(57)【要約】【課題】  迅速かつ正確に検査が実行可能な遊技機のビス締付検査装置、部材取付状態検査装置を提供すること。【解決手段】  ビス締付検査装置１１は、投光部３２、受光部３３及びＣＰＵを備えている。投光部３２はビス４１の頭部４１ａに対してレーザー光を投射し、受光部３３は反射光の量を測定する。ＣＰＵは、受光部３３が測定した反射光の量に基づいて、ビス４１の締め付け状態が適正であるか否かを判定する。よって、投光部３２及び受光部３３をビス４１に近接させなくてもセンシングを行うことができるので、迅速に検査を行うことができる。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技盤面上に部材を固定するビスの締め付け状態を検査するための装置であって、
検査対象であるビスの頭部に対して光を投射する投光手段と、
前記投光手段が投射した光の反射光の量を測定する光量測定手段と、
前記光量測定手段が測定した反射光の量に基づいて、前記ビスの締め付け状態が適正であるか否かを判定する判定手段と
を備えることを特徴とする遊技機のビス締付検査装置。
【請求項２】
前記投光手段は、検査対象であるビスの頭部、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置にそれぞれ光を投射し、
前記光量測定手段は、検査対象であるビスの頭部における反射光の量、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量をそれぞれ測定し、
前記判定手段は、検査対象であるビスの頭部における反射光の量、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量の差に基づいて、前記ビスの締め付け状態が適正であるか否かを判定する
ことを特徴とする請求項１に記載の遊技機のビス締付検査装置。
【請求項３】
前記判定手段は、
検査対象であるビスの頭部における反射光の量に基づいて、当該頭部から前記光量測定手段までの距離を測定するとともに、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量に基づいて、当該近傍位置から前記光量測定手段までの距離を測定する距離算出手段と、
当該頭部から前記光量測定手段までの距離及び当該近傍位置から前記光量測定手段までの距離の差分値を算出する距離差分値算出手段と、
算出された前記差分値と、あらかじめ定められた差分値の許容範囲とを比較する比較手段と
を備えることを特徴とする請求項２に記載の遊技機のビス締付検査装置。
【請求項４】
前記投光手段及び前記光量測定手段を前記遊技盤面に対して略平行に移動させる駆動機構を、さらに備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の遊技機のビス締付検査装置。
【請求項５】
前記投光手段は、前記ビスの頭部において溝部がない箇所を狙ってレーザー光を投射する手段であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の遊技機のビス締付検査装置。
【請求項６】
遊技盤面上に存在する部材の取り付け状態を検査するための装置であって、
前記部材における所定部位に対して光を投射する投光手段と、
前記投光手段が投射した光の反射光の量を測定する光量測定手段と、
前記光量測定手段が測定した反射光の量に基づいて、前記部材の取り付け状態が適正であるか否かを判定する判定手段と
を備えることを特徴とする遊技機の部材取付状態検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遊技機のビス締付検査装置、遊技機の部材取付状態検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
パチンコ機に代表される遊技機の遊技盤上には、装飾部材や入賞装置等のいわゆる「役物」が多数配置され、それら役物は通常ビスによって固定されている。この場合のビス締めは、主として、生産効率の向上及び作業の正確さを向上させる必要から、自動ビス締め機によって行われることが多い。
【０００３】
しかし、自動ビス締め機であっても、ビスの締め付け不足や、逆に過剰締め付け、あるいはビスの欠落等を引き起こす可能性が全く存在しないわけではない。そこで、従来においては、作業員が目視によってビス締めの検査を行っていた。しかし、多数の役物に用いられるビスを目視により短時間で確実に検査するのは難しく、またかなりの疲労を伴うため、長時間にわたる検査ではその精度が落ちるという問題もあった。
【０００４】
そこで、ビスが遊技盤の所定位置に正常に締め付けられているか否かを自動的に判定する自動ビス締付検査装置が従来提案されており、この装置においては近接センサによりビスの有無及びその締め付け状態を判定するようになっている（特許文献１  第４〜５ページ参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−５８８０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、近接センサを用いた従来の装置では、近接センサを遊技盤と平行方向に移動させて位置決めした後に下降させ、あらかじめ設定した下降距離（適正距離）と比較することにより、ビスの締め付け状態の良否を判定している。しかし、近接センサの下降動作には時間がかかるため、ビスの多数化や配置場所の複雑化に伴い検査時間が長くなるという問題があった。
【０００７】
また、平行動作ばかりでなく下降動作を実現しようとすれば、おのずと駆動機構が複雑化する。それゆえ、装置全体の複雑化やそれに伴う大型化・高コスト化という問題もあった。
【０００８】
