(57)【要約】【課題】  ストラテジと記録パターンとのずれの検出に適した光情報記録装置を提供する。【解決手段】  所定のストラテジを用いて光記録メディアにテスト記録を行い、その結果を再生して得られた２値化信号を計数し、該計数結果のヒストグラムを用いて前記２値化信号に含まれたピット長およびランド長を特定し、これらピット長およびランド長に基づいて前記記録領域から複数の再生パターンを検索抽出し、該検索により得られた再生パターン同士を比較することにより、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する。【選択図】  図２
2005327362.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行い、その結果を再生して得られた第１の再生パターンと第２の再生パターンとを比較して、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段を備えたことを特徴とする光情報記録装置。
【請求項２】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、
前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、
前記基準パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号とを比較する手段と、
前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ピットの長さに対応したピットの前側位相ずれ量を検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項３】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、
前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、
前記基準パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号とを比較する手段と、
前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ピットの長さに対応したピットの後側位相ずれ量を検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項４】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ランドの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、
前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、
前記基準パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号とを比較する手段と、
前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ランドの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項５】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ランドの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、
前記各再生パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号と、該固定長ピットの長さに対応したピットの規定長とを比較する手段と、
前記比較の結果より、前記固定長ピットの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項６】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、
前記各再生パターンに含まれた可変長ピットに対応する部分の信号と、該可変長ピットの長さに対応したピットの規定長とを比較する手段と、
前記比較の結果より、前記可変長ピットの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項７】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して２値化信号を得る手段と、
所定のクロック信号を用いて前記２値化信号のパルス長を計数する手段と、
前記計数結果を所定の記憶領域に格納する手段と、
前記計数結果のヒストグラムを作成する手段と、
前記ヒストグラムを用いて前記２値化信号に含まれたピット長およびランド長を特定する手段と、
前記特定したピット長およびランド長に基づいて前記記録領域から第１および第２の再生パターンを検索する手段と、
前記検索により得られた第１の再生パターンと第２の再生パターンとを比較することにより、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段と
を備えたことを特徴とする光情報記録装置。
【請求項８】
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、
所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、
前記テスト記録の結果を再生して２値化信号を得る手段と、
所定のクロック信号を用いて前記２値化信号のパルス長を計数する手段と、
前記計数結果を所定の記憶領域に格納する手段と、
前記計数結果のヒストグラムを作成する手段と、
前記ヒストグラムを用いて前記２値化信号に含まれたピット長およびランド長を特定する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項９】
前記特定したピット長およびランド長に基づいて前記記録領域から第１および第２の再生パターンを検索する手段をさらに具備することを特徴とする請求項８記載の光情報記録装置。
【請求項１０】
前記検索により得られた第１の再生パターンと第２の再生パターンとを比較することにより、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段をさらに備えたことを特徴とする光情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光情報記録装置に関し、特に、記録ピットの位相ずれや長さずれの補正に有効な光情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク等の光情報録媒体への情報記録は、記録データをＥＦＭ(Eight to Fourteen Modulation)方式で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスに基づいてレーザ光の強度や照射タイミングを制御し、光ディスク上に記録ピットを形成することにより行われる。
【０００３】
ここで、記録ピットの形成は、レーザ光の照射により生ずる熱を利用して行われるため、記録パルスは、蓄熱効果や熱干渉等を考慮した設定が要求される。そこで、従来から、記録パルスを構成する各種パラメータの設定を光ディスクの種類ごとにストラテジという形で複数定義し、これらストラテジのうち当該記録環境に最適なものを選択して、光情報記録装置に設けられたストラテジ回路に実行させていた。
