(57)【要約】【課題】複数の光学部品の光軸合わせを行う、調芯方法、調芯プログラム、および調芯装置において、最大光量点への収斂速度を早めることを目的とする。  【解決手段】複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して調芯処理を行う。【選択図】図１
2005345925.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、
最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、
最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して調芯処理を行うことを特徴とする光学部品の調芯方法。
【請求項２】
複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、
最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、
最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して、シンプレックス法により調芯処理を行い、
前記順次位置決めされた光量測定点間の、距離が所定の値より小さい、または測定された光量の差が所定の値より小さい場合は、調芯終了とすることを特徴とする光学部品の調芯方法。
【請求項３】
コンピュータに、複数の光学部品の一方を光量測定点に順次位置決めさせ、一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定させ、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯を実行させるためのプログラムにおいて、
前記コンピュータに、位置決め手段に対して光学部品の光量測定点に位置決め指示を出力させる機能、
最初の光量測定点における光量を測定させる機能、
該最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定させる機能、
該最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定させる機能、
該設定された光量測定点を基に調芯処理を実行する機能を実現させることを特徴とするプログラム。
【請求項４】
第１軸線に沿って移動可能な第１ステージと、
一方の光学部品を支持すると共に前記第１ステージにより支持されて前記第１軸線に直交する第２軸線に沿って移動可能な第２ステージと、
他方の光学部品を支持すると共に前記第１及び第２軸線に直交する第３軸線に沿って移動可能な第３ステージと、
前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光量を測定する光量測定器と、
各ステージの位置決めを行う制御手段とを備え、
前記一方の光学部品を光量測定点に順次位置決めし、前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光学部品の調芯装置において、
制御手段はさらに、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定する初期値設定部を備えることを特徴とする光学部品の調芯装置。
【請求項５】
請求項１、または請求項２に記載の調芯方法において、
調芯終了後、調芯終了位置を中心に複数の所定の距離の点における光量測定を行い、該所定の距離の点における光量のいずれかが調芯終了位置における光量よりも大きい場合は、当該所定の距離の点を最初の光量測定点として前記調芯を行うことを特徴とする調芯方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の光学部品同士を結合させる際の位置合わせ方法、位置合わせプログラム、及び位置合わせ装置に関し、特に、複数の光学部品の光軸合わせを行う、調芯方法、調芯プログラム、および調芯装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光デバイス、例えばレーザダイオード（ＬＤ）モジュールは、ＬＤチップ、光ファイバ、ＬＤチップから出射されたレーザ光を光ファイバに集光するためのレンズが搭載されたレンズホルダの３部品で構成され、ＬＤモジュール組立装置では、各部品の把持機構を搭載した駆動部を備え、各部品のＸ方向、Ｙ方向、およびＺ方向の相対位置を調整して調芯を行っている。
