(57)【要約】【課題】  可変容量圧縮機のためのデューティ比制御の容量制御弁において、弁体がその全閉近傍で弁座から跳ね上がる共振現象を抑制する。【解決手段】  吐出圧力Ｐｄの冷媒が導入されるポート５とクランク室へ制御された圧力Ｐｃの冷媒を導出するポート６との間の通路を開閉制御する弁部１の弁体８に、共振抑制部材１１のリーフスプリングによって横荷重を与え、パルス電流を受けるソレノイドで駆動される弁体８が弁座７の近傍で弁座７に衝突することによる弁体８の跳ね上がりを弁体８とリーフスプリングとの摺動抵抗で抑えるようにした。弁体８の共振現象が抑えられたことにより、特性的に吸入圧力Ｐｓの上昇が抑えられ、かつ、耐久性を向上させることができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ソレノイドに供給するパルス電流のデューティ比を制御することで弁開度の設定を行う可変容量圧縮機の容量制御弁において、
前記パルス電流の周波数により弁部の開閉方向に振動する弁体に対して摺動抵抗を与える共振抑制部材を備えていることを特徴とする可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項２】
前記共振抑制部材は、前記弁体の振動する方向に対して略直交する方向の付勢力を前記弁体に対して与え、前記弁体との間で摺動抵抗を発生させるリーフスプリングであることを特徴とする請求項１記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項３】
前記共振抑制部材は、前記弁体を閉弁方向に付勢しているスプリングと前記スプリングの荷重を調節するアジャストねじとの間に挟持された基部と、一端が前記基部の外周縁部に接続された少なくとも１つの前記リーフスプリングとを有していることを特徴とする請求項２記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項４】
前記共振抑制部材の前記基部および前記リーフスプリングは、ばね材によって一体に形成されていることを特徴とする請求項３記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項５】
前記共振抑制部材は、一端が前記弁体を収容しているボディの内壁に掛止される少なくとも３つの掛止部と、前記掛止部の他端を互いに連結した基部と、一端が前記基部の外周縁部に接続された少なくとも１つの前記リーフスプリングとを有し、
前記弁体を閉弁方向に付勢しているスプリングが前記基部と前記弁体との間に配置されていることを特徴とする請求項２記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項６】
前記共振抑制部材の前記掛止部、前記基部および前記リーフスプリングは、ばね材によって一体に形成されていることを特徴とする請求項５記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【請求項７】
前記共振抑制部材は、一端が前記弁体を閉弁方向に付勢しているスプリングと前記弁体との間に保持され、他端が前記弁体を収容しているボディの内壁に対して半径方向外向きの付勢力を与えることにより前記ボディとの間で摺動抵抗を発生させて前記弁体に対し間接的に摺動抵抗を与えるようにするリーフスプリングであることを特徴とする請求項１記載の可変容量圧縮機の容量制御弁。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動車用空調装置の冷凍サイクルに使用される可変容量圧縮機の容量制御弁に関し、特に、弁開度の設定を行うソレノイドをデューティ比制御する可変容量圧縮機の容量制御弁に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動車用空調装置では、その動力源であるエンジンの回転数が一定でないことから、エンジンの回転数に関係なく冷凍能力が一定に維持されるような制御を行う必要がある。この要求に対して、一般には、冷媒の吐出容量を可変にする斜板式の可変容量圧縮機が用いられている。この可変容量圧縮機は、クランク室内に傾斜角度可変に設けられた斜板が回転軸の回転によって揺動運動をし、その揺動運動によって複数のピストンが回転軸と平行な方向に往復運動することにより、冷媒の吸入、圧縮、吐出を行う。このとき、クランク室内の圧力Ｐｃを容量制御弁で変化させることにより、斜板の傾斜角度を変え、これによってピストンのストロークが変化して冷媒の吐出容量を可変するようにしている。
