(57)【要約】【課題】記録時におけるスキュー調整とＯＰＣ処理のタイミングの適正化による記録性能の向上。【解決手段】  スキュー調整は、記録動作中において、一定時間が経過する毎、或いは記録動作の進行が一定アドレス区間を経過する毎にに行われるようにし、これによってディスクの半径位置で見ると、ディスク外周側にいくほど、スキュー調整が行われる半径位置としての間隔が詰められていくようにする。またランニングＯＰＣについては、そのスキュー調整が行われる間の期間（つまり上記一定時間の進行中、或いは一定アドレス区間の進行中）に行われるようにする。【選択図】      図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク記録媒体に対してレーザ光の照射を行って情報の記録を行う記録ヘッド手段と、
上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号に基づいて、上記記録ヘッド手段から出力するレーザ光のパワーを可変制御するレーザパワー制御手段と、
上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを可変するスキュー駆動手段と、
上記スキュー駆動手段を駆動制御しながら、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号を検出して、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整するスキュー制御手段と、
上記記録ヘッド手段による記録動作中において、上記スキュー制御手段の処理を一定時間間隔もしくは一定アドレス区間間隔で実行させるとともに、その一定時間もしくは一定アドレス区間の進行中において上記レーザパワー制御手段の処理を実行させる実行制御手段と、
を備えたことを特徴とする記録装置。
【請求項２】
上記スキュー制御手段は、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号が最小になるように、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記スキュー制御手段は、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号の変化率が所定以下になるように、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号に基づいて、上記レーザ光のパワーを可変制御するレーザパワー制御ステップと、
上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを変化させながら、上記ディスク記録媒体に照射された上記レーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号を検出して、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整するスキュー制御ステップと、
が上記ディスク記録媒体に対する記録動作中に行われるとともに、
上記記録動作中において、上記スキュー制御ステップの処理を一定時間間隔もしくは一定アドレス区間間隔で実行させ、その一定時間もしくは一定アドレス区間の進行中において上記レーザパワー制御ステップの処理を実行させることを特徴とする記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク記録媒体に対する記録装置、及び記録方法に関し、特に記録動作中のレーザパワー制御とスキュー調整に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
【特許文献１】特許第２７６４９６５号
【特許文献２】特開平４−１０２３７号公報
【特許文献３】特開平６−７６２８８号公報
【特許文献４】特開２０００−３３１３６４号公報
【特許文献５】特開２００１−１８４６８９号公報
【０００３】
光ディスクを記録媒体とする記録再生装置が広く普及しており、光ディスクとしても、再生専用ディスク、ライトワンスディスク、リライタブルディスク等が利用されている。
再生専用ディスクは、例えばエンボスピットによって情報記録が行われる、いわゆるＲＯＭタイプディスクである。
ライトワンスディスクは、記録層に色素変化膜を用い、レーザ光によって色素変化ピット（マーク）を形成することで情報の記録を行うディスクであって、１回だけの書込が可能とされる。
リライタブルディスクは、記録層に相変化膜を用い、レーザ光によって相変化ピット（マーク）を形成することで情報の記録を行うディスクであって、書換が可能とされる。
これら各種ディスクは、それぞれの特徴に応じて各種用途に使い分けられている。
【０００４】
ところで、ライトワンスディスクやリライタブルディスクに対する記録装置では、記録動作中にレーザパワーコントロールを行うことが有効とされている。この技術は、いわゆるランニングＯＰＣ（Oputimum Power Control）として知られている。
特に、ディスクの製造ムラ（記録膜のムラ）や、スキュー（光軸とディスクの傾き）状況などに対してランニングＯＰＣが有効である。例えば記録中に記録膜の製造ムラやスキュー状況によって、レーザスポットの形状やスポット内のエネルギー分布の状況が変動し、ピット形成能力が変動するため、それらに応じて記録中にレーザパワーを調整し、ピット形成能力を保つようにすることが好適となる。
上記特許文献１，２，３にはランニングＯＰＣの技術が開示されている。
【０００５】
また光学ヘッドによるレーザ光軸とディスクの間は、ディスクのソリなどが原因でスキュー（傾き）を生じるが、レーザ光軸に対して光ディスクがラジアル方向に傾いているとコマ収差が発生し、そのためジッターが大きくなり再生が困難になる。特に、ディスクの高密度化に伴い、レーザ波長の短波長化や光学系の高ＮＡ化などが進むと、ディスクの記録面に対するレーザ光軸の傾きのマージンが少なくなり、それに応じてスキュー調整の重要度が増す。
このため、スキュー調整機構を備え、光学ヘッド（光ピックアップ）の傾きを調整することが行われ、上記特許文献４，５にみられるように、スキュー調整に関する各種の技術が提案されている。
【０００６】
スキュー調整のための機構としては、ピックアップを機械的に傾け、ディスクの傾きに合わせる方式や、対物レンズだけを傾け、コマ収差を補正する方式、さらにピックアップ内の光路中に液晶補正板を入れる方式などがある。
また、その制御方式としては、再生されたＲＦ信号のジッターを最小にするように制御する方法や、同じくＲＦ信号の振幅を最大にする方法や、トラッキングサーボを掛けていないときのプッシュプル信号の振幅を最大にする方法などがある。他に、外部センサーを用いてディスクの傾きを検出する方式があるが、これは通常ピックアップを機械的に傾ける補正方式以外には適用されない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、スキュー制御のための上記方式は、いずれも再生時には有効であるが、外部センサーを用いる方式以外は、記録時に随時制御を行うことはできない。また外部センサを用いることは、コスト的或いは機構的な負担が大きくなる。
