(57)【要約】【課題】大型化及び高コスト化を招くことなく、光源の発光パワーを精度良くモニタする。【解決手段】光源ＬＤ２から出射された光束のうち、光学系に向かう光束ＢＭ２をビームスプリッタ５４に入射させ、かつ光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部をモニタ用光束としてモニタ用受光器ＰＤｍの受光面方向に屈折させるモニタ用光屈折素子Ｌ２を、ホログラムユニットＨＵ２とビームスプリッタとの間の光路上に配置する。これにより、利用される光束に影響することなく、十分な光強度を有するモニタ用光束を得るためのモニタ用光屈折素子の位置決めが容易となり、かつ装置の大型化を抑制することができる。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系に向けて光束を出射する光源の発光パワーをモニタするモニタ装置であって、
前記光源から出射された光束のうち、前記光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部をモニタ用光束として前記光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折させる光学素子と；
前記モニタ用光束を受光し、受光光量に応じた光電変換信号を生成する受光素子と；を備えるモニタ装置。
【請求項２】
前記受光素子の受光面は、前記光源から出射された光束の主光線方向と略平行であることを特徴とする請求項１に記載のモニタ装置。
【請求項３】
前記光学素子には、前記モニタ用光束を屈折させる領域として、前記光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に対して傾斜した面が形成されていることを特徴とする請求項１又は２に記載のモニタ装置。
【請求項４】
前記傾斜した面は、前記光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に含まれる一方向に延設されていることを特徴とする請求項３に記載のモニタ装置。
【請求項５】
前記光学素子にはテーパ面が形成され、
前記傾斜した面は、前記テーパ面の少なくとも一部であることを特徴とする請求項３に記載のモニタ装置。
【請求項６】
前記テーパ面の内側には、前記光学系に向かう光束が入射することを特徴とする請求項５に記載のモニタ装置。
【請求項７】
前記光学素子は、前記光学系に向かう光束を透過させることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項８】
前記光学素子は、前記光学系に向かう光束の発散度を変更することを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項９】
前記光学素子には、前記光学系に向かう光束の光路となる貫通孔が形成されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項１０】
光学系に向けて択一的に光束を出射する複数の光源の発光パワーをそれぞれモニタするモニタ装置であって、
前記複数の光源にそれぞれ対応し、光源から出射された光束のうち、前記光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部をモニタ用光束として、対応する光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折させる複数の光学素子と；
前記複数の光学素子からの各モニタ用光束を受光し、受光光量に応じた光電変換信号を生成する受光素子と；を備えるモニタ装置。
【請求項１１】
前記受光素子の受光面は、前記複数の光源から出射された各光束の主光線方向と略平行であることを特徴とする請求項１０に記載のモニタ装置。
【請求項１２】
前記複数の光学素子には、前記モニタ用光束を屈折させる領域として、対応する光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に対して傾斜した面がそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項１０又は１１に記載のモニタ装置。
【請求項１３】
前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子では、前記傾斜した面は、対応する光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に含まれる一方向に延設されていることを特徴とする請求項１２に記載のモニタ装置。
【請求項１４】
前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子にはテーパ面が形成され、
前記傾斜した面は、前記テーパ面の少なくとも一部であることを特徴とする請求項１２に記載のモニタ装置。
【請求項１５】
前記テーパ面の内側には、前記光学系に向かう光束が入射することを特徴とする請求項１４に記載のモニタ装置。
【請求項１６】
前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子は、前記光学系に向かう光束を透過させることを特徴とする請求項１０〜１５のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項１７】
前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子は、前記光学系に向かう光束の発散度を変更することを特徴とする請求項１０〜１５のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項１８】
前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子には、前記光学系に向かう光束の光路となる貫通孔が形成されていることを特徴とする請求項１０〜１５のいずれか一項に記載のモニタ装置。
【請求項１９】
光ディスクの記録面に光を照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、
光源と；
前記光源から出射された光束を光ディスクの記録面に集光するとともに、前記記録面で反射された戻り光束を所定の受光位置に導く光学系と；
前記受光位置に配置された光検出器と；
前記光源の発光パワーをモニタする請求項１〜９のいずれか一項に記載のモニタ装置と；を備える光ピックアップ装置。
【請求項２０】
複数種類の光ディスクの記録面に光を照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、
前記複数種類の光ディスクに個別に対応して設けられ、波長の異なる光束を択一的に出射する複数の光源と；
前記各光束を対応する光ディスクの記録面に集光するとともに、前記記録面で反射された戻り光束を所定の受光位置に導く光学系と；