【０００４】
このストラテジ回路により実行されるストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存するため、最適ストラテジを設定することが記録品位の向上になる。
【０００５】
このため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出してストラテジ回路に設定する手法も提案されている。
【０００６】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【０００７】
そこで、下記の特許文献１、特許文献２に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も提案されている。
【特許文献１】特開平５−１４４００１号公報
【特許文献２】特開平４−１３７２２４号公報  しかし、上記各特許文献に記載された技術においては、複数存在するストラテジの設定パラメータに対してどのパラメータをどの程度調整する必要があるかの判断はできず、このために各種パラメータに対応した最適ストラテジ設定を行うことができない。
【０００８】
すなわち、ストラテジの設定パラメータとしては、
１）記録パルスの前側位相補正
２）記録パルスの後側位相補正
３）熱干渉補正
４）記録マークの長さ補正
等があり、レーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整することによりずれ量を補正することになるが、上記特許文献１および２の手法では、これらのずれ量を独立して判別することはできず、このために各種設定パラメータに対応した最適ストラテジを決定することができない。
【０００９】
上記の課題を解決する有効な手法として、例えば下記の文献が知られている。
【特許文献３】特開２００３−３０８３７号公報  この特許文献３の段落００２０には、「・・・記録パターン毎に、チャネルクロックとの位相誤差を検出する。記録補償パラメータ調整部１２は、位相誤差検出部１１における検出結果に基づいて、発光波形規則を最適化する。・・・」との記載があり、チャネルクロックとの比較により位相誤差を検出し補正する手法が開示されている。
【００１０】
また、同文献の段落００２４には、「次に、発光波形規則を決定するためのテストパターンを記録する。そして、そのテストパターンを記録した領域を再生して、予め用意した発光波形規則と位相誤差量との関係を調べる。即ち、各種マークの長さとそのマークの直前の各種スペースの長さとのそれぞれの組み合わせにおける位相誤差量を測定する。測定した位相誤差量から、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測して、所望の発光波形規則を決定する。・・・」との記載があり、マークとスペースの組み合わせごとに位相誤差量を測定し、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測する手法が開示されている（図８および図１２参照）。
【００１１】
この特許文献３に記載された手法によれば、記録パターンの位相誤差に基づく補正が行われるため、各種設定パラメータに対応した最適ストラテジの設定が可能になるが、位相誤差の検出をチャネルクロックとの比較により行っているため、実際に記録されたピットと定義されたストラテジとのずれが大きい場合には、マーク長の判別やずれの検出自体が困難になる可能性があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで、本発明は、各種パラメータの設定を考慮した記録ピットとストラテジのずれ検出に有効な手法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するため、本発明の第１の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行い、その結果を再生して得られた第１の再生パターンと第２の再生パターンとを比較して、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段を備えたことを特徴とする。
【００１４】
ここで、前記ストラテジは、所望のピット形状を得るために設定されるレーザ光のパルス条件を定義したものであり、レーザ光の照射パワーやパルス幅の変化として、記録対象となるピットの長さ、直前のランド長との関係、後続するランド長との関係、蓄熱や熱干渉の影響等を考慮して特定のパルス形状が提供される。
【００１５】
テスト記録は、上記ストラテジを用いて実際に記録した場合の差異を確認するために行われる記録であり、メディア内に設けられたテスト記録領域を用いて実行させる。このテスト記録は、ストラテジと実際の記録状態とのずれが効果的に検出できる特定パターンを用いて行われ、このテスト記録によって形成された複数の記録ピットから成る記録パターンを再生することで、該記録パターンに対応した再生パターンが得られる。
【００１６】
テスト記録結果の再生により得られる再生パターンは複数種にわたり、その中からストラテジと実際の記録状態とのずれを検出するに有効な再生パターンを少なくとも２つ抽出し、これらを比較することで、位相ずれや長さずれ等の各種ずれの検出が行われる。
【００１７】
これら２つの再生パターンは、いずれもストラテジと実際の記録状態とのずれが反映された信号で構成されるため、これら再生パターン同士を比較することで、あるパターンを基準とした相対的なずれ量を検出することが可能になる。
【００１８】
これら２つの再生パターンは、両者の間にピット長またはランド長が同じ部位と、異なる部位を設けておくことが望ましく、例えば、「同一ピット、同一ランド、異種ピット」が続くパターンを用いて、所定ピットの前側位相ずれを検出する構成、「異種ピット、同一ランド、同一ピット」が続くパターンを用いて所定ピットの後側位相ずれを検出する構成、「異種ランド、同一ピット、同一ランド」が続くパターンを用いてピットの干渉ずれを検出する構成、「同一ランド、異種ピット、同一ランド」が続くパターンを用いてピットバランスのずれを検出する構成を取ることが可能である。
【００１９】
もっとも、本発明は、２つの再生パターンを比較する手法に限定されるものではなく、複数の再生パターンを比較する手法、例えば、一つの再生パターンを基準として、この基準パターンと他のパターンを比較する手法も含まれる。
【００２０】
また、本発明の第２の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、前記基準パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号とを比較する手段と、前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ピットの長さに対応したピットの前側位相ずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００２１】
このように、固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続くパターンを用いることで、理想の記録状態では一定になるはずの固定長ランドが可変長ピットの前側位相の影響を受けて長さが変化する。この長さの変化を検出すれば可変長ピットの前側位相ずれを独立して検出することが可能になる。尚、可変長ピットは、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと順次変化させることで記録に用いる全ての長さをテストしておくことが望ましい。
