(57)【要約】  【目的】  非検査領域にマスク・パターンの位置をほぼ正確に自動的に設定する。  【構成】  非検査領域を含む基準画像データ10ａの位置と，マスクパターン・データＭの位置とが合わせられる。マスクパターン・データＭの位置を表すデータはマスクパターン・データＭとともにメモリに記憶される。入れ替え指示が入力されると，その直後に撮像された被検査画像データが新たな基準画像データ10ｂとされる。基準画像データ10ａと新たな基準画像データ10ｂとの位置ずれ量が検出され（符号14），検出された位置ずれ量で，マスクパターン・データの位置を表すデータが補正される（符号15）。  【選択図】    図３
2005091331.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送される印刷物を，検査領域と非検査領域とを含む検査単位範囲にわたって撮像して対象画像データを得，
所望の対象画像データを第１の基準画像データとして記憶し，
非検査領域を表すあらかじめ作成したマスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を記憶し，
搬送される印刷物の単位範囲を順次撮像して得られる対象画像データを，第１の基準画像データを基準として，第１の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査し，
所与のタイミングで得られる対象画像データを第２の基準画像データとして記憶し，
第２の基準画像データと第１の基準画像データとの位置ずれ量を検出し，
検出した位置ずれ量で第１の位置関係を補正し，これにより得られる第２の位置関係を記憶し，
搬送される印刷物の単位範囲を順次撮像して得られる対象画像データを，第２の基準画像データを基準として，第２の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査を続行する，
印刷物の検査方法。
【請求項２】
搬送される印刷物を，検査領域と非検査領域とを含む検査単位範囲にわたって撮像して対象画像データを取得する撮像手段，
所望の対象画像データを第１の基準画像データとして記憶する第１の記憶手段，
非検査領域を表すあらかじめ作成したマスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を記憶する第２の記憶手段，
搬送される印刷物の単位範囲を上記撮像手段によって順次撮像して得られる対象画像データを，第１の基準画像データを基準として，第１の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査する検査手段，
所与のタイミングで得られる対象画像データを第２の基準画像データとして記憶する第３の記憶手段，
上記第３の記憶手段に記憶された第２の基準画像データと，第１の記憶手段に記憶された第１の基準画像データとの位置ずれ量を検出する検出手段，
上記検出手段によって検出された位置ずれ量で第１の位置関係を補正する補正手段，および
上記補正手段による補正により得られる第２の位置関係を記憶する第４の記憶手段を備え，
上記検査手段は，
第３の記憶手段に第２の基準画像データが記憶され，かつ第４の記憶手段に第２の位置関係が記憶されたことに応じて，搬送される印刷物の単位範囲を上記撮像手段によって順次撮像して得られる対象画像データを，第２の基準画像データを基準として，第２の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査するものである，
印刷物の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は，印刷物の検査装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷物の検査（たとえば色調の良否検査，汚れの有無の検査，抜けの有無の検査等）を目視ではなく自動的に行う検査システムとして，撮像装置によって印刷物を撮像し，撮像によって得られる検査対象画像データと，あらかじめ用意される基準画像データ（一般的には，正確と思われる検査対象画像データ）とを比較するものがある。
【０００３】
印刷物には，印刷物の表面の一部に検査すべき領域が存在する場合がある。印刷物の検査すべき表面の範囲を検査対象領域と表現する。検査対象領域以外が非検査領域である。非検査領域は，たとえば印刷物の裁断部や折曲げ部等が位置する領域である。
