(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定システムであって、
内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、
内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と、
検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて光源の全光量を算出する演算手段と、
前記第一挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第一空間に光源を配置した際に前記基板と前記第一筐体との隙間を埋め、前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を阻止する柔軟性のある第一遮光部材と、
前記第二挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第二空間に光源を配置した際に前記基板と前記第二筐体との隙間を埋めて前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を阻止する柔軟性のある第二遮光部材と
を備える全光量測定システム。
【請求項２】
さらに、
前記第一筐体および前記第二筐体を基板に押しつけた際に基板に与える押圧力に抗する力を基板に与えて基板を支える支持手段
を備える請求項１に記載の全光量測定システム。
【請求項３】
前記支持手段は、
前記第一挿入孔および前記第二挿入孔を囲むように前記第一筐体および前記第二筐体と反対側の基板の裏面に当接する筒形状で遮光性を有する当接部を備え
る請求項２に記載の全光量測定システム。
【請求項４】
さらに、
基板の表面と当接し、基板と前記第一筐体との距離を決定する第一スペーサと、
基板の表面と当接し、基板と前記第二筐体との距離を決定する第二スペーサと
を備える請求項１に記載の全光量測定システム。
【請求項５】
基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定装置であって、
内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、
内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と、
前記第一挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第一空間に光源を配置した際に前記基板と前記第一筐体との隙間を埋め、前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を阻止する柔軟性のある第一遮光部材と、
前記第二挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第二空間に光源を配置した際に前記基板と前記第二筐体との隙間を埋めて前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を阻止する柔軟性のある第二遮光部材と
を備える全光量測定装置。
【請求項６】
基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定システムに適用される全光量測定方法であって、
前記全光量測定システムは、
内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、
内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、
前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段とを備え、
前記第一挿入孔を通して前記第一空間に光源を配置する第一配置ステップと、
前記第一挿入孔の全周囲を囲み、前記第一空間に光源を配置した際に前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を第一遮光部材により阻止する第一遮光ステップと、
前記検出手段により前記第一光量を検出する第一検出ステップと、
前記第二挿入孔を通して前記第二空間に光源を配置する第二配置ステップと、
前記第二挿入孔の全周囲を囲み、前記第二空間に光源を配置した際に前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を第二遮光部材により阻止する第二遮光ステップと、
前記検出手段により前記第二光量を検出する第二検出ステップと、
検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて光源の全光量を演算手段により算出する算出ステップと
を含む全光量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願発明は、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）などを含む光源から発生する全光量を測定するための測定システム、測定装置、測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に光源の全光量を測定するには、積分球を備えた光量測定システムが用いられている。この積分球を備えた光量測定システムにより得られた値は、光源の全光量を示す指標として標準的に用いられている。
【０００３】
ここで、積分球とは、球形の空間を内部に有する筐体の内壁面に拡散反射材料が塗布された部材である。この積分球の内部空間に光源を配置し、この光源を点灯すると、当該光源から放射される全ての光は、積分球の内壁面のいずれかで拡散状態で反射する。積分球の内部空間は球形であるため、光の反射は繰り返し発生し、光は反射のたびに拡散する。従って、積分球の内壁面に照射される光の単位面積あたりの量はいずれの部分でも同じになる。積分球を備えた光量測定システムとは、この積分球の性質を利用し、積分球の内部に配置された光源の全光量と、積分球の内壁面の一部から取得した光量が比例することを利用し、積分球の内壁面の一部に光量を測定するセンサを配置し、当該センサによる測定値を光源の全光量とするものである。このような積分球を備えた光量測定システムによって測定される全光量は、積分球の大きさや光量を測定するセンサの種類によって異なる相対的な値であるので、標準光源を用いた測定結果を標準値とし、当該標準値との比較に基づき光源の全光量が絶対的に評価される。
【０００４】
このような積分球を備えた光量測定システムでは、積分球内の空間中に擬似的に浮遊した状態で光源を配置しなければならないため、光源の取り付け作業が困難となりがちである。従って、多数の光源についてそれぞれの全光量を取得するには長時間を要することとなる。
