(57)【要約】      （修正有）【課題】機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮する。【解決手段】光ディスクの任意の半径位置において絶対アドレスｋを読み取り、記録線速度Ｌを光ディスクの規格で定められた値からなる初期値として設定し、その記録線速度Ｌから求めたセクタ長ｌに基づいて前記読み取られた絶対アドレスｋに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを計算により求め、求められた半径Ｒｋから１回目の記録線速度Ｌを求める。１回目の記録線速度Ｌから求めたセクタ長ｌに基づいて前記半径Ｒｋを計算により、求められた半径Ｒｋから２回目の記録線速度Ｌを計算により求める。同様の処理を複数回行うことにより正確な記録線速度Ｌを得る。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクから前記記録されたデータを再生する際に前記記録線速度を測定する光ディスクの記録線速度測定方法であって、
一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取りステップと、
前記絶対アドレス読み取りステップによって得られた絶対アドレスをｋとし、前記光ディスクのセクタ長をｌとし、前記光ディスクのトラックピッチをｐとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をＲ０としたときに下記の式（１）によって前記読み取られた絶対アドレスｋに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを算出する半径算出ステップと、
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ）／π＋Ｒ０２｝１／２      （１）
前記光ディスクの回転周期をＴとしたときに下記の式（２）によって前記光ディスクの記録線速度Ｌを算出する記録線速度算出ステップとを含み、
Ｌ＝（２π・Ｒｋ／Ｔ）                          （２）
前記絶対アドレス読み取りステップと、前記半径算出ステップと、前記記録線速度算出ステップとをこの順番で２回以上繰り返して実行し、１回目に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長ｌとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長として前回の記録線速度算出ステップで得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長を用いる、
ことを特徴とする光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項２】
前記セクタ長は、前記光ディスクに記録されているデータの最小単位であるフレームに対応して前記光ディスクの円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さであることを特徴とする請求項１記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項３】
前記光ディスクが前記記録線速度Ｌ（ｍ／ｓ）に対応する回転速度で１秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をＦとしたとき、前記セクタ長ｌ（ｍ）は下記の式（３）によって算出される、
ｌ＝Ｌ／Ｆ                                          （３）
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項４】
前記光ディスクの回転周期Ｔを測定する回転周期測定ステップをさらに含むことを特徴とする請求項１記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項５】
前記回転周期測定ステップは、前記記録線速度算出ステップが実行される毎に該記録線速度算出ステップに先行して実行されることを特徴とする請求項４記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項６】
前記回転周期測定ステップは、前記１回目の前記記録線速度算出ステップに先行して１回のみ実行されることを特徴とする請求項４記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項７】
前記絶対アドレス読み取りステップにおける前記絶対アドレスの前記光ディスクからの読み取りは前記光ディスクに記録されたデータを読み取り可能に構成された光ピックアップにより行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項８】
一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクを保持して一定の回転速度で回転駆動する駆動手段と、
前記駆動手段によって回転駆動する光ディスクに対し再生用の光ビームを照射し、前記照射された光ビームの前記光記録媒体での反射光による反射光ビームを検出する光ピックアップとを有する光ディスク装置であって、
一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取り手段と、
前記絶対アドレス読み取り手段によって得られた絶対アドレスをｋとし、前記光ディスクのセクタ長をｌとし、前記光ディスクのトラックピッチをｐとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をＲ０としたときに下記の式（１）によって前記読み取られた絶対アドレスｋに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを算出する半径算出手段と、
