(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を測定した測定データを複数個格納できるリングメモリ型のアクイジションメモリと、このアクイジションメモリの測定データの波形解析を行なって波形の表示、解析結果の表示を行なう表示処理部とを有する波形解析装置において、
前記アクイジションメモリのなかから解析対象の測定データを指定する設定手段と、
この設定手段で指定され前記アクイジションメモリに格納されている測定データが、新たに測定された測定データによって上書きされたことを検出する検出手段と、
この検出手段によって上書きが検出される前は前記設定手段で指定された測定データを前記アクイジションメモリから前記表示処理部に出力し、上書きが検出された後は最新の測定データを前記アクイジションメモリから前記表示処理部に出力するメモリ管理手段とを設け、
前記表示処理部は、表示画面の表示波形領域に測定データの波形を表示し、表示状態を示す領域に測定中、測定停止中、表示ホールド中の表示状態を表示することを特徴とする波形解析装置。
【請求項２】
前記表示処理部は、表示用に生成した表示データを保持する表示メモリを有し、新たな測定データが前記アクイジションメモリから入力されるまで前記表示メモリが保持する表示データを表示することを特徴とする請求項１記載の波形解析装置。
【請求項３】
前記メモリ管理手段に対し前記設定手段で指定された測定データを出力するか否かを示すフラグを有する更新手段を設けたことを特徴とする請求項１または２記載の波形解析装置。
【請求項４】
前記メモリ管理手段は、前記検出手段によって上書きが検出された場合、前記更新手段のフラグを強制的に変更することを特徴とする請求項３記載の波形解析装置。
【請求項５】
前記波形解析装置の電源がオフされても記録した測定データを消去しない記録部と、
この記録部に記録するための測定データを一時保存する記録波形メモリと
を設け、
前記メモリ管理手段は、測定中の場合は前記設定手段の指定にかかわらず、最新の測定データを前記アクイジションメモリから前記記録波形メモリに出力することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の波形解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号を測定した測定データを複数個格納できるリングメモリ型のアクイジションメモリと、このアクイジションメモリの測定データの波形解析を行なって波形の表示、解析結果の表示を行なう表示処理部とを有する波形解析装置に関し、詳しくは、長時間記録を行いつつも波形解析の操作性の向上を図った波形解析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
波形解析装置は、例えば、デジタルオシロスコープ、データレコーダ等であり、近年は、複数回分の測定データを記録するものも多い（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００３】
図６は、従来の波形解析装置の構成を示した図である。
図６において、測定部１１は、入力信号（被測定波形）が入力され、測定データを出力する。例えば、ＡＤ変換回路、入力信号を増幅・減衰させレンジ等の調整を行なう入力回路、サンプルレートを調整するアクイジション回路等から構成される。
【０００４】
測定制御手段１２は、測定部１１の各回路の測定パラメータを設定し、測定の開始、停止等を制御する。
【０００５】
アクイジションメモリ１３は、測定部１１で捕捉された測定データを時系列で複数個保持し、ヒストリメモリとも呼ばれる。近年、長時間の測定に対する要求から、通常、２５６［Ｍｂｙｔｅ］、５１２［Ｍｂｙｔｅ］、１［Ｇｂｙｔｅ］等の領域を持つ。
【０００６】
表示処理部１４は、表示波形メモリ１４ａを有し、アクイジションメモリ１３から測定データが入力され、一般的に、表示画面の画素数に合わせて測定データのＰＰ(peak-to-peak)圧縮を行ない、表示画面に表示させる表示イメージとして最適化された表示データを生成する。
【０００７】
表示波形メモリ１４ａは、表示処理部１４で生成された表示用の表示データを保持し、通常、数［ｋｂｙｔｅ］〜数十［ｋｂｙｔｅ］領域を持つ。
【０００８】
