(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、
１枚の前記投影画像を基準投影画像として、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の画素と各々の前記投影画像上の画素との間の類似度を算出する類似度算出手段と、
複数枚の前記投影画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、
前記断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の前記投影画像の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、前記断層画像を再構成する逆投影処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の第１領域と各々の前記投影画像上の第２領域との間の類似度を算出するものである請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
前記類似度算出手段は、複数枚の前記投影画像のうち、前記被検者の真正面から撮影された投影画像を前記基準投影画像とするものである請求項１または２に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、
複数枚の前記投影画像から前記断層画像を再構成する逆投影処理手段と、
前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の画素について、複数枚の前記投影画像間の、前記投影画像上の画素の類似度を算出する類似度算出手段と、
前記断層画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、
前記断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算して乗算処理画像を作成する乗算処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項５】
前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の所定の領域について、複数枚の前記投影画像間の、前記投影画像上の所定の領域の類似度を算出するものである請求項４に記載の放射線撮影装置。
【請求項６】
前記類似度算出手段は、正規化相互相関によって前記類似度を算出するものである請求項１〜５のいずれかに記載の放射線撮影装置。
【請求項７】
前記重み付け係数算出手段は、前記類似度を前記重み付け係数として使用するものである請求項１〜６のいずれかに記載の放射線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トモシンセシス撮影により複数枚の投影画像（放射線画像）を撮影し、撮影した複数枚の投影画像から、被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
トモシンセシス撮影では、例えば、放射線源を一方向に移動しながら被検者に異なる角度で放射線を照射し、被検者を透過した放射線を放射線検出器で検出することにより、撮影角度の異なる複数枚の投影画像を連続的に撮影する。そして、撮影した複数枚の投影画像を、注目構造物の位置が一致するようにシフトして対応する画素を重ね合わせることによって、被検者の所定断面における断層画像の再構成を行う。
【０００３】
トモシンセシス撮影では、撮影角度によって投影画像における構造物の重なり方が異なることを利用して、上記のように、投影画像を適切にずらしながら加算することによって、所望の断層面上の注目構造物が強調された画像（断層画像）を得る。
【０００４】
しかしながら、トモシンセシス撮影では、撮影角度の範囲が制限されることにより、奥行き方向の分離能力が制約され、再構成後の断層画像に注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生する場合があるという問題がある。
【０００５】
ここで、本発明に関連性のあると思われる先行技術文献として、特許文献１には、２枚の被写体の像からその動き量を測定するために、１枚の画像を４×６画素（ピクセル）毎の小領域に分割し、各小領域毎に２枚の画像の類似度を計算することが記載されている。また、特許文献２には、正規化相互相関法を用いて、テンプレート中の画像データとの類似性が高い探索領域中のサブ領域を決定することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−４９６３１号公報
【特許文献２】特開平７−３７０７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、再構成後の断層画像に注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる放射線撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、
１枚の前記投影画像を基準投影画像として、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の画素と各々の前記投影画像上の画素との間の類似度を算出する類似度算出手段と、
複数枚の前記投影画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、