【０００４】
印刷物の表面の一部に検査対象領域が存在する印刷物を撮像すると，検査対象領域とともに非検査領域も撮像される。非検査領域については検査する必要が必ずしもないので，画像処理によって画像データ中の非検査領域を表す部分をマスクする（検査対象範囲から除外する）ことが行われる。
【０００５】
画像データ中の非検査領域の部分をマスクする（検査対象範囲から除外する）場合，マスクに用いられるデータ（マスク・パターン・データ）と画像データとの相対的な位置が変化しないことが必要である。マスク・パターン・データと画像データとの相対的な位置が変化してしまうと，マスクすべき領域（非検査領域の部分）の一部がマスクされず，またはマスクすべきでない領域（検査対象領域の部分）がマスクされてしまうことになるからである。
【０００６】
一般に，マスクパターン・データと画像データとの相対的な位置関係は，表示装置の表示画面上にマスクパターン・データに基づくマスク・パターンと，撮像によって得られた画像データに基づく印刷物の画像とを表示させ，ユーザが入力装置を用いてマスクパターン・データの位置を調整する（マスクパターン・データの位置を表すデータを調整する）ことによって設定（調整）される。マスクパターン・データと画像データとの相対的な位置関係が変動した場合には，その都度，ユーザが入力装置を用いてマスクパターン・データの位置を調整することが必要とされる。
【発明の開示】
【０００７】
この発明は，非検査領域の位置にマスク・パターンの位置をほぼ正確に自動的に設定することを目的とする。
【０００８】
この発明はまた，基準画像データを入れ替えた場合に，入れ替え前の基準画像データとマスクパターン・データとの位置関係と同一の位置関係を，入れ替え後の基準画像データとマスクパターン・データとの間にも実現することを目的とする。
【０００９】
この発明による印刷物の検査方法は，搬送される印刷物を，検査領域と非検査領域とを含む検査単位範囲にわたって撮像して対象画像データを得，所望の対象画像データを第１の基準画像データとしてメモリ（第１の基準画像データ・メモリ）に記憶し，非検査領域を表すあらかじめ作成したマスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係をメモリ（第１の位置関係記憶メモリ）に記憶し，搬送される印刷物の単位範囲を順次撮像して得られる対象画像データを，第１の基準画像データを基準として，第１の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査し，所与のタイミングで得られる対象画像データを第２の基準画像データとしてメモリ（第２の基準画像データ・メモリ）に記憶し，第２の基準画像データと第１の基準画像データとの位置ずれ量を（検出手段により）検出し，検出した位置ずれ量で第１の位置関係を（補正手段において）補正し，これにより得られる第２の位置関係をメモリ（第２の位置関係記憶メモリ）に記憶し，搬送される印刷物の単位範囲を順次撮像して得られる対象画像データを，第２の基準画像データを基準として，第２の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査を続行するものである。
【００１０】
この発明による印刷物の検査装置は，搬送される印刷物を，検査領域と非検査領域とを含む検査単位範囲にわたって撮像して対象画像データを取得する撮像手段，所望の対象画像データを第１の基準画像データとして記憶する第１の記憶手段，非検査領域を表すあらかじめ作成したマスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を記憶する第２の記憶手段，搬送される印刷物の単位範囲を上記撮像手段によって順次撮像して得られる対象画像データを，第１の基準画像データを基準として，第１の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査する検査手段，所与のタイミングで得られる対象画像データを第２の基準画像データとして記憶する第３の記憶手段，上記第３の記憶手段に記憶された第２の基準画像データと，第１の記憶手段に記憶された第１の基準画像データとの位置ずれ量を検出する検出手段，上記検出手段によって検出された位置ずれ量で第１の位置関係を補正する補正手段，および上記補正手段による補正により得られる第２の位置関係を記憶する第４の記憶手段を備え，上記検査手段は，第３の記憶手段に第２の基準画像データが記憶され，かつ第４の記憶手段に第２の位置関係が記憶されたことに応じて，搬送される印刷物の単位範囲を上記撮像手段によって順次撮像して得られる対象画像データを，第２の基準画像データを基準として，第２の位置関係で定められる位置に設定されたマスクパターンの領域を除く検査領域について検査するものである。
