(57)【要約】【課題】  ディスク装置で使用のために、スライダを念頭に置いた装置が開示される。【解決手段】  本発明の実施形態は、前側と、後側と、少なくとも二つの主要なレールと、空気軸受け表面を備えたスライダ表面と、スライダの幅に対しほぼ平行な少なくとも一つの溝とを含む。空気軸受け表面の溝は、スライダのより低い圧縮長を実現し、かつディスク表面から微粒子を転じさせることを可能にする。【選択図】      図５
2005310362.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
前エッジ、スライダ本体の縦方向に沿って伸びる内エッジ及び外エッジ、ならびに後エッジで定義されたスライダ本体を具備する空気軸受けスライダにおいて、
該スライダ本体が、該スライダの該前エッジから空気軸受け表面の前部にわたる、前部とステップ域とを有する空気軸受け表面を備えていて、
該前部が、該前部の内エッジから該前部の外エッジにわたる該前部に溝を備えている、
空気軸受けスライダ。
【請求項２】
該スライダが、回転しているディスクと相対的に動く場合に、該溝の幅が微粒子の排除を可能にしている、請求項１に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項３】
該溝の幅が、２５ｕｍから４０ｕｍである、請求項１に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項４】
該溝の深さが、該ステップ域の深さに等しい、請求項１に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項５】
該溝の長さが、約０．７５ｍｍである、請求項１に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項６】
該空気軸受け表面が、該スライダの後エッジ直前に配置されたリヤパッドをさらに備え、
該リヤパッドが、後部の内エッジから該前部の外エッジに広がる該リヤパッドに溝をさらに有する、請求項１に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項７】
ディスク装置に使用する空気軸受けスライダであって、
前エッジ及び後エッジと、
少なくとも二つの主要レール、及び前部を含んでいる空気軸受け表面と、
を具備する空気軸受けスライダにおいて、
該前部がスライダの幅に対しほぼ平行な少なくとも１組の溝を有する、
空気軸受けスライダ。
【請求項８】
該スライダが、回転しているディスクと相対的に動く場合に、該レールの幅が微粒子の排除を可能にしている、請求項7に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項９】
該溝の幅が、２５ｕｍから４０ｕｍである、請求項7に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項１０】
該空気軸受け表面が、該スライダの該前部と該前エッジとの間に浅いステップを有し、該溝の深さが該浅いステップの深さに等しい、請求項7に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項１１】
該溝の長さが、約０．７５ｍｍである、請求項7に記載の空気軸受けスライダ。
【請求項１２】
スピンドルモータに連結したディスクと、
アクチュエータと、
スライダであって、
前エッジ及び終エッジ、ならびに前部を有する空気軸受け表面、
少なくとも二つの主要レール、及び
該前部にあって、該スライダの幅に対しほぼ平行である少なくとも一組の溝、
を有するスライダと、
を具備する、ディスク装置。
【請求項１３】
該スライダが、回転しているディスクと相対的に動く場合に、該レールの幅が微粒子の排除を可能にしている、請求項12に記載のディスク装置。
【請求項１４】
該溝の幅が、２５ｕｍから４０ｕｍである、請求項12に記載のディスク装置。
【請求項１５】
該空気軸受け表面が、該スライダの該前部と該前エッジとの間に浅いステップを有し、該溝の深さが該浅いステップの深さに等しい、請求項12に記載のディスク装置。
【請求項１６】
