(57)【要約】      （修正有）【課題】熱履歴等により劣化したステンレス基材の耐食性を正確に、また簡易に測定する方法を提供する。【解決手段】被測定物1であるステンレス表面に電解質を含浸させた部材を設置し、該部材にステンレスに対する対極2を設け、この間に酸化電位を印加し、生じる電流を測定することにより、ステンレスの耐食性を測定する。【効果】本発明のステンレス基材の耐食性（劣化程度）の判別法は、特に半導体製造装置およびフラットパネルディスプレイ製造装置のようなステンレス上に金属が付着した防着板の洗浄前の耐食性検査、或いは、ステンレス上に多層に金属を付着させている製品のステンレスの耐食性検査に利用できる。【選択図】図１
2005127813.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物であるステンレス表面に電解質を含浸させた部材を設置し、該部材にステンレスに対する対極を設け、この間に酸化電位を印加し、生じる電流を測定することによるステンレスの耐食性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ステンレスの耐食性（劣化）の程度を測定する方法に関する。特定すれば、蒸着装置、溶射装置あるいはメッキ装置に使用されているステンレス製の治具等が、使用によりどの程度劣化しているか、つまり、耐食性がどの程度あるかを測定する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
熱履歴等の影響を受けたステンレスは、不動態皮膜が劣化するとともに、内部は鋭敏化などの組成変化（劣化）が生じ、薬品等への耐食性が落ち腐食速度が速まるという危険性を持っている。例えば、ステンレスが多く用いられている蒸着装置、溶射装置またメッキ装置は、使用後付着した汚染物の洗浄等の処理が行われるが、使用中にどの程度耐食性が落ちているか測定することは、洗浄処理方法を決定するためにも重要である。従来、この耐食性の測定方法には、特許文献１のように自然電位を測定し、その電位による不動態皮膜の劣化を判別していた。
【０００３】
しかし、熱影響を受け、鋭敏化などの組成変化が生じていると、ステンレスには局部腐食が発生しやすいが、局部腐食が発生していると、自然電位測定では、１００mV単位の誤差を生じ、その劣化の程度を正確に把握することができない。
【０００４】
また、被測定物ステンレスに導電体（一般に汚染物質）が付着している場合に、被測定物全体を電解液に浸漬して測定するリニアスイープボルタンメトリーやサイクリックボルタンメトリーなどの電気化学測定方法を用いると、電位はステンレスだけでなく付着した導電体の影響を受けたものとして測定される。したがって、ステンレスのみの電位・電流を正確に測定できないという問題がある。
【特許文献１】特開昭６１−２５１７６２号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記従来の技術の問題点を解決するためになされたものであり、つまりステンレス基材の耐食性を正確に測定する方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、被測定物であるステンレス表面に電解質を含浸させた部材を設置し、該部材にステンレスに対する対極を設け、この間に酸化電位を印加し、生じる電流を測定することによりステンレスの耐食性を測定する方法を提供する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の方法では、簡単な装置で、わずかの電流の使用で、基材への影響が少なく、再現性も良好に耐食性を測定できる。また、少量の測定面積でよく被測定物を小さく切断する必要もないという効果が有る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
図１は本発明を実施するための装置の模式図を示す。４は、ポテンシオスタットである。被測定物ステンレス１の表面に電解液を含浸させた部材２を設置し、部材２の上に接して対極３を接地する。被測定物１−対極３間に酸化電位を印可することによって、電流は被測定物１−対極３間に流れる。被測定物のステンレスが熱影響を受けて組織が変化が生じている場合には、熱影響を受けていないものと比較して大きな電流が流れる。その電流の大小でステンレスの劣化程度を判別できる。また、劣化が大きいものほど電解質等の薬剤による腐食が大きくなる。
