(57)【要約】    【課題】再生又は記録動作においてエラーが発生した場合のリトライによる再生記録条件から最適な条件を見出して次の記録再生条件に反映させて安定した記録再生を行う。    【解決手段】  リードリトライ処理部６８は、媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行う上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておく。再生条件変更部７０は、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する。    【選択図】        図１
2005116016.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体のデータを再生する光学的記憶装置に於いて、
媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行うリードリトライ処理部と、
上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する再生条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記再生条件変更部は、前記リードリトライ処理部によるリトライ再生中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項３】
レーザ光によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、
前記光記憶媒体にデータを記録する際に、記録が正常に行われなかった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行うライトリトライ処理部と、
上位からの１回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの記録条件を変更する記録条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項４】
請求項３記載の光学的記憶装置に於いて、前記レーザ光と同時に外部磁界を印加することによって光記録媒体にデータを記録する場合、前記記録条件変更部は、前記ライトリトライ処理部による記録リトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項５】
レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、
媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度ベリファイを行うベリファイリトライ処理部と、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトのベリファイ条件を変更するベリファイ条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を用いて情報の記録と再生を行う光学的記憶装置及び光記憶媒体の記録再生方法及び光記憶媒体の記録方法に関し、特にビーム径よりも小さい密度でデータを記録再生するMSR媒体を含む光記憶媒体の記録再生動作においてエラーが発生した場合のリトライ動作から記録再生条件を最適化する光学的記憶装置及び光記憶媒体の記録再生方法及び光記憶媒体の記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光学的記録再生装置でホストからのリードコマンドを実行する処理にあっては、１回のリードコマンドで複数セクタを処理して正常終了した際に、終了時のリトライ設定を学習してデフォルト条件を変更している。この場合、最後のセクタを処理した時のリトライ設定が学習の対象となっている。
【０００３】
すなわちリードコマンド終了後にリード学習が行われ、最後の成功時のモードによりカウンタを制御し、再生パワー、再生磁界の学習を行い、再生条件の最適化を行っている。
【０００４】
図１４及び図１５は従来のリードコマンド処理のフローチャートであり、次の処理手順からなる。
【０００５】
ステップＳ１：ホストから受領したリードコマンドを解読してリード動作を実行する。
【０００６】
ステップＳ２：リード動作の失敗の有無をチェックし、失敗であればステップＳ３に進み、そうでなければステップＳ６に進む。
【０００７】
ステップＳ３：リードリトライ回数が規定回数を超えないかチェックする。超えなければステップＳ４に進み、超えればステップＳ５に進む。
【０００８】
ステップＳ４：リードリトライ回数を更新し、リード条件を変更してステップＳ１のリード実行に戻ってリトライリードを行わせる。リード条件の変更は、リードパワーのデフォルト値に順次増加する正負のオフセットを交互に加算して変更し、それでも成功しない場合は、再生磁界のデフォルト値に順次増加する正負のオフセットを交互に加算して変更する。
【０００９】
ステップＳ５：規定リトライ回数を超えてリトライアウトとなった場合であり、欠陥セクタ動作として上位にエラー報告を行う。
【００１０】
ステップＳ６：リトライに成功した場合であり、最後に成功したリトライモードがリードパワーを変える内容かどうかチェックする。リードパワーを変える内容であればステップＳ７に進み、そうでなければ図１５のステップＳ１３に進む。
【００１１】
ステップＳ７：リトライ成功時のリードパワーの設定がパワーアップかどうかチェックする。パワーアップであればステップＳ８に進み、そうでなければステップＳ９に進む。
【００１２】
ステップＳ８：再生パワー学習用のカウンタを更新する。
【００１３】
ステップＳ９：リトライ成功時のリードパワーの設定がパワーダウンかどうかチェックする。パワーダウンであればステップＳ１０に進み、そうでなければステップＳ１１に進む。
【００１４】
ステップＳ１０：再生パワー学習用のカウンタを更新する。
【００１５】
ステップＳ１１：カウンタが閾値を超えたかどうかチェックする。超えていればステップＳ１２に進み、超えていなければ処理を終了する。
【００１６】
ステップＳ１２：カウンタが閾値を超えた場合であり、最後のリトライ処理の再生条件となるリードパワーを学習してデフォルト又は前回までの再生条件を学習により決定された最適条件に変更する。例えば最後のリトライ処理の再生条件がリードパワーのアップであれば、デフォルトのリードパワーを所定値だけ増加させる。
【００１７】
ステップＳ１３：最後に成功したリトライモードの再生磁界が設定を変える内容かどうかチェックする。再生磁界が設定を変える内容であればステップＳ１４に進み、そうでなければ処理を終了する。
【００１８】
ステップＳ１４：リトライ成功時の再生磁界設定がアップかどうかチェックする。アップであればステップＳ１５に進み、そうでなければステップＳ１６に進む。
【００１９】
ステップＳ１５：再生磁界学習用のカウンタを更新する。
【００２０】
ステップＳ１６：リトライ成功時の再生磁界設定がダウンかどうかチェックする。ダウンであればステップＳ１７に進み、そうでなければステップＳ１８に進む。
【００２１】
ステップＳ１７：再生磁界学習用のカウンタを更新する。
【００２２】
ステップＳ１８：カウンタが閾値を超えたかどうかチェックする。超えていればステップＳ１９に進み、超えていなければ処理を終了する。
【００２３】
ステップＳ１９：カウンタが閾値を超えた場合であり、最後のリトライ処理の再生条件となる再生磁界を学習してデフォルト又は前回までの再生条件を学習により決定された最適条件に変更する。例えば最後のリトライ処理の再生条件が再生磁界のダウンであれば、デフォルトの再生磁界を所定値だけ減少させる。
【００２４】
一方、従来の光学的記録再生装置でホストからのライトコマンドを実行する処理にあっては、１回のライトコマンドに対する処理としてイレーズ、ライト及びベリファイリードを実行しており、ライト実行またはベリファイリード実行で正常に動作が終了した場合、ライトコマンドの実行終了時点で、ライトコマンドにおける学習は書き込みパワーの学習と、ライトベリファイでのリード学習(再生パワー、再生磁界の学習)を行っている。
