(57)【要約】【課題】  記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することのできる画像記録装置、画像記録方法及びプログラムを得る。【解決手段】  ＰＷＢ１５０に予め設けられた複数の位置決め穴１５０Ａの各々の位置を示す位置情報をカメラ１６４によって取得し、当該位置情報に基づいてＰＷＢ１５０における配線パターン画像の記録領域を複数の四辺形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される配線パターン画像が、ＰＷＢ１５０に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように当該画像を示すラスターデータを変換し、変換後のラスターデータに基づいて当該画像を記録ヘッド１６２によりＰＷＢ１５０に記録する。【選択図】        図１
2005037911.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得する取得手段と、
前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換する変換手段と、
前記変換手段による変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録する記録手段と、
を備えた画像記録装置。
【請求項２】
前記基準マークを、前記記録媒体に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられたものとした
請求項１記載の画像記録装置。
【請求項３】
前記角形を四辺形とした
請求項１又は請求項２記載の画像記録装置。
【請求項４】
前記変換手段が、
前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出する導出手段と、
前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算する演算手段と、
前記演算手段により演算された前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を前記変換後の画像情報として生成する生成手段と、
を備えた請求項１乃至請求項３の何れか１項記載の画像記録装置。
【請求項５】
前記演算手段は、ＦＦＤ法により前記変形前の画像の座標点を演算する
請求項４記載の画像記録装置。
【請求項６】
画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、
前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換し、
変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録する
画像記録方法。
【請求項７】
前記画像情報の変換を、
前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、
前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、
演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を前記変換後の画像情報として生成するものとした
請求項６記載の画像記録方法。
【請求項８】
記録媒体に記録すべき画像の設計上のデータである画像データから、実際に前記画像を前記記録媒体に記録するための描画データを求めるためのプログラムであって、当該プログラムがコンピュータに実行させる処理が、
前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、
前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の分割領域に仮想的に分割し、
前記分割領域の各々に対応する設計上の領域を特定し、
前記分割領域の各々に対して、当該分割領域中の複数の点に対応する前記設計上の領域中の点をそれぞれ特定し、
前記設計上の領域中の点における前記画像データから前記分割領域中の点における前記描画データを得る、
処理を含むプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像記録装置、画像記録方法及びプログラムに係り、特に、プリント配線板、フラット・パネル・ディスプレイの基板等の基板に対する画像記録に好適な画像記録装置、画像記録方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、プリント配線板（以下、「ＰＷＢ」という。）やフラット・パネル・ディスプレイ（以下、「ＦＰＤ」という。）の基板に所定のパターンを記録する装置として、マスクを用いた面露光装置が広く用いられてきた。
【０００３】
しかしながら、ＰＷＢに記録されるパターン（配線パターン）は、部品実装の高密度化に伴って高精細化が進み、マスクの伸縮や主として加熱した状態で行われるプレス工程で生じる基板の伸縮に伴う記録位置ずれの問題が顕在化している。例えば、多層プリント配線板の場合、基板に設けられたスルーホール等の穴と、各層のパターンとの位置合わせが高精度に行えないため、ＰＷＢを高密度化することができないことが問題となる。
【０００４】
また、ＦＰＤにおいても、高生産性を目的とした基板サイズの大型化が進み、加熱処理前後における基板の伸縮量の増大やマスク自身の伸縮に伴う描画位置ずれの問題が顕在化してきている。例えば、カラーフィルタパターンを記録する際には、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の各色の記録位置ずれが問題となる。
【０００５】
このような問題を解消するための技術として、従来、マスクを使用せずに記録媒体に対して直接パターンを記録する技術（以下、「第１従来技術」という。）があった（例えば、特許文献１参照。）。
【０００６】
この第１従来技術によれば、記録クロックパルスの周波数と記録ステージの送り速度、及び記録開始タイミングを制御することで、記録位置ずれを補正することができる。
【０００７】
また、従来、光ビームを主走査方向に走査させつつＰＷＢを副走査方向に移動させると共に、光ビームを描画データに基づいて変調させることによりＰＷＢに対して複数の面付パターンの記録を行う技術であって、ＰＷＢの面付位置決め情報を測定し、ベクトルデータからビットマップデータに変換する際に、上記面付位置決め情報に基づいて記録位置ずれを補正する技術（以下、「第２従来技術」という。）もあった（例えば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特許第３２０００２０号公報
【特許文献２】特開２０００−１２２３０３公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、ＰＷＢ、ＦＰＤ基板等の基板の伸縮量は等方ではないため、長方形の形状で伸縮したり、平行四辺形の形状に歪むだけでなく、任意形状に歪むので、上記第１従来技術では、記録パターンの高精細化が進むにつれて充分に記録位置ずれを補正することができない、という問題点があった。
