(57)【要約】【課題】  この発明は、第１に、高分子材料等の被検査物に含まれている様々な物質から放射される残光時間が極めて短く強度の高い蛍光をカットすることができ、第２に、励起光源から発せられる励起光の残光成分をカットすることができ、ひいては被検査物に含有されている暗号用の各種蛍光物質から放射される蛍光を精度良く検出することが可能な蛍光検出方法および蛍光検出装置の提供を課題とする。【解決手段】  励起光源５から発せられる励起光を被検査物Ｘに照射し、励起光の照射により被検査物Ｘから放射される蛍光を分光器７に受光させることにより蛍光を検出する蛍光検出方法であって、被検査物Ｘと分光器７を結ぶ光路上に配置されたチョッパー８によって、励起光源５から励起光が発せられた時から所定の遅延時間ｔ経過後に蛍光を通過させるとともに、蛍光の通過時から所定の露光時間Ｔ経過後に前記蛍光を遮断する。【選択図】  図１
2005091346.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
励起光源から発せられる励起光を被検査物に照射し、前記励起光の照射により前記被検査物から放射される蛍光を分光器に受光させることにより蛍光を検出する蛍光検出方法であって、
前記被検査物と分光器を結ぶ光路上に配置されたチョッパーによって、前記励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に前記蛍光を通過させるとともに、前記蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に前記蛍光を遮断することを特徴とする蛍光検出方法。
【請求項２】
前記励起光源から励起光を複数回発せしめ、
前記励起光源から励起光が発せられるごとに、前記チョッパーによる蛍光の通過および遮断を繰り返して行う請求項１に記載の蛍光検出方法。
【請求項３】
励起光源と、
前記励行光源から発せられた励行光の照射により被検査物から放射される蛍光を受光する分光器と、
前記被検査物と前記分光器を結ぶ光路上に配置されたチョッパーと、
前記励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に前記蛍光を通過させるとともに、前記蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に前記蛍光を遮断するようにチョッパーを制御する制御手段と、
を備えてなることを特徴とする蛍光検出装置。
【請求項４】
前記励起光源と前記被検査物を結ぶ光路上に配置され、前記励行光源から発せられる一定波長域の励起光のみを通過させるフィルターを備える請求項３に記載の蛍光検出装置。
【請求項５】
前記励起光源は、キセノンランプである請求項３または請求項４に記載の蛍光検出装置。
【請求項６】
前記フィルターは、前記キセノンランプから発せられる紫外線波長域の励起光のみを通過させるものである請求項５に記載の蛍光検出装置。
【請求項７】
励起光源と、
前記励行光源から発せられた励行光の照射により被検査物から放射される蛍光を受光する分光器と、
前記被検査物と前記分光器を結ぶ光路上に配置され、蛍光の通過および遮断を一定周期で繰り返して行うものとなされたチョッパーと、
前記チョッパーが蛍光を通過または遮断するごとに、蛍光の通過または遮断から一定時間経過後に励起光を発するように励起光源を制御する制御手段と、
を備えてなることを特徴とする蛍光検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、励起光源から発せられた励起光を被検査物に照射し、その励起光の照射により被検査物から放射された蛍光を検出するのに用いられる蛍光検出装置および蛍光検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、合成樹脂等の高分子材料に対して各種蛍光物質を含有させておき、これに励起光を照射したときに放射される蛍光と、高分子材料の種類情報、製造履歴情報、真偽判別情報等とを予め関連付けておくことで、高分子材料に各種の情報を暗号的に付与する技術が知られている（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００２−３３２４１４号
