(57)【要約】【課題】  メインビームの光量低下が無く、かつ、対物レンズの移動やディスクの傾きによりオフセットの発生しない、安定したトラックサーボ性能が得られる光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】  対物レンズ５と集積化ユニット１との間に第１の光学素子７および第２の光学素子８を配置する。第１の光学素子７は、光ディスク６からの反射光の一部を回折する回折部を有し、この回折部は偏光異方性を有している。第２の光学素子８は、光ディスク６からの反射光の偏光状態を直線偏光状態に変換する、１／４波長板で構成する。第１の光学素子７および第２の光学素子８は、対物レンズ５と一体に設ける。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射する発光部と、光ディスクの反射光を回折させて受光部へと光を導くホログラムと、前記ホログラムで回折された光を受光する受光部とを有する集積化ユニットと、
前記集積化ユニットの前記発光部から照射されるレーザ光を光ディスク上に集光させるための対物レンズとを備えた光ピックアップ装置であって、
前記対物レンズと前記集積化ユニットとの間に第１の光学素子が配置され、前記第１の光学素子は、光ディスクからの反射光の一部を回折する回折部を有し、前記回折部は、第１の直線偏光状態の光は透過させ、前記第１の直線偏光状態と偏光方向が直交する第２の直線偏光状態の光を回折させる偏光異方性を有し、
前記第１の光学素子と前記対物レンズとの間に第２の光学素子が配置され、前記第２の光学素子は、光ディスクからの反射光の偏光状態を、前記第２の直線偏光状態に変換するものであり、
前記第１の光学素子および前記第２の光学素子は、前記対物レンズと一体に設けられている、光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記第２の光学素子は、第１の直線偏光状態を、円偏光状態に変換し、かつ、円偏光状態を第２の直線偏光状態に変換する１／４波長板である、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記第１の光学素子の回折部は、光ディスクの反射光の一部に相当する部分にのみ設けられた、偏光性回折格子である、請求項１または２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記第１の光学素子の回折部を構成する偏光性回折格子は、表面に周期的に設けられた溝を有するニオブ酸リチウム基板と、前記溝に配設されたプロトン交換領域とで構成される、請求項３に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記第１の光学素子の前記回折部により回折した光ディスクの反射光の一部、および、前記第１の光学素子を透過した光ディスクの反射光の他部は、前記集積化ユニットのホログラムに入射する、請求項１から４のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
前記第１の光学素子の回折部は、前記第１の光学素子を光ディスクの半径方向の分割線で２分割した一方に設けられている、請求項１から５のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記発光部は、第１の直線偏光状態のレーザ光を放射する、請求項１から６のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
前記集積化ユニットのホログラムは、光ディスクの半径方向の分割線により２分割されており、光ディスクのトラック方向の分割線によりさらに２分割されている、４分割ホログラムである、請求項１から７に記載の光ピックアップ装置。
【請求項９】
前記集積化ユニットの受光部は、前記ホログラムで４分割された回折光に対応して、４分割以上に分割されている、請求項８に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】
前記第１の光学素子で回折されずに透過した光ディスクの反射光は、前記ホログラムの光ディスク半径方向の分割線により、さらに２分割される、請求項８または９に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１１】
前記受光部は、複数に分割され、
