(57)【要約】【課題】  半導体レーザもしくは光学部品の不具合により適正なレーザ出力ができない光ピックアップをユニットの製造段階で確実に且つ容易に選別することが可能な評価装置を提供する。【解決手段】  この光ピックアップ評価装置５０は、レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）２と、レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズ３と、平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタ４と、平行光の透過光を光電変換する受光素子５と、アクチュエータ６を有する対物レンズ７とを備えた光ピックアップ１と、受光素子５の出力をモニタしこの出力波形の判定を行う受光素子計測部Ａと、対物レンズ７から出射される収束光を受光して光パワーを測定する光パワーメータ８と、この光パワーメータ８の出力を計測して、この計測データを保存するパワー計測部Ｂと、光ピックアップ１の動作制御と受光素子計測部Ａ及びパワー計測部Ｂのデータを収集して最終判定を行う制御判定部Ｃとを備えて構成される。【選択図】  図１
2005071482.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザビーム及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズと、を備えた光ピックアップの評価装置であって、
前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測部と、前記対物レンズから出射される収束光を受光して光パワーを測定する光パワーメータと、該光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測部と、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測部及びパワー計測部のデータを収集して最終判定を行う制御判定部と、を備えたことを特徴とする光ピックアップ評価装置。
【請求項２】
前記制御判定部は、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測部により測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測部により当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価手段と、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価手段を備え、前記第一評価手段及び第二評価手段の双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ評価装置。
【請求項３】
前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ評価装置。
【請求項４】
前記制御判定部は、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価手段及び第二評価手段により前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ評価装置。
【請求項５】
前記制御判定部は、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする請求項４に記載の光ピックアップ評価装置。
【請求項６】
前記制御判定部は、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ評価装置。
【請求項７】
レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズとを備えた光ピックアップの評価方法であって、
前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測ステップと、光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測ステップと、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測ステップ及びパワー計測ステップのデータを収集して最終判定を行う制御判定ステップと、を備えたことを特徴とする光ピックアップ評価方法。
【請求項８】
前記制御判定ステップは、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測ステップにより測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測ステップにより当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価ステップと、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価ステップを備え、前記第一評価ステップ及び第二評価ステップの双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ評価方法。
【請求項９】
前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする請求項８に記載の光ピックアップ評価方法。
【請求項１０】
前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価ステップ及び第二評価ステップにより前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ評価方法。
【請求項１１】
前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする請求項１０に記載の光ピックアップ評価方法。
【請求項１２】
