(57)【要約】【目的】個片化打ち抜き不良の発生するおそれを防止することができるとともに、個片化の前後を問わず、良否の判定を目視のみによって容易に行うことのできるテープキャリア型の半導体装置を提供する。【構成】ＣＯＦテープのそれぞれの半導体素子における外形領域（外形ライン）６の内側には、良品の場合にはφ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍの良品表示孔８が打ち抜かれて設けられ、不良品の場合には非貫通状のターゲットマーク７が設けられている。良品表示孔８およびターゲットマーク７により、それぞれの半導体素子の良否を判定することができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
長尺の絶縁性フレキシブルテープの一方側面に所定の配線パターンと半導体素子とが連続的に複数設けられたテープキャリア型の半導体装置において、
それぞれの半導体装置における外形領域の内側に、その半導体素子が良品であることを表示するための貫通状良品表示孔またはその半導体素子が不良品であることを表示するための非貫通状ターゲットマークが設けられていることを特徴とするテープキャリア型の半導体装置。
【請求項２】
テープは、その厚さが５μｍ〜４０μｍであることを特徴とする請求項１記載のテープキャリア型の半導体装置。
【請求項３】
良品表示孔は、その大きさがφ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍであることを特徴とする請求項１記載のテープキャリア型の半導体装置。
【請求項４】
ターゲットマークは、その表面が錫メッキまたは金メッキされていることを特徴とする請求項１記載のテープキャリア型の半導体装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テープキャリア型の半導体装置に関し、さらに詳しくは、長尺の絶縁性フレキシブルテープの一方側面に所定の金属配線パターンと半導体素子とが等間隔で連続的に設けられた、ＣＯＦ（Ｃｈｉｐ    Ｏｎ    ＦＰＣ）と呼ばれるテープキャリア型の半導体装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＯＦは、携帯電話、ＰＤＡ（携帯情報端末）、ノートパソコン、液晶テレビなどのパネルに実装・搭載されるものであって、所定の金属配線パターンが等間隔で連続的に設けられた長尺の絶縁性フレキシブルテープ（テープキャリア）の一方側面に複数個の半導体素子が等間隔で連続的に実装されている。
【０００３】
その実装方法は、テープキャリアにおけるインナーリードと呼ばれる配線パターンの一部と半導体素子の電極とを、テープキャリアの配線パターンの裏面から加熱するとともに半導体素子の電極の裏面から加圧する、熱圧着処理によるものである。
【０００４】
半導体素子を実装した後は、テープキャリアと半導体素子との界面部に半導体素子の周辺から樹脂を注入して硬化させることで、半導体素子の表面を保護する。その後、テープキャリアにおけるアウターリードと呼ばれる外部出力端子の上にプローブピンを立てて、専用テスターにより良否判定テストを行う。
【０００５】
このテストで、複数のＣＯＦのそれぞれが良品であるか不良品であるかの判定がなされる。
【０００６】
そして、良品であると判定されたＣＯＦについては、図３に示すように、その外形領域（個片になったときのＣＯＦにおける所定の外形ライン６で囲まれた領域）の外側に、良品表示孔８と呼ばれる基材貫通孔を金型により開ける。
【０００７】
次いで、この良品表示孔８の有無によってＣＯＦの良否を所定の装置で判定する。そして、良品表示孔８の開いていない不良品については、図３に示すように、半導体素子２がある部分を中心にした半導体素子部打ち抜き孔９を別の金型で打ち抜く。その後、最終検査を経て、長尺テープをリールに巻いた状態でユーザーへ出荷している。
【０００８】
ユーザーは、ＣＯＦの入荷後に、金型により、長尺テープ状のＣＯＦを連続的に外形ライン６に沿って打ち抜くことで、図４に示すように、互いに切り離された個片にする。
【０００９】
外形ラインで打ち抜かれ個片化されたＣＯＦは、図３に示すような良品表示孔８による良否の判定ができないので、半導体素子部２が打ち抜かれているかどうかで（図４に示すように、良品は半導体素子部２が打ち抜かれないが、不良品は半導体素子部２がある部分を中心にした半導体素子部打ち抜き孔９が開けられる。）、その良否を判定する。そして、良品ＣＯＦのみについてその後の実装を行い、応用商品化している。
