(57)【要約】【課題】  ＡＦ光学系にゴミ等が付着しても、それを除去して精度良く焦点検出が行えるカメラの防塵装置を提供することを目的とする。【解決手段】  撮影レンズ（１２ａ）の焦点状態を検出する焦点検出用光学系（１６０、１６１、１６２）と、焦点検出用光学系の前面に配置される光学素子（２１）と、光学素子を振動させる加振手段（２２）とを具備するカメラの防塵装置である。【選択図】      図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出用光学系と、上記焦点検出用光学系の前面に配置される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、を具備することを特徴とするカメラの防塵装置。
【請求項２】
上記加振手段を動作させるタイミングを制御する制御手段を更に具備することを特徴とする請求項１に記載のカメラの防塵装置。
【請求項３】
上記制御手段は、カメラの電源がオンした直後、もしくは、撮影者が指定する任意のタイミング、もしくは、撮影レンズをカメラ本体に装着した直後のいずれかのタイミングで上記加振手段を動作させるように制御することを特徴とする請求項２に記載のカメラの防塵装置。
【請求項４】
上記加振手段は、圧電素子であることを特徴とする請求項１に記載のカメラの防塵装置。
【請求項５】
上記光学素子は、ガラス板であることを特徴とする請求項１に記載のカメラの防塵装置。
【請求項６】
上記光学素子は、撮影光軸に対して直交、若しくは、傾けて配置されることを特徴とする請求項１に記載のカメラの防塵装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動焦点検出装置を有するカメラに係わり、特にカメラ内部に付着した塵挨を除去可能なカメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来からレンズ交換式の一眼レフレックスカメラのオートフォーカス（自動焦点、ＡＦ）検出方式として、ＴＴＬ位相差検出方式が多く採用されている。
【０００３】
この方式のカメラでは、撮影時に上方ヘアップするミラー機構が採用されているため、焦点検出センサ及び焦点検出光学系は、そのミラーの下方へ配置されている。このため、レンズ交換時にはミラー部分が露出する結果、レンズマウント部分から侵入したゴミやちり等がＡＦ検出光学系に付着し、焦点検出精度が低下するという問題点があった。
【０００４】
そこで、ＡＦ検出光学系に付着した異物が焦点検出精度に及ぼす影響を除去する従来技術として、デフォーカス量の変化でＡＦ光学系上のゴミ検出を行う技術（例えば、特許文献１参照）、あるいは、特許文献１に開示の技術でゴミ検出がなされると、焦点検出信号を補正する技術（例えば、特許文献２参照）が提案されている。
【特許文献１】特開平５−２７１５６号公報
【特許文献２】特開平９−１５２５４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１、２に記載の技術は、ゴミ付着を検出して焦点検出信号を補正するものの、ゴミそのものを除去するものではない。従って、ゴミが継続的に累積して付着する場合にはその補正精度にも限界が生ずる。
【０００６】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、ＡＦ光学系にゴミ等が付着してもそれを除去して精度良く焦点検出が行える、カメラの防塵装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するための本発明に係る請求項１に記載のカメラの防塵装置は、撮影レンズの焦点状態を検出する焦点検出用光学系と、上記焦点検出用光学系の前面に配置される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、を具備する。
【０００８】
また本発明に係る請求項２に記載のカメラの防塵装置は、上記記載の防塵装置において、上記加振手段を動作させるタイミングを制御する制御手段を更に具備する。
【０００９】
また本発明に係る請求項３に記載のカメラの防塵装置は、上記記載の防塵装置において、上記制御手段は、カメラの電源がオンした直後、もしくは、撮影者が指定する任意のタイミング、もしくは、撮影レンズをカメラ本体に装着した直後のいずれかのタイミングで上記加振手段を動作させるように制御する。
