(57)【要約】【課題】  光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に実施可能とする。【解決手段】  製造されたＤＶＤ−Ｒ型の光ディスク10を支持体26の円溝26B内に載置し、高温環境に晒して加熱することで、情報担持面の高さ位置が周方向に沿って周期的に変化すると共に、情報担持面の高さ位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形させた検査用光ディスク10Aを製作する。この検査用光ディスク10Aの情報担持面上の各部における高さ方向の変形量及びその周期を測定し、検査用光ディスク10Aの情報担持面上の各部が検査対象の光ディスク装置のピックアップによってトレースされるときの、検査用光ディスク10Aの情報担持面の高さ位置の変化の周波数を求めた後に、検査用光ディスク10Aを検査対象の光ディスク装置10に装填し、フォーカスサーボ制御を行わせると共に、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系で生成されるフォーカスエラー信号を観測することでフォーカスサーボ制御系の応答性能を検査する。【選択図】        図２
2005071494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置によって情報担持面に対する情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方が行われる光ディスクであって、
前記光ディスク装置は、情報の読み出し又は書き込みに用いる光ビームの収束位置と前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を検出し、前記収束位置が前記情報担持面に略一致するようにアクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御を行う機能を備えており、
前記光ディスク装置による情報の読み出し時又は書き込み時に、前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置が周期的に変化すると共に、前記位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形されていることを特徴とする光ディスク。
【請求項２】
光ディスクの情報担持面に対し光ビームを用いて情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方を行うと共に、前記光ビームの収束位置と前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を検出し、前記収束位置が前記情報担持面に略一致するようにアクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御を行う機能を備えた光ディスク装置に対し、請求項１記載の光ディスクを対象としてフォーカスサーボ制御を行わせると共に、該フォーカスサーボ制御中に前記光ディスク装置で生成される、前記アクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するための制御信号を検知し、
前記フォーカスサーボ制御中の前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数と前記制御信号とに基づいて、フォーカスサーボ制御系の応答性能を検査することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク及び光ディスク装置の検査方法に係り、特に、光ディスク装置によって情報担持面に対する情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方が行われる光ディスク、及び光ディスクを用いて光ディスク装置を検査するための光ディスク装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、ＣＤやＤＶＤ(Digital Versatile Disc)等の光ディスクを回転させると共に、回転中の光ディスクに光ビームを照射して情報の読み出し（及び書き込み）を行うが、回転中の光ディスクは面振れや偏心により変位する。このため、光ディスク装置では、光ディスクに照射する光ビームの収束位置が光ディスクの情報担持面に一致するように、フォーカス制御用のアクチュエータを制御するフォーカスサーボ制御を行うと共に、光ディスクへの光ビームの照射位置が光ディスクの情報担持面上に同心円状又はスパイラル状に形成された情報トラックを追従するように、トラッキング制御用のアクチュエータを制御するトラッキングサーボ制御を行う構成となっている。
【０００３】
上記に関連して特許文献１には、フォーカスサーボ制御の精度向上のために、光ディスクの面ぶれ（又は偏心）を検出し、光ディスクとスピンドルモータの面ぶれ方向（又は偏心方向）が逆となるような最適位置で光ディスクとスピンドルモータを装着する技術が提案されている。
【０００４】
また、特許文献２には、フォーカスサーボ制御の安定性向上のために、フォーカス制御回路の出力信号の低域成分を低域成分検出回路で検出し、低域成分検出回路の出力信号のレベルが所定値より大きいとき、すなわち光ディスクの記録担体面への光スポットの追従誤差が許容値の上限に達したときに、低域のゲインが増加するようにフォーカス位相補償回路の周波数特性を変化させる技術が提案されている。
