(57)【要約】【課題】  ＣＣＤイメージセンサの光電変換部に感度ばらつきがあっても、装置構造を複雑にすることなく高画質の画像を形成できるようにする。【解決手段】  ２枚の印画紙の端部を露光ヘッドの同じ部位を用いて同じ画像信号に基づいて露光し、複数枚のテストチャートを作製する（Ｓ１）。作製されたテストチャートをスキャナ上に配置し（Ｓ２）、ＣＣＤイメージセンサで撮像する（Ｓ３）。撮像によってＣＣＤイメージセンサから出力された画像信号に基づいてＣＣＤイメージセンサの領域間オフセット量を算出する（Ｓ４）。そして、ＣＣＤイメージセンサでの撮像によって得られた画像信号の信号レベルをオフセット量で調整した後（Ｓ６）、調整された画像信号を用いて印画紙を露光する（Ｓ７）。【選択図】図５
2005101831.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光電変換部が配列されており、画像を支持した媒体が撮像されると前記光電変換部における光電変換によって得られた画像信号を出力する撮像素子と、
主走査方向に延在したプリント部材を用いて媒体上に画像を形成する画像形成部と、
前記プリント部材の所定部位を用いて所定画像が形成された第１のテストチャート、及び、前記プリント部材の前記所定部位を用いて前記所定画像が形成された第２のテストチャートが作製されるように前記画像形成部を制御するテストチャート作製制御手段と、
前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像と前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像とが前記撮像素子の異なる領域によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号に基づいて、前記撮像素子の異なる前記領域間における信号レベルのオフセット量を算出するオフセット量算出手段と、
前記画像形成部によって形成されるべき画像を支持した媒体が前記撮像素子によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号の信号レベルを、撮像時における前記撮像素子に対する媒体の相対位置に応じた前記オフセット量によって調整する補正手段とを備えていることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記オフセット量算出手段は、前記撮像素子から出力された画像信号のうちの、前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値と、前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値との差分を前記オフセット量として求めることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記テストチャート作製制御手段は、前記所定画像内に濃淡レベルの異なる複数のブロックが形成されるように前記画像形成部を制御し、
前記オフセット量算出手段は、前記所定画像内に形成された濃淡レベルの異なる前記複数のブロックごとに前記オフセット量を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記画像形成部が、前記プリント部材からの光線によって媒体を露光することによって媒体上に潜像を形成することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記プリント部材は、個別に光量制御が可能な複数の発光部が主走査方向に配列されたライン露光ヘッドであることを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
媒体上に画像を形成する画像形成部に含まれており且つ主走査方向に延在したプリント部材の所定部位を用いて所定画像が形成された第１のテストチャート、及び、前記プリント部材の前記所定部位を用いて前記所定画像が形成された第２のテストチャートを作製するステップと、
前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像と前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像とが、複数の光電変換部が配列されており、画像を支持した媒体が撮像されると前記光電変換部における光電変換によって得られた画像信号を出力する撮像素子の異なる領域と撮像時に対向するように、前記撮像素子に対して前記第１及び第２のテストチャートを配置するステップと、
前記第１及び第２のテストチャートを前記撮像素子によって撮像するステップと、
前記撮像素子から出力された画像信号に基づいて、前記撮像素子の異なる前記領域間における信号レベルのオフセット量を算出するステップと、
前記画像形成部によって形成されるべき画像を支持した媒体が前記撮像素子によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号の信号レベルを、撮像時における前記撮像素子に対する媒体の相対位置に応じた前記オフセット量によって調整するステップとを備えていることを特徴とする画像形成方法。
【請求項７】
前記オフセット量を算出するステップにおいて、前記撮像素子から出力された画像信号のうちの、前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値と、前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値との差分を前記オフセット量として求めることを特徴とする請求項６に記載の画像形成方法。
【請求項８】
前記テストチャートを作製するステップにおいて、前記所定画像内に濃淡レベルの異なる複数のブロックを形成し、
前記オフセット量を算出するステップにおいて、前記所定画像内に形成された濃淡レベルの異なる前記複数のブロックごとに前記オフセット量を算出することを特徴とする請求項６又は７に記載の画像形成方法。
【請求項９】
前記画像形成部が、前記プリント部材からの光線によって媒体を露光することによって媒体上に潜像を形成することを特徴とする請求項６〜８のいずれか１項に記載の画像形成方法。
【請求項１０】
