(57)【要約】【課題】  赤外線温度センサを備えたものにおいて、コストの上昇を抑えつつ信頼性を高める。【解決手段】  センサ用メモリ１６に記憶された補正用データのうち、検出温度に対する影響度が大きい重要補正用データを制御用外部メモリ２１に書き込み、異常判断手段１９がセンサ用メモリ１６に記憶された補正用データを異常と判断した場合に、センサ用メモリ１６に記憶された重要補正用データと制御用外部メモリ２１に記憶された重要補正用データとを比較し、両者が一致した場合には、その主要データと制御用メモリ２０に記憶された非重要補正用データを用いて被調理物の温度を求め、両者が異なる場合には、赤外線温度センサ１１を用いた調理の実行を禁止し、故障報知処理を実行する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被調理物を収容する加熱室と、
前記被調理物に対しマイクロ波を供給して加熱するマイクロ波供給手段と、
前記被調理物の温度を赤外線を用いて測定する赤外線センサ素子およびこの赤外線センサ素子の測定データを補正するための補正用データを記憶した不揮発性のセンサ用メモリを有した赤外線温度センサと、
前記マイクロ波供給手段を制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記センサ用メモリに記憶された補正用データが異常であるか否かを判断するデータ異常判断手段および前記補正用データに対する標準値データが記憶された不揮発性の制御用メモリを備え、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合には、前記赤外線センサ素子の測定データと前記制御用メモリに記憶された標準値データに基づいて前記被調理物の温度を求め、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを正常と判断した場合には、前記赤外線センサ素子の測定データと前記センサ用メモリに記憶された補正用データに基づいて前記被調理物の温度を求めることを特徴とする電子レンジ。
【請求項２】
前記センサ用メモリには、前記補正用データとともにその補正用データの書き替わりの有無を検出可能なチェックデータが記憶されており、
前記データ異常判断手段は、前記センサ用メモリから前記補正用データとともに前記チェックデータを読み出し、そのチェックデータに基づいてその読み出した補正用データが異常であるか否かを判断することを特徴とする請求項１記載の電子レンジ。
【請求項３】
前記制御手段に対して、データの読み出しおよび書き込みが可能な不揮発性の制御用外部メモリが設けられ、
前記制御手段は、前記センサ用メモリに記憶された補正用データのうち少なくとも、検出温度に対する影響度が大きい主要データを前記制御用外部メモリに書き込み、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合に、前記センサ用メモリに記憶された主要データと前記制御用外部メモリに記憶された主要データとを比較し、両者が一致した場合には、その主要データと前記制御用メモリに記憶された標準値データのうちの非主要データを用いて前記被調理物の温度を求めることを特徴とする請求項１または２記載の電子レンジ。
【請求項４】
前記制御手段は、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合に、前記センサ用メモリに記憶された主要データと前記制御用外部メモリに記憶された主要データとを比較し、両者が異なる場合には、前記赤外線温度センサを用いた調理の実行を禁止し、故障報知処理を実行することを特徴とする請求項３記載の電子レンジ。
【請求項５】
操作入力手段を備え、
前記制御手段は、前記操作入力手段に対し所定の操作が行われたことを条件として、前記センサ用メモリに記憶された補正用データを前記制御用外部メモリに書き込むことを特徴とする請求項３または４記載の電子レンジ。
【請求項６】
前記制御手段は、前記センサ用メモリに記憶された補正用データを前記制御用外部メモリに書き込む際に、前記データ異常判断手段が当該補正用データを異常と判断した場合には書き込みを中止し、故障報知処理を実行することを特徴とする請求項３ないし５の何れかに記載の電子レンジ。
【請求項７】
調理の設定条件や調理の進行状況を表示する表示手段と操作入力手段とを備え、
前記制御手段は、前記操作入力手段に対し所定の操作が行われたことを条件として、前記センサ用メモリに記憶されたデータおよび前記制御用外部メモリに記憶されたデータを前記表示手段に表示することを特徴とする請求項３または４記載の電子レンジ。
【請求項８】
調理の設定条件や調理の進行状況を表示する表示手段と操作入力手段とを備え、