【００２５】
なお、ライトベリファイでのリード学習と、図１４のリードコマンドでのリード学習では、学習するパラメータは同じ再生パワーと再生磁界の学習であるが、学習が実行されるタイミングが異なる。
【００２６】
図１６は従来のライトコマンド処理のフローチャートであり、次の処理手順からなる。
【００２７】
ステップＳ１：ホストから発行されたライトコマンドに基づき、書き込み対象セクタのイレーズ動作を実行する。
【００２８】
ステップＳ２：ライトコマンドに基づきイレーズの済んだ対象セクタに対しライト動作を実行する。
【００２９】
ステップＳ３：ライト動作の済んだ対象セクタからデータを再生して検証するベリファイ動作を実行する。
【００３０】
ステップＳ４：ベリファイ失敗セクタの有無をチェックし、失敗セクタがあればステップＳ５に進み、そうでなればステップＳ９に進む。
【００３１】
ステップＳ５：ベリファイリトライが規定回数に達してリトライアウトか否かチェックする。リトライアウトでなればステップＳ８に進み、リトライアウトであればステップＳ６に進む。
【００３２】
ステップＳ６：ライトリトライが規定回数に達してリトライアウトか否かチェックする。リトライアウトでなればステップＳ１１に進み、リトライアウトであればステップＳ７に進む。
【００３３】
ステップＳ７：ベリファイリトライ及びライトリトライが共にリトライアウトとなった場合であり、欠陥セクタと判断して交代処理を行い、処理を終了する。
【００３４】
ステップＳ８：ベリファイリトライがリトライアウトとならない場合であり、ベリファイ条件を変更してステップＳ３に戻って再度ベリファイを実行する。
【００３５】
ステップＳ９：ベリファイリトライに成功した場合あり、最後のベリファイリトライ処理の再生条件となる再生パワーと再生磁界を学習してデフォルト又は前回までの再生条件を学習により決定された最適条件に変更する。
【００３６】
ステップＳ１０：ライトリトライに成功した場合あり、最後のライトリトライ処理の再生条件となる書き込みパワーと学習してデフォルト又は前回までの記録条件を学習により決定された最適条件に変更する。
【００３７】
ステップＳ１１：ライトベリファイがリトライアウトとならない場合であり、ライト条件を変更してステップＳ１に戻って再度イレーズから実行する。
【００３８】
ここで、図１６のステップＳ９のリード学習処理の詳細は、タイミングが異なるだけで、処理手順は図１４及び図１５のリードコマンド処理のフローチャートと同じになる。
【００３９】
即ち、ライトベリファイにおけるリード学習処理は、ライトコマンドに基づき複数セクタを処理して正常終了した際に、終了時のリトライ設定を学習してデフォルト条件を変更している。この場合、最後のセクタを処理した時のリトライ設定が学習の対象となっている。
【００４０】
すなわちライトコマンド処理の終了後にリード学習が行われ、最後の成功時のモードによりカウンタを制御し、再生パワー、再生磁界の学習を行い、ライトベリファイでの再生条件の最適化を行っている。
【００４１】
図１７は図１６のライトコマンドにおけるステップＳ１０のライト学習処理のフローチャートであり、次の処理手順となる。
【００４２】
ステップＳ１：最後に成功したライトリトライモードのライトパワーの設定を変える内容かどうかチェックし、設定を変える内容であればステップＳ２に進み、そうでなければ処理を終了する。
【００４３】
ステップＳ２：ライトリトライ成功時のライトパワーの設定がパワーアップか否かチェックする。パワーアップであればステップＳ３に進み、そうでなければステップＳ４に進む。
【００４４】
ステップＳ３：記録パワー学習用のカウンタを更新する。
【００４５】
ステップＳ４：ライトリトライ成功時のライトパワーの設定がパワーダウンか否かチェックする。パワーダウンであればステップＳ５に進み、そうでなければステップＳ６に進む。
【００４６】
ステップＳ５：記録パワー学習用のカウンタを更新する。
【００４７】
ステップＳ６：カウンタが閾値を超えたか否かチェックし、超えていればステップＳ７に進み、超えていなければ処理を終了する。
【００４８】
ステップＳ７：最後のライトリトライ処理の書き込み条件となる書き込みパワーを学習してデフォルト又は前回までの記録条件を学習により決定された最適条件に変更する。例えば最後のリトライ処理の記録条件が書き込みパワーのアップであれば、デフォルトの書き込みパワーを所定値だけ増加させる。
【００４９】
【特許文献１】特開２０００−１８２２９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００５０】
しかしながら、このような従来の光学的記憶装置にあっては、再生においてリトライが発生した際に、予め設定されたレーザ光強度や再生磁界強度の各段階設定を順番に実施し、1回のリードコマンドで複数セクタを処理して正常終了した際に、終了時のリトライ設定を学習してデフォルト条件を変更していたため、最後のセクタを処理した時のリトライ設定が学習の対象となり、このため1回のコマンドにおいて大多数のセクタを処理した時のリトライ条件と最後のセクタを処理した時のリトライ条件が必ずしも一致しない時が発生し、全セクタから見れば、ずれた学習を行うことがあるという問題があった。
【００５１】
この学習に関するタイミングは記録時でも同様であり、1回のライトコマンドにおいて複数セクタを処理した時に、リトライが生じた場合には最後のセクタを処理した、記録条件及びベリファイ条件が学習の対象となって、1回のコマンドから見ればずれた学習を行うことがあるという問題があった。
【００５２】
本発明は、再生又は記録動作においてエラーが発生した場合のリトライによる再生記録条件から最適な条件を見出して次の記録再生条件に反映させて安定した記録再生を行う光学的記憶装置、光記憶媒体の再生方法及び光記憶媒体の記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００５３】
図１は本発明の原理説明図である。
【００５４】
（リードリトライ）
本発明は、レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体のデータを再生する光学的記憶装置に於いて、媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行うリードリトライ処理部６８と、上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する再生条件変更部７０とを備えたことを特徴とする。
【００５５】
ここで再生条件変更部７０は、リードリトライ処理部６８による再生リトライ中に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更する。
【００５６】
また再生条件変更部７０は、１コマンドの再生が終了した時に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更するようにしても良い。
【００５７】
（ライトリトライ）
本発明は、レーザ光によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、光記憶媒体にデータを記録する際に、記録が正常に行われなかった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行うライトリトライ処理部７８と、上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの記録条件を変更する書込条件変更部８０とを備えたことを特徴とする。
【００５８】
ここで、レーザ光と同時に外部磁界を印加することによって光記録媒体にデータを記録する場合、書込条件変更部８０は、ライトリトライ処理部７８による記録リトライ中に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更する。
【００５９】