【００１１】
この発明において，位置関係（第１の位置関係および第２の位置関係）は，マスクパターン・データと第１，第２の基準画像データとの相対的な位置を表す。この位置関係は，マスクパターン・データの位置データと，第１，第２の基準画像データの位置データとにより規定することもできるし，マスクパターン・データおよび第１，第２の基準画像データが記憶されるメモリ上のアドレスによって規定することもできる。
【００１２】
この発明によると，所与のタイミングにおいて得られた対象画像データが，新たな基準画像データ（第２の基準画像データ）とされる。第２の基準画像データが得られると，第１の基準画像データと第２の基準画像データとの位置ずれ量が検出されて，検出された位置ずれ量に基づいて，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された位置関係（第１の位置関係）が補正される。
【００１３】
この発明によると，第１の基準画像データと第２の基準画像データの位置ずれ量に応じて，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された位置関係（第１の位置関係）が補正されて，マスクパターン・データと第２の基準画像データとの位置関係（第２の位置関係）が得られる。マスクパターン・データと第１の基準画像データとの間の位置関係を，マスクパターン・データと第２の基準画像データとの間でも保つことができる。すなわち，調整された第１の位置関係が，マスクパターンの位置を第１の基準画像データの非検査領域の位置に合致させるものであれば，第２の位置関係においても，マスクパターンの位置は第２の基準画像データの非検査領域の位置に合致するものになる。
【００１４】
この発明によるマスクパターンの位置補正装置は，第１の基準画像データを記憶する第１の画像記憶手段，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を表すデータを記憶する第１の位置関係記憶手段，第２の基準画像データを記憶する第２の画像記憶手段，第１の基準画像データと第２の基準画像データとの位置ずれ量を検出する検出手段，検出された位置ずれ量で，第１の位置関係を補正し，第２の位置関係を表すデータを作成する補正手段，第２の位置関係を表すデータを記憶する第２の位置関係記憶手段を備えたものである。
【００１５】
この発明によるマスクパターンの位置補正方法は，第１の基準画像データをメモリ（第１の基準画像データ・メモリ）に記憶し，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を表すデータをメモリ（第１の位置関係記憶メモリ）に記憶し，第２の基準画像データをメモリ（第２の基準画像データ・メモリ）に記憶し，第１の基準画像データと第２の基準画像データとの位置ずれ量を（検出手段によって）検出し，検出された位置ずれ量で，第１の位置関係を（補正手段によって）補正し，第２の位置関係を表すデータを（作成手段によって）作成し，第２の位置関係を表すデータをメモリ（第２の位置関係記憶メモリ）に記憶するものである。
【００１６】
第１の基準画像データと第２の基準画像データとの位置ずれ量に基づいて，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの調整された第１の位置関係を表すデータが補正されて，マスクパターン・データと第２の基準画像データについての第２の位置関係が得られるので，マスクパターン・データと第１の基準画像データとの間の相対的な位置関係を，マスクパターン・データと第２の基準画像データとの間においても継続して実現することができる。
【実施例】
【００１７】
図１は，印刷物の検査システムの一部を概略的に示す斜視図である。
【００１８】