前記プリント部材は、個別に光量制御が可能な複数の発光部が主走査方向に配列されたライン露光ヘッドであることを特徴とする請求項９に記載の画像形成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子から出力された画像信号を用いて画像を形成する画像形成装置及び画像形成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、いわゆるデジタル露光方式を採用した写真処理装置が広く用いられるようになってきている。かかるデジタル露光方式では、デジタル画像信号に基づいて変調された光によって印画紙を露光することによって画像を形成することができる。ここで、デジタル露光方式を採用することによって、色補正や濃度補正、鮮鋭化処理などの各種画像処理を高い自由度で行うことができるようになるとともに迅速な焼き増し処理が可能になり、さらに、色及び濃度の再現性や解像度に優れた高画質のプリントを得ることが可能となる。
【０００３】
上述のようなデジタル露光方式の写真処理装置には、露光処理に用いられるデジタル画像信号を得るために、原稿に形成された画像を取り込み可能なフラットベッドスキャナを備えているものがある。このスキャナは、原稿を載置するためのコンタクトガラスを有する筐体内に、原稿に形成された画像を読み取るためのＣＣＤ（charge coupled device）イメージセンサなどの撮像素子を備えている。そして、コンタクトガラス上に載置された原稿が撮像素子によって撮像されると、撮像素子から画像信号が出力される。この画像信号に各種の画像処理を施したものがプリントデータとして、例えばＰＬＺＴ（ジルコン酸チタン酸ランタン鉛）光シャッターアレイなどの露光ヘッドに供給されることによって、露光された印画紙に所望の潜像が形成される。ＰＬＺＴ光シャッターアレイは、多数の光シャッターが主走査方向に配列されたものであって、各光シャッターは、個別に光量制御が可能な発光部として機能する。
【０００４】
ところが、撮像素子に含まれる多数の光電変換部（画素）の感度が不可避的にばらついているため、撮像素子から出力された画像信号は、必ずしも被撮像対象である原画像の特徴を正しく表したものとなっていない。その結果、光電変換部の感度ばらつきが何ら考慮されなければ、印画紙に形成される画像は光電変換部の感度ばらつきを反映した品質の悪いものとなる。かかる問題に対処するため、特許文献１では、均一濃度の基準画像を撮像することによって得られた画像信号を高周波成分と低周波成分とに分解し、高周波成分と低周波成分とにそれぞれ補正係数を設定し、これら補正係数を用いて、撮像素子によって得られた画像信号を補正するようにしている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−５１２１１号公報（図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
一方、光源の輝度ムラや光シャッター性能のばらつきなどのために露光ヘッドの各発光部から出射される光量が、主走査方向に沿ってばらつくことがある。この場合も、印画紙に形成される画像が光量ばらつきを反映した品質の悪いものとなる。これを是正するために、露光ヘッドによってテストチャート（ユニフォーミティチャート）を作製し、作製されたテストチャートにおける露光ヘッドの各発光部に対応した部分の濃度を検出し、検出された発光部間の濃度差に基づいて、露光ヘッドの各発光部から出射される光量のばらつきがなくなるように画像信号を補正するという光量調整手法が用いられることがある。テストチャートとは、主走査方向に沿って延在する均一濃度を有する領域と、主走査方向に沿って等間隔で目印が形成された領域とを含む画像がプリントされた用紙である。
【０００７】
しかしながら、上記のようなテストチャートを用いた光量調整が行われる場合であっても、テストチャートの濃度を検出する際に用いられる撮像素子における光電変換部に感度ばらつきがあると、印画紙に形成される画像が品質の悪いものとなる。このような事態を解消するために特許文献１に記載の技術を用いると、基準画像の画像信号を高周波成分と低周波成分とに分解するフィルタを要するために装置構造が複雑になり、しかも煩雑な手順が必要となるので、コスト面でも不利となる。
【０００８】
また、かかる問題は、撮像素子によって得られた画像信号を用いて画像を形成する装置であれば、露光ヘッドによって感光媒体を露光する装置だけでなく、インクを吐出して用紙を印刷する装置などにおいても同様に生じ得る。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、画像信号を得るための撮像素子における光電変換部に感度ばらつきがあっても、装置構造を複雑にすることなく高画質の画像を形成することが可能な画像形成装置を提供することである。
【００１０】
本発明の別の目的は、画像信号を得るための撮像素子における光電変換部に感度ばらつきがあっても、高画質の画像を比較的簡易な手順で形成することが可能な画像形成方法を提供することである。
【課題を解決するための手段及び発明の効果】
【００１１】
本発明の画像形成装置は、複数の光電変換部が配列されており、画像を支持した媒体が撮像されると前記光電変換部における光電変換によって得られた画像信号を出力する撮像素子と、主走査方向に延在したプリント部材を用いて媒体上に画像を形成する画像形成部と、前記プリント部材の所定部位を用いて所定画像が形成された第１のテストチャート、及び、前記プリント部材の前記所定部位を用いて前記所定画像が形成された第２のテストチャートが作製されるように前記画像形成部を制御するテストチャート作製制御手段と、前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像と前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像とが前記撮像素子の異なる領域によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号に基づいて、前記撮像素子の異なる前記領域間における信号レベルのオフセット量を算出するオフセット量算出手段と、前記画像形成部によって形成されるべき画像を支持した媒体が前記撮像素子によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号の信号レベルを、撮像時における前記撮像素子に対する媒体の相対位置に応じた前記オフセット量によって調整する補正手段とを備えている。
【００１２】
