(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続して搬送される帯状電極を乾燥させる乾燥炉を有する電極製造装置であって、
前記乾燥炉内を搬送される前記帯状電極に吹きつけられる気体が前記帯状電極の移動に伴って移動することにより発生する定常的な流れ場である境界層内に、開口部が配置された気体取り入れ管と、
前記気体取り入れ管を介して取り入れられた気体の水分量を計測する水分量計測センサと、を備える電極製造装置。
【請求項２】
前記気体取り入れ管では、
前記開口部が、前記帯状電極の搬送方向と逆向きに開口するように設置されていることを特徴とする請求項１に記載の電極製造装置。
【請求項３】
前記搬送炉の搬入口近傍に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、前記搬送炉の搬出口近傍に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、前記搬入口と前記搬出口との中間部に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、
前記気体取り入れ管毎に設けられた前記水分量計測センサと、を備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の電極製造装置。
【請求項４】
前記気体取り入れ管の長さが、ほぼ均等となるように設定されていることを特徴とする請求項３に記載の電極製造装置。
【請求項５】
前記搬入口から前記中間部までの前半部を搬送される前記帯状電極については緩やかに乾燥するように、前記前半部における前記帯状電極に吹きつけられる気体に関する物理量であって、前記帯状電極からの蒸発水分量に影響を与える物理量を調節し、
前記中間部から前記搬出口までの後半部を搬送される前記帯状電極については前記前半部に比して乾燥状態が強くなるように、前記後半部における前記物理量を調節する調節装置をさらに備えることを特徴とする請求項３又は４に記載の電極製造装置。
【請求項６】
前記調節装置は、
前記気体取り入れ管を介して取り入れられた気体に含まれる水分量の計測値と、前記帯状電極に含まれる水分量と、の関係を示すテーブルを有しており、
前記帯状電極の前記搬出口付近の部分に含まれる水分量が許容値内となるように、前記物理量を調節することを特徴とする請求項５に記載の電極製造装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、二次電池の帯状電極を製造する電極製造装置に係り、さらに詳細には、連続して搬送される帯状電極を乾燥させる乾燥炉を有する電極製造装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、充放電サイクルの寿命を延長させるため、あるいは、高いエネルギ密度を得るため、リチウムイオン電池などの二次電池の電極板の薄膜大面積化が図られている。薄膜大面積化を実現するため、電極板には、長尺の帯状物、すなわち帯状電極が採用されることが多い。このような帯状電極として、例えば、正極活物質粉末に、導電剤及び結着剤を添加し適当な溶媒に分散させて、液状の活物質塗着液を塗着して活物質層となる塗着膜を帯状の電極基材の上に形成することにより得られる正極電極板が開示されている（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００３】
このような正極電極板は、塗着工程、乾燥工程、巻取工程を経て作製される。塗着工程では、帯状の電極基材上に上記塗着液が塗布される。乾燥工程では、塗着液が塗布された電極基材が、乾燥炉内に搬入され、乾燥される。乾燥炉内では、電極基材上に塗布された塗着液に加熱された気体（熱風）が吹き付けられる。この熱風で、塗着液内に含まれる水分を蒸発させ、乾燥させることにより、電極基材上に塗着膜が形成される。乾燥工程後、正極電極板は、乾燥炉より搬出され、巻取工程で巻き取られる。
【０００４】
