(57)【要約】【課題】  記録時のライトパワー、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出を可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。【解決手段】  光ディスクの記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を光電変換手段１０４Ａでマルチパルス状の信号に変換し、このマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換するとともに、記録データ波形の信号と基準電位とを比較し基準電位に対する記録データ波形信号のレベルの変化を光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出し、このデータエラーの数から光ディスク表面の欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する構成にした。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録面にマルチパルス状記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の有無を検出し処理する信号処理装置であって、
前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換し、かつ前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記マルチパルス状反射光を受けて欠陥信号に変換するとともに該欠陥信号を前記マルチパルス状の信号に重畳して出力する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された前記マルチパルス状の信号及び前記欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換する信号変換手段と、
前記欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、
前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位とを比較し前記基準電位に対する前記記録データ波形信号のレベルの変化を前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段と、
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記マルチパルス状記録光は、ライトレベル、イレーズレベルおよびクールレベルの３値レベルのマルチパルスで構成されていることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記信号変換手段は、前記光電変換手段から出力された信号の周波数振幅をイコライズするイコライザ回路と、前記イコライザ回路でイコライズされたマルチパルス状信号を減衰して２値の記録データ波形の信号に整形する低域フィルタとを備えることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記基準電位生成回路は、前記信号変換手段を構成するイコライザ回路でイコライズされた信号を積分して直流の信号に変換するとともに欠陥の種類に応じた所定レベルの基準電位を生成するように構成されていることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
前記欠陥検出手段は、前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位生成回路から出力される基準電位とを比較し前記記録データ波形の信号が基準電位を越える時にハイレベルの信号として出力し、前記記録データ波形の信号が基準電位を越えない時にローレベルの信号として出力する比較回路と、前記比較回路から出力されるハイレベルの信号を再トリガーとして入力することにより前記ローレベルの信号が出力される期間を前記信号光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして取り出すリトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータとを備えることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項６】
駆動手段により回転駆動される光ディスクと、
送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、
前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、
前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、
前記光ディスクの記録面にマルチパルス状記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の有無を検出し処理する信号処理装置を備え、
前記信号処理装置は、
前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換し、かつ前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記マルチパルス状反射光を受けて欠陥信号に変換するとともに該欠陥信号を前記マルチパルス状の信号に重畳して出力する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された前記マルチパルス状の信号及び前記欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換する信号変換手段と、
前記欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、
前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位とを比較し前記基準電位に対する前記記録データ波形信号のレベルの変化を前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
