(57)【要約】【課題】  ドライブとメディアの組み合わせによって決まる記録品位の有効な検査手法を提供する。【解決手段】  各ドライブ２０−１〜２０−５ごとに、各種メディアの品位基準となる基準メディア１８を記録再生し、その結果得られた特性値に所定の係数を乗じて得られた閾値１〜５を各ドライブに設けられた所定の記憶領域にそれぞれ格納しておく。記録対象とするメディアに情報の記録を行う際には、該メディアをパワーまたはパルス幅の変化を伴う複数の記録条件を用いて記録再生し、その結果得られた複数の特性値から近似曲線を求め、前記近似曲線と前記閾値との位置関係で求められるマージン量に基づいて、前記メディアに対する記録品位の検査を行う。【選択図】  図６
2005276299.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生し、その結果得られた特性値を記録品位の判断基準として備えたことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
前記基準メディアの記録再生は、記録速度の変化を伴う複数の記録条件に対して行い、その結果得られた複数の特性値を各記録速度に対する判断基準として所定の記憶領域に格納したことを特徴とする請求項１記載の光記録装置。
【請求項３】
前記基準メディアの記録再生は、パワーまたはパルス幅の変化を伴う複数の記録条件に対して行い、その結果得られた複数の特性値のうち、最良の特性値を前記判断基準として所定の記憶領域に格納したことを特徴とする請求項１記載の光記録装置。
【請求項４】
前記判断基準は、前記最良の特性値に所定の係数を乗じて求められた閾値であることを特徴とする請求項３記載の光記録装置。
【請求項５】
前記判断基準は、前記光記録装置に固有の値または前記光記録装置のタイプごとに固有の値が設定されることを特徴とする請求項１記載の光記録装置。
【請求項６】
前記判断基準は、複数の光記録装置で求められたシステム基準値の平均値が設定されることを特徴とする請求項１記載の光記録装置。
【請求項７】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録装置に固有の判断基準を備え、該判断基準を使用して前記光記録メディアの記録品位を検査し、その結果得られた記録品位に応じて記録条件を決定することを特徴とする光記録装置。
【請求項８】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録装置に固有の判断基準を備え、該判断基準を使用して前記光記録メディアの記録品位を検査し、該検査結果を報知することを特徴とする光記録装置。
【請求項９】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録メディアに対する記録品位の判断基準となるジッタ値またはエラーレートを所定の記憶領域に格納したことを特徴とする光記録装置。
【請求項１０】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生し、その結果得られた特性値に所定の係数を乗じて得られた閾値を予め所定の記憶領域に格納しておき、
前記光記録メディアに情報の記録を行う際には、該光記録メディアをパワーまたはパルス幅の変化を伴う複数の記録条件を用いて記録再生し、その結果得られた複数の特性値から近似曲線を求め、
前記近似曲線と前記閾値との位置関係で求められるマージン量に基づいて、前記光記録メディアに対する記録品位の検査を行うことを特徴とする光記録装置。
【請求項１１】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、
前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生して得られた特性値と、前記光記録装置および／または前記光記録メディアの状態を検出して得られた状態値とを用いて記録品位の判断を行うことを特徴とする光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスク記録装置等の光情報記録装置に関し、特に、記録品位の検査に有用な基準値を備えた光情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等に代表される光情報記録媒体（以下、「メディア」という）の記録においては、記録対象となるメディアと記録に使用する記録装置（以下、「ドライブ」という）との相性が個々の組み合わせにより異なる。この原因としては、メディアを構成する記録材料の種類の違いや製造時の成膜バラツキにより最適な記録条件が変化するといったメディア側の要因と、ドライブを構成するピックアップや半導体レーザの種類の違いや製造時の組立バラツキにより最適な条件が変化するといったドライブ側の要因が考えられ、実際はこれらの複合要因として各組み合わせに適した記録条件が存在する。
【０００３】
そこで、従来は、メディア側に当該メディアの種類がドライブ側から識別可能なＩＤ情報を格納しておくとともに、ドライブ側にはメディアの種類ごとに予め用意された記録条件を格納しておき、実際の記録を行う場合には、ドライブに装填されたメディアから当該メディアのＩＤ情報を読み込み、当該ＩＤ情報と関連づけられた記録条件を使用するといった手法が使用されている。
【０００４】
しかし、この従来の手法では、予め検証された既知のメディアに対しては、ある程度適正のある記録条件が選択できるが、検証されていない未知のメディアに対しては、用意された記録条件では、対応しきれない場合もあり、また、既知のメディアであっても記録環境の変化、例えば、記録速度、外乱、経時変化によっては、用意された記録条件では対応できない場合があった。
【０００５】
このような未知メディアへの対応を図った手法としては、下記文献に記載された手法が知られている。
【特許文献１】特開２００１−１２６２５４号公報  この特許文献１には、メディア毎に最適な記録条件をドライブ自身で求めることを目的として（段落０００９参照）、基準ディスクを再生して得られたアシンメトリ値βやピット長を当該ドライブのＥＥＰＲＯＭに記憶しておき（段落００２８参照）、記録対象となるメディアをテスト記録して得られたβ値と、ＥＥＰＲＯＭに格納したβとを比較して、目標とするβ値やピット長が得られるようにストラテジの補正を行う手法が開示されている（段落００２９〜００３１参照）。
【０００６】
この手法によれば、メディア毎にストラテジの最適化を行うことが可能になるため、未知のメディアへの対応力が向上するとともに、目標とするβ値やピット長がドライブ毎に設定されるため、ドライブ側のばらつきが抑えられる（段落００３６参照）。
【０００７】
しかし、この手法では、予め規格で定められたピットを備える基準ディスクを再生し、得られた結果をドライブ側の基準値としているため、記録に影響する各種要因が考慮されておらず、記録環境を基準化するという点では不十分であった。
【０００８】
また、β値は、その値の特質上、個々のメディアによって最適なβ値が異なる。即ち、全てのメディアにおいて、β＝０が最良の値にはならず、例えば、メディアＡについては、β＝５％が最良の値となり、メディアＢについては、β＝１０％が最良の値となるといった個々のメディアごとに最適値が異なる。従って、単に一の基準ディスクを再生して得られたβ値では、他のメディアに対する品位検査の指標にはならないため、記録品位検査の基準としては十分でない。
【０００９】
また、基準とするβ値も最良点というわけではなく、当該ドライブの能力的には、より適した記録条件が引き出せるにも拘わらず、基準ディスクを再生して得られた結果を基準としているため、未知メディアへの対応力という点では改善の余地が残されている。
【００１０】
さらに、この手法では、目標とするβ値やピット長に近づけるようストラテジを補正しているため、目標値に合わせきれないドライブとメディアの組み合わせに対しては、対応が困難であった。
【００１１】
また、この手法で基準値としているβ値やピット長は、あくまで当該ドライブが記録目標とする値であるため、これらの値の大小でドライブとメディアの相性を評価することが難しく、ドライブとメディアの相性を評価する指標としては不十分であった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで、本発明は、ドライブとメディアの組み合わせによって決まる記録品位の有効な検査手法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するため、本発明の第１の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生し、その結果得られた特性値を記録品位の判断基準として備えたことを特徴とする。
【００１４】
本発明では、基準メディアの記録再生により、ドライブとメディアの組み合わせによって決定される記録環境を基準メディア上で再現し、ここから得られた情報を基に当該ドライブに固有のシステム基準値を求める。このシステム基準値は、当該ドライブで多種多様なメディアの記録を行う際に、各メディアとの相性を示す基準となり、この値を活用することで多様なメディアに対する記録品位の検査が可能になる。
【００１５】
即ち、記録品位の検査を行う場合には、記録品位の善し悪しを判断するための基準値が必要になるが、特許文献１の手法で示されたように、この基準値が再生特性によって得られたものであると、記録に影響する各種の要因が基準化できないため、記録品位の判断精度が十分でない。
【００１６】
本発明では、基準メディアに記録再生することによって得られた特性値をシステム基準値として備えることで、当該ドライブから見た記録特性および再生特性の変動要因を固定し、多種多様なメディアに対する記録品位の良否判定を可能としている。
