(57)【要約】【課題】  安定したフォーカスサーボ動作を実現し、このフォーカスサーボ動作をもとに、迅速かつ高精度で所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供すること。【解決手段】  ジッター値に対し所定の演算処理を行い、その演算処理の結果をフォーカスバイアス量に対応させ、ジッター値収集機能によりＲＡＭ８へ格納するジッター値格納処理（ステップＳ１）、ＲＡＭ８へ格納したジッター値に対しデータ処理機能が行う移動加算平均処理、補間処理などを含むデータ処理（ステップＳ２）、ジッター最良点に対応する最適なフォーカスバイアス量をフォーカスバイアス量決定機能により決定する決定処理（ステップＳ３）を備える。【選択図】      図７
2005327340.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最適なフォーカスバイアス電圧を決定する光記録再生ディスク装置のフォーカスバイアス調整方法であって、
フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測する計測ステップと、
前記計測ステップにより各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップにより記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を行うデータ処理加工ステップと、
前記データ処理加工ステップにより加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定する最適値決定ステップと、
を備えたことを特徴とするフォーカスバイアス調整方法。
【請求項２】
前記計測ステップは、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、変化の限界として規定された限界値の間で前記フォーカスバイアス電圧値を往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項１記載のフォーカスバイアス調整方法。
【請求項３】
前記計測ステップは、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、このフォーカスバイアス電圧値がプラス方向またはマイナス方向のフォーカスバイアス限界値に達すると、前記フォーカスバイアス電圧値の変化の方向を切り替え、前記フォーカスバイアス電圧値をプラス方向およびマイナス方向のフォーカスバイアス限界値の間で往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項１記載のフォーカスバイアス調整方法。
【請求項４】
前記計測ステップは、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、このフォーカスバイアス電圧に対し計測されたジッター値が、ジッター値についての限界値として規定されたジッター限界値に達すると、前記フォーカスバイアス電圧値の変化の方向を切り替え、前記フォーカスバイアス電圧値をプラス方向およびマイナス方向のフォーカスバイアス限界値の間で往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項１記載のフォーカスバイアス調整方法。
【請求項５】
前記データ処理加工ステップは、データ処理加工として前記平均化ジッター値に対し移動加算平均処理を行うことを特徴とする請求項１記載のフォーカスバイアス調整方法。
【請求項６】
前記データ処理加工ステップは、データ処理加工として前記平均化ジッター値に対し直線近似や曲線近似による補間処理を行うことを特徴とする請求項１記載のフォーカスバイアス調整方法。
【請求項７】
光記録再生ディスク装置の最適なフォーカスバイアス電圧を決定するフォーカスバイアス調整装置であって、
フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測する計測手段と、
前記計測手段により各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を行うデータ処理加工手段と、
前記データ処理加工手段により加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定する最適値決定手段と、
を備えたことを特徴とするフォーカスバイアス調整装置。
【請求項８】
前記計測手段は、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、変化の限界として規定された限界値の間で前記フォーカスバイアス電圧値を往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項７記載のフォーカスバイアス調整装置。