前記マルチパルス状記録光は、ライトレベル、イレーズレベルおよびクールレベルの３値レベルのマルチパルスで構成されていることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記信号変換手段は、前記光電変換手段から出力された信号の周波数振幅をイコライズするイコライザ回路と、前記イコライザ回路でイコライズされたマルチパルス状信号を減衰して２値の記録データ波形の信号に整形する低域フィルタとを備えることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記基準電位生成回路は、前記信号変換手段を構成するイコライザ回路でイコライズされた信号を積分して直流の信号に変換するとともに欠陥の種類に応じた所定レベルの基準電位を生成するように構成されていることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記欠陥検出手段は、前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位生成回路から出力される基準電位とを比較し前記記録データ波形の信号が基準電位を越える時にハイレベルの信号として出力し、前記記録データ波形の信号が基準電位を越えない時にローレベルの信号として出力する比較回路と、前記比較回路から出力されるハイレベルの信号を再トリガーとして入力することにより前記ローレベルの信号が出力される期間を前記信号光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして取り出すリトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータとを備えることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録・再生が可能な光ディスクの記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射された記録光の反射光を用いて、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による前記記録面への光情報の記録ミスを把握し処理する信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスクなどの記録媒体にレーザ光を照射してデータの記録または再生を行う高密度の光ディスク記録／再生装置が出現してきている。例えばＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの光ディスクや４００ｎｍ付近の短波長光源を用いた高密度ディスクであるＤＶＲ−ＢＵＬＥ等のブルーレイディスクに対応する記録装置では、光ディスク上のトラックに対して記録データで変調されたレーザ光を照射し、これにより、例えば相変化記録方式で光データを光ディスク上に記録するようにしている。
【０００３】
ここで、上記のような光ディスクにデータの記録を行う際にして、その光ディスクの表面に欠陥がある場合、６８０ｎｍの光ディスク（ＤＶＤ−Ｒなど）においては、ディスクのカバー層が厚いこと、レーザ光のビーム径が大きいこと、記録波長が長いこと等で、光ディスクの表面に付いた指紋や傷、ゴミなど関しては余裕がないものの、大きな弊害にはならなかった。
【０００４】
ところで、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＲ−ＢＵＬＥなどの光ディスク自体は裸の状態で取り扱われるため、光ディスクの表面には指紋や傷または埃等が付き易く、これらが欠陥（ディフェクト）となって光ディスクへのデータの記録障害や読み取り障害の要因となる。例えば、光ディスクの記録面に到達するレーザ光の光量を低下させて正しい記録をできなくし、また、光ディスクからの反射光の光量を変化させて正確なデータの読み出しをできなくする。
【０００５】
一方、４００ｎｍのブルーレイディスクでは、６８０ｎｍの光ディスクに比べて記録密度が約５倍、ディスクのカバー層の厚さが１／７となっているため、ディスク表面に付けられた欠陥の影響を受け易い。そこで、ＥＣＣ（Error Check and Correct）部での欠陥判定処理を強くするため、１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）を６４ＫByteと大きくしてあるが、予想外の大きな指紋や大きな擦り傷がディスク表面に付いていると、これらの欠陥は１ＲＵＢの１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。この場合、ＲＵＢのアドレス領域にも指紋や擦り傷があってアドレスデータもエラーになれば、記録も停止されるので、記録ミスとはならない。しかしながら、ＲＵＢのアドレスは１ＲＵＢに３箇所挿入されており、かつその周波数も２００ＫＨｚと低周波であるため、これらの外乱は受けにくい。しかし、記録時にアドレスが読めれば、光ディクスの表面に指紋や擦り傷があっても記録されてしまう。すなわち、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものか否かにかかわらず順次記録されてしまうという問題がある。
【０００６】
そこで、従来においては、記録媒体の反射光に対応したプルイン信号から反射光識別部を用いて、ディスク記録面のディフェクトに対応して比較的レベル変化の速い信号に対応したディフェクト検出信号と、ディスク表面のゴミに対応して比較的レベル変化の遅い信号に対応したゴミ検出信号とを生成し、このディフェクト検出信号およびゴミ検出信号を用いて欠陥部の記録をレーザ光のパワーで補償するもの（例えば特許文献１参照）、または、記録媒体から記録されたデータを３分割された後行の第２光ビームで読み出し、この読み出されたデータのエラーを検出するとともに、反射光からデータが記録された部分の媒体の欠陥を検出し、このエラー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定基準以下である場合は記録を良とし、エラー検出及び欠陥検出の少なくとも一方の結果が判定基準を越えた場合は記録を不良と判定するもの（例えば特許文献２参照）がある。
【特許文献１】特開２０００−３１１３７５号公報
【特許文献２】特開平５−２７４８１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このような従来の方式では、ディスク記録面のディフェクトやディスク表面に付けられたゴミを識別し検出することができる。
しかるに、ブルーレイディスクの表面に生じる欠陥には、大きな傷や黒マジックによる大きな汚れ等のブラックベルト状の欠陥、ディスクのカバー層を通して記録面が露出された状態になるスポット状の欠陥、ディスク表面に小さな傷や指紋で付くスクラッチ状の欠陥及び塵や傷で付く単発の欠陥などがあり、これら欠陥のディスク反射率を表すと図４に示すようになる。
