(57)【要約】【課題】電磁妨害波の多くは、周期性の雑音であるにもかかわらず、擬似雑音発生装置は、周期性擬似雑音を発生することができなかった。【解決手段】複数のパルス継続時間分布およびパルス間隔分布を格納する分布用メモリと、複数のメモリの内容を所定の周期的順番で読み出し、読み出したパルス継続時間分布およびパルス間隔分布に従う乱数を発生させる振幅・交叉率乱数発生器Ａと周期パルス乱数発生器Ｄを、擬似雑音発生装置に設けて、周期パルス乱数を発生させるようにした。これにより、振幅確率分布、交叉率分布、パルス継続時間分布およびパルス間隔分布を同時に指定して、電子機器の周期性の雑音に対する耐妨害性の評価を十分にすることができるようになった。【選択図】        図１
2005006232.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２種の指定したレベル範囲（０〜ｈ，ｈ〜ｈ１  ）において所定の振幅確率分布（ＡＰＤ）と所定の交叉率分布（ＣＲＤ）に従って、それぞれ振幅乱数（Ｘ０  ，Ｘ１  ）を発生せしめるための振幅・交叉率乱数発生処理（Ａ０  ，Ａ１  ）をし、
短いパルス間隔グループ（Ｇ００）、短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）、長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）および長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）の分布を予め格納するための分布用メモリ処理（２１，Ｍ）と、前記４個のグループ（Ｇ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１）のうちから、前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）を１回選択し、前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）と前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）とを交互に繰り返して選択し、前記長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）を１回選択し、前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）と前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）とを交互に繰り返し選択して、もとの前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）を１回選択する一連のグループ順序ループを繰り返すようにメモリ・スイッチ選択信号（２９）を出力するためのメモリ・スイッチ選択処理（２５）と、前記予め格納しておいた４個のグループ（Ｇ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１）のうちから、前記メモリ・スイッチ選択信号（２９）の指示する前記一連のグループ順序ループで選択して読み出し、分布データ（２８）を得るためのメモリ・スイッチ処理（ＭＳＷ）と、前記分布データ（２８）に従う任意に分布した前記一連のグループ順序ループの乱数である周期パルス乱数（Ｒ）を発生させるための任意分布乱数発生処理（２３）とを含んだ周期パルス乱数発生処理（Ｄ）をし、
前記振幅・交叉率乱数発生処理（Ａ０  ，Ａ１  ）において得た前記振幅乱数（Ｘ０  ，Ｘ１  ）から、前記周期パルス乱数（Ｒ）に従って選択した擬似雑音乱数（５１）を得るためのスイッチ処理（ＳＷ）をし、
前記擬似雑音乱数（５１）をＤ／Ａ変換して擬似雑音信号（５２）を得るためのＤ／Ａ変換処理（１２）をする
周期性擬似雑音発生方法。
【請求項２】
前記メモリ・スイッチ選択処理（２５）において、
前記周期パルス乱数（Ｒ）の値をカウントするカウント処理（３１，３２，３３）をし、そのカウント値から前記メモリ・スイッチ選択信号（２９）を生成するための選択信号生成処理（３５，３６，３７）をする
請求項１の周期性擬似雑音発生方法。
【請求項３】
前記周期パルス乱数発生処理（Ｄ）に含まれた前記分布用メモリ処理（２１，Ｍ）において、
前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）、前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）、前記長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）および前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）の分布をそれぞれのグループ別に予め格納するようにした
請求項１の周期性擬似雑音発生方法。
【請求項４】
２種の指定したレベル範囲（０〜ｈ，ｈ〜ｈ１  ）において所定の振幅確率分布（ＡＰＤ）と所定の交叉率分布（ＣＲＤ）に従って、それぞれ振幅乱数（Ｘ０  ，Ｘ１  ）を発生せしめるための振幅・交叉率乱数発生手段（Ａ０  ，Ａ１  ）と、
短いパルス間隔グループ（Ｇ００）、短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）、長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）および長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）の分布を予め格納するための分布用メモリ手段（２１，Ｍ）と、前記４個のグループ（Ｇ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１）のうちから、前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）を１回選択し、前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）と前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）とを交互に繰り返して選択し、前記長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）を１回選択し、前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）と前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）とを交互に繰り返し選択して、もとの前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）を１回選択する一連のグループ順序ループを繰り返すようにメモリ・スイッチ選択信号（２９）を出力するためのメモリ・スイッチ選択手段（２５）と、前記予め格納しておいた４個のグループ（Ｇ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１）のうちから、前記メモリ・スイッチ選択信号（２９）の指示する前記一連のグループ順序ループで選択して読み出し、分布データ（２８）を得るためのメモリ・スイッチ手段（ＭＳＷ）と、前記分布データ（２８）に従う任意に分布した前記一連のグループ順序ループの乱数である周期パルス乱数（Ｒ）を発生させるための任意分布乱数発生手段（２３）とを含んだ周期パルス乱数発生手段（Ｄ）と、
