(57)【要約】【課題】  構造が複雑な多数の機構部品を要することなく、引出形遮断器の遮断器本体の各種引き出し位置を精度良く検出できるようにする。【解決手段】  引出形遮断器において、位置検出装置を、対を成す検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062と橋絡電極４０３とが、遮断器本体２の引出枠１からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062が前記橋絡電極４０３によって橋絡されるとスイッチング素子5114、5115、5116がスイッチング動作して出力端子50121、50122、50123に出力が出る検出回路５００で構成した。【選択図】  図６
2005045970.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記位置検出装置を、
対を成す検出電極と橋絡電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。
【請求項２】
請求項１に記載の引出形遮断器において、
前記スイッチング素子が基板に装填され、前記スイッチング素子が装填された基板及び前記検出電極が前記引出枠に前記遮断器本体の消孤室より前面側に位置して取り付けられ、
前記橋絡電極が前記遮断器本体に取り付けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。
【請求項３】
遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、
前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、
前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、
前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、
を有する検出回路で前記位置検出装置を構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。
【請求項４】
遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、
前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、
前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、
前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、
前記論理回路の出力に応動し前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、
を有する検出回路で前記位置検出装置を構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。
【請求項５】
請求項３及び請求項４の何れか一に記載の引出形遮断器において、
前記スイッチング回路が基板上に設けられ、前記スイッチング回路が設けられた基板及び前記検出電極が前記引出枠に前記遮断器本体の消孤室より前面側に位置して取り付けられ、
前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、前記各中間位置電極、及び前記共通電極が前記遮断器本体に取り付けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。
【請求項６】
請求項１、請求項３、及び請求項４の何れか一に記載の引出形遮断器において、
前記検出電極と、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、前記各中間位置電極、及び前記共通電極とを弾性的に接触させる弾性部材が設けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、引出形遮断器に関し、特に引出形遮断器の接続位置，試験位置，断路位置等の各位置を検出する位置検出装置を有する引出形遮断器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
引出形遮断器は、工場等内の配電系に使用され、前記配電系において給電側から引出形遮断器を介して工場等内の負荷に給電している状態では、遮断器本体は引出枠内に押し込まれている接続位置にあり、遮断器制御回路のシ−ケンスなどの試験時には、遮断器本体は引出枠から前記試験位置まで引き出され、遮断器本体の点検時には、遮断器本体は引出枠から前記試験位置より更に引き出され前記断路位置まで引き出され、更に遮断器本体を、引き出し枠から引き出し、引き出し枠から取り外すことができる。
【０００３】
このような引出形遮断器においては、前記接続位置，試験位置，断路位置等の各位置が検出されるようになっており、当該検出を行う位置検出装置は、一般的には、例えば、特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されているように、引出枠の後底部に取り付けられ、箱体と、箱体の対向する壁に形成されたガイド孔を挿通する動作板と、箱体に収納され動作板に形成された突起によって「接続位置」、「試験位置」、「断路位置」でそれぞれ動作する複数のマイクロスイッチと、箱体と動作板の間に張架され遮断器本体が引き出される方向に動作板を偏倚させるコイルばねとからなり、マイクロスイッチのアクチュエータと動作板の突起が係合してマイクロスイッチが動作する構造になっている。
【０００４】
以上のように構成された引出形遮断器は、遮断器本体を「断路位置」から「試験位置」に挿入すると、遮断器本体の後部で動作板を後方へ押すため、挿入途中で第1のマイクロスイッチのアクチュエータと動作板の突起との係合が解消して第1のマイクロスイッチが不動作状態となり、次に第２のマイクロスイッチのアクチュエータが突起と係合して「試験位置」では第２のマイクロスイッチだけが動作した状態となる。さらに遮断器本体を「試験位置」から「接続位置」に挿入すると、その途中で第２のマイクロスイッチのアクチュエータと突起との係合が解消して第２のマイクロスイッチが不動作状態となり、第３のマイクロスイッチのアクチュエータが突起と係合して「接続位置」では第３のマイクロスイッチだけが動作した状態となる。
【０００５】
また、この遮断器本体を「接続位置」から「試験位置」、「試験位置」から「断路位置」へ引き出すときは、コイルばねの作用力により動作板が引出方向へ移動し、挿入するときとは逆に第３のマイクロスイッチと第２のマイクロスイッチが順次動作する状態となる。
【０００６】
特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている前述のような構造の位置検出装置においては、前記特許文献１の「発明が解決しようとする課題」に記載のように、マイクロスイッチと動作板の突起の位置関係が精度良く設定されてないとマイクロスイッチのオンオフ動作が確実にできないため動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題ある。また、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題がある。
【０００７】
そこで、特許文献１では、前述の両問題を解決するために、その図３及びその説明に記載されているように、遮断器本体に備えられる固定軸と、遮断器本体が挿入されるとき回転軸によって押圧され回動する取付枠に備えられた第１のレバ−と、ガイド溝に係合するガイドピンを備え第１のレバ−が回動したとき回動する取付枠に備えられた第２のレバ−と、第２のレバ−と第３のレバ−とを連結するリンク部材と、第３のレバ−の回動によって動作するマイクロスイッチのスイッチユニットと、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネと、により前記位置検出装置が構成されている。
【０００８】
前述の特許文献１の図３及びその説明に記載されている前述の位置検出装置の構成であれば、前述の特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題は解決できる。しかし、第１〜第３のレバ−、リンク部材、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題がある。
【０００９】
【特許文献１】特開平９−１３０９２８号公報（図６〜図８、図３、及びそれらの説明の欄）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
前述のように、特許文献１の図３及びその説明に記載されている前述の位置検出装置の構成であれば、前述の特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題は解決できるが、第１〜第３のレバ−、リンク部材、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題がある。
【００１１】
この発明は、前述のような実情に鑑みてなされたもので、遮断器本体の各種引き出し位置を精度良く検出できるようにすることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、対を成す検出電極と橋絡電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出し応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成したものである。
【００１３】
また、この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したしたものである。
【００１４】
また、この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、前記論理回路の出力に応動し受け前記前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したものである。
【発明の効果】
【００１５】
この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、橋絡電極と対を成す検出電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出し応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができる。
【００１６】
また、この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、  前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができ、しかも、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の検出もできる。
【００１７】
