(57)【要約】【課題】  光ディスクが突然使用不可の状態になり、光ディスクの使用者が全てのデータを失うことを防ぐ。 【解決手段】  光磁気ディスク２は、書換え不可能な第１管理領域５１と、書換えが可能な第２管理領域５２、第３管理領域５４等を有する。通常は第１管理領域５１と、第２管理領域５２を使用するが、繰り返し記録又は再生により第２管理領域５２が劣化し始めた場合、第２管理領域５２の情報を第３管理領域５４へ複製記録し、これ以降は第２管理領域５２に代えて第３管理領域５４を用いる。 【選択図】    図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
管理領域と、
前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が所定値以上であった回数を記録するための計数領域とを含む光ディスク。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、
少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、
少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有し、
前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値以下である場合、前記エラーの頻度が前記第１の所定値以上であった旨を計数領域に記録し、
前記計数領域への前記記録が発生したとき、警告を発することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
少なくとも書換えが可能な管理領域を含む光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、
少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、
少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有し、
前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値未満である場合、前記管理領域に記録されている情報を前記管理領域に再記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
第１の管理領域と、
前記第１の管理領域の代替領域である第２の管理領域と、
前記第１の管理領域を再生した際のエラーの頻度が所定値以上であった回数を記録するための計数領域とを含む光ディスク。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、
少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、
少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有し、
前記第１の管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値以下である場合、前記エラーの頻度が前記第１の所定値以上であった旨を前記計数領域に記録し、
前記計数領域への前記記録の回数が所定回数に到達したとき、前記第１の管理領域の情報を前記第２の管理領域に複製記録することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクの寿命を知らせる機能を有する光ディスク装置及びそのための光ディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
図３２を参照して、従来の録再型ミニディスク９のフォーマット構成について説明する。録再型ミニディスク９は、リードイン領域９１、キャリブレーション領域９２、ＵＴＯＣ（Ｕｓｅｒ  Ｔａｂｌｅ  Ｏｆ  Ｃｏｎｔｅｎｔｓ）領域９３、リザーブ領域９４、プログラム領域９５、リードアウト領域９６からなる。通常、リードイン領域９１が内周側に設けられており、リードアウト領域９６が外周側に設けられている。
【０００３】
リードイン領域９１には、ピットでＴＯＣ（Ｔａｂｌｅ  Ｏｆ  Ｃｏｎｔｅｎｔｓ）情報があらかじめ記録されている。ＴＯＣ情報とは、記録時に必要なレーザパワー、記録可能領域の開始アドレス、ＵＴＯＣ領域９３の開始アドレスなどである。
【０００４】
キャリブレーション領域９２は、最適記録パワーを調べるための調整を行うための領域である。
【０００５】
ＵＴＯＣ領域９３には、ユーザの使用に応じて、管理情報を記録することができる。例えばトラック情報（曲数、フラグメンテーション）、ディスクネーム情報（ディスク名、曲名）等が記録される。
【０００６】
プログラム領域９５には、音楽情報が記録される。
【０００７】
リードアウト領域９６には、ピット列またはグルーブが記録されている。これはプログラム領域９５への記録又は再生を終えたピックアップが暴走するのを防ぐ目的で設けられている。
【０００８】
また、録再型ミニディスク９ではアドレスをクラスタ単位で管理している。情報の書き込みは前記クラスタ単位で行われている。リードイン領域９１にはクラスタ０と１が、キャリブレーション領域９２にはクラスタ２が使われている。ＵＴＯＣ領域９３にはクラスタ３〜５の３つのクラスタが使われている。クラスタの３と４と５には同じ内容が記録される。３箇所に同じ情報を書けば、何らかのトラブルがあっても読み書きができなくなる可能性が少なくなるからである。リザーブ領域９４には、クラスタ６〜４９が用いられる。プログラム領域９５には、クラスタ５０から２２５０が使われている。
【０００９】
図３３を参照して、ＵＴＯＣ領域９３におけるセクタ割付について説明する。１クラスタは３２のデータ用セクタを持つが、現在使っているのは０〜４までだけである。セクタ０にはトラック（曲）のアドレス情報、ディスクの空き領域のアドレス情報が記録される。セクタ１はディスクネームやトラック（曲）のタイトル、アーティスト名などをアスキーコードで入れることができる。セクタ２は録音の日月時などを入れることができる。録再型ミニディスク９ではセクタ３は空いており、セクタ４にはディスクネームや曲名などをかな漢字で入れることができる。なお、上記の録再型ミニディスク９に関しては、非特許文献１に詳しい。
【００１０】
ところで、書換え可能型或いは追記型の光ディスクの寿命はアクセス回数で決まる。ここで、アクセス回数とは、書換え回数及び再生回数のことを指すものとする。録再型ミニディスク９では、特にＵＴＯＣ領域９３のアクセス回数が多く、ユーザのデータを記録するプログラム領域９５でのアクセスと比較して著しく多い。したがって、録再型ミニディスク９においては、ＵＴＯＣ領域９３が最初に劣化する可能性が高い。ＵＴＯＣ領域９３が読み出せなくなった場合、録再型ミニディスク９内の全てのデータを読み出すことができなくなる。その結果、プログラム領域９５のデータは正常であるにもかかわらず、ユーザはプログラム領域９５の全てのデータを消失することとなる。したがって、録再型ミニディスク９の寿命は、ＵＴＯＣ領域９３でのアクセス回数により決まるといえる。
【００１１】
しかし、現在実用化されている録再型ミニディスク装置においては、ＵＴＯＣ領域９３での劣化によるプログラム領域９５のデータの消失に関する有効な対策がなされていない。
【００１２】
特許文献１では、ファイル管理領域の劣化を検出したら、ファイルのディレクトリ管理情報及びデータ領域のデータ情報をそれぞれ他の領域に複製することを特徴とした光ディスク装置に関する発明が開示されている。具体的には、まず所望のファイル更新時に、最初に更新するファイルのディレクトリを管理するファイル管理領域のセクタを読み出す。リードベリファイ手段が所定の個数以上のエラーを検出したとき、当該ファイルのデータをデータ領域の未記録良品セクタに記録し、当該ファイルのディレクトリを管理するディレクトリ管理情報の再生を不可能にする。そして、前記ファイルの記録が終了した後、更新されたディレクトリ管理情報を前記ファイル管理領域の未記録良品セクタに記録するようにしてファイル更新を行う。
【００１３】
また特許文献２では、誤りの頻度が一定のしきい値を越えた時に前記光ディスク媒体の劣化を示す警告を発生することを特徴とする光磁気ディスク装置に関する発明が開示されている。書換え可能な光ディスク媒体にデータを記録、再生または消去を行った時に発生する誤りの頻度を計数し、誤りの頻度が一定のしきい値を越えた時に前記光ディスク媒体の劣化を示す警告を発生すると共に、この誤りの頻度を前記光ディスクに設けられた他の領域に記録するものである。
【特許文献１】特願昭６０−１１３６２１
【特許文献２】特願昭６３−２５４１７６
【非特許文献１】「ＭＤのすべて」  河村正行著（電波新聞社）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかし、特許文献１の発明によれば振動等による突発的な要因によって前記エラー数が所定数以上であると検出された場合であっても、他の領域に情報を複製記録する。即ち、媒体の劣化に起因しない場合であっても、劣化であると誤って認識し、他の領域に情報を複製記録する場合がある。
【００１５】
また、ファイル管理領域のみが劣化し、データ領域が劣化していない場合でもデータ領域のデータも他の領域に移動されるので、媒体の利用効率が良くない。
【００１６】
特許文献２の発明においても、振動等による突発的な要因によって前記エラー数が所定数以上であると検出された場合、劣化であると誤って認識する場合がある。また、誤りの頻度を記録するための領域が繰り返し使用により劣化した場合、ディスクそのものの使用が不可能となる。
【００１７】
また、上記のようなアクセス時のレーザ照射という熱的な原因だけでなく、異物の付着により媒体の特性が劣化することもある。この場合、書換え及び／又は追記可能な管理領域だけでなく、ピット等で形成されている管理領域の情報も消失する恐れがある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
請求項１の光ディスクは、管理領域と、計数領域とを含む。前記計数領域は、前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が所定値以上の場合、前記エラーの頻度が所定値以上であった回数を前記計数領域に記録する。
【００１９】
ここで管理領域とは、例えばミニディスクのＵＴＯＣ領域のように、書換え又は追記が可能な管理領域であってもよいし、リードイン領域のようにピットで記録されていて書換え及び追記が不可能な管理領域であっても良い。また、請求項１の光ディスクは、前記書換えが可能な管理領域が存在すれば、前記書換えが不可能な管理領域が存在しないといった排他的なものではなく、前記の２種類の管理領域が存在するものであっても良い。
【００２０】
請求項２の光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有する。前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値以下であった場合、前記エラーの頻度が前記第１の所定値以上であった旨を前記計数領域に記録する。そして、前記計数領域への前記記録が発生したとき、警告を発することを特徴とする。
【００２１】
また、警告を発するとは、具体的には、前記光ディスク装置に設けられた表示部に前記光ディスクが劣化した旨を表示することであったり、あるいは前記光ディスク装置がパソコンの外部記憶装置として使用されている場合はパソコンのモニタに前記光ディスクが劣化した旨を表示することなどが挙げられる。
【００２２】
請求項３の光ディスク装置は、少なくとも書換えが可能な管理領域を含む光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有する。前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値未満であった場合、前記管理領域に記録されている情報を前記管理領域に再記録することを特徴とする。
【００２３】
請求項４の光ディスクは、第１の管理領域と、第２の管理領域と、前記第１の管理領域を再生した際のエラーの頻度が所定値以上であった回数を記録するための計数領域とを含む。前記第２の管理領域は前記第１の管理領域の代替領域である。
【００２４】
ここで第１の管理領域とは、請求項１の管理領域と同様、書換え又は追記が可能な管理領域であってもよいし、書換え及び追記が不可能な管理領域であっても良い。一方、第２の管理領域は前記第１の管理領域の代替領域であるから、書換え又は追記が可能であることが必要である。
【００２５】