【０００３】
このような容量制御弁は、一般に、吐出室とクランク室とを連通させる冷媒通路に配置されて、吐出室からクランク室へ導入する吐出圧力Ｐｄの冷媒の流量を制御することによってクランク室内の圧力Ｐｃを制御している。
【０００４】
容量制御弁は、ソレノイドの電磁コイルに設定容量に対応した値の電流を供給することによって容量制御を行っているが、弁特性のヒステリシスを改善するために、４００Ｈｚ程度のパルス電流を供給し、そのデューティ比を変えることによって容量制御を行う場合もある。このデューティ比制御の容量制御弁は、デューティ比に応じたソレノイドへの平均電流値によってセット荷重が設定され、可変容量圧縮機から吐出される冷媒の容量を制御することができる（たとえば特許文献１参照。）。
【０００５】
図１３は従来の容量制御弁の弁部の一構造例を示す部分断面図である。
従来の容量制御弁の代表的な弁部は、ボール弁構造を有している。この構造例によれば、容量制御弁のボディ１００の先端には、可変容量圧縮機の吐出室に連通されて吐出圧力Ｐｄを受けるポート１０１が設けられ、ボディ１００の側面には、可変容量圧縮機のクランク室に連通されて制御された圧力Ｐｃをクランク室に供給するポート１０２が設けられている。ポート１０１とポート１０２との間には、弁座１０３がボディ１００と一体に形成されており、その弁座１０３に対向して吐出圧力Ｐｄを受けるポート１０１の側にボール形状のたとえばステンレス製の弁体１０４が配置されている。この弁体１０４は、スプリング１０５の一端が当接されており、そのスプリング１０５によって弁座１０３に着座される方向に付勢されている。そのスプリング１０５の他端は、ポート１０１内に螺着されたアジャストねじ１０６によって受けられており、そのアジャストねじ１０６の螺入量によってスプリング１０５の荷重が調節されている。
【０００６】
弁体１０４は、また、弁孔内に延びるシャフト１０７の先端が当接されている。このシャフト１０７は、ソレノイドからのソレノイド力によって弁体１０４を弁座１０３から離れる方向に付勢するもので、その弁体１０４のリフト量は、ソレノイドに供給するパルス電流の平均値によって決定される。
【０００７】
このようなデューティ比制御の容量制御弁において、可変容量圧縮機を最少容量で運転したいときには、デューティ比を最小にしてリフト量を最大にし、吐出室からクランク室へ流れる冷媒の流量を最大に制御する。可変容量圧縮機を最大容量で運転したいときには、デューティ比を最大にしてリフト量を最小、つまり閉弁にし、吐出室からクランク室へ流れる冷媒の流量をゼロに制御する。
【０００８】
ソレノイドによって弁体１０４があるリフト量に制御されているときには、たとえばソレノイドとシャフトとの間に配置された感圧部材が可変容量圧縮機の吸入圧力Ｐｓを感知して、この吸入圧力Ｐｓが低くなるよう変化したときには、弁体１０４をリフト量が大きくなる方向にシャフト１０７を駆動し、これにより、吐出容量を下げて、所定の吸入圧力に戻すようにする。逆に、吸入圧力が高くなったときは、弁体１０４をリフト量が小さくなる方向にシャフト１０７を駆動し、これにより、吐出容量を上げて、所定の吸入圧力に戻すようにする。
【特許文献１】特開２００１−３４２９４６号公報（段落番号〔００１９〕）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、デューティ比制御の容量制御弁では、弁体にシャフトが当接された構造になっているため、ソレノイドに印加されるパルス電流によってシャフトはその長手方向に微少振動していることで、弁体も微少振動し、これによって弁体が弁座近傍に制御されているときに、弁体が弁座に衝突することで弁座から跳ね上がり、あたかも弁が開いてしまうという共振現象が起きやすい問題点があった。また、閉弁位置近傍では弁体が弁座に繰り返し衝突していることで耐久性を低下させる原因にもなっている。
【００１０】
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、弁体がその全閉近傍で弁座から跳ね上がる共振現象を抑制した可変容量圧縮機のためのデューティ比制御の容量制御弁を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明では上記問題を解決するために、ソレノイドに供給するパルス電流のデューティ比を制御することで弁開度の設定を行う可変容量圧縮機の容量制御弁において、前記パルス電流の周波数により弁部の開閉方向に振動する弁体に対して摺動抵抗を与える共振抑制部材を備えていることを特徴とする可変容量圧縮機の容量制御弁が提供される。
