(57)【要約】【課題】  記録再生条件の最適化を正確に行うことが可能な記録再生装置に関する。 【解決手段】  通常の記録再生時は、制御回路３０は、スイッチ４１及びスイッチ４２のａとｂとが接するようにし、ターボ符号器１２及びターボ復号器２４が使用されるよう制御する。記録再生条件の調整時には、制御回路３０は、スイッチ４１及びスイッチ４２のａとｃとが接するようにし、ターボ符号器１２及びターボ復号器２４が使用されないよう制御する。【選択図】    図１ 
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ列にエンコード処理を施すエンコード手段と、
前記エンコード手段でエンコードされた変調データ列を光ディスクに記録する記録手段と、
前記光ディスクから変調データ列を読み出す再生手段と、
前記再生手段から読み出された変調データ列にデコード処理を施すデコード手段と、
前記エンコード手段及びデコード手段の使用／不使用を切り換えるための切換手段とを含む光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクの再生条件及び／又は記録条件の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクの再生レーザパワーの調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスクの記録レーザパワーの調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項５】
前記光ディスクの記録磁界強度の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスクの再生磁界強度の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項７】
前記再生手段は、少なくとも方位が可変な光学素子を含み、
前記光学素子の方位の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項８】
前記記録手段は、パルス光磁界変調記録により前記光ディスクへの記録を行い、
記録パルスレーザ光と記録磁界の位相差の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とした請求項１の光ディスク装置。
【請求項９】
前記エンコード手段はターボ符号化処理を行い、前記デコード手段は、ターボ復号化処理を行うことを特徴とした、請求項１乃至８の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記エンコード手段はＬＤＰＣ法による符号化処理を行い、前記デコード手段は、ＬＤＰＣ法による復号化処理を行うことを特徴とした、請求項１乃至８の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記エンコード手段はＥＣＣ符号化処理を行い、前記デコード手段は、ＥＣＣ復号化処理を行うことを特徴とした、請求項１乃至８の光ディスク装置。  
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクの再生レーザパワーを最適化する第１の従来技術としては、所定の範囲内において再生レーザパワーを変化させながらビットエラーレートを測定し、ビットエラーレートが最小であったときの再生レーザパワーを以って最適再生レーザパワーとするものが特許文献１で開示されている。
【０００３】
また、光ディスクの再生レーザパワーを最適化する第２の従来技術としては、所定値以下となる最小レーザパワーＰMinと最大レーザパワーＰMaxとを検出し、前記ＰMinとＰMaxの平均値を以って最適再生レーザパワーとするものが同じく特許文献１で開示されている。
【０００４】
しかし、前記第１の従来技術と、前記第２の従来技術によれば、全ての再生レーザパワーでのビットエラーレートを測定する必要があるので、再生レーザパワーの最適化に時間がかかる。また、比較的高いパワーのレーザ光を照射することにより、媒体を損傷させる場合がある。
【０００５】
そこで、光ディスクの再生レーザパワーを最適化する第３の従来技術としては、光ディスクのビットエラーレートの再生レーザパワー依存性がＶ字型曲線になることを利用して、再生レーザパワーを徐々に増やしながらビットエラーレートを測定し、ビットエラーレートの減少が見られなくなる再生レーザパワーを以って最適再生レーザパワーとする方法が知られている。このことにより、再生レーザパワーの最適化調整の短縮化が可能となる。また、必要以上に高いパワーのレーザ光を照射することにより媒体を損傷させることがなくなる。以後、本願明細書においては、前記第３の従来技術のことを立ち下がり検出法と呼ぶことにする。
【０００６】
また、近年、記録再生装置にターボ符号を適用する技術が発表されている。ターボ符号は、情報理論で存在のみが示されている通信路符号化法の限界に近い誤り率特性を、現実的な符号化・復号処理量で実現するものである。ターボ符号は、情報系列及びそれを並び替えた系列をそれぞれ符号化して送信し、受信側ではそれらを、他方の復号器からもたらされる復号結果の信頼度情報を使いながら交互に繰り返し復号を行う、連接符号化・繰り返し復号によるものである。このことにより、記録再生特性が劇的に改善されることが知られている。
【０００７】
図２１は、ターボ符号を用いて光磁気ディスク２への記録再生を行う光磁気ディスク装置８００の構成を示す図である。
【０００８】
図２１を参照して、光磁気ディスク装置８００の記録系は、ＥＣＣエンコーダ１１、ターボ符号器１２、変調回路１３、フォーマッタ１４から構成されている。
【０００９】
光磁気ディスク装置８００の再生系は、Ａ／Ｄ変換器２０、アンフォーマッタ２１、イコライザ２２、復調回路２３、ターボ復号器２４、ＥＣＣデコーダ２５から構成されている。
【００１０】
光磁気ディスク２に対するデータの書き込み・読み出し手段は、磁気ヘッド駆動回路１５、レーザ駆動回路１６、磁気ヘッド１７、光ピックアップ１８から構成されている。
【００１１】
また光磁気ディスク装置８００は、光磁気ディスク２に記録されたデータの再生ビットエラーレートを評価するビットエラーレート測定回路３１、ビットエラーレート測定回路３１の評価結果に基づいて再生レーザパワーを制御するための制御回路８３０を含む。
【００１２】
なお、光磁気ディスク装置８００には、上記構成の他、ディスク上の絶対位置を示すアドレス信号や、記録再生時に用いられるクロック信号等を生成するための構成、ディスク駆動モータを駆動制御するための構成および各部を制御するためのコントローラ等が別に配されることとなるが、これらは、図示省略している。これらについては、周知の光磁気ディスク装置と同様の構成を、そのまま採用することができる。
【００１３】
次に、光磁気ディスク装置８００におけるデータの記録動作について説明する。
【００１４】
ユーザデータＵＤＡＴは、ＥＣＣエンコーダ１１にてエラー訂正符号を付加され出力される。エラー訂正符号が付加されたデータＥＣＣＥＮＣＤＡＴは、ターボ符号器１２にてターボ符号化される。ターボ符号化された変調データ列ＭＯＤＤＡＴは、変調回路１３によりＮＲＺＩ＋変調が施されＭＯＤＤＡＴとして出力される。そしてフォーマッタ１４へと出力される。
【００１５】
フォーマッタ１４は、変調データ列ＭＯＤＤＡＴを光磁気ディスク上に記録できる形式に変換し、記録データＷＤＡＴとして磁気ヘッド駆動回路１５へ出力するとともに、レーザ駆動回路１６に記録状態信号ＷＥＮＢを出力する。磁気ヘッド１７は、磁気ヘッド駆動回路１５からの信号に基づき磁界をディスク上に印加する。同時に、光ピックアップ１８は、レーザ駆動回路１６からの信号に基づき光磁気ディスク２にレーザを照射する。これにより、記録データＷＤＡＴが光磁気ディスク２上に記録される。
【００１６】
次に、光磁気ディスク装置８００におけるデータの再生動作について説明する。
【００１７】
光ピックアップ１８は、光磁気ディスク２からの反射光を受光する受光センサからの電気信を演算回路にて演算し、再生信号ＲＦを生成出力する。この再生信号ＲＦは、Ａ／Ｄ変換器２０にてディジタルサンプリングされ、ディジタルサンプリングデータＲＤＡＴとして出力される。ディジタルサンプリングデータＲＤＡＴは、アンフォーマッタ２１により、フォーマッタ１４で加えられたデータが取り除かれ、アンフォーマットデータＵＮＦＭＴＤＡＴとしてイコライザ２２へ入力される。イコライザ２２は、アンフォーマットデータＵＮＦＭＴＤＡＴが所定のパーシャルレスポンス波形に近い波形となるよう波形等化を行う。
【００１８】
波形等化データＰＲＤＡＴは、復調回路２３へ入力される。復調回路２３は変調回路１３で行ったＮＲＺＩ＋変調を復調し、復調データＤｅ−ＭＯＤＤＡＴとしてターボ復号器２４へ出力する。
【００１９】
ターボ復号器２４でターボ復号化されたデータは、データＴＵＲＢＯＤＡＴとして、ＥＣＣデコーダ２５へ出力される。ＥＣＣデコーダ２５では、データＴＵＲＢＯＤＡＴのエラー訂正を行い、再生ユーザデータＥＣＣＤＥＣＤＡＴを出力する。
【００２０】
ビットエラーレート測定回路３１は、再生ユーザデータＥＣＣＤＥＣＤＡＴと、ビットエラーレート測定回路３１内のメモリに記憶された校正パターンとを比較し、ビットエラーレートを算出する。それぞれの再生レーザパワーにおけるビットエラーレートは制御回路８３０内のメモリに蓄積される。そして制御回路８３０は、このビットエラーレート測定結果に基づいて、最適な再生レーザパワーを決定する。
【００２１】
図２２は、光磁気ディスク装置８００を用いて光磁気ディスク２に記録されたデータを再生したときのビットエラーレートである。ビットエラーレート曲線はバスタブ型となる。これはターボ符号の採用により、比較的低い再生レーザパワー（この場合、１．８〜２．０[ｍＷ]）、或いは比較的高い再生レーザパワー（この場合、２．４〜２．６[ｍＷ]）でのビットエラーレートが改善された結果、このようなビットエラーレート曲線になったものである。この場合において、ターボ符号を採用しない場合は、再生レーザパワー２．２[ｍＷ]を最適値としたＶ字型のビットエラーレート曲線となる。
【００２２】
図２３のフローチャートは、光磁気ディスク装置８００により、光磁気ディスク２を再生する際の再生レーザパワーの調整手順を示したものである。
【００２３】
再生レーザパワーの調整をスタートする指示（ステップＳ８０１）が入ると、ステップＳ８０２において、記録レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。そして、ステップＳ８０３において、再生レーザパワー調整用の所定パターンの磁区が光磁気ディスク２に記録される。ステップＳ８０４では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１２が、再生レーザパワー変数Ｐｒ（０）に１．６が代入される。
【００２４】
ステップＳ８０５では、再生レーザパワーがＰｒ（Ｎ）[ｍＷ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、再生レーザパワーが１．６[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ８０６では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図２２のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には３×１０-2が代入される。
【００２５】
尚、上記測定では、１０万ビットのデータ中に発生するエラー数が計数され、エラー数を１０万で除したものをビットエラーレートとする。但し、エラー数がゼロの場合、ビットエラーレートは１×１０-5であるとみなしている。
【００２６】
ステップＳ８０７では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（０）は３×１０-2であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ８０９へ進む。ステップＳ８０９では、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ８１０では、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ−１）に０．１加えたものが、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ）に代入される。Ｐｒ（０）は１．６であったから、Ｐｒ（１）に１．７が代入される。
【００２７】
