(57)【要約】  【課題】  本発明は、例えば経皮吸収薬のような、背切りの形成されたセパレータを備えてなる貼付材を検査対象とし、背切りが存在する場合であっても、髪の毛やほこり等の異物、傷、あるいは汚れ等の欠陥を正確に検出しうる欠陥検査方法を提供する。  【解決手段】  粘着層と、該粘着層を被覆し且つ背切りが形成されたセパレータとを備えてなる貼付材の欠陥検査方法において、貼付材に光を照射した状態で該貼付材の画像を撮影する撮像工程と、撮影された画像から欠陥を抽出して良否判定を行う画像処理工程とを備えてなり、前記画像処理工程において、前記背切りの形成された領域および印刷が施された領域を抽出してマスクすることを特徴とする。背切りの形成された領域を抽出する際には、好ましくは、欠陥として検出された任意の点を背切り候補点とし、該背切り候補点から背切り形成方向に向かって所定範囲内で検出される欠陥を他の背切り候補点とし、該操作を繰り返すことによって検出された複数の背切り候補点の特徴量（例えば、形状や輝度等）に基づいて該背切り候補点を背切りと判定する。【選択図】          図３
2005351763.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
粘着層と、該粘着層を被覆し且つ背切りが形成されたセパレータとを備えてなる貼付材の欠陥検査方法であって、
前記貼付材に光を照射した状態で該貼付材の画像を撮影する撮像工程と、
撮影された画像から欠陥を抽出して良否判定を行う画像処理工程とを備えてなり、
前記画像処理工程において、前記背切りの形成された領域を抽出してマスクすることを特徴とする貼付材の欠陥検査方法。
【請求項２】
前記背切りの形成された領域を抽出する際には、
欠陥として検出された任意の点を背切り候補点とし、
該背切り候補点から背切り形成方向に向かって所定範囲内で検出される欠陥を他の背切り候補点とし、
該操作を繰り返すことによって検出された複数の背切り候補点の特徴量に基づいて該背切り候補点を背切りと判定することにより、背切りの形成された領域を抽出することを特徴とする請求項１記載の貼付材の欠陥検査方法。
【請求項３】
前記マスクされた領域を、マスクされない領域とは異なる判定基準で検査することを特徴とする請求項１又は２記載の貼付材の欠陥検査方法。
【請求項４】
前記背切りとして抽出された領域の形状又は濃淡により、欠陥を検出することを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の貼付材の欠陥検査方法。
【請求項５】
粘着層と、該粘着層を被覆し且つ背切りが形成されたセパレータとを備えてなる貼付材の欠陥検査方法であって、
前記貼付材に光を照射した状態で該貼付材の画像を撮影する撮像工程と、
撮影された画像から欠陥を抽出して良否判定を行う画像処理工程とを備えてなり、
前記撮像工程において、透過照明と反射照明とを併用し、透過照明と反射照明との光量バランスを調整して前記背切りの画像が撮影されないようにすることを特徴とする貼付材の欠陥検査方法。
【請求項６】
前記貼付材が、周期的な印刷を有してなるものであるとき、
パターンマッチングにより該印刷の位置を検出し、検出された位置情報と予め入力された印刷パターンの情報とを元にして印刷が施された領域を推定し、推定された領域から自動的にマスクを作成し、マスクすることを特徴とする請求項１から５の何れかに記載の貼付材の欠陥検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、貼付材の欠陥検査方法に関し、とりわけ、シート状の貼付材である経皮吸収薬などにおいて、髪の毛やほこり等の異物、傷、或いは汚れ等といった欠陥を検査する際に好適な欠陥検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
経皮吸収薬や錠剤等の医薬品においては、一般に、異物混入や傷、汚れの欠陥検査が行われている。特に、毛髪等の生体起因の異物が製品中に混入することは、該製品の衛生面における致命的な欠陥となるため、そのような欠陥のある製品の流出を防止すべく、自動検査方式が検討されている。
【０００３】