上記３つの工程のうち、乾燥工程は、非常に重要な工程である。帯状電極の乾燥状態が不十分であったり、乾燥工程中における帯状電極の乾燥状態を強くしすぎたりすると、二次電池の品質が著しく低下するようになる。
【０００５】
例えば、最適速度、最適風量を超える乾燥炉内の温度、風量で塗着液を急激に乾燥させると、溶媒とともに塗着膜の表面上に結着剤が浮き上がって、乾燥後の塗着膜の表面に結着剤が偏在するようになり、塗着膜内で結着剤が希薄になった部分の結着性や、塗着膜と電極基材間の結着性が低下する。このため、塗着膜の加圧形成時に、塗着膜が基材から?がれたり、その後の電池組立工程及び充放電時に、塗着膜の剥離、脱落、ひび割れなどが生じる場合があり、電池特性的にも塗着膜中の結着剤の偏在による過電圧によって放電容量が小さくなったり、結着力不足によって、放電容量の劣化が引き起こされる。したがって、乾燥工程では、塗着液の塗着量に応じて、塗着速度、乾燥温度、乾燥風量を最適なものとし、塗着膜の結着性を低下させることなく、塗着液を乾燥させる必要がある。
【０００６】
このように、乾燥工程では、帯状電極上の塗布膜の乾燥状態（水分量）を把握することは、品質上非常に重要である。塗布膜の乾燥状態は、乾燥炉内の温度、風量の他、熱風の絶対湿度に大きく影響される。そこで、乾燥用加熱空気（送気）の温度、湿度等を計測するとともに、排気用空気（排気）の温度、風量、湿度等を計測して、その結果に基づいて塗布膜に含まれる水分量が最適となるように制御する技術が開示されている（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開昭６３−１０４５６号公報
【特許文献２】特開平３−２８５２６２号公報
【特許文献３】特開平５−５００２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献３に記載の制御技術では、帯状電極からの蒸発水分量を計測するための湿度センサは排気ダクト内に設置されている。この場合、蒸発水分量の計測に無視できないほどの時間遅れが生じ、正確な湿度制御が困難となる。また、この場合、排気ダクト内の気体がどのような経路を通ってきたものか明らかでないので、湿度計の計測値が、帯状電極からの蒸発水分量を示すものになるという保証はない。例えば、塗布膜から一旦蒸発した水蒸気が、塗布膜に再び衝突する場合もあり、この場合には、排気ダクト内の湿度計で計測される湿度と帯状電極からの蒸発水分量との乖離は大きくなる。
【０００８】
また、排気ダクト内の湿度センサでは、乾燥炉内の平均湿度（帯状電極上のある範囲の平均）しか計測することができないので、帯状電極の個々の部位の乾燥状態を把握することができない。したがって、帯状電極の乾燥ムラを低減するようにその乾燥状態の制御を行うのは困難である。
【０００９】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、乾燥炉内で、遅れなく、正確に、帯状電極の個々の部位の乾燥状態を把握することができる電極製造装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る電極製造装置は、連続して搬送される帯状電極を乾燥させる乾燥炉を有する電極製造装置であって、前記乾燥炉内を搬送される前記帯状電極に吹きつけられる気体に発生する境界層内に開口部が配置された気体取り入れ管と、前記気体取り入れ管を介して取り入れられた気体の水分量を計測する水分量計測センサと、を備える。
【００１１】
また、前記気体取り入れ管では、前記開口部が、前記電極基材の搬送方向と逆向きに開口するように設置されていることとすることができる。
【００１２】
また、前記搬送炉の搬入口近傍に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、前記搬送炉の搬出口近傍に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、前記搬入口と前記搬出口との中間部に前記開口部が配置された前記気体取り入れ管と、前記気体取り入れ管毎に設けられた前記水分量計測センサと、を備えることとすることができる。
【００１３】
また、気体取り入れ管の長さが、ほぼ均等となるように設定されていることとすることができる。