【特許文献１】特開平６−４９８９号公報
【特許文献２】特開２００１−６１６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ディスク装置のフォーカスやトラッキングのサーボ制御における位置決め性能は、当該サーボ制御用のアクチュエータやその周辺回路（以下、これらをサーボ制御系と総称する）の応答性能によって主に定まるが、サーボ制御系の応答性能は光ディスク装置の機種毎に相違し、更に同一機種であっても個体差がある。このため、特定の光ディスク装置のフォーカスやトラッキングのサーボ制御系の応答性能を検査し、サーボ制御系の評価や調整を行いたい、というニーズが存在する。
【０００６】
従来、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査は、フォーカスサーボ制御用のアクチュエータを動作させるためのフォーカスエラー信号を模擬した擬似フォーカスエラー信号を生成し、本来のフォーカスエラー信号に代えて疑似フォーカスエラー信号を光ディスク装置に入力させる（割り込ませる）ことで、疑似フォーカスエラー信号に応じてフォーカスサーボ用のアクチュエータを動かし、このアクチュエータの動きを測定装置で測定することにより行っていた。しかしながら、上記の方法ではアクチュエータの動きを測定するために大規模な測定装置が必要になるので作業が非常に煩雑であり、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査に多大な手間がかかるという問題があった。
【０００７】
本発明は上記事実を考慮して成されたもので、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に行うことが可能な光ディスク及び光ディスク装置の検査方法を得ることが目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために請求項１記載の発明に係る光ディスクは、光ディスク装置によって情報担持面に対する情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方が行われる光ディスクであって、前記光ディスク装置は、情報の読み出し又は書き込みに用いる光ビームの収束位置と前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を検出し、前記収束位置が前記情報担持面に略一致するようにアクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御を行う機能を備えており、前記光ディスク装置による情報の読み出し時又は書き込み時に、前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置が周期的に変化すると共に、前記位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形されていることを特徴としている。
【０００９】
請求項１記載の発明に係る光ディスクは、光ディスク装置によって情報担持面に対する情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方が行われる光ディスクであり、例えばＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＭＤ、ＭＯの何れかを適用することができる。一方、光ディスク装置は情報の読み出し又は書き込みに用いる光ビームの収束位置と情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を検出し、光ビームの収束位置が光ディスクの情報担持面に略一致するようにアクチュエータを介して光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御を行う機能を備えている。
【００１０】
ここで、請求項１記載の発明に係る光ディスクは、光ディスク装置による情報の読み出し時又は書き込み時に、情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置が周期的に変化するように変形されているので、検査対象の光ディスク装置に前記光ディスクを装填してフォーカスサーボ制御を行わせると、前記光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系（アクチュエータやその周辺回路）により、情報担持面の位置の周期的な変化が光ビームの収束位置と情報担持面の位置との偏差として検出され、検出された偏差に応じた制御信号（アクチュエータを介して光ビームの収束位置を光ディスクの情報担持面に略一致させるための制御信号）が生成され、該制御信号に基づき情報担持面の位置の周期的な変化に追従するようにアクチュエータを介して光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御が行われることになる。
【００１１】
また、請求項１記載の発明に係る光ディスクは、情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形されている。このため、光ビームの収束位置が周期的に変化すると共に光ビームの収束位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するようにフォーカスサーボ制御が行われることになるが、情報担持面の位置の周期的な変化の周波数が高くなってくると、光ビームの収束位置を追従させることが困難となってくることで、フォーカスサーボ制御の残留誤差が徐々に増加し、この残留誤差が光ビームの収束位置と情報担持面の位置との偏差として現れ、この偏差に応じて制御信号が変化する。従って、フォーカスサーボ系の制御信号を観測することで、光ビームの収束位置を追従させることができなくなった状態（フォーカスサーボ制御が追従できなくなった状態）を検知することができる。
