(57)【要約】【課題】  ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査し、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮するとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行えるセル導通検査システムを提供する。【解決手段】  装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々は伝送路ケーブル１００〜１０３を介してＡＴＭ試験器１に縦続接続されており、試験用ＡＴＭセルの伝送を行う。セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信したセル、ＡＴＭ試験器１にて受信したセル、装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々のセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３からそれぞれセル比較器３に向けてモニタ出力されたセルをセル比較器３のセル比較検査部３２にて実時間で比較し、試験用ＡＴＭセルの同一性を判定する。【選択図】      図１                                                  
2005223467.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ）セルの導通検査を行うためのＡＴＭ試験器を含むセル導通検査システムであって、前記ＡＴＭ試験器に伝送路ケーブルにて縦続接続される複数の被試験装置と、前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して前記複数の被試験装置各々に送信される試験用ＡＴＭセルに基づいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行う比較器とを有することを特徴とするセル導通検査システム。
【請求項２】
前記比較器は、前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して送信した試験用ＡＴＭセルと前記伝送路ケーブルを介して前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルとを比較することを特徴とする請求項１記載のセル導通検査システム。
【請求項３】
受信したＡＴＭセルをキャプチャするセルモニタ部を前記複数の被試験装置各々に含み、
前記比較器は、前記ＡＴＭ試験器から送信した試験用ＡＴＭセルと前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルと前記複数の被試験装置各々のセルモニタ部からそれぞれモニタ出力された試験用ＡＴＭセルとを実時間で比較し、前記試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することを特徴とする請求項１または請求項２記載のセル導通検査システム。
【請求項４】
前記比較器は、前記試験用ＡＴＭセルの比較をハードウェアにて比較することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか記載のセル導通検査システム。
【請求項５】
前記試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することで異常が検出された時に当該異常が検出されたセルを保存する手段を含むことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか記載のセル導通検査システム。
【請求項６】
前記比較器は、前記ＡＴＭ試験器から送信した試験用ＡＴＭセルと前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルと前記複数の被試験装置各々のセルモニタ部からそれぞれモニタ出力された試験用ＡＴＭセルとを比較して前記セルモニタ部の異常を判定することを特徴とする請求項３から請求項５のいずれか記載のセル導通検査システム。
【請求項７】
ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ）セルの導通検査を行うためのＡＴＭ試験器を含むシステムにおいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行うセル導通検査方法であって、前記ＡＴＭ試験器に伝送路ケーブルにて縦続接続される複数の被試験装置各々に前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して送信される試験用ＡＴＭセルに基づいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップを有することを特徴とするセル導通検査方法。
【請求項８】
前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップは、前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して送信した試験用ＡＴＭセルと前記伝送路ケーブルを介して前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルとを比較して前記ＡＴＭセルの導通検査を行うことを特徴とする請求項７記載のセル導通検査方法。
【請求項９】
受信したＡＴＭセルをキャプチャするセルモニタ部を前記複数の被試験装置各々に含み、
