(57)【要約】【課題】画像をタイル分割し、タイル単位で周波数変換を行った場合に、周波数変換時のミラリングの影響により、周波数係数を量子化及び逆量子化後に逆周波数変換して得られる画像に生じるタイル境界歪みを確実に除去し、かつ、タイル境界付近のエッジが存在する場合におけるデタイル処理の副作用の発生を抑える。【解決手段】エッジ検出部１１２によりタイル境界付近に副作用の原因となるエッジが検出された場合には、デタイル処理を行う係数補正部１１１は、デタイルの副作用を防止するため、タイル境界付近の特定の低周波係数を補正してからタイル境界付近の高周波係数に対する補正を行い、あるいは、前者の低周波係数の補正を、後者の高周波係数の補正に統合した形で行う。【選択図】図２７
2005236458.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換することにより得られた係数を、量子化及び逆量子化をした後に逆周波数変換して得られる画像のタイル境界歪みを除去するための画像処理装置であって、
タイル境界付近の係数に関する条件判定を行う条件判定手段と、
前記条件判定手段による判定結果に応じてタイル境界歪みを除去するための係数の補正処理を行う係数補正手段と、
を有し、
前記条件判定手段により特定の条件が判定されないときには、前記係数補正手段は、周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の高周波係数に対する補正処理を行い、
前記条件判定手段により特定の条件が判定されたときには、前記係数補正手段は、周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の低周波係数に対する補正処理を行い、次に周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の高周波係数に対する補正処理を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置において、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理で、当該特定の低周波係数の値が、当該特定の低周波係数の値と当該特定の低周波係数に最も近い位置にある隣接タイル内の低周波係数の値との間の値に補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１に記載の画像処理装置において、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理で、当該特定の低周波係数の値が、当該特定の低周波係数の値と、当該特定の低周波係数の値と当該特定の低周波係数に最も近い位置にある隣接タイル内の低周波係数の値の平均値との間の値に補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１に記載の画像処理装置において、
周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理では、
インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）
における低周波係数L3の値が（L2＋L3）／２の値に補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１に記載の画像処理装置において、
前記条件判定手段により特定の条件が判定されたときの前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が前記特定の高周波係数に対する補正処理に統合されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像処理装置において、
周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、
インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）
における高周波係数H2の値が次式
H2＝1/3・H1−1/3・L2＋1/3・L3
により補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項５に記載の画像処理装置において、
周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、
インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）
における高周波係数H3の値が次式
H3＝L3−L2
により補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項５に記載の画像処理装置において、
周波数変換は９×７ウェーブレット変換であり、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、
インターリーブされた係数列  H0  L1  H1  L2  H2  L3  H3  L4  H4  （ただし、H0，H1，H2，H3，H4は高周波係数であり、L1，L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）
における高周波係数H2の値が次式
H2＝(-0.0535H0+0.15644H1+0.09127L1-0.295635L2+0.295635L3-0.09127L4)/0.60295
により補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項５に記載の画像処理装置において、
周波数変換は９×７ウェーブレット変換であり、
前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、
インターリーブされた係数列  H0  L1  H1  L2  H2  L3  H3  L4  H4  （ただし、H0，H1，H2，H3，H4は高周波係数であり、L1，L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）
における高周波係数H3の値が次式
H3＝-0.5L2+0.557545L3-0.05754L4+0.03372H4
により補正されることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項１又は５に記載の画像処理装置において、
前記条件判定手段は、タイル境界付近に存在するタイル境界と平行なエッジ成分を検出し、かつ、該エッジ成分が所定値を越えることを前記特定の条件と判定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の画像処理装置において、
前記条件判定手段は、タイル境界上のエッジ成分を検出対象から除外することを特徴する画像処理装置。
【請求項１２】
請求項１０に記載の画像処理装置において、
周波数変換はウェーブレット変換であり、
前記条件判定手段は、タイル境界に接する画素から、ウェーブレット変換用ローパスフィルタのタップ長の半分未満の距離内にあるエッジ成分を検出対象とすることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
請求項１０に記載の画像処理装置において、
前記条件判定手段は、低周波係数を用いてエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載の画像処理装置において、
前記条件判定手段は、隣接する低周波係数の差分をとることによりエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１５】
請求項１３に記載の画像処理装置において、
周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、
前記条件判定手段は、タイル境界から距離０と距離２の位置にある右タイル内の低周波係数の差分をとることによりエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１６】
請求項１３に記載の画像処理装置において、
周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、
前記条件判定手段は、タイル境界から距離０の位置にある右タイル内の低周波係数と、タイル境界から距離１の位置にある左タイル内の低周波係数との差分をとることによりエッジエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１７】
請求項１５に記載の画像処理装置において、
エッジ成分に関する前記所定値は２４を基準にして選ばれることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１８】
請求項１６に記載の画像処理装置において、
エッジ成分に関する前記所定値は６を基準にして選ばれることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１９】
画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換することにより得られた周波数係数を、量子化及び逆量子化をした後に逆周波数変換して得られる画像のタイル境界歪みを除去するための画像処理方法であって、
請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の条件判定手段及び係数補正手段の機能に対応する処理ステップを含むとことを特徴とする画像処理方法。
【請求項２０】
請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の条件判定手段及び係数補正手段としてコンピュータを機能させるプログラム。
【請求項２１】
請求項２０に記載のプログラムが記録された、コンピュータが読み取り可能な情報記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理に係り、より詳細には、画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換することにより得られた周波数係数を、量子化及び逆量子化後に逆周波数変換して得られる画像のタイル境界歪みを除去するためのデタイル処理に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年，画像入出力技術の進歩により、画像に対する高精細化の流れはとどまるところを知らず、高精細画像を容易に圧縮・伸長できる技術への要求も強いものがある。