ステップＳ８１１では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ８０５へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１２としているので、Ｎが１２を超えることはない。また、Ｐｒ（０）を１．６とし、Ｐｒ（Ｎ）＝Ｐｒ（Ｎ−１）＋０．１としているから、Ｐｒ（Ｎ）が２．８を超えることはない。したがって、ステップＳ８１１は、再生レーザパワーが２．８［ｍＷ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する再生レーザパワーの最小値を１．６[ｍＷ]、最大値を２．８[ｍＷ]としている。
【００２８】
２度目のステップＳ８０５では、再生レーザパワーがＰｒ（１）［ｍＷ］に、即ち１．７［ｍＷ］にセットされる。続くステップＳ８０６では、ビットエラーレートが測定され、その測定結果が変数ＢＥＲ（１）に格納される。図２２のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、上記変数ＢＥＲ（１）には３×１０-3が代入されることになる。依然ビットエラーレートは１×１０-3より大きいので、以後、同様にして、ステップＳ８０７→ステップＳ８０９→ステップＳ８１０→ステップＳ８１１→ステップＳ８０５へと進んでいく。
【００２９】
３度目のステップＳ８０５では、再生レーザパワーが１．８[ｍＷ]にセットされる。そして続くステップＳ８０６では、ビットエラーレートの測定結果である、１×１０-4が、ＢＥＲ（２）に代入される。ステップＳ８０７での測定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ８０８へ進む。ステップＳ８０８では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、前記ＢＥＲ（１）と前記ＢＥＲ（２）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（２）の方が小さいので、ステップＳ８０９へ進む。
【００３０】
４度目のステップＳ８０５では、再生レーザパワーが１．９[ｍＷ]にセットされる。そして続くステップＳ８０６では、ビットエラーレートの測定結果である、１×１０-5が、ＢＥＲ（３）に代入される。ステップＳ８０７での測定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ８０８へ進む。ステップＳ８０８では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、前記ＢＥＲ（２）と前記ＢＥＲ（３）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（３）の方が小さいので、ステップＳ８０９へ進む。
【００３１】
そして、５度目のステップＳ８０５では、再生レーザパワーが２．０[ｍＷ]にセットされる。そして続くステップＳ８０６では、ビットエラーレートの測定結果である、１×１０-5が、ＢＥＲ（４）に代入される。ステップＳ８０７での測定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ８０８へ進む。ステップＳ８０８では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、前記ＢＥＲ（３）と前記ＢＥＲ（４）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（３）とＢＥＲ（４）は等しいので、ステップＳ８１２へ進む。
【００３２】
ステップＳ８１２では、再生レーザパワーがＰｒ（Ｎ−１）にセットされる。この時点でＮは４であるから、再生レーザパワー変数Ｐｒ（３）が参照され、再生レーザパワーは１．９［ｍＷ］にセットされる。そしてステップＳ８１３において、通常の記録再生が開始される。
【特許文献１】特開２００２−３５２４３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３３】
しかし、ターボ符号を適用した記録再生装置において、上記立ち下がり検出法を利用して記録再生条件の最適化調整を行う際、誤った条件を以って最適条件と判断することがある。
【００３４】
例えば、前記立ち下がり検出法を利用して、図２２のグラフのようなビットエラーレート特性を示す光磁気ディスク２の再生レーザパワーの最適化を行った場合、前記ビットエラーレート曲線のバスタブ底辺の左端部に相当する条件を以って、最適再生レーザパワーであると判断する。
【００３５】
このような方法で判断した再生レーザパワーを利用すると、外部の温度変化やチルト等に対するマージンがない。
【００３６】
また、再生レーザパワーの調整を行うディスク上の位置と実際にデータの記録再生を行うディスク上の位置とが異なる場合も、上記と同様の問題が発生する。したがって、上記のようなバスタブ底部の最小レーザパワーを用いるのではなく、バスタブ底部の中央値に相当するレーザパワーを用いることが望ましい。図２２のグラフのようなビットエラーレート特性を示す光磁気ディスク２に関して言えば、１．９[ｍＷ]ではなく、２．２[ｍＷ]程度の再生レーザパワーを用いるのが望ましい。
【００３７】
再生条件若しくは記録条件に対するビットエラーレート特性を示す曲線がＶ字型であれば、前記立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化は適しているといえる。しかし、図２２のグラフで示す場合のように、再生条件若しくは記録条件に対するビットエラーレート特性を示す曲線がバスタブ型の場合、前記立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化は適さない。
【課題を解決するための手段】
【００３８】
請求項１の発明は、再生条件及び記録条件の最適化が正確に、かつ高速に行うことが可能な光ディスク装置に関するものである。ここで、光ディスク装置とは、ＣＤ−ＲＯＭプレイヤー、ＤＶＤ−ＲＯＭプレイヤー等の再生専用のドライブのみを指すのではない。ＤＶＤ―ＲＡＭ等の相変化型媒体や、光磁気ディスク媒体に対応した記録型のドライブも広く含む。即ち、本発明においては、光ディスクとは、光磁気ディスクをも含むものとする。
【００３９】
前記光ディスク装置は、少なくとも、エンコード手段と、記録手段と、再生手段と、デコード手段と、切換手段とを含む。
【００４０】
前記エンコード手段は、データ列にエンコード処理を施す。前記記録手段は、前記エンコード手段でエンコードされた変調データ列を光ディスクに記録する。
【００４１】
前記再生手段は、前記光ディスクから変調データ列を読み出す。前記デコード手段は、前記再生手段から読み出された変調データ列にデコード処理を施す。
【００４２】
前記エンコード手段及びデコード手段としては、ターボ符号化／復号化を行うためのもの、低密度パリティ検査符号法（ＬＤＰＣ）に基づくもの、ＥＣＣ符号化／復号化を行うためのもの等が含まれる。また、デコード手段の例として、ビタビ・デコーダ等が含まれる。
【００４３】
前記切換手段は、前記エンコード手段及びデコード手段の使用／不使用を切り換える。前記切換手段の構成例としては、例えば以下の２通りが考えられる。
【００４４】
第１の構成例としては、エンコード手段及びデコード手段の前にスイッチを設け、このスイッチの極性を制御することにより前記エンコード手段及びデコード手段の使用／不使用を切り換えるものが挙げられる。この場合、前記スイッチが前記切換手段に相当する。あるいは前記スイッチと、該スイッチを制御する制御手段とを以って切換手段とするものであっても良い。
【００４５】
第２の構成例としては、エンコード手段及びデコード手段にゲート入力端子を設け、前記ゲート入力端子への入力する信号の極性により、エンコード手段のエンコード機能及びデコード手段のデコード機能をオンにするかオフにするかを切り換えるものが挙げられる。この場合、前記ゲート入力端子への入力信号を生成する制御手段が切換手段に相当する。
【００４６】
請求項２の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記光ディスクの再生条件及び／又は記録条件の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００４７】
エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とするとは、例えば、以下の２つが挙げられる。
【００４８】
第１の例としては、前記切換手段の第１の構成例において、前記光ディスクの再生条件及び／又は記録条件の調整時は前記記録手段へ送られる信号が前記エンコード手段及び前記デコード手段を通過しないよう前記スイッチの極性を制御し、前記光ディスクのデータ再生時及び／又は前記光ディスクへのデータ記録時は前記記録手段へ送られる信号が前記エンコード手段及び前記デコード手段を通過するよう前記スイッチの極性を制御するものが挙げられる。
【００４９】
第２の例としては、前記切換手段の第２の構成例において、前記光ディスクの再生条件及び／又は記録条件の調整時は前記エンコード手段のエンコード機能及び前記デコード手段のデコード機能をオフにするよう前記エンコード手段及び前記デコード手段へのゲート入力信号を制御し、前記光ディスクのデータ再生時及び／又は前記光ディスクへのデータ記録時は前記エンコード手段のエンコード機能及び前記デコード手段のデコード機能をオンにするよう前記エンコード手段及び前記デコード手段への前記ゲート入力信号を制御するものが挙げられる。
【００５０】
請求項３の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記光ディスクの再生レーザパワーの調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５１】
請求項４の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記光ディスクの記録レーザパワーの調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５２】
請求項５の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記光ディスクの記録磁界強度の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５３】
請求項６の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記光ディスクの再生磁界強度の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５４】
請求項７の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記再生手段は、少なくとも方位が可変な光学素子を含み、前記光学素子の方位の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５５】
前記方位が可変な光学素子とは、例えば、光ディスク光学系の反射光路中に配置される１／４波長板などがある。
【００５６】
前記光ディスクの基板の多くは、ポリカーボネートで構成されている。このとき、光ディスクの基板の複屈折に起因して、光ディスクへの入射光が直線偏光であっても、反射光が楕円偏光になる場合がある。これにより検出信号のＳ／Ｎ比が低下する。そこで、光ディスクからの反射光路中に波長板を配置させ、この波長板の方位角を最適調整することで、楕円偏光化した反射光を直線偏光に変えることができる、いわゆるリタデーション補償を行うことが可能な光ピックアップが公知技術となっている。
【００５７】
ゆえに、請求項７は、リタデーション補償を行う際の前記光ディスク装置が行う動作について規定したものであると言える。
【００５８】
請求項８の光ディスク装置は、請求項１の光ディスク装置であって、前記記録手段は、パルス光磁界変調記録により前記光ディスクへの記録を行い、記録パルスレーザ光と記録磁界の位相差の調整時は、前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とする。
【００５９】
光磁気ディスクへの記録方式としてパルス光磁界変調記録方式があるが、パルス光磁界変調記録方式による記録を行う場合、記録パルス光と記録磁界強度の位相差を適切な値にする必要がある。請求項８の光ディスク装置は、前記位相差の調整時には前記エンコード手段及びデコード手段を不使用とすることを特徴とするものである。
【００６０】