そのため記録時の傾き制御は、記録する前にディスクの各所の傾きを再生時に用いる方法で調べておいて、記録時にはそのプロファイルに沿って補正していく方式が通常の方式であった。この方式の問題点は、再生時の傾き最適点と記録時の傾き最適点が異なった場合対応できないこと、記録前に傾きを調べるため余分な時間が掛かること、測定点を多く取ると時間が非常に掛かるため測定点を増やせないこと、などがあげられる。
【０００８】
一方、上記特許文献４，５に記載されているように、記録時に得られるＲＦ信号に基づいてスキュー調整を行うことが知られている。即ち記録中のＲＦ信号をサンプルホールドしたピットレベルと呼ばれる信号に基づいて、スキュー制御を行う。これは基本的には記録時の再生ＲＦ信号は、記録レーザに応じた波形の信号が得られるが、ピットが適正に形成されるほど反射光量が少なくなることを利用するもので、つまりＲＦ信号のピットレベルの信号レベルが小さくなるようにスキュー制御を行うものである。
この制御方式により、記録時に随時スキュー制御を行うことで上記問題は解消される。
【０００９】
ところが、上記特許文献１，２，３に示されるように、記録時に行う上記ランニングＯＰＣにおいても、ＲＦ信号をサンプルホールドしたピットレベルと呼ばれる信号を誤差信号として用いてパワー制御している。
すると、記録時にはＲＦ信号がスキュー調整とランニングＯＰＣの両方の誤差信号として用いられることになるが、スキュー状態とレーザパワーは相互に影響を与えるため、スキュー調整とランニングＯＰＣを同時に実行することは困難である。基本的には、スキュー調整を行う際には、ランニングＯＰＣを止めて、レーザパワーを固定した状態としなければならない。また、ランニングＯＰＣは、スキュー調整がなされた後の状態で行われることが好ましい。
このことから、ランニングＯＰＣとスキュー調整の２つの制御を、それぞれが干渉し合うことなく、合理的に実行できるようにすることが求められている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで本発明は、記録動作中のランニングＯＰＣとスキュー調整を交互に行う間隔を最適化し、これらが適切に機能するようにして、記録再生性能を向上させることを目的とする。
【００１１】
このため本発明の記録装置は、ディスク記録媒体に対してレーザ光の照射を行って情報の記録を行う記録ヘッド手段と、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号に基づいて、上記記録ヘッド手段から出力するレーザ光のパワーを可変制御するレーザパワー制御手段と、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを可変するスキュー駆動手段と、上記スキュー駆動手段を駆動制御しながら、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号を検出して、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整するスキュー制御手段と、上記記録ヘッド手段による記録動作中において、上記スキュー制御手段の処理を一定時間間隔もしくは一定アドレス区間間隔で実行させるとともに、その一定時間もしくは一定アドレス区間の進行中において上記レーザパワー制御手段の処理を実行させる実行制御手段とを備える。
また上記スキュー制御手段は、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号が最小になるように、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整する。
或いは、上記スキュー制御手段は、上記ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号の変化率が所定以下になるように、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整する。
【００１２】
本発明の記録方法は、ディスク記録媒体に照射されたレーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号に基づいて、上記レーザ光のパワーを可変制御するレーザパワー制御ステップと、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを変化させながら、上記ディスク記録媒体に照射された上記レーザ光の戻り光をサンプリングして得た評価信号を検出して、上記ディスク記録媒体に対する上記レーザ光の光軸の傾きを調整するスキュー制御ステップとが上記ディスク記録媒体に対する記録動作中に行われる。そして、その記録動作中において、上記スキュー制御ステップの処理を一定時間間隔もしくは一定アドレス区間間隔で実行させ、その一定時間もしくは一定アドレス区間の進行中において上記レーザパワー制御ステップの処理を実行させる。
【００１３】
ディスクのソリの状況はディスクの内周／外周で異なり半径位置によってスキュー状況は変化する。特にソリの度合いは外周側にいくほど大きくなる。
そして本発明では、記録動作中において、一定時間が経過する毎、或いは記録動作の進行が一定アドレス区間を経過する毎に、スキュー調整が行われるようにするが、その場合、ディスクの半径位置で見ると、ディスク外周側にいくほど、スキュー調整が行われる半径位置としての間隔が詰められていくことになる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明では、記録中のＲＦ信号をもとにスキュー制御を行うため、記録に最適な傾きに設定でき、また、記録動作中に随時スキュー調整が可能となる。この場合において、記録動作中のレーザパワー制御（ランニングＯＰＣ）も、記録中のＲＦ信号をもとに行われるが、このスキュー調整とランニングＯＰＣが、交互に合理的に行われることになる。
スキュー調整は、記録動作中において、一定時間が経過する毎、或いは記録動作の進行が一定アドレス区間を経過する毎にに行われ、このためディスクの半径位置で見ると、ディスク外周側にいくほど、スキュー調整が行われる半径位置としての間隔が詰められていく。ディスクのソリの度合いは外周側にいくほど大きくなり、外周側にいくほどスキュー調整を高頻度とすることが好適になるため、上記のようにディスク外周側にいくほどスキュー調整が行われる半径位置としての間隔が詰められて密になっていくことは、理にかなった適切な実行制御方式となる。