前記断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の前記投影画像の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、前記断層画像を再構成する逆投影処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置を提供するものである。
【０００９】
ここで、前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の第１領域と各々の前記投影画像上の第２領域との間の類似度を算出するものであることが好ましい。
【００１０】
また、前記類似度算出手段は、複数枚の前記投影画像のうち、前記被検者の真正面から撮影された投影画像を前記基準投影画像とするものであることが好ましい。
【００１１】
また、本発明は、注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、
複数枚の前記投影画像から前記断層画像を再構成する逆投影処理手段と、
前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の画素について、複数枚の前記投影画像間の、前記投影画像上の画素の類似度を算出する類似度算出手段と、
前記断層画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、
前記断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算して乗算処理画像を作成する乗算処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置を提供する。
【００１２】
ここで、前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の所定の領域について、複数枚の前記投影画像間の、前記投影画像上の所定の領域の類似度を算出するものであることが好ましい。
【００１３】
また、前記類似度算出手段は、正規化相互相関によって前記類似度を算出するものであることが好ましい。
【００１４】
また、前記重み付け係数算出手段は、前記類似度を前記重み付け係数として使用するものであることが好ましい。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、投影画像間の類似度に応じて、画素値の重み付けを行うため、再構成後の断層画像において、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の放射線撮影装置の構成を表す一実施形態のブロック図である。
【図２】（Ａ）および（Ｂ）は、トモシンセシス撮影による断層画像の再構成時の様子を表す一例の概念図である。
【図３】画像処理装置の構成を表す第１実施形態のブロック図である。
【図４】トモシンセシス撮影により撮影される構造物と投影画像における構造物との位置関係を表す一例の概念図である。
【図５】断層画像の再構成時の様子を表す一例の概念図である。
【図６】構造物の位置と放射線源の位置と投影画像上における投影位置との関係を表す一例の概念図である。
【図７】画像処理装置の構成を表す第２実施形態のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下に、添付の図面に示す好適実施形態に基づいて、本発明の放射線撮影装置を詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明の放射線撮影装置の構成を表す一実施形態のブロック図である。同図に示す放射線撮影装置１０は、被検者３４をトモシンセシス撮影して、撮影角度の異なる複数枚の投影画像（放射線画像）を撮影し、撮影した複数枚の投影画像から、被検者３４の所定高さの断面における断層画像を再構成するものである。放射線撮影装置１０は、撮影装置１２と、コンソール１４とによって構成されている。
【００１９】
撮影装置１２は、被検者３４をトモシンセシス撮影して、撮影角度の異なる複数枚の投影画像を撮影するものであり、放射線源１６と、放射線制御装置１８と、撮影台２０とを備えている。
【００２０】
放射線源１６は、放射線制御装置１８の制御により、被検者３４の投影画像の撮影時に、所定強度の放射線を所定の時間だけ照射する。つまり、所定の照射量（線量）の放射線を照射する。
【００２１】
放射線制御装置１８は、後述するコンソール１４の制御装置２６の制御により、撮影条件に応じて、放射線源１６の動作（放射線の照射、照射位置および照射角度等）を制御する。
【００２２】
図示例の撮影台２０は、臥位撮影台であって、投影画像の撮影時に、被検者３４を位置決めするための台である。なお、撮影台２０として、立位撮影台を使用することもできる。撮影台２０の下側には、放射線検出器２２が配置されている。
【００２３】
放射線検出器２２は、例えば、フラットパネル型のもの（ＦＰＤ：フラットパネルディテクタ）であって、放射線源１６から照射され、被検者３４を透過した放射線を検出することによって、被検者３４が撮影された投影画像の画像信号（画像データ）を出力する。
【００２４】
続いて、コンソール１４は、放射線撮影装置１０全体の動作を制御するものであって、入力装置２４と、制御装置２６と、画像処理装置２８と、記録装置３０と、表示装置３２とを備えている。
【００２５】
入力装置２４は、例えば、撮影指示等の各種の指示や、撮影条件等の各種の情報を入力するためのものであって、キーボード、マウス等を例示することができる。
【００２６】