前記受光部の、前記第１の光学素子で回折されずに透過した光ディスクの反射光が入射する部分の信号から生成した第１のトラックエラー信号と、前記受光部の、前記第１の光学素子で回折した光ディスクの反射光が入射する部分の信号から生成した第２のトラックエラー信号とを演算して、トラッキングの際に用いる第３のトラックエラー信号を検出する、請求項１から１０のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスク等の情報記録媒体に、光学的に情報を記録、または記録された情報を再生する光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップ装置を、小型化、薄型化および高信頼性化を図る手段としてホログラムを用いたものが提案されている。特許文献１に記載されているホログラムは、光ディスク半径方向に２分割されており、かつ、それぞれが、さらにトラック方向に２分割されている。光ディスクからの反射ビームの半分でフォーカス誤差信号を検出し、反射ビーム全面で情報信号を検出するものである。トラック誤差信号は、対角位置にある２つの検出器で受光された信号の和信号と、もう一方の対角位置にある２つの検出器で受光された信号の和信号の位相差を比較演算することで、トラックに対する位置信号、いわゆる位相差信号（ＤＰＤ信号）を検出できる。
【０００３】
しかしながら、ＤＰＤ信号は既に記録されているピットからの回折パターンを用いるため、未記録の光ディスクに対するトラックサーボとしてはプッシュプル法（ＰＰ法）やディファレンシャルプッシュプル法（ＤＰＰ法）が用いられる。
【０００４】
この光ピックアップ装置は、このホログラムを用いた集積化ユニットと、集積化ユニットから出射された光を光ディスク上に集光させるための対物レンズにより構成されている。
【特許文献１】特開平１０−２６９５８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、上記集積化ユニットを用いたピックアップ装置においては、以下の様な課題がある。
【０００６】
一般的に、トラックサーボとして、プッシュプル法（ＰＰ法）、３ビーム法やディファレンシャルプッシュプル法（ＤＰＰ法）が挙げられる。いずれの手法も、複数の光受光部の光量差を検出することで、ディトラック量を検出するものであり、光量差が無い場合をジャストオントラックと判断する。
【０００７】
たとえば、ＰＰ法の場合、光ディスクの反射光の左右の光量分布の差を２分割検出器により検出してトラッキング信号を生成する。対物レンズがラジアル方向に移動した場合、光ディスクの反射光の光軸がずれ、２分割検出器の中心からビーム中心がずれる。また、ディスクが傾いた場合も、同様に反射光の光軸がずれる。いずれの場合も、トラッキングが合っているにもかかわらず、２分割検出器の差動信号にオフセットが発生し、ディトラックと判定してしまう。
【０００８】
一方、３ビーム法やＤＰＰ法は、ビームを３個に分割することで、上記ＰＰ法の場合に発生するオフセットを抑制することができるので、トラッキング法として広く用いられている。しかしながら、光ディスクに情報を記録する場合においては、１個の光源から３個のビームを生成しているため、記録に関与するメインビームの光量が低下する。その結果、記録スピードが遅くなり、記録を高速化する上で障害となっていた。
【０００９】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、メインビームの光量低下が無く、かつ、対物レンズの移動やディスクの傾きによりオフセットの発生しない、安定したトラックサーボ性能が得られる光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この発明に基づいた光ピックアップ装置に従えば、レーザ光を出射する発光部と、光ディスクの反射光を回折させて受光部へと光を導くホログラムと、上記ホログラムで回折された光を受光する受光部とを有する集積化ユニットを備えている。また、上記集積化ユニットの上記発光部から照射されるレーザ光を光ディスク上に集光させるための対物レンズを備えている。上記対物レンズと上記集積化ユニットとの間には第１の光学素子が配置されている。上記第１の光学素子は、光ディスクからの反射光の一部を回折する回折部を有している。上記回折部は、第１の直線偏光状態の光は透過させ、上記第１の直線偏光状態と偏光方向が直交する第２の直線偏光状態の光を回折させる、偏光異方性を有している。上記第１の光学素子と上記対物レンズとの間に第２の光学素子が配置されている。上記第２の光学素子は、光ディスクからの反射光の偏光状態を、上記第２の直線偏光状態に変換する。上記第１の光学素子および上記第２の光学素子は、上記対物レンズと一体に設けられている。
