(57)【要約】  【目的】  基準画像データと被検査画像データとをより精密に位置あわせする。  【構成】  印刷物の適正な画像データ（基準画像データ）が用意される。その後，搬送される印刷物を撮像することにより被検査画像データが得られる（図３(A) ）。被検査画像データは搬送方向に対応する方向に分割され，複数の被検査ブロック画像データが取得される（図３(B) ）。被検査ブロック画像データのそれぞれについて，被検査ブロック画像データと，基準画像データ中の上記被検査ブロック画像データに対応する部分のデータとに基づいて，被検査ブロック画像データの位置ずれ量が算出される。算出された位置ずれ量に基づいて，上記被検査ブロック画像データの位置が補正される（図３(C) ）。  【選択図】  図３
2005091329.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準画像を表す基準画像データを記憶する第１のメモリ，
搬送される被検査対象物を撮像することにより得られる被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第２のメモリ，
第２のメモリに記憶された被検査画像データを，搬送方向に対応する方向に複数のブロックに分割して，複数の被検査ブロック画像データを得る第１の分割手段，および
上記第１の分割手段によって得られた複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，被検査ブロック画像データと，上記第１のメモリに記憶された基準画像データ中の上記被検査ブロック画像データに対応する部分のデータとに基づいて，被検査ブロック画像データの少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量を算出するブロック位置ずれ量算出手段，
を備えた画像位置補正装置。
【請求項２】
上記ブロック位置ずれ量算出手段によって算出された位置ずれ量に基づいて位置補正された上記被検査ブロック画像データを，搬送方向の直交方向に対応する方向および搬送方向に対応する方向に分割して，複数の被検査セグメント画像データを得る第２の分割手段，および
上記第２の分割手段によって得られた複数の被検査セグメント画像データのそれぞれについて，被検査セグメント画像データと，上記第１のメモリに記憶された基準画像データ中の上記被検査セグメント画像データに対応する部分とに基づいて，被検査セグメント画像データの位置ずれ量を算出するセグメント位置ずれ量算出手段，
をさらに備えた請求項１に記載の画像位置補正装置。
【請求項３】
基準画像を表す基準画像データと比較される，搬送される被検査対象物を撮像することにより得られる被検査画像を表す被検査画像データの位置と，上記基準画像データとの位置ずれ量を算出する方法であり，
被検査画像データを，搬送方向に対応する方向に分割して複数の被検査ブロック画像データを得，
複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，被検査ブロック画像データと，基準画像データ中の上記被検査ブロック画像データに対応する部分のデータとに基づいて，被検査ブロック画像データの少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量を算出する，位置ずれ量算出方法。
【請求項４】
算出された位置ずれ量に基づいて位置補正された被検査ブロック画像データを，搬送方向の直交方向に対応する方向および搬送方向に対応する方向に分割して，複数の被検査セグメント画像データを得，
複数の被検査セグメント画像データのそれぞれについて，被検査セグメント画像データと，上記第１のメモリに記憶された基準画像データ中の上記被検査セグメント画像データに対応する部分とに基づいて，被検査セグメント画像データの位置ずれ量を算出する，
請求項３に記載の位置ずれ量算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は，画像位置補正装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷物の検査（たとえば色調の良否検査，汚れの有無の検査，抜けの有無の検査等）を目視ではなく自動的に行う検査システムとして，撮像装置によって印刷物を撮像し，撮像によって得られる被検査画像データと，あらかじめ用意される基準画像データ（一般的には，正確と思われる被検査画像データ）とを比較するものがある。
