(57)【要約】【課題】軸受外輪の絶縁皮膜とこれに接触させる皮膜接触体との優れた接触率が得られて、絶縁軸受の絶縁抵抗値を正確に測定できる治具および方法を提供する。また、治具内に絶縁軸受を組み込むときに、外輪の絶縁皮膜や皮膜接触体に摩耗が生じることを防止する。【解決手段】絶縁軸受３０の外輪３２の絶縁皮膜３２ａに接触して抵抗計６と接続される皮膜接触体４，５を設ける。この皮膜接触体４，５は導電ゴム等の導電性高分子からなるものとする。皮膜接触体４，５は、治具本体２および蓋部材３の内面に設ける。治具本体２は２つ割りリング状のものとする。【選択図】      図３
2005017251.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する治具であって、上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触して抵抗計と接続される皮膜接触体が導電性高分子からなる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項２】
請求項１において、上記導電性高分子が導電性ゴムである絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項３】
請求項１または請求項２において、絶縁軸受の外輪を内周に嵌合させかつ上記外輪の片方の幅面に対向する鍔部を有する２つ割りのリング状の治具本体と、この治具本体に着脱可能に取付けられ上記外輪のもう片方の幅面に対向する蓋部材と、上記治具本体の内周面および鍔部の内面、並びに上記蓋部材の内面に設けられて上記外輪の絶縁皮膜に接触し上記抵抗計と接続される皮膜接触体とを有する絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項４】
請求項１または請求項２において、皮膜接触体が、絶縁軸受の外輪を内周に嵌合させかつ上記外輪の片方の幅面に接触する鍔部を有する２つ割りのリング状の治具本体と、この治具本体に着脱可能に取付けられ上記外輪のもう片方の幅面に接触する蓋部材とでなる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項５】
請求項１または請求項２において、上記皮膜接触体が、上記絶縁軸受の外輪の幅面に接触するリング状の部材である絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項６】
請求項１または請求項２において、上記皮膜接触体が、上記絶縁軸受の外輪の外径面に弾性的に被せられるリング状の部材である絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項７】
請求項１または請求項２において、上記絶縁軸受の外輪の円周方向の一部が進入可能な凹部を有する治具本体と、この治具本体の上記凹部の開口に平面的に張られて上記外輪を接触させる膜状の皮膜接触体とでなる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具。
【請求項８】
外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する絶縁抵抗測定方法であって、導電性高分子からなる皮膜接触体を上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触させ、この皮膜接触体と上記外輪の絶縁皮膜で覆われていない部分との間に抵抗計を接続して上記絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する絶縁軸受の絶縁抵抗測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、鉄道車両主電動機や発電機、汎用モータ等に使用される絶縁軸受の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定治具および測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
