(57)【要約】【課題】低消費電力および画質の向上を図るロード・エフェクト相殺装置を提供する。【解決手段】ａ）入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出するＡＰＬ算出部と、ｂ）ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定するパルス個数算出部と、ｃ）階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出するロード算出部と、ｄ）設定された任意の基準ロード値とロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する補償パルス個数算出部と、を含む。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出するＡＰＬ算出部と、
前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定するパルス個数算出部と、
前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出するロード算出部と、
設定された任意の基準ロード値と前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する補償パルス個数算出部と、を含むプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項２】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さければ、前記基準サステインパルス数より減少して補償されたサステインパルス数を出力することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項３】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を基準サステインパルス数から減算し、その結果を出力することを特徴とする請求項２記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項４】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数の順に選択して減算することを特徴とする請求項３記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項５】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より大きければ、前記基準サステインパルス数より増加して補償されたサステインパルス数を出力することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項６】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より大きいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を基準サステインパルス数に加算し、その結果を出力することを特徴とする請求項５記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項７】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数の順に選択して加算することを特徴とする請求項６記載のプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺装置。
【請求項８】
入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出するＡＰＬ算出部と、
前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定するパルス個数算出部と、
前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出するロード算出部と、
設定された任意の基準ロード値と前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する補償パルス個数算出部と、を含むプラズマディスプレイパネル。
【請求項９】
入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出する段階と、
前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定する段階と、
前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出する段階と、
設定された任意の基準ロード値と前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する段階と、を含むプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ロード・エフェクト相殺装置に係り、より詳細には、サステインパルス数の加減を用いたロード・エフェクト相殺装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、一般的なプラズマディスプレイパネルの階調表現方法を説明するための図である。図１に示すように、プラズマディスプレイパネル（以下、「ＰＤＰ」という）は画像の階調を具現するために一つのフレイムを発光回数の異なる複数のサブフィールド(subfield)に分けて駆動を行う。各サブフィールドは放電セルを選択するためのアドレス(address)区間および、サステインパルス数によって階調を表現するサステイン(sustain)区間などに分けられる。
【０００３】
ＰＤＰの全画面は複数のセルで構成されており、これらのセル(cell)のうち光の発光を目指して選択されたセルの割合をロードと称する。ロードは発光されるよう選択されたセルの数が多いほど増加する。明るさはサステインパルス数によって変わるが、外部からの供給電力の大きさが一定であるので、サステイパルス数が一定である場合にはロードによって変わる。
【０００４】
図２は、特定のサステインパルス数の場合、ロードによる明るさの変化を示すグラフである。
【０００５】
放電セル数の増加にしたがってロードが大きくなると、その分電力消費が増えるので、サステインパルス数が一定である場合、ロードが大きくなるほど明るさが低下してしまい、この現象をロード・エフェクト(load effect)と言う。