前記振幅・交叉率乱数発生手段（Ａ０  ，Ａ１  ）において得た前記振幅乱数（Ｘ０  ，Ｘ１  ）から、前記周期パルス乱数（Ｒ）に従って選択した擬似雑音乱数（５１）を得るためのスイッチ手段（ＳＷ）と、
前記擬似雑音乱数（５１）をＤ／Ａ変換して擬似雑音信号（５２）を得るためのＤ／Ａ変換手段（１２）とを含む
周期性擬似雑音発生装置。
【請求項５】
前記メモリ・スイッチ選択手段（２５）において、
前記周期パルス乱数（Ｒ）の値をカウントするカウント手段（３１，３２，３３）と、そのカウント値から前記メモリ・スイッチ選択信号（２９）を生成するための選択信号生成手段（３５，３６，３７）とを含む
請求項４の周期性擬似雑音発生装置。
【請求項６】
前記周期パルス乱数発生手段（Ｄ）に含まれた前記分布用メモリ手段（２１，Ｍ）において、前記短いパルス間隔グループ（Ｇ００）、前記短いパルス継続時間グループ（Ｇ１０）、前記長いパルス間隔グループ（Ｇ０１）および前記長いパルス継続時間グループ（Ｇ１１）の分布をそれぞれのグループ別に予め格納するようにした
請求項４の周期性擬似雑音発生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル通信システムの通信品質の評価、電磁妨害波に対する電子機器の耐妨害性（Ｉｍｍｕｎｉｔｙ）の評価を行うための擬似雑音源として使用する周期性擬似雑音発生方法と装置に関する。具体的には、周期的パルス擬似雑音の新規な発生方法と装置を提供するものである。
【０００２】
【従来の技術】
熱雑音の振幅は、正規分布となる。これをシミュレートするものにホワイト・ノイズ発生器がある。一方、都市においては、莫大な電力を使用するために、電力源の周期に支配された雑音がある。このような周期性雑音が電子機器に与える影響は極めて大きく、有効な対策が求められている。
【０００３】
これらノイズの性質を表す際の重要なパラメータとして、以下のものがある（たとえば、特許文献３参照）。
１．振幅確率分布（ＡＰＤ：Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ  Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）
２．確率密度関数（ＰＤＦ：Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ  Ｄｅｎｓｉｔｙ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）
３．交叉率分布（ＣＲＤ：Ｃｒｏｓｓｉｎｇ  Ｒａｔｅ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）
４．パルス継続時間分布（ＰＤＤ：Ｐｕｌｓｅ  Ｄｕｒａｔｉｏｎ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）
５．パルス間隔分布（ＰＳＤ：Ｐｕｌｓｅ  Ｓｐａｃｉｎｇ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）
【０００４】
これらパラメータの定義について、説明する。
１．振幅確率分布ＡＰＤ：  電磁妨害波が観測対象となる特定の振幅のレベル（以下、特定振幅レベルという）を越えている時間率。
２．確率密度関数ＰＤＦ：  特定振幅レベルにおける電磁妨害波の発生確率。
３．交叉率分布ＣＲＤ：  単位時間内に電磁妨害波が特定振幅レベルを、小さい（大きい）レベルから大きい（小さい）レベルへと交叉（以下、正（負）交叉という）する回数。
４．パルス継続時間分布ＰＤＤ：  電磁妨害波が単位時間内に特定振幅レベルを連続して超えている時間長の分布。
５．パルス間隔分布ＰＳＤ：  電磁妨害波が単位時間内に特定振幅レベルを連続して下回っている時間長の分布。
【０００５】
公知の従来例には、ランダム源に一様乱数を用い、Ｍ個の一様乱数より一つの任意分布Ｍビット２進乱数を確率論的逐次比較法の原理に基づいて高速生成できる任意分布乱数生成法が開示されている（たとえば、非特許文献１参照。）。
【０００６】
他の公知例には、ノイズの振幅確率分布ＡＰＤを指定し、同時に指定した特定振幅レベルでのパルス継続時間分布ＰＤＤとパルス間隔分布ＰＳＤを指定することのできる擬似雑音発生装置が開示されている（たとえば、特許文献１参照。）。
【０００７】
先願があり、振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤを指定することのできる擬似雑音発生装置を提供している。そこでは、雑音信号が、振幅レベルｉからｊに移動する確率（推移確率ｗｉｊ）について詳細に説明し、その推移確率ｗｉｊを用いて、交叉率分布ＣＲＤを指定している（たとえば、特許文献２参照。）。
【０００８】
他の先願があり、振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを同時に指定することのできる擬似雑音発生装置を提供している。ここではたとえば特許文献１と同様に、雑音信号が振幅レベルｉからｊに移動する確率（推移確率ｗｉｊ）を用いて、交叉率分布ＣＲＤを指定している（たとえば、特許文献３参照。）。
【０００９】
図１９は、特許文献３の図５に示された実施例の回路構成を示している。２つの振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  とＡ１  、パルス乱数発生器Ｃ、スイッチ部ＳＷおよびＤ／Ａ変換部１２を含んでいる。振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  およびＡ１  は、振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤをそれぞれ指定することにより、振幅乱数Ｘ０  およびＸ１  を発生している。この振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤには、電磁妨害波からスペクトル・アナライザを含む統計量測定装置を用いて得た値を用いている。
【００１０】
振幅乱数Ｘ０  およびＸ１  は、スイッチ部ＳＷで切替られて、擬似雑音乱数５１としてＤ／Ａ変換部１２に印加され、Ｄ／Ａ変換されて擬似雑音信号５２として出力される。スイッチ部ＳＷの切替は、パルス乱数発生器Ｃからのパルス乱数Ｐによりなされる。先願の特許文献３に詳細に述べられたパルス継続分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを指定し、パルス乱数Ｐを発生している。
【００１１】