表示部１５は、ＣＲＴやＬＣＤ等であり、表示波形メモリ１４ａの表示データを描画、表示する。
【０００９】
記録波形メモリ１６は、アクイジションメモリ１３から測定データが入力され、記録部１７の記録媒体に記録するための測定データを一時的に保持するメモリで、一般的に、記録対象となった測定データがそのままの形（ＰＰ圧縮等がされていない形）で格納され、数［Ｍｂｙｔｅ］〜十数［ＭＢｙｔｅ］の領域をもつバッファである。
【００１０】
記録部１７は、例えば、ハードディスクやフラッシュメモリ等であり、波形解析装置の電源がオフされても、記録した測定データが消去されず、アクイジションメモリ１３よりも大きな領域を持つものが多い。なお、メモリ１３、１４ａ、１６は、波形解析装置の電源がオフされると記録していた測定データも消去される。また、メモリ１３、１４ａ、１６への測定データの読み書きの速度は、記録部１７よりも高速である。
【００１１】
メモリ管理手段１８は、アクイジションメモリ１３への測定データの読み書き、消去を行ない、測定制御手段１２で制御される測定状態に応じて、アクイジションメモリ１３から読み出す測定データを決定し、アクイジションメモリ１３から表示処理部１４、アクイジションメモリ１３から記録波形メモリ１６に測定データをコピーする。
【００１２】
ヒストリ設定手段１９は、測定部１１の測定停止時に、測定部１１で既に測定済みの測定データのなかからメモリ管理手段１８に読み出させる測定データをヒストリ番号で指定する。
【００１３】
ここで、ヒストリとは、測定部１１で既に測定され、アクイジションメモリ１３に格納されている測定データのことである。また、ヒストリ番号とは、測定データがアクイジションメモリ１３に格納される際に、一意に割り振られる番号のことである。
【００１４】
このような装置の動作を説明する。
図７は、波形解析装置の測定部１１が測定中におけるメモリ１３、１４ａ、１６への測定データの格納を模式的に示した図であり、図８は、測定部１１が測定を測定停止中にヒストリ検索を行なった場合におけるメモリ１３、１４ａ、１６への測定データの格納を模式的に示した図である。図７、図８においては、アクイジションメモリ１３の領域を８ブロックに分けている。
【００１５】
測定中の場合、１アクイジション分の測定データをメモリブロック１から順に格納していき、メモリ１３の最後尾（メモリブロック８）に到達するとリング状に先頭に戻り、メモリ１３の先頭（メモリブロック１）から上書きする。そして、各ブロックで測定データの格納が終了されるごとに、順次、表示波形メモリ１４ａ、記録波形メモリ１６にコピーされる。
【００１６】
一方、測定停止中の場合、各ブロック１〜８のなかからヒストリ設定手段１９で指定されたヒストリ番号に対応するブロックの測定データのみがメモリ１４ａ、１６にコピーされる。
【００１７】
続いて、波形解析装置の測定中および測定停止中における動作を図９、図１０のフローチャートを用いて説明する。
【００１８】
測定中の動作から説明する。あらかじめ測定制御手段１２が、測定部１１のサンプルレート、１アクイジションで格納するデジタルデータの測定点数、レンジ設定等の設定を行なう。
【００１９】
そして、測定制御手段１２が、トリガ信号を検出した場合、測定部１１に測定を開始させ測定開始の通知をメモリ管理手段１８に行ない、測定部１１が、入力信号を増幅、量子化して測定し（Ｓ１０）、アクイジションメモリ１３に書き込んでいく。１回目の測定データの取得であれば、メモリブロック１に書き込む（Ｓ１１）。
【００２０】
そして、測定制御手段１２が、所定の点数からなる測定データの書き込みが終了するまで、測定部１１に繰り返し測定を行なわせる（Ｓ１２、Ｓ１０〜Ｓ１１）。
【００２１】
一方、所定の点数分のデジタルデータからなる測定データの書き込みが終了すれば、１ブロック分の測定完了の通知（通常は、ファームウェアで構成されるメモリ管理手段１８に割り込み信号を出力する）をし、メモリ管理手段１８が、測定開始、測定終了の通知に基づいてアクイジションメモリ１３から最新の測定データ（１回目の測定であれば、ブロック１の測定データ）を読み出し、表示処理部１４にコピーする（Ｓ１２，Ｓ１３）。
【００２２】
そして、表示処理部１４が表示データを生成してメモリ１４ａに格納し、表示部１５の表示画面の更新レートにあわせて表示データによる入力信号の波形の表示を行なう。例えば、図１１に示すよう、縦軸を電圧レベル、横軸を測定点数として表示する。（Ｓ１４）。