そしてスキュー調整が、一定時間間隔、或いは一定アドレス区間間隔で行われるため、ランニングＯＰＣについては、そのスキュー調整が行われる間の期間（つまり上記一定時間の進行中、或いは一定アドレス区間の進行中）に行われる。
つまり本発明では、記録動作中に、なるべくランニングＯＰＣが機能するようにしたうえで、適切なタイミングでスキュー調整が行われることになり、これにより記録動作性能を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、例えばＣＤ方式やＤＶＤ方式のライトワンスディスクやリライタブルディスクに対してデータ書込可能とした記録再生装置（ディスクドライブ装置）を例に挙げ、次の順序で実施の形態を説明していく。
１．実施の形態のディスクドライブ装置の構成
２．三軸機構
３．ランニングＯＰＣ及びスキュー制御処理
【００１６】
１．実施の形態のディスクドライブ装置の構成
実施の形態のディスクドライブ装置の構成を図１に示す。なお、本発明はランニングＯＰＣ及びスキュー調整方式に特徴を有し、そのための各種構成を第１〜第３の実施の形態のとして後述するが、図１では、後述する第１〜第３の実施の形態毎の構成変更を含めて、ディスクドライブ装置の全体構成を示しているものである。
【００１７】
ディスク１は、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ±Ｒなどとして知られるライトワンスタイプのディスクであるとする。なお、通常、ディスクドライブ装置では、ライトワンスディスクだけでなく、再生専用ディスクやリライタブルディスクに対しても記録再生可能とされるため、ディスク１としては装填されるのはライトワンスディスクに限らない。
ディスク１は、図示しないターンテーブルに積載され、記録再生動作時においてスピンドルモータ２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。そしてピックアップ（光学ヘッド）３によってディスク１にエンボスピット形態、色素変化ピット形態、或いは相変化ピット形態などで線密度一定に記録されているデータの読み出しが行なわれることになる。なお、再生時はＣＬＶに限らず、一定角速度（ＣＡＶ）で回転駆動されることもあり得る。
【００１８】
ピックアップ３内には、後述するが、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系、三軸機構などが設けられる。三軸機構は、対物レンズをトラッキング方向、フォーカス方向、スキュー制御方向に移動可能に保持する機構である。
またピックアップ３全体はスライド駆動部４によりディスク半径方向に移動可能とされている。
【００１９】
ディスク１からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてＲＦアンプ８に供給される。
ＲＦアンプ８には、ピックアップ３内の複数のフォトディテクタからの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。例えば再生データであるＲＦ信号、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥなどを生成する。
ＲＦアンプ８から出力される再生ＲＦ信号は再生信号処理部９へ、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥはサーボ制御部１０へ供給される。
【００２０】
ＲＦアンプ８で得られた再生ＲＦ信号は再生信号処理部９において、２値化、ＰＬＬクロック生成、ＥＦＭ＋信号（８−１６変調信号）に対するデコード処理、エラー訂正処理等が行われる。
再生信号処理部９は、ＤＲＡＭ１１を利用してデコード処理やエラー訂正処理を行う。なおＤＲＡＭ１１は、ホストインターフェース１３から得られたデータを保存したり、ホストコンピューターに対してデータ転送する為のキャッシュとしても用いられる。
そして再生信号処理部９は、デコードしたデータをキャッシュメモリとしてのＤＲＡＭ１１に蓄積していく。
このディスクドライブ装置からの再生出力としては、ＤＲＡＭ１１にバファリングされているデータが読み出されて転送出力されることになる。
【００２１】
また再生信号処理部９では、ＲＦ信号に対するＥＦＭ＋復調並びにエラー訂正により得られた情報の中から、サブコード情報やATIP情報、LPP情報、ADIP情報、セクターID情報などを抜き出しており、これらの情報をシステムコントローラ１２に供給する。
システムコントローラ１２は、例えばマイクロコンピュータで形成され、装置全体の制御を行う。
【００２２】
ホストインターフェース１３は、外部のパーソナルコンピュータ等のホスト機器と接続され、ホスト機器との間で再生データやリード／ライトコマンド等の通信を行う。
即ちＤＲＡＭ１１に格納された再生データは、ホストインターフェース１３を介してホスト機器に転送出力される。
またホスト機器からのリード／ライトコマンドや記録データ、その他の信号はホストインターフェース１３を介してＤＲＡＭ１１にバッファリングされたり、システムコントローラ１２に供給される。
【００２３】
ホスト機器からライトコマンド及び記録データが供給されることでディスク１に対する記録が行われる。
データの記録時においては、ＤＲＡＭ１１にバッファリングされた記録データは、変調部１４において記録のための処理が施される。即ちエラー訂正コード付加、ＥＦＭ＋変調などの処理が施される。
そしてこのように変調された記録データＷＤがレーザ変調回路１５に供給される。レーザ変調回路１５は、記録データに応じてピックアップ３内の半導体レーザを駆動し、記録データに応じたレーザ出力を実行させ、ディスク１にデータ書込を行う。
【００２４】
この記録動作時においては、システムコントローラ１２は、ディスク１の記録領域に対してピックアップ３から記録パワーでレーザー光を照射するように制御される。
ディスク１が色素変化膜を記録層としたライトワンス型のものである場合は、記録パワーのレーザ照射により、色素変化によるピットが形成されていく。
またディスク１が相変化記録層のリライタブルディスクの場合は、レーザー光の加熱によって記録層の結晶構造が変化し、相変化ピットが形成されていく。つまりピットの有無と長さを変えて各種のデータが記録される。また、ピットを形成した部分に再度レーザー光を照射すると、データの記録時に変化した結晶状態が加熱によって元に戻り、ピットが無くなってデータが消去される。
【００２５】
