字型接続部（第１接続部）
Ａ  隙間
ＴＬ−ａ  テスターリード（第１テスト棒）
ＴＬ−ｂ  テスターリード（第２テスト棒）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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