(57)【要約】【課題】  高精度に、かつ容易に、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光軸ずれを、補正することのできる、光ピックアップの光軸調整方法、および装置を提供する。【解決手段】  光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸調整方法において、光ピックアップ１を摺動可能に支持する２本の移動軸２１、２２の各端部をそれぞれ支持する各支持手段内に、高さ調整ねじ２３，２４などの、光学式ディスク装置の基台表面に対する移動軸の各端部の高さをそれぞれ独立して調整可能な調整機構を、３か所以上備え、光ピックアップ１からの反射光を光電変換素子で受光して得られた信号から、光ピックアップ１の高さ調整と、光ピックアップ１のタンジェンシャル方向の光軸傾きの調整と、光ピックアップ１のラジアル方向の光軸傾きの調整と、を行うことを特徴とする。【選択図】  図１
2005259202.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する方法において、
該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、
前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、
前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、
該各支持手段内に設けられ、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整可能な、３個以上の高さ調整機構とを備え、
前記光ピックアップからの反射光を光電変換素子で受光して得られた信号に基づき、前記光ピックアップの高さの調整と、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きの調整と、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きの調整とを行うことが可能である、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ピックアップの光軸調整方法において、
前記光ピックアップの高さの調整は、
（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）＝０    ・・・式１
となるよう、
前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きの調整は、
（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）＝０    ・・・式２
となるよう、
前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きの調整は、
（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）＝０    ・・・式３
となるよう、行う、
ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、４分割の光電変換素子における信号出力値である、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整方法。
【請求項３】
光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する装置において、
該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、
前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、
前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、
前記光ピックアップをフォーカス方向に一定周期で駆動させる手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップの前記基台表面に対する高さを調整するためのフォーカスエラー信号を生成する手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きを調整するためのタンジェンシャル信号を生成する手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きを調整するためのラジアル信号を生成する手段と、
前記各支持手段内に設けられ、前記フォーカスエラー信号、前記タンジェンシャル信号、および前記ラジアル信号を用いて、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整する、３個以上の高さ調整機構と、を備えた、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整装置。
【請求項４】
光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する装置において、
該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、
前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、
前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、