サーボ制御部１０は、ＲＦアンプ８からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥや、再生信号処理部９もしくはシステムコントローラ１２からのスピンドルエラー信号ＳＰＥ等から、フォーカス、トラッキング、スライド、スピンドルの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、フォーカス／トラッキング駆動回路６に供給する。フォーカス／トラッキング駆動回路６は、ピックアップ３における三軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ３、ＲＦアンプ８、サーボ制御部１０、フォーカス／トラッキング駆動回路６、三軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００２６】
サーボ制御部１０はさらに、スピンドルモータ駆動回路７に対してスピンドルエラー信号ＳＰＥに応じて生成したスピンドルドライブ信号を供給する。スピンドルモータ駆動回路７はスピンドルドライブ信号に応じて例えば３相駆動信号をスピンドルモータ２に印加し、スピンドルモータ２の回転を実行させる。またサーボ制御部１０はシステムコントローラ１２からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ駆動回路７によるスピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００２７】
またサーボ制御部１０は、例えばトラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスライドエラー信号や、システムコントローラ１２からのアクセス実行制御などに基づいてスライドドライブ信号を生成し、スライド駆動回路５に供給する。スライド駆動回路５はスライドドライブ信号に応じてスライド駆動部４を駆動する。スライド駆動部４には図示しないが、ピックアップ３を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スライド駆動回路５がスライドドライブ信号に応じてスライド駆動部４を駆動することで、ピックアップ３の所要のスライド移動が行なわれる。
【００２８】
サンプル／ホールド回路１６には、ＲＦアンプ８からのＲＦ信号が供給される。このサンプル／ホールド回路１６は、特に記録時のランニングＯＰＣ及びスキュー調整のために戻り光（ＲＦ信号）をサンプルパルスＰｓに基づくタイミングでサンプリングする。
サンプルパルスＰｓは、タイミング発生器１９で発生される。タイミング発生器１９は、変調部１４で生成された記録データとしてのデータ列に基づいてサンプルタイミングを設定する。
そしてサンプル／ホールド回路１６でサンプリングされた信号は、Ａ／Ｄ変換器１７でデジタルデータ化され、ＲＦ信号における所定タイミングの情報、つまり戻り光の光量データＰＬとしてシステムコントローラ１２に供給される。
なお、記録時における戻り光とは、当然、既に記録されたピットによる再生データに基づくものではなく、基本的には出力されるレーザ光に応じた信号であり、レーザ駆動信号の波形と同様の波形となる。そしてその戻り光は、記録動作としてディスク１の記録層に形成されるピットの影響により、その光量が変動する。ピットが適切に成形されれば、戻り光量は少なくなるが、スキューや記録膜の製造ムラなどの影響でピットが適正に成形できなくなるほど、戻り光の光量は増加する。従って、記録時の戻り光のレベルは、ランニングＯＰＣやスキュー調整の指標となる。
【００２９】
システムコントローラ１２は、記録動作中におけるランニングＯＰＣ制御、及びスキュー調整制御を行う。
例えばシステムコントローラ１２は、供給された戻り光レベル（光量データＰＬ）に応じてレーザ変調回路１５を制御して、記録時にレーザパワーを可変制御する動作を行う。具体的には、システムコントローラ１２はレーザ変調回路１５に対してレーザパワーの目標値を与え、レーザ出力レベルが、その目標値となるように指示する。
【００３０】
スキュー駆動回路１９は、ピックアップ３内の三軸機構のチルトコイルに電流印加を行うことで、対物レンズの傾きを制御し、レーザ光軸とディスク面の傾きを調整する。
スキュー駆動回路１９は、システムコントローラ１２の制御により、スキュー駆動を行うことになる。
システムコントローラ１２は、スキュー駆動のために駆動制御信号を出力し、その駆動制御信号がＤ／Ａ変換器１８でアナログ電圧（スキュー駆動電圧）とされてスキュー駆動回路１９に与えられる。スキュー駆動回路１９は、印加されたスキュー駆動電圧に基づいて三軸機構を駆動することになる。
システムコントローラ１２は、このようにスキュー駆動を実行させながら、光量データＰＬを監視し、最適なスキュー状態を判別することになる。
【００３１】
なお、本例ではシステムコントローラ１２がランニングＯＰＣ制御、スキュー制御を行うとしているが、システムコントローラ１２とは別に、ランニングＯＰＣ制御を行うＯＰＣコントローラや、スキュー制御を行うスキューコントローラが設けられる構成としてもよい。
【００３２】
２．三軸機構
本例ではスキュー調整のために、ピックアップ３内に三軸機構を搭載するようにしている。三軸機構は、対物レンズをトラッキング方向及びフォーカス方向に移動させ、またスキュー制御方向に傾けることのできる機構であり、この一例を図２〜図４で説明する。
【００３３】
図２，図３に示すように、三軸機構３６は、ベース部材１０９と固定ブロック１１０と該固定ブロック１１０に対して動作される可動ブロック１１１とを有している。
ベース部材１０９は磁性金属材料によって各部が一体に形成され、ベース部１０９ａと、ベース部１０９ａからそれぞれ直角に立ち曲げられた第１のヨーク部１０９ｂ、１０９ｂと、ベース部１０９ａからそれぞれ直角に立ち曲げられた第２のヨーク部１０９ｃ、１０９ｃとから成る。第１のヨーク部１０９ｂ、１０９ｂは前後方向、即ち、フォーカシング方向及びトラッキング方向に共に直交する方向に離隔して配置され、第２のヨーク部１０９ｃ、１０９ｃは左右方向、即ち、トラッキング方向に離隔して配置されている。第１のヨーク部１０９ｂ、１０９ｂの互いに対向する面には、それぞれ横長の矩形状に形成されたマグネット１１２、１１２が取り付けられている。
【００３４】
固定ブロック１１０は、上下に離隔して左右に３つずつのバネ取付部１１０ａ、１１０ａ、・・・を有している。固定ブロック１１０には図示しない回路基板が取り付けられている。
固定ブロック１１０のバネ取付部１１０ａ、１１０ａ、・・・にはそれぞれ左右に３本ずつの支持バネ１１３、１１３、・・・の各一端部が取り付けられ、該支持バネ１１３、１１３、・・・の各一端部が固定ブロック１１０に取り付けられた回路基板に接続されている。支持バネ１１３、１１３、・・・には回路基板を介して駆動電流が供給される。
【００３５】
可動ブロック１１１はボビン１１４を有し、該ボビン１１４の左右両端部にはそれぞれ挿入筒部１１４ａ、１１４ａが設けられている。挿入筒部１１４ａ、１１４ａは、上下に貫通された略角筒状に形成されている。
ボビン１１４にはフォーカシングコイル１１５とトラッキングコイル１１６、１１６、・・・とチルトコイル１１７、１１７とが取り付けられている。
