(57)【要約】【課題】適正なＳ／ＮのＲＦ信号を得る。【解決手段】フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いてレーザー光量を検出する検出手段２６と、検出結果に基づいてレーザー光を発生するレーザーダイオードに供給される電流を調整する電流調整手段２８とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置において記録媒体に照射されるレーザー光のレーザー光量を制御するレーザー制御回路であって、
フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いて、前記レーザー光量を検出する検出手段と、検出結果に基づいて前記レーザー光を発生するレーザーダイオードに供給される電流を調整する電流調整手段とを備えるレーザー制御回路。
【請求項２】
請求項１記載のレーザー制御回路であって、
前記検出手段は、前記レーザー光量の過大状態を検出し、前記電流調整手段は、前記電流を漸減するレーザー制御回路。
【請求項３】
請求項１または２記載のレーザー制御回路であって、
前記検出手段は、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号を微分する微分回路と、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号を所定期間遅延する遅延回路と、前記微分回路と前記遅延回路の出力を加算する加算回路とを含むレーザー制御回路。
【請求項４】
請求項１または２記載のレーザー制御回路であって、
前記検出手段は、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を微分する微分回路と、前記微分回路の微分出力が一定期間ほぼ”０”であるときはレーザー光量が過大状態であると判断する判断部とを含むレーザー制御回路。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか一項記載のレーザー制御回路であって、
前記電流調整手段は、前記レーザーダイオードに供給される電流を決定するＰＮＰトランジスタと、前記レーザーダイオードからのレーザー光量に応じた電流を出力するホトトランジスタと、第１の入力部と第２の入力部に入力された入力電位の比較出力により前記ＰＮＰトランジスタの動作を制御する比較器と、
前記ホトトランジスタから出力される電流を電圧に変換して前記第１の入力部に入力する電流／電圧変換器とを含むレーザー制御回路。
【請求項６】
請求項５記載のレーザー制御回路であって、
前記電流／電圧変換器は、前記検出手段で前記レーザー光量の過大状態が検出されると、抵抗値を上げるように制御される可変抵抗器であるレーザー制御回路。
【請求項７】
請求項５記載のレーザー制御回路であって、
前記検出手段で前記レーザー光量の過大状態が検出されると、前記第２の入力部に入力される基準電圧を下げるように制御する制御手段を備えるレーザー制御回路。
【請求項８】
請求項１から７のいずれか一項記載のレーザー制御回路と、前記レーザー制御回路によって供給電流が制御されるレーザーダイオードとを備える光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスク装置において記録媒体に照射されるレーザー光のレーザー光量を制御するレーザー制御方法であって、
フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いて、前記レーザー光量が過大状態であるか否かを検出する検出ステップと、
検出結果に基づいて前記レーザー光を発生するレーザーダイオードに供給される電流を調整する電流調整ステップとを含むレーザー制御方法。
【請求項１０】
請求項９記載のレーザー制御方法であって、
前記検出ステップは、前記レーザー光量の過大状態を検出するステップを含み、前記電流調整ステップは、前記電流を漸減するステップを含むレーザー制御方法。
【請求項１１】
請求項９または１０記載のレーザー制御方法であって、
前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の傾きに基づいて、前記レーザーの光量の過大状態を検出するステップを含むレーザー制御方法。
【請求項１２】
請求項１１記載のレーザー制御方法であって、
前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号の微分出力と、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の遅延出力とを加算するステップを含むレーザー制御方法。
