(57)【要約】【課題】  ＧＩＧＡＭＯ規格のＭＳＲ再生媒体に、特に媒体に特別な製作法を必要とせず、正確な試し読み操作をさらに迅速に行う。【解決手段】  最低再生光強度演算手段、評価再生光強度算出手段、検証手段を構成するＣＰＵ１９の指示に基づき、再生レーザパワーの強度の制御を行う再生強度制御部１４に再生レーザパワーの強度情報が与えられ、ＬＤドライバ１１にどの程度の電流を流すかの指示を行う。ＣＰＵ１９の指示により再生強度制御部１４を介して再生強度を様々に変更させたときの、いわゆる試し読みを行った際のレーザの再生強度は、ＲＡＭであるリードパワー記憶部１６に記憶される。【選択図】  図１
2005071444.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にレーザー光を照射し、かつ外部磁場を印加し超解像再生を行う光ディスク装置において、
超解像再生可能な最低再生光強度Ｐrminを演算する最低再生光強度演算手段と、
前記最低再生光強度Ｐrminより第１の評価再生光強度Ｐr1及び第２の評価再生光強度Ｐr2を算出する評価再生光強度算出手段と、
前記第１の評価再生光強度Ｐr1及び前記第２の評価再生光強度Ｐr2とにより前記最低再生光強度Ｐrminの妥当性を検証する検証手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記評価再生光強度算出手段は、
前記第１の評価再生光強度Ｐr1及び前記第２の評価再生光強度Ｐr2とを
Ｐr1＜Ｐrmin＜Ｐr2
を満たすように前記最低再生光強度Ｐrminより算出し、
前記検証手段手段は、前記第１の評価再生光強度Ｐr1においては再生信号が検出されず、前記第２の評価再生光強度Ｐr2おいては再生信号が検出されることより、前記最低再生光強度Ｐrminの妥当性を検証する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記評価再生光強度算出手段は、
前記最低再生光強度Ｐrminより所定値を減算して前記第１の評価再生光強度Ｐr1を算出し、前記最低再生光強度Ｐrminより前記所定値を加算して前記第２の評価再生光強度Ｐr2を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
記録媒体にレーザー光を照射し、かつ外部磁場を印加し超解像再生を行う光ディスク装置において、
超解像再生可能な最低印加磁場強度Ｈrminを演算する最低印加磁場強度演算手段と、
前記最低印加磁場強度Ｈrminより第１の評価再生磁場強度Ｈr1及び第２の評価再生磁場強度Ｈr2を算出する評価再生磁場強度算出手段と、
前記第１の評価再生磁場強度Ｈr1及び前記第２の評価再生磁場強度Ｈr2とにより前記最低印加磁場強度Ｈrminの妥当性を検証する検証手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
前記評価再生磁場強度算出手段は、
前記第１の評価再生磁場強度Ｈrr1及び前記第２の評価再生磁場強度Ｈrr2とを
Ｈr1＜Ｈrmin＜Ｈr2
を満たすように前記最低印加磁場強度Ｈrminより算出し、
前記検証手段手段は、前記第１の評価再生磁場強度Ｈr1においては再生信号が検出されず、前記第２の評価再生磁場強度Ｈr2おいては再生信号が検出されることより、前記最低印加磁場強度Ｈrminの妥当性を検証する
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記評価再生磁場強度算出手段は、
前記最低印加磁場強度Ｈrminより所定値を減算して前記第１の評価再生磁場強度Ｈr1を算出し、前記最低印加磁場強度Ｈrminより前記所定値を加算して前記第２の評価再生磁場強度Ｈr2を算出する
ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
記録媒体にレーザー光を照射し、かつ外部磁場を印加し超解像再生を行う光ディスク装置の再生光強度設定方法においてにおいて、
超解像再生可能な最低再生光強度Ｐrminを演算する最低再生光強度演算ステップと、