フォーカシングコイル１１５は軸方向が上下方向となるような横長の厚みの薄い略角筒状に形成され、ボビン１１４の外周面に巻回されている。
トラッキングコイル１１６、１１６、・・・は軸方向が前後方向となるような厚みの薄い略角筒状に形成され、それぞれマグネット１１２、１１２の左右両端部と対向する位置に前後に２つずつが取り付けられている。
チルトコイル１１７、１１７は軸方向が前後方向となるように形成され、図４に示すように、それぞれボビン１１４の前後両面のマグネット１１２、１１２と対向する位置に取り付けられている。図２，図３からわかるように、チルトコイル１１７、１１７はそれぞれトラッキングコイル１１６、１１６、・・・間に位置されている。
【００３６】
チルトコイル１１７は、図４に示すように、フォーカシング方向及びトラッキング方向に対して、例えば、約４５°傾斜された斜辺部１１７ａ、１１７ａと、該斜辺部１１７ａ、１１７ａにそれぞれ連続し左右に延びる水平部１１７ｂ、１１７ｂと、該水平部１１７ｂ、１１７ｂと斜辺部１１７ａ、１１７ａとの間に位置し上下に延びる垂直部１１７ｃ、１１７ｃとから成る。斜辺部１１７ａ、１１７ａ、水平部１１７ｂ、１１７ｂ及び垂直部１１７ｃ、１１７ｃは、それぞれ互いに平行に形成されている。
そしてチルトコイル１１７、１１７は斜辺部１１７ａ、１１７ａ、・・・が何れも同じ方向に延びる向きでボビン１１４の前後両面に取り付けられている。
またチルトコイル１７は、マグネット１１２の左右両端部を除く部分に対向して位置され、斜辺部１１７ａ、１１７ａは略全体がマグネット１１２の磁束密度が高い中央側の部分に対応して位置され、水平部１１７ｂ、１１７ｂはマグネット１１２の磁束密度が低い上下両端縁に対応して位置され、垂直部１１７ｃ、１１７ｃはマグネット１１２の上下両端部に対応して位置されている。
そして可動ブロック１１１はチルトコイル１１７、１１７に電流が供給されると、フォーカシング方向及びトラッキング方向にともに直交する軸（チルト駆動軸）の軸回り方向であるチルト方向（スキュー制御方向）へ動作される。
【００３７】
ボビン１１４の上端部には対物レンズ３５が取り付けられて保持されている。
ボビン１１４の左右両側面にはそれぞれ支持基板１１９、１１９が取り付けられ、該支持基板１１９、１１９にそれぞれ支持バネ１１３、１１３、・・・の他端部が取り付けられている。従って、可動ブロック１１１は支持バネ１１３、１１３、・・・によって固定ブロック１１０と連結され、中空に保持されてベース部材１０９の第１のヨーク部１０９ｂ、１０９ｂに取り付けられたマグネット１１２、１１２間に位置される。また第２のヨーク部１０９ｃ、１０９ｃはそれぞれボビン１１４の挿入筒部１１４ａ、１１４ａに挿入される。
【００３８】
このときフォーカシング方向（上下方向）における可動ブロック１１１の中立位置、即ち、フォーカシング動作が行われていない状態における位置においては、フォーカシングコイル１１５及びチルトコイル１１７、１１７の斜辺部１１７ａ、１１７ａの上下方向における中央部がマグネット１１２、１１２の上下方向における中央部に対応して位置される。マグネット１１２、１１２の上下方向における中央部は磁束密度が最も高い部分である。
尚、第２のヨーク部１０９ｃ、１０９ｃはそれぞれマグネット１１２、１１２の左端部間又は右端部間に位置されている。従って、三軸機構３６にあっては、マグネット１１２、１１２の左右両端部においても磁束密度が高くされている。
【００３９】
フォーカシングコイル１１５、トラッキングコイル１１６、１１６、・・・及びチルトコイル１１７、１１７には、それぞれ固定ブロック１１０に取り付けられた回路基板、支持バネ１１３、１１３、・・・及び支持基板１１９、１１９を介して駆動電流が供給される。
フォーカシングコイル１１５に駆動電流が供給されると、該フォーカシングコイル１１５に流れる駆動電流の向きに応じて所定の方向への推力が発生し、可動ブロック１１１が固定ブロック１１０に対して図４に示すＦ―Ｆ方向、即ち、ディスク１の記録面に離接する方向であるフォーカシング方向へ動作される。
トラッキングコイル１１６、１１６、・・・に駆動電流が供給されると、該トラッキングコイル１１６、１１６、・・・に流れる駆動電流の向きに応じて所定の方向への推力が発生し、可動ブロック１１１が固定ブロック１１０に対して図４に示すＴ―Ｔ方向、即ち、ディスク１の半径方向であるトラッキング方向へ動作される。
チルトコイル１１７、１１７に駆動電流が供給されると、該チルトコイル１１７、１１７に流れる駆動電流の向きに応じて所定の方向への推力が発生し、可動ブロック１１１が固定ブロック１１０に対して図４に示すＲ―Ｒ方向、即ち、フォーカシング方向及びトラッキング方向にともに直交するチルト駆動軸の軸回り方向であるチルト方向へ動作される。
なお、可動ブロック１１がフォーカシング方向、トラッキング方向又はチルト方向へ動作されるときには、支持バネ１１３、１１３、・・・が弾性変形される。
【００４０】
以上のようにして構成された三軸機構３６をピックアップ３内に備えれば、スキュー駆動回路１９によってチルトコイル１１７に電流印加することで、対物レンズ３５の傾き、つまりレーザ光軸の傾きを変化させることができ、この傾きを適正に調整することで、スキュー調整動作が実現される。
このようなスキュー調整機構により、例えばピックアップ３全体を傾けるなど、従来の比較的大がかりなスキュー調整機構が不要となり、ピックアップ３周りの機械構成は簡略化される。
【００４１】
３．ランニングＯＰＣ及びスキュー制御処理
上記図１のディスクドライブ装置の構成において、ランニングＯＰＣ及びスキュー制御系のみを抽出した構成を図５に示す。
図５にはピックアップ３内の概略構成を示しており、先に簡単に述べたが、ピックアップ３には、レーザ光源となるレーザダイオード３１、反射光を検出するためのフォトディテクタ３３、レーザ光の出力端となる対物レンズ３５、レーザ光を対物レンズ３５を介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタ３３に導く光学系３２、対物レンズ３５を支持する上述した構成の三軸機構３６が設けられる。
光学系３２には偏光ビームスプリッタ等の偏光素子や各種レンズが設けられレーザダイオード３１からのレーザ光や、ディスク１に反射した戻り光の光路が制御される。
ライトワンスディスクとしてのディスク１が装填され、記録を行う場合においては、レーザダイオード３１から出力されるレーザ光は、光学系３２，対物レンズ３５を介してディスク１の記録面に照射され、記録面にピット（色素変化ピット）を形成する。その際、記録面に反射された戻り光が得られるが、ピットが適正に形成されるほど、戻り光量は少なくなる。
【００４２】
ディスク１からの戻り光は、対物レンズ３５，光学系３２を介してフォトディテクタ３３に入射され、光電変換されてＲＦアンプ８に供給される。
