(57)【要約】 【課題】  安定した記録マークを形成して記録品位を向上させる。【解決手段】  リードパワー値と、当該リードパワー値より大きいライトパワー値と、当該ライトパワー値の区間における先頭側の所定区間に重畳されるバイアス値と、を有する記録パルスに基づいて、レーザー光を発光する発光素子を駆動する光ディスク装置において、前記バイアス値を設定するための設定データの基準となる予め定められた第１のデータ群と、前記第１のデータ群に対応した前記設定データの実測データである第２のデータ群と、に基づいて個々の光ディスクに応じた前記設定データを補正し、当該補正後の前記設定データに基づいて設定された前記バイアス値を前記ライトパワー値に重畳させて前記発光素子を駆動する制御手段、を備えることとする。【選択図】  図１
2005071460.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
リードパワー値と、当該リードパワー値より大きいライトパワー値と、当該ライトパワー値の区間における先頭側の所定区間に重畳されるバイアス値と、を有する記録パルスに基づいて、レーザー光を発光する発光素子を駆動する光ディスク装置において、
前記バイアス値を設定するための設定データの基準となる予め定められた第１のデータ群と、前記第１のデータ群に対応した前記設定データの実測データである第２のデータ群と、に基づいて個々の光ディスクに応じた前記設定データを補正し、
当該補正後の前記設定データに基づいて設定された前記バイアス値を前記ライトパワー値に重畳させて前記発光素子を駆動する制御手段、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記バイアス値を得るための制御信号を設定されたゲインに基づいて生成する増幅器と、
前記増幅器のゲインを前記設定データに基づいて設定するゲイン設定部と、
前記制御信号に応じた前記バイアス値を前記ライトパワー値に重畳させて前記発光素子を駆動する駆動部と、
複数の前記バイアス値に対応した各前記設定データの基準となる前記第１のデータ群と、前記複数のバイアス値を指定して前記発光素子を駆動したとき実測された前記設定データである前記第２のデータ群と、を記憶する記憶手段と、
前記第１のデータ群と前記第２のデータ群との対応づけを算定し、当該対応づけに基づいて、前記第２のデータ群側の個々の光ディスクに応じた前記バイアス値が、前記第１のデータ群側の前記バイアス値となるように、前記光ディスクに応じた前記設定データを補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１のデータ群は、第１の前記バイアス値に対応した前記設定データの基準となるデータＡと、前記第１のバイアス値より大きい第２の前記バイアス値に対応した前記設定データの基準となるデータＢを有し、
前記第２のデータ群は、前記第１のバイアス値に対応した前記設定データの実測データとなるデータＣと、前記第２のバイアス値に対応した前記設定データの実測データとなるデータＤを有し、
前記対応づけは、
前記補正前の前記設定データをＸ、前記補正後の前記設定データをＹとした場合に、"Ｙ＝（（Ｃ−Ｄ）×（Ｘ−Ａ））÷（Ｂ−Ａ）＋Ａ"によって定められることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
リードパワー値と、当該リードパワー値より大きいライトパワー値と、当該ライトパワー値の区間における先頭側の所定区間に重畳されるバイアス値と、を有する記録パルスに基づいて、レーザー光を発光する発光素子を駆動する光ディスク装置の記録制御方法において、
光ディスクに応じた前記バイアス値を設定するための設定データについて、当該設定データの基準とする第１のデータ群と、前記第１のデータ群に対応した前記設定データの実測データである第２のデータ群と、に基づいて補正し、
当該補正後の前記設定データに基づいて設定された前記バイアス値を前記ライトパワー値に重畳させて前記発光素子を駆動する、
ことを特徴とする光ディスク装置の記録制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置およびその記録制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、記録可能な光ディスクとして、ライトワンス（Write Once）タイプの追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒメディアや、ＤＶＤ±Ｒメディアなど）が普及している。この追記型光ディスクでは、記録マークについて歪みを抑えて正確に形成させるように、レーザーダイオード（Laser Diode）の駆動方式が幾つか提案されている。
【０００３】