【００１４】
さらに、前記搬入口から前記中間部までの前半部を搬送される前記帯状電極については緩やかに乾燥するように、前記前半部における前記帯状電極に吹きつけられる気体に関する物理量であって、前記帯状電極からの蒸発水分量に影響を与える物理量を調節し、前記中間部から前記搬出口までの後半部を搬送される前記帯状電極については前記前半部に比して乾燥状態が強くなるように、前記後半部における前記物理量を調節する調節装置をさらに備えることとすることができる。
【００１５】
ここで、帯状電極に吹きつけられる気体に関する物理量であって、帯状電極からの蒸発水分量に影響を与える物理量とは、例えば、帯状電極に吹きつけられる気体の温度や流速などであって、その物理量を変化させれば、帯状電極の蒸発水分量が変化するような物理的な性質、状態を表現する量である。
【００１６】
また、前記調節装置は、前記気体取り入れ管を介して取り入れられた気体に含まれる水分量の計測値と、前記帯状電極に含まれる水分量との関係を示すテーブルを有しており、前記帯状電極の前記搬出口付近の部分に含まれる水分量が許容値内となるように、前記物理量を調節することとすることができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、気体取り入れ管の開口部は、帯状電極に吹きつけられ気体に発生する境界層内に設けられているため、気体取り入れ管には、帯状電極表面との摩擦によって帯状電極とともに移動する気体、すなわち、帯状電極表面から蒸発した水分量を含む気体がそのまま取り入れられるようになる。水分量計測センサでは、この気体取り入れ管を介して取り入れられた気体に含まれた水分量を計測するので、遅れなく、正確に、帯状電極の個々の部位からの蒸発水分量を計測することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に、本発明の実施の形態に係る電極製造装置について図面を参照しつつ、詳細に説明する。本実施形態に係る電極製造装置は、リチウムイオン電池の帯状電極の製造装置である。図１には、電極製造装置１の概略的な構成が示されている。図１に示されるように、電極製造装置１は、塗布装置１１と、乾燥炉１２と、巻取装置１３と、調節装置としての集中管理装置１４とを備えている。
【００１９】
塗布装置１１は、電極基材２７に塗着液２９を塗布する。ここで、電極基材２７としては、例えば、アルミニウム箔や銅箔などが用いられる。また、塗着液２９としては、例えば、コバルト酸リチウムなどの正極活物質（電極主材）と、アセチレンブラックなどの導電剤と、ポリテトラフルオロエチレンなどの結着剤などを水に溶解した水溶液が用いられる。この塗着液２９は、不図示のポンプによりノズル３１に供給されており、ノズル３１から電極基材２７上に塗布される。塗着液２９が塗布された電極基材２７、すなわち帯状電極Ｐは、乾燥炉１２の−Ｙ端に設けられた搬入口へ搬送され、乾燥炉１２内に搬入される。
【００２０】
乾燥炉１２に搬入された帯状電極は、炉内を、所定の速度Ｖで、＋Ｙ方向にＬ［ｍ］（例えばＬ＝３０ｍ）搬送され、乾燥炉１２の＋Ｙ端に設けられた搬出口から搬出される。炉内を搬送される帯状電極Ｐの上下には、複数のノズル２０が、所定の間隔（例えば約３０ｃｍ間隔）で、搬送される帯状電極Ｐと平行に（すなわちＹ軸方向に沿って）、配列されている。乾燥炉１２に搬入されてから搬出されるまでの間、帯状電極Ｐには、ノズル２０から射出される気体（加熱され乾燥した熱風）が吹きつけられるようになる。
【００２１】
巻取装置１３は、乾燥炉１２の搬出口から搬出された帯状電極Ｐを巻き取る。集中管理装置１４は、塗布装置１１、乾燥炉１２、巻取装置１３の動作を統括制御する。集中管理装置１４は、主として、乾燥炉１２における帯状電極Ｐの乾燥状態を、管理している。
【００２２】
