(57)【要約】【課題】  試験対象のマルチ波長ＬＤパッケージに対する試験所要時間を有効に短縮すること。【解決手段】  マルチ波長ＬＤパッケージに含まれる複数のＬＤチップにそれぞれ対応して電流駆動回路又は電流駆動制御回路を設け、これらの電流駆動回路又は電流駆動制御回路からの電流により作動させられたＬＤチップから放射される波長レーザ光を、分波手段を介して波長成分毎に分離し、これらの分離された波長成分の光出力をそれぞれ受光素子により検出し、これらの波長成分の光出力検出値に基づき、当該マルチ波長ＬＤパッケージにおける複数ｎのＬＤチップの動作特性を、同時的に、試験する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数ｎの個別波長の半導体レーザ（ＬＤ）チップを内蔵したマルチ波長ＬＤパッケージであって、該パッケージの外部リードを介して内蔵された複数ｎのＬＤチップに、それぞれ、電流駆動回路から出力される電流により作動した各ＬＤチップから放射される光出力を、当該パッケージの外部に配置した受光素子により検出して、各ＬＤチップの動作特性について試験する、マルチ波長ＬＤパッケージの試験装置において、
上記マルチ波長ＬＤパッケージに内蔵される複数ｎのＬＤチップに対応してｎ個の上記電流駆動回路を配置し、これらの電流駆動回路から上記マルチ波長ＬＤパッケージのリードを介して当該ＬＤパッケージに内蔵された全てのＬＤチップに、同時に、電流を加えて作動させる一方、
上記マルチ波長ＬＤパッケージの外部に分波手段を配置するとともに上記ｎ個の電流駆動回路に対応してｎ個の受光素子を配置し、上記分波手段により上記マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される全てのＬＤチップのレーザ光を波長毎に分割し、これらの波長毎に分割されたレーザ光出力をそれぞれ対応する受光素子により検出し、これらの受光素子によるレーザ光出力検出値に基づき、当該マルチ波長ＬＤパッケージ内の全てのＬＤチップの動作特性試験を、同時的に、実施することを特徴とする、マルチ波長ＬＤパッケージの試験装置。
【請求項２】
マルチ波長ＬＤパッケージの外部に配置される分波手段が当該マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される複数ｎのレーザ光軸上に配置したコリメートレンズと、該コリメートレンズの後方に縦列配置された（ｎ−１）段のハーフミラーと、これらのハーフミラーの反射光路に配置された（ｎ−１）個の光フィルタとにより構成され、更に、上記（ｎ−１）個の光フィルタのそれぞれ後方に配置された（ｎ−１）個の受光素子及び最後段のハーフミラーの透過光路に配置された受光素子からそれぞれ出力されるｎ個の検出値データを受け、これらの検出値に基づいて上記マルチ波長ＬＤパッケージにおける複数ｎのＬＤチップからそれぞれ射出された波長成分の光出力を算定するように構成した、請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
マルチ波長ＬＤパッケージの外部に配置される分波手段が、当該マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される複数ｎのレーザ光軸上に配置したコリメートレンズと、該コリメートレンズの後方に配置されたビームスプリッターとにより構成された、請求項１に記載の試験装置。
【請求項４】
複数ｎの個別波長の半導体レーザ（ＬＤ）チップを内蔵したマルチ波長ＬＤパッケージであって、該パッケージの外部リードを介して内蔵された複数ｎのＬＤチップに、それぞれ、電流駆動制御回路から出力される電流により作動した各ＬＤチップから放射される光出力を、当該パッケージの外部に配置した受光素子により検出し、上記受光素子による光出力検出値と、当該試験対象のマルチ波長ＬＤパッケージ内の各ＬＤチップに対して予め定められた光出力基準値との偏差に基づき、上記電流駆動制御回路をフィードバック補償することにより各ＬＤチップの光出力を一定に保持しながら駆動して各ＬＤチップの動作特性について試験する、マルチ波長ＬＤパッケージの試験装置において、