さらに、近接センサは通常金属製部材に反応するが、金属製の装飾部材や入賞装置あるいは金属製の釘等が、ビスの近傍に存在する場合には、ビス以外の金属製部材に近接センサが反応してしまうおそれがあった。ゆえに、この場合には近接センサが誤作動しやすくなるため、高い検査精度を期待することができなくなる。
【０００９】
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、迅速かつ正確に検査が実行可能な遊技機のビス締付検査装置、部材取付状態検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、遊技盤面上に部材を固定するビスの締め付け状態を検査するための装置であって、検査対象であるビスの頭部に対して光を投射する投光手段と、前記投光手段が投射した光の反射光の量を測定する光量測定手段と、前記光量測定手段が測定した反射光の量に基づいて、前記ビスの締め付け状態が適正であるか否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする遊技機のビス締付検査装置をその要旨とする。
【００１１】
従って、請求項１に記載の発明では、投光手段及び光量測定手段を検査対象であるビスから離間させて位置決めし、この状態で投光手段により投光を行ってその反射光の量を光量測定手段により測定する。そしてさらに、判定手段がこのときの反射光の量に基づいてビスの締め付け状態が適正であるか否かを判定する。例えば、反射光の量が所定値よりも小さい場合には、ビスの頭部から光量測定手段までの距離が大きすぎるので、ビスが過度に締め付けられている可能性が高い。この場合には締め付け状態が不適正であると判定される。一方、反射光の量が所定値よりも大きい場合には、ビスの頭部から光量測定手段までの距離が小さすぎるので、ビスの締め付けが不足している可能性が高い。この場合も締め付け状態が不適正であると判定される。
【００１２】
なお、本発明の場合、投光手段及び光量測定手段を検査対象であるビスから一定距離離間させた状態でセンシングを行うことができるので、それらをビスに近接させるための駆動手段が不要になる。そのため、投光手段及び光量測定手段を、遊技盤面に対して平行に動作させるのみでよく、遊技盤面に対して直交する方向に動作させる必要がない。よって、遊技盤面に対して直交する方向への動作に時間を割くことがなくなり、その分だけ検査時間を短縮して迅速に検査を行うことができる。また、投光手段及び光量測定手段を駆動させるのに複雑な機構が要らないため、装置全体の複雑化やそれに伴う大型化・高コスト化といった問題も解消される。さらに、光を利用してセンシングを行う本発明の場合、検査対象であるビスの近傍に金属製部材が存在していたとしても、金属に反応する近接センサのように反射光の量がそれらによって影響を受けることはない。ゆえに、近接センサを利用した検査装置とは異なり、誤作動が起こりにくく、正確に検査を実行することができる。
【００１３】
ここで、光量測定手段は投光手段の近傍に設けられていることがよく、具体的には、光量測定手段の受光部が投光手段の投光部から５０ｍｍ以内（特には１０ｍｍ以内）に設けられていることが望ましい。その理由は以下の通りである。即ち、光量測定手段が投光手段の近傍に設けられている場合、言い換えると光量測定手段と投光手段との距離が短い場合、投射光と反射光とがなす角度を小さくすることができる。ゆえに、遊技盤面上に釘や役物等が密集して配置されていたとしても、検査対象ではない釘や役物等に光が遮断されにくくなる。よって、確実に反射光を得ることができ、高い検出精度を維持することができる。なお、投射光と反射光とがなす角度（θ）は、０°＜θ＜２０°であることが好ましく、０°＜θ＜１０°であることがより好ましい。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、請求項１において、前記投光手段は、検査対象であるビスの頭部、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置にそれぞれ光を投射し、前記光量測定手段は、検査対象であるビスの頭部における反射光の量、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量をそれぞれ測定し、前記判定手段は、検査対象であるビスの頭部における反射光の量、及び、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量の差に基づいて、前記ビスの締め付け状態が適正であるか否かを判定することをその要旨とする。
【００１５】
従って、請求項２に記載の発明によると、遊技盤面における反射光の量と、ビスの頭部における反射光の量との差から、遊技盤面を基準としたビスの突出量を把握することができ、これをもってビスの締め付け状態が適正であるか否かをより正確に判定することができる。例えば、反射光の量の差が所定値よりも小さい場合には、遊技盤面からのビスの突出量が少なすぎるので、ビスが過度に締め付けられている可能性が高く、締め付け状態が不適正であると判定される。一方、反射光の量の差が所定値よりも大きい場合には、遊技盤面からのビスの突出量が多すぎるので、ビスの締め付けが不足している可能性が高く、締め付け状態が不適正であると判定される。
【００１６】
なお、一般的に遊技盤は木製であって反りや凹みがあるため、表面が平坦でないことが多い。それゆえ、遊技盤面上においてできるだけ検査対象であるビスの近傍位置を基準として投光することにより、締め付け状態の適正判定の精度を高めることができる。
【００１７】
ここで「遊技盤面上の前記ビスの近傍位置」とは、例えば、遊技盤面上において前記ビスを中心とする半径３０ｍｍ程度の円内の任意の位置などを指す。
【００１８】
