(57)【要約】【課題】  精密な分析を行うことが可能となり、安価に実施することが可能な試料注入方法及びシステムを提供する。【解決手段】  試料流路１２及び主流路１４をバッファで満たし、試料流路１２の試料導入口１８に試料を導入し、そして、試料流路１２の排出口２０を試料導入口１８よりも陰圧にして、試料流路１２よりも大きな主流路１４の流路抵抗によって主流路１４内のバッファをほぼ移動させることなく、試料導入口１８に導入された試料を試料流路１２内で試料導入口１８から排出口２０に向かって移動させ試料の一部を共通部分１６内に位置させ、さらに、主流路１４の両端部２２，２４に電圧を印加して共通部分１６内の試料を試料流路１２内の他の試料から分離して主流路１４内で一方の端部２２（２４）に向かって移動させる。【選択図】      図１
2005090995.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに交差して所定の体積の共通部分をなす試料流路と主流路とが内部に形成され、前記試料流路及び前記主流路の各端部が一面に開口しているマイクロチップを利用して所定の量の試料を注入する試料注入方法であって、
前記試料流路及び前記主流路をバッファで満たす工程と、
前記試料流路の一端部に試料を導入する工程と、
前記試料流路の他端部を一端部よりも陰圧にして、前記試料流路よりも大きな前記主流路の流路抵抗によって前記主流路内のバッファをほぼ移動させることなく、一端部に導入された前記試料を前記試料流路内で一端部から他端部に向かって移動させ前記試料の一部を前記共通部分内に位置させる工程と、
前記主流路の両端部に電圧を印加して前記共通部分内の前記試料を前記試料流路内の他の前記試料から分離して前記主流路内で一方の端部に向かって移動させる工程とを、
具備することを特徴とする試料注入方法。
【請求項２】
前記試料注入方法は、前記移動させる工程の前に、前記主流路の両端部の液面の高さを前記試料流路の両端部の液面の高さよりも高くする工程を含むことを特徴とする請求項１の試料注入方法。
【請求項３】
マイクロチップを利用して所定の量の試料を注入する試料注入システムであって、
前記マイクロチップに形成され、バッファで満たされる試料流路と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路の一端部に連通し、試料を導入するための試料導入口と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路の他端部に連通している排出口と、
前記排出口に接続され、前記試料導入口に導入された前記試料を吸引して前記試料流路内で一端部から他端部に向かって移動させる吸引源と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路と交差し前記試料流路と共同して、所定の体積を有し前記試料流路内で移動される試料の一部が位置される共通部分を形成し、バッファで満たされ、前記試料流路内で前記試料が移動される際にその中の前記バッファがほぼ移動されないような前記試料流路よりも大きな流路抵抗を有する主流路と、
前記共通部分内の前記試料を前記試料流路内の他の試料から分離させて前記主流路内で一方の端部に向かって移動させるように前記主流路の両端部に電圧を印加する電源装置とを、
具備することを特徴とする試料注入システム。
【請求項４】
前記主流路は、蛇行している流路であることを特徴とする請求項３の試料注入システム。
【請求項５】
前記試料流路は、前記共通部分以外で前記主流路よりも大きな流路面積を有することを特徴とする請求項３又は４の試料注入システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、いわゆるμＴＡＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｔｏｔａｌ  Ａｎａｌｙｓｉｓ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）で使用される試料注入方法及びシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、マイクロデバイスへのマイクロチップを用いた試料注入方法として様々な方法が使用されている。例えば、非特許文献１乃至５並びに特許文献１及び２には、電気浸透現象を利用した試料注入方法が開示されている。また、特許文献３には、圧力差を利用した試料注入方法が開示されている。注入される試料としては、例えば、タンパク質や核酸等が使用されている。