前記受光位置に配置された光検出器と；
前記複数の光源の発光パワーをモニタする請求項１０〜１８のいずれか一項に記載のモニタ装置と；を備える光ピックアップ装置。
【請求項２１】
光ディスクに対して情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう光ディスク装置であって、
請求項１９又は２０に記載の光ピックアップ装置と；
前記光ピックアップ装置を構成するモニタ装置の出力信号に基づいて、前記光ピックアップ装置を構成する光源の発光パワーを補正し、前記情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、モニタ装置、光ピックアップ装置及び光ディスク装置に係り、更に詳しくは、光源の発光パワーをモニタするモニタ装置、該モニタ装置を有する光ピックアップ装置、該光ピックアップ装置を備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報記録媒体（メディア）としてＣＤ（compact disc）やＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置が普及するようになった。この光ディスク装置には、光ディスクの記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップ装置が搭載されている。
【０００３】
通常、光ピックアップ装置は、レーザ光を所定のパワー（発光パワー）で出射する光源、該光源から出射されたレーザ光を光ディスクの記録面に集光するとともに、記録面で反射されたレーザ光を所定の受光位置まで導く光学系、及びその受光位置に配置された受光素子などを備えている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク領域及びスペース領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。
【０００５】
例えば、記録面に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−recordable）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−recordable）及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋recordable）などの追記型の光ディスクでは、マーク領域を形成するときには発光パワーを大きくして色素を加熱及び溶解し、そこに接しているディスク基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときにはディスク基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。
【０００６】
また、記録面に特殊合金を含むＣＤ−ＲＷ（ＣＤ−rewritable）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−rewritable）及びＤＶＤ＋ＲＷ（ＤＶＤ＋rewritable）などの書き換え可能な光ディスクでは、マーク領域を形成する時には、特殊合金を第１の温度に加熱したのち急冷し、アモルファス（非晶質）状態にしている。一方、スペース領域を形成する時には、特殊合金を第２の温度（＜第１の温度）に加熱したのち徐冷し、結晶状態にしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。このような特殊合金の温度制御は光源の発光パワーを制御することによって行なわれる。
【０００７】
通常、光源として用いられる半導体レーザは電流駆動型であり、その発光パワーは供給される電流（駆動電流）によって制御されている。この駆動電流と発光パワーとの関係は「Ｉ−Ｌ特性」と呼ばれている。一般に、駆動電流の一部は半導体レーザ内で熱に変換されるため、使用中に半導体レーザの温度が徐々に上昇し、Ｉ−Ｌ特性が変化する場合がある。この場合には、駆動電流が一定であっても発光パワーが変動することとなる。そこで、記録中には、随時半導体レーザから出射された光束の一部をモニタ用光束としてモニタ用光検出器で受光し、その受光結果に応じて駆動電流を補正し、発光パワーの変動を抑制する、いわゆるＡＰＣ（Automatic Power Control）が行われている。
【０００８】
前記モニタ用光検出器は、戻り光束の影響を抑制するために、半導体レーザの前方に設置することが通例となっている。そして、光利用効率の減少を避けるため、半導体レーザから出射された光束のうち、光ディスクに照射されない光束、すなわちアクセスに利用されない光束を利用して発光パワーをモニタする光ピックアップ装置が提案された（例えば特許文献１参照）。
【０００９】
ところで、年々、記録速度は高速化し、それに伴って記録時の発光パワーは大きくなる傾向にある。そこで、今後記録速度が更に高速化したときに記録品質を維持するには、発光パワーの変動を更に小さくしなければならない。そして、そのためには、モニタ用光検出器の受光光量を増加させ、発光パワーのモニタ精度を高くすることが必要となる。しかしながら、特許文献１に開示されている光ピックアップ装置では、モニタ用光束を集光するための集光ミラーをできるだけ半導体レーザから出射された光束の強度中心近くに配置しようとすると、光学系との関係からその配置位置が制限され、組み込み作業や調整作業に時間がかかり、コスト上昇を招来するおそれがある。
【００１０】
また、最近では、パーソナルコンピュータ（パソコン）の小型化、薄型化に伴い、ＣＤ及びＤＶＤのいずれにも対応できる光ディスク装置を内蔵するものが一般的になりつつある。この場合には、光ピックアップ装置は、ＣＤ用の光源とＤＶＤ用の光源とを備えているため、各光源の発光パワーをそれぞれモニタする必要がある。しかしながら、光源毎にモニタ用光検出器を設けると、大型化及び高価格化を招来するため、モニタ用光検出器を共通化することが望まれている。
【００１１】
【特許文献１】特開２００１−１８４７０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、大型化及び高コスト化を招くことなく、光源の発光パワーを精度良くモニタすることができるモニタ装置を提供することにある。
【００１３】
また、本発明の第２の目的は、大型化及び高コスト化を招くことなく、光利用効率を低下させずに光源の発光パワーに関する情報を精度良く取得することができる光ピックアップ装置を提供することにある。
【００１４】
また、本発明の第３の目的は、大型化及び高コスト化を招くことなく、光ディスクに対して記録品質に優れた記録を行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