上記マルチ波長ＬＤパッケージに内蔵される複数ｎのＬＤチップに対応してｎ個の上記電流駆動制御回路を配置し、これらの電流駆動制御回路から上記マルチ波長ＬＤパッケージのリードを介して当該ＬＤパッケージに内蔵された全てのＬＤチップに、同時に、電流を加えて作動させる一方、
上記マルチ波長ＬＤパッケージの外部に分波手段を配置するとともに上記ｎ個の電流駆動制御回路に対応してｎ個の受光素子を配置し、上記分波手段により上記マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される全てのＬＤチップのレーザ光を波長毎に分割し、これらの波長毎に分割されたレーザ光出力をそれぞれ対応する受光素子により検出し、これらの受光素子によるレーザ光出力検出値をそれぞれ対応する電流駆動制御回路にフィードバックし、これらの電流駆動制御回路において、予め定められた光出力基準値と対応する受光素子によるレーザ光出力検出値との偏差に基づき、対応するＬＤチップからのレーザ光出力を一定に保持しながら駆動し、当該マルチ波長ＬＤパッケージ内の全てのＬＤチップの動作特性試験を、同時的に、実施することを特徴とする、マルチ波長ＬＤパッケージの試験装置。
【請求項５】
マルチ波長ＬＤパッケージの外部に配置される分波手段が当該マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される複数ｎのレーザ光軸上に配置したコリメートレンズと、該コリメートレンズの後方に縦列配置された（ｎ−１）段のハーフミラーと、これらのハーフミラーの反射光路に配置された（ｎ−１）個の光フィルタとにより構成され、更に、上記（ｎ−１）個の光フィルタのそれぞれ後方に配置された（ｎ−１）個の受光素子及び最後段のハーフミラーの透過光路に配置された受光素子からそれぞれ出力されるｎ個の検出値データを受け、これらの検出値に基づいて上記マルチ波長ＬＤパッケージにおける複数ｎのＬＤチップからそれぞれ射出された波長成分の光出力を算定し、これらの波長成分の光出力算定値を対応した電流駆動制御回路に転送する、演算増幅器を含む、請求項４に記載の試験装置。
【請求項６】
マルチ波長ＬＤパッケージの外部に配置される分波手段が、当該マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される複数ｎのレーザ光軸上に配置したコリメートレンズと、該コリメートレンズの後方に配置されたビームスプリッターとにより構成された、請求項４に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数波長の半導体レーザダイオード（ＬＤ）チップを内蔵したマルチ波長ＬＤパッケージの試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、複数種の光ディスク、代表的に、ＤＶＤ及びＣＤの２種類の光ディスクの記録用とか再生用のヘッドを具備した、いわゆる、マルチ光ディスク装置の光源として、当該光ディスクの種類に応じて、適当な波長、例えば、ＤＶＤ再生用として６５０ｎｍ、ＣＤ再生用として７８０ｎｍのレーザ光を放射する、２つのＬＤチップが含まれた、２波長ＬＤパッケージが市販されている。このような２波長ＬＤパッケージには、２つのディスクリートＬＤチップ、又は、２つのＬＤチップを一体化したモノリシックＬＤチップが使用される。上記２波長ＬＤパッケージとして、例えば、株式会社東芝製ＴＯＬＤ２００１が市販されている。
【０００３】