請求項３に記載の発明は、請求項２において、前記判定手段は、検査対象であるビスの頭部における反射光の量に基づいて、当該頭部から前記光量測定手段までの距離を測定するとともに、遊技盤面上の前記ビスの近傍位置における反射光の量に基づいて、当該近傍位置から前記光量測定手段までの距離を測定する距離算出手段と、当該頭部から前記光量測定手段までの距離及び当該近傍位置から前記光量測定手段までの距離の差分値を算出する距離差分値算出手段と、算出された前記差分値と、あらかじめ定められた差分値の許容範囲とを比較する比較手段とを備えることをその要旨とする。
【００１９】
従って、請求項３に記載の発明によると、距離算出手段が両者の反射光の量に基づいてそれぞれ光量測定手段までの距離を測定し、さらに距離差分値算出手段が両者の距離の差分値を算出し、比較手段がこの差分値を許容範囲と比較する。そして、前記差分値が許容範囲の下限値よりも小さい場合には、遊技盤面からのビスの突出量が少なすぎるので、ビスが過度に締め付けられている可能性が高く、締め付け状態が不適正であると判定される。一方、前記差分値が許容範囲の上限値よりも大きい場合には、遊技盤面からのビスの突出量が多すぎるので、ビスの締め付けが不足している可能性が高く、締め付け状態が不適正であると判定される。これに対して、前記差分値が許容範囲内にある場合には、遊技盤面からのビスの突出量に過不足がなく、締め付け状態が適正であると判定される。
【００２０】
また、上記のごとく差分値が算出されることから、ビスの突出量が具体的にどれだけ不足しているのか、あるいは具体的にどれだけ超過しているのかを把握することができる。さらに、この把握に基づいて「３ｍｍ不足しています。」等の報知を行わせることができる。このような報知の具体的態様としては、例えば、「３ｍｍ不足しています。」という文章を液晶ディスプレイ等の表示手段に表示するといった態様や、「３ｍｍ不足しています。」という音声をスピーカを通じて発するといった態様などがある。
【００２１】
請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３のいずれか１項において、前記投光手段及び前記光量測定手段を前記遊技盤面に対して略平行に移動させる駆動機構を、さらに備えることをその要旨とする。
【００２２】
従って、請求項４に記載の発明によると、投光手段及び光量測定手段を人手に頼らずに検査対象のある位置まで速やかに移動させることができる。この場合、投光手段と光量測定手段とは別体に構成されていても、一体に構成されていてもよいが、強いて言うと一体に構成されていることがよい。その理由は、一体構成であれば、駆動機構を共通化できるとともに、移動時においても両者の相対位置関係が変化せず検出精度の低下も防止されるからである。また、一体構成のほうが別体構成に比べて、光量測定手段と投光手段との距離を短くしやすいからである。
【００２３】
ここで駆動機構としては特に限定されず、従来周知の機構を用いることが可能であるが、例えば、動力伝達手段の一種である駆動機構を含んで構成された駆動機構であれば、二次元的な平行移動を比較的スムーズに行うことができる。よって、検査時間を短縮することができ、多数のビスが複雑に配置されたような場合の検査であっても十分に対応可能となる。なお、アクチュエータのもたらす動力を伝達する動力伝達手段としては、上記の駆動機構のほかに、例えばタイミングベルトやギアなどがある。また、動力伝達手段を介さずに、直接モータやエアシリンダ等のアクチュエータに投光手段及び光量測定手段を取り付けて、それらを駆動してもよい。
【００２４】
なお、遊技盤上にビスが存在する位置をあらかじめ記憶手段に記憶させておき、その記憶に基づいて駆動機構を移動制御してもよい。
【００２５】
前記投光手段は、指向性の高い光を投射する手段であることが好ましく、特には前記ビスの頭部において溝部がない箇所を狙ってレーザー光を投射する手段であることがより好ましい（請求項５）。
【００２６】
指向性が高い光を投射可能な投光手段を用いた場合、投光手段及び光量測定手段を遊技盤面から離間させたときでも、直径数ミリ程度のビスの頭部に確実に光を集めることができる。よって、この場合においても高い検査精度を維持することができる。なお、ビスの頭部にはマイナスまたはプラスの溝部が形成されているが、溝部がない箇所を狙ってレーザー光を投射しているため、確実に反射光を得ることができ、高い検出精度を維持することができる。その点、レーザー光であれば、狭いエリアを狙って確実にかつ容易に光を集中させることができる。
【００２７】
ここで、光量測定手段は、投光手段が投射した光の反射光の量を測定可能な光学機器であればよく、その好適例としてはフォトダイオードなどを含んで構成された光度計など挙げることができる。なお、ＣＣＤカメラなどの撮像手段を光量測定手段として使用してもよい。
【００２８】
請求項６に記載の発明は、遊技盤面上に存在する部材の取り付け状態を検査するための装置であって、前記部材における所定部位に対して光を投射する投光手段と、前記投光手段が投射した光の反射光の量を測定すべく、前記投光手段の近傍に設けられた光量測定手段と、前記光量測定手段が測定した反射光の量に基づいて、前記部材の取り付け状態が適正であるか否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする遊技機の部材取付状態検査装置をその要旨とする。
【００２９】
従って、請求項６に記載の発明によれば、投光手段及び光量測定手段を検査対象である部材から離間させて位置決めし、この状態で投光手段により投光を行ってその反射光の量を光量測定手段により測定する。そしてさらに、判定手段がこのときの反射光の量に基づいて前記部材の取り付け状態が適正であるか否かを判定する。
【００３０】