【００１０】
ところで、集積回路（ＩＣ）の良否判定の方法としては、例えば特許文献１に記載されたものがある。
【００１１】
【特許文献１】
特開昭６３−２８８０３８号公報
【００１２】
特許文献１に記載された「テープキャリア」の概要を説明する。
【００１３】
このテープキャリアは、絶縁性フイルムの金属配線パターンを有しない部分に遮光性パッドを形成し、この遮光性パッド領域に絶縁性フイルムを貫通して孔を設けることにより、ホト・センサーによる検出の誤認識を防ぐことを目的とするものである。
【００１４】
より具体的に説明すると、ＩＣ金属パッド８を設け、この上に貫通孔９ａを開ける。検出ミスのないパッドの大きさは、直径１ｍｍの孔の大きさに対して２ｍｍ角以上の正方形であればよい。また、９ｂのように配線パターンの一部に孔を開けてもよい。この場合、パッド６は少し大きめにし、孔を開けた後でも電気テストを行うことができる。さらに、絶縁性フイルム１の色が比較的濃い場合は、孔の全周が金属でなくて一部だけが金属で覆われていてもよい。
【００１５】
以上のように構成することで、テープキャリア上に開けた孔の有無についてのホト・センサーによる検出を確実に行うことができるようになり、良品を除去したり、不良品を良品として扱ったりするミスがなくなる。
【００１６】
なお、ＩＣの良否が決定された後は、基材に貫通孔を形成し、その有無により良否を判断している。前記公報では、前記外形領域の外側または内側に貫通孔を形成している。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記ＣＯＦは、前記のように、不良品については半導体素子２がある部分を中心にした半導体素子部打ち抜き孔９を打ち抜いて出荷されるが、半導体素子部打ち抜き孔９の打ち抜き金型は、共用化も可能とするため、半導体素子２の大きさが多少変わっても打ち抜けるように、大きめのサイズに設けられている。
【００１８】
ユーザー側では、長尺で入荷されたＣＯＦテープが、リール・トゥー・リールで搬送され、外形ライン６に沿って打ち抜くための金型によって連続して個片に打ち抜かれるが、薄い（一般に４０μｍ以下の厚み）テープ基材に大きめの半導体素子部打ち抜き孔９が連続状に設けられていると、個片化打ち抜き時にテープ歪みが起こって搬送が安定しなくなり、打ち抜き不良の発生するおそれが高くなってしまう。
【００１９】
また、前記ＣＯＦにあっては、外形ライン６で打ち抜かれて個片化された後には、図３に示すような良品表示孔８による良否の判定ができない。
【００２０】
一方、特許文献１の「テープキャリア」にあっては、ホト・センサーによる検出によるため、ホト・センサーを初めとする特別な装置が必要である。
【００２１】
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、個片化打ち抜き不良の発生するおそれを防止することができるとともに、個片化の前後を問わず、良否の判定を目視のみによって容易に行うことのできるテープキャリア型の半導体装置を提供することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、長尺の絶縁性フレキシブルテープの一方側面に所定の配線パターンと半導体素子とが連続的に複数設けられたテープキャリア型の半導体装置において、それぞれの半導体装置における外形領域の内側に、その半導体素子が良品であることを表示するための貫通状良品表示孔またはその半導体素子が不良品であることを表示するための非貫通状ターゲットマークが設けられていることを特徴とするテープキャリア型の半導体装置が提供される。
【００２３】
ここで、それぞれの半導体装置における外形領域とは、長尺のテープから金型によって個片化打ち抜きされて個片になったときのそれぞれの半導体素子における所定の外形ライン（打ち抜き用ライン）で囲まれた領域をいう。
【００２４】
この外形領域の内側に、良品表示孔またはターゲットマークが設けられている。前者は、貫通状であって、その半導体素子が良品であることを表示するためのものである。後者は、非貫通状であって、その半導体素子が不良品であることを表示するためのものである。
【００２５】