請求項５の光ディスク装置は、請求項４に記載の光ディスクへの記録及び／又は再生を行う光ディスク装置であって、少なくともエラー訂正符号化手段を含む記録手段と、少なくともエラー訂正復号化手段を含む再生手段とを有する。前記第１の管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上かつ第２の所定値以下であった場合、前記エラーの頻度が前記第１の所定値以上であった旨を前記計数領域に記録する。そして、前記計数領域への前記記録の回数が所定回数に到達したとき、前記第１の管理領域の情報を前記第２の管理領域に複製記録することを特徴とする。
【００２６】
なお、前記請求項２、３及び５の発明では、前記管理領域を再生した際のエラーの頻度が第１の所定値以上であっても、第２の所定値以下であれば、前記エラー訂正復号化手段によるエラー訂正により前記管理領域の情報が正しく再生することが可能であることを前提としている。一例として、前記第１の所定値はビットエラーレートが１×１０-4に相当するようなエラー数であり、前記第２の所定値はビットエラーレートが１×１０-3に相当するようなエラー数である。なお、前記第２の所定値は、前記エラー訂正符号化手段及び前記エラー訂正複合化手段の設計によって決まる。
【発明の効果】
【００２７】
請求項２の光ディスク装置は、エラー訂正符号を用いても管理領域への記録及び／又は再生ができなく程度にまで光ディスクの特性が劣化する前に警告情報を発するものである。したがって、請求項１の光ディスクと、請求項２の光ディスク装置とを併せ用いることにより、使用者は光ディスクに記録されている情報の消失を未然に防ぐことができる。
【００２８】
請求項３の光ディスク装置は、エラー訂正符号を用いても管理領域への記録及び／又は再生ができなく程度にまで光ディスクの特性が劣化する前に、請求項１の光ディスクの管理領域に記録されている情報を、管理領域に再記録するものである。したがって、請求項３の光ディスク装置を用いることにより、使用者は光ディスクに記録されている情報の消失を未然に防ぐことができ、更に光ディスクの寿命を延長させることが可能となる。
【００２９】
請求項５の光ディスク装置は、エラー訂正符号を用いても管理領域への記録及び／又は再生ができなく程度にまで光ディスクの特性が劣化する前に、請求項４の光ディスクの第１管理領域に記録されている情報を、第２管理領域に複製記録するものである。したがって、請求項４の光ディスクと、請求項５の光ディスク装置とを併せ用いることにより、使用者は光ディスクに記録されている情報の消失を未然に防ぐことができ、更に光ディスクの寿命を延長させることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
【００３１】
図１は、本発明の光磁気ディスク装置１の構成を示した図である。光磁気ディスク装置１は、光ピックアップ１１、モータ１２、磁気ヘッド１３、レーザ駆動回路１４、信号処理回路１６、磁気ヘッド駆動回路１５、符号化回路１７、復号化回路１８、メモリ１９、送り機構２０、表示部２１、制御回路２２からなり、光磁気ディスク２への記録及び／又は光磁気ディスク２の再生を行う。
【００３２】
光ピックアップ１１は、光磁気ディスク２に記録及び／又は光磁気ディスク２を再生するためのレーザ光を光磁気ディスク２に照射する。モータ１２は、光磁気ディスク２を回転させる。
【００３３】
磁気ヘッド１３は、光磁気ディスク２に記録を行うための磁界を発生する。レーザ駆動回路１４は、光ピックアップ１１のレーザを駆動する。磁気ヘッド駆動回路１５は、磁気ヘッド１３を駆動する。
【００３４】
信号処理回路１６は、光ピックアップ１１からの検出信号をサンプリングし、Ａ／Ｄ変換する。符号化回路１７は、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）による誤り訂正のためのパリティビットを記録データに付加する。復号化回路１８への入力信号にエラーがあっても、再生時のエラーレートが１×１０-3以下であれば、通常は復号化回路１８が持つ誤り訂正能力により信号が正しく再生できる。
【００３５】
復号化回路１８は、符号化回路１７で付加されたパリティビットを除去し、記録データを復号化する。また、信号処理回路１６で標本化、量子化された信号に対し、ＥＣＣによる誤り訂正を行うと共に、エラー数を計数する。ここでは、プログラム領域に記録されたユーザデータだけでなく、リードイン領域、ＵＴＯＣ領域に記録された管理データにおけるエラー数も計数される。
【００３６】
メモリ１９は、光磁気ディスク２のリードイン領域３１、第１ＵＴＯＣ領域３３等から読み出された情報を一時記憶する。送り機構２０は、光ピックアップ１１を光磁気ディスク２の内周方向又は外周方向へ移動させる。
【００３７】
表示部２１は、光磁気ディスク２の記録再生状況や光磁気ディスク２の劣化を示す警告等を表示する。記録再生状況とは、例えば音楽用の光磁気ディスクを再生しているのであれば、現在再生中の曲番号や曲目等である。劣化を示す警告とは、光磁気ディスク２のデータを他のディスクへ複製することを促す警告表示等である。
【００３８】
制御回路２２は、光磁気ディスク２への記録／再生の全般を制御するほか、以下の処理を行う。（１）復号化回路１８で計数されたＵＴＯＣ領域等におけるエラー数に基づいて、ＵＴＯＣ領域等の劣化度合いを判断する。（２）ＵＴＯＣ領域等の劣化が著しいと判断した場合は、ＵＴＯＣ情報等を光磁気ディスク２の第２ＵＴＯＣ領域３５に複製記録する。
【００３９】
図２は、光磁気ディスク装置１の処理手順の概略を示したものである。ユーザ光磁気ディスク装置１に光磁気ディスクを挿入すると、ディスク挿入時の処理群であるステップＳ０１が実行される。そして、ディスクへの記録再生命令の有無を調べるステップＳ０２へ進む。記録再生命令があればステップＳ０３へ進み、記録再生命令がなければステップＳ０４へ進む。ステップＳ０３では、データ領域での記録再生に係る処理が行われる。ステップＳ０４ではディスクの取り出し命令の有無を調べる。取り出し命令がない場合、ディスクへの記録再生命令の有無を調べるステップＳ０２に戻る。取り出し命令があった場合は一連の動作が終了する。
【実施例１】
【００４０】
図３を参照して、光磁気ディスク装置１が使用する光磁気ディスク２の一の実施例を説明する。光磁気ディスク２は、管理領域４１、計数領域４２、データ領域４３からなる。
【００４１】
管理領域４１には、光磁気ディスク２の管理情報が記録されている。例えば、記録時に必要なレーザパワー、データが記録可能な領域のアドレス、トラック情報（曲数、フラグメンテーション）、ディスクネーム情報（ディスク名、曲名）、ディスク上の欠陥分布に関する情報等が記録される。計数領域４２は、管理領域４１において所定数以上のエラー（或いは所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数を記録するための領域である。データ領域４３はユーザデータが記録される領域である。
【００４２】
図４は、図２のステップＳ０１（ディスク挿入時の処理）の一例を示したものである。一般に光磁気ディスクは、繰返し記録あるいは繰返し再生により特性が劣化していく。本実施例では、光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されたらディスクの劣化状態を調べる。そして、その劣化状態をユーザに通知するものである。
【００４３】
光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２を挿入すると（ステップＳ１５１）、図４で示す一連の処理が開始される。続くステップＳ１５２では、管理領域４１の読み出しが行われる。ステップＳ１５３では、管理領域４１のビットエラーレートが測定される。そして、ビットエラーレートが１×１０-4以上かどうかが評価される。前記ビットエラーレートが１×１０-4未満であればステップＳ１５４へ進む。前記ビットエラーレートが１×１０-4以上であればステップＳ１６０へ進む。
【００４４】
ステップＳ１５４では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の表示が行われる。一方、ステップＳ１６０では、計数領域４３に記録されている劣化度数が読み出される。劣化度数とは、前記ステップＳ１５３において、ビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数のことである。
【００４５】
ステップＳ１６１では、前記ステップＳ１６０で読み出された劣化度数に１を加算した値が所定値以上かどうかが調べられる。即ち、ビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数が所定回数以上かどうかが調べられる。劣化度数が所定値以上でない場合は、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」なる警告表示を行うステップＳ１６２へ進む。具体的には、「媒体の劣化が進んでいます。そろそろバックアップを取ってください」といったメッセージが表示部２１に表示される。光磁気ディスク装置１がパソコンの外部記憶装置として利用されている場合であれば、パソコンのモニタに前記警告の表示を行うものであっても良い。
【００４６】
ステップＳ１６３では、光磁気ディスク２の計数領域４２の情報が更新記録される。前記更新情報とは、特に劣化度数のことを指す。ステップＳ１５３で、管理領域４１のビットエラーレートが１×１０-4以上であると検出された場合、劣化度数に１を加えた値が計数領域４２に記録される。
【００４７】
また、ステップＳ１６１で前記劣化度数が所定値以上であるとされた場合は、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」なる警告表示が行われる。具体的には、「媒体の劣化がかなり進んでいます。至急バックアップを取ってください」といったメッセージが表示部２１に表示される。光磁気ディスク装置１がパソコンの外部記憶装置として利用されている場合であれば、パソコンのモニタに前記警告の表示を行うものであっても良い。
【００４８】
ステップＳ０１の処理が終了したら、図２を参照して、次は光磁気ディスク２への記録再生命令の有無を調べるステップＳ０２へ進む。光磁気ディスク２への記録再生命令があれば、光磁気ディスク２への記録再生が行われる（ステップＳ０３）。光磁気ディスク２への記録再生命令がない場合は、光磁気ディスク２の取り出し処理が行われる（ステップＳ０４）。
【００４９】
図５を参照して、光磁気ディスク２への記録再生を行うステップＳ０３での動作例を説明する。例えば、光磁気ディスク装置１のユーザから光磁気ディスク２への記録命令があった場合、光磁気ディスク２のデータ領域４３への記録が開始される（ステップＳ３０）。データ領域４３への記録が終了すると（ステップＳ３１）、記録時に発生した管理情報がメモリ１９に記録される（ステップＳ３２）。記録時に発生した新たな情報とは、記録したファイルの開始アドレス、終了アドレス、ユーザによる編集データ等である。ステップＳ３２が終了したら、ステップＳ０３の処理は終了である。
【００５０】
図２を参照して、次は光磁気ディスク２を取り出す命令の有無が調べられる（ステップＳ０４）。取り出し命令が検出されたら光磁気ディスク２の取り出し時の処理（ステップＳ０５）が行われる。
【００５１】
図６を参照して、前記ステップＳ０５での動作例を説明する。ステップＳ１６６では、前記ステップＳ３２でメモリ１９に記録した管理情報が参照される。ステップＳ１６７ではメモリ１９の内容に基づいて光磁気ディスク２の管理領域４１の管理情報が更新記録される。ステップＳ１６８では、光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１から排出される。
【００５２】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例２】
【００５３】
図７を参照して、光磁気ディスク装置１が使用する光磁気ディスク２の他の実施例を説明する。光磁気ディスク２は、第１管理領域４５、第２管理領域４６、計数領域４７、データ領域４８からなる。
【００５４】
第１管理領域４５には、光磁気ディスク２の管理情報が記録されている。例えば、記録時に必要なレーザパワー、データが記録可能な領域のアドレス、トラック情報（曲数、フラグメンテーション）、ディスクネーム情報（ディスク名、曲名）、ディスク上の欠陥分布に関する情報等が記録される。第２管理領域４６は、第１管理領域４５が劣化して使用することができなくなった場合に、第１管理領域４５の代わりに使用される領域である。計数領域４７は、第１管理領域４５において所定数以上のエラー（或いは所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数を記録するための領域である。データ領域４８はユーザデータが記録される領域である。
【００５５】
