(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
周期性を有する被測定信号の波形を測定する波形測定装置において、
前記被測定信号の単位時間当たりのビット数を示すビットレート情報が設定される設定部と、
前記設定部に設定されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッドを前記被測定信号の波形とともに表示する表示部と
を備えることを特徴とする波形測定装置。
【請求項２】
前記表示部は、前記ビットレート情報に応じて前記グリッドの間隔を動的に変える表示を行うことを特徴とする請求項１記載の波形測定装置。
【請求項３】
前記設定部には予め複数種類のビットレート情報が設定されており、
ユーザの指示に応じて前記設定部に設定された複数種類のビットレート情報のうちから１つを選択する選択部と、
前記選択部で選択されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッドを前記表示部に表示させる表示制御部と
を備えることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の波形測定装置。
【請求項４】
前記ビットレート情報を前記被測定信号から取得する取得部を備えており、
前記表示部は、前記設定部に設定されたビットレート情報に代えて、前記取得部で取得されたビットレート情報を示すグリッドを前記被測定信号の波形とともに表示することを特徴とする請求項１から請求項３の何れか一項に記載の波形測定装置。
【請求項５】
前記被測定信号のエッジ位置を検出する検出部を備えており、
前記表示部は、前記検出部の検出結果に応じて前記被測定信号のエッジ位置を前記グリッドに位置合わせして表示することを特徴とする請求項１から請求項４の何れか一項に記載の波形測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、周期性を有する被測定信号の波形を測定する波形測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルオシロスコープ等の波形測定装置は、被測定信号の信号波形等を測定してその測定結果（信号波形等）を表示する装置であり、例えばシリアルバス等の伝送路を介して伝送されるデータ、モータ等のアクチュエータを制御する制御信号、クロック信号、その他の周期性のある信号を測定する場合に用いられる。この波形測定装置は、一般的に、入力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、変換されたディジタル信号を記憶するメモリ（アクイジションメモリ）、メモリに記憶されたディジタル信号に対して各種の信号処理を施すＣＰＵ（中央処理装置）、ＣＰＵによる信号処理結果やメモリに記憶されたディジタル信号を表示して信号の波形表示を行う表示装置等を備えている。
【０００３】
波形測定装置の表示装置に信号波形を表示する場合には、信号波形とともに表示画面の縦軸（例えば、信号の電圧軸）及び横軸（例えば、時間軸）の目盛りであるグリッドが表示される。これにより、ユーザは、表示画面に表示された信号波形のスケール（物理値）を直感的に把握することができる。尚、以下の特許文献１には、信号波形の一部を拡大表示する場合において、拡大表示部分を時間軸方向に移動させるときに、その移動量を所定量（例えば、信号の１ビットレート分）に規制することで、信号波形の拡大解析を容易にした波形表示装置が開示されている。
【特許文献１】特許第３８６１６７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、波形測定装置を用いて信号波形の解析を行う場合において、信号波形の特定部分の値（データ値や電圧値等）を知りたいときや、波形測定装置の表示装置に表示されている部分的な信号波形がどのような意味付けがなされた部分であるかを知りたいときがある。例えば、シリアルバスを介して伝送されるデータがフレームを単位としたデータであって１フレームが複数のフィールドからなる場合には、１フレームに含まれる特定のフィールドの数値が何なのかを知りたいときがある。
【０００５】
近年の波形測定装置は、シリアルバスを介して伝送されるデータのデータ値を解析する解析機能を備えたものが実現されており、信号波形に対応してデータ値を表示したり、そのデータ値を一覧形式で表示することが可能になっているものの、信号波形そのものからユーザの所望のフィールドを検索することは困難である。このため、ユーザは、例えば波形測定装置に表示される信号波形を時間軸方向に移動させてフレームの先頭を見つけ出し、フレーム先頭からのビット数を時間に換算し、信号波形とともに表示されているグリッドを参考にして目的のフィールドを検索する必要があり、利便性が高いとは言える状況ではない。