電動機等のように、ハウジングと軸の間で大きな電位差が生じる箇所に使用される軸受では、電食を防止するために、外輪の外径面および幅面を絶縁皮膜で覆った絶縁軸受が用いられている。絶縁皮膜には樹脂やセラミックス等が用いられる。この種の絶縁軸受として、絶縁皮膜の外層に金属膜を形成したものがある。
このような金属膜を有する絶縁軸受の絶縁性能を測定する場合は、外輪最外層の金属層と外輪母材とに、抵抗計のアース側端子とライン側端子を接続することで、最外層の金属層が電極として利用でき、外輪の絶縁皮膜全域についての絶縁抵抗値が測定される。
一方、絶縁皮膜が表面に露出した絶縁軸受では、絶縁皮膜の一部に端子を接触させただけでは、絶縁皮膜の局部的な絶縁抵抗値しか測定することができない。
全体の絶縁抵抗値を測定するには、治具として、図８，図９に示すような外輪外径面に接触させるハウジング４２、および幅面に接触させる蓋部材４３を用い、その中に組み入れた状態で測定する必要がある。従来では、測定を容易に行うために、ハウジング４２を２つ割りのものとし、１８０°位置でボルトによる締め付けを行い、側面から蓋部材４３を取り付けるようにしている。抵抗計６の両端子は、ハウジング４２と外輪母材３２ｂとに接続する。このような治具を用いると、ハウジング４２への軸受単体３０の圧入や引き抜き作業が不要となり、プレス機等を用いることなく、手作業だけで絶縁抵抗値を測定できる。なお、図８（Ａ）は、図８（Ｂ）におけるＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ矢視断面図に相当する断面図である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
絶縁皮膜が溶射加工されたセラミックスによる１層構造の絶縁軸受の場合も図８，図９のような治具が用いられることになるが、その場合、以下のような問題がある。絶縁軸受として使用する場合、絶縁被膜３２ａの表面を研磨加工によって正規寸法、粗さに仕上げているが、正規寸法、粗さに仕上げている状態であっても２つ割ハウジング４２をボルト締めする時に、ハウジング内面と絶縁被膜３２ａの接触部において微小な滑りが生じるが、ハウジング４２の金属材料に比べてセラミックス製の絶縁被膜３２ａの方が硬度が高いことから、僅かではあるがハウジング４２が摩耗する現象がみられる。この摩耗により、ハウジング４２の内径寸法が繰返し使用によって変化し、絶縁被膜３２ａとの締め代が保てなくなると、接触不良が発生し、正確な絶縁抵抗値を測定することが出来なくなる。また、摩耗粉が絶縁被膜の表面にこびり付くので、その洗浄に非常に手間取るという問題点もある。蓋部材４３の取付けにおいても、丁寧な締め付け作業をしないと、ハウジング４２の場合と同様な現象が生じる。又、上記では絶縁被膜３２ａの表面を研磨加工した時の問題点について挙げたが、実際には研磨加工前の状態でも絶縁抵抗検査を実施する場合がある。この検査は万一溶射不良などによって絶縁不良となっているものを研磨加工前に確認し、不良品を研磨加工しない様に実施するものであるが、研磨加工されていない絶縁被膜３２ａの表面は一般的に粗面であり、ハウジング４２と絶縁被膜３２ａの接触率が低くなり、精度の良い測定を行えないという問題がある。
尚、外輪の絶縁被膜３２ａが樹脂製の場合には、上記治具を用いて測定した場合に、上記の滑りが生じても、ハウジング４２と絶縁被膜３２ａの両方に摩耗が生じることは無い。これは絶縁被膜３２ａが樹脂製である為、弾性があることから微小すべりに対し、追随出来る為である。
【０００４】
この発明の目的は、軸受外輪の絶縁皮膜とこれに接触させる皮膜接触体との間の優れた接触率が得られて、絶縁軸受の絶縁抵抗値を正確に測定することのできる絶縁抵抗測定治具および絶縁抵抗測定方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この発明の絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具は、外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する治具であって、上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触して抵抗計と接続される皮膜接触体が導電性高分子からなるものとしている。上記導電性高分子は、導電性ゴム、または導電性プラスチック等である。