ＲＦアンプ８において、フォトディテクタ３３からの信号を演算処理して、光量の和信号であるＲＦ信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等を生成することが上述したとおりである。そして、ＲＦアンプ８で得られるＲＦ信号（光量和信号）はサンプル／ホールド回路１６に供給される。サンプル／ホールド回路１６は、上述したようにタイミング発生器１９からのサンプルパルスＰｓに基づいたタイミングでＲＦ信号のサンプリングを行い、そのサンプリングされた信号がＡ／Ｄ変換器１７を介して、戻り光レベルの情報（光量データＰＬ）としてシステムコントローラ１２に供給される。
【００４３】
ピックアップ３内には、さらにＡＰＣ（Auto Power Control）のためにモニタディテクタ３４が設けられている。レーザダイオード３１からのレーザ光は、例えば光学系で３２を介して一部がモニタディテクタ３４に供給される。そしてモニタディテクタ３４は受光光量に応じた電気信号を出力する。つまりモニタディテクタ３４によって出力レーザ光量の情報が得られる。
【００４４】
レーザ変調回路１５には、レーザドライバ４１，ライトストラテジ４２、ＡＰＣ回路４３、レジスタ４４が設けられる。
図１の変調部１４から供給される記録データＷＤは、ライトストラテジ４２において波形整形や補償処理を経てレーザ駆動パルスとされ、レーザドライバ４１に供給される。レーザドライバ４１はレーザ駆動パルスによりレーザダイオード３１を駆動してレーザ発光を実行させる。
ここで、レーザ出力レベルを一定に保つためにＡＰＣ回路４３が機能する。ＡＰＣ回路４３はモニタディテクタ３４による出力レーザ光レベルの情報を得る。またレジスタ４４にはレーザ光レベルの目標値ＬＴが設定されている。
ＡＰＣ回路４３は、レジスタ４４に記憶された目標値ＬＴとモニタディテクタ３４による出力レーザ光レベルの情報の差分をとって、その差分に応じてレーザドライバ４１からの駆動電流を増減させることで、レーザダイオード３１からのレーザ光レベルを、目標値ＬＴに維持されるように制御する。これがＡＰＣ機能となる。
【００４５】
一方、システムコントローラ１２は、記録動作中にレーザダイオード３１からのレーザ光レベルを増減させるランニングＯＰＣ制御を行う。上述したように、ディスク１のソリや記録膜のムラに応じてレーザ光レベルを制御して、的確なピット形成を行うためである。
システムコントローラ１２は、サンプル／ホールド回路１６、Ａ／Ｄ変換器１７からの光量データＰＬを監視し、その増減に応じて、目標値ＬＴを可変設定する。つまり、光量データＰＬにより戻り光レベルが高いと判断される場合は、ピット形成能力が落ちていることになるため、レーザ光レベルを上げるように目標値ＬＴをアップさせる。逆に、光量データＰＬにより戻り光レベルが低いと判断される場合は、ピット形成能力が十分以上となっていることになるが、レーザレベルが高すぎることも適切ではないため、レーザ光レベルを下げるように目標値ＬＴをダウンさせる。
上記ＡＰＣ回路４３はレーザ光レベルを目標値ＬＴに収束させる機能を有するため、システムコントローラ１２がレジスタ４４の目標値ＬＴを書き換えることで、レーザダイオード３１からの出力レーザパワーが可変されることになる。
ランニングＯＰＣ機能として、記録動作中に継続してこのような動作が行われることで、ディスク１の記録膜のムラや、スキュー状況に対応して、最適なレーザレベルでのデータ書込が行われる。
【００４６】
またシステムコントローラ１２は、記録中において所定タイミングでスキュー調整を行う。システムコントローラ１２は、このスキュー調整のための評価値としても、ランニングＯＰＣと同じく、サンプル／ホールド回路１６及びＡ／Ｄ変換器１７から供給される光量データＰＬを監視する。
スキュー調整を行う際には、スキュー駆動回路１９に対して駆動電圧を供給し、三軸機構３６のチルトコイル１１７に与える電流を変化させる。そして駆動電圧を変化させながら、スキュー評価値である光量データＰＬを監視し、最適な駆動電圧を判別する。つまり最適なスキュー状態とする調整を行う。
図６にスキュー調整動作の概念を示す。横軸は駆動電圧、縦軸は戻り光量を示しているが、スキュー最適状態では、戻り光レベルは最小となる。
例えばある時点で駆動電圧Ｖｄｘであったとしたとき、駆動電圧を上げると、光量データＰＬから戻り光レベルは増加することが検出される。一方、駆動電圧を下げると、光量データＰＬから戻り光レベルが減少することが検出される。その場合、システムコントローラ１２は駆動電圧を下げる方向に制御していき、例えば駆動電圧Ｖｄｙとして示すように、戻り光レベルが最小となる駆動電圧を探索するものとなる。
【００４７】
なお、戻り光レベルはスキュー状態だけでなく、記録膜ムラによっても変動する。従って、光量データＰＬだけではスキュー状態を検出できない。このため、スキューコントローラ１８は駆動電圧を上下に可変して、各状態での光量データＰＬを得、光量データＰＬの値が小さくなる方向にオフセット電圧を調整していくという動作をとることになる。
【００４８】
ところで、ランニングＯＰＣ及びスキュー調整のいずれに対しても、光量データＰＬを評価値として用いるが、サンプル／ホールド回路１６では、レーザのイレーズレベルのタイミングにおいてＲＦ信号をサンプリングするようにしている。
図７（ａ）には、ディスク１のトラックＴＫ上で、記録データＷＤに基づいたレーザ発光により形成されるピットマーク列を示し、図７（ｂ）はその際の戻り光を示している。図７（ｂ）の戻り光は、レーザ発光駆動パルスと同波形となる。つまりレーザ出力がそのまま戻り光としてあらわれる。
図７（ａ）のようにトラック上には、記録パワーのレーザ発光（パルス発光）によりピットマークＰＭが形成され、またレーザ出力がイレーズレベルとされることで、ピットマークの存在しない区間ＥＲが形成される。
そしてＲＦ信号として得られる図７（ｂ）の戻り光に対してサンプル／ホールド回路１６でサンプリングを行うことになるが、本例では、タイミング発生器１９は図７（ｃ）のようにイレーズレベルの期間にサンプルタイミングが行われるようにサンプルパルスＰｓを発生させる。
図７（ｂ）のＲＦ信号波形は、レーザ駆動波形と同じであり、またピットマーク／イレーズ期間は記録データＷＤにより決まるものであるため、タイミング発生器１９は、記録データＷＤのデータ列に基づいて、そのイレーズ期間としてサンプルタイミングを規定するサンプルパルスＰｓを生成することになる。
【００４９】
ピットマークＰＭを形成する期間は、レーザダイオード３１はパルス発光（断続的な発光）される。一方イレーズ期間ＥＲにおいてはイレーズレベルの連続発光が行われる。サンプル／ホールド回路１６では、ランニングＯＰＣ及びスキュー調整の指標となる光量データＰＬを得るものであり、それはピットマークＰＭを形成する期間の戻り光量情報であっても、またイレーズレベル期間の戻り光量情報であっても、どちらでも良いものであるが、特にイレーズレベル期間はパルス駆動によるレベル変動がノイズとして乗らないため、評価値としての光量データＰＬは、イレーズレベルのサンプルデータとすることが好適となる。