【０００３】
このような光軸調整にシンプレックス法を用い、調芯を効率的に行う方法が開示されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００１−８３３７９号公報  特許文献１に記載の方法では、図８に示す調芯装置を用い、光部品または光ファイバの接続端面に平行なＸＹ平面上で、シンプレックス法による調芯を行う。
【０００４】
図９は、シンプレックス法の原理を示す。シンプレックス法では、最初の光量測定点Ｐ１から所定の距離に光量測定点Ｐ２を設定し、更に光量測定点Ｐ１、光量測定点Ｐ２から所定の距離に光量測定点Ｐ３を設定する。次に、設定した３点のうちの最小光量点に代えて、最小光量点以外の光量測定点の中点と最小光量点を結ぶ線の延長上に、新たな光量測定点Ｐ０を設定する。以下同様にして、点Ｐ０、Ｐ２、Ｐ３のうちの最小光量点を求め、上記の処理を繰り返す。
【０００５】
図１０は、この手順により、光量測定点を結ぶ多角形領域（図９では３つの光量測定点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３を結ぶ三角形領域）を、ＸＹ平面上で光量が多くなる方向にシフトさせつつ最大光量点に収斂させた調芯経過例を示す。
【０００６】
しかし、一般に調芯開始時の最初の光量測定点は、図１１の最初の光量測定点の位置の例に示すごとく、最大光量点に近く光量が多い点Ｐ１、あるいは、最大光量点から遠く光量が少ない点Ｐ１’、と不定である。
【０００７】
特許文献１に記載の調芯法では、最初の光量測定点Ｐ１における測定光量を考慮しない為、光量が多い点Ｐ１を基に設定される３つの光量測定点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３が形成する三角形と、光量が少ない点Ｐ１’ を基に設定される３つの光量測定点Ｐ１’、Ｐ２’、Ｐ３’ が形成する三角形とは、大きさが同じになる。
【０００８】
最初の光量測定点Ｐ１が最大光量点に近く、測定光量が多いにもかかわらず、３つの光量測定点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３が形成する初期三角形の一辺の長さを、Ｐ１と最大光量点との距離と比較して大きく設定した場合、以降、順次設定される光量測定点は、図１２の調芯経過の光量測定点４〜１３に示すごとく、最大光量点の周囲を往復する為、多数のステップを必要とし、最大光量点への収斂速度が遅い。
【０００９】
逆に、最初の光量測定点Ｐ１’ が最大光量点から遠い、したがって３つの光量測定点Ｐ１’、Ｐ２’、Ｐ３’が形成する初期三角形の一辺の長さが相対的に小さい条件では、例えば図１０の調芯経過の光量測定点４〜１０に示すごとく、長い距離を細かく刻んで調芯することになり、多数のステップを必要とし、最大光量点への収斂速度が遅い。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、複数の光学部品の光軸合わせを行う、調芯方法、調芯プログラム、および調芯装置において、最大光量点への収斂速度を早めることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
第一の発明は、複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して調芯処理を行うことを特徴とする。
【００１２】
第二の発明は、複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して、シンプレックス法により調芯処理を行い、前記順次位置決めされた光量測定点間の、距離が所定の値より小さい、または測定された光量の差が所定の値より小さい場合は、調芯終了とすることを特徴とする。
【００１３】
なお、調芯処理終了の判定は、前記順次位置決めされた光量測定点において測定された光量の差が、所定の値より少ない場合は調芯終了とする、としても良い。
【００１４】