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ）／π＋Ｒ０２｝１／２      （１）
前記光ディスクの回転周期をＴとしたときに下記の式（２）によって前記光ディスクの記録線速度Ｌを算出する記録線速度算出手段とを含み、
Ｌ＝（２π・Ｒｋ／Ｔ）                          （２）
前記絶対アドレス読み取り手段による絶対アドレスの読み取りと、前記半径算出手段による半径の算出と、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出とがこの順番で２回以上繰り返して実行され、１回目に実行する前記半径の算出では前記セクタ長ｌとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する前記半径の算出では前記セクタ長として前回の記録線速度の算出で得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長が用いられるように構成されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
前記セクタ長は、前記光ディスクに記録されているデータの最小単位であるフレームに対応して前記光ディスクの円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さであることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記光ディスクが前記記録線速度Ｌ（ｍ／ｓ）に対応する回転速度で１秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をＦとしたとき、前記セクタ長ｌ（ｍ）は下記の式（３）によって算出される、
ｌ＝Ｌ／Ｆ                                          （３）
ことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記光ディスクの回転周期Ｔを測定する回転周期測定手段をさらに含むことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記回転周期測定手段による回転周期の測定は、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出が実行される毎に該記録線速度の算出に先行して実行されることを特徴とする請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記回転周期測定手段による回転周期の測定は、前記１回目の前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出に先行して１回のみ実行されることを特徴とする請求項１１記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
【請求項１４】
前記絶対アドレス読み取り手段による前記絶対アドレスの前記光ディスクからの読み取りは前記光ピックアップにより行われることを特徴とする請求項８記載の光ディスクス装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＯＭなどのように一定の記録線速度でデータが記録される光ディスクがある。
このような光ディスクを再生する光ディスク装置において光ディスクの所望のセクタに光ピックアップを比較的高速にアクセスさせる方法として、再生しようとする光ディスクの記録線速度を求め、その記録線速度に基づいて前記所望のセクタの半径方向の位置を算出し、その算出した半径方向の位置に基づいて光ピックアップをシーク（移動）させる方法がある。
ところで上述した光ディスクの記録線速度を求める方法として、光ディスクの所定の半径位置に光ピックアップを移動させ、その所定の半径位置における光ディスクの回転周期を測定し、測定した回転周期と所定の半径位置とに基づいて記録線速度を求めることが提案されている（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１０−７４３５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
このように光ピックアップを所定の半径位置に位置させる従来方法では、前もって光ピックアップを前記所定の半径位置に正確に位置決めしなくてはならないため、制御に際して時間を要し光ディスクの再生を開始するまでに時間がかかる不都合があった。
また、光ピックアップの位置決めを機械的に行う場合には、光ピックアップをトラッキング方向に移動可能に支持するベースの部分を位置決め用のストッパに付き当てるといった機構が必要となり部品点数の増大を招く不都合があった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、その目的は機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利な光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクから前記記録されたデータを再生する際に前記記録線速度を測定する光ディスクの記録線速度測定方法であって、一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取りステップと、前記絶対アドレス読み取りステップによって得られた絶対アドレスをｋとし、前記光ディスクのセクタ長をｌとし、前記光ディスクのトラックピッチをｐとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をＲ０としたときに下記の式（１）によって前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを算出する半径算出ステップと、
