(57)【要約】【課題】知的財産権の侵害調査や、侵害資料の作成の効率化を実現することができる知財評価装置を提供する。【解決手段】他人が製造し販売する製品を特徴づける要素を記録した他社製品データベース１２０を記憶しておく他社製品ＤＢ格納部１２と、自己の保有する知的財産を特徴づける要素を記録した自社特許データベース１３０を記憶しておく自社特許ＤＢ格納部１３と、他社製品の指定を受け付ける入力部１０と、他社製品データベース１２０と自社特許データベース１３０とを参照して、指定された他社製品における要素と、自己の知的財産における要素とを照合し、指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する照合部１１と、照合部１１の検索結果を表示する表示部１４とを備える。【選択図】        図１
2005092794.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自己の保有する知的財産の評価を行なう知財評価装置であって、
他人が製造し販売する製品を特徴づける要素を記録した他社製品データベースを記憶しておく他社製品データベース格納手段と、
自己の保有する知的財産を特徴づける要素を記録した自社特許データベースを記憶しておく自社特許データベース格納手段と、
前記製品の指定を受け付ける受付手段と、
前記他社製品データベースと前記自社特許データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する照合手段と、
前記照合手段の検索結果を表示する表示手段とを備える
ことを特徴とする知財評価装置。
【請求項２】
前記知財評価装置は、さらに、前記照合手段における照合に関する条件設定を受け付ける条件設定受付手段を備え、
前記照合手段は、前記条件設定受付手段が受け付けた条件に従って、前記他社製品データベースと前記自社特許データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する
ことを特徴とする請求項１記載の知財評価装置。
【請求項３】
前記知財評価装置は、さらに、前記製品における要素および前記自己の知的財産における要素に関する語について相互に類似する語を類似語群として記録した類似語データベースを記憶しておく類似語データベース格納手段を備え、
前記照合手段は、前記条件設定受付手段が、前記照合手段における照合に関して均等論の適用を考慮する条件設定を受け付けた場合に、前記他社製品データベースと前記自社特許データベースと前記類似語データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する
ことを特徴とする請求項２記載の知財評価装置。
【請求項４】
前記知財評価装置は、さらに、前記照合手段の検索結果に含まれる前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産について、前記指定された製品と一致する度合いを所定の計算式により数値化する評価手段を備え、
前記表示手段は、前記数値化した度合いを表示する
ことを特徴とする請求項２または３記載の知財評価装置。
【請求項５】
前記他社製品データベースには、前記製品の売上に関する情報が記録されており、
前記評価手段は、前記照合手段の検索結果に含まれる前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産について、前記他社製品データベースに記録されている前記情報を参照して、前記知的財産の実施の対価の予測額を算出し、
前記表示手段は、前記予測額を表示する
ことを特徴とする請求項４記載の知財評価装置。
【請求項６】
前記自社特許データベースには、自社の保有する知的財産に対する他人からの異議の申立の有無を示す情報が記録されており、
前記評価手段は、前記照合手段の検索結果に含まれる前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産について、前記自社特許データベースに記録されている前記情報を参照して前記異議の申立があった場合に、前記指定された製品と一致する度合いを所定の計算式よりも割り増して数値化する
ことを特徴とする請求項４または５記載の知財評価装置。
【請求項７】
自己の保有する知的財産の評価を行なう知財評価方法であって、
他人が製造し販売する製品の指定を受け付ける受付ステップと、
前記製品を特徴づける要素を記録した他社製品データベースと自己の保有する知的財産を特徴づける要素を記録した自社特許データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する照合ステップと、
前記照合ステップにおける検索結果を表示する表示ステップとを含む
ことを特徴とする知財評価方法。
【請求項８】
自己の保有する知的財産の評価を行なう知財評価装置のためのプログラムであって、
他人が製造し販売する製品の指定を受け付ける受付ステップと、