前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップは、前記ＡＴＭ試験器から送信した試験用ＡＴＭセルと前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルと前記複数の被試験装置各々のセルモニタ部からそれぞれモニタ出力された試験用ＡＴＭセルとを実時間で比較し、前記試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することを特徴とする請求項７または請求項８記載のセル導通検査方法。
【請求項１０】
前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップは、前記試験用ＡＴＭセルの比較をハードウェアにて比較することを特徴とする請求項７から請求項９のいずれか記載のセル導通検査方法。
【請求項１１】
前記試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することで異常が検出された時に当該異常が検出されたセルを保存することを特徴とする請求項７から請求項１０のいずれか記載のセル導通検査方法。
【請求項１２】
前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップは、前記ＡＴＭ試験器から送信した試験用ＡＴＭセルと前記ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルと前記複数の被試験装置各々のセルモニタ部からそれぞれモニタ出力された試験用ＡＴＭセルとを比較して前記セルモニタ部の異常を判定することを特徴とする請求項９から請求項１１のいずれか記載のセル導通検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はセル導通検査システム及びそれに用いるセル導通検査方法に関し、特にＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ：非同期転送モード）セルの導通検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＡＴＭセル導通検査方法においては、ＡＴＭ試験器と装置とを伝送路ケーブルで対向させ、ＡＴＭ試験器から試験用ＡＴＭセルを送信し、装置にて試験用ＡＴＭセルを受信するとともに、装置から試験用ＡＴＭセルを送信し、ＡＴＭ試験器にて試験用ＡＴＭセルを受信し、装置のＡＴＭセル導通検査の良否を判定する方法がとられている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
上記の特許文献１に記載されたＡＴＭセル導通検査方法では、ＡＴＭセルのペイロード内に含んでいる試験用ＡＴＭセルをＡＴＭ試験器から送信し、被試験装置にてＡＴＭセルを受信し、被試験装置に備えた擬似ランダムパタン検査部を使用して受信した試験用ＡＴＭセルの擬似ランダムパタンのビット誤りを判定することによって、ＡＴＭセル導通検査を行っている。
【０００４】
【特許文献１】特開平８−２３７２５８
【特許文献２】特開平９−１８４８８
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した従来のＡＴＭセル導通検査方法では、ＡＴＭ試験器と被試験装置とを一対一に接続する必要があり、複数の被試験装置と接続することを考慮していないので、複数の被試験装置に対して同時に検査を行うことができず、各被試験装置に対して個別にＡＴＭセル導通検査を実施する必要があり、複数の被試験装置のＡＴＭセル導通検査を完了させるために非常に時間がかかるという問題がある。
【０００６】
この問題を解決するには、複数のＡＴＭ試験器を導入し検査する必要があるが、従来のＡＴＭセル導通検査方法では、検査するための設備投資が大きくなるという問題もある。
【０００７】
また、従来のＡＴＭセル導通検査方法では、被試験装置にて受信した試験用ＡＴＭセルの擬似ランダムパタンの良否を判定するための回路を被試験装置に備える必要があるため、被試験装置の回路規模が大きくなり、高価になるという問題がある。
【０００８】
さらに、従来のＡＴＭセル導通検査方法では、被試験装置のＡＴＭセル導通検査が異常であった場合、異常個所を特定するために、被試験装置の不具合ログや被試験内部セルカウンタ、ＡＴＭセルの装置内部モニタのデータを取得してから解析する必要があるため、被試験装置のＡＴＭセル導通検査を実時間で実施することが困難であるという問題がある。
【０００９】
そこで、本発明の目的は上記の問題点を解消し、ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査することができ、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮することができるとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行うことができるセル導通検査システム及びそれに用いるセル導通検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明によるセル導通検査システムは、ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ）セルの導通検査を行うためのＡＴＭ試験器を含むセル導通検査システムであって、前記ＡＴＭ試験器に伝送路ケーブルにて縦続接続される複数の被試験装置と、前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して前記複数の被試験装置各々に送信される試験用ＡＴＭセルに基づいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行う比較器とを備えている。
【００１１】