この構成によると、皮膜接触体が導電性高分子からなるため、皮膜接触体がその弾性変形により、絶縁皮膜の表面粗さによる凹凸に容易になじみ、凹凸に対して局部的な接触とならずに優れた接触率が得られる。そのため正確な絶縁抵抗値の測定が行える。特に、絶縁皮膜がセラミックス溶射層であり、溶射表面の状態である場合、研磨加工面と比較すれば一般的に粗面であり、皮膜接触体が金属材では接触率が低くて測定が困難があるが、このようなセラミックス溶射層からなる絶縁皮膜に対しても、導電性高分子の皮膜接触体を用いれば、高い接触率が得られて精度の良い絶縁抵抗値の測定が行える。また、皮膜接触体が弾性変形可能であるため、皮膜接触体を絶縁皮膜に押しつけるときに若干の滑りが生じたとしても、弾性変形することで摩耗が防止される。
皮膜接触体は、導電性高分子の中でも、弾性に優れた導電性ゴムが、絶縁皮膜の凹凸になじみ易いことで好ましいが、導電性プラスチックであっても、ある程度の弾性はあるため、皮膜接触体を金属材とした場合に比べて接触性が改善される。
【０００６】
この発明において、絶縁抵抗測定治具が、絶縁軸受の外輪を内周に嵌合させかつ上記外輪の片方の幅面に対向する鍔部を有する２つ割りのリング状の治具本体と、この治具本体に着脱可能に取付けられ上記外輪のもう片方の幅面に対向する蓋部材と、上記治具本体の内周面および鍔部の内面、並びに上記蓋部材の内面に設けられて上記外輪の絶縁皮膜に接触し上記抵抗計と接続される皮膜接触体とを有するものとしても良い。
この構成の場合、外輪の外径面から幅面にわたる絶縁皮膜の略全体に皮膜接触体を接触させることができて、より精度の高い測定が行える。また、治具本体が２つ割りのリング状であるため、治具への絶縁軸受の出し入れが容易である。このような２つ割りの治具本体を用いた場合に、両側の治具本体を相互に締め付けるときに、絶縁皮膜表面と治具本体の内面との間で微小滑りを生じるが、この微小滑りに対し、皮膜接触体が導電性高分子であることで、その弾性によって追随できる。そのため、治具および絶縁皮膜が共に摩耗を生じることなく、絶縁抵抗値を測定することができる。
【０００７】
この発明において、皮膜接触体が、絶縁軸受の外輪を内周に嵌合させかつ上記外輪の片方の幅面に接触する鍔部を有する２つ割りのリング状の治具本体と、この治具本体に着脱可能に取付けられ上記外輪のもう片方の幅面に接触する蓋部材とでなるものとしても良い。
この構成の場合、治具本体が皮膜接触体で構成されるため、別体の治具本体に皮膜接触体を取付けるものに比べて構成が簡単である。この構成の場合も、外輪の外径面から幅面にわたる絶縁皮膜の略全体に皮膜接触体を接触させることができて、精度の高い測定が行える。また、治具本体が２つ割りのリング状であるため、治具への絶縁軸受の出し入れが容易である。２つ割りの両側の治具本体を相互に締め付けるときに、上記と同様に絶縁皮膜表面と治具本体の内面との間で微小滑りを生じるが、この微小滑りに対し、治具本体となる皮膜接触体が導電性高分子であることで、その弾性によって追随できる。そのため、治具および絶縁皮膜が共に摩耗を生じることなく、絶縁抵抗値を測定することができる。
【０００８】
この発明において、上記皮膜接触体が、上記絶縁軸受の外輪の幅面に接触するリング状の部材であっても良い。
この構成の場合、外輪の幅面の絶縁皮膜のみに皮膜接触体を接触させて測定することになるが、皮膜接触体が弾性変形により絶縁皮膜の表面の凹凸になじんで高い接触率が得られ、また全周に渡って接触させることになるため、精度良く絶縁抵抗を測定することができる。また、リング状の皮膜接触体の単体からなる絶縁抵抗測定治具であるため、構成が非常に簡素なものとなる。
【０００９】
この発明において、上記皮膜接触体が、上記絶縁軸受の外輪の外径面に弾性的に被せられるリング状の部材であっても良い。