【０００９】
本発明に用いる電解液は特に問うものではないが、好ましくは、硫酸、フッ化水素酸、テトラフルオロホウ酸、塩酸、硝酸、リン酸、過酸化水素水およびこれらを２種類以上混ぜた混酸である。
【００１０】
電解液を含浸させる部材については、特に問うものではない。電解液と部材との間でお互いに実質的に影響を与えないものであればよい。例えば、綿、ガーゼ、ろ紙、スポンジ等を挙げることが出来る。ただし、含浸させた電解液が測定対象物に触れることが必要である。その大きさも特に問うものではない。実質的に電流が測定できる大きさであればよい。
【００１１】
ステンレス表面に導電体を付着している場合には、電解液含浸部材が露出しているステンレス表面にのみに設置するようにし、導電体に接触していないように注意する必要がある。
【００１２】
本発明の測定法では薬品を含浸させた部材が測定領域になるので、被測定物に凹凸があった場合でも電流値に変化なく安定した測定が可能である。
【００１３】
本発明で用いる対極３は特に限定せず、銀・塩化銀電極、飽和カロメル電極、白金電極などが挙げられる。この中で電位の再現性はよくないが、フッ酸などの酸で用いられる白金電極をよく用いられる。
【００１４】
一般的に印加する酸化電位は室温にて、０．６−１．０V（vs.SSE）である。
【実施例】
【００１５】
以下、実施例に基づき具体的に説明するが、本発明は、これにより制限を受けるものではない。
【００１６】
[実施例１］
被測定物の材質として、ＳＵＳ３０４を用いて試験片を作成した。試験片Ａは、全く熱影響を与えてないもの、試験片Ｂは４５０℃２時間熱処理後、さらに６５０℃２時間熱処理を行った劣化させたもの、試験片Ｃは６５０℃２時間熱処理を行った劣化させたもの、試験片Ｄはスパッタ装置で使用され劣化した防着板、試験片Ｅは前記スパッタ装置においてチタンが付着した防着板である。電解液として１mol/lテトラフルオロホウ酸を吸水性布（１０ｃｍ２）に含浸させたものを、図１のように試験片に設置し、試験片‐対極（白金）間に電位差０．８Ｖを印加して、５分後の安定したときの電流値を測定した。結果を表１に示した。また、１mol/lテトラフルオロホウ酸に試験片Ａ〜Ｄを２４時間浸漬し、試験片の厚みの減少量を測定することにより、腐食量を測定した。腐食量は、電流値の結果と一致した順序になった。また、２４時間浸漬した後の試験片を観察すると、電流値が１００μＡ以上になった試験片では部分腐食がみられ、腐食が激しいことが（耐食性が低い）ことが判明した。
【００１７】
【表１】
2005127813.tif 000003
【００１８】
［実施例２］
電解液として３mol/lテトラフルオロホウ酸に換えて、実施例１と同様に試験を行った。結果を表２に示した。
【００１９】
【表２】
2005127813.tif 000004
【００２０】
［実施例３］
電解液として１mol/l塩酸に換えて、実施例１と同様に試験を行った。結果を表３に示した。
【００２１】
【表３】
2005127813.tif 000005
【００２２】
［比較例１］
電解液として１mol/lテトラフルオロホウ酸を用い、実施例１と同じ試験片及び装置を用い試験片に１０ｃｍ２の吸水性布を配置し、試験片−対極間の自然電位を測定した。結果を表４に示した。この自然電位の値は腐食量との相関が見られなかった。
【００２３】
【表４】
2005127813.tif 000006
【産業上の利用可能性】
【００２４】
本発明のステンレス基材の耐食性（劣化程度）の判別法は、特に半導体製造装置およびフラットパネルディスプレイ製造装置のようなステンレス上に金属が付着した防着板の洗浄前検査、或いは、ステンレス上に多層に金属を付着させている製品のステンレスの耐食性検査に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】測定装置の模式図
【符号の説明】
【００２６】
１：被測定物（試験片、ステンレス製）
２：対極
３：吸水性の布（電解液を含浸）
４：ポテンシオスタット
【図１】
2005127813.tif 000007