(57)【要約】【課題】光ディスクへの記録において、優れた記録品質を維持する。【解決手段】光ディスクに情報を記録する際に、記録対象の光ディスクの記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なう（ステップ４１７）。そして、そのテスト記録の記録品質の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を行うか否かを決定し（ステップ４２１）、ここで、記録を行うことが決定された場合に、指定された記録領域への記録を行なう（ステップ４２５）。【選択図】図５
2005209243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報を記録するときの記録品質を評価する評価方法であって、
光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なう工程と；
前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する工程と；を含む評価方法。
【請求項２】
前記評価する工程では、前記テスト領域を再生したときのエラーレートに基づいて、前記記録品質を評価することを特徴とする請求項１に記載の評価方法。
【請求項３】
前記評価する工程では、前記テスト領域を再生するときのエラー訂正能力を、通常よりも下げることを特徴とする請求項１又は２に記載の評価方法。
【請求項４】
前記テスト領域は、試し書き領域であることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の評価方法。
【請求項５】
前記テスト領域は、４ＥＣＣブロックの大きさを有することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の評価方法。
【請求項６】
前記評価する工程では、前記４ＥＣＣブロックのうち、２番目と３番目のＥＣＣブロックをそれぞれ再生することを特徴とする請求項５に記載の評価方法。
【請求項７】
レーザ光をパルス発光して光ディスクに情報を記録する記録方法であって、
光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なう工程と；
前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する工程と；
前記記録品質の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する工程と；を含む記録方法。
【請求項８】
前記評価する工程で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう工程を、更に含むことを特徴とする請求項７に記載の記録方法。
【請求項９】
前記テスト記録を行なう工程に先立って、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する工程を、更に含むことを特徴とする請求項７又は８に記載の記録方法。
【請求項１０】
前記判断する工程では、前記光ディスクに予め記録されているＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め格納されているテーブルを検索し、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断することを特徴とする請求項９に記載の記録方法。
【請求項１１】
前記光ディスクのＩＤ情報と前記決定する工程での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する工程を、更に含むことを特徴とする請求項１０に記載の記録方法。
【請求項１２】
前記テスト記録を行なう工程に先立って、前記光ディスクのＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合には、前記指定された記録領域への記録を中止する工程を、更に含むことを特徴とする請求項１１に記載の記録方法。
【請求項１３】
前記ＩＤ情報は、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤの少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項１０〜１２のいずれか一項に記載の記録方法。
【請求項１４】
光ディスク装置で用いられるプログラムであって、
光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて所定のテスト領域にテスト記録を行なう手順と；
前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する手順と；
前記記録品質の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１５】
前記決定する手順で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項１４に記載のプログラム。
【請求項１６】
前記テスト記録を行なう手順に先立って、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項１４又は１５に記載のプログラム。
【請求項１７】
前記判断する手順として、前記光ディスクに予め記録されているＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め格納されているテーブルを検索し、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１６に記載のプログラム。
【請求項１８】
前記光ディスクのＩＤ情報と前記決定する手順での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項１７に記載のプログラム。
【請求項１９】
前記テスト記録を行なう手順に先立って、前記光ディスクのＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合には、前記指定された記録領域への記録を中止する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項１８に記載のプログラム。
【請求項２０】
請求項１４〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項２１】
光ディスクのＩＤ情報を取得するＩＤ情報取得手段と；
前記ＩＤ情報に基づいて、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する判断手段と；
前記判断の結果、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なうテスト手段と；