【００５０】
以下、記録時におけるランニングＯＰＣ及びスキュー調整のためのシステムコントローラ１２の制御を説明する。
図８は、記録動作中において、スキュー調整とランニングＯＰＣ制御をそれぞれ交互に適正なタイミングを実行させる実行制御処理を示している。
【００５１】
ステップＦ１において、ディスク１の或るアドレスＡ０から記録を開始するとする。システムコントローラ１２は、ホスト機器から供給されたデータについて変調部１４で変調させ、記録データＷＤをレーザ変調回路１５に供給させる制御を開始する。またサーボ制御部１０に指示し、スピンドルモータの回転駆動、光ピックアップ３のアドレスＡ０へのアクセス等を実行させ、アドレスＡ０から記録を実行させる。
【００５２】
ここでシステムコントローラ１２は、スキュー調整及びランニングＯＰＣのために、ステップＦ２で、アドレスＡ０を変数（レジスタ）ａに格納する。
そしてステップＦ３で、スキュー調整処理を行う。なおこのとき、ＯＰＣ処理は停止されており、従ってレーザパワーは或る目標値ＬＴに固定されている。
【００５３】
ステップＦ３のスキュー調整処理は、例えば図９のように行われる。
システムコントローラ１２は、記録開始と共に、初期値としてのスキュー駆動電圧Ｖｄを発生させ、Ｄ／Ａ変換器１８を介してスキュー駆動回路１９に与えており、これによって三軸機構３６において或る傾き状態とされている。例えばこの初期値は、ディスクドライブ装置の製造時に対物レンズ３５の傾き中立位置に対応するものとして決められ、例えば傾きゼロの状態とされている。
ステップＦ３１では、現在の対物レンズ３５の傾き状態において、サンプル／ホールド回路１６、Ａ／Ｄ変換器１７を介して得られる光量データＰＬを取り込み、この光量データＰＬを評価値Ｄ０として記憶する。
【００５４】
続いてステップＦ３２で、駆動電圧Ｖｄ（例えば初期値としての駆動電圧）に微小電圧ΔＶｄを加算した電圧を駆動電圧として出力する。これによって対物レンズ３５は、図６のスキュー＋方向（例えば図４のＲ１方向）に僅かに傾けられる。
そしてステップＦ３３で、サンプル／ホールド回路１６、Ａ／Ｄ変換器１７を介して得られる光量データＰＬを取り込み、この光量データＰＬを評価値Ｄ１として記憶する。
【００５５】
さらにステップＦ３４では、システムコントローラ１２は今度はスキュー駆動電圧Ｖｄ（例えば初期値としての駆動電圧）から微小電圧ΔＶｄを減算した駆動電圧を出力する。これによって対物レンズ３５は、図６のスキュー−方向（例えば図４のＲ２方向）に僅かに傾けられる。
そしてステップＦ３５で、サンプル／ホールド回路１６、Ａ／Ｄ変換器１７を介して得られる光量データＰＬを取り込み、この光量データＰＬを評価値Ｄ２として記憶する。
【００５６】
ステップＦ３６では、記憶した３つの評価値Ｄ０，Ｄ１，Ｄ２を比較する。
ここで、比較結果が状態（ｉ）、つまりＤ１＜Ｄ０＜Ｄ２であれば、ステップＦ３２で駆動電圧を上げた場合に、光量データＰＬが最小となっていることであり、つまり駆動電圧を上げる方向が、適正なスキュー状態に近づいていると判断できる。そこでその場合は、ステップＦ３８に進み、駆動電圧Ｖｄを、Ｖｄ＋ΔＶｄに変更する。そしてステップＦ３１に戻る。
ステップＦ３１以降は、変更された駆動電圧Ｖｄの状態から上記処理を繰り返す。
【００５７】
またステップＦ３６で比較結果が状態(ii)、つまりＤ２＜Ｄ０＜Ｄ１であれば、ステップＦ３４で駆動電圧を下げた場合に、光量データＰＬが最小となっていることであり、つまり駆動電圧を下げる方向が、適正なスキュー状態に近づいていると判断できる。そこでその場合は、ステップＦ３７に進み、駆動電圧Ｖｄを、Ｖｄ−ΔＶｄに変更する。そしてステップＦ３１に戻る。
ステップＦ３１以降は、変更された駆動電圧Ｖｄの状態から上記処理を繰り返す。
ステップＦ３６で状態（ｉ）(ii)のいずれも得られなかった場合は、そのままステップＦ３１に戻る。
【００５８】
例えばこの処理を繰り返し実行すると、駆動電圧Ｖｄは、図６に示した、戻り光量が最小となる駆動電圧Ｖｄｙに収束されていくことになる。
従って、例えば一定の時間、図９の処理が行われるようにしたり、或いはステップＦ３６で状態（ｉ）(ii)のいずれも得られない場合が或る程度連続するまで図９の処理が行われるようにすることなどで、スキュー調整が実行されることになる。
【００５９】
なお、この処理は、戻り光をサンプリングして得た評価値（光量データＰＬ）が最小になるように、レーザ光の光軸の傾きを調整する処理といえる。ところが正確に最小値を探索することは困難であり、また或る程度時間を要する。
そこで、ステップＦ３６の処理を変更して、評価値（光量データＰＬ）の変化率が所定以下になるように、光軸の傾きを調整するという手法も考えられる。
その場合、上記状態（ｉ）の条件を、（Ｄ１＋α）＜（Ｄ０＋α）＜Ｄ２とし、状態(ii)の条件を（Ｄ２＋α）＜（Ｄ０＋α）＜Ｄ１とすればよい。つまりαの値により、或る程度、制御の不感帯を設定するものである。
【００６０】
以上のように、例えば一定時間図９の処理を行い、図８のステップＦ３を終えたら、今度はステップＦ４に進みランニングＯＰＣ処理を開始する。ステップＦ４のＯＰＣ処理は図１０に示される。
【００６１】
なお、記録開始時点において、レーザパワーの目標値ＬＴとしての初期値はレジスタ４４にセットされている。例えばシステムコントローラ１２は、ディスク１が装填された際に検出されるディスク種別や、ディスク１から読み込まれる管理情報に基づいて、初期目標値を設定し、レジスタ４４に記憶させておくものである。
【００６２】
図４のステップＦ４で図１０のＯＰＣ処理が開始されると、システムコントローラ１２は、まずステップＦ４１で戻り光レベルを取得する。つまりシステムコントローラ１２はサンプル／ホールド回路１６、Ａ／Ｄ変換器１７から得られる光量データＰＬを取り込む。
ステップＦ４２では、光量データＰＬの値に対して所定の演算処理を行い、現在レジスタ４４に設定している目標値ＬＴに応じた適正な戻り光レベルになっているか否かの判別を行う。
ステップＦ４３では、戻り光レベルが、現在の目標値に対して適正な記録ができていると判断できるレベルより大きいか小さいかで処理を分岐する。
そして戻り光レベルが、適正なレベルである場合は処理を終える。
戻り光レベルが、適正なレベルより高い場合は、スキュー状態や記録膜ムラの影響で、十分なピット形成ができていない（レーザパワーが不足している）と判断して、ステップＦ４４に進み、目標値ＬＴを上げる。つまりレジスタ４４の目標値ＬＴを、より高い値に書き換える。
戻り光レベルが、適正なレベルより低い場合は、十分なピット形成ができているが、レーザパワーが高すぎると判断して、ステップＦ４５に進み、目標値ＬＴを下げる。つまりレジスタ４４の目標値ＬＴを、より低い値に書き換える。
【００６３】