前記製品を特徴づける要素を記録した他社製品データベースと自己の保有する知的財産を特徴づける要素を記録した自社特許データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する照合ステップと、
前記照合ステップにおける検索結果を表示する表示ステップとをコンピュータに実行させる
ことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、知的財産権の侵害調査や、ライセンス交渉のための侵害資料の作成を合理化する装置および方法に関する。なお、本明細書では、知的財産権の一例として、特許を中心に説明することとする。
【背景技術】
【０００２】
近年、特許や商標等の知的財産権への注目が高まっており、特許管理を容易化する技術や、特許の有効活用を実現する技術が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２。）。
例えば、上記特許文献１では、特許情報群中の特許情報から全てのクレームを抽出して、句形式のクレームタームを作成し、そのクレームタームに基づいて構成要件リストを作成してクレームを分析することにより、同一技術ジャンルに属する特許出願のクレームの漏れ等を精度良く分析可能としている。また、上記特許文献２では、通信ネットワークを駆使した特許ライセンス事業によって、特許の有効活用を図ることができるとしている。
【０００３】
このような知的財産権に対する意識の高まりに伴い、特許侵害等の係争も増加しており、特許権者等は、特許権による利益を享受するためには、常に自己の特許が他人によって侵害されていないか否かを調査しておく必要がある。
ここで、従来における特許の侵害調査の手法について説明する。
まず、特許権を有する企業等では、特許担当技術者が、自社の特許群から他社の事業に関係する特許群を選び、その特許群に含まれる特許について１件ずつ、他社の製品と、その製品に使われていると思われる技術を想定して、被侵害が有力と考えられる有力特許を抽出する。
【０００４】
その後に、特許担当技術者は、他社製品を解析し、クレーム対比表等を用いることによって自社の有力特許と他社製品とを比較して、侵害または非侵害であるかを判断する。そして、侵害であると判断した場合には、その判断内容に基づいてライセンス交渉のための侵害資料の作成等を行なっている。
【特許文献１】特開２００２−１８９７３９号公報
【特許文献２】特開２００３−８５２６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来における特許の侵害調査の手法では、特許担当技術者が、自社の特許群から侵害されているであろうという見当をつけて有力特許を選び出し、その有力特許に関連すると思われる他社製品を調査するというものであるため、侵害または非侵害の判断に個人差が生じ易く、また、侵害を発見する可能性も低く非効率である。
また、上記の手法によって侵害を発見することができても、その他社製品の売上が少なければライセンス収入も低くなってしまい、労力に対して実入りが少なく、コストだけが高くなってしまうという問題も起こりうる。
【０００６】
そこで、本発明は、かかる問題点および事情に鑑みなされたものであり、知的財産権の侵害調査や、侵害資料の作成の効率化を実現することができる知財評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明に係る知財評価装置は、自己の保有する知的財産の評価を行なう知財評価装置であって、他人が製造し販売する製品を特徴づける要素を記録した他社製品データベースを記憶しておく他社製品データベース格納手段と、自己の保有する知的財産を特徴づける要素を記録した自社特許データベースを記憶しておく自社特許データベース格納手段と、前記製品の指定を受け付ける受付手段と、前記他社製品データベースと前記自社特許データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索する照合手段と、前記照合手段の検索結果を表示する表示手段とを備えることを特徴とする。これによって、他社製品の技術的な特徴を自社特許の技術的な特徴と照合し、被侵害の可能性がある自社特許を検索して表示するので、ユーザは、その結果を用いることで侵害調査の効率化を享受することができる。
ここで、前記知財評価装置は、さらに、前記照合手段における照合に関する条件設定を受け付ける条件設定受付手段と、前記製品における要素および前記自己の知的財産における要素に関する語について相互に類似する語を類似語群として記録した類似語データベースを記憶しておく類似語データベース格納手段とを備え、前記照合手段は、前記条件設定受付手段が、前記照合手段における照合に関して均等論の適用を考慮する条件設定を受け付けた場合に、前記他社製品データベースと前記自社特許データベースと前記類似語データベースとを参照して、前記指定された製品における要素と、前記自己の知的財産における要素とを照合し、前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産を検索するとしてもよい。これによって、均等論の適用を考慮して被侵害の可能性がある自社特許を抽出するので、ユーザにとって、他社製品が自社特許の本質的な技術内容と抵触しているか否かについても容易に判断することを可能とし、侵害調査をより一層合理化することができるという効果が発揮される。