【００１０】
また本発明に係る請求項４に記載のカメラの防塵装置は、上記記載の防塵装置において、上記加振手段は圧電素子である。
【００１１】
また本発明に係る請求項５に記載のカメラの防塵装置は、上記記載の防塵装置において、上記光学素子はガラス板である。
【００１２】
また本発明に係る請求項６に記載のカメラの防塵装置は、上記記載の防塵装置において、上記光学素子は撮影光軸に対して直交、若しくは傾けて配置される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ＡＦ光学系にゴミ等が付着しても、それを除去して精度良く焦点検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
図１は、本発明の実施の形態に係るカメラの防塵装置の概念を示す図である。
【００１５】
本カメラの防塵装置は、光学素子１、焦点検出光学系２、焦点検出センサ３、加振素子４及び制御部５で構成されている。そして、制御部５には、加振タイミング判断部６が設けられている。
【００１６】
光学素子１は保護カバーの役割を担っている。従って、上述のミラー機構によって反射された光の特性を変化させない素子であることを要する。この光学素子１は、例えば薄いガラス板で構成される。
【００１７】
焦点検出光学系２は光学素子１の後面に設けられている。焦点検出光学系２は、入射された光束を分割して焦点検出センサ３内のフォトセンサアレイ上に結像する。焦点検出センサ３は不図示の撮影レンズの焦点状態を検出するＡＦセンサであり、上述のフォトセンサアレイを備えている。
【００１８】
加振素子４は光学素子１に密接している。この加振素子４は例えば圧電素子のように所定周波数で微振動を発生可能な素子である。加振素子４の振動によって、それに密接している光学素子１が加振されて、光学素子１の表面に付着しているゴミやちり等が除去される。
【００１９】
制御部５はカメラ全体の制御を司るマイクロコンピュータである。この制御部５は、焦点検出センサ３の出力に所定の演算を施すことによって撮影レンズの焦点状態を検出する。また、加振タイミング判断部６が決定するタイミングで、加振素子４を制御して塵類の除去を行う。
【００２０】
図２は、本発明に係る防塵装置が適用されるカメラのシステム構成を示すブロック図である。
【００２１】
このカメラシステムは、カメラ本体１１と、交換レンズとしてのレンズ鏡筒１２で構成されている。そして、レンズ鏡筒１２は、カメラ本体１１の前面に設けられたマウント２０７を介して着脱自在に設定されている。
【００２２】
レンズ鏡筒１２の制御は、レンズ制御用マイクロコンピュータ（以下、Ｌｕｃｏｍと称する）２０５によって行われる。カメラ本体１１の制御は、ボディ制御用マイクロコンピュータ（以下、Ｂｕｃｏｍと称する）１５０よって行われる。
【００２３】
なお、カメラ本体１１とレンズ鏡筒１２との合体時において、これらＬｕｃｏｍ２０５とＢｕｃｏｍ１５０とは、通信コネクタ２０６を介して通信可能に電気的接続がなされる。そして、Ｌｕｃｏｍ２０５はＢｕｃｏｍ１５０に従属的に協働しながら動作するように構成されている。
【００２４】
レンズ鏡筒１２内には、撮影光学系１２ａと、絞り２０３とが設けられている。撮影光学系１２ａは、レンズ駆動機構２０２内に設けられた図示しないＤＣモータによって駆動される。また、絞り２０３は、絞り駆動機構２０４内に設けられた図示しないステッピングモ一夕によって駆動される。Ｌｕｃｏｍ２０５は、Ｂｕｃｏｍ１５０からの指令に従って、これらの各モータを制御する。
【００２５】
カメラ本体１１内には、光学系としての一眼レフレックス方式の構成部材であるペンタプリズム１３ａ、反射鏡１３ｂ、接眼レンズ１３ｃ、サブミラー１１４、１１５、光軸上のフォーカルプレーン式シャッタ１４、上記サブミラー１１４、１１５からの反射光束を受けて自動測距するためのＡＦセンサユニット１１６が設けられている。
【００２６】
ＡＦセンサユニット１１６は、コンデンサレンズ１６０、セパレータレンズ１６１、セパレータ絞り１６２及びラインセンサであるＡＦセンサ１６３で構成されている。また、ＡＦセンサユニット１１６の前面には、防塵フィルタ２１がＡＦセンサ１６３と平行に配列されている。この防塵フィルタ２１は、光学素子としての透明なガラス部材で構成され、ＡＦセンサユニット１１６を密閉構造的に保護している。
【００２７】