【０００３】
このような検査システムでは，比較すべき基準画像データと被検査画像データの相対的な位置の位置合わせが必要とされる。比較すべき基準画像データと被検査画像データの相対的な位置がずれてしまうと，正常な印刷物であっても不良と誤判定されてしまうことになるからである。基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置ずれ量を検出して，被検査画像データの位置の補正を行った上で，基準画像データと被検査画像データとを比較して検査することが行われている（たとえば，特許文献１参照）。特許文献１では，求められた位置ずれ量により被検査画像データが位置補正される。
【特許文献１】特開平９−３３０４１１号公報
【発明の開示】
【０００４】
この発明は，基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置ずれ量をより精密に検出し，基準画像データと被検査画像データとをより精密に位置あわせすることを目的とする。
【０００５】
この発明による画像位置補正装置（画像位置ずれ量算出装置）は，基準画像を表す基準画像データを記憶する第１のメモリ，搬送される被検査対象物を撮像することにより得られる被検査画像を表す被検査画像データを記憶する第２のメモリ，第２のメモリに記憶された被検査画像データを，搬送方向に対応する方向に複数のブロックに分割して，複数の被検査ブロック画像データを得る第１の分割手段，および上記第１の分割手段によって得られた複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，被検査ブロック画像データと，上記第１のメモリに記憶された基準画像データ中の上記被検査ブロック画像データに対応する部分のデータとに基づいて，被検査ブロック画像データの少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量を算出するブロック位置ずれ量算出手段を備えたものである。
【０００６】
この発明による画像位置補正方法（画像位置ずれ量算出方法）は，基準画像を表す基準画像データと比較される，搬送される被検査対象物を撮像することにより得られる被検査画像を表す被検査画像データの位置を補正する方法であり，被検査画像データを，搬送方向に対応する方向に分割して複数の被検査ブロック画像データを得，複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，被検査ブロック画像データと，基準画像データ中の上記被検査ブロック画像データに対応する部分のデータとに基づいて，被検査ブロック画像データの少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量を算出するものである。
【０００７】
この発明によると，被検査画像データを搬送方向に対応する方向に分割することによって得られる複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，位置ずれ量が算出される。
【０００８】
算出される位置ずれ量は，少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量を含む。搬送方向に対応する方向のみならず，それ以外の方向（たとえば，搬送方向の直交方向に対応する方向等）を含む２以上の方向の位置ずれ量を算出してもよい。２以上の位置ずれ量を算出する場合には，算出される位置ずれ量にはいずれの方向の位置ずれ量であるかを示すデータが付随する。
【０００９】
この発明によると，搬送方向に対応する方向に分割された複数の被検査ブロック画像データのそれぞれについて，少なくとも搬送方向に対応する方向の位置ずれ量が算出されるので，算出される位置ずれ量に基づいて被検査ブロック画像データのそれぞれの少なくとも搬送方向に対応する位置を補正することができる。精密に（細かく）基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置を合わせることができる。特に搬送方向に対応する方向に生じやすい基準画像データと被検査画像データとの位置のずれを無くすことができる。
【００１０】
