(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータに応じた操作量を制御対象に出力する調節計であって、
制御応答の進行中に計測されていく前記計測値に基づいて、前記制御応答の複数の特徴量を、前記制御応答の進行に伴って順次算出していく演算処理部と、
それぞれの前記特徴量を保持するメモリ領域を複数有する書換可能な不揮発性メモリと、を備え、
前記複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を算出し、
前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、前記特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定し、
設定値を変更した際に、前記書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の複数の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にし、
複数の前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記書き込み対象に決定された前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された複数の特徴量を逐次書き込む調節計。
【請求項２】
前記メモリ領域には、前記制御パラメータが前記特徴量に対応付けて記憶されている請求項１に記載の調節計。
【請求項３】
前記優先度が、前記メモリ領域に前記特徴量が書き込まれた時間に基づいて、決定されている請求項１、又は２に記載の調節計。
【請求項４】
前記優先度が、前記メモリ領域に書き込まれている前記特徴量に基づいて、決定されている請求項１乃至３のいずれか１項に記載の調節計。
【請求項５】
計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータに応じた操作量を制御対象に出力する調節計であって、
前記計測値に基づいて制御応答の特徴量を算出する演算処理部と、
前記特徴量を保持するメモリ領域を複数有する書換可能な不揮発性メモリと、を備え、
前記複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を算出し、
前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、前記特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定し、
設定値を変更した際に、前記書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にし、
前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された特徴量を書き込み、
前記特徴量を用いて前記優先度を算出するための評価関数が設定され、
前記評価関数によって、前記制御応答の調整目標から最も遠いと判断されたメモリ領域が書き込み対象と決定される調節計。
【請求項６】
書換可能な不揮発性メモリを有し、
計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータに応じた操作量を制御対象に出力する調節計の動作方法であって、
制御応答の進行中に計測されていく前記計測値に基づいて、前記制御応答の複数の特徴量を、前記制御応答の進行に伴って順次算出していくステップと、
前記複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を算出するステップと、
前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、前記特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定するステップ、
前記設定値を変更した際に、書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の前記複数の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にするステップと、
前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記制御応答の進行中に、前記書き込み対象に決定された前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された複数の特徴量を逐次書き込むステップとを有する調節計の動作方法。
【請求項７】
前記メモリ領域には、前記制御パラメータが前記特徴量に対応付けて記憶されている請求項６に記載の調節計の動作方法。
【請求項８】
前記優先度が、前記メモリ領域に前記特徴量が書き込まれた時間に基づいて、決定されている請求項６、又は７に記載の調節計の動作方法。
【請求項９】
前記優先度が、前記メモリ領域に書き込まれている前記特徴量に基づいて、決定されている請求項６乃至８のいずれか１項に記載の調節計の動作方法。
【請求項１０】
書換可能な不揮発性メモリを有し、
計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータに応じた操作量を制御対象に出力する調節計の動作方法であって、
前記複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を算出するステップと、
前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、前記特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定するステップ、
前記設定値を変更した際に、書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にするステップと、
前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された特徴量を書き込むステップとを有し、
前記特徴量を用いて前記優先度を算出するための評価関数が設定され、
前記評価関数によって、前記制御応答の調整目標から最も遠いと判断されたメモリ領域が書き込み対象と決定される調節計の動作方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、調節計、及びその動作方法に関し、特に詳しくは、不揮発性メモリを有する調節計、及びその動作方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
加熱処理炉などの温度を制御するために、調節計が利用されている。例えば、ＰＩＤ制御を行う調節計では、ＰＩＤパラメータなどの多数のパラメータを設定する必要がある。調節計は、これらのパラメータの設定を利用して温度を制御する。すなわち、調節計は、温度センサでの計測値に基づいて、ＰＩＤ制御を行う。