なお、本発明の場合、投光手段及び光量測定手段を検査対象である部材から離間させた状態でセンシングを行うことができるので、それらを部材に近接させるための駆動手段が不要になる。よって、投光手段及び光量測定手段を、遊技盤面に対して平行に動作させるのみでよく、遊技盤面に対して直交する方向に動作させる必要がない。よって、遊技盤面に対して直交する方向への動作に時間を割くことがなくなり、その分だけ検査時間を短縮して迅速に検査を行うことができる。また、投光手段及び光量測定手段を駆動させるのに複雑な機構が要らないため、装置全体の複雑化やそれに伴う大型化・高コスト化といった問題も解消される。さらに、光を利用してセンシングを行う本発明の場合、検査対象である部材の近傍に金属製部材が存在していたとしても、金属に反応する近接センサのように反射光の量がそれらによって影響を受けることはない。ゆえに、近接センサを利用した検査装置とは異なり、誤作動が起こりにくく、正確に検査を実行することができる。
【００３１】
本発明において検査対象となる部材としては、遊技盤面上に存在する任意の部材であればよく、具体的には、装飾部材、入賞装置、各種の役物、それらを固定するためのビス、釘などを挙げることができる。
【発明の効果】
【００３２】
以上詳述したように、請求項１〜５に記載の発明によれば、迅速かつ正確に検査が実行可能な遊技機のビス締付検査装置を提供することができる。請求項６に記載の発明によれば、迅速かつ正確に検査が実行可能な遊技機の部材取付状態検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
［第１の実施形態］
【００３４】
以下、本発明を遊技機のビス締付検査装置に具体化した一実施形態を図１〜図７に基づき説明する。
【００３５】
図１に示されるように、ビス締付検査装置１１(部材取付状態検査装置)は、パチンコ機(遊技機)を構成する遊技盤２１を順次搬送するコンベア１２に隣接して設置されている。ビス締付検査装置１１は、第１ロッドレスシリンダ１３と、同第１ロッドレスシリンダ１３からコンベア１２の幅方向に突出する第２ロッドレスシリンダ１４とからなる駆動機構１５を備えている。
【００３６】
第１ロッドレスシリンダ１３は、コンベア１２の長さ方向(図１における矢印Ｘ１，Ｘ２方向)に沿って延びるレール部１６を備えている。レール部１６には、空気圧によってレール部１６の延出方向(図１における矢印Ｘ１，Ｘ２方向)に移動するスライダ１７ａが設けられている。スライダ１７ａには第２ロッドレスシリンダ１４の基端部分が取り付けられている。第２ロッドレスシリンダ１４には、空気圧によってコンベア１２の幅方向（図１における矢印Ｙ１，Ｙ２方向）に移動するスライダ１７ｂが設けられている。また、レール部１６の近傍には、コンベア１２によって搬送されてきた遊技盤２１を検出する遊技盤検出センサ１８が設けられている。
【００３７】
図１，図２に示されるように、スライダ１７ｂにはセンサヘッド３１が取り付けられている。センサヘッド３１は、第１ロッドレスシリンダ１３及び第２ロッドレスシリンダ１４により、遊技盤２１の遊技盤面２２に対して略平行に移動するようになっている。センサヘッド３１の下端部には、投光手段としての投光部３２及び光量測定手段としての受光部３３が、センサヘッド３１と一体移動可能に設けられている。受光部３３は、投光部３２の近傍、具体的には、投光部３２から２０ｍｍ離間した位置に設けられている。
【００３８】
図２〜図４に示されるように、投光部３２は、検査対象であるビス４１の頭部４１ａの上面を狙ってレーザー光Ａ１を投射するようになっている。ここで、ビス４１は、部材(図２〜図４では後記する大型装飾部材２６を図示)を遊技盤２１に固定するためのものである。ビス４１の頭部４１ａは、略半球状をなしており、外周部分に行くに従って低くなっている。そのため、投光部３２は、頭部４１ａの上面の略中心を狙ってレーザー光Ａ１を投射することが好ましい。しかし、頭部４１ａにはプラスの溝部４１ｂが形成されているため、投光部３２は、頭部４１ａの上面の略中心において溝部４１ｂがない狭い箇所(本実施形態においては図３に示す投射位置Ｐ１)を狙って指向性の高いレーザー光Ａ１を投射するようになっている。なお、溝部４１ｂは、マイナスの溝部の場合にも、プラスの溝部４１ｂの場合と同様に、溝部がない略中心部を投射すればよい。また、受光部３３は、投光部３２から２０ｍｍ離間した位置に設けられており、頭部４１ａの上面によって反射された反射光Ａ２を受光し、その反射光Ａ２の量(強さ)を測定するようになっている。
【００３９】
図５には、ビス締付検査装置１１によってビス締付検査が行われる遊技盤２１が示されている。遊技盤２１の遊技盤面２２には、複数の釘２３が打ち込まれている。これにより、打球発射装置(図示略)によって発射された遊技球は、釘２３に当たって跳ねたり、複数の釘２３によって形成される案内路に案内されたりしながら、落下するようになっている。また、遊技盤面２２には、落下する遊技球の向きを変える複数の風車２４(部材)が取り付けられている。さらに、遊技盤面２２には複数の入賞口２５(部材)が設けられている。これらの入賞口２５に遊技球が入ると、遊技者に所定数の遊技球が払い出されるようになっている。
【００４０】
遊技盤２１の遊技盤面２２の略中央部には矩形状開口部を有する部材としての枠状の大型装飾部材（センター役物）２６(部材)が装着されている。大型装飾部材２６の奥側には、可視表示部Ｈ（表示画面）を備えた液晶式図柄表示装置２７が配設されている。なお、可視表示部Ｈは矩形状開口部から露出しており、視認可能とされている。この液晶式図柄表示装置２７の下方には、図示しないソレノイドにより開閉動作を行う普通電動役物を備えた始動入賞口２８(部材)が配設されている。また、始動入賞口２８の下方には、図示しないソレノイドにより開閉動作を行う大入賞口２９が配置されている。
【００４１】
