(57)【要約】【課題】単一の閾値Ｐを用いてプリント基板を検査する方法では、プリント基板の基材の色や表面の形成状態などによって輝度が変化した場合、スリ傷を有するプリント基板を不良品と判定し、また、突起を有するプリント基板を良品と判定してしまうことになる。【解決手段】プリント基板の表面を撮像して輝度毎の画素数を示すヒストグラムを生成し、暗い側に設定された第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の画素数Ｓ１’と、明るい側に設定された第二の輝度Ｐ２よりも明るい輝度の画素数Ｓ２’を計数する。これに対して、あらかじめ暗い輝度に対する第一の基準画素数Ｓ１と、明るい輝度に対する第二の基準画素数Ｓ２を設定しておく。このＳ１とＳ２の設定に際しては、Ｓ１＞Ｓ２となるようにする。そして、Ｓ１’＞Ｓ１またはＳ２’＞Ｓ２であれば不良品であると判定する。  【選択図】図２
2005037243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板の表面を撮像する撮像手段と、
この撮像手段によって撮像された画像について輝度毎の画素数を計数する第一の計数手段と、
あらかじめ暗い側と明るい側に設定された第一の輝度および第二の輝度に対し、第一の輝度よりも暗い輝度に対する第一の基準画素数、および、第二の輝度よりも明るい輝度に対する第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、
前記第一の計数手段によって計数された輝度毎の画素数のうち、前記第一の輝度よりも暗い輝度の画素数を計数するとともに、前記第二の輝度よりも明るい輝度の画素数を計数する第二の計数手段と、
この第二の計数手段によって計数された第一の輝度よりも暗い輝度の画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記第二の計数手段によって計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合に、プリント基板を不良と判定する判定手段と、を設けたことを特徴とするプリント基板検査装置。
【請求項２】
プリント基板の表面を撮像する撮像手段と、
この撮像手段によって撮像された画像について輝度毎の画素数を計数する第一の計数手段と、
前記撮像手段によって撮像された画像の平均輝度を算出する平均輝度算出手段と、
検査に際して基準となるプリント基板の基準平均輝度、および、あらかじめ暗い側と明るい側にそれぞれ設定された第一の輝度および第二の輝度に対し、第一の輝度よりも暗い輝度に対する第一の基準画素数と、第二の輝度よりも明るい輝度に対する第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、
前記平均輝度算出手段によって算出された平均輝度と前記基準平均輝度とを一致させるように各画素に対する輝度を修正する輝度修正手段と、
この輝度修正手段によって修正された輝度に対する画素のうち、前記第一の輝度よりも暗い輝度の画素数と、前記第二の輝度よりも明るい輝度の画素数を計数し、この計数された第一の輝度よりも暗い輝度の画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合、プリント基板を不良と判定する判定手段と、を設けたことを特徴とするプリント基板検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント基板のパッド、配線パターン、レジスト、シルク印刷などの形成状態を検査するプリント基板検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、プリント基板にはパッド、配線パターン、レジスト、シルク印刷などが設けられている。そして、このようなプリント基板を、プリント基板検査装置に取り付け、そのパッドなどが正確に形成されているか否かを検査する。この基板を検査する装置に関しては、下記の特許文献１に記載されたようなものなどが存在する。
【０００３】
この特許文献１に記載された基板検査装置は、基板を撮像する撮像手段と、この撮像手段により撮像された画像を画素毎に白黒二値化する画像二値化手段と、この画像二値化手段により二値化された白黒二値化画像の白画素数又は黒画素数の少なくとも一方を計数する計数手段とを設け、この計数手段により計数された計数値とあらかじめ設定された閾値とを比較して基板の良否を判定するようにしたものである。