【０００５】
そこで、特許文献１には次の様な光量測定システムに関する発明が開示されている。すなわち、半球状の内壁面に光拡散材料を塗布した積分半球と、積分半球の開口部を覆うように設置された平面のミラーとを備える光量測定システムである。そして、光源は、前記ミラーの中心に配置される。このような構成によれば、ミラーによって積分半球と積分半球の虚像とによりあたかも積分球が存在する状態となり、ミラーの中心に光源を配置するだけで、積分球内の空間に光源を固定した状態を実現できる。従って、光源の取り付け作業を簡略化することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−１０３６５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところが、光源から放射した光を充分に乱反射させ、光量を均一にするためには、充分に大きな積分半球が必要となり、一つの光源を測定するために広い場所が必要となる。
【０００８】
また、拡散反射材料として一般的に採用される硫酸バリウムなどは、保存状態（例えば保管場所の湿度）によって特性が大きく変化するものであるため、積分球や積分半球の保管は厳重に行わなければならず、測定の際にも慎重に取り扱わなければならない。
【０００９】
加えて、慎重に保管や取り扱いを行ったとしても、拡散反射材料の特性が経時的に変化していくため、光源の全光量の絶対的な値を正確に取得するためには、頻繁に標準光源を用いて校正する必要が生じる。
【００１０】
また、測定に比較的長時間が必要となるなど、簡便に測定することが困難である。
【００１１】
そこで出願人は、保管や測定時の取り扱いが容易で、簡便に光源の全光量を安定して測定することのできる全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法に関する発明を先に開示している。
【００１２】
本願発明は、先の発明を光源の生産工場などにおいて適用させるために発展させたものであり、工業的な生産過程において基板に取り付けられた状態で生産される光源に対し、短時間かつ正確に全光量を連続的に測定することのできる全光量測定システム、全光量測定装置、および、全光量測定方法の提供を目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本願発明にかかる全光量測定システムは、基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定システムであって、内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と、検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて光源の全光量を算出する演算手段と、前記第一挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第一空間に光源を配置した際に前記基板と前記第一筐体との隙間を埋め、前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を阻止する柔軟性のある第一遮光部材と、前記第二挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第二空間に光源を配置した際に前記基板と前記第二筐体との隙間を埋めて前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を阻止する柔軟性のある第二遮光部材とを備えることを特徴としている。
【００１４】
これにより、光源の周辺の基板の表面に凹凸や他の微小な部品がある場合や、基板に反りや歪みがある場合でも、第一空間に光源を配置した際に、第一挿入孔周辺の第一筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第一遮光部材が埋める、または、覆うため、光源以外の光である迷光が第一筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００１５】
また、上述した第一筐体の場合と同様、第二挿入孔周辺の第二筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第二遮光部材が埋める、または、覆うため、迷光が第二筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００１６】
従って、基板に取り付けられた状態の光源の全光量が迷光によるノイズを検出すること無く正確に光源の全光量を測定することが可能となる。
【００１７】
さらに、前記第一筐体および前記第二筐体を基板に押しつけた際に基板に与える押圧力に抗する力を基板に与えて基板を支える支持手段を備えてもかまわない。
【００１８】
これによれば、可撓性のある基板や脆弱な基板などの場合、基板と第一筐体および第二筐体との隙間を第一遮光部材および第二遮光部材により埋める、または、覆う際に発生する基板への押圧力により、基板が変形したり破損したりする不具合を、支持手段により可及的に回避することができる。
【００１９】
また、前記支持手段は、前記第一挿入孔および前記第二挿入孔を囲むように前記第一筐体および前記第二筐体と反対側の基板の裏面に当接する筒形状で遮光性を有する当接部を備えるものでもよい。
【００２０】
これによれば、基板の表面は、第一遮光部材および第二遮光部材で遮光すると共に、基板の裏面を当接部で遮光するため、光が透過する部材からなる基板に光源が取り付けられている場合でも基板を透過する迷光の第一空間や第二空間への侵入を阻止することが可能となる。従って、光源の全光量を正確に測定することが可能となる。
【００２１】
さらに、基板の表面と当接し、基板と前記第一筐体との距離を決定する第一スペーサと、基板の表面と当接し、基板と前記第二筐体との距離を決定する第二スペーサとを備えるものでもよい。
【００２２】
これによれば、第一スペーサにより基板と第一筐体との間が決定されるため、基板に取り付けられた状態の光源であっても、検出手段と光源との位置関係を正確に規定し再現性を確保することが可能となる。また、第二スペーサも同様に検出手段と光源との位置関係を正確に規定し再現させることができるため、二つの筐体を用いて全光量を測定する場合に発生する光源の配置ずれによる測定値の不正確さを可及的に回避することが可能となる。
【００２３】