【００２２】
また、本発明の第３の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、前記基準パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ランドに対応する部分の信号とを比較する手段と、前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ピットの長さに対応したピットの後側位相ずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００２３】
このように、可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続くパターンを用いることで、理想の記録状態では一定になるはずの固定長ランドが可変長ピットの後側位相の影響を受けて長さが変化する。この長さの変化を検出すれば可変長ピットの後側位相ずれを独立して検出することが可能になる。尚、可変長ピットは、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと順次変化させることで記録に用いる全ての長さをテストしておくことが望ましい。
【００２４】
また、本発明の第４の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ランドの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、前記各再生パターンのうちの少なくとも一つを基準パターンに設定するとともに、該基準パターン以外の少なくとも一つを比較パターンに設定する手段と、前記基準パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号と、前記比較パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号とを比較する手段と、前記比較の結果より、前記比較パターンに含まれた可変長ランドの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００２５】
このように、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続くパターンを用いることで、理想の記録状態では一定になるはずの固定長ピットが可変長ランドに先行するピットの形成時に発生した熱干渉の影響を受けて長さが変化する。この長さの変化を検出すれば固定長ピットの熱干渉に基づく長さずれを独立して検出することが可能になる。尚、可変長ランドは、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと順次変化させることで記録に用いる全ての長さをテストしておくことが望ましい。
【００２６】
また、本発明の第５の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ランドの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、前記各再生パターンに含まれた固定長ピットに対応する部分の信号と、該固定長ピットの長さに対応したピットの規定長とを比較する手段と、前記比較の結果より、前記固定長ピットの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００２７】
このように、固定長ピットに対応する部分の信号と、該固定長ピットの長さに対応したピットの規定長とを比較することによっても、固定長ピットの熱干渉に基づく長さずれを独立して検出することができる。
【００２８】
また、本発明の第６の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く記録パターンを含み、該可変長ピットの長さが異なる複数の記録パルスを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して該各記録パルスに対応する複数の再生パターンを取得する手段と、前記各再生パターンに含まれた可変長ピットに対応する部分の信号と、該可変長ピットの長さに対応したピットの規定長とを比較する手段と、前記比較の結果より、前記可変長ピットの長さに対応したピットの長さずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００２９】
このように、固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続くパターンを用いることで、理想の記録状態では規定長に合致するはずの可変長ピットが前後のランドおよびこれらランドに隣接するピットの影響を受けて長さが変化する。この長さの変化を検出すれば可変長ピットのピットバランスに基づく長さずれを独立して検出することが可能になる。尚、可変長ピットは、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと順次変化させることで記録に用いる全ての長さをテストしておくことが望ましい。
【００３０】
また、本発明の第７の手段は、レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の結果を再生して２値化信号を得る手段と、所定のクロック信号を用いて前記２値化信号のパルス長を計数する手段と、前記計数結果を所定の記憶領域に格納する手段と、前記計数結果のヒストグラムを作成する手段と、前記ヒストグラムを用いて前記２値化信号に含まれたピット長およびランド長を特定する手段と、前記特定したピット長およびランド長に基づいて前記記録領域から第１および第２の再生パターンを検索する手段と、前記検索により得られた第１の再生パターンと第２の再生パターンとを比較することにより、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段とを備えたことを特徴とする。
【００３１】
このように、テスト記録の結果から得られた再生２値化信号を所定クロックで計数し、この計数結果を蓄積しておくことで、得られた再生パターンの各種統計処理や特定パターンの抽出を行うことが可能になる。再生２値化信号の計数は、該２値化信号の極性反転エッジで計数を開始するカウンタを用いて行うことが可能であり、これによりピットの長さとランドの長さを計数データとして得ることができる。
【００３２】
このようにして得られた計数データは、記録装置内に設けられたメモリ素子等の所定の記録領域に格納され、一定量を蓄積した後、各計数値の出現頻度を分析したヒストグラムを作成する。このヒストグラムを作成することで、計数値の範囲とピットおよびランドの長さとが関連づけられ、記憶領域に格納された膨大な計数データから所望のピット・ランドパターンを含むデータ列を検索、抽出することが可能になる。
【００３３】
例えば、所定ピットの前側位相ずれを検出する場合には、「固定長ピット、固定長ランド、可変長ピット」が続くパターン群を検索、抽出、相互比較し、所定ピットの後側位相ずれを検出する場合には、「可変長ピット、固定長ランド、固定長ピット」が続くパターン群を検索、抽出、相互比較し、ピットの干渉ずれを検出する場合には、「可変長ランド、固定長ピット、固定長ランド」が続くパターン群を検索、抽出、相互比較し、ピットバランスのずれを検出する場合には、「固定長ランド、可変長ピット、固定長ランド」が続くパターン群を検索、抽出、相互比較すれば良い。
【００３４】