そして、図５に示される前記風車２４、前記入賞口２５、大型装飾部材２６、液晶式図柄表示装置２７及び始動入賞口２８は、それぞれ複数本のビス４１により固定されている。これらのビス４１のビス締めは、自動ビス締め機(図示略)によって行われるようになっており、これらのビス４１の締付状態は、前記ビス締付検査装置１１によって判定されるようになっている。これにより、風車２４、入賞口２５、大型装飾部材２６、液晶式図柄表示装置２７及び始動入賞口２８の取り付け状態が適正であるか否かが判定される。
【００４２】
図６に示されるように、ビス締付検査装置１１は、ビス締付検査装置１１全体を制御する制御部５０を備えている。制御部５０はＣＰＵ５０ａを備えており、ＣＰＵ５０ａには、ＲＯＭ５０ｂ、ＲＡＭ５０ｃ及び入出力ポート（Ｉ／Ｏポート）５０ｄが接続されている。ＣＰＵ５０ａは、ビス締付検査装置１１全体を制御するための各種処理を実行し、その処理結果に応じて各種の制御コマンドを演算処理するようになっている。そして、ＣＰＵ５０ａは、前記制御コマンドを所定の制御信号として出力するようになっている。ＲＯＭ５０ｂには、ビス締付検査装置１１を制御するための制御プログラムなどが記憶されている。また、ＲＡＭ５０ｃには、ビス締付検査装置１１の動作に必要な各種の情報が一時的に記憶されるようになっている。
【００４３】
図６に示されるように、入出力ポート５０ｄには、データ入力操作部５１、前記遊技盤検出センサ１８、前記第１ロッドレスシリンダ１３、前記第２ロッドレスシリンダ１４、前記投光部３２、前記受光部３３及び報知手段としての液晶ディスプレイ５２が接続されている。
【００４４】
データ入力操作部５１は、前記遊技盤面２２においてビス４１が存在すべき所定位置（座標）を示す位置データ、投光部３２から遊技盤面２２までの距離を示す第１距離データ、投光部３２から投射する光量を示す投射光データ、受光部３３から遊技盤面２２までの距離を示す第２距離データ及び反射光Ａ２の予定光量を示す反射光データなどの各種データを入力するためのものである。これらのデータは、入出力ポート５０ｄ及びＣＰＵ５０ａを介してＲＡＭ５０ｃに記憶されるようになっている。
【００４５】
図６に示されるように、遊技盤検出センサ１８は、遊技盤２１がコンベア１２によって搬送されてきたことを検出して、ＣＰＵ５０ａに遊技盤検出信号を出力するようになっている。遊技盤検出信号が入力されると、ＣＰＵ５０ａは、ＲＡＭ５０ｃに記憶された位置データに基づいて、第１ロッドレスシリンダ１３及び第２ロッドレスシリンダ１４を駆動する電磁弁(図示略）の制御を行う制御回路に駆動信号を出力する。その結果、電磁弁が駆動することにより第１ロッドレスシリンダ１３及び第２ロッドレスシリンダ１４に圧力流体が供給され、投光部３２及び受光部３３が検査対象であるビス４１の上部位置に移動するようになっている。
【００４６】
投光部３２は、投光部３２及び受光部３３の移動後にＣＰＵ５０ａから投光信号が出力されたことを条件として、前記ビス４１の前記頭部４１ａの上面を狙って前記レーザー光Ａ１を投射するようになっている。また、受光部３３は、頭部４１ａの上面によって反射された前記反射光Ａ２を受光し、その反射光Ａ２の量を測定して光量測定信号を生成し、その光量測定信号をＣＰＵ５０ａに出力するようになっている。ＣＰＵ５０ａは、光量測定信号に含まれる実際の反射光Ａ２の光量が、ＲＡＭ５０ｃに記憶された反射光データに含まれる反射光Ａ２の予定光量の範囲内にあるか否かを判定するようになっている。実際の反射光Ａ２の光量が、反射光データに含まれる反射光Ａ２の予定光量の範囲内にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が適正であると判定するようになっている。
【００４７】
また、実際の反射光Ａ２の光量が、反射光データに含まれる反射光Ａ２の予定光量の範囲外にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。例えば、反射光Ａ２の量が予定光量の下限よりも小さい場合には、ビス４１の頭部４１ａから受光部３３までの距離が大きすぎるので、ビス４１が過度に締め付けられている可能性が高い。この場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。一方、反射光Ａ２の量が予定光量の上限よりも大きい場合には、ビス４１の頭部４１ａから受光部３３までの距離が小さすぎるので、ビス４１の締め付けが不足していたり、ビス４１が遊技盤２１に対して斜めに挿入されていたり、ビス４１が途中で曲がってしまっていたりする可能性が高い。これらの場合も、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。即ち、ＣＰＵ５０ａは判定手段としての機能を有している。その結果、ビス４１の有無及び締め付け状態が検出され、ＣＰＵ５０ａは、これらの判定結果を液晶ディスプレイ５２に表示させる。
【００４８】
次に、図７のフローチャートに基づいて、ビス締付検査装置１１によって行われるビス締付検査について説明する。
【００４９】
まず、データ入力操作部５１により、遊技盤面２２においてビス４１が存在すべき所定位置（座標）を示す位置データを入力する(ステップＳ１１)。なお、この位置データは、遊技盤２１の種類毎に定められたビス４１が存在する所定位置を示す情報を含んでおり、制御部５０のＲＡＭ５０ｃに記憶されるものである(図６参照)。位置データは、遊技盤２１の種類毎に記憶されている。また、データ入力操作部５１により、投光部３２から遊技盤面２２までの距離を示す第１距離データ、及び、投光部３２から投射する光量を示す投射光データを入力し（ステップＳ１２）、受光部３３から遊技盤面２２までの距離を示す第２距離データ、及び、反射光Ａ２の予定光量を示す反射光データを入力する(ステップＳ１３)。
【００５０】