【００１１】
上記光ピックアップ装置において好ましくは、上記第２の光学素子は、第１の直線偏光状態を、円偏光状態に変換し、かつ、円偏光状態を第２の直線偏光状態に変換する１／４波長板である。
【００１２】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記第１の光学素子の回折部は、光ディスクの反射光の一部に相当する部分にのみ設けられた、偏光性回折格子である。
【００１３】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記第１の光学素子の回折部を構成する偏光性回折格子は、表面に周期的に設けられた溝を有するニオブ酸リチウム基板と、上記溝に配設されたプロトン交換領域とで構成される。
【００１４】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記第１の光学素子の上記回折部により回折した光ディスクの反射光の一部、および、第１の光学素子を透過した、光ディスクの反射光の他部は、上記集積化ユニットのホログラムに入射する。
【００１５】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記第１の光学素子の回折部は、上記第１の光学素子を光ディスクの半径方向の分割線で２分割した一方に設けられている。
【００１６】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記発光部は、第１の直線偏光状態のレーザ光を放射する。
【００１７】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記集積化ユニットのホログラムは、光ディスクの半径方向の分割線により２分割されており、光ディスクのトラック方向の分割線によりさらに２分割されている、４分割ホログラムである。
【００１８】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記集積化ユニットの受光部は、上記ホログラムで４分割された回折光に対応して、４分割以上に分割されている。
【００１９】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記第１の光学素子で回折されずに透過した光ディスクの反射光は、上記ホログラムの光ディスク半径方向の分割線により、さらに２分割されている。
【００２０】
上記光ピックアップ装置においてさらに好ましくは、上記受光部は、複数に分割され、上記受光部の、上記第１の光学素子で回折されずに透過した光ディスクの反射光が入射する部分の信号から生成した第１のトラックエラー信号と、上記受光部の、上記第１の光学素子で回折した光ディスクの反射光が入射する部分の信号から生成した第２のトラックエラー信号とを演算して、トラッキングの際に用いる第３のトラックエラー信号を検出する。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の光ピックアップ装置によると、１ビームトラッキング法において、対物レンズの移動やディスクの傾きにより発生するオフセットを補正することが可能となり、安定したトラックサーボ性能を得ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本実施の形態における光ピックアップ装置について、図１から図１２を参照して説明する。なお、図１は、本実施の形態における光ピックアップ装置の構成の概略を示す正面図である。
【００２３】
集積化ユニット１は、発光部としてのＬＤ（laser diode）チップ２、受光部３、とホログラム素子４で構成されている。対物レンズ５、第１の光学素子７および第２の光学素子８はホルダ２０に固定されて一体化されている。ホルダ２０に固定された、対物レンズ５、第１の光学素子７および第２の光学素子８は、フォーカスおよびトラッキングの際に、一体として駆動される。
【００２４】
集積化ユニット１のＬＤチップ２から出射された光は、ホログラム素子４を透過した後、ホログラムの０次光が、第１の光学素子７、第２の光学素子８および対物レンズ５を透過し、光ディスク６上に集光される。光ディスク６の反射光は、対物レンズ５、第２の光学素子８を透過し、第１の光学素子７で、反射光の一部のみが回折される。回折された反射光および第１の光学素子を透過した反射光は、ホログラム素子４に入射し、ホログラムの＋１次回折光が受光部３に到達する。ホログラム素子４は、光ディスク６の半径方向の分割線Ｍ１により２分割されており、光ディスクのトラック方向の分割線Ｍ２によりさらに２分割された（図６参照）、４分割ホログラムである。