印刷物の検査システムは，被検査対象である印刷物をＣＣＤラインセンサを含む撮像装置によって撮像し，撮像によって得られる画像データに基づいて印刷物を検査するシステムである。印刷物の検査は，画像処理，たとえば，撮像によって得られる被検査画像データとあらかじめ取得された基準画像データ（印刷物の適正な画像データ）とを（必要に応じて画像データの前処理を経て）パターンマッチングし，その適合度が所定の条件を満たすかどうかを判定することにより行われる。パターン・マッチングによって色調の良否，汚れの有無，抜けの有無等が検査（判定）される。
【００１９】
紙，フィルム等の連続するシートの表面に，輪転印刷機によって所定の画像（絵柄，文字等）が一定間隔で印刷される。輪転印刷機から送出された印刷されたシート（以下，印刷物という）Ｗは，搬送装置によって搬送される。搬送装置は多数のローラ４を含み，多数のローラ４が搬送路に沿って水平面上にほぼ一定間隔で並列に配列されている。搬送装置の搬送路上に定められた撮像位置の上方に，ＣＣＤラインセンサを含む撮像装置１および線状照明光源２が，それぞれ固定的に設けられている。線状照明光源２は，搬送路の幅方向（搬送方向に直交する方向）にのび，搬送路上の撮像位置をその全体にわたって照明する。撮像装置１のＣＣＤラインセンサは搬送路の幅方向を走査方向とするように配置され，光源２によって照明された撮像位置をその幅方向の全体（少なくとも印刷物Ｗの幅全体）にわたって撮像する。
【００２０】
この実施例において，検査システムによって検査される印刷物Ｗは，基材（紙，フィルム等）上の表面の一部に，一定間隔で画像（絵柄，文字等）が印刷されたものである（詳細は次に説明する）。すなわち，印刷物Ｗの表面には，画像が印刷された検査すべき領域と，画像が印刷されていず，基材（紙，フィルム等）が露出している領域がある。以下の説明において，印刷物Ｗの表面において画像が印刷された検査すべき領域を「検査対象領域」と呼び，画像が印刷されていず，基材が露出している領域を「非検査領域」と呼ぶ。非検査領域は，印刷物Ｗの裁断部，折曲げ部等として用いられる。
【００２１】
撮像装置１から出力された画像データは，検査装置３に入力する。
【００２２】
上述したように，印刷物Ｗの表面は検査対象領域と非検査領域とを含むので，撮像装置１によって撮像され，検査装置３に入力する画像データ（基準画像データおよび被検査画像データ）にも，検査対象領域を表す画像データと非検査領域を表す画像データとが含まれる。
【００２３】
図２(A) は基準画像データによって表される基準画像の一例を，図２(B) はマスク・パターン・データに基づくマスク・パターンの一例を，それぞれ示している。
【００２４】
図２(A) に示す基準画像データによって表される基準画像Ｓには，印刷物Ｗの表面において検査対象領域（画像印刷部分）が撮像されることによって得られる検査対象画像データによって表される領域Ｇ（ハッチングで示す）と，非検査領域（画像印刷部分以外の部分）が撮像されることによって得られる非検査画像データによって表される領域Ｓａを含む。図２(A) に示す基準画像Ｓには，４つの概略正方形の検査対象画像領域Ｇが，搬送方向の直交方向に対応する方向（幅方向（左右方向））に存在し，それが搬送方向に対応する方向（上下（天地）方向）に２段に含まれており，合計８つの検査対象画像領域Ｇが存在する。各検査対象画像領域Ｇの幅方向の両側，各検査対象画像領域Ｇの搬送方向の両側に，非検査画像領域Ｓａがある。
【００２５】
マスクパターン・データによって表されるマスク・パターンＭ（図２(B) ）は，基準画像Ｓに含まれる非検査画像領域Ｓａに相当する領域を検査対象範囲から除くためのものである。マスク・パターンＭは，基準画像データによって表される基準画像Ｓ（図２(A) ）と同じ形状（大きさ）を持ち，かつ基準画像データ中の検査対象画像領域Ｇに相当する領域には，検査対象画像領域Ｇと同じ大きさの概略正方形の枠Ｗがある。
【００２６】
基準画像Ｓを表す基準画像データとマスク・パターンＭを表すマスクパターン・データとの相対的な位置は，検査システムの操作者によって入力装置（図示略）が用いられて一致するように調整される。たとえば，基準画像Ｓに含まれる左上の検査対象画像領域Ｇの左上隅のアドレス（ｘi，ｙi）（図２(A) 参照）（基準位置アドレス）と，マスク・パターンＭの，上記基準画像Ｓに含まれる左上の検査対象画像領域Ｇに対応する枠Ｗの左上隅のアドレス（ｘj，ｙj）（図２(B) ）参照）（基準位置アドレス）とが一致するように，検査システムの操作者によってマスク・パターン・データの位置が調整される。
