(57)【要約】【課題】  粒度分布の幅の狭く、かつ粒径を任意に制御できる、基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子を主体とする亜酸化銅粉末及び、その製造方法を提供すること。【解決手段】  銅塩含有溶液にアルカリ溶液を加え、濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）０．３モル／ｌ〜１．８モル／ｌのスラリーを調製し、その後、該スラリーに還元糖を添加時間７０分〜４８０分の条件で添加、攪拌し、立方体形状の亜酸化銅粒子を生成させる。この方法で得られる立方体形状の亜酸化銅粒子は、粒度分布の幅の狭く、かつ任意の粒径として得られる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
角欠け立方体状の亜酸化銅粒子により構成される亜酸化銅粉末であって、当該角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一片の長さに対する角欠け部の長さの比が、０．３〜０．８であることを特徴とする亜酸化銅粉末。
【請求項２】
前記角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を構成する亜酸化銅粒子の一次粒子の平均粒径が、２μｍ〜１５μｍであることを特徴とする請求項１に記載の亜酸化銅粉末。
【請求項３】
レーザー回折散乱分析法により得られるＤ５０が、２μｍ〜１５μｍであることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の亜酸化銅粉末。
【請求項４】
レーザー回折散乱分析法により得られる粒度比Ｄ９０／Ｄ１０が、１．４〜２．５であることを特徴とする請求項１〜請求項３に記載の亜酸化銅粉末。
【請求項５】
タップ充填密度：１．７ｇ／ｃｍ３〜２．５ｇ／ｃｍ３であることを特徴とする請求項１〜請求項４に記載の亜酸化銅粉末。
【請求項６】
請求項１〜請求項５のいずれかに記載の角欠け立方体状の亜酸化銅粒子を６０％〜１００％(体積％)含有することを特徴とする亜酸化銅粉末。
【請求項７】
銅塩含有溶液にアルカリ溶液を加え、濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）０．３モル／ｌ〜１．８モル／ｌのスラリーを調製し、その後、該スラリーに還元糖を添加時間７０分〜４８０分の条件で添加し撹拌することを特徴とする角欠け立方体状の亜酸化銅粒子を含む亜酸化銅粉末の製造方法。
【請求項８】
上記アルカリ溶液の添加量が上記スラリー中の銅元素に対して１．４当量〜１．６当量であり、上記還元糖の添加、攪拌時の液温が４０℃〜８０℃であることを特徴とする請求項７に記載の角欠け立方体状の亜酸化銅粒子を含む亜酸化銅粉末の製造方法。
【請求項９】
上記還元糖がグルコース水溶液であって、グルコース濃度が０．１モル／ｌ〜５モル／ｌであり、グルコース添加量は上記スラリー中の銅元素１モルに対してグルコース０．２モル〜２モルであることを特徴とする請求項７又は請求項８に記載の角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の製造方法。
【請求項１０】
上記銅塩含有溶液は、硫酸銅であることを特徴とする請求項７〜請求項９のいずれかに記載の亜酸化銅粉末の製造方法。
【請求項１１】
上記アルカリ溶液が水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液、水酸化リチウム溶液、炭酸カリウム溶液又はこれらの混合溶液であることを特徴とする請求項７〜請求項１０のいずれかに記載の角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、亜酸化銅粉末及びその製造方法に関し、詳しくは角部に切り欠き部を有する基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子を主体とし、セラミック電子回路用基板の配線材料、セラミックコンデンサの外部電極、若しくは半導体デバイス等の電子材料、防汚塗料等の塗料原料を始めとする種々の用途に適用可能な亜酸化銅粉末の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
亜酸化銅粉末は、防汚塗料の原料、電子材料、毒剤、触媒、着色剤等の用途に用いられている化合物粉末である。特に、今後、船舶等の海洋構造物に付着するイガイ、フジツボ等の海生物に対する防汚塗料の原料、あるいはセラミック電子回路用基板の配線材料や積層セラミックコンデンサの外部電極用導電ペースト用材料に期待される。さらには亜酸化銅はＰ型半導体の物性を有することから、亜酸化銅粉末は、整流器や太陽電池用材料としての用途がある。そのため、従来から亜酸化銅粉末についての多くの研究・開発・製造が行われてきた。
【０００３】