請求項９の光ディスク装置は、請求項１乃至８の光ディスク装置であって、前記エンコード手段はターボ符号化処理を行い、前記デコード手段は、ターボ復号化処理を行うことを特徴とする。
【００６１】
請求項１０の光ディスク装置は、請求項１乃至８の光ディスク装置であって、前記エンコード手段はＬＤＰＣ法による符号化処理を行い、前記デコード手段は、ＬＤＰＣ法による復号化処理を行うことを特徴とする。
【００６２】
請求項１１の光ディスク装置は、請求項１乃至８の光ディスク装置であって、前記エンコード手段はＥＣＣ符号化処理を行い、前記デコード手段は、ＥＣＣ復号化処理を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００６３】
立ち下がり検出法（背景技術の欄を参照）により記録再生条件の調整を行えば、調整を短時間で行うことができる。しかし立ち下がり検出法は、エラー数の極小値に基づいて最適条件を決定するので、どのような条件においても、所定数以上のエラーが発生するような場合であれば、立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化は適している。しかし、極端に記録再生特性が良好であって、エラーが殆ど発生しないような記録再生系においては、立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化は適しているとはいえない。例えば、本来の最適条件から離れた条件においても、所定データビット中のエラーが殆どゼロとなってしまうような記録再生系の場合、立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化を試みた場合、前記本来の最適条件から離れた条件を以って、最適条件であるという誤った決定を行う。具体的には、ターボ符号化／復号化を利用することでエラーが殆ど発生しなくなるほど記録再生特性が極端に良好となるような光ディスク装置においては上記問題が発生する。
【００６４】
本発明は、上記のように符号化／復号化を利用することでエラーが殆ど発生しなくなるほど記録再生特性が良好となるような光ディスク装置において、符号化／復号化を使用せずに記録再生条件の調整を行うことを特徴とした光ディスク装置に関するものである。したがって、記録再生条件の最適化を正確に行うことが可能である。特に立ち下がり検出法による記録再生条件の最適化には適していると言える。
【００６５】
誤った最適化決定に基づいた条件を使用した場合、外部要因に対するマージンが小さくなる場合があるが、本発明によればこのような問題がない。
【００６６】
また本発明は、立ち下がり検出法により記録再生条件の調整を行うような光ディスク装置において適用できるので、記録再生条件の調整が短時間で可能であり、消費電力が少なくて済む。また、記録再生条件の調整時において必要以上に高いパワーのレーザ光を照射する必要がないので、媒体の損傷を防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６７】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００６８】
第１実施例は、本発明による再生レーザパワーの調整手順及びそれを実現するための装置構成等について述べたものである。第２実施例は、本発明による記録レーザパワーの調整手順及びそれを実現するための装置構成等について述べたものである。第３実施例は、本発明による記録磁界強度の調整手順及びそれを実現するための装置構成について述べたものである。第４実施例は、本発明による再生磁界強度の調整手順及びそれを実現するための装置構成について述べたものである。第５実施例は、光ディスク基板が有する複屈折に起因して発生するリタデーション現象を補正する機能を有した光磁気ディスク装置において、リタデーション調整手順及びそれを実現するための装置構成について述べたものである。第６実施例は、パルス光磁界変調記録を行う光磁気ディスク装置において、本発明による記録パルス光と記録磁界との間の位相の調整手順及びそれを実現するための装置構成について述べたものである。
【００６９】
上記第１から第６実施例は、ターボ符号を適用した光磁気ディスク装置における場合の構成例を示すものである。
【００７０】
また、第７実施例は、ターボ符号を適用した光磁気ディスク装置において、本発明による再生レーザパワーの調整手順及びそれを実現するための装置構成等について述べたものである。
【００７１】
ただし、本発明の適用対象は、以下の光磁気ディスク装置に限定されるものではなく、この他にも種々の信号処理を使う装置に適用可能である。
【実施例１】
【００７２】
図１に、本発明の光ディスク装置の一例である、光磁気ディスク装置１の構成を示す。光磁気ディスク装置１は、背景技術において示した、図２１の光磁気ディスク装置８００と比較して、ターボ符号器１２の使用／不使用を切り換えるスイッチ４１と、ターボ復号器２４の使用／不使用を切り換えるスイッチ４２とを有する点が異なるが、その他の構成はほぼ同じである。図１の光磁気ディスク装置１の構成ブロックにおいて、図２１の光磁気ディスク装置８００の構成ブロックと同一の動作を行うものは同じ番号で示している。図１の光磁気ディスク装置１の構成ブロックにおいて、図２１の光磁気ディスク装置８００と同様の構成ブロックであるが、動作が異なるものは異なる番号で示している。
【００７３】
なお、光磁気ディスク装置１には、上記構成の他、ディスク上の絶対位置を示すアドレス信号や、記録再生時に用いられるクロック信号等を生成するための構成、ディスク駆動モータを駆動制御するための構成および各部を制御するためのコントローラ等が別に配されることとなるが、これらは、図示省略している。これらについては、周知の光磁気ディスク装置と同様の構成を、そのまま採用することができる。
【００７４】
光磁気ディスク装置１におけるデータの記録動作は、光磁気ディスク装置８００と同様であるので、詳細は省略する。
【００７５】
但し、スイッチ４１は、記録／再生にターボ符号を用いるか用いないかによって切り換えられる。ターボ符号を用いる場合、制御回路３０は、スイッチ４１のａとｂとが接するようにし、ターボ符号器１２が使用されるよう制御する。ターボ符号を用いない場合、制御回路３０は、スイッチ４１のａとｃとが接するようにし、ターボ符号器１２が使用されないよう制御する。これらの点は、光磁気ディスク装置８００と異なる。なお、本実施例では、通常の記録再生時はターボ符号器１２を使用する。記録再生条件の調整時には、ターボ符号器１２は使用しない。
【００７６】
また、光磁気ディスク装置１におけるデータの再生動作も光磁気ディスク装置８００と同様であるので、詳細は省略する。
【００７７】
但し、スイッチ４２は、記録／再生にターボ符号を用いるか用いないかによって切り換えられる。ターボ符号を用いる場合、制御回路３０は、スイッチ４２のａとｂとが接するようにし、ターボ復号器２４が使用されるよう制御する。ターボ符号を用いない場合、制御回路３０は、スイッチ４２のａとｃとが接するようにし、ターボ復号器２４が使用されないよう制御する。これらの点は、光磁気ディスク装置８００と異なる。なお、本実施例では、通常の記録再生時はターボ復号器２４を使用する。記録再生条件の調整時には、ターボ復号器２４は使用しない。
【００７８】
また、光磁気ディスク装置８００のように、ビットエラーレート測定回路３１内のメモリに予め記憶された校正パターン用の信号を利用するのではなく、ＥＣＣデコーダ２５から出力されるＰＩエラー数に基づいて最適な再生レーザパワーを決定するものであっても良い。
【００７９】
図２のグラフは、光磁気ディスク装置１により光磁気ディスク２を再生したときの、ビットエラーレートの再生レーザパワー依存性の一例を示したものである。黒丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレートであり、白丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレートである。記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレート曲線はＶ字型になるが、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレート曲線はバスタブ型になる。ターボ符号不使用時は、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]においてビットエラーレートが最小となる。これに対して、ターボ符号使用時は、再生レーザパワーは１．９〜２．５[ｍＷ]においてビットエラーレートが最小となる。
【００８０】
図３のフローチャートは、光磁気ディスク装置１により、光磁気ディスク２を再生する際の、再生レーザパワー調整の手順を示したものである。図３のフローチャートは、背景技術で示した図２３のフローチャートとほぼ同じであるが、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにするステップＳ２と、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにするステップＳ１４とを有する点が異なる。
【００８１】
再生レーザパワーの調整をスタートする指示（ステップＳ１）が入ると、ステップＳ２において、ターボ符号器１２及びターボ復号器２４がオフにされる。
【００８２】
ステップＳ３では、記録レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。本実施例では、記録レーザ光は、発光デューティが３５％であって、ピークパワーが９[ｍＷ]のパルス光が用いられる。記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]とする。
【００８３】
そして、ステップＳ４において、再生レーザパワー調整用の所定パターンの磁区が光磁気ディスク２に記録される。ステップＳ５では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１２が、再生レーザパワー変数Ｐｒ（０）に１．６が代入される。
【００８４】
ステップＳ６では、再生レーザパワーがＰｒ（Ｎ）[ｍＷ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、再生レーザパワー１．６[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図２２のような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には４×１０-2が代入される。
【００８５】
尚、上記測定では、１０万ビットのデータ中に発生するエラー数が計数され、エラー数を１０万で除したものをビットエラーレートとする。但し、エラー数がゼロの場合、ビットエラーレートは１×１０-6であるとみなす。
【００８６】
ステップＳ８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（０）は４×１０-2であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ１０へ進む。ステップＳ１０では、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ１１では、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ−１）に０．１加えたものが、再生レーザパワー変数Ｐｒ（Ｎ）に代入される。Ｐｒ（０）は１．６であったから、Ｐｒ（１）に１．７が代入される。
【００８７】
ステップＳ１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ６へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１２としているので、Ｎが１２を超えることはない。また、Ｐｒ（０）を１．６とし、Ｐｒ（Ｎ）＝Ｐｒ（Ｎ−１）＋０．１としているから、Ｐｒ（Ｎ）が２．８を超えることはない。したがって、ステップＳ１２は、再生レーザパワーが２．８［ｍＷ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する再生レーザパワーの最小値を１．６[ｍＷ]、最大値を２．８[ｍＷ]としている。
【００８８】
続いて、ステップＳ６→ステップＳ７→ステップＳ８→ステップＳ１０→ステップＳ１１→ステップＳ１２→ステップＳ６が２回繰り返される。即ち、ステップＳ８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【００８９】