【０００８】
また、前記知財評価装置は、さらに、前記照合手段の検索結果に含まれる前記指定された製品における要素と合致する要素を有する自己の知的財産について、前記指定された製品と一致する度合いを所定の計算式により数値化する評価手段を備え、前記表示手段は、前記数値化した度合いを表示するのが好ましい。これによって、他社製品と自社特許の一致する度合いが数値化されるので、ユーザに侵害資料作成時の労力の軽減をもたらす知財評価装置が実現される。
【０００９】
なお、本発明は、このような知財評価装置として実現することができるだけでなく、このような知財評価装置が備える特徴的な手段をステップとする知財評価方法として実現したり、それらのステップをコンピュータに実行させるプログラムとして実現したりすることもできる。そして、そのようなプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体やインターネット等の伝送媒体を介して配信することができるのは言うまでもない。
【発明の効果】
【００１０】
このように、本発明に係る知財評価装置によれば、他社製品の技術的な特徴から被侵害が予想される自社特許を抽出してユーザに提示するので、知的財産の侵害調査等の効率化を図ることができる。
また、均等論の適用を考慮して被侵害が予想される自社特許を抽出するので、ユーザは、他社製品が自社特許の本質的な技術内容と抵触しているか否かについても容易に判断することができ、侵害調査のより一層の合理化を実現することができる。
【００１１】
さらに、他社製品と自社特許の一致する度合いを数値化したり、徴収可能な実施料の予測額を算出したりしてユーザに提示するので、ユーザの侵害資料の作成時の労力を軽減することも可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。
（実施の形態１）
まず、本発明の実施の形態１に係る知財評価装置について説明する。
図１は、本実施の形態１に係る知財評価装置の構成を示すブロック図である。
この知財評価装置１は、保有する特許の侵害調査を効率化する装置であり、サーバ装置やパーソナルコンピュータ等によって実現され、入力部１０と、照合部１１と、他社製品ＤＢ格納部１２と、自社特許ＤＢ格納部１３と、表示部１４とを備える。
【００１３】
入力部１０は、ユーザからの指示の入力を受け付けるキーボードやマウス等の入力装置である。
照合部１１は、他人または他社の製品（以下、「他社製品」という。）と自己または自社の保有する特許（以下、「自社特許」という。）とを照合して、入力部１０を介してユーザから指定された他社製品が、どの自社特許を侵害しているかを判定する処理部であり、ＣＰＵやメモリによって実現される。この照合部１１は、入力部１０を介してユーザから他社製品と自社特許との照合指示を取得すると、他社製品ＤＢ格納部１２から該当する他社製品の情報を読み出し、その情報に基づいて、自社特許ＤＢ格納部１３から侵害されている可能性のある自社特許を抽出し、その自社特許に関する情報を読み出して、表示部１４に出力する。
【００１４】
他社製品ＤＢ格納部１２は、企業別または個人別で他社製品に関する情報を記録した他社製品データベース１２０（以下、「他社製品ＤＢ」という。）を格納するためのハードディスク等の記憶装置である。なお、他社製品ＤＢ１２０については、後に詳しく説明する。
自社特許ＤＢ格納部１３は、それぞれの自社特許ごとに、自社特許の内容に関する情報を記録した自社特許データベース１３０（以下、「自社特許ＤＢ」という。）を格納するためのハードディスク等の記憶装置である。なお、自社特許ＤＢ１３０についても、後に詳しく説明する。
表示部１４は、照合部１１から出力される情報を表示出力するためのＣＲＴディスプレイや液晶ディスプレイ等の表示装置である。
【００１５】
ここで、他社製品ＤＢ１２０に記録されている情報について説明する。
図２は、他社製品ＤＢ１２０のデータ構造を示す図である。
図２に示すように、この他社製品ＤＢ１２０は、企業別または個人別の他社製品に関する情報が記述されるテーブルが複数連なって構成されており、一つ一つのテーブルには、どの企業または個人の製品に関する情報が記述されているテーブルであるかを示すためのタグが設けられている。
【００１６】
また、各テーブルは、他社製品の属する技術分野を記述するための技術分野のフィールド、他社製品の名称を記述するための製品名のフィールド、他社製品における技術的な構成要素を記述するための要素技術のフィールド、および、その要素技術における技術的な特徴を記述するための特徴のフィールドが設けられており、これらのフィールドは、予め他社製品を徹底的に解析して、さらに要素技術ごとにその特徴を割り出すことによって、上記の他社製品に関する情報が記述されている。