また、この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、前記論理回路の出力に応動し受け前記前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができ、しかも、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の検出もでき、更に、前記遮断器本体の前記各位置以外の位置も検出することができ。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１は、引出形遮断器において、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、位置検出装置によって遮断器本体の主回路端子の前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出する目的を、電極を使用した検出回路で前記位置検出装置を構成することにより、多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、実現するようにしたものである。
【００１９】
図１〜図７は、この発明の実施の形態１を示す図で、図１は引出形遮断器の外観斜視図で、遮断器本体が接続位置にある場合を実線で、遮断器本体を取外可能な完全引出位置まで引き出した状態を一点鎖線で、それぞれ示してある。図２は遮断器本体の主回路端子及び係合ユニットの端子の位置関係を一部断面で示す側面図で、（ａ）は接続位置、（ｂ）は試験位置、及び（ｃ）は断路位置、における主回路端子及び係合ユニットのユニット端子の位置関係を示す図である。図３は引出形遮断器の引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図、図４は図３におけるIV−IV線における断面を矢印の方向に見た縦断側面図、図５は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図、図６は位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）で、図７は遮断器本体の接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置の各位置における位置信号出力部の入出力真理値を示す図（検出回路の入出力の関係を真理値で示す図）である。
【００２０】
図１において、実線は固定の引出枠１に対し遮断器本体２が接続位置にある状態を示し、一点鎖線は、前記遮断器本体２を取り外しできる位置（以下「完全引出位置」と略記する）まで当該遮断器本体２が前記引出枠１から引き出された状態を示してある。
【００２１】
前記引出枠１は、主として、所定間隔を隔てて互いに平行を成す一対の側板部１０１，１０２と、これら側板部１０１，１０２の最下端を連結して固定する底板部１０３と、前記両側板部１０１，１０２の最上端を連結して固定する短冊状の上板部１０４とで構成されている。また、前記引出枠１は、図１に示すように、その後部は空間的に開放されており、その前部は前記遮断器本体２の引き出しができるように空間的に開放されている。
【００２２】
前記遮断器本体２の筐体２０１は、主として、後部の絶縁樹脂製の消孤室カバ−部2011と、前部の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012とで構成され、これら消孤室カバ−部2011と、本体カバ−部2012とは、螺着ボルトなど（図示省略）により、分離可能に結合され、各々の内部空間は連通されている。
【００２３】
前記消孤室カバ−部2011内には、主接点（図示省略）や消孤板（図示省略）、主回路端子2013（後述の図２に図示）が内蔵されている。遮断器動作時に前記主接点（図示省略）間に発生するア−クの熱やイオン化消孤ガスは、前記消孤室カバ−部2011の開口（図示省略）から上方或いは後方に向けて放熱及び放出される。
【００２４】
前記本体カバ−部2012内には、主として、開閉機構（図示省略）や補助接点（図示省略）が内蔵されている。前記本体カバ−部2012の前面部には、主として、引き外しリレ−や遮断器過電流保護リレ−等のリレ−盤20121、遮断器ＯＮ／ＯＦＦボタンや遮断器ＯＮ／ＯＦＦ表示盤20122、遮断器トリップ用バネ（図示省略）をチャ−ジするチャ−ジハンドル20123等が設けられている。
【００２５】
前記本体カバ−部2012の上部に位置して前記引出枠１の上板部１０４には、引出枠端子台３（機能及び詳細構造は図３及び図４により後述する）が、その端子部３０１が前面側（前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室反対の側）になるように取り付けられている。
【００２６】
前記引出枠端子台３の下側に位置して、係合ユニット４（機能及び詳細構造は図４により後述する）が、前記本体カバ−部2012の上面に取り付けられている。即ち、前記係合ユニット４は、前記遮断器本体２の消孤室より前面側に位置して前記遮断器本体２の上面に取り付けられている。
【００２７】
前記引出枠端子台３及び前記係合ユニット４の側方に隣接して、位置信号出力部５（機能及び詳細構造は図５により後述する）が、その出力端子部５０１が前記遮断器本体２の前面側（前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室反対の側）になるように、前記引出枠１の上板部１０４に取り付けられている。即ち、前記位置信号出力部５は、前記遮断器本体２の消孤室より前面側に位置して前記引出枠１に取り付けられている。
【００２８】
前記引出枠１の各側板部１０１，１０２の各々には、その内側に、引き出し可能にレ−ル６０１，６０２が取り付けられており、これらレ−ル６０１，６０２上に、前記遮断器本体２が、Ｌ字形支持部材2051,2052を介して載置されている。なお、前記Ｌ字形支持部材2051,2052は、図示のように前記遮断器本体２の側面に一体に接合されている。また、前記レ−ル６０１，６０２は、前記遮断器の接続位置（前記遮断器本体２が実線で示されている状態の位置）では、前記引出枠１内に収納されており、図示一点鎖線のように前記引出枠１内から矢印Ａ方向に完全に引き出された完全引出位置では、前記一点鎖線で図示されている前記遮断器本体２は、上方に吊り上げることにより、前記Ｌ字形支持部材2051,2052がＬ字形であるが故に、前記レ−ル６０１，６０２から取り外すことができる（即ち、前記引出枠１から取り外すことができる）。
【００２９】
次に、図２により、接続位置、試験位置、及び断路位置、における前記遮断器本体２の主回路端子及び前記係合ユニット４のユニット端子の位置関係を説明する。
【００３０】
図２において、（ａ）は前記遮断器本体２が接続位置にある状態であり、この接続位置においては、前記遮断器本体２は前記引出枠１内に押込まれており、配電線側の固定の主回路導体１０５のジャンクション１０６に前記遮断器本体２の主回路端子2013が押し込まれている。従って、配電線側の固定の主回路導体１０５と前記遮断器本体２の主回路端子2013とが接続された状態にある。この状態においては、配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体１０５（例えば図において上側の主回路導体１０５）、前記遮断器本体２の給電側の主回路端子2013（例えば図において上側の主回路端子2013）、前記遮断器本体２内の主接点（図示省略）、前記遮断器本体２の負荷側の主回路端子2013（例えば図において下側の主回路端子2013）の経路で、負荷（図示省略）に給電される。
【００３１】
また、この接続位置においては、前記遮断器本体２の上面に取り付けられている前記係合ユニット４のユニット端子４０１（機能及び詳細構造は図４により後述する）は、前記引出枠１の上板部１０４に取り付けられている前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（機能及び詳細構造は図４により後述する）に嵌挿されており、当該リセプタクル３０２に接続された状態である。
【００３２】
図２において、（ｂ）は前記遮断器本体２が試験位置にある状態であり、前記遮断器本体２は前記引出枠１から矢印Ａ方向に試験位置まで引き出され、前記配電線側の主回路導体１０５のジャンクション１０６から前記遮断器本体２の主回路端子2013が引き出されている。従って、前記配電線側の主回路導体１０５と前記遮断器本体２の主回路端子2013とは非接続の状態となっている。この状態においては、前記配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体１０５、前記遮断器本体２の給電側の主回路端子2013、前記遮断器本体２内の主接点、前記遮断器本体２の負荷側の主回路端子2013の経路での、負荷への給電は行われない。
【００３３】
また、この試験位置においては、前記遮断器本体２の上面に取り付けられている前記係合ユニット４のユニット端子４０１は、前記遮断器本体２の矢印Ａ方向の引き出しに伴って、前記引出枠１の上板部１０４に取り付けられている前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４に図示）内で前記遮断器本体２の引き出し方向に移動しているが、当該リセプタクル３０２に接続されている状態にある。前記係合ユニット４のユニット端子４０１は前記遮断器本体２内の前記遮断器制御回路にリ−ド線４０２（後述の図３、図４に図示）に接続されているので、この試験位置の状態では、前述のように、前記係合ユニット４のユニット端子４０１が、前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２に接触し前記引出枠端子台３に接続されていることにより、前記引出枠端子台３を使って、前記遮断器本体２内の前記遮断器制御回路（図示省略）のシ−ケンスなどの試験、他各種の試験を行うことができる。
【００３４】
図２において、（ｃ）は前記遮断器本体２が断路位置にある状態であり、前記遮断器本体２は前記引出枠１から断路位置まで更に矢印Ａ方向に引き出され、前記遮断器本体２の主回路端子2013は、前記配電線側の主回路導体１０５のジャンクション１０６から、前記遮断器本体２の引き出し方向に更に離れている。従って、前記配電線側の主回路導体１０５と前記遮断器本体２の主回路端子2013との非接続の状態は保持されている。この状態においても、前記配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体１０５、前記遮断器本体２の給電側の主回路端子2013、前記遮断器本体２内の主接点、前記遮断器本体２の負荷側の主回路端子2013の経路での、負荷への給電は行われない。
【００３５】
また、この断路位置においては、前記遮断器本体２の上面に取り付けられている前記係合ユニット４の端子４０１は、前記遮断器本体２の前記更なる引き出しに伴って、前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４に図示）から前記遮断器本体２の引き出し方向に離れ、当該リセプタクル３０２に非接続の状態となっている。従って、前記遮断器本体２は、配電線からも試験電源からも切り離され、電気的に完全に非課電の絶縁状態、即ち前記断路状態となっており、前記遮断器本体２の各種点検が行われる。
【００３６】
次に、図３及び図４により、前記引出枠端子台３及び前記係合ユニット４の詳細構造を説明する。
【００３７】
前記引出枠１に前記消孤室カバ−部2011と反対側に位置して取り付けられている（前述の図１参照）前記引出枠端子台３は、前記前記引出枠１に前記消孤室カバ−部2011と反対の方向（前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向））に延在する第１の壁部３０３と前記遮断器本体２の本体カバ−部2012の方向に延在する第２の壁部３０４とを有している。なお、前記第１の壁部３０３と前記第２の壁部３０４とは絶縁性樹脂によるモ−ルド成型により一体に形成されている。