【請求項１３】
請求項１２記載のレーザー制御方法であって、
前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の微分出力が一定期間ほぼ”０”であるときはレーザー光量が過大であると判断するステップを含むレーザー制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク再生時におけるレーザー光量を最適に制御するレーザー制御回路、光ディスク装置およびレーザー制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光ディスク再生装置として、コンパクトディスク（ＣＤ）再生装置、ディジタルバーサタイルディスク（ＤＶＤ）再生装置、ミニディスク（ＭＤ）再生装置などがある。これらの各再生装置で利用されるＣＤ、ＤＶＤ、ＭＤなどの光ディスクは、図５に示すように、プラスチック透明基板１にピット２を持った反射層３を介してプラスチック保護層４を重ねたものからなる。この光ディスクでは、これにレーザー光５が照射されると、ピット２の有無によって反射光６の光量が変化する。図６はレーザー光量が一定の場合に、このピット２によって反射光６の光量がどのように変化するのかを示す説明図である。
【０００３】
また、光ディスク再生装置は、図７に示すように構成されている。この光ディスク再生装置は、ピックアップ７内にレーザー光を照射するレーザーダイオード８と、レーザー制御用ホトダイオード９と、二つのエラー信号用ホトダイオード１０、１１と、比較器１２、１３とを備えている。比較器１２には信号処理回路１４、１５が接続され、比較器１３には信号処理回路１６が接続されている。
【０００４】
一方、レーザーダイオード８はＰＮＰトランジスタ１７を介し電源に接続されている。前記レーザー制御用ホトダイオード９はＩＶ（電流／電圧）変換抵抗１８を介して接地されるとともに、比較器１９の政極端子（第１の入力部）に接続されている。比較器１９の負極端子（第２の入力部）には基準電位設定用の電池２０が接続されている。比較器１９の出力端子には、レーザーダイオード８駆動用のＰＮＰトランジスタ１７のベースが接続されている。
【０００５】
レーザーダイオード８はレーザー光をレーザー制御用ホトダイオード９に対して直接に、エラー信号用ホトダイオード１０、１１に対しては光ディスクの反射光として、それぞれ照射するように機能する。レーザー制御用ホトダイオード９はレーザー光をそのレーザー光量に応じたレベルの電流信号に変換するものである。また、エラー信号用ホトダイオード１０、１１は光ディスクで反射されたレーザー光（反射光）をＲＦ信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の電気信号に変換するものである。差動入力型の増幅器である比較器１２、１３はこれらの電気信号を基準電圧と比較するものである。ピックアップ７外の信号処理回路１４、１５、１６はこれらの各信号について波形整形などの処理を行うものである。なお、各比較器１２、１３の負極端子および出力端子間にはＩＶ変換抵抗２３、２４がそれぞれ接続されている。
【０００６】
一方、ＩＶ変換抵抗１８はレーザー制御用ホトダイオード９に流れる電流を電流／電圧変換するものである。比較器１９はＩＶ変換抵抗１８両端間に得られる電圧を電池２０の基準電位と比較し、その電圧が基準電位を超えると、出力電圧を高めるように機能する。また、ＰＮＰトランジスタ１７は比較器１９の出力電圧が高まると、レーザーダイオード８の駆動電流を徐々に抑えるように機能する。
【０００７】
図８（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はレーザー光のレーザー光量が少ない場合と過大な場合に分けて、それぞれ信号処理回路１５、１６を通して得られるフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の波形図である。
【０００８】
このような光ディスク再生装置では、ピックアップ７内のレーザーダイオード８が発生するレーザー光を光ディスクのピット２に当て、ピットから反射する光量をエラー信号用ホトダイオード１０、１１で検出している。検出された光量の強弱により、比較器１２、１３および信号処理回路１５、１６を通してサーボのフォーカスエラー信号２１、トラッキングエラー信号２２を発生させている。また、信号処理回路１４を通してＲＦ信号が取り出される。レーザー光５は図示しないアクチュエーターを制御してレンズを動かすことにより、光ディスクを走査する。
【０００９】
