(57)【要約】    【課題】  被検眼の眼光学特性が軸非対称の収差成分を有していても、そのシミュレーション画像はその軸非対称の収差をも考慮した正確な画像として演算できる眼光学特性測定装置を提供する。    【解決手段】  測定光束４を発する光源５と、被検眼眼底１ａに向けて測定光束を投影する為の投影系２と、被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器２１上に投影する受光系３と、前記投影系の光束及び前記受光系の光束を制限することで少なくとも２の設定条件を設定可能な設定手段９，１９とを有し、前記少なくとも２の設定条件で前記光電検出器から得られるそれぞれの光量分布特性に基づき被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する。    【選択図】          図１
2005058322.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光束を発する光源と、被検眼眼底に向けて測定光束を投影する為の投影系と、被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器上に投影する受光系と、前記投影系の光束及び前記受光系の光束を制限することで少なくとも２の設定条件を設定可能な設定手段とを有し、前記少なくとも２の設定条件で前記光電検出器から得られるそれぞれの光量分布特性に基づき被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算することを特徴とする眼光学特性測定装置。
【請求項２】
測定光束を発する光源と、被検眼瞳と略共役位置に配置された第１の絞りを有し被検眼眼底に向けて測定光束を投影する為の投影系と、被検眼瞳と略共役位置に配置した第２の絞りを有し該第２の絞りを介し被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器上に投影する受光系とを有し、前記光電検出器上での光量分布特性から被検眼の眼光学特性を測定する眼光学特性測定装置に於いて、前記第１の絞りと第２の絞りとを同開口径の絞りに設定する為の第１の設定条件と、前記第１の絞り及び第２の絞りの一方だけを所定の微小開口径を有する基準小開口絞りに設定する為の第２の設定条件とを選択し得る様に構成すると共に、前記第１の設定条件での前記光電検出器上での光量分布特性と前記第２の設定条件での前記光電検出器上での光量分布特性とに基づいて被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算することを特徴とする眼光学特性測定装置。
【請求項３】
第１の設定条件での光量分布特性から被検眼眼球光学系の周波数伝達関数を算出し、第２の設定条件での光量分布特性から被検眼眼球光学系の位相伝達関数を算出し、該周波数伝達関数及び該位相伝達関数に基づき被検眼の眼光学特性に対応して被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する請求項１又は請求項２の眼光学特性測定装置。
【請求項４】
前記設定条件の内の開口径の１つは測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限し、前記設定条件の内のもう１つの開口径は測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する請求項１又は請求項２の眼光学特性測定装置。
【請求項５】
前記第１の絞り、第２の絞りの少なくとも一方は、測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限する少なくとも１つの絞り孔と、測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する少なくとも１つの絞り孔とを有する絞り板である請求項１又は請求項２の眼光学特性測定装置。
【請求項６】
前記第１の絞り、第２の絞りの少なくとも一方は、測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限する少なくとも１つの絞り孔と、測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する少なくとも１つの絞り孔とに切替可能な電子絞り装置である請求項１又は請求項２の眼光学特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高次の収差を含む眼の眼光学特性を測定する為の眼光学特性装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、眼の光学特性を高精度に測定する為、測定光束を発する点光源と、被検眼瞳を通し被検眼眼底に点光源像を投影する投影系と、この点光源像を眼底から被検眼瞳を通して光電検出器上に測定光束像を投影する受光系とを設け、前記光電検出器上に形成された測定光束像の光量分布特性から眼の光学特性であるＭＴＦ等を測定する眼光学特性測定装置が知られている。
