(57)【要約】【課題】従来の「Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質（Ｐｂ，Ａｌ等）」を用いる方法によりゲイン変動の補正手段する方法をＦＰＤに用いる場合に課題が生じる。なぜならＦＰＤでは白補正を行うためである。つまり前記「Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質（Ｐｂ，Ａｌ等）」が、画像を形成する範囲内にある場合、白画像に写ってしまう。このため、白補正後には、上記物質の画素値が白補正されてしまうため、前記オフセット変動や、前記ゲイン変動を補正する手段として用いることができないという課題があった。【解決手段】動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、Ｘ線の透過率が低いリファレンス用の１つ以上の物質を用いて行うオフセット変動補正手段、Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質を用いて行うゲイン変動補正手段、前記物質の画像領域を入力する手段、前記画像領域以外の領域のみ行う白補正手段を有することを特徴とする。【選択図】        図１
2005006886.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
Ｘ線の透過率が低いリファレンス用の１つ以上の物質を用いて行うオフセット変動補正手段
Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質を用いて行うゲイン変動補正手段、
前記物質の画像領域を抽出する手段
前記画像領域以外の領域のみ行う白補正手段
を有することを特徴とするＸ線画像撮影装置。
【請求項２】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
前記画像領域の位置を画像中に表示すること、
を特徴とする請求項１記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項３】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
前記物質が取り外し可能であること、
を特徴とするＸ線画像撮影装置。
【請求項４】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
前記物質が画像上の自由な位置に付け替えることが可能であること、
を特徴とするＸ線画像撮影装置。
【請求項５】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
散乱線除去機構内に前記物質があること、
を特徴とする請求項３、４記載のＸ線画像撮影装置。
【請求項６】
動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、
前記物質が素抜け以外の領域にある時警告を表示すること、
を特徴とする請求項１〜５記載のＸ線画像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像装置に関し、特に、動画を撮像し、オフセット変動補正、ゲイン変動補正を行う撮像装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図５は従来例のＸ線を用いて動画を撮像するＸ線撮像装置の構成を示すブロック図である。図５において、１０１はＸ線を放射するＸ線源、１０２はＸ線撮像パネルである。Ｘ線撮像パネル１０２は２次元に配列された複数の光電変換素子及びその駆動回路から成っている。Ｘ線源１０１から放射されたＸ線は被写体１０３を通ってＸ線撮像パネル１０２に入射し、Ｘ線撮像パネル１０２で画像として検出される。なお、被写体１０３を通ったＸ線は図示しない蛍光体で可視光に変換され、Ｘ線撮像パネル１０２に入射する。
【０００３】
また、１０４はＸ線撮像パネル１０２からの信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、１０５はＦＰＮ（固定パターンノイズ）の補正値を記憶したＦＰＮメモリ、１０６はＦＰＮ補正値を取得するタイミングを発生するＦＰＮ取得タイミング発生回路である。このＦＰＮ取得タイミング発生回路１０６からタイミング信号を発生すると、スイッチ１０７がオンし、Ａ／Ｄ変換器１０４からＦＰＮがＦＰＮメモリ１０５に読み込まれる。１０８はＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ１０６の補正値を減算する減算器、１０９は撮影画像を表示するモニタ、１１０は画像データを記録する記録媒体である。
【０００４】
図６は図５のＸ線撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。まず、図６（ａ）はＦＰＮ取得タイミング発生回路１０６からのＦＰＮ取得タイミング信号、図６（ｂ）はＡ／Ｄ変換器１０４の出力を示している。撮影開始時には、図６（ａ）に示すようにＦＰＮ取得タイミング信号がスイッチ１０７に供給され、スイッチ１０７をオンさせることによってＡ／Ｄ変換器１０４からＦＰＮメモリ１０５にＦＰＮ補正値が読み込まれる。以後、撮影時は図６（ｃ）に示すように減算器１０８によりＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ１０６の補正値が減算され、ＦＰＮを除去した補正画像データがモニタ１０９、記録媒体１１０に供給される。
【０００５】
上記従来の動画撮像装置では、撮影開始時にＦＰＮ補正値をＦＰＮメモリに記憶させているのでＦＰＮ補正値は固定である。即ち、動画を撮影する時は常時ＦＰＮ補正データを得ることができない。そのため、例えば、出力アンプ（Ｘ線撮像パネル内の出力段のアンプ）のオフセットが電源変動や温度変動等により変化すると、図６（ｂ）に示すようにそのままオフセットの変化が出力に現われる。従って、図６（ｃ）に示すように補正出力にオフセットの変化が現われ、画質が低下するという問題があった。
【０００６】
また、Ｘ線発生装置のＸ線出力が時間と共に変動するため、動画撮像装置で撮影された画像を動画で表示した時、出力画像の濃度に変化が現われ、画質が低下するという問題があった。
【０００７】
この解決方法として、例えば、対前者では、オフセット変動の補正手段として、非破壊読み出しで得られた値を用いて補正する方法があった（参考：特開２００２−５１２６５）。
【０００８】
また、対後者の解決方法では、ゲイン変動の補正手段として、「Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質（Ｐｂ，Ａｌ等）」を用いる方法により、補正する方法があった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