さらに、第一スペーサにより第一筐体と基板との距離が決定されるため、柔軟性のある第一遮光部材を必要以上に変形させることを防止できる。従って、第一遮光部材が過度に変形することによって基板と第一遮光部材との間に隙間が発生して第一空間に迷光が侵入するような現象を回避することができる。また、過度な変形が繰り返されることにより第一遮光部材が早期に劣化することを回避できる。また、第二スペーサによっても同様の作用効果を奏することができる。
【００２４】
また、上記目的を達成するために本願発明にかかる全光量測定装置は、基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定装置であって、内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段と、前記第一挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第一空間に光源を配置した際に前記基板と前記第一筐体との隙間を埋め、前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を阻止する柔軟性のある第一遮光部材と、前記第二挿入孔の全周囲を囲むように配置されるとともに、前記第二空間に光源を配置した際に前記基板と前記第二筐体との隙間を埋めて前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を阻止する柔軟性のある第二遮光部材とを備えることを特徴としている。
【００２５】
これにより、光源の周辺の基板の表面に凹凸や他の微小な部品がある場合や、基板に反りや歪みがある場合でも、第一空間に光源を配置した際に、第一挿入孔周辺の第一筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第一遮光部材が埋める、または、覆うため、光源以外の光である迷光が第一筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００２６】
また、第二挿入孔周辺の第二筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第二遮光部材が埋める、または、覆うため、迷光が第二筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００２７】
従って、基板に取り付けられた状態の光源の全光量が迷光によるノイズを検出すること無く正確に光源の全光量を測定するためのデータを提供することが可能となる。
【００２８】
また、上記目的を達成するために、本願発明にかかる全光量測定方法は、基板に取り付けられた光源から放射される光の全光量を測定する全光量測定システムに適用される全光量測定方法であって、前記全光量測定システムは、内方に光源を配置可能な第一空間を備える第一筐体であって、前記第一空間に配置された光源から放射される光を正反射する反射面部を内面に有し、光源から直接到達する直接光と前記反射面部で反射した後到達する反射光とが通過する第一開口と、前記第一開口と対向する面に光源を前記第一空間に配置するための第一挿入孔とを有する第一筐体と、内方に光源を配置可能な第二空間を備える第二筐体であって、前記第一開口と同一形状かつ同一面積の第二開口と、前記第二開口と対向する面に光源を前記第二空間に配置するための第二挿入孔と、前記第二空間に配置された光源から放射され、前記第二開口に直接到達する直接光のみを通過させるように光を吸収する吸収面部を内面に有する第二筐体と、前記第一開口を通過する光の光量である第一光量と、前記第二開口を通過する光の光量である第二光量とを検出する検出手段とを備え、前記第一挿入孔を通して前記第一空間に光源を配置する第一配置ステップと、前記第一挿入孔の全周囲を囲み、前記第一空間に光源を配置した際に前記第一筐体外方からの迷光の第一空間への進入を第一遮光部材により阻止する第一遮光ステップと、前記検出手段により前記第一光量を検出する第一検出ステップと、前記第二挿入孔を通して前記第二空間に光源を配置する第二配置ステップと、前記第二挿入孔の全周囲を囲み、前記第二空間に光源を配置した際に前記第二筐体外方からの迷光の第二空間への進入を第二遮光部材により阻止する第二遮光ステップと、前記検出手段により前記第二光量を検出する第二検出ステップと、検出された前記第一光量と前記第二光量とに基づいて光源の全光量を演算手段により算出する算出ステップとを含むことを特徴としている。
【００２９】
これにより、光源の周辺の基板の表面に凹凸や他の微小な部品がある場合や、基板に反りや歪みがある場合でも、第一空間に光源を配置した際に、第一挿入孔周辺の第一筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第一遮光部材が埋める、または、覆うため、光源以外の光である迷光が第一筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００３０】
また、第二挿入孔周辺の第二筐体と基板表面との間に発生する隙間を柔軟な第二遮光部材が埋める、または、覆うため、迷光が第二筐体の内方に侵入することを可及的に抑止することが可能となる。
【００３１】
従って、基板に取り付けられた状態の光源の全光量が迷光によるノイズを検出すること無く正確に光源の全光量を測定することが可能となる。
【発明の効果】
【００３２】
本願発明によれば、基板に取り付けられた状態の光源の全光量を高速かつ正確に測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】図１は、全光量測定システムを模式的に示す図である。
【図２】図２は、第一筐体を切り欠いて示す斜視図である。
【図３】図３は、第一筐体の第一挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【図４】図４は、第一空間に光源が配置された状態の第一挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【図５】図５は、第二筐体を切り欠いて示す斜視図である。
【図６】図６は、第二筐体の第二挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【図７】図７は、第二空間に光源が配置された状態の第二挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【図８】図８は、全光量測定方法の流れを示すために模式的に全光量測定システムを示す図である。
【図９】図９は、全光量測定方法の流れを示すために模式的に全光量測定システムを示す図である。
【図１０】図１０は、光源から放射された光の反射状態、吸収状態を模式的に示す図である。
【図１１】図１１は、全光量測定システムを模式的に示す図である。
【図１２】図１２は、全光量測定方法の流れを示すために模式的に全光量測定システムを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
