(57)【要約】【課題】  光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。【解決手段】  本発明は、液晶フィルム２を含む光学フィルム１に対し、光源２０から偏光板１８ａを通して光を照射し、光学フィルム１に対し光源２０と反対側に偏光板１８ｂを配置し、紺色のクリーン服２３を着用して、偏光板１８ｂを通して光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における欠陥を検査する光学フィルム１の検査方法である。この方法によれば、光源２０から発せられる光がクリーン服２３に照射されても、光の反射が十分に防止される。このため、反射光による検査員Ｍの姿の映込みが十分に防止され、光学フィルム１において、欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下が十分に防止される。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、
可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して、前記第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査する、
ことを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項２】
液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、
可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことによりその面への光を遮断して、前記第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査する、
ことを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項３】
液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、
前記欠陥検査用素子として、遮光性部材に形成される覗き窓を前記第２の偏光板で構成したものを用い、前記第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査する、
ことを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項４】
可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことにより、その面への光を遮断することを特徴とする請求項１又は３に記載の光学フィルムの検査方法。
【請求項５】
前記欠陥検査用素子として、遮光性部材に形成される覗き窓を前記第２の偏光板で構成したものを用いることを特徴とする請求項１、２又は４に記載の光学フィルムの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイにおいては、製造及び大面積化が容易なことから、液晶フィルムを含む光学フィルムがよく使用されている。このような液晶フィルムを含む光学フィルムは、液晶フィルムに欠陥が存在すると、液晶ディスプレイの表示に悪影響を与える。このため、液晶フィルムを含む光学フィルムについて欠陥の検査を行い、欠陥が多い光学フィルムについては事前に排除しておくことが重要である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、液晶フィルムを含む光学フィルムについての欠陥検査方法は、本発明者らの知る限りでは知られていない。
【０００４】
一方、本発明者らは、これまで、上記光学フィルムにおける欠陥の検査を以下のように行ってきた。即ちバックライトから発せられる光を、偏光板を通して光学フィルムに照射し、その光学フィルムをもう一つの偏光板越しに覗くことにより行ってきた。このとき、検査員はクリーン服を着用し、クリーン服の色を白色としていた。
【０００５】
ところが、上記のような光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。
【０００６】
即ち、上記の本発明者らによる光学フィルムの検査方法では、クリーン服の色が白色であったため、バックライトから発せられる光がクリーン服で反射されやすく、その反射光により、検査員の姿が、検査対象となる光学フィルムに映り込み、光学フィルムにおいて、欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストが低下してしまうという問題があった。この結果、光学フィルムに含まれる液晶フィルムにおける欠陥の視認性が良好とは言えず、欠陥を見逃してしまい、欠陥検査を的確に行うことができなくなるおそれがあった。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、以下の発明により上記課題を解決しうることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００９】
即ち本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して、第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１０】
この検査方法によれば、光源から発せられる光がクリーン服に照射されても、クリーン服が紺色であるため、光の反射が十分に防止される。このため、反射光による検査員の姿の映込みが十分に防止され、光学フィルムにおいて、欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下が十分に防止される。
【００１１】
また本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことによりその面への光を遮断して、第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１２】
この検査方法によれば、光源から発せられる光がカーテンの内側の面に照射されても、カーテンが紺色であるため、光の反射が十分に防止される。加えて、カーテンの外側から照射される光が遮断される。このため、光学フィルムにおいて、反射光による欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下が十分に防止される。
