(57)【要約】【課題】  １つの発光点からのビームを複数の素子（または光学面）を用いて結像させる等倍結像素子の、複数の光路を経て得られる結像性能を光路毎に分離して測定評価し、等倍結像素子の個々の素子における結像性能を評価可能とする等倍結像素子の測定および評価方法および装置を提供する。【解決手段】  １方向にアレイ状に配列された等倍結像素子１を対象とし、測定の基準光源１０ａからのビームを前記等倍結像素子１で結像させる上で、前記等倍結像素子の任意素子部による透過からなる結像光のみを等倍結像素子光軸上の任意位置で検出する工程と、検出された結像光の位置および径を算出する工程からなる等倍結像素子の測定および評価方法。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１方向にアレイ状に配列された等倍結像素子を対象とし、測定の基準光源からのビームを前記等倍結像素子で結像させる上で、前記等倍結像素子の任意素子部による透過からなる結像光のみを前記等倍結像素子光軸上の任意位置で検出する工程と、検出された結像光の位置および径を算出する工程からなることを特徴とする等倍結像素子の測定および評価方法。
【請求項２】
１方向にアレイ状配列された等倍結像素子を対象とし、前記等倍結像素子を保持し、所定位置に配置された測定の基準光源と、前記等倍結像素子の任意素子部で透過した光のみを結像し得る結像手段と、光軸上の任意の位置で検出可能な光検出器とを備え、前記光検出器によって得られた情報から結像光の位置および径を演算処理し、この処理を等倍結像素子全域で実施可能なことを特徴とする等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項３】
任意の結像光の検出結果を合成し、等倍結像素子全域において等倍結像素子光軸上の結像光分布を取得する工程と、上記結像光分布の差が最小となる等倍結像素子光軸上位置を特定する工程からなることを特徴とする請求項１記載の等倍結像素子の測定および評価方法。
【請求項４】
任意の結像光の検出結果を合成し、前記等倍結像素子全域における任意の等倍結像素子光軸上位置での結像光分布を演算処理することを特徴とする請求項２記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項５】
前記基準光源が等倍結像素子の配列方向に移動可能な機構を有することを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項６】
前記基準光源がアレイ状に配列された発光素子であり、任意位置の発光素子を点灯制御可能であることを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項７】
前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と前記光検出器の間に、配列方向に移動可能な開口を設けたことを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項８】
前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と前記光検出器の間に、任意位置の開閉が可能な開口を設けたことを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項９】
前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と光検出器の間に、任意位置の透過光量を調整可能な機構を設けたことを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項１０】
前記光検出器が前記等倍結像素子光軸と直交する面内で移動可能なスリットと組み合わされたものであることを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項１１】
前記光検出器が前記等倍結像素子光軸と直交する面内を観察可能なエリアセンサであることを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項１２】
前記光検出器が前記等倍結像素子光軸上を移動可能とする機構を有することを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項１３】
前記光検出器が前記等倍結像素子光軸上の観察面を可変とする焦点距離可変機構を有することを特徴とする請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置。
【請求項１４】