本発明の画像形成方法は、媒体上に画像を形成する画像形成部に含まれており且つ主走査方向に延在したプリント部材の所定部位を用いて所定画像が形成された第１のテストチャート、及び、前記プリント部材の前記所定部位を用いて前記所定画像が形成された第２のテストチャートを作製するステップと、前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像と前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像とが、複数の光電変換部が配列されており、画像を支持した媒体が撮像されると前記光電変換部における光電変換によって得られた画像信号を出力する撮像素子の異なる領域と撮像時に対向するように、前記撮像素子に対して前記第１及び第２のテストチャートを配置するステップと、前記第１及び第２のテストチャートを前記撮像素子によって撮像するステップと、前記撮像素子から出力された画像信号に基づいて、前記撮像素子の異なる前記領域間における信号レベルのオフセット量を算出するステップと、前記画像形成部によって形成されるべき画像を支持した媒体が前記撮像素子によって撮像されると、前記撮像素子から出力された画像信号の信号レベルを、撮像時における前記撮像素子に対する媒体の相対位置に応じた前記オフセット量によって調整するステップとを備えている。
【００１３】
この構成によると、撮像素子の異なる領域間について算出されたオフセット量によって画像信号の信号レベルが適宜補正されるので、撮像素子における光電変換部の感度ばらつきがあっても装置構造を複雑にすることなく、しかも簡易な手順で高画質の画像を形成することが可能である。
【００１４】
本発明において、前記撮像素子から出力された画像信号のうちの、前記第１のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値と、前記第２のテストチャートに形成された前記所定画像に対応する範囲における信号レベルの平均値との差分が前記オフセット量として求められてよい。これによると、高精度のオフセット量を簡易な演算で求めることができる。
【００１５】
本発明において、前記テストチャートが作製される際に、前記所定画像内に濃淡レベルの異なる複数のブロックを形成し、前記所定画像内に形成された濃淡レベルの異なる前記複数のブロックごとに前記オフセット量を算出してよい。これによると、濃淡レベルに応じた適切なオフセット量を用いて画像信号を補正することができるので、より高画質の画像を形成することが可能となる。
【００１６】
本発明において、前記画像形成部が、前記プリント部材からの光線によって媒体を露光することによって媒体上に潜像を形成してよい。
【００１７】
また、本発明において、前記プリント部材は、個別に光量制御が可能な複数の発光部が主走査方向に配列されたライン露光ヘッドであってよい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の好適な一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。図１は、本実施の形態に係る画像形成装置である写真処理装置の斜視図である。図１に示す写真処理装置１は、取り込まれた画像信号に各種の処理を行う画像処理部１０と、画像処理部１０からの画像信号に基づいて銀塩式感光媒体である印画紙６に画像をプリントするプリント処理部３０とを備えている。本実施の形態における写真処理装置１は、いわゆるデジタルミニラボ機として知られているものである。
【００１９】
画像処理部１０は、テーブル１４上に載置されたフィルムスキャナ１１と、サイドテーブル１８上に載置されたフラットベッドスキャナ２０とを含んでいる。フィルムスキャナ１１は、フィルム５の各コマに記録された画像をデジタル信号として取り込むために用いられる。フラットベッドスキャナ２０には、撮像素子としてのＣＣＤイメージセンサ２０ａ（図３参照）が内蔵されている。ＣＣＤイメージセンサ２０ａには、フラットベッドスキャナ２０の幅方向に沿って多数の光電変換部が配列されている。ＣＣＤイメージセンサ２０ａは、画像を撮像することによって、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３原色に色分解されたデジタル信号を出力することができる。
【００２０】
図２（ａ）及び図２（ｂ）に示すように、フラットベッドスキャナ２０の本体２１の上面には、透明板状のコンタクトガラス２２が配置されている。そして、コンタクトガラス２２上にはカバー２４が配置されている。カバー２４は、本体２１上面の一端部においてヒンジ２３を介して本体２１に取り付けられている。カバー２４はヒンジ２３を中心として回動可能となっており、ユーザの手動操作によって、コンタクトガラス２２を覆う閉じ姿勢と、開放する開放姿勢とを自在に取ることが可能である。ＣＣＤイメージセンサ２０ａは、本体２１内の可動部２５に支持されている。フラットベッドスキャナ２０によって画像信号を取り込む場合には、コンタクトガラス２２上に原稿２６を配置した後、カバー２４を閉じ姿勢とすることによってカバー２４とコンタクトガラス２２との間に原稿２６を挟み込む。ＣＣＤイメージセンサ２０ａは、可動部２５がその長手方向と直交する方向に水平移動するのに伴って、コンタクトガラス２２上に載置されたシート状の原稿２６に形成された画像をスキャニングしていく。
【００２１】
フィルムスキャナ１１及びフラットベッドスキャナ２０によって取り込まれた画像信号及びその他の情報は、モニタ１２に表示される。モニタ１２は、オペレータが各種の情報を入力するために使用する操作卓１３と共にテーブル１４上に配置されている。テーブル１４の下方には、画像処理部１０の動作を制御する制御装置１５が配置されている。
【００２２】
図３は、図１に示す写真処理装置の主要部のみが描かれたブロック図である。図３に示すように、制御装置１５は、各種演算を行うＣＰＵ８１と、ＣＣＤイメージセンサ２０ａから出力された画像信号などを記憶するＲＡＭ８２と、ＲＡＭ８２に記憶された画像信号に各種の画像処理を施す画像処理チップ８３と、各種データ及び画像処理に係るソフトウエアなどが格納されたハードディスク８４と、リムーバブル型の記憶媒体からデータを取り込むためのデータ取込部８５とを有している。後述するように、ＣＰＵ８１は、オフセット量算出部８１ａ及び補正部８１ｂとして機能する。データ取込部８５には、メモリカードやＭＯ、フロッピー（登録商標）ディスク等のリムーバブル型の記憶媒体を装着することが可能である。データ取込部８５又はフラットベッドスキャナ２０から取り込まれた画像信号は、画像処理チップ８３で処理された後にプリント部３０に供給される。
【００２３】