【００１７】
ここで、記録品位の判断基準としては、上記のシステム基準値をそのまま用いても良く、また、このシステム基準値に所定の係数を乗じて求めた閾値を使用しても良く、また、この閾値とジッタ等の特性曲線との位置関係で定義されるマージンを使用しても良い。尚、基準メディアは多種多様なメディアのうち標準的な記録特性を持ったものを選定することが望ましく、本発明では、この基準メディアのテスト領域や未記録領域を利用して、８−１６信号やＥＦＭ信号または特定のテストパターンを用いて記録再生を行い、記録品位の検査を行う。
【００１８】
このとき使用するテストパターンは、少ない記録領域を使用した短時間のテストを可能にすべく、品位検査に必要な情報が効率良く出現するパターンを用いることが望ましい。また、低速から高速記録に掛けて安定した記録が出来るように、品位検査に必要なパターンだけでなく、サーボサンプリングを安定させるようなパターンを盛り込むことも有効である。さらに、低速と高速で、または記録速度に応じてテストパターンを変更する手法も有用である。
【００１９】
さらに、前記基準メディアの記録再生は、記録速度の変化を伴う複数の記録条件に対して行い、その結果得られた複数の特性値を各記録速度に対する判断基準として所定の記憶領域に格納しておくことが望ましい。
【００２０】
ドライブとメディアの組み合わせによって決まる記録特性は、記録速度に大きく影響されるため、上記のように、記録速度ごとに判断基準を用意しておくことで、記録速度に応じた記録条件の最適化が可能になる。
【００２１】
さらに、前記基準メディアの記録再生は、パワーまたはパルス幅の変化を伴う複数の記録条件に対して行い、その結果得られた複数の特性値のうち、最良の特性値を前記判断基準として所定の記憶領域に格納しておくことが望ましい。
【００２２】
このように複数の記録条件で得られた結果から、最良の特性値を選定することで、当該ドライブにおけるより望ましい条件が基準となるため、記録品位の判断基準がより正確になり、ドライブとメディアの相性が悪い組み合わせであっても、最適な条件を引き出すことが可能になる。記録品位の判断基準となるシステム基準値、閾値またはマージンは、ドライブ内に設けられた不揮発性メモリに記憶させておくことが望ましい。
【００２３】
さらに、前記判断基準は、前記記録再生の結果得られた特性値に所定の係数を乗じて求められた閾値を使用することが望ましく、このように構成することで、ジッタ曲線のように極を有する特性曲線を用いて記録品位を検査する場合は、当該特性曲線の最小点よりも高い位置に記録品位の判断基準となる閾値が設定されるため、この閾値とジッタ等の特性曲線との交点で定義されるマージン量の大小で記録品位の良し悪しを判断することが可能になる。
【００２４】
さらに、前記判断基準は、前記光記録装置に固有の値または前記光記録装置のタイプごとに固有の値を設定することが望ましく、装置毎に固有の値を設定した場合は、固体ごとのバラツキを最大限に吸収することができ、装置のタイプ毎に固有の値を設定した場合は、装置毎に設定するよりも設定工数の低減が図られる。同様に、前記判断基準は、複数の光記録装置で求められたシステム基準値の平均値を設定しても良く、このように構成することでも設定工数の低減が図られる。
【００２５】
また、本発明の第２の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録装置に固有の判断基準を備え、該判断基準値を使用して前記光記録メディアの記録品位を検査し、その結果得られた記録品位に応じて記録条件を決定することを特徴とする。
【００２６】
このように、ドライブに固有の基準値をリファレンスとして、記録品位の良し悪しを判断し、記録品位が良い場合は、良いときに特有の手順で記録条件最適化を行い、記録品位が悪い場合は、悪いときに特有の手順で記録条件最適化を行うことで、より多彩な記録環境への対応が可能になる。
【００２７】
このように、本発明では、記録品位に応じて記録条件の最適化が行われるため、ドライブやメディアに経時変化があったとしても、その影響は記録品位の良否に現れるため、経時変化の影響を含めた形で記録条件の最適化を行うことができる。これに対し、特許文献１に記載された手法では、ドライブに経時変化が起こると、目標値自体にずれが生じるため、経時変化への対応力が不十分である。
【００２８】
これは、前述の特許文献１に記載されたように、目標とする基準値に近づけるような補正をするのではなく、例えば、記録品位が高感度と判定された場合は、低パワー、狭パルス側に記録条件をシフトさせ、記録品位が低感度と判定された場合は、高パワー、広パルス側に記録条件をシフトさせる等の最適化を行うものである。
【００２９】
ただし、本発明は、β値を基準値として持つことを否定するものではなく、記録品位検査時に、当該ドライブとメディアの組み合わせで得られたβ値をドライブ内の不揮発性メモリに格納しておき、同一または類似の条件で記録を行う際に、このβ値を目標値として使用することも可能である。このようにβ値を目標値として使用する場合は、ドライブとメディアの組み合わせごとに目標β値を格納しておくことが望ましく、より望ましくは、記録速度ごとのβ値も取得しておく。
【００３０】
また、本発明の第３の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録装置に固有の判断基準を備え、該判断基準を使用して前記光記録メディアの記録品位を検査し、該検査結果を報知することを特徴とする。このように構成することで、当該ドライブにとっての相性が悪く記録困難なメディアが装填された場合に、記録困難である旨を周辺の機器やユーザに報知したり、記録条件の変更を要求することが可能になる。
【００３１】
例えば、あるドライブに装填されたメディアが極端に低感度である場合には、本記録が行われる前に警告信号が発せられ、適切な記録条件への変更または記録動作の停止により、再生不能あるいは再生品位の悪い低感度記録が回避される。その結果、不適切な記録によるメディア領域の欠損が避けられる。
【００３２】
また、本発明の第４の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録メディアに対する記録品位の判断基準となるジッタ値またはエラーレートを所定の記憶領域に格納したことを特徴とする。このように、ジッタ値またはエラーレートを基準値とすることで、これらの値の大小で記録品位の良し悪しが判定できるため、記録品位検査の基準として望ましい。
【００３３】
即ち、本発明で基準とする値は、記録環境への依存が少なく、その値の大小もしくは基準値からの偏差で、品位の良し悪しが判断できる絶対指標であることが望ましく、例えば、特許文献１に記載されたようなβ値は、必ずしもβ＝０が最適なわけではなく、例えば熱特性の異なるメディアでは最適なβ値も異なるため、多種多様なメディアの記録品位基準として利用することは困難である。
【００３４】
また、本発明の第５の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生し、その結果得られた特性値に所定の係数を乗じて得られた閾値を予め所定の記憶領域に格納しておき、前記光記録メディアに情報の記録を行う際には、該光記録メディアをパワーまたはパルス幅の変化を伴う複数の記録条件を用いて記録再生し、その結果得られた複数の特性値から近似曲線を求め、前記近似曲線と前記閾値との位置関係で求められるマージン量に基づいて、前記光記録メディアに対する記録品位の検査を行うことを特徴とする。
【００３５】
このように、本記録を行う前に、記録対象となるメディアに対してパワーまたはパルス幅を変化させたテスト記録を行い、その結果得られたジッタ曲線等の近似曲線と、予めドライブ内に格納された閾値とを比較することで、当該ドライブとメディアで構成される記録システムの記録品位が好適に検査される。
【００３６】
その際、記録品位の判断基準として、前記近似曲線と前記閾値との位置関係で定まるマージン量を用いることが望ましく、マージン量の大小を基準とすることで、記録品位の判断をより精密に行うことが可能になる。例えば、マージン量が大きい場合は記録品位が良く、小さい場合は記録品位が悪い傾向となるため、規定のマージン量が取れないメディアに対しては、当該ドライブでの記録拒否を行うといった処置も可能となる。このように、マージン量の大きさを基に記録品位の良否を判定し、記録品位に応じた記録条件を設定することで、外乱から影響、ドライブのばらつき、メディアのばらつき等の各種影響に強い記録システムを構築することが可能になる。
【００３７】
また、本発明の第６の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光記録装置において、前記光記録メディアの品位基準となる基準メディアを記録再生して得られた特性値と、前記光記録装置および／または前記光記録メディアの状態を検出して得られた状態値とを用いて記録品位の判断を行うことを特徴とする。
【００３８】
ここで、上記状態値としては、当該ドライブ内の温度やメディアの温度を検出した値を設定し、これらの温度依存性を考慮して記録品位の判断を行うことが有効である。このような状態検出手法としては、特許第３０２４２８２号にも開示されており、この文献に記載された内容は参考記述として本願明細書に組み込まれるものとする。
【発明の効果】
【００３９】