さらに、この防塵フィルタ２１を所定の周波数で振動させる加振手段の一部として、圧電素子２２がその防塵フィルタ２１の周縁部に取り付けられている。この圧電素子２２が加振手段の一部としての防塵フィルタ駆動回路１４０によって振動して防塵フィルタ２１を振動させ、そのガラス表面に付着していたゴミやちり等の塵を除去する。なお、圧電素子２２には防塵フィルタ２１に振動を与えるための電極と、防塵フィルタ２１の振動を検出するための電極の２つの電極が設けられている。
【００２８】
もし防塵フィルタ２１が存在しなければ、レンズ着脱時にマウント２０７から侵入した塵がコンデンサレンズ１６０の外面に付着し、ＡＦ検出精度に悪影響を及ぼす。本実施の形態では、防塵フィルタ２１で侵入する塵からコンデンサレンズ１６０を保護し、防塵フィルタ２１の外面に付着する塵を加振手段で除去することによって、ＡＦ検出精度の低下をなくすることができる。
【００２９】
なお、測距光束をサブミラー１１４と１１５とを介してＡＦセンサユニット１１６に入射させている。これは、防塵フィルタ２１を重力方向に沿って、つまり、撮影光軸に対して直交、若しくは、傾けて配置した方が、塵の除去効果が高いため、そのように配置した防塵フィルタ２１に対して測距用光を垂直に入射させるためである。
【００３０】
また、カメラ本体１１内には、ＡＦセンサユニット１１６を駆動制御するＡＦセンサ駆動回路１１７と、反射鏡１３ｂを駆動制御するミラー駆動機構１１８と、シャッタ１４の先幕と後幕を駆動するためのばね力をチャージするシャッタチャージ機構１１９と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路１２０と、ペンタプリズム１３ａからの光束に基づき測光処理する測光回路１２１とが設けられている。
【００３１】
さらに、光軸上には撮影光学系を通過した被写体像を光電変換するための撮像素子２７が光電変換素子として設けられている。なお、カメラ内部の温度を測定するために、温度測定回路１３３が設けられている。このカメラシステムには、また、撮像素子２７に接続されたインターフェイス回路１２３と、液晶モニタ１２４と、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ１２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ１２６及び記録メディア１２７などを利用して画像処理する画像処理コントローラ１２８とが設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。
【００３２】
その他の記憶領域としては、ＥＥＰＲＯＭからなる不揮発性メモリ１２９が設けられている。不揮発性メモリ１２９は、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する不揮発性記憶手段として、Ｂｕｃｏｍ１５０からアクセス可能に設けられている。
【００３３】
Ｂｕｃｏｍ１５０には、当該カメラの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用ＬＣＤ１５１と、カメラ操作スイッチ（ＳＷ）１５２とが接続されている。カメラ操作ＳＷ１５２は、例えば、レリーズＳＷ、モード変更ＳＷ及びパワーＳＷなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。
【００３４】
さらに、カメラ本体１１内には、電源としての電池１５４と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路１５３が設けられている。
【００３５】
次に、本カメラシステムの各部の動作について説明する。
【００３６】
まず、画像処理コントローラ１２８は、Ｂｕｃｏｍ１５０の指令に従ってインターフェイス回路１２３を制御して撮像素子２７から画像データを取り込む。この画像データは，画像処理コントローラ１２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ１２４に表示される。ユーザは、この液晶モニタ１２４に表示される画像から、撮影した画像イメージを確認することができる。
【００３７】
ＳＤＲＡＭ１２５は、画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。また、この画像データはＪＰＥＧデータに変換された後、記録メディア１２７に保管される。
