(57)【要約】【課題】  ガイドロールに転写されたマーキングインクの光学フィルムへの再転写を十分に防止できる光学フィルムの検査方法を提供すること。【解決手段】  本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルム１をマーキングペン１７でマーキングした後、その光学フィルム１を、ロール１６Ｈでガイドする光学フィルム１の検査方法において、ロール１６Ｈに、ペン１７のインクを吸収可能なインク吸収部材２１が設けられている。この方法によれば、光学フィルム１にペン１７でマーキングした後、光学フィルム１がロール１６Ｈと接触するときに、マーキングインクが完全に乾燥していなくても、光学フィルム１の表面にマーキングされたマーキングインクがインク吸収部材２１で吸収される。このため、インク吸収部材２１のインク吸収部位が光学フィルム１の無欠陥部分と接触しても、マーキングインクの無欠陥部分への再転写が十分に防止される。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶フィルムを含む光学フィルムをマーキングペンでマーキングした後、そのマーキングされた光学フィルムを、ガイドロールによってガイドする光学フィルムの検査方法において、
前記ガイドロールに、前記マーキングペンのマーキングインクを吸収可能なインク吸収部材が設けられていることを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項２】
前記インク吸収部材が布であり、前記インク吸収部材が前記ガイドロールの延び方向を軸としてらせん状に巻かれていることを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶フィルムを含む光学フィルムの検査は、光学フィルムを２枚の偏光板で挟み、光源から発せられる光を偏光板、光学フィルム、偏光板に通す欠陥検査工程において、欠陥部分にマーキングペンでマーキングすることにより行われる。そして、マーキングされた光学フィルムは、ガイドロールによって移送される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、前述した従来の光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。
【０００４】
即ち、従来の光学フィルムの検査方法では、マーキングされた光学フィルムがガイドロールと接触するときに、光学フィルムにおけるマーキングインクがガイドロールに転写され、その転写されたマーキングインクが光学フィルムの欠陥が無い部分にまで再転写されるという問題が生じていた。この結果、欠陥が無い部分までもが欠陥として扱われることとなり、光学フィルムの歩留まりが低下することとなる。
【０００５】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、ガイドロールに転写されたマーキングインクの光学フィルムへの再転写を十分に防止できる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、以下の発明により、上記課題を解決し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００７】
即ち本発明は、液晶フィルムを含む光学フィルムをマーキングペンでマーキングした後、そのマーキングされた光学フィルムを、ガイドロールによってガイドする光学フィルムの検査方法において、前記ガイドロールに、前記マーキングペンのマーキングインクを吸収可能なインク吸収部材が設けられていることを特徴とする。
【０００８】
この検査方法によれば、光学フィルムにマーキングペンでマーキングした後、光学フィルムがガイドロールと接触するときに、マーキングインクが完全に乾燥していなくても、光学フィルムの表面にマーキングされたマーキングインクがインク吸収部材で吸収される。このため、インク吸収部材のインク吸収部位が光学フィルムの無欠陥部分と接触しても、マーキングインクの無欠陥部分への再転写が十分に防止される。
【０００９】
上記検査方法においては、前記インク吸収部材が布であり、前記インク吸収部材が前記ガイドロールの延び方向を軸としてらせん状に巻かれていることが好ましい。この場合、光学フィルムの表面における傷の発生を十分に防止することが可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の光学フィルムの検査方法によれば、ガイドロールに転写されたマーキングインクの光学フィルムへの再転写を十分に防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
まず本発明の検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。
【００１３】
