(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示装置であって、
表示画像内の所与の基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶部と、
前記ずれ量に応じて前記入力画像信号を補正する画像信号補正部と、
前記画像信号補正部により補正された画像信号に基づいて画像表示を行う画像表示部とを含み、
１画素が複数の色成分のサブ画素により構成される場合に、
前記基準位置が、前記複数の色成分のサブ画素のうちいずれか１つの色成分のサブ画素の表示位置であり、
前記ずれ量記憶部は、
前記表示画像内の１又は複数のサンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を記憶し、
前記画像信号補正部は、
前記表示画像の各画素を構成するサブ画素毎に、前記サンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を用いて当該サブ画素の表示位置のずれ量を算出し、該ずれ量に応じて当該サブ画素の入力画像信号を補正することを特徴とする画像表示装置。
【請求項２】
請求項１において、
所与の補正制御信号に基づいて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理を制御する画像信号補正制御部を含み、
前記画像信号補正制御部は、前記補正制御信号に応じて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理を異ならせることを特徴とする画像表示装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記画像表示部により表示される画像のズーム状態を検出するズーム状態検出部を含み、
前記画像信号補正制御部は、前記ズーム状態検出部の検出結果に対応した前記補正制御信号に応じて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理を行わせるか、又は該補正処理を省略することを特徴とする画像表示装置。
【請求項４】
請求項２又は３において、
前記ずれ量記憶部は、
複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群を記憶し、
前記画像信号補正部は、
前記ずれ量記憶部に記憶された複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群のうち、前記補正制御信号に対応した組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群を用いて、前記入力画像信号を補正することを特徴とする画像表示装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかにおいて、
前記画像表示部により表示された画像内のサブ画素の表示位置を測定するサブ画素位置測定部を含み、
前記ずれ量記憶部は、
前記サブ画素位置測定部の測定結果を用いて、前記基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置に対応したずれ量を記憶することを特徴とする画像表示装置。
【請求項６】
１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示方法であって、
表示画像内の所与の基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶ステップと、
前記ずれ量に応じて前記入力画像信号を補正する画像信号補正ステップと、
前記画像信号補正ステップにより補正された画像信号に基づいて変調された光を用いて画像表示を行う画像表示ステップとを含み、
１画素が複数の色成分のサブ画素により構成される場合に、
前記基準位置が、前記複数の色成分のサブ画素のうちいずれか１つの色成分のサブ画素の表示位置であり、
前記ずれ量記憶ステップでは、
前記表示画像内の１又は複数のサンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を記憶し、
前記画像信号補正ステップでは、
前記表示画像の各画素を構成するサブ画素毎に、前記サンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を用いて当該サブ画素の表示位置のずれ量を算出し、該ずれ量に応じて当該サブ画素の入力画像信号を補正することを特徴とする画像表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像表示装置及び画像表示方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、大画面テレビジョンやプロジェクタ等の高性能な画像表示装置が広く普及しており、これらの画像表示装置においては、より一層、表示画像の高画質化が重要となっている。特に、設置の自由度が高く、いわゆるズーム機能により表示画像のサイズを簡単に調整できる画像表示装置として重宝されているプロジェクタについては、コンテンツ自体の高画質化により、より一層の高画質化に対する要求が強まっている。
【０００３】
このようなプロジェクタに関し、特許文献１には、ライトバルブとして透過型のマトリックス形液晶表示装置を用いたプロジェクタが開示されている。このプロジェクタは、複数のダイクロイックミラーを備え、光源からの光を複数のダイクロイックミラーによりＲ、Ｇ、Ｂの３原色に分離し、それぞれの光を液晶表示装置に透過させた後に、投射レンズを介してスクリーンに投射する。このとき、ミラー等の光学的手段によって２次元的な画素配置が一致するように液晶表示装置の透過光を合成させる。
【０００４】
この種のプロジェクタでは、例えばマトリックス形液晶表示装置の画素数を増加させてコンテンツに対応した画像信号に基づく光変調を行って画像表示を行うことで、表示画像の高画質化を図ることができる。
【０００５】
【特許文献１】特開昭６１−１５０４８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、プロジェクタによる表示画像の画素数を増加させると、光学系による各画素の位置調整がより一層難しくなる傾向がある。例えばプロジェクタが備える投射レンズは色収差を有し、波長によって屈折率が異なる。そのため、プロジェクタが有する光学系の収差精度には、これまで以上の精度が要求される。しかしながら、１画素を構成するサブ画素の表示位置をすべて正確に調整することは困難である。
【０００７】
このようなサブ画素の表示位置のずれは、表示画素数が少ないときは無視できる程度であったが、表示画素数の増大に伴い、サブ画素の表示位置のずれが目立つようになり、サブ画素の表示位置のずれは画質の低下を招くようになる。
【０００８】
本発明は、以上のような技術的課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できる画像表示装置及び画像表示方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために本発明は、１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示装置であって、表示画像内の所与の基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶部と、前記ずれ量に応じて前記入力画像信号を補正する画像信号補正部と、前記画像信号補正部により補正された画像信号に基づいて画像表示を行う画像表示部とを含む画像表示装置に関係する。
【００１０】
本発明によれば、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれ量を記憶しておき、画像内の全サブ画素のずれ量を算出して、サブ画素の入力画像信号を該ずれ量に応じて補正するようにしたので、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できる画像表示装置を提供できるようになる。
【００１１】
また本発明に係る画像表示装置では、１画素が複数の色成分のサブ画素により構成される場合に、前記基準位置が、前記複数の色成分のサブ画素のうちいずれか１つの色成分のサブ画素の表示位置であってもよい。
【００１２】
本発明によれば、１画素を構成する複数の色成分のサブ画素のうちいずれか１つの色成分のサブ画素の表示位置を基準位置として、他の色成分のサブ画素の表示位置のずれ量を算出するようにしたので、基準位置とした色成分の全サブ画素のずれ量の算出や基準位置とした色成分の入力画像信号の補正処理を行わなくて済み、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止し、処理の簡素化を図る画像表示装置を提供できる。
【００１３】
また本発明に係る画像表示装置では、前記ずれ量記憶部は、前記表示画像内の１又は複数のサンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を記憶し、前記画像信号補正部は、前記表示画像の各画素を構成するサブ画素毎に、前記サンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を用いて当該サブ画素の表示位置のずれ量を算出し、該ずれ量に応じて当該サブ画素の入力画像信号を補正することができる。
【００１４】
本発明によれば、各サブ画素のずれ量を補間処理で求めればよいため、ずれ量の記憶容量を削減し、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できる画像表示装置の低コストで提供できるようになる。
【００１５】
また本発明に係る画像表示装置では、所与の補正制御信号に基づいて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理を制御する画像信号補正制御部を含み、前記画像信号補正制御部は、前記補正制御信号に応じて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理方法を異ならせてもよい。
【００１６】
本発明によれば、サブ画素の表示位置のずれ量に応じた入力画像信号の補正処理をより正確に行うことができるようになる。
【００１７】
また本発明に係る画像表示装置では、前記画像表示部により表示される画像のズーム状態を検出するズーム状態検出部を含み、前記画像信号補正制御部は、前記ズーム状態検出部の検出結果に対応した前記補正制御信号に応じて、前記画像信号補正部による前記入力画像信号の補正処理を行わせるか、又は該補正処理を省略することができる。
【００１８】
本発明によれば、ズーム状態に応じてサブ画素の表示位置がずれる事態を回避できるようになり、ズーム機能を有する画像表示装置の画質の低下を抑える事ができるようになる。
【００１９】
また本発明に係る画像表示装置では、前記ずれ量記憶部は、複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群を記憶し、前記画像信号補正部は、前記ずれ量記憶部に記憶された複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群のうち、前記補正制御信号に対応した組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群を用いて、前記入力画像信号を補正することができる。
【００２０】
本発明においては、ずれ量記憶部が、複数組のサブ画素の表示位置のずれ量群を記憶し、画像信号補正部は、ずれ量記憶部に記憶された複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群のうち、補正制御信号に対応した組のサブ画素の表示位置のずれ量群を用いて、入力画像信号を補正することができる。これにより、入力画像信号に対してより正確の補正処理を施すことができるようになる。