請求項１に記載の発明は、光学系に向けて光束を出射する光源の発光パワーをモニタするモニタ装置であって、前記光源から出射された光束のうち、前記光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部をモニタ用光束として前記光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折させる光学素子と；前記モニタ用光束を受光し、受光光量に応じた光電変換信号を生成する受光素子と；を備えるモニタ装置である。
【００１６】
これによれば、光源から出射された光束のうち、光学系に向かう光束よりも外周側の光束、すなわちアクセスに利用されない光束の一部は、光学素子によりモニタ用光束として、光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折される。そして、そのモニタ用光束は受光素子で受光され、受光光量に応じた光電変換信号が生成される。この場合には、光学系に向かう光束に影響することなく、十分な光強度を有するモニタ用光束を得るための光学素子の位置決めが容易となり、かつ装置の大型化を抑制することができる。従って、大型化及び高コスト化を招くことなく、光源の発光パワーを精度良くモニタすることが可能となる。
【００１７】
この場合において、請求項２に記載のモニタ装置の如く、前記受光素子の受光面は、前記光源から出射された光束の主光線方向と略平行であることとすることができる。
【００１８】
上記請求項１及び２に記載の各モニタ装置において、請求項３に記載のモニタ装置の如く、前記光学素子には、前記モニタ用光束を屈折させる領域として、前記光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に対して傾斜した面が形成されていることとすることができる。
【００１９】
この場合において、請求項４に記載のモニタ装置の如く、前記傾斜した面は、前記光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に含まれる一方向に延設されていることとすることができる。
【００２０】
上記請求項３に記載のモニタ装置において、請求項５に記載のモニタ装置の如く、前記光学素子にはテーパ面が形成され、前記傾斜した面は、前記テーパ面の少なくとも一部であることとすることができる。
【００２１】
この場合において、請求項６に記載のモニタ装置の如く、前記テーパ面の内側には、前記光学系に向かう光束が入射することとすることができる。
【００２２】
上記請求項１〜６に記載の各モニタ装置において、請求項７に記載のモニタ装置の如く、前記光学素子は、前記光学系に向かう光束を透過させることとすることができる。
【００２３】
上記請求項１〜６に記載の各モニタ装置において、請求項８に記載のモニタ装置の如く、前記光学素子は、前記光学系に向かう光束の発散度を変更することとすることができる。
【００２４】
上記請求項１〜６に記載の各モニタ装置において、請求項９に記載のモニタ装置の如く、前記光学素子には、前記光学系に向かう光束の光路となる貫通孔が形成されていることとすることができる。
【００２５】
請求項１０に記載の発明は、光学系に向けて択一的に光束を出射する複数の光源の発光パワーをそれぞれモニタするモニタ装置であって、前記複数の光源にそれぞれ対応し、光源から出射された光束のうち、前記光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部をモニタ用光束として、対応する光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折させる複数の光学素子と；前記複数の光学素子からの各モニタ用光束を受光し、受光光量に応じた光電変換信号を生成する受光素子と；を備えるモニタ装置である。
【００２６】
これによれば、複数の光源にそれぞれ対応して複数の光学素子が設けられている。各光源から出射された光束のうち、光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部は、それぞれ対応する光学素子により、モニタ用光束として光源から出射された光束の主光線方向と異なる方向に屈折される。そして、各光学素子からの各モニタ用光束は受光素子で受光され、受光光量に応じた光電変換信号が生成される。この場合には、光学系で利用される光束に影響することなく、十分な光強度を有するモニタ用光束を得るための各光学素子の位置決めが容易となり、かつ装置の大型化を抑制することができる。また、各光学素子からのモニタ用光束は１つの受光素子で受光されるため、低コスト化を図ることができる。従って、大型化及び高コスト化を招くことなく、光源の発光パワーを精度良くモニタすることが可能となる。
【００２７】
この場合において、請求項１１に記載のモニタ装置の如く、前記受光素子の受光面は、前記複数の光源から出射された各光束の主光線方向と略平行であることとすることができる。
【００２８】
上記請求項１０及び１１に記載の各モニタ装置において、請求項１２に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子には、前記モニタ用光束を屈折させる領域として、対応する光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に対して傾斜した面がそれぞれ形成されていることとすることができる。
【００２９】
この場合において、請求項１３に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子では、前記傾斜した面は、対応する光源から出射された光束の主光線方向に直交する面に含まれる一方向に延設されていることとすることができる。
【００３０】
上記請求項１２に記載のモニタ装置において、請求項１４に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子にはテーパ面が形成され、前記傾斜した面は、前記テーパ面の少なくとも一部であることとすることができる。
【００３１】
この場合において、請求項１５に記載のモニタ装置の如く、前記テーパ面の内側には、前記光学系に向かう光束が入射することとすることができる。
【００３２】
上記請求項１０〜１５に記載の各モニタ装置において、請求項１６に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子は、前記光学系に向かう光束を透過させることとすることができる。
【００３３】
上記請求項１０〜１５に記載の各モニタ装置において、請求項１７に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子は、前記光学系に向かう光束の発散度を変更することとすることができる。
【００３４】
上記請求項１０〜１５に記載の各モニタ装置において、請求項１８に記載のモニタ装置の如く、前記複数の光学素子のうち少なくとも１つの光学素子には、前記光学系に向かう光束の光路となる貫通孔が形成されていることとすることができる。
