(57)【要約】【課題】  光ディスクの記録面に光情報を記録する時に記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生系を利用可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。【解決手段】  光ディスクの記録面で反射された記録光の反射光を光電変換手段１０４Ａで電気信号に変換し、光電変換手段１０４Ａから出力された信号を再生信号変換手段２０１で再生信号に変換する。再生信号変換手段２０１から出力される再生信号から信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部で光ディスク表面の欠陥によるデータエラーを検出し、この信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部で検出されたエラーの数から欠陥判定手段１０７Ｂにより光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置であって、
前記記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換し、該欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された信号を前記記録面で反射された記録光の反射波形及び前記欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換する再生信号変換手段と、
前記再生信号変換手段から出力される再生信号から前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段と、
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記記録光は、ライトレベル、イレーズレベル及びクールレベルの３値レベルのマルチパルス方式で光ディスクに照射されることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記光電変換手段の後段に、前記光ディスクの記録時に前記光電変換手段からの出力信号が前記再生信号変換手段に出力されるように選択され、かつ前記光ディスクに記録された記録データの再生時に前記光電変換手段からの出力信号が再生処理系に出力されるように選択される選択手段が設けられていることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記再生信号変換手段は、前記光電変換手段から出力された信号の周波数振幅をイコライズして広帯域化するイコライザ回路と、前記イコライザ回路でイコライズされた信号を、前記光ディスクに記録された記録データと同一のパルス幅となるように遅延しピーク検波して再生信号を生成する再生波形生成回路と、前記再生波形生成回路で生成された再生信号を通過させる低域フィルタとを備えることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
駆動手段により回転駆動される光ディスクと、
送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、
前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、
前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、
前記光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置を備え、
前記信号処理装置は、
前記記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換し、該欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された信号を前記記録面で反射された記録光の反射波形及び前記欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換する再生信号変換手段と、
前記再生信号変換手段から出力される再生信号から前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記記録光は、ライトレベル、イレーズレベル及びクールレベルの３値レベルのマルチパルス方式で光ディスクに照射されることを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記光電変換手段の後段に、前記光ディスクの記録時に前記光電変換手段からの出力信号が前記再生信号変換手段に出力されるように選択され、かつ前記光ディスクに記録された記録データの再生時に前記光電変換手段からの出力信号が再生処理系に出力されるように選択される選択手段が設けられていることを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記再生信号変換手段は、前記光電変換手段から出力された信号の周波数振幅をイコライズして広帯域化するイコライザ回路と、前記イコライザ回路でイコライズされた信号を、前記光ディスクに記録された記録データと同一のパルス幅となるように遅延しピーク検波して再生信号を生成する再生波形生成回路と、前記再生波形生成回路で生成された再生信号を通過させる低域フィルタとを備えることを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録・再生が可能な光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスクなどの記録媒体にレーザ光を照射してデータの記録または再生を行う高密度の光ディスク記録／再生装置が出現してきていいる。例えばＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの光ディスクや４５０ｎｍ付近の短波長光源を用いた高密度ディスクであるＤＶＲ−ＢＵＬＥ等のブルーレイディスクに対応する記録装置では、光ディスク上のトラックに対して記録データで変調されたレーザ光を照射し、これにより、例えば相変化記録方式で光データを光ディスク上に記録するようにしている。
【０００３】
ここで、上記のような光ディスクにデータの記録を行う際にして、その光ディスクの表面に欠陥がある場合、６８０ｎｍの光ディスク（ＤＶＤ−Ｒなど）においては、ディスクのカバー層が厚いこと、レーザ光のビーム径が大きいこと、記録波長が長いこと等で、光ディスクの表面に付いた指紋や傷、ゴミなど関しては余裕がないものの、大きな弊害にはならなかった。
【０００４】
