(57)【要約】  【課題】  光ディスク装置において、温度上昇に対する安全性を確保した状態での高速アクセス動作を可能とする技術の提供。  【解決手段】  光ピックアップ内に温度センサを設け、該温度センサで検出される温度が、予め設定された基準温度以下の場合は、アクセス移動用のスライダモータの駆動信号のレベルを増大させ、該スライダモータの出力を増大させた状態で光ピックアップをアクセス移動させる。【選択図】  図１
2005071477.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対し光ピックアップをアクセス移動させ情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
上記光ピックアップに設けられ、レーザーダイオードの周辺部の温度を検出する温度センサと、
上記光ピックアップをアクセス移動させるための駆動力を発生するモータと、
上記モータを駆動する駆動信号を形成し出力するモータ駆動回路と、
上記温度センサの検出信号に基づき上記モータ駆動回路を制御し、少なくとも、上記温度センサで検出される温度が予め設定した基準温度以下のときは、上記駆動信号のレベルを増大させて上記モータの出力を増大させるようにする制御回路と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記制御回路は、上記温度センサの検出信号のレベルを、予め設定した基準信号レベルと比較し、該基準信号レベル以下の場合に、上記駆動信号のレベルを増大させるゲイン値を選択する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置における光ピックアップのアクセス移動技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連した技術としては、例えば、特開平１１−３５３８２７号公報（特許文献１）、特開平６−１１９００８号公報（特許文献２）、特開２００１−２９７５２１号公報（特許文献３）などに記載されたものがある。特開平１１−３５３８２７号公報には、ディスク装置におけるシーク時の発熱による温度上昇の検出を、簡易な構成下で実現するために、ヘッドのシークに要する発熱量を予測する発熱量算出手段と、シーク間隔を計測する計時手段と、発熱量算出手段と計時手段の出力から発熱と放熱による温度変化分を算出する積算手段とから成る温度検出手段を備え、シーク時の演算によって温度予測を行うとする技術が記載され、特開平６−１１９００８号公報には、制御システム内のドライブの動作温度を所定のパラメータ内に保持するために、周囲温度センサと媒体温度センサとにより光ドライブの動作温度を検出し、ドライブの温度が第１のスレショルドを越えた時、高温の書込み及び消去の動作を禁止し、ドライブの温度が第２のスレショルドを越えた時、低温の読取り及び確認の動作も禁止するとした構成が記載され、また、特開２００１−２９７５２１号公報には、磁気ディスク装置と磁気ディスク制御装置とから成る回転型記憶装置において、アクセス性能を引出しつつ発熱対策を実現するために、装置温度を測定する装置温度測定部を設け、装置温度が低く発熱を抑える必要がない場合には高速シークによる先読み付きシークを行い、一定温度以上になった場合には回転待ちの発生が予測される場合のみ低速シークを行い、さらに高温になった場合には、全てのシークを低速シークにするとした技術が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−３５３８２７号公報
【０００４】
【特許文献２】特開平６−１１９００８号公報
【特許文献３】特開２００１−２９７５２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記背景技術の特開平１１−３５３８２７号公報記載の技術は、シーク時の演算によって温度予測を行うもので、実際の温度を検出する技術ではない上、温度予測のための演算手段を必要とする。特開平６−１１９００８号公報記載の技術は、温度センサによる光ドライブの動作温度の検出の結果、温度がスレショルドを越えた時には、高温の書込み及び消去の動作、低温の読取り及び確認の動作などが禁止されるため、各動作が停止状態となってしまうものである。また、特開２００１−２９７５２１号公報記載の技術は、磁気ディスク装置と磁気ディスク制御装置とから成る回転型記憶装置におけるもので、ピックアップを発熱源として装置温度を監視する技術思想はない。また、装置温度の測定結果に基づき、装置温度が低い場合は高速シーク、装置温度が高い場合は低速シークに切替えるもので、装置温度が高い場合にも標準速シークを行う記載や示唆もない。
【０００６】