例えば、当該研究の一つとして亜酸化銅粉末を構成する亜酸化銅粒子が立方体形状であることを開示した研究例が非特許文献１に開示されている。
【０００４】
ところで、立方体は極めてシンプルな六面体である。すなわちすべて辺の長さが等しく、かつ、すべての面の頂角が直角である正六面体である。よって、立方体形状の構造体であって同じ大きさのものは互いに隣接させ２次元的に整列させることにより、都度一つ一つの立方体の面方向を決めることなく容易に平面的構造体を作製することができる。また、上記構造体は互いに隣接させて３次元的に整列させることにより、同様に、都度一つ一つ面方向を決めることなく容易に立体的構造体を作成することができる。以上のことは亜酸化銅粒子のようなミクロンオーダーの立方体形状の粒子についても例外ではない。
【０００５】
さらに、立方体形状構造（頂角がすべて直角である正六面体形状）は辺の長さだけが決まれば一義的にその構造が決定する。しかし、非特許文献１には一定の粒径を持つ立方体形状の亜酸化銅粒子の簡単な製造条件についての開示はあるが（ＴＡＢＬＥ  Ｉ）、立方体形状の亜酸化銅粒子の個々の立方体の一辺の長さを制御する具体的な方法は開示されていない。
【０００６】
よって、例えば、このような特殊な立方体形状の一定の粒径を持つ亜酸化銅粒子から構成される亜酸化銅粉末を用いて、上記のように適宜平面的あるいは立体的にいくつかの立方体形状の亜酸化銅粒子を整列させ電子デバイスを形成すれば簡易に板状化又はブロック化することができる利点がある。例えばこのようにブロック化された焼成体にあってはキャビティ発生が防止され、内部応力の均一化が図り易くなりクラック等が発生の確率が低下できる。またナノテクノロジーの分野においては、立方体形状の亜酸化銅粒子１個でさえ有用な電子デバイス材料となり得る。
【０００７】
よって、今後、亜酸化銅粉末の用途の拡大、有効利用を考慮すると、上記既知の形状の粒子からなる亜酸化銅粉末に代えて、新たな形状・大きさの粒子からなる亜酸化銅粉末の開発が期待されている。
【０００８】
一方、亜酸化銅粉末の製造方法としては、種々の方法が提案されている。例えば湿式法としては、(１)塩酸含有塩化銅溶液を出発原料とし、金属銅等を溶解することにより塩化第二銅を塩化第一銅に還元し、得られた溶液をアルカリ溶液と反応させて亜酸化銅とする方法(特許文献１及び２)、（２）塩素イオン含有溶液中で、陽極を金属銅として電解する方法、(３)溶液中の銅イオンをヒドラジン等の還元剤で還元する方法等が用いられている。
【０００９】
また、上記(１)又は(２)に示される湿式の製造方法では、常に塩素イオンの存在を伴うため、そして、上記（３）に示される湿式の製造方法では、塩素イオンの存在を伴うことがあるため、得られる亜酸化銅粉末を電子材料の用途に用いることは使用時の信頼性が低くなる傾向にある。
【００１０】
そこで、上述したような様々な電子機器の小型化に伴う電子デバイスのマイクロ化に対応すべく、電子材料用途としての立方体形状の亜酸化銅粒子にも様々な大きさを製造する微細化技術であって、塩素フリーな亜酸化銅粒子を得るための製造技術が要請される。
【００１１】
【非特許文献１】ＪＯＵＲＮＡＬ  ＯＦ  ＣＯＬＬＯＩＤ  ＡＮＤ  ＩＮＴＥＲＦＡＣＥ  ＳＣＩＥＮＣＥ，４４（１），１９７３，ｐｐ．９５−１０６，（ｂｙ  Ｐ．ＭｃＦＡＤＹＥＮ  ａｎｄ  Ｅ．ＭＡＴＩＪＥＶＩＣ）
【特許文献１】特開平２００３−１６５７２４号公報
【特許文献２】特開平２００３−１６５７２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
従って、本発明の目的は、粒度分布の幅が狭く、かつ粒径が任意に制御された、基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子を主体とする、塩素フリーな亜酸化銅粉末及びその製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明者らは、検討の結果、銅塩含有溶液にアルカリ溶液を加え一定濃度のスラリーを調製し、その後、該スラリーに還元糖を特定条件で添加し、攪拌することによって、従来にない亜酸化銅粉末が得られ、上記目的が達成し得ることを知見した。
【００１４】
＜亜酸化銅粒子及び亜酸化銅粉末＞
以下に、まず本発明の特異な形状について述べ、さらに、本件発明に係る亜酸化銅粒子及び亜酸化銅粉末に関して述べることとする。
【００１５】
本件発明は、基本的に正六面体形状であり、その正六面体形状の８つの角部のそれぞれに切り欠き部を有する形状を備えることを特徴としている。以下、本発明に係る製造方法で得られる亜酸化銅粒子を、「角欠け立方体状の亜酸化銅粒子」と称し、この角欠け立方体状の亜酸化銅粒子で構成する粉末を「角欠け立方体状の亜酸化銅粉末」と称する。
【００１６】