【０００６】
実際ＰＤＰが駆動する時、特定のサブフィールドで所望の明るさのレベルである場合、その明るさのレベルに相応するサステインパルス数を設定してその明るさを示す。
【０００７】
ところで、図２のグラフに示すように、現在設定されたサステインパルスの数による明るさは、ロードによって変わり、これにより階調の歪みが発生する。すなわち、サステインパルス数が一定であると、ロードの変化に関係なく明るさが一定である必要があるが、ロードにより明るさが変わることになるため、画質が低下してしまう。このようなロード・エフェクト現象を防止するために、従来はロードの最小値を基準としてロードの増加に伴ってサステインパルス数を増加させることにより、ロード増加による明るさの低下を補償した。
【０００８】
しかし、従来の方法を用いてロードによる明るさの低下を補償する場合は、基準明るさのレベルをロードが最小値であるときの明るさとするため、全体サステインパルスの数が増加し、これにより消費電力が増える。また、サステインパルス数の増加が原因で全体画面の明るさが明るくなることから、画面のフリッカーが大きくなるという不具合がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明に係るＰＤＰのロード・エフェクト相殺装置は、入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出するＡＰＬ算出部と、前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定するパルス個数算出部と、前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出するロード算出部と、設定された任意の基準ロードと前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する補償パルス個数算出部と、を含むことを特徴とする。
【００１０】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さければ、前記基準サステインパルス数より減少して補償されたサステインパルス数を出力することを特徴とする。
【００１１】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を基準サステインパルス数から減算し、その結果を出力することを特徴とする。
【００１２】
前記補償パ１ルス個数算出部は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数の順に選択して減算することを特徴とする。
【００１３】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より大きければ、前記基準サステインパルス数より増加して補償されたサステインパルス数を出力することを特徴とする。
【００１４】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値が前記基準ロード値より大きいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を基準サステインパルス数に加算し、その結果を出力することを特徴とする。
【００１５】
前記補償パルス個数算出部は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数の順に選択して加算することを特徴とする。
また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルは、入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出するＡＰＬ算出部と、前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定するパルス個数算出部と、前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出するロード算出部と、設定された任意の基準ロード値と前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する補償パルス個数算出部と、を含む。
また、本発明に係るプラズマディスプレイパネルのロード・エフェクト相殺方法は、入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ値を算出する段階と、前記ＡＰＬ算出部から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数を決定する段階と、前記階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出して現在のサブフィールドにおけるロード値を算出する段階と、設定された任意の基準ロード値と前記ロード算出部から算出されたロード値とを比較し、その結果によって基準サステインパルス数を調整することで、補償されたサステインパルス数を出力する段階と、を含む。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、現在サブフィールドのロード値と基準ロード値を比較した上、サステインパルス数を加算または減算することにより、消費電力および画面のフリッカーを低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、添付図に基づいて本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００１８】
図３は、本発明に係るロード・エフェクト相殺方法の概念を説明するためのグラフである。 
【００１９】
本発明に係るロード・エフェクト相殺方法は、現在フレームの特定サブフィールドにおいて任意の所望の基準明るさレベルと基準サステインパルス数Ｎを特定した場合、基準ロード値(Lref)より小さいロードＬ１、Ｌ２では、サステインパルス数を基準サステインパルス数から減算し、大きいロードＬ３、Ｌ４では、サステインパルス数を基準サステインパルス数に加算することにより、ロード値に関係なく常時基準明るさレベルが維持できるようにする。このとき、基準サステインパルス数とは現在サブフィールドで発生するように設定されたサステインパルス数のことである。
【００２０】