【００１２】
このような可変容量圧縮機の容量制御弁によれば、共振抑制部材がパルス電流によって周波数駆動されることにより全閉近傍で弁座に衝突してその弁座から跳ね上がろうとする弁体に対して摺動抵抗を与える構成にしたことで、弁体が跳ね上がりにくくしている。これにより、弁体の共振現象が抑制されるので、閉弁位置近傍で開弁してしまうことによる吸入圧力の上昇の少ない容量制御弁とすることができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の可変容量圧縮機の容量制御弁は、弁体に摺動抵抗を持たせて弁体をある程度拘束できる状態にしたので、弁体の特性が安定し、かつ弁部の耐久性を向上させることができるという利点がある。また、共振抑制部材として構造の簡単なリーフスプリングを用いることにより、加工性、組立て性がよく、安定した摺動抵抗を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図１は第１の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図、図２は第１の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図、図３は共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のａ−ａ断面図である。
【００１５】
この容量制御弁は、弁部１と、ソレノイド２と、これらの間に配置された感圧部材のダイヤフラム３とを備え、図示しない可変容量圧縮機に組み込まれたときに、弁部１が吐出室およびクランク室にそれぞれ連通する連通路に接続され、ダイヤフラム３の受圧する空間が吸入室に連通する連通路に接続される。
【００１６】
弁部１は、そのボディ４の長手方向一端部に、可変容量圧縮機の吐出室に連通されて吐出圧力Ｐｄを受けるポート５が設けられ、ボディ４の側面には可変容量圧縮機のクランク室に連通されて制御された圧力Ｐｃをクランク室に供給するポート６が設けられている。ポート５とポート６との間には、弁座７がボディ４と一体に形成されており、その弁座７に対向して吐出圧力Ｐｄを受けるポート５の側にボール形状の弁体８が配置されている。この弁体８は、スプリング９の一端が当接され、そのスプリング９によって弁座７に着座される方向に付勢されている。スプリング９の他端は、ポート５内に螺着されたアジャストねじ１０によって受けられており、そのアジャストねじ１０の螺入量によってスプリング９の荷重が調節されている。弁体８は、また、共振抑制部材１１によって保持されている。この共振抑制部材１１は、リーフスプリングを構成しており、その一端がアジャストねじ１０とスプリング９とによって挟持され、他端が弁体８に対して横荷重を与えるように当接している。さらに、弁体８は、弁孔を介して図の上方へ延びていてボディ４に軸線方向に摺動自在に保持されているシャフト１２の端面に当接されている。なお、この弁部１において、ポート５が開口しているボディ４の先端にはストレーナ１３が取り付けられている。
【００１７】
ボディ４の図の下方には、可変容量圧縮機の吸入室に連通されて吸入圧力Ｐｓを受けるポート１４が形成され、その吸入圧力Ｐｓは、ボディ４とソレノイド２とによって外周縁部が挟持されたダイヤフラム３によって感知されるようにしている。吸入圧力Ｐｓが導入される空間には、ダイヤフラム３の中央部に当接するようディスク１５が配置されており、そのディスク１５には、シャフト１２の下端部が当接されている。
【００１８】
ソレノイド２は、コイル１６が周設されたスリーブ１７を有し、その下端部よりコア１８が圧入されている。そのコア１８とダイヤフラム３との間には、プランジャ１９がスリーブ１７内に摺動自在に配置されている。このプランジャ１９には、コア１８を貫通して配置されたシャフト２０の一端が圧入されている。シャフト２０の他端は、軸受部２１によって支持されている。シャフト２０は、また、ばね受け部２２が設けられていて、そのばね受け部２２と軸受部２１との間に配置されたスプリング２３によってプランジャ１９をダイヤフラム３に当接するよう付勢している。
【００１９】