前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する評価手段と；
前記評価手段の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する決定手段と；を備える光ディスク装置。
【請求項２２】
前記評価手段は、前記テスト領域を再生したときのエラーレートに基づいて、前記記録品質を評価することを特徴とする請求項２１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記評価手段は、前記テスト領域を再生するときのエラー訂正能力を、通常よりも下げることを特徴とする請求項２１又は２２に記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記テスト領域は、試し書き領域であることを特徴とする請求項２１〜２３のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記テスト領域は、４ＥＣＣブロックの大きさを有することを特徴とする請求項２１〜２４のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記評価手段は、前記４ＥＣＣブロックのうち、２番目と３番目のＥＣＣブロックをそれぞれ再生することを特徴とする請求項２５に記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
前記決定手段で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう記録手段を、更に備えることを特徴とする請求項２１〜２６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２８】
前記判断手段は、前記ＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め記録されているテーブルを検索し、前記光ディスクの記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断することを特徴とする請求項２１〜２７のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２９】
前記ＩＤ情報と前記決定手段での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する追加手段を、更に備えることを特徴とする請求項２８に記載の光ディスク装置。
【請求項３０】
前記ＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合に、前記指定された記録領域への記録を中止する中止手段を、更に備えることを特徴とする請求項２９に記載の光ディスク装置。
【請求項３１】
前記ＩＤ情報は、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤの少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項２８〜３０のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、評価方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、記録品質を評価する評価方法、レーザ光をパルス発光して光ディスクに情報を記録する記録方法、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに光ディスクに情報を記録する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、画像及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう）を記録するための媒体として、ＣＤ（compact disc）や、ＣＤの約７倍相当のデータをＣＤと同じ直径のディスクに記録可能としたＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
この光ディスク装置では、光源からレーザ光を出射し、対物レンズを介してスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面に微小スポットを形成して情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。
【０００４】
ところで、光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク領域及びスペース領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。そこで、光ディスク装置では、光ディスクに情報を記録する際には目標位置に目標長さのマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように、光源から出射されるレーザ光のパワー（発光パワー）が制御される。
【０００５】
例えば、記録面に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−recordable）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−recordable）、及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋recordable）などの一度だけ書き込みが可能な光ディスク（以下「追記型光ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成するときには発光パワーを大きくして色素を加熱及び溶解し、そこに接しているディスク基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときにはディスク基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。
【０００６】
また、記録面に特殊合金を含むＣＤ−ＲＷ（ＣＤ−rewritable）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−rewritable）、及びＤＶＤ＋ＲＷ（ＤＶＤ＋rewritable）などの書き換え可能な光ディスク（以下「書き換え型光ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成する時には、特殊合金を第１の温度に加熱したのち急冷し、アモルファス（非晶質）状態にしている。一方、スペース領域を形成する時には、特殊合金を第１の温度よりも低い第２の温度に加熱したのち徐冷し、結晶状態にしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。このような特殊合金の温度制御はレーザ光の発光パワーを制御することによって行なわれる。