この構成の場合、外輪の外径面の絶縁皮膜のみに皮膜接触体を接触させて測定することになるが、皮膜接触体が弾性変形により絶縁皮膜の表面の凹凸になじんで高い接触率が得られ、また全周に渡って接触させることになるため、精度良く絶縁抵抗を測定することができる。外輪の外径面に弾性的に被せられるリング状の皮膜接触体の単体からなる絶縁抵抗測定治具であるため、この場合も、構成が非常に簡素なものとなる。
【００１０】
この発明において、上記絶縁軸受の外輪の円周方向の一部が進入可能な凹部を有する治具本体と、この治具本体の上記凹部の開口に平面的に張られて上記外輪を接触させる膜状の皮膜接触体とでなるものとしても良い。
この構成の場合、平面的に張られた皮膜接触体に外輪を押しつけることで、皮膜接触体が外輪外径面に沿って弾性変形し、その外輪外径面の絶縁皮膜に接触することになる。この場合、絶縁皮膜の円周方向の一部における絶縁抵抗の測定となるが、その一部において、皮膜接触体と絶縁皮膜との高い接触率が得られ、絶縁抵抗値を精度良く測定できる。
【００１１】
この発明の絶縁軸受の絶縁抵抗測定方法は、外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する絶縁抵抗測定方法であって、導電性高分子からなる皮膜接触体を上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触させ、この皮膜接触体と上記外輪の絶縁皮膜で覆われていない部分との間に抵抗計を接続して上記絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する方法である。
この構成によると、皮膜接触体が導電性高分子からなるため、皮膜接触体がその弾性変形により、絶縁皮膜の表面粗さによる凹凸に容易になじみ、凹凸に対して局部的な接触とならずに優れた接触率が得られる。そのため正確な絶縁抵抗値の測定が行える。また、皮膜接触体が弾性変形可能であるため、皮膜接触体を絶縁皮膜に押しつけるときに若干の滑りが生じたとしても、弾性変形にすることが摩耗が防止される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
この発明の第１の実施形態を図１ないし図３と共に説明する。図１は絶縁抵抗測定治具の単独の状態を、図２は測定対象となる絶縁軸受を、図３は絶縁抵抗測定治具に絶縁軸受を組み込んだ状態をそれぞれ示す。図２に示すように、測定対象となる絶縁軸受３０は、外輪３２に絶縁皮膜３２ａを有するものである。この絶縁軸受３０は、内輪３１と外輪３２の間に転動自在にボールからなる複数の転動体３３を介在させた転がり軸受であって、外輪３２の外径面から両幅面にわたって１層構造の絶縁皮膜３２ａが形成されている。これにより内輪３１が嵌合する軸（図示せず）と、外輪３２を支持するハウジング（図示せず）との間が電気的に絶縁分離される。絶縁皮膜３２ａは、セラミックス製の皮膜であり、外輪３２の母材３２ｂの表面にセラミックスを溶射することによって形成される。絶縁皮膜３２ａは樹脂製であっても良い。
【００１３】
図１に示すように、この絶縁抵抗測定治具１は、治具本体２と、蓋部材３と、皮膜接触体４，５とを有する。治具本体２は、絶縁軸受３０の外輪３２を内周に嵌合させる２つ割りのリング状であって、かつ外輪３２の片方の幅面に対向する鍔部２ａを有する。蓋部材３は、治具本体２に着脱自在に取付けられ上記外輪３２のもう片方の幅面に対向するリング状の部材である。皮膜接触体４，５は、治具本体２の内周面および鍔部２ａの内面、並びに蓋部材３の内面にそれぞれ設けられ、絶縁軸受３０の外輪３２の絶縁皮膜３２ａに接触するものである。この皮膜接触体４，５と外輪３２の母材３２ｂとの間に、抵抗計６（図３）が接続される。
皮膜接触体４，５の材料は、導電性ゴムまたは導電性プラスチック等の導電性高分子であり、ここでは導電性ゴムが用いられる。皮膜接触体４，５となる導電性ゴムとしては、体積固有抵抗率１．７Ω・ｃｍ、厚さ２ｍｍのものが使用される。上記導電性ゴムは、ニトリル系、アクリル系、フッ素系、シリコン系等のゴム材料に、カーボンパウダーやカーボン繊維等の導電物質を、製造過程で混入させることで、製造される。混入させる導電物質の形状は、必ずしもパウダー状や繊維状でなくても良く、例えばゴム加硫成形後に後述する所定の硬さや体積固有抵抗率が得られれば良い。