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ）／π＋Ｒ０２｝１／２      （１）
前記光ディスクの回転周期をＴとしたときに下記の式（２）によって前記光ディスクの記録線速度Ｌを算出する記録線速度算出ステップとを含み、
Ｌ＝（２π・Ｒｋ／Ｔ）                          （２）
前記絶対アドレス読み取りステップと、前記半径算出ステップと、前記記録線速度算出ステップとをこの順番で２回以上繰り返して実行し、１回目に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長ｌとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長として前回の記録線速度算出ステップで得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長を用いることを特徴とする。
また本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクを保持して一定の回転速度で回転駆動する駆動手段と、前記駆動手段によって回転駆動する光ディスクに対し再生用の光ビームを照射し、前記照射された光ビームの前記光記録媒体での反射光による反射光ビームを検出する光ピックアップとを有する光ディスク装置であって、一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取り手段と、前記絶対アドレス読み取り手段によって得られた絶対アドレスをｋとし、前記光ディスクのセクタ長をｌとし、前記光ディスクのトラックピッチをｐとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をＲ０としたときに下記の式（１）によって前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを算出する半径算出手段と、
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ）／π＋Ｒ０２｝１／２      （１）
前記光ディスクの回転周期をＴとしたときに下記の式（２）によって前記光ディスクの記録線速度Ｌを算出する記録線速度算出手段とを含み、
Ｌ＝（２π・Ｒｋ／Ｔ）                          （２）
前記絶対アドレス読み取り手段による絶対アドレスの読み取りと、前記半径算出手段による半径の算出と、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出とがこの順番で２回以上繰り返して実行され、１回目に実行する前記半径の算出では前記セクタ長ｌとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する前記半径の算出では前記セクタ長として前回の記録線速度の算出で得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長が用いられるように構成されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
本発明によれば、光ディスクからの絶対アドレスの読み取り、読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋの算出、記録線速度Ｌの算出をこれらの順番で２回以上繰り返して実行し、１回目の半径Ｒｋ算出ではセクタ長ｌとして光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する半径Ｒｋ算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長を用いるようにした。
したがって、光ディスク上における絶対アドレスを読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスクの記録線速度Ｌを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップを前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップの位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮するという目的を、光ディスクからの絶対アドレスの読み取り、光ディスクの半径Ｒｋの算出、記録線速度Ｌの算出をこれらの順番で２回以上繰り返して実行し、１回目の光ディスクの半径Ｒｋ算出ではセクタ長ｌとして光ディスクの規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する光ディスクの半径Ｒｋ算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長を用いることによって実現した。
【実施例１】