以上説明したように、本発明によれば、ドライブとメディアの組み合わせに応じて、より適した記録条件が設定されるため、従来手法では記録できなかった組み合わせへの対応が可能になる。また、従来手法では十分最適化できなかった記録条件に対しても、本手法では最適化が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、本発明に係る光情報記録装置を添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。
【００４１】
図１は、本発明に係るドライブとメディアで構成された記録システムの全体構成を示すブロック図である。同図に示すように、この記録システムは、本発明に係るドライブ２０と、該ドライブを用いた記録の対象となるメディア１６とで構成される。メディア１６としては、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒに代表される色素型メディアやＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷに代表される相変化型のメディア等の光情報記録媒体が適用可能である。
【００４２】
ドライブ２０は、同図に示すように、メディア１６に対するレーザ光照射の光学系を構成するピックアップ３０と、ピックアップ３０の制御位置等の幾何情報を検出するサーボ検出部３２と、ピックアップ３０で得られたＲＦ信号を検出するＲＦ検出部３４と、ピックアップ３０内に設けられたレーザダイオードを制御するＬＤコントローラ３６と、ＬＤコントローラ３６の制御条件や後述する閾値等が格納されたメモリ３８と、サーボ検出部３２の検出結果に基づいてピックアップ３０のトラッキングを行うトラッキング制御部４０と、ピックアップ３０のフォーカシングを行うフォーカス制御部４２とを具備する。
【００４３】
これらドライブ２０を構成する各要素については、当業者に周知の技術事項であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
【００４４】
尚、本発明の主要部となる記録品位の検査に際しては、これら各要素のうち、ＬＤコントローラ３６とメモリ３８が特に関係し、ＬＤコントローラ３６は、メディア１６に照射するレーザの条件、即ち、記録パルスをピックアップ３０に出力することで、記録条件の制御を行い、メモリ３８には、記録パルスのパルスパターンやその他の諸条件が格納される。
【００４５】
図２は、本発明に係るドライブが実行する一連の手順を示すフローチャートである。同図に示すように、前述のドライブ２０は、該ドライブの初期設定を行うまでステップＳ１０〜Ｓ１４までを実行し、次に、テスト記録の条件を決めるまでのステップＳ１６〜Ｓ２２までを実行し、その後、決定した条件でテスト記録を行うステップＳ２４を実行し、その結果に基づいて本記録の条件を決定するステップＳ２６を実行し、この条件でメディア１６に情報を記録するステップＳ２８を実行する。以下、これら各ステップの詳細を説明する。
【００４６】
（基準条件の決定）
図２に示すステップＳ１０では、まず、任意の標準的なメディアを用いて記録速度を変化させながらテスト記録を行い、１つのパルス幅と３つのパワー値を基準条件として求める。３つのパワー値としては、上記テスト記録の結果、ジッタが最小となった値と、その前後に位置する２つのパワー値を用いることが望ましい。前後２つのパワー値としては、ジッタ良否の基準となる閾値近傍の値を用いることが好ましい。ここで求めた基準条件が後の記録品位検査の際に利用される。
【００４７】
（基準閾値の決定）
後述するように、本発明ではジッタ閾値以下の領域をテスト記録条件の範囲（以下、「テスト領域」という）として設定することを意図しているため、この判断基準となる閾値を決定する必要がある。閾値の値としては、ドライブやメディアの種類に応じて標準的な値を用意しておいても良いが、ジッタの許容領域のミニマムラインを示す閾値は、図１に示したピックアップ３０やその他の要素の状態によって変化し、また、メディアを記録する速度によっても変化する。
【００４８】
従って、この閾値も実際に使用するドライブとメディアの組み合わせごとに求め、より的確な判断基準を持たせることで、より的確なテスト領域の設定を行うことが推奨される。
【００４９】
もっとも、この閾値をドライブとメディアの組み合わせごとに設定することは、記録工程の増加要因にもなるため、ドライブ個体ごとのバラツキが閾値変動の主要因と仮定して、ドライブ製造時に個体ごとに適した閾値をメモリ３８に格納しておいても良い。
【００５０】
図３は、図２に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。同図に示すように、基準閾値の決定は、所定の記録条件による記録再生を行い、その結果に基づいてシステムとしての基準値を決定し、該基準値から所定のマージンを確保した値をテスト領域決定の際に使用する閾値とすることで行われる。以下、各ステップを順に説明する。
【００５１】
まず、記録条件設定を行うステップＳ５０を実行し、このステップでは、パルス幅、パワー、記録再生速度、記録アドレス等の記録再生に必要な条件を所定のパターン用意し、この記録条件をドライブ２０に設定した後、該ドライブ内に基準メディアを装填する。基準メディアとしては、各種のメディアがある中から特性が標準的なものを選ぶことが望ましい。
【００５２】
次に、上記のステップＳ５０で設定した記録条件で装填した基準メディアに対して、記録と再生を行うステップＳ５２を実行し、各記録条件における記録再生特性値、例えばジッタを取得する。ここで取得する特性値としては記録品位を示す値を選択する。
【００５３】
続いて、上記ステップＳ５２で取得した記録再生特性値から最良の値、例えば、ジッタの最小値を求め、これをシステム基準値とするステップＳ５４を実行する。これにより、当該ドライブで最適値に近いと思われるジッタ値が基準値として設定される。尚、この基準値はジッタ最適点ではなく、所定の閾値と交差する２点の中間値、即ちパワーマージンの中間値としても良い。
【００５４】
最後に、上記ステップＳ５４で決定したシステム基準値に対して、所定の係数α（α＞１とすることが望ましい）を掛け合わせた値を閾値として算出するステップＳ５６を実行する。これにより、システム基準値に対して所定のマージンを持たせた形で判断が行われる。即ち、システム基準値を用いた閾値の算出は、閾値＝システム基準値×αで行われ、係数αとしては、およそ１．５程度の値を用いることが望ましい。尚、この係数αはドライブやメディアの種類に応じて適切な値を設定すれば良く、α＝０．８〜１．２のようにシステム基準値に近い値を設定しても良いし、α＝２．０〜３．０のように、大きめに設定しても良い。
【００５５】
図４は、図３に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅に対してパワーをＰ１〜Ｐ６まで変化させて、再生特性１０２−１〜１０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、パルス幅Ｗ１〜Ｗ４とパワーＰ１〜Ｐ６が記録条件となり、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−３の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。尚、同図中のマトリクス内に示された矢印はテスト条件を変化させる方向を示し、以下の説明においても同様の意味で使用する。
【００５６】
図５は、図３に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅ごとにパワーの変化範囲を変えて、再生特性１０２−１〜１０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−２の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。このように、閾値の決定は、パルス幅ごとにパワー条件を変更して求めることも可能である。
【００５７】
図６は、ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。ドライブの個体ばらつきに応じた閾値設定が所望される場合には、同図に示すように、各ドライブ２０−１〜２０−５のそれぞれで共通の基準メディア１８を記録再生し、各ドライブごとに固有の閾値１〜５を記憶させておく。
【００５８】
図７は、数台のドライブで求めた閾値の平均を他のドライブの閾値として設定する場合の例を示す概念図である。閾値の設定工程を簡易化したい場合は、同図に示すように、標準的なドライブ２０−１〜２０−５のそれぞれで共通の基準メディア１８を記録再生して得られた閾値１〜５の平均を取り、この平均閾値を他のドライブ２０−６〜２０−１０の閾値として使用する。
【００５９】
このとき、平均閾値を求めるために使用したドライブ２０−１〜２０−５は、同一設計のものでも、完全に同一設計ではなく類似設計のものであっても良い。また、これらドライブ２０−１〜２０−５の閾値として平均閾値を使用することも可能である。さらに、一度求めた平均閾値を、以後製造される同一または類似設計のドライブの閾値として汎用的に使用しても良い。また、バラツキを持った複数台のドライブを意図的に用意し、これらの平均値を求めてもよい。
【００６０】
（記録装置の初期設定）
以上説明した図２のステップＳ１０およびステップＳ１２で求めた基準条件と基準閾値をドライブ２０内のメモリ３８に格納するステップＳ１４を実行する。この工程はドライブ２０の製造時に行っておくことが望ましい。
【００６１】
（記録対象メディアの装填）
続いて、ステップＳ１４の初期設定が完了したドライブ２０内に、情報記録を行うメディア１６を装填するステップＳ１６を実行する。
【００６２】
（基準条件による記録再生）