プリント部３０の筐体３１の上面には、２つの印画紙マガジン３２が載置されている。筐体３１内には、印画紙マガジン３２から引き出された印画紙６をプリントサイズに切断して搬送する搬送系４８（図３参照）と、プリントサイズに切断された印画紙６を画像信号に基づいて露光する露光部３３と、露光部３３で露光された印画紙６の現像処理を行う複数の現像処理槽を有する現像処理部３４と、プリント部３０の動作を制御する制御装置３９とが配置されている。搬送系４８には、搬送ローラ対やペーパーガイド、印画紙６を切断するカッター、搬送ローラ対を駆動するモータなどが含まれている。現像処理部３４で現像処理された印画紙６は、乾燥部３５で乾燥させられてから乾燥部３５外に排出される。乾燥部３５の下流側には、印画紙６を横送りするコンベア３６と、多数の印画紙６を複数のトレイ３８に区分けして支持するソータ３７とが設けられている。
【００２４】
図３に示すように、制御装置３９は、各種演算を行うＣＰＵ９１と、画像処理部１０から送信された画像信号などを記憶するＲＡＭ９２と、各種データ及びテストチャート作製や露光処理に係るソフトウエアなどが格納されたハードディスク９３とを有している。後述するように、ＣＰＵ９１は、テストチャート作製制御部９１ａとして機能する。
【００２５】
露光部３３は、図４に示すように、ハロゲンランプ４０と、ハロゲンランプ４０から出射された光を所望の色バランスに調整する調光フィルタ４１と、赤色、緑色、青色の各カラーフィルタを周方向に配列して図示しないモータにて回転駆動される回転フィルタ４２と、インテグレータ４３と、インテグレータ４３において集光された光を伝達する光ファイバー束４４と、光ファイバー束４４の先端に接続されたライン露光ヘッド４５とを有している。ライン露光ヘッド４５は、搬送系４８によって搬送される印画紙６の搬送経路に隣接して配置されている。ライン露光ヘッド４５の長手方向は、印画紙６の搬送方向と直交している。ライン露光ヘッド４５には、制御装置３９から画像信号が供給される。ライン露光ヘッド４５は、数百個程度のＰＬＺＴ光シャッター４６（図６参照）がライン状に並べられた光シャッターアレイであり、ＰＬＺＴ光シャッター４６が開いているときにだけ印画紙６が露光される。印画紙６の露光量は、各光シャッター４６の開放時間をプリントデータに応じて制御することによって調整可能となっている。
【００２６】
次に、フラットベッドスキャナ２０から取り込んだ画像をプリントする場合における画像形成の手順について、図５に示すフローチャートに従って説明する。
【００２７】
本実施の形態においてフラットベッドスキャナ２０から取り込んだ画像をプリントするには、予め、ライン露光ヘッド４５を用いてテストチャートを作製し（ステップＳ１）、作製されたテストチャートをフラットベッドスキャナ２０上に配置し（ステップＳ２）、配置されたテストチャートをフラットベッドスキャナ２０で撮像し（ステップＳ３）、さらに、撮像によって得られた画像信号からフラットベッドスキャナ２０内にあるＣＣＤイメージセンサ２０ａの領域間オフセット量を算出する（ステップＳ４）という４つの準備ステップを行っておくことが必要である。以下、これら４つの準備ステップについて順番に説明する。なお、これら４つの準備ステップは、フラットベッドスキャナ２０から取り込んだ画像をプリントする毎に行う必要はなく、例えば数日に１回程度行うだけであってもよい。
【００２８】
ステップＳ１では、テストチャート作製制御部９１ａがライン露光ヘッド４５及び搬送系４８を制御することによって、３枚のテストチャートが作製される。詳細には、図６に示すように、ライン露光ヘッド４５よりも短い３枚の印画紙６を、ライン露光ヘッド４５の全てのＰＬＺＴ光シャッター４６が少なくとも１枚の印画紙６と対向するように、搬送系４８によって互いの搬送経路をずらして異なるタイミングで順次搬送しつつ露光する。このとき、互いに離隔した２つの部位（以下、「部位Ｒ1」、「部位Ｒ2」と称する）内にあるＰＬＺＴ光シャッター４６は２枚の印画紙６と対向するが、部位Ｒ1、Ｒ2外にあるＰＬＺＴ光シャッター４６は１枚の印画紙６と対向するだけである。したがって、左端を搬送される印画紙６の右端近傍領域と中央を搬送される印画紙６の左端近傍領域とが、部位Ｒ1内にあるＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって露光され、右端を搬送される印画紙６の左端近傍領域と中央を搬送される印画紙６の右端近傍領域とが、部位Ｒ2内にあるＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって露光される。このとき、ライン露光ヘッド４５の各ＰＬＺＴ光シャッター４６は、どの印画紙６が搬送されるときであっても同じ画像信号に基づいて開閉制御される。したがって、隣り合う搬送経路を搬送された２枚の印画紙６の端部近傍領域には、ライン露光ヘッド４５において同じ部位Ｒ1又は部位Ｒ2内にあるＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって、同じ画像信号に基づいた潜像が形成される。すなわち、この部位Ｒ1、Ｒ2内においてＰＬＺＴ光シャッター４６を通過する光量にばらつきがあったとしても、隣り合う搬送経路を搬送された２枚の印画紙６の端部近傍領域には、実質的に同じ平均濃度で画像が形成されることになる。その後、現像工程などを経て、潜像が顕像化した３枚のテストチャート５１、５２、５３が作製される。
【００２９】
ここで、ステップＳ１で作製されるテストチャート５１〜５３について説明する。図７は、テストチャート５１の平面図である。テストチャート５１は、図７に示すように、長方形形状を有しており、その長手方向がライン露光ヘッド４５の長手方向と一致している。テストチャート５１には、長手方向に沿った切り取り線５５（はさみマークの入った破線）が形成されている。切り取り線５５は、オペレータがテストチャート５１を長手方向に沿って２つに切断するときの目印となる。テストチャート５１が切り取り線５５に沿って切断されると、テストチャート５１はチャート部５１ａと切り捨て部５１ｂとに分割される。チャート部５１ａはステップＳ２において用いられるが、切り捨て部５１ｂは破棄される。このようにテストチャート５１に切り取り線５５が表示されているために、オペレータによるハサミやカッターナイフを用いた切断作業にミスが生じにくくなり、しかも切断作業を短時間で行えるようになる。
【００３０】
チャート部５１ａは、トンボと称される３つの目印６１、６２、６３が等間隔でプリントされた位置情報表示ゾーン６０と、濃度レベルの異なる７つのブロック７１〜７７からなる光学情報表示ゾーン７０とを有している。ここで、位置情報表示ゾーン６０及び光学情報表示ゾーン７０はいずれもテストチャート５１の長手方向（図７では上下方向）に沿ってその全長にわたって形成された帯状の領域である。