【０００７】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図１は、本発明の実施例１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図１において、光ディスク装置１００は、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒなどのように一定の記録線速度でデータが光ディスク１０２（光記録媒体）を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ１０４と、光ディスク１０２に光ビームを照射し、その反射光ビームを受光してトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を検出する光ピックアップ１０６と、光ピックアップ１０６を光ディスク１０２の半径方向に移動させる駆動手段としての送りモータ１０８とを備えている。
また、光ディスク装置１００は、ＲＦアンプ１１０、信号復調用ＤＳＰ１１２、サーボ信号処理ＤＳＰ１１４、ドライバアンプ１１６、ＦＧ検出器１１８、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０を備えている。
ＲＦアンプ１１０は、光ピックアップ１０６から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を増幅する。
信号復調用ＤＳＰ１１２は、ＲＦアンプ１１０から供給される前記再生信号、同期信号を復調してメカ制御用マイクロコンピュータ１２０や後段の処理回路（不図示）に供給する。
【０００８】
サーボ信号処理ＤＳＰ１１４は、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０からの制御によって動作するものであり、ドライバアンプ１１６を制御することでこのドライバアンプ１１６からスピンドルモータ１０４に供給される駆動信号を制御しスピンドルモータ１０４の回転制御を行う。
また、サーボ信号処理ＤＳＰ１１４は、ドライバアンプ１１６を制御することでこのドライバアンプ１１６から送りモータ１０８に供給される駆動信号を制御し光ピックアップ１０６の光ディスク１０２の半径方向への送り制御（シーク制御）を行う。
また、サーボ信号処理ＤＳＰ１１４は、ＲＦアンプ１１０から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号に基づいてドライバアンプ１１６を制御することで、このドライバアンプ１１６から光ピックアップ１０６に供給されるトラッキングアクチュエータとフォーカスアクチュエータの駆動信号を制御しトラッキングサーボおよびフォーカスサーボの制御を行う。
【０００９】
スピンドルモータ１０４には不図示の回転センサ（不図示）が内蔵され、この回転センサはスピンドルモータ１０４の回転周期に同期したアナログ信号からなる検出信号を生成しドライバアンプ１１６を介してＦＧ検出器１１８に供給する。
ＦＧ検出器１１８は、前記検出信号を前記回転周期に同期したデジタル信号からなるＦＧ信号に変換してメカ制御用マイクロコンピュータ１２０に供給する。
図２は、前記回転センサおよびＦＧ検出器１１８が、光ディスク１０２が１回転すると６個のＦＧ信号を出力する場合の例を示している。
図２に示すように、光ディスク１０２が１回転するために要する時間、すなわち回転周期をＴとし、隣接する２つのＦＧ信号の立ち上がりエッジの間隔をＴＦＧとすれば、光ディスク１０２が１回転する間に６回の立ち上がりエッジの間隔ＴＦＧを検出でき、これら６個の立ち上がりエッジの間隔ＴＦＧを測定しそれぞれ６倍すれば、光ディスク１０２が１回転する毎に回転周期Ｔ＝６・ＴＦＧのデータを６個ずつ得ることができる。
【００１０】
メカ制御用マイクロコンピュータ１２０は、信号復調用ＤＳＰ１１２およびサーボ信号処理ＤＳＰ１１４の制御を司るものである。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０はスピンドルモータ１０４の回転制御も行う。具体的には、ＦＧ検出器１１８から入力される前記パルス信号をサーボ信号処理ＤＳＰ１１４に供給し、サーボ信号処理ＤＳＰ１１４は、前記供給されるパルス信号と、サーボ信号処理ＤＳＰ１１４の内部で発生する基準クロック信号との周期が一致するようにドライバアンプ１１６を制御しスピンドルモータ１０４の回転が一定となるように制御する。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０は、本発明に係る光ディスク１０２の記録線速度測定を行う機能を有している。
【００１１】
次に、光ディスク１０２の記録線速度測定の原理について説明する。
なお、以下では説明の都合上光ディスク１０２が例えばＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＯＭなどのＣＤファミリーに該当する光ディスクによって構成されている場合について説明する。
光ディスク１０２上に記録された絶対アドレスｋに対応する半径Ｒｋの位置における光ディスク１０２の記録線速度Ｌは、光ディスク１０２、すなわちスピンドルモータ１０４の回転周期をＴとすると、式（１０）によって示される。
Ｌ＝（２πＲｋ）／Ｔ      （ｍ／ｓ）              （１０）
また、半径Ｒｋは、絶対アドレスをｋ、セクタ長をｌ、トラックピッチをｐ、光ディスク１０２上の基準アドレス半径をＲ０とした場合、式（１１）によって示される。
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ／π）＋Ｒ０｝１／２    （ｍ）  （１１）
ただし、セクタ長ｌは、光ディスク１０２に記録されているデータの最小単位であるフレーム（ｆｒｍ）に対応して光ディスク１０２の円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さである。
記録線速度Ｌ（ｍ／ｓ）に対応する回転速度で光ディスク１０２が１秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をＦとしたとき、セクタ長ｌ（ｍ）は下記の式（１２）によって算出される、