【特許文献２】特開２００２−３３６７９８号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、実際は励起光が照射されている間は、高分子材料に含まれている様々な物質から残光時間が極めて短く強度の高い蛍光が放射され、これが外乱となって本来の暗号として付与されている蛍光物質から放射される蛍光を検出することが困難になる場合があるという問題があった。
【０００４】
また、励起光源から発せられる励起光の残光成分の影響により、蛍光物質から放射される蛍光が検出しにくくなる場合があるという問題があった。例えば、励起光源としてキセノンランプを用いた場合、キセノンランプは主に紫外線波長域の励起光を発するが、その残光成分が時間とともに可視光から赤外光へとシフトして、その残光成分の影響により蛍光が検出しにくくなる場合がある。
【０００５】
この発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであって、第１に、高分子材料等の被検査物に含まれている様々な物質から放射される残光時間が極めて短く強度の高い蛍光をカットすることができ、第２に、励起光源から発せられる励起光の残光成分をカットすることができ、ひいては被検査物に含有されている暗号用の各種蛍光物質から放射される蛍光を精度良く検出することが可能な蛍光検出方法および蛍光検出装置の提供を課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明に係る蛍光検出方法は、励起光源から発せられる励起光を被検査物に照射し、前記励起光の照射により前記被検査物から放射される蛍光を分光器に受光させることにより蛍光を検出する蛍光検出方法であって、
前記被検査物と分光器を結ぶ光路上に配置されたチョッパーによって、前記励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に前記蛍光を通過させるとともに、前記蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に前記蛍光を遮断することを特徴とする。
【０００７】
この蛍光検出方法によれば、励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に蛍光の検出を開始して、それから所定の露光時間だけ蛍光を検出するので、高分子材料等の被検査物に含まれている様々な物質から放射される残光時間が極めて短く強度の高い蛍光をカットすることができる。また、被検査物に複数種類の暗号用の蛍光物質を含有させた場合、チョッパーにより遅延時間と露光時間を様々に変化させることにより、得られる蛍光のスペクトル波形も異なるので、これらの蛍光の各スペクトル波形を異なる暗号情報として用いることができる。
【０００８】
また、前記励起光源から励起光を複数回発せしめ、前記励起光源から励起光が発せられるごとに、前記チョッパーによる蛍光の通過および遮断を繰り返して行うのが好ましい。
【０００９】
これによれば遅延時間および露光時間を操作した蛍光の検出を複数回繰り返して行うので、被検査物に含有されている暗号用の各種蛍光物質から放射される蛍光をより一層精度良く検出することができる。
【００１０】
また、本発明に係る蛍光検出装置は、励起光源と、前記励起光源から発せられた励起光の照射により被検査物から放射される蛍光を受光する分光器と、前記被検査物と前記分光器を結ぶ光路上に配置されたチョッパーと、前記励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に前記蛍光を通過させるとともに、前記蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に前記蛍光を遮断するようにチョッパーを制御する制御手段と、を備えてなることを特徴とする。
【００１１】
この蛍光検出装置によれば、励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に蛍光の検出を開始して、それから所定の露光時間だけ蛍光を検出するので、高分子材料等の被検査物に含まれている様々な物質から放射される残光時間が極めて短く強度の高い蛍光をカットすることができる。また、被検査物に複数種類の暗号用の蛍光物質を含有させた場合、チョッパーにより遅延時間と露光時間を様々に変化させることにより、得られる蛍光のスペクトル波形も異なるので、これらの蛍光の各スペクトル波形を異なる暗号情報として用いることができる。