次に、ステップＳ１４で設定した条件を用いて、ステップＳ１６で装填したメディア１６に記録を行うステップＳ１８を実行する。具体的には、基準条件として定義された１つのパルス幅と３種類のパワー値を用いて３回の記録再生を行い３点のジッタ値を得る。この３点のジッタ値をパワー軸との関係でプロットすると、ドライブ２０とメディア１６の組み合わせに応じた記録特性の傾向が明らかになる。
【００６３】
（記録品位の検査）
図８は、図２のステップＳ２０で実行した記録品位検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。同図に示すように、記録品位の検査は、前述までのステップで得られた各基準条件に対するジッタ値と閾値とを用いて行う。同図に示す例は、基準条件としてパワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３を用いたときの例であり、各パワー値で得られたジッタ値を結ぶ仮想線が谷型のパターンとなる。このような谷型のパターンが得られたときは、ステップＳ１０で使用した基準メディアとステップＳ１６で装填した記録対象メディアとが同感度であり、記録特性が類似していることを意味する。
【００６４】
ここで、同図（ａ）は谷型パターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は谷型パターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアと記録対象メディアは同感度と考えられる。このように、基準メディアと記録対象メディアが同感度であった場合は、後述するように、テスト記録で使用する条件は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で設定する。
【００６５】
ここで、同図（ａ）と（ｂ）とでは、各記録ポイントＰ１、Ｐ２、Ｐ３でそれぞれ得られた再生値と再生基準値との差分量、即ち、同図の例ではジッタ値とジッタ閾値との差分量が異なり、同図（ａ）の方が得られた再生値が再生基準値に近くなる。
【００６６】
このことは、同図（ａ）の方が同図（ｂ）よりも最適条件の発見が容易であると考えられるため、同図（ａ）の記録特性が得られたときの方が同図（ｂ）の記録特性が得られたときよりも、テスト回数を少なく設定し、より少ないテスト回数でより適した解を見出す構成としても良い。
【００６７】
即ち、再生値と再生基準値との差分量が少なかった場合は、最適条件が前述の基準条件に近くなり、再生値と再生基準値との差分量が多かった場合は、最適条件が前述の基準条件から遠くなるため、テスト回数をより少なくしたい場合には、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させることが望ましい。
【００６８】
図９は、図２のステップＳ２０で実行した記録品位検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が下がってゆく右下がりのパターンとなる。このような右下がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が低感度であることを意味する。
【００６９】
ここで、同図（ａ）は右下がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右下がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が低感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が低感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を高パワー、広パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【００７０】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより高パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ３よりも高パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【００７１】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【００７２】
図１０は、図２のステップＳ２０で実行した記録品位検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が上がってゆく右上がりのパターンとなる。このような右上がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が高感度であることを意味する。
【００７３】
ここで、同図（ａ）は右上がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右上がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が高感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が高感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を低パワー、狭パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【００７４】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより低パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ１よりも低パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【００７５】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【００７６】
（テスト領域の決定）
図１１は、図２のステップＳ２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、谷型パターンが得られた場合は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをテスト記録で使用するパワーの変化領域とし、この変化領域がパワーレンジとなる。尚、本発明においては、実際にテスト記録で使用するパワーの範囲を「パワーレンジ」と定義し、ジッタが閾値以下となるパワーの範囲を「パワーマージン」と定義する。
【００７７】
ここで、近似曲線１０６は、パルス幅ごとに異なるため、基準条件で用いたパルス幅をＷ４とすると、このＷ４を中心としたパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれに対して、パワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３で記録し、その結果得られた近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントを確認してゆく。これにより同図のマトリクスイメージに示すように、各パルス幅ごとに閾値以下となるパワーレンジが得られ、同図のハッチで示した領域がテスト領域となる。ここで、基準条件として使用したＰ１、Ｐ２、Ｐ３のパワー３条件と、パルス幅Ｗ４をマトリクス中のイメージで示すと、同図の１０８−１、１０８−２、１０８−３となり、決定されたテスト領域は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域として設定される。
【００７８】
このように、パルス幅ごとにパワーレンジを求めることで、閾値以下となる領域を集中してテストすることができるため、少ないテスト回数でより適した条件を見出すことが可能になる。
【００７９】
尚、パワーマージンが広く取れた場合には、パワー変化のステップを大きめに設定し、パワーマージンが狭かった場合には、パワー変化のステップを小さく設定することでもテスト回数の低減を図ることができる。例えば、１０ｍＷのマージンが取れた場合には、ラフにテストしても最適値が得られるものと仮定して２ｍＷステップで５回のテストを行い、１ｍＷのマージンが取れた場合には、より精密なテストが必要と判断して０．１ｍＷステップで１０回テストするような構成も可能である。
【００８０】
図１２は、図２のステップＳ２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右下がりパターンが得られた場合は、最適条件がより高パワー側にあると考えられるため、Ｐ３よりも高いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ＋のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【００８１】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件１０８−１、１０８−２、１０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が高パワー側にシフトされた形となる。この例では、谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右下がりパターンの場合は、低感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも広いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【００８２】
