(57)【要約】【課題】  本願発明は、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムであっても、適用することのできる光線路試験システムを提供することを目的とする。【解決手段】  上述の目的を達成するために、本願発明の光線路試験システムでは、主に通信設備ビル内に敷設される第一の光ファイバと主に通信設備ビル外に敷設される第二の光ファイバとを光カプラを介して光学的に結合し、第一の光ファイバからの通信光等を光カプラから分岐して、光スイッチを介して光試験器に接続する。さらに、第一の光ファイバに接続される高出力の光送信装置からの信号光を適切に検出するために、光カプラと光スイッチの間に光を減衰させる光減衰器を備える。【選択図】図２
2005345270.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光送信装置からの通信光が伝搬する第一の光ファイバと、
光受信装置へ通信光が伝搬する第二の光ファイバと、
前記第一の光ファイバと前記第二の光ファイバを光学的に接続し、かつ前記第一の光ファイバからの通信光を分岐するとともに前記第二の光ファイバに試験光を挿入する光カプラと、
前記光送信装置若しくは前記光受信装置又は第一の光ファイバ若しくは第二の光ファイバを試験する光試験器と、
複数の前記光カプラと複数の前記光試験器とをそれぞれ選択して接続する光スイッチと、を備える光線路試験システムであって、
前記光カプラと前記光スイッチとの間に光を減衰させる光減衰器を備えることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項２】
前記光減衰器が減衰ファイバであることを特徴とする請求項１に記載の光線路試験システム。
【請求項３】
光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバであって、前記光ファイバの一端から入射した光の伝搬によって長さ当たりに消失する光パワーが略等しくなるような光の減衰率であることを特徴とする減衰ファイバ。
【請求項４】
光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバであって、前記光ファイバの一端から他端に向けて光の減衰率が増大していることを特徴とする減衰ファイバ。
【請求項５】
複数の減衰部からなる減衰素子であって、前記一端の減衰部から入射した光の通過によって前記減衰部の１個当たりに消失する光パワーが略等しくなるような光の減衰率であることを特徴とする減衰素子。
【請求項６】
複数の減衰部からなる減衰素子であって、一端の減衰部から他端の減衰部に向けて光の減衰率が増大していることを特徴とする減衰素子。
【請求項７】
前記光減衰器が請求項３又は４に記載の減衰ファイバであることを特徴とする請求項１に記載の光線路試験システム。
【請求項８】
前記光減衰器が請求項５又は６に記載の減衰素子であることを特徴とする請求項１に記載の光線路試験システム
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願発明は、光伝送装置に接続された光線路を試験するための光線路試験システムに関する。また、光線路試験システムに使用する減衰ファイバ及び減衰素子に関する。特に、高出力な光伝送装置に接続された光線路を試験するための光線路試験システムとその光線路試験システムに適用する減衰ファイバ及び減衰素子に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバを用いた通信用光線路を試験するため、光カプラを介して光線路に光試験器が接続された光線路試験システムが用いられている。従来の光線路試験システムでは光カプラと光試験器との間は、光カプラと複数の前記光試験器とをそれぞれ選択して接続する光スイッチ、及び光カプラと光スイッチとの間を接続する試験光ファイバとを介していた。
【０００３】
図１に従来の光線路試験システムの構成を示す（例えば、特許文献１参照。）。図１において、８１は主に通信設備ビル内に敷設される第一の光ファイバ、８２は主に通信設備ビル外に敷設される第二の光ファイバ、８３は第一の光ファイバ８１に接続される光送信装置、８４は第二の光ファイバ８２に接続される光受信装置、８５は第一の光ファイバ８１と第二の光ファイバ８２とを光学的に接続する光カプラ、８６は光カプラ８５に挿入する試験光を伝搬したり光カプラ８５から分岐された通信光を伝搬したりする試験光ファイバ、８７は後述する光試験器と試験光ファイバ８６とを選択して接続する光スイッチ、８９は第一の光ファイバを試験したり、第二の光ファイバを試験したりする光試験器、９１は複数の第一の光ファイバ８１を収容する第一の光ケーブル、９２は複数の第二の光ファイバ８２を収容する第二の光ケーブルである。