そして、４度目のステップＳ６では、再生レーザパワーがＰｒ（３）[ｍＷ]に、即ち１．９[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ７では、ビットエラーレートが測定される。図２のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（３）には測定結果である２×１０-4が代入される。ステップＳ８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ９へ進む。ステップＳ９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（２）とＢＥＲ（３）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（３）の方が小さいので、再びステップＳ１０へ進む。ステップＳ１１を経て、ステップＳ１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ６へ進む。
【００９０】
以後、同様にして、ステップＳ６→ステップＳ７→ステップＳ８→ステップＳ９→ステップＳ１０→ステップＳ１１→ステップＳ１２の処理が３回繰り返される。即ち、ステップＳ９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【００９１】
そして、８度目のステップＳ６では、再生レーザパワーがＰｒ（７）[ｍＷ]に、即ち２．３[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ７では、ビットエラーレートが測定される。図２のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（７）には測定結果である４×１０-5が代入される。ステップＳ８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ９へ進む。ステップＳ９では、再生レーザパワーが２．２[ｍＷ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（６）と、再生レーザパワーが２．３[ｍＷ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（７）との大小が比較されるが、ＢＥＲ（７）の方が大きいので、ステップＳ１３へ進む。
【００９２】
ステップＳ１３では、再生レーザパワーがＰｒ（Ｎ−１）[ｍＷ]にセットされる。この時点でＮは８であるから、再生レーザパワー変数Ｐｒ（７）が参照され、再生レーザパワーは２．２［ｍＷ］にセットされる。そして、ステップＳ１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンにされ、ステップＳ１５において、再生パワーの調整を終えて、通常の記録再生が開始される。
【００９３】
前記ステップＳ１４でセットされた最適再生レーザパワーと、図２のグラフで示される最適再生レーザパワーは何れも２．２［ｍＷ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば最適再生レーザパワーが正しく検出できる。
【００９４】
また、ビットエラーレートが１×１０-3以下かどうかを調べるステップＳ８を設けたのは、再生特性が不良なディスクの使用を防ぐためである。再生レーザパワーを最適化してもビットエラーレートが１×１０-3未満にならないディスクを使用する場合、ステップＳ８では常にＮＯと判断されるので、通常の記録再生をスタートさせるステップＳ１５へ進むことがない。最終的には「パワー調整不成功」なる判定を行うステップＳ１６へ進む。したがって、再生特性が不良なディスクの使用を防ぐことができる。
【００９５】
上記実施例では、ステップＳ９において、ＢＥＲ（Ｎ）＞＝ＢＥＲ（Ｎ−１）がＹｅｓであると判定されたとき、ステップＳ１３において、Ｐｒ（Ｎ−１）を最適再生レーザパワーと判定するものであった。しかし、ステップＳ１３は、ＢＥＲ（０）、ＢＥＲ（１）、…、ＢＥＲ（Ｎ−１）、ＢＥＲ（Ｎ）、及び、Ｐｒ（０）、Ｐｒ（１）、…、Ｐｒ（Ｎ−１）、Ｐｒ（Ｎ）に基づいて、ビットエラーレートＢＥＲを再生レーザパワーＰｒのＮ次多項式、
[式１]  ＢＥＲ＝ａNＰｒN＋ａN-1ＰｒN-1＋ａ2Ｐｒ2＋ａ1Ｐｒ＋ａ0
で近似し、その近似多項式におけるビットエラーレートＢＥＲが極小となるような再生レーザパワーＰｒを以って、最適再生レーザパワーであるとするものであっても良い。
【００９６】
「背景技術」において述べたように、従来の光磁気ディスク装置８００を用いて（ターボ符号をオンにした状態で）、立ち下がり検出法により再生レーザパワーの最適化調整を行った場合、前記バスタブ型曲線の底辺の左端部に相当するレーザパワー（例えば、図２でいうところの１．９〔ｍＷ〕）を以って、最適レーザパワーであると判断する場合があった。このとき、温度変化によるレーザパワーの変動、ディスクチルトの発生等により、ディスクへ照射する実効的なレーザパワーが変動し、再生特性が急激に悪化する場合がある。再生特性が悪化した場合、再生レーザパワーの最適化調整を再び行う必要があるので、消費電力を多く要する。
【００９７】
一方、図３のフローチャートで示した方法で再生レーザパワーの最適化調整を行えば、外乱等に起因した再生特性の悪化が問題になることはない。ゆえに、本発明は再生レーザパワーの最適化調整を高速に行うだけでなく、再生レーザパワーの最適化調整を行う回数を減らすことにより、オーバヘッド処理時間の低減や、消費電力の低下といった効果を有する。
【００９８】
以上のように、ターボ符号化及びターボ復号化を施したときのビットエラーレートの再生レーザパワー依存性が底の広いバスタブ曲線となる場合、ターボ符号化及びターボ復号化を施さない状態で調整を行うことで、再生レーザパワーの最適化が正しく行える。
【００９９】
これらの操作はディスク上のテスト領域又はコントロール領域で行うことが望ましい。ユーザデータを格納するデータ領域とは異なる場所で行うため、パワー調整によるデータ消失を防ぐことができるからである。
【０１００】
上記第１実施例は、光磁気ディスク装置１による、再生レーザパワーの最適化に関するものであったが、磁気ヘッドを有さない光ディスク装置、例えば相変化型媒体の再生レーザパワーの最適化を行う場合であっても、図３のフローチャートで示したものと同様の手順で行うことができる。以上の第１実施例を以って、請求項３の発明の一実施例とすることができる。
【実施例２】
【０１０１】
図４のグラフは、光磁気ディスク装置１により、光磁気ディスク２に様々な記録レーザパワーで記録したときの再生ビットエラーレートを示したものである。黒丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレートであり、白丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレートである。ターボ符号不使用時は、Ｖ字型のビットエラーレート曲線を示しており、記録レーザパワーが９[ｍＷ]のときビットエラーレートが最小となる。これに対して、ターボ符号使用時は、バスタブ型のビットエラーレート曲線を示しており（図４のグラフでは、記録レーザパワーが１２[ｍＷ]以上の場合のビットエラーレート値の表示を省略しているので、ビットエラーレート曲線はバスタブ型にはなっていないが、記録レーザパワーを高くしすぎると記録特性は悪くなるので、実際のビットエラーレート曲線はバスタブ型となる）、記録レーザパワーが７．５[ｍＷ]以上、１２[ｍＷ]以下の場合は、ビットエラーレートが一定値になる。
【０１０２】
図５のフローチャートは、図１の光磁気ディスク装置１により、光磁気ディスク２に記録する際の、記録レーザパワーの最適化調整を行うときの手順を示したものである。本実施例では、記録レーザ光は、発光デューティが３５％のパルス光が用いられる。記録レーザパワーとは、前記パルス光のピークパワーのことを指すものとする。記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]とする。
【０１０３】
記録レーザパワーの調整をスタートする指示（ステップＳ２０１）が入ると、ステップＳ２０２において、ターボ符号器１２及びターボ復号器２４がオフにされる。
【０１０４】
ステップＳ２０３において、再生レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。本実施例では、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]に、記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]にセットされるものとする。ステップＳ２０４では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１２が、記録レーザパワー変数Ｐｗ（０）に６．０が代入される。
【０１０５】
ステップＳ２０５では、記録レーザパワーがＰｗ（Ｎ）[ｍＷ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、記録レーザパワー６．０[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ２０６では、前記記録レーザパワーにより、校正用マークが記録される。ステップＳ２０７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図４のグラフのような記録レーザパワー依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には３×１０-2が代入される。
【０１０６】
尚、上記測定では、１０万ビットのデータ中に発生するエラー数が計数され、エラー数を１０万で除したものをビットエラーレートとする。但し、エラー数がゼロの場合、ビットエラーレートは１×１０-5であるとみなすものとする。
【０１０７】
ステップＳ２０８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（１）は３×１０-2であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ２１０へ進む。ステップＳ２１０では、記録レーザパワー変数Ｐｗ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ２１１では、記録レーザパワー変数Ｐｗ（Ｎ−１）に０．５を加えたものが、記録レーザパワー変数Ｐｗ（Ｎ）に代入される。Ｐｗ（０）は６．０であったから、Ｐｗ（１）に６．５が代入される。
【０１０８】
ステップＳ２１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ２０５へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１２としているので、Ｎが１２を超えることはない。また、Ｐｗ（０）を６．０とし、Ｐｗ（Ｎ）＝Ｐｗ（Ｎ−１）＋０．５としているから、Ｐｗ（Ｎ）が１２．０を超えることはない。したがって、ステップＳ２１２は、記録レーザパワーが１２．０［ｍＷ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する記録レーザパワーの最小値を６．０[ｍＷ]、最大値を１２．０[ｍＷ]としている。
【０１０９】
続いて、ステップＳ２０５→ステップＳ２０６→ステップＳ２０７→ステップＳ２０８→ステップＳ２１０→ステップＳ２１１→ステップＳ２１２→ステップＳ２０５が２回繰り返される。即ち、ステップＳ２０８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【０１１０】
そして、４度目のステップＳ２０５では、記録レーザパワーがＰｗ（３）[ｍＷ]に、即ち７．５[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ２０６では、前記記録レーザパワーにより、校正用マークが記録される。ステップＳ２０７では、ビットエラーレートが測定される。図４のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（３）には測定結果である２×１０-4が代入される。ステップＳ２０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ２０９へ進む。ステップＳ２０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（２）とＢＥＲ（３）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（３）の方が小さいので、再びステップＳ２１０へ進む。ステップＳ２１１を経て、ステップＳ２１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ２０５へ進む。