具体的には、一定の磁界内においてアクチュエーターのコイルに電流を流し、この電流量に応じて磁力を発生させることによりレンズを稼働させ、レーザー光５をフォーカス方向やトラッキング方向へと動かす。レーザー光５の光量は、温度変化や電源電圧変動などの外乱が注入されても、一定の出力を確保するように制御される。すなわち、ＲＦ信号のＳ／Ｎ確保と光ディスク再生能力向上のために、レーザーの光量を上げるような制御方法をとる。
【００１０】
なお、このようなレーザー光の光量制御を行う光ディスク記録再生装置としては、光ピックアップに供給されたテスト信号を、光ディスク等の記録媒体に記録し、この記録したテスト信号を評価した結果にもとづいてレーザー光量の制御を行うものがある（例えば、特許文献１参照）。
【００１１】
【特許文献１】
特開２００１−２０９９４０号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の光ディスク再生装置にあっては、図８に示すように、レーザー光量を上げ過ぎると、ピックアップ７の出力が飽和してしまい、フォーカスエラー信号２１がフォーカスエラーの歪み信号２１ａのように歪んでしまう。同時に、トラッキングエラー信号２２もトラッキングエラー信号の歪み信号２２ａのように歪んでしまう。
【００１３】
このように、レーザー光量を上げたことにより、ＲＦ信号のＳ／Ｎは向上させられるが、各サーボエラー信号の振幅は増加することになる。特にレーザー光量はピックアップの精度によりばらつき易いため、レーザー光量を上げすぎるとエラー信号の歪み発生を伴ってしまい、光ディスクの再生能力の低下を招き、ＲＦ信号のＳ／Ｎを向上させることができないという事情があった。
【００１４】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、適正なＳ／ＮのＲＦ信号を得ることができるレーザー制御回路、光ディスク装置およびレーザー制御回路を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１のレーザー制御回路は、光ディスク装置において記録媒体に照射されるレーザー光のレーザー光量を制御するレーザー制御回路であって、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いて、前記レーザー光量を検出する検出手段と、検出結果に基づいて前記レーザー光を発生するレーザーダイオードに供給される電流を調整する電流調整手段とを備える。
【００１６】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いてレーザー光量を検出し、検出結果に基づいてレーザダイオードに供給される電流を調整することで、適正Ｓ／ＮのＲＦ信号を得ることができる。
【００１７】
請求項２のレーザー制御回路は、請求項１記載のレーザー制御回路であって、前記検出手段は、前記レーザー光量の過大状態を検出し、前記電流調整手段は、前記電流を漸減する。
【００１８】
上記構成によれば、レーザー光量の過大状態を検出したときは、レーザダイオードに供給される電流を漸減することで、フォーカスエラー信号の歪みやトラッキングエラー信号の歪みを低減することができ、良好なＲＦ信号を得ることができる。
【００１９】
請求項３のレーザー制御回路は、請求項１または２記載のレーザー制御回路であって、前記検出手段は、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号を微分する微分回路と、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号を所定期間遅延する遅延回路と、前記微分回路と前記遅延回路の出力を加算する加算回路とを含む。
【００２０】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号の微分出力と遅延出力との加算出力を監視することで、レーザー光量の過大状態を検出することができる。
【００２１】
請求項４のレーザー制御回路は、請求項１または２記載のレーザー制御回路であって、前記検出手段は、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を微分する微分回路と、前記微分回路の微分出力が一定期間ほぼ”０”であるときはレーザー光量が過大状態であると判断する判断部とを含む。
【００２２】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の微分出力を監視することで、レーザー光量の過大状態を判断することができる。
【００２３】