このように、テスト記録の結果を再生して得られた２値化信号を計数データとして処理することにより、各種要因に起因したずれ量を好適に検出することが可能になる。尚、上述したヒストグラム等のデータ処理は、記録装置内に設けられたＣＰＵ等の演算素子を用いて実行可能である。
【００３５】
このヒストグラムを利用したピット長およびランド長の判別は、出現頻度の分布を判定基準としているため、ストラテジと実際の記録パターンとのずれが大きい場合であっても、有効な判定が可能になる。
【発明の効果】
【００３６】
以上説明したように、本発明によれば、実際に記録されたピットと定義されたストラテジとのずれが大きい場合であっても、ずれの検出が可能になり、より最適化されたストラテジを提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、本発明に係る光情報記録装置を添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。
【００３８】
図１は、本発明に係る光情報記録装置の内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、この光情報記録再生装置は、レーザ発振器１０３から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク１０に対する情報の記録再生を行う。
【００３９】
光ディスク１０に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ１０１でＥＦＭ方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路１０２に加える。
【００４０】
ここで、このストラテジ回路１０２には、所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、該ストラテジ回路１０２は、ストラテジの各種設定パラメータを補正して、レーザ発振器１０３から出力されるレーザ光の強度やパルス幅を制御し、所望の記録状態が得られるであろう記録パルスを生成する。
【００４１】
ストラテジ回路１０２で形成された記録パルスは、レーザ発振器１０３に加えらえ、レーザ発振器１０３は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射し、これにより光ディスク１０に、所望の記録データに対応したピット、ランド列からなる記録パターンが記録される。
【００４２】
一方、光ディスク１０上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器１０３から一様な再生レーザ光がレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射される。
【００４３】
この時、再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器１０３から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク１０からの反射光は、レンズ１０６、ハーフミラー１０５、レンズ１０７を介して受光部１０８で受光され、電気信号に変換される。
【００４４】
受光部１０８から出力される電気信号は、光ディスク１０に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部１０８から出力される電気信号は、再生補償回路１０９で所定の補償処理がなされ、２値化回路１１０で２値化され、さらにデコーダ１１１で、デコードされて再生信号として出力される。
【００４５】
図２は、図１に示した光情報記録装置が実行するストラテジ決定工程の実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、図１に示した光情報記録装置は、まず最初に、ストラテジ回路１０２が実行する記録ストラテジの各種パラメータを設定するために、光ディスク１０に対してストラテジの各種パラメータを変更した複数の記録パターンによるテスト記録を行う（ステップＳ１０）。
【００４６】
その後、このテスト記録により形成された記録パターンを再生し（ステップＳ１２）、その結果として２値化回路１１０から得られた再生２値化信号を記録ずれ検出部１１２が所定クロックに同期したカウンタで計数して（ステップＳ１４）、該再生２値化信号に含まれたピットおよびランドの長さを計数データとして記録領域１１５に格納する（ステップＳ１６）。
【００４７】
その後、記録ずれ検出部１１２は、記録領域１１５に蓄積された計数データを用いて、計数値ごとの出現頻度を示すヒストグラムを作成し（ステップＳ１８）、このヒストグラムからピット長とランド長の判定基準となる計数結果の閾値を決定する（ステップＳ２０）。
【００４８】
その後、記録ずれ検出部１１２は、前記閾値を基準に記録領域１１５に格納された計数データの中から特定のピット／ランドパターンを含む複数種の特定パターンを検索し（ステップＳ２２）、この特定パターンに含まれた同一ピット長と思われる計数結果を平均化するとともに、同一ランド長と思われる計数結果を平均化して、特定パターンを構成する各ピットと各ランドの平均長を求める（ステップＳ２４）。
【００４９】
その後、記録ずれ検出部１１２は、抽出した複数の特定パターンのうちの一つを基準パターンに設定し、この基準パターンと他のパターンとを比較して（ステップＳ２６）、下記のずれ量をそれぞれ独立に検出する（ステップＳ２８）。
【００５０】
１）記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
２）記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
３）熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
４）記録パルスに対するピットの長さずれ量
その後、演算式導出部１１３は、記録ずれ検出部１１２が検出したずれ量に基づいて、最適ストラテジを決定するための演算式を導出し、ストラテジ決定部１１４は、この演算式導出部１１３が導出した演算式を用いて各種パラメータの制御結果を予測し（ステップＳ３０）、この予測結果に基づいて、レーザ光のパワーやパルス幅を調整するためのストラテジ補正値を決定し、補正された最適ストラテジをストラテジ回路１０２に設定する（ステップＳ３２）。
【００５１】
図３は、図２に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。同図に示すように、まず、テスト記録が行われると、同図（ａ）に示すような記録ピットが光ディスク上に形成される。そして、この記録ピットを再生すると、同図（ｂ）に示すように、この記録ピットに対応した再生ＲＦ信号が得られる。この再生ＲＦ信号を２値化すると、同図（ｃ）に示したような再生２値化信号が得られ、この２値化信号の極性反転間のパルス長を同図（ｄ）に示すようなクロック信号で計数すると、同図（ｅ）に示したような計数結果が得られる。
【００５２】
図４は、図２に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。同図に示すようにクロック信号で計数された２値化信号は、極性反転部を区切りとして、その計数結果がピット、ランドの区別とともに記憶領域１１５に設けられたテーブル内に順次時系列で格納される。この同図に示すテーブルは、後に検索可能なアドレスが付された状態で格納される。
【００５３】