【特許文献１】特開２００３―７５３６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、プリント基板の輝度は、その基材の色やプリント基板の形成状態によって変化してしまう。例えば、プリント基板のパッド上に研磨によるスリ傷が存在している場合、図５に示すように、その輝度と画素数との関係を示すヒストグラムは一般的に暗い方向へシフトする。一方、パッドの表面に突起が存在している場合、同じく図５に示すように、そのヒストグラムは明るい方向にシフトする。そして、このようにスリ傷や突起が存在している基板を検査する場合、従来のように輝度の閾値Ｐを用いてそれよりも暗い部分の画素数を計数し、その計数値が所定値以下であるか否かによってパッドの形成状態を検査する場合、パッドにスリ傷を有するプリント基板は、ヒストグラムが左にシフトしてその閾値Ｐよりも暗い側の画素数が多くなるため、不良品と判定されることになる。一方、パッドに突起を有しているプリント基板については、ヒストグラムが右にシフトし、閾値Ｐよりも暗い側の画素数が少なくなるため、良品と判定されることになる。
【０００５】
ところが、ユーザによっては、パッドの表面に研磨のスリ傷が存在していても、プリント配線に短絡を生じなければ、そのプリント基板を良品としたい場合がある。また、逆に、パッドに突起が存在している場合は、プリント配線に短絡を生ずる可能性があるため、これを不良品として取り扱いたい場合がある。しかし、従来の閾値Pを用いた方法では、このような取り扱いは不可能であった。
【０００６】
そこで、本発明はかかる課題に着目してなされたもので、ユーザの意向に対応すべく、プリント基板の基材の色や表面の形成状態などによって輝度が変化した場合であっても、好適にプリント基板の良否を判定することができるプリント基板検査装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
すなわち、本発明は上記課題を解決するために、プリント基板の表面を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像された画像について輝度毎の画素数を計数する第一の計数手段と、あらかじめ暗い側と明るい側にそれぞれ設定された第一の輝度、および、第二の輝度に対し、第一の輝度よりも暗い輝度に対する第一の基準画素数および、第二の輝度よりも明るい輝度に対する第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、前記第一の計数手段によって計数された輝度毎の画素数のうち、前記第一の輝度よりも暗い輝度の画素数を計数するとともに、前記第二の輝度よりも明るい輝度の画素数を計数する第二の計数手段と、この第二の計数手段によって計数された第一の輝度よりも暗い輝度の画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記第二の計数手段によって計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合に、プリント基板を不良と判定する判定手段と、を設けるようにしたものである。
【０００８】
このように構成すれば、例えば、暗い側の基準画素数である第一の基準画素数を大きく設定するとともに明るい側の基準画素数である第二の基準画素数を小さく設定すれば、仮に、研磨のスリ傷によって画像の輝度がある程度暗い方向にシフトした場合であっても、第一の基準画素数を大きく設定しているため、そのようなプリント基板を良品と判定することができる。また、逆に、パッドの表面に突起が存在して輝度が明るい側にシフトした場合には、あらかじめ小さく設定された第二の基準画素よりも画素数が簡単に多くなるため、そのようなプリント基板を不良品として判定することができるようになる。
【０００９】