次に本願発明に係る全光量測定システムについて図面を参照しつつ説明する。
【００３５】
（実施の形態１）
図１は、全光量測定システムを模式的に示す図である。
【００３６】
同図に示すように、全光量測定システム１００は、光源３００から放射される光の全光量を測定するシステムであり、第一筐体１０１と、第二筐体１０２と、検出手段１０３と、演算手段１０４とを備えている。さらに、全光量測定システム１００は、第一遮光部材１４１と、第二遮光部材１４２とを備えている。
【００３７】
図２は、第一筐体を切り欠いて示す斜視図である。
【００３８】
第一筐体１０１は、光源３００から放射される光の一部を正反射により反射させ第一開口１１１に導く部材であり、反射面部１１３を備えている。
【００３９】
反射面部１１３は、第一空間１１０に配置された光源３００から放射される光を正反射する部分である。反射面部１１３は、光が乱反射することなくできる限り正反射する面（第一筐体１０１の内面に該当）を備えれば良く、いわゆる鏡面を備えていればよい。本実施の形態の場合、反射面部１１３は、金属である第一筐体１０１の内面を研磨により鏡面に仕上げたものである。従って、図１や図２では反射面部１１３を別体のように記載しているが、反射面部１１３は、第一筐体１０１と一体でもかまわない。
【００４０】
また、反射面部１１３は、光源３００から放射された光が一度の反射で第一開口１１１に到達するような形状となっている。
【００４１】
なお、反射面部１１３は、円錐台形状に限定されるものではなく、反射面部１１３が光源３００から第一開口１１１に向かって湾曲する曲面であってもかまわない。当該湾曲する反射面部１１３としては、例えば、放物面を表面に備える反射面部１１３を挙示することができる。反射面部１１３が放物面を備える場合、放物面の焦点に光源３００をおくと、光源３００から放射され反射面部１１３の放物面に反射した反射光が放物面の対称軸と平行となり第一開口１１１に向かうこととなる。この場合、反射光は一度の反射で第一開口１１１に垂直に到達することができる。
【００４２】
第一空間１１０は、第一筐体１０１の内部に設けられ、光源３００が配置される空間である。つまり、第一空間１１０は、第一筐体１０１の反射面部１１３で囲われて形成される空間である。本実施の形態の場合、第一空間１１０は、円錐台形状となっている。つまり、第一筐体１０１は、円錐台形状の第一空間１１０を形成する筒形状となっている。
【００４３】
第一開口１１１は、第一空間１１０と隣接する他の空間とを連通状態とするための開口であり、光源３００から直接到達する直接光と反射面部１１３で反射した後到達する反射光とが通過する開口である。本実施の形態の場合、円錐台形状の第一空間１１０の底面部分（面積の大きい円形部分）が第一開口１１１に該当する。
【００４４】
ここで、第一空間１１０に配置された光源３００から放射され第一開口１１１を通過する光の総光量を第一光量と以下に記す。第一光量は、直接第一開口１１１に到達し第一開口１１１を通過する直接光の光量と、反射面部１１３に反射した後第一開口１１１を通過する反射光の光量の総和となる。
【００４５】
また、第一筐体１０１は、光源３００を第一空間１１０に配置するための第一挿入孔１１２を第一開口１１１と対向する面に備えている。
【００４６】
第一挿入孔１１２は、本実施の形態の場合、第一筐体１０１を貫通して第一空間１１０と接続される孔であり、円錐台形状の第一空間１１０の上面部分（面積の小さい円形部分）が第一挿入孔１１２に該当する。
【００４７】
このように、第一挿入孔１１２を設ける事で、第一空間１１０に光源３００を配置しやすくなり、また、第一筐体１０１に対し光源３００の位置を合わせることで、第一開口１１１と光源３００との位置を容易に合わせることが可能となる。
【００４８】
本実施の形態の場合、第一筐体１０１の第一挿入孔１１２側の肉厚は、第一開口１１１側の肉厚よりも薄くなっている。これによれば、光源３００を第一挿入孔１１２に挿入する際に、光源３００の周囲にある基板３０２上の配線や他の部品と第一筐体１０１との干渉をできる限り回避することが可能となる。また、第一開口１１１側を肉厚とすることで、第一筐体１０１の剛性を高め、第一検出器１１４等の取り付け強度を高めている。
【００４９】
なお、第一筐体１０１は、肉厚の均一で第一空間１１０に沿った円錐台形状の筒でもかまわない。
【００５０】
図３は、第一筐体の第一挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【００５１】
図４は、第一空間に光源が配置された状態の第一挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【００５２】
これらの図に示す第一遮光部材１４１は、第一挿入孔１１２の全周囲を囲むように配置されるとともに、図４に示すように、第一空間１１０に光源３００（図示省略）を配置した際に基板３０２と第一筐体１０１との隙間を埋め、第一筐体１０１外方からの迷光の第一空間１１０への進入を阻止する柔軟性のある部材である。なお、図３は、基板３０２に押しつけられていない自由な状態の第一遮光部材１４１が記載されている。
【００５３】
本実施の形態の場合、第一遮光部材１４１は、断面が矩形の円環状（円筒状）の部材であり、第一筐体１０１の端面に固定的に取り付けられている。また、第一遮光部材１４１は、基板３０２に押しつけられた際、基板３０２の表面形状（他の部品や配線等の形状も含む）に柔軟に追随して第一筐体１０１と基板３０２との間を隙間無く埋め尽くすことのできる部材である。第一遮光部材１４１を構成する材質としては遮光性の高い部材が好ましい。具体的に第一遮光部材１４１を構成する部材としては、カーボンなどが練り込まれて遮光性が高められ、かつ、柔軟性を有するゴムやエラストマーからなる部材が例示できる。さらに、スポンジなどの発泡した樹脂からなる部材でもかまわない。このように発泡した部材の場合、気泡は独立気泡が望ましい。連続気泡の場合、迷光の透過する可能性が高まるからである。その他、第一遮光部材１４１は、膜状や布状の部材であってもかまわない。この場合、第一遮光部材１４１は、ゴムのような弾力性のある柔軟性ではなく、第一遮光部材１４１の厚さ方向の可撓性による柔軟性で第一筐体１０１と基板３０２との間を覆うことにより、迷光の進入を阻止する。
【００５４】
また、本実施の形態の場合、第一筐体１０１の第一挿入孔１１２の周辺には第一スペーサ１１６が設けられている。第一スペーサ１１６は、基板３０２の表面と当接し、基板３０２と第一筐体１０１との距離を決定する部材である。本実施の形態の場合、第一スペーサ１１６は、第一筐体１０１と一体に設けられた円環状の部材であり、第一遮光部材１４１の内側に配置されている。