図２０には、擬似雑音乱数５１の振幅乱数Ｘの時間の経過とともに変化する波形である時間波形（縦軸は任意の対数目盛）の一例が示されている。振幅レベル０からｈまでの振幅乱数Ｘ０  は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  によって、出力される。振幅レベルｈからｈ１  までの振幅乱数Ｘ１  は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ１  によって、出力される。したがって、時点ｔ１０〜ｔ１９の振幅乱数Ｘ０  は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  によって、出力される。時点ｔ２０〜ｔ２９の振幅乱数Ｘ１  は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ１  によって、出力される。
【００１２】
時点ｔ１０，ｔ２０，ｔ３０を含む全ての時点ｔｉ  （ｉ＝０，１，２，・・・，∞）における振幅乱数値Ｘｉ  は、予め設定された振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤにより決定される。時点ｔ１０からｔ２０に至る時間幅は、パルス間隔分布ＰＳＤに従い生成されたパルス乱数Ｐにより決まり、時点ｔ１０からｔ２０に至る迄は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  からの振幅乱数Ｘ０  が、擬似雑音乱数５１として出力される。
【００１３】
同じく、時点ｔ２０からｔ３０に至る迄は、振幅・交叉率乱数発生器Ａ１  からの振幅乱数Ｘ１  が、擬似雑音乱数５１として出力される。時点ｔ１０の直前のレベルｈとの太い実線の（大きいレベルから小さいレベルへの）負交叉から次の正交叉迄の期間がパルス間隔（ｔ１０〜ｔ２０）であり、このパルス間隔の変動範囲の分布が、パルス間隔分布ＰＳＤである。
【００１４】
振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  とＡ１  の振幅乱数Ｘ０  とＸ１  は、それぞれに予め付与されている振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤにより、決定されているから、振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  とＡ１  の出力である振幅乱数Ｘ０  とＸ１  のどちらが擬似雑音乱数５１としてスイッチ部ＳＷで選択されるかは、パルス乱数Ｐによるのである。
【００１５】
時点ｔ２０の直前のレベルｈとの太い実線の（小さいレベルから大きいレベルへの）正交叉から次の負交叉迄の期間がパルス継続時間（ｔ２０〜ｔ３０）であり、このパルス継続時間の変動範囲の分布が、パルス継続時間分布ＰＤＤである。パルス乱数Ｐは、パルス間隔分布ＰＳＤとパルス継続時間分布ＰＤＤを表し、スイッチＳＷを時点ｔ１０，ｔ２０，ｔ３０において、切り替えている。
【００１６】
パルス乱数発生器Ｃは、振幅レベルｈを横切る時点ｔ１０，ｔ２０，ｔ３０のタイミングを決定している。振幅レベルｈを横切る時点ｔ１０とｔ２０の間隔は、予め定められたパルス間隔分布ＰＳＤに従い、ｔ２０とｔ３０の間隔は予め定められたパルス継続時間分布ＰＤＤに従って、パルス乱数発生器Ｃがパルス乱数Ｐとして出力している。
【００１７】
図１９の回路構成では、振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを指定して擬似雑音を発生している。この装置では、パルス継続時間が、１つのパルス継続時間分布ＰＤＤに従って決定され、パルス間隔が１つのパルス間隔分布ＰＳＤに従い決定されていた。
【００１８】
パルス継続時間が、１つのパルス継続時間分布ＰＤＤに従って決定されると、その後のパルス継続時間が、過去のパルス継続時間やパルス間隔とは無関係に、各パルス継続時間（又は、パルス間隔）の発生確率からランダムに決まるため、擬似雑音波形に周期性をもたせることができなかった。ところが、電磁妨害波の多くは、周期性の雑音である。
【００１９】
図２１は、電子機器から放射された電磁妨害波の波形図（縦軸は任意の対数目盛）である。電子機器として、５０Ｈｚ電源で動作する電子レンジを使用している。電源周波数（５０Ｈｚ）に同期して、０．０２ｓｅｃ周期で振幅が増減していることが示されている。
【００２０】
図２２は、図１９の装置により発生させた擬似雑音の波形図（縦軸は任意の対数目盛）である。これは、図２１の電磁妨害波からスペクトル・アナライザを含む統計量測定システムにより得た振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを用いて擬似雑音を発生させたものである。
【００２１】
図２２の波形は、図２１の波形と同じ振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを用いて発生させたにもかかわらず、著しい差異がある。図２１の波形では、相対レベル９５で観測すると、長いパルス継続時間（相対レベル９５以上の部分）と長いパルス間隔（相対レベル９５以下の部分）が交互に発生している。
【００２２】
それに対して、図２２の波形は、０．０７ｓｅｃ辺りまでは、長いパルス継続時間（相対レベル９５以上の部分）および長いパルス間隔（相対レベル９５以下の部分）が交互に発生しているが、それ以降は、長いパルス継続時間（相対レベル９５以上の部分）が大勢を占め、長いパルス間隔（相対レベル９５以下の部分）が発生していない。したがって、擬似雑音として使用することはできないのである。
【００２３】
図２３には、図２２の擬似雑音の波形図を得たときに用いたスペクトル・アナライザを含む統計量測定システムの構成を示している。電磁妨害源６０（たとえば、電子レンジ）の出す電磁妨害波７０をアンテナ６１で受けて、電磁妨害信号７１を得ている。この電磁妨害信号７１は、スペクトル・アナライザ６２Ａに入力される。スペクトル・アナライザ６２Ａは、周波数スパンを０に設定することで、スペクトル・アナライザ６２Ａの中心周波数付近の入力信号を包絡線検波した雑音時間波形７２を得ることができる。雑音時間波形７２は、統計量測定器６３Ａとオシロスコープ６４Ａに印加される。
【００２４】
統計量測定器６３Ａは、振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを統計量分布情報７３として得る。オシロスコープ６４Ａでは、雑音時間波形７２を観測してパルス継続時間とパルス間隔の繰り返しパターンを知ることがができ、閾値（図２０の振幅レベルｈ）を決定して波形情報７４として出力する。
【００２５】
この統計量分布情報７３と波形情報７４は、直接に、または多くの場合に、記憶媒体に格納され、それが擬似雑音発生制御部６５（多くの場合に、パソコンが充当される）に印加される。擬似雑音発生制御部６５では、擬似雑音発生装置６６に予め格納しておくための各種パラメータを計算して、擬似雑音発生制御情報７５を作成する。
【００２６】
擬似雑音発生制御部６５においては、擬似雑音発生装置６６で乱数を発生させるための確率データを作成している。具体的には、振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤのペアから、振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  ，Ａ１  に格納すべき推移確率分布を作成する。