一実施態様では，画像位置補正装置は，上記ブロック位置ずれ量算出手段によって算出された位置ずれ量に基づいて位置補正された上記被検査ブロック画像データを，搬送方向の直交方向に対応する方向および搬送方向に対応する方向に分割して，複数の被検査セグメント画像データ（被検査セクション画像データまたは被検査ピース画像データ）を得る第２の分割手段，および上記第２の分割手段によって得られた複数の被検査セグメント画像データのそれぞれについて，被検査セグメント画像データと，上記第１のメモリに記憶された基準画像データ中の上記被検査セグメント画像データに対応する部分とに基づいて，被検査セグメント画像データの位置ずれ量を算出するセグメント位置ずれ量算出手段をさらに備えている。
【００１１】
位置補正された被検査ブロック画像データを，さらに搬送方向の直交方向に対応する方向および搬送方向に対応する方向に分割した被検査セグメント画像データのそれぞれについて位置ずれ量が算出されるので，算出された位置ずれ量により，被検査セグメント画像データのそれぞれの位置を補正することができる。さらに精密に基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置を合わせることができる。
【００１２】
この発明においては，算出された位置ずれ量に基づいて被検査ブロック画像データ（被検査セグメント画像データ）の位置を補正することにより，基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置合わせを行っているが，もちろん，被検査ブロック画像（被検査セグメント画像データ）の位置を補正することにかえて，基準画像データ中のブロック画像データ（基準画像データ中のセグメント画像データ）の位置を補正することによっても，基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置合わせをすることもできる。
【実施例】
【００１３】
図１は，印刷物の検査システムの一部を概略的に示す斜視図である。
【００１４】
検査システムは，被検査対象である印刷物をＣＣＤラインセンサを含む撮像装置によって撮像し，撮像によって得られる画像データに基づいて印刷物を検査するものである。印刷物の検査は，撮像によって得られる被検査画像データとあらかじめ取得された基準画像データ（印刷物の適正な画像データ）とを（必要に応じて画像データの前処理を経て）比較し，その結果が所定の条件を満たすかどうかを判定することにより行われる。画像処理によって色調の良否，汚れの有無，抜けの有無等が検査（判定）される。
【００１５】
紙，フィルム等の連続するシートＷの表面に，輪転印刷機（図示略）によって所定の画像（絵柄，文字等）が印刷される。輪転印刷機からは，所定の画像が一定間隔で印刷されたシート（以下，印刷物という）Ｗが送出される。輪転印刷機から送出された印刷物Ｗは搬送装置によって搬送される。搬送装置には，多数のローラ４が含まれており，多数のローラ４が搬送路に沿って水平面上にほぼ一定間隔で並列に配列されている。
【００１６】
搬送装置の搬送路上に定められた撮像位置の上方に，ＣＣＤラインセンサを含む撮像装置１および線状照明光源２が，それぞれ固定的に設けられている。線状照明光源２は，搬送路の幅方向（搬送方向に直交する方向）にのび，搬送路上の撮像位置をその全体にわたって照明する。撮像装置１のＣＣＤラインセンサは搬送路の幅方向を走査方向とするように配置され，光源２によって照明された撮像位置をその幅方向の全体（少なくとも印刷物Ｗの幅全体）にわたって撮像する。
【００１７】
撮像装置１によって得られる画像データは，画像位置補正装置３に入力する。
【００１８】
上述のように，検査システムにおける印刷物Ｗの検査は，撮像によって得られる被検査画像データとあらかじめ取得された基準画像データ（印刷物の適正な画像データ）とをパターンマッチングし，その適合度が所定の条件を満たすかどうかを判定することにより行われる。
【００１９】
パターンマッチングでは，基準画像データと被検査画像データの相対的な位置が合致していることを前提とするが，搬送装置の搬送速度の変動，温度，湿度等の変化による印刷物Ｗの経時的な変化（伸び縮み），印刷物Ｗの蛇行等により，基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置が変動してしまうことがある。このことは，印刷物Ｗの検査（パターンマッチング）において，正常な印刷物Ｗであっても不良と誤判定してしまうことにつながる。画像位置補正装置３は，基準画像データと被検査画像データとの相対的な位置のずれ（位置ずれ量（方向を含む））を検出して，相対的な位置ずれが検出されたときには検出された位置ずれ量に基づいて被検査画像データの位置を補正する（位置ずれ補正する）処理を行うものである。
