(57)【要約】【課題】  ストッパの耐久年数を長くして位置決め精度を長期間に渡って維持し、ストッパ交換回数の低減を図る。【解決手段】  基板搬送装置２は、上面が基板搬送面８となる平行な一対のコンベア４，５と、コンベア４，５の側板９，１０に基板搬送方向Ｘに沿って立設され、所定間隙を有して基板Ｐの両側面を案内する一対のガイド１１，１２とを備える。基板搬送用位置決め装置１は、基板搬送装置２に採用され、基板搬送面８に突出して基板Ｐの先端面に当接することで基板Ｐを位置決めしており、基板Ｐの先端面に当接する回転自在なローラ１５と、側板９，１０に設けられ、ローラ１５を回転自在に支持するとともに、ローラ１５を基板搬送面８に進退させる進退手段１６とを有する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンベア（４，５）と、該コンベアの側板（９，１０）に基板搬送方向（Ｘ）に沿って立設され、所定間隙（ｄ）を有して基板（Ｐ）の両側面を案内する一対のガイド（１１，１２）とを備えた基板搬送装置（２）に設けられ、
前記コンベアの基板搬送面（８）に突出して前記基板の先端面に当接することにより該基板を位置決めする基板搬送用位置決め装置（１）において、
前記基板の先端面に当接する回転自在なローラ（１５）と、
前記側板に設けられ、前記ローラを回転自在に支持するとともに、該ローラを前記基板搬送面に進退させる進退手段（１６）とを備えたことを特徴とする基板搬送用位置決め装置。
【請求項２】
前記ローラ（１５）は、前記進退手段（１６）に対して着脱自在であることを特徴とする請求項１記載の基板搬送用位置決め装置。
【請求項３】
前記ローラ（１５）は、前記基板搬送面（８）に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されたことを特徴とする請求項１又は請求項２記載の基板搬送用位置決め装置。
【請求項４】
前記ローラ（１５）は、前記基板搬送面（８）に平行かつ前記ガイド（１１，１２）に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されたことを特徴とする請求項１又は請求項２記載の基板搬送用位置決め装置。
【請求項５】
順次搬送されてくる基板を位置決めし、この位置決めされた基板に印刷された半田の印刷状態を検査する印刷半田検査装置に用いられることを特徴とする請求項１乃至４の何れかに記載の基板搬送用位置決め装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板搬送装置によって搬送される基板を基板搬送面の所定位置で停止し位置決めする基板搬送用位置決め装置に関し、特に、基板との当接部材の耐久年数を延長する改良技術に関し、例えば印刷半田検査装置に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば印刷半田検査装置では、基板搬送装置によって順次搬送される基板を所定位置で停止させ、基板上の半田形成状態の検査を行う。この際、基板は、一般的に基板搬送面に突出させた当接部材であるストッパに先端面を当接させて所定位置に位置決めされる。
【０００３】
以下、印刷半田検査装置に用いられる従来の基板搬送用位置決め装置について図８〜図１０を参照しながら説明する。図８は従来の基板搬送用位置決め装置を備えた下記特許文献１に開示される印刷半田検査装置の正面図、図９は図８に示した印刷半田検査装置の平面図、図１０はセンサヘッドによる変位量の検出原理を示す概念図である。
【０００４】
図８に示すように、検査装置５１の筐体内部には、プリント基板Ｐを順次搬送するための搬送手段（コンベア）５２が設けられている。この搬送手段５２は、プリント基板Ｐを図８に示すＸ軸方向に搬送させており、図９に示すＹ軸方向に所定幅を有する一対のレール５３ａ，５３ｂ及びベルト５４ａ，５４ｂを有している。ベルト５４ａ，５４ｂは、それぞれ両端が回転軸５５で軸支され、モータ５６の回転でプリント基板ＰをＸ軸方向に搬送移動させている。
【０００５】
図９に示すように、一対のレール５３ａ，５３ｂは、Ｙ軸移動手段５８によってＹ軸方向に移動自在なＹ軸テーブル５７上に設けられている。このＹ軸テーブル５７上にはＷ軸移動手段５９が設けられている。Ｗ軸移動手段５９は、レール５３ｂをＷ軸方向に移動自在に支持している。なお、図示はないが、レール５３ａ，５３ｂには側部位置にそれぞれプリント板Ｐを案内するガイドが設けられている。