なお、図２では、半導体装置を技術分野とし、その構造、材料、プロセス、回路およびパッケージを要素技術としたテーブルの一例を示している。
【００１７】
次に、自社特許ＤＢ１３０に記録されている情報について説明する。
図３は、自社特許ＤＢ１３０のデータ構造を示す図である。
図３に示すように、この自社特許ＤＢ１３０は、技術分野別で自社特許の内容に関する情報が記述されるテーブルが複数連なって構成されており、一つ一つのテーブルには、どの技術分野の自社特許に関する情報が記述されているテーブルであるかを示すためのタグが設けられている。
【００１８】
また、各テーブルは、自社特許を識別するために付される個別の管理番号を記述するための管理Ｎｏのフィールド、自社特許を識別するために公的に付される出願番号等を記述するための出願番号のフィールド、自社特許が出願中のものであるのか、特許されて権利化済みのものであるのかを記述するためのステータスのフィールド、自社特許における技術的な構成要素を記述するための要素技術のフィールド、自社特許の特許請求の範囲（クレーム）の番号を記述するためのクレームＮｏのフィールド、および、クレームにおける技術的な特徴を記述するための特徴のフィールドが設けられており、これらのフィールドは、予め自社特許を解析して、さらに要素技術ごとにクレームを振り分け、クレームの特徴を割り出すことによって、上記の自社特許に関する情報が記述されている。
【００１９】
このように構成された知財評価装置１の処理動作について、以下説明する。
図４は、知財評価装置１の動作を示すフロー図である。
まず、知財評価装置１は、入力部１０を介して、ユーザから自社特許を侵害しているか否かの調査を所望する他社製品の指定の入力を受け付ける（Ｓ１０）。
次に、知財評価装置１は、照合部１１において、指定された他社製品を、他社製品ＤＢ格納部１２に格納されている他社製品ＤＢ１２０の中から検索し（Ｓ１２）、指定された他社製品を抽出し、要素技術毎の特徴を読み出してメモリに保持しておく。
【００２０】
そして、知財評価装置１は、照合部１１において、メモリに保持した他社製品の要素技術毎の特徴に基づいて、自社特許ＤＢ格納部１３に格納されている自社特許ＤＢ１３０の中から同一の特徴を有する自社特許の検索を開始する（Ｓ１４）。
ここで、同一の特徴を有する自社特許がヒットした場合（Ｓ１６のＹｅｓ）、知財評価装置１は、照合部１１において、ヒットした自社特許に関する情報を出力するためのリストに追加し（Ｓ１８）、そのリストをメモリに保持しておく。
【００２１】
同一の特徴を有する自社特許がヒットしなかった場合（Ｓ１６のＮｏ）、または、リスト追加を終えると、知財評価装置１は、自社特許ＤＢ１３０に記録されている次の自社特許を検索し、全ての自社特許を検索するまでステップＳ１６およびステップＳ１８の動作を繰り返す（ループＡ）。なお、ここで全ての自社特許を検索するとしているが、例えば、自社特許の属する技術分野を示すタグを参照して、所定の技術分野についてのみ自社特許を検索することとしてもよい。
【００２２】
その後、知財評価装置１は、照合部１１において、メモリに保持している他社製品の要素技術毎の特徴と、その特徴と同一の特徴を有する自社特許のリストとを用いて、照合結果を作成し、表示部１４に出力して（Ｓ２０）、処理動作を終了する。
【００２３】
以下では、これらの手順を、ユーザに向けて出力表示する画面例を図示しながら説明する。
図５は、知財評価メニュー画面の一例を示す図である。
図５に示すメニュー画面例１４０は、知財評価装置１の上記処理動作における初期画面の一例である。
知財評価装置１は、このような画面を表示部１４から出力し、入力部１０を介して、ユーザからこのメニュー画面例１４０に含まれる他社製品ＤＢ登録ボタン１４１を押下する操作を受け付けると、他社製品ＤＢ１２０に他社製品に関する情報の入力を受け付ける画面を表示し、他社製品に関する情報の入力の受付を開始する。
【００２４】
また、知財評価装置１は、入力部１０を介して、ユーザからこのメニュー画面例１４０に含まれる自社特許ＤＢ登録ボタン１４２を押下する操作を受け付けると、自社特許ＤＢ１３０に自社特許に関する情報の入力を受け付ける画面を表示し、自社特許に関する情報の入力の受付を開始する。なお、ここで、自社特許に関する情報の入力については、ユーザから入力部１０を介して受け付けるとしてもよいし、特許庁等の公報公開サービスからネットワークを介して取得することとしてもよい。
【００２５】
そして、知財評価装置１は、入力部１０を介して、ユーザからこのメニュー画面例１４０に含まれる照合ボタン１４３を押下する操作を受け付けると、上記の処理動作の実行を開始し、図６に示す画面に表示を切り替える。
図６は、他社製品指定画面の一例を示す図である。
図６に示す他社製品指定画面例１５０は、知財評価装置１において他社製品の指定の入力を受け付ける画面の一例である。
【００２６】