制御装置２６は、入力装置２４を介して入力される各種の指示や各種の情報に基づいて、放射線制御装置１８、画像処理装置２８、記録装置３０、および、表示装置３２の動作を制御する。
【００２７】
画像処理装置２８は、制御装置２６の制御により、放射線検出器２２から入力される複数枚の投影画像（の画像信号）に、画像合成処理やフィルタ補正処理等を含む各種の画像処理を施し、被検者３４の所定高さの断面における断層画像（の画像信号）を再構成して出力する。
【００２８】
記録装置３０は、制御装置２６の制御により、画像処理装置２８から出力される断層画像（の画像信号）等を含む各種の情報を記録するものであって、ハードディスク、ＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒ、プリンタ等を例示することができる。
【００２９】
表示装置３２は、制御装置２６の制御により、画像処理装置２８から出力される断層画像等を含む各種の情報を表示するものであって、液晶ディスプレイ等を例示することができる。
【００３０】
次に、トモシンセシス撮影時の放射線撮影装置１０の動作を説明する。
【００３１】
放射線撮影装置１０において、トモシンセシス撮影を行う場合、被検者３４が、撮影台２０の撮影面上に位置決めされる。その後、入力装置２４から撮影開始の指示が与えられると、制御装置２６の制御によりトモシンセシス撮影が開始される。
【００３２】
撮影が開始されると、撮影装置１２では、放射線制御装置１８の制御により、放射線源１６を一方向に移動しながら、被検者３４の方向に放射線源１６の照射角度を変えて、異なる照射角度で放射線が被検者３４に照射され、１回の撮影操作で撮影角度の異なる複数枚の投影画像が順次撮影される。そして、被検者３４の投影画像の撮影が行われる度に、放射線検出器２２から、撮影された投影画像の画像信号が出力される。
【００３３】
この時、コンソール１４では、制御装置２６の制御により、撮影装置１２から入力される複数枚の投影画像の画像信号が記録装置３０に順次記憶される。
【００３４】
撮影が終了すると、制御装置２６の制御により、記録装置３０に記憶された撮影角度の異なる複数枚の投影画像の画像信号から、複数枚の投影画像を位置合わせして重ね合わせる画像合成処理やフィルタ補正処理等を含む各種の画像処理が施され、被検者３４の所定断面における断層画像が再構成される。そして、再構成された断層画像は、表示装置３２上に表示され、必要に応じてその画像信号が記録装置３０に記録される。
【００３５】
以下、断層画像再構成時の動作を説明する。
【００３６】
断層画像の再構成方法としては代表的にシフト加算法が利用される。シフト加算法は、それぞれの投影画像の撮影時における放射線源１６の位置に基づいて、注目構造物の位置が合うように、撮影した複数枚の投影画像の位置を順次シフトして対応する画素を加算するものである。
【００３７】
図２（Ａ）および（Ｂ）は、トモシンセシス撮影による断層画像の再構成時の様子を表す一例の概念図である。同図（Ａ）に示すように、トモシンセシス撮影時に、放射線源１６が位置Ｓ１からスタートしてＳ３まで移動し、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３の各線源位置において被検者３４に放射線が照射され、それぞれ、被検者３４の放射線画像Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３が得られるものとする。
【００３８】
ここで、同図（Ａ）に示すように、被検者３４の高さの異なる２つの位置に構造物Ａ，Ｂが存在するとする。各撮影位置（撮影時の放射線源１６の位置）Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３において、放射線源１６から照射された放射線は、被検者３４を透過して放射線検出器２２に入射される。その結果、各撮影位置Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３に対応する投影画像Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３において、２つの構造物Ａ，Ｂは、それぞれ異なる位置関係で投影される。
【００３９】
例えば、投影画像Ｐ１の場合、放射線源１６の位置Ｓ１が、放射線源１６の移動方向に対して、構造物Ａ，Ｂよりも左側に位置するため、構造物Ａ，Ｂは、それぞれ、構造物Ａ，Ｂよりも右側にずれたＰ１Ａ，Ｐ１Ｂの位置に投影される。同様に、投影画像Ｐ２の場合には、ほぼ直下のＰ２Ａ，Ｐ２Ｂの位置に、投影画像Ｐ３の場合には、左側にずれたＰ３Ａ，Ｐ３Ｂの位置に投影される。
【００４０】
構造物Ａが存在する高さの断面における断層画像を再構成する場合、放射線源１６の位置に基づいて、注目構造物Ａの投影位置Ｐ１Ａ，Ｐ２Ａ，Ｐ３Ａが一致するように、例えば、同図（Ｂ）に示すように、投影画像Ｐ１を左へ、投影画像Ｐ３を右にシフトさせて対応する画素を合成する。これにより、注目構造物Ａが存在する高さの断層画像が再構成される。同様にして、任意高さの断面における断層画像を再構成することができる。
【００４１】
次に、画像処理装置２８における断層画像再構成時の画像処理について説明する。
【００４２】
図３は、画像処理装置の構成を表す第１実施形態のブロック図である。同図に示す画像処理装置２８Ａは、類似度算出部３６と、重み付け係数算出部３８と、逆投影処理部４０とを備えている。
【００４３】
類似度算出部３６は、トモシンセシス撮影により撮影された複数枚の投影画像のうちの１枚の投影画像、例えば、被検者の真正面から撮影された投影画像を基準投影画像として、断層画像上の同一位置に累積加算される、基準投影画像上の画素の近傍の所定領域（注目画素を含むその周辺のＭ×Ｎの画素領域）と各々の投影画像上の対応する画素の近傍の所定領域との間の類似度（もしくは、分散度）を正規化相互関数によって算出する。