【００３５】
請求項１９に記載の発明は、光ディスクの記録面に光を照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、光源と；前記光源から出射された光束を光ディスクの記録面に集光するとともに、前記記録面で反射された戻り光束を所定の受光位置に導く光学系と；前記受光位置に配置された光検出器と；前記光源の発光パワーをモニタする請求項１〜９のいずれか一項に記載のモニタ装置と；を備える光ピックアップ装置である。
【００３６】
これによれば、請求項１〜９のいずれか一項に記載のモニタ装置を備えているため、大型化及び高コスト化を招くことなく、光利用効率を低下させずに光源の発光パワーに関する情報を精度良く取得することが可能となる。
【００３７】
請求項２０に記載の発明は、複数種類の光ディスクの記録面に光を照射し、前記記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、前記複数種類の光ディスクに個別に対応して設けられ、波長の異なる光束を択一的に出射する複数の光源と；前記各光束を対応する光ディスクの記録面に集光するとともに、前記記録面で反射された戻り光束を所定の受光位置に導く光学系と；前記受光位置に配置された光検出器と；前記複数の光源の発光パワーをモニタする請求項１０〜１８のいずれか一項に記載のモニタ装置と；を備える光ピックアップ装置である。
【００３８】
これによれば、請求項１０〜１８のいずれか一項に記載のモニタ装置を備えているため、大型化及び高コスト化を招くことなく、光利用効率を低下させずに各光源の発光パワーに関する情報を精度良く取得することが可能となる。
【００３９】
請求項２１に記載の発明は、光ディスクに対して情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう光ディスク装置であって、請求項１９又は２０に記載の光ピックアップ装置と；前記光ピックアップ装置を構成するモニタ装置の出力信号に基づいて、前記光ピックアップ装置を構成する光源の発光パワーを補正し、前記情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００４０】
これによれば、処理装置によりモニタ装置の出力信号に基づいて、光源の発光パワーがほぼリアルタイムに補正されるため、温度変化などにより光源の発光特性が変動しても、光源は常に適切な発光パワーを維持することができる。従って、結果として大型化及び高コスト化を招くことなく、光ディスクに対して記録品質に優れた記録を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図９に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００４２】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向（光ディスク１５の半径方向）に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、駆動制御回路２６、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では一例として、光ディスク装置２０は、ＣＤ及びＤＶＤをアクセスの対象媒体とするものとする。すなわち、ＣＤ又はＤＶＤの規格に準拠した情報記録媒体が光ディスク１５に用いられる。
【００４３】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５の記録面にレーザ光を照射するとともに、該記録面からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置２３は、いわゆる２波長光ピックアップ装置であり、一例として図２に示されるように、２つのホログラムユニット（ＨＵ１、ＨＵ２）、光学素子としての２つのモニタ用光屈折素子（Ｌ１、Ｌ２）、ビームスプリッタ５４、コリメートレンズ５２、立上げミラー５６、対物レンズ６０、受光素子としてのモニタ用受光器ＰＤm、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータ（いずれも図示省略））などを備えている。すなわち、ここでは、ビームスプリッタ５４と、コリメートレンズ５２と、立上げミラー５６と、対物レンズ６０とによって光学系が構成されている。
【００４４】
前記ホログラムユニットＨＵ１は、光ディスク１５がＤＶＤのときに用いられ、一例として図３（Ａ）に示されるように、波長が約６６０ｎｍの光束を出射する光源としての半導体レーザＬＤ１、該半導体レーザＬＤ１の近傍に配置され、光ディスク１５（ここでは、ＤＶＤ）からの戻り光束を受光する光検出器としての受光器ＰＤ１、及び戻り光束を受光器ＰＤ１の受光面方向に分岐するためのホログラムＨＧ１を有している。受光器ＰＤ１は、受光した戻り光束を電流信号に光電変換し、再生信号処理回路２８に出力する。受光器ＰＤ１の出力信号は、ウォブル信号情報、ＲＦ信号情報及びサーボ信号情報などを含んでいる。なお、このホログラムユニットＨＵ１は、出射される光束の最大強度出射方向が＋Ｚ方向となるように配置されている。
【００４５】
前記ホログラムユニットＨＵ２は、光ディスク１５がＣＤのときに用いられ、一例として図３（Ｂ）に示されるように、波長が約７８０ｎｍの光束を出射する光源としての半導体レーザＬＤ２、該半導体レーザＬＤ２の近傍に配置され、光ディスク１５（ここでは、ＣＤ）からの戻り光束を受光する光検出器としての受光器ＰＤ２、及び戻り光束を受光器ＰＤ２の受光面方向に分岐するためのホログラムＨＧ２を有している。受光器ＰＤ２は、受光した戻り光束を電流信号に光電変換し、再生信号処理回路２８に出力する。受光器ＰＤ２の出力信号は、ウォブル信号情報、ＲＦ信号情報及びサーボ信号情報などを含んでいる。なお、このホログラムユニットＨＵ２は、出射される光束の最大強度出射方向が−Ｘ方向となるように配置されている。
【００４６】
図２に戻り、前記モニタ用光屈折素子Ｌ１は、ホログラムユニットＨＵ１の＋Ｚ側に配置され、前記モニタ用光屈折素子Ｌ２は、ホログラムユニットＨＵ２の−Ｘ側に配置されている。なお、モニタ用光屈折素子Ｌ１及びモニタ用光屈折素子Ｌ２の詳細については、後述する。
【００４７】
前記ビームスプリッタ５４は、モニタ用光屈折素子Ｌ１の＋Ｚ側で、かつモニタ用光屈折素子Ｌ２の−Ｘ側に配置され、モニタ用光屈折素子Ｌ１からの光束を−Ｘ方向に分岐する。なお、モニタ用光屈折素子Ｌ２からの光束はビームスプリッタ５４をそのまま透過する。
【００４８】
前記コリメートレンズ５２は、ビームスプリッタ５４の−Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ５４からの光束を略平行光とする。
【００４９】