前記制御手段は、前記操作入力手段に対し所定の操作が行われたことを条件として、前記データ異常判断手段の判断結果を前記表示手段に表示することを特徴とする請求項３または４記載の電子レンジ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被調理物の温度を測定する赤外線温度センサを備えた電子レンジに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子レンジにおいては、加熱室内に収容された被調理物の温度を測定する赤外線センサ素子を有する赤外線温度センサを設け、この赤外線温度センサにより被調理物の温度を測定し加熱制御する構成としたものがある。赤外線センサ素子は、製造する上で特性にばらつきが生じるため、正確な温度を測定するために、赤外線センサ素子の測定データを補正するための固有の補正用データを記憶した不揮発性のセンサ用メモリを組み込んだものが使われている。
【０００３】
特許文献１には、制御手段に対し不揮発性の制御用外部メモリを設け、センサ用メモリに記憶された補正用データを上記制御用外部メモリに書き込んで保存する構成が示されている。この構成によれば、赤外線センサ素子に関する補正用データは、赤外線温度センサのセンサ用メモリと制御用外部メモリの両者に保存されることになるので、信頼性を高めることができる。
【特許文献１】特開２００１−３４９５４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、電子レンジにおいて、制御手段例えばワンチップマイコンに対して外付けされる不揮発性の制御用外部メモリは、コストを低減するために例えばシリアルＥＥＰＲＯＭなどの記憶容量の小さいものを用いることが多い。この制御用外部メモリには、他の制御に係るデータも記憶されるため、赤外線温度センサ特に素子数の多いものを使用すると、その補正用データの記憶領域が不足する場合が生じる。これに対しては記憶容量の大きい制御用外部メモリを用いればよいが、コストが上昇するため、家電機器である電子レンジにおいては採用し辛いという事情がある。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、赤外線温度センサを備えたものにおいて、コストの上昇を抑えつつ信頼性を高めることができる電子レンジを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、
被調理物を収容する加熱室と、
前記被調理物に対しマイクロ波を供給して加熱するマイクロ波供給手段と、
前記被調理物の温度を赤外線を用いて測定する赤外線センサ素子およびこの赤外線センサ素子の測定データを補正するための補正用データを記憶した不揮発性のセンサ用メモリを有した赤外線温度センサと、
前記マイクロ波供給手段を制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記センサ用メモリに記憶された補正用データが異常であるか否かを判断するデータ異常判断手段および前記補正用データに対する標準値データが記憶された不揮発性の制御用メモリを備え、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合には、前記赤外線センサ素子の測定データと前記制御用メモリに記憶された標準値データに基づいて前記被調理物の温度を求め、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを正常と判断した場合には、前記赤外線センサ素子の測定データと前記センサ用メモリに記憶された補正用データに基づいて前記被調理物の温度を求めることを特徴としている。
【０００７】
この構成によれば、制御手段は、センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合でも、その補正用データの代わりに制御手段に設けられた不揮発性の制御用メモリに記憶された標準値データを用いて被調理物の温度を求めることができる。標準値データを用いると、赤外線温度センサごとにばらつく補正用データと一定の標準値データとのずれに起因して検出温度に誤差が生じる場合もあるが、調理の種類によっては十分に実用可能となり得る。
【０００８】
さらに、請求項３、４の発明は、前記制御手段に対して、データの読み出しおよび書き込みが可能な不揮発性の制御用外部メモリを設け、
前記制御手段は、前記センサ用メモリに記憶された補正用データのうち少なくとも、検出温度に対する影響度が大きい主要データを前記制御用外部メモリに書き込み、前記データ異常判断手段が前記センサ用メモリに記憶された補正用データを異常と判断した場合に、前記センサ用メモリに記憶された主要データと前記制御用外部メモリに記憶された主要データとを比較し、両者が一致した場合には、その主要データと前記制御用メモリに記憶された標準値データのうちの非主要データを用いて前記被調理物の温度を求め、両者が異なる場合には、前記赤外線温度センサを用いた調理の実行を禁止し、故障報知処理を実行することを特徴としている。
