(57)【要約】【課題】磁界又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステム及びその作動方法を提供する。【解決手段】マイクロコントローラ１１５が、検出中の磁界又は高周波場のうち少なくとも一方が所定の閾値レベルを超えると検出装置１０５から入力信号を受け取り、（ｉ）薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、又は（ｉｉ）少なくとも一方の場が所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードのうち少なくとも一方を自動的にトリガする。【選択図】図１
2005021688.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムを作動させる方法であって、検出装置を用いて磁場又は高周波場のうち少なくとも１つに対する植込み可能器具の暴露を検出する段階と、検出中の少なくとも１つの場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えると、入力信号をマイクロコントローラに出す段階と、出された入力信号に応答して、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、又は（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードのうち少なくとも一方を自動的にトリガする段階とを有していることを特徴とする方法。
【請求項２】
磁界又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムであって、磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する植込み可能な薬剤投与器具の暴露を検出する検出装置と、検出装置に電気的に接続されたマイクロコントローラとを有し、マイクロコントローラは、検出中の少なくとも一方の場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えたときに入力信号を受け取り、マイクロコントローラは、入力信号に応答して、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、又は（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードのうち少なくとも一方を自動的にトリガすることを特徴とするシステム。
【請求項３】
磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムを作動させる方法であって、検出装置を用いて磁場又は高周波場のうち少なくとも１つに対する植込み可能器具の暴露を検出する段階と、検出中の少なくとも１つの場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えると、入力信号をマイクロコントローラに出す段階と、出された入力信号に応答して、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、及び（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードを自動的にトリガする段階とを有していることを特徴とする方法。
【請求項４】
磁界又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムであって、磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する植込み可能な薬剤投与器具の暴露を検出する検出装置と、検出装置に電気的に接続されたマイクロコントローラとを有し、マイクロコントローラは、検出中の少なくとも一方の場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えたときに入力信号を受け取り、マイクロコントローラは、入力信号に応答して、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、及び（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードのうち少なくとも一方を自動的にトリガすることを特徴とするシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、植込み可能な医療器具に関し、特に、例えば磁気共鳴画像ユニットによって生じた静磁場及び（又は）高周波（ＲＦ）場に暴露されると安全モードを自動的にトリガし、次に磁場及び（又は）ＲＦ場が関連の所定の閾値レベルをいったん下回ると自己試験モードを自動的にトリガする植込み可能な医用器具に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気共鳴画像（ＭＲＩ）装置は、主としてこれが非侵襲性の特性を有しているので医学的診断ツールとして広く用いられている。