ここで、弁体８を保持している共振抑制部材１１について説明する。共振抑制部材１１は、図３に示したように、中心に冷媒を通過させることができるように穴が開けられたリング状の基部１１ａと、その外周縁部から直角方向に伸びてリーフスプリングとして機能する対向配置の２本の脚部１１ｂとを有し、これらは、ばね材により一体となって形成されている。脚部１１ｂは、その自由端側の一部が内側にクランク形状に折り曲げられていて、ボール形状の弁体８との摺接部１１ｃを構成している。これら摺接部１１ｃの間に弁体８が配置されることにより、弁体８は、共振抑制部材１１によって横荷重が与えられ、シャフト１２によりその軸線方向に周波数駆動されるときに、弁体８と摺接部１１ｃとの間に摺動抵抗を発生させるようにしている。弁体８と摺接する部分にリーフスプリングを用いたことにより、弁体８に対して安定した摺動抵抗を与えることができる。
【００２０】
図４は別の共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｂ−ｂ断面図である。
この共振抑制部材１１０は、図３に示した共振抑制部材１１が２本の脚部１１ｂを有しているのに対し、基部１１０ａの周方向に均等配置された脚部１１０ｂを３本有している。これにより、ボール形状の弁体８は、リーフスプリングとして機能する脚部１１０ｂの摺接部１１０ｃによって三方向から保持され、シャフト１２によりその軸線方向に周波数駆動されるときに、弁体８と摺接部１１０ｃとの間に摺動抵抗を発生させるようにしている。
【００２１】
なお、上記の実施の形態の容量制御弁に用いた共振抑制部材１１，１１０は、弁体８に横荷重を与えるリーフスプリング（脚部１１ｂ，１１０ｂ）が２または３本の場合について説明したが、１本の場合でも同じ効果を得ることができる。
【００２２】
次に、この容量制御弁の動作についてその特性を示す図５を参照しながら説明する。
図５は容量制御弁の特性を示す図であって、（Ａ）は従来の容量制御弁の特性を示し、（Ｂ）は本発明の容量制御弁の特性を示している。
【００２３】
以上のように構成された制御弁において、自動車用空調装置が起動時のように吸入圧力Ｐｓが高くて、コイル１６に最大電流が供給された場合は、プランジャ１９がコア１８に吸引され、それに伴ってダイヤフラム３がソレノイド２の側に変位するので、弁体８はスプリング９によって弁座７に着座されて閉弁状態になり、可変容量圧縮機は最大容量運転となる。一方、コイル１６が非通電状態では、プランジャ１９にはスプリング２３の付勢力が作用して、ダイヤフラム３およびディスク１５を介してシャフト１２が押圧されるので、弁体８を所定の距離だけ開弁方向にリフトし、開弁状態になり、可変容量圧縮機は最小容量運転となる。そして、コイル１６に制御された電流が供給されると、弁体８のリフト量は、その制御された電流に応じた値に設定され、可変容量圧縮機は容量制御運転となる。
【００２４】
このソレノイド２では、コイル１６に印加するパルス電流をデューティ比制御することによって、容量制御弁の作動値を外部から自由に変えることができる。すなわち、デューティ比を大きくして平均電流値を増やすと、プランジャ１９をコア１８に吸引する力が強くなって、リフト量が小さく設定され、デューティ比を小さくして平均電流値を減らすと、リフト量は大きく設定される。
【００２５】
この容量制御弁は、コイル１６に印加する電流を増やしていくと、それに反比例して弁開度が小さくなっていくので、図５に示したように、吸入圧力Ｐｓが小さくなるという特性を有している。弁体８のリフト量が小さくなっていって弁体８が弁座７の近傍に近づくと、弁体８が弁座７に衝突するようになる。
【００２６】
弁体８が弁座７に衝突すると、従来の容量制御弁では、弁体８は弁座７から跳ね上がってしまうので、図５の（Ａ）に示したように、あたかも弁が開いてしまうという共振現象が生じ、吸入圧力Ｐｓが一時的に上昇してしまう。そして、シャフト１２が弁体８から離れて弁体８が弁座７に完全に着座したときには、上昇していた吸入圧力Ｐｓが下がって、本来の特性線図上に戻る。
【００２７】
これに対し、本発明の容量制御弁では、弁体８が弁座７に衝突したときの跳ね返りは、共振抑制部材１１，１１０との摺動抵抗によって抑えられているので、図５の（Ｂ）に示したように、吸入圧力Ｐｓの一時的な上昇が小さく抑えられ、本来の特性線図に近い特性を得ることができるようになる。
【００２８】
ここで、コイル１６に制御された電流が供給され、可変容量圧縮機が所定の容量の運転に制御されているときに、たとえば、吸入圧力Ｐｓが低くなると、ダイヤフラム３が図の上方へ変位して弁体８を開弁方向に駆動し、リフト量が大きくなる。これにより、クランク室に供給される冷媒流量が増えて中の圧力Ｐｃが高くなり、吐出容量を減らして、吸入圧力Ｐｓを高くしようとする。反対に、吸入圧力Ｐｓが高くなると、ダイヤフラム３が図の下方へ変位して弁体８を閉弁方向に移動し、リフト量が小さくなる。これにより、クランク室に供給される冷媒流量が減少して中の圧力Ｐｃが低くなり、吐出容量を増やして、吸入圧力Ｐｓを低くしようとする。これにより、この容量制御弁は、吸入圧力Ｐｓを感知して可変容量圧縮機の吸入圧力Ｐｓが一定になるようにクランク室内の圧力Ｐｃを制御する。