【０００４】
図１に示す従来の光線路試験システムにおいて、第二の光ファイバ８２を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が光試験器８９の中から光パルス試験器を起動し、光スイッチ８７を制御して上記光パルス試験器と試験をする第二の光ファイバ８２に接続されている試験光ファイバ８６とを選択して接続する。光パルス試験器からの光パルスが光スイッチ８７、試験光ファイバ８６、光カプラ８５を経由して試験の対象とする第二の光ファイバ８２に入射する。試験された第二の光ファイバ８２からの後方散乱光は、光パルスとは逆方向に戻り、光パルスを出射した光パルス試験器に入射する。このように動作することによって、任意の第二の光ファイバ８２を選択して光試験を実施することができる。
【０００５】
第一の光ファイバ８２を含めた通信設備ビル内の設備を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が光試験器８９の中から光パワー試験器を起動し、光スイッチ８７を制御して上記光パワー試験器と試験をする第一の光ファイバ８１に接続されている試験光ファイバ８６とを選択して接続する。光送信装置８３からの光、例えば通信光等を第一の光ファイバ８１、光カプラ８５、試験光ファイバ８６、光スイッチ８７を経由して受光する。光パワー試験器は受光した光パワーレベルが適正かどうかで第一の光ファイバを含めた通信設備ビル内における光パワーの低下等の異常を検知することができる。
【０００６】
一方、近年、遠隔励起方式を用いた光伝送システムでは、通信光や励起光の光出力レベルが１Ｗを超えるようになってきた（例えば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特開平２−００１６３２号公報
【特許文献２】特開平３−０５４５３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、高出力の光送信装置からの通信光や励起光が第一の光ファイバ８１を伝搬し、これを光カプラ８５から分岐すると、試験光ファイバ８６と光スイッチ８７との接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱して故障したり、光スイッチ８７のスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されて気泡やオイルの変質を生じたり、光試験器が過大入力で故障したりするおそれがあった。
【０００８】
そこで、本願発明は、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムであっても、適用することのできる光線路試験システムを提供することを目的とする。併せて、このような光線路試験システムに使用することのできる減衰ファイバや減衰素子を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の目的を達成するために、本願発明の光線路試験システムでは、主に通信設備ビル内に敷設される第一の光ファイバと主に通信設備ビル外に敷設される第二の光ファイバとを光カプラを介して光学的に結合し、第一の光ファイバからの通信光等を光カプラから分岐して、光スイッチを介して光試験器に接続する。さらに、第一の光ファイバに接続される高出力の光送信装置からの通信光等を適切に検出するために、光カプラの通信光等を分岐して出力する端子と光スイッチの間に光を減衰させる光減衰器を備える。
【００１０】
この光線路試験システムによって、高出力の光送信装置であっても、高出力の通信光等の光によって光線路試験システムがダメージを受けることを防止することができる。
【００１１】
具体的には、本願第一の発明は、光送信装置からの通信光が伝搬する第一の光ファイバと、光受信装置へ通信光が伝搬する第二の光ファイバと、前記第一の光ファイバと前記第二の光ファイバを光学的に接続し、かつ前記第一の光ファイバからの通信光を分岐するとともに前記第二の光ファイバに試験光を挿入する光カプラと、前記光送信装置若しくは前記光受信装置又は第一の光ファイバ若しくは第二の光ファイバを試験する光試験器と、複数の前記光カプラと複数の前記光試験器とをそれぞれ選択して接続する光スイッチと、を備える光線路試験システムであって、前記光カプラと前記光スイッチとの間に光を減衰させる光減衰器を備えることを特徴とする光線路試験システムである。