【０００３】
調節計は、ＰＩＤパラメータを用いて、目標温度と計測温度とに基づいた操作量を出力する。これにより、計測温度を目標温度に近づけることができる。ここで、調節計による制御では、ＰＩＤパラメータなどの制御パラメータの設定が必要となる。
【０００４】
制御の不具合把握や制御パラメータ（例えば、ＰＩＤ制御におけるＰＩＤパラメータ）の調整のために利用する制御結果のデータとして、制御量の時系列データや制御応答の特徴量（設定値到達時間、オーバーシュート量、ハンチング周期等）のデータがある。また、監視対象の特徴量と基準値をユーザが予め定め、調節計で自動検出した特徴量の値を基準値と比較し、制御性能を監視する方法が紹介されている（特許文献１）。このようにすることで、管理するデータ量を少なくすることができる。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−５０６０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
調節計には、制御パラメータ等を記憶するため、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）が使用される。調節計には、データロガーなどと異なり、メモリの制約がある。このため、時系列データでなく特徴量のデータを収集の対象とするのが現実的である。すなわち、時系列に沿った計測温度からなる時系列データでは、データ量が膨大になってしまう。時系列データではなく、特徴量データを収集することで、記憶するデータ量を少なくすることができる。このような特徴量データは、昇温や降温などの制御動作による制御応答から特徴量データが収集される。すなわち、設定値を変更した後、一定期間の温度を計測することで、制御応答の特徴量が抽出される。
【０００７】
制御の不具合把握や制御パラメータの調整のために、調節計で複数の特徴量を自動検出し保持する場合を考える。制御動作（昇温や降温等）の度にＥＥＰＲＯＭに新たなメモリ領域を確保して保存する方法は、調節計のメモリの制約から現実的でない。そのため、予め特徴量データを保持するメモリ領域をＥＥＰＲＯＭに確保し、制御動作（昇温や降温等）の度に再利用する方法が考えられる。
【０００８】
ＥＥＰＲＯＭへの書き込み方法としては、１種類の特徴量が検出されるたびに逐次書き込む方法（Ａ）と、１種類の特徴量が検出されるたびに逐次ＲＡＭ領域に書き出し、制御動作完了時にまとめて書き込む方法（Ｂ）がある。方法（Ａ）、及び方法（Ｂ）では、特徴量の検出が途中で中断した場合、以下に示す問題が生じる。
【０００９】
方法（Ａ）においては、ユーザが制御動作を中断した場合、最新の特徴量データと前回の特徴量データがＥＥＰＲＯＭのメモリ領域に混在することになる。すなわち、最新の（中断した）制御動作に対する検出データと１回前の制御動作で検出されたデータとがＥＥＰＲＯＭ上に区別なく混在することになる。このため、ユーザは最新の制御動作に対する検出データだけを正しく取得することはできない。よって、ユーザが特徴量を利用することができなくなってしまう。
【００１０】
一方、方法（Ｂ）は、制御応答の整定等によって制御応答完了を判断し、ＲＡＭ領域のデータをまとめてＥＥＰＲＯＭに書き込む方法である。ユーザが制御動作を中断した場合には、ＥＥＰＲＯＭに書き込まれず、供給電源が絶たれると検出データをすべて失ってしまうという問題が発生する。何らかのアクシデントや操作ミスによって、制御が中断した場合、全ての特徴量が失われてしまう。
【００１１】
このように、制御応答の途中で制御動作を中断した場合、その検出結果を利用することができなくなってしまう。すなわち、制御応答の特徴量を検出してメモリに記憶する調節計では、検出された最新の特徴量データを活用できない。このため、例えば、再度、昇温や降温等の制御動作を行わなくてはならなくなってしまう。
【００１２】
このように従来の調節計では、制御応答の途中で制御動作を中断した場合、検出された最新の特徴量データを活用できないため、利便性が低下してしまうという問題点がある。
【００１３】
本発明は、このような問題点を解決するためになされたもので、メモリ量などの制約に可能な限り対応しながら、有効な特徴量データを確実に不揮発性メモリに保持できる調節計およびその動作方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の第１の態様にかかる調節計は、計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータに応じた操作量を制御対象に出力する調節計であって、前記計測値に基づいて制御応答の特徴量を算出する演算処理部と、前記特徴量を保持するメモリ領域を複数有する書換可能な不揮発性メモリと、を備え、前記複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を算出し、前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、前記特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定し、前記設定値を変更した際に、前記書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にし、前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された特徴量を書き込むものである。これにより、制御を途中で中断した場合でも、不揮発性メモリに一部の特徴量が記憶される。従って、利便性を向上することができる。
【００１５】
本発明の第２の態様にかかる調節計は、上記の調節計であって、前記メモリ領域には、前記制御パラメータが前記特徴量に対応付けて記憶されているものである。これにより、特徴量を書き込まれたときに使用した制御パラメータを確認することができる。
【００１６】
本発明の第３の態様にかかる調節計は、上記の調節計であって、前記優先度が、前記メモリ領域に前記特徴量が書き込まれた時間に基づいて、決定されているものである。これにより、簡便に書き込み対象となるメモリ領域を決定することができる。
【００１７】
本発明の第４の態様にかかる調節計は、上記の調節計であって、前記優先度が、前記メモリ領域に書き込まれている前記特徴量に基づいて、決定されているものである。これにより、調整目標に最も近い特徴量を持つ制御応答時に検出された特徴量を残すことができる。
【００１８】
本発明の第５の態様にかかる調節計は、上記の調節計であって、前記特徴量を用いて前記優先度を算出するための評価関数が設定され、前記評価関数によって、前記制御応答の調整目標から最も遠いと判断されたメモリ領域が書き込み対象と決定されるものである。これにより、調整目標に最も近い制御応答時に検出された特徴量を残すことができる。
【００１９】
