(57)【要約】【課題】本発明の目的は、エッジ強度に加えて、スキャン条件や画像再構成条件に応じた特性でフィルタをかけることでＸ線ＣＴ画像の画質を向上することにある。【解決手段】Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出部１２０と、エッジ強度に基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ要素算出部１２３と、局所領域ごとに決定したフィルタ特性に従ってＸ線ＣＴ画像にフィルタをかけるガウシアンフィルタ処理部１２２と、Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件とエッジ強度の算出方法との対応を記憶する記憶部１１８とを具備する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、
前記エッジ強度に基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、
前記局所領域ごとに決定したフィルタ特性に従って、前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかける手段と、
前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件に従って前記エッジ強度の算出方法を決定するエッジ強度算出方法決定手段とを具備することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記エッジ強度算出方法決定手段は、ｎ×ｍ×ｌサイズを有するサブ領域の平均値に対して２次微分フィルタをかけることにより前記エッジ強度を算出するとともに、前記サブ領域のｎ×ｍ×ｌサイズを前記画像再構成条件に含まれる画像拡大率に応じて変更することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記エッジ強度算出方法決定手段は、前記画像拡大率に対する前記サブ領域のサイズの対応関係を記憶する記憶する手段を有することを特徴とする請求項２記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記エッジ強度算出方法決定手段は、前記Ｘ線ＣＴ画像に対して２次微分フィルタをかけることにより前記エッジ強度を算出するとともに、前記２次微分フィルタのサイズを前記画像再構成条件に含まれる画像拡大率に応じて変更することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記エッジ強度の算出前に前記Ｘ線ＣＴ画像に対してノイズ低減処理を施す手段を更に備えることを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記エッジ強度算出手段は、エッジ強度算出とともにノイズ低減効果を有する２次微分フィルタを前記Ｘ線ＣＴ画像に対して施すことを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項７】
Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、
前記エッジ強度と、前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件とに基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、
前記決定したフィルタ特性に従って前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかけるフィルタ手段とを具備することを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
前記フィルタ特性決定手段は、前記エッジ強度と、前記画像再構成条件に含まれる画像拡大率とに基づいて前記フィルタ特性を決定することを特徴とする請求項７記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記フィルタ特性決定手段は、前記エッジ強度と、前記画像再構成条件に含まれる画像拡大率と、前記Ｘ線ＣＴ画像のノイズ強度とに基づいて前記フィルタ特性を決定することを特徴とする請求項７記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記フィルタ特性決定手段は、前記エッジ強度と、前記画像再構成条件に含まれる画像拡大率と、前記Ｘ線ＣＴ画像に撮像された部位とに基づいて前記フィルタ特性を決定することを特徴とする請求項７記載の画像処理装置。
【請求項１１】