図８は、光磁気ディスク２の挿入時における光磁気ディスク装置１の処理（図２のステップＳ０１の他処理例）を示したものである。本実施例は、第１管理領域４５の劣化状態を調べ、劣化が進行している場合は、第１管理領域４５に記録されている情報を第２管理領域４６に複製記録するものである。
【００５６】
光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２が挿入されると（ステップＳ１７１）、図８で示す一連の処理が開始される。続くステップＳ１７２では、第１管理領域４５の読み出しが行われる。またこのとき第１管理領域４５のビットエラーレートもが測定される。
【００５７】
ステップＳ１７３では、ビットエラーレートが１×１０-3より大きいかどうかが評価される。ビットエラーレートが１×１０-3より大きい場合はステップＳ１８６へ進み、ビットエラーレートが１×１０-3以下の場合はステップＳ１７４へ進む。このステップＳ１７３を設けている目的については後で述べる。
【００５８】
ステップＳ１７４ではビットエラーレートが１×１０-4以上かどうかが評価される。前記ビットエラーレートが１×１０-4未満であればステップＳ１７５へ進む。前記ビットエラーレートが１×１０-4以上であればステップＳ１８０へ進む。
【００５９】
ステップＳ１７５では、変数Ｋに１が代入される。このＫの値は、光磁気ディスク２の取り出し処理（図９のフローチャート）を行う際に参照される。これについては、後で述べる。
【００６０】
一方、ステップＳ１８０では、計数領域４７に記録されている劣化度数が読み出される。劣化度数とは、前記ステップＳ１７３において、ビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数のことである。
【００６１】
ステップＳ１８１では、前記ステップＳ１８０で読み出された劣化度数に１を加算した値が所定値より大きいかどうかが調べられる。即ち、ビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数が所定回数以上かどうかが調べられる。
【００６２】
一方、ステップＳ１８１で前記劣化度数が所定値以上であるとされた場合は、第１管理領域４５に記録されている情報が第２管理領域４６に複製記録される（ステップＳ１８３）。続くステップＳ１８４では、第１管理領域４５に記録されている情報が消去される。この消去動作が行われた場合、次回以降の使用時において第１管理領域４５が使用されることはない。なぜならば、ステップＳ１７３を実行した場合、第１管理領域４５のビットエラーレートは常に１×１０-3以上であると判断され、光磁気ディスク２の第２管理領域４６が使用される（ステップＳ１８６へ進む）からである。即ち、ステップＳ１７３により、光磁気ディスク装置１は光磁気ディスク２が劣化検出済みのディスクかどうかを知ることができる。
【００６３】
ステップＳ１８５では変数Ｋに２が代入される。ステップＳ１７５の場合と同様、このＫは後の図９で示す処理の中で使用される。
【００６４】
図８の処理（ステップＳ０１）が完了したら、再び図２を参照して、次はステップＳ０２へ進む。ステップＳ０２で、光磁気ディスク２への記録再生命令有りと判断されれば、ディスクへの記録再生が行われる（ステップＳ０３）。このステップＳ０３の処理は実施例１の場合と同様、図６に示したようなものである。続いて、ディスクの取り出し命令の有無が調べられる（ステップＳ０４）。取り出し命令が検出されたらディスク取り出し時の処理（ステップＳ０５）が行われる。
【００６５】
図９を参照して、ステップＳ０５の処理の詳細を述べる。ステップＳ１９１ではＫの値が調べられる。このＫは、図８のフローチャートで示したステップＳ０１の中で代入された値である。Ｋが１の場合、第１管理領域４５は使用可能である（劣化が検出されていない）から光磁気ディスク２の第１管理領域４５を更新するステップＳ１９２へ進む。ここでの更新情報とは、例えば記録後のファイルの開始アドレスや終了アドレス等、光磁気ディスク２に記録を行うことにより新たに発生した情報等である。Ｋが２の場合、第１管理領域４５は使用されておらず、第２管理領域４６が使用されているから、光磁気ディスク２の第２管理領域４６を更新するステップＳ１９５へ進む。
【００６６】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例３】
【００６７】
図１０を参照して、光磁気ディスク装置１が使用する光磁気ディスク２の他の実施例を説明する。光磁気ディスク２は、第１管理領域５１、第２管理領域５２、計数領域５３、第３管理領域５４、データ領域５５等からなる。
【００６８】
第１管理領域５１では、ピット若しくはウオブル溝などでディスクの管理情報が記録されている。即ち、追記及び書換えが不可能な領域である。第１管理領域５１は、光磁気ディスク２を光磁気ディスク装置１に挿入したときに最初に読み出される領域である。記録時に必要なレーザパワー等が記録されている。
【００６９】
第２管理領域５２、計数領域５３、第３管理領域５４、データ領域５５は、書換えが可能な領域である。第２管理領域５２は、書換えが可能な管理領域である。例えば、光磁気ディスク２が録再型ミニディスクであればＵＴＯＣ領域がこれに相当する。光磁気ディスク２が、ディスク上の欠陥がどの領域に存在するかを記録する欠陥管理領域を有するものであれば、前記欠陥管理領域が第２管理領域５２に相当する。計数領域５３は、第２管理領域５２において所定数以上のエラー（或いは所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数を記録する領域である。第３管理領域５４は、第２管理領域５２が劣化して使用することができなくなった場合に、第２管理領域５２の代わりに使用される領域である。
【００７０】
図１１は、光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２を挿入したときの、光磁気ディスク装置１の処理（図２のステップＳ０１の処理）を示したものである。第２管理領域５２の劣化状態を調べ、劣化が進行している場合は、第２管理領域５２に記録されている情報を第３管理領域５３に複製記録するものである。即ち本実施例は、管理領域のうち特に書換え可能な管理領域の劣化を検出したら、他の領域に管理情報を複製記録することを特徴としている。
【００７１】
図１１のフローチャートで示す処理は、図８のフローチャートで示す処理と類似している。図８で第１管理領域としていたところを第２管理領域と、図８で第２管理領域としていたところを第３管理領域と置き換えれば図１１とほぼ同じものとなる。
【００７２】
また、本実施例では第２管理領域５２の劣化状態の検出が行われた後に、劣化状態を表示するステップが設けられている。ステップＳ４０５でビットエラーレートが１×１０-4未満と判断された場合、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の旨の表示が行われる（ステップＳ４０６）。ステップＳ４０５でビットエラーレートが１×１０-4以上と判断され、その後のステップＳ４２１で劣化度数が所定値以下であると判断された場合、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」の警告表示が行われる（ステップＳ４２３）。ステップＳ４２１で劣化度数が所定値以上であると判断された場合、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」の警告表示が行われる（ステップＳ４３２）。
【００７３】
図１１の処理（ステップＳ０１）が完了したら、実施例１、２の場合と同様、図２のステップＳ０２、ステップＳ０３、ステップＳ０４、ステップＳ０５へと進む。
【００７４】
図１２を参照して、本実施例におけるステップＳ０５（ディスク取り出し時）の処理の詳細を述べる。ステップＳ４５０ではＫの値が調べられる。このＫは、図１１のフローチャートで示したステップＳ０１の中で代入された値である。Ｋが１の場合、光磁気ディスク２の第２管理領域５２を更新するステップＳ４５１へ進む。Ｋが２の場合、光磁気ディスク２の第３管理領域５３がを更新するステップＳ４５３へ進む。
【００７５】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例４】
【００７６】
図１３を参照して、光磁気ディスク装置１が使用する他の光磁気ディスク２のフォーマットを説明する。
【００７７】
光磁気ディスク２は、第１管理領域６１、第２管理領域６２、ポインタ領域６３、第３管理領域６４、計数領域６５、データ領域６６等からなる。
【００７８】
第１管理領域６１は、実施例３の第１管理領域５１と同様、光磁気ディスク２を光磁気ディスク装置１に挿入したときに最初に読み出される領域であり、ピット若しくはウオブル溝などでディスクの管理情報が記録されている、追記及び書換えが不可能な管理領域である。第１管理領域６１には、実施例３の第１管理領域５１と同様、記録時に必要なレーザパワーが記録される。一方、実施例３の第１管理領域５１とは異なり、第１管理領域６１にはデータが記録可能な領域のアドレス、第２管理領域６２の開始アドレス等も記録されている。
【００７９】
第２管理領域６２、ポインタ領域６３、第３管理領域６４、計数領域６５、データ領域６６は、書換えが可能な領域である。
【００８０】
第２管理領域６２は、実施例３の第２管理領域５２と同様、書換えが可能な管理領域である。ポインタ領域６３には、第３管理領域６４の開始アドレスが記録される。このポインタ領域６３は、実施例３の光磁気ディスク２にはなかったものである。第３管理領域６４は、第２管理領域６２が劣化して使用することができなくなった場合に、第２管理領域６２の代わりに使用される領域である。計数領域６５は、第２管理領域６２において所定数以上のエラー（或いは所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数を記録する領域である。
【００８１】
実施例３では、光磁気ディスクの第２管理領域、計数領域、第３管理領域、データ領域等の開始アドレスは、光磁気ディスク２内には記録されているわけではなく、光磁気ディスク装置１に記憶されているものと仮定していた。これに対し、本実施例では、光磁気ディスクの前記各領域の開始アドレスは光磁気ディスク２内に記録されている。光磁気ディスク装置１が各領域のアドレス情報を記憶しておく必要はない。したがって、本実施例に拠れば、生産者は光磁気ディスク２の各領域の配置や容量を自由に設計することができる。
【００８２】
図１４は、光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２を挿入したときの、光磁気ディスク装置１の処理（図２のステップＳ０１の処理）を示したものである。第２管理領域の劣化状態を調べ、劣化が進行している場合は、第２管理領域に記録されている情報を第３管理領域に複製記録し、次回以降は第３管理領域を使用する。この点では実施例３と同じである。
【００８３】
但し、実施例３では光磁気ディスク装置１が予め第３管理領域の開始アドレスを記憶しているものとしていたが、本実施例では、光磁気ディスク装置１は予め第３管理領域の開始アドレスを記憶しておらず、ポインタ領域を再生する（ステップＳ１４０を行う）ことにより光磁気ディスク装置１は第３管理領域の開始アドレスを知る点で異なる。
【００８４】
図１４（本実施例）のフローチャートはステップＳ１４０、ステップＳ１４１、ステップＳ１５０を有する点で、図１１（実施例３）のフローチャートと異なるが、それ以外の処理ステップに関してはほぼ同じであるので、図１４のフローチャートの詳細な説明は省略する。
【００８５】
図１４の処理（ステップＳ０１）が完了したら、実施例１乃至３の場合と同様、図２のステップＳ０２、ステップＳ０３、ステップＳ０４、ステップＳ０５へと進む。また、本実施例におけるステップＳ０５の処理は実施例３の場合と同じである（図１２のフローチャートに示すとおりである）。
【００８６】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例５】
【００８７】
図１５を参照して、光磁気ディスク装置１が使用する他の光磁気ディスク２のフォーマットを説明する。
【００８８】
本実施例の光磁気ディスク２は、第１管理領域７１、ポインタ領域７２、第２管理領域７３、第３管理領域７４、計数領域７５、データ領域７６等からなる。第１管理領域７１は、実施例４の第１管理領域６１と同様、追記及び書換えが不可能な管理領域である。
【００８９】
ポインタ領域７２、第２管理領域７３、第３管理領域７４、計数領域７５、データ領域７６は、書換えが可能な領域である。本実施例のポインタ領域７２には、第２管理領域７３の開始アドレス情報が磁気的に記録されている。前記開始アドレス情報は、工場で製造時に記録されるものであっても良いし、初回使用時のフォーマット（初期化）処理時に、光磁気ディスク装置１により記録されるものであっても良い。