【００２１】
また本発明に係る画像表示装置では、前記画像表示部により表示された画像内のサブ画素の表示位置を測定するサブ画素位置測定部を含み、前記ずれ量記憶部は、前記サブ画素位置測定部の測定結果を用いて、前記基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置に対応したずれ量を記憶することができる。
【００２２】
本発明によれば、サブ画素位置測定部を備えて、サブ画素位置測定部の測定結果を用いてサブ画素の表示位置のずれ量を算出するようにすることで、サブ画素の表示位置のずれに画像表示装置の個体差（製造ばらつき）があっても画質の低下を防止できるようになる。
【００２３】
また本発明は、１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示方法であって、表示画像内の所与の基準位置を基準とした前記サブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶ステップと、前記ずれ量に応じて前記入力画像信号を補正する画像信号補正ステップと、前記画像信号補正ステップにより補正された画像信号に基づいて変調された光を用いて画像表示を行う画像表示ステップとを含む画像表示方法に関係する。
【００２４】
本発明によれば、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれ量を記憶しておき、画像内の全サブ画素のずれ量を算出して、サブ画素の入力画像信号を該ずれ量に応じて補正するようにしたので、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できる画像表示方法を提供できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成のすべてが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００２６】
以下では、本発明に係る画像表示装置としてプロジェクタを例に説明するが、本発明に係る画像表示装置がプロジェクタに限定されるものではない。即ち、サブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下は、プロジェクタに限らず種々の画質表示装置でも起こりえる現象であると考えられるため、本発明に係る画像表示装置はプロジェクタに限定されるものではない。
【００２７】
〔第１の実施形態〕
図１に、本発明に係る第１の実施形態における画像表示装置としてのプロジェクタの構成例のブロック図を示す。
【００２８】
第１の実施形態におけるプロジェクタ１０は、１画素を構成する複数のサブ画素の画像信号に基づいて変調された光をスクリーンＳＣＲに投射することで画像表示を行う。このようなプロジェクタ１０は、画像処理部２０と、パターン画像記憶部４０と、サブ画素位置測定部５０と、ズーム状態検出部６０と、画像表示部としての投射部１００とを含む。
【００２９】
画像処理部２０は、図示しない画像信号生成装置からのサブ画素毎の入力画像信号に対して、スクリーンＳＣＲに投射された画像の各画素を構成するサブ画素のずれ量に応じた補正処理を行う。サブ画素のずれ量は、サブ画素位置測定部５０の測定結果から算出される。パターン画像記憶部４０は、スクリーンＳＣＲへの投射画像（表示画像）のサブ画素の位置を測定するためのパターン画像を記憶する。サブ画素位置測定部５０は、デジタルスチルカメラ等の撮像装置を含み、パターン画像記憶部４０に記憶されたパターン画像を用いて投射部１００がスクリーンＳＣＲに投射した画像を撮像し、この撮像データを画像情報として各画素を構成するサブ画素の位置を測定する。サブ画素位置測定部５０によって測定されたサブ画素の位置は、画像処理部２０によるスクリーンＳＣＲへの投射画像内の所与の基準位置を基準としたずれ量の算出に用いられる。
【００３０】
画像処理部２０は、ずれ量記憶部２２と、画像信号補正部２４と、入力画像信号記憶部２８と、画像信号補正制御部３０とを含むことができる。ずれ量記憶部２２には、スクリーンＳＣＲへの投射画像（表示画像）内の所与の基準位置を基準として、サブ画素位置測定部５０によって測定されたサブ画素の位置のずれ量（広義には補正パラメータ）が記憶される。
【００３１】
第１の実施形態では、ずれ量記憶部２２がスクリーンＳＣＲへの投射画像内の１又は複数のサンプリングサブ画素の表示位置のずれ量のみを記憶し、画像信号補正部２４が該ずれ量を用いた補間処理により当該画像内の全サブ画素のずれ量を求める。そのため、画像信号補正部２４は、ずれ量算出部２６を含むことができ、ずれ量算出部２６が、サブ画素毎に、ずれ量記憶部２２に記憶されたずれ量を用いた補間処理により当該画像内の全サブ画素のずれ量を求める。
【００３２】
ここで、サンプリングサブ画素は、画像内の各画素を構成する複数のサブ画素のうちサンプリングされた１又は複数のサブ画素を意味する。このようなサンプリングサブ画素としては、互いに画素位置が不連続なサブ画素であることが望ましい。これにより、各サブ画素のずれ量を補間処理で求めるようにすることで、ずれ量の記憶容量を削減できるようになる。
【００３３】
入力画像信号記憶部２８は、図示しない画像信号生成装置からの入力画像信号を記憶する。画像信号補正部２４は、当該サブ画素のずれ量に応じて、入力画像信号記憶部２８に記憶された当該サブ画素の入力画像信号を補正する。
【００３４】
なお、ずれ量記憶部２２に、予めスクリーンＳＣＲへの投射画像内の全サブ画素について求めたずれ量を記憶していてもよい。この場合、画像信号補正部２４は、サブ画素毎にずれ量を補間処理で求めることなく、ずれ量記憶部２２から読み出したずれ量を用いて単に入力画像信号を補正するだけでよい。
【００３５】
上記の画像信号補正部２４からの画像信号は、投射部１００に入力される。投射部１００は、例えば３板式の液晶プロジェクタにより構成され、１画素を構成するサブ画素の画像信号に基づいて変調された光を用いてスクリーンＳＣＲに画像を投射する。投射部１００は、いわゆるズーム機能を有し、ズーム倍率に対応したサイズの画像をスクリーンＳＣＲに投射することができる。ズーム状態検出部６０は、投射部１００のズーム倍率をズーム状態として検出できる。
【００３６】
即ち、図１のプロジェクタ１０は、１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示装置であり、表示画像内の所与の基準位置を基準としたサブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶部２２と、ずれ量に応じて入力画像信号を補正する画像信号補正部２４と、画像信号補正部２４により補正された画像信号に基づいて変調された光を用いて画像表示を行う画像表示部としての投射部１００とを含むことができる。或いは、１画素を構成するサブ画素に対応した入力画像信号に基づいて画像を表示する画像表示方法として、表示画像内の所与の基準位置を基準としたサブ画素の表示位置のずれ量を記憶するずれ量記憶ステップと、ずれ量に応じて入力画像信号を補正する画像信号補正ステップと、画像信号補正ステップにより補正された画像信号に基づいて変調された光を用いて画像表示を行う画像表示ステップとを含むことができる。
【００３７】
更に、ずれ量記憶部２２は、表示画像内の１又は複数のサンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を記憶し、画像信号補正部２４は、表示画像の各画素を構成するサブ画素毎に、サンプリングサブ画素の表示位置のずれ量を用いて当該サブ画素の表示位置のずれ量を算出し、該ずれ量に応じて当該サブ画素の入力画像信号を補正することができる。
【００３８】
また、画像信号補正制御部３０は、所与の補正制御信号に基づいて、画像信号補正部２４による入力画像信号の補正処理を制御し、補正制御信号に応じて、画像信号補正部２４による入力画像信号の補正処理を異ならせることができる。第１の実施形態では、ズーム状態検出部６０の検出結果に対応した補正制御信号が画像信号補正制御部３０に入力され、画像信号補正部２４は、この補正制御信号に応じて、入力画像信号の補正処理を行ったり、又は該補正処理を省略したりすることで、入力画像信号の補正処理（方法）を異ならせることができる。例えば、ズーム状態が最大望遠状態のとき（テレ端）では入力画像信号の補正処理を省略し、それ以外のズーム状態では入力画像信号の補正処理を行う。或いは、例えばズーム状態が最小望遠状態のとき（ワイド）では入力画像信号の補正処理を省略し、それ以外のズーム状態では入力画像信号の補正処理を行う。こうすることで、サブ画素の表示位置のずれ量に応じて、より正確に入力画像信号を補正できる場合がある。
【００３９】
即ち、プロジェクタのズーム機能は、投射画像のサイズを変更できる点で非常に有用な機能であるが、ズーム状態を変更すると、投射レンズの色収差の状態も変更されてしまい、１画素を構成するサブ画素の表示位置がサブ画素毎にずれるという問題がある。そこで、ズーム状態が変更されたときに、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれ量に応じて入力画像信号を補正することにより、ズーム状態に応じて発生する１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止することができる。
【００４０】
図２に、図１の投射部１００の構成例を示す。図２では、第１の実施形態における投射部１００が、いわゆる３板式の液晶プロジェクタにより構成されるものとして説明するが、本発明に係る画像表示装置の投射部がいわゆる３板式の液晶プロジェクタにより構成されるものに限定されるものではない。
【００４１】
投射部１００は、光源１１０、インテグレータレンズ１１２、１１４、偏光変換素子１１６、重畳レンズ１１８、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒ、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇ、反射ミラー１２２、Ｒ用フィールドレンズ１２４Ｒ、Ｇ用フィールドレンズ１２４Ｇ、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ（第１の光変調部）、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ（第２の光変調部）、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂ（第３の光変調部）、リレー光学系１４０、クロスダイクロイックプリズム１６０、投射レンズ１７０を含む。Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ及びＢ用液晶パネル１３０Ｂとして用いられる液晶パネルは、透過型の液晶表示装置である。リレー光学系１４０は、リレーレンズ１４２、１４４、１４６、反射ミラー１４８、１５０を含む。
【００４２】
光源１１０は、例えば超高圧水銀ランプにより構成され、少なくともＲ成分の光、Ｇ成分の光、Ｂ成分の光を含む光を射出する。インテグレータレンズ１１２は、光源１１０からの光を複数の部分光に分割するための複数の小レンズを有する。インテグレータレンズ１１４は、インテグレータレンズ１１２の複数の小レンズに対応する複数の小レンズを有する。重畳レンズ１１８は、インテグレータレンズ１１２の複数の小レンズから射出される部分光を重畳する。
【００４３】