【０００７】
ところで、マーク領域を形成するときには、蓄熱の影響を除去するために、発光パワーを複数のパルスに分割（マルチパルス化）することが行なわれている（例えば、特許文献１参照）。このような発光パワーの制御方式はマルチパルス記録方式とも呼ばれている。
【０００８】
マルチパルス記録方式において、発光パワーをマルチパルス化する規則（方式）は、記録ストラテジと呼ばれている。発光パワーは記録品質に大きな影響を与えるため、記録ストラテジの最適化が非常に重要となる。最適な記録ストラテジは、前記有機色素及び特殊合金の材質やディスク基板の厚さにより異なるため、一般的には光ディスクのメーカ（ベンダ）及び光ディスクの種類によって異なっている。
【０００９】
そこで、光ディスクに該光ディスクの記録特性に関する情報などをあらかじめ記録しておくことが提案された（例えば、特許文献２参照）。しかしながら、光源から出射されるレーザ光の波長、対物レンズの開口数（NA：Numerical Aperture）といった光学系パラメータ、及び書込みパルスの立ち上がり時間などが光ディスク装置によって異なるため、光ディスクに記録されている記録特性に関する情報では適切な記録ストラテジ情報を得ることができない場合があった。
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−３３４４３３号公報
【特許文献２】特開２００１−２８３４４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、優れた記録品質を維持することを可能とする評価方法を提供することにある。
【００１２】
また、本発明の第２の目的は、優れた記録品質を維持することができる記録方法及び光ディスク装置を提供することにある。
【００１３】
また、本発明の第３の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、優れた記録品質を維持することができるプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
請求項１に記載の発明は、光ディスクに情報を記録するときの記録品質を評価する評価方法であって、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なう工程と；前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する工程と；を含む評価方法である。
【００１５】
これによれば、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときには、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録が行なわれる。そして、テスト領域を再生し、その再生結果から記録品質が評価される。これにより、指定された記録領域にデータを記録するのに先立って、デフォルトの記録ストラテジ情報が光ディスクに対して適切であるか否かを知ることができる。従って、結果として記録品質に劣る記録を回避することができ、優れた記録品質を維持することが可能となる。
【００１６】
この場合において、請求項２に記載の評価方法の如く、前記評価する工程では、前記テスト領域を再生したときのエラーレートに基づいて、前記記録品質を評価することとすることができる。
【００１７】
上記請求項１及び２に記載の各評価方法において、請求項３に記載の評価方法の如く、前記評価する工程では、前記テスト領域を再生するときのエラー訂正能力を、通常よりも下げることとすることができる。
【００１８】
上記請求項１〜３に記載の各評価方法において、請求項４に記載の評価方法の如く、前記テスト領域は、試し書き領域であることとすることができる。
【００１９】
上記請求項１〜４に記載の各評価方法において、請求項５に記載の評価方法の如く、前記テスト領域は、４ＥＣＣブロックの大きさを有することとすることができる。
【００２０】
この場合において、請求項６に記載の評価方法の如く、前記評価する工程では、前記４ＥＣＣブロックのうち、２番目と３番目のＥＣＣブロックをそれぞれ再生することとすることができる。
【００２１】
請求項７に記載の発明は、レーザ光をパルス発光して光ディスクに情報を記録する記録方法であって、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なう工程と；前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する工程と；前記記録品質の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する工程と；を含む記録方法である。
【００２２】
これによれば、光ディスクに情報を記録する際に、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録が行なわれる。そして、テスト領域が再生されて記録品質が評価され、その評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かが決定される。すなわち、記録ストラテジ情報が未知の光ディスクに情報を記録する場合には、指定された記録領域に記録する前にテスト記録を行ない、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定している。これにより、記録品質に劣る記録を回避することができ、結果として優れた記録品質を維持することが可能となる。
【００２３】
この場合において、請求項８に記載の記録方法の如く、前記評価する工程で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう工程を、更に含むこととすることができる。
【００２４】
上記請求項７及び８に記載の各記録方法において、請求項９に記載の記録方法の如く、前記テスト記録を行なう工程に先立って、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する工程を、更に含むこととすることができる。
【００２５】
この場合において、請求項１０に記載の記録方法の如く、前記判断する工程では、前記光ディスクに予め記録されているＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め格納されているテーブルを検索し、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断することとすることができる。
【００２６】
この場合において、請求項１１に記載の記録方法の如く、前記光ディスクのＩＤ情報と前記決定する工程での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する工程を、更に含むこととすることができる。