この本件発明に係る角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）写真を図１〜図４に示した。ここで図１及び図２、図３及び図４は同一の角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を、倍率を変えて観察したものである。なお、図１及び図３の低倍率ＳＥＭ像は倍率２０００倍、図２及び図４の高倍率ＳＥＭ像は倍率５０００倍である。ここで、図１〜図４を示したのは、本件発明で言う角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の形態の幅を明示するためであり、この図１〜図４から把握できる形態が含まれるのである。
【００１７】
まず、本件発明に係る亜酸化銅粉末は、上記完全立方体と見立てた場合の角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一片の長さに対する角欠け部の長さの比が０．３〜０．８である上記亜酸化銅粉末を提供するものである。本件発明で言う角欠け立方体状の亜酸化銅粒子は、図１〜図４に示されるように、基本的に正六面体形状である。従って、その形態を特定する方法として、図５に示したように正六面体形状と捉えたときの一辺の長さ（Ｌ）を基準として、角欠けを形成する長さ（ｄ１，ｄ２）を測定し、（ｄ１＋ｄ２）／Ｌとして算出した値である。この値が０．３未満であれば、特に角欠け立方体状の亜酸化銅粉末と捉える必要はなく、完全立方体亜酸化銅粉末の工程変動等により発生する形態と捉えればよいのである。一方、この値が０．８を超えると、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末と捉えるよりも、正八面体で構成される紡錘状亜酸化銅粉末に近いものと捉えるのが自然と言えるのである。
【００１８】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末は、上記亜酸化銅粉末を構成する角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一次粒子の平均粒径が２μｍ〜１５μｍである亜酸化銅粉末を提供するものである。この立方体形状亜酸化銅粒子の粒径は、１５μｍ以下の粒径であれば電子材料分野での使用が十分に可能であり、さらに粒径が２μｍ〜１０μｍの範囲となるよう、後述する製造方法の製造条件を変更することで任意に作り込みが可能である。この粒径は走査電子型顕微鏡による観察像から、目視により測定した数値である。そして、粒径とは、角欠け立方体状の亜酸化銅粒子を走査型電子顕微鏡で観察したときの立方体の互いに平行な面間の距離である。言い換えれば、粒径とは、角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の形状を完全立方体とみなしたときの一辺の長さである。
【００１９】
このように粒径が上記の範囲となるような、比較的大きいサイズの立方体形状亜酸化銅粉によれば、導電性ペーストとしてペースト化した場合の低粘度化を図ることができる、経時安定性が高くなる、表面積が小さくなる、粉体の分散性が高くなる等の利点をもたらす。
【００２０】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末は、上記の亜酸化銅粉末として、以下に示す粉体特性を備えるものを提供するものである。ここでこのように粉体特性を明示したのは、本件発明に係る亜酸化銅粉末が、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末であるが故に、従来の亜酸化銅粉末では得られなかった効果を発揮する可能性を持ち、更には電子材料用途として十分に使用可能なレベルにある粉体特性を備えることを明らかにするためである。
【００２１】
タップ充填密度（ｇ／ｃｍ３）は、１．７ｇ／ｃｍ３〜２．５ｇ／ｃｍ３の範囲とすることが可能である。タップ充填密度が１．７ｇ／ｃｍ３ 未満の場合には、積層セラミックコンデンサの外部電極形成等に用いたときの膜密度が低くなり、電気抵抗の上昇を招くため好ましくない。一方、本件発明に係る角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の粒径は、上述したように２μｍ〜１５μｍの範囲にある等の条件に依存し、タップ充填密度が、２．５ｇ／ｃｍ３を超えると、例えば、セラミック電子基板の焼成時にバインダーのガスの抜けが悪くなる。
【００２２】
レーザー回折式粒度分布測定法により得られる平均体積粒径であるＤ５０は、２μｍ〜１５μｍである。このＤ５０の値と、上述のＳＥＭ観察像から把握できる一次粒子の平均粒径（２μｍ〜１５μｍ）とを対比しても、大きな差が発生していないことが分かるのである。即ち、レーザー回折式粒度分布測定法は、粒子の凝集状態が存在すれば、その凝集状態が反映され、一次粒子径よりも大きな値となる傾向にある。しかしながら、ＳＥＭ観察像で分かる一次粒子の平均粒径とＤ５０との差があまり無いと言うことは、凝集の少ない粒子分散性に優れた粉末であることの裏付けとなる。
【００２３】