また偏光変換素子１１６は、偏光分離膜とλ／２板とを有し、ｐ偏光を透過させると共にｓ偏光を反射させ、ｐ偏光をｓ偏光に変換する。この偏光変換素子１１６からのｓ偏光が、重畳レンズ１１８に照射される。
【００４４】
重畳レンズ１１８によって重畳された光は、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒに入射される。Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒは、Ｒ成分の光を反射して、Ｇ成分及びＢ成分の光を透過させる機能を有する。Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒを透過した光は、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇに照射され、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒにより反射した光は反射ミラー１２２により反射されてＲ用フィールドレンズ１２４Ｒに導かれる。
【００４５】
Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇは、Ｇ成分の光を反射して、Ｂ成分の光を透過させる機能を有する。Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇを透過した光は、リレー光学系１４０に入射され、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇにより反射した光はＧ用フィールドレンズ１２４Ｇに導かれる。
【００４６】
リレー光学系１４０では、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇを透過したＢ成分の光の光路長と他のＲ成分及びＧ成分の光の光路長との違いをできるだけ小さくするために、リレーレンズ１４２、１４４、１４６を用いて光路長の違いを補正する。リレーレンズ１４２を透過した光は、反射ミラー１４８によりリレーレンズ１４４に導かれる。リレーレンズ１４４を透過した光は、反射ミラー１５０によりリレーレンズ１４６に導かれる。リレーレンズ１４６を透過した光は、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂに照射される。
【００４７】
Ｒ用フィールドレンズ１２４Ｒに照射された光は、平行光に変換されてＲ用液晶パネル１３０Ｒに入射される。Ｒ用液晶パネル１３０Ｒは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｒ用画像信号に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒに入射された光（第１の色成分の光）は、Ｒ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００４８】
Ｇ用フィールドレンズ１２４Ｇに照射された光は、平行光に変換されてＧ用液晶パネル１３０Ｇに入射される。Ｇ用液晶パネル１３０Ｇは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｇ用画像信号に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇに入射された光（第２の色成分の光）は、Ｇ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００４９】
リレーレンズ１４２、１４４、１４６で平行光に変換された光が照射されるＢ用液晶パネル１３０Ｂは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｂ用画像信号（第１の色成分のサブ画素の画像信号）に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂに入射された光（第３の色成分の光）は、Ｂ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００５０】
Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂは、それぞれ同様の構成を有している。各液晶パネルは、電気光学物質である液晶を一対の透明なガラス基板に密閉封入したものであり、例えばポリシリコン薄膜トランジスタをスイッチング素子として、各サブ画素の画像信号に対応して各色光の通過率を変調する。
【００５１】
クロスダイクロイックプリズム１６０は、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ及びＢ用液晶パネル１３０Ｂからの入射光を合成した合成光を出射光として出力する機能を有する。投射レンズ１７０は、出力画像をスクリーンＳＣＲ上に拡大して結像させるレンズであり、ズーム倍率に応じて画像を拡大又は縮小させる機能を有する。
【００５２】
以上のような構成を有する第１の実施形態におけるプロジェクタ１０では、まずサブ画素のずれ量の取得処理が行われる。この取得処理は、例えばプロジェクタ１０の製造時の検査工程で行われる。
【００５３】
このようにサブ画素位置測定部５０を備えてプロジェクタ１０で投影されたサブ画素を撮像してサブ画素の表示位置のずれ量を算出するようにすることで、サブ画素の表示位置のずれにプロジェクタの個体差があっても画質の低下を防止できるようになる。
【００５４】
図３に、第１の実施形態におけるサブ画素のずれ量の取得処理例のフロー図を示す。
【００５５】
まず、プロジェクタ１０では、パターン画像記憶部４０に記憶されたパターン画像に対応した画像情報を読み出し、投射部１００が、該パターン画像をスクリーンＳＣＲに投射する（ステップＳ１０）。そして、パターン画像を投射した後、プロジェクタ１０では、サブ画素位置測定部５０が、スクリーンＳＣＲへの投射画像を撮影する（ステップＳ１２）。サブ画素位置測定部５０は、スクリーンＳＣＲへの投射画像の画素数よりも多い撮像画素数で、投射画像を撮影することができる。即ち、サブ画素位置測定部５０は、スクリーンＳＣＲへの投射画像の１画素分の表示画素を、１画素よりも多い撮像画素数で該表示画素を撮影して取り込む。
【００５６】
続いて、サブ画素位置測定部５０は、サブ画素の表示位置を決定する（ステップＳ１４）。そして、サブ画素位置測定部５０又は画像処理部２０は、投射画像内の所与の基準位置を基準として、ステップＳ１４で決定したサンプリングサブ画素のずれ量を求めて、ずれ量記憶部２２に保存し（ステップＳ１８）、一連の処理を終了する（エンド）。
【００５７】
図４に、第１の実施形態におけるパターン画像の一例を示す。図３のステップＳ１０では、例えば図４に示すパターン画像がスクリーンＳＣＲに投射される。
【００５８】
なお、図４では第１の実施形態におけるパターン画像をスクリーンＳＣＲに投射したときに、サブ画素毎に表示位置のずれが生じている例を示している。本来は、１画素を構成するサブ画素の表示位置が一致するようにプロジェクタ１０の光学系が調整されているが、光学系の収差等に起因して、１画素を構成するサブ画素の表示位置を完全に一致させることは困難である。
【００５９】
このパターン画像は、スクリーンＳＣＲへの投射領域ＰＡの境界部分に、９画素のサンプリングサブを有する。サンプリングサブ画素は、矩形状の投射領域ＰＡの四隅付近の４画素と、この四隅付近のサンプリング画素間の中間に位置する４画素と、投射領域ＰＡの中心付近に位置する１画素とからなる。各サンプリング画素は、Ｒ成分のサンプリングサブ画素、Ｇ成分のサンプリングサブ画素及びＢ成分のサンプリングサブ画素を有する。なお、各サブ画素の表示画素は、模式的に矩形であるものとして示しているが、実際にはレンズの歪曲収差等に起因して表示画素の形状が矩形にはならない。
【００６０】
図５に、第１の実施形態におけるパターン画像の撮像処理の説明図を示す。図５において、図４と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００６１】
図３のステップＳ１２では、１画素を構成する全サブ画素を一度に投射し、サブ画素位置測定部５０は、Ｒ成分のカラーフィルタＦＲを介して、スクリーンＳＣＲの投射画像を撮像する。これにより、Ｒ成分のサブ画素の表示画素のみを取り込むことができる。同様に、サブ画素位置測定部５０は、Ｇ成分のカラーフィルタＦＧを介してスクリーンＳＣＲの投射画像を撮像した後、Ｂ成分のカラーフィルタＦＢを介してスクリーンＳＣＲの投射画像を撮像することで、Ｇ成分のサブ画素の表示画素とＢ成分のサブ画素の表示画素とを順番に取り込むことができる。
【００６２】
なお、サブ画素の表示画素を取り込む方法は、図５で説明したものに限定されるものではなく、例えばサブ画素を表示してカラーフィルタを介さずに該サブ画素の表示画素を撮像することを、色成分毎に繰り返してもよい。
【００６３】
図６（Ａ）、図６（Ｂ）に、Ｇ成分のサブ画素の位置決定処理及びずれ量の算出処理の説明図を示す。図６（Ａ）、図６（Ｂ）において、図４と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００６４】
図７に、第１の実施形態におけるずれ量の説明図を示す。図７において、図４又は図６（Ｂ）と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００６５】
図３のステップＳ１２では、サブ画素位置測定部５０又は画像処理部２０は、サブ画素位置測定部５０による撮像により、図６（Ａ）に示すようなＧ成分のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９の撮像データを取得する。その後、図３のステップＳ１４において、Ｇ成分のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９の各表示画素の領域の中からＧ成分のサブ画素位置を決定する。より具体的には、各表示画素の領域は複数の撮像画素数を有し、この領域の中から１つの撮像画素をＧ成分のサブ画素位置として決定する。
【００６６】
この決定処理としては、画素値が最大の画素をサブ画素位置として決定することができ、例えば各表示画素の領域の輝度ヒストグラムを算出し、最高輝度の画素を画素値が最大の画素として特定することができる。或いは、各表示画素の領域の輝度ヒストグラムを算出し、所定の閾値以上の画素の重心位置をサブ画素位置として決定することができる。その結果、図６（Ｂ）に示すように、図６（Ａ）のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９に対応したサブ画素位置ＰＧ１〜ＰＧ９が決定される。
【００６７】
図６（Ｂ）では、スクリーンＳＣＲへの投射領域ＰＡの四隅に基準位置ＲＥＦ１〜ＲＥＦ４が予め決められているものとする。更に、基準位置ＲＥＦ５が基準位置ＲＥＦ１、ＲＥＦ２の中間位置、基準位置ＲＥＦ６が基準位置ＲＥＦ１、ＲＥＦ３の中間位置、基準位置ＲＥＦ７が基準位置ＲＥＦ２、ＲＥＦ４の中間位置、基準位置ＲＥＦ８が基準位置ＲＥＦ３、ＲＥＦ４の中間位置、基準位置ＲＥＦ９が投射領域ＰＡの中心位置にそれぞれ決められているものとする。
【００６８】
また、同様に、Ｒ成分及びＢ成分についてもサブ画素の表示画素ＤＲ１〜ＤＲ９、ＤＢ１〜ＤＢ９に対応するサブ画素位置が決定される。この結果、図７に示すようにＲ成分、Ｇ成分及びＢ成分の各サンプリング画素のサブ画素位置が決定される。
【００６９】