【０００９】
また、上記第２従来技術では、面付パターンの位置情報を補正しているだけで、上記のような基板の任意形状の歪みには対応できない、という問題点があった。
【００１０】
本発明は上記問題点を解消するためになされたものであり、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することのできる画像記録装置、画像記録方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１記載の画像記録装置は、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得する取得手段と、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換する変換手段と、前記変換手段による変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録する記録手段と、を備えている。
【００１２】
請求項１に記載の画像記録装置によれば、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報が取得手段によって取得される。
【００１３】
なお、上記基準マークには、基準位置を示す穴、溝、記号、文字、図形等を含めることができる。また、上記取得手段には、上記基準マークの位置を撮影により検出する撮影装置や、上記基準マークの位置を光を利用して検出するフォト・インタラプタ等のセンサを含めることができる。更に、上記記録媒体には、ＰＷＢ及びＦＰＤ基板が含まれる。
【００１４】
ここで、本発明では、変換手段により、上記位置情報に基づいて、記録媒体における画像の記録領域が複数の角形の領域に仮想的に分割され、各分割領域毎に、記録される画像が、上記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように上記画像を示す画像情報が変換され、変換後の画像情報に基づいて記録手段により上記画像が記録媒体に記録される。
【００１５】
すなわち、本発明では、画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割して、各分割領域毎に、記録媒体の歪む前後の画像が整合するように当該画像を示す画像情報を変換しており、これによって、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができるようにしている。
【００１６】
このように、請求項１に記載の画像記録装置によれば、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換し、変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【００１７】
なお、本発明は、請求項２に記載の発明のように、前記基準マークを、前記記録媒体に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられたものとすることが好ましい。これによって、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【００１８】
また、本発明は、請求項３に記載の発明のように、前記角形を四辺形とすることが好ましい。これによって、画像情報の変換に、四角形から変形四角形への変換に用いられる種々の変換手法を適用することができるようになる。
【００１９】
また、本発明は、請求項４に記載の発明のように、前記変換手段が、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出する導出手段と、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算する演算手段と、前記演算手段により演算された前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を前記変換後の画像情報として生成する生成手段と、を備えるものとすることもできる。
【００２０】
ここで、本発明の画像変形の原理について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、ここでは、一例として図１３に示すように、画像が記録される記録媒体に歪みが生じていないと想定した場合（変形前）の記録媒体における複数（同図では４つ）の基準マークの位置が点Ｓ00、Ｓ10、Ｓ11、Ｓ01で示される位置であり、変形後の各基準マークの位置が点Ｐ00、Ｐ10、Ｐ11、Ｐ01で示される位置である場合について説明する。
【００２１】
まず、点Ｓ00、Ｓ10、Ｓ11、Ｓ01を角点として構成される四角形を、点Ｐ00、Ｐ10、Ｐ11、Ｐ01を角点とする四角形に変形する既存の変形手法（ここでは、ＦＦＤ（Free Form Deformation）法）について説明する。なお、ここで用いる各点Ｐｉｊ（ｉ＝０，１、ｊ＝０，１）は「コントロールポイント」と呼ばれている。
【００２２】
図１３に示すように、変形前の画像における任意点の座標（ｕ，ｖ）（ここで、０≦ｕ≦１，０≦ｖ≦１）に対応する変形後の画像の座標Ｓ（ｕ，ｖ）は、ＦＦＤ法により、次の（１）式によって求めることができる。なお、このとき、変形前の座標系におけるＸ座標とＹ座標は、各辺の長さにおいて正規化を行っている。
【００２３】
【数１】
2005037911.tif 000003
【００２４】
ここで、Ｂ0（ｕ）＝１−ｕ、Ｂ1（ｕ）＝ｕであり、（１）式は（２）式のように展開される。
【００２５】
【数２】
2005037911.tif 000004
【００２６】
このような既存の変形処理手法を利用して、変形前の座標空間内における長方形とされた画像を、変形後の座標空間内における四角形（変形四角形）とされた画像に変換することが可能である。
【００２７】
具体的には、座標Ｓ（ｕ，ｖ）の画素データとして、変形前の画像における座標（ｕ，ｖ）の画素データを適用すればよい。ここで、座標Ｓ（ｕ，ｖ）は小数点以下の値を持つことになるが、四捨五入を行うことによって最も近い座標を得ることができる。また、必要に応じて、着目座標の近傍の複数点の画素データから線形補間処理等の補間処理によって、当該着目画素の画素データを得る場合もある。なお、以上のような画素データの導出処理は、「最近隣内挿処理」と呼ばれている。
【００２８】
しかしながら、以上のようなＦＦＤ法では、ｕとｖの値を変化させることによって全ての画素についての変換処理が可能であるが、この手法を本発明に適用した場合には、変形後の座標系における任意画素を直接指定することができず不都合である。
【００２９】
すなわち、本発明では、画像記録の都合上、変形後の画像における各画素を指定して当該画素の画素データを得るようにしたいが、ＦＦＤ法では、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めているため、ＦＦＤ法をそのまま適用することは困難である。なお、このような問題は、ＦＦＤ法に限らず、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めるタイプのあらゆる画像変形手法において生じる問題である。