前記制御判定ステップは、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする請求項１１に記載の光ピックアップ評価方法。
【請求項１３】
レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズとを備えた光ピックアップの製造方法であって、
前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測ステップと、光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測ステップと、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測ステップ及びパワー計測ステップのデータを収集して最終判定を行う制御判定ステップと、を備えたことを特徴とする光ピックアップ製造方法。
【請求項１４】
前記制御判定ステップは、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測ステップにより測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測ステップにより当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価ステップと、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価ステップを備え、前記第一評価ステップ及び第二評価ステップの双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする光ピックアップ製造方法。
【請求項１５】
前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする請求項１３に記載の光ピックアップ製造方法。
【請求項１６】
前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価ステップ及び第二評価ステップにより前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする請求項１３に記載の光ピックアップ製造方法。
【請求項１７】
前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする請求項１６に記載の光ピックアップ製造方法。
【請求項１８】
前記制御判定ステップは、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする請求項１７に記載の光ピックアップ製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ評価装置に関し、さらに詳しくは、光ピックアップの生産工程における品質規格の合格及び不合格を判定する装置及び方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置における光ピックアップは、主にＬＤ(Laser Diode)を光源として発光を行い、その発光光をコリメートレンズにより平行光に変換し、対物レンズにより記録媒体への集光を行っている。そして記録媒体からの反射光を受光素子により受光して再生信号を得ている。またこの時、永久磁石の極性と導電時の発生磁界の極性により対物レンズを上下・左右に移動させ、ピントの調整とビーム位置を所望の位置に設定するためにアクチュエータが用いられており、このアクチュエータの適正な駆動のための信号が得られるようになっている。
ここで、適正なアクチュエータの駆動を行うため、発光光を回折格子により１つの主ビームと２つの副ビームに分割し、主ビームと副ビームの記録媒体からの反射光量及び光量バランスから演算された信号に基づいて、常に発光光が記録媒体の記録溝中央に集光するようにアクチュエータ制御する方式が主に用いられている。
また近年の記録情報の大容量化、高密度記録化および読みとり高速化に対応するため、光ピックアップに対する調整及び評価に対して精度の向上が要求される。このような要求に応えるために、特開平７−６５４００号公報においては、光ピックアップにおいて、偏光ビームスプリッタによって分岐され対物レンズへ向かわない光を第二の受光素子によって受光し、該受光出力によって半導体レーザに内蔵された第一の受光素子の出力を補正することにより、半導体レーザの出射光の偏光面が温度によって回転した場合でも、ディスク上のスポットの光パワーを一定に制御することができる技術について開示されている。
また、特開２００１−１１８２４７公報においては、情報記録中の半導体レーザからの光束を受光するモニタ受光素子と、前記モニタ受光素子からの出力波形により、情報記録の記録品質を把握する手段を備えた光情報記録再生装置が提案されており、これにより最適な記録が実施できるとされている。
【特許文献１】特開平７−６５４００号公報
【特許文献２】特開２００１−１１８２４７公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１に開示されている従来例においては、半導体レーザ出力が迷光の影響を受けやすいものであったり、偏光ビームスプリッタの透過・反射特性がレーザ波長により変動しやすい特性があった場合には、第二受光素子への入射光量が変動して、第二受光素子からの出力がゆらぐ（変動する）ことになるが、第二受光素子出力がゆらぐと、適正な光パワー制御ができなくなってしまう不具合がある。
また、特許文献２に開示されている従来例においては、半導体レーザが発光による自己温度変化により波長変動した場合、光束分離素子に進入したレーザの透過・反射率が変化することになるが、これによりモニタ受光素子への入射光量が適正であったとしても、該光束分離素子を反射した光量が過大・過小となる場合があり、この場合は第二受光素子の出力評価だけでは出射パワー制御が適切に実施できないといった問題がある。