図２には、乾燥炉１２内の気流の流れが模式的に示されている。図２に示されるように、乾燥炉１２内のノズル２０は、送気ダクト２６と接続されており、送気ダクト２６には、ヒータ２５が連結されている。ヒータ２５は、集中管理装置１４と接続されており、集中管理装置１４によってその温度が制御されている。ヒータ２５は、集中管理装置１４から送られた温度指令に従って、不図示のファンによって送り込まれた空気を熱する。ヒータ２５によって熱せられた気体は、送気ダクト２６を介して、ノズル２０へ送られ、ノズル２０から帯状電極Ｐに吹きつけられるようになる。なお、図２では図示されていないが、図１に示されるように、帯状電極Ｐの下側にも、複数のノズル２０が配列されており、これら下側のノズル２０は、帯状電極Ｐに対して下から気体を吹き付けている。これらの下から吹きつけられる気体により、乾燥炉１２内の帯状電極Ｐは、浮いた状態となっており、浮いた状態で、乾燥炉１２内を搬送されている。また、送風ダクト２６内には、湿度センサ（不図示）が設けられており、その計測値は、集中管理装置１４に送られている。
【００２３】
なお、帯状電極Ｐ上の気体は、帯状電極Ｐ表面と気体との間に生ずる摩擦力により、帯状電極Ｐの搬送に伴って、＋Ｙ方向に移動するようになる。このように、気体が、帯状電極Ｐの移動に伴って移動する定常的な流れ場の領域を、「境界層」と呼ぶ。図２では、この境界層の高さをＤ（例えばＤ＝１０ｍｍ）としている。なお、Ｄは、帯状電極Ｐの搬送速度Ｖに応じて変化する。図２では、境界層の境界線Ａが点線で示されている。この境界線Ａより上の領域では、気体の流れは、帯状電極Ｐの搬送に従って＋Ｙ方向には流れてはおらず、いわゆる非定常な流れ場となっている。なお、乾燥炉内の気体は、不図示の排気ダクトを介して外部に排出される。
【００２４】
また、図１、図２では、図示されていないが、図３に示されるように、乾燥炉１２内には、気体取り入れ管１７が設けられている。気体取り入れ管１７は、アルミニウム製又はステンレス製である。気体取り入れ管１７の開口部１５は、境界線Ａよりも下となるように（高さがＤ以下となるように）配置されている。また、境界層内の気体は、帯状電極Ｐとともに移動するようになるため、帯状電極Ｐの表面から蒸発する水分は、しばらくの間はその境界層内の気体に保持されるようになる。したがって、気体取り入れ管１７には、帯状電極Ｐの表面から蒸発した水分を含む気体がそのまま取り入れられるようになる。
【００２５】
また、開口部１５は、例えば直径約４０ｍｍの漏斗状となっており、帯状電極Ｐの搬送方向（＋Ｙ方向）と逆（−Ｙ方向）に向いて開口するように角度θ（例えば５．０度）だけ傾けて配置されている。これにより、開口部１５には、帯状電極Ｐの搬送に伴って流れる気体が進入しやすくなっている。なお、開口部１５は、帯状電極Ｐと接触しないようにする必要があり、帯状電極Ｐに対するマージンを十分にとる必要がある。前述のように、帯状電極Ｐは、乾燥炉１２内を、浮いた状態で搬送されるため、帯状電極Ｐの高さは多少変動するようになる。したがって、開口部１５の設置高さや直径、角度θについてはその変動分を考慮して、決定されるのが望ましい。
【００２６】
乾燥炉１２内には、図３に示されるような同径の気体取り入れ管１７が９本配設されている。図４（Ａ）には、気体取り入れ管１７の開口部１５の配置図が示されている。図４（Ａ）に示されるように、気体取り入れ管１７は、乾燥炉１２の搬入口の近傍と、搬出口の近傍と、搬入口と搬出口との中間部とに、それぞれ３つずつ配置されている。ここで、搬入口近傍において開口部１５が設けられたＹ軸方向の位置をαとし、中央部において開口部１５が設けられたＹ軸方向の位置をβとし、搬出口近傍において開口部１５が設けられたＹ軸方向の位置をγとする。位置αについては、乾燥炉１２の搬入口から距離Ｌ１（例えば、Ｌ１＝１０００ｍｍ）以内の位置とし、位置γについては、乾燥炉１２の搬出口から距離Ｌ２（例えば、Ｌ２＝３００ｍｍ）以内の位置とする。
【００２７】