そして、図３のステップＳ１６では、例えば図７に示すように、基準位置ＲＥＦ１を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ１のずれ量（投射画像の水平方向のずれ量と投射画像の垂直方向のずれ量）、Ｇ成分のサブ画素位置ＰＧ１のずれ量及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ１のずれ量、基準位置ＲＥＦ２を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ２のずれ量、Ｇ成分のサブ画素位置ＰＧ２のずれ量及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ２のずれ量、基準位置ＲＥＦ３を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ３のずれ量、Ｇ成分のサブ画素位置ＰＧ３のずれ量及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ３のずれ量、・・・を求め、該ずれ量をずれ量記憶部２２に保存する。
【００７０】
ここで、サブ画素の表示位置のずれ量は、以下のような画素を単位として求めることが望ましい。
【００７１】
図８に、第１の実施形態におけるサブ画素の表示位置のずれ量の単位の説明図を示す。図８において、図４と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００７２】
プロジェクタ１０の投射部１００では、ズーム倍率に応じた投射画像の投射領域のサイズが一意に定まる。そこで、投射領域ＰＡの水平方向の長さをＤ、水平方向の画素数Ｙをとすると、Ｄ／Ｙを１単位としたずれ量を求めることで、ずれ量の数値が何画素分に相当するかを特定できる。
【００７３】
なお、図８では、サブ画素の表示位置の水平方向のずれ量について説明したが、サブ画素の表示位置の垂直方向のずれ量についても同様である。
【００７４】
以上のように取得されたずれ量を用いて、プロジェクタ１０の画像処理部２０は入力画像を補正して、投射部１００により画像を表示させることができる。
【００７５】
図９に、第１の実施形態における画像処理部２０のハードウェア構成例のブロック図を示す。
【００７６】
画像処理部２０は、中央演算処理装置（Central Processing Unit：ＣＰＵ)８０、読み出し専用メモリ（Read Only Memory：ＲＯＭ)８２、ランダムアクセスメモリ（Random Access Memory：ＲＡＭ)８４、インターフェース（Interface：Ｉ／Ｆ）回路８６を含む。ＣＰＵ８０、ＲＯＭ８２、ＲＡＭ８４及びＩ／Ｆ回路８６は、バス９０を介して接続されている。
【００７７】
ＲＯＭ８２には、プログラムが格納されており、バス９０を介してプログラムを読み込んだＣＰＵ８０が、該プログラムに対応した処理を実行することができる。ＲＡＭ８４は、ＣＰＵ８０が処理を実行するための作業用メモリとなったり、ＣＰＵ８０が読み込むプログラムが一時的に格納されたりする。Ｉ／Ｆ回路８６は、外部からの入力画像信号のインターフェース処理を行う。
【００７８】
図１の画像信号補正部２４及び画像信号補正制御部３０の機能は、ＲＯＭ８２又はＲＡＭ８４に格納されたプログラムをバス９０を介して読み込んで実行するＣＰＵ８０により実現される。図１のずれ量記憶部２２の機能は、ＲＯＭ８２又はＲＡＭ８４により実現される。図１の入力画像信号記憶部２８の機能は、Ｉ／Ｆ回路８６又はＲＡＭ８４により実現される。
【００７９】
図１０に、第１の実施形態におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。
【００８０】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図１０に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図１０に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【００８１】
画像信号補正部２４が入力画像信号を補正するのに先立って、画像信号補正部２４は、投射領域ＰＡ内の全サブ画素の表示位置のずれ量を求める処理を行う。そこで、まず、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｒ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３０）。より具体的には、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【００８２】
同様に、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｇ成分及びＢ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３２、ステップＳ３４）。ステップＳ３２、ステップＳ３４においても、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【００８３】
次に、画像信号補正部２４は、入力画像信号の有無を判別する（ステップＳ３６）。より具体的には、画像信号補正部２４は、入力画像信号記憶部２８に入力画像信号が記憶されている否かを判別することで、補正対象の入力画像信号の有無を判別する。ステップＳ３６において、入力画像信号がないと判別されたとき（ステップＳ３６：Ｎ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号の入力を待つ。
【００８４】
ステップＳ３６において、入力画像信号があると判別されたとき（ステップＳ３６：Ｙ）、画像信号補正部２４は、ズーム状態検出部６０からの補正制御信号に基づいて該入力画像信号に対して補正処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３８）。例えばズーム状態検出部６０の検出結果により投射部１００のズーム状態が最大望遠状態ではないとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を行うものと判断し、ズーム状態が最大望遠状態のとき（ステップＳ３８：Ｎ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を省略する。
【００８５】
ステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行うと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＲ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３０で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４０）。続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＧ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３２で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４２）。更に続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＢ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３４で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４４）。
【００８６】
図１１に、第１の実施形態における入力画像信号の補正処理の説明図を示す。図１１では、Ｒ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理について示すが、Ｇ成分及びＢ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理も同様である。
【００８７】
例えば本来のＲ成分のサブ画素の表示画素Ｒｉｎ００に対して、水平方向にずれ量がα画素分、垂直方向にずれ量がβ画素分ずれたサブ画素の表示画素ＰＲに対応する入力画像信号Ｒｘは、以下のように、該表示画素ＰＲの周囲の４つのサブ画素の表示画素Ｒｉｎ００、Ｒｉｎ１０、Ｒｉｎ０１、Ｒｉｎ１１の入力画像信号を用いて補間処理することで求められる。以下では、α、βが１以下の正の数であるものとする。
Rx = ((1-α)・r0+α・r1)・(1-β)+((1-α)・r2+α・r3)・β
【００８８】
なお、図１１では、バイリニア法により求められるものとして説明したが、ニアレストネイバー法やバイキュービック法で入力画像信号を補正してもよい。
【００８９】
図１０に戻って説明を続ける。投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了するまで（ステップＳ４６：Ｎ）、ステップＳ４０に戻って画像内の各サブ画素の補正処理を行う。一方、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了したとき（ステップＳ４６：Ｙ）、又はステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行わないと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｎ）、ずれ量に応じた補正処理を終了しないときは（ステップＳ４８：Ｎ）、ステップＳ３６に戻って処理を継続し、ずれ量に応じた補正処理を終了するとき（ステップＳ４８：Ｙ）、一連の処理を終了する（エンド）。
【００９０】
図１２に、第１の実施形態におけるＲ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図を示す。図１２は、図７の投射画像の左上隅の領域を模式的に示している。
【００９１】
図１２では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｒ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＲｉｎ００、Ｒｉｎ１０、Ｒｉｎ２０、Ｒｉｎ３０、Ｒｉｎ０１、Ｒｉｎ１１、Ｒｉｎ２１、Ｒｉｎ３１、Ｒｉｎ０２、Ｒｉｎ１２、Ｒｉｎ２２、Ｒｉｎ３２とし、補正処理後のＲ成分のサブ画素をＲｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０、Ｒｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１、Ｒｏｕｔ１１、Ｒｏｕｔ２１としている。
【００９２】
各サブ画素のずれ量はサブ画素毎に異なる場合もあるが、図１２ではＲ成分のサブ画素をＲｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０、Ｒｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１、Ｒｏｕｔ１１、Ｒｏｕｔ２１のずれ量が同一であり、それぞれ水平方向に０．５画素、垂直方向に０．５画素だけずれているものとする。
【００９３】
このとき、Ｒ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｒｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０は、例えばバイリニア法により、次式のように求められる。
Rout00=Rin00×0.5×0.5+Rin01×0.5×0.5+Rin10×0.5×0.5+Rin11×0.5×0.5
Rout10=Rin10×0.5×0.5+Rin11×0.5×0.5+Rin20×0.5×0.5+Rin21×0.5×0.5
【００９４】
図１２に示す他のＲ成分のサブ画素の画像信号（例えばＲｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１等）も同様に求められる。
【００９５】