本発明の第６の態様にかかる調節計の動作方法は、書換可能な不揮発性メモリを有し、計測値を設定値に近づけるように、制御パラメータをに応じた操作量を制御対象に出力する調節計の動作方法であって、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域に対応した前記特徴量を利用して各メモリ領域の書き込み優先度を決定するステップと、前記優先度を用いて、前記不揮発性メモリに設けられた複数のメモリ領域の中から、制御応答の特徴量を書き込む書き込み対象のメモリ領域を決定するステップと、設定値を変更した際に、書き込み対象に決定された前記メモリ領域上の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にするステップと、前記特徴量のデータが無効と識別可能な状態になった後、前記メモリ領域上に最新の制御動作で検出された特徴量を書き込むステップとを有するものである。これにより、制御を途中で中断した場合でも、不揮発性メモリに一部の特徴量が記憶される。従って、利便性を向上することができる。
【００２０】
本発明の第７の態様にかかる調節計の動作方法は、上記の動作方法であって、前記メモリ領域には、前記制御パラメータが前記特徴量に対応付けて記憶されているものである。これにより、特徴量を書き込まれたときに使用した制御パラメータを確認することができる。
【００２１】
本発明の第８の態様にかかる調節計の動作方法は、上記の動作方法であって、前記優先度が、前記メモリ領域に前記特徴量が書き込まれた時間に基づいて、決定されているものである。これにより、簡便に書き込み対象となるメモリ領域を決定することができる。
【００２２】
本発明の第９の態様にかかる調節計の動作方法は、上記の動作方法であって、前記優先度が、前記メモリ領域に書き込まれている前記特徴量に基づいて、決定されているものである。これにより、調整目標に最も近い特徴量を持つ制御応答時に検出された特徴量を残すことができる。
【００２３】
本発明の第１０の態様にかかる調節計の動作方法は、上記の動作方法であって、前記特徴量を用いて前記優先度を算出するための評価関数が設定され、前記評価関数によって、前記制御応答の調整目標から最も遠いと判断されたメモリ領域が書き込み対象と決定されるものである。これにより、制御目標に近い制御応答時に検出された特徴量を残すことができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、メモリ量などの制約に可能な限り対応しながら、有効な特徴量データを確実に不揮発性メモリに保持できる調節計及びその動作方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
本実施の形態では、ＥＥＰＲＯＭのメモリ領域の初期化を特徴量検出以前に実施することで、ユーザが制御動作を中断した場合でも、最新の制御動作で検出した特徴量データを識別し提供可能とする調節計を実現する。さらに、ＥＥＰＲＯＭに予め確保するメモリ領域を２セット以上用意し、書き込みの優先度を利用して新たな検出データを書き込むメモリ領域を決定することで、ユーザにとって有効な保存済みデータを失う可能性を低減する。なお、メモリ領域には制御動作を実行した際の１つ以上の制御パラメータを特徴量の検出データと合わせて保持するのが望ましい。以下、１回の制御動作に対してメモリに保持されるデータをデータセットと記述する場合もある。
【００２６】
本件特許出願の発明者は、ユーザが制御動作を中断した際、ＥＥＰＲＯＭに保持されているデータが、最新の昇温や降温等の制御動作に対する検出データ（以下、新検出データと記）のみではないことから、ＥＥＰＲＯＭの初期化のタイミングに着眼した。つまり、ＥＥＰＲＯＭに新検出データが書き出される以前にメモリ領域上の旧検出データが無効と識別できる状態にすればよい。
【００２７】
その方法として、ＥＥＰＲＯＭに新検出データが書き出される以前にメモリ領域を初期化し、旧検出データを予めメモリ領域から削除しておけば、制御動作中断時にＥＥＰＲＯＭに保持されているデータは新検出データのみとなる。このため、新検出データを容易に取り出せる。そして、メモリ領域の初期化は、最初の新検出データがＥＥＰＲＯＭに書き込まれる以前であり、昇温や降温等の制御動作開始時に特徴的な設定値変更のタイミングが適当であることを想到している。
【００２８】
また、昇温や降温等の制御動作開始時にメモリ領域上の旧検出データをメモリ領域上の各特徴値データの有効/無効を識別するフラグを別に用意して、上記制御動作開始時（すなわち設定値変更時）にフラグをすべて無効の状態に初期化し、特徴量検出毎にフラグを無効から有効に更新し、フラグのデータによりメモリ領域上の新検出データのみを取り出す方法もある。
【００２９】
しかしながら発明者は、この方法を実施すると、設定ミスや操作ミスによってユーザが意図しない制御動作が開始された場合、ユーザにとって有効な過去の制御動作のデータが何も残らなくなる点に着目している。そして、この問題の解決策として、ＥＥＰＲＯＭに予め確保するメモリ領域を２セット以上とし、各々のメモリ領域の書き込み優先度によって利用するメモリ領域を決定し、決定したメモリ領域から旧検出データを排除し、新たに検出されたデータをこのメモリ領域に書き込むことを想到している。
【００３０】
書き込み優先度の決定方法としては、「データセットの生成や更新日時の新旧」による方法が考えられる。複数のメモリ領域にあるデータセットの保存日時を比較し、最も古いデータセットが保持されているメモリ領域を書き込み優先度が高いと判断する方法である。これにより、ユーザは確保したメモリ領域数に相当する数の最新のデータセットを保持することができる。
【００３１】
しかし、例えば、制御パラメータの調整作業の場合には、「データセットの生成や更新日時の新旧による方法」ではなく、ユーザが調整目標としている特徴量の値を利用して書き込み優先度を決定する方法が有効である。調節計の調整作業においては、制御パラメータの値を決定し、決定した制御パラメータを調節計に適用して昇温や降温等の制御動作を実行し、制御結果を確認する、という一連の作業を繰り返し、最終的には、ユーザが所望する制御結果、もしくは調整作業で実施した制御結果の中からユーザが所望する制御結果に最も近い制御結果が得られる制御パラメータの値を調整結果として決定する。
【００３２】
しかしながら、制御パラメータが制御結果に及ぼす影響は必ずしも事前に予測できるわけではない。つまり、調整作業で実施した複数の制御動作の結果は、必ずしも、時間経過に伴ってユーザが所望する制御結果に近づくわけではない。ユーザが必要とするのは、ユーザが所望する制御結果により近い制御結果を得られる制御パラメータであるため、失って構わないメモリ領域上の旧データセットは、ユーザが所望する制御結果からより離れた制御結果に対するデータセットである。
【００３３】
以上の観点から、少なくとも２セット分のメモリ領域を確保し、その中で最も所望の制御結果に近いデータセットがＥＥＰＲＯＭに残るようにした。これにより、調整作業における複数回の試行錯誤を通してベストのデータセットが残るので、この結果をもって調整作業を終えて本稼動に移行するかどうかの判断をオペレータが行なえるようになる。また同時に、得られている範囲でのベストの制御を本稼動において採用できることになる。