図４（Ｂ）には、気体取り入れ口１７の配設状態を＋Ｘ側から見た図が示されている。図４（Ｂ）では、位置α、β、γ各々で、気体取り入れ管１７が１つずつしか示されていないが、上述のように、各位置に３つの気体取り入れ管１７が設けられている。図４（Ｂ）に示されるように、位置α、β、γに開口部１５が配置された合計９個の気体取り入れ管１７は、もう一方の開口部が、水分量計測センサとしての水分計５３に接続されている。水分計５３は、サンプリング式であり、気体取り入れ口１７を介して得られた気体に含まれる水分量をサンプリング計測する。開口部１５を介して取り入れられた気体は、気体取り入れ管１７の管内を流れ、速やかに水分計５３に送られ、水分計５３において、その気体に含まれる水分が計測される。これにより、例えば、排気ダクトに水分計５３を設置して、その気体に含まれる水分量を計測するのに比べて、帯状電極Ｐから水分が蒸発してから水分計５３によってその水分を計測するまでの時間を短くすることができる。
【００２８】
各水分計５３の計測結果は、集中管理装置１４に常時送られている。上述のように、気体取り入れ管１７の開口部１５が境界層内に配置されているため、気体取り入れ管１７を介して取得される気体は、帯状電極Ｐ近傍に存在し、搬送電極Ｐとともに移動する気体であり、もともと、図２に示されるノズル２０から吹きつけられている乾燥した気体である。したがって、気体取り入れ管１７を介して取得され気体に含まれる水分は、その大部分が、その気体が接触する帯状電極Ｐの部位から蒸発した水分となる。例えば、位置αに開口部１５が配置された気体取り入れ管１７を介して取り入れられた気体には、帯状電極Ｐの位置α付近の部位から蒸発した水分が含まれるようになり、位置βに開口部１５が配置された気体取り入れ管１７を介して取り入れられた気体には、帯状電極Ｐの位置β付近の部位から蒸発した水分が含まれるようになり、位置γに開口部１５が配置された気体取り入れ管１７を介して取り入れられた気体には、帯状電極Ｐの位置γ付近の部位から蒸発した水分が含まれるようになる。
【００２９】
すなわち、位置αに配置された開口部１５から取得された気体の水分量は、搬入口に搬入されたばかりの帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量を示すものとなり、位置βに配置された開口部１５から取得された気体の水分量は、中央部を搬送される帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量を示すものとなり、位置γに配置された開口部１５から取得された気体の水分量は、搬出口付近まで搬送された帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量を示すものとなる。このように、各気体取り入れ管１７の開口部１５を、乾燥炉１２内に位置α、β、γに分散して配置することで、搬入口に搬入されたばかりの帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量と、中央部を搬送される帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量と、搬出口付近まで搬送された帯状電極Ｐの部分からの蒸発水分量とを、個別に計測することができるようになっている。
【００３０】
集中管理装置１４は、９つの水分計５３によって計測された気体に含まれる水分量に基づいて、帯状電極Ｐの特定の部位（位置α、β、γ）から蒸発した蒸発水分量を把握し、各ノズル２０に接続されたヒータ２５の温度を調節している。すなわち、水分計５３のサンプリング計測値より、帯状電極Ｐからの蒸発水分量が少なすぎるとみられる場合には、ヒータ２５の温度を高めに設定して、帯状電極Ｐに吹きつける気体の温度を高くしたり、帯状電極Ｐからの蒸発水分量が多すぎるとみられる場合には、ヒータ２５の温度を低めに設定して、帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の温度を低くしたりする。これにより、帯状電極Ｐの乾燥状態を制御することができるようになる。
【００３１】
図５には、水分計５３のサンプリング計測値と、重量法によって計測された帯状電極Ｐの残留水分量のサンプリング計測値との関係が示されている。図５に示されるように、水分計５３のサンプリング計測値から、そのときの帯状電極Ｐの残留水分量が一意に決まるようになる。集中管理装置１４は、図５に示されるような水分計５３のサンプリング計測値と、帯状電極Ｐに含まれる残留水分量との関係を記憶するテーブルを有している。集中管理装置１４は、帯状電極Ｐに含まれる残留水分量が最終的に許容値内となるように、各ヒータ２５の温度を調節している。