【０１１１】
以後、同様にして、ステップＳ２０６→ステップＳ２０７→ステップＳ２０８→ステップＳ２０９→ステップＳ２１０→ステップＳ２１１→ステップＳ２１２の処理が３回繰り返される。即ち、ステップＳ２０９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【０１１２】
そして、８度目のステップＳ２０５では、記録レーザパワーがＰｗ（７）[ｍＷ]に、即ち９．５[ｍＷ]にセットされる。ステップＳ２０６では、前記記録レーザパワーにより校正用パターンが記録される。図４のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（７）には測定結果である２×１０-5が代入される。ステップＳ２０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ２０９へ進む。ステップＳ２０９では、記録レーザパワー９．０[ｍＷ]時のビットエラーレートＢＥＲ（６）と、記録レーザパワー９．５[ｍＷ]時のビットエラーレートＢＥＲ（７）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（７）の方が大きいので、ステップＳ２１３へ進む。
【０１１３】
ステップＳ２１３では、記録レーザパワーがＰｗ（Ｎ−１）[ｍＷ]にセットされる。この時点でＮは８であるから、記録レーザパワー変数Ｐｗ（７）が参照され、記録レーザパワーは９．０［ｍＷ］にセットされる。そして、ステップＳ２１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンにされ、ステップＳ２１５において、通常の記録再生が開始される。
【０１１４】
前記ステップＳ２１３でセットされた最適記録レーザパワーと、図４のグラフで示される最適記録レーザパワーは何れも９．０［ｍＷ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば最適記録レーザパワーが正しく検出できる。
【０１１５】
また、ビットエラーレートが１×１０-3以下かどうかを調べるステップＳ２０８を設けたのは、記録特性が不良なディスクの使用を防ぐためである。記録レーザパワーを最適化してもビットエラーレートが１×１０-3未満にならないようなディスクを使用する場合、ステップＳ２０８では常にＮＯと判断されるので、通常の記録再生をスタートさせるステップＳ２１５へ進むことがない。最終的には「パワー調整不成功」なる判定を行うステップＳ２１６へ進む。したがって、記録特性が不良なディスクの使用を防ぐことができる。
【０１１６】
上記実施例では、ステップＳ２０９において、ＢＥＲ（Ｎ）＞＝ＢＥＲ（Ｎ−１）がＹｅｓであると判定されたとき、ステップＳ２１３において、Ｐ（Ｎ−１）を最適記録レーザパワーと判定するものであった。しかし、ステップＳ２１３は、ＢＥＲ（０）、ＢＥＲ（１）、…、ＢＥＲ（Ｎ−１）、ＢＥＲ（Ｎ）、及び、Ｐｗ（０）、Ｐｗ（１）、…、Ｐｗ（Ｎ−１）、Ｐｗ（Ｎ）に基づいて、ビットエラーレートＢＥＲを再生レーザパワーＰのＮ次多項式、
[式２]  ＢＥＲ＝ａNＰｗN＋ａN-1ＰｗN-1＋ａ2Ｐｗ2＋ａ1Ｐｗ＋ａ0
で近似し、その近似多項式におけるビットエラーレートＢＥＲが極小となるような記録レーザパワーＰｗを以って、最適記録レーザパワーであるとするものであっても良い。
【０１１７】
一方、従来の光磁気ディスク装置８００を用いて、もしくは記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオンにした状態で、光磁気ディスク２の記録レーザパワー調整を行った場合、ビットエラーレート特性を示す前記バスタブ曲線の底辺の最小値に相当する記録レーザパワーを以って、最適レーザパワーであると判断してしまう。例えば、図５のフローチャートにおいて、ステップＳ２０２のみをターボ符号器及びターボ復号器をオンにするものと読み替えた手順に基づいて記録レーザパワー調整を行った場合、７．５[ｍＷ]を以って最適記録レーザパワーであると判断する。
【０１１８】
このようにして判別された記録レーザパワーを用いる場合、ターボ符号器をオフとした場合、ビットエラーレートは４乗台となり、良好ではない。したがって、温度変化によるレーザパワーの変動、ディスクチルトの発生等により、ディスクへ照射する実効的なレーザパワーが変動し、記録特性が悪化する場合がある。記録特性が悪化した場合、記録レーザパワーの最適化調整を再び行う必要があるので、消費電力を多く要する。
【０１１９】
以上のように、ターボ符号化及びターボ復号化を施したときのビットエラーレートの再生レーザパワー依存性が底の広いバスタブ曲線となる場合、ターボ符号化及びターボ復号化を施さない状態で調整を行えば、記録レーザパワーの最適化が正しく行える。
【０１２０】
これらの操作はディスク上のテスト領域又はコントロール領域で行うことが望ましい。ユーザデータを格納するデータ領域とは異なる場所で行うため、パワー調整によるデータ消失を防ぐことができるからである。
【０１２１】
上記第２実施例は、光磁気ディスク装置１による、記録レーザパワーの最適化に関するものであったが、磁気ヘッドを有さない光ディスク装置、例えば相変化型媒体の記録レーザパワーの最適化を行う場合であっても、図５のフローチャートで示したものと同様の手順で行うことができる。以上の第２実施例を以って、請求項４の発明の一実施例とすることができる。
【実施例３】
【０１２２】
図６は、本発明の光ディスク装置の他の実施例である、光磁気ディスク装置２００の構成を示したものである。光磁気ディスク装置２００は、図１の光磁気ディスク装置１と比較して、制御回路２３０により磁気ヘッド駆動回路１５が駆動される点で異なるが、他の構成ブロック及びその動作は同一であるので、詳細な説明は省略する。
【０１２３】
図７のグラフは、光磁気ディスク装置２００により、光磁気ディスク２に記録したときの、ビットエラーレートの記録磁界強度依存性を示したものである。黒丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレートであり、白丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレートである。
【０１２４】
図７のグラフを参照して、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオンにした場合のビットエラーレートは記録磁界強度が１５０[Ｏｅ]から３００[Ｏｅ]と広い範囲にわたって最小値となるが、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオフにした場合のビットエラーレートは記録磁界強度を２５０[Ｏｅ]のときに最小となる。
【０１２５】
図８のフローチャートは、光磁気ディスク装置２００により、光磁気ディスク２に記録を行うときの、記録磁界強度の調整の手順を示したものである。
【０１２６】
記録磁界強度の調整をスタートする指示（ステップＳ３０１）が入り、ターボ符号器１２及びターボ符号器２４がオフにセットされる（ステップＳ３０２）。
【０１２７】
ステップＳ３０３において、再生レーザパワー、記録レーザパワー等が所定値にセットされる。本実施例では、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]に、記録レーザパワーは９[ｍＷ]（但し、発光デューティーが３５％のパルス光）にセットされるものとする。ステップＳ３０４では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１０が、記録磁界強度変数Ｈｗ（０）に５０が代入される。
【０１２８】
ステップＳ３０５では、記録磁界強度がＨｗ（Ｎ）[Ｏｅ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、記録磁界強度は５０[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ３０６では、前記記録磁界強度により、校正用マークが記録される。ステップＳ３０７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図７のグラフのような記録磁界強度依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には３×１０-2が代入される。
【０１２９】
ステップＳ３０８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（０）は３×１０-2であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ３１０へ進む。ステップＳ３１０では、記録磁界強度変数Ｈｗ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ３１１では、記録磁界強度変数Ｈｗ（Ｎ−１）に２５を加えたものが、記録磁界強度変数Ｈｗ（Ｎ）に代入される。Ｈｗ（０）は５０であったから、Ｈｗ（１）に７５が代入される。
【０１３０】
ステップＳ３１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ３０５へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１０としているので、Ｎが１０を超えることはない。また、Ｈｗ（０）を５０とし、Ｈｗ（Ｎ）＝Ｈｗ（Ｎ−１）＋２５としているから、Ｈｗ（Ｎ）が３００を超えることはない。したがって、ステップＳ３１２は、記録磁界強度が３００［Ｏｅ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する記録磁界強度の最小値を５０[Ｏｅ]、最大値を３００[Ｏｅ]としている。
【０１３１】
続いて、ステップＳ３０５→ステップＳ３０６→ステップＳ３０７→ステップＳ３０８→ステップＳ３１０→ステップＳ３１１→ステップＳ３１２→ステップＳ３０５が３回繰り返される。即ち、ステップＳ３０８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【０１３２】
そして、５度目のステップＳ３０５では、記録磁界強度がＨｗ（４）[Ｏｅ]に、即ち１５０[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ３０６では、前記記録磁界強度により、校正用マークが記録される。ステップＳ３０７では、ビットエラーレートが測定される。図７のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（４）には測定結果である７×１０-4が代入される。ステップＳ３０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ３０９へ進む。ステップＳ３０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（３）とＢＥＲ（４）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（４）の方が小さいので、再びステップＳ３１０へ進む。ステップＳ３１１を経て、ステップＳ３１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ３０５へ進む。
【０１３３】
以後、同様にして、ステップＳ３０５→ステップＳ３０６→ステップＳ３０７→ステップＳ３０８→ステップＳ３０９→ステップＳ３１０→ステップＳ３１１→ステップＳ３１２の処理が５回繰り返される。即ち、ステップＳ３０９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【０１３４】
