(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルを搭載する自発光表示装置において、
第１の発光期間に補正対象画素と有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光するとして想定した基準画素との間に発生する劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を、基準画素に入力されると想定される階調値に基づいて導出した基準画素の予測劣化量に基づいて補正対象画素毎に算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と、
前記劣化量差補正部で補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給するガンマ変換部と、
前記ガンマ変換部から表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する実劣化量算出部と、
基準画素について算出された前記予測劣化量と前記実劣化量とのずれ量を検出し、ずれ量が負値の場合には平均輝度が下がりずれ量が正値の場合には平均輝度が上がるようにして当該ずれ量を解消するように前記ガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する予測ずれ検出部とを有する自発光表示装置。
【請求項２】
前記予測ずれ検出部は、
ずれ量に入出力関係を関連づけた一群の変換テーブルを有し、
検出されたずれ量に対応する変換テーブルを読み出して前記ガンマ変換部の入出力関係を更新する請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項３】
前記ずれ量には、正味のずれ量を解消する場合よりも大きいずれ量の解消に必要な入出力関係が関連づけられている請求項２に記載の自発光表示装置。
【請求項４】
前記基準画素は、同色で発光する自発光素子毎に設定される請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項５】
個々の階調値に対応する劣化量は、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項６】
前記補正量算出部は、
第１の発光期間ｔ１に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差Ｙを、当該期間に発生する補正対象画素の劣化率α１と基準画素の劣化率α２を用いて、Ｙ＝（α１−α２）・ｔ１として求め、
第２の発光期間ｔ２に前記劣化量差Ｙを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β１を、第２の発光期間内に予測される基準画素の劣化率β２を用いて、β１＝β２−Ｙ／ｔ２として求める請求項１に記載の自発光表示装置。
【請求項７】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルとコンピュータシステムとを搭載する電子機器において、
第１の発光期間に補正対象画素と有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光するとして想定した基準画素との間に発生する劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を、基準画素に入力されると想定される階調値に基づいて導出した基準画素の予測劣化量に基づいて補正対象画素毎に算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と、
前記劣化量差補正部で補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給するガンマ変換部と、
前記ガンマ変換部から表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する実劣化量算出部と、
基準画素について算出された前記予測劣化量と前記実劣化量とのずれ量を検出し、ずれ量が負値の場合には平均輝度が下がりずれ量が正値の場合には平均輝度が上がるようにして当該ずれ量を解消するように前記ガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する予測ずれ検出部とを有する電子機器。
【請求項８】
前記電子機器は、可搬型の端末装置である請求項７に記載の電子機器。
【請求項９】
前記電子機器は、印刷ユニットを搭載する印刷装置である請求項７に記載の電子機器。
【請求項１０】
前記電子機器は、撮像素子を搭載する撮像装置である請求項７に記載の電子機器。
【請求項１１】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルの焼き付きを補正する焼き付き補正装置において、
第１の発光期間に補正対象画素と有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光するとして想定した基準画素との間に発生する劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を、基準画素に入力されると想定される階調値に基づいて導出した基準画素の予測劣化量に基づいて補正対象画素毎に算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と、