【００２７】
この場合において、請求項１２に記載の記録方法の如く、前記テスト記録を行なう工程に先立って、前記光ディスクのＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合には、前記指定された記録領域への記録を中止する工程を、更に含むこととすることができる。
【００２８】
上記請求項１０〜１２に記載の各記録方法において、請求項１３に記載の記録方法の如く、前記ＩＤ情報は、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤの少なくとも一方を含むこととすることができる。
【００２９】
請求項１４に記載の発明は、光ディスク装置で用いられるプログラムであって、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて所定のテスト領域にテスト記録を行なう手順と；前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する手順と；前記記録品質の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３０】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて所定のテスト領域にテスト記録を行なう。そして、テスト領域を再生して記録品質を評価し、その評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに請求項７に記載の発明に係る記録方法を実行させることができ、これにより、優れた記録品質を維持することが可能となる。
【００３１】
この場合において、請求項１５に記載のプログラムの如く、前記決定する手順で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
【００３２】
上記請求項１４及び１５に記載の各プログラムにおいて、請求項１６に記載のプログラムの如く、前記テスト記録を行なう手順に先立って、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
【００３３】
この場合において、請求項１７に記載のプログラムの如く、前記判断する手順として、前記光ディスクに予め記録されているＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め格納されているテーブルを検索し、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３４】
この場合において、請求項１８に記載のプログラムの如く、前記光ディスクのＩＤ情報と前記決定する手順での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
【００３５】
この場合において、請求項１９に記載のプログラムの如く、前記テスト記録を行なう手順に先立って、前記光ディスクのＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合には、前記指定された記録領域への記録を中止する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
【００３６】
請求項２０に記載の発明は、請求項１４〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００３７】
これによれば、請求項１４〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、光ディスクへの情報記録において、優れた記録品質を維持することが可能となる。
【００３８】
請求項２１に記載の発明は、光ディスクのＩＤ情報を取得するＩＤ情報取得手段と；前記ＩＤ情報に基づいて、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断する判断手段と；前記判断の結果、前記光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、デフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録を行なうテスト手段と；前記テスト領域を再生し、記録品質を評価する評価手段と；前記評価手段の評価結果に基づいて、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定する決定手段と；を備える光ディスク装置である。
【００３９】
これによれば、光ディスクに情報を記録する際に、ＩＤ情報取得手段により光ディスクのＩＤ情報が取得され、該ＩＤ情報に基づいて、判断手段により光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知であるか否かが判断される。判断手段での判断の結果、光ディスクに応じた記録ストラテジ情報が未知のときに、テスト手段によりデフォルトの記録ストラテジ情報に基づいて、所定のテスト領域にテスト記録が行なわれる。そして、評価手段によりテスト領域を再生して記録品質を評価し、その評価結果に基づいて決定手段により、指定された記録領域への記録を許可するか否かが決定される。すなわち、記録ストラテジ情報が未知の光ディスクに情報を記録する場合には、指定された記録領域に記録する前にテスト記録を行ない、指定された記録領域への記録を許可するか否かを決定している。これにより、記録品質に劣る記録を回避することができ、結果として優れた記録品質を維持することが可能となる。
【００４０】
この場合において、請求項２２に記載の光ディスク装置の如く、前記評価手段は、前記テスト領域を再生したときのエラーレートに基づいて、前記記録品質を評価することとすることができる。
【００４１】
上記請求項２１及び２２に記載の各光ディスク装置において、請求項２３に記載の光ディスク装置の如く、前記評価手段は、前記テスト領域を再生するときのエラー訂正能力を、通常よりも下げることとすることができる。
【００４２】
上記請求項２１〜２３に記載の各光ディスク装置において、請求項２４に記載の光ディスク装置の如く、前記テスト領域は、試し書き領域であることとすることができる。
【００４３】
上記請求項２１〜２４に記載の各光ディスク装置において、請求項２５に記載の光ディスク装置の如く、前記テスト領域は、４ＥＣＣブロックの大きさを有することとすることができる。
【００４４】
この場合において、請求項２６に記載の光ディスク装置の如く、前記評価手段は、前記４ＥＣＣブロックのうち、２番目と３番目のＥＣＣブロックをそれぞれ再生することとすることができる。
【００４５】
上記請求項２１〜２６に記載の各光ディスク装置において、請求項２７に記載の光ディスク装置の如く、前記決定手段で記録を許可することが決定された場合に、前記指定された記録領域への記録を行なう記録手段を、更に備えることとすることができる。