【００３１】
位置情報表示ゾーン６０に形成された３つの目印６１〜６３は、長線と直交する短線数の違いによって識別される。位置情報表示ゾーン６０は、テストチャート５１の長手方向の位置を特定するために利用されるほか、テストチャート５１の傾きやテストチャート５１の向きの間違い（貼り付け方向の間違い）などを判別するために利用することもできる。
【００３２】
光学情報表示ゾーン７０に形成された各ブロック７１〜７７は、同じ幅を有している。本実施の形態では、ブロック７１が最も薄い濃度（図７では「白色」）を有しており、ブロック７７が最も濃い濃度（図７では「黒色」）を有している。そして、ブロック７１とブロック７７との間にあるブロック７２〜７６の濃度は、その順に薄い濃度から濃い濃度に次第に変化している。ブロック７１〜７７の濃度は、露光ヘッド４５のＰＬＺＴ光シャッター４６を通過する光量の大小に対応している。
【００３３】
テストチャート５２、５３は、テストチャート５１とほぼ同じ構成を有しており、いずれもチャート部５２ａ、５３ａ（図８参照）と切り捨て部（図示せず）とから構成されている。チャート部５２ａ、５３ａには、チャート部５１ａと同様に位置情報表示ゾーン６０及び光学情報表示ゾーン７０が形成されている。３つのチャート部５１ａ〜５３ａにおける光学情報表示ゾーン７０の構成は同じである。一方、チャート部５１ａの位置情報表示ゾーン６０にはそれぞれ１本〜３本の短線を有する３つの目印６１、６２、６３が形成されているのに対して、チャート部５２ａの位置情報表示ゾーン６０にはそれぞれ３本〜５本の短線を有する３つの目印６３、６４、６５が形成されており、チャート部５３ａの位置情報表示ゾーン６０にはそれぞれ５本〜７本のラインを有する３つの目印６５、６６、６７が形成されている。チャート部５２ａに形成された目印６３、６４、６５及びチャート部５３ａに形成された目印６５、６６、６７の長線は、それぞれ、チャート部５１ａに形成された目印６１、６２、６３の長線と同じ位置にある。
【００３４】
上述のようにしてテストチャート５１〜５３が作製されているために、チャート部５１ａに形成された目印６３とチャート部５２ａに形成された目印６３とは、同じ一又は複数のＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって形成されたものとなっている。同様に、チャート部５２ａに形成された目印６５とチャート部５３ａに形成された目印６５とは、同じ一又は複数のＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって形成されたものとなっている。
【００３５】
次に、ステップＳ２では、ステップＳ１で作製された３つのチャート部５１ａ〜５３ａをフラットベッドスキャナ２０上に配置する。このとき、図８に示すように、チャート部５１ａ〜５３ａと同じ幅の開口２８ａを３つ有するアダプタ２８を用い、３つのチャート部５１ａ〜５３ａを左から順番に開口２８ａにそれぞれ嵌め込む。このとき、各チャート部５１ａ〜５３ａの位置情報表示ゾーン６０が全て同じ方向（本実施の形態では、図８の左方向）を向くようにする。３つのチャート部５１ａ〜５３ａの長手方向の端部位置は、一致していてもよいし、互いに異なっていてもよい。このように３つのチャート部５１ａ〜５３ａが嵌め込まれたアダプタ２８を、コンタクトガラス２２上に載置する。このとき、チャート部５１ａ〜５３ａの長手方向と、ＣＣＤイメージセンサ２０ａの延在方向（主走査方向）とが直交するようにアダプタ２８を配向する。
【００３６】
引き続いて、ステップＳ３において、フラットベッドスキャナ２０を動作させると、本体２１内の可動部２５がチャート部５１ａ〜５３ａの長手方向と平行に移動しつつ３つのチャート部５１ａ〜５３ａの全域をスキャニングしていく。その結果、ＣＣＤイメージセンサ２０ａから３つのチャート部５１ａ〜５３ａに関する画像信号が出力され、それが制御装置１５内のＲＡＭ８２に格納される。その後、画像処理チップ８３によって、ＲＡＭ８２に格納された画像信号に補正処理などが施されることがある。
【００３７】
上述の説明から分かるように、チャート部５１ａの端部域Ａ（目印６３を含む）とチャート部５２ａの端部域Ｂ（目印６３を含む）とは共にライン露光ヘッド４５の部位Ｒ1内のＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって露光されたものであり、チャート部５２ａの端部域Ｃ（目印６５を含む）とチャート部５３ａの端部域Ｄ（目印６５を含む）とは共にライン露光ヘッド４５の部位Ｒ2内のＰＬＺＴ光シャッター４６を通過した光線によって露光されたものである。したがって、たとえ部位Ｒ1内においてＰＬＺＴ光シャッター４６を通過する光量にばらつきがあったとしても、端部域Ａ内の各ブロック７１〜７７の平均濃度は、端部域Ｂ内の各ブロック７１〜７７の平均濃度とそれぞれ同じになっている。同様に、端部域Ｃ内の各ブロック７１〜７７の平均濃度は、端部域Ｄ内の各ブロック７１〜７７の平均濃度とそれぞれ同じになっている。また、チャート部５１ａ〜５３ａの長手方向と、ＣＣＤイメージセンサ２０ａの延在方向（主走査方向）とが直交しているので、端部域Ａと端部域Ｂ、及び、端部域Ｃと端部域Ｄは、それぞれ、ＣＣＤイメージセンサ２０ａの異なる領域によって撮像される。
【００３８】
そのため、もしＣＣＤイメージセンサ２０ａの光電変換部に感度ばらつきがなければ、フラットベッドスキャナ２０での撮像によって得られた画像信号に基づいて算出された、端部域Ａの各ブロック７１〜７７の平均濃度と端部域Ｂの各ブロック７１〜７７の平均濃度とはそれぞれ同じになり、同様に、端部域Ｃの各ブロック７１〜７７の平均濃度と端部域Ｄの各ブロック７１〜７７の平均濃度とはそれぞれ同じになる。ところが、実際にはＣＣＤイメージセンサ２０ａの光電変換部に感度ばらつきがあるために、平均濃度にオフセット（ずれ）が生じる。
【００３９】
そこで、ステップＳ４では、オフセット量算出部８１ａによって、平均濃度のオフセット量を求める。図９は、ステップＳ４で行われるオフセット量算出ステップにおける詳細な手順を示したフローチャートである。
【００４０】