前記劣化量差補正部で補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給するガンマ変換部と、
前記ガンマ変換部から表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する実劣化量算出部と、
基準画素について算出された前記予測劣化量と前記実劣化量とのずれ量を検出し、ずれ量が負値の場合には平均輝度が下がりずれ量が正値の場合には平均輝度が上がるようにして当該ずれ量を解消するように前記ガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する予測ずれ検出部とを有する焼き付き補正装置。
【請求項１２】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルの焼き付きを補正する処理として、
第１の発光期間に補正対象画素と有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光するとして想定した基準画素との間に発生する劣化量差を算出する処理と、
算出された劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を、基準画素に入力されると想定される階調値に基づいて導出した基準画素の予測劣化量に基づいて補正対象画素毎に算出する処理と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する処理と、
補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給する処理と、
表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する処理と、
基準画素について算出された前記予測劣化量と前記実劣化量とのずれ量を検出し、ずれ量が負値の場合には平均輝度が下がりずれ量が正値の場合には平均輝度が上がるようにして当該ずれ量を解消するように前記ガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する処理とをコンピュータに実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光表示パネルの焼き付き補正技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、電子機器、焼き付き補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機などの製品で広く普及している。現在、液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然として視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成することができる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子には、発光量や発光時間に応じて劣化する特性がある。
一方で、自発光表示装置に表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）では、他の表示領域（動画表示領域）に比べて輝度劣化が早く進行する。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００１−１７５２２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
焼き付き現象の補正には、映像の表示と並行して焼き付き現象の補正を実行する場合がある。この場合、表示内容を事前に予測して画素毎の劣化量差を誤差無く補正することが求められる。
しかし、表示内容は常に変化する。すなわち、補正量はあくまでも予測値であり、実際の表示内容によっては、必ずしも正確な補正動作を保証できない可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
そこで、発明者らは、複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルの焼き付きを補正する装置として、以下の各機能を組み合わせる補正技術を提案する。
（ａ）第１の発光期間に補正対象画素と基準画素の間に発生する劣化量差を算出する劣化量差算出部
（ｂ）算出された劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を、基準画素の予測劣化量に基づいて補正対象画素毎に算出する補正量算出部
（ｃ）算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部
（ｄ）劣化量差補正部で補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給するガンマ変換部