【０００３】
これらの試料注入方法では、図６（Ａ）及び（Ｂ）に示すような板状のマイクロチップ５０，５２を用いている。これらマイクロチップ５０，５２の内部には、互いに交差して所定の体積の共通部分５４をなす試料流路５６と主流路５８とが形成されている。これら試料流路５６と主流路５８とは、図６（Ａ）に示す「十字」形状又は図６（Ｂ）に示す「ダブルＴ字」形状である。マイクロチップ５０，５２の上面には、流路の各端部に連通している孔が形成されている。試料流路５６の一端部に形成されている孔は、試料が導入される試料導入口６０であり、他端部に形成されている孔は排出口６２である。
【０００４】
非特許文献１乃至５並びに特許文献１及び２の試料注入方法では、まず、試料流路５６内、主流路５８内、及び、主流路５８の両端部をバッファで満たす。そして、試料流路５６の試料導入口６０に試料を導入する。次に、試料流路５６の両端部に電圧を印加して電気浸透現象を生じさせ、図７（Ａ）に矢印で示すように、試料導入口６０の試料を試料流路５６内で試料導入口６０から排出口６２に向かって移動させる。そして、図７（Ｂ）に示すように、試料流路５６を試料で満たし、共通部分５４に試料の一部を位置させる。この後、試料流路５６の両端部への電圧の印加を除去する。
【０００５】
そして、主流路５８の両端部に電圧を印加して電気浸透現象を生じさせ、図７（Ｃ）に矢印で示すように、共通部分５４内の試料を試料流路５６内の他の試料と分離して主流路５８内で一方の端部へと移動させる。このようにして共通部分５４の体積に等しい量の試料が分離される。この定量試料を主流路５８に配設されている図示しない分析部に注入して分析を行う。
【０００６】
また、特許文献２の試料注入方法では、試料流路５６内を移動される試料の一部が共通部分５４に的確に位置されるように、また、共通部分５４内の試料を主流路５８内で一端部に向かって移動させる際に試料流路５６内の試料が連続して主流路５８に入り込まないように、試料流路５６の両端部６０，６２又は主流路５８の両端部に印加される電圧を状況に応じて調節することが行われる。
【０００７】
一方、特許文献３の試料注入方法では、試料流路５６内及び主流路５８内で試料を移動させるのに圧力差を利用している。即ち、試料導入口６０に試料を導入した後、排出口６２を試料導入口６０よりも陰圧にして、試料導入口６０の試料を試料流路５６内で試料導入口６０から排出口６２に向かって移動させ、共通部分５４に試料の一部を位置させる。その後、主流路５８の一端部を他端部よりも陰圧にして、共通部分５４の試料を試料流路５６内の試料から分離して主流路５８内で一端部に向かって移動させる。
【非特許文献１】Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ  １９９２，６４，ｐ．１９２６〜１９３２
【非特許文献２】Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ  １９９３，６５，ｐ．１４８１〜１４８８
【非特許文献３】Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ  ２００１，７３，ｐ．２６５６〜２６６２
【非特許文献４】Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ  ２００２，７４，ｐ．１２２３〜１２３１
【非特許文献５】Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ  ２００２，７４，ｐ．１９５２〜１９６１
【特許文献１】特表２０００−５１３８１３号公報
【特許文献２】特開２０００−７４８８０号公報
【特許文献３】特表２００２−５４２４８９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
非特許文献１乃至５並びに特許文献１及び２の試料注入方法では、試料流路５６内で試料導入口６０から排出口６２へと試料を移動させる際に、試料流路５６の両端部６０，６２に電圧を印加する必要がある。このため、試料流路５６内の試料は電気泳動された状態になる。例えば、正に帯電されたコロイド粒子等は正極から陰極へと移動され、負に帯電されたコロイド粒子等は負極から正極へと移動される。
【０００９】
この結果、試料流路５６内に位置された試料は、位置によって成分組成が本来の成分組成とは異なったものとなる可能性がある。従って、共通部分５４に移動された試料の成分組成も本来の成分組成とは異なったものとなる可能性があり、分析部に本来の成分組成とは異なった試料が注入されてしまう可能性がある。このため、精密な分析を行うことができないおそれがある。