請求項１又は３に記載の等倍結像素子の測定および評価方法をコンピュータが制御可能にプログラミングしたことを特徴とする等倍結像素子の測定および評価プログラム。
【請求項１５】
請求項１４に記載されたプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリントヘッドに搭載される等倍結像素子の性能評価、等倍結像素子を用いたプリントヘッドの調整組み立てに役立つ等倍結像素子の測定および評価方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
２列に配列された等倍結像レンズアレイで構成されるプリンタヘッドにおけるレンズアレイの検査方法および検査システム知られている（例えば、特許文献１ないし６参照）。
特許文献１には、２列に配列された等倍結像レンズアレイで構成されるプリンタヘッドにおいて、感光体上でのドット割れやドット太りの現象は副走査方向に配列したレンズ列間の配列誤差に起因したものであり、副走査方向の結像性能を測定すれば結像レンズの品質を保証できることが開示されている。
その測定方法は、スリットと受光素子の組み合わせ、もしくはラインセンサ等による画像検出により得たデータ列を周波数分解することにより結像性能の判定数値を導くように構成されている。
特許文献２では、発光素子ヘッドの光軸測定方法、発光素子ヘッド、および電子写真記録装置が開示され、等倍結像レンズで構成されるプリンタヘッドでは、各々のレンズ光軸の傾斜バラツキが原因で感光体上のドットに濃度ムラを発生させる。
そこで、共役長付近での４５度スリットによる透過光量を検出して各々のレンズ光軸傾斜角を測定し、プリントヘッドに設けたレンズ光軸調整手段でその傾きを補正することで高品質なプリンタヘッドを可能とする構成である。
特許文献３では、画像出力ユニットおよび画像形成装置が開示され、ここで開示の技術は結像素子によるスポット光のバラツキを、ＬＥＤの発光光量を調整することによって低減するように構成されている。
図１３は従来技術における等倍結像素子を説明する概略図である。図１４は図１３の結像素子を示す概略斜視図である。図１５は図１４の上面図である。等倍結像素子としては、特許文献４ないし６に開示されるような等倍結像素子も考えられる。
この等倍結像素子２０は、図１３ないし図１５に示すように、レンズ面が複数個連続して形成された入射側レンズアレイ面２０ａと同様の出射側レンズアレイ面２０ｂと、このレンズアレイの配設ピッチで直角反射面を有するルーフプリズムが複数個連続して形成されたルーフプリズムアレイ部２０ｃとから構成されている。
図１３において、入射側レンズアレイ面２０ａへ入射する光は発光素子基板１０に設けられた発光チップ１０ａから出射された光は出射側レンズアレイ面２０ｂを出て、感光体１１に向けられる。
【特許文献１】特開２００１−８３０４４公報
【特許文献２】特開２００２−１６０３９７公報
【特許文献３】特開平１１−３３４１４０号公報
【特許文献４】特開平０５−００５８５９号公報
【特許文献５】特開２０００−１０８４０３公報
【特許文献６】特開２０００−１０８４０５公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、従来技術の特許文献１や特許文献２にあるように、個々のレンズを最も結像性能が良くなるようにビーム光を検出しながら調整を行えば、プリントヘッド全体として１つの性能要件であるビームスポット径は最小となる条件を導くことが可能と思われる。
しかしながら、いくらビームスポット径を小さくできても、そのバラツキが比率的に大きければプリントヘッドとして書き込みを行ったさいに縦筋等の画質劣化を招くことになる。
逆に言えば、ビームスポット径が多少太ったとしても、そのビーム太りが所望の範囲内に収まってさえいれば、そのバラツキを比率的に小さくすることで出力画像としての品質は向上される。
本発明の目的は、上記課題を解決するために、１つの発光点からのビームを複数の素子（または光学面）を用いて結像させる等倍結像素子の、複数の光路を経て得られる結像性能を光路毎に分離して測定評価し、等倍結像素子の個々の素子における結像性能を評価可能とする等倍結像素子の測定および評価方法および装置を提供することにある。
また、本発明の目的は、評価結果を基にビームスポット径のバラツキを最も抑えるための  条件を見つけた上で等倍結像素子の結像性能を評価する等倍結像素子の測定および評価方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