ＭＲＩの考え方は、スピンとして知られている原子核に固有の特性に立脚している。具体的に説明すると、原子核中の原子粒子は、これらのそれぞれの軸線回りにスピン（自転運動）し、それにより角運動量を生じさせる。原子が奇数個の陽子と中性子の両方を有している場合、角運動量が生じ、偶数個の陽子と中性子の両方が原子中に存在していれば、角運動量はゼロである。
【０００３】
加うるに、原子核の中には磁気特性を示すものがある。具体的に説明すると、陽子は、これらの質量、正電荷及びスピンの結果として比較的弱い磁場（磁気双極モーメント）を生じさせる。磁場が存在していなければ、原子核団の磁気双極モーメントの方向はランダムな配向状態となる。しかしながら、比較的強い外部静磁場（例えば、ｚ軸沿い）を受けると、陽子は、取りうる２つの位置のうち１つ、即ち、外部磁場の方向に実質的に平行に整列した位置又はこれと実質的に逆平行に整列した位置を取ることになる。また、外部静磁場への陽子の暴露により、陽子は、次のラーモア周波数方程式により表される或る周波数でこれらの磁気双極モーメント回りに歳差運動を行う（こまのようにスピンする）。
【０００４】
ω０＝γＢ０
上式において、ω０は、ラーモア周波数を示し、γは、角運動量と磁気モーメントの比を表す磁気回転比であり、磁気回転比は、磁気的に活性な各原子核について特有であり、Ｂ０は、外部静磁場の強度である。典型的には、ＭＲＩ器械は現在、約０．７Ｔ〜１．５Ｔ、又は３．０テスラよりも高い静磁場を掛けている。これよりも高い静磁場が計画されている。というのは、磁場を高くすれば高くするほどそれだけ一層画像の解像度及び鮮明度が良くなるからである。
【０００５】
一般的に言って、水素原子核スピンは、人体中に豊富に存在するのでＭＲＩ手技に用いられる。水素についての磁気回転比は、４２．６ＭＨｚ／Ｔである。したがって、水素についてのラーモア周波数は、０．７Ｔについては約３０ＭＨｚ、１．５Ｔについては約６４ＭＨｚである。
【０００６】
磁気モーメントのある陽子は、２つの取りうるエネルギ状態Ｉ＝±１／２のうち一方を有する場合がある。陽子は、外部静磁場を受けると、それ自体外部静磁場の方向に実質的に平行に又は非平行（逆平行）に整列する。非平行（逆平行）の陽子は、平行である陽子よりもエネルギ状態が僅かに高い。もし陽子がラーモア周波数でｘ−ｙ平面内で高周波（ＲＦ）信号で照射されると、外部静磁場の存在下にあっても、低エネルギの互いに平行な陽子のうち何割かは、ＲＦ波からエネルギを吸収し、磁気双極モーメントを非平行（逆平行）方位まで回転させる（磁気共鳴と呼ばれる）。非平行（逆平行）方位まで回転した陽子は今や、高エネルギ状態にある。放射線を除いた後、非平行（逆平行）陽子のうち何割かは回転してその低エネルギの平行方位（平衡状態）に戻り、比較的少量のエネルギをラーモア周波数でＲＦ波として環境に放出し又は発生させる。この比較的低レベルのエネルギ放出の検出は、センサによって達成され、画像の基礎として用いられる関心のある信号を構成する。
【０００７】
植込み可能な医用器具が施された状態でＭＲＩ手技を受ける患者は、２つの別々の種類の潜在的に有害な作用を受ける場合がある。これはＭＲＩ手技が典型的には約２０分〜３０分、或いはそれ以上の時間の範囲にわたることを考えると特に注目に値する。したがって、患者は、長期間にわたりこれら作用を受けることになる。
【０００８】
第１の作用は、比較的高いレベルで所要の静磁場に起因して生じる作用である。ＭＲＩ手技を受けている間、かかる比較的高い磁場への暴露により、かかる比較的高い静磁場の影響を受けやすい植込み可能な医用器具の機械的又は電気機械的コンポーネントに誤動作又は混乱が生じる恐れがある。例えば、磁場への暴露により、磁石及びコイルから成るモータ、電磁作動式の部品（例えば、薬剤投与器械の弁）アクチュエータ、ＭＲＩ手技中に必要なかかる比較的高い静磁場の影響を受けやすい植込み可能な医用器具のセンサ又は任意他のコンポーネントの動作が望ましくないことに停止し又は変更される場合がある。
【０００９】
