(57)【要約】【課題】  特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行い、迅速に試験結果を得る。【解決手段】  青色レーザ用光ピックアップ等に用いられる波長帯域のレーザ光源を複数個使用し、各光源から出射した光をそれぞれ第１のコリメータレンズで一度平行光にした後、各平行光を比較的焦点離が長く大径の第２のコリメータレンズで合成し、被試験部品となる光学部品に集光照射する。また、複数のレーザ光源及び複数の第１のコリメータレンズは、２次元配列で並列配置することにより、光密度を高める。また、光源の波長には、できるだけ実使用時と同じものを用いる。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
特定波長の試験光を出射する複数の光源を並列に配置し、前記複数の光源から出射した試験光を各光源に対応して配置した複数の第１のコリメータレンズによって平行光に変換し、前記複数の第１のコリメータレンズからの平行光を大径の第２のコリメータレンズによって被試験部品に集光照射し、前記被試験部品の耐光性を測定するようにした、
ことを特徴とする耐光性試験方法。
【請求項２】
前記試験光は前記被試験部品の実使用時に受ける光の波長に対応する波長を有することを特徴とする請求項１記載の耐光性試験方法。
【請求項３】
前記光源は前記被試験部品の実使用時の光源と同一の光源であることを特徴とする請求項１記載の耐光性試験方法。
【請求項４】
前記光源は青色レーザ光源であることを特徴とする請求項１記載の耐光性試験方法。
【請求項５】
前記複数の光源及び第１のコリメータレンズが２次元方向に並列配置されていることを特徴とする請求項１記載の耐光性試験方法。
【請求項６】
特定波長の試験光を出射する複数の光源を並列に配置した光源部と、
前記複数の光源から出射した試験光を平行光に変換する複数の第１のコリメータレンズを各光源に対応して配置した第１のコリメータレンズ部と、
前記複数の第１のコリメータレンズからの平行光を大径の第２のコリメータレンズによって被試験部品に集光照射する第２のコリメータレンズ部と、
を有することを特徴とする耐光性試験装置。
【請求項７】
前記第１のコリメータレンズ部は、複数の第１のコリメータレンズを個別に光軸方向に位置調整する手段を有することを特徴とする請求項６記載の耐光性試験装置。
【請求項８】
前記試験光は前記被試験部品の実使用時に受ける光の波長に対応する波長を有することを特徴とする請求項６記載の耐光性試験装置。
【請求項９】
前記光源は前記被試験部品の実使用時の光源と同一の光源であることを特徴とする請求項６記載の耐光性試験装置。
【請求項１０】
前記光源は青色レーザ光源であることを特徴とする請求項６記載の耐光性試験装置。
【請求項１１】
前記複数の光源及び第１のコリメータレンズが２次元方向に並列配置されていることを特徴とする請求項６記載の耐光性試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種光学部品の開発や品質管理等のために耐光性の試験を行う耐光性試験方法及び耐光性試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、各種光学部品の開発や品質管理等のための耐光性試験が行われており、実際に試験光を部品に照射し、例えば透過率の経時的な変化等を測定する（例えば特許文献１参照）。特に青色レーザ光源等を用いた短波長対応の光学部品においては、耐光性の実力確認が品質維持のために極めて重要な要素となっている。
そして、青色レーザ光源用の光学部品の耐光性試験を行うための光源としては、できるだけ青色レーザ光と波長の近い大容量レーザを光学部品に照射することが必要となり、例えばクリプトンレーザ等の大容量レーザを使用することが考えられる。
【特許文献１】特開２００１−４５２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述のようなクリプトンレーザ等を使用した場合でも、波長が４６０ｎｍ程度となり、青色レーザ光源による光ピックアップの実使用状態とは異なるために、収差や透過率変化の正確な判定ができないという問題がある。
また、大容量レーザを使用する場合には、装置内に冷却装置が必要であり高価になる。
したがって、従来の耐光性試験では、大容量レーザによって効率的に試験することが困難であり、仮に実使用状態に合わせて青色レーザ光源を用いて試験を行おうとした場合、例えば３０００時間程度の時間を要することになり、時間がかかりすぎるため、例えば新規製品の開発や設計を行う上で、容易に有効活用できないという問題がある。
【０００４】
そこで本発明は、特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行うことができ、迅速に試験結果を得ることが可能な耐光性試験方法及び耐光性試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述の目的を達成するため、本発明の耐光性試験方法は、特定波長の試験光を出射する複数の光源を並列に配置し、前記複数の光源から出射した試験光を各光源に対応して配置した複数の第１のコリメータレンズによって平行光に変換し、前記複数の第１のコリメータレンズからの平行光を大径の第２のコリメータレンズによって被試験部品に集光照射し、前記被試験部品の耐光性を測定するようにしたことを特徴とする。