【００９０】
第２管理領域７３は、実施例４の第２管理領域６２と同様、書換えが可能な管理領域である。第３管理領域７４は、第２管理領域７３が劣化して使用することができなくなった場合に、第２管理領域７３の代わりに使用される領域である。計数領域７５は、第２管理領域７３において所定数以上のエラー（所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数（劣化度数）を記録する領域である。
【００９１】
図１６のフローチャートを参照して、光磁気ディスク２挿入後の、本実施例の光磁気ディスク装置１の動作（図２のステップＳ０１の処理）を述べる。光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２が挿入されたら、光磁気ディスク装置１は、まず光磁気ディスク２の第１管理領域７１をアクセスし（ステップＳ２０２）、次にポインタ領域７２にアクセスする（ステップＳ２０３）。光磁気ディスク２の出荷直後或いは初期化フォーマット直後には、ポインタ領域７２には第２管理領域７３の開始アドレス情報が記録される。第２管理領域７３が劣化した場合（ステップＳ２３１）、第２管理領域７３の情報が第３管理領域７４へ複製され（ステップＳ２４０）、続いてポインタ領域７２が消去される（ステップＳ２４１）。次回以降の使用時においては、ポインタ領域７２には第２管理領域７３の開始アドレス情報が記録されておらず、第２管理領域７３へのアクセスができなくなる。ポインタ領域７２に何も記録されていない場合は、第３管理領域７４に記録されている情報が読み出される（ステップＳ２５０）。
【００９２】
図１６の処理（ステップＳ０１）が完了したら、実施例１乃至４の場合と同様、図２のステップＳ０２、ステップＳ０３、ステップＳ０４、ステップＳ０５へと進む。また、本実施例におけるステップＳ０５の処理は実施例３、４の場合と同じである（図１２のフローチャートに示すとおりである）。
【００９３】
なお、ポインタ領域７２は、第２管理領域７３の開始アドレスを記録するための領域であるとし、ポインタ領域７２に第２管理領域７３の開始アドレスが記録されていれば、第２管理領域６３を使用するものとし、ポインタ領域７２に第２管理領域７３の開始アドレスが記録されていなければ、第３管理領域７４を使用するものとしていた。しかしこれに限らず、例えば、ポインタ領域７２に（第２管理領域７３の開始アドレス情報とは異なる）特定パターンのマークが記録されていれば、第２管理領域７３を使用するものとし、ポインタ領域６２に前記特定パターンのマークが記録されていなければ、第３管理領域７４を使用するものとしてもよい。或いは、ポインタ領域６２に“１”が記録されていれば第２管理領域７３を使用するものとし、“１”が記録されていれば、第３管理領域７４を使用するものとしてもよい。
【００９４】
また、ステップＳ２０４でポインタが検出できたら第２管理領域７３を読み出し、ポインタが検出できなければ第３管理領域７４を読み出すものとしていた。ここで、ポインタが検出できないのは、以前に第２管理領域７３の劣化に起因してポインタ消去（ステップＳ２４１）が行われたことによるものであった。また、第２管理領域７３の内容を第３管理領域７４へ複製記録する処理（ステップＳ２４０）が行われることにより、第３管理領域７４を使用することが可能となるのであった。
【００９５】
ここで、第２管理領域７３の劣化には起因せず、ポインタ領域７２の繰返し再生による、ポインタ領域７２自体の劣化に起因して、ポインタ領域７２に記録されているポインタが検出できない場合も考えられる。第２管理領域７３が全く劣化していない場合は、事前に前記ステップＳ２４０の処理が行われていないから、第３管理領域７４には管理情報が全く記録されていない。このような場合においても、前記ステップＳ２０４に続いて前記ステップＳ２５０へ進むのであれば、その時点で光磁気ディスク２は使用不可である状態となる。これを防ぐためには、例えば以下の３つの方法が考えられる。（１）ポインタ領域７２でのマーク長を、第２管理領域７３でのマーク長よりも長く設定しておき、ポインタ領域７２が少々劣化しても、そこに記録されているポインタが再生できるようにする。（２）再生時のレーザ照射によるマーク変形に起因してポインタ領域７２の再生性能が低下しているのであれば、定期的若しくは所定の使用回数ごとに、ポインタ領域７２にポインタ情報を再記録する。（３）図１７のように、劣化度数が所定回数に到達（ステップＳ２３１）して初めて第２管理領域６３の内容を第３管理領域７４へ複製記録する処理（ステップＳ２４０）のではなく、一度でもステップＳ２０７で第２管理領域７３のエラーレートが１×１０-4以上であると判断されたなら、次回以降の光磁気ディスク装置２の使用時においては、常に第２管理領域７３の内容を第３管理領域７４へ複製記録する処理ステップを含むようにしても良い。
【００９６】
実施例４では、ポインタ領域６３がアクセスされるのは、第２管理領域６２が劣化した後に限られていた。これに対し本実施例では、ポインタ領域７２がアクセスされるのは、第２管理領域７３が劣化した後に限られない点で相違する。
【００９７】
また、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例６】
【００９８】
上記実施例１乃至５は、書換え不可能な管理領域と、書換え可能な管理領域とを有する光磁気ディスクであって、前記書換え可能な管理領域が劣化したとき、他の前記書換え可能な管理領域へ情報を複製記録するものであった。これに対し、本実施例は前記書換え不可能な管理領域が劣化したとき、該領域の情報を書換え可能な他の領域へ複製記録するものである。
【００９９】
図１７は、本実施例における光磁気ディスク２の示したものである。光磁気ディスク２は、第１管理領域１０１、第２管理領域１０２、ポインタ領域１０３、第３管理領域１０４、第４管理領域１０５、第１計数領域１０６、第２計数領域１０７、データ領域１０８とを有する。
【０１００】
第１管理領域１０１には、ピット若しくはウオブル溝などでディスクの管理情報が記録されている。第２管理領域１０２は、書換え可能な管理領域である。ポインタ領域１０３は、第３管理領域１０４の開始アドレス情報を記録するための領域である。第３管理領域１０４は、第２管理領域１０２が劣化したときに代用される領域であり、情報の書き込みが可能な領域である。第４管理領域１０５は、第１管理領域１０１が劣化したときに代用される領域であり、情報の書き込みが可能な領域である。第１計数領域１０６は、第１管理領域１０１のエラー数が所定値以上であった回数（第１管理領域１０１の劣化度数）を記録するための領域である。第２計数領域１０７は、第２管理領域１０２の劣化度数を記録するための領域である。データ領域１０８は、ユーザデータを記録するための領域である。
【０１０１】
次に、図１８のフローチャートを参照して、第１管理領域１０１が劣化したときに、その情報を第４管理領域１０５に複製記録する処理手順を説明する。
【０１０２】
光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されると（ステップＳ５０１）、第１管理領域１０１にアクセスされる（ステップＳ５０２）。
【０１０３】
ステップＳ５０３では、第１管理領域１０１で読み出された情報に信頼性があるかどうかが評価される。本実施例の光磁気ディスク装置１の復号化回路１８は、ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば、読み出された情報に誤りがあっても誤り訂正により正しい情報が復元できる。したがって、前記ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば第１管理領域１０１で読み出された情報は正しいものとみなされ、ビットエラーレートが１×１０-3より大きければ第１管理領域１０１で読み出された情報は誤っているものとみなされる。前記ビットエラーレートが１×１０-3以下であればステップＳ５０４へ進む。前記ビットエラーレートが１×１０-3以上であればステップＳ５３０へ進む。
【０１０４】
ステップＳ５０４では、第１管理領域１０１で読み出された情報のビットエラーレートが１×１０-4以上かどうかが評価される。ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合、光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によって第１管理領域１０１の情報は正しく再生できているが、これ以上エラー数が増加すると光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によっても第１管理領域１０１の情報を正しく再生することができなくなる恐れがある。
【０１０５】
前記ビットエラーレートが１×１０-4未満であれば、第２管理領域１０２を読み出すステップＳ５０５へ進む。ステップＳ５０５以下の処理については、様々な実施形態が考えられるが、例えば実施例３（図１１）のステップＳ４０３以下の処理と同様のものであってもよい。但し、図１１のステップＳ４２０及びステップＳ４２２における「計数領域」は、「第１計数領域」と読み替えるものとする。
【０１０６】
一方、前記ビットエラーレートが１×１０-4以上であればステップＳ５１０へ進む。ステップＳ５１０では、第２計数領域１０７に記録されている劣化度数が読み出される。劣化度数とは、前記ステップＳ５０４において、第１管理領域のビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数のことである。
【０１０７】
ステップＳ５１１では、前記ステップＳ５１０で読み出された劣化度数に１を加算した値が所定値以上かどうかが調べられる。劣化度数が所定値以上であれば、第１管理領域１０１の劣化が過去にも頻繁に検出されたものとみなし、第１管理領域１０１の情報を第４管理領域１０５へ複製する処理が行われる（ステップＳ５２０）。
【０１０８】
ステップＳ５１２では、第２計数領域１０７に記録されている劣化度数が更新される。即ち、第２計数領域１０７に記録されていた値に１を加算した値に更新される。ステップＳ５１３では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」なる警告表示が行われる。そしてステップＳ５０５へ進む。
【０１０９】
ステップＳ５２０では、第１管理領域１０１の情報を第４管理領域１０５へ複製する処理が行われる。ステップＳ５２１では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」なる警告表示が行われる。
【０１１０】
また、ステップＳ５０３において、ビットエラーレートが１×１０-3以上であればステップＳ５３０へ進むが、ステップＳ５３０では、第４管理領域１０５から情報が読み出される。第４管理領域１０５に記録されている情報とは、前記ステップＳ５２０において記録されたものである。
【０１１１】
第１管理領域１０１では、ピットやウオブルに基づいて情報が記録されているが、第４管理領域１０５では、情報が磁気的に記録されている。ゆえに、通常は両者の再生信号の振幅は大きく異なる。したがって、第１管理領域１０１の再生時と第４管理領域１０５の再生時とでは、光ディスク装置１（特に信号処理回路１６）での処理を切り換えて行うことになる。
【０１１２】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例７】
【０１１３】
本実施例は、単一の書換え可能な管理領域からなり、繰り返し再生による前記書換え可能な管理領域領域の劣化が検出されたら、そこに記録されていた情報を同じ領域に新たに書き直すことを特徴とする。
【０１１４】
図１９は、本実施例で使用される光磁気ディスク２のフォーマット構成を示したものである。第１管理領域８１はピット又はウオブル溝等で構成された、書換えが不可能な管理領域である。第２管理領域８２は書換え可能な管理領域である。
【０１１５】
図２０のフローチャートは、光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２を挿入したときの処理手順を示したものである（図２のステップＳ０１）。
【０１１６】
光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されると、光磁気ディスク装置１の動作が開始する（ステップＳ６０１）。ステップＳ６０２では、第１管理領域８１にアクセスされ、情報が読み出される。
【０１１７】
ステップＳ６０３では、光磁気ディスク装置１のメモリ１９に格納される変数Ｎに０が代入される。ステップＳ６０４では、第２管理領域８２に記録されている情報が読み出されると共に、第２管理領域８２のビットエラーレートが測定される。