【００２７】
基準画像データとマスクパターン・データとによって，基準画像データに含まれる複数の検査対象画像領域Ｇの画像データ（基準単位画像データという）が取出される。また，被検査画像データも同様にして，マスクパターン・データが用いられて，複数の被検査単位画像データが取り出される。検査装置３は，基準単位画像データと，対応する被検査単位画像データとを用いて，検査（たとえば色調の良否検査，汚れの有無の検査，抜けの有無の検査等）を行う。
【００２８】
輪転印刷機は，連続する紙，シート等に所定の画像（絵柄，文字等）を一定間隔で次々と印刷するものであるから，印刷を継続して続けているうちに印刷結果（発色，インクののり等）が安定したものになる。初期段階で得られた基準画像データをそのまま継続して印刷物Ｗの検査に用いることは，印刷物Ｗの検査の精度の観点等から好ましくない。そこで，印刷途中の段階で得られた被検査画像データを，初期段階で得られた基準画像データと入れ替えることが行われる。
【００２９】
図３は，基準画像データの入替えの様子と，検査装置３において基準画像データの入替えに伴って行われる処理機能とを示している。
【００３０】
初期段階において印刷物Ｗを撮像装置１によって撮像することによって得られた基準画像データ10ａは，基準画像データ・メモリに記憶される。基準画像データ・メモリに記憶されて基準画像データ10ａに基づいて，マスク・パターン・データＭが作成され，マスクパターン・データメモリに記憶される。上述したように，検査システムの操作者は，作成されたマスクパターン・データＭの位置を調整し，基準画像データ10ａとマスクパターン・データＭとを位置あわせする。マスクパターン・データ・メモリには，マスクパターン・データＭとともに，位置合わせされたマスクパターン・データＭの位置（アドレス）を表すデータが記憶される。
【００３１】
その後，被検査画像データ11が，次々とメモリ（被検査画像データ・メモリ）に記憶される。上述のように，基準画像データ10ａとマスクパターン・データＭとによって，基準画像データ10ａに含まれる複数の検査対象画像領域Ｇの画像データ（基準単位画像データという）が取出される（非検査領域Ｓａが検査範囲から除かれる）。また，被検査画像データ11も同様にして，マスクパターン・データＭが用いられて，複数の被検査単位画像データが取出される。基準単位画像データと被検査単位画像データとが用いられて，色調の良否検査，汚れの有無の検査，抜けの有無の検査等（パターン・マッチング）が行われる。
【００３２】
検査装置３の入力装置から基準画像データの入替え指示が与えられると，入れ替え指示の直後に得られた被検査画像データが，新たな基準画像データ10ｂとされる。新たな基準画像データ10はメモリ（新基準画像データ・メモリ）に記憶される。
【００３３】
新たな基準画像データ10ｂについても，上述のようにマスクパターン・データＭを用いることによって，新たな基準画像データ10ｂに含まれる基準単位画像データを取り出す必要があるが，初期段階の基準画像データ10ａと，新たに得られた基準画像データ10ｂとの相対的な位置にずれがある場合，マスクパターン・データ・メモリＭに記憶されているマスクパターン・データの位置データをそのまま用いると，新たな基準画像データ10ｂにおける非検査画像領域Ｓａとマスク・パターンとの間にずれが生じてしまう。そこで，検査装置３は，マスク・パターン・データＭの位置補正（アドレス補正）を行う。
【００３４】
検査装置３において，マスク・パターン・データの位置補正は自動的に行われる。詳細については後述するが，初期段階で得られた基準画像データ10ａと新たに得られた基準画像データ10ｂとの位置ずれ量が算出され（符号14；位置ずれ量算出機能（手段）），算出された位置ずれ量に基づいて，マスク・パターン・データＭの位置を補正する処理（アドレスを補正する処理）（符号15：マスク・パターン位置補正機能（手段））が行われる。
【００３５】
図４は，位置ずれ検出処理（手段）14およびマスク・パターン位置補正処理（手段）15の処理手順を示すフローチャートである。
【００３６】