【０００３】
この種の眼光学特性測定装置に於いては、点光源からの測定光束は被検眼角膜・水晶体を通過して被検眼眼底上に点光源像を形成し（第１の光路）、被検眼眼底から反射された測定光束は第１の光路とは逆方向から水晶体・角膜とを通り、光電検出器上に第２の点光源像を形成（第２の光路）するものである。そして、該光電検出器上の測定光束像の光量分布関数から被検眼の眼光学特性関数を測定し、この眼光学特性関数に基づき特定の視標が被検眼眼底にどの様な像として形成されるかのシミュレーション画像を演算・表示するものである。
【０００４】
然し乍ら、従来の眼光学特性測定装置では、角膜から眼底に至る第１の光路での測定光束が通過する領域と、眼底からの角膜に至る第２の光路での測定光束が通過する領域とは、同一ではなく、被検眼光軸を中心とした対称な領域となる。その為、被検眼の眼光学特性が軸対称の収差特性を持っている場合には問題がないが、軸対称でない収差特性を持っている場合は、前記シミュレーション画像に反映させることができないという問題点を有している。
【０００５】
尚、光量分布関数から被検眼の眼光学特性関数を測定し、この眼光学特性関数に基づき特定の視標が被検眼眼底にどの様な像として形成されるかのシミュレーション画像を演算・表示するものとして、特許文献１、特許文献２、特許文献３に示されるものがある。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−３４９１９号公報
【０００７】
【特許文献２】特開２００２−１１２９６５号公報
【０００８】
【特許文献２】特開２００３−７０７４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は斯かる実情に鑑み、上記従来技術の問題点を解決することを目的としたものであり、被検眼の眼光学特性が軸非対称の収差成分を有していても、そのシミュレーション画像はその軸非対称の収差をも考慮した正確な画像として演算できる眼光学特性測定装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、測定光束を発する光源と、被検眼眼底に向けて測定光束を投影する為の投影系と、被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器上に投影する受光系と、前記投影系の光束及び前記受光系の光束を制限することで少なくとも２の設定条件を設定可能な設定手段とを有し、前記少なくとも２の設定条件で前記光電検出器から得られるそれぞれの光量分布特性に基づき被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する眼光学特性測定装置に係り、又測定光束を発する光源と、被検眼瞳と略共役位置に配置された第１の絞りを有し被検眼眼底に向けて測定光束を投影する為の投影系と、被検眼瞳と略共役位置に配置した第２の絞りを有し該第２の絞りを介し被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器上に投影する受光系とを有し、前記光電検出器上での光量分布特性から被検眼の眼光学特性を測定する眼光学特性測定装置に於いて、前記第１の絞りと第２の絞りとを同開口径の絞りに設定する為の第１の設定条件と、前記第１の絞り及び第２の絞りの一方だけを所定の微小開口径を有する基準小開口絞りに設定する為の第２の設定条件とを選択し得る様に構成すると共に、前記第１の設定条件での前記光電検出器上での光量分布特性と前記第２の設定条件での前記光電検出器上での光量分布特性とに基づいて被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する眼光学特性測定装置に係るものである。
【００１１】
又、第１の設定条件での光量分布特性から被検眼眼球光学系の周波数伝達関数を算出し、第２の設定条件での光量分布特性から被検眼眼球光学系の位相伝達関数を算出し、該周波数伝達関数及び該位相伝達関数に基づき被検眼の眼光学特性に対応して被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する眼光学特性測定装置に係り、又前記設定条件の内の開口径の１つは測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限し、前記設定条件の内のもう１つの開口径は測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する眼光学特性測定装置に係り、又前記第１の絞り、第