【００１２】
そして、フォーカスサーボ制御が追従できなくなるときの情報担持面の位置変化の周波数は、検査対象の光ディスク装置に搭載されているフォーカスサーボ制御系の応答性能によって相違するので、情報担持面の位置の周期的な変化の周波数と、フォーカスサーボ制御系の制御信号との関係から、検査対象の光ディスク装置におけるフォーカスサーボ制御系の応答性能を把握することができる。従って、請求項１記載の発明に係る光ディスクを用いることで、大規模な測定装置によりアクチュエータの動作を測定したりすることなく、検査対象の光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に行うことが可能となる。
【００１３】
なお、請求項１記載の発明に係る光ディスクは、例えば所定の凹凸面（光ディスク装置による情報の読み出し時又は書き込み時に、情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置が周期的に変化すると共に、情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するような変形が光ディスクに生ずるように定められた凹凸面）が形成された支持体上に載置した状態で、高温環境に晒すことで製作することができる。また、高温環境に晒すことに代えて、支持体の凹凸面へ押圧する圧力を加えることで製作することも可能である。また、所定の周波数帯域としては、例えば光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査範囲として予め定めた周波数帯域を適用することができる。
【００１４】
請求項２記載の発明に係る光ディスク装置の検査方法は、光ディスクの情報担持面に対し光ビームを用いて情報の読み出し及び書き込みの少なくとも一方を行うと共に、前記光ビームの収束位置と前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を検出し、前記収束位置が前記情報担持面に略一致するようにアクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するフォーカスサーボ制御を行う機能を備えた光ディスク装置に対し、請求項１記載の光ディスクを対象としてフォーカスサーボ制御を行わせると共に、該フォーカスサーボ制御中に前記光ディスク装置で生成される、前記アクチュエータを介して前記光ビームの収束位置を制御するための制御信号を検知し、前記フォーカスサーボ制御中の前記情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数と前記制御信号とに基づいて、フォーカスサーボ制御系の応答性能を検査することを特徴としている。
【００１５】
請求項２記載の発明では、光ディスク装置に対し、請求項１記載の光ディスクを対象としてフォーカスサーボ制御を行わせると共に、該フォーカスサーボ制御中に光ディスク装置で生成される制御信号（アクチュエータを介して光ビームの収束位置を制御するための制御信号）を検知し、フォーカスサーボ制御中の情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数と制御信号とに基づいて、フォーカスサーボ制御系の応答性能を検査するので、先にも説明したように、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に行うことができる。
【００１６】
なお、請求項２記載の発明において、検知する制御信号としては、例えば光ビームの収束位置と情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置との偏差を表すフォーカスエラー信号を用いることができ、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御の応答性能の検査は、例えばフォーカスエラー信号が表す偏差と、フォーカスサーボ制御中の情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数（この周波数は予め測定した情報担持面の位置変化から求めることができる）との関係に基づいて行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
以上説明したように本発明に係る光ディスクは、光ディスク装置による情報の読み出し時又は書き込み時に、情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置が周期的に変化すると共に、該位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形されているので、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に行うことが可能となる、という優れた効果を有する。
【００１８】