以上のような処理が、図１０のステップＳ４０において行われる。
【００９６】
図１３に、第１の実施形態におけるＧ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図を示す。図１３は、図７の投射画像の左上隅の領域を模式的に示している。図１３において、図１２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【００９７】
図１３では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｇ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＧｉｎ００、Ｇｉｎ１０、Ｇｉｎ２０、Ｇｉｎ３０、Ｇｉｎ０１、Ｇｉｎ１１、Ｇｉｎ２１、Ｇｉｎ３１、Ｇｉｎ０２、Ｇｉｎ１２、Ｇｉｎ２２、Ｇｉｎ３２とし、補正処理後のＧ成分のサブ画素をＧｏｕｔ００、Ｇｏｕｔ１０、Ｇｏｕｔ２０、Ｇｏｕｔ０１、Ｇｏｕｔ１１、Ｇｏｕｔ２１としている。
【００９８】
各サブ画素のずれ量はサブ画素毎に異なる場合もあるが、図１３ではＧ成分のサブ画素をＧｏｕｔ００、Ｇｏｕｔ１０、Ｇｏｕｔ２０、Ｇｏｕｔ０１、Ｇｏｕｔ１１、Ｇｏｕｔ２１のずれ量が同一であり、それぞれ水平方向に０．８画素、垂直方向に０．８画素だけずれているものとする。
【００９９】
このとき、Ｇ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｇｏｕｔ００、Ｇｏｕｔ１０は、例えばバイリニア法により、次式のように求められる。
Gout00=Gin00×0.2×0.2+Gin01×0.8×0.2+Gin10×0.2×0.8+Gin11×0.8×0.8
Gout10=Gin10×0.2×0.2+Gin11×0.8×0.2+Gin20×0.2×0.8+Gin21×0.8×0.8
【０１００】
図１３に示す他のＧ成分のサブ画素の画像信号（例えばＧｏｕｔ２０、Ｇｏｕｔ０１等）も同様に求められる。
【０１０１】
以上のような処理が、図１０のステップＳ４２において行われる。
【０１０２】
図１４に、第１の実施形態におけるＢ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図を示す。図１４は、図７の投射画像の左上隅の領域を模式的に示している。図１４において、図１２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１０３】
図１４では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｂ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＢｉｎ００、Ｂｉｎ１０、Ｂｉｎ２０、Ｂｉｎ３０、Ｂｉｎ０１、Ｂｉｎ１１、Ｂｉｎ２１、Ｂｉｎ３１、Ｂｉｎ０２、Ｂｉｎ１２、Ｂｉｎ２２、Ｂｉｎ３２とし、補正処理後のＢ成分のサブ画素をＢｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０、Ｂｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１、Ｂｏｕｔ１１、Ｂｏｕｔ２１としている。
【０１０４】
各サブ画素のずれ量はサブ画素毎に異なる場合もあるが、図１４ではＢ成分のサブ画素をＢｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０、Ｂｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１、Ｂｏｕｔ１１、Ｂｏｕｔ２１のずれ量が同一であり、それぞれ水平方向に０．２画素、垂直方向に０．４画素だけずれているものとする。
【０１０５】
このとき、Ｂ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｂｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０は、例えばバイリニア法により、次式のように求められる。
Bout00=Bin00×0.8×0.6+Bin01×0.2×0.6+Bin10×0.8×0.4+Bin11×0.2×0.4
Bout10=Bin10×0.8×0.6+Bin11×0.2×0.6+Bin20×0.8×0.4+Bin21×0.2×0.4
【０１０６】
図１４に示す他のＢ成分のサブ画素の画像信号（例えばＢｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１等）も同様に求められる。
【０１０７】
以上のような処理が、図１０のステップＳ４４において行われる。
【０１０８】
以上説明したように、第１の実施形態では、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれ量を記憶しておき、画像内の全サブ画素のずれ量を算出して、サブ画素の入力画像信号を該ずれ量に応じて補正するようにしたので、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できるようになる。
【０１０９】
なお、第１の実施形態では、サンプリングサブ画素が９カ所であるものとして説明したが、本発明はサンプリングサブ画素が９カ所であるものに限定されるものではない。
【０１１０】
〔第１の実施形態の第１の変形例〕
第１の実施形態では、ずれ量記憶部２２が、９カ所分のサンプリングサブ画素のずれ量を１組だけ記憶しているものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。ずれ量記憶部が複数組のずれ量群を記憶しておき、これらの中から選択したずれ量を用いて入力画像信号に対して補正処理を行ってもよい。
【０１１１】
図１５に、第１の実施形態の第１の変形例におけるずれ量記憶部の構成の概要を示す。
【０１１２】
本発明に係る第１の実施形態の第１の変形例におけるずれ量記憶部２２０は、図１のずれ量記憶部２２に代えてプロジェクタ１０に含まれる。ずれ量記憶部２２０は、第１〜第Ｎ（Ｎは２以上の整数）のずれ量群２２２１〜２２２Ｎを含み、各ずれ量群は、投射画像内の９カ所分のＲ成分、Ｇ成分及びＢ成分のサンプリングサブ画素のずれ量を含む。
【０１１３】
第１の実施形態の第１の変形例におけるプロジェクタの構成は図１に示した第１の実施形態におけるプロジェクタ１０の構成と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１１４】
ずれ量記憶部２２０には、所与の選択信号が入力され、該選択信号により選択された１つのずれ量群を出力する。このずれ量群が、図１の画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）に供給される。ここで、選択信号は、例えばズーム状態検出部６０からの補正制御信号に基づいて生成されてもよい。即ち、ズーム状態検出部６０によって検出された投射部１００のズーム倍率に対応した選択信号により、ずれ量記憶部２２０は、投射部１００のズーム倍率に応じたずれ量群を、第１〜第Ｎのずれ量群２２２１〜２２２Ｎの中から出力できるようになる。
【０１１５】
このような第１〜第Ｎのずれ量群２２２１〜２２２Ｎの各ずれ量群は、プロジェクタの動作環境を変えて、図３に示すようにパターン画像の投射画像を撮像して得られたものである。なお、各ずれ量群を取得する際に、パターン画像をそれぞれ異ならせてもよい。即ち、ずれ量群に応じたパターン画像を投射して、各ずれ量群は、その投射画像を撮像してずれ量を算出したものであってもよい。
【０１１６】
図１６に、本発明に係る第１の実施形態の第１の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。
【０１１７】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図１６に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図１６に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【０１１８】
まず、ずれ量記憶部２２０は、所与の選択信号に対応した１つのずれ量群を出力し（ステップＳ２０）、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ステップＳ２０で選択されたずれ量群を用いて、Ｒ成分、Ｇ成分及びＢ成分の全サブ画素のずれ量を求める。
【０１１９】
即ち、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｒ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３０）。より具体的には、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１２０】
同様に、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｇ成分及びＢ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３２、ステップＳ３４）。ステップＳ３２、ステップＳ３４においても、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１２１】
次に、画像信号補正部２４は、入力画像信号の有無を判別する（ステップＳ３６）。より具体的には、画像信号補正部２４は、入力画像信号記憶部２８に入力画像信号が記憶されている否かを判別することで、補正対象の入力画像信号の有無を判別する。ステップＳ３６において、入力画像信号がないと判別されたとき（ステップＳ３６：Ｎ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号の入力を待つ。
【０１２２】
ステップＳ３６において、入力画像信号があると判別されたとき（ステップＳ３６：Ｙ）、画像信号補正部２４は、ズーム状態検出部６０からの補正制御信号に基づいて該入力画像信号に対して補正処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３８）。例えばズーム状態検出部６０の検出結果により投射部１００のズーム状態が最大望遠状態ではないとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を行うものと判断し、ズーム状態が最大望遠状態のとき（ステップＳ３８：Ｎ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を省略する。
【０１２３】
ステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行うと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＲ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３０で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４０）。続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＧ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３２で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４２）。更に続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＢ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３４で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４４）。