従来、斯かる医薬品の検査方法としては、ＰＴＰ（Press  Through  Package）シートやその中の錠剤に関する検査方式が知られている。具体的には、該ＰＴＰシートそのものについての検査方法として、特開平１１−３９４８４号公報や特開平０８−０５０１０１号公報に開示された方法が知られており、また、該ＰＴＰシートによって包装された錠剤についての検査方法として、特許０３４６１１３６号公報に開示された方法が知られている。
しかしながら、ここで開示されている検査方法は、医薬品の異物検査方法ではあるが、ＰＴＰシート等に特有の形状に基づくものであり、例えば経皮吸収薬のような構成である貼付材に対する検査方法としては適用しうるものではない。
【０００４】
一方、シート状の検査対象物に周期的な印刷が付されたものを連続検査する方法として、特許２５９７３７０号に開示された方法がある。この方法は、微分処理や２値化処理といった画像処理によって欠陥を検出する検査方法であって、画像処理を行う際に、シートに周期的な印刷が付されたことを利用し、１周期前の画像を用いて印刷が付された部分の画像をマスクすることにより、印刷を欠陥として誤検出しないようにした方法である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、経皮吸収薬のような貼付材においては、貼付け操作を容易にし、貼付け時に粘着面同士が接着したり、皺が入るのを防止するため、セパレータに背切りと呼ばれる切れ目が形成されている。背切りの形状は直線状のものや曲線状のもの等があり、その態様は様々である。また、セパレータには、このような背切りに加えて貼付け時の注意事項が印刷されていたり、セパレータや支持体などに製品のマーク等が印刷されていることもある。また、この種の経皮吸収薬のような貼付材は、打ち抜きまたは切断によって個片として構成されたものが主流となっている。
【０００６】
斯かる構成の貼付材を検査対象として、髪の毛やほこり等の異物、傷、あるいは汚れ等の欠陥検査を行う場合、背切りや印刷があると、光学系によってはこれらを欠陥として誤認する可能性がある。
【０００７】
特に、セパレータに形成された背切りは、製品の構成や画像入力（即ち、撮像）する際の照明条件によって見え方が異なり、例えば、はっきりと見えて背切り全体が欠陥として認識される場合や、薄く見えて背切りの一部のみが欠陥として認識される場合等がある。また、背切りは、上述のように必ずしも周期的に形成されたものではない。
よって、このような背切りを有する貼付材を検査対象とする場合には、前記特許２５９７３７０に示した従来技術のように、周期性を利用した検査方法を適用することは困難である。
【０００８】
しかも、個片として構成された貼付材に対しては、印刷された部分に関しても、前記特許２５９７３７０号に示すような印刷の周期性を利用した検査方法を適用することは困難である。
【０００９】
そこで本発明は、例えば経皮吸収薬のような、背切りの形成されたセパレータを備えてなる貼付材を検査対象とし、背切りが存在する場合であっても、髪の毛やほこり等の異物、傷、あるいは汚れ等の欠陥を正確に検出しうる欠陥検査方法を提供することを一の課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記課題を解決すべく、本発明の貼付材の欠陥検査方法は、粘着層と、該粘着層を被覆し且つ背切りが形成されたセパレータとを備えてなる貼付材の欠陥検査方法であって、前記貼付材に光を照射した状態で該貼付材の画像を撮影する撮像工程と、撮影された画像から欠陥を抽出して良否判定を行う画像処理工程とを備えてなり、前記画像処理工程において、前記背切りの形成された領域を抽出してマスクすることを特徴とするものである。
【００１１】
本発明によれば、画像処理工程において、背切りの形成された領域をマスクすることにより、検出された欠陥のうち背切りに起因するものを排除することができるため、背切りを欠陥として誤認することが防止できる。
【００１２】
また、本発明の貼付材の欠陥検出方法は、背切りの形成された領域を抽出する際に、好ましくは、欠陥として検出された任意の点を背切り候補点とし、該背切り候補点から背切り形成方向に向かって所定範囲内で検出される欠陥を他の背切り候補点とし、該操作を繰り返すことによって検出された複数の背切り候補点の特徴量（例えば、形状や輝度等）に基づいて該背切り候補点を背切りと判定することにより、背切りの形成された領域を抽出するものとする。