また、別の発明では、前記撮像手段によって撮像された画像の平均輝度を算出する平均輝度算出手段と、検査に際して基準となるプリント基板の基準平均輝度および、あらかじめ暗い側と明るい側にそれぞれ設定された第一の輝度および第二の輝度に対し、第一の輝度よりも暗い輝度に対する第一の基準画素数と、第二の輝度よりも明るい輝度に対する第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、前記平均輝度算出手段によって算出された平均輝度と前記基準平均輝度とを一致させるように各画素に対する輝度を修正する輝度修正手段と、この輝度修正手段によって修正された輝度に対する画素のうち、前記第一の輝度よりも暗い輝度の画素数と、前記第二の輝度よりも明るい輝度の画素数を計数し、この計数された第一の輝度よりも暗い画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合、プリント基板を不良と判定する判定手段とを設けるようにする。
【００１０】
このように構成すれば、例えば、プリント基板の基材の色やレジストの色などによってベースとなる輝度が変化した場合であっても、その輝度を基準平均輝度に基づいて各画素の輝度が修正されるので、プリント基板の種類や形成状態などに限定されることなく的確に種々のプリント基板を検査することができるようになる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明は、プリント基板の表面を撮像する撮像手段と、この撮像手段によって撮像された画像について輝度毎の画素数を計数する第一の計数手段と、あらかじめ暗い側と明るい側に設定された第一の輝度および第二の輝度に対し、第一の輝度よりも暗い輝度に対する第一の基準画素数、および、第二の輝度よりも明るい輝度に対する第二の基準画素数を記憶する記憶手段と、前記第一の計数手段によって計数された輝度毎の画素数のうち、前記第一の輝度よりも暗い輝度の画素数を計数するとともに、前記第二の輝度よりも明るい輝度の画素数を計数する第二の計数手段と、この第二の計数手段によって計数された第一の輝度よりも暗い輝度の画素数が前記第一の基準画素数よりも多い場合、または、前記第二の計数手段によって計数された第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が前記第二の基準画素数よりも多い場合に、プリント基板を不良と判定する判定手段と、を設けるように構成したので、仮に、パッドの表面に研磨のスリ傷が存在して輝度が暗い方向にシフトした場合であっても、そのようなプリント基板を良品と判定することができる。また、逆に、パッドに突起が存在して輝度が明るい側にシフトした場合については、第二の輝度よりも明るい輝度の画素数が第二の基準画素数を超えるため不良品として判定することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の一実施の形態について図面を用いて説明する。この実施形態におけるプリント基板検査装置１は、プリント基板２ａ、２ｂに設けられたパッド、配線パターン、レジスト、シルク印刷などを撮像し、この撮像された画像を前処理した後、輝度毎の画素数を計数して図２（ｂ）（ｃ）に示すように太い実線のヒストグラムを生成する。また、これとともに画像の平均輝度Ａｖｅ１を求め、あらかじめ設定された基準平均輝度Ａｖｅ０と合致するように各画素の輝度を修正し、図２（ｂ）（ｃ）の波線で示されるようなシフトグラムを生成する。一方、プリント基板２ｂを検査する前に、あらかじめ第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の画素数および第二の輝度Ｐ２よりも暗い輝度の画素数に対応して、図２（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す矩形状面積に対応する第一の基準画素数Ｓ１および第二の基準画素数Ｓ２を設定しておく。そして、前記修正されたヒストグラムに基づき、第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の画素数Ｓ１’（図２（ａ）（ｂ）の左斜下方向の斜線領域）および第二の輝度Ｐ２よりも明るい輝度の画素数Ｓ２’（図２（ａ）（ｂ）の左斜下方向の斜線領域）を計数して加算し、これらの画素数Ｓ１’、Ｓ２’がそれぞれ第一の基準画素数Ｓ１もしくは第二の基準画素数Ｓ２よりも多い場合にそのプリント基板２ｂを不良品と判定するようにしたものである。以下、本実施の形態の詳細について説明する。
【００１３】
図１は、本実施形態に係るプリント基板検査装置１の構成を示したブロック図である。
【００１４】