【００３８】
前記第１の壁部３０３には、その前記消孤室カバ−部2011と反対の方向の側（前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）の側）（前述の図１参照）の上面側に、前記引出枠端子台３の前記端子部３０１が設けられている。この端子部３０１は、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）と直角を成す方向に、絶縁バリア3011を相互間に介して並設された所定数の締め付けねじ3012を有している。また、前記第１の壁部３０３の内部には、当該第１の壁部３０３から前記第２の壁部３０４に亘って延在しその外端に前記締め付けねじ3012が螺着され内端に前記第２の壁部３０４内のＵ字状弾性レセプタクル３０２が接合された中間端子３０５が、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）と直角を成す方向に、前記締め付けねじ3012と同じ数だけ並設されている。これら並設された所定数の中間端子３０５は、前記第１の壁部３０３及び前記第２の壁部３０４自体によって相互に絶縁されている。なお、図３及び図４では、前記レセプタクル３０２及び前記中間端子３０５は、１個のみ図示してある。
【００３９】
前記第２の壁部３０４の内部には、所定数の前記Ｕ字状弾性レセプタクル３０２と、当該レセプタクル３０２に対向して前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）に延在し前記ユニット端子４０１を可移動に収容する所定数のユニット端子収容孔3041とが設けられている。
【００４０】
前記遮断器本体２の上面に取り付けられている（前述の図１参照）前記係合ユニット４は、主として、絶縁性樹脂によるモ−ルド成型により形成された絶縁基台部４０２と、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）に延在する前記ユニット端子４０１と、前記絶縁基台部４０２の前記位置信号出力部５（前述の図１参照）側の扁平な側面4021に設けられ接触面4031が扁平な橋絡電極４０３とで構成されている。前記ユニット端子４０１は、前記Ｕ字状弾性レセプタクル３０２に対応して、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）と直角を成す方向に所定数並設されており、前記絶縁基台部４０２自体により相互に絶縁されている。
【００４１】
前記所定数のユニット端子４０１の各々は、前記レセプタクル３０２と反対側の端部が、前記遮断器本体２内の前記遮断器制御回路、補助スイッチ、他（図示省略）に接続されている所定数のリ−ド線４０４に、固定部材４０５を介して、接続されている。なお、図３及び図４では、前記ユニット端子４０１及び前記レセプタクル３０２及び前記中間端子３０５は、１個のみ図示してある。
【００４２】
図３及び図４において、前記ユニット端子４０１、前記絶縁基台部４０２、及び前記橋絡電極４０３は、前記遮断器本体２が前記試験位置まで引き出された状態にある場合（図２（ｂ）を参照）の各々の位置を実線で示してある。また、図４において、前記ユニット端子４０１の先端部4011（前記遮断器本体２の前面側（図１，図２を参照）と反対側の端部）を、前記遮断器本体２が前記接続位置（図１の実線，図２（ａ）を参照）に在る状態の場合の位置を２点鎖線で、前記遮断器本体２が前記断路位置（図２（ｃ）を参照）に在る状態の場合の位置を１点鎖線で、それぞれ示してある。同様に、前記絶縁基台部４０２の前面側端部4022（前記遮断器本体２の前面側（図１，図２を参照））を、前記遮断器本体２が前記接続位置（図１の実線，図２（ａ）を参照）に在る状態の場合の位置を２点鎖線で、前記遮断器本体２が前記断路位置（図２（ｃ）を参照）に在る状態の場合の位置を１点鎖線で、それぞれ示してある。
【００４３】
次に、図５により、前記引出枠１の上板部１０４に、前記引出枠端子台３及び前記係合ユニット４の側方に隣接して、その端子部５０１が前記遮断器本体２の前面側（前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室と反対の側）になるように、取り付けられている（前述の図１を参照）前記位置信号出力部５の詳細構造を説明する。
【００４４】
図５において、前記位置信号出力部５は、主として、上面側端部に前記出力端子部５０１が設けられた絶縁樹脂製の筐体５０２と、この筐体５０２に内蔵され前記遮断器本体２の前記各位置を検出する検出回路（回路構成および機能は図６により後述する）が形成されたプリント基板５０３と、前記筐体５０２の前記引出枠端子台３側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通する対を成す前記接続位置の検出用の検出電極（以下「接続位置検出電極」と略記する）5041，5042と、前記筐体５０２の前記引出枠端子台３側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通し前記接続位置検出電極5041，5042から前記遮断器本体２の引き出し方向に所定距離離間して配設された対を成す前記試験位置の検出用の検出電極（以下「試験位置検出電極」と略記する）5051，5052と、前記筐体５０２の前記引出枠端子台３側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通し前記接続位置検出電極5041，5042から前記遮断器本体２の引き出し方向に所定距離離間して配設された対を成す前記断路位置の検出用の検出電極（以下「断路位置検出電極」と略記する）5061，5062とで構成されている。
【００４５】
前記出力端子部５０１は、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａ方向）と直角を成す方向に、絶縁バリア5011を相互間に介して並設された所定数の出力端子50121，50122，50123，50124で構成されている。
【００４６】
前記接続位置検出電極5041，5042は、前記試験位置検出電極5051，5052、前記断路位置検出電極5061，5062は、例えばカ−ボンブラシ等の電極であり、何れもその内端部が、各々に対応する導電性シリンダ５０７に可摺動に収納されている（前記接続位置検出電極5041，5042を収納する導電性シリンダは図示省略してある）。また、前記接続位置検出電極5041，5042の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体２が前記接続位置にある状態において、前記前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に接触し、前記試験位置検出電極5051，5052の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体２が引き出され前記試験位置にある状態において、前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に接触し、前記断路位置検出電極5061，5062の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体２が更に引き出され前記断路位置にある状態において、前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に接触するように、前記橋絡電極４０３との相対的高さが設定され、且つ前記接続位置検出電極5041，5042、前記試験位置検出電極5051，5052、及び前記断路位置検出電極5061，5062の相対的間隔が設定されている。
【００４７】
また、前記対を成す断路位置検出電極5061，5062は、対応する前記導電性シリンダ５０７内のスプリング等の弾性部材５０８によって各々の前記先端部が前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に弾性的に接触されるように付勢されている。同様に、前記対を成す試験位置検出電極5051，5052も、対応する前記導電性シリンダ５０７内のスプリング等の弾性部材５０８によって各々の前記先端部が前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に弾性的に接触されるように付勢されている。また、前記対を成す接続位置検出電極5041，5042も、同様に、対応する前記導電性シリンダ５０７（図示省略）内のスプリング等の弾性部材５０８（図示省略）によって各々の前記先端部が前記係合ユニット４の前記橋絡電極４０３に弾性的に接触されるように付勢されている。
【００４８】
また、前記接続位置検出電極5041，5042は、リ−ド線50411，50421を介して前記プリント基板５０３の検出回路（回路構成および機能は図６により後述する）に接続され、同様に、前記試験位置検出電極5051，5052はリ−ド線50511，50521を介して、前記断路位置検出電極5061，5062はリ−ド線50611，50621を介して、前記プリント基板５０３の検出回路（回路構成および機能は図６により後述する）に接続されている。
【００４９】
次に、図６により、前記遮断器本体２の前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を検出する検出回路５００の回路構成及び機能について詳述する。
【００５０】
図６において、前記接続位置検出電極5041は、前記リ−ド線50411を介して、前記プリント基板５０３上のプラス（以下「＋」と略記する）電源５０９に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記接続位置検出電極5042は、前記リ−ド線50421を介して、前記プリント基板５０３上の直列接続の抵抗5104とフォトカプラー等のスイッチング素子5114とを介してマイナス（以下「−」と略記する）電源５１２に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記スイッチング素子5114の出力端は、前記出力端子50121（図５も参照）に接続されている。
【００５１】
前記試験位置検出電極5051は、前記リ−ド線50511を介して、前記プリント基板５０３上の＋電源５０９に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記試験位置検出電極5052は、前記リ−ド線50521を介して、前記プリント基板５０３上の直列接続の抵抗5105とフォトカプラー等のスイッチング素子5115とを介して−電源５１２に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記スイッチング素子5115の出力端は、前記出力端子50122（図５も参照）に接続されている。
【００５２】
前記断路位置検出電極5061は、前記リ−ド線50611を介して、前記プリント基板５０３上の＋電源５０９に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記断路位置検出電極5062は、前記リ−ド線50621を介して、前記プリント基板５０３上の直列接続の抵抗5106とフォトカプラー等のスイッチング素子5116とを介して−電源５１２に、前記プリント基板５０３上で接続されている。前記スイッチング素子5116の出力端は、前記出力端子50123（図５も参照）に接続されている。