【００１２】
また、前記励起光源と前記被検査物を結ぶ光路上に配置され、前記励起光源から発せられる一定波長域の励起光のみを通過させるフィルターを備えるのが好ましい。
【００１３】
これによれば、フィルターが所望の波長域の励起光のみを通過させるので、励起光源から発せられる励起光の不要な波長域の残光成分をカットすることができる。
【００１４】
また、前記励起光源は、キセノンランプであるのが好ましい。
【００１５】
これによれば、高輝度で紫外線波長域の励起光を主に発するので、被試験物に含有される暗号用の蛍光物質の蛍光をより簡単かつ確実に検出することができる。
【００１６】
また、前記フィルターは、前記キセノンランプから発せられる紫外線波長域の励起光のみを通過させるものであるのが好ましい。
【００１７】
これによれば、キセノンランプから発せられる励起光の可視光から赤外光までの残光成分をカットすることができる。
【００１８】
また、この発明に係る蛍光検出装置は、励起光源と、前記励起光源から発せられた励起光の照射により被検査物から放射される蛍光を受光する分光器と、前記被検査物と前記分光器を結ぶ光路上に配置され、蛍光の通過および遮断を一定周期で繰り返して行うものとなされたチョッパーと、前記チョッパーが蛍光を通過または遮断するごとに、蛍光の通過または遮断から一定時間経過後に励起光を発するように励起光源を制御する制御手段と、を備えてなることを特徴とする。
【００１９】
これによれば、チョッパーが蛍光の通過および遮断を一定周期で繰り返し、蛍光の各通過タイミングまたは遮光タイミングから一定時間経過後に励起光源から励起光を発することを繰り返す。このため、励起光源から励起光を発することを繰り返し、励起光源の各励起タイミングから所定の遅延時間経過後にチョッパーにおいて蛍光を通過させ、かつ所定の露光時間経過後にチョッパーにおいて蛍光を遮断することを繰り返すことになるので、簡易な装置構成にて遅延時間と露光時間を操作した蛍光の検出を行うことができる。
【発明の効果】
【００２０】
この発明によれば、励起光源から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に蛍光の検出を開始して、それから所定の露光時間だけ蛍光を検出するので、高分子材料等の被検査物に含まれている様々な物質から放射される残光時間が極めて短く強度の高い蛍光をカットすることができ、ひいては被検査物に含有されている暗号用の各種蛍光物質から放射される蛍光を精度良く検出することが可能となる。
【００２１】
また、被検査物に複数種類の暗号用の蛍光物質を含有させた場合、チョッパーにより遅延時間と露光時間を様々に変化させることにより、得られる蛍光のスペクトル波形も異なるので、これらの蛍光の各スペクトル波形を異なる暗号情報として用いることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、具体的な実施形態に基づいて本発明を説明する。
【００２３】
なお、以下の実施形態では、意図的に各種の蛍光物質を含有された被検査物（Ｘ）を想定しており、それら蛍光物質から放射される蛍光のスペクトルには、予め設定されたルールに従って、被検査物（Ｘ）の種類情報、製造履歴情報、真偽判別情報等が関連付けられているものとする。
【００２４】
前記被検査物（Ｘ）は、何らかの識別が求められる各種物品自体でも、あるいは各種物品の包装体や各種物品に貼着されるシール体等であってもよい。
【００２５】
前記被検査物（Ｘ）が蛍光物質を含有する形態は、被検査物（Ｘ）自体に蛍光物質を練り混んでも、あるいは透明または有色顔料のインクなどに蛍光物質を混入させ、このインク等を被検査物（Ｘ）の表面に塗装することにより、被検査物（Ｘ）に付着させてもよい。
【００２６】
また、前記蛍光物質は、励起光によって蛍光を放射する物質であれば特にその種類は限定しないが、具体的には、不完全３ｄ殻を有する遷移元素イオン、不完全４ｆ殻を有する遷移元素イオン、不完全５ｄ殻を有する遷移元素イオン、または不完全４ｆ殻を有する希土類元素イオンのいずれか一種ないし二種以上を含む物質を例示することができる。さらに、蛍光物質は、励起光に対して一ないし複数の線スペクトル状の蛍光を放射するものであると、種々の蛍光を容易に識別し得る点から好ましい。
（実施形態１）
【００２７】
図１は、本発明の第１実施形態に係る蛍光検出装置１の構成概略図である。
【００２８】