【００１４】
治具本体２は、正面形状がＣ字状の２つの金属製の分割本体２Ａ，２Ｂからなる。各分割本体２Ａ，２Ｂの両端には、両分割本体２Ａ，２Ｂを互いにボルト締めしてリング状に連結するための取付片２ｂがそれぞれ外径側に突出して設けられている。一方の分割本体２Ａの両取付片２ｂにはボルト挿通孔７が設けられ、他方の分割本体２Ｂの両取付片２ｂには上記ボルト挿通孔７に整合するねじ孔８がそれぞれ設けられている。両分割本体２Ａ，２Ｂは、ボルト挿通孔７に挿通させたボルト１０を、対応するねじ孔８に螺合させることによりボルト締めされ、リング状の治具本体２とされる。治具本体２の鍔部２ａを有する側面とは反対側の側面の周方向の複数箇所には、上記蓋部材３をボルト締めするためのねじ孔９が設けられる。この側面にボルト締めされる蓋部材３には、上記ねじ孔９に整合する複数のボルト挿通孔（図示せず）が設けられている。これらのボルト挿通孔に挿通させたボルト１１を対応する各ねじ孔９に螺合させることにより、図１（Ａ）のように治具本体２の鍔部２ａ側とは反対側の側面に蓋部材３がボルト締めされる。なお、図１（Ａ）は、図１（Ｂ）におけるＩ−Ｉ矢視断面図に相当する断面図である。
【００１５】
治具本体２を構成する両分割本体２Ａ，２Ｂをボルト締めして、これら両分割本体２Ａ，２Ｂの合わせ面１２，１３（図１（Ｂ））が全面接触した状態で、皮膜接触体４の内径寸法Ｄ１は、この絶縁抵抗測定治具１に組み込まれる絶縁軸受３０の外輪絶縁皮膜３２ａの外径寸法より僅かに小さくなるように加工されている。また、治具本体２と蓋部材３の合わせ面１４，１５（図１（Ａ））が全面接触した状態で、治具本体２側の皮膜接触体４の鍔部２ａの内面の部分４ａと、蓋部材３側の皮膜接触体５の間の寸法Ｗは、この絶縁抵抗測定治具１に組み込まれる絶縁軸受３０の幅寸法より僅かに小さくなるように加工されている。このように加工されることにより、両分割本体２Ａ，２Ｂをボルト締めして治具本体２を構成し、さらに治具本体２に蓋部材３をボルト締めして絶縁抵抗測定治具１内に絶縁軸受１を組み込むことで、皮膜接触体４，５と外輪３２の絶縁皮膜３２ａとが所定の締め代をもって接触する。
【００１６】
図３に示すように、絶縁軸受３０を絶縁抵抗測定治具１に組み込んだ状態で、軸受外輪３２の絶縁皮膜３２ａの表面全域は、治具本体２および蓋部材３の皮膜接触体４，５に接触する。この状態で、抵抗計６のアース端子を絶縁抵抗測定治具１の外表面に、ライン端子を外輪３２の母材３２ｂにそれぞれ接続して、絶縁抵抗測定治具１と外輪３２の母材３２ｂとの間の絶縁抵抗値を計測する。
【００１７】
この実施形態の絶縁抵抗測定治具１を用いると、導電性ゴムからなる皮膜接触体４，５が絶縁軸受３０の外輪絶縁皮膜３２ａ表面に接触するので、絶縁抵抗測定治具１をボルト１０，１１で締め付けて絶縁軸受３０を組み込む際に、絶縁皮膜３２ａの表面と絶縁抵抗測定治具１の内面との間に生じる微小滑りに対して、皮膜接触体４，５がその弾性変形により絶縁皮膜３２ａの表面に良く追従して接触することができる。そのため、上記微小滑りに起因して絶縁抵抗測定治具１および絶縁皮膜３２ａが摩耗することがなく、絶縁抵抗値を正確に測定できる。特に、絶縁皮膜３２ａが溶射によるセラミックス製である場合、その表面は粗面であるが、導電性ゴムからなる皮膜接触体４，５がその弾性変形でセラミックス製絶縁皮膜３２ａの表面の凹凸部に容易に追随するので、皮膜接触体４，５と絶縁皮膜３２ａの接触率が高くなり、正確な絶縁抵抗値を測定することができる。
【００１８】
また、絶縁抵抗測定治具１は、皮膜接触体４を設けた２つ割りのリング状の治具本体２と、皮膜接触体５が設けられた蓋部材３とからなり、この絶縁抵抗測定治具１に絶縁軸受３０を組み込んだ状態で絶縁軸受３０の絶縁抵抗値を測定するので、外輪絶縁皮膜３２ａの外径面から幅面にわたる全面に接触して絶縁抵抗値を測定でき、より精度の良い測定が行える。