本発明のテープキャリア型の半導体装置によれば、従来のような、個片化打ち抜き時にテープ歪みが起こって搬送が安定しなくなり、打ち抜き不良の原因になる大きめの半導体素子部打ち抜き孔が設けられていないので、個片化打ち抜き不良の発生するおそれを防止することができる。また、良品表示孔またはターゲットマークがそれぞれの半導体装置における外形領域の内側に設けられているので、従来のようなホト・センサーを初めとする特別な装置によることなく、個片化の前後を問わず、半導体素子の良否の判定を目視のみによって容易に行うことができる。
【００２６】
本発明において、半導体素子が不良品であることを表示するためのターゲットマークを貫通状に設けることなく、半導体素子が良品であることを表示するための良品表示孔を貫通状に設けた理由は、専用テスターにより良否判定テストを行う際におけるプローブピンのコンタクト不良などの、本来良品となるべき半導体素子が不良品と判定されてしまう不都合を、再テストでチェックした場合などに、改めて良品と判定して貫通状良品表示孔を設けることを可能にするためである。これにより、半導体素子部打ち抜き孔の打ち抜きが不要になり、１工程を省くこともできる。
【００２７】
本発明に係るテープキャリア型の半導体素子における絶縁性テープは、例えばポリイミド系のものが使われる。その厚さは、５μｍ〜４０μｍであるのが好ましい。５μｍに満たないときには強度が充分でなく、一方、４０μｍを超えるときには製造工程での搬送性が悪くなるとともにコスト的にも不利であるからである。
【００２８】
良品表示孔は、その大きさがφ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍであるのが好ましい。φ０．５ｍｍに満たないときには貫通状の孔が開いているのか疵がついているのかなどの判断が困難であり、φ３．０ｍｍを超えるときにはそれぞれの半導体装置における外形領域の内側に設ける際の位置決めに支障をきたすことがあるからである。
【００２９】
ターゲットマークは、銅箔を用いて、配線パターンを形成するのと同時にそれぞれの半導体素子における外形領域の内部に形成し、配線パターンと同様のメッキ工程を行っておく。その大きさは例えば、φ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍである。
【００３０】
ターゲットマークは、その表面が錫メッキまたは金メッキされているのが好ましい。その理由は、ポリイミド系のテープ基材は黄褐色であるため、銅箔の色ではテープ基材に近い色で、ターゲットマーク有無の判定は困難であるが、錫メッキまたは金メッキされたターゲットマークは、色がテープ基材とは異なり、識別が容易であるからである。また、その半導体素子が良品の場合にはこの部分に貫通孔を開けることにより、目視でもはっきり識別できるからでもある。
【００３１】
なお、このターゲットマークは、以下の実施の形態では×マークであるが、＋マーク、角マーク、円マークなど、任意のものでもよい。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明における１つの実施の形態について説明する。なお、この実施の形態によって本発明が限定されるものではない。
【００３３】
図１及び図２に本発明における１つの実施の形態を示す。図１は、本発明のテープキャリア型の半導体装置としてのＣＯＦテープを示している。
【００３４】
このＣＯＦテープのそれぞれの半導体素子における外形領域（外形ライン）６の内側には、良品の場合にはφ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍの良品表示孔８が打ち抜かれて設けられ、不良品の場合には非貫通状のターゲットマーク７が設けられている。良品表示孔８およびターゲットマーク７により、それぞれの半導体素子の良否を判定することができる。
【００３５】
このＣＯＦに使われているテープ基材は、ポリイミド系で厚さが５μｍ〜４０μｍの絶縁材料の上に、接着剤を介さずに、５μｍ〜１２μｍの銅箔パターンが形成されている。銅箔パターンには、必要に応じて錫メッキや金メッキ処理が施されている。
【００３６】
半導体素子２の外部引出し電極には、次のようにして、バンプと呼ばれる突起電極が形成されている。
【００３７】
半導体素子２の電極形成面がテープキャリア１のインナーリードと相対するようにそれぞれを位置合わせし、テープキャリア１のインナーリード裏面側からヒートステージで加熱し、半導体素子電極の裏面上からインナーリードボンディング用ツールにて熱圧着し、半導体素子２のバンプとテープキャリア１のインナーリードとを接合する。
【００３８】