【０００９】
この構成によれば、補正用データの中でも赤外線温度センサごとのばらつきが大きいため標準値データを用いたのでは検出温度の誤差が大きくなるデータ、あるいは補正用データの中でも検出温度に対する補正効果が大きく現れるため標準値データを用いたのでは検出温度の誤差が大きくなるデータ、すなわち検出温度に対する影響度が大きい主要データを制御用外部メモリに書き込んでおき、その主要データが正常の場合に限り、その主要データと制御用メモリに記憶された標準値データのうちの非主要データを用いて被調理物の温度を求める。これにより、測定温度に対する信頼性を一層高めることができる。
【発明の効果】
【００１０】
センサ用メモリに記憶された補正用データが異常の場合であっても被調理物の温度を求めることができるので、電子レンジの信頼性を高めることができる。また、補正用データに代替して用いられる標準値データは一定値であるため、制御手段に設けられた不揮発性の制御用メモリ（一般に記憶容量が大きく低コスト）に予め記憶しておくことができ、制御用外部メモリに記憶する場合と比較してコストを下げることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の一実施形態について図面を参照しながら説明する。
まず、電子レンジの外観を示す図２において、外箱１の内部に、被調理物を収容する加熱室２が形成されている。外箱１の前部には、加熱室２の前面開口部を開閉する扉３が回動可能に設けられており、加熱室２の右横に位置して操作パネル４が設けられている。この操作パネル４には、調理方法、調理温度、調理時間などを設定するための複数のスイッチ５（操作入力手段に相当）および表示部６（表示手段に相当）が設けられている。各スイッチ５はそれぞれキーにより操作されるようになっており、そのキーには機能に応じて「あたためスタート」、「お好み」、「レンジ」、「取消」、「熱風」、「対流」、「グリル」などの文字が表示されている。
【００１２】
上記加熱室２の底部には、ターンテーブル用モータ７（図１参照）により回転されるターンテーブル８が設けられている。上記操作パネル４の後方には機械室（図示せず）が形成されており、この機械室にはマイクロ波供給手段を構成するマグネトロン９（図１参照）が配設されている。このマグネトロン９は、レンジ調理の際に、加熱室２に収容された被調理物に対してマイクロ波を放射し加熱するためのものである。また、加熱室２の天井部には、オーブンおよびグリル調理用のヒータ１０（図１参照）が配設されている。
【００１３】
図３は、赤外線温度センサ１１の温度測定領域を示す斜視図である。赤外線温度センサ１１は、加熱室２内のターンテーブル８上に載置された被調理物１２の温度を、加熱室２の壁面に形成された開口部（図示せず）を通して測定できる位置、本実施形態では加熱室２の右斜め上方に配置されている。調理中は、赤外線温度センサ１１を左右に回転させることにより、その温度測定領域１５が加熱室２内のほぼ全域に及ぶようになっている。
【００１４】
この赤外線温度センサ１１は、被調理物１２などから発する赤外線を検出する８個のサーモパイル１３（赤外線センサ素子に相当）と、センサ自身の温度を測定する１個のサーモパイル１４（赤外線センサ素子に相当）とを備えている（図１参照）。このうち被調理物１２の温度を測定するための８個のサーモパイル１３は、図３に示すように、その温度測定領域１５がターンテーブル８の径方向に沿うように配置されており、ターンテーブル８の全面部分の温度を測定できる構成となっている。
【００１５】
赤外線温度センサ１１には、図１に示すように、不揮発性メモリ例えばＥＥＰＲＯＭからなるセンサ用メモリ１６が設けられている。赤外線温度センサ１１により測定される温度は、ステファン・ボルツマンの式に基づいて、サーモパイル１３の出力電圧とセンサ自身の温度とから求めることができる。しかしながら、サーモパイル１３、１４の出力電圧は、その感度のばらつきにより大きく変わる上、センサ自身の温度も補正しないと正確には求まらない。そこで、赤外線温度センサ１１の製造時において、各サーモパイル１３、１４の感度およびオフセットを測定し、それらの測定データに基づく補正用データを上記センサ用メモリ１６に書き込んでいる。
【００１６】