【００３２】
なお、水分計５３のサンプリング計測値は、集中管理装置１４において表示され、記憶される。また、乾燥炉１２内には、温度を計測する温度センサ（例えば、熱電対）や、帯状電極Ｐの搬送速度を計測する速度センサなどの乾燥炉１２内の各種環境条件を計測するためのセンサ（いずれも不図示）が設置されており、集中管理装置１４は、それらの計測値に基づいて、帯状電極Ｐに吹きつける気体の温度を制御するとともに、乾燥炉１２内の各種環境条件を、表示、記録している。
【００３３】
なお、図４（Ｂ）に示されるように、９個の気体取り入れ管１７の長さは、極力短くなるように設定されている。このようにすれば、気体が開口部１５から取り込まれてから、水分計５３に達するまでの時間を短くすることができるので、計測の遅れを低減することができるようになる。各気体取り入れ管１７は、それぞれが独立して配置されているので、他の管との関係を考慮することなく、管の長さを極力短くすることが可能である。
【００３４】
また、図４（Ｂ）に示されるように、９つの気体取り入れ管の長さは、ほぼ均等となっている。これにより、帯状電極Ｐの蒸発水分量の計測遅れも、各管で均一なものとすることができる。これにより、気体が開口部１５から取り込まれてから水分計５３に到達する時間が各管でほぼ一定となるため、各位置（α、β、γ）での蒸発水分量の計測遅れを均一にすることができるようになる。この結果、各位置での蒸発水分量の計測結果のバラツキを低減することができるようになる。
【００３５】
図６には、位置α、β、γにおける水分計５３のサンプリング計測値の変動の様子が示されている。図６では、位置α〜γ間における水分計５３のサンプリング計測値の３つの変動例が、それぞれ折れ線Ａ〜Ｃで示されている。なお、図６のグラフの縦軸では、上に行けば行くほど、水分計５３のサンプリング計測値が小さく（すなわち、帯状電極Ｐからの蒸発水分量が少なく）なるように示されている。
【００３６】
折れ線Ａでは、位置αから位置βにかけての前半部については、水分計５３のサンプリング計測値（帯状電極Ｐからの蒸発水分量）が少なくなっており、位置βから位置γにかけての後半部については、前半部と比べて、水分計５３のサンプリング計測値（帯状電極Ｐからの蒸発水分量）が多くなっている。すなわち、この場合、前半部では、帯状電極Ｐの乾燥状態は緩やかとなっており、後半部で、帯状電極Ｐの乾燥状態が強めとなっている。図７には、水分計５３のサンプリング計測値が、折れ線Ａに沿って変化した場合の塗着液２９の変化の様子が模式的に示されている。図７に示されるように、塗着液２９中の電極主材７１、結着剤７３は、電極基材２７から離脱することもなく、それらは、塗布時の位置に保持されている。すなわち、この場合には、結着剤７２が偏在することもなく、塗布液２９の状態は、良好となっている。
【００３７】
折れ線Ｂでは、位置β（中央部）における水分計５３のサンプリング計測値が、折れ線Ａよりも多くなっており、位置αから位置βにかけての前半部における帯状電極Ｐの乾燥状態が、折れ線Ａのときよりも強くなっている。図７には、水分計５３のサンプリング計測値が、折れ線Ｂに沿って変化した場合の塗着液２９の変化の様子も示されている。この場合、電極主材７１、結着剤７３の一部は、電極基材２７より離脱するようになる。
【００３８】
折れ線Ｃでは、位置β（中央部）における水分計５３のサンプリング計測値が最も多くなっており、位置αから位置βにかけての前半部における帯状電極Ｐの乾燥状態が、最も強くなっている。図７には、水分計５３のサンプリング計測値が、折れ線Ｃに沿って変化した場合における塗着液２９の変化の様子も示されている。この場合には、前半部における帯状電極Ｐからの水分蒸発が急激となるため、帯状電極Ｐ内部の水分も勢いよく表面に移動するようになり、この水分の移動に引きずられるように、電極主材７１や結着剤７３も塗布液２９の表面に持ち上げられるようになり、塗着液２９全体が、電極基材２７から離脱し、結着剤７３等が偏在するようになる。
【００３９】