【０００３】
こうした要求を満たす圧縮・伸長方式の一つとして、高精細画像を小さい単位に分割して処理でき、高圧縮率でも高画質な画像を復号可能なＪＰＥＧ２０００がある。ＪＰＥＧ２０００においては、画像を重複しない矩形領域(タイル)に分割することにより、少ないメモリ環境下で圧縮伸長処理を行うことが可能である。すなわち、個々のタイルが圧縮伸長プロセスを実行する際の基本単位となり、圧縮伸長動作はタイル毎に独立に行うことができる。
【０００４】
ここで、ＪＰＥＧ２０００の概要を説明する。図１はＪＰＥＧ２０００の圧縮（符号化）・伸長（復号化）処理の基本的な流れを示したブロック図である。
【０００５】
まず、圧縮（符号化）処理について説明する。例えば、ＲＧＢの３コンポ−ネントで構成されるカラー画像は、各コンポーネント毎に１以上の重複しないタイルに分割され、各コンポーネントの各タイル毎に処理が行われる。まず、各タイル毎に、色変換・逆色変換部１００で輝度・色差コンポ−ネントへのコンポ−ネント変換（色変換）がなされ、次に２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１で、各コンポーネントの各タイル毎に２次元のウェーブレット変換（離散ウェーブレット変換）がなされる。ウェーブレット係数は、サブバンド毎に、必要に応じて量子化・逆量子化部１０２で量子化された後、エントロピー符号化・復号化部１０３でビットプレーンを単位としたエントロピー符号化がなされる（正確には、ビットプレーンは３つのサブビットプレーンに細分化されて符号化される）。そして、符号形成・タグ処理部１０４で、不要な符号をトランケートし、必要な符号をまとめてパケットを生成し、パケットを所定の順序に並べ、必要なタグ及びタグ情報を付加することにより、所定のフォーマットのコードストリーム（符号化データ）が形成される。
【０００６】
なお、色変換・逆色変換部１００は必須ではない。また、ＪＰＥＧ２０００では、５×３変換と呼ばれる可逆ウェーブレット変換と、９×７変換と呼ばれる非可逆ウェーブレット変換が規定されている。５×３ウェーブレット変換が用いられる場合、量子化・逆量子化部１０２による量子化（スカラー量子化）は行われないが、符号形成・タグ処理部１０４におけるトランケーションは係数の量子化と等価である。よって、本願の明細書及び特許請求の範囲において、ウェーブレット係数（広義には周波数変換係数）の量子化には、符号のトランケーションによる量子化も包含されるものする。
【０００７】
伸長（復号化）処理は圧縮処理と丁度逆の処理である。コードストリームは符号形成・タグ処理部１０４で各コンポーネントの各タイルのコードストリームに分解され、エントロピー符号化・復号化部１０３でビットプレーン単位でエントロピー復号され、復号されたウェーブレット係数は量子化・逆量子化部１０２により逆量子化される。そして、コンポ−ネント毎のウェーブレット係数に対して２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１で２次元の逆ウェーブレット変換が施され、その後、色変換・逆色変換部１００で逆コンポーネント変換（逆色変換）が施されることにより元のＲＧＢの画素値に戻される。
【０００８】
さて、画像を重複しないタイルに分割し、タイル毎に処理を行う方法は、省メモリ化・高速化に有効な手法であるが、圧縮率の高い条件で圧縮したコードストリームを伸長した画像において、タイルの境界が不連続となるという問題がある。
【０００９】
このタイル境界歪みは、見かけ上、離散コサイン変換（ＤＣＴ）におけるブロック歪みに類似したものである。
【００１０】
このＤＣＴのブロック歪みの除去に関しては、従来、
（ａ）ブロック分割された画像のDCT成分からブロック境界を抽出し、ブロック境界に垂直な一次元ローパスフィルタをかける方法（特許文献１参照）、
（ｂ）ブロック境界の方向とエッジの方向との関係からブロック歪みの有無を判定し、ブロック歪みがある画素に対してローパスフィルタをかける方法（特許文献２参照）、
（ｃ）ブロック歪みを検出し、検出されたブロック歪みに対しローパスフィルタをかける方法（特許文献３参照）
などが知られている。これらはいずれも、ブロック境界の方向とエッジ度に応じて画素値に適応的なローパスフィルタをかけることにより、ブロック境界の歪みは平滑化しつつも、ブロック境界に位置する真のエッジへの平滑化は避けることを意図している。しかし、こうしたローパスフィルタ的手法は、それがいかに適応的であっても、「歪み自体の平滑化(予定した作用)」と「真のエッジの平滑化(予定しない副作用)」のトレードオフにさいなまれることになる。
【００１１】
一方、本出願人は、ウェーブレット変換を用いる圧縮伸長システムにおいて、例えば、隣接するタイルのローパス係数とハイパス係数を利用して、タイル境界に隣接するハイパス係数の補正処理（デタイリング）を行うことによって、タイル境界歪みを除去する方法を提案している（特許文献４参照）。
【００１２】
【特許文献１】特開平05-316361号公報
【特許文献２】特許第2839987号公報
【特許文献３】特開平09-307855号公報
【特許文献４】特開2001−257596号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
特許文献４に記載のタイル境界歪み除去の方法は、ウェーブレット係数空間での画像復元に類する手法である。画像復元では、失われた情報を復元するために、ある経験的な拘束条件を採用し、その条件に基づいて復元すべき解を算出する。
【００１４】
特許文献４に記載の方法においては、
・タイル境界歪みが生じるのは圧縮率が高い場合であり、タイリングの有無に関わらず全てのハイパス係数は０に量子化される（近似１）、
・タイリングをした場合のローパス係数は、タイリングをしない場合のローパス係数に等しい（近似２）
という近似もしくは仮定を採用し、
｛(０に量子化されたが)補正されたハイパス係数を用いて逆ウェーブレット変換をした場合の、タイル境界の画素値｝＝
｛ハイパス係数が０の場合の、タイリングをせずに逆ウェーブレット変換をした場合の同じ位置の画素値｝
という式から、ハイパス係数の補正値を算出している（なお、０に量子化されたハイパス係数に対し、０でない補正値を算出する過程は、”画像復元”である）。
【００１５】
以下、JPEG2000の５×３ウェーブレット変換を例にとり、上記補正値を得るための補正式の導出について説明する。
【００１６】
図２乃至図５は、16×16のモノクロの画像に対して、５x３変換と呼ばれるウェーブレット変換（正変換）を２次元(垂直方向および水平方向)で施す過程の例を示したものである。
【００１７】
図２の様にｘｙ座標をとり、あるｘについて、ｙ座標がｙである画素の画素値をP（y）（0≦ｙ≦15）と表す。ＪＰＥＧ２０００では、まず垂直方向（ｙ座標方向）に、ｙ座標が奇数（y=2i+1）の画素を中心にハイパスフィルタを施して係数C(2i+1)を得る。次に、ｙ座標が偶数（y=2i）の画素を中心にローパスフィルタを施して係数C(2i)を得る(これを全てのｘ座標について行う)。
【００１８】
ここで、ハイパスフィルタは（１）式で表され、ローパスフィルタは式（２）で表される。式中の記号|_ｘ_|は、ｘのフロア関数（実数ｘを、ｘを越えず、かつ、ｘに最も近い整数に置換する関数）を示している。step1，step2はそれが適用される順序である。
C(2i+1)＝P(2i+1)−|_(P(2i)+P(2i+2))/2_|        式(1)      (step1)
C(2i)＝P(2i)＋|_(C(2i-1)+C(2i+1)+2)/4_|        式(2)      (step2)
【００１９】
なお、画像の端部においては、中心となる画素に対して隣接画素群が存在しないことがあり、この場合は図７に示した「ミラリング」と呼ばれる手法によって不足する画素値を補うことになる。ミラリングは、文字通り、境界を中心として画素値を線対称に折り返し、折り返した値を隣接画素群の値とみなす処理である。
【００２０】
簡単のため、ハイパスフィルタで得られる係数をＨ、ローパスフィルタで得られる係数をＬ、と表記すれば、前記垂直方向の変換によって図２の画像は図３のようなL係数、H係数の配列へと変換される。
【００２１】
続いて、今度は図３の係数配列に対して、水平方向に、ｘ座標が奇数（y=2i+1）の係数を中心にハイパスフィルタを施し、次にｘ座標が偶数（ｘ=2i）の係数を中心にローパスフィルタを施す(これを全てのｙについて行う）。この場合、前記式（１），（２）中の
P(2i)等は係数値を表すものと読み替える。
【００２２】
簡単のため、
前記L係数を中心にローパスフィルタを施して得られる係数をLL、
前記L係数を中心にハイパスフィルタを施して得られる係数をHL、
前記H係数を中心にローパスフィルタを施して得られる係数をLH、
前記H係数を中心にハイパスフィルタを施して得られる係数をHH、
と表記すれば、図３の係数配列は、図４の様な係数配列へと変換される。ここで、同一の記号を付した係数群はサブバンドと呼ばれる。すなわち、図４は４つのサブバンドで構成される。
【００２３】
以上で、１回のウェーブレット変換（１回のデコンポジション（分解））が終了し、LL係数だけを集めると（図５の様にサブバンド毎に係数を集め、LLサブバンドだけ取り出すと）、ちょうど原画像の１/２の解像度の“画像”が得られる（このように、サブバンド毎に分類することをデインターリーブと言い、図３のような状態に配置することをインターリーブと言う）。
【００２４】
また、２回目のウェーブレット変換は、上記LLサブバンドを原画像と見なして、上記と同様の変換を行えばよい。この場合、並べ替えを行うと、模式的な図６が得られる。図５，図６の係数の接頭の１や２は、係数が何回のウェーブレット変換で得られたかを示しており、デコンポジションレベルと呼ばれる。なお、以上の議論において、１次元のみのウェーブレット変換をしたい場合には、いずれかの方向だけの処理を行えばよい。
【００２５】
