(57)【要約】【課題】  コネクタ内のピン先端位置を非接触で三次元的に検出し，良否を判定できるコネクタピン位置検査装置を提供する。【解決手段】  少なくとも電界により光学特性を変える電気光学層と，給電手段と，識別制御部とより構成され，電気光学層がコネクタ内のピン群に対向配置した状態でケーブルに加える電圧を制御し，電気光学層に加わる電界により変化する電気光学層の光学特性からコネクタピンの位置を目視或いは電気信号出力により確認検査する。  更にコネクタ内のピンと静電的或いは直接に電気的に結合された１以上の基準電極を含む基準電極内蔵コネクタをも提案して高精度のコネクタピン位置検査を可能とする。【選択図】  図１
2005283524.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ケーブル接続されたコネクタ内に於けるピン位置の検査装置であって，少なくとも電界により光学特性を変える電気光学層と，給電手段と，識別制御部とより構成され，電気光学層がコネクタ内のピン群に対向配置した状態で識別制御部は給電手段を介して電気光学層に加える電界を制御し，電界に応じて変わる電気光学層の光学特性からコネクタピンの位置を目視或いは電気信号出力により確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項２】
請求項１記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，さらに電気光学層に関してコネクタピンと反対側に透明導電層を有し，識別制御部は給電手段を介して透明導電層及びケーブル間に加える電圧を制御し，透明導電層とコネクタピン間の電界に応じて変わる電気光学層の光学特性からコネクタピンの位置を目視或いは電気信号出力により確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項３】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，前記給電手段は，ケーブルの絶縁被覆外部に駆動電極を近接させ，静電結合により直流或いはパルス電圧或いは交流電圧を複数の導線に個別或いは一括給電する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項４】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層は給電手段により印可された直流或いはパルス状或いは交流電圧が作る電界により物質の移動或いは配向変更により光学的な変化を生じる電気泳動層より構成されることを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項５】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層は給電手段により印可された直流或いはパルス状或いは交流電圧が作る電界により液晶の配向変更により光学的な変化を生じる液晶層より構成されることを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項６】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層は給電手段により印可された交流電圧が作る交流電界により発光する電気光学物質より構成されることを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項７】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層は給電手段により印可された直流或いはパルス状或いは交流電圧がに作る電界により屈折率或いは光の偏波面を変える電気光学物質より構成されることを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項８】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層に光学特性変化として現れるコネクタピン先に対応する像の二次元的な位置からコネクタピンの二次元位置を確認することを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項９】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，識別制御部は給電手段を介して加える電圧の振幅或いはパルス幅を変化走査し，電気光学層に光学特性変化として現れるコネクタピン先に対応する像の強度と前記電圧の振幅或いはパルス幅とコネクタピン位置との関係からコネクタピンの挿入量を確認することを特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１０】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，検査対象となるコネクタのハウジング内に収容保護されるコネクタピン群と略平行なコネクタ当接面に近接できる形状寸法の透明体底面に電気光学層或いは及び透明導電層を配置してイクステンション部とし，イクステンション部の透明体は電気光学層の照明光及び電気光学層からの反射光或いは放射光のガイドとして機能させる事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１１】