【００４６】
上記請求項２１〜２７に記載の各光ディスク装置において、請求項２８に記載の光ディスク装置の如く、前記判断手段は、前記ＩＤ情報に基づいて、記録ストラテジ情報が光ディスクの種類毎に予め記録されているテーブルを検索し、前記光ディスクの記録ストラテジ情報が未知であるか否かを判断することとすることができる。
【００４７】
この場合において、請求項２９に記載の光ディスク装置の如く、前記ＩＤ情報と前記決定手段での決定結果とを対応付けて、前記テーブルに追加する追加手段を、更に備えることとすることができる。
【００４８】
この場合において、請求項３０に記載の光ディスク装置の如く、前記ＩＤ情報に基づいて前記テーブルを検索し、記録を禁止することがすでに決定されている場合に、前記指定された記録領域への記録を中止する中止手段を、更に備えることとすることができる。
【００４９】
上記請求項２８〜３０に記載の各光ディスク装置において、請求項３１に記載の光ディスク装置の如く、前記ＩＤ情報は、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤの少なくとも一方を含むこととすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５０】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図６（Ｂ）に基づいて説明する。図１には、一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００５１】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、サーボ制御回路２６、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、一例としてＤＶＤ＋Ｒの規格に準拠した情報記録媒体が光ディスク１５に用いられるものとする。さらに、上位装置９０からのユーザデータはマルチパルス記録方式で記録されるものとする。
【００５２】
前記光ピックアップ装置２３は、スパイラル状又は同心円状のトラック（記録領域）が形成された光ディスク１５の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置２３は、光源としての半導体レーザ、該半導体レーザから出射された光束を光ディスク１５の記録面に導く対物レンズを含み、前記記録面で反射された戻り光束を所定の受光位置まで導く光学系、前記受光位置に配置され戻り光束を受光する受光器、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータ）（いずれも図示省略）などを含んで構成されている。そして、受光器からは、その受光量に応じた信号が再生信号処理回路２８に出力される。
【００５３】
前記再生信号処理回路２８は、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ、及びホールド回路２８ｆなどから構成されている。
【００５４】
前記Ｉ／Ｖアンプ２８ａは、光ピックアップ装置２３を構成する前記受光器の出力信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。
【００５５】
前記サーボ信号検出回路２８ｂは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号などのサーボ信号を検出する。ここで検出されたサーボ信号は前記サーボ制御回路２６に出力される。
【００５６】
前記ウォブル信号検出回路２８ｃは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。前記ＲＦ信号検出回路２８ｄは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。
【００５７】
前記デコーダ２８ｅは、前記ウォブル信号からアドレス情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたアドレス情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。また、デコーダ２８ｅは前記ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。なお、誤り検出処理で検出されたエラーレート情報は、ＣＰＵ４０に通知される。
【００５８】
前記ホールド回路２８ｆは、ＲＦ信号の上側包絡線レベルと下側包絡線レベルを検出する。ここでは、一例として図２に示されるように、ＲＦ信号をＡＣカップリングするためのコンデンサｆ１と抵抗ｆ２、ＡＣカップリング後のＲＦ信号の上側包絡線レベル（Ｌpとする）を検出するためのピークホールド回路ｆ３及び下側包絡線レベル（Ｌbとする）を検出するためのボトムホールド回路ｆ４を有している。ここで検出された上側包絡線レベルＬp及び下側包絡線レベルＬbは、それぞれＣＰＵ４０に出力される。そして、ＣＰＵ４０では、次の（１）式に基づいて、いわゆるβ値が算出される。
β＝（Ｌｐ−Ｌｂ）÷（Ｌｐ＋Ｌｂ）  …（１）
【００５９】
ここで、上記β値について説明する。記録パワーが適切な場合には、一例として図３（Ａ）に示されるように、上側包絡線レベルＬpと下側包絡線レベルＬbとが互いに近接した値となる。このときのβ値をβtargetと呼ぶ。本実施形態では一例として、βtarget＝０．０４（４％）とする。そして、記録パワーが適切な値よりも大きい場合には、一例として図３（Ｂ）に示されるように、上側包絡線レベルＬpが下側包絡線レベルＬbよりも大きくなり、β値はβtargetよりも大きくなる。また、記録パワーが適切な値よりも小さい場合には、一例として図３（Ｃ）に示されるように、上側包絡線レベルＬpが下側包絡線レベルＬbよりも小さくなり、β値はβtargetよりも小さくなる。
【００６０】
図１に戻り、前記サーボ制御回路２６は、ＰＵ制御回路２６ａ、シークモータ制御回路２６ｂ、及びＳＰモータ制御回路２６ｃを有している。
【００６１】
前記ＰＵ制御回路２６ａは、対物レンズのフォーカスずれを補正するために、前記フォーカスエラー信号に基づいてフォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成し、光ピックアップ装置２３に出力する。また、ＰＵ制御回路２６ａは、対物レンズのトラックずれを補正するために、前記トラックエラー信号に基づいてトラッキングアクチュエータの駆動信号を生成し、光ピックアップ装置２３に出力する。これにより、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。
【００６２】
前記シークモータ制御回路２６ｂは、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、シークモータ２１を駆動するための駆動信号を生成し、シークモータ２１に出力する。