【００４４】
重み付け係数算出部３８は、複数枚の投影画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する。なお、重み付け係数算出部３８は、類似度そのものを重み付け係数として使用してもよい。
【００４５】
そして、逆投影処理部４０は、断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の投影画像上の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、断層画像を再構成する。
【００４６】
画像処理装置２８Ａは、断層画像の再構成時に、断層画像上の同一位置に累積加算される、基準投影画像上の画素の近傍の所定領域と各々の投影画像上の対応する画素の近傍の所定領域との間の類似度（相関）に応じて、各々の投影画像の対応する画素の画素値を重み付けして加算することにより、焦点断面内の注目構造物を選択的に強調（焦点断面以外の構造物を抑制）する。
【００４７】
ここで、図４に示すように、トモシンセシス撮影により、注目構造物として、星状構造物および円状構造物を含む、被検者の複数枚（図４の例では３枚）の投影画像が撮影されたとする。
【００４８】
図６に示すように、被検者３４の所定断面における注目構造物の座標を（ｘ、ｙ、ｚ）、各々の投影画像の撮影時の放射線源の位置を（ｓｘｉ、ｓｙｉ、ｓｚｉ）、ｉ番目（ｉは、−Ｉ〜Ｉまでの整数、被検者３４の真正面から撮影された投影画像をＰ０とする）の投影画像Ｐｉ上における注目構造物の投影位置を（ｔｉ、ｓｉ、０）、投影画像Ｐｉの各画素の画素値をＰｉ（ｔｉ、ｓｉ）とすると、従来方法による再構成後の断層画像Ｔｚの各画素の画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）は、下記式で表される。
【００４９】
【数１】
0005358620.tif 000002
【００５０】
上記演算の結果、空間上の点（ｘ、ｙ、ｚ）を透過した各々の投影画像Ｐｉ上の画素情報が、断層画像Ｔｚ上の対応する画素の画素値Ｔｚ（ｘ，ｙ）に累積加算されることになるため、点（ｘ、ｙ、ｚ）の構造が強調された断層画像Ｔｚを得ることができる。例えば、点（ｘ、ｙ、ｚ）が図５に示す星状構造物上の１点であるとすれば、各々の投影画像Ｐｉの対応する画素の投影情報が重ね合わされるように作用するため、結果として、星状構造物が強調された断層画像Ｔｚを得ることができる。
【００５１】
これに対し、画像処理装置２８Ａでは、各々の投影画像Ｐｉの各画素（ｔｉ、ｓｉ）に対する重み付け係数をｗｉ（ｔｉ、ｓｉ）とすると、逆投影処理部４０により再構成される断層画像Ｔｚの各画素の画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）は、下記式で表される。
【００５２】
【数２】
0005358620.tif 000003
【００５３】
ここで、画像処理装置２８Ａにおいて、重み付け係数ｗｉ（ｔｉ、ｓｉ）は、以下のようにして算出される。
【００５４】
まず、類似度算出部３６により、複数枚の投影画像Ｐｉのうち、被検者３４の真正面から撮影された投影画像Ｐ０を基準投影画像Ｐ０として、断層画像Ｔｚ上の同一位置に累積加算される、基準投影画像Ｐ０上の画素の投影位置Ｐ０（ｔ０、ｓ０）の近傍矩形領域と、各々の投影画像Ｐｉ上の対応する画素の投影位置Ｐｉ（ｔｉ、ｓｉ）の近傍矩形領域との間の類似度が正規化相互相関によって算出される。
【００５５】
そして、重み付け係数算出部３８により、複数枚の投影画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数ｗｉ（ｔｉ、ｓｉ）が算出される。なお、基準投影画像Ｐ０の重み付け係数ｗ０（ｔ０、ｓ０）は、正規化自己相関となるため、“１”となる。
【００５６】
この重み付け係数ｗｉによる重み付けは、断層画像Ｔｚの各画素の画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）に累積加算される投影画像Ｐｉの対応する矩形領域間の類似度に応じて、画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）への寄与を変動させるように作用する。そのため、再構成後の断層画像Ｔｚにおいて、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。
【００５７】
なお、類似度算出部３６は、所定領域ではなく、断層画像Ｔｚ上の同一位置に累積加算される、基準投影画像Ｐ０上の投影位置Ｐ０（ｔ０、ｓ０）の画素と、各々の投影画像Ｐｉ上の投影位置Ｐｉ（ｔｉ、ｓｉ）の画素との類似度を算出するようにしてもよい。また、被検者の真正面から撮影された投影画像を基準投影画像とすることは必須ではなく、複数枚の投影画像Ｐｉのうちの1枚の投影画像を基準投影画像としてもよい。
【００５８】
また、類似度算出部３６は、正規化相互相関によって２つの投影画像の所定領域間ないし画素間の類似度を求めることも必須ではなく、各種のテンプレートマッチング（パターンマッチング）により両者の類似度を算出することができる。
【００５９】
また、画像処理装置２８Ａは、各々の投影画像の各画素を重み付けしてから断層画像を再構成しているが、これに限定されず、再構成後の断層画像の各画素を重み付けすることによっても同様の効果を得ることができる。以下、この場合について説明する。
【００６０】