一方、ウェーブレット逆変換は、図４の様なインターリーブされた係数の配列に対して、まず、水平方向に、ｘ座標が偶数（ｘ=2i）の係数を中心に逆ローパスフィルタを施し、次に、ｘ座標が奇数（ｘ=2i+1）の係数を中心に逆ハイパスフィルタを施す(これを全てのｙについて行う)。ここで、逆ローパスフィルタは式（３）で表され、逆ハイパスフィルタは式（４）で表される。ウェーブレット正変換と同様、画像の端部において中心となる係数に対して隣接係数群が存在しないことがあり、この場合も図７のミラリングによって係数値を適宜補うことになる。
P(2i)＝C(2i)−|_(C(2i-1)+C(2i+1)+2)/4_|          式(３)      (step1)
P(2i+1)＝C(2i+1)＋|_(P(2i)+P(2i+2))/2_|          式(４)      (step2)
【００２６】
これにより、図４の係数配列は図３のような係数配列に変換（逆変換）される。続いて、垂直方向に、ｙ座標が偶数（y=2i）の係数を中心に逆ローパスフィルタを施し、次に、ｙ座標が奇数（y=2i+1）の係数を中心に逆ハイパスフィルタを施せば(これを全てのｘについて行う)、１回のウェーブレット逆変換が終了し、図２の画像に戻る(再構成される)ことになる。なお、ウェーブレット変換が複数回施されている場合は、図２をLLサブバンドとみなし、HL等の他の係数を利用して同様の逆変換を繰り返せばよい。
【００２７】
以上のように、５x３ウェーブレット逆変換では、L，H，L，Hの順にインターリーブした係数列に対し、
偶数位置中心に、逆ローパスフィルタ
奇数位置中心に，逆ハイパスフィルタ
をかける。
【００２８】
さて、前記のフィルタの式（１）〜（４）を、フロア関数を省略して展開すれば明らかなように、正変換と逆変換ではタップ数は逆転し、フィルタ係数もインターリーブされる。
【００２９】
このため、正変換のフィルタ係数が
ハイパス（HIGH）：  -0.5，1，-0.5
ローパス（LOW）：  -0.125，0.25，0.75，0.25，-0.125
の場合、逆変換のフィルタ係数は
逆ローパス（LOW）：  -0.25，1，-0.25
逆パスパス（HIGH）：  -0.125，0.5，0.75，0.5，-0.125
となる（ここでは、フロア関数部分を考慮せずにフィルタ係数を表現している）。
【００３０】
「タイリングをしない場合で、かつハイパス係数が全て０のとき（近似１）」、インターリーブされた係数列
L1  H1  L2  H2  L3  H3
において、H2位置中心に逆ハイパスフィルタをかけた値は、
-0.125H1＋0.5L2＋0.75H2＋0.5L3−0.125H3＝0.5L2＋0.5L3  ‥‥(i)
となる。
【００３１】
ここで、上記係数が、２つのタイルに分割されてから算出されたもので、H2とL3の間にタイル境界があり、L1，H1，L2，H2は左側のタイルの係数、L3，H3は右側のタイルの係数であるとする。H2は、正変換（３タップのハイパスフィルタ）時にミラリングの影響を受けており、補正の対象となるハイパス係数（高周波係数）である。タイリングは、各タイル内の画素だけを用いてウェーブレット変換を行う処理、あるいは、各タイル内の係数だけを用いて逆ウェーブレット変換を行う処理であるため、ミラリングによって左タイルの係数
L1  H1  L2  H2
を右側に補った場合
L1  H1  L2  H2  L2  H1
となる。
【００３２】
よって、H2位置を中心に逆ハイパスフィルタをかけた値は、
-0.125H1＋0.5L2＋0.75H2＋0.5L2−0.125H1＝-0.25H1＋L2＋0.75H2‥‥(ii)
となる。
【００３３】
(i)＝(ii)を狙うため、次式
H2＝1/3H1−2/3L2＋2/3L3  ‥‥(iii)
を得る。
【００３４】
これが、タイル境界に隣接し、正変換時にミラリングの影響を受けたハイパス係数に対する「補正式」である。ただし、この補正式による補正値の算出時には、タイリングした係数しか存在しないため、L2は左タイルの係数を、L3は右タイルの係数を使用する（近似２）。
【００３５】
なお、タイル境界に隣接するローパス係数（L3）に関しても同様な立式が可能であり、その結果、H３の補正式として
H3＝０‥‥（iv）
を得ることができる。ただし、デコンポジションレベル１の場合は、H3はミラリングの誤差を含まないため補正する必要はない（デコンポジションレベル２以上の場合は、H3に隣接するL3自体が、デコンポジションレベル１でミラリングの影響を受けているため補正する）。
【００３６】
上記補正は非常にうまく働き、大抵の場合にタイル境界歪みは除去される。しかし、ある”特定の条件もしくは場合”に、上記近似２が成立せず、上記補正式によるハイパス係数（高周波係数）の補正により、副作用を生じてしまうという課題があった。このような副作用と、それが生じる特定の条件もしくは場合については後述する。
【００３７】
本発明は、かかる副作用を抑制することにより、より確実にタイル境界歪みを防止することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００３８】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換することにより得られた係数を、量子化及び逆量子化をした後に逆周波数変換して得られる画像のタイル境界歪みを除去するための画像処理装置であって、
タイル境界付近の係数に関する条件判定を行う条件判定手段と、
前記条件判定手段による判定結果に応じてタイル境界歪みを除去するための係数の補正処理を行う係数補正手段とを有し、前記条件判定手段により特定の条件が判定されないときには、前記係数補正手段は、周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の高周波係数に対する補正処理を行い、前記条件判定手段により特定の条件が判定されたときには、前記係数補正手段は、周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の低周波係数に対する補正処理を行い、次に周波数変換時にミラリングの影響を受けるタイル境界付近の特定の高周波係数に対する補正処理を行うことを特徴とする画像処理装置である。
【００３９】
請求項２の発明は、請求項１の発明の画像処理装置において、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理で、当該特定の低周波係数の値が、当該特定の低周波係数の値と当該特定の低周波係数に最も近い位置にある隣接タイル内の低周波係数の値との間の値に補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４０】
請求項３の発明は、請求項１の発明の画像処理装置において、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理で、当該特定の低周波係数の値が、当該特定の低周波係数の値と、当該特定の低周波係数の値と当該特定の低周波係数に最も近い位置にある隣接タイル内の低周波係数の値の平均値との間の値に補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４１】
請求項４の発明は、請求項１の発明の画像処理装置において、周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理では、インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）における低周波係数L3の値が（L2＋L3）／２の値に補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４２】
請求項５の発明は、請求項１の発明の画像処理装置において、前記条件判定手段により特定の条件が判定されたときの前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が前記特定の高周波係数に対する補正処理に統合されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４３】
請求項６の発明は、請求項５の発明の画像処理装置において、周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）における高周波係数H2の値が次式
H2＝1/3・H1−1/3・L2＋1/3・L3
により補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４４】
請求項７の発明は、請求項５の発明の画像処理装置において、周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、インターリーブされた係数列  H1  L2  H2  L3  H3  L4  （ただし、H1，H2，H3は高周波係数であり、L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）における高周波係数H3の値が次式
H3＝L3−L2
により補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４５】
請求項８の発明は、請求項５の発明の画像処理装置において、周波数変換は９×７ウェーブレット変換であり、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、インターリーブされた係数列  H0  L1  H1  L2  H2  L3  H3  L4  H4  （ただし、H0，H1，H2，H3，H4は高周波係数であり、L1，L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）における高周波係数H2の値が次式
H2＝(-0.0535H0+0.15644H1+0.09127L1-0.295635L2+0.295635L3-0.09127L4)/0.60295
により補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４６】
請求項９の発明は、請求項５の発明の画像処理装置において、周波数変換は９×７ウェーブレット変換であり、前記係数補正手段による前記特定の低周波係数に対する補正処理が統合された前記特定の高周波係数に対する補正処理では、インターリーブされた係数列  H0  L1  H1  L2  H2  L3  H3  L4  H4  （ただし、H0，H1，H2，H3，H4は高周波係数であり、L1，L2，L3，L4は低周波係数であり、タイル境界はH2とL3の間に位置する）における高周波係数H3の値が次式