【０１１８】
ステップＳ６０５では、第２管理領域８２で読み出された情報に信頼性があるかどうかが評価される。本実施例の光磁気ディスク装置１の復号化回路１８は、ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば、第２管理領域８２で読み出された情報に誤りがあっても誤り訂正により正しい情報が復元できる。したがって、前記ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば第２管理領域８２で読み出された情報は正しいものとみなされ、ビットエラーレートが１×１０-3より大きければ第２管理領域８２で読み出された情報は誤っているものとみなされる。
【０１１９】
ステップＳ６０５において、前記ビットエラーレートが１×１０-3より大きいと判断されれば、ステップＳ６５０へ進む。ステップＳ６５０では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「ディスク使用不可」なる表示がなされる。
【０１２０】
前記ステップＳ６０５において、前記ビットエラーレートが１×１０-3以下であると判断されれば、ステップＳ６０６へ進む。
【０１２１】
ステップＳ６０６では、第２管理領域８２で読み出された情報のビットエラーレートが１×１０-4以上かどうかが評価される。ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合、光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によって第２管理領域８２の情報は正しく再生できているが、これ以上エラー数が増加すると光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によっても第２管理領域８２の情報を正しく再生することができなくなる恐れがある。
【０１２２】
前記ステップＳ６０６において、ビットエラーレートが１×１０-4未満であると評価されれば、ステップＳ６０９へ進む。
【０１２３】
前記ステップＳ６０６において、ビットエラーレートが１×１０-4以上であると評価されれば、ステップＳ６２０へ進む。ステップＳ６２０では、メモリ１９に格納されている変数Ｎに１を加算された値に更新される。前記加算された値に更新された結果、Ｎは１となる。ステップＳ６２１では、Ｎが１であるかどうかが調べられるが、ここではＮは１であるからステップＳ６２２へ進む。
【０１２４】
ステップＳ６２２では、ステップＳ６０４において読み出された第２管理領域８２に記録されていた情報を第２管理領域８２に再記録する。そしてステップＳ６０６において、再びビットエラーレートが１×１０-4以上であるかどうかが評価される。
【０１２５】
前記ビットエラーレートが１×１０-4未満であった場合、ステップＳ６２２の第２管理領域８２への再記録を行った結果、ビットエラーレートが回復したことを意味する。そして、ステップＳ６０９へ進む。
【０１２６】
ステップＳ６０９では、Ｎが０か否かが判断される。Ｎが０の場合、ステップＳ６０６においてビットエラーレートが１×１０-4以上であると判断されたことが一度もないことを意味する。即ち光磁気ディスク装置１は劣化していないものとみなされる。ゆえに、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の表示を行うステップＳ６１０へ進む。
【０１２７】
ステップＳ６０９において、Ｎが１の場合、ステップＳ６２０の処理ブロックを１度だけ通過していることになる。即ち、１度目のビットエラーレート評価時（ステップＳ６０６）では１×１０-4以上だったが、第２管理領域８２への再記録（ステップＳ６２２）を行うことでビットエラーレートが１×１０-4未満に回復したことを意味する。この場合は、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」の警告表示を行うステップＳ６３０へ進む。
【０１２８】
第２管理領域８２への再記録（ステップＳ６２２）を行ったのにも係わらず、ステップＳ６０６において第２管理領域８２のビットエラーレートが再び１×１０-4以上であると判断された場合、ステップＳ６２０へ進む。そしてメモリ１９に格納されている変数Ｎには、１を加算された値、即ち２に更新される。ステップＳ６２１では、Ｎが１であるかどうかが調べられるが、ここではＮは２であるからステップＳ６４２へ進む。
【０１２９】
ステップＳ６４０では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」の警告表示を行う。そして、一連の処理が終了する（ステップＳ６６０）。
【０１３０】
図１６の処理（ステップＳ０１）が完了したら、実施例１乃至５の場合と同様、図２のステップＳ０２、ステップＳ０３、ステップＳ０４、ステップＳ０５へと進む。また、本実施例におけるステップＳ０５の処理は実施例１の場合と同様である（図６のフローチャートに示すとおりである）。但し、図６のフローチャートにおける管理領域は第２管理領域と読み替える必要がある。
【０１３１】
本実施例の光磁気ディスク２及び光磁気ディスク装置１により、再生時のアクセス回数のみによる劣化を検出し、光磁気ディスクの劣化検出を行い、光磁気ディスク装置１の利用者に、光磁気ディスクの劣化状態について視認させることができる。
【０１３２】
なお、本実施例では、第２管理領域８２のビットエラーレートが所定値（１×１０-4）以上であることが検出されたら、第２管理領域８２の情報を再記録するものとしたが、前記ビットエラーレートが所定値（１×１０-4）以上であることが検出された回数（劣化度数）が所定回数にあったときに第２管理領域８２の情報を再記録するものであっても良い。この場合、図２１に示す光磁気ディスク２が用いられ、計数領域８３に前記劣化度数が記録される。
【０１３３】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び３の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例８】
【０１３４】
前記実施例１乃至７では、管理領域の劣化が検出された場合、データ領域での記録再生を行う前に、他の領域に管理領域の情報を複製記録したり、或いは管理領域の情報を再記録するものであった。しかし、前記複製記録等はデータ領域での記録再生の前に行う必要は無く、後で行っても良い。本実施例では管理領域の劣化が検出された場合における他の領域への管理情報の複製記録は、データ領域での記録再生が済んでから行うものとする。
【０１３５】
図２２を参照して、本実施例の光磁気ディスク２のフォーマットを説明する。光磁気ディスク２は、リードイン領域３１、キャリブレーション領域３２、第１ＵＴＯＣ領域３３、計数領域３４、第２ＵＴＯＣ領域３５、リザーブ領域３６、プログラム領域３７、リードアウト領域３８等からなる。
【０１３６】
このうち、リードイン領域３１は、録再型ミニディスク９のリードイン領域９１とほぼ同じである。但し、少なくとも第１ＵＴＯＣ領域３３の開始アドレスに関する情報を有している。
【０１３７】
第１ＵＴＯＣ領域３３は、録再型ミニディスク９のＵＴＯＣ領域９３と類似しているが、若干構成が異なる。これは図２３を参照して後で説明する。
【０１３８】
キャリブレーション領域３２、プログラム領域３７、リードアウト領域３８、は、それぞれキャリブレーション領域９２、録再型ミニディスク９のプログラム領域９５、リードアウト領域９６とほぼ同じ構成である。
【０１３９】
第２ＵＴＯＣ領域３５は、第１ＵＴＯＣ領域３３へのアクセス回数の増大に伴い、第１ＵＴＯＣ領域３３が物理的に劣化して使用できなくなった場合、第１ＵＴＯＣ領域３３に代えて使用されるものである。
【０１４０】
ここでアクセスとは、特定領域での記録及び／又は再生を指すものとする。同一領域での記録を繰り返し行った場合、記録時に照射されるレーザ光により媒体が劣化する。一方、同一領域での再生を繰り返し行った場合、再生時に照射されるレーザ光により記録されたマーク（磁区）が変形する。また、再生時に照射されるレーザ光によっても媒体そのものが劣化する場合もある。したがって、特定領域での記録回数及び／又は再生回数、即ち特定領域でのアクセス回数が増大すると、媒体が劣化したり、記録されたマークが変形して信号が再生できなくなったりする。
【０１４１】
光磁気ディスク装置１は、まずリードイン領域３１にアクセスし、次に第１ＵＴＯＣ領域３３にアクセスし、ＵＴＯＣ情報を再生する。第１ＵＴＯＣ領域３３が劣化により使用不能となった場合、第１ＵＴＯＣ領域３３に代えて、第２ＵＴＯＣ領域３５にアクセスする。そして第２ＵＴＯＣ領域３５に記録されたＵＴＯＣ情報が再生される。
【０１４２】
クラスタ０〜２はリードイン領域３１と記録できるレコーダブル領域のキャリブレーション領域３２である。クラスタ３〜５は第１ＵＴＯＣ領域３３であり、クラスタの３と４と５には同じ内容が記録される。クラスタ６は、計数領域３４であり、第１ＵＴＯＣ領域３３の劣化度を示す情報が記録される。
【０１４３】
クラスタ７〜９は第２ＵＴＯＣ領域３５であり、第１ＵＴＯＣ領域３３が物理的に劣化して使用できなくなった場合に、ＵＴＯＣ情報を記録するための領域として用いられる。クラスタの７〜９には、第１ＵＴＯＣ領域３３の場合と同様、同じ内容が記録される。
【０１４４】
図２３は、第１ＵＴＯＣ領域３３におけるセクタ割付を示すものである。従来の録再型ミニディスク９と同様、１クラスタは３２のデータ用セクタを持つ。従来の録再型ミニディスク９では、セクタ０〜４のみが使用されていた。これに対し、本発明の光磁気ディスク２では、セクタ０〜５が使用される。本発明の光磁気ディスク２における、セクタ０〜４の記録内容は、従来の録再型ミニディスク９と同じであるから説明を省略する。
【０１４５】
セクタ５は、第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報を記録するための領域である。光磁気ディスク２では、第１ＵＴＯＣ領域３３が劣化により使用不可となった場合、代わりに第２ＵＴＯＣ領域３５が使用される。したがって光磁気ディスク装置１は、第１ＵＴＯＣ領域３３にアクセスした後、第２ＵＴＯＣ領域３５にアクセスできなくてはならない。そこで光磁気ディスク２では、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報を記録できるようにしている。
【０１４６】
なお、光磁気ディスク２の出荷時においては、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報は記録されていない。本発明のエラーレート測定により、第１ＵＴＯＣ領域３３の劣化が確認されたときはじめて、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報が記録される。そして、次回以降の光磁気ディスク２の使用においては、第２ＵＴＯＣ領域３５に記録されたＵＴＯＣ情報が利用される。
【０１４７】
図２を参照して、光磁気ディスク２に音楽データを録音する場合における光磁気ディスク装置１の動作手順の概略を説明する。ユーザが光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２を挿入すると、ディスク挿入時の処理ステップＳ０１が実行される。次に、ユーザからのディスク記録命令の有無がステップＳ０２で調べられる。例えば、録音開始のボタンが押されていれば、ディスク記録命令があったことを意味する。ディスク記録命令があった場合、データ領域での記録を行う処理ステップＳ０３が実行される。次に、ユーザからのディスク取り出し命令の有無がステップＳ０４で調べられる。例えば、イジェクトのボタンが押されていれば、ディスク取り出し命令があったことを意味する。ディスク取り出し命令があった場合、ディスク取り出し時の処理を行う処理ステップＳ０５が実行される。なお、ディスク挿入時の処理ステップＳ０１の詳細は図２４で、データ領域での記録を行う処理ステップＳ０３の詳細は図２５で、ディスク取り出し時の処理ステップＳ０５は図２６で示した。
【０１４８】
（ディスク挿入時の処理を行うステップＳ０１の動作の説明）
まず、図２４を参照して、ディスク挿入時の処理ステップＳ０１における各処理内容について説明する。光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されると（ステップＳ１０）、光磁気ディスク装置１は、光磁気ディスク２の内周側にあるリードイン領域３１に記録されたＴＯＣ情報を読み出す（ステップＳ１１）。このＴＯＣ情報の中には第１ＵＴＯＣ領域３３の開始アドレス情報も含まれている。
【０１４９】