前記後者の従来の解決方法をＦＰＤに用いる場合に課題が生じる。なぜならＦＰＤでは白補正を行うためである。つまり前記「Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質（Ｐｂ，Ａｌ等）」が、画像を形成する範囲内にある場合、白画像に写ってしまう。このため、白補正後には、上記物質の画素値が白補正されてしまうため、前記オフセット変動や、前記ゲイン変動を補正する手段として用いることができないという課題が本発明で解決しようとする課題である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
斯かる目的下において、第１の発明は、動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、Ｘ線の透過率が低いリファレンス用の１つ以上の物質を用いて行うオフセット変動補正手段、Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質を用いて行うゲイン変動補正手段、前記物質の画像領域を入力する手段、前記画像領域以外の領域のみ行う白補正手段を有することを特徴とする。
【００１１】
第２の発明は、上記第１の発明における動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、前記画像領域の位置を画像中に表示することを特徴とする。
【００１２】
第３の発明は、動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、前記物質が取り外し可能であること、を特徴とする。
【００１３】
第４の発明は、動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、前記物質が画像上の自由な位置に付け替えることが可能であること、を特徴とする。
【００１４】
第５の発明は、上記第３，４の発明における動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、散乱線除去機構内に前記物質があることを特徴とする。
【００１５】
第６の発明は、上記第１〜５の発明における動画撮影が可能なＸ線画像撮影装置において、前記物質が素抜け以外の領域にある時警告を表示することを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
＜放射線撮影装置の全体構成＞
図７、図８を用いて、やや冗長になるが、本放射線装置の全体構成に関して述べる。
【００１７】
図７は、本発明の一実施例を示すＸ線撮影システムの構成ブロック図を示す。１０はＸ線室、１２はＸ線制御室、１４は診断室やその他の操作室である。
【００１８】
図７中のＸ線制御室１２について説明する。Ｘ線制御室１２には、本Ｘ線撮影システムの全体的な動作を制御するシステム制御器２０が配置される。Ｘ線曝射要求ＳＷ、タッチパネル、マウス、キーボード、ジョイスティック及びフットスイッチなどからなる操作者インターフェース２２は、操作者２１が種々の指令をシステム制御器２０に入力するのに使用される。操作者２１の指示内容は、例えば、撮影条件（静止画／動画、Ｘ線管電圧、管電流及びＸ線照射時間など）、撮影タイミング、画像処理条件、被検者ＩＤ及び取込み画像の処理方法などがある。
【００１９】
図７中のＸ線制御室１２中のシステム制御器２０について説明する。撮影制御器２４は、Ｘ線室１０に置かれるＸ線撮影系を制御し、画像処理器２６はＸ線室１０のＸ線撮影系による画像を画像処理する。画像処理器２６における画像処理は、例えば、照射野認識、画像データの補正、空間フィルタリング、リカーシブ処理、階調処理、散乱線補正及びダイナミックレンジ（ＤＲ）圧縮処理などである。大容量高速の記憶装置２８は、画像処理器２６により処理された基本画像データを記憶するものであり、例えば（ＲＡＩＤ）等のハードディスクアレーからなる。３０は映像を表示するモニタディスプレイ（以下、モニタと略す。）、３２はモニタ３０を制御して種々の文字及び画像を表示させる表示制御器、３４は大容量の外部記憶装置（例えば、光磁気ディスク）、３６はＸ線制御室１２の装置と診断室やその他の操作室１４の装置を接続しＸ線室１０での撮影画像などを診断室やその他の操作室１４の装置に転送するＬＡＮボードである。
【００２０】
次に図７中のＸ線室１０について説明する。Ｘ線室１０には、Ｘ線を発生するＸ線発生器４０が置かれる。Ｘ線発生器４０は、Ｘ線を発生するＸ線管球４２、撮影制御器２４により制御されてＸ線管球４２を駆動する高圧発生源４４、及びＸ線管球４２により発生されたＸ線ビームを所望の撮影領域に絞り込むＸ線絞り４６からなる。撮影用寝台４８上に患者としての被検体５０が横たわる。撮影用寝台４８は、撮影制御器２４からの制御信号に従って駆動され、  Ｘ線発生器４０からのＸ線ビームに対する被検体の向きを変更できる。撮影用寝台４８の下には、被検体５０及び撮影用寝台４８を透過したＸ線ビームを検出するＸ線検出器５２が配置されている。
【００２１】
図７中のＸ線検出器５２の構成について説明する。Ｘ線検出器５２は、グリッド５４、シンチレータ５６、光検出器アレー５８及びＸ線露光量モニタ６０の積層体と、光検出器アレー５８を駆動する駆動器６２とからなる。グリッド５４は、被検体５０を透過することによって生じるＸ線散乱の影響を低減するために設けられている。グリッド５４はＸ線低吸収部材と高吸収部材とから成り、例えば、Ａ１とＰｂのストライプ構造からなる。光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりモアレが生じていることがないように、Ｘ線照射時には、Ｘ線検出器５２は、撮影制御器２４からの設定に基づいて駆動器６２の制御信号に従いグリッド５４を振動させる。グリッド５４を振動させるか否かは撮影者の選択によるものであり、グリッド５４を固定させて撮影しても良い。グリッド５４を固定させて撮影する場合には、光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりエリアシングやビート等のモアレが発生しにくいように設定することが望ましい。またグリッド縞そのものが画像に写るが、画像処理によってグリッド縞そのものの周波数を弱める等の処理をすることも望ましい。
【００２２】