【０００６】
図８及び図９に示すように、Ｙ軸テーブル５７の上方位置には、プリント基板Ｐを検査する検査手段６０が設けられている。この検査手段６０のセンサヘッド６２にはレーザ変位計が用いられ、プリント基板Ｐの表面側の半田の突起（高さ方向Ｚの変位量）を検出している。検査手段６０は、Ｘ，Ｙ軸方向に移動走査され、プリント基板Ｐの３次元データを出力する。図１０に示すように、センサヘッド６２は、光源６３からのレーザビームをプリント基板Ｐの基板面に照射し、その照射点Ｓの反射光による像を結像レンズ６４によって受光素子６５の受光面６５ａに結像させる。
【０００７】
このセンサヘッド６２では、プリント基板Ｐ上の突起（半田）が高さ方向Ｚに変位すると、照射点ＳがＳ（１）あるいはＳ（２）に移動し、対応して受光素子６５の受光面６５ａの結像点Ｋの位置がＫ（１）あるいはＫ（２）に移動する。受光素子６５は、この結像点Ｋの位置に対応した検出信号を出力し、この信号の変化量に基づきプリント基板Ｐ上の半田の変位量（高さや外形）を出力する。
【０００８】
検査手段６０は、上記センサヘッド６２と走査移動手段６６を備えている。図８及び図９に示すように、走査移動手段６６は、Ｘ軸移動手段６７とＺ軸移動手段６８で構成される。また、Ｚ軸移動手段６８にはセンサヘッド６２が設けられている。
【０００９】
この検査装置５１では、検査対象となるプリント基板Ｐがベルト５４ａ，５４ｂ上をＸ軸方向に移動すると、略中央部の検査位置で基板位置決めのためのストッパ６１が突出されるようになっている。そして、順次搬送されてくるプリント基板Ｐは、このストッパ６１に当接することで検査位置にて位置決めされる。ストッパ６１は、ロックウェルかたさＨＲＣ６０〜７０の焼入れ鋼によりピン形状に形成される。プリント基板Ｐは、検査位置に位置決めされた状態で検査手段６０による検査が実行される。具体的には、図９の平面図に示すように、位置Ｔ１から開始し、位置Ｔ２、位置Ｔ３、位置Ｔ４の走査でプリント基板Ｐ上の半田突起の変位量を連続的に検出していく。検査手段６０がプリント基板Ｐの検査を終了した後は、ストッパ６１が退避してモータ５６の駆動によりプリント板ＰがＸ軸方向の後段装置に搬出される。
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−２６５１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述したように、従来の基板搬送用位置決め装置は、焼入れ鋼により形成したピン状のストッパ６１を基板搬送面に突出させ、基板先端面をこのストッパ６１に当接させることで、基板Ｐを所定位置に位置決めしていた。このため、基板Ｐとの接触がストッパ６１の局所的な部位に限られ、磨耗による劣化が早期に進み易いという課題があった。具体的には、従来の構成のストッパ６１は、設計耐久年数が例えば７年であるが、実際には最短で３年程度と短く、磨耗による位置決め精度が無視できなくなる程度まで低下していた。このため、従来のストッパ６１を用いた基板搬送用位置決め装置では、高い位置決め精度を長期間に渡って維持することが困難であるとともに、ストッパ６１の交換回数が増大するという課題があった。
【００１２】
また、検査対象の基板Ｐがガラスエポキシ基板で構成される場合には、焼入れ鋼からなるピン形状のストッパ６１に基板Ｐの先端面が衝接すると、基板Ｐがストッパ６１に線接触し、単位面積あたりに大きな衝撃が加わるため、基板先端面に磨耗が生じた。その結果、基板Ｐの磨耗によって発生した磨耗粉を頻繁に清掃しなければならず、装置管理が煩雑となる課題があった。
【００１３】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、その第１の目的は、ストッパの耐久年数を長くできる基板搬送用位置決め装置を提供し、高い位置決め精度の長期間に渡る維持と、ストッパ交換回数の低減を図ることにある。また、第２の目的は、基板先端面の磨耗を低減させることができる基板搬送用位置決め装置を提供し、磨耗粉除去に必要となる清掃作業の低減を図ることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された基板搬送用位置決め装置は、コンベア４，５と、該コンベアの側板９，１０に基板搬送方向Ｘに沿って立設され、所定間隙ｄを有して基板Ｐの両側面を案内する一対のガイド１１，１２とを備えた基板搬送装置２に設けられ、