請求項５のレーザー制御回路は、請求項１から４のいずれか一項記載のレーザー制御回路であって、前記電流調整手段は、前記レーザーダイオードに供給される電流を決定するＰＮＰトランジスタと、前記レーザーダイオードからのレーザー光量に応じた電流を出力するホトトランジスタと、第１の入力部と第２の入力部に入力された入力電位の比較出力により前記ＰＮＰトランジスタの動作を制御する比較器と、前記ホトトランジスタから出力される電流を電圧に変換して前記第１の入力部に入力する電流／電圧変換器とを含む。
【００２４】
上記構成によれば、レーザーダイオードの光量を検出し、この検出信号をフィードバックしてレーザーダイオードに供給する電流を制御することで、レーザーダイオードの光量を適正に保持することができる。
【００２５】
請求項６のレーザー制御回路は、請求項５記載のレーザー制御回路であって、前記電流／電圧変換器は、前記検出手段で前記レーザー光量の過大状態が検出されると、抵抗値を上げるように制御される可変抵抗器である。
【００２６】
上記構成によれば、可変抵抗器により容易に電流／電圧変換が可能となる。
【００２７】
請求項７のレーザー制御回路は、請求項５記載のレーザー制御回路であって、前記検出手段で前記レーザー光量の過大状態が検出されると、前記第２の入力部に入力される基準電圧を下げるように制御する制御手段を備える。
【００２８】
上記構成によれば、第２の入力部に入力される基準電圧の制御が可能な制御手段を備えることで、目標値（基準値）とのずれをモニタしながら、ずれを修正する方向にレーザーダイオードの光量を適正値に制御することができる。
【００２９】
請求項８の光ディスク装置は、請求項１から７のいずれか一項記載のレーザー制御回路と、前記レーザー制御回路によって供給電流が制御されるレーザーダイオードとを備える。
【００３０】
上記構成によれば、適正なＳ／ＮのＲＦ信号を得ることができるため、光ディスクの再生能力を高めることができる。
【００３１】
請求項９のレーザー制御方法は、光ディスク装置において記録媒体に照射されるレーザー光のレーザー光量を制御するレーザー制御方法であって、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いて、前記レーザー光量が過大状態であるか否かを検出する検出ステップと、検出結果に基づいて前記レーザー光を発生するレーザーダイオードに供給される電流を調整する電流調整ステップとを含む。
【００３２】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いてレーザー光量を検出し、検出結果に基づいてレーザダイオードに供給される電流を調整することで、適正Ｓ／ＮのＲＦ信号を得ることができる。
【００３３】
請求項１０のレーザー制御方法は、請求項９記載のレーザー制御方法であって、前記検出ステップは、前記レーザー光量の過大状態を検出するステップを含み、前記電流調整ステップは、前記電流を漸減するステップを含む。
【００３４】
上記構成によれば、レーザー光量の過大状態を検出したときは、レーザダイオードに供給される電流を漸減することで、フォーカスエラー信号の歪みやトラッキングエラー信号の歪みを低減することができ、良好なＲＦ信号を得ることができる。
【００３５】
請求項１１のレーザー制御方法は、請求項９または１０記載のレーザー制御方法であって、前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の傾きに基づいて、前記レーザーの光量の過大状態を検出するステップを含む。
【００３６】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の傾きを監視することで、レーザー光量の過大状態を判断することができる。
【００３７】
請求項１２のレーザー制御方法は、請求項１１記載のレーザー制御方法であって、前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号の微分出力と、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の遅延出力とを加算するステップを含む。
【００３８】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／および前記トラッキングエラー信号の微分出力と遅延出力との加算出力を監視することで、レーザー光量の過大状態を検出することができる。
【００３９】
請求項１３のレーザー制御方法は、請求項１２記載のレーザー制御方法であって、前記検出ステップは、前記フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の微分出力が一定期間ほぼ”０”であるときはレーザー光量が過大であると判断するステップを含む。