【００１２】
光カプラと光スイッチとの間に光減衰器を備えることによって、試験光ファイバと光スイッチとの接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱したり、光スイッチのスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されたり、光試験器に過大入力の負荷がかかったりすることを防止することができる。
【００１３】
本願第一の発明では、前記光減衰器が減衰ファイバであってもよい。
【００１４】
減衰ファイバを適用することによって、減衰器での発熱を分散することができる。
【００１５】
本願第二の発明は、光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバであって、前記光ファイバの一端から入射した光の伝搬によって長さ当たりに消失する光パワーが略等しくなるような光の減衰率であることを特徴とする減衰ファイバである。
【００１６】
減衰ファイバの一端から入射した光が、減衰ファイバを伝搬する際に、長さ当たりに発生する熱エネルギーが均等になるため、熱による減衰ファイバの損傷を防止することができる。
【００１７】
本願第三の発明は、光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバであって、前記光ファイバの一端から他端に向けて光の減衰率が増大していることを特徴とする減衰ファイバである。
【００１８】
減衰率の増大は、減衰ファイバの一端から入射した光が、減衰ファイバを伝搬する際に、長さ当たりに消失する光パワーがほぼ等しくなるように働くため、長さ当たりに発生する熱エネルギーが分散される。
【００１９】
本願第四の発明は、複数の減衰部からなる減衰素子であって、前記一端の減衰部から入射した光の通過によって前記減衰部の１個当たりに消失する光パワーが略等しくなるような光の減衰率であることを特徴とする減衰素子である。
【００２０】
一端の減衰部から入射した光が、減衰素子を通過する際に、１個当たりに発生する熱エネルギーが均等になるため、熱による減衰素子の損傷を防止することができる。
【００２１】
本願第五の発明は、複数の減衰部からなる減衰素子であって、一端の減衰部から他端の減衰部に向けて光の減衰率が増大していることを特徴とする減衰素子である。
【００２２】
減衰率の増大は、減衰ファイバの一端から入射した光が、減衰ファイバを伝搬する際に、長さ当たりに消失する光パワーがほぼ等しくなるように働くため、長さ当たりに発生する熱エネルギーが分散される。
【００２３】
本願第一の発明では、前記光減衰器が本願第二発明又は第三発明の減衰ファイバであってもよい。
【００２４】
光線路試験システムにおいて、試験光ファイバと光スイッチとの接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱したり、光スイッチのスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されたり、光試験器に過大入力の負荷がかかったりすることを防止することができる。また、高出力の光送信装置からの通信光の伝搬によって発生する熱を分散することができ、光線路試験システムの故障を防止することができる。
【００２５】
本願第一の発明では、前記光減衰器が本願第四発明又は第五発明の減衰素子であってもよい。
【００２６】
光線路試験システムにおいて、試験光ファイバと光スイッチとの接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱したり、光スイッチのスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されたり、光試験器に過大入力の負荷がかかったりすることを防止することができる。また、高出力の光送信装置からの通信光の伝搬によって発生する熱を分散することができ、光線路試験システムの故障を防止することができる。
【００２７】
本願において、光パルス試験器とは、光ファイバの一端から光パルスを入射し、光ファイバ内のレイリー散乱によって生じた散乱光のうち、光パルス試験器の方向に伝搬する後方散乱光を検出して光ファイバの故障箇所を特定することのできる試験器をいう。