【００１０】
また、特許文献３の試料注入方法では、排出口６２を試料導入口６０よりも陰圧にして、試料導入口６０の試料を試料流路５６内で試料導入口６０から排出口６２に向かって移動させる際に、主流路５８内のバッファが試料と共に試料流路５６内に引き込まれてしまうおそれがある。この結果、共通部分５４内にバッファの一部が位置され、共通部分５４が試料で完全に満たされない可能性がある。共通部分５４内に位置された試料が分析部に注入されるので、分析部に注入される試料の体積が共通部分５４の体積と異なったものとなる可能性がある。従って、例えば試料の濃度を問題とする分析等では、精密な分析を行うことができないおそれがある。
【００１１】
また、特許文献２の試料注入方法では、各工程の各段階に応じて試料流路５６の両端部６０，６２又は主流路５８の両端部に印加する電圧を複雑に調節することが必要である。例えば、各流路５６，５８の両端部に印加する電圧の大きさを調節したり、試料流路５６の両端部６０，６２から主流路５８の両端部へと電圧を切り替えたり、各流路５６，５８の端部をフローティング電圧あるいは接地電圧にしたりする必要がある。このため、特許文献２の試料注入方法では、上記欠点に加えて、さらに複雑な電源制御が必要となり、電源装置が高価になりがちである。
【００１２】
本発明は、上記課題に着目してなされたもので、その目的とするところは、精密な分析を行うことが可能となり、安価に実施することが可能な試料注入方法及びシステムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
請求項１の発明は、互いに交差して所定の体積の共通部分をなす試料流路と主流路とが内部に形成され、前記試料流路及び前記主流路の各端部が一面に開口しているマイクロチップを利用して所定の量の試料を注入する試料注入方法であって、
前記試料流路及び前記主流路をバッファで満たす工程と、
前記試料流路の一端部に試料を導入する工程と、
前記試料流路の他端部を一端部よりも陰圧にして、前記試料流路よりも大きな前記主流路の流路抵抗によって前記主流路内のバッファをほぼ移動させることなく、一端部に導入された前記試料を前記試料流路内で一端部から他端部に向かって移動させ前記試料の一部を前記共通部分内に位置させる工程と、
前記主流路の両端部に電圧を印加して前記共通部分内の前記試料を前記試料流路内の他の前記試料から分離して前記主流路内で一方の端部に向かって移動させる工程とを、
具備することを特徴とする試料注入方法である。
【００１４】
請求項２の発明は、前記試料注入方法は、前記移動させる工程の前に、前記主流路の両端部の液面の高さを前記試料流路の両端部の液面の高さよりも高くする工程を含むことを特徴とする請求項１の試料注入方法である。
【００１５】
請求項３の発明は、マイクロチップを利用して所定の量の試料を注入する試料注入システムであって、
前記マイクロチップに形成され、バッファで満たされる試料流路と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路の一端部に連通し、試料を導入するための試料導入口と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路の他端部に連通している排出口と、
前記排出口に接続され、前記試料導入口に導入された前記試料を吸引して前記試料流路内で一端部から他端部に向かって移動させる吸引源と、
前記マイクロチップに形成され、前記試料流路と交差し前記試料流路と共同して、所定の体積を有し前記試料流路内で移動される試料の一部が位置される共通部分を形成し、バッファで満たされ、前記試料流路内で前記試料が移動される際にその中の前記バッファがほぼ移動されないような前記試料流路よりも大きな流路抵抗を有する主流路と、
前記共通部分内の前記試料を前記試料流路内の他の試料から分離させて前記主流路内で一方の端部に向かって移動させるように前記主流路の両端部に電圧を印加する電源装置とを、
具備することを特徴とする試料注入システムである。
【００１６】
そして、請求項３の発明は、試料流路及び主流路をバッファで満たし、試料流路の試料導入口に試料を導入し、そして、吸引源により排出口を試料導入口よりも陰圧にして、試料流路よりも大きな主流路の流路抵抗によって主流路内のバッファをほぼ移動させることなく、試料導入口に導入された試料を試料流路内で試料導入口から排出口に向かって移動させ試料の一部を共通部分内に位置させ、さらに、主流路の両端部に電圧を印加して共通部分内の試料を試料流路内の他の試料から分離して主流路内で一方の端部に向かって移動させるようにしたものである。