以上のことから、水分計５３のサンプリング計測値が折れ線Ａに沿って変化するように、搬入口から中央部にかけての前半部における乾燥初期段階では、帯状電極Ｐから緩やかに水分を蒸発させ、中央部から搬出口にかけての後半部では、乾燥状態を強めにして、帯状電極Ｐからの蒸発水分量を増加させるようにするのが望ましいといえる。そこで、集中管理装置１４は、位置α、β、γにおける水分計５３のサンプリング計測値が、図６の折れ線Ａに沿って変化するように、乾燥炉１２内の気体の温度を調節する。
【００４０】
ここで、折れ線Ａにおいて、位置αでの帯状電極Ｐの蒸発水分量をＳ１とし、位置βでの帯状電極Ｐの蒸発水分量をＳ２とし、位置γでの帯状電極Ｐの蒸発水分量をＳ３とする。まず、集中管理装置１４は、図８（Ａ）に示されるように、位置αについては、水分計５３のサンプリング計測値が常にＳ１となるように、搬入口周辺の帯状電極Ｐに吹きつけられる気体を加熱するヒータ２５の温度を調節する。また、図８（Ｂ）に示されるように、位置βについては、水分計５３のサンプリング計測値が、常にＳ２となるように、中央部周辺の帯状電極Ｐに吹きつけられる気体を加熱するヒータ２５の温度を調節する。また、図８（Ｃ）に示されるように、位置γについては、水分計５３のサンプリング計測値が、常にＳ３となるように、搬出部周辺の帯状電極Ｐに吹きつけられる気体を加熱するヒータ２５の温度を調節する。
【００４１】
なお、図６のＳ３の値は、帯状電極Ｐに最終的に含まれる水分量に対応するサンプリング計測値となるが、電極の製造品質を保証するためには帯状電極Ｐに含まれる水分量を図５で示される許容値以下とする必要がある。したがって、Ｓ３としては、帯状電極Ｐに含まれる水分量が許容値以内となるような数値が設定されている。前述のように、集中管理装置１４は、水分計５３のサンプリング計測値と、塗布膜２９に含まれる水分量の計測値（重量法による計測値）との関係を示すテーブルを有しており、搬出口近傍の気体取り入れ管１７を介して取り入れられた気体の水分量の計測値がＳ３となるように、ヒータ２５の温度を調節し、帯状電極Ｐに含まれる水分量が、許容値内となるようにしている。
【００４２】
以上詳細に説明したように、本実施形態によれば、気体取り入れ管１７の開口部１５は、帯状電極Ｐに吹きつけられた気体に発生する境界層内に設けられているため、気体取り入れ管１７には、帯状電極Ｐの表面との摩擦によって帯状電極Ｐとともに移動する気体、すなわち、帯状電極Ｐの表面から蒸発した水分量を含む気体がそのまま取り入れられるようになる。水分計５３では、この気体取り入れ管１７を介して取り入れられた気体に含まれた水分量を計測するので、遅れなく、正確に、帯状電極Ｐの個々の部位からの蒸発水分量を計測することができるようになる。
【００４３】
また、本実施形態によれば、気体取り入れ管１７の開口部１５が、電極基材２７の搬送方向（＋Ｙ方向）と逆向き（−Ｙ方向）に開口するように角度θだけ傾けて設置されている。このようにすれば、帯状電極Ｐの搬送に伴って流れる気体を、気体取り入れ管１７に取り込み易くなるので、水分計５３による帯状電極Ｐからの蒸発水分量の計測精度がさらに向上する。
【００４４】
また、本実施形態によれば、搬送装置１２の搬入口近傍（位置α）に開口部１５が配置された３本の気体取り入れ管１７と、搬出口近傍（位置γ）に開口部１５が配置された３本の気体取り入れ管１７と、搬入口と搬出口との中間部（位置β）に開口部１５が配置された３本の気体取り入れ管１７と、が設けられている。また、気体取り入れ管１７ごとに、各気体取り入れ管１７から取り入れられた気体の水分量をそれぞれ計測する水分計５３が設けられている。これにより、帯状電極Ｐの個々の部分（位置α、β、γを通過する部分）における蒸発水分量を把握し、帯状電極Ｐの乾燥ムラなどを把握することができるようになるので、例えば、帯状電極Ｐの乾燥ムラを低減するように、帯状電極Ｐの乾燥状態を制御することができる。
【００４５】
なお、本実施形態では、搬入口近傍（位置α）、中央部（位置β）、搬出口近傍（位置γ）に気体取り込み管１７を配置したが、さらに、帯状電極Ｐの蒸発水分量を、きめ細かく計測しようとする場合には、より多くの場所に気体取り込み管１７を設置するようにしても構わない。