被検体をスキャンして収集したデータに基づいて前記被検体に関するＸ線ＣＴ画像を再構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、
前記Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、
前記エッジ強度に基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、
前記局所領域ごとに決定したフィルタ特性に従って、前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかける手段と、
前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件に従って前記エッジ強度の算出方法を決定するエッジ強度算出方法決定手段とを具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項１２】
被検体をスキャンして収集したデータに基づいて前記被検体に関するＸ線ＣＴ画像を再構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、
Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、
前記エッジ強度と、前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件とに基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、
前記決定したフィルタ特性に従って前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかけるフィルタ手段とを具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ＣＴ画像の画質を改善する画像処理装置およびＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像のエッジを保持、あるいは鮮鋭化しながら、ノイズを抑制することで画質を改善する手法として、画像の局所的なエッジ信号を抽出し、エッジ信号の強度が強いほど鮮鋭化効果が、エッジ信号の強度が弱いほど平滑化効果が高くなるように局所的にフィルタの特性を変更して処理する方法が一般的に知られている。空間フィルタとして、２次微分フィルタの演算結果を用いてフィルタ特性を変える方法と、ウェーブレットフィルタとして、周波数空間で非線形フィルタ処理を行う方法がある。
【０００３】
Ｘ線ＣＴ画像は、管電圧やスキャン速度等のスキャン条件、さらに再構成関数、拡大率（再構成ＦＯＶ）等の画像再構成条件により画質（粒状性・ノイズ・コントラスト・鮮鋭度・アーチファクトなど）が大きく変動するため、上述した従来の技術を用いても予定した画質向上効果が得られないことがある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、エッジ強度に加えて、スキャン条件や画像再構成条件に応じた特性でフィルタをかけることでＸ線ＣＴ画像の画質を向上することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の第1局面は、Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、前記エッジ強度に基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、前記局所領域ごとに決定したフィルタ特性に従って、前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかける手段と、前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件に従って前記エッジ強度の算出方法を決定するエッジ強度算出方法決定手段とを具備する。  
本発明の第２局面は、Ｘ線ＣＴ画像の局所領域におけるエッジ強度を算出するエッジ強度算出手段と、前記エッジ強度と、前記Ｘ線ＣＴ画像に対応する画像再構成条件とに基づいて、局所領域ごとに平滑化程度に関するフィルタ特性を決定するフィルタ特性決定手段と、前記決定したフィルタ特性に従って前記Ｘ線ＣＴ画像にフィルタをかけるフィルタ手段とを具備する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、エッジ強度に加えて、スキャン条件や画像再構成条件に応じた特性でフィルタをかけることによりＸ線ＣＴ画像の画質を向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、図面を参照して本発明による画像処理装置の実施形態を説明する。