半導体素子２とテープキャリア１との間にできる隙間には、半導体素子２とテープキャリアの１との接合後にアンダーフィル樹脂が注入され、耐湿性及び機械的な強度向上が図られている。
【００３９】
テープキャリア１の外部出力端子５以外の部分には、ソルダーレジストと呼ばれる絶縁性材料が塗布されて、ソルダーレジスト被覆領域４が形成されている。このソルダーレジスト被覆領域４は、導電性異物がパターン上に直接乗ってショートすることを防ぐ役目をする。
【００４０】
完成したＣＯＦについては、長尺のテープ状態でテスター装置によって連続的に良否判定テストを行う。このテストは、テープキャリア１のアウターリード５の上にプローブピンを立て、電気的動作チェックを行うものである。
【００４１】
このテストによって良品と判定されたＣＯＦは、ＣＯＦ外形領域６の内側に設けられたターゲットマーク７を金型で打ち抜いて、貫通状の良品表示孔８を開ける。なお、このターゲットマーク７は、金型で打ち抜くべき位置を示すものであって、その形状は特に規定しない（ここでは×マークとしている）。
【００４２】
ターゲットマーク７は、銅箔を用いて、配線パターンを形成するのと同時にそれぞれのＣＯＦにおける外形領域６の内側に形成し、配線パターンと同様のメッキ工程を行っておく。その大きさは、ここではφ０．５ｍｍ〜φ３．０ｍｍである。
【００４３】
ターゲットマーク７は、その表面が錫メッキまたは金メッキされている。その理由は、ポリイミド系のテープ基材は黄褐色であるため、銅箔の色ではテープ基材に近い色で、ターゲットマーク有無の判定は困難であるが、錫メッキまたは金メッキされたターゲットマーク７は、色がテープ基材とは異なり、識別が容易であるからである。また、その半導体素子２が良品の場合にはこの部分に貫通状の良品表示孔８を開けることにより、目視でもはっきり識別できるからでもある。
【００４４】
良否判定テストで不良品と判定されたＣＯＦに関しては、必要に応じて再テスト  （不良率の高いロットまたはリールなどについての再テスト）  を行う。そして、プローブピンのコンタクト不良などの、半導体素子２及びＣＯＦの作製上の不都合によらない要因で不良品となったＣＯＦ（本来良品であるＣＯＦ）の拾い上げを行う。
【００４５】
良品と判定されたＣＯＦについては、追加処理によって良品表示孔８の打ち抜き行う。その後、外観検査が行われ、出荷となる。
【００４６】
出荷されたＣＯＦ（リール状態のもの）は、テープキャリア１から打ち抜き金型装置で連続的に打ち抜かれる。その後、良品表示孔８の開いている良品のみ選別され、テープキャリア１のアウターリード５を搭載する製品の接続端子へ実装される。
【００４７】
【発明の効果】
本発明によれば、従来のような、個片化打ち抜き時にテープ歪みが起こって搬送が安定しなくなり、打ち抜き不良の原因になる大きめの半導体素子部打ち抜き孔が設けられていないので、個片化打ち抜き不良の発生するおそれを防止することができる。また、良品表示孔またはターゲットマークがそれぞれの半導体装置における外形領域の内側に設けられているので、従来のようなホト・センサーを初めとする特別な装置によることなく、個片化の前後を問わず、半導体素子の良否の判定を目視のみによって容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明によるテープキャリア型の半導体装置における個片化前（外形打ち抜き前）の状態を示している平面図（左側２つは良品、右側１つは不良品）である。
【図２】図２は、本発明によるテープキャリア型の半導体装置における個片化後（外形打ち抜き後）の状態を示している平面図（左側は良品、右側は不良品）である。
【図３】図３は、従来のテープキャリア型の半導体装置における個片化前（外形打ち抜き前）の状態を示している平面図（左側２つは不良品、右側１つは良品）である。
【図４】図４は、従来のテープキャリア型の半導体装置における個片化後（外形打ち抜き後）の状態を示している平面図（左側は良品、右側は不良品）である。
【符号の説明】
１・・・テープキャリア
２・・・半導体素子
３・・・封止樹脂
４・・・ソルダーレジスト被覆領域
５・・・アウターリード（外部出力端子）
６・・・ＣＯＦの外形領域（外形ライン）
７・・・ターゲットマーク
８・・・良品表示孔
９・・・半導体素子部打ち抜き孔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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