【００１３】
更に本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第２の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、前記欠陥検査用素子として、遮光性部材に形成される覗き窓を第２の偏光板で構成したものを用い、第２の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１４】
この検査方法によれば、光源から発せられる光が検査員の顔に照射されても、欠陥検査用素子の遮光性部材によって、光学フィルムへの反射光の映込みが十分に防止される。このため、光学フィルムにおいて、反射光による欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下が十分に防止される。また遮光性部材に形成される覗き窓を第２の偏光板で構成することにより、視野の絞込みが可能となり、検査に集中することが可能となる。
【００１５】
上記検査方法において、液晶フィルムにおける欠陥の検査を可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して行う場合、又は欠陥検査用素子として、遮光性部材に形成される覗き窓を第２の偏光板で構成したものを用いる場合は、可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことにより、その面への光を遮断することが好ましい。
【００１６】
この検査方法によれば、液晶フィルムにおける欠陥の検査を可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して行うこと、欠陥検査用素子を、遮光性部材に形成される覗き窓を第２の偏光板で構成することをそれぞれ単独で行う場合に比べて、反射光による欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下がより十分に防止される。
【００１７】
また上記検査方法において、液晶フィルムにおける欠陥の検査を可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して行う場合、可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことによりその面への光を遮断する場合、又はこれらを併用する場合、欠陥検査用素子として、遮光性部材に形成される覗き窓を第２の偏光板で構成したものを用いることが好ましい。
【００１８】
この場合、液晶フィルムにおける欠陥の検査を可視光に対して反射率が５０％以下となるクリーン服を着用して行うこと、可視光に対して反射率が５０％以下となるカーテンを用いて前記光学フィルムに対して前記光源と反対側の面を囲むことによりその面への光を遮断すること、又はこれらを併用することをそれぞれ単独で行う場合に比べて、反射光による欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下がより十分に防止される。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の光学フィルムの検査方法によれば、光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。
【００２１】
まず本発明の検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。
【００２２】
図１に示すように、光学フィルム１は、液晶フィルム２を含む。液晶フィルム２としては、例えば厚さ方向に沿って配向軸がねじれるねじれ配向液晶フィルムを用いることができる。
【００２３】
光学フィルム１は、液晶フィルム２を含むものであればよく、従って、液晶フィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、液晶フィルム２を挟むオーバーコート層４及びアンダーコート層６のほか、液晶フィルム２、オーバーコート層４及びアンダーコート層６からなる積層体８と貼り合わせられるフィルム１０などがある。このようなフィルム１０としては、ＴＡＣ、ＰＥＴなどがあるが、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレンなども用いることができる。
【００２４】
一方、本発明の検査方法では、図１に示す剥離性フィルム付き光学フィルム１２から剥離性フィルム１４を剥離する。剥離性フィルム付き光学フィルム１２においては、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の運搬中、その表面を保護するために直接、またはアクリル樹脂等の接着剤１６を介して光学フィルム１に貼り合わせられている。剥離性フィルム１４としては一般にはＰＥＴが用いられるが、ＰＥＴのほか、例えばポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレン、トリアセチルセルロースなども用いることができる。
【００２５】
図２は、光学フィルム１が、剥離性フィルム１４を剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。
【００２６】
図２に示すように、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ａに巻かれてロール状となっており、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ｂ、１６Ｃ、１６Ｄ、１６Ｅ、１６Ｆ、１６Ｇ、１６Ｈを経て繰り出され、ロール１６Ｄを通された後であってロール１６Ｅに到達する前に、剥離性フィルム１４を剥離される。このとき、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の引張り方向と所定角度をなす方向に引っ張ることにより剥離される。
【００２７】
ロール１６Ｄで剥離性フィルム１４を剥離されて露出された光学フィルム１は、例えばロール１６Ｅとロール１６Ｆとの間で検査される。具体的には、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶の欠陥が検査されることになる。