第三の発明は、コンピュータに、複数の光学部品の一方を光量測定点に順次位置決めさせ、一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定させ、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯を実行させるためのプログラムにおいて、前記コンピュータに、位置決め手段に対して光学部品の光量測定点に位置決め指示を出力させる機能、最初の光量測定点における光量を測定させる機能、該最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定させる機能、該最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定させる機能、該設定された光量測定点を基に調芯処理を実行する機能を実現させることを特徴とする。
【００１５】
第四の発明は、第１軸線に沿って移動可能な第１ステージと、一方の光学部品を支持すると共に前記第１ステージにより支持されて前記第１軸線に直交する第２軸線に沿って移動可能な第２ステージと、他方の光学部品を支持すると共に前記第１及び第２軸線に直交する第３軸線に沿って移動可能な第３ステージと、前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光量を測定する光量測定器と、各ステージの位置決めを行う制御手段とを備え、前記一方の光学部品を光量測定点に順次位置決めし、前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光学部品の調芯装置において、制御手段はさらに、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定する初期値設定部を備えることを特徴とする。
【００１６】
第五の発明は、第一の発明、または第二の発明に記載の調芯方法において、調芯終了後、調芯終了位置を中心に複数の所定の距離の点における光量測定を行い、該所定の距離の点における光量のいずれかが調芯終了位置における光量よりも大きい場合は、当該所定の距離の点を最初の光量測定点として前記調芯を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明により、最初の光量測定点の光量が所定の値よりも多い場合は、最初の光量測定点と以降の光量測定点との距離を小さく設定し、これにより以降の光量測定点が最大光量点の周囲を往復することを防止し、少ないステップ数で最大光量点へ収斂せしめ、最初の光量測定点における光量が前記所定の値よりも少ない場合は、最初の光量測定点と以降の光量測定点との距離を大きく設定し、これにより少ないステップ数で最大光量点へ収斂せしめることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１は、本発明による調芯処理の基本フローを示す。ステップＳ１では、最初に設定された点Ｐ１の光量ｐ１を測定する。ステップＳ２では、測定した光量ｐ１を、所定の光量ｐと比較し、ｐ１がｐ未満の場合はステップＳ３へ進み、点Ｐ１と次の光量測定点Ｐ２間の距離をｄに設定してステップＳ５に進み、ｐ１がｐ以上の場合はステップ４へ進み、点Ｐ１と次の光量測定点Ｐ２間の距離をｄ／２に設定してステップＳ５に進む。
【００１９】
ステップＳ５では、以上で設定した初期条件の下に調芯処理を行う。
【００２０】
この処理により、最初の光量測定点が、図１１に示す点Ｐ１のように最大光量点に近い場合には、図２に示すごとく、点Ｐ１と点Ｐ２間の距離を小さく設定する為、新たな光量測定点が最大光量点の周囲を往復することを抑制し、速やかに最大光量点に収斂させることが可能となる。
【実施例１】
【００２１】
図３は、シンプレックス法を用いた調芯処理に本発明を適用した実施例１の調芯処理フローを示す。ステップＳ１１では、最初に設定された点Ｐ１の光量ｐ１を測定する。ステップＳ１２では、測定した光量ｐ１を所定の光量値ｐと比較し、ｐ１がｐ未満の場合はステップＳ１３へ進み、Ｐ１が位置するＸＹ平面上で、点Ｐ１と点Ｐ２、点Ｐ３間の距離をｄとして点Ｐ２、点Ｐ３を設定してステップＳ１５に進み、ｐ１がｐ以上の場合はステップＳ１４へ進み、点Ｐ１が位置するＸＹ平面上で、点Ｐ１と点Ｐ２、点Ｐ３間の距離をｄ／２としてステップＳ１５に進む。なお、通常は三角形Ｐ１Ｐ２Ｐ３が正三角形を形成するように点Ｐ２、点Ｐ３設定する。
【００２２】