撮像手段３は、検査対象となるプリント基板２ｂ、もしくは、検査に際してあらかじめ基準となるデータを生成するためのプリント基板２ａ（以下、「基準プリント基板」と称する）の表面を撮像するもので、この実施形態では、２５６階調のグレースケールによりその表面の画像を取得する。この撮像手段３は、一般のプリント基板検査装置に使用されるように、斜め方向から光を照射し、その反射光をＣＣＤカメラなどによって受光する。なお、このＣＣＤカメラはＣＭＯＳカメラやラインセンサなどによって構成することも可能である。
【００１５】
前処理部４は、このＣＣＤカメラによって撮像されたプリント基板２ａ、２ｂの画像について、Ａ／Ｄ変換などの処理を行い、この変換処理されたデータを一旦画像メモリ５に記憶する。この画像メモリ５には第一の計数手段６が接続される。
【００１６】
第一の計数手段６は、この画像メモリ５に記憶されているプリント基板２ａ、２ｂの画像について、輝度毎の画素数を計数する。この計数は、パッドの形成状態を検査する場合においては、輝度１５０から２５０までの画素を抽出するように設定しておく。そして、この輝度１５０から２５０までの輝度毎の画素数を計数し、図２（ａ）（ｂ）（ｃ）の細い実線または太い実線に示すようなヒストグラムを生成する。このヒストグラムは、検査対象となるプリント基板２ｂを検査するに際してあらかじめ基準プリント基板２ａに対するものが生成され（図２（ａ）（ｂ）（ｃ）の細い実線）、検査対象となるプリント基板２ｂを検査する場合においては、その検査対象となるプリント基板２ｂのものが生成される（図２（ａ）（ｂ）（ｃ）の太い実線）。そして、これら生成された基準プリント基板２ａのヒストグラムに関する情報（すなわち、輝度毎の画素数の情報）、および、検査対象となるプリント基板２ｂに対するヒストグラムに関する情報を記憶手段７に記憶する。
【００１７】
平均値算出手段９は、第一の計数手段６によって計数された輝度１５０から２５０までの画素に基づき、その輝度の平均値を求める。この平均値算出手段９についても、基準プリント基板２ａに対するヒストグラムからその基準平均輝度Ａｖｅ０を算出し、また、検査対象となるプリント基板２ｂに対するヒストグラムからその平均輝度Ａｖｅ１を算出する。そして、これら算出された基準プリント基板２ａに対する輝度平均値Ａｖｅ０、および、検査対象となるプリント基板２ｂに対する平均輝度Ａｖｅ１を記憶手段７に記憶する。
【００１８】
輝度修正手段１０は、平均値算出手段９によって算出された検査対象となるプリント基板２ｂの平均輝度Ａｖｅ１を基準プリント基板２ａの基準平均輝度Ａｖｅ０に一致させるように、検査対象となるプリント基板２ｂの各画素の輝度を修正する。通常、検査対象となるプリント基板２ｂの輝度は、基材の色、レジストの色、パッド表面のスリ傷の有無などによって変化し、基準プリント基板２ａのヒストグラムに対してその検査対象となるプリント基板２ｂのヒストグラムは左右にシフトする。そこで、この実施形態では、検査対象となるプリント基板２ｂの平均輝度Ａｖｅ１を基準プリント基板２ａの基準平均輝度Ａｖｅ０に一致させるように検査対象となるプリント基板２ｂの各画素の輝度を修正する。これを図２（ｂ）（ｃ）の太い実線で示されるヒストグラムに基づいて説明すると、δ＝Ａｖｅ０−Ａｖｅ１を計算し、検査対象となるプリント基板２ｂの各画素の輝度をδだけシフトさせ、全体としてこのプリント基板２ｂの太い実線で示されるヒストグラムを波線で示されるようなヒストグラムにシフトさせる。
【００１９】
第二の計数手段１１は、あらかじめ設定された暗い側の第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の画素数を計数し、また、明るい側の第二の輝度Ｐ２よりも明るい輝度の画素数を計数する。この第一の輝度Ｐ１および第二の輝度Ｐ２は、プリント基板検査装置１に取り付けられたキーボードなどの入力手段８によって入力設定され、第一の輝度Ｐ１の画素数が第二の輝度Ｐ２の画素数よりも多くなるように設定される。そして、この第二の計数手段１１によって、まず、基準プリント基板２ａのヒストグラムに基づいて、第一の輝度Ｐ１に対する画素数を計数し、その画素数に輝度１５０からＰ１までの輝度数を乗じた画素数（図２における矩形状面積部分）を演算してこれをＳ１として記憶手段７に記憶する。また、第二の輝度Ｐ２に対する画素数を計数し、その画素数に輝度Ｐ２から２５０までの輝度数を乗じた画素数（同じく矩形状面積部分）を演算してこれをＳ２として記憶手段７に記憶する。一方、検査対象となるプリント基板２ｂについては、輝度修正手段１０によって修正されたヒストグラムを用い、今度は、第一の輝度Ｐ１よりも暗い各輝度の画素数をそれぞれ計数して加算し、これをＳ１’として記憶手段７に記憶し、また、第二の輝度Ｐ２よりも明るい各輝度の画素数をそれぞれ計数して加算し、これをＳ２’として記憶手段７に記憶する。