【００３０】
そこで、本発明では、一例として図１４に示すように、変形後の画像の座標から変形前の画像の座標変換にＦＦＤ法を用いるものとする。これにより、変形後の座標系側でｕとｖを任意に決定することができ、それらに対応する変形前の座標系の座標をＳ（ｕ，ｖ）として求めることができる。この変換の向きの入れ替えにより、厳密には画像の変形処理に誤差が生じることになる。但し、この際の変形量の大きさが画像寸法に対して十分に小さい場合は当該誤差が無視できる程度まで小さくなることがわかっており、本発明のように記録媒体の変形を変形処理の対象とする場合には、実害は少ない。
【００３１】
しかしながら、このままでは、座標変換前の四角形が変形四角形であり、座標変換後の四角形が長方形であるため、（１）式に設定するべきＰ00、Ｐ01、Ｐ10、Ｐ11の各座標を予め知ることができない。
【００３２】
そこで、本発明では、一例として次のようにＰｉｊ（（１）式におけるコントロールポイント）の座標を求める。まず、図１５に示すように、座標変換前の座標４点が長方形となるようにＳ00、Ｓ01、Ｓ10、Ｓ11を設定し、これらが座標変換された先をＤ00、Ｄ01、Ｄ10、Ｄ11と仮定する。このようにすれば、Ｄｉｊの各点をコントロールポイントとして（１）式を適用可能となる。
【００３３】
【数３】
2005037911.tif 000005
【００３４】
この式が成立している条件では図１４のＰ00→Ｓ00、Ｐ01→Ｓ01、Ｐ10→Ｓ10、Ｐ11→Ｓ11の関係も成立しているため、以下の（４）式から（７）式が成立する。ここで、Ｐｉｊ［ｘ］は点ＰｉｊのＸ座標を長方形Ｓ00Ｓ01Ｓ11Ｓ10のＸ方向長さで正規化した値を示し、Ｐｉｊ［ｙ］は点ＰｉｊのＹ座標を長方形Ｓ00Ｓ01Ｓ11Ｓ10のＹ方向長さで正規化した値を示す。
【００３５】
【数４】
2005037911.tif 000006
【００３６】
また、これらの（４）式〜（７）式を展開すると、Ｐｉｊ各点の座標は既知であるため、前出の（２）式から次のように変形される。ここで、ａn、ｂn、ｃn、ｄnは定数である。
【００３７】
【数５】
2005037911.tif 000007
【００３８】
ここで、行列Ｍを次の（１２）式のように定義する。
【００３９】
【数６】
2005037911.tif 000008
【００４０】
この行列Ｍを用いて上記（８）式〜（１１）式を整理すると次の（１３）式に示される行列式となる。
【００４１】
【数７】
2005037911.tif 000009
【００４２】
そして、上記（１３）式から次の（１４）式が得られ、この行列式から、Ｄｉｊの各々の座標を求める。なお、（１４）式においてｉｎｖ（Ｍ）は行列Ｍの逆行列である。
【００４３】
【数８】
2005037911.tif 000010
【００４４】
ここで得られたＤｉｊが本発明における座標変換に用いるコントロールポイント座標であり、これを（３）式に適用すれば変形後の座標から変形前の座標への座標変換が実現できる。
【００４５】
また、処理を更に簡略化するために、Ｐｉｊ、Ｓｉｊ間とＳｉｊ、Ｄｉｊ間の相対的な位置関係を同じとみなすこともできる。この場合、以下の（１５）式によりＤｉｊを求めることが可能となる。但し、ここでは計算上の誤差が生じるため、画像変形処理の精度を落とさないためには前出の演算を用いる方がよい。
【００４６】
【数９】
2005037911.tif 000011
【００４７】
以上の原理に基づき、請求項４に記載の画像記録装置では、上記位置情報に基づいて各々上記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報が導出手段によって導出され、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点が演算手段によって演算され、生成手段により、当該座標点の変形前の画像における画素情報が上記任意点の画素情報として適用されることにより変形後の画像を示す画像情報が前記変換後の画像情報として生成される。
【００４８】
このように、請求項４に記載の画像記録装置によれば、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を前記変換後の画像情報として生成しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【００４９】
なお、本発明の演算手段による座標点の演算は、前述したＦＦＤ法の他、コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算するタイプのあらゆる画像変形手法を適用することができる。
【００５０】
また、本発明の前記演算手段は、請求項５に記載の発明のように、ＦＦＤ法により前記変形前の画像の座標点を演算することが好ましい。すなわち、ＦＦＤ法による（１）式は、ｖを固定値とした場合、ｕによる一次関数であることが分かる。従って、ｖを決定すれば、初期値（開始点）及び増分（ｕの増分に対応する増分）も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【００５１】
一方、上記目的を達成するために、請求項６記載の画像記録方法は、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換し、変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録するものである。
【００５２】
従って、請求項６に記載の画像記録方法によれば、請求項１記載の発明と同様に作用するので、請求項１記載の発明と同様に、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【００５３】
なお、本発明は、請求項７に記載の発明のように、前記画像情報の変換を、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を前記変換後の画像情報として生成するものとすることができる。
【００５４】
従って、請求項７に記載の画像記録方法によれば、請求項４記載の発明と同様に作用するので、請求項４記載の発明と同様に、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【００５５】
一方、上記目的を達成するために、請求項８記載のプログラムは、記録媒体に記録すべき画像の設計上のデータである画像データから、実際に前記画像を前記記録媒体に記録するための描画データを求めるためのプログラムであって、当該プログラムがコンピュータに実行させる処理が、前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の分割領域に仮想的に分割し、前記分割領域の各々に対応する設計上の領域を特定し、前記分割領域の各々に対して、当該分割領域中の複数の点に対応する前記設計上の領域中の点をそれぞれ特定し、前記設計上の領域中の点における前記画像データから前記分割領域中の点における前記描画データを得る、処理を含むものである。
【００５６】