【００２８】
本願において、光パワー試験器とは、試験光ファイバからの光の受光レベルを検出して、適正範囲にあるか否かをチェックすることのできる試験器をいう。試験光ファイバからの光には、光送信装置の出力する通信光や励起光がある。
【００２９】
本願において、「接続」とは、必ずしも物理的な接触によってなされる結合に限らない。光学的要素を介して光学的に結合される場合も「接続」という。
【発明の効果】
【００３０】
本願発明によって、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムであっても、過大な光レベルの光によってダメージを受けにくい光線路試験システムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本願発明の実施の形態について、添付の図面を参照して説明するが、本願発明はこれらの記載に限定して解釈されない。
【００３２】
図２に、本実施形態の光線路試験システムを示す。本実施形態の光線路試験システムは、光カプラと光スイッチとの間に光減衰器を備える。図２において、１０は光を減衰させる光減衰器、１１は主に通信設備ビル内に敷設される第一の光ファイバ、１２は主に通信設備ビル外に敷設される第二の光ファイバ、１３は第一の光ファイバ１１に接続される光送信装置、１４は第二の光ファイバ１２に接続される光受信装置、１５は第一の光ファイバ１１と第二の光ファイバ１２とを光学的に接続する光カプラ、１６は光カプラ１５に挿入する試験光を伝搬したり光カプラ１５から分岐された通信光を伝搬したりする試験光ファイバ、１７は後述する光試験器と試験光ファイバ１６とを選択して接続する光スイッチ、１９は第一の光ファイバを試験したり、第二の光ファイバを試験したりする光試験器、２１は複数の第一の光ファイバ１１を収容する第一の光ケーブル、２２は複数の第二の光ファイバ１２を収容する第二の光ケーブルである。
【００３３】
図２に示す光線路試験システムにおいて、第二の光ファイバ１２を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が光試験器１９の中から光パルス試験器を起動し、光スイッチ１７を制御して上記光パルス試験器と試験をする第二の光ファイバ１２に接続されている試験光ファイバ１６とを選択して接続する。光パルス試験器からの光パルスが光スイッチ１７、試験光ファイバ１６、光カプラ１５を経由して試験の対象とする第二の光ファイバ１２に入射する。試験された第二の光ファイバ１２からの後方散乱光は、光パルスとは逆方向に戻り、光パルスを出射した光パルス試験器に入射する。このように動作することによって、任意の第二の光ファイバ１２を選択して光試験を実施することができる。
【００３４】
第一の光ファイバ１２を含めた通信設備ビル内の設備を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が光試験器１９の中から光パワー試験器を起動し、光スイッチ１７を制御して上記光パワー試験器と試験をする第一の光ファイバ１１に接続されている試験光ファイバ１６とを選択して接続する。光送信装置１３からの光、例えば通信光等を第一の光ファイバ１１、光カプラ１５、試験光ファイバ１６、光減衰器１０、光スイッチ１７を経由して受光する。
【００３５】
ここで、試験光ファイバ１６の途中に光減衰器が挿入されているため、光スイッチ１７と試験光ファイバ１６との接続に利用される光コネクタや、光スイッチ１７のスイッチ素子を過大な光レベルの通信光等が通過したり、光試験器１９に過大な光レベルの通信光等が入力したりすることはなくなる。
【００３６】
従って、本実施形態の光線路試験システムにおいて、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムに適用しても、試験光ファイバ８６と光スイッチ８７との接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱して故障したり、光スイッチ８７のスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されて気泡やオイルの変質を生じたり、光試験器が過大入力で故障したりすることを防止することができる。このような光線路試験システムでは、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムであっても、光パワー試験器が受光した光パワーレベルが適正かどうかで第一の光ファイバを含めた通信設備ビル内における光パワーの低下等の異常を検知することができる。