【００２０】
図２は，画像位置補正装置３の詳細な構成を示す機能ブロック図である。図２においては撮像装置１を示すブロックも図示されている。
【００２１】
撮像装置１によって得られた基準画像データ（印刷物の適正な画像データ）は，基準画像データ・メモリ５に記憶される。他方，被検査対象である印刷物Ｗの被検査画像データは，被検査画像データ・メモリ６に記憶される。
【００２２】
画像位置補正処理機能（手段）７では，基準画像データ・メモリ５に記憶された基準画像データと，被検査画像データ・メモリ６に記憶された被検査画像データとを用いて，基準画像データと被検査画像データの相対的な位置のずれ（その大きさおよび方向を含む）を検出し，検出された位置ずれ量に基づいて被検査画像データの位置を補正する（詳細は後述する）。
【００２３】
位置補正された被検査画像データは，補正後被検査画像データ・メモリ８に記憶される。位置補正された被検査画像データが補正後被検査画像データ・メモリ８から読出されて，印刷物Ｗの検査（パターン・マッチング）に用いられる。
【００２４】
画像位置補正処理機能７はプログラム・ルーチンにより実現され，各メモリ（基準画像データ・メモリ５，被検査画像データ・メモリ６および補正後被検査画像データ・メモリ８）は，ＲＡＭ等の記憶素子，ハードディスク等のディスク・メモリ等により実現される。画像位置補正処理機能７は，ハードウエア回路により実現することもできる。
【００２５】
図３は，画像位置補正装置３における画像位置補正処理機能７の手順を，具体的な画像を示しつつ表すものである。図４，図５および図６は，画像補正装置３における画像位置補正処理機能７の手順を表すフローチャートである。図３および図４に示すように，画像補正装置３の画像位置補正処理機能７は，より詳細には，ブロック分割処理（ステップ30），ブロック単位の位置補正処理（ステップ40，図５），セグメント分割処理（ステップ50）およびセグメント単位の位置補正処理（ステップ60，図６）を行う。
【００２６】
印刷物Ｗの検査（画像位置補正処理）に先だって，基準画像データ（印刷物の適正な画像データ）が，画像補正装置３の基準画像データ・メモリ５に記憶される。基準画像データの基準画像データ・メモリ５への記憶の後，撮像装置１によって被検査対象である印刷物Ｗの撮像（被検査画像データの取込み）が開始される。
【００２７】
撮像装置１によって得られた被検査画像データ10（図３(A) ）は，画像補正装置３の被検査画像データ・メモリ６に記憶される。被検査画像データ10は，撮像装置１のＣＣＤラインセンサによって得られる複数の一次元の画像データから構成される二次元の画像データである。
【００２８】
被検査画像データ・メモリ６に記憶された被検査画像データは，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向（天地方向，上下方向）に分割される（ステップ30，図３(B) ）。被検査画像データを印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に分割することによって得られる複数の画像データのそれぞれを，「被検査ブロック画像データ」という。図３(B) には，被検査画像データ10が印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に４分割されている例が示されている。被検査画像データ10から，４つの被検査ブロック画像データ10Ａ，10Ｂ，10Ｃおよび10Ｄが得られる。搬送方向に対応する方向に分割するのは，印刷物の蛇行等による搬送方向の直交方向に対応する方向の位置ずれ（基準画像データと被検査画像データのずれ）よりも，搬送方向の同期ずれによる位置ずれの方が大きく，検査の障害になるので，これを効率よく補正するためである。
【００２９】
被検査画像データを分割することによって得られた被検査ブロック画像データのそれぞれについて，ブロック単位の位置補正処理（ステップ40，図５）が行われる。