【００２７】
パルス継続時間分布ＰＤＤは、乱数ｒの関数ｄ（ｒ）として、パルス間隔分布ＰＳＤは、乱数ｒの関数ｓ（ｒ）として、パルス乱数発生器Ｃに格納される。
【００２８】
擬似雑音発生装置６６は、擬似雑音発生制御情報７５に基づいて擬似雑音信号５２を発生する。この擬似雑音信号５２の評価は、統計量測定器６３Ｂとオシロスコープ６４Ｂによって行う。この評価は、統計量測定器６３Ａとオシロスコープ６４Ａの組合せと同じ構成で可能である。
【００２９】
ここで、統計量分布情報７３と波形情報７４を記憶媒体に格納してから使用する場合は、統計量測定器６３Ｂ、オシロスコープ６４Ｂは、統計量測定器６３Ａ、オシロスコープ６４Ａと共用することができる。
【００３０】
図２４には、図２３の構成中の擬似雑音発生装置６６のパルス乱数発生器Ｃで使用する分布データの一例を示している。たとえば、パルス継続時間分布ＰＤＤを擬似乱数ｒの関数ｄ（ｒ）で、パルス間隔分布ＰＳＤを擬似乱数ｒの関数ｓ（ｒ）で表すと、ｄ（ｒ）またはｓ（ｒ）のｒの値が、０≦ｒ≦ｍでｍ＝２５５のとき、図２４のデータ番号１には、擬似乱数ｒの最上位ビット（ｉ＝１）の値が“１”になる確率が格納される。
【００３１】
データ番号２には、ｒの値は、擬似乱数ｒの最上位ビット（ｉ＝１）の値が“０”で次ビット（ｉ＝２）の値が“１”になる確率が格納される。同様にして、データ番号２５５には、擬似乱数ｒの値は、擬似乱数ｒの上位７ビット（ｉ＝７）の値が“１１１１１１１”で８位のビット（ｉ＋１＝８）の値が“１”になる確率が格納される。
【００３２】
図２５は、図１９のパルス乱数発生器Ｃに格納されるパルス継続時間確率分布ＱＤ  またはパルス間隔確率分布ＱＳ  の格納状態の一例を示している。ここで確率分布ＱＤ  とＱＳ  のデータ番号は、図２４に示したものを表している。アドレス５１１には、図２４のデータ番号２５５の表す確率に等しいパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の格納内容が格納される。アドレス５１０には、図２４のデータ番号２５４の表す確率に等しいパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。
【００３３】
同様にして、アドレス２５７には、図２４のデータ番号１の表す確率に等しいパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。アドレス２５６には、図２４の対応するデータ番号が無いために空きとなっている。アドレス２５５〜０も同様であるが、パルス間隔分布ＰＳＤの確率分布ＱＳ  の内容が格納の対象となっている点で異なっている。
【００３４】
図２６は、図１９のパルス乱数発生器Ｃに格納されるパルス継続時間の確率分布ＱＤ  またはパルス間隔の確率分布ＱＳ  の格納状態の他の実施例を示している。そこには８個のメモリ０〜７が使用されている。ここで確率分布ＱＤ  とＱＳ  のデータ番号は、図２４に示したものを表している。メモリ０のアドレス０には、図２４のデータ番号１のパルス間隔分布ＰＳＤの確率分布ＱＳ  の内容が格納される。アドレス１には、図２４のデータ番号１のパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。
【００３５】
メモリ１のアドレス０，１には、図２４のデータ番号２，３のパルス間隔分布ＰＳＤの確率分布ＱＳ  の内容が格納される。アドレス２，３には、図２４のデータ番号２，３のパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。
【００３６】
メモリ２のアドレス０〜３には、図２４のデータ番号４〜７のパルス間隔分布ＰＳＤの確率分布ＱＳ  の内容が格納される。アドレス４〜７には、図２４のデータ番号４〜７のパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。
【００３７】
同様にして、メモリ７のアドレス０〜１２７には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のパルス間隔分布ＰＳＤの確率分布ＱＳ  の内容が格納される。アドレス１２８〜２５５には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のパルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  の内容が格納される。
【００３８】
【非特許文献１】
論文“任意分布乱数の新高速生成法”大沼ら、電子情報通信学会論文誌Ａ  Ｖｏｌ．Ｊ７０−Ａ  Ｎｏ．１１  ｐｐ１６８１−１６９０  １９８７年１１月、（あらまし、図５）
【特許文献１】
特開２００１−０６８９３６号
【特許文献２】
特願２００１−３７０３０６号（平成１３年１２月  ４日出願）
【特許文献３】
特願２００２−２４５２８６号（平成１４年  ８月２６日出願）
【００３９】
【発明が解決しようとする課題】
電磁妨害波の多くは、電力を使用する機器が発生する周期性の雑音である。それにもかかわらず、擬似雑音発生装置には、周期性を有する擬似雑音を発生することはできないという問題点があった。そのために、電子機器の耐妨害性の評価を十分にすることができなかった。周期性を有する擬似雑音を発生することのできる周期性擬似雑音発生装置の開発が望まれている。
【００４０】
【課題を解決するための手段】
周期性雑音には、周期を決める長いパルス継続時間と長いパルス間隔の周期性発生確率グループと、非周期性の雑音の基となる短いパルス継続時間と短いパルス間隔の非周期性発生確率グループの２つのグループがある。１つの長い周期性発生確率グループに続いて、多数の非周期性発生確率グループが続くことを見出し、これに基づき、グループ順序ループを繰り返すようにしている。
【００４１】
この技術思想を実現するべく、複数のパルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを格納する分布用メモリと、複数のメモリの内容を所定の周期的順番で読み出し、読み出したパルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤに従う周期パルス乱数を発生させる任意分布乱数発生器を含む周期パルス乱数発生器を、擬似雑音発生装置に設けて、周期パルス乱数を発生させるようにした。
【００４２】
これにより、振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ、パルス継続時間分布ＰＤＤおよびパルス間隔分布ＰＳＤを同時に指定して、グループ順序ループ（周期的な選択規則ループ）を繰り返すようにしたから、周期性擬似雑音を発生することができ、電子機器の周期性の雑音に対する耐妨害性の評価を十分にすることが可能となった。
【００４３】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の実施の形態を示す回路構成図であり、従来例を示した図１９に対応している。ここで、図１９に示した構成要素に対応するものについては、同じ記号を付した。図１９に示した構成要素と異なるのは、パルス乱数発生器Ｃを周期パルス乱数発生器Ｄに置き換えて、周期パルス乱数Ｒを発生させている点である。