前記コンベアの基板搬送面８に突出して前記基板の先端面に当接することにより該基板を位置決めする基板搬送用位置決め装置１において、
前記基板の先端面に当接する回転自在なローラ１５と、
前記側板に設けられ、前記ローラを回転自在に支持するとともに、該ローラを前記基板搬送面に進退させる進退手段１６とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
請求項２に記載された基板搬送用位置決め装置は、請求項１の基板搬送用位置決め装置において、
前記ローラ１５は、前記進退手段１６に対して着脱自在であることを特徴とする。
【００１６】
請求項３に記載された基板搬送用位置決め装置は、請求項１又は請求項２の基板搬送用位置決め装置において、
前記ローラ１５は、前記基板搬送面８に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されたことを特徴とする。
【００１７】
請求項４に記載された基板搬送用位置決め装置は、請求項１又は請求項２の基板搬送用位置決め装置において、
前記ローラ１５は、前記基板搬送面８に平行かつ前記ガイド１１，１２に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されたことを特徴とする。
【００１８】
請求項５に記載された基板搬送用位置決め装置は、請求項１乃至４の何れかに記載の基板搬送用位置決め装置において、
順次搬送されてくる基板Ｐを位置決めし、この位置決めされた基板に印刷された半田の印刷状態を検査する印刷半田検査装置に用いられることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に係る基板搬送用位置決め装置によれば、コンベアの側板に設けた進退手段により、ローラを基板搬送面に対して進退自在とさせたので、基板搬送面に位置したときのローラに基板が当接すると、基板とガイドとの間に形成される所定間隙によって基板が基板搬送面に垂直な軸回りに回転し、その後のコンベアの搬送作用によりローラに先端面が当接したまま基板がさらに逆方向へ回転される。これにより、基板の回転とともにローラが微量に回転される。従って、新たな基板が当接する都度、ローラが微量ずつ回転されて当接位置が変り、従来局所的であった磨耗部がローラの円周方向に分散され、ストッパとしての耐久年数を長くすることができる。この結果、高い位置決め精度を長期間に渡って維持できるとともに、交換回数を減らすことができる。また、従来の固定式のピンと異なり、基板との衝接時にローラが基板の回転に伴って微小回転するので、基板との擦れが軽減され、基板先端面の磨耗を低減することができる。この結果、磨耗粉除去のための清掃も減らすことができる。
【００２０】
進退手段に対してローラを着脱自在な構成とすれば、ローラを進退手段から取り外し消耗部位のみの交換が可能となり、基板搬送用位置決め装置全体を交換したり、基板搬送用位置決め装置の大掛かりな分解作業が不要となり、消耗部品の交換作業を簡単にでき、かつ交換作業時間を短くすることができる。
【００２１】
基板搬送面に垂直な支持軸回りにローラが回転自在に支持される構成とすれば、基板とガイドとの所定間隙によって基板が基板搬送面に垂直な軸回りに回転し、この基板回転に伴い、基板と接触状態のローラにモーメントが発生し、ローラを容易に連れ回りさせることができる。また、ローラが基板搬送面に垂直な支持軸回りに回転されるので、基板衝接時に基板上下方向の反力を吸収し、ローラ衝接時の基板跳ね上がりを軽減することができる。
【００２２】
基板搬送面に平行かつガイドに垂直な支持軸回りにローラが回転自在に支持される構成とすれば、基板先端面との接触位置が特にローラの回転中心より下側の周面とすることにより、基板衝接の都度、ローラを確実に一定方向に回転させることができ、ローラの磨耗量を円周方向で均一化させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明に係る基板搬送用位置決め装置の好適な実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
【００２４】
図１は基板搬送装置に設けられた本発明に係る基板搬送用位置決め装置の平面視を（ａ）、側面視を（ｂ）、正面視を（ｃ）に示した構成説明図、図２はかたさのスケールとその内容を表した説明図である。なお、図８〜図１０に示した構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略するものとする。