レーザー回折式粒度分布測定法により得られる体積粒径であるＤ９０／Ｄ１０は、１．４〜２．５である。このＤ９０／Ｄ１０は、体積累積９０％の粒径と体積累積１０％の粒径との比であり、この値が小さな程、粒度分布が狭くシャープであることを意味する。従って、本件発明に係る製造方法で得られる角欠け立方体状の亜酸化銅粉末のＤ９０／Ｄ１０の値は２．５以下となり、十分にシャープな粒度分布を持つ粉末であることが理解できる。しかしながら、Ｄ９０／Ｄ１０の値が、１．４未満となることは殆ど無いのである。
【００２４】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末は、角部に切り欠き部を有する基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子を６０〜１００％(体積％、以下同様)含有する上記亜酸化銅粉末を提供するものであるとした。この意味するところは、上述の製造方法をもって本件発明に係る角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を製造すると、殆どの粉粒形状を本件発明に係る角欠け立方体状の亜酸化銅粉末とすることが可能である。しかしながら、製造プロセス内の工程変動等が発生するのは常であり、係る場合には角部に切り欠き部を有する基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子以外に極めて微粒の粒子が生成する場合もある。その場合に走査型電子顕微鏡の一視野の中で観察すると微粒の粒子は数多く観察され、本件に係る角部に切り欠き部を有する基本的に立方体形状の亜酸化銅粒子は大きな粒子として観察され一視野中の個数は極めて少なく観察される場合がある。かかる場合を想定し、個数％ではなく体積％で考えれば、経験的に６０％（体積％）以上の粉粒が角欠け立方体状であれば、本件発明に言う角欠け立方体状の亜酸化銅粉末と捉えても支障がないと考える。なお、ここで言う体積％とは、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を、走査型電子顕微鏡を用いて倍率２０００倍で観察した視野内において確認できる粉粒の体積の総和を１００％とし、そこに含まれる角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の体積の占める割合として算出した。
【００２５】
＜亜酸化銅粉末の製造方法＞
本発明者らは、検討の結果、銅塩含有溶液にアルカリ溶液を加え、濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）０．３モル／ｌ〜１．８モル／ｌのスラリーを調製し、その後、該スラリーに還元糖を添加時間７０分〜４８０分の条件で添加し撹拌することを特徴とする亜酸化銅粉末を提供するものである。
【００２６】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末の製造方法は、上記アルカリ溶液の添加量が上記スラリー中の銅元素に対して１．４当量〜１．６当量であり、上記還元糖の添加、攪拌時の液温が４０℃〜８０℃、さらに好ましくは５０℃〜７０℃である上記角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の製造方法を提供するものである。
【００２７】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末の製造方法は、上記還元糖がグルコース水溶液であってグルコース濃度が０．１モル／ｌ〜５モル／ｌであって、グルコース添加量は上記スラリー中の銅元素１モルに対して、グルコース０．２モル〜２モルであることを特徴とする上記角欠け立方体形状の亜酸化銅粒子を含む亜酸化銅粉末の製造方法を提供するものである。
【００２８】
また、本件発明に係る亜酸化銅粉末の製造方法は、上記アルカリ溶液が水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液、水酸化リチウム溶液、炭酸カリウム溶液又はこれらの混合溶液である角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の製造方法を提供するものである。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の亜酸化銅粉末は、粒度分布の幅が狭く、かつ粒径が任意に制御されているので、特にマイクロオーダーが要求されるデバイスの電極等の電子材料に適用が可能である。また、亜酸化銅粒子の形状が基本的に立方体であることから、粒子を隣接させて整列し易い。そして整列後は焼成あるいは界面部のみ溶解すること等によりさらに大きなブロック化又は板状化が容易であるという特徴を有するから各種用途に適用可能である。また塩素フリーの亜酸化銅粉末であるため電子デバイス等に使用した場合に塩素による不具合が発生しない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明を実施するための最良形態について説明する（なお、本件出願において、単に「還元糖」とある場合には液体状のものばかりでなく固体状のものも含むものとする。）。本発明に係る亜酸化銅粉末の製造方法では、濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）０．３モル／ｌ〜１．８モル／ｌのスラリーを調製する。