【００２８】
液晶の欠陥の検査は、例えば次のようにして行う。即ち図３に示すように、光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板（第１の偏光板）１８ａを配置する。ここで、図４に示すように、偏光板１８ａは円形とし、３つの滑車２９ａ〜２９ｃを用いて回転可能に支持する。偏光板１８ａを回転可能に支持するのは、偏光板１８ａの透過軸４１を、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２のバックライト２０側の配向軸に合わせて自由に調整できるようにするためである。偏光板１８ａの透過軸４１は通常、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２のバックライト２０側の配向軸に対して４５°の角度となるように調整する。ここで、バックライト２０の発光面が偏光板１８ａよりも大きい場合は、偏光板１８ａの周囲から発せられる光により光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における欠陥が見づらくなる。従って、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板１８ａを囲む遮光部材３１が設けられることが好ましい。そして、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、欠陥検査用素子２９の偏光板１８ｂ越しに光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶欠陥を検査する。
【００２９】
このとき、検査員Ｍは、液晶フィルム２における欠陥の検査を、可視光に対する反射率が５０％以下となるクリーン服としての紺色のクリーン服２３を着用して行う。クリーン服２３は、上衣２３ａ及び下衣２３ｂで構成されている。また、可視光に対する反射率が５０％以下となるカーテンとしての紺色のカーテン２５を用いて光学フィルム１の手前側のマーキング面１ａを囲むことにより光学フィルム１のマーキング面１ａに入り込む光を遮断する。更に図５に示すように、欠陥検査用素子２９として、遮光性部材２７の覗き窓を偏光板１８ｂで構成したものを用い、偏光板１８ｂを、偏光板１８ａ、光学フィルム１に対して、液晶フィルム２における液晶に欠陥がない場合に偏光板１８ｂを透過する光の強度が最小となるように配置する。すると、液晶に欠陥がある場合には、その欠陥部分が輝点として現れるので、これにより欠陥を検査することができる。なお、上衣２３ａ及び下衣２３ｂは一体となっていてもよい。
【００３０】
上記のようにして液晶フィルム２における欠陥を検査することにより、バックライト２０から発せられる光がクリーン服２３に照射されても、クリーン服２３が紺色であるため、光の反射が十分に防止される。このため、反射光による検査員Ｍの姿の映込みが十分に防止される。また、バックライト２０から発せられる光がカーテン２５の内側の面２５ａに照射されても、カーテン２５が紺色であるため、光の反射が十分に防止される。加えて、カーテン２５は紺色であるため、カーテン２５の外側から照射される光をも遮断することが可能となる。更に、バックライト２０から発せられる光が検査員Ｍの顔に照射されても、遮光性部材２７によって、光学フィルム１への反射光の映込みが十分に防止される。
【００３１】
以上のようにして光学フィルム１における欠陥の検査を行うと、光学フィルム１において、反射光による欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下を十分に防止することができ、欠陥の検査を的確に行うことができる。加えて、偏光板１８ｂを覗き窓として使用すると、視野の絞込みが可能となり、検査に集中することも可能となる。
【００３２】
上記のようにして欠陥が発見されたら、図２に示すように、マーカー１７を使用してマーキングを行い、マーキングインクを乾燥装置１９で乾燥させる。
【００３３】
本発明は、前述した実施形態に限定されるものではない。例えば上記実施形態では、（１）検査員Ｍが液晶フィルム２における欠陥の検査を紺色のクリーン服２３を着用して行うこと、（２）紺色のカーテン２５を用いて光学フィルム１の手前側のマーキング面１ａを囲むことにより光学フィルム１のマーキング面１ａに入り込む光を遮断すること、及び（３）欠陥検査用素子２９として、遮光性部材２７に形成される覗き窓を偏光板１８ｂで構成したものを用いること、を行っているが、本発明の検査方法は、上記（１）〜（３）のうちいずれか一つを行えばよい。その場合でも、光学フィルム１への光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことは可能である。
また上記実施形態では、可視光に対する反射率が５０％以下となるクリーン服やカーテンとして、紺色のものが用いられているが、このようなクリーン服やカーテンとしては、可視光に対する反射率が５０％以下となるものであればよい。従って、本発明の検査方法に用いるクリーン服やカーテンの色としては、紺色のほか、黒色、紫色、青色、緑色等を用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる剥離性フィルム付き光学フィルムの一例を示す概略側面図である。
【図２】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムが、剥離性フィルムを剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。
【図３】光学フィルムに含まれる液晶フィルムにおける欠陥検査を行う様子を示す一部切欠き側面図である。
【図４】本発明の光学フィルムの検査方法に使用する偏光板を備えた欠陥検査用素子を示す正面図である。
【図５】本発明の光学フィルムの検査方法において使用する偏光板及び光源を示す正面図である。
【符号の説明】
【００３５】
１…光学フィルム、２…液晶フィルム、１８ａ…偏光板（第１の偏光板）、１８ｂ…偏光板（第２の偏光板）、２０…バックライト（光源）、２３…クリーン服、２５…カーテン、２７…遮光性部材、２９…欠陥検査用素子。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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