はじめに，初期段階で得られた基準画像データ10ａ（以下，旧基準画像データ10ａという）から，基準線分（ラインアドレス）が選択される（ステップ21）。基準線分を表すデータ列（画像（画素）デーた列）が，旧基準画像データ10ａから抽出される（ステップ22；図５(A)，(B)参照）。次に，新たに得られた基準画像データ10ｂ（以下，新基準画像データ10ｂという）において，上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心にして，複数ラインの画像データ列が抽出される（ステップ23；図５(A)，(B)参照）。
【００３７】
旧基準画像データ10ａにおいて選択されて抽出される基準線分を表すデータ列および新基準画像データ10ｂにおいて抽出される上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心とする複数の画像データ列は，次に説明するように，旧基準画像データ10ａと新基準画像データ10ｂとの位置ずれ量の算出のための用いられる。基準線分の選択（ステップ21）では，基準線分を表すデータ列と基準線分を表すデータ列に隣接するデータ列（好ましくは基準線分を表すデータ列に隣接する複数ライン分のデータ列）とが明確に区別できる，そのような位置の基準線分が選択される。
【００３８】
選択される基準線分の方向は，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地（上下）方向）であってもよいし，搬送方向に直交する方向に沿う方向（左右方向）であってもよい。図５(A) は，印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地（上下）方向）において旧基準画像データ10ａから選択された基準線分を表す画像データ列の位置（ラインアドレスＬｘ）と，新基準画像データ10ｂにおいて選択された複数ライン（この例では３つ）の画像データ列の位置（ラインアドレスＬx-2，Ｌx ，Ｌx+2：２ライン分ずつの間隔がある）を示している。図５(B) は，印刷物Ｗの搬送方向の直交方向に沿う方向（左右方向）において旧基準画像データ10ａから選択された基準線分を表す画像データ列の位置（ラインアドレスＬy ）と，新基準画像データ10ｂにおいて選択された複数（この例では３つ）の画像データ列の位置（ラインアドレスＬy-2，Ｌy ，Ｌy+2：２ライン分ずつの間隔がある）を示している。図５(A) ，(B) においてハッチングによって示す線分位置は，分かりやすくするためにいずれもその幅が大きく描かれている。また，図５(A) ，(B) においては分かりやすくするために，新基準画像データ10ｂにおける複数の画像データ列の位置（ラインアドレス）は２ライン分づつの間隔があるが，１ライン隣りのラインアドレスの画像データ列を用いるようにしてもよい。
【００３９】
旧基準画像データ10ａから抽出された基準線分を表す画像データ列と，新基準画像データ10ｂから抽出された複数ライン分の画像データ列のそれぞれについて，一致度の評価値を得るための演算が行われる（ステップ24）。図５(A) に示す例では，旧基準画像データ10ａ中のラインアドレスｘの基準線分を表す画像データ列と，新基準画像データ10ｂ中のラインアドレスＬx-2，Ｌx ，Ｌx+2の３つの画像データ列のそれぞれとによって，３つの評価値が得られる。図５(B) に示す例では，旧基準画像データ10ａ中のラインアドレスｙの基準線分を表す画像データ列と，新基準画像データ10ｂ中のラインアドレスＬy-2，Ｌy，Ｌy+2の３つの画像データ列のそれぞれとによって，３つの評価値が得られる。
【００４０】
評価値としては，相関係数，差の絶対値の総和，差の自乗の総和のいずれかの値とすることができる。
【００４１】
相関係数は，次式によって得ることができる。
【００４２】
【数１】
2005091331.tif 000003
【００４３】
ここでｉは画素位置（アドレス）を，ｆ(i) は旧基準画像データから抽出されるデータ列における画素値を，ｇ(i) は新基準画像データから抽出されるデータ列における画素値を，Ｒｊは正規化相互相関係数を，ｊは旧基準画像データから抽出される画像データ列における画素位置を，ｎは画像データ列の画素数をそれぞれ表す。
【００４４】
差の絶対値の総和は，次式によって得ることができる。
【００４５】
【数２】
2005091331.tif 000004
【００４６】
差の自乗の総和は，次式によって得ることができる。