この図４において、反射率２０％はブルーレイディスクの記録面の反射率を表し、反射率１０％はブルーレイディスクの記録面が光ビームによってアモルファス化された時の反射率である。そして、ブラックベルト状欠陥７１の反射率は最大ゼロまで低下し、スポット状欠陥７２の反射率は最大１００％近くに達する。また、スクラッチ状欠陥７３及び単発の欠陥７４の反射率は図４に示すようになる。
【０００８】
しかし、上記のような従来の方式では、図４に示すように反射率の異なる各種の欠陥がディスク表面に存在した場合、これら欠陥を確実に検出し、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものであるか否かを判定することができないという問題があった。
また、従来においては、記録時のライトパワーのばらつき、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきがディスクの欠陥検出に悪影響を与え、正確な欠陥検出ができないという問題がある。
【０００９】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたもので、記録時のライトパワーのばらつき、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出を可能にするとともに、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握できるようにし、併せて、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できる信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明は、光ディスクの記録面にマルチパルス状記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の有無を検出し処理する信号処理装置であって、前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換し、かつ前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記反射光を受けて欠陥信号に変換するとともに該欠陥信号を前記マルチパルス状の信号に重畳して出力する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された前記マルチパルス状の信号及び前記欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換する信号変換手段と、前記欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位とを比較し前記基準電位に対する前記記録データ波形信号のレベルの変化を前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、駆動手段により回転駆動される光ディスクと、送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、前記光ディスクの記録面にマルチパルス状記録光を照射して光情報を記録する時に前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を用いて、前記光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の有無を検出し処理する信号処理装置を備え、前記信号処理装置は、前記記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換し、かつ前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記マルチパルス状反射光を受けて欠陥信号に変換するとともに該欠陥信号を前記マルチパルス状の信号に重畳して出力する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された前記マルチパルス状の信号及び前記欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換する信号変換手段と、前記欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、前記信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と前記基準電位とを比較し前記基準電位に対する前記記録データ波形信号のレベルの変化を前記光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出する欠陥検出手段と、前記欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から前記光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の信号処理装置及び光ディスク装置では、光電変換手段が光ディスクの記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換し、かつ前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換するとともに該欠陥信号をマルチパルス状の信号に重畳して出力する。また、信号変換手段では光電変換手段から出力されたマルチパルス状の信号及び欠陥信号が重畳されたマルチパルス状信号を２値の記録データ波形の信号に変換する。そして欠陥検出手段では信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と基準電位とを比較し基準電位に対する記録データ波形の信号レベルの変化を光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出する。また、欠陥判定手段では欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