【００３７】
図２において、光減衰器１０として減衰ファイバを適用することができる。減衰ファイバは、コバルト等の金属を光ファイバにドープしたりすることによって製造できる。減衰量はドープする金属の量で調整することができる。金属をドープした光ファイバに限らず、光を吸収したり散乱させたりすることによって、光を減衰させる光ファイバとすることもできる。
【００３８】
例えば、減衰量が３０ｄＢ／ｍの減衰ファイバを１ｍ使用すると、減衰ファイバの一端から入射した光が他端から出射するときには、３０ｄＢ減衰することになる。図２では、光カプラ１５から試験光ファイバ１６への出力が１Ｗであっても、光スイッチ１７に入射するときは、１ｍＷとなる。
【００３９】
このような、減衰ファイバを適用することによって、過大な光レベルの光が減衰ファイバを通過する際に、光パワーの消失による発熱を分散することができる。発熱の分散により、温度上昇を分散させ光ファイバの熱による損傷を防止することができる。
【００４０】
光減衰器は、集中型の減衰素子であってもよい。集中型の減衰素子としては、突き合わせたフェルール端面の間隔をあけて通過光を減衰させたり、光ファイバの融着の軸づれによって減衰させたり、光ファイバやレンズの端面に蒸着した金属膜で減衰させたりして実現することができる。
【００４１】
減衰ファイバの設計例を説明する。光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバを例として説明する。減衰ファイバ内を光が伝搬する際に、長さ当たりに消失する光パワーが略等しくなるような減衰率であれば、長さ当たりの発熱量が均等になる。図３に減衰ファイバ長に対する光レベルを示す。縦軸は減衰ファイバ内を伝搬する光の光レベルをリニアに表し、横軸は減衰ファイバの長さをリニアに表したものである。減衰ファイバに入射したとき（長さＬ１）の光レベルをＰ１、出射するとき（長さＬ３）の光レベルをＰ３とすると、途中の場所（例えばＬ２）での光レベル（例えばＰ２）が長さに対して１次関数で表されるように減衰すると、長さ当たりの発熱量が均等になる。このような減衰ファイバは、減衰ファイバの一端から他端に向けて減衰率が増大するように設計されている。
【００４２】
上記では、光ファイバ内の光の伝搬方向に分布した減衰要素を有する減衰ファイバを例として説明したが、複数の減衰部からなる減衰素子であっても同様である。複数の減衰部を縦続接続し、減衰部１個当たりに消失する光パワーが略等しくなるように、各減衰部の減衰率を設定すると、各減衰部での発熱量が均等になる。このような減衰素子は、一端の減衰部から他端の減衰部に向けて光の減衰量が増大するように設計されている。
【００４３】
次に、減衰率の異なる複数の区間からなる減衰ファイバを例として説明する。減衰ファイバ内を光が伝搬する際に、各区間内では一定の減衰率であって、各区間で消失する光パワーが略等しくなるような減衰率であれば、各区間での発熱量が均等になる。図４に２区間に分割された減衰ファイバ長に対する光レベルを示す。縦軸は減衰ファイバ内を伝搬する光の光レベルをリニアに表し、横軸は減衰ファイバの長さをリニアに表したものである。減衰ファイバに入射したとき（長さＬ１）の光レベルをＰ１、出射するとき（長さＬ３）の光レベルをＰ３とする。減衰ファイバの各区間（Ｌ１からＬ２までの区間とＬ２からＬ３までの区間）での減衰率をそれぞれα１、α２とすると、
Ｐ２＝α１Ｐ１    （１）
Ｐ３＝α２Ｐ２＝α２α１Ｐ１    （２）
が得られる。但し、０＜α１、α２＜１である。
【００４４】
各区間で消失する光パワーが等しくなるためには、（１）式、（２）式より、
Ｐ１−Ｐ２＝Ｐ２−Ｐ３    （３）
である。（３）式より、
Ｐ１−２Ｐ２＋Ｐ３＝０    （４）
（１）式、（２）式、（４）式より、
Ｐ１（１−２α１＋α２α１）＝０  （５）
となる。（５）式において、Ｐ１≠０のため、
１−２α１＋α２α１＝０    （６）
となる。（６）式より、
α２＝２−１／α１    （７）
となる。（７）式を満たすような減衰率であれば、減衰ファイバの各区間で消失する光パワーが等しくなる。
【００４５】
上記の例では、各区間内では一定の減衰率であって、各区間で消失する光パワーが略等しくなるような減衰率の減衰ファイバについて説明したが、複数の減衰部からなる減衰素子でも同様である。即ち、２つの減衰部からなる減衰素子であって、各減衰部で消失する光パワーが略等しくなるような減衰率の減衰素子にも上記の設計例を適用できる。