本発明の課題点は、上記背景技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、（１）温度上昇が最も大きい発熱体の近傍で検出される装置温度により光ピックアップのアクセス移動速度を制御できるようにすること、（２）上記装置温度が所定値以下の安全温度の場合に光ピックアップを高速でアクセス移動させられるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク装置の温度上昇に対する安全性を確保した状態で高速アクセス動作を可能にする技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置において、光ピックアップ内に温度センサを設け、該温度センサで検出される温度が、予め設定した基準温度以下の場合は、アクセス移動用のスライダモータの駆動信号のレベルを増大させ該スライダモータの出力を増大させた状態で光ピックアップをアクセス移動させる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光ディスク装置の温度上昇に対する安全性を確保した状態での高速アクセス動作が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明に係る実施の形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図２は、本発明の一実施形態の説明図である。図１は、本発明の実施形態としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の構成におけるＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）の内部構成例を示す図である。
図１において、１は光ディスク、２は光ディスク１を回転駆動するディスクモータ、３は光ピックアップ、４は光ピックアップ３を光ディスク１の半径方向に移動（アクセス移動）させるピックアップスライド機構、５はピックアップスライド機構４中のリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライダモータ、６は、ディスクモータ２やスライダモータ５を制御駆動するモータ駆動回路、７は、光ピックアップ内でレーザー光を発生するレーザーダイオード、８は、光ディスク１の記録面から反射したレーザー光を受光する受光部、９は、レーザーダイオード７を駆動するレーザー駆動回路、１０は、対物レンズを有し光ディスク１の記録面に対し入出射するレーザー光を光学処理する光学系、１１は、光学系１０の位置や姿勢を変えるアクチュエータ、１２は、光ディスク１へ記録する記録信号を生成する記録信号生成部、１３は、受光部８からの再生信号を、ＲＦ信号や、トラッキング誤差信号や、フォーカス誤差信号として増幅処理したりする再生／誤差信号処理部、１４は、のアクチュエータ駆動信号を生成するフォーカス／トラッキング制御部、１５は、光ピックアップ３内でレーザーダイオード７やレーザー駆動回路９の近傍に設けられ該近傍の温度を検出する温度センサ、２０は、モータ駆動回路６に供給するサーボ信号を生成したり、記録信号生成部を制御する信号を生成したり、再生／誤差信号処理部１３からの信号に基づき、再生信号を復調したり、トラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号に基づき、フォーカス／トラッキング制御部１４に供給するフォーカス制御信号やトラッキング制御信号を生成したり、温度センサからの検出信号を処理して、モータ駆動回路６に供給する上記サーボ信号のレベルを制御したりする制御回路としてのＤＳＰ、３０はＤＳＰ２０を制御する同じく制御回路としてのマイコンである。
【００１０】
上記構成において、マイコン３０からの指示によりＤＳＰ２０がモータ駆動回路６にディスクモータ駆動用のサーボ信号を出力すると、これを受けてモータ駆動回路６は、ディスクモータ駆動用信号を形成して出力し、ディスクモータ２を所定速度で回転させる。ディスクモータ２はターンテーブル４０を介して光ディスク１を所定速度で回転させる。記録時、記録信号生成部１２は、マイコン３０からの指示によるＤＳＰ２０からの制御信号に従い、記録用信号を生成してレーザー駆動回路９に入力する。レーザー駆動回路９は、該記録用信号に基づきレーザーダイオード７を駆動し、該記録用信号に対応するレーザー光を発生させる。該レーザー光は光学系１０を通って、回転する光ディスク１の記録面に照射され、記録が行われる。また、再生時は、光ディスク１の記録面からの反射レーザー光は、光学系１０を通って受光部８に入り、ここで再生信号として電気信号に変換される。該再生信号は再生／誤差信号処理部１３に入力され、ＲＦ信号や、トラッキング誤差信号や、フォーカス誤差信号として増幅処理等される。再生／誤差信号処理部１３から出力された信号はＤＳＰ２０に入力され、該ＤＳＰ２０内で、ＲＦ信号は復調され、トラッキング誤差信号、フォーカス誤差信号からはそれぞれ、トラッキング制御信号、フォーカス制御信号が形成される。トラッキング制御信号、フォーカス制御信号は、ＤＳＰ２０から出力されてフォーカス／トラッキング制御部１４に供給される。フォーカス／トラッキング制御部１４では、トラッキング制御信号によってはトラッキング制御用のアクチュエータ駆動信号が形成され、フォーカス制御信号によってはフォーカス制御用のアクチュエータ駆動信号が形成され、それぞれがアクチュエータ１１に供給される。アクチュエータ１１は各アクチュエータ駆動信号によって駆動され、光学系の対物レンズを変位させてトラッキング制御やフォーカス制御を行う。
【００１１】
また、光ピックアップ３のアクセス移動にあたっては、マイコン３０からの指示によりＤＳＰ２０が、モータ駆動回路６にスライダモータ駆動用のサーボ信号を出力する。これによって、モータ駆動回路６はスライダモータ５を所定速度で回転させる。スライダモータ５は回転により、ピックアップスライド機構４中のリードスクリュー部材（図示なし）を回転させ、該リードスクリュー部材の表面に設けた送りねじにより光ピックアップを所定速度で光ディスク１の半径方向にアクセス移動させる。温度センサ１５は、光ピックアップ３内でレーザーダイオード７やレーザー駆動回路９の近傍の温度を検出し、検出信号としての電気信号を出力してＤＳＰ２０に入力させる。ＤＳＰ２０内では該検出信号に基づき、該検出信号のレベルに対応してスライダモータ５の回転を制御するためのサーボ信号を形成する。