ところで、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＲ−ＢＵＬＥなどの光ディスク自体は裸の状態で取り扱われるため、光ディスクの表面には指紋や傷または埃等が付き易く、これらが欠陥（ディフェクト）となって光ディスクへのデータの記録障害や読み取り障害の要因となる。例えば、光ディスクの記録面に到達するレーザ光の光量を低下させて正しい記録をできなくし、また、光ディスクからの反射光の光量を変化させて正確なデータの読み出しをできなくする。
【０００５】
一方、４００ｎｍのブルーレイディスクでは、６８０ｎｍの光ディスクに比べて記録密度が約５倍、ディスクのカバー層の厚さが１／７となっているため、ディスク表面に付けられた欠陥の影響を受け易い。そこで、ＥＣＣ（Error Check and Correct）部での欠陥判定処理を強くするため、１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）を６４ＫByteと大きくしてあるが、予想外の大きな指紋や大きな擦り傷がディスク表面に付いていると、これらの欠陥は１ＲＵＢの１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。この場合、ＲＵＢのアドレス領域にも指紋や擦り傷があってアドレスデータもエラーになれば、記録も停止されるので、記録ミスとはならない。しかしながら、ＲＵＢのアドレスは１ＲＵＢに３箇所挿入されており、かつその周波数も２００ＫＨｚと低周波であるため、これらの外乱は受けにくい。しかし、記録時にアドレスが読めれば、光ディクスの表面に指紋や擦り傷があっても記録されてしまう。すなわち、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものか否かにかかわらず順次記録されてしまうという問題がある。
【０００６】
そこで、従来においては、記録媒体の反射光に対応したプルイン信号から反射光識別部を用いて、ディスク記録面のディフェクトに対応して比較的レベル変化の速い信号に対応したディフェクト検出信号と、ディスク表面のゴミに対応して比較的レベル変化の遅い信号に対応したゴミ検出信号とを生成し、このディフェクト検出信号およびゴミ検出信号を用いて欠陥部の記録をレーザ光のパワーで補償するもの（例えば特許文献１参照）、または、記録媒体から記録されたデータを３分割された後行の第２光ビームで読み出し、この読み出されたデータのエラーを検出するとともに、反射光からデータが記録された部分の媒体の欠陥を検出し、このエラー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定基準以下である場合は記録を良とし、エラー検出及び欠陥検出の少なくとも一方の結果が判定基準を越えた場合は記録を不良と判定するもの（例えば特許文献２参照）がある。
【特許文献１】特開２０００−３１１３７５号公報
【特許文献２】特開平５−２７４８１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このような従来の方式では、ディスク記録面のディフェクトやディスク表面に付けられたゴミを識別し検出することができる。
しかるに、ブルーレイディスクの表面に生じる欠陥には、大きな傷や黒マジックによる大きな汚れ等のブラックベルト状の欠陥、ディスクのカバー層を通して記録面が露出された状態になるスポット状の欠陥、ディスク表面に小さな傷や指紋で付くスクラッチ状の欠陥及び塵や傷で付く単発の欠陥などがあり、これら欠陥のディスク反射率を表すと図７に示すようになる。
この図７において、反射率２０％はブルーレイディスクの記録面の反射率を表し、反射率１０％はブルーレイディスクの記録面が光ビームによってアモルファス化された時の反射率である。そして、ブラックベルト状欠陥７１の反射率は最大ゼロまで低下し、スポット状欠陥７２の反射率は最大１００％近くに達する。また、スクラッチ状欠陥７３及び単発の欠陥７４の反射率は図７に示すようになる。
【０００８】
しかし、上記のような従来の方式では、図７に示すように反射率の異なる各種の欠陥がディスク表面に存在した場合、これら欠陥を確実に検出し、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものであるか否かを判定することができないという問題があった。
【０００９】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたもので、光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生処理系を利用可能にするとともに、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを事前に把握できるようにし、併せて、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できる信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は上記目的を達成するため、光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置であって、前記記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換し、該欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された信号を前記記録面で反射された記録光の反射波形及び前記欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換する再生信号変換手段と、前記再生信号変換手段から出力される再生信号から前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、駆動手段により回転駆動される光ディスクと、送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、前記光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置を備え、前記信号処理装置は、前記記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換し、該欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された信号を前記記録面で反射された記録光の反射波形及び前記欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換する再生信号変換手段と、前記再生信号変換手段から出力される再生信号から前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の信号処理装置及び光ディスク装置では、光電変換手段が光ディスクの記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換し、この欠陥信号を電気信号に重畳して出力する。また、再生信号変換手段は光電変換手段から出力された信号を記録面で反射された記録光の反射波形及び欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換する。欠陥検出手段は再生信号変換手段から出力される再生信号から前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する。また、欠陥判定手段は欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