前記の課題を解決するために、請求項１記載の発明では、１方向にアレイ状に配列された等倍結像素子を対象とし、測定の基準光源からのビームを前記等倍結像素子で結像させる上で、前記等倍結像素子の任意素子部による透過からなる結像光のみを等倍結像素子光軸上の任意位置で検出する工程と、検出された結像光の位置および径を算出する工程からなる等倍結像素子の測定および評価方法を特徴とする。
また、請求項２記載の発明では、１方向にアレイ状配列された等倍結像素子を対象とし、前記等倍結像素子を保持し、所定位置に配置された測定の基準光源と、前記等倍結像素子の任意素子部で透過した光のみを結像し得る結像手段と、光軸上の任意の位置で検出可能な光検出器とを備え、前記光検出器によって得られた情報から結像光の位置および径を演算処理し、この処理を等倍結像素子全域で実施可能な等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項３記載の発明では、任意の結像光の検出結果を合成し、等倍結像素子全域において等倍結像素子光軸上の結像光分布を取得する工程と、上記結像光分布の差が最小となる等倍結像素子光軸上位置を特定する工程からなる請求項１記載の等倍結像素子の測定および評価方法を特徴とする。
また、請求項４記載の発明では、任意の結像光の検出結果を合成し、前記等倍結像素子全域における任意の等倍結像素子光軸上位置での結像光分布を演算処理する請求項２記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項５記載の発明では、前記基準光源が等倍結像素子の配列方向に移動可能な機構を有する請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項６記載の発明では、前記基準光源がアレイ状に配列された発光素子であり、任意位置の発光素子を点灯制御可能である請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
【０００５】
また、請求項７記載の発明では、前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と前記光検出器の間に、配列方向に移動可能な開口を設けた請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項８記載の発明では、前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と前記光検出器の間に、任意位置の開閉が可能な開口を設けた請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項９記載の発明では、前記基準光源と前記等倍結像素子の間もしくは前記等倍結像素子と光検出器の間に、任意位置の透過光量を調整可能な機構を設けた請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項１０記載の発明では、前記光検出器が前記等倍結像素子光軸と直交する面内で移動可能なスリットと組み合わされたものである請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項１１記載の発明では、前記光検出器が前記等倍結像素子光軸と直交する面内を観察可能なエリアセンサである請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項１２記載の発明では、前記光検出器が前記等倍結像素子光軸上を移動可能とする機構を有する請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項１３記載の発明では、前記光検出器が前記等倍結像素子光軸上の観察面を可変とする焦点距離可変機構を有する請求項２または４記載の等倍結像素子の測定および評価装置を特徴とする。
また、請求項１４記載の発明では、請求項１又は３に記載の等倍結像素子の測定および評価方法をコンピュータが制御可能にプログラミングしたことを特徴とする。
また、請求項１５記載の発明では、請求項１４に記載されたプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、プリントヘッドの主要構成部品である等倍結像素子における個々のレンズの結像特性が測定・評価可能となり、また、被検等倍結像素子毎に最適なプリントヘッド内配置条件を導くことが可能となり、さらに、その条件下でプリントヘッドの仕様要件を満足し得るかでその等倍結像素子の良否判定が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明における等倍結像素子の構成を示す上面図である。図２は図１の等倍結像素子の側面図である。図３はスポット光と発光点が異なる様子を模式化し提供示す図である。