【００１７】
請求項４の発明は、前記主流路は、蛇行している流路であることを特徴とする請求項３の試料注入システムである。
【００１８】
そして、請求項４の発明は、主流路を蛇行させて試料流路よりも大きな流路抵抗を有するようにしたものである。
【００１９】
請求項５の発明は、前記試料流路は、前記共通部分以外で前記主流路よりも大きな流路面積を有することを特徴とする請求項３又は４の試料注入システムである。
【００２０】
そして、請求項５の発明は、試料流路を共通部分以外で主流路よりも大きな流路面積を有するようにして、主流路が試料流路よりも大きな流路抵抗を有するようにしたものである。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、精密な分析を行うことが可能となり、試料注入を安価に実施することが可能となっている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の一実施形態を図１乃至４を参照して説明する。図１に本発明の一実施形態の試料注入方法に使用するマイクロチップ２を示す。このマイクロチップ２は、ガラスにより形成されているが、例えば、石英、セラミック、シリコン、プラスチック等の高分子基質でもよい。
【００２３】
マイクロチップ２は、２つの板状部材を貼り合わせることにより形成されている。図２（Ａ）に示すように、第１の板状部材４の一面には、エッチング加工により溝８が刻まれている。この溝８の長手方向に垂直な断面は、全体に渡ってほぼ一定形状であり、例えば、図２（Ｂ）に示すように幅１００μｍ、深さ５０μｍの長方形である。
【００２４】
図３に示すように、第２の板状部材６には、同一形状の４つの貫通孔１０が形成されている。これら貫通孔１０は、例えばφ５ｍｍとなっている。この第２の板状部材６を第１の板状部材４の溝８が刻まれている面に貼り合わせることによりマイクロチップ２が形成されている。そして、第１の板状部材４の溝８と第２の板状部材６の貫通孔１０とにより、本実施形態の試料注入方法に使用される流路が形成されている。
【００２５】
再び図１を参照すると、この流路は、互いに交差する試料流路１２と主流路１４とを有し、これら試料流路１２と主流路１４とは、全体として「ダブルＴ字」形状となっている。長手方向に階段状になっている流路が試料流路１２であり、直線状の流路が主流路１４である。試料流路１２と主流路１４との交差部には、所定の区間長の共通部分１６が形成されている。
【００２６】
試料流路１２の一端部は、貫通孔１０によって外部と連通している。この貫通孔１０は、試料が導入される試料導入口１８を形成している。また、試料流路１２の他端部も、貫通孔１０によって外部と連通している。この貫通孔１０は、排出口２０を形成している。この排出口２０は、吸引源の吸引口に接続された吸引チューブの先端部にＯ―リングを介して接続される。
【００２７】
主流路１４の両端部は、貫通孔１０によって外部と連通している。これら貫通孔１０は、バッファが導入され溜められる第１及び第２のバッファ溜２２，２４を形成している。これら第１及び第２のバッファ溜２２，２４には、主流路１４に電圧を印加するための電極３３，３４が形成されている。あるいは、第１及び第２のバッファ溜２２，２４は、収容しているバッファに、主流路に電圧を印加するための電極３３，３４を差し込むことが可能な形状となっている。主流路１４の共通部分１６と第２のバッファ溜２４との間には、図示しない分析部が配設されている。この分析部は、注入された試料を分析するための分析手段を有する。
【００２８】
ここで便宜上、試料流路１２の試料導入口１８と共通部分１６との間の部分を導入路２６と称し、共通部分１６と排出口２０との間の部分を排出路２８と称す。また、主流路１４の第１のバッファ溜２２と共通部分１６との間の部分を第１のサブ流路３０と称し、主流路１４の共通部分１６と第２のバッファ溜２４との間の部分を第２のサブ流路３２と称す。ここで、第１及び第２のサブ流路３０，３２は、導入路２６及び排出路２８に対して充分長く、後述する試料注入方法を実施することが可能な程度に、導入路２６及び排出路２８の流路抵抗に対して充分に大きな流路抵抗を有する。
【００２９】