【００３０】
ブロック単位の位置補正処理では，画像位置補正装置３の基準画像データ・メモリ５に記憶されている基準画像データと，ブロック分割処理（ステップ30）によって得られた複数の被検査ブロック画像データのそれぞれが用いられる。
【００３１】
ブロック変数ｉが初期化される（ステップ41）。被検査画像データから得られた複数の被検査ブロック画像データｉ（ｉ＝１，２，３，・・・）のそれぞれについて，順番に以下の処理が行われる。
【００３２】
基準画像データは，被検査ブロック画像データｉに対応する画像データ部分を含んでいる。たとえば，図３(C) を参照して，基準画像データ20（基準画像データ20によって表される基準画像を図３(C) において破線で示す）は，被検査ブロック画像データ10Ａに対応する画像データ部分20Ａ，被検査ブロック画像データ10Ｂに対応する画像データ部分20Ｂ，被検査ブロック画像データ10Ｃに対応する画像データ部分20Ｃ，被検査ブロック画像データ10Ｄに対応する画像データ部分20Ｄを含む。図３(C) においては，被検査ブロック画像データ10Ｃに対応する基準画像データ20中の画像データ部分20Ｃに，被検査ブロック画像データ10Ｃが重ね合わされて示されている（被検査ブロック画像データ10Ｃの位置と，基準画像データ20中の画像データ部分20Ｃの位置とがずれている様子を示している）。
【００３３】
はじめに，処理対象の被検査ブロック画像データｉに対応する基準画像データ20中の画像データ部分（以下，基準ブロック画像データという）から，基準線分（ラインアドレス）が選択される（ステップ42）。基準線分を表すデータ列（画像（画素）データ列）が，基準ブロック画像データから抽出される（ステップ43；図７(A) ，(B) 参照）。次に，処理対象の被検査ブロック画像データｉにおいて，上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心にして，複数ラインの画像データ列が抽出される（ステップ44；図７(A) ，(B) 参照）。
【００３４】
基準ブロック画像データにおいて選択されて抽出される基準線分を表すデータ列および被検査ブロック画像データにおいて抽出される上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心とする複数の画像データ列は，次に説明するように，基準ブロック画像データと被検査ブロック画像データとの位置ずれ量の算出のために用いられる。基準線分の選択（ステップ42）では，基準線分を表すデータ列と基準線分を表すデータ列に隣接するデータ列（好ましくは基準線分を表すデータ列に隣接する複数ライン分のデータ列）とが明確に区別できる，そのような位置の基準線分が選択される。
【００３５】
選択される基準線分の方向は，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地（上下）方向）であってもよいし，搬送方向に直交する方向に沿う方向（左右方向）であってもよい。図７(A) は，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地（上下）方向）において基準ブロック画像データから選択された基準線分を表す画像データ列の位置（ラインアドレスＬｘ）と，被検査ブロック画像データにおいて選択された複数ライン（この例では３つ）の画像データ列の位置（ラインアドレスＬx-2，Ｌx ，Ｌx+2：２ライン分ずつの間隔がある）を示している。図７(B) は，印刷物Ｗの搬送方向の直交方向に沿う方向（左右方向）において基準ブロック画像データから選択された基準線分を表す画像データ列の位置（ラインアドレスＬy ）と，被検査ブロック画像データにおいて選択された複数（この例では３つ）の画像データ列の位置（ラインアドレスＬy-2，Ｌy ，Ｌy+2：２ライン分ずつの間隔がある）を示している。図７(A) ，(B) においてハッチングによって示す線分位置は，分かりやすくするためにいずれもその幅が大きく描かれている。また，図７(A) ，(B) においては分かりやすくするために，被検査ブロック画像データにおける複数の画像データ列の位置（ラインアドレス）は２ライン分づつの間隔があるが，１ライン隣りのラインアドレスの画像データ列を用いるようにしてもよい。
【００３６】