【請求項９】
前記計測手段は、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、このフォーカスバイアス電圧値がプラス方向またはマイナス方向のフォーカスバイアス限界値に達すると、前記フォーカスバイアス電圧値の変化の方向を切り替え、前記フォーカスバイアス電圧値をプラス方向およびマイナス方向のフォーカスバイアス限界値の間で往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項７記載のフォーカスバイアス調整装置。
【請求項１０】
前記計測手段は、フォーカスバイアス電圧値を零からプラス方向またはマイナス方向へ変化させ、このフォーカスバイアス電圧に対し計測されたジッター値が、ジッター値についての限界値として規定されたジッター限界値に達すると、前記フォーカスバイアス電圧値の変化の方向を切り替え、前記フォーカスバイアス電圧値をプラス方向およびマイナス方向のフォーカスバイアス限界値の間で往復させる変化パターンで、一のフォーカスバイアス電圧値に対し複数回ジッター値を計測することを特徴とする請求項７記載のフォーカスバイアス調整装置。
【請求項１１】
前記データ処理加工手段は、データ処理加工として前記平均化ジッター値に対し移動加算平均処理を行うことを特徴とする請求項７記載のフォーカスバイアス調整装置。
【請求項１２】
前記データ処理加工手段は、データ処理加工として前記平均化ジッター値に対し直線近似や曲線近似による補間処理を行うことを特徴とする請求項７記載のフォーカスバイアス調整装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば光ディスク、光磁気ディスクを含む記録媒体に対応した光記録再生ディスク装置におけるフォーカスバイアス調整方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のフォーカスバイアス調整方法としては、フォーカスポイントをディスク近接側およびディスク遠方側となるようにフォーカスバイアス電圧を可変させ、ディスク近接側およびディスク遠方側のそれぞれにおいてエラーレートが所定の限界値となるフォーカスバイアス電圧値を検出し、検出した２つのフォーカスバイアス電圧値の中間となる電圧値を算出し、その電圧値を所望のフォーカスバイアス電圧値とするものがある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−７７５７９号公報  また、従来のフォーカスバイアス調整方法として、不良のジッター値を使用しない様にしてフォーカスバイアス量を調整するものがある（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献２】特開２０００−１４９２８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
かかる従来のフォーカスバイアス調整方法では、以下の短所が付随している。前者のフォーカスバイアス調整方法においては、計算によりジッター最良点近辺を算出しており、ジッター値の限界値を基準にしているため、傷などの要因でジッター値が一時的に高くなったポイントを捕捉し、ジッター最良点を算出してしまう危険性があるという課題があった。また、エラーレートの限界値までフォーカスバイアス量を振ってしまうことから、限界値付近でフォーカスサーボが外れてしまう危険性もあるという課題もあった。
【０００４】
また、後者のフォーカスバイアス調整方法においては、ジッター計測のポイントが不連続に変化することから、フォーカスバイアス量の急激な変化によってフォーカスサーボが不安定になったり、安定したジッター値を読み取ることが出来るまで時間を要してしまうなどの課題があった。
【０００５】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、安定したフォーカスサーボ動作を実現し、このフォーカスサーボ動作をもとに、迅速かつ高精度で所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述の目的を達成するため、本発明にかかるフォーカスバイアス調整方法は、最適なフォーカスバイアス電圧を決定する光記録再生ディスク装置のフォーカスバイアス調整方法であって、フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測する計測ステップと、前記計測ステップにより各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップにより記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を行うデータ処理加工ステップと、前記データ処理加工ステップにより加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定する最適値決定ステップとを備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、上述の目的を達成するため、本発明にかかるフォーカスバイアス調整装置は、光記録再生ディスク装置の最適なフォーカスバイアス電圧を決定するフォーカスバイアス調整装置であって、フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測する計測手段と、  前記計測手段により各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶する記憶手段と、前記記憶手段により記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を行うデータ処理加工手段と、前記データ処理加工手段により加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定する最適値決定手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測し、各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶し、前記記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を施し、前記データ処理加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定するため、安定したフォーカスサーボ動作を実現でき、このフォーカスサーボ動作をもとに迅速に精度の高い所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供できる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
安定したフォーカスサーボ動作をもとに、迅速かつ高い精度で所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供するという目的を、フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を複数回計測し、各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶し、前記記憶した前記平均化ジッター値に対し所定のデータ処理加工を施し、前記データ処理加工した前記平均化ジッター値をもとにジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定することで実現した。
【００１０】
また、安定したフォーカスサーボ動作をもとに、迅速かつ高い精度で所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供するという目的を、フォーカスバイアス電圧を一定量づつ、所定の変化パターンで変化させたときの各フォーカスバイアス電圧値ごとのジッター値を計測手段により複数回計測し、前記計測手段により各フォーカスバイアス電圧値ごとに複数回計測したジッター値を平均化した平均化ジッター値を、記憶手段により前記フォーカスバイアス電圧に対応させメモリへ記憶し、前記記憶手段により記憶した前記平均化ジッター値に対しデータ処理加工手段により所定のデータ処理加工を行い、前記データ処理加工手段により加工され前記平均化ジッター値をもとに最適値決定手段がジッター最良点に対応するフォーカスバイアス電圧値を決定することで実現した。
【実施例１】
【００１１】
図１は、この実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置の構成を示すブロック図である。この実施例１のフォーカスバイアス調整装置は、光ディスク、光磁気ディスクを含む記録再生メディアに対応した記録再生装置の一部として構成されている。このフォーカスバイアス調整装置は、ＲＦ信号生成部（計測手段）４、ジッター値生成部（計測手段）５、サーボ制御部（計測手段）６、フォーカスバイアス制御部（計測手段）７、ＲＡＭ（メモリ）８およびＣＰＵ（計測手段、記憶手段、データ処理加工手段、最適値決定手段）９を備えている。そして、記録再生メディア１に対し、光学式ピックアップ３からレーザー光が照射され、記録再生メディア１の記録状態で変化する戻り光がディテクターによって電気信号に変換され、ＲＦ信号生成部４に入力される構成である。