前記最低再生光強度Ｐrminより第１の評価再生光強度Ｐr1及び第２の評価再生光強度Ｐr2を算出する評価再生光強度算出ステップと、
前記第１の評価再生光強度Ｐr1及び前記第２の評価再生光強度Ｐr2とにより前記最低再生光強度Ｐrminの妥当性を検証する検証ステップと
を備えたことを特徴とする光ディスク装置の再生光強度設定方法。
【請求項８】
記録媒体にレーザー光を照射し、かつ外部磁場を印加し超解像再生を行う光ディスク装置の再生光強度設定方法において、
超解像再生可能な最低印加磁場強度Ｈrminを演算する最低印加磁場強度演算ステップと、
前記最低印加磁場強度Ｈrminより第１の評価再生磁場強度Ｈr1及び第２の評価再生磁場強度Ｈr2を算出する評価再生磁場強度算出ステップと、
前記第１の評価再生磁場強度Ｈr1及び前記第２の評価再生磁場強度Ｈr2とにより前記最低印加磁場強度Ｈrminの妥当性を検証する検証ステップと
を備えたことを特徴とする光ディスク装置の再生光強度設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を利用し円盤上の記録媒体に記録情報を書き込み、磁気超解像により読み出しを行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来光磁気記録においては、ＩＳＯ規格に代表される光磁気記録方式がよく知られている。
【０００３】
これら光磁気記録においては、記録媒体の透明基板上に真空蒸着された、垂直磁化膿にレーザ光を照射し、垂直磁化膜の温度をキュリー点まで上昇させ、さらに外部磁場を印加し、外部磁場方向に垂直磁化膜を配向させる事により記録を行う。
【０００４】
この際の記録密度は、垂直磁化膜に照射されるレーザ光スポットによる温度分布、つまりキュリー点以上の温度分布を持つ領域の大きさによって決まる。
【０００５】
このため通常ではレーザのスポット径よりも小さな記録部位を形成する事が出来ず、記録密度の向上はレーザ光のスポット径の縮小化によって担われていた。
【０００６】
これに対し、一つのピットにいわゆる“１”，“０”の情報を持たせるのではなく、一つのピットの両端エッジに情報を持たせることで記録を行う、いわゆるマークエッジ記録と言うものが光磁気記録では知られている。
【０００７】
前記マークエッジ記録では、記録密度の向上を達成することが出来るが、情報の信頼性を保つためにはエッジが正確に形成されることが必要である。
【０００８】
このため、通常マークエッジ記録で光磁気記録を行う場合、事前にテストトラックに、記録パワーを変更し記録を行うことで、最適な記録パワーを求める、いわゆる試し書きを行うことが必要とされている。
【０００９】
さらに近年では、レーザ光の照射強度及びタイミングを複数段階に分ける、また記録媒体の熱的な拡散係数を変更すること等で、レーザ光の最小スポット径よりも小さな磁区領域のみをキュリー点以上に上昇させて記録を行う、いわゆる“筆先記録”が可能となっている。
【００１０】
このとき、レーザ光のスポット径よりも小さく記録された磁区領域を読み出すためには、磁気超解像（以下、ＭＳＲと記載する）の技術が必要である。
【００１１】
ＭＳＲでは、記録を行う磁化膜（以下、記録層と呼ぶ）の上に中間層を介して再生層を設け、レーザを照射し再生を行う場合、中間層の熱的な特性（キュリー点等）を変更し、外部磁場を印加することにより、記録層の情報が転写される領域を制限（マスク）する。
【００１２】
さらに上記レーザのスポットに対して一部部位のみがマスクされることにより、レーザのスポットよりも小さい領域の記録層の磁区配向が再生層に転写され、再生される。
【００１３】
前記記録層の情報が再生層に転写され読み出される領域（以下、アパーチャと呼ぶ）は、レーザスポットとマスク領域との関係によりＦＡＤ，ＣＡＤ，ＲＡＤと呼ばれる方式が存在する。
【００１４】
ＭＳＲを用いた記録再生装置では、正しくマスクが形成されないと、適切な読み出しを行うことが出来ない。このため、ＭＳＲ方式では最適な再生パワーを求める、いわゆる試し読みが必要とされる。
【００１５】