本発明は、ＬＥＤＡ等の発光素子アレイと等倍結像素子によって構成されるプリントヘッドにおいて、等倍結像素子の結像性能を測定しかつ評価するものである。
前記プリントヘッドにおいてビームスポット径のバラツキを最も重要な光学性能として捉え、等倍結像素子の結像性能としてそのビームスポット径バラツキがどこまで抑えられるかを測定評価する方法および装置に関する。
図１ないし図３において、等倍結像素子１の１形態は屈折率分布を利用したロッドレンズ２によって構成される。このロッドレンズ２を多数個配列させてプリントヘッドを構成し得る等倍結像素子を形成している。
図１はその状態を上面から見た図であり、ロッドレンズ２が規則正しく２列に並べられているのが判る。図２はそれを側面から見たものであり、発光素子基板１０の発光チップ１０ａを点灯させた光が複数のロッドレンズ２を介して感光体１１上の結像位置にスポット光を生成する。
このとき、ロッドレンズ２が多数並んだ方向を配列方向、光が進む方向を光軸方向、それらと直交する方向（図１に示すように２列に構成された方向）を直交方向と呼ぶこととする。
等倍結像素子１は前述したように複数のロッドレンズ２を用いて１つの発光点を１つのスポット光に結像させるものである。その光は個々のロッドレンズ２により一度分割されてからロッドレンズ２からの出射後にそれらの光が合成されて前記スポット光が生成されることになる。
したがって、光が通ってきた複数のロッドレンズ２が理想通りの光学性能（屈折率分布）を有し、かつ理想通りに整列されていれば結像されたスポット光は発光点と等しくなる。
しかしながら、実際には光学性能の劣化も当然あり得るし、整列度の誤差も生じる。それによりスポット光は発光点と異なり、スポット光の太りや位置ずれを発生させることとなる。
図３の模式化した図において、右上段が理想的な状態、中段は各々の光が結像する位置が配列方向や直交方向にずれて結果的にスポット光の太りを発生させた場合、下段は各々の結像する位置が光軸方向にずれて結像点（感光体上）でスポット光のサイズがまちまちとなり結果的にスポット光の太りを発生させた場合を示している。
以上のような状態がプリントヘッドを構成する等倍結像素子１内の各々の場所で不均一に発生すれば、感光体１１に書き込みを行うスポット光のサイズ（径）がばらついて、結果的に縦筋等の画像劣化を招く。
図２は結像素子２０の断面を捉えたものであり、この図において、発光素子基板１０上に連なる発光チップ１０ａからの光が結像素子２０の入射側レンズ面２０ａを透過して、プリズム面２０ｃで反射してから出射側レンズ面２０ｂを透過後、感光体１１上にて結像する構造となっている。
【０００８】
図４は本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第１の実施の形態を示す概略図である。測定するための基本構成は図４に示すように測定基準とする基準光源１０ａと被検物である等倍結像素子１、それに光検出器１２から構成される。
まずは簡単な原理を図４で説明する。基準光源１０ａとロッドレンズ（等倍結像素子）２の間に所定サイズの開口１３ａを有する開口板１３を挿入して任意の光のみを通過するようにする。結像性能を測定したいレンズは斜線のものである。
図４の左方のパターン４−１では前記開口１３ａは基準光源１０ａの上方に位置し、真中のレンズを透過した光のみのスポット光が結像点にて検出される。中央のパターン４−２では前記開口１３ａは基準光源１０ａの左方に位置し、左側のレンズを透過した光のみのスポット光が結像点にて検出される。
同様に右方のパターン４−３では前記開口１３ａは基準光源１０ａの右方に位置し、右側のレンズを透過した光のみのスポット光が結像点にて検出される。以上のようにして、光検出器１２にて各々のレンズによる結像性能の影響を受けたスポット光が個々に検出結果として取得できる。
【０００９】
図５は本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第２の実施の形態を示す概略図である。また、図５に示すように基準光源１２および光検出器１２は配列方向にその位置を移動可能とする。
図６は本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第３の実施の形態を示す概略図である。図６に示すように光検出器１２は光軸方向にもその位置を移動可能とし、光軸上の任意の位置におけるスポット光を検出可能としている。
ここで、１つのレンズの結像性能を測定することを考えると、図５に示すように、基準光源１０ａや光検出器１２を配列方向に移動させれば良い。測定対象である斜線のレンズ２はパターン５−１から５−３まで同一である。