次に、上記構成のマイクロチップ２を用いた本発明の一実施形態の試料注入方法を説明する。まず、導入路２６、排出路２８、第１及び第２のサブ流路３０，３２をバッファで満たす。さらに、第1及び第２のバッファ溜２２，２４にバッファを滴下して、第1及び第２のバッファ溜２２，２４をバッファで満たす。そして、試料導入口１８に試料を滴下して、試料導入口１８を試料で満たす。この際、機械的に又は人手によりバッファ及び試料の滴下量を調整して、第１及び第２のバッファ溜２２，２４のバッファの液面高さを試料導入口１８の試料の液面高さよりも充分に高くしておく。これは、後述するように、吸引工程の後に、第１及び第２のバッファ溜２２，２４のバッファの液面高さが、試料導入口１８及び排出口２０の試料の液面高さよりも高くなるようにするためである。
【００３０】
そして、排出口２０に吸引源の吸引チューブを接続し、吸引源を作動して、排出口２０を大気圧よりも陰圧にする。この結果、試料導入口１８内の試料は、試料導入口１８と排出口２０との間の圧力差により試料流路１２内を試料導入口１８から排出口２０に向かって移動される。この際、第１及び第２のサブ流路３０，３２は導入路２６及び排出路２８よりも充分に大きな流路抵抗を有するため、第１及び第２のサブ流路３０，３２内のバッファは移動されない。このようにして、図４（Ａ）に示されるように、試料流路１２は試料によって満たされ、共通部分１６に試料の一部が位置される。この状態で、吸引源による排出口２０の吸引を停止する。このとき、上述したように、第１及び第２のバッファ溜２２，２４のバッファの液面高さは、試料導入口１８及び排出口２０の試料の液面高さよりも高くなっている。
【００３１】
さらに、図４（Ｂ）に示されるように、第１及び第２のバッファ溜２２，２４に形成されている電極３３，３４に、あるいは、第１及び第２のバッファ溜２２，２４に収容されているバッファに電極３３，３４を差し込んで主流路１４に図示しない電源装置によって電圧を印加する。ここで、第１のバッファ溜２２を第２のバッファ溜２４よりも高電位にしておくと、共通部分１６に位置された試料は、電気浸透現象により共通部分１６から第２のバッファ溜２４に向かって移動を開始する。
【００３２】
この際、第１及び第２のバッファ溜２２，２４のバッファの液面高さは、試料導入口１８及び排出口２０の試料の液面高さよりも高くなっているため、導入路２６及び排出路２８内の試料は、共通部分１６内に位置された試料に続いて移動されることはなく、サイフォンの原理により自然に試料導入口１８又は排出口２０内に戻っていく。
【００３３】
このようにして、共通部分１６の体積（共通部分の流路面積と区間長Ｌとの積）に対応した量の試料は、試料流路１２内の他の試料から分離されて第２のサブ流路３２内に導入される。第２のサブ流路３２内に導入された定量試料は、図４（Ｂ）に矢印で示されるように、電気浸透現象により第２のバッファ溜２４に向かって移動される。このようにして、定量試料は第２のサブ流路３２に配設されている分析部に注入される。この後、分析部において分析手段を用いて定量試料の分析を行う。
【００３４】
上記実施形態の試料注入方法にあっては次の効果を奏する。排出口２０を試料導入口１８に対して陰圧にすることにより、試料導入口１８内の試料を試料流路１２内で排出口２０へと移動させて試料流路１２を試料で満たし、共通部分１６に試料の一部を位置させる。このため、試料内で電気泳動現象が生じず、共通部分１６に位置された試料の成分組成は本来の試料の成分組成と同一である。共通部分１６に位置された試料の全てを電気浸透現象を利用して第２のサブ流路３２を介して一度に分析部に注入するため、分析部には本来の成分組成の試料が注入される。従って、試料の成分組成を損なうことなく試料を注入、分析することが可能となっており、精密な分析を行うことが可能となっている。
【００３５】
また、主流路１４の流路抵抗は、排出口２０を試料導入口１８に対して陰圧にし、試料導入口１８内の試料を試料流路１２内で排出口２０へと移動させ、試料流路１２を試料で満たして共通部分１６に試料の一部を位置させる際に、主流路１４内のバッファがほぼ移動されない程度に試料流路１２よりも大きな流路抵抗を有する。このため、試料を共通部分１６に位置させる際、主流路１４内のバッファが試料流路１２内に引き込まれることがない。従って、共通部分１６は完全に試料で満たされ、共通部分１６の体積に等しい体積の試料が分析部へと注入されることになる。従って、さらに精密な分析を行うことが可能となっている。
【００３６】