【００３１】
ここに用いられるスラリーは、硫酸銅とアルカリ溶液とを反応させたものが通常用いられるが、特に制限はない。スラリーの濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）は、０．３モル／ｌ〜１．８モル／ｌ、好ましくは０．３モル／ｌ〜１．６モル／ｌであり、この範囲において製造安定性に最も優れ、得られる角欠け立方体状の亜酸化銅粉末の粉体特性が安定化しやすいのである。
【００３２】
また、アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液、水酸化リチウム溶液、炭酸カリウム溶液又はこれらの混合溶液が用いられる。このアルカリ溶液の添加量は、上記スラリー中の銅元素に対して１．４当量〜１．６当量であることが望ましく、この量範囲をはずれると、得られる粒子形状が角欠け立方体状を維持することが困難となる。
【００３３】
好ましくは、銅塩含有溶液にアルカリ溶液を添加して所定濃度のスラリーを調製する際に熟成処理を行うことである。熟成処理とは、銅塩含有溶液とアルカリ溶液とを馴染ませ、スラリー性状を安定化させる作業のことであり、銅塩含有溶液にアルカリ溶液添加後撹拌を加えつつ、ある一定時間以上保持するのである。このときの熟成時間は１０分〜９０分が適当である。
【００３４】
このようにして調製されたスラリーに還元糖を特定条件下で添加、攪拌し、亜酸化銅粒子として生成させ、その後、濾過、洗浄、乾燥して亜酸化銅粉末を得る。
【００３５】
還元糖としては、グルコース、キシロース、ガラクトース、フルクトース、マルトース、ラクトース等の各溶液及び、それらの固体が挙げられるが、好ましくはグルコース水溶液であり、その濃度は０．１モル／ｌ〜５モル／ｌが望ましい。このときのトータル還元糖量はスラリー中の銅元素含有量から自ずと定まるものである。しかしながら、グルコース水溶液の濃度が０．１モル／ｌ未満の場合には、反応が遅くなり、添加溶液量が増加することで排水負荷が大きくなり工業的観点から好ましくない。一方、グルコース水溶液の濃度が５モル／ｌを超えると、還元反応が局所的に起こるようになり、シャープな粒度分布を持つ角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を製造することが困難となる。
【００３６】
なお、本件発明において、グルコース添加量を上記スラリー中の銅元素１モルに対して、０．２モル〜２モルが好適であるとしている。グルコース添加量を上記スラリー中の銅元素１モルに対して０．２モル未満では亜酸化銅粒子が生成しづらく、一方、グルコース添加量を上記スラリー中の銅元素１モルに対して２モル以上では銅金属粒子の析出があり得るため好ましくないためである。
【００３７】
上記還元糖の添加、攪拌条件は、添加時間７０〜４８０分、攪拌速度は１００ｒｐｍ〜７００ｒｐｍ、望ましくは、４００ｒｐｍ〜６００ｒｐｍである。この添加、攪拌条件は、還元速度を決める重要な要素であり、上述した添加条件及び撹拌速度の範囲で、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末が効率よく得られるのであり、この範囲を外れると角欠け立方体状の亜酸化銅粉末が得られ難い。特に還元糖の添加時間と角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の粒径との間には、ある一定の相関関係が存在し、得られる粒子の粒径を制御することが可能となる。例えば、図６に示したような還元糖であるグルコースと平均ＳＥＭ粒径（一次粒子の平均粒径）との関係の如きものである。また、還元速度を決める重要な要素として、この際の液温は４０℃〜８０℃が好ましく用いられる。さらには液温５０℃〜７０℃が好ましい。液温が４０℃未満では、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を得るための適正な還元速度が確保できず、収率が著しく低下するのである。一方、液温が８０℃を超えると、反応が速くなり過ぎて添加時間及び撹拌速度をいかに制御しても、角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を得るための適正な還元速度が得られないのである。
【００３８】
このようにして得られた角欠け立方体状の亜酸化銅粉末を６０％〜１００％(体積％)含む亜酸化銅粉末は、従来にない形状の粒子を主体とし、かつ塩素イオンを含有しないことから、セラミック電子回路用基板や積層セラミックコンデンサの外部電極等の電子材料を始めとして、整流器、太陽電池等の電子材料等の種々の用途に有効に適用可能である。