【００１２】
ＲＦ信号生成部４は、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号などサーボ動作に必要なエラー信号を生成する。ジッター値生成部５は、ＲＦ信号生成部４から出力されるジッター値を生成するのに必要な２値化されたＲＦ信号をもとにジッター値を生成する。サーボ制御部６は、サーボ動作に必要となるサーボ用のドライブ信号を生成する。フォーカスバイアス制御部７はサーボ制御部６に作用し、フォーカスバイアス量を変化させる。ＲＡＭ８には、例えば平均処理などの所定の演算処理が施されたジッター値が格納される。
【００１３】
ＣＰＵ９は、このフォーカスバイアス調整方法を実現するための中核をなしており、ジッター値生成部５において生成されたジッター値に対し前記平均処理などの所定の演算処理を行い、その演算処理の結果をフォーカスバイアス量に対応させてＲＡＭ８へ格納するジッター値収集機能、ＲＡＭ８へ格納した前記ジッター値に対する移動加算平均処理、近似直線や曲線による突出したデータの補間処理などを含むデータ処理機能、ジッター最良点に対応する最適なフォーカスバイアス量を決定するフォーカスバイアス量決定機能を有している。そして、フォーカスバイアス制御部７に対するフォーカスバイアス量の指示、サーボ制御部６が行うフォーカスサーボ動作に対する各種指示を含む各種制御を行う。
【００１４】
次に動作について説明する。
このフォーカスバイアス調整装置を有した記録再生装置では、記録再生メディア１に対し、光学式ピックアップ３からレーザー光が照射され、記録再生メディア１に記録されている情報の状態に応じて変化する戻り光がディテクターによって電気信号に変換され、ＲＦ信号生成部４に入力される。ＲＦ信号生成部４では、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号などサーボ動作に必要なエラー信号が生成され、サーボ制御部６へ送られる。サーボ制御部６では、前記信号をもとにサーボ動作に必要となるサーボ用のドライブ信号が生成され、スピンドルモータ２や光学式ピックアップ３に送られ、サーボ動作が行われる。
【００１５】
このフォーカスバイアス調整装置が動作しフォーカスバイアス調整が行われる際には、ＲＦ信号生成部４からジッター値を生成するのに必要な信号がジッター値生成部５へ入力され、ジッター値生成部５でジッター値へと変換されてＣＰＵ６へと送られる。
ＣＰＵ６は必要に応じて、フォーカスバイアス制御部８に対しフォーカスバイアス量を変化させるための指示を与える。フォーカスバイアス制御部７は、サーボ制御部７に作用し、フォーカスバイアス量を変化させる。
最初、ＣＰＵ６は、フォーカスバイアス制御部７に対しフォーカスバイアス量を０にする指示を与え、ジッター値生成部５からジッター値の読み出しを開始する。この場合、記録再生メディア１の傷や面ぶれなどの影響を軽減するために、必要となる程度のジッター値を読み出して平均するなどの演算処理を行い、この結果得られた値をＲＡＭ９へ格納する。
ＣＰＵ６は、フォーカスバイアス制御部８に対し一定値だけバイアス量を変化させる様に指示する。一定時間、時間待ちをした後、前回同様にジッター値生成部５から読みとれるジッター値を、平均処理などを施し、ＲＡＭ９に格納する。この際、バイアスの変化量とその時のジッター値とを１対１で対応させてＲＡＭ９ に格納する。
ジッター値が規定している値を越えたり、フォーカスバイアス量の変化が規定した値に達した場合、フォーカスバイアスの変化させる方向を反対にする。例えば、フォーカスバイアス電圧を＋方向に増加していた場合は、今度は−方向に減少させ、逆にフォーカスバイアス電圧が−方向に減少していた場合は、＋方向に増加させる。そして、フォーカスバイアス量が２度目に０になった時点で、ジッター値のＲＡＭ９への格納処理を終了させる。
【００１６】
ジッター値の計測が完了したら、今度はＣＰＵ６とＲＡＭ９のみで処理が行われる。その間、サーボ制御部６では、通常のサーボ処理が行われており、ＣＰＵ６とＲＡＭ９とのやり取りは一切影響を受けないため、ＣＰＵ６による処理でサーボ動作が不安定になることはない。
ＣＰＵ６はＲＡＭ９に格納されているジッター値に対し、必要に応じて移動加算平均処理を行なったり、近似直線や曲線による突出したデータの補間処理などを行うなどして、既に得られているジッター値データの精度向上を図る。
【００１７】
このような処理などを行うことにより得られる、精度の向上したジッター値をもとに、ＣＰＵ６では最終的なフォーカスバイアス量を確定させる。例えば移動加算平均によって得られたジッター値の最小値を選ぶ方法などが考えられる。ＣＰＵ６はこうして決定されたフォーカスバイアス量を、フォーカスバイアス制御部７に設定することで、フォーカスバイアス調整は完了する。