例えば、レーザーダイオードの駆動方式としてマルチパルス方式がある。マルチパルス方式は、記録マークを形成しないスペース区間では、リードパワー値Ｐｒでレーザー光を出射し、記録マークを形成するマーク区間では、リードパワー値Ｐｒとライトパワー値Ｐｍとを有する記録パルス列に応じたパワーでレーザー光を出射して記録マークを形成させる方式のことである。このマルチパルス方式によれば、マーク区間中においてリードパワー値Ｐｒとなる区間を冷却区間とすることができ、熱分布の均一化を図ることができる。
【０００４】
また、レーザーダイオードの駆動方式として、１つの記録マークを１つの記録パルスで形成するノンマルチパルス方式がある。なお、ノンマルチパルス方式だけでは、記録マークにおける熱分布の均一化が図れず、記録マークが涙状に歪むことが知られている。そこで、ノンマルチパルス方式では、マーク区間の先頭側の所定区間（以下、ＬＤＨ（LD High）区間と称する。）、メーカーや記録速度などの光ディスクの種別に応じて定められたバイアス値Δをライトパワー値Ｐｍに重畳させて、レーザーダイオードを駆動する技術が提案されている（例えば、以下に示す特許文献１参照）。なお、図９には、この技術を採用した光ディスク装置（以下、従来の光ディスク装置と称する。）について、ＬＤドライバー９１を含めたその周辺回路の構成を示している。
【０００５】
図９において、スイッチ９３は、スペース区間及びマーク区間ともに導通するよう制御されており、リードパワー値Ｐｒを得るためのリードパワー信号ＶＲＤＣが、リードパワー信号発生回路９２よりスイッチ９３を介してＬＤドライバー９１に供給される。また、スイッチ９５は、マーク区間のみ導通するように制御されており、ライトパワー値Ｐｍを得るためのライトパワー信号ＶＷＤＣが、ライトパワー信号発生回路９４よりスイッチ９５を介してＬＤドライバー９１に供給される。
【０００６】
なお、リードパワー値Ｐｒ及びライトパワー値Ｐｍについては、それぞれに対応したＡＰＣ（Automatic Power Control）回路１０１及び１０２によって、ＦＭＤ（Front Monitor Diode）１００で実際に検出されたＬＤ９０出力のサンプリングデータに基づき、リードパワー値Ｐｒ及びライトパワー値Ｐｍを一定とするＡＰＣを通常実施している。
【０００７】
つぎに、システムコントローラ９６は、光ディスクの種別に応じたバイアス値Δに関するデータとして、ＬＤＨ区間のピーク値であるＰｈとライトパワー値Ｐｍとの比であるＰｈ／Ｐｍ比（Ｌ１／Ｌ２）や、それぞれのＰｈ／Ｐｍ比に応じたアッテネータ９７の減衰率ＡＴＴを設定するための減衰率設定データ（以下、ＡＴＴ設定値と称する。）をＲＯＭ等に記憶している。すなわち、システムコントローラ９６は、光ディスクの種別に応じたＡＴＴ設定値に基づいて、アッテネータ９７の減衰率ＡＴＴを設定することになり、この結果、増幅器９８のゲインが設定される。
【０００８】
スイッチ９９は、ＬＤＨ区間のみ導通するように制御されており、バイアス値Δを得るためのバイアスパワー信号ΔＬＤＨが、増幅器９８よりスイッチ９９を介してＬＤドライバー９１に供給される。なお、バイアスパワー信号ΔＬＤＨは、システムコントローラ９６によって設定されたアッテネータ９７の減衰率ＡＴＴ、すなわち増幅器９８のゲインに基づいて生成される信号である。
【０００９】
以上の構成によって、ＬＤドライバー９０は、リードパワー信号発生回路９２から供給されたリードパワー信号ＶＲＤＣ、ライトパワー信号発生回路９４から供給されたライトパワー信号ＶＷＤＣ及び増幅器９８から供給されたバイアスパワー信号ΔＬＤＨに基づいて、図１０に示すような記録パルスを形成してＬＤ９０を駆動することになる。
【特許文献１】特開２００３−８５７５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところで、図９に示したような従来の光ディスク装置において、リードパワー値Ｐｒ及びライトパワー値Ｐｍについては、ＡＰＣ回路１０１及び１０２によって一定となるように制御されるが、バイアス値Δについては、マーク区間に対してＬＤＨ区間が比較的短いので、サンプリングによってＡＰＣを実施することが困難となる。このため、バイアス値Δについては、単純に、システムコントローラ９６によって設定されたアッテネータ９７の減衰率ＡＴＴに基づき、オープンループ制御によって設定していた。
【００１１】
しかしながら、アッテネータ９７、増幅器９８、ＬＤドライバー９１及びＬＤ９０の入出力特性は元々非線形性を有しており、それらの入出力特性を一意に決定しづらい点がある。さらには、各素子９７、９８、９１、９０自体のバラツキもあり、温度など周囲の環境条件によって各種特性も変動してしまう。このため、システムコントローラ９６によって光ディスクの種別に応じたアッテネータ９７の減衰率ＡＴＴを一意に設定したとしても、図１０に示すように、期待どおりのバイアス値Δが得られず、Ｐｈ／Ｐｍ比が一定にならないという課題が発生していた。また、この結果として、安定した記録マークの形状が得られずに、記録データの誤りが発生してしまい、記録品位が低下する恐れがあった。
【００１２】