知財評価装置１は、このような画面を表示部１４から出力し、入力部１０を介して、ユーザからこの他社製品指定画面例１５０に含まれる企業名選択プルダウンメニュー１５１の中から所望する企業名を選択する操作を受け付けると、照合部１１において他社製品ＤＢ格納部１２を参照して、他社製品ＤＢ１２０を構成するテーブルのタグを用いて選択された企業を特定し、そのテーブルに含まれる技術分野を、技術分野選択プルダウンメニュー１５２に列挙して、技術分野の選択を受け付ける。続いて、技術分野選択プルダウンメニュー１５２の中から所望する技術分野を選択する操作を受け付けると、照合部１１において再び他社製品ＤＢ格納部１２を参照して、他社製品ＤＢ１２０を構成するテーブルからその技術分野に含まれる製品名を特定し、製品名選択プルダウンメニュー１５３に列挙して、製品名の選択を受け付ける。
【００２７】
知財評価装置１は、このようにして他社製品の指定の入力を受け付け、その後、入力部１０を介して、ユーザからこの他社製品指定画面例１５０に含まれる照合開始ボタン１５４を押下する操作を受け付けると、上記処理動作における自社特許ＤＢ１３０の検索を開始し、ヒットした自社特許を出力リストに追加していく。
そして、自社特許ＤＢ１３０の検索を終えると、知財評価装置１は、図７に示す画面に表示を切り替える。
【００２８】
図７は、自社特許候補一覧画面の一例を示す図である。
図７に示す自社特許候補一覧画面例１６０は、知財評価装置１の上記処理動作における照合結果の出力表示画面の一例である。
このように、知財評価装置１は、照合部１１において、他社製品の要素技術毎の特徴と同一の特徴を有する自社特許をリストアップし、表示部１４を介して自社特許候補リスト１６１として出力表示し、ユーザに、指定の他社製品によって侵害されている可能性のある自社特許を提示する。
【００２９】
ここで、知財評価装置１は、入力部１０を介して、ユーザからこの自社特許候補一覧画面例１６０に含まれる自社特許候補リスト１６１の中から所望する自社特許を選択する操作（本図では、画面左方のチェックボックスにチェックを入れる操作）を受け付け、その後、比較表示ボタン１６２を押下する操作を受け付けると、図８に示す画面に表示を切り替える。
【００３０】
図８は、比較表示画面の一例を示す図である。
図８に示す比較表示画面例１７０は、知財評価装置１の上記処理動作における照合結果の詳細を示す出力表示画面の一例である。
このように、知財評価装置１は、照合部１１において、他社製品の要素技術毎の特徴と選択された自社特許の特徴とを示す縦２分割画面を生成し、表示部１４を介して、画面左方の他社製品詳細表示部１７１に、指定された他社製品に関する情報を詳細に表示し、画面右方の自社特許詳細表示部１７２に、選択された自社特許に関する情報を詳細に表示しているので、ユーザは、他社製品の要素技術毎の特徴と選択された自社特許の特徴とを比較しながら侵害または非侵害の判断を容易に行なうことができる。
【００３１】
ここで、知財評価装置１は、入力部１０を介して、ユーザからこの比較表示画面例１７０に含まれる自社特許変更ボタン１７３を押下する操作を受け付けると、選択された次の自社特許の特徴を示す画面を生成し、画面右方の自社特許詳細表示部１７２の表示を切り替える。
なお、ここで示した比較表示画面例１７０は、縦２分割画面に限らず、横２分割画面であってもよく、別ウインドウで表示することとしてもよい。
【００３２】
このように、本実施の形態１に係る知財評価装置１によれば、他社の製品を徹底的に解析して得られたデータと、自社の特許を解析して得られたデータとを格納しておき、他社製品の指定を受け付けて、その指定された他社製品と同一の技術的な特徴を有する自社特許を検索・照合して表示するので、ユーザは、照合結果を用いることにより、侵害調査を効率よく行なうことができる。
【００３３】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２に係る知財評価装置について説明する。
本実施の形態２に係る知財評価装置は、機能面において上記実施の形態１に係る知財評価装置１と略共通するが、照合に関して種々のオプション条件の設定が可能である点で上記実施の形態１に係る知財評価装置と異なる。以下、この異なる点を中心に説明することとする。
【００３４】
図９は、本実施の形態２に係る知財評価装置の構成を示すブロック図である。
図９に示すように、この知財評価装置２は、類似語ＤＢ格納部２５と、照合部２１において価値評価部２６とを備える点で、上記実施の形態１に係る知財評価装置１と異なる。また、照合部２１において、指定された他社製品と自社特許との照合に際して、種々のオプション条件の設定に従って検索および照合を行なう点で、上記実施の形態１に係る知財評価装置１と異なる。
【００３５】
類似語ＤＢ格納部２５は、上位概念と下位概念の関係にある等、相互に類似する語の集まりである類似語群に関する情報を記録した類似語データベース２５ａ（以下、「類似語ＤＢ」という。）を格納するためのハードディスク等の記憶装置である。ここで、類似語群について、より具体的に説明すると、例えば、ゴムという語であれば、上位概念の関係にある弾性体という語や、この上位概念の他の下位概念に該当するバネという語等と共に１つの類似語群を形成することになる。また、類似語ＤＢ２５ａには、この類似語群が複数形成されて予め記録されている。