図５のパターン５−１では光が直線的に透過して来た場合の結像スポット光を検出でき、パターン５−２では右方から入射してきた光による結像スポット光を、パターン５−３では左方から入射してきた光による結像スポット光を検出できる。
このときの動作としては、基準光源１０ａと光検出器１２が各々のパターンにおける結像関係を満足するように移動させられる。次に図６に示すように光検出器１２を光軸方向に移動させることを考える。
上記図５で説明したスポット光の検出を各パターンにおいて光検出器１２を光軸方向に移動させながら複数の検出を行っていく。すなわち各々の配置パターン６−１から６−３において、図７のように複数のスポット光の検出結果を取得していることになる。
【００１０】
図７は複数のスポット光の検出結果を示す図である。例えば、光検出器１２としてＣＣＤカメラ等のエリアセンサを用いた場合、図７のような画像としてのスポット光検出結果が得られる。
図７において、Ａは光検出器１２が最もレンズの近づいた場合の検出画像であり、Ｃが理想的な結像位置での検出画像、Ｅは光検出器１２が最もレンズから遠ざかった場合の検出画像と言った具合である。
図８は図７のＡからＥまでの各々検出のスポット光プロファイル（光強度分布）を示す図である。実際にはそのプロファイルから特定のスレッシュ値で切り出した上でスポット光のサイズ（径）を求め、さらにそのスポット光画像の重心位置などを算出することによってスポット光の結像位置を得る。
図９は図６のパターン６−１から６−３までの各々について光検出器１２の光軸上検出位置と検出されたスポット径（スポット光のサイズ）をプロットした例を示す図である。
ここでは、パターン６−１では検出位置Ｃにおいて最も小さいスポット径が得られ、パターン６−２ではそれが検出位置Ｂ、パターン６−３では検出位置Ｄにおいて最も小さいスポット径が得られるという被検ロッドレンズ２の結像性能が判明したことになる。
図１０は図６のパターン６−１から６−３までの各々について光検出器１２の光軸上検出位置Ｃにおけるスポット光の結像位置を配列―直交方向面内にプロットした例を示す図である。
同様に、検出位置ＡからＥの結像位置を得ることが可能であり、被検ロッドレンズ２の結像位置としての性能が判明したことになる。
【００１１】
図１１は等倍結像素子全域での結像性能を推定するために個々のロッドレンズの結像性能を合成することを示す図である。図１２は等倍結像素子全域での結像スポット径分布を示す図である。
等倍結像素子１全域での結像性能を推定するために個々のロッドレンズの結像性能を合成し把握する。具体的には図１１の左側にあるように図６における測定のパターン６−１から６−３までのそれぞれの光軸上検出位置におけるスポット光のプロファイルを横軸の配列方向および直交方向位置を合わせた上で図示してない演算手段によって合成演算処理する。
得られた結果は図１１の右側のように合成プロファイルとなる。前記の通り、このプロファイルから特定のスレッシュ値にて切り出して結像スポット光のサイズ（径）を算出できる。
【００１２】
この演算処理を等倍結像素子１全域にわたる全ロッドレンズ２において行うことで、図１２に示すような等倍結像素子１全域での結像スポット径分布が得られる。同様に結像スポット位置を得ることも可能である。
例えば、図１２に示すように全体的に検出位置Ｃにてスポット径が小さくなるが、スポット径のバラツキを考慮すると検出位置Ｂでの結像が被検等倍結像素子では最適であると判断することもあり得る。
図１２だけの結果であれば、等倍結像素子１全域におけるスポット径を測定していけば取得可能と思われるが、スポット径の太る要因、スポット径のばらつく要因等を把握することは困難であり、等倍結像素子１の品質向上に十分寄与できるとは言い切れない。
等倍結像素子１の個々のレンズにおける結像性能を把握して、理想通りの結像スポット光が得られない原因を分析することは重要と考える。また、それらの結果から、プリントヘッドの要求仕様を考慮した等倍結像素子の良否判定が可能である。
また、その等倍結像素子１をプリントヘッドに組み付けるさい、もしくはそのプリントヘッドを画像形成装置に取り付けるさいの配置条件の１つが導けると思われる。等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性を明確にすることを可能とする。
等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性を測定・評価し得る装置を提供し、等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性から被検等倍結像素子の最適条件下での結像状態を推定し、被検素子をプリントヘッドとして使用したさいの良否判定を行うことを可能とする。