（ｅ）ガンマ変換部から表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する実劣化量算出部
（ｆ）基準画素について算出された予測劣化量と実劣化量とのずれ量を検出し、当該ずれ量を解消するようにガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する予測ずれ検出部
【発明の効果】
【０００７】
発明者らの提案する補正技術では、基準画素の予測劣化量と実劣化量との間にずれが発生した場合、当該ずれ量を解消するように補正後の階調値がガンマ変換される。すなわち、発明者らの提案する補正技術では、補正量を算出する際に予測した基準画素の予測劣化量に実劣化量が一致するように全画素の階調値をガンマ変換する。この結果、補正動作の前提条件が満たされることになり、正確な補正動作を保証することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象の補正技術を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【０００９】
（Ａ）有機ＥＬディスプレイへの適用例
（Ａ−１）全体構成
図１に、有機ＥＬディスプレイの形態例を示す。有機ＥＬディスプレイは、特許請求の範囲における「自発光表示装置」の一例である。
有機ＥＬディスプレイ１は、焼き付き補正部３と有機ＥＬパネルモジュール５で構成される。
【００１０】
焼き付き補正部３は、予測補正部３１と予測ずれ補正部３３の２つの処理を実行する処理デバイスである。この焼き付き補正部３は、特許請求の範囲における「焼き付き補正装置」に対応する。このうち、予測補正部３１は、基準画素との間に発生した各画素の劣化量差を補正期間内に解消するように入力映像信号を補正する処理デバイスである。また、予測ずれ補正部３３は、実劣化量と予測劣化量との間に生じたずれが解消されるように、予測補正後の入力映像信号（階調値）を補正する処理デバイスである。
【００１１】
有機ＥＬパネルモジュール５は、自発光素子に有機ＥＬ素子を使用する表示デバイスである。
有機ＥＬパネルモジュール５は、有効表示領域とその駆動回路（データドライバ、スキャンドライバ等）で構成する。
有効表示領域には、有機ＥＬ素子がマトリクス状に配置される。なお、発光色は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の三色とする。これら三色を一組として表示上の１画素が形成されている。
【００１２】
（Ａ−２）焼き付き補正部３の内部構成
図２に、焼き付き補正部３の内部構成例を示す。
【００１３】
（ａ）予測補正部３１
予測補正部３１は、階調値／劣化量変換部３１１、劣化量差算出部３１３、総劣化量蓄積部３１５、補正量算出部３１７及び劣化量差補正部３１９で構成する。
階調値／劣化量変換部３１１は、有機ＥＬパネルモジュール５に実際に供給される映像信号（階調値）を劣化量パラメータに変換する処理デバイスである。階調値を劣化量パラメータに変換するのは、現在実用化されている有機ＥＬ素子の劣化量が階調値に必ずしも比例しないためである。
【００１４】
そこで、階調値／劣化量変換部３１１を配置し、各発光色に対応する各画素の階調値を劣化量に変換する。この形態例では、階調値と有機ＥＬ素子の劣化量との関係を実験により求め、その対応関係データを一覧表として保存する。
図３に、階調値／劣化量変換テーブルの一例を示す。図３に示す階調値／劣化量変換テーブルの場合、階調値には劣化率と劣化量とが関連づけて保存されている。劣化率とは、単位時間当たりの劣化量を意味する。従って、劣化量は、劣化率に発光時間ｔを乗算することで求めることができる。
【００１５】
劣化量差算出部３１３は、有効表示領域を構成する各画素（補正対象画素）と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素は、焼き付き補正の実行時に補正基準となる。この形態例の場合、有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光する画素を想定する。基準画素は表示パネル上に実際に用意しても良いし、信号処理によって仮想的に用意しても良い。
劣化量差算出部３１３は、補正対象画素の劣化量から基準画素の劣化量を減算し、その差分値を劣化量差として算出する。
【００１６】
例えば発光期間をｔ１、補正対象画素の劣化率α１、基準画素の劣化率α２とする場合、劣化量差Ｙは次式で与えられる。
Ｙ＝（α１−α２）・ｔ１
なお、劣化量差が正値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも進んでいることを意味する。一方、劣化量差が負値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも遅れていることを意味する。
【００１７】
総劣化量蓄積部３１５は、基準画素の劣化量の累積値と各画素（補正対象画素）の劣化量差の累積値とを保存する記憶領域又は記憶装置である。例えば、半導体メモリ、ハードディスク装置その他の磁気記憶媒体、光ディスクその他の光記憶媒体を使用する。
補正量算出部３１７は、画素毎に算出された劣化量差を将来期間（補正期間）内に解消するための補正量を、基準画素の予測劣化量に基づいて算出する処理デバイスである。
【００１８】