そして、１０度目のステップＳ３０５では、記録磁界強度がＨｗ（９）[Ｏｅ]に、即ち２７５[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ３０６では、前記記録磁界強度により、校正用マークが記録される。ステップＳ３０７では、ビットエラーレートが測定される。図７のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（９）には測定結果である７×１０-5が代入される。ステップＳ３０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ３０９へ進む。ステップＳ３０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、記録磁界強度が２５０[Ｏｅ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（８）と、記録磁界強度が２７５[Ｏｅ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（９）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（９）の方が大きいので、ステップＳ３１３へ進む。
【０１３５】
ステップＳ３１３では、記録磁界強度がＨｗ（Ｎ−１）[Ｏｅ]にセットされる。この時点でＮは９であるから、記録磁界強度変数Ｈｗ（８）が参照され、記録磁界強度は２５０［Ｏｅ］にセットされる。そして、ステップＳ３１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンになる。そしてステップＳ３１５において、通常の記録再生が開始される。
【０１３６】
前記ステップＳ３１３でセットした記録磁界強度と、図７のグラフで示される最適記録磁界強度は何れも２５０［Ｏｅ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば最適記録磁界強度が正しく検出できる。
【０１３７】
なお、上記実施例においては、ビットエラーレートが１×１０-3以下かどうかを調べるステップＳ３０８と、ＢＥＲ（Ｎ−１）とＢＥＲ（Ｎ）とを比較するステップＳ３０９とを有していた。しかし、上記ステップＳ３０８に代えて、ビットエラーレートが１×１０-4以下かどうかを調べるステップを設け、上記ステップＳ３０９を省略するものであっても良い。図７のグラフに示すような記録磁界強度特性を有する光磁気ディスクを使用する場合、最適記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]といえる。一方、上記手順により記録磁界強度の調整を行えば、最適記録磁界強度は２００[Ｏｅ]と判断される。この場合における５０[Ｏｅ]の差は、実用上問題がない。図７のグラフを参照して、光磁気ディスク装置２００の記録磁界強度を２００[Ｏｅ]と設定した場合、磁気ヘッド１７と光ピックアップ１８のレーザ光との位置ずれにより、光磁気ディスク２面上の実効的な磁界強度が変動したとしても、記録再生特性が悪化することはないからである。上記ステップＳ３０９を省略することが可能であれば、最適化調整が高速化できるだけでなく、ドライブ内に記録磁界強度ごとのビットエラーレートを保存するためのメモリが不必要となり、ＬＳＩの設計が要になると言う利点も有する。
【０１３８】
以上のように、ターボ符号化及びターボ復号化を施したときのビットエラーレートの記録磁界強度依存性がバスタブ曲線となる場合、ターボ符号化及びターボ復号化を施さない状態で調整を行うことで、記録磁界強度の最適化が正しく行える。上記の第３実施例を以って、請求項５の発明の一実施例とすることができる。
【実施例４】
【０１３９】
図９のグラフは、光磁気ディスク装置２００により、光磁気ディスク２を再生したときの、ビットエラーレートの再生磁界強度依存性を示したものである。黒丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレートであり、白丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレートである。
【０１４０】
図９のグラフを参照して、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオンにした場合のビットエラーレートは再生磁界強度が１７５[Ｏｅ]から３００[Ｏｅ]と広い範囲にわたって最小値となるが、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオフにした場合のビットエラーレートは再生磁界強度が２００[Ｏｅ]のときに最小となる。
【０１４１】
図１０のフローチャートは、図６の光磁気ディスク装置２００により、光磁気ディスク２を再生する際の、再生磁界強度の最適化調整を行うときの手順を示したものである。
【０１４２】
再生磁界強度の調整をスタートする指示（ステップＳ４０１）が入り、ターボ符号器１２及びターボ符号器２４がオフにセットされる（ステップＳ４０２）。
【０１４３】
ステップＳ４０３において、再生レーザパワー、記録レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。本実施例では、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]に、記録レーザパワーは９[ｍＷ]（但し、発光デューティーが３５％のパルス光）に、記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]にセットされるものとする。ステップＳ４０４では、前記条件により校正用マークが記録される。そして、ステップＳ４０５では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１２が、再生磁界強度変数Ｈｒ（０）に０が代入される。
【０１４４】
ステップＳ４０６では、再生磁界強度がＨｒ（Ｎ）[Ｏｅ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、再生磁界強度は０[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ４０７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図９のグラフのような再生磁界強度依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には５×１０-1が代入される。
【０１４５】
ステップＳ４０８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（１）は５×１０-1であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ４１０へ進む。ステップＳ４１０では、再生磁界強度変数Ｈｒ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ４１１では、再生磁界強度変数Ｈｒ（Ｎ−１）に２５を加えたものが、再生磁界強度変数Ｈｒ（Ｎ）に代入される。Ｈｒ（０）は０であったから、Ｈｒ（１）に２５が代入される。
【０１４６】
ステップＳ４１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ４０６へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１２としているので、Ｎが１２を超えることはない。また、Ｈｒ（０）を０とし、Ｈｒ（Ｎ）＝Ｈｒ（Ｎ−１）＋２５としているから、Ｈｒ（Ｎ）が３００を超えることはない。したがって、ステップＳ４１２は、再生磁界強度が３００［Ｏｅ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する再生録磁界強度の最小値を０[Ｏｅ]、最大値を３００[Ｏｅ]としている。
【０１４７】
続いて、ステップＳ４０６→ステップＳ４０７→ステップＳ４０８→ステップＳ４１０→ステップＳ４１１→ステップＳ４１２→ステップＳ４０６が６回繰り返される。即ち、ステップＳ３０８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【０１４８】
そして、７度目のステップＳ４０６では、再生磁界強度がＨｒ（６）[Ｏｅ]に、即ち１５０[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ４０７では、ビットエラーレートが測定される。図９のグラフのような再生磁界強度依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（６）には測定結果である５×１０-4が代入される。ステップＳ４０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ４０９へ進む。ステップＳ４０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（５）とＢＥＲ（６）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（６）の方が小さいので、再びステップＳ４１０へ進む。ステップＳ４１１を経て、ステップＳ４１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ４０６へ進む。
【０１４９】
以後、同様にして、ステップＳ４０６→ステップＳ４０７→ステップＳ４０８→ステップＳ４０９→ステップＳ４１０→ステップＳ４１１→ステップＳ４１２の処理が３回繰り返される。即ち、ステップＳ４０９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【０１５０】
そして、１０度目のステップＳ４０６では、再生磁界強度がＨｒ（９）[Ｏｅ]に、即ち２２５[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ４０７では、ビットエラーレートが測定される。図９のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（９）には測定結果である７×１０-5が代入される。ステップＳ４０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ４０９へ進む。ステップＳ４０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、再生磁界強度が２００[Ｏｅ]のときのビットビットエラーレートＢＥＲ（８）と、再生磁界強度が２２５[Ｏｅ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（９）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（９）の方が大きいので、ステップＳ４１３へ進む。
【０１５１】
ステップＳ４１３では、再生磁界強度がＨｒ（Ｎ−１）[Ｏｅ]にセットされる。この時点でＮは９であるから、再生磁界強度変数Ｈｒ（８）が参照され、再生磁界強度は２００［Ｏｅ］にセットされる。そして、ステップＳ４１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンになる。そしてステップＳ４１５において、通常の記録再生が開始される。
【０１５２】
前記ステップＳ４１３でセットした再生磁界強度と、図９のグラフで示される最適再生磁界強度は何れも２００［Ｏｅ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば最適再生磁界強度が正しく検出できる。
【０１５３】
なお、上記実施例においては、ビットエラーレートが１×１０-3以下かどうかを調べるステップＳ４０８と、ＢＥＲ（Ｎ−１）とＢＥＲ（Ｎ）とを比較するステップＳ４０９とを有していた。しかし、上記ステップＳ４０８に代えて、ビットエラーレートが１×１０-4以下かどうかを調べるステップを設け、上記ステップＳ４０９を省略するものであっても良い。図９のグラフに示すような再生磁界強度特性を有する光磁気ディスクを使用する場合、最適再生磁界強度は２００[Ｏｅ]と考えられる。一方、上記手順により再生磁界強度の調整を行えば、最適再生磁界強度は１７５[Ｏｅ]と判断されるが、この場合における２５[Ｏｅ]の差は、実用上問題がない。図９のグラフを参照して、光磁気ディスク装置２００の再生磁界強度を１７５[Ｏｅ]と設定した場合、磁気ヘッド１７と光ピックアップ１８のレーザ光との位置ずれにより、光磁気ディスク２面上の実効的な磁界強度が変動したとしても、記録再生特性が悪化することはないからである。上記ステップＳ４０９を省略することが可能であれば、最適化調整が高速化できるだけでなく、ドライブ内に再生磁界強度ごとのビットエラーレートを保存するためのメモリが不必要となり、ＬＳＩの設計が要になると言う利点も有する。
【０１５４】
以上のように、ターボ符号化及びターボ復号化を施したときのビットエラーレートの再生磁界強度依存性がバスタブ曲線となる場合、ターボ符号化及びターボ復号化を施さない状態で調整を行うことで、再生磁界強度の最適化が正しく行える。上記の第４実施例を以って、請求項６の発明の一実施例とすることができる。