前記光ピックアップをフォーカス方向に一定周期で駆動させる手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップの前記基台表面に対する高さを調整するためのフォーカスエラー信号を生成する手段と、
前記フォーカスエラー信号の出現周期を表すパルス信号を生成する手段と、
前記パルス信号の出現周期として現れる前記フォーカスエラー信号の出現周期を計測する手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きを調整するためのタンジェンシャル信号を生成する手段と、
前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きを調整するためのラジアル信号を生成する手段と、
前記タンジェンシャル信号と、前記ラジアル信号を、前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドする手段と、
該手段でサンプルホールドされた信号の電圧値を計測する手段と、
前記各支持手段内に設けられ、前記フォーカスエラー信号の出現周期と、前記タンジェンシャル信号および前記ラジアル信号をそれぞれ前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドした信号の電圧値とを用いて、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整する、３個以上の高さ調整機構と、を備えた、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整装置。
【請求項５】
請求項３に記載の光ピックアップの光軸調整装置において、
前記３個以上の高さ調整機構は、前記フォーカスエラー信号と、前記タンジェンシャル信号と、前記ラジアル信号とを用いて、前記移動軸の各端部の前記基台表面からの高さを、自動的に調整する、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整装置。
【請求項６】
請求項４に記載の光ピックアップの光軸調整装置において、
前記３個以上の高さ調整機構は、前記フォーカスエラー信号の出現周期と、前記タンジェンシャル信号および前記ラジアル信号をそれぞれ前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドした信号の電圧値とを用いて、前記移動軸の各端部の前記基台表面からの高さを、自動的に調整する、
ことを特徴とする光ピックアップの光軸調整装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップの光軸調整方法、および装置に関し、より詳細には、光ディスク装置組み立て時の光ピックアップの光軸調整方法、および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学式ディスク装置は、ディスク表面に光スポットを照射し、その反射光の変化状態に基づいてディスク表面に記録されている情報を読み出すものである。このような読み取りは、ディスクの全トラックにわたって行われる。そのため、ディスク表面に光スポットを照射するための照射光軸、及びこれと同軸の反射光軸を、ディスク表面に対する垂直角を保ちながらトラッキング方向に沿って移動しなければならない。
【０００３】
ところで、光ディスク表面に対する光ピックアップの照射光軸が垂直でない場合、光ピックアップの反射光検知装置に受光される反射光の光量が変化してしまったり、光ピックアップの移動に伴って、照射光軸が対物レンズ中心から外れてしまってディスク表面のスポットが劣化してしまう等の不具合が生じる。従って、光ディスク表面と、光ピックアップからの照射光軸と、の垂直関係を、精密に保障する必要がある。
【０００４】
ここで従来の光軸調整方法を、図３、及び図４を用いて説明する。図３は、従来の光軸調整方法を実施する際の光軸調整装置の構成図、及び光学系の入出力系統を表す。まず、図３を用いて、従来の光軸調整方法に係る光軸調整装置の構成、及び光学系の入出力系統を説明する。
【０００５】
図３において、１９，２０は金属製反射ミラーであり、２１，２２は光ピックアップ１を摺動可能に支持する２本の移動軸であり、１は光ピックアップであり、３は透過性の部材からなる平行円板であり、２３，２４は前記移動軸２１，２２の高さ調整ねじであり、２５，２６はオートコリメータである。またＥ，Ｆはオートコリメータ２５，２６から平行光を照射した際の、前記平行円板３上で反射した反射光であり、Ｇ，Ｈはオートコリメータ２５，２６から平行光を照射した際の、前記金属製反射ミラー１９，２０上で反射した反射光であり、Ｊは前記光ピックアップの光軸傾きである。なお、図３は、側面側であるため、光ピックアップ１を支持する２本の移動軸２１，２２は、１本のみ描画しており、また移動軸２１，２２の高さを調整する高さ調整ねじ２３，２４も、一箇所のみ描画している。
【０００６】
次に、以上のように構成される光軸調整装置を用いた、従来の光軸調整方法について、説明する。
まず、光学式ディスク装置の光ディスク回転テーブル２上に、透過性の部材からなる平行円板３を載置し、オートコリメータ２５，２６を、前記平行円板３の上面に配置し、光ピックアップ１を支持する２本の移動軸２１，２２上であって、オートコリメータ２５，２６からの照射光の照射線上となる位置に、光反射面を有する金属製反射ミラー１９，２０を架設する。
【０００７】
次に、前記平行円板３を、オートコリメータ２５，２６のスクリーンに、光点として映写させる。