図９の各ステップについて説明する前に、ＣＣＤイメージセンサ２０ａにおける光電変換部の配列方向と露光ヘッド４５におけるシャッター配列方向との関係について説明する。図１０（ａ）及び図１０（ｂ）は、それぞれ、チャート部５１ａの端部域Ａ及びチャート部５２ａの端部域Ｂの光学情報表示ゾーン７０の模式的な平面図である。図１０（ａ）及び図１０（ｂ）において、端部域Ａ及び端部域Ｂの光学情報表示ゾーン７０を構成する７個のブロック７１〜７７を、「ブロックＺ1〜Ｚ7」として図示している。また、図１１は、端部域ＡのブロックＺ1における、ＰＬＺＴ光シャッター４６の配列方向と、ＣＣＤイメージセンサ２０ａの光電変換部の配列方向との関係を示す図である。図１１では、端部域ＡのブロックＺ1が実線で描かれており、フラットベッドスキャナ２０の主走査方向に配列された光電変換部が記号Ｙ1〜Ｙ9として示されており、露光ヘッド４５のＰＬＺＴ光シャッター４６が記号Ｘ1〜Ｘmで示されている。そして、印画紙６の搬送に伴った、光電変換部Ｙ1〜Ｙ9の軌跡が破線で、ＰＬＺＴ光シャッターＸ1〜Ｘmの軌跡が一点鎖線で描かれている。本実施の形態では、図１１から分かるように、ＰＬＺＴ光シャッター４６の配列方向と光電変換部の配列方向とが直交している。そのため、ｍ個のＰＬＺＴ光シャッターＸ1〜Ｘmを通過した光線で露光されることによって形成された端部域ＡのブロックＺ1内の画像は、９個の光電変換部Ｙ1〜Ｙ9によって読み取られる。なお、端部域ＡのブロックＺ2〜Ｚ7においても、シャッター配列方向と光電変換部の配列方向との関係は、端部域ＡのブロックＺ1の場合と同様である。
【００４１】
まず、図９のステップＳ１０１では、端部域ＡのブロックＺ1について、光シャッターＸ1の軌跡である細長領域と交差する９個の光電変換部Ｙ1〜Ｙ9で光電変換された画像信号の信号レベル（光量値）の平均値を求める。
【００４２】
図１２（ａ）は、端部域ＡのブロックＺ1を露光した光シャッターＸ1の軌跡を示している。図１２（ａ）に示す軌跡上には、この軌跡と交差する９個の光電変換部Ｙ1〜Ｙ9の記号が付されている。図１２（ｂ）には、端部域ＡのブロックＺ1のうち光シャッターＸ1を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルが、Ａ（Ｘ1，Ｙk，Ｚ1）（ｋは１以上９以下の自然数）として表されている。また、端部域ＡのブロックＺ1のうち光シャッターＸ1を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値が、Ａ（Ｘ1，Ｚ1）として表されている。平均値Ａ（Ｘ1，Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
Ａ（Ｘ1，Ｚ1）＝｛Ａ（Ｘ1，Ｙ1，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ1，Ｙ2，Ｚ1）
＋Ａ（Ｘ1，Ｙ3，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ1，Ｙ4，Ｚ1）
＋Ａ（Ｘ1，Ｙ5，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ1，Ｙ6，Ｚ1）
＋Ａ（Ｘ1，Ｙ7，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ1，Ｙ8，Ｚ1）
＋Ａ（Ｘ1，Ｙ9，Ｚ1）｝／９
＝（Ｓ1＋Ｓ2＋Ｓ3＋…＋Ｓ9）／９
＝Ｔ1
【００４３】
引き続き、ステップＳ１０２では、上述したのと同様の演算を行うことによって、端部域ＡのブロックＺ1のうち光シャッターＸ2、Ｘ3、…、Ｘmを通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値Ａ（Ｘ2，Ｚ1）、Ａ（Ｘ3，Ｚ1）、Ａ（Ｘ4，Ｚ1）、…、Ａ（Ｘm，Ｚ1）を求める。図１２（ｃ）には、端部域ＡのブロックＺ1のうち光シャッターＸi（ｉは１以上ｍ以下の自然数）を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値Ａ（Ｘi，Ｚ1）が示されている。
【００４４】
そして、ステップＳ１０３において、平均値Ａ（Ｘi，Ｚ1）についての平均値を求める。図１２（ｃ）では、平均値Ａ（Ｘi，Ｚ1）についての平均値が平均値Ａ（Ｚ1）として表されている。平均値Ａ（Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
Ａ（Ｚ1）＝｛Ａ（Ｘ1，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ2，Ｚ1）＋Ａ（Ｘ3，Ｚ1）
＋Ａ（Ｘ4，Ｚ1）＋  …  ＋Ａ（Ｘm，Ｚ1）｝／ｍ
＝（Ｔ1＋Ｔ2＋Ｔ3＋…＋Ｔm）／ｍ
＝Ｔave
【００４５】
ステップＳ１０４では、端部域ＢのブロックＺ1のうち光シャッターＸ1を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値を求める。図１３（ａ）は、端部域ＢのブロックＺ1を露光した光シャッターＸ1の軌跡を示している。図１３（ａ）に示す軌跡上には、この軌跡と交差する９個の光電変換部Ｙ1〜Ｙ9の記号が付されている。図１３（ｂ）には、端部域ＢのブロックＺ1のうち光シャッターＸ1を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルが、Ｂ（Ｘ1，Ｙk，Ｚ1）（ｋは１以上９以下の自然数）として表されている。また、端部域ＢのブロックＺ1のうち光シャッターＸ1を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値が、Ｂ（Ｘ1，Ｚ1）として表されている。平均値Ｂ（Ｘ1，Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
Ｂ（Ｘ1，Ｚ1）＝｛Ｂ（Ｘ1，Ｙ1，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ2，Ｚ1）
＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ3，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ4，Ｚ1）
＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ5，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ6，Ｚ1）
＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ7，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ8，Ｚ1）
＋Ｂ（Ｘ1，Ｙ9，Ｚ1）｝／９
＝（Ｕ1＋Ｕ2＋Ｕ３＋…＋Ｕ9）／９