【００１３】
これは、セパレータに形成された背切りが、剥離させやすいように方向性をもって形成されている点に着目したものであり、このような背切りの形成方向に関する情報に基づいて背切りを判定するものである。すなわち、欠陥として検出された任意の点を背切り候補点とし、該背切り候補点から背切り形成方向に向かって所定範囲内で検出される欠陥を他の背切り候補点とする。背切り形成方向に関する情報は、予め入力されたものでもよいし、個々の画像データに基づいて得たものでもよい。そして、検出された他の背切り候補点から同様にして新たな背切り候補点を追跡し、このような操作を繰り返すことによって複数の背切り候補点を検出する。本来の背切りは、所定範囲の特徴量（例えば、形状や輝度等）を有するものであるため、検出された複数の背切り候補点の特徴量に基づき、背切りであるか欠陥であるかを判定することにより、正確に背切りの形成された領域を抽出することが可能となる。
【００１４】
また、本発明の貼付材の欠陥検出方法は、好ましくは、前記のようにしてマスクされた領域を、マスクされない領域とは異なる判定基準で検査するものである。
マスクされた領域を検査しない場合には、そこに欠陥がある際にこれを検出することができず、また、マスクされた領域を、マスクされない領域と同じ基準で検査すると、背切りや印刷等によって誤検出が多発するおそれがある。そこで、上記のように、マスクされた領域をマスクされない領域とは異なる判定基準で検査することにより、誤検出を防止しつつ検査領域をマスク領域にまで拡大させることが可能となる。
【００１５】
マスクされた領域を検査する際には、好ましくは、前記背切りとして抽出された領域の形状又は濃淡により、欠陥を検出するものとする。
背切りは、直線状又は曲線状に形成されるものであるため、画像処理の際には、一定の濃淡を有する一本の線として抽出されることとなる。よって、背切りの上に重なるようにして欠陥が存在する際には、抽出される背切りの線幅が太くなったり、背切りに交点が発生することとなり、一本の直線とは異なる形状となるか、あるいは、一定範囲の濃淡を超えた濃淡部分が生じることとなる。
そこで、このように背切りとして抽出された領域の形状又は濃淡を評価することにより、背切りの上に重なって存在する欠陥を検出することが可能となる。
【００１６】
さらに、背切り部分は、照射される照明の光学系によっても見え方が異なり、撮像工程で入力される画像が一定となりにくいものである。そこで、本発明者らが、背切り部分に照射する照明と、その際の背切りの見え方について検討したところ、背切りがはっきりと見える場合や薄く見える場合のほかにも、照明を調整することによって背切りが全く見えない場合があることを見出した。
【００１７】
そこで、本発明は、粘着層と、該粘着層を被覆し且つ背切りが形成されたセパレータとを備えてなる貼付材の欠陥検査方法であって、前記貼付材に光を照射した状態で該貼付材の画像を撮影する撮像工程と、撮影された画像から欠陥を抽出して良否判定を行う画像処理工程とを備えてなり、前記撮像工程において、透過照明と反射照明とを併用し、透過照明と反射照明との光量バランスを調整して前記背切りの画像が撮影されないようにすることを特徴とするものである。
【００１８】
このように、撮像工程において透過照明と反射照明とを併用し、これら透過照明と反射照明との光量バランスを調整することによって背切りの画像が撮影されないようにすれば、欠陥の検出がより一層正確なものとなる。
【００１９】
一方、印刷が付された部分については、光学的な手段によって印刷が撮像工程で撮影されないようにする方法も考えられるが、検出したい欠陥が最も見える光学系では、印刷部が見える状態となりやすい。また、印刷部と背景部とのコントラストが十分ある場合には印刷部の特徴量から印刷部を抽出してマスクすることができるが、印刷部が薄く見える場合やシェーディング等により場所によって見え方が違う場合は、前記方法ではマスク作成は困難である。
【００２０】