ステップＳ１５では、点Ｐ２、点Ｐ３の光量ｐ２、ｐ３を測定する。ステップＳ１６では、ｐ１〜ｐ３を光量にしたがってソートし、光量の順に、ｐ３’（点Ｐ３’）＞ ｐ２’ （点Ｐ２’）＞ ｐ１’ （点Ｐ１’）とする。ステップＳ１７では、点Ｐ２’と点Ｐ３’との中点Ｍを求め、点Ｐ１’と点Ｍとを直線（Ｌ）で結びその長さをｄ１とする。 ステップＳ１８では、直線（Ｌ）を点Ｍ側に延長し、点Ｐ１’からｄ１×２の点を点Ｐ０とし、光量ｐ０を測定する。
【００２３】
ステップＳ１９では、ｐ０とｐ１’とを比較し、ｐ０がｐ１’よりも大きい場合はステップＳ２０に進む。ｐ０がｐ１’以下の場合はステップＳ２１に進み、点Ｐ１’から点Ｍ側にｄ１×０．５の点を点Ｐ０とし、光量ｐ０を測定し、ステップＳ２２に進む。ステップＳ２２では、ｐ０とｐ１’とを比較し、ｐ０がｐ１’よりも大きい場合はステップＳ２０に進み、ｐ０がＰ１’以下の場合はエラーとする。
【００２４】
なお、ステップＳ２２でｐ０がｐ１’以下の場合、点Ｐ１’から点Ｍ側にｄ１×１．５、ｄ１×２．５の点を点Ｐ０として設定し、上記と同様の処理を行う、としても良い。また、最終的にエラーと判定した場合、処理終了、または最初からやり直す、としても良い。
【００２５】
ステップＳ２０では、点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離を所定値ｄ０と比較し、点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離がｄ０以上の場合はステップＳ２３に進み、点Ｐ０を新たな点Ｐ１’として設定してステップＳ１６に戻り、調芯処理を繰り返す。点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離がｄ０よりも小さい場合は調芯処理終了として誤認識判定処理へ進む。
【００２６】
なお、ステップＳ２０における（調芯終了）判定処理で、ｐ０とｐ１’との差が、所定の値よりも小さい場合、調芯終了としても良い。
【００２７】
また、ＬＤチップとレンズとを組み合わせると、図４に示すごとく、サイドローブが発生する場合がある。出力光プロファイルにサイドローブがなくきれいな単峰特性である場合には、前記調芯処理で最大光量点に収斂させることが可能であるが、図４に示すようなサイドローブがあると、上記調芯処理では左側の局所最適点を最大光量点と誤認識してしまう場合がある。
【００２８】
本発明においては、このような誤認識をさけるため、一連の調芯処理終了後さらに誤認識判定処理を行う。図５に誤認識判定処理のフロー例を示す。
【００２９】
ステップＳ５１では、点Ｐ０を中心に、サーチ半径ｒ１、ｒ１×２、ｒ１×３の円周を設定し、ステップＳ５２では、半径ｒ１、ｒ１×２、ｒ１×３の円周上に、それぞれ、例えば８方向の測定点Ｃ１１〜Ｃ１８、Ｃ２１〜Ｃ２８、Ｃ２３〜Ｃ３８を設定する。
【００３０】
可視〜近赤外のＬＤを光源とする場合、例えばｒ１＝５μｍとする。また、ｒ１×３の円周上に設定する測定点は１６方向に設定しても良い。
【００３１】
ステップＳ５３では、設定した各測定点Ｃ１１〜Ｃ３８の光量ｃ１１〜ｃ３８を測定し、ステップＳ５４ではｐ０とｃ１１〜ｃ３８とを比較する。ここで、ｐ０よりも光量が多い点がある場合には、ステップＳ５５に進み、当該光量が多い点を新たな点Ｐ１’として設定し基本処理フローに戻り、ｐ０よりも光量が多い点がない場合は、Ｐ０を最大光量点として処理を終了する。
【００３２】
図６は、３種の光部品、光源となるＬＤチップ、レンズ、光ファイバの調芯を行う、本発明による装置の構成例を示す。ここでは、レンズホルダ１の位置を固定とし、ＬＤチップ９と光ファイバ６との調芯を行う過程について説明する。なお、レンズホルダ１、レンズホルダ把持部２、Ｘ軸ステージ４、Ｙ軸ステージ３を搭載したＺ軸ステージ５は、ＬＤチップホルダ１０を搭載したＸ軸ステージ１２に搭載されていても良い。
【００３３】
光ファイバ６が光ファイバ把持部７に把持され、ＬＤチップ９が（最初の光量測定点Ｐ１で）ＬＤチップホルダ１０に把持されると、光パワーメータ１３により点Ｐ１における光量ｐ１を測定し、この値を初期値設定部１５に送る。
【００３４】
初期値設定部１５では、ｐ１と所定の光量値ｐとを比較し、ｐ１がｐ未満の場合はＸ軸ステージ１２を距離ｄ分駆動して光量測定点Ｐ２とし、光量ｐ２を測定する。次に、点Ｐ１と点Ｐ３間の距離＝点Ｐ２と点Ｐ３＝ｄとなる点Ｐ３にＸ軸ステージ１２、Ｙ軸ステージ１１を駆動し、光量ｐ３を測定し、これらの値を制御手段１４に送る。