【００３６】
照合部２１は、上記実施の形態１の照合部１１の機能に加えて、照合に関する種々のオプション条件の設定を受け付け、そのオプション条件に従って自社特許の検索および照合を行なう機能を有し、さらに、価値評価部２６を備える。
ここにいうオプション条件としては、例えば、文言侵害だけでなく、均等論の適用の可能性を考慮して自社特許の検索・照合を行なうことや、他社製品と自社特許とを照合した際に一致する度合いを所定の計算式（例えば、一致する語について１語あたり１ポイントとする等）により数値化して照合度として示すこと、そして、他社とライセンス交渉を行なった場合に自社特許について徴収可能な実施料（自社特許の実施の対価）の予測額を他社製品の売上データから算出すること等がある。
【００３７】
価値評価部２６は、上記のようなオプション条件の設定がある場合に、その設定に従って、照合度や徴収可能な実施料予測額を計算する処理部であり、ＣＰＵやメモリによって実現される。ここで、価値評価部２６は、算出した照合度が所定の閾値以上となった場合に徴収可能な実施料予測額を計算するように構成してもよい。
ここで、他社製品ＤＢ２２０に記録されている情報について説明する。
【００３８】
図１０は、他社製品ＤＢ２２０のデータ構造を示す図である。
図１０に示すように、この他社製品ＤＢ２２０は、上記実施の形態１における他社製品ＤＢ１２０と同様に、企業別または個人別の他社製品に関する情報が記述されるテーブルが複数連なって構成されており、各テーブルに設けられるフィールドとして、上記実施の形態１におけるフィールドに加えて、他社製品の売上金額等を記述するための売上データのフィールドが設けられている。
【００３９】
次に、自社特許ＤＢ２３０に記録されている情報について説明する。
図１１は、自社特許ＤＢ２３０のデータ構造を示す図である。
図１１に示すように、この自社特許ＤＢ２３０は、上記実施の形態１における自社特許ＤＢ１３０と同様に、技術分野別で自社特許の内容に関する情報が記述されるテーブルが複数連なって構成されており、各テーブルに設けられるフィールドとして、上記実施の形態１におけるフィールドに加えて、自社特許が特許異議申立や特許無効審判等の請求をされたことがあるか否かを記述するための被異議のフィールドと、自社特許の審査または審判段階において関連文献として引用された文献を記述するための引用文献のフィールドとが設けられている。
【００４０】
このように構成された知財評価装置２の処理動作について、以下説明する。
図１２は、知財評価装置２の動作を示すフロー図である。
まず、知財評価装置２は、このフローに先立って、ユーザが所望する場合には、先に述べた照合に関するオプション条件の設定の入力を受け付けておく。
次に、知財評価装置２は、上記実施の形態１と同様に、入力部２０を介して、ユーザから自社特許を侵害しているか否かの調査を所望する他社製品の指定の入力を受け付け（Ｓ３０）、照合部１１において、指定された他社製品を、他社製品ＤＢ格納部２２に格納されている他社製品ＤＢ２２０の中から検索し（Ｓ３２）、指定された他社製品を抽出し、要素技術毎の特徴を読み出してメモリに保持しておく。
【００４１】
続いて、知財評価装置２は、照合部２１において、照合に関するオプション条件の設定の有無を判断する（Ｓ３４）。
照合に関するオプション条件の設定がある場合（Ｓ３４のＹｅｓ）、知財評価装置２は、照合部２１において、設定されたオプション条件とメモリに保持した他社製品の要素技術毎の特徴に基づいて、自社特許ＤＢ格納部２３に格納されている自社特許ＤＢ２３０の中から同一の特徴を有する自社特許の検索を開始する（Ｓ３６）。このとき、オプション条件として、均等論の適用の可能性を考慮して自社特許の検索・照合を行なうことが設定されていれば、照合部２１は、類似語ＤＢ格納部２５に格納されている類似語ＤＢ２５ａを参照しながら、自社特許の検索・照合を行なう。
【００４２】
ここで、同一の特徴を有する自社特許がヒットした場合（Ｓ３８のＹｅｓ）、知財評価装置２は、照合部２１において、ヒットした自社特許に関する情報を出力するためのリストに追加し（Ｓ４０）、そのリストをメモリに保持しておく。
さらに、知財評価装置２は、照合部２１の価値評価部２６において、設定されたオプション条件に従って自社特許の評価を行ない（Ｓ４２）、その評価内容をメモリに保持しているリストに追加する。
【００４３】
同一の特徴を有する自社特許がヒットしなかった場合（Ｓ３８のＮｏ）、または、自社特許の評価を終えると、知財評価装置２は、自社特許ＤＢ２３０に記録されている次の自社特許を検索し、全ての自社特許を検索するまでステップＳ３８〜ステップＳ４２の動作を繰り返す（ループＢ）。
その後、知財評価装置２は、照合部２１において、メモリに保持している他社製品の要素技術毎の特徴と、その特徴と同一の特徴を有する自社特許のリストとを用いて、照合結果を作成し、表示部１４に出力して（Ｓ４４）、処理動作を終了する。