【００４６】
同様に、３区間からなる減衰ファイバについて説明する。減衰ファイバに入射したとき（長さＬ１）の光レベルをＰ１、出射するとき（長さＬ４）の光レベルをＰ４とする。減衰ファイバの各区間（Ｌ１からＬ２までの区間、Ｌ２からＬ３までの区間、Ｌ３からＬ４までの区間）での減衰率をそれぞれα１、α２、α３とすると、
Ｐ２＝α１Ｐ１    （８）
Ｐ３＝α２Ｐ２＝α２α１Ｐ１    （９）
Ｐ４＝α３Ｐ３＝α３α２α１Ｐ１    （１０）
が得られる。但し、０＜α１、α２、α３＜１である。
【００４７】
各区間で消失する光パワーが等しくなるためには、（８）式、（９）式、（１０）式より、
Ｐ１−Ｐ２＝Ｐ２−Ｐ３＝Ｐ３−Ｐ４    （１１）
である。（１１）式より、
Ｐ１−２Ｐ２＋Ｐ３＝０    （１２）
Ｐ１−Ｐ２−Ｐ３＋Ｐ４＝０    （１３）
が得られる。
【００４８】
（８）式、（９）式、（１０）式、（１２）式、（１３）式より、
Ｐ１（１−２α１＋α２α１）＝０    （１４）
Ｐ１（１−α１−α２α１＋α３α２α１）＝０  （１５）
となる。（１４）式、（１５）式において、Ｐ１≠０のため、
１−２α１＋α２α１＝０    （１６）
１−α１−α２α１＋α３α２α１＝０    （１７）
となる。
【００４９】
（１６）式、（１７）より、
α２＝２−１／α１    （１８）
α３＝１＋（α１−１）／（２α１−１）  （１９）
となる。（１８）式、（１９）式を満たすような減衰率であれば、減衰ファイバの各区間で消失する光パワーが等しくなる。
【００５０】
上記の例では、各区間内では一定の減衰率であって、各区間で消失する光パワーが略等しくなるような減衰率の減衰ファイバについて説明したが、複数の減衰部からなる減衰素子でも同様である。即ち、３つの減衰部からなる減衰素子であって、各減衰部で消失する光パワーが略等しくなるような減衰率の減衰素子にも上記の設計例を適用できる。
【００５１】
前述した減衰ファイバや減衰素子を本実施形態で説明した光線路試験システムの光減衰器にも適用することができる。このような減衰ファイバや減衰素子を利用することによって、光減衰器で発生する熱を分散することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明の光線路試験システムは、１芯の光ファイバで１波長の伝送をする光伝送システムのみならず、１芯の光ファイバで複数波長の伝送をする光伝送システムや、１芯の光ファイバで双方向伝送をする光伝送システムにも適用することができる。
【００５３】
また、本発明の減衰ファイバや減衰素子は、本発明の光線路試験システムのみならず、消失する光パワーを一定とするような光減衰を用途とする光試験システムや光伝送システムに適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】従来の光線路試験システムを説明する図である。
【図２】本実施形態の光線路試験システムを説明する図である。
【図３】本実施形態の減衰ファイバの減衰を説明する図である。
【図４】本実施形態の減衰ファイバの減衰を説明する図である。
【符号の説明】
【００５５】
１０：光減衰器
１１：第一の光ファイバ
１２：第二の光ファイバ
１３：光送信装置
１４：光受信装置
１５：光カプラ
１６：試験光ファイバ
１７：光スイッチ
１９：光試験器
２１：第一の光ケーブル
２２：第二の光ケーブル
８１：第一の光ファイバ
８２：第二の光ファイバ
８３：光送信装置
８４：光受信装置
８５：光カプラ
８６：試験光ファイバ
８７：光スイッチ
８９：光試験器
９１：第一の光ケーブル
９２：第二の光ケーブル
【図１】
2005345270.tif 000003
【図２】
2005345270.tif 000004
【図３】
2005345270.tif 000005
【図４】
2005345270.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成17年1月20日(2005.1.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