【００５３】
図５は、前記接続位置検出電極5041，5042が、前記橋絡電極４０３に弾性的に接触して前記橋絡電極４０３により橋絡されている状態を示してあり、この状態においては、前記＋電源５０９から、前記リ−ド線50411、前記接続位置検出電極5041、前記橋絡電極４０３、前記接続位置検出電極5042、前記リ−ド線50421、前記抵抗5104、前記スイッチング素子5114、前記−電源５１２の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5114がＯＮ動作し、前記出力端子50121から、接続位置の信号（前記遮断器本体２が接続位置にあることを伝達する信号）が出力されている。
【００５４】
図５において、前記橋絡電極４０３が矢印Ａの方向に移動して、前記試験位置検出電極5051，5052が、前記橋絡電極４０３に弾性的に接触して前記橋絡電極４０３により橋絡されると、前記＋電源５０９から、前記リ−ド線50511、前記試験位置検出電極5051、前記橋絡電極４０３、前記接続位置検出電極5052、前記リ−ド線50521、前記抵抗5105、前記スイッチング素子5115、前記−電源５１２の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5115がＯＮ動作し、前記出力端子50122から、試験位置の信号（前記遮断器本体２が試験位置にあることを伝達する信号）が出力される。
【００５５】
なお、前記橋絡電極４０３が矢印Ａの方向に移動して、前記試験位置検出電極5051，5052が、前記橋絡電極４０３に弾性的に接触して前記橋絡電極４０３により橋絡されると、前記接続位置検出電極5041，5042の前記橋絡電極４０３による橋絡状態は無くなるので、前記スイッチング素子5114はＯＦＦとなり、前記出力端子50121からの接続位置の信号は無くなる。
【００５６】
図５において、前記橋絡電極４０３が矢印Ａの方向に更に移動して、前記断路置検出電極5061，5062が、前記橋絡電極４０３に弾性的に接触して前記橋絡電極４０３により橋絡されると、前記＋電源５０９から、前記リ−ド線50611、前記断路位置検出電極5061、前記橋絡電極４０３、前記断路位置検出電極5062、前記リ−ド線50621、前記抵抗5106、前記スイッチング素子5116、前記−電源５１２の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5116がＯＮ動作し、前記出力端子50123から、断路位置の信号（前記遮断器本体２が断路位置にあることを伝達する信号）が出力される。
【００５７】
なお、前記橋絡電極４０３が矢印Ａの方向に更に移動して、前記断路置検出電極5061，5062が、前記橋絡電極４０３に弾性的に接触して前記橋絡電極４０３により橋絡されると、前記試験位置検出電極5051，5052の前記橋絡電極４０３による橋絡状態は無くなるので、前記スイッチング素子5115はＯＦＦとなり、前記出力端子50122からの接続位置の信号は無くなり、また、前記接続位置検出電極5041，5042の前記橋絡電極４０３による橋絡状態も無いので、前記スイッチング素子5114もＯＦＦであり、前記出力端子50121からの接続位置の信号も無い。
【００５８】
前述の図６に示す検出回路５００における前述の前記接続位置検出電極5041，5042、前記試験位置検出電極5051，5052、および前記断路置検出電極5061，5062の、前記橋絡電極４０３による橋絡の有無（検出回路５００の入力の有無）と、前記出力端子50121，50122，50123の出力の有無との関係を、真理値「１」，「０」で、前記遮断器本体２の接続位置、試験位置、及び断路位置ごとに図７に示してある。図６における検出回路５００の前記出力端子50121，50122，50123の出力は、前記スイッチング素子5114，5115，5116のＯＮ、ＯＦＦ動作に依存しているので、当該出力端子50121，50122，50123の出力は、「１」，「０」の信号になる。従って、図７において、前記接続位置検出電極5041，5042、前記試験位置検出電極5051，5052、および前記断路置検出電極5061，5062の、前記橋絡電極４０３による橋絡の有無を、橋絡「有り」の場合を「１」、橋絡「無し」の場合を「０」で示してある。
【００５９】
次に、前述の図１〜図７により、各図を関連付けながら動作説明する。
【００６０】
図１における遮断器本体２が実線で示されている状態は、図２（ａ）に示されるように当該遮断器本体２が前記引出枠１から引き出されてなく、前記配電線側の固定の主回路導体１０５のジャンクション１０６に前記遮断器本体２の主回路端子2013が押し込まれて前記配電線側の固定の主回路導体１０５と前記遮断器本体２の主回路端子2013とが接続された状態にあり、前記遮断器本体２は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「接続位置」にある。
【００６１】
この接続位置において、前記遮断器本体２の上面に取り付けられている前記係合ユニット４のユニット端子４０１は、前記引出枠１の上板部１０４に取り付けられている前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）に接続位置まで嵌挿されており、当該リセプタクル３０２に接続された状態である。この前記係合ユニット４のユニット端子４０１と前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）とが接続されている状態においては、遮断器制御回路や補助接点、他に接続されている所定数のリ−ド線４０４（図３、図４参照）から、遮断器本体２の開閉状態などの固有データ信号が、前記係合ユニット４の前記ユニット端子４０１、前記リセプタクル３０２、前記中間端子３０５、前記締付ねじ3012を介して出力され、この出力は、例えば遮断器トリップ表示回路の電源の投入等、ユ−ザのニ−ズに応じて任意に使用される。
【００６２】
一方、前記遮断器本体２の接続位置においては、図３における前記係合ユニット４の側面4021の橋絡電極４０３が、図５における前記接続位置検出電極5041，5042に対向しており、前記接続位置検出電極5041，5042は、何れもその先端部が前記弾性部材５０８により、前記橋絡電極４０３に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極４０３により両接続位置検出電極5041，5042が橋絡された状態になっている。つまり、検出回路５００を示す図６において、前記接続位置検出電極5041，5042が前記橋絡電極４０３によって橋絡された状態になっており、従って、図６において、前記スイッチング素子5114がＯＮの状態であり、前記出力端子50121の出力が「１」となっている。つまり、前記遮断器本体２が接続位置にあることを表す信号（以下「接続位置信号」と略記する）が前記出力端子50121から出力される。
【００６３】
前記出力端子50121から出力される前記接続位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体２内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される（図示省略）が、それとは別に、前記位置信号出力部５の、前記遮断器本体２の前面側に位置する前記出力端子５０１から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
【００６４】
次に、遮断器制御回路のシ−ケンスなどの試験時には、図１における遮断器本体２が実線で示されている前記接続位置の状態から、前記遮断器本体２を、矢印Ａの方向に、図２（ｂ）の状態になるまで引き出す。この図２（ｂ）の状態では、図示のように、前記遮断器本体２の主回路端子2013は、前記配電線側の固定の主回路導体１０５のジャンクション１０６から少し引き離され、前記配電線側の固定の主回路導体１０５と非接続の状態にあり、前記遮断器本体２は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「試験位置」にある。
【００６５】
この試験位置においては、前記遮断器本体２の前記試験位置への矢印Ａ方向の引き出しに伴う前記係合ユニット４の矢印Ａ方向（前記遮断器本体２の引き出し方向）への移動によって、当該係合ユニット４のユニット端子４０１は、前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）内を前記矢印Ａの方向に移動しているが、当該リセプタクル３０２内に嵌挿された状態が維持しており、当該リセプタクル３０２に前記ユニット端子４０１が、接続された状態である。この前記係合ユニット４のユニット端子４０１と前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）とが接続されている状態においては、前述の前記遮断器本体２が接続位置にある場合と同様に、遮断器制御回路や補助接点、他に接続されている所定数のリ−ド線４０４（図３、図４参照）から、遮断器本体２の開閉状態などの固有データ信号が、前記係合ユニット４の前記ユニット端子４０１、前記リセプタクル３０２、前記中間端子３０５、前記締付ねじ3012を介して出力され、この出力は、ユ−ザのニ−ズに応じて任意に使用される。
【００６６】
一方、前記遮断器本体２の試験位置においては、前記遮断器本体２の前記試験位置への矢印Ａ方向の引き出しに伴う前記係合ユニット４の矢印Ａ方向（前記遮断器本体２の引き出し方向）への移動によって、前記係合ユニット４の橋絡電極４０３が、図５における前記試験位置検出電極5051，5052に対向し、前記試験位置検出電極5051，5052は、何れもその先端部が前記弾性部材５０８により、前記橋絡電極４０３に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極４０３により両試験位置検出電極5051，5052が橋絡された状態になる。つまり、検出回路５００を示す図６において、前記試験位置検出電極5051，5052が、前記橋絡電極４０３によって橋絡された状態になり、従って前記スイッチング素子5115がＯＮの状態となり、前記出力端子50122の出力が「１」となる。つまり、前記遮断器本体２が試験位置にあることを表す信号（以下「試験位置信号」と略記する）が前記出力端子50122から出力される。
【００６７】
前記出力端子50122から出力される前記試験位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体２内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される（図示省略）が、それとは別に、前記位置信号出力部５の、前記遮断器本体２の前面側に位置する前記出力端子５０１から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
【００６８】
なお、前記遮断器本体２の試験位置の状態における周知の試験の試験信号は、前記遮断器本体２の前記本体カバ−部2012の上部に位置して前記引出枠１の上板部１０４に取り付けられている引出枠端子台３（図１を参照）の端子部３０１から、図４における前記締め付けねじ3012、前記中間端子３０５、前記リセプタクル３０２、前記ユニット端子４０１、前記リ−ド線４０４、の経路を経て、前記遮断器本体２内の遮断器制御回路（図示省略）等へ供給される。
【００６９】