【００３４】
よって、書き込み優先度は、設定値到達時間、オーバーシュート量、などの制御結果の特徴量を利用して、ユーザが調整目標としている制御結果に、より近いものかどうかを判断できるような書き込み優先度の評価関数を利用するのが有効である。例えば、特定の特徴量そのものの値を利用したり、複数の特徴量に対して正規化や加算等の演算処理を組み合わせた評価関数を利用する。この方法を用いれば、書き込み済みの複数のデータセットの中から、ユーザにとって有効な制御動作に対するデータセットが、書き込み優先度が低い（データの重要度が高い）という判断が行なわれ、メモリ領域に残る可能性が高まる。
【００３５】
発明の実施の形態１．
以下に、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本実施の形態にかかる調節計の計装事例を示す図である。
【００３６】
調節計１は、加熱処理炉６内に設けられている被加熱物８の温度を調整する。加熱処理炉６内には、被加熱物８と、温度を測定するための温度センサ５と、加熱を行うためのヒータ４とが設けられている。調節計１には、目標温度となる設定値ＳＰが設定されている。この設定値ＳＰは、例えば、ユーザによって指定される。あるいは、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）などから設定値ＳＰを調節計１に転送しても良い。また、温度センサ５で計測された計測温度が制御量ＰＶとして調節計１に入力されている。調節計１は、設定値ＳＰと制御量ＰＶとに基づいて、フィードバック制御を行う。すなわち、調節計１は、予め設定されている設定値ＳＰ（目標温度）に制御量ＰＶ（温度計測値）を近づけるように制御を行う。
【００３７】
本実施の形態では、調節計１がＰＩＤ制御を行う。この場合、ＰＩＤパラメータが前記制御パラメータに相当する。調節計１はＰＩＤパラメータに応じた操作量ＭＶを電力機器７に出力する。従って、調節計１は、予め設定されているＰＩＤパラメータの値に応じて電力機器７を制御する。すると、電力機器７がヒータ４に供給する電力を調整する。すなわち、操作量（ＭＶ）に応じた電力が電力機器７からヒータ４に供給される。これにより、加熱処理炉６内の被加熱物８が加熱され、温度センサ５で計測される制御量ＰＶが設定値ＳＰに近づくように制御される。すなわち、計測温度が目標温度に近づいていく。
【００３８】
次に、本実施の形態にかかる調節計１について、説明する。調節計１は、演算処理部１１と、ＥＥＰＲＯＭ１２と、ＲＡＭ１３とを備えている。演算処理部１１は、演算処理ユニットであり、ＥＥＰＲＯＭ１２やその他のＲＯＭ（不図示）に格納されているプログラムを実行する。また、演算処理部１１は、設定されているＰＩＤパラメータを用いて演算処理を行う。ＲＡＭ１３は、演算処理部１１の演算に必要な値や、演算処理部１１の演算で求められた値を一時的に格納する。例えば、ＲＡＭ１３には、温度センサ５で計測された計測温度が制御量ＰＶとして記憶される。ＥＥＰＲＯＭ１２は、電気的に書換可能な不揮発性メモリであり、ＰＩＤパラメータや制御プログラム等を格納する。例えば、ＥＥＰＲＯＭ１２に既に書き込まれているデータを消去し、新たなデータを書き込むことで、データ書換が実行される。ＥＥＰＲＯＭ１２には、通常、書き込み回数に制限がある。演算処理部１１は、ＥＥＰＲＯＭ１２やＲＡＭ１３に対するデータの書き込みや読み出しを行う。
【００３９】
演算処理部１１は、操作量ＭＶを算出するためのプログラムを実行する。具体的には、演算処理部１１がＰＩＤパラメータを用いてＰＩＤ演算を実行し、操作量ＭＶを算出する。すなわち、設定値ＳＰと制御量ＰＶとから、適切と判断される操作量ＭＶを求める。調節計１が操作量ＭＶを電力機器７に出力すると、電力機器７がその操作量ＭＶに応じた電力をヒータ４に供給する。これにより、加熱処理炉６内の被加熱物８が加熱される。よって、制御量ＰＶが設定値ＳＰに近づくように制御される。このように、制御量ＰＶと設定値ＳＰに基づいてＰＩＤ演算を実行し、操作量ＭＶを求めることで、フィードバック制御が行われている。
【００４０】
演算処理部１１は、さらに、制御応答の特徴量を自動検出するためのプログラムを実行する。ユーザは、この特徴量を確認することによって、ＰＩＤパラメータを調整することができる。すなわち、制御応答から、ＰＩＤパラメータを設定するために必要な特徴量が抽出される。そして、この特徴量をＥＥＰＲＯＭ１２に書き込む。さらに、ユーザが特徴量を確認して、ＰＩＤパラメータを変更する。
【００４１】
次に、自動検出される特徴量の一例について、図２を用いて説明する、図２は、調節計１による制御応答の波形を示す図である。すなわち、図２は、ＰＩＤ制御を実行した時の昇温特性を示す図である。図２において、横軸は時間、縦軸は制御量ＰＶ（温度計測値）を示している。
【００４２】
設定値ＳＰが変更されると、昇温制御が開始される。例えば、室温であった設定値ＳＰが１００℃に設定変更されたとする。このとき、制御量ＰＶが設定値ＳＰよりも低くなっているため、高い値の操作量ＭＶを出力する。すると、ヒータ加熱によって加熱処理炉６内が昇温して、制御量ＰＶが設定値ＳＰに到達する。制御開始点から設定値到達時間（ｓｅｃ）を経過した時点で、制御量ＰＶと設定値ＳＰが一致する。この設定値到達時間が特徴量の一つとなる。通常はこの時点で操作量ＭＶが低い値になっている。
【００４３】
その後、オーバーシュートして、制御量ＰＶが設定値ＳＰを越える。すると、操作量ＭＶが低い値になっているので、加熱処理炉６内が降温して、設定値ＳＰよりも下がっていく。ここで、制御量ＰＶの最大値と設定値ＳＰとの差であるオーバーシュート量（℃）が特徴量の一つとなる。
【００４４】
さらに、操作量ＭＶが設定値ＳＰに近づくよう、制御を続けると、ハンチングしていく。すなわち、時間とともに制御量ＰＶが上昇、下降を繰り返していく。設定値ＳＰ以上まで上昇するのと、設定値ＳＰ以下まで下降するのとを繰り返すような操作量ＭＶが継続的に出力される。制御量ＰＶが設定値ＳＰ以上になっている間における極大点の時間を求める。そして、隣接する極大点の時間間隔の平均値がハンチング周期となる。このハンチング周期（ｓｅｃ）が特徴量の一つとなる。
【００４５】
このようなオーバーシュート量、ハンチング周期、及び設定値到達時間が特徴量として抽出される。理想的な昇温特性では、オーバーシュート量が少なく、ハンチング周期が長いか実質的に検出されなく（つまりハンチングが発生しない）、設定値到達時間が短くなる。従って、これらの特徴量を参照することで、ユーザがＰＩＤパラメータを調整することができる。すなわち、オーバーシュート量が少なく、ハンチング周期が長く、設定値到達時間が短くなるような、ＰＩＤパラメータをユーザが設定する。具体的には、これらの特徴量に基づいて、ユーザがＰＩＤパラメータを変更して、再度、制御応答を見る。ユーザによるＰＩＤパラメータの設定、調整計１による制御応答の測定、特徴量の検出を繰り返していくことで、ＰＩＤパラメータを最適なものに近づけることができる。よって、所望の制御応答波形を得ることができる。特徴量を用いることで、制御周期毎に計測される制御量ＰＶの時系列データを大量に保持しなくてもよくなる。従って、必要なメモリサイズを小さくすることができる。