よって、本発明によれば、記録時のライトパワーのばらつき、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出が可能になるとともに、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握でき、かつ光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の最良の形態では、記録時のライトパワーのばらつき、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出を可能にするとともに、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握し、かつ光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定する目的を達成するために、光電変換手段により、光ディスクの記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光を受けてマルチパルス状の信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換し該欠陥信号をマルチパルス状の信号に重畳し、信号変換手段により、光電変換手段から出力されたマルチパルス状の信号及び欠陥信号が重畳されたマルチパルス状信号を２値の記録データ波形の信号に変換し、欠陥検出手段により、信号変換手段から出力される記録データ波形の信号と基準電位とを比較し基準電位に対する記録データ波形信号のレベルの変化を光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出し、欠陥判定手段により、欠陥検出手段で検出されたデータエラーの数から光ディスク表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
【実施例１】
【００１４】
次に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図１は本発明にかかる信号処理装置を備えた光ディスク装置の全体の構成を示すブロック図である。
【００１５】
図１に示す光ディスク装置１０１の構成について説明する。
この光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷやＣＤ−Ｒ／ＲＷ、またはブルーレイディスクのような光記録媒体である光ディスク１０２を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ１０３と、光ピックアップ１０４と、この光ピックアップ１０４を光ディスク１０２の半径方向に移動する駆動手段としての送りモータ１０５とを備えている。
ここで、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０５は、システムコントローラ１０７からの指令に基づいて制御されるサーボ制御部１０９により駆動制御される構成になっている。
【００１６】
図１に示す信号変復調器＆ＥＣＣ（Error Check and Correct）部１０８は、信号の変調、復調及びＥＣＣ（エラー訂正符号）の付加、ＥＣＣに基づくエラー訂正処理を行う。
光ピックアップ１０４は、システムコントローラ１０７からの指令に従い、回転する光ディスク１０２の記録面に対して、レーザ光源１０４Ｂからの光束を図示省略の光学系を通して記録／再生用の１つのメインスポットとトラッキング用の２つのサイドスポットに分離して照射されるように構成されている。また、光ピックアップ１０４は光電変換手段（フォトダイオード）１０４Ａを有し、光ディスク１０２の記録面から反射されたメインスポットおよびサイドスポットに対応する反射光束に応じて光電変換手段１０４Ａから出力される各種の信号は再生用のアンプ１２０に供給されるように構成されている。
【００１７】
上記アンプ１２０は、光ピックアップ１０４の光電変換手段１０４Ａから出力される各種の信号を基にフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号などの信号を生成し増幅するものであり、このアンプ１２０には、例えば１００ＭＨｚのＲＦ（高周波信号）再生用のフォトダイオード用増幅器が用いられ、そして、このアンプ１２０のゲインは記録時と再生時のそれぞれに応じてシステムコントローラ１０７からの設定指令信号に従い自動的に設定される構成になっている。また、光電変換手段１０４Ａは信号処理装置２００の一構成要素をなすもので、光ディスク１０２への光情報の記録時に、その記録面で反射された記録光の反射光を受けて電気信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換し、この欠陥信号を前記電気信号に重畳して出力するようになっている。
【００１８】
また、アンプ１２０から出力される信号はフォーカス及びトラッキング用の制御信号として記録媒体である光ディスク１０２の種類に応じサーボ制御部１０９に入力されるように構成されているとともに信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８に出力され、この信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８において、アンプ１２０から出力されるＲＦ信号の復調及び誤り訂正処理等の所定の処理が行われる。
ここで、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号が、例えばコンピュータのデータストレージ用であれば、インタフェース１１１を介して外部コンピュータ１３０等に送出される。これにより、外部コンピュータ１３０等は光ディスク１０２に記録された信号を再生信号として受け取ることができるようになる。また、上記の場合と逆に外部コンピュータ１３０からの記録データを信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源１０４Ｂを駆動することにより、外部コンピュータ１３０からのデータを光ディスク１０２に書き込み得るように構成されている。
【００１９】
また、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号がオーディオ・ビジュアル用であれば、Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＤ／Ａ変換部でアナログ信号に変換されてオーディオ・ビジュアル処理部１１３に供給される。そして、このオーディオ・ビジュアル処理部１１３でオーディオ・ビデオ信号処理が行われ、オーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を介して外部の撮像・映写機器に伝送される。また、上記の場合と逆に外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を通してオーディオ・ビジュアル処理部１１３に取り込まれた情報をＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＡ／Ｄ変換部でデジタル信号に変換し、さらに信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源１０４Ｂを駆動することにより、外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル情報を光ディスク１０２に書き込み得るようになっている。