シンチレータ５６では、エネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起（吸収）され、その再結合エネルギーにより可視領域の蛍光が発生する。即ち、Ｘ線を可視光に変換する。その蛍光はＣａＷｏ４やＣｄＷｏ４などの母体自身によるものや、ＣｓＩ：ＴｌやＺｎＳ：Ａｇなどの母体内に付加された発光中心物質によるものがある。Ｘ線画像撮影装置において最も良く用いられているのはＣｓＩの柱状結晶である。この柱状結晶の構造は、正面撮影において、光が柱状の結晶の方向に伝播しやすいことが特徴である。光検出器アレー５８は、シンチレータ５６による可視光を電気信号に変換する。
【００２３】
また、本実施例ではシンチレータ５６と光検出器アレー５８とを別々の構成としたが、勿論、直接Ｘ線を電子に変換する検出器で構成するものにも適用される。例えば、アモルファスＳｅやＰｂＩ２などの受光部とアモルファスシリコンＴＦＴなどからなるＸ線検出器である。
【００２４】
Ｘ線露光量モニタ６０は、Ｘ線透過量を監視する目的で配置される。Ｘ線露光量モニタ６０としては、結晶シリコンの受光素子などを用いて直接Ｘ線を検出しても良いし、シンチレータ５６による蛍光を検出してもよい。この実施例では、Ｘ線露光量モニタ６０は、光検出器アレー５８の基板裏面に成膜されたアモルファスシリコン受光素子からなり、光検出器アレー５８を透過した過視光（Ｘ線量に比例）を検知して、その光量情報を撮影制御器２４に伝達する。撮影制御器２４は、  Ｘ線露光量モニタ６０からの情報に基づいて高圧発生電源４４を制御し、Ｘ線量を調節する。駆動器６２は、撮影制御器２４の制御下で光検出器アレー５８を駆動し、各画素から信号を読み出す。
【００２５】
図７中の薄型Ｘ線検出器１５２について説明する。薄型Ｘ線検出器１５２は、複数種のセンサの代表として１つを図示してあるが、空間分解能が異ったり、薄型Ｘ線検出器１５２の大きさ、つまり撮影領域の大きさの異なるものなどを交換して使用可能である。Ｘ線検出器５２と薄型Ｘ線検出器１５２との相違点は、第一には薄型Ｘ線検出器１５２は厚さがフィルムスクリーン系カセッテに匹敵するぐらいの約２０ｍｍ以下である点が最も大きく異なっている。さらに、薄型Ｘ線検出器１５２には、グリッド５４が内蔵されていない点、簡易電源、大容量（１０画像以上２０画像以下）メモリを内蔵している点、中継器１５３とケーブルレスで画像信号および制御のやり取りが可能である点などがある。シンチレータ５６、光検出器アレー５８及びＸ線露光量モニタ６０の積層体と、光検出器アレー５８を駆動する駆動器６２などは同様に内蔵されている。ケーブル１５４は有っても無くても動作可能で、ケーブル１５４を使用した場合は、画像転送が高速に行えるため、Ｘ線撮影後の画像取得、処理、確認の動作がより短い時間で達成される。この薄型Ｘ線検出器１５２は、例えば四肢などの撮影のために別の薄型Ｘ線検出器１５２が中継器１５３を介してシステム制御器２０に接続されている。
【００２６】
図７中の診断室やその他の操作室１４について説明する。診断室やその他の操作室１４には、撮影被検体の情報および撮影方法などをＬＡＮボードを経由して指示するためのＨＩＳ／ＬＩＳなどに接続されていたり、ＬＡＮボード３６からの画像を画像処理、診断支援する画像処理端末７０、ＬＡＮボード３６からの画像（動画像／静止画）を映像表示モニタ７２、イメージ・プリンタ７４及び画像データを格納するファイルサーバ７６が設けられている。
【００２７】
尚、システム制御器２０からの各機器に対する制御信号は、Ｘ線制御室１２内の操作者インターフェース２２、或いは診断室やその他の操作室１４内にある画像処理端末７０からの指示により発生可能である。
【００２８】
図７に示すシステム制御器２０の基本的な動作を説明する。システム制御器２０は、Ｘ線撮影系のシーケンスを制御する撮影制御器２４に、操作者２１の指示に基づいた撮影条件を指令し、撮影制御器２４は、その指令に基づき、Ｘ線発生器４０、撮影用寝台４８及びＸ線検出器５２を駆動して、Ｘ線像を撮影させる。Ｘ線検出器５２から出力されるＸ線画像信号は、画像処理器２６に供給され、操作者２１指定の画像処理を施されてモニタ３０に画像表示され、同時に、基本画像データとして記憶装置２８に格納される。システム制御器２０は更に、操作者２１の指示に基づいて、再画像処理とその結果の画像表示、ネットワーク上の装置への画像データの転送、保存、映像表示及びフィルム印刷等を実行する。
【００２９】
図７に示すシステムの基本的な動作を、信号の流れに従って説明する。Ｘ線発生器４０の高圧電圧源４４は、撮影制御器２４からの制御信号に従いＸ線管球４２にＸ線発生のための高圧を印加する。これにより、Ｘ線管球４２はＸ線ビームを発生する。発生されたＸ線ビームはＸ線絞り４６を介して患者たる被検体５０に照射される。Ｘ線絞り４６は、Ｘ線ビームを照射すべき位置に応じて撮影制御器２４により制御される。即ち、Ｘ線絞り４６は、撮影領域の変更に伴い、不必要なＸ線照射を行わないようにＸ線ビームを整形する。
【００３０】
図７におけるＸ線発生器４０が出力するＸ線ビームは、Ｘ線透過性の撮影用寝台４８の上に横たわった被検体５０、及び撮影用寝台４８を透過してＸ線検出器５２に入射する。なお、撮影用寝台４８は、被検体５０の異なる部位又は方向でＸ線ビームが透過するように撮影制御器２４により制御される。
【００３１】
図７におけるＸ線検出器５２のグリッド５４は、被検体５０を透過することによって生じるＸ線散乱の影響を低減する。撮影制御器２４は、光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりモアレが生じないように、Ｘ線照射時にグリッド５４を振動させる。シンチレータ５６では、エネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起（Ｘ線を吸収）され、その際に発生する再結合エネルギーにより可視領域の蛍光を発生する。シンチレータ５６に隣接して配置された光検出器アレー５８は、シンチレータ５６で発生する蛍光を電気信号に変換する。即ち、シンチレータ５６がＸ線像を過視光像に変換し、光検出器アレー５８が過視光像を電気信号に変換する。Ｘ線露光量モニタ６０は、光検出器アレー５８を透過した過視光（Ｘ線量に比例）を検出し、その検出量情報を撮影制御器２４に供給する。撮影制御器２４は、このＸ線露光量情報に基づき高圧発生電源４４を制御して、Ｘ線を遮断又は調節する。駆動器６２は、撮影制御器２４の制御下で光検出器アレー５８を駆動し、各光検出器から画素信号を読み出す。
【００３２】
図７におけるＸ線検出器５２および薄型Ｘ線検出器１５２から出力される画素信号は、Ｘ線制御室１２内の画像処理器２６に出力される。画像処理器２６は、詳細は後述するが、システム制御器２０からの指令に基づき画像信号の表示形式を切り換えるが、その他には、画像信号の補正、空間フィルタリング及びリカーシブ処理などをリアルタイムで行い、階調処理、散乱線補正及びＤＲ圧縮処理などを実行できる。画像処理器２６により処理された画像は、モニタ３０の画面に表示される。リアルタイム画像処理と同時に、画像補正のみを行なわれた画像情報（基本画像）は、記憶装置２８に保存される。また、操作者２１の指示に基づいて、記憶装置２８に格納される画像情報は、所定の規格（例えば、ＩｍａｇｅＳａｖｅ＆Ｃａｒｒｙ（ＩＳ＆Ｃ））を満たすように再構成された後に、外部記憶装置３４及びファイルサーバ７６内のハードディスクなどに格納される。
