(57)【要約】【課題】  電気光学表示パネル（例えば液晶パネル）製造用の多面取り基板において、大判サイズの基板から小判サイズとして切り出された基板の切断基準線に対する切断ずれ量をノギスなどの測長器を用いることなく目視にて把握できるようにする。【解決手段】  複数の液晶セル１０が行方向および／または列方向に連設されており、各液晶セル１０がそれらの間に設定される切断基準線ＢＬに沿って最終的に個々の液晶パネルとして切り出される液晶パネル製造用の多面取り基板において、隣接する各液晶セル１０に、それらの間に設定される切断基準線ＢＬから所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークＭＡを形成するとともに、切断限界マークＭＡと基準切断線ＢＬとの間にそれらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークＭＢを形成する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示セルが行方向および／または列方向に連設されており、上記各表示セルがそれらの間に設定される切断基準線に沿って最終的に個々の表示パネルとして切り出される電気光学表示パネル製造用の多面取り基板において、
隣接する上記各表示セルには、それらの間に設定される上記切断基準線から所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークが形成されているとともに、上記切断限界マークと上記基準切断線との間には、それらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されていることを特徴とする電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
【請求項２】
上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークのうち、少なくとも上記誤差読み取りマークは上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されている請求項１に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
【請求項３】
上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークとが、ともに上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されている請求項１に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
【請求項４】
上記切断限界マークおよび／または上記誤差読み取りマークには、上記切断基準線と平行に引かれた仮想直線ラインの少なくとも両端に配置された２つのドットマークが含まれる請求項１に記載の電気光学表示パネル製造用の多面取り基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は複数の表示セルが行方向および／または列方向に連設されている電気光学表示パネル製造用の多面取り基板に関し、さらに詳しく言えば、各表示セルを切り出す際の切断位置を示す切断マークに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
生産性の観点から一般的に、電気光学表示パネルの一つである液晶パネルはその元となる複数の液晶セルがマザー基板上でｍ行×ｎ列の配列をもって同時に形成され、そのマザー基板から１行もしくは１列の単位で液晶セル多連基板として切り出される。そして、液晶セル多連基板の状態で液晶注入工程に運ばれ、その各液晶セル内に液晶が注入されたのち、液晶セル多連基板から液晶パネルが個々に切り出される、という工程を経て作製される。
【０００３】
このように液晶パネルの製造工程には数回の切断工程が含まれている。この切断は例えばロールカッタなどの切断工具を用いて基板にＶ字状の切り込み溝を入れたのち、その反対面側から切り込み溝に応力を加えることにより行われるが、切り込み溝を正確に入れるためマザー基板には切断マークが設けられる。
【０００４】
図４にその一例として特許文献１に開示されているマザー基板Ｍを示す。この例において、マザー基板Ｍには３行×３列の配列をもって液晶パネルの元となる９個の液晶セル１０が含まれており、各液晶セル１０に塗布される周辺シール材１１の外側に位置する四隅には切断マークが設けられている。
【０００５】
ここで、左上の切断マークをＣ１，右上の切断マークをＣ２，左下の切断マークをＣ３，右下の切断マークをＣ４とする。なお、この切断マークＣ１〜Ｃ４は例えば正方形状のドットで、マザー基板Ｍの周辺に存在する捨て基板部ＭＯの液晶セル１０と隣接する隅にも設けられる。
【０００６】
これによると、隣接する四隅に切断マークＣ１〜Ｃ４が集まり、マザー基板Ｍを行単位で切断する場合には、切断マークＣ４とＣ２の間およびＣ３とＣ１の間を通るように切り込み溝を入れる。また、マザー基板Ｍを列単位で切断する場合には、切断マークＣ４とＣ３の間およびＣ２とＣ１の間を通るように切り込み溝を入れる。
【０００７】
隣接する四隅に集められた切断マークＣ１〜Ｃ４の隣接するマーク同士間の間隔がいずれも例えば０．２ｍｍであるとすると、行方向および列方向ともにその中心の０．１ｍｍのところを通る仮想線が切断基準線ＢＬとなる。すなわち、切断許容誤差範囲は切断基準線ＢＬ±０．１ｍｍとなる。なお、上記特許文献１によれば切断マークＣ１〜Ｃ４は透明電極の形成工程で基板の内面側に透明電極とともに透明電極材により形成される。