この蛍光検出装置（１）は、図１に示すように、読取装置（２）と、検出装置本体（３）と、パソコン（４）とからなる。
【００２９】
前記読取装置（２）は、読取装置本体（２１）と光ファイバー（２２）とを備えてなり、検出装置本体（３）の内部で発せられた励起光を被検査物（Ｘ）に導いて、被検査物（Ｘ）に対して照射するとともに、この励起光の照射により被検査物（Ｘ）から放射される蛍光を受光し、その受光した蛍光を検出装置本体（３）に導くものである。
【００３０】
この光ファイバー（２２）は、その一端部が検出装置本体（３）内に挿し込まれるとともに、他端部が読取装置本体（２１）内に挿し込まれており、被検査物（Ｘ）が発する蛍光を検出する際には、読取装置本体（２１）が被検査物（Ｘ）の表面に密着するように押し付けられる。
【００３１】
そして、検出装置本体（３）の内部で発せられた励起光は、検出装置本体（３）内に挿し込まれた光ファイバー（２２）の一端部に入射され、光ファイバー（２２）内を通過したあと、読取装置本体（２１）の内部において光ファイバー（２２）の他端部から被検査物（Ｘ）に照射される。
【００３２】
なお、（２３）は、読取装置本体（２１）の先端部に装着された遮光部材であり、外部からの光の影響を低減するようになっている。また、（２４）は、読取装置本体（２１）の周面に設けられた操作スイッチであり、この操作スイッチ（２４）を押したときのみ光の照射と受光を行うように後述の制御部（９）に接続されている。
【００３３】
前記検出装置本体（３）は、被検査物（Ｘ）に照射する励起光を発するともに、光ファイバー（２２）から取り込まれる被検査物（Ｘ）から放射された蛍光を分光処理するものである。この検出装置本体（３）は、励起光源（５）と、光学系（６）と、分光器（７）と、チョッパー（８）と、制御部（９）とを備えてなる。
【００３４】
前記励起光源（５）は、被検査物（Ｘ）に照射する励起光を発するものである。この実施形態では、主に紫外線波長領域の励起光を発するキセノンランプ（キセノンフラッシュランプ）から構成されている。なお、この励起光源（５）は、後述するように制御部（９）により励起タイミングを制御されるようになっている。
【００３５】
前記光学系（６）は、励起光源（５）から発せられた励起光を光ファイバー（２２）に導く光路と、光ファイバー（２２）からの蛍光を分光器（７）に導く光路とを、ダイクロイックミラー（６１）を用いて構成したものである。
【００３６】
このダイクロイックミラー（６１）は、前記光ファイバー（２２）と分光器（７）を結ぶ光路上であって、かつ励起光源（５）と対向する位置に、その光路方向に対して４５度の角度で配置されている。
【００３７】
また、前記光ファイバー（２２）と分光器（７）を結ぶ光路上であって、ダイクロイックミラー（６１）と光ファイバー（２２）および分光器（７）との中間位置には、それぞれコリメートレンズ（６２）（６３）が配置されている。
【００３８】
このような構成とすることによって、励起光源（５）から発せられた励起光はダイクロイックミラー（６１）で９０度の角度で反射したあと、コリメートレンズ（６２）で集光されて光ファイバー（２２）に入射される。また、光ファイバー（２２）からの蛍光は、コリメートレンズ（６２）で平行光となり、ダイクロイックミラー（６１）をそのまま通過したあと、コリメートレンズ（６３）で集光されて分光器（７）の光ファイバー（７１）に入射される。
【００３９】
前記分光器（７）は、前記光ファイバー（２２）からの蛍光を分光して、蛍光のスペクトル波形を取得するものである。この分光器（７）には、光路上に沿って光ファイバー（７１）が設けられており、コリメートレンズ（６３）で集光された蛍光はこの光ファイバー（７１）に入射することにより分光器（７）に受光される。分光器（７）により分光された蛍光のスペクトル波形のデータは、ＵＳＢケーブル等を介してパソコン（４）に送信される。
【００４０】
前記チョッパー（８）は、光ファイバー（２２）と分光器（７）を結ぶ光路上であって、かつ前記分光器（７）の前方位置に配置されている。このチョッパー（８）は、短い時間間隔で光ファイバー（２２）からの蛍光を通過させたり遮断させたりする機械的、電気的、あるいは電磁気的装置である。なお、このチョッパー（８）は、後述のように制御部（９）により制御されるようになっている。
【００４１】