【００３３】
図７におけるＸ線制御室１２の装置は、ＬＡＮボード３６を介してＬＡＮ（又はＷＡＮ）に接続する。ＬＡＮには、複数のＸ線撮影システムを接続できることは勿論である。ＬＡＮボード３６は、所定のプロトコル（例えば、Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ａｎｄ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ  ｉｎ  Ｍｅｄｉｃｉｎｅ（ＤＩＣＯＭ））に従って、画像データを出力する。ＬＡＮ（又はＷＡＮ）に接続されたモニタ７２の画面にＸ線画像を高解像静止画及び動画を表示することにより、Ｘ線撮影とほぼ同時に、医師によるリアルタイム遠隔診断が可能になる。
【００３４】
図８は取得画像の処理フローブロック図である。画像処理器２６の中の画像データの流れを示している。８０１はデータパスを選択するマルチプレクサ、８０２および８０３はそれぞれＸ線画像用および暗画像用フレームメモリ、８０４はオフセット補正回路（含オフセット変動補正回路）、８０５はゲイン補正データ用フレームメモリ、８０６はゲイン補正用回路（含ゲイン変動補正回路）、８０７は欠陥補正回路、８０８はその他の画像処理回路を代表してそれぞれ現している。
【００３５】
図８でＸ線画像取得フレームＦｒｘｏフレームを取得されたＸ線画像が、マルチプレクサ８０１を経由してＸ線画像用フレームメモリ８０２に記憶され、続いて補正画像取得フレームＦｒｎｏフレームで取得された補正画像が、同様にマルチプレクサ８０１を経由して暗画像用フレームメモリ８０３に記憶される。この暗画像を用るのは、光検出器アレー５８の固体パターンノイズを補正するためである。暗画像の記憶完了から、オフセット補正回路８０４によりオフセット補正（例えばＦｒｘｏ−Ｆｒｎｏ）、オフセット変動補正が行われ、引き続き予め取得されゲイン補正用フレームメモリに記憶してあるゲイン補正用データＦｇを用いて、ゲイン補正回路８０６がゲイン補正（例えば、（Ｆｒｘｏ−Ｆｒｎｏ）／Ｆｇ）、ゲイン変動法制を行う。オフセット変動補正、ゲイン変動補正の説明は後述する。ゲイン補正を行う目的は、光検出器アレー５８の各画素毎の感度差を補正することである。なお本文中ではゲイン補正を行うための撮影を白撮影と呼び、ゲイン補正用データまたはゲイン画像を白画像と呼ぶ。引き続き欠陥補正回路８０７に転送されたデータは、不感画素や複数パネルで構成されたＸ線検出器５２のつなぎ目部などに違和感を生じないように画像を連続的に補間して、Ｘ線検出器５２に由来するセンサ依存の補正処理を完了する。本実施例では、画像処理器２６をシステム制御器２０に構成したが、上述の光検出器アレー５８に大きく依存した画像処理機能はＸ線検出器５２および薄型Ｘ線検出器１５２に内蔵させるように構成しても良い。
【００３６】
図１は、本発明の実施例における放射線撮影装置である。前記図７や前記図８で説明した放射線撮影システムの中の１つ以上の装置が、図１に示すような放射線撮影装置２００に相当する。
【００３７】
この放射線撮影装置２００は、特に、動画撮影時に、オフセット変動とゲイン変動を各フレーム毎に取得し、各フレーム毎の変動を補正した上で、補正後の画像を記憶媒体２１４に保存することで、動画表示時に各フレーム毎のオフセット変動、ゲイン変動に起因する動画画質の低下を回避ようになされていることが特徴である。
＜放射線撮影装置２００の全体構成＞
放射線撮影装置２００は、上記図１に示すように、放射線管球２０１により放射線（Ｘ線等）を発生する放射線発生部２０３と、放射線発生部２０３に対して放射線発生を指示するための撮影ボタン２０２と、放射線管球２０１から発生された放射線により被写体２０５の放射線画像を取得する撮影部２０６と、放射線撮影における種々の設定等を行うための操作部２１６と、５つのメモリ２１１〜２１３、２２０、２２１と、記憶媒体２１４と、本装置２００全体の動作制御を司るＣＰＵ（中央処理装置）２０９とを備えており、これらの各構成部は、バス２１０を介して互いにデータ授受できるように接続されている。
【００３８】
撮影部２０６は、放射線検出部（放射線ディジタル検出部）２０７及びアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換部２０８を含んでいる。
【００３９】
放射線ディジタル検出部２０７は、放射線管球２０１から発生された放射線を受ける位置に設けられており、図示していないが、例えば、アモルファスシリコンとＴＦＴで構成された光検出器の前面に蛍光体が配置されてなる撮像素子と、その駆動制御部とを含んでいる。
【００４０】
放射線ディジタル検出部２０７と被写体２０５の間には、散乱線を除去するための散乱線除去機構２１７がある。この散乱線除去機構２１７は、例えば四肢など散乱線の少ない撮影部位を撮影する時には容易に取り外すことができるようになっている。散乱線除去機構上にリファレンス物質２１８、２１９が接着されている。リファレンス物質２１８、２１９は、Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質で、物質の構成原子が異なる、又は物質の厚さが異なる物質である。詳細は後述する。
【００４１】
Ａ／Ｄ変換部２０８は、放射線ディジタル検出部２０７の出力信号（撮影画像信号）をディジタル化してバス２１０へ出力するようになされている。
【００４２】
メモリ（メモリａ）２１１には、ＣＰＵ２０９にて本装置２００全体の動作制御のために実行される種々の処理プログラム等が格納されている。また、メモリ２１１は、ＣＰＵ２０９での画像演算等にも使用される。
【００４３】
メモリ（メモリｂ）２１２には、Ａ／Ｄ変換部２０８から出力されたディジタルの撮影画像信号（撮影画像データ）等が格納される。
【００４４】
メモリ（メモリｃ）２１３には、キャリブレーション時の撮影により得られた白画像が格納される。
【００４５】
メモリ（メモリｄ）２２０には、各Ｘ線フレームにおけるゲイン変動指標値が格納される。
【００４６】
メモリ（メモリｅ）２２１には、各Ｘ線フレームにおけるオフセット変動指標値が格納される。
【００４７】
記憶媒体２１４には、メモリ２１２に格納された撮影画像データに対して、ゲイン補正、ゲイン変動補正、オフセット変動補正等の画像処理が施された後の当該画像データ等が保存される。
【００４８】