本発明によるセル導通検査方法は、ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ）セルの導通検査を行うためのＡＴＭ試験器を含むシステムにおいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行うセル導通検査方法であって、前記ＡＴＭ試験器に伝送路ケーブルにて縦続接続される複数の被試験装置各々に前記ＡＴＭ試験器から前記伝送路ケーブルを介して送信される試験用ＡＴＭセルに基づいて前記ＡＴＭセルの導通検査を行うステップを備えている。
【００１２】
すなわち、本発明のセル導通検査システムは、ＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ：非同期転送モード）セル導通検査を同時に複数の被試験装置に対して行うことを特徴とする。
【００１３】
より具体的に説明すると、本発明のセル導通検査システムでは、ＡＴＭ試験器から送信する試験用ＡＴＭセルが伝送路ケーブルを介して装置Ａで受信され、装置Ａで受信された試験用ＡＴＭセルがセルモニタ部Ａに送信され、セルモニタ部Ａからセル比較器に向けてモニタ出力される。
【００１４】
また、試験用ＡＴＭセルは装置Ａにて折り返され、伝送路ケーブルを介して次の装置Ｂに送信され、装置Ｂで受信された試験用ＡＴＭセルがセルモニタ部Ｂに送信され、セルモニタ部Ｂからセル比較器に向けてモニタ出力される。さらに、試験用ＡＴＭセルは装置Ｂにて折り返され、伝送路ケーブルを介して装置Ｃに送信され、装置Ｃで受信された試験用ＡＴＭセルがセルモニタ部Ｃに送信され、セルモニタ部Ｃからセル比較器に向けてモニタ出力される。さらにまた、試験用ＡＴＭセルは装置Ｃにて折り返され、伝送路ケーブルを介してＡＴＭ試験器に送信される。
【００１５】
セル比較器ではＡＴＭ試験器から送信されたセル、ＡＴＭ試験器にて受信したセル、セルモニタ部Ａ，Ｂ，Ｃからそれぞれモニタ出力されたセルを実時間で比較し、試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することによって、複数の装置Ａ，Ｂ，Ｃに対して同時に検査を行うことが可能となる。
【００１６】
これによって、本発明のセル導通検査システムでは、ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査することが可能となるので、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮することが可能となり、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行うことが可能となる。
【００１７】
また、本発明のセル導通検査システムでは、ＡＴＭ試験器より送信した試験用ＡＴＭセルと、ＡＴＭ試験器にて受信した試験用ＡＴＭセルとを比較するだけで、接続した全ての被試験装置のＡＴＭセル導通検査を同時に検査することが可能となる。
【００１８】
一方、本発明のセル導通検査システムでは、従来技術の検査方法である、ＡＴＭセルの擬似ランダムパタンの良否を判定するための回路を被試験装置に備える必要がないため、被試験装置にＡＴＭセル導通検査機能を必要としないという効果が得られる。
【００１９】
また、本発明のセル導通検査システムでは、セル比較器をハードウェアで構成することによって、被試験装置に入力された試験用ＡＴＭセルを高速に比較検査することが可能になるので、複数の被試験装置の検査を実時間で行うことが可能になることである。
【００２０】
さらに、本発明のセル導通検査システムでは、ＡＴＭセル導通異常であった場合、異常セルを保存することが可能であるため、検査実施後に異常セルを確認することが可能となり、接続したいずれかの被試験装置に異常があった場合、異常装置を容易に特定することが可能になる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明は、以下に述べるような構成及び動作とすることで、ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査することができ、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮することができるとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行うことができるという効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施例によるセル導通検査システムの構成を示すブロック図である。図１において、本発明の一実施例によるセル導通検査システムはＡＴＭ（Ａｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｍｏｄｅ：非同期転送モード）試験器１と、被試験対象となる装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３と、セル比較器３とから構成されている。
【００２３】
装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々は伝送路ケーブル１００〜１０３を介してＡＴＭ試験器１に縦続接続されており、試験用ＡＴＭセルの伝送を行う。また、装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々はそれぞれ受信したＡＴＭセルをキャプチャするセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３を備えており、セルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３はキャプチャしたＡＴＭセルを装置外部にモニタ出力する機能を備えている。
【００２４】