【００１９】
この実施形態の絶縁抵抗測定治具１の性能を確認するため、上記測定系の場合と、図８および図９に示す従来の絶縁抵抗測定治具４１を用いた測定系とで同じ絶縁軸受３０の電気的特性を比較した。その結果を、次の表１に示す。
【００２０】
【表１】
2005017251.tif 000003
【００２１】
表１は、上記各測定系において、絶縁抵抗測定治具１，４１の表面と外輪母材３２ｂとの間に５００Ｖの電圧を印加した場合に、絶縁軸受３０を流れる電流値（Ａ）を計測した場合の比較結果を示す。この表１の結果によると、皮膜接触体４，５を用いた実施形態の場合の方が、従来例の場合に比べて高い電流値となっている。絶縁抵抗値は、理論的には絶縁皮膜３２ａの表面積が大きくなるほど低くなることから、表１の結果は、絶縁抵抗測定治具１，４１と絶縁皮膜３２ａの実接触面積が、皮膜接触体４，５を用いたこの実施形態の場合の方が大きく、より正確に絶縁抵抗値を測定できることを示している。
【００２２】
また、この実施形態における皮膜接触体４，５自体の絶縁抵抗値への影響を確認するために、外輪の表面に絶縁皮膜を形成し、さらにその表面に金属層（導電体）を形成した別の絶縁軸受について、この実施形態の絶縁抵抗測定治具１と、図８および図９に示す従来例の絶縁抵抗測定治具４１とで絶縁抵抗値を測定する試験を行った。この試験結果では、実施形態の場合も従来例の場合も共に５０ＭΩ（５００Ｖ印加時）となっていて、皮膜接触体４，５の影響は認められなかった。なお、この試験では、軸受外輪の最外層が導電体であるため、軸受外輪と絶縁抵抗測定治具の実接触率による抵抗値への影響は殆ど無い。
【００２３】
また、この実施形態では皮膜接触体４，５となる導電性ゴムとして、体積固有抵抗率１．７Ω・ｃｍ、厚さ２ｍｍのものを使用したが、絶縁軸受に要求される抵抗値は１ＭΩ以上であるから、１．７Ω・ｃｍといった高い導電性は、皮膜接触体４，５に必ずしも必要ではない。図１において、皮膜接触体４の鍔部２ａの内面の部分４ａと絶縁皮膜３２ａの表面との接触面積をＳ１、蓋部材３の内面の皮膜接触体４と絶縁皮膜３２ａの表面との接触面積をＳ２、皮膜接触体４の治具本体２内径面の部分４ｂと絶縁皮膜３２ａの表面との接触面積をＳ３とした場合に、それぞれの接触面積での抵抗値は以下の式で表すことができる。
Ｓ１の抵抗Ｒ１＝ρ×（Ｔ／Ｓ１）
Ｓ２の抵抗Ｒ２＝ρ×（Ｔ／Ｓ２）
Ｓ３の抵抗Ｒ３＝ρ／（２×π×Ｂ）×ｌｎ（（Ｄ＋２×Ｔ）／Ｄ）
但し、
ρ：体積固有抵抗率
Ｔ：絶縁皮膜３２ａの厚さ
Ｂ：軸方向接触幅
Ｄ：絶縁皮膜３２ａと外輪母材３２ｂとの境界の直径寸法
【００２４】
軸受全体の抵抗値Ｒは、１／Ｒ＝１／Ｒ１＋１／Ｒ２＋１／Ｒ３の関係にあって、この場合の抵抗値を１ＭΩ以上に管理できれば良い。上式に皮膜接触体４，５の厚さを代入した場合、皮膜接触体４，５の抵抗値が測定誤差などの安全率を考慮した場合でも、１０ＫΩ以下になる体積固有抵抗率を有する皮膜接触体４，５であれば良い。皮膜接触体４，５の体積固有抵抗率が低ければ低い程、求めようとする絶縁抵抗測定値の誤差を小さくできることは言うまでもない。
【００２５】
また、皮膜接触体４，５はその硬度が低い程、絶縁皮膜３２ａの表面の凹凸に追随して接触し易くなるが、その硬度を必要以上に低くした場合、絶縁抵抗測定治具１をボルト締めするときの皮膜接触体４，５と絶縁皮膜３２ａとの間の締め代をそれだけ大きい側に設定しないと、皮膜接触体４，５と絶縁皮膜３２ａとが全面接触にならなくなる。逆に、皮膜接触体４，５の硬度が高すぎると、絶縁抵抗測定治具１をボルト締めするときの皮膜接触体４，５の絶縁皮膜３２ａの表面への追随性が低下したり、絶縁皮膜３２ａの表面の凹凸に対する皮膜接触体４，５の実接触率が低下したりする。これらのことから、皮膜接触体４，５の硬度は、ＨＳ５５〜ＨＳ９０程度が良く、さらにボルト締めの作業性の観点からはＨＳ７０±１０程度が好ましい。
【００２６】