また書込条件変更部８０は、１コマンドの記録が終了した時に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更するようにしても良い。
【００６０】
（ベリファイリトライ）
本発明は、レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度ベリファイを行うベリファイリトライ処理部８４と、上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトのベリファイ条件を変更するベリファイ条件変更部８６とを備えたことを特徴とする置。
【００６１】
ここで、ベリファイ条件変更部８６は、ベリファイリトライ処理部８４によりベリファイリトライ中に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更する。
【００６２】
またベリファイ条件変更部８６は、１コマンドのベリファイが終了した時に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更するようにしても良い。
【００６３】
（方法）
本発明は、更に、光記憶媒体の再生方法及び記録方法を提供する。
【００６４】
本発明は、レーザ光と外部印加磁界によってデータを再生する光記憶媒体の再生方法に於いて、
媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行うリードリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する再生条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする。
【００６５】
ここで再生条件変更ステップは、リードリトライ処理ステップにおける再生リトライ中に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更する。
【００６６】
また再生条件変更ステップは、１コマンドの再生が終了した時に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更するようにしても良い。
【００６７】
また本発明は、レーザ光によってデータを記録する光記憶媒体の記録方法に於いて、
光記憶媒体にデータを記録する際に、記録が正常に行われなかった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行うライトリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの記録条件を変更する記録条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする。
【００６８】
ここで、レーザ光と同時に外部磁界を印加することによって光記録媒体にデータを記録する場合、記録条件変更ステップは、ライトリトライ処理ステップによる記録リトライ中に、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更する。
【００６９】
また記録条件変更ステップは、１コマンドの記録が終了した時に、係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更するようにしても良い。
【００７０】
更に、本発明は、レーザ光と外部印加磁界によってデータを記録する光記憶媒体の記録方法に於いて、
媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際、ベリファイが正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度ベリファイを行うベリファイリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトのベリファイ条件を変更するベリファイ条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする。
【００７１】
ここで、ベリファイ条件変更ステップは、ベリファイリトライ処理ステップによるベリファイリトライ中に、係数とカウントしたベリファイ可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更する。
【００７２】
またベリファイ条件変更ステップは、１コマンドの再生が終了した時に、係数とカウントしたベリファイ可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更するようにしても良い。
【発明の効果】
【００７３】
本発明によれば、再生及び記録時に生じるリトライ動作から、成功時の設定を統計情報として保存すると共に、リトライ処理の途中若しくは１コマンドの処理が終了した時に、各リトライ条件で処理に成功したセクタ数にリトライ条件に応じた所定の係数を乗算した総和が閾値を超えた場合の学習処理により、処理したセクタ全体の記録もしくは再生に最適な条件、強いては記憶媒体全体の記録もしくは再生に最適な条件を見出すことができ、この条件をもって次のコマンド時のデフォルト条件に反映させることで、安定した記録及び再生動作を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００７４】
図２は、本発明の光学的記憶装置としての光ディスクドライブのセクタ図であり、光磁気記憶媒体として光磁気ディスク（ＭＯ）カートリッジを例にとっている。
【００７５】
光ディスクドライブは、媒体のランド、ランド・グルーブ又はグルーブを利用した記録再生が可能なドライブであり、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成される。コントローラ１０には全体的な制御を行うファームウェアとしてのＭＰＵ１４、ホストとの間のやり取りを行うインタフェースコントローラ１６、媒体のリード、ライトに必要なフォーマッタやＥＣＣ機能を備えた光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１８及びバッファメモリ２０を備える。
【００７６】
光ディスクコントローラ１８に対しては、ライト系統としてエンコーダ２２が設けられ、また光ディスクコントローラ１８に対するリード系統としてディテクタ３２、ヘッドアンプ３４、リードＬＳＩ回路２８、デコーダ２６が設けられる。更にレーザダイオード制御回路２４、レーザダイオードユニット３０が設けられる。
【００７７】
ディテクタ３２は光磁気ディスクからの戻り光を受光し、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号とＭＯ信号をリードＬＳＩ回路２８に出力する。リードＬＳＩ回路２８は入力したＩＤ信号及びＭＯ信号からリードクロックとリードデータを作成し、デコーダ２６に出力する。ＭＰＵ１４に対しては温度センサ３６で検出した装置内の環境温度が入力され、環境温度に基づきレーザダイオードユニット３０における発光パワーを最適化する。
【００７８】
更にＭＰＵ１４はドライバ３８を介してスピンドルモータ４０を制御し、またドライバ４２を介して電磁石４４を制御する。電磁石４４はＭＯカートリッジを使用した記録及び消去時に外部磁界を供給し、また１．３ＧＢや２．３ＧＢのＭＯカートリッジにおける超解像光磁気媒体（ＭＳＲ媒体）の場合には再生時にも外部磁界を供給する。
【００７９】
ＤＳＰ１５はサーボエラー信号に基づいてヘッドアクチュエータに搭載した対物レンズを光磁気ディスクに対しての目標位置に位置付けるサーボ制御を行う。このサーボ制御は、対物レンズを媒体の目標トラック位置に位置付けるトラック制御と、対物レンズを媒体に対し合焦位置に制御するフォーカス制御の２つの機能を持つ。
【００８０】
このサーボ制御に対応してフォトディテクタ４６、フォーカスエラー信号検出回路４８、トラックエラー信号検出回路５０が設けられる。フォーカスエラー信号検出回路４８は、例えばフォーカス光学系としてナイフエッジ法によってフォーカスエラー信号を作成する。
【００８１】