【００１８】
図７は、このフォーカスバイアス調整装置におけるＣＰＵ９のフォーカスバイアス調整処理動作を示すフローチャートであり、ジッター値に対し所定の演算処理を行い、その演算処理の結果をフォーカスバイアス量に対応させ前記ジッター値収集機能がＲＡＭ８へ格納するジッター値格納処理（ステップＳ１）、ＲＡＭ８へ格納したジッター値に対し前記データ処理機能が行う移動加算平均処理、補間処理などを含むデータ処理（ステップＳ２）、ジッター最良点に対応する最適なフォーカスバイアス量を前記フォーカスバイアス量決定機能により決定する決定処理（ステップＳ３）からなる。
ステップＳ１のジッター値格納処理では、フォーカスバイアス量を変化させ、その変化に応じて読み取ったジッター値を、ＲＡＭ９へと格納するといった処理を行う。次のステップＳ２のデータ処理では、ＲＡＭ９に蓄えられたジッター値に対し、移動加算平均処理や補間処理といった、実測したジッター値をより精度の高いデータに変換するための格納されたジッター値に対するデータ処理を行う。ステップＳ３の決定処理では、ジッター最良点に対応する最適なフォーカスバイアス量の決定を行う。具体例としては、ステップＳ２で得られた精度を高められたデータの最小値を使用し、最適なフォーカスバイアス量を決定する方法、ステップＳ２をスキップして、実測したジッター値から最適なフォーカスバイアス量を決定する方法などがある。
そして、最終的に決定されたフォーカスバイアス量をフォーカスバイアス制御部７に設定することで処理が完了する。
【００１９】
図２は、ステップＳ１のジッター値格納処理動作を説明するためのジッター値とフォーカスバイアス電圧との関係を示す模式図である。処理が開始されると、まずフォーカスバイアス電圧が０ボルトに設定される。そしてフォーカスバイアス電圧が０ボルトのときのジッター値が計測され、ＲＡＭ９へ格納される。次に、今度はフォーカスバイアス電圧を＋ΔＶｂだけ増加させる。同様にして、フォーカスバイアス電圧が＋ΔＶｂのときのジッター値をＲＡＭ９へ格納し、更にフォーカスバイアス電圧＋ΔＶｂ増加させ、フォーカスバイアス電圧が＋２ΔＶｂのときのジッター値を格納する。次に、さらにフォーカスバイアス電圧を＋ΔＶｂ増加させ、フォーカスバイアス電圧が＋３ΔＶｂのときのジッター値をＲＡＭ８へ格納する。このようにフォーカスバイアス電圧を＋ΔＶｂずつ増加させながら、そのときのフォーカスバイアス電圧と対応させてジッター値をＲＡＭへ格納する。
このとき、フォーカスバイアス電圧の変化量はΔＶｂで固定され、一定量で推移するため、光学式ピックアップ３のレンズが移動する量も一定になる。その結果、レンズはスムーズに移動し、ジッター値の測定でサーボ動作が大きく影響を受けて不安定になるという不具合の発生する可能性は低くなる。
【００２０】
フォーカスバイアス電圧があるレベルまで達したり、ジッター値があるレベル以上になった場合などの条件が揃ったら、今度はそのフォーカスバイアス電圧値からΔＶｂずつフォーカスバイアス電圧を減少させていく。この場合もフォーカスバイアス電圧増加時と同様にジッター値の計測を行い、既にジッター値が格納されているフォーカスバイアス電圧値の場合は、前のジッター値と今回読み取ったジッター値の平均を取るなどして、再度ジッター値を格納する。
フォーカスバイアス電圧値は減少を続け、やがてフォーカスバイアス電圧は０ボルトとなる。しかしジッター値の計測はそのまま継続するので、フォーカスバイアス電圧値は負の値を取るようになる。フォーカスバイアス電圧がある負の値のレベルまで達したり、ジッター値があるレベル以上になった場合などの条件が揃えば、今度は再びΔＶｂずつフォーカスバイアス電圧を増加させる様にしていく。これまでの処理と同様に、ジッター値を計測し前回の値と平均を取って再度ＲＡＭ９へジッター値を格納する。フォーカスバイアス電圧が０ボルトになる直前までジッター値を計測したら、この処理は完了となる。
このように処理全体を通じ、フォーカスバイアス電圧値が変化する時の差分は、必ずΔＶｂであり、また、あるフォーカスバイアス電圧値に設定されたポイントにおけるジッター値の計測は都合２度行われる。
なお、図２では、最初にフォーカスバイアス電圧を０ボルトからプラス方向へ＋ΔＶｂ変化させる変化パターンとなっているが、最初にフォーカスバイアス電圧を０ボルトからマイナス方向へ−ΔＶｂ変化させる変化パターンであってもよい。
【００２１】
図３は、フォーカスバイアス電圧値の変化を増加から減少、減少から増加へ切り替える際の条件の一例を示す説明図である。図３（ａ）は、ジッター値として読み取ることの出来る限界値を設定し、「ジッター限界値」として規定して、計測されるジッター値がその値を超えたら変化方向を切り替えている。図３（ｂ）では、今度はフォーカスバイアス電圧値の限界のレベルを「フォーカスバイアス変化限界点」と規定し、そのレベルに達した場合に変化方向を切り替えている。図３（ｃ）は（ａ）と（ｂ）の両方の条件を備えており、どちらか先に限界を超えた場合に変化方向を切り替える。