ステップＳ１２では、第１ＵＴＯＣ領域３３に記録されたＵＴＯＣ情報が読み出されると共に、第１ＵＴＯＣ領域３３のビットエラーレートが測定される。このビットエラーレートは、図１における復号化回路１８から出力されるエラー数を計数し、それを第１ＵＴＯＣ領域３３の情報の全ビット数で割ることで得られる。
【０１５０】
ステップＳ１３では、第１ＵＴＯＣ領域３３で読み出された情報に信頼性があるかどうかが評価される。本実施例の光磁気ディスク装置１の復号化回路１８は、ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば、第１ＵＴＯＣ領域３３で読み出された情報に誤りがあっても誤り訂正により正しい情報が復元できる。
【０１５１】
したがって、前記ビットエラーレートが１×１０-3以下であれば第１ＵＴＯＣ領域３３で読み出された情報は正しいものとみなされ、ステップＳ１４へ進む。前記ビットエラーレートが１×１０-3以上であれば第１ＵＴＯＣ領域３３で読み出された情報は誤っているものとみなされ、ステップＳ２４へ進む。
【０１５２】
ステップＳ１４においては、第１ＵＴＯＣ領域３３の各クラスタのセクタ５に、第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報を示すポインタが記録されているかどうかが確認される。前記ポインタが検出された場合、第１ＵＴＯＣ領域３３は既に劣化のため使用不可である（劣化が検出された場合、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレスが記録される。これは後で説明する図１２のステップＳ５６でのステップで行われる）。この場合、第２ＵＴＯＣ領域３５を再生するステップＳ２５へ進む。ステップＳ１４において、ポインタが検出されなかった場合、ステップＳ１５へ進む。
【０１５３】
ステップＳ１５では、第１ＵＴＯＣ領域３３で読み出された情報のビットエラーレートが１×１０-4以上であったかどうかが評価される。ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合、光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によって第１ＵＴＯＣ領域３３の情報は正しく再生できている。しかし、これ以上エラー数が増加すると光磁気ディスク装置１の復号化回路１８による誤り訂正によっても第１ＵＴＯＣ領域３３の情報を正しく再生することができなくなる恐れがあるという状態である。
【０１５４】
ステップＳ１５において、ビットエラーレートが１×１０-4以下であった場合は、ステップＳ１６へ進む。ステップＳ１６では、光磁気ディスク２のリードイン領域３１から読み出されたＴＯＣ情報と、第１ＵＴＯＣ領域３３から読み出されたＵＴＯＣ情報とがメモリ１９に記録される。続くステップＳ１７では、変数Ｋに１が代入される。この変数Ｋは、後の図１２で示すフローチャートでの処理において利用される（Ｋの値に応じて処理内容が異なる）。
【０１５５】
前記ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合はステップＳ２０へ進む。ステップＳ２０では、光磁気ディスク２のリードイン領域３１から読み出されたＴＯＣ情報と、第１ＵＴＯＣ領域３３から読み出されたＵＴＯＣ情報と、前記１×１０-4以上のビットエラーレートが検出された旨がメモリ１９に記録される。続くステップＳ２１では、変数Ｋに２が代入される。
【０１５６】
また、ステップＳ１３において、ビットエラーレートが１×１０-3よりも大きかった場合は、ステップＳ２４へ進む。ステップＳ２４では、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報を示すポインタが記録されているかが確認される。劣化が検出された場合、後で説明する図２６のステップＳ５６において、第１ＵＴＯＣ領域３３のセクタ５に第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレスが記録されるので、前記ポインタが記録されていた場合、第１ＵＴＯＣ領域３３に代えて、第２ＵＴＯＣ領域３５にＵＴＯＣ情報が記録されていることを示す。この場合、第２ＵＴＯＣ領域を読み出すステップＳ２５へ進む。
【０１５７】
前記ポインタが記録されていない場合、ステップＳ５６で示した動作が過去に行われてため、第１ＵＴＯＣ領域３３に代えて、第２ＵＴＯＣ領域３５にＵＴＯＣ情報が記録されておらず、光磁気ディスク２への記録／再生に必要なＵＴＯＣ情報が復元できない。ゆえに異常終了を示すステップＳ２９へ進む。即ち、ＵＴＯＣ情報の再生が不能であることにより、ディスク２の使用ができない旨をユーザ側に示したうえで、一連の動作を終了する。
【０１５８】
そして、ステップＳ２６では、光磁気ディスク２のリードイン領域３１から読み出されたＴＯＣ情報、第２ＵＴＯＣ領域３５から読み出されたＵＴＯＣ情報がメモリ１９に記録される。ステップＳ２６の動作が完了すると、ステップＳ２７において、変数Ｋに３が代入される。以上が、ステップＳ０１の動作の説明である。
【０１５９】
（データ領域での記録処理を行うステップＳ０３の動作の説明）
再び図２を参照して、ステップＳ０１の動作が終了すると、ディスクの記録命令の有無を判断するステップＳ０２へ進む。ディスクの記録命令有と判断された場合、データ領域での記録処理を行うステップＳ０３へ進む。
【０１６０】
図２５を参照して、処理ステップＳ０３における各処理内容について説明する。光磁気ディスク装置１のユーザからディスクの記録命令があった場合、光磁気ディスク２のプログラム領域３７への音楽データの記録が開始される（ステップＳ３６）。そして、ユーザからの録音終了命令が入力されると（ステップＳ３７）、録音時に発生した新たな情報がメモリ１９に記録される（ステップＳ３８）。録音時に発生した新たな情報とは、録音に用いたプログラム領域３７の開始アドレス、終了アドレス、ユーザによる編集データ等である。以上が、ステップＳ０３の動作の説明である。
【０１６１】
（ディスク取り出し処理を行うステップＳ０５の動作の説明）
再び図２を参照して、ステップＳ０３の動作が終了すると、ディスクの取り出し命令の有無を判断するステップＳ０４へ進む。ディスクの取り出し命令有と判断された場合、ディスク取り出し処理を行うステップＳ０５へ進む。
【０１６２】
図２６を参照して、処理ステップＳ０５における各処理内容について説明する。光磁気ディスク装置１のユーザからディスクの取り出し命令があった場合、ステップＳ４０において、Ｋの値が調べられる。Ｋが１である場合はステップＳ４１へ、Ｋが２である場合はステップＳ５０へ、Ｋが３である場合はステップＳ６０へ進む。このＫは、図２４のステップＳ１７、ステップＳ２１、又はステップＳ２７で代入された値のことである。
【０１６３】
ステップＳ４０において、Ｋが１であると判断された場合、図２４のステップＳ１６においてメモリへ記録された情報のうちのＵＴＯＣに関する情報と、記録時に新たに発生しメモリに蓄積されたＵＴＯＣ情報とが、光磁気ディスク２の第１ＵＴＯＣ領域３３に記録される（ステップＳ４１）。ステップＳ４２では、「劣化なし」を示す表示が光磁気ディスク装置１の表示部２１になされる。そして、光磁気ディスク２を排出する処理が実行される（ステップＳ７０）。
【０１６４】
ステップＳ４０においてＫが２であると判断された場合、光磁気ディスク２の計数領域３４の情報が読み出される（ステップＳ５０）。計数領域３４には、第１ＵＴＯＣ領域３３の劣化度を示す情報、及びプログラム領域３７における欠陥の存在する位置を示す情報が記録されている。
【０１６５】
第１ＵＴＯＣ領域３３の物理的な劣化度は、第１ＵＴＯＣ領域３３のビットエラーレートの測定結果が１×１０-4以上であった回数（以後、劣化度数と呼ぶ）によって評価される。例えば、ステップＳ１５においてビットエラーレートの測定結果が１×１０-4以上であると判断された場合、劣化度数に１が加算される。ステップＳ５０では、この劣化度数が、計数領域３４から読み出される。
【０１６６】
ステップＳ５１では、ステップＳ５０で読み出された劣化度数に１を加算した値が、所定値未満かどうかが評価される。所定値以上であると判断された場合、第１ＵＴＯＣ領域３３のクラスタ３〜５それぞれのセクタ５に、第２ＵＴＯＣ領域の開始アドレス情報を示すポインタが記録される（ステップＳ３１）。
【０１６７】
ステップＳ５１において、ステップＳ５０で読み出された劣化度数に１を加算した値が、所定値未満であると判断された場合、計数領域３４の所定位置に前記劣化度数に１を加算した値を記録する（ステップＳ５２）。
【０１６８】
ステップＳ５３では、メモリ１９の内容が光磁気ディスク２の第１ＵＴＯＣ領域３３に記録される。ここで第１ＵＴＯＣ領域３３に記録される内容とは、図２４のステップＳ２０においてメモリへ記録された情報のうちのＵＴＯＣに関する情報と、記録時に新たに発生しメモリに蓄積されたＵＴＯＣ情報と、ステップＳ１５においてビットエラーレートが１×１０-4以上であった旨を示す情報である。
【０１６９】
ステップＳ５４では、劣化度が中程度である旨の警告が光磁気ディスク装置１の表示部２１に表示される。そして、光磁気ディスク２を排出する処理が実行される（ステップＳ７０）。
【０１７０】
また、上述のように、ステップＳ５１において、ステップＳ５０で読み出された劣化度数に１を加算した値が所定値以上であると判断された場合、ステップＳ５６において、第１ＵＴＯＣ領域３３のクラスタ３〜５それぞれのセクタ５に、第２ＵＴＯＣ領域３５の開始アドレス情報を示すポインタが記録される。そしてステップＳ６０へ進む。
【０１７１】
ステップＳ６０においては、メモリ１９に記録されている内容が光磁気ディスク２の第２ＵＴＯＣ領域３５に記録される。ここで第２ＵＴＯＣ領域３５に記録される内容とは、図２４のステップＳ２６においてメモリへ記録された情報のうちのＵＴＯＣに関する情報と、記録時に新たに発生しメモリに蓄積されたＵＴＯＣ情報である。即ち、ステップＳ５０→ステップＳ５１→ステップＳ５６、ステップＳ６０へと進んだ場合は、光磁気ディスク２の第１ＵＴＯＣ領域３３の情報と、光磁気ディスク２の録音時に発生した情報とが、第２ＵＴＯＣ領域３５へ記録されることとなる。
【０１７２】
ステップＳ６１では、劣化度が大である旨の警告が光磁気ディスク装置１の表示部２１に表示される。そして、光磁気ディスク２を排出する処理が実行される（ステップＳ７０）。
【０１７３】
また、ステップＳ４０においてＫが３であると判断された場合、ステップＳ６０へ進む。以下、ステップＳ６１→ステップＳ７０へと進み動作が終了する。以上が、ステップＳ０５の動作の説明である。
【０１７４】
本実施例では、前記劣化度数の初期値をゼロとし、所定の状態（ステップＳ１５において、ビットエラーレートが１×１０-4以上）が検出されるたびに前記劣化度数に１を加算し、前記劣化度数が所定の回数に到達したら、光磁気ディスク２が劣化したと判断するものであった。しかし、前記劣化度数の初期値を前記所定の回数とし、前記所定の状態が検出されるたびに前記劣化度数から１を減算し、前記劣化度数がゼロに到達したら光磁気ディスク２が劣化したと判断するものであっても良い。
【０１７５】
以上のように、光磁気ディスク装置１は、光磁気ディスク２上の第１ＵＴＯＣ領域３３が、アクセス回数の増大による劣化が検出された場合、光磁気ディスク２上に設けられた第２ＵＴＯＣ領域３５にＵＴＯＣ情報を複製記録し、第２ＵＴＯＣ領域３５を第１ＵＴＯＣ領域３３の代わりに使用する。ゆえに、ＵＴＯＣ領域でのアクセス回数により決まるとされる、録再型ミニディスクの寿命を延長させることができる。単純には、寿命を２倍とすることが可能となる。
【０１７６】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例９】
【０１７７】
第２乃至実施例８では、光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２が挿入された直後に管理領域の劣化状態を調べ、劣化していれば情報を他の領域に複製記録したり、或いは同じ領域に再記録するものであった。これに対し、光磁気ディスク２が挿入された直後だけでなく、光磁気ディスク２のファイルにアクセスするたびに管理領域の劣化状態を調べ、劣化していれば情報を他の領域に複製記録したり、或いは同じ領域に再記録するものであっても良い。
【０１７８】
ここで使用される光磁気ディスク２は、図１０（実施例３）の光磁気ディスク２と同様、第１管理領域５１、第２管理領域５２、計数領域５３、第３管理領域５４、データ領域５５等からなるものとする。第１管理領域５１は、光磁気ディスク２を光磁気ディスク装置１に挿入したときに最初に読み出される領域であり、追記及び書換えが不可能な管理領域である。第２管理領域５２は、書換えが可能な管理領域である。計数領域５３は、第２管理領域５２において所定数以上のエラー（或いは所定値以上のビットエラーレート）が検出された回数を記録する領域である。第３管理領域５４は、第２管理領域５２が劣化して使用することができなくなった場合に、第２管理領域５２の代わりに使用される書換え可能な管理領域である。