【００２５】
本実施の形態による基板搬送用位置決め装置１（１Ａ，１Ｂ）は、印刷半田検査装置の基板搬送装置に好適に用いられるものである。
【００２６】
図１に示すように、基板搬送装置２の基台３には平行な一対のコンベア４，５が設けられている。一対のコンベア４，５は、プリント基板Ｐを図中Ｘ軸方向に例えば５００ｍｍ／ｓｅｃ程度の搬送速度で順次搬送させている。この搬送方向手前側には前段装置の搬出部が設けられ、搬送方向後端側には後段装置の搬入部が設けられている。コンベア４，５は、図中Ｙ軸方向に所定幅を有して配置された一対のベルト６，７を有している。ベルト６，７は、無端状に形成されており、両端が回転軸５５で軸支され、モータ５６（図８参照）に連動連結されている。このベルト６，７は、モータ５６の回転でプリント基板ＰをＸ軸方向に搬送移動させる。そして、ベルト６，７の上面、及びベルト６，７に挟まれる上面の延長面が基板搬送面８となっている。
【００２７】
それぞれのコンベア４，５には側板９，１０が設けられている。側板９，１０は、基板搬送方向Ｘに沿って立設されており、プリント基板Ｐの両側面を案内する一対のガイド１１，１２を有している。ところで、一般的にプリント基板Ｐは、大型の素板から切断され小割りに分割されて得られる。その際、切断面を含む基板幅方向Ｗの寸法精度は特に厳密には管理されていない。このため、切断時のバラツキに対応して円滑な基板搬送を可能とするため、ガイド１１，１２とプリント基板Ｐとの間には若干の所定間隙（所謂あそび）が設けられている。
【００２８】
コンベア４，５の側板９，１０には、基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）が設けられている。基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）は、一対のものが側板９，１０のそれぞれに設けられてもよく、一つのものが側板９，１０のいずれか一方に設けられてもよい。
【００２９】
基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）は、電動モータまたは、エア駆動からなる駆動装置１３と、この駆動装置１３の駆動軸１３ａに軸線直交方向で基端１４ａが固定される揺動杆１４と、この揺動杆１４の先端１４ｂに回転自在に支持されたローラ（ローラフォロア）１５とからなる。揺動杆１４は、駆動装置１３が駆動されると、駆動軸１３ａを回転中心として、図１（ｂ）に示すように、（１）→（２）→（３）→（４）の順で先端１４ｂが揺動するようになっている。この揺動杆１４の揺動により、ローラ１５は、一対のベルト６，７の間の基板搬送面８に進出され、プリント基板Ｐの先端面に当接されるようになっている。ローラ１５は、所定基板幅に対して十分小さい外形で形成される。なお、駆動装置１３と揺動杆１４とは、進退手段１６を構成している。
【００３０】
ローラ１５は、基板搬送面８に位置した状態で、基板搬送面８に垂直な支持軸回りで揺動杆１４の先端１４ｂに回転自在に支持されている。上記のように、プリント基板Ｐとガイド１１，１２との間には所定間隙が設けられているので、プリント基板Ｐが基板搬送面８に垂直な軸回りに僅かに回転可能となる。プリント基板Ｐに当接状態となっているローラ１５は、この基板回転に伴ってモーメントが発生し、基板とともに連れ回りすることになる。また、ローラ１５が基板搬送面８に垂直な支持軸回りに回転されるので、基板衝接時、プリント基板Ｐには上下方向の反力を吸収するようになっている。つまり、ローラ衝接時の基板跳ね上がりが軽減される。
【００３１】
本実施の形態によるローラ１５は、例えば約８００℃から急冷してマルテンサイト変態させた焼入れ処理がなされた焼入れ鋼で構成される。この焼入れ鋼で構成されるローラ１５は、焼入れ処理によってロックウェルかたさＨＲＣ６０〜７０程度に設定される。ロックウェルかたさは、ロックウェルかたさ試験機によるもので、ダイヤモンド、鋼球あるいは超硬合金球を試料に当て、基準荷重を加え、次に試験荷重を加え、再び試験荷重に戻したとき、前後２回の基準荷重における圧子の侵入深さの差によってかたさを求め、その数値はゲージの目盛によって読みとる。基準荷重は９８．０７Ｎ｛１０ｋｇｆ｝とし、圧子の種類及び試験荷重によって、図２に示すスケールがある。なお、ロックウェルかたさ表記のＨＲはロックウェルかたさ、つぎのＣはスケール、次の数値は試験荷重を表す。