基準ブロック画像データから抽出された基準線分を表す画像データ列と，被検査ブロック画像データｉから抽出された複数ライン分の画像データ列のそれぞれについて，一致度の評価値を得るための演算が行われる（ステップ45）。図７(A) に示す例では，基準ブロック画像データ中のラインアドレスｘの基準線分を表す画像データ列と，被検査ブロック画像データｉ中のラインアドレスＬｘ-2，Ｌx，Ｌx+2の３つの画像データ列のそれぞれとによって，３つの評価値が得られる。図７(B) に示す例では，基準ブロック画像データ中のラインアドレスｙの基準線分を表す画像データ列と，被検査ブロック画像データｉ中のラインアドレスＬy-2，Ｌy ，Ｌy+2の３つの画像データ列のそれぞれとによって，３つの評価値が得られる。
【００３７】
評価値としては，相関係数，差の絶対値の総和，差の自乗の総和のいずれかの値とすることができる。
【００３８】
相関係数は，次式によって得ることができる。
【００３９】
【数１】
2005091329.tif 000003
【００４０】
ここでｉは画素位置（アドレス）を，ｆ(i) は基準画素データ列における画素値を，ｇ(i) は検査画素データ列における画素値を，Ｒｊは正規化相互相関係数を，ｊは基準画素データ列における画素位置を，ｎは画素データ列の画素数をそれぞれ表す。
【００４１】
差の絶対値の総和は，次式によって得ることができる。
【００４２】
【数２】
2005091329.tif 000004
【００４３】
差の自乗の総和は，次式によって得ることができる。
【００４４】
【数３】
2005091329.tif 000005
【００４５】
評価値として相関係数（数１）を用いる場合，評価値（相関係数）が１に近いほど一致度が大きい。評価値として差の絶対値の総和（数２）または差の自乗の総和（数３）を用いる場合，評価値（差の絶対値の総和，差の自乗の総和）は０に近いほど一致度が大きい。
【００４６】
基準画素データ列と複数の検査画素データ列とから得られた評価値により，最も一致度の大きい評価値が得られた被検査ブロック画像データｉ中の画像データ列の位置（ラインアドレス）と，基準線分の位置（ラインアドレス）とに基づいて，位置ずれ量が算出される（ステップ46）。基準線分の方向が印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地方向）であれば（図７(A) 参照），算出される位置ずれ量は搬送方向の直交方向に対応する方向（左右方向）の位置ずれ量であり，基準線分の方向が印刷物Ｗの搬送方向の直交方向に対応する方向（左右方向）であれば（図７(B) 参照），算出される位置ずれ量は搬送方向に対応する方向（天地方向）の位置ずれ量であるのは言うまでもない。
【００４７】
評価値演算（ステップ45）は，上述のように，基準ブロック画像データから選択されて抽出される一つの基準線分を表すデータと，処理対象の被検査ブロック画像データｉにおいて上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心にして抽出される複数ラインの画像データ列とを用いたものに限られず，複数の基準線分を表すデータを用いたものであってもよいし（たとえば，特開平９−３３０４１１号公報の図３(A) ，(B) ），交点画素を含む異なる方向の基準線分を用いたものであってもよい（たとえば，特開平９−３３０４１０号公報）。
【００４８】
算出された位置ずれ量に基づいて，被検査ブロック画像データｉの位置が補正される（ステップ47）。たとえば，算出された被検査ブロック画像データｉの位置ずれ量に基づいて，被検査画像データ・メモリ６（または補正後被検査画像データ・メモリ８）において被検査ブロック画像データｉの位置（たとえば，被検査ブロック画像データｉが表す被検査ブロック画像の左上隅の画素位置を表すデータ（基準位置データ）が補正（修正）される。もちろん，ステップ47においては，位置ずれ量（方向を含む）を表すデータを，被検査ブロック画像データｉと関連づけて被検査画像データ・メモリ６（または補正後被検査画像データ・メモリ８）に記憶する処理を行うようにしてもよい。
【００４９】
ブロック変数ｉがインクリメントされ（ステップ48でNO，ステップ49），次の被検査ブロック画像データについて，同様の処理が繰返される。
【００５０】
すべての被検査ブロック画像データについてブロック位置補正処理が終了すると（ステップ48でYES ），ブロック単位の位置補正処理は終了する。