【００２３】
さらに、メモリ管理手段１８が、表示処理部１４にコピーしたものと同じブロックの測定データを読み出し、記録波形メモリ１６にコピーし（Ｓ１５）、記録処理部（図示せず）が、メモリ１６の測定データを所定のフォーマットに変換して記録部１７に格納する（Ｓ１６）。なお、記録処理部による記録は、一般的に測定部１１の測定、アクイジションメモリ１３への書き込みと並列して行なわれるため、リアルタイム記録と呼ばれる。
【００２４】
測定を終了する場合、測定中処理のシーケンスを終了し（Ｓ１７）、終了しない場合、次のトリガ信号によって入力信号を測定して次のメモリブロックへの書き込み、１ブロック分の測定が完了するごとに最新の測定データの表示、記録を繰返す（Ｓ１７，Ｓ１０〜Ｓ１６）。
【００２５】
次に測定部１１が測定停止時の動作を説明する。
アクイジションメモリ１３の各ブロック１〜８には、測定データが格納されているものとして説明する。
【００２６】
ヒストリ設定手段１９によって、再表示、解析を行うヒストリの指定がヒストリ番号でされる。例えば、ヒストリ番号４が指定され、メモリ管理手段１８が、アクイジションメモリ１３から該当するブロックのヒストリ検索を行なう（Ｓ２０）。通常、メモリ管理は、測定が開始された時間（トリガ時刻とも呼ばれる）、メモリアドレスで管理され、ヒストリ番号を与えることで該当するブロックを検索する（Ｓ２１）。
【００２７】
そして、メモリ管理手段１８が、検索したブロック（図８では、ブロック４）の測定データを読み出し、表示処理部１４にコピーする（Ｓ２２）。
【００２８】
さらに、表示処理部１４が表示データを生成してメモリ１４ａに格納し、表示部１５の表示画面の更新レートにあわせて表示データによる入力信号の波形の表示を行なう（Ｓ２３）。また、表示処理部１４の解析手段（図示せず）が、所定の波形解析を行なって、表示処理部１４が表示データを生成し、メモリ１４ａに格納し、表示画面に表示する。例えば、図１２では、図１１に示した波形と共に、カーソルＣ１，Ｃ２における波形の計測値（カーソル値）、カーソルＣ１，Ｃ２の指定区間の波形演算値（平均値、最大値、最小値、ピーク値等）が解析結果の一例として表示されている（Ｓ２４）。
【００２９】
解析中に波形の測定データを保存する場合、メモリ管理手段１８が、解析中のブロックの測定データを読み出して、記録波形メモリ１６にコピーし（Ｓ２５、Ｓ２６）、記録処理部（図示せず）が、メモリ１６の測定データを所定のフォーマットに変換して記録部１７に格納する。なお、測定部１１が測定を行なっていない状態での記録部１７への記録は、バッチ記録と呼ばれる（Ｓ２７）。
【００３０】
そして、他にも解析するヒストリがあれば、再度、ヒストリ検索、検索したブロックの測定データの表示、解析等を行なう（Ｓ２８、Ｓ２０〜Ｓ２７）。解析をしない場合、本処理を終了する（Ｓ２８）。
【００３１】
なお、図１０のステップＳ２５で波形の保存を行なうか判断しているが、図９に示すフローと同様に波形を表示した後に続けて保存を行なうようにしてもよく、逆に、図９のフローで、波形の保存を行なうか判断するステップをいれてもよい。
【００３２】
【特許文献１】特開２００３−３３７１４２号公報
【特許文献２】特開２００６−２１４７９０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３３】
近年、アクイジションメモリ１３は、１［Ｇｂｙｔｅ］を超えるものも存在するが、測定部１１でのサンプリング周波数も向上し（例えば、数十〜数百［ＭＨｚ］）、さらに測定部１１での多チャネル化も進んでいる。そのため、リングメモリのアクイジションメモリ１３の測定データが、新たに測定した測定データによって数［ｓ］程度で上書きされる場合もある。
【００３４】
そのため、サンプリング周波数が十分に遅い場合（例えば、数［Ｈｚ］程度）を除き、測定部１１の測定中、リアルタイム記録中は、波形解析を行なわず、波形の表示、波形の記録のみを行なっている。これは、一般的に波形解析の負荷が重く、時間的に測定データの波形解析の処理が間に合わないためである。
【００３５】