操作部２１６は、インターフェース（Ｉ／Ｆａ）２１５を介してバス２１０と接続されており、例えば、様々な設定等を行うための操作ボタンの他に、画像表示機能をも備えている。
【００４９】
このような操作部２１６により、ユーザは、記憶媒体２１４に保存された撮影画像データを表示機能により表示して、様々な操作を行うことができるようになる。
【００５０】
放射線発生部２０３は、インターフェース（Ｉ／Ｆｂ）２０４を介してバス２１０と接続されており、撮影ボタン２０２の押下やＣＰＵ２０９からの指示等に基づいて、放射線管球２０１により放射線（Ｘ線等）を発生するようになされている。
＜放射線撮影装置２００の一連の動作＞
ここでは、放射線撮影装置２００の作動原理を説明する。
【００５１】
先ず、ユーザ（放射線技師等）は、操作装置２１６から、撮影駆動方法、１秒当たりのフレームレート、撮影枚数等を入力する。次に同一の撮影駆動方法で、オフセット画像、白画像を取得する。
【００５２】
その後、被写体（被検者）２０５を撮影部２０６へ整位させ、その後、撮影ボタン２０２を押下することで、ＣＰＵ２０９へ撮影動作開始を指示する。
【００５３】
ＣＰＵ２０９は、ユーザからの撮影ボタン２０２の押下による撮影動作開始要求（撮影要求）により、放射線検出部２０７の動作制御を行うことで、放射線検出部２０７を初期化し、その後、放射線発生部２０３の動作制御を行うことで、放射線管球２０１から放射線を発生させる。
【００５４】
放射線管球２０１から発生された放射線により、放射線検出部２０７（撮像素子の受光面）は、被検者２０５の内部構造に応じた透過放射線分布で露光される。
【００５５】
ここで、各Ｘ線フレーム毎のオフセット変動補正値、ゲイン変動補正値を算出するためのリファレンス物質２１８、２１９も、各々Ｘ線透過率が異なるため、各々の物質に特有の透過放射線分布で露光される。
【００５６】
放射線検出部２０７は、受光した放射線の２次元分布光強度に応じて、２次元的に光電変換を行うことで、被検者２０５のアナログ的な放射線画像信号（アナログ画像信号）を取得し、当該アナログ画像信号をＡ／Ｄ変換部２０８へ供給する。
【００５７】
Ａ／Ｄ変換部２０８は、放射線検出部２０７からのアナログ画像信号をディジタル化して、当該画像信号のディジタル画像データ（放射線画像データ）を取得する。この放射線画像データは、メモリ２１２へ格納される。
【００５８】
このとき、メモリ２１３には、詳細は後述する白画像生成処理にて得られた、ゲイン補正に使用する白画像が格納されている。
【００５９】
ＣＰＵ２０９は、メモリ２１３に格納されている白画像を読み出し、当該白画像を使用して、メモリ２１１へ格納された放射線画像データへのゲイン補正処理（ゲイン補正演算処理）を行う。ゲイン補正処理は、リファレンス物質２１８、２１９の画像中の領域以外を行うことが望ましい。なぜならば、リファレンス物質２１８、２１９を白補正を行うと、リファレンス物質２１８、２１９の画像上の位置がわかりにくくなり、診断上の誤診や画質低下につながるためである。
【００６０】
そして、ＣＰＵ２０９は、ゲイン補正処理後の放射線画像データを記憶媒体２１４へ保存する。
【００６１】
次にＣＰＵ２０９は、メモリ２２１に格納されている各Ｘフレーム毎のオフセット変動値を読み出し、当該白画像を使用して、記憶媒体２１４へ格納された放射線画像データへのオフセット変動補正処理を行う。
【００６２】
そして、ＣＰＵ２０９は、オフセット変動補正処理後の放射線画像データを記憶媒体２１４へ保存する。
【００６３】
次にＣＰＵ２０９は、メモリ２２０に格納されている各Ｘフレーム毎のゲイン変動値を読み出し、当該白画像を使用して、記憶媒体２１４へ格納された放射線画像データへのゲイン変動補正処理を行う。
【００６４】
そして、ＣＰＵ２０９は、オフセット変動補正処理後の放射線画像データを記憶媒体２１４へ保存する。
【００６５】
以上の動作により、当該撮影が終了することになる。
【００６６】
その後、ユーザは、操作部２１６の操作により、使用目的に応じて、記憶媒体２１４から放射線画像データ（ゲイン補正処理後の画像データ）を読み出し、オフセット変動補正後、ゲイン変動補正後の読出画像データを、ディジタル画像をフィルム上へ描画するイメージャや、画像診断用モニタ等へ供給させる。
＜放射線撮影装置２００でのオフセット変動補正処理、ゲイン変動補正処理＞
上述した一連の撮影動作のなかで、良好な動画画像の画質を得るためには、各Ｘフレーム毎のオフセット変動補正処理、ゲイン変動補正処理を行うことが望ましい。
【００６７】
そこで、本実施の形態では、例えば、図１０に示すフローチャートに従った処理プログラムを、ＣＰＵ１０９が実行することで、オフセット変動補正処理、ゲイン変動補正処理を行う。
【００６８】
尚、以下に説明する白画像生成処理は、ユーザの操作部１１６の操作により、放射線撮影装置１００の動作モードが、動画撮影モードに設定された場合に実行される。
【００６９】
ステップＳ１００１：
動画撮影モードに入ると、ユーザによる操作部２１６の操作により、撮影条件が入力される。この撮影条件は、撮影駆動方法、１秒当たりのフレームレート、撮影枚数等である。
【００７０】
ステップＳ１００２：
撮影条件が入力されると、ＣＰＵ２０９は、撮影と同一の駆動条件を用いて、オフセット画像を取得する。オフセット画像は前述したＦＰＮ画像と同一である。
【００７１】
ステップＳ１００３：
ＣＰＵ２０９は、ステップＳ１００１で入力された撮影条件と同一の駆動条件を用いて、白画像を取得する。この白画像取得時のＸ線撮影条件は、前述したようにリニアリティのある範囲の線量帯である。
【００７２】
ステップＳ１００４：
オフセット変動補正処理、ゲイン変動補正処理を行う準備として、各変数を初期化する。具体的には、フレーム番号ｎを１に初期化し、各フレームｎにおけるゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）、各フレームｎにおけるオフセット変動指標値Ｏｆｆ（ｎ）を０にする。
【００７３】
ステップＳ１００５：
ＣＰＵ２０９は、下記の処理を撮影枚数繰返し実行するために、フレーム番号ｎをインクリメントする。
【００７４】
ステップＳ１００６：
ＣＰＵ２０９は、ｎフレームのＸ線照射画像を、取得する。Ｘ線照射画像を取得する手順は前記図１等で説明した方法と同じである。
【００７５】
ステップＳ１００７：
ＣＰＵ２０９は、ｎフレームのオフセット変動指標値Ｏｆｆ（ｎ）を、取得する。オフセット変動は、電源変動や温度変動といった、時間的変動とタイミング変動があると考えられる。この変動量を知るための指標値が、オフセット変動指標値であり、オフセット画像におけるオフセット変動指標値は、次式で表されるように、オフセット画像から欠陥画素を除いた全画素の平均値をオフセット変動指標値とする。
【００７６】