別の安全予防措置は、ＲＦ場に起因する作用である。例えば、ＲＦ場は、導電性ループに結合されると比較的高い電圧を発生させる。したがって、ＲＦにより、電子部品（例えば、ＲＡＭ、ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＣＰＵ機能、センサ、アクチュエータ）のレベルで又はシステム（例えば、回路、リード線）のレベルで機能障害が生じる場合がある。
【００１０】
これら悪影響は、ＭＲＩ手技中に生じる比較的高い磁場及び（又は）ＲＦ波に影響を受けやすいコンポーネント（例えば、モータ、弁、アクチュエータ、センサ、集積回路、メモリチップ又はソリッドステートセンサ）を採用する植込み可能な医用器具（例えば、薬剤投与器械、ペースメーカ、除細動器又は刺激器）を有する患者にとって特に関心のあるものである。ＭＲＩ手技中に生じる植込み可能な医用器具へのこれら悪影響が原因となって、医療業界は、かかる植込み可能な医用器具を有する患者が診断画像化ツールとしてのＭＲＩを断念するよう推奨した。患者が依然としてＭＲＩを受けるのを選択した場合、電子作動式植込み可能医用器具の製造業者は典型的には、患者にインプラントパラメータを確認し、一般に遠距術によりインプラント器具と連絡状態にある外部読取りユニットを用いる手技後、これをリセットすることを忠告している。植込み可能な医用器具の動作のこの確認又は点検は、これによっては、手技中における植込み可能医用器具の潜在的に不正確な動作の変更又は補正が行なわれず、しかもかかる確認又は点検では植込み可能医用器具の動作の正確さを確認するために医療手技の直後に居るべき特別な訓練を受けた医療従事者がインプラント器具に特有の外部読取り計器を必要とするので非実用的である。
【００１１】
最近の研究及び開発は、電子植込み可能器具が電磁放射線（高周波放射線）からの有害な干渉又は妨害を受けた時期を検出する解決策を見出すことに的を絞っている。特許文献１は、電気刺激を電気的に興奮しやすい組織に送り出すのに用いられる導電性ループ中の外部信号、例えば時間交番電磁界の相当な強いレベルによって引き起こされる望ましくない電流を制限する装置を開示している。かかる電気刺激を例えば脳組織に与えると、ふるえを減少させ又は抑制し、周辺神経組織に与えると血液循環を促進すると共に痛みの管理を行うことができる。電極は、導電性リード線により植込み可能なパルス発生器に電気的に接続されている。スイッチが、導電性ループ内で２つの装置相互間に作動的に接続されていて、制御回路によって制御される。検出した電磁放射線のレベルが所定の閾値以下であればスイッチを入れて導電性ループを閉じ、それにより電気刺激が組織を興奮させることができるようにし、これに対し、検出した電磁場が規定した閾値を超えるとスイッチを切り、導電性ループを開く。外部電磁場が規定の閾値を超えるとスイッチを切って導電性ループを開くので、医用器具による全ての動作又は作用は、暴露が終わったときにスイッチを再び入れて導電性ループを閉じるまで有害な電磁暴露のこの期間中は停止する。例えば、パルス発生器への接続性の遮断の結果としてこの時間の間に与えることができる電気刺激は無い。したがって、この特許発明にかかる装置は、この暴露期間中、或る形式の動作又は機能を続行しなければならない医用器具は適していない。さらに、暴露が終わり、スイッチが閉成状態にいったん切り換わると、刺激を与える電極が正しく動作しているかどうかを確認する試験法は開示されていない。
【００１２】
電磁放射線の場の強度及び振幅変調が検出される別の装置が特許文献２に記載されている。検出した電磁放射線（高周波放射線）の場の強度を振幅変調の組合せが所定の閾値レベルを超えている限り、電子装置の作動は連続して試験される。具体的に説明すると、検出した電磁放射線の場の強さと振幅変調の組合せ信号が所定の閾値を超えている限り、一連の試験パルスが連続的に出力されて電子装置のＣＰＵに送られる。ＣＰＵから各パルスへの応答は、医療器具が正しく動作していることの確認として所定の時間間隔内に予測される。ＣＰＵが試験パルスに応答するたびにカウントダウンタイマがリセットされる。タイマは、ＣＰＵの応答しない各パルス信号でカウントダウンし、遂にはタイマがゼロに達し、すると警報が鳴り出すことができる。したがって、この装置は、医用器具が所定の閾値レベルを超える電磁放射線を受けるという理由だけで正しくは動作していないとは見なさない。これとは異なり、閾値レベルを超えると、即ち、連続して生じている試験パルスに反応して戻る際にＣＰＵの動作を試験する場合、第２の基準レベルが適用される。もし両方の基準を満足し、即ち、放射線が閾値レベルを超えると共に発生した試験パルスに対し所定の時間内で応答を受け取らなければそれだけで医用器具が不適切に動作していると分類される。