図４は、センサ用メモリ１６の記憶内容を示している。この図４において、温度補償センサとあるのは、センサ自身の温度を測定するためのサーモパイル１４のことである。アドレス３と４には、それぞれ温度補償センサ（サーモパイル１４）の感度とオフセットが記憶されている。アドレス５と６には、センサ感度すなわち８個の赤外線センサ素子（サーモパイル１３）の平均感度が記憶されている。アドレス７から１４には、８個の各赤外線センサ素子（サーモパイル１３）の素子感度、ここでは各サーモパイル１３の感度と上記センサ感度とのずれが記憶されている。アドレス２３から３０には、８個の各赤外線センサ素子（サーモパイル１３）のオフセットが記憶されている。ここで、オフセットとは、絶対値として表わした出力電圧の上下方向のずれをいう。
【００１７】
以上の補正用データの他に、センサ用メモリ１６のアドレス４１、４６、４７には、製造データすなわちロット番号、製造日（週）、製造日（年）が記憶されている。さらに、アドレス２には、センサ用メモリ１６内に書き込まれた補正用データの排他的論理和（ＥＸＯＲ）の値がチェックサム（チェックデータに相当）として記憶されている。このチェックサムを用いると、センサ用メモリ１６内に書き込まれた補正用データが書き替わったかどうか、つまり正常か異常かを容易に検出することができる。
【００１８】
図４に示す重要度とは、各補正用データの温度測定に対する影響度の大小を示している。影響度が大つまり重要度の高い補正用データ（主要データに相当：以下重要補正用データと称す）とは、赤外線温度センサ１１ごとのばらつきが大きいため標準値データ（後述）を用いたのでは検出温度の誤差が大きくなるデータ、または補正用データの真値からのずれによって検出温度に誤差が大きく現れるため標準値データを用いたのでは検出温度の誤差が大きくなるデータをいい、重要度の欄に○印を付して示している。
【００１９】
これに対し、影響度が小つまり重要度の低い補正用データ（非主要データに相当：以下非重要補正用データと称す）とは、赤外線温度センサ１１ごとのばらつきが小さいため標準値データを用いても検出温度の誤差が小さくなるデータ、または補正用データの真値からのずれが検出温度の誤差として現れにくいデータをいい、重要度の欄に×印を付して示している。チェックサムと製造データは、重要度の評価に関係しないものなので、重要度の欄に−印を付して示している。
【００２０】
図１は、電子レンジの電気的構成を示す機能ブロック図である。この図１において、ワンチップのマイクロコンピュータ１７（制御手段に相当）は、電子レンジの運転全般を制御するもので、上記操作パネル４の裏側に配置されたプリント基板（図示せず）上に配設されている。このマイクロコンピュータ１７は、ＣＰＵにより実行される機能として温度算出手段１８と異常判断手段１９（データ異常判断手段に相当）とを備えている。
【００２１】
温度算出手段１８は、サーモパイル１３から測定データを入力してオフセット補正および感度補正を行い、被調理物１２の温度を求める処理を実行するものである。また、異常判断手段１９は、センサ用メモリ１６に記憶されたチェックサムを読み出して、そのチェックサムに基づいてセンサ用メモリ１６に記憶された補正用データが異常であるか否かを判断する処理を実行するものである。
【００２２】
ＣＰＵは、マイクロコンピュータ１７に内蔵された不揮発性メモリ例えばＲＯＭからなる制御用メモリ２０から制御プログラムを読み出して実行するようになっている。この制御用メモリ２０には、制御プログラムの他に、上記赤外線温度センサ１１の補正用データに対する標準値データも記憶されている。図５は、制御用メモリ２０の記憶内容の一部を示している。アドレス０から７およびアドレス８から１５には、それぞれ８個のサーモパイル１３の素子感度標準値および素子オフセット標準値が記憶されている。ここで、素子感度標準値とは、各サーモパイル１３の感度と平均感度とのずれの標準値であり、素子オフセット標準値は、各サーモパイル１３のオフセットの標準値である。これらの標準値は、過去に生産された赤外線温度センサ１１の補正用データから統計的に求められた値である。
【００２３】
さらに、上記プリント基板には、マイクロコンピュータ１７の外付け部品として、データの読み出しおよび書き込みが可能な不揮発性のメモリ例えばシリアルＥＥＰＲＯＭからなる制御用外部メモリ２１が配設されている。この制御用外部メモリ２１は、レンジ調理とオーブン調理の各使用回数および各使用時間のデータなどを記憶するために必要とされるものである。本実施形態では、この制御用外部メモリ２１の記憶領域の空き領域に、上記センサ用メモリ１６に記憶された補正用データのうち重要補正用データが書き込まれる。図６は、制御用外部メモリ２１の記憶内容の一部を示している。制御用外部メモリ２１のアドレス０、１、２、３、４は、それぞれセンサ用メモリ１６のアドレス２、３、４、５、６に記憶されたデータの書き込み領域として確保されている。
【００２４】