H3＝-0.5L2+0.557545L3-0.05754L4+0.03372H4
により補正されることを特徴とする画像処理装置である。
【００４７】
請求項１０の発明は、請求項１又は５の発明の画像処理装置において、前記条件判定手段は、タイル境界付近に存在するタイル境界と平行なエッジ成分を検出し、かつ、該エッジ成分が所定値を越えることを前記特定の条件と判定することを特徴とする画像処理装置である。
【００４８】
請求項１１の発明は、請求項１０の発明の画像処理装置において、前記条件判定手段は、タイル境界上のエッジ成分を検出対象から除外することを特徴する画像処理装置である。
【００４９】
請求項１２の発明は、請求項１０の発明の画像処理装置において、周波数変換はウェーブレット変換であり、前記条件判定手段は、タイル境界に接する画素から、ウェーブレット変換用ローパスフィルタのタップ長の半分未満の距離内にあるエッジ成分を検出対象とすることを特徴とする画像処理装置である。
【００５０】
請求項１３の発明は、請求項１０の発明の画像処理装置において、前記条件判定手段は、低周波係数を用いてエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置である。
【００５１】
請求項１４の発明は、請求項１３の発明の画像処理装置において、前記条件判定手段は、隣接する低周波係数の差分をとることによりエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置である。
【００５２】
請求項１５の発明は、請求項１３の発明の画像処理装置において、周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、前記条件判定手段は、タイル境界から距離０と距離２の位置にある右タイル内の低周波係数の差分をとることによりエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置である。
【００５３】
請求項１６の発明は、請求項１３の発明の画像処理装置において、周波数変換は５×３ウェーブレット変換であり、前記条件判定手段は、タイル境界から距離０の位置にある右タイル内の低周波係数と、タイル境界から距離１の位置にある左タイル内の低周波係数との差分をとることによりエッジエッジ成分の検出を行うことを特徴とする画像処理装置である。
【００５４】
請求項１７の発明は、請求項１５の発明の画像処理装置において、エッジ成分に関する前記所定値は２４を基準にして選ばれることを特徴とする画像処理装置である。
【００５５】
請求項１８の発明は、請求項１６の発明の画像処理装置において、エッジ成分に関する前記所定値は６を基準にして選ばれることを特徴とする画像処理装置である。
【００５６】
請求項１９の発明は、画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換することにより得られた周波数係数を、量子化及び逆量子化をした後に逆周波数変換して得られる画像のタイル境界歪みを除去するための画像処理方法であって、請求項１乃至１８のいずれか１項の発明の画像処理装置における条件判定手段及び係数補正手段の機能に対応する処理ステップを含むとことを特徴とする画像処理方法である。
【００５７】
請求項２０の発明は、請求項１乃至１８のいずれか１項の発明の画像処理装置における条件判定手段及び係数補正手段としてコンピュータを機能させるプログラムである。
【００５８】
請求項２１の発明は、請求項２０の発明のプログラムが記録されたコンピュータが読み取り可能な情報記録媒体である。
【００５９】
上に述べた請求項１乃至１８の発明について説明する。なお、以下の説明中ではエッジ成分を単にエッジと呼ぶことがある。
【００６０】
まず、特許文献４に記載のタイル境界歪み除去の方法における前記の副作用と、それが発生する特定の条件もしくは場合について解析する。
【００６１】
図８と図９は、５ｘ３変換における前述した”特定の条件もしくは場合”の代表例である。
【００６２】
図８の例は、タイル境界の右または下に位置するタイルの、境界からの距離が０の画素と距離が１の画素の間に、境界に平行なエッジ成分がある場合である（図８における横軸は絶対座標であり、絶対座標５と６の画素がタイル境界からの距離が０の画素である。以下同様）。なお、エッジ自体は、境界に対して色々な方向がありえるが、前述の通りウェーブレット変換は１方向の直線状（フィルタのマトリクスが１×ｎ）のフィルタを施すものであるから、該フィルタを施す方向に対してエッジ成分が存在するかどうかが問題となる。ここで、「タイル境界からの距離」は図１０に示した通りである。
【００６３】
同様に、図９の例は、境界の右または下に位置するタイルの、境界からの距離が１の画素と距離が２の画素の間にエッジ成分がある場合である。
【００６４】
なお、図８及び図９においては、簡単のために、小さい方の画素値を０にしてあるが、ウェーブレット変換は線形であるため、それ以外の値の場合は単に平行移動して考えればよい。
【００６５】
図８と図９の場合において、一方向にのみウェーブレット変換をかけ、１L係数には量子化を加えず、１H係数を０に量子化するものとして、前記式(iii)による補正を行うと、その結果はそれぞれ図１１と図１２の様になる。
【００６６】
デタイル（タイル境界歪み除去処理）の結果の理想の一例は、タイル分割をしない場合（つまり１タイルの場合）と等しくなることであるから、図１１及び図１２には、同じエッジを１タイルで処理した場合（タイル分割をしない場合）の復号画素値、タイル分割した場合（２タイルの場合）の復号画素値、２タイルの場合のデタイル後の復号画素値が示されている。
【００６７】
図１１及び図１２から明らかなように、デタイルした場合には、本来（つまり１タイルの場合には）存在しない”うねり”（画素値の上下動）が、左タイルの画素位置４の付近（破線で囲んだ部分）に生じている。これらの”うねり”が前述の副作用であり、本来のエッジに対する擬似エッジのような見え方をし、画質上極めて好ましくない。
【００６８】
図１３及び図１４はそれぞれ図１１及び図１２の場合における副作用の発生原因を確認するための図であり、画素位置の奇偶に応じて施すべきフィルタ（LowまたはHigh）、左右のタイルの画素値、１タイルの場合（タイリングしないの場合）の｛正ウェーブレット変換後の係数値，該係数の量子化して逆量子化した後の値，逆ウェーブレット変換後の画素値｝、２タイルの場合の｛正ウェーブレット変換後の係数値，該係数の量子化して逆量子化した後の値，逆ウェーブレット変換後の画素値｝，１タイルと２タイルの場合の正ウェーブレット変換係数の差違、デタイル（タイル境界歪み除去処理）する場合の｛ハイパス係数の補正をした後のウェーブレット係数値，逆ウェーブレット変換後の画素値｝を上から下へ順に示している。図中、下から３段目の”○”は、１タイルと２タイルの場合の正ウェーブレット変換係数の差違がないことを示し、”×”は１タイルと２タイルの場合の差違が大きいことを示している。いずれの場合にも、ローパス係数L3ついては”×”であり、前記近似２が成立していないことがわかる。
【００６９】
図１１及び図１２の場合に前記”うねり”が生じることは、前記式（１）〜式（４），式（iii）からも簡単に導出できる。また、ウェーブレット変換を２次元で施すときにも同様な”うねり”が生じることは明らかである。
【００７０】
さて、図８及び図９のエッジを、画素値０と画素値ｓからなる高さｓのステップエッジに一般化すると、図１３及び図１４は図１５及び図１６のように表すことができる。ここでは簡単のために、前記式（１）〜（４）におけるフロア関数を省略して近似計算を行っている。両図の太枠部を比較すれば明らかなように、１タイルの場合と２タイルの場合の正変換係数の差は  s/8  または  -s/8  として定式化でき、値としては２タイルの場合のL3は１タイルの場合のL3の２倍である。
【００７１】
これを更に一般化し、画素値bと画素値(b＋s)からなるステップエッジに対して同様な計算を行うと、L2，L3，L3は図１７及び図１８の様に表される。いずれの場合も、
１タイルの正変換係数L3＝
｛（２タイルの正変換係数L2）＋（２タイルの正変換係数L3）｝/２‥‥（vii）
である（このことはステップエッジに限らず、図１７，図１８のステップエッジの位置に高さsのインパルスが存在したときにも成立することが容易に確認できる）。
【００７２】
したがって、前記不具合が生じるような条件で、２タイルの場合のL3を前記式（vii）により１タイルの場合のL3の値に補正すれば、前記近似２の誤差はなくなる。すなわち、前記式（iii）の前提である近似２が成立することとなるので、その後に前記式（iii）による高周波係数H2の補正を行っても前述の不具合は生じない。また、このL3係数の補正により、右タイルの係数に対する前記式（iv）による補正においてもL3の近似誤差の影響が除去される。
【００７３】
請求項１の発明は、かかる解析結果に基づいたものであり、タイル境界付近の特定の高周波係数に対する補正に先だってタイル境界付近の特定の低周波係数に対する補正を行うことにより、前記近似２に関する近似誤差の影響を排除しようとするものである。
【００７４】
ただし、前記式（vii）は、その導出過程から明らかなように完全なステップエッジやインパルスを前提として成立するものである。なまったエッジ等の場合は、１タイルの場合の係数L3の値は｛（２タイルの正変換係数L2）＋（２タイルの正変換係数L3）｝のちょうど1/2とはならず、「２タイルの正変換係数L2と２タイルの正変換係数L3の値の間の値」をとる。
【００７５】
請求項２，３，４の発明は、かかる解析に基づき、特定の周波数係数に対し適切な補正を行おうとするものである。
【００７６】
なお、ミラリングを行う場合、前記式（vii）は、奇数タップの任意のウェーブレット変換に対して成立する。これは、同じ導出過程を辿ることにより容易に確認できる。
【００７７】
さて、請求項１〜４の発明においては、特定の条件では、特定の低周波係数に対する補正を行い、次に特定の高周波係数に対する補正を行うが、前者の特定の低周波係数に対する補正を、後者の特定の高周波係数に対する補正に統合することが可能である。
【００７８】
すなわち、左タイルの高周波係数に対する補正式である前記（iii）式を再掲する。
【００７９】
H2＝1/3・H1−2/3・L2＋2/3・L3