次に、前記遮断器本体２やその付属品の保守点検を行う場合は、前記遮断器本体２の前記接続位置の状態から、前記遮断器本体２を、図２（ｃ）の状態になるまで矢印Ａの方向に更に引き出す。この図２（ｃ）の状態では、図示のように、前記遮断器本体２の主回路端子2013は、前記配電線側の固定の主回路導体１０５のジャンクション１０６から更に引き離され、前記配電線側の固定の主回路導体１０５とは十分な絶縁距離を隔てた非接続の状態にあり、前記遮断器本体２は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「断路位置」にある。
【００７０】
この断路位置においては、前記遮断器本体２の前記断路位置への矢印Ａ方向の更なる引き出しに伴う前記係合ユニット４の矢印Ａ方向（前記遮断器本体２の引き出し方向）への更なる移動によって、当該係合ユニット４のユニット端子４０１は、前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）から、前記矢印Ａの方向に抜け出し、前記ユニット端子４０１が、前記リセプタクル３０２と非接続の状態となる。
【００７１】
一方、前記遮断器本体２の断路位置においては、前記遮断器本体２の前記断路位置への矢印Ａ方向の更なる引き出しに伴う前記係合ユニット４の矢印Ａ方向（前記遮断器本体２の引き出し方向）への更なる移動によって、前記係合ユニット４の橋絡電極４０３が、図５における前記断路位置検出電極5061，5062に対向し、前記断路位置検出電極5061，5062は、何れもその先端部が前記弾性部材５０８により、前記橋絡電極４０３に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極４０３により両断路位置検出電極5061，5062が橋絡された状態になる。つまり、検出回路５００を示す図６において、前記断路位置検出電極5061，5062が、前記橋絡電極４０３によって橋絡された状態になり、従って前記スイッチング素子5116がＯＮの状態となり、前記出力端子50123の出力が「１」となる。つまり、前記遮断器本体２が断路位置にあることを表す信号（以下「断路位置信号」と略記する）が前記出力端子50123から出力される。
【００７２】
前記出力端子50123から出力される前記断路位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体２内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される（図示省略）が、それとは別に、前記位置信号出力部５の、前記遮断器本体２の前面側に位置する前記出力端子５０１から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
【００７３】
なお、前記遮断器本体２の前記消孤室カバ−部2011（図１参照）と前記本体カバ−部2012（図１参照）とを分解して保守点検する場合や、前記遮断器本体２をリプレイスする場合は、前記遮断器本体２を、図１に一点鎖線で示す前記完全引出位置まで引き出し、当該引き出された前記遮断器本体２を、上方に吊り上げることにより、前記レ−ル６０１，６０２から取り外す。
【００７４】
この発明の実施の形態１は、前述のように、前記遮断器本体２の前記主回路端子２０２が前記配電線側主回路導体１０５に接触している接続位置から前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出す量に応じて、前記主回路端子２０２の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、対を成す前記検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062と前記橋絡電極４０３とが、前記遮断器本体２の前記引出枠１からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062が前記橋絡電極４０３によって橋絡されると前記スイッチング素子5114、5115、5116がスイッチング動作して出力端子50121、50122、50123に出力が出る検出回路５００で構成してあるので、前述の特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献１の図３及びその説明に記載されている位置検出装置のように第１〜第３のレバ−、リンク部材、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。
【００７５】
また、この発明の実施の形態１は、前述のように、前記スイッチング素子5114、5115、5116が装填された基板５０３及び前記検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062が前記引出枠１に前記遮断器本体２の消孤室より前面側に位置して取り付けられているので、遮断器動作時に遮断器の主接点（図示省略）間に発生するア−クの熱や高温のイオン化消孤ガスによる前記スイッチング素子5114、5115、5116や前記基板５０３、前記検出電極5041，5042、5051，5052、5061，5062等への悪影響は生じない。
【００７６】
実施の形態２．
図８〜図１１は、この発明の実施の形態２を示す図で、図８は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図３に相当する。図９は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図５に相当する。図１０は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図、図１１は位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）で、前述の図６に相当する。なお、図８〜図１１において、前述の図１〜図７と同一符号は、前述の図１〜図７と同一または相当部分を示し、前述の図１〜図７と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図１及び図２に図示されている範囲では、この発明の実施の形態２は前述のこの発明の実施の形態１と同じであるので、この発明の実施の形態２では、前述の図１及び図２に相当する図は省略する。
【００７７】
この発明の実施の形態２と前述のこの発明の実施の形態１との主たる相違点は、前記遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を検出する電極部分の構造及び検出回路の回路構成である。
【００７８】
つまり、前述のこの発明の実施の形態１においては、図３、図５、及び図６に示されているように、前記対を成す検出電極5041，5042、・・・・と前記橋絡電極４０３とが、前記遮断器本体２の前記引出枠１からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041，5042、・・・・が前記橋絡電極４０３によって橋絡されると、前記スイッチング素子5114，5115，5116がスイッチング動作して出力端子50121，50122，50123に出力が出る
ように構成されている。
【００７９】
これに対し、この発明の実施の形態２は、図８〜図１１に示されているように、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置に配設された中間位置電極（接続−試験）4064と、前記試験位置と前記断路位置との中間位置に配設された中間位置電極（試験−断路）4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出す量に応じて、前記前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、及び前記中間位置電極（試験−断路）4065から検出電極5042，5052，5062，50452，50562，50C2を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路５１０と、を有する検出回路５００で、前記遮断器本体２の前記位置検出装置を構成してある。
【００８０】
具体的には、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）4065、及び前記共通電極4066は、図８及び図１０に示してあるように、何れも前記係合ユニット４の前記位置信号出力部５と対向している扁平な側面４０１に同一平面状に取り付けられている。
【００８１】
また、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）4065、及び前記共通電極4066は、図８及び図１０に示してあるように、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）と直角を成す方向に、所定の絶縁距離を確保するために、それぞれ前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）に離間して配設されている。
【００８２】
また、図１０に示してあるように、前記中間位置電極（接続−試験）4064は、例えばソルダレジストで保護されたパターン電極等からなる接続電極４０７を介して前記共通電極4066に接続されている。同様に、前記中間位置電極（試験−断路）4065は、前記接続電極４０７と前記中間位置電極（接続−試験）4064と接続電極４０７とを介して前記共通電極4066に接続され、前記断路位置電極4063は、前記接続電極４０７と前記中間位置電極（接続−試験）4064と接続電極４０７と前記中間位置電極（試験−断路）4065と接続電極４０７とを介して前記共通電極4066に接続され、前記試験位置電極4062は、前記接続電極４０７と前記中間位置電極（接続−試験）4064と前記接続電極４０７と前記中間位置電極（試験−断路）4065と接続電極４０７とを介して前記共通電極4066に接続され、前記接続位置電極4061は、前記接続電極４０７と前記中間位置電極（接続−試験）4064と接続電極４０７と前記中間位置電極（試験−断路）4065と前記接続電極４０７と前記試験位置電極4062と接続電極４０７とを介して前記共通電極4066に接続されている。
【００８３】
前記検出電極5042，5052，5062，50452，50562，50C2は、図９に示してあるように、何れも前記位置信号出力部５の前記係合ユニット４と対向している扁平な側壁5021を可移動に貫通し、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）と直角を成す方向に、相互に所定距離を隔てて配列されている。
【００８４】
前記検出電極5042は、前記遮断器本体２が前記接続位置にある状態の場合に、前記係合ユニット４の前記接続位置電極4061に弾性的に接触する位置に配設されている接続位置検出電極である。
【００８５】
前記検出電極5052は、前記遮断器本体２が前記引出枠１から矢印Ａ方向に引き出されて前記試験位置にある状態の場合に、当該遮断器本体２の前記試験位置への引き出しに伴って前記試験位置へ移動した係合ユニット４の前記試験位置電極4062に弾性的に接触する位置に配設されている試験位置検出電極である。
【００８６】
前記検出電極5062は、前記遮断器本体２が前記引出枠１から矢印Ａ方向に更に引き出されて前記断路位置にある状態の場合に、当該遮断器本体２の前記断路位置への引き出しに伴って前記試験位置へ移動した前記係合ユニット４の前記断路位置電極4063に弾性的に接触する位置に配設されている断路位置検出電極である。