該溝の長さが、約０．７５ｍｍである、請求項12に記載のディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ハードディスク装置で使用されているような、空気軸受けスライダ分野に関する。より詳しくは、本発明はスライダの回路との相互作用から微粒子を排除することを容易にする、スライダのための空気軸受け構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ハードディスク装置は、一つもしくはそれ以上の回転ディスクにユーザデータを記憶する。データは磁気ヘッド素子によって、記録されまた取り出される。おのおのの磁気ヘッド素子は、１０ｎｍより小さな間隔でディスク上を“飛行する”、小さなスライダ（具体的に１．２５ｍｍ、１ｍｍ、０．３ｍｍ）に埋め込まれる。この隙間、あるいは“浮上高さ“は、現在の構造において磁気ヘッドの浮上高さが記録密度に反比例するので、記録密度にとって極めて重要である。浮上高さは、回転ディスクと隣接するスライダ表面にエッチングされた空気軸受け表面（ABS）との間に形成された自動空気軸受けによって維持される。ハードディスク装置の性能と信頼性は、浮上高さの安定性を維持することに、非常に依存する。ディスク装置の小型破片や、（マイクロオーダの十分の１の）その他の混入物は、浮上高さを変えかつビット誤り率の原因となりながら、ABSの下を通過できる。破片は、外部源により出現し、あるいはディスク装置部品の機構部分から発生するかもしれない。それは、ディスクに衝突するスライダが原因となり、その結果データ損失を引き起こす。その上、もしもこのような破片が金属性であるならば、ディスク装置の電気的な運用において短絡の原因となる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明の目的は、重要な磁気ヘッド素子から微粒子を排除するのに役立つ、微粒子排除機能を有する空気軸受け構造を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
前述の目的を達成するために、前エッジ、スライダ本体の縦方向に沿って伸びる内エッジ及び外エッジ、ならびに後エッジで定義されたスライダ本体を具備する空気軸受けスライダが提供されていて、
該スライダ本体が、該スライダの該前エッジから空気軸受け表面の前部にわたる、前部とステップ域とを有する空気軸受け表面を備えていて、
該前部が、該前部の内エッジから該前部の外エッジにわたる該前部に溝を備えている。
【０００５】
さらに、ディスク装置に使用する空気軸受けスライダが提供されていて、
前エッジ及び後エッジと、
少なくとも二つの主要レール、及び前部を含んでいる空気軸受け表面と、
を具備する空気軸受けスライダにおいて、
該前部がスライダの幅に対しほぼ平行な少なくとも１組の溝を有している。
【０００６】
さらに、ディスク装置が提供されていて、
スピンドルモータに連結したディスクと、
アクチュエータと、
スライダであって、
前エッジ及び終エッジ、ならびに前部を有する空気軸受け表面、
少なくとも二つの主要レール、及び
該前部にあって、該スライダの幅に対しほぼ平行である少なくとも一組の溝、
を有するスライダとを具備している。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図１は、典型的なディスク装置を示す。スピンドルモータ１０２は、ディスク１０１を回転し、一方、ボイスコイルモータ（VCM）で駆動される駆動アーム（ヘッドギンバルアセンブリ）１０４は、ディスク上を飛行するヘッド１０３を制御する。具体的に、スピンドルモータを同軸とする磁気ハードディスクを横切る駆動アームの動作を制御するため、ボイスコイルモータが使われてきた。現状技術においては、マイクロアクチュエータが、ヘッドの配置を“微調整する” ために使われている。というのは、VCM単独でヘッドの位置決めする際に、固有の許容誤差（動的な遊び）が存在するからである。これは、より狭い記録可能なトラック幅を可能にする。言い換えると、ハードディスク装置の密度、あるいは“インチあたりのトラック数”（TPI） の値を増加する。図１ｂは、図１ａの上述の装置のより詳細な図である。
【０００８】
上述したように、データの完全性に最も有害な事象の一つが、“硬い”微粒子のディスクへの挟み込みである。なぜなら、それは、挟み込まれる過程において、潜在的にディスクを傷付ける可能性があり、結果としてデータビット損失の原因となる。さらに、ヘッドが微粒子を飛び越えるときに、磁気ヘッド素子を徐々に損傷する。図２は、微粒子がディスクに挟み込まれた一つの形態を図示する。図２に見られるとおり、微粒子２０１は、スライダ２０２とディスク表面２０３との間に挟まれる。この挟み込みの影響は、スライダのABSに対する“圧縮長（compression length）”と言うが、その増加を引き起こす。
【０００９】