例えば特開２０００−１６３８２３号公報では、上記ＭＳＲ再生媒体のＦＡＤ方式において、再生パワーが低パワー領域ではマスクを形成しない特性を利用して、長マーク信号の検出を行うことで、記録パワーの調整いわゆる試し書きを行い、記録パワーが保証された状態で試し読みを行う技術が提案されている。
【００１６】
さらに近年、例えば富士通−ソニーより提案された、９０ｍｍ１．３ＧＢ光磁気記録規格（ＧＩＧＡＭＯ規格）では、Ｄ−ＲＡＤ方式によるＭＳＲ再生を用い、信号の読み出しを行っている。
【００１７】
Ｄ−ＲＡＤ方式は、先に触れたＲＡＤ（Rear Aperture Detection）方式の改良型で、光スポットのうちフロントの低温度部を温度条件でマスクし、リアのアパーチャを形成しているが、さらに高温状態では外部印加磁場の影響によりマスクされる。
【００１８】
例えば特開２００２−８２８０号公報では、ＧＩＧＡＭＯ規格媒体において、テストトラックに長マーク／スペースの繰り返しパターンを記録し、再生磁場を印加せずに、再生層への直接転写が行われるまで再生強度を上げて信号の再生を行い、再生パワーを直接転写開始パワーＰr2として記憶し、その後さらに外部磁場を印加しつつ、再生パワーを変動させ、その際の再生開始パワーをＰr1として、再生強度Ｐrを
Ｐr＝γ×Ｐr1（γ≧１の定数）
もしくは、
Ｐr＝（Ｐr1＋Ｐr2）／２
など演算を行い、Ｐr1及びＰr2の両者の平均を再生強度Ｐrとしてて試し読みを行うものが提案されている。
【特許文献１】特開２０００−１６３８２３号公報
【特許文献１】特開２００２−８２８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
しかしながら、上記特開２０００−１６３８２３号公報はＭＳＲ再生媒体のうち、ＣＡＤ方式に限定されたものであり、低再生パワー領域ではスポットの全てがマスクされるＲＡＤ、Ｄ−ＲＡＤ方式媒体には適用することが出来ない。
【００２０】
また上記特開２００２−８２８０号公報では、磁場を印加せずに再生パワーを直接転写可能な強度まで上げる必要がある。
【００２１】
Ｄ−ＲＡＤ媒体ではＭＳＲ再生を行うのに必要な再生パワーは、３０００ｒｐｍ回転のドライブの外周再生で最低５ｍＷ前後であるのに対して、直接転写可能となる再生パワーは８ｍＷ前後とかなり大きくなる。
【００２２】
この際再生には高周波重畳（ＨＦＭ）も必要となり、電気系に対する負担が増大する。また、５ｍＷ前後から、８ｍＷ前後まで試し読みで再生パワーを走査するため、試し読みに要する時間が長くなる。
【００２３】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、ＧＩＧＡＭＯ規格のＭＳＲ再生媒体に、特に媒体に特別な製作法を必要とせず、正確な試し読み操作をさらに迅速に行うことのできる光ディスク装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
本発明の光ディスク装置は、記録媒体にレーザー光を照射し、かつ外部磁場を印加し超解像再生を行う光ディスク装置において、超解像再生可能な最低再生光強度Ｐrminを演算する最低再生光強度演算手段と、前記最低再生光強度Ｐrminより第１の評価再生光強度Ｐr1及び第２の評価再生光強度Ｐr2を算出する評価再生光強度算出手段と、前記第１の評価再生光強度Ｐr1及び前記第２の評価再生光強度Ｐr2とにより前記最低再生光強度Ｐrminの妥当性を検証する検証手段ととを備えて構成される。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、ＧＩＧＡＭＯ規格のＭＳＲ再生媒体に、特に媒体に特別な製作法を必要とせず、正確な試し読み操作をさらに迅速に行うことができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について述べる。
【実施例１】
【００２７】
図１ないし図３は本発明の実施例１に係わり、図１は光ディスク装置の構成を示すブロック図、図２は図１の光ディスク装置の作用を説明する第１のフローチャート、図３は図１の光ディスク装置の作用を説明する第２のフローチャートである。
【００２８】