請求項１０記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，前記イクステンション部の透明体表面を凸面或いは凹面として電気光学層からの反射光或いは放射光を収束或いは拡大するレンズ機能を具備させる事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１２】
請求項１０記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，前記イクステンション部は脱着可能として形状仕様の異なるコネクタ毎に最適なイクステンション部を交換装着して検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１３】
ケーブルに接続されているピンと静電的或いは直接に電気結合され，位置の基準となるコネクタ接合面から及び或いはコネクタ側面から所定距離離れた基準位置に配置された１以上の基準電極を有している事を特徴とする基準電極内蔵コネクタ
【請求項１４】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，さらに受光素子或いは撮像素子等の光学特性検出手段を有してコネクタピン近傍の電界強度分布に対応して現れる電気光学層の光学特性変化を電気信号出力に変換し，コネクタピンの位置を確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１５】
請求項１４記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，識別制御部は給電手段を介して電気光学層に加える電界強度或いはパルス状電界強度持続時間を所定範囲内で変動走査させ，各コネクタピンに対応する電気信号出力レベル及び或いは電気信号出力レベル変化分を得てコネクタピンのコネクタピンの挿入位置を識別確認する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１６】
請求項１４或いは１５記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，請求項１３記載の基準電極内蔵コネクタを検査対象として，識別制御部は基準電極に対応する電気信号出力を参照して各ピンの位置を識別する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１７】
請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，電気光学層に加える電界強度レベルに対応してコネクタピンに対応する位置に見えるべき電気光学層変化の有無を視認してコネクタピンの位置の良否を確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１８】
請求項１７記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，請求項１３記載の基準電極内蔵コネクタを用い，識別制御部及び給電手段を介して電気光学層に加える電界強度を制御し，基準電極及び各ピンに対応する電気光学層変化の有無とからコネクタピン挿入位置が所定の範囲内か否かを視認により確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【請求項１９】
少なくとも把持用ハンドル上部には請求項１０記載のイクステンション部を，ハンドル下部にはケーブルに接して静電結合する請求項３記載の給電手段を有し，さらに識別制御部及び電源とを有して携帯可能に構成した請求項１或いは２記載のコネクタピン位置検査装置
【請求項２０】
請求項１９記載のコネクタピン位置検査装置に於いて，給電手段はケーブルを挟む圧迫保持機構を有し，ハンドル部に圧迫保持機構の開閉制御手段を有し，給電手段とケーブルとの静電結合条件を均一にしてコネクタピンの位置の良否を確認検査する事を特徴とするコネクタピン位置検査装置