なお、測定データとは、トリガ信号（または任意の測定開始の信号）を基準とし、この基準となるトリガ信号前後の所望時間分のデジタルデータ（つまり、設定された測定点数分のデジタルデータ）から構成されるものであり、メモリブロックの領域は測定データの大きさに基づいて分割される。従って、各ブロックには１回分の測定データが格納される。このように１回のトリガ信号等によって測定データをアクイジションメモリ１３に取得する動作を１アクイジションと呼ばれる。
【００３６】
しかしながら、このような波形解析装置では、測定中、リアルタイム記録中は、最新の測定データの表示は行なえても、過去のヒストリの解析を行なうことができなかった。そのため、解析を行なうために測定を一旦停止しなければならず、ユーザの要望が強い、長時間記録と波形解析とを両立することが難しく、操作性が悪いという問題があった。
【００３７】
また、測定中であっても強制的にヒストリの解析、解析結果表示を行なった場合、高速サンプリング中では、アクイジションメモリ１３の解析中の測定データが上書きされ、解析対象の測定データが存在せず、操作性が悪いという問題があった。
【００３８】
そこで本発明の目的は、長時間記録を行いつつも波形解析の操作性の向上を図った波形解析装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３９】
請求項１記載の発明は、
入力信号を測定した測定データを複数個格納できるリングメモリ型のアクイジションメモリと、このアクイジションメモリの測定データの波形解析を行なって波形の表示、解析結果の表示を行なう表示処理部とを有する波形解析装置において、
前記アクイジションメモリのなかから解析対象の測定データを指定する設定手段と、
この設定手段で指定され前記アクイジションメモリに格納されている測定データが、新たに測定された測定データによって上書きされたことを検出する検出手段と、
この検出手段によって上書きが検出される前は前記設定手段で指定された測定データを前記アクイジションメモリから前記表示処理部に出力し、上書きが検出された後は最新の測定データを前記アクイジションメモリから前記表示処理部に出力するメモリ管理手段とを設け、
前記表示処理部は、表示画面の表示波形領域に測定データの波形を表示し、表示状態を示す領域に測定中、測定停止中、表示ホールド中の表示状態を表示することを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
前記表示処理部は、表示用に生成した表示データを保持する表示メモリを有し、新たな測定データが前記アクイジションメモリから入力されるまで前記表示メモリが保持する表示データを表示することを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
前記メモリ管理手段に対し前記設定手段で指定された測定データを出力するか否かを示すフラグを有する更新手段を設けたことを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項３記載の発明において、
前記メモリ管理手段は、前記検出手段によって上書きが検出された場合、前記更新手段のフラグを強制的に変更することを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項１〜４のいずれかに記載の発明において、
前記波形解析装置の電源がオフされても記録した測定データを消去しない記録部と、
この記録部に記録するための測定データを一時保存する記録波形メモリと
を設け、
前記メモリ管理手段は、測定中の場合は前記設定手段の指定にかかわらず、最新の測定データを前記アクイジションメモリから前記記録波形メモリに出力することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００４０】
本発明によれば、以下のような効果がある。
メモリ管理手段が、測定データの測定中であっても、設定手段から指定されたアクイジションメモリ内の測定データを表示処理部に出力し、上書き検出手段で上書きが検出された後は最新の測定データをアクイジションメモリから表示処理部に出力するので、長時間記録を行いつつも、過去に発生した入力信号中の現象を容易に解析でき、波形解析の操作性を改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図６と同一のものには同一符号を付し説明を省略する。図１において、表示波形更新手段２０、上書き検出手段２１が新たに設けられる。また、メモリ管理手段１８の代わりにメモリ管理手段２２が設けられる。