本発明は、かかる課題に鑑み、半導体レーザもしくは光学部品の不具合により適正なレーザ出力ができない光ピックアップをユニットの製造段階で確実に且つ容易に選別することが可能な評価装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明はかかる課題を解決するために、請求項１は、レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズとを備えた光ピックアップの評価装置であって、前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測部と、前記対物レンズから出射される収束光を受光して光パワーを測定する光パワーメータと、該光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測部と、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測部及びパワー計測部のデータを収集して最終判定を行う制御判定部と、を備えたことを特徴とする。
光ピックアップを評価する場合、それを構成する各部品を的確に評価できることが必要である。即ち、レーザダイオード、ビームスプリッタが主な評価対象である。そこで本発明ではビームスプリッタの透過光を評価する受光素子と、レーザビームの光パワーを測定する光パワーメータを備え、更に、これらのデータに基づいて予め設定された評価値と比較して総合評価する制御判定部が備えられている。
かかる発明によれば、ビームスプリッタの透過光を評価する受光素子と、レーザビームの光パワーを測定する光パワーメータと、それらのデータに基づいて総合評価する制御判定部とを備えたので、光ピックアップを実機と同様の評価基準により判定することができる。
請求項２は、前記制御判定部は、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測部により測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測部により当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価手段と、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価手段を備え、前記第一評価手段及び第二評価手段の双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする。
任意のパワーを得るためのＤＡＣ値にてレーザダイオードを駆動発光させ、光パワーメータにて発光パワーが測定されデータ保存する。続いて、受光素子にて得られた出力に対してフィルターをかけそのＤＣ成分を測定する。さらに受光素子出力のゆらぎＡＣ成分に対しそのｍａｘとｍｉｎを測定する。このゆらぎ幅判定を第一評価手段とする。また、受光素子の出力のＤＣ値と、光パワーメータ出力値を用いて受光素子の感度計算が行われる。この感度が狙い値以内のものをＯＫ品としこれを第二評価手段とする。そして第一評価結果と第二評価結果共にＯＫとなったものを完全ＯＫ品と判定する。
かかる発明によれば、第一評価手段及び第二評価手段の２つの評価基準を設けて総合評価するので、ＡＣ成分とＤＣ成分を総合的に評価することができる。
【０００５】
請求項３は、前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする。
光ピックアップのレーザ発光は、受光素子からの出力に対して、任意に設定された受光素子感度を用いてフィードバックすることにより、所望のパワーに安定させることができる。そして、受光素子の感度は、（所定の発光パワーにおける受光素子出力−回路オフセット）／所定の発光パワーとして求めることができる。
かかる発明によれば、受光素子の感度を所定の計算式により一義的に求めることができるので、簡易な回路構成により正確に受光素子の感度を求めることができる。
請求項４は、前記制御判定部は、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価手段及び第二評価手段により前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする。
任意のレーザダイオード発光出力において、受光素子のゆらぎが発生する光ピックアップについては、特定の発光出力のみで評価してしまうと、ゆらぎの発生を見落とす虞がある。そのため、レーザダイオード発光出力を段階的に複数段変化させ、その都度受光素子ゆらぎ評価を実施することで、特定の発光出力でゆらぎが発生する不具合品をＮＧとして除去することが可能となる。
かかる発明によれば、レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する受光素子の出力をモニタしながら評価するので、特定の発光出力でゆらぎが発生する不具合品をＮＧとして除去することができる。
請求項５は、前記制御判定部は、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする。
保持初期においてゆらぎが出現せず、時間経過後に突然ゆらぎ出すような不安定状態の光ピックアップも存在する。このような不安定状態の光ピックアップに対し、瞬間的な受光素子ゆらぎのみをとらえて評価してはＯＫ品として後工程にてドライブとして組んで評価した際に、突然発光出力系の不具合が発生することとなる。そこで本発明では、時間経過後のゆらぎ発生については、ミラーの膜特性、ＬＤの波長変動、あるいは回路的な不具合など種種の要因が可能性として挙げられるので、一定時間保持した受光素子のゆらぎ波形を保存し、ゆらぎが任意の時間経過後に出現しているかどうかを判定することにより、不具合品をＮＧとして除去することができる。
かかる発明によれば、一定時間保持した受光素子のゆらぎ波形を保存し、ゆらぎが任意の時間経過後に出現しているかどうかを判定するので、経時変化に対しても、更に細かく不具合品をＮＧとして除去することができる。
【０００６】
請求項６は、前記制御判定部は、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする。