図１に示すように、本実施例の光ディスク装置１は、レーザ光を発光するＬＤ９と、ＬＤ９を駆動するＬＤドライバ１１と、レーザ光を光ディスク２に照射する光学ヘッド５と、光ディスク２からの戻り光を検出するＰＤ（フォトディテクタ）１０とからなる光学系を備えている。
【００２９】
また、光ディスク装置１は、情報の再生を行う場合のＬＤ９の再生レーザパワーの強度の制御を行う再生強度制御部１４と、磁場を発生させるバイアス発生装置４と、バイアス発生装置４の再生磁場強度の制御を行う磁場強度制御部１８と、情報の記録を行う場合のＬＤ９の記録レーザパワーの強度の制御を行う記録強度制御部１３と、記録信号の情報を受け実際の記録信号に即したパルス発光パターンを生成しＬＤドライバ１１に出力する記録信号処理部１２と、ＰＤ１０からの再生信号を信号処理する再生信号処理部１５と、試し読みを行った際のレーザの再生強度を記憶するリードパワー記憶部１６と、磁場変更による試し読みを行った際の再生磁場強度を記憶するリード磁場記憶部１７と、これら各部を制御するＣＰＵ１９とを備え、ＣＰＵ１９はＳＣＳＩ  Ｉ／Ｆ２０を介することで外部のホストコンピュータ３に接続されるようになっている。
【００３０】
そして光ディスク装置１のＣＰＵ１９が、最低再生光強度演算手段、評価再生光強度算出手段、検証手段を構成する。
【００３１】
図１において、光ディスク装置１に光ディスク２が挿入されている状態で、情報の読みとりを行う場合、ＣＰＵ１９の指示に基づき、再生レーザパワーの強度の制御を行う再生強度制御部１４に再生レーザパワーの強度情報が与えられ、ＬＤドライバ１１にどの程度の電流を流すかの指示を行う。
【００３２】
ＬＤドライバ１１の電流量により、ＬＤ９より発光されるレーザ強度を任意に変更できる。
【００３３】
ＬＤ９より発光された可変の再生レーザ光はビームスプリッタ８を介し、分離した光学ヘッド５内にある立ち上げミラー７で反射し、対物光学系６より、光ディスク２上に集光して照射する。
【００３４】
光学ヘッド５は図示しないスピンドルモータにより回転する光ディスク２に平行して１次元方向に駆動でき、光ディスク２面内の任意の部位に再生光を集光させることができる。
【００３５】
また再生時に再生磁場を必要とする場合には、ＣＰＵ１９より磁場強度制御部１８に磁場強度情報が与えられ、バイアス発生装置４に磁場を発生させる。光ディスク２面より、反射された再生光は再び対物光学系６を通り立ち上げミラー７を反射して、ビームスプリッタ８で分割され、ＰＤ１０で検出される。
【００３６】
検出された再生信号は信号強度に応じた情報として、再生信号処理部１５にて処理され、データに変換されＣＰＵ１９に伝えられる。
【００３７】
この光ディスク装置１にて情報の記録を行う場合には、ＣＰＵ１９より記録強度制御部１３に、記録レーザパワーの強度情報が与えられ、記録信号処理部１２を介し、ＬＤドライバ１１にどの程度の電流を流すかの指示を行う。
【００３８】
また記録信号処理部１２は、ＣＰＵ１９から記録信号の情報を受け、実際の記録信号に即したパルス発光パターンを生成し、先の強度にてパルス発光を行う。
【００３９】
ＣＰＵ１９の指示により再生強度制御部１４を介して再生強度を様々に変更させたときの、いわゆる試し読みを行った際のレーザの再生強度は、ＲＡＭであるリードパワー記憶部１６に記憶される。
【００４０】
さらにＣＰＵ１９の指示により磁場強度制御部１８を介して磁場強度を様々に変更させたときの、いわゆる磁場変更による試し読みを行った際の再生磁場強度は、ＲＡＭであるリード磁場記憶部１７に記憶される。
【００４１】
次に、図２以降のフローチャートを用いて、本実施例の作用を説明する。
【００４２】
本実施例の光ディスク装置１により試し読みを行う場合、図２のフローチャート処理に従い、初めにステップＳ１において試し読みを行うエリアを決定する。ここでは光ディスク２のパワー調整用に用意されているテストトラックエリアの先頭に設定する。
【００４３】
次に、ステップＳ１において試し読みを行うセクタＬＤ９からのレーザ光をシークさせて、該エリアの消去、および記録を行う。
【００４４】