また、本発明の耐光性試験装置は、特定波長の試験光を出射する複数の光源を並列に配置した光源部と、前記複数の光源から出射した試験光を平行光に変換する複数の第１のコリメータレンズを各光源に対応して配置した第１のコリメータレンズ部と、前記複数の第１のコリメータレンズからの平行光を大径の第２のコリメータレンズによって被試験部品に集光照射する第２のコリメータレンズ部とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明の耐光性試験方法及び耐光性試験装置によれば、複数の光源から出射した特定波長の試験光をそれぞれ第１のコリメータレンズによって平行光に変換し、各平行光を大径の第２のコリメータレンズによって被試験部品に集光照射し、被試験部品の耐光性を測定するようにしたことから、大容量の光源を用いることなく、試験光の光密度を高めることにより光学部品の耐光性試験の加速化を実現できるとともに、実使用状態に近い波長光を用いることが容易となる。
したがって、特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を廉価な設備で正確かつ効率的に行うことができ、迅速な試験結果の取得を可能とし、光学製品の開発や品質管理等に貢献できる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明の実施の形態では、青色レーザ用光ピックアップ等に用いられる波長帯域のレーザ光源を複数個使用し、各光源から出射した光をそれぞれ第１のコリメータレンズで一度平行光にした後、各平行光を比較的焦点離が長く大径の第２のコリメータレンズで合成し、被試験部品となる光学部品に集光照射する。
また、複数のレーザ光源及び複数の第１のコリメータレンズは、２次元配列で並列配置することにより、光密度を高めることができる。また、光源の波長には、できるだけ実使用時と同じものを用いることで、実使用状態に近い正確な測定が可能である。
【実施例１】
【０００８】
図１は本発明の実施例による耐光性試験装置を示すブロック図である。また、図２は図１に示す耐光性試験装置の光照射部の構成を示す図であり、図２（Ａ）は光学系の側面図、図２（Ｂ）は光源部の正面図である。
図１に示すように、この耐光性試験装置は、光照射部１００、測定演算部２００、表示モニタ部３００、及び入力操作部４００を有している。
光照射部１００は、例えば青色レーザ等による短波長光を被試験部品に照射するものであり、光源部及び光学系等を暗室内に配置したものである。この光照射部１００が本実施例の特徴となる部分であり、その詳細は図２を用いて後述する。
測定演算部２００は、本実施例における試験を実行するためのコンピュータシステムや各種処理回路等を含むものであり、光照射部１００によって短波長光を照射した際の被試験部品の出力特性（透過率変化等）と経過時間との関係等を測定して各種の演算を実行し、その結果データの保管や表示出力等を行う。
表示モニタ部３００は、例えば測定演算部２００によって生成された結果データ等を種々の形式で表示するものであり、入力操作部４００はオペレータが試験を実行するための各種条件や指示等を入力するものである。
【０００９】
次に、本実施例の光照射部１００について説明する。
図２に示すように、本実施例の光照射部１００は、光源部１１０、第１のコリメータレンズ部１２０、第２のコリメータレンズ部１３０、及び部品設置部１４０を有する。
光源部１１０は、複数の青色レーザダイオード（ＬＤ）等の光源１１１より構成され、図２（Ｂ）に示すように、各光源１１１を等間隔で縦横２次元方向に並列配置したものである。なお、図示の例では４×４＝１６個の光源１１１を設けた例を示しており、単品のレーザ出力の１６倍の光密度を供給することを目的とする。なお、光源１１１の波長は例えば４０５ｎｍであり、ＣＣ（Constant Current）発光を前提としている。
第１のコリメータレンズ部１２０は、各光源１１１に対応して焦点距離の比較的短い小径の複数のコリメータレンズ（第１のコリメータレンズ）１２１を配置したものであり、光源１１１から出射された光を平行光に変換するものである。この第１のコリメータレンズ部１２０では、後述する具体例のように、各コリメータレンズ１２１の位置をそれぞれ個別に光軸方向に微調整するような構成を採用することが可能である。なお、このコリメータレンズ部１２０では、各レーザ光を平行光に変換する機能とともに、焦点距離の短いコリメータレンズで光利用効率を上げる機能を有している。
【００１０】
第２のコリメータレンズ部１３０は、焦点距離の比較的長い大径のコリメータレンズ（第２のコリメータレンズ）１３１を有し、このコリメータレンズ１３１によって複数のコリメータレンズ１２１で変換された複数の平行光を合成し、被試験部品１４１に集光照射するものである。