【００３２】
ローラ１５は、軸１４に回転可能なように図示しないネジで軸より外れないようになっているので、そのネジを外すことで進退手段１６に対して容易に着脱自在となっている。これにより、消耗部位のみの交換が可能となり、基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）全体を交換したり、基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）の大掛かりな分解作業を不要とし、消耗部品の交換作業を簡単にでき、かつ交換作業時間を短くすることができるようになっている。
【００３３】
次に、上記のように構成された基板搬送用位置決め装置の作用を説明する。図３は基板搬送用位置決め装置の動作を時間の経過と共に表した動作説明図、図４はローラ衝接直後の基板の挙動を（ａ）〜（ｃ）で表した説明図である。
【００３４】
まず、プリント基板Ｐは、前段装置１７の搬出部１８から基板搬送装置２へ移載され、図３の左方から右方へ搬送される。
【００３５】
基板搬送装置２に設けられている基板搬入センサ１９がプリント基板Ｐを検知すると、コンベア４，５が回転され、時間Ｔ後に基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）がＯＮされる。
【００３６】
これにより、ローラ１５は、図１のように（１）→（２）→（３）→（４）の順で揺動し、プリント基板Ｐの先端面に接触する。コンベア４，５は、ストッパ用基板検出センサ２０がプリント基板Ｐを検知してから時間ｔ後に停止される。そして、プリント基板Ｐ及びローラ１５は、コンベア４，５により搬送されたプリント基板Ｐがローラ１５に衝接し、コンベア４，５が停止されるまでの間に図４に示す挙動を示す。
【００３７】
すなわち、プリント基板Ｐは、図４（ａ）に示すように、コンベア４，５の搬送によって先端面がローラ１５に当接すると、その反力によって、基板搬送面８に垂直な任意な回転中心Ｃｘ回りに回転する。そして、図４（ｂ）に示すように、後部Ｐ１がいずれかのガイド１１，１２に当接する。この回転は、プリント基板Ｐとガイド１１，１２との間に形成される所定間隙ｄによって可能となる。プリント基板Ｐが回転した状態で、コンベア４，５が搬送駆動されることにより、図４（ｃ）に示すように、プリント基板Ｐは回転姿勢が復元されるように上記回転とは逆方向に回転される。
【００３８】
この際、ローラ１５はプリント基板Ｐと接触した状態であるため、プリント基板Ｐの姿勢復元回転に伴い、微小角度で連れ回りすることになる。そして、ローラ１５が連れ回りされ、プリント基板Ｐの姿勢がある程度復元した状態でコンベア４，５の搬送動作が停止される。これにより、ローラ１５は、当初の衝接位置が回転された位置のままとなる。
【００３９】
この状態で検査手段６０による検査が実行され、検査終了した所定時間ｈ後にコンベア４，５が再び駆動され、ローラ１５が（４）→（３）→（２）→（１）の順で揺動され、プリント基板Ｐとのロック（位置決め）が外れる。そして、基板搬出センサ２１がプリント基板Ｐの後端を検知すると、検査完了状態となってプリント基板Ｐの間欠搬送の一工程が終了する。
【００４０】
このように、上記基板搬送用位置決め装置１（１Ａ）によれば、コンベア４，５の側板９，１０に設けた進退手段１６により、ローラ１５を基板搬送面８に対して進退自在とさせたので、基板搬送面８に配置されたローラ１５にプリント基板Ｐが当接すると、プリント基板Ｐとガイド１１，１２との間に形成される所定間隙ｄによってプリント基板Ｐが基板搬送面８に垂直な軸回りに回転し、その後のコンベア４，５の搬送作用によって、ローラ１５に先端面を当接させたままプリント基板Ｐがさらに逆方向へ回転されることになる。
【００４１】
これにより、プリント基板Ｐの回転とともにローラ１５が微量に回転される。従って、新たなプリント基板Ｐが当接する都度、ローラ１５が微量ずつ回転されて当接位置が変り、従来局所的であった磨耗部がローラ１５の円周方向に分散されることになり、ストッパとしての耐久年数を長くすることができる。この結果、高い位置決め精度を長期間に渡って維持できるとともに、交換回数を減らすことができる。しかも、従来の固定式のピンと異なり、プリント基板Ｐとの衝接時にローラ１５がプリント基板Ｐの回転に伴って微小回転するので、プリント基板Ｐとの擦れが軽減され、基板先端面の磨耗を低減することができる。この結果、磨耗粉除去のための清掃も減らすことができる。