【００４６】
そして、この特徴量がＥＥＰＲＯＭ１２に格納される。すなわち、演算処理部１１は、算出した特徴量をＥＥＰＲＯＭ１２に書き込む。ここで、ＥＥＰＲＯＭ１２には、特徴量を格納するメモリ領域が２セット用意されている。特徴量が書き込まれる２つの領域を図１に示すように、第１メモリ領域１２ａ、及び第２メモリ領域１２ｂとする。第１メモリ領域１２ａ、及び第２メモリ領域１２ｂのそれぞれは、オーバーシュート量、ハンチング周期、及び設定値到達時間を書き込むためのメモリサイズを有している。予め特徴量データを保持する第１メモリ領域１２ａ、及び第２メモリ領域１２ｂをＥＥＰＲＯＭに確保し、制御動作（昇温や降温等）の度に再利用する。すなわち、第１メモリ領域１２ａ、及び第２メモリ領域１２ｂのそれぞれは、オーバーシュート量、ハンチング周期、及び設定値到達時間を書き込むために必要なサイズを確保している。
【００４７】
演算処理部１１は、制御応答に対する特徴量を、どちらかのメモリ領域に書き込む。計測される制御量ＰＶから特徴量を検出して、第１メモリ領域１２ａにその特徴量を逐次書き込んでいく。以下に、特徴量をＥＥＰＲＯＭ１２に書き込むための処理について、図３を用いて説明する。図３は、特徴量をＥＥＰＲＯＭ１２に書き出す処理を示すフローチャートである。
【００４８】
まず、制御動作中か否かを判定する（ステップＳ１）。例えば、ＰＩＤ演算の結果として操作量ＭＶが出力されているかを判定する。ＰＩＤ演算の結果として操作量ＭＶが出力されている場合、制御動作中と判定される。制御動作中において、設定値が変更されたか否かを判定する（ステップＳ２）。設定値ＳＰが変更されると、特徴量を抽出し、書き込むためのプログラムが実行される。すなわち、制御動作中において、設定値ＳＰが変更されるまでであっても、通常のＰＩＤ演算を行い、温度を制御する。
【００４９】
設定値ＳＰが変更された場合、まず、書き込みの優先度を決定する（ステップＳ３）。そして、その優先度に基づいて、利用するメモリ領域を選択して、初期化する（ステップＳ４）。本実施の形態では、使用するメモリ領域を決定するための優先度が第１メモリ領域１２ａと第２メモリ領域１２ｂとに設定されている。そして、書き込みの優先度の高いメモリ領域から使用される。そのため、書き込みの優先度の高いメモリ領域を初期化する。これにより、一方のメモリ領域が初期される。すなわち、書き込みの優先度に基づいて、複数のメモリ領域の中から１つのメモリ領域を選択する。そして、選択されたメモリ領域を初期化する。このとき、書き込みの優先度が低いメモリ領域（選択されないメモリ領域）は初期化されない。このため、他方のメモリ領域には、過去の制御応答に関する特徴量が格納されていれば、そのまま保持される。
【００５０】
そして、特徴量の検出動作を行う（ステップＳ５）。すなわち、制御量ＰＶの計測値を取得して、演算処理部１１が特徴量を検出していく。ここでは、設定値到達時間、オーバーシュート量、及びハンチング周期が順次算出されていく。そして、これらの特徴量をＥＥＰＲＯＭ１２のメモリ領域に書き出す（ステップＳ６）。これにより、ステップＳ４において初期化された方のメモリ領域に特徴量が書き込まれる。このように、第１メモリ領域１２ａ、又は第２メモリ領域１２ｂのどちらかの特徴量が更新される。
【００５１】
なお、メモリ領域への書き出しは、特徴量毎に逐次実行する。例えば、設定値到達時間が検出された時点で、設定値到達時間が書き込まれる。次にオーバーシュート量が検出された時点で、オーバーシュート量が書き込まれる。さらに、その後に、ハンチング周期が検出された時点で、ハンチング周期が書き込まれる。
【００５２】
次に、ＥＥＰＲＯＭ１２に特徴量のデータを書き込む処理について、図４、図５を用いて説明する。図４は、本実施の形態１にかかる調節計１において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。図５は、比較例にかかる調節計において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。図４、図５では、上から順に処理が進んでいる。また、図４、及び図５には、制御動作中において、各段階で制御が中断されたときのデータが示されている。ここでは、第１メモリ領域１２ａの特徴量データを更新する例について説明する。すなわち、第１メモリ領域１２ａが書き込み対象になっている。
【００５３】
また、図４、及び図５において、Ａ、Ｂ、及びＣはそれぞれ、特徴量データを示している。Ａ、Ｂ、Ｃはそれぞれ異なる特徴量のデータである。例えば、Ａが設定値到達時間、Ｂがオーバーシュート量、Ｃがハンチング周期となっている。また、Ａ、Ｂ、Ｃの後にｎが付されている場合、それらのデータが最新の制御動作中に検出された特徴量データ（新データ）となり、Ａ、Ｂ、Ｃの後に（ｎ−１）が付されている場合、それらのデータが過去の制御動作中に検出された特徴量データ（旧データ）となる。第１メモリ領域１２ａにおいて、Ａの特徴量データを格納する領域をＡ領域２１とし、Ｂの特徴量データを格納する領域をＢ領域２２とし、Ｃの特徴量データを格納する領域をＣ領域２３とする。なお、以下の説明では、制御中に、Ａｎ、Ｂｎ、Ｃｎの順で特徴量データが検出されるものとしている。また、図４、及び図５では３つの特徴量を抽出する場合を示し、４つ目以降については、図示、及び説明を省略する。
【００５４】
書き込み優先度によって、第１メモリ領域１２ａに対して、最新の特徴量データの書き込みを行うと決定されている場合で説明する。図４に示すように、調節計１は、設定値ＳＰを変更したタイミングで、第１メモリ領域１２ａを初期化する（中央最上列参照）。これにより、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３のそれぞれに格納されている旧データがリセット値Ｖｉｎｉに変更され、各領域のデータが無効と識別可能な状態になる。リセット値Ｖｉｎｉは、初期化時に設定する値であり、例えば、特徴量データが取りえない値や０になっている。リセット値Ｖｉｎｉを、記号としてもよい。初期化を行うと、第１メモリ領域１２ａでは、特徴量を記憶する全領域にリセット値Ｖｉｎｉが書き込まれる。
【００５５】
この時点で制御が中断した場合、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、それぞれリセット値Ｖｉｎｉが格納されている（左側上列参照）。すなわち、Ａｎが検出される前に、制御が中断された場合、いずれの領域にも、特徴量データの書き込みが実施されない。
【００５６】