本発明による画像処理装置は単独で又はＸ線コンピュータ断層撮影装置若しくはＰＡＣＳに組み込まれて構成される。ここでは本発明による画像処理装置はＸ線コンピュータ断層撮影装置に組み込まれたものとして説明する。周知のとおり、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置には、Ｘ線管と放射線検出器とが１体として被検体の周囲を回転する回転／回転型と、リング状に多数の検出素子がアレイされ、Ｘ線管のみが被検体の周囲を回転する固定／回転型等様々なタイプがあり、いずれの型でも適用可能である。ここでは、現在、主流を占めている回転／回転型として説明する。また、１スライスの断層画像データを再構成するには、被検体の周囲１周、約３６０°分の投影データが、またハーフスキャン法でも１８０°＋ビュー角分の投影データが必要とされる。いずれの再構成方式にも適用可能である。ここでは、前者を例に説明する。また、入射Ｘ線を電荷に変換するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でＸ線を光に変換し更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、Ｘ線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とが主流である。Ｘ線検出素子としては、それらのいずれの方式を採用してもよいが、ここでは、前者の間接変換形として説明する。また、近年では、Ｘ線管とＸ線検出器との複数のペアを回転フレームに搭載したいわゆる多管球型のＸ線ＣＴ装置の製品化が進み、その周辺技術の開発が進んでいる。本発明では、従来からの一管球型のＸ線ＣＴ装置であっても、多管球型のＸ線ＣＴ装置であってもいずれにも適用可能である。ここでは、一管球型として説明する。
【０００８】
図１に、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成をブロック図により示している。架台部１００は、架台駆動部１０７により回転駆動される円環形状の回転フレーム１０２を有する。回転フレーム１０２には、Ｘ線管１０１とＸ線検出器１０３とが搭載される。Ｘ線検出器１０３は、撮影時に被検体が挿入される空洞（撮影領域）Ｓを挟んでＸ線管１０１に対向する。Ｘ線管１０１には、高電圧発生装置１０９から連続的又は周期的に発生される高電圧がスリップリング１０８を経由して印加される。それによりコーンビーム状のＸ線が発生される。Ｘ線検出器１０３は、複数の検出素子を有する。複数の検出素子は、チャンネル方向とスライス方向との直交２方向に沿って配列される。このようなＸ線検出器１０３は、一般的に、マルチスライス形（２次元アレイ形ともいう）と呼ばれる。
【０００９】
Ｘ線検出器１０３の出力には、一般的にＤＡＳ(data acquisition system) と呼ばれているデータ収集回路１０４が接続されている。このデータ収集回路１０４には、Ｘ線検出器１０３の各チャンネルの電流信号を電圧に変換するＩ−Ｖ変換器と、この電圧信号をＸ線の曝射周期に同期して周期的に積分する積分器と、この積分器の出力信号を増幅するアンプと、このプリアンプの出力信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル・コンバータとが、チャンネルごとに設けられている。前処理装置１０６は、データ収集回路１０４の出力（ディジタル信号（純生データと呼ばれる））を光又は磁気を媒介して非接触のデータ伝送を実現する非接触データ伝送装置１０５を経由して受け取り、生データに対して、チャンネル間の感度不均一を補正したり、またＸ線強吸収体、主に金属部による極端な信号強度の低下又は信号脱落を補正する等の前処理を実行する。前処理装置１０６から出力されるデータは、投影データと呼ばれる。投影データは補助記憶装置１１２に記憶され、ホストコントローラ１１０の制御に従って再構成装置１１４に読み出される。再構成装置１１４は、記憶装置１１２からの投影データのセットに基づいてフェルドカンプ法又は他の再構成法に従ってスライス又はボリュームに関する画像データを再構成する。この画像データは記憶装置１１２に記憶され、また表示装置１１６に可視画像として表示される。
【００１０】