前記制御部（９）は、所定のタイミングで励起光を発するように励起光源（５）を制御するとともに、その励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に被検査物から放射された蛍光を通過させ、かつその蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に蛍光を遮断するようにチョッパー（８）を制御するものである。
【００４２】
具体的には、制御部（９）は、所定のタイミングで励起光源（５）に対してトリガー回路等（図示略）を介して励起信号を発信することによって、励起光源（５）から励起光を発生させる。
【００４３】
また、制御部（９）は、励起光源（５）から励起光が発せられた時から所定の遅延時間経過後に、前記チョッパー（８）に対して通過信号を発信することにより、チョッパー（８）において蛍光を通過させる。
【００４４】
さらに、制御部（９）は、前記蛍光の通過時から所定の露光時間経過後に、前記チョッパー（８）に対して遮断信号を発信することにより、チョッパー（８）において蛍光を遮断させる。
【００４５】
図２は、被検査物（Ｘ）から放射される蛍光をチョッパー（８）を介さずに直接検出した場合に、その検出した蛍光を横軸−減衰時間および縦軸−強度で模式的に表したものである。この図からもわかるように、被検査物（Ｘ）に含まれている様々な物質から残光時間が極めて短く強度の高い蛍光（Ａ）が放射され、これが外乱となって本来の暗号として付与されている蛍光物質から放射される蛍光（Ｂ）を検出することが困難になる場合がある。
【００４６】
そこで、上述のように励起光源（５）から励起光が発せられた時から所定の遅延時間（ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を通過させ、さらに蛍光の通過時から所定の露光時間（Ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を遮断させれば、外乱となる不要な蛍光（Ａ）を検出することなく、本来の暗号用の蛍光（Ｂ）を精度良く検出することができる。
【００４７】
図３は、２種類の暗号用の蛍光物質を含有した被検査物（Ｘ）から放射される蛍光をチョッパー（８）を介さずに直接検出した場合に、その検出した蛍光を横軸−減衰時間および縦軸−強度で模式的に表したものである。この図からもわかるように、被検査物（Ｘ）に含まれている２種類の蛍光物質から時間的減衰特性の異なる２つの蛍光（Ｃ）（Ｄ）が放射される。
【００４８】
そこで、チョッパー（８）によって、例えば、（ａ）遅延時間をｔ１、露光時間をＴ１、（ｂ）遅延時間をｔ２、露光時間をＴ２、（ｃ）遅延時間をｔ３、露光時間をＴ３として蛍光の通過および遮断を制御すると、それぞれ図３の（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すような蛍光のスペクトル波形が得られる。図３の（ａ）（ｂ）（ｃ）は、横軸を波長、縦軸を蛍光強度としたスペクトル波形図である。このようにチョッパー（８）により遅延時間ｔと露光時間Ｔを様々に変化させることにより、得られる蛍光のスペクトル波形も異なるので、これらの蛍光の各スペクトル波形を異なる暗号情報として用いることができる。
【００４９】
前記パソコン（４）は、分光器（７）から送信されてきた蛍光のスペクトル波形データに基づいて、被検査物（Ｘ）の種類情報、製造履歴情報、真偽判別情報等の種種の情報を識別するものである。
【００５０】
このパソコン（４）は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスク装置および外部入出力装置等からなるコンピュータであり、機能的にスペクトルパターン記憶手段（４１）と、比較判断手段（４２）と、モニタ（４３）とを備えている。
【００５１】
前記スペクトルパターン記憶手段（４１）は、意図的に各種の蛍光物質を含有された被検査物（Ｘ）が発する蛍光の種々のスペクトルパターンと、各スペクトルパターンに関連付けられた被検査物（Ｘ）の種類情報、製造履歴情報、真偽判別情報等の種々の情報とを記憶するものである。即ち、被検査物（Ｘ）に蛍光のスペクトルを介して種々の情報を担わせるための予め設定されたルールを記憶するものである。
【００５２】