図１に示すように、光学フィルム１は、液晶フィルム２を含む。液晶フィルム２としては、例えば厚さ方向に沿って配向軸がねじれるねじれ配向液晶フィルムを用いることができる。
【００１４】
光学フィルム１は、液晶フィルム２を含むものであればよく、従って、液晶フィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、液晶フィルム２を挟むオーバーコート層４及びアンダーコート層６のほか、液晶フィルム２、オーバーコート層４及びアンダーコート層６からなる積層体８と貼り合わせられるフィルム１０などがある。このようなフィルム１０としては、ＴＡＣ、ＰＥＴなどがあるが、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレンなども用いることができる。
【００１５】
一方、本発明の検査方法では、図１に示す剥離性フィルム付き光学フィルム１２から剥離性フィルム１４を剥離する。剥離性フィルム付き光学フィルム１２においては、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の運搬中、その表面を保護するために直接、またはアクリル樹脂等の接着剤１６を介して光学フィルム１に貼り合わせられている。剥離性フィルム１４としては一般にはＰＥＴが用いられるが、ＰＥＴのほか、例えばポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレン、トリアセチルセルロースなども用いることができる。
【００１６】
図２は、光学フィルム１が、剥離性フィルム１４を剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。
【００１７】
図２に示すように、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ａに巻かれてロール状となっており、剥離性フィルム付き光学フィルム１２は、ロール１６Ｂ、１６Ｃ、１６Ｄ、１６Ｅ、１６Ｆ、１６Ｇ、１６Ｈを経て繰り出され、ロール１６Ｄを通された後であってロール１６Ｅに到達する前に、剥離性フィルム１４を剥離される。このとき、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の引張り方向と所定角度をなす方向に引っ張ることにより剥離される。
【００１８】
ロール１６Ｄで剥離性フィルム１４を剥離されて露出された光学フィルム１は、例えばロール１６Ｅとロール１６Ｆとの間で検査される。具体的には、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶の欠陥が検査されることになる。
【００１９】
液晶の欠陥の検査は、例えば次のようにして行う。即ち図２に示すように、光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板１８ａを配置する。そして、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、偏光板１８ｂ越しに光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶欠陥を検査する。このとき、偏光板１８ｂは、偏光板１８ａ、光学フィルム１に対して、液晶フィルム２における液晶に欠陥がない場合に偏光板１８ｂを透過する光の強度が最小となるように配置する。すると、液晶に欠陥がある場合には、その欠陥部分が輝点として現れるので、これにより欠陥を検査することができる。このとき、欠陥が発見されたら、マーキングペン１７を使用してマーキングを行う。このとき、マーキングペン１７としては、液状インクを出すもの、例えばＯＨＰマーカーが用いられる。
【００２０】
その後、ロール（ガイドロール）１６Ｆ、１６Ｇ、１６Ｈによって、マーキングされた光学フィルム１をガイドする。これらロール１６Ｆ、１６Ｇ、１６Ｈのうちロール１６Ｈは、マーキングインクの付いたマーキング面と最初に接触するロールであり、図３に示すように、このロール１６Ｈには、ロール１６Ｈの延び方向２３を軸として、マーキングペンのマーキングインクを吸収可能な帯状のインク吸収部材２１がらせん状に巻かれている。ここで、インク吸収部材２１は、その縁部同士が重なり合うように巻かれている。このようなインク吸収部材２１としては、例えば布が挙げられ、無塵環境に対応できる布が望ましい。無塵環境に対応できる布としては、例えばクリーンルーム対応布、例えばカネボウのザヴィーナが挙げられる。
【００２１】