ＤＳＰ１５は、フォーカス制御についてはドライバ５４によりレンズアクチュエータ５５を駆動し、フォーカス引込み制御によりフォーカスサーボをオンして対物レンズを光軸方向の合焦位置に位置決めする。またトラック制御についてはドライバ５８によりＶＣＭを用いたキャリッジアクチュエータ６０を駆動し、対物レンズを媒体上の目標トラックセンタに位置付ける。
【００８２】
図３は、図２の光学的記憶装置におけるコマンド処理機能のセクタ図である。図３において、ファームウェアとして機能するＭＰＵ１４には、プログラム制御により実現されるリードコマンド処理部６２とライトコマンド処理部６４が設けられている。
【００８３】
リードコマンド処理部６２には、リード実行部６６、リードリトライ処理部６８及び再生条件変更部７０が設けられている。リードコマンド処理部６２は、リード動作の際に、ドライバ４２を介して電磁石４４により外部磁界の強さを制御すると共に、レーザダイオード制御回路２４に設けているリードパワー制御部８８を介してレーザダイオードユニット３０からのレーザ光の強さを制御する。
【００８４】
ライトコマンド処理部６４には、イレーズ実行部７１、ライト処理部７２及びベリファイ処理部７４が設けられている。ライト処理部７２には、ライト実行部７６、ライトリトライ処理部７８及び書込条件変更部８０の機能が設けられる。
【００８５】
またベリファイ処理部７４には、ベリファイ実行部８２、ベリファイリトライ処理部８４及びベリファイ条件変更部８６の機能が設けられる。
【００８６】
ライトコマンド処理部６４は、レーザダイオード制御回路２４に設けているリードパワー制御部８８、イレーズパワー制御部９０及びライトパワー制御部９２のそれぞれにより、イレーズ時、ライト時及びベリファイリード時に必要なパワーとなるように、レーザダイオードユニット３０を制御する。
【００８７】
リードコマンド処理部６２に設けたリード実行部６６は、上位のホストからのリードコマンドを解読し、光記憶媒体の特定位置の１又は複数のセクタに対するリード動作を実行する。
【００８８】
リードリトライ処理部６８は、リード実行部６６によりデータを再生する際に、再生が正常に行われずにエラーが生じた時、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を各々、予め用意された段階に変えて再度、再生を行う。また再生条件変更部７０は、ホストからの１回のリードコマンドにおける再生セクタ数（「ブロック数」ともいう）を覚えておき、リトライが発生したときには、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階ごとにカウントし、予め各段階に係数を設けておき、この係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和からデフォルトの再生条件を変更する。
【００８９】
この再生条件変更部７０の具体的処理としては、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまで又は１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出して、デフォルトの再生条件として変更する。
【００９０】
ライトコマンド処理部６４は、ホストからライトコマンド及びデータを受けた際に、書き込み先となる光記憶媒体の所定の１又は複数のセクタを対象に、まずイレーズ実行部７１を動作してイレーズ動作を行い、次にライト処理部７２を動作してデータの書き込み動作を行い、最後にベリファイ処理部７４を動作して書き込んだデータを読み出して照合するベリファイ動作を行う。
【００９１】
このうち、ライト処理部７２に設けたライトリトライ処理部７８は、光記憶媒体にデータを記録する際に記録が正常に行われずにエラーとなった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行う。
【００９２】
また書込条件変更部８０は、ホストからの１回のライトコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階ごとにカウントし、予め各段階ごとに係数を設けておき、この係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和からデフォルトの記録条件を変更する。
【００９３】
この書込条件変更部８０の具体的処理としては、係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまで又は１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出して、デフォルトの記録条件として変更する。
【００９４】
ベリファイ処理部７４のベリファイリトライ処理部８４は、ライト処理部７２により光磁気媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際に、ベリファイが正常に行われずにエラーとなった時に、レーザ光の強度と再生磁界の強度を個々に、予め用意された段階で変えて、再度、ベリファイを行う。
【００９５】
ベリファイ条件変更部８６は、ホストからの１回のライトコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階ごとにカウントし、予め各段階に係数を設けておき、この係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和からデフォルトのベリファイ条件を変更する。
【００９６】
このベリファイ条件変更部８６の具体例としては、係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまで又は１コマンド中に処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出して、デフォルトのベリファイ条件として変更する。
【００９７】
なお、ベリファイ処理部７４におけるベリファイ実行部８２、ベリファイリトライ処理部８４及びベリファイ条件変更部８６のそれぞれの機能は、リードコマンド処理部６２に設けているリード実行部６６、リードリトライ処理部６８及び再生条件変更部７０と実質的に同じ処理機能を持ち、実行されるコマンドの種類とそのタイミングが異なるだけである。
【００９８】
従って、実質的には、リードコマンド処理部６２の機能とベリファイ処理部７４の機能は同じプログラムとし、コマンドに対する実行タイミングだけを変えることになる。
【００９９】
図４は、本発明によるリードコマンド処理のフローチャートである。本発明のリードコマンド処理にあっては、リード動作においてリトライが発生した時のリード学習処理の実行を、従来のようにリードコマンド終了後ではなく、リードパワーもしくは再生磁界の設定を変えるリトライモードの切替えごとに行うようにし、このリトライモードごとに係数を設定し、それぞれのモードでの成功セクタ数と係数によりリード学習を行う。このため本発明のリードコマンド処理にあっては、リトライモードごとに成功セクタ数と処理セクタ数を管理するようにしている。
【０１００】
このようなリードコマンド処理における本発明のリード学習処理の動作条件は次のようになる。
（１）リトライモードごとに係数を設定する。
（２）リトライモードごとの再生パワー及び再生磁界について、それぞれに応じた係数と成功セクタ数を乗算する。
（３）リトライモードごとの乗算した値の合計が閾値を超えていた場合は学習を行い、デフォルト値を更新する。
【０１０１】
リード学習の動作例として１０セクタのリード動作を例に取ると、次のようになる。リトライモードでのリトライ内容と成功セクタ数及び処理セクタ数が、例えば図５のデータテーブルのようになったとする。ここで、リードリトライにおけるモードは、例えば次の
ように設定している。
【０１０２】
モード０：（デフォルトリードパワー）
モード１：（デフォルトリードパワー）＋（オフセット）
モード２：（デフォルトリードパワー）−（オフセット）
モード３：（デフォルトリードパワー）＋２×（オフセット）
モード４：（デフォルトリードパワー）−２×（オフセット）