部品設置部１４０は、被試験部品１４１を光源１１１の光軸に対向して所定の配置で保持する部位であり、例えば部品の透過率を測定する場合には、部品の背後で透過光量を測定する光検出器（図示せず）が配置されている。具体的には、実使用時のクリアアパーチャと同等になる位置に被試験部品を配置している。
【００１１】
次に、第１のコリメータレンズ部１２０の具体的な構成例について説明する。
図３は図２に示す光照射部の第１のコリメータレンズ部の具体的な構成例を示す側面図であり、図４は図３に示すコリメータレンズの調整機構を示す拡大側断面図である。
本例では、第１のコリメータレンズ部１２０の各コリメータレンズ１２１をそれぞれ個別に光軸方向に位置調整できるようになっている。例えば、半導体レーザの場合、個々の特性にバラツキがある場合があり、これをコリメータレンズの微調整によって補正する。
そして、図３に示す構成は、このような調整機構の配置スペースを考慮するとともに、調整作業の便宜をも配慮して、第１のコリメータレンズ部１２０を前後に分散して配置したものである。
【００１２】
まず、図２に示した１６個のコリメータレンズ１２１のうち、内側の２×２＝４個のコリメータレンズ１２１は、後方のブラケット１５１に配置され、各コリメータレンズ１２１の後部にそれぞれ光源（図３では省略する）が配置される。
また、外側の１２個のコリメータレンズ１２１は前方のブラケット１５２に配置され、各コリメータレンズ１２１の後部にそれぞれ光源（図３では省略する）が配置される。
前方のブラケット１５２は、中央に開口１５２Ａを有し、この開口１５２Ａを通して後方のブラケット１５１に配置された４つのコリメータレンズ１２１からの光が前方の第２のコリメータレンズ部１３１に供給される。
【００１３】
そして、各コリメータレンズ１２１は、例えば図４に示すような調整可能な構造で各ブラケット１５１、１５２に取り付けられている。
すなわち、各ブラケット１５１、１５２には、各コリメータレンズ１２１の装着部１５３に光軸方向（矢印Ａ方向）にスライド可能に各コリメータレンズ１２１をガイドするレンズ受け部１５４が設けられ、さらに、このレンズ受け部１５４に対応して各コリメータレンズ１２１を押圧固定するための板ばね１５５が配置されている。
一方、各コリメータレンズ１２１は、直方体形のレンズホルダ１２１Ａに保持されており、このレンズホルダ１２１Ａが上述したレンズ受け部１５４に配置され、板ばね１５５によって押圧され、レンズ受け部１５４と板ばね１５５との間に挟持されている。
【００１４】
このような構造において、例えば専用の治具等によってレンズホルダ１２１Ａを光軸方向にスライドさせて、コリメータレンズ１２１を最適位置に微調整する。
したがって、本例では、図３に示すように、１６個のコリメータレンズ１２１を前後のブラケット１５１、１５２に分けて配置したことにより、調整機構の配置スペースを容易に確保でき、調整作業も容易となる。
なお、図３及び図４に示す具体例はあくまでも一例であり、本発明を限定しないことは勿論である。また、位置調整機構としては、図３及び図４に示す構成に限らず、例えば各ブラケット１５１、１５２を光軸方向に位置調整できるようにしたり、第２のコリメータレンズ部１３０や部品設置部１４０を光軸方向に調整できるような構成としてもよい。
【００１５】
以上のような本実施例によれば、以下のような効果を得ることが可能である。
（１）４０５ｎｍの半導体ＬＤを合成しているため、オプティカルピックアップでの実使用状態に波長がマッチングしており、収差・透過率変化に対する耐光性試験結果の信頼性が向上する。
（２）クリプトンレーザ等の大容量レーザを使用する場合のように、冷却装置が不要であり、コスト的に有利である。
（３）例えば、２００時間という短時間で収差・透過率変化に関する光学部品の耐光性の見極めが可能である。
なお、本発明は青色レーザ光源を用いたシステム以外の試験にも同様に適用できることは勿論である。また、オプティカルピックアップ用の部品に限らず、他の部品の試験に広く適用することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施例による耐光性試験装置を示すブロック図である。
【図２】図１に示す耐光性試験装置の光照射部の構成を示す図であり、（Ａ）は光学系の側面図、（Ｂ）は光源部の正面図である。
【図３】図２に示す光照射部の第１のコリメータレンズ部の具体的な構成例を示す側面図である。
【図４】図３に示す第１のコリメータレンズ部の調整機構を示す拡大側断面図である。
【符号の説明】
【００１７】
１００……光照射部、１１０……光源部、１１１……光源、１２０……第１のコリメータレンズ部、１２１……第１のコリメータレンズ、１３０……第２のコリメータレンズ部、１３１……第２のコリメータレンズ、１４０……部品設置部、１４１……被試験部品２００……測定演算部。３００……表示モニタ部、４００……入力操作部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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