従来、短パルス電流等を用いてＬＤパッケージに含まれるＬＤチップを、その使用条件に見合わせて定めた一定の光出力を保持しながら駆動して該ＬＤチップの動作特性について試験するにあたり、図４に示されるように、誤差検出増幅器２とパルス電流発生回路３とにより構成された電流駆動制御回路４から出力されるパルス電流を試験対象のＬＤチップ６に加えて作動させ、その作動したＬＤチップ６から放射されるレーザ光出力が、受光素子７及び抵抗Ｒを用いて形成された光出力検出回路８と該光出力検出回路８からの光変調パルス強度を検出するパルス波高値検出回路９とにより検出され、上記パルス波高値検出回路９から出力された上記レーザ光出力強度を示す検出値信号が上記電流駆動制御回路４における誤差検出増幅器２の一方の入力にフィードバックされるとともに他方の入力に当該駆動対象のＬＤパッケージ６の使用条件又は作動条件に見合わせて設定された光出力基準値信号が入力され、該光出力基準値（光出力目標値）と上記光出力検出値との誤差又は偏差に基づき当該電流駆動制御回路４をフィードバック補償することにより、上記ＬＤチップ６の光出力を一定に保持して駆動する、いわゆる、定光出力制御（Automatic Power Control；ＡＰＣ）方式にて駆動しながら当該ＬＤチップの動作特性について試験する装置、特に、所定の期間、連続的に駆動した後に又はその駆動中に、定期的に動作特性の劣化等について試験する、いわゆる、エージング試験装置が知られている（例えば、特許文献１、２及び３参照）。
【０００４】
上記従来形式の試験装置を用いて上記マルチ波長ＬＤパッケージにおける各ＬＤチップ、特に、包装後におけるそれらの動作特性について試験する場合、当該装置における試料載置台（図示しない）に装入して固定されたマルチ波長ＬＤパッケージに含まれるＬＤチップ毎に、当該ＬＤチップと接続されたリード（図示しない）を介して電流駆動回路又は電流駆動制御回路から電流を加えて駆動することにより行われていた。
【０００５】
上記従来の試験装置においては、上述したように、試験対象のマルチ波長ＬＤパッケージにおけるＬＤチップに、逐次、電流を加えて駆動し、その動作特性についての試験が行われていた。このため、マルチ波長ＬＤパッケージにおける各ＬＤチップの光出力検出に基づいて行う試験、特に、エージング試験に長い時間を要し、１つのマルチ波長ＬＤパッケージに対する試験に掛かる所要時間が多大であるという問題点があった。
【０００６】
【特許文献１】特開平５−１９８８７７号公報
【特許文献２】特開２０００−１１４６５０号公報
【特許文献３】特開平２０００-３３２３４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
解決しようとする問題点又は目的は、試験対象のマルチ波長ＬＤパッケージに対する試験所要時間を大幅に短縮するとともに、当該試験装置における電流駆動回路又は電流駆動制御回路と試験対象との電気接続操作等を無くして、１つのマルチ波長ＬＤパッケージに対する試験所要時間を有効に短縮することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記問題点を解決する又は上記目的を達成するために、本発明は、試験対象のマルチ波長ＬＤパッケージに含まれる複数ｎのＬＤチップに対応してｎ個の電流駆動回路又は電流駆動制御回路を配置し、これらの電流駆動回路又は電流駆動制御回路から、上記マルチ波長ＬＤパッケージのリードを介して、当該ＬＤパッケージに含まれる全てのＬＤチップに、同時に、電流を供給して作動させる一方、上記マルチ波長ＬＤパッケージの外部に分波手段を配置するとともに上記ｎ個の電流駆動回路又は電流駆動制御回路に対応してｎ個の受光素子を配置し、上記分波手段により上記マルチ波長ＬＤパッケージの窓から射出される各ＬＤチップからのレーザ光を波長毎に分割し、これらの波長毎に分割されたレーザ光出力をそれぞれ対応する受光素子により検出し、これらの受光素子によるレーザ光出力検出値に基づいて当該マルチ波長ＬＤパッケージ内の全てのＬＤチップの動作特性試験を、同時的に、実施可能とした。
【発明の効果】
【０００９】