【００２５】
図２は、第１の光学素子の構造を示す図である。図２において、反射光のビームの円形をなす外形Ｂを点線で示している。この外形Ｂを分割線Ｌにより２分割した、反射光のビームの半円に相当する部分に、偏光性回折格子９が形成されている。反射光のビームの残りの半円に相当する部分には、偏光性回折格子９は設けられていない。この分割線Ｌは、ビームの円形をなす外形Ｂの中心を通る、光ディスクの半径方向に延びる線である。
【００２６】
さらに、偏光性回折格子９は、それぞれ異なる格子方向を有する偏光性回折格子９ａ，９ｂで構成されている。この偏光性回折格子９ａと９ｂとを分割する分割線は、ビームの円形をなす外形Ｂの中心を通り、光ディスクのトラック方向に延びる線である。従って、第１の光学素子７に達した、光ディスクの反射光の内、偏光性回折格子９ａ，９ｂを通過する光ディスクの反射光は、偏光性回折格子９ａ，９ｂにより、それぞれ異なる方向に回折される。偏光性回折格子９が設けられている部分以外を通過する光ディスクの反射光は回折されず、第１の光学素子７を透過するのみとなる。このとき、ホログラム素子４上での光ディスクの反射光の形状は、図６に示すようになる。
【００２７】
また、光学素子８は１／４波長板であり、ＬＤチップ２から出射された図中Ｘ方向の直線偏光を円偏光に変換した後、光ディスクの反射光の円偏光をＹ方向の直線偏光に変換する機能を有する。
【００２８】
図３は、偏光性回折格子の構造を示す図である。図４は、偏光性回折格子の機能を示す図である。偏光特性を有する偏光性回折格子９は、たとえば図３に示すように、ニオブ酸リチウム基板１０で構成されている。その表面に周期的に溝１０ａが形成されて、周期的な凹凸の格子を構成している。溝１０ａの内部には、プロトン交換領域１１が配設されている。
【００２９】
溝１０ａの深さとプロトン交換領域１１の厚みを制御することで、Ｘ方向の偏光に対しては、凸部の光路長と凹部の光路長差は、波長の整数倍となり、一方、Ｙ方向の偏光に対しては、凸部の光路長と凹部の光路長差は、波長の整数倍＋半波長とすることができる。つまり、図４に示すように、Ｘ方向の偏光に対しては、光は回折せずに直進し、Ｙ方向の偏光に対しては、格子の周期に従い、回折するわけである。なお、偏光性回折格子９の構造は、本構造に限定するものではない。
【００３０】
図５は、本実施の形態の光ピックアップ装置の動作を示す側面図である。図５に示すように、偏光性回折格子９以外の光学素子７を透過した光線１２、および偏光性回折格子９で回折した光線１３はホログラム素子４に入射する。
【００３１】
図６は、受光部からの信号の処理を示すブロック図である。図６に示すように、受光部３は受光部３を構成する光検出器Ｒ１からＲ６に分割されている。ホログラム素子４のＣ領域に入射した光は、光検出器Ｒ３，Ｒ４で受光され、Ｄ領域に入射した光は、光検出器Ｒ５，Ｒ６で受光される。それぞれの光検出器Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６からの出力信号を、Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６とすると、トラッキング誤差信号ＴＥＳ１は（Ｓ３＋Ｓ４）−（Ｓ５＋Ｓ６）で表される。
【００３２】
また、ホログラム素子４のＡ領域、およびＢ領域に入射した光は、受光部３のうち、それぞれ光検出器Ｒ１，Ｒ２で受光される。光検出器Ｒ１，Ｒ２からの出力信号をそれぞれＳ１，Ｓ２とすると、トラッキング誤差信号ＴＥＳ２は（Ｓ１−Ｓ２）で表される。さらに、ＴＥＳ１とＴＥＳ２を差動演算することで、トラッキング誤差信号ＴＥＳ３＝（Ｓ１−Ｓ２）−Ｋ｛（Ｓ３＋Ｓ４）−（Ｓ５＋Ｓ６）｝を出力する。ここでＫは、補正係数である。
【００３３】
また、フォーカス誤差信号ＦＥＳは、｛（Ｓ３＋Ｓ５）−（Ｓ４＋Ｓ６）｝で表され、ＲＦ信号（再生信号）はビーム全体において（Ｓ１＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４＋Ｓ５＋Ｓ６）の演算を行うことで得られる。
【００３４】
既にピットが記録されている再生専用ディスクを再生する場合には、トラッキングサーボはＤＰＤ信号を用いることもできる。その場合、（Ｓ１＋Ｓ３＋Ｓ４）と（Ｓ２＋Ｓ５＋Ｓ６）の位相差、もしくは、Ｓ１とＳ２の位相差を比較演算することでＤＰＤ信号を得ることもできる。
【００３５】