【００３８】
ＡＦセンサユニット１１６は、前述したように透明なガラス部材でなる防塵フィルタ２１によって保護されている。この防塵フィルタ２１の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子２２が配置されており、この圧電素子２２は、後で詳しく説明するように、該圧電素子２２の駆動手段としても働く防塵フィルタ駆動回路１４０によって駆動される。
【００３９】
通常、温度はガラス製の部材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の１つである。そこで、防塵フィルタ２１の稼動中に防塵フィルタ２１の温度変化を測定して、そのときの固有振動数を予想するようにしたほうがよい。したがって、本実施の形態では、温度測定回路１３３に接続されたセンサ（不図示）が、ＡＦセンサユニット１１６の周辺温度を測定する。なお、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵フィルタ２１の振動面の極近傍に設定されるのが好ましい。
【００４０】
ミラー駆動機構１１８は、反射鏡１３ｂをＵＰ位置とＤＯＷＮ位置へ駆動するための機構である。反射鏡１３ｂがＤＯＷＮ位置にあるとき、撮影光学系１２ａからの光束はＡＦセンサユニット１１６側とペンタプリズム１３ａ側へと分割されて導かれる。ＡＦセンサユニット１１６内のＡＦセンサからの出力は、ＡＦセンサ駆動回路１１７を介してＢｕｃｏｍ１５０へ送信されて周知の測距処理が行われる。
【００４１】
また、ペンタプリズム１３ａに隣接する接眼レンズ１３ｃからはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム１３ａを通過した光束の一部は測光回路１２１内のホトセンサ（不図示）へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。
【００４２】
図３は、防塵フィルタ２１及びこれに一体に設けられる圧電素子２２のみを取り出して示す正面図である。また、図４、図５は、図３の圧電素子２２に対して駆動電圧を印加した際の防塵フィルタ２１及び圧電素子２２の状態変化を示し、図４は図３のＡ−Ａ線に沿う断面図、図５は図３のＢ−Ｂ線に沿う断面図である。
【００４３】
ここで、例えば、圧電素子２２に負（マイナス；一）電圧を印加した場合には、防塵フィルタ２１は、図４、図５において実線で示すように変形する一方、圧電素子２２に正（プラス；＋）電圧を印加した場合には、防塵フィルタ２１は、同図において点線で示すように変形することになる。この場合において、図３乃至図５の参照符号２１ａで示すような振動の節の位置では、実質的に振幅は零になることから、この節２１ａに対応する部位にＡＦセンサユニット１１６の受け部（不図示）を当接させるように設定する。これにより、防塵フィルタ２１の振動を阻害することなく、防塵フィルタ２１を効率的に支持し得ることになる。
【００４４】
そして、この状態において、所定のときに防塵フィルタ駆動回路１４０を制御して、圧電素子２２に対して周期的な電圧を印加することによって、防塵フィルタ２１が振動し、当該防塵フィルタ２１の表面に付着した塵挨等が除去される。なお、このときの共振周波数は、防塵フィルタ２１の形状や板厚・材質等により決まる。
【００４５】
上述の図３乃至図５に示す例では、１次の振動を発生させた場合を示しているが、これに限らず、高次の振動を発生させるようにしてもよい。また、除去された塵挨を受け止めるために、防塵フィルタ２１の下部に粘着テープ（図２、図３に不図示）などを配置する必要がある。
【００４６】
次に、図６に示す防塵フィルタ駆動回路１４０の回路図と、図７のタイムチャートに基づいて、本発明の実施の形態におけるカメラの防塵フィルタ２１の駆動及びその動作と制御について説明する。
【００４７】
ここに例示した防塵フィルタ駆動回路１４０は、図６に示すような回路構成を有し、その各部において、図７のタイムチャートで表わす波形信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ６）が生成される。
【００４８】