【００２０】
上記光ピックアップ１０４には、例えば光ディスク１０２上の所定の記録トラックまで移動させるための送りモータ１０５が接続されている。スピンドルモータ１０３の制御、送りモータ１０５の制御、光ピックアップ１０４の対物レンズを保持する二軸アクチュエータ（図示せず）のフォーカシング方向及びトラッキング方向の制御は、それぞれサーボ制御部１０９により行われる。
また、レーザ制御部１２１は、光ピックアップ１０４におけるレーザ光源１０４Ｂを制御するものであり、レーザ光源１０４Ｂの出力パワーを記録モード時と再生モード時に制御する構成になっている。
【００２１】
また、図１において、信号処理装置２００は光ディスク１０２の記録面に記録光を照射して光情報を記録する時に光ディスク１０２の記録面で反射された記録光の反射光を用いて、光ディスク１０２の表面（カバー層の表面）に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを把握し処理するためのもので、光電変換手段１０４Ａを含むほか、信号変換手段２０１、基準電位生成回路２０２、欠陥検出手段２０３及び欠陥判定手段１０７Ｂを含んで構成されている。
ここで、上記レーザ光源１０４Ｂから出射される記録光は、例えば図２(Ａ)に模式的に示すように、ライト（記録）レベルｒＬ（６ｍＷ）、イレーズ（消去）レベルｅＬ（４．５ｍＷ）及びクール（冷却）レベルｃＬ（０．４ｍＷ）の３値レベルのマルチパルスで構成されている。
したがって、光ディスク１０２への光情報の記録時に、図２(Ａ)に模式的に示す６Ｔのようなマルチパルス状記録光が光ディスク１０２の記録面に照射され、この記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光は光電変換手段１０４Ａで受光され電気信号に変換される。すなわち、光電変換手段１０４Ａからはマルチパルス状記録光に対応するマルチパルス状の信号及び欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号が出力される。
【００２２】
上記信号変換手段２０１は、光電変換手段１０４Ａからアンプ１２０を通して出力されたマルチパルス状の信号及び欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号の周波数振幅をイコライズするイコライザ回路２０１Ａと、このイコライザ回路２０１Ａでイコライズされたマルチパルス状信号を減衰し２値の記録データ波形の信号に整形する低域フィルタ（ＬＰＦ）２０１Ｂとから構成されている。
【００２３】
上記基準電位生成回路２０２は、信号変換手段２０１のイコライザ回路２０１Ａでイコライズされた信号を積分して直流レベルの信号に変換するとともに図４に示す欠陥の種類に応じた所定レベルの基準電位を生成するように構成されている。
また、上記欠陥検出手段２０３は、信号変換手段２０１の低域フィルタ２０１Ｂから出力される記録データ波形の信号と基準電位生成回路２０２から出力される基準電位とを比較し記録データ波形の信号が基準電位を越える時にハイレベルの信号として出力し、かつ記録データ波形の信号が基準電位を越えない時にローレベルの信号として出力する比較回路２０３Ａと、この比較回路２０３Ａから出力されるハイレベルの信号を再トリガーとして入力することによりローレベルの信号が出力される期間を信号光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして取り出すリトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータ２０３Ｂとから構成されている。
【００２４】
上記欠陥判定手段１０７Ｂはシステムコントローラ１０７に設けられるもので、欠陥検出手段２０３で検出されたエラーの数から光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するものである。
また、上記システムコントローラ１０７は交替ＲＵＢ制御手段１０７Ａを備え、この交替ＲＵＢ制御手段１０７Ａは、１ＲＵＢにＥＣＣを付けてデータを記録してもエラー訂正ができず、かつ正しく再生できない欠陥のある１ＲＵＢに記録されるべきデータを光ディスク１０２の記録面に設けられている周知の交替ＲＵＢ（図示せず）に記録させる欠陥処理を行うためのものであり、欠陥判定手段１０７Ｂによって光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定された時に交替ＲＵＢ制御部１０７Ａに対して欠陥処理の割り込み指令を出力するように構成されている。
【００２５】
次に、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かの処理動作について図２及び図３の動作波形図を参照して説明する。
まず、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の検出は、光ピックアップ１０４を利用して行われる。すなわち、記録データに応じて信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８で変調された信号をレーザ制御部１２１を通してレーザ光源１０４Ｂに供給することによりレーザ光源１０４Ｂを駆動し、このレーザ光源１０４Ｂから出射される記録光を図示省略の光学系を通して光ディスク１０２の記録面に照射する。この時、レーザ光源１０４Ｂから出射される記録光は、図２(Ａ)に模式的に示すようなマルチパルス波形となる。
【００２６】
一方、光ディスク１０２の記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光が図示省略の光学系を通して光電変換手段１０４Ａに入射されると、光電変換手段１０４Ａからは図２(Ｂ)に示すような波形の信号が出力される。その後、アンプ１２０で増幅されて信号変換手段２０１に出力される。この時、アンプ１２０から出力される信号波形は図２(Ｂ)と同様な波形となる。
アンプ１２０からの出力信号が信号変換手段２０１のイコライザ回路２０１Ａに入力されると、図２(Ｂ)に示す信号の周波数振幅はイコライザ回路２０１Ａでイコライズされ、図２(Ｃ)に示すような波形となる。そして、このイコライザ回路２０１Ａから出力される信号が低域フィルタ２０１Ｂを通過すると、そのマルチパルス状信号が減衰され、図２(Ｄ)に示すように、信号のピークレベルがハイ、イレーズレベルがローとなる記録ＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverted）に近い２値の記録データ波形の信号に整形される。そして、この２値の記録データ波形の信号は欠陥検出手段２０３に入力される。