図１３は、図２のステップＳ２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右上がりパターンが得られた場合は、最適条件がより低パワー側にあると考えられるため、Ｐ１よりも低いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ＋、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【００８３】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件１０８−１、１０８−２、１０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が低パワー側にシフトされた形となる。この例でも谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右上がりパターンの場合は、高感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも狭いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【００８４】
即ち、上述した手法では、各パルス幅ごとに記録品位の検査が行われ、その結果に基づいて、各パルス幅ごとにテスト回数が決定されるため、テスト回数の低減が期待できる。以上説明した記録品位の検査は、基準条件での記録によるジッタ変化をパターニングすることで行う例であり、より望ましくは、下記に示す８パターンを用いて行うことが推奨される。
【００８５】
図１４は、図２のステップＳ２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。同図に示すように、パターン１は、谷型、右上がり、右下がり等のどのようなパターンであっても、ジッタの最大値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られたときは、基準メディアと同程度の感度であると見なすとともに、閾値以下となるマージンが広く取れると判断し、パワー条件を低パワー側と高パワー側のそれぞれに拡張する。即ち、このパターン１では、閾値近傍の値が取れていないため、低パワー側と高パワー側の両方に追加記録が行われることになる。
【００８６】
その後、この追加記録の結果得られたジッタ特性を曲線近似し、この近似曲線がジッタ閾値と交差する大小２点の間隔をパワーレンジの基準値とする。
【００８７】
さらに、このパターンが得られたときは、基準値±０．２Ｔのパルス幅領域をテスト領域として決定し、テスト記録時には、このテスト領域内を０．２Ｔごとに変化させて最適記録条件の検出を行う。尚、Ｔは記録ピットの単位時間長を示す。
【００８８】
ここで、基準値となるパルス幅をパルス条件１とし、拡張した２点をパルス条件２および３とすると、パターン１のパルス条件２および３は±０．２Ｔ拡張された後のパルス幅となる。このパルス幅の条件変更に伴って、テスト条件として使用するパワーレンジにも若干の変更を行う。
【００８９】
即ち、パルス幅を０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×１）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を０．２Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×２）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を−０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとする。
【００９０】
よって、このパターン１に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９１】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×(−２)）ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、本発明では、上記（１）に示した基準条件は、実際のテスト記録で使用しなくても良い。
【００９２】
パターン２は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度であると判断し、基準値±０．１Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン２に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９３】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
パターン３は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度、かつメディアの素性差が大きいと判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン３に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９４】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン４は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや低感度であると判断し、基準値、＋０．１Ｔおよび＋０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン４に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９５】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン５は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり低感度であると判断し、基準値、＋０．２Ｔおよび＋０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン５に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９６】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋４））ｍＷ
パターン６は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや高感度であると判断し、基準値、−０．１Ｔおよび−０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン６に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９７】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
パターン７は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり高感度であると判断し、基準値、−０．２Ｔおよび−０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン７に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９８】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−４））ｍＷ
パターン８は、山型パターンが得られた場合であって、ジッタの最大値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、異常パターンであると判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン８に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９９】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、以上説明した８つのパターンのうち、基準メディアに最も近くなるパターン２以外のパターンが検出された場合は、再生誤動作によるものでないことを確認するために、このパターンの基になった記録結果を再度再生し、ジッタを再検出する構成としても良い。この場合、再度の再生によりパターン２以外の特性が検出された場合は、図１４に示す条件に従って、記録条件の追加と拡張を行えば良い。
【０１００】
ここで、上記再生誤動作の確認を行った結果、パターン８が検出された場合は、記録誤動作の可能性が考えられるため、追加記録およびパルス幅の拡張を行う前に、パルス幅の基準値で再度記録を行う。この再記録結果を再生してもパターン８となった場合は、追加記録、即ち、パルス条件１のマージン測定を行うためのパワー拡張は行わずに、パルス条件の拡張、即ち、パルス条件２および３の拡張を行う。これらパルス条件２および３の拡張に応じたパワーの拡張は前述の手法で行えば良い。
【０１０１】
即ち、パターン８の場合、パルス条件１ではマージンが取れず、拡張の基準となるパワーレンジを求めることができないため、初期のパワー条件範囲を基準となるパワーレンジとして設定する。
【０１０２】
（テスト領域の決定：近似法によるパワーレンジの決定）