そして、遊技盤２１がコンベア１２によって搬送され(ステップＳ１４)、遊技盤２１が遊技盤検出センサ１８によって検出されると、ＣＰＵ５０ａは、位置データに基づいて第１ロッドレスシリンダ１３及び第２ロッドレスシリンダ１４を駆動し、投光部３２及び受光部３３を検査対象であるビス４１の上部位置に移動させる(ステップＳ１５)。
【００５１】
次に、投光部３２からビス４１の頭部４１ａにレーザー光Ａ１を投射し(ステップＳ１６)、受光部３３が頭部４１ａの上面によって反射された反射光Ａ２を受光し、反射光Ａ２の光量を測定する(ステップＳ１７)。そして、ＣＰＵ５０ａは、反射光Ａ２の光量が、ステップＳ１３にてあらかじめ入力された反射光Ａ２の予定光量の範囲内にあるか否かを判定する(ステップＳ１８)。反射光Ａ２の光量が予定光量の範囲内にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が適正であると判定し(ステップＳ１９)、反射光Ａ２の光量が予定光量の範囲外にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定する(ステップＳ２０)。その結果、ビス４１の有無及び締め付け状態が検出され、ＣＰＵ５０ａは、これらの判定結果を液晶ディスプレイ５２(図６参照)に表示して（ステップＳ２１）、ここでの処理を終了する。なお、ステップＳ２１の処理が終了した後に、自動ビス締め機によって不適正と判定されたビス４１の締め付け状態を補正するようにしてもよい。
【００５２】
従って、本実施形態によれば以下のような効果を得ることができる。
【００５３】
（１）投光部３２及び受光部３３を検査対象であるビス４１から一定距離離間させた状態でセンシングを行うことができるので、それらをビス４１に近接させるための駆動手段が不要になる。そのため、投光部３２及び受光部３３を、遊技盤面２２に対して平行に動作させるのみでよく、遊技盤面２２に対して直交する方向に動作させる必要がない。よって、遊技盤面２２に対して直交する方向への動作に時間を割くことがなくなり、その分だけ検査時間を短縮して迅速に検査を行うことができる。
【００５４】
また、投光部３２及び受光部３３を駆動させるのに複雑な機構が要らないため、ビス締付検査装置１１全体の複雑化やそれに伴う大型化・高コスト化といった問題も解消される。さらに、光を利用してセンシングを行うため、検査対象であるビス４１の近傍に金属製部材が存在していたとしても、金属に反応する近接センサのように反射光Ａ２の量がそれらによって影響を受けることはない。ゆえに、近接センサを利用した検査装置とは異なり、誤作動が起こりにくく、正確に検査を実行することができる。また、従来の近接センサのように検査対象を金属製部材に限定しないため、投光部３２及び受光部３３を用いて、例えば合成樹脂製の大型装飾部材２６の表面に投射を行い、その反射光の光量により取り付け状態を検査したり、遊技盤２１の前面から遊技盤面２２に形成された座繰部表面までの深さを検査したりすることも可能である。また、大型装飾部材２６用のビス４１の締め付け確認と同時に大型装飾部材２６の取り付け状態を検査すれば、厳重な検査を行うことができる。
【００５５】
（２）投光部３２及び受光部３３は、互いに近接した位置に設けられるとともに、いずれもセンサヘッド３１と一体移動可能に設けられている。よって、センサヘッド３１を移動させても、投光部３２及び受光部３３の位置が相対的にずれてしまうことはないため、検査の精度を向上させることができる。また、投光部３２及び受光部３３を動かすための構成を別個に設ける必要がないため、構成が簡略化される。
【００５６】
（３）駆動機構１５は、投光部３２及び受光部３３を遊技盤面２２に対して略平行に移動させるようになっている。そのため、投光部３２及び受光部３３を人手に頼らずに検査対象であるビス４１のある位置まで速やかに移動させることができる。よって、検査時間をより一層短縮させることができる。
【００５７】
（４）指向性が高いレーザー光Ａ１を投射可能な投光部３２が用いられているため、投光部３２及び受光部３３を遊技盤面２２から離間させたときでも、直径数ミリ程度のビス４１の頭部４１ａに確実にレーザー光Ａ１を集めることができ、高い検査精度を維持することができる。なお、ビス４１の頭部４１ａにはプラスの溝部４１ｂが形成されているが、溝部４１ｂがない箇所を狙ってレーザー光Ａ１を投射しているため、確実に反射光Ａ２を得ることができ、高い検出精度を維持することができる。しかも、レーザー光Ａ１であるため、狭いエリアを狙って確実にかつ容易にレーザー光Ａ１を集中させることができる。
【００５８】
（５）ビス４１が錆や汚れを有した不良品である場合には、反射光Ａ２の光量が良品である場合の反射光Ａ２の光量と比べて少なくなる。また、過剰締め付けなどにより、ビス４１の溝部４１ｂが変形した場合には、その変形部に投射されることにより、反射光Ａ２の光量が正常値とは異なってしまう。これらの場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定する。従って、ビス締付検査装置１１によってビス４１自体の良否をも検査することができる。
【００５９】
（６）本実施形態では、１つのビス４１を検査する毎に、レーザー光Ａ１をビス４１の頭部４１ａの１箇所のみで反射させれば済む。よって、ビス４１の頭部４１ａとビス４１の近傍位置の遊技盤面２２との２箇所でレーザー光Ａ１を反射させる検査方法（後述する第２の実施形態参照）に比べて、センサヘッド３１の移動時間がなくなる分だけ検査時間を短縮することができる。また、頭部４１ａとは別の位置にある基準面と比較する検査方法ではないので、ビス４１の近傍位置に基準面である遊技盤面２２が露出していない場合でも検査可能となる。具体例を挙げると、大型装飾部材２６などの大型の役物を固定する場合、通常役物の外周部にビス４１が配置されるが、仮に大型の役物の略中央部にビス４１を配置したとする。この場合、外周部のビス４１については、近傍位置に基準面である遊技盤面２２は露出しているが、略中央部のビス４１については、役物の外周縁との距離が長くなるので、近傍位置に基準面である遊技盤面２２は露出していない。そのため、本来であれば、ビス４１の頭部４１ａとビス４１の近傍位置の遊技盤面２２との２箇所でレーザー光Ａ１を反射させる必要があるため、検査ができないが、本実施形態によれば、レーザー光Ａ１をビス４１の頭部４１ａの１箇所のみで反射させれば済むため、検査可能となる。