【００４２】
表示波形更新手段２０は、表示処理部１４、メモリ管理手段２２と相互に接続され、表示処理部１４が表示する表示データが常に最新の測定データに更新されている状態「更新可」であるか、更新を停止して所定の測定データで表示を表示ホールドする状態「更新不可」であるかを示す。すなわち、表示波形更新手段２０は、測定部１１が測定中において、メモリ管理手段２２に対しヒストリ設定手段１９で指定された測定データを出力するか否かを示すフラグ的な役割を有する。
【００４３】
上書き検出手段２１は、ヒストリ設定手段１９で指定されアクイジションメモリ１３に格納されている測定データが、測定部１１によって新たに測定された測定データによって上書きされたかを検出する。
【００４４】
メモリ管理手段２２は、測定制御手段１２から測定開始、測定終了の通知が入力され、アクイジションメモリ１３に格納される測定データの管理（ヒストリ番号と各メモリブロック１〜８に格納される測定データの対応関係、最新の測定データが格納されるメモリブロックの番号の管理等）を行ない、所望の測定データをメモリ１３から表示処理部１４、メモリ１６にコピーする。
【００４５】
また、メモリ管理手段２２は、ヒストリ設定手段１９で指定された測定データを、検出手段２１によって上書きが検出される前はヒストリ設定手段１９で指定された測定データをメモリ１３から表示処理部１４、記録波形メモリ１６に出力し、検出された後は最新の測定データをアクイジションメモリ１３から前記表示処理部１４、記録波形メモリ１６に出力する。指定された測定データを出力するかは、表示波形更新手段２０の状態を参照する。
【００４６】
なお、図１中、実線の矢印は、入力信号、この入力信号を測定した測定データ、解析データ等の流れを示し、点線の矢印は、制御信号の流れを示する。また、図１中の太線のブロックは、ＣＰＵ，ＤＳＰ，ＦＰＧＡ等に実装させるファームウェアで構成するとよい。
【００４７】
このような装置の動作を説明する。図２は、図１に示す装置の動作（測定部１１が測定中）を示した図である。あらかじめ測定制御手段１２が、測定部１１のサンプルレート、１アクイジションで格納するデジタルデータの測定点数、レンジ設定等の設定を行なう。また、初期状態では、表示波形更新手段２０が「更新可」のフラグになっている。
【００４８】
そして、測定制御手段１２が、トリガ信号を検出した場合、測定部１１に測定を開始させ測定開始の通知をメモリ管理手段２２に行なう。そして、測定部１１が、入力信号を増幅、量子化して測定し（Ｓ３０）、アクイジションメモリ１３のメモリブロック１〜８に書き込んでいく。例えば、８回目の測定データの取得であれば、メモリブロック８に書き込む（Ｓ３１）。
【００４９】
そして、測定制御手段１２が、所定の点数からなる測定データの書き込みが終了するまで、測定部１１に繰り返し測定を行なわせる（Ｓ３２、Ｓ３０〜Ｓ３１）。
【００５０】
一方、所定の点数分のデジタルデータからなる測定データのメモリ１３への書き込みが終了すれば、１ブロック分の測定完了の通知（通常は、ファームウェアで構成されるメモリ管理手段２２に割り込み信号を出力する）をし、表示波形更新手段２０のフラグを確認（表示ホールドの指定が行われているか判断）するステップに進む（Ｓ３２、Ｓ３３）。
【００５１】
メモリ管理手段２２が、表示波形更新手段２０のフラグを確認し、「更新可」のフラグの場合、メモリ管理手段２２が、測定開始、測定終了の通知に基づいてアクイジションメモリ１３に格納される測定データのうち、メモリブロック１〜８への格納が終了した最新の測定データ（８回目の測定であれば、ブロック８の測定データ）を読み出し、表示処理部１４にコピーする（Ｓ３３，Ｓ３４）。
【００５２】