【００４０】
上記構成によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号の微分出力を監視することで、レーザー光量の過大状態を判断することができる。
【００４１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照しながら説明する。
（第１の実施形態）
図１は本発明の第１の実施形態の光ディスク装置を示す回路図である。図１に示した回路図は、先の図６に示した回路図に対して、点線枠で示す追加回路Ｐを設けたものである。追加回路Ｐ内には、信号増幅回路２５、検出手段としてのエラー信号傾き検出部２６、傾き判断部２７およびレーザーダイオード電流調整部２８が設けられている。
【００４２】
信号増幅回路２５は前段の比較器１２が出力するフォーカスエラー信号を増幅する単一入力型の演算増幅器からなる。エラー信号傾き検出部２６はフォーカスエラー信号を用いて前記レーザー光量が過大か否かを検出するものである。傾き判断部２７はその検出結果に従って、フォーカスエラー信号の傾きを判断するものである。
【００４３】
レーザーダイオード電流調整部２８は、レーザー光量が過大である場合に、レーザー光を発生するレーザーダイオード８に供給される電流を漸減させるように機能するものであり、ここではＩＶ変換抵抗１８Ａの抵抗値を調整する。
【００４４】
上記構成の光ディスク装置において、レーザーダイオード８が発生するレーザー光を光ディスクのピット２に当て、反射光６をエラー信号用ホトダイオード１０で検出する。フォーカスエラー信号用ホトダイオード１０で検出された信号電流は、ＩＶ（電流／電圧）変換抵抗２３で電圧変換された後、比較器１２で基準電圧と比較される。比較器１２の出力がサーボのフォーカスエラー信号２１となる。また、サーボのトラッキングエラー信号も、同様に、エラー信号用ホトダイオード１１、ＩＶ変換抵抗２４、比較器１３によって生成される。
【００４５】
一方、レーザー光の光量制御は、基本的には従来と同様にレーザーダイオード８の光出力を検出し、フィードバックすることにより行われる。具体的に説明すると、レーザーダイオード８の光出力が上がるとレーザー制御用ホトダイオード９に流れる電流は増え、これをＩＶ変換抵抗２４で電流／電圧変換した電圧は高くなる。その結果、比較器１９からの出力電圧が高くなり、レーザーダイオード８に接続されているＰＮＰトランジスタ１７のベース電圧が高くなる。従って、このＰＮＰトランジスタ１７のコレクタ電流が減少し、レーザーディスクからのレーザー光量が減る。
【００４６】
本発明においては、追加回路Ｐを設けてレーザー光量を最適に制御する。追加回路Ｐでは、フォーカスエラー信号を用いて、エラー信号の傾きを検出する検出手段としてのエラー信号傾き検出部２６が、フォーカスエラー信号の傾きを検出し、傾き判断部２７がレーザー光量を過大状態と判断すると、レーザーダイオード電流調整部２８の抵抗値を大きくするように動作する。この抵抗値を大きくすると、レーザー制御用ホトダイオード９からの出力電流が同じでも、電流／電圧変換器１８Ａによって変換された後の電圧が高くなる。
【００４７】
レーザー光の光量制御は、レーザー制御用ホトダイオード９からの出力電流を電流／電圧変換した後の電圧で一定に保とうとするように行われる。このため、電流／電圧変換器１８Ａの抵抗値を大きくしていくと、レーザーダイオード８の光量を減少する方向に制御される。
【００４８】
電流／電圧変換器１８Ａは例えばＭＯＳトランジスタで構成されている。ＭＯＳトランジスタのゲート電圧を制御することにより、そのＯＮ抵抗を可変としている。なお、レーザー光の光量が過大であるかどうかは、エラー信号傾き検出部２６で検出されたエラー信号の傾きが０近辺であるかどうかで判断される。
【００４９】
図２はエラー信号傾き検出部２６を具体的に示すブロック図である。図２を用いてレーザー光の光量が過大であるか否かを判断する手法について説明する。エラー信号傾き検出部２６は、アンプ２５を介して得られるフォーカスエラー信号を１／４周期遅延する遅延回路２９と、フォーカスエラー信号を微分する微分回路３０と、遅延回路２９および微分回路３０から出力される各信号を加算する加算回路３１とから構成される。
【００５０】
一般に、フォーカスエラー信号は、Ｙ＝Ａ×ＳＩＮ（Ｘ）で表される。これを微分した信号は、Ｙ’＝Ａ×ＣＯＳ（Ｘ）＝Ａ×ＳＩＮ（Ｘ＋π／２）で表される。また、遅延回路２９で遅延された信号は、Ｚ＝Ａ×ＳＩＮ（Ｘ―π／２）＝−Ａ×ＳＩＮ（Ｘ＋π／２）＝−Ｙとなる。従って、レーザー光量が大き過ぎず、フォーカスエラー信号が歪んでいなければ、加算回路３１で加算された値が”０”近辺を示す。