【００５１】
ブロック単位の位置補正は，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向のみの補正であっても，印刷物Ｗの搬送方向の直交方向に対応する方向のみの補正であってもよいが，好ましくはその両方で行われる。
【００５２】
ブロック単位の位置補正処理を経た被検査ブロック画像データ（ブロック位置補正された被検査ブロック画像データ）は，さらに分割される（図４：ステップ50）。被検査ブロック画像データをさらに分割することによって得られる画像データを，被検査セグメント画像データという（図３(D) 参照）。図３(D) には，被検査ブロック画像データ10Ｃが，搬送方向に対応する方向に２分割され，かつ搬送方向の直交方向に対応する方向に３分割されることにより，６つの被検査セグメント画像データ10Ｃａ，10Ｃｂ，10Ｃｃ，10Ｃｄ，10Ｃｅおよび10Ｃｆに分割されている様子が示されている。被検査セグメント画像データのそれぞれについて，セグメント単位の位置補正処理（ステップ60，図６）が行われる。
【００５３】
セグメント単位の位置補正処理では，画像位置補正装置３の基準画像データ・メモリ５に記憶されている基準画像データと，セグメント分割処理（ステップ50）において得られた複数の被検査セグメント画像データのそれぞれとが用いられる。
【００５４】
ブロック変数ｉが初期化され（ステップ61），さらにセグメント変数ｊが初期化される（ステップ62）。複数の被検査ブロック画像データｉのそれぞれから得られる複数の被検査セグメント画像データｊのそれぞれについて，以下の処理が行われる。
【００５５】
基準ブロック画像データは，被検査セグメント画像データｊに対応する画像データ部分を含んでいる。たとえば，図３(D) ，(E) を参照して，基準ブロック画像データ20Ｃは，被検査セグメント画像データ10Ｃａに対応する画像データ部分20Ｃａ，被検査セグメント画像データ10Ｃｂに対応する画像データ部分20Ｃｂ，被検査セグメント画像データ10Ｃｃに対応する画像データ部分20Ｃｃ，被検査セグメント画像データ10Ｃｄに対応する画像データ部分20Ｃｄ，被検査セグメント画像データ10Ｃｅに対応する画像データ部分20Ｃｅ，被検査セグメント画像データ10Ｃｆに対応する画像データ部分20Ｃｆを含む。
【００５６】
処理対象の被検査セグメント画像データｊに対応する基準ブロック画像データの部分（以下，基準セグメント画像データという）と，被検査セグメント画像データｊとが用いられて，差分演算が行われる（ステップ63）。差分演算では基準セグメント画像データにおける画素ごとの所定の値（たとえば，輝度値，濃度値等）と，被検査セグメント画像データｊにおける画素ごとの所定の値との差（同一アドレスの画素同士の所定値の差）が算出される。その後，画素ごとの差分値が積算される（ステップ64）。
【００５７】
次に，被検査セグメント画像データが，１画素分（１ライン分），上，下，左，右，右上，右下，左上，左下の８方向にそれぞれずらされ，ずらされた位置のそれぞれにおいて，上述と同様に，基準セグメント画像データと被検査セグメント画像データの画素ごとの差分値（同一アドレスの画素同士の所定値の差）が算出され，その後，差分値が積算される（ステップ65でNO，ステップ66，63，64の繰返し）。図８は，被検査セグメント画像データ10Ｃｃが，右上方向に１画素分ずらされている様子（（+1，-1）のずらし）（破線で示す）と，左下方向に１画素分ずらされている様子（(-1，+1)のずらし）（１点鎖線で示す）を示している。
【００５８】
合計９つの積算結果が得られると（ステップ65でYES ），得られた積算結果（積算値）のうち，最小の積算値をもたらした被検査セグメント画像データの位置に，被検査セグメント画像データの位置が補正される（ステップ67）。たとえば，最小の積算値をもたらした位置に被検査セグメント画像データが位置するように，被検査画像データ・メモリ６（または補正後被検査画像データ・メモリ８）に記憶されている被検査セグメント画像データの位置が補正（修正，書換）される（たとえば，被検査セグメント画像データｊが表す被検査セグメント画像の左上隅の画素位置を表すデータ（基準位置データ）が補正（修正）される）。もちろん，ステップ67においては，位置ずれ量（方向を含む）を表すデータを，被検査セグメント画像データｊと関連づけて被検査画像データ・メモリ６（補正後被検査画像データ・メモリ８）に記憶する処理を行うようにしてもよい。