図４は、オートコリメータ２５，２６のスクリーン上の像を表す。図４下図は、前記平行光照射時点のオートコリメータ２５，２６のスクリーン上の像を表し、上図は、光軸調整後のオートコリメータ２５，２６のスクリーン上の像を表す。ＥからＨの光点は、それぞれ、図３における各反射光にそれぞれ対応する光点である。
【０００８】
前記移動軸２１，２２と、前記平行円板３と、の平行関係が満たされていない場合は、図３下図に示す各反射光Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈは、オートコリメータ２５，２６のスクリーン上に現れる、出射光軸に対する垂直方向の傾きに応じた光点を示す（図４左図）。
【０００９】
次に、オートコリメータ２５，２６のスクリーンを見ながら、図４右図に示すように、これらの光点がそれぞれ重なるように、光ピックアップを支持する移動軸２１，２２の支持部材に備えられる前記移動軸２１，２２の高さ調整ねじ２３，２４を調整し、光ピックアップの傾きを調整する。
【００１０】
それぞれの光点が重なった状態では、光ディスク表面に対して、光ピックアップ１の支持移動軸２１，２２は、平行となるため、これをもって光ディスク表面と、光ピックアップ移動軸と、の平行関係を保障していた。
【００１１】
なお、関連する先行技術文献として以下のものがある。
【特許文献１】実開平０６−８６０１３号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、前記の光軸調整方法は、光ディスク表面に対して、光ピックアップの移動軸を、平行にすることはできるものの、光ディスク表面と、光ピックアップからの照射光軸と、の垂直関係を、精密に保障することはできない。
【００１３】
すなわち、図３に示す光ピックアップ１の光軸傾きＪは除去できず、該光軸傾きＪが大きくなるにつれ、光軸残差の影響が大きくなる。このため、従来の光軸調整方法の適用は、光ピックアップの光軸傾きが、微小な場合のみに限られている。
【００１４】
また、今後の光ディスクの更なる高記録密度化に対して、より精密な読み取り性能を満足するためにも、光ディスク表面に対する光ピックアップの支持部材の平行関係を保障するための調整でなく、光ピックアップの光軸傾きに応じた、光ピックアップの取り付け角度の調整が、高精度、かつ容易になされる必要がある。
【００１５】
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、高精度、かつ容易に、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光の光軸ずれを除去することのできる、光ピックアップの光軸調整方法、および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
前記従来の課題を解決するために、本発明の請求項１にかかる光ピックアップの光軸調整方法は、光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する方法において、該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、該支持手段内に設けられ、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整可能な、３個以上の高さ調整機構とを備え、前記光ピックアップからの反射光を光電変換素子で受光して得られた信号に基づき、前記光ピックアップの高さの調整と、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きの調整と、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きの調整とを行うことが可能である、ことを特徴とするものである。
【００１７】
本発明の請求項２にかかる光ピックアップの光軸調整方法は、請求項１に記載の光ピックアップの光軸調整方法において、前記光ピックアップの高さの調整は、
（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）＝０    ・・・式１
となるよう、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きの調整は、
（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）＝０    ・・・式２
となるよう、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きの調整は、
（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）＝０    ・・・式３
となるよう、行う。ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、４分割の光電変換素子における信号出力値である、ことを特徴とするものである。
【００１８】