よって、本発明によれば、光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に、この録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生処理系を利用できるとともに、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握でき、かつ光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の最良の形態では、光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生処理系を利用可能にするとともに、光ディスクの表面に付けられた欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握し、かつ光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定する目的を達成するために、光電変換手段により、光ディスク表面の記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換し、この欠陥信号を電気信号に重畳して出力し、再生信号変換手段により、光電変換手段から出力された信号を記録面で反射された記録光の反射波形及び欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換し、欠陥検出手段により、再生信号変換手段から出力される再生信号から光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーを検出する。そして、欠陥判定手段により、欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から数から光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
【実施例１】
【００１４】
次に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図１は本発明にかかる信号処理装置を備えた光ディスク装置の全体の構成を示すブロック図である。
【００１５】
図１に示す光ディスク装置１０１の構成について説明する。
この光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷやＣＤ−Ｒ／ＲＷ、またはブルーレイディスクのような光記録媒体である光ディスク１０２を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ１０３と、光ピックアップ１０４と、この光ピックアップ１０４を光ディスク１０２の半径方向に移動する駆動手段としての送りモータ１０５とを備えている。  ここで、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０５は、システムコントローラ１０７からの指令に基づいて制御されるサーボ制御部１０９により駆動制御される構成になっている。
【００１６】
図１に示す信号変復調器＆ＥＣＣ（Error Check and Correct）部１０８は、信号の変調、復調及びＥＣＣ（エラー訂正符号）の付加、ＥＣＣに基づくエラー訂正処理を行う。
光ピックアップ１０４は、システムコントローラ１０７からの指令に従い、回転する光ディスク１０２の記録面に対して、レーザ光源１０４Ｂからの光束を図示省略の光学系を通して記録／再生用の１つのメインスポットとトラッキング用の２つのサイドスポットに分離して照射されるように構成されている。また、光ピックアップ１０４は光電変換手段（フォトダイオード）１０４Ａを有し、光ディスク１０２の記録面から反射されたメインスポットおよびサイドスポットに対応する反射光束に応じて光電変換手段１０４Ａから出力される各種の信号をアンプ１２０に対して供給するように構成されている。
【００１７】
上記アンプ１２０は、光ピックアップ１０４の光電変換手段１０４Ａから出力される各種の信号を基にフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号などの信号を生成し増幅するものであり、このアンプ１２０には、例えば１００ＭＫｚのＲＦ（高周波信号）再生用のフォトダイオード用増幅器が用いられ、そして、このアンプ１２０のゲインは記録時と再生時のそれぞれに応じて自動的に設定される構成になっている。また、光電変換手段１０４Ａは信号処理装置２００の一構成要素をなすもので、光ディスク１０２への光情報の記録時に、その記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換し、この欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力するようになっている。
【００１８】
また、アンプ１２０から出力される信号は記録媒体である光ディスク１０２の種類に応じてサーボ制御部１０９に入力されるように構成されているとともに選択回路１２２を介して信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８に出力され、この信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８において、アンプ１２０から出力されるＲＦ信号の復調及び誤り訂正処理等の所定の処理が行われる。
上記選択回路１２２は、光ディスク１０２の記録時に信号処理装置２００から出力される信号を信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８に出力されるように選択し、かつ光ディスク１０２に記録された記録データの再生時に光電変換手段１０４Ａからアンプ１２０を通して出力される信号を信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８に出力されるように選択するものである。
ここで、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号が、例えばコンピュータのデータストレージ用であれば、インタフェース１１１を介して外部コンピュータ１３０等に送出される。これにより、外部コンピュータ１３０等は光ディスク１０２に記録された信号を再生信号として受け取ることができるようになる。また、上記の場合と逆に外部コンピュータ１３０からの記録データを信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源１０４Ｂを駆動することにより、外部コンピュータ１３０からのデータを光ディスク１０２に書き込み得るように構成されている。
【００１９】
また、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号がオーディオ・ビジュアル用であれば、Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＤ／Ａ変換部でアナログ信号に変換されてオーディオ・ビジュアル処理部１１３に供給される。そして、このオーディオ・ビジュアル処理部１１３でオーディオ・ビデオ信号処理が行われ、オーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を介して外部の撮像・映写機器に伝送される。また、上記の場合と逆に外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を通してオーディオ・ビジュアル処理部１１３に取り込まれた情報をＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＡ／Ｄ変換部でデジタル信号に変換し、さらに信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源１０４Ｂを駆動することにより、外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル情報を光ディスク１０２に書き込み得るようになっている。
【００２０】
上記光ピックアップ１０４には、例えば光ディスク１０２上の所定の記録トラックまで移動させるための送りモータ１０５が接続されている。スピンドルモータ１０３の制御、送りモータ１０５の制御、光ピックアップ１０４の対物レンズを保持する二軸アクチュエータ（図示せず）のフォーカシング方向及びトラッキング方向の制御は、それぞれサーボ制御部１０９により行われる。
また、レーザ制御部１２１は、光ピックアップ１０４におけるレーザ光源１０４Ｂを制御するものであり、レーザ光源１０４Ｂの出力パワーを記録モード時と再生モード時に制御する構成になっている。
【００２１】
また、図１において、信号処理装置２００は光ディスク１０２の記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に光ディスク１０２の記録面で反射された記録光の反射光を用いて、光ディスク１０２の表面（カバー層の表面）に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを把握し処理するためのもので、光電変換手段１０４Ａを含むほか、再生信号変換手段２０１、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部（データエラーを検出するための欠陥検出手段を構成する）及び欠陥判定手段１０７Ｂを含んで構成されている。
【００２２】
上記再生信号変換手段２０１は、光電変換手段１０４Ａから出力された信号を光ディスク１０２の記録面で反射された記録光の反射波形及び欠陥信号が重畳された反射波形に応じた再生信号に変換するもので、光電変換手段１０４Ａから出力された信号の周波数振幅をイコライズして広帯域化するイコライザ回路２０１Ａと、このイコライザ回路２０１Ａでイコライズされた信号を、光ディスク１０２に記録された記録データと同一のパルス幅となるように遅延しピーク検波して再生信号を生成する再生波形生成回路２０１Ｂと、この再生波形生成回路２０１Ｂで生成された再生信号を通過させる低域フィルタ２０１Ｃとから構成されている。低域フィルタ２０１Ｃを通過した信号は再生信号として選択回路１２２と通し信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部に取り込まれるようになっている。
また、上記信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部（欠陥検出回路）は、再生信号変換手段２０１の低域フィルタ２０１Ｃを通過した再生信号から光ディスク１０２の表面の欠陥をデータエラーとして検出するものである。
また、上記欠陥判定手段１０７Ｂはシステムコントローラ１０７に設けられるもので、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部で検出されたデータエラーの数から光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するものである。
【００２３】
上記システムコントローラ１０７は交替ＲＵＢ制御手段１０７Ａを備え、この交替ＲＵＢ制御手段１０７Ａは、１ＲＵＢにＥＣＣを付けてデータを記録してもエラー訂正ができず、かつ正しく再生できない欠陥のある１ＲＵＢに記録されるべきデータを光ディスク１０２の記録面に設けられている周知の交替ＲＵＢ（図示せず）に記録させる欠陥処理を行うためのものであり、欠陥判定手段１０７Ｂによって光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定された時に交替ＲＵＢ制御部１０７Ａに対して欠陥処理の割り込み指令を出力するように構成されている。
【００２４】
次に、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かの処理動作について図２〜図５の動作波形図を参照して説明する。
まず、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の検出は、光ピックアップ１０４を利用して行われる。すなわち、記録データに応じて信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８で変調された信号をレーザ制御部１２１を通してレーザ光源１０４Ｂに供給することによりレーザ光源１０４Ｂを駆動し、このレーザ光源１０４Ｂから出射される記録光を図示省略の光学系を通して光ディスク１０２の記録面に照射する。この時、レーザ光源１０４Ｂから出射される記録光は、図２(Ｂ)に模式的に示すように、ライトレベルｒＬ（６ｍＷ）、イレーズレベルｅＬ（４．５ｍＷ）及びクールレベルｃＬ（０．４ｍＷ）の３値レベルのマルチパルス方式の波形となる。
【００２５】
一方、光ディスク１０２の記録面で反射された記録光の反射光は図示省略の光学系を通して光電変換手段１０４Ａに入射されと、光電変換手段１０４Ａからは図３の波形３１に示すような波形の信号が出力される。この出力信号がアンプ１２０で増幅されると、図３の波形３２に示すような波形の信号が出力され、この信号は再生信号変換手段２０１に出力される。