【０００６】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、信号波形の特定部分を容易に検索することができる利便性の高い波形測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の波形測定装置は、周期性を有する被測定信号の波形を測定する波形測定装置（１）において、前記被測定信号の単位時間当たりのビット数を示すビットレート情報が設定される設定部（１４）と、前記設定部に設定されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッド（ＧＢ）を前記被測定信号の波形（ＷＤ）とともに表示する表示部（４、２０）とを備えることを特徴としている。
この発明によると、設定部に設定されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッドが、被測定信号の波形とともに表示部に表示される。
また、本発明の波形測定装置は、前記表示部が、前記ビットレート情報に応じて前記グリッドの間隔を動的に変える表示を行うことを特徴としている。
また、本発明の波形測定装置は、前記設定部には予め複数種類のビットレート情報が設定されており、ユーザの指示に応じて前記設定部に設定された複数種類のビットレート情報のうちから１つを選択する選択部（２１）と、前記選択部で選択されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッドを前記表示部に表示させる表示制御部（１９）とを備えることを特徴としている。
また、本発明の波形測定装置は、前記ビットレート情報を前記被測定信号から取得する取得部（２２）を備えており、前記表示部は、前記設定部に設定されたビットレート情報に代えて、前記取得部で取得されたビットレート情報を示すグリッドを前記被測定信号の波形とともに表示することを特徴としている。
更に、本発明の波形測定装置は、前記被測定信号のエッジ位置を検出する検出部（２３）を備えており、前記表示部は、前記検出部の検出結果に応じて前記被測定信号のエッジ位置を前記グリッドに位置合わせして表示することを特徴としている。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、設定部に設定されたビットレート情報に応じたビットレートを示すグリッドを被測定信号の波形とともに表示部に表示しているため、グリッドを参照することで信号波形の特定部分を容易に検索することができ、ユーザの利便性を高めることができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態による波形測定装置について詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態による波形測定装置の正面図である。図１に示す通り、本実施形態の波形測定装置１は、その正面に入力端子部２、複数の操作キー３、及びディスプレイ４を備えており、入力端子部２から入力される被測定信号を測定し、その測定結果（信号波形等）をディスプレイ４に表示する。尚、以下の説明では、被測定信号としてシリアルバスを介して伝送されるデータの測定を行う場合を例に挙げて説明する。また、このデータは、フレームを単位としたデータであって１フレームが複数のフィールドからなるものであるとする。
【００１０】
入力端子部２は複数の入力端子２ａを備えており、各々の入力端子２ａには必要に応じてプローブが接続される。本実施形態においては、入力端子部２に設けられた入力端子２ａの１つに接続された１つのプローブ、又は複数の入力端子２ａの各々に接続された複数のプローブの先端が、シリアルバスに電気的に接続されるものとする。操作キー３は、ユーザの指示を波形測定装置１に入力するためのものであり、ユーザによって操作される複数のプッシュボタン３ａ、ロータリーノブ３ｂ等を備えている。
【００１１】
ディスプレイ４は、例えば液晶表示装置又はＣＲＴ（Cathode Ray Tube）であり、測定した波形データ、波形データを波形解析して得られたデータ値等の各種データを表示する。尚、ユーザが操作キー３に対して所定の操作を行うことにより、ディスプレイ４の表示内容を切り替えることができる。例えば、シリアルバス等の伝送路を介して伝送されるデータの波形を示す波形データのみを表示させたり、波形データに対応させてデータのデータ値を表示させたり、或いは波形データ及びデータ値に加えてデータ値を一覧形式で表示したデータ値リストを表示させることができる。