また本発明に係る光ディスク装置の検査方法は、フォーカスサーボ制御を行う機能を備えた光ディスク装置に対して本発明に係る光ディスクを対象としてフォーカスサーボ制御を行わせると共に、該フォーカスサーボ制御中に生成される制御信号を検知し、フォーカスサーボ制御中の情報担持面に略直交する方向に沿った情報担持面の位置の周期的な変化の周波数と制御信号とに基づいて、フォーカスサーボ制御系の応答性能を検査するので、光ディスク装置のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査を容易に行うことが可能となる、という優れた効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、図面を参照して本発明の実施形態の一例を詳細に説明する。図１には、光ディスクの一例として、片面側にのみ記録層を持つＤＶＤ−Ｒ型の光ディスク１０が示されている。ＤＶＤ−Ｒ型の光ディスク１０は透明な円板状の基板１２を備えており、基板１２の一方の面上に、色素含有記録層１４、反射層１６及び保護層１８が順に配置されて成る積層体２０が追加形成され、更に、基板１２と略同じ寸法の円板状の保護基板２２が接着剤２４により接合されて構成されている。
【００２０】
また、基板１２のうち積層体２０及び保護基板２２が接合されている側の面には、０．６〜０．９μｍのピッチでトラッキング用の溝（グルーブ）がスパイラル状に形成されている。隣り合うグルーブの間の領域はランドと称されており、ＤＶＤ−Ｒ型の光ディスク１０ではグルーブにレーザビームが照射されることでデータが記録される。また、グルーブは一定の振幅・空間周波数で蛇行しており（グルーブウォブリング）、ランド上には所定の規則に従って配置されたランドプリピットと称するアドレスピット（孤立ピット）が形成されている。このグルーブウォブリングとランドプリピットにより、後述する光ディスク装置において、光ディスクの回転速度の制御や記録クロックの生成、記録アドレス等のデータ記録に必要な情報の取得を行うことができる。なお、基板１２のうちランド及びグルーブが形成されている側の面は本発明に係る情報担持面に対応しており、以下でも情報担持面と称する。
【００２１】
また本実施形態では、通常の製造ラインで製造された上述の光ディスク１０に対し、周方向に沿って表面に周期的な変形（うねり）を生じさせることで、光ディスク装置の検査を行うための光ディスク（以下、この光ディスクを通常の光ディスクと区別するために「検査用光ディスク」と称する）を製作する。検査用光ディスクの製作には、図２（Ｂ）に示すように、基部２６Ａの上面に円溝２６Ｂが穿設され、この円溝２６Ｂの底面が製作すべき検査用光ディスクの表面形状に応じて整形されて成る支持体２６が用いられ、検査用光ディスクは、通常の製造ラインで製造された光ディスク１０（図２（Ａ）参照）を支持体２６の円溝２６Ｂ内に載置した後に、高温環境に晒して加熱することによって製作される。これにより、図２（Ｃ）に示すように周方向に沿って周期的な変形（うねり）が生じた検査用光ディスク１０Ａが得られる。
【００２２】
なお、本実施形態に係る支持体２６の円溝２６Ｂの底面は、詳しくは、検査用光ディスク１０Ａが光ディスク装置に装填されて回転された状態で、光ディスク装置のピックアップ（後述）から見て、検査用光ディスク１０Ａの情報担持面（及び表面）の高さ（検査用光ディスク１０Ａの軸線方向に沿った情報担持面（及び表面）の位置）が周期的に変化すると共に、情報担持面（及び表面）の高さの周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するような変形が検査用光ディスク１０Ａに生ずるように整形されており、これに伴い検査用光ディスク１０Ａ上は、周期的な変形（うねり）の周期（周波数）が異なる部分が周方向に沿って分布している（図２（Ｃ）では模式的に「高周波部分」「中周波部分」「低周波部分」として示す）。
【００２３】
次に本実施形態に係る光ディスク装置について説明する。図３に示すように、光ディスク装置３０は装填された光ディスク１０を回転させるためのモータ３２を備えている。モータ３２はモータ制御回路３４に接続されており、光ディスク装置３０に装填された光ディスク１０の線速度が一定となるように、モータ制御回路３４によってモータ３２の回転軸の回転速度が制御される。
【００２４】
また、光ディスク装置３０はピックアップ３６を備えている。図４に示すように、ピックアップ３６はＬＤ（レーザダイオード）３８を備えている。ＬＤ３８のレーザビーム射出側にはコリメータレンズ４０、ビームスプリッタ４２が順に配置されており、ＬＤ３８から射出されたレーザビームは、コリメータレンズ４０で平行光束とされた後にビームスプリッタ４２で反射され、光路が９０°変更される。ビームスプリッタ４２のレーザビーム射出側には対物レンズ４４が配置されており、ビームスプリッタ４２から射出されたレーザビームは対物レンズ４４によって屈折され、光ディスク１０の情報担持面付近で収束される。
【００２５】
なお、対物レンズ４４には、光ディスク１０に対して対物レンズ４４を接近／離間させる方向（図４の矢印Ａ方向）に変位させるためのフォーカス制御用コイル４６が取り付けられている。またピックアップ３６には、光ディスク１０へのレーザビームの照射位置を光ディスク１０の半径方向に沿って移動させるためのトラッキング制御用コイル４８も取り付けられている。
【００２６】