【００４６】
また、本実施形態では、全ての気体取り入れ管１７の長さが、ほぼ均等となるように設定されている。このようにすれば、各位置（α、β、γ）での蒸発水分量の計測の遅れを均一にすることができるようになるため、各位置での蒸発水分量の計測結果のバラツキを低減することができるようになる。
【００４７】
また、本実施形態では、集中管理装置１４は、乾燥炉１２の搬入口から中間部までの前半部を搬送される帯状電極Ｐについては緩やかに乾燥するように、前半部において帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の温度を調節し、中間部から搬出口までの後半部を搬送される帯状電極Ｐについては前半部に比して乾燥状態が強くなるように、後半部において帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の温度を調節する。このようにすれば、電極基材２７からの塗着膜２９の離脱や結着剤７３の偏在が防止されるようになる。
【００４８】
なお、集中管理装置１４によって調整されるのは、帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の温度に限られない。例えば、帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の流速を調節するようにしてもよいし、その気体の湿度を調節するようにしてもよい。要は、調節する物理量が、帯状電極Ｐに吹きつけられる気体に関する物理量であって、帯状電極Ｐからの蒸発水分量に影響を与える物理量であればよい。
【００４９】
また、本実施形態によれば、集中管理装置１４は、水分計５３により計測されたサンプリング計測値（すなわち、帯状電極Ｐの蒸発水分量）と、帯状電極Ｐに含まれる水分量との関係を示すテーブルを有しており、帯状電極Ｐに含まれる最終的な水分量が許容値内となるように、帯状電極Ｐに吹きつけられる気体の温度を調節する。これにより、乾燥炉１２で乾燥された帯状電極Ｐに含まれる水分量は、必ず許容値以下となり、製造される帯状電極Ｐの品質が向上するようになる。
【００５０】
なお、本実施形態では、乾燥炉１２における搬入口近傍、中央部、搬出口近傍にそれぞれ、気体取り入れ管１７を３本ずつ配置したが、これは、何本であってもよく、気体取り入れ管１７の設置本数は、電極基材２７の幅や、塗布される塗着液の状態などに応じて適宜決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の一実施形態に係る電極製造装置の構成を示す概略図である。
【図２】搬送装置内における気体の流れを説明するための図である。
【図３】気体取り入れ管の開口部を示す図である。
【図４】センサ計測値と塗着液の水分量との関係を示すグラフである。
【図５】図５（Ａ）は、気体取り入れ管の開口部の配置を示す図であり、図５（Ｂ）は、気体取り入れ口１７の配置を横から見た図である。
【図６】蒸発水分量の変化の様子を示すグラフである。
【図７】塗着液の変化の様子を示す模式図である。
【図８】図８（Ａ）は、位置αにおける、サンプリング計測値の変動の様子を示すグラフであり、図８（Ｂ）は、位置βにおける、サンプリング計測値の変動の様子を示すグラフであり、図８（Ｃ）は、位置γにおける、サンプリング計測値の変動の様子を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５２】
１  電極製造装置
１１  塗布装置
１２  乾燥炉
１３  巻取装置
１４  集中管理装置
１５  開口部
１７  気体取り入れ管
２０  ノズル
２５  ヒータ
２６  送風ダクト
２７  電極基材
２９  塗着液
３１  ノズル
５３  水分計
７１  電極主材
７３  結着剤
Ｐ  帯状電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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