【００８７】
前記検出電極50452は、前記遮断器本体２が前記接続位置から前記試験位置へ引き出されている間中、前記係合ユニット４の前記中間位置電極（接続−試験）4064に弾性的に接触する位置に配設されている中間位置位置検出電極（接続−試験）である。
【００８８】
前記検出電極50562は、前記遮断器本体２が前記試験位置から前記断路位置へ引き出されている間中、前記係合ユニット４の前記中間位置電極（試験−断路）4065に弾性的に接触する位置に配設されている中間位置検出電極（試験−断路）である。
【００８９】
前記検出電極50C2は、前記遮断器本体２が、前記接続位置にある間中、前記接続位置から前記試験位置へ引き出されている間中、前記試験位置にある間中、前記試験位置から前記断路位置へ引き出されている間中、及び前記断路位置にある間中、前記係合ユニット４の前記共通電極4066に弾性的に接触する位置に配設されている共通検出電極である。
【００９０】
前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置位置検出電極（試験−断路）50562は、それぞれ、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）に前述の各々の機能を呈する長さに短冊状に延在している。
【００９１】
また、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562、共通検出電極50C2は、前述のこの発明の実施の形態１における前記断路位置検出電極5061，5062等と同様に、例えば、前記導電性シリンダ５０７内のスプリング等の弾性部材５０８（図５参照）等によって、各々の前記先端部が、それぞれ前記係合ユニット４の対応電極4061，4062，4063，4064，4065，4066に弾性的に接触されるように付勢されている。
【００９２】
次に、前記遮断器本体２の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置（接続−試験）、前記中間位置（試験−断路）の検出動作について、図１０及び図１１によって説明する。
【００９３】
先ず、前記遮断器本体２が前記接続位置にある状態（図２（ａ）参照）では、図１０に示すように、前記係合ユニット４における接続位置が、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562、共通検出電極50C2の位置にある。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極（接続−試験）4064が前記中間位置検出電極（接続−試験）50452に、前記接続位置電極4061が前記接続位置検出電極5042に、それぞれ弾性的に接触している。
【００９４】
従って、図１１の＋電源５０９に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記中間位置検出電極（接続−試験）50452の経路で、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が接続され、同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（試験−断路）4065−前記接続電極４０７−前記試験位置電極4062−前記接続電極４０７−前記接続位置電極4061−前記接続位置検出電極5042の経路で、前記接続位置検出電極5042が図１１の＋電源５０９に接続されている。
【００９５】
従って、図１１において、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が前述のように＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体２が接続位置から試験位置にあることを表す信号「１」が出力される。また、前述のように前記接続位置検出電極5042が図１１の＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5114が出力を出し、出力端子50121から、前記遮断器本体２が接続位置にあることを表す信号「１」が出力される。従って、前記遮断器本体２が接続位置にあることを検出できる。
【００９６】
次に、前記遮断器本体２が矢印Ａの方向に引き出されて前記試験位置なった状態（図２（ｂ）参照）では、図１０に示すように、前記係合ユニット４における試験位置が、前記遮断器本体２の矢印Ａ方向への引き出しに伴って、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562、共通検出電極50C2の位置に移動してきている。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極（接続−試験）4064が前記中間位置検出電極（接続−試験）50452に、前記中間位置電極（試験−断路）4065が前記中間位置検出電極（試験−断路）50562に、前記試験位置電極4062が前記試験位置検出電極5052に、それぞれ弾性的に接触している。
【００９７】
従って、図１１の＋電源５０９に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記中間位置検出電極（接続−試験）50452の経路で、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が接続され、同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（試験−断路）4065−前記中間位置検出電極（試験−断路）50562の経路で、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562が前記＋電源５０９に接続され、更に同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（試験−断路）4065−前記接続電極４０７−前記試験位置電極4062−前記試験位置検出電極5052の経路で、前記試験位置検出電極5052が前記＋電源５０９に接続される。
【００９８】
従って、図１１において、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が前述のように＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体２が接続位置から試験位置にあることを表す信号「１」が出力される。また、前述のように前記中間位置検出電極（試験−断路）50562が前記＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5118が出力を出し、出力端子50126から、前記遮断器本体２が試験位置から断路位置にあることを表す信号「１」が出力される。また、前述のように前記試験位置検出電極5052が前記＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5115が出力を出し、出力端子50122から、前記遮断器本体２が試験位置にあることを表す信号「１」が出力される。従って、前記遮断器本体２が試験位置にあることを検出できる。
【００９９】
次に、前記遮断器本体２の引き出し作業の途中で他の割り込み作業が発生するなどにより前記遮断器本体２が前記接続位置と前記試験位置との中間の位置にある状態のままである場合には、図１０において、前記係合ユニット４の前記接続位置と前記試験位置との中間が、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562、共通検出電極50C2の位置にある。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極（接続−試験）4064が前記中間位置検出電極（接続−試験）50452に、弾性的に接触している。
【０１００】
従って、図１１の＋電源５０９に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極４０７−前記中間位置電極（接続−試験）4064−前記中間位置検出電極（接続−試験）50452の経路で、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が接続されている。この場合、
【０１０１】
従って、図１１において、前記中間位置検出電極（接続−試験）50452が前述のように＋電源５０９に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体２が接続位置から試験位置にあることを表す信号「１」が出力される。この場合、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、及び前記中間位置検出電極（試験−断路）50562は、何れも前記＋電源５０９には接続されていないので、
対応スイッチング素子5114、5115、5118は出力を出さない。従って、前記遮断器本体２が前記接続位置と前記試験位置との中間の位置にあることを検出できる。
【０１０２】
前記遮断器本体２の前記断路位置、及び前記試験位置と断路位置の中間の位置も検出できるが、その動作原理は、前述の接続位置、試験位置、及び接続位置と試験位置との中間の位置の検出動作と同じであるので、前記断路位置、及び前記試験位置と断路位置との中間の位置の各検出動作の説明は割愛する。
【０１０３】
この発明の実施の形態２は、前述のように、前記遮断器本体２の前記主回路端子２０２が配電線側主回路導体１０５に接触している接続位置から前記遮断器本体２を引出枠１から引き出す量に応じて、前記主回路端子２０２の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極4064，4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064，4065と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出す量に応じて、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064，4065から検出電極5042，5052，5062，50452，50562，50C2を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路５１０と、を有する検出回路５００で前記遮断器本体２の位置検出装置を構成したので、前述の特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献１の図３及びその説明に記載されている位置検出装置のように第１〜第３のレバ−、リンク部材、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。しかも、前記前記遮断器本体２の、前記接続位置と前記試験位置との中間の位置や前記試験位置と断路位置との中間の位置も検出できる。
【０１０４】
また、前述のこの発明の実施の形態１と同様に、前記スイッチング素子5114，5115，5116，5117,5118が装填された基板５０３及び前記検出電極5042、5052、5062，50452，50562，50C2が前記引出枠１に前記遮断器本体２の消孤室より前面側に位置して取り付けられているので、遮断器動作時に遮断器の主接点（図示省略）間に発生するア−クの熱や高温のイオン化消孤ガスによる前記スイッチング素子5114，5115，5116，5117,5118や前記基板５０３、前記検出電極5042、5052、5062，50452，50562，50C2等への悪影響は生じない。