この特許発明にかかる装置は、医用器具が電磁放射線を受け、所定閾値を超える時間間隔全体の間、試験パルスを発生させるためのエネルギの消費の面で非効率的である。加うるに、この装置は、ＣＰＵが試験パルスに応答せず、それにもかかわらず医用器具の動作が電磁放射線への暴露による干渉に起因して別の仕方で変更され又は妨害される（例えば、タイミング周波数が変更され又はメモリに記憶されているデータが改ざんされ、変更され又は消去される）状況を考慮に入れていない。さらに別の欠点は、電磁放射線への医用器具の暴露が終了した後、医用器具の動作の確認が行われず、医用器具が所定の閾値レベルを超えている電磁放射線を受けている間のみ試験が行われるということにある。
【特許文献１】米国特許第６，１９８，９７２号明細書
【特許文献２】米国特許第５，８７７，６３０号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
したがって、許容可能な所定閾値を超える磁場及び（又は）ＲＦ場に暴露されると植込み可能な医用器具の或る部分の幾分かの修正又は変更動作をトリガする安全モードと、磁場及び（又は）ＲＦ場がいったん所定閾値を下回った場合の自己試験モードのうち少なくとも一方、好ましくは両方を自動的に起動する植込み可能な医用器具を開発することが望ましい。しかる後、静磁場及び（又は）ＲＦ場への暴露が所定閾値を下回ると、安全モードから自己試験モードに自動的に切り換えて医用器具が正しく動作していることを確認する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、従来型の植込み可能な医用器具と関連した上述の問題を解決する。特に、本発明は、磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムを作動させる方法に関する。このシステムは、マイクロコントローラ及び磁場又は高周波場を検出する検出装置を有している。検出装置を用いて磁場又は高周波場のうち少なくとも１つに対する植込み可能器具の暴露を検出する。検出中の少なくとも１つの場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えると、入力信号（例えば、割込み信号）をマイクロコントローラに出す。入力信号の発生後、マイクロコントローラは、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、及び（又は）（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードを自動的にトリガする。
【００１５】
加うるに、本発明は又、磁界又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムに関する。このシステムは、磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する植込み可能な薬剤投与器具の暴露を検出する検出装置を有する。マイクロコントローラが、検出装置に電気的に接続されている。マイクロコントローラは、検出中の少なくとも一方の場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えたときに入力信号を受け取る。入力信号の受取り後、マイクロコントローラは、入力信号に応答して、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、又は（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードのうち少なくとも一方を自動的にトリガする。
【００１６】
更に別の実施形態では、本発明は、磁場又は高周波場のうち少なくとも一方に対する暴露中に誤動作を生じやすい植込み可能な薬剤投与器具を制御するシステムを作動させる方法及びシステムに関する。まず最初に、検出装置を用いて磁場又は高周波場のうち少なくとも１つに対する植込み可能器具の暴露を検出する。検出中の少なくとも１つの場が対応関係にある所定の閾値レベルを超えると、入力信号をマイクロコントローラに出す。