防塵フィルタ駆動回路１４０は、図６に例示するように、Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４３、複数のＭＯＳトランジスタ（Ｑ００、Ｑ０１、Ｑ０２）４４ａ、４４ｂ、４４ｃ、トランス４５、抵抗（Ｒ００）４６、Ａ／Ｄコンバータ６０、圧電素子２２の第１の電極Ａとこれに並ぶ第２の電極Ｂ６１、ダイオード（Ｄ００）６２、抵抗（Ｒ０１、Ｒ０２）６３、６４、及びコンデンサ（Ｃ００）６５で構成されている。
【００４９】
上記トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂ及びトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃのＯＮ／ＯＦＦ切替え動作によって、そのトランス４５の２次側に所定周期の信号（Ｓｉｇ４）が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき２つの電極Ａ，Ｂを有した圧電素子２２を種々の形態によって駆動させながら、効率的な共振周波数を探し出して防塵フィルタ２１を効果的に共振させるようになっている。
【００５０】
Ｂｕｃｏｍ１５０は、制御ポートとして設けられた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔと、このＢｕｃｏｍ１５０内部に存在するクロックジェネレータ５５を介して防塵フィルタ駆動回路１４０を次のように制御する。
【００５１】
クロックジェネレータ５５は、圧電素子２２へ印加する信号周波数よりも充分に高い周波数を有するパルス信号（基本クロック信号）をＮ進カウンタ４１へ出力する。
【００５２】
このクロックジェネレータ５５からの出力信号が、図７の（ａ）のタイムチャートに表わされる波形の信号Ｓｉｇ１である。そして、このクロックジェネレータ５５からの基本クロック信号は、Ｎ進カウンタ４１へ入力される。
【００５３】
Ｎ進カウンタ４１は、当該パルス信号をカウントし所定の値“Ｎ”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。すなわち、Ｎ進カウンタ４１は、クロックジェネレータ５５からの基本クロック信号を１／Ｎに分周することになる。このＮ進カウンタ４１からの出力信号が図７の（ｂ）のタイムチャートに表わされる波形の信号Ｓｉｇ２である。
【００５４】
このＮ進カウンタ４１によって分周されたパルス信号は、ＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が１：１ではない。そこで、Ｎ進カウンタ４１によって分周されたパルス信号は、１／２分周回路４２を通してデューティ比を１：１へ変換される。なお、この１／２分周回路４２によって変換されたパルス信号は、図７の（ｃ）のタイムチャートに表わされる波形の信号Ｓｉｇ３に対応する。
【００５５】
この１／２分周回路４２によって変換されたパノレス信号のＨｉｇｈ状態において、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂがＯＮする。一方、トランジスタ（Ｑ０２）４４ｃへはインバータ４３を経由して、このパルス信号が印加される。したがって、１／２分周回路４２によって変換されたパルス信号のＬｏｗ状態において、この信号が入力されたトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃがＯＮする。
【００５６】
トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂとトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃとが交互にＯＮすると、トランス４５の２次側には図７の（ｄ）に表される波形の信号Ｓｉｇ４のような周期の信号が発生する。トランス４５の巻き線比は、電源回路ユニット１５３の出力電圧と圧電素子２２の駆動に必要な電圧から決定される。なお、抵抗（Ｒ００）４６は、トランス４５に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。
【００５７】
圧電素子２２を駆動するに際しては、トランジスタ（Ｑ００）４４ａがＯＮ状態にあり、電源回路ユニット１５３からトランス４５のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図６中、トランジスタ（Ｑ００）４４ａのＯＮ／ＯＦＦ制御は、ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを介して行われる。また、Ｎ進カウンタ４１の設定値‘‘Ｎ”は、ＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定することができるようになされている。