【００１２】
また、詳細は後述するが、本実施形態の波形測定装置１は、ディスプレイ４の表示画面の縦軸（例えば、信号の電圧軸）及び横軸（例えば、時間軸）の目盛りであるグリッドに加えて、データのビットレートを示すグリッドをディスプレイ４に表示させることが可能である。ここで、ビットレートとは、シリアルバスを介して伝送されるデータの単位時間当たりのデータ量（ビット数）をいい、その単位としては一般的に１秒当たりのビット数を示す「ｂｐｓ」（bit per second）が用いられる。
【００１３】
図２は、本発明の一実施形態による波形測定装置の要部構成を示すブロック図である。図２に示す通り、本実施形態の波形測定装置１は、Ａ／Ｄ変換部１１、波形データメモリ１２、波形解析部１３、ハードディスク１４（設定部）、制御部１５、メモリ１６、外部メモリ１７、操作部１８、表示制御部１９、及び表示部２０を備える。
【００１４】
Ａ／Ｄ変換部１１は、図１に示す入力端子部２に設けられた入力端子２ａの何れかである入力端子Ｔ１から入力されるデータに対して標本化及び量子化を行って二値化し、ディジタル信号である波形データに変換する。尚、図１に示す入力端子部２に設けられた複数の入力端子から同時に信号が入力されることもあるため、Ａ／Ｄ変換部１１は入力端子の数に応じた数だけ設けられているが、図２においては１つのみを図示している。
【００１５】
波形データメモリ１２は、Ａ／Ｄ変換部１１から出力される波形データを記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）等のメモリ（アクイジションメモリ）である。波形解析部１３は、制御部１５の制御の下で、波形データメモリ１２に記憶された波形データを読み出し、読み出した波形データに対してシリアルバスの種類に応じた波形解析を行ってデータ値を求める。具体的には、シリアルバスを介して伝送されるデータを、その大きな区切りであるフレーム毎に切り出し、フレーム内におけるビットの並び（値「０」と「１」との並び）に応じたデータ値を求める。ここで、波形解析により得られるデータ値としては、例えばシリアルバスに接続された機器の種別を示す識別子であるＩＤ、機器から出力されるデータの種別を示す識別子であるＩＤ、機器から出力されるデータの値等がある。
【００１６】
ハードディスク１４は、波形解析部１３で求められたデータ値、制御部１５で行われる各種信号処理の処理結果を示すデータ等の各種データを記録する。また、ハードディスク１４は、シリアルバスの種類毎に規格で定まっているビットレートを示す情報（ビットレート情報）を少なくとも１つ記録する。この情報は、波形測定装置１の出荷前に予め記録（設定）されている。例えば、シリアルバスの一種であるＣＡＮ（Controller Area Network）バスに関しては、ビットレートを示す情報として、３３．３ｋｂｐｓ、５０ｋｂｐｓ、８３．３ｋｂｐｓ、９５．２ｋｂｐｓ、１００ｋｂｐｓ、１２５ｋｂｐｓ、２５０ｋｂｐｓ、５００ｋｂｐｓ、１Ｍｂｐｓ等が記録されている。尚、波形測定装置１の出荷後においても、ユーザの操作によって新たな情報を追加記録することが可能である。
【００１７】
制御部１５は、波形測定装置１の動作を統括的に制御する。例えば、波形データメモリ１２に記憶された波形データの読み出し制御を行い、波形解析部１３における波形解析の実行・非実行を制御し、又はハードディスク１４に対するデータの読み出し・書き込み制御を行う。また、制御部１５は、ビットレート選択部２１（選択部）、ビットレート算出部２２（取得部）、及びエッジ検出部２３（検出部）を備える。
【００１８】
ビットレート選択部２１は、ユーザが操作部１８を操作して入力した指示に応じて、ハードディスク１４に記録された複数のビットレートを示す情報のうちから１つを選択する。ビットレート算出部２２は、波形データメモリ１２に記憶された波形データに対してデータ処理を行い、入力端子Ｔ１から入力されたデータのビットレートを算出する。具体的には、波形データに対して所定のデータ処理を行って立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのエッジ位置をそれぞれ検出し、検出した両エッジ位置の最短時間間隔の逆数を求めてこれをビットレートとする。例えば、求められた両エッジ位置の最短時間間隔が１μｓｅｃである場合には、ビットレートは１Ｍｂｐｓと求められる。尚、ユーザが操作部１８を操作することにより、ビットレート算出部２２によってデータのビットレートを算出するか否かの設定を切り替えることができる。
