(57)【要約】【課題】  画像処理を適切に行うことができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】  ウィンドウ・コントロール（Window Control）を自動で行うＡＷＣ（Auto Window Control）部は、値が『５００』である最大値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリング（ここでは５０倍のスケーリング）を行う。したがって、最大値の画素が仮に欠損画素であっても、その画素をそのまま残してスケーリングを行うので、コントラストの良好な画像を得ることができる。その結果、スケーリングを行うことで画像処理を適切に行うことができる。また、最大値の画素が欠損画素でなく正常な画素であっても、その画素をそのまま残すので、その画素が補間されることなく画像処理を適切に行うことができる。【選択図】        図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、検出された放射線に基づく画素のうち最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う画素スケーリング手段を備え、画素スケーリング手段のスケーリングにより画像処理を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
請求項1に記載の放射線撮像装置において、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段とを備え、前記画素スケーリング手段のスケーリングおよび欠損画素補間手段の補間により画像処理を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３】
請求項２に記載の放射線撮像装置において、前記欠損画素検出手段は、前記画素スケーリング手段のスケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の放射線撮像装置において、前記欠損画素補間手段は、欠損画素の周辺の複数個の画素から中央値の画素を用いて欠損画素を補間することを特徴とする放射線撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、医療分野や、非破壊検査，ＲＩ（Radio isotope）検査，および光学検査などの工業分野や、原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、検出された放射線に基づいて画像処理を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線を例に採ると、放射線撮像装置において画像処理は、フラットパネル型放射線検出器（ＦＰＤ）などに代表される放射線検出手段で検出された放射線に基づいて行われる。上述したＦＰＤは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、２次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をＯＮすることで読み出されて、電気信号として画像処理部に送り込まれて画像処理が行われる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの電気信号に基づく画素についてもバラツキがある。
【０００３】
特に、検出素子として機能しない場合には、画素の値が極端に大きくなって画像上で白く浮き出る、あるいは画素の値が極端に小さくなって画像上で黒くなる。検出素子の感度が高い場合には、放射線が入射していない状態でも暗電流が発生して画素の値が大きくなる。逆に、検出素子の感度が低い、あるいは検出素子にゴミなどが付着した場合には、画素の値が小さくなる。このような画素は『欠損画素』と呼ばれている。
【０００４】
欠損画素を補間する手法として、欠損画素に隣接する複数個の画素から中央値の画素で欠損画素を置換するメディアンフィルタ処理や、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などがある。これらの処理では欠損画素に隣接する画素のパターンに関係なく、画素の情報のみに基づいて行われる。例えば、隣接する画素にも欠損画素があるパターンの場合には、その欠損画素の情報に基づいて補間あるいは置換される恐れがある。そこで、画素のパターンを考慮するために、欠損画素のパターンを分類して、その分類結果に応じて欠損画素の補間を行う補間処理の手法がある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１０−５１６９３号公報（第４−７頁、図２，図４，図６−９）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した特許文献１も含めてこれらの手法の場合には、値が極端に異なる画素を欠損画素としてみなしている。したがって、正常な画素にも関わらず値が極端に異なるだけで欠損画素として補間あるいは置換される恐れがある。その結果、画像処理を適切に行うことができなくなる恐れがある。
【０００６】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、画像処理を適切に行うことができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
発明者は、上記の問題を解決するために鋭意研究した結果、次のような知見を得た。
すなわち、欠損画素を補間することで画像処理を適切に行うという発想を変えて、欠損画素をそのまま残す、あるいは必要に応じたときのみ補間して画像処理を行うことに着目してみた。
【０００８】
ただ、欠損画素あるいは欠損画素の恐れがある画素をそのまま残しても、欠損画素のある画像を得るだけである。そこで、別の手法を組み合わせることで画像処理を適切に行うことに想到した。ところで、テレビジョンやパーソナルコンピュータのモニタなどに代表される映像の分野では、『ウィンドウ・コントロール（Window Control）』という手法が行われている。この手法では、例えば図６（ａ）に示すように、モニタの一部に値が極端に大きい画素があってコントラストが悪ければ、図６（ｂ）に示すように、値が大きな画素（すなわち最大値の画素）に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行うものである。なお、ウィンドウ・コントロールを自動で行うことを、本明細書では『ＡＷＣ（Auto Window Control）』と定義づける。発明者は、最大値の画素を欠損画素あるいは欠損画素の恐れがある画素に置き換えることを考えた。してみれば、欠損画素をそのまま残しても、スケーリングを行うことでコントラストが良くなるので、画像処理を適切に行うことが可能になる。なお、最小値の画素についても同じことが言えると考えられる。