前述の手順を実行することにより、少ないテスト回数で最適解を得るに有効なテスト領域が決定されるが、このテスト領域決定の際に重要となるパワーレンジの決定手法について以下説明を加える。
【０１０３】
本発明では可能な限り少ないテスト回数で最適解発見の精度を上げたいため、閾値以下の領域にテスト条件を集中させることは前述したとおりである。この考え方に基づけば、テスト記録の際に使用されるパワーレンジは、閾値に対するマージンを示す大小２点のパワー値から求めればよいこととなる。ここで、閾値に対するマージンとは、その領域であれば、閾値以下の特性値が得られる幅を意味し、大小２点のパワー値とは、このマージンの幅を決める低パワー側の値と、高パワー側の値を意味する。
【０１０４】
ここで、各種メディアのテスト記録時間の短縮およびライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限の有るメディアのテスト領域の効率化を考えると、テスト記録に要する記録ポイントはより少ないことが望ましいが、ここで求めるパワーレンジは、最適記録条件の判断基準となる重要なパラメータであるため、高精度であることが望まれる。
【０１０５】
このパワーレンジを精度良く求めることは、より選択された領域の集中したテストを意味するため、テスト回数の低減にも寄与する。例えば、０．１ｍＷに１回の頻度でテスト記録を行う場合には、パワーレンジが１ｍＷだと１０回のテスト記録が行われ、２ｍＷだと２０回のテスト記録が行われるため、パワーレンジを絞ることがテスト回数の低減に寄与することになる。
【０１０６】
そこで、本発明では、記録再生信号の記録品位が記録パワーに対して最適点を極値とする２次曲線的な変化を描くことに着目し、数点の記録ポイントを用いて特性曲線を近似算出することで、求めたいマージン量を得る手法を提唱する。このような近似手法を適用することにより、数点の記録ポイントでパワーレンジを高精度かつ容易に求めることが可能になり、テスト回数の低減が図られる。
【０１０７】
図１５は、図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。同図に示すように、近似を行うにあたっては、まず、記録特性の判断基準とするジッタ値が閾値近傍となる低パワー側のａおよび高パワー側のｃの２点と、これらの間に位置し、かつ、これらａ、ｃおよび閾値のいずれの値よりも小さなジッタ値となるｂを選択する。即ち、ここで選択されるａ、ｂ、ｃは、下記の関係を有することになる。
【０１０８】
ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ
ここで、上記の閾値近傍は、同図に示すように、閾値からある幅を持った上限値と下限値の間として定義し、望ましくは、上限値を閾値の４０％、下限値を閾値の５％に設定する。その後、これらａ，ｂ，ｃの値を２次関数で近似し、該２次関数と閾値がクロスする大小２点の差分をパワーレンジとする。尚、閾値近傍として定義する範囲は、−５％〜＋４０％や−１０％〜３０％等、記録ポイントの間隔等を考慮して適宜変更可能である。
【０１０９】
図１６は、図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。同図に示すように、Ａ、Ｂ、Ｃの３条件でのみでは、前述の「ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ」の条件を満たす関係が得られなかった場合、高パワー側のＤを追記することで、閾値近傍の値を得ることが望ましい。
【０１１０】
さらに、同図に示すように、Ｂ＞Ｃの関係がある場合は、Ｂを用いずに、Ａ、Ｃ、Ｄの３点で近似式を算出することが望ましい。
【０１１１】
このとき記録ポイント３点と閾値の関係は、「Ａ＞Ｃ、Ｄ＞Ｃ、閾値＞Ｃ」となり、近似曲線を描くに適した関係となるため、３点近似で高精度な近似曲線を得ることができる。尚、Ｄに示した追加記録条件は、追記前の記録ポイントが示すＡ＞Ｂ、Ｂ＞Ｃおよび閾値によって決定すれば良い。
【０１１２】
また、図１５とは逆に、低パワー側に閾値近傍の値がなかった場合は、Ａより低パワー条件で追記を行えば良く、記録ポイントと閾値の関係によっては、適宜１点以上の記録条件を追加しても良い。
【０１１３】
また、追加記録条件で用いるパワーの範囲は、所定のパワーステップに対して一定の変化を持たせても良いし、予めパワーの変動に対するジッタ変動の関係を求めておき、その関係からパワー条件を設定しても良い。
【０１１４】
尚、上記記録条件の追加を行っても、パワーレンジを求めるに十分な記録ポイントが得られない場合は、上述と同様の手順により再度記録条件の追加を行って記録ポイントを変更する。
【０１１５】
また、ライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限のある場合や、膨大なテスト時間の使用を回避するため、上記再度記録条件の追加回数に上限値を持たせても良く、記録条件の追加によって記録パワーがレーザ出力値を超えないように、追記パワーの上限値を持たせておいても良い。
【０１１６】
また、上述の例では、３点近似によりパワーレンジを求めたが、最も閾値に近い２点を選択し、これら２点がそれぞれ示す大小２点のパワー値の差分よりパワーレンジを決定しても良い。
【０１１７】
その他、閾値近傍の２点を選択する手法としては、閾値をまたぐ大小２点が見つかるまでパワーを変化させて記録し、該記録した中で最も閾値に近い２点を選択しても、この２点をそのまま選択しても良い。この方法については以下詳細な説明を加える。
【０１１８】
（テスト領域の決定：サンプリングによるパワーレンジの決定）
図１７は、図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。同図に示す例では、前述した３点近似ではなく、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジが求められる。
【０１１９】
つまり、同図に示すように、記録パワーをＰ１からＰ２、Ｐ３・・・と順に増加させて記録再生を行い、閾値以上の値が得られたパワー値Ｐ６まで記録再生を繰り返す。この処理のイメージをマトリクスで示すと、パワー変化はＰ１〜Ｐ６まで行うが、パワーレンジは、閾値に最も近い低パワー側のＰ２と高パワー側のＰ６との間となる。このように、閾値をまたぐ２点を選択することによってもパワーレンジを決定することができる。
【０１２０】
ここで、閾値に近い大小２点を選択する方法としては、下記のような形態を適宜選択して使用することができる。
【０１２１】
１）パワーマージンを成す大小２点を選択する方法、即ち、再生基準値を満たすパワー領域内であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
２）パワーマージンのやや外にはなるが再生基準に最も近い２点を選択
３）低パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
４）高パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
５）低パワー側および高パワー側で再生基準値を跨ぐ形となる２点であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
また、上記各手法により選択した２点を用いて記録特性を近似し、再生基準値と交差する大小２点を求めても良い。
【０１２２】
（テスト記録）
図１８は、図２に示したステップＳ２４のテスト記録で使用するパルスパターンの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。同図に示すように、シングルパルス１０−１およびマルチパルス１０ー２は、パルスの先頭に配置された先頭パルス１２と、後端に配置された後端パルス１４とを具備し、メインパワーＰＷが示す高さで記録パルス全体のエネルギー量が規定され、先頭パルス幅Ｔｔｏｐが示す長さで記録ピット先端に与える初段のエネルギー量が規定される。尚、点線で示したＰＷＤは、エネルギー量の微調整に利用する領域であり、この部分については後述する。
【０１２３】
ここで、メインパワーＰＷは、記録パルス１０−１、１０ー２の中で最も高い値とすることが望ましく、先頭パルス幅Ｔｔｏｐは、３Ｔの長さを有する記録ピットに対応した幅を有し、この幅の記録パルスが最も出現確率が高く、記録品位への影響が大きいため、このＴｒｏｐをテスト記録で変化させることが望ましい。
【０１２４】
同図に示すように、シングルパルスとマルチパルスのいずれを用いる場合も、前述までのステップで決定したテストパワーの値をメインパワーＰＷとして使用し、テストパルスの幅を先頭パルス幅Ｔｔｏｐとして使用する。
【０１２５】
このようにして、メインパワーＰＷと先頭パルス幅Ｔｔｏｐを段階的に変化させながら図２のステップＳ１６で装填したメディアに対してテスト記録を行い、その結果形成された記録ピットを再生して各テスト条件ごとのジッタ値を得る。
【０１２６】
その後、さらに所定のピット−ランドパターンを用いた別のテスト記録を行い、記録パルスと記録ピットのズレ等の他の調整要因を検証し、一連のテスト記録を終了する。
【０１２７】
（記録条件の決定）
前述のテスト記録の結果、最小のジッタ値が得られたメインパワーＰＷと先頭パルス幅Ｔｔｏｐの値、並びに他の調整要因を調整するためのパラメータを決定し、これらの値を当該ドライブとメディアの組み合わせに適した記録条件とする。
【０１２８】
図１９は、図２のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。図１８と同様に、同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【０１２９】