そこで、本発明は、安定した記録マークの形状が得られる光ディスク装置及びその記録制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、リードパワー値と、当該リードパワー値より大きいライトパワー値と、当該ライトパワー値の区間における先頭側の所定区間に重畳されるバイアス値と、を有する記録パルスに基づいて、レーザー光を発光する発光素子を駆動する光ディスク装置において、前記バイアス値を設定するための設定データの基準となる予め定められた第１のデータ群と、前記第１のデータ群に対応した前記設定データの実測データである第２のデータ群と、に基づいて個々の光ディスクに応じた前記設定データを補正し、当該補正後の前記設定データに基づいて設定された前記バイアス値を前記ライトパワー値に重畳させて前記発光素子を駆動する制御手段、を備えることとする。
【００１４】
本発明によれば、前述したように、個々の光ディスクに応じた設定データの補正を施すことによって、補正後の設定データによって得られたバイアス値が、第１のデータ群に対応した基準となるバイアス値と同様な値が得られることになる。このため、バイアス値の変動が抑えられるので、安定した記録マークが形成され、記録品位が向上した光ディスク装置を提供することができる。
【００１５】
本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかにする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、安定した記録マークの形状が得られる光ディスク装置及びその記録制御方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
＝＝＝  実施例  ＝＝＝
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
【００１８】
＜システム構成＞
本発明の一実施形態である光ディスク装置を含めたシステムの概略構成について、図１を用いて説明する。
【００１９】
まず、光ディスク１０としては、ＣＤ−ＲメディアやＤＶＤ±Ｒメディアなどの追記型光ディスクを対象とする。そして、光ディスク装置４０は、追記型の光ディスク１０に対して、リードパワー値Ｐｒ（１ｍＷ程度）とライトパワー値Ｐｍ（１０ｍＷ程度）とを有するノンマルチパルス方式の記録パルスに基づいて記録を行うように構成される。なお、ノンマルチパルス方式の記録パルスは、記録マークを形成しないスペース区間ではリードパワー値Ｐｒ、記録マークを形成するマーク区間ではライトパワー値Ｐｍとなり、１つの記録マークを１つの記録パルスで形成する。
【００２０】
さらに、光ディスク装置４０は、マーク区間における先頭側の所定区間（以下、ＬＤＨ（LD High）区間と称する。）では、メーカーや記録速度などの光ディスク１０の種別に応じて定められたバイアス値Δ（ライトパワー値Ｐｍとリードパワー値Ｐｒの差分値の数％〜２０％程度）をライトパワー値に重畳させるように構成される。なお、ＬＤＨ区間のピーク値であるＰｈとライトパワー値Ｐｍとの比は、通常、Ｐｈ／Ｐｍ比と呼ばれている。このような構成とすることで、記録マークにおける熱分布の均一化が図られることになる。
【００２１】
ここで、光ディスク装置４０は、ＬＤＨ区間においてバイアス値Δをライトパワー値に重畳させるノンマルチパルス方式を採用している。そこで、光ディスク装置４０の構成について、特に、レーザーダイオード（ＬＤ：Laser Diode）１２を駆動する仕組みについて、図２のタイムチャートを適宜参照しながら詳細に説明する。
【００２２】
光ピックアップ１１は、光ディスク１０に対して記録及び再生を行うためのレーザー光を出射するＬＤ１２（『発光素子』）を備えている。このＬＤ１２は、ＬＤドライバー１４によって駆動される。また、光ピックアップ１１には、ＬＤ１２から光ディスク１０に対して出射されたレーザー光について、その光路途中で分離されるレーザー光を受光するためのフロントモニタダイオード（ＦＭＤ：Front Monitor Diode）１３を備えている。ＦＭＤ１３は、受光したレーザー光の光量に応じて受光電流が流れ、この受光電流に応じた信号（以下、パワーモニタ信号と称する。）を生成する。なお、光ピックアップ１１は、前述した構成の他、光学レンズ、光ディスク１０からの反射光（再生信号）を受光する光検出器や、光ピックアップ１１の送り制御、トラッキング制御及びフォーカス制御などを実施するための各種アクチュエータなどを備えているが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。
【００２３】
システムコントローラ１５（『ゲイン設定部』、『補正手段』）は、光ディスク１０の記録又は再生に係る光ディスク装置４０全般のシステム制御を司る。例えば、システムコントローラ１５は、光ディスク１０に対して記録又は再生を行う場合に、光ディスク１０に応じた復調又は変調処理を施すために、エンコーダ／デコーダ１７の起動を制御する。
【００２４】