ｌ＝Ｌ／Ｆ                                          （１２）
ＣＤの規格では記録線速度Ｌ（ｍ／ｓ）に対応する回転速度で光ディスク１０２が１秒間に回転されたときに再生されるフレーム数Ｆが７５フレームであるため、式（１２）からセクタ長ｌ＝Ｌ／７５となる。
また、基準アドレス半径Ｒ０は、絶対アドレスｋ＝０の位置を含んだ半径であり、規格で決定されている値である。ＣＤの場合、Ｒ０＝２５．００ｍｍとなっている。
【００１２】
ここで、式（１１）は以下のように導かれる。
図３は基準アドレス半径Ｒ０と、絶対アドレスｋの半径Ｒｋとを示しており、基準アドレス半径Ｒ０と絶対アドレスｋの半径Ｒｋとの間の環状部分にハッチングを施している。
図３においてハッチング部分の面積Ｓｃは式（１３）で示される。
Ｓｃ＝πＲｋ２−πＲ０２    （ｍ２）                      （１３）
図４は各セクタが一直線上に配置されたものと仮定して示した説明図である。
各セクタは、トラックピッチｐの幅を有する帯状を呈している。絶対アドレスＡｄｒをＡｄｒ＝０、１、２、……、（ｋ−２）、（ｋ−１）、ｋとし、セクタ長をｌとすれば、絶対アドレスＡｄｒが０〜ｋの範囲のセクタの面積Ｓｓは式（１４）で示される。
Ｓｓ＝（ｋ＋１）・ｌ・ｐ  （ｍ２）                    （１４）
ここで、絶対アドレスＡｄｒ＝０が半径Ｒ０の円周上に含まれ、絶対アドレスＡｄｒ＝ｋが半径Ｒｋの円周上に含まれる場合には、
Ｓｃ＝Ｓｓ                                          （１５）
となるから、
πＲｋ２−πＲ０２＝（ｋ＋１）・ｌ・ｐ                  （１６）
となり、式（１５）を絶対アドレスｋの半径Ｒｋについて解くと、
Ｒｋ＝｛（（ｋ＋１）・ｌ・ｐ）／π＋Ｒ０２｝１／２  （ｍ）  （１１）
が得られる。
以上のことから、任意の半径Ｒｋにおいてセクタ長ｌを得ることができれば、式（１１）によって半径Ｒｋの値を特定でき、この半径Ｒｋを式（１０）に代入することで記録線速度Ｌを求めることができることになる。
【００１３】
本実施例では、まず、光ディスク１２の任意の半径位置において絶対アドレスｋを読み取り、記録線速度Ｌを光ディスク１０２の規格で定められた値からなる初期値として設定し、その記録線速度Ｌから求めたセクタ長ｌを式（１１）に代入することで、前記読み取られた絶対アドレスｋに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを求め、求められた半径Ｒｋを式（１０）に代入することで１回目の記録線速度Ｌを求める。
次いで、１回目の記録線速度Ｌから求めたセクタ長ｌを式（１１）に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを求め、求められた半径Ｒｋを式（１０）に代入することで２回目の記録線速度Ｌを求める。
次いで、２回目の記録線速度Ｌから求めたセクタ長ｌを式（１１）に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋを求め、求められた半径Ｒｋを式（１０）に代入することで３回目の記録線速度Ｌを求める。
３回目と同様の計算を４回目、５回目、……と繰り返すと、計算を繰り返す毎に記録線速度Ｌに含まれる誤差が次第に減少し、記録線速度Ｌが正確な値に収束される。
【００１４】
次に上述した原理に基づいた記録線速度の測定方法について具体的に説明する。
図５は記録線速度の測定動作を示すフローチャートである。
予め、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０の制御により、光ピックアップ１０６が任意の半径位置に位置した状態でスピンドルモータ１０４が回転駆動されトラッキングサーボおよびフォーカスサーボがかかった状態であるものとする。
まず、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０は、信号復調用ＤＳＰ１１２から供給される再生信号から絶対アドレスｋを読み取れることを確認する（ステップＳ１０）。
ここで、絶対アドレスが０（ゼロ）よりも小さい値、言い換えると光ディスク１０２の基準半径Ｒ０よりも内周側に位置する最内周の領域には目次データのみが記述されており、絶対アドレスは記述されていない。また、絶対アドレスが最大値よりも大きな値、言い換えると最外周の領域にも絶対アドレスは記述されていない。このように絶対アドレスの記述がない領域は、光ディスク１０２におけるデータの記録がなされている領域のごく僅かである。
したがって、ステップＳ１０で絶対アドレスが読み取れない場合は、送りモータ１０８を制御することにより、光ピックアップ１０６を半径方向に移動させ絶対アドレスが記述されている領域までシークし絶対アドレスを読み取れるようにする（ステップＳ１２）。
なお、ステップＳ１２における光ピックアップ１０２の移動量は絶対アドレスの読み取りが可能となる程度で行われればよく、ピックアップ１０２の移動量を厳密に制御する必要はない。
【００１５】
次に、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０は、ＦＧ検出器１１８から供給されるＦＧ信号に基づいて回転周期Ｔを測定する（ステップＳ１４）。本実施例ではＦＧ信号の１つ目の立ち上がりエッジ（図２における光ディスク１０２の回転角０）から次の２つ目の立ち上がりエッジ（図２における光ディスク１０２の回転角π／３）までの時間（Ｔ／６）を測定しその測定値を６倍することで回転周期Ｔを得る。
そして、絶対アドレスｋを読み取り一時的に格納する。
次に、式（１１）によって読み取られた絶対アドレスｋに対応する光ディスク箇所の半径Ｒｋの値を求める（ステップＳ１８）。ステップＳ１８を１回目に実行する際には記録線速度Ｌとして規格内（１．２ｍ／ｓ以上１．４ｍ／ｓ以下の範囲内）の任意の値を設定して計算を行う。