【００５５】
第一スペーサ１１６は、柔軟性のない硬質の部材からなり、図４に示すように第一筐体１０１と基板３０２との距離を決定することができる。従って、第一遮光部材１４１の縮み代を確保しつつ、基板３０２に取り付けられた光源３００と、第一筐体１０１の第一開口１１１に設けられた第一検出器１１４との距離を正確に確保することができる。また、これにより第一遮光部材１４１が過度に圧縮されるなどの強度の変形を防止することができ、第一遮光部材１４１に強い歪みが発生して第一筐体１０１と基板３０２との間を充填しきれなかったりすることを抑制し、第一遮光部材１４１の過度の変形による第一遮光部材１４１の劣化等を防止することができる。
【００５６】
なお、第一スペーサ１１６は、第一筐体１０１と基板３０２との隙間が決定できればよく、円環状に限定されるものでは無い。例えば、第一筐体１０１と基板３０２との間に配置される複数本のピンなどでもかまわない。
【００５７】
図５は、第二筐体を切り欠いて示す斜視図である。
【００５８】
第二筐体１０２は、光源３００から放射され、第二開口１２１に直接到達する直接光のみを通過させる部材であり、吸収面部１２３を備えている。
【００５９】
吸収面部１２３は、第二空間１２０に配置された光源３００から放射される光を吸収する部分である。吸収面部１２３は、光が反射することなくできる限り光を吸収する面（第二筐体１０２の内面に該当）を備えればよい。本実施の形態の場合、金属である第二筐体１０２の内面を無電界黒色メッキを施すことにより吸収面部１２３を形成している。従って、図１や図３では吸収面部１２３を別体のように記載しているが、吸収面部１２３は、第二筐体１０２と一体でもかまわない。
【００６０】
ここで、無電界黒色メッキとは、第二筐体１０２の表面に被膜を成長させる処理であり、光学機器の分野で広く用いられているものである。無電界黒色メッキにより得られる被膜は、自身の黒色と表面の微細凹凸により、可視光線ばかりでなく紫外線や近赤外線の波長領域の光を吸収することが可能である。
【００６１】
なお、本明細書、及び、特許請求の範囲において記載される「吸収」の語は、黒体や完全空洞のような入射した光がまったく反射しないと言う意味ではなく、正反射に比べて充分に小さな反射率であることを意味している。
【００６２】
第二空間１２０は、第二筐体１０２の内部に設けられ、光源３００が配置される空間である。つまり、第二空間１２０は、第二筐体１０２の吸収面部１２３で囲われて形成される空間である。本実施の形態の場合、第二空間１２０は、第一空間１１０と同じ形状、同じ体積の円錐台形状となっている。つまり、第二筐体１０２は、円錐台形状の第二空間１２０を形成する円筒形状となっている。
【００６３】
第二開口１２１は、第二空間１２０と隣接する他の空間とを連通状態とするための開口であり、光源３００から直接到達する直接光が通過する第一開口と同一形状かつ同一面積の開口である。本実施の形態の場合、円錐台形状の第二空間１２０の底面部分（面積の大きい円形部分）が第二開口１２１に該当する。
【００６４】
ここで、第二空間１２０に配置された光源３００から放射され第二開口１２１を通過する光の総光量を第二光量と以下に記す。第二光量は、直接第二開口１２１に到達し第二開口１２１を通過する直接光の光量となるが、これは厳密なものではなく、吸収面部１２３からの反射光も含まれる可能性はある。
【００６５】
また、第二筐体１０２は、光源３００を第二空間１２０に配置するための第二挿入孔１２２が第二開口１２１と対向する面に設けられている。
【００６６】
第二挿入孔１２２は、本実施の形態の場合、第二筐体１０２を貫通して第二空間１２０と接続される孔であり、円錐台形状の第二空間１２０の上面部分（面積の小さい円形部分）が第二挿入孔１２２に該当する。
【００６７】
このように、第二挿入孔１２２を設ける事で、第二空間１２０に光源３００を配置しやすくなり、また、第二筐体１０２に対し光源３００の位置を合わせることで、第二開口１２１と光源３００との位置を容易に合わせることが可能となる。さらに、第一空間１１０と第二空間１２０の形状、及び、体積が同じであるため、第二開口１２１と光源３００との位置関係を第一開口１１１と光源３００との位置関係とを一致させることも容易となる。
【００６８】
本実施の形態の場合、第二筐体１０２の第二挿入孔１２２側の肉厚は、第二開口１２１側の肉厚よりも薄くなっている。第二挿入孔１２２側の肉厚を薄くする作用効果は、第一筐体１０１の場合と同様である。
【００６９】
図６は、第二筐体の第二挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【００７０】
図７は、第二空間に光源が配置された状態の第二挿入孔近傍の断面を模式的に示す平面図である。
【００７１】
これらの図に示す第二遮光部材１４２は、第二挿入孔１２２の全周囲を囲むように配置されるとともに、図７に示すように、第二空間１２０に光源３００（図示省略）を配置した際に基板３０２と第二筐体１０２との隙間を埋め、第二筐体１０２外方からの迷光の第二空間１２０への進入を阻止する柔軟性のある部材である。なお、図６は、基板３０２に押しつけられていない自由な状態の第二遮光部材１４２が記載されている。また、第二遮光部材１４２の材質や作用効果は、第一遮光部材１４１と同様である。
【００７２】
また、本実施の形態の場合、第二筐体１０２の第二挿入孔１２２の周辺には第二スペーサ１２６が設けられている。第二スペーサ１２６は、基板３０２の表面と当接し、基板３０２と第二筐体１０２との距離を決定する部材である。本実施の形態の場合、第二スペーサ１２６は、第二筐体１０２と一体に設けられた円環状の部材であり、第二遮光部材１４２の内側に配置されている。
【００７３】
第二スペーサ１２６の形状や構造、作用効果は第一スペーサ１１６と同様である。
【００７４】
検出手段１０３は、第一開口１１１を通過する光の光量である第一光量と、第二開口１２１を通過する光の光量である第二光量とを検出する装置である。
【００７５】
本実施の形態の場合、検出手段１０３は、第一検出器１１４と、第二検出器１２４と、第一増幅器１１５と、第二増幅器１２５とを備えている。
【００７６】
第一検出器１１４は、第一筐体１０１の第一開口１１１に配置され第一光量に対応する信号を出力するセンサである。第二検出器１２４は、第二開口１２１に配置され第二光量に対応する信号を出力するセンサである。
【００７７】
本実施の形態の場合、第一検出器１１４と第二検出器１２４とは同じ種類、同じ形状、同じ特性を備えるセンサである。より具体的には、第一検出器１１４は、第一開口１１１全域を通過する光の光量全てを検出するフォトダイオードを備えており、第二検出器１２４は、第二開口１２１全域を通過する光の光量全てを検出するフォトダイオードを備えている。また、第一検出器１１４、第二検出器１２４は、複数のフォトダイオードが面上に配置されるフォトダイオードアレイでもかまわないが、第一開口１１１や第二開口１２１を継ぎ目無く覆うフォトダイオードが望ましい。