【実施例５】
【０１５５】
図１１は、光磁気ディスク２からの反射光の楕円率補正（リタデーション補正）を有する光ピックアップ３１８の構成を示したものである。光磁気ディスクの基板はポリカーボネートでできており、通常はある大きさの楕円率を有している。したがって、光磁気ディスクに直線偏光を入射させたとき、基板が有する楕円率の影響により、反射光は楕円偏光となる。光磁気ディスクの検出光学系においては、検出光が楕円偏光の場合、直線偏光の場合と比較してＳ／Ｎが低くなるので、楕円偏光を直線偏光に補正することが望ましい。前記楕円率補正とは、このように楕円偏光を直線偏光に補正することを意味するものである。
【０１５６】
この楕円率補正は、例えば図１１の光ピックアップ３１８において、１／４波長板１８５を回転させることで実現できる。一般に、１／４波長板を回転させると、その１／４波長板への入射光の直交偏光成分間の位相差を変えることができる。このことにより楕円率補正が可能となる。
【０１５７】
図１２は、図１１の光ピックアップ３１８を含み、上述の楕円率補正が可能な光磁気ディスク装置３００の構成を示す図である。図１２の光磁気ディスク装置３００は、図１の光磁気ディスク装置１とほぼ同様の構成であるが、光ピックアップ３１８に楕円率補正のための波長板がある点と、前記波長板を駆動するための波長板駆動回路６０とを含む点で異なる。また、制御回路３３０が、レーザ駆動回路１６に代えて、波長板駆動回路６０を制御する点で異なる。
【０１５８】
図１３のグラフは、図１２の光磁気ディスク装置３００を用いて光磁気ディスク２を再生したときのビットエラーレートの１／４波長板方位角依存性を示すものである。図１３のグラフを参照して、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオンにした場合のビットエラーレートはバスタブ型の曲線となるが、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ符号器２４をオフにした場合のビットエラーレートはＶ字型の曲線となっている。
【０１５９】
図１４のフローチャートは、図１２の光磁気ディスク装置３００により、光磁気ディスク２を再生する際の、１／４波長板方位角の最適化調整を行うときの手順を示したものである。ここでは、１／４波長板１８５の方位角を順次変化させながらビットエラーレートを測定し、最適な方位角を求めているが、これは検出光の楕円率補正の最適化を図っていることに相当するものである。
【０１６０】
波長板方位角の調整をスタートする指示（ステップＳ５０１）が入り、ターボ符号器１２及びターボ符号器２４がオフにセットされる（ステップＳ５０２）。
【０１６１】
ステップＳ５０３において、再生レーザパワー、記録レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。本実施例では、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]に、記録レーザパワーは９[ｍＷ]（但し、発光デューティーが３５％のパルス光）に、記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]にセットされる。ステップＳ５０４では、前記条件により校正用マークが記録される。
【０１６２】
ステップＳ５０５では変数Ｎに０が、変数ＮＭＡＸに１２が、波長板方位角変数Ｆ（０）に−３０が代入される。
【０１６３】
ステップＳ５０６では、波長板方位角がＦ（Ｎ）[ｄｅｇ]にセットされる。この場合、Ｎ＝０であるから、波長板方位角は−３０[ｄｅｇ]にセットされる。ステップＳ５０７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図１３のグラフのような波長板方位角依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には５×１０-1が代入される。
【０１６４】
ステップＳ５０８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（１）は５×１０-1であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ５１０へ進む。
【０１６５】
ステップＳ５１０では、波長板方位角変数Ｆ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ５１１では、波長板方位角変数Ｆ（Ｎ−１）に５を加えたものが、波長板方位角変数Ｆ（Ｎ）に代入される。Ｆ（０）は−３０であったから、Ｆ（１）にー２５が代入される。
【０１６６】
ステップＳ５１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ５０６へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１２としているので、Ｎが１２を超えることはない。また、Ｆ（０）を−３０とし、Ｆ（Ｎ）＝Ｆ（Ｎ−１）＋５としているから、Ｆ（Ｎ）が＋３０を超えることはない。したがって、ステップＳ５１２は、波長板方位角強度が＋３０［ｄｅｇ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する波長板方位角の最小値を−３０[ｄｅｇ]、最大値を＋３０[ｄｅｇ]としている。
【０１６７】
続いて、ステップＳ５０６→ステップＳ５０７→ステップＳ５０８→ステップＳ５１０→ステップＳ５１１→ステップＳ５１２→ステップＳ５０６が３回繰り返される。即ち、ステップＳ５０８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【０１６８】
そして、５度目のステップＳ５０６では、波長板方位角がＦ（４）[ｄｅｇ]に、即ち−１０[ｄｅｇ]にセットされる。ステップＳ５０７では、ビットエラーレートが測定される。図１３のグラフのような波長板方位角依存性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（４）には測定結果である８×１０-4が代入される。ステップＳ５０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ５０９へ進む。ステップＳ５０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（３）とＢＥＲ（４）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（４）の方が小さいので、再びステップＳ５１０へ進む。ステップＳ５１１を経て、ステップＳ５１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ５０６へ進む。
【０１６９】
以後、同様にして、ステップＳ５０６→ステップＳ５０７→ステップＳ５０８→ステップＳ５０９→ステップＳ５１０→ステップＳ５１１→ステップＳ５１２の処理が５回繰り返される。即ち、ステップＳ５０９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【０１７０】
そして、１０度目のステップＳ５０６では、波長板方位角がＦ（９）[ｄｅｇ]に、即ち＋１５[ｄｅｇ]にセットされる。ステップＳ５０７では、ビットエラーレートが測定される。図１３のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（９）には測定結果である７×１０-5が代入される。ステップＳ５０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ５０９へ進む。ステップＳ５０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、波長板方位角が＋１０[ｄｅｇ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（８）と、波長板方位角がが＋１５[ｄｅｇ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（９）との大小が比較される。ここでは、ＢＥＲ（９）の方が大きいので、ステップＳ５１３へ進む。
【０１７１】
ステップＳ５１３では、波長板方位角がＦ（Ｎ−１）［ｄｅｇ］にセットされる。この時点でＮは９であるから、波長板方位角変数Ｆ（８）が参照され、波長板方位角は＋１０［ｄｅｇ］にセットされる。そして、ステップＳ５１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンになる。そしてステップＳ５１５において、通常の記録再生が開始される。
【０１７２】
前記ステップＳ５１３の方位角と、図１３のグラフで示される最適波長板方位角は何れも＋１０［ｄｅｇ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば１／４波長板の方位角を正しく設定できる。即ち、楕円率補償を正しく行うことが可能となる。上記の第５実施例を以って、請求項７の発明の一実施例とすることができる。
【０１７３】
上記の第５実施例では、光ピックアップの反射光路中に挿入された１／４波長板の方位角の調整時について言及している。上記１／４波長板の方位角調整の目的は、基板の複屈折に起因した信号品質の劣化を補償することにある。上記１／４波長板に代えて、例えば反射光路中に挿入された１／２波長板の方位角調整することにより、基板の複屈折に起因した信号品質の劣化を補償することができるような光ピックアップであれば、上記１／２波長板の方位角調整時にはターボ符号化等の信号処理を行わない、とすることも請求項６の発明に含めることができる。
【実施例６】
【０１７４】
図１５は、パルス光磁界変調記録を行うことができる光磁気ディスク装置４００の構成を示す図である。光磁気ディスク装置４００の構成は、図１の光磁気ディスク装置１とほぼ同じであるが、制御回路４３０が磁気ヘッド駆動回路１５とレーザ駆動回路１６の両方を制御する点が異なる。
【０１７５】
図１６は、パルス光磁界変調記録を行う際の記録レーザパルス光と記録磁界の動作を示すタイミングチャートである。図１６(ａ)は、記録レーザパルス光と記録磁界の位相差が０度である場合の動作図であり、図１６(ｂ)は、記録レーザパルス光と記録磁界の位相差が１２０度である場合の動作図である。なお、本実施例では、位相差φは図１６で示すδとＴを用いて、φ＝δ／Ｔ×１８０[ｄｅｇ]と定義する。Ｔは記録レーザパルス光の繰返し周期である。
【０１７６】
図１７のグラフは、光磁気ディスク装置４００により、光磁気ディスク２にパルス磁界変調記録を行ったときの、ビットエラーレートの記録レーザパルス光と記録磁界の位相差の依存性を示したものである。黒丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオフにした場合のビットエラーレートであり、白丸の凡例で示した曲線は、記録時のターボ符号器１２及び再生時のターボ復号器２４をオンにした場合のビットエラーレートである。
【０１７７】
図１８のフローチャートは、図１５の光磁気ディスク装置４００により、光磁気ディスク２に記録する際の、記録レーザパルス光と記録磁界の位相差の調整手順を示したものである。
【０１７８】
位相差の調整をスタートする指示（ステップＳ６０１）が入り、ターボ符号器１２及びターボ符号器２４がオフにセットされる（ステップＳ６０２）。
【０１７９】
ステップＳ６０３において、再生レーザパワー、記録レーザパワー、記録磁界強度等が所定値にセットされる。本実施例では、再生レーザパワーは２．２[ｍＷ]に、記録レーザパワーは９[ｍＷ]（但し、発光デューティーが３５％のパルス光）に、記録磁界強度は２５０[Ｏｅ]にセットされるものとする。
【０１８０】
続くステップＳ６０４では変数Ｎに−１８０が、変数ＮＭＡＸに１８が、位相差変数Ｗ（０）に−１８０が代入される。
【０１８１】
ステップＳ６０５では、位相差がＷ（０）［ｄｅｇ］に、即ち−１８０［ｄｅｇ］にセットされる。ステップＳ６０６では、校正用マークが記録される。ステップＳ６０７では、ビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）が測定される。図１７のグラフのような位相差依存性を示す光磁気ディスク２を用いた場合、変数ＢＥＲ（０）には５×１０-1が代入される。
【０１８２】