Ｏｆｆ（０）＝Σａｌｌ（ＯＦＦ＿ｉｍａｇｅ（ｘ，ｙ））／Σ（ａｌｌ）    （式１）
ここでａｌｌは全ての画素の数を指す。
【００７７】
ステップＳ１００２でオフセット画像ＯＦＦ＿ｉｍａｇｅを取得した時のオフセット変動指標値をオフセット変動指標基準値Ｏｆｆ（０）とする。
【００７８】
次に、各Ｘフレーム毎のオフセット変動指標値を得る方法を説明する。各Ｘフレーム毎のオフセット変動指標値を得るためには、（ｉ）１つのＸ線に対する透過率が微小な物質、又は（ｉｉ）２つ以上のＸ線透過率の異なる物質を透過した画素の画素値が必要である。
【００７９】
各々の場合のオフセット変動指標値の求め方を説明する。
（ｉ）１つのＸ線に対する透過率が微小な物質を用いる場合、
１つのＸ線に対する透過率が微小な物質を透過した画像の画素値を用いて計算する場合には前記物質を透過した後の画素値を抽出し、その部分の平均値を用いる。各Ｘフレーム毎のオフセット変動指標値は、
2005006886.tif 000003
で表される。ここで、Ｘｎ（ｘ，ｙ）はＸフレーム画像の各座標の画素値であり、ｒｅｆｅｒｅｎｃｅはＸ線に対する透過率が微小な物質を透過した領域の画素値の中から抽出された画素の数である。ここで、前記物質を透過した後の画素値を抽出するに当たり、散乱線の影響を考慮する必要がある。ここで使用されるＸ線透過率が微小なリファレンス物質の周辺領域は、素抜け領域である。その画像領域には、周辺の素抜け領域からの散乱線が、入射している。つまり、Ｘ線透過率が微小なリファレンス物質は散乱Ｘ線が回り込むことがない程度の大きさが最低限必要で、最低でも１ｍｍ以上の直径が必要である。また、リファレンス物質の直径が小さい場合や、散乱線の影響が大きい場合には、（式２）のような平均値を算出するのではなく、
2005006886.tif 000004
のように、リファレンス物質の中心領域の平均値の最小値を取ることが望ましい。
（ｉｉ）２つ以上のＸ線透過率の異なる物質を用いる場合、
次に、２つ以上のＸ線透過率の異なる物質を用いる場合のオフセット変動指標
で説明する。
【００８０】
この２つ以上のＸ線透過率の異なる物質を用いてオフセット変動指標値を得るためには、Ｘ線フレームで撮影するＸ線発生条件（管電圧、フィルタ種類、フィルタ厚さ）におけるＸ線透過率があらかじめ既知であることが必要である。この２つのリファレンス物質をＡ、Ｂ、各々既知のＸ線透過率をＴｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ（Ａ）、Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ｂ）と置く。Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ（Ａ）、Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ｂ）を把握するためには、事前にリファレンス物質をＡ、Ｂを同一のＸ線発生条件で線量計を用いて測定する方法や、Ｘ線発生条件のＸ線スペクトルとリファレンス物質をＡ、Ｂの原子構成および密度を元に、減弱係数の既知の実験データを用いて、算出する方法をとる。
【００８１】
上記条件の下で、オフセット変動指標値は、
Ｏｆｆ（ｎ）＝  ｐＯｆｆＡ（ｎ）−Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ａ）×ＴｒｅｎｄＡＢ−Ｏｆｆ（０）                    （式４）
Ｏｆｆ（ｎ）＝  ｐＯｆｆＢ（ｎ）−Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ｂ）×ＴｒｅｎｄＡＢ−Ｏｆｆ（０）                  （式５）
で表される。
【００８２】
但し、
2005006886.tif 000005
である。
【００８３】
当然だが、（式４）と（式５）は同値である。
【００８４】
ステップＳ１００８：
次にＣＰＵ２０９は、ｎフレームのゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）を、取得する。ゲイン変動は、Ｘ線撮影装置自体の感度が変動すること自体が原因ではなく、Ｘ線発生装置の出力量が変動することが原因であるから、Ｘ線出力変動と言っても良い。ただし、本提案書では、呼称を統一するため、ゲイン変動と書く。
【００８５】
ゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）を得るためには、２つ以上のＸ線透過率の異なるリファレンス物質を用いる必要がある。更に、前述のオフセット変動指標値Ｏｆｆ（ｎ）を算出した場合と同様に、ゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）を得るためには、Ｘ線フレームで撮影するＸ線発生条件（管電圧、フィルタ種類、フィルタ厚さ）におけるＸ線透過率があらかじめ既知であることが必要である。この条件の下でゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）は、
2005006886.tif 000006
で表される。
【００８６】
ステップＳ１００９：
ｎ＝１〜ｓｕｍまで、ステップＳ１００５からステップＳ１００７を各フレームにおいて繰り返す。
【００８７】
ステップＳ１０１１：
ＣＰＵ２０９は、リファレンス物質２１８、２１９の画像領域を抽出する。リファレンス物質２１８、２１９の画像領域を抽出する方法等は後述する。
【００８８】
ステップＳ１０１２：
各フレーム画像においてＳ１０１５〜Ｓ１０１８までの処理を行うため、フレーム番号ｎの初期化を行う。
【００８９】
ステップＳ１０１３：
先ず、各フレーム画像においてＳ１０１５〜Ｓ１０１８までの処理を行うため、フレーム番号ｎのインクリメントを行う。
【００９０】
ステップＳ１０１４：
ステップＳ１０１５〜ステップＳ１０１８の各補正演算は、リファレンス物質２１８、２１９のある画像領域以外の画素で行うようループにする。実際の処理は、各画像毎にリファレンス物質２１８、２１９であるＡＬ、Ｐｂ等が存在する画像領域以外の画像領域を、オフセット補正、白補正、オフセット変動補正、ゲイン変動補正を行う。リファレンス物質２１８、２１９であるＡＬ、Ｐｂ等が存在する画像領域の画素値は、上記補正を行った領域であることを画像上に明示するため、上記補正を行わない、又は、上記補正を行った場合も、表示する際には、補正用の画像領域であることを明示する。補正用の画像領域であることを明示する理由は、医療用の画像診断に用いられる場合、上記画像領域にはリファレンス物質のために、誤診される可能性があるためである。また、後述するように、リファレンス物質が、画像中の素抜け領域にあるか否かを判定して、素抜け領域内にない場合には、警告を表示する手段があることが望ましい。