本発明においては、マルチ波長ＬＤパッケージに含まれる複数ｎのＬＤチップにそれぞれ対応して電流駆動回路又は電流駆動制御回路を設け、これらの電流駆動回路又は電流駆動制御回路からの電流により駆動させられたｎ個のＬＤチップから放射される複数ｎ種の波長レーザ光を、分波手段を介して波長成分毎に分離し、これらの分離された波長成分の光出力をそれぞれ受光素子により検出し、各波長成分の光出力検出値に基づき、当該マルチ波長ＬＤパッケージにおけるｎ個のＬＤチップについての動作特性に関して同時的に試験するようにしたから、従来形式の試験装置におけるよりも、試験所要時間を、実質的に、１／ｎに低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
次に、本発明を説明するにあたり、明瞭化のため、２種類の波長レーザ光を出射する、いわゆる、２波長ＬＤパッケージの試験装置、特に、当該２波長ＬＤパッケージにおける２つのＬＤチップを定光出力制御しながら連続的に駆動して各ＬＤチップの動作特性についてエージング試験する装置の基本的構成を示す図１にしたがって説明する。
【００１１】
本発明の試験装置は、図１に示すように、試験対象の２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる、例えば、６５０ｎｍの第１波長ＬＤチップ１５及び７８０ｎｍの第２波長ＬＤチップ２５に対し、それぞれ、第１電流駆動制御回路１４、第２電流駆動制御回路２４から、同時的に、所定の波高値を有する矩形状の短パルス電流が加えられて作動する、すなわち、第１波長ＬＤチップ１５から波長６５０ｎｍのレーザ光が放射され、これと同時に、第２波長ＬＤチップ２５から波長７８０ｎｍのレーザ光が放射される。これらの波長レーザ光は、それぞれ、第１及び第２波長ＬＤチップの電流−光出力特性（Ｉ−Ｐ特性）にしたがって変調された光パルスとされる。これらの光変調パルスは、当該パッケージ１０の透光窓（図示しない）から射出される。なお、第１電流駆動制御回路１４及び第２電流駆動制御回路２４は、図４に示される従来形式の試験装置におけると同様、誤差検出増幅器（１２、２２）とパルス電流発生回路（１３、２３）とにより構成される。
【００１２】
上記２波長ＬＤパッケージ１０から放射されたレーザ光束は、コリメートレンズ３１と、第１ハーフミラー３２とにより形成された分波手段３０により半々に分割される。上記第１ハーフミラー３２を透過したレーザ光束、すなわち、第１波長ＬＤチップ１５からの６５０ｎｍ波長成分ＰＢ１と第２波長ＬＤチップ２５からの７８０ｎｍの波長成分ＰＢ２との合計光出力（ＰＢ１＋ＰＢ２）の半分に相当する光出力（１／２）×（ＰＢ１＋ＰＢ２）が、ＰＩＮフォトダイオードを用いた第１受光素子３６により検出され、該第１受光素子３６から出力される光−電気変換されたパルス電圧信号が、サンプルホールド回路を用いて形成された第１光出力検出回路３７に入力され、該第１光出力検出回路３７により上記第１波長ＬＤチップ１５と第２波長ＬＤチップ２５の光出力合計値が検出される。この第１光出力検出回路３７による検出値（ＰＢ１＋ＰＢ２）／２が演算回路４１に送られる。
【００１３】
一方、上記第１ハーフミラー３２により反射されたレーザ光束（ＰＢ１＋ＰＢ２）／２のうち、いずれか一方の波長成分、例えば、第１波長ＬＤチップ１５からの波長６５０ｎｍのレーザ光を遮断する、第１シャープカットフィルタ３３により遮断され、該フィルタ３３を通過したレーザ光束、すなわち、ＰＢ２／２が、第１受光素子３６と同様、ＰＩＮフォトダイオードを用いた第２受光素子３８により検出され、該第２受光素子３８から出力される光−電気変換されたパルス電圧信号が、サンプルホールド回路を用いて形成された第２光出力検出回路３９に入力され、該第２光出力検出回路３９により上記第２波長ＬＤチップ２５の光出力が検出される。この第２光出力検出回路３９による検出値ＰＢ２／２が上記演算回路４１に送られる。
【００１４】