図５は、図２に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。同図に示すように、計数値の出現頻度をグラフ化するとヒストグラムが得られ、ピットとランドをそれぞれ区別してヒストグラムを作成すると、同図（ａ）に示したピットの計数傾向を示すピットヒストグラムと、同図（ｂ）に示したランドの計数傾向を示すランドヒストグラムの２種類を得ることができる。このように、光ディスクでは基準クロックに対する各単位長ｎＴ（ｎ＝３、４、５、・・・１４）の長さが必然的に決まるため、各単位長ｎＴに対して、出現頻度分布の山が得られることになる。
【００５４】
図６は、図２に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。同図に示すように、ヒストグラム中の各山と山の間に形成された谷の部分が各単位長ｎＴの長さ判定閾値として使用できるため、ピットヒストグラムおよびランドヒストグラムのそれぞれについて、ピット長の判断基準となるピット長閾値と、ランド長の判断基準となるランド長閾値を設定する。
【００５５】
図７は、図６に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、各ピット長の境界ごとにピット長閾値が定義され、同図（ｂ）に示すように、各ランド長の境界ごとにランド長閾値が定義される。同図（ａ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝９」となり、以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。また、同図（ｂ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝１０」となる。以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。
【００５６】
次に、図２に示した特定パターンの検索（ステップＳ２２）からずれ量の検出（ステップＳ２８）までの各工程の詳細について説明を加える。これらの工程は、記録ずれ検出部１１２における各種ずれの検出原理に基づいて行われる。
【００５７】
図８は、各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における前側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、固定ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、可変ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｘＴのピット長と固定ランドＬｙＴのランド長を固定して、可変ピットＰｚＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【００５８】
ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｘＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。
【００５９】
従って、可変ピットＰｚＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＦＰＳ４Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔが得られる。
【００６０】
ここで、各ずれ量ＦＰＳ３Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＦＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【００６１】
図９は、各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における後側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、可変ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、固定ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長と固定ピットＰｚＴのピット長とを固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【００６２】
ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｚＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。
【００６３】
従って、可変ピットＰｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する後側位相ずれ量ＲＰＳ４Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔが得られる。
【００６４】
ここで、各ずれ量ＲＰＳ３Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの後側位相ずれ量ＲＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【００６５】
図１０は、熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。同図に示すように、熱干渉によるピットずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｙＴのピット長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ランドＬｘＴのランド長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【００６６】
ここで、この記録パターンの固定ピットＰｙＴの長さを測定すると、この固定長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この固定ピットＬｙＴの理想の規定長さのずれ量は、可変ランドＬｘＴの直前に形成されたピットの熱干渉によるずれ量に対応することになる。
【００６７】
従って、可変ランドＬｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ピットＰｙＴの長さと、基準パターンの固定ピットＰｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔが得られる。
【００６８】
ここで、各ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【００６９】
図１１は、熱干渉によるピットずれ量を基準長との比較で検出する例を示す図である。同図（ｂ）〜（ｇ）に示すように、図１０のような基準パターンを設定せず、各パターンの固定ピットＰｙＴを基準長と比較することで、前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔを求めても良い。
【００７０】
図１２は、ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。同図に示すように、ピットバランスによるずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【００７１】