【００４４】
図１９と同じく、２つの振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  とＡ１  、スイッチ部ＳＷおよびＤ／Ａ変換部１２を含んでいる。振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  およびＡ１  は、振幅確率分布ＡＰＤと交叉率分布ＣＲＤをそれぞれ指定することにより、振幅乱数Ｘ０  およびＸ１  を発生している。
【００４５】
振幅乱数Ｘ０  およびＸ１  は、スイッチ部ＳＷで切替られて、擬似雑音乱数５１としてＤ／Ａ変換部１２に印加され、Ｄ／Ａ変換されて擬似雑音信号５２として出力される。スイッチ部ＳＷの切替は、周期パルス乱数発生器Ｄからの周期パルス乱数Ｒによりなされる。オシロスコープ６４Ａ（図２３）から得られた雑音時間波形のパルス継続時間とパルス間隔の繰り返しパターンおよび統計量測定装置６３Ａから得られたパルス継続時間分布ＰＤＤとパルス間隔分布ＰＳＤを用いて、周期パルス乱数Ｒを発生している。
【００４６】
図２には、図１の重要な構成要素である周期パルス乱数発生器Ｄの内部の回路構成が示されている。そこには、分布用メモリ２１、メモリ・スイッチＭＳＷ、任意分布乱数発生器２３、メモリ・スイッチ選択部２５が含まれている。任意分布乱数発生器２３には、メモリ・スイッチＭＳＷからの分布データ２８が印加され、周期パルス乱数Ｒを出力している。メモリ・スイッチ選択部２５は、周期パルス乱数Ｒを印加され、メモリ・スイッチ選択信号２９を出力してメモリ・スイッチＭＳＷを選択している。
【００４７】
分布用メモリ２１には、たとえば４個のメモリＭ０  ，Ｍ１  ，Ｍ２  ，Ｍ３  が含まれている。メモリ・スイッチ選択部２５には、カウンタ３１，３２、メモリ３３、選択信号生成部３５、メモリ３６，３７が含まれている。これらの構成要素について、つぎに波形図および分布図を用いて説明する。
【００４８】
図３は、図２１の波形において本発明の重要な役割を果す、長短のパルス継続時間とパルス間隔を説明するための波形図である。ここで、ｇ００は短いパルス間隔を表している。ｇ０１は長いパルス間隔を表している。ｇ１０は短いパルス継続時間を表している。ｇ１１は長いパルス継続時間を表している。
【００４９】
図４には、図３の電磁妨害波から図２３に示したスペクトル・アナライザを含んだ統計量測定システムを用いて得た、パルス継続時間分布ＰＤＤ（縦軸及び横軸は対数目盛）が示されている。示された分布は、１０−３ｓｅｃを境にして破線で囲った２つのグループＧ１０とＧ１１に分けられる。グループＧ１０は、１０−３ｓｅｃより短時間に変化する多くの成分を含んでいる。このグループＧ１０は、図３の相対レベル９５以上の短いパルス継続時間で変化している部分ｇ１０に対応している。グループＧ１１は、１０−２ｓｅｃの成分であり、５０Ｈｚ電源の半周期の時間（相対レベル９５以上の部分）のｇ１１に対応している。この相対レベル９５は、図２０の振幅レベルｈに対応している。
【００５０】
図５には、図３の電磁妨害波から得た、パルス間隔分布ＰＳＤ（縦軸及び横軸は対数目盛）が示されている。示された分布は、１０−３ｓｅｃを境にして破線で囲った２つのグループＧ００とＧ０１に分けられる。グループＧ００は、１０−３ｓｅｃより短時間に変化する多くの成分を含んでいる。このグループＧ００は、図３の相対レベル９５以下の短いパルス間隔で変化している部分ｇ００に対応している。グループＧ０１は、１０−２ｓｅｃの成分であり、５０Ｈｚ電源の半周期の時間（相対レベル９５以下の部分）のｇ０１に対応している。
【００５１】
各グループＧ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１に属するパルスの発生する確率を、それぞれＰ００，Ｐ０１，Ｐ１０，Ｐ１１とすると、Ｇ００とＧ０１のパルス間隔グループにおいて、Ｐ００＋Ｐ０１＝１および、Ｇ１０とＧ１１のパルス継続時間グループにおいて、Ｐ１０＋Ｐ１１＝１となる。
【００５２】
グループＧ１１に属する長いパルス継続時間とグループＧ０１に属する長いパルス間隔は交互に発生しているから、発生の確率は等しく、Ｐ０１＝Ｐ１１  である。グループＧ００とＧ１０はＧ１１とＧ０１に挟まれて発生しているから、発生の確率は等しく、Ｐ００＝Ｐ１０  である。長い周期のグループＧ１１とＧ０１に挟まれて短い周期で多数（ｎ）回発生しているＧ００とＧ１０の確率は、
ｎＰ０１＝ｎＰ１１＝Ｐ００＝Ｐ１０                    （１）
の関係がある。
【００５３】
図４および図５のグループ分けについて、さらに説明する。図３のｇ１０は短いパルス継続時間、ｇ１１は長いパルス継続時間、ｇ００は短いパルス間隔、ｇ０１は長いパルス間隔を表している。このパルス継続時間分布ＰＤＤを擬似乱数ｒの関数ｄ（ｒ）と表し、パルス間隔分布ＰＳＤを擬似乱数ｒの関数ｓ（ｒ）と表す。これらは、図２３の統計量測定システムで測定する。
【００５４】
図４と図５が示すように、測定して得られたパルス継続時間分布ＰＤＤとパルス間隔分布ＰＳＤは、１０−３［ｓｅｃ］を中心にしてそれぞれ２つの分布のグループに分けることができる。そこで、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス継続時間分布ＰＤＤをＧ１０で表し、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス継続時間分布ＰＤＤをＧ１１で表している。同様に、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス間隔分布ＰＳＤをＧ００で表し、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス間隔分布ＰＳＤをＧ０１で表している。
【００５５】
そして、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス継続時間のｇ１０に属するグループをＧ１０とし、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス継続時間のｇ１１に属するグループをＧ１１としている（図４）。同様に、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス間隔のｇ００に属するグループをＧ００とし、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス間隔のｇ０１に属するグループをＧ０１としている（図５）。
【００５６】
図２の分布メモリ２１への格納について説明する。
▲１▼  図４のグループＧ１０は、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス継続時間分布ＰＤＤのｇ１０に属するから、パルス継続時間分布ＰＤＤを表す関数ｄ（ｒ）のうちのパルス継続時間が１０−３［ｓｅｃ］より短い部分を取り出す。
【００５７】