図４は、この発明の他の実施形態を示す。この絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ａは、図１に示した第１の実施形態の絶縁抵抗測定治具１において、治具本体２および蓋部材３を、皮膜接触体４，５と同じ導電性高分子で構成することで、治具本体２および蓋部材３を、それ自体が皮膜接触体となるものとし、別部材の皮膜接触体４，５を省略したものである。治具の内径および内幅寸法は、第１の実施形態における皮膜接触体４，５の内径および内幅寸法とされる。その他の構成、および絶縁軸受３０の絶縁測定値を測定するときの態様は第１の実施形態の場合と同じである。
【００２７】
この実施形態の絶縁抵抗測定治具１Ａでは、これを構成する治具本体２および蓋部材３自体が導電性ゴムや導電性プラスチックなどの導電性高分子からなるので、絶縁抵抗測定治具１Ａをボルト１０，１１で締め付けて絶縁軸受３０を組み込む際に、絶縁皮膜３２ａの表面と絶縁抵抗測定治具１Ａの内面との間に生じる微小滑りに対して、絶縁抵抗測定治具１Ａの内面がその弾性変形により絶縁皮膜３２ａの表面に良く追従して接触でき、高い接触率が得られる。そのため、上記微小滑りに起因して絶縁抵抗測定治具１Ａおよび絶縁皮膜３２ａが摩耗することなく、絶縁抵抗値を正確に測定できる。また、治具本体２および蓋部材３が皮膜接触体で構成されるため、図１の実施形態のように別体の治具本体２および蓋部材３に皮膜接触体４，５を取付けるものに比べて構成が簡単である。
【００２８】
図５は、この発明のさらに他の実施形態を示す。この絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｂは、絶縁軸受３０の外輪３２の幅面に接触するリング状の皮膜接触体１６からなる。皮膜接触体１６の材料が導電性高分子であることは第１の実施形態の場合と同様である。
【００２９】
この絶縁抵抗測定治具１Ｂによる絶縁軸受３０の絶縁抵抗値測定では、上記皮膜接触体１６を外輪３２の幅面、つまり絶縁皮膜３２ａの一方の幅面部分３２ａｂに接触させた状態で、抵抗計６のアース端子およびライン端子を、皮膜接触体１６および外輪３２の母材３２ｂに接続して、皮膜接触体１６と外輪母材３２ｂとの間の絶縁抵抗値を測定する。
この実施形態の絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｂによっても、皮膜接触体１６が弾性変形により外輪絶縁皮膜３２ａの幅面部分３２ａｂに良く追従して接触するので、両部材間の実接触率が高くなり、絶縁抵抗値を正確に測定できる。
【００３０】
図６は、この発明のさらに他の実施形態を示す。この絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｃは、図６（Ａ）のように絶縁軸受３０の外輪３２の外径面に弾性的に被せられるリング状の皮膜接触体１７からなる。皮膜接触体１７の材料が導電性高分子であることは第１の実施形態の場合と同様である。
【００３１】
この絶縁抵抗測定治具１Ｃによる絶縁軸受３０の絶縁抵抗値測定では、図６（Ｂ）のように上記皮膜接触体１７を外輪３２の外径面、つまり絶縁皮膜３２ａの外径面３２ａａに被せた状態で、抵抗計６のアース端子およびライン端子を、皮膜接触状態１７および外輪３２の母材３２ｂに接続して、皮膜接触状態１７と外輪母材３２ｂの間の絶縁抵抗値を測定する。
この実施形態の絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｃによっても、皮膜接触体１７が弾性変形により外輪絶縁皮膜３２ａの外径部分３２ａａに良く追従して接触するので、両部材間の実接触率が高くなり、絶縁抵抗値を正確に測定できる。
【００３２】
図７は、この発明のさらに他の実施形態を示す。この絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｄは、絶縁軸受３０の外輪３２の円周方向の一部が進入可能な凹部２０ａを有する治具本体２０と、この治具本体２０の凹部２０ａの開口に平面的に張られて上記外輪３２を接触させる膜状の皮膜接触体２１とでなる。皮膜接触体２１の材料が導電性高分子であることは第１の実施形態の場合と同様である。
【００３３】