また、システムコントローラ１５は、リードパワー値Ｐｒに関するＡＰＣを実施するために、第１のＡＰＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ１９に供給する。同様に、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＰＣ（Automatic Power Control）を実施するために、第２のＡＰＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ２６に対して供給する。
【００２５】
また、システムコントローラ１５は、記録開始から所定期間ライトパワー値Ｐｍに関するＡＣＣ（Automatic Current Control）を実施するために、ＡＣＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ２３に対して供給する。なお、システムコントローラ１５は、スイッチ２８の導通／非導通を制御するので、その結果、ライトパワー信号発生回路２９から出力されるライトパワー信号ＶＷＤＣについて、ＡＣＣ回路２４出力又はＡＰＣ回路２７出力のいずれか一方が選択される。
【００２６】
さらに、システムコントローラ１５は、ＲＡＭ１６に記憶されたストラテジーテーブル３００から光ディスク１０の種別（メーカーや記録速度など）に応じたＡＴＴ設定値を読み出し、このＡＴＴ設定値に基づいてアッテネータ３３の減衰率ＡＴＴを設定する。なお、ストラテジーテーブル３００は、記録パルスを調整する場合に参照されるストラテジー情報を格納している。ストラテジー情報とは、例えば、図３に示すように、製造メーカーや記録速度ごとに推奨されるＰｈ／Ｐｍ比やそのＰｈ／Ｐｍ比に対応するＡＴＴ設定値などを有している。ところで、このストラテジー情報は、光ディスク装置４０に予め記憶されていてもよいし、光ディスク１０の所定領域に予め記録されているものとして、この情報を光ディスク１０から逐次読み出してストラテジーテーブル３００の内容を更新してもよい。
【００２７】
ＲＡＭ１６（『記憶手段』）は、システムコントローラ１５がアクセス可能なメモリであり、例えば、ＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリなどの不揮発性メモリや、ＳＲＡＭやＤＲＡＭなどの揮発性メモリを採用することができる。なお、ＲＡＭ１６は、エンコーダ／デコーダ１７において変調又は復調処理中にあるデータを一時記憶する場合に使用される。さらに、ＲＡＭ１６は、前述したストラテジーテーブル３００（図３参照）の他に、後述のＡＴＴ設定値を補正するときに利用される基準セット情報テーブル４００（図４参照）やＡＴＴ設定値格納テーブル５００（図５参照）の各データを記憶する。
【００２８】
基準セット情報テーブル４００は、図４に示すように、ＡＴＴ設定値を補正する際の基準モデルとなる光ディスク装置（以下、基準セットと称する。）において、ＦＭＤ１１で生成されたパワーモニタ信号がライトパワー値（１０ｍＷ）を示す場合を基準として、所定のＰｈ／Ｐｍ比としたときのＡＴＴ設定値（以下、基準ＡＴＴ設定値と称する。『第１のデータ群』）を格納する。ここで、基準セットは、各ＡＴＴ設定値を設定した場合に、Ｐｈ／Ｐｍ比の変動が最も少なく済む光ディスク装置を予め選定したものとする。また、所定のＰｈ／Ｐｍ比としては、後述のＡＴＴ設定値の補正効果が得られやすくするために、使用頻度の高い範囲内（数％〜２０％ＵＰ）であり且つ精度の高い近似式が得られるような値として、例えば、バイアス値Δ無しの状態（１００％）から１０％ＵＰを示す１．１（Ｂ＿ＡＴＴ（１０）、『データＡ』）と、バイアス値Δ無しの状態（１００％）から２０％ＵＰを示す１．２（Ｂ＿ＡＴＴ（２０）、『データＢ』）の場合を採用した。なお、２つの基準ＡＴＴ設定値とした理由は、後述のＡＴＴ設定値の補正において演算処理負荷をあまりかけずに済む一次の補正式を採用したことに基づいている。
【００２９】
ＡＴＴ設定値格納テーブル５００は、図５に示すように、ＡＴＴ設定値の補正対象となる光ディスク装置４０（個々のセット）において、基準セット情報テーブル４００と同様の内容を示すＡＴＴ設定値の実測値（『第２のデータ群』）を格納する。なお、ＡＴＴ設定値格納テーブル５００に格納するＡＴＴ設定値としては、基準セット情報テーブル４００の内容と合わせて、ＦＭＤ１１で生成されたパワーモニタ信号がライトパワー値（１０ｍＷ）を示す場合を基準として、バイアス値Δ無しの状態（１００％）から１０％ＵＰを示す１．１（ＡＴＴ（１０）、『データＣ』）と、バイアス値Δ無しの状態（１００％）から２０％ＵＰを示す１．２（ＡＴＴ（２０）、『データＤ』）の場合を採用する。この２つのＡＴＴ設定値とした理由は、後述のＡＴＴ設定値の補正において演算処理負荷をあまりかけずに済む一次の補正式を採用したことに基づいている。
【００３０】
エンコーダ／デコーダ１７は、光ディスク１０の種別に応じた変調又は復調処理を行う。例えば、光ディスク１０がＣＤ−Ｒメディアの場合、変調方式としてＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）、誤り訂正方式としてＣＩＲＣ（Cross Interleave Reed-Solomon Code）を採用しているため、これらの変調方式及び誤り訂正方式に基づいた変調又は復調処理を行う。