【００４２】
なお、上述した実施の形態において、ローラ１５は、駆動装置１３と揺動杆１４とからなる揺動機構によって基板搬送面８に対して進退される構成として説明したが、本発明に係る基板搬送用位置決め装置は、図５（ａ），（ｂ）に示すように、ローラ１５が駆動装置２２及び昇降杆２３とからなる直線往復機構によって基板搬送面８に対して進退されるものであってもよい。このような直線往復機構によれば、揺動機構に比べてローラ１５の移動範囲が小さくなり、装置のコンパクト化に有利となる。
【００４３】
次に、本発明に係る基板搬送用位置決め装置の他の実施の形態を説明する。図６は基板搬送装置に設けられた他の実施の形態に係る基板搬送用位置決め装置の平面視を（ａ）、側面視を（ｂ）、正面視を（ｃ）に示した構成説明図である。なお、図１に示した構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略するものとする。
【００４４】
図６（ａ）〜（ｃ）に示す基板搬送用位置決め装置１（１Ｂ）において、ローラ１５は、基板搬送面８に平行かつガイド１１，１２に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されている。
【００４５】
この基板搬送用位置決め装置１（１Ｂ）によれば、ローラ１５が基板搬送面８に平行かつガイド１１，１２に垂直な支持軸回りに回転自在に支持されるので、基板先端面８との接触位置を、特にローラ１５の回転中心より下側の周面とすることにより、基板衝接の都度、ローラ１５を確実に一定方向（図６（ｂ）の時計回り）に回転させることができる。これにより、ローラ１５の磨耗量を円周方向でより均一化させることができる。
【００４６】
なお、図６（ａ）〜（ｃ）に示す形態では、ローラ１５が揺動機構によって基板搬送面８に対して進退される構成について説明したが、基板搬送用位置決め装置は、図７（ａ），（ｂ）に示すように、ローラ１５が駆動装置２２及び昇降杆２３とからなる直線往復機構によって基板搬送面８に対して進退されるものであってもよい。このような直線往復機構によれば、揺動機構に比べてローラ１５の移動範囲が小さくなり、装置のコンパクト化に有利となる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】基板搬送装置に設けられた本発明に係る基板搬送用位置決め装置の平面視を（ａ）、側面視を（ｂ）、正面視を（ｃ）に示した構成説明図である。
【図２】かたさのスケールとその内容を表した説明図である。
【図３】基板搬送用位置決め装置の動作を時間の経過と共に表した動作説明図である。
【図４】（ａ），（ｂ），（ｃ）  ローラ衝接直後の基板の挙動を表す説明図である。
【図５】（ａ），（ｂ）  図１の基板搬送用位置決め装置におけるローラの進退構成が直線往復機構である変形例の構成図である。
【図６】基板搬送装置に設けられた他の実施の形態に係る基板搬送用位置決め装置の平面視を（ａ）、側面視を（ｂ）、正面視を（ｃ）に示した構成説明図である。
【図７】（ａ），（ｂ）  図６の基板搬送用位置決め装置におけるローラの進退構成が直線往復機構である変形例の構成図である。
【図８】従来の基板搬送用位置決め装置を備えた印刷半田検査装置の正面図である。
【図９】図８に示した印刷半田検査装置の平面図である。
【図１０】レーザ変位計による変位量の検出原理を示す概念図である。
【符号の説明】
【００４８】
１（１Ａ，１Ｂ）  基板搬送用位置決め装置
２  基板搬送装置
４，５  一対のコンベア
８  基板搬送面
９，１０  側板
１１，１２  一対のガイド
１５  ローラ
１６  進退手段
ｄ  所定間隙
Ｐ  プリント基板（基板）
Ｘ  基板搬送方向
【図１】
2005286189.tif 000003
【図２】
2005286189.tif 000004
【図３】
2005286189.tif 000005
【図４】
2005286189.tif 000006
【図５】
2005286189.tif 000007
【図６】
2005286189.tif 000008
【図７】
2005286189.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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