一方、ビームスプリッタ４２を挟んで対物レンズ４４の反対側にはレンズ５０、フォトセンサ５２が順に配置されており、光ディスク１０の情報担持面で反射されたレーザビームは、再度対物レンズ４４で屈折されて平行光束とされた後にビームスプリッタ４２を透過してレンズ５０に入射され、フォトセンサ５２の受光面上に光スポットとして照射されるように屈折される。図５（Ａ）〜（Ｃ）に示すように、フォトセンサ５２の受光面は受光面５２Ａ，５２Ｂ，５２Ｃ，５２Ｄの４つに分割されており、受光面上に照射された光スポットの光量は個々の受光面５２Ａ〜５２Ｄ毎に分割検出される。フォトセンサ５２は図３に示すフォーカスエラー検出回路５６及びトラッキングエラー検出回路６２に接続されている。
【００２７】
対物レンズ４４によるレーザビームの収束位置（フォーカス位置）が光ディスク１０の情報担持面上に位置している場合、フォトセンサ５２の受光面上での光スポットの形状は図５（Ｂ）に示すように真円形状となるが、レーザビームの収束位置が情報担持面よりも手前側及び奥側に位置している場合、光スポットの形状は図５（Ａ）又は（Ｃ）に示すように楕円形状（詳しくは、収束位置が情報担持面よりも手前側に位置している場合と奥側に位置している場合とで長軸の向きが相違する楕円形状）となる。このため、フォーカスエラー検出回路５６は、フォトセンサ５２の各受光面から出力される信号に基づき((Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ))なる演算（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは受光面５２Ａ，５２Ｂ，５２Ｃ，５２Ｄから出力される信号）を行うことでフォーカスエラー信号を生成する。
【００２８】
このフォーカスエラー信号はレーザビームの収束位置が情報担持面に一致している場合にはゼロになるが、レーザビームの収束位置が情報担持面よりも手前側に位置している場合には極性が正、奥側に位置している場合には極性が負の信号となるので、このフォーカスエラー信号に基づき、情報担持面の高さ位置に対するレーザビームの収束位置の偏差を検知することができる。フォーカスエラー検出回路５６にはフォーカス位相補償回路５８、フォーカス制御回路６０が順に接続されており、フォーカス制御回路６０はフォーカス制御用コイル４６に接続されている。
【００２９】
フォーカス制御回路６０は、フォーカス位相補償回路５８を経由して入力された信号に基づき、ピックアップ３６から射出されるレーザビームの収束位置が光ディスク１０の情報担持面に一致するようにフォーカス制御用コイル４６の作動を制御するフォーカスサーボ制御を行う。なお、フォーカス位相補償回路５８はフィルタを内蔵しており、このフィルタは、フォトセンサ５２、フォーカスエラー検出回路５６、フォーカス位相補償回路５８、フォーカス制御回路６０及びフォーカス制御用コイル４６から成るフォーカスサーボ制御系の位相の周波数特性に好ましい位相余裕を与えるように周波数特性が定められている。
【００３０】
一方、トラッキングエラー検出回路６２は、フォトセンサ５２から出力される信号に基づいて、光ディスク１０上のグルーブの位置とレーザビームの照射位置との偏差に応じてレベルが変化するトラッキングエラー信号を生成する。トラッキングエラー検出回路６２にはトラッキング位相補償回路６４、トラッキング制御回路６６が順に接続されており、トラッキング制御回路６６はトラッキング制御用コイル４８に接続されている。トラッキング制御回路６６は、トラッキング位相補償回路６４を経由して入力された信号に基づいて、ピックアップ３６から射出されたレーザビームが光ディスク１０の特定のグルーブの中心に照射されるようにトラッキング制御用コイル４８の作動を制御するトラッキングサーボ制御を行う。
【００３１】
なお、トラッキング位相補償回路６４もフィルタを内蔵しており、このフィルタは、フォトセンサ５２、トラッキングエラー検出回路６２、トラッキング位相補償回路６４、トラッキング制御回路６６及びトラッキング制御用コイル４８から成るトラッキングサーボ制御系の位相の周波数特性に好ましい位相余裕を与えるように周波数特性が定められている。
【００３２】
次に本実施形態の作用として、検査用光ディスク１０Ａを用いた光ディスク装置３０のフォーカスサーボ制御系の応答性能の検査について説明する。この検査にあたっては、まず検査用光ディスク１０Ａの情報担持面上の各部における高さ方向の変形量及びその周期を、レーザ変位計等の計測機器を用いて高精度に測定する。光ディスク装置３０に装填された光ディスク１０は、前述のように線速度が一定となるように回転速度が制御されるので、各部における高さ方向の変形量及びその周期を測定した結果から、検査用光ディスク１０Ａの情報担持面上の各部が検査対象の光ディスク装置３０のピックアップ３６によってトレースされるときの、検査用光ディスク１０Ａの情報担持面の高さ位置の変化の周波数を求めることができる。
【００３３】
次に、図３に破線で示すように、検査対象の光ディスク装置３０のフォーカスエラー検出回路５６の出力端に信号観測装置７０を接続する。信号観測装置７０は、フォーカスエラー検出回路５６から出力されるフォーカスエラー信号を観測可能な装置であればよく、例えばフォーカスエラー信号のレベルの変化を視認可能に表示する表示装置（例えばオシロスコープやプロッタ等）であってもよいし、フォーカスエラー信号をデジタルデータに変換して記録する記録装置であってもよい。信号観測装置７０の接続が完了すると、検査対象の光ディスク装置３０に検査用光ディスク１０Ａを挿入する。
【００３４】