【００２７】
次に、図３の動作波形図を参照して信号処理装置２００の動作について詳述する。
図３(Ａ)は光ディスク１０２の記録面に照射されるマルチパルス状記録光３１であり、図３(Ｂ)は図４に示すブラックベルト状の欠陥７１に相当する波形であり、この欠陥７１が光ディスク１０２の表面に付けられているものと仮定する。かかる状態において、図３(Ａ)に示すマルチパルス状の記録光３１が光ディスク１０２の記録面に照射され、マルチパルス状記録光の反射光が上記欠陥７１の部分を透過すると、この欠陥７１の部分を透過するマルチパルス状記録光の反射光の反射レベルは欠陥７１の部分を除く他の反射光の反射レベルより低下する。その結果、これらの反射光が光電変換手段１０４Ａに入射されると、光電変換手段１０４Ａからは、図３(Ｃ)に示すように、マルチパルス状記録光３１の反射光に対応するマルチパルス状の信号３２と、欠陥７１によりレベルが変化する欠陥信号３３を重畳されたマルチパルス状の信号が出力される。そして、このマルチパルス状の信号が信号変換手段２０１のイコライザ回路２０１Ａに入力されると、マルチパルス状の信号はイコライザ回路２０１Ａでイコライズされ、さらに低域フィルタ２０１Ｂを通過することによって減衰され、記録ＮＲＺＩ(Non Return to Zero Inverted）に近い２値の記録データ波形の信号に整形される。この時の記録データ波形の信号３４を図３(Ｄ)に示す。この信号３４は欠陥検出手段２０３の比較回路２０３Ａに出力される。
【００２８】
一方、基準電位生成回路２０２では、イコライザ回路２０１Ａでイコライズされた信号を積分して直流の信号に変換するとともに図４に示す欠陥７１に応じた所定レベルの基準電位Ｖrefを生成し、この基準電位Ｖrefを欠陥検出手段２０３の比較回路２０３Ａに出力する。
比較回路２０３Ａでは、低域フィルタ２０１Ｂから出力される記録データ波形の信号３４と基準電位生成回路２０２からの基準電位Ｖrefとを比較し、図３(Ｅ)に示すように、記録データ波形の信号３４が基準電位Ｖrefを越える時にハイレベルの信号として出力し、かつ記録データ波形の信号３４が基準電位Ｖrefを越えない時にローレベルの信号として出力する。そして、この比較回路２０３Ａから出力されるハイレベルの信号をリトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータ２０３Ｂの再トリガーとして入力することにより、リトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータ２０３Ｂからは、図３(Ｆ)に示すようなローレベルの信号が出力される期間を信号光ディスク表面の欠陥７１に対応するデータエラーとして取り出す。
【００２９】
欠陥検出手段２０３で検出されたデータエラー信号はシステムコントローラ１０７の欠陥判定手段１０７Ｂに取り込むことにより、欠陥検出手段２０３で検出されたエラーの数から光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。ここで、１ＲＵＢ内で占める欠陥の割合が５％以上の時は光ディスク１０２表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定し、欠陥であると判定された１ＲＵＢに記録されるべき記録データを光ディスク１０２の交替ＲＵＢに記録させるための割り込み指令を交替ＲＵＢ制御部１０７Ａへ出力する。また、データエラーの数が１ＲＵＢ内で占める割合が５％以下の場合は、光ディスク１０２の表面に光情報の記録ミスを生じさせる欠陥がないと判定する。
【００３０】
このような本実施の形態によれば、光ディスク１０２の記録面にマルチパルス状記録光を照射して光情報を記録する時に記録面で反射されたマルチパルス状記録光の反射光をマルチパルス状の信号に変換するとともに光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する反射光を受けて欠陥信号に変換し該欠陥信号をマルチパルス状の信号に重畳し、このマルチパルス状の信号及び欠陥信号が重畳されたマルチパルス状の信号を２値の記録データ波形の信号に変換し、さらに記録データ波形の信号と基準電位とを比較し基準電位に対する記録データ波形信号のレベルの変化を光ディスク表面の欠陥に対応するデータエラーとして検出し、このデータエラーの数から光ディスク表面の欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する構成にしたので、記録時のライトパワーのばらつき、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきを吸収することができ、これらばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出が可能になるとともに、光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による記録面への光情報の記録ミスを事前に把握でき、かつ光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明にかかる信号処理装置を備えた光でスク装置の全体の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図３】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図４】光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥とこれら欠陥のディスク反射率との関係を表した説明図である。
【符号の説明】
【００３２】
１０１……光ディスク装置、１０２……光ディスク、１０３……スピンドルモータ、１０４……光ピックアップ、１０４Ａ……光電変換手段、１０４Ｂ……レーザ光源、１０５……送りモータ、１０７……システムコントローラ、１０７Ａ……交替ＲＵＢ制御部、１０７Ｂ……欠陥判定手段、１０８……信号変復調器＆ＥＣＣ部、１０９……サーボ制御部、１１２……Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器、１２０……アンプ、２００……信号処理装置、２０１……信号変換手段、２０２……基準電位生成回路、２０３……欠陥検出手段、２０１Ａ……イコライザ回路、２０１Ｂ……低域フィルタ、２０３Ａ……比較回路、２０３Ｂ……リトリガーブルモノステーブルマルチバイブレータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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