【００５８】
すなわち、Ｂｕｃｏｍ１５０は、Ｎ進カウンタ４１の設定値“Ｎ”を適宜に制御することによって、圧電素子２２の駆動周波数を任意に変更することが可能となる。このとき、圧電素子２２の駆動周波数は、次の式（１）によって算出することが可能である。
【００５９】
ｆｄｒｖ＝ｆｐｌｓ／２Ｎ…（１）
ここで、Ｎ：カウンタヘの設定値、
ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数。
【００６０】
なお、この式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ１５０のＣＰＵ（制御手段）で行われる。
【００６１】
前述した圧電素子２２の電極Ｂ６１は、ガラス板の振動状態を検出するための電極である。この電極Ｂ６１から、そのガラス板の振動状態に応じた交流電圧（モニタ信号）が発生する。
【００６２】
このモニタ信号が、図７の（ｅ）のタイムチャートに表される波形のＳｉｇ５である。そして、この圧電素子２２の電極Ｂ６１に接続されているダイオード（Ｄ００）６２は、そのモニタ信号を半波整流するために設けられている。また、このダイオード（Ｄ００）６２に続く抵抗（Ｒ０１、Ｒ０２）６３、６４及びコンデンサ（Ｃ００）６５によって、そのモニタ信号の包絡線が形成される。
【００６３】
これら抵抗（Ｒ０１、Ｒ０２）６３、６４及びコンデンサ（Ｃ００）６５からなる検出回路によって決定される時定数は、ガラスの振動周波数によって最適値が異なる。
【００６４】
そして、このモニタ信号は、抵抗（Ｒ０１、Ｒ０２）６３、６４によってＡ／Ｄコンバータ６０へ入力可能なレベルまで減圧される。この減圧されたモニタ信号が、図７の（ｆ）のタイムチャートに表される波形のＳｉｇ６である。
【００６５】
この減圧されたモニタ信号はＡ／Ｄコンバータ６０によってデジタルデータに変換され、Ｂｕｃｏｍ１５０のＩＯポートＤ＿ＡＤＣｉｎから読み取られる。Ｂｕｃｏｍ１５０は、モニタ信号が最大レベルになるようにＮ進カウンタ４１に設定する値を決定すればよい。最大レベルを示すＮ進カウンタ４１の値（共振周波数）で圧電素子２２のガラスを駆動するとき、効率よく塵を払うことができる。
【００６６】
次に、図８、図９を参照して上述のカメラボディ制御用マイクロコンピュータ（ＢＵｃｏｍ）１５０が行う制御について具体的に説明する。図８、図９は、Ｂｕｃｏｍ１５０で稼動する制御プログラムのメインルーチンを例示するフローチャートである。
【００６７】
まず、カメラの電源ＳＷ（不図示）がＯＮされると、Ｂｕｃｐｍ１５０は稼動を開始し、ステップ＃０００では、カメラシステムを起動するための処理が実行される。すなわち、このステップ＃０００では、電源回路１５３を制御して、このカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給すると共に、各回路の初期設定が行われる。
【００６８】
次に、ステップ＃００１では、サブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行される。このサブルーチン「共振点検出動作」では、防塵フィルタ２１を効率よく振動させるために適した駆動周波数（共振周波数）を検出し、この周波数データは、Ｂｕｃｏｍ１５０の所定アドレスのメモリ領域に記憶される。
【００６９】
次に、ステップ＃００２では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。なお、確実に塵を払うには、これら２つのルーチンによる動作を併せて行うことが望ましいが、共振周波数が変化する可能性が無ければ、「共振点検出動作」ルーチンは省略してもかまわない。
【００７０】
このサブルーチン「塵除去動作」中では、上記ステップ＃００１で検出された共振周波数で防塵フィルタ２１を加振し、圧電素子２２のガラス面に付着した塵を振り払うことによって、このカメラを撮影に使用しない期間に、ユーザが意図せずに付着した塵を除去できるようになっている。
【００７１】
次のステップ＃００３は、周期的に実行されるステップであり、Ｂｕｃｏｍ１５０がＬｕｃｏｍ２０５と通信動作を行うことによって、レンズ鏡筒１２の状態を検出するための動作ステップである。