ここで、この記録パターンの可変長のピットＰｙＴの長さを測定すると、この可変長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。
【００７２】
しかし、この可変長のピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｘＴのランド長およびランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この可変長のピットＰｙＴの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。
【００７３】
したがって、あるストラテジを用いてテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、同図（ｂ）〜（ｆ）に示すように、可変長のピットＰｙＴの記録結果と各ピットの基準長とを比較し、各ピット長の理想の長さからのずれ量を検出すれば、各ピット長の長さずれ量を検出することができる。
【００７４】
図１３は、ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。ピット前位相ずれの検出を行う場合には、特定パターンごとに設定されたピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴに関する同図（ａ）に示した閾値範囲を基準に、図１の記憶領域１１５内に格納されたデータを検索し（図２のステップＳ２２に相当）、該閾値を満たすデータ列を抽出する。
【００７５】
その後、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴのぞれぞれに該当する計数結果を分別し、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴごとに平均値を求める（図２のステップＳ２４に相当）。この計数結果の平均値を用いて、図８に示したパターン比較を行えば、各ピット長における前側位相ずれ量が得られる。図１３（ｂ）は、ピット後位相ずれの検出を行う場合の閾値例であるが、考え方と動作は、ピット前位相ずれの検出を行う場合と同様である。
【００７６】
図１４は、ピット干渉ずれ検出とピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。同図（ａ）および（ｂ）に示すように、ピット干渉ずれの検出と、ピットバランスずれの検出も、図１３を用いて説明したピット前位相ずれおよび後位相ずれと同様の手法で行われる。
【００７７】
図１５は、計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図は、ピット前位相ずれを検出する場合の例であるが、他のずれ量を検出する場合も同様の手法で行われる。ずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）および（ｂ）に示した基準パターンと比較パターンを検索抽出し、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、本来固定長であるはずの部位に対する計数値を比較する。同図に示す例では、ランドＬｙＴが比較部位になるため、基準パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「１２」と、比較パターンの計数結果である同図（ｄ）に示す「１１」との差分を求め、得られた差分「１」がずれ量ＦＰＳ４Ｔの値となる。
【００７８】
図１６は、計数結果の絶対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図に示すように、理想の基準長との比較でずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）に示した特定パターンを検索抽出し、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、比較対象となる部位に対する両者の計数値を比較する。同図に示す例では、ピット３Ｔが比較部位になるため、特定パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「９」と、基準長に相当する計数結果である同図（ｄ）に示す「８」との差分を求め、得られた差分「１」が３Ｔピットのずれ量になる。
【００７９】
図１７は、図２に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。同図に示すように、制御量の予測は、記録条件の異なるＳ１とＳ２の２種以上の条件でテスト記録を行い（ステップＳ１００）、その結果得られた記録ピットを再生し（ステップＳ１０２）、その結果得られた再生パターンの比較によって、条件Ｓ１に対応するずれ量Ｄ１と、条件Ｓ２に対応するずれ量Ｄ２とを求め（ステップＳ１０４）、これらＳ１およびＳ２とＤ１およびＤ２との関係を直線近似し（ステップＳ１０６）、該直線を用いて最適補正量を決定する（ステップＳ１０８）一連の手順を実行することによって行われる。
【００８０】
ところで、上記のように検出されるずれ量Ｄ１およびＤ２は、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そして、このストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量Ｄ１およびＤ２は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。
【００８１】
すなわち、上記記録ずれ検出部１１２で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。
【００８２】
そこで、本実施形態に係る光情報記録装置においては、例えば、２回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと検出したずれ量Ｄ１およびＤ２との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。もっとも、本発明では、直線近似に替えて曲線で近似しても良い。
【００８３】
図１８は、図１７に示した記録条件Ｓ１とＳ２とで変化させるパラメータを示した概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【００８４】
同各図に示すように、シングルパルス１０−１およびマルチパルス１０ー２は、パルスの先頭に配置された先頭パルス１２と、後端に配置された後端パルス１４とを具備し、各パルスの高さで記録パルス全体のエネルギー量が規定され、先頭パルス幅Ｔｔｏｐが示す長さで記録ピット先端に与える初段のエネルギー量が規定され、後端パルス幅Ｔｌａｓｔが示す長さで記録ピット後端に与えるエネルギー量が規定される。
【００８５】
また、他の調整要因として、同図（ａ）に示すように、シングルパルス１０−１の場合には、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に、メインパワーＰＷよりもＰＷＤだけ低い低パワー領域を設ける。この量を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。同様に、マルチパルス１０−２の場合には、同図（ｂ）に示すように、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に位置する中間パルスの幅Ｔｍｐを規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。