【０００９】
このような知見に基づくこの発明は、次のような構成をとる。
請求項1に記載の発明は、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、検出された放射線に基づく画素のうち最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う画素スケーリング手段を備え、画素スケーリング手段のスケーリングにより画像処理を行うことを特徴とするものである。
【００１０】
［作用・効果］請求項1に記載の発明によれば、画素スケーリング手段は、最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。したがって、最大値または最小値の画素が仮に欠損画素であっても、その画素をそのまま残してスケーリングを行うので、コントラストの良好な画像を得ることができる。その結果、スケーリングを行うことで画像処理を適切に行うことができる。また、最大値または最小値の画素が欠損画素でなく正常な画素であっても、その画素をそのまま残すので、その画素が補間されることなく画像処理を適切に行うことができる。
【００１１】
最大値または最小値の画素が欠損画素と確定できる場合には、上述した発明において、欠損画素を検出する欠損画素検出手段と、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段とを備え、画素スケーリング手段のスケーリングおよび欠損画素補間手段の補間により画像処理を行うのが好ましい（請求項２に記載の発明）。この場合には、画素を補間した状態でコントラストの良好な画像を得ることができ、画像処理をより一層適切に行うことができる。
【００１２】
また、上述した請求項２に記載の発明の一例は、上述した欠損画素検出手段は、画素スケーリング手段のスケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出すること（請求項３に記載の発明）である。スケーリングで用いられる最大値または最小値の画素を欠損画素として検出することで、欠損画素の検出の手間を省くことができる。
【００１３】
また、上述した請求項２に記載の発明の他の一例は、上述した欠損画素補間手段は、欠損画素の周辺の複数個の画素から中央値の画素を用いて欠損画素を補間すること（請求項４に記載の発明）である。つまり、メディアンフィルタ処理で中央値の画素で欠損画素を置換することで補間を行う。
【発明の効果】
【００１４】
この発明に係る放射線撮像装置によれば、画素スケーリング手段は、最大値または最小値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行うので、最大値または最小値の画素をそのまま残した状態でスケーリングを行って画像処理を適切に行うことができる。
【実施例】
【００１５】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るフラットパネル型Ｘ線検出器およびＸ線診断装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図であり、図３は、側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図４は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）を例に採るとともに、放射線撮像装置としてＸ線診断装置を例に採って説明する。
【００１６】
本実施例に係るＸ線診断装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３とを備えている。ＦＰＤ３は、放射線検出手段に相当する。
【００１７】
Ｘ線診断装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う他に後述するスケーリングや補間処理を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。
【００１８】
天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させるによる走査に関する制御や、Ｘ線管３側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
【００１９】
コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線診断装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部９で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。
【００２０】
図２に示すように、画像処理部９は、最大値の画素を検出する最大値画素検出部２１と、ウィンドウ・コントロール（Window Control）を自動で行うＡＷＣ（Auto Window Control）部２２と、最大値画素検出部２１で検出された最大値の画素が欠損画素であるか否かを判断する欠損画素判断部２３と、欠損画素の補間を行う欠損画素補間部２４とを備えて構成されている。これらの構成を備えることで画像処理部９は、スケーリングや補間処理を行う。
【００２１】
最大値画素検出部２１は、分離回路や比較器などで構成されており、分離回路で電荷信号に基づく画素をキャパシタやスイッチング素子３２を構成する検出素子ごとに空間的に展開して、展開された画素を比較することで、最大値の画素を検出する。最大値画素検出部２１で検出された最大値の画素が欠損画素判断部２３で欠損画素として判断された場合には、最大値画素検出部２１は、欠損画素を検出する機能を有することになり、この発明における欠損画素検出手段に相当する。なお、最大値画素検出部２１は、上述の構成に限定されず、上述した特許文献１のように、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）と減算器とで最大値画素検出部２１を構成し、空間的に展開された画素の信号のうち、高周波成分である急峻な画素の信号以外の低周波成分のみをローバスフィルタで通過させ、低周波成分と全体の信号とを減算器で減算して急峻な画素を検出することで、急峻な画素、すなわち最大値の画素を検出してもよい。