図８のステップＦ４で以上の処理が行われた後、次のステップＦ５では、現在記録動作中のアドレスが、変数ａ＋ΔＡのアドレスに達したか否かを判別する。ΔＡは、スキュー調整を行う間隔を設定するアドレス量とされる。変数ａは、前回スキュー調整を開始する際にデータ記録を実行していたアドレスであるため、ステップＦ５の判断は、前回のスキュー調整から一定アドレス区間を経過したか否かの判断となる。
現在アドレスが変数ａ＋ΔＡのアドレスに達していなければステップＦ４に戻って、再び図１０のＯＰＣ処理を実行する。即ちその時点の目標値ＬＴにおいて戻り光レベルを取り込み、適正レベルか否かを判断し、必要に応じて目標値ＬＴを更新する。
つまりステップＦ５で、前回のスキュー調整から一定アドレス区間を経過していないと判断される期間は、ステップＦ４のＯＰＣ処理が繰り返し行われることになる。
【００６４】
ステップＦ５で、現在アドレスが変数ａ＋ΔＡのアドレスに達した、つまり前回のスキュー調整から一定アドレス区間を経過したと判断されると、処理はステップＦ６に進み、変数ａの値をａ＋ΔＡに更新してステップＦ３に戻る。そしてスキュー調整（図９）を実行する。即ち、その時点のスキュー状態で取り込んだ光量データＰＬを評価値Ｄ０とし、またスキュー状態を＋方向、−方向に振って取り込んだ光量データＰＬをＤ１，Ｄ２として、上述した処理を行い、最適なスキュー状態に収束させる。
そしてステップＦ３のスキュー調整を終えたら、ステップＦ４でＯＰＣ処理を実行する。
なお、この図８の処理は記録動作の終了時点で終了される。
【００６５】
以上の処理からわかるように本例では、記録動作中において、記録動作の進行が一定アドレス区間を経過する毎に、スキュー調整が行われる。そして当該一定アドレス区間を進行している期間にＯＰＣ制御が行われる。
ディスク１に対しては線密度一定でデータ記録が行われるため、この場合、ディスクの半径位置で見ると、ディスク外周側にいくほど、スキュー調整が行われる半径位置としての間隔が詰められていくことになる。
【００６６】
ディスクのラジアル方向の傾きは一般的に外周部にいくほど大きくなる傾向があることが知られている。図１１（ａ）は、半径位置に対するラジアルチルト（傾き）を示している。
一方、ディスクの半径とアドレスの関係をグラフに表すと図１１（ｂ）のように２次曲線になり、図１１（ａ）のディスクの傾きとほぼ同じ傾向を示す。
これは、一定アドレス経過ごとにスキュー調整を行えば、外周部では内周部より密な間隔で制御できること、すなわち傾きが急に変化するところでは密な間隔で制御できることを表している。
図１１（ｃ）は、或るアドレスＡ０から記録が開始される場合に、スキュー調整が行われる位置を模式的に示している。アドレスＡ０から記録領域に対するデータ記録が行われていくときに、ΔＡとしてのアドレス区間毎にスキュー調整が行われることで、図示するように半径位置で見たスキュー調整箇所は、外周側にいくほど密になる。図１１（ａ）のように、外周ほど傾きの変化が大きくなるため、外周側ほどスキュー状態の変動が大きく、従って外周側にいくほどスキュー調整位置が密になることは、スキュー調整タイミングとして好適なものとなる。
【００６７】
また本例では、このようにスキュー調整が、一定アドレス区間間隔のタイミングで行われる一方、ランニングＯＰＣについては、そのスキュー調整が行われる間の期間（つまりΔＡのアドレス区間の記録進行中）に連続して行われる。このため、本例は記録動作中に、なるべくランニングＯＰＣが機能するようにしたうえで、適切なタイミングでスキュー調整が行われることになる。
【００６８】
なお、図８では一定アドレス区間毎にスキュー調整を行うようにしたが、一定時間毎にスキュー調整を行うようにしても良い。連続記録を行う際はアドレスは時間に置き換えることができるので、制御の間隔を時間に基づいて行っても制御シーケンスは成り立つことになる。図１２にその場合の処理を示す。
システムコントローラ１２ステップＦ１０で或るアドレスから記録開始すると、ステップＦ１２で内部タイマＴをスタートさせる。このタイマＴは、或る一定時間を計測するタイマとされる。
そしてステップＦ１３でスキュー調整（図９の処理）を行い、続いてステップＦ１４でＯＰＣ処理（図１０の処理）を行う。
ステップＦ１５では、タイマＴがタイムオーバとなったか否かを確認し、タイムオーバーとなっていなければ、ステップＦ１４でＯＰＣ処理を行う。つまりタイムオーバーとなるまで、ＯＰＣ処理が繰り返し連続して実行される。
タイムオーバーとなったらステップＦ１５からＦ１２に進み、タイマＴをリセットして再びカウントスタートさせる。そしてステップＦ１３でスキュー調整を行い、その後は再びタイムオーバーとなるまでステップＦ１４のＯＰＣ処理を繰り返す。
【００６９】
この図１２の処理の場合も、スキュー調整は図１１（ｃ）のように外周側にいくほど密に行われることになり、上記図８の場合と同様の効果が得られる。
【００７０】
以上、実施の形態として説明してきたが、本発明は多様な変形例が考えられる。
実施の形態では三軸機構３６を用いてスキュー駆動を行うこととしたが、ピックアップ３の全体を傾けるような従前のスキュー駆動機構など、他のスキュー駆動機構を用いる場合も、本発明を適用できる。
また、ＤＶＤ方式のディスクに対応するディスクドライブ装置として実施の形態を説明したが、本発明は、ＣＤ方式、ブルーレイディスク（Blu-Ray Disc）方式など、他の種のディスクメディアに対応する記録装置でも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の実施の形態のディスクドライブ装置のブロック図である。
【図２】実施の形態の三軸機構の分解斜視図である。
【図３】実施の形態の三軸機構の斜視図である。
【図４】実施の形態の三軸機構のチルトコイルの説明図である。
【図５】実施の形態のランニングＯＰＣ／スキュー制御系のブロック図である。
【図６】実施の形態のスキュー調整処理方式の説明図である。
【図７】実施の形態の光量データのサンプルタイミングの説明図である。
【図８】実施の形態の記録時のスキュー調整及びＯＰＣ処理のフローチャートである。
【図９】実施の形態のスキュー調整処理のフローチャートである。
【図１０】実施の形態のランニングＯＰＣ処理のフローチャートである。
【図１１】実施の形態のスキュー調整位置の説明図である。
【図１２】実施の形態の記録時のスキュー調整及びＯＰＣ処理の他の例のフローチャートである。
【符号の説明】
【００７２】
１  ディスク、３  ピックアップ、８  ＲＦアンプ、１２  システムコントローラ、１５  レーザ変調回路、１６  サンプル／ホールド回路、１７  Ａ／Ｄ変換器、１８  Ｄ／Ａ変換器、１９  スキュー駆動回路、３６  三軸機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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