【０１０５】
実施の形態３．
図１２〜図１６は、この発明の実施の形態３を示す図で、図１２は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図３及び図８に相当する。図１３は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図５及び図９に相当する。図１４は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図で、前述の図１０に相当する。図１５は位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）で、前述の図６及び図１１に相当する。図１６は遮断器本体の各位置における位置信号出力部の入出力の関係を示す図で、（ａ）は主回路と制御回路との入出力の関係を示すタイムチャート、（ｂ）は前述の図７に相当する入出力の真理値を示す図である。なお、図１２〜図１６において、前述の図１〜図１１と同一符号は、前述の図１〜図１１と同一または相当部分を示し、前述の図１〜図１１と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図１及び図２に図示されている範囲では、この発明の実施の形態３は前述のこの発明の実施の形態１と同じであるので、この発明の実施の形態３では、前述の図１及び図２に相当する図は省略する。
【０１０６】
この発明の実施の形態３と前述のこの発明の実施の形態２との主たる相違点は、前記遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を検出する電極部分の配置及び検出回路の回路構成である。
【０１０７】
つまり、前述のこの発明の実施の形態２においては、図８、図９、及び図１０に示されているように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063が、
前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）と直角を成す方向に所定距離離間して配列されているが、この発明の実施の形態３においては、図１２及び図１４に示されているように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063が、前記遮断器本体２の引き出し方向（矢印Ａの方向）に直線状に所定距離離間して配列されている。
【０１０８】
また、前述のこの発明の実施の形態２においては、図９、図１０、及び図１１に示されているように、前記遮断器本体２の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置（接続−試験）、及び前記中間位置（試験−断路）を検出する検出電極は、６個（即ち前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置位置検出電極（接続−試験）50452、前記中間位置検出電極（試験−断路）50562、共通検出電極50C2）設けられているが、この発明の実施の形態３においては、図１３、図１４、及び図１５に示されているように、４個の検出電極、即ち中間位置（接続−試験）検出電極50452、中間位置（試験−断路）検出電極50562、接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、及び共通検出電極50C2で、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置（接続−試験）、及び前記中間位置（試験−断路）を検出することできる。
【０１０９】
また、図１５に示してあるように、検出回路５００の回路構成も、この発明の実施の形態３は、前述の実施の形態２とは異なり、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記中間位置（試験−断路）検出電極50562、及び前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と、スイッチング回路５１０との間に、抵抗5119，5120，5121を介して論理回路５２０を接続してある。前記論理回路５２０は、ＡＮＤ回路5125，5126，5127，5132，5133と、ＯＲ回路5128と、ＮＯＲ回路5129と、インバ−タ5130，5131，5134とで構成されている。
【０１１０】
前記ＡＮＤ回路5125は、その入力が前記中間位置（接続−試験）検出電極50452および前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562に接続されると共に前記インバ−タ5130を介して前記中間位置（試験−断路）検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5117の入力に接続されている。
【０１１１】
前記ＡＮＤ回路5126は、その入力が前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、および前記中間位置（試験−断路）検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5118の入力に接続されている。
【０１１２】
前記ＡＮＤ回路512７は、その入力が前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562に接続されると共に前記インバ−タ5131を介して前記中間位置（接続−試験）検出電極50452に接続され、その出力は前記スイッチング素子5114の入力に接続されている。
【０１１３】
前記ＡＮＤ回路5132は、その入力が前記中間位置（接続−試験）検出電極50452に接続されると共に前記インバ−タ5134を介して前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562に接続され、その出力は前記ＯＲ回路5128の入力に接続されている。
【０１１４】
前記ＡＮＤ回路5133は、その入力が前記中間位置（試験−断路）検出電極50562に接続されると共に前記インバ−タ5134を介して前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562に接続され、その出力は前記ＯＲ回路5128の入力に接続されている。
【０１１５】
前記ＡＮＤ回路5132，5133の出力を入力する前記ＯＲ回路5128の出力は前記スイッチング素子5115の入力に接続されている。
【０１１６】
前記ＮＯＲ回路5129は、その入力が前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、および前記中間位置（試験−断路）検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5116の入力に接続されている。
【０１１７】
なお、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、および前記中間位置（試験−断路）検出電極50562は、各々、抵抗5122，5123，5124を介して接地されている。
【０１１８】
次に、以上のように構成されたこの発明の実施の形態３における引出形遮断器の動作を、関係化くずを参照しながら説明する。
【０１１９】
引出形遮断器の接続位置において、前記遮断器本体２は前記引出枠１内に押込まれており（図２（ａ）参照）、前記主回路導体１０５と前記主回路端子２０２とは接続（図１６（ａ）のＳ１）され、また、係合ユニット４のユニット端子４０１（図４参照）と引出枠端子台３のリセプタクル３０２（図４参照）とが接続（図１６（ａ）のＳ２）された状態である。
【０１２０】
また、前記共通検出電極50C2と前記共通電極4066、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452と前記中間位置電極（接続−試験）4064、及び前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記接続位置電極4061とは、それぞれ接触状態（図１６（ａ）のＳ３，Ｓ４）である（図１４参照）ため、図１５において、前記電源５０９から前記共通検出電極50C2、前記共通電極4066、前記接続電極４０７、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452を介して前記論理回路５２０に信号が入力されると共に、前記電源５０９から前記共通検出電極50C2、前記共通電極4066、前記接続電極４０７、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記接続電極４０７、前記中間位置電極（試験−断路）4065、前記接続電極４０７、前記試験位置電極4062、前記接続電極４０７、前記接続位置電極4061、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562を介して前記論理回路５２０に信号が入力され、前記論理回路５２０はそのロジックに応じた論理処理を行い出力端子50121から出力信号が出力され、この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも引出形遮断器が前記接続位置であることが確認できる。
【０１２１】
前記遮断器本体２を前記接続位置と前記試験位置の中間位置まで引き出すと、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記接続位置電極4061とは非接触（図１６（ａ）のＳ５）となり、前記論理回路５２０に前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562から入力されていた信号がなくなり、前記論理回路５２０は出力端子501256から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記接続位置には無く前記中間位置にあることが確認できる。
【０１２２】
更に、前記遮断器本体２を引出枠１から引き出すと、前記主回路導体１０５と前記主回路端子２０２とが開離（図１６（ａ）のＳ６）される。
【０１２３】
前記遮断器本体２を前記試験位置まで引き出すと、前記中間位置（試験−断路）検出電極50562と前記中間位置電極（試験−断路）4065とが接触（図１６（ａ）のＳ７）すると共に、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記試験位置電極4062とが接触（図１６（ａ）Ｓ８）し、前記論理回路５２０は出力端子50122から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも引出形遮断器が前記試験位置にあることが確認できる。
【０１２４】
前記遮断器本体２を前記試験位置と前記断路位置の中間位置まで引き出すと、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452と前記中間位置電極（接続−試験）4064とが非接触（図１６（ａ）のＳ９）となる共に、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記試験位置電極4062とが非接触（図１６（ａ）のＳ１０）となり、前記論理回路５２０に入力されていた信号がなくなり、前記論理回路５２０は出力端子501256から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記接続位置には無く前記中間位置にあることが確認できる。