前記比較判断手段（４２）は、被検査物（Ｘ）が発した蛍光のスペクトル波形のデータから、このスペクトル波形に関連付けられた各種の情報を判別するものである。この比較判断手段（４２）は、スペクトルパターン記憶手段（４１）に予め記憶されている多数のスペクトルパターンと、被検査物（Ｘ）が発した蛍光のスペクトル波形とを順次比較し、一致するスペクトルパターンに関連付けられた情報をスペクトルパターン記憶手段（４１）から読み出すようになっている。
【００５３】
モニタ（４３）は、比較判断手段における判別結果を出力手段として出力し、検出作業者に伝達するものである。
（実施形態２）
【００５４】
次に、この発明の第２実施形態について説明する。
【００５５】
なお、この実施形態では、上記第１実施形態と実質的に同じ機能を果たす構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００５６】
図４は、この実施形態に係る蛍光検出装置の構成概略図である。
【００５７】
この実施形態に係る検出装置本体（３）には、励起光源（５）とダイクロイックミラー（６１）を結ぶ光路上の中間位置において、紫外線透過ガラスフィルター（１０）が配置されている。
【００５８】
この紫外線透過ガラスフィルター（１０）は、励起光源（５）から発せられる紫外線波長域の励起光のみを通過するものである。
【００５９】
すなわち、励起光源（５）としてキセノンランプを用いた場合、キセノンランプは主に紫外線波長域の励起光を発するが、その残光成分が時間とともに可視光から赤外光へとシフトして、その残光成分の影響により蛍光が検出しにくくなる場合がある。
【００６０】
そこで、図４に示すように、励起光源（５）から被検査物（Ｘ）までの間に紫外線透過ガラスフィルター（１０）を配置することにより、励起光源（５）であるキセノンランプから発せられる可視光から赤外光までの残光成分をカットすることができる。
【００６１】
なお、この実施形態では、励起光源（５）としてキセノンランプを用いたので、紫外線透過ガラスフィルター（１０）を配置したが、励起光源（５）から発する励起光の残光成分に応じて、その他の波長域の励起光のみを透過するフィルターであってもよい。
（実施形態３）
【００６２】
次に、この発明の第３の実施形態について説明する。
【００６３】
なお、この実施形態では、上記第１および第２実施形態と実質的に同じ機能を果たす構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６４】
図５は、励起光源（５）の励起タイミングと、チョッパー（８）による蛍光の通過および遮断のタイミングとの相対関係を示す図である。
【００６５】
この実施形態では、上述の蛍光の検出を複数回繰り返して行うようにしている。
【００６６】
すなわち、図５に示すように、制御部（９）は、内部または外部に設けられた発信器（図示略）の出力に同期して、励起光源（５）から励起光を複数回発生させる。
【００６７】
そして、制御部（９）は、励起光源（５）から励起光が発するごとに、励起光が発せられた時から所定の遅延時間（ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を通過させ、さらに蛍光の通過時から所定の露光時間（Ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を遮断し、所定の遅延時間および露光時間で被検査物（Ｘ）から放射される蛍光を複数回検出する。
【００６８】
このように遅延時間および露光時間を操作した蛍光の検出を複数回繰り返して行うので、被検査物（Ｘ）に含有されている暗号用の各種蛍光物質から放射される蛍光をより一層精度良く検出することができる。
（実施形態４）
【００６９】
次に、この発明の第４実施形態について説明する。
【００７０】
なお、この実施形態では、上記第１〜第３実施形態と実質的に同じ機能を果たす構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００７１】
図６は、この実施形態に係る検出装置本体（３’）の構成概略図である。
【００７２】
この実施形態に係る検出装置本体（３’）は、励起光源（５）の励起タイミングを基準にしてチョッパー（８）による蛍光の通過および遮断を制御するのではなく、チョッパー（８）による蛍光の遮断（または通過）を基準にして励起光源（５）から励起光を発するものである。
【００７３】
この検出装置本体（３’）は、羽根車（１１）と、フォトインタランプタ（１４）と、タイミング制御板（１５）と、トリガー回路（１６）とを備える。
【００７４】