図４に、補正量算出部３１７による補正量の算出原理を示す。図４は、補正期間ｔ２内に、直前期間ｔ１で発生した劣化量差をゼロにするための条件を表している。なお、図４では、基準画素に対応する劣化量の推移を破線で示し、補正対象画素に対応する劣化量の推移を実線で示す。
補正期間ｔ２の予測劣化率をβ２とする場合、補正対象画素の予測劣化率β１は、直前期間ｔ１に発生した劣化量差Ｙ（＝（α１−α２）・ｔ１）を用い、次式として表される。
β１＝β２−Ｙ／ｔ２＝β２−（α１−α２）・ｔ１／ｔ２
【００１９】
補正量算出部３１７は、階調値／劣化量変換テーブル（図３）を参照し、算出された劣化率β１に対応する階調値を求める。
なお、この階調値は、補正後の映像信号に求められる階調値である。補正量算出部３１７は、この階調値を満たすように補正対象画素の予測階調値からあるべき階調値（β１に対応する）を減算し、補正対象画素に対する補正量を算出する。
【００２０】
例えば、予測階調値の方があるべき階調値よりも大きい場合には、補正値は負値になる。また、予測階調値の方があるべき階調値よりも小さい場合には、補正値は正値になる。
劣化量差補正部３１９は、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する処理デバイスである。例えば、劣化量差補正部３１９は、入力映像信号に階調値を加算する処理を実行する。
【００２１】
（ｂ）予測ずれ補正部３３
予測ずれ補正部３３は、実劣化量算出部３３１、予測ずれ検出部３３３及びガンマ変換部３３５で構成する。
実劣化量算出部３３１は、有機ＥＬパネルモジュール５に供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する処理デバイスである。
【００２２】
前述したように、この形態例の場合、基準画素に対応する実劣化量は、有効表示領域を構成する全画素の平均階調値として与えられる。すなわち、実劣化量算出部３３１は、全画素の階調値に対応する劣化量パラメータの平均値を求める処理を実行する。劣化量パラメータへの変換は、前述した階調値／劣化量変換テーブル（図３）を使用する。なお、全画素の平均階調値は発光色毎に求める。
【００２３】
予測ずれ検出部３３３は、基準画素について算出された予測劣化量と実劣化量とのずれ量を検出し、当該ずれ量を解消するようにガンマ変換部３３５で使用する入出力関係を更新する処理デバイスである。
前述したように、予測補正部３１は、基準画素の補正期間内の階調値を予測し、当該階調値を基準に補正値を決定する。
【００２４】
しかし、あくまでも予測であり、実時間で入力され表示される映像の内容によっては、補正値の算出時に前提とした基準画素の階調値が予測値と異なる可能性がある。すなわち、実画面の平均輝度は、予測された平均輝度よりも明るかったり、暗かったりする。
従って、予測ずれ検出部３３３は、予測劣化量に対する実劣化量の差分を符号付きで算出する。
【００２５】
差分値が正値の場合、実画像の平均輝度が予測画像よりも小さかった（暗かった）ことを意味する。一方、差分値が負値の場合、実画像の平均輝度が予測画像よりも大きかった（明るかった）ことを意味する。
従って、予測値よりも劣化が進んでいることが検出された場合、予測ずれ検出部３３３は、平均輝度が下がるようにガンマ変換部３３５の入出力関係を変更する。また、予測値よりも劣化が遅れていることが検出された場合、予測ずれ検出部３３３は、平均輝度が上がるようにガンマ変換部３３５の入出力関係を変更する。
【００２６】
図５に、ガンマ曲線（入出力関係）の制御イメージを示す。なお、予測劣化量と実劣化量との間にずれが無い場合、ガンマ曲線は図中太線で示す直線となる。
ここで、ガンマ曲線（ｙ＝ｘ^1/γ）を与えるγ値は、ずれ量が大きいほど１よりも大きく値又は小さい値になる。なお、ずれ量が０（ゼロ）の場合、γ値は１である。
ずれ量に対応するガンマ曲線の入出力関係（変換テーブル）は、予測ずれ検出部３３３内にずれ量別に格納される。
【００２７】
図６に、予測ずれ検出部３３３が格納する変換テーブルの集合例を示す。図６の場合、ずれ量Ｄは、劣化量換算値の−５０から＋５０の範囲で用意される。また、ずれ量Ｄに対応する全階調分のガンマ曲線データ（入出力データ）が用意される。
図７に、各ガンマ曲線の平均レベルとずれ量Ｄとの関係を示す。ずれ量に対応付けられる各ガンマ曲線の平均レベルは、ずれ量が０（ゼロ）のガンマ曲線の平均レベルとの差分が、予測劣化量と実劣化量とのずれ量Ｄに一致するように設定される。
【００２８】
ただし、実際のシステムでは補正遅れが発生する。そこで、この形態例の場合には、正味のずれ量を解消する場合よりも平均レベルの差分が大きくなるガンマ曲線（入出力関係）を対応付けることにする。
例えば、ガンマ曲線Ｂは、予測劣化量と実劣化量との正味のずれ量Ｄよりも小さいずれ量に対応付ける手法を採用する。
【００２９】
ガンマ変換部３３５は、劣化量差補正部３１で補正済みの映像信号（階調値）を、設定されているガンマ曲線（入出力関係）に従ってガンマ変換する処理デバイスである。
ガンマ曲線（入出力関係）の変更は予測ずれ検出部３３３により逐次実行される。
【００３０】
（Ａ−３）焼き付き現象の補正動作
続いて、予測補正部３１と予測ずれ補正部３３とにより実現される焼き付き補正動作を説明する。以下では、予測補正部３１の補正動作と予測ずれ補正部３３の補正動作とに分けて説明する。