この補正式において、L2は左タイルの係数、L3は右タイルの係数を使用するが、前述のようにL3についての近似が成立していないことが前述の不具合の要因である。したがって、この式（iii）中のL3を前記式（vii）で置き換えた次式
H2＝1/3・H1−1/3・L2＋1/3・L3  ‥‥式（viii）
を用いるならば、L3の近似誤差による前記不具合を防止することができる。
【００８０】
また、右タイルの係数H3に関する補正式である前記式（iv）を再掲する。
【００８１】
H3＝０
この補正式の立式過程での１タイルの場合のL3を前記式（vii）で置換することにより
H3＝L3−L2‥‥式（ix）
が得れる。この補正式を用いるならば、L3の近似誤差による不都合を防止することができる。
【００８２】
すなわち、前記式（viii）と式（ix）は、特定の条件におけるL3に対する補正を統合した、H2とH3に対する補正のための補正式である。
【００８３】
かかる考察に基づいて、請求項５，６，７の発明は、特定の条件における特定の低周波係数に対する補正を、特定の高周波数に対する補正と統合して行うことにより、近似誤差の影響を除去しようとするものである。
【００８４】
ここまでは５×３ウェーブレット変換の場合について述べたが、９×７ウェーブレット変換の場合についても、同様の考え方で補正式を導出できる。９×７ウェーブレット変換は以下の式で与えられる。
＜正変換＞
C(2n+1)=P(2n+1)+α*(P(2n)+P(2n+2))        [step1]
C(2n)=P(2n)+β*(C(2n-1)+C(2n+1))          [step2]
C(2n+1)=C(2n+1)+γ*(C(2n)+C(2n+2))        [step3]
C(2n)=C(2n)+δ*(C(2n-1)+C(2n+1))          [step4]
C(2n+1)=K*C(2n+1))                        [step5]
C(2n)=(1/K)*C(2n)                        ［step6]
＜逆変換＞
P(2n)=K*C(2n)                            ［step1］
P(2n+1)=(1/K)*C(2n+1)                    ［step2］
P(2n)=P(2n)-δ*(P(2n-1)+P(2n+1))          [step3]
P(2n+1)=P(2n+1)-γ*(P(2n)+P(2n+2))        [step4]
P(2n)=P(2n)-β*(P(2n-1)+P(2n+2))          [step5]
P(2n)=P(2n+1)-α*(P(2n)+P(2n+2))          [step6]
α＝-1.586134342059924
β＝-0.052980118572961
γ＝0.882911075530934
δ＝0.443506852043971
Ｋ＝1.230174104914001
【００８５】
このような９×７ウェーブレット変換の場合、インターリーブされた係数列
H0  L1  H1  L2  H2  L3  H3  L4  H4（H2とL3の間にタイル境界がある）において、近似誤差が問題とならない条件でのH2，H3に対する補正式は
H2=(-0.0535H0+0.15644H1+0.09127L1-0.59127L2+0.59127L3-0.09127L4)/0.60295
・・・式（v）
H3=(0.05754L2-0.05754L4+0.03372H4)/0.53372          ・・・式（vi）
である。
【００８６】
近似誤差が問題となる条件で、低周波係数の補正を統合したH2，H3に対する補正のための補正式は、前記式（v），（vi），（vii）から
H2=(-0.0535H0+0.15644H1+0.09127L1-0.295635L2+0.295635L3-0.09127L4)/0.60295
・・・式（x）
H3＝−0.5L2＋0.557545L3−0.05754L4＋0.03372H4      ・・・式（xi）
となる。
【００８７】
請求項８，９の発明は、かかる補正式を用いることにより、９×７ウェーブレット変換を用いる場合に、デタイルの際の近似誤差の影響を除去しようとするものである。
【００８８】
さて、前述のように、近似誤差による不具合はタイル境界付近に存在するタイル境界と平行なエッジ成分によって生じる。請求項１０の発明は、このようなエッジ成分に着目して不具合が生じる条件を判定しようとするものである。
【００８９】
図１９は、タイル境界上に境界と平行なエッジ成分がある場合の処理結果を、また、図２０は境界の右または下に位置するタイルの、境界からの距離が２の画素と３の画素の間にエッジがある場合の処理結果をそれぞれ示している。
【００９０】
図１９の場合には、エッジによる副作用がほとんどなく（デタイルがうまく働く）、また、デタイルしない場合の値は１タイルの値とは大きく異なるため、デタイルした値を採用すべきであることがわかる。図２１及び図２２は、この場合にデタイルがうまく働く理由を明らかにするための図である。両図から、２つの低周波係数L2，L3ともに近似２が成立しないが、その近似誤差が同じ極性で生じることが分かる。したがって、これらの近似誤差は前記式（iii）の減算部で相殺される結果、副作用が生じないのである。なお、このことはステップエッジに限らず、図１９、図２０のステップエッジの位置に高さsのインパルスが存在したときにも成立することが容易に確認できる。
【００９１】
また、図２０の場合にも前記副作用が生じない。図２３は、その理由を明らかにするための図である。近似２が成立しない原因は、右タイルにエッジが存在することによって、ミラリングした場合の右タイルのL3の値が１タイルの場合のL3の値と大きく異なってしまうことにある。このため、近似２の成立・不成立は、L3係数の算出時に参照される画素内にエッジがあるかどうかで決まる。図２３から明らかなように、図２０の場合には、L3係数の算出時に参照される画素内にはエッジがない。このようにデタイルの良否を左右するエッジの存在範囲には制限があるのである。
【００９２】
同様な議論は、左タイルだけにエッジがある場合も成立し、近似２の成立・不成立は、L2係数の算出時に参照される画素内にエッジがあるかどうかで決まる。図２４、図２５及び図２６は、左タイルにエッジが存在する場合の処理結果を示している。図２４の場合は図１９の場合と同様に副作用が少ない。図２６の場合は、図２０の場合と同様にL2による副作用はない。図２５場合は、本来１タイルの場合にある”うねり”が無くなるような差違のため副作用は小さい。
【００９３】
請求項１１，１２の発明は、以上の検討に基づいて、条件判定のためのエッジ検出を効率的に行おうとするものである。
【００９４】
上に述べたようなエッジ検出には低周波係数を用いるのが。一般に、高周波係数は大きな量子化をうけて誤差が大きく（タイル境界が問題となるような場合は０に量子化されることが珍しくない）、高周波係数を用いるとエッジの検出精度が悪くなりやすいからである。
【００９５】
請求項１３，１４の発明は、かかる考察に基づき、エッジ検出に低周波係数を用いることにより、エッジ検出を精度よく行おうとするものである。
【００９６】
さて、５ｘ３ウェーブレット変換の場合、右タイルのエッジ成分の検出・判定には、L4とL3の差分（L4-L3)を用いるのが簡易である。図１７の場合は（L4−L3）＝7/8・ｓ、図１８の場合は（L4−L3）＝9/8・ｓとなり、いずれもｓに近い値となるため、図１７の場合も図１８の場合も、エッジ成分の大きさが所定値を越えるか否かの判定のために同じ閾値を用いることができ、また、例えばｓの値に基づいて閾値を設定すればよいからである。また、デタイル処理を除外したい図１９，図２０の場合は（L4-L3）＝０となり、この点も好都合だからである。
【００９７】
請求項１５の発明は、かかる考察に基づき、エッジ検出を簡易に行おうとするものである。
【００９８】
なお、上に述べたように差分（L4-L3）が近い値となるのは、エッジがステップエッジの場合に限られる。図８，図９のステップエッジの位置に高さｓのインパルスが存在したときには、それぞれの場合の差分（L4―L3）は近い値とはならない。したがって、インパルスを正確に検出したい場合にはより精密な検出式等を用いるべきである。
【００９９】
ただし、エッジの検出は、差分（L4-L3)を用いる方法に限られるものではなく、より多くの低周波係数の差分を利用する方法としてもよい。また、L3とL2の差分（L3-L2）を用いてもよい。差分（L3−L2）は、図１７の場合はｓ/4、図１８の場合は-ｓ/4となり、それらの絶対値が同一になる点で好都合である。
【０１００】
請求項１６の発明は、かかる考察に基づき、エッジ検出を簡易に行おうとするものである。
【０１０１】
ただし、図２１及び図２２の場合、差分（L3-L2）＝ｓとなるため、判定のための閾値の決め方に工夫が必要になる。
【０１０２】
なお、前述のように復号した係数値からエッジ成分を検出するのではなく、符号化時にエッジ成分の検出とその値の判定を行い、その結果を符号とは別に、又は符号中のコメント部等に保持しておき、復号時に保持されているエッジ検出・判定の結果を参照して係数補正を制御することも可能である。
【０１０３】
さて、前述の”うねり”は図１５，図１６におけるL2の位置に生じ、その大きさは前記ｓの関数である。図１５，図１６に示されるようにL2=-s/24又はL2=s/24であり、ｓが２４未満ならば逆変換後のL2は０に丸められるため、”うねり”は生じない。そして、前述のように差分（L4-L3）の絶対値はｓにほぼ等しいから、（L4-L3）＝ｓとして扱うならば、(L4-L3)が２４を越えるか否かで、L2の位置に”うねり”が生じるか否かを判定することができる。なお、図１５，図１６は式（１）〜（４）の近似式を用いたものであり、補正式も整数への切り捨てを行っている（５×３変換では係数は整数値しかとらない）ため、近似と丸めの方法によって２４という値は変動を生じ得るものである。
【０１０４】
また、図１５、図１６から、差分（L3-L2）は概ね  s/4  であるから、この差分が６を越えるか否かで（ｓが２４を越えるか否かと同等）、L2の位置に”うねり”が生じるか否かを判定することができる。ただし、この６という値も、差分（L4-L3）に関して述べたと同様の理由で変動し得るものである。
【０１０５】