【００４４】
一方、照合に関するオプション条件の設定がない場合（Ｓ３４のＮｏ）、知財評価装置２は、照合部２１において、図４で説明したステップＳ１４とループＡの動作を行なって照合結果を作成し、表示部１４に出力して（Ｓ４４）、処理動作を終了する。
以下では、これらの手順を、ユーザに向けて出力表示する画面例を図示しながら説明する。
【００４５】
図１３は、知財評価メニュー画面の一例を示す図である。
図１３に示すメニュー画面例２４０は、知財評価装置２の上記処理動作における初期画面の一例である。
知財評価装置２は、このような画面を表示部２４から出力し、入力部２０を介して、ユーザからメニュー画面例２４０に含まれる照合オプション条件設定ボタン２４４を押下する操作を受け付けると、図１４に示す画面に表示を切り替える。
【００４６】
図１４は、照合オプション条件設定画面の一例を示す図である。
図１４に示す照合オプション条件設定画面例２５０は、知財評価装置２において照合に関するオプション条件の設定を受け付ける画面の一例である。
知財評価装置２は、このような画面を表示部２４から出力し、入力部２０を介して、ユーザから照合オプション条件設定画面例２５０に含まれる評価ポイント設定部２５１のチェックボックスにチェックを入れる操作を受け付け、照合開始ボタン２５４を押下する操作を受け付けると、照合時に価値評価部２６において、指定された他社製品と自社特許との照合度を計算することになる。
【００４７】
また、知財評価装置２は、入力部２０を介して、ユーザから照合オプション条件設定画面例２５０に含まれる均等考慮設定部２５２のチェックボックスにチェックを入れる操作を受け付け、照合開始ボタン２５４を押下する操作を受け付けると、照合部２１において、類似語ＤＢ格納部２５に格納されている類似語ＤＢ２５ａを参照しながら、自社特許ＤＢ２３０の検索を開始することになる。
【００４８】
さらに、知財評価装置２は、入力部２０を介して、ユーザから照合オプション条件設定画面例２５０に含まれる徴収可能実施料予測設定部２５３のチェックボックスにチェックを入れる操作を受け付け、照合開始ボタン２５４を押下する操作を受け付けると、照合した後に価値評価部２６において、他社製品ＤＢ２２０に記録されている他社製品の売上データを読み出して、設定された割合で徴収可能実施料の予測額を計算することになる。
【００４９】
なお、この照合オプション条件設定画面例２５０に、被異議の経験のある自社特許のみを検索するように設定するための画面部や、被異議の経験のある自社特許について評価ポイントを割り増し計算するように設定するための画面部を含めることもできる。ここで、被異議の経験のある自社特許について評価ポイントを割り増し計算する理由は、異議申立や無効審判等において有効であると審理された特許は、いわゆる強い特許であるといえ、その価値評価について被異議の経験のない特許に対して割り増して計算することが、より市場評価に連動していると考えられるからである。
【００５０】
このようにして知財評価装置２は照合オプション条件の設定を受け付け、その設定内容に従って、指定された他社製品により侵害されている可能性のある自社特許を検索・照合し、両者の一致する度合いを数値化したり、徴収可能な実施料の予測額を見積もったりする。その後、知財評価装置２は、図１５に示す画面に表示を切り替える。
【００５１】
図１５は、自社特許候補一覧画面の一例を示す図である。
図１５に示す自社特許候補一覧画面例２６０は、知財評価装置２の上記処理動作における照合結果の出力表示画面の一例である。
このように、知財評価装置２は、照合部２１において、設定された照合オプション条件に従って、他社製品毎の特徴と同一の特徴を有する自社特許をリストアップし、表示部２４を介して自社特許候補リスト２６１として出力表示し、ユーザに、指定の他社製品によって侵害されている可能性のある自社特許を提示する。
【００５２】
また、知財評価装置２は、照合部２１の価値評価部２６において、設定された照合オプション条件に従って、指定された他社製品と自社特許とが一致する度合いを数値化した照合度（照合ポイント）や徴収可能な実施料の予測額（予測実施料）を自社特許候補リスト２６１に含めて出力表示し、ユーザに、自社特許の価値評価を提示する。
なお、知財評価装置２は、上記実施の形態１の場合と同様に、入力部２０を介して、ユーザから、ユーザが所望する自社特許を選択する操作を受け付け、その後、比較表示ボタン２６２を押下する操作を受け付けると、図８において示したような比較表示画面に表示を切り替える。
【００５３】
このように、本実施の形態２に係る知財評価装置２によれば、均等論の適用を考慮して、指定された他社製品と同一の技術的な特徴を有する自社特許を検索・照合して表示することができるので、ユーザは、その照合結果を用いることにより、他社製品が自社特許の本質的な技術内容と抵触しているか否かについても容易に判断することができる。