２の絞りの少なくとも一方は、測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限する少なくとも１つの絞り孔と、測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する少なくとも１つの絞り孔とを有する絞り板である眼光学特性測定装置に係り、更に又前記第１の絞り、第２の絞りの少なくとも一方は、測定光束を被検眼瞳孔より小さな所定径に制限する少なくとも１つの絞り孔と、測定光束を被検眼光軸近傍に限定する様制限する少なくとも１つの絞り孔とに切替可能な電子絞り装置である眼光学特性測定装置に係るものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、測定光束を発する光源と、被検眼眼底に向けて測定光束を投影する為の投影系と、被検眼眼底から反射された測定光束を光電検出器上に投影する受光系と、前記投影系の光束及び前記受光系の光束を制限することで少なくとも２の設定条件を設定可能な設定手段とを有し、前記少なくとも２の設定条件で前記光電検出器から得られるそれぞれの光量分布特性に基づき被検眼眼底に形成される視標像をシミュレーション画像として演算する様にしたので、被検眼の眼光学特性が軸非対称の収差成分を有していても、そのシミュレーション画像はその軸非対称の収差をも考慮した正確な画像として演算できるという優れた効果を発揮する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
【００１４】
図１は、本実施の形態に係る眼光学特性測定装置の基本構成を示している。
【００１５】
図１中、１は被検眼、２は投影光学系、３は受光光学系、１０は前記投影光学系２の投影光軸、１２は前記受光光学系３の受光光軸を示している。
【００１６】
前記投影光学系２は前記被検眼１の眼底１ａと共役位置になる様に光軸に沿って移動可能である光源５、該光源５から発せられた測定光束４（赤外光）を投影する為の投影レンズ６、該投影レンズ６の前記投影光軸１０上には前記被検眼１の瞳１ｂと略共役な位置に配置された第１絞り板９、該第１絞り板９を透過した測定光束４が入射する偏光ビームスプリッタ８が配設されている。
【００１７】
前記偏光ビームスプリッタ８は、測定光束４の第１の偏光成分（例えばＰ直線偏光成分）を前記受光光軸１２に沿って前記被検眼１に向け反射し、第２の偏光成分（例えばＰ直線偏光に対して偏光方向が９０°異なるＳ直線偏光成分）を透過する様になっている。
【００１８】
前記受光光軸１２の前記偏光ビームスプリッタ８の反射光軸側には対物レンズ１１、１／４波長板１３が配設され、前記光源５からの測定光束４は前記偏光ビームスプリッタ８でＰ直線偏光成分が反射され、前記対物レンズ１１、１／４波長板１３を経て前記被検眼眼底１ａに投影される様になっている。
【００１９】
前記受光光学系３は、前記偏光ビームスプリッタ８、前記対物レンズ１１、１／４波長板１３を前記投影光学系２と共用しており、前記受光光軸１２の前記偏光ビームスプリッタ８の反射光軸側には対物レンズ１１、１／４波長板１３が配設され、前記偏光ビームスプリッタ８の透過光軸側には前記被検眼瞳１ｂと略共役位置に配置された第２絞り板１９、結像レンズ２０、光電検出器２１が配設されている。該光電検出器２１は前記光源５の移動に連動して前記受光光軸１２に沿って移動可能となっている。前記結像レンズ２０は前記被検眼眼底１ａと共役な位置にあり、前記測定光束４は前記１／４波長板１３を２度透過することで、Ｓ直線偏光となり、前記偏光ビームスプリッタ８を透過し、前記第２絞り板１９を経て、前記結像レンズ２０により前記光電検出器２１に結像される。
【００２０】
前記第１絞り板９、第２絞り板１９について説明する。
【００２１】
前記第１絞り板９は、図３に示される様に円板に微小基準絞り開口３１，３１，３１…と測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…とが同一円周上に等角度間隔で交互に穿設されている。
【００２２】
前記微小基準絞り開口３１は、測定光束が前記被検眼１の瞳１ｂ上で、前記被検眼１の瞳１ｂと同径となる孔、例えば１mmの直径の孔であり、前記測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…は前記微小基準絞り開口３１より大径の孔、例えば測定時の前記被検眼１の瞳１ｂ上で測定光束が瞳孔に相当する径となる孔であり、１．５mm〜６mmの直径を有する孔であり、所要回転方向に１．５mm、２mm、３mm、…と漸次径が大きくなっている。又、前記微小基準絞り開口３１と前記測定絞り開口３２が穿設されている円周は、前記投影光軸１０に合致しており、前記微小基準絞り開口３１、測定絞り開口３２の中心は前記投影光軸１０に合致する様になっている。
【００２３】