【００２２】
図４は、図３（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の各条件をもとにＲＡＭ９に格納されたデータの一例を示す説明図である。図４（ａ）では条件であるジッター限界値“２０”を越えないレベルの範囲内でＲＡＭ９に格納されたデータの一例を示す。同図（ｂ）は、条件であるバイアス変化量の範囲“ΔＶｂ×Ｎ”内でＲＡＭ９に格納されたデータの一例を示す。また、同図（ｃ）は図４（ａ）の条件および図４（ｂ）の複合的な条件でＲＡＭ９に格納されたデータの一例をそれぞれ示している。
【００２３】
図８、図９、図１０は、図３（ｃ）、図４（ｃ）に適用される複合的な条件でフォーカスバイアス電圧を変化させ、ジッター値をＲＡＭ９に格納する、図７のステップＳ１の詳細動作を示すフローチャートである。図７のステップＳ２の「格納されたジッター値のデータ処理」の一例としては移動加算平均処理や直線近似による補間処理を行う。
【００２４】
ここで、図８、図９、図１０のフローチャートに従ってＲＡＭ９へジッター値を格納する動作を説明する。この図８、図９、図１０のフローチャートに示されるＲＡＭ９へのジッター値の格納処理は、図３（ｃ）、図４（ｃ）に適用される複合的な条件によりジッター値をＲＡＭ９へ格納するものである。
先ず、フォーカスバイアス電圧（フォーカスバイアス量）を０にセットし（ステップＳ１００）、所定時間の経過を待って（ステップＳ１０１）、このときのジッター値を計測する（ステップＳ１０２）。そして、ジッター値の平均化のための規定回数、ステップＳ１０１、ステップＳ１０２の処理を繰り返しジッター値の計測を行い（ステップＳ１０３）、この規定回数に達すると、次に前記複合的な条件のうちの一方の条件である「ジッター限界値」として規定してある値を、計測したジッター値が超えたか否かを判定し（ステップＳ１０４）、超えていなければ前記規定回数計測したジッター値を平均化した値をＲＡＭ９へ格納する（ステップＳ１０５）。そして、次にフォーカスバイアス電圧をΔＶｂ増加させる（ステップＳ１０６）。さらに、前記複合的な条件のうちの他方の条件である「フォーカスバイアス変化限界点」として規定してある値（プラス側のフォーカスバイアス変化限界点）を、フォーカスバイアス電圧が超えたか否かを判定し（ステップＳ１０７）、前記ステップＳ１０４の「ジッター限界値」または前記ステップＳ１０７の「フォーカスバイアス変化限界点」のいずれかを超えるまでステップＳ１００からステップＳ１０７までの処理を繰り返す。
【００２５】
ステップＳ１０４の「ジッター限界値」またはステップＳ１０７の「フォーカスバイアス変化限界点」のいずれかを計測したジッター値またはフォーカスバイアス電圧が超えると、図９に示すフローチャートへ進み、所定時間の経過を待ち（ステップＳ１０８）、さらにジッター値の計測を行う（ステップＳ１０９）。そして、ジッター値の平均化のための規定回数、ステップＳ１０８、ステップＳ１０９の処理を繰り返しジッター値の計測を行い（ステップＳ１１０）、この規定回数に達すると、次にフォーカスバイアス電圧の極性判定を行い、フォーカスバイアス電圧がマイナス側であるか否かを判定し（ステップＳ１１１）、フォーカスバイアス電圧がマイナス側であると、すなわちフォーカスバイアス電圧をマイナス方向へ移行させる状態であれば、さらにこのフォーカスバイアス電圧のときの計測したジッター値が、前記複合的な条件のうちの一方の条件である「ジッター限界値」として規定してある値を超えたか否かを判定し（ステップＳ１１２）、超えていなければ前記規定回数計測したジッター値を平均化した値をＲＡＭ９へ格納する（ステップＳ１１３）。そして、次にフォーカスバイアス電圧をΔＶｂ減少させる（ステップＳ１１４）。さらに、前記複合的な条件のうちの他方の条件である「フォーカスバイアス変化限界点」として規定してある値（マイナス側のフォーカスバイアス変化限界点）を、フォーカスバイアス電圧が超えたか否かを判定し（ステップＳ１１５）、前記ステップＳ１１２の「ジッター限界値」または前記ステップＳ１１５の「フォーカスバイアス変化限界点」のいずれかを超えるまでステップＳ１０８からステップＳ１１５までの処理を繰り返す。
【００２６】