前記立上げミラー５６は、コリメートレンズ５２の−Ｘ側に配置され、コリメートレンズ５２からの光束の光路を＋Ｙ方向に曲げる。
【００５０】
前記対物レンズ６０は、立上げミラー５６の＋Ｙ側に配置され、立上げミラー５６からの光束を集光し、光ディスク１５の記録面に光スポットを形成する。
【００５１】
また、一例として図４に示されるように、コリメートレンズ５２で略平行光とされた光束のうち、対物レンズ６０に取り込まれ、光ディスク１５に照射される光束が全て含まれるビーム径を有効径Ｄeffと呼ぶこととする。なお、対物レンズ６０は絞りＡpとともにトラッキング方向にシフトするため、有効径Ｄeffは絞りＡpの口径よりも若干大きい。ここでは、有効径Ｄeff内の光束が光ピックアップ装置２３の光学系で利用される光束となる。すなわち、半導体レーザから出射された光束のうち、有効径Ｄeff内の光束に対応する光束が光学系に向かう光束である。
【００５２】
ここで、前記モニタ用光屈折素子Ｌ１及びモニタ用光屈折素子Ｌ２について説明する。
【００５３】
モニタ用光屈折素子Ｌ１は、一例として図５（Ａ）及び図５（Ａ）のＡ−Ａ線断面図である図５（Ｂ）に示されるように、半導体レーザＬＤ１から出射された光束の入射面（−Ｚ側の面）に皿状の凹部が形成されている。この凹部の底面１０１は光軸にほぼ垂直な平面である。また、凹部の周壁部１０２は光軸に直交する面に対して傾斜した斜面（テーパ面）となっている。すなわち、テーパ面の内側が底面１０１となる。なお、図５（Ａ）では凹部の外形が光軸を中心とする円形として示されているが、楕円形であっても良い。さらに、凹部の外形が円あるいは楕円の一部を構成する弧状を含んでいても良い。
【００５４】
そして、一例として図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示されるように、ホログラムユニットＨＵ１から出射された光束のうち、底面１０１に入射した光束は、そのままモニタ用光屈折素子Ｌ１を透過し、ビームスプリッタ５４に向かう。一方、周壁部１０２に入射した光束の一部は、モニタ用光束としてモニタ用受光器ＰＤmの受光面方向に屈折される。
【００５５】
ここでは、コリメートレンズ５２で略平行光とされたときにビーム径が有効径Ｄeff内に含まれる光束（ＢＭ１とする）が底面１０１に入射するように設定されている。これにより、半導体レーザＬＤ１から出射された光束のうち、光学系に向かう光束はモニタ用光屈折素子Ｌ１を透過し、光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部はモニタ用光屈折素子Ｌ１でモニタ用受光器ＰＤmの受光面方向に屈折されることとなる。
【００５６】
モニタ用光屈折素子Ｌ１の位置決めについて説明する。
１．有効径Ｄeff内の光束の光量を計測する計測器を所定位置に配置する。
２．モニタ用光屈折素子Ｌ１が配置されていない状態で半導体レーザＬＤ１を発光させる。このときの計測器の計測値を基準値Ｍ１とする。
３．モニタ用光屈折素子Ｌ１をホログラムユニットＨＵ１とビームスプリッタ５４との間に配置する。
４．計測器の出力信号とモニタ用受光器ＰＤmの出力信号とを監視しつつ、モニタ用光屈折素子Ｌ１をＺ軸方向に移動し、計測器の計測値がほぼ基準値Ｍ１で、かつモニタ用受光器ＰＤmの出力レベルが最大となる位置を最適位置とする。
５．モニタ用光屈折素子Ｌ１を最適位置に固定（例えばねじ止め）する。
このように、短時間で簡単にモニタ用光屈折素子Ｌ１をその最適位置に位置決めすることができる。
【００５７】
モニタ用光屈折素子Ｌ２は、一例として図７（Ａ）及び図７（Ａ）のＢ−Ｂ線断面図である図７（Ｂ）に示されるように、半導体レーザＬＤ２から出射された光束の入射面に皿状の凹部が形成されている。この凹部の底面１１１は光軸にほぼ垂直な平面である。また、凹部の周壁部１１２は光軸に直交する面に対して傾斜した斜面（テーパ面）となっている。すなわち、テーパ面の内側が底面１１１となる。なお、図７（Ａ）では凹部の外形が光軸を中心とする円形として示されているが、楕円形であっても良い。さらに、凹部の外形が円あるいは楕円の一部を構成する弧状を含んでいても良い。
【００５８】
そして、一例として図８に示されるように、ホログラムユニットＨＵ２から出射された光束のうち、底面１１１に入射した光束は、そのままモニタ用光屈折素子Ｌ２を透過し、ビームスプリッタ５４に向かう。一方、周壁部１１２に入射した光束の一部は、モニタ用光束としてモニタ用受光器ＰＤmの受光面方向に屈折される。
【００５９】
ここでは、コリメートレンズ５２で略平行光とされたときにビーム径が有効径Ｄeff内に含まれる光束（ＢＭ２とする）が底面１１１に入射するように設定されている。これにより、光源ＬＤ２から出射された光束のうち、光学系に向かう光束はモニタ用光屈折素子Ｌ２を透過し、光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部はモニタ用光屈折素子Ｌ２でモニタ用受光器ＰＤmの受光面方向に屈折されることとなる。
【００６０】
モニタ用光屈折素子Ｌ２の位置決めについて説明する。
１．有効径Ｄeff内の光束の光量を計測する計測器を所定位置に配置する。
２．モニタ用光屈折素子Ｌ２が配置されていない状態で半導体レーザＬＤ２を発光させる。このときの計測器の計測値を基準値Ｍ２とする。
３．モニタ用光屈折素子Ｌ２をホログラムユニットＨＵ２とビームスプリッタ５４との間に配置する。
４．計測器の出力信号とモニタ用受光器ＰＤmの出力信号とを監視しつつ、モニタ用光屈折素子Ｌ２をＸ軸方向に移動し、計測器の計測値がほぼ基準値Ｍ２で、かつモニタ用受光器ＰＤmの出力レベルが最大となる位置を最適位置とする。
５．モニタ用光屈折素子Ｌ２を最適位置に固定（例えばねじ止め）する。
このように、短時間で簡単にモニタ用光屈折素子Ｌ２をその最適位置に位置決めすることができる。
【００６１】
前記モニタ用受光器ＰＤmは、ビームスプリッタ５４の＋Ｙ側に、その受光面が各光源から出射された光束の主光線と略平行となるように配置され、受光したモニタ用光束の光量に応じたモニタ信号（光電変換信号）を生成し、レーザ制御回路２４に出力する。
【００６２】
前記フォーカシングアクチュエータ（図示省略）は、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。また、前記トラッキングアクチュエータ（図示省略）は、光ディスク１５の半径方向であるトラッキング方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。
【００６３】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明する。先ず、光ディスク１５がＤＶＤの場合について説明する。
【００６４】