【００３５】
逆に、ｐ１がｐ以上の場合はＸ軸ステージ１２を距離ｄ／２分駆動して光量測定点Ｐ２とし、光量ｐ２を測定する。次に、点Ｐ１と点Ｐ３間の距離＝点Ｐ２と点Ｐ３間の距離＝ｄ／２となる点Ｐ３にＸ軸ステージ１２、Ｙ軸ステージ１１を駆動し、光量ｐ３を測定し、これらの値を制御手段１４に送る。
【００３６】
以降、以上で設定した初期条件の下にシンプレックス法による調芯処理を実施する。
【実施例２】
【００３７】
図７は、３次元空間でシンプレックス法による調芯を行う、本発明の実施例２の処理フローを示す。ステップＳ７１では、最初に設定された点Ｐ１の光量ｐ１を測定する。ステップＳ７２では、測定した光量ｐ１を所定の光量値ｐと比較し、ｐ１がｐ未満の場合はステップＳ７３へ進み、点Ｐ１が位置する３次元空間上で、点Ｐ１と点Ｐ２〜点Ｐ４間の距離をｄとして点Ｐ２〜点Ｐ４を設定してステップＳ７５に進み、ｐ１がｐ以上の場合はステップＳ７４へ進み、点Ｐ１が位置する３次元空間上で、点Ｐ１と点Ｐ２〜点Ｐ４間の距離をｄ／２に設定してステップＳ７５に進む。なお、通常は点Ｐ１〜点Ｐ４が正４面体を形成するように点Ｐ２〜点Ｐ４を設定する。
【００３８】
ステップＳ７５では、点Ｐ２〜点Ｐ４の光量ｐ２〜ｐ４を測定する。ステップＳ７６では、ｐ１〜ｐ４を光量にしたがってソートし、光量の順に、ｐ４’（点Ｐ４’）＞ｐ３’（点Ｐ３’）＞ ｐ２’ （点Ｐ２’）＞ ｐ１’ （点Ｐ１’）とする。ステップＳ７７では、三角形Ｐ２’Ｐ３’Ｐ４’の重心Ｇを求め、点Ｐ１’と点Ｇを直線（Ｌ）で結びその長さをｄ１とする。ステップＳ７８では、直線（Ｌ）を点Ｇ側に延長し、点Ｐ１’からｄ１×２の点Ｐ０の光量ｐ０を測定する。
【００３９】
ステップＳ７９では、ｐ０とｐ１’とを比較し、ｐ０がｐ１’よりも大きい場合はステップＳ８０に進む。ｐ０がｐ１’以下の場合はステップＳ８１に進み、点Ｐ１’からｄ１×０．５の点Ｐ０の光量ｐ０を測定し、ステップＳ８２に進む。ステップＳ８２では、ｐ０とｐ１’とを比較し、ｐ０がｐ１’よりも大きい場合はステップＳ８０に進み、ｐ０がｐ１’以下の場合はエラーとする。
【００４０】
なお、ステップＳ８２でｐ０がｐ１’以下の場合、点Ｐ１’からｄ１×１．５、ｄ１×２．５の点をＰ０として設定し、上記と同様の処理を行う、としても良い。また、最終的にエラーと判定した場合、処理終了、または最初からやり直す、としても良い。
【００４１】
ステップＳ８０では、点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離を所定値ｄ０と比較し、点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離がｄ０以上の場合はステップＳ８３に進み、点Ｐ０を新たな点Ｐ１’として設定してステップＳ７６に戻り、調芯処理を繰り返す。点Ｐ０と点Ｐ１’間の距離がｄ０よりも小さい場合は調芯処理終了として誤認識判定処理へ進む。
【００４２】
通常、光源の光軸が調芯を行うＸＹ面と垂直ではないため、Ｚ軸方向に複数のＸＹ面内で調芯処理を行っているが、この処理により、１回の調芯処理で３次元的に調芯処理を行うことが可能となる。
（付記１）
複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して調芯処理を行うことを特徴とする。
（付記２）
複数の光学部品の一方を順次光量測定点に位置決めして一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯方法において、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定して、シンプレックス法により調芯処理を行い、前記順次位置決めされた光量測定点間の、距離が所定の値より小さい、または測定された光量の差が所定の値より小さい場合は、調芯終了とすることを特徴とする。
（付記３）