【００８６】
以上述べたＴｔｏｐ、Ｔｌａｓｔ、ＰＷＤ、Ｔｍｐが記録条件Ｓ１およびＳ２で変化させる代表的なパラメータとなり、これらのパラメータをＳ１、Ｓ２と変化させて、その影響をＤ１、Ｄ２として検出し、これら４点を用いて直線近似を行い、該直線を用いてずれがキャンセルできる補正量を得る。
【００８７】
図１９は、記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。同図（ａ）に示す記録パルスを「ＰｚＴ＝３Ｔ」の基準パルスとすると、比較対象となる「ＰｚＴ＝４Ｔ」の記録パルスは、ＰｚＴの先端をＳ１変化させた同図（ｂ）の記録パルスＳ１と、ＰｚＴの先端をＳ２変化させた同図（ｃ）の記録パルスＳ２の２条件でテスト記録を行う。
【００８８】
その結果、同図（ａ）の記録パルスに対応して同図（ａ１）に示す基準パターンが得られ、同図（ｂ）の記録パルスに対応して同図（ｂ１）に示す比較パターンＳ１が得られ、同図（ｃ）の記録パルスに対応して同図（ｃ１）に示す比較パターンＳ２が得られる。ここで、比較パターンＳ１は、制御量Ｓ１に対応してＤ１のすれ量が生じ、比較パターンＳ２は、制御量Ｓ２に対応してＤ２のずれが生じる。
【００８９】
制御量Ｓ１およびＳ２に対するずれ量Ｄ１およびＤ２がわかれば、どのパラメータに関してどれだけの制御量を持たせれば、どれだけのずれが生じるかが予測可能となるため、これらの関係を利用して、制御量の予測と補正値の決定を行う。
【００９０】
図２０は、直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。前側位相ずれに対する補正量Ｔｔｏｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｔｏｐだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い（記録条件Ｓ１、Ｓ２に相当）、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｔｏｐを検出する（ずれ量Ｄ１、Ｄ２に相当）。
【００９１】
同図に示す例では、このＴｔｏｐの変化をＳ１＝＋０．１とＳ２＝＋０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｔｏｐをずれ量Ｄ１＝−０．１およびＤ２＝＋０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｔｏｐに対する制御結果Δφｔｏｐの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｔｏｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。
【００９２】
このように、ストラテジの変化Ｓ１、Ｓ２とずれ量の変化Ｄ１、Ｄ２との関係は、変化点を少なくとも２点求めれば、直線または曲線による近似が可能になるため、この直線を用いてずれ量が零になる最適補正量を求めることができる。
【００９３】
具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときのずれ量Ｄを求め、このときのストラテジＳとずれ量Ｄとの関係を一般式「Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ」に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳを図１に示したストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【００９４】
例えば、図１に示した記録ずれ検出部１１２で、あるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。
【００９５】
なお、この最適ストラテジＳを求める関数は、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジＳを求める関数は、記録速度に対応してそれぞれ求めることもできる。
【００９６】
図２１は、直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。後側位相ずれに対する補正量Ｔｌａｓｔを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｌａｓｔだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｌａｓｔを検出する。
【００９７】
同図に示す例では、このＴｌａｓｔの変化をＳ１＝−０．１とＳ２＝−０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｌａｓｔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｌａｓｔに対する制御結果Δφｌａｓｔの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｌａｓｔ＝−０．２を最適補正値として決定する。
【００９８】
図２２は、シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量ＰＷＤを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、ＰＷＤだけパルスの中央を欠いた波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。
【００９９】
同図に示す例では、このＰＷＤの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量ＰＷＤに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量ＰＷＤ＝＋０．２を最適補正値として決定する。
【０１００】
図２３は、マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量Ｔｍｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、中間パルス長をＴｍｐとした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。
【０１０１】
同図に示す例では、このＴｍｐの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｍｐに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量Ｔｍｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。
【０１０２】
図２４は、補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量Ｔｔｏｐは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの前方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。
【０１０３】
また、同図（ｂ）に示すように、補正量Ｔｌａｓｔは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの後方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。