【００５９】
セグメント変数ｊがインクリメントされ（ステップ68でNO，ステップ69），次の被検査セグメント画像データについて，同様の処理が行われる。
【００６０】
一の被検査ブロック画像データｉから得られた複数の被検査セグメント画像データについての処理が終了すると（ステップ68でYES ），ブロック変数ｉがインクリメントされる（ステップ70でNO，ステップ71），次の被検査ブロック画像データから得られた複数の被検査セグメント画像データについての処理が行われる。
【００６１】
すべての被検査ブロック画像データから得られるすべての被検査セグメント画像データについて，セグメント単位の位置補正処理が終了すると（ステップ70でYES ），セグメント単位の位置補正処理が終了する。ブロック単位の位置補正処理を経た後に，セグメント単位の位置補正処理が行われるので，セグメント単位の位置補正処理の処理負荷を少なくする（補正範囲を狭くする）ことができる。
【００６２】
画像位置補正処理後（ブロック単位の位置補正およびセグメント単位の位置補正の後）の被検査画像データは，補正後被検査画像データ・メモリ８に一時的に記憶される。補正後被検査画像データ・メモリ８から読出された位置補正後の被検査画像データが，パターン・マッチング（印刷物Ｗの検査）に用いられる。
【００６３】
撮像装置１のＣＣＤラインセンサがカラー（ＲＧＢ）の画像データを出力するものである場合には，カラーの基準画像データとカラーの被検査画像データを白黒画像データに変換し，白黒の基準画像データと白黒の被検査画像データとを用いて，被検査ブロック画像データごとの位置ずれ量と，被検査セグメント画像データごと位置ずれ量（差分値の積算値が最小である位置）を表すデータを得，得られた値（量，位置）を用いてカラーの被検査画像データの位置（ブロック位置およびセグメント位置）を補正するようにしてもよい。この場合には，画像位置補正装置３には，カラーの基準画像データおよびカラーの被検査画像データの白黒画像データへの変換を行う変換機能（変換回路，変換手段）が設けられる。変換機能は，カラーの基準画像データおよびカラーの被検査画像データのＲ成分，Ｇ成分およびＢ成分に，それぞれ所定の係数を乗算し得られた乗算値を加算することにより，カラーの基準画像データから白黒の基準画像データを作成し，かつカラーの被検査画像データから白黒の被検査画像データを作成する処理を行う。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】検査システムの一部を概略的に示す斜視図である。
【図２】画像位置補正装置の機能ブロック図を示す。
【図３】(A) 〜(E) は画像位置補正処理の手順を，具体的な画像を示しつつ表すものである。
【図４】画像位置補正の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】ブロック単位の位置補正の処理手順を示すフローチャートである。
【図６】セグメント単位の位置補正の処理手順を示すフローチャートである。
【図７】(A) は，基準ブロック画像データおよび被検査ブロック画像データにおいて評価値演算される搬送方向に対応する方向の線分を示す。(B) は，基準ブロック画像データおよび被検査ブロック画像データにおいて評価値演算される搬送方向の直交方向に対応する方向の線分を示す。
【図８】被検査セグメント画像データが１画素分ずらされている様子を示す。
【符号の説明】
【００６５】
１  撮像装置
２  線状照明光源
３  画像位置補正装置
５  基準画像データ・メモリ
６  被検査画像データ・メモリ
７  画像位置補正処理機能
８  補正後被検査画像データ・メモリ
10  被検査画像データ
10Ａ，10Ｂ，10Ｃ，10Ｄ  被検査ブロック画像データ
10Ｃａ，10Ｃｂ，10Ｃｃ，10Ｃｄ，10Ｃｅ，10Ｃｆ  被検査セグメント画像データ
20  基準画像データ
20Ａ，20Ｂ，20Ｃ，20Ｄ  基準ブロック画像データ
20Ｃａ，20Ｃｂ，20Ｃｃ，20Ｃｄ，20Ｃｅ，20Ｃｆ  基準セグメント画像データ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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