図２に、本実施形態の光線路試験システムを示す。本実施形態の光線路試験システムは、光カプラと光スイッチとの間に光減衰器を備える。図２において、１０は光を減衰させる光減衰器、１１は主に通信設備ビル内に敷設される第一の光ファイバ、１２は主に通信設備ビル外に敷設される第二の光ファイバ、１３は第一の光ファイバ１１に接続される光送信装置、１４は第二の光ファイバ１２に接続される光受信装置、１５は第一の光ファイバ１１と第二の光ファイバ１２とを光学的に接続する光カプラ、１６は光カプラ１５に挿入する試験光を伝搬したり光カプラ１５から分岐された通信光を伝搬したりする試験光ファイバ、１７は後述する光試験器と試験光ファイバ１６とを選択して接続する光スイッチ、１９−１は第一の光ファイバ又は第二の光ファイバを試験する光パルス試験器、１９−２は光送信装置側１３又は光受信装置１４側からの光パワーを試験する光パワー試験器、２１は複数の第一の光ファイバ１１を収容する第一の光ケーブル、２２は複数の第二の光ファイバ１２を収容する第二の光ケーブルである。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
図２に示す光線路試験システムにおいて、第二の光ファイバ１２を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が複数種類の光試験器の中から光パルス試験器１９−１を起動し、光スイッチ１７を制御して上記光パルス試験器と試験をする第二の光ファイバ１２に接続されている試験光ファイバ１６とを選択して接続する。光パルス試験器からの光パルスが光スイッチ１７、試験光ファイバ１６、光カプラ１５を経由して試験の対象とする第二の光ファイバ１２に入射する。試験された第二の光ファイバ１２からの後方散乱光は、光パルスとは逆方向に戻り、光パルスを出射した光パルス試験器に入射する。このように動作することによって、任意の第二の光ファイバ１２を選択して光試験を実施することができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
第一の光ファイバ１１を含めた通信設備ビル内の設備を試験するには、光線路試験制御部（不図示）が複数種類の光試験器の中から光パワー試験器１９−２を起動し、光スイッチ１７を制御して上記光パワー試験器と試験をする第一の光ファイバ１１に接続されている試験光ファイバ１６とを選択して接続する。光送信装置１３からの光、例えば通信光等を第一の光ファイバ１１、光カプラ１５、試験光ファイバ１６、光減衰器１０、光スイッチ１７を経由して受光する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
ここで、試験光ファイバ１６の途中に光減衰器が挿入されているため、光スイッチ１７と試験光ファイバ１６との接続に利用される光コネクタや、光スイッチ１７のスイッチ素子を過大な光レベルの通信光等が通過したり、光パワー試験器１９−２に過大な光レベルの通信光等が入力したりすることはなくなる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
従って、本実施形態の光線路試験システムにおいて、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムに適用しても、試験光ファイバ１６と光スイッチ１７との接続に用いられる光コネクタなどの接続点で発熱して故障したり、光スイッチ１７のスイッチ素子に使用される屈折率整合剤が加熱されて気泡やオイルの変質を生じたり、光試験器が過大入力で故障したりすることを防止することができる。このような光線路試験システムでは、高出力の光送信装置を用いる光伝送システムであっても、光パワー試験器が受光した光パワーレベルが適正かどうかで第一の光ファイバを含めた通信設備ビル内における光パワーの低下等の異常を検知することができる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
１０：光減衰器
１１：第一の光ファイバ
１２：第二の光ファイバ
１３：光送信装置
１４：光受信装置
１５：光カプラ
１６：試験光ファイバ
１７：光スイッチ
１９−１：光パルス試験器
１９−２：光パワー試験器
２１：第一の光ケーブル
２２：第二の光ケーブル
８１：第一の光ファイバ
８２：第二の光ファイバ
８３：光送信装置
８４：光受信装置
８５：光カプラ
８６：試験光ファイバ
８７：光スイッチ
８９：光試験器
９１：第一の光ケーブル
９２：第二の光ケーブル
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
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