一方、制御が中断されずに、Ａｎが検出された場合、Ａ領域２１のみに新データが書きこまれる。すなわち、Ａ領域２１では、リセット値ＶｉｎｉがＡｎに更新される（中央２列目参照）。この時点で制御が中断されると、Ａ領域２１にはＡｎが格納され、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、それぞれリセット値Ｖｉｎｉが格納されている（右側中央列参照）。制御が中断した場合でも、Ａｎが最新の制御動作に対して検出された特徴量データであることがわかる。一方、Ｂｎが検出される前に、制御が中断されているので、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、データの書き込みが実施されない。よって、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３では、リセット値Ｖｉｎｉが格納されており、最新の制御動作では、Ｂｎ、Ｃｎが未検出であることがわかる。
【００５７】
Ａｎが検出された後、制御が中断されずに、Ｂｎが検出された場合、Ｂ領域２２に新データが書き込まれる。すなわち、Ｂ領域２２において、リセット値Ｖｉｎｉであったデータが、Ｂｎに更新される（中央３列目参照）。この時点で制御が中断すると、Ａ領域２１にはＡｎが格納され、Ｂ領域２２にはＢｎが格納され、Ｃ領域２３にはリセット値Ｖｉｎｉが格納されている（左側下列参照）。制御が中断した場合でも、Ａｎ、Ｂｎが最新の制御動作において検出された特徴量データであることがわかる。一方、Ｃｎが検出される前に、制御が中断されているので、Ｃ領域２３には、データの書き込みが実施されない。よって、Ｃ領域２３では、リセット値Ｖｉｎｉが格納されており、最新の制御動作では、Ｃｎが未検出であることがわかる。
【００５８】
Ｂｎが検出された後、制御が中断されずに、Ｃｎが検出された場合、Ｃ領域２３にデータが書き込まれる。すなわち、Ｃ領域２３において、リセット値Ｖｉｎｉであったデータが、Ｃｎに更新される（中央４列目参照）。Ａ領域２１、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、Ａｎ、Ｂｎ、Ｃｎが格納されており、いずれも最新の制御動作において検出された特徴量データであることがわかる。以降、さらに別の特徴量を検出する場合は、同様に処理を続行し、全ての特徴量データの検出が完了すれば、特徴量検出動作が完了する。
【００５９】
このように、本実施の形態に係る調節計１では、制御開始時に、全ての特徴量データを初期化している。すなわち、設定値ＳＰが変更された時点で、書き込み優先度を利用して決定された書き込み対象のメモリ領域に、リセット値Ｖｉｎｉが書き込まれる。そして、特徴量の検出動作中において、特徴量のデータが検出される毎に、対応するメモリ書き込み領域（初期化によってリセット値Ｖｉｎｉが格納されている）に特徴量のデータを上書きする。これにより、制御が中断した場合でも、最新の制御動作で検出された特徴量のデータの利用が可能となる。正しく取り出すことが可能になる。
【００６０】
すなわち、最新の制御動作において検出された特徴量については、対応するメモリ領域の値が、リセット値Ｖｉｎｉ以外の値となっている。このように、特徴量に対応するメモリ領域に格納されているデータによって、最新の制御動作で検出された特徴量のデータであるかどうかの識別が可能となる。よって、新データを確実に判別することができる。例えば、制御動作が途中で中断された場合でも、調節計１の表示画面上で、ユーザは、最新の制御動作で検出された特徴量のデータを確認することができる。
【００６１】
また、ＥＥＰＲＯＭ１２には、特徴量のデータを格納するためのメモリ領域が２セット確保されている。よって、一方のメモリ領域が初期化された時点で制御が中断したとしても、他方のメモリ領域には、過去の制御動作における特徴量のデータが格納されている。よって、設定ミスや操作ミスによってユーザが意図しない制御動作が開始した場合でも、ユーザにとって有効な過去の制御動作のデータを全て失ってしまう確率を低減することができる。さらに、制御中断後に供給電源が絶たれた場合でも、検出済みの有効な特徴量のデータが失われるのを防ぐことができる。
【００６２】
もちろん、ＥＥＰＲＯＭ１２に、特徴量を記憶するメモリ領域を３つ以上確保してもよい。
【００６３】
一方、比較例にかかる調節計では、図５に示すように、データを無効と識別可能にする処理を行わずに、逐次、特徴量を書き込む。この場合、ＡｎやＢｎが書き込まれた時点で、制御が中断すると、第１メモリ領域１２ａに、新データと旧データが混在してしまう。例えば、Ａｎが書き込まれた時点で制御が中断すると、Ａ領域２１には、Ａｎが格納され、Ｂ領域２２には、Ｂｎ−１が格納され、Ｃ領域２３には、Ｃｎ−１が格納されている（右側中列参照）。このように、新旧のデータがＥＥＰＲＯＭ１２上に混在してしまうと、新旧のデータを区別できなくなってしまう。すなわち、データの値を確認しても、最新の制御動作で検出された特徴量のデータのみを取り出せず、最新の制御動作で検出済みの有効な特徴量データが存在するにも関わらず、ユーザが不具合把握や制御パラメータ調整のために特徴量のデータを有効に利用することができない。
【００６４】
本実施の形態に係る動作方法によって、制御が中断した場合でも、最新の制御動作において検出された特徴量のデータをユーザに提供することが可能になる。また、メモリ領域を２セット確保することにより、設定ミスや操作ミスによってユーザが意図しない制御動作を開始した場合でも、いずれかのメモリ領域には、過去の特徴量のデータが残っており、ユーザにとって有効な特徴量のデータをすべて失ってしまう確率を低減できる。
【００６５】
次にメモリ領域の書き込み優先度の決定方法について説明する。書き込み優先度は、例えば、書き込み時刻や、特徴量の値を用いて決定される。ステップＳ３において、書き込み優先度を算出するための算出例１〜算出例３について説明する。
【００６６】
ここで、第１メモリ領域１２ａには、設定値到達時間ｘｔ１＝１００ｓｅｃ、オーバーシュート量ＯＶＳ１＝２℃が格納されているものとする。なお、算出例１〜３では、ハンチング周期は、書き込み優先度の決定に用いられないため、説明を省略する。第１メモリ領域１２ａには、これらの特徴量データの書き込み開始時刻である２００７年１２月１０日１０：００が書き込まれている。また、上記の特徴量を検出した制御動作時のＰＩＤ値をＰ１、Ｉ１、Ｄ１とする。第１メモリ領域１２ａには、特徴量、書き込み時刻、ＰＩＤ値がデータセットとして格納されている。すなわち、第１メモリ領域１２ａにおいて、書き込み時刻、及びＰＩＤ値が特徴量のデータに対応付けられている。
【００６７】
第２メモリ領域１２ｂには、設定値到達時間ｘｔ２＝９０ｓｅｃ、オーバーシュート量ＯＶＳ２＝４℃が格納されているものとする。なお、算出例１〜３では、ハンチング周期は、書き込み優先度の決定に用いられないため、説明を省略する。第２メモリ領域１２ｂには、これらの特徴量データの書き込み開始時刻である２００７年１２月１０日１０：３５が書き込まれている。また、上記の特徴量を検出した制御動作時のＰＩＤ値をＰ２、Ｉ２、Ｄ２とする。第２メモリ領域１２ｂには、特徴量、書き込み時間、ＰＩＤ値がデータセットとして格納されている。すなわち、第２メモリ領域１２ｂにおいて、書き込み時刻、及びＰＩＤ値が特徴量のデータに対応付けられている。