＝Ｖ1
【００４６】
引き続き、ステップＳ１０５では、上述したのと同様の演算を行うことによって、端部域ＢのブロックＺ1のうち光シャッターＸ2、Ｘ3、…、Ｘmを通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値Ｂ（Ｘ2，Ｚ1）、Ｂ（Ｘ3，Ｚ1）、Ｂ（Ｘ4，Ｚ1）、…、Ｂ（Ｘm，Ｚ1）を求める。図１３（ｃ）には、端部域ＢのブロックＺ1のうち光シャッターＸi（ｉは１以上ｍ以下の自然数）を通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの平均値Ｂ（Ｘi，Ｚ1）が示されている。
【００４７】
そして、ステップＳ１０６において、平均値Ｂ（Ｘi，Ｚ1）についての平均値を求める。図１３（ｃ）では、平均値Ｂ（Ｘi，Ｚ1）についての平均値が平均値Ｂ（Ｚ1）として表されている。平均値Ｂ（Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
Ｂ（Ｚ1）＝｛Ｂ（Ｘ1，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ2，Ｚ1）＋Ｂ（Ｘ3，Ｚ1）
＋Ｂ（Ｘ4，Ｚ1）＋  …  ＋Ｂ（Ｘm，Ｚ1）｝／ｍ
＝（Ｖ1＋Ｖ2＋Ｖ3＋…＋Ｖm）／ｍ
＝Ｖave
【００４８】
次に、ステップＳ１０７において、平均値Ａ（Ｚ1）と平均値Ｂ（Ｚ1）との差分を算出することによって、これら平均値のオフセット量ＡＢ（Ｚ1）を求める。ブロックＺ1についてのオフセット量ＡＢ（Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
ＡＢ（Ｚ1）＝Ｔave−Ｖave＝Ｐ１
【００４９】
ここで、図１３（ｃ）に示す平均値Ｂ（Ｘi，Ｚ1）にオフセット量ＡＢ（Ｚ1）をそれぞれ加算すると（図１３（ｄ）参照）、端部域ＢのブロックＺ1のうち各光シャッターＸiを通過した光線で露光された部分を撮像した光電変換部Ｙ1〜Ｙ9に対応した画像信号の信号レベルの補正された平均値Ｂ’（Ｘi，Ｚ1）が得られる。平均値Ｂ’（Ｘi，Ｚ1）についての平均値Ｂ’（Ｚ1）は、以下の式に基づいて算出される。
Ｂ’（Ｚ1）＝｛Ｂ’（Ｘ1，Ｚ1）＋Ｂ’（Ｘ2，Ｚ1）＋Ｂ’（Ｘ3，Ｚ1）
＋Ｂ’（Ｘ4，Ｚ1）＋  …  ＋Ｂ’（Ｘm，Ｚ1）｝／ｍ
＝｛（Ｖ1＋Ｐ1）＋（Ｖ2＋Ｐ1）＋…＋（Ｖm＋Ｐ1）｝／ｍ
＝Ｖave’
平均値Ｂ’（Ｚ1）は、平均値Ａ（Ｚ1）に等しい。つまり、以下の式に示すような関係が成立する。
Ｂ’（Ｚ1）＝Ｖave’＝Ｔave＝Ａ（Ｚ1）
このような関係が成り立つために、オフセット量ＡＢ（Ｚ1）を用いて、以下のように任意の画像信号の信号レベルを補正することが可能となっている。
【００５０】
続いて、ステップＳ１０８では、上述したのと同様にして、各ブロックＺ2〜Ｚ7についてのオフセット量ＡＢ（Zj）（ｊは２以上７以下の自然数）を算出する。図１４には、ブロックＺ1〜Ｚ7についてのオフセット量ＡＢ（Ｚ1）〜ＡＢ（Ｚ7）が一覧表示されている。
【００５１】
次に、ステップＳ１０９において、オフセット量ＡＢ（Zj）を算出したのと同様にして、端部域Ｃ−端部域Ｄ間のオフセット量ＣＤ（Zj）を算出する。オフセット量ＣＤ（Zj）の算出手順は、オフセット量ＡＢ（Zj）の算出手順（ステップＳ１０１〜ステップＳ１０８）と同様であるので、説明を省略する。図１５（ａ）には、オフセット量ＣＤ（Zj）が一覧表示されている。
【００５２】
ステップＳ１１０では、端部域Ａ−端部域Ｄ間のオフセット量ＡＤ（Zj）を算出する。オフセット量ＡＤ（Zj）は、オフセット量ＡＢ（Zj）を算出したのと同じ手順を行うことによって求めてもいいし、オフセット量ＡＢ（Zj）とオフセット量ＣＤ（Zj）とを加算することによって算出してもよい。図１５（ｂ）には、オフセット量ＡＤ（Zj）が一覧表示されている。
【００５３】
以上説明したような４つの準備ステップを済ませた後、ステップＳ５では、写真処理装置１によってプリントしたい画像の記録された原稿がフラットベッドスキャナ２０で読みとられる。このときＣＣＤイメージセンサ２０ａから出力された画像信号は、制御装置１５内のＲＡＭ８２に格納される。なお、画像処理チップ８３によって、ＲＡＭ８２に格納された画像信号に補正処理などが施されることがある。また、一変形例として、４つの準備ステップを行う前にステップＳ５を実行してもよい。
【００５４】
続いて、ステップＳ６においては、補正部８１ｂが、ＲＡＭ８２に格納された画像信号の信号レベルをステップＳ３で得られたオフセット量によって調整する。このときオフセット量ＡＢ（Zj）、オフセット量ＣＤ（Zj）、オフセット量ＡＤ（Zj）のいずれが用いられるかは、ステップＳ５で原稿が配置された場所に依存する。本実施の形態においてはコンタクトガラス２２上においてチャート部５１ａと同じ場所が基準位置として扱われるため、原稿がチャート部５１ａと同じ場所に置かれたのであれば、画像信号に対してオフセット量による補正が行われない。原稿がチャート部５２ａと同じ場所に置かれたのであれば、画像信号にオフセット量ＡＢ（Zj）が加算される。原稿がチャート部５３ａと同じ場所に置かれたのであれば、画像信号にオフセット量ＡＤ（Zj）（または、オフセット量ＡＢ（Zj）とオフセット量ＣＤ（Zj）との両方）が加算される。このようにして補正された画像信号は、ＲＡＭ８２からプリント処理部３０に順次供給され、制御装置３９のＲＡＭ９２に格納される。なお、基準位置は、チャート部５２ａと同じ場所にしてもよいし、チャート部５３ａと同じ場所にしてもよい。
【００５５】
ステップＳ６における補正で用いられるオフセット量としては、７つのオフセット量ＡＢ（Zj）（または、オフセット量ＡＤ（Zj））のうちで、補正対象である画像信号の信号レベル（階調）に応じたものが用いられる。つまり、信号レベルの最も大きい領域の画像信号をオフセット量ＡＢ（Ｚ7）で補正し、信号レベルの最も小さい領域の画像信号をオフセット量ＡＢ（Ｚ1）で補正し、その間の信号レベルの画像信号を適宜オフセット量ＡＢ（Ｚ2）〜ＡＢ（Ｚ6）で補正する。このようにすることによって、より精度の高い補正が実現される。
【００５６】
そして、ステップＳ７では、ステップＳ５で補正されてプリント処理部３０のＲＡＭ９２に格納された画像信号が露光ヘッド４５に順次供給されつつ搬送系４８が駆動されることによって、補正された画像信号に基づいた光量で印画紙６が露光される。このようにして、画像信号を取り込むためのＣＣＤイメージセンサ２０ａの光電変換部の感度ばらつきが解消された潜像を、印画紙６に形成することができる。その後、現像処理などを経ることによって、印画紙６に形成された潜像が顕像化された写真プリントを得ることができる。