請求項８に記載のプログラムによれば、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報が取得される。
【００５７】
なお、上記基準マークには、基準位置を示す穴、溝、記号、文字、図形等を含めることができる。また、上記位置情報の取得には、上記基準マークの位置を撮影により検出する撮影装置による取得や、上記基準マークの位置を光を利用して検出するフォト・インタラプタ等のセンサによる取得を適用することができる。更に、上記記録媒体には、ＰＷＢ及びＦＰＤ基板が含まれる。
【００５８】
ここで、本発明では、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域が複数の角形の分割領域に仮想的に分割され、前記分割領域の各々に対応する設計上の領域が特定され、更に、前記分割領域の各々に対して、当該分割領域中の複数の点に対応する前記設計上の領域中の点がそれぞれ特定され、前記設計上の領域中の点における前記画像データから前記分割領域中の点における前記描画データが得られる。
【００５９】
このように、請求項８に記載のプログラムによれば、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の分割領域に仮想的に分割し、前記分割領域の各々に対応する設計上の領域を特定し、前記分割領域の各々に対して、当該分割領域中の複数の点に対応する前記設計上の領域中の点をそれぞれ特定し、前記設計上の領域中の点における前記画像データから前記分割領域中の点における前記描画データを得ているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【発明の効果】
【００６０】
本発明によれば、画像が記録される記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて前記記録媒体における前記画像の記録領域を複数の角形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される画像が、前記記録媒体に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように前記画像を示す画像情報を変換し、変換後の前記画像情報に基づいて前記画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる、という効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６１】
〔第１の実施の形態〕
以下、本発明の第１の実施の形態について説明する。図１には、本実施の形態に係るフラットベッドタイプの画像記録装置１００が示されている。
【００６２】
画像記録装置１００は、４本の脚部１５４に支持された厚い板状の設置台１５６を備え、ステージ移動方向に沿って延びた２本のガイド１５８を介して、平板状のステージ１５２を備えている。ステージ１５２は、ＰＷＢ（プリント配線板）１５０を表面に吸着して保持する機能を有している。
【００６３】
ステージ１５２は、その長手方向がステージ移動方向とされ、ガイド１５８に案内されて、往復移動（走査）可能に支持されている。なお、この画像記録装置１００には、ステージ１５２をガイド１５８に沿って駆動するための図示しない駆動装置が設けられており、走査方向での所望の倍率に対応した移動速度（走査速度）となるように、後述するステージ制御部１１２（図５も参照。）によって駆動制御される。
【００６４】
設置台１５６の中央部には、ステージ１５２の移動経路を跨ぐようにコ字状のゲート１６０が設けられている。コ字状のゲート１６０の端部の各々は、設置台１５６の両側面に固定されている。このゲート１６０を挟んで一方の側には記録ヘッド１６２が設けられ、他方の側にはＰＷＢ１５０の先端及び後端と、ＰＷＢ１５０に予め設けられている平面視円形状の複数（本実施の形態では、１２個）の位置決め穴１５０Ａの位置とを検知するための複数（本実施の形態では、３台）のカメラ１６４が設けられている。
【００６５】
記録ヘッド１６２は、図２及び図３の（Ｂ）に示すように、ｍ行ｎ列（例えば、２行５列）の略マトリックス状に配列された複数の記録素子ユニット１６６を備えている。
【００６６】
記録素子ユニット１６６で露光される領域である画像領域Ｐは、図２に示すように、短辺が走査方向に沿った矩形状であり、走査方向に対し、所定の傾斜角θで傾斜している。そして、ステージ１５２の移動に伴い、ＰＷＢ１５０には記録素子ユニット１６６毎に帯状の露光済み領域１７０が形成される。なお、図２に示すように、走査方向は、ステージ移動方向とは向きが反対である。
【００６７】
また、図３において（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、帯状の露光済み領域１７０それぞれが、隣接する露光済み領域１７０と部分的に重なるように、ライン状に配列された各行の記録素子ユニットの各々は、配列方向に所定間隔（画像領域の長辺の自然数倍、本実施の形態では１倍）ずらして配置されている。このため、たとえば、１行目の最も左側に位置する画像領域１６８Ａと、画像領域１６８Ａの右隣に位置する画像領域１６８Ｃとの間の露光できない部分は、２行目の最も左側に位置する画像領域１６８Ｂにより露光される。同様に、画像領域１６８Ｂと、画像領域１６８Ｂの右隣に位置する画像領域１６８Ｄとの間の露光できない部分は、画像領域１６８Ｃにより露光される。
【００６８】
記録素子ユニット１６６の各々は、入射された光ビームを空間光変調素子である図示しないデジタル・マイクロミラー・デバイス（ＤＭＤ）によって、ドット単位でオン／オフ制御され、ＰＷＢ１５０には、二値化されたドットパターン（黒／白）が露光され、この複数のドットパターンによって１画素の濃度を表現するようになっている。
【００６９】
図４に示される如く、前述した帯状の露光済み領域１７０（１つの記録素子ユニット１６６）は、二次元配列（４×５）された２０個のドットによって形成される。
【００７０】
前記二次元配列のドットパターンは、走査方向に対して傾斜されていることで、走査方向に並ぶ各ドットが、走査方向と交差する方向に並ぶドット間を通過するようになっており、高解像度化を図ることができる。
【００７１】
なお、傾斜角度の調整のばらつきによって、利用しないドットが存在する場合もあり、例えば、図４では、斜線としたドットは利用しないドットとなり、このドットに対応するＤＭＤは、常にオフ状態とする。
【００７２】
ところで、本実施の形態に係る画像記録装置１００は、多層プリント配線板として構成されるＰＷＢ１５０の各層の配線パターンを記録対象とした装置である。以下、画像記録装置１００を用いた当該ＰＷＢ１５０の全体的な製造工程を簡単に説明する。
【００７３】
まず、ＰＷＢ１５０の表面に感光剤を塗布し、当該ＰＷＢ１５０を画像記録装置１００におけるステージ１５２上の所定位置（本実施の形態では、図１に示すようにステージ１５２の略中央の位置）に載置する。これによって当該ＰＷＢ１５０は、ステージ１５２の表面に吸着されて保持される。
【００７４】
次に、画像記録装置１００により、ＰＷＢ１５０の上面に対して配線パターンを示す画像データに基づく走査露光を行うことによって当該ＰＷＢ１５０の上面に配線パターンの画像（潜像）を形成する。