そこで、本発明の貼付材の欠陥検査方法においては、前記貼付材が、周期的な印刷を有してなるものであるとき、好ましくは、パターンマッチングにより該印刷の位置を検出し、検出された位置情報と予め入力された印刷パターンの情報とを元にして印刷が施された領域を推定し、推定された領域から自動的にマスクを作成し、マスクするものとする。
【００２１】
このように、印刷が施された領域を推定することができれば、印刷部の見え方に応じて最適な検査方法を採用することができる。即ち、印刷が薄く見えている場合には、該印刷部をマスクして単に検査領域から外すのではなく、マスクした領域については別途、判定基準を変えて検査する。これにより、印刷の上に重なるようにして存在する致命的な欠陥を検出することが可能となる。また、印刷に色が付されている場合には、マスクした領域についてカラー画像処理を施し、印刷と同じ色の部分を抽出し他の色が付された部分を欠陥として検出する方式も考えられる。
【発明の効果】
【００２２】
以上のように、本発明に係る貼付材の欠陥検出方法によれば、背切りの見え方に合わせてそれぞれ最適な処理を行うことができ、欠陥検出の精度を高めることが可能となる。
即ち、撮像工程において背切りを消去しうる場合には、該背切りの影響をうけることなく欠陥を検出することができる。
また、背切りがはっきりと見え、背切り全体が欠陥として認識される場合は、検出した欠陥候補点の座標および特徴量から背切りと断定できるものを欠陥候補点から除くことで背切りの影響を除去することができる。
さらに、背切りが薄く見え、背切りの一部のみが欠陥として認識される場合であっても、上記の方法で背切りを追跡処理することによって背切りの部分を正しく認識し、これをマスクすることによって背切りの影響を除去することができる。
【００２３】
また、本発明に係る貼付材の欠陥検出方法によれば、印刷が施された領域についても、精度よく欠陥を検出することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施形態の一例について、図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の検査対象である貼付材の一例としての経皮吸収薬の構成を示した断面図である。図１に示したように、該経皮吸収薬１０は、紙や不織布からなる支持体１１と、該支持体１１の上に積層され、薬剤を含有する粘着層１２と、該粘着層１２を被覆するＰＥＴ等からなるセパレータ１３とを備えて構成されている。該セパレータ１３には、セパレータ１３を部分的に剥離させることができるような切れ目（本発明において、背切りという）１４が形成されている。背切り１４は、セパレータ１３を部分的に剥離して粘着層１２を部分的に露出させることにより、経皮吸収薬１０の貼付け操作を容易にし、貼付け時に粘着層１２同士が接着したり、皺が入るのを防止するためのものである。
【００２５】
図２は、この経皮吸収薬１０をセパレータ１３側から見た平面図である。背切り１４の形状は、通常、直線状のものや曲線状のもの、その他種々の形状があるが、本実施形態では図２に示す如く、波線状の背切り１４が形成された例を示している。
また、一般には、セパレータまたは支持体の表面には製品のマーク等が印刷されていることがある。本実施形態では、セパレータ１３に、印刷１５として貼り付け時の注意事項が付されている場合を示している。
さらに、該経皮吸収薬１０は、連続シートとしての支持体１１に粘着剤１２を塗工し、セパレータ１３を貼り合わせ、その後、打ち抜きまたは切断により個片にするという製造工程によって製造されたものである。よって、連続シートの状態では印刷が周期的に付されたものであっても、個片になったときはその１周期程度が付されているだけであり、該個片からは、その規則性を特定するのは困難な状態となっている。
【００２６】
図３は、本発明の欠陥検査方法の一実施形態に使用される欠陥検査装置の構成を示した概念図である。該欠陥検査装置１は、検査対象である貼付材の画像を撮影する撮像手段２と、得られた画像データを元に画像処理によって貼付材の欠陥を判別する画像処理手段３とから構成されている。
【００２７】
撮像手段２は、貼付材（図示せず）に光を照射する照明装置２１と、経皮吸収薬の画像を撮影する画像入力装置２２とから構成されている。