前記第１絞り板９は第１絞り用回転モータ３３により、回転される様になっており、該第１絞り用回転モータ３３は回転角の制御が可能なステッピングモータ、或はサーボモータが使用される。
【００２４】
前記第２絞り板１９は、図４に示される様に前記第１絞り板９と同一の絞り板を使用してもよく、或は前記測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…のみを同一円周上に等角度間隔で穿設してもよい。前記測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…のみを穿設する場合は、前記測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…の角度ピッチを前記第１絞り板９の測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…の角度ピッチと同じにする。
【００２５】
尚、以下の説明は、前記第２絞り板１９の構造を前記第１絞り板９と同一構造とした場合を説明する。従って、前記第２絞り板１９の微小基準絞り開口３１は測定光束が前記被検眼１の瞳１ｂ上で、前記被検眼１の瞳１ｂと同径となる孔、例えば１mmの直径の孔であり、前記測定絞り開口３２ａ，３２ｂ，３２ｃ…は前記微小基準絞り開口３１より大径の孔、例えば測定時の前記被検眼１の瞳１ｂ上で測定光束が瞳孔に相当する径となる孔であり、１．５mm〜６mmの直径を有する孔であり、所要回転方向に１．５mm、２mm、３mm、…と漸次径が大きくなっている。前記第２絞り板１９の前記微小基準絞り開口３１と前記測定絞り開口３２が穿設されている円周は、前記受光光軸１２に合致しており、前記微小基準絞り開口３１、測定絞り開口３２の中心は前記受光光軸１２に合致する様になっている。
【００２６】
前記第２絞り板１９は第２絞り用回転モータ３４により、回転される様になっており、該第２絞り用回転モータ３４は前記第１絞り用回転モータ３３と同様、回転角の制御が可能なステッピングモータ、或はサーボモータが使用される。
【００２７】
尚、前記第１絞り板９、第２絞り板１９は短冊形状とし、前記微小基準絞り開口３１、前記測定絞り開口３２を直線的に等ピッチで穿設し、リニアモータ、ステッピングシリンダ等で直線的に移動させる様にしてもよい。
【００２８】
又、前記第１絞り板９、第２絞り板１９に電子絞り装置を用いてもよい。即ち、電子絞り装置は、透明板に設けられた液晶によって構成され、液晶の通電状態によって透明部分、即ち微小基準絞り開口３１、測定絞り開口３２が形成され、液晶への通電状態を制御することで、前記微小基準絞り開口３１、測定絞り開口３２に変更される様にしたものである。
【００２９】
前記光電検出器２１からの受光信号は信号処理部２６を介して記憶部２７に記憶される。該記憶部２７には演算プログラム、データ処理プログラム、制御プログラム、各種視標像のイメージデータ、該視標像の光量分布特性（光量分布関数）、視標の周波数伝達関数等、測定に必要なプログラム及びデータが格納されている。前記信号処理部２６から前記記憶部２７へのデータの書込みは制御部２８によって制御され、該制御部２８は前記記憶部２７に記憶されたデータからデータ処理プログラムに基づき所要の演算をし、又演算結果を表示部２９に表示する。
【００３０】
前記制御部２８には駆動制御部３０が接続されており、該駆動制御部３０は前記制御部２８からの指令に基づき前記第１絞り用回転モータ３３、前記第２絞り用回転モータ３４の駆動を制御する様になっている。
【００３１】
以下、上記眼光学特性測定装置に於ける測定作用について説明する。
【００３２】
測定作用は２モードで行われる。先ず、第１測定モードでは制御プログラムに従って前記駆動制御部３０を介して前記第１絞り用回転モータ３３及び前記第２絞り用回転モータ３４が駆動され、前記第１絞り板９で前記被検眼瞳１ｂの径より小さな所定径の測定絞り開口３２、例えば、眼光学特性を測定する瞳径を４mmとする場合には、直径が４mmの測定絞り開口３２ｄが前記投影光軸１０上に位置する様前記第１絞り板９が回転位置決めされる。
【００３３】
又、同様に前記第２絞り用回転モータ３４が駆動され、前記第２絞り板１９で測定絞り開口３２、例えば直径が４mmの測定絞り開口３２ｄが前記投影光軸１２上に位置する様、前記第２絞り板１９が回転位置決めされる。
【００３４】
前記投影光学系２より前記測定光束４が、前記測定絞り開口３２ｄを通して前記被検眼眼底１ａに投影され、該被検眼眼底１ａに点光源像が形成される。即ち、前記光源５からの前記測定光束４は前記投影レンズ６を透過して前記偏光ビームスプリッタ８に至り、該偏光ビームスプリッタ８でＰ直線偏光成分が反射され、前記対物レンズ１１、１／４波長板１３を経て前記被検眼眼底１ａに投影され、該被検眼眼底１ａ上に第１モード第１視標像が結像される。
【００３５】