【００７５】
そして、当該ＰＷＢ１５０に対し、不図示の装置によって現像（画像記録装置１００による未露光部分の除去）及びエッチングを行う。これにより、多層プリント配線板における１層分が作成できる。
【００７６】
次に、作成した１層分のＰＷＢ１５０の配線パターン形成面に対して、２層目を構成する基板を不図示のプレス熱板によりプレスするプレス工程によって積層させる。
【００７７】
その後、以上の工程（感光剤の塗布、画像記録装置１００による配線パターンの走査露光、現像、エッチング、基板の積層）を必要な層数分だけ繰り返し、最終層（表層）のエッチングが終了した後に所定の仕上げ工程を経て最終的なＰＷＢ１５０が完成する。
【００７８】
ここで、前述したように、ＰＷＢ１５０の所定位置には複数（本実施の形態では１２個）の位置決め穴１５０Ａが設けられているが、これらの位置は、上記プレス工程において生じるＰＷＢ１５０の伸縮により、上記所定位置から任意方向にずれが生じる場合が多い。
【００７９】
次に、画像記録装置１００の走査露光時の作用を、図５を参照しつつ詳細に説明する。なお、図５は、画像記録装置１００におけるＰＷＢ１５０に対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【００８０】
ラスター変換処理部１０４には、ＣＡＭ（Computer Aided Manufacturing）ステーションを含んで構成されたデータ作成装置２００により作成されたＰＷＢ１５０に露光記録すべき配線パターンを示すベクトルデータが入力される。そして、ラスター変換処理部１０４では、当該ベクトルデータがラスターデータ（ビットマップデータ）に変換されて、基板歪補正画像処理部１０６に出力される。
【００８１】
また、上記ベクトルデータは画像記録装置１００全体の動作を司るコントローラ１０２にもデータ作成装置２００から入力される。そして、コントローラ１０２では、当該ベクトルデータに基づき、ステージ１５２をガイド１５８に沿って移動させるための図示しない駆動装置により、走査方向に対する所望の倍率に対応した移動速度（走査速度）で移動させるための制御をステージ制御部１１２に対して実行させる。これにより、ステージ１５２に載置された配線パターン露光前のＰＷＢ１５０は、最下流の位置（図１に示される位置）からステージ移動方向への移動が開始される。
【００８２】
一方、複数（本実施の形態では、３台）のカメラ１６４によるＰＷＢ１５０に対する撮影画像を示す画像データは記録位置情報画像処理部１１０に順次入力される。そして、記録位置情報画像処理部１１０では、当該画像データに基づき、ステージ１５２上に載置されたＰＷＢ１５０の位置決め穴１５０Ａの位置が検出され、当該位置を示す位置情報（本発明の「位置情報」に相当。）が取得されて基板歪補正画像処理部１０６に入力される。
【００８３】
なお、ＰＷＢ１５０の位置決め穴１５０Ａの検出は、カメラ１６４から入力された画像データによって示される画像と、上記プレス工程を経ていない標準的なＰＷＢ１５０に対するカメラ１６４による撮影によって得られ、かつ記録位置情報画像処理部１１０に備えられた不図示のメモリに登録しておいた画像データにより示される画像とのパターン・マッチングにより得ることができる。また、上記不図示のメモリに標準的なＰＷＢ１５０における位置決め穴１５０Ａの位置を示す情報を予め記憶しておき、カメラ１６４から入力された画像データにおける、当該位置決め穴１５０Ａの位置を示す情報により示される位置を含む所定範囲内の領域に対応する画像データから、位置決め穴１５０Ａの形状である円形の画像を抽出することにより検出する方法等を適用することもできる。
【００８４】
このようにして得られた位置決め穴１５０Ａの位置（一例として、図６（Ｂ）参照。）は、プレス工程によるＰＷＢ１５０の任意方向の歪みに起因して、歪みが生じていない場合の位置（一例として、図６（Ａ）参照。）から任意方向にずれている場合が多い。
【００８５】
任意方向の歪みが生じたＰＷＢ１５０に対し、ラスター変換処理部１０４により得られたラスターデータをそのまま用いて各層の配線パターンを形成した場合、結果的に得られるＰＷＢ１５０には、各層毎の配線パターンの相対位置に位置ずれが生じることになる。
【００８６】
そこで、基板歪補正画像処理部１０６では、記録位置情報画像処理部１１０から入力された位置決め穴１５０Ａの実際の位置を示す位置情報に基づき、一例として図６（Ｂ）に示すように、ＰＷＢ１５０における配線パターンの記録領域が複数の四辺形の領域に仮想的に分割され、各分割領域毎に、記録される配線パターンが、ＰＷＢ１５０に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域（図６（Ａ）参照。）に記録される配線パターンと整合するようにラスターデータが変換される。図７には、このとき、図６（Ａ）における１，２，４，５を角点として構成される長方形から、当該長方形に対応する図６（Ｂ）における１’，２’，４’，５’を角点として構成された四辺形への変換状態が模式的に示されている。
【００８７】
ここで、本実施の形態に係る基板歪補正画像処理部１０６において行われるラスターデータの変換手順について、図８を参照しつつ詳細に説明する。なお、ここでは、錯綜を回避するために、各位置決め穴１５０Ａの位置を示す位置情報に基づいて得られた複数の分割領域の１つ（同図のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを角点として構成された四辺形領域）のみに着目して説明する。
【００８８】
同図に示すように、まず、Ａ点とＢ点の間のｔ：１−ｔの内分点をＧ点とし、Ｄ点とＣ点の間のｔ：１−ｔの内分点をＨ点とし、更に、Ｇ点とＨ点の間のｓ：１−ｓの内分点をＰ点として、当該Ｐ点の座標からｓとｔを決定する。
【００８９】
すなわち、上記の仮定により、次の（１６）式が得られる。
【００９０】
【数１０】
2005037911.tif 000012
【００９１】
この（１６）式より、次の連立方程式を解く。なお、当該方程式におけるａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｆ、ｇ、ｈ、ｅは何れも定数である。
【００９２】
ａｓｔ＋ｂｓ＋ｃｔ＝ｄ
ｆｓｔ＋ｇｓ＋ｈｔ＝ｅ
すなわち、次式からｔが求まる。
【００９３】
（ａｈ−ｃｆ）ｔ2＋（ｄｆ−ｃｇ＋ｂｈ−ａｅ）ｔ＋（ｄｇ−ｂｅ）＝０
そして、当該ｔを次式に代入することによりｓが求められる。
【００９４】
ｓ＝（ｄ−ｃｔ）／（ａｔ＋ｂ）
以上の演算により求められたｓとｔに対応する元画像のＰ’点の画素値をＰ点の画素値に置き換える。
【００９５】
そして、このような画素値の置き換えを、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを角点として構成された四辺形内の全ての画素について実行することにより、当該四辺形領域におけるラスターデータの変換が完了する。
【００９６】