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，コネクタハウジング内に挿入した端子金具（コネクタピン）の挿入不良を検出するためのコネクタピン位置検査装置に拘わり，特にコネクタピンとは電気的機械的に非接触で挿入不良を検査するコネクタピン位置検査装置及びそれに最適な基準電極内蔵コネクタに拘わる。
【背景技術】
【０００２】
コネクタは，一般にプラスチック製のコネクタハウジング内に，電線の先端に固着した端子金具（コネクタピン）を装着して構成され，その端子金具は端子金具やコネクタハウジングに設けたランス（係止爪）によって抜け止め状態にされる。この種のコネクタにおいて，万一，端子金具がコネクタハウジングのランスと係合する正規の位置に装着されていないと，使用中に端子金具の抜けが発生する可能性があるため，これを事前にチェックして修正する必要がある。そこで従来から端子金具の装着不良を検出するための各種のコネクタ検査装置が開発されている。
【０００３】
例えば特開平０５−０１３１４１は多数のピンを有するコネクタに一括して対応するピンを挿入して良否を判定する検査用治具を提案している。特開平０７−１３０４４１はコネクタピンが正しく挿入されたか否かでランスに変化がもたらされる事を利用して挿入不良を検査する。また特開平１１−０６７４１２はコネクタピンに接続される電線を引っ張る事で挿入不良を検出する。
【０００４】
これら従来の提案は何れも接触式であって，検査の確実性はあったが，接触式であるだけにまた製品を傷つけ，甚だしくは破壊試験に近い結果となる場合があった。更にこれらはコネクタピンの挿入不良の検査に留まり，挿入されたコネクタピンの挿入量はほぼ正しくとも前後左右に変形して位置を微妙に変える事までは検出できなかった。
【０００５】
【特許文献１】特開平０５−０１３１４１「コネクタのピン抜け検査用治具」
【特許文献２】特開平０７−１３０４４１「コネクタ検査装置」
【特許文献３】特開平１１−０６７４１２「平型コネクター半挿入検査器」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで本発明が解決しようとする課題は，コネクタハウジング内へのコネクタピンの先端位置を電気的機械的に非接触で三次元的に検出し，製品への負荷を最小限として良否を判定できるコネクタピン位置検査装置を提供する事である。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明はケーブル接続されたコネクタ内に於けるピン位置の検査装置であって，少なくとも電界により光学特性を変える電気光学層と，給電手段と，識別制御部とより構成され，電気光学層がコネクタ内のピン群に対向配置した状態で識別制御部は給電手段を介してケーブルに加える電圧を制御し，電界強度により変化した電気光学層の光学特性からコネクタピンの位置を目視或いは電気信号出力により確認検査する事を特徴とする。
【０００８】
また更に電気光学層と透明導電層とを積層して配置し，透明導電層とケーブル間に電圧を加えて電気光学層に加わる電界強度を大として電気光学層の光学特性変化を大とする構成をも提案している。
【０００９】
上記本発明に於いて，電気光学層には液晶，電界発光物質，ポッケルス効果の顕著な電気光学結晶，電気泳動層等，電界により光学特性を変える材料を使用する。特に電気泳動層は所謂電子ペーパーの材料として開発が進み，薄くて視認可能と出来るので上記コネクタピン位置検査装置に於ける交換可能で安価な電気光学層として有効に使用できる。
【００１０】
更に本発明はコネクタ内の他のピンと静電的或いは直接に電気的に結合され，コネクタ内の基準位置に配置された１以上の基準電極を含む基準電極内蔵コネクタをも含み，前記本発明によるコネクタピン位置検査装置と組み合わせて各コネクタピンの正確な位置を識別することを可能とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の効果として，コネクタピンとは電気的機械的に非接触でコネクタピンの３次元的な位置を目視或いは電気出力により確認可能として製品であるコネクタピンを傷つけずに良否判定可能とするコネクタピン位置検査装置及びそれに最適な基準電極内蔵コネクタを実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に本発明によるコネクタピン位置検査装置及び基準電極内蔵コネクタについて，その実施例及び原理作用等を図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００１３】