【０１０４】
図２５は、補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量ＰＷＤおよびＴｍｐは、補正対象となるピット長ごとに定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量ＰＷＤは、図中「ＰＷ３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量Ｔｍｐは、図中「Ｔｍ３」と示した領域に補正量が格納される。以下、４Ｔ、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔと同様に格納される。
【０１０５】
図２６は、補正後の記録パルスの例を示す概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図２４に示したテーブルより前方のランド長に応じて３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、後方ランド長に応じて３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。
【０１０６】
また、４Ｔピットを補正する場合は、同図（ｃ）に示すように、３Ｔピットの場合と同様の手順にて、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔの補正を行い、５Ｔ以上の長さを有するピットを補正する場合には、同図（ｄ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長のＰＷＤ補正値を図２５のテーブルから読み出し、当該ＰＷＤの値に応じたパルス形状の補正を行う。
【０１０７】
尚、以上説明した実施形態では、最適ストラテジＳを求める関数に、ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定したが、これに替えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジＳを決定するように構成してもよい。
【０１０８】
また、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎に、あるいは、記録速度を変更する毎に行っても良く、さらに、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジの条件を光ディスクの種別および記録速度に対応させてメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで記録を行う場合、あるいは、同一の記録速度で記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出して使用する構成としてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１０９】
本発明によれば、  実際に記録されたピットと定義されたストラテジとのずれが大きい場合であっても、ずれの検出が可能になるため、より厳しい記録環境への対応が期待される。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】本発明に係る光情報記録装置の内部構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した光情報記録装置が実行するストラテジ決定工程の実行手順を示すフローチャートである。
【図３】図２に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。
【図４】図２に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。
【図５】図２に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。
【図６】図２に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。
【図７】図６に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。
【図８】各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。
【図９】各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。
【図１０】熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図１１】熱干渉によるピットずれ量を基準長との比較で検出する例を示す図である。
【図１２】ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図１３】ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。
【図１４】ピット干渉ずれ検出とピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。
【図１５】計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。
【図１６】計数結果の絶対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。
【図１７】図２に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。
【図１８】図１７に示した記録条件Ｓ１とＳ２とで変化させるパラメータを示した概念図である。
【図１９】記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。
【図２０】直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。
【図２１】直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。
【図２２】シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。
【図２３】マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。
【図２４】補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。
【図２５】補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。
【図２６】補正後の記録パルスの例を示す概念図である。
【符号の説明】
【０１１１】
１０…記録パルス、１２…先頭パルス、１４…後端パルス、１００…光ディスク、１０１…エンコーダ、１０２…ストラテジ回路、１０３…レーザ発振器、１０４…レンズ、１０５…ハーフミラー、１０６…レンズ、１０７…レンズ、１０８…受光部、１０９…再生補償回路、１１０…２値化回路、１１１…デコーダ、１１２…記録ずれ検出部、１１３…演算式導出部、１１４…ストラテジ決定部、１１５…記憶領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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