次いで、ステップＳ１８で求めた半径Ｒｋを式（１０）に代入することで記録線速度Ｌを求める（ステップＳ２０）。
１回目の計算で求めた記録線速度Ｌはそれに含まれる誤差が大きいため、再度ステップＳ１０〜Ｓ２０を実行する（ステップＳ２２）。
ステップＳ１０〜Ｓ１６の内容は上述と同様である。
ただし、ステップＳ１４の回転周期Ｔの測定は、ＦＧ信号の２つ目の立ち上がりエッジ（図２における光ディスク１０２の回転角π／３）から次の３つ目の立ち上がりエッジ（図２における光ディスク１０２の回転角２π／３）までの時間（Ｔ／６）を測定しその測定値を６倍することでなされる。
そして、２回目に実行するステップＳ１８では、１回目で得た記録線速度Ｌを用いて式（１６）によって半径Ｒｋの値を求める。
次いで、２回目に実行するステップＳ２０では、２回目のステップＳ１８で求めた半径Ｒｋを式（１０）に代入することで記録線速度Ｌを求める。
２回目の計算で求めた記録線速度Ｌに含まれる誤差は１回目の計算で求めた記録線速度Ｌに含まれる誤差よりも減少している。この誤差量を減らすためには、ステップＳ１０〜Ｓ２０を複数回実行する（ステップＳ２２）。
なお、３回目以降のステップＳ１４における回転周期Ｔの測定では、測定対象となるＦＧ信号の立ち上がりエッジが順次１つずつずれることはもちろんである。
【００１６】
なお、本実施例において、ステップＳ１６が特許請求の範囲の絶対アドレス読み取りステップに相当し、ステップＳ１８が特許請求の範囲の半径算出ステップに相当し、ステップＳ２０が記録線速度算出ステップに相当し、ステップＳ１４が特許請求の範囲の回転周期測定ステップに相当している。
また、本実施例において、光ピックアップ１０６、ＲＦアンプ１１０、信号復調用ＤＳＰ１１２、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０が特許請求の範囲の絶対アドレス読み取り手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０が特許請求の範囲の半径算出手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０が記録線速度算出手段に相当し、スピンドルモータ１０４に内蔵された前記回転センサ（不図示）、ドライバアンプ１１６、ＦＧ検出器１１８、メカ制御用マイクロコンピュータ１２０が特許請求の範囲の回転周期測定手段に相当している。
【００１７】
次に、このようなステップＳ１０〜Ｓ２０を複数回繰り返すことによって記録線速度Ｌに含まれる誤差が減少し記録線速度Ｌの値が正確な値に収束していくことについて具体的な数値例を挙げて説明する。
（数値例１）
光ディスク１０２の記録線速度ＬをＣＤ規格の最大値１．４０ｍ／ｓとし、セクタ長ｌの初期値をＣＤ規格の最小値１６．００ｍｍとする。
本例では、セクタ長ｌの初期値１６．００ｍｍは記録線速度ＬがＣＤ規格の最小値である１．２０ｍ／ｓである場合に相当しており、１回目の計算で得られる記録線速度Ｌの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Ｌが１．４０ｍ／ｓである場合、光ディスク１０２の半径位置５８．０ｍｍにおけるセクタアドレスは２８７９６０（６３ｍｉｎ５９ｓｅｃ３５ｆｒｍ）である。なお、セクタアドレスは絶対アドレスのことである。
この光ディスク１０２が記録線速度１．４０ｍ／ｓに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間（回転周期）は２６０．２ｍｓとなる。
式（１１）、式（１０）にこれらの数値を代入し１回目の計算を行って記録線速度Ｌを求める。以下の各式においては計算回数１、２、３、……、６とを示す添え字を記録線速度Ｌに付して説明する。
【００１８】
【数１】
2005327369.tif 000003
【００１９】
次に同様に２回目の計算を行う。
記録線速度１．４０ｍ／ｓの光ディスク１０２の場合、半径５８．０ｍｍの位置では１／６回転当たり約４セクタが記録されている。したがって、２回目の計算では、絶対アドレスｋの値は１回目で得られた絶対アドレスｋの値に４セクタを加算した値２８７９６０＋４＝２８７９６４となる。また、２回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Ｌに対応して式（１１）で求められた１７．５５ｍｍを用いる。
【００２０】
【数２】
2005327369.tif 000004
【００２１】
以下同様に３回目〜６回目の計算を行い記録線速度Ｌを得る。なお、上述した２回目の計算の場合と同様に３回目以降の計算においても絶対アドレスｋの値を４セクタずつ加算している。
【数３】
2005327369.tif 000005
【数４】
2005327369.tif 000006
【数５】
2005327369.tif 000007
【数６】
2005327369.tif 000008
【００２２】
上述のように６回の計算を繰り返すことにより、記録線速度Ｌとして１．４００ｍ／ｓを得ることができ、真値１．４００ｍ／ｓに対する誤差は０．００％となる。ただし本例では有効桁数を４桁としている。
【００２３】
（数値例２）
光ディスク１０２の記録線速度ＬをＣＤ規格の最小値１．２０ｍ／ｓとし、セクタ長ｌの初期値をＣＤ規格の最大値１８．６７ｍｍとする。
本例では、セクタ長ｌの初期値１８．６７ｍｍは記録線速度ＬがＣＤ規格の最大値である１．４０ｍ／ｓである場合に相当しており、１回目の計算で得られる記録線速度Ｌの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Ｌが１．２０ｍ／ｓである場合、光ディスク１０２の半径位置５８．０ｍｍにおけるセクタアドレスは３３５９５４（７４ｍｉｎ３９ｓｅｃ２９ｆｒｍ）である。