一方、画像記録制御部１０８では、基板歪補正画像処理部１０６において変換されたＰＷＢ１５０の配線パターン領域における全ての分割領域に対応するラスターデータが用いられて、最終画像データとなる各記録素子ユニット１６６のオン／オフデータが生成される。そして、当該オン／オフデータを用い、ステージ１５２の移動に同期して、記録ヘッド１６２の各記録素子ユニット１６６のＤＭＤが制御され、配線パターンの画像記録が実行される。これにより、配線パターンを示す画像がＰＷＢ１５０に露光されることになる。なお、ラスター変換処理部１０４、基板歪補正画像処理部１０６、画像記録制御部１０８、記録位置情報画像処理部１１０の各々の作動はコントローラ１０２によって制御される。
【００９７】
以上説明したように、本実施の形態では、ＰＷＢ１５０に予め設けられた複数の位置決め穴１５０Ａの各々の位置を示す位置情報を取得し、当該位置情報に基づいてＰＷＢ１５０における配線パターン画像の記録領域を複数の四辺形の領域に仮想的に分割し、各分割領域毎に、記録される配線パターン画像が、ＰＷＢ１５０に歪みがないものと想定したときの対応する分割領域に記録される画像と整合するように当該画像を示すラスターデータを変換し、変換後のラスターデータに基づいて当該画像をＰＷＢ１５０に記録しているので、ＰＷＢ１５０が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【００９８】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとして、ＰＷＢ１５０に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられた位置決め穴１５０Ａを適用しているので、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【００９９】
なお、本実施の形態では、空間光変調素子としてＤＭＤを備えた記録素子ユニット１６６について説明したがこのような反射型空間光変調素子の他に、透過型空間光変調素子（ＬＣＤ）を使用することもできる。例えば、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）タイプの空間光変調素子（ＳＬＭ；Ｓｐａｃｉａｌ  Ｌｉｇｈｔ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ）や、電気光学効果により透過光を変調する光学素子（ＰＬＺＴ素子）や液晶光シャッタ（ＦＬＣ）等の液晶シャッターアレイなど、ＭＥＭＳタイプ以外の空間光変調素子を用いることも可能である。なお、ＭＥＭＳとは、ＩＣ製造プロセスを基盤としたマイクロマシニング技術によるマイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、そして制御回路を集積化した微細システムの総称であり、ＭＥＭＳタイプの空間光変調素子とは、静電気力を利用した電気機械動作により駆動される空間光変調素子を意味している。さらに、Ｇｒａｔｉｎｇ Ｌｉｇｈｔ Ｖａｌｖｅ（ＧＬＶ）を複数ならべて二次元状に構成したものを用いることもできる。これらの反射型空間光変調素子（ＧＬＶ）や透過型空間光変調素子（ＬＣＤ）を使用する構成では、上記したレーザの他にランプ等も光源として使用可能である。
【０１００】
また、上記の実施の形態における光源としては、合波レーザ光源を複数備えたファイバアレイ光源、１個の発光点を有する単一の半導体レーザから入射されたレーザ光を出射する１本の光ファイバを備えたファイバ光源をアレイ化したファイバアレイ光源、複数の発光点が二次元状に配列された光源（たとえば、ＬＤアレイ、有機ＥＬアレイ等）、等が適用可能である。
【０１０１】
さらに、本実施の形態の画像記録装置１００は、上述したプリント配線板の製造工程におけるドライ・フィルム・レジスト（ＤＦＲ；Ｄｒｙ  Ｆｉｌｍ  Ｒｅｓｉｓｔ）の露光の他、液晶表示装置（ＬＣＤ）の製造工程におけるカラーフィルタの形成、ＴＦＴの製造工程におけるＤＦＲの露光、プラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）の製造工程におけるＤＦＲの露光等の用途に好適に用いることができる。
【０１０２】
また、ラスターデータの変換手法は本実施の形態で説明した手法に限らず、アフィン変換による手法や、共一次変換による手法等を適用することもできる。
【０１０３】
なお、アフィン変換による手法は、一例として図９に示すように、本実施の形態における各分割領域（四辺形領域）を２つの三角形領域に分割してアフィン変換を行う。アフィン変換は次式により表される。
【０１０４】
Ｘ＝ａｘ＋ｂｙ＋ｃ
Ｙ＝ｄｘ＋ｅｙ＋ｆ
上記三角形領域の３つの頂点から得られる６つの連立方程式を解くことにより、ａ〜ｆを求めることができる。
【０１０５】
一方、共一次変換は次式により表される。
【０１０６】
Ｘ＝ａｘｙ＋ｂｘ＋ｃｙ＋ｄ
Ｙ＝ｅｘｙ＋ｆｘ＋ｇｙ＋ｈ
本実施の形態における各分割領域（四辺形領域）の４つの頂点から得られる８つの連立方程式を解くことにより、ａ〜ｈを求めることができる。
【０１０７】
なお、アフィン変換及び共一次変換は周知の技術であるので、ここでの、これ以上の説明は省略する。これらの変換手法を適用した場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られる。
【０１０８】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとしてＰＷＢ１５０に予め設けられている位置決め穴１５０Ａを適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の基準マークとして、例えば、前回の配線パターンの記録時に記録しておいた位置決めマーク等を適用する形態とすることもできる。この場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られる。
【０１０９】
また、本実施の形態で説明した画像記録装置１００の構成（図１〜図５参照。）は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【０１１０】
更に、本実施の形態において説明した画像記録装置１００の走査露光時の処理の流れも一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【０１１１】
また、本実施の形態において説明した画像記録装置１００の走査露光時の処理（図５参照）は、ハードウェアにより実行させることもできるが、ソフトウェアにより実行させることもできる。当該処理をソフトウェアによって実行させる場合は、そのソフトウェアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ（組込み型のマイコン等）、又は各種のプログラムをインストールすることで各種の機能を実行することのできる汎用のパーソナルコンピュータ等に記憶媒体からインストールされる。
【０１１２】