たとえば、０≦ｒ＜ｊの範囲でパルス継続時間が１０−３［ｓｅｃ］より短い場合、短いパルス継続時間分布ＰＤＤの関数ｄ１０（ｒ）を決定する。
０≦ｒ＜ｊのとき、  ｄ１０（ｒ）＝ｄ（ｒ）
ｊ≦ｒ＜ｍのとき、  ｄ１０（ｒ）＝０
この関数ｄ１０（ｒ）は、図４のグループＧ１０として示されている。
【００５８】
▲２▼  図４のグループＧ１１は、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス継続時間分布ＰＤＤのｇ１１に属するから、パルス継続時間分布ＰＤＤを表す関数ｄ（ｒ）のうちのパルス継続時間が１０−３［ｓｅｃ］より長い部分を取り出す。
【００５９】
たとえば、ｊ≦ｒ＜ｍの範囲でパルス継続時間が１０−３［ｓｅｃ］より長い場合、長いパルス継続時間分布ＰＤＤの関数ｄ１１（ｒ）を決定する。
０≦ｒ＜ｊのとき、  ｄ１１（ｒ）＝０
ｊ≦ｒ＜ｍのとき、  ｄ１１（ｒ）＝ｄ（ｒ）
この関数ｄ１１（ｒ）は、図４のグループＧ１１として示されている。
【００６０】
▲３▼  図５のグループＧ００は、１０−３［ｓｅｃ］より短いパルス間隔分布ＰＳＤのｇ００に属するから、パルス間隔分布ＰＳＤを表す関数ｓ（ｒ）のうちのパルス間隔が１０−３［ｓｅｃ］より短い部分を取り出す。
【００６１】
たとえば、０≦ｒ＜ｊの範囲でパルス間隔が１０−３［ｓｅｃ］より短い場合、短いパルス間隔分布ＰＳＤの関数ｓ００（ｒ）を決定する。
０≦ｒ＜ｊのとき、  ｓ００（ｒ）＝ｓ（ｒ）
ｊ≦ｒ＜ｍのとき、  ｓ００（ｒ）＝０
この関数ｓ００（ｒ）は、図５のグループＧ００として示されている。
【００６２】
▲４▼  図５のグループＧ０１は、１０−３［ｓｅｃ］より長いパルス間隔分布ＰＳＤのｇ０１に属するから、パルス間隔分布ＰＳＤを表す関数ｓ（ｒ）のうちのパルス間隔が１０−３［ｓｅｃ］より長い部分を取り出す。
【００６３】
たとえば、ｊ≦ｒ＜ｍの範囲でパルス間隔が１０−３［ｓｅｃ］より長い場合、長いパルス間隔分布ＰＳＤの関数ｓ０１（ｒ）を決定する。
０≦ｒ＜ｊのとき、  ｓ０１（ｒ）＝０
ｊ≦ｒ＜ｍのとき、  ｓ０１（ｒ）＝ｓ（ｒ）
この関数ｓ０１（ｒ）は、図５のグループＧ０１として示されている。
【００６４】
これらのグループ関数ｄ１０（ｒ），ｄ１１（ｒ），ｓ００（ｒ），ｓ０１（ｒ）によってそれぞれ条件付けされた確率は、以下のように計算される。たとえば、ｍ＝２５５（８ビット）で、０≦ｒ＜ｍのｄ１０（ｒ）の条件付確率は、８ビットの値が図２４に示す値になる確率となる。たとえば、データ番号１では、擬似乱数ｒの最上位ビット（ｉ＝１）の値が“１”になる確率である。データ番号２では、ｒの値は、擬似乱数ｒの最上位ビット（ｉ＝１）の値が“０”で次ビット（ｉ＝２）の値が“１”になる確率である。同様にして、データ番号２５５では、ｒの値は、擬似乱数ｒの上位７ビット（ｉ＝７）の値が“１１１１１１１”で８位のビット（ｉ＋１＝８）の値が“１”になる確率である。
【００６５】
図６は、グループ分けしたパルス継続時間分布とパルス間隔分布の周期的な選択規則ループの一例を示した選択規則図である。長い周期のグループＧ１１とＧ０１（太枠）に挟まれて短い周期でＧ００とＧ１０（細枠）が交互に多数（ｎ）回発生し、このグループ順序のループを、繰り返し実行している。この周期的な選択規則は、式（１）の示す関係を満足している。
【００６６】
図７および図８は、図１の回路構成における動作を説明するための振幅乱数分布図である。同図の時間軸ｔとグループ別ｇを参照しながら、以下において説明する。
【００６７】
式（１）は、レベルｈにおいて、パルス継続時間とパルス間隔を観測したときに、１回の長いパルス継続時間ｇ１１（ｔ２６〜ｔ６２）に対してｎ回（図ではｎ＝１０）の短いパルス継続時間ｇ１０（例えば、ｔ４  〜ｔ７  ，ｔ１０〜ｔ１３，ｔ１５〜ｔ１６，・・・，ｔ８５〜ｔ８８など）が存在することを表している。同様に、１回の長いパルス間隔ｇ０１（ｔ８８〜ｔ１２１  ）に対してｎ回の短いパルス間隔ｇ００（例えば、ｔ７  〜ｔ１０，ｔ１３〜ｔ１５，ｔ１６〜ｔ１７，・・・，ｔ７６〜ｔ８０など）が存在することを表している。したがって、周期的な選択規則の１ループには、パルス継続時間が長短合わせて（１＋ｎ）回、パルス間隔が長短合わせて（１＋ｎ）回発生する。すなわち、周期的な選択規則の１ループには、パルス継続時間とパルス間隔の長短合わせて２（１＋ｎ）回発生することになる。
【００６８】
そこで、図２のメモリ３３，３６，３７のそれぞれの格納内容をｍ３３，ｍ３６，ｍ３７とおいて、それらの値を以下のように決定する。
ｍ３３＝２（１＋ｎ）−１＝１＋２ｎ          （２）
ｍ３６＝ｍ３３−ｎ＝１＋ｎ                    （３）
ｍ３７＝０                                  （４）
式（２），（３），（４）の値をメモリ３３，３６，３７のそれぞれに、初期設定しておく（図７と図８では、ｎ＝１０、ｍ３３＝２１、ｍ３６＝１１、ｍ３７＝０に設定）。
【００６９】
図９および図１０には、図７および図８の時間軸（ａ）とグループ分け（ｂ）に対するするカウンタ３２のカウント値（ｃ），カウンタ３１のカウント値（ｄ）および周期パルス乱数Ｒの値（ｅ）が示されている。以下、図９と図１０を参照しながら、説明する。
【００７０】
▲１▼  カウンタ３１には、周期パルス乱数Ｒの値がセットされ、１クロック（図示されてはいない）ごとにデクリメント（カウント・ダウン）する。カウンタ値が０（たとえば、ｔ１９）になると、新しい周期パルス乱数Ｒの値（たとえば、ｔ２０においては２）にセットし直している。
【００７１】
▲２▼  カウンタ３１のカウント値が０になると（ｔ１０）、式（２）の値をメモリ３３から初期設定されたカウンタ３２は、カウント値を１回デクリメントする。このデクリメント動作が繰り返されて、カウンタ３２のカウント値が０（ｔ８８）になると、その直後のカウンタ３１が０になった時点（ｔ１２０）の次の時点（ｔ１２１）でカウンタ３２にメモリ３３から式（２）の値（１＋２ｎ＝２１）をセットしなおす。
【００７２】
▲３▼  選択信号生成部３５は２ビットのメモリ・スイッチ選択信号２９を出力している。カウンタ３２のカウント値がメモリ３６に格納されている式（３）の値になったとき（ｔ２６）には、メモリ・スイッチ選択信号２９は“１１”となり、長いパルス継続時間（メモリＭ３  に格納されている）を選択する。カウンタ３２のカウント値がメモリ３７に格納されている式（４）の値になったとき（ｔ８８）には、メモリ・スイッチ選択信号２９は“０１”となり、長いパルス間隔（メモリＭ２  に格納されている）を選択する。
【００７３】
▲４▼  選択信号生成部３５の下位ビットが０のとき（カウンタ３２のカウント値が式（３）または（４）の値に等しくない時）には、カウンタ３２の最下位ビットの値（０または１）がメモリ・スイッチ選択信号２９の上位ビットの値となり、短いパルス継続時間（メモリＭ１  に格納されている）または短いパルス間隔（メモリＭ０  に格納されている）のうちのいずれかを選択する。
【００７４】
カウンタ３１と３２は、周期パルス乱数Ｒの値をカウントして、時間軸ｔの進行をカウントしている。そのカウント値から選択信号生成部３５は、長い又は短いパルス継続時間と長い又は短いパルス間隔を判断して、メモリ・スイッチ選択信号２９を出力している。２ビットのメモリ・スイッチ選択信号２９とそれによって読み出される分布用メモリ２１の関係は、以下のようになっている。