本発明の請求項３にかかる光ピックアップの光軸調整装置は、光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する装置において、該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、前記光ピックアップをフォーカス方向に一定周期で駆動させる手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップの前記基台表面に対する高さを調整するためのフォーカスエラー信号を生成する手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きを調整するためのタンジェンシャル信号を生成する手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きを調整するためのラジアル信号を生成する手段と、前記各支持手段内に設けられ、前記フォーカスエラー信号、前記タンジェンシャル信号、および前記ラジアル信号を用いて、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整する、３個以上の高さ調整機構と、を備えた、ことを特徴とするものである。
【００１９】
本発明の請求項４にかかる光ピックアップの光軸調整装置は、光学式ディスク装置における光ピックアップの光軸を調整する装置において、該光学式ディスク装置に装填される光ディスクを回転させる手段と、前記光ディスクの情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップを摺動可能に支持する２本の移動軸の各端部をそれぞれ支持する支持手段と、前記光ピックアップをフォーカス方向に一定周期で駆動させる手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップの前記基台表面に対する高さを調整するためのフォーカスエラー信号を生成する手段と、前記フォーカスエラー信号の出現周期を表すパルス信号を生成する手段と、前記パルス信号の出現周期として現れる前記フォーカスエラー信号の出現周期を計測する手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのタンジェンシャル方向の光軸傾きを調整するためのタンジェンシャル信号を生成する手段と、前記光ピックアップ内部の光電変換素子の出力信号から、前記光ピックアップのラジアル方向の光軸傾きを調整するためのラジアル信号を生成する手段と、前記タンジェンシャル信号と、前記ラジアル信号を、前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドする手段と、該手段でサンプルホールドされた信号の電圧値を計測する手段と、前記各支持手段内に設けられ、前記フォーカスエラー信号の出現周期と、前記タンジェンシャル信号および前記ラジアル信号をそれぞれ前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドした信号の電圧値とを用いて、前記移動軸の各端部の、前記光学式ディスク装置の基台表面に対する高さを、それぞれ独立して調整する、３個以上の高さ調整機構と、を備えた、ことを特徴とするものである。
【００２０】
本発明の請求項５にかかる光ピックアップの光軸調整装置は、請求項３に記載の光ピックアップの光軸調整装置において、前記３個以上の高さ調整機構は、前記フォーカスエラー信号と、前記タンジェンシャル信号と、前記ラジアル信号とを用いて、前記移動軸の各端部の前記基台表面からの高さを、自動的に調整する、ことを特徴とするものである。
本発明の請求項６にかかる光ピックアップの光軸調整装置は、請求項５に記載の光ピックアップの光軸調整装置において、前記フォーカスエラー信号の出現周期と、前記タンジェンシャル信号および前記ラジアル信号をそれぞれ前記フォーカスエラー信号の合焦点ポイントでサンプルホールドした信号の電圧値とを用いて、前記移動軸の各端部の前記基台表面からの高さを、自動的に調整する、ことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、高精度、かつ容易に、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光軸ずれを除去することのできる、光ピックアップの光軸調整方法、および装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に、本発明にかかる光ピックアップの光軸調整方法、および装置の実施の形態を、図面とともに詳細に説明する。
【００２３】
（実施の形態１）
図１に示されるＩは、本発明の実施の形態１による光軸調整装置の基本構成を示すものである。
図１のＩにおいて、光ピックアップ１は、光ディスク回転テーブル２に装着され、回転している透過性の部材からなる平行円板３に向けて、レーザ発光を行う。そのとき、光ピックアップ１は、フォーカスコイル駆動部４により一定周期でフォーカス方向に動いている。
【００２４】
また、透過性の部材からなる平行円板３からの反射光は、光ピックアップ１内部の光電変換素子で受光し、その光量に応じた強さの電気信号に変換され、電気信号として出力される。
【００２５】
光ピックアップ１から出力された信号は、まず、ＦＥ信号生成部５に入力され、フォーカスエラー信号を生成する。光ピックアップ１内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図1のＩのようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと４分割されている場合、前記フォーカスエラー信号は、（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）で表される。
【００２６】
既知のように、前記フォーカスエラー信号の出現周期は、光ディスク回転テーブル２に装着した透過性の部材からなる平行円板３を基準とした場合の、光ピックアップ１の高さを表している。