セル比較器３はＡＴＭ試験器１にて送受信された試験用ＡＴＭセル及びセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３からモニタ出力されたＡＴＭセルの物理レイヤを終端するためのセル終端部３１−１〜３１−５と、終端されたＡＴＭセルの比較を行うセル比較検査部３２と、ＡＴＭセル比較の結果において異常セルを検出した場合に異常セルの状態を保存する異常セル抽出部３３とを備えている。
【００２５】
尚、本実施例においては、上記のように同時に検査する装置を３台の装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３としているが、これは説明を簡単にするためであり、同時に検査する台数を変更した場合にも、本発明の技術が適用可能となっている。
【００２６】
ここで、装置（Ａ）２−１は前段のＡＴＭ試験器１に伝送路ケーブル１００を介して接続され、後段の装置（Ｂ）２−２に伝送路ケーブル１０１を介して接続されている。装置（Ｂ）２−２は前段の装置（Ａ）２−１に伝送路ケーブル１０１を介して接続され、後段の装置（Ｃ）２−３に伝送路ケーブル１０２を介して接続されている。装置（Ｃ）２−３は前段の装置（Ｂ）２−２に伝送路ケーブル１０２を介して接続され、後段のＡＴＭ試験器１に伝送路ケーブル１０３を介して接続されている。
【００２７】
ＡＴＭ試験器１から送信する試験用ＡＴＭセルは伝送路ケーブル１００を介して装置（Ａ）２−１に送信され、装置（Ａ）２−１で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ａ）２−１内部のセルモニタ部（Ａ）２１−１に送信され、セルモニタ部（Ａ）２１−１からセル比較器３に向けてモニタ出力される。
【００２８】
装置（Ａ）２−１で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ａ）２−１にて折り返され、伝送路ケーブル１０１を介して装置（Ｂ）２−２に送信される。装置（Ｂ）２−２で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｂ）２−２内部のセルモニタ部（Ｂ）２１−２に送信され、セルモニタ部（Ｂ）２１−２からセル比較器３に向けてモニタ出力される。
【００２９】
装置（Ｂ）２−２で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｂ）２−２にて折り返され、伝送路ケーブル１０２を介して装置（Ｃ）２−３に送信される。装置（Ｃ）２−３で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｃ）２−３内部のセルモニタ部（Ｃ）２１−３に送信され、セルモニタ部（Ｃ）２１−３からセル比較器３に向けてモニタ出力される。装置（Ｃ）２−３で受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｃ）２−３にて折り返され、伝送路ケーブル１０３を介してＡＴＭ試験器１に送信される。
【００３０】
セル比較器３は上記のＡＴＭ試験器１から送信したセル、ＡＴＭ試験器１にて受信したセル、セルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３からそれぞれセル比較器３に向けてモニタ出力されたセルを実時間で比較し、試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することによって、複数の装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に対して同時に検査を行うことが可能となる。
【００３１】
図２は本発明の一実施例によるセル導通検査システムの動作を示す図である。これら図１及び図２を参照して本発明の一実施例によるセル導通検査システムの動作について説明する。
【００３２】
まず、ＡＴＭ試験器１は伝送路ケーブル１００を介して装置（Ａ）２−１に対して試験用ＡＴＭセルを送信する（図２ステップＳ１）。ＡＴＭ試験器１から送信された試験用ＡＴＭセルはセル比較器３にも送信される（図２ステップＳ１１）。
【００３３】
装置（Ａ）２−１にて受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ａ）２−１内部のセルモニタ部（Ａ）２１−１で受信される（図２ステップＳ２，Ｓ１２）。また、試験用ＡＴＭセルは装置（Ａ）２−１にて折り返され、伝送路ケーブル１０１を介して装置（Ｂ）２−２に送信される（図２ステップＳ３）。
【００３４】
装置（Ｂ）２−２にて受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｂ）２−２内部のセルモニタ部（Ｂ）２１−２で受信される（図２ステップＳ４，Ｓ１３）。また、試験用ＡＴＭセルは装置（Ｂ）２−２にて折り返され、伝送路ケーブル１０２を介して装置（Ｃ）２−３に送信される（図２ステップＳ５）。
【００３５】
装置（Ｃ）２−３にて受信された試験用ＡＴＭセルは装置（Ｃ）２−３内部のセルモニタ部（Ｃ）２１−３で受信される（図２ステップＳ６，Ｓ１４）。また、試験用ＡＴＭセルは装置（Ｃ）にて折り返され、伝送路ケーブル１０３を介してＡＴＭ試験器１に送信される（図２ステップＳ７）。ＡＴＭ試験器１に向けて送信された試験用ＡＴＭセルは、セル比較器３にも送信される（図２ステップＳ１５）。
【００３６】
この時、ＡＴＭ試験器１から伝送路ケーブル１００〜１０３を通じて送信された試験用ＡＴＭセルは、複数の装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々のセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３に受信されることとなる。
【００３７】