【０１２４】
その後、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了するまで（ステップＳ４６：Ｎ）、ステップＳ４０に戻って画像内の各サブ画素の補正処理を行う。一方、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了したとき（ステップＳ４６：Ｙ）、又はステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行わないと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｎ）、ずれ量に応じた補正処理を終了しないときは（ステップＳ４８：Ｎ）、ステップＳ３６に戻って処理を継続し、ずれ量に応じた補正処理を終了するとき（ステップＳ４８：Ｙ）、一連の処理を終了する（エンド）。
【０１２５】
以上説明したように、第１の実施形態の第１の変形例では、ずれ量記憶部２２０が、複数組のサブ画素の表示位置のずれ量群を記憶し、画像信号補正部２４は、ずれ量記憶部２２０に記憶された複数組の前記サブ画素の表示位置のずれ量群のうち、補正制御信号に対応した組のサブ画素の表示位置のずれ量群を用いて、入力画像信号を補正することができる。
【０１２６】
〔第１の実施形態の第２の変形例〕
第１の実施形態の第１の変形例では、ずれ量記憶部２２０から１つのずれ量群が選択されると、当該画像内のサブ画素の画像信号の補正処理において、ずれ量が変更されることはなかったが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１２７】
第１の実施形態の第２の変形例におけるプロジェクタの構成は、第１の実施形態の第１の変形例におけるプロジェクタの構成と同様であるため詳細な説明を省略する。
【０１２８】
図１７に、本発明に係る第１の実施形態の第２の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。
【０１２９】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図１７に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図１７に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【０１３０】
まず、ずれ量記憶部２２０は、所与の選択信号に対応した１つのずれ量群を出力し（ステップＳ２０）、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ステップＳ２０で選択されたずれ量群を用いて、Ｒ成分、Ｇ成分及びＢ成分の全サブ画素のずれ量を求める。
【０１３１】
即ち、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｒ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３０）。より具体的には、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１３２】
同様に、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｇ成分及びＢ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３２、ステップＳ３４）。ステップＳ３２、ステップＳ３４においても、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１３３】
次に、画像信号補正部２４は、入力画像信号の有無を判別する（ステップＳ３６）。より具体的には、画像信号補正部２４は、入力画像信号記憶部２８に入力画像信号が記憶されている否かを判別することで、補正対象の入力画像信号の有無を判別する。ステップＳ３６において、入力画像信号がないと判別されたとき（ステップＳ３６：Ｎ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号の入力を待つ。
【０１３４】
ステップＳ３６において、入力画像信号があると判別されたとき（ステップＳ３６：Ｙ）、画像信号補正部２４は、ズーム状態検出部６０からの補正制御信号に基づいて該入力画像信号に対して補正処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３８）。例えばズーム状態検出部６０の検出結果により投射部１００のズーム状態が最大望遠状態ではないとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を行うものと判断し、ズーム状態が最大望遠状態のとき（ステップＳ３８：Ｎ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を省略する。
【０１３５】
ステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行うと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＲ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３０で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４０）。続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＧ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３２で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４２）。更に続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＢ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３４で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４４）。
【０１３６】
その後、投射部１００のズーム状態が変更される等のプロジェクタ１０の動作環境の変更に起因して、サブ画素のずれ量を変更する必要があると判断したとき（ステップＳ４５：Ｙ）、画像処理部２０は、ステップＳ２０に戻って、ずれ量記憶部２２０に記憶された第１〜第Ｎのずれ量群の中から、選択信号に基づいて別のずれ量群を選択して、再び全サブ画素のずれ量の算出を行う。
【０１３７】
ステップＳ４５において、サブ画素のずれ量を変更する必要がないと判断したとき（ステップＳ４５：Ｎ）、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了するまで（ステップＳ４６：Ｎ）、ステップＳ４０に戻って画像内の各サブ画素の補正処理を行う。一方、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了したとき（ステップＳ４６：Ｙ）、又はステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行わないと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｎ）、ずれ量に応じた補正処理を終了しないときは（ステップＳ４８：Ｎ）、ステップＳ３６に戻って処理を継続し、ずれ量に応じた補正処理を終了するとき（ステップＳ４８：Ｙ）、一連の処理を終了する（エンド）。
【０１３８】
なお、第１の実施形態の第２の変形例におけるプロジェクタの構成は、第１の実施形態の第１の変形例におけるプロジェクタの構成と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１３９】
〔第２の実施形態〕
本発明に係る第１の実施形態又はその変形例では、１画素を構成するサブ画素毎に、画像内の基準位置を基準としたずれ量を用いていたが、本発明はこれに限定されるものではない。本発明に係る第２の実施形態では、１画素を構成する複数のサブ画素のうち１つのサブ画素の表示位置を基準位置として他のサブ画素のずれ量を算出する。
【０１４０】
図１８に、本発明に係る第２の実施形態におけるずれ量の説明図を示す。図１８において、図７と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１４１】
第２の実施形態では、サブ画素位置測定部５０又は画像処理部２０は、サブ画素位置測定部５０による撮像により、図６（Ａ）に示すようなＧ成分のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９の撮像データを取得する。その後、Ｇ成分のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９の各表示画素の領域の中からＧ成分のサブ画素位置を決定する。より具体的には、各表示画素の領域は複数の撮像画素数を有し、この領域の中から１つの撮像画素をＧ成分のサブ画素位置として決定する。
【０１４２】
この決定処理としては、画素値が最大の画素をサブ画素位置として決定することができ、例えば各表示画素の領域の輝度ヒストグラムを算出し、最高輝度の画素を画素値が最大の画素として特定することができる。或いは、各表示画素の領域の輝度ヒストグラムを算出し、所定の閾値以上の画素の重心位置をサブ画素位置として決定することができる。その結果、図１８に示すように、図６（Ａ）のサブ画素の表示画素ＤＧ１〜ＤＧ９に対応してサブ画素位置ＰＧ１〜ＰＧ９が決定される。
【０１４３】
同様に、Ｒ成分及びＢ成分についてもサブ画素の表示画素ＤＲ１〜ＤＲ９、ＤＢ１〜ＤＢ９に対応するサブ画素位置が決定される。この結果、図１８に示すようにＲ成分、Ｇ成分及びＢ成分の各サンプリング画素のサブ画素位置が決定される。
【０１４４】
ここで、１画素を構成するＲ成分のサブ画素、Ｇ成分のサブ画素及びＢ成分のサブ画素のうち、Ｇ成分のサブ画素の表示位置（サブ画素位置）ＰＧ１を基準位置として定める。そして、該基準位置を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ１のずれ量（投射画像の水平方向のずれ量と投射画像の垂直方向のずれ量）及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ１のずれ量、Ｇ成分のサブ画素の表示位置（サブ画素位置）ＰＧ２を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ２のずれ量（投射画像の水平方向のずれ量と投射画像の垂直方向のずれ量）及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ２のずれ量、Ｇ成分のサブ画素の表示位置（サブ画素位置）ＰＧ３を基準としたＲ成分のサブ画素位置ＰＲ３のずれ量（投射画像の水平方向のずれ量と投射画像の垂直方向のずれ量）及びＢ成分のサブ画素位置ＰＢ３のずれ量、・・・を求め、該ずれ量をずれ量記憶部２２に保存する。
【０１４５】
即ち、第２の実施形態では、１画素が複数の色成分のサブ画素により構成される場合に、基準位置が、複数の色成分のサブ画素のうちいずれか１つの色成分のサブ画素の表示位置とする。
【０１４６】
ここで、サブ画素の表示位置のずれ量は、第１の実施形態と同様に画素を単位として求めることが望ましい。
【０１４７】
以上のように取得されたずれ量を用いて、プロジェクタ１０の画像処理部２０は入力画像を補正して、投射部１００により画像を表示させることができる。