【００１９】
エッジ検出部２３は、波形データメモリ１２に記憶された波形データに対して所定のデータ処理を行って立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのエッジ位置をそれぞれ検出する。尚、ビットレート算出部２２が、上述の通り、立ち上がりエッジのエッジ位置と立ち下がりエッジのエッジ位置との最短時間間隔からビットレートを求めるものである場合には、エッジ検出部２３を省略してビットレート算出部２２のエッジ位置の検出結果を用いても良い。また、、ビットレート算出部２２と同様に、ユーザが操作部１８を操作することにより、エッジ検出部２３によってデータの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのエッジ位置を検出するか否かの設定を切り替えることができる。
【００２０】
メモリ１６は、制御部１５で行われる各種信号処理で用いられる一時的なデータ（ワークデータ）等を記憶するメモリである。このメモリ１６としては、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の揮発性のメモリを用いることができる。外部メモリ１７は、波形測定装置１に対して着脱可能な不揮発性のメモリであり、例えば波形測定装置１で得られた各種測定結果を外部に取り出すために用いられる。
【００２１】
操作部１８は、図１に示す操作キー３を備えており、ユーザの指示を制御部１５に入力するものである。表示制御部１９は、制御部１５の制御の下で、表示部２０に表示させる表示内容の制御を行う。例えば、制御部１５から波形データが出力された場合には、その波形データを表示部２０に表示させる。また、波形データに加えてデータ値が出力された場合には、波形データに加えてデータ値及びデータ値リストを表示させる。
【００２２】
更に、表示制御部１９は、ビットレート選択部２１で選択されたビットレートを示すグリッドを波形データとともに表示部２０に表示させる制御を行う。ここで、ユーザによってビットレート算出部２２でデータのビットレートを算出して表示する旨の設定がなされている場合には、表示制御部１９はビットレート選択部２１で選択されたビットレートに代えて、ビットレート算出部２２で算出されたビットレートを示すグリッドを波形データとともに表示部２０に表示させる制御を行う。
【００２３】
表示部２０は、図１に示すディスプレイ４を備えており、測定した波形データ等の各種データを表示する。また、表示制御部１９の制御の下で、ユーザの設定に応じて、ビットレートを示すグリッドを波形データとともに表示する。尚、表示部２０は、表示制御部１９の制御の下で、ビットレートに応じてグリッドの間隔（グリッドをなす目盛りの間隔）を動的に変える表示を行う。
【００２４】
次に、波形測定装置１の動作について説明する。波形測定装置１を用いてシリアルバスを介して伝送されるデータを測定するにあたり、ユーザは波形測定装置１の操作キー３（図１参照）を操作して各種初期設定を行う。具体的には、測定対象であるシリアルバスの種類（ＩＥＥＥ１３９４ａバス、ＣＡＮバス等）の設定、ビットレートを示すグリッドを表示させる場合にはそのグリッド表示に関する設定を行う。ここで、ユーザが操作キー３を操作してハードディスク１４に記録された複数のビットレートを示す情報のうちから１つを指定すると、ユーザによって指示されたビットーレートを示す情報がビットレート選択部２１によって選択される。
【００２５】
以上の設定が終了し、ユーザが波形測定装置１に設けられた入力端子部２の入力端子２ａ（Ｔ１）に接続されたプローブの先端をシリアルバスに電気的に接続させることにより波形データの取り込みが開始される。プローブを介して入力端Ｔ１から入力された信号は、Ａ／Ｄ変換部１１で標本化及び量子化が行われて二値化され、ディジタル信号である波形データに変換される。Ａ／Ｄ変換部１１から出力される波形データは波形データメモリ１２に記憶される。
【００２６】
波形データメモリ１２に記憶された波形データは制御部１５によって順次読み出されて表示制御部１９に出力され、表示制御部１９はその波形データを表示部２０に表示させる。以上の処理により、シリアルバスを介して伝送されるデータの波形を示す波形データがディスプレイ４に表示される。尚、必要に応じて制御部１５から波形解析部１３に対して制御信号が出力され、波形解析部１３において、波形データメモリ１２に記憶された波形データに対してシリアルバスの種類に応じた波形解析が行われてデータ値が求められてハードディスク１４に記憶される。そして、必要に応じて制御部１５がハードディスク１４に記憶されたデータ値を読み出して表示部２０に表示させる。