図１は，本発明によるコネクタピン位置検査装置の第一の実施例を示す。同図に於いて，番号１７は検査対象であるコネクタを，番号１８はコネクタ１７の当接面を，番号１９はコネクタピンをそれぞれ示し，番号１ａはコネクタ１７に接続されるケーブルを，番号１ｂはケーブル１ａ内に複数有る導線の一つをそれぞれ示している。コネクタピン１９は他のコネクタとの契合部であって雌或いは雄の種別を有して互いに挿入して結合する構造となっているが，コネクタピン１９がコネクタ１７内で正規の位置に装着されていないと，使用中にコネクタピン１９の抜けが発生して不具合を生起する可能性があり，このコネクタピン１９の位置の当否を確認する検査装置提案が本発明の目的である。
【００１４】
番号１０は本発明のコネクタピン位置検査装置を示す。コネクタピン位置検査装置１０はセンサー層１２を含むセンサー部１１と，ケーブル１ａへの給電部１６と，ハンドル部１４に内蔵される制御部とより構成される。センサー層１２をコネクタ１７の当接面１８に当接させ，給電部１６でケーブル１ａを挟み，ケーブル１ａに電圧を加え，センサー層１２を構成する電気光学層の光学的な変化をセンサー部１１の窓部１３から確認してコネクタピン１９の位置を検出し，正常，異常の別を識別する。番号１５はケーブル１ａを挟む為の可動部である。
【００１５】
図２は図１の構成を更に詳しく説明する為のブロック図である。図１に於けるセンサー層１２を図２では透明導電層２２と電気光学層２１とで構成している事を示す。制御部２３は透明導電層２２とケーブル導線１ｂ間に電圧を加え，ケーブル導線１ｂに接続されるコネクタピン１９と透明導電層２２間の電界強度によって変化する電気光学層２１の光学特性変化を番号２６に示すように目視により確認し，或いは撮像素子２７を介して電気信号に変えて識別制御部２５により確認する。電気光学層２１は電界強度によりその光学特性を変える物質であって光学特性の変化として現れる像はコネクタピン１９に対応するのでコネクタピン１９の平面内の位置は容易に確認できる。また電気光学層２１に加わる電界強度は透明導電層２２とコネクタピン間の距離に依存するので電気光学層２１の変化度合いと加えた電圧を勘案してコネクタピン１９の上下位置も検出可能となる。番号２４はコンデンサであり，図１の給電部１６がケーブル１ａの絶縁被覆外から導線１ｂに静電容量結合で給電するので模式的にコンデンサで示している。
【００１６】
図３は電気光学層２１の例として電気泳動層を採用した構成を示す。図３（ａ）はセンサー部１１全体の断面構成として透明体３１底面にセンサー層１２を配置する構成を示している。センサー層１２の構成は図２に於いて，透明導電層２２と電気光学層２１の積層として示したが，図３（ｂ）に拡大して示すように電気光学層２１を電気泳動層３２，保護層３３とより構成することを示す。更に電気泳動層３２はバインダ３４となる二級水酸基を有する塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体イソシアネート硬化剤，メチルエチルケトン，トルエン，シクロヘキサン，酢酸ブチルなどの有機溶媒によって塗布されたマイクロカプセル３５より構成され，マイクロカプセル３５内には泳動媒質３６，泳動粒子３７が封入されている。
【００１７】
従来より知られる電気泳動表示素子は，少なくとも一方が透光性の一対の例えばＩＴＯ膜を有する電極間にマイクロカプセル３５が配置されている。このマイクロカプセル３５内には電気泳動表示用媒質３６，例えば分散媒中に明るい色の染料（例えば白色顔料）が溶解されたものであり，この媒質３６に分散されている黒色の荷電粒子（泳動粒子，例えば黒色顔料）３７を含んでいる。
【００１８】
このような電気泳動表示素子は，上記一対の電極に対し，例えば上側の電極にプラスの電圧を印加し，下側の電極にマイナスの電圧を印加すると，負に帯電した上記黒色顔料３７がクーロン力によってマイクロカプセル３５内を陽極に向かって電気泳動し，その黒色顔料３７が上側の陽極電極側に偏倚する。このような状態の電気泳動表示素子を，上方の位置から観察すると，黒色顔料３７がマイクロカプセル３５内の上側に偏倚した部分は透明電極を介して黒色に見えることになる。一方、印加電圧の極性を逆にすれば，黒色顔料３７は，逆方向に偏倚し，黒色顔料３７が白色の媒質３６の背後に隠れるので電気泳動表示素子は白色に見えることになる。
【００１９】
図１，２，３に於けるセンサー部１１ではマイクロカプセル３５を挟んで下側電極をコネクタピン１９とし，上側の透明電極を透明導電層２２とした構造であり，透明導電層２２−コネクタピン１９間に直流電圧が加えられればマイクロカプセル３５，即ち電気光学層である電気泳動層３２は光学的に変化し，外部からコネクタピン１９に対応する光学的な像を視認可能とする。
【００２０】