【００７５】
メモリ・スイッチ選択信号２９が“００”を示すと、メモリ・スイッチＭＳＷは、分布用メモリ２１に含まれたメモリＭ０  を選択し、グループＧ００の短いパルス間隔を出力する。
【００７６】
メモリ・スイッチ選択信号２９が“１０”を示すと、メモリ・スイッチＭＳＷは、分布用メモリ２１に含まれたメモリＭ１  を選択しグループＧ１０の短いパルス継続時間を出力する。
【００７７】
メモリ・スイッチ選択信号２９が“０１”を示すと、メモリ・スイッチＭＳＷは、分布用メモリ２１に含まれたメモリＭ２  を選択しグループＧ０１の長いパルス間隔を出力する。
【００７８】
メモリ・スイッチ選択信号２９が“１１”を示すと、メモリ・スイッチＭＳＷは、分布用メモリ２１に含まれたメモリＭ３  を選択しグループＧ１１の長いパルス継続時間を出力する。
【００７９】
このようにして、メモリＭ０  〜Ｍ３  の選択が行われる。メモリ選択の順序の一例を示す。
Ｍ３  →Ｍ０  →Ｍ１  ・・・→Ｍ０  →Ｍ１  →Ｍ２  →Ｍ１  →Ｍ０  ・・・→Ｍ１  →Ｍ０  →Ｍ３  →Ｍ０  →Ｍ１  ・・・
この選択手順ループが周期的に繰り返される。
【００８０】
ここで、Ｍ３  はグループＧ１１の長いパルス継続時間の分布を、Ｍ２  はグループＧ０１の長いパルス間隔の分布を格納しており、Ｍ３  とＭ２  の間で短いパルス継続時間の分布を格納したメモリＭ１  と短いパルス間隔の分布を格納したメモリＭ０  が交互に繰り返して読み出される。Ｍ２  と１ループ後のＭ３  の間でも短いパルス継続時間分布を格納したメモリＭ１  と短いパルス間隔の分布を格納したメモリＭ０  が交互に繰り返して読み出される。
【００８１】
図７および図８において、周期パルス乱数発生器Ｄは、振幅乱数Ｘが振幅レベルｈを（太線が）横切る時点の周期的タイミングを決定している。たとえば、振幅レベルｈを横切る時点ｔ２６とｔ６２の間隔はパルス継続時間分布ＰＤＤに従い、ｔ８８とｔ１２０の間隔はパルス間隔分布ＰＳＤに従って、周期パルス乱数発生器Ｄがパルス乱数Ｒとして出力している。
【００８２】
図１１は、図１の装置で得た擬似雑音信号５２の波形図である。これには、図４と図５で得たパルス継続時間分布とパルス間隔分布のグループに関する図６の周期的な選択規則ループを用いている。振幅・交叉率乱数発生器Ａ０  ，Ａ１  には、図３の波形から、スペクトル・アナライザの一種である統計量測定装置により得た振幅確率分布ＡＰＤ、交叉率分布ＣＲＤ（これらは、図２２を得るために用いたパラメータに同じである）を用いている。
【００８３】
電子機器から放射された図２１の電磁妨害波に対し、図２２の従来の装置によって得た擬似雑音信号の波形は、周期性において著しい差異がある。それに対し図１１の波形は、図２３のスペクトル・アナライザを含む統計量測定システムにより得た図２２と同じパラメータを用い、図６の周期的な選択規則ループを用いたものであり、図３と同様の周期性のある擬似電磁妨害波となっている。
【００８４】
図１２には、図１の装置で図１１の波形を得た場合の、周期パルス乱数Ｒの値をＤ／Ａ変換したときの波形が示されている。これは、０．０２ｓｅｃ周期のパルス波形を示している。この周期性の波形は、図６に例示したグループ選択順序のループに従っているからである。
【００８５】
図１３には、図１１の波形の確率密度関数ＰＤＦ（ｓｉｍ：丸印）と図３の波形の確率密度関数ＰＤＦ（ｏｒｇ：実線）が示されている。本発明による図１の回路構成で得た擬似雑音信号５２は、図３の電磁妨害波に近似していることが判る。
【００８６】
図１４には、図１１の波形の交叉率分布ＣＲＤ（ｓｉｍ：丸印）と図３の波形の交叉率分布ＣＲＤ（ｏｒｇ：実線）が示されている。本発明による図１の回路構成で得た擬似雑音信号５２は、図３の電磁妨害波に近似していることがこれによっても判る。
【００８７】
図１５には、図１１の波形のパルス継続時間分布ＰＤＤ（ｓｉｍ：丸印）と図３の波形のパルス継続時間分布ＰＤＤ（ｏｒｇ：実線）が示されている。本発明による図１の回路構成で得た擬似雑音信号５２は、図３の電磁妨害波に近似していることがこれによっても判る。
【００８８】
図１６には、図１１の波形のパルス間隔分布ＰＳＤ（ｓｉｍ：丸印）と図３の波形のパルス間隔分布ＰＳＤ（ｏｒｇ：実線）が示されている。本発明による図１の回路構成で得た擬似雑音信号５２は、図３の電磁妨害波に近似していることがこれによっても判る。
【００８９】
図１７は、図２５に対応しており、図２の分布用メモリ２１の格納内容の一例を示している。ここで、図１７の図２５との差異は、パルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  をＧ１１とＧ１０とに、ＱＳ  をＧ０１とＧ００とに、長短の４グループに分けたことにある。
【００９０】
すなわち、長いパルス継続時間のグループＧ１１と、短いパルス継続時間のグループＧ１０と、長いパルス間隔のグループＧ０１と、短いパルス間隔のグループＧ００とである。これら４グループに対応して、分布用メモリ２１には４個のメモリＭ０  〜Ｍ３  を設け、それぞれＭ０  にはＧ００を、Ｍ１  にはＧ１０を、Ｍ２  にはＧ０１を、Ｍ３  にはＧ１１を格納している。
【００９１】
アドレス１０２３には、図２４に示したデータ番号２５５のグループＧ１１の長いパルス継続時間という条件を付けた確率（条件付確率、以下同じ）を格納している。同様にアドレス７６９には、図２４に示したデータ番号１のグループＧ１１の長いパルス継続時間という条件を付けた確率を格納している。アドレス７６８のデータ番号には図２４に対応するものが無く空きになっている。
【００９２】
アドレス７６７には、図２４に示したデータ番号２５５のグループＧ１０の短いパルス継続時間という条件を付けた確率を格納している。同様にアドレス５１３には、図２４に示したデータ番号１のグループＧ１０の短いパルス継続時間という条件を付けた確率を格納している。アドレス５１２のデータ番号には図２４に対応するものが無く空きになっている。
【００９３】
アドレス５１１には、図２４に示したデータ番号２５５のグループＧ０１の長いパルス間隔という条件を付けた確率を格納している。同様にアドレス２５７には、図２４に示したデータ番号１のグループＧ０１の長いパルス間隔という条件を付けた確率を格納している。アドレス２５６のデータ番号には図２４に対応するものが無く空きになっている。
【００９４】
アドレス２５５には、図２４に示したデータ番号２５５のグループＧ００の短いパルス間隔という条件を付けた確率を格納している。同様にアドレス２には、図２４に示したデータ番号２のグループＧ００の短いパルス間隔という条件を付けた確率を格納している。アドレス１には、図２４に示したデータ番号１のグループＧ００の短いパルス間隔という条件を付けた確率を格納している。アドレス０のデータ番号には図２４に対応するものが無く空きになっている。
【００９５】