【００５１】
次に、本発明におけるレーザーの光量制御手順の一例について説明する。まず、起動時にはＩＶ変換抵抗１８ＡであるＭＯＳトランジスタのＯＮ抵抗を最小まで下げるようにゲート電圧を制御する。すると、比較器１９の出力電圧が低下し、ＰＮＰトランジスタ１７のコレクタ電流が増大し、レーザー光量は最大限に増加している状態となる。この状態からフォーカスサーチを実行し、比較器１２から出力されるフォーカスエラー信号を遅延回路２７と微分回路３０に通す。そして、この遅延したフォーカスエラー信号と微分したフォーカスエラー信号とを加算回路３１に入力する。ここで、加算回路３１で行った加算結果Ｙ’＋Ｚが”０”または”０”に近ければ、レーザー光量が最適最大出力設定となっていることになる。
【００５２】
しかし、加算結果が”０”または”０”から所定の範囲内にない場合、レーザー出力が過大状態でエラー信号が歪んでいる状態となっていることとなる。従って、レーザー光のレーザー光量を下げるように、ＩＶ変換抵抗１８Ａの抵抗値Ｒを１ステップ上げる（Ｒ＝Ｎ＋１）ようにレーザーダイオード電流調整手段２８が動作する。その結果、レーザー制御用ホトダイオード９の出力電流が同じでも電流／電圧変換された後の電圧は高くなり、前記のような比較器１９およびＰＮＰトランジスタ１７を含むフィードバックループによって、レーザーダイオード８が出力するレーザー光量は下がる。
【００５３】
そして、このような単位周期ごとのエラー信号の傾き検出を行って、ＩＶ変換抵抗１８Ａの抵抗値を１ステップ上げてもまだ加算結果が”０”から所定の範囲内にない場合は、さらに１ステップＩＶ変換抵抗１８Ａの抵抗値を上げるように、レーザーダイオード電流調整部２８を制御していく。上記加算結果が０から所定の範囲内になる（フォーカスエラー信号の傾きが平坦でなくなるところ）まで抵抗値制御を繰返し、最適となるレーザー出力を探していく。こうすることで、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の歪み信号を低減させて、良質のＳ／ＮのＲＦ信号を得ることができる。
【００５４】
なお、本実施形態においてはフォーカスエラー信号を用いてレーザー光量を制御する場合を説明したが、フォーカスサーボＯＮでトラッキングサーボＯＦＦでのトラッキングエラー信号を用いても、同様にレーザー光量を制御し、エラー歪を除去できることは言うまでもない。この場合は前記と同一の構成のエラー信号傾き検出部２６、傾き判断部２７およびレーザーダイオード電流調整部２８を、トラッキングエラー信号を発生する回路に設ければ良い。もちろん、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号の双方を用いてレーザーの光量を制御しても良い。
【００５５】
また、本実施形態においては、ＩＶ変換抵抗１８ＡとしてＭＯＳトランジスタを使用した場合を例にとって説明したが、傾き検出結果に応じて抵抗値を変えられるものであればこれに限るものではない。例えば、接点型の可変抵抗等を用いることも可能である。
【００５６】
（第２の実施形態）
図３は本発明の第２の実施形態の光ディスク装置を示す回路図である。図１に示した部分と同一符号を付して説明する。第２の実施の形態では、傾き判断部２７にマイコン３２およびデジタル／アナログ変換器（ＤＡＣ）３３を接続し、デジタル／アナログ変換器３３の出力を比較器１９の負極性の端子に入力している。マイコン３２はデジタル／アナログ変換器３３へ入力するデジタル信号を、傾き検出結果に応じて１ステップずつ小さくするように機能する。
【００５７】
レーザー制御回路は、第１の実施形態と同様に、レーザーダイオード８の電流制御に用いられるＰＮＰトランジスタ１７と、レーザー光量検出用素子であるレーザー制御用ホトダイオード９と、ＩＶ変換抵抗１８Ａから得られる電圧信号を基準電圧と比較し、その比較出力によりＰＮＰトランジスタ１７のベース電圧を制御する比較器１９とからなる。
【００５８】
本実施形態においては、比較器１９の負極性の端子に入力される基準電圧自体を傾き検出結果に応じて設定する。従って、基準電圧を高く設定した場合は、ＰＮＰトランジスタ１７のベース電圧が低くなってレーザー光量が増大し、基準電圧を低く設定した場合は、ＰＮＰトランジスタ１７のベース電圧が高くなってレーザー光量が減少するように働く。この方法によっても、電流／電圧変換器１８Ａの抵抗値を変える場合と同等の効果が得られる。
【００５９】