【００３１】
（ａ）予測補正動作
図８に、予測補正動作の処理手順例を示す。予測補正動作は、画素間の劣化量差が蓄積する期間とこれを補正する期間が交互に繰り返すことで実行される。
まず、階調値／劣化量変換部３１１において、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて階調値が検出される（Ｓ１）。
【００３２】
次に、階調値／劣化量変換部３１１は、補正対象画素と基準画素のそれぞれに対応する劣化率を図３に示す階調値／劣化量変換テーブルを用いて導出する。すなわち、補正対象画素の劣化率α１と基準画素の劣化率α２をそれぞれ導出する（Ｓ２）。なお、補正対象画素は、有効表示領域を構成する全画素が順番に又は並列的に指定される。
【００３３】
劣化量差算出部３１３は、補正対象画素と基準画素との間に発生した劣化量差を算出する（Ｓ３）。
算出された劣化量は、総劣化量蓄積部３１５に累積的に蓄積される。蓄積期間ｔ１の終了時、総劣化量蓄積部３１５は、各補正対象画素に対応する累積劣化量差Ｙ＝（α１−α２）・ｔ１を算出する（Ｓ４）。
【００３４】
次に、補正量算出部３１７が、補正期間としての発光期間ｔ２を決定する（Ｓ５）。発光期間ｔ２は、任意の値を設定できる。ただし、あまり短いと単位時間内の補正量が大きくなり、画質を低下させる。従って、補正量が許容される範囲になることが望ましい。例えば、発光期間ｔ２は蓄積期間ｔ１と同じに設定する。
【００３５】
この後、補正量算出部３１７は、発光期間ｔ２に入力されるであろう基準画素の予測階調値に基づいて劣化率β２を導出する（Ｓ６）。
劣化率β２の導出により、補正対象画素の劣化率β１を算出するのに必要な全ての値（劣化率α１、α２、β２と発光期間ｔ１、ｔ２）が確定する。
【００３６】
この後、補正量算出部３１７は、前述した補正条件式に従い、劣化量差を解消するのに必要な劣化率β１を求める（Ｓ７）。すなわち、β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１/ｔ２を用いて劣化率β１を算出する。
さらに、補正量算出部３１７は、導出された劣化率β１に対応する階調値を求める（Ｓ８）。
【００３７】
次に、補正量算出部３１７は、求められた階調値を満たすように、補正対象画素の予測階調値に対する補正量を算出する（Ｓ９）。すなわち、補正量は、予測階調値に対して相対的に決定される。
このように決定された補正量で、劣化量差補正部３１９は、対応する補正対象画素の階調値を補正する。
【００３８】
（ｂ）予測ずれ補正動作
次に、予測ずれ補正動作の処理手順例を説明する。
予測補正部３１が予測した通りの階調値が入力映像信号として与えられる場合、前述したように、補正期間ｔ２の終了時点において基準画素と各補正対象画素の発光輝度差は０（ゼロ）になるはずである。
【００３９】
図９に、補正動作の概念図を示す。図９の場合、破線と一点鎖線で示すように、時点ｔ３では、補正対象画素の発光輝度と基準画素の発光輝度が同じになるはずである。
しかし、図９に実線と点線で示すように、補正対象画素の実劣化量の推移と基準画素の実劣化量の推移が時点３の時点で収束しない可能性がある。
これは、予測精度の問題もあるが、入力映像信号の内容を予測することには限界もある。
【００４０】
そこで、予測ずれ補正部３３が、以下の補正動作を実行する。
図１０に、予測ずれ補正動作の処理手順例を示す。
まず、実劣化量算出部３３１が、基準画素の実劣化量を逐次算出する（Ｓ１０１）。すなわち、各フレームでの発光色別の平均階調値を算出する。算出された実劣化量は、予測ずれ検出部３３３に与えられる。
【００４１】
次に、予測ずれ検出部３３３は、補正量算出部３１７が補正処理の際に予測した劣化量（予測劣化量）を読み出す（Ｓ１０２）。
この後、予測ずれ検出部３３３は、予測劣化量と実劣化量の差分、すなわちずれ量を算出する（Ｓ１０３）。差分値は、前述したように正値又は負値として算出され、ずれ量の大きさを反映した値となる。
【００４２】
予測ずれ検出部３３３は、ずれ量に応じた変換テーブルを読み出し、これをガンマ変換部３３５に設定する（Ｓ１０４）。なお、変換テーブルの設定は、リアルタイムで継続的に実行される。
ガンマ変換部３３５は、設定された変換テーブルを参照して各補正対象画素の階調値をガンマ変換し、有機ＥＬディスプレイモジュール５に出力する。
【００４３】
このガンマ変換の結果、実劣化量が予測劣化量より小さい場合には、画面全体の平均輝度が上がるように階調値が変換され、実劣化量が予測劣化量より大きい場合には、画面全体の平均輝度が下がるように階調値が変換される。
勿論、平均輝度の調整量は、実劣化量と予測劣化量とのずれ量に応じて最適化される。
【００４４】
この結果、有機ＥＬディスプレイ上に表示される映像の平均輝度は、焼き付き補正の際に予測した条件を満たすことになる。従って、補正の前提が回復され、常に適正な補正効果が期待できる。
図１１に、予測ずれ補正動作を適用した場合の劣化量の推移を示す。
【００４５】
（Ａ−４）形態例の効果
以上説明したように、この形態例で説明した有機ＥＬディスプレイの場合には、発光輝度の低下を反映するパラメータである劣化率を用いて各画素の劣化量を測定するため、従来技術に比して発光特性の劣化量を正確に測定し、補正値を正確に決定することが可能になる。