コンピュータに、複数の光学部品の一方を光量測定点に順次位置決めさせ、一方の光学部品から他方の光学部品へ入射する光の量を測定させ、最大光量となる最適位置を求める光部品の調芯を実行させるためのプログラムにおいて、前記コンピュータに、位置決め手段に対して光学部品の光量測定点に位置決め指示を出力させる機能、最初の光量測定点における光量を測定させる機能、該最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定させる機能、該最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定させる機能、該設定された光量測定点を基に調芯処理を実行する機能を実現させることを特徴とする。
（付記４）
第１軸線に沿って移動可能な第１ステージと、一方の光学部品を支持すると共に前記第１ステージにより支持されて前記第１軸線に直交する第２軸線に沿って移動可能な第２ステージと、他方の光学部品を支持すると共に前記第１及び第２軸線に直交する第３軸線に沿って移動可能な第３ステージと、前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光量を測定する光量測定器と、各ステージの位置決めを行う制御手段とを備え、前記一方の光学部品を光量測定点に順次位置決めし、前記一方の光学部品から前記他方の光学部品へ入射する光の量を測定し、最大光量となる最適位置を求める光学部品の調芯装置において、制御手段はさらに、最初の光量測定点における光量が所定の光量値未満の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を大きな所定距離に設定し、最初の光量測定点における光量が前記所定の光量値以上の場合は、以降の光量測定点と最初の光量測定点との距離を小さな所定距離に設定する初期値設定部を備えることを特徴とする。
（付記５）
付記１、または付記２に記載の調芯方法において、調芯終了後、調芯終了位置を中心に複数の所定の距離の点における光量測定を行い、該所定の距離の点における光量のいずれかが調芯終了位置における光量よりも大きい場合は、当該所定の距離の点を最初の光量測定点として前記調芯を行うことを特徴とする。
（付記６）
付記２に記載の調芯方法において、順次設定される４つの光量測定点が３次元空間における４面体を形成し、該４面体を基に３次元シンプレックス法による調芯を行うことを特徴とする。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
以上説明したごとく、本発明は、最初の光量測定点における光量を、最初の光量測定点と以降の光量測定点との距離に反映することにより、少ないステップ数で最大光量点へ収斂せしめることが可能となり、きわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明による調芯処理の基本フロー
【図２】本発明による調芯経過
【図３】実施例１の調芯処理フロー
【図４】ＬＤチップとレンズを組み合わせた場合の出力光プロファイル例
【図５】誤認識判定処理のフロー例
【図６】本発明による装置構成例
【図７】実施例２の調芯処理フロー
【図８】調芯装置の従来例
【図９】シンプレックス法の原理図
【図１０】シンプレックス法による調芯経過例
【図１１】最初の光量測定点の位置の例
【図１２】最初の光量測定点P１が最大光量点に近い場合の従来例の調芯経過
【符号の説明】
【００４５】
１    レンズホルダ
２    レンズホルダ把持部
３    レンズ調整部Ｙ軸ステージ
４    レンズ調整部Ｘ軸ステージ
５    レンズ調整部Ｚ軸ステージ
６    光ファイバ
７    光ファイバ把持部
８    光ファイバ調整部Ｚ軸ステージ
９    ＬＤチップ
１０    ＬＤチップホルダ
１１    Ｙ軸ステージ
１２    Ｘ軸ステージ
１３    光パワーメータ
１４    制御手段
１５    初期値設定部
【図１】
2005345925.tif 000003
【図２】
2005345925.tif 000004
【図３】
2005345925.tif 000005
【図４】
2005345925.tif 000006
【図５】
2005345925.tif 000007
【図６】
2005345925.tif 000008
【図７】
2005345925.tif 000009
【図８】
2005345925.tif 000010
【図９】
2005345925.tif 000011
【図１０】
2005345925.tif 000012
【図１１】
2005345925.tif 000013
【図１２】
2005345925.tif 000014