【００６３】
前記ＳＰモータ制御回路２６ｃは、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、スピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成し、スピンドルモータ２２に出力する。
【００６４】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００６５】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてバッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加等を行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００６６】
前記レーザ制御回路２４は、光ピックアップ装置２３を構成する前記半導体レーザから出射されるレーザ光のパワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録条件、及び半導体レーザの発光特性などに基づいて半導体レーザの駆動信号がレーザ制御回路２４にて生成される。
【００６７】
前記インターフェース３８は、上位装置（例えば、パソコン）９０との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）及びＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）などの標準インターフェースに準拠している。
【００６８】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された、本発明に係るプログラム（以下「記録処理プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。また、フラッシュメモリ３９のデータ領域には、半導体レーザの発光特性及び記録ストラテジ情報などが格納されている。
【００６９】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されている上記プログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００７０】
ここで、前記記録ストラテジ情報について説明する。この記録ストラテジ情報には、書込み信号をマルチパルス化する際に、パルス形状を決定するパラメータに関する情報が含まれている。例えば図４（Ａ）に示されるように、書き込み信号Ｗdataに基づいて生成される、半導体レーザの駆動信号Ｉdrvにおける先頭加熱パルスのパルス幅（Ｔtopとする）、中間加熱パルス及び最終加熱パルスのパルス幅（Ｔmpとする）などによってパルス形状が決定される。なお、図４（Ａ）には、記録面に形成されるマーク領域の長さが６Ｔ（Ｔは基準クロック信号Ｗck（記録チャネルクロック信号）の周期）の場合について示されている。また、Ｉwは記録パワーに対応する信号レベル、Ｉbは再生パワーに対応する信号レベルである。
【００７１】
本実施形態では、一例として図４（Ｂ）に示されるように、記録ストラテジ情報は、光ディスクのＩＤ情報としてのディスク・マニュファクチャ・ＩＤ（Disc Manufacturer ID）及びメディア・タイプ・ＩＤ（Media Type ID）に対応して、フラッシュメモリ３９のデータ領域にテーブル形式（以下「ストラテジテーブル」ともいう）で格納されている。例えば、Disc Manufacturer IDが「Ａ」、Media Type IDが「０１」の場合には、Ｔtop＝２．０Ｔ、Ｔmp＝０．８７Ｔである。また、デフォルト（Default）値として、Ｔtop＝１．８Ｔ、Ｔmp＝０．７０Ｔが設定されている。
【００７２】
さらに、上記ストラテジテーブルには、記録禁止フラグが設定されている。例えば、Disc Manufacturer IDが「Ｃ」、Media Type IDが「０２」の場合には、記録禁止フラグが「１」であり、該光ディスクへの記録が禁止されていることを示している。なお、記録禁止フラグが「０」であれば、該光ディスクへの記録は禁止されていないことを示している。
【００７３】
この記録ストラテジ情報は記録の際にＣＰＵ４０から参照される。また、記録ストラテジ情報は、光ディスク装置２０の製造工程、調整工程及び検査工程のうちの少なくともいずれかの工程で取得され、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納される。
【００７４】
次に、上位装置９０からの記録要求コマンドを受信したときの光ディスク装置２０における処理（記録処理）について図５を用いて説明する。図５のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応し、上位装置９０から記録要求コマンドを受信すると、図５のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。
【００７５】
最初のステップ４０１では、所定の線速度（又は角速度）で光ディスク１５が回転するようにＳＰモータ制御回路２６ｃに指示するとともに、上位装置９０から記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。また、上位装置９０から受信したデータ（記録用データ）のバッファＲＡＭ３４への蓄積をバッファマネージャ３７に指示する。
【００７６】
次のステップ４０３では、光ディスク１５が所定の線速度（又は角速度）で回転していることを確認すると、サーボ制御回路２６に対してサーボオンを設定する。これにより、前述の如く、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。なお、トラッキング制御及びフォーカス制御は記録処理が終了するまで随時行われる。
【００７７】
次のステップ４０５では、ＯＰＣ（Optimum Power Control）を行い、最適な記録パワーを取得する。すなわち、発光パワーを段階的に変化させつつ、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に所定のデータの試し書きを行なう。ＰＣＡは光ディスク１５の内周部及び外周部にそれぞれ設けられている。本実施形態では、一例として図６（Ａ）に示されるように、基準パワー（Ｐdefとする）の＋４０％のパワーと基準パワーＰdefの−３０％のパワーの範囲（ＯＰＣレンジ）をほぼ等間隔に１０段階としている。なお、（Ｐdef＋５ｍＷ）と（Ｐdef−４ｍＷ）の範囲を１ｍＷのステップで変化させても良い。そして、試し書き領域を順次再生し、発光パワー毎に前記β値を算出する。続いて、一例として図６（Ｂ）に示されるように、発光パワーとβ値との関係を示す近似式（例えば２次式）を求め、前記βtargetに対応する発光パワーを求め、その発光パワーを最適な記録パワーとする。