【０００８】
図５に上記マザー基板Ｍから行単位で切断された液晶セル多連基板（スティック基板）ＭＳの一部分を示す。図５において、全形が示されている中央の液晶セルを１０ａ，その左隣りおよび右隣のそれぞれ一部しか示されていない液晶セルを１０ｂ，１０ｃとして、図６に液晶セル多連基板ＭＳから液晶パネルとして切り出された液晶セル１０ａの単体を示す。
【０００９】
液晶セル多連基板ＭＳから液晶セル１０ａを切り出すには、液晶セル１０ａと液晶セル１０ｂとの間および液晶セル１０ａと液晶セル１０ｃとの間で、それぞれ切断マークＣ２とＣ１との間および切断マークＣ４とＣ３との間の各中心を通る切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２に沿って上記したように例えばロールカッタにより基板にＶ字状の切り込み溝を入れたのち、その反対面側から切り込み溝に応力を加えて基板を切断する。この切断を分断もしくは破断と呼ぶ場合もある。
【００１０】
この切断は切断用の工作機械によって実施されるが、液晶セル多連基板ＭＳを工作機械の作業テーブルに載置する際に位置合わせ誤差が生じたり、また、切断（分断）時に基板に欠けなどが生ずることもあるため切断後に検査を行う。
【００１１】
この検査は例えば顕微鏡で切断部分を目視することにより行われ、切り口（切断面）が切断マークにかかっていたり、切断マークが無くなっているかもしくは隣の液晶セルの切断マークがが残されている場合には切断不良としてその液晶セルを排除する。
【００１２】
これで検査を終了する場合もあるが、図６に示すように切り目線が切断マーク間を通っている良品についても、例えば切断作業の信頼性の統計をとる必要上切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２からの切断ずれ量αを測る場合がある。従来、この切断ずれ量αの計測は切り出された液晶セル１０ａの幅をノギスで測ることにより行うようにしているが、この方法ではかなりの時間がかかり作業性が悪いという問題がある。
【００１３】
【特許文献１】特開２００２−４３７０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
したがって、本発明の課題は、大判サイズの基板から小判サイズとして切り出された基板の切断基準線に対する切断ずれ量をノギスなどの測長器を用いることなく目視にて把握できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するため、本発明は、複数の表示セルが行方向および／または列方向に連設されており、上記各表示セルがそれらの間に設定される切断基準線に沿って最終的に個々の表示パネルとして切り出される電気光学表示パネル製造用の多面取り基板において、隣接する上記各表示セルには、それらの間に設定される上記切断基準線から所定の距離をもって良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークが形成されているとともに、上記切断限界マークと上記基準切断線との間には、それらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されていることを特徴としている。
【００１６】
本発明において、上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークのうち、少なくとも上記誤差読み取りマークは上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されていることが好ましい。
【００１７】
さらには、上記切断限界マークと上記誤差読み取りマークとがともに上記切断基準線と平行な直線ラインのパターンで形成されていることが好ましいが、本発明には、上記切断限界マークおよび／または上記誤差読み取りマークには、上記切断基準線と平行に引かれた仮想直線ラインの少なくとも両端に配置された２つのドットマークが含まれる態様も含まれる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、切断限界マークと基準切断線との間にそれらの間を所定の幅で刻む誤差読み取りマークが形成されているため、切り口を例えば顕微鏡などにより拡大して目視し誤差読み取りマークがどの程度削られているかもしくは残されているかを観察することにより、誤差読み取りマークを目盛りとして切断基準線に対する切断ずれ量を目視にて把握することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
次に、図１ないし図３を参照して本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図１は図示しないマザー基板から行単位で切り出された本発明に係る液晶セル多連基板の一部分を示す模式図であり、図２は図１の液晶セル多連基板から液晶パネルとして切り出された液晶セルの単体を示す模式図である。図１，図２はそれぞれ先に説明した図５，図６に対応しており、したがって以下の説明において従来例と変更を要しない部分には同一の参照符号を用いている。
【００２０】
図１に示す本発明が適用された液晶セル多連基板ＭＳにおいて、液晶セル１０ａ，１０ｂ，１０ｃの各々には、その両辺に良品切り出し範囲の指標とされる切断限界マークＭＡのほかに誤差読み取りマークＭＢが形成されている。なお、液晶セル１０ａの両側に連設されている液晶セル１０ｂ，１０ｃについてはその片側の辺のマークＭＡ，ＭＢのみが図示されているが、図示しない反対側の辺にもマークＭＡ，ＭＢが設けられている。