【００４７】
【数３】
2005091331.tif 000005
【００４８】
評価値として相関係数（数１）を用いる場合，評価値（相関係数）が１に近いほど一致度が大きい。評価値として差の絶対値の総和（数２）または差の自乗の総和（数３）を用いる場合，評価値（差の絶対値の総和，差の自乗の総和）は０に近いほど一致度が大きい。
【００４９】
旧基準画像データ10ａから抽出されたデータ列と，新基準画像データ10ｂから抽出された複数の画像データ列とから得られた評価値により，最も一致度の大きい評価値が得られた新基準画像データ10ｂ中の画像データ列の位置（ラインアドレス）と，基準線分の位置（ラインアドレス）とに基づいて，位置ずれ量が算出される（ステップ25）。基準線分の方向が印刷物Ｗの搬送方向に対応する方向に沿う方向（天地方向）であれば（図５(A) 参照），算出される位置ずれ量は搬送方向の直交方向に対応する方向（左右方向）の位置ずれ量であり，基準線分の方向が印刷物Ｗの搬送方向の直交方向に対応する方向（左右方向）であれば（図５(B) 参照），算出される位置ずれ量は搬送方向に対応する方向（天地方向）の位置ずれ量であるのは言うまでもない。
【００５０】
評価値演算（ステップ24）は，上述のように，旧基準画像データ10ａから選択されて抽出される一の基準線分を表すデータと，新基準画像データ10ｂにおいて上記の基準線分の位置（ラインアドレス）に対応する位置を中心にして抽出される複数ラインの画像データ列とを用いたものに限られず，複数の基準線分を表すデータを用いたものであってもよいし（たとえば，特開平９−３３０４１１号公報の図３(A) ，(B) ），交点画素を含む異なる方向の基準線分を用いたものであってもよい（たとえば，特開平９−３３０４１０号公報）。旧基準画像データ10ａを搬送方向に複数のブロックに分割し，ブロック単位で評価値を算出し，ブロック単位で旧基準画像データ10ａと新基準画像データ10ｂとの位置ずれ量を算出するようにしてもよい。
【００５１】
算出された位置ずれ量に基づいて，マスク・パターン・データＭの位置が補正される（ステップ26）。すなわち，マスク・パターン・データＭが記憶されているメモリ（マスクパターン・データ・メモリ）には，上述のようにマスク・パターン・データＭとともに，マスク・パターン・データＭの位置を表すデータが記憶されているので，このマスク・パターン・データＭの位置を表すデータが，算出された位置ずれ量に基づいて補正される。
【００５２】
このようにして，旧基準画像データ10ａと新基準画像データ10ｂとに基づいて算出される位置ずれ量に基づいてマスク・パターン・データの位置を補正することによって，新基準画像データ10ｂにおいても，非検査画像領域Ｓａをほぼ正確にマスクする（検査対象範囲から除く）ことができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】検査システムの一部を概略的に示す斜視図である。
【図２】(A) は基準画像の一例を，(B) はマスク・パターンの一例を，それぞれ示す。
【図３】基準画像データの入替えの様子と，検査システムにおいて基準画像データの入替えに伴って行われる処理機能を示すブロック図を示す。
【図４】マスクパターン・データの位置補正処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】(A) は，旧基準画像データおよび新基準画像データにおいて，評価値演算される搬送方向に対応する方向の線分位置を示す。(B) は，旧基準画像データおよび新基準画像データにおいて，評価値演算される搬送方向の直交方向に対応する方向の線分位置を示す。
【符号の説明】
【００５４】
１  撮像装置
２  線状照明光源
３  検査装置
10ａ，10ｂ  基準画像データ（旧基準画像データ，新基準画像データ）
11  被検査画像データ
14  位置ずれ量算出機能
15  マスク・パターンの位置補正機能
Ｍ  マスク・パターン・データ
Ｓ  基準画像データ
Ｇ  検査対象画像領域
Ｓａ  非検査画像領域
【図１】
2005091331.tif 000006
【図２】
2005091331.tif 000007
【図３】
2005091331.tif 000008
【図４】
2005091331.tif 000009
【図５】
2005091331.tif 000010