測定・評価装置の基準光源１０ａは、所望の位置に移動可能な機構、すなわち駆動ステージ上にある。この駆動ステージの駆動方向は、被検等倍結像素子の配列方向と合致している必要がある。
また、点灯制御可能な発光点がアレイ上に配列されていれば、上記駆動機構を必要とせずに目的の測定を実現することができる。測定・評価装置の所定の光のみを透過させる開口１３ａを有する開口板１３が配列方向に移動可能である駆動ステージ上にあり、この駆動ステージの駆動方向は被検等倍結像素子の配列方向と合致している必要がある。
また、その開口１３ａは、基準光源１０ａの有る等倍結像素子１の入射側が光検出器１２の有る等倍結像素子１の出射側の少なくとも一方の側で所望の光のみを通す開口板１３があれば良い。
所望位置の開口１３ａを開閉制御可能なメカニカルシャッタで行う。例えば液晶シャッタのような光の透過光量を制御可能な手段で、所望の光のみを通す目的を成す。
測定・評価装置の光検出器１２の構成は微細なスリットまたはピンホールと組み合わせて結像位置近傍を直交２方向に微動させてそのときの透過光量を検出していく方式や、前記説明中にもあったようにＣＣＤカメラ等のエリアセンサを用いた画像検出の方式がある。
【００１３】
また、光軸上のスポット光検出位置を可変とする方法として、光検出器１２を光軸方向に駆動可能な駆動ステージ上に配置した構成や、光検出器１２に、例えば撮像ズームレンズのような可変フォーカス機能を付加した構成が考えられる。
また、前述した演算処理手段をコンピュータ上で実行可能なプログラムで行うことができる。さらに、そのプログラムを記録・保存するための手段を設けることもできる。
等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性を適切に測定・評価し得る装置を提供し、コンピュータによって実現することが可能な記録媒体を提供することが可能となる。
本発明は等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性を明確にし、この結像特性を評価し得る装置を提供し、その結像特性から被検等倍結像素子の最適条件下での結像状態を推定し、被検素子をプリントヘッドとして使用したさいの良否判定を可能とする。
本発明は、また、等倍結像素子を構成する個々の素子の結像特性評価結果から被検等倍結像素子の最適条件下での結像状態を演算処理にて推定し、被検素子をプリントヘッドとして使用したさいの良否判定が可能な装置を提供し、コンピュータによって実現することが可能な記録媒体を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明における等倍結像素子の構成を示す上面図である。
【図２】図１の等倍結像素子の側面図である。
【図３】スポット光と発光点が異なる様子を模式化して示す図である。
【図４】本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第１の実施の形態を示す概略図である。
【図５】本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第２の実施の形態を示す概略図である。
【図６】本発明による等倍結像素子の測定および評価方法および装置の基本的な第２の実施の形態を示す概略図である。
【図７】複数のスポット光の検出結果を示す図である。
【図８】図７のＡからＥまでの各々検出のスポット光プロファイル（光強度分布）を示す図である。
【図９】図６のパターン６−１から６−３までの各々について光検出器１２の光軸上検出位置と検出されたスポット径（スポット光のサイズ）をプロットした例を示す図である。
【図１０】図６のパターン６−１から６−３までの各々について光検出器１２の光軸上検出位置Ｃにおけるスポット光の結像位置を配列―直交方向面内にプロットした例を示す図である。
【図１１】等倍結像素子全域での結像性能を推定するために個々のロッドレンズの結像性能を合成することを示す図である。
【図１２】等倍結像素子全域での結像スポット径分布を示す図である。
【図１３】従来技術における等倍結像素子を説明する概略図である。
【図１４】図１３の結像素子を示す概略斜視図である。
【図１５】図１４の上面図である。
【符号の説明】
【００１５】
１    等倍結像素子
２    ロッドレンズ
１０    発光素子基板
１０ａ  基準光源（発光チップ）
１１    感光体
１２    光検出器
１３    開口板
１３ａ  開口
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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