【００２１】
液晶セル１０ａとその左隣りの液晶セル１０ｂとの間の仮想的な切断基準線をＢＬ１，液晶セル１０ａとその右隣りの液晶セル１０ｃとの間の仮想的な切断基準線をＢＬ２とすると、切断限界マークＭＡは切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２の両側にそれぞれ等距離として配置されている。この切断限界マークＭＡは先の図５に示した切断マークＣ１〜Ｃ４に相当するマークである。
【００２２】
この例において、切断限界マークＭＡは切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２に平行な直線パターンとして形成されている。このように、切断限界マークＭＡは直線パターンの方が視認しやすいが、先の図５に示した切断マークＣ１〜Ｃ４と同じくドットパターンとして配置されてもよい。
【００２３】
誤差読み取りマークＭＢは、切断限界マークＭＡ，ＭＡの内側において切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２の両側にそれぞれ等距離として配置されている。視認性の点からして、この誤差読み取りマークＭＢも切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２に平行な直線パターンとして形成されることが好ましいが、上記切断マークＣ１〜Ｃ４と同じく直線パターンの両端に配置される２つのドットパターンとしてもよい。
【００２４】
一例として、切断限界マークＭＡと切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２との距離が０．１ｍｍ（切断限界マークＭＡ，ＭＡ間の距離にして０．２ｍｍ）であるとすると、誤差読み取りマークＭＢは切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２から５０μｍ（０．０５ｍｍ）離れた位置に配置される。すなわち、誤差読み取りマークＭＢは切断限界マークＭＡと切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２との間を２分する中間位置に配置される。
【００２５】
これによれば、図１の液晶セル多連基板ＭＳから液晶パネルとして切り出された液晶セル１０ａの切り口（切断面）を検査する場合、図２に例示するように誤差読み取りマークＭＢの一部分が削られている場合には切断ずれ量αが約５０μｍであることが目視により判別することができる。
【００２６】
この例では、誤差読み取りマークＭＢを切断限界マークＭＡと切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２との間を２分する中間位置に１本として配置しているが、別の例として誤差読み取りマークＭＢを２本として切断限界マークＭＡと切断基準線ＢＬ１，ＢＬ２との間を３分割するようにしてもよい。
【００２７】
本発明の液晶パネル製造用の多面取り基板には、マザー基板から行単位（もしくは列単位）で切り出された上記の液晶セル多連基板ＭＳのみでなくマザー基板も含まれる。マザー基板への適用例を図３の模式図に示す。
【００２８】
図３にはマザー基板Ｍに含まれている互いに隣接する４つの液晶セル１０のみが摘示されており、その行方向の切断基準線をＧＨ，列方向の切断基準線をＧＬとして、各液晶セル１０の四隅（先に説明した図４の切断マークＣ１〜Ｃ４が設けられる部分）に、行方向の切断基準線ＧＨに対する切断限界マークＭＡ１および誤差読み取りマークＭＢ１と、列方向の切断基準線ＧＬに対する切断限界マークＭＡ２および誤差読み取りマークＭＢ２とを形成する。
【００２９】
この場合、注意を要することは例えば行方向の切断基準線ＧＨに沿って液晶セル多連基板ＭＳを切り出したときに、その液晶セル多連基板ＭＳに他方の列方向の切断基準線ＧＬに対する切断限界マークＭＡ２，誤差読み取りマークＭＢ２が残されるように各切断限界マークＭＡ１，ＭＡ２、誤差読み取りマークＭＢ１，ＭＢ２を配置することである。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明は上記の例で説明した液晶パネルに限定されるものではなく、多面取り基板を用いる例えば有機ＥＬパネル，プラズマディスプレイ表示パネルなどの電気光学表示パネルにも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】マザー基板から行単位で切り出された本発明に係る液晶セル多連基板の一部分を示す模式図。
【図２】図１の液晶セル多連基板から液晶パネルとして切り出された液晶セルの単体を示す模式図。
【図３】本発明が適用されたマザー基板の一部分を示す模式図。
【図４】従来例に係るマザー基板を示す模式図。
【図５】図４のマザー基板から行単位で切り出された液晶セル多連基板の一部分を示す模式図。
【図６】図５の液晶セル多連基板から液晶パネルとして切り出された液晶セルの単体を示す模式図。
【符号の説明】
【００３２】
１０（１０ａ，１０ｂ，１０ｃ）  液晶セル
１１  周辺シール材
Ｍ  マザー基板
ＭＳ  液晶セル多連基板
ＭＡ，ＭＡ１，ＭＡ２  切断限界マーク
ＭＢ，ＭＢ１，ＭＢ２  誤差読み取りマーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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