図１に示すように、マイクロコンピュータ１７には、各スイッチ５の操作信号が入力されるようになっている。マイクロコンピュータ１７は、各スイッチ５の操作信号および各サーモパイル１３、１４の測定データを入力として制御プログラムを実行し、マグネトロン駆動回路２２、ヒータ駆動回路２３およびターンテーブル駆動回路２４を介して、マグネトロン９、ヒータ１０およびターンテーブル用モータ７を制御するようになっている。また、マイクロコンピュータ１７は、調理の設定条件、調理の進行状態、センサ用メモリ１６に記憶されているデータ、制御用外部メモリ２１に記憶されたデータ、異常判断手段１９の判断結果などの表示部６への表示制御を行うとともに、異常判断手段１９の判断結果に応じてブザー２５による報知音の出力制御を実行するようになっている。
【００２５】
次に、本実施形態の作用について図７ないし図１０も参照しながら説明する。
まず、電子レンジの製造工程において、プリント基板には、マイクロコンピュータ１７とデータの書き込まれていない制御用外部メモリ２１およびその他の部品が取り付けられる。マイクロコンピュータ１７に内蔵される制御用メモリ２０はマスクＲＯＭとして構成されている。この制御用メモリ２０には、制御プログラムと、赤外線温度センサ１１を構成する８個のサーモパイル１３の素子感度標準値および素子オフセット標準値（図５参照）とが書き込まれている。また、赤外線温度センサ１１のセンサ用メモリ１６には、上述したようにチェックサム、補正用データおよび製造データが書き込まれている（図４参照）。
【００２６】
製造工程後の検査工程において、電子レンジの電源プラグを図示しない商用電源のコンセントに差し込むと、制御電源が供給されてマイクロコンピュータ１７がリセット状態から動作状態に移行する。この状態で、操作パネル４に設けられた「お好み」キーと「グリル」キーとが同時に且つ所定時間以上継続して押されると、マイクロコンピュータ１７は、図７に示す初期設定処理を開始する。
【００２７】
すなわち、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データ（アドレス３〜１４、２３〜３０）とチェックサム（アドレス２）を読み出し（ステップＴ１）、読み出した補正用データの排他的論理和（ＥＸＯＲ）によるチェックサムを演算する（ステップＴ２）。ステップＴ３において、読み出したチェックサムと、読み出した補正用データを基に演算したチェックサムとが一致するかどうかを判断する。
【００２８】
ここで一致する（ＹＥＳ）と判断すると、ステップＴ４に移行し、読み出した補正用データのうち重要度の高いデータすなわち温度補償センサ感度、温度補償センサオフセットおよびセンサ感度の各重要補正用データ並びにチェックサムを制御用外部メモリ２１に書き込んで初期設定処理を終了する。一方、ステップＴ４で一致しない（ＮＯ）と判断すると、ステップＴ５に移行し、表示部６にエラー表示をする（図９（ｂ）参照）とともにブザー２５からエラー報知音を出力する故障報知処理を実行して初期設定処理を終了する。この初期設定処理を実行することにより、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データに異常がある電子レンジを出荷前に排除することができる。
【００２９】
図８は、電子レンジが調理を開始する時にマイクロコンピュータ１７が実行する処理を示すフローチャートである。赤外線温度センサ１１は、機械室等に設置されているとともに操作パネル４の裏側に設置されたプリント基板と配線により接続されているため、電気ノイズによってセンサ用メモリ１６に書き込まれたデータが書き替わる虞がある。そこで、データの書き替わりが生じたか否かを判断し、その判断結果に応じて適切な方法で温度を検出しあるいはエラーを報知する必要がある。
【００３０】
ユーザがキー操作により種々の調理モードを設定した後「あたためスタート」キーを押すと、マイクロコンピュータ１７は、異常判定手段１９の機能として、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データ（アドレス３〜１４、２３〜３０）とチェックサム（アドレス２）を読み出す（ステップＳ１）とともに、制御用外部メモリ２１に記憶された重要補正用データ（アドレス１〜４）とチェックサム（アドレス０）を読み出す（ステップＳ２）。続いて、センサ用メモリ１６から読み出した補正用データの排他的論理和（ＥＸＯＲ）によるチェックサムを演算する（ステップＳ３）。
【００３１】
ステップＳ４において、センサ用メモリ１６から読み出したチェックサムと、センサ用メモリ１６から読み出した補正用データを基に演算したチェックサムとが一致するかどうかを判断する。ここで一致する（ＹＥＳ）と判断すると、ステップＳ５に移行し、マイクロコンピュータ１７は、温度算出手段１８の機能として、センサ用メモリ１６から読み出した補正用データとサーモパイル１３、１４からの測定データに基づいて被調理物１２の温度を求める。