また、指定された他社製品と、その他社製品と同一の技術的な特徴を有する自社特許との一致する度合いを数値化して表示したり、徴収可能な実施料の予測額を算出して表示したりすることができるので、ユーザは、その照合結果を自社特許の価値評価の尺度として用いることにより、ライセンス交渉のための侵害資料の作成等の合理化を図ることができる。
【００５４】
以上、本発明に係る知財評価装置について各実施の形態に基づき説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではない。
例えば、上記各実施の形態では、知的財産権の一例として、特許を用いて説明したが、特許に限らず、実用新案、意匠または商標について適用することも可能である。意匠の場合は、他社製品ＤＢや自社特許ＤＢに意匠の外観を示す画像データを記録し、この画像データを用いることによって、指定された他社製品と同一または類似する可能性のある自社の意匠を検索・照合すればよい。また、商標の場合は、他社製品ＤＢや自社特許ＤＢに商標の外観を示す画像データと、商品または役務の情報を記録し、この画像データと商品等の情報を用いることによって、指定された他社製品と同一または類似する可能性のある自社の商標を検索・照合すればよい。
【００５５】
また、上記各実施の形態では、全ての構成を１つの装置に含ませることによって、本発明を実現しているが、例えば、照合を行なうサーバ装置、他社製品ＤＢを管理するサーバ装置および自社特許ＤＢを管理するサーバ装置を通信ネットワークにより接続して構成された知財評価システムとしてもよい。
【００５６】
さらに、自社特許ＤＢに記録する内容としては、被異議や引用文献の詳細な内容だけに限られず、被異議の数や引用文献の数であってもよい。同様に、自社特許ＤＢを参照して表示する内容としても、被異議や引用文献の詳細な内容だけに限られず、被異議の数や引用文献の数であってもよい。これによって、自社特許の内容を確認したり、他社製品の比較結果を表示する際に、自社特許の被異議や引用文献について、詳細な内容を確認したり、件数だけを簡易に確認したりすることが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明に係る知財評価装置は、知的財産権の管理等に適用することができ、特に、知的財産権の侵害調査等に好適である。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】実施の形態１に係る知財評価装置の構成を示すブロック図である。
【図２】他社製品ＤＢのデータ構造を示す図である。
【図３】自社特許ＤＢのデータ構造を示す図である。
【図４】知財評価装置の動作を示すフロー図である。
【図５】知財評価メニュー画面の一例を示す図である。
【図６】他社製品指定画面の一例を示す図である。
【図７】自社特許候補一覧画面の一例を示す図である。
【図８】比較表示画面の一例を示す図である。
【図９】実施の形態２に係る知財評価装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】他社製品ＤＢのデータ構造を示す図である。
【図１１】自社特許ＤＢのデータ構造を示す図である。
【図１２】知財評価装置の動作を示すフロー図である。
【図１３】知財評価メニュー画面の一例を示す図である。
【図１４】照合オプション条件設定画面の一例を示す図である。
【図１５】自社特許候補一覧画面の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１、２    知財評価装置
１０、２０    入力部
１１、２１    照合部
１２、２２    他社製品ＤＢ格納部
１３、２３    自社特許ＤＢ格納部
１４、２４    表示部
２５    類似語ＤＢ格納部
２５ａ    類似語ＤＢ
２６    価値評価部
１２０、２２０    他社製品ＤＢ
１３０、２３０    自社特許ＤＢ
１４０、２４０    メニュー画面例
１４１、２４１    他社製品ＤＢ登録ボタン
１４２、２４２    自社特許ＤＢ登録ボタン
１４３、２４３    照合ボタン
１５０    他社製品指定画面例
１５１    企業名選択プルダウンメニュー
１５２    技術分野選択プルダウンメニュー
１５３    製品名選択プルダウンメニュー
１５４、２５４    照合開始ボタン
１６０、２６０    自社特許候補一覧画面例
１６１、２６１    自社特許候補リスト
１６２、２６２    比較表示ボタン
１７０    比較表示画面例
１７１    他社製品詳細表示部
１７２    自社特許詳細表示部
１７３    自社特許変更ボタン
２４４    照合オプション条件設定ボタン
２５０    照合オプション条件設定画面例
２５１    評価ポイント設定部
２５２    均等考慮設定部
２５３    徴収可能実施料予測設定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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