【００１２】
図２は、上記図１中のＤＳＰ２０内の信号処理系の構成例であって、上記温度センサ１５から入力される検出信号に対する信号処理系の構成例を示す。以下、本図２の説明中で図１の構成要素には図１の場合と同じ符号を付して用いるとする。
図２において、Ｔ１は上記温度センサ１５からの検出信号が入力される入力端子、２０１はＡ／Ｄ変換部、２０２は、信号の加算処理を行う信号加算部、２０３は基準温度に対応してスライスを行うためのスライス値を予め設定する温度スライス値設定部、２０４は、加算された信号につきゲインの切替えを行うゲイン切替え部、２０５は、切替える複数のゲイン（ゲインＡ、ゲインＢ）を予め設定しておくゲイン設定部、２０６は、信号の乗算を行う乗算部、２０７は、アクセス移動量を指示するためのスライダ指令値を設定するスライダ指令値設定部、２０８はＤ／Ａ変換部、Ｔ２は出力端子である。
【００１３】
上記図２の構成において、入力端子Ｔ１からＤＳＰ２０内に入力された温度センサ１５からの検出信号（アナログ信号）は、Ａ／Ｄ変換部２０１でデジタル信号ｅｉに変換される。デジタル変換された検出信号は、信号加算部２０２で、温度スライス値設定部２０３から出力される基準温度に対応したスライス値と加算される。デジタル変換された検出信号の電圧値をｅｉ、基準温度に対応したスライス電圧値をｅｓとすると、加算された信号（加算信号）の電圧値は（ｅｉ−ｅｓ）となり、ｅｉがｅｓよりも高い場合は該加算信号の電圧値は正、ｅｉがｅｓよりも低い場合は負となる。すなわち、例えば、温度センサ１５で検出した光ピックアップ３内のレーザーダイオード７やレーザー駆動回路９の近傍の温度が高くて、上記設定した基準温度を超えている場合は、ｅｉがｅｓよりも高くなり、上記加算信号の電圧値は正となる。反対に、温度センサ１５で検出したレーザーダイオード７やレーザー駆動回路９の近傍の温度が低く、上記設定した基準温度に達していない場合は、ｅｉがｅｓよりも低くなり、上記加算信号の電圧値は負となる。また、上記温度センサ１５で検出した温度が上記基準温度と等しい場合は、ｅｉとｅｓは等しくなり、上記加算信号の電圧値はゼロとなる。
【００１４】
上記正、負またはゼロの電圧の加算信号はゲイン切替え部２０４に入力される。ゲイン切替え部２０４では、上記加算信号が正の場合と、該加算信号が負もしくはゼロの場合とでゲインの切替えを行う。すなわち、温度センサ１５で検出したレーザーダイオード７やレーザー駆動回路９の近傍の温度が高く、上記設定した基準温度を超えている場合はゲインをゲインＡに切替え、温度センサ１５で検出した該温度が低く、上記設定した基準温度に達しない場合や、該基準温度と等しい場合は、ゲインをゲインＢ（ゲインＢ＞ゲインＡ）に切替える。
【００１５】
ゲインを切替えられた加算信号は乗算部２０６において、スライダ指令値設定部が設定したスライダ指令値と乗算され、アクセス移動用のスライダ指令情報を含む信号とされる。該乗算結果の信号（デジタル信号）は、Ｄ／Ａ変換部２０８でアナログ信号に変換され、出力端子Ｔ２から出力される。該出力された信号は、スライダモータ５を制御するためのサーボ信号としてモータ駆動回路６に入力される。上記ゲイン切替え部２０４でゲインＡに切替えられているサーボ信号の場合は、モータ駆動回路６は、レベル増大のない駆動信号をスライダモータ５に供給し該スライダモータ５を回転駆動する。一方、上記ゲイン切替え部２０４でゲインＢに切替えられているサーボ信号の場合は、モータ駆動回路６は、レベル増大した駆動信号をスライダモータ５に供給しモータ出力を増大させた状態で該スライダモータ５を回転駆動する。すなわち、上記温度センサ１５で検出される温度が予め設定した基準温度以下のときには、上記駆動信号のレベルを増大させて上記スライダモータ５の出力を増大させるように制御する。
【００１６】
上記本発明の実施形態によれば、光ディスク装置の温度上昇に対する安全性を確保した状態での高速アクセス動作が可能となる。
【００１７】
なお、上記実施形態では、ゲインの切替えをゲインＡ、ゲインＢの２つに切替えるとしたが、３つ以上のゲインで切替えるようにしてもよい。また、ゲインの切替えはＤＳＰ２０内で行うものには限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の一実施形態としての光ディスク装置の構成例図である。
【図２】図１の構成におけるＤＳＰの内部構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００１９】
１…光ディスク、
２…ディスクモータ、
３…光ピックアップ、
４…ピックアップスライド機構、
５…スライダモータ、
６…モータ駆動回路、
７…レーザーダイオード、
８…受光部、
９…レーザー駆動回路、
１０…光学系、
１１…アクチュエータ、
１２…記録信号生成部、
１３…再生／誤差信号処理部、
１４…フォーカス／トラッキング制御部、
１５…温度センサ、
２０…ＤＳＰ、
３０…マイコン、
２０１…Ａ／Ｄ変換部、
２０２…信号加算部、
２０３…温度スライス値設定部、
２０４…ゲイン切替え部、
２０５…ゲイン設定部、
２０６…乗算部、
２０７…スライダ指令値設定部、
２０８…Ｄ／Ａ変換部。
【図１】
2005071477.tif 000003
【図２】
2005071477.tif 000004