そして、表示処理部１４が表示データを生成してメモリ１４ａに格納し、表示部１５の表示画面の更新レートにあわせて表示データを読み出して入力信号の波形の表示を行なう。ここで、図３は、表示データの表示例を示している。表示画面には、測定データの波形を表示するための表示波形領域Ｗ１、表示状態（測定中、測定停止中、表示ホールド中）を示す領域Ｗ２，表示している測定データのヒストリ番号を示す領域Ｗ３，測定開始用のボタンＢ１，測定停止用のボタンＢ２，表示ホールド用のボタンＢ３，表示再開用のボタンＢ４、ヒストリ番号を変更するボタンＢ５が表示される。ウィンドウＷ１には、縦軸を電圧（振幅）、横軸を測定点数（時間軸）とし、最新の測定データが表示され、ウィンドウＷ２には、「測定中」が表示され、ウィンドウＷ３には、現在読み出しているヒストリ番号「８／８」（ヒストリデータ８個のうちの８番目）が表示される。さらに、測定中であり、表示波形も更新されているので、ボタンＢ１，Ｂ４はグレーアウトで操作不可となり、ヒストリ番号を変更もできないように操作ボタンＢ５もグレーアウトで操作不可となっている。（Ｓ３５）。
【００５３】
さらに、メモリ管理手段２２が、表示処理部１４にコピーしたものと同じブロックの測定データを読み出し、記録波形メモリ１６にコピーし（Ｓ３６）、記録処理部（図示せず）が、メモリ１６の測定データを所定のフォーマットに変換して記録部１７に格納する。なお、記録処理部による記録は、一般的に測定部１１の測定、アクイジションメモリ１３への書き込みと並列して行なわれるため、リアルタイム記録と呼ばれる（Ｓ３７）。
【００５４】
測定を終了する場合、測定中処理のシーケンスを終了し（Ｓ３８）、終了しない場合、次のトリガ信号によって入力信号を測定して次のメモリブロックへ書き込み、１ブロック分の測定が完了するごとに最新の測定データの表示、記録を繰返す（Ｓ３８，Ｓ３０〜Ｓ３７）。
【００５５】
一方、ユーザによってマウス、キーボード、操作パネル等の操作部（図示せず）が操作されボタンＢ３の「表示ホールド」が押された場合、表示波形更新手段２０が、表示ホールドの状態としてフラグを「更新不可」とし、フラグ変更をメモリ管理手段２２に通知する（Ｓ３３）。
【００５６】
これにより管理手段２２が、最新の測定データをメモリ１４ａにコピーすることを中断するが、メモリ１６への最新の測定データのコピーを継続し（Ｓ３３，Ｓ３６）、記録部１７への記録も行なわれる（Ｓ３７）。
【００５７】
そして、表示ホールドの状態では、メモリ管理手段２２から新たな測定データが表示処理部１４に入力されないので、表示処理部１４が、ボタンＢ３が押されたときにメモリ１４ａに保持していた表示データを繰り返し表示し、上書き検出手段２１が、現在表示中の測定データのメモリブロックが、測定部１１によって新たに取得された測定データによって上書きされていないかを検出する（Ｓ３３，Ｓ３９）。
【００５８】
そして、上書きされていない場合、表示ホールドが解除されていないか（つまり、ボタンＢ４が押されていないか）をメモリ管理手段２２が、更新手段２０のフラグを確認する（Ｓ３９、Ｓ４０）。
【００５９】
そして、操作部（図示せず）によって現在表示中のヒストリ番号と異なるヒストリ番号に変更された場合（例えば、ヒストリ番号「３」）、ヒストリ設定手段１９が、変更されたヒストリ番号をメモリ管理手段２２、上書き検出手段２１に出力し、メモリ管理手段１９が、指定されたヒストリ番号の測定データが存在するかヒストリ検索する（Ｓ４１，Ｓ４２）。
【００６０】
指定されたヒストリ番号の測定データの検索に成功した場合、上書き検出手段２１に読み出すメモリブロックの番号を通知すると共に、アクイジションメモリ１３から、検索した測定データを読み出して表示処理部１４にコピーする（Ｓ４３，Ｓ４４）。
【００６１】
さらに、表示処理部１４が、表示データを生成してメモリ１４ａに格納し、表示部１５の表示画面の更新レートにあわせて表示データによる入力信号の波形の表示を行なう（Ｓ４５）。
【００６２】
また、表示処理部１４の解析手段（図示せず）が、測定データに対して所定の波形解析を行なって、表示処理部１４が解析結果を表示する表示データを生成し、メモリ１４ａに格納し、測定データの表示データと共に表示画面に表示する。ここで、図４は、波形および解析結果の表示データの表示例を示している。図３と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図４において、図３に示す波形が表示されるウィンドウＷ１の隣にカーソルＣ１，Ｃ２における波形の計測値（カーソル値）、カーソルＣ１，Ｃ２の指定区間の波形演算値（平均値、最大値、最小値、ピーク値等）等が解析結果として表示されている。さらに、表示ホールド中なので、ボタンＢ４の代わりにボタンＢ３がグレーアウトされ操作できず、ウィンドウＷ２は「表示ホールド中」と表示され、ヒストリ番号は「３／８」となり、ボタンＢ５が操作可能となっている。（Ｓ２４）。