電気泳動層３２内のマイクロカプセル３５は印可された直流電界に従って内部の泳動粒子３７が偏倚して光学的に視認可能となるが，泳動粒子３７の移動の程度は透明導電層２２−コネクタピン１９巻の距離，印可電圧，電圧印可時間等に依存するのでコネクタピン１９が正規の位置にあるか否かを検出できる事になる。泳動媒質３６或いは泳動粒子３７に自己発光性の材料を用いれば暗所での視認も容易とさせる事が出来る。
【００２１】
上記の例では直流電流に対する電気光学層の動作例を説明したが，マイクロカプセル３５内の泳動媒質３６，泳動粒子３７を替えることで透明導電層２２−コネクタピン１９間に加える電圧を交流としても動作させる事が出来る。すなわち，マイクロカプセル３５内の泳動媒質３６を透明な媒質とし，泳動粒子３７を針状の導電性粒子或いは液晶材料で置き換える。電気力線は電極に垂直でその方向のみが交流周期に従って変化し，交流の変化に針状粒子，液晶物質の偏倚は応答できないが，電気力線に沿って整列する。すると，光は電極に直交する方向に透過し，交流電圧が加わらなくなると，針状粒子，液晶の整列は崩れるので電極を通過した光は乱反射されて光学的な変化を視認できる事になる。
【００２２】
図４はコネクタ１７の断面構成を示す。図１，２，３を用いて説明したように透明導電層２２−コネクタピン１９間に加える電圧により電気光学層２１の光学特性を変え，コネクタピン１９に対応する領域の光学特性の変化からコネクタピン１９の三次元的な位置を識別して正常，異常の識別が可能な事を説明した。しかしながら，コネクタピン１９の挿入方向の位置に関してはその識別が明確ではなく，実使用に際して判断が困難な場合が多い。第一の実施例ではこの点を鑑み，ケーブルに接続使用するコネクタを基準電極内蔵コネクタとして識別判断を容易にする。
【００２３】
図４に示すようにコネクタ１７は樹脂製ケース４１内に基準電極４３は当接面１８から所定の距離離れた位置に固定され，複数のコネクタピン１９が挿入された時にコネクタピン１９の何れかのピンと同電位となるよう接続される。番号４４は基準電極４３と電気的に接触するフレキシブルな抵抗体とし，コネクタピン１９の一つであるコネクタピン４２を挿入した時に自動的にコネクタピン４２と基準電極４３とを接続る構造である。抵抗体４４は数ＭΩ以下のフレキシブルな導電性樹脂或いは導電性ゴム等により構成する。基準電極４３はケース４１を構成する樹脂中に絶縁状態として外部とは電気的に接続しないので抵抗体４２を導体しても実際に不具合が起こる事はない。
【００２４】
図５は電気光学層２１内の光学特性変化として現れるコネクタピン１９に対応する像を示して本発明によるコネクタピン位置検査の動作原理及び内蔵した基準電極の効果を説明する為の図である。図５（ａ），（ｂ），（ｃ）は透明導電層２２−コネクタピン１９間の電圧を徐々に増した場合に図１に於ける窓部１３から観察して見える電気光学層２１の変化を示している。
【００２５】
同図に於いて，番号５１は基準電極４３に，番号５２はコネクタピン４２に，番号５３から５６はその他のコネクタピン１９に対応して電気光学層２１の光学特性の変化を像として示している。各像の濃淡は電気光学層２１の光学変化の強弱に対応するとしている。例えば番号５２で示す像は番号５３，５４で示す像よりは濃く，さらに番号５３，５４で示す像は番号５１，５５，５６で示す像よりは濃いとして示している。
【００２６】
番号５１から５６に示す像の濃淡は電気光学層２１に作用する電界強度に依存し，透明導電層２２−コネクタピン間の距離が大であれば電界強度は小となる。図５（ａ）の場合では番号５２に対向するコネクタピン４２が最も透明導電層２２に近く，番号５１に対応する基準電極及び番号５５，５６に対応するコネクタピンは最も透明導電層２２から遠い位置にあると推定できる。
【００２７】
さらに透明導電層２２−コネクタピン間の電圧を増した図５（ｂ）では番号５４，５５等の像が明確に認識できるまでに変化しているので透明導電層２２から各コネクタピンへの距離の大小序列を推定できる。図５（ｃ）はさらに透明導電層２２−コネクタピン間の電圧を増した場合の像を示し，この場合には基準電極４４に対応する像５１が確認できる程の濃さになったが，依然として番号５６の像は確認できる程の濃度になっていない。基準電極４４の位置を当接面１８からコネクタピンの限界位置に配置して基準電極４４に対応する像５１が確認できる段階で未だ確認できない像５６に対応するコネクタピンは基準電極位置よりも奥に位置していると判断して異常と識別できる。
【００２８】