【００２９】
図６は第２の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図、図７は第２の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図、図８は共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材の側面図、（Ｃ）は共振抑制部材のｃ−ｃ断面図である。図６および図７において、図１および図２に示した構成要素と同じ構成要素については、同じ符号を付してその詳細な説明は省略する。
【００３０】
この第２の実施の形態に係る容量制御弁においては、弁体８が弁座７の近傍にあるときに周波数駆動される弁体８の跳ね上がりを抑制するための摺動抵抗を、共振抑制部材２４とボディ４との間に発生させるようにしている。
【００３１】
この共振抑制部材２４は、図８に示したように、中心にボール形状の弁体８を安定状態で当接させることができるように凹部が形成された基部２４ａと、その外周縁部から直角方向に伸びてリーフスプリングとして機能する３本の脚部２４ｂとを有し、これらは、ばね材により一体となって形成されている。脚部２４ｂの外周面は、これを収容しているボディ４内のシリンダの内壁とほぼ同じ曲率に形成され、かつ、そのシリンダ内に共振抑制部材２４を収容したときには、シリンダの内壁に対して半径方向外向きの横荷重を与えるようにしている。
【００３２】
このような構成により、この容量制御弁のコイル１６に印加する電流を増やしていって、弁体８が弁座７の近傍に近づくと、シャフト１２によって微振動させられている弁体８は弁座７に衝突するようになる。弁体８が弁座７に衝突すると、弁体８は弁座７から跳ね上がって弁を開けようとするが、弁体８に当接している共振抑制部材２４は弁体８が弁座７から跳ね上がる方向に移動しようとするときにボディ４との間に働く摺動抵抗によって弁体８の移動を抑制する。これにより、弁体８が弁座７の近傍にあるときに、あたかも弁が開いてしまうという共振現象が抑えられるので、吸入圧力Ｐｓの一時的な上昇が小さく抑えられ、本来の特性線図に近い特性を得ることができる。
【００３３】
図９は第３の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図、図１０は第３の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図、図１１は共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｄ−ｄ断面図である。図９および図１０において、図１および図２に示した構成要素と同じ構成要素については、同じ符号を付してその詳細な説明は省略する。
【００３４】
この第３の実施の形態に係る容量制御弁においては、第１および第２の実施の形態に係る容量制御弁の共振抑制部材１１にアジャストねじ１０の機能を一体にして共振抑制部材２５を構成したものである。
【００３５】
この共振抑制部材２５は、図１１に示したように、中心に冷媒を通過させることができるように穴が開けられたリング状の基部２５ａを有し、その外周縁部から半径方向外向きに伸びてリーフスプリングとして機能する掛止部２５ｂが周方向に４つ均等配置されている。この掛止部２５ｂは、その自由端側が多少屈曲されて形成されている。また、共振抑制部材２５は、その基部２５ａの外周縁部から直角方向に伸びてリーフスプリングとして機能する対向配置の２本の脚部２５ｃを有し、その自由端側の一部が内側にクランク形状に折り曲げられていて、ボール形状の弁体８との摺接部２５ｄを構成している。これら基部２５ａ、掛止部２５ｂ、脚部２５ｃおよび摺接部２５ｄは、ばね材によって一体に形成されている。
【００３６】
この共振抑制部材２５の装着は、図１０に示したように、弁体８を摺接部２５ｄによって保持させ、その弁体８と基部２５ａとの間にスプリング９を入れた状態でボディ４の先端に開口しているシリンダに挿入することで行う。このとき、共振抑制部材２５の掛止部２５ｂは、挿入方向と反対側の方向に反っているので、掛止部２５ｂを撓ませながら共振抑制部材２５を挿入することができる。所定位置まで共振抑制部材２５を挿入すると、掛止部２５ｂはその位置で半径方向外向きに働くばね力によりシリンダの内壁に食い込むように作用して、もはやその位置から抜け出ることはなくなる。また、この共振抑制部材２５の挿入時に、弁体８は弁座７に当接することになるので、共振抑制部材２５の挿入量を調節することによって、スプリング９の荷重を調整することができる。