以上の２４という値、６という値は、いずれもデコンポジション１の係数の場合である。非正規系でないウェーブレット変換の場合、デコンポジションレベルが上がるに従い係数値が大きくなるため差分(L4-L3)，（L3-L2）の値も増加する傾向があり、この係数値の増加割合はウェーブレット変換の種類にも依存する（図４２参照）。さらに、ＲＧＢ値からＹ，Ｃｂ．Ｃｒへのコンポーネント変換に用いる変換式によって、各コンポーネントの係数値は異なってくる（図４３参照）。したがって、ウェーブレット変換の種類、デコンポジションレベル、コンポーネントに応じて、差分（L4-L3），（L3-L2）を用いるエッジ検出判定のための閾値を調整する必要がある。なお、図４２は、ＪＰＥＧ２０００標準化委員会資料WG1N2133「Guard  Bit  Requirements  for  JPEG2000  Part1  Filters，Junichi  Hara」に基づいて見積もった５×３変換、９×７変換による係数絶対値の増加割合を示している。図４３は、ＪＰＥＧ２０００で規定されているコンポーネント変換であるＲＣＴとＩＣＴについてコンポーネント絶対値の増加見積もりを示している。
【０１０６】
このようにエッジ検出判定のための閾値は適宜変更する必要があるが、５×３ウェーブレット変換でエッジ検出に差分（L4-L3）又は（L3-L2）を利用する場合には、前記の２４又は６という値は、エッジ検出判定の閾値を選ぶ際の基準もしくは目安となり得るものである。
【０１０７】
よって、請求項１７の発明はエッジ成分に関する所定値（判定閾値）を２４を基準として選ぼうとするものであり、請求項１８の発明はエッジ成分に関する所定値（判定閾値）を６を基準として選ぼうとするものである。
【０１０８】
なお、図８，図９のステップエッジの位置に高さsのインパルスがあった場合の”うねり”の大きさを算出すると、順に-s/12、s/8となる。よって、インパルスの場合のうねりをより正確に制御したい場合は、２４又は６よりも小さな判定閾値を用いるのが望ましいことになる。
【０１０９】
以上、請求項１乃至１８に説明した。請求項１９，２０，２１の発明は請求項１乃至１８の発明と対応した内容であるので、その説明は繰り返さない。
【発明の効果】
【０１１０】
以上に説明したように、請求項１乃至１９の発明によれば、画像を重複しないタイルに分割し、タイル単位で周波数変換を行う場合の課題であるタイル境界歪みを効果的に除去することができ、さらに、そのデタイル処理の副作用の発生を抑えることができる。請求項１乃至４の発明によれば、特定の低周波係数に対する補正により、左右又は上下に隣接する両方のタイル内の高周波係数に関連した近似誤差の影響（副作用の原因）を同時に除去することができる。請求項５乃至９の発明によれば、デタイルのためのタイル境界付近の高周波係数に対する補正処理に、その副作用を抑えるためのタイル境界付近の低周波係数に対する補正処理が統合されるため、それら補正処理を順次に実行する場合に比べ処理ステップが少なくなり、処理の単純化及び高速化に有利である。請求項１０乃至１８の発明によれば、デタイル処理の副作用が発生する条件の判定をタイル境界付近のエッジ検出により簡易、的確に行うことができる。請求項１９乃至２１の発明によれば、コンピュータを利用し、請求項１乃至１８の発明を容易に実施することができる、等々の効果を得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０１１１】
本発明の好ましい実施の形態の一つは、ＪＰＥＧ２０００のアルゴリズムによる画像の圧縮処理と伸長処理の両方又は伸長処理を行う画像処理装置である。
【０１１２】
図２７は、そのような画像処理装置の一例を示すブロック図である。図２７に示した画像処理装置は、ＪＰＥＧ２０００による圧縮処理及び伸長処理の両方が可能である。その基本的な構成は図１に示したものと同様であり、図１と同一の参照符号は対応したブロックを示す。
【０１１３】
この画像処理装置の特徴的な構成は、デタイルのための係数補正手段である係数補正部１１１が２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１に設けられていることである。この係数補正部１１１には、タイル分割してウェーブレット変換した場合のタイル境界付近の係数に関する条件判定の手段として、タイル境界付近のエッジ検出を行うエッジ検出部１１２が含まれる。
【０１１４】
圧縮処理の場合には、符号形成・タグ処理部１０４により生成されたコードストリームは外部へ出力されるか、記憶部１１０に蓄積される。
【０１１５】
伸長処理の場合には、符号形成・タグ処理部１０４に、ＪＰＥＧ２０００のコードストリームが外部より入力されるか、蓄積部１１０より読み出されたＪＰＥＧ２０００のコードストリームが入力される。この伸長処理において、量子化・逆量子化部１０２により逆量子化後のウェーブレット係数、あるいは、ウェーブレット変換・逆変換部１０１で逆ウェーブレット変換されたウェーブレット係数に対して、デタイルのための処理がなされる。デタイルに際し、エッジ検出部１１２で特定のエッジの検出が行われ、検出結果（条件判定結果）に基づいて係数補正部１１１による係数補正の内容が制御される。
【０１１６】
なお、先に述べたように、圧縮処理過程でエッジ検出を行い、その結果を伸長処理時に係数補正部１１１で利用することも可能である。この場合には、そのエッジ検出結果を係数補正部１１１に与える必要があるが、その方法としては、例えば、コードストリーム中にエッジ検出の結果を記述しておく方法がある。ただし、コードストリームとは独立したデータとして、エッジ検出結果を入力することも可能でる。
【０１１７】
図２７に示した画像処理装置におけるデタイルに関連した手段又は処理をコンピュータを利用してプログラムにより実現することも可能である。かかる実施形態の一例について、図２８を参照し簡単に説明する。図２８において、２００はＣＰＵ、２０１はＲＡＭ、２０２はハードディスク装置、２０３はディスプレイ装置であり、これらはバス２０４に接続されている。
【０１１８】
処理フローの概略は次の通りである。まず、ＣＰＵ２００からの命令によって、ハードディスク装置２０２に記録されているコードストリーム（圧縮画像データ）がＲＡＭ２０１に読み込まれる（１）。ＣＰＵ２００は、ＲＡＭ２０１よりコードストリームを読み込み、その伸長処理を行うが、その処理過程でデタイルのための処理を行う（２）。そして、ＣＰＵ２００は、伸長した画像データを、ＲＡＭ２０１上の別の領域に書き込む（３）。この画像データは、例えば、ＣＰＵ２０１からの命令によってディスプレイ装置２０３に表示される（４）。
【０１１９】
以下、本発明の画像処理装置におけるデタイル処理について、順を追って具体的に説明する。
【０１２０】
図２９は、逆量子化後の４タイル分の係数の配列を示しており、デコンポジションレベル２の係数２LL〜２HHはインターリーブされている。ここでは、各タイルの画素数は縦横ともに偶数であるものとする。したがって、タイルの右端および下端は高周波係数（ハイパス係数）の位置、同左端および上端は低周波係数（ローパス係数）の位置となる。
【０１２１】
これらのデコンポジションレベル２の係数のうち、図３０に示した列Ａの係数と列Ｂの係数が補正象の高周波係数である。補正後、水平方向の逆ウェーブレット変換が行われ（ＪＰＥＧ２０００では、ウェーブレット変換（正変換）は垂直→水平の順に行われるので、逆ウェーブレット変換は水平→垂直の順で行われる）図３１の状態になる。
【０１２２】
次に、図３２に示す行Ｃ，Ｄの係数が補正対象の高周波係数となる。補正後、垂直方向の逆ウェーブレット変換が行われ、図３３の様なデコンポジションレベル１の係数（デインターリーブ状態）が得られる。
【０１２３】
続いて、これら係数をインターリーブすると図３４のようになる。これらのデコンポジションレベル１の係数のうち、５×３変換の場合は、図３５に示した列Ｅの係数みが補正対象の高周波係数となる（デコンポジションレベル１では、列Ｆの係数はミラリングの誤差を含まないため、列Ｆは補正の必要がないからである）。一方、９ｘ７変換の場合は、列Ｅの例数と列Ｆの係数が補正対象の高周波係数となる。係数補正後、水平方向の逆ウェーブレット変換が施され、図３６の状態になる。
【０１２４】
５ｘ３変換の場合は、図３６の行Ｇの係数のみが補正対象の高周波係数となる。９ｘ７変換の場合は、行Ｇと行Ｈの係数が補正対象の高周波係数となる。補正後，垂直方向の逆ウェーブレット変換が成され、ウェーブレット変換前の状態（コンポ−ネント変換がなされている場合には、YCｂCr等のコンポ−ネント値）に戻ることになる。
【０１２５】
以上においては、特定の低周波係数に対する補正を、特定の高周波数に対する補正に統合して行う場合を想定したため、補正対象となる低周波係数については触れなかった。低周波係数の補正に関しては以下の実施例において説明する。また、以上は４タイル、２デコンポジションレベルの例であるが、任意のタイル数、任意のデコンポジションレベル数の場合も同様に考えればよい。
【０１２６】
図３７に、本発明の画像処理装置におけるデタイル処理の基本的な処理フローを示す。ここでは、画像を縦横ともに偶数画素数の同じ大きさのタイルに分割して圧縮されたコードストリームを処理するものとする。この場合、タイルの右端および下端は高周波係数（ハイパス係数）の位置となり、同左端および上端は低周波係数（ローパス係数）の位置となる。圧縮時のウェーブレット変換のデコンポジションレベル数は３とする。
【０１２７】
以下、図３７に沿って、処理内容を説明する。この処理に先立ち、４つのタイルに関し、全てのコンポ−ネントの全てのデコンポジションレベルの係数がエントロピー符号化・復号化部１０３で復号され、また、量子化・逆量子化部１０２で逆量子化される。
【０１２８】
まず、デコンポジションレベルが３に、コンポーネント番号が０に、それぞれ初期設定され（ステップＳ１）、コンポーネント毎のデコンポジションレベル毎のデタイル処理が開始する。
【０１２９】
まず、コンポーネント番号０のコンポーネント（例えば輝度コンポーネント）に関し、デコンポジションレベル３のウェーブレット係数（逆量子化直後の係数）に対し、水平方向デタイル処理、垂直方向デタイル処理が順に実行される（ステップＳ２，Ｓ３）。これらのデタイル処理は、エッジ検出処理を含み、また、水平方向及び垂直方向の逆ウェーブレット変換も含む。すなわち、デタイル処理の主体は係数補正部１１１であるが、２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１も関与する。補正対象となる高周波係数は、図３０に示す列Ａ，Ｂの係数又は図３２に示す行Ｃ，Ｄの係数である。