セル比較器２はこれらのセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３で受信されたＡＴＭセルと、ＡＴＭ試験器１から送信したセルと、ＡＴＭ試験器１に向けて送信されたセルとの５種類を比較し、試験用ＡＴＭセルの同一性を判定することによって、ＡＴＭセル導通検査の良否を判定する（図２ステップＳ２１）。
【００３８】
次に、セル比較器３の動作について説明する。セル比較器３はセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３にて受信されたＡＴＭセル、ＡＴＭ試験器１から送信されたセル、ＡＴＭ試験器１に向けて送信されたセルの合計５種類のセルを比較する機能を持つ。
【００３９】
図１に示すように、５種類のＡＴＭセルはセル比較器３内部のセル終端部３１−１〜３１−５にてＡＴＭ物理レイヤが終端される。セル終端部３１−１〜３１−５はそれぞれセル比較検査部３２まで、ＵＴＯＰＩＡ［Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｔｅｓｔ  ａｎｄ  Ｏｐｅｒａｔｉｏｎｓ  ＰＨＹ（ｐｈｙｓｉｃａｌ）  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  ｆｏｒ  ＡＴＭ）にて接続されている。
【００４０】
比較検査部３２は入力された５種類のＡＴＭセルについて、それぞれ比較検査を実施する。比較検査部３２は比較検査回路を持ち、ハードウェアでの比較検査が実施可能なため、実時間でセル比較を行うことが可能である。比較の結果、セル比較検査部３２は入力された５種類のＡＴＭセルが一致しなかった時、ＡＴＭセル導通検査異常と判定し、５種類のセル全てを異常セル抽出部３３のメモリ（図示せず）に保存する。その後、異常セル抽出部３３に保存されている異常セルを確認することによって、ＡＴＭセル導通検査の良否判定が可能となる。
【００４１】
図３は本発明の一実施例によるＡＴＭセル導通検査の良否判定方法を示すフローチャートである。これら図１及び図３を参照して本発明の一実施例によるＡＴＭセル導通検査の良否判定方法について説明する。
【００４２】
まず、セル比較器３は比較検査部３２にてＡＴＭ試験器１から送信したセルとＡＴＭ試験器１にて受信されたセルとを比較する（図３ステップＳ３１）。その結果、セル比較器３はそれらのセルが一致すると、装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３のＡＴＭセル導通検査を正常として処理を終了する。
【００４３】
ＡＴＭ試験器１から送信されたセルとＡＴＭ試験器１にて受信したセルとの比較結果が一致しなければ、装置（Ａ〜Ｃ）のいずれかのＡＴＭセル導通に異常があると判定することができる。そのため、セル比較器３は装置（Ａ〜Ｃ）のどの装置に異常があるかを判定する。
【００４４】
まず、セル比較器３はＡＴＭ試験器１に保存された試験用ＡＴＭセルとセルモニタ部（Ｃ）２１−３で受信されたセルとを比較し（図３ステップＳ３２）、比較の結果が一致しなければ、セルモニタ部（Ｃ）２１−３〜伝送路ケーブル１０３〜ＡＴＭ試験器１までの間の経路に異常があると判定する（図３ステップＳ３３）。
【００４５】
同様に、セル比較器３はセルモニタ部（Ｂ）２１−２で受信されたセルとセルモニタ部（Ｃ）２１−３に保存されたセルとを比較し（図３ステップＳ３４）、比較の結果が一致しなければ、セルモニタ部（Ｂ）２１−２〜伝送路ケーブル１０２〜セルモニタ部（Ｃ）２１−３までの間の経路に異常があると判断する（図３ステップＳ３５）。
【００４６】
次に、セル比較器３はセルモニタ部（Ａ）２１−１で受信されたセルとセルモニタ部（Ｂ）２１−２で受信されたセルとを比較し（図３ステップＳ３６）、比較の結果が一致しなければ、セルモニタ部（Ａ）２１−１〜伝送路ケーブル１０１〜セルモニタ部（Ｂ）２１−２までの経路に異常があると判断する（図３ステップＳ３７）。
【００４７】
最後に、セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとセルモニタ部（Ａ）２１−１で受信したセルとを比較し（図３ステップＳ３８）、比較の結果が一致しなければ、ＡＴＭ試験器１〜伝送路ケーブル１００〜セルモニタ部（Ａ）２１−１までの経路に異常があると判定する（図３ステップＳ３９）。これによって、セル比較器３は装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３のうちのいずれかの装置に異常があるかを判定し、異常終了とする。
【００４８】
このように、本実施例では、ＡＴＭ試験器１を複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に接続して検査することで、複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に対して同時に検査を行うことができる。
【００４９】
また、本実施例では、ＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとＡＴＭ試験器１にて受信した試験用ＡＴＭセルとをセル比較器３で比較することで、接続した全ての被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３のＡＴＭセル導通検査を同時に検査することができるので、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮することができる。
【００５０】
さらに、本実施例では、従来技術の検査方法においてＡＴＭセルの擬似ランダムパタンの良否を判定するための回路を装置に備える必要がないため、被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３にＡＴＭセル導通検査機能を必要としない。
【００５１】