図５を用いて，透明導電層２２−コネクタピン１９間の電圧を増減走査させ，基準電極４４に対応する像を基準としてコネクタピンの位置不良を識別できる事を説明したが，視認では正常，異常の別を確認できる程度に終わり，各コネクタピンそれぞれの位置を正確に識別する事は難しい。図２に示した撮像素子２７は図５に示した各像５１から５６の濃淡を電気信号の強弱に変え，識別制御部２５によって各コネクタピンの当接面１８からの距離として算出する。識別制御部２５に依るコネクタピン位置の算出には予め求めた像の濃度，電圧，コネクタピン位置の関係を示すデータテーブルを使用する。電気光学層２２の特性，撮像素子２７の感度等の経時変化が無視できないなら基準電極４４に対応する像５１の濃度を基準にして感度補正を適宜実施しながら測定すれば精度の維持は容易である。さらに当接面１８からの距離を異にした複数の基準電極４４を採用すれば検出距離の線形性補正も可能となる。また当接面１８にセンサー層１２が正しく接していない場合をも想定するなら複数個の基準電極４４を場所を変えて配置して傾き補正を実施する事も出来る。
【００２９】
図１に示したコネクタ１７の当接面１８はコネクタ１７の上端面より僅かに後退している構造が一般的である。センサー部１１は図３の透明体３１，図６の透明体６３として透明体ブロックをベースとして下面にセンサー層１２，７２等を配置構成したが，これは当接面１８がコネクタ１７の上端より後退している現実への対処である。これら透明体３１，６３はセンサー層１２へ或いはセンサー層１２からの光ガイド及びセンサー層１２の支持体としての機能を有し，請求項ではイクステンション部と記述している。
【００３０】
コネクタ１７には寸法，形状には種々の規格があり，それら個々にコネクタピン位置検査装置を準備するのはコスト面で現実的でない事は明らかである。本発明ではイクステンション部，すなわちセンサー部１１は取り替え可能としてコネクタ１７個々の寸法，形状に適合するセンサー部を用意し，一つのコネクタピン位置検査装置で複数のコネクタに対応させる構造をも提案している。
【実施例２】
【００３１】
図６は，図１から図５を用いて説明した第一の実施例に於けるセンサー部１１の形状を変えて電気光学層に形成される光学像の確認を容易とした例を第二の実施例として示す。同図は図１，図３に示したセンサー部１１相当部の側面を示し，番号６１は一方の側面図を，番号６２は他方の側面図をそれぞれ示す。図３に示した透明体３１に対応する透明体６３の形状が大きく変わり，光源６７からの照明光６５を導入拡散させる窓部６６を有し，透明体６３の上端部は凸面６４としてある。
【００３２】
センサー層１２の構成要素である電気光学層に自己発光機能が無く，反射率，屈折率或いは偏光特性が変わるのみである場合には光を照射してその反射光から電気光学層の光学特性変化を検知しなければならない。第一の実施例では電気光学層へ外光を窓部１３から取り入れ，反射光からその光学特性変化を観察する構成であったが，周囲が暗い場合或いは窓部１３から外光が入射しにくい場合には観察が容易でない場合がある。第二の実施例はこの点を改善する構成例であって，光源６７を有し，照明光６５を導入する窓部６６を有している。図６に於いては窓部６６を凹面に形成して照明光６５を拡大しているが，更に細かな凹凸を施して照明光６５を部分的にはランダムな方向を持つ散乱光としても良い。光源６７は白熱灯他の光源を使用できるが，ＬＥＤとすれば消費電力は小さく，小型に出来るので携帯用途には適している。また電気光学層の光学的変化が偏光特性を変化させる場合には直線偏光の光を照射する必要があるが，その場合には光源としてレーザダイオード，或いは白熱灯に検光子を組み合わせて構成する。
【００３３】
凸部６４は図２に示した撮像素子２７に電気光学層からの反射光を収束させる為に便利なように集光用の凸レンズを透明体６３の一部に実現させた構造である。電気光学層の変化を視認による場合には凹レンズとして光学像を拡大させた方が都合良く，その場合には凸部６４を凹形状とする。図２に示したように視認と撮像素子２７を併用する場合には撮像素子に入射する光が通る領域を凸形状に，その他の領域を凹形状として構成する事も可能である。
【実施例３】
【００３４】
図７は本発明の第三の実施例であるコネクタピン位置検査装置のセンサー部７１を示し，電気光学層として電界によって偏波面の変わる電気光学結晶を使用した例である。図６に示した第二の実施例と透明体６３の形状は同じとし，その底面に配置したセンサー層７２を拡大して示すように電気光学結晶層７３を主として反射保護層７４，透明接着層７５とで構成する。電気光学結晶には従来から種々の結晶が知られているが，電界強度によって偏光特性を変える結晶を用い，光源としては直線偏光を発するレーザダイオード７６を拡大照射し，反射光を検光子７８を介して撮像素子７７に入射させ，電気光学結晶層７３の光学特性変化を電気信号強弱に変換させる。その他の構成は図１，図２に示した第一の実施例と同じとする。
【００３５】