半導体レーザＬＤ１から出射された光束は、ホログラムＨＧ１を介してモニタ用光屈折素子Ｌ１に入射する。このモニタ用光屈折素子Ｌ１に入射した光束のうち、モニタ用光屈折素子Ｌ１の底面１０１に入射した光束はモニタ用光屈折素子Ｌ１を透過し、ビームスプリッタ５４に入射する。そして、ビームスプリッタ５４で−Ｘ方向に分岐された光束は、コリメートレンズ５２で略平行光となった後、立上げミラー５６で＋Ｙ方向に反射され、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。
【００６５】
光ディスク１５の記録面で反射した反射光は、対物レンズ６０で再び略平行光とされ、戻り光束として立上げミラー５６で＋Ｘ方向に反射され、コリメートレンズ５２を介して、ビームスプリッタ５４に入射する。このビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、モニタ用光屈折素子Ｌ１の底面１０１を透過し、ホログラムＨＧ１に入射する。そして、ホログラムＨＧ１で回折された戻り光束は、受光器ＰＤ１で受光される。
【００６６】
一方、モニタ用光屈折素子Ｌ１に入射した光束のうち、モニタ用光屈折素子Ｌ１の周壁部１０２に入射した光束は、屈折されてモニタ用受光器ＰＤmで受光される。
【００６７】
次に、光ディスク１５がＣＤの場合について説明する。
【００６８】
半導体レーザＬＤ２から出射された光束は、ホログラムＨＧ２を介してモニタ用光屈折素子Ｌ２に入射する。このモニタ用光屈折素子Ｌ２に入射した光束のうち、モニタ用光屈折素子Ｌ２の底面１１１に入射した光束は、モニタ用光屈折素子Ｌ２を透過し、ビームスプリッタ５４に入射する。このビームスプリッタ５４を透過した光束は、コリメートレンズ５２で略平行光となった後、立上げミラー５６で＋Ｙ方向に反射され、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。
【００６９】
光ディスク１５の記録面で反射した反射光は、対物レンズ６０で再び略平行光とされ、戻り光束として立上げミラー５６で＋Ｘ方向に反射され、コリメートレンズ５２を介して、ビームスプリッタ５４に入射する。このビームスプリッタ５４を透過した戻り光束は、モニタ用光屈折素子Ｌ２の底面１１１を透過し、ホログラムＨＧ２に入射する。そして、ホログラムＨＧ２で回折されたＣＤ用戻り光束は、受光器ＰＤ２で受光される。
【００７０】
一方、モニタ用光屈折素子Ｌ２に入射した光束のうち、モニタ用光屈折素子Ｌ２の周壁部１１２に入射した光束は、屈折されてモニタ用受光器ＰＤmで受光される。
【００７１】
なお、光ディスク１５がＣＤであるかＤＶＤであるかは、記録面の反射率、サーボ追従性、及び光ディスク１５に記録されているディスク情報などに基づいて、判別することができる。通常、この判別は光ディスク１５が光ディスク装置２０にセットされたときにＣＰＵ４０によって行われる。そして、その判別結果はＣＰＵ４０からレーザ制御回路２４及び再生信号処理回路２８などのディスクの種類に依存する処理を行う回路に通知される。これにより、レーザ制御回路２４では、ホログラムユニットＨＵ１及びホログラムユニットＨＵ２のいずれかが制御対象として選択される。
【００７２】
図１に戻り、前記再生信号処理回路２８は、受光器ＰＤ１、ＰＤ２の出力信号に基づいて、サーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号など）、クロック信号、及びＲＦ信号などを生成するとともに、アドレス情報を取得する。ここで生成されたサーボ信号は前記駆動制御回路２６に出力され、クロック信号はエンコーダ２５に出力される。また、アドレス情報はＣＰＵ４０に出力される。さらに、再生信号処理回路２８は、ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。
【００７３】
前記駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのトラックエラー信号に基づいて、トラッキング方向に関する対物レンズ６０の位置ずれを補正するための前記トラッキングアクチュエータの駆動信号を生成するとともに、フォーカスエラー信号に基づいて、対物レンズ６０のフォーカスずれを補正するための前記フォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。ここで生成された各駆動信号は光ピックアップ装置２３に出力される。これにより、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。また、駆動制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、シークモータ２１を駆動するための駆動信号、及びスピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成する。各駆動信号は、それぞれシークモータ２１及びスピンドルモータ２２に出力される。
【００７４】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００７５】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００７６】
前記レーザ制御回路２４は、半導体レーザＬＤ１及びＬＤ２の発光パワーを制御する。このレーザ制御回路２４は、一例として図９に示されるように、駆動信号生成回路２４ａ、変調回路２４ｂ、レベル設定回路２４ｃ、及び補正回路２４ｄなどから構成されている。
【００７７】
変調回路２４ｂは、光ディスク１５の種類（例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ及びＤＶＤ＋ＲＷなど）、エンコーダ２５からの書き込み信号、及び再生信号処理回路２８からのクロック信号などに基づいて、変調信号を生成する。ここで生成された変調信号は駆動信号生成回路２４ａに出力される。
【００７８】
レベル設定回路２４ｃは、ＣＰＵ４０からの記録パワー、再生パワー、及び消去パワーに関するパワー情報に基づいて、上記変調信号の信号レベルを設定するレベル信号を生成する。ここで生成されたレベル信号は駆動信号生成回路２４ａに出力される。
【００７９】
補正回路２４ｄは、モニタ用受光器ＰＤmからのモニタ信号に基づいて、半導体レーザの発光パワーが適切な発光パワーを維持するように上記レベル信号を補正する補正信号を生成する。ここで生成された補正信号は駆動信号生成回路２４ａに出力される。
【００８０】
駆動信号生成回路２４ａは、変調回路２４ｂの出力信号（変調信号）、レベル設定回路２４ｃの出力信号（レベル信号）及び補正回路２４ｄの出力信号（補正信号）に基づいて、光ディスク１５がＤＶＤのときには、半導体レーザＬＤ１を駆動するための駆動信号を生成し、光ディスク１５がＣＤのときには、半導体レーザＬＤ２を駆動するための駆動信号を生成する。通常、記録時の駆動信号はパルス状の信号となり、再生時の駆動信号はほぼ一定レベルの信号となる。ここで生成された半導体レーザＬＤ１の駆動信号は半導体レーザＬＤ１に出力され、半導体レーザＬＤ２の駆動信号は半導体レーザＬＤ２に出力される。