なお、記録を行う際のＬＤ９からのレーザ強度は、予めＣＰＵ１９に各バンドでの初期記録パワーテーブルを用意したものを用いる。
【００４５】
また、記録信号パターンは、繰り返しの同じ長さのマーク／スペース信号でも良いし、ランダムなパターンでも良い。前者の場合記録信号の判定条件として、信号の振幅もしくは読み取り誤り率（以下エラーレートと記載する）を使用することが出来、後者の場合信号のエラーレートが使用できる。
【００４６】
本実施例においては、記録信号パターンとして長マーク／スペースの繰り返し信号を用い、信号の振幅の大きさによって判定を行う。
【００４７】
次に、ステップＳ３において試し読みにより正確な最小再生パワーを求めるため、試し読み不可フラグというフラグを設け、その初期値を０に設定する。前記試し読み不可フラグは再生動作を行った際に、信号が検出されない場合にフラグを１に変更する機能を持つ。    次に、ステップＳ４において初期の再生パワー設定を行う。再生を行う際のＬＤ９の強度は、予めＣＰＵ１９に各バンドでの初期記録パワーテーブルを用意したものを用いる。
【００４８】
再生強度を設定したら、ステップＳ５において実際に試し読みを行うセクタの再生を行う。
【００４９】
さらにステップＳ６において、試し読みを行っているセクタが再生可能であるかの判定を行う。本実施例では再生可能条件として、再生信号振幅がＺｍｖ以上である、という条件を設けている。
【００５０】
再生信号振幅が検出された場合、超解像再生可能な再生パワーに到達しているということで、ステップＳ７において、試し読み不可フラグの状態（試し読み不可フラグ＝１）の確認を行う。試し読み不可フラグは初期に０クリアされているため、再生可能となる最小再生強度よりも大きな範囲で試し読みが行われていると、フラグが変化しない。逆に再生不可能となる再生強度においてフラグが立つ。
【００５１】
ステップＳ７の条件を満たす場合、後述するステップＳ９以下のシーケンスを行うため、再生不可能な最大強度＋αｍＷで条件を満たすこととなる。
【００５２】
このため、ステップＳ８において、現在設定されている再生強度を超解像再生可能な最低パワーＰrminとしてＣＰＵ１９に記憶し、処理を終了する。
【００５３】
ステップＳ７において、試し読み不可フラグが０であった場合、超解像再生に十分な再生強度が与えられているとして、ステップＳ１２にて現在の再生強度を下げる。本実施例ではある一定の微小ステップαｍＷ分低下させているが、この低下量はある比率による乗算で減少させても良い。
【００５４】
この際、変更された再生強度が異常値にならないようにある下限ＸｍＷを設け、それを下回らないかの判定をステップＳ１３にて行う。ＭＳＲ媒体においては直接転写により記録信号が再生層に浮き出てしまう場合があり、正しく試し読みを行うことが出来なくなってしまう。
【００５５】
再設定された再生強度が、上記下限ＸｍＷよりも大きな場合はステップＳ５以下の処理を継続する。
【００５６】
下限ＸｍＷを下回る場合、ＭＳＲ媒体の試し読みを行うセクタに異常があるとして、ステップＳ１４にて次のセクタを試し読み用のセクタとする。
【００５７】
そして、使用するセクタをいくら変更しても、媒体そのもの、もしくは光ドライブ装置そのものに不良が発生し、正しく試し読みを行えない場合、シーケンス処理が無限となってしまうため、ステップＳ１５でセクタスリップに上限を設ける。ここではその上限値をＫとして、Ｋセクタ以上試し読みを行った場合、媒体もしくはドライブに異常が存在するとして処理を終了する。
【００５８】
次にステップＳ９以降の処理について説明する。ステップＳ９は超解像再生において振幅が検出できなかった場合で、試し読み不可フラグを１に変更する。
【００５９】
次に、ステップＳ１０にて超解像再生可能になるように、ある一定の微小ステップ＋αｍＷだけ再生強度を上昇させる。
【００６０】
この際、変更された再生強度が異常値にならないようにある上限限ＹｍＷを設け、それを上回らないかのステップＳ１１にて判定を行う。すなわち、再生強度があまりにも高すぎると、再生動作により記録信号を消去してしまう、等の重大な不具合となるため、このように上限を設定する。
【００６１】