上記の圧縮長は、図３に示される。現在使用されているABS構造は、（前パッド３０１のような）スライダの前部３００に大きな空気軸受け領域を持っている。これは、摩擦低減のためにPDLCパッド（言い換えると、ダイヤモンド状炭素で作られたパッド）を備えるABS構造に対し、高いピッチ角にすることが要求される。大きな領域は、長い圧縮長と言い換えられ、結果として微粒子により高い圧縮応力が作用して、ディスクに徐々に挟み込まれる原因となる。損傷した装置で見つかったこれら微粒子の典型的な大きさは、約０．１ｕｍから０．５ｕｍの範囲であり、それはスライダの前エッジでの間隔と密接に関連している。
【００１０】
この挟み込みの影響を最小限、あるいは排除することは、大きな利益となる。本発明の一つの実施形態として、挟み込みの影響は、ABS構造に広げた隙間あるいは溝を導入することによって減少される。これは、圧縮応力を緩和し、同時にABSの下から微粒子を排除するための溝として作用する。
【００１１】
図４と５は、改良ABS構造の微粒子排除機構の一つの実施形態を示す。図５で示したように、この特別なABS構造は、ABS５０２の前部に配置された二つの“溝”５０１を備えている。これらの溝は、微粒子が流出するのにより容易な経路とするために、スライダ５００（図４）の幅に対して曲げられる。示された溝の構造は、スライダの幅５０６（図５）にほぼ平行である。この構造は、上で詳述した目的の達成に特に貢献する。なぜなら、スライダがディスク周りを回転する場合、その時にディスクと微粒子とで相違する運動量に従った方向に、微粒子は移動させられる。その結果、他の構造によるよりずっと効果的な方法で、微粒子は溝を介して移動する。この実施形態で、溝の幅は２５ｕｍから４０ｕｍであり、スライダを製作するフォトリソグラフィ工程の解像度によって制限される。この実施形態で、溝５０４の深さは、スライダの前部５０５の前方に配置された浅いステップ５０３の深さと同じである。この浅いステップは、進入する空気に対して初期の圧縮を与える。この浅いステップの深さは、０．１μｍのオーダである。
【００１２】
発明は、溝の数、あるいはこれらがスライダの幅と作る角度を制限するものではない。スライダの幅にほぼ平行な一つあるいはそれ以上の溝があれば、この機構は圧縮長を減少し、かつ微粒子排除に役立つ。
【００１３】
図６は、この発明のその他の可能性のある実施形態を示す。図６ａは、ABS６０２の前エッジ部分と同様に後エッジパッド６０３に溝６０１を備えたABS構造を示す。図６ｂは、ABSの前エッジ部分で四つの分離した溝を示す。
【００１４】
本発明は、上記の出願に関して述べられているが、この好適な実施形態の記述は、限定することを意味するものではない。本発明の全ての態様が、様々な原理及び可変性に依存する、ここに説明した特定の描写、形状あるいは寸法に限定されないことが理解されるだろう。本発明のその他の変更と同様に、開示された装置の形態及び詳細の様々な修正は、当業者においては明らかである。その結果、特許請求の範囲は、本発明の精神と範囲内に含まれるような、前述した実施形態のどのような修正あるいは変更も保護することを意図しているものである。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１ａ】図１ａは、従来技術におけるハードディスク装置を図示する。
【図１ｂ】図１ｂは、従来技術におけるハードディスク装置を図示する。
【図２】図2は、微粒子が従来型のディスク装置の磁気ヘッドとディスクとの間に挟まった状態を図示する。
【図３】図3は、長い圧縮長になり、かつ微粒子の流れ方向に一致する典型的な空気軸受けの表面構造を図示する。
【図４】図4は、スライダ構造に“溝”を設けた場合の微粒子への効果を図示する。
【図５】図５は、微粒子排除機能を備えた空気軸受けの表面構造の、本発明の一つの実施形態を図示する。
【図６ａ】図６ａは、本発明の微粒子排除機能を備えた空気軸受けの表面構造の、追加の実施形態を図示する。
【図６ｂ】図６ｂは、本発明の微粒子排除機能を備えた空気軸受けの表面構造の、追加の実施形態を図示する。
【符号の説明】
【００１６】
１０１    ディスク
２０１    微粒子
２０２    スライダ
２０３    ディスク表面
３０１    前パッド
５０１    溝
５０２    ABS
５０３    浅いステップの深さ
５０４    溝の深さ
５０５    前部
５０６    スライダの幅
【図１ａ】
2005310362.tif 000003
【図１ｂ】
2005310362.tif 000004
【図２】
2005310362.tif 000005
【図３】
2005310362.tif 000006
【図４】
2005310362.tif 000007
【図５】
2005310362.tif 000008
【図６ａ】
2005310362.tif 000009
【図６ｂ】
2005310362.tif 000010
【外国語明細書】
2005310362000001.pdf