この絶縁抵抗測定治具１Ｄによる絶縁軸受３０の絶縁抵抗値測定では、上記皮膜接触体２１を絶縁軸受３０の外輪３２の円周方向の一部、つまり外輪絶縁皮膜３２ａの外径部分３２ａａの一部に接触させた状態で、抵抗計６のアース端子およびライン端子を、皮膜接触体２１および外輪３２の母材３２ｂに接続して、皮膜接触体２１と外輪母材３２ｂの間の絶縁抵抗値を測定する。
この実施形態の絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具１Ｄによっても、皮膜接触体２１が弾性変形により外輪絶縁皮膜３２ａの外径部分３２ａａに良く追従して接触するので、両部材間の実接触率が高くなり、絶縁抵抗値を正確に測定することができる。
【００３４】
【発明の効果】
この発明の絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具は、外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する治具であって、上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触して抵抗計と接続される皮膜接触体が導電性高分子からなるものとしたため、軸受外輪の絶縁皮膜とこれに接触して抵抗計と接続される皮膜接触体との優れた接触率が得られて、絶縁軸受の絶縁抵抗値を正確に測定することができる。
この発明の絶縁軸受の絶縁抵抗測定方法は、外輪に絶縁皮膜を有する絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する絶縁抵抗測定方法であって、導電性高分子からなる皮膜接触体を上記絶縁軸受の外輪の絶縁皮膜に接触させ、この皮膜接触体と上記外輪の絶縁皮膜で覆われていない部分との間に抵抗計を接続して上記絶縁軸受の絶縁抵抗値を測定する方法としたため、軸受外輪の絶縁皮膜とこれに接触して抵抗計と接続される皮膜接触体との優れた接触率が得られて、絶縁軸受の絶縁抵抗値を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（Ａ）はこの発明の第１の実施形態にかかる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具の断面図、（Ｂ）は同絶縁抵抗測定治具の蓋部材を取り除いた状態を示す正面図である。
【図２】同絶縁抵抗測定治具で測定される絶縁軸受の一例を示す要部断面図である。
【図３】同絶縁抵抗測定治具による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【図４】この発明の他の実施形態にかかる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【図５】この発明のさらに他の実施形態にかかる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【図６】（Ａ）はこの発明のさらに他の実施形態にかかる絶縁抵抗測定治具を絶縁軸受に取付けた状態を示す正面図、（Ｂ）は同絶縁抵抗測定治具による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【図７】この発明のさらに他の実施形態にかかる絶縁軸受の絶縁抵抗測定治具による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【図８】（Ａ）は従来例の断面図、（Ｂ）はその従来例における蓋部材を取り除いた状態を示す正面図である。
【図９】その従来例による絶縁抵抗値測定の説明図である。
【符号の説明】
１，１Ａ〜１Ｄ…絶縁抵抗測定治具
２…治具本体
２ａ…鍔部
３…蓋部材
４，５…皮膜接触体
６…抵抗計
１６…皮膜接触体
１７…皮膜接触体
２０…治具本体
２０ａ…凹部
２１…皮膜接触体
３０…絶縁軸受
３２…外輪
３２ａ…絶縁皮膜
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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