【０１４８】
このような第２の実施形態におけるプロジェクタの構成は第１の実施形態におけるプロジェクタの構成と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１４９】
図１９に、第２の実施形態におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。図１９において、図１０と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１５０】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図１９に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図１９に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【０１５１】
画像信号補正部２４が入力画像信号を補正するのに先立って、画像信号補正部２４は、投射領域ＰＡ内の全サブ画素の表示位置のずれ量を求める処理を行う。そこで、まず、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｒ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３０）。より具体的には、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１５２】
同様に、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、Ｂ成分の全サブ画素のずれ量を算出する（ステップＳ３４）。ステップＳ３４においても、画像信号補正部２４（ずれ量算出部２６）は、ずれ量記憶部２２に記憶されたサンプリングサブ画素のずれ量を用いて、投射画像内の全サブ画素のずれ量を補間処理により求める。この補間処理としては、バイリニア法、ニアレストネイバー法、バイキュービック法等がある。
【０１５３】
次に、画像信号補正部２４は、入力画像信号の有無を判別する（ステップＳ３６）。より具体的には、画像信号補正部２４は、入力画像信号記憶部２８に入力画像信号が記憶されている否かを判別することで、補正対象の入力画像信号の有無を判別する。ステップＳ３６において、入力画像信号がないと判別されたとき（ステップＳ３６：Ｎ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号の入力を待つ。
【０１５４】
ステップＳ３６において、入力画像信号があると判別されたとき（ステップＳ３６：Ｙ）、画像信号補正部２４は、ズーム状態検出部６０からの補正制御信号に基づいて該入力画像信号に対して補正処理を行うか否かを判断する（ステップＳ３８）。例えばズーム状態検出部６０の検出結果により投射部１００のズーム状態が最大望遠状態ではないとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を行うものと判断し、ズーム状態が最大望遠状態のとき（ステップＳ３８：Ｎ）、画像信号補正部２４は入力画像信号の補正処理を省略する。
【０１５５】
ステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行うと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｙ）、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＲ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３０で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４０）。続いて、画像信号補正部２４は、入力画像信号のうちＢ成分の入力画像信号に対して、ステップＳ３２で算出されたずれ量を用いて補正処理を行う（ステップＳ４４）。
【０１５６】
以上のような投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了するまで（ステップＳ４６：Ｎ）、ステップＳ４０に戻って画像内の各サブ画素の補正処理を行う。一方、投射画像内の全サブ画素について補正処理が終了したとき（ステップＳ４６：Ｙ）、又はステップＳ３８において入力画像信号に対して補正処理を行わないと判断されたとき（ステップＳ３８：Ｎ）、ずれ量に応じた補正処理を終了しないときは（ステップＳ４８：Ｎ）、ステップＳ３６に戻って処理を継続し、ずれ量に応じた補正処理を終了するとき（ステップＳ４８：Ｙ）、一連の処理を終了する（エンド）。
【０１５７】
図２０に、第２の実施形態におけるＲ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図を示す。図２０は、図１８の投射画像の左上隅の領域を模式的に示している。
【０１５８】
図２０では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｒ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＲｉｎ００、Ｒｉｎ１０、Ｒｉｎ２０、Ｒｉｎ３０、Ｒｉｎ０１、Ｒｉｎ１１、Ｒｉｎ２１、Ｒｉｎ３１、Ｒｉｎ０２、Ｒｉｎ１２、Ｒｉｎ２２、Ｒｉｎ３２とし、補正処理後のＲ成分のサブ画素をＲｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０、Ｒｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１、Ｒｏｕｔ１１、Ｒｏｕｔ２１としている。
【０１５９】
各サブ画素のずれ量はサブ画素毎に異なる場合もあるが、図２０ではＲ成分のサブ画素をＲｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０、Ｒｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１、Ｒｏｕｔ１１、Ｒｏｕｔ２１のずれ量が同一であり、それぞれ水平方向に０画素、垂直方向に０．８画素だけずれているものとする。
【０１６０】
このとき、Ｒ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｒｏｕｔ００、Ｒｏｕｔ１０は、例えばバイリニア法により、次式のように求められる。
Rout00=Rin00×0.2+Rin01×0.8
Rout10=Rin10×0.2+Rin11×0.8
【０１６１】
図２０に示す他のＲ成分のサブ画素の画像信号（例えばＲｏｕｔ２０、Ｒｏｕｔ０１等）も同様に求められる。
【０１６２】
以上のような処理が、図１９のステップＳ４０において行われる。
【０１６３】
図２１に、第２の実施形態におけるＢ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図を示す。図２１において、図１８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１６４】
図２１では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｂ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＢｉｎ００、Ｂｉｎ１０、Ｂｉｎ２０、Ｂｉｎ３０、Ｂｉｎ０１、Ｂｉｎ１１、Ｂｉｎ２１、Ｂｉｎ３１、Ｂｉｎ０２、Ｂｉｎ１２、Ｂｉｎ２２、Ｂｉｎ３２とし、補正処理後のＢ成分のサブ画素をＢｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０、Ｂｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１、Ｂｏｕｔ１１、Ｂｏｕｔ２１としている。
【０１６５】
各サブ画素のずれ量はサブ画素毎に異なる場合もあるが、図２１ではＢ成分のサブ画素をＢｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０、Ｂｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１、Ｂｏｕｔ１１、Ｂｏｕｔ２１のずれ量が同一であり、それぞれ水平方向に０．８画素、垂直方向に０．８画素だけずれているものとする。
【０１６６】
このとき、Ｂ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｂｏｕｔ００、Ｂｏｕｔ１０は、例えばバイリニア法により、次式のように求められる。
Bout00=Bin00×0.2×0.2+Bin01×0.8×0.2+Bin10×0.2×0.8+Bin11×0.8×0.8
Bout10=Bin10×0.2×0.2+Bin11×0.8×0.2+Bin20×0.2×0.8+Bin21×0.8×0.8
【０１６７】
図２１に示す他のＢ成分のサブ画素の画像信号（例えばＢｏｕｔ２０、Ｂｏｕｔ０１等）も同様に求められる。
【０１６８】
以上のような処理が、図１９のステップＳ４４において行われる。
【０１６９】
これに対して、Ｇ成分のサブ画素の表示位置を基準位置として、Ｒ成分及びＢ成分のサブ画素の表示位置のずれ量を算出するため、Ｇ成分の入力画像信号に対して補正処理が不要となる。
【０１７０】
図２２に、第２の実施形態におけるＧ成分のサブ画素の入力画像信号の説明図を示す。図２２において、図１８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１７１】
図２２では、各画素を構成するサブ画素の入力画像信号と、該入力画像信号に基づいて投射される表示画素とを模式的に示している。Ｇ成分のサブ画素の入力画像信号（画素値）をＧｉｎ００、Ｇｉｎ１０、Ｇｉｎ２０、Ｇｉｎ３０、Ｇｉｎ０１、Ｇｉｎ１１、Ｇｉｎ２１、Ｇｉｎ３１、Ｇｉｎ０２、Ｇｉｎ１２、Ｇｉｎ２２、Ｇｉｎ３２とし、Ｇ成分のサブ画素の出力画像信号をＧｏｕｔ００、Ｇｏｕｔ１０、Ｇｏｕｔ２０、Ｇｏｕｔ３０、Ｇｏｕｔ０１、Ｇｏｕｔ１１、Ｇｏｕｔ２１、Ｇｏｕｔ３１、Ｇｏｕｔ０２、Ｇｏｕｔ１２、Ｇｏｕｔ２２、Ｇｏｕｔ３２としている。
【０１７２】
このとき、Ｇ成分のサブ画素の画像信号（画素値）Ｇｏｕｔ００、Ｇｏｕｔ１０は、例えば次式のようになる。
Gout00=Gin00
Gout10=Gin10
【０１７３】
図２２に示す他のＧ成分のサブ画素の画像信号（例えばＧｏｕｔ２０、Ｇｏｕｔ０１等）も同様である。
【０１７４】
以上説明したように、第２の実施形態によれば、Ｇ成分のサブ画素の表示位置を基準位置として、Ｒ成分及びＢ成分のサブ画素の表示位置のずれ量を算出するようにしたので、Ｇ成分の全サブ画素のずれ量の算出やＧ成分の入力画像信号の補正処理を行わなくて済み、１画素を構成するサブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下を防止できると共に、処理の簡素化を図ることができる。
【０１７５】
〔第２の実施形態の第１の変形例〕
なお、第２の実施形態においても、第１の実施形態の第１の変形例と同様に、図１５に示すようにずれ量記憶部が複数組のずれ量群を記憶しておき、これらの中から選択したずれ量を用いて入力画像信号に対して補正処理を行ってもよい。
【０１７６】
第２の実施形態の第１の変形例におけるプロジェクタの構成は、第１の実施形態の第１の変形例におけるプロジェクタの構成と同様であるため詳細な説明を省略する。
【０１７７】