【００６３】
そして、検出手段２１で上書きが検出されず、ボタンＢ４が押されず表示ホールドされたままの場合（Ｓ３９、Ｓ４０）、異なるヒストリ番号が指定されれば、その番号の測定データで表示、解析が行なわれ（Ｓ４１〜Ｓ４６）、異なるヒストリ番号が指定されなければ、上書き検出に戻る（Ｓ４１、Ｓ３９）。
【００６４】
指定されたヒストリ番号に対応するメモリブロックに格納される測定データへの上書きを、上書き検出手段２１が検出した場合、メモリ管理手段２２に通知し、メモリ管理手段２２が更新手段２０のフラグを強制的に「更新可」にする（Ｓ３９，Ｓ４７）。
【００６５】
また、ボタンＢ４が押された場合、更新手段２０がそれを検出してフラグを「更新可」にし、フラグ変更を管理手段２２に通知する（Ｓ４０、Ｓ４７）。
【００６６】
また、管理手段２２が、ヒストリ検索に失敗した場合、メモリ管理手段２２が更新手段のフラグを強制的に「更新可」にする（Ｓ４３，Ｓ４７）。
【００６７】
そして、更新手段２１のフラグが「更新可」となり、表示ホールドが解除されると、最新の測定データを表示するループ（Ｓ４７，Ｓ３０〜Ｓ３８）に戻り、ボタンＢ４、Ｂ５が再度グレーアウトとされ（ボタンＢ３はグレーアウト解除）、図３の状態に戻る。
【００６８】
なお、ステップＳ３３でフローが分岐しているが、各ファームウェアがマルチタスクで動作するためである。また、測定部１１が測定停止時の動作は、図６に示す装置と同様なので説明を省略する。
【００６９】
ここで、図５は、波形解析装置の測定部１１が測定中におけるメモリ１３、１４ａ、１６への測定データの格納を模式的に示した図である。
【００７０】
表示ホールド中でない場合（時刻ｔ１まで）、メモリ１４ａ、１６には、最新の測定データがアクイジションメモリ１３からコピーされる（Ｓ３０〜Ｓ３８）。
【００７１】
ブロック８の測定データコピー後の時刻ｔ１で表示ホールドがされると共にヒストリ番号３が指定された場合、時刻ｔ０のブロック３のヒストリがメモリ１４ａにコピーされ、ブロック１の最新波形でなく、ブロック３の波形、解析結果が表示される（Ｓ３９〜Ｓ４６）。
【００７２】
時刻ｔ２では、ヒストリ変更（Ｓ４１）、ブロック３への上書きが検出されず（Ｓ３９）、メモリ１４ａの測定データも変更されず、表示ホールドが行なわれる（Ｓ４０）。
【００７３】
時刻ｔ３では、ブロック３への上書きが検出されて表示ホールドが解除される（Ｓ３９，Ｓ４７）。
【００７４】
時刻ｔ４では、最新の測定データ（ブロック３に上書きした測定データ）が１ブロック分測定完了し（Ｓ３０〜Ｓ３２），このブロック３の最新の測定データがメモリ１４ａにコピーされ（Ｓ３２〜Ｓ３８）、順次、ブロック４の最新の測定データ、ブロック５の最新の測定データがメモリ１４ａにコピーされ、最新の測定データで波形の表示も更新される（Ｓ３０〜Ｓ３８）。
【００７５】
ブロック５の測定データコピー後の時刻ｔ５で再度表示ホールドされ、ヒストリ変更されない場合、時刻ｔ６ではブロック６の測定データがコピーされず、メモリ１４ａはブロック５の測定データのままとなる（Ｓ４１、Ｓ３９〜Ｓ４０）。
【００７６】
なお、図５に示すように表示ホールドの有無にかかわらず、記録波形メモリ１６には最新の測定データがコピーされ続ける。つまり、記録部１７への長時間記録が継続される。
【００７７】
このように、メモリ管理手段２２が、測定部１１による測定中、記録部１６へのリアルタイム記録中であっても、ヒストリ設定手段１９から指定されたヒストリ（測定部１１で既に測定されアクイジションメモリ１３に格納されている測定データ）をアクイジションメモリ１３から表示処理部１４に出力し、上書き検出手段２１で上書きが検出された後は最新の測定データをアクイジションメモリ１３から表示処理部１４に出力するので、長時間記録を行いつつも、過去に発生した入力信号中の現象を容易に解析でき、波形解析の操作性を改善することができる。
【００７８】