【００３１】
また、エンコーダ／デコーダ１７は、スペース区間に対応したリードパワー値Ｐｒを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号ＲＡＰＣ（図２（ｄ）参照）を、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路１８に供給する。同様に、マーク区間に対応したライトパワー値Ｐｍを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号ＷＡＰＣ（図２（ｇ）参照）を、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路２５に供給する。
【００３２】
さらに、エンコーダ／デコーダ１７は、前述したノンマルチパルス方式においてバイアス値Δを重畳させた記録パルス（図２（ａ）参照）を形成すべく、スイッチ２２の導通／非導通を設定するためのＬＤＯＮ信号（図２（ｃ）参照）、スイッチ３０の導通／非導通を設定するためのＰＥＯ信号（図２（ｆ）参照）、スイッチ３５の導通／非導通を設定するためのＬＤＨ信号（図２（ｈ）参照）を、それぞれのスイッチ（２２、３０、３５）に対して供給する。なお、ＬＤＯＮ信号は、スペース区間及びマーク区間ともにスイッチ２２を導通させるレベル（Ｈレベル）とする。また、ＰＥＯ信号は、スペース区間ではスイッチ３０を非導通とさせるレベル（Ｌレベル）とし、マーク区間ではスイッチ３０を導通させるレベル（Ｈレベル）とする。さらに、ＬＤＨ信号は、マーク区間の先頭となる所定区間（３Ｔ〜１１Ｔ）ではスイッチ３５を導通させるレベル（Ｈレベル）とし、それ以外の区間ではスイッチ３５を非導通とさせるレベル（Ｌレベル）とする。
【００３３】
サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路（１８、２５）は、ＦＭＤ１３で検出されたパワーモニタ信号について、エンコーダ／デコーダ１７から供給されるサンプルホールド信号ＲＡＰＣ／ＷＡＰＣに基づいたタイミングでサンプルホールド処理を実行する。具体的には、サンプルホールド回路１８は、サンプルホールド信号ＲＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ１３より供給されたパワーモニタ信号からリードパワー値Ｐｒを取り出す。一方、サンプルホールド回路２５は、サンプルホールド信号ＷＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ１３より供給されたパワーモニタ信号からライトパワー値Ｐｍを取り出す。
【００３４】
ＡＰＣ回路２０は、サンプルホールド回路１８によって取り出されたリードパワー値Ｐｒと、Ｄ／Ａコンバータ１９によってディジタル値からアナログ値に変換された第１のＡＰＣ基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、リードパワー値Ｐｒが一定（第１のＡＰＣ基準電圧信号のレベル）となるようにＡＰＣを行う。
【００３５】
ＡＰＣ回路２７もまた同様に、サンプルホールド回路２５によって取り出されたライトパワー値Ｐｍと、Ｄ／Ａコンバータ２６によってディジタル値からアナログ値に変換された第２のＡＰＣ基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、ライトパワー値Ｐｍが一定（第２のＡＰＣ基準電圧信号のレベル）となるようにＡＰＣを行う。
【００３６】
リードパワー信号発生回路２１は、ＡＰＣ回路２０からのＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ１３で検出されたリードパワー値Ｐｒが一定となるようなリードパワー信号ＶＲＤＣ（図２（ｂ）参照）を生成する。なお、このリードパワー信号ＶＲＤＣは、ＬＤＯＮ信号によってスイッチ２２が導通した場合に、ＬＤドライバー１４に供給される。
【００３７】
ライトパワー信号発生回路２９は、スイッチ２８の切り替えによって、ＡＣＣ回路２４からのＡＣＣ出力又はＡＰＣ回路２７からのＡＰＣ出力のいずれか一方が供給される。そして、ライトパワー信号発生回路２９は、ＡＣＣ出力又はＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ１３で検出されたライトパワー値Ｐｍが一定となるようなライトパワー信号ＶＲＤＣ（図２（ｂ）参照）を生成する。なお、ライトパワー信号ＶＲＤＣは、ＰＥＯ信号によってスイッチ３０が導通した場合に、ＬＤドライバー１４に供給される。
【００３８】
積分回路３１は、例えば、ＬＰＦ（Low Pass Filter）によって構成され、後述のＡＴＴ設定値の補正を実行する場合に、ＦＭＤ１３で検出されたパワーモニタ信号を積分する。この積分によって直流化されたパワーモニタ信号が、Ａ／Ｄコンバータ３２においてアナログ値からディジタル値に変換され、システムコントローラ１５に供給される。