【００３２】
一方、ステップＳ４において一致しない（ＮＯ）と判断すると、さらに異常判定手段１９の機能としてステップＳ６に移行し、センサ用メモリ１６から読み出した補正用データのうちの重要補正用データと制御用外部メモリ２１から読み出した重要補正用データとが一致するかどうかを判断する。ここで一致する（ＹＥＳ）と判断すると、ステップＳ７に移行し、制御用メモリ２０から素子感度標準値および素子オフセット標準値を読み出す。そして、ステップＳ８において、温度算出手段１８の機能として、センサ用メモリ１６から読み出した重要補正用データ、制御用メモリ２０から読み出した素子感度標準値と素子オフセット標準値、およびサーモパイル１３、１４からの測定データに基づいて被調理物１２の温度を求める。
【００３３】
これに対し、ステップＳ６において一致しない（ＮＯ）と判断すると、ステップＳ９に移行し、赤外線温度センサ１１を用いた調理モードが設定されている場合に調理の実行を中止するとともに故障報知処理を実行する。ここで、故障報知処理とは、表示部６に「ＥＥＥ」とエラー表示をし（図９（ｂ）参照）、ブザー２５からエラー報知音を出力する処理である。
【００３４】
さらに、マイクロコンピュータ１７は、操作パネル４に設けられた「お好み」キーと「対流」キーとが同時に且つ所定時間以上継続して押されると、異常判定手段１９による判断結果を表示部６に表示する。すなわち、ステップＳ４で「ＹＥＳ」と判断した場合には、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データは全て正常であるため、表示部６に図９（ａ）のように「０００」と表示する。一方、ステップＳ４で「ＮＯ」と判断した場合には、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データの何れかが異常であるため、表示部６に図９（ｂ）のように「ＥＥＥ」と表示する。この機能を用いると、非重要補正用データが異常の場合も含めて、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データの異常の有無を容易に確認することができる。
【００３５】
また、マイクロコンピュータ１７は、操作パネル４に設けられた「お好み」キーと「熱風」キーとが同時に且つ所定時間以上継続して押されると、センサ用メモリ１６に記憶されたデータおよび制御用外部メモリ２１に記憶されたデータを表示部６に表示する。図１０は表示部６の表示状態を示している。（ａ）は、表示部６の全ての表示文字と表示記号を表示させたときの表示状態を示しており、（ｂ）は、通常の待機中の表示状態を示している。また、（ｃ）は、上記メモリデータの表示状態を示している。
【００３６】
図１０（ｃ）において、下の数字はアドレス、上の数字はそのアドレスに記憶されているデータを示している。このデータ表示モードでは、「あたためスタート」キーが押されるごとに、センサ用メモリ１６のアドレス２、３、４、…、４７のデータが順次表示され、続いて制御用外部メモリ２１のアドレス０、１、２、…のデータが順次表示される。この機能を用いると、メモリに記憶されているデータを容易に確認することができる。また、異常となったデータ値の確認、異常になり易いメモリやアドレスの統計的調査などを容易に行うことができる。
【００３７】
以上説明した本実施形態によれば、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データに書き替わりが生じた場合には、制御用メモリ２０に記憶された標準値データを用いて温度を求める。ただし、重要補正用データに異常がある場合には、標準値データを代用して得た温度の誤差は比較的大きく、赤外線温度センサ１１を用いた調理に支障が生じる虞があるため調理を禁止する。これにより、検出温度の精度低下による調理の不出来を未然に防止することができる。
【００３８】
一方、非重要補正用データに異常がある場合には、標準値データを代用して得た温度の誤差は小さいため、その検出温度を用いて調理をすることができる。つまり、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データが異常の場合であっても、その異常が重要補正用データの異常でない限り被調理物１２の温度をほぼ正しく求めることができるので、解凍調理なども含めて電子レンジを継続して使用し続けることができ、電子レンジの信頼性を高めることができる。
【００３９】