特に、近年、アクイジションメモリ１３の高集積化により、ビット単価も下がったため、１［Ｇｂｙｔｅ］を超えるものも搭載されている。このような大容量メモリを搭載した際に、長時間計測時の過去の測定データをアクイジションメモリ１３に直接参照することができ、効率のよい解析環境を実現することができる。さらに、アクイジションメモリ１３に存在しない過去の測定データをアクセスしようとした時に、その有無を検出し、最新の測定データを表示させるで、ユーザに快適な操作性を提供することができる。
【００７９】
また、表示波形メモリ１４ａ内の圧縮された測定データでなく、大容量のアクイジションメモリ１３に格納される測定データを解析対象とすることができるので、長時間にわたる過去分の測定データの表示、解析ができ、入力信号の解析の操作性、効率が向上する。
【００８０】
また、記録部１７に記録されたファイルを開いて過去の測定データを参照せずに、大容量のアクイジションメモリ１３に格納される測定データを解析対象とすることができるので、ファイル管理の手間、アクセス速度の遅さが無く、測定データを次々と解析することができ操作性、効率が向上する。
【００８１】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
表示処理部１４、表示部１５を、測定部１１、アクイジションメモリ１３と一体として用いる構成を示したが、表示処理部１４、表示部１５、ユーザインターフェース部分等は、パソコン上に構成してＵＳＢやイーサネット（登録商標）で接続してもよく、いわゆるパソコン計測システムとしてもよい。
【００８２】
測定部１１が、入力信号を測定して測定データをアクイジションメモリ１３に書き込む構成を示したが、レンジオーバ等の異常が生じた場合、測定部１１が測定データに付随するアラーム情報として測定データとともに発生した異常の情報を書き込んでもよい。この場合、表示処理部１４の解析手段（図示せず）が、アラーム情報の履歴管理、アラーム解析を行って表示部１５に表示してもよい。
【００８３】
複数回分の測定データを格納できるリングメモリ型のアクイジションメモリ１３を８個のメモリブロックとする構成を示したが、何個に分けてもよい。
【００８４】
トリガ信号（または所望の信号）を基準とし、測定データを所定のデータ長のブロック単位でアクイジションメモリ１３に格納してブロック単位で読み出す構成を示したが、測定データをシームレスにアクイジションメモリ１３に書き込むフリーラン測定に本発明を適用してもよい。この場合、設定手段１９が、メモリ１３中の所望の範囲を指定し、その指定した範囲のデジタルデータを管理手段２２が表示処理部１４にコピーするとよい。もちろん、表示ホールド中に指定した範囲が上書きされた場合、表示ホールドを解除して最新のデジタルデータを順次コピーする。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作の一例を示したフローチャートである。
【図３】表示部１５の表示画面の表示例（表示する測定データを更新中）を示した図である。
【図４】表示部１５の表示画面その他の表示例（表示ホールド中）を示した図である。
【図５】図１に示す装置の各メモリ１３，１４ａ、１６内に格納されるデータに状態を示した図である。
【図６】従来の波形解析装置の構成例を示した図である。
【図７】図６に示す装置の各メモリ１３，１４ａ、１６内に格納されるデータに状態を示した図である（測定中）。
【図８】図６に示す装置の各メモリ１３，１４ａ、１６内に格納されるデータに状態を示した図である（測定停止中）。
【図９】図６に示す装置の動作の一例を示したフローチャートである。
【図１０】図６に示す装置の動作のその他の例を示したフローチャートである。
【図１１】表示画面の表示例を示した図である。
【図１２】表示画面のその他の表示例を示した図である。
【符号の説明】
【００８６】
１１  設定部
１２  測定制御手段
１３  アクイジションメモリ
１４  表示処理部
１４ａ  表示波形メモリ
１５  表示部
１６  記録波形メモリ
１７  記録部
１９  ヒストリ設定手段
２０  表示波形更新手段
２１  上書き検出手段
【図１】
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【図２】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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