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
なお、図５のデータテーブルにおける係数は、温度などの条件によって更に細かく設定することも可能である。
【０１０３】
図５のリードリトライのモードごとに生成されたデータテーブルについて学習のカウンタ値を求めると、図６（Ａ）のデータテーブルのようになる。図６（Ａ）のデータテーブルにおいて、モード０の成功セクタ数は０であり、これに係数−１を乗じた積は０となり、このときのカウンタ値は０となる。
【０１０４】
次にモード１にあっては成功セクタ数は３であり、係数は＋１０００であることから、その積は＋３０００となり、これにモード０のカウンタ値を加算すると＋３０００となる。更にモード２にあっては、成功セクタ数は７で、係数は−１０００であることから、その積は−７０００となり、これにモード１までのカウンタ値＋３０００を加算すると−４０００となる。
【０１０５】
ここでリード学習の実行を判定する閾値として±５０００が設定されていたとすると、この図５，図６の例で得られたカウンタ値−４０００は閾値±５０００を超えていないため、この場合のリードコマンドの終了時のリトライモード２におけるカウンタ値−４０００が、磁界のリードコマンドの処理の際に再生パワーを変化させてリトライした場合の学習のカウンタ初期値として繰り越される。一方、カウンタ値が閾値±５０００を超えていた場合には、再生パワーのデフォルト値を更新し、カウンタ値は０にクリアする。
【０１０６】
ここで、ホストから同一セクタに対し同じリードコマンドが発行されたとすると、再生条件に変化はないことから、１回目と同様にエラーとなり、図５と同じリトライ動作が行われる。この２回目については、カウンタ値は図６（Ｂ）のようになる。
【０１０７】
即ち、カウンタの初期値は図６（Ａ）の前回の処理で繰り越された−４０００となっており、モード０の成功セクタ数は０であり、これに係数−１を乗じた積は０となり、このときのカウンタ値は−４０００となる。
【０１０８】
次にモード１にあっては成功セクタ数は３であり、係数は＋１０００であることから、その積は＋３０００となり、これにモード０のカウンタ値を加算すると−１０００となる。
【０１０９】
更にモード２にあっては、成功セクタ数は７で、係数は−１０００であることから、その積は−７０００となり、これにモード１までのカウンタ値−１０００を加算すると−８０００となり、閾値±５０００を超え、デフォルト条件を変更する。
【０１１０】
デフォルト条件の変更は、例えば最終的なカウンタ値の極性が「マイナス」であることから、デフォルトリードパワーから所定値を減算した値を変更後のデフォルトリードパワーとする。これによってそれまでのリトライの履歴に基づきデフォルト条件をより最適な条件に近づけるようにする。
【０１１１】
一方、もし最終的なカウンタ値の極性が「プラス」であった場合には、デフォルトリードパワーに所定値を加算した値を変更後のデフォルトリードパワーとする。なお、デフォルト条件の変更は、前述のようにカウンタ値の極性に応じて所定値を加算又は減算する以外に、プラスであれば１以上の係数を、マイナスであれば１未満の係数を乗算して変更してもよい。更に、リトライリードの履歴の中から最も成功率の高かったリトライ内容、この例ではモード２のリードパワーにデフォルト条件を変更しても良い。
【０１１２】
このようなリトライ結果に基づくデフォルト条件の変更は、再生磁界についても基本的に同じとなる。
【０１１３】
そこでリードコマンドにおけるリード学習動作を内容とする図４のリードコマンド処理の処理手順を説明すると次のようになる。
【０１１４】
ステップＳ１：ホストから受領したリードコマンドに基づいて、光記憶媒体の指定されたトラックの１又は複数のセクタのリード動作を実行する。
【０１１５】
ステップＳ２：リトライモードがリードパワーの設定を変える内容か否かチェックする。設定を変える内容であればステップＳ３に進み、そうでなければステップＳ７に進む。
【０１１６】
ステップＳ３：設定を変える前のリトライモードでの成功セクタ数の格納と、リードパワーに応じた係数を算出する。
【０１１７】
ステップＳ４：リードパワー学習のカウント値を計算する。
【０１１８】
ステップＳ５：カウント値が閾値（±５０００）を越えたか否かチェックする。超えた場合にはステップＳ６に進み、超えない場合にはステップＳ１２に進む。
【０１１９】
ステップＳ６：リードパワーの学習を実行し、処理済みの全セクタを通じて最適な再生条件を算出し、これをデフォルトの再生条件として変更してステップＳ１２に進む。
【０１２０】
ステップＳ７：ステップＳ２でリードパワーのリトライモードに変更がなかった場合であり、この場合には再生磁界のリトライモードの設定を変える内容か否かチェックする。設定を変える内容であればステップＳ８に進み、そうでなければステップＳ１２に進む。
【０１２１】
ステップＳ８：設定を変える前の再生磁界のリトライモードにおける成功セクタ数の格納と、再生磁界に応じた係数を算出する。
【０１２２】
ステップＳ９：再生磁界学習のカウント値を計算する。
【０１２３】
ステップＳ１０：カウント値が閾値（±５０００）を越えたか否かチェックし、超えていればステップＳ１１に進み、超えていなければステップＳ１２に進む。
【０１２４】
ステップＳ１１：再生磁界の学習を実行する。即ち、それまでに処理した全セクタを通じて最適な再生磁界に関する再生条件を算出して、デフォルトの再生条件として変更する。
【０１２５】
ステップＳ１２：全セクタのリード完了の有無をチェックし、完了していなければステップＳ１３に進み、完了していれば処理を終了する。
【０１２６】
ステップＳ１３：リードリトライが指定回数を超えないか否かチェックする。超えない場合にはステップＳ１４に進み、超えた場合にはステップＳ１５に進む。
【０１２７】
ステップＳ１４：リードリトライ回数を更新し、リード条件を変更して、ステップＳ１に戻る。
【０１２８】
ステップＳ１５：リードリトライが規定回数を超えてリトライアウトとなった場合であり、媒体欠陥によるエラーと判断して上位に対しエラー報告を実行する。
【０１２９】
図７は、本発明の光学的記憶装置によるライトコマンド処理のフローチャートである。ライトコマンド処理における学習処理は、ライトパワーの学習処理とライトベリファイ動作におけるリード学習処理（再生パワーと再生磁界の学習）の２種類がある。
【０１３０】
ライトベリファイ動作でのリード学習と図４に示したリードコマンドでのリード学習は、学習するパラメータは同じパラメータ（再生パワーと再生磁界の学習）であるが、学習が実行されるタイミングが異なる。
【０１３１】
本発明のライトコマンド処理にあっては、図１６に示した従来のライトコマンド処理のように、ベリファイリード学習の実行をコマンド終了後ではなく、ライトリトライモードごとのベリファイリトライごとに行い、またライト学習処理についてはベリファイリトライのリトライアウトごとに行うようにしている。そこで図７のライトコマンド処理の処理手順を説明すると次のようになる。
【０１３２】
ステップＳ１：ホストから受信されたライトコマンドに基づき、光記憶媒体の書き込み対象セクタのイレーズ動作を実行する。
【０１３３】
ステップＳ２：イレーズの済んだ対象セクタに対しライト動作を実行する。
【０１３４】
ステップＳ３：ライト動作の済んだ対象セクタからデータを再生して検証するベリファイ動作を実行する。
【０１３５】
ステップＳ４：リード学習処理を実行する。詳細は図８のフローチャートとなる。
【０１３６】
ステップＳ５：ベリファイ失敗セクタの有無をチェックし、失敗セクタがあればステップＳ６に進み、失敗セクタがなければ処理を終了する。
【０１３７】
ステップＳ６：ベリファイリトライが規定回数を超えてリトライアウトとなったか否かチェックする。リトライアウトであればステップＳ７に進み、そうでなければステップＳ１１に進む。
【０１３８】
ステップＳ７：ライト学習処理を実行する。詳細は図１１のフローチャートに示す。
【０１３９】
ステップＳ８：ライトリトライが規定回数を超えてリトライアウトとなったか否かチェックする。リトライアウトであればステップＳ９に進み、そうでなければステップＳ１１に進む。