この光ディスク１０２が記録線速度１．２０ｍ／ｓに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間（回転周期）は３０３．５ｍｓとなる。
式（１１）、式（１０）にこれらの数値を代入し１回目の計算を行って記録線速度Ｌを求める。以下の各式においても計算回数１、２、３、……、６を示す添え字を記録線速度Ｌに付して説明する。
【００２４】
【数７】
2005327369.tif 000009
【００２５】
次に同様に２回目の計算を行う。
記録線速度１．２０ｍ／ｓの光ディスク１０２の場合、半径５８．０ｍｍの位置では１／６回転当たり約４セクタが記録されている。したがって、２回目の計算では、絶対アドレスｋの値は１回目で得られた絶対アドレスｋの値に４セクタを加算した値３３５９５４＋４＝３３５９５８となる。また、２回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Ｌに対応して式（１１）で求められた１７．０７ｍｍを用いる。
【００２６】
【数８】
2005327369.tif 000010
【００２７】
以下同様に３回目〜６回目の計算を行い記録線速度Ｌを得る。
【数９】
2005327369.tif 000011
【数１０】
2005327369.tif 000012
【数１１】
2005327369.tif 000013
【数１２】
2005327369.tif 000014
【００２８】
上述のように６回の計算を繰り返すことにより、記録線速度Ｌとして１．２０２ｍ／ｓを得ることができ、真値１．２００ｍ／ｓに対する誤差は０．１７％となる。ただし本例では有効桁数を４桁としている。
上述した数値例１、２に示すように、計算を繰り返す毎に記録線速度Ｌに含まれる誤差が減少し、例えば６回程度の計算を繰り返すことによりほぼ真値と一致した記録線速度Ｌを得ることができる。
【００２９】
以上説明したように本実施例によれば、光ディスク１０２からの絶対アドレスの読み取り、読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク１０２箇所の半径Ｒｋの算出、記録線速度Ｌの算出をこれらの順番で２回以上繰り返して実行し、１回目の半径Ｒｋ算出ではセクタ長ｌとして光ディスク１０２の規格で定められた値を用い、２回目以降に実行する半径Ｒｋ算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Ｌに対応したセクタ長ｌを用いるようにした。
したがって、光ディスク１０２上における絶対アドレスｋが読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスク１０２の記録線速度Ｌを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップ１０４を前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップ１０４の位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
また、本実施例では、光ディスク１０２が１回転する間に回転周期Ｔを６回測定するとともに、回転周期Ｔを測定する毎に記録線速度Ｌの算出を行うようにした。言い換えると、回転周期の測定は、記録線速度算出が実行される毎に該記録線速度算出に先行して実行したので、回転周期の測定結果のばらつきを抑制することができ記録線速度の算出結果の精度を高める上で有利となる。
また、回転周期の測定を、１回目の記録線速度算出に先行して１回のみ実行し、それ以降では回転周期の測定を行わないようにしてもよく、この場合には回転周期の測定を省略した分だけ記録線速度を得るために要する計算時間を短縮する上で有利となる。
【００３０】
また、本実施例では、一定の記録線速度Ｌで記録がなされる光ディスク１０２としてＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＷなどを含むＣＤファミリーに該当する光ディスクを例示して説明したが、光ディスク１０２は一定の記録線速度Ｌで記録がなされるものであればよく、例えばＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどを含むＤＶＤファミリーに該当する光ディスクに対しても本発明を適用できることはいうまでもない。
また、本実施例では光ディスク装置１００が光ディスク１０２に記録されたデータの再生を行うものとして説明したが、光ディスク装置１００が光ディスク１０２に記録されたデータの再生および光ディスク１０２に対するデータの記録の双方を行うものであっても本発明は適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の実施例１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】ＦＧ信号の波形を示す図である。
【図３】光ディスク１０２の説明図である。
【図４】各セクタが一直線上に配置されたもの仮定して示した説明図である。
【図５】記録線速度の測定動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３２】
１００……光ディスク装置、１０２……光ディスク、１０４……光ピックアップ、ｋ……絶対アドレス、ｌ……セクタ長、ｐ……トラックピッチ、Ｒ０……基準アドレス半径、Ｒｋ……半径、Ｔ……光ディスクの回転周期。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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