次に、対物レンズ５がトラッキングの際に移動しても、ＴＥＳ３にオフセットが発生しない原理について説明する。図７は、従来のホログラムと光ディスクからの反射光との関係を示す図である。図７に示すように、トラッキング誤差信号は、ホログラムのＡ領域とＢ領域に入射する光量の差を検出する。つまり、光ディスクの反射光の面積ａと面積ｂの面積比に相当する。ここで、対物レンズ５が、光ディスク６の偏心などに対応して、Ｙ軸負方向にシフトすると、ホログラム上の反射光は、点線で示すようにＹ軸負方向に移動する。
【００３６】
したがって、面積ａは増加し、面積ｂは減少する。その結果、実際には、ジャストトラック状態であっても、面積ａと面積ｂとに差異が発生しているため、トラッキング誤差信号にオフセットが発生することになる。
【００３７】
図８は、対物レンズがシフトする前とシフトした後における、ホログラム上での反射光の位置と、第１の光学素子上における強度分布との関係を示す図である。図８に示すように、第１の光学素子７により回折されて分割された光が、ホログラム素子４の領域Ａと領域Ｂに入射する。その入射した光を、領域ａおよび領域ｂで表している。この領域ａおよび領域ｂの各位置における強度を、第１の光学素子７上での強度分布との関係で表すと図８のようになる。すなわち対物レンズシフト前においては、領域ａと領域ｂとの強度は同一である。対物レンズ５がシフトしても、領域ａと領域ｂの面積は同一であるが、その強度分布は異なる。これについて、次に詳しく説明する。
【００３８】
図９は、対物レンズがシフトする前とシフトした後における、（ａ）ホログラム上での反射光の位置、（ｂ）第１の光学素子上での出射光の強度分布、（ｃ）第１の光学素子上での反射光の強度分布を示す図である。図９（ａ１）と図９（ａ２）との対比から明らかなように、対物レンズ５がＹ軸負方向にシフトすると、ホログラム素子４上で光ディスクの反射光はＹ軸負方向移動するが、領域ａの面積と領域ｂの面積は変化しない。光ディスクの反射光の移動量に関係無く、ＴＥＳ２＝（Ｓ１−Ｓ２）＝０となるため、オフセットが発生しない。一方、領域ｃの面積と領域ｄの面積は反射光の移動量に応じて増減する。ただし、ホログラム素子４上において、領域ａと領域ｂの間隔の半分よりもディスク反射光の移動量が少ない場合に限る。よって、対物レンズ５のシフト量に応じて、領域ａと領域ｂの間隔を決定すれば良い。
【００３９】
しかしながら、差動演算ＴＥＳ２＝（Ｓ１−Ｓ２）において、対物レンズ５がＹ軸負方向（光ディスクのラジアル方向）にシフトしても、領域ａと領域ｂの面積の差異は発生しないものの、ＬＤチップ２からの放射光が図９（ｂ１）に示すように、光ディスクのラジアル方向に急峻な強度分布を持つ場合には、対物レンズ５がＹ軸負方向にシフトすると、対物レンズ５に入射するＬＤチップ２からの放射光のラジアル方向強度分布中心線Ｊ（ＬＤチップ２からの放射光の強度がラジアル方向で最大となる部分）と、対物レンズ５上での対物レンズ中心線Ｐ１、あるいは対物レンズ５上での対物レンズ中心線Ｐ１に対応するホログラム素子４上での反射光の中心線Ｐ２は光ディスクの半径方向にずれる。
【００４０】
また、光ディスクで反射される際に、対物レンズ５に入射するＬＤチップ２からの放射光は、対物レンズシフト時の対物レンズ中心線Ｐ１に対して強度分布が反転する。そのため、反射光の強度分布においては、図９（ｃ２）に示すように強度分布中心Ｊが、Ｙ軸負方向に移動する。
【００４１】
なお、図９（ｂ１），（ｂ２）におけるＰ３は、対物レンズシフト時の対物レンズ中心線Ｐ１に対応するＬＤチップ２からの放射光上での位置であり、図９（ｃ１），（ｃ２）におけるＰ４は、対物レンズシフト時の対物レンズ中心線Ｐ１に対応する反射光上での位置である。従って、図９（ｃ２）からわかるように、対物レンズ５のシフト量に対し、光ディスクの反射光の強度分布中心ずれ量は同一方向にその２倍生じることになる。
【００４２】
したがって、領域ａと領域ｂの強度分布に差異が発生するため、オフセットを完全にキャンセルできない。そこで、演算式
ＴＥＳ３＝（Ｓ１−Ｓ２）−Ｋ×｛（Ｓ３＋Ｓ４）−（Ｓ５＋Ｓ６）｝
において、Ｋ値を最適化することで、如何なる場合においても、ＯＬシフトによるオフセットを完全にキャンセルすることが可能となる。Ｋ値はＬＤチップ２のラジアル方向の放射角及び、コリメータレンズの有効ＮＡに依存する。
【００４３】