【００２７】
前記光ピックアップ１内部の光電変換素子から出力された信号は、また、ＴＡＮ信号生成部９に入力される。該ＴＡＮ信号生成部９で生成されるのは、光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだ信号であるタンジェンシャル信号であり、すなわち、光ピックアップ１内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図１のＩのようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、４分割されている場合、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）で表される信号である。
【００２８】
前記光ピックアップ１内部の光電変換素子から出力された信号は、また、ＲＡＤ信号生成部１２に入力される。該ＲＡＤ信号生成部１２で生成されるのは、光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだ信号であるラジアル信号であり、すなわち光ピックアップ１内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図１のＩのようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと４分割されている場合、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）で表される信号である。
【００２９】
次に、以上の、図１のＩのように構成される本実施の形態１による光軸調整装置における、光軸調整時の具体的な電気信号処理方法を、図２を用いて説明する。図２は、本実施の形態１による光軸調整装置における、電気信号処理のタイミングチャートを示す。
【００３０】
図１に示される、Ｉ内のＦＥ信号生成部５で生成される信号は、前記フォーカスエラー信号１３となる。この場合、合焦点ポイントはＫである。
【００３１】
次に、以上のように構成される、本実施の形態１による光軸調整装置を用いた光軸調整方法について、図５を用いて説明する。図５は、本発明の実施の形態１による光軸調整方法を説明するための構成図を示す。
【００３２】
まず、図２に示されるフォーカスエラー信号１３の出現周期を測定できる、例えばオシロスコープなどに接続し、図１に示されるＩ内の、ＴＡＮ信号生成部９で生成される、光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号と、図１に示されるＩ内の、ＲＡＤ信号生成部１２で生成される、光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号の電圧を観測できる装置に接続する。
【００３３】
光ディスク回転テーブル２に装着された、回転している透過性の部材からなる平行円板３を基準とし、前記フォーカスエラー信号１３の出現周期が一定になるように、前記オシロスコープで出現周期を観測しながら、光ピックアップの移動軸の高さを調整するための高さ調整ねじ２３，２４を調整することで、光ピックアップ１を固定する２本の移動軸２１，２２が構成する面を規定の高さに合わせる（図５下図）。
【００３４】
つぎに、前記合焦点ポイントＫでの前記光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号と、前記合焦点ポイントＫでの前記光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号が接続された、電圧を測定できる装置を観測しながら、前記光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号２７と、前記光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号２８とが、ともに０になるように、光ピックアップ移動軸の高さ調整ねじ２３，２４を調整する、実際には０に近い許容範囲に調整する、ことで、光ピックアップ１の持つ光軸傾きＪがなくなる位置に調整する（図５上図）。
【００３５】
しかし、前記合焦点ポイントＫでの前記光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号２７と、前記合焦点ポイントＫでの前記光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号２８とを、ともに０に調整、実際には０に近い許容範囲に調整、した場合、先に調整した前記フォーカスエラー信号１３の出現周期も変動してしまう。したがって、前記合焦点ポイントＫでの、前記光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号２７と、前記合焦点ポイントＫでの、前記光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号２８とを、ともに０に調整、実際には０に近い許容範囲に調整する、した後、再び前記フォーカスエラー信号１３の出現周期を一定に調整する必要がある。
【００３６】