この記憶媒体は、コンピュータのハードウェア資源に備えられている読取装置に対して、プログラムの記述内容に応じて、磁気、光、電気等のエネルギーの変化状態を引き起こして、それに対応する信号の形式で、読取装置にプログラムの記述内容を伝達できるものである。例えば、コンピュータとは別に、ユーザにプログラムを提供するために配布される、プログラムが記録されている磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、若しくは半導体メモリ等よりなるパッケージメディアにより構成されるだけでなく、コンピュータに予め組み込まれた状態でユーザに提供される、プログラムが記録されているＲＯＭやハードディスク等で構成されてもよい。或いは、ソフトウェアを構成するプログラムが、有線或いは無線等の通信網を介して提供されてもよい。
【０１１３】
〔第２の実施の形態〕
以下、本発明の第２の実施の形態について説明する。なお、本第２の実施の形態に係る画像記録装置１００の構成及び当該画像記録装置１００の露光済み領域１７０の構成は上述した第１の実施の形態と同様（図１〜図４参照。）であるので、ここでの説明は省略する。また、本第２の実施の形態に係る画像記録装置１００を用いたＰＷＢ１５０の全体的な製造工程も第１の実施の形態と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【０１１４】
本第２の実施の形態に係る画像記録装置１００におけるＰＷＢ１５０に対する露光制御を行うための機能的なブロック図も第１の実施の形態と略同様のもの（図５参照。）となるが、基板歪補正画像処理部１０６の作用のみが異なる。
【０１１５】
本第２の実施の形態に係る基板歪補正画像処理部１０６では、前述した請求項４記載の発明の画像変形の原理に基づき、一例として図１０に示すように、記録位置情報画像処理部１１０から入力された位置決め穴１５０Ａの実際の位置を示す位置情報に基づいて、ＰＷＢ１５０の変形に対応するように上記ラスターデータにより示される配線パターンを示す画像を変形させる。
【０１１６】
ここで、本実施の形態に係る基板歪補正画像処理部１０６において行われるラスターデータの変換手順について、図１１を参照しつつ詳細に説明する。なお、図１１は、当該ラスターデータの変換を行う際に基板歪補正画像処理部１０６において実行される画像変形処理プログラムの流れを示すフローチャートである。また、ここでは、錯綜を回避するために、各位置決め穴１５０Ａの位置を示す位置情報に基づいて得られた複数の分割領域の１つ（一例として図６の１’，２’，４’，５’を角点として構成された四辺形領域）のみに着目して説明する。
【０１１７】
まず、ステップ２００では、記録位置情報画像処理部１１０から入力された位置情報を取得し、次のステップ２０２では、取得した位置情報により示される４つの位置決め穴１５０Ａの座標位置を、一例として図１４に示される点Ｐｉｊの各々の位置として適用して、コントロールポイントとなる点Ｄｉｊの各座標を（１４）式により導出する。
【０１１８】
次のステップ２０４では、上記ステップ２０２において導出した点Ｄｉｊの各座標を用いて、（３）式により、変形後の配線パターンを示す画像の任意点（ｕ，ｖ）に対応する変形前の配線パターンを示す画像（すなわち、ラスター変換処理部１０４から入力されたラスターデータにより示される画像）の座標点Ｓ（ｕ，ｖ）を算出し、次のステップ２０６では、算出した座標点Ｓ（ｕ，ｖ）の上記ラスターデータにおける画素データを上記任意点（ｕ，ｖ）の画素データとして不図示の記憶手段に記憶する。
【０１１９】
そして、次のステップ２０８では、以上のステップ２０４及びステップ２０６の処理を変形後の配線パターン画像の全ての画素について終了したか否かを判定し、否定判定となった場合は上記ステップ２０４に戻って再びステップ２０４及びステップ２０６の処理を行い、肯定判定となった時点で本画像変形処理プログラムを終了する。
【０１２０】
なお、上記ステップ２０４〜ステップ２０８の繰り返し処理を実行する際に、上記ステップ２０４では、それまでに処理対象としなかった点を上記任意点として適用する。ここで、上記ステップ２０４〜ステップ２０８の繰り返し処理において、ｖを０（零）で固定とし、ｕを０から１まで徐々に増加させることにより、変形前及び変形後の双方の座標系で、一例として図１２に示される点線矢印の軌跡をスキャンすることになる。そして、ｕの１スキャン毎にｖを徐々に増加させることで全面のスキャンを実行することができ、この結果として変形後の配線パターン画像を示すラスターデータを得ることができる。
【０１２１】
一方、本第２の実施の形態に係る画像記録制御部１０８では、基板歪補正画像処理部１０６において得られた変形後のラスターデータが用いられて、最終画像データとなる各記録素子ユニット１６６のオン／オフデータが生成される。そして、当該オン／オフデータを用い、ステージ１５２の移動に同期して、記録ヘッド１６２の各記録素子ユニット１６６のＤＭＤが制御され、配線パターンの画像記録が実行される。これにより、配線パターンを示す画像がＰＷＢ１５０に露光されることになる。なお、ラスター変換処理部１０４、基板歪補正画像処理部１０６、画像記録制御部１０８、記録位置情報画像処理部１１０の各々の作動はコントローラ１０２によって制御される。
【０１２２】
以上説明したように、本実施の形態では、ＰＷＢ１５０に予め設けられた複数の位置決め穴１５０Ａの各々の位置を示す位置情報を取得し、当該位置情報に基づいて各々上記位置決め穴１５０Ａの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した座標点の変形前の画像における画素情報を上記任意点の画素情報として適用することにより変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて変形後の画像をＰＷＢ１５０に記録しているので、ＰＷＢ１５０が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【０１２３】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとして、ＰＷＢ１５０に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられた位置決め穴１５０Ａを適用しているので、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【０１２４】
なお、本実施の形態では、空間光変調素子としてＤＭＤを備えた記録素子ユニット１６６について説明したがこのような反射型空間光変調素子の他に、透過型空間光変調素子（ＬＣＤ）を使用することもできる。例えば、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）タイプの空間光変調素子（ＳＬＭ；Ｓｐａｃｉａｌ  Ｌｉｇｈｔ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ）や、電気光学効果により透過光を変調する光学素子（ＰＬＺＴ素子）や液晶光シャッタ（ＦＬＣ）等の液晶シャッターアレイなど、ＭＥＭＳタイプ以外の空間光変調素子を用いることも可能である。なお、ＭＥＭＳとは、ＩＣ製造プロセスを基盤としたマイクロマシニング技術によるマイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、そして制御回路を集積化した微細システムの総称であり、ＭＥＭＳタイプの空間光変調素子とは、静電気力を利用した電気機械動作により駆動される空間光変調素子を意味している。さらに、Ｇｒａｔｉｎｇ Ｌｉｇｈｔ Ｖａｌｖｅ（ＧＬＶ）を複数ならべて二次元状に構成したものを用いることもできる。これらの反射型空間光変調素子（ＧＬＶ）や透過型空間光変調素子（ＬＣＤ）を使用する構成では、上記したレーザの他にランプ等も光源として使用可能である。