【０１７９】
図２７は、本実施例における光磁気ディスク装置１の処理の概要を示したものである。光磁気ディスク装置１に光磁気ディスク２が挿入されると所定の処理が行われる（ステップＳ７０１）。例えば第１管理領域５１の読み出し等が行われる。
【０１８０】
ステップＳ７０２では、ファイルアクセス命令の有無を調べる。ファイルアクセス命令があればファイルアクセス時の処理を行うステップＳ７０３へ進み、ない場合は、ディスク取り出し命令の有無を調べるステップＳ７０４へ進む。ステップＳ７０４で取り出し命令があればステップＳ７０５でディスクが取り出され、なければファイルアクセス命令を待機するステップＳ７０２へ戻る。
【０１８１】
図２８は、前記のファイルアクセス時の処理を行うステップＳ７０３の詳細を示したものである。ステップＳ７０３には、光磁気ディスク２の劣化を検出する処理、劣化が検出された場合に管理領域を複製する処理、劣化の状態を示す警告を表示する処理、光磁気ディスクのデータ領域への記録再生を行う処理が含まれている。殆どの処理手順、処理内容は実施例３の場合とほぼ同様であるが、以下に説明しておく。
【０１８２】
ステップＳ７１１では、第２管理領域５２の情報が読み出されると共にビットエラーレートが測定される。ステップＳ７１２において、第２管理領域５２のビットエラーレートが１×１０-3以下と判断されればステップＳ７１３へ進み、１×１０-3より大きいと判断されればステップＳ７４０へ進む。
【０１８３】
続くステップＳ７１３において、第２管理領域５２のビットエラーレートが１×１０-4未満と判断されればステップＳ７１４へ進む。ステップＳ７１４では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の表示を行う。ステップＳ７１５では、データ領域５６での記録再生が行われる。データ領域５６の記録再生が完了したら、第２管理領域５２の情報が更新される（ステップＳ７１６）。例えば、アクセス後のファイル容量とか、アクセスした日時等が第２管理領域５２に更新記録される。
【０１８４】
一方、ステップＳ７１３において、第２管理領域５２のビットエラーレートが１×１０-4以上と判断されればステップＳ７２０へ進む。ステップＳ７２０では、計数領域５５に記録されている劣化度数（ビットエラーレートが１×１０-4以上であったことが検出された回数）が読み出される。ステップＳ７２１では、前記ステップＳ７２０で読み出された劣化度数に１を加算した値が所定値以上かどうかが調べられる。劣化度数が所定値未満であれば、計数領域５５に更新後の劣化度数が記録される（ステップＳ７２２）。続くステップＳ７２３では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」なる警告表示が行われる。
【０１８５】
一方、ステップＳ７２１で劣化度数が所定値以上と判断されれば、第２管理領域５２の情報が第３管理領域５４に複製される（ステップＳ７３０）。ステップＳ７３１では、第２管理領域５２に記録されていた情報が消去される。第２管理領域５２を消去することにより、次回以降は、ステップＳ７１２では常にビットエラーレートが１×１０-3以上であると検出されるので、第２管理領域５２が使用されることはなく、常に第３管理領域５４が使用されることとなる。
【０１８６】
ステップＳ７３２では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」なる警告表示が行われる。ステップＳ７３３では、データ領域５６での記録再生が行われる。データ領域５６での記録再生が完了したら、第３管理領域５４が更新される（ステップＳ７３４）。
【０１８７】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例１０】
【０１８８】
第２乃至実施例９では、複数の書換え可能な管理領域を有し、一方の書換え可能な管理領域の劣化が検出された後に、他方の書換え可能な管理領域を使用するものであった。これに代わり、複数の書換え可能な管理領域を常に併用するものであっても良い。
【０１８９】
図２９は、本実施例における光磁気ディスク２の構成を示した図である。第１管理領域９１は、書換え不可能な管理領域である。
【０１９０】
第２管理領域９２、第３管理領域９３、計数領域９４、データ領域９５は、書換え可能な領域である。本実施例では、原則的に第２管理領域９２と第３管理領域９３には常に同じ情報が記録される。計数領域９４では、第２管理領域９２の劣化状態に関する情報が記録される。データ領域９５には、ユーザデータが記録されている。
【０１９１】
図３０のフローチャートは、本実施例における光磁気ディスク装置１の動作手順を示したものである。光磁気ディスク２の光磁気ディスク装置１への挿入時から起算した第２管理領域９２又は第３管理領域９３の参照回数に応じて、第２管理領域９２から情報を再生するか、第３管理領域９３から情報を再生するかが決定される。したがって本実施例に拠れば、１つあたりの管理領域の再生回数を減らすことができる。
【０１９２】
光磁気ディスク２挿入時からの第２管理領域９２の参照回数と第３管理領域９３の参照回数の合計が３ｎ＋１または３ｎ＋２（ｎ＝０、１、２、…）回であれば、第２管理領域９２が読み出される。（ステップＳ３１０）。前記参照回数の合計が３ｎ（ｎ＝０、１、２、…）回であれば、第３管理領域９３が読み出される（ステップＳ３４０）。光磁気ディスク２の取り出し命令があると（ステップＳ３０４、ステップＳ３１５、またはステップＳ３４５）、第２管理領域９２又は第３管理領域９３の劣化状態が評価される（ステップＳ３１６、またはステップＳ３４６）。そしてその評価結果が、図１の光磁気ディスク装置１の表示部２１に表示される（ステップＳ３２０、ステップＳ３４０、ステップＳ３４７、ステップＳ３５０）。
【０１９３】
以下に図３０のフローチャートで示す処理の詳細を説明する。まず、光磁気ディスク２のデータ領域９５に記録されている１つのファイルＡを１回だけアクセスする場合を想定して説明する。
【０１９４】
光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されると、光磁気ディスク装置１の動作が開始する（ステップＳ３０１）。ステップＳ３０２では、光磁気ディスク装置１は、光磁気ディスク２の第１管理領域９１に記録されたＴＯＣ情報を読み出す。
【０１９５】
ステップＳ３０３では、光磁気ディスク装置１のメモリ１９に格納される変数Ｎに１が代入される。以後、変数Ｎには光磁気ディスク２の挿入時から起算した、第２管理領域９２の参照回数と第３管理領域９３の参照回数の合計値が格納されることとなる。
【０１９６】
ステップＳ３０４では、ディスク取り出し命令の有無が調べられる。ディスク取り出し命令があった場合はステップＳ３１６へ進む。ステップＳ３１６以下では、光磁気ディスク２の劣化状態が調べられる。このようなディスク挿入直後にディスク取り出し命令がされる場合というのは、光磁気ディスク２へのデータ領域９５への記録やデータ領域９５の再生を目的とした使用ではなく、光磁気ディスク２の劣化状態のみを知る目的での使用である。
【０１９７】
しかし通常の使用時においては、ステップＳ３０４においてディスク取り出し命令が検出されることはなく、ステップＳ３０５へ進む。ステップＳ３０５では、データ領域９５に格納されているファイルＡへのアクセス命令の有無を検出する。ファイルアクセス命令がない場合は、ステップＳ３０４に戻る。即ち、ディスク取り出し命令とファイルアクセス命令の両方がない場合は、ステップＳ３０４とステップＳ３０５の間を巡回する待ち状態となる。
【０１９８】
ステップＳ３０５において、ファイルアクセス命令が検出された場合は、ステップＳ３０６へ進む。
【０１９９】
ステップＳ３０６では（Ｎ  ｍｏｄ  ３）が０であるかどうか、即ち、現在のＮの値が３の倍数かどうかが調べられる。上述のように、本実施例では、第２管理領域９２の参照回数と第３管理領域９３の参照回数の合計が３ｎ＋１、３ｎ＋２（ｎ＝０、１、２、…）回であれば、第２管理領域９２が使用され。３ｎ（ｎ＝０、１、２、…）回であれば、第３管理領域９３が使用されるものであった。この場合Ｎは１であるから、（Ｎ  ｍｏｄ  ３）＝１となる。ゆえに、ステップＳ３１０へ進む。
【０２００】
ステップＳ３１０では、第２管理領域９２の情報が読み出される。特にステップＳ３１０では、これからアクセスしようとしているデータ領域９５のファイルＡの開始アドレス情報が必要であり、前記開始アドレス情報が読み出される。
【０２０１】
ステップＳ３１１では、前記ステップＳ３０６で読み出された開始アドレス情報に基づいてデータ領域９５のファイルＡへのアクセスが行われる。そして前記ファイルの読み出し及び／又は前記ファイルＡへの書き込みが行われる。
【０２０２】
ステップＳ３１２では、前記ステップＳ３０７のデータ領域９５での記録再生に伴って発生したＵＴＯＣ情報の変更内容が第２管理領域９２及び第３管理領域９３に記録される。例えば前記ファイルの更新があり、前記ファイルの終了アドレスが変更となった場合、前記ファイルの更新誤の終了アドレスが第２管理領域９２及び第３管理領域９３に記録される。ここで、一方の管理領域にのみ前記変更内容が記録されるのではなく、両方の管理領域に記録されるのは、次回の管理領域情報の読み出しが、第２管理領域９２から行われる場合と、第３管理領域９３から行われる場合の両方が想定されるからである。
【０２０３】
ステップＳ３１３では、Ｎに１が加算される。続くステップＳ３１４ではファイルアクセス命令の有無が調べられる。ここでは上述したように、光磁気ディスク２のデータ領域９５に記録されている１つのファイルを１回だけアクセスする場合を想定しているので、ステップＳ３１５へ進む。また、上記想定により、ステップＳ３１５での判定結果はｙｅｓ（ディスク取り出し命令有り）であるから、ステップＳ３１６へ進む。
【０２０４】
ステップＳ３１６では、ステップＳ３１０で読み出された第２管理領域９２のビットエラーレートが評価される。ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合は、光磁気ディスク２の状態がやや劣化しているものとみなされ、ステップＳ３１７へ進む。前記ビットエラーレートが１×１０-4未満の場合は、第２管理領域９２は良好であるとみなされ、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の表示を行うステップＳ３４０へ進む。
【０２０５】
一方、ステップＳ３１７では、光磁気ディスク２の計数領域９４に記録されている情報、特に劣化度数が読み出される。劣化度数とは、第２管理領域９２のビットエラーレートの測定結果が１×１０-4以上であった回数のことである。
【０２０６】
ステップＳ３１８では、ステップＳ３１７で読み出された劣化度数に１を加算した値が、所定値未満かどうかが評価される。所定値以上であると判断された場合ステップＳ３４７へ進む。ステップＳ３４７では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」の警告表示がなされる。
【０２０７】
ステップＳ３１８において、所定値未満であると判断された場合、計数領域９４の所定位置に前記劣化度数に１を加算した値を記録する（ステップＳ３１９）。そして、ステップＳ３２０では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度中」の警告表示がなされる。そして、一連の処理が終了する（ステップＳ３６０）。
【０２０８】
次に、光磁気ディスク２のデータ領域９５に記録されている３つのファイルＡ、Ｂ、Ｃを順に１回づつアクセスする場合を想定して説明する。
【０２０９】
光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１に挿入されると、光磁気ディスク装置１の動作が開始する（ステップＳ３０１）。以下ステップＳ３０２→ステップＳ３０３→ステップＳ３０４→ステップＳ３０５→ステップＳ３０６→ステップＳ３１０→ステップＳ３１１→ステップＳ３１２→ステップＳ３１３→ステップＳ３１４と進む。これは、上記光磁気ディスク２のデータ領域９５に記録されているファイルＡを１回だけアクセスする場合と同様であるので、各ステップの詳細は省略する。
【０２１０】
ステップＳ３１４では、ファイルＢへのアクセス命令が検出される。ステップＳ３１４での判定結果はｙｅｓとなるから再びステップＳ３０６へ進む。このときＮは２であるから、（Ｎ  ｍｏｄ  ３）＝２であり、ステップＳ３１０へ進む。そして、ステップＳ３１１→ステップＳ３１２→ステップＳ３１３→ステップＳ３１４へと進む。
【０２１１】