これにより、検査対象の光ディスク装置３０のモータ３２によって検査用光ディスク１０Ａが回転されると共に、ピックアップ３６のＬＤ３８からレーザビームが射出される。そして、検査対象の光ディスク装置３０のフォーカスサーボ制御系により、レーザビームの収束位置が検査用光ディスク１０Ａの情報担持面に一致するように対物レンズ４４の位置を制御するフォーカスサーボ制御が行われると共に、検査対象の光ディスク装置３０のトラッキングサーボ制御系により、レーザビームの照射位置を検査用光ディスク１０Ａの特定のグルーブの中心に一致させるトラッキングサーボ制御も行われる。
【００３５】
ここで、本実施形態に係る検査用光ディスク１０Ａには周方向に沿って表面に周期的な変形（うねり）が生じており、情報担持面の高さが周期的に変化しているので、フォーカスサーボ制御系では、情報担持面の高さの周期的な変化が検査用光ディスク１０Ａの情報担持面の高さ位置に対するレーザビームの収束位置の偏差として検出され、この偏差に応じたフォーカスエラー信号がフォーカスエラー検出回路５６から出力され、このフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスサーボ制御が行われることになる。
【００３６】
また、検査用光ディスク１０Ａは、情報担持面の高さ位置の周期的な変化の周波数が所定の周波数帯域に亘って変化するように変形されているので、検査対象の光ディスク装置３０のフォーカスサーボ制御系によるフォーカスサーボ制御により、レーザビームの収束位置は情報担持面の高さ位置の変化に追従するように周期的に変化されると共に、レーザビームの収束位置の周期的な変化の周波数も所定の周波数帯域に亘って変化される。但し、情報担持面の高さ位置の周期的な変化の周波数が高くなってくると、レーザビームの収束位置を追従させることが困難となってくることで、フォーカスサーボ制御の残留誤差が徐々に増加し、この残留誤差が情報担持面の高さ位置に対するレーザビームの収束位置の偏差として現れることで、フォーカスエラー信号のレベルも徐々に高くなる。
【００３７】
本実施形態では、フォーカスサーボ制御に伴って生成されるフォーカスエラー信号は信号観測装置７０を介して観測可能であり、信号観測装置７０を介して観測できるフォーカスエラー信号のレベルが所定値以上となったか否かに基づいて、情報担持面の高さ位置の変化にレーザビームの収束位置を追従させることができなくなった状態（情報担持面の高さ位置の変化にフォーカスサーボ制御が追従できなくなった状態）を検知することができる。
【００３８】
そして、検査用光ディスク１０Ａの情報担持面上の各部における高さ方向の変形量及びその周期を測定した結果から事前に求めた、検査用光ディスク１０Ａの情報担持面上の各部における情報担持面の高さ位置の変化の周波数と、情報担持面の高さ位置の変化にフォーカスサーボ制御が追従できなくなったときに検査用光ディスク１０Ａ上の何れの部分にレーザビームが照射されていたかに基づいて、情報担持面の高さ位置の変化にフォーカスサーボ制御が追従できなくなるときの情報担持面の高さ位置の変化の周波数を認識することができ、情報担持面の高さ位置の周期的な変化の周波数とフォーカスエラー信号のレベルとの関係から、検査対象の光ディスク装置３０におけるフォーカスサーボ制御系の応答性能を把握することができる。
【００３９】
このように、本実施形態では、検査用光ディスク１０Ａを用いて検査対象の光ディスク装置３０のフォーカスサーボ制御系の応答性能を検査するので、疑似フォーカスエラー信号を生成してフォーカスサーボ制御系に割り込み入力したり、大規模な測定装置によりアクチュエータの動作（フォーカス制御用コイル４６による対物レンズ４４の移動）を測定したりする必要がなくなり、検査対象の光ディスク装置３０のフォーカスサーボ制御系の応答性能を容易に検査することができる。
【００４０】
なお、上記ではＤＶＤ−Ｒ型の光ディスク１０に本発明を適用した例を説明していたが、これに限定されるものではなく、本発明はＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＭＤ、ＭＯ等の各種光ディスクに適用可能である。
【００４１】
また、上記では本発明に係る制御信号として、フォーカスエラー検出回路５６から出力されるフォーカスエラー信号を用いた例を説明したが、これに限定されるものではなく、フォーカス位相補償回路５８から出力される信号等、フォーカスサーボ制御系で生成される他の信号を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本実施形態に係る光ディスクの断面図である。
【図２】検査用光ディスクの製作方法を示す説明図である。
【図３】本実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図４】光ディスク装置のピックアップの概略構成図である。
【図５】（Ａ）〜（Ｃ）はレーザビームのフォーカス位置とフォトセンサの受光面上での光スポットの形状及びフォーカスエラー信号との関係を示す説明図である。
【符号の説明】
【００４３】
１０Ａ  検査用光ディスク
１２  基板
２６  支持体
３０  光ディスク装置
３６  ピックアップ
４４  対物レンズ
４６  フォーカス制御用コイル
５２  フォトセンサ
５６  フォーカスエラー検出回路
５８  フォーカス位相補償回路
６０  フォーカス制御回路
７０  信号観測装置
【図１】
2005071494.tif 000003
【図２】
2005071494.tif 000004
【図３】
2005071494.tif 000005
【図４】
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【図５】
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