同図（ａ）に示すように、シングルパルス１０−１の場合には、他の調整要因として、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に、メインパワーＰＷよりもＰＷＤだけ低い低パワー領域を設ける。この量を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。同様に、マルチパルス１０−２の場合には、同図（ｂ）に示すように、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に位置する中間パルスの幅Ｔｍｐを規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。
【０１３０】
図２０は、図２のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。図１８と同様に、同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【０１３１】
同図に示すように、シングルパルス１０−１とマルチパルス１０−２のいずれの場合も、他の調整要因として、先頭パルス１２の開始位置を調整するＴｔｏｐｒを設定するとともに、後端パルス１４の終了位置を調整するＴｌａｓｔを設定する。これらの値を調整することで、記録後のピット長が適切な値となるパルスパターンを決定する。
【０１３２】
以上の手順で得られたメインパワーＰＷ、先頭パルス幅Ｔｔｏｐ、低パワー領域ＰＷＤ、先端パルス位置Ｔｔｏｐｒ、後端パルス位置Ｔｌａｓｔを図１に示したメモリ３８に格納し記録条件の決定を終了する。
【０１３３】
（情報の記録）
図１に示すＬＤコントローラ３６は、ドライブ２０の外部から入力された記録対象となる情報に対して、前述の工程でメモリ３８に格納された各種記録条件を基準に記録パルスを生成し、これをピックアップ３０に出力する。これにより、メディア１６に対する情報の記録が行われる。
【０１３４】
（テスト領域決定の他の形態）
以下、本発明の特徴部となるテスト領域決定の他の実施形態を説明する。
【０１３５】
図２１は、閾値を超える位置までをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例では、テスト記録の際に使用するパワーをＰ１、Ｐ２・・・の順に変化させてゆき、ジッタ値が閾値を超えたＰ６でテスト記録を終了する例である。このイメージをマトリクスで示すと、あるパルス幅に対してパワーをＰ１、Ｐ２、・・・Ｐ６と離散的に変化させ、その中で最もジッタ値の低いパワー値Ｐ４が記録条件１０４とする。この場合、パワーを変化させたＰ１〜Ｐ６がパワーレンジとなり、閾値以下の領域に近いＰ２〜Ｐ６がパワーマージンとなる。このように、閾値に達するまでをテスト領域とすることで、常時固定のパワー範囲をテストする手法に比べてテスト回数の低減が図られる。
【０１３６】
図２２は、パワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２１に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたパワーレンジまたはパワーマージンの極を記録条件とする例である。この例では、パルス幅をＷ１、Ｗ２・・・と順次変化させながら、各パルス幅ごとに図２１に示した閾値に至るまでパワーを変化させる工程を実行し、パワーレンジまたはパワーマージンが最も大きくなるパルス幅Ｗ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１３７】
パワーレンジまたはパワーマージンの極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パルス幅Ｗ４が極になる場合は１つ後ろのＷ５までテスト記録が行われることになる。ここで、パワーレンジおよびパワーマージンは、各パルス幅ごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパルス幅ごとに異なることになる。
【０１３８】
パルス幅Ｗ４が極になる場合は、このＷ４の中で最もジッタ値の低いパワーＰ３とパルス幅Ｗ４が記録条件１０４となる。このように、図２１の工程に加えて、パルス幅を変化させることにより、少ないテスト回数でテスト領域をパルス幅方向に拡張することができる。
【０１３９】
図２３は、閾値近傍の２点間をパワーレンジとする例を示した概念図である。同図に示す例では、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジを求める例である。この例の実行手順については、前述の図１７を用いた説明と同じであるため、ここでは説明を省略する。
【０１４０】
この例が前述の図２１に示した例と異なる点は、Ｐ２〜Ｐ６までのサンプリングポイントのみをテストするのではなく、パワーレンジの決定後、当該レンジ内をより微細なステップで変化させ、より適した条件を求めようとする点にある。
【０１４１】
図２４は、パワーレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。同図に示すように、図２３で決定したパワーレンジＰ２〜Ｐ６に対し、より微細なステップでパワーを変化させ、得られたジッタ値の中で最小の条件を記録条件１０４とする。このように、パワーレンジの中をより微細なステップで検査することにより、最適に近い値を見出すことができる。尚、この例では、Ｐ３とＰ４の間に最適点が発見された例を示している。
【０１４２】
図２５は、図２４の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２４に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたパワーレンジまたはパワーマージンの極を記録条件とする例である。この考え方は、図２１に示した工程を図２２に適用する場合と同じであるため、ここでは説明を省略する。
【０１４３】
図２６は、閾値を超える位置までパルス幅を変更し、この変更範囲をテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例では、テスト記録の際に使用するパルス幅をＷ１、Ｗ２・・・の順に変化させてゆき、ジッタ値が閾値を超えたＷ６でテスト記録を終了する例である。このイメージをマトリクスで示すと、パワーＰ１に対してパルス幅をＷ１、Ｗ２、・・・Ｗ６と順次変化させ、その中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ４を記録条件１０４とする。この場合、パルス幅を変化させたＷ１〜Ｗ６がテストされるパルスレンジとなり、閾値以下の領域に近いＷ２〜Ｗ６がパルスマージンとなる。このように、閾値に達するまでをテスト領域とすることで、常時固定のパルス範囲をテストする手法に比べてテスト回数の低減が図られる。
【０１４４】
図２７は、パルスレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２６に示した手順に加えてパワー値を変化させ、各パワー値ごとに得られたパルスレンジまたはパルスマージンの極を記録条件とする例である。この例では、パワー値をＰ１、Ｐ２・・・と順次変化させながら、各パワーごとに図２６に示した閾値に至るまでパルスを変化させる工程を実行し、パルスレンジまたはパルスマージンが最も大きくなるパワーＰ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１４５】
パルスレンジまたはパルスマージンの極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パワーＰ４が極になる場合は１つ後ろのＰ５までテスト記録が行われることになる。ここで、パルスレンジおよびパルスマージンは、各パワーごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパワーごとに異なることになる。
【０１４６】
パワーＰ４が極になる場合は、このＰ４の中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ３とパワーＰ４が記録条件１０４となる。このように、図２６の工程に加えて、パワーを変化させることにより、少ないテスト回数でテスト領域をパワー方向に拡張することができる。
【０１４７】
図２８は、パルスレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。同図に示すように、図２７で特定したパルスレンジの極付近となるＰ３〜Ｐ５に対し、より微細なステップでパワーを変化させ、得られたジッタ値の中で最小の条件を記録条件１０４とする。このように、極付近のパワーをより微細なステップで検査することにより、最適に近い値を見出すことができる。尚、この例では、Ｐ３とＰ４の間に最適点が発見された例を示している。
【０１４８】
図２９は、図２１の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２１に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたジッタの最小値の極を記録条件とする例である。この例では、パルス幅をＷ１、Ｗ２・・・と順次変化させながら、各パルス幅ごとに図２１に示した工程を実行し、該各工程で得られたジッタの最小値を比較しながら、その中でも最小のジッタ値となるパルス幅Ｗ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１４９】