ステップＳ３１４では、ファイルＣへのアクセス命令が検出される。ステップＳ３１４での判定結果はｙｅｓとなるから再びステップＳ３０６へ進む。このときＮは３であるから、（Ｎ  ｍｏｄ  ３）＝０であり、ステップＳ３４０へ進む。
【０２１２】
ステップＳ３４０では、第３管理領域９３の情報が読み出される。特にステップＳ３４０では、データ領域９５のファイルＣの開始アドレス情報が必要であり、前記開始アドレス情報が読み出される。
【０２１３】
ステップＳ３４１では、前記ステップＳ３４０で読み出された開始アドレス情報に基づいてデータ領域９５のファイルＣへのアクセスが行われる。そして前記ファイルＣの読み出し及び／又は前記ファイルＣへの書き込みが行われる。
【０２１４】
ステップＳ３４２では、前記ステップＳ３４１のデータ領域９５での記録再生に伴って発生した管理情報の変更内容に基づいて第２管理領域９２及び第３管理領域９３が更新される。
【０２１５】
ステップＳ３４３では、Ｎに１が加算される。続くステップＳ３４４ではファイルアクセス命令の有無が調べられる。ここではファイルＡ、Ｂ、Ｃに順に１回ずつアクセスすることを想定していたが、既にファイルＣへのアクセスが完了したので、ステップＳ３４４においてファイルアクセス命令が更に認識されることはない。ゆえに、ステップＳ３４５へ進む。
【０２１６】
上記想定により、ステップＳ３４５での判定結果はｙｅｓ（ディスク取り出し命令有り）となるから、ステップＳ３４６へ進む。
【０２１７】
ステップＳ３４６では、ステップＳ３４０で読み出された第３管理領域９３のエラーレートが評価される。ビットエラーレートが１×１０-4以上であった場合は、光磁気ディスク２の状態が相当劣化しているものとみなされ、ステップＳ３４７へ進む。ステップＳ３４７では、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」の警告表示がなされる。前記ビットエラーレートが１×１０-4未満の場合は、光磁気ディスク２の管理領域は良好であるとみなされ、光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化なし」の表示を行うステップＳ３５０へ進む。
【０２１８】
この動作により、第２管理領域９２と第３管理領域９３とではアクセス回数に差が生じていることが分かる。即ち、第２管理領域９２へのアクセス回数は多く、第３管理領域９３へのアクセス回数は少ない。これにより、ステップＳ３４７のように光磁気ディスク装置１の表示部２１に「劣化度大」の警告表示された後は、第３管理領域９３のみから読み出すようにする方が望ましい。
【０２１９】
また、上記実施例では、光磁気ディスク２挿入時からの第２管理領域９２の参照回数と第３管理領域９３の参照回数の合計が３ｎ＋１または３ｎ＋２（ｎ＝０、１、２、…）回であれば第２管理領域９２から読み出され、３ｎ（ｎ＝０、１、２、…）回であれば第３管理領域９３から読み出されるものとしたが、例えば、第３管理領域９３の参照回数の合計が２ｎ＋１（ｎ＝０、１、２、…）回であれば第２管理領域９２から読み出され、２ｎ（ｎ＝０、１、２、…）回であれば第３管理領域９３から読み出されるものであるとしても良い。
【０２２０】
なお、本実施例の光磁気ディスク２は、請求項１及び４の光ディスクの一実施例である。また、本実施例の光磁気ディスク装置１は、請求項２及び５の光ディスク装置の一実施例である。
【実施例１１】
【０２２１】
実施例２乃至１０での光磁気ディスクは、第１管理領域が最内周に配置され、その外側に第２管理領域、第３管理領域等が順に配置されるものであった。しかし、前記管理領域の物理的な配置は任意であって良い。特に、光磁気ディスクの使用時においては、追記及び又は書換え可能な管理領域へのアクセスが多く発生する。前記追記及び又は書換え可能な管理領域へのアクセス時間を最小化するためには、前記追記及び又は書換え可能な管理領域は、実施例１乃至７の光磁気ディスクのごとく最内周部に配置するのではなく、光磁気ディスク２の中央部に配置するのが望ましい。
【０２２２】
図３１に、本実施例に係る光磁気ディスク２の構成を示す。第１管理領域１１１は、光磁気ディスク２の中央部に配置されており、ピットでＴＯＣ情報が記録されている書換えが不可能な管理領域である。第２管理領域１１２も、光磁気ディスク２の中央部に配置されており、書換えが可能な管理領域である。第３管理領域１１３は、光磁気ディスク２の内周部に配置されており、書換えが可能な管理領域である。第４管理領域１１４は、光磁気ディスク２の外周部に配置されており、書換えが可能な管理領域である。
【０２２３】
例えば、図１の光磁気ディスク装置１が光磁気ディスク２を使用する際、通常はまず第１管理領域１１１にアクセスし、次に第２管理領域１１２にアクセスし、そしてデータ領域１１５への記録再生を行う。繰り返し再生回数の増大により第２管理領域１１２が劣化した場合、第３管理領域１１３が代わりに使用される。更なる使用により第３管理領域１１３も劣化した場合、第３管理領域１１４が代わりに使用される。
【０２２４】
以上が本願の実施例に関する説明である。上記実施例１乃至１１は、光磁気ディスク装置、光磁気ディスクの構成に関するものであった。しかし、本発明は光磁気ディスクにのみ適用されるものではない。相変化型ディスク或いは追記型ディスク及びそれらへの記録再生を行う記録再生装置での適用も可能である。
【０２２５】
但し、追記型ディスクで適用する場合、ポインタ領域や計数領域（実施例１でいうところの欠陥管理領域に相当）での情報の記録方法は、書換型ディスクの場合のそれとは異なる。例えば追記型ディスクでは、図１６のフローチャートのステップＳ２４１でいうところの、「ポインタを消去」するという動作は不可能である。したがって、この場合は前記ポインタ領域に既に記録されているマークに隣接する領域に、別のマークを追記することで、図１６のステップＳ２０４における「ポインタ検出」を不可能とする方法等で置き換えることが考えられる。また、計数領域には、管理領域再生時のエラーレートが１×１０-4以上であった回数を記録される。追記型ディスクでは、前記エラーレートが１×１０-4以上であれば、前記計数領域マークを１つ追記するようにし、例えば図１６のステップＳ２３０の「計数領域読み出し」処理時においては、前記マークの個数をカウントすることでエラーレートが１×１０-4以上であった回数を検出する方法等で置き換えることが考えられる。
【０２２６】
また、書換型ディスクにおいても、計数領域に情報を記録する場合は、上書きするのではなく、追記型ディスクの場合のように、管理領域再生時のエラーレートが１×１０-4以上であった場合にマークを１つ追記するようにしても良い。こうすることで、書換型ディスクの計数領域での繰返し記録による劣化を防ぐことができる。
【０２２７】
また、上記各実施例では、光ディスクが劣化されていないものと判断された場合は、「劣化なし」の旨を示す表示を行うものとしていたが、これは省略するものであっても良い。本願では、光ディスクが突然使用不可の状態になり、光ディスクの使用者が全てのデータを失うことを防ぐことを目的としている。そこで、ビットエラーレートが１×１０-4以上１×１０-3以下という、いわゆる準劣化の状態を検出するようにし、そのときに使用者に対し「劣化中」であるとか、「バックアップせよ」等の警告を行うことで、データの突然の消失を防ぐことが本願発明の目的である。
【０２２８】
また、警告方法に関しても、上記以外にも光ディスク装置に附属するブザーによるものであったり、光ディスク装置に接続されているパソコンから発せられる音、光ディスク装置のＬＥＤの点滅、等によるものであっても良い。また、これらの組合せによるものであっても良い。
【０２２９】
また、上記では、第１の書換え可能な管理領域が劣化したら、第２の書換え可能な管理領域を使用するものとしていたが、書換え可能な管理領域を３つ以上持つものであっても良い。例えば第１の書換え管理領域が劣化したら、第２の書換え管理領域を使用し、更に第２の書換え管理領域が劣化したら、第３の書換え管理領域を使用するものであっても良い。このことにより、光ディスクの寿命（光ディスクが使用不可となるまでの期間）を延長させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０２３０】
【図１】光磁気ディスク装置１の構成を示す図である。
【図２】光磁気ディスク装置１の処理の概略を示すフローチャートである。
【図３】実施例１における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図４】実施例１における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図５】実施例１における、光磁気ディスク２記録再生時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図６】実施例１における、光磁気ディスク２取り出し時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図７】実施例２における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図８】実施例２における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図９】実施例２における、光磁気ディスク２取り出し時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１０】実施例３における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図１１】実施例３における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１２】実施例３における、光磁気ディスク２取り出し時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１３】実施例４における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図１４】実施例４における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１５】実施例５における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図１６】実施例５における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１７】実施例６における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図１８】実施例６における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図１９】実施例７における、光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図２０】実施例７における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図２１】実施例７における光磁気ディスク２の他の構成を示す図である。
【図２２】実施例８における光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図２３】実施例８における光磁気ディスク２のクラスタ割付を示す図である。
【図２４】実施例８における、光磁気ディスク２挿入時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図２５】実施例８における、光磁気ディスク２記録再生時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図２６】実施例８における、光磁気ディスク２取り出し時の光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図２７】実施例９における、光磁気ディスク装置１の処理の概略を示す図である。
【図２８】実施例９において、光磁気ディスク２に記録されたファイルのアクセス時に光磁気ディスク装置１が行う処理の手順である。
【図２９】実施例１０の光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図３０】実施例１０における、光磁気ディスク装置１の処理手順である。
【図３１】実施例１１の光磁気ディスク２の構成を示す図である。
【図３２】従来の録再型ミニディスク９のフォーマット構成を示す図である。
【図３３】従来の録再型ミニディスク９のＵＴＯＣ領域９３におけるセクタ割付を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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