【００５７】
以上説明したように、本実施の形態によると、ＣＣＤイメージセンサ２０ａの異なる領域間について算出されたオフセット量によって画像信号の信号レベルが適宜調整されるので、ＣＣＤイメージセンサ２０ａにおける光電変換部の感度ばらつきがあっても装置構造を複雑にすることなく、しかも簡易な手順で高画質の画像を形成することが可能である。
【００５８】
また、本実施の形態では、２つの端部域間の各ブロックＺ1〜Ｚ7における平均の信号レベルの差分がオフセット量として求められるので、高精度のオフセット量を簡易な演算で求めることができる。しかも、オフセット量を濃淡レベルの異なるブロックＺ1〜Ｚ7ごとに求めることで、画像信号の濃淡レベルに応じた適切なオフセット量を用いて画像信号を補正することができるので、より高画質の画像を形成することが可能となる。
【００５９】
以上、本発明の好適な一実施の形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて様々な設計変更が可能なものである。例えば、上述の実施の形態では、テストチャート５１〜５３のチャート部５１ａ〜５３ａの光学情報表示ゾーン７０がいずれも同じ幅を有し且つ互いに異なる濃度を有する７つのライン状のブロック７１〜７７を含んでいる場合について説明しているが、光学情報表示ゾーンの構成は、露光ヘッドの光量補正を適正に行うことができる範囲で任意に変更することができる。したがって、光学情報表示ゾーンには、必ずしも７つのブロックが含まれていなくてもよく、ブロックの数は任意に変更することができる。よって、光学情報表示ゾーンがいずれかの濃淡レベル（例えばブロック７１〜７７の各濃度の平均値に対応する中間グレー色）を表す１つのブロックだけを有していてもよい。
【００６０】
また、光学情報表示ゾーン７０が、露光ヘッドの出力階調ごとの７つのブロック７１〜７７の他に、露光ヘッドによって印画紙を露光した場合の印画紙の不正発色量を求めるための別のブロックを含んでいてもよい。具体的には、テストチャートが、７つのブロック７１〜７７に隣接するように、例えばイエロー（黄色）、マゼンタ（赤紫）、シアン（青緑）のブロックを有しており、これらのブロックに対応する領域がスキャナで読み取られることによって得られる光量データに基づいて不正発色量を求めるようにしてもよい。
【００６１】
上述の実施の形態はプリント部材としてＰＬＺＴ光シャッターアレイを用いているが、プリント部材は、ＰＬＺＴ光シャッターアレイのようなライン露光ヘッドである必要はない。例えば露光光源としてレーザ光線を用いる場合、ポリゴンミラーよりも下流に置かれたｆθレンズがプリント部材に相当する。
【００６２】
本発明は、露光によって感光媒体に潜像を形成する装置以外に、インクを用紙に吐出することによって画像を形成するインクジェットプリンタなどの装置にも適用可能である。また、本発明において、作製されるテストチャートの枚数は２枚であってもよいし、４枚以上であってもよい。さらに、平均値以外のブロックの何らかの代表値を計算することに基づいてオフセット量を算出してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の一実施の形態に係る画像形成装置である写真処理装置の斜視図である。
【図２】図１に示す写真処理装置に含まれるフラットベッドスキャナのカバーを開いた状態及び閉じた状態における斜視図である。
【図３】図１に示す写真処理装置の主要部のみが描かれたブロック図である。
【図４】図１に示す写真処理装置に含まれる露光部の斜視図である。
【図５】フラットベッドスキャナから取り込んだ画像をプリントする場合における画像形成の手順を示すフローチャートである。
【図６】テストチャート作製時における露光ヘッドと３枚の印画紙との位置関係を描いた模式図である。
【図７】テストチャートの平面図である。
【図８】図７に示すテストチャートの一部であるチャート部をフラットベッドスキャナに載置する際に用いられるアダプタに設けられた開口に嵌め込んだ様子を描いた平面図である。
【図９】図５のステップＳ４で行われるオフセット量算出ステップにおける詳細な手順を示したフローチャートである。
【図１０】異なるチャート部の端部域に形成された光学情報表示ゾーンの模式的な平面図である。
【図１１】端部域ＡのブロックＺ1における、ＰＬＺＴ光シャッターの配列方向と、ＣＣＤイメージセンサの光電変換部の配列方向との関係を示す図である。
【図１２】端部域ＡのブロックＺ1における画像信号の信号レベルの平均値を算出する手順を説明するための図である。
【図１３】端部域ＢのブロックＺ1における画像信号の信号レベルの平均値を算出する手順を説明するための図である。
【図１４】ブロックＺ1〜Ｚ7についてのオフセット量ＡＢ（Ｚ1）〜ＡＢ（Ｚ7）を一覧表示した図である。
【図１５】ブロックＺ1〜Ｚ7についてのオフセット量ＣＤ（Ｚ1）〜ＣＤ（Ｚ7）、ＡＤ（Ｚ1）〜ＡＤ（Ｚ7）を一覧表示した図である。
【符号の説明】
【００６４】
２０  フラットベッドスキャナ
２０ａ  ＣＣＤイメージセンサ
２８    アダプタ
３３    露光部
４５    ライン露光ヘッド
４６    ＰＬＺＴ光シャッター
４８    搬送系
５１、５２、５３    テストチャート
５１ａ  チャート部
５１ｂ  切り捨て部
６０    位置情報表示ゾーン
６１、６２、６３  目印
７０    光学情報表示ゾーン
７１〜７７    ブロック
８１ａ  オフセット量算出部
８１ｂ  補正部
９１ａ  テストチャート作製制御部
【図１】
2005101831.tif 000003
【図２】
2005101831.tif 000004
【図３】
2005101831.tif 000005
【図４】
2005101831.tif 000006
【図５】
2005101831.tif 000007
【図６】
2005101831.tif 000008
【図７】
2005101831.tif 000009
【図８】
2005101831.tif 000010
【図９】
2005101831.tif 000011
【図１０】
2005101831.tif 000012
【図１１】
2005101831.tif 000013
【図１２】
2005101831.tif 000014
【図１３】
2005101831.tif 000015
【図１４】
2005101831.tif 000016
【図１５】
2005101831.tif 000017