すなわち、従来の方法の場合、基準明るさレベルを最小ロード(Load_min)における明るさと設定するので、全般的にサステインパルス数が増加し、これにより消費電力と画面のフリッカーが増加するという不具合が発生するのに対して、本発明の場合、基準明るさレベルを最小ロードでない任意の基準ロード値(Lref)における明るさと設定し、その上、基準ロード値(Lref)より小さいロードＬ１、Ｌ２では、Ｎ−Ｃ１とＮ−Ｃ２のようにサステインパルス数を基準サステインパルス数から減算し、基準ロード値(Lref)より大きいロードＬ３、Ｌ４では、Ｎ＋Ｃ３とＮ＋Ｃ４のようにサステインパルス数を基準サステインパルス数に加算することにより、ロードに関係なく常時基準明るさレベルを維持する。
【００２１】
図４は、本発明に係るロード・エフェクト相殺装置のブロック構成図である。図４に示すように、本発明に係るロード・エフェクト相殺装置は、ＡＰＬ算出部４１０、パルス個数算出部４３０、ロード算出部４５０および補償パルス個数算出部４７０を含む。
【００２２】
＜ＡＰＬ算出部＞
ＡＰＬ算出部４１０は、入力されるフレームに該当する階調情報を利用してＡＰＬ(Average Picture Level)値を算出する。
＜パルス個数算出部＞
【００２３】
パルス個数算出部４３０は、ＡＰＬ算出部４１０から算出されたＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数Ｎを決定する。
【００２４】
＜ロード算出部＞
ロード算出部４５０は、入力されるフレームに該当する階調情報を利用して発光させるために選ばれたセルの割合を算出することで、現在サブフィールドのロード値を算出する。
【００２５】
＜補償パルス個数算出部＞
補償パルス個数算出部４７０は、設定された任意の基準ロード値(Lref)とロード算出部４５０から算出された現在サブフィールドのロード値とを比較し、その結果、現在サブフィールドのロード値が基準ロード値(Lref)より大きければ、補償パルス数を基準サステインパルス数Ｎに加算し、現在サブフィールドのロード値が基準ロード値(Lref)より小さければ、補償パルス数を基準サステインパルス数Ｎから減算して現在サブフィールドでの補償されたサステインパルス数を出力する。
【００２６】
図３と図４を参照して本発明のロード・エフェクト相殺装置の動作を詳細に説明する。
【００２７】
ロード算出部４５０により算出された個別サブフィールドにおけるロード値はＬ１、Ｌ２、Ｌ３およびＬ４であり、このロード値の大きさはＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３＜Ｌ４であり、補償パルス個数算出部によってロード値のそれぞれに適用される補償パルス数はＣ１、Ｃ２、Ｃ３およびＣ４である。
【００２８】
ＡＰＬ算出部４１０は、入力フレームに該当する階調情報を利用して算出されたＡＰＬ値をパルス個数算出部４３０に出力する。パルス個数算出部４３０はＡＰＬ値に相応して現在サブフィールドで用いられる基準サステインパルス数Ｎを決定する。
【００２９】
現在サブフィールドのロード値がＬ１である場合、補償パルス個数算出部４７０はＬ１と任意に設定された基準ロード値(Lref)を比較する。その結果Ｌ１が基準ロード値(Lref)より小さいので、補償パルス個数算出部４７０は、Ｌ１と基準ロード値(Lref)との差分に基づいて補償パルス数Ｃ１を選択し、基準サステインパルス数から補償パルス数Ｃ１を減算する。このとき、基準ロード値(Lref)とは基準明るさレベルになる特定ロード値のことである。
【００３０】
補償パルス個数算出部４７０は、このように現在サブフィールドにおけるロード値が基準ロード値(Lref)より大きい場合、サステインパルス数の減算により基準明るさレベルを維持する。現在サブフィールドにおけるロード値がＬ２である場合、サステインパルス数の減算により基準明るさレベルを維持する。
【００３１】
また、補償パルス個数算出部４７０は、現在サブフィールドのロード値がＬ３である場合、Ｌ３と任意に設定された基準ロード値(Lref)とを比較する。Ｌ３が基準ロード値(Lref)より大きいので、補償パルス個数算出部４７０は、Ｌ３と基準ロード値(Lref)との差に基づいて補償パルス数Ｃ３を選択し、基準サステインパルス数から補償パルス数Ｃ３を加算する。
【００３２】
補償パルス個数算出部４７０は、このように現在サブフィールドにおけるロード値が基準ロード値(Lref)より小さい場合、サステインパルス数の加算により基準明るさレベルを維持する。現在サブフィールドにおけるロード値がＬ４である場合、サステインパルス数の加算により基準明るさレベルを維持する。
【００３３】
結果的に、本発明に係る前記補償パルス個数算出部４７０は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さければ、現在サブフィールドの基準サステインパルス数より減少して補償されたサステインパルス数を出力し、前記ロード値が前記基準ロード値より大きければ、現在サブフィールドの基準サステインパルス数より増加して補償されたサステインパルス数を出力する。
【００３４】
一方、前記補償パルス個数算出部４７０は、前記ロード値が前記基準ロード値より小さいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を現在サブフィールドの基準サステインパルス数から減算し、その結果を出力する。
【００３５】
この際、前記補償パルス個数算出部４７０は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数を選択して減算する。
【００３６】
また、前記補償パルス個数算出部４７０は、前記ロード値が前記基準ロード値より大きいとき、前記ロード値と前記基準ロード値との差分に該当する補償パルス数を現在サブフィールドの基準サステインパルス数に加算し、その結果を出力する。
【００３７】
この時、前記補償パルス個数算出部４７０は、前記ロード値と前記基準ロード値との差が大きいほど、差分の大きい補償パルス数を選択して加算する。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】一般的なＰＤＰの階調の表現方法を説明するための面図である。
【図２】特定のサステインパルスの個数でロードによる明るさの変化を示すグラフである。
【図３】本発明の実施形態によるロード・エフェクト相殺方法の概念を説明するためのグラフである。
【図４】本発明の実施形態によるロード・エフェクト相殺装置のブロック構成図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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