ジッタ最小値の極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パルス幅Ｗ４が極になる場合は１つ後ろのＷ５までテスト記録が行われることになる。ここで、ジッタの最小値は、各パルス幅ごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパルス幅ごとに異なることになる。
【０１５０】
パルス幅Ｗ４が極になる場合は、このＷ４の中で最もジッタ値の低いパワーＰ３とパルス幅Ｗ４が記録条件１０４となる。このように、図２１の工程に加えて、ジッタ最小値の極を検出することによっても、少ないテスト回数でテスト領域をパルス幅方向に拡張することができる。
【０１５１】
図３０は、図２６の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２６に示した手順に加えてパワーを変化させ、各パワーごとに得られたジッタの最小値の極を記録条件とする例である。この例では、パワーをＰ１、Ｐ２・・・と順次変化させながら、各パワーごとに図２６に示した工程を実行し、該各工程で得られたジッタの最小値を比較しながら、その中でも最小のジッタ値となるパワーＰ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１５２】
ジッタ最小値の極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パワーＰ４が極になる場合は１つ後ろのＰ５までテスト記録が行われることになる。ここで、ジッタの最小値は、各パワーごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパワーごとに異なることになる。
【０１５３】
パワーＰ４が極になる場合は、このＰ４の中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ２とパワーＰ４が記録条件１０４となる。このように、図２６の工程に加えて、ジッタ最小値の極を検出することによっても、少ないテスト回数でテスト領域をパワー方向に拡張することができる。
【０１５４】
以上説明したように、本発明では、記録品位の検査結果に基づき、テスト記録で使用するパワーおよび／またはパルス幅を決定しているため、より少ない回数でより適した記録条件を得ることが可能になる。
【０１５５】
望ましくは、メディアの特性、ドライブの特性およびこれらの相性を考慮した実際の記録環境に近い形で記録品位の検査を行い、その結果に基づきテスト条件を決定することが推奨される。
【０１５６】
また、本発明では、テスト回数を変化させずに、記録品位の検査結果に応じてテスト領域をシフトさせる構成としても良く、例えば、前述した記録特性予測の結果が同感度、低感度、高感度であった場合、それぞれ、下記のような形態を取ることも可能である。
【０１５７】
（１）記録メディアが基準メディアと同感度であった場合
本予測の基になった基準の記録条件が最適条件に近いものと判断し、該基準の記録条件の周囲にパワーおよびパルス幅を所定の領域で拡張し、これをテスト領域として決定する。例えば、基準の記録条件がパワーＰ、パルス幅Ｗであったとすると、パワーのテスト範囲をＰ±５ｍＷ、パルス幅のテスト範囲をＷ±０．２Ｔとする。
【０１５８】
（２）記録メディアが基準メディアより低感度であった場合
記録メディアの最適値が基準メディアの最適値に対して、より多くの熱量が必要と判断し、より高パワー、広パルス幅側にテスト領域をシフトさせる。例えば、基準の記録条件がパワーＰ、パルス幅Ｗであったとすると、パワーのテスト範囲をＰ〜Ｐ＋１０ｍＷ、パルス幅のテスト範囲をＷ〜Ｗ＋０．４Ｔとする。
【０１５９】
（３）記録メディアが基準メディアより高感度であった場合
記録メディアの最適値が基準メディアの最適値に対して、より少ない熱量が適すると判断し、より低パワー、狭パルス幅側にテスト領域をシフトさせる。例えば、基準の記録条件がパワーＰ、パルス幅Ｗであったとすると、パワーのテスト範囲をＰ−１０ｍＷ〜Ｐ、パルス幅のテスト範囲をＷ−０．４Ｔ〜Ｗとする。
【０１６０】
即ち、上述の例では、パワーＰおよびパルス幅Ｗを中心として、パワーレンジが１０ｍＷ、パルスレンジが０．４の面で構成される領域を記録特性に応じてシフトさせることで、より適した記録条件を得ようとするものである。尚、このテスト領域の決定は、前述の図１４を用いた８つのパターニングに基づいて行っても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１６１】
本発明によれば、ドライブとメディアの組み合わせに応じて、より適した記録条件が設定されるため、従来手法では記録できなかった組み合わせへの対応が可能になる。その結果、高速記録や高密記録等の記録環境が厳しい記録システムへの適用が期待される。
【図面の簡単な説明】
【０１６２】
【図１】本発明に係る光情報記録媒体および光情報記録装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るドライブが実行する一連の手順を示すフローチャートである。
【図３】図２に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。
【図４】図３に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図５】図３に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図６】ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。
【図７】数台のドライブで求めた閾値の平均を他のドライブの閾値として設定する場合の例を示す概念図である。
【図８】図２のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。
【図９】図２のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１０】図２のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１１】図２のステップＳ２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１２】図２のステップＳ２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１３】図２のステップＳ２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１４】図２のステップＳ２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。
【図１５】図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。
【図１６】図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。
【図１７】図２のステップＳ２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。
【図１８】図２に示したステップＳ２４のテスト記録で使用するパルスパターンの例を示す概念図である。
【図１９】、図２のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。
【図２０】、図２のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。
【図２１】閾値を超える位置までをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２２】図２１の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２３】閾値近傍の２点間をパワーレンジとする例を示した概念図である。
【図２４】パワーレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。
【図２５】図２４の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２６】閾値を超える位置までパルス幅を変更し、この変更範囲をテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２７】図２６の工程に加えてパルスレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２８】パルスレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。
【図２９】図２１の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図３０】図２６の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【符号の説明】
【０１６３】
１０…記録パルス、１２…先頭パルス、１４…後端パルス、１６…メディア、１８…基準メディア、２０…ドライブ、３０…ピックアップ、３２…サーボ検出部、３４…ＲＦ検出部、３６…ＬＤコントローラ、３８…メモリ、４０…トラッキング制御部、４２…フォーカス制御部、１００…テスト領域、１０２…再生特性、１０４…記録条件、１０６…近似曲線、１０８…基準条件
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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