【００３９】
アッテネータ３３（『ゲイン設定部』）は、例えば、多接点スイッチと抵抗器の組み合わせなどで構成され、システムコントローラ１５から供給されるＡＴＴ設定値に基づいて、減衰率ＡＴＴが設定される。この結果、増幅器３４では、アッテネータ３３で設定された減衰率ＡＴＴに基づいてゲインが設定される。そして、増幅器３４は、設定されたゲインに基づいて、ＬＤ１２より出力される記録パルスが指定されたＰｈ／Ｐｍ比を満足するように、バイアス値Δに対応した制御信号ΔＬＤＨ（図２（ｇ）参照）を生成する。なお、制御信号ΔＬＤＨは、ＬＤＨ信号によってスイッチ３５が導通した場合にＬＤドライバー１４に供給される。
【００４０】
ＬＤドライバー１４（『駆動部』）は、リードパワー信号発生回路２１から供給されるリードパワー信号ＶＲＤＣ、ライトパワー信号発生回路２９から供給されるライトパワー信号ＶＷＤＣ及び増幅器３４から供給される制御信号ΔＬＤＨに基づいて、ＬＤ１２を駆動する。この結果、ＬＤＨ区間では、所定のバイアス値Δが重畳されたノンマルチパルス方式の記録パルスがＬＤ１２から出力されることになる。
【００４１】
＜光ディスク装置の動作＞
以下、本発明に係るＡＴＴ設定値の補正に係る動作について、まずは、補正対象とする光ディスク装置４０において所定のＰｈ／Ｐｍ比に応じたＡＴＴ設定値を実際に計測する際の動作フローについて説明する。つぎに、計測されたＡＴＴ設定値と基準ＡＴＴ設定値とに基づいて、光ディスク１０に応じたＡＴＴ設定値を補正する際の動作フローについて説明する。
【００４２】
＝＝＝ＡＴＴ設定値の計測  ＝＝＝
図６のフローチャートに基づいて、所定のＰｈ／Ｐｍ比（１．１と１．２の場合）に応じたＡＴＴ設定値（ＡＴＴ（１０）、ＡＴＴ（２０））を計測する際の動作フローについて説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ１５が動作の主体とする。
【００４３】
まず、光ディスク装置４０は、フォーカスサーボ制御の停止状態を維持して、光ピックアップ１１が備える光学レンズ（不図示）の位置を調整して、レーザー光の焦点が光ディスク１０上で合わないようにする。すなわち、以下の処理でＬＤ１２を駆動した場合に、実際に記録が行われないようにするための前処理について言及したものである。
【００４４】
以上のような状態で、システムコントローラ１５は、スイッチ３５を制御信号ＬＤＨによって非導通とすることでバイアス値Δを発生させないようにするとともに、リードパワー値Ｐｒ（１ｍＷ）を第１のＡＰＣ基準電圧信号としてＤ／Ａコンバータ１９に供給する。この結果、リードパワー信号発生回路２１は、リードパワー値（１ｍＷ）に応じたリードパワー信号ＶＲＤＣを生成する。そして、ＬＤドライバー１４がこのリードパワー信号ＶＲＤＣに基づいてＬＤ１２を駆動する。このとき、システムコントローラ１５は、ＦＭＤ１３で検出されたパワーモニタ信号のレベルを、積分回路３１及びＡ／Ｄコンバータ３２を介して測定する。なお、この測定したレベルは、"ｆｍｄ＿１ｍＷ"としてＲＡＭ１６などの所定の記憶手段に格納しておく（Ｓ６００）。
【００４５】
また、システムコントローラ１５は、バイアス値Δを発生させない状態を維持しつつ、ライトパワー値Ｐｍ（１０ｍＷ）を第２のＡＰＣ基準電圧信号としてＤ／Ａコンバータ２６に供給する。この結果、ライトパワー信号発生回路２９においてライトパワー値（１０ｍＷ）に応じたライトパワー信号ＶＷＤＣが生成されて、このライトパワー信号ＶＷＤＣに基づいてＬＤ１２が駆動される。このとき、システムコントローラ１５は、ＦＭＤ１３で検出されたパワーモニタ信号のレベルを、積分回路３１及びＡ／Ｄコンバータ３２を介して測定する。なお、この測定したレベルは、"ｆｍｄ＿１０ｍＷ"としてＲＡＭ１６などの所定の記憶手段に格納しておく（Ｓ６０１）。
【００４６】
つぎに、システムコントローラ１５は、Ｐｈ／Ｐｍ比１．１（１０％ＵＰ）に対応するバイアス値Δをライトパワー値（１０ｍＷ）に重畳させた場合に、ＦＭＤ１２で検出されるパワーモニタ信号のレベルを算定する。この算定方法としては、予め測定しておいた"ｆｍｄ＿１ｍＷ"と"ｆｍｄ＿１０ｍＷ"に基づいて、"（（ｆｍｄ＿１０ｍＷ−ｆｍｄ＿１ｍＷ）／１０）＋ｆｍｄ＿１０ｍＷ"の計算式で算定を行う。なお、この算定した結果は、"ｆｍｄ＿１０ＵＰ＿１０ｍＷ"としてＲＡＭ１６などの所定の記憶手段に格納しておく（Ｓ６０２）。
【００４７】
そして、システムコントローラ１５は、ＦＭＤ１２で実際に検出されるパワーモニタ信号のレベルが算定した"ｆｍｄ＿１０ＵＰ＿１０ｍＷ"となるように、ＡＴＴ設定値を調整していく。この調整結果として決定したＡＴＴ設定値が、"ＡＴＴ（１０）"としてＲＡＭ１６のＡＴＴ設定値格納テーブル５００に格納される（Ｓ６０３）。
【００４８】