ステップＳ１１２の「ジッター限界値」またはステップＳ１１５の「フォーカスバイアス変化限界点」のいずれかを計測したジッター値またはフォーカスバイアス電圧が超えると、図１０に示すフローチャートへ進み、所定時間の経過を待ち（ステップＳ１１６）、さらにジッター値の計測を行う（ステップＳ１１７）。そして、ジッター値の平均化のための規定回数、ステップＳ１１６、ステップＳ１１７の処理を繰り返しジッター値の計測を行い（ステップＳ１１８）、この規定回数に達すると、前記規定回数計測したジッター値を平均化した値をＲＡＭ９へ格納する（ステップＳ１１９）。次にフォーカスバイアス電圧をΔＶｂ増加させ（ステップＳ１２０）、さらに、フォーカスバイアス電圧が０であるか否かを判定し（ステップＳ１２１）、フォーカスバイアス電圧が０になるまでステップＳ１１６からステップＳ１２１の処理を繰り返す。
【００２７】
図５（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）は、図７のフローチャートに示すステップＳ２のデータ処理として移動加算平均処理を行なった際のジッター値を連続的に示したときの波形図である。すなわち、ステップＳ１で得られたジッター値の実測値による波形を図５（ａ）としたとき、有効データ範囲内の前後４ポイントの移動加算平均処理を行なったときのデータで作成した波形が同図（ｂ）となる。この図５（ｂ）では、同図（ａ）に比べ細かいノイズ成分が目立たなくなっている。
同様に加算平均のポイント数を８ポイントにした例が図５（ｃ）、１６ポイントの例が図５（ｄ）、３２ポイントの例が図５（ｅ）である。図５（ｅ）の例では、３２ポイントも加算平均されてしまうため、ジッター値の大きな両端のデータはどんどん削られてしまい、波形全体は短くなるものの波形が滑らかになるため、ジッター値の最小ポイントの特定が容易になる。
【００２８】
図１１は、ＲＡＭ９に格納されたジッター値の実測データに対する移動加算平均の一例を示す説明図である。図１１に示す例では８ポイントの移動加算平均を行なっており、計算するデータ範囲を中括弧にて示してある。この中括弧の範囲を１つ１つずらし、実測したジッター値の平均を計算していくことで、図１１の「移動加算平均処理後のジッター値」の欄に示すような「移動加算平均ジッター値」を得ることが出来る。
【００２９】
また、図７のフローチャートに示すステップＳ２のデータ処理の別の例として直線近似による補間処理も考えられる。図１２は、この直線近似による補間処理を示す説明図である。この直線近似による補間処理では、ジッター値の実測データＸに対し、白丸で示される２点間を直線で近似し、この直線の中点の黒丸と実測データＸの白抜きの四角で示す値の差分ｊｄ１を見る。この場合、差分ｊｄ１は小さいことから、実測データＸの白抜きの四角で示す値を採用し直線で近似することで、実測データＸは左下の近似波形Ｙとなる。図の右の例では、差分はＪｄ２として示されているが、差分が大きいため、ノイズ成分による一時的なジッター値の大幅な変化と判断でき、白抜きの四角で示す実測データの値は使用せず、黒丸の直線近似のデータで補間する。この場合、白丸で示される２点間は直線で近似され、右下に示す近似波形Ｙとなる。このように近似を行うことで、一時的なジッターの大幅な変化が軽減され、ノイズによる影響を低減できる。
【００３０】
図６は、図７のフローチャートに示すステップＳ３の「最適なフォーカスバイアス量の決定処理」の一例として、従来から用いられている方法をステップＳ２で得られたジッター値に対して適用した例を示す説明図である。同図（ａ）はジッター値がある程度悪化している地点をスライスレベルとし、その時のフォーカスバイアス電圧の中間の電圧をフォーカスバイアス電圧値とするものである。この場合、従来ではジッターの悪化しているポイントであるため、その悪化したジッタ−値の計測精度も悪い状態であった。従って、どうしても誤差が大きくなりがちであった。しかし図６（ａ）では８ポイントの移動加算平均処理を行なっているため計測精度が改善され、その中間の電圧として計算されるフォーカスバイアス電圧値の精度も改善される。図６（ｂ）では、３２ポイントの移動加算平均処理を行なっており、波形全体を見てもノイズの影響がかなり軽減されているため、計算されたジッター値の最小値を実際のジッター最良点のフォーカスバイアス電圧として決定している。
【００３１】
その他、３点のフォーカスバイアス電圧のジッター値から、ジッター最良点を検出する方法（特開平９−４４８６４）などもある。図１３は、従来の３点を使った検出方法と、前後３２ポイントの移動加算平均処理を組み合わせジッター最良点を検出する一例を示す説明図である。
この方法では、所定の３点（Ａ、Ｂ、Ｃ）のそれぞれの前後３２ポイントを平均した黒丸で示すポイントを使用し、最終的なフォーカスバイアス量Ｎを決定している。
図１３に示すように、ノイズ成分が多い場合、例えばＢ点は波形としては白丸で示されるようにジッター値は大きく、平均化しないと間違ったポイントで計算してしまうことになる。当然の結果として、得られる最終結果の精度は悪化する。しかしながら、前後３２ポイントを平均化したデータをもとに計算を行えば、得られる最終結果の精度は向上する。