再生信号変換手段２０１において、アンプ１２０から出力された信号の周波数振幅をイコライザ回路２０１Ａでイコライズして広帯域化する。この時のイコライザ回路２０１Ａの出力波形は図４の波形４１に示すようになる。そして、イコライザ回路２０１Ａでイコライズされた出力信号は再生波形生成回路２０１Ｂにおいて、光ディスク１０２に記録された記録データと同一のパルス幅となるように遅延されピーク検波処理されると、デュテイが５０％の再生信号が生成される。この時の再生波形生成回路２０１Ｂの出力波形は図４の波形４２に示すようになる。また、再生波形生成回路２０１Ｂで生成された再生信号が低域フィルタ２０１Ｃを通過することによって、図４の波形４３に示すような波形の信号が出力される。
【００２６】
次に、図２を参照して再生信号変換手段２０１の動作を詳述する。
図２において、同図(Ａ)に示す記録データ２１は、１−７変調されたＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverted）信号である。この記録データ２１は、記録時の光ディスクの熱拡散を考慮して、図２(Ｂ)に示すように、先頭パルスをｔ１遅らせ、中間を複数のパルス列にし、後尾パルスのパルス幅、すなわちクール時間ｔ２を長くすることにより、記録された波形が記録データと同じになるようにしている。
この記録データ２１は、記録時の光ディスクの熱拡散を考慮して、図２(Ｂ)に示す記録時の再生波形２２は信号の大部分が記録光の波形であり、図３の波形３１とほぼ等価になる。また、図２(Ｂ)に示す記録光の波形を全波整流して、ｔ１だけ引き伸ばせば図２(Ａ)と等価になる。しかしながら、イコライザ回路２０１Ａの出力波形は図４の波形４１から明らかなように、そのピーク部分Ｐのレベルはイレーズ部分Ｅに比べ十分に大きくないので、図２(Ｃ)に示すように記録データ２１を反転した波形２３を生成し（イコライザ回路２０１Ａでイコライズした波形）、さらに、記録データ２１とパルス幅が同じとなるように反転した波形２３を遅延して図２(Ｄ)に示す波形の信号２４を生成する、さらに、この信号２４をピーク検波して、その最大レベルを取り出すことにより、記録データ２１と等価な図２(Ｅ)に示す波形の信号２５を得ることができる。
【００２７】
上述する信号処理装置２００により、光ディスク１０２の記録面に記録光を照射して光情報、すなわちランダム信号を記録する時に光ディスク１０２の記録面で反射された記録光の反射光を処理した場合、再生信号変換手段２０１の低域フィルタ２０１Ｃから出力信号波形は図５に示すようにアイパターンとなり、パルス列の記録光が記録データに再変換された状態となる。したがって、光ディスク１０２の表面に指紋や傷、ゴミなどの欠陥があれば、図５の符号５１に示すように、アイパターンに欠陥に対応してアイの閉じた状態が発生する。この時の低域フィルタ２０１Ｃの周波数特性を図６に示す。
他方、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部では、再生信号変換手段２０１の低域フィルタ２０１Ｃを通過した再生信号から光ディスク１０２の表面の欠陥を検出する。そして、このエラー信号をシステムコントローラ１０７の欠陥判定手段１０７Ｂに取り込むことにより、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８のＥＣＣ部で検出されたデータエラーの数から光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。ここで、１ＲＵＢ内で占める欠陥の割合が５％以上の時は光ディスク１０２表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定し、欠陥であると判定された１ＲＵＢに記録されるべき記録データを光ディスク１０２の交替ＲＵＢに記録させるための割り込み指令を交替ＲＵＢ制御部１０７Ａへ出力する。また、データエラーの数が１ＲＵＢ内で占める割合が５％以下の場合には、光ディスク１０２の表面に光情報の記録ミスを生じさせる欠陥がないと判定する。
【００２８】
このような本実施の形態によれば、光ディスク１０２の記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に録面で反射された記録光の反射光を信号処理装置２００により再生時と等価な再生信号に変換し、この再生信号を用いることでエラー検出に既存の再生系を利用してエラー検出が可能になるとともに、光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握でき、かつ、光ディスク１０２の記録面への光情報の記録時に光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定することができ、光ディスクの信頼性を向上できる。そして、１ＲＵＢ単位の記録ミスが検出された時は、交替ＲＵＢへシフトさせるという欠陥処理ができるため、記録データをエラーのない交替ＲＵＢに書き直すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明にかかる信号処理装置を備えた光でスク装置の全体の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図３】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図４】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図５】本発明にかかる信号処理装置にランダム信号を記録処理した時の出力信号波形図である。
【図６】本実施例１における低域フィルタの周波数特性図である。
【図７】光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥とこれら欠陥のディスク反射率との関係を表した説明図である。
【符号の説明】
【００３０】
１０１……光ディスク装置、１０２……光ディスク、１０３……スピンドルモータ、１０４……光ピックアップ、１０４Ａ……光電変換手段、１０４Ｂ……レーザ光源、１０５……送りモータ、１０７……システムコントローラ、１０７Ａ……交替ＲＵＢ制御部、１０７Ｂ……欠陥判定手段、１０８……信号変復調器＆ＥＣＣ部、１０９……サーボ制御部、１１２……Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器、１２０……アンプ、１２２……選択回路、２００……信号処理装置、２０１……再生信号変換手段、２０１Ａ……イコライザ回路、２０１Ｂ……再生波形生成回路、２０１Ｃ……低域フィルタ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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