前記測定光束４に関して、前記１／４波長板１３を透過することで、Ｐ直線偏光は右円偏光となり、次に前記測定光束４が前記被検眼眼底１ａで全反射されると、左円偏光となる。更に、前記測定光束４の左円偏光は前記１／４波長板１３をもう一度透過することで、前記Ｐ直線偏光とは偏光方向が９０°異なるＳ直線偏光となる。
【００３６】
前記被検眼眼底１ａで反射された反射測定光束４′は、前記対物レンズ１１により前記偏光ビームスプリッタ８に導かれる。該偏光ビームスプリッタ８はＰ直線偏光を反射し、Ｓ直線偏光を透過するので、前記反射測定光束４′は全て前記偏光ビームスプリッタ８を透過し、前記第２絞り板１９の測定絞り開口３２ｄを通して前記結像レンズ２０により前記光電検出器２１上に第１モード第２視標像として結像される。
【００３７】
前記光電検出器２１に結像された像は、被検眼１の眼光学特性が軸非対称の収差成分を有している場合、軸非対称の収差の影響を受けた像となっている。
【００３８】
次に、第２測定モードでの測定が行われる。第２測定モードでの測定は図２に示される。
【００３９】
前記第１絞り用回転モータ３３が駆動され、前記測定絞り開口３２ｄに隣接する前記第１絞り板９の前記微小基準絞り開口３１が選択され、前記第２絞り板１９については前記測定絞り開口３２ｄが保持される。
【００４０】
前記微小基準絞り開口３１が選択されることで、前記被検眼１に投影される前記測定光束４は、光軸近傍に限定された光束幅となる。前記投影光学系２から投影された前記測定光束４は第１測定モードと同様にして前記被検眼眼底１ａ上に第２モード第１視標像として結像される。前記測定光束４が光軸近傍の光束幅に限定されて前記被検眼１に投影されることから、第２モード第１視標像は被検眼の眼光学特性の軸非対称の収差の影響を略受けることがない。
【００４１】
前記被検眼眼底１ａで反射された反射測定光束４′は、第１測定モードと同様にして前記光電検出器２１に第２モード第２視標像として結像される。
【００４２】
前記光電検出器２１は、上記２つの測定モードで得られた第１モード第２視標像、第２モード第２視標像をそれぞれ電子データに変換し、該電子データはそれぞれ前記記憶部２７に保存される。前記制御部２８は、各視標像のデータを基にそれぞれ光量分布特性を演算し、更に該光量分布特性は前記記憶部２７に保存される。
【００４３】
以下、被検眼眼球光学系の光学伝達関数の演算について説明する。
【００４４】
被検眼眼球光学系の光学伝達関数の演算は、先ず第１測定モードの結果に基づき、被検眼の眼光学特性の周波数伝達関数ＭＴＦ1 を演算し、次に第２測定モードの結果に基づき眼光学特性の位相伝達関数ＰＴＦ1 を演算し、最後に周波数伝達関数ＭＴＦ1 及び位相伝達関数ＰＴＦ1 から被検眼眼球光学系の光学伝達関数ＯＴＦ1 が演算される。
【００４５】
先ず第１測定モードに於いて、所定の瞳孔径に於ける被検眼の角膜から眼底に至る光学系の振幅透過率をＰ（ｘ，ｙ）とすると、眼底から再度被検眼眼球光学系を透過する際の振幅透過率はＰ（−ｘ，−ｙ）と表され、その時に前記光電検出器２１に形成された反射測定光束４′の光束の光量分布関数をＩ（ｘ，ｙ）とすると、Ｉ（ｘ，ｙ）は下記１式で表される。ここで※はコンボルーション積分である。
【００４６】
Ｉ（ｘ，ｙ）＝Ｐ（ｘ，ｙ）※Ｐ（−ｘ，−ｙ）  …（１式）
【００４７】
更に、被検眼眼球光学系の周波数伝達関数ＭＴＦ1 は下記２式で演算できる。
【００４８】
ＭＴＦ1 ＝√［ＦＴ（Ｉ（ｘ，ｙ））］                …（２式）
【００４９】
次に、第２測定モードについて説明する。
【００５０】
被検眼眼底に投影する際の充分小さな有効径での眼球光学系の振幅透過率をＰｄ（ｘ，ｙ）とすると、眼底から再度被検眼眼球光学系を透過する際の振幅透過率は、前述と同様にＰ（−ｘ，−ｙ）と表され、その場合の前記光電検出器２１で形成される光束の光量分布関数をＩｄ（ｘ，ｙ）とすると、Ｉｄ（ｘ，ｙ）は下記３式で表される。
【００５１】
Ｉｄ（ｘ，ｙ）＝Ｐｄ（ｘ，ｙ）※Ｐ（−ｘ，−ｙ）  …（３式）
【００５２】
更に、Ｉｄ（ｘ，ｙ）を基に被検眼眼球光学系の位相伝達関数ＰＴＦ1 は下記４式で演算できる。
【００５３】
ＰＴＦ1 ＝ｔａｎ-1  ｛Ｉｍ［ＦＴ（Ｉｄ（ｘ，ｙ））］／Ｒｅ［ＦＴ（Ｉｄ（ｘ，ｙ））］｝                                      …（４式）
【００５４】
又、被検眼眼球光学系の光学伝達関数ＯＴＦ1 は、下記５式で表される。
【００５５】
ＯＴＦ1 ＝ＭＴＦ1 ×ｅPTF1                        …（５式）
【００５６】
上記２式、４式を利用し、ＯＴＦ1 を逆フーリエ変換し、実際の視標の光量分布関数とをコンボリューション積分することで、被検眼眼底１ａに投影されるイメージのシミュレーション画像Ｓ（ｘ，ｙ）を演算することができる。
【００５７】