【００２０】
判別手段１２は、第二の計数手段１１によって計数された基準プリント基板２ａに対する画素数Ｓ１・Ｓ２と、検査対象となるプリント基板２ｂに対する画素数Ｓ１’・Ｓ２’を比較する。そして、画素数Ｓ１よりもＳ１’の方が大きければ、不良品である旨の情報をディスプレイなどの出力手段１３を介して出力し、また、同様に画素数Ｓ２よりもＳ２’の方が大きければ、不良品である旨の情報を出力する。
【００２１】
次に、このように構成されたプリント基板検査装置１の処理フローについて図３および図４を用いて説明する。プリント基板２ｂの検査方法を説明するに際しては、まず、検査対象となるプリント基板２ｂを検査する際に必要となる基準データを生成するフローについて図３を用いて説明し、その後、検査対象となるプリント基板２ｂを検査するフローについて図４を用いて説明する。
【００２２】
＜基準データの生成フロー＞
まず、検査対象となるプリント基板２ｂを検査するに際して必要となる第一の基準画素数Ｓ１・第二の基準画素数Ｓ２を生成する場合、基準プリント基板２ａをプリント基板検査装置１にセットし、その基準プリント基板２ａの表面に光りを照射してその表面に設けられた画像を取得する（ステップＴ１）。この取得された画像を前処理手段によってＡ／Ｄ変換し（ステップＴ２）、その変換された画像情報を画像メモリ５に書き込む。そして、２５６階調のグレースケールにて輝度１５０から２５０までの輝度の各画素数を計数し、図２（ａ）に示すようなヒストグラムを生成する（ステップＴ３）。次いで、この生成されたヒストグラムから基準平均輝度Ａｖｅ０を求めて記憶手段７に記憶し（ステップＴ４）、また、これと同時に、あらかじめ入力手段８によって入力設定された第一の輝度Ｐ１および第二の輝度Ｐ２に対して、その第一の輝度Ｐ１・第二の輝度Ｐ２の画素数を計数し、第一の輝度Ｐ１の画素数に輝度１５０からＰ１までの輝度数を乗じた画素数Ｓ１、および、第二の輝度Ｐ２の画素数に輝度Ｐ２から２５０までの輝度数を乗じた画素数Ｓ２を演算する（ステップT５）。そして、この画素数Ｓ１を第一の基準画素数として記憶手段７に記憶させるとともに、画素数Ｓ２を第二の基準画素数として記憶手段７に記憶させる（ステップT６）。そして、その後、その基準プリント基板２ａを取り外して、検査対象となるプリント基板２ｂの検査を行えるようにする。
【００２３】
＜検査対象となるプリント基板の検査処理＞
検査対象となるプリント基板２ｂの形成状態を検査する場合も、同様にして、まず、そのプリント基板２ｂをプリント基板検査装置１にセットし、そのプリント基板２ｂの表面に光を照射してその表面画像を取得する（ステップＴ１０）。そして、この取得された画像を前処理手段によってＡ／Ｄ変換し（ステップT１１）、その情報を画像メモリ５に書き込む。そして、２５６階調のグレースケールにて輝度１５０から２５０までの輝度に対する各画素数を計数し、図２（ｂ）（ｃ）の太い実線に示すようなヒストグラムを生成し（ステップＴ１２）、この生成されたヒストグラムから平均輝度Ａｖｅ１を算出する（ステップＴ１３）。次いで、この算出された平均輝度Ａｖｅ１と前記基準プリント基板２ａの基準平均輝度Ａｖｅ０との差δを計算し、ステップＴ１２で生成されたヒストグラムの各輝度をこのδ分だけシフトさせ、それぞれの平均輝度Ａｖｅ０、Ａｖｅ１を一致させるようにする（ステップＴ１４）。そして、この修正されたヒストグラムに基づき、あらかじめ設定された第一の輝度Ｐ１および第二の輝度Ｐ２に基づいて、その第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の各画素数Ｓ１’を計数するとともに、第二の輝度Ｐ２よりも明るい輝度の各画素数Ｓ２’を計数する（ステップＴ１５）。そして、この計数した画素数Ｓ１’・Ｓ２’と基準プリント基板２ａのＳ１・Ｓ２を比較し（ステップT１６）、検査対象となるプリント基板２ｂに対する画素数Ｓ１’が基準プリント基板２ａに対する画素数Ｓ１よりも大きい場合は（ステップＴ１６：Ｙｅｓ）、そのプリント基板２ｂは不良品であると判定し、その旨を出力する（ステップＴ１７）。