【００２２】
ＡＷＣ部２２は、乗算器あるいは加算器などで構成されており、乗算器あるいは加算器によって最大値の画素以外の残りの全ての画素についてスケーリングを行う。ＡＷＣ部２２は、この発明における画素スケーリング手段に相当する。
【００２３】
欠損画素判断部２３は、ＲＡＭなどに代表される記憶媒体や比較器などで構成されており、同じ検出素子において過去に行われた画素をＲＡＭなどの記憶媒体から読み出して比較器で比較することで欠損画素であるか否かを判断する。
【００２４】
欠損画素補間部２４は、メディアンフィルタなどで構成されており、複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素で欠損画素を置換することで欠損画素を補間する。欠損画素補間部２４はこの発明における欠損画素補間手段に相当する。
【００２５】
ＦＰＤ３は、図３に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図３、図４に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。
【００２６】
図３に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図３、図４に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図４に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図３、図４に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。
【００２７】
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。
【００２８】
次に、本実施例装置における一連の画像処理について、図５のフローチャートおよび図６、図７を参照して説明する。
【００２９】
（ステップＳ１）Ｘ線照射
Ｘ線管２から被検体ＭにＸ線を照射する。被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出してＡ／Ｄ変換器８でディジタル化した後に、画素として画像処理部９の最大値画素検出部２１に送り込む。
【００３０】
（ステップＳ２）最大値画素を検出
最大値画素検出部２１は、図６（ａ）に示すように、画素をキャパシタやスイッチング素子３２を構成する検出素子ごとに空間的に展開する。図示の都合上、図６では１次元で表したが、スイッチング素子３２の配列に対応させて２次元に展開する。本実施例では、マルチプレクサ３７で１つの信号にまとめてから空間的に再度に展開したが、マルチプレクサ３７を設けずに空間的に展開した状態で、画像処理部９の最大値画素検出部２１に送ってもよい。この場合、同じデータバスライン３９で送られるデータは、各スイッチング素子３２のＯＮ／ＯＦＦの切換時間ごとにゲートバスライン３６に接続された電荷信号が重畳されるので、切換時間ごとにも各ゲートバスライン３６の画素ごとになるように分離回路などで時分割して展開する。
【００３１】
検出素子ごとに各画素を展開したら、各々の画素を比較器で比較して、最大値の画素を検出する。例えば、図７（ａ）に示すように、最大値の画素が『５００』で、残りの画素が『１０』前後で分布している場合には、『５００』である最大となりうる画素も含めて比較して、最大値の画素の『５００』を検出する。そして、ステップＳ３とＳ４を並行に行う。
【００３２】
（ステップＳ３）スケーリング
ＡＷＣ部２２は、最大値の画素が『５００』に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。例えば、残りの画素のうち、値が『１０』である画素を『５００』にする場合には、図７（ｂ）に示すように、５００／１０の５０倍でスケーリングを行う（図６、図７では『×５０』で５０倍のスケーリングを表す）。残りの画素についても５０倍でスケーリングを行う。このスケーリングについては乗算器で行う。スケーリング後の結果は、図６（ｂ）に示すとおりである。
【００３３】
なお、値が『１０』以外の画素（例えば値が『１２』の画素）ｎを『５００』にして、５００／ｎ倍（値が『１２』の画素の場合には５００／１２倍）でスケーリングを行ってもよい。また、加算器でスケーリングを行ってもよい。その場合には値が『１０』である画素を『５００』にする際に、５００−１０＝４９０を残りの画素に加算することでスケーリングを行う。そして、ステップＳ６に跳ぶ。
【００３４】
（ステップＳ４）欠損画素か？
欠損画素判断部２３は、最大値の画素が欠損画素であるか否かを判断する。欠損画素を判断する手法の一例として、同じ検出素子において過去に行われた画素を欠損画素ごとＲＡＭなどの記憶媒体に予め記憶しておいて、欠損画素のある検出素子と今回で検出された最大値の画素の検出素子とを比較器で比較して両者が一致したら、その最大値の画素は欠損画素として判断する。
【００３５】
他の一例として、Ｘ線を照射しない非照射で流れる暗電流を欠損画素として記憶媒体に予め記憶しておいて、暗電流が流れた検出素子と今回で検出された最大値の画素の検出素子とを比較器で比較して両者が一致したら、その最大値の画素を欠損画素として判断する。欠損画素判断部２３で最大値の画素が欠損画素と判断した場合には、次のステップＳ５に移行し、最大値の画素が欠損画素でないと判断した場合には、ステップＳ６に跳ぶ。
【００３６】
（ステップＳ５）メディアンフィルタ処理
欠損画素補間部２４は、複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素で欠損画素を置換することで欠損画素を補間する。例えば、図７（ａ）に示すように分布している場合には、図７（ｃ）に示すように最大値の画素を除いて残りの画素から中央値である『１１』の値の画素を検出し、図７（ｄ）に示すように、その『１１』の画素で、『５００』である最大値の画素、すなわち欠損画素を置換する。図７（ｃ），図７（ｄ）では置換の対象となる画素を『○』で囲んで区別している。