照明装置２１としては、検査対象となる貼付材に合わせて、蛍光灯、ハロゲンランプ、ＬＥＤ等を用いることができる。また、照明の方式についても、検査対象である貼付材の構成や、検出したい欠陥の種類によって適宜変更することができる。例えば、検査対象である貼付材が光透過性のあるものであれば、透過照明を用いることによって毛髪等の遮光性のある欠陥を検出することができる。また、検査対象の地合いがざらついているときは反射照明を併用することが好ましく、これによってざらつきによる画像への悪影響を抑制することが可能となる。さらに、検査対象の貼付材が光透過性でない場合には、反射照明を用いることが好ましい。この場合、地合いのざらつきによる画像への悪影響を抑制するには、例えば、ドーム状の照明を用いてあらゆる角度からの光を入光すれば良い。
【００２８】
画像入力装置２２は、経皮吸収薬からの透過光又は反射光を画像データに変換するものである。画像入力装置２２としては、ラインセンサや２次元のカメラ等を使用できる。
【００２９】
図４は、前記照明装置２１及び画像入力装置２２の配置の一例を示したものである。
検査対象の貼付材が光透過性のものである場合には、反射照明を用いると背景の影響を受け、背景に汚れがあるとそれを欠陥として判断する恐れがある。そのため、光透過性の貼付材を検査対象とする際には、図４に示す如く、検査対象である貼付材１０に対して、画像入力装置２２とは反対側に配された透過照明２１ａを用いることが有効である。
【００３０】
また、透過照明２１ａを適用する際には、背面にガラス等の光透過性の高い部材を配置して照射することもできるが、この場合にはガラス面の汚れによる誤検出を発生するおそれがある。そこで、図４に示すように、ベルトコンベア２３で貼付材１０を搬送し、コンベア２３とコンベア２３との受け渡しの部分で検査を行えば、上記のような背景の問題を解消することができる。このように、コンベア２３の受け渡し部分で検査しようとした場合、画像入力装置２２はラインセンサを用いることが好ましい。また、コンベア２３同士の間隔が広く開いていると製品がばたついてしまうので、コンベア同士の間隔はできるだけ狭い方が好ましい。
また、検査対象である貼付材が光透過性でない場合には、反射照明しか採用することができない。このような場合には、ラインセンサではなく２次元のカメラを用いて画像入力することも可能である。
【００３１】
さらに、貼付材１０に背切り１４の形成されたセパレータ１３が備えられている場合には、単に透過照明２１ａを使用するだけでは、背切り１４がはっきりと見える場合や薄く見える場合等がある。このような場合には、透過照明２１ａと反射照明２１ｂとの両方を配設し、両者の光量バランスを調整し、背切りの画像が撮影されないようにすることが好ましい。
照明は、粘着層やセパレータの材質によって条件が異なるが、ここでは、一例として、粘着層が半透明の不織布を備えてなり、セパレータが透明のＰＥＴからなる貼付材を検査対象とする場合について説明する。
まず、照明の光源としては、透過照明、反射照明ともに蛍光灯を用いる。透過照明だけの場合には、背切れ部分のエッジで光が拡散してしまい、その部分が周囲と比べて暗くなる。一方、反射照明だけの場合には、背切れ部分のエッジで光が散乱して明るく見える。そこで、反射照明と透過照明とを併用し、両者の光を合成することで、周囲と同じ明るさとすればよい。実際にそのような照明条件とする方法としては、まず、透過照明のみを点灯させて画像を撮影し、その後、反射照明を点灯させて該反射照明の光量を徐々に増していき、背切れの消える条件を見つける。
このような場合、反射照明を一方向からのみ照射すると、背切れのエッジの片面にしか光が照射されないため、背切れのエッジの両面に光が照射されるように反射照明を配置することが好ましく、例えば、流れ方向に対して上流側と下流側、或いは、流れ方向に対する直角な方向において左右にそれぞれ設置する方法が挙げられる。
【００３２】
一方、画像処理手段３は、取り込まれた画像データのノイズ除去処理を行うための前処理部３１と、欠陥を検出するための欠陥検出部３２と、背切りのマスクを作成するための背切りマスク作成部３３と、印刷のマスクを作成するための印刷マスク作成部３４とを備えている。
【００３３】