ここで、本実施の形態１においては、フォーカスエラー信号１３の出現周期が一定となり、かつ、合焦点ポイントＫでの光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号２７と、前記合焦点ポイントＫでの光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号２８とが、ともに０になるまで、実際には０に近い許容範囲になるまで、光ピックアップの移動軸の高さを調整する調整ねじ２３，２４により、光ピックアップ１を固定する移動軸２１，２２を適宜繰り返し調整するようにしており、これにより、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光の光軸ずれを、高精度、かつ容易に、補正、除去することができる。
【００３７】
（実施の形態２）
図１は、本発明の実施の形態２による光ピックアップの光軸調整装置の構成図を示す。
図１において、光ピックアップ１は、光ディスク回転テーブル２に装着され、回転している透過性の部材からなる平行円板３にレーザ発光する。そのとき、光ピックアップ１は、フォーカスコイル駆動部４により一定周期でフォーカス方向に動いている。
【００３８】
また、透過性の部材からなる平行円板３からの反射光は、光ピックアップ１内部の光電変換素子で受光し、その光量に応じた強さの電気信号に変換され、電気信号として出力される。
【００３９】
光ピックアップ１から出力された信号は、まず、ＦＥ信号生成部５に入力され、フォーカスエラー信号を生成する。光ピックアップ内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図1のようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと４分割されている場合、前記フォーカスエラー信号は、（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）で表される。
【００４０】
既知のように、前記フォーカスエラー信号の出現周期は、光ディスク回転テーブル２に装着した透過性の部材からなる平行円板３を基準とした場合の、光ピックアップ１の高さを表している。
【００４１】
前記フォーカスエラー信号は、全波整流回路６に入力され、全波整流された後、コンパレータ回路７で、任意の電圧で２値化され、分周回路８に入力される。
【００４２】
分周回路８は、入力信号を４分周した高さ信号１７を生成する。また、分周回路８は、入力信号を２分周した信号と、入力信号の負論理信号との論理積により生成した信号を、サンプルホールド信号としてＳ／Ｈ回路１０に出力する。
【００４３】
前記光ピックアップ１内部の光電変換素子から出力された信号は、また、ＴＡＮ信号生成部９にも入力される。該ＴＡＮ信号生成部９で生成されるのは、光軸のタンジェンシャル方向の傾き成分を含んだタンジェンシャル信号である、すなわち、光ピックアップ内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図１のようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと４分割されている場合、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）で表される信号であり、これは、前記ＴＡＮ信号生成部９をとおり、Ｓ／Ｈ回路１０でサンプルホールドされたのち、Ａ／Ｄ回路１１でデジタル信号に変換され、タンジェンシャル傾き信号２７となる。
【００４４】
前記光ピックアップ１内部の光電変換素子から出力された信号は、また、ＲＡＤ信号生成部１２にも入力される。該ＲＡＤ信号生成部１２で生成されるのは、光軸のラジアル方向の傾き成分を含んだラジアル信号である、すなわち光ピックアップ１内部の光電変換素子が複数個に分割され、例えば図１のようにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと４分割されている場合、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）で表される信号であり、これは、前記ＲＡＤ信号生成部１２をとおり、Ｓ／Ｈ回路１０でサンプルホールドされたのち、Ａ／Ｄ回路１１でデジタル信号に変換され、ラジアル傾き信号２８となる。
【００４５】
次に、以上の、図１のように構成される本実施の形態２による光軸調整装置における、光軸調整時の具体的な電気信号処理方法を、図２を用いて説明する。図２は、本実施の形態２による光軸調整装置における、電気信号の波形図を示す。
【００４６】
図１のＦＥ信号生成部５で生成される信号は、前記フォーカスエラー信号１３となる。合焦点ポイントＫを抽出するため、前記フォーカスエラー信号１３を全波整流処理した信号が全波整流信号１４となる。前記全波整流信号１４を、合焦点ポイントを抽出容易な、任意の電圧で２値化を行うことで、２値化信号１５を得る。
【００４７】
前記２値化信号１５を２分周して生成した信号を２分周信号１６とし、４分周して生成した信号を高さ信号１７とする。ここで高さ信号１７のデューティ比は、ちょうどフォーカスエラー信号１３の出現周期をあらわし、すなわちそれは、図１の高さ信号となる。
前記２値化信号１５の負論理の出力信号と、前記２分周信号１６との論理積、例えば、前記２値化信号１５と前記２分周信号１６を論理回路２９に入力し、Ｓ／Ｈ信号（サンプルホールド信号）１８を生成する。
【００４８】
次に、以上の、図１のように構成される本実施の形態２による光軸調整装置を用いた光軸調整方法について、図５を用いて説明する。図５は、本実施の形態２による光軸調整方法を説明するための構成図を示す。
【００４９】