【００７２】
すなわち、通信コネクタ２０６の一部にレンズ着脱によってオンオフするスイッチのラインが設けられており、レンズ鏡筒１２が装着されていればこのスイッチがオンし、レンズ鏡筒１２が外されていればこのスイッチがオフするように構成されている。このスイッチの状態変化を検出することによって、着脱状態を検出することができる。そして、ステップ＃００４にて、レンズ鏡筒１２がカメラ本体１１に装着されたことを検出すると、ステップ＃００７へ移行する。
【００７３】
一方、レンズ鏡筒１２がカメラ本体１１から外されたことを検出したときには、ステップ＃００５からステップ＃００６へ移行して制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓを０にリセットした後、ステップ＃０１０に移行する。
【００７４】
次に、ステップ＃００４にて、レンズ鏡筒１２がカメラ本体１１に装着されたことが検出された場合には、ステップ＃００７で、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓを１にセットする。この制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓは、カメラ本体１１にレンズ鏡筒１２が装着されている期間は“１”を示し、レンズ鏡筒１２が外されている期間は“０”を示している。
【００７５】
そして、ステップ＃００８にて、上述と同様にサブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行され、その直後のステップ＃００９においては上述と同様に、防塵フィルタ２１の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。
【００７６】
通常、カメラ本体であるカメラ本体１１にレンズ鏡筒１２が装着されていない期間において、防塵フィルタ２１等に塵が付着する可能性が高い。したがって、レンズ鏡筒１２の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。
【００７７】
また、レンズ交換が行われると、カメラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部の温度が変化し、この温度変化によって圧電素子２２のガラスの共振周波数も変化する。そこで、上記ステップ＃００８では、新しい駆動周波数（共振周波数）を決定するため上記サブルーチン「共振点検出動作」が実行される。
【００７８】
続いて、その直後のステップ＃００９にて、ステップ＃００８で決定された周波数でサブルーチン「塵除去動作」が実行されるようになっている。
【００７９】
次に、ステップ＃０１０では、カメラ操作ＳＷ１５２の状態を検出し、カメラ操作ＳＷ１５２の１つであるＣｌｅａｎＵＰ−ＳＷ（不図示）の状態変化が次のステップ＃０１１で検出されると、ステップ＃０１２へ移行する。このＣｌｅａｎＵＰ−ＳＷとは、ユーザが希望するタイミングで塵除去動作を実行させることができるスイッチである。そして、ステップ＃０１２で共振点を検出するための動作が実行された後、ステップ＃０１３で防塵フィルタ２１の塵を除去するための動作が実行される。
【００８０】
次に、ステップ＃０１４では、カメラ操作ＳＷの１つである１ｓｔ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。本発明の実施の形態におけるカメラのレリーズＳＷ（不図示）は、一般的な２段階構成になっており、半押しで１ｓｔ．レリーズＳＷがオンして焦点調節動作などが実行され、全押しで２ｎｄ．レリーズＳＷがオンして露光動作などに至るようになっている。
【００８１】
もし、１ｓｔ．レリーズＳＷがＯＮしているならばステップ＃０１５へ移行し、ＯＦＦならば上記ステップ＃００３へ再び移行する。次に、ステップ＃０１５では、測光回路１２１から被写体の輝度情報を入手すると、この輝度情報から撮像素子２７の露光時間（Ｔｖ値）と絞り２０３の設定値（ＡＶ値）を算出する。
【００８２】
次に、ステップ＃０１６では、ＡＦセンサ駆動回路１１７を経由してＡＦセンサユニット１１６の検知データを入手すると、この検知データに基づきピントのズレ量を算出する。ここで、ステップ＃０１７にて、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓの状態を判定し、それが”０”ならばレンズ鏡筒１２が存在しないことを意味するので、次のステップ＃０１８以降の撮影動作を実行することができないので、この場合には上記ステップ＃００３へ再び移行する。