【０１４０】
ステップＳ９：媒体欠陥と判断し、交替処理を実行する。
【０１４１】
ステップＳ１０：ベリファイリトライがリトライアウトとなった場合であり、ベリファイ条件を変更して、ステップＳ３に戻る。
【０１４２】
ステップＳ１１：ライトリトライがリトライアウトとなる前の状態であり、ライト条件を変更してステップＳ１に戻る。
【０１４３】
ステップＳ１２：ライト条件を変更してステップＳ１に戻る。
【０１４４】
図８は図７におけるステップＳ４のライトベリファイにおけるリード学習処理のフローチャートである。このリード学習処理にあっては、従来のようにライトコマンドの終了後ではなく、ライトリトライモードにおけるベリファイリトライごとにリード学習処理を実行している。
【０１４５】
このリード学習処理の結果、デフォルト値を更新するか否かの判定は、ライトコマンドが正常終了した時またはライトベリファイのリトライ及びライトリトライを含めて最大限のリトライを行った場合に更新する。最大限のリトライを行っても成功しないセクタについては、交替処理の対象となる。
【０１４６】
このような本発明のライトベリファイでのリード学習処理にあっては、リトライモードごとに成功セクタ数と処理セクタ数を管理する必要がある。
【０１４７】
そこで、ライトコマンド処理におけるライトベリファイでの本発明によるリード学習処理の動作内容は次のようになる。
（１）ベリファイリトライモードごとに係数を設定する。
（２）ベリファイリトライモードごとの再生パワー、再生磁界に応じた係数と成功セクタ数を乗算する。
（３）ベリファイリトライモードごとの乗算した値の合計が閾値を超えていた場合は学習を行い、デフォルト値を更新する。
【０１４８】
このリード学習処理の動作例として、例えば１０セクタのリード動作においてベリファイリトライが行われてモードごとに生成される内容は、図９のデータテーブルのようになる。なお、ベリファイリトライモードは、モード０、モード１、モード２の順に行われたとする。
【０１４９】
ここで１０セクタのライトコマンド処理がライトリトライモード２のベリファイで正常終了したとすると、図９のデータテーブルから図１０に示すデータテーブルにより学習用カウンタ値が求まる。カウンタの計算は、条件を変える内容のリトライでの積の和を計算し、条件を変えないリトライでの積の和を計算する。
【０１５０】
図１０において、２番目に実行されたモード１にあっては、成功セクタ数が３で係数が＋１０００であることから、その積は＋３０００となり、このときのカウンタ値は＋３０００である。次のモード２にあっては、成功セクタ数は７で、係数は−１０００であることから、積は−７０００となり、モード１のカウンタ値との加算によりカウンタ値は−４０００となる。
【０１５１】
最初のモード０にあっては、成功セクタ数は０で、リトライ内容は条件変更なしであることから、係数は−１であり、その積は０であり、それまでのモード２との加算によりカウンタ値は−４０００となる。ここで学習処理を判断する閾値を±５０００に設定していたとすると、この場合、カウンタ値−４０００は閾値を超えないため、カウンタ値−４０００が磁界のライトコマンドにおける再生パワーを変化させてベリファイリトライをする場合の学習処理のカウンタ初期値に繰り越される。
【０１５２】
もしカウンタ値が閾値を超えた場合には再生パワーのデフォルト値を更新し、カウンタ値は０にクリアする。
【０１５３】
再生パワーについてのデフォルト条件の変更は、例えば最終的なカウンタ値の極性が「マイナス」であれば、デフォルトリードパワーから所定値を減算した値を変更後のデフォルトリードパワーとする。一方、もし最終的なカウンタ値の極性が「プラス」であった場合には、デフォルトリードパワーに所定値を加算した値を変更後のデフォルトリードパワーとする。これによってそれまでのリトライの履歴に基づきデフォルト条件をより最適な条件に近づけるようにする。
【０１５４】
なお、デフォルト条件の変更は、前述のようにカウンタ値の極性に応じて所定値を加算又は減算する以外に、プラスであれば１以上の係数を、マイナスであれば１未満の係数を乗算して変更してもよい。更に、リトライリードの履歴の中から最も成功率の高かったリトライ内容、この例ではモード２のリードパワーにデフォルト条件を変更しても良い。
【０１５５】
このようなライトベリファイのリトライ処理におけるリード学習処理の処理手順を図８について説明すると、次のようになる。
【０１５６】
ステップＳ１：ライトベリファイのリトライモードがリードパワーの設定を変える内容か否かチェックする。設定を変える内容であればステップＳ２に進み、そうでなければステップＳ３に進む。
【０１５７】
ステップＳ２：設定を変える前のリトライモードでの成功セクタ数の格納とリードパワー設定に応じた係数を算出志手ステップＳ６に進む。
【０１５８】
ステップＳ３：ライトベリファイのリトライモードの再生磁界の設定を変える内容か否かチェックする。設定を変える内容であればステップＳ４に進み、そうでなければステップＳ５に進む。
【０１５９】
ステップＳ４：再生磁界の設定を変える前のリトライモードにおける成功セクタ数の格納と再生磁界設定に応じた係数を算出してステップＳ６に進む。
【０１６０】
ステップＳ５：リードパワー及び再生磁界のいずれについても設定を変えない場合であり、この場合には成功セクタ数の格納とノーマル設定に応じた係数を算出する。
【０１６１】
ステップＳ６：ライトコマンドで全処理セクタがライトベリファイＯＫか、もしくは失敗セクタは存在するがライトリトライ及びライトベリファイリトライを含めて最大限リトライを実行したか否かチェックする。この条件を満足すればステップＳ７に進み、そうでなければリード学習処理を終了して、図７のメインルーチンにリターンする。
【０１６２】
ステップＳ７：リードパワー学習のカウント値の計算を行う。
【０１６３】
ステップＳ８：カウンタ値が閾値（±５０００）を超えたか否かチェックする。超えていればステップＳ９に進み、そうでなければステップＳ１０に進む。
【０１６４】
ステップＳ９：リードパワーの学習を実行する。即ち、それまでに処理した全セクタを通じて最適な再生条件を算出して、デフォルトの再生条件として変更する。
【０１６５】
ステップＳ１０：再生磁界学習のカウント値を計算する。
【０１６６】
ステップＳ１１：カウント値が閾値（±５０００）を超えたか否かチェックする。閾値を超えていた場合にはステップＳ１２に進み、閾値を超えていない場合には処理を終了して、図７のメインルーチンにリターンする。
【０１６７】
ステップＳ１２：再生磁界の学習を実行する。即ち、それまでに処理した全セクタを通じて最適な再生磁界の条件を算出して、デフォルトの再生条件として変更する。
【０１６８】
図１１は、図７におけるステップＳ７のライト学習処理のフローチャートである。このライト学習処理についても、従来のライトコマンド実行処理のように、ライトコマンドの終了後ではなく、ライトリトライモードなどのベリファイシーケンス終了時に行うようにし、リトライモードごとに係数を設定し、それぞれのモードでの成功セクタ数と係数により書き込みパワーの学習を行う。
【０１６９】
この学習の結果、デフォルト値を更新するか否かの判定は、ライトコマンドが正常終了した時もしくはライトベリファイのリトライ及びライトリトライを含めて最大限リトライを行った場合に行う。最大限リトライを行っても成功しないセクタは、交替処理の対象となる。このようなライト学習処理を行うためには、リトライモードごとに成功セクタ数と処理セクタ数を管理する必要がある。
【０１７０】
そこで、ライトコマンドにおける本発明のライトパワー学習処理の動作内容は次のようになる。
（１）ライトリトライモードごとに係数を設定する。
（２）ライトリトライモードごとの書き込みパワーに応じた係数と成功セクタ数を乗算する。
（３）ライトリトライモードごとの乗算した値の合計が閾値を超えていた場合は学習を行い、デフォルト値を更新する。
【０１７１】
このライトパワー学習の動作例として１０セクタのライト動作を例に取ると、リトライモードでのリトライ内容と成功セクタ数及び処理セクタ数は、例えば図１２のデータテーブルのようになる。なお、ライトリトライモードは、モード０、モード１、モード２の順に行われたとする。