【００８１】
前記インターフェース３８は、上位装置９０（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）などの標準インターフェースに準拠している。
【００８２】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述されたプログラムが格納されている。また、データ領域には、光ディスクの種類（例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ及びＤＶＤ＋ＲＷなど）毎の記録条件、及び各半導体レーザの発光特性などが格納されている。
【００８３】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００８４】
《記録処理》
次に、光ディスク１５にデータを記録する場合のＣＰＵ４０の処理動作について簡単に説明する。なお、光ディスク１５の種類は上述の如くしてすでに判別され、その判別結果は各回路に通知されているものとする。そこで、レーザ制御回路２４では、ホログラムユニットＨＵ１及びホログラムユニットＨＵ２の一方がすでに選択されている。
【００８５】
１．上位装置９０から記録要求のコマンドを受信すると、光ディスク１５が記録速度に応じた線速度（又は回転数）で回転するように駆動制御回路２６に指示するとともに、上位装置９０から記録要求のコマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【００８６】
２．上位装置９０から受信したデータ（以下、「ユーザデータ」という）をバッファＲＡＭ３４に蓄積するようにバッファマネージャ３７に指示する。
【００８７】
３．半導体レーザの発光パワーが再生時の発光パワーとなるようにレーザ制御回路２４に指示する。
【００８８】
４．光ディスク１５の回転が記録速度に応じた線速度（又は回転数）に達すると、前述したトラッキング制御及びフォーカス制御を駆動制御回路２６に指示する。なお、トラッキング制御及びフォーカス制御は記録処理が終了するまで随時行われる。これにより、再生信号処理回路２８からアドレス情報がＣＰＵ４０に出力される。
【００８９】
５．再生信号処理回路２８からのアドレス情報に基づいて、目標位置近傍に光ピックアップ装置２３が位置するように駆動制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。
【００９０】
６．バッファマネージャ３７からバッファＲＡＭ３４に蓄積されたユーザデータのデータ量が所定の量を超えたとの通知を受けると、エンコーダ２５に書き込み信号の生成を指示する。これにより、光スポットの位置が目標位置に到達すると、半導体レーザの発光パワーは記録時の発光パワーとなり、光ディスク１５へのユーザデータの記録が開始される。この記録中には、前述したように、レーザ制御回路２４において、モニタ用受光器ＰＤmからのモニタ信号に基づいて半導体レーザの駆動信号が適宜補正される。
【００９１】
７．上位装置９０からのユーザデータがすべて記録されると処理を終了する。
【００９２】
《再生処理》
また、光ディスク１５に記録されているデータを再生する場合のＣＰＵ４０の処理動作について簡単に説明する。
【００９３】
１．上位装置９０から再生要求のコマンドを受信すると、光ディスク１５が再生速度に応じて回転するように駆動制御回路２６に指示するとともに、再生要求のコマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【００９４】
２．半導体レーザの発光パワーが再生時の発光パワーとなるようにレーザ制御回路２４に指示する。
【００９５】
３．光ディスク１５の回転が再生速度に応じた線速度（又は回転数）に達すると、前述したトラッキング制御及びフォーカス制御を駆動制御回路２６に指示する。なお、トラッキング制御及びフォーカス制御は再生処理が終了するまで随時行われる。これにより、再生信号処理回路２８からアドレス情報がＣＰＵ４０に出力される。
【００９６】
４．再生信号処理回路２８からのアドレス情報に基づいて、目標位置近傍に光ピックアップ装置２３が位置するように駆動制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。光スポットの位置が目標位置に到達すると、再生信号処理回路２８によって、前述したようにしてデータが再生され、バッファＲＡＭ３４に格納される。そして、バッファＲＡＭ３４に蓄積された再生データはバッファマネージャ３７によって、セクタ毎にインターフェース３８を介して上位装置９０に転送される。
【００９７】
５．上位装置９０から指定されたデータがすべて再生されると処理を終了する。
【００９８】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ピックアップ装置２３では、モニタ用光屈折素子Ｌ１、Ｌ２（光学素子）とモニタ用受光器ＰＤm（受光素子）とによってモニタ装置が構成されている。
【００９９】
また、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、レーザ制御回路２４と、エンコーダ２５と、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、処理装置が実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムにしたがう処理によって実現した処理装置の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１００】
以上説明したように、本実施形態に係る光ピックアップ装置２３によると、半導体レーザ（光源）から出射された光束は、モニタ用光屈折素子（光学素子）に入射する。モニタ用光屈折素子に入射した光束のうち、光学系に向かう光束はビームスプリッタ５４に入射され、光学系に向かう光束よりも外周側の光束の一部はモニタ用光束としてモニタ用受光器ＰＤm（受光素子）の受光面方向に屈折される。そして、モニタ用受光器ＰＤmではモニタ信号（光電変換信号）が生成される。この場合には、モニタ用光屈折素子は半導体レーザとビームスプリッタ５４との間の光路上に配置されるため、モニタ用光屈折素子と半導体レーザとの間隔あるいは、モニタ用光屈折素子とビームスプリッタ５４との間隔を調整することにより、光ディスクに照射される光束に影響することなく、十分な光強度を有するモニタ用光束を得ることができる。すなわち、モニタ用光屈折素子の位置決めが容易となり、かつ光ピックアップ装置の大型化を抑制することができる。従って、大型化及び高コスト化を招くことなく、光源の発光パワーを精度良くモニタすることができ、光利用効率を低下させずに光源の発光パワーに関する情報を精度良く取得することが可能となる。
【０１０１】