図７は、画像処理装置の構成を表す第２実施形態のブロック図である。同図に示す画像処理装置２８Ｂは、逆投影処理部４２と、類似度算出部４４と、重み付け係数算出部４６と、乗算処理部４８とを備えている。
【００６１】
逆投影処理部４２は、複数枚の投影画像から断層画像を再構成する。
【００６２】
類似度算出部４４は、断層画像上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像上の画素の近傍の所定領域（注目画素を含むその周辺のＭ×Ｎの画素領域）間の類似度を正規化相互相関によって算出する。
【００６３】
重み付け係数算出部４６は、断層画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する。
【００６４】
そして、乗算処理部４８は、断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算することにより、乗算処理後の乗算処理画像を作成する。この乗算処理画像が、表示装置３２上に表示される。
【００６５】
画像処理装置２８Ｂは、断層画像の再構成後に、断層画像上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像上の画素の近傍の所定領域間の類似度に応じて、断層画像の対応する画素の画素値を重み付けすることにより、焦点断面内の注目構造物を選択的に強調（焦点断面以外の構造物を抑制）する。
【００６６】
画像処理装置２８Ｂでは、再構成後の断層画像Ｔｚの各画素Ｔｚ（ｘ、ｙ）に対する重み付け係数をｗｉ（ｘ、ｙ）とすると、再構成後の断層画像Ｔｚの各画素の画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）は、下記式で表される。
【００６７】
【数３】
0005358620.tif 000004
【００６８】
画像処理装置２８Ｂにおいて、重み付け係数ｗｉ（ｘ、ｙ）は、以下のようにして算出される。
【００６９】
まず、類似度算出部４４により、断層画像Ｔｚ上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像Ｐｉ上の画素の投影位置Ｐｉ（ｔｉ、ｓｉ）の近傍矩形領域間の類似度が、複数枚のうちの２画像間における正規化相互相関の平均値によって算出される。
【００７０】
そして、重み付け係数算出部４６により、断層画像Ｔｚの各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数ｗｉ（ｘ、ｙ）が算出される。
【００７１】
この重み付け係数ｗｉによる重み付けは、断層画像Ｔｚの各画素の画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）に累積加算される投影画像Ｐｉの対応する矩形領域間の類似度に応じて、画素値Ｔｚ（ｘ、ｙ）の値を変動させるように作用する。そのため、より少ない計算量で、再構成後の断層画像Ｔｚにおいて、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。
【００７２】
同様に、類似度算出部４４は、断層画像Ｔｚ上の同一位置に累積加算される、複数枚の投影画像Ｐｉ上の投影位置Ｐｉ（ｔｉ、ｓｉ）の画素間の類似度を算出するようにしてもよい。また、類似度算出部４４は、正規化相互相関に限らず、各種のテンプレートマッチング（パターンマッチング）により、２つの投影画像の所定領域ないし画素間の類似度を算出することができる。
【００７３】
上記実施形態の放射線撮影装置は、トモシンセシス撮影により、放射線源を直線状の軌道で移動して被検者の投影画像を撮影するものであるが、本発明はこれに限定されず、例えば、放射線源を、被検者を中心とする円弧状の軌道で移動して被検者の投影画像を撮影するものなど、放射線源を直線軌道以外の軌道で移動してトモシンセシス撮影を行う放射線撮影装置にも適用可能である。この場合、対応する画素を求める計算式を撮影の幾何学系に応じて変えれば本発明を適用することができる。
【００７４】
また、上記実施形態の放射線撮影装置は、シフト加算法により、被検者の所定断面における断層画像の再構成を行うものであるが、本発明はこれに限定されず、例えば、フィルタ逆投影法により対応する画素を累積加算して断層画像の再構成を行うものなど、シフト加算法以外の再構成法により断層画像の再構成を行う放射線撮影装置にも適用可能である。例えば、フィルタ逆投影法により断層画像の再構成を行う放射線撮影装置の場合、フィルタ処理後の投影画像を使って本発明を適用することができる。
【００７５】
本発明は、基本的に以上のようなものである。
以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
【符号の説明】
【００７６】
１０  放射線撮影装置
１２  撮影装置
１４  コンソール
１６  放射線源
１８  放射線制御装置
２０  撮影台
２４  入力装置
２６  制御装置
２８、２８Ａ、２８Ｂ  画像処理装置
３０  記録装置
３２  表示装置
３４  被検者
３６、４４  類似度算出部
３８、４６  重み付け係数算出部
４０、４２  逆投影処理部
４８  乗算処理部
【図１】
0005358620.tif 000005
【図２】
0005358620.tif 000006
【図３】
0005358620.tif 000007
【図４】
0005358620.tif 000008
【図５】
0005358620.tif 000009
【図６】
0005358620.tif 000010
【図７】
0005358620.tif 000011