ホストコントローラ１１０には、Ｘ線ＣＴ装置としての基本的な構成要素としての上記記憶装置１１２、再構成装置１１４、表示装置１１６、キーボードやポインティングデバイス等を有する入力装置１１５の他に、フィルタリング制御部１１７、再構成ＦＯＶ／サブ領域サイズ対応表記憶部１１８、再構成ＦＯＶ／フィルタサイズ対応表記憶部１１９、エッジ強度算出部１２０、エッジ強度／フィルタパラメータ対応表記憶部１２１、ガウシアンフィルタ処理部１２２、フィルタ要素算出部１２３が接続される。フィルタリング制御部１１７は、再構成ＦＯＶ／サブ領域サイズ対応表記憶部１１８、再構成ＦＯＶ／フィルタサイズ対応表記憶部１１９、エッジ強度算出部１２０、エッジ強度／フィルタパラメータ対応表記憶部１２１、ガウシアンフィルタ処理部１２２、フィルタ要素算出部１２３とともに画像処理装置を構成する。
【００１１】
これら構成要素の機能を本実施形態による画像処理動作と共に説明する。本動作前に、被検体の任意の部位を含む範囲が、予め設定されたスキャン条件のもとでスキャンされる。スキャン条件には、周知の通り、管電圧、管電流、撮影ＦＯＶ（撮影領域径）、撮影スライス厚、撮影スライスピッチ、ヘリカルピッチ等が含まれる。当該スキャンにより収集されたデータに基づいて、予め設定された再構成条件のもとで再構成装置１１４で画像（Ｘ線ＣＴ画像）データが再構成され、記憶装置１１２に記憶される。再構成条件には、再構成再構成関数、再構成ＦＯＶ（再構成領域径）、画像スライス厚、画像スライスピッチ等が含まれる。撮影ＦＯＶ内の指定した一部分だけを装置固有の最高空間解像度で再構成するいわゆる拡大再構成（ズーミング再構成）では、指定した再構成ＦＯＶに応じて画像拡大率が決まる。例えば撮影ＦＯＶが５１２ｍｍと仮定すると、２５６ｍｍの再構成ＦＯＶでは、画像拡大率は２倍になる。
【００１２】
画像処理装置は、再構成されたＸ線ＣＴ画像データに対して画像処理、特にエッジを残しながら、ノイズを抑圧するいわゆる量子フィルタ処理を施すために設けられている。この量子フィルタ処理には、平滑化フィルタ処理をベースとしたものと、鮮鋭化フィルタ処理をベースとしたものとがある。平滑化と鮮鋭化とは通常、反比例の関係にある。平滑化を強くかけることで、高いノイズ抑圧効果を発揮できるが、その反面、臓器等の輪郭を強調するエッジ鮮鋭化効果は低減する（エッジが鈍る）。逆に、弱く平滑化を掛けることで、ノイズ抑圧効果はあまり発揮できないが、その反面、臓器等の輪郭を強調するエッジ鮮鋭化効果を発揮できる。ここでは平滑化ベースのフィルタとしてガウシアンフィルタ処理を一例として、エッジを保持し、画像をぼかすことなく、ノイズを低減することを目指すフィルタについて示す。
【００１３】
量子フィルタ処理においては、先ず、図２に示すように、エッジ強度算出部１２０において入力画像Iin(i,j)の各画素(i,j)におけるエッジ強度IE(i,j)が算出される。比較的高いエッジ強度IE(i,j)はその画素(i,j)がエッジ（輪郭）上の点である可能性が高いことを表しており、比較的低いエッジ強度IE(i,j)はその注目画素(i,j)がエッジ（輪郭）上の点である可能性が低いことを表している。エッジ強度算出手段として、２次微分フィルタが使用される。一般的に２次微分フィルタは、
【数１】
2005160544.tif 000003
【００１４】
で表され、２次微分フィルタｈ１と入力画像Iin(i,j)を積和演算することで、画素（i,j）における画素値の変化量、すなわちエッジ強度を算出することができる。
【００１５】
よって、エッジ強度は、
【数２】
2005160544.tif 000004
【００１６】
となる。
【００１７】
ところが、２次微分フィルタｈ１は、画素ごとの画素値変化量からエッジ強度を算出するため、再構成条件としての例えば画像拡大率に応じてエッジ強度の算出方法を変更する必要がある。ここで、図３に示すとおり、フィルタ処理を実施する対象となる注目画素（i,j）を含むｎ×ｍ×ｌ画素のサブ領域０と、サブ領域０の周囲にｎ×ｍ×ｌ画素のサブ領域を８個設定し、各サブ領域のＣＴ値の平均に対し、２次微分フィルタをかける。すなわち、サブ領域kの平均値をave(k)とした場合、エッジ強度は、
【数３】
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【００１８】
となる。画像の拡大率に比例し、サブ領域のサイズｎ×ｍ×ｌを変更することで、画像の拡大率に依存しないで、安定したノイズ除去効果を実現することが可能となる。例えば、図４に示すように、画像の拡大率に依存しないで、安定したノイズ除去効果を実現するように再構成ＦＯＶ（拡大率）とサブ領域のサイズとの適当な対応を決定し、予め再構成ＦＯＶ／サブ領域サイズ対応表記憶部１１８に記憶させておく。エッジ強度算出処理にあたっては、フィルタリング制御部１１７の制御のもとで、予め再構成条件として設定されている再構成ＦＯＶに対応するサブ領域サイズがその記憶部１１８から選択的にエッジ強度算出部１２０に選択的に読み出される。