補正用データに代替して用いられる標準値データは一定値であるため、不揮発性の制御用メモリ２０に予め記憶しておくことができる。制御用メモリ２０（マスクＲＯＭ）は、主に制御プログラムを格納するためのメモリであり、記憶容量が大きく低コストで、通常は制御プログラムを格納しても若干の空き領域が存在している。このため、標準値データを記憶するために別途メモリを設ける必要がなく、コストアップが発生しない。
【００４０】
また、補正用データを統計的に調べることにより、センサ感度（赤外線センサ素子の平均感度）のように赤外線温度センサ１１ごとに大きくばらつくものと、素子感度（赤外線センサ素子の感度とセンサ感度とのずれ）のように赤外線温度センサ１１ごとのばらつきが小さいものとに分けられることが明らかになった。後者の補正用データの場合には、統計的に求めた標準値データを用いても、被調理物１２の検出温度への影響は小さくなる。
【００４１】
そこで、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データのうち重要補正用データとチェックサムのみをバックアップのために制御用外部メモリ２１に書き込むようにした。これにより、従来構成のように全ての補正用データを制御用外部メモリ２１に書き込む構成と比較して、制御用外部メモリ２１の記憶容量を低減でき、製造コストを下げることができる。
【００４２】
なお、本発明は上記し且つ図面に示す実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
上記実施形態では、センサ用メモリ１６に記憶された補正用データのうち重要補正用データとチェックサムのみを制御用外部メモリ２１に書き込む構成としたが、少なくとも重要補正用データを書き込む構成とすればよい。また、制御用外部メモリ２１の記憶領域に空きがあれば、非重要データを書き込んでもよい。この場合には、図８に示すステップＳ６において、センサ用メモリ１６から読み出した補正用データのうち、重要補正用データと制御用外部メモリ２１に書き込まれる非重要データについて一致するかどうかを判断すればよい。
【００４３】
上記実施形態においては、電源プラグを電源コンセントに差し込むことでマイクロコンピュータ１７に通電される構成となっているが、待機電力をゼロとしたものでは、電源プラグを電源コンセントに差し込んだ状態でもマイクロコンピュータ１７は断電状態とし、例えば扉３の開閉操作に伴いマイクロコンピュータ１７が通電され、自動的に図８に示す処理ルーチンがスタートする構成とすることもできる。
【００４４】
補正用データを重要補正用データと非重要補正用データとに分けることなく、制御用メモリ２０に全ての補正用データに対する標準値データを記憶させておき、異常判断手段１９がチェックサムを用いてセンサ用メモリ１６に記憶された補正用データを異常と判断した場合には、サーモパイル１３、１４の測定データと制御用メモリ２０に記憶された標準値データに基づいて被調理物１２の温度を求めるように構成してもよい。この構成であっても、上述した実施形態と比較して検出温度精度は下がるものの被調理物１２の温度を検出できるので、電子レンジの信頼性を高めることができる。また、制御用外部メモリ２１において補正用データの記憶領域が不要となるので、その分だけ小さい記憶容量のメモリを採用することができる。
【００４５】
チェックデータとしては、補正用データの論理和（ＡＤＤ）の値からなるチェックサムあるいはその他のチェック方法によるチェックデータを用いてもよい。
を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の一実施形態を示す電子レンジの電気的構成についての機能ブロック図
【図２】扉を開放した状態の外観斜視図
【図３】赤外線温度センサの温度測定領域を示す斜視図
【図４】センサ用メモリに記憶されたデータを示す図
【図５】制御用メモリに記憶されたデータを示す図
【図６】制御用外部メモリに記憶されたデータの一部を示す図
【図７】初期設定処理のフローチャート
【図８】調理を開始する時のフローチャート
【図９】表示部の表示例を示す図（その１）
【図１０】表示部の表示例を示す図（その２）
【符号の説明】
【００４７】
図面中、２は加熱室、５はスイッチ（操作入力手段）、６は表示部（表示手段）、９はマグネトロン（マイクロ波供給手段）、１１は赤外線温度センサ、１２は被調理物、１３、１４はサーモパイル（赤外線センサ素子）、１６はセンサ用メモリ、１７はマイクロコンピュータ（制御手段）、１９は異常判断手段（データ異常判断手段）、２０は制御用メモリ、２１は制御用外部メモリである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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