そして、共通部分１６に位置された試料を電気浸透現象により分析部へと移動させる際には、第１及び第２のバッファ溜２２，２４のバッファの液面高さは、試料導入口１８及び排出口２０の試料の液面高さよりも高くなっている。このため、導入路２６及び排出路２８内の試料は、共通部分１６内に位置された試料に続いて移動されることはない。従って、共通部分１６の体積と同じ体積の試料を試料流路１２内の試料から正確に分離して分析部に注入することが可能であり、さらに精密な分析を行うことが可能となっている。
【００３７】
さらに、本実施形態の試料注入方法にあっては、電源は、共通部分１６内に位置された試料を電気浸透現象により共通部分１６から分析部へと第２のサブ流路３２内で移動させるために使用される。即ち、電源は、第１及び第２のバッファ溜２２，２４に所定の電圧を印加する機能を有すれば足り、試料注入のための特別な電源を準備する必要がない。従って、試料注入を安価に行うことが可能となっている。
【００３８】
図５（Ａ）は、本発明の一実施形態の試料注入方法に使用するマイクロチップの第１の変形例を示す。このマイクロチップ３５では，第１のサブ流路３６を蛇行する流路とし、第１のサブ流路３６の流路抵抗を導入路２６及び排出路２８の流路抵抗よりも充分大きくしている。
【００３９】
図５（Ｂ）は、本発明の一実施形態の試料注入方法に使用するマイクロチップの第２の変形例を示す。このマイクロチップ３８では、第１の変形例と異なり、試料流路１２と主流路１４との交差部を「ダブルＴ字」形状ではなく「十字」形状に形成している。
【００４０】
図５（Ｃ）は、本発明の一実施形態の試料注入方法に使用するマイクロチップの第３の変形例を示す。このマイクロチップ４２では、導入路４４及び排出路４６の流路幅を第１及び第２のサブ流路３０，３２よりも充分大きくすることにより、第１及び第２のサブ流路３０，３２の流路抵抗を導入路４４及び排出路４６の流路抵抗よりも充分大きくしている。
【００４１】
次に、本出願の他の特徴的な技術事項を下記の通り付記する。  
記  
（付記項１）  前記試料流路と主流路との交差部は、十字形状である請求項３乃至５の試料注入システム。
【００４２】
（付記項２）  前記試料流路と主流路との交差部は、ダブルＴ字形状である請求項３乃至５の試料注入システム。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明は、精密な分析を行うことが可能となり、安価に実施することが可能ないわゆるμＴＡＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｔｏｔａｌ  Ａｎａｌｙｓｉｓ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）で使用される試料注入方法及びシステムを提供する。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の一実施形態の試料注入方法に使用するマイクロチップを示す説明図。
【図２】（Ａ）は、同マイクロチップの第１の板状部材を示す斜視図、（Ｂ）は、第１の板状部材に形成されている溝を示す説明図。
【図３】同マイクロチップの第２の板状部材を示す斜視図。
【図４】（Ａ）は、本発明の一実施形態の試料注入方法の試料の一部を共通部分内に位置させる工程を示す説明図、（Ｂ）は、同試料注入方法の共通部分内の試料を試料流路内の他の試料から分離して主流路内で一方の端部に向かって移動させる工程を示す説明図。
【図５】（Ａ）は、同試料注入方法に使用するマイクロチップの第１の変形例を示す説明図、（Ｂ）は、同マイクロチップの第２の変形例を示す説明図、（Ｃ）は、同マイクロチップの第３の変形例を示す説明図。
【図６】（Ａ）は、従来技術の試料注入方法に使用するマイクロチップを示す説明図、（Ｂ）は、従来技術の試料注入方法に使用する別のマイクロチップを示す説明図。
【図７】（Ａ）は、従来技術の試料注入方法の試料流路の一端部に導入された試料を試料流路内で一端部から他端部に向かって移動させる工程を示す説明図、（Ｂ）は、同試料注入方法の試料の一部を共通部分内に位置させる工程を示す説明図、（Ｃ）は、同試料注入方法の共通部分内の試料を試料流路内の他の試料から分離して主流路内で一方の端部に向かって移動させる工程を示す説明図。
【符号の説明】
【００４５】
２…マイクロチップ、１２…試料流路、１４…主流路、１６…共通部分、１８，２０，２２，２４…端部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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