すると、マイクロコントローラは、（ｉ）植込み可能な薬剤投与器具の全ての動作を終了させるのではなく或る動作を変更する所定の安全モード動作を実行可能にする安全モード、及び（ｉｉ）検出中の少なくとも一方の場がその対応関係にある所定の閾値レベルを下回ったときに所定の安全モード時間間隔の満了後又は所定期間経過後、植込み可能な薬剤投与器具の適正な動作を確認するための所定の自己試験動作を実行可能にする自己試験モードを自動的にトリガする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の構成によれば、例えば磁気共鳴画像（ＭＲＩ）ユニットによって生じた静磁場及び（又は）高周波（ＲＦ）場に暴露された場合にＭＲＩ手技を受けている患者が利用している植込み可能な医用器具、例えば薬剤投与器械、ペースメーカ、除細動器等の或る部分の幾分かの修正又は変更動作をトリガする安全モードと、磁場及び（又は）ＲＦ場がいったん所定閾値を下回った場合の自己試験モード（医用器具が正しく動作していることを確認する）のうち少なくとも一方、好ましくは両方を自動的に起動することができ、これら器具に対する悪影響を実質的に無くすることができ、かくして患者の安全を確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明の上記特徴及び他の特徴は、本発明の例示の実施形態についての以下の詳細な説明及び図面の記載から明らかになろう。なお、図中、同一の参照符号は、実質的に同一の要素を示している。
【００１９】
本発明の磁場暴露に基づいて植込み可能な医用器具を制御する第１の実施形態としてのシステム１００の例示の概略回路図が図１に示されている。図示していないが、システム１００は好ましくは、ハウジング内に収納又は封入される。システム１００は、ＭＲＩユニットによって発生した典型的には約０．２Ｔ〜３．０Ｔの高強度磁場に対して敏感な又は動作にかかる高強度磁場の存在下で変更／妨害又は混乱が生じる場合のある電子部品（例えば、集積回路、メモリチップ又はソリッドステートセンサ）を採用している電子式の植込み可能な医用器具１２０、例えば薬剤投与器具、ペースメーカ、除細動器、人工内耳又は刺激器を有している。磁場センサ１０５が、動力源（例えば、電池）１１０及び植込み可能な医用器具１２０を電子的に制御するマイクロコントローラ１１５（例えば、マイクロプロセッサ）に並列に接続されている。
【００２０】
図１に示す実施形態では、磁場センサ１０５は、３つの空間方向（例えば、３次元デカルト座標の３つのＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸に相当する）において静磁場を検出するよう互いに実質的に直交して配置された３つのリードスイッチとして構成されている。任意の１以上の数のリードスイッチを用いて磁場を検出することができる。用いられる磁場センサの数を減少させると、患者に関するあらゆる空間方向（３６０゜）における磁場に対する感度が低下する。リードスイッチ又は或る他形式の受動型磁場検出装置が好ましく、その理由は、これは所定の磁場感度閾値又はしきい値を超える磁場強度を受けた場合にのみエネルギを消費するからである。
【００２１】
各リードスイッチは、そのスイッチを作動させるのに必要な磁場を表す関連の感度を備えている。３つのリードスイッチの各々の感度は、各々の感度が同一又は異なるよう別個独立に選択されたものであるのがよい。ＭＲＩユニットは、典型的には約０．７Ｔ〜３．０Ｔの磁場を生じさせる。したがって、好ましい実施形態では、リードスイッチの感度は、ＭＲＩユニットによって生じたほぼ最小の磁場、例えば約０．７Ｔ以上に合わせて選択される。実験的試験により、特定の電子式の植込み可能な医用器具がＭＲＩによって生じた磁場レベルの範囲の下限で正しく動作できることを確かめるのがよい。その場合、植込み可能な医用器具の動作を混乱させ又は変更させる磁場レベルに実質的に等しいリードスイッチの高い感度を選択するのがよい。したがって、各磁気センサの感度閾値は、所望に応じて選択できる。特定の電子式植込み可能な医用器具の各々及び磁場放射線の或る特定のレベルへの暴露による妨害に起因する不作動又は誤動作に関する大がかりな試験は、恐らくは知られていない。したがって、感度閾値が好ましくは、患者が特定の器械について診断用ＭＲＩ画像化下にある間に受ける最小磁場強度及び（又は）周波数以上であることは確かである。例示の目的でのみ、互いに実質的に直交して配置され、全て同一の感度を持つリードスイッチを有する検出機構の動作について説明する。作用を説明すると、患者がＭＲＩ試験を受けていない間に、磁場に対する電子式の植込み可能な医用器具の暴露が、リードスイッチのうちの任意のものの感度を超えてはならず、したがってスイッチは、開離状態のままであり、それによりマイクロコントローラ１１５による電子式植込み可能な医用器具１２０の通常の動作を維持する。