【００７８】
図５に戻り、次のステップ４０７では、光ディスク１５のＩＤ情報を取得する。ここでは、ＡＤＩＰ（Address In Pregroove）情報に含まれる、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ（Disc Manufacturer ID）及びメディア・タイプ・ＩＤ（Media Type ID）が取得される。
【００７９】
次のステップ４０９では、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤをキーとして、前記ストラテジテーブルを検索する。
【００８０】
次のステップ４１１では、上記ステップ４０９での検索の結果、ストラテジテーブルに合致するＩＤ情報があるか否かを判断する。合致するＩＤ情報がなければ、ここでの判断は否定され、ステップ４１３に移行する。
【００８１】
このステップ４１３では、光ディスク１５が未知のメディアであることを上位装置９０に通知する。
【００８２】
次のステップ４１５では、ストラテジテーブルからデフォルトの記録ストラテジ情報を抽出し、前記ＯＰＣで得られた最適な記録パワー情報とともにレーザ制御回路２４に通知する。
【００８３】
次のステップ４１７では、ＰＣＡにテスト記録を行う。ここでは、一例として４ＥＣＣブロックに所定のテスト用データが書き込まれる。
【００８４】
次のステップ４１９では、テスト記録されたデータを再生し、エラーレートを測定して記録品質を評価する。ここでは、一例として４ＥＣＣブロックのうち、２番目と３番目のＥＣＣブロックに書き込まれたテスト用データを再生する。また、テスト用データを再生するときのエラー訂正能力は、通常よりも下げている。例えば、通常２重訂正を行なっている場合には、１重訂正にしてエラーレートを測定する。なお、１番目のＥＣＣブロックはＲＦ信号が整定状態でないため、再生領域とはしない。さらに４番目のＥＣＣブロックはＯＰＣで使用された領域との境界領域となるため、予期しない書込みがなされている可能性があり、再生領域とはしない。
【００８５】
次のステップ４２１では、デコーダ２８ｅからのエラーレートがあらかじめ設定されている値ＥＲ（例えば、１０００）以下であるか否かを判断する。例えば、エラーレートがＥＲを超えていれば、ここでの判断は否定され、ステップ４３１に移行する。なお、ＥＲの値は上位装置９０を介して、ユーザが設定することが可能である。
【００８６】
このステップ４３１では、ストラテジテーブルにＩＤ情報及び記録禁止情報を追加する。ここでは、光ディスク１５のディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤのデータを追加し、その記録禁止フラグに「１」をセットする。
【００８７】
次のステップ４３３では、光ディスク１５への記録を禁止する。
【００８８】
次のステップ４３５では、光ディスク１５への記録は不可であることを上位装置９０に通知する。そして、記録処理を終了する。
【００８９】
なお、前記ステップ４２１において、エラーレートがＥＲ以下であれば、ステップ４２１での判断は肯定され、ステップ４２３に移行する。
【００９０】
このステップ４２３では、ストラテジテーブルにＩＤ情報及び記録ストラテジ情報を追加する。ここでは、光ディスク１５のディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤのデータを追加し、その記録ストラテジ情報としてデフォルトの記録ストラテジ情報をコピーする。また、記録禁止フラグには「０」をセットする。
【００９１】
次のステップ４２５では、エンコーダ２５に対し書込みを許可する。これにより、エンコーダ２５、レーザ制御回路２４、及び光ピックアップ装置２３を介して、上位装置９０からのデータが、光ディスク１５の指定された記録領域に記録されることとなる。
【００９２】
次のステップ４２７では、記録が完了したか否かを判断する。記録が完了していなければ待機する。そして、記録が完了すると、ここでの判断は肯定され、ステップ４２９に移行する。
【００９３】
このステップ４２９では、記録が完了したことを上位装置９０に通知する。そして、記録処理を終了する。
【００９４】
また、前記ステップ４１１において、ストラテジテーブルに合致するＩＤ情報があれば、ステップ４１１での判断は肯定され、ステップ４３７に移行する。
【００９５】
このステップ４３７では、記録禁止フラグを参照し、光ディスク１５への記録が禁止されているか否かを判断する。記録禁止フラグが「０」であれば、ここでの判断は否定され、前記ステップ４２５に移行する。すなわち、指定された記録領域への記録が行なわれる。一方、記録禁止フラグが「１」であれば、ここでの判断は肯定され、前記ステップ４３３に移行する。すなわち、指定された記録領域への記録は行なわれない。
【００９６】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、ＩＤ情報取得手段、判断手段、テスト手段、評価手段、決定手段、追加手段及び中止手段が実現されている。すなわち、図５のステップ４０７によってＩＤ情報取得手段が実現され、ステップ４１１によって判断手段が実現され、ステップ４１７によってテスト記録手段が実現されている。また、ステップ４１９によって評価手段が実現され、ステップ４２１によって決定手段が実現され、ステップ４２３及びステップ４３１によって追加手段が実現され、ステップ４３３によって中止手段が実現されている。また、光ピックアップ装置２３、レーザ制御回路２４、及びエンコーダ２５によって、記録手段が実現されている。
【００９７】
なお、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した各手段の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【００９８】
また、本実施形態では、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されているプログラムのうち、図５のフローチャートに対応するプログラムによって前記記録処理プログラムが構成されている。すなわち、ステップ４１７での処理がテスト記録を行う手順に対応し、ステップ４１９での処理が評価する手順に対応し、ステップ４２１での処理が決定する手順に対応し、ステップ４２５での処理が指定された記録領域への記録を行う手順に対応している。また、ステップ４０９とステップ４１１での処理が判断する手順に対応し、ステップ４２３及びステップ４３１での処理が追加する手順に対応し、ステップ４３３での処理が中止する手順に対応している。
【００９９】