【００３７】
このような構成により、この容量制御弁のコイル１６に印加する電流を増やしていって、弁体８が弁座７の近傍に近づくと、シャフト１２によって微振動させられている弁体８は弁座７に衝突するようになる。弁体８が弁座７に衝突すると、弁体８は弁座７から跳ね上がって開弁しようとするが、弁体８とこれを挟持している共振抑制部材２４の摺接部２５ｄとの間に働く摺動抵抗によって弁体８が弁座７から跳ね上がる方向への弁体８の移動が抑制される。これにより、弁体８が弁座７の近傍にあるときに、あたかも弁が開いてしまうという共振現象が抑えられるので、吸入圧力Ｐｓの一時的な上昇が小さく抑えられ、本来の特性線図に近い特性を得ることができる。
【００３８】
図１２は別の共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｅ−ｅ断面図である。
この共振抑制部材２５０は、図１１に示した共振抑制部材２５が２本の脚部２５ｃを有しているのに対し、基部２５０ａの周方向に均等配置された３つの掛止部２５０ｂの間に脚部２５０ｃを配置している。これにより、ボール形状の弁体８は、リーフスプリングとして機能する脚部２５０ｃの摺接部２５０ｄによって三方向から保持され、シャフト１２によりその軸線方向に周波数駆動されるときに、弁体８と摺接部２５０ｄとの間に摺動抵抗を発生させるようにしている。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】第１の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図である。
【図２】第１の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図である。
【図３】共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のａ−ａ断面図である。
【図４】別の共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｂ−ｂ断面図である。
【図５】容量制御弁の特性を示す図であって、（Ａ）は従来の容量制御弁の特性を示し、（Ｂ）は本発明の容量制御弁の特性を示している。
【図６】第２の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図である。
【図７】第２の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図である。
【図８】共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材の側面図、（Ｃ）は共振抑制部材のｃ−ｃ断面図である。
【図９】第３の実施の形態に係る容量制御弁の全体を示す中央縦断面図である。
【図１０】第３の実施の形態に係る容量制御弁の弁部を示す部分拡大断面図である。
【図１１】共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｄ−ｄ断面図である。
【図１２】別の共振抑制部材を示す詳細図であって、（Ａ）は共振抑制部材の平面図、（Ｂ）は共振抑制部材のｅ−ｅ断面図である。
【図１３】従来の容量制御弁の弁部の一構造例を示す部分断面図である。
【符号の説明】
【００４０】
１  弁部
２  ソレノイド
３  ダイヤフラム
４  ボディ
５，６  ポート
７  弁座
８  弁体
９  スプリング
１０  アジャストねじ
１１，１１０  共振抑制部材
１１ａ，１１０ａ  基部
１１ｂ，１１０ｂ  脚部
１１ｃ，１１０ｃ  摺接部
１２  シャフト
１３  ストレーナ
１４  ポート
１５  ディスク
１６  コイル
１７  スリーブ
１８  コア
１９  プランジャ
２０  シャフト
２１  軸受部
２２  ばね受け部
２３  スプリング
２４  共振抑制部材
２４ａ  基部
２４ｂ  脚部
２５，２５０  共振抑制部材
２５ａ，２５０ａ  基部
２５ｂ，２５０ｂ  掛止部
２５ｃ，２５０ｃ  脚部
２５ｄ，２５０ｄ  摺接部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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