【００７８】
なお、前記第一筐体１０１と第二筐体１０２と検出手段１０３と第一遮光部材１４１と第二遮光部材１４２とが全光量測定装置を構成する。
【００７９】
第一増幅器１１５と、第二増幅器１２５とは、第一検出器１１４、第二検出器１２４から送信される信号を、演算手段１０４が処理できる程度に増幅する装置である。なお、第一増幅器１１５と、第二増幅器１２５とは、本願発明の必須の構成要素ではない。
【００８０】
本実施の形態の場合、第一増幅器１１５（第二増幅器１２５も同様）は、フォトダイオードを備えた第一検出器１１４から送信される電流信号を増幅する増幅部と、電流信号を電圧信号に変換する変換部と、アナログの電圧信号をデジタルの信号に変換するＡＤ変換部とを備えている。
【００８１】
さらに、検出手段１０３は、光量抑制フィルタ１３１と、視感度補正フィルタ１３２とを備えている。
【００８２】
光量抑制フィルタ１３１は、第一光量、および、第二光量を低下させるフィルタである。光量抑制フィルタ１３１は、特に第一光量が第一検出器１１４の検出能力を超えている場合に、第一検出器１１４の能力範囲内となるように第一光量を抑制して第一検出器１１４に到達させるフィルタである。また、光量抑制フィルタ１３１は、第一光量を抑制した同じ比率で第二光量を抑制するフィルタである。
【００８３】
本実施の形態の場合、検出手段１０３は、光量抑制フィルタ１３１を二つ備えており、光量抑制フィルタ１３１は、第一検出器１１４と、第二検出器１２４とにそれぞれ配置されている。また、全光量測定システム１００は、可視光を放射する光源３００の全光量を測定するシステムであり、光量抑制フィルタ１３１は、３５０ｎｍ〜８００ｎｍの波長範囲に該当する光の光量を均等に抑制する機能を備えている。また、検出手段１０３は、光量を９０％に抑制する光量抑制フィルタ１３１や、光量を８０％に抑制する光量抑制フィルタ１３１など、複数種類の光量抑制フィルタ１３１を備えておき、光源３００の種類によって光量抑制フィルタ１３１を使い分けてもよい。
【００８４】
視感度補正フィルタ１３２は、人間の目が光の波長ごとの明るさを感じる強さを数値で表わした比視感度に光源３００から放射される光の波長分布を調整するためのフィルタである。視感度補正フィルタ１３２を使用した場合、全光量測定システム１００で測定された光源３００の全光量が、人間が感じる光源３００の明るさと強く相関し、光源３００の能力を示す有効な指標（全光束）となる。
【００８５】
なお、光量抑制フィルタ１３１や視感度補正フィルタ１３２は、必要に応じ適宜使用すればよい。すなわち、光源の全光量を測定したい場合は視感度補正フィルタ１３２を省略し、全光束を使用したい場合は視感度補正フィルタを使用する。
【００８６】
演算手段１０４は、検出手段１０３で検出された第一光量と第二光量とを所定の計算式に代入し光源３００の全光量を算出する装置である。
【００８７】
ここで、所定の計算式とは、Ｄ＝Ａ＋（Ｃ−Ａ）／ｔである。また、Ｄは、全光量である。Ｃは、第一検出器１１４から取得される光量である。すなわちＣは、第一光量である。Ａは、第二検出器１２４から取得される光量である。すなわちＡは、第二光量である。ｔは、反射率補正係数である。なお、反射率補正係数は、全光量測定システム１００に固有の係数であり、全光量が既知の光源を用いて定められる。
【００８８】
本実施の形態の場合、演算手段１０４は、第一増幅器１１５から取得したデジタル信号と第二増幅器１２５から取得したデジタル信号を上記式に代入して演算し、全光量Ｄを得ることのできる中央演算装置やハードディスクなどの外部メモリを備えたコンピュータである。
【００８９】
なお、演算手段１０４は、コンピュータに限られず、上記式を満たすデジタル回路でもかまわない。また、第一増幅器１１５や第二増幅器１２５からアナログ信号を取得し、当該アナログ信号を上記式に従って演算するアナログ回路であってもよい。
【００９０】
また本実施の形態の場合、全光量測定システム１００は、光源配置手段３０１を備えている。光源配置手段３０１は、光源３００を第一筐体１０１の第一空間１１０内に配置すると共に、第一遮光部材１４１を基板３０２に押しつけ、また、光源３００を第二筐体１０２の第二空間１２０に配置すると共に、第二遮光部材１４２を基板３０２に押しつけることができる装置である。
【００９１】
さらに、全光量測定システム１００は、支持手段１５０を備えている。支持手段１５０は、第一筐体１０１および第二筐体１０２を基板３０２に押しつけた際に基板３０２に与える押圧力に抗する力を基板３０２に与えて基板３０２を支える装置である。本実施の形態の場合、図１に示すように、全光量測定システム１００は、第一筐体１０１および第二筐体１０２のそれぞれに対応する様に配置された２台の支持手段１５０を備えている。また、支持手段１５０は、当接部１５１と押圧手段１５２とを備えている。
【００９２】
当接部１５１は、第一挿入孔１１２および第二挿入孔１２２を囲むように第一筐体１０１および第二筐体１０２と反対側の基板３０２の裏面に当接する筒形状で遮光性を有する部材である。当接部１５１は、図１に示すように、第一挿入孔１１２および第二挿入孔１２２に対応する基板３０２の裏面に当接することで、光源配置手段３０１が第一筐体１０１や第二筐体１０２を介して基板に付与する押圧力に抗して基板３０２を裏側から支えると共に、基板３０２が透光性を備えていた場合でも、基板３０２の裏面から迷光が第一空間１１０や第二空間１２０に進入することを阻止するものである。本実施の形態の場合、当接部１５１を備える支持手段１５０は、有底の筒形状となっており、当接部１５１で囲まれる部分から迷光が侵入することをほぼ完全に阻止している。
【００９３】
押圧手段１５２は、光源配置手段３０１が第一筐体１０１や第二筐体１０２を介して基板に付与する押圧力に抗するように当接部１５１を基板３０２の裏側に押しつける装置である。本実施の形態の場合、押圧手段１５２は、当接部１５１を基板３０２に対して進退自在となるように駆動源を備えている。
【００９４】
次に、全光量測定システム１００を用いた全光量測定方法を説明する。
【００９５】
図８、図９は、全光量測定方法の流れを示すために模式的に全光量測定システムを示す図である。
【００９６】
本実施の形態の場合、全光量測定システム１００の測定対象である光源３００として砲弾型のＬＥＤが採用されている。光源３００であるＬＥＤは、半球方向に光を放射するものであり、半球方向に放射された光の光量が全光量となるものである（図１０参照）。また、全光量測定システム１００は、複数個の光源３００の全光量を次々に測定していくシステムとなっている。光源３００は、移送機構（図示せず）により間欠的に搬送され、第一筐体１０１の下方、および、第二筐体１０２の下方に位置したときに点灯するものとなっている。なお、光源３００に電力を供給するには、例えば、基板３０２に設けられた端子に接点を接触させることにより行われる。