さらに、本実施形態では、前記記録処理において、本発明に係る評価方法及び記録方法が実施されている。すなわち、図５のステップ４１７での処理によって、本発明に係る評価方法におけるテスト記録を行う工程が実施され、ステップ４１９での処理によって評価する工程が実施されている。また、図５のステップ４１７での処理によって、本発明に係る記録方法におけるテスト記録を行う工程が実施され、ステップ４１９での処理によって評価する工程が実施され、ステップ４２１での処理によって決定する工程が実施され、ステップ４２５での処理によって指定された記録領域への記録を行う工程が実施されている。さらに、ステップ４０９とステップ４１１での処理によって判断する工程が実施され、ステップ４２３及びステップ４３１での処理によって追加する工程が実施され、ステップ４３３での処理によって中止する工程が実施されている。
【０１００】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、光ディスク１５への記録要求コマンドをホスト９０から受信すると、光ディスク１５のＩＤ情報としてディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤを取得する。そして、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤをキーとして、ストラテジテーブル（テーブル）を検索し、合致するＩＤ情報があるか否かを判断する。ここで、合致するＩＤ情報がなければ、光ディスク１５は未知のメディアであると判断し、ストラテジテーブルから抽出したデフォルトの記録ストラテジ情報に基づいてＰＣＡにテスト記録を行う。続いて、テスト記録されたデータを再生してエラーレートを測定し、エラーレートがあらかじめ設定されている値ＥＲ以下であるか否かを判断する。そして、エラーレートがＥＲ以下であれば、指定された記録領域への記録を許可する。一方、エラーレートがＥＲを超えていれば、指定された記録領域への記録を禁止する。すなわち、記録ストラテジ情報が未知の光ディスクに情報を記録する場合には、指定された記録領域に記録する前に、試し書き領域にテスト記録を行ない、所定の記録品質が得られることを確認したときに、指定された記録領域への記録が行なわれることとなる。これにより、記録品質を所定のレベル以上に維持することが可能となり、記録品質の悪い記録を回避することができる。従って、優れた記録品質を維持することが可能となる。
【０１０１】
また、ストラテジテーブルに、ＩＤ情報とテスト記録の結果が追加されるため、同一の光ディスクが再度セットされたときには、テスト記録を行う必要がない。従って、テスト領域を有効に使用することができる。
【０１０２】
なお、上記実施形態では、ＥＲが１０００の場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ＥＲをより小さな値にすると、さらに高い記録品質を確保することができる。
【０１０３】
また、上記実施形態では、テスト記録の記録品質の評価にエラーレートを用いているが、これに限らず、例えば、ジッタやＲＦ信号の信号振幅などを用いても良い。
【０１０４】
また、上記実施形態では、４ＥＣＣブロックにテスト記録を行う場合について説明したが、これに限定されるものではない。また、上記実施形態では、４ＥＣＣブロックのうち２番目と３番目のＥＣＣブロックをそれぞれ再生しているが、再生可能であれば、これに限定されるものではない。
【０１０５】
また、上記実施形態では、テスト用データを再生するときのエラー訂正能力を、通常よりも下げているが、必要とされる記録品質によっては、通常のエラー訂正能力であっても良い。
【０１０６】
また、上記実施形態では、ＰＣＡにテスト記録される場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。ＰＣＡ以外の領域をテスト領域としても良い。
【０１０７】
また、上記実施形態では、光ディスクのＩＤ情報としてのディスク・マニュファクチャ・ＩＤとメディア・タイプ・ＩＤとを用いる場合について説明したが、光ディスクを特定することが可能であれば、例えば、ディスク・マニュファクチャ・ＩＤ及びメディア・タイプ・ＩＤのいずれか一方を用いても良い。
【０１０８】
また、上記実施形態では、前記記録処理プログラムは、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、メモリカード、ＵＳＢメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応する再生装置（又は専用インターフェース）を介して記録処理プログラムをフラッシュメモリ３９のプログラム領域にロードすることとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介して記録処理プログラムをフラッシュメモリ３９のプログラム領域に転送しても良い。要するに、記録処理プログラムがフラッシュメモリ３９のプログラム領域にロードされれば良い。
【０１０９】
また、上記実施形態では、光ディスク装置がＤＶＤ＋Ｒの規格に準拠したディスクに対応する場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えばＤＶＤ＋ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ、及び約４０５ｎｍの波長の光に対応する次世代の情報記録媒体であっても良い。
【０１１０】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長のレーザ光を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１におけるホールド回路を説明するための図である。
【図３】図３（Ａ）〜図３（Ｃ）は、それぞれβ値を説明するための信号波形図である。
【図４】図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、それぞれ記録ストラテジ情報を説明するための図である。
【図５】本発明に係る記録処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】図６（Ａ）及び図６（Ｂ）は、それぞれＯＰＣを説明するための図である。
【符号の説明】
【０１１２】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置（記録手段の一部）、２４…レーザ制御回路（記録手段の一部）、２５…エンコーダ（記録手段の一部）、３９…フラッシュメモリ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（ＩＤ情報取得手段、判断手段、テスト手段、評価手段、決定手段、追加手段、中止手段）。
【図１】
2005209243.tif 000003
【図２】
2005209243.tif 000004
【図３】
2005209243.tif 000005
【図４】
2005209243.tif 000006
【図５】
2005209243.tif 000007
【図６】
2005209243.tif 000008