【０１２５】
また、上記の実施の形態における光源としては、合波レーザ光源を複数備えたファイバアレイ光源、１個の発光点を有する単一の半導体レーザから入射されたレーザ光を出射する１本の光ファイバを備えたファイバ光源をアレイ化したファイバアレイ光源、複数の発光点が二次元状に配列された光源（たとえば、ＬＤアレイ、有機ＥＬアレイ等）、等が適用可能である。
【０１２６】
さらに、本実施の形態の画像記録装置１００は、上述したプリント配線板の製造工程におけるドライ・フィルム・レジスト（ＤＦＲ；Ｄｒｙ  Ｆｉｌｍ  Ｒｅｓｉｓｔ）の露光の他、液晶表示装置（ＬＣＤ）の製造工程におけるカラーフィルタの形成、ＴＦＴの製造工程におけるＤＦＲの露光、プラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）の製造工程におけるＤＦＲの露光等の用途に好適に用いることができる。
【０１２７】
また、本実施の形態では、（３）式により、全ての処理対象とする点に対応する座標点Ｓ（ｕ，ｖ）の座標を算出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１２８】
すなわち、ｖを固定値とした場合について着目すると、（３）式は、ｕによる一次関数であることが分かる。従って、ｖを決定すれば、初期値（開始点）及び増分（ｕの増分に対応する増分）も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【０１２９】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとしてＰＷＢ１５０に予め設けられている位置決め穴１５０Ａを適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の基準マークとして、例えば、前回の配線パターンの記録時に記録しておいた位置決めマーク等を適用する形態とすることもできる。この場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られる。
【０１３０】
また、本実施の形態で説明した画像記録装置１００の構成（図１〜図５参照。）は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【０１３１】
更に、本実施の形態において説明した画像記録装置１００の走査露光時の処理の流れや画像変形処理（図１１参照。）の流れも一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【０１３２】
また、上記各実施の形態では、本発明の分割領域として四角形を適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の分割領域として三角形や、五角形以上の多角形を適用する形態とすることもできる。三角形等の場合も、四角形の場合と同様に、分割領域の辺やコントロールポイントを基準として、変形後の領域の点から変形前の領域の点を特定することができる。
【０１３３】
更に、画像を形成するための設計上のデータを画像データとし、これに対して実際の描画に使用されるデータを描画データと呼ぶようにしてもよい。この場合、上記各実施の形態では、実際の基板寸法に基づく分割領域中の点から、これに対応する設計上の基板寸法に基づく分割領域中の点を特定することによって、分割領域ごとに、画像データから描画データを求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１３４】
【図１】実施の形態に係る画像記録装置の外観を示す斜視図である。
【図２】実施の形態に係る画像記録装置の記録ヘッドの構成を示す斜視図である。
【図３】（Ａ）はＰＷＢに形成される露光済み領域を示す平面図であり、（Ｂ）は各露光ヘッドによる露光エリアの配列を示す図である。
【図４】記録素子ユニットのドット配列状態を示す平面図である。
【図５】実施の形態に係る画像記録装置におけるＰＷＢに対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【図６】（Ａ）は歪みが生じていない場合のＰＷＢの位置決め穴の状態を示す平面図であり、（Ｂ）は歪みが生じた後のＰＷＢの位置決め穴の状態を示す平面図である。
【図７】図６（Ａ）における１，２，４，５を角点として構成される長方形から、当該長方形に対応する図６（Ｂ）における１’，２’，４’，５’を角点として構成された四辺形への変換状態を示す模式図である。
【図８】第１の実施の形態に係る基板歪補正画像処理部において行われるラスターデータの変換手順を示す説明図である。
【図９】ラスターデータの変換手法としてアフィン変換を適用した場合の説明図である。
【図１０】第２の実施の形態に係るラスターデータによって示される配線パターンを示す画像の変形状態の説明に供する平面図である。
【図１１】第２の実施の形態に係る画像変形処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１２】第２の実施の形態に係る画像変形処理プログラムにより実行される画像の変形前後の座標系におけるスキャン状態の一例を示す平面図である。
【図１３】請求項４に係る発明の原理の説明に供する説明図である。
【図１４】請求項４に係る発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【図１５】請求項４に係る発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【符号の説明】
【０１３５】
１００    画像記録装置
１０６    基板歪補正画像処理部（変換手段、導出手段、演算手段、生成手段）
１５０    ＰＷＢ（記録媒体）
１５０Ａ    位置決め穴（基準マーク）
１６２    記録ヘッド（記録手段）
１６４    カメラ（取得手段）
【図１】
2005037911.tif 000013
【図２】
2005037911.tif 000014
【図３】
2005037911.tif 000015
【図４】
2005037911.tif 000016
【図５】
2005037911.tif 000017
【図６】
2005037911.tif 000018
【図７】
2005037911.tif 000019
【図８】
2005037911.tif 000020
【図９】
2005037911.tif 000021
【図１０】
2005037911.tif 000022
【図１１】
2005037911.tif 000023
【図１２】
2005037911.tif 000024
【図１３】
2005037911.tif 000025
【図１４】
2005037911.tif 000026
【図１５】
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