つぎに、システムコントローラ１５は、Ｐｈ／Ｐｍ比１．２（２０％ＵＰ）に対応するバイアス値Δをライトパワー値（１０ｍＷ）に重畳させた場合に、ＦＭＤ１２で検出されるパワーモニタ信号のレベルを算定する。この算定に利用する計算式は、"（（ｆｍｄ＿１０ｍＷ−ｆｍｄ＿１ｍＷ）／５）＋ｆｍｄ＿１０ｍＷ"であり、この算定結果は、"ｆｍｄ＿２０ＵＰ＿１０ｍＷ"としてＲＡＭ１６などの所定の記憶手段に格納される（Ｓ６０４）。
【００４９】
そして、システムコントローラ１５は、ＦＭＤ１２で実際に検出されるパワーモニタ信号のレベルが算定した"ｆｍｄ＿２０ＵＰ＿１０ｍＷ"となるように、ＡＴＴ設定値を調整していく。この調整結果として決定したＡＴＴ設定値が、"ＡＴＴ（２０）"としてＲＡＭ１６のＡＴＴ設定値格納テーブル５００に格納される。
【００５０】
以上のようにして、システムコントローラ１５は、ＲＡＭ１６のＡＴＴ設定値格納テーブル５００のデータとして、"ＡＴＴ（１０）"と"ＡＴＴ（２０）"を計測して得ることができる。なお、前述した実施形態において、（Ｓ６００）及び（Ｓ６０１）の順序を変えて実施してもいいし、（Ｓ６０２）及び（Ｓ６０３）と、（Ｓ６０４）及び（Ｓ６０５）の順序を変えて実施してもよい。
【００５１】
＝＝＝ＡＴＴ設定値の補正  ＝＝＝
図７のフローチャートに基づいて、光ディスク１０の種別に応じて指定されるＡＴＴ設定値を補正する際の動作フローについて説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ１５が動作の主体とする。
【００５２】
まず、システムコントローラ１５は、光ディスク１０から読み出した種別情報（製造メーカーや記録速度など）に基づいて、当該種別情報に対応づけられたＰｈ／Ｐｍ比ｘを、ＲＡＭ１６に格納されたストラテジーテーブル３００より決定する（Ｓ７００）。
【００５３】
そして、システムコントローラ１５は、ＲＡＭ１６に格納されている基準セット情報テーブル４００からＢ＿ＡＴＴ（１０）及びＢ＿ＡＴＴ（２０）を読み出し、同じくＲＡＭ１７に格納されているＡＴＴ設定値格納テーブル５００からＡＴＴ（１０）及びＡＴＴ（２０）を読み出す（Ｓ７０１）。
【００５４】
そこで、システムコントローラ１５は、光ディスク１０に応じて決定されたＰｈ／Ｐｍ比ｘについて、Ｂ＿ＡＴＴ（１０）及びＢ＿ＡＴＴ（２０）とＡＴＴ（１０）及びＡＴＴ（２０）との関係として定められる補正式に代入して、ＡＴＴ設定値ｙを算定する（Ｓ７０２）。なお、この補正式としては、例えば、"ｙ＝（ＡＴＴ（２０）−ＡＴＴ（１０））×（１００ｘ−Ｂ＿ＡＴＴ（１０））÷（Ｂ＿ＡＴＴ（２０）−Ｂ＿ＡＴＴ（１０））＋ＡＴＴ（１０）"とする。
【００５５】
以上の算定によって得られたＡＴＴ設定値ｙに基づいて、アッテネータ３３の減衰率ＡＴＴが設定される。この結果、増幅器のゲインが設定されて、光ディスク装置４０は、基準セットと同等なバイアス値Δを記録パルスにＬＤＨ区間重畳させてＬＤ１２を駆動することができる。
【００５６】
なお、前述した補正式の内容について、図８に示すＡＴＴ設定値とバイアス値Δとの関係を示すグラフを用いて詳細に説明する。同図において、８００は、Ｐｈ／Ｐｍ比１．１に対応するＢ＿ＡＴＴ（１０）とＰｈ／Ｐｍ比１．２に対応するＢ＿ＡＴＴ（２０）によって定められる一次の線形補完式である。また、８１０は、Ｐｈ／Ｐｍ比１．１に対応するＡＴＴ（１０）とＰｈ／Ｐｍ比１．２に対応するＡＴＴ（２０）によって定められる一次の線形補完式である。
【００５７】
まず、光ディスク１０に応じて決定されたＰｈ／Ｐｍ比ｘに対応するＡＴＴ設定値１００ｘ（ｘの１００倍）は、線形補完式８１０上の点Ａにある。すなわち、点Ａに位置するＡＴＴ設定値１００ｘは、実際に計測されたＡＴＴ設定値のデータ群の１つのデータを示すことになる。また、このとき、ＡＴＴ設定値１００ｘによって、バイアス値ΔはΔ（Ａ）が得られることになる。
【００５８】
しかしながら、アッテネータ３３、増幅器３４、ＬＤドライバー１４及びＬＤ１２の入出力特性は元々非線形性を有しており、それらの入出力特性を一意に決定しづらい点がある。さらには、各素子３３、３４、１４、１２自体のバラツキもあり、温度など周囲の環境条件によって各種特性も変動してしまう。このため、システムコントローラ９６によって光ディスクの種別に応じたアッテネータ３３の減衰率ＡＴＴを一意に設定したとしても、Δ（Ａ）は変動することになる。
【００５９】
ところで、ＡＴＴ設定値１００ｘは、線形補完式８００上の点Ｂにおいて、バイアス値ΔとしてはΔ（Ｂ）が得られることになる。このΔ（Ｂ）は、基準セット情報としてモデルとなるバイアス値である。そこで、Δ（Ｂ）が得られる線形補完式８１０上の点Ｃについて、その点ＣにおけるＡＴＴ設定値をｙとして求める。すなわち、前述した補正式では、線形補完式８００と線形補完式８１０との関係によって、線形補完式８１０上の点Ａから点Ｃを求めて、その点ＣにおけるＡＴＴ設定値を補正後のＡＴＴ設定値ｙとすることができる。
【００６０】