再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状のタイプは前述のミラーやレーザダイオードの特性により変化するが、レーザダイオードについてはレーザダイオードチップへの戻り光の影響により発光出力が変動してしまい、結果的に受光素子のゆらぎとなる場合もある。また、光ピックアップ内の回路におけるノイズの発生があった場合にも、同様の現象が観測される場合もある。そこで本発明では、受光素子のゆらぎパターンにより不具合光ピックアップを種別化するので、ＮＧ品の解析時に、不具合箇所の想定・特定がよりしやすくなる利点がある。
かかる発明によれば、受光素子のゆらぎパターンにより不具合光ピックアップを種別化するので、ＮＧ品の解析時に、不具合箇所の想定・特定がよりしやすくなる。
請求項７は、レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズとを備えた光ピックアップの評価方法であって、前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測ステップと、光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測ステップと、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測ステップ及びパワー計測ステップのデータを収集して最終判定を行う制御判定ステップと、を備えたことを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項１と同様の作用効果を奏する。
【０００７】
請求項８は、前記制御判定ステップは、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測ステップにより測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測ステップにより当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価ステップと、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価ステップを備え、前記第一評価ステップ及び第二評価ステップの双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項２と同様の作用効果を奏する。
請求項９は、前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項３と同様の作用効果を奏する。
請求項１０は、前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価ステップ及び第二評価ステップにより前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項４と同様の作用効果を奏する。
【０００８】
請求項１１は、前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項５と同様の作用効果を奏する。
請求項１２は、前記制御判定ステップは、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項６と同様の作用効果を奏する。
請求項１３は、レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオードと、前記レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタと、前記平行光の透過光を光電変換する受光素子と、アクチュエータを有する対物レンズとを備えた光ピックアップの製造方法であって、前記受光素子の出力をモニタし該出力波形の判定を行う受光素子計測ステップと、光パワーメータの出力を計測して該計測データを保存するパワー計測ステップと、前記光ピックアップの動作制御と前記受光素子計測ステップ及びパワー計測ステップのデータを収集して最終判定を行う制御判定ステップと、を備えたことを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項１と同様の作用効果を奏する。
請求項１４は、前記制御判定ステップは、被測定光ピックアップのレーザダイオードを発光させ、該発光パワーを前記パワー計測ステップにより測定してデータを保存すると共に、前記受光素子計測ステップにより当該光ピックアップの受光素子の出力を継続してモニタし、前記出力波形のＤＣ成分及びＡＣ成分の最大値および最小値を測定し、該測定値を予め設定された規格に照らし合わせてゆらぎ幅を評価する第一評価ステップと、前記出力波形のＤＣ成分と前記光パワーメータの値に基づいて前記受光素子の感度を評価する第二評価ステップを備え、前記第一評価ステップ及び第二評価ステップの双方の規格を満足した場合、前記被測定光ピックアップを合格品と判定することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項２と同様の作用効果を奏する。
【０００９】
請求項１５は、前記受光素子の感度Ｓは、所定の発光パワーにおける前記受光素子の出力をＶｆ、前記受光素子の回路オフセットをＶｏｆ、前記所定の発光パワーをＰＷとした場合、Ｓ＝（Ｖｆ−Ｖｏｆ）／ＰＷにより求めることを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項３と同様の作用効果を奏する。
請求項１６は、前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する前記受光素子の出力をモニタしながら前記第一評価ステップ及び第二評価ステップにより前記被測定光ピックアップを評価することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項４と同様の作用効果を奏する。