【０１７２】
この図１２のデータテーブルについても、係数は温度などの条件によって更に細かく設定することも可能である。
【０１７３】
このような図１２のデータテーブルに基づくライトリトライでの学習用のカウンタ値の求め方は、次の内容を持つ。
（１）条件を変えるライトリトライで成功したセクタ数と係数を乗算する。
（２）前記（１）の値の合計を計算する。
（３）条件を変えないライトで成功したセクタ数と係数を乗算する。
（４）前記（２）の値の極性を判定し、極性に応じて次のように処理する。
（４ａ）０以下の場合：（２）の値に（３）の値を加算し、加算した結果、０以上の場合は０クリップする。
（４ｂ）０より大きい場合：（２）の値に（３）の値を加算する。加算した結果、０未満の場合は０クリップする。
【０１７４】
そこで図１２のデータテーブルにつき、前記（１）〜（４）の手順に従って学習用のカウンタ値を求めると、図１３のデータテーブルのようになる。
【０１７５】
図１３について具体的に説明すると次のようになる。まず、条件を変えるライトリトライモード１，２で成功したセクタ数３，７と、係数＋１０００，−１０００を乗算して＋３０００，−７０００を求める。（１）の値の合計として−４０００を計算する。
【０１７６】
次に、条件を変えないライトリトライモード０で成功したセクタ数０と係数−１を乗算し、積として０を求める。続いて、（２）の値の極性を判定すると０以下であることから、前記（ａ）に従い、（２）で求めた−４０００に（３）で求めた０を加算して−４０００を求める。加算した結果、−４０００は０以下であることから、０クリップせず、そのままカウンタ値は−４０００とする。
【０１７７】
このようなライト学習処理について、図１１のフローチャートを算出して、その処理手順を説明すると、次のようになる。
【０１７８】
ステップＳ１：成功セクタ数の格納とリードパワー設定に応じた係数を算出する。
【０１７９】
ステップＳ２：ライトコマンドでの全処理セクタがライトベリファイＯＫか、もしくは失敗セクタは存在するがライトリトライ及びライトベリファイリトライを含めて最大限リトライを実行したか否かチェックする。この条件を満足していればステップＳ３に進み、そうでなければ図７のメインルーチンにリターンする。
【０１８０】
ステップＳ３：ライトパワー学習のカウント値を計算する。
【０１８１】
ステップＳ４：カウンタが閾値（±５０００）を越えたか否かチェックする。閾値を超えていればステップＳ５に進み、超えていなければ図７のメインルーチンにリターンする。
【０１８２】
ステップＳ５：ライトパワー学習を実行する。即ち、それまでに処理した全セクタを通じて最適な書込条件を算出して、デフォルトの書込条件として変更する。
【０１８３】
ライトパワーについてのデフォルト条件の変更は、例えば最終的なカウンタ値の極性が「マイナス」であれば、デフォルトライトパワーから所定値を減算した値を変更後のデフォルトライトドパワーとする。一方、もし最終的なカウンタ値の極性が「プラス」であった場合には、デフォルトライトパワーに所定値を加算した値を変更後のデフォルトライトパワーとする。これによってそれまでのリトライの履歴に基づきデフォルト条件をより最適な条件に近づけるようにする。
【０１８４】
なお、デフォルト条件の変更は、前述のようにカウンタ値の極性に応じて所定値を加算又は減算する以外に、プラスであれば１以上の係数を、マイナスであれば１未満の係数を乗算して変更してもよい。更に、リトライライトの履歴の中から最も成功率の高かったリトライ内容、この例ではモード２のライトパワーにデフォルト条件を変更しても良い。
【０１８５】
なお上記の実施形態にあっては、リード、ライトベリファイ、ライトの各リトライ処理において、その途中で学習カウンタの値が所定の閾値を超えた場合に、学習処理を実行してデフォルト条件を変更するようにしているが、他の実施形態として、１コマンドの終了時点で学習カウンタの値をチェックし、所定の閾値を超えた場合に学習処理を実行してデフォルト条件を変更するように１コマンド単位で行うようにしても良い。
【０１８６】
また本発明は上記の実施形態に限定されず、その目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含む。また本発明は、上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。
【０１８７】
ここで本発明の特徴を列挙すると次の付記のようになる。
（付記）
（付記１）
レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体のデータを再生する光学的記憶装置に於いて、
媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行うリードリトライ処理部と、
上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する再生条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（１）
【０１８８】
（付記２）
付記１記載の光学的記憶装置に於いて、前記再生条件変更部は、前記リードリトライ処理部によるリトライ再生中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。（２）
【０１８９】
（付記３）
付記１記載の光学的記憶装置に於いて、前記再生条件変更部は、１コマンドの再生が終了した時に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１９０】
（付記４）
レーザ光によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、
前記光記憶媒体にデータを記録する際に、記録が正常に行われなかった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行うライトリトライ処理部と、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの記録条件を変更する記録条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（３）
【０１９１】
（付記５）
付記４記載の光学的記憶装置に於いて、前記レーザ光と同時に外部磁界を印加することによって光記録媒体にデータを記録する場合、前記記録条件変更部は、前記ライトリトライ処理部による記録リトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。（４）
【０１９２】
（付記６）
付記４記載の光学的記憶装置に於いて、前記記録条件変更部は、１コマンドの記録が終了した時に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１９３】
（付記７）
レーザ光と外部印加磁界によって光記憶媒体にデータを記録する光学的記憶装置に於いて、
媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度ベリファイを行うベリファイリトライ処理部と、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトのベリファイ条件を変更するベリファイ条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（５）
【０１９４】
（付記８）
付記７記載の光学的記憶装置に於いて、前記ベリファイ条件変更部は、前記ベリファイリトライ処理部によるベリファイリトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１９５】
（付記９）
付記７記載の光学的記憶装置に於いて、前記ベリファイ条件変更部は、１コマンドのベリファイが終了した時に、前記リトライ処理部によるベリファイリトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１９６】