上記演算回路４１において、第１光出力検出回路３７による検出値Ｄ１＝（ＰＢ１＋ＰＢ２）／２と第２光出力検出回路３９による検出値Ｄ２＝ＰＢ２／２とで演算；（Ｄ１−Ｄ２）×２＝ＰＢ１が行われる。この演算結果Ｃ＝ＰＢ１、すなわち、第１波長ＬＤチップ１５から放射される光出力検出値が第１電流駆動制御回路１４における誤差検出増幅器１２の一方の入力に送られる。また、上記演算回路４１において、第２光出力検出回路３９による検出値Ｄ２＝ＰＢ２／２を２倍にする掛け算；Ｄ２×２が行われ、その演算結果Ｂ＝Ｄ２×２＝ＰＢ２、すなわち、第２波長ＬＤチップ２５から放射される光出力検出値が第２電流駆動制御回路２４における誤差検出増幅器２２に送られる。
【００１５】
上記第１電流駆動制御回路１４における誤差検出増幅器１２において、当該２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる第１波長ＬＤチップ１５に見合わせて設定された第１光出力基準値と、上記演算回路４１からの入力Ｃ、すなわち、作動した第１波長ＬＤチップ１５からの光出力検出値との偏差又は誤差に基づき、当該第１電流駆動制御回路１４をフィードバック補償することにより、上記第１波長ＬＤチップ１５から放射される光出力が第１光出力基準値に保持されるように定光出力制御される。
【００１６】
上記第２電流駆動制御回路２４における誤差検出増幅器２２において、当該２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる第２波長ＬＤチップ２５に見合わせて設定された第２光出力基準値と、上記演算回路４１からの入力Ｂ、すなわち、作動した第２波長ＬＤチップ２５からの光出力検出値との偏差又は誤差に基づき、当該第２電流駆動制御回路２４をフィードバック補償することにより、上記第２波長ＬＤチップ２５から放射される光出力が第２光出力基準値に保持されるように定光出力制御される。
【００１７】
なお、上記分波手段３０は、２波長ＬＤパッケージ１０用のものであるが、３種類の波長レーザ光を射出する、すなわち、３つのＬＤチップを内蔵した３波長ＬＤパッケージ用の分波手段３００においては、図２に示すように、当該３波長ＬＤパッケージ（図示しない）の窓から射出される３本のレーザ光軸上に配置したコリメートレンズ３１と、該コリメートレンズ３１の後方に２段に縦列配置された、第１ハーフミラー３２及び第２ハーフミラー３４と、これらのハーフミラー３２、３４のそれぞれの反射光路に配置された２個の光フィルタ、即ち、第１シャープカットフィルタ３３及び第２シャープカットフィルタ３５とから構成される。
【００１８】
上記第１及び第２シャープカットフィルタ３３、３５のそれぞれ後方に配置された第２受光素子３８及び第３受光素子４０並びに最後段、すなわち、この実施例においては、２段目の第２ハーフミラー３４の透過光路に配置された第１受光素子３６から、それぞれ、出力される３つの検出値データを受け、これらの検出値に基づいて当該３波長ＬＤパッケージにおける３つのＬＤチップ（図示しない）からそれぞれ射出された波長成分の光出力を算定し、これらの波長成分の光出力算定値が対応する電流駆動制御回路に転送される。
【００１９】
上記構成の分波手段３００においては、カスケード（縦列）配置された１段目及び２段目のシャープカットフィルタは、それぞれ、第１波長ＬＤチップ、第２波長ＬＤチップ及び第３波長ＬＤチップから放射されるレーザ光波長成分のうち、互いに異なるいずれか１つの波長成分を遮断する機能を有するものとされる。例えば、第１シャープカットフィルタ３３は第２波長ＬＤチップのレーザ光波長成分を、第２シャープカットフィルタ３５は第１波長ＬＤチップのレーザ光波長成分を遮断する機能を有するものとすることができる。これらのシャープカットフィルタを通過した波長成分を、図２中、各シャープカットフィルタの後方部に記載される。なお、ＰＢ１は第１波長ＬＤチップから放射されたレーザ光束の強さ、ＰＢ２は第２波長ＬＤチップから放射されたレーザ光束の強さ、ＰＢ３は、第３波長ＬＤチップから放射されたレーザ光束の強さを示す。これらのレーザ光束は、それぞれ、第１受光素子３６、第２受光素子３８及び第３受光素子４０により検出される。これらの受光素子３６、３８、４０による検出値は、図２中、受光素子３６、３８、４０の後方に、上記ＰＢ１、ＰＢ２、ＰＢ３を用いて数式で示される。これらの数式から、明らかなように、３つのレーザ光出力検出値に基づき、算術計算、即ち、掛け算と引き算により、各波長成分ＰＢ１，ＰＢ２、ＰＢ３を算定することができる。