従って、本実施形態においては、最初に基準電圧を高めに設定した状態でフォーカスサーチを実行し、フォーカスエラー信号を遅延回路２９と微分回路３０に通し、この遅延したフォーカスエラー信号と微分したフォーカスエラー信号とを加算回路３１に入力する。加算結果が０から所定の範囲内にないと傾き判断部２７が判断した場合、レーザー出力が過大状態でエラー信号が歪んでいる状態であるので、マイコン３２がデジタル／アナログ変換器３３を介してレーザーの光量を下げるように基準電圧を低くする。
【００６０】
そして、前記同様の単位周期ごとの傾き検出を行って、基準電圧を下げて加算結果が０から所定の範囲内になるまで基準電圧制御を行うことで、最適となるレーザー出力を探すことができる。
【００６１】
また、フォーカスサーチの周期をフォーカスアクチュエータに印加するドライブ信号で調整する手段と、フォーカスエラー信号の傾きを検出する手段とを具備し、さらにエラー信号の傾き検出の時間調整をするフォーカスエラー信号の傾き検出時間調整装置を使用することができる。また、フォーカスサーボＯＮでトラッキングサーボＯＦＦの状態でのトラッキングサーボエラー信号をトラッキングアクチュエーターに印加するドライブ信号で周期を調整する手段と、トラッキングエラー信号の傾きを検出する手段とを具備し、さらにエラー信号の傾き検出の時間調整をするトラッキングエラー信号傾き検出時間調整装置を使用することもできる。これにより調整時間の短縮化を図ることができ、調整時間を早くしてレーザー光量を連続で実施することが可能となる。
【００６２】
さらに、図４に示すように、フォーカスエラー信号を微分する微分回路３０と、この微分回路３０の出力に基づいてレーザー光量が過大状態か否かを判断する判断部２７を設ける構成も採用できる。これによれば、傾きはサーチ中のエラー信号を位相検出回路によって検出し、レーザー光量最適状態になるときの検出状態は検出回路の入力に対して出力の位相が進む状態によって検出できる。これにより、エラー信号の歪み検出を容易にすることができる。
【００６３】
なお、起動時のレーザー光量が少なくフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に歪が発生していない場合には、この歪を発生させない限度で、温度変化や電源電圧変動などの外乱に対応できるようにし、また、ＲＦ信号のＳ／Ｎ確保と光ディスク再生能力向上のためにレーザー光量を上げる制御を行うこともできる。
【００６４】
本実施形態においては、フォーカスエラー信号を用いてレーザー光量を制御する場合を説明したが、第１の実施形態と同様に、トラッキングエラー信号を用いても同様にレーザー光量を制御できることは言うまでもない。この場合は前記の傾き検出部２６、レーザー出力制御部２７、マイコン３２およびデジタル／アナログ変換器３３と同一の構成を、トラッキングエラー信号を発生する回路に設ければ良い。もちろん、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号の双方を用いてレーザーの光量を制御しても良い。
【００６５】
【発明の効果】
本発明によれば、フォーカスエラー信号または／およびトラッキングエラー信号を用いてレーザー光量を検出し、検出結果に基づいてレーザダイオードに供給される電流を調整することで、適正Ｓ／ＮのＲＦ信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態による光ディスク装置を示す回路図。
【図２】図１におけるエラー信号傾き検出部を示すブロック図。
【図３】本発明の第２の実施の形態による光ディスク装置を示す回路図。
【図４】図１におけるエラー信号傾き検出部の他の形態を示すブロック図
【図５】一般的な光ディスクの概略を示す断面図。
【図６】光ディスクに照射するレーザ光とピットによる反射光との関係を示す説明図。
【図７】従来の光ディスク装置を示す回路図。
【図８】レーザー光量の大小に応じたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を示す波形図。
【符号の説明】
８  レーザーダイオード
９  レーザー制御用ホトダイオード
１０、１１  エラー信号用ホトダイオード
１２、１３  比較器
１７  ＰＮＰトランジスタ
１８  ＩＶ変換抵抗（電流／電圧変換器）
１９  比較器
２６  エラー信号傾き検出部（検出手段）
２７  傾き判断部
２８  レーザーダイオード電流調整部
２９  遅延回路
３０  微分回路
３１  加算回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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