前記羽根車（１１）は、専用コントローラ（１３）に制御されたブラシレスモータ（１２）により回転し、この羽根車（１１）の回転タイミングに応じてチョッパー（８）が回転して、図５に示すように、蛍光の通過および遮断を一定周期（Ｔ）ごとに行うようになっている。
【００７５】
前記フォトインタランプタ（１４）は、羽根車（１１）の回転タイミング、即ちチョッパー（８）の各遮光タイミングを抽出して、タイミング制御板（１５）に送信するものである。
【００７６】
前記タイミング制御板（１５）は、内部に遅延回路（１５１）を有しており、その遅延回路（１５１）により前記チョッパー（８）の各遮光タイミングから一定時間（τ）経過後にトリガー回路（１６）に励起信号を送信する。なお、（１５２）は、羽根車（１１）の回転の周波数をカウントする周波数カウンタ、（１５３）は羽根車（１１）の周波数に基づいて遅延時間（ｔ）を測定する遅延測定回路であり、スイッチ（１５４）により表示器（１５５）に切り替え表示される。
【００７７】
前記トリガー回路（１６）は、前記タイミング制御板（１５）からの励起信号と同期して、励起光源（５）を駆動して励起光を発せしめるものである。なお、（１７）は励起光源（５）から励起光を発する場合に用いる高圧電源である。
【００７８】
これによれば、チョッパー（８）が蛍光の通過および遮断を一定周期（Ｔ）ごとに行い、蛍光の各遮光タイミングから一定時間（τ）経過後に励起光源（５）から励起光を発することを繰り返す。このため、結果として、励起光源（５）から励起光を発することを繰り返し、励起光源（５）の各励起タイミングから所定の遅延時間（ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を通過させ、かつ所定の露光時間（Ｔ）経過後にチョッパー（８）において蛍光を遮断することを繰り返すことになるので、簡易な装置構成にて遅延時間と露光時間を操作した蛍光の検出を行うことができる。
【００７９】
なお、この実施形態では、チョッパー（８）における蛍光の各遮光タイミングを基準にしたが、蛍光の各通過タイミングを基準にしてもよい。
【００８０】
なお、以上いずれの実施形態についても、光学系などの構成は上述のものに限定されるものではなく、その他の構成であってもよい。
【００８１】
また、被検査物（Ｘ）として、意図的に各種の蛍光物質を含有されたものを想定し、それら蛍光物質から放射される蛍光のスペクトルには、予め設定されたルールに従って、被検査物（Ｘ）の種類情報、製造履歴情報、真偽判別情報等が関連付けられているものとしたが、これに限定されるものではない。例えば、被検査物（Ｘ）として、裏面側に所定の蛍光体が塗布された電球であってもよい。前記蛍光検出装置（１）によれば、読取装置（２）を電球の外面にあてたり、あるいは場合によっては読取装置（２）を所定距離をあけて電球に向けるだけで、電球の裏面側に塗布されている蛍光体の種類、配合、厚み、あるいは塗りムラなどを簡単かつ確実に検出することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８２】
この発明は、励起光源から発せられた励起光を被検査物に照射し、その励起光の照射により被検査物から放射された蛍光を検出するのに用いられる蛍光検出装置および蛍光検出方法に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】この発明の第１実施形態に係る蛍光検出装置の構成概略図である。
【図２】被検査物から放射される蛍光の時間的減衰特性を示す模式図である。
【図３】別の被検査物から放射される蛍光の時間的減衰特性とスペクトル波形図を示す模式図である。
【図４】この発明の第２実施形態に係る蛍光検出装置の構成概略図である。
【図５】励起光源の励起タイミングと、チョッパーによる蛍光の通過および遮断のタイミングとの相対関係を示す図である。
【図６】この発明の第４実施形態に係る検出装置本体の構成概略図である。
【符号の説明】
【００８４】
１・・・蛍光検出装置
２・・・読取装置
３・・・検出装置本体
４・・・パソコン
５・・・励起光源
６・・・光学系
７・・・分光器
８・・・チョッパー
９・・・制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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