【００６８】
算出例１
一つ目の算出例では、書き込み時刻に応じて書き込み優先度を算出している。ここでは、書き込み時刻が最も古い方のメモリ領域を書き込み対象とする。従って、書き込み時刻が古いと、書き込み優先度Ｐｒが高くなる。第１メモリ領域１２ａの書き込み優先度Ｐｒ１＝２００７年１２月１０日１０：００となり、第２メモリ領域１２ｂの書き込み優先度Ｐｒ２＝２００７年１２月１０日１０：３５となる。Ｐｒ１とＰｒ２とを比較すると、Ｐｒ１の方がＰｒ２よりも古い。従って、書き込み対象のメモリ領域を第１メモリ領域１２ａとする。これにより、ステップＳ４において第１メモリ領域１２ａが初期化され、ステップＳ６において新たに取得された特徴量のデータが第１メモリ領域１２ａに書き込まれる。書き込み時刻を用いることで、確保したメモリ領域の数に応じた（この算出例では2つ）最新のデータセットが常にメモリ領域に保持され、ユーザに提供可能となる。
【００６９】
算出例２
二つ目の算出例では、特徴量のデータに応じて書き込み優先度を算出している。本算出例では特徴量そのものの値を書き込み優先度としている。ここでは、設定値到達時間ｘｔの大きいメモリ領域が書き込み対象のメモリ領域と決定される。すなわち、設定値到達時間ｘｔから優先度Ｐｒを算出する。第１メモリ領域１２ａの書き込み優先度Ｐｒ１＝ｘｔ１＝１００となり、第２メモリ領域１２ｂの書き込み優先度Ｐｒ２＝ｘｔ２＝９０となる。よって、書き込み対象のメモリ領域が第１メモリ領域１２ａと決定される。これにより、ステップＳ４において第１メモリ領域１２ａが初期化され、ステップＳ６において新たに検出された特徴量のデータが書き込まれる。この算出例２は、ユーザが設定値到達時間ｘｔの短い制御応答を調整目標としている場合に好適である。
【００７０】
算出例３
三つ目の算出例では、特徴量のデータに応じて書き込み優先度を算出している。ここでは、設定値到達時間ｘｔとオーバーシュート量ｏｖｓが大きいメモリ領域を書き込み対象とする。すなわち、設定値到達時間ｘｔとオーバーシュート量ｏｖｓとの値から書き込み優先度Ｐｒを算出する。具体的には、設定値到達時間ｘｔとオーバーシュート量ｏｖｓとを、それぞれの最大値で規格化する。このため、第１メモリ領域１２ａの書き込み優先度Ｐｒ１、及び第２メモリ領域１２ｂの書き込み優先度Ｐｒ２は、以下の式で算出される。
Ｐｒ１＝ｘｔ１／ｍａｘ（ｘｔ１，ｘｔ２）＋ｏｖｓ１／ｍａｘ（ｏｖｓ１，ｏｖｓ２）
Ｐｒ２＝ｘｔ２／ｍａｘ（ｘｔ１，ｘｔ２）＋ｏｖｓ２／ｍａｘ（ｏｖｓ１，ｏｖｓ２）
【００７１】
このように、最大値で規格化された設定値到達時間ｘｔと、最大値で規格化されたオーバーシュート量ｏｖｓとの和を優先度Ｐｒとする。なお、上記の式において、ｍａｘ（ａ，ｂ）はａ、ｂの最大値を示す関数である。上記の式により、Ｐｒ１＝１．５となり、Ｐｒ２＝１．９となる。これにより、Ｐｒ２＞Ｐｒ１となる。このため、初期化対象のメモリ領域を第２メモリ領域１２ｂとする。これにより、ステップＳ４において第２メモリ領域１２ｂが初期化され、ステップＳ６において新たに取得された特徴量が第１メモリ領域１２ａに書き込まれる。
【００７２】
さらには、書き込み優先度の算出の際に特徴量データに対してウェイトをかけてもよい。例えば、設定値到達時間ｘｔにウェイトｗｔ１、オーバーシュート量ｏｖｓにウェイトｗｔ２を設定する。この場合、第１メモリ領域１２ａの書き込み優先度Ｐｒ１、及び第２メモリ領域１２ｂの書き込み優先度Ｐｒ２は、以下の式で算出される。
Ｐｒ１＝ｗｔ１×ｘｔ１／ｍａｘ（ｘｔ１，ｘｔ２）＋ｗｔ２×ｏｖｓ１／ｍａｘ（ｏｖｓ１，ｏｖｓ２）
Ｐｒ２＝ｗｔ１×ｘｔ２／ｍａｘ（ｘｔ１，ｘｔ２）＋ｗｔ２×ｏｖｓ２／ｍａｘ（ｏｖｓ１，ｏｖｓ２）
【００７３】
なお、ウェイトの値は特徴量の重要度や単位などを考慮して、設定される。また、ウェイトの値を可変としてもよい。書き込みの優先度は、設定値到達時間、オーバーシュート量、などの制御結果の特徴量のデータを用いた評価関数を利用して、算出する。そして、ユーザが調整目標としている制御結果に、より近いものかどうかを判断できるような評価関数を利用することが有効である。
【００７４】
複数の特徴量に対して正規化や加算等の演算処理を組み合わせ、ユーザの調整目標に近いかどうかを判定できるような評価関数を設定し、利用する。こうすることで、ユーザにとって、より望ましくない制御応答に対する特徴量データに対応するメモリ領域を書き込み対象と判断することが可能となる。評価関数は上記の式に示した関数に限られるものではない。すなわち、評価関数は、制御目標に近づいたか否かを判定できるようなものとする。さらに、重要度の高い特徴量については、ウェイトを重くする。評価関数の変数として用いる特徴量のディメンジョンを揃えてもよい。さらに、評価関数を適宜変更してもよい。
【００７５】
このように、ＥＥＰＲＯＭ１２上には、特徴量を格納するためのメモリ領域を複数、確保している。そして、メモリ領域に対して書き込みの優先度を求める。もちろん、上記の方法以外で、優先度を決定してもよい。また、上記の算出例を組み合わせてもよい。例えば、１つの算出例で求めた優先度が等しくなる場合、別の算出例を用いることができる。具体的には、算出例３で求めた優先度が等しくなる場合、算出例１で求めた算出例で、優先度を求めることも可能である。
【００７６】
書き込みの優先度に基づき、複数のメモリ領域の中から一つを選択する。そして、選択されたメモリ領域を初期化した後で、自動検出された特徴量を書き込む。このようにすることで、確実にデータセットを保持することができる。また、時系列データから特徴量を抽出しているため、時系列データとして大量にデータを記憶する必要がないので、ＥＥＰＲＯＭ１２のメモリ容量を小さくすることができる。よって、コスト削減につながる。
【００７７】
発明の実施の形態２．
実施の形態２では、実施の形態１とは、設定値変更時に特徴量を無効化する処理が異なっている。実施の形態１では、設定値変更時において、記憶されている特徴量のデータ自体を初期化したが、本実施の形態では、特徴量が新データであることを示すフラグを設けて、新データか旧データかを判別している。以下に、本実施の形態にかかる調節計１の処理について、図６を用いて説明する。図６は、本実施の形態２にかかる調節計において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。図６では、図４と同様の手法によって、処理が示されている。なお、特徴量を書き込むときの処理以外の処理、及び調節計１の基本的構成は、実施の形態１と同様であるため、説明を省略する。従って、本実施の形態かかる調節計１において、ＥＥＰＲＯＭ１２に２つのメモリ領域が確保されている。また、図６では３つの特徴量を抽出する場合を示し、４つ目以降については、図示、及び説明を適宜省略する。
【００７８】