【００９１】
ステップＳ１０１５：
ｎフレーム画像のオフセット補正を行う。ステップＳ１００２で取得されたオフセット画像を用いる。ステップＳ１００６で取得されたｎフレーム目のＸフレーム画像の各座標の画素値をＸｎ（ｘ，ｙ）、ステップＳ１００２で取得されたオフセット画像の各座標の画素値をＯＦＦ＿ｉｍａｇｅ（ｘ，ｙ）とすると、オフセット後の画像の各座標の画素値は、
Ｘｏｆｆ＿ｎ  （ｘ，ｙ）  ＝  Ｘｎ（ｘ，ｙ）  −ＯＦＦ＿ｉｍａｇｅ（ｘ，ｙ）      ‥（式１０）
となる。
【００９２】
ステップＳ１０１６：
ｎフレーム画像のオフセット変動補正を行う。ステップＳ１００７で取得されたオフセット変動指標値Ｏｆｆ（ｎ）を用いる。オフセット変動補正後の画像の各座標の画素値は、
Ｘｏｆｆｖ＿ｎ（ｘ，ｙ）  ＝    Ｘｏｆｆ＿ｎ  （ｘ，ｙ）−Ｏｆｆ（ｎ）    ‥（式１１）
となる。
【００９３】
ステップＳ１０１７：
ｎフレーム画像のゲイン補正を行う。ステップＳ１００３で取得されたゲイン画像Ｗｈｉｔｅ（ｘ，ｙ）を用いる。ゲイン補正後の画像の各座標の画素値は、
2005006886.tif 000007
となる。
【００９４】
ステップＳ１０１８：
ｎフレーム画像のゲイン変動補正を行う。ステップＳ１００８で取得されたゲイン変動指標値Ｇ（ｎ）を用いる。ゲイン変動補正後の画像の各座標の画素値は、
Ｘｗｈｉｔｅｖ＿ｏｆｆｖ＿ｎ（ｘ，ｙ）  ＝    Ｘｗｈｉｔｅ＿ｏｆｆｖ＿ｎ（ｘ，ｙ）    ＊    Ｇ（ｎ）  ‥（式１３）
となる。
【００９５】
ステップＳ１０１９：
ステップＳ１０１５〜ステップＳ１０１８で、オフセット補正、ゲイン補正、オフセット変動補正、ゲイン変動補正がなされた画像は表示用ＱＡ処理がなされる。このＱＡ処理とは、撮影部位ごとの階調処理、周波数処理や、表示装置ごとの階調処理を含める。
【００９６】
ステップＳ１０２０：
上記処理を撮影枚数ｓｕｍになるまで繰り返す。尚、上記処理は、撮影枚数ｓｕｍ全てにおいて行う必要がない場合は、等時間隔等で間引きしても良い。
【００９７】
図２は、本提案の方法を示す概念図である。画像上のリファレンス物質のプロファイルと位置を示した図である。図２（ａ）が、画素値プロファイル（断面図）、図２（ｂ）が、画像全体図と画像上のリファレンス物質の位置である。
【００９８】
図２（ｂ）は、画像全体図と画像上のリファレンス物質の位置を示している。３０１は、Ｘ線画像取得可能領域を示している。通常Ｘ線の画像を撮影する際には、散乱線による画質低下や、被写体への被曝線量を抑えるために、Ｘ線をコリメータで絞って撮影を行う。この境界がＸ線照射野３０２はとなって画像上で表れる。リファレンス物質３０３、３０４は、Ｘ線透過率の異なる２つ以上の物質である。２つ以上の物質とは、材質（構成元素の組成、密度）が異なる物質を指していても、また同一材質で厚さが異なることでＸ線透過率が異なっても良い。ただしゲイン変動補正処理の精度からすると、同一材質で厚さが異なることが望ましい。なぜならば、材質が異なると、Ｘ線スペクトルの変化によって、２つの物質間の相対的なＸ線透過率の関係が変化するためである。
【００９９】
また、リファレンス物質３０３、３０４は、被写体と重ならない領域にあることが望ましい。なぜならば誤診の可能性があるからである。尚、後述するように、被写体と重なる領域にある場合には、警告を表示する手段をつけることが必要である。
【０１００】
図２（ａ）は、図２（ｂ）の破線を通る断面での画素値プロファイルである。図２（ａ）では、素抜け領域の画素値が高く、リファレンス物質３０３、３０４の画素値が相対的に低い値になっているが、逆にリファレンス物質の領域だけ相対的に高い出力であっても良い。例えば、当然リファレンス物質が画像全体を覆うような構成で、特定の領域のみ、このリファレンス物質が抜けていたり、厚さが薄くなっている構造でも良い。この場合には、オフセット変動補正、ゲイン変動補正の方法は、前記リファレンス物質の領域を、リファレンス物質がた領域や、厚さが薄くなっている領域に置換して同様の計算をすれば良い。また、前述したように、画素値プロファイルは、前述の散乱線の影響でシェーディングを持っていることに注意し、前述の各領域の値を算出するためには、前述のように散乱線の影響の少ない領域（中心に近い領域）を使用して計算する。また、中心部分で散乱線の影響を少なくさせるために、リファレンス物質Ａ、Ｂの直径は、最低でも１ｍｍ以上が必要であることが望ましい。
【０１０１】
図３は、本発明で補正を行うゲイン変動とオフセット変動を示している。ゲイン変動は、実際にはＸ線撮影装置自体のゲインが変動することを想定している訳ではない。むしろ原因として支配的なのは、Ｘ線発生装置の出力量が変動である。つまり、ゲイン変動と言うよりもＸ線出力変動と呼んでも良い。オフセットは、出力アンプ（Ｘ線撮像パネル内の出力段のアンプ）のオフセットが電源変動や温度変動等により変化することが主な原因で図３のように変動する。尚、本提案で解決するオフセット変動補正やゲイン変動補正は、上記の原因以外の原因で変動しても良い。本提案で請求する範囲は、上記の原因で起るオフセット変動やゲイン変動のみに制限されるわけではない。
【０１０２】
図４は、本発明におけるリファレンス物質が取り出し可能な例を示している。９００がＸ線画像撮影装置、９０１‐９０４が各々Ｘ線透過率が異なるリファレンス物質、９０５が散乱線除去機構（グリッド）、９０６が、接着材または接着テープである。９０６の接着テープを用いてリファレンス物質を散乱線除去機構（グリッド）に取り付ける。リファレンス物質の取付け位置に対する要求仕様は、
▲１▼被写体がない画像領域にあること、
▲２▼Ｘ線照射野内に入っていること、
▲３▼位置が容易に抽出可能な領域であること、
が挙げられる。前記▲１▼〜▲３▼の要求仕様は、撮影部位等により変化することから、接着テープを用いて、撮影時に自由な位置に付け替えることが可能であることがベストモードである。ただし、（Ｉ）動画検診のように、同一の撮影条件で撮影を行うことが多い場合、（ＩＩ）グリッド毎に撮影部位または撮影領域がおおよそ定まっている場合などは、Ｘ線画像撮影装置９００にリファレンス物質９０１‐９０４が取り付けられている構造でも良い。また、散乱線除去機構（グリッド）  ９０５にリファレンス物質９０１‐９０４が取り付けられている構造でも良い。
【０１０３】
図１０は、リファレンス物質が被写体の素抜け領域に重なってしまった場合に警告表示を出すフローチャートを示している。
【０１０４】
ステップＳ１１０１：