図１８は、図２６に対応しており、図２の分布用メモリ２１の格納内容の他の実施例を示している。ここで、図１８の図２６との差異は、パルス継続時間分布ＰＤＤの確率分布ＱＤ  をＧ１１とＧ１０とに、ＱＳ  をＧ０１とＧ００とに、長短の４グループに分けたことにある。そこには８個のメモリ０〜７が使用されている。ここで確率分布Ｇ１１，Ｇ１０，Ｇ０１とＧ００  のデータ番号は、図２４に示したものを表している。
【００９６】
メモリ０のアドレス０〜３には、図２４のデータ番号１のグループＧ００，Ｇ０１，Ｇ１０，Ｇ１１の短いパルス間隔、長いパルス間隔、短いパルス継続時間、長いパルス継続時間という条件を付けた確率分布の内容を格納している。
【００９７】
メモリ１のアドレス０，１には、図２４のデータ番号２，３のグループＧ００の短いパルス間隔という条件を付けた確率分布の内容が格納される。アドレス２，３には、図２４のデータ番号２，３のグループＧ０１の長いパルス間隔という条件を付けた確率分布の内容が格納される。同様に、アドレス４，５には、グループ，Ｇ１０の短いパルス継続時間という条件を付けた確率分布の内容が格納される。アドレス６，７には、グループ，Ｇ１１の長いパルス継続時間という条件を付けた確率分布の内容が格納される。
【００９８】
同様にして、メモリ７のアドレス０〜１２７には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のグループＧ００の短いパルス間隔という条件を付けた確率分布の内容が格納される。アドレス１２８〜２５５には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のＧ０１の長いパルス間隔という条件を付けた確率分布の内容が格納される。
アドレス２５６〜３８３には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のＧ１０の短いパルス継続時間という条件を付けた確率分布の内容が格納される。アドレス３８４〜５１１には、図２４のデータ番号１２８〜２５５のＧ１１の長いパルス継続時間という条件を付けた確率分布の内容が格納される。
【００９９】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、電磁妨害波の多くは、周期性の雑音であるにもかかわらず、従来の擬似雑音発生装置は、周期性擬似雑音を発生することができなかった。本発明では、簡単な構成により、振幅確率分布、交叉率分布、パルス継続時間分布およびパルス間隔分布を同時に指定して、所定のグループ順序ループを繰り返すようにして、周期性擬似雑音を発生するようにしたから、電子機器の周期性の雑音に対する耐妨害性の評価を十分にすることができるようになった。したがって、本発明の効果は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態を示す回路構成図である。
【図２】図１の重要な構成要素である周期パルス乱数発生器の内部の回路構成図である。
【図３】本発明における長短のパルス継続時間とパルス間隔を説明するための周期性電磁妨害波の波形図である。
【図４】図３の電磁妨害波から得た、グループ分けしたパルス継続時間分布図である。
【図５】図３の電磁妨害波から得た、グループ分けしたパルス間隔分布図である。
【図６】本発明におけるグループ分けしたパルス継続時間分布とパルス間隔分布のグループ順序（選択規則）ループの一例を示した選択規則図である。
【図７】図１の回路構成における動作を説明するための振幅乱数分布図である。
【図８】図７とともに、図１の回路構成における動作を説明するための振幅乱数分布図である。
【図９】図７の時間軸における図２の回路構成の動作を説明するためのタイムチャートである。
【図１０】図８の時間軸における図２の回路構成の動作を説明するためのタイムチャートである。
【図１１】図１の装置で得た擬似雑音信号５２の波形図である。
【図１２】図１の装置で図１１の波形を得た場合の周期パルス乱数ＲをＤ／Ａ変換したときの波形図である。
【図１３】図１１の波形と図２１の波形を比較した確率密度関数ＰＤＦ図である。
【図１４】図１１の波形と図２１の波形を比較した交叉率分布ＣＲＤ図である。
【図１５】図１１の波形と図２１の波形を比較したパルス継続時間分布ＰＤＤ図である。
【図１６】図１１の波形と図２１の波形を比較したパルス間隔分布ＰＳＤ図である。
【図１７】図２に示した分布用メモリの格納内容の一例を示した内容図である。
【図１８】図２に示した分布用メモリの格納内容の他の実施例を示した内容図である。
【図１９】従来例を示す回路構成図である。
【図２０】従来例を示す図１９の回路構成における動作を説明するための振幅乱数分布図である。
【図２１】従来の電子機器から放射された電磁妨害波の波形図である。
【図２２】図１９の装置により発生させた擬似雑音の波形図である。
【図２３】図２２の擬似雑音を得る各種統計量を測定するための統計量測定システムの構成図である。
【図２４】図２３の構成で得た条件付確率の一例を示す条件付確率図である。
【図２５】図１９のパルス乱数発生器に格納される条件付確率の一実施例を示す格納図である。
【図２６】図１９のパルス乱数発生器に格納される条件付確率の他の実施例を示す格納図である。
【符号の説明】
１２  Ｄ／Ａ変換部
２１  分布用メモリ
２３  任意分布乱数発生器
２５  メモリ・スイッチ選択部
２８  分布データ
２９  メモリ・スイッチ選択信号
３１，３２  カウンタ
３３  メモリ
３５  選択信号生成部
３６，３７  メモリ
５１  擬似雑音乱数
５２  擬似雑音信号
５３  スイッチ切替信号
６０  電磁妨害源
６１  アンテナ
６２Ａ  スペクトル・アナライザ
６３Ａ，Ｂ  統計量測定器
６４Ａ，Ｂ  オシロスコープ
６５  擬似雑音発生制御部
６６  擬似雑音発生装置
７０  電磁妨害波
７１  電磁妨害信号
７２  雑音時間波形
７３  統計量分布情報
７４  波形情報
７５  擬似雑音発生制御情報
Ａ０  ，Ａ１    振幅・交叉率乱数発生器
Ｃ  パルス乱数発生器
Ｄ  周期パルス乱数発生器
Ｇ００〜Ｇ１１  グループ
ｇ００  短いパルス間隔
ｇ０１  長いパルス間隔
ｇ１０  短いパルス継続時間
ｇ１１  長いパルス継続時間
ｈ  ＰＤＤ／ＰＳＤ指定レベル
Ｍ０  〜Ｍ３    メモリ
ＭＳＷ  メモリ・スイッチ
Ｐ  パルス乱数
Ｒ  周期パルス乱数
Ｓ  ステップ
ＳＷ  スイッチ部
Ｘ０  ，Ｘ１    振幅乱数
【図１】
2005006232.tif 000003
【図２】
2005006232.tif 000004
【図３】
2005006232.tif 000005
【図４】
2005006232.tif 000006
【図５】
2005006232.tif 000007
【図６】
2005006232.tif 000008
【図７】
2005006232.tif 000009
【図８】
2005006232.tif 000010
【図９】
2005006232.tif 000011
【図１０】
2005006232.tif 000012
【図１１】
2005006232.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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