本実施の形態では、各特徴量に対応するフラグを設けている。すなわち、特徴量のデータには、新データか旧データであるか否かを示すフラグＭｈｉｓが付加されている。よって、特徴量毎にフラグが付され、フラグによって新データか旧データ化が識別される。例えば、設定値ＳＰが変更されたタイミングでフラグが０になり、新データが書き込まれるとフラグが１になる。このようにフラグＭｈｉｓはデータの有効／無効を示すために用いられている。なお、検出対象の各特徴量に対応したフラグＭｈｉｓに保持されているデータをＭｈｉｓ（０，０，０）等と記述する。そして、カッコ内の数字が各特徴量の無効／有効を示している。Ｍｈｉｓ（０，０，０）の場合、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、Ｃ領域２３にそれぞれ旧データであるＡｎ−１、Ｂｎ−１、Ｃｎ−１が格納されていることになる。一方、Ｍｈｉｓ（１，１，１）の場合、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、Ｃ領域２３にそれぞれ新データであるＡｎ、Ｂｎ、Ｃｎが格納されていることになる。
【００７９】
図６に示すように、設定値ＳＰを変更するタイミングで、フラグＭｈｉｓを初期化する。これにより、Ｍｈｉｓ（０，０，０）となる（中央最上列参照）。このとき、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、Ｃ領域２３にそれぞれ旧データであるＡｎ−１、Ｂｎ−１、Ｃｎ−１が格納されている。
【００８０】
Ａｎが検出される前に制御が中断した場合、Ａ領域２１、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、それぞれ旧データであるＡｎ−１、Ｂｎ−１、Ｃｎ−１が格納されており、この時のＭｈｉｓは（０，０，０）である（左側上列参照）。すなわち、制御が中断された場合、Ｍｈｉｓの値である（０，０，０）を確認する事で、いずれの領域にも、最新の制御動作に対応した特徴量データの書き込みが実施されていないことがわかる。
【００８１】
一方、制御が中断されずに、Ａｎが検出された場合、Ａ領域２１のみに新データが書きこまれる。すなわち、Ａ領域２１では、Ａｎ−１が、Ａｎに更新される（中央２列目参照）。そして、Ｍｈｉｓは（１，０，０）となる。すなわち、Ａ領域２１に対応付けられているフラグが０から１に書き換える。この時点で制御が中断されると、Ａ領域２１には、Ａｎが格納され、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、それぞれＢｎ−１、及びＣｎ−１が格納されている（右側中列参照）。Ｂｎが検出される前に、制御が中断されているので、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３には、データの書き込みが実施されない。この時、Ｍｈｉｓ（１，０，０）となっているため、Ａ領域２１のみに新データが書き込まれ、Ｂ領域２２、及びＣ領域２３では、旧データが格納されていることがわかる。
【００８２】
Ａｎが検出された後、制御が中断されずに、Ｂｎが検出された場合、Ｂ領域２２に新データが書き込まれる。すなわち、Ｂ領域２２において、Ｂｎ−１であったデータが、Ｂｎに更新される（中央３列目参照）。そして、Ｍｈｉｓは（１，１，０）となる。すなわち、Ｂ領域２２に対応付けられているフラグが０から１に書き換わる。この時点で制御が中断すると、Ａ領域２１にはＡｎが格納され、Ｂ領域２２にはＢｎが格納され、Ｃ領域２３にはＣｎ−１が格納されている（左側下列参照）。ここで制御が中断した場合、Ｍｈｉｓの値（１，１，０）を利用する事で、最新の制御動作に対応する特徴量データが、Ａ領域２１及びＢ領域２２に格納されているＡｎ、Ｂｎであり、Ｃ領域２３には、旧データが格納されていることがわかる。よって最新の制御動作に対応する特徴量データのみをユーザに提供できる。
【００８３】
Ｂｎが検出された後、制御が中断されずに、Ｃｎが検出された場合、Ｃ領域２３にデータが書き込まれる。すなわち、Ｃ領域２３において、Ｃｎ−１であったデータが、Ｃｎに更新される（中央４列目参照）。そして、Ｍｈｉｓ（１，１，１）となる。すなわち、Ｃ領域２３に対応付けられているフラグが０から１に書き換わる。これにより、全ての特徴量のデータが取得され、制御が終了する。この場合も、Ｍｈｉｓの値（１，１，１）を利用する事で最新の制御動作に対応する特徴量データＡｎ、Ｂｎ、Ｃｎをユーザに提供できる。さらに別の特徴量を検出する場合は、同様に処理を続行する。
【００８４】
本実施の形態では、データの有効／無効を識別するための、フラグが用意されている。従って、制御が中断した場合でも、新データであることを容易に認識することができる。すなわち、新データと旧データとを容易に判別することができる。さらに、旧データが保持されているため、旧データを利用することも可能になる。また、メモリ領域を２セット確保することで、実施の形態１と同様の効果を得ることができる。
【００８５】
また、実施の形態１、２の処理以外で、書き込み対象となったメモリ領域の特徴量データを無効化してもよい。すなわち、書き込み対象に決定されたメモリ領域上の特徴量のデータが無効と識別可能な状態にすればよい。なお、制御応答の特徴量は、ハンチング周期、オーバーシュート量、及び設定値到達時間に限られるものではない。例えば、これら以外の、アンダーシュート量、昇温時の制御量ＰＶの傾きなどであってもよい。また、ＥＥＰＲＯＭ以外の不揮発性メモリを用いてもよい。さらに、制御対象の計測値は温度に限らず、圧力、流量等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本実施の形態にかかる調節計の構成、及びその計装事例を示す図である。
【図２】典型的な制御応答波形を示す図である。
【図３】本実施の形態にかかる調節計の動作方法を示すフローチャートである。
【図４】本実施の形態１にかかる調節計において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。
【図５】比較例にかかる調節計において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。
【図６】本実施の形態２にかかる調節計において、特徴量を書き込むときの処理を説明するための図である。
【符号の説明】
【００８７】
１  調節計
４  ヒータ
５  温度センサ
６  加熱処理炉
７  電力機器
８  被加熱物
１１  演算処理部
１２  ＥＥＰＲＯＭ
１２ａ  第１メモリ領域
１２ｂ  第２メモリ領域
１３  ＲＡＭ
２１  Ａ領域
２２  Ｂ領域
２３  Ｃ領域
ＰＶ  制御量
ＳＰ  設定値
ＭＶ  操作量
Ｖｉｎｉ  リセット値
【図１】
0005129615.tif 000002
【図２】
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【図３】
0005129615.tif 000004
【図４】
0005129615.tif 000005
【図５】
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【図６】
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