ステップＳ６０８では、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3より小さいか否かが判断される。ＢＥＲ（０）は５×１０-1であり、１×１０-3よりも大きいので、ステップＳ６１０へ進む。ステップＳ６１０では、位相差変数Ｗ（Ｎ）のＮがインクリメントされる。ここでは、変数Ｎに１を加算したもの、即ちＮに１が代入される。ステップＳ６１１では、位相差変数Ｗ（Ｎ−１）に２０を加えたものが、位相差変数変数Ｗ（Ｎ）に代入される。Ｗ（０）は−１８０であったから、Ｗ（１）に−１６０が代入される。
【０１８３】
ステップＳ６１２では、Ｎの大きさが調べられる。この場合は、Ｎ＜ＮＭＡＸであるから、再びステップＳ６０５へ進む。本実施例では、ＮＭＡＸを１８としているので、Ｎが１８を超えることはない。また、Ｗ（０）を−１８０とし、Ｗ（Ｎ）＝Ｗ（Ｎ−１）＋２０としているから、Ｗ（Ｎ）が１８０を超えることはない。したがって、ステップＳ６１２は、位相差が１８０［ｄｅｇ］以下かどうかを調べていることと同じである。即ち、本実施例では、調整時に使用する位相差の最小値を−１８０[ｄｅｇ]、最大値を１８０[ｄｅｇ]としている。
【０１８４】
続いて、ステップＳ６０５→ステップＳ６０６→ステップＳ６０７→ステップＳ６０８→ステップＳ６１０→ステップＳ６１１→ステップＳ６１２が６回繰り返される。即ち、ステップＳ６０８において、ＢＥＲ（Ｎ）が１×１０-3よりも小さいと判断されるまで繰り返される。
【０１８５】
そして、７度目のステップＳ６０５では、位相差がＷ（６）[ｄｅｇ]に、即ち−６０[ｄｅｇ]にセットされる。ステップＳ６０６では、校正用マークが記録される。ステップＳ６０７では、ビットエラーレートが測定される。図１７のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（６）には測定結果である７×１０-4が代入される。ステップＳ６０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ６０９へ進む。ステップＳ６０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、ＢＥＲ（５）とＢＥＲ（６）の大小が比較されるが、ＢＥＲ（６）の方が小さいので、再びステップＳ６１０へ進む。ステップＳ６１１を経て、ステップＳ６１２では依然としてＮがＮＭＡＸよりも小さいので、再びステップＳ６０５へ進む。
【０１８６】
以後、同様にして、ステップＳ６０５→ステップＳ６０６→ステップＳ６０７→ステップＳ６０８→ステップＳ６０９→ステップＳ６１０→ステップＳ６１１→ステップＳ６１２の処理が４回繰り返される。即ち、ステップＳ６０９において、ＢＥＲ（Ｎ）がＢＥＲ（Ｎ−１）以上であると判断されるまで繰り返される。
【０１８７】
そして、１１度目のステップＳ６０５では、位相差がＷ（１０）[ｄｅｇ]に、即ち２０[ｄｅｇ]にセットされる。ステップＳ６０６では、校正用マークが記録される。ステップＳ６０７では、ビットエラーレートが測定される。図１７のグラフのような特性を示す光磁気ディスクを用いた場合、ＢＥＲ（１０）には測定結果である８×１０-5が代入される。ステップＳ６０８での判定結果はＹｅｓとなるので、ステップＳ６０９へ進む。ステップＳ６０９では、前回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ−１）と今回のビットエラーレートＢＥＲ（Ｎ）とが比較される。即ち、位相差が０[ｄｅｇ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（８）と、位相差が２０[ｄｅｇ]のときのビットエラーレートＢＥＲ（９）との大小が比較される。ここでは、ＢＥＲ（９）の方が大きいので、ステップＳ６１３へ進む。
【０１８８】
ステップＳ６１３では、位相差がＷ（Ｎ−１）［ｄｅｇ］にセットされる。この時点でＮは９であるから、位相差変数Ｗ（８）が参照され、位相差は０［ｄｅｇ］にセットされる。そして、ステップＳ６１４において、ターボ符号器１２、ターボ符号器２４がオンになる。そしてステップＳ６１５において、通常の記録再生が開始される。
【０１８９】
前記ステップＳ６１３でセットした位相差と、図１７のグラフで示される最適位相差は何れも０［ｄｅｇ］であり、両者が一致する。したがって、上記方法によれば最適位相差が正しく検出できる。上記の第６実施例を以って、請求項８の発明の一実施例とすることができる。
【０１９０】
上記第１から第６の実施例では、記録再生時にはターボ符号を利用し、記録再生条件の調整時には上記ターボ符号を利用しないものを例に挙げて説明したが、本願は上記ターボ符号の場合に限定されるものではない。例えばターボ符号法と同じく、反復復号法の一種として知られているＬＤＰＣ法を利用するものであっても良い。この場合、図１の光磁気ディスク装置１、図６の光磁気ディスク装置２００、図１２の光磁気ディスク装置３００、図１５の光磁気ディスク装置４００のターボ符号器１２及びターボ復号器２４をそれぞれＬＤＰＣ用の符号器及びＬＤＰＣ用の復号器に置き換えたものとなる。
【実施例７】
【０１９１】
記録再生時にはＥＣＣ符号を利用し、記録再生条件の調整時にはＥＣＣ符号を利用しないものであっても良い。図１９に、本発明の光ディスク装置の一例である、光磁気ディスク装置１００の構成を示す。光磁気ディスク装置１００は、図１の光磁気ディスク装置１の構成とほぼ同じであるが、変調回路１３の前段にターボ符号器１２ではなくＥＣＣエンコーダ１１が配置される点と、復調回路２３の後段にスイッチ４２を挟んでターボ復号器２４ではなくＥＣＣデコーダ２５が配置される点が異なる。図１９の光磁気ディスク装置１００による再生レーザパワーの最適化は、図３のフローチャートの、ステップＳ２、ステップＳ１４において、それぞれターボ符号器、ターボ復号器とあるのを、それぞれＥＣＣエンコーダ、ＥＣＣデコーダと読み替える必要があるが、それ以外は同様の手順で行うことができる。
【０１９２】
これを以って、本発明の第７の実施例とすることができる。また、上記第７実施例を以って請求項１１の発明の一実施例とすることができる。
【０１９３】
上記の第１から第７の実施例は、光磁気ディスク装置を例に説明したが、本発明は光磁気ディスク装置に限定されるものではない。
【０１９４】
例えば、再生レーザパワー調整を行う上記第１実施例、記録レーザパワー調整を行う上記第２実施例、リタデーション補正を行う上記第５実施例は、磁気ヘッドを有さない相変化型の光ディスク記録再生装置にも適用できる。前記第１実施例においては、図３のフローチャートのステップＳ３を「記録レーザパワーを所定値にセット」等と読み替えることにより、これに準じた手順で行うことができる。
【０１９５】
また、上記第１実施例と、上記第５実施例は、再生専用の光ディスク再生装置に適用されるものであっても良い。
【０１９６】
また、本発明の趣旨は、記録再生特性を劇的に改善させることができるような符号化／復号化を利用する光ディスク装置において、記録再生条件の調整時においては、上記符号化／復号化を行わないことを特徴とする。記録再生条件の調整手順については、上記実施例で記載したものに限定する意図はない。即ち、上記フローチャートで示した手順と同一である必要はない。
【０１９７】
上記第１から第７の実施例における光磁気ディスク装置は、エンコード手段であるターボ符号器１２の前にスイッチ４１を、デコード手段であるターボ復号器２４の前にスイッチ４２を設けたものであった。そして、前記光磁気ディスク２の再生条件及び／又は記録条件の調整時は光ピックアップ１８へ送られる信号が前記エンコード手段及びデコード手段を通過しないようスイッチ４１及びスイッチ４２の極性を制御し、光磁気ディスク２のデータ再生時及び／又は前記光磁気ディスク２へのデータ記録時は光ピックアップ１８へ送られる信号がターボ符号器１２及びターボ復号器２４を通過するようスイッチ４１及びスイッチ４２の極性を制御するものであった。
【０１９８】
しかし、本発明は請求の範囲にも記載されているように、前記光ディスクの再生条件及び／又は記録条件の調整時は前記エンコード手段及びデコード手段を実質的に不使用とすることを特徴とするものである。したがって本発明は、上記実施例のようにエンコード手段及びデコード手段の前に設けられたスイッチの極性を制御することにより前記エンコード手段及び前記デコード手段の使用／不使用を切り換えるタイプのものに限定されるものではない。
【０１９９】
例えば、図２０の示す光ディスク装置５００のように、エンコード手段であるターボ符号器５１２へのゲート入力信号ＥＮＣＧＡＴＥによりターボ符号器５１２の符号化機能を、デコード手段であるターボ復号器５２４へのゲート入力信号ＤＥＣＧＡＴＥによりターボ復号器５２４の復号化機能を、しそれぞれオンにするかオフにするかを切り換えるタイプのものでも良い。光磁気ディスク２の再生条件及び／又は記録条件の調整時は、ターボ符号器５１２の符号化機能及びターボ復号器５２４の復号化機能をオフにする。光磁気ディスク２のデータ再生時及び／又は光磁気ディスク２へのデータ記録時はターボ符号器５１２の符号化機能及びターボ復号器５２４の復号化機能をオンにする。
【０２００】
また、上記第１から第７の実施例では、ビットエラーレートに基づいて記録再生条件の最適化を行うものであったが、必ずしもビットエラーレートに基づいて決定する必要はない。所定領域の再生時に発生したエラー数に基づいて最適化を行っても良い。或いはＥＣＣデコーダから出力されるＰＩエラー値を用いても良い。また、単一パターンのＣＮＲ（Ｃａｒｒｉｅｒ  ｔｏ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）に基づいて最適化を行っても良い。これらのように、信号品質を定量的に測定し、その測定結果に基づいて最適条件を決定するものであれば良い。
【０２０１】
なお、本発明においては、「光ディスク」は、光磁気ディスクや、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ±ＲＷ等の相変化型ディスク等の書き換え型ディスク全般をも含む。また、「光ディスク」は、ＤＶＤ−Ｒ、ＣＤ−Ｒ等の追記型ディスクも含む。また、再生専用型の光ディスクであるＤＶＤ−ＲＯＭやＣＤ−ＲＯＭ等も含む。
【０２０２】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【０２０３】
【図１】光磁気ディスク装置１の構成を示す図である。
【図２】光磁気ディスク装置１を用いて光磁気ディスク２を再生したときのビットエラーレートの再生レーザパワー依存性を示すグラフである。
【図３】光磁気ディスク装置１を用いて光磁気ディスク２の再生レーザパワーの最適化を行う手順を示すフローチャートである。
【図４】光磁気ディスク装置１を用いて光磁気ディスク２に記録したときのビットエラーレートの記録レーザパワー依存性を示すグラフである。
【図５】光磁気ディスク装置１を用いて光磁気ディスク２の記録レーザパワーの最適化を行う手順を示すフローチャートである。
【図６】光磁気ディスク装置２００の構成を示す図である。
【図７】ビットエラーレートの記録磁界強度依存性を示すグラフである。
【図８】光磁気ディスク装置２００の記録磁界強度の最適化調整手順を示すフローチャートである。
【図９】ビットエラーレートの再生磁界強度依存性を示すグラフである。
【図１０】光磁気ディスク装置２００の再生磁界強度の最適化調整手順を示すフローチャートである。
【図１１】光ピックアップ３１８の構成図である。
【図１２】光ピックアップ３１８を含む光磁気ディスク装置３００の構成を示す図である。
【図１３】ビットエラーレートの１／４波長板方位角依存性を示すグラフである。
【図１４】光磁気ディスク装置３００による楕円率補償の調整手順を示すフローチャートである。
【図１５】光磁気ディスク装置４００の構成を示す図である。
【図１６】パルス光磁界変調記録における記録磁界とパルス光のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図１７】ビットエラーレートの記録磁界とパルス光の位相差依存性を示すグラフである。
【図１８】パルス光磁界変調記録を行う光磁気ディスク装置４００の記録磁界とパルス光の位相差の最適化手順を示すフローチャートである。
【図１９】光磁気ディスク装置１００の構成を示す図である。
【図２０】光磁気ディスク装置５００の構成を示す図である。
【図２１】従来の光磁気ディスク装置８００の構成を示す図である。
【図２２】従来の光磁気ディスク装置８００によるビットエラーレートの再生レーザパワー依存性を示すグラフである。
【図２３】従来の光磁気ディスク装置８００による再生レーザパワーの最適化手順を示すフローチャートである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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