【００３９】
以下、本発明を実施例に基づき具体的に説明する。なお、実施例１〜実施例３におけるグルコース添加時間と平均粒径（ＳＥＭ）との関係は、図６に示したとおりである。実施例１〜実施例３は、スラリー濃度（酸化銅（ＣｕＯ）換算）を１．１モル／ｌとし、グルコースの添加時間を変えた場合の一次粒子の平均粒径を評価したものである。
【実施例１】
【００４０】
ステンレスビーカーに、硫酸銅・５水塩（ＣｕＳＯ４・５Ｈ２Ｏ）１６ｇと適量の蒸留水とを混合して３２ｍｌの溶液を得た。そして、この溶液に２４ｍｌの８モル／ｌ濃度の水酸化ナトリウム溶液を添加し、更に蒸留水を用いて液量調製しトータル量６０ｍｌのスラリー（酸化銅換算濃度１．１モル／ｌ）を調製し、６０分間熟成した。
【００４１】
調製されたスラリーに、２．５モル／ｌのグルコース水溶液１２．８ｍｌを添加時間２４０分、攪拌速度５００ｒｐｍの条件で添加、攪拌し、亜酸化銅粒子を生成させた。その際の液温は６０℃とした。
【００４２】
得られた亜酸化銅粒子を濾別、洗浄し、乾燥して亜酸化銅粉末を得た。この亜酸化銅粉末は、図１及び２に示されるように、すべて角欠け立方体状の亜酸化銅粒子からなるものであった。
【００４３】
以上のようにして得られた角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一次粒子の平均粒径は、５．８μｍであった。また、亜酸化銅粉末としての粉体特性は、タップ充填密度が、２．１ｇ／ｃｍ３、Ｄ５０が、６．０μｍ、Ｄ９０／Ｄ１０が、１．５、（ｄ１＋ｄ２）／Ｌ＝０．４５であった。
【実施例２】
【００４４】
グルコース水溶液の添加時間を１２０分とした以外は、実施例１と同様な方法により、亜酸化銅粉末を得た。この亜酸化銅粉末は、実施例１と同様に、すべて角欠け立方体状の亜酸化銅粒子からなるものであった。
【００４５】
以上のようにして得られた角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一次粒子の平均粒径は、５．１μｍであった。また、亜酸化銅粉末としての粉体特性は、タップ充填密度が、２．４ｇ／ｃｍ３、Ｄ５０が、５．３μｍ、Ｄ９０／Ｄ１０が、１．６、（ｄ１＋ｄ２）／Ｌ＝０．７１であった。
【実施例３】
【００４６】
グルコース水溶液の添加時間を４８０分とした以外は、実施例１と同様な方法により、亜酸化銅粉末を得た。この亜酸化銅粉末は、実施例１と同様に、すべて角欠け立方体状の亜酸化銅粒子からなるものであった。
【００４７】
以上のようにして得られた角欠け立方体状の亜酸化銅粒子の一次粒子の平均粒径は、７．８μｍであった。また、亜酸化銅粉末としての粉体特性は、タップ充填密度が、１．８ｇ／ｃｍ３、Ｄ５０が、７．９μｍ、Ｄ９０／Ｄ１０が、１．６、（ｄ１＋ｄ２）／Ｌ＝０．６６であった。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明の製造方法により得られた亜酸化銅粉末は、セラミック電子回路用基板の配線材料や積層セラミックコンデンサの外部電極、整流器及び太陽電池用半導体を例とする電子材料、防汚塗料の原料等、種々の分野に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】図１は、本発明の製造方法により得られた亜酸化銅粉末の一例を示す走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）写真(×２０００)である。
【図２】図２は、本発明の製造方法により得られた亜酸化銅粉末の一例を示す走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）写真(×５０００)である。
【図３】図３は、本発明の製造方法により得られた亜酸化銅粉末の他の例を示す走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）写真(×２０００)である。
【図４】図４は、本発明の製造方法により得られた亜酸化銅粉末の他の例を示す走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）写真(×５０００)である。
【図５】図５は、亜酸化銅粒子の一片の長さと角欠け部の長さとの関係を説明するための一個の粒子を斜め方向から見た模式図である。
【図６】図６は、実施例１〜３におけるグルコース添加時間と平均粒径（ＳＥＭ）との関係を示すグラフである。
【図５】
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【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図６】
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