【００２７】
図３は、波形データの表示例を示す図であって、（ａ）はビットレートを示すグリッドを表示させない場合の表示例であり、（ｂ）はビットレートを示すグリッドを表示させた場合の表示例である。まず、図３（ａ）に示す通り、ユーザがビットレートを示すグリッドを表示させない設定をした場合には、波形データＷＤと、縦軸（例えば、信号の電圧軸）の目盛りであるグリッドＧ１及び横軸（例えば、時間軸）の目盛りであるグリッドＧ２とがディスプレイ４に表示される。尚、図３（ａ）に示す例において、グリッドＧ１の間隔は２［Ｖ］に相当し、グリッドＧ２の間隔は１０［μｓｅｃ］に相当する。
【００２８】
これに対し、ユーザがビットレートを示すグリッドを表示する旨の設定をした場合には、図３（ｂ）に示す通り、波形データＷＤ及びグリッドＧ１，Ｇ２に加えて、ビットレートを示すグリッドＧＢがディスプレイ４に表示される。このグリッドＧＢは、複数の目盛りを横軸に沿ってビットレートに応じた一定の間隔で配列表示したものである。図３（ｂ）に示す例では、波形データＷＤの１ビット毎にグリッドＧＢをなす目盛りが表示されている。
【００２９】
尚、表示制御部１９は、ビットレート選択部２１で選択されたビットレートを示す情報、又はビットレート算出部２２で算出されたビットレートに応じてグリッドＧＢをなす目盛りの間隔を動的に変える制御を行うため、グリッドＧ２に対するグリッドＧＢの表示位置がずれることもある。また、横軸のスケールを変化させた場合には、グリッドＧＢの間隔が詰まって波形データＷＤが見づらくなる場合が考えられる。かかる場合には、グリッドＧＢを間引いて表示（例えば、波形データＷＤの１ビット毎に目盛りを表示）し、グリッドＧＢの間引き表示を行っている旨を示す情報と間引き量を示す情報とをディスプレイ４に表示することが望ましい。
【００３０】
ここで、被測定対象のシリアルバスがＣＡＮバスである場合には、シリアルバスを介して伝送されるデータは、データフレーム、リモートフレーム等のフレームを単位としたデータである。図４は、ＣＡＮバスで用いられるデータフレームの構成を示す図である。図４に示す通り、データフレームは、フレーム先頭から１ビットのＳＯＦ（スタート・オブ・フレーム）フィールドＦ１、１２ビットのアービトレーションフィールドＦ２、６ビットのコントロールフィールドＦ３、０〜６４ビットのデータフィールドＦ４、１６ビットのＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check：巡回冗長検査）フィールドＦ５、２ビットのＡＣＫ（ACKnowledge）フィールドＦ６、及び７ビットのＥＯＦ（エンド・オブ・フレーム）フィールドＦ７の７つのフィールドから構成される。
【００３１】
いま、ユーザがデータフィールドＦ４に格納された値を知りたいとする。図４に示す通り、データフィールドＦ４は、データフレームの先頭から２０ビット目から開始されるため、ユーザの作業としては、まずフレームの先頭を探し出し、次いでフレームの先頭から２０ビット目の位置を探し出す必要がある。尚、図３（ａ），（ｂ）に示すデータの表示例において、符号Ｐ１で指し示した時間位置Ｐ１がフレームの先頭であるとする。
【００３２】
図３（ａ）に示す表示がなされている場合には、ユーザはデータのビットレートとフレーム先頭からのデータフィールドＦ４のビットオフセット（２０ビット）とを掛け算してフレーム先頭からデータフィールドＦ４の先頭までの時間を求め、グリッドＧ２の間隔（１０［μｓｅｃ］）を考慮して、時間位置Ｐ１からデータフィールドＦ４の先頭を探し出す必要がある。これに対し、図３（ｂ）に示す表示がなされている場合には、ビットレートを示すグリッドＧＢが表示されているため、単に時間位置Ｐ１からデータフィールドＦ４の先頭までのビット数分（２０ビット分）だけグリッドＧＢをなす目盛りを計数すれば良く、短時間で容易にデータフィールドＦ４の先頭を検索することができ、極めて利便性が高い。
【００３３】
尚、ビットレートを示すグリッドＧＢに対して波形データＷＤの横軸の位置ずれが生ずる場合が考えられる。かかる場合には、例えば、ユーザが図１に示すロータリーノブ３ｂを操作して波形データＷＤの横軸方向の位置を微調整することにより位置ずれを解消することができる。或いは、エッジ検出部２３によってデータの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのエッジ位置を検出する設定にすれば、エッジ検出部２３の検出結果に応じて波形データＷＤのエッジ位置がビットレートを示すグリッドＧＢに自動的に位置合わせされた状態で表示部２０に表示される。これにより、グリッドＧＢに対する波形データＷＤの横軸方向の位置を微調整する手間を省くことができる。