前処理部３１における処理内容としては、除去すべきノイズによって適宜選択することができる。例えば、ノイズが輝点のみの場合には、オープニング処理を採用して輝点を除く。逆に、ノイズが黒点のみの場合には、クロージング処理を採用して黒点を除く。輝点および黒点の両方が存在するときは、メジアンフィルタまたはスムージング処理を採用して平滑化する。
【００３４】
欠陥検出部３２は、欠陥強調処理３２ａと、２値化処理３２ｂとにより、欠陥を検出するものである。欠陥強調処理３２ａの具体例としては、微分処理を挙げることができる。また、微分処理の場合には、欠陥のエッジしか検出されないため、なだらかに輝度が変化するような大きい欠陥がある場合には、該欠陥を検出しないことがある。よって、このような大きな欠陥を検出するべく、欠陥強調処理を行わずにそのまま２値化処理する方法を併用しても良い。
また、欠陥強調処理としての微分処理と、２値化処理とを並列させて行うこともでき、微分処理によって検出した欠陥と、２値化処理によって検出した欠陥とを合成して欠陥検出しても良い。
【００３５】
背切りマスク作成部３３および印刷マスク作成部３４では、前記欠陥検出部３２と並行して、背切りおよび印刷を検出し、その領域のマスクを作成するものである。背切りおよび印刷された領域をマスクすることにより、即ち、その領域を検査しないことにより、背切りおよび印刷が存在することによる誤検出を防止することができる。
但し、この場合には、マスク領域内の欠陥が検出できないため、好ましくは、マスクされた領域について、判定基準を変更して検査するものとする。これによってマスク領域内でも致命的な欠陥を検出することが可能となる。
【００３６】
ここで、背切りが形成された領域のマスク作成方法についてより具体的に説明する。
背切りの見え方は、貼付材の構成と照明条件によって変化し、背切りが見えない場合、はっきり見える場合、薄く見える場合に分類することができる。
貼付材が、光透過性の高いものであれば、上述の如く、透過照明と反射照明の光量バランスを調整することによって背切りの見えない画像を得ることができる。このような場合には、特に背切りに対してマスク処理を施さずに欠陥の検出が可能となる。
【００３７】
しかし、貼付材が光透過性を有しない場合や、検出したい欠陥が最も見える光学系に調整した場合などにおいては、必ずしも背切りを消去しえないことも多い。そこで、このような場合には、背切りの見え方に合わせて以下のような処理を行うものとする。
【００３８】
まず、図５に示したように、背切り１４がはっきりと見える場合について説明する。
背切り１４がはっきりと見える場合には、背切り１４全体が欠陥として認識されるため、欠陥として検出された粒子が線として繋がった状態となる。よって、このように欠陥として検出された粒子が線として繋がっている場合には、これらの粒子を背切りと判定し、欠陥から除外するものとする。しかし、背切りの上に欠陥があると、背切りであるか欠陥であるかの判断が難しくなる。そこで、このような場合には、背切りと欠陥とを、以下のようにして区別する。
【００３９】
まず、背切り１４の上に点状の欠陥４１が存在する場合には、背切り１４の形状はそこだけ線幅が広くなったように認識される。そこで、背切りか欠陥かを判定する際に、検出された粒子の線幅を測定し、その線幅が所定の基準値内に入っていない場合に、これを欠陥として判定する。これにより、背切り１４の上に点状の欠陥４１がある場合に、該欠陥４１を背切り１４と区別することができる。
また、背切り１４の上に線状の欠陥４２が存在する場合、背切り１４に交点が発生したように認識される。そこで、検出された粒子が１本の線で繋がっているか否かを判定し、繋がっている場合には背切りと判定し、１本の線で繋がらず交点が発生している場合、即ち、検出された粒子が枝分かれしている場合には、これを欠陥と判定する。これにより、背切りの上に存在する線状の欠陥４２の有無を判定することができる。
さらに、背切り１４を形成する粒子の濃淡値から欠陥を検出することも可能である。即ち、検出された濃淡値が明らかに背切り１４と異なる場合（例えば、極端に暗い場合や明るい場合）、その画素を欠陥として判定することにより、欠陥の見落としを防止できる。
【００４０】
次に、背切り１４が薄く見える場合について説明する。