請求項１７は、前記制御判定ステップは、前記レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させた際に、前記受光素子の評価に不合格が発生した場合、該不合格の時点のレーザ出力について再評価を実施し、該再評価中のレーザ出力を一定時間継続すると共に、該レーザ出力の波形データを保存することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項５と同様の作用効果を奏する。
請求項１８は、前記制御判定ステップは、前記再評価中のレーザ出力を一定時間継続し保存された波形データの形状により、不具合の光ピックアップを複数の種類に分別することを特徴とする。
かかる発明によれば、請求項６と同様の作用効果を奏する。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１、７、１３の発明によれば、ビームスプリッタの透過光を評価する受光素子と、レーザビームの光パワーを測定する光パワーメータと、それらのデータに基づいて総合評価する制御判定部とを備えたので、光ピックアップを実機と同様の評価基準により判定することができる。
また請求項２、８、１４では、第一評価手段及び第二評価手段の２つの評価基準を設けて総合評価するので、ＡＣ成分とＤＣ成分を総合的に評価することができる。
また請求項３、９、１５では、受光素子の感度を所定の計算式により一義的に求めることができるので、簡易な回路構成により正確に受光素子の感度を求めることができる。
また請求項４、１０、１６では、レーザダイオードの発光出力を段階的に変化させ、各段階の発光出力レベルに対する受光素子の出力をモニタしながら評価するので、特定の発光出力でゆらぎが発生する不具合品をＮＧとして除去することができる。
また請求項５、１１、１７では、一定時間保持した受光素子のゆらぎ波形を保存し、ゆらぎが任意の時間経過後に出現しているかどうかを判定するので、経時変化に対しても、更に細かく不具合品をＮＧとして除去することができる。
また請求項６、１２、１８では、受光素子のゆらぎパターンにより不具合光ピックアップを種別化するので、ＮＧ品の解析時に、不具合箇所の想定・特定がよりしやすくなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明を図に示した実施形態を用いて詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
図１は本発明の光ピックアップ評価装置の模式図である。この光ピックアップ評価装置５０は、レーザビームの発光及び記憶媒体からの反射光の受光を行うレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）２と、レーザビームの発光光を平行光に変換するコリメータレンズ３と、平行光の透過及び反射を行うビームスプリッタ４と、平行光の透過光を光電変換する受光素子５と、アクチュエータ６を有する対物レンズ７とを備えた光ピックアップ１と、受光素子５の出力をモニタしこの出力波形の判定を行う受光素子計測部Ａと、対物レンズ７から出射される収束光を受光して光パワーを測定する光パワーメータ８と、この光パワーメータ８の出力を計測して、この計測データを保存するパワー計測部Ｂと、光ピックアップ１の動作制御と受光素子計測部Ａ及びパワー計測部Ｂのデータを収集して最終判定を行う制御判定部Ｃとを備えて構成される。
そして光ピックアップ１は、主にＬＤ２を光源として発光を行い、コリメートレンズ３による平行光の生成、対物レンズ７による記録媒体への集光を経て、該記録媒体からの反射光をＬＤ２内の受光素子で受光することにより再生信号を得ている。またこの時、永久磁石の極性と導電時の発生磁界の極性により対物レンズを上下・左右動させ、対物レンズ７位置を所望の位置に設定するためのアクチュエータ６が用いられており、適正な駆動のための信号が得られるようになっている。ここで、適正なアクチュエータ６の駆動を行うため、発光光を回折格子により１つの主ビームと２つの副ビームに分割し、主ビームと副ビームの記録媒体からの反射光量及び光量バランスから演算された信号を元に、常に発光光が記録媒体の記録溝（以降トラックと呼ぶ）中央に集光するようにアクチュエータ制御する方式が主に用いられている。
【００１２】
光ピックアップ１のレーザ発光は、受光素子５からの出力に対して、任意に設定された受光素子感度を用いてフィードバックすることにより、所望のパワーに安定させることができる。ここで、受光素子感度は以下の式により求められる。
受光素子感度＝（所定の発光パワーにおける受光素子出力−回路オフセット）／所定の発光パワー、例えば、発光パワー１０ｍＷ時に受光素子出力が２１０ｍＶで、電源投入時の受光素子回路オフセットが１０ｍＶであった場合は、受光素子感度は（２１０−１０）／１０＝２０[ｍＶ／ｍＷ]となる。
またビームスプリッタ４を透過し受光素子５に入射したレーザ光は電圧出力に変換されて受光素子計測部Ａにて計測されるが、受光素子５の出力は図２に示すように、出力本来のＤＣ成分１０と、ノイズ成分を含んだゆらぎをもつＡＣ成分１１からなる。通常、受光素子感度に基づく発光パワーのフィードバックが実施されていると、時間ｔに対する受光素子出力はＤＣ成分１０、ＡＣ成分１１ともにほぼ一定値で安定するが、ビームスプリッタ４の膜特性によっては、この受光素子出力が不安定となり、ＡＣ成分１１が大となる場合がある。
またＬＤレーザ光は温度により波長が変化し、同時に偏光特性も変化するが、ここで、透過・反射を行っているビームスプリッタ４に対して偏光特性が大きく変化したレーザ光が照射されると、偏光に対するビームスプリッタ４の膜特性に応じて、反射・透過比率も変化することになる。これにより、ＬＤレーザ波長による透過率変動が大きいビームスプリッタが存在した場合は、受光素子出力が不安定となり、ゆらぎのＡＣ成分１１が大となって、ＬＤ発光パワーが不安定となる不具合がある。