但し、この演算は複雑であるので、具体的には下記の演算方法が採られる。
【００５８】
実際の視標に於いて、その視標の周波数伝達関数をＭＦＴ0 とし、位相伝達関数をＰＴＦ0 とすると、シミュレーション画像の光学伝達関数ＯＴＦs は、下記６式により演算される。
【００５９】
ＯＴＦs ＝（ＭＴＦ0 ×ＭＴＦ1 ）ｅ(PTF0+PTF1)          …（６式）
【００６０】
更に、この演算されたＯＴＦs を逆フーリエ変換すると、被検眼眼底１ａに投影されるイメージのシミュレーション画像Ｓ（ｘ，ｙ）を演算することができる。
【００６１】
この様に、被検眼の眼球光学系の非対称収差分も考慮し、被検眼眼底に於けるイメージのシミュレーション画像を高精度に演算することができ、このシミュレーション画像により、被検者がどの様な像として観察できるかを正確に把握することができる。
【００６２】
尚、視標としては、ランドルト環或はギャップを有する種々の視標が用いられ、視標の光量分布特性としてはギャップを横断する方向の光量分布が求められる。又、ギャップを複数経線方向に有する視標については、経線方向の異なる複数の光量分布が求められる。
【００６３】
前述では、前記被検眼瞳１ｂの径を４mmとした場合での眼光学特性からシミュレーション画像を演算する場合について述べたが、例えば前記被検眼瞳１ｂの径を３mmとした場合でのシミュレーション画像を演算する場合には、以下の如く前記測定絞り開口３２の変更を行う。
【００６４】
第１測定モードでは、前記第１絞り板９が前記測定絞り開口３２ｃ、前記第２絞り板１９が前記測定絞り開口３２ｃが選択され、第２測定モードでは前記第１絞り板９が前記微小基準絞り開口３１、前記第２絞り板１９では前記測定絞り開口３２ｃが選択される（図３、図４参照）。
【００６５】
更に、２つの測定モードでそれぞれ前記光電検出器２１上での光量分布特性を算出し、前述と同様に演算を行えば、前記被検眼瞳１ｂの径を３mmとした場合でのシミュレーション画像を演算することができる。
【００６６】
この様に各種の瞳径でのシミュレーション画像を比較することにより、瞳径の違い（昼間、夜間のように外界の明るさにより瞳径は変化する）による見え方の変化も容易に知ることができる。
【００６７】
尚、図５は第２の実施の形態を示すものであり、該第２の実施の形態では前記投影光学系２から前記被検眼１に投影する測定光束４の光束は、第１測定モード、第２測定モード共に前記第１絞り板９の前記測定絞り開口３２を通したものとし、前記光電検出器２１に入射する反射測定光束４′を第１測定モードでは前記第２絞り板１９の前記測定絞り開口３２を通したものとし、第２測定モードでは前記第２絞り板１９の前記微小基準絞り開口３１を通したものとした場合である。
【００６８】
本発明では、前記被検眼１に入射する測定光束４、前記被検眼１の被検眼眼底１ａから反射する反射測定光束４′のいずれか一方で光束幅を充分小さく、光軸に沿ったものとし、被検眼眼球光学系の位相伝達関数ＰＴＦ1 を求める様にすればよい。
【００６９】
更に、前記第１絞り板９と前記第２絞り板１９とを同一構造とすれば、上記同一の眼光学特性測定装置に於いて、第１の実施の形態での測定、第２の実施の形態での測定が実施でき、両測定結果を平均してもよい。更に、第１の実施の形態に於いて、前記第２絞り板１９の微小基準絞り開口３１は省略でき、又第２の実施の形態に於いて、前記第１絞り板９の微小基準絞り開口３１は省略することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の第１実施の形態を示す基本構成図である。
【図２】該第１の実施の形態の作用説明図である。
【図３】該第１の実施の形態で使用される第１絞り板の説明図である。
【図４】該第１の実施の形態で使用される第２絞り板の説明図である。
【図５】本発明の第２実施の形態を示す基本構成図である。
【符号の説明】
【００７１】
１              被検眼
２              投影光学系
３              受光光学系
４              測定光束
５              光源
６              投影レンズ
８              偏光ビームスプリッタ
９              第１絞り板
１０            投影光軸
１１            対物レンズ
１２            受光光軸
１９            第２絞り板
２１            光電検出器
２６            信号処理部
２８            制御部
３０            駆動制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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