リードスイッチのうち任意の１以上によって検出された磁場がその関連の感度を超えていれば、そのスイッチは閉成され、マイクロコントローラ１１５のところに入力信号（例えば、割込み信号）を出力すると、マイクロコントローラの割込み又は中断により、植込み可能な医用器具と関連した１以上の所定の動作から成る安全モードが自動的にトリガされる。安全モード中、マイクロコントローラ１１５は、植込み可能な医用器具の動作を全て中止させることなく植込み可能な医用器具の修正又は変更された動作をトリガする。例えば、安全モードは、以下の動作、即ち、（ｉ）電子式植込み可能医用器具の動作を終了させ又は変更すること、（ｉｉ）全てのデータを複製すると共に（或いは）全てのデータをメモリ（例えば、ＲＡＭ又はＥＥＰＲＯＭメモリ）に保存すること、（ｉｉｉ）自己試験モード中、確認されるべきメモリチェックサムを計算すること、及び（ｉｖ）検出装置により検出されたデータを記憶することのうち任意の１以上を開始させることができる。加うるに、安全モードは又、電子式植込み可能医用器具の送信機／受信機（例えば、アンテナ）を短絡させてこれを離調させ、それにより高周波放出のそのレベルでの高電圧の発生を回避することができる。電子式の植込み可能な薬剤投与医用器具の場合、所定の安全モード動作は、全ての薬剤投与動作を終了させて薬剤の過剰投与を回避する動作を含むのがよい。変形例として、薬剤の投与を、患者への植込みの時点で不揮発性メモリに記憶されたデフォルトレート又は投与レベルに復帰するよう設定してもよい。これら安全モード動作は、安全モード時間間隔と呼ばれるＭＲＩ画像化手技全体に通じて維持される。安全モード時間間隔は、所定期間の経過（例えば、タイマ、カウンタ又は他の計時機構を用いて）まで又は検出された磁場強度が所定の閾値レベルを下回る（例えば、リードスイッチが全て対応関係にあるスイッチの感度以下に検出された磁場強度が減少した結果として開く）まで測定される。
【００２２】
安全モード時間間隔の終了時、安全モード動作を続行し又は維持した状態で自己試験モードがマイクロコントローラコードで自動的にトリガされ、植込み可能医用器具が正しく動作しているかどうかを確かめる。かくして、この自己試験モード中、所定の安全モード動作は、自己試験動作が実行されている間、同時に実効状態のままである。特に、自己試験モードは、次の所定の動作、即ち、メモリ容量の点検又は確認（例えば、安全モードのトリガの前後でメモリチェックサムを比較する）、メモリ動作の試験（記憶装置の読取り／書込み試験）及び植込み可能医用器具のコンポーネントの動作（例えば、電池レベル、水晶振動数、発信周波数、検出装置の入力レンジ、マイクロコントローラの通信ポート）の確認のうち１以上を開始させる。メモリ容量及び磁場検出センサの確認によりエラーが検出されなければ、所定の安全モード動作が実行不能になり、電子式植込み可能医用器具の通常の動作に復帰する。もしそうでなければ、警報又は他の装置が好ましくはトリガされ、患者及び医療従事者に点検する旨の警報を出し、必要ならば、植込み可能医用器具の動作を遠距術により補正する旨の警報を出す。誤差が検出された後者の場合、所定の安全モード動作が検出された誤差の補正後遠距術により実行不能になるまで続行する。
【００２３】
図１の磁場検出装置は、受動式磁場センサ、例えばリードスイッチを採用している。変形例として、能動式磁場センサを図２に示すように用いてもよい。図１及び図２に示す同一の要素は、同一の参照符号で示されている。２つの実施形態相互間で異なる装置にのみ更に説明する。具体的には、図２に示す実施形態は、例えばスイス国所在のゼントロン・アーゲー（Sentron Ag）によって製造された３Ｄホール磁気センサ装置（3D Hall Magnetic Sensor Device）２０５がリードスイッチに代えて用いられているという点において図１の実施形態と異なっている。図２に示す磁気センサ装置２０５は、好ましくは３つのホール磁気センサを含むが、任意の１以上の数のホール磁気センサを使用が意図されており、これは本発明の意図した範囲に含まれる。加うるに、他の能動式磁場センサをホール磁気センサに代えて用いてもよい。磁場センサ装置２０５は、アナログ出力信号を出し、このアナログ出力信号は、比較器２１０に送られ、この比較器２１０は又、適当な基準磁場閾値レベルを入力として受け取る。磁場の信号強度が閾値レベルを超えている場合、比較器２１０は、切り換わって入力信号（例えば、妨害信号）をマイクロコントローラ１１５のところに発生させ、それにより安全モードをトリガする。他の全ての点において、この第２の実施形態のシステムの動作は、第１の実施形態について上述した動作と類似している。
【００２４】