【００２０】
上記ＬＤパッケージに複数ｎ個のＬＤチップが含まれる場合には、上記分波手段は、当該ＬＤパッケージの窓から射出される複数ｎのレーザ光軸上に配置したコリメートレンズと、該コリメートレンズの後方に縦列配置された（ｎ−１）段のハーフミラーと、これらのハーフミラーの反射光路に配置された（ｎ−１）個の光フィルタとにより構成され、更に、上記（ｎ−１）個の光フィルタのそれぞれ後方に配置された（ｎ−１）個の受光素子及び最後段のハーフミラーの透過光路に配置された受光素子からそれぞれ出力されるｎ個の検出値データに基づき、上述したように、掛け算と引き算の算術により各波長成分を算定することができる。
【００２１】
また、マルチ波長ＬＤパッケージ用の分波手段は、コリメートレンズと、複数ｎ段のハーフミラーと、各段の反射光路に配置される複数ｎ個のシャープカットフィルタとにより構成されるものに代えて、各波長成分を所定角度に偏向するビームスプリッターを用いて構成したものであってもよい。この構成により、当該試験装置全体を簡略化することができる。
【００２２】
なお、上記試験装置において、第１電流駆動制御回路１４及び第２電流駆動制御回路２４は、ともに、パルス電流を発生する、即ち、試験対象の２波長ＬＤパッケージにおける２つのＬＤチップをパルス通電するようにしたが、これに限らず、ともに、一定電流を発生する、即ち、上記２つのＬＤチップを連続通電するようにしてもよい。
【００２３】
また、上記試験装置は、定光出力制御しながら連続的に駆動して各ＬＤチップの動作特性についてエージング試験するものであるが、第１電流駆動制御回路１４、第２電流駆動制御回路２４に代えて、ともに、ＬＤチップ駆動用の電流を発生する電流発生回路から形成された、第１駆動電流回路（図示しない）、第２駆動電流回路（図示しない）を使用し、上記演算回路４１のＢ端子及びＣ端子からの光出力検出値ＰＢ２及びＰＢ１に基づき、当該２波長ＬＤパッケージにおける２つのＬＤチップの動作特性についての試験を行うことができる。
【実施例１】
【００２４】
つぎに、本発明に係る試験装置であって、定光出力制御型エージング試験装置の実施例を、図４とともに説明する。
上記試験装置において、前述した本発明の基本的構成を示す図１における構成部分と等価な部分に、同一の数字符号を付してその詳細な説明を省略する。
【００２５】
本発明の試験装置は、例えば、パーソナルコンピュータを用いて構成される、メインプロセッサ２０からの作動指令により、予め定められた操作手順、即ち、操作プログラムにしたがって作動する。
【００２６】
電圧発生回路１１は、たとえば、操作プログラムに設定された第１光出力基準値ＲＥＦ１及び第２光出力基準値ＲＥＦ２にそれぞれ相当する一定レベルの電圧を発生する。
【００２７】
分波手段３０は、図１に示されるものと同様、コリメートレンズ（図示しない）、第１ハーフミラー（図示しない）及び第１シャープカットフィルタ３３を用いて形成される。                
【００２８】
上記分波手段３０における第１ハーフミラー３２の透過光路に、ＰＩＮフォトダイオードを用いた第１受光素子３６が配置され、該第１受光素子３６により検出された光−電気変換信号が第１光出力検出回路３７により２倍に増幅されてその出力端子Ａから第１波長ＬＤチップ１５のレーザ光出力ＰＢ１と第２波長ＬＤチップ２５のレーザ光出力ＰＢ２を合算した光出力検出値（ＰＢ１＋ＰＢ２）を示す電圧信号が出力される。
【００２９】