まず、図１に示される高さ信号１７のデューティ比を測定できる、例えばオシロスコープなどに接続し、図１に示されるタンジェンシャル傾き信号２７と、ラジアル傾き信号２８とを、デジタル信号で表された電圧を観測できる装置に接続する。光ディスク回転テーブル２に装着された、回転している透過性の部材からなる平行円板３を基準とし、前記高さ信号をデューティ比５０対５０になるように、前記オシロスコープでディーティ比を観測しながら、光ピックアップ移動軸の高さ調整ねじ２３，２４を調整することで、光ピックアップを固定する２本の移動軸２１，２２が構成する面を規定の高さに合わせる（図５下図）。
【００５０】
つぎに、前記タンジェンシャル傾き信号と、前記ラジアル傾き信号とが接続された、デジタル信号で表された電圧を測定できる装置を観測しながら、前記タンジェンシャル傾き信号２７と、前記ラジアル傾き信号２８とが、ともに０になるように、光ピックアップ移動軸の高さ調整ねじ２３，２４を調整する、実際には０に近い許容範囲に調整することで、光ピックアップ１の持つ光軸傾きＪがなくなる位置に調整する（図５上図）。
【００５１】
しかし、前記タンジェンシャル傾き信号２７と、前記ラジアル傾き信号２８とを、ともに０に調整した（実際には０に近い許容範囲に調整した）場合、先に調整した前記高さ信号１７のデューティ比も変動してしまう。したがって、前記タンジェンシャル傾き信号２７と、前記ラジアル傾き信号２８とを、ともに０に調整、実際には０に近い許容範囲に調整、した後、再び前記高さ信号１７のデューティ比を５０対５０に調整する必要がある。
この点に鑑み、本実施の形態２においては、高さ信号１７のデューティ比が５０対５０になり、かつ、タンジェンシャル傾き信号２７と、ラジアル傾き信号２８とが０に、実際には０に近い許容範囲になるまで、高さ調整ねじ２３，２４でもって、光ピックアップ１を固定する移動軸２１，２２を適宜繰り返し調整するようにしたものであり、これにより、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光の光軸ずれを、高精度、かつ容易に、補正除去することができる。
【００５２】
さらには、高さ信号１７のデューティ比、タンジェンシャル傾き信号２７の電圧値、ラジアル傾き信号２８の電圧値を用いて、高さ調整ねじ２３，２４で、光ピックアップ１を固定する移動軸２１，２２の傾きを適宜繰り返し調整するようにすることにより、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光の光軸ずれを、自動調整することが可能である。この際、高さ信号１７と、タンジェンシャル傾き信号２７と、ラジアル傾き信号２８との調整ずれのバランスをとりながら、繰り返し調整を行うことは、自動調整に好適であり、これにより、さらに高精度、かつ容易に、上記レーザ照射光の光軸ずれを、補正することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明にかかる光ピックアップの光軸調整方法、および装置は、光ディスク表面に対する垂直方向のレーザ照射光の光軸ずれを、光ピックアップを固定する移動軸を適宜繰り返し調整することにより、高精度、かつ容易に、補正除去することができるもので、光ディスク装置組み立て時の光ピックアップの光軸調整方法等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の実施の形態１による光ピックアップの光軸調整装置の基本構成（図１におけるＩ）、および本発明の実施の形態２による光ピックアップの光軸調整装置の全体（図１全体）を示す構成図
【図２】本発明の実施の形態１による光ピックアップの光軸調整装置、および本発明の実施の形態２による光ピックアップの光軸調整装置における、電気信号処理のタイミングチャート
【図３】従来の光軸調整方法を説明するための光ピックアップの光軸調整装置の全体構成図
【図４】従来の光軸調整方法を説明するためのオートコリメータのスクリーン上の画像を表す図
【図５】本発明の実施の形態１による光ピックアップの光軸調整装置、および本発明の実施の形態２による光ピックアップの光軸調整装置における光軸調整方法を説明するための構成図
【符号の説明】
【００５５】
１    光ピックアップ
２    光ディスク回転テーブル
３    透過性の部材からなる平行円板
４    フォーカスコイル駆動部
５    ＦＥ信号生成部
６    全波整流回路
７    コンパレータ回路
８    分周回路
９    ＴＡＮ信号生成部
１０    Ｓ／Ｈ回路
１１    Ａ／Ｄ回路
１２    ＲＡＤ信号生成部
１３    フォーカスエラー信号
１４    全波整流信号
１５    ２値化信号
１６    ２分周信号
１７    高さ信号
１８    Ｓ／Ｈ信号（サンプルホールド信号）
１９、２０    金属製反射ミラー
２１、２２    光ピックアップ移動軸
２３、２４    光ピックアップ移動軸高さ調節ねじ
２５、２６    オートコリメータ
２７    タンジェンシャル傾き信号
２８    ラジアル傾き信号
２９    論理回路
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ    光ピックアップ１内部の光電変換素子
Ｅ、Ｆ    平行円板にて反射した平行光
Ｇ、Ｈ    金属製反射ミラーにて反射した平行光の反射光
Ｉ    本発明の実施の形態１における光軸調整装置の基本構成
Ｊ    光ピックアップの光軸傾き
Ｋ    合焦点ポイント
【図１】
2005259202.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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