上述した第１及び第２の実施形態では、システムは、植込み可能医用器具が対応関係にある所定の磁場閾値レベルを超える磁場に暴露されると患者がＭＲＩ手技を受けていることを検出するための磁場センサを有している。図３に示す変形実施形態では、磁場を検出する検出装置を用いないで、植込み可能医用器具は、ＲＦ場が所定のＲＦ閾値レベルを超えた時点を検出することにより患者がＭＲＩ手技を受けていることを検出する検出装置を有している。この実施形態では、ＲＦ信号は、アンテナ３０５によって受信され、次に増幅器３１０によって増幅される。次に、増幅信号は、ＲＦ検出器３１５により入力として受け取られる。任意の従来型ＲＦ検出手段を用いることができる。ＲＦ検出器３１５の出力を比較器３２０に入力として送り、この比較器３２０は又、ＲＦ閾値レベルを入力として受け取る。検出されたＲＦ場が、ＲＦ閾値レベルよりも大きいと、比較器３２０は、切り換わってマイクロコントローラ１１５のところに入力信号（例えば、妨害信号）を出し、それにより安全モードをトリガする。他の全ての点において、システム３００の動作は、第１の実施形態及び第２の実施形態のそれぞれのシステム１００，２００に関して上述した動作と類似しており、かくしてそれ以上詳細に説明する必要はない。所望ならば、ＲＦ場を検出する別の手段を用いることができる。
【００２５】
磁場とＲＦ場の両方を検出する検出装置を採用し、それにより検出された磁場と検出されたＲＦ場がこれらのそれぞれ対応関係にある所定の閾値レベルを超えたときに患者がＭＲＩ手技を受けているかどうかをモニタすることも又意図されており、これは本発明の意図した範囲に含まれる。加うるに、上述の説明は、植込み可能医用器具のマイクロコントローラが安全モードをトリガし、次に自己試験モードをトリガする好ましい実施形態に関している。この実施形態は、植込み可能医用器具の考えられる誤動作又は混乱に対し安全予防措置を最大にするので好ましい。しかしながら、本発明は、マイクロコントローラが、（ｉ）検出された磁場及び（又は）検出されたＲＦ場がその対応関係にある所定の閾値を超えたときにＭＲＩ手技を受けている間に植込み可能医用器具の動作を変更又は修正する安全モード、又は（ｉｉ）所定の安全モード時間間隔の経過後、植込み可能医用器具の動作を確認する自己試験モードのうち何れか一方（両方ではない）をトリガするよう容易に改造できる。
【００２６】
かくして、本発明の好ましい実施形態に具体化された本発明の新規な基本的特徴を示し、説明し及び指摘したが、当業者であれば本発明の精神及び範囲から逸脱することなく図示の装置の形態及び細部並びにこれらの作用における種々の省略、置換及び変更を想到できることは理解されよう。例えば、同一の結果を得るために実質的に同一の機能を実質的に同一のやり方で発揮する要素及び（又は）段階の全ての組合せは本発明の範囲に属することは明らかである。記載した一実施形態から別の実施形態への構成要素の置換も又、完全に意図されていて本発明の範囲に含まれる。また、図面は必ずしも縮尺通りには記載されておらず、図面は、性質上単に概念的なものであることは理解されるべきである。したがって、本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載以外の事項によっては限定されない。
【００２７】
本明細書に記載した特許明細書、係属中の特許出願明細書、刊行物、雑誌、本又は任意他の文献の記載内容全体を本明細書の一部を形成するものとしてここに引用する。
【００２８】
本発明の具体的な実施形態は、次の通りである。
（１）安全モードだけが、自動的にトリガされることを特徴とする請求項１記載の方法。
（２）自己試験モードだけが自動的にトリガされることを特徴とする請求項１記載の方法。
（３）安全モードが自動的にトリガされ、次に自己試験モードが自動的にトリガされ、所定の安全モード動作は、所定の自己試験モード動作と同時に続くことを特徴とする請求項１記載の方法。
（４）所定の安全モード動作は、（ｉ）全てのデータを複製する動作、（ｉｉ）全てのデータをメモリに保存する動作、（ｉｉｉ）植込み可能な薬剤投与器具の送信器／受信器を短絡する動作、（ｉｖ）植込み時に不揮発性メモリに記憶されている植込み可能な薬剤投与器具のデフォルト動作に復帰させる動作、（ｖ）自己試験モード中に確認されるべきメモリチェックサムを計算する動作、（ｖｉ）検出装置により検出されたデータを記憶する動作、及び（ｖｉｉ）薬剤の送り出しを終了させる動作のうち少なくとも１つを更に含むことを特徴とする上記実施形態（３）に記載の方法。
（５）検出装置は、複数のリードスイッチ又は複数のホール磁気センサから成ることを特徴とする請求項１記載の方法。