上記分波手段３０における第１ハーフミラー３２の反射光路に配置された第１シャープカットフィルタ３３の後方に、ＰＩＮフォトダイオードを用いた第２受光素子３８が配置され、該第２受光素子３８により検出された光−電気変換信号が第２光出力検出回路３９により２倍に増幅されてその出力端子Ｂから第２波長ＬＤチップ２５のレーザ光出力検出値ＰＢ２を示す電圧信号が出力される。この電圧信号は第２電流駆動制御回路１４における誤差検出増幅器１２の一方の入力に印加されるとともに下記する減算回路４１の負入力に印加される。
【００３０】
演算増幅器を用いて形成された減算回路４１では、第１光出力検出回路３７の出力端子Ａからの光出力検出値（ＰＢ１＋ＰＢ２）から、第２光出力検出回路３９の出力端子Ｂからの光出力検出値ＰＢ２を減算し、その結果、当該減算回路の出力端子Ｃから第１波長ＬＤチップ１５の光出力ＰＢ１を示す電圧信号が出力される。この電圧信号は、第１電流駆動制御回路１４における誤差検出増幅器１２の一方の入力に印加される。
【００３１】
上記第１電流駆動制御回路１４における誤差検出増幅器１２において、前述したように、基準値電圧発生回路１１からの第１光出力基準値と上記減算回路４１からの第１波長ＬＤチップ１５の光出力検出値との誤差又は偏差に基づき当該第１電流駆動制御回路１４における電流発生回路１３をフィードバック補償して当該２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる第１波長ＬＤチップ１５を一定の光出力を保持して作動させる。これと同時に、上記第２電流駆動制御回路２４における誤差検出増幅器２２において、前述したように、基準値電圧発生回路１１からの第２光出力基準値と上記第２光出力検出回路３９からの第２波長ＬＤチップ２５の光出力検出値との誤差又は偏差に基づき当該第２電流駆動制御回路２４における電流発生回路２３をフィードバック補償して当該２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる第２波長ＬＤチップ２５を一定の光出力を保持して作動させる。
【００３２】
上記構成の試験装置において、２波長ＬＤパッケージ１０に含まれる第１波長ＬＤチップ１５及び第２波長ＬＤチップ２５を、同時的に所定期間にわたって連続的に駆動し、定期的に、上記第１光出力検出回路３７及び第２光出力検出回路３９による検出結果を監視して当該２波長ＬＤパッケージ１０のＬＤ素子３０の電流−光出力（Ｉ−Ｐ）特性の劣化を監視し、また、その結果を記録することにより、連続駆動されたＬＤ素子３０の特性変化及び劣化についてのエージング試験を、従来形式の試験装置におけるよりも実質的に１／２の所要時間をもって効率的に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の試験装置の基本的構成概念を説明するためのブロック図である。
【図２】本発明の試験装置に適用できる分波手段の変形例の概念図である。
【図３】本発明の実施例の定光出力制御式エージング試験装置の回路図である。
【図４】従来形式の試験装置のブロック回路図である。
【符号の説明】
【００３４】
１０  ２波長ＬＤパッケージ
１１  基準値電圧発生回路
１２  誤差検出増幅器
１３  パルス電流発生回路
１４  第１電流駆動制御回路
１５  第１波長ＬＤチップ
２０  メインプロセッサ（コンピュータ）
２２  誤差検出増幅器
２３  パルス電流発生回路
２４  第２電流駆動制御回路
２５  第２波長ＬＤチップ
３０  分波手段
３１  コリメートレンズ
３２  第１ハーフミラー
３３  第１シャープカットフィルタ
３４  第２ハーフミラー
３５  第２シャープカットフィルタ
３６  第１受光素子
３７  第１光出力検出回路
３８  第２受光素子
３９  第２光出力検出回路
４０  第３受光素子
４１  演算回路（減算回路）
４５  Ａ−Ｄ変換器
３００  分波手段の変形例
【図１】
2005142184.tif 000003
【図２】
2005142184.tif 000004
【図３】
2005142184.tif 000005
【図４】
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