先ず、ステップＳ１１０１で、Ｘ線画像の素抜け領域の画素値帯および領域の把握処理を行う。素抜け領域の画素値帯および領域の把握処理の方法としては、Ｘ線画像の各画素値ごとヒストグラムを作成し、判断する方法が優れている。ヒストグラム中で画素値数の頻度が高く、最大線量に相当する画素値帯の近傍が素抜け領域の画素値帯である。素抜け領域の画素値帯は、画素値に幅が出てくるのは、主にＸ線発生装置のシェ−ディングが原因である。シェ−ディングの中でも特にＸ線発生装置のヒール効果が支配的である。その量は撮影装置の傾きや撮影距離によって異なる。具体的には、撮影距離１８０ｃｍでは、図示しないＸ線ターゲットの図示しない陽極側に２０％程度のシェーディングが現われる。よって、素抜け領域の画素値帯は約２０％程度の幅を持って把握することが望ましい。更にその領域を見るためには、例えば隣接する８画素全てが、素抜け領域の画素値帯に入る場合には素抜け領域とするなどの隣接画素処理などを行うことで、素抜け領域の抽出を行う。
【０１０５】
ステップＳ１１０２：
次に、ステップＳ１１０２で、リファレンス物質の画素値帯の把握を行う。ステップＳ１１０１で、素抜け領域の画素値帯がすでに既知である。また、撮影したＸ線条件（管電圧、フィルタ種類、フィルタ厚さ）でのリファレンス物質のＸ線透過率も既知である。前記、素抜け領域の画素値帯をＰＡＳＳｍｉｎ（ｎ）￣  ＰＡＳＳｍａｘ（ｎ）と置く。また、前記リファレンス物質ＡのＸ線透過率を、Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ａ）と置く。すると、リファレンス物質Ａの画素値帯は、
ＰＡＳＳｍｉｎ＿Ａ（ｎ）    ＝    ＰＡＳＳｍｉｎ（ｎ）  ×  Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ａ）      ‥（式１４）
ＰＡＳＳｍａｘ＿Ａ（ｎ）    ＝    ＰＡＳＳｍａｘ（ｎ）  ×  Ｔｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ  （Ａ）    ‥（式１５）
で最小値と最大値が表される。
【０１０６】
ステップＳ１１０３：
次に、ステップＳ１１０３で、リファレンス物質の画像領域取得を行う。ステップＳ１１０２で得られたリファレンス物質の画素値帯のＰＡＳＳｍｉｎ＿Ａ（ｎ）〜ＰＡＳＳｍａｘ＿Ａ（ｎ）を用いる。例えば、隣接する８画素全てが、該当画素値帯にある場合、その領域をリファレンス物質の画像領域とする。
【０１０７】
ステップＳ１１０４：
次に、ステップＳ１１０４で、リファレンス物質の周囲の領域の画素値帯の把握を行う。ステップＳ１１０３で得られたリファレンス物質の画像領域を元に、その境界からある一定の距離離れた領域を、リファレンス物質の周囲の領域とする。ある一定距離離す理由は、極めて境界近傍の領域を前記周囲の領域とすると、前記周囲の領域は、散乱線のため、正しい素抜け領域の画素値帯に入らない可能性があるからである。リファレンス物質の境界領域から１ｍｍ程度離すことが望ましい。リファレンス物質の周囲の領域が抽出されたならば、その領域の画素値平均値、画素値標準偏差値等を算出する。
【０１０８】
ステップＳ１１０５：
次に、ステップＳ１１０５で、リファレンス物質は素抜け領域内にあるか否かを判定する。ステップＳ１１０４で得られたリファレンス物質の周囲の領域の画素値帯が、ステップＳ１１０１で得られた素抜け領域の画素値帯に入っているかを判定する。前記平均画素値が前記素抜け領域の画素値帯に入っていれば、リファレンス物質の周辺の領域が、素抜け領域内にあると判定される。
【０１０９】
ステップＳ１１０６：
前記ステップＳ１１０５でリファレンス物質が素抜け領域内にあると判定された場合、ステップＳ１１０６の段階に移る。ステップＳ１１０６で「リファレンス物質が患者に重なっている」ことを警告表示する。この警告表示は、撮影画像中のプレビュー画像中にリファレンス物質の位置を示すことで警告することをベストモードとする。また、この警告表示は、モニタ上で文字で表示しても良いし、また画像や色や画面の一部の点滅等で表示しても良い。
【０１１０】
ステップＳ１１０７：
ユーザ（放射線技師等）は、ステップＳ１１０６で示された警告表示を見て、再撮影を行うか否かを判定する。
【０１１１】
ステップＳ１１０８：
ステップＳ１１０８で再撮影を行うとユーザ（放射線技師等）が判定した場合、再撮影を行う。再撮影は、被写体とリファレンス物資の相対位置が異なることが原因であるため、この相対位置を変えて再撮影を行う。
【０１１２】
ステップＳ１１０９：
上述を終えると、前述のオフセット補正、オフセット変動補正、ゲイン補正、ゲイン変動補正等の画像処理を行う。
【０１１３】
【発明の効果】
以上説明したように本発明では、被写体を撮影して得られた動画撮影画像に対してゲイン変動補正処理、オフセット変動補正処理を行い、その補正に使用したリファレンス物質を取り外し可能であるため、動画表示時に画像フレーム毎のオフセット変動、ゲイン変動を補正し表示できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例における放射線撮影装置
【図２】本提案の方法を示す概念図
【図３】本発明で補正を行うゲイン変動とオフセット変動の概念図
【図４】本発明の実施例におけるリファレンス物質が散乱線除去機構上にあり取り出し可能な実施例を示す図
【図５】従来例のＸ線を用いて動画を撮像するＸ線撮像装置の構成を示すブロック図
【図６】図５のＸ線撮像装置の動作を示すタイミングチャートである
【図７】本発明の一実施例を示すＸ線撮影システムの構成ブロック図
【図８】取得画像の処理フローブロック図
【図９】本実施の処理プログラムを示すフローチャート
【図１０】警告表示を出す処理プログラムを示すフローチャート
【符号の説明】
２００  放射線撮影装置
２０１  放射線管球
２０２  撮影ボタン
２０３  放射線発生部
２０４  放射線発生部用インターフェース部
２０５  被写体
２０６  撮影部
２０７  放射線検出部
２０８  Ａ／Ｄ変換部
２０９  ＣＰＵ（中央処理装置）
２１０  バス
２１１〜２１３、２２０〜２２１  メモリ
２１４  記憶媒体
２１５  操作部用インターフェース部
２１６  操作部（表示機能含）
２１７  散乱線除去機構
２１８  リファレンス物質Ａ
２１９  リファレンス物質Ｂ
【図１】
2005006886.tif 000008
【図２】
2005006886.tif 000009
【図３】
2005006886.tif 000010
【図４】
2005006886.tif 000011
【図５】
2005006886.tif 000012
【図６】
2005006886.tif 000013
【図７】
2005006886.tif 000014
【図８】
2005006886.tif 000015
【図９】
2005006886.tif 000016
【図１０】
2005006886.tif 000017