背切り１４が薄く見える場合には、例えば図６に示す如く、欠陥として検出した粒子が一本の線として繋がらないため、これらの粒子を背切りとして判定することができない。
【００４１】
そこで、まず初めに、欠陥検出用の２値化処理に用いる閾値よりも小さい閾値で２値化処理する方法を採用する。この方法によって検出された欠陥が線として繋がる場合には、繋がった欠陥を背切りと判定することができる。
しかし、閾値を小さくして２値化処理しても、検出された欠陥が線として繋がらないような場合には、このような欠陥を背切りと判定することができず、この方法は使えない。
【００４２】
そこで、背切りが途切れる場合の処理方法について図６および図７を用いて説明する。尚、ここでは、背切りの粒子は他の部分よりも輝度値が小さいものとする。
まず、背切り追跡の始点となる点を探索する。始点を探索する方法は、背切りの形成された方向（図６において、Ｘで示すものとし、以下「Ｘ軸方向」ともいう）の任意の座標上に、始点探索ライン５２を設定し、この始点探索ライン５２に沿って輝度値を測定し、測定された輝度値分布５３から輝度値が最小となる点５４を求め、その最小値と、他の部分の平均値との差が所定の値よりも大きい場合に、この点５４を背切り追跡の始点とするものである。
仮に、輝度の最小値と、他の部分の平均値との差が所定の値よりも小さいときには、これを背切り追跡の始点とはせず、再度Ｘ軸方向の異なる座標において同様に検索し、背切り追跡の始点が発見されるまでこれを繰り返す。
【００４３】
次に、この追跡の始点からＸ軸の正負両方向（図６においては、左右方向）に沿って背切りを追跡する。図７は、Ｘ軸の正方向（右方向）に追跡する場合について説明したものである。ここで、図７は、得られた画像データ中の画素毎の輝度値を、その画素の座標上に並べて表示したものである。
左端の○印を付した画素５４は、上記の始点検索によって発見された追跡の始点５４であり、まず、その始点５４の右側の隣接領域（例えば、図７に示すような３画素）５５を探索し、最小となる点を求める。その最小値と、他の部分の平均値との差が所定の値よりも大きい場合には、その点を背切り候補点とする。さらに、該背切り候補点の右側の隣接領域を検索し、同様にして新たな背切り候補点を見つけていく。
【００４４】
しかし、途中で検出される輝度値の最小値と平均値との間にほとんど差がないことがありうる。このような場合には、背切りが途切れている部分と判断して、背切り候補点を認識しないものとする。背切り候補点を認識しなかった場合には、その次の候補点を見つけるべく、Ｘ軸方向に向かって徐々に探索範囲を広げて行く。即ち、背切り候補点の隣接領域に隣接する第２隣接領域（例えば、図７に示すような５画素）５６について背切り候補点を検索し、背切り候補点が発見されない場合には、さらに、該第２隣接領域５６に隣接する第３隣接領域（例えば、図７に示すような７画素）５７について背切り候補点を検索する。
そして、再び背切り候補点が発見された場合には、背切り追跡の始点から行なった方法と同様にして背切りを追跡する。
こうして、次々と背切り候補点を検出した後、例えば、これら複数の背切り候補点が所定の長さで繋がっているような場合には、これらの背切り候補点を最終的に背切りとして判定する。
こうして、図７に示したように、○印で示されている座標が、背切りとして認識されることとなる。
【００４５】
このような処理を繰り返すことにより、背切りが途切れた場合についても、比較的正確に背切りの部分を認定することができ、背切りのマスクを作成することができる。
尚、背切りが細い線状に形成されており、そのままでは誤検出の可能性がある場合には、いわゆる膨張処理によって背切りと判定する点を拡張してマスクする領域を決定することが好ましい。
【００４６】
次に、印刷が施された領域のマスク作成方法について説明する。
印刷部がはっきりと見える場合、２値化処理によって印刷が施された領域を抽出し、マスク領域とすることが可能である。しかし、検出したい欠陥が最も見えやすいように光学系を設定すると、印刷がはっきりと見えない場合がある。また、シェーディングがある場合にも、印刷の位置によって印刷の検出が難しくなる。
【００４７】