このように、本発明に係る光ディスク装置４０は、従来一意に設定することが困難であったバイアス値Δについて、基準セットと同様なバイアス値Δを得ることができる。この結果、如何なる光ディスク装置４０であったとしても、基準セットと同等なＡＴＴ設定値対バイアス値Δの特性を有することになり、Ｐｈ／Ｐｍ比を一定とすることができる。そして、Ｐｈ／Ｐｍ比を一定とすることによって、安定した記録マークを形成することが可能となり、記録品位が向上した光ディスク装置およびその記録制御方法を提供することができる。
【００６１】
以上、本発明の実施形態について具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００６２】
例えば、前述した実施形態において、一次の線形補完式を利用するために、基準ＡＴＴ設定値（Ｂ＿ＡＴＴ（１０）及びＢ＿ＡＴＴ（２０））と実際に計測するＡＴＴ設定値（ＡＴＴ（１０）及びＡＴＴ（２０））をそれぞれ２つずつ有しているが、これに限定されるものではなく、複数としてもよい。この場合、数多くのデータに対して最小自乗法などの近似アルゴリズムを利用することで、前述した線形補完式８００及び８１０の近似精度が向上する。この結果、ＡＴＴ設定値を補正する際に利用する補正式の精度も向上して、補正後のＡＴＴ設定値について基準セットと同等なものがより得られやすくなる。すなわち、安定した記録マークを形成することが可能となり、記録品位が向上した光ディスク装置およびその記録制御方法を提供することができる。
【００６３】
また、前述した実施形態において、マルチパルス方式も同様に本発明を実施することができる。例えば、マルチパルス方式では、マーク区間において複数の記録パルス列を有しているが、その記録マーク先頭付近の記録パルスに対してバイアス値Δを重畳させる場合が考えられる。この場合、本発明に係るＰｈ／Ｐｍ比を一定とする（すなわち、バイアス値Δを一定とする）技術を採用することで、より安定した記録マークの形状が得られて、記録品位が向上することになる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク装置のシステム構成図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明する図である。
【図３】本発明の実施形態に係るストラテジーテーブルの内容を説明する図である。
【図４】本発明の実施形態に係る基準セット情報テーブルの内容を説明する図である。
【図５】本発明の実施形態に係るＡＴＴ設定値格納テーブルの内容を説明する図である。
【図６】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するフローチャートである。
【図８】本発明の実施形態に係るＡＴＴ設定値の補正を説明する図である。
【図９】従来の光ディスク装置のシステム構成図である。
【図１０】従来の光ディスク装置においてレーザーダイオードを駆動した際の記録パルスの波形図である。
【符号の説明】
【００６５】
１０  光ディスク                    １１  光ピックアップ
１２  レーザーダイオード            １３  フロントモニタダイオード
１４  ＬＤドライバー                １５  システムコントローラ
１６  ＲＡＭ                        １７  エンコーダ／デコーダ
１８  サンプルホールド回路          １９  Ｄ／Ａコンバータ
２０  ＡＰＣ回路                    ２１  リードパワー信号発生回路
２２  スイッチ                      ２３  Ｄ／Ａコンバータ
２４  ＡＣＣ回路                    ２５  サンプルホールド回路
２６  Ｄ／Ａコンバータ              ２７  ＡＰＣ回路
２８  スイッチ                      ２９  ライトパワー信号発生回路
３０  スイッチ                      ３１  積分回路
３２  Ａ／Ｄコンバータ              ３３  アッテネータ
３４  増幅器                        ３５  スイッチ
４０  光ディスク装置
３００  ストラテジーテーブル
４００  基準セット情報テーブル
５００  ＡＴＴ設定値格納テーブル
９０  レーザーダイオード            ９１  ＬＤドライバー
９２  リードパワー信号発生回路      ９３  スイッチ
９４  ライトパワー信号発生回路      ９５  スイッチ
９６  システムコントローラ          ９７  アッテネータ
９８  増幅器                        ９９  スイッチ
１００  フロントモニタダイオード
１０１  ＡＰＣ回路
１０２  ＡＰＣ回路
８００  線形補完式
８１０  線形補完式
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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