【００９７】
事前に、本実施の形態で用いられる全光量測定システム１００の反射率補正係数ｔを算出し、演算手段１０４に記憶させる。具体的な方法は次の通りである。今回用いられるＬＥＤと同種のＬＥＤの全光量を積分球を用いた光量測定システムや、配光測定システムで測定する。そして、この値をＤとしておく。次に、図１０（ａ）に示す状態と同じ状態で当該ＬＥＤの全光量を測定し第一光量Ｃを得る。次に、図１０（ｂ）に示す状態と同じ状態で当該ＬＥＤの光量を測定し第二光量Ａを得る。以上により得られたＤとＡとＣを式Ｄ＝Ａ＋（Ｃ−Ａ）／ｔに代入し、ｔを算出する。そして、算出されたｔを演算手段１０４に記憶させておく。
【００９８】
次に、全光量測定システム１００を用いて、光源３００の全光量を測定する。
【００９９】
図８に示すように、光源配置手段３０１は、光源３００を第二挿入孔１２２に挿入し第二空間１２０内に配置する（第二配置工程）。同時に、光源配置手段３０１は、光源３００を第一挿入孔１１２に挿入し第一空間１１０に配置する（第一配置工程）。
【０１００】
この状態において、第一スペーサ１１６は、基板３０２の表面と当接し、基板３０２と第一筐体１０１との距離が決定されている。また、第二スペーサ１２６は、基板３０２の表面と当接しており、基板３０２と第二筐体１０２と距離が決定されている。これにより、光源３００と第一検出器１１４との位置関係、および、光源３００と第二検出器１２４との位置関係は、同じとなっている。
【０１０１】
また、基板３０２は、第一遮光部材１４１と、支持手段１５０とにより挟まれた状態であり、第二遮光部材１４２と、支持手段１５０とにより挟まれた状態である。従って、第一筐体１０１や第二筐体１０２内方で点灯している光源３００の光が外部に漏れて迷光とることが無く、外部からの迷光が第一筐体１０１や第二筐体１０２の内方に入り込むことはない。
【０１０２】
次に、第一検出器１１４を用いて光源３００の第一光量Ｃを測定する（第一検出工程）。同時に、第二検出器１２４を用いて光源３００の第二光量Ａを測定する（第二検出工程）。
【０１０３】
ここで、第一検出器１１４は、光量抑制フィルタ１３１と、視感度補正フィルタ１３２とを介し、光源３００から放射される光の全てを検出する。なお、図１０（ａ）に示すように、第一検出器１１４が検出する光は、光源３００から直接到達する直接光（図１０（ａ）中、実線矢印）と、反射面部１１３で一度反射した後に到達する反射光（図１０（ａ）中、破線矢印）とが含まれる。従って、第一検出器１１４で検出される第一光量Ｃは、直接光と反射光との和になる。
【０１０４】
一方、図１０（ｂ）に示すように、第二検出器１２４が検出する光は、光源３００から直接到達する直接光（図１０（ｂ）中、実線矢印）のみである。つまり、光源３００から放射される光の内、吸収面部１２３に到達する光（図１０（ｂ）中、破線）は、吸収面部１２３によって吸収され、第二検出器１２４に到達しない。従って、第二検出器１２４で検出される第二光量Ａは、直接光のみの光量となる。なお実際には、吸収面部１２３に到達した光は散乱し、第二検出器１２４に到達すると考えられるが、直接光の光量に比較して、散乱により到達する光の光量は無視できると考えられる。
【０１０５】
次に、第一検出器１１４で検出された第一光量Ｃは、第一増幅器１１５を経て光源３００を識別する情報とひも付けられて演算手段１０４に記憶される。
【０１０６】
なお、本実施の形態では、第一検出器１１４、第二検出器１２４は共に、同じ仕様のフォトダイオードが用いられており、第一光量Ｃや第二光量Ａの検出時間は３０ｍｓｅｃ程度である。
【０１０７】
次に、第二検出器１２４で検出された第二光量Ａは、第二増幅器１２５を経て演算手段１０４に取得される。演算手段１０４は、先に光源３００を識別する情報とひも付けられて記憶している第一光量Ｃと第二光量Ａと、事前に取得しておいたｔを用いて光源３００の全光量Ｄを算出する（算出工程）。全光量Ｄの算出に用いられる式はＤ＝Ａ＋（Ｃ−Ａ）／ｔである。
【０１０８】
次に、図９に示すように、第一筐体１０１と第二筐体１０２とを光源配置手段３０１により基板３０２から離すと共に支持手段１５０が当接部１５１を没入させ、移送機構により光源３００を一方向に移送する（移送工程）。この動作に伴い、新たな測定対象である光源３００が第一筐体１０１の下方に配置される。また、この状態において、第一遮光部材１４１と第二遮光部材１４２とは、圧縮状態から解放され形状が復元する。
【０１０９】
次に、前期と同様第二配置工程と第一配置工程とを実施し、第一検出工程と第二検出工程とを実施し、算出工程にて光源３００の全光量Ｄを順次算出する。
【０１１０】
以上の様に、配置工程、検出工程、算出工程、移動工程を繰り返すことで、全光量測定システム１００は、順次移送される光源３００の個々の全光量を次々に測定することができるものとなっている。
【０１１１】
以上の全光量測定システム１００を用い、全光量測定方法を実施すれば、複数の基板に取り付けられた光源３００のそれぞれの全光量を効率よく短時間で測定することが可能となる。しかも、迷光が第一空間１１０や第二空間１２０に進入することがないため、設置環境が明るい光源３００の実装ラインにインラインで設けたような場合でも、正確な測定結果を得ることが可能となる。
【０１１２】
（実施の形態２）
次に、本願発明に係る他の全光量測定システム１００を説明する。
【０１１３】
図１１は、全光量測定システムを模式的に示す図である。
【０１１４】
同図に示すように、全光量測定システム１００は、光源３００から放射される光の全光量を測定するシステムであり、第一筐体１０１と、第二筐体１０２と、検出手段１０３と、演算手段１０４と、支持手段１５０と、転換手段２３０とを備えている。
【０１１５】
なお、実施の形態１で説明した構成要素と同一の作用・効果を示す構成要素については同じ符号を付し説明を省略する場合がある。
【０１１６】
検出手段１０３は、本実施の形態の場合、検出器として第一検出器１１４のみを備え、また、第一増幅器１１５のみを備えている。
【０１１７】
転換手段２３０は、第一開口１１１に対応する位置と第二開口１２１に対応する位置とのいずれかに検出器である第一検出器１１４を転換自在に配置する装置である。本実施の形態の場合、転換手段２３０は、固定された第一検出器１１４に対し、第一筐体１０１と第二筐体１０２との位置を入れ替える装置である。例えば転換手段２３０は、第一筐体１０１と第二筐体１０２とが摺動可能に取り付けられる１本のレールなどである。また、転換に必要な駆動力は人間の手で付与してもよく、また、モーターなどの駆動源を備えてもかまわない。