図１０は、受光部からの信号の処理を示すブロック図である。また、図６に示したＦＥＳの生成方法においては、図２に示す光学素子７の分割線Ｌと、図６に示すホログラム素子４の分割線ＭがＸ軸方向に一致するものとして説明したが、図２に示す光学素子７の分割線Ｌに対するホログラム素子４上での分割線を（Ｌ）とした場合に、図１０に示すように、ホログラム素子４の分割線Ｍ１を、分割線（Ｌ）に対し、図１０に示す位置関係とすることもできる。
【００４４】
そのような場合には、ナイフエッジ法で用いられる分割線は、必ず図１０に示すホログラム素子４の分割線Ｍ１となり、固定部分のホログラム素子の分割線を用いてＦＥＳを形成することから、温度変化や経時変化の影響を受けにくく、より信頼性の優れた本集積化ユニットとすることができる。
【００４５】
図１１は、ＬＤチップ２のラジアル方向の放射角を９．５°、コリメータレンズの有効ＮＡを０．１２５とした場合におけるＴＥＳ１およびＴＥＳ２を示している。トラックを横断することで生じるプッシュプル信号がＡ（短周期）、オフセット信号成分がＢ（長周期）である。図１１における（２）はＯＬがシフトした場合の、領域ａと領域ｂに対するＬＤ強度分布が異なることにより発生した、トラッキング誤差信号ＴＥＳ２のオフセット量である。
【００４６】
図１２は、Ｋ値を最適化した場合の、ＴＥＳ１、ＴＥＳ２およびＴＥＳ３を示している。この実施の形態においては、図１２に示すように、ＴＥＳ１を０．３４倍し、ＴＥＳ２から引くことで、ＯＬシフト時のＬＤ強度分布ずれによるオフセットが殆ど発生しない、トラッキング誤差信号ＴＥＳ３を得ることができる。
【００４７】
従って、対物レンズシフトによるトラッキングエラー信号のオフセット発生量が異なる２種類以上のトラック誤差信号を演算することにより、対物レンズ５がシフトしてもオフセットが生じないトラックエラー信号を得ることができる。
【００４８】
なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって、限定的な解釈の根拠となるものではない。したがって、本発明の技術的範囲は、上記した実施の形態のみによって解釈されるのではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて画定される。また、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】この発明に基づいた実施の形態における光ピックアップ装置の構成の概略を示す正面図である。
【図２】第１の光学素子の構造を示す図である。
【図３】偏光性回折格子の構造を示す図である。
【図４】偏光性回折格子の機能を示す図である。
【図５】この発明に基づいた実施の形態の光ピックアップ装置の動作を示す側面図である。
【図６】受光部からの信号の処理を示すブロック図である。
【図７】従来のホログラムと光ディスクからの反射光との関係を示す図である。
【図８】対物レンズがシフトする前とシフトした後における、ホログラム上での反射光の位置と、第１の光学素子上における強度分布との関係を示す図である。
【図９】対物レンズがシフトする前とシフトした後における、（ａ）ホログラム上での反射光の位置、（ｂ）第１の光学素子上での出射光の強度分布、（ｃ）第１の光学素子上での反射光の強度分布を示す図である。
【図１０】受光部からの信号の処理を示すブロック図である。
【図１１】所定条件におけるＴＥＳ１およびＴＥＳ２を示す図である。
【図１２】Ｋ値を最適化した場合の、ＴＥＳ１、ＴＥＳ２およびＴＥＳ３を示す図である。
【符号の説明】
【００５０】
１  集積化ユニット、２  ＬＤチップ（発光部）、３  受光部、４  ホログラム素子、５  対物レンズ、６  光ディスク、７  第１の光学素子、８  第２の光学素子、９  偏光性回折格子（回折部）、１０  ニオブ酸リチウム基板、１０ａ  溝、１１  プロトン交換領域。
【図１】
2005071451.tif 000003
【図２】
2005071451.tif 000004
【図３】
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【図４】
2005071451.tif 000006
【図５】
2005071451.tif 000007
【図６】
2005071451.tif 000008
【図７】
2005071451.tif 000009
【図８】
2005071451.tif 000010
【図９】
2005071451.tif 000011
【図１０】
2005071451.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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