また、モニタ用受光器ＰＤmは、その受光面が各モニタ用光屈折素子の光軸と略平行となるように配置されているため、光ピックアップ装置の大型化を抑制することができる。
【０１０２】
また、モニタ用光屈折素子の周壁部の形状が、テーパ状であるため、モニタ用光屈折素子を作るために用いられる成形用の金型の製作が容易となる。また、成形されたモニタ用光屈折素子の仕上げが容易となる。
【０１０３】
また、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、半導体レーザの発光パワーがほぼリアルタイムに補正されるため、温度変化などにより半導体レーザの発光特性が変動しても、半導体レーザは常に適切な発光パワーを維持することができる。従って、結果として大型化及び高コスト化を招くことなく、光ディスクに対して記録品質に優れた記録を行うことが可能となる。
【０１０４】
なお、上記実施形態において、モニタ用光屈折素子Ｌ１の凹所の底部が、一例として図１０に示されるように、貫通孔１０３であっても良い。同様に、モニタ用光屈折素子Ｌ２の凹所の底部が、一例として図１１に示されるように、貫通孔１１３であっても良い。
【０１０５】
また、上記実施形態において、モニタ用光屈折素子Ｌ１を透過する光束の発散度を変える必要がある場合には、モニタ用光屈折素子Ｌ１の凹所の底部が、一例として図１２に示されるように、レンズ形状であっても良い。同様に、モニタ用光屈折素子Ｌ２を透過する光束の発散度を変える必要がある場合には、モニタ用光屈折素子Ｌ２の凹所の底部が、一例として図１３に示されるように、レンズ形状であっても良い。
【０１０６】
なお、上記実施形態において、一例として図１４（Ａ）及び図１４（Ｂ）に示されるように、モニタ用光屈折素子Ｌ１の凹所の底部１０１’が、矩形形状であっても良い。この場合には、Ｘ軸方向に延びる壁部１０２’で光学系に向かう光束よりも外周側の一部の光束が屈折されることとなる。同様に、一例として図１５（Ａ）及び図１５（Ｂ）に示されるように、モニタ用光屈折素子Ｌ２の凹所の底部１１１’が、矩形形状であっても良い。この場合には、Ｘ軸方向に延びる壁部１１２’で光学系に向かう光束よりも外周側の一部の光束が屈折されることとなる。さらに、一例として図１６（Ａ）及び図１６（Ｂ）に示されるように、−Ｙ側の壁部はなくても良い。
【０１０７】
また、上記実施形態では、各半導体レーザの発光パワーをそれぞれモニタする場合について説明したが、これに限らず、いずれか一方の半導体レーザの発光パワーをモニタしても良い。
【０１０８】
また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生、及び消去のうち少なくとも記録が可能な光ディスク装置であれば良い。
【０１０９】
また、上記実施形態では、光ディスク装置がＣＤ及びＤＶＤをアクセスの対象媒体とする場合について説明したが、これに限らず、例えばいずれかに代えて、約４０５ｎｍの波長の光束に対応する次世代の情報記録媒体を対象媒体としても良い。
【０１１０】
また、上記実施形態では、光ディスク装置が２種類の光ディスクをアクセスの対象媒体とする場合について説明したが、これに限らず、例えば１種類あるいは３種類以上の光ディスクをアクセスの対象媒体としても良い。この場合に、ＣＤ、ＤＶＤ及び上記次世代の情報記録媒体のいずれかが対象媒体であっても良い。そして、複数個の半導体レーザが設けられている場合には、そのうち少なくとも１つの半導体レーザの発光パワーをモニタしても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置の構成を説明するための図である。
【図３】図３（Ａ）は図２におけるホログラムユニットＨＵ１の詳細構成を説明するための図であり、図３（Ｂ）は図２におけるホログラムユニットＨＵ２の詳細構成を説明するための図である。
【図４】光束の有効径を説明するための図である。
【図５】図５（Ａ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ１の形状を説明するための図であり、図５（Ｂ）は図５（Ａ）のＡ−Ａ線断面図である。
【図６】図６（Ａ）及び図６（Ｂ）は、それぞれモニタ用光屈折素子Ｌ１の作用を説明するための図である。
【図７】図７（Ａ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ２の形状を説明するための図であり、図７（Ｂ）は図７（Ａ）のＢ−Ｂ線断面図である。
【図８】図８（Ａ）及び図８（Ｂ）は、それぞれモニタ用光屈折素子Ｌ２の作用を説明するための図である。
【図９】図１におけるレーザ制御回路の構成を説明するためのブロック図である。
【図１０】図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ１の変形例１を説明するための図である。
【図１１】図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ２の変形例１を説明するための図である。
【図１２】図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ１の変形例２を説明するための図である。
【図１３】図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ２の変形例２を説明するための図である。
【図１４】図１４（Ａ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ１の変形例３の形状を説明するための図であり、図１４（Ｂ）は図１４（Ａ）のＣ−Ｃ線断面図である。
【図１５】図１５（Ａ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ２の変形例３の形状を説明するための図であり、図１５（Ｂ）は図１５（Ａ）のＤ−Ｄ線断面図である。
【図１６】図１６（Ａ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ１の変形例４の形状を説明するための図であり、図１６（Ｂ）は図２におけるモニタ用光屈折素子Ｌ２の変形例４の形状を説明するための図である。
【符号の説明】
【０１１２】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２４…レーザ制御回路（処理装置の一部）、２５…エンコーダ（処理装置の一部）、４０…ＣＰＵ（処理装置の一部）、６０…対物レンズ、Ｌ１…モニタ用光屈折素子（光学素子）、Ｌ２…モニタ用光屈折素子（光学素子）、ＬＤ１…半導体レーザ（光源）、ＬＤ２…半導体レーザ（光源）、ＰＤ１…受光器（光検出器）、ＰＤ２…受光器（光検出器）、ＰＤｍ…モニタ用受光器（受光素子）。
【図１】
2005310284.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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