【０１３０】
デコンポジションレベル３の係数に対するデタイル処理が終わると、デコンポジションレベルが２にデクリメントされ（ステップＳ５）、デコンポジションレベル２の係数に対しステップＳ２，Ｓ３のデタイル処理が実行される。
【０１３１】
デコンポジションレベル２の係数のデタイル処理が終わると、デコンポジションレベルがデクリメントされ（ステップＳ５）、デコンポジションレベル１の係数に対する水平方向デタイル処理と垂直方向デタイル処理が順に実行される（ステップＳ２，Ｓ３）。補正対象の高周波係数は、水平方向については図３５に示した列Ｅ，Ｆ、垂直方向については図３６に示した行Ｇ，Ｈの係数である。
【０１３２】
デコンポジション１に対する処理が終わると（ステップＳ４）、コンポーネント番号が１にインクリメントされ、また、デコンポジションレベルが３に戻され（ステップＳ７）、コンポーネント番号１のコンポーネント（例えば色差Ｃｂコンポーネント）のウェーブレット係数に対しステップＳ２以降の処理が実行される。
【０１３３】
続いて、コンポーネント番号２のコンポーネント（例えば色差Ｃｒコンポーネント）のウェーブレット係数に対する処理が実行され、それが終わると（ステップＳ６，Ｎｏ）、デタイル処理は完了する。
【０１３４】
以下、ステップＳ２，Ｓ３について具体的に説明する。
【実施例１】
【０１３５】
本実施例１においては、ステップＳ２で図３８に示すような水平方向デタイル処理が実行され、ステップＳ３で図３９に示すような垂直方向デタイル処理が実行される。
【０１３６】
図３８を参照し、ステップＳ２の水平方向デタイル処理について説明する。本実施例においては差分（L3-L2）によりエッジ検出を行う。また、５×３ウェーブレット変換が用いられる場合を想定する。
【０１３７】
まず、ステップＳ１１において、エッジ検出部１１２は、適用されているウェーブレット変換の種類、処理しようとするデコンポジションレベル及びコンポ−ネントに適したエッジ検出判定の閾値を選択する。
【０１３８】
次のステップＳ１２で、エッジ検出部１１２は、図３０の列Ａ，Ｂにある注目した係数に関し、Ｌ３位置（列Ｂの左隣位置）とＬ２位置（列Ａの左隣位置）の係数値の差分（L3-L2）を閾値と比較する。差分値が閾値より大きくないと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されないときには、係数補正部１１１は、ステップＳ１４で、左側タイルの列Ａの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（iii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（v）により補正を行う）、次にステップＳ１５で、右側タイルの列Ｂの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（iv）により補正を行う（９×７変換ならば前記式（vi）により補正を行う）。
【０１３９】
ステップＳ１２で差分（L3-L2）が閾値より大きいとき、すなわち、エッジが検出されたときには、前述の副作用が大きい。この場合、係数補正部１１１は、ステップＳ１３において、列Ｂの注目係数の左隣の低周波係数（L3）を、前記式（vii）により補正する。その後、係数補正部１１１は高周波係数に対する補正処理（ステップＳ１４，Ｓ１５）を行う。ステップＳ１３における低周波係数L3の補正により、ステップＳ１４，Ｓ１５による高周波係数の補正による副作用の発生が防止される。
【０１４０】
ステップＳ１２〜Ｓ１６を繰り返し、列Ａ，Ｂの全係数に対する処理を終わると（ステップＳ１６，Ｙｅｓ）、２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１は、補正処理後のウェーブレット係数に対し水平方向の逆ウェーブレット変換を施す（ステップＳ１７）。
【０１４１】
なお、デコンポジションレベル１の係数に対するデタイル処理においては、列Ａ（図３５の列Ｅ）の高周波係数（H2）のみがステップ１４で補正され、ステップＳ１５はスキップされる（９×７変換ならば、ステップＳ１４，Ｓ１５の両方が実行され、列Ａ，Ｂ（図３５の列Ｅ，Ｆ）の高周波係数（H2，H3）が補正される）。
【０１４２】
次に図３９を参照し、ステップＳ３の垂直方向デタイル処理について説明する。まずステップＳ２１において、エッジ検出部１１２は、適用されているウェーブレット変換の種類、処理しようとするデコンポジションレベル及びコンポ−ネントに適したエッジ検出判定の閾値を選択する。
【０１４３】
次のステップＳ２２で、エッジ検出部１１２は、図３２に示す行Ｃ，Ｄにある注目した係数に関し、Ｌ３位置（行Ｄの上隣位置）とＬ２位置（行Ｃの上隣位置）の係数値の差分（L3-L2）を閾値と比較する。差分値が閾値より大きくないと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されないときには、係数補正部１１１は、ステップＳ２４で、上側タイルの行Ｃの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（iii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（v）により補正を行う）、次にステップＳ２５で、下側タイルの行Ｄの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（iv）により補正を行う（９×７変換ならば式（vi）により補正を行う）。
【０１４４】
ステップＳ２２で差分（L3-L2）が閾値より大きいと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されたときには、前述の副作用が大きい。この場合、係数補正部１１１は、ステップＳ２３において、行Ｄの注目係数の上隣の低周波係数（L3）を、前記式（vii）により補正する。その後、係数補正部１１１は高周波係数に対する補正処理（ステップＳ２４，Ｓ２５）を行う。ステップＳ２３における低周波係数L3の補正により、ステップＳ２４，Ｓ２５での高周波係数の補正による副作用の発生が防止される。
【０１４５】
ステップＳ２２〜Ｓ２６を繰り返し、行Ｃ，Ｄの全係数に対する処理を終わると（ステップＳ２６，Ｙｅｓ）、２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１は、補正処理後のウェーブレット係数に対し垂直方向の逆ウェーブレット変換を施す（ステップＳ２７）。
【０１４６】
なお、デコンポジションレベル１の係数に対するデタイル処理においては、行Ｃ（図３６の行Ｇ）の高周波係数（H2）のみがステップ２４で補正され、ステップＳ２５はスキップされる（９×７変換ならば、ステップＳ２４，Ｓ２５の両方が実行され、行Ｃ，Ｄ（図３６の行Ｇ，Ｈ）の高周波係数（H2，H3）が補正される）。
【実施例２】
【０１４７】
本実施例２にあっては、ステップＳ２で図４０に示すような水平方向デタイル処理が実行され、ステップＳ３で図４１に示すような垂直方向デタイル処理が実行される。
【０１４８】
まず、図４０を参照して水平方向デタイル処理について説明する。本実施例においては差分（L4-L3）によりエッジ検出を行う。５×３ウェーブレット変換が用いられる場合を想定する。
【０１４９】
まず、ステップＳ３１において、エッジ検出部１１２は、適用されているウェーブレット変換の種類、処理しようとするデコンポジションレベル及びコンポ−ネントに適したエッジ検出判定の閾値を選択する。
【０１５０】
次のステップＳ３２で、エッジ検出部１１２は、図３０の列Ａ，Ｂにある注目した係数に関し、Ｌ３位置とＬ４位置（列Ｂの左隣位置と右隣位置）の係数値の差分（L4-L3）を閾値と比較する。差分値が閾値より大きくないと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されないときには、係数補正部１１１は、ステップＳ３３で、左側タイルの列Ａの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（iii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（v）により補正を行う）、次にステップＳ３４で右側タイルの列Ｂの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（iv）により補正を行う（９×７変換ならば前記式（vi）により補正を行う）。
【０１５１】
ステップＳ３２で差分（L3-L2）が閾値より大きいと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されたときには、前述の副作用が大きい。この場合、係数補正部１１１は、ステップＳ３５において、列Ｂの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（ｖiii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（x）により補正を行う）、次にステップＳ３６で、右側タイルの列Ｂの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（ix）により補正を行う（９×７変換ならば前記式（xi）により補正を行う）。すなわち、ステップＳ３５，Ｓ３６における高周波係数H2，H3に対する補正は、低周波係数L3に対する補正が統合されたものである。したがって、ステップＳ３５，Ｓ３６における高周波係数の補正による副作用の発生は防止される。
【０１５２】
ステップＳ３２〜Ｓ３７を繰り返し、列Ａ，Ｂの全係数に対する処理を終わると（ステップＳ３７，Ｙｅｓ）、２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１は、補正処理後のウェーブレット係数に対し水平方向の逆ウェーブレット変換を施す（ステップＳ３８）。
【０１５３】
なお、デコンポジションレベル１の係数に対するデタイル処理においては、列Ａ（図３５の列Ｅ）の高周波係数（H2）のみがステップＳ３３又はＳ３５で補正され、ステップＳ３４又はＳ３６はスキップされる（９×７変換ならば、列Ａ，Ｂ（図３５の列Ｅ，Ｆ）の高周波係数（H2，H3）が補正される）。
【０１５４】
次に図４１を参照し、ステップＳ３の垂直方向デタイル処理について説明する。まずステップＳ４１において、エッジ検出部１１２は、適用されているウェーブレット変換の種類、処理しようとするデコンポジションレベル及びコンポ−ネントに適したエッジ検出判定の閾値を選択する。