このような電気光学結晶は既に微弱電界の検出素子として使用されており，特に透明導電層とコネクタピンとの間に配置して電界強度を高めることなく，コネクタピンに電位を与え，コネクタピンと大地との間に形成される電界強度の変化に対応して偏光特性を変えるのでコネクタピンの位置を検出可能でセンサー層の構成を簡略に出来る。ただ，偏光特性の変化量は僅かであるので視認には適していない。
【００３６】
またニオブ酸リチウム，或いはＫＴＮ結晶等電界変化により屈折率を変える高感度の電気光学結晶もあり屈折率の変化を反射光強度の変化に変えて本発明の検査装置に利用する事も可能である。
【００３７】
以上に本発明を実施例を用いて説明したが，実施例は本発明実現の一方法であって上記実施例の記述が本発明の範囲を限定する訳では無く，本発明の趣旨の範囲内で種々の変形は可能である。
【００３８】
例えば，第一の実施例では透明導電層−コネクタピン間の電圧を増減走査してコネクタピンの挿入方向の位置を識別したが，電圧を一定として加える電圧の時間幅を変えて平均の光学像濃淡を観察する事も可能である。
【００３９】
また，視認可能な電気光学層として電気泳動層を用いたが，他に液晶層，電界発光（ＥＬ）層等を用いる事が出来る。さらに最近電子ペーパー用に開発が進んでいる電気光学材料は薄さとコスト面で優れており，本発明装置の具現化に有力な手段である。
【００４０】
さらに，実施例で紹介した基準電極付きコネクタはコネクタピンの挿入方向の基準位置を与えるとして説明したが，撮像素子を用いてコネクタピンの二次元位置（当接面内）を確認する際に基準位置を与える手段としても有効であり適用できる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明によるコネクタピン位置検査装置及び基準電極内蔵コネクタは，コネクタの品質管理等の検査装置として利用可能であり，特に図１に示したように携帯用途としての簡易ツールから，撮像素子を使用して高精度の検査装置として利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】第一の実施例の外観を示す。
【図２】図１に示すコネクタピン位置検査装置のブロック図を示す。
【図３】図１の電気光学層を電気泳動層とした構成例を示す。
【図４】図１に於いて採用した基準電極内蔵コネクタの構造例を示す。
【図５】図１に於ける電気光学層の光学特性変化の例を示す。
【図６】第二の実施例として照明用光源を含む透明体の形状を示す。
【図７】第三の実施例として電気光学層に電気光学結晶を用いた例を示す。
【符号の説明】
【００４３】
１０・・・コネクタピン位置検査装置，    １１・・・センサー部，
１２・・・センサー層，                  １３・・・窓部，
１４・・・ハンドル部，                  １５・・・可動部，
１６・・・給電部，                      １７・・・コネクタ，
１８・・・当接面，                      １９・・・コネクタピン，
１ａ・・・ケーブル，                    １ｂ・・・導線，
２１・・・電気光学層，                  ２２・・・透明導電層，
２３・・・制御部，                      ２４・・・静電結合部，
２５・・・識別制御部，                  ２６・・・目視，
２７・・・撮像素子，
３１・・・透明体，                      ３２・・・電気泳動層，
３３・・・保護層，                      ３４・・・バインダ，
３５・・・マイクロカプセル，            ３６・・・泳動媒質，
３７・・・泳動粒子，
４１・・・樹脂製ケース，                ４２・・・コネクタピン，
４３・・・基準電極，                    ４４・・・抵抗体，
５１・・・基準電極に対応する光学像，
５２，５３，５４，５５，５６・・コネクタピンに対応する光学像，
６１，６２・・側面図，                  ６３・・・透明体，
６４・・・凸面，                        ６５・・・照明光，
６６・・・窓部，                        ６７・・・光源，
７１・・・センサー部，                  ７２・・・センサー層，
７３・・・電気光学結晶層，              ７４・・・反射保護層，
７５・・・透明接着層，                  ７６・・・レーザダイオード，
７７・・・撮像素子，                    ７８・・・検光子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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