このように、マーキングインクの付いたマーキング面と最初に接触するロールであるロール１６Ｈにインク吸収部材２１がロール１６Ｈの延び方向２３を軸としてらせん状に巻かれることにより、光学フィルム１にマーキングペン１７でマーキングした後、光学フィルム１のマーキング面がロール１６Ｈと接触するときに（図４（ａ）参照）、マーキングインク１７ａが完全に乾燥していなくても、光学フィルム１の表面にマーキングされたマーキングインク１７ａがインク吸収部材２１で吸収される（図４（ｂ）参照）。このため、インク吸収部材２１のインク吸収部位が光学フィルム１の無欠陥部分と接触しても、マーキングインク１７ａの無欠陥部分への再転写が十分に防止される。この結果、無欠陥部分までもが欠陥として扱われることが少なくなり、光学フィルム１の歩留まり低下を十分に防止することができる。なお、図４（ｂ）において、符号１７ｂは、インク吸収部材２１に吸収されたマーキングインクを示すものである。
【００２２】
またインク吸収部材２１が布であり、インク吸収部材２１がロール１６Ｈの延び方向２３を軸としてらせん状に巻かれていることにより、光学フィルム１の表面における傷の発生を十分に防止することが可能となる。その結果、光学フィルム１の品質低下が十分に防止される。
【００２３】
なお、上記のようにロール１６Ｈにインク吸収部材２１を巻くことに加えて、マーキング後、光学フィルム１がロール１６Ｈと接触する前に、光学フィルム１においてマーキングインク１７ａの付いたマーキング面を加温することが好ましい。加温により、マーキングインク１７ａ中の溶剤の蒸発が促進され、マーキングインク１７ａの乾燥が促進される。このため、光学フィルム１からロール１６Ｈへのマーキングインク１７ａの転写が十分に防止され、ひいてはロール１６Ｈに転写されたマーキングインク１７ａの光学フィルム１における無欠陥部分への再転写がより十分に防止される。加温は、乾燥装置１９で行うことができ、乾燥装置１９としては、例えば遠赤外線ヒータ、ハロゲンヒータなどが用いられる。
【００２４】
もちろん、マーキング面を加温する代わりに、又は加温することに加えて、マーキング面に送風を供給してもよい。この場合も、送風の供給により、マーキングインク１７ａ中の溶剤の蒸発が促進され、マーキングインク１７ａの乾燥が促進される。このため、光学フィルム１からロール１６Ｈへのマーキングインク１７ａの転写が十分に防止され、ひいてはロール１６Ｈに転写されたマーキングインク１７ａの光学フィルム１における無欠陥部分への再転写がより十分に防止される。送風の供給は、例えばファンが挙げられる。
【００２５】
本発明は、前述した実施形態に限定されるものではない。例えば上記実施形態では、帯状のインク吸収部材２１がロール１６Ｈの延び方向２３を軸としてらせん状に巻かれている（スパイラル貼り）が、インク吸収部材２１は、図５に示すように、ロール１６Ｈの延び方向２３に対して直交するように巻かれてもよい。言い換えると、インク吸収部材２１は、ロール１６Ｈに対して平貼りされてもよい。
【００２６】
また、上記実施形態では、ロール１６Ｈにのみインク吸収部材２１が巻かれているが、ロール１６Ｈの後に、更にロールが存在する場合には、そのロールにもインク吸収部材２１を巻くことが好ましい。これにより、ロールから光学フィルム１へのマーキングインク１７ａの再転写の防止がより効果的に行われる。
【００２７】
また、上記実施形態では、ロール１６Ｈに付いたマーキングインク１７ａの光学フィルム１への再転写防止の観点からは、ロール１６Ｈの構成を以下のようにしても構わない。即ち、ロール１６Ｈの表面を粗くするようにしても構わない。この場合、ロール１６Ｈの表面粗さは、０．１〜１０．０Ｓとする。またロール１６Ｈは、例えば円柱状の中心部材と、その外周に沿って設けられる外層とで構成され、中心部材は鉄又はアルミニウムで構成され、外層は例えばハードクロムめっき層で構成される。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる剥離性フィルム付き光学フィルムの一例を示す概略側面図である。
【図２】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムが、剥離性フィルムを剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。
【図３】本発明の光学フィルムの検査方法に用いられるガイドロールの一例を示す斜視図である。
【図４】インク吸収部材によるマーキングインクの吸収前後の状態を示す側面図であり、（ａ）はマーキングインクの吸収前の状態、（ｂ）はマーキングインクの吸収後の状態を示す。
【図５】本発明の光学フィルムの検査方法に用いられるガイドロールの他の例を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００２９】
１…光学フィルム、２…液晶フィルム、１６Ｈ…ロール（ガイドロール）、２１…インク吸収部材、２３…ガイドロールの延び方向。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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