【０１１８】
本実施の形態の場合、支持手段１５０は、転換手段２３０によって、第一筐体１０１と第二筐体１０２との位置が転換する際に、光源３００を第一筐体１０１や第二筐体１０２から遠ざけ、転換動作が終了すると光源３００を第一筐体１０１や第二筐体１０２に近づけて押しつけることのできる回避装置としても機能している。
【０１１９】
また、全光量測定システム１００は、第一検出器１１４と第一筐体１０１との距離、もしくは、第一検出器１１４と第二筐体１０２との距離を相対的に近接（当接）させ、また、離反させることとのできる検出器移動手段２３１を備えている。これにより、転換手段２３０が第一筐体１０１や第二筐体１０２の位置を転換する際に第一検出器１１４との干渉を防止し、第一検出器１１４の受光面などを傷などから保護することができる。
【０１２０】
なお、本実施の形態では、転換手段２３０は、第一筐体１０１と第二筐体１０２を移動させるものとしたが、第一筐体１０１と第二筐体１０２とを固定状態として第一検出器１１４を移動させるものでもかまわない。この場合、光源３００も第一検出器１１４の移動に伴い第一筐体１０１と第二筐体１０２との間を移動することとなる。
【０１２１】
次に、全光量測定システム１００を用いた全光量測定方法を説明する。
【０１２２】
図１２は、全光量測定方法の流れを示すために模式的に全光量測定システムを示す図である。
【０１２３】
本実施の形態の場合、全光量測定システム１００の測定対象である光源３００としてＬＥＤが採用されている。また、全光量測定システム１００は、一つの光源３００の全光量をバッチ処理的に測定するシステムとなっている。
【０１２４】
まず、光源３００は、基板３０２に取り付けられた状態で支持手段１５０の当接部１５１の上に載置する。また、任意のタイミングで光源３００を点灯できるように基板３０２に設けられた端子に電源を接続しておく（図示せず）。
【０１２５】
事前に、本実施の形態で用いられる全光量測定システム１００の反射率補正係数ｔを算出し、演算手段１０４に記憶させる。具体的な方法は前述の通りである。
【０１２６】
次に、全光量測定システム１００を用いて、光源３００の全光量を測定する。
【０１２７】
同図（ａ）に示すように、支持手段１５０を上昇させて、光源３００を第一挿入孔１１２に挿入し、第一空間１１０に配置する（第一配置工程）。この状態において、第一筐体１０１の底部は、第一スペーサ１１６と基板３０２とを介して支持手段１５０に押し付けられた状態となる。また、第一遮光部材１４１は、第一スペーサ１１６によって設けられた第一筐体１０１と基板３０２との間を第一挿入孔１１２全周に渡って埋め尽くし、第一筐体１０１の外部にある迷光が第一筐体１０１の内方に入り込むことを防止している。また、当接部１５１を含む支持手段１５０も迷光の進入を阻止している。
【０１２８】
次に、前記配置状態の光源３００を点灯させ、第一検出器１１４を用いて光源３００の第一光量Ｃを測定する（第一検出工程）。
【０１２９】
次に、第一検出器１１４で検出された第一光量Ｃは、第一増幅器１１５を経て演算手段１０４に記憶される。
【０１３０】
次に、同図（ｂ）に示すように、支持手段１５０を下げ、第一筐体１０１と第二筐体１０２との位置を転換する（転換工程）。
【０１３１】
次に、同図（ｃ）に示すように、支持手段１５０を上昇させて、光源３００を第二挿入孔１２２に挿入し、第二空間１２０内に配置する（第二配置工程）。また、第二筐体１０２の底部は、第二スペーサ１２６と基板３０２とを介して支持手段１５０に押し付けられた状態であり、第一遮光部材１４１と同様、第二遮光部材１４２が迷光の第二空間１２０への進入を阻止している。またこの状態において、光源３００と第一検出器１１４との位置関係は、基板３０２に第二スペーサ１２６が当接することで第一筐体１０１の場合と同じになっている。
【０１３２】
次に、配置状態の光源３００を点灯させ、第一検出器１１４を用いて光源３００の第二光量Ａを測定する（第二検出工程）。
【０１３３】
次に、第一検出器１１４で検出された第二光量Ａは、第一増幅器１１５を経て演算手段１０４に取得される。演算手段１０４は、先に取得して記憶している第一光量Ｃとｔと第二光量Ａとを用いて光源３００の全光量Ｄを算出する（算出工程）。全光量Ｄの算出に用いられる式はＤ＝Ａ＋（Ｃ−Ａ）／ｔである。
【０１３４】
以上の全光量測定システム１００を用い、全光量測定方法を実施すれば、一つの第一検出器１１４で第一光量Ｃと第二光量Ａとを検出するため、検出器の違いによる誤差を考慮する必要が無くなり、より正確な測定を行うことが可能となる。また、第一遮光部材１４１や第二遮光部材１４２により基板３０２に取り付けられた状態の光源でも正確に全光量を測定することが可能となる。
【０１３５】
なお、本願発明は、上記実施の形態に限定されるものではない。例えば、本明細書において記載した構成要素を任意に組み合わせて実現される別の実施の形態を本願発明としてもよい。また、上記実施の形態に対して本願発明の主旨、すなわち、特許請求の範囲に記載される文言が示す意味を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例も本願発明に含まれる。また、「同一」「全」や「吸収」などの文言は本願発明の趣旨を逸脱しない程度の誤差を許容する意味で使用している。
【産業上の利用可能性】
【０１３６】
本願発明は、基板に取り付けられた状態の光源の全光量を測定することが可能であり、光源の全光量を絶対的に評価するための装置として利用可能である。特に、光源を基板に実装して実装基板を製造する製造工場において、工場内が明るい状態における実装基板における光源の性能評価に利用可能である。
【符号の説明】
【０１３７】
１００  全光量測定システム
１０１  第一筐体
１０２  第二筐体
１０３  検出手段
１０４  演算手段
１１０  第一空間
１１１  第一開口
１１２  第一挿入孔
１１３  反射面部
１１４  第一検出器
１１５  第一増幅器
１１６  第一スペーサ
１２０  第二空間
１２１  第二開口
１２２  第二挿入孔
１２３  吸収面部
１２４  第二検出器
１２５  第二増幅器
１２６  第二スペーサ
１３１  光量抑制フィルタ
１３２  視感度補正フィルタ
１４１  第一遮光部材
１４２  第二遮光部材
１５０  支持手段
１５１  当接部
１５２  押圧手段
２３０  転換手段
２３１  検出器移動手段
３００  光源
３０１  光源配置手段
３０２  基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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