図２３に、本発明に係る第２の実施形態の第１の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。図２３において、図１６と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１７８】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図２３に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図２３に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【０１７９】
図２３に示すように、第２の実施形態の第１の変形例によれば、図１６の処理と比較して、Ｇ成分の全サブ画素のずれ量を算出する処理と、Ｇ成分の入力画像信号を補正する処理とを省略でき、処理を大幅に簡素化できるようになる。
【０１８０】
〔第２の実施形態の第２の変形例〕
なお、第２の実施形態においても、第１の実施形態の第２の変形例と同様に、当該画像内のサブ画素の画像信号の補正処理において、ずれ量が変更されてもよい。
【０１８１】
第２の実施形態の第２の変形例におけるプロジェクタの構成は、第１の実施形態の第２の変形例におけるプロジェクタの構成と同様であるため詳細な説明を省略する。
【０１８２】
図２４に、本発明に係る第２の実施形態の第２の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図を示す。図２４において、図１７と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１８３】
例えば、ＲＯＭ８２には、予め図２４に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ８０がＲＯＭ８２に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図２４に示す処理をソフトウェア処理により実現できる。
【０１８４】
図２４に示すように、第２の実施形態の第１の変形例によれば、図１６の処理と比較して、Ｇ成分の全サブ画素のずれ量を算出する処理と、Ｇ成分の入力画像信号を補正する処理とを省略でき、処理を大幅に簡素化できるようになる。
【０１８５】
〔第３の実施形態〕
上記の第１の実施形態又はその変形例、或いは第２の実施形態又はその変形例では、ズーム状態検出部６０により投射部１００のズーム倍率を検出し、その検出結果により、入力画像信号の補正処理を行ったり、該補正処理を省略したりしていたが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１８６】
図２５に、本発明に係る第３の実施形態におけるプロジェクタの構成例のブロック図を示す。図２５において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
【０１８７】
第３の実施形態におけるプロジェクタ３００が第１の実施形態におけるプロジェクタ１０と異なる点は、ズーム状態検出部６０に代えて動作環境検出部３１０が設けられている点である。そして、動作環境検出部３１０が補正制御信号を生成し、該補正制御信号を画像処理部２０の画像信号補正制御部３０に対して出力している。
【０１８８】
動作環境検出部３１０は、プロジェクタ３００の動作環境を検出し、その検出結果に対応した補正制御信号を生成する。このような動作環境検出部３１０として、例えば温度センサ、湿度センサ、光センサ等のセンサが採用される。こうすることで、投射部１００のズーム倍率に限らず、プロジェクタ３００の動作環境に応じて、サブ画素の表示位置のずれ量に応じて入力画像信号を補正できるようになる。即ち、サブ画素の表示位置のずれに起因した画質の低下は、プロジェクタの動作環境（温度等）の変化にも起因する場合があると考えられるため、第３の実施形態では、動作環境検出部が検出する動作環境に応じて、入力画像信号を補正するようになっている。
【０１８９】
以上、本発明に係る画像表示装置及び画像表示方法を上記の各実施形態又はその変形例に基づいて説明したが、本発明は上記の各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【０１９０】
（１）上記の各実施形態又はその変形例では、１画素を３つの色成分のサブ画素で構成されるものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。１画素を構成する色成分数が２、又は４以上であってもよい。
【０１９１】
（２）上記の各実施形態又はその変形例では、光変調部としてライトバルブを用いるものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。光変調部として、例えばＤＬＰ（Digital Light Processing)（登録商標）、ＬＣＯＳ（Liquid Cristal On Silicon)等を採用してもよい。
【０１９２】
（３）上記の各実施形態又はその変形例では、光変調部として、いわゆる３板式の透過型の液晶パネルを用いたライトバルブを例に説明したが、４板式以上の透過型の液晶パネルを用いたライトバルブを採用してもよい。
【０１９３】
（４）上記の各実施形態又はその変形例では、全サブ画素のずれ量の補間処理方法や画像信号の補正処理方法として、ニアレストネイバー法、バイリニア法やバイキュービック法を例に挙げたが、本発明はこれらの処理方法に限定されるものではない。
【０１９４】
（５）上記の各実施形態又はその変形例では、補正制御信号に応じて画像信号補正部２４による入力画像信号の補正処理方法を異ならせるものとして、補正処理自体を行ったり該補正処理自体を省略させたりするものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。画像信号補正部２４に入力画像信号をニアレストネイバー法等の第１の補正処理方法で補正したり、入力画像信号をバイリニア法等の第２の補正処理方法で補正したりすることを、上記の補正制御信号により切り替えるようにしてもよい。
【０１９５】
（６）上記の各実施形態において、本発明を、画像表示装置及び画像表示方法として説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、本発明を実現するための画像表示方法の処理手順が記述されたプログラムや、該プログラムが記録された記録媒体であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１９６】
【図１】本発明に係る第１の実施形態における画像表示装置としてのプロジェクタの構成例のブロック図。
【図２】図１の投射部の構成例の構成図。
【図３】第１の実施形態におけるサブ画素のずれ量の取得処理例のフロー図。
【図４】第１の実施形態におけるパターン画像の一例を示す図。
【図５】第１の実施形態におけるパターン画像の撮像処理の説明図。
【図６】図６（Ａ）、図６（Ｂ）はＧ成分のサブ画素の位置決定処理及びずれ量の算出処理の説明図。
【図７】第１の実施形態におけるずれ量の説明図。
【図８】第１の実施形態におけるサブ画素の表示位置のずれ量の単位の説明図。
【図９】第１の実施形態における画像処理部のハードウェア構成例のブロック図。
【図１０】第１の実施形態におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図１１】第１の実施形態における入力画像信号の補正処理の説明図。
【図１２】第１の実施形態におけるＲ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図。
【図１３】第１の実施形態におけるＧ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図。
【図１４】第１の実施形態におけるＢ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図。
【図１５】第１の実施形態の第１の変形例におけるずれ量記憶部の構成の概要を示す図。
【図１６】本発明に係る第１の実施形態の第１の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図１７】本発明に係る第１の実施形態の第２の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図１８】本発明に係る第２の実施形態におけるずれ量の説明図。
【図１９】第２の実施形態におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図２０】第２の実施形態におけるＲ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図。
【図２１】第２の実施形態におけるＢ成分のサブ画素の入力画像信号の補正処理例の説明図。
【図２２】第２の実施形態におけるＧ成分のサブ画素の入力画像信号の説明図。
【図２３】本発明に係る第２の実施形態の第１の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図２４】本発明に係る第２の実施形態の第２の変形例におけるずれ量に応じた補正処理例のフロー図。
【図２５】本発明に係る第３の実施形態におけるプロジェクタの構成例のブロック図。
【符号の説明】
【０１９７】
１０，３００・・・プロジェクタ、２０・・・画像処理部、
２２，２２０・・・ずれ量記憶部、２４・・・画像信号補正部、
２６・・・ずれ量算出部、２８・・・入力画像信号記憶部、
３０・・・画像信号補正制御部、４０・・・パターン画像記憶部、
５０・・・サブ画素位置測定部、６０・・・ズーム状態検出部、８０・・・ＣＰＵ、
８２・・・ＲＯＭ、８４・・・ＲＡＭ、８６・・・Ｉ／Ｆ回路、９０・・・バス、
１００・・・投射部、１１０…光源、１１２，１１４…インテグレータレンズ、
１１６…偏光変換素子、１１８…重畳レンズ、１２０Ｒ…Ｒ用ダイクロイックミラー、
１２０Ｇ…Ｇ用ダイクロイックミラー、１２２，１４８，１５０…反射ミラー、
１２４Ｒ…Ｒ用フィールドレンズ、１２４Ｇ…Ｇ用フィールドレンズ、
１３０Ｒ…Ｒ用液晶パネル、１３０Ｇ…Ｇ用液晶パネル、１３０Ｂ…Ｂ用液晶パネル、  １４０…リレー光学系、１４２，１４４，１４６…リレーレンズ、
１６０…クロスダイクロイックプリズム、１７０…投射レンズ、
２２２１〜２２２Ｎ・・・第１〜第Ｎのずれ量群、
３１０・・・動作環境検出部、ＳＣＲ・・・スクリーン
【図１】
0005298507.tif 000002
【図２】
0005298507.tif 000003
【図３】
0005298507.tif 000004
【図４】
0005298507.tif 000005
【図５】
0005298507.tif 000006
【図６】
0005298507.tif 000007
【図７】
0005298507.tif 000008
【図８】
0005298507.tif 000009
【図９】
0005298507.tif 000010
【図１０】
0005298507.tif 000011
【図１１】
0005298507.tif 000012
【図１２】
0005298507.tif 000013
【図１３】
0005298507.tif 000014
【図１４】
0005298507.tif 000015
【図１５】
0005298507.tif 000016
【図１６】
0005298507.tif 000017
【図１７】
0005298507.tif 000018
【図１８】
0005298507.tif 000019
【図１９】
0005298507.tif 000020
【図２０】
0005298507.tif 000021
【図２１】
0005298507.tif 000022
【図２２】
0005298507.tif 000023
【図２３】
0005298507.tif 000024
【図２４】
0005298507.tif 000025
【図２５】
0005298507.tif 000026