【０１２５】
更に前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出すと、前記係合ユニット４のユニット端子４０１と前記引出枠端子台３のリセプタクル３０２とが開離（図１６（ａ）のＳ１１）される。
【０１２６】
前記遮断器本体２を前記断路位置まで引き出すと、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記断路位置電極4063とが接触（図１６（ａ）のＳ１２）し、前記論理回路５２０は出力端子50123から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記断路位置にあることが確認できる。
【０１２７】
前記遮断器本体２を前記断路位置から更に引き出すと、前記中間位置（試験−断路）検出電極50562と前記中間位置電極（試験−断路）4065とが非接触（図１６（ａ）のＳ１３）となると共に、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562と前記断路位置電極4063とが非接触（図１６（ａ）のＳ１４）となり、前記論理回路５２０に入力されていた信号がなくなり、前記論理回路５２０は出力端子50127から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が完全引出位置にあることが確認できる。
【０１２８】
前述の各位置での入出力動作をまとめて真理値で示すと、図１６（ｂ）のようになる。
【０１２９】
この発明の実施の形態３は、前述のように、前記遮断器本体２の前記主回路端子２０２が前記配電線側主回路導体１０５に接触している前記接続位置から前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出す量に応じて、前記主回路端子２０２の位置が前記試験位置及び前記断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極4064，4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064，4065と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体２を前記引出枠１から引き出す量に応じて、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064，4065から検出電極50452，50562，504562，50C2を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路５２０と、前記論理回路５２０の出力に応動し前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路５１０と、を有する検出回路５００で前記引出形遮断器の位置検出装置を構成したので、前述の特許文献１の図６〜図８及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献１の図３及びその説明に記載されている位置検出装置のように第１〜第３のレバ−、リンク部材、第２のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。しかも、前記前記遮断器本体２の、前記接続位置と前記試験位置との中間の位置や前記試験位置と断路位置との中間の位置も検出できる。前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の各位置間の中間位置の検出ができるようになることで、遮断器本体が中途半端な位置（主回路あるいは制御回路が接続・断路の切り換ったか切り換らないかの境界）をも監視することができ、不用意な状態での操作等を確実に防ぐことができ、更に、完全引出位置が確認できるので、遠隔地から遮断器本体の有無がわかる。
【０１３０】
実施の形態４．
図１７及び図１８は、この発明の実施の形態４を示す図で、図１７は引出形遮断器の遮断器本体要部外観斜視図、図１８は引出形遮断器の位置信号出力部の外観斜視図である。
【０１３１】
前述の実施の形態３においては、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）、及び共通電極4066を、前記結合ユニット４の側面4021に設け、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記中間位置（試験−断路）検出電極50562、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、及び前記共通検出電極50C2を、前記位置信号出力部５の側壁部5021に設けた例を例示したが、この発明の実施の形態４は、図１７及び図１８に示すように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）、及び共通電極4066を、前記遮断器本体２の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に配設し、前記中間位置（接続−試験）検出電極50452、前記中間位置（試験−断路）検出電極50562、前記接続位置／試験位置／断路位置検出電極504562、及び前記共通検出電極50C2を、前記位置信号出力部５の筐体５０２の底面部に設けた例であり、前述の実施の形態３と同等な効果を奏する。
【０１３２】
なお、前述の実施の形態２及び３において、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）、及び共通電極4066を、前記結合ユニット４の側面4021に直接設けてあるように図示してあるが、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）、及び共通電極4066は、前記結合ユニット４の側面4021や前記遮断器本体２の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に直接設けてもよく、また、絶縁物製の電極取付基板に取り付け、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極（接続−試験）4064、前記中間位置電極（試験−断路）、及び共通電極4066が取り付けられた絶縁物製電極取付基板を、前記結合ユニット４の側面4021や前記遮断器本体２の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に取り付けても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１３３】
【図１】この発明の実施の形態１における引出形遮断器の外観斜視図で、遮断器本体が接続位置にある場合を実線で、遮断器本体を取外可能な完全引出位置まで引き出した状態を一点鎖線で、それぞれ示してある。
【図２】この発明の実施の形態１における遮断器本体の主回路端子及び係合ユニットの端子の位置関係を一部断面で示す側面図で、（ａ）は接続位置、（ｂ）は試験位置、及び（ｃ）は断路位置、における主回路端子及び係合ユニットのユニット端子の位置関係を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１における引出形遮断器の引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図である。
【図４】図３のIV−IV線における断面を矢印の方向に見た縦断側面図である。
【図５】この発明の実施の形態１における位置信号出力部の一部断面拡大斜視図である。
【図６】この発明の実施の形態１における位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）である。
【図７】この発明の実施の形態１における遮断器本体の接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置の各位置における位置信号出力部の入出力真理値を示す図（検出回路の入出力の関係を真理値で示す図）である。
【図８】この発明の実施の形態２における引出枠端子台と係合ユニットとの位置関係を示す拡大斜視図である。
【図９】この発明の実施の形態２における位置信号出力部の一部断面拡大斜視図である。
【図１０】この発明の実施の形態２における係合ユニット上の各種電極の配置を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態２における位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）である。
【図１２】この発明の実施の形態３における引出枠端子台と係合ユニットとの位置関係を示す拡大斜視図である。
【図１３】この発明の実施の形態３における位置信号出力部の一部断面拡大斜視図である。
【図１４】この発明の実施の形態３における係合ユニット上の各種電極の配置を示す図である。
【図１５】この発明の実施の形態３における位置信号出力部の内部結線図（検出回路の回路構成を示す図）である。
【図１６】この発明の実施の形態３における遮断器本体の各位置における位置信号出力部の入出力の関係を示す図で、（ａ）は主回路と制御回路との入出力の関係を示すタイムチャート、（ｂ）は前述の図７に相当する入出力の真理値を示す図である。
【図１７】この発明の実施の形態４における引出形遮断器の遮断器本体要部外観斜視図である。
【図１８】この発明の実施の形態４における引出形遮断器の位置信号出力部の外観斜視図である。
【符号の説明】
【０１３４】
１  引出枠、
２  遮断器本体、
１０５  主回路導体、
２０２  主回路端子、
４０３  橋絡電極、
4061  接続位置電極、
4062  試験位置電極、
4063  断路位置電極、
4064，4065  中間位置電極、
4066  共通電極、
５００  検出回路、
５０３  基板、
５１０  スイッチング回路
５２０  論理回路、
5041，5042、5051，5052、5061，5062，50452，50562，504562，50C2  検出電極、
5114、5115、5116  スイッチング素子。
【図１】
2005045970.tif 000003
【図２】
2005045970.tif 000004
【図３】
2005045970.tif 000005
【図４】
2005045970.tif 000006
【図５】
2005045970.tif 000007
【図６】
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【図７】
2005045970.tif 000009
【図８】
2005045970.tif 000010
【図９】
2005045970.tif 000011
【図１０】
2005045970.tif 000012
【図１１】
2005045970.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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