【００４６】
加えて、予測した映像内容と実際の映像内容との違いを原因とする基準画素の劣化量のずれ、すなわち平均輝度値のずれを解消するように画面全体の階調値をガンマ変換する手法を採用する。
従って、予測補正時の前提条件を確実に成立させることができ、正確な焼き付き補正動作を継続的に実行できる。
【００４７】
すなわち、発光特性の劣化が表示階調に対して比例関係で発生しない場合でも、補正対象画素の発光輝度を基準画素の発光輝度に確実に近づけるのに加え、予測劣化量と実劣化量との間にずれが生じる場合でもこれを確実に解消できる焼き付き補正技術を実現できる。
【００４８】
なお、予測ずれ補正部３３の処理は、簡易な信号処理により実現できる。従って、画面サイズが大型化する場合でも、表示パネル自体の生産難易度が上がることはなく、コストの増加もほとんど発生しない。このように、製造技術上も効果的である。
【００４９】
（Ｂ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、各画素についての劣化量差や画面全体の平均階調値を発光色単位で算出する場合について説明した。
しかし、発光色別の階調値をグレースケール上の階調値に変換し、当該グレースケール上の階調値に対応する劣化量差や画面全体の平均階調値を算出する場合にも適用できる。
【００５０】
（ｂ）前述の形態例では、階調値／劣化量変換テーブルを１つだけ用意し、劣化量（率）と階調値との相互変換を実現する場合について説明した。
しかし、階調値と劣化率（量）が使用環境や材料特性等の影響により経時的に変化する可能性がある場合には、各条件に最適な複数通りの階調値／劣化量変換テーブルを選択的に使用する方法を採用しても良い。この場合、温度センサー、使用時間タイマーその他の検出デバイスを配置し、その検出結果に従って、各処理部で参照する階調値／劣化量変換テーブルを切り替えるようにしても良い。
【００５１】
（ｃ）前述の形態例では、階調値／劣化量変換テーブルを１つだけ用意し、劣化量（率）と階調値との相互変換を実現する場合について説明した。
しかし、有機ＥＬ素子の発光特性の経時的な変化を検出するダミー画素を表示パネル内に配置し、その発光特性の経時的な変化を輝度検出センサーを通じて検出することで入出力関係を修正する仕組みを採用しても良い。
例えば、各階調値に対する全て又は一部の劣化率を検出し、その検出結果に従って各階調値に対応付ける劣化率（量）を算出する手法を採用しても良い。
【００５２】
（ｄ）前述の形態例では、予測劣化量と実劣化量とのずれ量にガンマ曲線（入出力関係）を対応付けた変換テーブルを用意する場合について説明した。
しかし、入出力関係を計算により求めて更新する仕組みを採用しても良い。
【００５３】
（ｅ）前述の形態例では、予測劣化量と実劣化量とのずれ量にガンマ曲線（入出力関係）を対応付けた変換テーブルとして、正味のずれ量を解消する場合よりも大きいずれ量を解消できる入出力関係を対応付ける場合について説明した。
しかし、正味のずれ量を解消するのに必要な入出力関係を原則通り対応付けても良い。
【００５４】
（ｆ）前述の形態例では、基本原色がＲＧＢの３色である場合について説明した。しかし、基本原色は補色を含めて４色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本原色の数だけ用意すれば良い。
（ｇ）前述の形態例では、基本原色の発色形態について説明しなかったが、基本原色別に発光素子材料が異なる有機ＥＬ素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本原色を生成しても良い。
【００５５】
（ｈ）前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ＥＬディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、ＦＥＤ（field emission display） 、無機ＥＬディスプレイパネル、ＬＥＤパネルその他にも適用できる。
【００５６】
（ｉ）前述の形態例では、焼き付き補正量の予測方法として階調値を劣化量パラメータに変換し、基準画素との劣化量の差がなくなるように焼き付き補正値を決定する場合について説明した。
しかし、焼き付き補正値の算出処理には、周知の処理技術も含めて任意の手法を採用できる。
【００５７】
（ｊ）前述の形態例では、階調値／劣化量変換部３１１に有機ＥＬパネルモジュール５に供給される映像信号をフィードバックし、各補正対象画素に対応する劣化量を算出する場合について説明した。
しかし、予測補正部３１に入力される映像信号や劣化量差補正部３１９による補正後の映像信号を、階調値／劣化量変換部３１１に与えて劣化量を算出しても良い。
【００５８】
（ｋ）前述の形態例では、基準画素として有効表示領域を構成する全画素の平均輝度値で発光する画素を採用する場合について説明した。
しかし、劣化量の収束目的となる基準画素は、平均輝度値に限らない。例えば、画素単位で累積した劣化量の最も小さい画素や劣化量の最も大きい画素を基準画素とする手法を採用しても良い。どのような画素又は階調値を補正値を決定する際に基準値とするかは、実装システムによる。
【００５９】