【００３７】
（ステップＳ６）合成
ステップＳ３でスケーリングが行われた各画素と、最大値の画素が欠損画素の場合にはステップＳ５でメディアンフィルタ処理された欠損画素とを合成する。図７に示す場合では、メディアンフィルタ処理された欠損画素は値が『５００』から『１１』に置換されたので、『１１』に置換された画素についても５０倍でスケーリングを行って、スケーリングが既に行われた残りの画素と併せると、図７（ｅ）に示すようになる。
【００３８】
以上のように構成された本実施例装置によれば、ＡＷＣ部２２は、最大値の画素に一致するように、残りの全ての画素について最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行う。したがって、最大値の画素が仮に欠損画素であっても、その画素をそのまま残してスケーリングを行うので、コントラストの良好な画像を得ることができる。その結果、スケーリングを行うことで画像処理を適切に行うことができる。また、最大値の画素が欠損画素でなく正常な画素であっても、その画素をそのまま残すので、その画素が補間されることなく画像処理を適切に行うことができる。
【００３９】
本実施例では、欠損画素を検出する最大値画素検出部２１と、最大値画素検出部２１で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間部２４とを備え、ＡＷＣ部２２のスケーリングおよび欠損画素補間部２４の補間により画像処理を行っている。この場合には、画素を補間した状態でコントラストの良好な画像を得ることができ、画像処理をより一層適切に行うことができる。
【００４０】
なお、本実施例では、メディアンフィルタ処理のように、欠損画素を置換することで欠損画素の補間を行ったが、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などに例示されるように、特に限定されない。また、隣接する画素に基づいて画素を補間する場合には、Ｘ線を照射しない非照射で画素を予め測定して、その補正データに基づいて画素の重み付けを行ったりすればよい。
【００４１】
本実施例では、欠損画素判断部２３で欠損画素と判断した場合には、最大値画素検出部２１は、ＡＷＣ部２２のスケーリングで用いられる最大値の画素を欠損画素として検出したが、最大値の画素を欠損画素として検出することで、欠損画素の検出の手間を省くことができる。
【００４２】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４３】
（１）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線診断装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線診断装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。
【００４４】
（２）上述した実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３を例に採って説明したが、画素を区画する２次元マトリクス状で配列された検出素子から構成されるＸ線検出器であれば、この発明は適用することができる。
【００４５】
（３）上述した実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。
【００４６】
（４）上述した実施例では、ＦＰＤ３は、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。
【００４７】
（５）上述した実施例では、最大値の画素に一致するようにスケーリングを行ったが、最大値の画素に限定されず、最小値の画素に一致するように、最大値から最小値までの範囲を確定するスケーリングを行ってもよい。
【００４８】
（６）上述した実施例では、欠損画素についてメディアンフィルタなどに代表される補間処理を行ったが、欠損画素について補間せずにスケーリングのみ行ってもよい。
【００４９】
（７）上述した実施例では、最大値画素検出部２１は、ＡＷＣ部２２のスケーリングで用いられる最大値の画素を欠損画素として検出したが、スケーリングで用いられる最大値の画素以外にも欠損となりうる画素があれば、その画素を欠損画素として検出してもよい。つまり、最大値画素検出部２１のように最大値の画素を検出する手段と欠損画素を検出する手段とを個別に分けてもよい。そして、スケーリングの場合には、最大値の画素を検出する手段で検出された画素に一致するように行い、補間の場合には、欠損画素を検出する手段で検出された画素を対象に行う。かかる変形例は最小値の画素についても適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】実施例に係るフラットパネル型Ｘ線検出器およびＸ線診断装置のブロック図である。
【図２】Ｘ線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図である。
【図３】Ｘ線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図４】平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図５】一連の画像処理を示すフローチャートである。
【図６】画素を空間的に展開した図であって、（ａ）はスケーリング前、（ｂ）はスケーリング後の各図である。
【図７】（ａ）〜（ｅ）は、一連の画像処理における各画素の変化を示した図である。
【符号の説明】
【００５１】
３  …  フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９  …  画像処理部
２１  …  最大値画素検出部
２２  …  ＡＷＣ（Auto Window Control）部
２４  …  欠損画素補間部
Ｍ  …  被検体
【図１】
2005176918.tif 000003
【図２】
2005176918.tif 000004
【図３】
2005176918.tif 000005
【図４】
2005176918.tif 000006
【図５】
2005176918.tif 000007
【図６】
2005176918.tif 000008
【図７】
2005176918.tif 000009