図４の例では、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）が２５６ｍｍ（２倍）までがサブ領域サイズが３×３に設定され、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）が２５６ｍｍ（２倍）を超えたときサブ領域サイズが５×５に設定されるように２段階で示しているが、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）が高くなるに応じてサブ領域サイズが大きくなる対応関係である限りにおいて、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）に対するサブ領域サイズの対応は図４の例に限定されるものではない。なお、中心のサブ領域に対して周囲のサブ領域のサイズを違えるようにしてもよいし、周囲のサブ領域どうしでも違えるようにしても良い。また、使用する平均値ave(k)は、単純平均に限定されず、重み付き平均でも構わない。
【００１９】
なお、上述では、画像の拡大率に応じてサブ領域のサイズを決定したが、それに代えて又はそれとともに、画像の拡大率に応じて２次微分フィルタのフィルタサイズＮ×Ｍを変更するようにしても良い。例えば、図５に示すように、再構成ＦＯＶ（拡大率）と２次微分フィルタのフィルタサイズＮ×Ｍとの適当な対応を予め決定し、再構成ＦＯＶ／フィルタサイズ対応表記憶部１１９に記憶させておく。エッジ強度算出処理にあたっては、フィルタリング制御部１１７の制御のもとで、予め再構成条件として設定されている再構成ＦＯＶに対応するフィルタサイズがその記憶部１１９から選択的にエッジ強度算出部１２０に選択的に読み出される。図５の例では、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）が２５６ｍｍ（２倍）までがフィルタサイズが３×３に設定され、２５６ｍｍ（２倍）から１２８ｍｍ（４倍）までがフィルタサイズが５×５に設定され、１２８ｍｍ（４倍）を超過したときフィルタサイズは７×７に設定されるように３段階で示しているが、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）が高くなるに応じてフィルタサイズが大きくなる対応関係である限りにおいて、再構成ＦＯＶ（画像拡大率）に対するフィルタサイズの対応は図５の例に限定されるものではない。
【００２０】
次に、計算されたエッジ強度IE(i,j)に基づき、ガウシアンフィルタを構成する各フィルタ要素が算出される。ガウシアンフィルタは、
【数４】
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【００２１】
として表され、フィルタパラメータσによって、平滑化の度合いを制御することができる。フィルタパラメータσは０より大きく、１以下の範囲から選択され、０に接近するほど、平滑化の度合いは低くなる。よって、図６に示すように、エッジ強度IEが高くなるほどフィルタパラメータσが０に接近して平滑化の度合いが小さくなり、逆に鮮鋭化の度合いが大きくなるような特性をもつ関数σ＝f（IE）を設定することで、エッジ部分の信号を鈍らせること無く、平坦部のノイズを平滑化により低減することができる。図６に示すように、関数σ＝f（IE）を再構成ＦＯＶ（画像の拡大率）の相違に応じてここでは３種類用意して、記憶部１２１に記憶する。フィルタ要素の算出処理にあたっては、フィルタリング制御部１１７の制御のもとで、予め再構成条件として設定されている再構成ＦＯＶと、計算したエッジ強度とに対応するフィルタパラメータσが画素ごとに記憶部１２１から選択的にフィルタ要素計算部１２３に選択的に読み出される。フィルタ要素計算部１２３では、フィルタパラメータσに基づいて式（３）の各フィルタ要素が計算される。計算されたフィルタ要素からなるガウシアンフィルタによりＸ線ＣＴ画像がフィルタ処理に供される。なお、上述では、フィルタパラメータσが再構成ＦＯＶと計算したエッジ強度とに対して対応付けられて記憶されているが、再構成ＦＯＶは頭部、胸部、腹部等の部位に応じてほぼ決まることから、フィルタパラメータσが頭部、胸部、腹部等の部位と計算したエッジ強度とに対して対応付けられて記憶されるようにしてもよい。
【００２２】
上述では、再構成条件の画像拡大率に対してサブ領域のサイズ、フィルタサイズ、フィルタパラメータを対応付けるようにしたが、再構成条件の画像拡大率に代えて、スキャン条件の管電圧、スキャン条件の管電流、スキャン条件の撮影スライス厚、スキャン条件の撮影スライスピッチ、スキャン条件のヘリカルピッチ、再構成条件の再構成関数、再構成条件の画像スライス厚、または再構成条件の画像スライスピッチに対してサブ領域のサイズ、フィルタサイズ、フィルタパラメータを対応付けるようにしてもよい。
【００２３】