（付記１０）
レーザ光と外部印加磁界によってデータを再生する光記憶媒体の再生方法に於いて、
媒体からデータ再生する際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度再生を行うリードリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける再生セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの再生条件を変更する再生条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の再生方法。
【０１９７】
（付記１１）
付記１０記載の光記憶媒体の再生方法に於いて、前記再生条件変更ステップは、前記リードリトライ処理ステップにおける再生リトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の再生方法。
【０１９８】
（付記１２）
付記１０記載の光記憶媒体の再生方法に於いて、前記再生条件変更ステップは、１コマンドの再生が終了した時に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な再生条件を算出してデフォルトの再生条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の再生方法。
【０１９９】
（付記１３）
レーザ光によってデータを記録する光記憶媒体の記録方法に於いて、
前記光記憶媒体にデータを記録する際に、記録が正常に行われなかった時に、レーザ光の書き込み強度を予め用意された段階に変えて再書き込みを行うライトリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、リトライが発生した時には個々の段階で記録可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした記録可能セクタ数の積の総和から、デフォルトの記録条件を変更する記録条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０２００】
（付記１４）
付記１３記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記レーザ光と同時に外部磁界を印加することによって光記録媒体にデータを記録する場合、前記記録条件変更ステップは、前記ライトリトライ処理ステップにおける記録リトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０２０１】
（付記１５）
付記１３記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記記録条件変更ステップは、１コマンドの処理を終了した時に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適な記録条件を算出してデフォルトの記録条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０２０２】
（付記１６）
レーザ光と外部印加磁界によってデータを記録する光記憶媒体の記録方法に於いて、
媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際、再生が正常に行われなかった時に、レーザ光の強度と再生用磁界の強度を個々に予め用意された段階に変えて再度ベリファイを行うベリファイリトライ処理ステップと、
上位からの1回のコマンドにおける記録セクタ数を覚えておき、ベリファイ再生にてリトライが発生した時には、個々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階毎にカウントし、予め各段階に係数を設けておき、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和から、デフォルトのベリファイ条件を変更するベリファイ条件変更ステップ部と、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０２０３】
（付記１７）
付記１６記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記ベリファイ条件変更ステップは、前記ベリファイリトライ処理ステップにおけるベリファイリトライ中に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、それまでに処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０２０４】
（付記１８）
付記１６記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記ベリファイ条件変更ステップは、１コマンドの処理が終了した時に、前記係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和が所定の閾値を超えた場合に、１コマンド中に処理した全セクタを通して最適なベリファイ条件を算出してデフォルトのベリファイ条件として変更することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【図面の簡単な説明】
【０２０５】
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明が適用される光学式記憶装置のセクタ図
【図３】本発明によるコマンド処理機能のセクタ図
【図４】本発明によるリードコマンド処理のフローチャート
【図５】図４のリードリトライでモード毎に生成されるデータテーブルの説明図
【図６】図５のデータテーブルから学習用カウンタ値を求めるデータテーブルの説明図
【図７】本発明によるライトコマンド処理のフローチャート
【図８】図７におけるステップＳ４のリード学習処理のフローチャート
【図９】図８のベリファイリトライでモード毎に生成されるデータテーブルの説明図
【図１０】図９のデータテーブルから学習用カウンタ値を求めるデータテーブルの説明図
【図１１】図７におけるステップＳ７のライト学習処理のフローチャート
【図１２】図１１のライトリトライでモード毎に生成されるデータテーブルの説明図
【図１３】図１２のデータテーブルから学習用カウンタ値を求めるデータテーブルの説明図
【図１４】従来のリードコマンド処理のフローチャート
【図１５】図１４に続く従来のリードコマンド処理のフローチャート
【図１６】従来のライトコマンド処理のフローチャート
【図１７】図１６におけるステップＳ１０の従来のライト学習処理のフローチャート
【符号の説明】
【０２０６】
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ（ファームウェア）
１５：ＤＳＰ
１６：インターフェースコントローラ
１８：光ディスクコントローラ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４６：フォトディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５５：レンズアクチュエータ
６０：キャリッジアクチュエータ
６２：リードコマンド処理部
６４：ライトコマンド処理部
６６：リード実行部
６８：リードリトライ処理部
７０：再生条件変更部
７１：イレーズ処理部
７２：ライト処理部
７４：ベリファイ処理部
７６：ライト実行部
７８：ライトリトライ処理部
８０：書込条件変更部
８２：ベリファイ実行部
８４：ベリファイリトライ処理部
８６：ベリファイ条件変更部
８８：リードパワー制御部
９０：イレーズパワー制御部
９２：ライトパワー制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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