【００８３】
次に、ステップ＃０１８では、Ｌｕｃｏｍ２０５に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影光学系１２ａの駆動を指令する。
【００８４】
次に、ステップ＃０１９では、カメラ操作ＳＷ１５２の１つである２ｎｄ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。ここで、この２ｎｄ．レリーズＳＷがＯＮしているときには、ステップ＃０２０へ移行して所定の撮影動作を行うが、ＯＦＦのときには上記ステップ＃００３へ再び移行する。
【００８５】
次のステップ＃０２０では、まずＬｕｃｏｍ２０５へＡｖ値を送信し、絞り２０３の駆動を指令し、ステップ＃０２１にて反射鏡（ミラー）１３ｂをＵＰ位置まで駆動する。
【００８６】
次に、ステップ＃０２２にて、シャッタ１４の先幕走行を開始させた後、ステップ＃０２３にて、画像処理コントローラ１２８に対して撮像動作の実行を指令する。
【００８７】
そして、Ｔｖ値で示される時間、撮像素子２７への露光が終了すると、ステップ＃０２４において、シャッタ１４の後幕走行を開始させた後、ステップ＃０２５にて、反射鏡１３ｂをＤｏｗｎ位置へ駆動すると共に、これと並行してシャッタ１４のチャージ動作を行う。
【００８８】
そして、ステップ＃０２６では、Ｌｕｃｏｍ２０５に対して絞り２０３を開放位置へ復帰させるように指令し、ステップ＃０２７では、画像処理コントローラ１２８に対して、撮影した画像データを記録メディア１２７へ記録するように指令し、その画像データの記録が終了すると、再び上記ステップ＃００３へ移行する。
【００８９】
以上、本発明の実施の形態を説明した。このように構成することによって、カメラの電源ＳＷがＯＮされると防塵フィルタ２１の塵を除去するための動作が実行されて、撮影前に塵がＡＦ検出に及ぼす影響を無くすことができる。
【００９０】
また、ＣｌｅａｎＵＰ−ＳＷがオンされると防塵フィルタ２１の塵を除去するための動作が実行されて、ユーザが必要とするタイミングで塵がＡＦ検出に及ぼす影響を無くすことができる。
【００９１】
また、塵がマウント２０７部から進入する可能性が高いレンズ鏡筒１２の着脱後に防塵フィルタ２１の塵を除去するための動作が実行されて、塵がＡＦ検出に及ぼす影響を無くすことができる。
【００９２】
本発明の主旨を逸脱しない範囲で変形可能であることはもちろんである。例えば、圧電素子で防塵フィルタを加振して塵を除去する例で説明したが、加振して塵を除去できれば圧電素子でなくてもよい。
【００９３】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】本発明の実施の形態に係るカメラの防塵装置の概念を示す図。
【図２】本発明に係る防塵装置が適用されるカメラのシステム構成を示すブロック図。
【図３】防塵フィルタ及びこれに一体に設けられる圧電素子のみを取り出して示す正面図。
【図４】圧電素子に対して駆動電圧を印加した際の防塵フィルタ及び圧電素子の状態変化を示す断面図。
【図５】圧電素子に対して駆動電圧を印加した際の防塵フィルタ及び圧電素子の状態変化を示す断面図。
【図６】防塵フィルタ駆動回路の構成を示す図。
【図７】波形信号を示す図。
【図８】制御プログラムのメインルーチンを例示するフローチャート。
【図９】制御プログラムのメインルーチンを例示するフローチャート。
【符号の説明】
【００９５】
１…光学素子、２…焦点検出光学系、３…焦点検出センサ、４…加振素子、５…制御部、６…加振タイミング判断部、１２…レンズ鏡筒、１２ａ…撮影光学系、２１…防塵フィルタ、２２…圧電素子、１１４…サブミラー、１１５…サブミラー、１１６…ＡＦセンサユニット、１１７…ＡＦセンサ駆動回路、１４０…防塵フィルタ駆動制御回路、１５０…ボディ制御用マイクロコンピュータ、１６０…コンデンサレンズ、１６１…セパレータレンズ、１６２…セパレータ絞り、１６３…ＡＦセンサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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