【００６０】
（７）ＣＰＵ５０ａに、判定手段などの必要最低限の機能を持たせるだけで、ビス４１の検査を行うことができるため、ＣＰＵ５０ａに負担がかかるのを防止できる。
［第２の実施形態］
【００６１】
次に、第２の実施形態のビス締付検査装置１１について説明する。なお、第１の実施形態と共通している構成については、同一の部材番号を付す代わりに、その詳細な説明を省略する。
【００６２】
図６に示されるデータ入力操作部５１は、前記第１の実施形態において位置データ及び投射光データを入力可能になっていた。しかし、データ入力操作部５１は、本実施形態においてビス４１の頭部４１ａの上面における略中心から遊技盤面２２までの適正距離(差分値)を示す適正距離データなどの各種データも入力可能になっている。
【００６３】
また、投光部３２は、前記第１の実施形態においてはビス４１の頭部４１ａの上面のみにレーザー光Ａ１を投射するようになっていた。しかし、投光部３２は、本実施形態において遊技盤面２２上のビス４１の近傍位置(具体的には、遊技盤面２２上においてビス４１を中心とする半径３０ｍｍの円内の任意の位置)にもレーザー光Ａ１を投射するようになっている。受光部３３は、検査対象であるビス４１の頭部４１ａにおける反射光Ａ２の量、及び、遊技盤面２２上のビス４１の近傍位置における反射光Ａ３の量をそれぞれ測定するようになっている。ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の頭部４１ａにおける反射光Ａ２の量に基づいて、頭部４１ａの上面の略中心から受光部３３までの距離を算出するようになっている。それとともに、ＣＰＵ５０ａは、遊技盤面２２上のビス４１の近傍位置における反射光Ａ３の量に基づいて、近傍位置から受光部３３までの距離を算出するようになっている。即ち、ＣＰＵ５０ａは、距離算出手段としての機能を有している。
【００６４】
また、図６に示されるＣＰＵ５０ａは、頭部４１ａから受光部３３までの距離及び近傍位置から受光部３３までの距離の差分値を算出するようになっている。即ち、ＣＰＵ５０ａは、距離差分値算出手段としての機能を有している。そして、ＣＰＵ５０ａは、算出された差分値と、ＲＡＭ５０ｃに記憶された適正距離データに含まれる差分値の許容範囲とを比較するようになっている。即ち、ＣＰＵ５０ａは、比較手段としての機能を有している。算出された差分値が、適正距離データに含まれる差分値の許容範囲内にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が適正であると判定するようになっている。
【００６５】
また、算出された差分値が、適正距離データに含まれる差分値の許容範囲外にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。例えば、算出された差分値が適正距離データに含まれる差分値の下限よりも小さい場合には、遊技盤面２２からのビス４１の突出量が少なすぎるので、ビス４１が過度に締め付けられている可能性が高い。この場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。一方、算出された差分値が適正距離データに含まれる差分値の上限よりも大きい場合には、遊技盤面２２からのビス４１の突出量が多すぎるので、ビス４１の締め付けが不足している可能性が高い。この場合も、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定するようになっている。
【００６６】
次に、図８のフローチャートに基づいて、ビス締付検査装置１１によって行われるビス締付検査について説明する。
【００６７】
まず、データ入力操作部５１により、位置データを入力し(ステップＳ３１)、投射光データを入力し（ステップＳ３２）、ビス４１の頭部４１ａの上面における略中心から遊技盤面２２までの適正距離(差分値)を示す適正距離データを入力する(ステップＳ３３)。そして、遊技盤２１が搬送され(ステップＳ３４)、遊技盤２１が遊技盤検出センサ１８によって検出されると、ＣＰＵ５０ａは、投光部３２及び受光部３３を検査対象であるビス４１の近傍位置(具体的には、遊技盤面２２上においてビス４１を中心とする半径３０ｍｍの円内の任意の位置)の上部位置に移動させる(ステップＳ３５)。
【００６８】
次に、投光部３２から遊技盤２１の遊技盤面２２にレーザー光Ａ１を投射し(ステップＳ３６)、受光部３３が遊技盤面２２によって反射された反射光Ａ３を受光し、反射光Ａ３の光量を測定する(ステップＳ３７)。ＣＰＵ５０ａは、遊技盤面２２上のビス４１の近傍位置における反射光Ａ３の量に基づいて、受光部３３から遊技盤面２２までの距離を算出する(ステップＳ３８)。そして、ＣＰＵ５０ａは、投光部３２及び受光部３３を検査対象であるビス４１の上部位置に移動させる(ステップＳ３９)。
【００６９】
また、投光部３２からビス４１の頭部４１ａにレーザー光Ａ１を投射し(ステップＳ４０)、受光部３３が頭部４１ａの上面によって反射された反射光Ａ２を受光し、反射光Ａ２の光量を測定する(ステップＳ４１)。ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の頭部４１ａにおける反射光Ａ２の量に基づいて、受光部３３から頭部４１ａの上面の略中心までの距離を算出する(ステップＳ４２)。なお、ステップＳ３５〜ステップＳ３８の処理、及び、ステップＳ３９〜ステップＳ４２の処理の順序を逆にしてもよい。