一方、本実施例では、セル比較器３をハードウェアで構成することによって、被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に入力された試験用ＡＴＭセルを高速に比較検査することが可能になるので、複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３の検査を実時間で行うことが可能となる。
【００５２】
また、本実施例では、ＡＴＭセル導通異常であった場合、異常セルを保存することで、検査実施後に異常セルを確認することが可能となるため、接続したいずれかの被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に異常があった場合、異常となった被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３を容易に特定することができる。
【００５３】
図４は本発明の他の実施例によるＡＴＭセル導通検査システムの検査方法を示すフローチャートである。本発明の他の実施例によるＡＴＭセル導通検査システムは図１に示す本発明の一実施例によるＡＴＭセル導通検査システムと同様の構成となっており、その動作は図２に示す本発明の一実施例によるＡＴＭセル導通検査システムと同様の動作となっている。これら図１及び図４を参照して本発明の他の実施例によるＡＴＭセル導通検査システムの検査方法について説明する。尚、図４に示す検査方法は、ＡＴＭセル導通検査前に予めセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３のモニタ機能の良否を検査する方法である。
【００５４】
まず、セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとＡＴＭ試験器１にて受信したセルとを比較し（図４ステップＳ４１）、ＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとＡＴＭ試験器１にて受信したセルとが一致しない場合、ＡＴＭセル導通が異常と判定し（図４ステップＳ４２）、異常終了とし、上記の図３に示すＡＴＭセル導通検査方法を実施する。
【００５５】
セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとＡＴＭ試験器１にて受信したセルとが一致した場合、ＡＴＭセル導通が正常と判定し、セルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３の正常性の検査を実施する。
【００５６】
この場合、まず、セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとセルモニタ部（Ａ）２１−１にて受信したセルとを比較し（図４ステップＳ４３）、比較の結果、それらが一致しなければ、セルモニタ部（Ａ）２１−１が異常であると判定する（図４ステップＳ４４）。
【００５７】
次に、セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとセルモニタ部（Ｂ）２１−２にて受信したセルとを比較し（図４ステップＳ４５）、比較の結果、それらが一致しなければ、セルモニタ部（Ｂ）２１−２が異常であると判定する（図４ステップＳ４６）。
【００５８】
同様に、セル比較器３はＡＴＭ試験器１から送信した試験用ＡＴＭセルとセルモニタ部（Ｃ）２１−３にて受信したセルとを比較し（図４ステップＳ４７）、比較の結果、それらが一致しなければ、セルモニタ部（Ｃ）２１−３が異常であると判定する（図４ステップＳ４８）。これによって、本実施例では、各装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３のセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３の良否を判定することが可能となる。
【００５９】
このように、本実施例では、ＡＴＭ試験器１を複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に接続し、それらを同時に検査することができるので、複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に対して同時にセルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３の検査を行うことができる。
【００６０】
また、本実施例では、試験用ＡＴＭセルを複数の被試験装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３に対して同時に送信することで、セルモニタ部（Ａ〜Ｃ）２１−１〜２１−３の検査時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の一実施例によるセル導通検査システムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例によるセル導通検査システムの動作を示す図である。
【図３】本発明の一実施例によるＡＴＭセル導通検査の良否判定方法を示すフローチャートである。
【図４】本発明の他の実施例によるＡＴＭセル導通検査システムの検査方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６２】
１  ＡＴＭ試験器
２−１  装置（Ａ）
２−２  装置（Ｂ）
２−３  装置（Ｃ）
３  セル比較器
２１−１  セルモニタ部（Ａ）
２１−２  セルモニタ部（Ｂ）
２１−３  セルモニタ部（Ｃ）
３１−１〜３１−５  セル終端部
３２  セル比較検査部
３３  異常セル抽出部
１００〜１０３  伝送路ケーブル
【図１】
2005223467.tif 000003
【図２】
2005223467.tif 000004
【図３】
2005223467.tif 000005
【図４】
2005223467.tif 000006