【００３２】
以上のように、この実施例１によれば、フォーカスバイアス電圧の変化量をΔＶｂに固定することで、ジッター値測定の際のサーボ動作の不安定化を回避し、フォーカス外れなどの異常状態の発生を防止し、安定したフォーカスサーボ動作を実現してジッター値測定を行い所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供できる効果がある。
また、ジッター値計測の際、フォーカスバイアス量を一定量ずつリニアに徐々に変化させるため、実際にサーボが落ち着いて精度の高いジッター値を読み出せる迄の時間を短縮でき、迅速に所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置を提供できる効果がある。
さらにＲＡＭ８へ格納したジッター値に対し移動加算平均処理、補間処理などを含むデータ処理を施すことから、サーボ動作に影響を与えることなく、自在に所望のバイアス量に対するジッター値を取り出しデータ加工でき、データの使用範囲の自由度が大きいフォーカスバイアス調整方法および装置が提供できる効果がある。
また、データ処理を施したジッター値をもとにジッター最良点に対応する最適なフォーカスバイアス量を決定するため、傷の多いディスクや偏心の多いディスクでも、精度の高い所望のフォーカスバイアス量を決定できるフォーカスバイアス調整方法および装置が提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施例１のジッター値格納処理動作を説明するためのジッター値とフォーカスバイアス電圧との関係を示す模式図である。
【図３】本発明の実施例１におけるフォーカスバイアス電圧値の変化を増加から減少、減少から増加、に切り替える際の条件の一例を示す説明図である。
【図４】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置のＲＡＭに格納されたデータの一例を示す説明図である。
【図５】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置においてデータ処理として移動加算平均処理を行なった際のジッター値を連続的に示したときの波形図である。
【図６】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置において、最適なフォーカスバイアス量の決定処理の一例を示す説明図である。
【図７】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整装置におけるＣＰＵのフォーカスバイアス調整処理動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置において、複合的な条件でフォーカスバイアス電圧を変化させ、ジッター値をＲＡＭに格納する場合の動作を示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置において、複合的な条件でフォーカスバイアス電圧を変化させ、ジッター値をＲＡＭに格納する場合の動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置において、複合的な条件でフォーカスバイアス電圧を変化させ、ジッター値をＲＡＭに格納する場合の動作を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置における、ＲＡＭに格納されたジッター値の実測データに対する移動加算平均の一例を示す説明図である。
【図１２】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置におけるデータ処理の例である直線近似による補間処理を示す説明図である。
【図１３】本発明の実施例１のフォーカスバイアス調整方法が適用されるフォーカスバイアス調整装置における従来の３点を使った検出方法と、前後３２ポイントの移動加算平均処理を組み合わせジッター最良点を検出する一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３４】
４……ＲＦ信号生成部（計測手段）、５……ジッター値生成部（計測手段）、６……サーボ制御部（計測手段）、７……フォーカスバイアス制御部（計測手段）、８……ＲＡＭ（メモリ）、９……ＣＰＵ（計測手段、記憶手段、データ処理加工手段、最適値決定手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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