【００７０】
そして、ＣＰＵ５０ａは、受光部３３から頭部４１ａまでの距離及び受光部３３から遊技盤面２２上のビス４１の近傍位置までの距離の差分値を算出する(ステップＳ４３)。次に、ＣＰＵ５０ａは、算出された差分値が、ステップＳ３３にてあらかじめ入力された適正距離データに含まれる差分値の許容範囲内にあるか否かを判定する(ステップＳ４４)。算出された差分値が適正距離データに含まれる差分値の許容範囲内にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が適正であると判定し(ステップＳ４５)、算出された差分値が適正距離データの許容範囲外にある場合、ＣＰＵ５０ａは、ビス４１の締め付け状態が不適正であると判定する(ステップＳ４６)。その結果、ビス４１の有無及び締め付け状態が検出され、ＣＰＵ５０ａは、これらの判定結果を液晶ディスプレイ５２(図６参照)に表示して（ステップＳ４７）、ここでの処理を終了する。なお、ステップＳ４７の処理が終了した後に、自動ビス締め機によって不適正と判定されたビス４１の締め付け状態を、算出された差分値が適正距離データに含まれる差分値の許容範囲内に入るように補正してもよい。
【００７１】
従って、本実施形態によれば以下のような効果を得ることができる。
【００７２】
（８）遊技盤２１は木製であって反りや凹みがあるため、遊技盤面２２が平坦でないことが多い。それゆえ、遊技盤面２２上においてできるだけ検査対象であるビス４１の近傍位置を基準として投光することにより、締め付け状態の適正判定の精度を高めることができる。
【００７３】
（９）差分値が算出されることから、ビス４１の突出量が具体的にどれだけ不足しているのか、あるいは具体的にどれだけ超過しているのかを把握することができる。さらに、この把握に基づいて、例えば「３ｍｍ不足しています。」という文章を液晶ディスプレイ５２に表示することで、報知を行わせることができる。また、この把握に基づいて、自動ビス締め機によるビス４１の締め付け力等の調整を、正確にかつ容易に行うことができる。
【００７４】
（１０）投光部３２から遊技盤面２２までの距離を示す距離データ、及び、受光部３３からビス４１の頭部４１ａの上面までの距離を示す距離データは、ＣＰＵ５０ａによって算出されるため、これらの距離データをデータ入力操作部５１によって入力する手間を省くことができる。
【００７５】
なお、本発明の実施形態は以下のように変更してもよい。
【００７６】
・上記両方の実施形態におけるビス締付検査装置１１は、遊技盤面２２上に存在するビス４１の取り付け状態を検査するようになっていたが、釘２３や大型装飾部材２６などの他の部材の取り付け状態を検査するようにしてもよい。
【００７７】
・上記第２の実施形態では、反射光Ａ３の光量が遊技盤面２２上における複数のビス４１の近傍位置においてそれぞれ測定され、測定された反射光Ａ３の光量を示す複数のデータにより、それぞれ対応するビス４１の締め付け状態が検査されるようになっていた。しかし、反射光Ａ３の光量を遊技盤面２２上の１箇所についてのみ測定し、測定された反射光Ａ３の光量を示す１つのデータにより、複数のビス４１の締め付け状態を検査するようにしてもよい。このようにすれば、遊技盤面２２に対してレーザー光Ａ１を投射するのに必要な時間が短縮されるため、より迅速に検査を行うことができる。
【００７８】
次に、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。
【００７９】
（１）前記投光手段は、指向性の高い光を投射する手段であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の遊技機のビス締付検査装置。 
【００８０】
（２）前記ビスの締め付け状態が適正であるか否かの情報を報知する報知手段を備えることを特徴とする請求項１乃至５、技術的思想（１）のいずれか１つに記載のビス締付検査装置。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】本発明におけるビス締付検査装置を示す概略斜視図。
【図２】ビス締付検査装置の概略側面図。
【図３】ビスの締め付け状態を示す上面図。
【図４】図３のＡ−Ａ線断面図。
【図５】遊技盤の遊技領域を示す正面図。
【図６】ビス締め付け装置の電気的な構成を示すブロック図。
【図７】第１の実施形態におけるビス締付検査の流れを示すフローチャート。
【図８】第２の実施形態におけるビス締付検査の流れを示すフローチャート。
【符号の説明】
【００８２】
１１…部材取付状態検査装置としてのビス締付検査装置
１５…駆動機構
２２…遊技盤面
２４…部材としての風車
２５…部材としての入賞口
２６…部材としての大型装飾部材
２８…部材としての始動入賞口
３２…投光手段としての投光部
３３…光量測定手段としての受光部
４１…ビス
４１ａ…頭部
４１ｂ…溝部
５０ａ…判定手段、距離算出手段、距離差分値算出手段及び比較手段としてのＣＰＵ
Ａ１…光としてのレーザー光
Ａ２，Ａ３…反射光
【図１】
2005103172.tif 000003
【図２】
2005103172.tif 000004
【図３】
2005103172.tif 000005
【図４】
2005103172.tif 000006
【図５】
2005103172.tif 000007
【図６】
2005103172.tif 000008
【図７】
2005103172.tif 000009
【図８】
2005103172.tif 000010