【０１５５】
次のステップＳ４２で、エッジ検出部１１２は、図３２に示す行Ｃ，Ｄにある注目した係数に関し、Ｌ３位置（行Ｄの上隣位置）とＬ４位置（行Ｄの下隣位置）の係数値の差分（L4-L3）を閾値と比較する。差分値が閾値より大きくないと判定されたとき、すなわち、エッジが検出されないときには、係数補正部１１１は、ステップＳ４３で、上側タイルの行Ｃの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（iii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（v）により補正を行う）、次にステップＳ４４で、下側タイルの行Ｄの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（iv）により補正を行う（９×７変換ならば前記式（vi）により補正を行う）。
【０１５６】
ステップＳ４２で差分（L4-L3）が閾値より大きいとき、すなわち、エッジが検出されたときには、前述の副作用が大きい。この場合、係数補正部１１１は、ステップＳ４５において、上側タイルの行Ｃの注目した高周波係数（H2)に対し前記式（viii）により補正を行い（９×７変換ならば前記式（x）により補正を行う）、次にステップＳ４６で、下側タイルの行Ｄの注目した高周波係数（H3）に対し前記式（ix）により補正を行う（９×７変換ならば前記式（xi）により補正を行う）。すなわち、ステップＳ４５，Ｓ４６における高周波係数H2，H3に対する補正は、低周波係数L3に対する補正が統合されたものである。したがって、ステップＳ４５，Ｓ４６における高周波係数の補正による副作用の発生は防止される。
【０１５７】
ステップＳ４２〜Ｓ４７を繰り返し、行Ｃ，Ｄの全係数に対する処理を終わると（ステップＳ４７，Ｙｅｓ）、２次元ウェーブレット変換・逆変換部１０１は、補正処理後のウェーブレット係数に対し垂直方向の逆ウェーブレット変換を施す（ステップＳ４８）。
【０１５８】
なお、デコンポジションレベル１の係数に対するデタイル処理においては、行Ｃ（図３６の行Ｇ）の高周波係数（H2）のみがステップ４５で補正され、ステップＳ４６はスキップされる（９×７変換ならば、ステップＳ４５，Ｓ４６の両方が実行され、行Ｃ，Ｄ（図３６の行Ｇ，Ｈ）の高周波係数（H2，H3）が補正される）。
【０１５９】
以上、本発明を詳細に説明したが、図２８に関連して述べたように、本発明に係るデタイル処理のための手段（係数補正部，エッジ検出手段）さらには、デタイル処理に関連した逆ウェーブレット変換手段など、あるいは、以上に説明したデタイル処理の手順を、コンピュータを利用しプログラムによって実現可能である。そのようなプログラム（例えば、アプリケーションプログラムや、プリンタドライバ等のデバイスドライバ）、及び、同プログラムが記録された磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、半導体記憶素子など、コンピュータが読み取り可能な各種情報記録（記憶）媒体も本発明に包含される。
【図面の簡単な説明】
【０１６０】
【図１】ＪＰＥＧ２０００を説明するためのブロック図である。
【図２】原画像の例と座標系を示す図である。
【図３】垂直方向へのフィルタリング後の係数配列を示す図である。
【図４】水平方向へのフィルタリング後の係数配列を示す図である。
【図５】図４の係数をデインターリーブした係数配列を示す図である。
【図６】２回のウェーブレット変換後のデインターリーブした係数配列を示す図である。
【図７】ミラリングの説明図である。
【図８】デタイルにより副作用を生じる右タイル内のエッジを示す図である。
【図９】デタイルにより副作用を生じる右タイル内のエッジを示す図である。
【図１０】タイル境界からの距離の説明図である。
【図１１】図８のエッジによる副作用を示す図である。
【図１２】図９のエッジによる副作用を示す図である。
【図１３】図１１の副作用が生じる理由を説明するための図である。
【図１４】図１２の副作用が生じる利用を説明するための図である。
【図１５】図８のエッジを０とｓの画素値からなるステップエッジとした場合の、図１３と同様の図である。
【図１６】図９のエッジを０とｓの画素値からなるステップエッジとした場合の、図１４と同様の図である。
【図１７】図８のエッジをｂとｂ＋１の画像値からなるステップエッジとした場合の係数L2，L3，L4の差を示す図である。
【図１８】図９のエッジをｂとｂ＋１の画像値からなるステップエッジとした場合の係数L2，L3，L4の値を示す図である。
【図１９】副作用の小さいタイル境界上にエッジがある場合のデタイル処理の結果をを示す図である。
【図２０】副作用がない右タイルのエッジがある場合のデタイル処理の結果を示す図である。
【図２１】図１９の場合に副作用が小さい理由を説明するための図である。
【図２２】境界上のエッジがｂとｂ＋１の画素値からなるステップエッジの場合における係数L2，L3，L4の値を示す図である。
【図２３】図２０の場合に副作用が生じない理由を説明するための図である。
【図２４】副作用が小さい左タイルのエッジがある場合のデタイル処理の結果を示す図である。
【図２５】副作用が小さい左タイルのエッジがある場合のデタイル処理の結果を示す図である。
【図２６】副作用が小さい左タイルのエッジがある場合のデタイル処理の結果を示す図である。
【図２７】本発明に係る画像処理装置の構成例を示すブロック図である。
【図２８】本発明をコンピュータ上で実施する形態を説明するためのブロック図である。
【図２９】４タイル分割の場合における逆量子化後のデコンポジションレベル２の係数（インターリーブ状態）を示す図である。
【図３０】水平方向のデタイル処理で補正対象となるデコンポジションレベル２の高周波係数（インターリーブ状態）を示す図である。
【図３１】図３０の係数を水平方向に逆ウェーブレット変換した後の係数（インターリーブ状態）を示す図である。
【図３２】図３１に示す係数の垂直方向のデタイル処理で補正対象となる高周波係数を示す図である。
【図３３】図３１の係数を垂直方向に逆ウェーブレット変換した後の係数（デインターリーブ状態）を示す図である。
【図３４】図３３の係数をインターリーブした状態を示す図である。
【図３５】デコンポジションレベル１の水平方向デタイル処理の補正対象となる高周波係数を示す図である。
【図３６】デコンポジションレベル１の垂直方向デタイル処理の補正対象となる高周波係数を示す図である。
【図３７】本発明におけるデタイル処理の全体的な処理フローを示すフローチャートである。
【図３８】実施例１における水平方向デタイル処理のフローチャートである。
【図３９】実施例１における垂直方向デタイル処理のフローチャートである。
【図４０】実施例２における水平方向デタイル処理のフローチャートである。
【図４１】実施例２における垂直方向デタイル処理のフローチャートである。
【図４２】５×３ウェーブレット変換及び９×７ウェーブレット変換における係数絶対値の増加見積もりを示す図である。
【図４３】コンポーネント変換によるコンポーネント絶対値の増加見積もりを示す図である。
【符号の説明】
【０１６１】
１００  色変換・逆色変換部
１０１  ２次元ウェーブレット変換・逆変換部
１０２  量子化・逆量子化部
１０３  エントロピー符号化・復号化部
１０４  符号形成・タグ処理部
１１０  蓄積部
１１１  係数補正部
１１２  エッジ検出部
【図１】
2005236458.tif 000003
【図２】
2005236458.tif 000004
【図３】
2005236458.tif 000005
【図４】
2005236458.tif 000006
【図５】
2005236458.tif 000007
【図６】
2005236458.tif 000008
【図７】
2005236458.tif 000009
【図８】
2005236458.tif 000010
【図９】
2005236458.tif 000011
【図１０】
2005236458.tif 000012
【図１１】
2005236458.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2005236458.tif 000015
【図１４】
2005236458.tif 000016
【図１５】
2005236458.tif 000017
【図１６】
2005236458.tif 000018
【図１７】
2005236458.tif 000019
【図１８】
2005236458.tif 000020
【図１９】
2005236458.tif 000021
【図２０】
2005236458.tif 000022
【図２１】
2005236458.tif 000023
【図２２】
2005236458.tif 000024
【図２３】
2005236458.tif 000025
【図２４】
2005236458.tif 000026
【図２５】
2005236458.tif 000027
【図２６】
2005236458.tif 000028
【図２７】
2005236458.tif 000029
【図２８】
2005236458.tif 000030
【図２９】
2005236458.tif 000031
【図３０】
2005236458.tif 000032
【図３１】
2005236458.tif 000033
【図３２】
2005236458.tif 000034
【図３３】
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【図３４】
2005236458.tif 000036
【図３５】
2005236458.tif 000037
【図３６】
2005236458.tif 000038
【図３７】
2005236458.tif 000039
【図３８】
2005236458.tif 000040
【図３９】
2005236458.tif 000041
【図４０】
2005236458.tif 000042
【図４１】
2005236458.tif 000043
【図４２】
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【図４３】
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