また、検査対象となるプリント基板２ｂに対する画素数Ｓ２’が基準プリント基板２ａに対する画素数Ｓ２よりも大きい場合も同様に（ステップＴ１６：Ｙｅｓ）、そのプリント基板２ｂを不良品と判定し、その旨を出力する（ステップＴ１７）。すなわち、第一の基準画素数Ｓ１よりもＳ１’の方が大きい場合は、研磨によるスリ傷以上にパッドに欠損を生じている可能性が高いため、これを不良品と判定する。また、第二の基準画素数Ｓ２よりもＳ２’の方が大きい場合、パッドに突起が存在している可能性が高いため、これを不良品と判定する。一方、ステップＴ１６で、S１’≦S１、かつ、S２’≦S２であれば、そのプリント基板２ｂは良品であると判定し、その旨を出力する（ステップT１８）。
【００２４】
このように上記実施形態によれば、プリント基板２ｂの表面を撮像して輝度毎の画素数を計数し、暗い側に設定された第一の輝度Ｐ１よりも暗い輝度の画素数Ｓ１’とあらかじめ設定された第一の基準画素数Ｓ１とを比較するとともに、明るい側についても同様に第二の輝度Ｐ２よりも明るい画素数Ｓ２’とあらかじめ設定された第二の基準画素数Ｓ２とを比較する。そして、Ｓ１’＞Ｓ１またはＳ２’＞Ｓ２であれば、そのプリント基板２ｂは不良品であると判定するようにしたので、研磨のスリ傷によってヒストグラムがある程度暗い側にシフトした場合であっても、これを良品と判定することができる。一方、パッド表面に突起が存在してヒストグラムが明るい側にシフトした場合は、これを不良品と判定することができるようになる。
【００２５】
また、このように検査対象となるプリント基板２ｂのヒストグラムを生成するに際して、あらかじめ設定された基準平均輝度Ａｖｅ０を用いて各画素の輝度を修正するようにしたので、プリント基板２ｂの基材の色やレジストの色、その他の影響などによってプリント基板２ｂの輝度が変化した場合であっても好適にその良否を判定することができるようになる。
【００２６】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、種々の態様で実施することができる。例えば、上記実施の形態においては、プリント基板２ｂのパッドを検査する場合について説明したが、パッドだけに限らず、パターン配線、レジスト、シルク印刷などの検査に適用することもできる。
【００２７】
また、上記実施の形態では、平均輝度Ａｖｅ０およびＡｖｅ１を一致させる際、検査対象となるプリント基板２ｂ側のヒストグラムを基準プリント基板２ａの基準平均輝度Ａｖｅ０に一致させるようにしたが、これに限らず、逆に基準プリント基板２ａ側のヒストグラムをシフトさせるようにしても良い。この場合、第一の基準輝度Ｐ１および第二の基準輝度Ｐ２も同様にシフトさせ、このシフトさせた第一の基準輝度Ｐ１および第二の基準輝度Ｐ２を用いて画素を計数するようにすると良い。
【００２８】
さらに、上記実施の形態では、グレースケールにて撮像された画像に基づいて輝度毎の画素数を計数するようにしているが、これに限らず、フルカラースケールで撮像された画像をグレースケールに変換し、この変換されたグレースケールに基づいて同様に輝度毎の画素数を計数するようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の一実施の形態におけるプリント基板検査装置の機能ブロック図
【図２】同形態における第一の計数手段で生成されたヒストグラムを示した図
【図３】同形態における基準データを生成するフローチャート
【図４】同形態におけるプリント基板を検査する際の処理を示すフローチャート
【図５】従来例におけるヒストグラムと閾値との関係を示した図
【符号の説明】
【００３０】
１・・・プリント基板検査装置
２ａ、２ｂ・・・プリント基板（２ａ：基準プリント基板、２ｂ：検査対象となるプリント基板）
３・・・撮像部
６・・・第一の計数手段
７・・・記憶手段
９・・・平均値算出手段
１０・・・輝度修正手段
１１・・・第二の計数手段
１２・・・判別手段
Ｐ１・・・第一の輝度
Ｐ２・・・第二の輝度
Ｓ１・・・第一の基準画素
Ｓ２・・・第二の基準画素
Ａｖｅ０・・・基準プリント基板の基準平均輝度
Ａｖｅ１・・・検査対象となるプリント基板の平均輝度
【図１】
2005037243.tif 000003
【図２】
2005037243.tif 000004
【図３】
2005037243.tif 000005
【図４】
2005037243.tif 000006
【図５】
2005037243.tif 000007