【００２９】
（６）所定の自己診断モード動作は、（ｉ）メモリ容量の確認、（ｉｉ）記憶装置の試験動作、及び（ｉｉｉ）植込み可能な薬剤投与器具のコンポーネントの動作の確認のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項１記載の方法。
（７）自己試験モード中動作にエラーが無いことが検出されると、所定の安全モード動作を実行不能にする段階を更に有していることを特徴とする請求項１記載の方法。
（８）自己試験モード中動作にエラー検出されると、エラーが検出されたことを指示する段階と、動作のエラーが補正されると所定の安全モード動作を実行不能にする段階とを更に有していることを特徴とする請求項１記載の方法。
（９）マイクロコントローラは、自己安全モードだけを自動的にトリガすることを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１０）マイクロコントローラは、自己試験モードだけを自動的にトリガすることを特徴とする請求項２記載のシステム。
【００３０】
（１１）マイクロコントローラは、安全モードを、次に自己試験モードを自動的にトリガし、所定の安全モードは、所定の自己試験モード動作と同時に続行することを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１２）マイクロコントローラは、（ｉ）全てのデータを複製する動作、（ｉｉ）全てのデータをメモリに保存する動作、（ｉｉｉ）植込み可能な薬剤投与器具の送信器／受信器を短絡する動作、（ｉｖ）植込み時に不揮発性メモリに記憶されている植込み可能な薬剤投与器具のデフォルト動作に復帰させる動作、（ｖ）自己試験モード中に確認されるべきメモリチェックサムを計算する動作、（ｖｉ）検出装置により検出されたデータを記憶する動作、及び（ｖｉｉ）薬剤の送り出しを終了させる動作のうち少なくとも１つを含む所定の安全モード動作でプログラムされていることを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１３）検出装置は、複数のリードスイッチ又は複数のホール磁気センサから成ることを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１４）マイクロコントローラ中にプログラムされている所定の自己診断モード動作は、（ｉ）メモリ容量の確認、（ｉｉ）記憶装置の試験動作、及び（ｉｉｉ）植込み可能な薬剤投与器具のコンポーネントの動作の確認のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１５）自己試験モード中動作にエラーが無いことが検出されると、マイクロコントローラは、所定の安全モード動作を実行不能にすることを特徴とする請求項２記載のシステム。
（１６）マイクロコントローラは、自己試験モード中動作のエラーの検出を指示し、動作のエラーが補正されると所定の安全モード動作を実行不能にするようプログラムされていることを特徴とする請求項２記載のシステム。
【産業上の利用分野】
【００３１】
本発明の方法は、比較的高い磁場及び（又は）ＲＦ波に影響を受けやすいコンポーネント（例えば、モータ、弁、アクチュエータ、センサ、集積回路、メモリチップ又はソリッドステートセンサ）を採用する電子式植込み可能な医用器具（例えば、薬剤投与器械、ペースメーカ、除細動器又は刺激器）を利用している患者に対して実施されるＭＲＩ手技に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】互いに関して実質的に直交して配置された３つのリードスイッチを用いる本発明の磁場検出方式の植込み可能な医用器具の第１の実施形態の例示の概略回路図である。
【図２】３Ｄホール磁気センサを用いる本発明の磁場検出方式の植込み可能な医用器具の第２の実施形態の例示の概略回路図である。
【図３】ＲＦ検出方式の植込み可能な医用器具の第３の実施形態の例示の概略回路図である。
【符号の説明】
【００３３】
１００，２００，３００  制御システム
１０５  磁場センサ
１１０  動力源又は電源
１１５  マイクロコントローラ
１２０  電子式植込み可能医用器具
２０５  ３Ｄ磁気センサ装置
２１０，３２０  比較器
３０５  アンテナ
３１０  増幅器
３１５  ＲＦ検出器
【図１】
2005021688.tif 000003
【図２】
2005021688.tif 000004
【図３】
2005021688.tif 000005
【外国語明細書】
2005021688000001.pdf