本発明では、印刷位置に周期性がある場合、これを利用して印刷をマスクする方法を採用することができる。以下、図８および図９を用いてこの方法について具体的に説明する。まず、印刷の一部をパターンマッチングで検出し、貼付材１０に付された任意の印刷の位置（座標）を特定する。その任意の印刷から上下左右にそれぞれ所定の印刷ピッチだけ離れた座標を算出する。次に図９に示すように、基準となる印刷画像１５を膨張処理したマスク画像１６を、算出した個々の座標上に当てはめることで、図８に示したような、印刷のマスクが完成する。
なお、基準となる印刷画像１５は、あらかじめ良品画像から作成したものでも良いが、ラインセンサで撮像した場合、伸縮が大きいため、予め作成した画像と合わないことがある。そこで、パターンマッチングで検出した印刷部分を２値化処理し、その検査対象製品自身の印刷からマスクを自動的に作成することにより、より精度の優れたマスクを作ることができる。
また、撮影された画像に傾きがある場合には、事前に該画像を回転させて水平にしておくか、あるいはその傾きを算出し、その傾きに合わせて印刷位置の座標算出を補正すればよい。傾き角を算出する方法としては、製品のエッジの境界点を２点以上求め、それらの点を結ぶ近似直線を算出すれば、傾き角を得ることができる。
【００４８】
印刷が施された領域の他のマスク作成方法としては、該印刷が着色されている場合、その印刷色のみを抽出し、これをマスク領域とする方法を採用することもできる。ただし、印刷色と同じ色の欠陥がある場合には、該欠陥を見逃してしまうおそれがある。そこで、印刷の線幅や面積等の特徴量を算出し、特徴量が実際に有り得る印刷と明らかに異なっている場合にこれを欠陥と判定する方法を併用することにより、見逃しを防止することができる。
【００４９】
さらに、マスク領域についてのみ判定基準を変更し、欠陥検査を行う方法について説明する。まず、全体を所定の基準（第１基準）で欠陥検査を行った後、前記のようにして背切りの形成された領域、および印刷の付された領域をマスクする。そして、マスク領域用の基準（第２基準）で全体を欠陥検査し、マスク領域を反転した画像で前記マスク領域以外をマスクする。このようにして、２つの基準で欠陥検査し、互いの検査結果を合成することで、マスク領域のみ判定基準を変えた全体の検査が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の検査対象となる貼付材（経皮吸収薬）の構成の一例を示した断面図。
【図２】本発明の検査対象となる貼付材（経皮吸収薬）をセパレータ側から見た際の平面図。
【図３】本発明に係る検査方法に使用される検査装置の一形態を示した概念図
【図４】本発明に係る検査方法に使用される検査装置のうち、撮像工程の一形態を示した図。
【図５】背切りと、背切り上に存在する欠陥の一例を示した図。
【図６】背切りが途切れて見える場合の一例と、測定される輝度の分布を示した図。
【図７】背切り探索方法を説明した図。
【図８】印刷のマスク方法を説明した図。
【図９】印刷のマスク画像の作成例を示した図。
【符号の説明】
【００５１】
１    欠陥検査装置
２    撮像手段
３    画像処理手段
１０  貼付材
１１  支持体
１２  粘着層
１３  セパレータ
１４  背切り
１５  印刷
１６  印刷のマスク画像
２１  照明装置
２２  画像入力装置
２３  搬送コンベア
３１  前処理部
３２  欠陥検出部
３３  背切りマスク作成部
３４  印刷マスク作成部
４１  背切り上の点欠陥
４２  背切り上の線欠陥
３１  背切り抽出領域
５２  背切り始点探索ライン
５３  背切り始点探索ラインの輝度分布
５４  背切り追跡の始点（輝度の最小部）
【図１】
2005351763.tif 000003
【図２】
2005351763.tif 000004
【図３】
2005351763.tif 000005
【図４】
2005351763.tif 000006
【図５】
2005351763.tif 000007
【図６】
2005351763.tif 000008
【図７】
2005351763.tif 000009
【図８】
2005351763.tif 000010
【図９】
2005351763.tif 000011