【００３４】
尚、ユーザが操作部１８を操作してビットレート算出部２２によるビットレートの算出を行う旨を設定をした場合には、ビットレート算出部２２において波形データの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのエッジ位置がそれぞれ検出され、検出された両エッジ位置の最短時間間隔の逆数からビットレートが算出される。そして、算出されたビットレートに応じた間隔を有する複数の目盛りからなるグリッドＧＢがディスプレイ４に表示される。
【００３５】
以上の通り、本実施形態の波形測定装置１は、ハードディスク１４に記録されたビットレートを示す複数の情報のうちのビットレート選択部２１で選択された情報、或いはビットレート算出部２２で算出されたビットレートを示すグリッドＧＢを波形データＷＤとともに表示しているため、ユーザの所望のフィールドを短時間で容易に検索することができ、極めて利便性が高い。また、波形データＷＤのエッジ位置が検出され、この検出結果に応じて波形データＷＤのエッジ位置がグリッドＧＢに位置合わせされるため、波形データＷＤの横軸方向の位置を微調整する手間を省くことができ、ユーザの使い勝手が向上する。
【００３６】
更に、本実施形態の波形測定装置１は、グリッドＧＢが波形データＷＤとともに表示されるため、フレームとフレームとの間隔、各フレームの特定フィールドの間隔、及びフレーム長に異常が生じていないか（規格内に収まっているか）等を測定することもできる。また、グリッドＧＢの表示に要する処理は軽度の処理であるため、グリッドＧＢ以外の表示に悪影響（例えば、波形の更新レートが落ちる等）を及ぼすことが無い。
【００３７】
以上、本発明の一実施形態による波形測定装置について説明したが、本発明は上記実施形態に制限されることなく、本発明の範囲内で自由に変更が可能である。例えば、上記実施形態において、制御部１５に設けられたビットレート選択部２１、ビットレート算出部２２、及びエッジ検出部２３は、ハードウェアで実現してもよく、ソフトウェアにより実現しても良い。つまり、ビットレート選択部２１、ビットレート算出部２２、及びエッジ検出部２３を実現するプログラムをコンピュータに実行させることにより実現しても良い。
【００３８】
また、入力される被測定信号からクロックを再生するクロック再生部を追加した構成にして、クロック再生部で再生されたクロックからビットレート算出部２２がビットレートを算出するようにしても良い。更に、上記実施形態では、ビットレートを示す情報をハードディスク１４に記録（設定）していたが、不揮発性の内部メモリを設けて記憶させたり、外部メモリ１７に記憶させても良い。
【００３９】
また、本発明の波形測定装置は、ＣＡＮバス以外に、ＰＣＩＥｘｐｒｅｓｓ（登録商標）バス、ＩＥＥＥ１３９４ａバス、ＦｌｅｘＲａｙ（登録商標）バス、Ｉ２Ｃ（登録商標）（Inter-Integrated Circuit）バス、ＳＰＩ（登録商標）（Serial Peripheral Interface）バス等のシリアルバスを介して伝送されるデータの測定する場合にも用いることができる。更には、シリアルバスを介して伝送されるデータを測定する場合に限らず、モータ等のアクチュエータを制御する制御信号、クロック信号、その他の周期性のある信号を測定する場合にも用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施形態による波形測定装置の正面図である。
【図２】本発明の一実施形態による波形測定装置の要部構成を示すブロック図である。
【図３】波形データの表示例を示す図である。
【図４】ＣＡＮバスで用いられるデータフレームの構成を示す図である。
【符号の説明】
【００４１】
１      波形測定装置
４      ディスプレイ
１４    ハードディスク
１９    表示制御部
２０    表示部
２１    ビットレート選択部
２２    ビットレート算出部
２３    エッジ検出部
ＧＢ    グリッド
ＷＤ    波形データ
【図１】
0005115121.tif 000002
【図２】
0005115121.tif 000003
【図３】
0005115121.tif 000004
【図４】
0005115121.tif 000005