（ｌ）前述の形態例では、焼き付き補正部３を有機ＥＬディスプレイ１に搭載する場合について説明した。
しかし、焼き付き補正部３は、自発光表示措置を搭載又は制御する様々な電子機器に搭載できる。
例えば、コンピュータ、印刷装置、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゲーム機器、携帯情報端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型ゲーム機、電子書籍等）、時計、画像再生装置（例えば、光ディスク装置、ホームサーバー）、に搭載できる。
【００６０】
なお、いずれの電子機器の場合にも、筐体と、信号処理部（ＭＰＵ）と、外部インターフェースとを共通構成とし、商品形態に応じた周辺装置が組み合わされて構成される。
例えば、携帯電話機その他の通信機能を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、送受信回路やアンテナを有する。図１２（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器５０１は、信号処理部５０３、操作部５０５、通信部５０７、表示パネル５０９で構成する。
【００６１】
また例えば、ゲーム機や電子書籍その他の記憶媒体を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、記憶媒体の駆動回路等を有する。図１２（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器６０１は、信号処理部６０３、操作部６０５、媒体駆動部６０７、表示パネル６０９で構成する。
【００６２】
また例えば、印刷装置であれば、前述の構成に加え、印刷ユニットを搭載する。印刷ユニットは、印刷方式に応じて最適なものを搭載する。印刷方式には、例えばレーザー方式、インクジェット方式その他がある。図１３（Ａ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器７０１は、信号処理部７０３、操作部７０５、印刷ユニット７０７、表示パネル７０９で構成する。
【００６３】
また例えば、ビデオカメラやデジタルカメラであれば、前述の構成に加え、カメラユニットや撮像された映像データを記憶媒体に保存するための書き込み回路を搭載する。図１３（Ｂ）に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器８０１は、信号処理部８０３、操作部８０５、撮像部８０７、表示パネル８０９で構成する。
【００６４】
（ｍ）前述の形態例では、焼き付き補正機能を機能的な側面から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｎ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】有機ＥＬディスプレイの概略構成例を示す図である。
【図２】焼き付き補正部の内部構成例を示す図である。
【図３】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図４】焼き付き現象の補正処理原理を説明する図である。
【図５】予測ずれの補正処理原理を説明する図である。
【図６】ずれ量とガンマ曲線との対応関係を示す図である。
【図７】ガンマ曲線の平均輝度レベル差を説明する図である。
【図８】予測補正動作の処理手順を示す図である。
【図９】予測ずれ補正をしない場合に発生する劣化量の遷移を説明する図である。
【図１０】予測ずれ補正動作の処理手順を示す図である。
【図１１】予測ずれ補正を実行する場合の劣化量の遷移を説明する図である。
【図１２】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【図１３】他の電子機器への応用例を説明する図である。
【符号の説明】
【００６６】
１          有機ＥＬディスプレイ
３          焼き付き補正部
５          有機ＥＬパネルモジュール
３１        予測補正部
３５        予測ずれ補正部
３１１      階調値／劣化量変換部
３１３      劣化量差算出部
３１５      総劣化量蓄積部
３１７      補正量算出部
３１９      劣化量差補正部
３３１      実劣化量算出部
３３３      予測ずれ検出部
３３５      ガンマ変換部
【図１】
0005130634.tif 000002
【図２】
0005130634.tif 000003
【図３】
0005130634.tif 000004
【図４】
0005130634.tif 000005
【図５】
0005130634.tif 000006
【図６】
0005130634.tif 000007
【図７】
0005130634.tif 000008
【図８】
0005130634.tif 000009
【図９】
0005130634.tif 000010
【図１０】
0005130634.tif 000011
【図１１】
0005130634.tif 000012
【図１２】
0005130634.tif 000013
【図１３】
0005130634.tif 000014