なお、撮像時の管電圧や撮像部位等により、画像のノイズ強度が変わる。それにより平坦部分でもエッジ強度が高くなるため、ノイズ強度が大きくなっているにも関わらず、ノイズ低減効果が低くなるため画質が改善されにくくなるという問題が生じる。そこで、２次微分フィルタでエッジ強度を計算する前に、ノイズ強度に比例した平滑化効果を有するフィルタにより、ノイズを低減した後、２次微分フィルタを実行することで、ノイズによる影響を軽減することができる。ノイズ強度の計算方法は従来からあるノイズ強度計算方法から任意の方法を選択的に採用すれば良い。上記は、平滑化フィルタと２次微分フィルタを順番に処理してもよいし、平滑化フィルタと２次微分フィルタとの効果を併せ持つ１個のフィルタにより1回で処理することも可能である。
【００２４】
また、エッジ強度の大きい画像では、ガウシアンフィルタの平滑化効果を高めなくては、ノイズが低減されず画質が改善されない。よって、エッジＩEからガウシアンフィルタのパラメータσを算出する関数σ＝f(IE)は、ノイズ強度cも考慮した関数σ＝f’(IE,c)とし、ノイズ強度cが大きくなるほどσが大きくなる特性を与えるようにしても良い。つまり、フィルタパラメータσがエッジ強度とノイズ強度とに対応付けられて記憶され、フィルタ要素の算出に際しては、エッジ強度とノイズ強度とに対応するフィルタパラメータσが記憶部１２１から選択的にフィルタ要素計算部１２３に選択的に読み出される。
【００２５】
以上、画像を平滑化するガウシアンフィルタへの適用例を述べたが、画像の先鋭化するウェーブレットフィルタであるMRAフィルタにも適用可能である。図７に示すとおり、MRAでは、画像を低周波成分と高周波成分とに分解し、その低周波成分をさらに低周波成分と高周波成分とに分解し、その分解を階層的にｎレベルまで繰り返し、各レベルの高周波成分に対してそのレベルに応じてゲインをかけ、各レベルの低周波成分はそのまま維持して、合成処理することによりエッジを強調する鮮鋭化処理を行う。
【００２６】
画像のエッジを保持しながら、ノイズを除去するフィルタを構成する場合、図８（ａ）、図８（ｂ）に示すとおり、低周波成分はそのまま通過させ、所定の分解レベルＬ未満では、強度があるしきい値th未満の高周波成分は除去し、しきい値th以上の高周波成分はゲインを与えてエッジとして通過するような非線形処理を行う。スキャン条件又は画像の拡大率等の再構成条件に応じて分解レベルＬを変更し、またノイズ強度に応じてしきい値thを変更することで、スキャン条件や再構成条件が変化した場合でも、一定のフィルタ効果を得ることができる。
【００２７】
以上、２次元画像についての説明したが、３次元以上の多次元画像についても同様に適用可能である。
【００２８】
（変形例）  
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の好ましい実施形態によるＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成図。
【図２】本実施形態の処理順序を示す図。
【図３】図１のエッジ強度算出部によるサブ領域の補足図。
【図４】図１の記憶部１１８に記憶された再構成ＦＯＶ／サブ領域サイズ対応表を例示する図。
【図５】図１の記憶部１１９に記憶された再構成ＦＯＶ／フィルタサイズ対応表を例示する図。
【図６】図１の記憶部１２１に記憶されたエッジ強度／フィルタパラメータ対応表を例示する図。
【図７】本発明の他の実施形態によるＸ線コンピュータ断層撮影装置のフィルタ部（鮮鋭化フィルタ）の構成例を示す図。
【図８】図７のフィルタ特性を示す図。
【符号の説明】
【００３０】
１０１…Ｘ線管、１０２…回転フレーム、１０３…２次元検出器、１０４…ＤＡＳ、１０５…非接触データ電装装置、１０６…前処理装置、１０７…架台駆動部、１０８…スリップリング、１０９…高電圧発生装置、１１０…ホストコントローラ、１１２…記憶装置、１１４…再構成装置、１１５…入力装置、１１６…表示装置、１１７…フィルタリング制御部、１１８…再構成ＦＯＶ／サブ領域サイズ対応表記憶部、１１９…再構成ＦＯＶ／フィルタサイズ対応表記憶部、１２０…エッジ強度算出部、１２１…エッジ強度／フィルタパラメータ対応表記憶部、１２２…ガウシアンフィルタ処理部、１２３…フィルタ要素算出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2005160544.tif 000011
【図６】
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【図７】
2005160544.tif 000013
【図８】
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