再生強度がＹｍＷを下回る場合、ステップＳ５以下の処理を継続する。また、再生強度がＹｍＷを上回る場合、試し読みに使用しているセクタの信号が消えた、もしくはセクタそのものに異常が発生しているとして、次のセクタを試し読みに使用するとして、ステップＳ１４からの処理を行う。
【００６２】
次に、図３のシーケンス処理の説明を行う。図３はこのようにして求めた超解像再生の最低強度Prminの精度を検証するシーケンスである。
【００６３】
まず、ステップＳ２１において図２で求めたＰrminにある一定のαよりも大きな微小値ａを減算してＰr1（＝Ｐrmin−ａ）を、加算してＰr2（＝Ｐrmin＋ａ）を生成する。
【００６４】
次に、ステップＳ２２において試し読みに使用するセクタへシークを行い、試し読みを行うための信号の記録を行う。この動作は図２のステップＳ２の処理と同様のものである。    次に、ステップＳ２３において再生強度として、先に求めたＰr1に設定し、ステップＳ２４にて信号の再生を行う。
【００６５】
ここでは、Ｐr1は超解像再生に必要な最低パワーＰrminにａｍＷ減算したものであるので、超解像再生が出来ず、従って再生不可能となると予測される。ステップＳ２５にて再生不可能となるとステップＳ２６以下のシーケンスに移行する。ステップＳ２６にて再生可能となるとステップＳ２９以下のシーケンスに移行する。
【００６６】
先にステップＳ２６以下のシーケンスについて説明する。Ｐr1で再生が不可能であることが検証された場合、ステップＳ２６において再生強度をＰr2に変更する。この状態でステップＳ２７においてステップＳ２４と同様、信号の再生を行う。
【００６７】
Ｐr2は超解像再生に必要な最低パワーＰminにａｍＷ加算したものであるので、再生可能であることが予測される。そこで、ステップＳ２８において再生可能であれば、Ｐrminが妥当であるとして、処理を正常終了する。ステップＳ２８において再生不可能となるとステップＳ２９以下のシーケンスに移行する。
【００６８】
次にステップＳ２９以下の処理について説明する。Ｐr1で再生される、もしくはＰr2再生できない場合、試し読みに使用しているセクタの異常が考えられる。
【００６９】
そのため、ステップＳ２９にて試し読みに使用するセクタを次のセクタに変更し、ステップＳ２２以下の処理を継続する。この際、ステップＳ３０において、媒体そのもの、もしくはドライブに異常が存在する場合、シーケンス処理が無限となってしまうため、試し読みに使用したセクタがＫセクタ以上である場合、異常発生として処理を終了する。
【００７０】
このように本実施例では、Ｐrminを±ａｍＷ以下の精度で求めることが可能であるため、ａの値を抑えることで、その精度を向上させることが出来る。
【００７１】
また、実際に超解像再生に使用する再生強度においては、前記Ｐrminに加算、もしくは乗算を行い算出することで、Ｐrminに準じた精度で算出可能である。
【００７２】
さらに本実施例では記載しないが、前記図２のシーケンスは再生ＬＤ光強度をそのまま、再生磁場強度に置き換えて処理を行うことも可能である。
【００７３】
本発明は、上述した実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】本発明の実施例１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】図１の光ディスク装置の作用を説明する第１のフローチャート
【図３】図１の光ディスク装置の作用を説明する第２のフローチャート
【符号の説明】
【００７５】
１…光ディスク装置
２…光ディスク
３…ホストコンピュータ
４…バイアス発生装置
５…光学ヘッド
９…ＬＤ
１０…ＰＤ
１１…ＬＤドライバ
１２…記録信号処理部
１３…記録強度制御部
１４…再生強度制御部
１５…再生信号処理部
１６…リードパワー記憶部
１７…リード磁場記憶部
１８…磁場強度制御部
１９…ＣＰＵ
２０…ＳＣＳＩ  Ｉ／Ｆ
代理人    弁理士    伊藤  進
【図１】
2005071444.tif 000003
【図２】
2005071444.tif 000004
【図３】
2005071444.tif 000005