本発明では、まず任意のパワーを得るためのＤＡＣ値にてＬＤを駆動発光させ、光パワーメータ８にて発光パワーが測定されデータ保存される。続いて、受光素子５にて得られた受光素子出力に対してフィルターをかけ、そのＤＣ成分１０を測定する。さらに図３に示した受光素子出力のゆらぎＡＣ成分１１に対し、そのｍａｘ１２とｍｉｎ１３を測定する。ここで（ｍａｘ−ｍｉｎ）をゆらぎ幅１４とし、例えば、ゆらぎ幅１５ｍＶ以内をＯＫとする。このゆらぎ幅判定を第一次判定とする。また、この受光素子出力のＤＣ値１０と、光パワーメータ出力値を用いて、前述の計算式から受光素子感度計算が行われる。例えば、この受光素子感度が狙い値±５％以内のものをＯＫ品とし、これを第二次判定結果とする。そして第一次判定結果と第二次判定結果共にＯＫとなったものを完全ＯＫ品と判定する。
これにより、受光素子出力が安定した状態での受光素子感度測定が可能となり、受光素子出力のゆらぎがなく、また、受光素子感度が所定の値である良品を得ることが可能となる。また、ここで第一次判定結果がＯＫ、ＮＧ、第二次判定結果がＯＫ、ＮＧという組合せでデータ保存をすることにより判定ＮＧ品を種類分けすることができる。例えば、第一次の判定結果受光素子ゆらぎのみがＮＧのものは修理工程にてビームスプリッタの交換を実施し、第二次の判定結果である受光素子感度のみがＮＧのものは受光素子感度調整を再実施するとことにより、決まった修理フローで処理することができる。
【００１３】
図４はＬＤ駆動のためのＤＡＣ値（ＬＤ電流）を増加させた時のＬＤ発光出力を模式的に示した図である。図４のように、ある大きさのＤＡＣ値に到達するとＬＤ発光が開始される。ここで、ＬＤ発光出力に比例して、受光素子出力のＤＣ成分も増加する。
図５はＬＤ発光出力を増加させていった時に、任意のＤＡＣ値において受光素子ゆらぎが観測された時の状態を模式的に示した図である。例えば、本実施例を用いた実験においては、ＬＤ駆動電流で４５ｍＡ〜６０ｍＡ付近で図５（ａ）の波形が図５（ｂ）のような変化して不連続ゆらぎ２０が観測された。また、６５ｍＡ〜９０ｍＡではゆらぎの振幅自体が増加する傾向が見られた。このように、任意のＬＤ発光出力において受光素子ゆらぎが発生する光ピックアップについては、特定の発光出力のみで評価してしまうと、ゆらぎの発生を見落とす虞がある。そのため、ＬＤ発光出力を段階的に複数段変化させ、その都度受光素子ゆらぎ評価を実施することで、特定の発光出力でゆらぎが発生する不具合品をＮＧとして除去することが可能となる。なお、上記ＬＤ駆動電流値は本実施例の実験にて使用したＬＤについての測定値であり種々のＬＤを採用した場合は、上記範囲外にて受光素子ゆらぎが観測される場合もある。段階的にＬＤ発光出力を変化させた場合、各ポイントにてゆらぎ観測を実施するのは、最低５ｓｅｃは必要となる。これ以下の保持時間では十分なゆらぎ観測が行えない。
【００１４】
図６は任意のＬＤ発光出力において、このＬＤ発光出力設定を一定時間保持した場合の時間に対する受光素子出力変化を模式的に示した図である。このように、保持初期（例えば３ｓｅｃ）においてゆらぎが出現せず、時間経過後２１に突然ゆらぎ出すような不安定状態の光ピックアップも存在する。このような不安定状態の光ピックアップに対し、瞬間的な受光素子ゆらぎのみをとらえて評価してはＯＫ品として後工程にてドライブとして組んで評価した際に、突然発光出力系の不具合が発生することとなる。そのため、任意の時間経過においても受光素子ゆらぎが発生しない光ピックアップが要求される。時間経過後のゆらぎ発生については、ビームスプリッタの膜特性、ＬＤの波長変動、あるいは回路的な不具合など種種の要因が可能性として挙げられる。本発明では一定時間保持した受光素子ゆらぎ波形を保存し、ゆらぎが任意の時間経過後に出現しているかどうかを判定するので、上述の不具合品をＮＧとすることができる。
図７は前述の受光素子出力ゆらぎを３種類のパターンに分別し、それを模式化した図である。図７（ａ）は、電源ＯＮ時の受光素子出力振幅が上下に広がる振幅増加タイプであり、図７（ｂ）は特定の時間で突然受光素子出力が大きくなり、経時的に受光素子出力が不連続になる不連続タイプである。また、図７（ｃ）はさらに大きなゆらぎ成分が重畳されたような変動タイプである。これらのタイプは前述のビームスプリッタやＬＤの特性により変化するが、ＬＤについてはＬＤチップへの戻り光の影響により発光出力が変動してしまい、結果的に受光素子ゆらぎとなる場合もある。また、光ピックアップ内の回路におけるノイズの発生があった場合にも、同様の現象が観測される場合もある。本発明では、上記説明のように、受光素子ゆらぎパターンにより不具合光ピックアップを種別化するので、ＮＧ品の解析時に、不具合箇所の想定・特定がよりしやすくなる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の光ピックアップ評価装置の模式図である。
【図２】本発明の受光素子５の出力波形の一例を示す図である。
【図３】本発明の受光素子出力のゆらぎＡＣ成分１１のｍａｘ１２とｍｉｎ１３を示す図である。
【図４】本発明のＬＤ駆動のためのＤＡＣ値（ＬＤ電流）を増加させた時のＬＤ発光出力を模式的に示した図である。
【図５】本発明のＬＤ発光出力を増加させていった時に、任意のＤＡＣ値において受光素子ゆらぎが観測された時の状態を模式的に示した図である。
【図６】本発明の任意のＬＤ発光出力において、このＬＤ発光出力設定を一定時間保持した場合の時間に対する受光素子出力変化を模式的に示した図である
【図７】本発明の受光素子出力ゆらぎを３種類のパターンに分別し、それを模式化した図である。
【符号の説明】
【００１６】
１  光ピックアップ、２  レーザダイオード、３  コリメータレンズ、４  ビームスプリッタ、５  受光素子、６  アクチュエータ、７  対物レンズ、８  光パワーメータ、Ａ  受光素子計測部、Ｂ  パワー計測部、Ｃ  制御判定部
【図１】
2005071482.tif 000003
【図２】
2005071482.tif 000004
【図３】
2005071482.tif 000005
【図４】
2005071482.tif 000006
【図５】
2005071482.tif 000007
【図６】
2005071482.tif 000008
【図７】
2005071482.tif 000009